(57)【要約】【課題】高速移動時にテープ体に発生する振動を軽減し得るテープ体支持具を提供する。【解決手段】その長手方向に移動するテープ体を支持可能に構成されたテープ支持具１２であって、移動するテープ体を張架可能にその移動方向に沿って配置された一対の壁部２２ａ，２２ｂと、テープ体に当接可能に形成されて壁部２２ａの近傍における移動方向の上流側に配置された壁部２３ａと、テープ体に当接可能に構成されて壁部２２ｂの近傍における移動方向の下流側に配置された壁部２３ｂとを備えて構成されている。【選択図】        図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
その長手方向に移動するテープ体を支持可能に構成されたテープ体支持具であって、
前記移動するテープ体を張架可能にその移動方向に沿って配置された一対の支持部と、前記テープ体に当接可能に形成されて前記支持部の近傍における前記移動方向の上流側に配置された上流側当接部と、前記テープ体に当接可能に構成されて前記支持部の近傍における前記移動方向の下流側に配置された下流側当接部とを備えて構成されているテープ体支持具。
【請求項２】
前記一対の支持部は、前記テープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成され、
前記上流側当接部および前記下流側当接部は、前記テープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成されると共にその各壁面が前記一対の支持部の壁面にそれぞれ対向するように前記移動方向に沿って配置されている請求項１記載のテープ体支持具。
【請求項３】
前記一対の支持部は、前記テープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能に形成されると共にその上端部に当該テープ体を張架可能に形成され、
前記上流側当接部および前記下流側当接部は、その上端部が前記テープ体に対して疎的に接触可能に形成されると共に前記一対の支持部の近傍に配置されている請求項１記載のテープ体支持具。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載のテープ体支持具と、前記テープ体をその長手方向に沿って移動させる移動機構と、前記一対の支持部の間に張架された前記テープ体に検査用の光を照射する光照射部と、当該光照射部によって照射されて前記テープ体によって反射された散乱光を受光可能な受光部と、当該受光部による前記散乱光の受光状態に基づいて前記テープ体を検査する検査部とを備えているテープ体検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、磁気テープ等のテープ体を張架可能に構成されたテープ体支持具、およびそのテープ体支持具を備えてテープ体を検査可能に構成されたテープ体検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種のテープ体支持具を備えてテープ体を検査可能に構成されたテープ体検査装置として、出願人は、特願２００３−０９６７２８に表面欠陥検出装置（１０）を提案している。この表面欠陥検出装置（１０）は、磁気テープ（１２：磁気記録媒体）の表面に直径１０μｍ程度よりも大きい表面欠陥（傷、剥離部および付着物）が存在するか否かを検査する検査装置であって、磁気テープ（１２）に光（Ｌａ，Ｌｂ、以下、「Ｌａ」ともいう）を照射すると共にその反射光（散乱光）の受光状態に基づいて表面欠陥の有無を検査可能に構成されている。この表面欠陥検出装置（１０）によって磁気テープ（１２）を検査する際には、まず、支持装置（１４）の円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）の間に磁気テープ（１２）を張架する。この際に、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）によって磁気テープ（１２）が平坦（平面状）となるように支持される。次に、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）に形成された多数のエア吹出し細孔（２７，２７・・）から圧縮空気を吐出させつつ、磁気テープ（１２）をその長手方向に沿って移動させる。この際に、エア吹出し細孔（２７）から吐出された圧縮空気によって円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）の周面と磁気テープ（１２）との間に空気の層が形成されて、磁気テープ（１２）が円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）に対して非接触の状態で移動させられる。
【０００３】
