(57)【要約】【課題】  放射線撮影を行う毎に残像消去を行うのではなく、必要なときのみに残像消去を行わせるようにすること。【解決手段】  ステップＳ２０３で放射線撮影の前にＦＰＮ画像を得、ステップＳ２０４でＦＰＮ画像に含まれる各画素の値を用いて、ＦＰＮ画像を構成する各画素の値の均一性を判定する。【選択図】  図２
2005095578.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線撮影を行う放射線撮影装置であって、
撮影前にＦＰＮ画像を取得する取得手段と、
前記ＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定手段と
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項２】
放射線撮影を行う放射線撮影装置であって、
基準画像撮影モードと、放射線画像撮影モードの何れかを設定する設定手段と、
前記設定手段により前記基準画像撮影モードが設定された場合に、基準となる第１のＦＰＮ画像を得る第１の取得手段と、
前記設定手段により前記放射線画像撮影モードが設定された場合に、前記放射線撮影の前に第２のＦＰＮ画像を取得する第２の取得手段と、
前記第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定手段と
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項３】
前記基準画像撮影モードは、白画像撮影モードであることを特徴とする請求項２に記載の放射線撮影装置。
【請求項４】
前記基準画像撮影モードは、工場出荷時または、受入検査時の検査画像撮影モードであることを特徴とする請求項２に記載の放射線撮影装置。
【請求項５】
前記判定手段は、前記第１のＦＰＮ画像、前記第２のＦＰＮ画像を比較することにより残像の有無を判定することを特徴とする請求項２乃至４の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項６】
前記判定手段は、前記第１のＦＰＮ画像と前記第２のＦＰＮ画像の差分画像を用いて、残像の有無を判定することを特徴とする請求項５に記載の放射線撮影装置。
【請求項７】
前記判定手段は、
前記第１のＦＰＮ画像を構成する各画素の値の均一性を算出する第１の算出手段、もしくは、前記第２のＦＰＮ画像を構成する各画素の値の均一性を判定する第２の算出手段、のうち少なくとも１つを備えることを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項８】
前記第１の算出手段は、
前記第１のＦＰＮ画像を複数の矩形に分割する第１の分割手段と、
前記第１のＦＰＮ画像を分割した各矩形毎に、矩形内の各画素の値の平均値と標準偏差値を求める第１の計算手段とを備え、
前記第１の計算手段が求めた平均値、標準偏差値が所定の条件を満たす矩形の数が所定数以上であるか否か応じて、前記第１のＦＰＮ画像を構成する各画素の値の均一性を判定することを特徴とする請求項７に記載の放射線撮影装置。
【請求項９】
前記第２の算出手段は、
前記第２のＦＰＮ画像を複数の矩形に分割する第２の分割手段と、
前記第２のＦＰＮ画像を分割した各矩形毎に、矩形内の各画素の値の平均値と標準偏差値を求める第２の計算手段とを備え、
前記第２の計算手段が求めた平均値、標準偏差値が所定の条件を満たす矩形の数が所定数以上であるかに否か応じて、前記第２のＦＰＮ画像を構成する各画素の値の均一性を判定することを特徴とする請求項７に記載の放射線撮影装置。
【請求項１０】
更に、前記第１の算出手段が前記第１のＦＰＮ画像を構成する各画素の値が不均一であることを算出した場合、もしくは前記第２の算出手段が前記第２のＦＰＮ画像を構成する各画素の値が不均一であることを算出した場合、その旨を示す情報を提示する提示手段を備えることを特徴とする請求項１乃至９の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１１】
前記判定手段は前記ＦＰＮ画像のエッジを検出する手段を備えることを特徴とする請求項１乃至１０の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１２】
放射線撮影を行う放射線撮影方法であって、
撮影前にＦＰＮ画像を取得する取得工程と、
前記ＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定工程と
を備えることを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項１３】
放射線撮影を行う放射線撮影方法であって、
基準画像撮影モードと、放射線画像撮影モードの何れかを設定する設定工程と、
前記設定工程で前記基準画像撮影モードが設定された場合に、基準となる第１のＦＰＮ画像を得る第１の取得工程と、
前記設定工程で前記放射線画像撮影モードが設定された場合に、前記放射線撮影の前に第２のＦＰＮ画像を取得する第２の取得工程と、
前記第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定工程と
を備えることを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項１４】
コンピュータに請求項１２又は１３に記載の放射線撮影方法を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１５】
請求項１４に記載のプログラムを格納することを特徴とする、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線撮影を行う放射線撮影装置、放射線撮影方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より対象物の放射線画像を得る方法（放射線画像取得方法）は、工業用の非破壊検査や医療診断の場等で広く一般に利用されている。この放射線画像取得方法は、一般には対象物に対して放射線を照射し、この対象物を透過した放射線の強度分布を検出することにより行われている。
【０００３】
具体的に、放射線画像取得方法の中で最も一般的な方法としては、次のような方法がある。
【０００４】
先ず、放射線の照射により蛍光を発する、所謂“蛍光板”（又は、“増感紙”）と、銀塩フィルムとを組み合わせ、これに対して対象物を介して放射線を照射する。これにより、蛍光板では、放射線が可視光に変えられ、銀塩フィルム上には対象物の潜像が形成される。その後、対象物の潜像が形成された銀塩フィルムを化学処理することで、銀塩フィルムでの対象物の可視像（対象物の放射線画像）を得ることができる。
【０００５】
このような放射線画像取得方法にて得られる放射線画像は、所謂アナログ写真であり、画像診断や検査等に使用される。
【０００６】
一方、蛍光体として輝尽性蛍光体を塗布したイメージングプレート（以下、「ＩＰ」と言う）を使用したコンピューテッドラジオグラフィ装置（以下、「ＣＲ装置」と言う）も使用され始めている。
【０００７】
