(57)【要約】【課題】  光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができるようにする。【解決手段】  未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成し、作成されたリファレンスデータを保存し、使用テストディスクを測定して、その測定結果をリファレンスデータと比較して使用テストディスクの性能の良否を判定するとともに、テストデスクの測定回数を累計して測定回数を保存し、使用テストディスクの性能の判定結果とテストディスク評価装置の測定回数とを表示するようにする。【選択図】        図４
2005353182.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能を評価するテストディスク評価装置であって、
未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成するリファレンスデータ作成手段と、前記リファレンスデータ作成手段により作成されたリファレンスデータを保存する不揮発性メモリと、使用テストディスクを測定し、その測定結果を前記リファレンスデータと比較して、前記使用テストディスクの性能の良否を判定する判定手段と、テストディスクを測定する毎に１を加算して、前記テストディスク評価装置の測定回数を累計して前記不揮発性メモリに保存する測定回数累計手段と、前記判定手段の判定結果と前記テストディスク評価装置の測定回数とを表示する表示手段とを備えたことを特徴とするテストディスク評価装置。
【請求項２】
光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能を評価するテストディスク評価装置であって、
未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成するリファレンスデータ作成手段と、前記リファレンスデータ作成手段により作成されたリファレンスデータを保存する記憶手段と、使用テストディスクを測定し、その測定結果を前記リファレンスデータと比較して、前記使用テストディスクの性能の良否を判定する判定手段と、テストディスクを測定する毎に１を加算して、前記テストディスク評価装置の測定回数を累計して前記記憶手段に保存する測定回数累計手段と、前記判定手段の判定結果と前記テストディスク評価装置の測定回数とを表示する表示手段とを備えたことを特徴とするテストディスク評価装置。
【請求項３】
前記記憶手段は、不揮発性メモリであることを特徴とする請求項２記載のテストディスク評価装置。
【請求項４】
光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能を評価するテストディスク評価装置の評価方法であって、
未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成するステップと、作成されたリファレンスデータをメモリに保存するステップと、使用テストディスクを測定し、その測定結果を前記リファレンスデータと比較して、使用テストディスクの性能の良否を判定するステップと、テストディスクの測定毎に１を加算して、前記テストディスク評価装置の測定回数を累計してメモリに保存するステップと、前記使用テストディスクの性能の良否と前記テストディスク評価装置の測定回数とを表示するステップとを備えたことを特徴とするテストディスク評価装置の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能を評価するテストディスク評価装置に係り、特にテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができるテストディスク評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、光ディスクに情報を記録再生するディスク装置は、ジッタ、エラーレート等のディスク装置の性能をテストするために高価なテストディスクが使用されている。しかし、ディスク装置の性能をテストするテストディスクは、長時間に亘って頻繁に使用されるため、使用頻度の増加とともにテストディスクの表面の瑕や汚れ、センタホールの磨耗等が発生して性能が劣化し、ディスク装置の正確なテストができなくなるという問題点があった。また、テストディスクの性能を評価し、テストディスクの消耗、性能劣化を評価するテストディスク評価装置も、テストディスクの測定回数が多くなると、テストディスクの脱着回数が多くなり、それに伴ってメカ機構の磨耗等が発生して性能が劣化し、テストディスクの性能を正しく評価することができなくなるという問題点があった。
背景技術としては、複数の光ディスクの中の特定の光ディスクを検査用ディスクとして用い、検査の際に検査用ディスク側に発生する、検査情報の書き込みが不可能な不良セクタの交替セクタの発生数によりドライブの記録機能の良否を判定するようにしたものがあった（例えば、特許文献１参照）。
