(57)【要約】【課題】レーザ素子の発光出力の不安定要因を的確に判定する。【解決手段】レーザ素子と、前記レーザ素子の発光出力を観測するための受光素子と、を有する光ピックアップを、光ピックアップ検査装置が検査する方法であって、前記受光素子において前記発光出力が観測された際に生成されるモニタ信号に基づいて前記発光出力を所定の目標値にすべく閉ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第１の振幅値と、前記発光出力を前記目標値にすべく開ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第２の振幅値と、を検出する工程と、前記第１の振幅値と前記第２の振幅値との差が所定の基準を越えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定である旨を判定する工程と、を有する。【選択図】    図１
2005222594.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ素子と、前記レーザ素子の発光出力を観測するための受光素子と、を有する光ピックアップを、光ピックアップ検査装置が検査する方法であって、
前記受光素子において前記発光出力が観測された際に生成されるモニタ信号に基づいて前記発光出力を所定の目標値にすべく閉ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第１の振幅値と、前記発光出力を前記目標値にすべく開ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第２の振幅値と、を検出する工程と、
前記第１の振幅値と前記第２の振幅値との差が所定の基準を越えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定である旨を判定する工程と、
を有することを特徴とする光ピックアップの検査方法。
【請求項２】
前記受光素子を、前記レーザ素子から出射するレーザ光の出射方向に沿った位置に配設されるフロントモニタダイオードとすること、を特徴とする請求項１に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項３】
前記第１及び前記第２の振幅値を検出する工程は、
前記モニタ信号に基づいて前記発光出力を前記目標値にすべく前記レーザ素子の駆動制御を行うＡＰＣ（Automatic Power Control）を実行する工程と、
前記ＡＰＣを実行したとき前記受光素子において生成される前記モニタ信号の前記第１の振幅値を検出する工程と、
前記モニタ信号とは無関係に前記発光出力を前記目標値にすべく一定の駆動電流で前記レーザ素子の駆動制御を行うＡＣＣ(Automatic Current Control)を実行する工程と、
前記ＡＣＣを実行したとき前記受光素子において生成される前記モニタ信号の前記第２の振幅値を検出する工程と、
を有することを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項４】
前記第１及び前記第２の振幅値を検出する工程は、
前記受光素子において生成された前記モニタ信号を所定期間保持する工程と、
前記所定期間保持されたモニタ信号のピーク値及びボトム値を検出する工程と、
前記検出された前記ピーク値及び前記ボトム値の差を算定する工程と、を有し、
前記ピーク値及び前記ボトム値との差を前記第１及び前記第２の振幅値とすること、
を特徴とする請求項３に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項５】
前記第１の振幅値を検出する工程は、
前記ＡＰＣにおいて前記発光出力の目標値となるＡＰＣ用基準値を設定する工程と、
前記ＡＰＣ用基準値に基づいて前記ＡＰＣを実行したとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号の前記ピーク値及び前記ボトム値の差を算定する工程と、を有し、
前記第２の振幅値を検出する工程は、
前記ＡＰＣ用基準値を、前記ＡＣＣにおいて前記発光出力の目標値となるＡＣＣ用基準値に補正する工程と、
前記ＡＣＣ用基準値に基づいて前記ＡＣＣを実行したとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号の前記ピーク値及び前記ボトム値の差を算定する工程と、を有すること、
を特徴とする請求項４に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項６】
前記補正する工程は、
前記ＡＰＣ用基準値（Ｘ）と、前記ＡＰＣ用基準値に基づいて前記ＡＰＣを実行したときの前記モニタ信号を所定期間保持した保持値（Ｙ）と、を対応づけた対応づけ（Ａ）を設定する工程と、
前記ＡＣＣにおいて前記発光出力の目標値となるＡＣＣ用基準値（Ｒ）を設定する工程と、
前記ＡＣＣ用基準値（Ｒ）に基づいて一回目の前記ＡＣＣを実行したとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号を前記所定期間保持した保持値（Ｔ）を検出する工程と、
前記ＡＣＣにおいて前記ＡＣＣ用基準値（Ｒ）とは異なる前記発光出力の目標値となるＡＣＣ用基準値（Ｓ）を設定する工程と、
前記ＡＣＣ用基準値（Ｓ）に基づいて二回目の前記ＡＣＣを実行したとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号を前記所定期間保持した保持値（Ｕ）を検出する工程と、
前記対応づけ（Ａ）に基づいて、二つの前記保持値（Ｔ、Ｕ）それぞれに対応づけられる二つの前記ＡＰＣ用基準値（Ｖ、Ｗ）を算定する工程と、
二つの前記ＡＣＣ用基準値（Ｒ、Ｓ）と二つの前記ＡＰＣ用基準値（Ｖ、Ｗ）とを対応づけた対応づけ（Ｂ）を算定する工程と、
前記対応づけ（Ｂ）に基づいて前記補正を行う工程と、
を有することを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項７】
前記対応づけ（Ａ）を設定する工程は、
前記ＡＰＣにおいて前記発光出力の目標値となるＡＰＣ用基準値（Ｍ）を設定する工程と、
前記ＡＰＣ用基準値（Ｍ）に基づいて一回目の前記ＡＰＣを実行したとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号を前記所定期間保持した保持値（Ｐ）を検出する工程と、
前記ＡＰＣにおいて前記ＡＰＣ用基準値（Ｍ）とは異なる前記発光出力の目標値となるＡＰＣ用基準値（Ｎ）を設定する工程と、
前記ＡＰＣ用基準値（Ｎ）に基づいて二回目の前記ＡＰＣを実行したとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号を前記所定期間保持した保持値（Ｑ）を検出する工程と、
二つの前記ＡＰＣ用基準値（Ｍ、Ｎ）と、二つの前記保持値（Ｐ、Ｑ）と、を対応づける工程と、
を有することを特徴とする請求項６に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項８】
前記前記第１及び前記第２の振幅値を検出する工程は、
前記発光出力の複数の前記目標値ごとの前記第１及び前記第２の振幅値を検出し、
前記判定する工程は、
少なくとも一つの前記目標値に応じて算定された前記第１及び前記第２の振幅値との差が前記所定の基準を超えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定であるものと判定すること、
を特徴とする請求項１に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項９】
前記判定する工程は、
前記第１及び前記第２の振幅値との差が前記所定の基準を超えない場合、
前記第１の振幅値が所定の閾値を超えるときには、前記レーザ素子に基づいて前記発光出力が不安定であるものと判定し、
前記第１の振幅値が前記閾値を超えないときには、前記発光出力が安定であるものと判定すること、
を特徴とする請求項１に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項１０】
前記第１及び前記第２の振幅値を検出する場合、フォーカスサーボを稼動するとともにトラッキングサーボを停止する工程を有すること、を特徴とする請求項１に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項１１】
前記第１及び前記第２の振幅値を検出する場合、検査用光ディスクをＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式で駆動制御する工程を有すること、を特徴とする請求項１に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項１２】
