(57)【要約】【課題】特定のマーク長の記録パワーが他のマーク長の記録パワーとは異なった値で記録する方式において、各々の記録パワーの最適値を求め、精度よい記録を可能にする。【解決手段】特定のパターン＝３Ｔを除く記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出する第１の試し書き工程と（Ｓ１〜Ｓ３）、特定のパターン＝３Ｔについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された第１の最適記録パワーとして所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出する第２の試し書き工程と（Ｓ４〜Ｓ６）を備えることで、全てのマーク長を精度よく形成でき、精度のよい記録が可能となる。【選択図】        図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、
前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、
を備え、
算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーを照射する記録情報に基づき情報の記録を行うようにしたことを特徴とする情報記録方法。
【請求項２】
所定の前記第１のテストデータは、前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いたデータ列であることを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項３】
所定の前記第２のテストデータは、前記特定のパターンを繰返した第１データ列と前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いた第２データ列とを繰返したデータ列であることを特徴とする請求項２記載の情報記録方法。
【請求項４】
前記第１の試し書き工程における前記第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、
前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項１又は２記載の情報記録方法。
【請求項５】
前記第１の試し書き工程における前記第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出し、
前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項２又は３記載の情報記録方法。
【請求項６】
前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った試し書き領域内の第１データ列の再生信号の平均値と第２データ列の再生信号の平均値とから算出する、
ことを特徴とする請求項３記載の情報記録方法。
【請求項７】
前記特定のパターンは、前記記録情報のうちの最小マーク長であることを特徴とする請求項１ないし６の何れか一記載の情報記録方法。
【請求項８】
前記特定のパターンは、記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパターンであることを特徴とする請求項１ないし６の何れか一記載の情報記録方法。
【請求項９】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、
前記記録情報のマーク長によってＮ（Ｎ：２以上の自然数）の群に区分し、各々の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、前記記録媒体の所定の試し書き領域に対して、第Ｍ（Ｍ：１〜Ｎの自然数）群の記録パワーを段階的に可変しながら所定の第Ｍのテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第Ｍ群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に備え、
これらの各群毎に算出された最適記録パワーに基づき情報の記録を行うようにしたことを特徴とする情報記録方法。
【請求項１０】
Ｎ＝３であり、第３群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、第２群が前記記録情報のうちの次に短いマーク長であり、第１群が前記記録情報のうちのその他のマーク長であることを特徴とする請求項９記載の情報記録方法。
【請求項１１】
Ｎ＝３であり、第３群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、第２群が第３群を除き前記記録情報の基準周期に対して奇数倍のマーク長であり、第１群が前記記録情報の基準周期に対して偶数倍のマーク長であることを特徴とする請求項９記載の情報記録方法。
【請求項１２】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録装置において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き手段と、
前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き手段と、
を備え、
算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーを照射する記録情報に基づき情報の記録を行うことを特徴とする情報記録装置。
【請求項１３】
所定の前記第１のテストデータは、前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いたデータ列であることを特徴とする請求項１２記載の情報記録装置。
【請求項１４】
所定の前記第２のテストデータは、前記特定のパターンを繰返した第１データ列と前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いた第２データ列とを繰返したデータ列であることを特徴とする請求項１３記載の情報記録装置。
【請求項１５】
前記第１の試し書き手段は、前記第１の最適記録パワーを第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、
前記第２の試し書き手段は、前記第２の最適記録パワーを第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項１２又は１３記載の情報記録装置。
【請求項１６】
前記第１の試し書き手段は、前記第１の最適記録パワーを第１の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出し、
前記第２の試し書き手段は、前記第２の最適記録パワーを第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項１３又は１４記載の情報記録装置。
【請求項１７】
前記第２の試し書き手段は、前記第２の最適記録パワーを第２の試し書きを行った試し書き領域内の第１データ列の再生信号の平均値と第２データ列の再生信号の平均値とから算出する、
ことを特徴とする請求項１４記載の情報記録装置。
【請求項１８】
前記特定のパターンは、前記記録情報のうちの最小マーク長であることを特徴とする請求項１２ないし１７の何れか一記載の情報記録装置。
【請求項１９】
前記特定のパターンは、記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパターンであることを特徴とする請求項１２ないし１７の何れか一記載の情報記録装置。
【請求項２０】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録装置において、
前記記録媒体の所定の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定のテストデータを試し書きをする試し書き手段と、
前記記録した試し書きデータの再生信号から最適記録パワーを算出する最適記録パワー算出手段と、
前記テストデータを生成するテストデータ生成手段と、
