(57)【要約】【課題】プローブブロックの交換作業や微調整作業を容易かつ安全に行うことができること。【解決手段】検査対象物７を電気的に接続するプローブブロック３とプローブブロック３が着脱自在に取り付けられる検査ブロック２とを有した検査ユニット１であって、検査ブロック２は、プローブブロック３との接続面の反対側から挿入されてプローブブロック３を固定する取付ネジ１２を有し、プローブブロック３は、取付ネジ１２の対応部分であって接続面側に取付ネジ１２が螺合する雌ネジあるいは埋込ナットが形成される。また、プローブブロック３に落下防止ネジ１０を設け、取り外しネジ１１を回転させて落下防止ネジ１０を押し出し、プローブブロック３と検査ブロック２とを確実に離す。【選択図】        図１−１
2005300409.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象物を電気的に接続するプローブブロックと該プローブブロックが着脱自在に取り付けられる検査ブロックとを有した検査ユニットであって、
前記検査ブロックは、前記プローブブロックとの接続面の反対側から挿入されて前記プローブブロックを固定する取付ネジを有し、
前記プローブブロックは、前記取付ネジの対応部分であって前記接続面側に該取付ネジが螺合する雌ネジが形成されていることを特徴とする検査ユニット。
【請求項２】
前記プローブブロックは、前記接続面側に軸状に突起し、その頭部が広がった落下防止部を有し、
前記検査ブロックは、前記落下防止部をガイドするガイド溝を有し、
前記ガイド溝の幅は、前記軸の幅を超え、前記頭部の幅未満であることを特徴とする請求項１に記載の検査ユニット。
【請求項３】
前記検査ブロックは、前記落下防止部の頭部を押圧し、前記プローブブロックを押し出して取り外す取り外しネジを備えたことを特徴とする請求項２に記載の検査ユニット。
【請求項４】
前記検査ブロックは、前記プローブブロックとの取付位置を決定する位置決めピンを有し、
前記取り外しネジは、前記位置決めピンの前記プローブブロック側への嵌入長さを超えて前記落下防止部を押し出すことを特徴とする請求項３に記載の検査ユニット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＬＣＤパネルなどの検査対象物を電気的に接続するプローブブロックと該プローブブロックが着脱自在に取り付けられる検査装置本体側に固定される検査ブロックとを有した検査ユニットに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、ＬＣＤパネルなどの検査対象物を検査する場合、ＬＣＤパネルの接続端子に導電性接触子（プローブ）を介して電気的に接触させ、さらに各プローブの他端に電気的に接続するコンタクトブロックを介してフラットケーブルなどに接続し、このフラットケーブルに接続された検査装置から各種のテスト信号などを与えてＬＣＤパネルの検査を行っていた。
【０００３】
このプローブは、プローブブロックに設けられ、このプローブブロックは、検査対象物の接続端子の配置状態に適合するようにプローブが配置され、検査対象物の種別変更あるいはプローブブロックの破損に伴って取り替えられる。
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−１４１７４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、図７に示すように、プローブブロック１０２は、検査ブロックを介してフレーム１０１に取り付けられ、このフレーム１０１が検査装置１０３の筐体あるいは蓋の一部に嵌め込まれて固定される。そして、プローブブロック１０２は、検査装置１０３の内側に設けられ、検査装置１０３の内部に設けられた装置ステージ１０４上に検査対象物１０５が配置され、この装置ステージ１０４を上下動させることによって検査対象物１０５の接触端子とプローブブロック１０２のプローブとが電気的に接触して検査が実行される。
【０００６】
