(57)【要約】【課題】  臨床において、パノラマ断層写真に投影される舌骨像から、下顎正中に対する舌骨偏位量を算出することによって、咬合治療による全身への影響の診断およびその治療効果の判定基準を提供する。【解決手段】  ある患者のパノラマ断層写真において、下顎後方の偏位量αと下顎前方の偏位量ａから、仮に下顎に対して正中に舌骨があるとして、舌骨の偏位量Ｃを算出する。さらに、同一のパノラマ断層写真から実際の舌骨偏位量βを演算し,仮定式から求めた偏位量Ｃとの差を見ることによって舌骨の左右偏位量を算出する。【選択図】      図１８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
パノラマ断層写真の中心線に対する、下顎前方部の側方偏位量ａと下顎後方部の側方偏位量αから、被験者の下顎正中線と舌骨正中線が一致すると仮定したときの舌骨の側方偏位量を数式Ｃにて推測し、一方、同じパノラマ断層写真の中心線に対する舌骨側方偏位量βを演算し、前記推測式Ｃと舌骨側方偏位量βを包含する数式Ｚを作成し、下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
【請求項２】
前記パノラマ断層写真の中心線に対する、下顎前方部の側方偏位量ａを求める演算式が以下のように表現されるものであることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
ａ（ｍｍ）＝Ｉ３×Ｉ１÷Ｉ２ 
Ｉ１：実際の下顎中切歯歯冠部幅径
Ｉ２：パノラマ断層写真像上の下顎中切歯歯冠部幅径
Ｉ３：パノラマ断層写真像上の下顎両側中切歯間のミドルラインとパノラマ断層写真の中心線との距離
【請求項３】
前記パノラマ断層写真の中心線に対する、下顎後方部の側方偏位量αを求める演算式が以下のように表現されるものであることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
α（ｍｍ）＝Ｌ×Ｘ／（Ｘ＋Ｙ）−１／２Ｌ
Ｌ：パノラマ断層写真における、左右下顎枝中心点間の距離
Ｘ：パノラマ断層写真における、右側下顎枝の幅径
Ｙ：パノラマ断層写真における、左側下顎枝の幅径
【請求項４】
前記パノラマ断層写真の中心線に対する、舌骨の側方偏位量βを求める演算式が以下のように表現されるものであることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
β（ｍｍ）＝ｍ×ｘ／（ｘ＋ｙ）−１／２ｍ
ｍ：パノラマ断層写真における、左右に分かれた舌骨像の中心点間の距離
ｘ：パノラマ断層写真における、右側舌骨体部の幅径
ｙ：パノラマ断層写真における、左側舌骨体部の幅径
【請求項５】
前記推測式Ｃは、左右対称な両側下顎枝幅径を模放した模型を作成し、その模型を所定方向へ任意の間隔で数箇所移動させると同時にパノラマ断層写真にて連続撮影する実験によって、パノラマ断層写真上に投影される前記下顎後方部の側方偏位量αとパノラマ断層写真装置の中心線に対する実際の下顎後方部の側方偏位量α‘の比率とその比率に対応する左右下顎枝中心点間の距離Ｌの相関関係を２次元の座標軸上に散布図状にて表示し、その散布図から最小二乗法にて求めた近似式ｆ（Ｌ）を包含させた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
【請求項６】
前記推測式Ｃは、以下のように表現される前記近似式ｆ（Ｌ）を包含させた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法
ｆ（Ｌ）＝α／α’
α：パノラマ断層写真における下顎後方部の側方偏位量
