(57)【要約】【課題】曲げ疲労試験において、対象物の曲げ方向を選択的に決定しつつ対象物全体に均一な曲げ応力を生じさせる。【解決手段】曲げ試験装置１は、回路基板９のＸ方向の両端部におけるエッジを両主面から挟持する第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂ、第２把持部２１ｂを移動ブロック３と共にＸ方向に移動するブロック移動機構４、並びに、回路基板９が曲げられる前に第１把持部２１ａに第１回動軸２２ａを中心とする時計回りおよび反時計回りの２方向の初期回動のうちいずれかを選択的に付与して回路基板９の曲げ方向を決定する初期回動機構５を備える。これらの構成により、曲げ試験装置１では、回路基板９の曲げ疲労試験を行う際に、回路基板９の曲げ方向を選択的に決定しつつ回路基板９全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象物の曲げに対する疲労を試験する曲げ試験装置であって、
対象物の一端を把持するとともに第１回動軸を中心に回動可能な第１把持部と、
前記第１回動軸に垂直な方向において前記一端とは反対側の他端を把持するとともに前記第１回動軸に平行な第２回動軸を中心に回動可能な第２把持部と、
前記第２把持部を前記第１把持部に対して前記第１回動軸に垂直な方向に相対的に移動することにより前記対象物の状態を曲げ状態と非曲げ状態との間で変更する移動機構と、
前記対象物が曲げられる前に、前記第１把持部に前記第１回動軸を中心とする２方向の初期回動のうちのいずれかを選択的に付与して前記対象物の曲げ方向を決定する初期回動機構と、
を備えることを特徴とする曲げ試験装置。
【請求項２】
請求項１に記載の曲げ試験装置であって、
前記第１把持部と前記第２把持部との間に加えられる前記第１回動軸に垂直な方向の荷重を計測する計測器をさらに備えることを特徴とする曲げ試験装置。
【請求項３】
請求項２に記載の曲げ試験装置であって、
前記計測器からの出力に基づいて前記移動機構による前記第１把持部に対する前記第２把持部の相対移動距離を制御する制御部をさらに備えることを特徴とする曲げ試験装置。
【請求項４】
請求項２または３に記載の曲げ試験装置であって、
前記計測器からの出力に基づいて前記対象物に生じる異常を検出する異常検出部をさらに備えることを特徴とする曲げ試験装置。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれかに記載の曲げ試験装置であって、
前記対象物が、前記一端および前記他端において前記第１回動軸に平行な方向に伸びるエッジを有する薄板状の部材であり、
前記第１把持部および前記第２把持部が、前記一端および前記他端におけるエッジを両主面から挟持することを特徴とする曲げ試験装置。
【請求項６】
請求項１ないし４のいずれかに記載の曲げ試験装置であって、
前記対象物が薄板状の部材であり、
前記第１把持部および前記第２把持部により、前記対象物の主面の法線を水平方向に向けて前記対象物が把持されることを特徴とする曲げ試験装置。
【請求項７】
請求項１ないし６のいずれかに記載の曲げ試験装置であって、前記対象物が、電子部品が表面に実装された、または内蔵された回路基板であり、
前記回路基板に接続された配線を介して試験途上の前記回路基板を電気的に検査する回路検査部をさらに備えることを特徴とする曲げ試験装置。
【請求項８】
対象物の曲げに対する疲労を試験する曲げ試験方法であって、第１回動軸を中心に回動可能な第１把持部により前記対象物の一端が把持され、前記第１回動軸に平行な第２回動軸を中心に回動可能な第２把持部により前記第１回動軸に垂直な方向において前記一端とは反対側の他端が把持され、
前記第１把持部に前記第１回動軸を中心とする２方向の初期回動のうちのいずれかを選択的に付与する初期回動工程と、
前記第２把持部を前記第１把持部に対して相対的に近づけて前記初期回動により決定される曲げ方向へと前記対象物を曲げる曲げ工程と、
前記第２把持部を前記第１把持部に対して相対的に遠ざけて前記対象物を曲げ状態から非曲げ状態へと復元する復元工程と、
前記初期回動工程、前記曲げ工程および前記復元工程を繰り返す繰返工程と、