リードパワー値と当該リードパワー値より大きいライトパワー値を有する記録パルスの所定パターンを予め設定しておき、前記ＡＰＣもしくは前記ＡＣＣを実行する場合、前記所定パターンに基づいて前記レーザ素子の駆動制御を行う工程を有すること、を特徴とする請求項３に記載の光ピックアップの検査方法。
【請求項１３】
レーザ素子と、前記レーザ素子の発光出力を観測するための受光素子と、を有する光ピックアップの検査方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記受光素子において前記発光出力が観測されたときに生成されるモニタ信号に基づいて、前記発光出力を所定の目標値にすべく閉ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第１の振幅値と、前記発光出力を前記目標値にすべく開ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第２の振幅値と、を検出するステップと、
前記第１の振幅値と前記第２の振幅値との差が所定の基準を越えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定である旨を判定するステップと、
を有することを特徴とするプログラム。
【請求項１４】
レーザ素子と、前記レーザ素子の発光出力を観測するための受光素子と、を有する光ピックアップと、前記受光素子において前記発光出力が観測されたときに生成されるモニタ信号に基づいて、前記発光出力を一定にすべく前記レーザ素子の駆動制御を行うＡＰＣ（Automatic Power Control）部と、前記モニタ信号とは無関係に前記発光出力を前記目標値にすべく一定の駆動電流で前記レーザ素子の駆動制御を行うＡＣＣ(Automatic Current Control)部と、を有する光ディスク装置であって、
前記ＡＰＣ部において、前記モニタ信号に基づいて前記発光出力を所定の目標値にすべく前記レーザ素子の駆動制御が行われたとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号の第１の振幅値を検出し、
前記ＡＣＣ部において、前記発光素子を前記目標値にすべく前記レーザ素子の駆動制御が行われたとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号の第２の振幅値を検出し、
前記第１の振幅値と前記第２の振幅値との差が所定の基準を越えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定である旨を判定する、制御部を有すること、
を特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップの検査方法、プログラム、光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１２は、光ピックアップの一構成を示す図である。光ピックアップには、レーザダイオード（以下、ＬＤ（Laser Diode）と称する。）４０１の発光出力を観測するためのフロントモニタダイオード（以下、ＦＭＤ（Front Monitor Diode）と称する。）４０２が搭載されている。
【０００３】
ＦＭＤ４０２は、通常、ＬＤ４０１からのレーザ光の出射方向に沿った位置、すなわちＬＤ４０１の正面側に取り付けられる。ＬＤ４０１から出射されたレーザ光の大半は、ハーフミラー４０３で反射された後、対物レンズ４０４を介して光ディスク３００上に集光されるが、ＬＤ４０１から出射されたレーザ光の一部は、ハーフミラー４０３を透過してＦＭＤ４０２に入射される。この結果、ＦＭＤ４０２は、ＬＤ４０１の発光出力を観測することができ、この発光出力に比例したパワーモニタ信号（受光電流）を生成するのである。そして、このパワーモニタ信号に基づいて、ＬＤ４０１の発光出力を安定化させるためのＡＰＣ（Automatic Power Control）が、ＬＤ４０１に対して行われる。
【０００４】
ところで、光ディスク３００からの反射光の大半は、対物レンズ４０４、ハーフミラー４０３を透過して、光検出器４０５へと入射される。この結果、光検出器４０５は、ＲＦ信号や、ＴＥ（Tracking Error）信号ならびにＦＥ(Focusing Error)信号を生成するのである。しかし、光ディスク３００からの反射光の一部は、ハーフミラー４０３によって反射されて、ＬＤ４０１への戻り光となる。この戻り光は、ＬＤ４０１から出射するレーザ光と相互干渉するため、ＬＤ４０１の出力の不安定要因として知られている。
【０００５】
このため、光ピックアップの出荷前の品質検査として、ＬＤ４０１への戻り光に起因してＬＤ４０１の出力が不安定であるか否かを検査する必要があった（例えば、以下に示す特許文献１を参照）。
【特許文献１】特開２００１−３２０１２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ＦＭＤ４０２は、小さな光学部品であるため、光ピックアップ内への取り付け作業は困難である。さらに、図１２に示すように、ＦＭＤ４０２は、入射光が反射されてハーフミラー４０３、ひいてはＬＤ４０１に戻ることのないように、ＬＤ４０１から出射するレーザ光の出射方向に沿った光軸に対して若干傾けて取り付けることが求められる。  
このように、光ピックアップ内の指定場所にＦＭＤ４０２を取り付ける作業は、極めて煩雑であり、取り付け位置に問題が起こりやすかった。ここで、ＦＭＤ４０２の取り付け位置に問題があった場合、ＦＭＤ４０２において生成されるモニタ信号は不安定なものとなる。そして、不安定なモニタ信号がＡＰＣに用いられた場合、ＡＰＣのサーボ制御が破綻し、ＬＤ４０１の出力が不安定なものとなる。
【０００７】
しかしながら、従来の光ピックアップの検査工程では、ＦＭＤ４０２に起因したＬＤ４０１の出力の不安定要因が何ら考慮されていなかった。このため、ＦＭＤ４０２に起因してＬＤ４０１の出力が不安定であるにも関わらず、その要因が特定されず、不良品としてスクリーニング（選別）されないという可能性があった。さらに、従来の光ピックアップの検査工程において、「ＬＤ４０１の出力の不安定要因がＬＤ４０１への戻り光である。」との誤った判断がなされてしまい、無駄な不良解析に時間を割かれる可能性があった。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前述した課題を解決するための主たる本発明は、レーザ素子と、前記レーザ素子の発光出力を観測するための受光素子と、を有する光ピックアップを、光ピックアップ検査装置が検査する方法であって、前記受光素子において前記発光出力が観測された際に生成されるモニタ信号に基づいて、前記発光出力を所定の目標値にすべく閉ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第１の振幅値と、前記発光出力を前記目標値にすべく開ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第２の振幅値と、を検出する工程と、前記第１の振幅値と前記第２の振幅値との差が所定の基準を越えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定である旨を判定する工程と、を有することとする。
【０００９】
また、本発明のその他の実施態様としては、レーザ素子と、前記レーザ素子の発光出力を観測するための受光素子と、を有する光ピックアップの検査方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記受光素子において前記発光出力が観測されたときに生成されるモニタ信号に基づいて、前記発光出力を所定の目標値にすべく閉ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第１の振幅値と、前記発光出力を前記目標値にすべく開ループ制御を実行したときの前記モニタ信号の第２の振幅値と、を検出するステップと、前記第１の振幅値と前記第２の振幅値との差が所定の基準を越えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定である旨を判定するステップと、を有することとする。
【００１０】
