(57)【要約】【課題】ドライブ動作中にオフセット補正する際にも、光ディスクからのデータ読み出し等の処理実行の全処理時間を従来に比べて短縮することができる光ディスク装置及びサーボオフセット補正方法を提供する。【解決手段】装置内の温度変化及びオフセット検出回路４で検出されたオフセットをメモリ７に記憶しておき、ドライブ動作中に装置内温度が変化した場合、その時の装置内温度およびメモリ７内のデータを基に、オフセット制御信号生成回路５でオフセット制御信号を生成し、このオフセット制御信号から信号Ｖ３０１の温度特性に基づいてオフセット調整部３１で得られた信号Ｖ３０１を用いて、オフセット調整回路３によるオフセット補正を制御する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から放射された光束を記録媒体上に集光させる光学ヘッドと、前記光学ヘッドの出力信号から、フォーカスエラー信号又はトラックサーボエラー信号であるサーボエラー信号を演算する演算回路と、前記演算回路のオフセットを調整して補正するオフセット調整回路と、前記演算回路のオフセットを検出するオフセット検出回路と、前記オフセット調整回路によるオフセット調整を制御するためのオフセット制御信号を生成するオフセット制御信号生成回路と、装置内の温度を検出する温度センサと、前記温度センサで検出した温度と前記オフセット補正の関係を記録するメモリと、前記光学ヘッドを含む装置全体を制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記温度センサにより装置内温度の変化を検出した場合は、その時の装置内温度および前記メモリ内のデータを基に、前記オフセット制御信号生成回路で前記オフセット制御信号を生成し、そのオフセット制御信号に基づいて、前記オフセット調整回路によるオフセット補正を制御するよう構成したことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法であって、ドライブ動作中に、前記温度センサにより装置内温度の変化を検出した場合は、その時の装置内温度および前記メモリ内のデータを基に、前記オフセット制御信号生成回路で前記オフセット制御信号を生成し、そのオフセット制御信号に基づいて、前記オフセット調整回路によるオフセット補正を制御することにより、光学ヘッドをＯＦＦ状態にせずにサーボ信号のオフセットを補正することを特徴とするサーボオフセット補正方法。
【請求項３】
請求項２記載のサーボオフセット補正方法であって、前記オフセット検出回路によるオフセットの検出を、ドライブ起動時に実行することを特徴とするサーボオフセット補正方法。
【請求項４】
請求項１記載の光ディスク装置であって、前記メモリに前記演算回路のオフセットの温度特性を決めるゲイン設定値とオフセット調整値を記録し、前記オフセット調整回路は、前記オフセット検出回路で検出したオフセットに応じて、前記メモリ内のゲイン設定値とオフセット調整値を用い、前記オフセットの温度特性を可変可能なように構成したことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４記載の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法であって、ドライブ動作中に、装置内温度が変化した場合は、前記メモリに記憶したゲイン設定値とオフセット調整値を用いて、前記オフセットの温度特性を可変することにより、前記オフセット調整回路による温度変化のモニター動作を実行せずに、かつ光学ヘッドをＯＦＦ状態にせずにサーボ信号のオフセットを補正することを特徴とするサーボオフセット補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置においてサーボエラー信号を生成する際に生じるオフセットの補正技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、光ディスクシステムの光ディスク装置において、光学ヘッドを含めた回路には、温度変化等によるオフセットが存在する。そのような光ディスク装置においては、そのサーボエラー信号回路によりサーボエラー信号を精度よく生成するため、回路のオフセットを補正する必要がある。
【０００３】
以上のような従来の光ディスク装置のオフセット補正方法（例えば、特許文献１を参照）について、以下に説明する。