を備えることを特徴とする曲げ試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対象物の曲げに対する疲労を試験する曲げ試験装置および曲げ試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、ＩＣカード等の製造において、カードの外力による曲げに対する耐久性の検査が行われており、このような検査の方法の１つとして、カードを一方の主面側に所定量だけ曲げることを繰り返す曲げ疲労試験を行った後に、カードに実装されている電子部品が正常に動作するか否か等の電気的な動作試験を行う方法が知られている。
【０００３】
このような曲げ疲労試験の方法として、所定位置に固定された１組のＶ字溝にカードの両端部を挿入した状態でカードを曲げる方法が知られており、このような方法では、カードを曲げた際に、カードとカード保持部との接触によりカード表面が摩耗してしまったり、カードの端部が潰れて変形してしまうことがある。このため、試験時のカードの損傷を防止するための技術が提案されており、例えば、特許文献１では、回転可能に支持された２つの揺動体によりカードの両端を保持し、カードを曲げた際にカード端部付近の傾斜に合わせて揺動体が回転することによりカードの損傷や変形を防止する技術が開示されている。
【０００４】
一方、特許文献１の試験装置ではカードは一方向のみへと曲げられるが、特許文献２では、カードの両端を把持し、カードの両主面の一部を挟持する押圧具を両主面に垂直な方向に移動することにより、カードを両主面側のいずれの方向にも曲げることができる技術が開示されている。
【特許文献１】特開平７−２４３９５６号公報
【特許文献２】特開平７−２１０６３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、カードの曲げ疲労試験において、カードを一方の主面側にのみ曲げる試験（いわゆる、片振り試験）と両主面側に交互に曲げる試験（いわゆる、両振り試験）とでは、曲げによりカードに与えられる影響が異なることがあるため、片振り試験および両振り試験の双方が行われることが好ましい。また、実際にカードが使用される際には、カードのいずれの部位に荷重が付加されるかが不明であるため、カード全体に均一な曲げ応力が生じるように曲げ疲労試験を行うことが望ましい。
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示されるカード曲げ試験機では、一方の主面側にしかカードを曲げることができず、また、特許文献２に開示される試験装置では、カードを両主面側のいずれの方向にも曲げることはできるが、カードの一部にのみ荷重が付加されるため、カードを曲げた際にカード全体に均一な曲げ応力を生じさせることができない。さらに、カードの中央および端部に摩耗が生じてしまう。
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、対象物の曲げに対する疲労を試験する曲げ試験において、対象物の曲げ方向を選択的に決定しつつ対象物全体に均一な曲げ応力を生じさせることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１に記載の発明は、対象物の曲げに対する疲労を試験する曲げ試験装置であって、対象物の一端を把持するとともに第１回動軸を中心に回動可能な第１把持部と、前記第１回動軸に垂直な方向において前記一端とは反対側の他端を把持するとともに前記第１回動軸に平行な第２回動軸を中心に回動可能な第２把持部と、前記第２把持部を前記第１把持部に対して前記第１回動軸に垂直な方向に相対的に移動することにより前記対象物の状態を曲げ状態と非曲げ状態との間で変更する移動機構と、前記対象物が曲げられる前に、前記第１把持部に前記第１回動軸を中心とする２方向の初期回動のうちのいずれかを選択的に付与して前記対象物の曲げ方向を決定する初期回動機構とを備える。
【０００９】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の曲げ試験装置であって、前記第１把持部と前記第２把持部との間に加えられる前記第１回動軸に垂直な方向の荷重を計測する計測器をさらに備える。
【００１０】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の曲げ試験装置であって、前記計測器からの出力に基づいて前記移動機構による前記第１把持部に対する前記第２把持部の相対移動距離を制御する制御部をさらに備える。
【００１１】
請求項４に記載の発明は、請求項２または３に記載の曲げ試験装置であって、前記計測器からの出力に基づいて前記対象物に生じる異常を検出する異常検出部をさらに備える。