上述のＣＲ装置は、ディジタル撮影装置ではあるものの、二次励起による読み出し、という画像形成プロセスを必要とするため、アナログ写真と同様にした撮影画像（放射線画像）を即時に表示することができない。
【０００８】
また、近年においては、微小な光電変換素子やスイッチング素子等からなる画素を格子状に配列した光電変換手段（ＣＣＤ等の撮像素子）を受像手段として使用して、ディジタル的な放射線画像を取得する装置が開発されている。
【０００９】
このような装置は、ＣＣＤ又はアモルファスシリコン２次元撮像素子上に蛍光体を積層した放射線撮影装置として従来から開示されている（例えば特許文献１乃至５を参照）。
【００１０】
これらの２次元撮像素子等を用いた画像撮影装置においては、通常、画像を形成する前に、ＦＰＮ補正、白補正とよばれる補正を行っている。ＦＰＮ補正とは、固定パターンノイズ補正(Fixed Pattern Noise補正)のことであり、２次元撮像素子の各素子における暗電流に起因して生じるノイズを補正するものである。
【００１１】
ＦＰＮ補正を行うために、通常Ｘ線を照射なし時のＦＰＮ画像を照射あり時と同一駆動下において取得し、X線画像からＦＰＮ画像を減算することによって補正する。また、白補正とは、ゲイン補正とも呼ばれ、２次元撮像素子の各素子毎の感度の相違を補正するものである（本明細書中のゲイン補正は白補正を意味するものである）。白補正を行うために、通常、リニアリティのある線量範囲内のＸ線を照射した白画像を用いて、撮影画像を除算処理を行うことで補正する。上記補正された放射線画像は、他のＱＡ処理と呼ばれる画像処理も含めて約３秒と即時に表示することが可能であり、例えば、急を要する医療現場においては有効である。更に、これらのディジタル撮影装置のアナログ写真技術に対する利点として、フィルムレス化、画像処理による取得情報の拡大、及びデータベース化等が挙げられる。
【００１２】
ところで、上述したようなアモルファスシリコン等の撮像素子を受像手段として使用したディジタル撮影装置でも、前記フィルムやＣＲを用いた撮影装置と同様に、事前曝射の照射ムラに応じて、画像中に残像が残る可能性がある。図８に蛍光体による残像の時間特性の概念図が示されている。蛍光体の残光が原因の残像である。事前曝射のX線量を元に縦軸を規格化すると、図８のように時間と共に蛍光体の残像は減衰し、その後、残像量はほぼ一定となる。図８のように、残像量が時間に応じて変化することが、上記ディジタル撮影装置の画像上に残る残像の原因となる。なぜならば２次元撮像素子等を用いた画像撮影装置においては、ＦＰＮ補正を行うためである。
【００１３】
X線画像取得時とＦＰＮ画像取得時での、残像量の差が、ＦＰＮ補正後の画像中に残像として残ってしまう。この残像の原因は、蛍光体の残光以外にも例えば撮像素子の転送残りなどが残像の原因として挙げられる。なお、残像には、上記ＦＰＮ残像（ａｄｄｉｔｉｖｅ  ｌａｇ）以外に、感度残像（ｍｕｌｔｉｐｌｉｃａｔｉｖｅ  ｌａｇ）がある。前記感度残像は、図８とは異なり、Ｘ線照射時に、蛍光体の状態により、発光する量が、事前の蛍光体の状態等により変化することで画像上に表れるものである。この前記感度残像は、X線を照射しないと把握できない。よって、ＦＰＮ残像に限定して、残像を把握する。
【００１４】
これらの残像を消去する方法として、光リセットと呼ばれるLEDの可視光をアモルファスシリコン等の撮像素子に全面照射する方法や、撮影直前に白撮影(キャリブレーション)をする方法、センサのスリープ時間を増やす等の方法が従来用いられてきた。
【特許文献１】ＵＳＰ５，４１８，３７７
【特許文献２】ＵＳＰ５，３９６，０７２
【特許文献３】ＵＳＰ５，３８１，０１４
【特許文献４】ＵＳＰ５，１３２，５３９
【特許文献５】ＵＳＰ４，８１０，８８１
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかし、上記従来技術で挙げられた残像消去方法を常に行うことは、時間および工数がかかるという課題があった。特に、残像が無い場合にこれらの方法を実施することは、撮影スループットの点からはムダな工程であった。この工程を省くためには、残像有無を事前に把握する手段が必要である。従来のフィルムを用いたアナログ装置やCRの装置では、フィルム現像時間やCRのIP読み出し時間のため、残像有無を判定することは難しかった。しかし本２次元撮像素子等を用いた画像撮影装置においては、画像を即時的に取得可能であるため、残像の有無を被写体撮影前に判定することが技術的に可能である。
【００１６】
本発明は以上の問題に鑑みて成されたものであり、放射線撮影を行う毎に残像消去を行うのではなく、必要なときのみに残像消去を行わせるように、残像の有無を判定し通知するための技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の放射線撮影装置は以下の構成を備える。
【００１８】
即ち、放射線撮影を行う放射線撮影装置であって、
撮影前にＦＰＮ画像を取得する取得手段と、
前記ＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定手段と
を備えることを特徴とする。
【００１９】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の放射線撮影装置は以下の構成を備える。
【００２０】
即ち、放射線撮影を行う放射線撮影装置であって、
基準画像撮影モードと、放射線画像撮影モードの何れかを設定する設定手段と、
前記設定手段により前記基準画像撮影モードが設定された場合に、基準となる第１のＦＰＮ画像を得る第１の取得手段と、
前記設定手段により前記放射線画像撮影モードが設定された場合に、前記放射線撮影の前に第２のＦＰＮ画像を取得する第２の取得手段と、
前記第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定手段と
を備えることを特徴とする。
【００２１】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の放射線撮影方法は以下の構成を備える。
【００２２】
即ち、放射線撮影を行う放射線撮影方法であって、
撮影前にＦＰＮ画像を取得する取得工程と、
前記ＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定工程と
を備えることを特徴とする。
【００２３】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の放射線撮影方法は以下の構成を備える。
【００２４】
即ち、放射線撮影を行う放射線撮影方法であって、
基準画像撮影モードと、放射線画像撮影モードの何れかを設定する設定工程と、
前記設定工程で前記基準画像撮影モードが設定された場合に、基準となる第１のＦＰＮ画像を得る第１の取得工程と、
前記設定工程で前記放射線画像撮影モードが設定された場合に、前記放射線撮影の前に第２のＦＰＮ画像を取得する第２の取得工程と、
前記第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像を用いて残像の有無を判定する判定工程と
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２５】
