(57)【要約】【課題】測定値に影響を及ぼす温度以外の環境変化においても、その測定値を補正可能なＡＤ変換方法および装置を提供する。【解決手段】基準測定物１０２を基準となる環境下でＡＤ変換した値と、基準測定物１０２を実際の動作環境下でＡＤ変換した値との差分である、環境変化による誤差を求める。実測定物１０１をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に前記誤差を加算して、補正を行う。基準測定物１０２を、基準となる環境下および実際の動作環境下でＡＤ変換器１０５に接続しＡＤ変換させる。基準測定物１０２を基準となる環境下と実際の動作環境下とでＡＤ変換した値の差分である、環境変化による誤差を求める。実測定物１０１をその実際の動作環境下でＡＤ変換器１０５に接続しＡＤ変換させる。実測定物１０１をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に前記誤差を加算して、補正を行う。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準測定物を基準となる環境下でＡＤ変換した値と、前記基準測定物を実際の動作環境下でＡＤ変換した値との差分である、環境変化による誤差を求め、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に前記誤差を加算して補正を行うことを特徴とするＡＤ変換方法。
【請求項２】
複数の基準測定物についてそれぞれ環境変化による誤差を求め、前記複数の基準測定物のうち、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に近い値となるＡＤ変換値となるものについての環境変化による誤差を用いて、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値の補正を行うことを特徴とする請求項１記載のＡＤ変換方法。
【請求項３】
複数の基準測定物についてそれぞれＡＤ変換値を求めるとともにそれぞれ環境変化による誤差を求めることで、前記ＡＤ変換値と誤差にもとづく補正値との関係を予め求めておき、前記関係にもとづき、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値についての補正値を求めて、その補正を行うことを特徴とする請求項１記載のＡＤ変換方法。
【請求項４】
実測定物として測定装置を用いるとともに、基準測定物として、コンデンサとコイルと抵抗との少なくともいずれかを用いることを特徴とする請求項１から３までのいずれか１項記載のＡＤ変換方法。
【請求項５】
ＡＤ変換器と、
基準測定物を基準となる環境下で前記ＡＤ変換器に接続しＡＤ変換させるとともに、前記基準測定物を実際の動作環境下で前記ＡＤ変換器に接続しＡＤ変換させる第１の接続手段と、
前記基準測定物を基準となる環境下と実際の動作環境下とでＡＤ変換した値の差分である、環境変化による誤差を求める手段と、
実測定物をその実際の動作環境下で前記ＡＤ変換器に接続する第２の接続手段と、
前記実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に前記誤差を加算して補正を行う手段とを具備することを特徴とするＡＤ変換装置。
【請求項６】
複数の基準測定物と、
前記複数の基準測定物についてそれぞれ環境変化による誤差を求める手段と、
前記複数の基準測定物のうち、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に近い値となるＡＤ変換値となるものについての環境変化による誤差を用いて、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値の補正を行う手段とを具備することを特徴とする請求項５記載のＡＤ変換装置。
【請求項７】
ＡＤ変換器によってそれぞれＡＤ変換される複数の基準測定物と、
前記複数の基準測定物についてそれぞれ環境変化による誤差を求める手段と、
前記複数の基準測定物についてのＡＤ変換値と誤差にもとづく補正値との関係を予め求める手段と、
前記関係にもとづき、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値についての補正値を求めて、その補正を行う手段とを具備することを特徴とする請求項５記載のＡＤ変換装置。
【請求項８】
