(57)【要約】【課題】  被測定物の偏波分散をジョーンズ行列解析法を用いて極めて高い精度で測定する。【解決手段】  光周波数間隔ｆでｎ個以上の光周波数成分からなる光周波数コムを発生する光周波数コム発生部と、光周波数コムを入力し、その偏光状態を制御して被測定物に入力する偏波コントローラと、被測定物を通過した光周波数コムからｎ個の光周波数成分を分波する分波器と、分波器で分波された各光周波数成分の偏光状態を測定するｎ個のポラリメータと、偏波コントローラにポアンカレ球上の独立な３つの偏光状態を設定する測定器制御部と、測定器制御部により偏波コントローラで設定される入力偏光状態と、各ポラリメータで測定される各光周波数成分の偏光状態との関係から被測定物のジョーンズ行列を演算し、その結果から被測定物の偏波分散値を演算する演算部とを備える。【選択図】        図１
2005055382.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物の入力偏光状態と出力偏光状態の関係から被測定物のジョーンズ行列を演算し、その結果から被測定物の偏波分散値を演算する偏波分散測定装置において、
光周波数間隔ｆでｎ個以上（ｎは２以上の整数）の光周波数成分からなる光周波数コムを発生する光周波数コム発生部と、
前記光周波数コムを入力し、その偏光状態を制御して前記被測定物に入力する偏波コントローラと、
前記被測定物を通過した前記光周波数コムからｎ個の光周波数成分を分波する分波器と、
前記分波器で分波された各光周波数成分の偏光状態を測定するｎ個のポラリメータと、  前記偏波コントローラにポアンカレ球上の独立な３つの偏光状態を設定する測定器制御部と、
前記測定器制御部により前記偏波コントローラで設定される入力偏光状態と、前記各ポラリメータで測定される各光周波数成分の偏光状態との関係から前記被測定物のジョーンズ行列を演算し、その結果から被測定物の偏波分散値を演算する演算部と
を備えたことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の偏波分散測定装置において、
前記ｎ個のポラリメータに代えて、前記分波器で分波されたｎ個の光周波数成分の１つを選択する光スイッチと、選択された１つの光周波数成分の偏光状態を測定する１つのポラリメータとを備え、
前記演算部は、前記測定器制御部の制御により前記光スイッチを切り替えて得られる各光周波数成分の偏光状態を蓄積し、前記被測定物の偏波分散値を演算する構成である
ことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項３】
請求項２に記載の偏波分散測定装置において、
前記分波器および前記光スイッチに代えて、前記被測定物から出力されるｎ個の光周波数成分の１つを透過する波長可変フィルタを備え、
前記演算部は、前記測定器制御部の制御により前記波長可変フィルタの透過波長を切り替えて得られる各光周波数成分の偏光状態を蓄積し、前記被測定物の偏波分散値を演算する構成である
ことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項４】
請求項２に記載の分波器および光スイッチ、または請求項３に記載の波長可変フィルタを前記被測定物の前段に配置し、選択された１つの光周波数成分を前記被測定物に入力し、前記被測定物を通過した光周波数成分を前記ポラリメータに入力する構成である
ことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項５】
請求項２に記載の分波器および光スイッチ、または請求項３に記載の波長可変フィルタを前記偏波コントローラの前段に配置し、選択された１つの光周波数成分を前記偏波コントローラを介して前記被測定物に入力し、前記被測定物を通過した光周波数成分を前記ポラリメータに入力する構成である
ことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の偏波分散測定装置において、
前記光周波数コム発生部は、
繰り返し周波数ｆの光パルスを発生するパルス光源と、
前記繰り返し周波数ｆを保ったまま、前記光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部と
を備えたことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項７】
請求項１〜５のいずれかに記載の偏波分散測定装置において、
前記光周波数コム発生部は、
