(57)【要約】    【課題】  感光体の絶対電位プロファイルの測定に際して、高解像度化及び高速化の両方を実現することが可能な画像形成装置を提供する。    【解決手段】  感光体１１０２に対向する位置に配置された透明電極１０８を介して、検知レーザ光照射ユニット１０５により検知レーザ光１０７を照射し、透明電極１０８に誘導される誘導電流により電位変化量を検知し、又、別に配置した表面電位センサ１１０１で感光体１１０２の表面電位を検知して、両者の検知出力を基に感光体１１０２の表面電位を測定する。【選択図】      図１
2005346014.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置本体に設けられた感光体と、
前記感光体を帯電する帯電手段と、
前記感光体の第１所定位置に光を照射する光照射手段と、
前記感光体上に前記光照射手段により光を照射する際に前記第１所定位置に設けた透明電極を介して誘導される誘導電流により電位変化量を検知する電位変化量検知手段と、
前記感光体の第２所定位置に配置され且つ前記感光体の表面電位を検知する表面電位検知手段と
を備えたことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像形成装置と、前記画像形成装置の電位変化量検知手段の出力と、前記画像形成装置の表面電位検知手段の出力とを用いて前記感光体の表面電位を測定する制御手段を有することを特徴とする電位プロファイル測定装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記電位変化量検知手段の出力と前記表面電位検知手段の出力との比を求めて測定することを特徴とする請求項２に記載の電位プロファイル測定装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記電位変化量検知手段の出力と前記表面電位検知手段の出力との差を求めて測定することを特徴とする請求項２に記載の電位プロファイル測定装置。
【請求項５】
前記電位変化量検知手段は、前記感光体の主走査方向のプロファイル測定を行うことを特徴とする請求項２に記載の電位プロファイル測定装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記感光体の主走査方向のプロファイル測定を複数回繰り返すことにより、前記感光体表面全体のプロファイル測定を行うことを特徴とする請求項２に記載の電位プロファイル測定装置。
【請求項７】
装置本体に設けられた感光体を帯電する帯電工程と、
前記感光体に対して光を照射する光照射工程と、
前記光照射工程により光を照射する際に前記感光体に対向する位置に配置された透明電極を介して誘導される誘導電流により電位変化量を検知する電位変化量検知工程と、
前記感光体の表面電位を検知する表面電位検知工程と、
前記電位変化量検知工程の出力と前記表面電位検知工程の出力とを用いて前記感光体の表面電位を測定する測定工程を備えたことを特徴とする電位プロファイル測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置、電位プロファイル測定装置、及び電位プロファイル測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置である電子写真装置の感光体等の表面電位プロファイルを非接触で測定する表面電位計としては、所謂チョッパー方式の電位計と容量変動方式の電位計等の電位センサが主に知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特に、ここではチョッパー方式の電位センサについて述べる。
【０００４】
チョッパー方式の電位センサは、測定対象物と測定電極との間に導電性の振動物体を配置し、この振動物体による測定電極への電気力線の入射量を増減させて、測定対象物の電界強度を測定するものである。
【０００５】
また、容量変動方式の電位センサは、測定電極自体を物理的に振動させ、この測定電極と測定対象物体との間の電界分布を変化させて、電界強度を測定するものである。
【０００６】
また、チョッパー方式及び容量変動方式の両方式とも、信号受信処理に関しては、同様の内容となっている。
【０００７】
