(57)【要約】【課題】従来の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法及び光ディスク装置は、ディスク外周に書き込みが進むに従って記録速度が速くなる記録方式では、周辺温度によってはディスク外周の書き込みにおいて、書き込みエラーが増加する課題があった。【解決手段】光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行う光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、その環境温度を元に光ディスクの所定地点からレーザーパワーを変化させて記録を行うこととした。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行う光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、その環境温度を元に光ディスクの所定地点からレーザーパワーを変化させて記録を行うことを特徴とする光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項２】
所定の設定温度と、前記設定温度に対応した記録速度設定値を備え、環境温度が前記設定温度を超えている場合は、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達した地点から、レーザーパワーを変化させることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項３】
複数の設定温度と前記複数の設定温度にそれぞれ対応した複数の記録速度設定値を備え、環境温度が前記複数の設定温度に対してどこにあるかによって対応する記録速度設定値が決定され、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達した地点からレーザーパワーを変更することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項４】
所定の設定温度と、前記設定温度に対応した記録位置設定値を備え、環境温度が前記設定温度を超えている場合は、データ記録時にデータ記録位置が前記記録位置設定値に達した地点から、レーザーパワーを変化させることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項５】
複数の設定温度と前記複数の設定温度にそれぞれ対応した複数の記録位置設定値を備え、環境温度が前記複数の設定温度に対してどこにあるかによって対応する記録位置設定値が決定され、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達した地点からレーザーパワーを変更することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項６】
光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行いデータ記録中に段階的に記録速度を増加させる光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、環境温度が所定の設定温度を超えている場合は、データ記録時に記録速度の増加を制限することを特徴とする光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項７】
光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行いデータ記録中に段階的に記録速度を増加させる光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、所定の設定温度と、前記設定温度に対応した記録速度設定値を備え、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、環境温度が前記設定温度を超えている場合は、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達すると、前記データ記録速度の増加率を減少させることを特徴とする光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項８】
記録速度設定値および記録位置設定値は、環境温度と記録速度または記録位置の関係を示す、データテーブルまたは関数によって設定されることを特徴とする請求項２から請求項５または請求項７のいずれかに１記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項９】
レーザーパワーの変更は、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）によって設定されたレーザーパワーに対して減ずるように変更することを特徴とする請求項１
から請求項５および請求項８のいずれかに１記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項１０】
設定温度の少なくとも１つに対し、データ記録開始時のレーザーパワーが追加されて設定されていることを特徴とする請求項３または請求項５記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法。
【請求項１１】