【００１２】
請求項５に記載の発明は、請求項１ないし４のいずれかに記載の曲げ試験装置であって、前記対象物が、前記一端および前記他端において前記第１回動軸に平行な方向に伸びるエッジを有する薄板状の部材であり、前記第１把持部および前記第２把持部が、前記一端および前記他端におけるエッジを両主面から挟持する。
【００１３】
請求項６に記載の発明は、請求項１ないし４のいずれかに記載の曲げ試験装置であって、前記対象物が薄板状の部材であり、前記第１把持部および前記第２把持部により、前記対象物の主面の法線を水平方向に向けて前記対象物が把持される。
【００１４】
請求項７に記載の発明は、請求項１ないし６のいずれかに記載の曲げ試験装置であって、前記対象物が、電子部品が表面に実装された、または内蔵された回路基板であり、前記回路基板に接続された配線を介して試験途上の前記回路基板を電気的に検査する回路検査部をさらに備える。
【００１５】
請求項８に記載の発明は、対象物の曲げに対する疲労を試験する曲げ試験方法であって、第１回動軸を中心に回動可能な第１把持部により前記対象物の一端が把持され、前記第１回動軸に平行な第２回動軸を中心に回動可能な第２把持部により前記第１回動軸に垂直な方向において前記一端とは反対側の他端が把持され、前記第１把持部に前記第１回動軸を中心とする２方向の初期回動のうちのいずれかを選択的に付与する初期回動工程と、前記第２把持部を前記第１把持部に対して相対的に近づけて前記初期回動により決定される曲げ方向へと前記対象物を曲げる曲げ工程と、前記第２把持部を前記第１把持部に対して相対的に遠ざけて前記対象物を曲げ状態から非曲げ状態へと復元する復元工程と、前記初期回動工程、前記曲げ工程および前記復元工程を繰り返す繰返工程とを備える。
【発明の効果】
【００１６】
本発明では、対象物の曲げ方向を選択的に決定しつつ対象物全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。
【００１７】
請求項２の発明では、第１把持部と第２把持部との間に加えられる荷重を計測することができ、請求項３の発明では、計測された荷重に応じて第２把持部の第１把持部に対する相対移動距離を変更する試験が可能とされ、請求項４の発明では、計測された荷重に基づいて異常を検出することができる。
【００１８】
請求項５の発明では、薄板状の対象物のエッジを摩耗させることなく曲げ疲労試験を行うことができる。請求項６の発明では、重力による対象物の撓みの影響を防止することができる。請求項７の発明では、疲労試験を行いながら回路を検査することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
図１は、本発明の一の実施の形態に係る曲げ試験装置１の構成を示す正面図であり、図２は、曲げ試験装置１の平面図である。曲げ試験装置１は、試験の対象物である電子部品が表面に実装された回路基板や電子部品が内蔵された回路基板（以下、「回路基板」という。）９の曲げに対する疲労を試験する装置である。
【００２０】
曲げ試験装置１は、回路基板９の（Ｘ方向に関して）両側の端部を把持する把持部（以下、（−Ｘ）側の把持部を「第１把持部」２１ａ、（＋Ｘ）側の把持部を「第２把持部」２１ｂという。）を備える。図１および図２に示すように、第１把持部２１ａは、Ｚ方向に伸びる第１回動軸２２ａを中心に回動可能に支持部２３ａに取り付けられており、支持部２３ａはスタッドボルト２４を介して固定ブロック１１に取り付けられる。第２把持部２１ｂは、第１回動軸２２ａに平行な第２回動軸２２ｂを中心に回動可能に支持部２３ｂに取り付けられており、支持部２３ｂはスタッドボルト２４およびブラケット２５を介して移動ブロック３に取り付けられる。
【００２１】
図３は、第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂ近傍を拡大して示す図である。第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂはそれぞれ、第１回動軸２２ａおよび第２回動軸２２ｂを介して支持部２３ａおよび支持部２３ｂに対して回動可能に取り付けられる把持本体２１１、並びに、把持本体２１１にねじ止めされる把持板２１２を備える。第１把持部２１ａは、第１回動軸２２ａより（−Ｘ）側において把持本体２１１から（−Ｚ）側に突出するピン２１３を備える。
【００２２】