本発明の構成により、放射線撮影を行う毎に残像消去を行うのではなく、必要なときのみに残像消去を行わせるように、残像の有無を判定し通知することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下添付図面を参照して、本発明を好適な実施形態に従って詳細に説明する。
【００２７】
［第１の実施形態］
＜放射線撮影装置１００の全体構成＞
図１は本実施形態に係る放射線撮影装置１００の基本構成を示すブロック図である。
【００２８】
１０１は放射線管球で、被検体１０５に対して放射線（例えばＸ線など）を放射する。この放射線は放射線発生装置１０３で発生されるものであり、その発生の指示は操作ボタン１０２を用いて入力することができる。操作ボタン１０２を用いて放射線の発生の指示を入力すると、その指示を示す信号はＩ／Ｆ１０４を介してＣＰＵ１０９に入力される。ＣＰＵ１０９はこの信号を解釈し、放射線発生装置１０３に放射線を発生させるように放射線発生装置１０３を制御するための信号をＩ／Ｆ１０４を介して放射線発生装置１０３に出力する。
【００２９】
以上のようにして放射線が放射線管球１０１から同図被検体１０５に対して照射される。被検体１０５に照射された放射線は、放射線量を減少させながら被検体を透過して撮影部１０６に到達する。
【００３０】
撮影部１０６は放射線検出部１０７とＡ／Ｄ変換装置１０８とにより構成されている。放射線検出部１０７は、例えばアモルファスシリコンとＴＦＴで構成された光検出器の前面に蛍光体が配置されてなる撮像素子と、その駆動制御部とアンプICを備え、被検体を透過して到達した放射線量に基づいた信号を増幅して出力する。出力された信号（アナログ信号）はＡ／Ｄ変換装置１０８によりディジタル信号に変換されて、記憶媒体１１４や操作装置１１６の後述する表示画面に出力される。
【００３１】
このディジタル信号が被検体を放射線撮影したことにより得られる画像であり、この画像を以下、放射線画像と呼称する。
【００３２】
ＣＰＵ１０９はメモリ１１１乃至１１３に格納されているプログラムやデータを用いて各種の処理を実行し、これにより、放射線撮影装置を構成する各部を制御して後述する各種の撮影処理を制御や、後述するＦＰＮ画像の均一性の判定処理を行う。
【００３３】
メモリ１１１は、ＣＰＵ１０９が放射線撮影装置を構成する各部を制御して後述する各種の撮影処理を制御したり、後述するＦＰＮ画像の均一性の判定処理を行うためのプログラムやデータを記憶するためのメモリである。
【００３４】
メモリ１１２は、上記Ａ／Ｄ変換装置１０８より出力された放射線画像のデータを記憶すると共に、後述する、放射線撮影を行う前に撮影されるＦＰＮ画像のデータを記憶するためのメモリである。
【００３５】
メモリ１１３は、後述する白画像の撮影時における白画像、ＦＰＮ画像を記憶する為のメモリである。
【００３６】
なお、本実施形態ではメモリの数は３つとしているが、これに限定されるものではなく、例えば１つのメモリ上に３つの記憶領域を設け、夫々の記憶領域に上記メモリ１１１乃至１１３に記憶されている内容を格納するようにしても良い。
【００３７】
記憶媒体１１４は例えばハードディスクドライブ装置などの情報記憶装置であって、本実施形態では後述する補正処理後の画像のデータを保存するために使用する。
【００３８】
操作装置１１６は放射線撮影装置１００の各種の設定を入力するための入力インターフェース装置として機能するものであり、入力された設定のデータはＩ／Ｆ１１５を介してＣＰＵ１０９に入力され、ＣＰＵ１０９により解釈される。ＣＰＵ１０９は解釈した内容に従った処理を行う。この操作装置１１６は例えばタッチパネルにより構成されており、各種の情報を入力するためのボタンやスライダの画像が表示されており、これらの画像を指や指示具などで指示することにより、各種の設定を入力することができる。またこのタッチパネルの表示画面上には図７に示す後述する画面を表示することもできる。
【００３９】
このような操作装置１１６により、放射線撮影装置１００の操作者は、記憶媒体１１４に保存された画像データを表示機能により表示して、様々な操作を行うことを可能にする。
【００４０】
１１０は上述の各部のいくつかを繋ぐバスである。
【００４１】
なお、図１に示した構成以外の構成を本実施形態に係る放射線撮影装置１００の構成とすることもでき、本実施形態に係る放射線撮影装置１００の構成は図１に示した構成に限定されるものではない。
【００４２】
例えば、大型の表示装置を放射線撮影装置１００に接続してより多くの操作者に対して情報を表示するようにしても良いし、Ａ／Ｄ変換装置、及びスピーカを放射線撮影装置１００に接続して各種の情報を音で通知するようにしても良い。
【００４３】
＜放射線撮影装置１００の一連の動作＞
次に、本実施形態に係る放射線撮影装置１００が行う、一連の放射線撮影処理について大まかに説明する。
【００４４】
なお、以下説明する処理の前段で既に白画像の撮影は行われ、白画像のデータと白画像撮影時のＦＰＮ画像のデータは得られたものとする。従ってメモリ１１３には白画像のデータ、ＦＰＮ画像のデータが記憶されている。なお、以下では基準となるＦＰＮ画像を以下登場するＦＰＮ画像との混同を避けるために、「第１のＦＰＮ画像」と呼称する。また、本実施形態では、基準となるＦＰＮ画像を、白画像撮影時に得られるＦＰＮ画像として説明するが、本実施形態で用いる「第１のＦＰＮ画像」は、上記時点で取得されるＦＰＮ画像に限定されるものではなく、例えば、同一の放射線撮影装置１０６を用いて撮影が行われた過去の複数のＦＰＮ画像の平均画像や、受入検査時や工場出荷時に取得したＦＰＮ画像であることも含まれる。
【００４５】
先ず操作者（放射線技師など）は、操作装置１１６を用いて、患者（被検体）の名前、身長、体重、生年月日、性別等、患者を特定するための情報である患者情報や、放射線を照射する部位（検査部位）や管電圧（ｋＶｐ）、管電流（ｍＡ）、放射線照射時間（ｍｓｅｃ）などの放射線撮影条件情報を放射線撮影装置１００に入力する。
【００４６】
次に、操作者は上記第１のＦＰＮ画像とは異なる第２のＦＰＮ画像の撮影を行うために撮影ボタン１０２を用いてその指示を入力する。その指示はＣＰＵ１０９に入力され、その旨が解釈されて各部を制御し、上述の撮影手順に従って第２のＦＰＮ画像が撮影され、そのデータは撮影部１０６から出力されてメモリ１１２に格納される。なお、第２のＦＰＮ画像の撮影を行う指示は、撮影ボタン１０２による指示だけに限定されず、操作装置１１６で患者情報の入力による指示や、放射線撮影条件情報の入力による指示でも構わないことは言うまでもない。
【００４７】
放射線撮影を行う前にＦＰＮ画像（上記第２のＦＰＮ画像に相当）を取得する理由は、ＦＰＮ画像に残像などの不均一性がないか確かめるためである。よって放射線撮影を行う前にＦＰＮ画像を取得する駆動条件は、基準となるＦＰＮ画像を取得する駆動条件と等しいことが望ましい。
【００４８】
次に、後述する処理により、上記第１のＦＰＮ画像と第２のＦＰＮ画像の均一性を判定し、その判定結果によっては従来の上記残像消去処理を行う。
【００４９】