請求項１から請求項９いずれかに１記載のデータ記録時の制御方法を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はコンピュータ等の電子機器に接続して使用される光ディスク装置のデータ記録時の制御方法及び光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１４は従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図を示している。１はデータが記録される光ディスクであり、スピンドルモータ駆動回路６よりスピンドルモータ４へ電流が供給され駆動する。２はデータの記録、再生を行う光ピックアップ、３は光ピックアップ内にアクチュエータにて保持されているレーザー集光用対物レンズであり、アクチュエータ駆動回路５により光ディスクの上下方向、半径方向に駆動される。光ピックアップ２はレーザー駆動回路１２より電流が供給され、所定のパワーでレーザーを光ディスクへ出射する。光ディスクからの反射光は光ピックアップ２で受け、光検出器８で電気信号に変換されサーボエラー信号が検出される。サーボエラー信号はサーボプロセッサ７のフィードバック信号として使用され、アクチュエータ駆動回路５およびスピンドルモータ駆動回路６が制御される。レーザー駆動回路１２はＤ／Ａ変換器１３よりレーザーの駆動電流を決定するためレーザーパワー決定電圧が入力される。１４は論理判断や演算を行うためのＣＰＵ。１５はメインメモリであり、制御のために必要な記憶領域の他、各種の記録制御、再生制御に必要な記憶領域として使用される。光ディスク１への記録時は、光ディスク１へ出射されるレーザーはパワー制御用モニタ９で電圧変換され、レーザーパワーに応じた電圧がサンプリング手段１０を通じ比較器１１へ入力される。一方、最適記録レーザーパワーに応じた制御値がメインメモリ１５に保存されており、ＣＰＵ１４によって制御値がメインメモリ１５より取得され比較器１１へ入力される。比較器１１は、サンプリング手段１０より入力される電圧値と、ＣＰＵ１４により入力される電圧値を比較する。ＣＰＵ１４はその比較結果をもとに、サンプリング手段１０から比較器１１へ入力される電圧値が、ＣＰＵ１４から比較器１１へ入力される電圧値になるようレーザー駆動回路１２を制御する。１６は光ディスク１や光ピックアップ２の周辺温度を測定する温度センサである。レーザーダイオードの出力は温度依存性を持つ為、温度を測定してＡ／Ｄ変換器１７に返し、温度による出力の変動を低減するよう制御を行う。
【０００３】
最適記録レーザーパワーを決定する最適記録レーザーパワー制御手段（以下ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）では、光ディスク内周に予め用意されている試し書き領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）を使用して試し書きを行い、その結果から得られる最適記録レーザーパワー値により、光ディスクの他の領域を記録することが行われるが、ＯＰＣの回数には限度がある。光ディスクのテスト領域を有効利用するために、以前に記録した光ディスクの情報とＯＰＣ結果の最適記録レーザーパワーをメインメモリに保持し、再度その光ディスクに記録するときはＯＰＣをせずにメインメモリに保持された最適記録レーザーパワーを使用する方法がとられる。最適記録レーザーパワーは保持しているものの、レーザー駆動回路より光ピックアップへ供給される電流値を保持していない場合の措置として、記録前にパワーアジャストメントを実施する。フォーカスオフで一定パワーをダミー発光させ、光ディスクに記録することなくレーザーパワーとレーザー駆動回路に設定されるレーザーパワー決定電圧の関係を取得する。この関係をもとにメインメモリに保持された最適記録レーザーパワーに対応したレーザーパワー決定電圧値を求め、記録開始時にレーザー駆動回路に設定される。
【０００４】
先行例としては、（特許文献１）（特許文献２）等がある。
【特許文献１】実開平０１−１１２４４１号公報
【特許文献２】特開２００３−１２３２５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
レーザーダイオードの出力には温度依存性があり、記録時の光ディスクの温度も記録特性に影響を与える為、記録時の周辺温度は最適記録レーザーパワー値に影響を与える。さらに、記録速度が速くなると強いレーザーパワーが必要となる為、レーザーパワーの誤差が多くなるが、これも周辺温度によって変化する。
【０００６】
したがって、記録方式がＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｒｏｃｉｔｙ）記録方式やゾーンＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｒｏｃｉｔｙ）記録方式などの、ディスク外周に書き込みが進むに従って記録速度が速くなる記録方式においては、周辺温度によってはディスク外周の書き込みにおいて、書き込みエラーが増加する課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
このような課題を解決するために本発明は、光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行う光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、その環境温度を元に光ディスクの所定地点からレーザーパワーを変化させて記録を行うこととした。
【発明の効果】
【０００８】
これによって、光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において測定した環境温度から光ディスクの所定の地点を設定し、その地点においてレーザーパワーを書き込みエラーレートが低減するよう変化させることにより、ディスク外周に書き込みが進んだときなどデータ記録中に、書き込みエラーレートが増加し記録品質が低下することを低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
請求項１記載の発明は、光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行う光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、その環境温度を元に光ディスクの所定地点からレーザーパワーを変化させて記録を行うことを特徴とする光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、環境温度が高い場合やＯＰＣ時の環境温度との差が大きい場合に、データ記録中に書き込みエラーレートが増加し記録品質が低下することを低減することができる。