図１０は従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１０に示す光ディスク装置においては、回路を構成する同一素子でもそのプロセスバラツキにより回路構成上オフセットが発生する。そのようなオフセットの調整は装置の組立て調整時に行うが、装置動作中の温度変化によるオフセットの発生をキャンセルすることはできない。図１１に示すようなオフセットに温度特性がある場合は、図１２に示すフローチャートのように、温度変化に伴いドライブ動作時にも適時光学ヘッドをＯＦＦさせて、オフセット検出回路によってオフセットを検出し、そのオフセットを補正することにより、図１３に示すように、補正電圧および出力電圧の温度変化に対する補正結果を得るような方法を行っている。
【特許文献１】特許第２９１０３５０号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら上記のような従来の光ディスク装置では、ドライブ動作中に温度変化があった場合には、その温度変化に伴うオフセット補正時に光学ヘッドをＯＦＦさせる必要があるため、ドライブ動作中であっても、オフセット補正する場合には、光ディスクからのデータ読み出しが一時中断されてしまい、データ読み出し等の全体の処理時間が増大してしまうという問題点を有していた。
【０００５】
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、ドライブ動作中に温度変化があった場合にオフセット補正する際にも、光ディスクからのデータ読み出し等の処理実行の全処理時間を従来に比べて短縮することができる光ディスク装置及びサーボオフセット補正方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決するために、本発明の請求項１に記載の光ディスク装置は、光源から放射された光束を記録媒体上に集光させる光学ヘッドと、前記光学ヘッドの出力信号から、フォーカスエラー信号又はトラックサーボエラー信号であるサーボエラー信号を演算する演算回路と、前記演算回路のオフセットを調整して補正するオフセット調整回路と、前記演算回路のオフセットを検出するオフセット検出回路と、前記オフセット調整回路によるオフセット調整を制御するためのオフセット制御信号を生成するオフセット制御信号生成回路と、装置内の温度を検出する温度センサと、前記温度センサで検出した温度と前記オフセット補正の関係を記録するメモリと、前記光学ヘッドを含む装置全体を制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記温度センサにより装置内温度の変化を検出した場合は、その時の装置内温度および前記メモリ内のデータを基に、前記オフセット制御信号生成回路で前記オフセット制御信号を生成し、そのオフセット制御信号に基づいて、前記オフセット調整回路によるオフセット補正を制御するよう構成したことを特徴とする。
【０００７】
また、本発明の請求項２に記載のサーボオフセット補正方法は、請求項１記載の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法であって、ドライブ動作中に、前記温度センサにより装置内温度の変化を検出した場合は、その時の装置内温度および前記メモリ内のデータを基に、前記オフセット制御信号生成回路で前記オフセット制御信号を生成し、そのオフセット制御信号に基づいて、前記オフセット調整回路によるオフセット補正を制御することにより、光学ヘッドをＯＦＦ状態にせずにサーボ信号のオフセットを補正する方法としたことを特徴とする。
【０００８】
また、本発明の請求項３に記載のサーボオフセット補正方法は、請求項２記載のサーボオフセット補正方法であって、前記オフセット検出回路によるオフセットの検出を、ドライブ起動時に実行する方法としたことを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の請求項４に記載の光ディスク装置は、請求項１記載の光ディスク装置であって、前記メモリに前記演算回路のオフセットの温度特性を決めるゲイン設定値とオフセット調整値を記録し、前記オフセット調整回路は、前記オフセット検出回路で検出したオフセットに応じて、前記メモリ内のゲイン設定値とオフセット調整値を用い、前記オフセットの温度特性を可変可能なように構成したことを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の請求項５に記載のサーボオフセット補正方法は、請求項４記載の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法であって、ドライブ動作中に、装置内温度が変化した場合は、前記メモリに記憶したゲイン設定値とオフセット調整値を用いて、前記オフセットの温度特性を可変することにより、前記オフセット調整回路による温度変化のモニター動作を実行せずに、かつ光学ヘッドをＯＦＦ状態にせずにサーボ信号のオフセットを補正する方法としたことを特徴とする。