しかしながら、検査対象物１０５の種別変更あるいはプローブブロック１０２の破損に伴うプローブブロック１０２の交換作業やプローブブロック１０２の位置微調整を行う場合、プローブブロック１０２が、フレーム１０１側に向かって取り付ける取付ネジによって固定されており、しかもプローブブロック１０２が検査装置１０３の内部側に設けられているため、図８に示すように、検査装置１０３の検査動作を止め、検査装置１０３の内部に入り込んで作業を行う必要があった。また、図９に示すように、検査装置１０３が、蓋１０３ａを有し、この蓋１０３ａにプローブブロックが取り付けられる場合、検査装置１０３の検査動作を止め、この蓋１０３ａを開ける必要があった。
【０００７】
しかも、検査装置１０３の操作者は、上述したプローブブロック１０２の取付け、取外しの作業性の悪さに加え、作業時に腰を曲げるなど、崩れた体勢を余儀なくされ、作業の安全性が確保できないという問題点があった。
【０００８】
この発明は、上記に鑑みてなされたものであって、プローブブロックの交換作業や微調整作業を容易かつ安全に行うことができる検査ユニットを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項１にかかる検査ユニットは、検査対象物を電気的に接続するプローブブロックと該プローブブロックが着脱自在に取り付けられる検査ブロックとを有した検査ユニットであって、前記検査ブロックは、前記プローブブロックとの接続面の反対側から挿入されて前記プローブブロックを固定する取付ネジを有し、前記プローブブロックは、前記取付ネジの対応部分であって前記接続面側に該取付ネジが螺合する雌ネジが形成されていることを特徴とする。この雌ネジは、埋込ナットによって実現してもよい。
【００１０】
また、請求項２にかかる検査ユニットは、上記の発明において、前記プローブブロックは、前記接続面側に軸状に突起し、その頭部が広がった落下防止部を有し、前記検査ブロックは、前記落下防止部をガイドするガイド溝を有し、前記ガイド溝の幅は、前記軸の幅を超え、前記頭部の幅未満であることを特徴とする。
【００１１】
また、請求項３にかかる検査ユニットは、上記の発明において、前記検査ブロックは、前記落下防止部の頭部を押圧し、前記プローブブロックを押し出して取り外す取り外しネジを備えたことを特徴とする。
【００１２】
また、請求項４にかかる検査ユニットは、上記の発明において、前記検査ブロックは、前記プローブブロックとの取付位置を決定する位置決めピンを有し、前記取り外しネジは、前記位置決めピンの前記プローブブロック側への嵌入長さを超えて前記落下防止部を押し出すことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
この発明にかかる検査ユニットは、検査対象物を電気的に接続するプローブブロックと該プローブブロックが着脱自在に取り付けられる検査ブロックとを有した検査ユニットであって、前記検査ブロックは、前記プローブブロックとの接続面の反対側から挿入されて前記プローブブロックを固定する取付ネジを有し、前記プローブブロックは、前記取付ネジの対応部分であって前記接続面側に該取付ネジが螺合する雌ネジが形成されているので、プローブブロックの交換作業や微調整作業を容易かつ安全に行うことができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、この発明を実施するための最良の形態である検査ユニットについて説明する。なお、ここではＬＣＤパネルの検査に用いる検査ユニットについて説明する。
【００１５】
（実施の形態）
図１−１は、この発明の実施の形態である検査ユニットの正面図である。図１−２は、図１に示した検査ユニットのＡ−Ａ線断面図である。図１−１，図１−２において、この検査ユニット１は、略Ｌ型形状をなした検査ブロック２の底部にプローブブロック３が接続される。このプローブブロック３は、ＬＣＤパネルなどの検査対象物７の接続端子に対応する位置に複数のプローブ４が設けられ、このプローブ４の下部接触針は検査対象物７と接触し、上部接触針はコンタクトブロック５の図示しないランドに接触し、フラットケーブル６に接続される。
【００１６】
