(57)【要約】【課題】信号品質によらず一定の間隔で学習を行なうと、無駄な学習まで行なってしまい、特に高速での記録再生時においては記録再生速度の低下を招く。【解決手段】ディスク１０と、光ピックアップ１１と、レーザ制御回路１２と、再生回路１３と、ジッタ検出回路１４と、システムコントローラ１５を備え、システムコントローラ１５はジッタ検出回路１４の出力するジッタに応じて内部に有するタイマに次回のレーザパワー学習間での時間を設定することにより、不要な学習の実行を防ぐことができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御目標値を探査する学習手段と、
信号品質を判別する品質判別手段と、
前記学習手段に学習の実行を要求する学習要求手段を備え、
前記学習要求手段は、前記品質判別手段が判別する信号品質に応じて前記学習手段に学習の実行を要求する頻度を変えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記学習要求手段は、前記品質判別手段が判別する信号品質が悪いほど高い頻度で前記学習手段に学習の実行を要求することを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記品質判別手段は、ジッタに基づいて信号品質を判別することを特徴とする、請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記品質判別手段は、再生情報のエラー発生確率に基づいて信号品質を判別することを特徴とする、請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御目標値は、レーザパワーの制御目標値であることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記制御目標値は、トラッキング制御の制御目標値であることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記制御目標値は、フォーカス制御の制御目標値であることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記制御目標値は、チルト制御の制御目標値であることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記制御目標値は、球面収差制御の制御目標値であることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高い信頼性を保ちつつ高速に記録再生可能な光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤからＤＶＤ、さらにＢＤへと光ディスクの高密度化が進んでいる。これらの高密度化を支えているのが、信号処理技術や制御技術である。特に可換媒体である光ディスクにおいては、記録再生装置とメディアの組み合わせにより、様々な制御の制御目標値が異なることは珍しくはない。そこで光ディスク装置では、それぞれの組み合わせにおいてフォーカス制御や波形等化の特性など様々な項目に関して最適な制御目標を探索する学習処理が行なわれている（例えば、特許文献１参照）。また、記録再生装置とメディアの組み合わせだけでなく、温度等により特性の変わるデバイスの制御においては、時間経過とともにその制御目標値も変化する。そこで、一定時間毎に学習を実行することにより常に精度の良い制御が行なえる技術が用いられている（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開平１０−０６９６５７号公報（段落番号００２９−００３２、図１）
【特許文献２】特許第３２１９９２０号公報（段落番号００２２−００２８、図３）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
学習を行なう間隔は、常に十分な信頼性を確保するためにも信号品質が悪い状態においてもエラーなく記録再生を続けることができる間隔にする必要があるため、比較的短い間隔となる。
【０００４】
しかしながら、信号品質が良いときにはこのような間隔で学習を行なうことは無駄な学習まで行なっていることになる。特に、高速での記録再生時においては、無駄な学習の実行は記録再生速度の低下を招くという課題を有していた。
【０００５】
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、信号品質に応じて最適な間隔で学習を行なう光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記従来の課題を解決するために、本発明の光ディスク装置は、制御目標値を探査する学習手段と、信号品質を判別する品質判別手段と、学習手段に学習の実行を要求する学習要求手段を有し、学習要求手段は、品質判別手段が判別する信号品質に応じて学習を要求する頻度を変えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明の光ディスク装置によれば、不要な学習の実行を防止し、高速な記録再生や省電力化をすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【０００９】
（実施の形態１）
まず、本発明の光ディスク装置におけるレーザパワー学習の例について図１を用いて説明する。
【００１０】