α’：パノラマ断層写真装置の中心線に対する下顎後方部の側方偏位量
【請求項７】
前記推測式Ｃは、舌骨を模倣した模型を作成し、その模型を所定方向へ任意の間隔で数箇所移動させると同時にパノラマ断層写真にて連続撮影する実験によって、パノラマ断層写真上に投影される舌骨の側方偏位量βと実際のパノラマ断層写真装置の中心線に対する舌骨の側方偏位量β‘の比率をさらにその比率に対応する左右舌骨中心点間の距離ｍにて除することによって離散化した分布度数を近似化した比率とｍの相関関係を２次元の座標軸上に散布図状にて表示し、その散布図から最小二乗法にて求めた近似式ｇ（ｍ）を包含させた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
【請求項８】
前記推測式Ｃは、以下のように表現される前記近似式ｇ（ｍ）を包含させた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
ｇ（ｍ）＝β／β’ｍ
β：パノラマ断層写真における舌骨の側方偏位量
β’：パノラマ断層写真装置の中心線に対する舌骨の側方偏位量
ｍ：パノラマ断層写真における、左右に分かれた舌骨像の中心点間の距離
【請求項９】
前記推測式Ｃは、以下のように表現される比例式を包含させた数式Ｂとその数式Ｂと対応する舌骨の側方偏位量βが一致するように、数式Ｂを統計的に調節することによって得られた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
Ｌ：ｍ＝（α’−ａ）：（β’−ａ）
Ｌ：パノラマ断層写真における、左右下顎枝中心点間の距離
ｍ：パノラマ断層写真における、左右に分かれた舌骨像の中心点間の距離
β’：  パノラマ断層写真装置の中心線に対する舌骨の側方偏位量
α’：  パノラマ断層写真装置の中心線に対する下顎後方部の側方偏位量
ａ：パノラマ断層写真装置の中心線に対する下顎前方部の側方偏位量
【請求項１０】
前記推測式Ｃは、以下のように表現される数式Ｂとその数式Ｂと対応する舌骨の側方偏位量βが一致するように、数式Ｂを統計的に調節することによって得られた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
数式Ｂ＝ｇ（ｍ）×ｍ｛Ｌ×ａ＋ｍ×α／ｆ（Ｌ）−ｍ×ａ｝／Ｌ
Ｌ：パノラマ断層写真における、左右下顎枝中心点間の距離
ｍ：パノラマ断層写真における、左右に分かれた舌骨像の中心点間の距離
α：パノラマ断層写真における下顎後方部の側方偏位量
ａ：パノラマ断層写真装置の中心線に対する
ｇ（ｍ）、  ｆ（Ｌ）：変数
【請求項１１】
前記推測式Ｃは、下顎正中線と舌骨正中線が一致する模型を作成し、その模型を所定方向に任意の間隔で数箇所移動させると同時にパノラマ断層写真にて連続撮影する実験から、下顎に連動する舌骨の側方偏位量を前記数式Ｂにて仮定し、その数式Ｂと対応する舌骨の側方偏位量βの相関関係を２次元の座標軸上に散布図にて表示し、数式Ｂと舌骨の側方偏位量βが一致するように、数式Ｂを統計的に調節することによって得られた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
【請求項１２】
前記推測式Ｃは、以下のように表現される数式Ｂを包含する数式とその数式と対応する舌骨の側方偏位量βが一致するように、数式Ｂを統計的に調節することによって得られた数式であることを特徴とする請求項１記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
Ｃ＝γ×ａ＋η×Ｂ
ａ：パノラマ断層写真における、下顎前方部の側方偏位量
