(57)【要約】【課題】  狭小な場所でも検査が可能で、且つ、検査装置の安価な半田付の検査方法を提供する。【解決手段】  本発明の半田付の検査方法は、押圧部１ｂの移動量を測定できると共に、押圧部１ｂからの荷重を測定できる荷重検査手段１と、この荷重検査手段１の押圧部１ｂの移動量と荷重を判別可能な判定制御手段２と、押圧部１ｂによって押圧される半田付部材３とを備え、半田付部材３を押圧した押圧部１ｂの移動量と荷重の変化量によって、判別制御手段２が半田付の良否を判定するようにしたため、荷重検査手段１の押圧部１ｂによる押圧動作で検査ができて、狭小な場所においても検査が可能であると共に、検査装置が安価となって、設備費が安く、また、判別制御手段２には、予め良品と不良品のデータが記憶され、このデータによって良否の判定ができるので、精度の良い検査ができる。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
押圧部の移動量を測定できると共に、前記押圧部からの荷重を測定できる荷重検査手段と、この荷重検査手段の前記押圧部の移動量と荷重を判別可能な判別制御手段と、前記押圧部によって押圧される半田付部材とを備え、前記半田付部材を押圧した前記押圧部の前記移動量と前記荷重の変化量によって、前記判別制御手段が半田付の良否を判定するようにしたことを特徴とする半田付の検査方法。
【請求項２】
前記半田付部材は、第１，第２の部材と、この第１，第２の部材間に位置し、前記第１，第２の部材間を半田付する半田部を有し、前記押圧部が前記第２の部材を前記第１の部材側に押圧するようにしたことを特徴とする請求項１記載の半田付の検査方法。
【請求項３】
第１，第２のヨークと、この第１，第２のヨーク間に配置された磁石、及びフェライト部材と、前記磁石と前記フェライト部材との間に配置された中心導体と、前記第２のヨーク内に位置し、前記中心導体の端部に接続されたコンデンサとを有した非可逆回路素子を備え、前記中心導体の端部が半田部を介して前記コンデンサの電極に接続され、前記半田付部材は、前記電極からなる前記第１の部材と、前記中心導体の端部からなる前記第２の部材と、前記第１，第２の部材間に位置する前記半田部で形成され、前記押圧部が前記第２の部材を前記第１の部材側に押圧するようにしたことを特徴とする請求項２記載の半田付の検査方法。
【請求項４】
前記判別制御手段は、前記押圧部による所定の前記移動量において、所定の前記荷重以上に達している時は良品と判定し、所定未満の前記荷重にある時は不良品と判定するようにしたことを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の半田付の検査方法。
【請求項５】
前記判別制御手段は、半田付の検査毎に、前記押圧部の前記移動量と前記荷重のデータが記憶可能で、この記憶された前記データに基づいて、前記判別制御手段によって半田付の良否を判定するようにしたことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の半田付の検査方法。
【請求項６】
前記判別制御手段は、半田付の良品における前記押圧部が移動しなくなった時点の前記荷重を前記データによって記憶され、前記押圧部が移動しなくなった時点の前記荷重において、半田付の良否を判定するようにしたことを特徴とする請求項５記載の半田付の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は非可逆回路素子や種々の電子回路ユニット等に使用して好適な半田付の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図４は従来の半田付の検査方法に使用される検査装置の説明図で、次に、従来の半田付の検査装置の構成を図４に基づいて説明すると、画像認識するためのカメラ５１には、判定回路手段５２が接続されると共に、カメラ５１の近傍には、照度を上げるための照明手段５３が配置されている。
【０００３】
半田付部材５４は、導電パターン５５を有するプリント基板５６と、導電パターン５６に対向したリード５７と、導電パターン５５とリード５７との間に位置し、導電パターン５５とリード５７を半田付けする半田部５８とで構成されている。
【０００４】
次に、このような構成を有する検査装置における半田付の検査方法を説明すると、先ず、半田付部材５４を照明手段５３によって照射した状態で、カメラ５１によって半田付部を画像認識して、画像データを判定回路手段５２に伝送した後、判定回路手段５２によって半田付の良否を判定するようになっている。（例えば、特許文献１参照）
