(57)【要約】【課題】  複雑な構成を必要とせずに、高精度な測距を行うことができる小型かつ低コストなカメラ等の光学機器に用いられる測距装置を提供する。【解決手段】  比演算データと光量データとに基づいて投光スポットが一部欠けたスポット欠けが有るか無しかを判定し（Ｓ１０４）、スポット欠けが有ると判定した場合に、光量データを用いて演算した測距データを、光量データから測距データを演算する際に用いる予め定められた変換係数より低反射率被の変換係数を用いて補正する（Ｓ１０６）。【選択図】図５
2005326766.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体に向けて信号光を投光する投光手段と、
上記被写体から反射した信号光を受光する受光手段と、
上記受光手段内の半導体位置検出素子の出力から入射した信号光の入射位置に対応した比演算データを検出する比演算手段と、
上記半導体位置検出素子の出力から上記入射した信号光の入射光量に対応した光量データを検出する光量演算手段と、
上記比演算データと上記光量データとから被写体距離に対応した測距データを演算する被写体距離演算手段とからなる測距装置において、
上記比演算データと上記光量データとに基づいて投光スポットが一部欠けたスポット欠けが有るか無いかを判定するスポット欠け判定手段と、
上記スポット欠け判定手段でスポット欠けが有ると判定した場合に、上記被写体距離演算手段で上記光量データを用いて演算した測距データを、上記光量データから測距データを演算する際に用いる予め定められた変換係数より低反射率の変換係数を用いて補正するスポット欠け補正手段とを具備することを特徴とする測距装置。
【請求項２】
上記低反射率被写体用の変換係数は、上記比演算データと上記光量データとに基づいて算出することを特徴とする請求項１に記載の測距装置。
【請求項３】
上記スポット欠け判定手段は、上記比演算データと上記光量データの少なくとも一方が、所定距離範囲に対応するデータである場合に、スポット欠けが有るか否かを判定することを特徴とする請求項１又は２に記載の測距装置。
【請求項４】
上記スポット欠け判定手段でスポット欠けが無いと判定した場合に、上記比演算データと上記光量データの少なくとも一方が所定距離より近いデータであるときは上記被写体距離演算手段で上記比演算データを用いて演算した測距データを、上記比演算データと上記光量データの少なくとも一方が上記所定距離より遠いデータであるときは上記被写体距離演算手段で上記光量データを用いて演算した測距データを選択する選択手段を具備することを特徴とする請求項１に記載の測距装置。
【請求項５】
上記スポット欠け判定手段は、実際の被写体との距離の逆数と測定した被写体との距離の逆数との関係を示すスポット欠け判定値算出用直線を用いて判定することを特徴とする請求項１に記載の測距装置。
【請求項６】
上記スポット欠け判定手段は、上記スポット欠け判定値算出用直線を被写体距離に応じて切換えることを特徴とする請求項５に記載の測距装置。
【請求項７】
上記スポット欠け判定手段は、上記低反射率の変換係数を、被写体距離に応じて切換えることを特徴とする請求項１に記載の測距装置。
【請求項８】
撮影レンズの焦点距離を検出する焦点距離検出手段を具備し、
上記スポット欠け判定手段は、上記スポット欠け判定値算出用直線を、上記焦点距離検出手段で検出した焦点距離に応じて切換えることを特徴とする請求項５に記載の測距装置。
【請求項９】
被写体に向けて信号光を投光し、その被写体から反射した信号光を受光した半導体位置検出素子の出力から上記信号光の入射位置に対応した比演算データを検出するとともに上記信号光の入射光量に対応した光量データを検出し、上記比演算データと上記光量データとから被写体距離に対応した測距データを演算する測距装置の被写体距離演算方法において、
上記比演算データと上記光量データとに基づいて投光スポットが一部欠けたスポット欠けが有るか無いかを判定し、スポット欠けが有ると判定した場合に、上記光量データを用いて演算した測距データを、上記光量データから測距データを演算する際に用いる予め定められた変換係数より低反射率の変換係数を用いて補正することを特徴とする測距装置の被写体距離演算方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、カメラ等の光学機器に用いられるアクティブ方式の測距装置及び測距装置の被写体距離演算方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
被写体に対し測距用光を投光し、その反射信号光に従って測距を行うアクティブ方式の三角測距は、測距用光が正しく被写体に投光されていることを前提として成り立つ技術である。この技術を図９を参照して説明する。ＩＲＥＤ（赤外発光ダイオード）１より、投光レンズ２を介して被写体３に投光された光信号は、受光レンズ４を介し、ＰＳＤ（光位置検出装置）５に入射する。この入射位置ｘは投受光レンズの主点間距離である基線長Ｓ、受光レンズの焦点距離ｆが一定であることから、
【数１】
2005326766.tif 000003
として、被写体距離Ｌの関数として決まる。つまり、被写体距離Ｌは光の入射位置ｘによって求めることができる。この入射位置ｘを検出するのが公知のＰＳＤ５である。ＰＳＤ５は信号光電流Ｉ１，Ｉ２を出力し、この場合、信号光電流Ｉ１と全信号光電流Ｉ１＋Ｉ２との比であるＩ１／（Ｉ１＋Ｉ２）が、
【数２】
2005326766.tif 000004
の関係を持つ。ここでｔはＰＳＤ５の長さ、ａはＰＳＤ５端部からＰＳＤ５と受光レンズ光軸がクロスするポイントまでの距離である。ここで、図９では、光線を直線として表現しているが、実際は光源として完全な点光源は有り得ず、投光ビーム６は、被写体３に投影時、図１０（ａ）に示すように、一定の広がりを持つ。従来のアクティブ式三角測距の場合、図１０（ａ）に示すように、投光ビームが、完全に被写体３に投射されている時は正しく測距できるが、図１０（ｂ）に示すように、投光スポットが一部欠けた（スポット欠け）時、被写体３からはずれた部分の光はＰＳＤ５で受光されず、ＰＳＤ５上に結ばれるスポット像は、重心のズレを起こし、正しい測距がなされなくなる。
【０００３】
