(57)【要約】【課題】  相変化型光ディスク等の記録媒体において常に最適記録条件で記録を行うことができるようにする。【解決手段】  オーバライト可能な光ディスク等の記録媒体の記録の際に一時記憶メモリの書込期間に光ピックアップにテスト信号を供給して記録領域近傍に記録し、これを評価した結果に基づき光ピックアップのレーザビームの強度を最適化する。【選択図】      図９
2005129225.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報を記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体であって、
前記複数の層の中の１つの層に前記複数の層の記録に関する管理情報が記録されていることを特徴とする情報記録媒体。
【請求項２】
前記管理情報には製造者情報と前記装置の装置番号が記録されることを特徴とする請求項１記載の情報記録媒体。
【請求項３】
前記管理情報には製造者情報と前記装置の装置番号と前記ディスクに情報を記録するための記録条件が記録されることを特徴とする請求項２記載の情報記録媒体。
【請求項４】
前記管理情報は前記情報記録媒体に照射するレーザーのパワーと時間軸情報であることを特徴とする請求項３記載の情報記録媒体。
【請求項５】
記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体に情報を記録する情報記録再生装置であって、前記情報記録媒体の複数の層の中の１つの層に、前記複数の層の前記情報記録再生装置の記録に関する管理情報を記録することを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項６】
前記管理情報に製造者情報と前記装置の装置番号を記録することを特徴とする請求項５記載の情報記録再生装置。
【請求項７】
前記管理情報に製造者情報と前記装置の装置番号と前記情報記録媒体に情報を記録するための記録条件を記録することを特徴とする請求項６記載の情報記録再生装置。
【請求項８】
前記管理情報に製造者情報と前記装置の装置番号と前記情報記録媒体に記録するために照射するレーザーのパワーと時間軸情報の記録条件を記録することを特徴とする請求項７記載の情報記録再生装置。
【請求項９】
記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体に情報を記録する方法であって、
前記情報記録媒体の複数層のそれぞれの層において、前記情報記録再生装置の最適条件を判断するステップと、
前記判断した最適条件を前記情報記録媒体の複数の層の中の１つの層に、管理情報として記録するステップとを有する情報記録方法。
【請求項１０】
記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体に情報を記録する方法であって、
前記情報記録媒体の複数層のそれぞれの層において、前記情報記録再生装置の記録時のレーザーの最適条件を見つけるためにテスト記録するステップと、
テスト記録した結果を再生して最適条件を判断するステップと、前記判断した最適条件を前記情報記録媒体の複数の層の中の１つの層に、管理情報として情報記録再生装置の製造者情報と装置番号と共に記録するステップとを有する情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、オーバーライト可能な情報記録媒体，この情報記録媒体への情報信号の記録を行う情報記録再生装置及びその情報記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク装置、例えば、ＭＤ（Ｍｉｎｉ  Ｄｉｓｃ）プレーヤ等では、再生時において、約１０秒の再生時間に相当する４ＭＢ（ビット）のショックプルーフメモリにデータが一時記憶され、このショックプルーフメモリから信号が、再生されている間にピックアップがトラックをキックすることにより次に再生するセクタに対する回転待ちが行われている。また、記録時においては、記録信号をショックプルーフメモリに圧縮して一時記憶し、このメモリから間欠的に信号を読み出してディスクに記録し、余りの時間はピックアップがトラックをキックしており、これによって次に記録するセクタに対する回転待ちが行われている。
【０００３】
また、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｉｄｅｏ  Ｄｉｓｃ）プレ一ヤは、同様に１６ＭＢのメモリを備えており、可変転送レ一トで転送速度も速いため、このメモリの記憶時間は２秒程度であり、同様にピックアップがトラックをキックして回転待ちを行っている。なお、現在では、４ＭＢのＤＲＡＭは入手困難の状況にあり、１６Ｍビットあるいは、それ以上のＤＲＡＭを使用するのが一般的となってきている。このため、２秒あるいはそれ以上の時間の一時記憶が可能となりつつある。
【０００４】
ところで、レーザ光を利用して高密度の情報の再生や記録を行う技術は公知であり、主に光ディスク装置として実用化されている。光ディスクは、再生専用型、追記型、書換型に大別することができる。再生専用型は音楽情報を記録したＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）や画像情報を記録したＶＣＤ（Ｖｉｄｅｏ  ＣＤ）やＤＶＤとして、また追記型はＣＤ‐ＲやＤＶＤ‐Ｒとして、それぞれ商品化されている。また、書換型として、ＣＤ−ＲＷやＤＶＤ‐ＲＡＭ，ＤＶＤ‐ＲＷなどが映像や音声の記録用，あるいはパソコン用のデータ記録用として商品化されつつある。
【０００５】
これらのうち、書換型は、レーザ光などの照射条件を変えることによって、２つ以上の状態が可逆的に変化する記録薄膜を用いるものであり、主なものとして光磁気型と相変化型がある。相変化ディスクは、レーザ光の照射条件を変化させることによって、記録膜をアモルファスと結晶間で可逆的に状態変化させて信号を記録し、アモルファスと結晶のレーザ光反射率の違いを光学的に検出して再生を行うものである。このようなレーザ光の反射率変化として信号の再生が可能である点は再生専用型や追記型と同様であり、またレーザパワーを消去レベルと記録レベルの間で変調することによって追記（オーバーライト）が１ビームでできるため、装置構成を簡略化できるといったメリットがある。
【０００６】
このような書換可能な光ディスクにおける信号記録の高密度化の手法としては、記録マークの前後のエッジ位置がデジタル信号の「１」に対応するパルス幅変調方式（ＰＷＭ）が検討されている。
【特許文献１】特開平３‐１８５６２８号公報
【特許文献２】特開平６‐１２６７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、ＰＷＭ方式では、記録マークの幅が情報を持つため、記録マークを歪のないように、すなわち前後対称に記録膜に記録する必要がある。しかし、信号を記録する際のディスクのレーザ照射部分は、蓄熱効果によって照射の開始点より終点の方が高温になる。このため、記録マークは、先端より終端の方が幅が広くなり、記録マーク形状が先端部で細く終端部で太くなって涙滴状に歪むという不都合がある。
【０００８】
このような記録マークが涙滴状に歪む原因を、以下、図面を参照して更に説明する。図１５（Ａ）は、記録すべき入力信号波形である。これを、同図（Ｂ）のようにそのまま直接レーザ光出力とし、消去パワーレベルＰｅと記録パワーレベルＰｗの間で変調することで信号を記録すると、記録膜の到達温度は同図（Ｃ）のようになる。すなわち、蓄熱効果によって記録マークの先端部分よりも終端部分の方が温度が高くなり、結果として記録マークの形状は、同図（Ｄ）のように先端よりも終端の方が広くなって涙滴状に歪む。蓄熱効果は、光ディスクとレーザスポットの相対速度（線速度）が遅いほど大きくなるため、涙樹状歪も線速度が遅いほど大きくなる。この歪は再生波形の歪を引き起こすため、記録信号を正しく読み出すことができない可能性がある。
【０００９】
このような記録マークの歪を低減する方法として、特許文献１には、一つの記録マークを複数の短パルス列の照射によって形成するオーバーライト方法が開示されている。また、特許文献２には、前記パルス波形の補正方法が開示されている。図１６を参照して説明すると、同図（Ａ）のような入力信号を、短パルス列に変換した後、同図（Ｂ）のようにレーザ出力を消去パワーレベルＰｅと記録パワーレベルＰｗの間で変調することで信号をオーバーライトする。ここで、短パルス列は、幅の広い先頭パルスとこれより幅が狭い後続パルス列からなる。先頭パルスの幅は、記録マークの長さにかかわらず常に一定である。更に、後続パルス列中の各パルスの幅と間隔はそれぞれ等しく、かつ長さがｎ番目の記録マークを形成する場合の前記後続パルス中のパルス数は、ｎ‐１個となっている。
【００１０】
例えばＣＤで採用されている８−１４変調信号（ＥＦＭ信号）は、３Ｔ（Ｔはクロック周期）から１１Ｔまでの９種類の長さのパルスで構成されている。このＥＦＭ信号を記録する場合には、最も短い３Ｔのパルスは先頭パルスのみ、次の４Ｔのパルスは先頭パルスと１つの後続パルス、５Ｔのパルスは先頭パルスと２つの後続パルス、という具合に変換する。最も長い１１Ｔのパルスは、先頭パルスと８つの後続パルスに変換する。このような規則性をもって変換することにより、信号変換回路を簡単な構成にすることができる。この場合、記録膜の到達温度は、同図（Ｃ）のように、先端では幅の広い先頭パルスにより急激に昇温するが、その後はパルス列が照射されるために終端部分の昇温か抑えられる。その結果、記録マークの形状は同図（Ｄ）のように先端と終端の対称性が向上し、涙滴状歪が低減される。