また、本発明のその他の実施態様としては、レーザ素子と、前記レーザ素子の発光出力を観測するための受光素子と、を有する光ピックアップと、前記受光素子において前記発光出力が観測されたときに生成されるモニタ信号に基づいて、前記発光出力を一定にすべく前記レーザ素子の駆動制御を行うＡＰＣ（Automatic Power Control）部と、前記モニタ信号とは無関係に前記発光出力を前記目標値にすべく一定の電流で前記レーザ素子の駆動制御を行うＡＣＣ(Automatic Current Control)部と、を有する光ディスク装置であって、前記ＡＰＣ部において、前記モニタ信号に基づいて前記発光出力を所定の目標値にすべく前記レーザ素子の駆動制御が行われたとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号の第１の振幅値を検出し、前記ＡＣＣ部において、前記発光素子を前記目標値にすべく前記レーザ素子の駆動制御が行われたとき、前記受光素子において生成される前記モニタ信号の第２の振幅値を検出し、前記第１の振幅値と前記第２の振幅値との差が所定の基準を越えるとき、前記受光素子に基づいて前記発光出力が不安定である旨を判定する、制御部を有すること、とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、レーザ素子の発光出力の不安定要因を的確に判定することが可能な光ピックアップの検査方法およびその検査方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、光ディスク装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
＜光ピックアップ検査システム＞
図１は、光ピックアップ２０の品質検査を実施するための光ピックアップ検査装置２００を含めた光ピックアップ検査システムの概略構成を示す図である。本実施形態では、光ピックアップ検査装置２００はインタフェース９０を介してコンピュータ５００と接続されることとする。なお、コンピュータ５００は、光ピックアップ検査装置２００に対して本発明に係る検査機能を実行させるための起動指令を与えるものであり、また、本発明に係る検査の結果を確認するための表示装置を備えるものである。
【００１３】
以下、図１をもとに光ピックアップ検査装置２００の構成を説明する。  
検査用光ディスク１０は、本発明に係る光ピックアップの検査を行う場合に用いられる光ディスクである。本発明に係る検査時において、光ピックアップから記録パルスが出力されても影響の無いように、アルミ蒸着にて信号面が形成された再生専用のスタンプディスクが採用される。
【００１４】
検査対象とする光ピックアップ２０は、１／４波長板などの偏光用光学素子を設けない無偏光光学系を採用することとする。つまり、偏光用光学素子を設けないため、検査用光ディスク１０から反射されてＬＤ２１に戻ってきた戻り光の影響が、顕著となって現れる場合とする。なお、光ピックアップ２０は、ＬＤ２１、ＦＭＤ２２、光検出器２３（以下、ＰＤ（Photo Detector）と称する。）や、その他、対物レンズなどの光学レンズ（不図示）を備える。さらに、光ピックアップ２０は、スレッド送り制御用、トラッキング制御用、フォーカス制御用の各アクチュエータを備えるが、それらの図示ならびに説明は省略する。
【００１５】
ＬＤ（『レーザ素子』）２１は、ＬＤドライバー３０から供給される駆動電流に基づいて、検査用光ディスク１０に対して記録及び再生を行うためのレーザ光を出射するものである。ＬＤ２１の駆動方式としては、ノンマルチパルス方式を採用する。ノンマルチパルス方式とは、スペース区間ではリードパワー値Ｐｒ、マーク区間ではライトパワー値Ｐｍを出力するものとし、１つの記録マークを１つの記録パルスで形成するものである。なお、マーク区間における先頭側の所定区間、バイアス値Δ（ライトパワー値Ｐｍとリードパワー値Ｐｒの差分値の数％〜２０％程度）をライトパワー値に重畳させてＬＤ２１を駆動してもよい。
【００１６】
ＦＭＤ２２は、ＬＤ２１の正面側に取り付けられており、ＬＤ２１から光ディスク２００に対して出射されたレーザ光の一部を受光して、この受光光量に比例した受光電流（以下、パワーモニタ信号と称する。）を生成する。つまり、ＦＭＤ２２は、ＬＤ２１の発光出力（パワー値）を観測し、ＡＰＣを実施するために必要なパワーモニタ信号を生成するための受光素子である。なお、パワーモニタ信号は、Ｉ／Ｖ変換器（不図示）などを介して電圧に変換されて、ＳＨ回路１０１、１１３に供給されることとする。
【００１７】
ＰＤ２３は、光ディスク２００からの反射光の一部を受光して、この受光光量に比例した受光電流（以下、検出信号と称する。）を生成するものである。このＰＤ２３で生成された検出信号は、Ｉ／Ｖ変換器（不図示）を介して電圧に変換されて、ＴＥ生成回路４１、ＦＥ生成回路４２、ＲＦ生成回路４３にそれぞれ供給される。
【００１８】
ＴＥ生成回路４１は、ＰＤ２３で生成された検出信号に基づいて、光ピックアップ２０が備えるトラッキング制御用アクチュエータを駆動するためのＴＥ信号を生成し、ＦＥ生成回路４２は、ＰＤ２３で生成された検出信号に基づいて、光ピックアップ２０が備えるフォーカス制御用アクチュエータを駆動するためのＦＥ信号を生成するものである。ＲＦ生成回路４３は、ＰＤ２３で生成された検出信号に基づいて、ＲＦ信号を生成するものである。
【００１９】
マルチプレクサ回路５０は、ＴＥ生成回路４１で生成されたＴＥ信号、ＦＥ生成回路４２で生成されたＦＥ信号、ＲＦ生成回路４３で生成されたＲＦ信号、後述のＳＨ回路１１３の出力であるＷＳＨＯ信号が入力として供給される。マルチプレクサ回路５０は、システムコントローラ６０からの指令に基づいて、ＴＥ信号、ＦＥ信号、ＲＦ信号、ＷＳＨＯ信号のいずれかを出力として選択するのである。
【００２０】
ＰＨ（Peak Hold）回路５１は、マルチプレクサ回路５０において選択された信号のピーク値（アナログ値）を保持するものである。このピーク値（アナログ値）は、Ａ／Ｄコンバータ５２を介してアナログ値からデジタル値へと変換されて、システムコントローラ６０に供給される。
【００２１】
ＢＨ（Peak Hold）回路５３は、マルチプレクサ回路５０において選択された信号のボトム値（アナログ値）を保持するものである。このボトム値（アナログ値）は、Ａ／Ｄコンバータ５４を介してアナログ値からデジタル値へと変換されて、システムコントローラ６０に供給される。
【００２２】
システムコントローラ（『制御部』）６０は、ＣＰＵ、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータなどとして実施され、光ピックアップ検査装置２００全般のシステム制御を司るものである。なお、システムコントローラ６０が備える各機能は、ソフトウェア（プログラム）として実現されており、システムコントローラ６０がアクセス可能なメモリ７０に格納されることとする。もちろん、システムコントローラ６０が備える各機能は、ハードウェア（回路）として実現されていてもよい。
【００２３】
システムコントローラ６０は、例えば、ＲＦ信号のピーク値及びボトム値に基づいて所定の記録／再生処理を実行し、ＴＥ信号やＦＥ信号のピーク値及びボトム値に基づいて所定のサーボ処理を実行する。また、システムコントローラ６０は、ＡＰＣ回路（１０３、１１５）やＡＣＣ回路１１２を適宜なタイミングで稼動すべく、つぎのような処理を行うこととする。
【００２４】
システムコントローラ６０は、リードパワー値Ｐｒを一定にさせるためのＡＰＣを実施すべく、リードパワー値Ｐｒの基準となるＡＰＣ用基準値（ディジタル値）を、Ｄ／ＡコンバータであるＲＤＡＣ１０２に対して供給する。同様に、ライトパワー値Ｐｍを一定にさせるためのＡＰＣを実施すべく、ライトパワー値Ｐｍの基準となるＡＰＣ用基準値（ディジタル値）を、Ｄ／ＡコンバータであるＷＤＡＣ１１４に対して供給する。
【００２５】
また、システムコントローラ６０は、ＬＤ２１がライトパワー値Ｐｍを出力する場合、ＬＤ２１の駆動電流を一定にさせるためのＡＣＣ（Automatic Current Control）を実施すべく、基準とするＡＣＣ用基準値（ディジタル値）を、Ｄ／ＡコンバータであるＷＤＡＣ１１１に対して供給する。
【００２６】
また、システムコントローラ６０は、ＬＤ２１がライトパワー値Ｐｍを出力する場合、ＡＰＣもしくはＡＣＣのいずれか一方の制御を選択すべく、スイッチ１１６のＯＮ／ＯＦＦを制御する。この結果、ライトパワー信号発生回路１１７から出力されるライトパワー信号ＶＷＤＣとしては、ＡＣＣ回路１１２の出力又はＡＰＣ回路１１５の出力のいずれか一方が選択されることとなる。
【００２７】
また、システムコントローラ６０は、実際の記録時に用いられるライトストラテジ情報を、メモリ７０に記憶しておく。なお、ライトストラテジ情報とは、ＲＡＮＤＯＭ＿ＥＦＭなど、記録パルスの所定パターンのことである。システムコントローラ６０は、ライトストラテジ情報に基づいてＬＤ２１を駆動すべく、ＡＰＣ用基準値やＡＣＣ用基準値を適宜なタイミングで調整するのである。
