(57)【要約】【課題】  高感度化を妨げることなく連続的な外来性ノイズがあった場合においても安定した画像を提供することにある。【解決手段】  ２次元に検出器が配置された検出器アレーと、前記検出器アレーにおける行を単位として、前記検出器より信号を読み出し、保持部に保持する読出手段（62,901,92,100,108）と、外来性電磁界ノイズ検出手段と、前記検出ノイズの位相検出手段と、前記検出した位相より行を単位とした読み出しラインデータをサンプルホールドするタイミングを調整する制御手段とを備えることを特徴とし、外来性ノイズがあった場合においても安定した画像を提供することができる。【選択図】  図１
2005177113.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２次元に検出器が配置された検出器アレーと、前記検出器アレーにおける行を単位として、前記検出器より信号を読み出し、保持部に保持する読出手段（62,901,92,100,108）と、外来性電磁界ノイズ検出手段と、前記検出ノイズの位相検出手段と、前記検出した位相より行を単位とした読み出しラインデータをサンプルホールドするタイミングを調整する制御手段とを備えることを特徴とする画像読出装置。
【請求項２】
前記制御手段は、選択された１ライン毎に、前記検出した外来ノイズ位相信号に対して、所定時間内（TFToff⇒次ラインCLK）の範囲において、常にノイズの所定位相で前記サンプルホールド信号を発生させることを特徴とする請求項１に記載の画像読出装置。
【請求項３】
前記外来性電磁界ノイズ検出手段は、主に交流磁界を検出するものでループコイル、ホール素子、或いはまた上記検出器アレーの有効領域外のダミーセンサを検出器とし、その出力はアンプで増幅されたのち、所定帯域内に制限するＬＰＦを介することを特徴とする請求項１に記載の画像読出装置。
【請求項４】
前記外来性電磁界ノイズ検出手段は、前記検出器アレーに近接して配置されることを特徴とする請求項１に記載の画像読出装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記位相の調整範囲を超えて調整が出来ない外来性ノイズが重畳した場合には警告を発することを特徴とする請求項１に記載の画像読出装置。
【請求項６】
２次元に検出器が配置された検出器アレーより画像信号を読み出すための画像読出方法であって、
前記検出器アレーにおける行を単位として、前記検出器アレーより信号を読み出し、読み出した信号を保持部に保持する読出工程と、前記外来性電磁界ノイズ検出工程と、前記検出ノイズの位相検出工程と、前記検出した位相より行を単位とした読み出しライン毎にサンプルホールドタイミングを調整する制御工程とを備えることを特徴とする画像読出方法。
【請求項７】
請求項１乃至５のいずれかに記載の画像読出装置と、Ｘ線発生装置とを備え、前記検出器アレーは前記Ｘ線発生装置から照射されたＸ線に基づく信号を保持することを特徴とするＸ線撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線を用いて被検体の撮像を行なう撮像装置の駆動制御に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線のデジタル撮像装置として近年いわゆるフラットパネルセンサが台頭してきている。これらのセンサは従来のフィルムを使用した撮影システムに置き変わる可能性を秘めており、Ｘ画像を直接デジタル化したデータを出力することから今後の広範囲に渡る展開が期待されている。
【０００３】
うしたフラットパネルセンサは主にアモルファス系シリコンを用いるものが多く撮影面積の大型化や高精細化が求められるのと同時に高感度化や高ＳＮが求められている。
【０００４】
しかしながら、近年の医療機器、情報機器、携帯電話などは病院内でさまざまな外来性ノイズを発生し周囲に電磁界ノイズを漏洩しており、こうした機器からの影響を受ける問題が発生しつつある。
【０００５】
中でも、撮影室、あるいはその近傍に配置されているインバータ式Ｘ線発生装置からは、強力な高周波の漏洩磁界が漏洩しているものがある。撮影室の大きさまたレイアウトの制限などから、こうした装置に近接してフラットパネルセンサを配置しなくてはならない場合、外来性ノイズによりフラットパネルセンサがその影響を受け撮影した画像にノイズが重畳し、画質が劣化してしまう問題が発生している。
【０００６】
隣室のＸ線発生器とフラットパネルセンサが壁越しに設置された場合などでは、壁を突き抜けて漏洩してきてしまい画像へ深刻な影響を与えることがある。インバータ式Ｘ線発生装置は、Ｘ線爆射の際、数十ＫＨｚ程度の周波数でインバータ回路を駆動しており、この際その周囲には交流磁界が発生し、外部への漏洩がある。このため壁越し配置で比較的距離が短い場合などでは、同発生装置からの漏洩磁界が撮影部センサに重畳し易くなり、画像上に強烈なライン状のノイズを発生する。
【０００７】
フラットパネルセンサに対して影響を及ぼす、外来性ノイズとしては機器からの放射性ノイズ、伝導性ノイズが挙げられる。伝導性ノイズに関しては電源系のフィルタ強化等により比較的容易に対策することが可能であるが、放射性ノイズは空間に放射される電磁界ノイズでありフラットパネルにさまざまな角度から直接入射してくるためその対策は容易ではない。なかでも磁界ノイズからのシールド対策は一般的にも難しい。
【０００８】
フラットパネル全体は金属製の筐体あるいはモールド筐体に電磁シールドを施したもので覆われており基本的に電磁シールドがなされた構造になっている。こうした構造から薄い金属箔でもシールド効果が得られる電界性のノイズに対しては充分な効果がありＥＭＣ試験をクリアするものとなっている。しかし、強力な交流磁界に対してのシールド効果は低い。これは、磁界シールドは基本的にフラットパネルセンサ及び周辺回路を、磁気シールド効果の高い筐体で密閉することで効果を高めることが可能となるが、Ｘ線入射面に外来性ノイズ防御用シールド材（Ｘ線が透過するアルミ等）などを配置することはＸ線透過率が低下して高感度化を妨げるので難しい。このため、Ｘ線入射面から入ってくるノイズを防ぐことには限界がある。