【００１１】
しかし、前記短パルス化による手法は、線速度が遅くてかつ記録周波数が低い場合には非常に有効であるが、ＤＶＤ‐ＲＡＭやＤＶＤ‐ＲＷなどの高密度記録の場合、線速度が速い場合、記録信号の周波数が高い場合などにおいては、必ずしも有効とはいえない。記録信号波形を短パルス化すると、記録膜に与えられるエネルギーが小さくなるため、大きな記録パワーが必要になる。これは、低線速度のときには問題にならないが、線速度が速くなって更に大きな記録パワーが必要になると、高出力のレーザ光源を必要とし、記録装置のコストが高くなってしまう。また、入力信号を短パルス化するためには、入力信号のパルス周期（上記ＥＦＭ信号の場合にはＴ）の整数分の１の周期を持つクロック信号が必要であり、記録信号の周波数が高い場合にはクロック信号の周波数が高くなりすぎて回路設計が困難になる。レーザ出力も高周波で変調するほど波形の歪が大きくなってしまう。
【００１２】
光ディスクの一般的な使用方法を考えた場合、光ディスクを一定の回転数で回転させる場合（以下ＣＡＶ）には、ディスク内周より外周の方が線速度が速くなる。記録マ一ク長を内周と外周で同じにして記録密度を上げるために、外周ほど記録周波数を上げる方法も提案されている。また、光ディスクを全ての領域において一定の線速度で回転させる場合（以下ＣＬＶ）でも、同じ記録装置で異なる種類のディスクに信号を記録する場合には、ディスクの種類によって線速度や記録周波数を変える必要がある。
【００１３】
加えて、より記録密度の高いディスクにおいては、ディスク個々のばらつきやディスクの記録回数、あるいは周囲温度などの環境条件によって最適な記録条件が異なることにより、再生品質が悪化するという可能性がある。また、ディスク個々に最適な記録条件を決定するためには、一旦記録動作を中止し、テスト記録領域に移動し、テスト記録を行うとともにその信号を再生して信号品質を測定し、最適値を探さなければならない。しかし、このような測定を記録時に行うことは時間がかかりすぎ、本来の記録すべき信号を最初から記録できないなどの問題点を有していた。また、より記録密度の高いディスクを精度良く記録する場合においては、記録するレーザー出力が温度特性や経時変化等で変動するので、記録品質が悪化するという可能性がある。この場合も、一旦記録動作を中止し、レーザーパワーを測定し、最適値を探さなければならない。しかし、このような測定を記録時に行うことは時間がかかりすぎ、動画像等の連続した記録すべき信号を全て記録できないなどの問題点を有していた。
また、テスト記録及びこの評価を行い最適なパワーを求める場合、特にＤＶＤや青色レーザーを用いて記録を行うような高密度なＲ有機色素、ＲＷ相変化媒体では、各社の光ディスクの材料の構成や製造方法が異なるため、従来ＣＤ−Ｒ等で用いられていたアシンメトリを検出する方法では顕著に最適値が得られないディスクがあった。また、ＲＷ相変化媒体では、同じタイミングで同じ信号を光ディスクの同じ場所（位置）に複数回記録すると、一般的に、記録するたびに急激に再生時のジッタが悪化する問題が知られていた。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、上述の問題点を解決するために、手段として以下の構成を有する。
〔１〕情報を記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体であって、前記複数の層の中の１つの層に前記複数の層の記録に関する管理情報が記録されていることを特徴とする情報記録媒体である。
〔２〕前記管理情報には製造者情報と前記装置の装置番号が記録されることを特徴とする〔１〕に記載の情報記録媒体である。
〔３〕前記管理情報には製造者情報と前記装置の装置番号と前記ディスクに情報を記録するための記録条件が記録されることを特徴とする〔２〕に記載の情報記録媒体である。
〔４〕前記管理情報は前記情報記録媒体に照射するレーザーのパワーと時間軸情報であることを特徴とする〔３〕に記載の情報記録媒体である。
〔５〕記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体に情報を記録する情報記録再生装置であって、前記情報記録媒体の複数の層の中の１つの層に、前記複数の層の前記情報記録再生装置の記録に関する管理情報を記録することを特徴とする情報記録再生装置である。
〔６〕前記管理情報に製造者情報と前記装置の装置番号を記録することを特徴とする〔５〕に記載の情報記録再生装置である。
〔７〕前記管理情報に製造者情報と前記装置の装置番号と前記情報記録媒体に情報を記録するための記録条件を記録することを特徴とする〔６〕に記載の情報記録再生装置である。
〔８〕前記管理情報に製造者情報と前記装置の装置番号と前記情報記録媒体に記録するために照射するレーザーのパワーと時間軸情報の記録条件を記録することを特徴とする  〔７〕に記載の情報記録再生装置である。
また、本発明は、上述の問題点を解決するために、手段として以下の手順を有する。
〔９〕記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体に情報を記録する方法であって、前記情報記録媒体の複数層のそれぞれの層において、前記情報記録再生装置の最適条件を判断するステップと、前記判断した最適条件を前記情報記録媒体の複数の層の中の１つの層に、管理情報として記録するステップとを有する情報記録方法である。
〔１０〕記録再生可能な複数の層を有する情報記録媒体に情報を記録する方法であって、前記情報記録媒体の複数層のそれぞれの層において、前記情報記録再生装置の記録時のレーザーの最適条件を見つけるためにテスト記録するステップと、テスト記録した結果を再生して最適条件を判断するステップと、前記判断した最適条件を前記情報記録媒体の複数の層の中の１つの層に、管理情報として情報記録再生装置の製造者情報と装置番号と共に記録するステップとを有する情報記録方法である。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、光ディスクの記録領域近傍における光ピックアップの記録パワーや信号波形補正を、記録動作を中断することなく、記録時の種々の条件に対応して補正することができ、また、テスト記録を次に記録するデータ領域である記録領域にて行うので、テスト記録及び評価が短時間で可能であり操作性を損ねることなく、また、新たな記録評価用の領域も不要であり、記録領域を有効に活用でき、高密度化が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
まず、本発明の背景となる技術に関して説明する。本出願人は本発明に先立ち、特願平１０−２０４５７２号（特開２０００−４０２３１号公報）にて、ショックプルーフメモリーへの記録信号の書込期間中は、光ピックアップが記録をしていない、つまり、空いている時間を利用して、光ピックアップを光ディスクのテスト記録領域（例えば、光ディスクの再内周）に移動して、テスト信号を記録して、最適な記録波形を求める提案をしている。しかし、この方法では光ディスクの面内でのばらつき等でテスト記録領域と実際に記録する領域とでディスクの記録感度等にばらつきがある場合は、最適な記録波形にならない可能性があり、また、テスト記録領域が次に記録すべき領域と離れている場合はシークに時間を要し、その分テスト記録時間等に制約が生じたり、電力の増加が発生したり、その間に振動等が生じた場合等、装置が不安定になる可能性があり、この点に関しては更なる有効な提案が要望されていた。
以下、本発明の実施例について詳細に説明する。本発明の実施例では光ディスクの種類や線速度の変化に応じて、記録レーザ波形が最適形状に補正される。例えば、入力信号（例えば、８−１６変調信号）が図１（Ａ）に示す場合、回転している光ディスクの線速度が予め設定された値より遅い場合には、レーザ変調波形は図１(Ｂ）に示すように短パルス列化された記録波形ＷＡとする。線速度が設定値よりも速い場合には、レーザ変調波形は同図（Ｃ）のように入力パルス幅を少し短くした記録波形ＷＢに変換する。
【００１７】
次に、具体例について説明する。最初に、１枚の相変化光ディスク上に、線速度と記録波形を種々変えながら記録及び再生を行って、線速度と再生波形歪の関係を求める。実験に用いた光ディスクの構造を図２に示す。基板１は、ポリカーボネイト製で信号記録用トラックを設けた直径１２０ｍｍの円盤である。記録膜２は、 ＧｅＳｂＴｅ の３元素からなり、その膜厚は２０ｎｍである。記録膜２の上下の誘電体膜３，４はＺｎＳであり、基板側が１５０ｎｍ，反対側が１５ｎｍである。反射膜５としては、Ａｕを５０ｎｍ設けている。
【００１８】