繰り返し周波数ｆ／Ｍ（Ｍは２以上の整数）の光パルスを発生するパルス光源と、
前記繰り返し周波数ｆ／Ｍを保ったまま、前記光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆ／Ｍの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部と、
前記ＳＣ光発生部から出力される光周波数コムを間引き、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力する周期性透過フィルタと
を備えたことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項８】
請求項１〜５のいずれかに記載の偏波分散測定装置において、
前記光周波数コム発生部は、
繰り返し周波数ｆ／Ｍ（Ｍは２以上の整数）の光パルスを発生するパルス光源と、
前記パルス光源から出力される繰り返し周波数ｆ／Ｍの光パルスを間引き、繰り返し周波数ｆの光パルスを出力する周期性透過フィルタと、
前記繰り返し周波数ｆを保ったまま、前記光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部と
を備えたことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項９】
請求項１〜５のいずれかに記載の偏波分散測定装置において、
前記光周波数コム発生部は、
繰り返し周波数Ｍｆ（Ｍは２以上の整数）の光パルスを発生するパルス光源と、
前記パルス光源から出力される繰り返し周波数Ｍｆの光パルスをＭ分周し、繰り返し周波数ｆの光パルスを出力する分周器と、
前記繰り返し周波数ｆを保ったまま、前記光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部と
を備えたことを特徴とする偏波分散測定装置。
【請求項１０】
請求項１〜５いずれかに記載の偏波分散測定装置において、
前記光周波数コム発生部は、所定の基準光の光ピークとこれに最も近い光周波数コムの光ピークとの光周波数間隔が一定になるように制御する光周波数制御部を含む構成である  ことを特徴とする偏波分散測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波長多重ネットワークにおいて用いられるデバイスまたはネットワーク自体の偏波分散を測定する偏波分散測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ｘＤＳＬや光アクセスサービスなどの普及に伴うネットワークへのアクセス手段の高速化により、バックボーンネットワークに流入するトラヒックは着実に増加している。一方、増加するトラヒックを処理するルータやスイッチは、年々高速化されてギガビット領域に達しようとしている。このようなバックボーンネットワークを経済的に構築するには、波長多重（ＷＤＭ）伝送技術が効果的になっている。
【０００３】
また、リンクの大容量化に加えて、光領域での経路制御（波長ルーチング）の導入により、トラヒックの効率的な転送と一層の経済化を図るために、一部の波長チャネルを分岐・挿入する光アド・ドロップ技術や、任意の波長チャネルの経路を自由に設定できる光クロスコネクト技術の開発が進められている。
【０００４】
このような波長多重ネットワークにおいて、各波長チャネルの劣化量を抑え、各波長チャネルの均一化を図ることは重要な課題である。各波長チャネルの劣化は、伝送路の損失、高パワー領域における非線形光学効果による波形劣化または非線形光学現象を誘起するクロストーク、合分波器その他のデバイスの波長依存性による各波長チャネルのフィルタリング効果など、さまざまな要因により決定される。さらに、40Ｇbit/s を越える高速ネットワークでは、中継区間が長くなると、偏波分散による信号劣化に対して敏感であり、注意深く設計される必要がある。
【０００５】
偏波分散を測定する方法としては、B.L.Heffner によるジョーンズ行列解析法が提案されている（非特許文献１）。この方法は、被測定物の入力側で３つの独立な偏光状態を与え、各入力偏光状態に対する出力偏光状態を測定することにより被測定物のジョーンズ行列Ｔ(η)を求め、さらにその光周波数ηの依存性を測定し、ジョーンズ行列Ｔ(η)を用いた固有値問題の解の光周波数に対する微分をとることにより、被測定物の偏波分散値を算出するものである。
【０００６】
ここで、２行２列の複素行列であるジョーンズ行列は、光の偏光状態を表現する２行１列の複素行列であるジョーンズベクトルＪに対して