【０００９】
交流磁界が漏洩している機器側の対策として、シールド材でできる限り覆うことがあるが、このような対策である程度は低減化できるものの、扱う信号レベルが大変に低い本発明のような装置の場合、低減化した漏洩磁界でも、センサパネル及びアンプＩＣを含めた信号検出系回路に電磁誘導を引き起こして画像上のノイズとなって影響を及ぼすことになる。特に撮影部がノイズ発生源に近接してくると相互間の空間距離が短くなるため影響はますます増大することになる。
【００１０】
こうした交流磁界ノイズが重畳した場合、画像上には、ラインノイズが周期的に現れてくる。これは信号ラインをサンプルホールドする際に、外来の交流磁界による、誘導ノイズが信号上に重畳し、このノイズとの位相関係が、ラインごとで順次ずれて行くために所定の周波数のビートとして画像上のラインノイズとして出現してしまうためである。
【００１１】
ラインノイズは撮影画像上に重畳されるため、画像品質を著しく低下させてしまい、医療用画像の場合は特に誤診などを引き起こすことにもつながるため大きな問題となる。
【００１２】
このような問題を防ぐには、磁界シールドが上述したように実際上困難であることから、発生源との距離を離すことである。しかしながら、現実的な問題として複数の撮影室が隣り合わせにレイアウトされているところでは、隣室との壁を挟んでそうした機器と隣り合わせになることもあり、使い勝手や設置制約などからレイアウトの変更が出来ない場合がある。また、検診車など手狭でレイアウトに柔軟性がない場合も同様である。
【００１３】
そこで、Ｘ線の一般撮影ではＸ線が短時間に爆射する際に発生する単発的ノイズに対してはこれらを検出してセンサからの読み出しタイミングをずらす方法が提案されている（例えば、特許文献１）。
【００１４】
即ち、センサ読み出す直前に外来性ノイズの有無を確認し、もしノイズがあった場合は読み出しを行わず、ノイズがなくなってから読み出す方法である。
【００１５】
なお、外来性ノイズが画質に影響を与えるのは、センサピクセルにチャージされた電荷がアンプに転送される画像を読み出すときのタイミングである。自室のＸ線発生器は、Ｘ線を発生する際に、数十ＫＨｚの交流磁界を爆射時間中（おおよその目安として０．３Ｓ）漏洩するが、読み出すタイミングにはすでに爆射は終わっているため問題は発生しない。外来性ノイズがセンサピクセルに蓄積される電荷に影響を与えることはなく、電荷がアンプに転送されるとき、隣室のＸ線発生装置がＸ線を発生していた場合、その転送経路に対して外来性ノイズが重畳することによる。
【００１６】
しかし、上述の方法では単発的ノイズには対応できても、ＣＴやマーゲンのＸ線インバータ、またＣＲＴ、ＵＳＰなどからの強力な周期的磁界が、常時あるいは長時間に渡り漏洩するもの、即ち連続的なノイズに対しては有効ではなく問題となっていた。また、前述のパワー系機器だけでなく液晶ディスプレイなどでも、モバイル用途等で非常に近接して配置された場合でも同様の問題を発生する場合がある。
【特許文献１】特願2003-172867号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
本発明は、上記の問題に鑑み、高感度化を妨げることなく連続的な外来性ノイズがあった場合においても安定した画像を提供することが可能なＸ線撮像装置を提供することを目的としたものである。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記の目的を達成するための本発明による画像読出装置は以下の構成を備える。すなわち、２次元に検出器が配置された検出器アレーと、前記検出器アレーにおける行を単位として、前記検出器より信号を読み出し、保持部に保持する読出手段（62,901,92,100,108）と、外来性電磁界ノイズ検出手段と、前記検出ノイズの位相検出手段と、前記検出した位相より行を単位とした読み出しラインデータをサンプルホールドするタイミングを調整する制御手段とを備える。
【００１９】
本発明によれば、Ｘ線発生装置と、上記画像読出装置とを備えたＸ線撮像装置が提供される。
【発明の効果】
【００２０】
以上のような本発明によれば、Ｘ線ＣＴやマーゲン等のインバータ式Ｘ線発生装置、更には検診車やモバイルなどではＣＲＴ、液晶ディスプレイ等、連続して外来性ノイズを漏洩する機器と近接して設置された場合においても、外来ノイズによる画像上への影響を低減しを安定した画像品質を提供することが可能となるため、設置環境に自由度ができるとともに、小型化が進むモバイル環境等にも対応できる。
【００２１】
更には、ノイズ源の発振が不安定な場合においても、同様の効果を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、添付の図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
【００２３】
Ｘ線撮像システムの構成
図１は、本実施形態によるＸ線撮像システムの構成を示すブロック図である。図１において、１０はＸ線室、１２はＸ線制御室、１４は診断室である。
【００２４】
Ｘ線室１０には、Ｘ線を発生するＸ線発生器４０と、撮影ユニットとしてのＸ線検出器５２が置かれる。Ｘ線発生器４０は、Ｘ線を発生するＸ線管球４２、Ｘ線管球４２を駆動する高圧電源４４、Ｘ線管球４２により発生されたＸ線ビームを所望の撮像領域に絞り込むＸ線絞り４６を有する。
【００２５】
Ｘ線検出器５２は、Ｘ線発生器４０より発生し、被検体５０を透過したＸ線ビームを検出するものであり、グリッド５４、シンチレータ５６、光検出器アレー５８、Ｘ線露光量モニタ６０、駆動器６２、ＤＣ／ＤＣ電源９０２を有する。グリッド５４は、Ｘ線低吸収部材とＸ線高吸収部材とからなり（例えば、ＡｌとＰｂのストライプ構造を有する）、被検体５０を透過することによって生じる散乱Ｘ線の影響を低減する。なお、光検出器アレー５８とグリッド５４との格子比の関係によりモアレが生じないように、グリッド５４を移動させながらＸ線照射を行なうように構成してもよい。
【００２６】