そして以上の処理が完了すると、被検体１０５を放射線の照射位置に検査部位が位置するように撮影部１０６へ整位させ、そして操作者が撮影ボタン１０２を押下すると、ＣＰＵ１０９はこれを検知して放射線を発生させて、検査部位の放射線画像の撮影を行う。なお、ＣＰＵ１０９は、操作者による撮影ボタン１０２の押下を検知すると、放射線検出部１０７を初期化する。そしてその後、放射線発生装置１０３を制御して放射線を発生させ、放射線管球１０１から放射線を発生させる。
【００５０】
放射線管球１０１から放射された放射線は放射線検出部１０７（撮像素子の受光面）で、被検者１０５（検査部位）の内部構造に応じた透過放射線分布で検出される。
【００５１】
放射線検出部１０７は、受光した放射線の２次元分布光強度に応じて、２次元的に光電変換を行うことで、被検者１０５のアナログ的な放射線画像信号（アナログ画像信号）を取得し、取得したアナログ画像信号をＡ／Ｄ変換装置１０８に出力する。
【００５２】
Ａ／Ｄ変換装置１０８は、放射線検出部１０７からのアナログ画像信号をディジタル信号に変換し、変換したディジタル信号を放射線画像のデータとしてＩ／Ｆ１１５を介してメモリ１１２に出力する。なお、この放射線画像のデータは操作装置１１６にも出力するようにしても良く、その場合、操作装置１１６の表示画面上にはこの放射線画像が表示されることになる。
【００５３】
画像データがＡ／Ｄ変換装置１０８に送信された後、放射線検出部１０７は放射線照射なしで、ＦＰＮ画像を取得し、放射線画像と同様に、Ａ／Ｄ変換部１０８を通して、ＦＰＮ画像は、メモリ１１２へ格納される。
【００５４】
上述の通り、本処理の開始の前段でメモリ１１３には白画像のデータが格納されているので、ＣＰＵ１０９はこれを用いて、メモリ１１２に格納されている放射線画像データへのＦＰＮ補正処理、ゲイン補正処理（ゲイン補正演算処理）を行う。そしてＣＰＵ１０９は、ゲイン補正処理後の放射線画像データを記憶媒体１１４へ保存する。以上の動作により、撮影処理が終了することになる。
【００５５】
その後、操作者は操作装置１１６を操作することにより、使用目的に応じて、記憶媒体１１４から放射線画像データ（ゲイン補正処理後の画像データ）を読み出し、ディジタル画像をフィルム上へ描画するイメージャや、画像診断用モニタ等に出力する指示を入力する等を行うことができる。
【００５６】
＜放射線撮影装置１００の駆動＞
図１２は本実施形態におけるセンサ読み出しの概要タイミングチャート、図１１は２次元配列の光電変換素子を具備する光検出器アレー５８の等価回路である。図１１、図１２を用いて、残像判定のためのＦＰＮ画像取得時の駆動を含めたＸ線画像撮影時の二次元駆動について述べる。
【００５７】
６００は操作者が入力する撮影開始信号、６０１はＸ線への曝射要求制御信号、６０２はＸ線の曝射状態、６０３はセンサ内電流源の電流、６０４は行選択線Ｌｒｎの制御状態、６０５はＡ／Ｄ変換器１０８へのアナログ入力をそれぞれ模式的に現している。
【００５８】
図１２はセンサ読み出しの概要タイミングチャートは大きく３段階に分けられる。第１段階は残像判定読み＋空読み動作、第２段階はＸ線曝射時の読み出し動作、第３段階はＸ線画像読み出し後の補正用の空読み動作である。空読み動作とＸ線曝射時の読み出し動作は信号電荷を取り込むか否かの差だけで駆動上の大きな差はない。
【００５９】
以下この駆動の具体的な実施形態について説明する。
【００６０】
・  第１段階：残像判定読み＋空読み動作
残像判定読みと空読み動作は基本的には同じ駆動である。つまり、読み出すか否かの違いが最も大きな違いである。以下、その駆動に実施形態について説明する。
【００６１】
バイアス配線を光電変換時のバイアス値Ｖｓのまま、全ての列信号配線Ｌｃをリセット基準電位１０１に接続し、列信号線をリセットする。その後、行選択配線Ｌｒ１に正電圧Ｖｇｈを印加し、ＳＷ（１,１）〜（１,４０９６）をＯＮし、第１列の光電変換素子のＧ電極をＶｂｔにリセットする。次に行選択配線Ｌｒ１を正電圧ＶｇｌにしてＳＷ（１,１）〜（１,４０９６）をＯＦＦする。行の選択を順次繰り返し、全ての画素のリセットを行い撮影準備が完了する。以上の動作は信号電荷の読み出し操作と同じであり、信号電荷を取り込むか否かの差しかないので、このリセット操作を以後「空読み」と呼ぶ。この空読み動作中で、行選択配線Ｌｒを全て同時にＶｇｈにしない理由は、この場合では読み出し準備完了時に、信号配線電位がリセット電圧Ｖｂｔから大きくずれることなり、高Ｓ／Ｎの信号を得ることが難しいためである。また、前述の例では、行選択配線Ｌｒを１から４０９６へリセットしたが、撮影制御器２４の設定に基づいた駆動器６２の制御により任意の順番でリセットを行うことが可能である。
【００６２】
撮影開始要求がなされると、残像判定用読みが開始され、以後、空読み動作を繰り返して、Ｘ線の曝射要求を待つ。
【００６３】
残像有無判定で残像無しとなった場合には、Ｘ線の曝射が要求される。
【００６４】
・  第２段階：Ｘ線曝射時の読み出し動作
Ｘ線曝射時の読み出し動作は、その曝射直前の空読み動作とＸ線曝射時の読み出し動作、の２つの動作から成る。
【００６５】
１つ目の曝射直前の空読み動作とは、曝射要求が発生した後に、画像取得準備の為に、再度空読み動作を行いＸ線曝射に備えるものである。直前の空読み動作を行い画像取得準備が整った後に、撮影制御機２４の指示に従いＸ線が曝射される。
【００６６】
次にＸ線曝射され、光電変換素子８０の信号電荷を読み出し動作が始まる。読み出し動作は実際に信号を読み出すか否かかが異なるだけで、基本的な動作は空読み動作と変わる所はない。
【００６７】
まず、光電変換素子アレーのある行（例えばＬｒ１）に対する行選択配線ＬｒにＶｇｈを印加し、蓄積電荷信号を信号配線Ｌｃ１〜４０９６に出力する。列信号配線Ｌｃ１〜４０９６から１列づつ４０９６画素分の信号を同時に読み出す。
【００６８】
つぎに、異なる行選択配線Ｌｒ（例えばＬｒ２）にＶｇｈを印加し、蓄積電荷信号を信号配線Ｌｃ１〜４０９６に出力する。列信号配線Ｌｃ１〜４０９６から１列づつ４０９６画素分の信号を同時に読み出す。この動作を４０９６の列信号配線に順次繰り返す事により、すべての画像情報を読み出す。
【００６９】
上記動作中、各センサの電荷蓄積時間はリセット動作が完了した時、即ち空読み時のＴＦＴ８２をＯＦＦしてから、次に電荷読み出しが行われるためにＴＦＴ８２がＯＮするまでの間である。故に各行選択線毎に蓄積時間・時刻が異なる。
【００７０】
・  第３段階：Ｘ線画像読み出し後の補正用の空読み動作
Ｘ線画像を読み出した後、補正用画像を取得する。これは、Ｘ線画像の補正に使用する為であり、高画質の画像を取得する為に必要な補正データである。基本的な画像取得方法はＸ線を曝射しない点以外は同じである。電荷蓄積時間は、Ｘ線画像を読み出す際と、補正画像を読み出す際とで同じにする。
【００７１】
図１３に放射線撮影装置１００のタイミングチャートを示す。９０１はX線発生装置に対する撮影要求信号、９０２は実Ｘ線曝射状態、９０３は操作者２１の指示に基づいた撮影制御器１０９から駆動器６２への撮影要求信号、９０４はＸ線検出器１０７の撮影レディ信号、９０５は散乱線除去機構(グリッド)の駆動信号、９０６はＸ線検出器１０７内のパワー制御信号、９０７はＸ線検出器の駆動状態（特に光検出器アレーからの電荷読み出し動作）をそれぞれ現している。９０８は画像データの転送状態や、画像処理や表示の状態を概念的に表している。