このようにスポット欠けによる重心のズレを補正するために、一つの投光部に対して２つの受光部を有し、一方の受光部の出力から演算した被写体距離を、他方の受光部の出力により補正する方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平６−１３７８６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載されたものでは、一の投光部に対して２つの受光部が必要となるので、一対の投受光部を有するアクティブ方式の測距装置に対して大型で高コストとなり、カメラ等の光学機器の小型化、低コスト化が困難になるという問題があった。
【０００５】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、複雑な構成を必要とせずに、高精度な測距を行うことができる小型かつ低コストなカメラ等の光学機器に用いられる測距装置及び測距装置の被写体距離演算方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１に記載の発明は、被写体に向けて信号光を投光する投光手段と、上記被写体から反射した信号光を受光する受光手段と、上記受光手段内の半導体位置検出素子の出力から入射した信号光の入射位置に対応した比演算データを検出する比演算手段と、上記半導体位置検出素子の出力から上記入射した信号光の入射光量に対応した光量データを検出する光量演算手段と、上記比演算データと上記光量データとから被写体距離に対応した測距データを演算する被写体距離演算手段とからなる測距装置において、上記比演算データと上記光量データとに基づいて投光スポットが一部欠けたスポット欠けが有るか無いかを判定するスポット欠け判定手段と、上記スポット欠け判定手段でスポット欠けが有ると判定した場合に、上記被写体距離演算手段で上記光量データを用いて演算した測距データを、上記光量データから測距データを演算する際に用いる予め定められた変換係数より低反射率の変換係数を用いて補正するスポット欠け補正手段とを具備することを特徴とする。
【０００７】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、上記低反射率被写体用の変換係数は、上記比演算データと上記光量データとに基づいて算出することを特徴とする。
【０００８】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の発明において、上記スポット欠け判定手段は、上記比演算データと上記光量データの少なくとも一方が、所定距離範囲に対応するデータである場合に、スポット欠けが有るか否かを判定することを特徴とする。
【０００９】
請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、上記スポット欠け判定手段でスポット欠けが無いと判定した場合に、上記比演算データと上記光量データの少なくとも一方が所定距離より近いデータであるときは上記被写体距離演算手段で上記比演算データを用いて演算した測距データを、上記比演算データと上記光量データの少なくとも一方が上記所定距離より遠いデータであるときは上記被写体距離演算手段で上記光量データを用いて演算した測距データを選択する選択手段を具備することを特徴とする。
【００１０】
請求項５に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、上記スポット欠け判定手段は、実際の被写体との距離の逆数と測定した被写体との距離の逆数との関係を示すスポット欠け判定値算出用直線を用いて判定することを特徴とする。
【００１１】
請求項６に記載の発明は、請求項５に記載の発明において、上記スポット欠け判定手段は、上記スポット欠け判定値算出用直線を被写体距離に応じて切換えることを特徴とする。
【００１２】
請求項７に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、上記スポット欠け判定手段は、上記低反射率の変換係数を、被写体距離に応じて切換えることを特徴とする。
【００１３】
請求項８に記載の発明は、請求項５に記載の発明において、撮影レンズの焦点距離を検出する焦点距離検出手段を具備し、上記スポット欠け判定手段は、上記スポット欠け判定値算出用直線を、上記焦点距離検出手段で検出した焦点距離に応じて切換えることを特徴とする。
【００１４】
請求項９に記載の発明は、被写体に向けて信号光を投光し、その被写体から反射した信号光を受光した半導体位置検出素子の出力から上記信号光の入射位置に対応した比演算データを検出するとともに上記信号光の入射光量に対応した光量データを検出し、上記比演算データと上記光量データとから被写体距離に対応した測距データを演算する測距装置の被写体距離演算方法において、上記比演算データと上記光量データとに基づいて投光スポットが一部欠けたスポット欠けが有るか無いかを判定し、スポット欠けが有ると判定した場合に、上記光量データを用いて演算した測距データを、上記光量データから測距データを演算する際に用いる予め定められた変換係数より低反射率の変換係数を用いて補正することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によると、複雑な構成を必要とせずに、高精度な測距を行うことができる小型かつ低コストなカメラ等の光学機器に用いられる測距装置及び測距装置の被写体距離演算方法を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００１７】
（第１の実施の形態）
図１はカメラ等の光学機器に用いられる測距装置１００の構成を概略的に示す図である。測距装置１００は、ＩＲＥＤ（赤外発光ダイオード）１０３で発生させた信号光を図示しない被写体に向けて投光する投光レンズ１０１、その図示しない被写体で反射した信号光をＰＳＤ（光位置検出装置）１０４の受光面上に結像させる受光レンズ１０２、被写体に向けて投光レンズ１０１を介して投光するための信号光を発生するＩＲＥＤ１０３、受光レンズ１０２により受光面に結像された受光スポットの重心位置に応じた比率で、２つの光電流を出力するＰＳＤ１０４、ＰＳＤ１０４から出力された２つの光電流から定常光成分を除去し、対数圧縮、伸長処理や加算、除算処理等を行い、比演算データ、光量データを出力するＡＦ（オート・フォーカス）処理回路１０５、信号光電流を発生させるためにＩＲＥＤ１０３を駆動するＩＲＥＤドライバ１０６、各種制御信号の出力、被写体距離演算等の各種演算を行うＣＰＵ１０７、撮影レンズの焦点距離を検出する焦点距離検出手段１０８を有している。また、ＡＦ処理回路１０５は、上記比演算データを入力された２つの信号光電流に基づいて求める比演算手段１０９、上記光量データを入力された２つの信号光電流に基づいて求める光量演算手段１１０などを有している。