回路基板９は、Ｘ方向の両端において第１回動軸２２ａおよび第２回動軸２２ｂに平行な方向（すなわち、Ｚ方向）に伸びるエッジを有する薄板状の部材であり、（−Ｘ）側の端部が第１把持部２１ａにより把持され、（＋Ｘ）側の端部（すなわち、第１回動軸２２ａおよび第２回動軸２２ｂに垂直なＸ方向において、第１把持部２１ａに把持される端部とは反対側の端部）が第２把持部２１ｂにより把持される。
【００２３】
具体的には、図２に示すように、回路基板９の（−Ｘ）側および（＋Ｘ）側の端部において、回路基板９の（＋Ｙ）側を向く主面に当接する把持本体２１１に、回路基板９の（−Ｙ）側を向く主面に当接するように把持板２１２が取り付けられることにより、回路基板９の（−Ｘ）側および（＋Ｘ）側の端部におけるエッジが、第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂにより両主面から挟持される。これにより、回路基板９が主面の法線を水平方向（Ｙ方向）に向けて把持される。
【００２４】
図１に示すように、基台１０上には移動ブロック３をＸ方向に移動するブロック移動機構４が設けられ、ブロック移動機構４は、ボールねじ４１、ボールねじ４１に接続されるモータ４２、移動ブロック３とボールねじ４１とを連結するナット４３、および、移動ブロック３を支持するガイドレール４４を備え、モータ４２によりボールねじ４１が回転することにより、ナット４３を介して移動ブロック３がＸ方向へとガイドレール４４に沿って滑らかに移動する。なお、実際には、ガイドレール４４は固定ブロック１１，１２間に渡されたフレームに取り付けられ、ブロック移動機構４は基台１０上のハウジングにほぼ覆われるが、図１ではフレームやハウジングの図示を省略している。また、図２においてもハウジングやブロック移動機構４等の詳細の図示を省略している。
【００２５】
曲げ試験装置１では、ブロック移動機構４により第２把持部２１ｂが移動ブロック３と共に第１回動軸２２ａに垂直なＸ方向に往復移動することにより、第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂに把持された回路基板９がＸ方向における両側から中央に向けて押圧され、あるいは押圧が解放されて回路基板９の状態が曲げ状態と非曲げ状態との間で変更される。
【００２６】
曲げ試験装置１は、また、回路基板９が曲げられる前に、第１把持部２１ａのピン２１３（図３参照）を（＋Ｙ）方向あるいは（−Ｙ）方向に僅かに移動することにより、第１把持部２１ａに第１回動軸２２ａを中心とする時計回りおよび反時計回りの２方向の初期回動のうちのいずれかを選択的に付与して回路基板９の曲げ方向を決定する初期回動機構５をさらに備え、基台１０上のハウジング上にて移動ブロック３の近接を感知する近接センサ６１、固定ブロック１１に設けられて第１把持部２１ａと第２把持部２１ｂとの間に加えられるＸ方向の荷重を計測するロードセル６２、並びに、ブロック移動機構４や初期回動機構５等を制御する制御部７も備える。
【００２７】
初期回動機構５は、図１および図２に示すように、Ｚ方向を向く軸を中心に回動可能に設けられた回動部材５１、回動部材５１とタイミングベルト５２を介して接続されるタイミングプーリ５３、および、タイミングプーリ５３を回動するステッピングモータ５４を備える。図４は、回動部材５１を示す拡大図である。回動部材５１はＺ方向に伸びる軸５５に取り付けられ、図４中に二点鎖線にて示す第１把持部２１ａのピン２１３を間に挟んでＸ方向に伸びる２つの突出部５１１を備える。
【００２８】
図１に示す初期回動機構５では、制御部７の制御によりステッピングモータ５４が駆動され、タイミングプーリ５３およびタイミングベルト５２を介して軸５５が回動されることにより回動部材５１が所定角度だけ回動し、回動部材５１の突出部５１１（図４参照）が、第１把持部２１ａのピン２１３に水平方向から当接してピン２１３を（＋Ｙ）方向または（−Ｙ）方向に押す。これにより、第１把持部２１ａが時計回りまたは反時計回りに僅かに回動する。
【００２９】
近接センサ６１は、固定ブロック１２の（−Ｘ）側、かつ、移動ブロック３の（−Ｙ）側において、センサ面を（＋Ｙ）側（すなわち、移動ブロック３側）に向けて基台１０上のハウジングに取り付けられており、移動ブロック３のＸ方向における往復移動中に、移動ブロック３が（＋Ｘ）側の所定位置まで戻った際に移動ブロック３の近接を検出して検出結果を制御部７に送る。
【００３０】
