(57)【要約】【課題】  本体にセットされている光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを精度良く判定でき、装置本体の信頼性を低下させない光ディスク装置を提供する。【解決手段】  光ディスク装置１は、光ディスク１０の回転位置に対する面振れ量に応じた面振れ測定信号を取得する（ｓ１〜ｓ４）。この面振れ測定信号は、光ディスク１０の回転位置に対するＦＥ信号のオフセット電圧である。光ディスク装置１は、ピックアップヘッド３の対物レンズを光ディスク１０に対して接離する方向に移動しながら、光ディスク１０の回転位置に応じて、得られたＦＥ信号からｓ４で得たＦＥ信号のオフセット電圧を差し引いた値を、その回転位置における記録層数判定信号として取得する。そして、光ディスク装置１は、ｓ５で得た記録層数判定信号に基づいて、光ディスク１０軒録層が１層であるか、２層であるかを判定する（ｓ６〜ｓ８）。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
本体にセットされた記録層が１層または２層である光ディスクを回転させ、この光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、その反射光を検出することで、この光ディスクに記録されているデータを読み取る読取手段と、
前記対物レンズを前記光ディスクに対して接離する方向に移動するレンズ移動手段と、
前記読取手段によるデータの読取時に、前記光ディスクの記録層と、この光ディスクに照射しているレーザ光の合焦位置と、のずれ量に応じたフォーカスエラー信号に基づいて、前記レンズ移動手段による前記対物レンズの移動を制御して、合焦位置をこの光ディスクの記録層に合わせるフォーカス制御手段と、を備えた光ディスク装置において、
本体に光ディスクがセットされたとき、前記フォーカス駆動手段による前記対物レンズの移動を禁止した状態で、本体にセットされている光ディスクの回転位置に対するフォーカスエラー信号の変化を面振れ測定信号として取得する第１の取得手段と、
前記光ディスクを回転させた状態で、前記フォーカス駆動手段により前記対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動し、このときの前記フォーカスエラー信号を記録層数判定信号として取得する第２の取得手段と、
前記第２の取得手段が取得した前記記録層数判定信号に基づいて本体にセットされている光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを判定する判定手段と、を備え、
前記第２の取得手段は、前記第１の取得手段が取得した前記面振れ測定信号を用いて、前記記録層数判定信号を取得し、
また、前記第１の取得手段は、前記光ディスクについて複数の回転位置で測定したフォーカスエラー信号から、光ディスクを１回転させる間における前記フォーカスエラー信号の変化を推定し、これを前記面振れ測定信号とし、
さらに、前記第２の取得手段は、前記第１の取得手段が取得した前記面振れ測定信号から得られる光ディスクの回転位置に対するフォーカスエラー信号のオフセット電圧を用いて、前記記録層数判定信号を取得する光ディスク装置。
【請求項２】
本体にセットされた記録層が１層または２層である光ディスクを回転させ、この光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、その反射光を検出することで、この光ディスクに記録されているデータを読み取る読取手段と、
前記対物レンズを前記光ディスクに対して接離する方向に移動するレンズ移動手段と、
前記読取手段によるデータの読取時に、前記光ディスクの記録層と、この光ディスクに照射しているレーザ光の合焦位置と、のずれ量に応じたフォーカスエラー信号に基づいて、前記レンズ移動手段による前記対物レンズの移動を制御して、合焦位置をこの光ディスクの記録層に合わせるフォーカス制御手段と、を備えた光ディスク装置において、
本体に光ディスクがセットされたとき、前記フォーカス駆動手段による前記対物レンズの移動を禁止した状態で、本体にセットされている光ディスクの回転位置に対するフォーカスエラー信号の変化を面振れ測定信号として取得する第１の取得手段と、
前記光ディスクを回転させた状態で、前記フォーカス駆動手段により前記対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動し、このときの前記フォーカスエラー信号を記録層数判定信号として取得する第２の取得手段と、
前記第２の取得手段が取得した前記記録層数判定信号に基づいて本体にセットされている光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを判定する判定手段と、を備え、