図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示したブロック図であり、１０はディスク、１１は光ピックアップ、１２はレーザ制御回路、１３は再生回路、１４はジッタ検出回路、１５はシステムコントローラである。
【００１１】
まず、記録手順について説明する。システムコントローラ１５は、記録の制御目標値１０１をレーザ制御回路１２へ出力する。レーザ制御回路１２は、記録の制御目標値１０１に従い光ピックアップ１１へレーザパワー制御信号１０２を出力する。光ピックアップ１１は、レーザパワー制御信号１０２に従ったパワーでレーザをディスク１０へ照射し、ディスク１０に所望のマークを形成する。このようにして、データがディスク１０に記録される。
【００１２】
次に、ジッタ測定手順について説明する。システムコントローラ１５は、再生の制御目標値１０７をレーザ制御回路１２へ出力する。レーザ制御回路１２は、再生の制御目標値１０７に従い光ピックアップ１１へレーザパワー制御信号１０２を出力する。光ピックアップ１１は、レーザパワー制御信号１０２に従ったパワーでレーザをディスク１０へ照射し、ディスク１０からの反射光の明るさをＲＦ信号１０３として再生回路１３へ出力する。再生回路１３は、ＲＦ信号１０３より同期信号１０４を生成する。さらに、同期信号１０４とＲＦ信号１０３より２値化信号１０５を生成し、同期信号１０４と２値化信号１０５をジッタ検出回路１４へ出力する。ジッタ検出回路１４は、同期信号１０４と２値化信号１０５よりジッタ値１０６を求め、システムコントローラ１５へ出力する。このようにして、ディスク１０に記録されたデータのジッタを測定することができる。ジッタ値１０６は、その値が小さいほどディスク１０に記録されたデータの信号品質が良いことを表す。
【００１３】
システムコントローラ１５は、複数の記録の制御目標値１０１について、それぞれ記録手順・ジッタ測定手順の順に実行し、それぞれの記録の制御目標値１０１に対応したジッタ値１０６を求め、その中からジッタ値１０６が最小となる記録の制御目標値１０１を決定する。これが１回のレーザパワー学習である。さらに、システムコントローラ１５は、内部にタイマを有しており、このタイマにより再度レーザパワー学習を行なうまでの時間を管理している。
【００１４】
次に、図２を加えて本実施の形態１における光ディスク装置の光ピックアップ１１内の半導体レーザの特性について説明する。図２は、温度３０℃においてレーザを８ｍＷで照射させるレーザパワー制御信号１０２に対する、光ピックアップ１１内の半導体レーザの温度とレーザパワーの関係を示した特性図である。このように、本実施の形態１における光ディスク装置の光ピックアップ１１内の半導体レーザは、目標のレーザパワーに対して温度が変化すると−０．１ｍＷ／℃の割合で実際に光ピックアップ１１からディスク１０に照射されるレーザパワーが変化する特性を持つものとする。
【００１５】
次に、図３、４、６を加えて本実施の形態１における光ディスク装置の、光ピックアップ１１から照射されるレーザパワーとディスク１０に記録されるデータのジッタの関係について説明する。本実施の形態１における光ディスク装置は、光ピックアップ１１からディスク１０に照射されるレーザパワー８ｍＷにおいて最良の品質でデータが記録されるものとする。
【００１６】
ある時刻Ｐにおいて、システムコントローラ１５によりレーザパワー学習が実行され、光ピックアップ１１から８ｍＷのパワーでレーザが照射され、ジッタ検出回路１４が出力するジッタ値１０６が最小となる記録の制御目標値１０１が得られたとする。このとき、ジッタ値１０６の最小値が１０％であったとすると、光ピックアップ１１から照射されるレーザパワーと、ディスク１０に記録されるデータのジッタ値１０６との関係は図３のようになる。
【００１７】
また、ある時刻Ｑにおいて、システムコントローラ１５によりレーザパワー学習が実行され、光ピックアップ１１から８ｍＷのパワーでレーザが照射され、ジッタ検出回路１４が出力するジッタ値１０６が最小となる記録の制御目標値１０１が得られたとする。このとき、ジッタ値１０６の最小値が１２％であったとすると、光ピックアップ１１から照射されるレーザパワーと、ディスク１０に記録されるデータのジッタ値１０６との関係は図４のようになる。
【００１８】
例えば、温度変化が最大で１分間に１℃とすると、ディスク１０に記録されるデータのジッタ値１０６が１３％を超えるのは、時刻Ｐ（レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６が１０％の場合）より光ピックアップ１１からディスク１０に照射されるレーザパワーが±０．８ｍＷ以上変化したとき、すなわち最短で８分である。時刻Ｑ（レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６が１２％の場合）より光ピックアップ１１からディスク１０に照射されるレーザパワーが±０．５ｍＷ以上変化したとき、すなわち最短で５分である。これらより、本実施の形態１における光ディスク装置がディスク１０に記録するデータのジッタ値１０６が１３％以下であることを保証するためには、レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６が１０％の場合にはレーザパワー学習後８分以内、レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６が１２％の場合にはレーザパワー学習後５分以内に再度レーザパワー学習を行なえばよい。例えば、レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６と、ディスク１０に記録されるデータのジッタ値１０６が１３％を超える最短時間の関係は、図６のような関係にある。
