(57)【要約】 【課題】  平行度調整と光軸角度調整を並行して行うことが出来るとともに、精度が高く安価な光ピックアップの出射光検査装置を提供する。【解決手段】  検査対象の光ピックアップＰのレーザ・ダイオードＬＤから出射されるレーザ・ビームｂを受光して、非点収差生成用のシリンドリカル・レンズ１３を通過させ、このシリンドリカル・レンズ１３を通過したレーザ・ビームｂを、受光面が上下左右に配置された四つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに分割された光電子集積回路によって構成される受光素子１４に入射させる。【選択図】    図４
2005121448.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップの光源から出射される光の光軸の傾きと平行度の検査を行う装置であって、
受光した光ピックアップの光源からの出射光を通過させる非点収差生成用レンズ部材と、
この非点収差生成用レンズ部材を通過した光が入射される受光部材を備え、
この受光部材が、その受光面が複数の受光領域に分割された光電子集積回路によって構成されていることを特徴とする光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項２】
前記受光部材を構成する光電子集積回路の受光面が、上下左右に配置された四つの領域に分割されている請求項１に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項３】
前記受光部材に、この受光部材の受光面の各受光領域から出力されるそれぞれの受光量に比例した信号が入力される信号処理部材が接続され、この信号処理部材が、受光部材の各受光領域から入力されてくるそれぞれの信号の値を受光面の対角線上に位置する受光領域毎に加算してその合計値を演算し、この合計値の各受光領域から入力されてくる信号の値の総合計値に対する割合を演算する請求項１に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項４】
前記信号処理部材が、さらに、受光部材の各受光領域から入力されてくるそれぞれの信号に基づいて、受光部材の受光面に入射した光の座標値を演算し、光軸の傾きを検出する請求項３に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項５】
前記受光部材の各受光領域から信号処理部材に出力される信号が、各受光領域における受光量に比例した電圧である請求項３に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項６】
前記信号処理部材に接続された第１モニタ部材をさらに備え、信号処理部材がこの第１モニタ部材に、受光部材の受光面の対角線上に位置する受光領域毎に加算された合計値の総合計値に対する割合を示すデータを出力して、この割合を表示させる請求項３に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項７】
前記信号処理部材が、第１モニタ部材に、受光部材の受光面の対角線上に位置する受光領域毎に加算された合計値の総合計値に対する割合をグラフによって表示させる請求項３に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項８】
前記信号処理部材が、第１モニタ部材に、受光部材の受光面の対角線上に位置する受光領域毎に加算された合計値の総合計値に対する割合を数値によって表示させる請求項３に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項９】
前記信号処理部材に接続された第２モニタ部材をさらに備え、信号処理部材がこの第２モニタ部材に、演算した座標値に基づいて受光素子に入射した光の光軸の傾きを表示させる請求項４に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項１０】
前記第２モニタ部材の表示画面に、この表示画面が受光部材の受光面の各受光領域に対応して分割された座標画面が形成されて、この座標画面上に、受光画面に入射した光の光軸の傾きを示すスポットマークが表示される請求項９に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【請求項１１】
前記第２モニタ部材に、受光部材の各受光領域から出力される信号の値がそれぞれ表示される請求項９に記載の光ピックアップの出射光検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ピックアップの出射光の光軸の傾きや平行度を検査する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１は、ＤＶＤプレーヤやＤＶＤレコーダに使用される光ピックアップの一般的構成を概略的に示す斜視図である。
