(57)【要約】【課題】耐アーク性に優れる電気接点部材を提供すること。又、そのような電気接点部材の評価、ひいては製造に有用な金属表面の評価方法を提供すること。【解決手段】素材がＣｕ合金、Ｃｕ合金の表面にめっきを施したもの又はＣｕ合金に異種合金をクラッドしたもの又はＡｇ合金に異種合金をクラッドしたものからなり、接点部表面の粗さプロファイルを測定した場合、最大突起頂点高さと各突起頂点高さとの差が０〜３μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数が、３０〜１００％の範囲内を満足する耐アーク性に優れる電気接点部材。金属表面における一定面積部分あるいは一定線分長さ部分の粗さプロファイルを測定し、最大突起頂点高さと各突起頂点高さとの差が定められた一定範囲内を満たす突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数を求め、該突起積算度数により金属の表面性状を評価する金属表面の評価方法。【選択図】          なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
素材がＣｕ合金、Ｃｕ合金の表面にめっきを施したもの又はＣｕ合金に異種合金をクラッドしたものからなり、接点部表面の粗さプロファイルを測定した場合、最大突起頂点高さと各突起頂点高さとの差が０〜３μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数が、３０〜１００％の範囲内を満足することを特徴とする耐アーク性に優れる電気接点部材。
【請求項２】
Ｃｕ合金表面の前記めっきが、Ｎｉめっき又はＳｎめっきであることを特徴とする請求項１記載の耐アーク性に優れる電気接点部材。
【請求項３】
金属表面における一定面積部分あるいは一定線分長さ部分の粗さプロファイルを測定し、最大突起頂点高さと各突起頂点高さとの差が定められた一定範囲内を満たす突起数を積算し、該突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数を求め、求めた該突起積算度数により金属の表面性状を評価することを特徴とする金属表面の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スイッチやリレー、あるいはコネクタなどに電気接点として用いられ、耐アーク性に優れる電気接点部材、及び金属表面の評価方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、電気接点材料として、Ｃｕ合金、Ａｇ合金、Ｗ合金、Ｎｉ合金、Ｐｄ合金などが使用されている。このような材料でなる電気接点部材に供せられる電圧としては、例えば自動車用電源では、これまで１２〜１４Ｖ程度が一般的であったが、より高電圧化しようという動きが始まっている。しかし、このような高電圧化を図ろうとする際、例えば４０Ｖ程度まで電圧を高めると電気接点を開くとき（コネクタを外すとき）にアーク放電が発生するという事態が生じている。アークが発生すると接点が損傷することがあり、電気接点部材にとっては大きな問題となる。
【０００３】
そこで、アークの発生を抑えるために、雄コネクタに一対の永久磁石を設け、磁石による磁界によってアークの軌跡を引き伸ばしてアーク継続時間を短縮し、端子の溶損を低減するようにした方法が提案されている（非特許文献１参照）。また、ＳＦ６ガスなど熱伝導性が良好なガスを封入し、アークが点弧しないようにした方法も提案されている（非特許文献２参照）。
【０００４】
【非特許文献１】
「自動車用４２Ｖ電源システム対応コネクタ」，フジクラ技報，株式会社フジクラ，２００１年１０月発行第１０１号，ｐ．６６−７０
【非特許文献２】
Ｄ＆Ｍ，２００２年６月，Ｎｏ．５７３，ｐ．９２
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、安価で小型の部品に対してはコストやサイズの点で前述のような方法の採用が難しいことから、前記永久磁石などのような補助部品や前記ＳＦ６ガスなどのような特別な雰囲気を必要としなくてすむような、耐アーク性に優れる電気接点部材の開発が要請されている。また、接点が摺動する摺動接点でも微小アークの発生に伴う損傷が問題となっており、耐アーク性に優れる電気接点部材の開発が求められている。