【００２８】
さらに、システムコントローラ６０は、詳細は後述するが、ＡＰＣの制御ループを閉じた場合のＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値との差ＰＢ＿ＯＮと、ＡＰＣの制御ループを開いた場合のＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値との差ＰＢ＿ＯＦＦと、の差（ＰＢ＿ＯＮ−ＰＢ＿ＯＦＦ）を算定する。そして、この差（ＰＢ＿ＯＮ−ＰＢ＿ＯＦＦ）が、所定の基準値を超える場合に、ＦＭＤ２２に基づいてＬＤ２１の発光出力が不安定（以下、ＦＭＤ２２の不具合と称する。）であるものと判定する。
【００２９】
エンコーダ／デコーダ８０は、光ピックアップ２０の検査においてＬＤ２１を記録パルスで駆動する場合、コンピュータ５００からインタフェース９０を介して供給される検査用記録データに関して所定の変調処理を行う。また、エンコーダ／デコーダ８０は、光ピックアップ２０の検査において検査用光ディスク１０を再生する場合、検査用光ディスク１０から再生された信号（ＲＦ信号）に関して所定の復調処理を行う。この復調後のデータは、インタフェース９０を介してコンピュータ５００に供給可能である。なお、所定の変調／復調処理としては、例えば、光ピックアップ２０がＣＤ−Ｒメディアに対応する場合、ＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）方式、ＣＩＲＣ（Cross Interleave Reed-Solomon Code）方式を採用することとする。
【００３０】
また、エンコーダ／デコーダ８０は、サンプル・ホールド信号ＲＡＰＣをＳＨ（Sample Hold）回路１０１に供給する。なお、サンプル・ホールド信号ＲＡＰＣとは、ＳＨ回路１０１に対して、スペース区間に対応したパワーモニタ信号を、所定のサンプリング期間分、サンプル・ホールドさせるための制御信号である。同様に、エンコーダ／デコーダ８０は、サンプル・ホールド信号ＷＡＰＣをＳＨ（Sample Hold）回路１１３に供給する。なお、サンプル・ホールド信号ＷＡＰＣとは、ＳＨ回路１１３に対して、マーク区間に対応したパワーモニタ信号を、所定のサンプリング期間分、サンプル・ホールドさせるための制御信号である。
【００３１】
さらに、エンコーダ／デコーダ８０は、リードパワー値Ｐｒとライトパワー値Ｐｍを有した記録パルスを形成すべく、スイッチ１０５のＯＮ／ＯＦＦを制御するためのＬＤＯＮ信号、スイッチ１１８のＯＮ／ＯＦＦを制御するためのＰＥＯ信号を、各スイッチ（１０５、１１８）に対して供給する。なお、ＬＤＯＮ信号は、スペース区間及びマーク区間ともにスイッチ１０５をＯＮさせるレベル（Ｈレベル）とする。ＰＥＯ信号は、スペース区間ではスイッチ１１８をＯＦＦさせるレベル（Ｌレベル）とし、マーク区間ではスイッチ１１８をＯＮさせるレベル（Ｈレベル）とする。
【００３２】
ＳＨ回路１０１は、エンコーダ／デコーダ８０から供給されたサンプル・ホールド信号ＲＡＰＣがＨレベルとなる期間（サンプリング期間）、ＦＭＤ２２で生成されたパワーモニタ信号をサンプル・ホールドする。このとき、サンプル・ホールドされた信号のことを、ＲＳＨＯ信号と称することとする。
【００３３】
ＳＨ回路１１３は、エンコーダ／デコーダ８０から供給されたサンプル・ホールド信号ＷＡＰＣがＨレベルとなる期間（サンプリング期間）、ＦＭＤ２２より供給されたパワーモニタ信号をサンプル・ホールドする。このとき、サンプル・ホールドされた信号を、ＷＳＨＯ信号と称することとする。なお、このＷＳＨＯ信号は、マルチプレクサ回路５０に供給される。
【００３４】
ＡＰＣ回路１０３は、ＳＨ回路１０１においてサンプル・ホールドされたＲＳＨＯ信号と、ＲＤＡＣ１０２によってデジタル値からアナログ値に変換されたＡＰＣ用基準値（アナログ値）と、の差信号を求める。ＡＰＣ回路１０３は、この差信号に基づいて、リードパワー値Ｐｒを所定の目標値（ＡＰＣ用基準値に応じたパワー値）とすべくＡＰＣを実行する。
【００３５】
ＡＰＣ回路１１５もまた同様に、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号と、ＷＤＡＣ１１４によってデジタル値からアナログ値に変換されたＡＰＣ用基準値（アナログ値）と、の差信号を求める。ＡＰＣ回路１１５は、この差信号に基づいて、ライトパワー値Ｐｍを所定の目標値（ＡＰＣ用基準値に応じたパワー値）とすべくＡＰＣを実行する。
【００３６】
ＡＣＣ回路１１２は、システムコントローラ６０によってＷＤＡＣ１１１に設定されたＡＣＣ用基準値に基づいて、ＬＤ２１の駆動電流を一定にさせるべくＡＣＣを実行する。なお、ＡＣＣは、ＦＭＤ２２で生成されたパワーモニタ信号とは無関係に行われる。
【００３７】
リードパワー信号発生回路１０４は、ＡＰＣ回路１０３からのＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ２２で観測されたリードパワー値Ｐｒを一定とすべく、リードパワー信号ＶＲＤＣを生成する。このリードパワー信号ＶＲＤＣは、ＬＤＯＮ信号によってスイッチ１０５がＯＮした場合に、ＬＤドライバー３０に供給される。
【００３８】
ライトパワー信号発生回路１１７は、スイッチ１１６のＯＮ／ＯＦＦによって、ＡＣＣ回路１１２からのＡＣＣ出力又はＡＰＣ回路１１５からのＡＰＣ出力のいずれか一方が供給される。そして、ライトパワー信号発生回路１１７は、ＡＣＣ出力又はＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ２２で観測されたライトパワー値Ｐｍを一定とすべく、ライトパワー信号ＶＲＤＣを生成する。このライトパワー信号ＶＲＤＣは、ＰＥＯ信号によってスイッチ１１８がＯＮした場合に、ＬＤドライバー３０に供給される。
【００３９】
ＬＤドライバー３０は、リードパワー信号発生回路１０４から供給されるリードパワー信号ＶＲＤＣと、ライトパワー信号発生回路１１７から供給されるライトパワー信号ＶＷＤＣと、に基づいてＬＤ２１を駆動する。この結果、リードパワー値Ｐｒとライトパワー値Ｐｍとを有する記録パルスが、ＬＤ２１から出力される。なお、検査用光ディスク１０を再生する場合、ＬＤドライバー３０は、リードパワー信号発生回路１０４からリードパワー信号ＶＲＤＣのみが供給されてＬＤ２１を駆動することになる。
【００４０】
＜ＦＭＤの不具合＞
本発明に係る光ピックアップ２０の検査方法としては、ＦＭＤ２２の不具合（ＦＭＤ２２に基づいてＬＤ２１の発光出力が不安定となること）を検査することができる。ここで、ＦＭＤ２２の不具合が発生する要因としては、ＦＭＤ２２の光ピックアップ内での取り付け不良や、初期不良や劣化などのＦＭＤ２２自体の不良などが挙げられる。
【００４１】
図２は、ＦＭＤ２２の不具合が発生した場合の主要信号の波形を示す図である。  
図２（ａ）は、ＦＭＤ２２でＬＤ２１の発光出力を観測した結果、生成されるパワーモニタ信号の波形図である。なお、パワーモニタ信号は、ＬＤ２１の発光出力とは極性が反転して生成されるため、マーク区間のパワー値（ライトパワー値Ｐｍ）は、スペース区間のパワー値（リードパワー値Ｐｒ）よりも低くなる。ここで、ＦＭＤ２２の不具合が発生した場合、パワーモニタ信号のマーク区間では、オーバーシュートやアンダーシュート、リンギングなどのノイズ成分が現れることとなる。  
図２（ｂ）は、システムコントローラ６０がＳＨ回路１１３に対して供給するサンプル・ホールド信号ＷＡＰＣの波形図である。同図に示すように、サンプル・ホールド信号ＷＡＰＣは、パワーモニタ信号のマーク区間内の所定区間を、サンプリング期間とする。  
図２（ｃ）は、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号の波形図である。マーク区間中のパワーモニタ信号は不安定な波形であるため、マーク区間内の所定区間サンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号もまた同様に不安定な波形となる。
【００４２】
図３は、システムコントローラ６０がＷＤＡＣ１１４に供給するＡＰＣ用基準値（以下、ＷＤＡＣ設定値と称する。）と、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号との関係を示す図である。ＷＤＡＣ設定値は、一般的に、１０ｍＷ単位で設定される。ここで、ＷＤＡＣ設定値が、“１０ｍＷ”、“２０ｍＷ”、‥、“５０ｍＷ”へと“１０ｍＷ”単位で増加するにつれて、ＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値との差であるピーク／ボトム値“ＰＢ＿１０ｍＷ”、“ＰＢ＿２０ｍＷ”、‥、“ＰＢ＿５０ｍＷ”もまた増加する。
