(57)【要約】【課題】      製品出荷後であっても、その製品が有する半導体の性能を検査可能とする。【解決手段】  検査装置として独立可能な検査機能回路部１８は、製品が有する検査対象半導体の性能検査を実行するための回路（接触用入力部１９、非接触用入力部２１、選択部２３、制御部２５、記憶部２７、比較部２９、接触用出力部３１、及び非接触用出力部３３）を有し、製品を保持可能な保持具１７に設けられる。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品を保持可能な保持具であって、
前記製品は半導体を有し、
前記半導体の性能検査を実行するための手段を備えた、保持具。
【請求項２】
製品が有する半導体の性能検査を実行するための手段を備える検査装置であって、
前記製品を保持可能な保持具に設けられることを特徴とする、検査装置。
【請求項３】
出荷後の製品の信頼性を検査する検査方法であって、
前記製品は検査対象とされる検査対象半導体を有し、
出荷後に、比較手段が前記検査対象半導体にテストデータが入力されて得られる結果データと予め結果データとして期待される期待値データとを比較する処理を含む、検査方法。
【請求項４】
出荷後に、報知手段が前記比較処理の結果に応じて前記製品の信頼性に関する情報を報知可能である、請求項３記載の検査方法。
【請求項５】
出荷後に、記憶手段に記憶された前記期待値データは検査基準の変更に応じて書き換えられることが可能である、請求項３又は４記載の検査方法。
【請求項６】
請求項３から５のいずれかに記載の検査方法により検査対象とされる検査対象半導体を有する製品。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、保持具、検査装置、検査方法及び製品に関し、特に出荷後の製品が有する半導体の性能検査を実行可能な検査装置等に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体の性能検査（テスト）は、半導体チップが半導体メーカからセットメーカ等へ出荷される際に行われているのみである。なお、発明者は特許庁特許電子図書館を用いた先行技術調査を行ったが、適切な先行技術文献情報を発見できなかった。発明者及び出願人は、出願当初に記載すべき先行技術文献を知らず、上記した事実を単に知っているだけである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、近年のユビキタス技術の発達の伴い、ユビキタス時代におけるテスト技術の変化も求められることが予想される。すなわち、消費者であるエンドユーザに半導体チップを内蔵した製品が出回った後、半導体チップを内蔵した製品同士で通信を行って情報処理を行うことになるため、内蔵された半導体チップが故障した場合、故障したチップを含んだデバイス（製品）から個人情報の流出が生じ、また異常なデータが通信されてしまって重大な事故につながる恐れもある。さらに、故障したデバイス（製品）が他のデバイスに情報を送ったときに、その異常或いは誤った情報が不適切な情報として加工され、その結果がさらに第三のデバイス（製品）に送信されることにより、故障の影響が広く伝播してしまう恐れもある。
【０００４】
そこで、本発明は、製品出荷後であっても、その製品が有する半導体の性能を検査可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１に係る発明は、製品を保持可能な保持具であって、製品は半導体を有し、半導体の性能検査を実行するための手段を備える。
【０００６】
請求項２に係る発明は、製品が有する半導体の性能検査を実行するための手段を備える検査装置であって、製品を保持可能な保持具に設けられることを特徴とする。
【０００７】
したがって、製品出荷後であっても、保持具に製品が保持された保持時間（製品本来の使用に支障が無い可能性が高い時間）内に性能検査時間を設け、製品内の半導体の性能を検査できる。特に、半導体の性能検査では、検査対象チップ内の回路が複雑になるほど時間がかかるが、保持具が収納装置のように製品を収納することを本来の目的とするものであってそれに検査機能が付加的に具備されたものであればその収納時間をテスト時間として有効活用できる。