前記記録情報のマーク長によってＮ（Ｎ：２以上の自然数）の群に区分し、第Ｍ（Ｍ：１〜Ｎの自然数）群の記録パワーを段階的に可変しながら所定の第Ｍのテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第Ｍ群の最適記録パワーを算出するように、各々の群に対する前記テストデータの生成、照射する記録パワー設定及び最適記録パワー算出を制御する試し書き制御手段と、を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項２１】
Ｎ＝３であり、第３群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、第２群が前記記録情報のうちの次に短いマーク長であり、第１群が前記記録情報のうちのその他のマーク長であることを特徴とする請求項２０記載の情報記録装置。
【請求項２２】
Ｎ＝３であり、第３群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、第２群が第３群を除き前記記録情報の基準周期に対して奇数倍のマーク長であり、第１群が前記記録情報の基準周期に対して偶数倍のマーク長であることを特徴とする請求項２０記載の情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ＋ＲＷ等の各種記録媒体に対する情報記録方法及び情報記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、例えばＣＤ−Ｒドライブ装置のような記録可能な光ディスクドライブ装置が実用化され、さらに大容量化・高速記録化を目指した研究がなされている。記録可能な光ディスク媒体としては、色素系メディア等を用いた追記型光ディスクや、光磁気メディアや相変化メディア等を用いた書換え可能なディスクなどが挙げられる。
【０００３】
一般の光ディスク記録装置では、半導体レーザを光源とし、記録情報によりパルス変調されたこのレーザ光を記録媒体に照射し、記録マークを形成する。この時、記録するレーザ光のパワーにより記録マークの形成状態が変化するため、従来では、記録媒体の特性に適した記録パワーを求めるために、記録開始の準備として予め所定の領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ＝試し書き領域）に対して記録パワーを変化させながら試し書きを行い、試し書き後、その領域の再生信号の品質が最も良好である領域を記録したパワーを最適記録パワーとして求めるという、いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）という方法が用いられている。実際のデータの記録時にはこのようにして求めた最適記録パワーを保ちながら記録を行う。
【０００４】
ここに、再生信号の品質評価方法としては、幾つかの方法が提案されているが、代表的な方法として以下の方法が実用化されている。
【０００５】
第１には、再生信号のアシンメトリβから評価する方法である（以下、適宜“β法”と称する）。即ち、図３に示すように、再生信号のＤＣレベルに対する正側ピーク値Ａ（＝Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）と負側ピーク値Ｂ（＝Ｉｄｃ−Ｉｂｔ）を検出し、
β＝（（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）−（Ｉｄｃ−Ｉｂｔ））／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）
に従いアシンメトリβを算出し、このアシンメトリβが所定値（例えば、０）となる再生信号を良好とするものである。
【０００６】
第２には、再生信号の変調度ｍを用いて評価する方法である（以下、適宜“γ法”と称する）。まず、図６のように再生信号の最大値Ｉｐｋと最小値Ｉｂｔとを検出し、
ｍ＝（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋ
に従い変調度ｍを算出する。次に、算出された変調度ｍとそのときの記録パワーＰとから、変調度の記録パワーに対する変化率γを
γ＝（ｄｍ／ｄＰ）・（Ｐ／ｍ）
に従い算出する。そして、変化率γが所定値γｔとなる記録パワーＰｔを求め、これに所定の係数ｋを掛けたものを最適記録パワーとして決定する。
【０００７】
一方、ＣＤやＤＶＤなどの多くの光ディスクの記録方法においては、高密度化に適したマークの長さが情報を担うマークエッジ記録方法が採用されており、正確にデータを再生するためにはマークの形状やエッジ位置の正確な制御が必要となっている。さらには、マーク長が異なっても一様にマーク形状を整えるため、複数の記録パルスに分割したパルス列で記録マークを形成するマルチパルス記録方法が広く用いられている。即ち、加熱・冷却のサイクルを繰返してマークを繋げて形成することにより一様な長マークを形成するものである。この方法は色素系追記型の媒体でも適用されている。
【０００８】
ところで、近年の高速記録化・大容量化の要求に伴い様々な記録方法が提案されており、その一つとして記録パワーの多値レベル化が挙げられる。例えば、記録媒体と記録パルス波形との関係によっては、記録パワーＰｗに対する記録マーク長の理想値からのずれΔの関係が、特定マーク長だけ他のマーク長とは異なる場合がある。例えば、図５にこの関係を例示する。▲１▼が特定マーク長（３Ｔ）の特性であり、▲２▼がその他のマーク長の特性である。ＣＤはマーク長が３Ｔ〜１１Ｔ（ここで、Ｔはデータの基準クロック周期）であり、最小マーク長である３Ｔの記録パワーに対する理想値からのずれΔが他の記録マーク長とは異なっている。そのため、特定のマーク長の記録パワーを他のマーク長の記録パワーとは異なった値で記録をし、各々のマーク長を適正に記録しようとするものである。図５の例では３Ｔマークを記録パワーＰｗｅｘ、他のマーク長を記録パワーＰｗで記録するようにする。
【０００９】
そして、このように記録パワーを多値レベル化した記録方法において、前述のＯＰＣを行う際には、特定マーク長の記録パワーＰｗｅｘは、他のマーク長の記録パワーＰｗと所定の比例関係を保ったまま（Ｐｗｅｘ／Ｐｗ＝一定）、或いは、所定の記録パワー差を保ったまま（Ｐｗｅｘ−Ｐｗ＝一定）、記録パワーを変化させながら試し書きを行い、その中で最適な記録パワーを求めるようにしている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このようなＯＰＣの方法では、記録パワーと理想値からのずれとの関係は、マーク長により異なり、また、記録媒体や記録装置のバラツキ（即ち、半導体レーザ駆動部のバラツキによる記録パルス波形のバラツキ）があった場合に、特定マーク長の記録パワー最適値Ｐｗｅｘ（ｏｐｔ）と他のマーク長の記録パワー最適値Ｐｗ（ｏｐｔ）との関係もばらつくため、各々の記録パワーを適正に求めることができなくなり、これによりマーク形状やマーク位置の精度が損なわれ、結果として、データエラーの原因となるという問題が生じる。
【００１１】
本発明の目的は、特定のマーク長の記録パワーが他のマーク長の記録パワーとは異なった値で記録する情報記録方法や情報記録装置において、各々の記録パワーの最適値を求め、これにより精度よい記録を行うことができる情報記録方法及び情報記録装置を提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、前記記録媒体の所定の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、を備え、算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーに基づき情報の記録を行うようにした。
【００１３】
従って、記録情報のうちの特定のパターンとその他のパターンとの最適記録パワーを各々算出し、これらの算出された最適記録パワーに基づき通常通り、情報の記録を行うことで、全てのマーク長を精度よく形成することができ、精度のよい記録が行える。
【００１４】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の情報記録方法において、所定の前記第１のテストデータは、前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いたデータ列である。
【００１５】
従って、第１のテストデータが特定のパターンを除いたデータ列であるので、第１の試し書きの際には特定のパターンの記録データが最適化されてないことによる再生信号検出値の誤差が含まれないので、精度よく第１の最適記録パワーを算出することができる。
【００１６】