実測定物が測定装置であるとともに、基準測定物が、コンデンサとコイルと抵抗との少なくともいずれかであることを特徴とする請求項５から７までのいずれか１項記載のＡＤ変換装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はＡＤ変換方法および装置に関し、特に、温度変化や電圧変化や強電界などの外部からの影響による誤差を補正することが可能な高精度のＡＤ変換方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＡＤ変換装置として、温度補償機能を備えた温度補正ＡＤ変換装置が、従来から知られている。例えば特許文献１に記載された温度補正ＡＤ変換装置は、温度センサーを用いて温度変化を検出し、ＡＤ変換値に温度変動分を加算し補正している。
【０００３】
以下、温度変化に応じてＡＤ変換値を補正するための従来の手法について、図面を参照しながら説明する。
図１０は、温度センサーを用いることで、温度変化に応じてＡＤ変換値を補正するようにした、従来のＡＤ変換装置の構成図である。このＡＤ変換装置において、９０１は測定対象物、９０２は測定対象物からの信号を変換するＡＤ変換器、９０３はＡＤ変換装置の温度を測る温度センサー、９０４は温度センサー９０３からの信号を変換するＡＤ変換器、そして９０５は、ＡＤ変換器９０２からの出力すなわち測定信号のＡＤ変換値に、温度センサー９０３の検出結果にもとづくＡＤ変換器９０４からのＡＤ変換値を加算し補正を行う温度補正部である。
【０００４】
以上のように構成された従来技術のハードウェアによるＡＤ変換装置の温度補正について、以下に説明する。まず、測定対象物９０１からの入力をＡＤ変換器９０２にてＡＤ変換すると同時に、温度センサー９０３からの入力をＡＤ変換器９０４にて変換処理する。次に、測定対象物９０１のＡＤ変換値と温度センサー９０３からの信号にもとづくＡＤ変換値とを用い、温度補正部９０５にて温度変化による補正値を加算し、補正後の値を出力することにより、温度変化に対して精度の高いＡＤ変換を実現している。
【０００５】
【特許文献１】
特開平８−１８１６１０号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の技術では、次のような問題があった。
測定装置、たとえば血糖計においてもＡＤ変換を行っており、医療機器であるためＡＤ変換に高精度が求められている。また、ＡＤ変換において測定環境による測定値への影響が無視できなくなっている。そのような環境下で従来の技術では、温度変化に対してのみ補正をかけＡＤ変換値の精度向上を図っている。しかしながら、ＡＤ変換におよぼす環境変化は温度だけではなく、測定計自身の電源電圧変動、強電界など、無視することができないものがある。
【０００７】
そこで本発明は、測定値に影響を及ぼす温度以外の環境変化においても、その測定値を補正可能なＡＤ変換方法および装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため本発明のＡＤ変換方法は、基準測定物を基準となる環境下でＡＤ変換した値と、前記基準測定物を実際の動作環境下でＡＤ変換した値との差分である、環境変化による誤差を求め、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に前記誤差を加算して補正を行うものである。
【０００９】
また本発明のＡＤ変換装置は、ＡＤ変換器と、基準測定物を基準となる環境下で前記ＡＤ変換器に接続しＡＤ変換させるとともに、前記基準測定物を実際の動作環境下で前記ＡＤ変換器に接続しＡＤ変換させる第１の接続手段と、前記基準測定物を基準となる環境下と実際の動作環境下とでＡＤ変換した値の差分である、環境変化による誤差を求める手段と、実測定物をその実際の動作環境下で前記ＡＤ変換器に接続する第２の接続手段と、前記実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に前記誤差を加算して補正を行う手段とを具備するものである。
【００１０】
上記において、環境変化による誤差は、基準測定物に影響した基準環境下からの変動分である。本発明によると、この変動分が、実測定物に及ぼされる影響であると考えて、実測定物のＡＤ変換値に補正量を加算することにより、環境変化分の補正を行うことができ、精度の高いＡＤ変換値を得ることができる。
【００１１】
本発明の方法によると、複数の基準測定物についてそれぞれ環境変化による誤差を求め、前記複数の基準測定物のうち、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に近い値となるＡＤ変換値となるものについての環境変化による誤差を用いて、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値の補正を行うことが好適である。