図８は、チョッパー方式の電位センサの概略構成を示す図である。同図において、８００は測定対象物、８０１は測定電極で、測定対象物８００からの電気力線を受けるものである。８０２は音叉型振動子で、測定対象物８００から測定電極８０１へ入射する電気力線をＡ方向に振動してチョッピングするものである。８０３は増幅素子で、測定電極８０１に誘起される微小交流信号をインピーダンス変換して増幅するためのものである。８０４は圧電素子で、音叉型振動子８０２に振動を与えるものである。
【０００８】
また、８０５は回路基板、８０６は接続コネクタで、圧電素子８０４への駆動信号、測定電極８０１からの受信信号及び電源を入出力するためのものである。８０７は電気力線で、測定対象物８００から測定電極８０１へＢ方向に入射するものである。８０８はシールドケースで、回路基板８０５を収納するものである。
【０００９】
図９は、回路基板８０５上に構成されたインピーダンス変換回路の概略構成を示すブロック図であり、同図において、図８と同一部分には同一符号が付してある。
【００１０】
図９において、８０１は測定電極、８０３は増幅素子、９０１は入力側の抵抗、９０２，９０３は出力側の抵抗である。
【００１１】
ここでは、入力側の抵抗９０１を、例えば、１００ＭΩとして増幅素子８０３にＦＥＴ（Ｆｉｅｌｄ  Ｅｆｆｅｃｔ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｅｒ）を用いたソースフォロワ回路によりインピーダンス変換を行っている。また、出力側の抵抗９０２，９０３は、例えば、それぞれ１００Ω、２０ＫΩとしている。
【００１２】
なお、これらの抵抗９０１〜９０３等の部品は、図８の回路基板８０５上に印刷されるか、或いはディスクリートチップ部品で半田付けされた構成となっている。
【００１３】
図１０は、チョッパー方式の電位センサの外形を示す斜視図であり、同図において、図８と同一部分には同一符号が付してある。
【００１４】
図１０に示すように、回路基板８０５は、シールドケース８０８に収容されており、また、このシールドケース８０８の側面には、接続コネクタ８０６が配置され、更に、シールドケース８０８の前面には、測定用窓（開口部）１０００が設けられている。
【００１５】
次に、上記構成の電位センサの動作について説明する。
【００１６】
まず、外部から供給される圧電素子駆動信号により圧電素子８０４及び音叉型振動子８０２が共鳴状態となり、機械振動が生じる。その結果、測定対象物８００からシールドケース８０８の測定用窓１０００を通過して測定電極８０１に入射する電気力線の量が、その音叉型振動子８０２の振動に合わせて増減する。これにより、測定電極８０１と図８に示す入力側の抵抗９０１に微弱な交流誘導電流が発生し、これが電圧信号として増幅素子８０３であるＦＥＴのゲートに印加される。
【００１７】
このとき、ＦＥＴ回路は、上述のようにソースフォロワ回路となっているので、増幅度１のインピーダンス変換が行われ、ＦＥＴ８０３のソースより電圧信号が出力される。そして、この信号が接続コネクタ８０６を介して外部の信号処理回路（図示せず）に転送され、その後の処理が行われ、測定対象物８００の表面電位が検出される。
【００１８】
図１１は、このようなチョッパー方式の電位センサを用いた画像形成装置における内部構造について、画像形成プロセスに係わる主要要素を概略的に示す図である。
【００１９】
図１１において、１１０１は電位センサ、１１０２は感光体（感光ドラム）、１１０３は１次高圧電源、１１０４は１次帯電器、１１０５はレーザ光、１１０６は現像器、１１０７は記録用紙、１１０８は転写帯電器、１１０９は転写高圧電源、１１１０は分離帯電器、１１１１は分離高圧電源、１１１２は定着器、１１１３はクリーナ、１１１４はＣＰＵ（中央処理装置）で、画像形成装置全体制御するものである。
【００２０】
上記構成において、１次高圧電源１１０３で数ｋＶの高圧が発生され、１次帯電器１１０４に供給される。よって、感光体１１０２の表面電位は、数１００Ｖに一様に帯電される。その後、感光体１１０２上に原稿に対応したレーザ光（レーザ光とは限らない）１１０５が照射され、感光体１１０２上に静電潜像が形成される。
【００２１】
次に、現像器１１０６が、その内部に備蓄したトナーを用い、この静電潜像に対応するトナー画像を形成する（トナー現像を行う）。次に、転写高圧電源１１０９が転写帯電器１１０８に高電圧を印加し、記録用紙１１０７をその裏面から帯電させる。すると、感光体１１０２上に形成されたトナー像が記録用紙１１０７に引きつけられて転写される。
【００２２】
その後、分離高圧電源１１１１からＡＣ＋ＤＣの高圧が分離帯電器１１１０に印加され、転写時に帯電された電荷を除電することにより、感光体１０２から記録用紙１１０７を分離させる。そして、トナー画像が転写された記録用紙１１０７を定着器１１１２に通し、熱定着され、排紙される。感光体１１０２上に付着したトナー残り等をクリーナ１１１３で除去する。
