(57)【要約】【課題】  数秒で変化する物質の動的変化を計ることが可能な分光分析計で提供する。【解決手段】  同一干渉光を複数チャンネルに分け複数の試料に夫々照射し、該チャンネルから得られたインタフェログラム信号をフォトダイオードで夫々電気信号に変換し、順次Ａ／Ｄ変換してデジタルインタフェログラム信号を出力する分光器と、該分光器から得られたデジタルインタフェログラム信号を受信してこれを演算処理するコンピュータとを備え、前記複数のチャンネルの各試料をスペクトルによって解析する分光分析システムにおいて、  前記ＡＤ変換器からのデータの読み込みと主メモリへの書き込み動作のみを最初に行い、予め定めた指定回数分の測定後にフーリエ変換、スペクトル計算を行なう。【選択図】                    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
同一干渉光を複数チャンネルに分け複数の試料に夫々照射し、該チャンネルから得られたインタフェログラム信号をフォトダイオードで夫々電気信号に変換し、順次Ａ／Ｄ変換してデジタルインタフェログラム信号を出力する分光器と、該分光器から得られたデジタルインタフェログラム信号を受信してこれを演算処理するコンピュータとを備え、前記複数のチャンネルの各試料をスペクトルによって解析する分光分析システムにおいて、
前記ＡＤ変換器からのデータの読み込みと主メモリへの書き込み動作のみを最初に行い、予め定めた指定回数分の測定後にフーリエ変換、スペクトル計算を行なうことを特徴とする分光分析システム。
【請求項２】
指定回数の平均を行なったインターフェログラムのスペクトル計算を行なうことを特徴とする請求項１記載の分光分析システム。
【請求項３】
指定回数の平均は単純平均または移動平均であることを特徴とする請求項２記載の分光分析システム。
【請求項４】
平均処理を微分演算または重みつき演算または強調演算などの特徴抽出処理としたことを特徴とする請求項３記載の分光分析システム。
【請求項５】
インターフェログラムの測定の間に回路ゲインの校正を行なうことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の分光分析システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光分析システムに関し、より詳細には、干渉計から得られるインターフェログラム信号を計算機で演算処理し、スペクトル解析によって試料の分光特性を求める分光分析システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
分光分析は、試料に光を照射し、光の吸収量と光の掃引波長とから成分及びその濃度を測定する方法である。通常用いられる分光法では、光源からの光を分光器等で単色化し、波長を掃引して周波数応答を測定する。しかし、この分光方法では、光源の利用率が悪く波長掃引に時間が掛かる。近年、光源からの光を干渉計を通して試料に照射し、可動鏡の位置を変えながら、それに対する応答を測定し、その測定結果を計算機で処理して、試料の周波数応答であるスペクトルを求める分光分析法が用いられている。
このような分光分析システムに関する先行技術として、例えば下記のようなものがある。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−３９８６２号公報
【０００４】
図１は、上記特許文献に開示された分光分析システムのブロック図である。この分光分析システムは、試料のインターフェログラムをデータに変換する分光器１、変換データから分光特性を計算するコンピュータ２、及び、システムを操作し分光特性の測定結果を表示するＨＭＩ（ヒューマン・マシン・インターフェース）部３で構成される。分光器１、コンピュータ２、及び、ＨＭＩ部３は、接続されたバスライン４を経由して相互にデータや信号を送受信する。
【０００５】
分光器１は、制御部５、干渉計６、及び、ＡＤ変換器７で構成される。制御部５は、ＨＭＩ部３から測定開始の命令を受信すると、走査信号１０１を干渉計６に入力し、開始信号１０２をＡＤ変換器７に入力する。干渉計６は、走査信号１０１がＬレベルになると、試料からインターフェログラムを取得し、インターフェログラム信号１０３をＡＤ変換器７に入力する走査を所定回数行う。ＡＤ変換器７は、インターフェログラム信号１０３をＡＤ変換し、ＡＤ変換終了後、変換データをＡＤバッファに格納し、Ｌレベルのラッチ信号１０４をコンピュータ２の割込み入力１４に送信する。