Ｊout ＝Ｔ(η)・Ｊin
で決まる行列である。すなわち、入力偏光状態を表すジョーンズベクトルＪinに対して、ジョーンズ行列Ｔ(η)を掛けることにより出力偏光状態を表すジョーンズベクトルＪout となる。このジョーンズ行列は４つの独立なパラメータからなるが、そのうち一次元は損失のパラメータとなるため、実効的には３つのパラメータで規定できる。すなわち、３つの独立な入力偏光状態に対する３つの出力偏光状態を測定することによりジョーンズ行列を求めることができる。具体的例としては、被測定物の入力側で、図１２に示すｘ偏光、ｙ偏光、ｘ，ｙ軸に対する45度偏光の３つの独立な偏光状態を与え、各々の出力偏光状態をポラリメータで測定する。図１３は、各入力偏光状態に対して測定された出力偏光状態を示し、ジョーンズ行列を表すパラメータｋ1 ，ｋ2 ，ｋ3 ，ｋ4 は、
ｋ1 ＝ｈx ／ｈy 、
ｋ2 ＝νx ／νy 、
ｋ3 ＝ｑx ／ｑy 、
ｋ4 ＝(ｋ3−ｋ2)／(ｋ1−ｋ2)
となり、ジョーンズ行列Ｔ(η)は、βを定数として、
【０００７】
【数１】
2005055382.tif 000003
【０００８】
で与えられる。
【非特許文献１】IEEE PHOTONIC TECHNOLOGY LETTERS, VOL.4,NO.9, Sep.1992, pp.1066-1069
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
偏波分散を測定するジョーンズ行列解析法は、その測定原理において光周波数での微分演算を行う方法であり、光周波数の設定精度がそのまま偏波分散の測定精度に影響する。  
【００１０】
一方、従来の光周波数設定手段では、試験光の光周波数をサブＧHz以下の精度で確定することが困難であり、偏波分散を高精度に測定することができなかった。また、マイケルソン干渉計の原理を用いた波長計を利用する場合には、所定の精度は確保できるものの環境温度の変動などの影響を受けやすい問題があった。さらに、試験光の波長を連続的に変化させる構成であっても、偏波分散については順次測定されることになるので、チャネル数分の時間が必要であった。
【００１１】
本発明は、被測定物の偏波分散をジョーンズ行列解析法を用いて極めて高い精度で測定することができる偏波分散測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１に記載の発明は、被測定物の入力偏光状態と出力偏光状態の関係から被測定物のジョーンズ行列を演算し、その結果から被測定物の偏波分散値を演算する偏波分散測定装置において、光周波数間隔ｆでｎ個以上（ｎは２以上の整数）の光周波数成分からなる光周波数コムを発生する光周波数コム発生部と、光周波数コムを入力し、その偏光状態を制御して被測定物に入力する偏波コントローラと、被測定物を通過した光周波数コムからｎ個の光周波数成分を分波する分波器と、分波器で分波された各光周波数成分の偏光状態を測定するｎ個のポラリメータと、偏波コントローラにポアンカレ球上の独立な３つの偏光状態を設定する測定器制御部と、測定器制御部により偏波コントローラで設定される入力偏光状態と、各ポラリメータで測定される各光周波数成分の偏光状態との関係から被測定物のジョーンズ行列を演算し、その結果から被測定物の偏波分散値を演算する演算部とを備える。
【００１３】
また、請求項１に記載の偏波分散測定装置において、ｎ個のポラリメータに代えて、分波器で分波されたｎ個の光周波数成分の１つを選択する光スイッチと、選択された１つの光周波数成分の偏光状態を測定する１つのポラリメータとを備え、演算部は、測定器制御部の制御により光スイッチを切り替えて得られる各光周波数成分の偏光状態を蓄積し、被測定物の偏波分散値を演算する構成としてもよい（請求項２）。さらに、分波器および光スイッチに代えて、被測定物から出力されるｎ個の光周波数成分の１つを透過する波長可変フィルタを備え、演算部は、測定器制御部の制御により波長可変フィルタの透過波長を切り替えて得られる各光周波数成分の偏光状態を蓄積し、被測定物の偏波分散値を演算する構成としてもよい（請求項３）。
【００１４】
また、請求項２に記載の分波器および光スイッチ、または請求項３に記載の波長可変フィルタを被測定物の前段に配置し、選択された１つの光周波数成分を被測定物に入力し、被測定物を通過した光周波数成分をポラリメータに入力する構成としてもよい（請求項４）。
【００１５】