前記第２の取得手段は、前記第１の取得手段が取得した前記面振れ測定信号を用いて、前記記録層数判定信号を取得する光ディスク装置。
【請求項３】
前記第１の取得手段は、前記光ディスクについて複数の回転位置で測定したフォーカスエラー信号から、光ディスクを１回転させる間における前記フォーカスエラー信号の変化を推定し、これを前記面振れ測定信号とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記第２の取得手段は、前記第１の取得手段が取得した前記面振れ測定信号から得られる光ディスクの回転位置に対するフォーカスエラー信号のオフセット電圧を用いて、前記記録層数判定信号を取得する請求項２または３に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、記録層が１層または２層である光ディスクに記録されているデータを再生する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＤＶＤやＣＤ等の光ディスクに映像や音声や記録する光ディスク装置が一般に普及している。光ディスク装置は、記録媒体である光ディスクの記録層に対物レンズを介してレーザ光を照射し、光ディスクに記録されているデータの読み取りや、光ディスクへのデータの記録を行う。光ディスク装置は、周知のように、データの読取時や記録時、光ディスクに照射しているレーザ光の合焦位置を光ディスクの記録層に合わせるフォーカスサーボ制御、および光ディスクに照射しているレーザ光の照射位置をトラックの幅方向の中心に合わせるトラッキングサーボ制御を行う。フォーカスサーボ制御は、光ディスクの記録層とレーザ光の合焦位置とのずれ量に応じたフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と言う。）に基づいて、対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動する制御である。また、トラッキングサーボ制御は、光ディスクに形成されているトラックの幅方向の中心とレーザ光の合焦位置とのずれ量に応じたトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号と言う。）に基づいて、対物レンズ、またはピックアップヘッド本体を光ディスクの半径方向に移動する制御である。
【０００３】
また、記録密度を高めるために記録層を２層形成したＤＶＤ、所謂２層ディスク、が提案されており、最近の光ディスク装置には、２層ディスクに記録されているデータの読み取りや、２層ディスクへのデータの記録を行う機能が設けられている。光ディスクからのデータの読取や、光ディスクへのデータの記録にかかる制御は、記録層が２層であっても基本的に同じであり、フォーカスサーボ制御、およびトラッキングサーボ制御で、データの読取または記録の対象となった記録層のトラックにレーザ光を照射する。
【０００４】
ところが、特許文献１にも示されているように、１層ディスクと、２層ディスクとでは、記録層の反射率が異なるため、取り扱う光ディスクの種類（１層ディスク、または２層ディスク）に応じて、検出した光ディスクからの反射光に基づく光学信号の増幅率を調整しなければ、フォーカスサーボ制御、およびトラッキングサーボ制御が適正に行えず、その結果データの読取や記録も適正に行えなくなる。このため、光ディスク装置１は、本体にセットされている光ディスク（取り扱う光ディスク）が１層ディスクであるか、２層ディスクであるかを判定し、この判定結果に応じて光学信号に対する増幅率を決定している。特許文献１では、光ディスクが本体にセットされたときに、対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動させながら検出したＦＥ信号に含まれているＳ字信号が１つであれば１層ディスクであると判定し、２つであれば２層ディスクであると判定している。
【特許文献１】特開平１０−１８８４５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１で示されている光ディスクの判定方法では、対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動させながら検出したＦＥ信号が、この光ディスクのソリ等による面振れの影響を受けた信号であった。このため、光ディスクの面振れの程度によっては、実際にセットされている光ディスクが１層ディスクであっても、検出したフォーカスエラー信号にＳ字信号が２つあると誤判定することがあった。このような誤判定が行われた場合、光学信号の増幅率の調整が適正に行われないので、フォーカスサーボ制御、およびトラッキングサーボ制御、さらにはデータの読取や記録が適正に行えないという事態を招き、装置本体の信頼性を低下させるという問題があった。
【０００６】