Ｂ：下顎と舌骨の中心線が一致していると仮定し、下顎の偏位状態より算出された舌骨の側方偏位量
γ，η：定数
【請求項１３】
前記数式Ｚは、被験者の下顎正中線と舌骨正中線が一致していると仮定し、下顎前方部の側方偏位量ａ及び下顎後方部の側方偏位量αからパノラマ断層写真上で投影される舌骨偏位量を推測できる前記推測式Ｃと同じパノラマ断層写真の中心線に対する舌骨の側方偏位量βを引き算にて舌骨の側方偏位量を算出する数式であることを特徴とする請求項１に記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
【請求項１４】
前記数式Ｚは、パノラマ断層写真上の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量を、実際の舌骨の側方偏位量に変換するが以下のように表現されるものであることを特徴とする請求項１又は請求項１３に記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
Ｚ＝（β−Ｃ）／ｈ（ｍ）
β：パノラマ断層写真における、舌骨の側方偏位量
Ｃ：下顎正中線と舌骨正中線が一致していると仮定したとき、パノラマ断層写真に投影される舌骨偏位量を推測できる数式
ｈ（ｍ）：変数
【請求項１５】
前記近似式ｈ（ｍ）は、舌骨を模倣した模型を作成し、その模型を所定方向へ任意の間隔で数箇所移動させると同時にパノラマ断層写真にて連続撮影する実験によって、パノラマ断層写真上に投影される舌骨の側方偏位量βとパノラマ断層写真装置の中心線に対する実際の舌骨の側方偏位量β‘に対する比率とその比率に対応する左右舌骨中心点間の距離ｍの関係を２次元の座標軸上に散布図状にて表示し、その散布図から最小二乗法にて求めた近似式であることを特徴とする請求項１、請求項１３又は請求項１４記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
【請求項１６】
前記数式Ｚは、以下のように表現される前記近似式ｈ（ｍ）を含有する数式を特徴とする請求項１、請求項１３又は請求項１４記載の下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量をパノラマ断層写真から算出する方法。
ｈ（ｍ）＝β／β’
β：パノラマ断層写真における舌骨の側方偏位量
β’：パノラマ断層写真装置の中心線に対する舌骨の側方偏位量
ｍ：パノラマ断層写真における、左右に分かれた舌骨像の中心点間の距離
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、咬合不正患者における、咬合治療前後の診査基準の一つとして、パノラマ断層写真の下顎と舌骨の投影像から下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量を算出する方法に関するもの。
【背景技術】
【０００２】
咬合不正によって頸椎をはじめとする脊椎は彎曲し、姿勢が悪化することは従来から言われているが、その作用機序の確証は得られていない。  また、不正咬合と脊椎の彎曲度など、全身への影響の数値化は困難であった。
【０００３】
また、Ｘｒａｙ写真の中でも、パノラマ断層写真は歯科疾患の情報量が多く、診断において不可欠なレントゲン診査方法となっているが、これまで放射線の直進性を利用した規格化はおこなわれなかった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
頸椎前面にある舌骨正中線と下顎正中線は、健常者において一致するはずであり、舌骨と下顎の左右的位置関係をパノラマ断層写真から数値化することによって、咬合不正により全身へあたえる影響の判定基準の一つとした。