【００１９】
次に、本実施の形態１における光ディスク装置のシステムコントローラ１５が行なうレーザパワー学習の間隔について、図５、７を加えて説明する。
【００２０】
ある時刻Ｒにおいてシステムコントローラ１５がレーザパワー学習を行ない、得られた制御目標値１０１に対応するジッタ値１０６は１１％であったとする。時刻Ｒより４０分の間、レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６は図５（ａ）に示すように、１０〜１２％の間を変化しているとする。
【００２１】
従来の光ディスク装置では、システムコントローラ１５内のタイマに一定の時間が設定されており、一定時間毎にレーザパワー学習を行なう。このとき、この装置の最小ジッタ値の最大値が、１２％に保証設定されていたり、実証の結果１２％であることが判別できたものである場合は、ディスク１０に記録するデータのジッタ値１０６が例えば１３％以下であることを保証するためには、図６よりジッタ値１２％に相当する５分の間隔でレーザパワー学習を行なえばよいことがわかる。５分間隔でレーザパワー学習を行なえば、ディスク１０に記録するデータのジッタ値１０６の上限は図５（ｂ）に示すようになり、４０分の間にレーザパワー学習を８回実行することにより、常に記録するデータのジッタ値１０６が１３％以下であることが保証されるようになる。
【００２２】
これに対し、本実施の形態１における光ディスク装置のシステムコントローラ１５は、その時々のレーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６に従ってタイマの値を設定することが可能となっている。レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６に対応する、ジッタ値１０６が１３％を超える最短時間を図６に従いタイマに設定する。つまり、図５（ａ）の時刻０分ではジッタ値１１％であるため、図６よりジッタ値１１％に相当する７分の後に再び学習実行し、その時刻７分のジッタ値１２％に相当する５分後に再び学習実行する。つまり、タイマが設定された時間経過すると、システムコントローラ１５は再びレーザパワー学習を実行する。このときの、ディスク１０に記録するデータのジッタ値１０６の上限は図５（ｃ）に示すようになり、４０分の間にレーザパワー学習を６回実行することにより、常に記録するデータのジッタ値１０６が１３％以下であることが保証されるようになる。
【００２３】
このように、本実施の形態１の光ディスク装置を用いれば、少ないレーザパワー学習の回数でも所定のジッタ値以下の品質で常にデータを記録することができる。
【００２４】
なお、図６からわかるように、レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６が大きいほど、記録したデータのジッタ値１０６が１３％を超えるまでの最短時間は短くなるので、レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６が大きいほどシステムコントローラ１５のタイマに設定する時間も短くなる。
【００２５】
なお、処理の簡単化のため図７に示すように、レーザパワー学習時の最小ジッタ値１０６を複数の区間に分け、区間ごとにレーザパワー学習までのタイマ設定を決定するようにしてもよい。
【００２６】
（実施の形態２）
次に、本発明の光ディスク装置におけるトラッキングオフセット学習の例について図８を用いて説明する。
【００２７】
図８は、本発明の実施の形態２における光ディスク装置の構成を示したブロック図であり、２０はディスク、２１は光ピックアップ、２２はトラッキング制御回路、２３は再生回路、２４はジッタ検出回路、２５はシステムコントローラである。
【００２８】
まず、ジッタ値１１６の測定方法について説明する。光ピックアップ２１は、トラッキング制御回路２２より入力されるトラッキング制御信号１１３に従い、レーザを所定のパワーでディスク２０に形成されたトラックまたはピット列（以降、これらをまとめてトラックと呼ぶ）へ照射し、その反射光よりＲＦ信号１１１を生成して再生回路２３へ出力し、さらにトラッキングエラー信号１１２を生成してトラッキング制御回路２２へ出力する。システムコントローラ２５は、トラッキングエラー信号１１２の検出ずれ等を補正するトラッキングオフセット信号１１０を出力し、光ピックアップ２１が出力するトラッキングエラー信号１１２にトラッキングオフセット信号１１０を加算する。トラッキング制御回路２２は、光ピックアップ２１より入力されるトラッキングエラー信号１１２に従い、光ピックアップ２１がディスク２０へ照射するレーザのスポットがディスク２０に形成されたトラックを正しく走査するようにレーザスポット位置を制御するトラッキング制御信号１１３を光ピックアップ２１へ出力する。再生回路２３は、ＲＦ信号１１１より同期信号１１４を生成する。さらに、同期信号１１４とＲＦ信号１１１より２値化信号１１５を生成し、同期信号１１４と２値化信号１１５をジッタ検出回路２４へ出力する。ジッタ検出回路２４は、同期信号１１４と２値化信号１１５よりジッタ値１１６を求め、システムコントローラ２５へ出力する。
【００２９】