【００１０】
請求項２記載の発明は、所定の設定温度と、前記設定温度に対応した記録速度設定値を備え、環境温度が前記設定温度を超えている場合は、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達した地点から、レーザーパワーを変化させることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、環境温度が高い場合やＯＰＣ時の環境温度との差が大きい場合、所定の設定温度を超えることによって、この設定温度に対応した記録速度設定値に記録速度が達した時点でレーザーパワーを書き込みエラーレートが低減するよう変化させることにより、データ記録中に書き込みエラーレートが増加し記録品質が低下することを低減することができる。
【００１１】
請求項３記載の発明は、複数の設定温度と前期複数の設定温度にそれぞれ対応した複数の記録速度設定値を備え、環境温度が前期複数の設定温度に対してどこにあるかによって対応する記録速度設定値が決定され、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達した地点からレーザーパワーを変更することを特徴とする請求項１記載の光ディス
ク装置の記録時のレーザーパワー制御方法によって、環境温度の高低によって書き込み中書き込みエラーレートを低減する為のレーザーパワーの変更方法を複数設定することができる為、データ記録中の書き込みエラーレートの増加をより適正に低減することができる。
【００１２】
請求項４記載の発明は、所定の設定温度と、前期設定温度に対応した記録位置設定値を備え、環境温度が前記設定温度を超えている場合は、データ記録時にデータ記録位置が前記記録位置設定値に達した地点から、レーザーパワーを変化させることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、環境温度が高い場合やＯＰＣ時の環境温度との差が大きい場合、所定の設定温度を超えることによって、この設定温度に対応した記録位置設定値に記録位置が達した時点でレーザーパワーを書き込みエラーレートが低減するよう変化させることにより、データ記録中に書き込みエラーレートが増加し記録品質が低下することを低減することができる。
【００１３】
請求項５記載の発明は、複数の設定温度と前期複数の設定温度にそれぞれ対応した複数の記録位置設定値を備え、環境温度が前期複数の設定温度に対してどこにあるかによって対応する記録位置設定値が決定され、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達した地点からレーザーパワーを変更することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置の記録時のレーザーパワー制御方法によって、環境温度の高低によって書き込み中書き込みエラーレートを低減する為のレーザーパワーの変更方法を複数設定することができる為、データ記録中の書き込みエラーレートの増加をより適正に低減することができる。
【００１４】
請求項６記載の発明は、光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行う光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、データ記録中に段階的に記録速度を増加させる記録方式において、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、環境温度が所定の設定温度を超えている場合は、データ記録時に記録速度の増加を制限することを特徴とする光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、例えばゾーンＣＬＶ記録方式の場合、書き込みが進み書き込み速度が増加することによって書き込みエラーレートが増加することを、環境温度が所定の設定温度を超えることにより記録速度の増加を制限することによって低減することができる。
【００１５】
請求項７記載の発明は、光ディスクに対してレーザーを照射して少なくともデータの記録を行う光ディスク装置のレーザーパワー制御方法であって、データ記録中に連続的にデータ記録速度を増加させる記録方式において、所定の設定温度と、前期設定温度に対応した記録速度設定値を備え、レーザーによって光ディスクに記録を行う前或いは記録の途中において環境温度を測定し、環境温度が前記設定温度を超えている場合は、データ記録時にデータ記録速度が前記記録速度設定値に達すると、前記データ記録速度の増加率を減少させることを特徴とする光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、書き込みが進み書き込み速度が増加することによって書き込みエラーレートが増加することを、記録を行う前或いは記録の途中において得る環境温度を元にデータ記録速度を変更することによって低減することができる為、データ記録中の書き込みエラーレートの増加をより適正に低減することができる。
【００１６】
請求項８記載の発明は、記録速度設定値および記録位置設定値は、環境温度と記録速度または記録位置の関係を示す、データテーブルまたは関数によって設定されることを特徴とする請求項２から請求項５または請求項７のいずれかに１記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、データテーブルまたは関数によって、所定の設定温度に対しその設定温度で書き込みエラーレートが増加する記録速度や記録位置を設定値とするこ
とにより、書き込みエラーレートが増加する前にレーザーパワーを書き込みエラーレートが低減するよう変化させ、データ記録中に書き込みエラーレートが増加し記録品質が低下することを低減することができる。
【００１７】