【００１２】
また本発明の装置によると、複数の基準測定物と、前記複数の基準測定物についてそれぞれ環境変化による誤差を求める手段と、前記複数の基準測定物のうち、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値に近い値となるＡＤ変換値となるものについての環境変化による誤差を用いて、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値の補正を行う手段とを具備することが好適である。
【００１３】
したがって本発明によると、たとえば実測定物が測定装置である場合には、製品出荷時に一定の基準環境下で複数の基準測定物のＡＤ変換値を記憶させておく。そして、実測定物の測定環境において複数の基準測定物を再度測定し、記憶している複数の基準測定物の基準環境下での測定値との差を求める。この差分すなわち誤差は、実際の測定環境において基準測定物に影響した基準環境下からの変動分である。次に、実測定物についてＡＤ変換した結果に近い値となっている基準測定物についての変動分を、この実測定物についてＡＤ変換した結果に加算することにより、環境変化分の補正を精度よく行うことができる。
【００１４】
本発明の方法によると、複数の基準測定物についてそれぞれＡＤ変換値を求めるとともにそれぞれ環境変化による誤差を求めることで、前記ＡＤ変換値と誤差にもとづく補正値との関係を予め求めておき、前記関係にもとづき、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値についての補正値を求めて、その補正を行うことが好適である。
【００１５】
また本発明の装置によると、ＡＤ変換器によってそれぞれＡＤ変換される複数の基準測定物と、前記複数の基準測定物についてそれぞれ環境変化による誤差を求める手段と、前記複数の基準測定物についてのＡＤ変換値と誤差にもとづく補正値との関係を予め求める手段と、前記関係にもとづき、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値についての補正値を求めて、その補正を行う手段とを具備することが好適である。
【００１６】
このようなものであると、複数の基準測定物についてのＡＤ変換値と誤差にもとづく補正値との関係を予め求めておき、前記関係にもとづき、実測定物をその実際の動作環境下でＡＤ変換した値についての補正値を求めて、その補正を行うものであるため、環境変化分の補正をいっそう精度よく行うことができる。
【００１７】
本発明によると、実測定物が測定装置であるとともに、基準測定物が、コンデンサとコイルと抵抗との少なくともいずれかであることが好適である。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態に係わるＡＤ変換装置であって、１個の基準測定物（実際の測定する物に近い物）を使用した時の補正回路を有するものについての構成図である。図１において、１０１は実際に測定する実測定物、１０２は補正値を得るための基準測定物、１０５はＡＤ変換器、１０３は実測定物１０１とＡＤ変換器１０５とを接続するためのスイッチ、１０４は基準測定物１０２とＡＤ変換器１０５とを接続するためのスイッチ、１０６は基準環境での基準ＡＤ変換値を記憶するメモリである。
【００１９】
基準測定物１０２としては、実測定物１０１に近い物を使用する。たとえば、血糖値の測定においては、コンデンサーが、血糖値の測定により近い基準測定物となる。環境変化が基準測定物１０２に及ぼす変化が、この環境変化が実測定物１０１に及ぼす変化とほぼ同じとなるためである。
【００２０】
次に、図１および図３にもとづき、実際の動作について説明する。まず、基準となる一定の環境を「基準測定環境」と定義する。そして、図３（ａ）に示すように、この基準測定環境下で、基準測定物１０２とＡＤ変換器１０５とを接続するためのスイッチ１０４をＯＮ（ただし、他のスイッチ１０３はＯＦＦ）にする（Ｓ３１０）。そして、基準となるＡＤ変換値を測定して、メモリ１０６に書込む（Ｓ３１１）。
【００２１】