請求項３記載の発明は、請求項２記載の情報記録方法において、所定の前記第２のテストデータは、前記特定のパターンを繰返した第１データ列と前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いた第２データ列とを繰返したデータ列である。
【００１７】
従って、各データ列の再生信号の平均値を分離して容易かつ精度よく検出できるので、最適記録パワーの算出精度が向上する。
【００１８】
請求項４記載の発明は、請求項１又は２記載の情報記録方法において、前記第１の試し書き工程における前記第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する。
【００１９】
本発明及び以下の発明において、アシンメトリとは、再生信号の平均値レベルに対する正側ピーク値と負側ピーク値との割合を意味する。
【００２０】
従って、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
【００２１】
請求項５記載の発明は、請求項２又は３記載の情報記録方法において、前記第１の試し書き工程における前記第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出し、前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する。
【００２２】
従って、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
【００２３】
請求項６記載の発明は、請求項３記載の情報記録方法において、前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った試し書き領域内の第１データ列の再生信号の平均値と第２データ列の再生信号の平均値とから算出する。
【００２４】
従って、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
【００２５】
請求項７記載の発明は、請求項１ないし６の何れか一記載の情報記録方法において、前記特定のパターンは、前記記録情報のうちの最小マーク長である。
【００２６】
従って、最小マーク長を特定のパターンとして、他のマーク長とは別に最適記録パワーを算出するようにしているので、簡便な方法で多くの記録媒体に好適に適用することができる。
【００２７】
請求項８記載の発明は、請求項１ないし６の何れか一記載の情報記録方法において、前記特定のパターンは、記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパターンである。
【００２８】
従って、特定のデータパターンに応じて最適記録パワーが異なる記録媒体であっても、精度よく記録マークを形成でき、精度のよい記録が行える。
【００２９】
請求項９記載の発明は、記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、前記記録情報のマーク長によってＮ（Ｎ：２以上の自然数）の群に区分し、各々の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、前記記録媒体の所定の試し書き領域に対して、第Ｍ（Ｍ：１〜Ｎの自然数）群の記録パワーを段階的に可変しながら所定の第Ｍのテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第Ｍ群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に備え、これらの各群毎に算出された最適記録パワーに基づき情報の記録を行うようにした。
【００３０】
従って、マーク長によって最適記録パワーが異なる記録媒体であっても、各々のマーク長毎に最適記録パワーを算出するので、全てのマーク長が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００３１】
請求項１０記載の発明は、請求項９記載の情報記録方法において、Ｎ＝３であり、第３群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、第２群が前記記録情報のうちの次に短いマーク長であり、第１群が前記記録情報のうちのその他のマーク長である。
【００３２】
従って、特に高速記録化に伴い、最小マーク長やその次に短いマーク長が他のマーク長とは最適記録パワーが異なってくることが多いが、このような記録媒体に対して好適に適用することができる。
【００３３】
請求項１１記載の発明は、請求項９記載の情報記録方法において、Ｎ＝３であり、第３群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、第２群が前記記録情報の基準周期に対して偶数倍のマーク長であり、第１群が第３群を除き前記記録情報の基準周期に対して奇数倍のマーク長である。
【００３４】
従って、ＣＤ記録やＤＶＤ記録の高速記録化に伴い近年実用化がなされているいわゆる２Ｔストラテジでは、最小マーク長である３Ｔマーク長と、偶数マーク長と、３Ｔを除く奇数マーク長とで最適記録パワーが異なる媒体が多くなるが、このような記録媒体に対して好適に適用することができる。
【００３５】
これらの請求項１ないし１１記載の情報記録方法による作用は、請求項１２ないし２２記載の情報記録装置によっても同様に奏することができる。
【００３６】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態を図面に基づいて説明する。本実施の形態の情報記録装置は、光情報記録装置への適用例であり、図１はこの光情報記録装置の概略構成例を示すブロック図である。
【００３７】
この光情報記録装置において用いられる記録媒体１は、記録可能な記録媒体（例えば、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＭＤ，ＭＯなどの光ディスク等）である。このような記録媒体１を回転駆動させるスピンドルモータ２は、サーボコントローラ３から供給される信号に従い線速度一定（ＣＬＶ）或いは角速度一定（ＣＡＶ）となるように制御される。光ピックアップ（ＰＵ）４は光源である半導体レーザ（ＬＤ）からの出射光を記録媒体１に照射し情報の記録を行ったり、記録媒体１からの反射光を受光し受光信号に変換するものであり、光源、反射光を受光し受光信号に変換する受光素子、光学系、アクチュエータなどから構成されている。また、光ピックアップ４には光源の出射光の一部をモニタするモニタ受光部も配置され、この出力であるモニタ信号により光源の出射光量変動が制御される。また、記録媒体１の照射光に対する傾き（チルト）を検知するためのチルト検出受光部などが配置される場合もある。
【００３８】
受光信号処理部５は光ピックアップ４に配置された各種受光部からの受光信号が入力され、様々な信号処理を行う。受光信号から再生信号Ｓｒｆの生成や、サーボコントローラ３とともに記録媒体１の回転に伴う面振れやトラックの半径方向の振れなどの変動に対し常に所定の誤差内で光を照射するようアクチュエータを駆動し制御（フォーカスサーボ制御及びトラックサーボ制御）する。このため受光信号からサーボエラー信号Ｓｓｖを生成し、サーボコントローラ３へ供給する。また、光ピックアップ４は記録媒体１の半径方向に可動し、所望の位置に光スポットが照射されるようシーク動作を行う。サーボコントローラ３は記録媒体１に予め記録されたアドレス情報などに従いこのシーク制御や記録媒体１の回転制御、チルト制御などの機能も担う。
【００３９】
記録媒体１には記録トラックが所定の周波数で蛇行したウォブルが予め形成されており、受光信号処理部５ではこのウォブル成分を抽出したウォブル信号Ｓｗｂｌも生成する。このウォブル信号Ｓｗｂｌを基に回転制御、アドレス情報の検出、記録の際の基準クロックとなる記録クロックＷＣＫの生成をウォブル信号処理部６で行う。
【００４０】
再生信号処理部７は再生信号Ｓｒｆから再生している記録媒体１の所定の変調方式規則に則り復調を行う。また、内蔵されたＰＬＬ回路により再生クロックを抽出する。復調したデータはコントローラ８に供給する。
【００４１】
エンコーダ９はコントローラ８から供給される記録情報を所定の変調方式規則に則り変調を行い、記録データＷｄａｔａを供給する。この時、記録クロックＷＣＫを基準に生成している。例えば、ＤＶＤ記録装置では、ＥＦＭ＋変調方式が用いられており、記録データＷｄａｔａのパルス長は３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔ（Ｔは記録クロックＷＣＫの周期）となる。