このような光ディスクの記録膜２を予め全面結晶化（信号の消去状態）させた後、レーザ照射によりアモルファスの記録マークとして信号を記録する。光ディスクの線速度は、その回転数を変えることにより、１．５ｍ／ｓ，３ｍ／ｓ，６ｍ／ｓ，９ｍ／ｓの４つの速度を選択した。入力信号としては、８−１６変調信号を採用した。そして半導体レーザを、（１）記録波形ＷＡのように短パルス列に補正し変調する方法、（２）記録波形ＷＢのようにパルス列を若干短く補正して変調する方法、でそれぞれ駆動して信号を記録した。
【００１９】
具体的な記録波形の形状は、図３のようになる。まず、同図（Ａ）は８−１６変調信号の入力波形の一例であり、Ｔはクロック周期である。同図（Ｂ）は記録波形ＷＡである。この場合、パルス発生までの幅Ｔａは１Ｔ，短パルス列中の先頭パルスの幅はＴｂは１．５Ｔ，後続パルスの幅Ｔｄ及び間隔Ｔｃはどちらも０．５Ｔとした。すなわち、この記録波形ＷＡのクロック周期は０．５Ｔであり、８−１６変調信号の２倍の周波数のクロックが必要である。同図（Ｃ）は記録波形ＷＢである。この場合、すべての記録パルスの幅を８−１６変調信号よりＴだけ短くしている。
【００２０】
なお、８−１６変調信号のクロック周波数は、線速度が変わっても記録マーク長が同じになるように変化させた。具体的には、線速度が１．５ｍ／ｓのときクロック周波数は４．３ＭＨｚ，線速度が３ｍ／ｓのときクロック周波数は８．６ＭＨｚ，線速度が６ｍ／ｓのときクロック周波数は１７．２ＭＨｚ，線速度が９ｍ／ｓのときクロック周波数は２５．８ＭＨｚである。
【００２１】
次に，以上のようにして記録された信号を再生し、その再生波形の歪の大きさを求める。再生波形歪の定量的な評価は、再生波形を予め２値化した後、タイム・インターバル・アナライザに入力してジッタ量を位相マージンとして求めることで行う。位相マージンが大きいほど、記録マーク前後のエッジ位置のずれ量が小さく、記録マークの歪は小さい。図４に、数種類のディスクにおける位相マージンと線速度のばらつきの関係を示す。なお、線速度が９ｍ／ｓ時は記録波形をＢとした。図５には、光ディスクの温度変化に対する位相マ一ジンと線速度のばらつきの関係を示す。図６には、そのときの光ディスクの盤面上における記録パワーと線速度の関係を示す。なお、消去パワーは、全ての記録波形の違いにかかわらず、各線速度において一定にした。
【００２２】
図４から明かなように、記録波形ＷＡの場合は、傾きは小さいが線速度が速いほど位相マージンは大きくなっている点で好ましいが、ディスクによるばらつきがある。また、図５からすると、温度によるマージンの変動もある。これは、オーバーライトの場合、記録膜の加熱による温度によって支配されるため、線速度、周囲温度の変動、ディスクの製造ばらつきなどにより、ディスクの温度が最良の状態にできなかったことを示している。記録パワーについては、図６に示すように、記録波形ＷＡでは記録膜に与えるエネルギを短パルス列で与えているため、大きな記録パワーが必要になる。このため、特に高線速度においては、光源として出力の大きな半導体レーザが必要になる。
【００２３】
また、図７（Ａ）の記録波形ＷＣのように、図３（Ｂ）の記録波形ＷＡの記録パルス列の前後でレーザパワーを消去レベルより低くしてもよい。このようにすれば、マーク間隔を狭くして記録する場合に、記録パワーで照射された領域の熱が後方に拡散し、次の記録マークを大きく描いてしまうという熱干渉の現象を小さくできる。このため、位相マージンを大きくするのに有効である。レーザパワーを消去レベルより低くする期間が長すぎると、記録膜が結晶化温度以上に到達しなくなり、消し残りが生じてしまう。しかし、消去レベルより低くする期間τがτ≦λ／Ｖ（λ：レーザ波長、Ｖ：レ一ザースポットと光ディスクの相対速度）の範囲内であれば、その期間の前後の消去パワーＰｅ及び記録パワーＰｗで重複して照射されるし、またその期間の前後の消去パワーＰｅ及び記録パワーＰｗで照射された領域からの伝導熱によっても昇温される。従って、記録膜は結晶化温度に達し、消し残りは小さくできる。
【００２４】
なお、記録波形ＷＣでは、記録パルス列の前後双方でレーザバワーを消去レベルより低くしたが、前後のいずれか一方のみとしても充分効果がある。また、消去レベルより低いレベルを、再生パワーレベルもしくはレーザのオフレベルとすれば、装置構成を簡略化できる。図３の記録波形ＷＢにおいても、同様に、記録パワーの前後もしくはそのどちらか一方に消去レベルより低いレベルを設けるようにしてよい。図３の記録波形ＷＡを図７（Ｂ）の記録波形ＷＤのように、記録パルス列に対応する期間において、記録パワーレベルと再生パワーレベルあるいはレーザのオフレベルとの間で変調してもよい。この方法では、記録マーク内の全ての場所において記録膜が溶融後急冷されるため、安定した記録マ一クが形成でき、位相マージンを大きくするのに有効である。
【００２５】
次に、本形態による光ディスク装置について、図９〜図１１を参照しながら説明する。例えば、ＤＶＤ−ＲＷディスクは、図１１のように、ディスク内でのセクタは螺旋状のＣＬＶであるから、線速度が一定であり、１つの訂正の最小単位であるＥＣＣブロックが再生及び記録の最小単位でもあり、内周側のエリアＥＡで２ＥＣＣプロック，１ＥＣＣブロックは１６セクタであり、外周側のエリアＥＢで４ＥＣＣブロックである。回転周期も、エリアＥＡ内周で４０ｍｓｅｃ，エリアＥＢ外周で８０ｍｓｅｃ程度である。
【００２６】
次に、図９および図１０を参照して、主要部を説明する。キー入力部１０により入力した再生や記録の開始は、システムコントローラ１２が判断し、信号処理部１４やサーボプロセッサ１６に指令する。サーボプロセッサ１６は、ドライバ１８を介してスピンドルモータ２０を駆動し、ディスク２２が回転する。光ピックアップ２４から読み出した信号は、図１０に詳細な構成を示したプリアンプ２６に供給され、ここで再生信号とサーボ信号を生成する。サーボエラー信号は、サーボエラー信号生成回路４９で生成される。サーボプロセッサ１６で前記サーボ信号を処理することにより、光ディスク２２のトラックに対するフオーカシングやトラッキングの信号を生成する。そして、これらの信号に基づいて、ドライバ１８により光ピックアップ２４のアクチュエータを駆動することにより、光ピックアップ２４の一巡のサーボ制御が行なわれる。
【００２７】
再生信号は、図１０に示すプリアンプ２６に供給され、ＲＦアンプ５０で増幅される。増幅後の再生信号の周波数特性は、イコライザ５２で最適化し、ＰＬＬ回路５４でＰＬＬ制御をかける。また、ＰＬＬのビットクロックとデ一夕の時間軸の比較からジッタ生成回路５６で生成したジッ夕値をシステムコントローラ１２がＡ／Ｄ変換して測定し、この値に従って記録時の波形補正回路を変更する。ジッタ生成回路５６のジッタ検出タイミングは後述するタイミング生成回路７４によって制御される。信号処理部１４では、再生信号がディジタル信号に変換され、例えば同期検出が行われる。これにより、ディスク上の８−１６変調信号からＮＲＺデータにデコードされ、エラー訂正処理が行なわれてセクタのアドレス信号とデータ信号を得る。この信号は、可変転送レートで圧縮された信号であるので、これを一時記憶メモリ２８（４ＭＢのＤＲＡＭ）に記憶し、可変転送レートにおいて時間軸合わせるための補正（時間軸の吸収）を行う。一時記憶メモリ２８から読み出された信号は、Ａ−Ｖエンコーダ・デコーダ３０により伸長され、オーディオとビデオの信号に分離される。そして、それぞれＤ／Ａコンバータ（図示せず）により、アナログの音声信号と映像信号に変換出力される。また、記録時は外部より入力したデータをＡＶエンコーダ・デコーダ３０にて圧縮し、信号処理部１４にて光ディスク２２に記録するためのフォーマット処理を行いプリアンプ２６でレーザ変調を行い光ディスク２２に記録する。
【００２８】
また、プリアンプ２６のＰＬＬ回路５４で生成した光ディスク２２の速度信号をサーボプロセッサ１６に送り、この速度信号によって光ディスク２２をＣＬＶで回転制御している。スピンドルモ一夕２０のホール素子などによる回転位置信号はサーボプロセッサ１６へ帰還し、この信号から生成した速度信号から、一定回転のＦＧ制御も行っている。ＲＦアンプ５０からの再生信号はアシンメトリー検出回路７０で、８−１６変調信号の最長信号１１Ｔのピークとボトムの振幅位置に対して最短信号３Ｔの中心位置がどの位置になるかを判別し、この結果をシステムコントローラに伝える。アシンメトリー検出タイミングは後述するタイミング生成７３によって制御される。サーボエラー信号生成回路４９からディスク上のアドレス信号と記録再生のタイミング信号になるアドレス検出回路７３とスピンドルの速度信号と記録時のクロック信号の基になるウオブル信号をウオブル検出回路７２にて生成する。ウオブル検出回路７２で得られた周波数信号をＰＬＬ７１にてスピンドルの速度信号と記録時のクロック信号として生成する。この信号は記録データを生成する信号処理部１４及び後述するタイミング生成７３に送られる。アドレス検出回路７３で得られたディスク上のアドレス信号と記録再生のタイミング信号はシステムコントローラ１２と信号処理部１４に送られ、記録再生のタイミング信号はテスト記録を行うためとテスト記録を行った領域を再生するためのタイミング信号を生成するタイミング生成回路７４に送られる。タイミング生成回路７４では記録時にテストパターン発生回路６４とシステムコントローラ１２と信号処理部１４にタイミング信号を送り、テスト記録を行った領域を再生するためのタイミング信号をアシンメトリー検出回路７０とジッタ生成回路５６に送る。