【００７２】
図１３をおける残像判定用駆動について説明する。Ｘ線発生装置曝射要求ＳＷ９００が押下されると、撮像装置駆動状態９０７が駆動され、アイドリング駆動のうち、少なくとも１つの画像を本読みと同一の駆動で駆動し、得られたＦＰＮ画像を用いて後述の方法で残像有無の判定を行う。上記駆動は図１２と同様である。
【００７３】
次に、図１３を中心にＸ線検出器１０７の動作について各々説明する。
【００７４】
図１３における検出器準備要求または撮影要求があるまでの時間について説明する。操作者２１からの検出器準備要求または撮影要求が有るまで駆動器６２は９０６に示すようにパワー制御をＯＦＦ状態で待機する。具体的には、図１１において行選択線Ｌｒ、列信号線Ｌｃ、バイアス配線Ｌｂの電位を図示しないスイッチにより同電位（特に信号ＧＮＤレベル）に保ち、光検出器アレー５８にバイアスを印加しない。更には、信号読出し回路１００、ラインセレクタ９２、バイアス電源８４または８５を含む電源を遮断することにより、前記行選択線Ｌｒ、列信号線Ｌｃ、バイアス配線Ｌｂの電位をＧＮＤ電位に保っても良い。
【００７５】
図１３における検出器準備要求または撮影要求について説明する。操作者の操作者インターフェース１１６に対する撮影準備の要求指示（９０１  １ｓｔＳＷ）により、撮影制御器１０９はＸ線発生器４０を撮影レディ状態に遷移させるとともに、Ｘ線検出器１０７に対して撮影準備状態へ移行させる指示を出す。指示を受けた駆動器６２は光検出器アレー１０７にバイアスを印加すると共に、空読みＦｉを繰り返す。要求指示は、例えば、Ｘ線発生装置への曝射要求ＳＷの１ｓｔスイッチ（通常は管球のロータアップなどが開始される。）や、Ｘ線検出器１０７が撮影準備の為に所定時間（数秒以上）を要する場合などは、Ｘ線検出器１０７の準備を開始する為の指示である。この場合、操作者が、Ｘ線検出器１０７に対して意識的に撮影準備の要求指示を出さなくても良い。即ち、操作者インターフェース１１６に対して、被検体情報、撮影情報などが入力されたことをもって、撮影制御器１０９は検出器準備の要求指示と解釈して、Ｘ線検出器１０７を検出器準備状態へ移行させても良い。
【００７６】
図１３における検出器準備状態について説明する。検出器準備状態では、光電変換モードにおいて、空読み後、光検出部８０に暗電流が徐々に蓄積されてコンデンサ８０ｂ（ｃ）が飽和状態で保持されることを避ける為、空読みＦｉを所定間隔で繰り返す。この操作者２１からの撮影準備要求が有りながら実際のＸ線曝射要求が発生していない期間に行う駆動、即ち、検出器準備状態に行う空読みＦｉを所定時間間隔Ｔ１で繰り返す駆動を以後「アイドリング駆動」と呼び、アイドリング駆動を行っている検出器準備状態の期間を「アイドリング駆動期間」と呼ぶ。このアイドリング駆動期間は、どの程度続くかが実使用上、未定義の為、光検出器アレー５８（特にＴＦＴ８２）に負荷のかかる読み出し動作は極力少なくする為にＴ１は通常の撮影動作時よりも長く設定し、通常の読み出し駆動ＦｒよりもＴＦＴ８２のＯＮ時間の短いアイドリング専用空読み駆動Ｆｉを行う。
【００７７】
＜ＦＰＮ画像の均一性判定処理＞
上述した一連の撮影動作のなかで、残像消去処理を必要な時のみ行うためには、上記第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像における残像の有無を判定する処理が必要となる。
【００７８】
図２は、本実施形態の第１の実施形態に係る、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定処理のフローチャートである。なお同図のフローチャートに従ったプログラムはメモリ１１１に格納されており、ＣＰＵ１０９がこれを実行することで同図のフローチャートに従った処理を実行することができる。
【００７９】
なお、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像における残像の有無を判定することは、白補正を行うための白画像内の残像の有効性を判定することにも繋がるものである。
【００８０】
尚、以下に説明する均一性判定処理は、操作部１１６または他の指示装置を操作し、放射線撮影装置１００の動作モードがＦＰＮ画像の均一性判定モードに設定された場合にのみ実行されるものとする。
【００８１】
上述の説明により、先ず白画像撮影を行う必要がある。従って、操作者は操作部１１６を操作し、放射線撮影装置１００の動作モードを白画像を撮影するモードに設定する。ステップＳ２０１でこのモードの設定指示を受け付けると、白画像の撮影を行う。白画像の撮影は、例えば放射線発生装置１０３に「リニアリティのある線量範囲内の放射線」を発生させて放射線管球１０１により放射させ、放射した放射線を撮影部１０６が撮影することにより得る。
【００８２】
このとき、白画像をＦＰＮ補正するためのＦＰＮ画像（第１のＦＰＮ画像）も同様に取得される。第１のＦＰＮ画像のデータは白画像のデータと共にメモリ１１３に格納される。
【００８３】
次に、操作者は、患者情報、放射線撮影条件情報を入力し、これらの情報に基づいて被検体に対する放射線撮影を行うので、操作者は操作部１１６を操作して放射線撮影装置１００の動作モードを放射線撮影モードに設定し、更に操作者は操作装置１１６を用いて上記患者情報、放射線撮影条件情報を入力する。ステップＳ２０２ではこのモードの設定指示を受け付けると、次に入力される患者情報、放射線撮影条件情報をメモリ１１１乃至１１３の何れかに記憶させる。
【００８４】
次に、ステップＳ２０３では上記第２のＦＰＮ画像を上述の処理により得る。この第２のＦＰＮ画像を得るトリガーは、ステップＳ２０２における各情報の入力終了時であることが望ましいが、放射線発生装置１０３が放射線を発生するために設定すべき情報である放射線撮影条件情報の入力終了時であっても良いし、特に撮影ボタン１０２の押下時であっても良い。
【００８５】
次に、ステップＳ２０４では、第１のＦＰＮ画像の均一性の判定、第２のＦＰＮ画像の均一性の判定処理を行う。即ち、第１のＦＰＮ画像における残像の有無の判定処理、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定処理を行う。ステップＳ２０４における処理の詳細については図３を用いて後述する。
【００８６】
そして残像の有無に応じて処理が分岐するのであるが、残像があった場合には処理をステップＳ２０６に進め、残像がなかった場合には処理をステップＳ２０９に進める。なお、残像があった場合、即ちステップＳ２０６では、操作装置１１６の表示画面上にその旨を示すメッセージを表示する。
【００８７】
図７は操作装置１１６の表示画面上に表示される、第１のＦＰＮ画像もしくは第２のＦＰＮ画像中の残像の存在、不均一性の警告を示すメッセージを表示するための画面の一例を示す図である。
【００８８】
７０１は表示画面を示す。表示画面７０１は上述の通り操作装置１１６の表示画面上に表示されるものであるが、操作装置１１６の表示画面には通常、ボタンなどが表示されているので、この表示を切り替えて図７に示す画面を表示しても良いし、通常表示はそのまま行って図７に示す画面を表示するための領域を新たに設けるようにしても良い。