【００４２】
ＬＤ駆動部１０は記録データＷｄａｔａ及び記録クロックＷＣＫに従い、光源ＬＤを所定の光波形で変調する。照射パワーや光波形情報などはコントローラ８から設定される。また、受光信号処理部５からモニタ受光信号が入力され、このモニタ受光信号に基づき光源ＬＤの出射光量が所望の値となるように制御する（いわゆるＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う）。
【００４３】
ここで、記録媒体１には、図２（ａ）に示すように、所定の領域（例えば、最内周部）にＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ＝試し書き領域）２１が設けられており、本来の記録を開始する前にこの領域に試し書きを行い最適な記録パワーを求め、実際の記録時にはこの求めた記録パワーで記録を行うＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う。また、図２（ｂ）に示すように、一度の試し書きは、例えば、記録情報単位である１ＥＣＣブロックを用いて行われ（この１ＥＣＣブロックは１６セクタからなる）、１セクタ毎記録パワーを変化させながら試し書きを行う。
【００４４】
すると、この試し書きを行った領域の再生信号Ｓｒｆは、図２（ｃ）に示すようになるので、ＯＰＣ検出部１１は、再生信号Ｓｒｆの各セクタの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃを検出する。図３は再生信号Ｓｒｆのアイダイアグラムの一例である。コントローラ８では、試し書きを行った領域の再生を行ってこれらの値を検出し、これらの値から所定の演算を行い最適な記録パワーを算出する。この算出動作の詳細については後述する。
【００４５】
テスト信号生成部１２は、試し書きを行う際に試し書きデータ（テストパターン）を生成する。この試し書きデータはエンコーダ９に供給され、試し書きの際にはこれを選択出力してＬＤ駆動部１０に供給する。
【００４６】
コントローラ８は、前述した機能、後述する処理制御の他、ホストコンピュータ（図示せず）との記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行い装置全体の制御を行う。
【００４７】
ここで、記録媒体１として例えばＤＶＤ−ＲＷ等の相変化型記録媒体（書換え型記録媒体）を想定した場合の光源ＬＤの発光波形例を図４に例示する。図４（ａ）は記録クロックＷＣＫ、図４（ｂ）は記録データＷｄａｔａ、図４（ｃ）は記録データＷｄａｔａのマーク長が各々３Ｔ（１）〜１４Ｔ（１０）の時の光波形を示している。照射パワーは各々ボトムパワーＰｂ、イレースパワーＰｅ、ライトパワーＰｗ（３Ｔ〜１４Ｔで各々Ｐｗ３〜Ｐｗ１４とする）となるように設定される。また、図示例では、４Ｔと５Ｔ、６Ｔと７Ｔ、８Ｔと９Ｔ、１０Ｔと１１Ｔ、が各々同一パルス数となる２Ｔストラテジ方式とされている。通常、各マーク長毎のライトパワーＰｗ３〜Ｐｗ１４は等しいパワーＰｗ（＝Ｐｗ３＝Ｐｗ４＝…＝Ｐｗ１４）としているが、記録媒体１の種類や記録波形などによってはマーク長により記録パワーに対するマークの理想長からのずれΔの特性が異なることもある（記録速度が異なれば記録特性も変化するので同一記録媒体でも記録速度によってはこのような傾向を示すものもある）。図５はこのような特性の関係を示す図であり、▲２▼は３Ｔマーク長の特性、▲１▼はその他のマーク長の特性を示している。このような記録媒体に対してはＰｗ３＝Ｐｗｅｘ（ｏｐｔ）、Ｐｗ４＝Ｐｗ５＝…＝Ｐｗ１４＝Ｐｗ（ｏｐｔ）となるように記録パワーを設定すると全てのマーク長が精度よく形成できる。
【００４８】
このような条件下に、マイクロコンピュータ構成のコントローラ８により実行される記録媒体１に好適な記録方法の処理制御例を図６に示すフローチャートを参照して説明する。図６は記録動作に関連する処理制御のうち、試し書き処理に伴い最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）及びＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出するアルゴリズムを示すフローチャートである。このような最適記録パワーの算出は情報の記録開始の準備として行われ、最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出する第１の試し書き工程又は第１の試し書き手段と、最適記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出する第２の試し書き工程又は第２の試し書き手段とで成り立つ。
【００４９】
まず、第１の試し書き工程（第１の試し書き手段）において、当該第１の試し書き工程で使用する第１のテストパターンを生成する（ステップＳ１）。第１のテストパターンは記録情報のうちで本実施の形態における特定のパターンである最小マーク長＝３Ｔマーク長を除いたデータパターンで構成されたものであり、所定の変調規則は満たしているものとする。第１の試し書き工程ではこの第１テストパターンが記録データＷｄａｔａとしてエンコーダ９より供給する。
【００５０】
次に、セクタ毎に記録パワーＰｗ（＝Ｐｗ４＝Ｐｗ５＝…＝Ｐｗ１４）を変化させながらこの第１のテストパターンを試し書き領域に記録する（第１の試し書き…ステップＳ２）。
【００５１】
ステップＳ３では、ステップＳ２で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）として算出する。
【００５２】
この再生信号の品質を評価するには以下のような例が適用できる。
【００５３】
第１には、図３を参照して説明したように、各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃを検出する。そして、各セクタ毎に、
β＝（（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）−（Ｉｄｃ−Ｉｂｔ））／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）………（１）
なる演算を行いアシンメトリβを算出する。
【００５４】
通常、最も良好な再生信号が得られるのはβ＝０の時であり、最も０に近いセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）として算出すればよい。或いは、記録パワーＰｗとアシンメトリβとの近似式を算出し、β＝０となる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００５５】
この時、３Ｔマーク長を含んだデータパターンで試し書きを行うと、３Ｔマーク長の最適記録パワーが他のマークと異なることにより、他のマークの最適記録パワーで記録した領域の再生信号Ｓｒｆは例えば図７に示すようになる。即ち、３Ｔマーク長を除く平均値ＩｄｃＡと、３Ｔマーク（例えば、３Ｔ繰返しパターン）の平均値Ｉｄｃ３とは異なるため、検出される平均値Ｉｄｃは３Ｔマークを除く平均値ＩｄｃＡとは誤差を生じ、この結果、アシンメトリβも誤った値が算出されるため誤った最適記録パワーが算出されてしまう。この点、本実施の形態では、第１の試し書き工程においては３Ｔマーク長を除くデータパターンとしているので、このような問題は生じず、正確に最適記録パワーを算出できる。
【００５６】
第２には、再生信号の変調度ｍの記録パワーに対する変化率γを指標とする方法である。前述と同様に各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔを検出する。そして、
ｍ＝（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋ  …………（２）
に従い変調度ｍを算出する。
【００５７】
次に、算出された変調度ｍとそのときの記録パワーＰｗとから、変調度ｍの記録パワーに対する変化率γを
γ＝（ｄｍ／ｄＰｗ）・（Ｐｗ／ｍ）  …………（３）
に従い算出する。そして、変化率γが所定値γｔとなる記録パワーＰｔを求め、これに所定の係数ｋを掛けたものを最適記録パワーＰｗとして決定する。これらの所定値γｔ及び係数ｋは記録媒体１の種類や記録装置毎に予め定められた値を用いる。