【００１８】
図２は被写体距離の差異によるＰＳＤ１０４上の受光スポットの位置を示す図である。図示のように、受光レンズ１０２により受光スポットが結像されるＰＳＤ１０４の略矩形状の受光面１１１の長手方向の一方の端には近距離側電極１１２が、他方の端には遠距離側電極１１３が配設されている。近距離側電極１１２は受光面１１１に結像された受光スポットの重心位置に応じた比率で、出力される２つの光電流の一方を出力し、遠距離側電極１１３は受光面１１１に結像された受光スポットの重心位置に応じた比率で、出力される２つの光電流の他方を出力する。受光スポット１１４は、被写体距離が近距離である場合は近距離側電極１１２側の例えば受光スポット１１５の位置に結像し、被写体距離が遠距離である場合は遠距離側電極１１３側の例えば受光スポット１１６の位置に結像する。
【００１９】
続いて、このように構成された測距装置１００における測距動作について説明する。  
先ず、ＣＰＵ１０７からのＩＲＥＤ駆動信号により、ＩＲＥＤドライバ１０６がＩＲＥＤ１０３を複数回発光させ、投光レンズ１０１を通して信号光を図示しない被写体に投光する。この図示しない被写体からの反射光を受光レンズ１０２によりＰＳＤ１０４の受光面１１１上に受光スポットを結像させる。そして、ＰＳＤ１０４の受光面１１１上に結像したスポット像の重心位置に応じた比率で、ＰＳＤ１０４の両端に配設された近距離側電極１１２及び遠距離側電極１１３から出力される２つの光電流からＡＦ処理回路１０５内の所定の定常光除去回路により定常光成分を除去した信号光電流Ｉ１，Ｉ２に基づいて、ＡＦ処理回路１０５内の比演算手段１０９により信号光電流の比Ｉ１／（Ｉ１＋Ｉ２）に対応した比演算データ（ＡＦＤＡＴＡ）、光量演算手段１１０により全信号光電流Ｉ１＋Ｉ２に対応した光量データ（ＩＮＴＤＡＴＡ）をそれぞれ求めＣＰＵ１０７に転送する。ＣＰＵ１０７は後述する演算式に基づいて、比演算データ、光量データをそれぞれ距離の逆数データ（以下、１／Ｌデータと称する）１／ＬＨ、１／ＬＩにそれぞれ変換する。
【００２０】
次に、ＣＰＵ１０７は１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩに基づいて、後述するスポット欠け判定を行い、スポット欠けが発生していると判断した場合は後述するスポット欠け補正を行い、最終的な１／Ｌデータ１／Ｌ０を求める。またＣＰＵ１０７は、スポット欠け判定を行いスポット欠け補正が発生していないと判断した場合は、１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩのいずれか一方、又は両方が所定距離よりも近いデータである時は１／Ｌデータ１／ＬＨを、所定距離よりも遠いデータである時は１／Ｌデータ１／ＬＩを１／Ｌデータ１／Ｌ０として選択する。
【００２１】
ここで、被写体距離を１／Ｌデータで求めるのは、撮影レンズのピント位置と１／Ｌデータが略比例関係にあり、また三角測距の出力も原理的に１／Ｌデータに比例するので、１／Ｌデータで扱ったほうが演算が単純になるためである。また、遠距離側で１／Ｌデータ１／ＬＩを用いるのは、被写体距離が遠距離の場合、１／Ｌデータ１／ＬＩの被写体反射率による測距誤差が小さくなり、１／Ｌデータ１／ＬＨよりも測距精度が良いからである。
【００２２】
以下、１／Ｌデータ変換、スポット欠け判定、スポット欠け補正についてこの順で説明する。  
最初に、１／Ｌデータ１／ＬＨ及び１／Ｌデータ１／ＬＩを算出する１／Ｌデータ変換について説明する。先ず、比演算データ（ＡＦＤＡＴＡ）の逆数データである１／Ｌデータ１／ＬＨを算出する方法から説明する。前述の（２）式より
【数３】
2005326766.tif 000005
が求められる。ここで、Ｓは基線長、ｆは受光レンズの焦点距離、ｔはＰＳＤ１０４の長さ、ａはＰＳＤ１０４の端部からＰＳＤ１０４と受光レンズ光軸がクロスするポイントまでの距離である。通常、比演算データとＩ１／（Ｉ１＋Ｉ２）とは比例関係にあるので、比例定数をｋｈとすると、（３）式は、
【数４】
2005326766.tif 000006
となる。実際には上記Ｓ、ｆ、ｔ、ａは寸法や組付け等のばらつきを有するので、製造工程中において２点以上の被写体距離の比演算データを測定し、傾きＫＨ、切片Ａの近似直線を求めて、ＣＰＵ１０７内部又は図示しない外部のメモリに記憶しておき、下記する（５）式を用いて１／Ｌデータ１／ＬＨを算出する。
【００２３】
【数５】
2005326766.tif 000007
【００２４】
これにより、１／Ｌデータ１／ＬＨが求められる。続いて、光量データ（ＩＮＴＤＡＴＡ）の逆数データである１／Ｌデータ１／ＬＩを算出する方法を説明する。被写体の反射率が一定の場合、全受光信号光電流Ｉ１＋Ｉ２は被写体距離ＬＩの２乗に反比例するので、所定の基準被写体反射率により定まる定数をＫＲとすると、
【数６】
2005326766.tif 000008
となる。そして、通常、光量データと全受光信号光電流Ｉ１＋Ｉ２とは比例関係にあるので比例定数をｋｉとすると、（６）式は、
【数７】
2005326766.tif 000009
となる。実際には、光量データは回路ノイズ成分等のオフセットを有するので、製造工程中において所定の反射率、距離の被写体の場合と、投光レンズ１０１を遮光して信号光がない場合での光量データを測定し、傾きＫＩの近似直線を求めて、ＫＩ及び信号光がない場合での光量データであるＩＮＴ∞をＣＰＵ１０７内部又は図示しない外部のメモリに記憶しておき、下記する（８）式を用いて、１／Ｌデータ１／ＬＩを算出する。
【００２５】
【数８】
2005326766.tif 000010
【００２６】