【００４３】
このように、ＦＭＤ２２の不具合が発生した場合、ＷＳＨＯ信号は揺らぐこととなる。また、ＷＤＡＣ設定値が大きな値に設定されるにつれて、ＷＳＨＯ信号の揺らぎは大きくなる。そこで、ＦＭＤ２２の不具合を検出するにあたっては、ＷＳＨＯの揺らぎ量として、ＷＳＨＯ信号のピーク値／ボトム値を利用することとする。
【００４４】
＜光ピックアップの検査方法（概要）＞
リードパワー値Ｐｒに関するＡＰＣでは、スイッチ１０５がＯＮとなり、ＦＭＤ２２、ＳＨ回路１０１、ＡＰＣ回路１０３、リードパワー信号発生回路１０４、ＬＤドライバー３０によって形成される制御ループが閉じた状態で行われる。  
同様に、ライトパワー値Ｐｍに関するＡＰＣでは、スイッチ１１６がＡＰＣ回路１１５の出力を選択するとともにスイッチ１１８がＯＮとなり、ＦＭＤ２２、ＳＨ回路１１３、ＡＰＣ回路１１５、ライトパワー信号発生回路１１７、ＬＤドライバー３０によって形成される制御ループが閉じた状態で行われる。つまり、リードパワー値Ｐｒ及びライトパワー値Ｐｍに関するＡＰＣでは、ＦＭＤ２２によって生成されたパワーモニタ信号に基づいて、閉ループ制御を実行することとなる。  
一方、ライトパワー値Ｐｍに関するＡＣＣでは、スイッチ１１６がＡＣＣ回路１１２の出力を選択するとともにスイッチ１１８がＯＮとなって、ライトパワー値Ｐｍに関するＡＰＣによって形成された制御ループが開いた状態で行われることとなる。つまり、ライトパワー値Ｐｍに関するＡＣＣでは、ＦＭＤ２２によって生成されたパワーモニタ信号によらずに、開ループ制御を実行することとなる。
【００４５】
本発明に係る光ピックアップの検査方法は、こうしたＡＰＣならびにＡＣＣの特徴を利用するものである。そして、システムコントローラ６０は、つぎの機能を備えることとする。
【００４６】
まず、システムコントローラ６０は、スイッチ１１６をＡＰＣ回路１１５の出力に切り替えるとともにスイッチ１１８をＯＮとさせ、ＡＰＣ回路１１５によるＡＰＣを起動させる。ＡＰＣ回路１１５によるＡＰＣが実行される過程で、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号が、マルチプレクサ回路５０に供給される。
【００４７】
システムコントローラ６０は、マルチプレクサ回路５０に対して、ＳＨ回路１１３から供給されたＷＳＨＯ信号を出力として選択させる。この結果、マルチプレクサ回路５０からＰＨ回路５１及びＢＨ回路５３に対してＷＳＨＯ信号が供給される。そして、システムコントローラ６０は、ＰＨ回路５１及びＡ／Ｄコンバータ５２を介してＷＳＨＯ信号のピーク値が供給され、ＢＨ回路５３及びＡ／Ｄコンバータ５４を介してＷＳＨＯ信号のボトム値が供給される。システムコントローラ６０は、このＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値の差であるピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＮ（『第１の振幅値』）を算定する。
【００４８】
つぎに、システムコントローラ６０は、スイッチ１１６をＡＣＣ回路１１２の出力に切り替えるとともにスイッチ１１８をＯＮとさせ、ＡＣＣ回路１１２によるＡＣＣを起動させる。ＡＣＣ回路１１２によるＡＣＣが実行される過程であっても、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号が、マルチプレクサ回路５０に供給される。
【００４９】
ここで、システムコントローラ６０は、マルチプレクサ回路５０に対して、ＳＨ回路１１３から供給されたＷＳＨＯ信号を出力として選択させるため、ＷＳＨＯ信号のピーク値及びボトム値が供給されて、これらの差であるピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＦＦ（『第２の振幅値』）を算定する。
【００５０】
つぎに、システムコントローラ６０は、ピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＮとピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＦＦとの差（ＰＢ＿ＯＮ−ＰＢ＿ＯＦＦ）を算定する。そして、この差（ＰＢ＿ＯＮ−ＰＢ＿ＯＦＦ）が、所定の基準値を超えた場合には、ＦＭＤ２２の不具合が発生したものと判定し、所定の基準値を超えない場合には、ＦＭＤ２２の不具合は発生しなかったものと判定するのである。
【００５１】
このように、本発明では、光ピックアップ２０の検査において、ＦＭＤ２２の不具合を的確に判定することが可能となる。このため、ＦＭＤ２２の不具合を新たな検査項目として設けることができ、光ピックアップ２０のスクリーニング（選別）時の信頼性が向上する。そして、高信頼性な光ピックアップ２０、ひいては高信頼性な光ピックアップ２０を搭載した光ディスク装置を提供することが可能となる。
【００５２】
また、差（ＰＢ＿ＯＮ−ＰＢ＿ＯＦＦ）が所定の基準値を超えた場合、ＦＭＤ２２の不具合と単純に判定するのではなく、その不具合要因をＦＭＤ２２の取り付け不良とより積極的に判定してもよい。すなわち、ＦＭＤ２２は取り付けに問題が発生する場合が多いので、取り付け不良と判定した後、組み立て工程などに移管して、ＦＭＤ２２の取り付け位置の調整をするなど、早急な対策を実施することができる。
【００５３】
また、ＦＭＤ２２は、ＰＤ２３と比較してコスト面の制約から低品質なものを採用する場合が多い。よって、差（ＰＢ＿ＯＮ−ＰＢ＿ＯＦＦ）が所定の基準値を超えた場合、ＦＭＤ２２自体の不良と判定してもよい。この場合、ＦＭＤ２２自体の不良と判定した後、組み立て工程などに移管して、新たなＦＭＤ２２に取り替えるなど、早急な対策を実施することができる。
【００５４】
＜光ピックアップの検査方法（詳細）＞
＝＝＝ＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値を検出するまでの処理＝＝＝
図４のフローチャートに基づいて、ＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値を検出するまでの処理について説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ６０が動作の主体とする。
【００５５】
まず、光ピックアップ検査装置２００のディスク収納部（不図示）には、検査用光ディスク１０が収納された状態にあるとする。ここで、本発明の検査時の条件を合わせるために、光ピックアップ２０のスレッド送りやトラッキングサーボ、フォーカスサーボのオフセット調整を行う（Ｓ４００）。
【００５６】
つぎに、予め定めておいた回転速度に基づいて、検査用光ディスク１０をＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式で駆動する（Ｓ４０１）。ＣＡＶ方式で駆動することによって、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity）方式で駆動した場合と比較して、検査用光ディスク１０の内周と外周に関わらず回転速度が安定する。このため、ＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値が同一の回転速度という条件下で検出可能となり、本発明の検査の精度が向上する。
【００５７】
つぎに、フォーカスサーボ制御を稼動させるとともに、トラッキングサーボ制御を停止させる（Ｓ４０２）。フォーカスサーボ制御を稼動させることによって、検査用光ディスク１０に対してレーザ光の焦点が合うため、検査用光ディスク１０からの反射光量が大きくなる。また、トラッキングサーボ制御を停止させることによって、検査用光ディスク１０上のトラックに対してレーザ光の照射位置が追従しないため、検査用光ディスク１０からの反射光量の変化量が大きくなる。ここで、光ディスクの反射光量はレーザ光の戻り光に比例することが知られているため、検査用光ディスク１０の反射光量並びにその変化量を大きくさせることによって、本発明の検査が容易に実施できる。
【００５８】
つぎに、メモリ７０に予め記憶しておいたライトストラテジ情報に基づいて、ＬＤ２１から出力される記録パルスの所定パターンを設定する（Ｓ４０３）。このことによって、実際の記録時に即した条件で本発明の検査を行うことができる。
【００５９】
つぎに、ＡＰＣの制御ループがＯＮの場合にはＷＤＡＣ１１４にＡＰＣ用基準値を設定し、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦの場合にはＷＤＡＣ１１１に対してＡＣＣ用基準値を設定する（Ｓ４０４）。この結果、ＬＤドライバー３０によってＬＤ３０が駆動されて（Ｓ４０５）、ＦＭＤ２２ではＬＤ３０の発光出力が観測される。そして、システムコントローラ６０において、ＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値が検出されるのである。