【００５８】
より詳細な算出方法を以下に説明する。まず、試し書き領域を再生して検出した変調度ｍと記録パワーＰｗとの複数のデータから、
ｍ＝ａ・Ｐｗ２＋ｂ・Ｐｗ＋ｃ  （ａ，ｂ，ｃは定数）……（４）
なる２次近似式を算出する。近似方法としては多項式近似などの一般的な近似方法を用いればよく、２次以上の近似式が測定値とよく一致する。
【００５９】
そして、前述の（３）式より、ｄｍ／ｄＰｗ＝２ａ・Ｐｗ＋ｂであるから、
Ｐｗ＝｛−ｂ（γ−１）±ＳＱＲＴ［ｂ２（γ−１）２−４ａ（γ−２）ｃγ］｝／２ａ（γ−２）………………………………（５）
なる（５）式が得られる。これらの演算を行い、（５）式の正の解Ｐｗ＋を算出することで最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出する。
【００６０】
また、これらの方法を組み合わせたものであってもよく、さらにはジッタ検出部を設け、最小のジッタとなる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００６１】
次に、ステップＳ４〜Ｓ６の第２の試し書き工程（第２の試し書き手段）を行う。
【００６２】
ステップＳ４では、第２の試し書き工程で使用する第２のテストパターンを生成する。第２のテストパターンは全てのマーク長を含んだデータパターン、つまり、通常のデータ（例えば、任意のデータや固定データをコントローラ８から供給したデータ）をエンコーダ９で変調した記録データＷｄａｔａでよい。
【００６３】
ステップＳ５では、記録パワーＰｗ（＝Ｐｗ４＝Ｐｗ５＝…＝Ｐｗ１４）はステップＳ３で算出した最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）に設定するとともに、セクタ毎に第２の記録パワーＰｗｅｘ（＝Ｐｗ３）を変化させながら、第２のテストパターンを試し書き領域に記録する。この際、例えば、記録媒体１が書換え可能な媒体であればこの試し書き領域はステップＳ２の第１の試し書き領域に上書きしてもよく、或いは、一度消去した後に第２の試し書きを行ってもよい。また、一度に使用できる試し書き領域（例えば、１ＥＣＣブロック）の前半部分に第１の試し書きを、後半部分に第２の試し書きを行うものであってもよい。
【００６４】
ステップＳ６では、ステップＳ５で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを第２の最適記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）として算出する。
【００６５】
再生信号の品質を評価するには、ステップＳ３の場合と同様に、各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃを検出し、（１）式によりアシンメトリβを算出する。そして、アシンメトリβが最も０に近いセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）として算出すればよい。或いは、記録パワーＰｗｅｘとアシンメトリβとの近似式を算出し、β＝０となる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００６６】
第２の試し書きにおいては、３Ｔマーク長以外のマークの記録パワーは既に第１の試し書き工程により最適化されているので、３Ｔマーク長を除く平均値ＩｄｃＡはβ＝０となる値となっている。ステップＳ５では３Ｔマーク長の記録パワーＰｗｅｘを変化させながら記録しているので、３Ｔマーク長の平均値Ｉｄｃ３が変化していく。よって、Ｉｄｃ３が、Ｉｐｋ−Ｉｄｃ３＝Ｉｄｃ３−Ｉｂｔとなる値になるセクタがアシンメトリβ−０となり、そのセクタで記録した記録パワーＰｗｅｘが最適値Ｐｗｅｘ（ｏｐｔ）と算出できる。
【００６７】
このようにして、最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）及びＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を各々算出することにより、試し書き工程を終了する。通常の情報記録時には、このようにして算出された最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）及びＰｗｅｘ（ｏｐｔ）に基づき記録をすることにより、全てのマーク長が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００６８】
ところで、第２の試し書き工程で用い得る第２のテストパターン例の別の実施の形態を図８に示す。即ち、特定パターンである３Ｔパターンの繰返しによる第１データ列（３Ｔ繰返しパターン＝３ＴＰ）と、３Ｔパターンを除いた第２データ列（第１テストパターン＝ＴＰ１）とを、交互に繰り返したパターンとする例である。すると、その領域を再生した再生信号Ｓｒｆ及び平均値Ｉｄｃは図８（ｂ）に示すようになり、３Ｔマークの平均値Ｉｄｃ３を平均値ＩｄｃＡと分離して容易に検出することができ、精度よくアシンメトリβが算出できるため、最適記録パワーの算出精度も向上する。或いは、平均値ＩｄｃＡとＩｄｃ３とが一致するセクタが全パターンを含んだアシンメトリβ＝０となるので、これより最適記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出するようにしてもよい。
【００６９】
第１テストパターンＴＰ１と３Ｔ繰返しパターン３ＴＰは試し書きする際、セクタに同期して所定の周期で繰返すようにするので、再生時にもセクタに同期して平均値を検出するようにすれば、平均値ＩｄｃＡとＩｄｃ３とを容易に検出することができる。なお、第１テストパターンＴＰ１と３Ｔ繰返しパターン３ＴＰとの繰返し周期は再生信号の平均値検出帯域を考慮して設定するようにすればよい。
【００７０】
また、ステップＳ３において変調度ｍの変化率γにより最適記録パワーを算出する場合は、３Ｔマークが最適パワーと異なった値で記録しても、変調度ｍ及びその変化率γにはほとんど影響しないため、第１テストパターンＴＰ１は全てのマーク長を含んだデータパターン、つまり、通常のデータとし、Ｐｗ３も記録パワーＰｗで変化させながら試し書きすればよい。
【００７１】
さらに、前述の説明では記録媒体１は相変化型記録媒体を想定して説明をしたが、他の記録媒体であっても３Ｔマーク長とその他のマーク長とで記録パワーを違えて記録を行う記録方法においては、本実施の形態のようなＯＰＣ方法を好適に適用できる。
【００７２】
次に、マーク長によって複数の記録パワーレベルで記録を行う記録方法に関する本実施の形態の適用例について、図９に示すフローチャートを参照して説明する。例えば、３Ｔマーク長記録パワーＰｗ３と４Ｔマーク長記録パワーＰｗ４とその他のマーク長記録パワーＰｗ（＝Ｐｗ５＝Ｐｗ６＝…＝Ｐｗ１４）との３群を異なったパワーで記録する場合、各々の記録パワーの最適値を上述と同様にして算出する場合への適用例である。
【００７３】
ステップＳ１１では、第１の試し書き工程で使用する第１のテストパターンを生成する。第１のテストパターンは記録情報のうちで３Ｔマーク長及び４Ｔマーク長を除いたデータパターンで構成されたものであり、所定の変調規則は満たしているものとする。第１の試し書き工程ではこの第１テストパターンが記録データＷｄａｔａとしてエンコーダ９より供給する。
【００７４】
ステップＳ１２では、セクタ毎に記録パワーＰｗ（＝Ｐｗ５＝Ｐｗ６＝…＝Ｐｗ１４）を変化させながらこの第１テストパターンを試し書き領域に記録する。
【００７５】
ステップＳ１３では、ステップＳ１２で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）として算出する。この再生信号の品質の評価については上述した例が適用できる。
【００７６】
ステップＳ１４では第２の試し書き工程で使用する第２のテストパターンを生成する。第２のテストパターンは３Ｔマーク長を除いたデータパターンで構成されたものであり、所定の変調規則は満たしているものとする。
【００７７】
ステップＳ１５では、記録パワーＰｗ（＝Ｐｗ５＝Ｐｗ６＝…＝Ｐｗ１４）はステップＳ１３で算出した記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）に設定し、セクタ毎に記録パワーＰｗ４を変化させながらこの第２のテストパターンを試し書き領域に記録する。