【０００３】
この図１において、光ピックアップＰは、それぞれ波長の異なるビームを出射するＤＶＤ(Digital Versatile Disc)用レーザ・ダイオードＬＤ１およびＣＤ(Compact Disc)用レーザ・ダイオードＬＤ２と、それぞれＤＶＤ用レーザ・ダイオードＬＤ１およびＣＤ用レーザ・ダイオードＬＤ２からのビームの平行度（フォーカス）調整を行うためのコリメート・レンズ１Ａ，１Ｂと、このＤＶＤ用レーザ・ダイオードＬＤ１およびＣＤ用レーザ・ダイオードＬＤ２からの出射ビームｂ１，ｂ２を所定に経路に誘導するハーフミラー２，３およびミラー４と、アクチュエータによってフォーカス制御されてディスクへのビーム照射を行う対物レンズ５と、ディスクＤからの反射ビームｂ３が対物レンズ５およびミラー４，ハーフミラー３を介して入射されるマルチレンズ６と、このマルチレンズ６によってフォーカスされた反射ビームｂ３を受光して情報の読み取りを行うフォト・ディテクタやＯＥＩＣ（光電子集積回路）などの受光素子７とから構成されている。
【０００４】
このような構成の光ピックアップＰが、従来のように読み取り系のＤＶＤプレーヤやＣＤプレーヤなどに使用される場合には、反射ビームｂ３が受光素子７に入射される際に最終的にその平行度調整と光軸角度調整が為されていれば良く、光ピックアップＰの製造工程においては、プレーヤ等への取り付け前に、ビームスポット調整機による対物レンズ５を動作させるアクチュエータの姿勢調整（往路光軸調整）と、光軸調整機によるマルチレンズ６の平行度調整および受光素子７の位置調整（受光部光軸調整）に重点を置いて、その調整が行われている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
しかしながら、近年、ＤＶＤレコーダやＣＤレコーダのような光ピックアップを使用した記録系の各種装置が普及して来ており、このような記録系の装置に使用される光ピックアップＰについては、記録を行う際のパワー効率を向上させるために、ＤＶＤ用レーザ・ダイオードＬＤ１やＣＤ用レーザ・ダイオードＬＤ２からの出射ビームｂ１，ｂ２に対する厳密な平行度調整と光軸角度調整が要求されてきている。
【０００６】
このようなＤＶＤ用レーザ・ダイオードＬＤ１やＣＤ用レーザ・ダイオードＬＤ２（以下、レーザ・ダイオードＬＤと総称する）からの出射ビームｂ１，ｂ２（以下、出射ビームｂと総称する）に対する平行度調整は、従来は、レーザ・ダイオードＬＤからの出射ビームｂを遠方に飛ばして、その形状を目視により判定したり、ＣＣＤに入射させて画像処理する等の方法によって判定を行い、その判定結果に基づいて、図２に示されるように、コリメータ・レンズ１Ａまたは１Ｂ（以下、コリメータ・レンズ１と総称する）の軸線方向（Ｚ方向）の位置を微調整することより行われている。
【０００７】
また、レーザ・ダイオードＬＤからの出射ビームｂの光軸角度調整は、オートコリメータを使用して目視またはＣＣＤを用いた画像処理によってレーザ・ダイオードＬＤからの出射角度や光軸の傾きの判定を行い、図３に示されるように、レーザ・ダイオードＬＤの出射ビームｂの光軸に対して直交する二方向（ｘ方向およびｙ方向）の位置や角度を微調整することより行われている。
【０００８】
しかしながら、上記のような平行度調整および光軸角度調整において、出射ビームｂの形や光軸の傾きを目視で判定する方法は、精度の高い調整を行うことが困難であり、また、ＣＣＤを用いた画像処理による方法では、その調整が複雑で調整のための装置が高額になってしまうという問題を有している。
【０００９】
さらに、従来は、この平行度調整と光軸角度調整を個別に行う必要があったために、一方の調整後に他方の調整を行うと、一方の調整を再度やり直さなければならず、調整工程が非常に煩雑になってしまうという問題が起こっている。
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−１３３７０８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
この発明は、上記のような光ピックアップの出射光の調整を行う際の従来の問題点を解決することをその解決課題の一つとしているものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために、この発明（請求項１に記載の発明）による光ピックアップの出射光検査装置は、光ピックアップの光源から出射される光の光軸の傾きと平行度の検査を行う装置であって、受光した光ピックアップの光源からの出射光を通過させる非点収差生成用レンズ部材と、この非点収差生成用レンズ部材を通過した光が入射される受光部材を備え、この受光部材が、その受光面が複数の受光領域に分割された光電子集積回路によって構成されていることを特徴としている。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
