(57)【要約】【課題】ＰＲＭＬ識別方式を用いる光ディスクシステムにおいて、最適な記録波形を短時間に求める方法を提供する。【解決手段】ＰＲＭＬ識別方式に適した信号評価方法による評価値を指標として、記録波形のパラメータを調整する。この場合、パラメータの調整方法としては、複数の調整方法を活用する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の記録パラメータ調整方法に従って第1の記録パラメータを決定し、第1の記録パラメータを用いて情報を媒体に記録し、当該情報の再生信号から信号品質評価方法により信号品質の評価値を求め、評価値が予め定められた規定値を満足する場合には、記録パラメータ調整を終了し、そうでない場合には、
第２の記録パラメータ調整方法に従って第２の記録パラメータを決定し、第２の記録パラメータを用いて情報を媒体に記録し、当該情報の再生信号から信号品質評価方法により信号品質の評価値を求め、評価値が予め定められた規定値を満足する場合には、記録パラメータ調整を終了し、そうでない場合には、警告を発することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項２】
ある記録パラメータを用いて情報を媒体に記録し、当該情報の再生信号から再生パラメータを調整した後、再生信号の信号品質の評価値を求め、評価値から記録パラメータを調整することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項３】
請求項1記載の第１の記録パラメータ調整方法は、
記録データビット列に依存しない調整方法であるか、または、記録データビット列の符号ビット“１”の連続長に依存した調整方法のいずれか一方、あるいは、両方であり、
第２の記録パラメータ調整方法は、記録データビット列の符号ビット“１”の連続長とそれに隣接する符号ビット“０”の連続長とに依存する調整方法であることを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項４】
請求項1記載の第1の記録パラメータ調整方法乃至第２の記録パラメータ調整方法は、第1の信号品質評価方法による評価値を指標として記録パラメータを調整し、請求項1記載の信号品質評価方法は、前記第1の信号品質評価方法を含む少なくとも２種類の信号品質評価方法からなることを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項５】
記録パラメータと信号評価方法による評価値の関係から、評価値の最良値を求め、最良値以下のある値を規定値とし、規定値を満足する記録パラメータの下限値と上限値とを求め、下限値と上限値の中間値を記録パラメータの調整値とすることを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項６】
請求項５記載の記録パラメータの下限値または上限値が、パラメータの設定限界値に達した場合、設定限界値を下限値または上限値とすることを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項７】
記録パラメータと信号評価方法による評価値の関係から、評価値の最良値を求め、前記評価値が最良値となる記録パラメータを調整値とすることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の光ディスク記録再生方法。
【請求項８】
請求項１乃至２及び請求項４乃至７記載の評価値は、それぞれＰＲＳＮＲあるいはＳｂＥＲのどちらか一方または両方であることを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項９】
請求項５乃至８記載の光ディスク記録再生方法では、それぞれ記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項１０】
請求項５乃至８記載の光ディスク記録再生方法では、それぞれマルチパルス幅を調整することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項１１】
請求項５記載乃至８の光ディスク記録再生方法では、それぞれ最短マークの記録パラメータ、あるいは２番目に短いマークの記録パラメータのいずれか一方または両方を調整することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項１２】
請求項1及び請求項3乃至4記載の第2の記録パラメータ調整方法では、それぞれ先頭パルス、最終パルス、単一パルス、最終クーリングパルスの少なくとも1つを調整することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項１３】
請求項1乃至9のいずれかに記載の光ディスク記録再生方法を実行する手段を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項１４】
請求項1乃至9のいずれかに記載の光ディスク記録再生方法を実行して情報が記録されることを特徴とする光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録再生方法及び光ディスク記録再生装置及び光ディスクに関するもので、特に光ディスクへの信号の記録時、光ディスクからの信号の再生時におけるパラメータ調整に係わる。
【背景技術】
【０００２】
図２１に従来技術の光ディスクシステムの構成を示す。光ディスク１１に記録すべき２値データは、レーザダイオード（LD）ドライバ１２で、記録波形へと変換される。記録波形への変換は、コントローラ１３から出力される記録パラメータに従って行われる。電気信号の記録波形は、PUH（ピックアップヘッド）１４で光信号に変換された後、光ディスク１１上に照射される。光ディスク１１上では、レーザの照射に応じて、マークが形成される。
【０００３】
光ディスク１１に記録された情報は、PUH１４を用いて微弱なアナログ信号として再生される。アナログ信号はプリアンプリファイヤ１５で増幅され十分な信号レベルとなった後、スライス及び識別方式により、復号２値データとなる。スライス及び識別方式では、レベルスライサ１６でマーク/スペースに対応した２値化信号を生成し、PLL(位相ロックループ)回路１７で、入力された２値化信号に位相同期したチャネルクロックを生成する。チャネルクロックの立ち上がり、あるいは、立下り時に２値化信号がハイレベルかローレベルかを識別器１８で判定することで、復号２値データを得る。
【０００４】
記録２値データと記録波形とマークの関係を図２２に示す。図２２（ａ）は基準クロック、図２２（ｂ）は、記録２値データである。Ｔは基準クロックの最短周期に対応する。記録波形は、ハイレベルとローレベルとが短い時間間隔で繰り返す、所謂マルチパルス形状となっている（図２２（ｃ））。マルチパルス形状の記録波形を用いることにより、マークの幅が一定に形成される（図２２（ｄ））。記録パラメータとして、記録波形の波高値（以下、記録パワー）、各マルチパルスの幅などがある。光ディスクの特性に応じて、記録パラメータを調整することで、正確にマークが記録できる。
