(57)【要約】【課題】接触プローブを備える試験プラグをＵスリット端子に容易かつ安定して接続でき、所望の試験を効率よく行うことができるＵスリット端子のハウジング構造を提供する。【解決手段】複数のＵスリット端子２Ａ，２Ｂを絶縁性のハウジング１に並列して保持するＵスリット端子のハウジング構造において、ハウジング１に、各Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂのスリット部分を露出して、各Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂを保持するストレンリリーフ３Ａ，３Ｂを形成すると共に、該ストレンリリーフ３Ａ，３Ｂに回線試験用の試験プラグ６１に設けられた接触プローブ６２Ａ，６２Ｂを位置決めして、対応するＵスリット端子２Ａ，２Ｂに接触させるためのプローブ位置決め部５Ａ，５Ｂを形成する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のＵスリット端子を絶縁性のハウジングに並列して保持し、各Ｕスリット端子の保持部分がストレンリリーフを形成しているハウジング構造において、
前記ストレンリリーフに、回線試験用の試験プラグに設けられた接触プローブを位置決めして、対応するＵスリット端子に接触させるためのプローブ位置決め部を形成したことを特徴とするＵスリット端子のハウジング構造。
【請求項２】
前記プローブ位置決め部として、各Ｕスリット端子に対応する前記ストレンリリーフの先端部に、前記スリット部分の延在方向に沿って、前記接触プローブとして棒状の接触プローブを、対応するＵスリット端子の先端側から挿脱可能に挿入して、該Ｕスリット端子に接触させるための挿脱穴を形成したことを特徴とする請求項１に記載のＵスリット端子のハウジング構造。
【請求項３】
前記挿脱穴の対応するＵスリット端子のスリット側の側面を開放させたことを特徴とする請求項２に記載のＵスリット端子のハウジング構造。
【請求項４】
前記プローブ位置決め部として、各Ｕスリット端子に対応する前記ストレンリリーフに、前記接触プローブとして突状の接触プローブを、対応するＵスリット端子の外側表面方向から挿脱可能に位置決めして、該Ｕスリット端子に接触させるための切り欠きを形成したことを特徴とする請求項１に記載のＵスリット端子のハウジング構造。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＰＢＸ（構内交換機）や局内電話交換機などの通信装置が設置される場所において、交換機側と加入者側の通信回路とのインターフェイス部に施設される主配線盤に実装される保安器モジュールや端子板に設けられるＵスリット端子のハウジング構造に関する。
【背景技術】
【０００２】
保安器モジュールや端子板における従来のＵスリット端子のハウジング構造として、複数回線分のＵスリット端子を並列して保持したものが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
図１１および図１２は、かかる従来のハウジング構造の一例を示す部分斜視図および部分断面図である。このハウジング５１は、各回線のＡ線用のＵスリット端子５２ＡおよびＢ線用のＵスリット端子５２Ｂを並列して保持する絶縁性樹脂からなるもので、各Ｕスリット端子５２Ａ，５２Ｂは、通信線のダブル付けが可能なダブルスリットを有しており、この各Ｕスリット端子５２Ａ，５２Ｂのスリット形状に合わせて、ハウジング５１には、スリットに通信線を挿入して結線できる程度にスリット部を最小限だけほぼ均等に露出させるＷ字状のストレンリリーフ５３Ａ，５３Ｂが形成されている。
【０００４】
ハウジング５１に保持された複数のＡ線用のＵスリット端子５２ＡおよびＢ線用のＵスリット端子５２Ｂは、スリットが形成されている端部とは反対側の端部において、二枚の平行なプリント配線板にそれぞれ接続されて保安器サブモジュールや端子板を形成するようになっている。図１２は、Ａ線用のＵスリット端子５２Ａを、対応するプリント配線板５４Ａに接続した状態の部分断面図を示している。
【０００５】
なお、図１１および図１２では、各Ｕスリット端子５２Ａ，５２Ｂがダブルスリットを有する場合を例示したが、通信線をシングル付けするシングルスリットを有するＵスリット端子も知られており、この場合も上記と同様に、ハウジングには、スリット形状に合わせて、スリットに通信線を挿入して結線できる程度にスリット部を最小限だけほぼ均等に露出させるＵ字状のストレンリリーフが形成されている。
【０００６】
一方、主配線盤を備える通信装置では、各種の回線試験装置に設けられた試験プラグを、主配線盤に実装された保安器モジュールや端子板のＵスリット端子に接続して、話中等の回線状態や電圧等の電気的特性を試験することが行われている。
【０００７】
