(57)【要約】【課題】  ＯＴＤＲを用いた測定の高精度化を図ることのできるＯＴＤＲ測定器による測定方法を提供する。【解決手段】  複数のＯＴＤＲ測定器を用いて基準ファイバについて所定の測定項目の測定を行う。そして、測定値の異常の有無を判断して、測定値が異常であると判断された場合には、異常であると判断されたＯＴＤＲ測定器の光源を新規な光源に交換して、再度基準ファイバについて測定を行って異常を判断する。その結果、異常であると判断されない場合にはそのまま所定項目の測定を行うので、光源等に異常があって測定値に異常が生じた場合を光ファイバの異常と判断するのを防止して、測定の高精度化を図ることができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準ファイバに対する所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、前記所定の測定項目の測定値の異常の有無を判断し、前記ＯＴＤＲ測定器の一つに対し異常の判断がなされたときは、異常の判断がなされたＯＴＤＲ測定器の光源を新規な光源に交換し、再度前記基準ファイバで測定を行い、異常の有無を判断し、異常が判断されない場合、前記所定の測定項目の測定を行うことを特徴とするＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項２】
基準ファイバに対する所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、前記所定の測定項目の測定値の異常の有無を判断し、前記ＯＴＤＲ測定器の一つに対し異常の判断がなされた場合には、異常無しの判断がされたＯＴＤＲ測定器により測定を行うことを特徴とするＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項３】
測定値が所定の基準数値範囲から外れた場合には、測定値が所定の基準数値範囲から外れた場合には、前記ＯＴＤＲ測定器に異常があると判断することを特徴とする請求項１又は２に記載したＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項４】
個々の前記ＯＴＤＲ測定器において、所定期間の前記測定値のデータの経時的変化が所定の範囲から外れた場合には、所定の範囲から外れたＯＴＤＲ測定器に異常があると判断することを特徴とする請求項１又は２のいずれか１項に記載したことを特徴とする請求項１又は２に記載したＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項５】
所定期間の前記測定値のデータの標準偏差を計算し、この標準偏差が所定の基準偏差から外れた場合には、異常があると判断することを特徴とする請求項１又は２に記載したＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項６】
所定期間の前記測定値のデータの近似直線を計算し、その傾き及び切片が、それぞれ所定の基準傾き及び基準切片から外れた場合には、異常があると判断することを特徴とする請求項１又は２に記載したＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項７】
前記所定の測定項目をＯＴＤＲ測定器以外の別の所定の測定手段で測定した別の測定値と前記測定値との差が、所定の基準測定値から外れた場合には、異常があると判断することを特徴とする請求項１又は２に記載したＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項８】
一定期間の前記測定値の平均値を、前記ＯＴＤＲ測定器毎に算出し、それらの最大値と最小値の差が所定の基準測定器の差から外れた場合には、異常であると判断することを特徴とする請求項１又は２に記載したＯＴＤＲ測定器による測定方法。
【請求項９】
所定の測定項目に対し所定の特性値を有する基準ファイバの前記所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、その測定値と前記所定の特性値を対比し、異常の有無を判断することを特徴とするＯＴＤＲ測定器による管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＯＴＤＲ測定器による測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、製造された例えば光ファイバ等の製品を測定器を用いて検査を行い、瑕疵ある製品は除外されるのが一般的である。従って、検査を行う測定器に異常があって適正な検査が行われない場合には、瑕疵ある製品を看過して流通させたり、あるいは正常な製品を異常として破棄したりする場合が生じうる。
そこで、検査を行うための測定器自体の異常を監視することが行われている（例えば、特許文献１、特許文献２参照。）。
【０００３】
ところで、光ファイバの製造、検査工程において従来より広く用いられているものとしてＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）がある。このＯＴＤＲは、光ファイバの一方端から光パルスを入射して、光ファイバ内で生じる散乱光、反射光を解析することで光ファイバの破断点や損失等を測定する機器である。このようにＯＴＤＲを用いると、光ファイバの単波長損失、異常点検出等の測定を一度に行うことができるので、広く用いられている。