ロードセル６２は第１把持部２１ａを固定ブロック１１に取り付けるスタッドボルト２４の（−Ｘ）側に接続されており、当該スタッドボルト２４に加えられるＸ方向の荷重を計測して計測結果を制御部７に送る。
【００３１】
制御部７は、ロードセル６２からの出力に基づいて回路基板９に生じる異常（例えば、曲げ疲労による強度低下）を検出する異常検出部７１、並びに、第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂに保持される回路基板９に接続された図示省略の配線を介して試験途上の回路基板９を電気的に検査する回路検査部７２を備える。
【００３２】
図５は、曲げ試験装置１による回路基板９の曲げ疲労試験の動作の流れを示す図である。回路基板９の曲げ疲労試験が行われる際には、まず、制御部７により初期回動機構５が駆動されて回動部材５１が時計回りに所定の角度だけ回動する。そして、回動部材５１の（＋Ｙ）側の突出部５１１（図４参照）が、第１把持部２１ａの把持本体２１１に設けられたピン２１３に水平方向から当接してピン２１３を（−Ｙ）方向に移動することにより、第１把持部２１ａに第１回動軸２２ａを中心とする反時計回りの初期回動が付与される。その結果、第１把持部２１ａの（＋Ｘ）側の端部が、第１回動軸２２ａよりも僅かに（＋Ｙ）側に移動して回路基板９の（−Ｘ）側の端部に（＋Ｙ）方向の初期不整が付与される（ステップＳ１１）。
【００３３】
第１把持部２１ａに初期回動が付与されると、制御部７によりブロック移動機構４が制御されて移動ブロック３と共に第２把持部２１ｂの（−Ｘ）方向への移動が開始し、回路基板９が第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂによりＸ方向の両端から押圧される（ステップＳ１２）。このとき、第１把持部２１ａの（＋Ｘ）側の端部は第１回動軸２２ａよりも（＋Ｙ）側に移動しているため、第２把持部２１ｂの移動に従って第１把持部２１ａが第１回動軸２２ａを中心として反時計回り、すなわち、付与された初期回動の方向と同じ方向へとさらに回動する。
【００３４】
図６は、曲げ試験装置１において第２把持部２１ｂが（−Ｘ）方向へ移動した状態を示す平面図である。曲げ試験装置１では、第２把持部２１ｂが（−Ｘ）方向に移動して第１把持部２１ａに近づくに従って、第１把持部２１ａが反時計回りに回動し、第１把持部２１ａに把持される回路基板９の（−Ｘ）側の端部が（＋Ｙ）側へと移動して、回路基板９が付与された初期不整の方向である（＋Ｙ）方向に曲がる（すなわち、（＋Ｙ）側の主面を伸張して（−Ｙ）側の主面を圧縮し、（＋Ｙ）側に凸となるように撓む。）。また、第２把持部２１ｂは、回路基板９の曲げの程度に合わせて回路基板９の（＋Ｘ）側の端部の向きに沿うように時計回りに回動する。このように、曲げ試験装置１では、第１把持部２１ａに付与される初期回動の方向により、回路基板９の曲げ方向が決定される。
【００３５】
第２把持部２１ｂが所定の距離だけ（−Ｘ）方向に移動すると、ブロック移動機構４（図１参照）による移動ブロック３および第２把持部２１ｂの移動が停止する（ステップＳ１３）。続いて、制御部７の制御により初期回動機構５の回動部材５１が反時計回りに回動して図２に示す元の位置に戻され、これと並行して移動ブロック３と共に第２把持部２１ｂの（＋Ｘ）方向への移動が開始する（ステップＳ１４）。曲げ試験装置１では、第２把持部２１ｂが（＋Ｘ）方向に移動して第１把持部２１ａから遠ざかるに従って、回路基板９をＸ方向の両側から押圧する力が小さくなり、回路基板９の（＋Ｙ）方向への曲げの程度（すなわち、（＋Ｙ）方向への撓み量）が小さくなる。これに伴って、第１把持部２１ａが回路基板９の（−Ｘ）側の端部の向きに沿うように時計回りに回動し、第２把持部２１ｂが回路基板９の（＋Ｘ）側の端部の向きに沿うように反時計回りに回動する。
【００３６】
移動ブロック３が所定の距離だけ（＋Ｘ）方向に移動して図１および図２に示す元の位置まで戻ると、ブロック移動機構４による移動ブロック３および第２把持部２１ｂの移動が停止し、回路基板９が曲げ状態から非曲げ状態へと復元される（ステップＳ１５）。このとき、近接センサ６１により移動ブロック３の近接が検出され、制御部７に信号が送られる。制御部７では、近接センサ６１からの信号を受け取ると、回路基板９に対する所定回数の曲げ動作および復元動作が終了したか否かが確認される（ステップＳ１６）。
【００３７】