【０００６】
コンピュータ２は、ＣＰＵ８、主メモリ９、及び、補助記憶装置１０で構成される。ＣＰＵ８は、割込み入力１４からラッチ信号１０４を受信し、ラッチ信号１０４がＬレベルになると、割込み処理を実行する。ＣＰＵ８は、割込み処理により、ＡＤ変換器７のＡＤバッファから変換データ１０５を読み出し、主メモリ９に書き込む。ＣＰＵ８は、通常処理により、変換データを平均し、スペクトル解析演算する分光特性計算を実行し、分光特性計算の結果をＨＭＩ部３に送信する。
【０００７】
主メモリ９は、バンク０及び１から成る２つのバンクを有し、読み込みバンクと呼ぶ一方のバンクでデジタルインタフェログラム信号を割り込み処理で順次上書きする。この一方のバンクで上書きしている間に、平均バンクと呼ぶ他方のバンクでは既に取得したインターフェログラムを平均のために基本平均回数分保持しておき、読み込みバンクが満杯になったら平均バンクと入れ換える。各バンクは、各インターフェログラムのサンプリング点数と基本平均回数との積に対応するデータが記憶できるメモリ容量を各チャンネル毎に有する。補助記憶装置１０は、最終的な演算結果を保存する。
【０００８】
ＨＭＩ部３は、キーボード１１、マウス１２、及び、表示装置１３で構成される。測定者は、キーボード１１及びマウス１２を用いて、分光分析システムを操作する。表示装置１３は、分光分析システムの操作状況や分光特性計算の結果等を表示する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、上記従来の分光分析システムの動作は、複数チャネルを連続して分光分析することを目的としており、平均回数がある程度多いことを想定している。スペクトル演算には時間がかかるため、チャネル数分のスペクトル演算が実行可能な基本平均回数を設け、平均回数が基本平均回数より少ない場合には測定したインターフェログラムを捨てている。
上記従来例では、インターフェログラム１回の走査時間は２５０ｍｓｅｃ、スペクトル演算は４００ｍｓｅｃであり、４チャネルの場合は基本平均回数を８以上とする必要があり、出力時間間隔２ｓｅｃでしかスペクトルが得られない。また、ＳＮを改善するため、平均回数を増した場合には出力時間間隔がその分長くなる。
従って本発明が解決しようとする課題は、インターフェログラム１回の走査時間の間隔でスペクトルを出力できるシステムを作り、数秒で変化する物質の動的変化を測ることが可能な分光分析計を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
同一干渉光を複数チャンネルに分け複数の試料に夫々照射し、該チャンネルから得られたインタフェログラム信号をフォトダイオードで夫々電気信号に変換し、順次Ａ／Ｄ変換してデジタルインタフェログラム信号を出力する分光器と、該分光器から得られたデジタルインタフェログラム信号を受信してこれを演算処理するコンピュータとを備え、前記複数のチャンネルの各試料をスペクトルによって解析する分光分析システムにおいて、
前記ＡＤ変換器からのデータの読み込みと主メモリへの書き込み動作のみを最初に行い、予め定めた指定回数分の測定後にフーリエ変換、スペクトル計算を行なうことを特徴とする。
【００１１】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の分光分析システムにおいて、
指定回数の平均を行なったインターフェログラムのスペクトル計算を行なうことを特徴とする。
【００１２】
請求項３記載の発明は、請求項２記載の分光分析システムにおいて、
指定回数の平均は単純平均または移動平均であることを特徴とする。
【００１３】
請求項４記載の発明は、請求項３記載の分光分析システムにおいて、平均処理が微分演算または重みつき演算または強調演算などの特徴抽出処理であることを特徴とする。
【００１４】
請求項５記載の発明は、請求項１乃至４のいずれかに記載の分光分析システムにおいて、インターフェログラムの測定の間に回路ゲインの校正を行なうことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば次のような効果がある。