また、消耗部品及び寿命部品の使用回数を計数して、消耗部品及び寿命部品の使用回数が消耗部品及び寿命部品の基準有効期間と一致した時点で寿命予告を通知するようにしたものがあった（例えば、特許文献２参照）。
また、記録媒体毎に使用開始日付、ロード回数、最終使用日付、エラー回数の情報を管理して、それらの情報により記録媒体の劣化を判定するようにしたものがあった（例えば、特許文献３参照）。
【特許文献１】特開２００２−８３２３号公報
【特許文献２】特開昭６３−１５５４５８号公報
【特許文献３】特開平３−２５７５２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、背景技術で述べたもののうち最初のものにおいては、複数の光ディスクの中の特定の光ディスクを検査用ディスクとして用い、検査の際に検査用ディスク側に発生する、検査情報の書き込みが不可能な不良セクタの交替セクタの発生数によりドライブの記録機能の良否を判定することができたが、ディスク装置の動作機能・性能をテストするテストディスクの性能を評価して、テストディスクの消耗、性能劣化を評価するとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価するようにしたものではなかった。
また、次のものにおいては、消耗部品及び寿命部品の使用回数を計数して、消耗部品及び寿命部品の使用回数が消耗部品及び寿命部品の基準有効期間と一致した時点で寿命予告を通知することができたが、消耗部品及び寿命部品を使用回数のみを計数して、消耗部品及び寿命部品の寿命を予告するようにしていたため、基準有効期間以前に消耗したり、或いは寿命がきた場合にそれを通知することができなかった。
また、更にその次のものにおいては、記録媒体毎に使用開始日付、ロード回数、最終使用日付、エラー回数の情報を管理して、それらの情報により記録媒体の劣化を判定することができたが、装置の性能劣化を判別するようになっていなかったため、記録媒体の劣化が装置の性能劣化による場合に、それを判定することができなかった。
本発明は、背景技術の有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができるテストディスク評価装置を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するため本発明においては、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能を評価するテストディスク評価装置であって、
未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成するリファレンスデータ作成手段と、前記リファレンスデータ作成手段により作成されたリファレンスデータを保存する記憶手段と、使用テストディスクを測定し、その測定結果を前記リファレンスデータと比較して、前記使用テストディスクの性能の良否を判定する判定手段と、テストディスクを測定する毎に１を加算して、前記テストディスク評価装置の測定回数を累計し、その累計された測定回数を前記記憶手段に保存する累計手段と、前記判定手段の判定結果と前記テストディスク評価装置の測定回数とを表示する表示手段とを備える。
前記記憶手段は、不揮発性メモリとするとよい。
これらの手段により、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができる。
【発明の効果】
【０００５】
請求項１記載の発明に係るテストディスク評価装置によれば、未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成し、作成されたリファレンスデータを不揮発性メモリに保存し、使用テストディスクを測定して、その測定結果をリファレンスデータと比較して使用テストディスクの性能の良否を判定するとともに、テストディスク評価装置の測定回数を累計して測定回数を不揮発性メモリに保存し、使用テストディスクの性能の判定結果とテストディスク評価装置の測定回数とを表示するようにしているので、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができる。また、リファレンスデータ、テストディスク評価装置の測定回数を不揮発性メモリに保存するようにしているので、テストディスク評価装置の電源がＯＦＦになっても不揮発性メモリに保存されている内容を保持することができる。
請求項２記載の発明に係るテストディスク評価装置によれば、未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成し、作成されたリファレンスデータを保存し、使用テストディスクを測定して、その測定結果をリファレンスデータと比較して使用テストディスクの性能の良否を判定するとともに、テストデスクの測定回数を累計して測定回数を保存し、使用テストディスクの性能の判定結果とテストディスク評価装置の測定回数とを表示するようにしているので、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができる。