【００２９】
以上の各部の全体制御は、システムコントローラ１２が行っている。他に、記録したい画像の解像度やカーレースなどのスピードの速いシーンなどを取り分ける場合や、記録時間優先で設定するためのキー入力や外部からの制御データをマイクロコンピュータ（図示せず）が認識しており、切換端子により記録時間を変更したり、設定を外部のユーザが選択できるように構成されている。
【００３０】
光ピックアップ２４は、半導体レーザを光源とし、コリメ一夕レンズ，対物レンズなど（図示せず）により光ディスク２２上にレーザスボットを形成する。半導体レーザは、図示しないレーザーの出射光をモニターするためのモニターダイオードからの帰還信号をレーザ駆動回路５８に入力することによりＡＰＣ（オートパワーコントロール）回路を構成しており、図１０に示したレーザ駆動回路５８により駆動されるが、情報信号を記録する場合には入力信号は波形補正回路６０により、波形補正された後レーザ駆動回路５８へ入力される。ここでは、入力信号は８−１６変調信号（ライトデータ）と、テストパターン発生回路６４で発生したテストパターン信号とが切換回路６２によって切換られて入力される。波形補正回路６０は、８−１６変調信号を短パルス列に変換する回路であり（具体的回路構成は、例えば、特開平３‐１８５６２８号公報参照）、短パルス列化された波形でレーザ駆動回路５８を変調すると、図３（Ｂ）の記録波形ＷＡが得られる。また、波形補正回路６０は、パルス幅を短く変換する回路であり、短かくなった波形でレーザ駆動回路５８を変調すると、図３（Ｃ）の記録波形ＷＢが得られる。
【００３１】
波形補正回路６０は、遅延素子とＡＮＤ回路により構成できる。すなわち、入力信号を遅延素子で遅延した後、最初の入力信号との論理積を求めることで、図３（Ｃ）の記録波形ＷＢが得られる。波形補正回路６０では、システムコントローラ１２の制御に基づく線速度の切換回路６２により、大きな単位での時間軸の切換えが行われ、次に、後述するようにアシンメトリ値またはジッタ値が最良になるように図３（Ｂ）のＴａ，Ｔｂ，Ｔｃ，Ｔｄの詳細な時間設定が行われる。なお、上述したモニターダイオードからの帰還信号はシステムコントローラ１２のＡ／Ｄ変換器に入力しモニタできるようになっている。
【００３２】
テストパターン発生回路６４は、同様に線速度の切換によって大きな単位の時間軸の切換えを行い、パターンとして、８−１６変調の最低周波数である１１Ｔと最高周波数である３Ｔとを交互に繰り返す信号とする。図１７にテスト記録データの構造を示す。記録データはここではＥＣＣブロックのアドレスＡ２という場所に記録することを示しており、この１６セクターから構成される１つのＥＣＣブロックの第１セクターであるＢ０セクターに１１Ｔ、続くＢ１セクターに３Ｔを記録し、この２セクター単位で、８つの同一な信号を書き込む。この８つの記録を記録パワーを８種類（Ｐ１、Ｐ２…）切り換えながら記録する。そして、これを再生する際には、この領域をシステムコントローラ１２が判断した後、タイミング生成７３によって得られた信号Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３によって、アシンメトリ検出回路７０によってＢ０セクターにて１１Ｔ信号のピークＰＤＰ１、ボトムＰＤＢ１と、Ｂ１セクターにて３Ｔ信号のセンターＰＤＣ１をサンプルホールド及びＡ／Ｄ変換し、システムコントローラ１２に転送する。図示していないが、光ディスク２２付近に温度を検出するためのサーミスタなどの温度センサが備えられており、これから温度を検出する温度検出回路６６を備えている。この回路の他の構成例としては、プリアンプ２６内部の半導体，例えばダイオ一ドの順方向電圧の温度特性を測定するような構成でもよい。
【００３３】
本実施例の装置は情報信号を記録する場合に、最初にレーザスポットを光ディスク２２上に照射し、信号トラックに予め設けられたアドレス信号をアドレス再生回路（図示せず）で判読する。そして、システムコントローラ１２によって光ディスク２２の線速度を設定する。例えば、
（１）画質はよいが、全体の記録時間が２時間程度であるモードでは、線速度を６ｍ／ｓとする，
（２）画質は普通であるが、全体の記録時間が４時間程度であるモードでは、線速度を３ｍ／ｓとする，
（３）画質は悪いが、全体の記録時間が８時間程度であるモードでは、線速度を１．５ｍ／ｓとする，
などの選択が可能である。
【００３４】
また、上述したように、他に、記録したい画像の解像度やカーレースなどのスピードの速いシーンなどを取り分ける場合や、記録時間優先で設定するためのキー入力や外部からの制御データに基づいて、切換端子により記録時間を変更したり、外部のユーザによる選択により記録時間を変更可能である。実際には入力信号（情報信号）を圧縮する圧縮比をＡＶエンコーダ・デコーダ３０にて変えて記録時の入力信号の圧縮後の転送レートを変えることになる。
【００３５】
上述した線速度及び圧縮後の転送レートの変更を行っても光ディスク２２に対する記録再生の転送レートは記録する圧縮後の信号の転送レートよりも早く設定されていて、この転送レートによる差を一時記憶記録手段（一時記憶メモリ２８）にて吸収するように構成している。なお、ここではＣＬＶ制御としているが、ＣＡＶ制御やゾーンＣＡＶ制御などで、内周と外周の線速度が３０ゾーン程度に変更になるような場合でも、トラックのアドレス位置をシステムコントローラ１２が管理しながらそれぞれの位置にて線速度を設定することで適用可能である。この場合は、設定された線速度に基づいて基本的なＴ周期が設定される。
【００３６】
次に、本発明の実施例の記録動作について、図１２、図１３（ａ）および図１３（ｂ）を参照しながら説明する。図１２は、一時記憶メモリ２８の記憶量の時間変化を示すものであり、ａ領域（期間）では第１の転送レートの記録信号が書込まれ、ｂ領域（期間）では書込まれた信号が第１の転送レートより速い第２の転送レートで読出されディスクに記録される。図１３（ａ）および図１３（ｂ）は、動作の手順をフローチャートとして示すものである。まず、音声や映像などの本来のデータを記録する場合の動作から説明する。まず、記録モード，再生モード，あるいは待機モードの判別を行う。記録モードの場合（ステップＳＡ）には、記録すべき音声や映像などのデータ（情報信号）をＡＶエンコーダ・デコーダ３０にて圧縮するとともに、信号処理部１４にてエラー訂正コード，アドレス，シンク信号等を付加して、一時記憶メモリ２８に記録する（図１２のａ領域，ステップＳＢ）。この動作は、一時記憶データがフルレベルになる迄行われる（ステップＳＣ）。フルレベルの値は、記録時の圧縮比のモード、あるいは外部から設定されたモードによって設定される。
【００３７】
一時記憶メモリ２８のデータ記憶量がフルレベルとなると（ステップＳＣでＹの場合）、今度はそのデータが一時記憶メモリ２８から読出されて光ディスク２２に書込まれる（図１２のｂ領域，ステップＳＤ）。この動作は一時記憶メモリ２８の一時記憶データがエンプティレベルになるまで行われる（ステップＳＥ）。
そして、エンプティレベルに達した時点（ステップＳＥでＹの場合）で、データの読出しは停止となる（ステップＳＦ）。その時点で、光ピックアップ２４は光ディスク２２へのデータの記録動作を停止する。
【００３８】
本発明の実施例では、例えば、後述する波形補正最適化処理は光ディスク２２がセットされた後に実行されるものとする。記録モードであると判断された時点で、あわせて記録信号の波形補正最適化処理が終了しているかどうかをシステムコントローラ１２で判断することも可能である。記録中は波形補正最適化処理（以下単に最適化処理、最適化と記すこともある）が既に行われいて波形補正最適化処理を行う必要はない場合（ステップＳＧでＮの場合）は、次に記録すべきアドレスを記憶しておき、次に記録すべきアドレスの存在するトラックにてキックバックしながら待機し、ステップＳＣに戻る。なお、毎回、波形補正最適化処理を実行する場合や、特定期間のみ波形補正最適化処理する場合などにおいては、ステップＳＧは省略しても構わない。
【００３９】
また、上述した図１３（ａ）に示したステップＳＧについては、例えば、波形補正最適化処理終了後一定時間が経過したかどうかで波形補正最適化処理を実行することも可能である。具体的な一例としては、図１８に示すようにタイマー値が所定値ｋもしくはそれ以上になった場合（ステップ１０１でＹの場合）はタイマーのリセットを実行（ステップ１０２）して、図１３（ａ）に示したステップＳＨに進む。タイマー値がｋを越えていない場合（ステップ１０１でＮの場合）はタイマーをカウントアップ（ステップ１０３）して、図１３（ａ）に示したステップＳＣに戻る。
【００４０】
また、上述した図１３（ａ）に示したステップＳＧについては、例えば、現在までに波形補正最適化処理が行われたディスク上の位置が所定の距離離れた位置にて記録を行う段階にあるかどうかで波形補正最適化処理を実行することも可能である。具体的な一例としては、図１９に示すように新しい記録アドレスは前回最適化したアドレスと所定値分離れている場合（ステップ２０１でＹの場合）はこのときのアドレスを最適化したときのアドレスとして記録（ステップ２０２）して、図１３（ａ）に示したステップＳＨに進む。もし新しい記録アドレスが前回波形補正最適化したアドレスと所定値分離れていない場合（ステップ２０１でＮの場合）は再び図１３（ａ）に示したステップＳＣに戻る。