次に、磁気テープ（１２）における円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）の間に張架されている領域内（光源像領域（１８Ａ，１８Ｂ））に向けて検査光照射装置（２０）から検査用の光（Ｌ）を照射する。同時に、光源像領域（１８Ａ，１８Ｂ）の間に規定された帯状検査領域（２２Ａ）を含む領域をＣＣＤラインカメラ（２２）によって撮像する。この場合、この表面欠陥検出装置（１０）では、検査光照射装置（２０）によって照射されて磁気テープ（１２）によって反射された正反射光がＣＣＤラインカメラ（２２）に入光しないように、磁気テープ（１２）に対する検査光照射装置（２０）およびＣＣＤラインカメラ（２２）の光軸と位置とが規定されている。したがって、磁気テープ（１２）に表面欠陥が存在しないときには、光源像領域（１８Ａ，１８Ｂ）に向けて照射した光（Ｌ）の大半がＣＣＤラインカメラ（２２）に入光しないため、ＣＣＤラインカメラ（２２）によって出力される輝度信号が所定の輝度レベル以下となる。したがって、この際には、判定装置（２４）が、ＣＣＤラインカメラ（２２）によって出力された輝度信号に基づいて、磁気テープ（１２）に表面欠陥が存在しないと判定する。
【０００４】
一方、磁気テープ（１２）に表面欠陥が存在するときには、検査光照射装置（２０）によって照射された光（Ｌ）が表面欠陥によって乱反射され、その反射光（散乱光）の一部がＣＣＤラインカメラ（２２）に入光する。この結果、ＣＣＤラインカメラ（２２）によって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを超える。したがって、この際には、判定装置（２４）が、ＣＣＤラインカメラ（２２）によって出力された輝度信号に基づいて、磁気テープ（１２）に表面欠陥が存在すると判定する。この判定処理を磁気テープ（１２）の全体に亘って実行することにより、磁気テープ（１２）の良否（表面欠陥の有無）が検査される。
【０００５】
【先行出願１】
特願２００３−０９６７２８
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、出願人が提案している表面欠陥検出装置（１０）には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この表面欠陥検出装置（１０）では、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）間に張架した磁気テープ（１２）に向けて光（Ｌ）を照射して、その散乱光の有無（輝度レベル）に基づいて表面欠陥が存在するか否かを判定している。一方、テープカセット等の磁気記録媒体に対する記録可能容量増大の要望に応えて、近年の磁気テープでは、薄厚化されつつ長尺化され、かつ高密度記録化が図られている。したがって、この種の磁気テープを検査する検査装置では、高速かつ高精度で検査対象の磁気テープを検査する必要がある。この場合、前述した表面欠陥検出装置（１０）では、磁気テープ（１２）を高速に移動させるほど、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）の間、および円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）の前後において（円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）によって支持されていない部位において）磁気テープ（１２）に振動が発生し易くなる。したがって、磁気テープ（１２）を高速に移動させたときには、磁気テープ（１２）に表面欠陥が存在していないにも拘わらず、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）間で振動する磁気テープ（１２）によって光（Ｌ）が乱反射されてその反射光の一部がＣＣＤラインカメラ（２２）に入光するおそれがある。このため、ＣＣＤラインカメラ（２２）によって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを超える可能性があり、その際には、判定装置（２４）が磁気テープ（１２）に表面欠陥が存在すると誤判定する可能性がある。
【０００７】
一方、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）を極く近距離に接近させることにより（円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）間の距離を短くすることにより）、磁気テープ（１２）の高速移動時における円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）間での振動の発生をある程度軽減することが可能となる。しかし、エア吹出し細孔（２７）から圧縮空気を吐出する構成の円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）を小形化するのが困難のため、振動の発生を十分に軽減可能な程度に円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）を接近させるのが困難となっている。