請求項３記載の発明に係るテストディスク評価装置によれば、不揮発性メモリに保存するようにしているので、テストディスク評価装置の電源がＯＦＦになっても不揮発性メモリに保存されている内容を保持することができる。
請求項４記載の発明に係るテストディスク評価装置によれば、未使用テストディスクを測定してリファレンスデータを作成し、作成されたリファレンスデータをメモリに保存し、既しようテストディスクを測定し、その測定結果をリファレンスデータと比較して、既しようテストディスクの性能の良否を判定し、テストディスク評価装置の測定回数を累計してメモリに保存し、使用テストディスクの性能の良否とテストディスク評価装置の測定回数とを表示するようにしているので、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
以下、適宜図面を参照しながら本発明を実施するための最良の形態を詳述する。図１は本発明の一実施例のテストディスク評価装置の構成を示すブロック図であり、図２は本発明の一実施例のテストディスク評価装置を示す説明図であり、図３は本発明の一実施例のテストディスク評価装置の画面表示例を示す図であり、図４は本発明の一実施例のテストディスク評価装置の動作を示すフローチャートである。
まず、図１の本発明の一実施例のテストディスク評価装置の構成を示すブロック図を基に説明する。
テストディスク評価装置１は、テストディスク２に記録された情報データを光学的に読み出す光ピックアップ３と、テストディスク２を回転させるスピンドルモータ４と、スピンドルモータ４を駆動し、光ピックアップ３をテストディスク２の半径方向に移動させるスレッドモータ（図示せず）を駆動して、光ピックアップ３のフォーカスとトラッキングとを制御するサーボ回路５と、光ピックアップ３により読み出された情報データを基準クロックに基づいて同期検出し、アナログ信号の情報データをデジタル信号の情報データに変換する同期検出／ＡＤ変換回路６と、デジタル信号に変換された情報データを復調し、復調された情報データの誤りを訂正する復調／誤り訂正回路７と、所定の圧縮方式に基づいて圧縮された情報データを伸張して元の情報データを復号するデコーダ８と、復号された情報データの映像音声信号を所定の信号方式に従ったコンポジット信号の映像音声信号、例えば、ＮＴＳＣ（Ｎａｔｉｏｎａｌ  Ｔｅｌｅｖｉｓｉｏｎ  Ｓｙｓｔｅｍ  Ｃｏｍｍｉｔｔｅｅ）方式の映像音声信号に符号化し、符号化された映像音声信号をアナログ信号の映像音声信号に変換するエンコーダ／ＤＡ変換回路９と、文字情報信号を映像信号に重畳して、文字情報をモニタ装置３０に表示するＯＳＤ（Ｏｎ−Ｓｃｒｅｅｎ  Ｃｈａｒａｃｔｅｒ  Ｄｉｓｐｌａｙ）回路１０と、テストディスク評価装置１のシステム全体を制御するマイコン１１と、リモコン装置２０から送信された赤外線信号のリモコン信号を受信して、所定の電気信号に変換するリモコン受信部１２と、各種データを保存する不揮発性メモリであるＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ａｎｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ‐Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）１３とで構成されている。
以上のように構成されたテストディスク評価装置について、以下その動作について説明する。
ディスク装置の性能を評価するために、まず、性能評価の基準となるリファレンスデータを作成する。未使用のテストディスク２をテストディスク評価装置１にローディングして、リモコン装置２０の操作キーを操作してリファレンスデータの作成を指令する。リファレンスデータの作成が指令されると、マイコン１１は、サーボ回路５に制御信号を送出して、テストディスク評価装置１にローディングされた未使用のテストディスク２を測定してリファレンスデータを作成し、作成されたリファレンスデータをＥＥＰＲＯＭ１３に保存する。
次に、使用のテストディスク２の性能を評価する。使用テストディスク２をテストディスク評価装置１にローディングして（図２参照）、リモコン装置２０の操作キーを操作してモニタ装置３０の画面３０ａに表示されたテストモードのテストディスクチェックを選択してテストディスクの測定を指令する（図３（ａ）参照）。テストディスク２の測定が指令されると、マイコン１１は、サーボ回路５に制御信号を送出して、テストディスク評価装置１にローディングされたテストディスク２を測定し、その測定結果をＥＥＰＲＯＭ１３に保存されているリファレンスデータと比較して使用テストディスク２の性能の良否を判定する。また、テストディスク評価装置１の性能劣化を評価するために、テストディスクを測定する毎に測定回数に１が加算され、テストディスク評価装置１の測定回数が累計されてがＥＥＰＲＯＭ１３に保存される。