シンチレータ５６は、エネルギーの高いＸ線によって蛍光体の母体物質が励起（吸収）され、その再結合エネルギーにより可視領域の蛍光を発生することにより、Ｘ線を可視光に変換する。シンチレータ５６の蛍光としては、ＣａＷｏ４やＣｄＷｏ４などの母体自身によるものや、ＣｓＩ：Ｔ１やＺｎＳ：Ａｇなどの母体内に付加された発光中心物質によるものがある。光検出器アレー５８は光検出器を２次元状に配置したものであり、シンチレータ５６より出力される可視光を電気信号に変換する。シンチレータ５６と光検出器アレー５８により、所謂フラットパネルセンサが形成される。Ｘ線露光量モニタ６０は、Ｘ線透過量を監視する目的で配置される。Ｘ線露光量モニタ６０としては、結晶シリコンの受光素子などを用いて直接Ｘ線を検出しても良いし、シンチレータ５６による蛍光を検出してもよい。この実施形態では、Ｘ線露光量モニタ６０は、光検出器アレー５８の基板裏面に成膜されたアモルファス・シリコン受光素子から構成される。
【００２７】
駆動器６２は、撮像制御器２４の制御下で光検出器アレー５８を駆動し、各光検出器から信号を読み出す。なお、光検出器アレー５８及び駆動器６２の動作の詳細は後述する。ＤＣ／ＤＣ電源９０２は、ＡＣ／ＤＣ電源９０３からのＤＣ電圧を１つ又は複数種の電圧に変換して、Ｘ線検出器５２内の各回路に所定の電圧を供給する。ＡＣ／ＤＣ電源９０３は、商用ＡＣ電源ラインより、所定のＤＣ電圧に変換する電源である。
【００２８】
Ｘ線制御室１２には、システム制御器２０が配置される。中央処理ユニット２２は当該システムにおける各種制御を実行するものであり、例えばモニタ３０の表示制御、操作パネル３２を介した操作入力の解析、撮像制御器２４、画像処理器２６、外部記憶装置２８を管理する。
【００２９】
撮像制御器２４は、Ｘ線路光量モニタ６０から情報に基づいて高圧電源４４を制御したり、撮影部位に応じたＸ線ビームを形成するべくＸ線絞り１６を制御したりするとともに、Ｘ線検出器５２内の駆動器６２に対して駆動指示を与える。また、画像処理器２６は駆動器６２より得られたＸ線画像データに対して、例えば、画像データの補正、空間フィルタリング、リカーシブ処理、階調処理、散乱線補正及びダイナミックレンジ（ＤＲ）圧縮処理などの画像処理を施す。
【００３０】
外部記憶装置２８は、画像処理器２６により処理された基本画像データを記憶する大容量高速の記憶装置である。外部記憶装置２８には、所定の規格（例えば、Image Save & Carry（ＩＳ＆Ｃ））を満たすように再構成された画像情報が保存される。また、中央処理ユニット２２はＬＡＮにより外部装置、例えば診断室１４内の端末７０、イメージ・プリンタ７４及びファイルサーバ７６と接続され、所定のプロトコル（例えば、Digital Imaging and Communications in Medicine（ＤＩＣＯＭ））に従って画像データを伝送する。
【００３１】
端末７０は、ＬＡＮによって伝送される画像（動画像／静止画）に対して診断支援を目的とした画像処理等を施したり、ディスプレイに表示したりする。イメージ・プリンタ７４はＬＡＮを介して伝送された画像（静止画）を例えばフィルム上にプリント出力する。ファイルサーバ７６は、ＬＡＮを介して伝送された画像（動画像／静止画）を格納し、Ｘ線撮像画像の検索機能を提供する。なお、ＷＡＮ接続により病院間で撮影画像をやり取りするようにしてもよいことはいうまでもない。また、ＬＡＮには、複数のＸ線撮像システムを接続できることは勿論である。
【００３２】
［２］光検出器アレー５８の構成について
次に、光検出器アレー５８の構成及び動作について詳細に説明する。図２は２次元配列の光電変換素子を具備する光検出器アレー５８の等価回路を示す図である。
【００３３】
１つの画素に対応して１つの光検出素子が設けられ、各光検出素子は光検出部（光電変換素子ＰＤ(m,n)）と電荷の蓄積及び読み取りを制御するスイッチング用の薄膜トランジスタ（ＴＦＴスイッチＳＷ(m,n)）とからなる。これら光検出素子は一般にはアモルファス・シリコン（ａ−Ｓｉ）によりガラス基板上に形成される。本実施形態（図２）では、光検出器アレー５８は、光検出部を２次元的に４０９６×４０９６個配置して構成され、アレー面積は４３０ｍｍ×４３０ｍｍとした。従って、１画素のサイズは約１０５μｍ×１０５μｍである。
【００３４】
光電変換素子ＰＤ(m,n)のゲート電極（Ｇ電極）は、ＴＦＴスイッチＳＷ(m,n)を介してその列に共通の列信号線Ｌｃnに接続される。例えば、第１列の光電変換素子ＰＤ(1,1)〜ＰＤ(4096,1)は、第１列の列信号線Ｌｃ1に接続される。また、各光電変換素子ＰＤ(m,n)のＤ電極はバイアス配線Ｌｂを介してバイアス電源８５に接続される。同一行のＴＦＴスイッチＳＷ(m,n)の制御端子は共通の行選択線Ｌｒmに接続される。例えば、第１行のＴＦＴスイッチＳＷ(1,1)〜ＳＷ(1,4096)の制御端子は、第１行の行選択線Ｌｒ1に接続される。
【００３５】
行選択線Ｌｒ1〜Ｌｒ4096はラインセレクタ９２に接続される。ラインセレクタ９２は、駆動器６２からの制御信号に基づきどのラインの光電変換素子の信号電荷を読み出すべきかを決定するアドレスデコーダ９４と、アドレスデコーダ９４の出力に従って各ＴＦＴスイッチＳＷの制御端子への供給電圧（ＶglかＶgh）を切り換える４０９６個のスイッチ素子（９６1〜９６4096）を具備する。なお、ラインセレクタ９２は、最も簡単な構成としては、単に液晶ディスプレイなどに用いられているシフトレジスタによって構成してもよい。
【００３６】
上記構成により、任意のｘ番目の行選択線Ｌｒxに接続されたスイッチ素子９６xのみＶgh側に切り換えることにより、第ｘ行のＴＦＴスイッチＳＷ(x,1)〜ＳＷ(x,4096)がＯＮ状態となり、当該行の光電変換素子ＰＤ(x,1)〜ＰＤ(x,4096)からの蓄積電荷信号が列信号線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096上に取り出される。
【００３７】