【０００５】
パノラマ断層写真撮影時の頭部の固定は、前方部では切歯設置棒を上下顎切歯にて噛むみ込むことによって固定し、後方部では両側頭部を把持棒によって挟み込むようにして、頭部を所定の位置に設置する。この方法では、頭部設置位置の統一性を求めることは困難であり、パノラマ断層写真の中心線に対する舌骨の側方偏位量のみを求めても参考にできない。そこで、パノラマ断層写真の中心線に対する下顎の偏位状態を下顎前方部と下顎後方部から計測し、その下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量を算出することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
以下に、本発明の課題を解決するための手段を図面を参照にしながら説明する。上記目的を達成する為に、まず、下顎前方部の側方偏位量ａの算出方法について説明する。
【０００７】
図１のように、模型もしくは、口腔内にて、実際の下顎中切歯歯冠部幅径Ｉ１を計測する。
【０００８】
続いて、図２のように、パノラマ断層写真像上の下顎中切歯歯冠部幅径Ｉ２と  下顎両側中切歯間のミドルラインとパノラマ断層写真中心線との距離Ｉ３を計測する。なお、ミドルラインがパノラマ断層写真中心線に対して、左側に偏位しているときを＋の符号とし、右側に偏位しているときは、−の符合とする（図では−の符号となる）。以下の数式によって、実際の下顎前方部の側方偏位量ａを算出できる。
【０００９】
数１  ａ（ｍｍ）＝Ｉ３×Ｉ１÷Ｉ２
【００１０】
次に、下顎後方部の側方偏位量αと舌骨の側方偏位量βを同時に計測できるように、図３のような下顎と舌骨の位置関係を模した左右対称な金属フレームを作成した。その模型の構造は、両側下顎枝幅径に相当する４本のワイヤー、下顎両中切歯の正中に相当する１本のワイヤー、そして、模型正中に舌骨部として２本のワイヤーを組み込み、計測点を設けた。
【００１１】
図４は、前記模型をパノラマ断層写真撮影装置ＡＳＡＨＩ−ＡＵＴＯ３（朝日レントゲン工業社製）の中心線上にて撮影したパノラマ断層写真である。このように、ほぼ左右対称な像が得られるのは、パノラマ断層写真撮影装置軌道の自転運動と公転運動の左右対称性精度が高いことによって可能となる。
【００１２】
一方、図５は、模型をパノラマ断層装置の中心線から左側に約５ｍｍ平行移動させたＸｒａｙ像である。模型両側後方部に設置したワイヤー、模型中央部に設置したワイヤーともに偏位側は縮小して投影され、非偏位側は拡大して投影される。
【００１３】
図６は、上記模型がパノラマ断層写真に表れる偏位量α、偏位量ａ、偏位量βの各計測点を示した模式図である。模型後方の偏位量の指標としては、左右下顎枝の幅径を模倣した。その計測点として、右側（Ｘ１〜Ｘ４）、左側（Ｙ１〜Ｙ４）４箇所設け、それぞれのワイヤー像の中点を結んだ線をＬ１〜Ｌ４としてそれぞれ計測した。模型中央に計測点を設けた舌骨部は、右側幅径（ｘ１〜ｘ５）、左側幅径（ｙ１〜ｙ５）５箇所設け、左右幅径の中点間距離をｍ１〜ｍ５としてそれぞれを計測した。模型前方正中部には、下顎両側中切歯の正中を模してワイヤーを一本垂直に設置し、模型前方部の側方偏位量ａを求める際の指標とした。
【００１４】
図７は、パノラマ断層写真の中心線に対する模型後方の側方偏位量αの求め方を記したものである。まず、左右対称な２つの被写体の同部位の右側Ｘライン、左側Ｙラインそれぞれの中点ＣＲ点、ＣＬ点を求める。そのＣＲ点とＣＬ点を結びＬラインとする。そして、ＣＲ点とＣＬ点を中心に、Ｌラインに対して直交させ、Ｘライン，Ｙラインと同じ長さの線  Ｘ｀ライン，Ｙ｀ラインを引く。つづいて、Ｘ｀ライン、Ｙ｀ラインの上下の先端をクロスさせるようにして線を引く。この交点をＤ点とする。