また、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）を極く近距離にまで接近させて円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）間における振動の発生を軽減できたとしても、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）の前後で磁気テープ（１２）に発生した振動が円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）間に伝搬して、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）間で磁気テープ（１２）が振動するおそれがある。
【０００８】
この場合、上記の円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）に代えて例えば２本のローラーを配設して、磁気テープ（１２）の移動に伴って両ローラーが回転しつつ磁気テープ（１２）を支持する構成を採用することも考えられる。この構成によれば、圧縮空気を吐出する構成を不要としてローラーを小形化することで、両ローラーを極く近距離に接近させて配置することが可能となる。しかし、かかる構成を採用した場合、ローラーの回転軸に存在する僅かながたつきに起因して両ローラーに振動が発生するため、依然として、この振動が伝搬して両ローラー間で磁気テープ（１２）が振動する。
【０００９】
また、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）のいずれかによって空気の層を介して支持されている部位において磁気テープ（１２）に光（Ｌ）を照射してその散乱光に基づく表面欠陥の有無を判定する構成を採用することも考えられる。この構成によれば、磁気テープ（１２）の振動に起因する誤判定を回避することが可能とも考えられる。ところが、検査対象の磁気テープ（１２）が極く薄厚のため、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）の表面に極く小さな凹凸が存在するだけでも、円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）によって支持されている磁気テープ（１２）に凹凸が生じる。したがって、この凹凸が表面欠陥として検出されるおそれがあり、この構成を採用するのは困難である。
【００１０】
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、高速移動時にテープ体に発生する振動を軽減し得るテープ体支持具、およびテープ体を高精度で検査し得るテープ体検査装置を提供することを主目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく本発明に係るテープ体支持具は、その長手方向に移動するテープ体を支持可能に構成されたテープ体支持具であって、前記移動するテープ体を張架可能にその移動方向に沿って配置された一対の支持部と、前記テープ体に当接可能に形成されて前記支持部の近傍における前記移動方向の上流側に配置された上流側当接部と、前記テープ体に当接可能に構成されて前記支持部の近傍における前記移動方向の下流側に配置された下流側当接部とを備えて構成されている。
【００１２】
この場合、前記一対の支持部を前記テープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成し、前記上流側当接部および前記下流側当接部を前記テープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成すると共にその各壁面が前記一対の支持部の壁面にそれぞれ対向するように前記移動方向に沿って配置するのが好ましい。
【００１３】
また、前記一対の支持部を前記テープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能に形成すると共にその上端部に当該テープ体を張架可能に形成し、前記上流側当接部および前記下流側当接部をその上端部が前記テープ体に対して疎的に接触可能に形成すると共に前記一対の支持部の近傍に配置するのが好ましい。
【００１４】
また、本発明に係るテープ体検査装置は、上記のテープ体支持具と、前記テープ体をその長手方向に沿って移動させる移動機構と、前記一対の支持部の間に張架された前記テープ体に検査用の光を照射する光照射部と、当該光照射部によって照射されて前記テープ体によって反射された散乱光を受光可能な受光部と、当該受光部による前記散乱光の受光状態に基づいて前記テープ体を検査する検査部とを備えている。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係るテープ体支持具およびテープ体検査装置の実施の形態について説明する。