この発明による光ピックアップの出射光検査装置は、検査対象の光ピックアップの光源から出射されるレーザ・ビームを受光して、非点収差生成用のシリンドリカル・レンズを通過させた後、この非点収差生成用のシリンドリカル・レンズを通過したレーザ・ビームを、受光面が上下左右に配置された四つの受光領域に分割された光電子集積回路によって構成される受光素子に入射させる実施形態の光ピックアップの出射光検査装置を、その最良の実施形態としているものである。
【００１４】
この実施形態による光ピックアップの出射光検査装置は、検査対象の光ピックアップの光源から出射されるレーザ・ビームの光軸が設定位置からずれている場合には、受光素子に入射したレーザ・ビームの光軸の傾きとこの受光素子の受光面の四つの受光領域の分割中心位置が一致していないことによって、この受光素子の四つの受光領域からは、それぞれ異なる値の光電変換信号が出力される。
【００１５】
従って、この受光素子の四つの受光領域から出力されてくる光電変換信号の値を比較することによって、受光素子の受光面に入射するレーザ・ビームの光軸の傾きが検出され、オペレータは、この検出結果を確認しながら、レーザ・ビームの光軸が設定位置となるように光ピックアップの光源の微調整（光軸角度調整）を行うことが出来るようになる。
【００１６】
さらに、この光ピックアップの出射光検査装置は、検査対象の光ピックアップの光源から出射されるレーザ・ビームが平行でなく集光または拡散している場合には、シリンドリカル・レンズの非点収差によって、受光素子に入射したレーザ・ビームのビームパターンが円形にはならずに、何れかの方向に傾斜した楕円形となる。
【００１７】
従って、この受光素子の四つの受光領域から出力されてくる光電変換信号のそれぞれの値を受光面の対角線上に位置する受光領域毎に加算してその合計値を演算し、この合計値の各受光領域から入力されてくる信号の値の総合計値に対する割合を演算することによって、レーザ・ビームが集光しているか拡散しているかが検出され、オペレータは、この検出結果を確認しながら、レーザ・ビームが平行になるように光ピックアップの光源の微調整（平行度調整）を行うことが出来るようになる。
【００１８】
以上のように、この光ピックアップの出射光検査装置によれば、一台の装置で光軸角度調整と平行度調整を並行して行うことが可能になるとともに、目視によって検査を行う場合と比べて高い精度で光ピックアップの調整を行うことが出来るようになり、また、画像処理による検査装置に比べて、非常に安価な検査装置を提供することが出来るようになる。
【実施例】
【００１９】
図４は、この発明による光ピックアップの出射光検査装置の実施形態における一実施例を示す概略構成図である。
【００２０】
この図４において、出射光検査装置１０は、その略箱形状のケーシング１０Ａの一方の端面（図４において左側端面）に光の照射と受光を行うための窓部１０Ｂが形成され、さらに、このケーシング１０Ａ内に、ケーシング１０Ａの軸線と平行な軸線ｎに沿って、ビームスプリッタ１１と凸レンズ１２と後述するようなシリンドリカル・レンズ１３および受光素子１４が窓部１０Ｂ側から順に同軸状に配置されている。
【００２１】
そして、ケーシング１０Ａ内のビームスプリッタ１１に対向する部分に、このビームスプリッタ１１に対してレーザ・ビームＬを出射するレーザダイオードを有するＬＤ光源１５が配置されている。
【００２２】
上記シリンドリカル・レンズ１３は、図５に示されるように、レンズ面１３Ａの横方向ｈの曲率と縦方向ｖの曲率が異なっていて、二つの焦点Ｆ１とＦ２を有している。
【００２３】
これによって、このシリンドリカル・レンズ１３をレーザ・ビームｂが通過すると、そのレーザ・ビームｂのビームパターンは、シリンドリカル・レンズ１３の非点収差によって、図６に示されるように、レンズ面１３Ａに近い焦点Ｆ１とレンズ面１３Ａから遠い焦点Ｆ２との間において、焦点Ｆ１に近い位置では一方向に傾斜した楕円となり、焦点Ｆ２に近い位置では反対方向に傾斜した楕円となり、この焦点Ｆ１とＦ２の中間位置Ｆ３において真円となる。
【００２４】
上記受光素子１４は、図７に示されるように、その受光面が上下左右に配置された四つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに分割されているＯＥＩＣ（光電子集積回路）によって構成されており、この受光素子１４にレーザ・ビームｂが入射された際に、四つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから、それぞれの領域における受光量に比例した光電変換信号（電圧）が出力されるようになっている。
【００２５】
なお、図示の例においては、受光素子１４は、受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが均等な方形形状になるように、その受光面が四分割されている。