【０００６】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、耐アーク性に優れる電気接点部材を提供すること、及び、そのような電気接点部材の評価、ひいては製造に有用な金属表面の評価方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本願発明は次のように構成されている。請求項１の発明は、素材がＣｕ合金、Ｃｕ合金の表面にめっきを施したもの又はＣｕ合金に異種合金をクラッドしたものからなり、接点部表面の粗さプロファイルを測定した場合、最大突起頂点高さと各突起頂点高さとの差が０〜３μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数が、３０〜１００％の範囲内を満足することを特徴とする耐アーク性に優れる電気接点部材である。
【０００８】
請求項２の発明は、請求項１記載の耐アーク性に優れる電気接点部材において、Ｃｕ合金表面の前記めっきが、Ｎｉめっき又はＳｎめっきであることを特徴とするものである。
【０００９】
請求項３の発明は、金属表面における一定面積部分あるいは一定線分長さ部分の粗さプロファイルを測定し、最大突起頂点高さと各突起頂点高さとの差が定められた一定範囲内を満たす突起数を積算し、該突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数を求め、求めた該突起積算度数により金属の表面性状を評価することを特徴とする金属表面の評価方法である。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明者らは、金属表面の評価方法として、スイッチやリレーの電気接点として用いられる電気接点部材（電気接点対）の耐アーク性の良否を評価しうる方法（耐アーク性評価方法）を確立し、この方法を基に本発明に係る耐アーク性に優れる電気接点部材を得たものである。まず、本発明者らは、Ｃｕ合金製電気接点部材についてアーク発生の難易度合いを調査し、同一組成のものであってもアークの発生し難さは接点部の表面性状によって大きく異なることを見出した。そこで、アーク発生の難易度合いと対応関係を持つ表面性状を調べるため、接点部が種々の表面粗さを有するＣｕ合金製電気接点部材について、表面の粗さプロファイル（表面凹凸の形状）を測定して算術平均粗さＲａ（ＪＩＳ  Ｂ０６０１−２００１）を測定した。しかしながら、アーク発生の難易度合いと算術平均粗さＲａとの対応関係（相関）は得られなかった。同様に、ＪＩＳ  Ｂ０６０１−２００１で規定される突起の最大高さＲｚと凹凸の平均間隔ＲＳｍとについても、アーク発生の難易度合いとの対応関係は得られなかった。
【００１１】
そこで、さらに考察研究した結果、電気接点部材ではその接点部同士の表面突起先端が接触し接触点を形成して通電が生じること、また、閉じられていた接点部を開くときには接点部表面の突起が微小溶融して劣化することを見出した。さらに、この微小溶融によって突起先端に酸化物を生じ、多数回の接点部の開閉を繰り返すと、ついにはこの酸化物が起点となってアークが発生するようになることを見出した。
【００１２】
このように接点部同士の接触には接点部の表面突起が関与するため、耐アーク性を評価できるようにするには接点部の表面凹部ではなく表面突起の特徴だけを抽出する必要がある。そして、接点部同士の接触に最も密接に係わるものは、電気接点部材接点部において接触に実際に関与する突起の数であることが判明した。そこで、さらにこの評価方法について研究した。
【００１３】
その結果、電気接点部材について、その接点部における一定面積部分あるいは一定長さ部分にて表面の粗さプロファイルを測定し、最大突起頂点高さと各突起頂点高さとの差が０〜３μｍの範囲となる突起数の全突起数に対する割合である突起積算度数（評価値）Ｃ０−３を算出し、この突起積算度数Ｃ０−３が３０〜１００％の範囲内を満足するか否かによって耐アーク性の良否を評価できることがわかった。
【００１４】
この評価方法を、電気接点部材接点部の一定長さ部分における表面の粗さプロファイルを測定する場合を例に詳しく説明する。まず、一定長さＬ（例えば０．８ｍｍ）の線分部分の表面の粗さプロファイル（表面凹凸の形状）を表面粗さ計で測定する。次に、突起頂点を抽出する。抽出は粗さ曲線上における各極大をとる点を突起頂点とする。そして、線分上の一端に定めた基準点から線分に沿って抽出した各突起頂点位置をｈｉとする。ここで、ｉは各突起につけた番号（１〜ｎ）を表す。次に、水平基準線から計測した各突起頂点高さをＡ（ｈｉ）とする。その中の最大突起頂点高さＡ（ｈｍａｘ）を抽出する。ｍａｘは最大突起頂点位置の番号である。しかる後、全ての突起について、最大突起頂点高さＡ（ｈｍａｘ）と各突起頂点高さをＡ（ｈｉ）との差Ｂ（ｈｉ）を、Ｂ（ｈｉ）＝Ａ（ｈｍａｘ）−Ａ（ｈｉ）により算出する。