【００８９】
表示画面７０１には上記メッセージと共に、推奨する補正方法を通知する為のメッセージ７１０が表示されている。この補正を行う場合には「ＹＥＳ」のボタン領域７０６を操作者が指示する。また補正を行わない場合には「ＮＯ」のボタン領域７０５もしくは「ＣＡＮＣＥＬ」のボタン領域７０４を操作者が指示することにより、ＣＰＵ１０９は指示された領域に従った処理を行う。この補正処理については後述する。
【００９０】
また表示画面７０１には、第１のＦＰＮ画像、若しくは第２のＦＰＮ画像を表示する領域７０２が設けられており、その中で残像の領域７０３も表示する。これにより、操作者は残像やその位置を目視で確認することができ、残像の消去を行うか否かを判断することができる。
【００９１】
残像があった場合には、残像を消去するかどうかを選択する必要性がある。しかし残像を消去する場合、前述のように、これに係る処理には時間がかかり、ディジタル画像撮影装置の特徴である即時性が生かせない。また、撮影をすぐに行いたい場合や、残像量が小さい場合、残像のある場所が放射線画像中の関心領域でない場合、残像のある場所を避けて撮影が可能な場合には、残像を消去する必要がない。
【００９２】
従ってステップＳ２０６では図７に例示する画面用いて残像の消去処理を行うか否かの指示を受け付ける。即ち、ボタン領域７０４乃至７０６の何れかの指示を受け付ける。
【００９３】
残像の消去を行う旨が入力された場合（図７の画面においてボタン領域７０６が指示された場合）、処理をステップＳ２０７に進める。一方、残像の消去は行わない旨が入力された場合（図７の画面においてボタン領域７０４もしくは７０５が指示された場合）、処理をステップＳ２１０に進める。
【００９４】
ステップＳ２０７では、残像の消去を行うために用いる消去方法を選択する。これは消去方法を操作装置１１６の表示画面に一覧表示するようにしても良いし、その選択のための一覧の提示方法は限定するものではない。提示する一覧としては、光リセットを用いる方法や、均一大線量照射撮影を用いる方法、再白画像撮影を用いる方法などがある。
【００９５】
本実施形態では光リセットを用いない方法をベストモードとし、残像有無の判定に用いた画像により分類された後述の方法で残像消去する方法をベストモードとするが、これに限定されるものではない。この残像消去の方法の分類については図４を用いて後述する。
【００９６】
ステップＳ２０７では操作者により操作装置１１６を用いて入力される選択結果を受け付ける。
【００９７】
次にステップＳ２０８では、ステップＳ２０７で入力された選択結果、即ち、残像の消去方法に従って残像の消去を行う。そして処理を再びステップＳ２０４に戻し、再び残像の有無の確認を行う。
【００９８】
一方、残像の消去は行わない旨が入力された場合（図７の画面においてボタン領域７０４もしくは７０５が指示された場合）には上述の通り処理をステップＳ２１０に進め、操作装置１１６の表示画面上に「残像消去なしで撮影可能」である旨を示すメッセージを表示する。
【００９９】
一方、上述の通りステップＳ２０４では、残像の有無に応じて処理を分岐させるのであるが、残像がなかった場合には処理をステップＳ２０９に進める。
【０１００】
ステップＳ２０９では、操作装置１１６の表示画面上に「残像なしで撮影可能」である旨を示すメッセージを表示する。そしてステップＳ２１１では＜放射線撮影装置１００の一連の動作＞で説明した内容に従って、被検体の放射線画像の撮影処理を開始する。
【０１０１】
次に、上記ステップＳ２０４における処理、即ち、第１のＦＰＮ画像における残像の有無、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定処理（第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定）について、同処理のフローチャートを示す図３を用いてより詳細に説明する。図３は、残像有無判定処理の第１の実施形態におけるフローチャートを示す図である。
【０１０２】
ステップＳ３０１では、メモリ１１３に格納されている第１のＦＰＮ画像、及び第２のＦＰＮ画像共に複数の矩形に分割する。この矩形のサイズについては、例えばアンプＩＣが１２８画素毎に異なれば、各アンプＩＣに相当するサイズとしても良いし、光電変換素子や蛍光体の感度などの出力値にムラがある場合には、特性が同一領域内で大きく異なることがないように１２８画素×６４画素のサイズとしても良い。
【０１０３】
しかし、矩形のサイズが小さくなりすぎると、ステップＳ２０４に係る計算時間がそのぶんだけ多くかかってしまうことや、次のステップ（ステップＳ３０２）で行われる統計量（本実施形態では平均値と標準偏差値）の計算結果に誤差が生じやすくなってしまうし、サイズが大きすぎると、例えば電源の違いなどで残像以外の要因による不均一性が出る可能性があるので、サイズの調整には注意が必要である。
【０１０４】
次に、ステップＳ３０２では、矩形内の各画素の値の平均値と標準偏差値とを求める。この処理を第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像の夫々について、各矩形毎に行う。これにより、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像の各矩形毎に、平均値と標準偏差値とが求まることになる。
【０１０５】
次に、ステップＳ３０３では、第１のＦＰＮ画像の各矩形毎に求めた平均値を用いて第１のＦＰＮ画像における残像の有無を判定すると共に、第２のＦＰＮ画像の各矩形毎に求めた平均値、標準偏差値を用いて第２のＦＰＮ画像における残像の有無を判定し、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像共に残像があるか否かを判定する。第１または第２のＦＰＮ画像に残像が含まれる場合は、両残像の領域を比較する。
【０１０６】
より具体的には、第１の矩形ｉ番目の矩形内の各画素の値の平均値をＷＡｉ、標準偏差ＷＳｉとし、第２の矩形ｉ番目の矩形内の各画素の値の平均値をＧＡｉ、標準偏差ＧＳｉとすると、以下の式
Ａ１ｉ＝ＧＡｉ／ＷＡｉ
Ａ２ｉ＝ＧＡｉ−ＷＡｉ
Ｅ１ｉ＝ＧＳｉ／ＷＳｉ
Ｅ２ｉ＝ＧＳｉ−ＷＳｉ
に従って、Ａ１ｉ、Ａ２ｉ、Ｅ１ｉ、Ｅ２ｉを求める。そしてこれら求めた値を用いて所定の比較式に従った比較を行い、この矩形について「残像有り」もしくは「残像なし」の判定を行う。
【０１０７】
残像有無を把握した上での、均一性の閾値は、各々の値で、人間の可視限界に相当する値に定めて、残像の有無を把握する。例えば「Ａ２ｉ＞０．５」かつ「１.０００１＞Ａ１ｉ＞０.９９９９」かつ「１．１＞Ｅ１ｉ＞０．９」かつ「Ｅ２ｉ＞０．０５」ならば、第１のＦＰＮ画像におけるｉ番目の矩形、第２のＦＰＮ画像におけるｉ番目の矩形には「残像有り」と判定する。このようにして、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像の夫々のＦＰＮ画像において、各矩形毎に残像の有無を判定することができる。
【０１０８】
この判定結果は矩形毎にメモリ１１１乃至１１３の何れかにデータとして記録される。