【００６０】
＝＝＝ＡＰＣの制御ループがＯＮの場合の処理＝＝＝
図５に基づいて、ＡＰＣの制御ループがＯＮの場合（閉じた場合）のＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値を検出する処理を説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ６０が動作の主体とする。
【００６１】
まず、システムコントローラ６０は、スイッチ１１６においてＡＰＣ回路１１５の出力に切り替えるとともにスイッチ１１８をＯＮとする。この結果、ＡＰＣの制御ループがＯＮとなり、ＦＭＤ２２、ＳＨ回路１１３、ＡＰＣ回路１１５、スイッチ１１６、ライトパワー信号発生回路１１７、スイッチ１１８、ＬＤドライバー３０による閉ループ制御系が形成される（Ｓ５００）。
【００６２】
つぎに、ＡＰＣ回路１１５用のＷＤＡＣ１１４に設定されるＷＤＡＣ設定値として、“１０ｍＷ”が設定される（Ｓ５０１）。この結果、ＬＤ２１のマーク区間の発光出力が“１０ｍＷ”になるように、ＡＰＣが実行される。なお、このとき、ＦＭＤ２２においてＬＤ２１の発光出力が観測されて、ＳＨ回路１１３においてＷＳＨＯ信号がサンプル・ホールドされる。
【００６３】
ここで、ＷＤＡＣ設定値は、“５０ｍＷ”以下であるため（Ｓ５０２：ＹＥＳ）、システムコントローラ６０は、ＰＨ回路５１及びＡ／Ｄコンバータ５２と、ＢＨ回路５３及びＡ／Ｄコンバータ５４を介して、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値を取得する（Ｓ５０３）。システムコントローラ６０は、このＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値との差を“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”に代入し、メモリ７０に記憶する（Ｓ５０４）。
【００６４】
そして、ＷＤＡＣ設定値に対して“１０ｍＷ”を逐次加算していき（Ｓ５０５）、ＷＤＡＣ設定値が“５０ｍＷ”を超えるまで（Ｓ５０２：ＮＯ）、以上の処理を繰り返し行う。最終的には、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”から“ＰＢ＿５０ｍＷ＿ＯＮ”までの５つの変数に対して、ＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値との差が求まることとなる。これらの“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”から“ＰＢ＿５０ｍＷ＿ＯＮ”の変数に代入された値が、ＡＰＣの制御ループがＯＮの場合に観測されたＷＳＨＯ信号の揺らぎ量となる。
【００６５】
＝＝＝ＡＰＣの制御ループがＯＦＦの場合の処理＝＝＝
＜＜ＷＤＡＣ設定値の補正＞＞
図６、図７、図１０、図１１に基づいて、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦの場合（開いた場合）のＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値を検出するための前処理として、ＡＣＣ回路１１２用のＷＤＡＣ１１１に設定されるＷＤＡＣ設定値を補正する処理について説明する。なお、このＷＤＡＣ設定値を補正する処理とは、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦの場合において、ＡＰＣの制御ループがＯＮの場合のＬＤ２１の発光出力の目標に合わせるためのものである。以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ６０が動作の主体とする。
【００６６】
まず、システムコントローラ６０は、スイッチ１１６においてＡＰＣ回路１１５の出力に切り替えるとともにスイッチ１１８をＯＮとする。この結果、ＡＰＣの制御ループがＯＮとなり、ＡＰＣの閉ループ制御系が形成される（Ｓ６００）。
【００６７】
つぎに、ＡＰＣ回路１１５用のＷＤＡＣ１１４に設定されるＷＤＡＣ設定値として、“１０ｍＷ（『ＡＰＣ用基準値（Ｍ）』）”が設定される。この結果、ＬＤ２１のマーク区間の発光出力が“１０ｍＷ”になるように、一回目のＡＰＣが実行される。このとき、システムコントローラ６０は、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号（『保持値（Ｐ）』）のピーク値とボトム値を取得し（Ｓ６０１）、ピーク値とボトム値との平均値を変数ＷＳＨＯ＿１０ｍＷ＿ＯＮに代入して、メモリ７０に記憶する（Ｓ６０２）。
【００６８】
つぎに、ＡＰＣ回路１１５用のＷＤＡＣ１１４に設定されるＷＤＡＣ設定値として、先ほどの“１０ｍＷ”とは異なる“２０ｍＷ（『ＡＰＣ用基準値（Ｎ）』）”が設定される。この結果、ＬＤ２１のマーク区間の発光出力が“２０ｍＷ”になるように、二回目のＡＰＣが実行される。このとき、システムコントローラ６０は、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号（『保持値（Ｑ）』）のピーク値とボトム値を取得し（Ｓ６０３）、ピーク値とボトム値との平均値を“ＷＳＨＯ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”に代入して、メモリ７０に記憶する（Ｓ６０４）。
【００６９】
この段階で、ＡＰＣの制御ループがＯＮの場合において、（ＷＤＡＣ１１４に設定されるＷＤＡＣ設定値、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値の平均値）のサンプルデータとして、（１０ｍＷ、ＷＳＨＯ＿１０ｍＷ＿ＯＮ）と（２０ｍＷ、ＷＳＨＯ＿２０ｍＷ＿ＯＮ）の二つのサンプルデータが得られる。
【００７０】
そこで、二つのサンプルデータに基づいて、ＷＤＡＣ１１４に設定されるＷＤＡＣ設定値（Ｘ）と、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号（Ｙ）と対応づけた対応づけ（Ａ）を算定する（Ｓ６０５）。この対応づけ（Ａ）は、ＷＤＡＣ設定値を補正する際の基準となるものであり、本発明の検査を行うたびに算定されることとする。
【００７１】
ここで、対応づけ（Ａ）は、図１０に示すように、二つのサンプルデータを単純に直線で結んだ一次の回帰直線“Ｘ＝（Ｙ−ＷＳＨＯ＿１０ｍＷ＿ＯＮ）×（２０−１０））÷（ＷＳＨＯ＿２０ｍＷ＿ＯＮ−ＷＳＨＯ＿１０ｍＷ＿ＯＮ）＋１０”とする。なお、対応づけ（Ａ）は、二次以上の多項式や指数関数、対数関数などで表現される回帰曲線としてもよい。さらに、対応づけ（Ａ）を算定するにあたっては、二つより多くのサンプルデータを求めた上で、最小二乗法などの近似アルゴリズムを適用してもよい。しかしながら、対応づけ（Ａ）を一次の回帰直線とすることで、数多くのサンプルデータの取得や、複雑な演算処理を必要とはしない。
【００７２】
つぎに、システムコントローラ６０は、スイッチ１１６においてＡＣＣ回路１１２の出力に切り替えるとともにスイッチ１１８をＯＮとする。この結果、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦとなり、ＡＣＣが実行されることとなる（Ｓ７００）。
【００７３】
つぎに、ＡＣＣ回路１１２用のＷＤＡＣ１１１に設定されるＷＤＡＣ設定値として、所定の“Ｚ１ｍＷ（『ＡＣＣ用基準値（Ｒ）』）”が設定される。この結果、ＬＤ２１のマーク区間の発光出力が“Ｚ１ｍＷ”になるように、一回目のＡＣＣが実行される。このとき、システムコントローラ６０は、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号（『保持値（Ｔ）』）のピーク値とボトム値を取得し（Ｓ７０１）、ピーク値とボトム値との平均値を変数ＷＳＨＯ＿Ｚ１＿ＯＦＦに代入して、メモリ７０に記憶する（Ｓ７０２）。
【００７４】
つぎに、ＡＣＣ回路１１２用のＷＤＡＣ１１１に設定されるＷＤＡＣ設定値として、先ほどの“Ｚ１ｍＷ”とは異なる“Ｚ２ｍＷ（『ＡＰＣ用基準値（Ｓ）』）”が設定される。この結果、ＬＤ２１のマーク区間の発光出力が“Ｚ２ｍＷ”になるように、二回目のＡＣＣが実行される。このとき、システムコントローラ６０は、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号（『保持値（Ｕ）』）のピーク値とボトム値を取得し（Ｓ７０３）、ピーク値とボトム値との平均値を“ＷＳＨＯ＿Ｚ２ｍＷ＿ＯＦＦ”に代入して、メモリ７０に記憶する（Ｓ７０４）。
