(57)【要約】【目的】  走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる駆動回路の測量方法を提供する。【解決手段】この駆動回路は走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路を含んでディスプレーを駆動させるこのディスプレーは複数の走査ラインおよび複数のデータラインを含むそのうち、それぞれの走査ラインの開始端は走査ライン駆動回路に接続し、それぞれのデータラインの開始端はデータライン駆動回路に接続するこの測量方法において、まず、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインは、第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続される続いて、第一テスト信号および第二テスト信号を走査ライン駆動回路の入力端およびデータライン駆動回路の入力端へそれぞれ伝送するその後、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行い、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる。【選択図】  図２
2005215030.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスプレイを駆動するための走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路を含む駆動回路において、前記ディスプレーは、複数の走査ラインおよび複数のデータラインを含み、それぞれの前記走査ラインの開始端は前記走査ライン駆動回路に接続し、それぞれの前記データラインの開始端は前記データライン駆動回路に接続し、それぞれの前記走査ラインおよびそれぞれの前記データラインは、第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続され、第一テスト信号および第二テスト信号を前記走査ライン駆動回路の入力端および前記データライン駆動回路の入力端へそれぞれ伝送して、そのうち前記第一テスト信号は前記走査ライン駆動回路およびそれぞれの前記走査ラインを介して、前記第一テストパッドへ伝送され、前記第二テスト信号は前記データライン駆動回路およびそれぞれの前記データラインを介して、前記第二テストパッドへ伝送され、前記第一テストパッドおよび前記第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行うことを特徴とする駆動回路の測量方法。
【請求項２】
それぞれの前記走査ラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して前記回路に接続され、このダイオードは、それぞれの前記走査ラインと前記第一テストパッドとの間に設置される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。
【請求項３】
それぞれの前記走査ラインが回路に直接に接続されているとき、前記回路の一端は前記第一テストパッドに接続される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。
【請求項４】
それぞれの前記データラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して前記回路に接続され、このダイオードは、それぞれの前記データラインと前記第二テストパッドとの間に設置される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。
【請求項５】
それぞれの前記データラインが回路に直接に接続されているとき、前記回路の一端は前記第二テストパッドに接続される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。
【請求項６】
前記第一テスト信号および前記第二テスト信号は、パルス信号、電圧信号あるいは電流信号である請求項1に記載の駆動回路の測量方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、駆動回路の測量方法に関し、特に、駆動回路における全エレメントが良好であるかどうかを測量することができる駆動回路の測量方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
人類が最も早く目にした動態影像は、ドキュメンタリー映画であったその後、陰極線管（Cathode Ray Tube, ＣＲＴ）の発明が商業化テレビの拡大に成功し、どの家庭にもなくてはならない家電用品となったまた、科学技術が発展するにつれて、ＣＲＴの応用はコンピューター産業におけるデスクトップモニターにまで広がり、数十年もの間にわたりＣＲＴを主流させたところが、ＣＲＴが作り出す各類型のディスプレーは全て輻射線の問題に直面し、さらに内部電子銃の構成のためにディスプレーの体積が大きく、置く場所を必要とするため、薄型および軽量化の点において不利であった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上記課題を解決するため、いわゆる平面型ディスプレー（Flat Panel Display）が研究者により開発されたこの領域は、液晶ディスプレー（Liquid Crystal Display、ＬＣＤ）、電界放射ディスプレー（Field Emission Display、ＦＥＤ）、有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode、ＯＬＥＤ）、およびプラズマディスプレー（Plasma Display Panel、ＰＤＰ）を含むそのうち、液晶ディスプレーは、薄型化、軽量化、および小中大型化等の特性を備えているだけでなく、現代および新世代の携帯式無線通信およびインターネット技術に符合しており、最も注目されている。
【０００４】
薄膜トランジスター（Thin Film Transistor、ＴＦＴ）ＬＣＤは、材料によって非結晶ケイ素ＬＣＤおよび多結晶ケイ素ＬＣＤの大きく二種類に区分することができる近年来、さらに低温多結晶ケイ素（ＬＴＰＳ）ＬＣＤの開発に成功している現在のＬＴＰＳ−ＬＣＤでは、駆動回路が画素の外部に設置されているため、駆動回路における全てのエレメントが良好であるかどうかをどのようにして測量するかが、重要な課題となった。
【０００５】
続いて図1において、周知の駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を示す図1からわかるように、駆動回路は、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４を含み、画素配列１０６は、複数の走査ライン１０８、複数のデータライン１１０、およびプリチャージ回路１１２を含むそのうち、走査ライン駆動回路１０２は、シフトレジスター（１１４、１１６）、ゲート１１８およびバッファ回路（図示せず）を含み、データライン駆動回路１０４は、シフトレジスター（１２０、１２２、１２４）、位相配置回路（Phase Arrangement Circuit、ＰＡＣ）１２６、ゲート１２８、およびレベルスイッチ１３０を含む。