【００１６】
最初に、テープ検査装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１７】
テープ検査装置１は、本発明に係るテープ体検査装置に相当し、図１に示すように、移動機構２、支持機構４、エア供給部５、表面検査部６ａ、裏面検査部６ｂ、計測部８および制御部９を備えて磁気テープ１０を検査可能に構成されている。この場合、磁気テープ１０は、本発明におけるテープ体の一例であって、支持体としてのベースフィルムと、ベースフィルムの表面に形成された磁性層と、ベースフィルムの裏面に形成されたバックコート層とを備えて一例として厚みが１０μｍ程度で長さが６０００ｍ程度に形成されている。また、図２に示すように、磁気テープ１０の裏面（バックコート層）には、テープ検査装置１による検査が完了した後に、図示しない加工機によって、記録データの記録再生時に記録再生装置が磁気テープ１０の位置を特定するための（位置決めするための）マークＭ（穴）が所定のピッチで数多く形成される。この磁気テープ１０は、テープ検査装置１による検査が完了し、加工機によるマークＭの形成が完了した後にリールに巻回されてカセットケースに収容されて、記録再生装置による各種の記録データの記録再生が可能となる。
【００１８】
移動機構２は、テープ検査装置１の検査対象である磁気テープ１０が巻回された送り側リール３ａと、テープ検査装置１による検査が完了した磁気テープ１０を巻回する巻取り側リール３ｂとを回転させることによって磁気テープ１０をその長手方向（同図に示す矢印の向き）に移動させるモータ（図示せず）を備えて構成されている。支持機構４は、図３，４に示すように、円筒状ガイド部材（以下、「ガイド部材」ともいう）１１ａ，１１ｂと、ガイド部材１１ａ，１１ｂの間に配設されたテープ支持具（以下、「支持具」ともいう）１２ａ，１２ｂとを備えて磁気テープ１０を移動可能に支持する。ガイド部材１１ａ，１１ｂ（以下、区別しないときには「ガイド部材１１」ともいう）は、出願人が提案している上記の表面欠陥検出装置（１０）における円筒状ガイド部材（２６Ａ，２６Ｂ）と同様にして、その表面に多数のエア吹出し細孔が形成されて構成され、エア供給部５によって供給されるエア（圧縮空気）を吐出して磁気テープ１０との間に空気の層を形成することで磁気テープ１０を非接触の状態で支持する。
【００１９】
支持具１２ａ，１２ｂ（以下、区別しないときには「支持具１２」ともいう）は、図５に示すように、ベース部２１と、ベース部２１上に立設された壁部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂとを備えて、全体としてセラミックによって一体形成されている。壁部２２ａ，２２ｂ（以下、区別しないときには「壁部２２」ともいう）は、本発明における一対の支持部に相当し、一例として、その厚みＴが１．５ｍｍの壁状に形成されて、距離Ｌ１（一例として、２．５ｍｍ程度）だけ離間して互いに対向するように配置されている。この場合、両壁部２２ａ，２２ｂ間の距離Ｌ１を２．０ｍｍ未満としたときには、後述するように、この壁部２２に対して非接触状態の磁気テープ１０（両壁部２２間に張架された部位）に検査光Ｌａを照射するのが困難となる。また、３．０ｍｍを超えて両壁部２２ａ，２２ｂを離間させたときには、磁気テープ１０を高速移動させた際に両壁部２２ａ，２２ｂの間において磁気テープ１０に小さな振動が発生するおそれがある。したがって、距離Ｌ１が２．０ｍｍ以上３．０ｍｍ以下の範囲内となるように両壁部２２ａ，２２ｂを離間して配置するのが好ましい。また、壁部２２は、その上端面が平坦に形成されると共に上端面と側面との角部が面取りされて、磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域（壁部２２の厚みＴ（１．５ｍｍ）と同幅で線状の平面視長方形の領域）に当接可能に構成されている。
【００２０】
一方、壁部２３ａ，２３ｂ（以下、区別しないときには「壁部２３」ともいう）は、それぞれ本発明における上流側当接部および下流側当接部に相当し、一例として、その厚みＴが１．５ｍｍの壁状に形成されている。この場合、各壁部２３は、壁部２２に対して距離Ｌ２（一例として、１．６ｍｍ程度）だけ離間するように、その各壁面が壁部２２ａ，２２ｂの各壁面と対向するようにして配置されている。この壁部２３は、磁気テープ１０の裏面に当接することにより、ガイド部材１１と支持具１２の壁部２２との間において磁気テープ１０に発生する振動の両壁部２２ａ，２２ｂ間への伝搬を回避（軽減）する。したがって、両壁部２３ａ，２３ｂ間の距離Ｌ２を１．０ｍｍ未満としたときには、ガイド部材１１と壁部２２との間において磁気テープ１０に発生した振動の伝搬を回避するのが困難となるおそれがある。また、３．