また、請求項２に記載の分波器および光スイッチ、または請求項３に記載の波長可変フィルタを偏波コントローラの前段に配置し、選択された１つの光周波数成分を偏波コントローラを介して被測定物に入力し、被測定物を通過した光周波数成分をポラリメータに入力する構成としてもよい（請求項５）。
【００１６】
以上の偏波分散測定装置における光周波数コム発生部は、繰り返し周波数ｆの光パルスを発生するパルス光源と、繰り返し周波数ｆを保ったまま、光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部とを備える構成としてもよい（請求項６）。
【００１７】
また、光周波数コム発生部は、繰り返し周波数ｆ／Ｍ（Ｍは２以上の整数）の光パルスを発生するパルス光源と、繰り返し周波数ｆ／Ｍを保ったまま、光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆ／Ｍの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部と、ＳＣ光発生部から出力される光周波数コムを間引き、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力する周期性透過フィルタとを備える構成としてもよい（請求項７）。
【００１８】
また、光周波数コム発生部は、繰り返し周波数ｆ／Ｍ（Ｍは２以上の整数）の光パルスを発生するパルス光源と、パルス光源から出力される繰り返し周波数ｆ／Ｍの光パルスを間引き、繰り返し周波数ｆの光パルスを出力する周期性透過フィルタと、繰り返し周波数ｆを保ったまま、光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部とを備える構成としてもよい（請求項８）。
【００１９】
また、光周波数コム発生部は、繰り返し周波数Ｍｆ（Ｍは２以上の整数）の光パルスを発生するパルス光源と、パルス光源から出力される繰り返し周波数Ｍｆの光パルスをＭ分周し、繰り返し周波数ｆの光パルスを出力する分周器と、繰り返し周波数ｆを保ったまま、光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分を生成し、光周波数間隔ｆの光周波数コムとして出力するＳＣ光発生部とを備える構成としてもよい（請求項９）。
【００２０】
また、光周波数コム発生部は、所定の基準光の光ピークとこれに最も近い光周波数コムの光ピークとの光周波数間隔が一定になるように制御する光周波数制御部を含む構成としてもよい（請求項１０）。
【発明の効果】
【００２１】
本発明の偏波分散測定装置は、光周波数コム発生部から出力される光周波数コムを被測定物に入力することにより、被測定物における波長分散を高精度に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の偏波分散測定装置の第１の実施形態を示す。図において、光周波数コム発生部１１で発生する中心光周波数ｆc 、光周波数間隔ｆでｎ個以上の光周波数成分を有する光周波数コムは偏波コントローラ１２に入力され、測定器制御部１３の制御によりｘ偏光、ｙ偏光、ｘ，ｙ軸に対する45度偏光の３つの偏光状態が設定される。この偏光状態に設定された光周波数コムは被測定物１４に入力される。被測定物１４を通過した光周波数コムは、分波器１５によって光周波数コムのｎ個の光周波数成分に分波され、各光周波数成分がポラリメータ１６−１〜１６−ｎに入力され、測定された偏光状態が演算部１７に入力される。
【００２３】
演算部１７は、測定器制御部１３により偏波コントローラ１２で設定される入力偏光状態と、各ポラリメータ１６−１〜１６−ｎで測定される各光周波数成分の出力偏光状態との関係から被測定物１４のジョーンズ行列を演算し、その結果から被測定物１４の偏波分散値を演算する。
【００２４】
例えば、光周波数コム発生部１１で周波数間隔５ＧHzで各々サブＧHzオーダの確度をもつ光周波数コムが生成される場合には、５ＧHzの周波数間隔で被測定物１４のジョーンズ行列を測定可能である。したがって、光周波数での微分演算を行うことにより被測定物の偏波分散を測定するジョーンズ行列解析法により、極めて高精度に被測定物の偏波分散を測定することができる。
【００２５】
また、被測定物１４の波長多重グリッドをｆ′としたときに、分波器１５の分波間隔をｆ（ｆ′＞ｆ、例えばｆ′＝ 200ＧHz、ｆ＝25ＧHz）としてもよい。
【００２６】
（第２の実施形態）