【００７８】
ステップＳ１６では、ステップＳ１５で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ４（ｏｐｔ）として算出する。この再生信号の品質を評価するにはステップＳ６と同様にすればよい。また、図８に示した場合と同様にして第２のテストパターンとしては、第１のテストパターンと４Ｔ繰返しパターンとを交互に繰り返すようにしてもよい。
【００７９】
ステップＳ１７では、第３の試し書き工程で使用する第３のテストパターンを生成する。第３のテストパターンは全てのマーク長を含んだデータパターン、つまり通常のデータ（例えば、任意のデータや固定データをコントローラから供給したデータ）をエンコーダ９で変調した記録データＷｄａｔａでよい。
【００８０】
ステップＳ１８では、記録パワーＰｗ（＝Ｐｗ５＝Ｐｗ６＝…＝Ｐｗ１４）はステップＳ１３で算出した最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）に、記録パワーＰｗ４はステップＳ１６で算出した最適記録パワーＰｗ４（ｏｐｔ）に設定し、セクタ毎に記録パワーＰｗ３を変化させながらこの第３テストパターンを試し書き領域に記録する。
【００８１】
ステップＳ１９では、ステップＳ１８で試し書きした領域を再生し、ステップＳ１６と同様にして再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ３（ｏｐｔ）として算出する。
【００８２】
即ち、記録情報のマーク長によってＮ（Ｎ：２以上の自然数）＝３の群に区分し、各々の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、記録媒体１の所定の試し書き領域に対して、第Ｍ（Ｍ：１〜Ｎの自然数）群の記録パワーを段階的に可変しながら所定の第Ｍのテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第Ｍ群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に備えるものであり、第３群が記録情報のうちの最小マーク長＝３Ｔマーク長であり、第２群が記録情報のうちの次に短いマーク長＝４Ｔマーク長であり、第１群が記録情報のうちのその他のマーク長とした例である。
【００８３】
このようにして最適記録パワーＰｗ３（ｏｐｔ）、Ｐｗ４（ｏｐｔ）及びＰｗ（ｏｐｔ）を算出することにより、試し書き工程を終了する。通常の情報記録時には、このようにして求めた最適記録パワーで記録をすると全てのマーク長が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００８４】
なお、第３テストパターンを４Ｔマーク長を除いたデータパターンで構成し、第２の試し書きと第３の試し書きとを連続して行い、その後、これらの２つの試し書き領域を再生して最適記録パワーＰｗ４（ｏｐｔ）とＰｗ３（ｏｐｔ）とを算出するようにしてもよい。即ち、ステップＳ１１，Ｓ１２，Ｓ１３，Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ１７，Ｓ１８，Ｓ１７，Ｓ１９の順で処理を行う。このようにすれば記録と再生処理の切換え工程（目的の試し書き領域へのアクセス時間など）を省略できるので、試し書き工程時間を短縮することができる。
【００８５】
次に、マーク長によって複数の記録パワーレベルで記録を行う記録方法に関する別の実施の形態について、図１０に示すフローチャートを参照して説明する。本実施の形態では、マーク長によって３つの群に区分し各々の群の記録パワーの最適値を算出する方法について述べる。より具体的には、第１群は偶数マーク長（４，６，８，１０，１４Ｔ）とし、その記録パワーをＰｗＡ（＝Ｐｗ４＝Ｐｗ６＝…）とする。第２群は３Ｔマーク長を除く奇数マーク長（５，７，９，１１Ｔ）とし、その記録パワーをＰｗＢ（＝Ｐｗ５＝Ｐｗ７＝…）とする。第３群は３Ｔマーク長とし、その記録パワーをＰｗＣ（＝Ｐｗ３）とする。これらの記録パワーＰｗＡ，ＰｗＢ，ＰｗＣを各々変化させながら第１〜第３の試し書きを行い各々の最適値を算出する。
【００８６】
ステップＳ２１では、第１テストパターンを生成する。この第１テストパターンは第１群のマーク長からなるデータパターンで構成される。
【００８７】
ステップＳ２２では、セクタ毎に記録パワーＰｗＡを変化させながらこの第１テストパターンを試し書き領域に記録する。
【００８８】
ステップＳ２３では、ステップＳ２２で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗＡ（ｏｐｔ）として算出する。この再生信号の品質を評価するには上述した例を適用できる。
【００８９】
ステップＳ２４では、第２テストパターンを生成する。この第２テストパターンは第２群のマーク長からなるデータパターン、或いは、第１群及び第２群のマーク長からなるデータパターンで構成される。
【００９０】
ステップＳ２５では、セクタ毎に記録パワーＰｗＢを変化させながらこの第２テストパターンを試し書き領域に記録する。第２テストパターンが第１群のマーク長を含むものであるときはステップＳ２３で算出した最適記録パワーＰｗＡ（ｏｐｔ）を設定しておく。
【００９１】
ステップＳ２６では、ステップＳ２５で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗＢ（ｏｐｔ）として算出する。この再生信号の品質を評価するには上述した例を適用できる。
【００９２】
ステップＳ２７では、第３テストパターンを生成する。この第３テストパターンは全てのマーク長を含んだデータパターンで構成される。
【００９３】
ステップＳ２８では、第１群の記録パワーＰｗＡをステップＳ２３で算出した最適記録パワーＰｗＡ（ｏｐｔ）に、第２群の記録パワーＰｗＢをステップＳ２６で算出した最適記録パワーＰｗＢ（ｏｐｔ）に設定し、セクタ毎に記録パワーＰｗＣを変化させながらこの第３テストパターンを試し書き領域に記録する。
【００９４】
ステップＳ２９では、ステップＳ２８で試し書きした領域を再生し、ステップＳ６の場合と同様にして再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗＣ（ｏｐｔ）として算出する。
【００９５】
即ち、記録情報のマーク長によってＮ（Ｎ：２以上の自然数）＝３の群に区分し、各々の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、記録媒体１の所定の試し書き領域に対して、第Ｍ（Ｍ：１〜Ｎの自然数）群の記録パワーを段階的に可変しながら所定の第Ｍのテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第Ｍ群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に備えるものであり、第３群が記録情報のうちの最小マーク長＝３Ｔマーク長であり、第２群が第３群＝３Ｔマーク長を除き基準周期に対して奇数倍のマーク長であり、第１群が基準周期に対して偶数倍のマーク長とした例である。
【００９６】
このようにして最適記録パワーＰｗＡ（ｏｐｔ）、ＰｗＢ（ｏｐｔ）及びＰｗＣ（ｏｐｔ）を算出することにより、試し書き工程を終了する。通常の情報記録時には、このようにして求めた各々の最適記録パワーに基づき記録すると全てのマーク長が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００９７】
なお、これらの例では記録パワーを異ならせる特定のパターンを所定のマーク長（例えば、最小の３Ｔマーク長）として説明したが、この特定のパターンとしては、記録データＷｄａｔａのデータパターンの組合せ（記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパターン）によるものとしても同様にして適用できる。例えば、直前スペース長が６Ｔ以上の記録マーク長が３Ｔの記録パワーを他のマーク長と異なる記録パワーとし、図６で説明した実施の形態を適用して試し書きを行い各々の最適記録パワーを算出するようにすればよい。
【００９８】
【発明の効果】
請求項１，１２記載の発明によれば、記録情報のうちの特定のパターンとその他のパターンとの最適記録パワーを各々算出し、これらの算出された最適記録パワーに基づき通常通り、情報の記録を行うようにしたので、全てのマーク長を精度よく形成することができ、精度のよい記録を行わせることができる。