【００４１】
さらに、上述した図１３（ａ）に示したステップＳＧについては、例えば、所定の温度変化があったかどうかを判断し、温度変化が所定値を越えた場合に、波形補正最適化処理を行うようにすることも可能である。具体的な一例としては、図２０に示すように現在の温度は前回波形補正最適化した時の温度と所定温度分離れている場合（ステップ３０１でＹの場合）はこのときの温度を最適化したときの温度として記録（ステップ３０２）して、図１３に示したステップＳＨに進む。もし、現在の温度が前回波形補正最適化した時の温度と所定温度分離れていない場合（ステップ３０１でＮの場合）は再び図１３（ａ）に示したステップＳＣに戻る。
【００４２】
さらに、上述した図１３（ａ）に示したステップＳＧについては、例えば図２１に示すように、光ピックアップ２４によりアドレスＡ１まで記録が終了した際に、Ａ１の領域に光ピックアップ２４をキックバック（ステップ４０１）し、Ａ１アドレス領域の再生（ステップ４０２）して、Ａ１アドレス領域でのでジッタ、またはエラーレートを測定し、ジッタ、またはエラーレートが所定値越えている場合（ステップ４０３でＹの場合）は、図１３（ａ）に示したステップＳＨに進み、ジッタ、またはエラーレートが所定値越えていない場合（ステップ４０３でＮの場合）は、再び図１３（ａ）に示したステップＳＣに戻るようにすることも可能である。
【００４３】
さらに、上述した図１３（ａ）に示したステップＳＧについては、例えば、図２２に示したように上述したモニターダイオードの帰還信号の電圧が前回の電圧より所定値以上変動したかどうかを判断し、所定値以上変動した場合（ステップ５０１でＹの場合）は、この電圧値を最適化したときの電圧値として記録（ステップ５０２）し、図１３（ａ）に示したステップＳＨに進み、所定値以上変動しない場合は（ステップ５０１でＮの場合）は再び図１３（ａ）に示したステップＳＣに戻るようにすることも可能である。
【００４４】
なお、波形補正最適化処理するかどうかの判断は上述したそれぞれの条件のみで判断すること、複数の条件を論理的に組み合わせて、つまり、条件ａあるいは条件ｂのどちらかが合致した場合とか、条件ａと条件ｂとの両方が合致した場合に判断することや、条件ａは最優先で判断する等の条件に優先順位を設けることも可能である。複数の条件の組合せ例としては、例えば、図１８（経過時間）および図１９（記録アドレス）に示したフローにチャートによる判断により、いずれかの条件に合致すれば波形補正最適化処理を実行したり、図１８（経過時間）、図１９（記録アドレス）、図２０（温度）、図２１（ジッタ・エラーレート）、図２２（フォトデイテクタの帰還電圧）等で示したフローチャートによる判断によりいずれかの条件が合致すれば波形補正最適化処理を実行したり、あるいは、図１８（経過時間）に示すフローチャートに基づく判断による条件と、図１９（記録アドレス）に示すフローチャートに基づく判断による条件とが両方とも合致した場合に波形補正最適化処理を実行するように論理的に条件を設定することも可能である。
【００４５】
さらに、図１８（経過時間）に示すフローチャートに基づく判断による条件が合致した際に、図１９（記録アドレス）に示すフローチャートに基づく判断による条件あるいは図２０（温度）に示すフローチャートに基づく判断による条件のどちらかが合致した場合、波形補正最適化処理を実行することも可能である。上述した波形補正最適化処理実行の条件の説明は一例であり、これ以外にも波形補正最適化処理実行の条件の設定は、論理的な設定を含めて、上述したように種々可能である。
【００４６】
再び図１３（ａ）に戻って説明すると、波形補正最適化処理が必要な場合（ステップＳＧでＹの場合）、次にデータを記録すべきディスクのアドレスを記憶するとともに（ステップＳＨ）、記録テストモード（ステップＳＩ）に移行する。
【００４７】
以下に図１３（ｂ）および図１７を参照して、波形補正最適化処理である記録テストモードの処理について説明する。記録テストモード（ステップＳＩ）へ移行すると、前記一時記憶メモリ２８に次のデータを記録している間（書込期間）に、例えば、先程記録を中止したディスクのアドレスを図１７に示すようにＡ１とすると、アドレスＡ１に続くアドレスＡ２に記録信号からテストパターン信号に切換えて、例えば、１ＥＣＣブロック１６セクタ（１セクタは、例えば、アドレス１６バイトとデータ２０４８バイトとから構成）分のテストパターン信号を光ディスク２２のアドレスＡ２のアドレス領域を確認して（ステップＳＩａ）連続的に書き込む（ステップＳＩｂ）。
【００４８】
すなわち、記録情報に対して連続的に、１つのＥＣＣブロックの第１セクターであるＢ０セクターに１１Ｔ、Ｂ１セクターに３Ｔを記録し、以下この２セクター単位の８組、合計１６セクターの信号を記録する（ステップＳＩｂ）。図１０に示した切換回路６２の入力をライトデータ８−１６変調信号よりテストパターン発生回路６４より出力される信号に切換えることにより、テストパターン発生回路６４より出力されるテストパターン信号を波形補正回路６０を介してレーザ駆動回路５８に供給する。レーザ駆動回路５８は、入力されたテストパターン信号を光ディスク２２に記録する。つまり、前記ＳＦの段階で記録したアドレスＡ１に連続してアドレスＡ２にテスト記録を行う。この場合、いったん記録を中止しないので、キック待ち等の待ち時間が発生することがない。
【００４９】
テストパターン発生回路６４は、後述するように２セクターづつ８種類（Ｐ１、Ｐ２…）について記録パワーＰｗおよび消去パワーＰｅのレーザーパワーおよび記録のパルス幅Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃ、Ｔｄの少なくとも一方、もしくは両方の設定を変更しながらテストパターン信号を発生する。レーザパワーを変化させるパターンは、例えば、単調増加パターン、単調減少パターン、所定値を中心としてプラス方向・マイナス方向にレベルを順次変えるパターン、検出した温度に対応してレベルを変化させるパターン、記録位置応じてレベルを変化させるパターン、また、前の記録からの経過時間に対応して予め用意してある、あるいは状況に応じて変化する複数のパターンより選択するか、あるいは装置の状況に応じて複数のパターンを選択切換することも可能である。
【００５０】
次に、記録したトラックのＡ２アドレスへ光ピックアップ２４が再度キックし（ステップＳＩｃ）、このトラックのテスト信号を再生してアシンメトリを測定する（ステップＳＩｄ）。測定は、タイミング生成回路７４によって得られた信号Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３によって、アシンメトリ検出回路７０によってＢ０セクターにて１１Ｔ信号のピークＰＤＰ１、ボトムＰＤＢ１と、Ｂ１セクターにて３Ｔ信号のセンターＰＤＣ１をＬＰＦで平滑した後サンプルホールド及びＡ／Ｄ変換し、システムコントローラ１２に転送し記憶する。
【００５１】
図２３はアシンメトリ検出回路７０の一例を示す図である。図１０に示したＲＦアンプ５０より出力される光ピックアップ２４にて再生されたＲＦ信号はピークホールド回路６０１、ボトムホールド回路６０２、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）６０３にそれぞれ入力される。ピークホールド回路６０１、ボトムホールド回路６０２、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）６０３には図１０に示したタイミング生成回路７４よりタイミング信号が供給される。
【００５２】
タイミング信号はタイミング生成回路７４によりアシンメトリ検出回路７０に供給される。タイミング生成回路７４には、ウオーブル検出回路７２およびＰＬＬ回路７１より出力されたウォブル信号およびアドレス検出回路７３より出力されるランドプリピット（ＬＰＰ）信号が供給される。例えば、ディスクより再生された図２４に示すウォブル信号（例えば、１４０ｋＨｚ）は記録クロック信号（２７ＭＨｚ）に逓倍された信号としてタイミング発生回路７３に供給され、ディスクより再生された図２４に示すＬＰＰ信号もタイミング生成回路７４に供給される。ＬＰＰ信号に同期して１シンクフレームの信号が記録されているので、従って、タイミング生成回路７４はＬＰＰ信号の位置を基準として記録クロック信号に基づいてカウントすることによりＢ０、Ｂ１……セクタの記録開始位置（図１７に示すＴ０、Ｔ１、……）に対応したタイミング信号を発生することができる。
【００５３】
アシンメトリ検出回路７０は上述したタイミング信号を参照してＴ０時間的位置でピークホールド回路６０１、ボトムホールド回路６０２をリセットする。次にＴ０からＴ１の期間にＢ０セクタより再生された１１Ｔの信号のピークレベルをホールドしているピークホールド回路６０１および１１Ｔの信号のボトムレベルをホールドしているボトムホールド回路６０２からのピークレベルの信号及びボトムレベルの信号の読出しをＴ２の時間的位置で順次行い、Ａ／Ｄ変換器６０４にてデジタル信号に変換したピークレベル信号とボトムレベル信号とをシステムコントローラ１２に出力する。次にＴ１からＴ２の期間にＢ１セクタより再生された３Ｔ信号はＬＰＦ６０３に供給され平滑された信号（センター値）が出力されるので、Ｔ２の時間的位置でピークレベル信号及びボトムレベル信号が読み出された後、もしくは、読み出される前にＡ／Ｄ変換器６０４に供給されてデジタル信号に変換された３Ｔの平滑信号（センター値）もシステムコントローラ１２に出力される。続いて供給される上述した異なるレーザパワーで記録された８組の信号も同様にしてシステムコントローラ１２に供給される。