列信号線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096は信号読出し回路１００に接続される。信号読出し回路１００において、１０２1〜１０２4096はリセット用スイッチであり、それぞれ列信号線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096と、リセット基準電位（Ｖbt）を供給する電源１０１との接続のＯＮ／ＯＦＦを行なう。プリアンプ１０６1〜１０６4096は、それぞれ列信号線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096からの信号電位を増幅する。サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１０８1〜１０８4096は、それぞれプリアンプ１０６1〜１０６4096の出力をサンプルホールドする。１１０はアナログマルチプレクサであり、Ｓ／Ｈ回路１０８1〜１０８4096の出力を時間軸上で多重化する。１１２はＡ／Ｄ変換器であり、マルチプレクサ１１０より順次供給されるアナログ出力をデジタル化する。Ａ／Ｄ変換器１１２の出力は画像処理器２６に供給される。
【００３８】
なお、信号電荷の蓄積時間とＡ／Ｄ変換時間とは密接な関係にある。高速にＡ／Ｄ変換を行なうとアナログ回路の帯域が広くなり所望のＳ／Ｎを達成することが難しくなる。従って、アナログ信号帯域とＡ／Ｄ変換レートを不必要に大きくすることなく、画像信号の読み取り時間を短くすることが要求される。これを実現するための一手法としては、図２に示す４０９６×４０９６画素からなる光検出器アレーを、例えば上下に２分割或いは左右上下に４分割し、各分割領域毎にマルチプレクサ１１０とＡ／Ｄ変換器１１２の組を設けてこれらを同時に駆動させることが挙げられる。但し、Ａ／Ｄ変換器やマルチプレクサの数を増せば、それだけコストが高くなる。従って、やみくもに多くのＡ／Ｄ変換器を用いることはせず、コストとのバランスを考慮して適当な数のＡ／Ｄ変換器（分割数）を適用するのがよい。
【００３９】
図３に、図２に示した１つの光検出素子の等価回路の一例を示す。光検出部ＰＤは、光ダイオード８０ａとコンデンサ８０ｂの並列回路、及び、コンデンサ８０ｂと直列に接続されたコンデンサ８０ｃとからなる。光電効果による電荷を定電流源８１として記述している。コンデンサ８０ｂは光ダイオード８０ａの寄生容量でも、光ダイオード８０ａのダイナミックレンジを改善する追加的なコンデンサでもよい。光検出部ＰＤの共通バイアス電極（以下、Ｄ電極）はバイアス配線Ｌｂを介してバイアス電源８５に接続する。光検出部ＰＤのＴＦＴスイッチＳＷ側の電極（以下、Ｇ電極）は、ＴＦＴスイッチＳＷを介してコンデンサ８６及び電荷読出し用プリアンプ１０６に接続する。プリアンプ１０６の入力はまた、リセット用スイッチ１０２及び信号線バイアス電源１０１を介してアースに接続される。
【００４０】
［３］光検出器アレー５８の動作
次に、光検出器アレー５８を含む本実施形態のＸ線検出器５２の動作について説明する。まず、本実施形態の光検出器アレー５８の駆動形態について説明しておく。光検出器アレー５８の駆動形態は、光電変換素子のＤ電極とＧ電極の電圧印加の仕方によって分類されるリフレッシュモード及び光電変換モードがあり、光電変換モードでは、空読み、本読み、補正読みが実行される。
【００４１】
＜光電変換モード＞
光電変換モードでは３種類の読み取り動作、空読み、本読み、補正読みが実行されるが、まず、これらの「読み」動作に先立って、駆動器６２は、電源８５の電圧をバイアス値Ｖs（＞Ｖbt）に設定し、全スイッチ素子１０２1〜１０２4096をオフ（全ての列信号配線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096を電源１０１から開放）し、全スイッチ素子９６1〜９６4096をＶgl側（全てのＴＦＴスイッチＳＷ(1,1)〜ＳＷ(4096,4096)をオフ）にする。以下、この状態を光電変換モードの基本状態という。
【００４２】
［空読みについて］
空読みは、図３の光電変換素子ＰＤのＤ電極にＶsを、Ｇ電極にＶbtを印加することにより、コンデンサ８６、８９に蓄積されたホール、延いてはコンデンサ８０ｂ、８０ｃ等に蓄積されたホールを放出させるための駆動である。
【００４３】
本実施形態の空読みでは、光電変換モードの基本状態（この状態で全ての光電変換素子ＰＤのＤ電極にはＶsが印加されている）から、
(1)スイッチ素子１０２1〜１０２4096の全てをＯＮして全ての列信号配線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096にリセット基準電位Ｖbtを供給し、
(2)スイッチ素子９６xのみをＶgh側にして当該行に対応する光電変換素子ＰＤ(x,1)〜ＰＤ(x,4096)のＧ電極にＶbtを印加し、
(3)上記(2)をｘ＝１〜４０９６まで順次に実行する。
【００４４】
なお、上記空読み動作で、行選択線Ｌｒを全て同時にＶghにすることも可能であるが、この場合では読み出し準備完了時に、信号配線電位がリセット電圧Ｖbtから大きくずれることなり、高Ｓ／Ｎの信号を得ることが難しい。また、上記手順では、行選択線Ｌｒを１から４０９６ヘ順次選択してリセットしたが、撮像制御器２４の設定に基づいた駆動器６２の制御により任意の順番でリセットを行なうことも可能である。
【００４５】
［本読み及び補正読みについて］
本読みはＸ線曝射後に光電変換素子ＰＣの信号電荷を読み出すための駆動である。また、補正読みは本読みの後に補正用の暗画像を取得するための駆動である。本読み及び補正読みにおいて、光検出器アレー５８における動作自体は同一である。すなわち、電極ＤにＶsを印加し、スイッチ素子１０２をＯＦＦにした状態でＴＦＴスイッチＳＷをＯＮにすることにより受光量に応じた電位が光電変換素子ＰＤから列信号配線Ｌｃ上に供給される。
【００４６】
本実施形態による本読み及び補正読みの概略の手順は、以下のとおりである。即ち、上記光電変換モードの基本状態から、
(1)スイッチ素子１０２1〜１０２4096のＯＮ・ＯＦＦによりコンデンサ８６、８９に蓄積された電荷を放出（アンプ入力部のリセット）し、