【０００４】
【特許文献１】特開平６−３４７３００号公報（第３頁、第１図）
【特許文献２】特開平８−１６２０９号公報（第５、６頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
また、ラマン増幅技術の発達で、Ｃ−ＷＤＭ（粗密度波長多重伝送）が浮上してきており、これまでの１．３μｍ帯や１．５５μｍ帯（C-band）だけでなく、１．４μm帯（S-band）や、１．６μｍ帯（L-band）も使用されるようになってきた。
従って、これらの波長帯での保証をＯＴＤＲで行いたいという要望があるが、これらの波長帯についてはレーザの耐久性、もしくはＯＴＤＲとして使用した際のレーザおよびセンサの安定性に未知の部分があるため、これらの新しい波長帯のＯＴＤＲを高精度に測定するための測定値の管理、および装置に異常があった場合の異常の判断と検出を速やかに行うことが求められている。
【０００６】
本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ＯＴＤＲを用いた測定の高精度化を図ることのできるＯＴＤＲ測定器による測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前述した目的を達成するために、本発明にかかるＯＴＤＲ測定器による測定方法は、基準ファイバに対する所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、前記所定の測定項目の測定値の異常の有無を判断し、前記ＯＴＤＲ測定器の一つに対し異常の判断がなされたときは、異常の判断がなされたＯＴＤＲ測定器の光源を新規な光源に交換し、再度前記基準ファイバで測定を行い、異常の有無を判断し、異常が判断されない場合、前記所定の測定項目の測定を行うことを特徴としている。
【０００８】
このように構成されたＯＴＤＲ測定器による測定方法においては、複数のＯＴＤＲ測定器を用いて基準ファイバについて所定の測定項目の測定を行う。そして、測定値の異常の有無を判断して、測定値が異常であると判断された場合には、異常であると判断されたＯＴＤＲ測定器の光源を新規な光源に交換して、再度基準ファイバについて測定を行って異常を判断する。その結果、異常であると判断されない場合にはそのまま所定項目の測定を行うので、光源等に異常があって測定値に異常が生じた場合を光ファイバの異常と判断するのを防止して、測定の高精度化を図ることができる。
【０００９】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法は、基準ファイバに対する所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、前記所定の測定項目の測定値の異常の有無を判断し、前記ＯＴＤＲ測定器の一つに対し異常の判断がなされた場合には、異常無しの判断がされたＯＴＤＲ測定器により測定を行うことを特徴としている。
【００１０】
このように構成されたＯＴＤＲ測定器による測定方法においては、複数のＯＴＤＲ測定器を用いて基準ファイバについて所定の測定項目の測定を行う。そして、測定値の異常の有無を判断して、測定値が異常であると判断された場合には、異常であると判断されたＯＴＤＲ測定器に代わって異常無しと判断されているＯＴＤＲ測定器を用いて測定を行う。このため、異常である可能性のあるＯＴＤＲ測定器の使用を防止して、測定の高精度化を図ることができる。
【００１１】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法は、測定値が所定の基準数値範囲から外れた場合には、前記ＯＴＤＲ測定器に異常があると判断することが望ましい。
【００１２】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法は、個々の前記ＯＴＤＲ測定器において、所定期間の前記測定値のデータの経時的変化が所定の範囲から外れた場合には、所定の範囲から外れたＯＴＤＲ測定器に異常があると判断することが望ましい。
【００１３】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法は、所定期間の前記測定値のデータの標準偏差を計算し、この標準偏差が所定の基準偏差から外れた場合には、異常があると判断することが望ましい。
【００１４】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法は、所定期間の前記測定値のデータの近似直線を計算し、その傾き及び切片が、それぞれ所定の基準傾き及び基準切片から外れた場合には、異常があると判断することが望ましい。
【００１５】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法は、前記所定の測定項目をＯＴＤＲ測定器以外の別の所定の測定手段で測定した別の測定値と前記測定値との差が、所定の基準測定値から外れた場合には、異常があると判断することが望ましい。
【００１６】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法は、一定期間の前記測定値の平均値を、前記ＯＴＤＲ測定器毎に算出し、それらの最大値と最小値の差が所定の基準測定器の差から外れた場合には、異常であると判断することが望ましい。