請求項９記載の発明は、レーザーパワーの変更は、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）によって設定されたレーザーパワーに対して減ずるように変更することを特徴とする請求項１から請求項５および請求項８のいずれかに１記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、レーザーパワーを減ずることにより、レーザーパワーの誤差を低減することができる為、データ記録中に書き込みエラーレートが増加し記録品質が低下することを低減することができる。
【００１８】
請求項１０記載の発明は、設定温度の少なくとも１つに対し、データ記録開始時のレーザーパワーが追加されて設定されていることを特徴とする請求項３または請求項５記載の光ディスク装置のデータ記録時の制御方法によって、例えば環境温度が高い場合は、データ記録開始からレーザーパワーを下げて記録を行うことにより、環境温度が高いことによる書き込みエラーレート増加をさらに適正に低減することができる。
【００１９】
請求項１１記載の発明は、請求項１から請求項９いずれかに１記載のデータ記録時の制御方法を備えた光ディスク装置によって、環境温度が高い場合やＯＰＣ時の環境温度との差が大きいことなどにより、データ記録中に書き込みエラーレートが増加し記録品質が低下することを低減した記録品質の高い光ディスク装置を提供することができる。
【００２０】
（実施の形態１）
以下、発明を実施するための最良の形態について図を用いて説明する。
【００２１】
図１は本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図、図２は本発明の実施の形態１における光ディスク装置の記録速度と周辺温度及び書き込みエラーレートの関係を示す図、図３は本発明の実施の形態１における光ディスク装置の記録速度とレーザーパワーの関係を示す図、図４は本発明の実施の形態１における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャートである。
【００２２】
図１において、１は少なくとも情報を記録可能な光ディスクであり、光ディスク１はスピンドルモータ駆動回路６よりスピンドルモータ４へ電流が供給され駆動する。２はデータの記録，再生の少なくとも一方を行う光ピックアップ、３はレーザー集光用の対物レンズであり、対物レンズ３は光ピックアップ２内に図示していないアクチュエータにて保持されている。アクチュエータはアクチュエータ駆動回路５により光ディスク１の上下方向、半径方向に駆動される。光ピックアップ２はレーザー駆動回路１２より電流が供給され、所定のパワーのレーザーを光ディスク１へ出射する。光ディスク１からの反射光は光ピックアップ２で受光され、光ピックアップ２内に設けられた光検出器８で電気信号に変換されサーボエラー信号やＲＦ信号などが検出される。また、データ記録速度や記録位置情報も検出され、ＣＰＵ１４に送られる。サーボエラー信号はサーボプロセッサ７のフィードバック信号として使用され、アクチュエータ駆動回路５、スピンドルモータ駆動回路６が制御される。レーザー駆動回路１２にはＤ／Ａ変換器１３よりレーザーの駆動電流を決定するレーザーパワー決定電圧が入力される。１４は論理判断や演算を行うためのＣＰＵ、１５はメインメモリであり、メインメモリ１５は制御のために必要な記憶領域の他、各種の記録制御、再生制御に必要な記憶領域として使用される。光ディスク１へ情報を記録する時は、光ディスク１へ出射されるレーザーの一部がパワー制御用モニタ９に入射され、パワー制御用モニタ９で電圧変換される。そして、パワー制御用モニタ９からレーザーパワーに応じた電圧がサンプリング手段１０を通じ比較器１１へ入力される。一方、最適記録レーザーパワーに応じた制御値がメインメモリ１５に保存されており、ＣＰＵ１４に
よって制御値がメインメモリ１５より取得され比較器１１へ入力される。比較器１１はサンプリング手段１０より入力される電圧値と、ＣＰＵ１４により入力される電圧値を比較する。ＣＰＵ１４はその比較結果をもとに、サンプリング手段１０から比較器１１へ入力される電圧値が、ＣＰＵ１４から比較器１１へ入力される電圧値になるようレーザー駆動回路１２を制御する。１６は温度センサで周辺温度を測定し結果はＡ／Ｄ変換器１７、比較器１１を介して、ＣＰＵ１４に送られる。温度センサ１６は光ピックアップ２の周りの環境温度を測定しており、光ピックアップ２上に設けられている。
【００２３】
次に、本発明の実施の形態１における光ディスク装置の動作について図を用いて説明する。
【００２４】
記録速度が速くなると強いレーザーパワーが必要となり低速時のレーザーパワーの誤差に比べ高速時のレーザーパワーの誤差は大きくなるため、書き込みエラーが増加する。また、周辺温度の増加によっても書き込みに必要となるレーザーパワーが変動し、常温時のレーザーパワーとの誤差が大きくなるため、書き込みエラーが増加する。この関係を図２に模式的に示している。したがってＣＡＶ記録方式などの、ディスク外周に書き込みが進むに従って記録速度が速くなる記録方式においては、ディスク外周に書き込みが進むに従って書き込みのエラーレートが増加するが、図２（ａ）に示すように、周辺温度が低い場合は、書き込みエラーが生じにくく、周辺温度が高い場合は書き込みエラーが生じやすい。
【００２５】
したがって本発明の実施の形態１は、周辺温度を計測し、予め設定した周辺温度と比較して計測した周辺温度が高い場合は、レーザーパワーを下げることにより安定した書き込みを行うものである。
【００２６】
ここで周辺温度は、以上に述べたことから光ディスクの記録面温度とレーザーダイオードの温度に関連する部分の周辺温度を測定することが望ましく、光ディスクやレーザーダイオードの環境温度を含んでいる具体的には光ピックアップ上の温度であればよいが、レーザーダイオード自体またはレーザーダイオード近傍の温度を測定すると共に光ディスクの記録面近傍の温度を測定し、両者の測定値から演算にこの周辺温度を設定するものであっても良い。この点は、後述するほかの実施の形態１でも同様である。
【００２７】