これにより、１／Ｌデータ１／ＬＩが求められる。
【００２７】
次に、ＣＰＵ１０７が実行するスポット欠け判定について図３及び図４を参照して説明する。先ず、図３について説明する。図３はスポット欠けが発生した場合の受光スポットの重心位置の変化を示しており、左側が近距離側、右側が遠距離側である。また、図３（ａ）は近距離側がスポット欠けした場合の重心位置の変化を示し、同図（ｂ）は遠距離側がスポット欠けした場合の重心位置の変化を示している。図３（ａ）は、近距離側がスポット欠けした場合の受光スポット１２１、受光スポット１２１のスポット欠けにより失われた近距離側部分１２２、スポット欠けが発生していない場合の受光スポット１２１の重心位置１２３、近距離側がスポット欠けした場合の受光スポット１２１の重心位置１２４を示している。また、図３（ｂ）は、遠距離側がスポット欠けした場合の受光スポット１２５、受光スポット１２５のスポット欠けにより失われた遠距離側部分１２６、スポット欠けが発生していない場合の受光スポット１２５の重心位置１２７、遠近距離側がスポット欠けした場合の受光スポット１２５の重心位置１２８を示している。
【００２８】
次に、図４について説明する。図４は比演算データ、光量データから算出される１／Ｌデータの特性直線を示す図である。同図において、横軸は実際の被写体距離の１／Ｌデータを示し、縦軸は比演算データ、光量データを測定し、これらの測定データから求めた被写体距離の１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩを示している。
【００２９】
直線ｌＴＨは１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩの理想的な特性直線を示している。したがって、理想的な測距が行えた場合は、比演算データから求めた１／Ｌデータ１／ＬＨは直線ｌＴＨ上のデータとなり、また、光量データから求めた１／Ｌデータ１／ＬＩもスポット欠けがなく、被写体反射率が１／Ｌデータ変換の基準被写体反射率である場合は直線ｌＴＨ上のデータとなる。
【００３０】
直線ｌＳＦは受光スポットの近距離側が各被写体距離で同量スポット欠けした場合の１／Ｌデータ１／ＬＨの特性直線を示している。したがって、図３（ａ）に示すように、受光スポットの近距離側部分１２２がＰＳＤ１０４の受光面１１１に入射せず、その近距離側部分１２２を除いた受光スポット１２１の部分が入射している場合は、受光スポットの重心位置がスポット欠けが発生していない場合の重心位置１２３から重心位置１２４に移動し、同図の左側が近距離側電極１１２側とすると、１／Ｌデータ１／ＬＨは遠距離側にシフトして直線ｌＳＦ上のデータとなる。
【００３１】
直線ｌＳＮは受光スポットの遠距離側が各被写体距離で同量スポット欠けした場合の１／Ｌデータ１／ＬＨの特性直線を示している。したがって、図３（ｂ）に示すように、受光スポットの遠距離側部分１２６がＰＳＤ１０４の受光面１１１に入射せず、その遠距離側部分１２６を除いた部分１２５の部分が入射している場合、受光スポットの重心位置がスポット欠けが発生していない場合の重心位置１２７から重心位置１２８に移動し、同図の右側が近距離側電極１１２側とすると、１／Ｌデータ１／ＬＨは近距離側にシフトして直線ｌＳＮ上のデータとなる。
【００３２】
直線ｌＳＨはスポット欠け判定を行うスポット欠け判定値を算出するためのスポット欠け判定値算出用直線を示しており、直線ｌＳＩは受光スポットが各被写体距離で同量スポット欠けした場合の１／Ｌデータ１／ＬＩの特性直線を示している。１／Ｌデータ１／ＬＩはスポット欠けが発生した場合、受光信号光量が減少するので、直線ｌＳＩはスポット欠けがない理想的な特性を示す直線ｌＴＨよりも傾きの小さい直線上のデータとなる。
【００３３】
このようにスポット欠けが発生した場合には、１／Ｌデータ１／ＬＨと１／Ｌデータ１／ＬＩとの関係が、スポット欠けが発生していない時よりも、１／Ｌデータ１／ＬＨに対して１／Ｌデータ１／ＬＩが小さくなる。この実施の形態のスポット欠け判定は、この関係を利用してスポット欠けが発生しているか否かを判定する。すなわち、ＣＰＵ１０７は、１／Ｌデータ１／ＬＨとスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨとからスポット欠け判定値１／ＬＳＨを算出し、このスポット欠け判定値１／ＬＳＨよりも１／Ｌデータ１／ＬＩが小さい場合にスポット欠け有りと判定する。
【００３４】
なお、図４において、１／Ｌ１は被写体距離がＬ１の時の１／Ｌデータであり、１／Ｌ２は被写体距離がＬ１で投光スポットの遠距離側がスポット欠けした場合の比演算データによる１／Ｌデータであり、１／Ｌ３は被写体距離がＬ１で投光スポットの近遠距離側がスポット欠けした場合の比演算データによる１／Ｌデータであり、１／Ｌ４は被写体距離がＬ１でスポット欠けした場合の光量データによる１／Ｌデータである。また、１／Ｌ５は被写体距離がＬ１で投光スポットの遠距離側がスポット欠けしたときの比演算データによる１／Ｌデータが１／Ｌ２である場合のスポット欠け判定値、１／Ｌ６は被写体距離がＬ１で投光スポットの近距離側がスポット欠けしたときの比演算データによる１／Ｌデータが１／Ｌ３である場合のスポット欠け判定値、１／Ｌ７は被写体距離がＬ１で光量データによる１／Ｌデータが１／Ｌ４である場合に同じ反射率の被写体が距離Ｌ２に存在すると仮定したときの光量データによる１／Ｌデータ、１／Ｌ８は被写体距離がＬ１で光量データによる／Ｌデータが１／Ｌ４である場合に同じ反射率の被写体が距離Ｌ３に存在すると仮定したときの光量データによる１／Ｌデータである。
【００３５】
なお、点Ａは被写体距離Ｌ１で比演算データによる１／Ｌデータが１／Ｌ２である場合にこの値が正しいと仮定したと時の直線ｌＴＨ上の点であり、点Ｂは被写体距離Ｌ１での光量データによる１／Ｌデータが１／Ｌ４である場合に同じ反射率の被写体が距離Ｌ２に存在すると仮定した時の直線ｌＳＩ上の点であり、点Ａ´は被写体距離Ｌ１で比演算データによる１／Ｌデータが１／Ｌ３である場合にこの値が正しいと仮定したと時の直線ｌＴＨ上の点であり、点Ｂ´は被写体距離Ｌ１での光量データによる１／Ｌデータが１／Ｌ４である場合に同じ反射率の被写体が距離Ｌ３に存在すると仮定した時の直線ｌＳＩ上の点である。