【００７５】
この段階で、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦの場合において、（ＷＤＡＣ１１１に設定されるＷＤＡＣ設定値、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値の平均値）のサンプルデータとして、（Ｚ１ｍＷ、ＷＳＨＯ＿Ｚ１＿ＯＦＦ）と（Ｚ２、ＷＳＨＯ＿Ｚ２＿ＯＦＦ）の二つのサンプルデータが得られたこととなる。
【００７６】
つぎに、対応づけ（Ａ）の“Ｙ（ＷＳＨＯ信号）”に対して、（ＷＳＨＯ＿Ｚ１＿ＯＦＦ、ＷＳＨＯ＿Ｚ２＿ＯＦＦ）をそれぞれ代入したときの“Ｘ（ＷＤＡＣ設定値）”を求める（Ｓ７０５）。ここで、“Ｙ”に“ＷＳＨＯ＿Ｚ１＿ＯＦＦ”を代入したときの“Ｘ”を“Ｘ＿Ｚ１（『ＡＰＣ用基準値（Ｖ）』）”とし、“Ｙ”にＷＳＨＯ＿Ｚ２＿ＯＦＦを代入したときの“Ｘ”を“Ｘ＿Ｚ２（『ＡＰＣ用基準値（Ｗ）』）”とする。このときの様子は、図１０中の点Ａ（Ｚ１、ＷＳＨＯ＿Ｚ１＿ＯＦＦ）から図１０中の点Ｂ（Ｘ＿Ｚ１、ＷＳＨＯ＿Ｚ１＿ＯＦＦ）への移動と、図１０中の点Ｃ（Ｚ２、ＷＳＨＯ＿Ｚ２＿ＯＦＦ）から図１０中の点Ｄ（Ｘ＿Ｚ２、ＷＳＨＯ＿Ｚ２＿ＯＦＦ）への移動として表わされる。
【００７７】
つまり、ＡＣＣを実行する場合において、ＷＤＡＣ１１４にＷＤＡＣ設定値“Ｘ＿Ｚ１”が設定されてＡＰＣが実行されたときのＬＤ２１の発光出力と同一な発光出力を得るためには、ＷＤＡＣ１１１にはＷＤＡＣ設定値“Ｚ１”が設定されなければならないことを意味する。同様に、ＡＣＣを実行する場合において、ＷＤＡＣ１１４にＷＤＡＣ設定値“Ｘ＿Ｚ２”が設定されてＡＰＣが実行されたときのＬＤ２１の発光出力と同一な発光出力を得るためには、ＷＤＡＣ１１１にはＷＤＡＣ設定値“Ｚ２”が設定されなければならないことを意味する。
【００７８】
ここで、ＡＣＣを実行する場合において、任意のＬＤ２１の発光出力“Ｘ＿Ｚ”と、その場合にＷＤＡＣ１１１に設定されるＷＤＡＣ設定値“Ｚ”と、の関係を得るために、二つのサンプルデータ（Ｚ１、Ｘ＿Ｚ１）と（Ｚ２、Ｘ＿Ｚ２）を対応づけた対応づけ（Ｂ）を算定する（Ｓ７０６）。
【００７９】
ここで、対応づけ（Ｂ）は、図１１に示すように、二つのサンプルデータ（図１１中に示す点Ｅ及び点Ｆ）を単純に直線で結んだ一次の回帰直線“Ｚ＝（Ｘ＿Ｚ−Ｘ＿Ｚ１）×（Ｚ２−Ｚ１））÷（Ｘ＿Ｚ２−Ｘ＿Ｚ１）＋Ｚ１”とする。なお、対応づけ（Ｂ）は、二次以上の多項式や指数関数、対数関数などで表現される回帰曲線としてもよい。さらに、対応づけ（Ｂ）を算定するにあたっては、二つより多くのサンプルデータを求めた上で、最小二乗法などの近似アルゴリズムを適用してもよい。しかしながら、対応づけ（Ｂ）を一次の回帰直線とすることで、数多くのサンプルデータの取得や、複雑な演算処理を必要とはしない。対応づけ（Ｂ）もまた、対応づけ（Ａ）と同様に本発明の検査を行うたびに算定されることとする。
【００８０】
＜＜ＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値の検出＞＞
図８に基づいて、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦの場合（開いた場合）のＷＳＨＯ信号のピーク／ボトム値を検出する処理を説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ６０が動作の主体とする。
【００８１】
まず、システムコントローラ６０は、スイッチ１１６においてＡＣＣ回路１１２の出力に切り替えるとともにスイッチ１１８をＯＮとする。この結果、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦとなり、ＡＣＣが起動する（Ｓ８００）。
【００８２】
つぎに、ＡＣＣ回路１１２用のＷＤＡＣ１１１に設定されるＷＤＡＣ設定値として、“１０ｍＷ”が設定される。このとき、“１０ｍＷ”は対応づけ（Ｂ）に基づいて補正され、この補正後のＷＤＡＣ設定値がＷＤＡＣ１１１に設定される（Ｓ８０１）。なお、補正後のＷＤＡＣ設定値は、対応づけ（Ｂ）の“Ｘ＿Ｚ”に“１０ｍＷ”を代入したときの“Ｚ＝（１０−Ｘ＿Ｚ１）×（Ｚ２−Ｚ１））÷（Ｘ＿Ｚ２−Ｘ＿Ｚ１）＋Ｚ１”である。
【００８３】
そして、ＬＤ２１のマーク区間の発光出力が“１０ｍＷ”の補正値“Ｚ”となるように、ＡＣＣが実行される。なお、このとき、ＦＭＤ２２においてＬＤ２１の発光出力が観測され、ＳＨ回路１１３においてＷＳＨＯ信号がサンプル・ホールドされる。
【００８４】
ここで、補正前のＷＤＡＣ設定値“１０ｍＷ”は、“５０ｍＷ”以下であるため（Ｓ８０２：ＹＥＳ）、システムコントローラ６０は、ＰＨ回路５１及びＡ／Ｄコンバータ５２と、ＢＨ回路５３及びＡ／Ｄコンバータ５４を介して、ＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値を取得する（Ｓ８０３）。システムコントローラ６０は、このＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値との差を“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＦＦ”に代入し、メモリ７０に記憶する（Ｓ８０４）。
【００８５】
そして、補正前のＷＤＡＣ設定値に対して“１０ｍＷ”を逐次加算していき（Ｓ８０５）、ＷＤＡＣ設定値が“５０ｍＷ”を超えるまで（Ｓ８０２：ＮＯ）、以上の処理を繰り返し行う。つまり、最終的には、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＦＦ”から“ＰＢ＿５０ｍＷ＿ＯＦＦ”までの５つの変数に対して、ＷＤＡＣ設定値ごとのＷＳＨＯ信号のピーク値とボトム値との差が求まることとなる。これらの“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＦＦ”から“ＰＢ＿５０ｍＷ＿ＯＦＦ”までの変数に代入された値が、ＡＰＣの制御ループがＯＦＦの場合に観測されたＷＳＨＯ信号の揺らぎ量となる。
【００８６】
＝＝＝ＦＭＤの不具合の判定＝＝＝
図９に基づいて、ＦＭＤ２２の不具合を判定する処理について説明する。以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ６０が動作の主体とする。
【００８７】
まず、システムコントローラ６０は、前述した処理によって、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”から“ＰＢ＿５０ｍＷ＿ＯＮ”と、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＦＦ”から“ＰＢ＿５０ｍＷ＿ＯＦＦ”を予め取得している場合とする。
【００８８】
システムコントローラ６０は、変数Ｘを設定し、さらに、変数Ｘの値が適宜代入される変数ＰＢ＿Ｘ＿ＯＮと、変数ＰＢ＿Ｘ＿ＯＦＦを設定する。そして、まず、変数Ｘに対して“１０ｍＷ”を設定し（Ｓ９００）、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”と“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＦＦ”との差が所定の基準値Ａ以下であるか否かを判定する（Ｓ９０１）。
【００８９】
ここで、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”と“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＦＦ”との差が所定の基準値Ａを超える場合に（Ｓ９０１：ＮＯ）、システムコントローラ６０は、ＦＭＤ２２の不具合、すなわち、ＦＭＤ２２に基づいてＬＤ２１の発光出力が不安定であるものと判定する（Ｓ９０２）。一方、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”と“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＦＦ”との差が所定の基準値Ａ以下である場合（Ｓ９０１：ＹＥＳ）、引き続いて、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”が所定の基準値Ｂを超えないか否かを判定する（Ｓ９０３）。
【００９０】