【００２３】
次に、電位センサ１１０１からの信号を用いて行う電位制御について説明する。
【００２４】
電位センサ１１０１からの信号に基づく各画像形成プロセス部の制御を電位制御という。この電位制御は、通常、コピーシーケンス前、例えば、ウォームアップ時等にＣＰＵ１１１４を通じて実行される。
【００２５】
電位制御の実行に際してＣＰＵ１１１４は、先ず、１次高圧電源１１０３から発生される高圧を１次帯電器１１０４に供給し、感光体１１０２の表面を一様に数１００Ｖ（例えば、５００Ｖ；通常は、これがコピーの暗部電位になる。）の電位にし、この電位を電位センサ１１０１で読み取り、この電位が所定値（ここでは５００Ｖ）になるように、１次高圧電源１１０３の出力を図示しない制御線にて制御する。
【００２６】
この他にも、電位センサ１１０１からの信号によって、各画像形成プロセス部を制御する。電位制御には、レーザ光１１０５の光量を制御する露光制御、現像器１１０６内に備わるスリーブに印加する現像バイアス高圧を制御する現像制御、転写高圧電源１１０９の出力を制御する転写制御等がある。
【００２７】
次に、電位センサ１１０１からの信号処理動作について、図１２を用いて説明する。
【００２８】
図１２は、上記構成から成る画像形成装置に備えられた電位センサ信号処理系の概略結線図であり、同図において、図１１と同一部分には同一符号が付してある。
【００２９】
図１２において、１１０１は電位センサ、１１０２は感光体、１１１４はＣＰＵ、１２０１はセンサ制御基板で、電位センサ１０１からの微小信号を増幅してアナログの数Ｖの通常レベルの信号に変換するものである。１２０２は増幅手段（ＡＭＰ）で、センサ制御基板１２０１からの信号をデジタル信号処理系の信号レベルに合わせて増幅して伝達するためのものである。１２０３はＡ／Ｄ変換器で、増幅手段１２０２からのアナログ信号をデジタル信号に変換するものである。
【００３０】
そして、感光体１１０２の主走査方向における電位プロファイルを測定する方法としては、図１３に示すように、電位センサを主走査方向に移動させて測定する方法と、図１４に示すように、電位センサを主走査方向に複数個並べて測定する方法が知られている。
【００３１】
図１３において、１３０１は感光体（感光ドラム）、１３０２は一次帯電器で、感光体１３０１を帯電させるものである。１３０３は帯電ワイヤ、１３０４は電位センサで、感光体１３０１の表面電位を測定するものである。１３０５は電位センサ１３０４を取り付けるための電位センサ取り付け装置、１３０６は電位センサ１３０４を主走査方向に移動させる駆動軸、１３０７はモータドライバ（モータ制御回路）で、モータを制御し電位センサ１３０４を左右に移動させるものである。
【００３２】
また、図１４において、１４０１は感光体（感光ドラム）、１４０２は電位センサである。
【００３３】
ところで近年、装置の高画質化、高速化への要求が高まるにつれ、電位プロファイル測定の高解像度化及び電位プロファイル測定の高速化が要求されるようになってきた。
【特許文献１】特公平３−６４６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３４】
しかしながら、上述したような従来の表面電位センサにあっては、応答スピードに限界があり、更に構成上の制約からくる高解像度化にも限界があるため、感光体全領域のプロファイル測定を行うのに必ずしも十分とは言えなかった。
【００３５】
本発明は、上記のような従来技術の有する問題点に着目してなされたもので、その目的は、感光体の絶対電位プロファイルの測定に際して、高解像度化及び高速化の両方を実現することが可能な画像形成装置、電位プロファイル測定装置、及び電位プロファイル測定方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００３６】
上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、装置本体に設けられた感光体と、前記感光体を帯電する帯電手段と、前記感光体の第１所定位置に光を照射する光照射手段と、前記感光体上に前記光照射手段により光を照射する際に前記第１所定位置に設けた透明電極を介して誘導される誘導電流により電位変化量を検知する電位変化量検知手段と、前記感光体の第２所定位置に配置され且つ前記感光体の表面電位を検知する表面電位検知手段とを備えたことを特徴とする。