【００２６】
そして、この受光素子１４は、その受光面の分割中心ｐ１が軸線ｎ上に位置するように固定されている。
【００２７】
この受光素子１４は、信号処理部２０Ａとモニタ２０Ｂ，２０Ｃとを備えた検出装置（例えば、パーソナル・コンピュータ）２０に接続されていて、受光面の四つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの電圧を、検出装置２０の信号処理部２０Ａに出力するようになっている。
【００２８】
検出装置２０の信号処理部２０Ａは、受光素子１４の受光面の四つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから入力されてくる電圧の値に基づいて、受光素子１４の受光面の分割中心ｐ１を原点として、この受光素子１４に入射する光の光軸の傾きを示す座標値を演算するプログラムと、受光素子１４の受光面の四つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから入力されてくる電圧の値の受光面の対角線方向に並ぶ受光領域（ＡとＣ，ＢとＤ）毎の和を演算するプログラムとを備えている。
【００２９】
検出装置２０のモニタ２０Ｂは、その表示画面が、受光素子１４の受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに対応して上下左右に配置された表示領域Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，Ｄ１の四つの座標画面に分割されており、この座標画面の分割中心ｐ２を原点として、信号処理部２０Ａにおいて演算された座標値に基づいて、受光素子１４に入射してくるレーザ・ビームｂの光軸の傾きを表示するようになっている。
【００３０】
また、図示の例では、モニタ２０Ｂの各表示領域Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，Ｄ１に、それぞれ、対応する受光素子１３の受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの電圧値を表示する表示欄ａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１が設けられている。
【００３１】
モニタ２０Ｃは、受光素子１４の受光面の四つの受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから出力される電圧の値の総合計値Ｔに対する受光面の対角線方向に並ぶ受光領域ＡとＣの電圧値の合計値Ｔ１、および、受光領域ＢとＤの電圧値の合計値Ｔ２のそれぞれのパーセンテージをグラフＧ１，Ｇ２によって表示するようになっている。
【００３２】
さらに、このモニタ２０Ｃの表示画面には、グラフＧ１，Ｇ２に対応して、受光領域ＡとＣの電圧値の合計値Ｔ１と受光領域ＢとＤの電圧値の合計値Ｔ２、および、総合計値Ｔに対するパーセンテージの数値をそれぞれ表示する表示欄ｇ１，ｇ２が設けられている。
【００３３】
次に、上記出射光検査装置１０を用いた光ピックアップＰの出射光の検査方法について説明を行う。
【００３４】
図１の光ピックアップＰに対して、ＤＶＤ用レーザ・ダイオードＬＤ１とＣＤ用レーザ・ダイオードＬＤ２の出射光調整（平行度調整およびトレッキング調整）を行う場合、調整対象の光ピックアップＰは、その対物レンズ５が出射光検査装置１０の窓部１０Ｂに対向する位置に位置されて固定される。
【００３５】
図４においては、このときの状態が光ピックアップＰの構成を簡略化して示されている。
【００３６】
この図４において、調整を行うレーザ・ダイオードＬＤから出射されてオートコリメータ１によって一応の平行光にされたレーザ・ビームｂは、出射光検査装置１０によって受光される。
【００３７】
この出射光検査装置１０によって受光されたレーザ・ビームｂは、窓部１０Ｂからビームスプリッタ１１を通過し、凸レンズ１２によって集光された後、シリンドリカル・レンズ１３を通過して受光素子１４に入射される。
【００３８】
図８ないし１１は、受光素子１４にレーザ・ビームｂが入射している状態の一例を示しており、図中、ＳＰが、受光素子１４の受光面におけるレーザ・ビームｂのスポット範囲を示している。
【００３９】
そして、図８はレーザ・ビームｂの光軸がずれている（光軸角度調整が為されていない）状態を示しており、図９はレーザ・ビームｂが集光されている場合を示しており、図１０はレーザ・ビームｂが拡散されている場合を示しており、図１１はレーザ・ビームｂが平行光になっている（平行度調整されている）場合を示している。
【００４０】
なお、図８においては、光ピックアップＰが平行度調整されていて、スポット範囲ＳＰが円形になっている状態が示されているが、実際には、光ピックアップＰに対して平行度調整が為される前には、スポット範囲ＳＰは、図９または１０に示されるように、何れかの方向に傾斜した楕円形になっている場合が多い。