次に、トラッキングオフセット学習について説明する。システムコントローラ２５は、複数のトラッキングオフセット信号１１０について、それぞれのトラッキングオフセット信号１１０に対応するジッタ値１１６を求める。その中からジッタ値１１６が最小となるトラッキングオフセット信号１１０を決定する。これが１回のトラッキングオフセット学習である。さらに、システムコントローラ２５は、内部にタイマを有しており、このタイマにより再度トラッキングオフセット学習を行なうまでの時間を管理している。
【００３０】
次に、図９を加えて本実施の形態２における光ディスク装置のトラッキングエラー信号１１２の検出特性について説明する。図９は、温度３０℃にて正しくトラック中心を走査するトラッキングオフセット信号１１０が設定されている情況において、温度変化に対してトラッキングディテクタのずれ等により発生するトラッキングエラー信号１１２の検出ずれの特性を示した特性図である。このように、本実施の形態２における光ディスク装置のトラッキングエラー信号１１２は、温度が変化すると０．０１μｍ／℃の割合でトラッキングエラー信号１１２に検出ずれが生じる特性を持つものとする。
【００３１】
次に、図１０、１１を加えて本実施の形態２における光ディスク装置のオフトラック量とジッタの関係について説明する。本実施の形態２における光ディスク装置のディスク２０には、トラック中心に正しくデータが記録されており、オフトラック量０μｍにおいて最良の品質でデータが再生されるものとする。
【００３２】
ある時刻Ｐにおいて、システムコントローラ２５によりトラッキングオフセット学習が実行され、最適なトラッキングオフセット信号１１０が設定され、トラッキング制御回路２２は正確にディスク２０のトラック中心をレーザスポットが走査するよう制御しており、ディスク２０より再生される信号品質をジッタ検出回路２４で測定すると、ジッタ値１１６は１０％であったとする。このとき、オフトラックが発生するとオフトラック量とジッタ値１１６の関係は図１０のようになる。
【００３３】
また、ある時刻Ｑにおいて、システムコントローラ２５によりトラッキングオフセット学習が実行され、最適なトラッキングオフセット信号１１０が設定され、トラッキング制御回路２２は正確にディスク２０のトラック中心をレーザスポットが走査するよう制御しており、ディスク２０より再生される信号品質をジッタ検出回路２４で測定すると、ジッタ値１１６は１３％であったとする。このとき、オフトラックが発生するとオフトラック量とジッタ値１１６の関係は図１１のようになる。
【００３４】
例えば、温度変化が最大で１分間に１℃とすると、ディスク２０より再生されるデータのジッタ値１１６が１５％を超えるのは、時刻Ｐ（トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６が１０％の場合）よりオフトラック量が±０．１μｍ以上変化したとき、すなわち最短で１０分である。時刻Ｑ（トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６が１３％の場合）よりオフトラック量が±０．０８μｍ以上変化したとき、すなわち最短で８分である。これらより、本実施の形態２における光ディスク装置がディスク１０より再生するデータのジッタ値１１６が１５％以下であることを保証するためには、トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６が１０％の場合にはトラッキングオフセット学習後１０分以内、トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６が１３％の場合にはトラッキングオフセット学習後８分以内に再度トラッキングオフセット学習を行なえばよい。例えば、トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６と、ディスク２０より再生されるデータのジッタ値１１６が１５％を超える学習終了からの最短時間の関係は、図１２のような関係にある。
【００３５】
次に、本実施の形態２における光ディスク装置のシステムコントローラ２５が行なうトラッキングオフセット学習の間隔について、図１２、１４を加えて説明する。
【００３６】
ある時刻Ｒにおいてシステムコントローラ２５がトラッキングオフセット学習を行ない、得られたトラッキングオフセット信号１１０に対応するジッタ値１１６は１３％であったとする。時刻Ｒより４２分の間、トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６の最小値は図１４（ａ）に示すように、１１〜１４％の間を変化しているとする。
【００３７】
従来の光ディスク装置では、システムコントローラ２５内のタイマに一定の時間が設定されており、一定時間毎にトラッキングオフセット学習を行なう。このとき、ディスク２０より再生するデータのジッタ値１１６が１５％以下であることを保証するためには、時刻Ｒから４２分の間でトラッキングオフセット学習により得られるジッタ値１１６の最大値が１４％であるから、図１２より６分間隔でトラッキングオフセット学習を行なえばよいことがわかる。６分間隔でトラッキングオフセット学習を行なえば、ディスク２０より再生するデータのジッタ値１１６の上限は図１４（ｂ）に示すようになり、４２分の間にトラッキングオフセット学習を６回実行することにより、常に再生時のジッタ値１１６が１５％以下であることが保証されるようになる。
【００３８】