【０００５】
しかし、従来の半田付の検査方法は、カメラ５１で画像認識するようになっているため、半田付部材５４が枠体内等に配置されて、狭小な場所にある場合、カメラ５１からの視野が枠体等によって遮られ、カメラ５１による検査ができないばかりか、検査装置が高価で、設備費がかさむものであった。
【０００６】
【特許文献１】特開平５−２７２９２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来の半田付の検査方法は、カメラ５１で画像認識するようになっているため、半田付部材５４が枠体内等に配置されて、狭小な場所にある場合、カメラ５１からの視野が枠体等によって遮られ、カメラ５１による検査ができないばかりか、検査装置が高価で、設備費がかさむという問題がある。
【０００８】
そこで、本発明は狭小な場所でも検査が可能で、且つ、検査装置の安価な半田付の検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するための第１の解決手段として、押圧部の移動量を測定できると共に、前記押圧部からの荷重を測定できる荷重検査手段と、この荷重検査手段の前記押圧部の移動量と荷重を判別可能な判別制御手段と、前記押圧部によって押圧される半田付部材とを備え、前記半田付部材を押圧した前記押圧部の前記移動量と前記荷重の変化量によって、前記判別制御手段が半田付の良否を判定するようにした検査方法とした。
【００１０】
また、第２の解決手段として、前記半田付部材は、第１，第２の部材と、この第１，第２の部材間に位置し、前記第１，第２の部材間を半田付する半田部を有し、前記押圧部が前記第２の部材を前記第１の部材側に押圧するようにした検査方法とした。
【００１１】
また、第３の解決手段として、第１，第２のヨークと、この第１，第２のヨーク間に配置された磁石、及びフェライト部材と、前記磁石と前記フェライト部材との間に配置された中心導体と、前記第２のヨーク内に位置し、前記中心導体の端部に接続されたコンデンサとを有した非可逆回路素子を備え、前記中心導体の端部が半田部を介して前記コンデンサの電極に接続され、前記半田付部材は、前記電極からなる前記第１の部材と、前記中心導体の端部からなる前記第２の部材と、前記第１，第２の部材間に位置する前記半田部で形成され、前記押圧部が前記第２の部材を前記第１の部材側に押圧するようにした検査方法とした。
【００１２】
また、第４の解決手段として、前記判別制御手段は、前記押圧部による所定の前記移動量において、所定の前記荷重以上に達している時は良品と判定し、所定未満の前記荷重にある時は不良品と判定するようにした検査方法とした。
また、第５の解決手段として、前記判別制御手段は、半田付の検査毎に、前記押圧部の前記移動量と前記荷重のデータが記憶可能で、この記憶された前記データに基づいて、前記判別制御手段によって半田付の良否を判定するようにした検査方法とした。
【００１３】
また、第６の解決手段として、前記判別制御手段は、半田付の良品における前記押圧部が移動しなくなった時点の前記荷重を前記データによって記憶され、前記押圧部が移動しなくなった時点の前記荷重において、半田付の良否を判定するようにした検査方法とした。
【発明の効果】
【００１４】
本発明の半田付の検査方法は、押圧部の移動量を測定できると共に、押圧部からの荷重を測定できる荷重検査手段と、この荷重検査手段の押圧部の移動量と荷重を判別可能な判別制御手段と、押圧部によって押圧される半田付部材とを備え、半田付部材を押圧した押圧部の移動量と荷重の変化量によって、判別制御手段が半田付の良否を判定するようにしたため、荷重検査手段の押圧部による押圧動作で検査ができて、狭小な場所においても検査が可能であると共に、検査装置が安価となって、設備費が安くできる。
また、判別制御手段には、予め良品と不良品のデータが記憶され、このデータによって良否の判定ができるので、精度の良い検査ができる。
【００１５】
また、半田付部材は、第１，第２の部材と、この第１，第２の部材間に位置し、第１，第２の部材間を半田付する半田部を有し、押圧部が第２の部材を第１の部材側に押圧するようにしたため、押圧部側に位置する第２の部材の変動が押圧部に直接感知でき、移動量と荷重を正確に測定できる。
【００１６】
また、第１，第２のヨークと、この第１，第２のヨーク間に配置された磁石、及びフェライト部材と、磁石とフェライト部材との間に配置された中心導体と、第２のヨーク内に位置し、中心導体の端部に接続されたコンデンサとを有した非可逆回路素子を備え、中心導体の端部が半田部を介してコンデンサの電極に接続され、半田付部材は、電極からなる第１の部材と、中心導体の端部からなる第２の部材と、第１，第２の部材間に位置する半田部で形成され、押圧部が第２の部材を第１の部材側に押圧するようにしたため、第２のヨーク内の狭小な箇所にあるコンデンサと中心導体との間の検査が容易で、且つ、正確にできて、生産性の良好なものが得られる。