【００３６】
この図４を参照してスポット欠け判定を具体的に説明すると、例えば、実際の被写体距離がＬ１の場合に、図３（ｂ）に示すスポット欠けが発生したとすると、図４に示すように、１／ＬＨ＝１／Ｌ２、１／ＬＩ＝１／Ｌ４となる。この時の１／ＬＨ＝１／Ｌ２を直線ｌＴＨ上のデータと仮定し、スポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨより被写体距離Ｌ２の場合のスポット欠け判定値１／ＬＳＨを求めると１／Ｌ５となる。この値１／Ｌ５と、１／ＬＩ＝１／Ｌ４とを比較すると、１／Ｌ４＜１／Ｌ５であるので、この場合にはスポット欠けありと判定する。
【００３７】
実際には、１／Ｌデータ１／ＬＳＨの算出は、（５）式に示すように、被写体反射率とスポット欠けによる信号光量減少分を考慮して定められるスポット欠け係数ＫＳＨを用いて行われる。
【００３８】
【数９】
2005326766.tif 000011
【００３９】
つまり、実際の被写体距離Ｌ１＝２ｍ（メートル）の場合、１／Ｌ２＝０．６（Ｌ２＝１．６７ｍ）、１／Ｌ４＝０．３５（Ｌ４＝２．８６ｍ）、ＫＳＨ＝０．８とすると、
【数１０】
2005326766.tif 000012
であるので、
【数１１】
2005326766.tif 000013
となり、スポット欠け有りを判定し、後述するスポット欠け補正を行う。これとは逆に、実際の被写体距離がＬ１の場合に、図３（ａ）に示すようなスポット欠けが発生したとすると、図４に示すように、１／ＬＨ＝１／Ｌ３、１／ＬＩ＝１／Ｌ４となり、Ｌ１＝２ｍの場合、１／Ｌ３＝０．４（Ｌ２＝２．５ｍ）、１／Ｌ４＝０．３５（Ｌ４＝２．８６ｍ）、ＫＳＨ＝０．８とすると、
【数１２】
2005326766.tif 000014
であるので、
【数１３】
2005326766.tif 000015
となり、スポット欠け無しを判定する。しかしながら、被写体距離が近距離の場合はスポット欠けが発生しずらいことと、遠距離の場合は１／Ｌデータ１／ＬＨがスポット欠けにより更に遠距離のデータとなるので、この場合には遠距離での精度がよい１／Ｌデータ１／ＬＩを選択することにより、後述のスポット補正を行わなくても測距誤差を小さくすることができる。
【００４０】
続いてスポット欠け補正について説明する。このスポット欠け補正は上述のスポット欠け判定において、スポット欠け有りと判定した場合に実行する処理である。この補正は（８）式により所定の基準被写体反射率に基づいて求めた１／Ｌデータ１／ＬＩを、基準被写体反射率より低い反射率の変換係数を用いた場合の値に変換し、その値を最終的な１／Ｌデータ１／Ｌ０とするものである。
【００４１】
実際の被写体距離がＬ１の場合に、図３（ｂ）に示すようなスポット欠けが発生したとすると、図４に示すように、１／Ｌデータ１／ＬＨ＝１／Ｌ２、１／Ｌデータ１／ＬＩ＝１／Ｌ４、１／Ｌデータ１／ＬＳＨ＝１／Ｌ５となる。この時の１／ＬＨ＝１／Ｌ２を直線ｌＴＨ上のデータと仮定し、この点（図４で示すＡ）から横軸に対して垂直に下ろした直線と、この場合の１／ＬＩを含む直線ｌＳＩの交点（図４で示すＢ）の座標がわかれば、その座標の縦軸の値１／Ｌ７と１／ＬＨ＝１／Ｌ２の比を求めることができ、その比を用いて１／ＬＩ＝１／Ｌ４を正しい１／Ｌデータに変換することができる。しかしながら、実際には１／Ｌ７を正確に求めることができない。そこで、図３（ｂ）に示すスポット欠けの場合、
【数１４】
2005326766.tif 000016
の関係があることから、１／ＬＢのおおよその値１／ＬＢＮを、測距装置１００の基線長Ｓ、投受光レンズの焦点距離ｆ、ＩＲＥＤ１０３の発光部の形状等によるスポット欠け時のデータ変化に応じたスポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢを用いて、下記の（１５）式のように求める。
【００４２】
【数１５】
2005326766.tif 000017
とすると、この場合、
【数１６】
2005326766.tif 000018
となる。但し、図３（ａ）に示すような逆方向のスポット欠けの場合、図３（ｂ）の場合の図４中の点Ａ及び点Ｂの位置は、同図中の点Ａ´、点Ｂ´の位置となる。このとき、１／ＬＢ＝１／Ｌ８、１／ＬＩ＝１／Ｌ４、１／ＬＳＨ＝１／Ｌ６であるので、１／ＬＢ、１／ＬＩ、１／ＬＳＨの関係は、
【数１７】
2005326766.tif 000019
【数１８】
2005326766.tif 000020
となることがある。この条件で、（１８）式により１／Ｌデータ１／ＬＢＮを求めると、（１８）式の括弧内が負の値となるので、１／ＬＢと１／ＬＢＮとの誤差が大きくなってしまう場合がある。よって、１／Ｌデータ１／ＬＩ、１／Ｌデータ１／ＬＳＨとの差が所定値より小さい場合は、１／ＬＢＮ＝１／ＬＩとする。以上のように求めた１／Ｌデータ１／ＬＢＮを利用すると、光量データ補正係数ＫＩＨは、
【数１９】
2005326766.tif 000021
となり、最終的な１／Ｌデータ１／Ｌ０は、
【数２０】
2005326766.tif 000022
となる。例えば、Ｌ１＝２ｍの場合、１／Ｌ２＝０．６（Ｌ２＝１．６７ｍ）、１／Ｌ４＝０．３５（Ｌ４＝２．８６ｍ）、ＫＢ＝０．５とすると、（９）式より、
【数２１】
2005326766.tif 000023
（１５）式から（２０）式より、
【数２２】
2005326766.tif 000024
【数２３】
2005326766.tif 000025
【数２４】
2005326766.tif 000026
となり、
【数２５】
2005326766.tif 000027
に対し、
【数２６】
2005326766.tif 000028
となるので、スポット欠け補正を行うことにより、測距装置１００の測距精度を向上することができる。
【００４３】