【００３７】
又、上記目的を達成するため、本発明の電位プロファイル測定装置は、本発明の画像形成装置と、前記画像形成装置の電位変化量検知手段の出力と、前記画像形成装置の表面電位検知手段の出力とを用いて前記感光体の表面電位を測定する制御手段を有することを特徴とする。
【００３８】
更に、上記目的を達成するため、本発明の電位プロファイル測定方法は、感光体を帯電する帯電工程と、前記感光体に対して光を照射する光照射工程と、前記光照射工程により光を照射する際に前記感光体に対向する位置に配置する透明電極を介して誘導される誘導電流により電位変化量を検知する電位変化量検知工程と、前記感光体の表面電位を検知する表面電位検知工程と、前記電位変化量検知工程の出力と前記表面電位検知工程の出力とを用いて前記感光体の表面電位を測定する測定工程を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００３９】
本発明によれば、感光体の絶対電位プロファイルの測定に際して、高解像度化及び高速化の両方を実現することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００４１】
但し、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置等は、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
【００４２】
本発明の特徴は、装置本体に設けられた感光体を帯電し、前記感光体に対向する位置に配置された透明電極を介して前記感光体に対して光を照射する際に前記透明電極に誘導される誘導電流により電位変化量を検知すると共に、前記感光体の表面電位を別のセンサで検知することにある。
【００４３】
また、本発明の特徴は、本発明の画像形成装置と、前記画像形成装置の電位変化量検知手段の出力と、前記画像形成装置の表面電位検知手段の出力とを用いて前記感光体の表面電位を測定することである。
【００４４】
また、本発明の特徴は、前記電位変化量検知手段の出力と、前記表面電位検知手段の出力との比を求めて測定する。
【００４５】
また、本発明の特徴は、前記電位変化量検知手段の出力と、前記表面電位検知手段の出力との差を求めて測定する。
【００４６】
また、本発明の特徴は、前記感光体の主走査方向のプロファイル測定を行うことである。
【００４７】
更に、本発明の特徴は、前記感光体の主走査方向のプロファイル測定を複数回繰り返すことにより、前記感光体表面全体のプロファイル測定を行うことである。
【００４８】
（第１の実施の形態）
まず、第１の実施の形態を、図１乃至図５に基づき説明する。
【００４９】
図１は、本実施の形態に係る電位プロファイル測定装置を備えた画像形成装置の概略構成を示す図であり、同図において、図１１と同一部分には、同一符号が付してある。
【００５０】
図１において、１１０１は電位センサ、１１０２は感光体（感光ドラム）、１１０３は１次高圧電源、１１０４は１次帯電器、１１１４はＣＰＵ（中央処理装置）、１０１，１０２は増幅器で、入力される信号を処理系の信号レベルに合わせて増幅して伝達するためのものである。１０３，１０４はＡ／Ｄ変換器で、増幅器１０１，１０２からのそれぞれのアナログ信号をデジタル信号に変換するものである。１０５は検知レーザ光照射ユニット、１０６は位置センサ、１０７は検知レーザ光、１０８は透明電極である。
【００５１】
位置センサ１０６は、周知の技術で、例えば、感光体１１０２の回りに等間隔でマーカ（図示せず）等を設けて、そのマーカの数を計数して、位置を検知するものである。
【００５２】
上記構成において、１次高圧電源１１０３で数ｋＶの高圧が発生され、１次帯電器１１０４に供給される。よって、感光体１１０２の表面電位は、数１００Ｖに一様に帯電される。その後、感光体１１０２上に検知レーザ光（レーザ光とは限らず、ＬＥＤ等でも良い）１０７が透明電極１０８を介して所定方向又は主走査方向に照射される。このとき、透明電極１０８には、表面電位の変化量に応じた誘導電流が流れる。この誘導電流を増幅器１０１で検出し、Ａ／Ｄ変換器１０３を介して、ＣＰＵ１１１４において処理することで、所定位置又は主走査方向の相対的な電位プロファイルを測定する。
【００５３】
また、電位センサ１１０１を用いて、感光体１１０２上の絶対的な表面電位を測定する。この電位センサ１１０１は、透明電極１０８と異なった場所に配置すると、感光体１１０２の暗減衰特性により、表面電位が変化してしまうので、近接して配置することが好ましい。しかしながら、構成上困難な場合は、その暗減衰による電位の変化を補正することで、それを補うことは可能である。