次に、実際の測定環境下では、図３（ｂ）に示すように、まず基準測定物１０２とＡＤ変換器１０５とを接続するためのスイッチ１０４をＯＮ（ただし、他のスイッチ１０３はＯＦＦ）にし（Ｓ３２０）、実際の測定環境における基準測定物１０２のＡＤ変換値を測定する（Ｓ３２１）。そして、メモリ１０６に記憶している基準測定環境での基準測定物１０２のＡＤ変換値と、実際の測定環境で測定した基準測定物１０２のＡＤ変換値とを比較して、補正値を求める（Ｓ３２２）。
【００２２】
次に、実際の測定環境下で、実測定物１０１とＡＤ変換器１０５とを接続するためのスイッチ１０３をＯＮ（ただし、スイッチ１０４はＯＦＦ）にし（Ｓ３２３）、実際の測定環境で実測定物１０１のＡＤ変換値を測定する（Ｓ３２４）。そして、これに上述の補正値を加算することにより、精度の高いＡＤ変換を実現する（Ｓ３２５）。
【００２３】
図２は、図１に示すように１個の基準測定物１０２を使用した時の補正方法を説明する図である。横軸は環境変化を表し、縦軸はＡＤ変換値を表す。ここでは、測定装置を製品として出荷する場合について説明する。図２において、Ａは、測定装置の出荷の際に基準測定環境下で基準測定物１０２を測定したときのＡＤ変換値、Ａ’は、実際の測定環境下で基準測定物１０２を測定したときのＡＤ変換値、２０６は実際の測定時の環境、２０７は基準測定時の環境、Ｃは基準測定物１０２についての補正値である。
【００２４】
測定装置を製品として出荷する場合について、図１〜図３を参照して説明する。このときには、まず、基準測定時における基準となる環境２０７の下で基準測定物１０２を測定する（Ｓ３１０）。測定結果としての、基準測定時における基準測定物１０２のＡＤ変換値Ａは、基準値として、メモリ１０６に記憶しておく（Ｓ３１１）。
【００２５】
次に、実際の使用環境下では、まず、実際の測定時の環境２０６の下で基準測定物１０２を再度測定する（Ｓ３２０）。そして、実際の測定時の環境２０６の下における基準測定物１０２のＡＤ変換値Ａ’を、測定結果として求める（Ｓ３２１）。さらに、基準値としてメモリ１０６に記憶していたＡＤ変換値Ａと実際の測定時のＡＤ変換値Ａ’との差を求めることにより、基準測定物１０２についての補正値Ｃが求まる。すなわち、
Ａ−Ａ’＝Ｃ
である（Ｓ３２２）。
【００２６】
つまり、本来は同じ基準測定物１０２を測定しているのだから、差は０のはずだが、測定時の環境変化により誤差を生じる。よって、この誤差を、環境変化による基準測定物１０２の補正値Ｃとして使用し、実測定時２０６の環境で測定した実測定物１０１のＡＤ変換値に、基準測定物１０２の補正値Ｃを加算することにより、補正後のＡＤ変換値を求めることができる（Ｓ３２３〜Ｓ３２５）。
【００２７】
この第１の実施の形態によれば、基準測定物１０２が１個であっても、環境変化に対し実際に測定する物すなわち実測定物１０１に近い特性を有する基準測定物１０２を使用することにより、簡単に精度高くＡＤ変換値を補正することが可能である。
（第２の実施の形態）
図４は、本発明の第２の実施の形態に係わるＡＤ変換装置であって、２個の基準測定物（実際に測定する物に近い物）を使用したものの回路の構成図である。図４において、４０１は実際に測定する実測定物、４０２は補正値を得るための第１の基準測定物、４０３は補正値を得るための第２の基準測定物、４０７はＡＤ変換ブロックのＡＤ変換器、４０４は実測定物４０１とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ、４０５は第１の基準測定物４０２とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ、４０６は第２の基準測定物４０３とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ、４０８は基準環境での基準ＡＤ変換値を記憶するメモリである。
【００２８】
このような構成にもとづく実際の動作について、図６および図７にもとづき説明する。まず、図６の基準測定環境下のフローでは、第１の基準測定物４０２とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ４０５をＯＮ（他のスイッチはＯＦＦ）にする（Ｓ６１０）。そして、基準となるＡＤ変換値を測定しメモリ４０８に書込む（Ｓ６１１）。次に、第２の基準測定物４０３とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ４０６をＯＮ（他のスイッチはＯＦＦ）とする（Ｓ６１２）。そして、基準となるＡＤ変換値を測定しメモリ４０８に書込む（Ｓ６１３）。
【００２９】