【００５４】
つまり、この処理を繰り返し８種類のレーザーパワー値の中から上述した１１Ｔのピーク値とボトム値に対して３Ｔ信号のセンター値がほぼセンターになる時のレーザーパワー値を選択し、その値を最適値として次に記録するときの記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、及び又はＴａ、Ｔｂ、Ｔｃ、Ｔｄのレーザパワー値及び又はパルス幅として変更する（ステップＳＩｆ）。システムコントローラ１２はアシンメトリ検出回路７０より出力されたピークレベル、ボトムレベル、センター値より測定値が所定範囲内かどうかを判断し（ステップＳＩｅ）、所定範囲外であるとき（Ｎ）は設定されている波形補正パラメータを判断したものに変更し、所定範囲内の時（Ｙ）は波形補正パラメータの変更をおこなわない。この後テスト信号測定が終了した場合（ステップＳＩｇでＹの場合）は図１３（ａ）に示すステップＳＪに移行し、テスト信号の測定が終了していない場合（Ｎ）はステップＳＩｄへ戻る。また、装置のノイズ、光ディスク２２の感度ムラ、トラッキングサーボの状態等により再生信号が変動することにより１セクターの再生信号が変動する可能性もあるので、ピークホールドやボトムホールドは１点だけでなく測定期間中の複数の点をサンプリングしてその結果を平均化するように構成することにより上述した変動による誤差を吸収してより正確な測定値を得ることも可能である。
【００５５】
ここで、例えば、測定対象をアシンメトリ値に置換えてジッタを測定しても良い。ジッタの場合は記録するデータのパターンは通常のランダム信号、又は前後に記録するデータで良く、測定も同様に２つのセクターごとに上述したレーザーパワー値を変更しながら記録し、再生時にこの２セクター単位でのジッタを同様なタイミングで測定し、測定したジッタが最小になる値の相当する上述したレーザーパワー値を最適値として次に記録するときのパワー値として変更する。より詳細には、レーザパワー値として、波形補正パラメータ，すなわち波形補正回路６０のＴａ〜Ｔｄを変更する。波形補正パラメータである波形補正回路６０のＴａ〜Ｔｄの変更は、ディスク２２の特性の傾向に対応してテーブルに予めまとめられている補正係数を用いて行っても良い。
【００５６】
また、記録テストモードの処理は、例えば、特開平７−１５３１０６号公報に記載されているように、所定のアドレス（例えば、上述したアドレスＡ２の領域）に記録と消去のように少なくとも２つのレーザーパワーのレーザビームを出力し、（例えば、ＲＷ等の相変化系ディスクの場合、再生、消去、記録の３つのパワー、Ｒ等の有機色素系ディスクの場合、再生、記録の２つのパワーの出力でも良い。）１つのＥＣＣブロックの第１セクターである所定のセクター（例えば、上述したＢ０セクター）に８−１６変調に基づいた信号に対応したレーザビームを照射する。再生パワーの場合は、光ディスク上の領域に再生パワーを照射し、消去パワーの場合は信号を消去、記録の場合は所定の記録信号を記録し、それぞれのレーザパワーに関して、レーザビームの出射光を検出（モニタ）するモニターダイオードの帰還信号をＡ／Ｄ変換して、このＡ／Ｄ変換された信号を、例えば、システムコントローラ１２等で測定値として評価し、この測定値と最適値との差が減少して、目標の値に近づくように、例えば、レーザーパワーの強度を制御する。この方法では、ディスクの感度差等は検出出来ないがレーザーの温度特性や経時変化によるレーザパワーの変動を検出して補正することにより変動分を吸収することができる。従って、前記のようなディスクの感度差等およびレーザーの温度特性や経時変化を吸収できるジッタやアシンメトリー測定による制御と、本方法を組み合わせて制御してもかまわない。
【００５７】
記録中のレーザビームをモニタすることに関しては、例えば、図２５に示すように記録テストモード（ステップＳＩ）へ移行すると、前記一時記憶メモリ２８に次のデータを記録している間（書込期間）に、例えば、先程記録を中止したディスクのアドレスをＡ１に続くアドレスＡ２（図１７）を確認（ステップＳＩＡ）し、アドレスＡ２の領域に、例えば上述したようなテストパターン信号を記録し、この記録の際に出射されたレーザ光を光ピックアップ２４にてモニタし、モニターされた信号をＡ／Ｄ変換等の所定の処理を施した後システムコントローラにて測定値として検出する（ステップＳＩＢ）。システムコントローラ１２は測定値を評価し、評価結果が所定範囲内の場合（ステップＳＩＣでＹの場合）は、ステップＳＪへ進み、評価結果が所定範囲外の場合（ステップＳＩＣでＮの場合）は、システムコントローラ１２が、例えば、波形補正回路６０に制御信号を供給し、この制御信号に基づいて波形補正回路６０およびレーザ駆動回路５８は、光ピックアップ２４のレーザ光のレーザビームの強度が最適となるように、例えば、上述したように波形補正パラメータを変更することにより光ピックアップ２４を駆動する（ステップＳＩＤ）。
【００５８】
以上の記録テストモードの動作は、一時記憶メモリ２８に信号が蓄積されてフルレベルになるまでの時間の範囲内で行われる。すなわち、フルレベルになった時点における波形補正パラメータの値で、波形補正回路６０が設定される。記録テストモード終了時には、その記録テストモードを解除するとともに、開始時に記憶した次のデータの記録アドレスＡ２に光ピックアップ２４がキックバックする（ステップＳＪ）。そして、一時記憶メモリ２８の記憶量がフルレベルになった時点で、その次に記録すべき記録アドレスＡ２に次のデータが記録される（ステップＳＣ，ＳＤ）。なお、この記録の接続部分は０ｋ（ゼロキロ）バイトリンキングと呼ぶ方法を用いる。０ｋバイトリンキングに関しては本出願人の特願平１０−３１０８９３号（特開２０００−１３７９５２号公報）、特願平１０−３１０９１７号（特開２０００−１３７９４８号公報）等に詳述されている。この方法により再生時に、前回記録した信号と、新たに記録した信号とが１つのＥＣＣブロックの境界部分を接続部として連続して記録でき、再生時にＥＣＣの訂正能力の範囲でのエラーは発生するが、訂正不能エラーは発生せず連続して再生することができる。また、テスト記録したデータは次に記録するデータによりすぐに上書き記録され、また、テスト記録データは８−１６変調の記録信号と同一の記録方法で記録されるので、上書きした際に消し残りが発生する等も無く、データ領域を効率的に使用できる。
【００５９】
以上のように、本発明の実施例によれば、一時記憶メモリ２８に対するデータ（情報信号）の書込期間におけるピックアップの空時間を利用して、次に記録すべき領域に、テストパターン信号の記録及び再生を行うとともに、その再生信号のアシンメトリーやジッタが測定される。そして、このアシンメトリーやジッタが最適値になるように、記録パワーや記録パルス波形等のレーザビームの強度に関する補正パラメータが設定される。このため、実際に次に記録すべき領域の最適値を測定することから光ディスクの内外周等の差により記録感度が異なる等の問題で最適値が異なる場合にも常に最適値を見つけることが出来るし、テスト記録用の領域にシークする必要もないし、格別な波形補正パラメータ設定のための時間を必要とせず、ユーザに違和感を与えることなく、データ記録を行うことができる。また、このテストパターン信号を記録した領域は次の記録時に上書きされてしまうために、テストパターン信号の記録用に特別な領域を確保する必要も無く最適な強度のレーザビームでの記録が実現可能である。
【００６０】
また、この方法では、記録中の光ピックアップの空き時間中に、常にテスト記録を行っても良い。その場合、例えば、４秒に一回程度のテスト記録再生が可能である。また、前記したように、テスト記録が必要であるか無いかの判定方法いかんによって、車載やポータブル等の機器において、温度が急激に変化する間にも記録が必要な場合や、より高密度な記録媒体等で、例えば、内周と外周で最適な記録線速度条件が異なる光ディスクや、レーザーの温度特性や経時変化による出力の変動、光ディスクの内外周でばらつきで記録条件が微妙に異なる場合に、その記録すべき領域での最適値を更新する必要がある装置に効果がある方法である。さらに、機器によってはテスト記録の必要・不要を判定せず、常にテスト記録を行っても良い。
【００６１】
なお、本発明は、何ら上述した実施例に限定されるものではなく、例えば、次のものも含まれる。
（１）上記実施例での温度の補正は、図５に示した記録特性に影響の大きい温度特性を予め前記温度センサにて測定しておく。そして、この測定値によって、前記Ｔａ〜Ｔｄの補正係数を修正するようにする。例えば、測定した温度が１０度の場合、ディスク２２は暖まりにくいから、Ｔｃに対してＴｄを多くする方向に変更する。温度が４０度と高い場合には、Ｔｄに対してＴｃを長くする方向に変更する。
【００６２】