そして、テストディスク２の測定が完了すると、マイコン１１は、文字情報信号と制御信号とをＯＳＤ回路１０に送出して、使用テストディスク２の判定結果とＥＥＰＲＯＭ１３に保存されているテストディスク評価装置１の測定回数とをモニタ装置３０の画面３０ａに表示する（図３（ｂ）参照）。テストディスク２の性能が劣化していない場合、モニタ装置３０の画面３０ａに「判定結果：良」が表示されるので、そのテストディスク２をディスク装置のテストに再び供することができる。しかし、テストしたテストディスク２が消耗していたり、その性能が劣化している場合、モニタ装置３０の画面３０ａに「判定結果：否」が表示されるので、そのテストディスク２をディスク装置のテスト用から除外することができる。これにより、光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができる。また、テストディスク評価装置１の測定回数がＥＥＰＲＯＭ１３に保存され、テストディスクを測定する毎にモニタ装置３０の画面３０ａに表示されるので（図３（ｂ）参照）、テストディスク評価装置１自体の性能劣化を評価することができ、テストディスク評価装置１の測定回数が所定回数に達した場合、そのテストディスク評価装置をテストディスクの測定用から除外することができる。
また、図４の本発明の一実施例のテストディスク評価装置の動作を示すフローチャートを基に説明する。
テストディスクがテストディスク評価装置にローディングされると、ステップＳ１からステップＳ２に進み、ステップＳ２で、リモコン装置の操作キーの操作によりリファレンスデータの作成が指令されたか否かが判断され、リファレンスデータの作成が指令された場合、ステップＳ３に進み、リファレンスデータの作成が指令されていない場合、ステップＳ４に進む。
ステップＳ３で、テストディスク評価装置にローディングされたテストディスク（未使用テストディスク）が測定され、リファレンスデータが作成されて、作成されたリファレンスデータがメモリに保存され、ステップＳ４に進む。
ステップＳ４で、リモコン装置の操作キーの操作によりテストディスク評価装置にローディングされたテストディスク（使用テストディスク）の性能評価が指令されたか否かが判断され、テストディスクの性能評価が指令された場合、ステップＳ５に進み、テストディスクの性能評価が指令されていない場合、ステップＳ１０に進んで処理を終了する。
ステップＳ５で、テストディスクが測定され、テストディスク評価装置の測定回数に１が加算されて、テストディスク評価装置の測定回数が累計されてメモリに保存され、ステップＳ６に進む。
ステップＳ６で、テストディスクの測定結果がメモリに保存されているリファレンスデータと比較されて、テストディスクの性能の良否が判定され、テストディスクの性能が劣化していない場合、ステップＳ７に進み、テストディスクの性能が劣化している場合、ステップＳ８に進む。
ステップＳ７で、テストディスクの性能の評価「判定：良」とメモリに保存されているテストディスク評価装置の測定回数とがモニタ装置の画面に表示され、ステップＳ９に進む。
ステップＳ８で、テストディスクの性能の評価「判定：否」とメモリに保存されているテストディスク評価装置の測定回数とがモニタ装置の画面に表示され、ステップＳ９に進む。
ステップＳ９で、リモコン装置の操作キーの操作によりテストディスクの測定終了が指令されたか否かが判断され、テストディスクの測定終了が指令された場合、ステップＳ１０に進んで処理を終了し、テストディスクの測定終了が指令されていない場合、ステップＳ４に戻って、ステップＳ４からのステップを繰り返す。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の一実施例のテストディスク評価装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施例のテストディスク評価装置を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施例のテストディスク評価装置の画面表示例を示す図である。
【図４】本発明の一実施例のテストディスク評価装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０００８】
１  テストディスク評価装置
２  テストディスク
３  光ピックアップ
４  スピンドルモータ
５  サーボ回路
６  同期検出／ＡＤ変換回路
７  復調／誤り訂正回路
８  デコーダ
９  エンコーダ／ＤＡ変換回路
１０  ＯＳＤ回路
１１  マイコン
１２  リモコン受信部
１３  ＥＥＰＲＯＭ
２０  リモコン装置
３０  モニタ装置
３０ａ  画面
【図１】
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【図２】
2005353182.tif 000004
【図３】
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【図４】
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