図３（ａ）において、あらかじめ周辺温度ｔ１を設定し、また許容できる限度のエラーレートでの周辺温度と記録速度の関係から周辺温度ｔ１にてエラーレートが許容限度になる記録速度ｆＡを設定する。測定した周辺温度ｔｘがｔ１以下で記録速度がｆＡ以下の場合は書き始め時のレーザーパワーＰ０で書き込みを行い、周辺温度ｔｘがｔ１を超える場合は記録速度がｆＡ以下の範囲は書き始め時のレーザーパワーＰ０で書き込みを行い、記録速度がｆＡを超えるとレーザーパワーをＰ１に下げる。先に述べたようにレーザーパワーとレーザーパワーの誤差には相関があり、周辺温度が高いときはレーザーパワーを下げることにより、レーザーパワーの誤差を低減することができ、書き込みエラーを低減することができる。
【００２８】
なお、周辺温度が高く書き込み途中で記録速度がｆＡに達した状態では、光ディスクの記録面温度も周辺温度に対応して高くなっている。光ディスクの記録面温度が高くなると書き込みに必要なレーザーパワーは下がってくるので、レーザーパワーを下げても書き込み品質は維持することができる。
【００２９】
書き始め時のレーザーパワーＰ０はＯＰＣで決定したものでよく、記録速度がｆＡを超えたときのレーザーパワーＰ１は、一例としては記録速度ｆＡ時点での周辺温度にて十分にエラーレートが低くなるレーザーパワーに設定するとよい。
【００３０】
次に本実施の形態１の制御の流れを図４を用いて説明する。
【００３１】
データ書き込みの為、光ディスク装置に光ディスクを挿入するか書き込み開始時（Ｓ１）に、温度センサ１６により周辺温度ｔｘの計測を行う（Ｓ２）。測定結果の信号はＡ／Ｄ変換器１７を介して比較器１１に送られる。メインメモリ１５には設定した周辺温度と各周辺温度に対応した許容できる最大の記録速度ｆＡおよびレーザーパワーを変更するのに必要なレーザーパワーの係数の関係がテーブルまたは関数として記憶されている。本実施の形態１では周辺温度ｔ１を設定し、ｔ１に対応した許容できる最大の記録速度ｆＡ１が設定されている。メインメモリ１５に記憶された、設定された周辺温度ｔ１はＣＰＵ１４を介して比較器１１に送られる。次に計測した周辺温度ｔｘと設定した周辺温度ｔ１を比較器１１にて比較する（Ｓ３）。ｔｘ≦ｔ１の場合は最初のレーザーパワーで最後まで書き込みを行うようＤ／Ａ変換器１３を介してレーザー駆動回路１２に指示を送り、書き込みを始める（Ｓ４）。ｔｘ＞ｔ１の場合は途中でレーザーパワーをＰ１に下げる必要があるが、ＣＰＵ１４はメインメモリ１５に記憶されたテーブルまたは関数をもとにそのためのレーザーパワーの係数１を設定し、許容できる最大の記録速度をｆＡ１に設定する（Ｓ５）。そして書き込みを始める（Ｓ４）が、ＣＰＵ１４はデータ記録速度をモニタしており、記録速度がｆＡ１に達したらレーザーパワーをＰ１に下げる。
【００３２】
既に述べたように、光ディスクの記録面温度が高くなると書き込みに必要なレーザーパワーは下がってくるので、レーザーパワーを下げても書き込み品質は維持することができる。レーザーパワーＰ１は、一例としては記録速度ｆＡ１時点での周辺温度とＯＰＣ時の周辺温度の差分から設定するとよい。
【００３３】
なお許容できる限度のエラーレートでの周辺温度と記録速度の関係を用いて、周辺温度ｔｘから許容できる最大の記録速度ｆＡを求めるとともに書き込むデータ量から最大の記録速度ｆＤを推定し、ｆＤとｆＡを比較することによって、ｆＤ≦ｆＡの場合は最初のレーザーパワーＰ０で最後まで書き込みが可能であるのでこのまま書き込みを行い、ｆＤ＞ｆＡの場合は記録速度がｆＡになった時点でレーザーパワーをＰ１に下げて書き込みを行うものであっても良い。この場合、記録速度とレーザーパワーの関係は図３（ｂ）に示すようになる。
【００３４】
また、図２（ｂ）に示した周辺温度と記録速度の関係は、記録速度を光ディスクの径方向の書き込み位置に置き換えることが可能な場合がある。この場合、許容できる限度のエラーレートで周辺温度と書き込み位置の関係を関数やテーブルとし、上記実施の形態１の記録速度を書き込み位置に代えて同様にレーザーパワーの制御を行うものであってもよい。
【００３５】
（実施の形態２）
図５は本発明の実施の形態２における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図、図６は本発明の実施の形態２における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャートである。ブロック図は図１と同様である。
【００３６】
本実施の形態２では、計測した周辺温度と予め設定した複数の周辺温度を比較し、計測した周辺温度が予め設定した複数の周辺温度に対しどこにあるかによってレーザーパワーの下げ量を変えるものである。
【００３７】
データ書き込みの為、光ディスク装置に光ディスクを挿入するか書き込み開始時（Ｓ１０）に、温度センサ１６により周辺温度ｔｘの計測を行う（Ｓ１１）。測定結果の信号はＤ／Ａ変換器１３を介して比較器１１に送られる。メインメモリ１５には設定した周辺温
度と各周辺温度に対応した許容できる最大の記録速度ｆＡおよびレーザーパワーを変更するのに必要なレーザーパワーの係数の関係がデータテーブルまたは関数として記憶されている。本実施の形態２では２つの周辺温度ｔ１、ｔ２（ｔ２＞ｔ１）を設定し、ｔ１、ｔ２にそれぞれ対応した許容できる最大の記録速度ｆＡ１、ｆＡ２及び、ｔ１、ｔ２にそれぞれ対応したレーザーパワーの係数１、２が設定されている。次に計測した周辺温度ｔｘと設定した周辺温度ｔ１、ｔ２を比較する。ｔｘとｔ１を比較器１１にて比較し（Ｓ１２）、ｔｘ≦ｔ１の場合は最初のレーザーパワーで最後まで書き込みを行うようＤ／Ａ変換器１３を介してレーザー駆動回路１２に指示を送り、書き込みを始める（Ｓ１３）。ｔｘ＞ｔ１の場合は次にｔｘとｔ２を比較する（Ｓ１４）。ｔｘ≦ｔ２の場合は途中でレーザーパワーをＰ１に下げる必要があるが、ＣＰＵ１４はそのためのレーザーパワーの係数１を設定し、許容できる最大の記録速度をｆＡ１に設定する（Ｓ１５）。ｆＡ１は周辺温度ｔ１にて許容できる最大の記録速度である。そして書き込みを始める（Ｓ１３）。ＣＰＵ１４はデータ記録速度をモニタしており、記録速度がｆＡ１以下の時は最初のレーザーパワーＰ０で書き込みを行い、記録速度がｆＡ１を超えるとレーザーパワーの係数１を設定しレーザーパワーＰ１で書き込みを行う。ｔｘ＞ｔ２の場合はレーザーパワーの係数２を設定し許容できる最大の記録速度をｆＡ２に設定する（Ｓ１６）。そして書き込みを始める（Ｓ１３）。このとき、記録速度がｆＡ２以下の時は最初のレーザーパワーＰ０で書き込みを行い、記録速度がｆＡ２を超えるとレーザーパワーの係数２を設定しレーザーパワーＰ２で書き込みを行う。