この発明の目的は、本体にセットされている光ディスクのソリ等による面振れの影響を受けることなく、本体にセットされている光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを精度良く判定でき、装置本体の信頼性を低下させない光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明の光ディスク装置は、上記課題を解決するために以下の構成を備えている。
【０００８】
（１）本体にセットされた記録層が１層または２層である光ディスクを回転させ、この光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、その反射光を検出することで、この光ディスクに記録されているデータを読み取る読取手段と、
前記対物レンズを前記光ディスクに対して接離する方向に移動するレンズ移動手段と、
前記読取手段によるデータの読取時に、前記光ディスクの記録層と、この光ディスクに照射しているレーザ光の合焦位置と、のずれ量に応じたフォーカスエラー信号に基づいて、前記レンズ移動手段による前記対物レンズの移動を制御して、合焦位置をこの光ディスクの記録層に合わせるフォーカス制御手段と、を備えた光ディスク装置において、
本体に光ディスクがセットされたとき、前記フォーカス駆動手段による前記対物レンズの移動を禁止した状態で、本体にセットされている光ディスクの回転位置に対するフォーカスエラー信号の変化を面振れ測定信号として取得する第１の取得手段と、
前記光ディスクを回転させた状態で、前記フォーカス駆動手段により前記対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動し、このときの前記フォーカスエラー信号を記録層数判定信号として取得する第２の取得手段と、
前記第２の取得手段が取得した前記記録層数判定信号に基づいて本体にセットされている光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを判定する判定手段と、を備え、
前記第２の取得手段は、前記第１の取得手段が取得した前記面振れ測定信号を用いて、前記記録層数判定信号を取得する光ディスク装置。
【０００９】
この構成では、第１の取得手段が本体に光ディスクがセットされたとき、前記フォーカス駆動手段による前記対物レンズの移動を禁止した状態で、本体にセットされている光ディスクの回転位置に対するフォーカスエラー信号の変化を面振れ測定信号として取得する。この第１の取得手段が取得する面振れ測定信号は、光ディスクが１回転する間における対物レンズと、光ディスクの記録層との距離の変化を示している。一方、対物レンズは移動を禁止し、固定しているので、この距離の変化は光ディスクのソリ等による面振れを示す信号である。言い換えれば、第１の取得手段が取得した面振れ測定信号から、本体にセットされている光ディスクの面振れの程度を取得できる。
【００１０】
また、第２の取得手段が前記光ディスクを回転させた状態で、前記フォーカス駆動手段により前記対物レンズを光ディスクに対して接離する方向に移動し、このときの前記フォーカスエラー信号を記録層数判定信号として取得する。このとき、第２の取得手段は、第１の取得手段が取得した面振れ測定信号を用いることで、光ディスクのソリ等による面振れの影響を除去した記録層数判定信号を得る。そして、判定手段が、光ディスクのソリ等による面振れの影響を除去した記録層数判定信号に基づいて、この光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを判定する。
【００１１】
このように、光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを判定するときに、該光ディスクのソリ等による面振れの影響を除去した記録層数判定信号を用いるので、光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを精度良く判定でき、装置本体の信頼性を低下させない。
【００１２】
なお、第１の取得手段および第２の取得手段による面振れ測定信号および記録層数判定信号の取得は、光ディスクの同じトラックに対して行うのが好ましく、また面振れが大きく現れる外周側のトラックとするのが好ましい。
【００１３】
（２）前記第１の取得手段は、前記光ディスクについて複数の回転位置で測定したフォーカスエラー信号から、光ディスクを１回転させる間における前記フォーカスエラー信号の変化を推定し、これを前記面振れ測定信号とする。
【００１４】
この構成では、複数の回転位置、例えば光ディスクの回転角がある位置を基準にして０度、９０度、１８０度、２７０度の４点でフォーカスエラー信号を測定し、この４点におけるフォーカスエラー信号の変化から、光ディスク１回転におけるフォーカスエラー信号の変化を推定し、これを面振れ測定信号とする。このように、複数の回転位置におけるフォーカスエラー信号を測定することにより、面振れ測定信号を得る構成としたので、面振れ測定信号の検出にかかる処理時間を短縮でき、その結果光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかの判定に要する時間の短縮が図れる。