請求項１に記載の発明によれば、ＡＤ変換器からのデータの読み込みと主メモリへの書き込み動作のみを最初に行い、予め定めた指定回数分の測定後にフーリエ変換、スペクトル計算を行なうので測定間隔の短い測定が可能となる。
【００１６】
請求項２に記載の発明によれば、指定回数の平均を行なったインターフェログラムのスペクトル計算を行なうのでＳＮを大きくすることができる。
請求項３に記載の発明によれば、指定回数の平均は単純平均または移動平均なので測定間隔はおなじであるがＳＮを改善することができる。
請求項４に記載の発明によれば、重みをつけた平均を行なったインターフェログラムのスペクトル計算を行なうので時間変化の特徴を抽出することができる。
請求項５に記載の発明によれば、指定回数の平均を行なったインターフェログラムのスペクトル計算を行なうのでＳＮを大きくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明の構成は図１で示すものと同様であり、従来例とはコンピュータ２内のデータ処理方法のみ異なる。従ってここでの構成説明は省略する。
図１において、干渉計６は、各チャネルから得られたインターフェログラム信号１０３をＡＤ変換器７に入力する。ＡＤ変換器７は、各インターフェログラム信号１０３に対するＡＤ変換が終了すると、変換データをＡＤバッファに格納し、ラッチ信号１０４を割り込み入力としてＣＰＵ８に送信する。
【００１８】
ＣＰＵ８は、ラッチ信号１０４を受信すると割込み処理に移行し、ＡＤバッファからの読出し、及び、主メモリ９への書込みを割込み処理で実行する。ＣＰＵ８は、ヒューマン・マシン・インターフェース３から指示されたインターフェログラム取得回数分のＡＤデータ取得が終了した後、主メモリ９に格納されたデータに対するスペクトル分析演算を順次行い、補助記憶装置１０へ結果を記録する。表示装置１３はその結果を表示する。
【００１９】
図２は、図１の分光分析システムが分光特性計算を行うために実行するメイン処理を示すフローチャートである。測定者がＨＭＩ部３から測定開始命令を入力すると、分光分析システムは、図２のメイン処理を実行する。メイン処理は、ＣＰＵ８で通常の処理として実行される通常処理である。
【００２０】
フローチャートに従って説明する。
ステップ１１において、データ数を０とする。データ数は１回あたりのデータ数をカウントする。
ステップ１２において、走査回数を０とする。走査回数はインターフェログラムを測定した回数をカウントする。
ステップ１３において、データ取得割込を許可し、データ取得を可能にする。データ取得は割込信号１４により行い、割り込み信号１４が発生した場合には図３に移行する（図３についての説明は後述する）。
【００２１】
ステップ１４において、制御部５の干渉計の方向信号をバスライン４経由で取得し、方向反転があってＹＥＳとなった場合にはステップ１５に進んでデータ数を０とする。方向反転がなくＮＯであれば次段のステップ１６に進む。
ステップ１６において、走査回数がヒューマン・マシン・インターフェース３により指定された回数より大きいか小さいかを判断する。小さければＹＥＳとなってステップ１４に戻る。ＮＯであればステップ１７に進む。
【００２２】
ステップＳ１７において、インターフェログラムの走査回数が指定回数となったため、データ取得割り込み処理を不許可にし、スペクトル分析を開始する。
次にステップ１８に進みチャンネル数を０とする。チャンネル数は処理を終了したチャンネル数を示す。
次にステップ１９に進み、測定回数を０とする。測定回数はスペクトル計算を行なった回数を示す。
【００２３】
次にステップ２０に進み、測定回数がヒューマン・マシン・インターフェース３により指定された出力回数より大きいか小さいかを判断する。小さければＹＥＳとなりステップ２１に進む。指定出力回数以上であればＮＯとなりステップ２６に進む。
ステップ２１では主メモリ９からデータを取得し、ヒューマン・マシン・インターフェース３により指定された回数分平均する。即ち、ヒューマン・マシン・インターフェース３で指定された平均処理を行なう。この平均処理は図４に示すような単純平均、図５に示すような移動平均などにより行う。
【００２４】
ここで平均処理について簡単に説明する。
図４に示す単純平均は４回分のインターフェログラムを平均してＳＮを向上させる例で、単純に４回ずつ平均を行なう。この場合、インターフェログラムの測定指定回数は８、指定出力回数は２となる。