最後に、Ｌラインの中点（ＬＣ点）を求める。
そして、Ｄ点とＬＣ点の距離は、レントゲン装置の中心線に対する実際の側方偏位量α‘をパンラマ断層写真上の偏位量αとして変換できる。図７ａのように、Ｘ＝Ｙの場合は、α＝０となり、図７ｂのように拡大率の左右差は、Ｄ点とＬＣ点の距離として測定でき、また、ＸとＹの長さの逆転は、正負の逆転で表される。
【００１５】
また、αは以下のような式によって、表すことができる。
【００１６】
数２  α＝Ｌ×Ｘ／（Ｘ＋Ｙ）−１／２Ｌ
【００１７】
模型正中部の舌骨を模した被写体から求める偏位量βも、偏位量αと同様に、右側幅径（ｘ１〜ｘ５）、左側幅径（ｙ１〜ｙ５）、左右幅径の中点間距離（ｍ１〜ｍ５）を、以下の式に代入し偏位量β１〜β５を求めた。
【００１８】
数３  β＝ｍ×ｘ／（ｘ＋ｙ）−１／２ｍ
【００１９】
図８は、前記模型を使用した実験１の撮影条件を表した模写図であり、パノラマ断層写真装置の中心線に対して、一定量側方に平行移動させ、さらに、前方から後方に向けて一定間隔でスライドさせて連続撮影した。また、その側方平行移動量（ａ）は任意に求め、いくつかのサンプルを作成した。
【００２０】
この実験１によって、パノラマ断層写真装置の中心線に対する実際の側方偏位量α´とパノラマ断層写真上の側方偏位量αの比率とその比率に対応するＬの相関関係、パノラマ断層写真装置の中心線に対する実際の側方偏位量β´、パノラマ断層写真上の側方偏位量βの比率とその比率に対応するｍの相関関係をそれぞれ求めることができる。
【００２１】
図９は、実験１の全サンプルからｆ（Ｌ）＝α／α´なる多項式近似曲線数式を最小二乗法にて求めた散布図である。撮影部位（Ｌ）の違いによる、投影像の拡大率の違いを解析できる。
【００２２】
図１０は、実験１の全サンプルからｇ（ｍ）＝β／β´ｍなる多項式近似曲線数式を最小二乗法にて求めた散布図である。これは、実際の偏位量をβ´とパノラマ断層写真上の偏位量βの比率とその比率と対応するｍの相関関係を求めたものであるが、さらにその比率をｍにて除することによって、離散した散布図は近似化し特徴的な３次曲線がえられた。撮影部位（ｍ）の違いによる、投影像の拡大率の違いを解析できる。
【００２３】
そして、図１１のように、実際のα’、β’計測点の前後的距離（Ｌ０、ｍ０）の比率とパノラマ断層写真上の前後的距離（Ｌ、ｍ）の比率が等しいと仮定したとき以下の比例式が成り立つ。
【００２４】
数１  Ｌ：ｍ＝（α’−ａ）：（β’−ａ）
【００２５】
また、実験１にてｆ（Ｌ）＝α／α’、ｇ（ｍ）＝β／ｍβ’なる近似曲線式が得られており、上記比例式とともに算出された側方偏位量βを数式Ｂとして仮定することによって以下の数式が導かれる。
【００２６】
数２  数式Ｂ＝ｇ（ｍ）×ｍ｛Ｌ×ａ＋ｍ×α／ｆ（Ｌ）−ｍ×ａ｝／Ｌ
上記の数式Ｂから算出した舌骨の側方偏位量とパノラマ断層写真の実際の舌骨側方偏位量βが一致したときは、下顎の側方偏位状態から舌骨の側方偏位量を推定できる数式を予め規格化することとなり、舌骨の側方偏位量を算出する際に数式Ｂは、一般性を有することが可能となる。
【００２７】
前記数式Ｂと舌骨偏位量βの相関関係を確認するために、実験２においては、図１２のように、一度側方にａ（ｍｍ）平行移動したものをさらに、模型前方部を中心に一定の間隔で回転移動させパノラマ断層写真を連続撮影した。また、その側方平行移動量（ａ）は任意に求め、いくつかのサンプルを作成した。
【００２８】