ここで、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”が所定の基準値Ｂを超える場合（Ｓ９０３：ＮＯ）、ＬＤ２１の戻り光による不具合、すなわち、ＦＭＤ２２ではなく戻り光によってＬＤ２１の発光出力が不安定であるものと判定する（Ｓ９０４）。このように、ＦＭＤ２２の不具合を判定するのと併せてＬＤ２１の戻り光による不具合の判定を併せて行うことは、より信頼性を向上させた光ピックアップの検査方法を提供可能となる。特に、光ピックアップ２０が無偏光光学系を採用する場合、ＬＤ２１の戻り光による不具合が顕著となるため、有効な手法となる。
【００９１】
なお、“ＰＢ＿１０ｍＷ＿ＯＮ”が所定の基準値Ｂを超えなかった場合（Ｓ９０３：ＹＥＳ）には、変数Ｘに対して“１０ｍＷ”が逐次加算されていき（Ｓ９０５）、変数Ｘが“５０ｍＷ”を超えるまで（Ｓ９０６：ＮＯ）、以上の処理を繰り返し行うこととなる。そして、ＷＤＡＣ設定値ごとの判定において、ＦＭＤ２２ならびにＬＤ２１の不具合が判定されなかった場合、ＬＤ２１の発光出力は正常であるものと判定する（Ｓ９０７）。なお、ＬＤ２１の発光出力が大きくなるにつれて、ＷＳＨＯ信号の揺らぎ量は大きくなるため、ＦＭＤ２２の不具合を判定する際の基準値ＡならびにＬＤ２１の不具合を判定する際の基準値Ｂを、ＬＤ２１の発光出力に応じて適宜変更してもよい。
【００９２】
以上、本発明の実施形態について説明したが、前述した実施例は、本発明の理解を容易にさせるためのものであり、本発明を限定して解釈させるためのものではない。本発明は、その要旨を逸脱することなく、変更／改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。
【００９３】
＝＝＝光ディスク装置＝＝＝
本発明に係る機能を、追記型や書き換え可能型などの光ディスクへの記録・再生を行う光ディスク装置に組み込んでもよい。なお、前述した実施形態において、光ピックアップ検査装置２００は、基本的には、通常の光ディスク装置と同様な構成を成すものである。よって、通常の光ディスク装置に対して本発明に係る機能を組み込むことは、大幅な改良を必要とせず容易に実施可能である。
【００９４】
この場合、光ディスク装置は、ＡＰＣならびにＡＣＣを実行する機能を有しているものとする。そして、ＡＰＣを実行したときＦＭＤにて生成されるパワーモニタ信号のピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＮを検出し、ＡＰＣと同一のＬＤの発光出力の目標値でＡＣＣを実行したときＦＭＤにて生成されるパワーモニタ信号のピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＦＦを検出し、ＰＢ＿ＯＮとＰＢ＿ＯＦＦの差が所定の基準を超えるとき、ＦＭＤに基づいてＬＤの発光出力が不安定であるもとと判定する、制御部を有することとなる。この制御部としては、ＣＰＵやマイクロコンピュータなどのハードウェアとして実施されてもよいし、ファームウェアなどのソフトウェアとして実施されてもよい。
【００９５】
ところで、光ディスク装置が所定の検査を経て出荷された後であっても、ＦＭＤの経年劣化や、振動などに伴うＦＭＤの位置ズレが原因となって、ＦＭＤに基づいてＬＤの発光出力が不安定となる場合が考えられる。この場合、本発明に係る機能を搭載した光ディスク装置は、的確に故障原因を確認することができ、ユーザに通知できる。また、ＦＭＤの不具合と判定した場合には、光ディスクへの記録を禁止するなど、信頼性を向上させるための新たな仕組みを備えることができる。
【００９６】
＝＝＝プログラム＝＝＝
本発明に係る機能は、前述した実施形態において、基本的には、光ピックアップ検査装置２００（特に、システムコントローラ６０）に実行させるプログラムとして、メモリ７０にファームウェア化されることとなる。  
そこで、本発明に係る光ピックアップの検査方法を光ピックアップ検査装置や光ディスク装置などのコンピュータに実行させるべく、つぎのようなプログラムを提供することとする。
【００９７】
すなわち、ＦＭＤにおいてＬＤの発光出力が観測されたときに生成されるパワーモニタ信号に基づいて、ＬＤの発光出力を所定の目標値にすべく閉ループ制御を実行したときのパワーモニタ信号のピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＮと、ＬＤの発光出力を先の目標値とすべく開ループ制御を実行したときのパワーモニタ信号のピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＦＦと、を検出するステップと、ピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＮとピーク／ボトム値ＰＢ＿ＯＦＦとの差が所定の基準を越えるとき、ＦＭＤに基づいてＬＤの発光出力が不安定である旨を判定するステップと、を有するプログラムとする。
【図面の簡単な説明】
【００９８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査システムの構成を説明する図である。
【図２】ＦＭＤの不具合に起因したＷＳＨＯ信号の揺らぎを説明するための波形図である。
【図３】ＷＤＡＣ設定値に応じたＷＳＨＯ信号の揺らぎを説明するための図である。
【図４】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作によって、レーザダイオードに係る温度が安定化していく様子を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査装置の処理を説明するフローチャートである。
【図６】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査装置の処理を説明するフローチャートである。
【図７】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査装置の処理を説明するフローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査装置の処理を説明するフローチャートである。
【図９】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査装置の処理を説明するフローチャートである。
【図１０】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査装置の処理を説明する図である。
【図１１】本発明の一実施形態に係る光ピックアップ検査装置の処理を説明する図である。
【図１２】無偏光光学系を採用した光ピックアップを説明する図である。
【符号の説明】
【００９９】
１０  検査用光ディスク                  ２０  光ピックアップ
２１  ＬＤ（レーザダイオード）          ２２  ＦＭＤ（フロントモニタダイオード）
２３  ＰＤ（光検出器）                  ３０  ＬＤドライバー
４１  ＴＥ生成回路                      ４２  ＦＥ生成回路
４３  ＲＦ生成回路                      ５０  マルチプレクサ回路
５１  ピーク・ホールド回路              ５２  Ａ／Ｄコンバータ
５３  ボトム・ホールド回路              ５４  Ａ／Ｄコンバータ
６０  システムコントローラ              ７０  メモリ
８０  エンコーダ／デコーダ              ９０  インタフェース
１０１  ＳＨ（サンプル・ホールド）回路  １０２  ＲＤＡＣ（Ｄ／Ａコンバータ）
１０３  ＡＰＣ回路                      １０４  リードパワー信号発生回路
１０５  スイッチ                        １１１  ＷＤＡＣ（Ｄ／Ａコンバータ）
１１２  ＡＣＣ回路                      １１３  ＳＨ（サンプル・ホールド）回路
１１４  ＷＤＡＣ（Ｄ／Ａコンバータ）    １１５  ＡＰＣ回路
１１６  スイッチ                        １１７  ライトパワー信号発生回路
１１８  スイッチ                        ２００  光ピックアップ検査装置
３００  光ディスク                      ４０１  ＬＤ
４０２  ＦＭＤ                          ４０３  ハーフミラー
４０４  対物レンズ                      ４０５  ＰＤ
５００  コンピュータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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