【００１７】
また、判別制御手段は、押圧部による所定の移動量において、所定の荷重以上に達している時は良品と判定し、所定未満の荷重にある時は不良品と判定するようにしたため、判別制御手段には、予め良品と不良品のデータが記憶され、このデータによって良否の判定ができるので、精度の良い検査ができると共に、押圧部の移動量を選択することによって、検査時間を短縮できて、短い時間で、効率の良い検査ができる。
【００１８】
また、判別制御手段は、半田付の検査毎に、押圧部の移動量と荷重のデータが記憶可能で、この記憶されたデータに基づいて、判別制御手段によって半田付の良否を判定するようにしたため、データによって良否の判定ができ、精度の良い検査ができる。
【００１９】
また、判別制御手段は、半田付の良品における押圧部が移動しなくなった時点の荷重をデータによって記憶され、押圧部が移動しなくなった時点の荷重において、半田付の良否を判定するようにしたため、コンデンサ等の電子部品における半田付検査において、電子部品の破損の無い検査ができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
本発明の半田付の検査方法に係る図面を説明すると、図１は本発明の半田付の検査方法に使用される検査装置の説明図、図２は本発明の半田付の検査方法に適用される非可逆回路素子の断面図、図３は本発明の半田付の検査方法に基づいて測定された良品と不良品のグラフである。
【００２１】
次に、本発明の半田付の検査方法に使用される検査装置の構成を図１に基づいて説明すると、荷重検査手段１は、ロードセル等からなり、本体部１ａと、この本体部１ａから突出し、移動可能に配設された押圧部１ｂを有し、荷重検査手段１の本体部１ａ内には、ここでは図示しないが、押圧部１ｂの移動量と、押圧部１ｂの押圧力である荷重の大きさを測定する測定手段が配置されている。
【００２２】
この荷重検査手段１には判別制御手段２が接続され、この判別制御手段２は、パソコン等からなり、ここでは図示しないが、押圧部１ｂの移動量と荷重を記憶する記憶回路や良否を判別するための判別回路等が設けられている。
【００２３】
半田付部材３は、第１，第２の部材４，５と、この第１，第２の部材４，５間に位置し、第１，第２の部材４，５間を半田付けする半田部６を有し、荷重検査手段１の押圧部１ｂは、第２の部材５側から第１の部材４方向に押圧するようになっている。
そして、半田付部材３は、例えば、第１の部材４がコンデンサの電極で形成されると共に、第２の部材５が金属材からなる端子で形成されている。
【００２４】
また、図２は本発明の半田付の検査方法に適用される非可逆回路素子の断面図で、この非可逆回路素子の構成を説明すると、鉄材等の磁性材からなる第１のヨーク１１は、箱形、或いはＵ字状をなし、この第１のヨーク１１内には、磁石１２が配設されている。
【００２５】
鉄材等の磁性材からなる第２のヨーク１３は、箱形、或いはＵ字状をなし、この第２のヨークは、第１のヨークと結合され、第１，第２のヨーク１，３によって磁気閉回路が形成されている。
ＹＩＧ（Ｙｔｔｒｉｕｍ  ｉｒｏｎ  ｇａｒｎｅｔ）等からなる板状のフェライト部材１４は、第２のヨーク１３内に配置され、このフェライト部材１４上には、金属材からなる複数（３個）の中心導体１５が配置されている。
【００２６】
そして、磁石１２とフェライト部材１４との間に配置された複数の中心導体１５は、上下方向に一部が交叉して配設されると共に、ポート部側である端部（端子）がフェライト部材１４の外周から突出して配置される。
【００２７】
チップ型のコンデンサＣは、平板状の誘電体１６と、この誘電体１６の下面に設けられた第１の電極１７ａと、この第１の電極１７ａに対向した状態で、誘電体１６の上面に設けられた第２の電極１７ｂとで構成され、このコンデンサＣは、第２のヨーク１３内のフェライト部材１４の外周近傍の位置で、第２のヨーク１３の底板１３ａ上に配置され、第１の電極１７ａが底板１３ａに半田付けされる。
【００２８】
また、コンデンサＣの第２の電極１７ｂには、中心導体１５の端部が半田付けされると共に、この第２の電極１７ｂと中心導体１５の半田付は、先ず、第１のヨーク１１と磁石１２を組合せする前において、第２のヨーク１３には、コンデンサＣの第１の電極１７ａが半田付けされた後、第２の電極１７ｂ上にクリーム半田が設けられ、しかる後、フェライト部材１４と中心導体１５が第２のヨーク１３内に配置され、この時、中心導体１５の端部をクリーム半田上に位置させる。