【００２５】
図５に示す移動平均は４回分のインターフェログラムを移動平均してＳＮを向上させる例で、４回ずつ平均を移動しながら行なう。単純な移動平均であれば時間分解能が大きくなるが、移動平均であれば変化しない。この場合、インターフェログラムの測定指定回数は８、指定出力回数は５となる。
図４および図５は重みのない単純平均であるが、図６に示すような微分演算、図７に示すような重みつき平均演算、図８に示すような強調演算などの特徴抽出処理でもよい。この場合も図５の移動平均を適応できる。
【００２６】
図６に示す微分演算は４回分のインターフェログラムに重みを掛けて平均し、前後の差を強調する例である。
図７に示す重みつき平均演算は３回分のインターフェログラムに重みを掛けて平均し、中心点に重点を置いて平均する例である。
図８に示す強調演算は３回分のインターフェログラムに重みを掛けて平均し、中心点の前後との差を強調する例である。
【００２７】
図２のフローチャートに戻り、ステップ２２ではステップ２１で平均処理されたインターフェログラムをフーリエ変換処理する。
次にステップ２３に進み、ステップ２２でフーリエ変換処理した結果を元にスペクトルを計算し吸光度を得る。
次にステップ２４に進み、ステップ２３で計算した結果、及び平均後のインターフェログラムをバスライン４を介して補助記憶装置１０へ出力する。同時に表示装置１３に表示する。
【００２８】
ここで出力するものとしては、平均前のインターフェログラム、平均後のインターフェログラム、フーリエ変換結果、パワースペクトル、吸光度のいずれか及びすべてを結果として出力する。
次にステップ２５に進み、測定回数をプラス１とし、ステップ２０へ戻って測定回数が指定出力回数に達したか否かを判断する。
【００２９】
ＮＯの場合はステップ２６へ進み、チャンネル数をプラス１とする。
次にステップ２７へ進みチャンネルがヒューマンマシンインターフェース３で設定されたチャンネル数より大きいか小さいかを判断する。小さければＹＥＳとなりステップ１９へ戻る。ＮＯであれば処理を終了する。
【００３０】
図３は図２のステップ１３において、ＡＤ変換器７の変換が終了したことを知らせるラッチ信号１０４をＣＰＵ８の割り込み信号１４に接続し、割り込みが発生した場合の処理のフローチャートを示す図である。
ステップ３０において、チャンネル数を０とする。処理を終了したチャンネル数を示す。
次にステップ３１において、チャンネルがヒューマン・マシン・インターフェース３で設定されたチャンネル設定数より大きいか小さいかを判断する。小さければＹＥＳとなりステップ３２へ進み、チャンネルが示すＡＤバッファの内容を読み出し、主メモリ９のチャンネル、走査回数、データ数で指定された場所に書き込む。
【００３１】
なお、インターフェログラムの測定終了後、干渉計のインターフェログラムの代わりに校正用信号を電気回路に入れて測定し、電気回路の変動によるＳＮ劣化を防止する。
図９は校正動作を干渉計６のミラー反転時に行なうようにしたもので、一回分のインターフェログラムの測定終了後に校正用信号により校正動作を行なっている状態を示している。
【００３２】
図３のフローチャートに戻り、
次にステップ３３に進みチャンネル数をプラス１としステップ３１へ戻って同じ動作を繰り返す。そしてチャンネルがヒューマン・マシン・インターフェース３で設定されたチャンネル設定数より大きくなったらＮＯとなりステップ３４へ進んでデータ数を１増やしてステップ３５へ進む。
【００３３】
ステップ３５において、データ数がヒューマン・マシン・インターフェース３で設定されたインターフェログラムデータ点数より大きいか小さいかを判断する。大きければＮＯとなって割り込み処理を終了する。小さければＹＥＳとなりステップ３６へ進み走査回数をプラス１としステップ３７へ進んでデータ数を０として割り込み処理を終了する。
【００３４】
ところで、図２に示すフローチャートでは、インターフェログラムの測定がすべて終了した後にスペクトル分析を開始している。このような手段では、インターフェログラムの測定とスペクトル分析が分離しており、測定中のデータ取得割り込み処理をしていない時間は無駄となる。