これに対し、本実施の形態２における光ディスク装置のシステムコントローラ２５は、トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６に従ってタイマの値を設定することが可能となっている。トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６に対応する、ジッタ値１１６が１５％を超える最短時間を図１２に従いタイマに設定する。タイマが設定された時間経過すると、システムコントローラ２５は再びトラッキングオフセット学習を実行する。このとき、ディスク２０より再生するデータのジッタ値１１６の上限は図１４（ｃ）に示すようになり、４２分の間にトラッキングオフセット学習を５回実行することにより、常に再生時のジッタ値１１６が１５％以下であることが保証されるようになる。
【００３９】
このように、本実施の形態２の光ディスク装置を用いれば、少ないトラッキングオフセット学習の回数でも所定のジッタ値以下の品質で常にデータを再生することができる。
【００４０】
なお、図１２からわかるように、トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６が大きいほど、再生時のジッタ値１１６が１５％を超えるまでの最短時間は短くなるので、ジッタ値１１６が大きいほどシステムコントローラ２５のタイマに設定する時間も短くなる。
【００４１】
なお、処理の簡単化のため図１３に示すように、トラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値１１６を複数の区間に分け、区間ごとにトラッキングオフセット学習までのタイマ設定を決定するようにしてもよい。
【００４２】
（実施の形態３）
次に、本発明の光ディスク装置におけるフォーカスオフセット学習の例について図１５を用いて説明する。
【００４３】
図１５は、本発明の実施の形態３における光ディスク装置の構成を示したブロック図であり、３０はディスク、３１は光ピックアップ、３２はフォーカス制御回路、３３は再生回路、３４はジッタ検出回路、３５はシステムコントローラである。
【００４４】
まず、ジッタ値１２６の測定方法について説明する。光ピックアップ３１は、フォーカス制御回路３２より入力されるフォーカス制御信号１２３に従った位置でディスク３０の情報記録面にレーザが焦点を結ぶよう、レーザを所定のパワーでディスク３０へ照射し、その反射光よりＲＦ信号１２１を生成して再生回路３３へ出力し、さらにフォーカスエラー信号１２２を生成してフォーカス制御回路３２へ出力する。システムコントローラ３５は、フォーカスエラー信号１２２の検出ずれ等を補正するフォーカスオフセット信号１２０を出力し、光ピックアップ３１が出力するフォーカスエラー信号１２２にフォーカスオフセット信号１２０を加算する。フォーカス制御回路３２は、光ピックアップ３１より入力されるフォーカスエラー信号１２２に従い、光ピックアップ３１がディスク３０へ照射するレーザがディスク３０の情報記録面に正しく焦点を結ぶように焦点位置を制御するフォーカス制御信号１２３を光ピックアップ３１へ出力する。再生回路３３は、ＲＦ信号１２１より同期信号１２４を生成する。さらに、同期信号１２４とＲＦ信号１２１より２値化信号１２５を生成し、同期信号１２４と２値化信号１２５をジッタ検出回路３４へ出力する。ジッタ検出回路３４は、同期信号１２４と２値化信号１２５よりジッタ値１２６を求め、システムコントローラ３５へ出力する。
【００４５】
次に、フォーカスオフセット学習について説明する。システムコントローラ３５は、複数のフォーカスオフセット信号１２０について、それぞれのフォーカスオフセット信号１２０に対応するジッタ値１２６を求める。その中からジッタ値１２６が最小となるフォーカスオフセット信号１２０を決定する。これが１回のフォーカスオフセット学習である。さらに、システムコントローラ３５は、内部にタイマを有しており、このタイマにより再度フォーカスオフセット学習を行なうまでの時間を管理している。
【００４６】
次に、図１６、１７を加えて本実施の形態３における光ディスク装置のデフォーカス量とジッタの関係について説明する。本実施の形態３における光ディスク装置のディスク３０は、情報記録面に正しくレーザが焦点を結ぶデフォーカス量０μｍにおいて最良の品質でデータが再生されるものとする。
【００４７】
ある時刻Ｐにおいて、システムコントローラ３５によりフォーカスオフセット学習が実行され、最適なフォーカスオフセット信号１２０が設定され、フォーカス制御回路３２は正確にディスク３０の情報記録面にレーザが焦点を結ぶよう制御しており、ディスク３０より再生される信号品質をジッタ検出回路３４で測定すると、ジッタ値１２６は１０％であったとする。このとき、デフォーカスが発生するとデフォーカス量とジッタ値１２６の関係は図１６のようになる。
【００４８】
また、ある時刻Ｑにおいて、システムコントローラ３５によりフォーカスオフセット学習が実行され、最適なフォーカスオフセット信号１２０が設定され、フォーカス制御回路３２は正確にディスク３０の情報記録面にレーザが焦点を結ぶよう制御しており、ディスク３０より再生される信号品質をジッタ検出回路３４で測定すると、ジッタ値１２６は１３％であったとする。このとき、デフォーカスが発生するとデフォーカス量とジッタ値１２６の関係は図１７のようになる。
【００４９】