【００２９】
次に、この状態で、リフロー炉内に搬送してクリーム半田を溶かし、第２の電極１７ｂと中心導体１５を半田付けした後、半田付の検査が行われ、良品のものには、磁石１２を取り付けた第１のヨーク１１が第２のヨーク１３に組み合わされると、一辺が５ｍｍ程度の直方体状の非可逆回路素子の製造が完了する。
【００３０】
この非可逆回路素子においては、コンデンサＣと中心導体１５が半付部材３に相当し、そして、第２の電極１７ｂが第１の部材４に、また、中心導体１５が第２の部材５に相当するものである。
そして、コンデンサＣと中心導体１５との間の半田付は、第２の電極１７ｂ上に設けられるクリーム半田の塗布ミスや、リフロー内で溶けたクリーム半田が流出する等によって、半田部６の存在しないものが発生する。
【００３１】
次に、本発明の半田付の検査方法を説明すると、先ず、半田付部材３に半田部６が存在する１個、或いは、複数の良品と半田部６が存在しない１個、或いは、複数の不良品について、荷重検査手段１によって移動量と荷重を測定して、そのデータを判別制御手段２の伝送して、判別制御手段２に記憶させる。
【００３２】
その結果、図３に示すように、横軸を押圧部１ｂの移動量（μｍ）とし、縦軸を押圧部１ｂによる押圧力である荷重（ｍＮ）とした良品と不良品のグラフ（カーブ）が得られた。
この図３のグラフから明らかなように、半田部６が存在する良品は、半田部６が存在しない不良品よりもカーブが急峻で、良品の場合、荷重が１０４（ｍＮ）の時、移動量が５（μｍ）で、以下、３１９（ｍＮ）：１０（μｍ）、５８５（ｍＮ）：１５（μｍ）、８２３（ｍＮ）：２０（μｍ）となり、８２３（ｍＮ）では、移動量が最大で、それ以上の移動は無くなる。
【００３３】
また、不良品の場合、荷重が５６（ｍＮ）の時、移動量が５（μｍ）で、以下、１３４（ｍＮ）：１０（μｍ）、１８８（ｍＮ）：１５（μｍ）、２９３（ｍＮ）：２０（μｍ）、５５５（ｍＮ）：２５（μｍ）、８００（ｍＮ）：３０（μｍ）となり、８００（ｍＮ）では、移動量が最大で、それ以上の移動は無くなる。
【００３４】
そして、このグラフに基づいて、例えば、図３に示す点線の位置である荷重が８２３（ｍＮ）時の移動量を判別基準とした値を判別制御手段２に入力し、この状態で、荷重検査手段１によって個々の半田付部材３の荷重と移動量を測定すると、そのデータが判別制御手段２に伝送され、移動量が２０（μｍ）である時は、判別制御手段２によって良品と判定され、また、移動量が３０（μｍ）程度である時は、判別制御手段２によって不良品と判定されるようになる。
【００３５】
また、図３では、良品における移動量が無くなる時の荷重に対する移動量を判別基準としたが、この荷重よりも小さい荷重に対する移動量を判別基準としても良く、この場合、検査の時間が短縮できて、効率的な検査が可能となる。
更に、上記では、荷重に対する移動量を判別基準としたが、移動量に対する荷重を判別基準にしても良い。
【００３６】
更に又、移動量と荷重は、判定する数値に幅を持たせた値を判別制御手段２に入力し、これによって良否を判別しても良く、要は、半田付部材３を押圧した押圧部１ｂの移動量と荷重の変化量によって、判別制御手段２が半田付の良否を判定するようにしたものである。
【００３７】
なお、上記実施例では、非可逆回路素子に適用したもので説明したが、電子回路ユニット等の電子ユニットにおける半田付箇所（半田付部材）に適用しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の半田付の検査方法に使用される検査装置の説明図。
【図２】本発明の半田付の検査方法に適用される非可逆回路素子の断面図。
【図３】本発明の半田付の検査方法に基づいて測定された良品と不良品のグラフ。
【図４】従来の半田付の検査方法に使用される検査装置の説明図。
【符号の説明】
【００３９】
１：荷重検査手段
１ａ：本体部
１ｂ：押圧部
２：判別制御手段
３：半田付部材
４：第１の部材
５：第２の部材
６：半田部
１１：第１のヨーク
１２：磁石
１３：第２のヨーク
１３ａ：底板
１４：フェライト部材
１５：中心導体
Ｃ：コンデンサ
１６：誘電体
１７ａ：第１の電極
１７ｂ：第２の電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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