次に、図７の実際の測定環境下のフローでは、まず、第１の基準測定物４０２とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ４０５をＯＮ（他のスイッチはＯＦＦ）とし（Ｓ７１０）、この第１の基準測定物４０２のＡＤ変換値を測定する（Ｓ７１１）。また、第２の基準測定物４０３とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ４０６をＯＮ（他のスイッチはＯＦＦ）とし（Ｓ７１２）、この第２の基準測定物４０３のＡＤ変換値を測定する（Ｓ７１３）。そして、メモリ４０８に記憶している基準測定環境での第１および第２の基準測定物４０２、４０３のＡＤ変換値と、実際の測定環境で測定した第１および第２の基準測定物４０２、４０３のＡＤ変換値とを比較して、補正値を求める（Ｓ７１４）。
【００３０】
次に、実際の測定環境下で、実測定物４０１とＡＤ変換器４０７とを接続するためのスイッチ４０４をＯＮ（他のスイッチはＯＦＦ）とし（Ｓ７１６）、実際の測定環境で実測定物４０１のＡＤ変換値を測定する（Ｓ７１７）。そして、これに上述のように求めておいた補正値を加算することにより、精度の高いＡＤ回路を実現する。なお、図７におけるステップＳ７１５、Ｓ７１８〜Ｓ７２０の詳細については後述する。
【００３１】
図５は、図４に示すように２個の基準測定物４０２、４０３を用いることにより、基準測定物を実測定物４０１に近いものとする補正方法を説明する図である。図２と同様に、横軸は環境変化を表し、縦軸はＡＤ変換値を表す。
【００３２】
図５において、Ａは、測定装置の出荷の際に基準測定環境下で第１の基準測定物４０２を測定したときのＡＤ変換値、Ｂは、測定装置の出荷の際に基準測定環境下で第２の基準測定物４０３を測定したときのＡＤ変換値、Ａ’は実際の測定環境下で第１の基準測定物４０２を測定した時のＡＤ変換値、Ｂ’は実際の測定環境下で第２の基準測定物４０３を測定した時のＡＤ変換値、Ｅは、２つの基準測定物４０２、４０３から得た２つの補正値のどちらを使用するかを判定するための補正の判定値、２０６は実際の測定時の環境、２０７は基準測定環境、Ｃは第１の基準測定物４０２についての補正値、Ｄは第２の基準測定物４０３についての補正値である。
【００３３】
測定装置を製品として出荷する場合について、図４〜図７を参照して説明する。このときには、まず、基準測定環境２０７の下で第１および第２の基準測定物４０２、４０３を測定する（Ｓ６１０、Ｓ６１２）。測定結果としての、基準測定時における第１および第２の基準測定物４０５、４０６のＡＤ変換値Ａ、Ｂは、基準値として、メモリ４０８に記憶しておく（Ｓ６１１、Ｓ６１３）。
【００３４】
次に、実際の使用環境下では、まず、実際の測定時の環境２０６の下で第１および第２の基準測定物４０２、４０３を再度測定し、測定結果として、実際の測定時における第１および第２の基準測定物４０２、４０３のＡＤ変換値Ａ’、Ｂ’を求める（Ｓ７１０〜Ｓ７１３）。そして、下記の式のように、基準値として記憶しておいたＡＤ変換値Ａ、ＢとこれらのＡＤ変換値Ａ’、Ｂ’との差を求めることにより、基準測定物４０２、４０３についての補正値Ｃ、Ｄが求まる（Ｓ７１４）。
【００３５】
Ａ−Ａ’＝Ｃ
Ｂ−Ｂ’＝Ｄ
このとき、同じ基準測定物を測定しているのだから、本来は補正値Ｃ、Ｄどうしは等しく、両者の差は０のはずであるが、測定時の環境変化により各々誤差を生じる。よって、この誤差は、環境変化にもとづき第１および第２の基準測定物４０２、４０３に影響した補正値として使用できる。
【００３６】
次に、２個の補正値Ｃ、Ｄのうちのどちらを使用するかの判定を行う。ここでは、実際の測定時における第１および第２の基準測定物４０２、４０３のＡＤ変換値Ａ’、Ｂ’の算術平均値を、補正の判定値Ｅとする。すなわち、
（Ａ’＋Ｂ’）／２  ＝  Ｅ
とする（Ｓ７１５）。
【００３７】
次に実測定物４０１を測定し（Ｓ７１６、Ｓ７１７）、そのときのＡＤ変換値とこの判定値Ｅとを比較する（Ｓ７１８）。
そして、ＡＤ変換値が判定値Ｅより小さい場合は、第１の基準測定物４０２についての補正値Ｃを使用して、
実測定物４０１についてのＡＤ変換値  ＋  Ｃ  ＝  測定結果
とする（Ｓ７１９）。反対に、ＡＤ変換値が判定値Ｅよりも大きい場合は、第２の基準測定物４０３についての補正値Ｄを使用して、
実測定物４０１についてのＡＤ変換値  ＋  Ｄ  ＝  測定結果
とする（Ｓ７２０）。すなわち、実際の測定時における第１および第２の基準測定物４０２、４０３のＡＤ変換値Ａ’、Ｂ’のうちの、実測定物４０１を測定したときのＡＤ変換値に近い方にもとづく補正値を使用して、その測定結果を補正する。このようにして、実測定物４０１についてのＡＤ変換値に補正値Ｃ、Ｄを加算することにより、正しい測定結果が求められる。