【００１５】
（３）前記第２の取得手段は、前記第１の取得手段が取得した前記面振れ測定信号から得られる光ディスクの回転位置に対するフォーカスエラー信号のオフセット電圧を用いて、前記記録層数判定信号を取得する。
【００１６】
この構成では、前記第２の取得手段が光ディスクの回転位置毎に、その回転位置の面振れ量に応じたフォーカスエラー信号のオフセット電圧を用いて記録層数判定信号を取得するので、光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかの判定精度を一層向上できる。
【発明の効果】
【００１７】
この発明によれば、光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを判定するときに、該光ディスクのソリ等による面振れの影響を受けないので、光ディスクの記録層が１層であるか、２層であるかを精度良く判定でき、装置本体の信頼性を低下させることがない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、この発明の実施形態である光ディスク装置について説明する。
【００１９】
図１は、この発明の実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示す図である。この実施形態の光ディスク装置１は、本体の動作を制御する制御部２と、装置本体にセットされた光ディスク１０にレーザ光を照射してデータの記録やデータの読取を行うピックアップヘッド３と、ピックアップヘッド３から照射されるレーザ光の照射位置を調整するサーボ制御部４と、光ディスク１０に記録する記録データをエンコードし、エンコードしたデータに基づいてピックアップヘッド３から光ディスク１０に照射するレーザ光を制御する記録部５と、ピックアップヘッド３で光ディスク１０から読み取った読取信号をデコードし、これを再生信号として出力する再生部６と、光ディスク１０を回転させるスピンドルモータ７と、を備えている。
【００２０】
ピックアップヘッド３は、本体にセットされた光ディスク１０の半径方向に延びる軸に取り付けられており、サーボ制御部４に設けられている送り機構部（不図示）がスレッドモータ４ａを駆動してピックアップヘッド３をこの軸に沿って光ディスク１０の半径方向に移動する。ピックアップヘッド３には対物レンズが設けられている。この対物レンズは、光ディスク１０に対して接離する方向、および光ディスク１０の半径方向に移動するための２軸のアクチュエータ（不図示）に取り付けられている。また、ピックアップヘッド３には、図示していないが光ディスク１０にレーザ光を照射するための発光素子や、光ディスク１０からの反射光を受光する受光素子を備えている。さらに、サーボ機構部４には、公知のフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と言う。）に基づいて、ピックアップヘッド３に設けられている対物レンズを光ディスク１０に対して接離する方向に移動し、ピックアップヘッド３の発光素子から出射しているレーザ光の合焦位置を光ディスク１０の記録層に合わせるフォーカスサーボ制御を行うフォーカスサーボ機構部（不図示）、および公知のトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号と言う。）に基づいて、対物レンズを光ディスク１０の半径方向に移動し、ピックアップヘッド３の発光素子から出射しているレーザ光を目的のトラックに照射するトラッキング制御を行うトラッキングサーボ機構部（不図示）が設けられている。フォーカスサーボ機構部、およびトラッキングサーボ機構部によるレンズの移動可能量は、それぞれ数百μｍである。送り機構部は、トラッキングサーボ機構部によるレンズの移動だけではピックアップヘッド３の発光素子から出射しているレーザ光を目的のトラックに照射できないときに、ピックアップヘッド３を光ディスクの半径方向に移動する。トラッキング制御は、送り機構部によるピックアップヘッド３の移動と、トラッキングサーボ機構部によるレンズの移動とを組み合わせて行う。
【００２１】
記録部５は、入力された記録データをエンコードし、このエンコードしたデータに基づいてピックアップヘッド３に設けられている発光素子から光ディスク１０に照射するレーザ光をオン／オフし、エンコードした記録データを光ディスク１０に記録する。再生部６は、光ディスク１０からの反射光を受光したピックアップヘッド３の受光素子の出力である読取信号をデコードし、これを再生信号として出力する。スピンドルモータ７は、図示していない駆動部により回転され、本体にセットされている光ディスク１０を回転する。