図５は、このように構成された測距装置１００の測距シーケンスの手順を示すフローチャートである。先ず、ＩＲＥＤドライバ１０６によりＩＲＥＤ１０３を発光させて信号光を図示しない被写体に投光し（投光手段）、その被写体で反射した信号光をＰＳＤ１０４に受光させ（受光手段）、ＰＳＤ１０４から出力される光電流をＡＦ処理回路１０５に取り込み（Ｓ１０１）、ＡＦ処理回路１０５は、取り込んだ光電流から定常光電流と信号光電流Ｉ１，Ｉ２を分離し、比演算手段１０９、光量演算手段１１０の各演算回路で、Ｉ１／（Ｉ１＋Ｉ２）に対応する比演算データ、Ｉ１＋Ｉ２に対応する光量データを求め、これらのデータをＣＰＵ１０７に取り込み（Ｓ１０２）、ステップＳ１０２で求めた比演算データ、光量データを用いて、（５）式、（８）式により、１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩを算出する（Ｓ１０３，被写体距離演算手段）。
【００４４】
そして、ステップＳ１０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩに基づいてスポット欠け判定を行う（Ｓ１０４）。ステップＳ１０４のスポット判定の結果に基づいて、スポット欠け有りか無しかを判定する（Ｓ１０５，スポット欠け判定手段）。スポット欠け有りと判定した場合は、ステップＳ１０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩに基づいてスポット欠け補正を行い、最終的な１／Ｌデータ１／Ｌ０を求め（Ｓ１０６，スポット欠け補正手段）、スポット欠け無しと判定した場合は、ステップＳ１０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩから近距離の場合は１／ＬＨを、遠距離の場合は１／ＬＩを１／Ｌデータ１／Ｌ０として選択する（Ｓ１０７，選択手段）。
【００４５】
この手順で測距シーケンスを行うことにより、カメラ、ビデオカメラ、カメラ機能を有する携帯端末装置等の光学機器に用いられる測距装置１００は、例えば１つの投光部に対して２つの受光部を有する構成などの複雑な構成を必要とせずに高精度な測距を行うことができ、小型かつ低コストとなる。
【００４６】
（第２の実施の形態）
次に、本発明の第２の実施の形態を説明する。この第２の実施の形態は第１の実施の形態の測距装置１００において、スポット欠け判定を行う被写体距離範囲を限定したものである。  
第１の実施の形態で説明したように被写体距離が近距離である場合は、投光スポットに対して被写体の大きさが大きくなるので、スポット欠けが発生しずらい。また、低反射率の被写体の場合、比演算データから求めた１／Ｌデータ１／ＬＨが正しい測距データであるにもかかわらず、誤ってスポット欠けが発生していると判定してしまうことがある。このように判定してしまうと、被写体距離が近距離の場合に被写体反射率のばらつきの影響で測距精度が劣化する光量データから求めた１／Ｌデータ１／ＬＩに基づいてスポット欠け補正が行われることにより、測距誤差がかえって大きくなってしまう。
【００４７】
一方、被写体距離が遠距離の場合には、比演算データから求めた１／Ｌデータ１／ＬＨより光量データから求めた１／Ｌデータ１／ＬＩの方が精度が良く、スポット欠けの影響も小さいので、１／Ｌデータ１／ＬＩが用いられる。また、被写体距離が遠距離の場合には、受光信号光量が減少することで１／Ｌデータ１／ＬＨの測距精度が著しく劣化するため、誤ってスポット欠け判定を行ってしまったり、スポット欠け補正の精度が低下してしまう。
【００４８】
以上のことから、１／Ｌデータ１／ＬＨと１／Ｌデータ１／ＬＩのいずれもスポット欠けによる影響が大きく、スポット欠け補正の副作用の少ない中間の被写体距離範囲でのみスポット欠け判定を行うことにより、トータルでの測距装置１００の測距精度を向上させることができる。
【００４９】
図６は、このようにトータルでの測距精度を向上させた測距装置１００の測距シーケンスの手順を示すフローチャートである。なお、上述の中間の被写体距離範囲よりも遠距離側の１／Ｌデータ１／ＬＨを１／ＬＨＮ、近距離側の１／Ｌデータ１／ＬＨを１／ＬＨＦとし、遠距離側の１／Ｌデータ１／ＬＩを１／ＬＩＮ、近距離側の１／Ｌデータ１／ＬＨを１／ＬＩＦとする。
【００５０】
先ず、ＩＲＥＤドライバ１０６によりＩＲＥＤ１０３を発光させて信号光を被写体に投光し、被写体で反射した信号光をＰＳＤ１０４に受光させ、ＰＳＤ１０４から出力される光電流をＡＦ処理回路１０５に取り込み（Ｓ２０１）、ＡＦ処理回路１０５は、取り込んだ光電流から定常光電流と信号光電流Ｉ１，Ｉ２を分離し、比演算手段１０９、光量演算手段１１０の各演算回路で、Ｉ１／（Ｉ１＋Ｉ２）に対応する比演算データ、Ｉ１＋Ｉ２に対応する光量データを求め、これらのデータをＣＰＵ１０７に取り込み（Ｓ２０２）、ステップＳ２０２で求めた比演算データ、光量データを用いて、（５）式、（８）式により、１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩを算出する（Ｓ２０３）。
【００５１】
そして、ステップＳ２０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＨが１／ＬＨＦより大きく、１／ＬＨＮより小さいか否かの判定を行う（Ｓ２０４）。そして、１／Ｌデータ１／ＬＨがＬＨが１／ＬＨＦより大きく、１／ＬＨＮより小さいと判定した場合は、続いて、ステップＳ２０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＩが１／ＬＩＦより大きく、１／ＬＩＮより小さいか否かを判定する（Ｓ２０５）。そして、１／Ｌデータ１／ＬＩが１／ＬＩＦより大きく、１／ＬＩＮより小さいと判定すると、ステップＳＴＳ２０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩに基づいてスポット欠け判定を行う（Ｓ２０６）。そして、スポット判定の結果に基づいて、スポット欠け有りか無しかを判定する（Ｓ２０７）。スポット欠け有りと判定した場合は、ステップＳ２０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩに基づいてスポット欠け補正を行い、最終的な１／Ｌデータ１／Ｌ０を求める（Ｓ２０８）。一方、ステップＳ２０７でスポット欠け無しと判定した場合、ステップＳ２０４で１／Ｌデータ１／ＬＨが１／ＬＨＦより小さく、１／ＬＨＮより大きいと判定した場合及びステップＳ２０５で１／Ｌデータ１／ＬＩが１／ＬＩＦより小さく、１／ＬＩＮより大きいと判定した場合は、ステップＳ２０３で算出した１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩから被写体距離が近距離の場合は１／ＬＨを、被写体距離が遠距離の場合は１／ＬＩを１／Ｌデータ１／Ｌ０として選択する（Ｓ２０９）。