【０００６】
続いて、図1により周知の駆動回路の測量方法について説明する走査ライン駆動回路１０２は、パルス信号を走査ライン駆動回路１０２の入力端（シフトレジスター１１４の入力端）へ伝送し、それから走査ライン駆動回路１０２の出力端（シフトレジスター１１６の出力端）において測量するシフトレジスター１１６の出力端において出力信号まで測量する場合は、走査ライン駆動回路１０２が良好であることを示し、シフトレジスター１１６の出力端において出力信号まで測量しない場合は、走査ライン駆動回路１０２が損傷していることを示す同様にして、データライン駆動回路１０４は、パルス信号をデータライン駆動回路１０４の入力端（シフトレジスター１２０の入力端）へ伝送し、それからデータライン駆動回路１０４の出力端（シフトレジスター１２４の出力端）において測量するシフトレジスター１２４の出力端において出力信号まで測量する場合は、データライン駆動回路１０４が良好であることを示し、シフトレジスター１２４の出力端において出力信号まで測量しない場合は、データライン駆動回路１０４が損傷していることを示す上述の説明からわかるように、周知の駆動回路の測量方法は少なくとも以下の欠点を有する：
（１）走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４のテスト結果が良好であるとき、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４におけるシフトレジスター（１１４−１１６、１２０−１２４）が良好であることを示すが、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４におけるその他の回路エレメントが全て良好であることを保証することはできない。
（２）走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４のテスト結果が良好でないとき、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４におけるどの回路エレメントが損傷しているかを知ることはできない。
（３）周知の駆動回路の測量方法は、駆動回路の全ての回路エレメントを測量できないため、画素におけるテストときに、未知の線欠陥や点欠陥が多数存在する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明が提供する駆動回路の測量方法は、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインがそれぞれ第一テストパッドおよび第二テストパッドに接続され、続いて、第一テスト信号および第二テスト信号をそれぞれ走査ライン駆動回路の入力端およびデータライン駆動回路の入力端へ伝送するその後、それぞれ第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいて測量を行うことにより、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる。
【０００８】
この発明は、上記およびその他の目的を達成するための駆動回路の測量方法を提供するこの駆動回路は、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路を備え、ディスプレーを駆動させるこのディスプレーは、複数の走査ラインおよび複数のデータラインを備えるそのうち、それぞれの走査ラインの開始端は走査ライン駆動回路に接続し、それぞれのデータラインの開始端はデータライン駆動回路に接続するこの測量方法において、まず、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインは第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続される続いて、第一テスト信号および第二テスト信号をそれぞれ走査ライン駆動回路の入力端およびデータライン駆動回路の入力端に伝送し、そのうち第一テスト信号は走査ライン駆動回路およびそれぞれの走査ラインを通過して、第一テストパッドへ伝送され、第二テスト信号はデータライン駆動回路およびそれぞれのデータラインを通過して、第二テストパッドへ伝送されるその後、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行う。
【０００９】
この発明にかかる実施例において、それぞれの走査ラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるこのダイオードは、それぞれの走査ラインと第一テストパッドとの間に設置されるさらに、このダイオードの正極はそれぞれの走査ラインに接続され、このダイオードの負極は第一テストパッドに接続される。
【００１０】
この発明にかかる好適な実施例において、それぞれの走査ラインが回路に直接に接続されているとき、この回路の一端は第一テストパッドに接続される。
【００１１】
この発明にかかる実施例において、それぞれのデータラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるこのダイオードはそれぞれのデータラインと第二テストパッドとの間に設置されるさらに、このダイオードの正極はそれぞれのデータラインに接続され、このダイオードの負極は第二テストパッドに接続される。
【００１２】
この発明にかかる好適な実施例において、それぞれのデータラインが回路に直接に接続されているとき、この回路の一端は第二テストパッドに接続される。
【００１３】
この発明にかかる好適な実施例において、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおける電流を測量するときは電流計を使用して測量し、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおける電圧を測量するときは電圧計を使用して測量する。
【００１４】
この発明にかかる好適な実施例において、第一テスト信号および第二テスト信号は、パルス信号、電圧信号或いは電流信号である。
【００１５】
この発明にかかる好適な実施例において、ディスプレーは液晶ディスプレーである。
【００１６】
以上のように、この発明は駆動回路の測量方法について提供するこの発明において、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインは第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続される続いて、第一テスト信号および第二テスト信号を前記走査ライン駆動回路の入力端および前記データライン駆動回路の入力端にそれぞれ伝送するその後、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行い、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる。
【００１７】