【０００８】
請求項３に係る発明は、出荷後の製品の信頼性を検査する検査方法であって、製品が検査対象とされる検査対象半導体を有し、出荷後に、比較手段が検査対象半導体にテストデータが入力されて得られる結果データと予め結果データとして期待される期待値データとを比較する処理を含む。そして、比較結果を判断することにより出荷後製品の信頼性を検査できる。特に、半導体出荷前までに行う、テスターを用いた半導体の検査では、ハードウエア的な制約が大きく（例えばテスト用ピンが必須）、大きなオーバーヘッドが生じていた。本発明による検査方法では、無線通信も利用しつつ組み込み自己診断テストのようなソフトウエア的な点を重要視し、半導体設計時に、半導体出荷後の検査が可能になるようになるような回路を付加することにより、検査装置自体の機能を限定し、特殊なテスト用のクロック信号を用いることなく、検査対象半導体を外部入出力ピンから検査可能とする。また、セキュリティの面から、設計者が意図しないようなハードウエア構成（回路）とすることも回避した検査を可能とする。
【０００９】
請求項４に係る発明では、請求項３において、出荷後に、報知手段が比較処理の結果に応じて製品の信頼性に関する情報を報知可能である。
【００１０】
請求項５に係る発明では、請求項３又は４において、出荷後に、記憶手段に記憶された期待値データは検査基準の変更に応じて書き換えられることが可能である。
【００１１】
請求項６に係る発明は、請求項３から５のいずれかに記載の検査方法により検査対象とされる検査対象半導体を有する製品である。
【００１２】
なお、上記検査方法がサーバなどが用いられて実行されてもよい。また、上記検査方法の発明をサーバ等に実行させるプログラムの発明或いはそのプログラムを記録した記録媒体の発明として捉えなおしてもよい。
【発明の効果】
【００１３】
よって、製品が有する半導体の性能を製品出荷後であっても検査でき、かつ、半導体の高度のセキュリティを担保できるので、ユビキタス時代のような製品出荷後のテストの必要性が高まった場合であっても、検査レベルが高く且つ故障の早期発見が可能となり、ユーザが安心して製品を使用できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面を用いて発明を実施するための最良の形態を具体的に説明する。
【実施例１】
【００１５】
図１は、製品出荷後に性能検査が行われる検査対象半導体を有する製品に新たに組み込まれる回路構成の一例を示すブロック図である。
【００１６】
製品１内には検査対象半導体３が含まれている。検査対象半導体３の性能検査のために後述するテスト情報管理事業者が保有するテストデータが製品１には入力される。その入力は電気的接触によって行われることも可能であり、電波等を用いて非接触によって行われることも可能である。製品１は、接触用入力部５と、非接触用入力部７と、選択部９と、制御部１１と、接触用出力部１３と、非接触用出力部１５とを備える。
【００１７】
制御部１１が選択部９を制御することにより、選択部９は、接触用入力部５からテストデータを入力するか又は非接触用入力部７からテストデータを入力するかを選択する。選択部９は具体的にはデコーダ、マルチプレクサ等で構成される。テストデータは検査対象半導体３に入力され、その出力は、制御部１１により選択部９が行った入力に対する選択結果に対応して、接触用出力部１３又は非接触用出力部１５から結果データとして図２に示す保持具内の回路へ送られる。
【００１８】
図２は、図１の製品を保持可能な検査機能を持つ保持具に組み込まれる回路構成の一例を示すブロック図である。
【００１９】
保持具１７は検査機能回路部１８を備え、検査機能回路部１８は、接触用入力部１９と、非接触用入力部２１と、選択部２３と、制御部２５と、記憶部２７と、比較部２９と、接触用出力部３１と、非接触用出力部３３とを備える。図１に示した結果データが、接触用入力部１９又は非接触用入力部２１に入力される。制御部２５により制御される選択部２３は、接触用入力部１９から結果データを入力するか又は非接触用入力部２１から結果データを入力するかを選択し、選択した結果データを比較部２９へ出力する。記憶部２７は、結果データとして期待される期待値（検査基準値）データを記憶しており、制御部２５からの制御を受けて、期待値データを比較部２９へ出力する。比較部２９の具体例はエンコーダであり、比較部２９は結果データと期待値データとを比較する。そして、その比較結果の出力は、制御部２５により選択部２３が行った入力に対する選択結果に対応して、接触用出力部３１又は非接触用出力部３３からテスト結果データとして後述するテスト情報管理事業者へ送られる。