（２）上述した実施例では、テストパターン信号の再生信号のアシンメトリーやジッタ値を測定しているが、これはアシンメトリーやジッタ値が再生信号の品質に関係するためである。例えば、ＲＦ信号，特にその３Ｔ信号などの高い周波数成分を抽出し、この振幅が最大になるように制御してもよい。
【００６３】
（３）上述した実施例のような相変化光ディスクでは、記録回数に限度があり、回数の増加に従ってジッタが悪化していくことが知られている。従って、好ましい実施形態では、トラックにリンクして記録回数を計数する手段を持ち、この記録回数を更新する。そして、この記録回数の増加に伴って、例えばテスト記録を終了するときの限度のジッタ値を上げて行く。また、記録回数の増加に従って、良好に記録が行われないように変化していくことから、Ｔａ〜Ｔｄの時間を段階的に変えて行くことが望ましい。
【００６４】
（４）上記実施例では、波形補正手段として最高転送レートである線速度が６ｍ／ｓのときは、記録信号の生成回路を簡略化するため、図３（Ｃ）の信号波形を用いている。しかし、線速度６ｍ／ｓでも、異なる種類の複数の補正手段を用いてよい。
【００６５】
（５）上記実施例では、波形補正手段として、線速度の遅い領域では記録パルスを複数の短パルスからなるパルス列に波形補正したのち信号を記録し、線速度の速い領域では記録パルスを短く波形補正したのち信号を記録する。しかしながら、最適な波形補正は、光ディスクの構造や種類によっても異なる場合があり、前記形態で示した波形が常に最適補正であるとは限らない。例えば、場合によっては、線速度にかかわらず記録パルスを複数の短パルスからなるパルス列に波形補正する方法を採用し、線速度の速い領域と遅い領域で変換された短パルス列のパルスの振幅を変える，例えば線速度の速い領域で先端部分の振幅を大きくするというような方法によって、光ディスクの全領域で位相マージンを大きくすることも可能であり、このような補正方法も本発明に含まれる。
【００６６】
（６）線速度にかかわらず、記録パルスを複数の短パルスからなるパルス列に波形補正する方法を採用し、線速度の速い領域と遅い領域で変換された短パルス列のパルスの幅を変えてもよい。例えば線速度の遅い領域では記録波形を図８（Ａ）の記録波形ＷＥとし、線速度の速い領域では記録波形ＷＥの短パルス列のパルス幅を広げて図８（Ｂ）の記録波形ＷＦのようにする。信号記録時の蓄熱効果は線速度が速くなると小さくなるため、短パルス列のパルス福を広げても涙状歪は大きくならない。短パルス列のパルス幅を広げると記録膜に供給されるエネルギが増えるため、結果としてパルス幅が狭い場合より記録パワーを低減することができる。
【００６７】
なお、図８に示す記録波形ＷＥ，ＷＦにおいても、図７の記録波形ＷＣ，ＷＤのように、記録パルス列の前後もしくはその一方でレーザパワーを消去レベルより低くしたり、あるいは記録パルス列に対応する期間、記録パワーと再生パワーレベルあるいはレーザのオフレベルとの間で変調してもよいことは言うまでもない。
【００６８】
（７）前記形態は、１層ディスクに本発明を適用した場合であるが、パーシャルＲＯＭやハイブリッドと呼ばれるような内周がＲＯＭ領域，外周が相変化のＲＡＭ領域を持つようなディスクにも、同様に適用可能である。例えば、現在のＤＶＤの規格では再生専用のみの２層ディスクであるが、図２に示すように１層は相変化の記録膜で構成されている，あるいは全体が２層で２層とも相変化の記録膜で構成されている，１層は再生専用の構成となっているなど、いずれでもよい。また、２層以上の層を持つディスクに対しても同様に本発明は適用可能である。装置構成としては、多層ディスクを認識する手段、少なくとも１層が記録可能層であることを認識する手段、各層の信号面にフオ一カスするためのフォーカスジャンプ手段を持ち、波形補正手段は、複数の記録層の波形補正値をテストして記憶しておけばよい。
【００６９】
（８）圧縮伸長ブロックを持たない光ディスク装置、例えばＤＶＤ−ＲＡＭやＤＶＤ−ＲＷなどのコンピュータ周辺機器などにおいても、本発明は同様に適用可能である。これらの機器は、圧縮伸長データの記録再生を行うが、装置として圧縮伸長回路を持たない。例えば、圧縮データは、伸長しない状態で外部のコンピュータへ、例えばＡＴＡＰＩやＩＥＥＥ１３９４などのバスを介して出力され、コンピュータ上のソフトウェアで伸長される。このような外部からの制御入力によりコントロールされる機器で、記録の最適化を行うためには、ディスクに対してピックアップが記録，再生，又はシーク中などビジー状態か、又は、アンセレクト状態かを監視し、アンセレクト状態になった時点で前記波形補正最適化処理を行う。
【００７０】
（９）このために、まず、ディスクを起動した状態で、ディスク挿入か電源投入のいずれかによってディスクの種類，すなわち単層か多層か，記録層があるかどうかを判断する。そして、記録層があり、かつ、記録最適化が必要かどうかを判断する。記録最適化の要否は例えばフラグによって表される。例えば、電源投入時やディスク挿入時には論理値の「０」となっており、記録最適化要の状態である。そして、一度最適化が終了すれば、フラグは「１」となる。ただし、所定時間が経過した場合、あるいは、前回最適化したときの温度に対して所定の温度変化があった場合には、フラグは「０」となる。このフラグをみて、記録層がある場合は前記アンセレクト状態を監視し、その時点で波形最適化を行う。構成としては、各層の信号面にフォーカスするためのフォーカスジャンプ手段を持ち、波形補正手段は、複数の記録層の波形補正値をテストして記憶しておけばよい。
【００７１】
（１０）着脱可能なディスクでは、ある装置で記録したものを別の装置で安定に再生することが必要である。しかし、記録密度の向上に伴って、そのような安定再生も難しくなってきている。前記形態は、自装置内で最適な記録を行う場合であるが、他装置での互換性を向上するための手法について以下説明する。このような場合は、前記波形補正値をディスクに記録することにより、ディスクを起動する際に、その補正値を参照すれば、再度テスト記録をする必要がなく、この補正値を参照して最適な記録を簡単に行うことができる。
【００７２】
具体例を示すと、ＤＶＤの場合、ディスクの最内周にはリードイン領域が半径２４ｍｍ未満にある。２４ｍｍ以降はデータ領域である。リードイン領域には、従来、ディスクの種類（再生専用、ライトワンス、記録再生型）、層（単層ディスク、２層ディスク、パラレル、オポジット）、反射率（単層０．７，２層０．３）、デ一夕の開始アドレス、終了アドレスなどの物理情報が記載されている。
【００７３】
本発明の実施例では、これらに加えて、記録再生型については、パラメータとして、〔ア〕最適記録レーザパワー（パワーは、図３（Ｂ）に示すような記録波形のＰｗ，Ｐｅなどのレーザパワーに相当する振幅値を示す）、〔イ〕最適記録波形補正値（補正値は、基本的に図３（Ｂ）の時間的なプロフィールであるＴａ〜Ｔｄの時間的関係を示す。実際には、これらの４つの値を記録してもよいし、これらの値の複数種類のセットをテーブル化したような記号でもよい）、〔ウ〕線速度、記録時温度（前記〔ア〕，〔イ〕の条件として省略されてもよい）、〔エ〕記録装置（市場で記録される場合に記録装置を特定するもの）、〔オ〕メーカー名（製造時に記録される場合にはディスクのメーカのみ。市場で記録される場合にはディスクメー力と前記〔ア〕，〔イ〕のデータに対応して装置メーカが記録される）、〔カ〕品番の製造ロットＮｏ（製造時に記録される場合にはディスクのＮｏのみ。市場でも記録される場合にはディスクメーカと前記〔ア〕，〔イ〕のデータに対応した装置Ｎｏが記録される）などが記載される。
【００７４】
（１１）光ディスク装置で記録が行われる場合は、それら記録データが他社に読まれないように暗号化されていてもよく、また、２層等の複数層の場合は、これらのデータが特定の１つの層にまとめて記録されていてもよい。
【００７５】
このようなディスクの記録再生装置としては、上述した形態と全く同一のものでよいが、テスト記録領域として、リードイン領域に用意されているテスト記録領域にテスト記録を行うようにする。なお、この領域以外にも、記録したデータが通常のデータの記録再生によって破壊されないような領域であれば、いずれの領域でもよい。記録再生装置は、最初の立ち上げの際に、このリードイン領域のテスト記録領域などを再生するとともに、波形補正値を再生する。そして、波形補正値がなければ、上記記録テストを行って波形補正パラメータの最適値を測定し、この測定最適値をエンコードして記録領域に書き込む。これにより、次回以降はこの最適値を再生することで記録補正を行うようにすれば、再度補正作業を行う必要がない。このとき、メー力名や製造ロットＮｏなどを確認し、例えば、製造ロットにより補正値の読み方が変わるなどの対応を行う。
【００７６】
ディスクに予め補正値が記録してある場合も同様であり、最初の立ち上げの際に、リードイン領域に用意されているテスト記録領域を再生し、波形補正値を再生する。そして、この補正値をデコーダにより再生し、ディスクメーカ名や製造ロットＮｏなどを参照し、波形補正値を記録用のレジスタに記憶しておく。以降の記録時には、この波形補正最適値によりデータを書き込む。
【００７７】