(2)スイッチ素子９６xのみをＶgh側にして行選択線Ｌｒx上の光電変換素子ＰＤ(x,1)〜ＰＤ(x,4096)からの蓄積電荷信号を列信号線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096上に取り出し、
(3)蓄積電荷信号をプリアンプ１０６1〜１０６4069によって増幅し、Ｓ／Ｈ回路１０８1〜１０８4096に保持し、
(4)Ｓ／Ｈ回路１０８1〜１０８4096によって保持された信号を、マルチプレクサ１１０によってシリーズ化し、Ａ／Ｄ変換器１１２によってデジタルデータへ変換して出力し、
(5)上記動作をｘ＝１〜４０９６まで順次繰り返し、全画素データを取得する。
なお、上記(4)の実行の間に、次の行選択線Ｌｒx+1について(1)〜(2)を実行し、
(4)の完了後に当該選択行（x+1）について(3)を実行する。
【００４７】
＜リフレッシュモード＞
リフレッシュモードは、光電変換素子ＰＤ内に生じたホールの飽和状態を解消するためのものであり、特に上記空読みによって排除しきれないコンデンサ８０ｂ、８０ｃ等に蓄積されたホールを逃がすために行なわれる。リフレッシュモードでは、バイアス電源８５をＶｒにし、スイッチ素子１０２及びＴＦＴスイッチＳＷをＯＮ状態にしてＤ電極電位＜Ｇ電極電位（Ｖr＜Ｖbt）とすることによりコンデンサ８０ｂ、８０ｃ等に蓄積されたホールを逃がす。
【００４８】
リフレッシュモードでは、駆動器６２は図２の光検出器アレー５８を以下の手順で動作させる。即ち
(1)電源８５をバイアス電圧Ｖrにすることにより全ての光電変換素子ＰＤのＤ電極にＶｒを印加し、
(2)スイッチ素子１０２1〜１０２4096をオンして全ての列信号配線Ｌｃ1〜Ｌｃ4096にリセット基準電位Ｖbtを印加し、
(3)全てのスイッチ素子９６1〜９６4096をＶgh側に切り換えることにより全ての光電変換素子ＰＤのＧ電極にリセット基準電位Ｖbtを印加する。
【００４９】
＜撮像システムにおける光検出器アレーの駆動制御＞
次に、図４のタイミングチャートを参照して、上記各駆動形態の実行タイミングを詳細に説明する。図４において、４００は操作パネル３２に対するユーザ操作によって発生する撮像要求信号、４０１はＸ線発生器レディ信号、４０２は実際のＸ線曝射状態、４０３は操作者２１の指示に基づいた撮像制御器２４から駆動器６２への撮影要求信号、４０４はＸ線検出器５２の撮影レディ信号、４０５はＸ線検出器５２の駆動状態（特に光検出器アレー５８からの電荷読み出し動作）をそれぞれ示している。４０６は画像データの転送状態や、画像処理や表示の状態を概念的に表している。
【００５０】
操作パネル３２から撮影準備の要求を指示すると（４００、１ｓｔＳＷ）、撮像制御器２４はＸ線発生器４０とＸ線検出器５２に対して撮影準備状態へ移行させる指示（撮影準備要求指示）を出す。撮影準備要求指示を受けた駆動器６２は、１回のリフレッシュモード動作（Ｒ）とｎ回の空読み（Ｆ1〜Ｆn）を１セットとして繰り返すアイドリング駆動を開始する（４０５）。なお、リフレッシュモード動作が不要なセンサを用いた場合にはリフレッシュモード動作は不要である。また、撮影準備要求指示を受けたＸ線発生器４０は、例えば、管球のロータアップなどを開始し、撮影準備が完了するとＸ線発生器レディ信号４０１を撮像制御器２４に出力する。
【００５１】
なお、上述の撮影準備要求指示は、操作者２１が意識的に出さなくても良い。即ち、操作パネル３２に対して、患者情報や撮影情報などが入力されたことをもって、撮像制御器２４は検撮影準備の要求指示と解釈し、Ｘ線発生器４０とＸ線検出器５２を検出器準備状態へ移行させても良い。
【００５２】
次に、操作パネル３２の操作によって撮影要求指示（４００：２ｎｄＳＷ）が入力されると、撮像制御器２４はＸ線発生器４０とＸ線検出器５２との同期を取りながら撮影動作を制御する。まず、撮影要求指示（４００：２ｎｄＳＷ）に従いＸ線撮像要求信号４０３をＸ線検出器５２に対してアサートする。駆動器６２はＸ線撮像要求信号に呼応して、直ちにアイドリング駆動から撮影駆動に動作を切り換える（４０５）。
【００５３】
撮影駆動では、撮像装置駆動状態４０５に示されるように、Ｘ線画像取得駆動と補正用暗画像取得駆動が行われる。Ｘ線画像取得駆動は更に、検出準備駆動（Ｔ３）、曝射期間（Ｔ４）、本読み（Ｆrx）を含む。検出準備駆動ではリフレッシュ動作（Ｒ）と空読み（Ｆp：図４ではＦp1、Ｆp2、Ｆpf）が所定のシーケンスで実行される。これらの動作が終了すると、駆動器６２は、Ｘ線検出器５２の撮影準備が整ったとして、撮像制御器２４に対してＸ線検出器レディ信号４０４を返す。撮像制御器２４はＸ線検出器レディ信号４０４の遷移を検出して、Ｘ線発生要求信号４０２をＸ線発生器４０にアサートする。
【００５４】
Ｘ線発生器４０は、Ｘ線発生要求信号４０２が与えられている間Ｘ線を発生する。所定Ｘ線量を発生したら（即ち、所定時間が経過したら）撮像制御器２４はＸ線撮像要求信号４０３とＸ線発生要求信号４０２をネゲートしてＸ線曝射を終了する。Ｘ線撮像要求信号４０３のネゲートによりＸ線検出器５２へ画像取得タイミングが通知される。このタイミングを元にして、信号読み出し回路１００の安定のための所定ウェイト時間の後、駆動器６２はＸ線検出器レディ信号４０４をネゲートするとともに、光検出器アレー５８から画像データを読み出す（本読み（Ｆrx））。読み出した画像データ（生画像）は画像処理器２６に供給される。本処理が完了すると駆動器６２は読み出し回路１００を再び待機状態に遷移させる。なお、検出準備駆動の終了から画像データの読み出し開始までの期間をＸ線曝射期間（Ｔ４）とする。
【００５５】
以上のように本読みを終えるとＸ線画像取得駆動が終了する。上述した本読みにおいて、各センサの電荷蓄積時間はリセット動作が完了したときから、即ち本読みの直前の空読み（Ｆpf）においてＴＦＴスイッチＳＷをオフしてから、本読みにおいてＴＦＴがオンするまでの間となる。従って、各選択行毎に電荷蓄積時間及び時刻が異なる。そこで、補正読みを行なって得られた補正用暗画像を用いて、本読みで得られた画像を補正し上記条件の違い等を吸収する。
【００５６】