【００３８】
既に述べたように、光ディスクの記録面温度が高くなると書き込みに必要なレーザーパワーは下がってくるので、レーザーパワーを下げても書き込み品質は維持することができる。レーザーパワーＰ１，Ｐ２は、一例としては記録速度ｆＡ１、ＦＡ２時点での周辺温度とＯＰＣ時の周辺温度の差分から設定するとよい。
【００３９】
こうすることにより、より周囲の温度に対応した安定した書き込みが可能となる。
【００４０】
図２（ｂ）に示した周辺温度と記録速度の関係は、記録速度を光ディスクの径方向の書き込み位置に置き換えることが可能な場合がある。この場合、許容できる限度のエラーレートで周辺温度と書き込み位置の関係を関数やテーブルとし、上記実施の形態２の記録速度を書き込み位置に代えて同様にレーザーパワーの制御を行うものであってもよい。
【００４１】
（実施の形態３）
図７は本発明の実施の形態３における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図、図８は本発明の実施の形態３における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャートである。ブロック図は図１と同様である。
【００４２】
実施の形態２において、レーザーパワーの下げ量を決める係数は周辺温度に対応しているが、周辺温度が高い場合は書き込みの最初からある程度レーザーパワーを下げるように設定することが書き込みエラーを低減する上で有効な場合がある。
【００４３】
データ書き込みの為、光ディスク装置に光ディスクを挿入するか書き込み開始時（Ｓ１９）に、温度センサにより周辺温度ｔｘの計測を行う（Ｓ２０）。測定結果の信号はＤ／Ａ変換器１３を介して比較器１１に送られる。メインメモリ１５には設定した周辺温度と各周辺温度に対応した許容できる最大の記録速度ｆＡおよびレーザーパワーを変更するのに必要なレーザーパワーの係数の関係がテーブルまたは関数として記憶されている。本実施の形態３では２つの周辺温度ｔ３、ｔ４（ｔ４＞ｔ３）を設定し、ｔ３、ｔ４にそれぞれ対応した許容できる最大の記録速度ｆＡ３、ｆＡ４およびｔ３、ｔ４にそれぞれ対応したレーザーパワーの係数１、２が設定されている。次に計測した周辺温度ｔｘと設定した周辺温度ｔ３、ｔ４を比較する。ｔｘとｔ３を比較器１１にて比較し（Ｓ２１）、ｔｘ≦
ｔ３の場合は最初のレーザーパワーで最後まで書き込みを行うようＤ／Ａ変換器１３を介してレーザー駆動回路１２に指示を送り、書き込みを始める（Ｓ２２）。ｔｘ＞ｔ３の場合は次にｔｘとｔ４を比較器１１にて比較する（Ｓ２３）。ｔｘ≦ｔ４の場合は途中でレーザーパワーを下げる必要があるが、ＣＰＵ１４はそのためのレーザーパワーの係数３を設定し（Ｓ２４）、書き込みを始める（Ｓ２２）。ｔｘ＞ｔ４の場合はＣＰＵ１４はレーザーパワーの係数４、係数５を設定し（Ｓ２５）、書き込みを始める（Ｓ２２）。
【００４４】
すなわち、係数３は周辺温度ｔ３に対応しており、係数４、係数５は周辺温度ｔ４に対応している。ＣＰＵ１４はデータ記録速度をモニタしており、書き込み時は、ｔｘ≦ｔ３の場合は記録速度ｆＡ３まで最初のレーザーパワーＰ０で書き込みを行う。ｔ３＜ｔｘ≦ｔ４の場合は記録速度ｆＡ３まで最初のレーザーパワーＰ０で書き込みを行い、記録速度ｆＡ３を超えてからはレーザーパワーの係数３にてレーザーパワーをＰ３に下げて書き込みを行う。ｔｘ＞ｔ４の場合は書き込みの最初からレーザーパワーの係数４にてレーザーパワーをＰ４に下げて書き込みを行い、記録速度ｆＡ４を超えてからはレーザーパワーの係数５にてレーザーパワーをＰ５に下げて書き込みを行う。
【００４５】
周辺温度がある程度以上の場合は、書き込みのエラーレートは限度とするレベルには達しないものの高めである為、こうすることによりより安定した書き込みを行うことができる。
【００４６】
図２（ｂ）に示した周辺温度と記録速度の関係は、記録速度を光ディスクの径方向の書き込み位置に置き換えることが可能な場合がある。この場合、許容できる限度のエラーレートで周辺温度と書き込み位置の関係を関数やテーブルとし、上記実施の形態３の記録速度を書き込み位置に代えて同様にレーザーパワーの制御を行うものであってもよい。
【００４７】
（実施の形態４）
図９は本発明の実施の形態４における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図、図１０は本発明の実施の形態４における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャートである。ブロック図は図１と同様である。
【００４８】
本実施の形態４においては、書き込みを行いながら所定の間隔で温度測定を行う。そして、書き込み中に測定された周辺温度とその時の記録速度から、レーザーパワーを設定するものである。
【００４９】
レーザーパワーは、図２（ｂ）に示したような書き込みエラーレート一定の元での記録速度及び周辺温度とレーザーパワーの関係を関数やテーブルにしたものにて設定する。そして、書き込み中所定の間隔で周辺温度を測定し記録速度を確認して、この関数やテーブルから随時レーザーパワーを設定しながら書き込みを行う。記録速度は書き込み位置が内周側から外周側に進むにつれて連続的もしくは不連続的に増加する。周辺温度は、書き込みが進むにつれてレーザーによってディスクが加熱されることにより外周に進むに従って増加することが多いが、光ディスクの材質の影響などを受ける為、一概にそうとはいえない。
【００５０】