【０００５】
記録パワーを最適化する方法は、特開平４−１４１８２７に示されている。特開平４−１４１８２７では、記録パワーを徐々に変化して記録し、その際の再生信号振幅を測定する。記録パワーと再生信号振幅との関係から、記録パワーの最適値を求める。また、記録パワーを徐々に変化して記録し、その際のビットエラーレートを測定する。記録パワーとビットエラーレートの関係から、記録パワーの最適値を求める。
【０００６】
マルチパルス形状の記録波形の第１番目のパルスを先頭パルス、最後のパルスを最終パルスと呼ぶ。特開２０００−１４９２６２では、記録すべきマークの長さとそれに先導する(後続する)スペースの長さとを対としてパターン分類し、各パターン分類毎に先頭パルス幅（最終パルス幅）を最適化する。先頭パルス幅(最終パルス幅)を変化して記録し、その際のジッタ量を測定する。ジッタ量とは、再生信号がレベルスライサに設定されたスライスレベルを通過する際の時間的なばらつきである。先頭パルス幅(最終パルス幅)とジッタ量との関係から、先頭パルス幅(最終パルス幅)の最適値を求める。
【０００７】
光ディスクシステムの高密度化に伴い、スライス及び識別方式に代わって、ＰＲＭＬ(Partial Response and Maximum Likelihood)識別方式が使用されるようになってきた。ＰＲＭＬ識別方式では記録再生特性に応じたＰＲ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）特性が用いられる。例としてＰＲ（１，２，２，２，１）特性の説明をする。ＰＲ（１，２，２，２，１）特性とは、符号ビット‘１’に対する再生信号が‘１２２２１’となる特性のことを表す。符号ビット系列とPR特性を表す系列１２２２１との畳込み演算が再生信号となる。例えば、符号ビット系列０１００００００００に対する再生信号は、０１２２２１００００となる。同様に、符号ビット系列０１１０００００００の再生信号は、０１３４４３１０００、符号ビット系列０１１１００００００の再生信号は、０１３５６５３１００、符号ビット系列０１１１１０００００の再生信号は、００１３５７７５３１０、符号ビット系列０１１１１１００００の再生信号は、０１３５７８７５３１となる。PR(1,2,2,2,1)特性では、再生信号は９レベルになる。このような畳み込み演算により算出された再生信号は、理想的な再生信号(以下、パス)である。しかし、実際の再生信号は、必ずしも、PR(1,2,2,2,1)特性にはなっておらず、また、雑音等の劣化要因も含まれる。ＰＲＭＬ識別方式では、等化器を用いて、再生信号をPR特性に近づける。PR特性に近づいた再生信号を等化再生信号と呼ぶ。その後、ビタビ復号器を用いて、等化再生信号とのユークリッド距離が最も小さいパスを選択する。パスと符号ビット系列は、１対１の関係である。ビタビ復号器は、選択したパスに対応する符号ビット系列を、復号２値データとして出力する。
【特許文献１】特開平４−１４１８２７
【特許文献２】特開２０００−１４９２６２
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムでは、再生信号は２値ではなく、３値以上、所謂多値になることを前提とする。再生信号振幅は、再生信号の最大値と最小値の２レベルの差である。再生信号振幅の測定値から、記録波形を最適化する方法は、再生信号が２値であることを前提とした方法である。つまり、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムに最適な記録波形とは異なる。
【０００９】
ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムでは、ジッタ量を小さくすることが、再生信号の品質を向上させることとは限らない。つまり、ジッタ量の測定値から、記録波形を最適化することはできない。
【００１０】
ビットエラーレートの測定は、光ディスクの局所欠陥により、測定値が大きくばらつく。そのため、ビットエラーレートの測定値から記録波形を最適化する方法は、ビットエラーレートのばらつきの影響で十分な最適化ができない。さらに、ビットエラーレートの測定は、非常に長い符号ビット系列を光ディスクに記録再生する必要がある。そのため、ビットエラーレートの測定値から記録波形を最適化する方法は、最適化に長い時間を要する。
【００１１】
かかる課題を解決するため、本発明は、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、最適な記録波形を求める方法を提供することを目的とする。
【００１２】
また、本発明は、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、短時間に記録波形を最適化する方法を提供することを目的とする。
【００１３】
また、本発明は、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、最適な記録再生を行うことができる光ディスク記録再生装置を提供することを目的とする。
【００１４】
また、本発明は、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、最適な記録波形を用いて記録が行われた光ディスクを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
この発明では、第1の記録パラメータ調整方法に従って第1の記録パラメータを決定し、第1の記録パラメータを用いて情報を媒体に記録し、当該再生信号から信号品質評価方法により信号品質の評価値を求め、評価値が予め定められた規定値を満足する場合には、記録パラメータ調整を終了し（例えば図３のステップＳ１−Ｓ４）、そうでない場合には、第2の記録パラメータ調整方法に従って第2の記録パラメータを決定し、第2の記録パラメータを用いて情報を媒体に記録し、当該再生信号から信号品質評価方法により信号品質の評価値を求め、評価値が予め定められた規定値を満足する場合には、記録パラメータ調整を終了し、そうでない場合には、警告を発するようにした（例えば図３のステップＳ５−Ｓ６）。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の光ディスク記録再生方法により、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、最適な記録パラメータを求めることが可能となる。また、本発明の光ディスク記録再生方法により、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、記録パラメータを短時間に求めることが可能となる。また、本発明の光ディスク記録再生方法により求めた記録波形を用いることにより、正しく情報が記録再生できる光ディスク記録再生装置を提供することが可能となる。また、本発明の光ディスク記録再生方法により求めた記録波形を用いて情報の記録を行うことにより、正しく情報が記録された光ディスクを提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図面を参照して本発明に係る光ディスク記録再生装置とその記録方法及び光ディスク媒体の実施の形態を説明する。