制御部７により、所定回数の曲げおよび復元動作が終了していないと判断された場合には、ステップＳ１１に戻って、初期回動機構５により回動部材５１を反時計回りに回動して第１把持部２１ａに時計回りの初期回動が付与され、ブロック移動機構４により第２把持部２１ｂが（−Ｘ）側に移動して回路基板９が（−Ｙ）方向に（凸となるように）曲げられた後、第２把持部２１ｂが（＋Ｘ）側に移動して回路基板９が曲げ状態から非曲げ状態へと復元される（ステップＳ１１〜Ｓ１５）。回路基板９が復元されると、回路基板９に対する所定回数の曲げ動作および復元動作が終了したか否かが再び確認され、所定回数の曲げが終了するまで回路基板９の（＋Ｙ）方向および（−Ｙ）方向への曲げ動作が交互に繰り返される（ステップＳ１６）。
【００３８】
曲げ試験装置１では、回路基板９に対して所定回数の曲げ動作および復元動作が行われている間、ロードセル６２により回路基板９に加えられる荷重が継続的に計測されて制御部７に送られる。
【００３９】
制御部７の異常検出部７１では、第２把持部２１ｂが（−Ｘ）側に移動して停止したとき、すなわち、第２把持部２１ｂが第１把持部２１ａに最も近づいて回路基板９の曲げが最大となったときに、ロードセル６２による計測値と、予め異常検出部７１に記憶されている荷重の基準値とが比較され、計測値が基準値を大きく下回るか否かが確認される。計測値が基準値を大きく下回る場合には、回路基板９に曲げ疲労により亀裂が生じている可能性が高いため、異常検出部７１が所定の表示部に回路基板９の異常が検出された旨を表示する。このように、曲げ試験装置１では、ロードセル６２を用いて曲げ疲労試験中に回路基板９に加えられる荷重を継続的に計測することができるため、疲労試験中に異常が生じた時点を正確に検出することができる。また、目視等により回路基板９の亀裂等の異常を検出する場合に比べて、より確実に回路基板９の異常を検出することができる。
【００４０】
また、疲労試験中は、回路基板９に別途接続された配線を介して回路基板９に形成された配線に所定の電圧が付与され、回路基板９の配線抵抗が制御部７の回路検査部７２により継続的に測定される。そして、回路検査部７２により回路基板９の配線の抵抗が所定の抵抗値を超えるか否かが確認され、配線に生じる亀裂がリアルタイムで検査される。なお、検査対象は配線の亀裂には限定されず、例えば、回路基板９に実装または内蔵されている電子部品の実装状態、電子部品の動作等、回路の様々な部位が正常であるか否かが電気的に検査されてよい。
【００４１】
上述の曲げ疲労試験では、回路基板９を曲げる際に、第２把持部２１ｂが図１に示す位置から所定の距離だけ移動するよう制御されるが、曲げ試験装置１では、他の値に基づいて第２把持部２１ｂの移動距離が制御されてもよい。例えば、曲げ試験装置１では、制御部７により、ロードセル６２からの出力に基づいてブロック移動機構４による第１把持部２１ａに対する第２把持部２１ｂの相対移動距離が制御されてもよい。すなわち、ロードセル６２を利用して回路基板９に加えられる荷重が目標値になるまで第２把持部２１ｂを（−Ｘ）方向へと移動して回路基板９が曲げられてもよい。これにより、回路基板９の曲げ剛性が疲労により変化した場合であっても、回路基板９に生じる曲げ応力の最大値を一定とする曲げ疲労試験を行うことができる。なお、疲労に応じて第２把持部２１ｂの移動距離が小さくされてもよく、曲げ試験装置１では回路基板９に加えられる荷重に応じて第２把持部２１ｂの第１把持部２１ａに対する相対移動距離を様々に変更することができる。
【００４２】
以上に説明したように、曲げ試験装置１では、回路基板９が曲げられる前に初期回動機構５により第１把持部２１ａに時計回りまたは反時計回りのいずれかの方向の初期回動を選択的に付与し、その後に回動可能な第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂにより回路基板９を両端から中央に向けて押圧することにより、回路基板９の曲げ方向を選択的に決定しつつ回路基板９全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。
【００４３】