２ｍｍを超えて両壁部２２から壁部２３を離間させたときには、壁部２２と壁部２３との間において磁気テープ１０に振動が発生して、この振動が両壁部２２ａ，２２ｂ間に伝搬するおそれがある。したがって、距離Ｌ２が１．０ｍｍ以上３．２ｍｍ以下の範囲内となるように両壁部２２から壁部２３を離間して配置するのが好ましい。また、壁部２３は、壁部２２と同様にして、その上端面が平坦に形成されると共に、上端面と側面との角部が面取りされて、磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域（壁部２３の厚みＴ（１．５ｍｍ）と同幅で線状の平面視長方形の領域）に当接可能に構成されている。さらに、壁部２３は、壁部２２と比較して、高さＨ（一例として０．２ｍｍ）だけ低背に形成されている。
【００２１】
エア供給部５は、制御部９の制御下で支持機構４の両ガイド部材１１にエア（圧縮空気）を供給する。表面検査部６ａおよび裏面検査部６ｂ（以下、区別しないときには「検査部６」ともいう）は、図３に示すように、制御部９の制御下で磁気テープ１０に検査用の検査光Ｌａを照射する検査光照射部７ａと、検査光照射部７ａによって照射されて磁気テープ１０によって反射された反射光Ｌｂ（散乱光）を受光する（磁気テープ１０を撮像する）ＣＣＤカメラ７ｂとを備えて構成されている。この場合、検査光照射部７ａは、本発明における光照射部に相当し、ハロゲンランプ、高輝度ＬＥＤ、ナトリウムランプおよびレーザダイオード等で構成されると共に壁部２２ａ，２２ｂ間に張架された磁気テープ１０に検査光Ｌａを照射可能な位置に配置されている。一例として、本発明の実施の形態では、高輝度で、しかも調光が容易なハロゲンランプによって検査光照射部７ａが構成されている。ＣＣＤカメラ７ｂは、本発明における受光部に相当し、検査光照射部７ａによって照射されて磁気テープ１０によって反射された反射光Ｌｂを受光する。具体的には、ＣＣＤカメラ７ｂは、検査光照射部７ａによって検査光Ｌａが照射された部位の近傍を撮像することにより、磁気テープ１０に欠陥部Ｘ（図２参照：この場合、この検査時には、同図のマークＭ，Ｍ・・は形成されていない）が存在するときに、その欠陥部Ｘによって反射された反射光Ｌｂ（散乱光）を受光する。なお、検査光照射部７ａによる検査光Ｌａの照射位置、およびＣＣＤカメラ７ｂによる反射光Ｌｂ（散乱光）の受光原理等については、出願人が提案している表面欠陥検出装置（１０）と同様のため、本発明についての理解を容易とするために、その詳細な説明を省略する。
【００２２】
計測部８は、移動機構２によって移動させられた磁気テープ１０の移動距離（すなわち、巻取り側リール３ｂに巻回された磁気テープ１０の長さ）を計測する。制御部９は、本発明における検査部に相当し、検査部６におけるＣＣＤカメラ７ｂによって出力された輝度信号（ＣＣＤカメラ７ｂによる散乱光の受光状態）に基づいて、磁気テープ１０に欠陥部Ｘが存在するか否かを判定（検査）する。また、制御部９は、移動機構２を制御して磁気テープ１０を一例として毎秒５ｍの速度で高速移動させると共に、検査光照射部７ａを制御して磁気テープ１０に検査光Ｌａを照射させる。さらに、制御部９は、ＣＣＤカメラ７ｂによって出力された輝度信号に基づいて磁気テープ１０に欠陥部Ｘが存在すると判定したときに、計測部８による計測結果（巻取り側リール３ｂに巻回された磁気テープ１０の長さ）と共に欠陥部Ｘが存在する旨を図示しない記憶部に記憶させる。なお、テープ検査装置１は、実際には、送り側リール３ａに巻回されている磁気テープ１０をガイド部材１１ａに案内する各種のローラー等、検査が完了した磁気テープ１０をガイド部材１１ｂから巻取り側リール３ｂに案内する各種のローラー等、磁気テープ１０に対して所定の張力を付与するためのテンション機構、および磁気テープ１０をクリーニングするクリーナーなどを備えているが、本発明についての理解を容易とするために、これらについての説明および図示を省略する。
【００２３】
次に、テープ検査装置１による磁気テープ１０の検査方法について、図面を参照して説明する。
【００２４】
まず、検査対象の磁気テープ１０が巻回された送り側リール３ａと、検査が完了した磁気テープ１０を巻回する巻取り側リール３ｂとを移動機構２に取り付ける。次に、送り側リール３ａから磁気テープ１０の先端部を引き出して、ガイド部材１１ａ、支持具１２ａ、支持具１２ｂおよびガイド部材１１ｂに対してこの順で接触するように磁気テープ１０をセットした後に、巻取り側リール３ｂに先端部を固定する。この際に、図３，４に示すように、磁気テープ１０の表面（磁性層が形成されている面）には、ガイド部材１１ａと、支持具１２ｂにおける各壁部２２，２３の上端面とが当接し、磁気テープ１０の裏面（バックコート層が形成されている面）には、支持具１２ａにおける各壁部２２，２３の上端面と、ガイド部材１１ｂとが当接する。次いで、制御部９がエア供給部５を制御してガイド部材１１からエアを吐出させる。この際に、突出されたエアによってガイド部材１１と磁気テープ１０との間に空気の層が形成され、これにより、磁気テープ１０がガイド部材１１に対して非接触の状態で支持される。