【００４１】
先ず、この図８に基づいて光軸角度調整を行う場合について説明を行うと、この図８の例では、レーザ・ビームｂの光軸の傾きが、受光素子１４の分割中心ｐ１から受光領域Ｂの側にずれていて、レーザ・ビームｂのスポット範囲ＳＰと各受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄとが重なっている面積は、受光領域Ｂが一番大きくなっている。
【００４２】
これによって、受光素子１４の受光領域Ｂから検出装置２０の信号処理部２０Ａに一番大きな値の電圧が出力され、他の受光領域Ｂ，Ｃ，Ｄからも、それぞれスポット範囲ＳＰと重なっている面積に比例した値の電圧が出力される。
【００４３】
検出装置２０の信号処理部２０Ａは、この受光素子１４の各受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから入力されてくる電圧の値に基づいて、各電圧値の大きさを比較することにより、受光素子１４の受光面上におけるスポット範囲ＳＰの中心位置、すなわち、レーザ・ビームｂの座標位置から光軸の傾きを演算する。
【００４４】
そして、信号処理部２０Ａは、このようにして演算したレーザ・ビームｂの光軸の座標位置を示すデータをモニタ２０Ｂに出力して、このモニタ２０Ｂの画面に形成された分割中心ｐ２を原点とする座標画面に、レーザ・ビームｂの光軸の傾きを示すスポットマークｍを表示させる。
【００４５】
また、信号処理部２０Ａは、受光素子１４から入力された各受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの電圧の値を示すデータをそのままモニタ２０Ｂに出力して、それぞれの電圧値を、対応する各表示領域Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，Ｄ１の表示欄ａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１に表示させる。
【００４６】
オペレータは、このモニタ２０Ｂの座標画面に表示されたスポットマークｍの位置を確認しながら、このスポットマークｍが座標画面の分割中心ｐ２に一致するように、図３に示されるように、レーザ・ダイオードＬＤの出射ビームｂの光軸に対する直交する二方向の位置や角度を微調整することよって、光軸角度調整を行う。
【００４７】
次に、この図９ないし１１に基づいて平行度調整を行う場合について説明を行う。
【００４８】
検出装置２０の信号処理部２０Ａは、受光素子１４の各受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから出力されてくる電圧の値の総合計値Ｔと、対角線上に並ぶ受光領域ＡとＣの電圧値の合計値Ｔ１、および、受光領域ＢとＤの電圧値の合計値Ｔ２をそれぞれ求め、合計値Ｔ１とＴ２の総合計値Ｔに対するパーセンテージを示す値を求めて、その値を示すデータをモニタ２０Ｃに出力する。
【００４９】
モニタ２０Ｃは、この信号処理部２０Ａから入力されてきたデータに基づいて、合計値Ｔ１とＴ２の総合計値Ｔに対するパーセンテージを示すグラフＧ１とＧ２を表示する。
【００５０】
さらに、モニタ２０Ｃの表示画面には、グラフＧ１，Ｇ２とともに、合計値Ｔ１とＴ２、および、総合計値Ｔに対するパーセンテージを示す数値が、それぞれの表示欄ｇ１，ｇ２に表示される。
【００５１】
すなわち、図９のようにレーザ・ビームｂが集光している状態では、受光領域ＡとＣの電圧値の合計値Ｔ１のパーセンテージが受光領域ＢとＤの電圧値の合計値Ｔ２のパーセンテージよりも小さくなって、グラフＧ１の方がグラフＧ２よりも小さく表示され（図４に図示の状態）、逆に、図１０のようにレーザ・ビームｂが拡散している状態では、合計値Ｔ１のパーセンテージが合計値Ｔ２のパーセンテージよりも大きくなって、グラフＧ１の方がグラフＧ２よりも大きく表示され、また、図１１のようにレーザ・ビームｂが平行になっている状態（フォーカスされている状態）では、合計値Ｔ１のパーセンテージと合計値Ｔ２のパーセンテージがともに５０パーセントで等しくなって、グラフＧ１とグラフＧ２がともに等しい大きさで表示される。
【００５２】
オペレータは、このモニタ２０Ｃの画面に表示されたグラフＧ１とＧ２の大きさを確認しながら、図２に示されるように、コリメータレンズ１の軸方向の位置を微調整することよって、平行度調整を行う。
【００５３】