図９中カーブＢ、カーブＤはレーザーパワーの係数を示し、カーブＡ、カーブＣ、カーブＥはレーザーパワーを示している。カーブＡは、書き込むデータ量も影響するが、周辺温度が低く記録速度が速くなっても、書き込みエラーレートの増加が少ない為、ほぼ一定のレーザーパワーにて書き込みが行われている状態を示している。カーブＢは、書き込みが進むに従って記録速度の増加とその時の周辺温度の変化から、レーザーパワーの係数を変化させている状況を示しており、カーブＣはそれにより書き込みが進むにつれてレーザーパワーが減少している状況を示している。カーブＤは、カーブＢの状態に対し書き込み
が進むに従って周辺温度が増加したため、書き込みのエラーレートを許容可能なレベルに維持する為にレーザーパワーの係数をより変化させている状態を示しており、カーブＥはそれにより書き込みが進むにつれてレーザーパワーがカーブＣよりも減少している状況を示している。
【００５１】
図１０において、データ書き込みを行いながら温度センサ１６により周辺温度の計測を行う（Ｓ２６）。測定結果の信号はＤ／Ａ変換器１３を介して比較器１１に送られる。メインメモリ１５にはエラーレート一定の元での周辺温度と各周辺温度に対応した許容できる最大の記録速度ｆＡおよびレーザーパワーを変更するのに必要なレーザーパワーの係数の関係がデータテーブルまたは関数として記憶されている。ＣＰＵ１４にてこのデータテーブルまたは関数と周辺温度からレーザーパワーの係数を設定し（Ｓ２７）、Ｄ／Ａ変換器１３を介してレーザー駆動回路１２に指示を送り、レーザーパワーを変更して（Ｓ２８）書き込みを行う（Ｓ２９）。ＣＰＵ１４にて書き込み中かの判断を行い（Ｓ３０）、書き込み終了でないならば周辺温度の計測に戻る。Ｓ３０にて書き込み終了ならば処理を終わる（Ｓ３１）。
【００５２】
図２（ｂ）に示した周辺温度と記録速度の関係は、記録速度を光ディスクの径方向の書き込み位置に置き換えることが可能な場合がある。この場合、許容できる限度のエラーレートで周辺温度と書き込み位置の関係を関数やテーブルとし、上記実施の形態４の記録速度を書き込み位置に代えて同様にレーザーパワーの制御を行うものであってもよい。
【００５３】
（実施の形態５）
図１１は本発明の実施の形態５における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図、図１２は本発明の実施の形態５における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャートである。ブロック図は図１と同様である。
【００５４】
メディアの特性などにより、書き込み時のエラーレートの増加をレーザーパワーを下げることによって対応することができない場合がある。例えば、光ディスクの記録面上の温度上昇が少なく、レーザーパワーを下げられない場合などである。このような場合は、記録速度の上限を変更することで対応することができる。
【００５５】
図１１はゾーンＣＬＶ記録方式の場合で、書き込み位置が内周側から外周側に進みゾーンが変わる毎に記録速度が増加するが、ディスク挿入時や書き込み開始時の温度測定で周辺温度が高く、図２（ａ）に示したような書き込みエラーレート一定の元での記録速度及び周辺温度とレーザーパワーの関係から、鎖線で示した３０倍速の記録速度では書き込みエラーレートが所定の限度を超えることが予測される。しかしレーザーパワーを下げられないため、３０倍速の書き込みは行わないことにより、全面記録を行うことができるようにしたものである。なお、書き込みエラーレート一定の元での記録速度及び周辺温度とレーザーパワーの関係から、書き込みエラーレートが許容できる最高の記録速度が推定できる為、この記録速度で速度制限を行っても良い。
【００５６】
図１２において、データ書き込みの為、光ディスク装置に光ディスクを挿入するか書き込み開始時（Ｓ３２）に、温度センサにより周辺温度の計測を行う（Ｓ３３）。測定結果の信号はＤ／Ａ変換器１３を介してＣＰＵ１４に送られる。メインメモリ１５にはエラーレート及びレーザーパワー一定の元で、周辺温度とこれに対応した許容できる最大の記録速度ｆＡの関係がテーブルまたは関数として記憶されている。これと周辺温度により、ＣＰＵ１４にて書き込みの最高速度を求める（Ｓ３４）。ＣＰＵ１４はデータ記録速度をモニタしており、求めた最高速度以下で書き込みを行う（Ｓ３５）ようにサーボプロセッサ７に指示を送る。なお書き込むデータ量によっては、書き込みの最高速度に達する前に書き込みが終了する場合も起こりうる。
【００５７】
（実施の形態６）
図１３は本発明の実施の形態６における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図である。ブロック図は図１と同様である。
【００５８】
実施の形態５はゾーンＣＬＶ記録方式の場合であるが、本実施の形態６はＣＡＶ記録方式の場合であり、メディアの特性などにより、書き込み時のエラーレートの増加をレーザーパワーを下げることによって対応することができない場合である。このような場合は、記録速度の上限を変更することで対応するが、ＣＡＶ記録方式の場合は図１３のようになる。
【００５９】
周辺温度は、書き込みが進むにつれてレーザーによってディスクが加熱されることにより外周に進むに従って増加することが多いが、光ディスクの材質の影響などを受ける為、一概にそうとはいえない。図１３中カーブＦは、周辺温度が低く書き込むデータ量が少ないなどにより記録速度の制限を行わずに書き込みが行われた状態を示している。カーブＧは周辺温度が高く書き込むデータ量が多いなどにより書き込みの途中で速度制限を行った状態を示している。カーブＨは書き込みの途中で周辺温度が上昇し、書き込み途中で速度制限が加わると共に上限値が低下していく状態を示している。
【００６０】
書き込み位置が内周側から外周側に進むにつれて記録速度が連続的に増加するが、ディスク挿入時の温度測定で得た周辺温度と図２（ａ）に示したような書き込みエラーレート一定の元での記録速度及び周辺温度とレーザーパワーの関係から、レーザーパワーを下げられない場合、記録速度の上限が求められる。よって上限速度に達したら、この上限速度を維持するなど記録速度が上限速度を超えないように制御する。
【００６１】