プローブブロック３は、検査対象物７の接続端子の配置態様に対応して各種のものが設けられ、検査対象物７の種別変更あるいはプローブブロック３の破損に伴って交換される。プローブブロック３と検査ブロック２とは、検査ブロック２側に設けられた位置決めピン１３によって位置決めされ、取付ネジ１２によって固定される。この取付ネジ１２は、プローブブロック３の取付側とは反対側から挿脱され、この取付ネジ１２に対応するプローブブロック３の接触面側には、取付ネジ１３の雌ネジあるいは埋込ナットが形成されている。また、プローブブロック３の接触面側であって位置決めピン１３に対応する位置には、位置決めピン１３が嵌合する穴が設けられている。
【００１７】
検査ブロック２の接触面側には、ガイド溝１４が形成され、このガイド溝１４によってプローブブロック２の接触面側に設けられた落下防止ネジ１０がガイドされる。落下防止ネジ１０は、プローブブロック３に螺着され、接続面にほぼ垂直に形成された柱状の軸１０ａとその軸１０ａの先端がテーパ形状で広がりをもっている頭部１０ｂとを有する。ここで、ガイド溝１４の幅は、頭部１０ｂの直径よりも小さく、軸１０ａの直径よりも大きい。このため、取付ネジ１２を緩めて検査ブロックとプローブブロック３との取付状態を解除した場合、プローブブロック３は、図上下部に移動するが、頭部１０ｂのテーバ部がガイド溝に掛かり、脱落が防止される。
【００１８】
取り外しネジ１１は、落下防止ネジ１０に対応する位置であって、頭部１０ｂの上部に設けられ、落下防止ネジ１０の頭部１０ｂを押圧することができる。プローブブロック３の交換時などに、この取付ネジ１１をまわして落下防止ネジ１０を下部に移動させることができる。これによって、検査ブロック２とプローブブロック３とを確実かつ容易に離すことができる。
【００１９】
ここで、図２−１，図２−２，図３−１，図３−２，および図４を参照してプローブブロック３の取り外しについて説明する。なお、プローブブロック３の取り付けは、取り外しの逆に行えばよい。図２−１，図２−２に示すように、まず、取付ネジ１２を取り外す。この状態でプローブブロック３と検査ブロック２とは、位置決めピン１３によって位置決めされており、直ちにプローブブロック３が下方に移動する場合もあるが移動しない場合もある。
【００２０】
その後、図３−１，図３−２に示すように、取り外しネジ１２を回転させ、その先端で落下防止ネジ１０の頭部１０ｂを押圧し、下方に押し下げる。これによってプローブブロック３は確実に下方に移動し、検査ブロック２とは離れる。ただし、取り外しネジ１２による下方に移動する長さｈ２は、位置決めピン１３が接触面側に突出した長さｈ１よりも大きく設定する。これによって、位置決めピン１３とプローブブロック３とが確実に離れ、プローブブロック３と位置決めピン１３とが接触することなくプローブブロック３の取り外しを確実に行うことができる。
【００２１】
その後、図４に示すように、落下防止ネジ１０をガイド溝１４に沿ってスライドさせることによって、上述したようにプローブブロック３と位置決めピン１３とが接触することなくプローブブロック３を取り外すことができるとともに、頭部１０ｂがガイド溝１４の上部を摺動するため、プローブブロック３の脱落が防止される。
【００２２】
この結果、図５に示すような箱形の検査装置１０３では、プローブブロック３が検査装置１０３の内側に向かって設けられるが、この場合であっても取付ネジ１２は、検査装置１０３の外側から操作できるため、プローブブロック３の取り外し、取り付け、微調整などを容易に行うことができる。さらに、上述したように検査ブロック２のガイド溝１４と落下防止ネジ１０とによってプローブブロック３の脱落を確実に防止することができるとともに、取り外しネジ１１によって、プローブブロック２と位置決めピン１３との接触を防止し、プローブブロック３の取り外し、取り付けを容易に行うことができる。また、このとき、作業者は、検査装置１０３の内部に入り込む必要がないため、作業者の安全性を確保することができる。特に、検査装置１０３が作動状態であってもプローブブロック３の取り付け、取り外し、微調整を行うことが可能となる。
【００２３】