曲げ試験装置１では、回路基板９の両端におけるエッジが第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂによって両主面から挟持されることにより、回路基板９が曲げられる際に回路基板９の端部がずれることが防止され、薄板状の回路基板９のエッジを摩耗させることなく曲げ疲労試験を行うことができる。また、回路基板９を把持する第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂが回路基板９の端部の向きに合わせて回動するため、回路基板９が曲げられる際に回路基板９の表面が損傷することも防止される。さらには、回路基板９の両端におけるエッジが確実に把持されるため、剛性の小さいフレキシブル基板等の対象物であっても所望の方向に曲げて上述のような曲げ疲労試験を行うことができる。
【００４４】
また、回路基板９が主面の法線を水平方向に向けて把持されることにより、回路基板９の曲げ方向（すなわち、凸となる部位が向かうＹ方向）が重力方向（すなわち、Ｚ方向）に垂直となり、曲げ疲労試験時において重力による回路基板９の撓みの影響を防止することができる。
【００４５】
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、様々な変更が可能である。
【００４６】
例えば、曲げ試験装置１では、第２把持部２１ｂは、第１把持部２１ａに対して第１回動軸２２ａに垂直な方向に相対的に移動すればよく、例えば、第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂをＸ方向に移動する機構が設けられてもよい。
【００４７】
曲げ試験装置１の異常検出部７１では、ロードセル６２からの出力に基づく以外の他の方法により曲げ疲労試験中の回路基板９に生じる異常が検出されてもよい。例えば、回路基板９を一定の力で曲げる試験を行う場合には、回路基板９上に歪ゲージが設けられ、計測された歪みに基づいて回路基板９の異常が検出されてもよい。また、撮像デバイスおよび顕微鏡を用いて曲げ疲労試験中の回路基板９の表面が観察されて亀裂の発生等の異常が自動的に検出されてもよい。
【００４８】
曲げ試験装置１では、初期回動機構５により第１把持部２１ａに初期回動が付与されることによって回路基板９に初期不整が付与されるが、初期回動の付与は他の方法により行われてもよい。例えば、回動部材５１がシリンダ等を用いて（±Ｙ）方向に往復移動されてもよく、第１把持部２１ａがモータに直結されてもよい。
【００４９】
曲げ試験装置１では、回路基板９を（＋Ｙ）方向および（−Ｙ）方向に交互に曲げる試験以外にも、例えば、（＋Ｙ）方向または（−Ｙ）方向のいずれか一方にのみ曲げる試験を行うこともできる。また、回路基板９を複数回だけ（＋Ｙ）方向に曲げた後に１回だけ（−Ｙ）方向に曲げることを繰り返す試験等、回路基板９の曲げ方向を（＋Ｙ）方向および（−Ｙ）方向のうちから選択的に決定して曲げる試験を行うことができる。
【００５０】
曲げ試験装置１では、第１把持部２１ａおよび第２把持部２１ｂにより、複数の回路基板９をＺ方向に並べて把持することにより、同時に複数の回路基板９に対する曲げ疲労試験を容易に行うこともできる。
【００５１】
曲げ試験装置１は、回路基板９の曲げ疲労試験以外にも、例えば、ＩＣカードや電子部品が実装されていない配線基板等の薄板状の対象物、さらには、棒状の対象物等、様々な形状および材質の対象物の曲げ疲労試験に利用可能である。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明は、様々な対象物の曲げに対する疲労を試験する曲げ試験装置に利用可能であり、特に、回路基板やＩＣカード等の薄板状の対象物の試験に適している。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】曲げ試験装置の構成を示す正面図
【図２】曲げ試験装置の構成を示す平面図
【図３】第１把持部および第２把持部近傍を示す拡大図
【図４】回動部材を示す拡大図
【図５】曲げ試験装置の動作の流れを示す図
【図６】曲げ試験装置の平面図
【符号の説明】
【００５４】
１    曲げ試験装置
４    ブロック移動機構
５    初期回動機構
７    制御部
９    回路基板
２１ａ    第１把持部
２１ｂ    第２把持部
２２ａ    第１回動軸
２２ｂ    第２回動軸
６２    ロードセル
７１    異常検出部
７２    回路検査部
Ｓ１１〜Ｓ１６    ステップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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