図２は、本発明の偏波分散測定装置の第２の実施形態を示す。本実施形態の特徴は、第１の実施形態の構成において、ｎ個のポラリメータ１６−１〜１６−ｎに代えて、分波器１５で分波されたｎ個の光周波数成分の１つを選択する光スイッチ２１と、光スイッチ２１を介して入力される光周波数成分の偏光状態を測定する１つのポラリメータ２２を備える。測定器制御部２３は、光スイッチ２１の切り替え制御を行い、その切替情報を演算部２４に通知する。演算部２４は、ポラリメータ２２で順次測定された各光周波数成分の偏光状態を蓄積し、被測定物１４の偏波分散を演算する。
【００２７】
（第３の実施形態）
図３は、本発明の偏波分散測定装置の第３の実施形態を示す。本実施形態の特徴は、第２の実施形態の構成において、分波器１５および光スイッチ２１に代えて、被測定物１４から出力されるｎ個の光周波数成分の１つを透過する波長可変フィルタ２５を備え、波長可変フィルタ２５を介して入力される光周波数成分の偏光状態をポラリメータ２２で測定する構成である。測定器制御部２３は、波長可変フィルタ２５の透過波長の切り替え制御を行い、その切替情報を演算部２４に通知する。演算部２４は、ポラリメータ２２で順次測定された各光周波数成分の偏光状態を蓄積し、被測定物１４の偏波分散を演算する。
【００２８】
（第４の実施形態）
図４は、本発明の偏波分散測定装置の第４の実施形態を示す。本実施形態の特徴は、第２の実施形態における分波器１５および光スイッチ２１、あるいは第３の実施形態における波長可変フィルタ２５を被測定物１４の前に配置し、被測定物１４に光周波数コムの１つの光周波数成分を入力し、被測定物１４を通過した光周波数成分の偏光状態をポラリメータ２２で測定する構成である。
【００２９】
（第５の実施形態）
図５は、本発明の偏波分散測定装置の第５の実施形態を示す。本実施形態の特徴は、第２の実施形態における分波器１５および光スイッチ２１、あるいは第３の実施形態における波長可変フィルタ２５を偏波コントローラ１２の前に配置し、被測定物１４に光周波数コムの１つの光周波数成分を入力し、被測定物１４を通過した光周波数成分の偏光状態をポラリメータ２２で測定する構成である。
【００３０】
（光周波数コム発生部１１の第１の構成例）
図６は、光周波数コム発生部１１の第１の構成例を示す。図において、光周波数コム発生部１１は、モードロックパルス光源７１およびＳＣ（スーパーコンティニウム）光発生部（例えば光非線形媒質）７２により構成される。
【００３１】
モードロックパルス光源７１は、光周波数制御部３１から供給される周波数ｆのクロックに同期した繰り返し周波数ｆのモードロック光パルスを発生する。このモードロック光パルスの光周波数スペクトルは、図７(a) のように、光周波数軸上に光周波数間隔ｆで等間隔に並んだ光周波数成分の合成である。このモードロック光パルスをＳＣ光発生部７２に入射すると、図７(b) に示すように、媒質中の光非線形効果によって光周波数間隔ｆを保ったまま、モードロック光パルスの光周波数成分の分布域の外側の広い光周波数領域に新たな光周波数成分が生成される。これらの光周波数成分の位相は、すべて時間領域においてモードロック光パルスに同期している。その結果、上記の各実施形態の光周波数コム発生部１１で発生する光周波数コムの条件を満足する出力光が、ＳＣ光発生部７２から出力されることになる。
【００３２】
ここで、光周波数コムと図示しない基準光を合波することにより、その光周波数スペクトルは図７(c) に示すように、等間隔ｆで配置された光周波数コムの光ピーク間に基準光の光ピークが発生する。このとき、基準光の光ピークとこれに最も近い光周波数コムの光ピークとの光周波数間隔ｆd を常に一定に保つように光周波数制御部１６の制御を実行すれば、光周波数コムに含まれるすべての光周波数成分の光周波数は、基準光に対して常に一定の光周波数間隔を保持することになる。これにより、光周波数コムの各光周波数成分は、基準光と同等の波長確度を有することになる。また、光周波数間隔ｆd をΔｆだけシフトさせるように制御すれば、光周波数コムの各光周波数成分は基準光と同等の波長確度を保ったまま、中心光周波数ｆc をΔｆだけシフトさせることができる。
【００３３】
また、基準光を発生する光源として、アセチレンあるいはシアン等の分子吸収線に対して発振波長をロックした構成の光源を用いることにより、概ね10-7程度の現状の波長計に比べて非常に高い波長確度を実現することができる。
【００３４】
（光周波数コム発生部１１の第２の構成例）
図８は、光周波数コム発生部１１の第２の構成例を示す。図において、光周波数コム発生部１１は、モードロックパルス光源７１、ＳＣ光発生部（例えば光非線形媒質）７２および周期性透過フィルタ７３により構成される。モードロックパルス光源７１、ＳＣ光発生部７２および光周波数制御部３１の関係は、図６に示す第１の実施形態と同様である。本構成例では、モードロックパルス光源７１で繰り返し周波数ｆ／Ｍのモードロック光パルスを発生させ、ＳＣ光発生部７２から出力される光周波数間隔ｆ／Ｍの光周波数コムを周期性透過フィルタ７３で間引き、光周波数間隔ｆの光周波数コムに変換する。