また、図６に示すように蓋１０３ａを有した検査装置１０３であって、蓋１０３ａの内側にプローブブロック３が設けられる場合であっても、図５に示した検査装置１０３と同様な作用効果を得ることができ、特に、蓋１０３ａを開けずに、プローブブロック３の取り外し、取り付け、微調整を行うことができるので、作業性および安全性を向上させることができる。
【００２４】
なお、上述したプローブブロック３は、特願２００３−４３０４００号に記載された導電性接触子ホルダによって形成されるものが好ましく、この導電性接触子ホルダは、被接触体の線膨張係数よりも高い線膨張係数を有する高熱膨張支持枠体と、この高熱膨張支持枠体に対して接触面の法線方向に配置され被接触体の線膨張係数よりも低い線膨張係数を有する低熱膨張支持枠体とが積層して形成される。この導電性接触子ホルダを用いると、樹脂などに比べて強度が高いため、プローブブロック３と検査ブロック２との接触面側に雌ネジや埋込ナットなどを形成しても十分な取付力を保持できるからである。
【００２５】
また、上述した落下防止ネジ１０は軸状とせずに、ガイド溝１４をガイドされるものであれば形状は任意である。さらに、落下防止ネジ１０の頭部１０ｂの直径とガイド溝１４の幅との関係でプローブブロック３の落下が防止されたが、これに限らず、任意の位置で、落下防止ネジ１０が落下せずに止められる機構があればよい。また、取り外しネジ１１は、ネジ機構であるが、これに限らず、取り外しネジ１１が押圧のみを行い、押圧した後は、バネ力でもとの位置に戻るような機構であってもよい。さらに、取り外しネジ１１は、常に検査ブロック２に設けられなくてもよく、プローブブロックの取り外しの時のみに取り付けるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１−１】この発明の実施の形態である検査ユニットの正面図である。
【図１−２】図１−１に示した検査ユニットのＡ−Ａ線断面図である。
【図２−１】図１−１に示した検査ユニットから取付ネジを外した状態を示す正面図である。
【図２−２】図２−１に示した検査ユニットのＢ−Ｂ線断面図である。
【図３−１】図１−１に示した検査ユニットに対して取り外しネジを押圧した状態を示す正面図である。
【図３−２】図３−１に示した検査ユニットのＣ−Ｃ線断面図である。
【図４】図１−１に示した検査ユニットにおいてプローブユニットを取り外した状態を示す断面図である。
【図５】図１−１に示した検査ユニットを箱形の検査装置に用いた場合の作業状態を示す図である。
【図６】図１−１に示した検査ユニットを蓋付き検査装置に用いた場合の作業状態を示す図である。
【図７】従来の検査ユニットが検査装置に設けられる状態を示す図である。
【図８】従来の検査ユニットを用いた箱形の検査装置に対する作業状態を示す図である。
【図９】従来の検査ユニットを用いた蓋付き検査装置に対する作業状態を示す図である。
【符号の説明】
【００２７】
１    検査ユニット
２    検査ブロック
３    プローブブロック
４    プローブ
５    コンタクトブロック
６    フラットケーブル
７    検査対象物
１０    落下防止ネジ
１０ａ  軸
１０ｂ  頭部
１１    取り外しネジ
１２    取付ネジ
１３    位置決めピン
１４    ガイド溝
１０１  フレーム
１０３  検査装置
１０４  装置ステージ
【図１−１】
2005300409.tif 000003
【図１−２】
2005300409.tif 000004
【図２−１】
2005300409.tif 000005
【図２−２】
2005300409.tif 000006
【図３−１】
2005300409.tif 000007
【図３−２】
2005300409.tif 000008
【図４】
2005300409.tif 000009
【図５】
2005300409.tif 000010
【図６】
2005300409.tif 000011
【図７】
2005300409.tif 000012
【図８】
2005300409.tif 000013
【図９】
2005300409.tif 000014