図１３は、数式Ｂより得られた計算値とそれに対応する舌骨の側方偏位量βの相対関係を表した散布図である。また、その散布図より最小２乗法にて線形近似式が得られた。前記側方移動量ａに関係なく、各サンプルの線形近似式は、いずれもほぼ同じ傾きをあらわしており、定数ηを計算値Ｂに乗ずることによって理想的な線形近似式の傾きを求めた。また、線形近似式とｙ軸の交点は前方の側方偏位量ａと比例関係にあったので、比例定数γとして統計的な調整をした。
【００２９】
数式Ｂを最も最適に推定できるように統計的な調整した数式Ｃとして、以下のように表現した。
【００３０】
数３  数式Ｃ＝γ×ａ＋η×Ｂ
ａ：下顎前方部の側方偏位量
γ、η：定数
【００３１】
図１４は、実測値βと計算値Ｃの相関関係を表した散布図である。その散布図より得られた線形近似式から、βとＣはほぼ一致した理想的な数式Ｃが得られた。つまり、下顎正中線と舌骨正中線が一致するとき、下顎の偏位状態を計測することによって、舌骨の側方偏位量を推測できる。
【００３２】
尚、この課題を解決するための手段では、下顎舌骨を模したワイヤーフレームを作成、使用したが、この構造に限らない。また、実験１，２において求めた計測値は、それぞれ所定の方向に任意の移動量より求めたものでありこれに限らない。さらに、この実験は、パノラマ断層写真撮影装置ＡＳＡＨＩーＡＵＴＯ３（朝日レントゲン工業社製）を使用したがこれに限らない。更に、下顎正中と舌骨正中が一致する際に、下顎の側方偏位量から舌骨の側方偏位量を推測する数式Ｂ、数式Ｃは、前述した数式に限らない。
【発明の効果】
【００３３】
本発明は、パノラマ断層写真装置の軌道の左右対称性、自転運動と公転運動の時間的左右対称性の精度とＸ線の直進性を利用して得られる数式であり、特に、実験１で得られた特徴的なｇ（ｍ）＝β／β´ｍなる多項式近似曲線数式は、パノラマ断層写真装置の軌道と類似している。
【００３４】
これまで、下顎の偏位に対する全身的な影響の評価として、顔貌写真、モアレ写真など数値化は困難であったが、特に下顎側方偏位患者の下顎と舌骨の左右的位置関係を数値化することができ、咬合治療の術前術後の診断の一助となる。また、側方Ｘ線規格写真、３ＤＣＴによる下顎と舌骨の位置関係も同時に診査することによって、咬合治療による術前術後の舌骨の診断は、より確実なものとなる。
【００３５】
舌骨の位置的変化は、下顎偏位の是正と姿勢の変化に追随しておこり、Ｘ撮影は数ヶ月から１年の間隔をあけるほうが望ましい。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下に、本発明の実施するための最良の形態を図面を参照にしなら説明する。
図１５、図１６、図１７、図１８、図１９は、パノラマ断層写真の中心線に対する下顎後方部の側方偏位量αと舌骨前方部の側方偏位量βの求め方を記した模式図である。
【００３７】
図１５のように  まず、両側下顎枝切痕（ｓｉｇｍｏｉｄ    ｎｏｔｃｈ）の中央で彎曲の最も深い点（Ｎｒ１、Ｎｌ１点）と両側下顎枝後縁と両側下顎下縁平面によってできるゴニアルポイント（Ｇｏｒ、Ｇｏｌ点）を左右それぞれで結ぶ（Ｎｒ１−Ｇｏｒライン、Ｎｌ１−Ｇｏｌライン）。続いて、右側にてＮｒ１−Ｇｏｒラインの中点であるＮｒ２点を抽出する。左側でも同様に、Ｎｌ２点を抽出する。
【００３８】
図１６のように、右側Ｎｒ２点と左側Ｎｌ２点を結びＬラインとする。Ｌラインと下顎枝前縁との交点をＮｒ３、Ｎｌ３点とする。そして、Ｌラインを下顎枝後縁まで延長させてできた交点をＮｒ４、Ｎｌ４点とする。
また、図のようにｎｏｔｃｈ    ｌｉｎｅ、ゴニアルラインを加え、Ｌラインとの平行性を見ることによって、Ｌラインの精度を確認できる。
【００３９】