【００１８】
図１に本発明の光ディスク記録再生装置のブロック図を示す。記録２値データは、図示されない最小ランレングスが１の変調器により、符号ビット系列中の０あるいは１が最低でも２個連続する系列へと変換されている。記録２値データは、レーザダイオード（LD）ドライバ１０１で、コントローラ１０２から出力される記録パラメータに従って、記録波形へと変換される。電気信号の記録波形はピックアップヘッド（PUH）１０３で光信号に変換された後、光ディスク１００上に照射される。光ディスク１００上では、レーザの照射に応じて、マークが形成される。光ディスク１００には、ランド＆グルーブ記録方式の光ディスクを使用する。
【００１９】
光ディスク１００に記録された情報は、PUH１０３を用いて微弱なアナログ信号として再生される。アナログ信号はプリアンプリファイヤ１０４で増幅され十分な信号レベルとなった後、アナログデジタルコンバータ（ADC）１０５で一定周波数でサンプリングされたデジタル信号へと変換される。デジタルの再生信号は、位相ロックループ（PLL）を含む等化器１０６で、チャネルクロックに同期した信号へと変換されると同時に、PR(1,2,2,2,1)特性に近い等化再生信号へと変換される。等化係数は、チャネルクロックに同期した信号と復号２値データとから求められる。
【００２０】
その後、ビタビ復号器１０７では、等化再生信号とのユークリッド距離が最も小さいパスを選択し、選択したパスに対応する符号ビット系列を、復号２値データとして出力する。
【００２１】
等化再生信号と復号２値データとは、ＰＲＳＮＲ(Partial Response Signal to Noise Ratio)算出器１０８に導入され、ここでＰＲＳＮＲが測定される。また、等化再生信号と復号２値データとは、ＳｂＥＲ(Simulated bit Error Rate)算出器1０９にも導入され、ここで、ＳｂＥＲが測定される。さらに、等化再生信号と復号２値データとは、適応制御値算出器１１０にも導入され、ここで、適応制御値が測定される。測定されたＰＲＳＮＲとＳｂＥＲと適応制御値とは、コントローラ１０２に導かれ、ここで、記録パラメータが算出される。
【００２２】
［  記録波形  ］
図２（ｂ）に記録波形の構造を示す。記録２値データ（図２（ａ））のハイレベルに対応して、マークが光ディスク上に形成される。記録波形は、最も短い2Tマークの記録には、単一のパルスを用いる。記録するマークが長くなるに従って、記録波形のパルス数を増加する。記録パラメータは、ランドトラックに記録する場合とグルーブトラックに記録する場合とで、別個に設定する。記録パラメータを表１にまとめて示す。
【表１】
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【００２３】
時間軸方向の記録パラメータの中、TLC 、TSFP 、TELP は、適応制御パラメータとなっている。つまり、マーク長やスペース長を2T、3T、＞4T(  ＞4Tは４Ｔ以上の意味)の3種類に分類し、分類毎に別個のパラメータが設定できるようになっている。TLCは、マーク長毎に異なる値を設定することが可能となっている。また、TSFP は、マーク長とそれに先導するスペース長毎に、異なる値を設定することが可能となっている。同様に、TELP は、マーク長とそれに後続するスペース長毎に、異なる値を設定することが可能となっている。適応制御パラメータを表2にまとめて示す。
【表２】
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【００２４】
［  記録パラメータ調整手順  ］
記録パラメータの調整手順を説明する。なお、ランドトラック用記録パラメータとグルーブトラック用記録パラメータの調整手順は、同様であるので、ここでは、ランドトラック用の記録パラメータ調整手順のみを説明する。調整手順の概要を図3に示す。
【００２５】
(ピークパワーとバイアスパワー1の調整  図３のステップＳ１)
１．ピークパワーを初期値PP0に設定する。PP0は、光ディスクの所定位置に予め記録されている。当該箇所を再生し、得られた値を設定する。同様に、バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3を初期値PB10、PB20、PB30に設定する。PB10、PB20、PB30は、光ディスクの所定位置に予め記録されている。同様に、時間軸パラメータTSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する。時間軸パラメータの初期値は、光ディスクの所定位置に予め記録されている。ここでは、ピークパワーとバイアスパワー1を変数として扱う，
２．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録した後、再生し、等化係数を求める。以後の手順では、求めた等化係数を使用する，
３．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、ピークパワーとバイアスパワー1を調整する毎に実行される。ピークパワーとバイアスパワー1を調整する毎にＰＲＳＮＲを測定する。ＰＲＳＮＲが大きくなるようにピークパワーとバイアスパワー1を調整する。調整は、ピークパワーとバイアスパワー1の比率が、PP0 と PB10 の比率と同じになるようにする，
４．３の手順で、ピークパワーとＰＲＳＮＲの関係を求める（図4），
５．ＰＲＳＮＲの最大値を求める，
６．ＰＲＳＮＲの最大値の80%以上となるピークパワーの下限値PP0Lと上限値PP0Uを求める。７．ピークパワーの調整値PP1と、バイアスパワー1の調整値PB11を次式のように求める，
PP1 = (PP0L + PP0U) / 2 ,
PB11 = (PB10 / PP0)×PP1 .
５の手順で求めたＰＲＳＮＲの最大値をPP1とする調整方法を用いてもよい。６の手順では８０％以上としたが、規定値はこれに限らない。ＰＲＳＮＲを評価値としたが、ＳｂＥＲを評価値としてもよい。ＳｂＥＲを評価値とする場合は、ＳｂＥＲ値を小さくなるようにピークパワーとバイアスパワー1を調整する。
【００２６】
(TMP の調整  図３のステップＳ２)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3をPB11、PB20、PB30に設定する。時間軸パラメータTSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する。ここでは、TMPを変数として扱う，
２．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、TMPを調整する毎に実行される。TMPを調整する毎にＰＲＳＮＲを測定する。ＰＲＳＮＲが大きくなるようにTMPを調整する，