【００１５】
次いで、最大突起頂点高さＡ（ｈｍａｘ）との高さの差が０〜３μｍの範囲にある突起の数を総計し（０≦Ｂ（ｈｉ）≦３μｍ）、しかる後、この突起数の全突起数に対する割合である突起積算度数Ｃ０−３（％）を算出する。そして、この突起積算度数Ｃ０−３が３０〜１００％の範囲内を満足する場合に、その電気接点部材はアークが発生し難く耐アーク性に優れていることをつきとめ、耐アーク性の良否を評価できる方法を確立したものである。
【００１６】
この評価方法は、素材がＣｕ合金、Ｃｕ合金の表面にめっきを施したもの又はＣｕ合金に異種合金をクラッドしたものからなる電気接点部材に有効であり、この方法を基に、本発明に係る耐アーク性に優れる電気接点部材を得たものである。なお、めっきを施したＣｕ合金としては、ＮｉめっきＣｕ合金、ＳｎめっきＣｕ合金が挙げられる。Ｃｕ合金に異種合金をクラッドしたものとしては、純銅、黄銅又は青銅にＡｇ合金をクラッドしたものが挙げられる。
【００１７】
本発明による電気接点部材が耐アーク性に優れる理由について説明する。本発明による電気接点部材では、突起高さの差Ｂ（ｈｉ）が０〜３μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数Ｃ０−３を３０〜１００％の範囲内を満足するように規定して、接点部における通電を生じる接触点の数を増大させたものであるから、アーク発生までの接点開閉回数を延ばして耐アーク性に優れたものとなる。この場合、突起積算度数Ｃ０−３が３０％を下回ると通電を生じる接触点の個数が少なくて、接点部を開くときに突起が微小溶融して突起先端が酸化することで電気抵抗が増加し、比較的短期間でアークが発生しやすい状態となってしまう。突起積算度数Ｃ０−３は、より好ましくは、突起積算度数Ｃ０−３が５０〜１００％の範囲内を満足するものがよい。
【００１８】
なお、発明者らは、突起高さの差Ｂ（ｈｉ）が０〜１μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数Ｃ０−１による評価も行ってみた。しかし、この突起積算度数Ｃ０−１だけでは耐アーク性との相関は得られなかった。このことは、本発明で規定する突起高さの差Ｂ（ｈｉ）が３μｍ以下程度ものまでが耐アーク性との相関に影響していることを示すものであると考えられる。また、突起高さの差Ｂ（ｈｉ）が３μｍ超える突起数の全突起数に対する割合が多い電気接点部材は、接点接触に際し、対極と接触しない突起が多いので（突起が対極と接触しないので）耐アーク性にはそれ程影響を与えず、その結果、耐アーク性との相関がとれないものと考えられる。
【００１９】
次に、本発明による電気接点部材の製造方法について説明する。従来の電気接点部材では、供される電圧が１２Ｖ程度と低く、アークの発生が問題となっていなかったため、表面性状がそれほど厳密には制御されておらず、部材表面は圧延加工のまま、あるいは研削加工のまま、あるいはプレス加工のままの状態であった。そのため、従来の電気接点部材では、表面性状は前記突起積算度数Ｃ０−３で評価した場合には数％〜２０数％程度であり、それまでとは違って例えば４０Ｖ程度の高電圧を供せられた場合には、アークが発生するという事態が生じていたのである。
【００２０】
これに対して本発明による電気接点部材は、圧延加工あるいは研削加工の後、部材表面について、さらにコンパウンド研磨、バフ研磨又は電解研磨による研磨を行ったり、あるいは、鏡面加工したプレス板を用いてプレス加工を行ったりなどすることにより、突起積算度数Ｃ０−３を本発明範囲に制御して作製することができる。これにより、４０Ｖ程度の高電圧を供した場合にも耐アーク性に優れている。
【００２１】
なお、前述の通り、算術平均粗さＲａだけではアークの発生との相関は見られないが、算術平均粗さＲａを著しく小さくすることができれば、アークの発生を抑制するにあたって、より一層好ましいものとなると考えられる。例えば、算術平均粗さＲａで１μｍ以下となれば、本発明で規定する突起積算度数Ｃ０−３の範囲を多少はずれていても良好な耐アーク性を得られる可能性がある。もちろん、突起積算度数Ｃ０−３を本発明範囲とした上で算術平均粗さＲａを１μｍ以下とすれば、一層良好な耐アーク性が得られると考えられる。しかしながら、算術平均粗さＲａ：１μｍ以下を達成することは通常の研磨法では困難であり、イオンエッチング等の特別な方法を採用する必要があるため、コスト面などから、現状では実現は難しいと考えられる。
【００２２】
【実施例】