【実施例２】
【００２０】
図３は、製品品質管理支援システムの全体構成図である。
【００２１】
消費者４１は、セットメーカ３９が供給する製品１を購入し、その製品１を保持具１７に保持させる。図１に示したように製品１には検査対象半導体３が含まれており、テスト情報管理事業者３５と製品１と保持具１７との間においてデータ通信が有線又は無線で行われ、出荷後の製品１に対してテストが実行される。
【００２２】
なお、テスト情報管理事業者３５は、半導体メーカ３７よりテストに関する情報を得ており、その情報を用いて出荷後の製品１に対するテストを行い、セットメーカ３９はテスト情報管理事業者３５からテストに関する情報を得て、図１に示すような検査対象半導体３を検査するために必要な回路を製品１に組み込んでいる。
【００２３】
このような製品品質管理支援システム３４により、出荷後であっても、製品１に搭載されている検査対象半導体の品質を管理することができる。また、テスト情報管理事業者３５は、高い検査レベルが要求されるような事後的な変更が必要となれば、図２の記憶部２７内に記憶された期待値（検査基準）データの内容を例えば無線通信により書き換えることにより、継続して品質管理を行える。
【００２４】
なお、上記期待値（検査基準）データは保持具１７内の記憶部２７に必ずしも記憶される必要はなく、記憶部２７がテスト情報管理事業者３５側に設けられてもよい。その場合には、検査が実行される際にテスト情報管理事業者３５が期待値（検査基準）データを保持具１７側へ例えば無線通信により送信可能とした回路構成とすればよい。
【００２５】
また、図２に示した比較部２９も保持具１７内に必ずしも設けられる必要はなく、テスト情報管理事業者３５側に設けてもよい。その場合には、結果データ等が例えば無線通信により送信可能とした回路構成とすればよい。
【００２６】
さらに、図２に示した検査に必要な検査機能回路部１８は保持具に必ずしも一体的に組み込まれる必要はなく、別体の検査装置として独立したものとし、既存の保持具に取り付け可能としてもよい。
【実施例３】
【００２７】
図４は、図３の製品品質管理支援システム３４がメーカによる品質保証をも可能とした場合の製品品質保証管理支援システムを説明するための全体構成図である。
【００２８】
この製品品質保証管理支援システム４３においては、テスト情報管理事業者３５は、まず、半導体メーカ３７及びセットメーカ３９の両者と協議を行い、半導体の性能についてのテストに関する品質を示す基準を策定する。次に、半導体メーカ３７は、どのレベルの基準を満たした半導体をセットメーカ３９に提供するのかをテスト情報管理事業者３５に申請する。テスト情報管理事業者３５は、申請されたレベルの基準のテストが行われているのかを調べ、認定を行う。セットメーカ３９は、認定を受けたテスト基準を参考とし、半導体の価格を設定し、最終製品の価格を決定する。
【００２９】
ここで、テストコストとテスト品質について説明する。現在、システムLSIのチップコストにおけるテストコストとテスト品質との関係についての情報は、半導体メーカから明確に提示されない。
【００３０】
一方で、今後、集積化が進むほど、システムLSIのテストコストがチップコストにおいて占める割合は増加する。この点の議論は、ITRS（International Technology Roadmap for Semiconductor）などにおいて始まってきた。
【００３１】