【００９９】
請求項２，１３記載の発明によれば、請求項１，１２記載の発明において、所定の前記第１のテストデータを、第１のテストデータが特定のパターンを除いたデータ列としたので、第１の試し書きの際には特定のパターンの記録データが最適化されてないことによる再生信号検出値の誤差が含まれなくすることができ、精度よく第１の最適記録パワーを算出することができる。
【０１００】
請求項３，１４記載の発明によれば、請求項２，１３記載の発明において、所定の前記第２のテストデータを、前記特定のパターンを繰返した第１データ列と前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いた第２データ列とを繰返したデータ列としたので、各データ列の再生信号の平均値を分離して容易かつ精度よく検出でき、最適記録パワーの算出精度を向上させることができる。
【０１０１】
請求項４，１５記載の発明によれば、請求項１，２，１２，１３記載の発明において、第１の試し書き工程における第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、第２の試し書き工程における第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出するようにしたので、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
【０１０２】
請求項５，１６記載の発明によれば、請求項２，３，１３，１４記載の発明において、第１の試し書き工程における第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出し、第２の試し書き工程における第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出するようにしたので、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
【０１０３】
請求項６，１７記載の発明によれば、請求項３，１４記載の発明において、第２の試し書き工程における第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った試し書き領域内の第１データ列の再生信号の平均値と第２データ列の再生信号の平均値とから算出するようにしたので、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
【０１０４】
請求項７，１８記載の発明によれば、請求項１ないし６，１２ないし１７の何れか一記載の発明において、最小マーク長を特定のパターンとして、他のマーク長とは別に最適記録パワーを算出するようにしたので、簡便な方法で多くの記録媒体に好適に適用することができる。
【０１０５】
請求項８，１９記載の発明によれば、請求項１ないし６，１２ないし１７の何れか一記載の発明において、特定のパターンを、記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパターンとすることで、特定のデータパターンに応じて最適記録パワーが異なる記録媒体であっても、精度よく記録マークを形成でき、精度のよい記録を行うことができる。
【０１０６】
請求項９，２０記載の発明によれば、マーク長によって最適記録パワーが異なる記録媒体であっても、各々のマーク長毎に最適記録パワーを算出するので、全てのマーク長を精度よく形成することができ、精度のよい記録を行うことができる。
【０１０７】
請求項１０，２１記載の発明によれば、請求項９，２０記載の発明において、Ｎ＝３であり、第３群を最小マーク長、第２群を次に短いマーク長、第１群をその他のマーク長としたので、特に高速記録化に伴い、最小マーク長やその次に短いマーク長が他のマーク長とは最適記録パワーが異なってくることが多いが、このような記録媒体に対して好適に適用することができる。
【０１０８】
請求項１１，２２記載の発明によれば、請求項９，２０記載の発明において、Ｎ＝３であり、第３群を最小マーク長、第２群を基準周期に対して偶数倍のマーク長、第１群を第３群を除き基準周期に対して奇数倍のマーク長としたので、ＣＤ記録やＤＶＤ記録の高速記録化に伴い近年実用化がなされているいわゆる２Ｔストラテジでは、最小マーク長である３Ｔマーク長と、偶数マーク長と、３Ｔを除く奇数マーク長とで最適記録パワーが異なる媒体が多くなるが、このような記録媒体に対して好適に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】
本発明の一実施の形態の光情報記録装置の概略構成例を示すブロック図である
。
【図２】
ＰＣＡ領域及び試し書き方式に関する説明図である。
【図３】
再生信号のアイダイアグラムを示す特性図である。
【図４】
各記録情報に対応する発光波形例を示す波形図である。
【図５】マーク長の違いによる理想値からのずれ特性を示す特性図である。
【図６】試し書き処理制御例を示す概略フローチャートである。
【図７】試し書き領域に関する再生信号の特性図である。
【図８】第２のテストパターンの別の実施の形態を示す説明図である。
【図９】マーク長によって複数の記録パワーレベルで記録を行う際の試し書きに関する別の実施の形態の試し書き処理制御例を示す概略フローチャートである。
【図１０】マーク長によって複数の記録パワーレベルで記録を行う際の試し書きに関するさらに別の実施の形態の試し書き処理制御例を示す概略フローチャートである。
【符号の説明】
１２      テストデータ生成手段
Ｓ１〜Ｓ３      第１の試し書き工程、第１の試し書き手段
Ｓ４〜Ｓ６      第２の試し書き工程、第２の試し書き手段
Ｓ１１〜Ｓ１３，Ｓ１４〜Ｓ１６，Ｓ１７〜Ｓ１９      各試し書き工程
【図１】
2005004906.tif 000003
【図２】
2005004906.tif 000004
【図３】
2005004906.tif 000005
【図４】
2005004906.tif 000006
【図５】
2005004906.tif 000007
【図６】
2005004906.tif 000008
【図７】
2005004906.tif 000009
【図８】
2005004906.tif 000010
【図９】
2005004906.tif 000011
【図１０】
2005004906.tif 000012
【手続補正書】
【提出日】平成15年7月3日(2003.7.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、
前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、
を備え、
算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーに基づき情報の記録を行うようにしたことを特徴とする情報記録方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１２】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録装置において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き手段と、
前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き手段と、
を備え、
算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーに基づき情報の記録を行うことを特徴とする情報記録装置。
【手続補正書】
【提出日】平成16年8月2日(2004.8.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、
前記記録情報のうち最小マーク長のデータについてはその記録パワーを段階的に可変し、前記最小マーク長のデータを除いたデータについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、
を備え、
算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーに基づき情報の記録を行うようにしたことを特徴とする情報記録方法。
【請求項２】