このため、Ｘ線検出器５２はＸ線画像取得駆動に引き続き補正用暗画像取得駆動を開始し、補正用暗画像を取得して画像処理器２６に転送する。補正用暗画像取得駆動は、検出準備駆動（Ｔ３）、Ｘ線曝射の無いディレイ期間（Ｔ５）、補正読み（Ｆrn）を含むが、Ｘ線検出器５２自体の動作はＸ線画像取得駆動における検出準備駆動（Ｔ３）、Ｘ線曝射期間（Ｔ４）、本読み（Ｆrx）と全く同じである。すなわち、Ｘ線曝射が実行されない点を除いてＸ線画像取得駆動のシーケンスと補正用暗画像取得駆動のシーケンスとは同一である。
【００５７】
なお、Ｘ線画像取得駆動は撮影の度にＸ線曝射時間などが若干異なる可能性が有るが、補正用暗画像取得駆動ではそれも含めて全く同じシーケンスを再現して暗画像を取得する。こうして取得した暗画像を用いてＸ線画像を補正することにより、高画質なＸ線画像を得ることができる。但し、Ｘ線曝射期間中にグリッドを移動する構成の場合、暗画像取得時にはグリッドを移動しないようにしてもよい。
【００５８】
また、Ｘ線画像取得駆動における空読み（Ｆp）の回数や時間間隔Ｔ２は撮像制御器２４からの撮像要求に先んじて予め設定される。但し、空読み（Ｆp）の回数及び時間間隔Ｔ２は操作者２１の要求により操作性重視なのか画質重視なのか、または撮像部位等に基づいて自動的に最適な値が選択される。また、曝射要求から撮影準備完了までの期間（Ｔ３）は短いことが実使用上要求されるので、空読み（Ｆp）の時間間隔Ｔ２はなるべく短くすることが好ましい。更に、曝射要求が発生した時点で、アイドリング駆動のいかなる状態においても即座に上記の撮像シーケンス駆動に入るようにする。こうすることにより曝射要求から撮影準備完了までの期問（Ｔ３）を短くすることができ、操作性が向上する。
【００５９】
更に、本実施形態ではアイドリング駆動時の空読み（Ｆi）と、Ｘ線画像取得駆動中における検出準備駆動の空読み（Ｆp）で動作形態を変化させている。アイドリング駆動期間では光検出器アレー５８（特にＴＦＴスイッチＳＷ）に負荷のかかる読み出し動作を極力少なくするために空読み（Ｆi）の実行間隔Ｔ１を検出準備駆動時のそれ（Ｔ２）よりも長く設定し、ＴＦＴスイッチＳＷのオン時間も本読み時のそれよりも短く設定する。また、本実施形態では、検出準備駆動においてもＴＦＴのオン時間が短い空読みを所定回数実行し、本読み開始の直前において本読みと同じＴＦＴのオン時間を有する空読み（Ｆpf）を実行する。
【００６０】
［４］画像処理機２６の動作
図５は画像処理器２６の画像データの流れを示す図である。５０１はデータパスを選択するマルチプレクサ、５０２及び５０３はそれぞれＸ線画像用及び暗画像用フレームメモリ、５０４はオフセット補正回路、５０５はゲイン補正データ用フレームメモリ、５０６はゲイン補正用回路、５０７は欠陥補正回路をそれぞれ表す。また、５０８はその他の画像処理回路を代表し表している。
【００６１】
図４のＸ線画像取得駆動の本読み（Ｆrx）で取得されたＸ線画像がマルチプレクサ５０１を経由してＸ線画像用フレームメモリ５０２に記憶される。続いて、暗画像取得駆動の補正読み（Ｆrn）で取得された補正用暗画像がマルチプレクサ５０１を経由して暗画像用フレームメモリ５０３に記憶される。
【００６２】
オフセット補正回路５０４は、例えばフレームメモリ５０２の画像からフレームメモリ５０３の画像を差し引くことによりオフセット補正をする。ゲイン補正回路５０６は例えば予め取得されゲイン補正用フレームメモリに記憶してあるゲイン補正用データでもってオフセット補正された画像を割算することによりゲイン補正を行なう。ゲイン補正されたデータは引き続き欠陥補正回路５０７に転送され、不感画素部分や複数パネルで構成されたＸ線検出器５２のつなぎ目部分などに違和感を生じないように画像を連続的に補間し、Ｘ線検出器５２に由来するセンサ依存の補正処理を完了する。更に、その他の画像処理回路５０８にて、一般的な画像処理、例えば、階調処理、周波数処理、強調処理などの処理を施した後、外部記憶装置２８に保存したり、モニタ３０に撮影画像を表示したりする。
【００６３】
［５］外来性電磁界ノイズに起因する画像ノイズへの対策
以上、本実施形態のＸ線撮像システムの動作、特に光検出器アレー５８からの画像の読み取り動作について説明した。
【００６４】
以上の説明は通常状態での動作について説明してきた。
【００６５】
本実施形態では、外来ノイズが重畳した場合においても、更なる画質の向上を図るべく、上述した本読み及び補正読みにおける動作を当該Ｘ線検出器５２が内蔵する外来性電磁界検出手段からの情報からセンサ読み出し走査周波数を制御することにより、ノイズの少ない画像を提供することができる。
【００６６】
更には、外来ノイズに多少の周波数変動があった場合においても同効果を得ることができる。
【００６７】
以下、この点について詳述する。
【００６８】
図７は光検出器アレー５８からの信号読み取りに関る詳細な構成を示すブロック図である。光検出器アレー５８、駆動機６２、ラインセレクタ９２、マルチプレクサ１１０、Ａ／Ｄ変換器１１２、ＤＣ／ＤＣ電源９０２は図１及び図２で説明したとおりである。また、スイッチ素子１０２、プリアンプ１０６、Ｓ／Ｈ回路１０８は、それぞれ図５のスイッチ素子１０２1〜１０２4096、プリアンプ１０６1〜１０６4096、Ｓ／Ｈ回路１０８1〜１０８4096をまとめて表している。
【００６９】
９０２は、外来ノイズ検出器である。
【００７０】
外来ノイズ検出器としては、電界性と磁界性の検出器に分かれるが、前述したようにセンサに対して影響を与えやすいのは交流磁界ノイズであるため、交流磁界の検出器を用いる。
【００７１】
交流磁界検出器として考えられるのが、ループコイル、ホール素子等であり、またパネル内の有効領域周辺に配置されるダミーセンサなども使用できる。ダミーセンサは、パネル信号出力のうち、光が入射されない水平、垂直画素領域として有効領域の周辺に配置されるセンサであり、主に信号の黒基準即ち、熱励起による暗電流や出力段アンプのノイズ等の成分の検出などに利用するものである。
【００７２】
外来ノイズ検出器は、外来磁界ノイズの入射方向とセンサの信号ライン等との配置関係により、その外来ノイズからの影響度は変化するが、最も結合し易い方向配置により決定することが感度よく検出できるため好ましい。外来ノイズ検出器は撮影部内あるいはその周囲に近接して設けられる。