（１２）より詳細には、測定時の温度を前記温度センサにて測定しておき、この温度の値を補正値と同時に記録しておく。線速度などの条件も、同時に記録しておく。そして、再生時にこれらの条件を同時に再生し、新たに記録を行う場合に、その時点での温度や線速度などのパラメータを比較し、その結果両者に差があれば、この差とこれを補正する計算式又はテーブルから補正値を修正する。そして、この修正後の値を最適な値として記録を行う。
【００７８】
（１３）２層ディスクなどの場合、前記記録領域が第１層にあり、２層目のデータも１層目に集中して書き込んであれば、再生時の処理が簡略化される。この場合、単層の場合と同様に２層分のデータを再生し、各層毎に設定を行うが、データがなく補正値を記録をする場合は、まず第１層で上記記録テストを行い、最適値を測定する。そして次に第２層にフォーカスジャンプして上記記録テストを行い最適値を測定する。その後、それら２つのデータをエンコードし、第１層の記録領域に移動してこの記録領域に最適値を書き込む。これにより、次回以降は、この最適値を再生して記録補正を行えば、再度補正作業を行う必要がない。
【００７９】
上述したように、ここではテスト記録信号として、３つの種類の信号を記録し評価することを説明している。つまり、
評価法Ａ、図１７に示した１１Ｔと３Ｔとを記録しアシンメトリを測定する。
評価法Ｂ、ランダム信号を記録しジッタを測定する。
評価法Ｃ、再生、消去、記録等の信号を記録しレーザの帰還信号を測定する。
以上の３種類である。
高密度ディスクでは光ディスクの種類によって、この３つの方法の中で、最適値が見つけやすい方法が異なるため、例えば、図１３（ａ）の記録処理（ステップＳＡ）に処理が移る前に、図２６（ａ）（ｂ）に示したフローチャートに従って上述の（Ａ）〜（Ｃ）に示した最適化方法を選択する。
【００８０】
つまり、第１の方法では、図２６（ａ）に示すように起動時にディスクの反射率の違い等の情報から光ディスクの種類を判別する（ステップＳＫａ）。この判別結果により例えば、ＤＶＤ−ＲＷディスクと判断した場合は、例えば、評価法Ｂと評価法Ｃとを選択し、ＤＶＤ−Ｒと判断した場合には、例えば、評価法Ａと評価法Ｃとを選択する（ステップＳＫｂ）。
評価法Ａと評価法Ｃ、評価法Ｂと評価法Ｃの使い分けは、上述したように、例えば、数種類の位置、時間等の検出手段によって、前の記録のディスク上の位置からの移動距離が予め定められた距離より短距離の場合、あるいは、前の記録からの経過時間が予め定められた時間より短時間の場合は評価法Ｃを用い、前の記録のディスク上の位置からの移動距離が予め定められた距離より長距離、前の記録からの経過時間が予め定められた時間より長時間の場合は評価法Ａまたは評価法Ｂというように予めその処理手順を設定しておくことか可能である。また、評価法Ａまたは評価法Ｂのみで行うよう設定することも可能である。なお、上述した例は、本発明の一例であり、本発明はこれに限定されない。
【００８１】
第２の方法では、図２６（ｂ）に示すようにディスクの所定の領域を再生し（ステップＳＫＡ）、この所定の領域にはディスクのメーカー名、品番、ロット番号等の固有の情報が記録されており、この固有情報を読み出す（ステップＳＫＢ）。記録装置においては、ディスクの固有の情報とこれに対応する最適化の方法との関連づけに関する情報を予めシステムコントローラ１２に記録しておき、この比較結果から上記と同様な考え方で、最適な方法を決定して、この決定に基づいて上述したように記録時に最適化を行う（ステップＳＫＣ）。
【００８２】
図１０に示したテストパターン発生回路６４には、ランダムシフトを可能とする機能が含まれている。これは、図１７に示したアドレスＡ２の１ＥＣＣブロックに記録するテスト信号の記録データを６バイト程度分記録クロックの単位で、時間軸方向にシフトするように構成されている。このシフト量は、システムコントローラ１２から設定可能で、例えば、システムコントローラ１２は、記録していない領域に最初にテスト記録する場合は、この量を０とし、一度テスト信号を記録した領域にテスト記録する場合はシステムコントローラ１２にてランダム信号を発生させ、ランダム値とし、その値分シフトして記録する。そして、このシフトした信号を読み出して、シフト量に応じた分読み出しのタイミングをずらしてアシンメトリを測定する。また、異なる実施例では、図１０に示したテストパターン発生回路６４には、３Ｔと１１Ｔの生成部を反転する機能を持っており、記録していない領域に最初にテスト記録する場合は、図１７に示したデータ配列で記録し、２度目にテスト信号を記録する場合は、Ｂ０セクターに３Ｔ信号、Ｂ１セクターに１１Ｔ信号というように、データの配列を反転させる。以降偶数番目と奇数番目でこれを反転することにより、記録時に前回のデータと一致してしまうためにジッタを悪化させるようなことが無く、同様な効果が得られる。また、評価方法Ｃの場合にも同様に、例えば最初に消去、記録信号を記録し、次には消去、記録信号を記録し、これを繰り返すことにより信号の品質悪化を防止する事が出来る。
【００８３】
なお、上述した方法に関する説明は、次に記録すべき記録領域でテスト記録を行うことを説明しているが、この場合のみでなく、最適パワーを決定するための専用のテスト記録領域を持つディスクにて、この専用領域でテスト記録する場合にも有効であり、特に、テスト記録信号として、毎回同じ信号を記録する場合に、信号の品質が劣化する確立が高いのでこの専用領域でのテスト記録に有効である。
【００８４】
専用のテスト記録領域での最適パワーの検出方法は、上述した記録すべき領域でのテスト記録と評価方法と変わらないので、その説明は省略するが、例えば、２つの方法を組み合わせて、ディスクを挿入された時点では、専用のテスト記録領域に移動しての最適パワーの検出を行い、以降の記録においては、記録すべき領域でのテスト記録による最適パワーの検出を行うというように構成することも可能である。
【００８５】
また、本実施例では３種類の記録信号と評価を別々に行う説明を行ったが、例えば、記録信号としては、３種類を同時に記録し、評価時にこの中の１つまたは２つの信号を評価するという方法でも良い。また、例えば記録信号としては、２種類を同時に記録し、評価時にこの中の１つまたは２つの信号を評価するという方法でも良い。つまり、評価の組み合わせは、最も適した組合せに適宜変更することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本発明の基本的な作用を示す記録波形図である。
【図２】光ディスクの一例を示す主要断面図である。
【図３】本発明の一形態における記録波形を示す図である。
【図４】各種記録波形における線速度と位相マージンの関係を示す図である。
【図５】線速度と位相マージンの関係の温度変動を示す図である。
【図６】各種記録波形における線速度と記録パワーの関係を示す図である。
【図７】本発明における他の記録波形を示す図である。
【図８】本発明における他の記録波形を示す図である。
【図９】本形態にかかる光ディスク装置の主要部を示すブロック図である。
【図１０】図９のプリアンプの構成例を示すブロック図である。
【図１１】ＤＶＤにおけるディスク形態を示す図である。
【図１２】一時記憶メモリのデータ書き込み時における記憶量の変化を示す図である。
【図１３】本発明の実施例の動作を示すフローチャートである。
【図１４】一時記憶メモリのデータ読み出し時における記憶量の変化を示す図である。
【図１５】記録マークの涙滴化の様子を示す図である。
【図１６】従来技術による記録マークの補正の様子を示す図である。
【図１７】本発明の実施例の動作を説明するための図である。
【図１８】本発明の実施例の波形補正最適化処理の第１の例を説明するための図である。
【図１９】本発明の実施例の波形補正最適化処理の第２の例を説明するための図である。
【図２０】本発明の実施例の波形補正最適化処理の第３の例を説明するための図である。
【図２１】本発明の実施例の波形補正最適化処理の第４の例を説明するための図である。
【図２２】本発明の実施例の波形補正最適化処理の第５の例を説明するための図である。
【図２３】アシンメトリ検出回路の一例を示す図である。
【図２４】タイミング生成回路の動作を説明するための図である。
【図２５】本発明の他の実施例の動作を示すフローチャートである。
【図２６】本発明の最適化方法を選択するための動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８７】
１０…キー入力部
１２…システムコントローラ
１４…信号処理部
１６…サーボプロセッサ
１８…ドライバ
２０…スピンドルモータ
２２…ディスク
２４…ピックアップ
２６…プリアンプ
２８…一時記憶メモリ
３０…デコーダ
４９…サーボエラー信号生成回路
５０…アンプ
５２…イコライザ
５４…ＰＬＬ回路
５６…ジッタ生成回路
５８…レーザ駆動回路
６０…波形補正回路
６２…切換回路
６４…テストパターン発生回路
６６…温度検出回路
７０…アシンメトリ検出回路
７１…ＰＬＬ回路
７２…ウォブル検出回路
７３…アドレス検出回路
７４…タイミング生成回路
６０１…ピークホールド回路
６０２…ボトムホールド回路
６０３…ＬＰＦ
６０４…Ａ／Ｄ変換器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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