次に、金属表面の評価方法としての耐アーク性評価方法の有効性を確認した試験結果について説明する。なお、この試験ではアークを発生しやすくするため、素材として、試験１ではＣｕ合金に代えてタフピッチ銅（純銅）、試験２ではタフピッチ銅の表面にＮｉめっきを施したもの、また、試験３ではタフピッチ銅の表面にＮｉめっきを施したもの、タフピッチ銅の表面にＳｎめっきを施したものを使用した。
【００２３】
［試験１］：まず、試験１について説明する。研削加工により外径３ｍｍ、長さ１０ｍｍのタフピッチ銅からなる円柱体を所定個数作製した。そして、試料１として、研削加工によって円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、これを試料１とした。試料２として、１μｍのダイヤモンド砥粒を用いたバフ研磨によって円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、これを試料２とした。試料３として、研削加工により円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、この円弧状面を５０％リン酸溶液、電流１Ａの条件で１０秒間電解研磨し、これを試料３とした。また、試料４として、鏡面加工したステンレス板に押し付けてプレス加工することによって、円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、これを試料４とした。さらに、試料５として、研削加工により円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、この円弧状面を＃１５００番のサンドペーパーにより研磨し、これを試料５とした。
【００２４】
前記試料１〜５について、小坂研究所製の表面粗さ計ＳＥ３５００を用いて、接点部（円弧状面）表面における線分長さ０．８ｍｍ部分の表面の粗さプロファイル（表面凹凸の形状）を測定した。その表面の粗さプロファイルから、各試料１〜５について、最大突起頂点高さＡ（ｈｍａｘ）と各突起頂点高さＡ（ｈｉ）との差Ｂ（ｈｉ）が０〜３μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数Ｃ０−３を求めた。また、前記差Ｂ（ｈｉ）が０〜１μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数Ｃ０−１、及び、前記差Ｂ（ｈｉ）が３μｍ超５μｍ以下の範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数Ｃ３−５についても求めた。算出したこれらの突起積算度数を表１に示す。さらに、比較のために、各試料１〜５について、表面粗さに関するＪＩＳ  Ｂ０６０１−２００１に規定する算術平均荒さＲａ、最大高さＲｚ、凹凸の平均間隔（平均長さ）ＲＳｍを測定した。これらの測定値を表１に示す。
【００２５】
図１及び図２は耐アーク性評価試験の説明図である。各試料１〜５毎に、一対の試料の円弧状面同士を突合せ、この試料間に直流電源１から負荷抵抗２を介して４２Ｖ、３Ａの電流を流した。そして、速度５０ｍｍ／ｓの速度で接点部を開離し、アーク発生の有無を確認しながら接点部の開閉を繰り返して、アークが発生するまでの接点開離回数を測定した。試験結果を表１、図３及び図４に示す。
【００２６】
【表１】
2005019230.tif 000002
【００２７】
表１からわかるように、アークが発生するまでの接点開離回数は、試料２が最も多く、次いで試料４、試料３、試料１、試料５の順で減少し、試料５が最も少なかった。このうち、試料１、試料５については耐アーク性が悪かった。そして、図３からわかるように、突起積算度数Ｃ０−３によって耐アーク性の良否を正しく評価できることが確認できた。他の突起積算度数Ｃ０−１、あるいは突起積算度数Ｃ３−５は、耐アーク性を評価する評価値として不適切であった。また、図４からわかるように、算術平均荒さＲａ、最大高さＲｚ及び凹凸の平均間隔ＲＳｍについても、耐アーク性評価値として不適切であった。
【００２８】
［試験２］：次に、試験２について説明する。この試験では素材としてタフピッチ銅表面にＮｉめっきを施したものを使用した。
【００２９】