【特許文献１】実公平６−４４２７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところが、従来のＵスリット端子のハウジング構造にあっては、単に、スリットに通信線を挿入して結線できる程度に、スリット形状に合わせてハウジング５１にＷ字状のストレンリリーフ５３Ａ，５３Ｂを形成しているため、例えば図１３に斜視図で示すように、試験プラグ６１が、保安器サブモジュールや端子板に並列された全てのＵスリット端子５２Ａ，５２Ｂに対応する棒状の接触プローブ６２Ａ，６２Ｂを並列して保持し、該試験プラグ６１をハウジング５１に着脱可能にして、全ての回線に対して同時に試験できるマルチ回線対応の構成の場合には、これを直接使用することができない。
【０００９】
また、例えば図１４に斜視図で示すように、試験プラグ７１が、先端部を突状に向かい合わせて互いに接近する方向に弾性的に付勢した一対のＬ型の接触プローブ７２Ａ，７２Ｂを有し、これら接触プローブ７２Ａ，７２Ｂの先端突状部を、対をなすＵスリット端子５２Ａ，５２Ｂに弾性的に押圧して接触させるシングル回線対応の構成の場合は、接触プローブ７２Ａ，７２Ｂの先端突状部がストレンリリーフ５３Ａ，５３Ｂの間隙部に入らず、試験プラグ７１を直接使用できなかったり、あるいは接触プローブ７２Ａ，７２Ｂの先端突状部をストレンリリーフ５３Ａ，５３Ｂの間隙部を通してＵスリット端子５２Ａ，５２Ｂの表面に接触できても、これらをＵスリット端子５２Ａ，５２Ｂの表面上に位置決めできないため、先端突状部がスリットに沿って移動してＵスリット端子５２Ａ，５２Ｂから外れてしまったりする場合がある。
【００１０】
なお、接触プローブが、上記の突状あるいは棒状以外の形状を有する場合も、同様に直接使用できない場合や、Ｕスリット端子に安定して接触できない場合がある。
【００１１】
このように、従来のＵスリット端子のハウジング構造にあっては、接触プローブを備える試験プラグの使用が制限されるため、所望の試験を効率よく行うことができないという課題を有していた。
【００１２】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、接触プローブを備える試験プラグをＵスリット端子に容易かつ安定して接続でき、所望の試験を効率よく行うことができるＵスリット端子のハウジング構造を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成する請求項１に記載の発明は、複数のＵスリット端子を絶縁性のハウジングに並列して保持し、各Ｕスリット端子の保持部分がストレンリリーフを形成しているハウジング構造において、前記ストレンリリーフに、回線試験用の試験プラグに設けられた接触プローブを位置決めして、対応するＵスリット端子に接触させるためのプローブ位置決め部を形成したことを特徴とする。
【００１４】
請求項２に記載の発明は、請求項１のＵスリット端子のハウジング構造において、上記プローブ位置決め部として、各Ｕスリット端子に対応する上記ストレンリリーフの先端部に、上記スリット部の延在方向に沿って、上記接触プローブとして棒状の接触プローブを、対応するＵスリット端子の先端側から挿脱可能に挿入して、該Ｕスリット端子に接触させるための挿脱穴を形成したことを特徴とする。
【００１５】
請求項３に記載の発明は、請求項２のＵスリット端子のハウジング構造において、上記挿脱穴の対応するＵスリット端子のスリット側の側面を開放させたことを特徴とする。
【００１６】
請求項４に記載の発明は、請求項１のＵスリット端子のハウジング構造において、上記プローブ位置決め部として、各Ｕスリット端子に対応する上記ストレンリリーフに、上記接触プローブとして突状の接触プローブを、対応するＵスリット端子の外側表面方向から挿脱可能に位置決めして、該Ｕスリット端子に接触させるための切り欠きを形成したことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
請求項１の発明によると、ストレンリリーフに回線試験用の試験プラグの接触プローブを位置決めしてＵスリット端子に接触させるプローブ位置決め部を形成したので、試験プラグの接触プローブをハウジングの前面側からプローブ位置決め部に容易に位置決めしてＵスリット端子に直接的に安定して接触でき、所望の試験を効率よく行うことが可能となる。
【００１８】
請求項２の発明によると、プローブ位置決め部として、棒状の接触プローブをＵスリット端子の先端側から挿脱可能に挿入してＵスリット端子に接触させる挿脱穴を形成したので、図１３に示したような試験プラグ６１を直接使用でき、所望の試験を効率よく行うことが可能となる。
【００１９】
請求項３の発明によると、挿脱穴のスリット側の側面を開放させたので、棒状の接触プローブを挿脱する際の摩擦抵抗を低減でき、接触プローブをスムーズに挿脱することが可能となる。