３．2の手順で、TMPとＰＲＳＮＲの関係を求める（図5），
４．ＰＲＳＮＲの最大値を求める，
５．ＰＲＳＮＲの最大値の80%以上となるTMPの下限値TMPLと上限値TMPUを求める，
６．TMPの調整値TMP(cal) を次式のように求める，
TMP(cal)  = ( TMPL + TMPU ) / 2 
４の手順で求めたＰＲＳＮＲの最大値をTMP(cal)とする調整方法を用いてもよい。５の手順では８０％以上としたが、規定値はこれに限らない。ＰＲＳＮＲを評価値としたが、ＳｂＥＲを評価値としてもよい。ＳｂＥＲを評価値とする場合は、ＳｂＥＲ値を小さくなるようにTMP調整する。
【００２７】
(2Tマーク用TSFP と3Tマーク用TSFP の調整  図３のステップＳ３)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3をPB11、PB20、PB30に設定する。TMPをTMP(cal)に設定する。その他の時間軸パラメータTSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する。ここでは、2Tマーク用TSFP と3Tマーク用TSFP を変数として扱う。2Tマーク用TSFPは、表2では、dl、gl、jl で表されている。同様に、3Tマーク用TSFPは、表2では、el、hl、klで表されている，
２．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、2Tマーク用TSFPを調整する毎に実行される。TSFPを調整する毎にＰＲＳＮＲを測定する。ＰＲＳＮＲが大きくなるようにTSFPを調整する，
３．2の手順で、TSFPとＰＲＳＮＲの関係を求める（図6），
４．ＰＲＳＮＲの最大値を求める，
５．ＰＲＳＮＲの最大値の80%以上となる2Tマーク用TSFPの下限値TSFP2TLと上限値TSFP2TUを求める，
６．2Tマーク用TSFPの調整値TSFP2T を次式のように求める。
【００２８】
TSFP2T = (TSFP2TL + TSFP2TU) / 2   
７．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、3Tマーク用TSFPを調整する毎に実行される。TSFPを調整する毎にＰＲＳＮＲを測定する。ＰＲＳＮＲが大きくなるようにTSFPを調整する，
８．7の手順で、TSFPとＰＲＳＮＲの関係を求める（図7），
９．ＰＲＳＮＲの最大値を求める，
１０．ＰＲＳＮＲの最大値の80%以上となる3Tマーク用TSFPの下限値TSFP3TLと上限値TSFP3TUを求める，
１１．3Tマーク用TSFPの調整値TSFP3T を次式のように求める，
TSFP3T = (TSFP3TL + TSFP3TU) / 2 
４の手順で求めたＰＲＳＮＲの最大値をTSFP2T 、９の手順で求めたＰＲＳＮＲの最大値をTSFP3T とする調整方法を用いてもよい。５および１０の手順では８０％以上としたが、規定値はこれに限らない。ＰＲＳＮＲを評価値としたが、ＳｂＥＲを評価値としてもよい。ＳｂＥＲを評価値とする場合は、ＳｂＥＲ値を小さくなるようにTSFP調整する。
【００２９】
(ＰＲＳＮＲとＳｂＥＲが規定基準値を満たしているかの判断  図３のステップＳ４)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3をPB11、PB20、PB30に設定する。TMPをTMP(cal)に設定する。2Tマーク用TSFPをTSFP2T に設定する。3Tマーク用TSFPをTSFP3T に設定する。その他の時間軸パラメータTSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する，
２．ある5本の隣接したトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する，
３．2.の中央のトラックを再生し、等化係数を求める。以後の手順では、求めた等化係数を使用する，
４．ＰＲＳＮＲとＳｂＥＲとを測定する，
５．もしも、ＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下であれば、1.で設定した記録パラメータを調整後のパラメータとし、記録パラメータ調整手順を終了する。もしも、ＰＲＳＮＲが15.0未満、または、ＳｂＥＲが5.0×10-5よりも大きいならば、次に述べる適応制御パラメータ調整手順を実施する，
５の手順でＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下としたが、本発明はこれに限らない。例えば、ＰＲＳＮＲが13.0以上、かつ、ＳｂＥＲが1.5×10-4以下としても良い。
【００３０】
(適応制御パラメータTSFP、TELPの調整  図３のステップＳ５)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3を初期値PB11、PB20、PB30に設定する。TMPをTMP(cal)に設定する。2Tマーク用TSFPをTSFP2T に設定する。3Tマーク用TSFPをTSFP3T に設定する。その他の時間軸パラメータTSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する。ここでは、マーク長とスペース長によって分類された各々9種類のTSFP、TELPが、つまり、表2のdl、el、fl、gl、hl、il、jl、kl、ll、ml、nl、ol、pl、ql、rl、sl、tl、ul、が独立に調整される，
２．あるトラックに、928512チャネルビット以上の長さのランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、TSFP、TELPを調整する毎に実行される，
３．適応制御値を測定する。適応制御値は、各々9種類のTSFP、TELP毎に算出され、その値は、+1, 0, -1のいずれかである，
４．あるTSFP(TELP)に対する適応制御値が+1ならば、そのTSFP(TELP)をΔT時間分減少(増加)する。あるTSFP(TELP)に対する適応制御値が-1ならば、そのTSFP(TELP)をΔT時間分増加(減少)する。ここで、ΔTは、T/32である，
５．2.から4.の手順は、全ての適応制御値が0になるまで、繰り返し実行される。全ての適応制御値が0になったら、その時のTSFPをTSFP(cal) 、TELPをTELP(cal) とする，
適応制御値が全て0になるまでとしたが、本発明はこれに限らない。例えば、制御値の80％以上が0になるまでとしても良い。あるいは、制御値ができるだけ0になるまでとしても良い。あるいは、繰り返し回数を予め規定しておき、規定回数だけ、繰り返し実行するようにしてもよい。
【００３１】
適応制御値を[-1,0,+1]の3種類としたが、これに限らない。例えば、[-2,-1,0,+1,+2]の5種類としても良い。