【００５４】
そして、位置センサ１１０１からの位置データと、透明電極１０８の相対的な電位プロファイル、感光体１１０２の所定位置の表面電位を用いることで、感光体１１０２の表面電位プロファイルの検知ができ、又、透明電極の主走査方向の相対的な電位プロファイルを用いることで、感光体１１０２の１周分のプロファイルを測定でき、感光体１１０２の表面全域の電位プロファイルの検知を行うことが可能となる。
【００５５】
図２は、透明電極方式の電位プロファイル測定の原理を示す図であり、同図において、図１と同一部分には同一符号が付してある。
【００５６】
図２において、１０１は増幅器（オペアンプ）、１０７は検知レーザ光、１０８は透明電極、１１０２は感光体、２０１はガード、２０２はコンデンサ（ｃ）である。
【００５７】
一次帯電器１１０４により帯電された感光体１１０２に対向して透明電極１０８を配置すると、感光体１１０２の表面と透明電極１０８との間には、擬似的な容量成分（コンデンサ）２０２が形成される。このとき、感光体１１０２に検知レーザ光照射ユニット１０５から検知レーザ光１０７を照射することにより、感光体１１０２の表面電位は減衰し、透明電極１０８との間の電気容量が変化する。このとき、透明電極１０８には、容量変化、即ち、表面電位の変化量に対応した誘導電流が流れることになる。よって、この誘導電流を、増幅器（オペアンプ）１０１を介して測定する。
【００５８】
図３は、感光体１１０２の表面電位と誘導電流の相関関係を示した図であり、同図において、縦軸は誘導電流、横軸は表面電位変化量である。
【００５９】
この図３に示すような相関関係を利用することにより、検知した誘導電流から表面電位を算出することが可能となる。図３の真中の直線が電位センサ１１０１の絶対表面電位であり、その両側の直線が透明電極１０８の有る条件による測定結果を示す。
【００６０】
電位センサ１１０１によって絶対表面電位を測定し（所定位置の周方向の絶対電位データ）、透明電極１０８による表面電位の測定結果（長手方向の相対電位データ）を組み合わせることによって、表面電位プロファイルを検出することが出来る。
【００６１】
即ち、これらの相関関係は、感光体１１０２の表面と透明電極１０８の擬似的な容量成分（コンデンサ）２０２（図２参照）に左右される。つまり、透明電極１０８と感光体１１０２の表面の距離や、透明電極１０８の面積によって、この容量成分が変化してしまい、表面電位の変化量に対応した誘導電流が変化してしまう。
【００６２】
例えば、誘導電流が４の場合、そのときの表面電位が４００Ｖのときもあれば８００Ｖのときも十分考えられる。そこで、電位センサ１１０１の同一箇所での表面電位測定値と、透明電極１０８による表面電位測定値との比によって、絶対的な感光体１１０２の表面全域の電位プロファイルの検知を行うことが可能となる。
【００６３】
次に、主走査方向の電位プロファイルの測定について、図４を用いて説明する。
【００６４】
図４は、単一の透明電極１０８を感光体１１０２の主走査方向に対向して配置した状態を示す図である。
【００６５】
図４に示すように、単一の透明電極１０８を感光体１１０２の主走査方向に対向して配置し、検知レーザ光１０７で主走査方向に走査することにより、透明電極１０８に流れる誘導電流の時間に対する変化を測定することにより、主走査方向の相対的な電位プロファイルを測定することが可能となる。
【００６６】
図５は、このときの主走査方向の電位プロファイルと電位センサ１１０１による絶対値及びその組合せによる絶対値電位プロファイルを示したものであり、同図において、縦軸は電位変化量、横軸は感光体１１０２上の距離である。
【００６７】
図５の下の曲線が主走査方向の電位プロファイル、上の曲線上の○印が電位センサ１１０１による出力（電位センサは１ポイント）で、上の曲線の組合せによる絶対電位プロファイルは、例えば、図５の横軸位置１００に電位センサ１１０１があると、その出力と、電位センサ１１０１の位置に相当する透明電極１０８の出力との比をＣＰＵ１１１４で演算し、電位センサ１１０１の位置以外（例えば横軸位置１５０とか）の透明電極１０８の主走査方向の補正も同様に同じ比率を用いてＣＰＵ１１１４で補正する。
【００６８】
よって、この主走査方向の絶対電位プロファイル測定を、感光体１１０２の１周分繰り返すことで、感光体１１０２の全域の電位プロファイルの測定が可能となる。
【００６９】