【０１０９】
なお、これらの比較式、例えば「Ａ２ｉ＞０．５ＬＳＢ以上」や「１.０００１＞Ａ１ｉ＞０.９９９９」等の閾値は、残像が実際に撮影画像中に人間の目で見えるか否かは放射線撮影装置１００が撮影する放射線画像のＳ／Ｎ比や、上記放射線撮影条件情報などに依存するものである。よって上記閾値は、上記条件によって変化するもので絶対的なものではない。画質による可視限界に関しては例えば、F.L.VAN NES and M.A.BOUMAN,”The effects of wavelength and luminance on visual modulation transfer”等でモデル化されている。
【０１１０】
上記方法によって、第１のＦＰＮ画像において「残像有り」と判定された矩形の数が１つでもあった場合、「第１のＦＰＮ画像には残像有り」と判断する。
【０１１１】
また同様に、第２のＦＰＮ画像において「残像有り」と判定された矩形の数が１つでもあった場合、「第２のＦＰＮ画像には残像有り」と判断する。また前記「残像有り」と判定された矩形の領域が隣り合うか否かを判定し、その連続した大きさが大きいほど警告の段階を上げる構成にすることも望ましい。同様に「残像有り」と判定された領域や、前記「Ａ２ｉ＞０．５ＬＳＢ以上」かつ「１.０００１＞Ａ１ｉ＞０.９９９９」などの指標も１段階だけでなく、複数の段階に分けて例えば「アラート」と「エラー」に分けることが望ましい。例えば、「Ａ２ｉ＞０．５ＬＳＢ以上」かつ「１.０００１＞Ａ１ｉ＞０.９９９９」ならば「エラー」で、どちらか一方である場合や、「Ａ２ｉ＞０．２ＬＳＢ以上」かつ「１.００００５＞Ａ１ｉ＞０.９９９９５」の場合は、「アラート」と分けることが望ましい。上記では各矩形に分けた後に平均値や標準偏差値を算出したが、もちろん第１のＦＰＮ画像から第２のＦＰＮ画像を引いた画像を作成し、その平均値、標準偏差値を算出する方法を用いても良い。
【０１１２】
そして第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像共に残像がないと判定された場合には処理をステップＳ２０９に進め、第１のＦＰＮ画像及び／又は第２のＦＰＮ画像に残像があると判定された場合には処理をステップＳ２０６に進める。
【０１１３】
以上説明した図３に示した処理により、ＦＰＮ画像における残像の有無を判定することができる。
【０１１４】
次に、残像消去の方法の分類について説明する。図４は残像消去の方法の分類を示す図である。残像消去を行う原因としては、第１のＦＰＮ画像若しくは第２のＦＰＮ画像の何れかに残像などの不均一性が存在するかである。
【０１１５】
同図を参照すると、ステップＳ２０４で、第１のＦＰＮ画像のみに残像があった（不均一性有り）と判定された場合には、上述の再白画像撮影方法を用いて残像を消去する。または、再白画像撮影方法を用いることを推奨することを図７に示す画面中にメッセージ７１０として表示する。
【０１１６】
一方、ステップＳ２０４で第２のＦＰＮ画像のみに残像があった（不均一性有り）と判定された場合には、上述の均一大線量照射撮影方法、またはＳｌｅｅｐ時間を増やす方法を用いて残像を消去する。または、再白画像撮影方法、またはＳｌｅｅｐ時間を増やす方法を用いることを推奨することを図７に示す画面中にメッセージ７１０として表示する。
【０１１７】
また、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像共に残像があった（不均一性有り）と判定された場合には、両残像の位置、量を比較し、まず両残像の位置が同じであるか否かを比較し、位置が同じある場合には不均一量が同等の残像であるか否かを判定する。不均一量の閾値としては、前述の式の閾値をそのまま用いても良い。ただし前述した通り撮影条件や観察する明度によって可視限界の閾値は変わる。前述した残像の位置、量が同等でない場合には、上述の再白画像撮影方法と前述の均一大線量照射撮影方法(とSleep時間の増大)の両方を用いて残像を消去する。
【０１１８】
図１０は、ＦＰＮ残像（ａｄｄｉｔｉｖｅ  Ｌａｇ）の画像への影響を示す図である。図１０は画像中の１断面のライングラフを取ったものである。なお、ここで言うＦＰＮ残像(additive Lag)とは、Ｘ線検出器１０７からの出力値が、Ｘ線照射後に照射された領域だけ上がることによって出る残像のことを指す。原因としては前述の図８で示したように蛍光体の残光などが挙げられる。図１０は、画像プロファイルをわかりやすくするため、このＦＰＮ残像量を約５００ＬＳＢと大げさな値にして示したシミュレーション図である。（１）は撮影画像と白画像に同一領域に同一量のＦＰＮ残像がある場合の撮影画像と白画像の画像プロファイル、（２）は撮影画像にのみＦＰＮ残像がある場合の画像プロファイルである。（１）、（２）の各々を白補正した時を考える。
【０１１９】
白補正の方法は、詳しくは特開２００１−３５１０９１にあるように、白画像の画素値をＷ、撮影画像の画素値をＸと置くと、白補正後の画素値はＸ／Ｗ＊ｍｅａｎ（Ｘ）で表される。このことと図１０を見比べることによって、(１)のように同一領域に同一量のＦＰＮ残像があれば、撮影画像の線量が白画像の線量と同一である時、白補正後に残像は表れないことがわかる。（１）のその他の場合や、（２）の場合は、白補正後に残像が表れる。つまり、図１０（１）の本当に限定された場合以外は、白補正では、ＦＰＮ残像が補正されないことがわかる。
【０１２０】
図１５は感度残像（ｍｕｌｔｉｐｌｉｃａｔｉｖｅ  ｌａｇ）とＦＰＮ残像（ａｄｄｉｔｉｖｅ  ｌａｇ）の線量依存性をグラフにしたものである。残像が無い場合の線量vs.出力が「ｏｒｉｇｉｎａｌ」として示されている。「ＦＰＮ残像（ａｄｄｉｔｉｖｅ  ｌａｇ）」は、線量に関わらず出力値(画素値)に、同一量がoffsetとして乗っている。「感度残像（ｍｕｌｔｉｐｌｉｃａｔｉｖｅ  ｌａｇ）」は、線量ｖｓ．出力の傾きがｏｒｉｇｉｎａｌの時と異なり、θａ−θｏだけ感度が上昇している。本実施形態において、判定するのは、ＦＰＮ残像（ａｄｄｉｔｉｖｅ  ｌａｇ）である。図１５を見ることで、また前述の白補正の式を見比べることで、白画像の線量と撮影画像の線量が同一である時には、白補正後には残像は、消滅することがわかる。ただしＦＰＮ残像が同一領域で同一量の時である。
【０１２１】
図５、図６は、残像有無の判定処理の説明を補足する図である。本実施形態に係る放射線撮影装置１００においては、白補正を行うため、白画像中に残像が存在するか否かも比較することが必要となる。白補正後の画像における残像有無を判定するためには、第１のＦＰＮ画像を見れば十分である。
【０１２２】
図５は、第２のＦＰＮ画像で、残像がある場合を示している。残像の量および位置が全て同一であると仮定した場合、（１）、（２）で示すように第１のＦＰＮ画像の残像有無の効果が、放射線画像における効果と正反対になる可能性がある。
【０１２３】
また、図６のように、第１のＦＰＮ画像中に残像がない場合でも、（１）、（２）の第２のＦＰＮ画像の残像有無において、残像が有った場合に、白補正後の画像中には、残像が出てしまう。
【０１２４】