まず、研削加工により外径３ｍｍ、長さ１０ｍｍのタフピッチ銅からなる円柱体を所定個数作製した。そして、試料１として、１μｍの砥粒によるコンパウンド研磨を行って円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＮｉめっきを施し、これを試料１とした。試料２として、１μｍのダイヤモンド砥粒を用いたバフ研磨によって円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＮｉめっきを施し、これを試料２とした。また、試料３として、鏡面加工したステンレス板に押し付けてプレス加工することによって、円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＮｉめっきを施し、これを試料３とした。さらに、試料４として、研削加工により円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、この円弧状面を＃１５００番のサンドペーパーにより研磨し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＮｉめっきを施し、これを試料４とした。
【００３０】
前記試料１〜４について、試験１と同様にして、突起積算度数Ｃ０−３、Ｃ０−１及びＣ３−５を求めた。算出したこれらの突起積算度数を表３に示す。また、比較のために、各試料１〜４について、算術平均荒さＲａ、最大高さＲｚ及び凹凸の平均間隔ＲＳｍを測定した。これらの測定値を表３に示す。
【００３１】
そして、各試料１〜４について、試験１と同様にして、一対の試料の円弧状面同士を突合せ、この試料間に直流２２０Ｖ、０．５Ａの電流を流し、速度５０ｍｍ／ｓの速度で接点部を開離し、アーク発生の有無を確認しながら接点部の開閉を繰り返して、アークが発生するまでの接点開離回数を測定した。試験結果を表２及び図５に示す。
【００３２】
【表２】
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【００３３】
表２からわかるように、アークが発生するまでの接点開離回数は、試料２が最も多く、次いで試料３、試料１、試料４の順で減少し、試料４が最も少なかった。このうち、試料４については耐アーク性が悪かった。そして、図５からわかるように、耐アーク性の良否は、突起積算度数Ｃ０−３によって正しく評価できることが確認できた。他の突起積算度数Ｃ０−１、あるいは突起積算度数Ｃ３−５は、耐アーク性を評価する評価値として不適切であった。また、算術平均荒さＲａ、最大高さＲｚ及び凹凸の平均間隔ＲＳｍについても、耐アーク性評価値として不適切であった。
【００３４】
［試験３］：次に、試験３について説明する。この試験では素材としてタフピッチ銅表面にＮｉめっきに代えてＳｎめっきを施したものを使用した。
【００３５】
まず、研削加工により外径３ｍｍ、長さ１０ｍｍのタフピッチ銅からなる円柱体を所定個数作製した。そして、試料１として、１μｍの砥粒によるコンパウンド研磨を行って円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＳｎめっきを施し、これを試料１とした。試料２として、１μｍのダイヤモンド砥粒を用いたバフ研磨によって円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＳｎめっきを施し、これを試料２とした。また、試料３として、鏡面加工したステンレス板に押し付けてプレス加工することによって、円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＳｎめっきを施し、これを試料３とした。さらに、試料４として、研削加工により円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成し、この円弧状面を＃１５００番のサンドペーパーにより研磨し、しかる後、電解めっきを行って試料表面に厚み１μｍのＳｎめっきを施し、これを試料４とした。
【００３６】
前記試料１〜４について、試験１と同様にして、突起積算度数Ｃ０−３、Ｃ０−１及びＣ３−５を求めた。算出したこれらの突起積算度数を表３に示す。また、比較のために、各試料１〜４について、算術平均荒さＲａ、最大高さＲｚ及び凹凸の平均間隔ＲＳｍを測定した。これらの測定値を表３に示す。
【００３７】
そして、各試料１〜４について、試験１と同様にして、一対の試料の円弧状面同士を突合せ、この試料間に直流４２Ｖ、５Ａの電流を流し、速度５０ｍｍ／ｓの速度で接点部を開離し、アーク発生の有無を確認しながら接点部の開閉を繰り返して、アークが発生するまでの接点開離回数を測定した。試験結果を表３及び図６に示す。
【００３８】
【表３】
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【００３９】