【００３５】
（光周波数コム発生部１１の第３の構成例）
図９は、光周波数コム発生部１１の第３の構成例を示す。図において、光周波数コム発生部１１は、モードロックパルス光源７１、周期性透過フィルタ７３およびＳＣ光発生部（例えば光非線形媒質）７２により構成される。本構成例は、図８に示す第２の構成例おけるＳＣ光発生部７２と周期性透過フィルタ７３の順番を入れ替えたものである。モードロックパルス光源７１から出力される繰り返し周波数ｆ／Ｍのモードロック光パルスを周期性透過フィルタ７３で間引き、光周波数間隔ｆのモードロック光パルスをＳＣ光発生部７２に入射する。これにより、光周波数間隔ｆの光周波数コムが生成される。
【００３６】
（光周波数コム発生部１１の第４の構成例）
図１０は、光周波数コム発生部１１の第４の構成例を示す。図において、光周波数コム発生部１１は、モードロックパルス光源７１、分周器７４およびＳＣ光発生部（例えば光非線形媒質）７２により構成される。
【００３７】
光周波数コムは、図１１(a) に示すように、光周波数軸上において光周波数間隔ｆで等間隔に配列される光周波数成分である。これらの光周波数成分の位相はすべて同期しており、図１１(b) に示すようにそれぞれの光周波数成分の位相がある瞬間にすべて一致する関係にある。各光周波数成分の光周波数間隔がｆであるため、時間軸上では１／ｆの周期で光周波数成分の位相の一致が観測され、かつこの瞬間にすべての光周波数成分が互いに強め合って大きなパワーとなる。したがって、光周波数コム発生部１１で発生する光周波数コムを時間軸上で観測すると、図１１(c) に示すように、１／ｆの時間間隔で非常に幅の狭いパルス光となる。
【００３８】
本構成例では、モードロックパルス光源７１から出力される繰り返し周波数Ｍｆ（例えば25ＧHz）のモードロック光パルスを分周器７４に入力し、時間軸上でパルス光を間引くことにより繰り返し周波数ｆ（例えば５ＧHz）のモードロック光パルスとし、これをＳＣ光発生部７２に入射することにより、光周波数間隔ｆの光周波数コムが生成される。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の偏波分散測定装置の第１の実施形態を示す図。
【図２】本発明の偏波分散測定装置の第２の実施形態を示す図。
【図３】本発明の偏波分散測定装置の第３の実施形態を示す図。
【図４】本発明の偏波分散測定装置の第４の実施形態を示す図。
【図５】本発明の偏波分散測定装置の第５の実施形態を示す図。
【図６】光周波数コム発生部１１の第１の構成例を示す図。
【図７】光周波数コム発生部１１の各部の光スペクトルを示す図。
【図８】光周波数コム発生部１１の第２の構成例を示す図。
【図９】光周波数コム発生部１１の第３の構成例を示す図。
【図１０】光周波数コム発生部１１の第４の構成例を示す図。
【図１１】光周波数コム発生部１１の発生する光周波数コムの特徴を示す図。
【図１２】偏波コントローラで設定する入力偏光状態を示す図。
【図１３】ポラリメータで測定される各光周波数成分の偏光状態を示す図。
【符号の説明】
【００４０】
１１  光周波数コム発生部
１２  偏波コントローラ
１３，２３  測定器制御部
１４  被測定物
１５  分波器
１６，２２  ポラリメータ
１７，２４  演算部
２１  光スイッチ
２５  波長可変フィルタ
３１  光周波数制御部
７１  モードロックパルス光源
７２  ＳＣ光発生部
７３  周期性透過フィルタ
７４  分周器
【図１】
2005055382.tif 000004
【図２】
2005055382.tif 000005
【図３】
2005055382.tif 000006
【図４】
2005055382.tif 000007
【図５】
2005055382.tif 000008
【図６】
2005055382.tif 000009
【図７】
2005055382.tif 000010
【図８】
2005055382.tif 000011
【図９】
2005055382.tif 000012
【図１０】
2005055382.tif 000013
【図１１】
2005055382.tif 000014
【図１２】
2005055382.tif 000015
【図１３】
2005055382.tif 000016