この発明の上記およびその他の目的、特徴および長所を明確に理解してもらうため、以下により好適な実施例ならびに図面を示し、詳細を説明する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図２において、この発明にかかる好適な実施例により駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を図示する図２からわかるように、駆動回路は走査ライン駆動回路２０２およびデータライン駆動回路２０４を含んでディスプレー（例えば液晶ディスプレー）を駆動するさらにディスプレーにおいて画素配列２０６を備え、画素配列２０６は複数の走査ライン２０８、複数のデータライン２１０、およびプリチャージ回路２１２を含むそのうち、走査ライン駆動回路２０２はシフトレジスター（２１４、２１６）、ゲート２１８およびバッファ回路（図示せず）を含むデータライン駆動回路２０４はシフトレジスター（２２０、２２２、２２４）、位相配置回路２２６、ゲート２２８、レベルスイッチ２３０を含むこの他、それぞれの走査ライン２０８の開始端は走査ライン駆動回路２０２に接続され、それぞれのデータライン２１０の開始端はデータライン駆動回路２０４に接続される。
【００１９】
続いて、図２によりこの発明の駆動回路の測量方法を説明するこの測量方法において、まずそれぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインは第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続される走査ラインにおいて、それぞれの走査ラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるすなわちこのダイオードはそれぞれの走査ラインと第一テストパッドとの間に設置され、このダイオードの正極はそれぞれの走査ラインに接続され、このダイオードの負極は第一テストパッドに接続されるさらに、それぞれの走査ラインが直接に回路に接続されているとき、この回路の一端は第一テストパッドに接続されるデータラインにおいて、それぞれのデータラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるすなわち、このダイオードはそれぞれのデータラインと第二テストパッドとの間に設置され、このダイオードの正極はそれぞれのデータラインに接続され、このダイオードの負極は第二テストパッドに接続されるそれぞれのデータラインが回路に直接に接続されているとき、この回路の一端は第二テストパッドに接続される図２において、それぞれの走査ライン２０８は回路に直接に接続されていないため、それぞれの走査ライン２０８はダイオード２３２を介して、テストパッド２３４に接続されるさらに、それぞれの走査ライン２０８は既にプリチャージ回路２１２に接続されているため、プリチャージ回路２１２のドレインはレベルスイッチ２３０を介して、テストパッド２３６に接続されるこの他、当該分野の技術に習熟する技術者にとって周知のことであるが、第２図は走査ライン、データライン、およびテストパッドの連接方式のほんの１例であり、本発明に限定して使用するものではない。
【００２０】
続いて、テスト信号２３８およびテスト信号２４０を走査ライン駆動回路２０２の入力端（すなわちシフトレジスター２１４の入力端）およびデータライン駆動回路２０４の入力端（すなわちシフトレジスター２２０の入力端）にそれぞれ伝送するそのうち、テスト信号２３８は走査ライン駆動回路２０２およびそれぞれの走査ライン２０８を介して、テストパッド２３４へ伝送されるテスト信号２４０はデータライン駆動回路２０４およびそれぞれのデータライン２１０を介して、テストパッド２３６へ伝送されるこの他、テスト信号２３８およびテスト信号２４０は、パルス信号、電圧信号あるいは電流信号である。
【００２１】
その後、テストパッド２３４およびテストパッド２３６においてそれぞれ測量を行い、テストパッド２３４およびテストパッド２３６において測量した出力信号により走査ライン駆動回路２０２における全てのエレメントおよびデータライン駆動回路２０４における全てのエレメントが良好であるかどうかを知ることができるこの他、テストパッド２３４およびテストパッド２３６における電流を測量するときは、電流計を使用して測量するテストパッド２３４およびテストパッド２３６における電圧を測量するときは、電圧計を使用して測量する。
【００２２】
以上をまとめると、この発明の長所を以下の通り略述することができる。
（１）走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを測量することができる。
（２）走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路の測量結果が良好でないとき、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路におけるどの回路エレメントが損傷しているかを知ることができるため、さらに多くの分析情報および修復情報を提供することができる。
（３）本発明は駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを測量することができるため、画素におけるテストときに、線欠陥あるいは点欠陥を知ることができる。
【００２３】
以上のごとく、この発明を好適な実施例により開示したが、もとより、この発明を限定するためのものではなく、当業者であれば容易に理解できるように、この発明の技術思想の範囲内において、適当な変更ならびに修正が当然なされうるものであるから、その特許権保護の範囲は、特許請求の範囲および、それと均等な領域を基準として定めなければならない。
【００２４】
以上のように、この発明にかかる駆動回路の測量方法では、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインがそれぞれ第一テストパッドおよび第二テストパッドに接続され、続いて、第一テスト信号および第二テスト信号をそれぞれ前記走査ライン駆動回路の入力部分および前記データライン駆動回路の入力部分に伝送するその後、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行い、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】周知の駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を示す図面である。
【図２】この発明にかかる好適な実施例に基づき、駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を示す図面である。
【符号の説明】
【００２６】
１０２、２０２  走査ライン駆動回路。
１０４、２０４  データライン駆動回路
１０６、２０６  画素配列
１０８、２０８  走査ライン
１１０、２１０  データライン
１１２、２１２  プリチャージ回路
１１４、１１６、１２０、１２２、１２４、２１４、２１６、２２０、２２２、２２４  シフトレジスター
１１８、１２８、２１８、２２８  ゲート
１２６、２２６  位相配置回路
１３０、２３０  レベルスイッチ
２３２  ダイオード
２３４、２３６  テストパッド
２３８、２４０  テスト信号
【図１】
2005215030.tif 000003
【図２】
2005215030.tif 000004