【００２５】
次に、制御部９は、移動機構２を制御して送り側リール３ａおよび巻取り側リール３ｂを回転させることにより、送り側リール３ａに巻回されている磁気テープ１０を巻取り側リール３ｂに巻回させる。この際に、前述したテンション機構によって磁気テープ１０に所定の張力が付与されているため、磁気テープ１０は、空気の層を介して両ガイド部材１１に押し付けられると共に、支持具１２における各壁部２２，２３の上端面に押し付けられた状態で送り側リール３ａから巻取り側リール３ｂに向けて移動させられる。この場合、このテープ検査装置１では、磁気テープ１０が空気の層を介してガイド部材１１に押し付けられる構成のため、ガイド部材１１によって磁気テープ１０が傷付けられる事態が回避されている。また、磁気テープ１０がガイド部材１１によって非接触状態で支持されているため、ガイド部材１１によって支持されている部位において磁気テープ１０との間での摺動抵抗（移動抵抗）が極く小さくなっている。さらに、支持具１２における各壁部２２，２３の上端面を平坦に形成すると共に、その上端面と側面との角部を面取りすることにより、支持具１２によって磁気テープ１０が傷付けられる事態が回避されている。また、支持具１２の各壁部２２，２３の厚みＴが１．５ｍｍ程度と薄厚のため、支持具１２によって支持されている部位において磁気テープ１０との間での摺動抵抗も極く小さくなっている。
【００２６】
また、支持具１２の両壁部２２ａ，２２ｂ間の距離Ｌ１が２．５ｍｍ程度と極く近距離のため、磁気テープ１０を高速移動させた際に両壁部２２ａ，２２ｂ間において磁気テープ１０に振動が発生する事態が回避されている。さらに、ガイド部材１１と支持具１２における壁部２２との間において壁部２３が磁気テープ１０に当接するため、ガイド部材１１および壁部２２の間において極く小さな振動が発生したとしても、この振動が両壁部２２ａ，２２ｂ間に伝搬する事態が回避される。したがって、磁気テープ１０を高速移動させたとしても、支持具１２は、壁部２２ａ，２２ｂ間に張架されている部位において、磁気テープ１０を殆ど振動させることなく平坦な状態で支持する。
【００２７】
一方、制御部９は、移動機構２に対して磁気テープ１０を移動させるのと同時に、両検査部６に対して検査光Ｌａの照射および反射光Ｌｂの受光を開始させる（検査処理の開始）。この際に、磁気テープ１０の表面（磁性層）に異物の付着や磁性層の剥離などの表面欠陥が存在するときには、この表面欠陥によって反射された反射光Ｌｂ（散乱光）が表面検査部６ａのＣＣＤカメラ７ｂに入光する結果、ＣＣＤカメラ７ｂによって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを上回る。したがって、この際に、制御部９は、磁気テープ１０の表面に何らかの表面欠陥が存在すると判定する。また、磁気テープ１０の裏面（バックコート層）に異物の付着やバックコート層の剥離などの欠陥部Ｘ（図２参照）が存在するときには、この欠陥部Ｘによって反射された反射光Ｌｂ（散乱光）が裏面検査部６ｂのＣＣＤカメラ７ｂに入光する結果、ＣＣＤカメラ７ｂによって出力された輝度信号が所定の輝度レベルを上回る。したがって、この際に、制御部９は、磁気テープ１０の表面に何らかの表面欠陥が存在すると判定する。
【００２８】
また、磁気テープ１０の表面および裏面に欠陥部Ｘが存在しないときには、支持具１２によって磁気テープ１０の振動が大幅に軽減されているため、磁気テープ１０を高速移動させたとしても、検査光照射部７ａから照射された検査光Ｌａが磁気テープ１０によって乱反射される事態が回避される。したがって、この際に、ＣＣＤカメラ７ｂによって出力された輝度信号が所定の輝度レベル以下となるため、制御部９は、磁気テープ１０に欠陥部Ｘが存在しないと判定する。この検査処理を磁気テープ１０の長手方向の全域に亘って実行することにより、磁気テープ１０の良否が判定（検査）される。
【００２９】
このように、この光情報記録媒体１によれば、磁気テープ１０の移動方向に沿って配置された壁部２２ａ，２２ｂと、壁部２２ａ，２２ｂの近傍における移動方向の上流側および下流側に配置された壁部２３ａ，２３ｂとを備えて支持具１２を構成したことにより、壁部２２ａの上流側および壁部２２ｂの下流側において発生した振動の壁部２２ａ，２２ｂ間への伝搬を十分に回避することができる。したがって、磁気テープ１０を高速移動させたとしても、壁部２２ａ，２２ｂ間での磁気テープ１０の振動を十分に回避（軽減）することができる。
【００３０】