【００１７】
また、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による管理方法は、所定の測定項目に対し所定の特性値を有する基準ファイバの前記所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、その測定値と前記所定の特性値を対比し、異常の有無を判断することを特徴としている。
【００１８】
このように構成されたＯＴＤＲ測定器による管理方法においては、複数のＯＴＤＲ測定器を用いて、所定の特性値を有する基準ファイバについて所定の測定項目の測定を行う。そして、測定値を特性値と比較して異常の有無を判断するので、異常である可能性のあるＯＴＤＲ測定器の使用を防止して、測定の高精度化を図ることができる。
【発明の効果】
【００１９】
以上、本発明にかかるＯＴＤＲ測定器による測定方法によれば、複数のＯＴＤＲ測定器を用いて基準ファイバについて所定の測定項目の測定を行う。そして、測定値の異常の有無を判断して、測定値が異常であると判断された場合には、異常であると判断されたＯＴＤＲ測定器の光源を新規な光源に交換して、再度基準ファイバについて測定を行って異常を判断する。その結果、異常であると判断されない場合にはそのまま所定項目の測定を行うので、光源等に異常があって測定値に異常が生じた場合を光ファイバの異常と判断するのを防止して、測定の高精度化を図ることができる。
【００２０】
また、複数のＯＴＤＲ測定器を用いて基準ファイバについて所定の測定項目の測定を行う。そして、測定値の異常の有無を判断して、測定値が異常であると判断された場合には、異常であると判断されたＯＴＤＲ測定器に代わって異常無しの判断がされたＯＴＤＲ測定器を用いて測定を行う。このため、異常である可能性のあるＯＴＤＲ測定器の使用を防止して、測定の高精度化を図ることができる。
【００２１】
また、複数のＯＴＤＲ測定器を用いて、所定の特性値を有する基準ファイバについて所定の測定項目の測定を行う。そして、測定値を特性値と比較しての異常の有無を判断するので、異常である可能性のあるＯＴＤＲ測定器の使用を防止して、測定の高精度化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法の第１実施形態では、基準ファイバに対する所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、例えば図１に示すように、複数台のＯＴＤＲ測定器ＯＴＤＲ−１〜ＯＴＤＲ−ｎを用いて測定した場合の測定値データを測定値管理用サーバ１に収容する。ここでは、測定項目として、例えば、ＯＴＤＲ測定器における波長λｍの損失値αｎ(λｍ及びＯＴＤＲ測定器で測定したファイバ長Ｌｎを収容している。
【００２３】
そして、測定値データを測定値管理用サーバ１に収容されている測定値を随時用いて、所定の測定項目の測定値の異常の有無を判断する。その結果、ＯＴＤＲ測定器の一つに対し異常の判断がなされたときは、異常の判断がなされたＯＴＤＲ測定器の光源を新規な光源に交換し、再度前記基準ファイバで測定を行って異常の有無を判断する。そして、異常が判断されない場合には、前記新規な光源を用いてその後の測定を行う。
【００２４】
前述した異常の判断方法としては、例えばＯＴＤＲ測定器により測定した波長損失値αｎ(λｍ)測定値のばらつきが大きく、基準数値範囲から外れた場合を異常と判断することができる。さらに、標準偏差を用いてばらつきの大きさを表し、異常を判断することができる。図２(Ａ)には、上述した異常を予測する場合に測定値のばらつきを考える場合が示されている。また、図２(Ｂ)には図２(Ａ)に対する標準偏差が示されている。
【００２５】
図２（Ａ）において、波長損失α（λ１）のばらつきが小さい範囲では標準偏差σは基準値より小さくなり、波長損失α（λ１）のばらつきが大きい範囲では標準偏差σが大きくなって基準値を越える。このように、標準偏差σが大きくなってあらかじめ設定された基準値を超える部分についてはばらつきが大きくなるので、ＯＴＤＲに異常が発生すると判断する。あるいは、図２(Ａ)の測定結果から、直接ばらつきが大きなものを異常と判断することができる。
【００２６】
これにより、測定値が正常な範囲内であっても、レーザの出力が不安定になったり、センサの劣化等によるダイナミックレンジの異常で測定波形にノイズが発生する等のランダムな変動を検出することができる。また、標準偏差σの経時変化を見て、標準偏差σが次第に大きくなっている場合には、実際に測定値に影響する前に測定器の異常発生を予測することができ、測定器異常に対する処置を早期に行うことができる。
【００２７】
また、図３には、異常を予測する場合に、標準偏差等の代わりに近似直線を用いる場合が示されている。すなわち、図３に示すように、測定項目である波長損失α（λ１）に対して、一定期間内（例えば測定日の前一週間）の測定データから近似直線を計算して求める。そして、この近似直線の傾きおよび基準値に対する切片（日付）を前日までのデータと比較して、傾きおよび切片が一定の範囲内にある場合には、変動の傾向が時間経過に対して一定であり経時的に一定の変化が発生しているものとして、異常の発生時期を予測する。
【００２８】