【００１１】
以上により、ドライブ動作中に温度変化があった場合にその温度変化に伴うオフセット補正の際にも、光学ヘッドをＯＦＦする必要なしに、サーボエラー信号の生成に関わるオフセット補正を実行することができる。
【発明の効果】
【００１２】
以上のように本発明によれば、ドライブ動作中に温度変化があった場合にその温度変化に伴うオフセット補正の際にも、光学ヘッドをＯＦＦする必要なしに、サーボエラー信号の生成に関わるオフセット補正を実行することができる。
【００１３】
そのため、ドライブ動作中に温度変化があった場合にオフセット補正する際にも、光ディスクからのデータ読み出し等の処理実行の全処理時間を従来に比べて短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態を示す光ディスク装置及びサーボオフセット補正方法について、図面を参照しながら具体的に説明する。
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１の光ディスク装置及びサーボオフセット補正方法を説明する。
【００１５】
図１は本実施の形態１の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１において、１はレーザおよび受光素子などから構成される光学ヘッド、２はサーボ信号を演算する演算回路、３はオフセット調整回路、３１はオフセット調整回路３内でオフセットの絶対値を可変調整するオフセット調整部、４はオフセット検出回路、５はオフセット制御信号生成回路、６は光ディスク装置内の温度を測定する温度センサ、７は温度や生じたオフセットを記憶する書き換え可能なメモリ、８はサーボ出力などの情報から光学ヘッドの制御を行う制御手段としてのＣＰＵである。
【００１６】
以上のように構成された本実施の形態１の光ディスク装置について、その動作を以下に説明する。
まず、光学ヘッド１の出力がサーボ演算回路２に入力される。演算回路２で演算された信号をオフセット調整回路３でオフセット補正しサーボ信号が出力される。このようにサーボ信号の出力の際にオフセット補正を行う場合、ＣＰＵ８により光学ヘッド１をＯＦＦさせた状態でサーボ信号出力をオフセット検出回路４に入力し、オフセット検出回路４の出力をオフセット制御信号生成回路５に入力する。このオフセット制御信号生成回路５は、入力された信号からオフセット調整回路３のオフセット調整部３１にオフセット制御信号を出力し、このオフセット制御信号を基にオフセット調整部３１から出力される信号Ｖ３０１によって、オフセット調整回路３のサーボ出力に生じたオフセットの補正を行う。
【００１７】
通常、装置を起動した場合、装置内には、起動からの時間経過に対して図２（ａ）に示す温度変化が発生する。この場合に温度センサ６で検出した装置内の温度変化、及び装置内の温度変化に応じてオフセット検出回路４で検出されたオフセットをメモリ７に記憶しておく。その後、ドライブ動作中に装置内の温度が一定以上変化した場合、その時の装置内温度および予めメモリ７に記憶しておいた上記のデータを基に、オフセット制御信号生成回路５でオフセット制御信号を生成し、このオフセット制御信号から図２（ｂ）に示す信号Ｖ３０１の温度特性（任意の温度特性を実線で示し、オフセット値に応じて点線のように変化する）に基づいて得られた信号Ｖ３０１を用いて、オフセット調整回路３による上記のオフセット補正を制御し、装置内の温度変化に応じて、図２（ｃ）で示すサーボ出力に生じたオフセットの補正を可能としている。
【００１８】
以上により、ドライブ動作中に装置内温度が変化しても、光学ヘッド１をＯＦＦ状態にすることなく、装置内の温度変化に応じて、サーボ出力のオフセット補正を行うことができる。
【００１９】
以上のような光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を以下に説明する。
図３は本実施の形態１の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を示すフローチャートである。図３（ａ）に示すオフセットの初期学習を行い、その後図３（ｂ）に示す温度変化に伴うオフセット補正を行う。
【００２０】
まず、オフセット初期学習について説明する。