また、このテープ検査装置１によれば、壁部２２ａ，２２ｂを磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成して磁気テープ１０を張架可能に配設すると共に、壁部２３ａ，２３ｂを磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成して壁部２２ａ，２２ｂに対向配置して支持具１２を構成したことにより、壁部２２ａ，２２ｂを近距離に接近させることができる結果、高速移動時に壁部２２ａ，２２ｂの間において磁気テープ１０に振動が発生する事態を十分に回避（軽減）することができる。また、磁気テープ１０の長手方向に沿った広い面積の領域で磁気テープ１０に当接する構成と比較して、磁気テープ１０との間での摺動抵抗を十分に小さくすることができる。したがって、小さな力で磁気テープ１０を無理なく移動させることができる結果、磁気テープ１０の伸びを防止することができると共に、磁気テープ１０の傷付きを回避することができる。
【００３１】
さらに、このテープ検査装置１によれば、支持具１２によって磁気テープ１０を支持つつ磁気テープ１０を検査可能に構成したことにより、壁部２２ａ，２２ｂ間での磁気テープ１０の振動を回避（軽減）できるため、磁気テープ１０の振動に起因する誤判定を十分に回避することができる結果、磁気テープ１０を高精度で検査することができる。
【００３２】
なお、本発明は、上記した本発明の実施の形態に限定されない。例えば、本発明の実施の形態では、本発明における一対の支持部（壁部２２ａ，２２ｂ）と上流側当接部および下流側当接部（壁部２３ａ，２３ｂ）とをそれぞれ厚みＴが１．５ｍｍ程度の壁状に形成した例について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、図６，７に示すテープ支持具（以下、「支持具」ともいう）３１では、本発明における一対の支持部と上流側当接部および下流側当接部とを一体的に形成した壁部３４ａ，３４ｂを備えて構成されている。この場合、壁部３４ａの支持部３２ａと壁部３４ｂの支持部３２ｂとが本発明における一対の支持部を構成し、壁部３４ａの当接部３３ａが本発明における上流側当接部を構成し、壁部３４ｂの当接部３３ｂが本発明における下流側当接部を構成する。また、支持部３２ａ，３２ｂ（以下、区別しないときには「支持部３２」ともいう）は、磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域（支持部３２の厚みＴ（１．５ｍｍ）と同幅で線状の平面視長方形の領域）に当接可能に、その上面が平坦に形成されている。
【００３３】
さらに、当接部３３ａ，３３ｂ（以下、区別しないときには「当接部３３」ともいう）は、一対の支持部３２ａ，３２ｂの近傍に配置されると共に複数の穴３５，３５・・が平面視千鳥模様状に形成されて構成されている。これにより、この支持具３１によって磁気テープ１０を支持する際には、穴３５の形成部位において磁気テープ１０が当接部３３に非接触の状態となり、当接部３３全体としては、磁気テープ１０に対して疎的に接触する。この結果、磁気テープ１０との間での摺動抵抗が小さくなり、比較的小さな力で磁気テープ１０を無理なく移動させることが可能となる。この場合、当接部３３を磁気テープ１０に対して疎的に接触させる構成としては、上記の千鳥模様状に形成した穴３５，３５・・に限らず、マトリクス状に形成した穴３５，３５・・、網目模様状に形成した細溝など、磁気テープ１０に対する接触面積を減少させ得る各種の構成を採用することができる。また、上記の穴や溝を形成する構成のみならず、複数のピン状部材または壁状部材を立設して当接部３３を構成することもできる。
【００３４】
この支持具３１では、両壁部３４の支持部３２が前述した支持具１２における両壁部２２ａ，２２ｂの間の距離Ｌ１（この場合、２．５ｍｍ程度）と同じ距離だけ離間させられて配置されている。したがって、磁気テープ１０を高速移動させた際に両支持部３２ａ，３２ｂの間での振動の発生が回避されている。また、前述したテープ検査装置１において支持具１２に代えてこの支持具３１を使用した場合、ガイド部材１１および両支持部３２の間において極く小さな振動が発生したとしても、当接部３３が磁気テープ１０に当接しているため、この振動の両支持部３２ａ，３２ｂ間への伝搬が回避される。したがって、磁気テープ１０を高速移動させたとしても、両支持部３２ａ，３２ｂの間に張架されている部位では、磁気テープ１０は殆ど振動させられることなく平坦な状態で支持される。このように、この支持具３１によれば、前述した支持具１２と同様にして、支持部３２の上流側および下流側で発生した振動の両当接部３３ａ，３３ｂ間への伝搬を十分に回避することができる。したがって、磁気テープ１０を高速移動させたとしても、磁気テープ１０が両当接部３３ａ，３３ｂ間で振動する事態を十分に回避（軽減）することができる。
【００３５】