【００２２】
ここで、記録層が１層である光ディスクと、２層である光ディスクとについて簡単に説明しておく。周知のように、記録層が１層である光ディスク１０の場合、ピックアップヘッド３の対物レンズを、この光ディスク１０に対して接離する方向に移動すると、図２（Ａ）に示すＦＥ信号が得られる。図２（Ａ）において、横軸は対物レンズと光ディスク１０との距離であり、縦軸はＦＥ信号の大きさである。図２（Ａ）において示すＡ点が、光ディスク１０の記録層とピックアップヘッド３から照射されたレーザ光の合焦位置とが合っているポイントである。また、記録層が２層である光ディスク１０の場合、ピックアップヘッド３の対物レンズを、この光ディスク１０に対して接離する方向に移動すると、図２（Ｂ）に示すＦＥ信号が得られる。図２（Ｂ）において、横軸は図２（Ａ）と同様に対物レンズと光ディスク１０との距離であり、縦軸はＦＥ信号の大きさである。図２（Ｂ）において示すＢ点およびＣ点が、光ディスク１０の記録層とピックアップヘッド３から照射されたレーザ光の合焦位置とが合っているポイントである。
【００２３】
このように、記録層が１層である光ディスクの場合、ピックアップヘッド３の対物レンズを光ディスク１０に接離する方向に移動したときに得られるＳ字信号が１つであり、記録層が２層である光ディスクの場合、ピックアップヘッド３の対物レンズを光ディスク１０に接離する方向に移動したときに得られるＳ字信号が２つである。したがって、ピックアップヘッド３の対物レンズを光ディスク１０に接離する方向に移動したときに得られたＳ字信号の個数から、本体にセットされている光ディスク１０の記録層が１層であるか、２層であるかを判定することができる。Ｓ字信号の個数は、記録層が２層である光ディスク１０におけるＦＥ信号のピークよりも少し低い値に閾値を設け、この閾値を超えている山の個数をカウントすることで判定できる。
【００２４】
しかし、図２（Ａ）、（Ｂ）に示したＦＥ信号は、面振れがない理想的な光ディスク１０から得られるＦＥ信号を示しており、面振れがある光ディスク１０では記録層が１層であっても、面振れによる対物レンズと光ディスク１０との距離の変化が生じるので、ピックアップヘッド３の対物レンズを光ディスク１０に接離する方向に移動したときに得られるＦＥ信号が図２（Ｃ）に示す信号になることがある。この場合、この信号について、前記閾値を超えている山の個数をカウントすると２つとなり、記録層が１層の光ディスク１０であるにもかかわらず、記録層が２層の光ディスクであると誤判定する。
【００２５】
この実施形態の光ディスク装置１は、この誤判定を防止するために、以下に示すように、ピックアップヘッド３の対物レンズを光ディスク１０に接離する方向に移動させてＦＥ信号を取得するとき、光ディスク１０の面振れに応じたＦＥ信号のオフセット電圧を用いて、光ディスクの面振れの影響を除去した記録層数判定信号を取得する。そして、この記録層数判定信号についてＳ字信号の個数をカウントすることで、光ディスク１０の記録層の個数を判定する。
【００２６】
以下、光ディスク１０の記録層の個数を判定するときの動作について説明する。この実施形態の光ディスク装置１は、装置本体に光ディスク１０がセットされたときに、セットされた光ディスク１０の記録層が１層であるか２層であるかを判定する記録層数判定処理を行う。図３は、この記録層数判定処理を示すフローチャートである。この記録層数判定処理は、上記のように、装置本体に光ディスク１０がセットされたタイミングで行われ、その判定結果はＥＥＰＲＯＭ等の不揮発性メモリに記憶される。この不揮発性メモリは図示していないが制御部２に設けられている。したがって、装置本体に光ディスク１０がセットされた状態で電源がオフされても、その後に電源がオンされたときに、再度本体にセットされている光ディスク１０に対して、この記録層数判定処理を行う必要はない。
【００２７】
光ディスク装置１は、装置本体に光ディスク１０がセットされると、まずスレッドモータ４ａを駆動して、ピックアップヘッド３を光ディスク１０の外周側に移動する（ｓ１）。また、スピンドルモータ７を駆動して、本体にセットされた光ディスク１０を、データの読取時や記録時よりも低速で回転する。光ディスク装置１は、フォーカスサーボ制御、およびトラッキングサーボ制御を開始して、低速で回転している光ディスク１０の外周のトラック、好ましくは最外周のトラック、にフォーカスオンおよびトラックオンする（ｓ２）。フォーカスオンするとは、レーザ光の合焦位置を光ディスク１０の記録層に合わせることであり、トラックオンするとは、レーザ光の合焦位置を光ディスク１０のトラックの中心に合わせることである。
【００２８】