従って、以下の実施例ではスペクトル分析に十分なデータが測定できた時にスペクトル分析を開始し、全体の測定時間をさらに短くするためのものである。なお、スペクトル分析の処理時間がデータ取得に対し長い場合には、データ取得終了後もスペクトル解析が続く。
【００３５】
図１０はスペクトル分析に十分なデータが測定できた時にスペクトル分析を開始し、全体の測定時間を短くするためのフローチャートを示すものである。
フローチャートに従って説明する。
ヒューマン・マシン・インターフェース３の指示により測定を開始する。
ステップ４１において、データ数を０とする。データ数は１回あたりのデータ数をカウントする。
ステップ４２において、走査回数を０とする。走査回数はインターフェログラムを測定した回数をカウントする。
【００３６】
ステップ４３において、データ取得割込を許可し、データ取得を可能にする。データ取得は割込信号１４（図１参照）により行い、割り込み信号１４が発生した場合には図８のフローチャートに移行する。図１１のフローチャートについては後述する。
ステップ４４において、方向反転割込を許可し、方向反転時の処理を可能にする。方向反転割り込みは、制御部５の干渉計の方向信号をバスライン４経由で取得し、方向転換が発生した場合には図１２に移行する。
【００３７】
図１２において、方向反転割り込みは、制御部５の干渉計の方向信号をバスライン４経由で取得し、方向転換が発生した場合に発生する。割り込みが発生した場合に以下の処理を行なう。
ステップ７１において、データ数を０とし新しいインターフェログラムの開始とする。割り込み処理を終了する。
【００３８】
図１０に戻り、ステップＳ４５において、測定回数を０としてステップ４６に進む。測定回数は測定したインターフェログラムの本数を示す。
ステップＳ４６において、ヒューマン・マシン・インターフェース３により指定された平均方法に十分なデータが取得されているか否かを判断する。取得されていればＮＯとなり、ステップ４７に進み処理チャンネルを０としてステップ４８に進む。
【００３９】
十分なデータが取得されていなければＹＥＳとなって同様の処理を続ける。ここで、平均方法が図４に示すような単純平均の場合には、走査回数が４、８、１２、‥の場合にステップ４７に進んで処理チャンネルを０とする。また、図５に示すような移動平均の場合には、走査回数が４、５、６、‥の場合にステップ４７に進んで同じく処理チャンネルを０とする。処理チャンネルはスペクトル分析をしているチャンネルを示す。
【００４０】
次にステップ４８において、主メモリ９からデータを取得し、ヒューマン・マシン・インターフェース３により指定された回数分平均する。ここでは、ヒューマン・マシン・インターフェース３で指定された図４で示す単純平均、図５で示す移動平均などの平均処理を行なう。
次にステップ４９において、ステップ４８で平均処理されたインターフェログラムをフーリエ変換処理する。
【００４１】
次にステップ５０において、ステップ４９におけるフーリエ変換結果からスペクトルを計算し、吸光度を得る。
次にステップ５１において、ステップ５０で得た吸光度の結果および平均後のインターフェログラムを、バスライン４を介して補助記憶装置１０へ出力する。同時に表示装置１３に表示する。
次にステップ５２において、処理チャンネルを１増やす。
【００４２】
次にステップ５３において、処理チャンネルがヒューマン・マシン・インターフェース３で設定されたチャンネル数より大きいか小さいかを判断し小さい場合ＹＥＳとなってステップ４８へ戻る。大きい場合はＮＯとなってステップ５４へ進む。
次にステップ５４において、測定回数をプラス１とする。
次にステップ５５において、測定回数がヒューマン・マシン・インターフェース３で設定された出力回数より大きいか小さいかを判断し小さければＹＥＳとなってステップ４６へ戻る。大きい場合はＮＯとなって処理を終了する。
【００４３】
図１１は図１０のフローチャートにおいて、ＡＤ変換器７の変換が終了したことを知らせるラッチ信号１０４をＣＰＵ８の割り込み信号１４に接続し、割り込みが発生した場合の処理のフローチャートを示す図である。
ステップ６０において、チャンネル数を０とする。このチャンネルは処理を終了したチャンネル数を示す。
次にステップ６１において、チャンネルがヒューマン・マシン・インターフェース３で設定されたチャンネル設定数より大きいか小さいかを判断する。小さければＹＥＳとなってステップ６２へ進み、チャンネルが示すＡＤバッファの内容を読み出し、主メモリ９のチャンネル、走査回数、データ数で指定された場所に書き込む。