以上のように、この出射光検査装置１０によれば、調整対象の光ピックアップＰのレーザ・ダイオードＬＤから出射されるレーザ・ビームｂが、シリンドリカル・レンズ１３を介して、四分割されたＯＥＩＣ（光電子集積回路）によって構成される受光素子１４に入射され、この受光素子１４の各受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから出力される光電変換信号（電圧）に基づいて、レーザ・ビームｂの光軸の傾きがモニタ２０Ｂに表示されるとともに、レーザ・ビームｂの平行度がモニタ２０Ｃに表示されるので、オペレータは、このモニタ２０Ｂと２０Ｃの画面を見ながら、平行度調整と光軸角度調整を並行して行うことが出来、これによって、光ピックアップＰの出射光調整が、従来と比べて容易に行うことが出来るようになる。
【００５４】
そして、この出射光検査装置１０によれば、従来のように目視による判定によって出射光調整を行う場合に比べて、その調整の精度を格段に高めることが出来るとともに、従来のような画像処理によって出射光の検査を行う装置と比べて、安価な調整装置を提供することが出来るようになる。
【００５５】
なお、上記例においては、出射光検査装置１０がビームスプリッタ１１とＬＤ光源１５を備えていることによって、この出射光調整装置１０を、ＬＤ光源１５からのレーザ・ビームＬをビームスプリッタ１１によって反射して測定対象物に照射し、その測定対象物からの反射光を受光することによって測定対象物の傾き等を検出するチルトセンサとしても、使用することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】光ピックアップの一般的構成を示す斜視図である。
【図２】光ピックアップの平行度調整の一般的方法を説明するための説明図である。
【図３】光ピックアップの光軸角度調整の一般的方法を説明するための説明図である。
【図４】この発明の実施形態における一実施例を示す構成図である。
【図５】同実施例におけるシリンドリカル・レンズによる非点収差の生成原理を説明するための説明図である。
【図６】同実施例におけるシリンドリカル・レンズによって生成される非点収差によるレーザパターンを示す説明図である。
【図７】同実施例における受光素子の受光面の形態を示す説明図である。
【図８】同受光素子の受光面に光ピックアップからのレーザ・ビームが入射している状態の一例を示す説明図である。
【図９】同受光素子の受光面に光ピックアップからの集光したレーザ・ビームが入射している状態を示す説明図である。
【図１０】同受光素子の受光面に光ピックアップからの拡散したレーザ・ビームが入射している状態を示す説明図である。
【図１１】同受光素子の受光面に光ピックアップからの平行なレーザ・ビームが入射している状態を示す説明図である。
【符号の説明】
【００５７】
１                      …コリメータレンズ
１０                    …出射光検査装置
１３            …シリンドリカル・レンズ（非点収差生成用レンズ部材）
１４                    …受光素子（受光部材，光電子集積回路）
２０                    …検出装置
２０Ａ                  …信号処理部（信号処理部材）
２０Ｂ                  …モニタ（第１モニタ部材）
２０Ｃ                  …モニタ（第２モニタ部材）
ＬＤ                    …レーザ・ダイオード（光源）
ＬＤ１                  …ＤＶＤ用レーザ・ダイオード（光源）
ＬＤ２                  …ＣＤ用レーザ・ダイオード（光源）
ｂ                      …レーザ・ビーム（出射光）
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ          …受光領域
ｐ１                    …分割中心
ＳＰ                    …スポット範囲
Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，Ｄ１  …表示領域
ａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１  …表示欄
ｐ２                    …分割中心
ｍ                      …スポットマーク
Ｇ１，Ｇ２              …グラフ
ｇ１，ｇ２              …表示欄
【図１】
2005121448.tif 000003
【図２】
2005121448.tif 000004
【図３】
2005121448.tif 000005
【図４】
2005121448.tif 000006
【図５】
2005121448.tif 000007
【図６】
2005121448.tif 000008
【図７】
2005121448.tif 000009
【図８】
2005121448.tif 000010
【図９】
2005121448.tif 000011
【図１０】
2005121448.tif 000012
【図１１】
2005121448.tif 000013