【００３２】
ΔT=T/32としたが、これに限らない。例えば、ΔT=T/16としても良い。
【００３３】
(不適合光ディスクかどうかの判断)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3を初期値PB11、PB20、PB30に設定する。TMP、TSFP、TELPを各々TMP(cal)、TSFP(cal)、TELP(cal)に設定する。その他の時間軸パラメータTEFP、TELP、TLCを初期値に設定する，
２．ある5本の隣接したトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する，
３．2.の中央のトラックを再生し、等化係数を求める。以後の手順では、求めた等化係数を使用する，
４．ＰＲＳＮＲとＳｂＥＲとを測定する，
５．もしも、ＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下であれば、1.で設定した記録パラメータを調整後のパラメータとし、記録パラメータ調整手順を終了する。もしも、ＰＲＳＮＲが15.0未満、または、ＳｂＥＲが5.0×10-5よりも大きいならば、不適合光ディスクとして、光ディスクを排出する，
５の手順でＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下としたが、本発明はこれに限らない。例えば、ＰＲＳＮＲが13.0以上、かつ、ＳｂＥＲが1.5×10-4以下としても良い。
【００３４】
［  ＰＲＳＮＲの説明  ］
記録パラメータの算出に用いるＰＲＳＮＲを説明する。ビタビ復号で検出誤りが起きやすいのは、パス間のユークリッド距離が小さい場合である。異なるパス間のユークリッド距離dは、一方のパスに対応する符号ビット系列bkで定められる多項式をB(D)=ΣbkDk、他方のパスに対応する符号ビット系列ck（bk, ckは０もしくは１）で定められる多項式をC(D)=ΣckDk、パーシャルレスポンスを規定する多項式をH(D)=ΣhkDkとして、
N(D)=(B(D)-C(D))*H(D)=ΣεiDiとして、d2=Σεi2で定義される。ここで、Dはチャネルクロック時間を単位とする時間遅延演算子を表し、hkは所定のパーシャルレスポンス特性を表し、ここでは、h0 = 1, h1 = 2, h2 = 2, h3 = 2, h4 = 1、h5以降はすべて0であり、*は畳み込み演算の演算子を表す。パス間のユークリッド距離は、ＰＲＭＬ識別方式を採用したシステムにおける信号成分に相当する。
【００３５】
PR(1,2,2,2,1)特性と最小ランレングス１の記録２値データとを組み合わせたシステムにおいて、パス間のユークリッド距離の小さいεiとd2は表3のようになる。
【表３】
2005346847.tif 000005
【００３６】
等化再生信号ykで定められる多項式Y(D)=ΣykDkと、復号２値データakで定められる多項式A(D)=ΣakDkに対応するパスP(D) =A(D)*H(D)との差分P(D)-Y(D)= ΣvkDkは、等化誤差と呼ばれる。等化誤差がパターン1に与える影響は、
Σ(vk+2vk+1+2vk+2+2vk+3+vk+4)2=N*(14R0+24R1+16R2+8R3+2R4)、（Ri=Σvkvk+i/Nと定義）
と表現でき、パターン１に対する雑音成分に相当する。同様に、等化誤差がパターン2、3に与える影響は、
Σ(vk+2vk+1+vk+2-vk+4-2vk+3-vk+4)2=N*(12R0+16R1+2R2-8R3-12R4-8R5-2R6) 
Σ(vk+2vk+1+vk+2+vk+6+2vk+7+vk+8)2=N*(12R0+16R1+4R2+2R4+8R5+12R6+8R7+2R8) 
と表現でき、各々パターン２，３に対する雑音成分に相当する。
【００３７】
したがって、パターン１の信号対雑音比S1は、
【数１】
2005346847.tif 000006
【００３８】
で与えられる。同様に、パターン２、３の信号対雑音比S2、S3は、
【数２】
2005346847.tif 000007
【００３９】
【数３】
2005346847.tif 000008
【００４０】
で与えられる。信号対雑音比が低いほど、再生信号の品質が劣悪である。S1、S2、S3の中、最も低い値のものをＰＲＳＮＲとする。
【００４１】
図8にＰＲＳＮＲ算出器１０８の具体的な内部ブロック図を示す。ＰＲＳＮＲが高いほど、信号品質が良好であるので、ＰＲＳＮＲが高くなるように、記録パラメータを調整すればよい。
【００４２】
パターン４、５、６の信号対雑音比も同様に求めることができる。したがって、パターン１乃至６の信号対雑音比を求め、その最小値をＰＲＳＮＲとすることもできる。しかし、一般にパターン４、５、６の生起確率はパターン１、２、３に比べ低い。測定の容易さのため、本実施例では、パターン１、２、３からＰＲＳＮＲを求める。また、パス間のユークリッド距離がより大きいパターンの信号対雑音比も同様にして求めることができる。より正確に信号品質を評価するため、それらのパターンに対する信号対雑音比も含めて、ＰＲＳＮＲを求めることもできる。
【００４３】
図８において、３０１は、ＰＲ波形と復号２値データを用いて目標信号を生成する目標信号発生器である。３０２は、目標信号と等化再生信号との比較を行い等化誤差を得る比較器である。等化誤差を用いて、上述した演算処理が行われる。等化誤差の自己相関が計算され、βiにより乗算器で重み付けが行われる。そして各相関値の和が取られる。
【００４４】
［  ＳｂＥＲの説明  ］
続いて、記録パラメータの算出に用いるＳｂＥＲを説明する。ＰＲＭＬ識別方式において、ある記録２値パターンＴが別の２値パターンＦに誤識別される確率を考える。パターンＴがパターンＦに誤識別される条件は、等化再生信号をＳ、パターンＴ，Ｆのパスを各々ＰＴ、ＰＦとしたとき（図９）
【数４】
2005346847.tif 000009
【００４５】
となる。ただし、EPF,S は、パスPFと再生信号Sとのユークリッド距離、EPT,S  は、パスPTと再生信号Sとのユークリッド距離を表す。信号P１と信号P2とのユークリッド距離は、
【数５】
2005346847.tif 000010
【００４６】
で与えられる。  
ＴのＦへ誤識別が発生する確率は、累積したＤ値の分布（図10）を正規分布と仮定し、その平均、標準偏差を各々μ、σとすると、
【数６】
2005346847.tif 000011
【００４７】
と表される。表4に示す誤りの発生し易いパターン対Ｔ，Ｆに対し、F(0)を求めることで、ｂＥＲ（ビットエラー）の推定値ＳｂＥＲ、
【数７】
2005346847.tif 000012
【００４８】
が求められる。ただし、ＣＴは、パターンＴの発生確率、ＨＴ，Ｆは、ＴとＦのハミング距離を示す。
【００４９】
図１１にＳｂＥＲ算出器１０９の具体的な内部ブロック図を示す。復号２値データは、パターン比較器４０１に入力される。パターン比較器４０１は、参照テーブル４０２に記録されているパターンと復号２値データを比較し、ご認識され易いパターンを検出する。そのパターンは、演算器４０３に入力される。再生信号は、レジスタ４０４を介して演算器４０３に入力される。これにより上記式で示した演算が実行されＳｂＥＲが得られる。