【００４４】
次にステップ６３へ進みチャンネル数をプラス１としてステップ６１へ戻る。
チャンネルが設定数より大きい場合はステップ６４へ進んでデータ数をプラス１とする。
次にステップ６５へ進みデータ数がヒューマン・マシン・インターフェース３で設定されたインターフェログラムデータ点数より大きいか小さいかを判断する。大きければＮＯとなって割り込みを終了する。小さければＹＥＳとなってステップ６６へ進み走査回数をプラス１とする。
【００４５】
次にステップ６７へ進み走査回数がヒューマン・マシン・インターフェース３で設定されたインターフェログラムの測定回数より大きいか小さいかを判断する。小さければＹＥＳとなってデータ数を０として割り込みを終了する。大きければＮＯとなってステップ６９へ進みデータ取得割込を不許可にする。
次にステップ７０に進み方向転換割込を不許可にし、割り込みを終了する。
【００４６】
本発明を適応することにより、数秒で変化する物質の動的変化を分光分析計で計ることができる。例えば図１３に示すように、Ａ／Ｄを１６ｂｉｔ、利得を高利得と低利得の２種類の出力信号、光路を測定と参照の２種類、メモリを２５６Ｍｂｉｔとし、分解能４ｃｍ−１、主メモリ９を２５６Ｍｂｉｔ、１チャンネル測定とすると、０．２５０ｓｅｃ間隔で６４ｓｅｃの測定が可能となる。
【００４７】
本発明の分光分析システムでは、通常処理でスペクトル分析演算を実行し、通常処理に比して優先度が高い割込み処理でデータ取得を実行するので、干渉計が行う所定の回数の走査中に、ＣＰＵの待機時間が発生しない。また、所定の測定回数の間に干渉計がインターフェログラムを取得していない期間も発生しない。
【００４８】
スペクトル分析演算を実行しないでインターフェログラムを捨てることがなく、インターフェログラム１回の走査時間の間隔でスペクトルを出力することができる。また、移動平均を使うことにより、平均回数を多くしてもインターフェログラム１回の走査時間の間隔でスペクトルを出力することができる。
また、平均の重みを指定することで強調した処理を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明及び従来例の実施形態の一例を示す分光分析システムのブロック図である。
【図２】本発明の分光分析システムが分光特性計算を行うために実行するメイン処理を示すフローチャートである。
【図３】図２のフローチャートにおいて割り込み信号が発生した場合の処理を示すフローチャートである。
【図４】平均処理の形態を示す図である。
【図５】平均処理の他の形態を示す図である。
【図６】特徴抽出処理の形態を示す図である。
【図７】特徴抽出処理の他の形態を示す図である。
【図８】特徴抽出処理の他の形態を示す図である。
【図９】校正動作を干渉計６のミラー反転時に行なうようにした場合の説明図である。
【図１０】全体の測定時間を短くするためのフローチャートである。
【図１１】図７のフローチャートにおいて、割り込みが発生した場合フローチャートである。
【図１２】方向反転割り込みが発生した場合のフローチャートである。
【図１３】本発明の測定条件例と測定時間の結果を示す図である。
【符号の説明】
【００５０】
１  分光器
２  コンピュータ
３  ヒューマン・マシン・インターフェース部（ＨＭＩ部）
４  バスライン
５  制御部
６  干渉計
７  ＡＤ変換器
８  ＣＰＵ
９  主メモリ
１０  補助記憶装置
１１  キーボード
１２  マウス
１３  表示装置
１０１  走査信号
１０    開始信号
１０３  インターフェログラム信号
１０４  ラッチ信号
１０５  変換データ
【図１】
2005300497.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2005300497.tif 000008
【図７】
2005300497.tif 000009
【図８】
2005300497.tif 000010
【図９】
2005300497.tif 000011
【図１０】
2005300497.tif 000012
【図１１】
2005300497.tif 000013
【図１２】
2005300497.tif 000014
【図１３】
2005300497.tif 000015