光ディスク装置１は、ｓ２でフォーカスオン、およびトラックオンすると、本体にセットされている光ディスク１０の回転位置に対する面振れ量を測定する（ｓ３）。ｓ３における面振れ量の測定では、フォーカスサーボ制御をオフし、対物レンズが光ディスク１０に対して接離する方向に移動するのを禁止した状態で行う。一方、トラッキングサーボ制御についてはオフしてもよいし、オフしなくてもよい。
【００２９】
光ディスク装置１は、ｓ３において、光ディスク１０の複数の回転位置におけるＦＥ信号を測定する。例えば、図４（Ａ）に示すように、光ディスク１０のある回転位置を基準にして０度（Ａ点）、９０度（Ｂ点）、１８０度（Ｃ点）、２７０度（Ｄ点）の４点でＦＥ信号を測定する。ここでは、４点でＦＥ信号を測定するとしたが、この点数は４点に限定されるものではなく、５点以上であってもよいし、３点、または２点であってもよい。
但し、測定する点数を少なくすると、後述するｓ４での近似による光ディスク１０の回転位置に対する面振れ測定信号の精度が低下し、反対に測定する点数を多くすると、測定に要する時間が長くなることから、測定する点数は４点程度が好ましい。光ディスク１０の回転位置は、スピンドルモータ７の回転角度から検出できる。また、フォーカスサーボ制御についてはオフしているが、直前にフォーカスオンさせた位置に対物レンズを固定しているので、オフしていないトラッキングサーボ制御が暴走するような事態がおきることはない。
【００３０】
光ディスク装置１は、これら４点におけるＦＥ信号を測定すると（図４（Ｂ）参照）、これら４点のＦＥ信号の測定値から光ディスク１０の回転角に対する、言い換えれば光ディスク１０を１回転させる間における、フォーカスエラー信号の変化を、面振れ測定信号として取得する（ｓ４）。具体的には、ｓ３で測定したＦＥ信号の近似曲線を算出し、これを面振れ測定信号として取得する。このｓ３、ｓ４にかかる処理がこの発明で言う第１の取得手段に相当する。
【００３１】
ｓ４で取得した面振れ測定信号は、光ディスク１０の回転位置に対する、光ディスク１０の記録層と、ピックアップヘッド３の対物レンズと、の距離の変化に応じた信号である。光ディスク１０の記録層と、ピックアップヘッド３の対物レンズと、の距離が変化する原因は、光ディスク１０の面振れである。したがって、ｓ４で取得した面振れ測定信号は、光ディスク１０の回転位置に対する面振れ量に応じた信号であり、光ディスク１０の回転位置に対するＦＥ信号のオフセット電圧であると言える。
【００３２】
光ディスク装置１は、ｓ４で面振れ測定信号を取得すると、次にピックアップヘッド３の対物レンズを光ディスク１０に対して接離する方向に移動し、このときのＦＥ信号を基に記録層数判定信号を取得する（ｓ５）。具体的には、光ディスク装置１０は、光ディスク１０の回転位置に応じて、得られたＦＥ信号からｓ４で得たＦＥ信号のオフセット電圧を差し引いた値を、その回転位置における記録層数判定信号として取得する。したがって、光ディスク１０のソリ等による面振れの影響を除去した記録層数判定信号を得ることができる。このｓ５にかかる処理がこの発明で言う第２の取得手段に相当する。このｓ５にかかる処理の実行時には、トラッキングサーボ制御もオフしている。
【００３３】
そして、光ディスク装置１は、ｓ５で得た、光ディスク１０のソリ等による面振れの影響を除去した記録層数判定信号に対して、Ｓ字信号の個数をカウントし、１つであれば記録層が１つの光ディスクであると判定する（ｓ６、ｓ７）。反対に、Ｓ字信号の個数が２つであれば記録層が２つの光ディスクであると判定する（ｓ６、ｓ８）。光ディスク装置１は、この判定結果を制御部２に設けられている不揮発性のメモリに記憶し、本処理を終了する。
【００３４】
このように、この実施形態の光ディスク装置１は、光ディスク１０の面振れを考慮して、この光ディスク１０の記録層が１層であるか、２層であるかを判定することができるので、記録層の個数の判定が適正に行える。したがって、記録層が１層である光ディスク１０であっても、２層である光ディスク１０であっても、適正にデータの読取や記録を行うことができ、装置本体の信頼性を低下させることがない。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】この発明の実施形態である光ディスク装置の主要部の構成を示す図である。
【図２】光ディスクから得られるフォーカスエラー信号を説明する図である。
【図３】この発明の実施形態である光ディスク装置における記録層数判定処理を示すフローチャートである。
【図４】この発明の実施形態である光ディスク装置における記録層数判定処理を説明する図である。
【符号の説明】
【００３６】
１−光ディスク装置
２−制御部
３−ピックアップヘッド
４−サーボ機構部
４ａ−スレッドモータ
５−記録部
６−再生部
７−スピンドルモータ
【図１】
2005317092.tif 000003
【図２】
2005317092.tif 000004
【図３】
2005317092.tif 000005
【図４】
2005317092.tif 000006