すなわち、図４に示すように、一定期間（Ｘ日分）について求められた傾きＡおよび切片Ｂについて各々標準偏差σＡ、σＢを求め、これらが一定の基準以下である場合にはばらつきが少なく、規則性のある経時変化があることがわかる。
従って、測定値が正常な範囲内であっても、傾きや切片にある一定の傾向がある場合には異常の発生時期を予測することができる。これにより、実際に測定値に影響する前に測定器の異常発生を予測することができ、測定器異常に対する処置を早期に行うことができる。
【００２９】
また、所定の測定項目について、ＯＴＤＲ測定器以外の別の所定の測定手段で測定した別の測定値とＯＴＤＲ測定器で測定した測定値との差が、所定の基準測定値から外れた場合には、異常があると判断することができる。
【００３０】
さらに、一定期間の測定値の平均値をＯＴＤＲ測定器毎に算出し、最大になるＯＴＤＲ測定器による平均値（最大値ＭＡＸ）と、最小になるＯＴＤＲ測定器による平均値（最小値ＭＩＮ）の差が所定の基準測定器の差から外れた場合には、異常であると判断することができる。
【００３１】
すなわち、図５に示すように、複数台のＯＴＤＲにより測定項目である波長損失α（λ１）を測定し、単日もしくは一定期間の測定値平均をそれぞれの測定器で比較する。例えば、Ｘ日における最大値ＭＡＸは測定器１であり、最小値ＭＩＮは測定器２である。この差、ＭＡＸ−ＭＩＮが所定の基準値以内である場合には、いずれの測定器で測定しても正常であるが、所定の基準値を超える場合には測定器に異常が発生していると判断される。
【００３２】
以上、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法によれば、ＯＴＤＲ測定器を用いて測定を行い、測定結果が異常であると判断された場合には、光源を交換して再度測定を行い、ＯＴＤＲ測定器に異常がないと判断された場合のみこのＯＴＤＲ測定器を用いるので、ＯＴＤＲ測定器に異常がある場合の測定を回避することができる。その結果高精度の保証が可能になる。
【００３３】
次に、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法の第２実施形態について説明する。
このＯＴＤＲ測定器による測定方法では、基準ファイバに対する所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定し、所定の測定項目の測定値の異常の有無を判断する。そして、ＯＴＤＲ測定器の一つに対し異常の判断がなされた場合には、異常の判断がなされていない他のＯＴＤＲ測定器により測定を行うようにする。
なお、異常の判断方法としては、第１実施形態において説明したものと同様なので、説明を省略する。
【００３４】
以上、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法によれば、ＯＴＤＲ測定器に異常があると判断された場合には、このＯＴＤＲ測定器を用いた測定は行わずに、異常がないとわかっているＯＴＤＲ測定器を用いて測定を行うので、高精度の測定を行うことができる。
【００３５】
次に、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法の第３実施形態について説明する。
このＯＴＤＲ測定器による測定方法では、所定の測定項目に対し所定の特性値を有する基準ファイバについて所定の測定項目を複数のＯＴＤＲ測定器により測定する。そして、その測定値と所定の特性値を対比し、異常の有無を判断する。
なお、異常の判断方法としては、第１実施形態において説明したものと同様なので、説明を省略する。
【００３６】
以上、本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法によれば、特性値がわかっている基準ファイバについて測定を行い、その測定値が基準ファイバの基準値と異なる場合にはＯＴＤＲ測定器に異常があると判断する。従って、異常がないとわかっているＯＴＤＲ測定器を用いて測定を行うので、高精度の測定を行うことができる。
【００３７】
なお、本発明のＯＴＤＲ測定器による測定方法は、前述した各実施形態に限定されるものでなく、適宜な変形、改良等が可能である。
例えば、前述した各実施形態では、測定項目として波長損失を例示したが、これに限るものではない。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明に係るＯＴＤＲ測定器による測定方法の第１実施形態を示す説明図である。
【図２】（Ａ）は波長損失を示すグラフであり、（Ｂ）は波長損失の標準偏差を示すグラフである。
【図３】近似曲線により規則的な経時変化を予測して異常を検出する方法を説明するグラフである。
【図４】近似曲線の傾きおよび切片のばらつきから規則的な経時変化を予測して異常を検出する方法を説明する表である。
【図５】複数の測定器間の測定器差の管理方法を説明するグラフである。
【符号の説明】
【００３９】
Ａ  傾き
Ｂ  切片
α  波長損失（測定項目）
σ  標準偏差
ＭＡＸ  最大値
ＭＩＮ  最小値
ＯＴＤＲ−ｉ  ｉ番目のＯＴＤＲ測定器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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