【００３８】
なお、基準測定物を３個以上使用することにより、さらに精度を上げることができる。
次に、図８および図９を参照して、本発明の第２の実施の形態にもとづく、２個の基準測定物４０２、４０３を用いた他の補正方法を説明する。
【００３９】
図８のグラフにおいて、横軸は補正値を表し、縦軸はＡＤ変換値を表す。ここで、上述の場合と同様に、Ａ’は実際の測定環境で第１の基準測定物４０２を測定した時のＡＤ変換値、Ｂ’は実際の測定環境で第２の基準測定物４０３を測定した時のＡＤ変換値、Ｃは第１の基準測定物４０２についての補正値、Ｄは第２の基準測定物４０３についての補正値である。Ｆは、実際の測定環境で実測定物４０１を測定したときのＡＤ変換値、Ｇは、ＡＤ変換値Ｆについての補正値である。
【００４０】
第１および第２の基準測定物４０２、４０３についての補正値Ｃ、Ｄの求め方は、上述の場合と同じである。ここでは、これらの補正値Ｃ、Ｄどうしの誤差の傾きに注目して、実測定物４０１についての補正値を求める。
【００４１】
図９に示すように、まず、上述の場合と同様に、実際の測定環境において、第１および第２の基準測定物４０２、４０３についてのＡＤ変換値Ａ’、Ｂ’を測定する（Ｓ９１０〜Ｓ９１３）。また、実測定物４０１のＡＤ変換値Ｆを測定する（Ｓ９１４、Ｓ９１５）。さらに、実際の測定環境での第１および第２基準測定物４０２、４０３の測定値Ａ’、Ｂ’の補正値Ｃ、Ｄを求める（Ｓ９１６）。
【００４２】
ここで、図８に示すように、実際の測定環境での第１および第２基準測定物４０２、４０３の測定値Ａ’、Ｂ’の補正値Ｃ、Ｄが各々別の値をもった場合（傾きがある場合）は、実際の測定環境で測定した実測定物４０１のＡＤ変換値Ｆも同じ傾きに沿ったものであると考えることができる。これにより、下記の式にもとづき、実測定物４０１を測定したＡＤ変換値Ｆについての補正値Ｇを求めることができる（Ｓ９１７）。
【００４３】
Ｇ＝（Ｆ−Ａ’）（Ｄ−Ｃ）／（Ｂ’−Ａ’）＋Ｃ
そして、下記の式のようにＡＤ変換値Ｆに補正値Ｇを加算することにより、
Ｆ  ＋  Ｇ  ＝  測定結果
正しい測定結果が求められる（Ｓ９１８）。
【００４４】
このような方法によると、図５〜図７に示したものに比べ、実際に測定したＡＤ変換値を基に各々の補正値を求めることができるため、さらに測定精度の向上を図ることが可能である。
【００４５】
【発明の効果】
以上のように本発明によると、基準測定物を基準となる環境下で測定した値と、実際に測定する環境下で測定した値とを利用し、その差分である環境変化による誤差を実測定値に加算し補正することにより、温度変化以外の環境変化による差に対しても対応が可能であり、精度の高いＡＤ変換を実現できる。また、ソフトウェアにより実現しているため、温度センサーを測定する専用のＡＤ変換回路や、誤差を補正する加算器が不要となり、安価に実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態のＡＤ変換装置の概略構成を示す図
【図２】図１の装置を用いたＡＤ変換方法を説明するための図
【図３】本発明の第１の実施の形態のＡＤ変換方法を示すフロー図
【図４】本発明の第２の実施の形態のＡＤ変換装置の概略構成を示す図
【図５】図４の装置を用いたＡＤ変換方法を説明するための図
【図６】本発明の第２の実施の形態のＡＤ変換方法を示すフロー図
【図７】図６の次の処理を示すフロー図
【図８】図４の装置を用いた他のＡＤ変換方法を説明するための図
【図９】図８にもとづくＡＤ変換方法を示すフロー図
【図１０】従来の温度補正対応ＡＤ変換装置の構成図
【符号の説明】
１０１    実測定物
１０２    基準測定物
１０３    スイッチ
１０４    スイッチ
１０５    ＡＤ変換器
【図１】
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【図２】
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【図３】
2005005913.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2005005913.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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