また、本発明の実施の形態では、壁部２２ａ，２２ｂの上流側および下流側にそれぞれ壁部２３を１つずつ配置してテープ支持具１２を構成した例について説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明における上流側当接部および下流側当接部（壁部２３）のいずれかまたは双方を２つ以上の壁部で構成して、壁部２２，２２と合わせて合計５つ以上の壁部でテープ体支持具を構成することもできる。さらに、本発明の実施の形態では、磁性層およびバックコート層が形成された磁気テープ１０を検査する例を挙げて説明したが、本発明におけるテープ体は磁気テープに限定されず、例えば、磁性層等を形成する以前の状態のベースフィルムや、記録再生装置の磁気ヘッド等をクリーニングするためのクリーニングテープなどの各種のテープ体がこれに含まれる。また、本発明の実施の形態では、磁気テープ１０の表面および裏面の双方を光学的に検査する構成を例に挙げて説明したが、例えば、磁気テープ１０の表面を磁気的に検査すると共に裏面側のみ光学的に検査する構成を採用することができる。
【００３６】
【発明の効果】
以上のように、本発明に係るテープ体支持具によれば、テープ体の移動方向に沿って配置された一対の支持部と、支持部の近傍における移動方向の上流側および下流側に配置された上流側当接部および下流側当接部とを備えたことにより、一対の支持部の上流側および下流側において発生した振動の一対の支持部間への伝搬を十分に回避することができる。したがって、テープ体を高速移動させたとしても、一対の支持部間でのテープ体の振動を十分に回避（軽減）することができる。
【００３７】
また、本発明に係るテープ体支持具によれば、一対の支持部をテープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成してテープ体を張架可能に配置すると共に、上流側当接部および下流側当接部をテープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能な壁状に形成して一対の支持部に対向配置したことにより、一対の支持部を近距離に接近させることができる結果、高速移動時に一対の支持部の間においてテープ体に振動が発生する事態を十分に回避（軽減）することができる。また、テープ体の長手方向に沿った広い面積の領域でテープ体に当接する構成と比較して、テープ体との間での摺動抵抗を十分に小さくすることができる。したがって、小さな力でテープ体を無理なく移動させることができる結果、テープ体の伸びを防止することができると共に、テープ体の傷付きを回避することができる。
【００３８】
さらに、本発明に係るテープ体支持具によれば、一対の支持部をテープ体の幅方向に沿った線状の領域に当接可能に形成してテープ体を張架可能に配置すると共に、上流側当接部および下流側当接部をテープ体に対して疎的に接触可能に形成したことにより、一対の支持部の上流側および下流側で発生した振動の一対の支持部間への伝搬を十分に回避することができる。したがって、テープ体を高速移動させたとしても、テープ体が一対の支持部間で振動する事態を十分に回避（軽減）することができる。また、テープ体に対して疎的に接触させることにより、テープ体との間での摺動抵抗が小さくなり、比較的小さな力でテープ体を無理なく移動させることができる結果、テープ体の伸びを防止することができると共に、テープ体の傷付きを回避することができる。
【００３９】
また、本発明に係るテープ体検査装置によれば、上記のテープ体支持具によってテープ体を支持つつテープ体を検査可能に構成したことにより、一対の支持部間でのテープ体の振動を回避（軽減）できるため、テープ体の振動に起因する誤判定を十分に回避することができる結果、テープ体を高精度で検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係るテープ検査装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明におけるテープ体の一例である磁気テープ１０の裏面を示す平面図である。
【図３】テープ検査装置１における支持機構４の構成を示す側面図である。
【図４】テープ検査装置１における支持機構４の構成を示す平面図である。
【図５】本発明の実施の形態に係るテープ支持具１２の断面図である。
【図６】本発明の他の実施の形態に係るテープ支持具３１の断面図である。
【図７】本発明の他の実施の形態に係るテープ支持具３１の平面図である。
【符号の説明】
１  テープ検査装置
２  移動機構
４  支持機構
６ａ  表面検査部
６ｂ  裏面検査部
７ａ  検査光照射部
７ｂ  ＣＣＤカメラ
９  制御部
１０  磁気テープ
１２ａ，１２ｂ，３１  テープ支持具
２１  ベース部
２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂ，３４ａ，３４ｂ  壁部
３２ａ，３２ｂ  支持部
３３ａ，３３ｂ  当接部
３５  穴
Ｌａ  検査光
Ｌｂ  反射光
Ｔ  厚み
Ｌ１，Ｌ２  距離
Ｘ  欠陥部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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