【表４−１】
2005346847.tif 000013
【００５０】
【表４−２】
2005346847.tif 000014
【００５１】
【表４−３】
2005346847.tif 000015
【００５２】
［  適応制御値の説明  ］
図１２に適応制御値算出器１１０の内部ブロック図を示す。パターン判別器５０１は内部に予め設定された数種類のパターン(パターン1)が登録されており、復号２値データと登録パターンが一致した場合には、登録されたどのパターンであるかを示す信号を出力する。パターンメモリ５０２では、パターン判別器からの信号にしたがって、内部に登録された3種類のパターン(各々、パターン1、パターン2、パターン3)を出力する。理想信号算出器５１１、５１２、５１３では、パターンからPR(1,2,2,2,1)特性に対応するパスが作成される。距離計算器５２１，５２２，５２３では、パスと等化再生信号とのユークリッド距離が計算される(各々、E1、E2、E3とする)。ユークリッド距離E2とE1の差、および、ユークリッド距離E3とE1の差が各々差分器５３１、５３２で計算され、距離差メモリ５４１、５４２に蓄えられる。前記差を距離差メモリのどこに蓄えるかは、パターン判別器の出力信号に依存する。所定量のデータが記録再生された時点で、パラメータ算出手段５５０では、距離差メモリに蓄えられたデータから適応制御値を算出する。
【００５３】
本実施例では、マークとスペースの長さを2T/3T/≧4Tの３種類に分け、マークとスペースとを対にして、パターン毎に適応制御値を求める。表５にパターンメモリに蓄えられるパターン1、パターン2、パターン3の内容を示す。表５の第1列、第2列は、表２の適応制御パラメータに対応している。例えば、表5の第2行目は、2Tスペース/2Tマーク記録用の適応制御値を求めるための、パターンを示している。パターン2は、パターン1中に出現する符号ビット列’10’(または’01’)に対応する箇所が’00’(または’11’)にしたものである。また、パターン3は、パターン1の中央に出現する符号ビット列’10’(または’01’)に対応する箇所が’11’(または’00’)にしたものである。
【表５】
2005346847.tif 000016
【００５４】
ただし、表5において、”?” は、符号ビット’0’ もしくは ‘1’ を表す。パターン1の ”?”が ’0’ (’1’) ならば、パターン2、3の対応する ”?”も ’0’  (’1’) である。例えば、表5の第2行は、表6のように拡張される。
【表６】
2005346847.tif 000017
【００５５】
図13、図14（Ａ）、図14（Ｂ）、図15に本発明の適応制御値算出の基本概念を示す。例えば、パターン判別器により選択されたパターン1,2,3が各々図13の上部に示されるような０，１の配列である場合を考える。パターン1,2,3から算出されるパスは、各々図13の下部に示される波形となる。図13で示されるパターン1,2,3のパスを各々P1(t),P2(t),P2(t)とし、再生信号をY(t)とする。P1(t),P2(t),P3(t)とY(t)とのユークリッド距離E1,E2,E3は、
E1 = Σ｛Y(t)-P1(t)｝2
E2 = Σ｛Y(t)-P2(t)｝2
E3 = Σ｛Y(t)-P3(t)｝2
となる。パターン1を記録したにも関わらず、識別結果がパターンE2となる条件は、
E1 > E2                                                        
同様に、パターン1を記録したにも関わらず、識別結果がパターンE3となる条件は、
E1 > E3                                                        
である。ここで、
D2 = E2 - E1                                          
D3 = E3 - E1                                          
を考える。D2,D3の分布は図14（Ａ）、図14（Ｂ）のように表される。図14（Ａ）、図14（Ｂ）において、各分布が0以下となる領域が識別エラーに対応する。図14（Ａ）において、０以下のときはパターン２が選択される。図14（Ｂ）において、０以下のときはパターン３が選択される。D2,D3の平均を各々M2,M3、標準偏差を各々σ2,σ3とすると、パターン1を記録したときに、識別結果がパターン2にならないためのマージンMgn2は、
Mgn2 = M2/σ2                                          
となる。同様に、パターン1を記録したときに、識別結果がパターン3にならないためのマージンMgn3は、
Mgn3 = M3/σ3                                          
となる。
【００５６】
ここで、パターン1を記録した時に、識別結果がパターン2となる事象と、識別結果がパターン3となる事象は相反する事象と考えられる。図15にD2と-D3の分布を示す。横軸上にある値Ecを設け、分布D2、および、-D3のEcまでのマージンMgn2’,Mgn3’は、
Mgn2’ = (M2-Ec)/σ2                                  
Mgn3’ = (M3+Ec)/σ3                                  
となる。Mgn2’=Mgn3’として、Ecについて解くと、
Ec = (σ3*M2-σ2*M3)/(σ2+σ3)                        
となる。これは、Ec分だけ、分布が全体にシフトすれば、パターン1を記録したときに、識別結果がパターン2となる確率と、識別結果がパターン3となる確率とが等しくなり、最も誤り難いことに対応する。つまり、Ecに対応する記録波形の制御を施すことにより、良好な記録を行うことができる。Ecの符号は、マークを大きくするか、小さくするかに対応し、Ecの絶対値は、マークサイズの変化量に対応する。
【００５７】
ここで、Ecの単位はユークリッド距離である。一方、適応制御パラメータTSFP、TELPの単位は時間である。ユークリッド距離を時間に変換するのは容易ではない。
【００５８】
そこで、Ecから、次のようにして適応制御パラメータを調整すればよい。0近傍に不感帯を設け、Ecが不感帯内にあれば、適応制御値は0とする。Ecが不感帯よりも大きければ、適応制御値は+1とする。逆に、Ecが不感帯よりも小さければ、適応制御値は-1とする。適応制御値[-1,0,+1]に応じて、適応制御パラメータTSFP、TELPをΔT（=T/32）ずつ増減する。適応制御パラメータTSFP、TELPをΔTずつ増減した後、再度、記録再生し、適応制御値を求める。適応制御値が全て0になるまで、この操作を繰り返す。