【００７３】
外来ノイズ検出器からの交流出力はアンプした後、不要な高周波ノイズを低減するためＬＰＦなどで所定周波数領域に制限した後出力される。
【００７４】
９０３は、ノイズ位相測定器であり外来ノイズ検出器９０２からの交流出力を受け取り、後述のＣＰＶとの位相を測定する。
【００７５】
具体的な一構成例と動作としては、ＡＤＣを内臓したＭＰＵ等によりノイズ検出を時分割確認する。即ち、ＭＰＵはＡＤＣで常にノイズをサンプリングし、サンプリングしたデータが画像に影響を与えることが分かっている予め定められた許容レベルを超えた場合、後述のＣＰＶからそのポイントまでのタイミングとノイズの周期も合わせて測定する。これらの情報はラインＳＨ（サンプルホールド以下ＳＨ）信号タイミング調整器９０４に送られる。
【００７６】
なお、ノイズ周期が補正の許容範囲を超える場合、補正不可のノイズであることを示す警告を発生し、駆動器６２に伝達する。
【００７７】
他の構成としては、外来検出器９０２に許容レベルと比較するコンパレータを加えデジタル化したデータを、ノイズ位相測定器９０３のＭＰＵのポートに直接入力してもよい。
【００７８】
９０４は、ラインＳＨ（サンプルホールド以下ＳＨ）信号タイミング調整器であり外来ノイズ周波数測定器９０３からのノイズ位相をもとに、外来ノイズからの影響を低減するラインＳＨタイミングを調整し、タイミング信号発生部９０１に出力する。
【００７９】
なお、これらの動作はＭＰＵ内で処理してもよいし、また処理専用の算出器をＰＬＤ等で構成し行なうこともできる。なお、ＳＨ可動範囲を超える場合は、補正不可のノイズであることを示す警告を発生し駆動器６２に伝達する。
【００８０】
９０１はタイミング信号発生部であり、ＳＨ、ＲＣ、ＯＥ、ＣＳの各信号を駆動器６２の指示に基づいて出力する。ＳＨについてはラインＳＨ信号タイミング調整器９０４からの情報に基づいて設定されるが、デフォルトのＳＨタイミングとの切り替え、設定などは全て駆動器６２からの指示に基づく。各信号の詳細説明は後述する。
【００８１】
なお、タイミング信号発生部９０１では、高周波数のマスタークロックを分周することにより上記の各種タイミング信号を発生する。
【００８２】
ここで、外来ノイズが引き起こす画像上のノイズについて説明しておく。
【００８３】
図９は、外来ノイズである交流磁界が光検出部に重畳し電磁誘導を引き起こした場合に発生する画像ノイズ、即ちゲートライン（行選択線Ｌｒ）ごとに発生するラインノイズのイメージ図である。水平方向にゲートラインが、垂直方向にシグナルライン（列信号線Ｌｃ）がレイアウトされており、一例として５ゲートライン毎に強いラインノイズが発生する場合を示している。このようにラインノイズは撮影画像上に重畳されるため、画像品質を著しく低下させてしまい、医療用画像の場合は特に誤診などを引き起こすことにもつながるため問題となる。
【００８４】
このラインノイズは、信号ライン上の信号をサンプルホールドする位置（タイミング）と、外来ノイズが信号に重畳する位相関係がラインごとで順次ずれるために、所定の周波数のビートとして画像上のラインノイズとして出現してしまうことにより発生する。
【００８５】
ここで、１ラインの走査周波数をＦl（サンプリング周波数）、外来ノイズ周波数をＦn、とすると画像のラインノイズ周波数Ｆlnは、ノイズがサンプリング中に重畳することを前提とするとノイズとサンプリングのビートであるので下記のように示すことができる。
【００８６】
Ｆln＝ＡＢＳ（Ｆn−ｉ×Ｆl）≦Ｆl（ただしｉ：零以上の正の整数）
Ｆln／Ｆl＝ＡＢＳ（Ｆn／Ｆl−ｉ）≦１
ここで、Ｆn／Ｆl＝ｉ＋ｄ（ただしｄ：小数部）とすると、これを上式に代入して、
Ｆln／Ｆl＝ｄ≦１となる。よってラインノイズ周波数Ｆlnは、
Ｆln＝ｄ×Ｆlのようになる。
【００８７】
例えば、ｄ＝０．２の場合は、５ライン毎にラインノイズが発生することになる。従って、ｄを０にすること、すなわち、外来性ノイズの周波数Ｆnとサンプリング周波数Ｆlを整数倍の関係とすれば、ラインノイズの影響を低減できることがわかる。しかし、ノイズ発信源の周波数が多少変動する場合などでは一様な低減化が困難になる。
【００８８】
そこで本件の場合、ノイズの位相を測定し、ノイズの所定位相となるポイントで、ラインＳＨをライン毎に調整するので、画像上のノイズ位相は全てのラインで一定の位相となり、画像上のノイズが低減化することができる。
【００８９】
以下、上述の本読み（Ｆrx）及び補正読み（Ｆrn）時の動作の詳細について図６のブロック図と図８のタイミングチャートを用いて説明する。なお、外来ノイズが影響するのは、本読み、補正読み時のみであり、その他の空読み等では問題とはならない。
【００９０】
光検出器アレー５８より画像情報を読み出す際、タイミング信号発生部９０１は、ライン駆動信号ＣＰＶを発生する。サンプルホールド信号ＳＨはライン駆動信号ＣＰＶに同期するので、ライン駆動信号ＣＰＶと同じ周波数を有する。
【００９１】
本読み（Ｆrx）及び補正読み（Ｆrn）では、行単位での画素信号の読み込みが行なわれる。図８は第Ｎ行における読み込み動作を示している。タイミング信号発生部９０１はマスタークロック信号ＣＬＫに同期してまずリセット信号ＲＣを発生する。リセット信号ＲＣによりスイッチ素子１０２がオン、オフ動作をして列信号線Ｌｃをリセットする。ライン駆動信号ＣＰＶによりラインセレクタ９２は選択された行選択線のＴＦＴスイッチＳＷをＯＮすると共に、ＯＥ信号をＯＮしてマルチプレクサ１１０の出力をイネーブルとする。選択された行選択線Ｌｒ上の各光電変換素子ＰＤ内に蓄積された電荷は列信号線Ｌｃを介して読み出し回路１００へ転送され、プリアンプ１０６で積分される。タイミング信号発生部９０１は、サンプルホールド信号ＳＨを送出してプリアンプ１０６の出力電圧値をＳ／Ｈ回路１０８にホールドさせる。
【００９２】
この後、タイミング信号発生部９０１は、同様にしてライン駆動信号を送出し次のラインの読み出しを行なうため信号ラインのリセット信号ＲＣを送出する。前ラインでホールドされた電圧値は、更に次のサンプルホールド信号が送出されるまでの間にＡＤ変換機１１２に送られてデジタル信号に変換される。