上記の状況から、テスト情報管理事業者３５は、テストに関する品質を示す基準を策定する際に、半導体メーカ３７及びセットメーカ３９の両者とコストの点も含めて協議を行い、その基準も策定しておけば、セットメーカの設計者は、上記テストコストとテスト品質との関係の基準情報を用いて最終製品の価格を意識した設計を行える。そして、セットメーカ３９は、製品１のパッケージ等に対して図５に示すようなテスト基準を表示するラベル４５を貼付することにより、製品１の付加価値を消費者４１へアピールすることができる。なお、図３の場合及び図４の場合のいずれにおいても、さらに、ラベル４５による表示とは別にテスト基準に関するデータを書き換え可能な状態でICタグなどに保有させておくとテスト基準に関するデータ管理をさらに利便なものとできる。
【００３２】
また、消費者４１は、上記製品１のパッケージ等に表示されたラベル４５等により明らかになったテスト基準により、製品１の品質に関する判断を行え、所望の品質の製品を手に入れることができる。
【００３３】
そして、このような認定が実行されることによりテスト基準が明確化及び細分化の方向に進むことが予想されるため、テスト情報管理事業者３５は、図３の場合に加えて、製品出荷後においても、テスト基準の内容に対応して検査事項の追加等の変更を随時行って、きめ細かい品質管理を継続して行える。
【実施例４】
【００３４】
図６は、テスト情報管理事業者のテストサーバと保持具としての収納装置とが情報通信ネットワークにより接続した場合を示した図である。
【００３５】
テスト情報管理事業者３５はテストサーバ４７を保有し、そのテストサーバ４７はテストパターンを有している。テストパターンは、製品毎に設定されており、入力パターンと期待値としての出力パターンとから構成される。
【００３６】
テストサーバ４７と情報通信ネットワーク５１を介して接続する収納装置４９ａ〜４９ｚは、検査対象半導体を有する製品を収納可能な装置であり、例えば携帯電話という製品に対する充電器などである。
【００３７】
動作について説明する。例えば収納装置４９ａに製品がセットされる。そのセットをトリガにして又は所定の時間経過等の所定条件をトリガにして、収納装置４９ａと製品とはテストモードとなる。テストモードとなった収納装置４９ａは、製品と情報通信を行い、収納装置４９ａ自身のID情報及び収納された製品のID情報をテストサーバ４７へ送信し、受信モードとなる。
【００３８】
テストサーバ４７は、収納装置４９ａから上記ID情報を受信すると、その収納装置４９ａに対して、製品IDに対するテストパターンを送信する。テストパターンを受信した収納装置４９ａは、セットされている製品にテストパターンにおける入力パターンを入力する。収納装置４９ａは、その製品が出力する結果データとテストパターンの出力パターン（期待値データ）とを比較する。
【００３９】
収納装置４９ａは、図示を省略した報知手段を備えており、上記結果データと出力パターン（期待値データ）との比較結果が異なる場合には、その旨を報知手段によって故障として表示し又は警報音を発生させる。
【００４０】
このように、テスト情報管理事業者３５にはテスト結果が判明しないようにしてもよい。この場合であっても、消費者は、使用している製品の故障を早期に把握できるという利点を得ることができる。
【実施例５】
【００４１】
図７は、保持具としての収納装置を製造する収納装置メーカ及び製品或いは収納装置を販売するショップをも示したビジネス全体を示す図である。
【００４２】
ショップ５５の中には、製品１のみを消費者へ販売するもの、収納装置４９のみを消費
者へ販売するもの、両者を販売するものもある。また、セットメーカ３９が製品１を直接消費者へ販売するものもおり、収納装置メーカ５３も収納装置４９を直接消費者へ販売するものもいる。
【００４３】
また、図示していないが、収納装置に一体的に検査機能が組み込まれる場合においても、検査機能に関する回路を含んだ検査装置が収納装置メーカ以外のメーカが製造してもよく、その場合においては検査装置が収納装置メーカに販売されればよい。さらに、収納装置が消費者に販売される段階では検査装置は収納装置には組み込まれず、検査装置が単品として販売され、消費者が使用する段階で検査装置を収納装置に取り付けることを可能にしてもよい。
【００４４】
さらに、テスト情報管理事業者３５の運営費、製品が故障した場合の修理費等を含め、金融サービス、保険サービス、格付けサービス等を考慮したビジネス全体を機能させるための課金システムを構築することが望ましい。