【００５９】
適応制御値が全て0になるまでとしたが、本発明はこれに限らない。例えば、制御値の80％以上が0になるまでとしても良い。あるいは、制御値ができるだけ0になるまでとしても良い。あるいは、繰り返し回数を予め規定しておき、規定回数だけ、繰り返し実行するようにしてもよい。
【００６０】
適応制御値を[-1,0,+1]の3種類としたが、これに限らない。例えば、[-2,-1,0,+1,+2]の5種類としても良い。またΔT=T/32としたが、これに限らない。例えば、ΔT=T/16としても良い。
【００６１】
［  第２の記録パラメータ調整手順  ］
本発明の第2の記録パラメータの調整手順を説明する。なお、ランドトラック用記録パラメータとグルーブトラック用記録パラメータの調整手順は、同様であるので、ここでは、ランドトラック用の記録パラメータ調整手順のみを説明する。調整手順の概要を図16に示す。
【００６２】
(ピークパワーとバイアスパワー1の調整  図１６のステップＳＡ１)
１．ピークパワーを初期値PP0に設定する。PP0は、光ディスクの所定位置に予め記録されている。当該箇所を再生し、得られた値を設定する。同様に、バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3を初期値PB10、PB20、PB30に設定する。PB10、PB20、PB30は、光ディスクの所定位置に予め記録されている。同様に、時間軸パラメータTSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する。ただし、TSFP、TEFPは、表2に示される各々9個を設定する。同様に、TLCは、表2に示される3個を設定する。時間軸パラメータの初期値は、光ディスクの所定位置に予め記録されている。ここでは、ピークパワーとバイアスパワー1を変数として扱う，
２．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録した後、再生し、等化係数を求める。以後の手順では、求めた等化係数を使用する，
３．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、ピークパワーとバイアスパワー1を調整する毎に実行される。ピークパワーとバイアスパワー1を調整する毎にＰＲＳＮＲを測定する。ＰＲＳＮＲが大きくなるようにピークパワーとバイアスパワー1を調整する。調整は、ピークパワーとバイアスパワー1の比率が、PP0 と PB10 の比率と同じになるようにする，
４．3の手順で、ピークパワーとＰＲＳＮＲの関係を求める（図4），
４．ＰＲＳＮＲの最大値を求める，
６．ＰＲＳＮＲの最大値の80%以上となるピークパワーの下限値PP0Lと上限値PP0Uを求める，
７．ピークパワーの調整値PP1と、バイアスパワー1の調整値PB11を次式のように求める，
PP1 = (PP0L + PP0U) / 2 ,
PB11 = (PB10 / PP0) ×  PP1 .
５の手順で求めたＰＲＳＮＲの最大値をPP1とする調整方法を用いてもよい。６の手順では８０％以上としたが、規定値はこれに限らない。ＰＲＳＮＲを評価値としたが、ＳｂＥＲを評価値としてもよい。ＳｂＥＲを評価値とする場合は、ＳｂＥＲ値を小さくなるようにピークパワーとバイアスパワー1を調整する。
【００６３】
(TMP の調整  図１６のステップＳＡ２)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3をPB11、PB20、PB30に設定する。時間軸パラメータTSFP、TEFP、TMP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する。ここでは、TMPを変数として扱う，
２．あるトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、TMPを調整する毎に実行される。TMPを調整する毎にＰＲＳＮＲを測定する。ＰＲＳＮＲが大きくなるようにTMPを調整する，
３．2の手順で、TMPとＰＲＳＮＲの関係を求める（図5），
４．ＰＲＳＮＲの最大値を求める，
５．ＰＲＳＮＲの最大値の80%以上となるTMPの下限値TMPLと上限値TMPUを求める，
６．TMPの調整値TMP(cal) を次式のように求める，
TMP(cal)  = ( TMPL + TMPU ) / 2 
４の手順で求めたＰＲＳＮＲの最大値をTMP(cal)とする調整方法を用いてもよい。５の手順では８０％以上としたが、規定値はこれに限らない。ＰＲＳＮＲを評価値としたが、ＳｂＥＲを評価値としてもよい。ＳｂＥＲを評価値とする場合は、ＳｂＥＲ値を小さくなるようにTMPを調整する。
【００６４】
(ＰＲＳＮＲとＳｂＥＲが規定基準値を満たしているかの判断  図１６のステップＳＡ３)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3をPB11、PB20、PB30に設定する。TMPをTMP(cal)に設定する。その他の時間軸パラメータTSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する，
２．ある5本の隣接したトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する，
３．2.の中央のトラックを再生し、等化係数を求める。以後の手順では、求めた等化係数を使用する，
４．ＰＲＳＮＲとＳｂＥＲとを測定する，
５．もしも、ＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下であれば、1.で設定した記録パラメータを調整後のパラメータとし、記録パラメータ調整手順を終了する。もしも、ＰＲＳＮＲが15.0未満、または、ＳｂＥＲが5.0×10-5よりも大きいならば、次に述べる適応制御パラメータ調整手順を実施する。
【００６５】
５の手順でＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下としたが、本発明はこれに限らない。例えば、ＰＲＳＮＲが13.0以上、かつ、ＳｂＥＲが1.5×10-4以下としても良い。
【００６６】
(適応制御パラメータTSFP、TELPの調整  図１６のステップＳＡ４)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3を初期値PB11、PB20、PB30に設定する。TMPをTMP(cal)に設定する。その他の時間軸パラメータTSFP、TEFP、TSLP、TELP、TLCを初期値に設定する。ここでは、各々9種類のTSFP、TELP、つまり、表2のdl、el、fl、gl、hl、il、jl、kl、ll、ml、nl、ol、pl、ql、rl、sl、tl、ul、が独立に調整される、
２．あるトラックに、928512チャネルビット以上の長さのランダムデータを10回連続的に記録する。このランダムデータの10回連続記録は、TSFP、TELPを調整する毎に実行される、