Ｓ２０１で、ＣＰＵ８の制御により光学ヘッド１をＯＦＦし、サーボ信号を無入力の状態にする。Ｓ２０２で、オフセット検出回路４にてサーボオフセットＶＡを測定する。Ｓ２０３で、メモリ７によりオフセットＶＡ及び温度ＴＡを記憶する。Ｓ２０４で、温度センサ６により温度が変化したかどうかを判断し、Ｎｏの場合はＳ２０５を実行し、Ｙｅｓの場合はＳ２０６を実行する。Ｓ２０５で、待機または別の処理を実行した後、再度Ｓ２０４を実行する。Ｓ２０６で、オフセット検出回路４にてサーボオフセットＶＢを測定する。Ｓ２０７で、メモリ７によりオフセットＶＢ及び温度ＴＢを記憶する。Ｓ２０８で、ＣＰＵ８にて光学ヘッドをＯＮにする。
【００２１】
つぎに、オフセット補正について説明する。
Ｓ２０９で、前回補正時の温度から許容範囲以上の変化があったかどうかを判断し、Ｎｏの場合はオフセット補正終了とし、Ｙｅｓの場合はＳ２１０を実行する。Ｓ２１０で、温度センサ６で得た温度Ｔとオフセット初期学習で得られたＶＡ、ＶＢ、ＴＡ、ＴＢと下記計算式を用いて、発生しているオフセット値Ｖを算出する。
Ｖ＝（ＶＢ−ＶＡ）ｘ（Ｔ−ＴＡ）／（ＴＢ−ＴＡ）＋ＶＡ
Ｓ２１１で、オフセット制御信号生成回路５にオフセット値Ｖを入力し、オフセット補正を実行する。
【００２２】
以上のフローに従って処理実行することにより、図４に示すように、補正電圧および出力電圧の温度変化に対する補正結果を得ることができる。
以上の処理実行により、ドライブ動作中に装置内温度が変化しても、光学ヘッド１をＯＦＦ状態にすることなく、装置内の温度変化に応じて、サーボ出力のオフセット補正を行うことができる。
【００２３】
その結果、ドライブ動作中に温度変化があった場合にオフセット補正する際にも、光ディスクからのデータ読み出し等の処理実行の全処理時間を従来に比べて短縮することができる。
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２の光ディスク装置及びサーボオフセット補正方法を説明する。
【００２４】
図５は本実施の形態２の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を示すフローチャートであり、そのフローに沿って実行する処理について説明する。なお、図３のＳ２０１〜Ｓ２０８を最低一度は実行していることを前提とする。
【００２５】
Ｓ３０１で、光学ヘッド１をＯＦＦし、サーボ信号を無入力の状態にする。Ｓ３０２で、サーボ出力オフセットＶＣと温度ＴＣを測定する。Ｓ３０３で、オフセット初期学習で得られたＶＡ、ＶＢ、ＴＡ、ＴＢと下記計算式を用いて発生しているオフセット値Ｖを算出する。
Ｖ＝（ＶＢ−ＶＡ）×（ＴＣ−ＴＡ）／（ＴＢ−ＴＡ）＋ＶＡ
Ｓ３０４で、Ｓ３０２の実行により得られたＶＣとＳ３０３の実行により得られたＶとを比較し、許容値の範囲であるかどうか判断し、許容値以内であればオフセット変動確認を終了し、許容値を超えている場合はＳ３０５を実行する。Ｓ３０５で、実施の形態１で示したオフセット初期学習Ｓ２０１〜Ｓ２０８を再度実行する。
【００２６】
以上のフローに従った処理をドライブ起動時などに実行することにより、温度特性の経時変化にも対応することが可能となる。
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３の光ディスク装置及びサーボオフセット補正方法を説明する。
【００２７】
図６は本実施の形態３の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図６のオフセット調整回路３は、オフセット調整部３１によるオフセットの絶対値の変更と、ゲイン切り替え回路３２でのバッファ回路３３の出力電圧Ｖ３０２の温度特性に対する図７（ａ）の矢印で示すような任意な傾斜を持つ電圧変化Ｖ３０３への変更とができる機能を有するものである。
【００２８】
以上のような光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を以下に説明する。
図８は本実施の形態３の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を示すフローチャートである。
【００２９】
オフセット初期学習について説明する。
まず、Ｓ５０１で、光学ヘッド１をＯＦＦし、サーボ信号を無入力の状態にする。Ｓ５０２で、ゲイン切り替え回路３２のゲインを任意のゲインＧ１に設定し、オフセットを測定してＶＡとする。Ｓ５０３で、ゲイン切り替え回路３２のゲインをＧ１と異なる任意のゲインＧ２に設定する。Ｓ５０４で、オフセットを測定してＶＡ’とする。Ｓ５０５で、待機または他の処理を実行する。Ｓ５０６で、オフセットを測定してＶＢとする（この場合、ゲイン設定はＧ２のままとする）。Ｓ５０７で、ゲイン切り替え回路３２のゲインを前記Ｇ１に設定する。Ｓ５０８で、オフセットを測定しＶＢ’とする。Ｓ５０９で、前記ＶＡとＶＡ’の差が許容範囲であり、かつＶＢとＶＢ’の差が許容範囲であれば、Ｓ５０５に戻る。どちらかが許容範囲を超えた場合はＳ５１０を実行する。Ｓ５１０で、絶対値オフセットＶを下記の計算式から求める。