舌骨においては、右側舌骨体前方の計測点をＨｒ１点とし、舌骨後方関節部の上方切痕部をＨｒ２点、下方切痕部をＨｒ３点とする。左側舌骨体前方の計測点についても同様にＨｌ１点、Ｈｌ２点、Ｈｌ３点を求める。
【００４０】
図１７のように、右側のＮｒ３−Ｎｒ４ラインの長さをＸ（ｍｍ）、左側のＮｌ３−Ｎｌ４ラインの長さをＹ（ｍｍ）とする。左右Ｎ３−Ｎ４ラインの中点同士の長さをＬ（ｍｍ）とする。
【００４１】
舌骨においては、右側のＨｒ２点とＨｒ３点を線で結びその中点をＨｒ４点とする。そして、Ｈｒ１点とＨｒ４点を線で結び、その中点を抽出する。左側舌骨体前方の計測点についても同様にＨｌ４点を抽出する。
【００４２】
最後に、図１８のように、Ｌラインに対して、Ｘ、Ｙを直交させそれぞれの上端と下端をクロスするように結び、その交点とＬの中点との差を計測することによって、下顎骨後方の側方偏位量αを演算する。
【００４３】
舌骨においても、右側のＨｒ１―Ｈｒ４ラインの長さをｘ（ｍｍ）、左側のＨｌ１―Ｈｌ４ラインをｙ（ｍｍ）とする。ｘ、ｙそれぞれの中点どうしをむすび長さをｍ（ｍｍ）とする。舌骨の側方偏位量βを演算する。
【００４４】
次に、下顎前方部の側方偏位量ａ、下顎後方部の側方偏位量αから求められた下顎正中線と舌骨正中線と一致すると仮定した際の数式Ｃから算出される舌骨の側方偏位量と同一のパノラマ断層写真から算出した舌骨の側方偏位量βを引き算にて比較することによって、下顎正中線に対する舌骨正中線の側方偏位量を推測できる。
【００４５】
また、パノラマ断層写真は、撮影部位（ｍ）の違いによって被写体の拡大率は異なる。図１９は、実験１より得られた、舌骨の実際の側方偏位量β´とレントゲン上の側方偏位量βの比率とその比率に対応するｍの相関関係を表した散布図である。その散布図より多項式近似曲線数式ｈ（ｍ）が最小二乗法より得られる。
【００４６】
前記多項式近似曲線数式ｈ（ｍ）は、実際の舌骨の側方偏位量とレントゲン上の舌骨の側方偏位量（β−Ｃ）にもあてはまり、舌骨の実際の側方偏位量を数式Ｚとして以下のように表現される。
【００４７】
数４  Ｚ＝（β−Ｃ）／ｈ（ｍ）
【００４８】
前記数式Ｚによって、パノラマ断層写真上の舌骨側方偏位量ではなく実際の舌骨側方偏位量を導くことにより、パノラマ断層写真撮影部位による被写体の拡大率の違いを規格化することとなり、舌骨の側方偏位量を算出する数式Ｚは、一般性を有することが可能となる。
【００４９】
尚、この実施するための最良の形態では、下顎側方偏位量を、下顎前方部では下顎中切歯より、下顎後方部では下顎枝中央部の幅径より求めているが、測定部位はこれに限らない。舌骨の側方偏位量を求める際の測定部位は、舌骨体の関節部の上下切痕部より求めているが、測定部位はこれに限らない。更に、舌骨の側方偏位量を求める数式Ｚは、前述した数式に限らない。また、最小二乗法としては一般的なＧａｕｓｓ−Ｎｅｕｔｏｎ法、共役方向法のみならず、それらと同等の性能を有する算術式を用いればよい。更に、舌骨の側方偏位量を求める数式Ｚは、前述した数式に限らない。
【実施例】
【００５０】
図２０ａ）、ｂ）、ｃ）、ｄ）は、同一患者を約２ヶ月以内に撮影したパノラマ断層写真４枚である。そして、図２１は、本発明によるそれぞれのパノラマ断層写真の計測値，下顎前方部側方偏位量ａ、下顎後方部側方偏位量α、舌骨の側方偏位量β、下顎正中に対する舌骨の側方偏位量Ｚの結果である。下顎左側偏位症例の舌骨偏位方向は右逆側への偏位としてすべて確認できた。また、上顎に対する下顎左側偏位量は約２ｍｍであるのに対し、舌骨偏位量は７から１０ｍｍと大きな値となった。
【００５１】