以上のように、本実施の形態に係る電位プロファイル測定装置及びこの装置を備えた画像形成装置によれば、透明電極方式を用いて電位プロファイルを測定することにより、測定の高速化、高解像度化、高精度化が可能となる。
【００７０】
（第２の実施の形態）
次に、第２の実施の形態について、図６及び図７に基づき説明する。
【００７１】
図６は、本実施の形態に係る電位プロファイル測定装置を備えた画像形成装置の概略構成を示す図であり、同図において、図１及び図１１と同一部分には、同一符号が付してある。
【００７２】
図６において、１１０１は電位センサ、１１０２は感光体、１１０３は１次高圧電源、１１０４は１次帯電器、１１０５はレーザ光、１１０６は現像器、１１０７は記録用紙、１１０８は転写帯電器、１１０９は転写高圧電源、１１１０は分離帯電器、１１１１は分離高圧電源、１１１２は定着器、１１１３はクリーナ、１１１４はＣＰＵ（中央処理装置）、１０１，１０２は増幅器、１０３，１０４はＡ／Ｄ変換器、１０５は検知レーザ光照射ユニット、１０６は位置センサ、１０７は検知レーザ光、１０８は透明電極、６０１は露光ユニット、６０２は露光制御手段で、露光ユニット６０１の光量を制御するものである。
【００７３】
上記構成において、１次高圧電源１１０３で数ｋＶの高圧が発生され、１次帯電器１１０４に供給される。よって、感光体１１０２の表面電位は、数１００Ｖに一様に帯電される。その後、感光体１１０２上に原稿に対応したレーザ光（レーザ光とは限らない）１１０５が照射され、感光体１１０２上に静電潜像が形成される。次に、現像器１１０６が、その内部に備蓄したトナーを用いて、この静電潜像に対応するトナー画像を形成する（トナー現像を行う）。次に、転写高圧電源１１０９が転写帯電器１１０８に高電圧を印加し、記録用紙１１０７をその裏面から帯電させる。すると、感光体１１０２上に形成されたトナー像が記録用紙１１０７に引きつけられ転写される。
【００７４】
その後、分離高圧電源１１１１からＡＣ＋ＤＣの高圧が分離帯電器１１１０に印加され、転写時に帯電された電荷を除電することにより、感光体１１０２から記録用紙１１０７を分離させる。そして、トナー画像が転写された記録用紙１１０７を定着器１１１２に通し、熱定着され、排紙される。感光体１１０２上に付着したトナー残り等をクリーナ１１１３で除去する。
【００７５】
次に、透明電極１０８からの信号を用いて行う電位プロファイル測定について説明する。
【００７６】
この電位プロファイル測定は、通常、コピーシーケンス前、例えば、装置のウォームアップ時等に、制御装置のＣＰＵ１１１４を通じて実行される。
【００７７】
上記構成において、１次高圧電源１１０３で数ｋＶの高圧が発生され、１次帯電器１１０４に供給される。よって、感光体１１０２の表面電位は、数１００Ｖに一様に帯電される。その後、感光体１１０２上に検知レーザ光照射ユニット１０５から検知レーザ光（レーザ光とは限らず、ＬＥＤ等でも良い）１０７が透明電極１０８を介して所定方向又は主走査方向に照射される。このとき、透明電極１０８には、表面電位の変化量に応じた誘導電流が流れる。この誘導電流を増幅器１０１で検出し、Ａ／Ｄ変換器１０３を介して、ＣＰＵ１１１４において処理することで、所定位置又は主走査方向の相対電位プロファイルを測定する。また、電位センサ１１０１によって、透明電極１０８に限りなく近い場所での感光体１１０２の表面電位を測定する。
【００７８】
そして、位置センサ１０６からの位置データ、透明電極１０８の主走査方向の相対電位プロファイル、電位センサ１１０１の所定箇所の絶対表面電位、透明電極１０８による測定箇所と電位センサ１１０１による測定箇所の差によって生じる感光体１１０２の暗減衰特性を基に、透明電極１０８の主走査方向のプロファイルを測定し、これらを副走査方向に繰り返して感光体１１０２の１周分のプロファイルを測定することによって、感光体１１０２の表面全域の電位プロファイルの測定を行い、図示しないメモリに感光体１１０２の全領域プロファイルデータを格納する。
尚、透明電極１０８の主走査方向のプロファイルは、所定箇所の電位センサ１１０１と、電位センサ１１０１に相当する位置の透明電極１０８との差をＣＰＵ１１１４で測定し、この差を用いて電位センサ１１０１以外の位置に相当する主走査方向の透明電極１０８の出力をもＣＰＵ１１１４で補正する。
【００７９】
そして、得られた電位プロファイルと位置センサ１０６からの感光体１１０２の位置データに基づいて、レーザ光１１０５の光量をリアルタイムに制御する露光制御を行って、画像形成動作を実行する。例えば、感光体１１０２のある副走査位置での、主走査方向の電位プロファイルが図５に示す状態の場合には、図７に示すように、レーザ光１１０５の光量を主走査方向に変化させる。