本実施の形態６での制御の流れを示すフローチャートは、図１２に示す実施の形態５のフローチャートと同等である。すなわち、図１２において、データ書き込みの為、光ディスク装置に光ディスクを挿入するか書き込み開始時（Ｓ３２）に、温度センサにより周辺温度の計測を行う（Ｓ３３）。測定結果の信号はＤ／Ａ変換器１３を介してＣＰＵ１４に送られる。メインメモリ１５にはエラーレート及びレーザーパワー一定の元で、周辺温度とこれに対応した許容できる最大の記録速度ｆＡの関係がテーブルまたは関数として記憶されている。これと周辺温度により、ＣＰＵ１４にて書き込みの最高速度を求める（Ｓ３４）。ＣＰＵ１４はデータ記録速度をモニタしており、求めた最高速度以下で書き込みを行う（Ｓ３５）ようにサーボプロセッサ７に指示を送る。
【００６２】
また、本実施の形態６においても実施の形態４に示したように、書き込みを行いながら所定の間隔で温度測定を行い記録速度を制御することが可能である。フローチャートは図１０と同様である。
【００６３】
図１０において、データ書き込みを行いながら温度センサ１６により周辺温度の計測を行う（Ｓ２６）。測定結果の信号はＤ／Ａ変換器１３を介して比較器１１に送られる。メインメモリ１５にはエラーレート及びレーザーパワー一定の元で、周辺温度と各周辺温度に対応した許容できる最大の記録速度ｆＡおよびレーザーパワーを変更するのに必要なレーザーパワーの係数の関係がデータテーブルまたは関数として記憶されている。これと周囲温度によりＣＰＵ１４にてこのデータテーブルまたは関数と周辺温度からレーザーパワーの係数を設定し（Ｓ２７）、Ｄ／Ａ変換器１３を介してレーザー駆動回路１２に指示を送り、レーザーパワーを変更して（Ｓ２８）書き込みを行う（Ｓ２９）。ＣＰＵ１４にて書き込み中かの判断を行い（Ｓ３０）、書き込み終了でないならば周辺温度の計測（Ｓ２６）に戻る。Ｓ３０にて書き込み終了ならば処理を終わる（Ｓ３１）。
【００６４】
周辺温度は、書き込みが進むにつれてレーザーによってディスクが加熱されることにより外周に進むに従って増加することが多いが、光ディスクの材質の影響などを受ける為、一概にそうとはいえない。図１３中カーブＦは、周辺温度が低く書き込むデータ量が少ないなどにより記録速度の制限を行わずに書き込みが行われた状態を示している。カーブＧは周辺温度が高く書き込むデータ量が多いなどにより書き込みの途中で速度制限を行った状態を示している。カーブＨは書き込みの途中で周辺温度が上昇し、書き込み途中で速度制限が加わると共に上限値が低下していく状態を示している。
【００６５】
このようにすることにより、書き込み時のエラーレートを全書き込み範囲についてより低減することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６６】
データ記録中に書き込みエラーレートが増加し、記録品質が低下することを低減することができ、電子機器に内蔵や外付けにて搭載される、記録機能を有する光ディスク装置の記録品質の向上に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の記録速度と周辺温度及び書き込みエラーレートの関係を示す図
【図３】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の記録速度とレーザーパワーの関係を示す図
【図４】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャート
【図５】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図
【図６】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャート
【図７】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図
【図８】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャート
【図９】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図
【図１０】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャート
【図１１】本発明の実施の形態５における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図
【図１２】本発明の実施の形態５における光ディスク装置の制御の流れを示すフローチャート
【図１３】本発明の実施の形態６における光ディスク装置の動作時の記録速度と周辺温度及びレーザーパワーの関係を示す図
【図１４】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【符号の説明】
【００６８】
１    光ディスク
２    光ピックアップ
３    対物レンズ
４    スピンドルモータ
５    アクチュエータ駆動回路
６    スピンドルモータ駆動回路
７    サーボプロセッサ
８    光検出器
９    パワー制御用モニタ
１０    サンプリング手段
１１    比較器
１２    レーザー駆動回路
１３    Ｄ／Ａ変換器
１４    ＣＰＵ
１５    メインメモリ
１６    温度センサ
１７    Ａ／Ｄ変換器
【図１】
2005135545.tif 000003
【図２】
2005135545.tif 000004
【図３】
2005135545.tif 000005
【図４】
2005135545.tif 000006
【図５】
2005135545.tif 000007
【図６】
2005135545.tif 000008
【図７】
2005135545.tif 000009
【図８】
2005135545.tif 000010
【図９】
2005135545.tif 000011
【図１０】
2005135545.tif 000012
【図１１】
2005135545.tif 000013
【図１２】
2005135545.tif 000014
【図１３】
2005135545.tif 000015
【図１４】
2005135545.tif 000016