これらの図５、図６で説明される理由により、残像の有無を判定するためには、第２のＦＰＮ画像だけでなく、第２のＦＰＮ画像を、第１のＦＰＮ画像と比較して判定する必要がある。なお上記残像は、画像から見た現象であり、他の例えば外来磁気ノイズなどによる不均一性などによるものであっても良い。
【０１２５】
なお、比較判定用のＦＰＮ画像は、白画像取得時に取得されたＦＰＮ画像だけでなく、例えば受入検査時や工場出荷時に取得されたＦＰＮ画像であっても良い。また本ＦＰＮ画像は、１枚のＦＰＮ画像に限定しているわけでなく、例えば複数枚のＦＰＮ画像の平均値であっても良いし、複数毎のＦＰＮ画像を用いても良い。
【０１２６】
［第２の実施形態］
残像有無の判定を、ＦＰＮ画像のエッジ検出を用いて行う本実施形態について説明する。本実施形態では残像有無の判定手段として、撮影画像前のＦＰＮ画像と白画像時のＦＰＮ画像を用いて、エッジ検出を行い、残像の検出を行うものである。
【０１２７】
図９は、本実施形態に係る、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定処理のフローチャートである。なお同図のフローチャートに従ったプログラムはメモリ１１１に格納されており、ＣＰＵ１０９がこれを実行することで同図のフローチャートに従った処理を実行することができる。残像有無判定手段Ｓ２０４の、エッジ検出を用いて行うフローチャートが示されている。
【０１２８】
図９の各ステップについて説明する。まずＳ４０１でＦＰＮ画像のエッジ検出する。エッジ検出の方法としては、例えば、特開２００１−３０７０６４を用いれば良い。エッジ部周辺の画素値のパターンで判別する方法である。ここでは、Ｘ線画像での照射野認識のためのエッジ抽出の方法であるが、ＦＰＮ画像でも同様である。ただし、ＦＰＮ画像ではＦＰＮノイズ(Ｆｉｘｅｄ  Ｐａｔｔｅｒｎ  Ｎｏｉｓｅ：固定パターンノイズ)が載っている可能性があるため、ＦＰＮ画像を縦平均、横平均をしてノイズを補正した後で、行うことが望ましい。またＦＰＮノイズを補正するために、第一のＦＰＮ画像と第二のＦＰＮ画像の差分画像を用いてエッジ検出を行う方法を用いても良い。（この場合、後記のステップS４０３において、第一、第二のＦＰＮ画像中のエッジが同一部分か否かを１枚の画像から判定することができる。）次にＳ４０２で第一第二のＦＰＮ画像のエッジ有無を判定する。Ｓ４０３で第一第二のＦＰＮ画像のエッジ部分が同一領域であるか否かを判定する。同一領域であるか否かは、エッジの傾きと位置で判定する。エッジの原因となる残像の元画像の散乱線によるボケや上記エッジ抽出の計算誤差の範囲が異なる場合は、同一であるか否かを画像および、その画像のサブトラクションを見て判断するようにしても良い。次に、Ｓ４０４で第一第二のＦＰＮ画像内に同一エッジがある否かによって、同一エッジがあれば、Ｓ２０８の「残像なしで撮影可能」と表示し撮影に移り、同一エッジでなければＳ２０５で残像を消去するか否かを決定する。
【０１２９】
なお、残像量は、前画像の線量差が残るため、素抜け領域と照射絞りの間が１番大きな値になる可能性が大きい。つまり残像と前画像の照射野には関連性があるため、前画像の照射野を用いて、その部分にエッジがあるか否かを判定しても良い。
【０１３０】
また本実施形態のエッジ検出によって判断する方法は、第１の実施形態を補完する意味で用いることも可能である。例えば残像が画像に対して滑らかである場合には、撮影画像上にシェーディングが残るだけで診断上は影響がない可能性がある。診断上影響があるのは、エッジが画像上にある場合と考えられる。つまり第１の実施形態では、前者を残像有りと判定してしまう。よって、第１の実施形態の補完として本実施形態を用いる構成をとっても良い。
【０１３１】
本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記録媒体（または記憶媒体）を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。この場合、記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記録した記録媒体は本発明を構成することになる。
【０１３２】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【０１３３】
さらに、記録媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【０１３４】
本発明を上記記録媒体に適用する場合、その記録媒体には、先に説明したフローチャートに対応するプログラムコードが格納されることになる。
【図面の簡単な説明】
【０１３５】
【図１】本発明の実施形態に係る放射線撮影装置１００の基本構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に係る、第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定処理のフローチャートである。
【図３】ステップＳ２０４における処理、即ち、第１のＦＰＮ画像における残像の有無、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定処理（第１のＦＰＮ画像、第２のＦＰＮ画像における残像の有無の判定）の処理のフローチャートである。
【図４】残像消去の方法の分類を示す図である。
【図５】残像有無の判定処理の説明を補足する図である。
【図６】残像有無の判定処理の説明を補足する図である。
【図７】操作装置１１６の表示画面上に表示される、第１のＦＰＮ画像もしくは第２のＦＰＮ画像中の残像の存在、不均一性の警告を示すメッセージを表示するための画面の一例を示す図である。
【図８】残像有無の判定処理の説明を補足する図である。
【図９】エッジ残像有無の判定処理のフローチャートを示す図である。
【図１０】ＦＰＮ残像（additive Lag）の画像へに影響を示す図である。
【図１１】光検出器アレー構成例を示す図である。
【図１２】光検出器アレー駆動概念タイミングチャートを示す図である。
【図１３】Ｘ線撮影システムタイミングチャートを示す図である。
【図１４】光検出部等価回路図を示す図である。
【図１５】感度残像（multiplicative Lag）とＦＰＮ残像（additive Lag）の線量依存性を示す図である。
【図１】
2005095578.tif 000003
【図２】
2005095578.tif 000004
【図３】
2005095578.tif 000005
【図４】
2005095578.tif 000006
【図５】
2005095578.tif 000007
【図６】
2005095578.tif 000008
【図７】
2005095578.tif 000009
【図８】
2005095578.tif 000010
【図９】
2005095578.tif 000011
【図１０】
2005095578.tif 000012
【図１１】
2005095578.tif 000013
【図１２】
2005095578.tif 000014
【図１３】
2005095578.tif 000015
【図１４】
2005095578.tif 000016
【図１５】
2005095578.tif 000017