次に、本実施の形態３における光ディスク装置のシステムコントローラ３５が行なうフォーカスオフセット学習の間隔について、図１８，１９，２１を加えて説明する。図１８は、所定量のデフォーカスの発生確率とフォーカスオフセット学習終了からの経過時間の関係を示した特性図である。例えば、時刻Ｐからジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％となるまでの時間は、図１６より０．２μｍのデフォーカスが発生したときであることがわかり、図１８より０．２μｍのデフォーカスが１％の確率で発生するのはフォーカスオフセット学習終了後２０分であることがわかる。同様に、時刻Ｑからジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％となるまでの時間は、図１７より０．１５μｍのデフォーカスが発生したときであることがわかり、図１８より０．１５μｍのデフォーカスが１％の確率で発生するのはフォーカスオフセット学習終了後１０分であることがわかる。フォーカスオフセット学習終了からジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％となるまでの時間は、フォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６をパラメータとして表すことができ、フォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６とフォーカスオフセット学習終了からジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％となるまでの時間の関係は図１９のようになる。
【００５０】
ある時刻Ｒにおいてシステムコントローラ３５がフォーカスオフセット学習を行ない、得られたフォーカスオフセット信号１２０に対応するジッタ値１２６は１３％であったとする。時刻Ｒより６０分の間、フォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６は図２１（ａ）に示すように、１０〜１３％の間を変化しているとする。
【００５１】
従来の光ディスク装置では、システムコントローラ３５内のタイマに一定の時間が設定されており、一定時間毎にフォーカスオフセット学習を行なう。このとき、ディスク３０より再生するデータのジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％以下であることを保証するためには、時刻Ｒから６０分の間でフォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６の最大値が１３％であるから、図１９より１０分間隔でフォーカスオフセット学習を行なえばよいことがわかる。１０分間隔でフォーカスオフセット学習を行なえば、ディスク３０より再生するデータのジッタ値１２６が１５％を超える確率は図２１（ｂ）に示すようになり、６０分の間にフォーカスオフセット学習を６回実行することにより、常に再生時のジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％以下であることが保証されるようになる。
【００５２】
これに対し、本実施の形態３における光ディスク装置のシステムコントローラ３５は、フォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６に従ってタイマの値を設定することが可能となっており、フォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６に従い、ジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％となる時間をタイマに設定する。タイマが設定された時間経過すると、システムコントローラ３５は再びフォーカスオフセット学習を実行する。このとき、ディスク３０より再生するデータのジッタ値１２６が１５％を超える確率は図２１（ｃ）に示すようになり、６０分の間にフォーカスオフセット学習を４回実行することにより、常に再生時のジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％以下であることが保証されるようになる。
【００５３】
このように、本実施の形態３の光ディスク装置を用いれば、少ないフォーカスオフセット学習の回数でも所定のジッタ値を超える確率をある確率以下として常にデータを再生することができる。
【００５４】
なお、図１９からわかるように、フォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６が大きいほど、再生時のジッタ値１２６が１５％を超える確率が１％となるまでの時間は短くなるので、ジッタ値１２６が大きいほどシステムコントローラ３５のタイマに設定する時間も短くなる。
【００５５】
なお、処理の簡単化のため図２０に示すように、フォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値１２６を複数の区間に分け、区間ごとにフォーカスオフセット学習までのタイマ設定を決定するようにしてもよい。
【００５６】
なお、本実施の形態においては、記録した信号品質に影響を及ぼすレーザパワー制御および再生した信号品質に影響を及ぼすトラッキング制御、フォーカス制御に関する学習を例に説明したが、本発明はこれら以外にも、チルト制御や球面収差制御など記録信号および再生信号の少なくとも一方の信号品質に影響を及ぼす制御に関する学習一般において利用可能である。また、本実施の形態以外の学習方法を用いてもよい。
【００５７】