【００２０】
請求項４の発明によると、プローブ位置決め部として、突状の接触プローブをＵスリット端子の一方の表面側から挿脱可能に位置決めしてＵスリット端子に接触させる切り欠きを形成したので、図１４に示したような試験プラグ７１を直接使用でき、所望の試験を効率よく行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明によるＵスリット端子ハウジング構造の実施の形態について、図１乃至図１０を参照して説明する。
【００２２】
（第１実施の形態）
図１および図２は第１実施の形態を示すもので、図１はハウジング構造の部分斜視図を示しており、図２は同じく部分断面図を示している。
【００２３】
このハウジング１は、図１１および図１２に示したハウジング５１と同様に、各回線のＡ線用のＵスリット端子２ＡおよびＢ線用のＵスリット端子２Ｂを並列して保持する絶縁性樹脂からなるもので、各Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂはダブルスリットを有しており、この各Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂのスリット形状に合わせて、ハウジング１にはＷ字状のストレンリリーフ３Ａ，３Ｂが形成されている。
【００２４】
ハウジング１に保持された複数のＡ線用のＵスリット端子２ＡおよびＢ線用のＵスリット端子２Ｂは、スリットが形成されている端部とは反対側の端部において、二枚の平行なプリント配線板にそれぞれ接続されて保安器サブモジュールや端子板が形成されるようになっている。なお、図２は、Ａ線用のＵスリット端子２Ａを、対応するプリント配線板４Ａに接続した状態の部分断面図を示している。
【００２５】
本実施の形態では、図１３に示したような棒状の接触プローブ６２Ａ，６２Ｂを並列して保持するマルチ回線対応の試験プラグ６１を使用できるようにするため、各Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂのストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの所定の先端部にスリット部分の延在方向に沿って、プローブ位置決め部としての挿脱穴５Ａ，５Ｂを形成し、これら挿脱穴５Ａ，５Ｂに接触プローブ６２Ａ，６２Ｂを挿脱自在に挿入して、その先端部を対応するＵスリット端子２Ａ，２Ｂに接触させるようにする。
【００２６】
このように構成すれば、試験プラグ６１の接触プローブ６２Ａ，６２Ｂをストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの挿脱穴５Ａ，５Ｂに挿入して、試験プラグ６１をハウジング１に結合することにより、接触プローブ６２Ａ，６２Ｂを容易に位置決めして対応するＵスリット端子２Ａ，２Ｂに安定して接触できるので、全ての回線に対して同時に所望の試験を行うことができる。この場合、図５に示すように、各接触プローブ６２Ａを、円筒状基部６２A１とこの円筒状基部に対して摺動可能に嵌合する接触部６２A２とによって形成し、前記円筒状基部内に圧縮ばねを配して接触部６２A２が円筒状基部６２A１から軸線方向へ押出されるように形成し、接触プローブ６２Ｂについても同様に形成し、或いは、試験プラグ６１の両側部に、接触部６２A２，６２Ｂ２より先の方へ伸長していて内側方へ傾斜している把持片６３Ａを有している掴み部材６３Ｂを設け、両把持片６３Ａが互いに接近する方向へ回転するように掴み部材６３Ｂをばね賦勢し、接触プローブ６２Ａ，６２Ｂをストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの挿脱穴５Ａ，５Ｂに挿入した際、両把持片６３Ａの先端部がハウジング１の短側部に形成したスリット１Ａに係合するように構成することにより、接触プローブとＵスリット端子との接触状態がより確実に維持される。
【００２７】
なお、本実施の形態では、Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂがダブルスリットを有する場合を示したが、シングルスリットを有する場合も同様に適用することができる。
【００２８】
（第２実施の形態）
図３乃至図５は第２実施の形態を示すもので、図３はハウジング構造の部分斜視図、図４は同じく部分断面図、図５は試験プラグの使用態様を示す図である。
【００２９】
このハウジング１１は、各Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂがシングルスリットを有する点、および各Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂに対応してストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの所定の先端部に形成した挿脱穴５Ａ，５Ｂのスリット側の側面を開放させた点が、第１実施の形態のハウジング１と異なるもので、その他の構成は第１実施の形態と同様である。