表３からわかるように、アークが発生するまでの接点開離回数は、試料２が最も多く、次いで試料３、試料１、試料４の順で減少し、試料４が最も少なかった。このうち、試料４については耐アーク性が悪かった。そして、図６からわかるように、耐アーク性の良否は、最大突起頂点高さＡ（ｈｍａｘ）と各突起頂点高さＡ（ｈｉ）との差Ｂ（ｈｉ）が０〜３μｍの範囲にある突起数の全突起数に対する割合を表す突起積算度数Ｃ０−３によって正しく評価できることが確認できた。差Ｂ（ｈｉ）が０〜１μｍの範囲にある突起数に関する突起積算度数Ｃ０−１、あるいは、差Ｂ（ｈｉ）が３μｍ超５μｍの範囲にある突起数に関する突起積算度数Ｃ３−５は、耐アーク性を評価する評価値として不適切であった。また、算術平均荒さＲａ、最大高さＲｚ及び凹凸の平均間隔ＲＳｍについても、耐アーク性評価値として不適切であった。
【００４０】
次に、本発明に係る耐アーク性に優れる電気接点部材の実施例について説明する。実施例１〜１１では、それぞれ、表４に示す組成のＣｕ合金材（実施例１，２は純銅）を用いて研削加工により外径３ｍｍ、長さ１０ｍｍの円柱体を作製し、次いで１μｍの砥粒によるコンパウンド研磨を行って円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成して、電気接点部材とした。なお、研磨時間などを変化させて表面性状を適宜変化させた。また、比較のため、比較例１〜１３の電気接点部材を作製した。比較例１〜１３では、それぞれ、表５に示す組成のＣｕ合金材（比較例１は純銅）を用いて研削加工により外径３ｍｍ、長さ１０ｍｍの円柱体を作製し、次いで研削加工によって円柱体の一方の端面にＲ２０の丸みを有する円弧状面を形成して、電気接点部材とした。
【００４１】
実施例１〜１１及び比較例１〜１３の電気接点部材について、小坂研究所製の表面粗さ計ＳＥ３５００を用いて、接点部（円弧状面）表面における線分長さ０．８ｍｍ部分の表面の粗さプロファイルを測定した。その表面の粗さプロファイルから、突起積算度数Ｃ０−３を求めた。算出した各突起積算度数Ｃ０−３を表４に示す。
【００４２】
そして、実施例１〜１１及び比較例１〜１３について、それぞれ、一対の電気接点部材の円弧状面同士を突合せ、この電気接点部材間に直流４２Ｖ、３Ａの電流を流した。そして、速度５０ｍｍ／ｓの速度で接点部を開離し、アーク発生の有無を確認しながら接点部の開閉を繰り返して、アークが発生するまでの接点開離回数を測定した。試験結果を表４及び図７に示す。
【００４３】
【表４】
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【００４４】
表４からわかるように、突起積算度数Ｃ０−３の値が本発明の規定範囲から外れる比較例１〜１３は、アークが発生するまでの接点開離回数が４００回を下回っており、耐アーク性が劣るものであった。これに対して、実施例１〜１１は、４００回以上の接点開離回数が得られており、比較例と同一組成であっても耐アーク性に優れたものとなっている。
【００４５】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、簡易な表面加工法を用いて得られる耐アーク性に優れる電気接点部材を提供することができ、スイッチやリレー、あるいはコネクタなどの小型部品において電気接点部材の耐アーク性の向上と低コスト化に寄与することができる。また、そのような電気接点部材の評価、ひいては製造に有用な金属表面の評価方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】耐アーク性評価試験の説明図である。
【図２】耐アーク性評価試験の説明図である。
【図３】評価試験１におけるアーク発生までの接点開離回数と突起積算度数Ｃ０−１，Ｃ０−３，Ｃ３−５との関係を示すグラフである。
【図４】評価試験１におけるアーク発生までの接点開離回数と接点部表面状態Ｒａ，Ｒｚ，ＲＳｍとの関係を示すグラフである。
【図５】評価試験２におけるアーク発生までの接点開離回数と突起積算度数Ｃ０−１，Ｃ０−３，Ｃ３−５との関係を示すグラフである。
【図６】評価試験３におけるアーク発生までの接点開離回数と突起積算度数Ｃ０−１，Ｃ０−３，Ｃ３−５との関係を示すグラフである。
【図７】本発明に係る耐アーク性に優れる電気接点部材の実施例及び比較例におけるアーク発生までの接点開離回数と突起積算度数Ｃ０−３との関係を示すグラフである。
【符号の説明】
１…直流電源  ２…負荷抵抗
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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