【００９３】
なお、実装上、スイッチ素子１０２、プリアンプ１０３及びサンプルホールド回路１０８は、１つの信号線に対応するスイッチ素子、プリアンプ、Ｓ／Ｈ回路を１系統として、たとえば２５６系統が一つにＩＣ化されて実施される。本実施形態のように４０９６列を有する光検出器アレー５８の場合は、１６個のＩＣが必要となる。このようにＩＣは複数に及ぶため選択信号により順次一つずつ選択されていく。後述の図１１では、５個のＩＣがＣＳ信号０〜４によって順次選択されていく様子を示した。選択されたＩＣの出力は、マルチプレクサ１１０を介してＡＤ変換機１１２に送られ、ＩＣからの２５６系統の出力が順次ＡＤ変換機１１２によってデジタル信号に変換される。
【００９４】
上記のような動作を繰り返して全ラインの読み出しを行なう。
【００９５】
タイミング信号発生部９０１より送出される各信号において、１ライン内でのタイミング（位相）は変化せず一定にする。例えばリセット信号ＲＣ及びライン駆動信号ＣＰＶはクロック信号ＣＬＫの整数倍の周期を有し、サンプルホールド信号ＳＨはＲＣ或いはＣＰＶをＯＮしてから所定時間の経過後にＯＮする。ここで、サンプルホールド信号ＳＨは、例えば、ＲＣ或いはＣＰＶをＯＮしてから所定数のマスタークロックをカウントしてＯＮにすればよい。
【００９６】
このためサンプルホールドするときのタイミングを、ノイズの位相に対して、ライン毎で常に所定の位相タイミングで、ＳＨすれば全てのラインが同一のノイズ位相に保たれる。よって、仮にサンプルホールドしたタイミングが外来ノイズの大きいポイントであったとしても、全ラインが同一ポイントで読み出されるため、即ち同一位相のノイズが重畳するため、画像上でのライン上のノイズは見えにくくなる。
【００９７】
図９は、図８のタイミングチャートの一部を拡大した図である。図９を用いて上記説明を補足する。
【００９８】
ＳＨ可動範囲は、ＴＦＴをＯＮするＯＥ信号がＯＮ⇒ＯＦＦになるポイントから次のラインのＣＰＶ信号が来るまでの範囲である。サンプルホールド信号ＳＨは、ノイズ位相信号、図上では立下りから所定時間Ｔｓ後に、サンプルからホールドに切り換えている。このことにより、プリアンプ１０６から出力される信号ＳＩＧはいずれも１ラインの中で位相関係が固定される。
【００９９】
プリアンプ１０６の出力信号ＳＩＧは、外来ノイズにより、信号検出系にそのノイズが電磁結合し、外来ノイズと同期したノイズ信号（簡易的に三角波とした）が重畳される。本実施形態によればＳ／Ｈ回路１０８によってサンプル状態からホールドされるＳＩＧのポイントをＡとすると、次のラインに関してもホールドされるポイントはＡのままとなる。このようにＳＩＧ信号上にノイズが重畳していた場合であっても、同一位相で各ラインをサンプリングすることにより、画像化した場合のラインノイズは低減化できる。一方、通常の場合、各位相関係はライン毎で順次ずれていくため、ホールドされるポイントがＡ、Ｂ，Ｃと順次変化することとなり図９に示したようなラインノイズを発生することになる。
【０１００】
なお、当然のことながら、サンプルホールドポイントをノイズが少ないタイミングに合わせ込むことは更に有効である。
【０１０１】
ここで、上述した撮影システムの駆動制御の中で、外来ノイズを低減するための一連の動作について説明する。
【０１０２】
図４のタイミングチャートにおいて、操作パネル３２から撮影準備の要求を指示すると（４００、１ｓｔＳＷ）、撮像制御器２４はＸ線検出器５２に対して撮影準備状態へ移行させる指示（撮影準備要求指示）を出す。撮影準備要求指示を受けた駆動器６２は、上述の動作とともに、外来ノイズ検出器９０２、ノイズ位相測定器９０３、ラインＳＨ信号タイミング調整器９０４を動作させ、タイミング信号発生部９０１への設定の一連の動作を、本読み動作の直前まで繰り返して行なう。なお、補正読みの前に更にノイズ測定を行い更新してもよい。
【０１０３】
駆動器６２は、外来ノイズが発生していない場合は、デフォルトのラインＳＨタイミングのまま通常とおりに読み出し動作の指示をタイミング発生部９０１に指示するが、発生している場合は、ラインＳＨ信号タイミング調整器９０４により算出されたＳＨタイミングに切り換えるよう指示する。また、同器は補正できないノイズ、対応範囲を超えた周波数の場合は、補正できないことを、撮像制御器２４に伝達し操作者へ警告する。あるいは、爆射の中止あるは設置環境の変更を指示してもよい。
【０１０４】
一連の動作が完了し、次の撮影に戻る際には、走査周期はデフォルトの値に戻し、次の撮影に備える。
【０１０５】
以上説明したように本実施形態によれば、Ｘ線ＣＴやマーゲン等のインバータ式Ｘ線発生装置、更には検診車やモバイルなどではＣＲＴ、液晶ディスプレイ等、連続して外来性ノイズを漏洩する機器と近接して設置された場合においても、外来ノイズによる画像上への影響を低減しを安定した画像品質を提供することが可能となるため、設置環境に自由度ができるとともに、小型化が進むモバイル環境等にも対応できる。
【０１０６】
更には、ノイズ源の発振が不安定な場合においても、同様の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】実施形態によるＸ線撮像システムの概要を示す模式図である。
【図２】実施形態による光検出器アレーの構成例を示す模式図である。
【図３】図２に示す光検出器アレーにおける光検出素子を説明する模式図である。
【図４】実施形態のＸ線撮像システムのタイミングチャートである。
【図５】実施形態による取得画像の処理を示すフローブロック図である。
【図６】実施形態のＸ線撮像システムの主要な回路構成を示した図である。
【図７】ラインノイズ発生画像例を示す図である。
【図８】実施形態のＸ線撮像システムのタイミングチャートである。
【図９】実施形態のＸ線撮像システムのタイミングチャートの一部拡大図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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