【実施例６】
【００４５】
これまで上記した説明では、製品がシステムLSIのような半導体を用いた電化製品を想定したが、必ずしも電化製品である必要はない。例えば、半導体を用いたタグをバッグなどに取り付け或いは埋め込み、上記と同様にその半導体の性能を検査し、そのバッグが偽造品・模造品か否かを判定するようにしてもよい。特に、検査のために必要となる検査基準データが保持具（収納装置）に記憶されるのではなく、テスト情報管理事業者が検査基準データを保有すれば、検査基準データ自体の改ざんを防止でき、その製品が偽造か否かを正確に判定でき、さらにテスト情報管理事業者が検査基準データを変更していくことにより偽造・模倣防止をより効果的に行える。
【００４６】
なお、検査機能付き保持具（収納装置）の例を以下に挙げる。
【００４７】
第１は半導体検査機能付き下駄箱であり、製品は靴などである。第２は半導体検査機能付き傘立てであり、製品は傘である。第３は半導体検査機能付き箪笥であり、製品は衣類或いは玩具などである。第４は半導体検査機能付き机であり、製品は事務用品などである。第５は半導体検査機能付き書棚であり、製品は書籍、ＣＤやＤＶＤ等のメディア媒体などである。
【００４８】
第６は半導体検査機能付き食器棚であり、製品は食器、酒類などである。第７は半導体検査機能付き押し入れであり、製品は布団、毛布、玩具などである。第８は半導体検査機能付き車庫又は駐車場であり、製品は自動車、バイク、自転車などである。第９は半導体検査機能付きIC又は磁気カード保持器であり、製品はICカード又は磁気カードである。このカードはクレジットカード、IDカード等を含み、悪用防止に特に効果的である。第１０は半導体検査機能付き空港であり、製品は航空機、ヘリコプタなどである。
【００４９】
第１１は半導体検査機能付き船舶停泊場（ドック）であり、製品は船舶、ジェットスキー、マリンスポーツ製品などである。第１２は半導体検査機能付き充電器であり、製品は携帯電話、デジカメ、電池などである。第１３は半導体検査機能付き住居であり、製品は家電品等であり、不在時に家電品等の半導体の検査が行われればよい。第１４は半導体検査機能付き椅子であり、製品は例えば座って作業をしている間にその人が身につけている製品である。第１５は半導体検査機能付き自動車であり、製品は車内の製品又は乗車している人が身につけている製品である。
【００５０】
第１６は半導体検査機能付きメガネケースであり、製品はメガネである。第１７は半導体検査機能付き寝具であり、製品は就寝中に使用する製品である。第１８は半導体検査機能付き風呂であり、製品は入浴中に使用する製品である。第１９は半導体検査機能付きトイレであり、製品は利用中に使用する製品である。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】製品出荷後に性能検査が行われる検査対象半導体を有する製品に新たに組み込まれる回路構成の一例を示すブロック図である。
【図２】図１の製品を保持可能な検査機能を持つ保持具に組み込まれる回路構成の一例を示すブロック図である。
【図３】製品品質管理支援システムの全体構成図である。
【図４】図３の製品品質管理支援システムがメーカによる品質保証をも可能とした場合の製品品質保証管理支援システムを説明するための全体構成図である。
【図５】テスト基準を表示するラベルの一例である。
【図６】テスト情報管理事業者のテストサーバと保持具としての収納装置とが情報通信ネットワークにより接続した場合を示した図である。
【図７】保持具としての収納装置を製造する収納装置メーカ及び製品或いは収納装置を販売するショップをも示したビジネス全体を示す図である。
【符号の説明】
【００５２】
１      製品
１７    保持具
１８    検査機能回路部（検査装置）
【図１】
2005315867.tif 000003
【図２】
2005315867.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2005315867.tif 000007
【図６】
2005315867.tif 000008
【図７】
2005315867.tif 000009