【００３０】
したがって、本実施の形態によれば、第１実施の形態と同様に、図５に示すように、試験プラグ６１の接触プローブ６２Ａ，６２Ｂをストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの挿脱穴５Ａ，５Ｂに挿入して、試験プラグ６１をハウジング１に結合することにより、接触プローブ６２Ａ，６２Ｂを容易に位置決めして対応するＵスリット端子２Ａ，２Ｂに安定して接触できるので、全ての回線に対して同時に所望の試験を行うことができる。
【００３１】
また、本実施の形態では、各挿脱穴５Ａ，５Ｂのスリット側の側面を開放させたので、接触プローブ６２Ａ，６２Ｂ（図１３参照）を挿脱する際の摩擦抵抗を低減できるので、接触プローブ６２Ａ，６２Ｂをスムーズに挿脱することができる。
【００３２】
なお、本実施の形態では、Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂがシングルスリットを有する場合を示したが、第１実施の形態のようにダブルスリットを有する場合も同様に適用することができる。
【００３３】
また、第１実施の形態および第２実施の形態において、Ｕスリット端子２Ａのストレンリリーフ３Ａに形成する挿脱穴５Ａと、Ｕスリット端子２Ｂのストレンリリーフ３Ｂに形成する挿脱穴５Ｂとの径を異ならせ、それに応じて図１３に示した試験プラグ６１の接触プローブ６２Ａと接触プローブ６２Ｂとの径を異ならせて、ハウジング１，１１に対する試験プラグ６１の接続に方向性（極性）を持たせることもできる。
【００３４】
（第３実施の形態）
図６及び図７は第３実施の形態を示すもので、図６はハウジング構造の部分斜視図を示しており、図７は試験プラグの接続状態の断面図を示している。
【００３５】
このハウジング２１は、図１４に示したような先端部を突状に向かい合わせて互いに接近する方向に弾性的に付勢した一対のＬ型の接触プローブ７２Ａ，７２Ｂを有するシングル回線対応の試験プラグ７１を使用できるようにしたものである。
【００３６】
このため、本実施の形態では、プローブ位置決め部として、第１実施の形態の挿脱穴５Ａ，５Ｂに代えて、接触プローブ７２Ａ，７２Ｂの先端突状部をＵスリット端子２Ａ，２Ｂの外側表面方向から挿脱可能に位置決めして接触できるように、ストレンリリーフ３Ａ，３Ｂに切り欠き２２Ａ，２２Ｂを形成する。なお、各切り欠き２２Ａ，２２Ｂは、本実施の形態では、Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂのスリット部を挟んで対向するストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの両側に形成する。
【００３７】
このように構成すれば、図７に示すように、試験プラグ７１の接触プローブ７２Ａ，７２Ｂをストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの外側表面方向から切り欠き２２Ａ，２２Ｂに挿入することにより、接触プローブ７２Ａ，７２Ｂを容易に位置決めして対応するＵスリット端子２Ａ，２Ｂに安定して接触できるので、所望の試験を効率良く行うことができる。
【００３８】
なお、本実施の形態では、Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂがダブルスリットを有する場合を示したが、シングルスリットを有する場合も同様に適用することができる。
【００３９】
また、切り欠き２２Ａ，２２Ｂは、Ｕスリット端子２Ａ，２Ｂのスリット部を挟んで対向するストレンリリーフ３Ａ，３Ｂの一方の側にのみ形成することもできるし、切り欠き２２Ａ，２２Ｂの大きさを異ならせ、それに応じて接触プローブ７２Ａ，７２Ｂの大きさを異ならせて、ハウジング２１に対する試験プラグ７１の接続に方向性（極性）を持たせることもできる。
【００４０】
（第４実施の形態）
図８乃至図１０は第４実施の形態を示すもので、図８（ａ）および（ｂ）は保安器サブモジュールの正面図および一部断面で示す平面図、図９は図８（ｂ）のＡ部詳細図、図１０は同じく図８（ｂ）のＢ部詳細図である。
【００４１】
この保安器サブモジュール３０は、ハウジング３１に並列保持された入回線接続用端子としての１６回線分のＡ線用のＵスリット端子３２ＡおよびＢ線用のＵスリット端子３２Ｂを有している。各Ｕスリット端子３２Ａ，３２Ｂは、一端部にシングルスリットを有しており、Ｕスリット端子３２Ａの他端部はプリント配線板３３Ａに半田付けされ、同様に、Ｕスリット端子３２Ｂの他端部はプリント配線板３３Ａに平行なプリント配線板３３Ｂ（図示せず）に半田付けされている。