【００５２】
なお、この第２の実施の形態での被写体距離範囲の判定は、１／ＬＨと１／ＬＩとの両方を用いているが、いずれか一方を使用したり、近距離側は１／ＬＨ、遠距離側は１／ＬＩを用いる等、測距装置１００の特性に合わせた方法を用いて行うことができる。
【００５３】
（第３の実施の形態）
次に、本発明の第３の実施の形態を説明する。この第３の実施の形態は第１の実施の形態の測距装置１００において、スポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨ、スポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢを被写体距離に応じて切換えるようにしたものである。
【００５４】
スポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨが固定であると、測距装置１００の特性によっては、スポット欠け判定を誤判定してしまう頻度が大きい被写体距離範囲が出来てしまう場合がある。また、スポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢも固定であると、測距装置１００の特性によっては、スポット欠け補正の精度が劣化する被写体距離範囲が出来てしまう場合がある。よって、スポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨ、スポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢを被写体距離に応じて切換えることにより、スポット欠け判定の精度、スポット欠け補正の精度を向上させることができる。
【００５５】
図７は、このようにスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨ、スポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢを被写体距離に応じて切換えることにより、スポット欠け判定の精度、スポット欠け補正の精度を向上させた測距装置１００の測距シーケンスの手順を示すフローチャートである。
【００５６】
先ず、ＩＲＥＤドライバ１０６によりＩＲＥＤ１０３を発光させて信号光を被写体に投光し、被写体で反射した信号光をＰＳＤ１０４に受光させ、ＰＳＤ１０４から出力される光電流をＡＦ処理回路１０５に取り込み（Ｓ３０１）、ＡＦ処理回路１０５は、取り込んだ光電流から定常光電流と信号光電流Ｉ１，Ｉ２を分離し、比演算手段１０９、光量演算手段１１０の各演算回路で、Ｉ１／（Ｉ１＋Ｉ２）に対応する比演算データ、Ｉ１＋Ｉ２に対応する光量データを求め、これらのデータをＣＰＵ１０７に取り込み（Ｓ３０２）、ステップＳ３０２で求めた比演算データ、光量データを用いて、（５）式、（８）式により、１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩを算出する（Ｓ３０３）。
【００５７】
そして、ステップＳ３０３で算出した１／ＬＨが予め定められた基準となる１／ＬＨＴＨより小さいか否かを判定し（Ｓ３０４）、１／ＬＨＴＨより小さいと判定した場合は、ステップＳ３０３で算出した１／ＬＩが予め定められた基準となる１／ＬＩＴＨより小さいか否かを判定する（Ｓ３０５）。このステップＳ３０５で１／ＬＩが１／ＬＩＴＨより小さいと判定した場合は、遠距離用のスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨＦ及びスポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢＦを設定し（Ｓ３０６）、ステップＳ３０４で１／ＬＨが１／ＬＨＴＨより小さくないと判定した場合及びステップＳ３０５で１／ＬＩが１／ＬＩＴＨより小さくないと判定した場合は近遠距離用のスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨＮ及びスポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢＮを設定する（Ｓ３０７）。
【００５８】
そして、ステップＳ３０３で算出した１／ＬＨ、１／ＬＩに基づいてスポット欠け判定を行う（Ｓ３０８）。このステップＳ３０８のスポット判定の結果に基づいて、スポット欠け有りか無しかを判定する（Ｓ３０９）。スポット欠け有りと判定した場合は、ステップＳ３０３で算出した１／ＬＨ、１／ＬＩに基づいてスポット欠け補正を行い、最終的な１／Ｌデータ１／Ｌ０を求め（Ｓ３１０）、スポット欠け無しと判定した場合は、ステップＳ３０３で算出した１／ＬＨ、１／ＬＩから近距離の場合は１／ＬＨを、遠距離の場合は１／ＬＩを１／Ｌ０として選択する（Ｓ３１１）。
【００５９】
なお、この第３の実施の形態での被写体距離範囲の判定は、１／ＬＨと１／ＬＩとの両方を用いているが、いずれか一方を使用したり、一方のデータに応じて他方のデータを使用するか決める等、測距装置１００の特性に合わせた方法を用いて行うことができる。また、この第３の実施の形態では、スポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨ、スポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢを被写体距離に応じて離散的に切換えているが、所定の演算式を用いてスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨ、スポット欠け補正用基準反射率係数ＫＢを算出して、連続的に切換えるようにしても良い。
【００６０】
（第４の実施の形態）
次に、本発明の第４の実施の形態を説明する。この第４の実施の形態は第１の実施の形態の測距装置１００において、スポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨを焦点距離検出手段１０８により検出した撮影レンズの焦点距離に応じて切換えるようにしたものである。