Ｖ＝（ＶＢ−ＶＡ）ｘ（ＶＡ’−ＶＡ）
／｛（ＶＡ’−ＶＡ）−（ＶＢ’−ＶＢ）｝＋ＶＡ
Ｓ５１１で、オフセット調整回路３において、ゲイン切り替え回路３２のゲイン設定を変化させてオフセットをＳ５１０で求めたＶになるように設定する。Ｓ５１２で、オフセット調整回路３において、オフセット調整部３１のオフセット設定を変化させてオフセットを基準電圧に補正する。Ｓ５１３で、Ｓ５１１の実行により求めたゲイン設定値とＳ５１２の実行により求めたオフセット調整値をメモリに記憶する。Ｓ５１３で、光学ヘッド１をＯＮにする。
【００３０】
以上のフローに従って処理実行することにより、図９に示すように、オフセット補正電圧およびゲイン切り替え回路３２のゲインおよび出力電圧（無信号時）の温度変化に対する各補正結果を得ることができる。
【００３１】
以上のように初期学習を行うことで、ドライブ動作中は、初期学習によりメモリに記憶したゲイン設定値とオフセット調整値を用いて、オフセット調整回路３によるサーボ出力のオフセット補正が可能となる。
【００３２】
以上の処理実行により、ドライブ動作中に装置内温度が変化しても、その温度変化はモニターすることなく、かつ光学ヘッド１をＯＦＦ状態にすることなく、装置内の温度変化に応じて、サーボ出力のオフセット補正を行うことができる。
【００３３】
その結果、ドライブ動作中に温度変化があった場合にオフセット補正する際にも、光ディスクからのデータ読み出し等の処理実行の全処理時間を従来に比べて短縮することができる。
【産業上の利用可能性】
【００３４】
本発明の光ディスク装置及びサーボオフセット補正方法は、ドライブ動作中に温度変化があった場合にオフセット補正する際にも、光ディスクからのデータ読み出し等の処理実行の全処理時間を従来に比べて短縮することができるものであり、サーボエラー信号を生成する際に生じるオフセットの補正技術に関する光ディスク装置に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の実施の形態１の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】同実施の形態１の光ディスク装置における内部回路の特性図
【図３】同実施の形態１の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を示すフローチャート
【図４】同実施の形態１のサーボオフセット補正方法による出力電圧の特性図
【図５】本発明の実施の形態２の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を示すフローチャート
【図６】本発明の実施の形態３の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図７】同実施の形態３の光ディスク装置における内部回路の特性図
【図８】同実施の形態３の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を示すフローチャート
【図９】同実施の形態３のサーボオフセット補正方法による出力電圧の特性図
【図１０】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図１１】同従来例の光ディスク装置における内部回路の特性図
【図１２】同従来例の光ディスク装置におけるサーボオフセット補正方法を示すフローチャート
【図１３】同従来例のサーボオフセット補正方法による出力電圧の特性図
【符号の説明】
【００３６】
１    光学ヘッド
２    サーボ演算回路
３    オフセット調整回路
３１    オフセット調整部
３２    ゲイン切り替え回路
３３    （温度により出力電圧が変化する）バッファ回路
４    オフセット検出回路
５    オフセット制御信号生成回路
６    温度センサ
７    （書き換え可能な）メモリ
８    ＣＰＵ
【図１】
2005222657.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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