【００４２】
プリント配線板３３Ａには、各Ｕスリット端子３２Ａに電気的に接続されて保安素子３４Ａが搭載されており、同様に、プリント配線板３３Ｂにも、各Ｕスリット端子３２Ｂに電気的に接続されて保安素子（図示せず）が搭載されている。
【００４３】
また、プリント配線板３３Ａ，３３Ｂには、各Ｕスリット端子３２Ａ，３２Ｂに電気的に接続されて試験片の挿入により通信回線を切断して切り分け試験を行うための試験弾器ユニット３５と、試験弾器ユニット３５と電気的に接続された交換機側の出回線接続用端子としての交換機側コネクタ３６とが搭載されていると共に、プリント配線板３３Ａ，３３Ｂ間には、各Ｕスリット端子３２Ａ，３２Ｂに接続するジャンパ線の整線を行う通線口ユニット３７が配置されている。
【００４４】
本実施の形態では、各Ｕスリット端子３２Ａ，３２Ｂに対応してハウジング３１に形成されたストレンリリーフ３８Ａ，３８Ｂに、図９に示すように、第１実施の形態で説明したと同様にスリット部分の延在方向に沿って挿脱穴５Ａ，５Ｂを形成すると共に、図１０に示すように、第３実施の形態で説明したと同様に切り欠き２２Ａ，２２Ｂ（切り欠き２２Ｂは、図示せず）を形成する。
【００４５】
このように構成すれば、図１３に示した試験プラグ６１を用いて全ての回線に対して同時に試験を行ったり、図１４に示した試験プラグ７１を用いて所望の回線に対して試験を行ったりすることができるので、所望の試験をより効率良く行うことができる。
【００４６】
なお、本実施の形態の挿脱穴５Ａ，５Ｂおよび切り欠き２２Ａ，２２Ｂを有するＵスリット端子のハウジング構造は、保安器サブモジュールに限らず、試験弾器ユニット３５を有しない端子板に適用することもできるし、各Ｕスリット端子３２Ａ，３２Ｂがダブルスリットを有する場合にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の第１実施の形態を示す部分斜視図である。
【図２】同じく、部分断面図である。
【図３】本発明の第２実施の形態を示す部分斜視図である。
【図４】同じく、部分断面図である。
【図５】試験プラグの使用態様を示す図である。
【図６】本発明の第３実施の形態を示す部分斜視図である。
【図７】試験プラグの接続状態を示す断面図である。
【図８】本発明の第４実施の形態を示す保安器サブモジュールの正面図および一部断面で示す平面図である。
【図９】図８（ｂ）のＡ部詳細図である。
【図１０】同じく、図８（ｂ）のＢ部詳細図である。
【図１１】従来のハウジング構造の一例を示す部分斜視図である。
【図１２】図１１の部分断面図である。
【図１３】試験プラグの一例を示す斜視図である。
【図１４】同じく、試験プラグの他の例を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００４８】
１  ハウジング
２Ａ，２Ｂ  Ｕスリット端子
３Ａ，３Ｂ  ストレンリリーフ
４Ａ  プリント配線板
５Ａ，５Ｂ  挿脱穴
１１  ハウジング
２１  ハウジング
２２Ａ，２２Ｂ  切り欠き
３０  保安器サブモジュール
３１  ハウジング
３２Ａ，３２Ｂ  Ｕスリット端子
３３Ａ  プリント配線板
３４Ａ  保安素子
３５  試験弾器ユニット
３６  交換機側コネクタ
３７  通線口ユニット
３８Ａ，３８Ｂ  ストレンリリーフ
６１  試験プラグ
６２Ａ，６２Ｂ  接触プローブ
７１  試験プラグ
７２Ａ，７２Ｂ  接触プローブ
【図１】
2005191664.tif 000003
【図２】
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【図３】
2005191664.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2005191664.tif 000009
【図８】
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【図９】
2005191664.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
2005191664.tif 000013
【図１２】
2005191664.tif 000014
【図１３】
2005191664.tif 000015
【図１４】
2005191664.tif 000016
【手続補正書】
【提出日】平成16年1月7日(2004.1.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１０】
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