本実施の形態においては、信号品質の指標としてジッタを用いているが、他にも再生データのエラーレートなど一般的に信号品質の指標として用いられるものであれば利用可能である。
【産業上の利用可能性】
【００５８】
本発明にかかる光ディスク装置は、装置の高速化や省電力化が必要な情報機器の用途にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示したブロック図
【図２】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のある一定の制御信号に対する半導体レーザの温度とパワーの関係を示したパワー特性図
【図３】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のレーザパワーと記録データのジッタの関係を示した特性図
【図４】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のレーザパワーと記録データのジッタの関係を示した特性図
【図５】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の時刻Ｒからのジッタ値の変化を示す図
【図６】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のジッタ１３％での記録を保証するためのレーザパワー学習時の最小ジッタ値と次回の学習実行までの時間の関係の例を示す図
【図７】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のジッタ１３％での記録を保証するためのレーザパワー学習時の最小ジッタ値とシステムコントローラ内のタイマ設定時間の関係を示す図
【図８】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の構成を示したブロック図
【図９】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の温度に対して検出値に生じるずれの特性を示した特性図
【図１０】本発明の実施の形態２における光ディスク装置のオフトラック量とジッタ値の関係を示した特性図
【図１１】本発明の実施の形態２における光ディスク装置のオフトラック量とジッタ値の関係を示した特性図
【図１２】本発明の実施の形態２における光ディスク装置のジッタ１５％での再生を保証するためのトラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値と次回の学習実行までの時間の関係の例を示す図
【図１３】本発明の実施の形態２における光ディスク装置のジッタ１５％での再生を保証するためのトラッキングオフセット学習時の最小ジッタ値とシステムコントローラ内のタイマ設定時間の関係を示す図
【図１４】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の時刻Ｒからのジッタ値の変化を示す図
【図１５】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の構成を示したブロック図
【図１６】本発明の実施の形態３における光ディスク装置のデフォーカス量とジッタ値の関係を示した特性図
【図１７】本発明の実施の形態３における光ディスク装置のデフォーカス量とジッタ値の関係を示した特性図
【図１８】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の所定量のデフォーカスの発生確率とフォーカスオフセット学習終了からの経過時間の関係を示した特性図
【図１９】本発明の実施の形態３における光ディスク装置のフォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値とフォーカスオフセット学習終了からジッタ値が１５％を超える確率が１％となるまでの時間の関係を示す図
【図２０】本発明の実施の形態３における光ディスク装置のフォーカスオフセット学習時の最小ジッタ値とシステムコントローラ内のタイマ設定時間の関係を示す図
【図２１】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の時刻Ｒからのジッタ値の変化およびジッタ値が１５％を超える確率を示す図
【符号の説明】
【００６０】
１０，２０，３０    光ディスク
１１，２１，３１    光ピックアップ
１２    レーザ制御回路
１３，２３，３３    再生回路
１４，２４，３４    ジッタ検出回路
１５，２５，３５    システムコントローラ
２２    トラッキング制御回路
３２    フォーカス制御回路
１０１    記録の制御目標値
１０２    レーザパワー制御信号
１０３，１１１，１２１    ＲＦ信号
１０４，１１４，１２４    同期信号
１０５，１１５，１２５    ２値化信号
１０６，１１６，１２６    ジッタ値
１０７    再生の制御目標値
１１０    トラッキングオフセット信号
１１２    トラッキングエラー信号
１１３    トラッキング制御信号
１２０    フォーカスオフセット信号
１２２    フォーカスエラー信号
１２３    フォーカス制御信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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