前記第１の試し書き工程では、前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを除いたデータ列に基づいて試し書きを行う、ことを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項３】
前記第２の試し書き工程では、前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを繰返した第１データ列と前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを除いた第２データ列とを繰返したデータ列に基づいて試し書きを行う、ことを特徴とする請求項２記載の情報記録方法。
【請求項４】
前記第１の試し書き工程における前記第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、
前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項１又は２記載の情報記録方法。
【請求項５】
前記第１の試し書き工程における前記第１の最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出し、
前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項２又は３記載の情報記録方法。
【請求項６】
前記第２の試し書き工程における前記第２の最適記録パワーは、第２の試し書きを行った試し書き領域内の第１データ列の再生信号の平均値と第２データ列の再生信号の平均値とから算出する、
ことを特徴とする請求項３記載の情報記録方法。
【請求項７】
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録装置において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き手段と、
前記記録情報のうち最小マーク長のデータについてはその記録パワーを段階的に可変し、前記最小マーク長のデータを除いたデータについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き手段と、
を備え、
算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーに基づき情報の記録を行うことを特徴とする情報記録装置。
【請求項８】
前記第１の試し書き工程では、前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを除いたデータ列に基づいて試し書きを行う、ことを特徴とする請求項７記載の情報記録装置。
【請求項９】
前記第２の試し書き工程では、前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを繰返した第１データ列と前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを除いた第２データ列とを繰返したデータ列に基づいて試し書きを行う、ことを特徴とする請求項８記載の情報記録装置。
【請求項１０】
前記第１の試し書き手段は、前記第１の最適記録パワーを第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、
前記第２の試し書き手段は、前記第２の最適記録パワーを第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項７又は８記載の情報記録装置。
【請求項１１】
前記第１の試し書き手段は、前記第１の最適記録パワーを第１の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出し、
前記第２の試し書き手段は、前記第２の最適記録パワーを第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項８又は９記載の情報記録装置。
【請求項１２】
前記第２の試し書き手段は、前記第２の最適記録パワーを第２の試し書きを行った試し書き領域内の第１データ列の再生信号の平均値と第２データ列の再生信号の平均値とから算出する、
ことを特徴とする請求項９記載の情報記録装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、前記記録情報のうち最小マーク長のデータについてはその記録パワーを段階的に可変し、前記最小マーク長のデータを除いたデータについてはその記録パワーを算出された前記第１の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、を備え、算出されたこれらの第１及び第２の最適記録パワーに基づき情報の記録を行うようにした。


【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の情報記録方法において、前記第１の試し書き工程では、前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを除いたデータ列に基づいて試し書きを行う。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
従って、第１の試し書きの際には最小マーク長のデータが最適化されてないことによる再生信号検出値の誤差が含まれないので、精度よく第１の最適記録パワーを算出することができる。


【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
請求項３記載の発明は、請求項２記載の情報記録方法において、前記第２の試し書き工程では、前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを繰返した第１データ列と前記記録情報のうち前記最小マーク長のデータを除いた第２データ列とを繰返したデータ列に基づいて試し書きを行う。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
これらの請求項１ないし６記載の情報記録方法による作用は、請求項７ないし１２記載の情報記録装置によっても同様に奏することができる。


【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９８】
【発明の効果】
請求項１，７記載の発明によれば、全てのマーク長を精度よく形成することができ、精度のよい記録を行わせることができる。


【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９９】
請求項２，８記載の発明によれば、第１の試し書きの際には特定のパターンの記録データが最適化されてないことによる再生信号検出値の誤差が含まれなくすることができ、精度よく第１の最適記録パワーを算出することができる。


【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１００
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１００】
請求項３，９記載の発明によれば、各データ列の再生信号の平均値を分離して容易かつ精度よく検出でき、最適記録パワーの算出精度を向上させることができる。


【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１０１】
請求項４，１０記載の発明によれば、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。


【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１０２】
請求項５，１１記載の発明によれば、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。


【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１０３】
請求項６，１２記載の発明によれば、各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。


【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０５
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０８
【補正方法】削除
【補正の内容】