また、当方の下顎側方偏位１３０症例の約９１％において下顎偏位側と反対側への舌骨偏位が認められた。また、詳細は記さないが高齢者における左右非対称な姿勢は、下顎の側方偏位に対して、体幹を捻転、傾斜させて舌骨を逆側へ偏位させようとする姿勢であることを示唆していた。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】偏位量ａを算出する際の模型上の計測点を表した模式図である。
【図２】偏位量ａを算出する際のパノラマ断層写真上の計測点を表した模式図である。
【図３】本発明の数式を求めるために使用した下顎と舌骨を模したワイヤー模型の斜視図である。
【図４】図３の模型をパノラマ断層写真装置の中心線上にて、撮影したレントゲン像である。
【図５】図１の模型をパノラマ断層写真装置の中心線から約５ｍｍ左側方に平行移動させたレントゲン像である。
【図６】図１の模型のパノラマ断層写真上の計測点を表した模式図である。
【図７】側方偏位量α、側方偏位量βの算出方法を表した模式図である。
【図８】模型を一度側方に平行移動させたものを更に、前後移動させた実験１の撮影条件を表した模式図である。
【図９】実験１より得られた、レントゲン上の偏位量α、実際の偏位量α´の比率とその比率に対応するＬの相関関係を表した散布図である。
【図１０】実験１より得られた、レントゲン上の偏位量β、実際の偏位量β´の比率をｍで除した比率とその比率に対応するｍの相関関係を表した散布図である。
【図１１】パノラマ断層装置における、偏位量ａ、実際の偏位量α´、β´、実際のα、βの前後的距離Ｌ０、ｍ０、レントゲン上のα、βの前後的距離Ｌ、ｍの関係を表した模式図である
【図１２】側方に一度平行移動後、さらに前方前歯部を中心に回転移動させた実験２の撮影条件を表した模式図である。
【図１３】実験２より得られた計算値Ｂと実測値βの相関関係を表した散布図である。
【図１４】計算値Ｂを定数γ、ηによって修正した計算値Ｃと実測値βの相関関係を表した散布図である。
【図１５】パノラマ断層写真から偏位量α、偏位量βの算出方法を表した模式図である。
【図１６】パノラマ断層写真から偏位量α、偏位量βの算出方法を表した模式図である。
【図１７】パノラマ断層写真から偏位量α、偏位量βの算出方法を表した模式図である。
【図１８】パノラマ断層写真から偏位量α、偏位量βの算出方法を表した模式図である。
【図１９】実験１より得られた、パノラマ断層写真上の偏位量β、実際の偏位量β´の比率とｍの相関関係を表した散布図である。
【図２０】（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は、約２ヶ月以内に得られた同一患者のパノラマ断層写真である。
【図２１】図２０の偏位量ａ、偏位量α、偏位量β、舌骨の側方偏位量の表
【符号の説明】
【００５３】
１  プラスチック製下顎切歯設置棒
２  パノラマ断層写真中心線
３  下顎ミドルライン
４  下顎前歯正中部
５  下顎枝幅径部
６  舌骨部
７  下顎前方部の側方偏位量ａ
８  実際の下顎後方部の側方偏位量α’
９  実際の舌骨の側方偏位量β’
１０  パノラマ断層写真上のα測定部位の距離Ｌ
１１  パノラマ断層写真上のβ測定部位の距離ｍ
１２  実際のα’測定部位の前後距離Ｌ０
１３  実際のβ’測定部位の前後距離ｍ０
１４  起動軸軌跡
１５  回転軸
１６  Ｎｏｔｃｈ  ｌｉｎｅ
１７  Ｌ  ｌｉｎｅ
１８  ゴ二アルライン
１９  下顎後方部の側方偏位量α
２０  舌骨の側方偏位量β
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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