【００８０】
また、主走査方向の電位プロファイルは、感光体１１０２の副走査位置によって異なるため、副走査ライン毎に主走査方向の電位プロファイルに基づいて、レーザ光１１０５の光量を変化させることは言うまでもない。
【００８１】
このような透明電極方式を用いた電位プロファイル測定装置を画像形成装置に備えることにより、電位プロファイル測定の高速化及び高解像度化、高精度化が可能となるので、高画質な画像を提供することが可能となる。
【００８２】
以上説明したように、本実施の形態に係る電位プロファイル測定装置及びこの装置を備えた画像形成装置によれば、透明電極方式を用いて電位プロファイルを測定することにより、測定の高速化、高解像度化、高精度化が可能となる。
【００８３】
（その他の実施の形態）
以上が本発明の実施の形態の説明であるが、本発明は、これら実施の形態に限られるものではなく、特許請求の範囲で示した機能、または実施の形態の構成が持つ機能を達成できる構成であれば、どのようなものであっても適用可能である。
【００８４】
また、本発明の目的は、前述した実施の形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体を、システム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が本発明の新規な機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体及びプログラムは本発明を構成することになる。
【００８５】
また、プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。
【００８６】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施の形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ（オペレーティングシステム）等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施の形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【００８７】
更に、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施の形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】第１の実施の形態に係る電位プロファイル測定装置を備えた画像形成装置の概略構成を示す図である。
【図２】透明電極方式の電位プロファイル測定の原理を示す図である。
【図３】感光体の表面電位と誘導電流の相関関係を示す図である。
【図４】単一の透明電極を感光体の主走査方向に対向して配置した構成を示す図である。
【図５】主走査方向の電位プロファイルを示す図である。
【図６】第２の実施の形態に係る電位プロファイル装置を備えた画像形成装置の概略構成を示す図である。
【図７】主走査方向におけるレーザ光量（補正後）を示す図である。
【図８】従来のチョッパー方式の表面電位センサの概略構成を示す図である。
【図９】従来のチョッパー方式の表面電位センサにおけるインピーダンス変換回路の概略構成を示すブロック図である。
【図１０】従来のチョッパー方式の電位センサの外形を示す斜視図である。
【図１１】従来のチョッパー方式の電位センサを用いた画像形成装置の内部構造を示す図である。
【図１２】従来のチョッパー方式の電位センサ信号処理系の概略結線図である。
【図１３】従来のチョッパー方式の電位センサを主走査方向に移動させて測定する方法を示す図である。
【図１４】従来のチョッパー方式の電位センサを主走査方向に複数個並べて測定する方法を示す図である。
【符号の説明】
【００８９】
１０５    検知レーザ光照射ユニット（光照射手段）
１０７    検知レーザ光
１０８    透明電極
１１０１  電位センサ、
１１０２  感光体（感光ドラム）
１１０４  １次帯電器（帯電手段）
１１０５  レーザ光
１１１４  ＣＰＵ（中央処理装置、電位変化量検知手段、表面電位検知手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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