【００６１】
一般的に撮影レンズの焦点距離に応じて被写界深度が変化することにより、同じ量のスポット欠けが発生したとしても、例えば、ズームレンズのテレとワイドではその影響は異なり、被写界深度の浅いテレではピントがあわずにボケた写真となってしまう場合でも、被写界深度の深いワイドではピントがあった写真となることがある。
【００６２】
よって、撮影レンズの焦点距離に応じてスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨを切換えて、ワイド時にはテレ時よりもスポット欠け補正が実行されにくくすることにより、不要な演算時間をなくすことができ、レリーズタイムラグを短縮することができる。
【００６３】
図８は、このようにスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨを撮影レンズの焦点距離応じて切換えることにより、不要な演算時間をなくすことができ、レリーズタイムラグを短縮させた測距装置１００の測距シーケンスの手順を示すフローチャートである。
【００６４】
先ず、焦点距離検出手段１０８により受光レンズ１０２の焦点距離ｆを検出する（Ｓ４０１）。そしてＩＲＥＤドライバ１０６によりＩＲＥＤ１０３を発光させて信号光を被写体に投光し、被写体で反射した信号光をＰＳＤ１０４に受光させ、ＰＳＤ１０４から出力される光電流をＡＦ処理回路１０５に取り込み（Ｓ４０２）、ＡＦ処理回路１０５は、取り込んだ光電流から定常光電流と信号光電流Ｉ１，Ｉ２を分離し、比演算手段１０９、光量演算手段１１０の各演算回路で、Ｉ１／（Ｉ１＋Ｉ２）に対応する比演算データ、Ｉ１＋Ｉ２に対応する光量データを求め、これらのデータをＣＰＵ１０７に取り込み（Ｓ４０３）、ステップＳ４０２で求めた比演算データ、光量データを用いて、（５）式、（８）式により、１／Ｌデータ１／ＬＨ、１／Ｌデータ１／ＬＩを算出する（Ｓ４０４）。
【００６５】
そして、ステップＳ４０１で検出した焦点距離ｆが予め定められたスポット欠け判定値算出用直線を切換える切換判定値ｆＴＨより小さいか否かを判定する（Ｓ４０５）。そして、焦点距離ｆが切換判定値ｆＴＨより小さいと判定した場合には、短焦点用のスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨＷを設定し（Ｓ４０６）、焦点距離ｆが切換判定値ｆＴＨより小さくないと判定した場合には、長焦点用のスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨＴを設定する（Ｓ４０７）。
【００６６】
そして、ステップＳ４０４で算出した１／ＬＨ、１／ＬＩに基づいてスポット欠け判定を行う（Ｓ４０８）。ステップＳ４０８のスポット判定の結果に基づいて、スポット欠け有りか無しかを判定する（Ｓ４０９）。スポット欠け有りと判定した場合は、ステップＳ４０４で算出した１／ＬＨ、１／ＬＩに基づいてスポット欠け補正を行い、最終的な１／Ｌデータ１／Ｌ０を求め（Ｓ４１０）、スポット欠け無しと判定した場合は、ステップＳ４０４で算出した１／ＬＨ、１／ＬＩから近距離の場合は１／ＬＨを、遠距離の場合は１／ＬＩを１／Ｌ０として選択する（Ｓ４１１）。
【００６７】
この第４の実施の形態では、スポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨを撮影レンズの焦点距離応じて離散的に切換えているが、所定の演算式を用いてスポット欠け判定値算出用直線ｌＳＨを算出して連続的に切換えるようにしても良い。
【００６８】
なお、本発明は、上述した実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化でき、また、実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を変形できるものである。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明に係る第１の実施の形態の測距装置の構成図。
【図２】同実施の形態の被写体距離の差異によるＰＳＤ上の受光スポットの位置を示す図。
【図３】同実施の形態のスポット欠けが発生した場合の受光スポットの重心位置変化を示す図。
【図４】同実施の形態の比演算データ、光量データから算出される１／Ｌデータの特性直線を示す図。
【図５】同実施の形態の測距装置の測距シーケンスの手順を示すフローチャート。
【図６】本発明に係る第２の実施の形態における測距装置の測距シーケンスの手順を示すフローチャート。
【図７】本発明に係る第３の実施の形態における測距装置の測距シーケンスの手順を示すフローチャート。
【図８】本発明に係る第４の実施の形態における測距装置の測距シーケンスの手順を示すフローチャート。
【図９】従来例におけるアクティブ方式の三角測距の原理を説明するための図。
【図１０】従来例におけるスポット欠けの有無による被写体と投光スポットとの関係を示す図。
【符号の説明】
【００７０】
１０１…投光レンズ，１０２…受光レンズ，１０３…ＩＲＥＤ（赤外発光ダイオード），１０４…ＰＳＤ（光位置検出装置），１０５…ＡＦ処理回路，１０６…ＩＲＥＤドライバ，１０７…ＣＰＵ，１０８…焦点距離検出手段，１０９…比演算手段，１１０…光量演算手段，１１１…受光面，１１２…近距離側電極，１１３…遠距離側電極，１１４〜１１６…受光スポット，ＡＦＤＡＴＡ…比演算データ，ＩＮＴＤＡＴＡ…光量データ，１／ＬＨ，１／ＬＩ,１／ＬＯ…１／Ｌデータ（距離の逆数データ），ｌＴＨ，ｌＳＮ，ｌＳＦ，ｌＳＨ，ｌＳＩ…１／Ｌデータの特性曲線
【図１】
2005326766.tif 000029
【図２】
2005326766.tif 000030
【図３】
2005326766.tif 000031
【図４】
2005326766.tif 000032
【図５】
2005326766.tif 000033
【図６】
2005326766.tif 000034
【図７】
2005326766.tif 000035
【図８】
2005326766.tif 000036
【図９】
2005326766.tif 000037
【図１０】
2005326766.tif 000038