３．適応制御値を測定する。適応制御値は、各々9種類のTSFP、TELP毎に算出され、その値は、+1, 0, -1のいずれかである、
４．あるTSFP(TELP)に対する適応制御値が+1ならば、そのTSFP(TELP)をΔT時間分減少(増加)する。あるTSFP(TELP)に対する適応制御値が-1ならば、そのTSFP(TELP)をΔT時間分増加(減少)する。ここで、ΔTは、T/32である、
５．2.から4.の手順は、全ての適応制御値が0になるまで、繰り返し実行される。全ての適応制御値が0になったら、その時のTSFPをTSFP(cal) 、TELPをTELP(cal) とする。
【００６７】
適応制御値が全て0になるまでとしたが、本発明はこれに限らない。例えば、制御値の80％以上が0になるまでとしても良い。あるいは、制御値ができるだけ0になるまでとしても良い。あるいは、繰り返し回数を予め規定しておき、規定回数だけ、繰り返し実行するようにしてもよい。
【００６８】
適応制御値を[-1,0,+1]の3種類としたが、これに限らない。例えば、[-2,-1,0,+1,+2]の5種類としても良い。ΔT=T/32としたが、これに限らない。例えば、ΔT=T/16としても良い。
【００６９】
(不適合光ディスクかどうかの判断  図１６のステップＳＡ５)
１．ピークパワーをPP1に設定する。バイアスパワー1、バイアスパワー2、バイアスパワー3を初期値PB11、PB20、PB30に設定する。TMP、TSFP、TELPを各々TMP(cal)、TSFP(cal)、TELP(cal)に設定する。その他の時間軸パラメータTEFP、TELP、TLCを初期値に設定する、
２．ある5本の隣接したトラックに、ランダムデータを10回連続的に記録する、
３．2.の中央のトラックを再生し、等化係数を求める。以後の手順では、求めた等化係数を使用する、
４．ＰＲＳＮＲとＳｂＥＲとを測定する、
５．もしも、ＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下であれば、1.で設定した記録パラメータを調整後のパラメータとし、記録パラメータ調整手順を終了する。もしも、ＰＲＳＮＲが15.0未満、または、ＳｂＥＲが5.0×10-5よりも大きいならば、不適合光ディスクとして、光ディスクを排出する。
【００７０】
５の手順でＰＲＳＮＲが15.0以上、かつ、ＳｂＥＲが5.0×10-5以下としたが、本発明はこれに限らない。例えば、ＰＲＳＮＲが13.0以上、かつ、ＳｂＥＲが1.5×10-4以下としても良い。
【００７１】
［  矩形記録波形  ］
第１乃至第２の発明では、記録波形に所謂マルチパルス波形を用いた。本発明はこれに限らず、記録波形に図１７（ｂ）に示すような矩形波を用いてもよい。図１７（ａ）は、記録２値データである。この場合の記録パラメータを、表７に示す。
【表７】
2005346847.tif 000018
【００７２】
記録波形に矩形波を用いる場合の記録パラメータの調整手順は、図１８、または、図１９のようになる。
【００７３】
矩形記録波形を変形した図２０（ｂ）に示す波形を記録波形として用いてもよい。図２０（ａ）は、記録２値データである。本発明が適用可能な記録波形はこれらに限らない。
【００７４】
以上の実施例では、所謂ランド＆グルーブ記録方式の光ディスクを用いた。本発明は、これに限らず、ランドのみ、あるいは、グルーブのみに情報を記録する光ディスクを用いてもよい。
【００７５】
以上の実施例では、マーク長やスペース長を2T、3T、＞4Tの3種類に分類したが、本発明はこれに限らない。例えば、マーク長やスペース長を2T、3T、４Ｔ、＞５Tの４種類に分類する場合にも適用できる。
【００７６】
以上の実施例では、ＰＲ（１，２，２，２，１）を用いたが、本発明はこれに限らず、別のＰＲクラス、例えば、ＰＲ（１，２，２，１）やＰＲ（３，４，４，３）の場合にも適用できる。
【００７７】
以上の実施例では、最小ランレングスが１の場合で説明したが、本発明はこれに限らない。例えば、最小ランレングスが２の場合でも本発明は適用できる。
【００７８】
以上説明したように、本発明の光ディスク記録再生方法により、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、最適な記録パラメータを求めることが可能となる。また、本発明の光ディスク記録再生方法により、ＰＲＭＬ識別方式を用いた光ディスクシステムにおいて、記録パラメータを短時間に求めることが可能となる。また、本発明の光ディスク記録再生方法により求めた記録波形を用いることにより、正しく情報が記録再生できる光ディスク記録再生装置を提供することが可能となる。また、本発明の光ディスク記録再生方法により求めた記録波形を用いて情報の記録を行うことにより、正しく情報が記録された光ディスクを提供することが可能となる。
【００７９】
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】本発明の光ディスク記録再生装置の一例を示すブロック図。
【図２】本発明に係る記録波形の例を示す説明図。
【図３】本発明に係る光ディスク記録再生方法の例を示すフローチャート。
【図４】記録パワーの調整方法の例を示す説明図。
【図５】中間マルチパルス幅の調整方法を説明するために示した説明図。
【図６】2Tマーク記録時の先頭パルス幅の調整方法を説明するために示した説明図。
【図７】3Tマーク記録時の先頭パルス幅の調整方法を説明するために示した説明図。
【図８】ＰＲＳＮＲ算出器の構成例を示すブロック図。
【図９】ＳｂＥＲの基本原理を表す1番目の説明図。
【図１０】ＳｂＥＲの基本原理を表す2番目の説明図。
【図１１】ＳｂＥＲ算出器の構成例を示すブロック図。
【図１２】適応制御値算出器の構成例を示すブロック図。
【図１３】適応制御値の基本原理を表す1番目の説明図。
【図１４】適応制御値の基本原理を表す2番目の説明図。
【図１５】適応制御値の基本原理を表す3番目の説明図。
【図１６】本発明の第2の光ディスク記録再生方法の例を示すフローチャート。
【図１７】本発明の第2の記録波形の例を示す図。
【図１８】本発明の第3の光ディスク記録再生方法の例を示すフローチャート。
【図１９】本発明の第4の光ディスク記録再生方法の例を示すフローチャート。
【図２０】本発明の第3の記録波形の例を示す図。
【図２１】従来の光ディスク記録再生装置のブロック図。
【図２２】従来の記録波形を示す図。
【符号の説明】
【００８１】
１００…光ディスク、１０１…ＬＤドライバ、１０２…コントローラ、１０３…ピックアップヘッド、１０４…プリアンプリファイヤ、１０５…アナログデジタルコンバータ、１０６…等化器、１０７…ビタビ復号器、１０８…ＰＲＳＮＲ算出器、１０９…ＳｂＥＲ算出器、１１０…適応制御値算出器。
【図１】
2005346847.tif 000019
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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