(57)【要約】      （修正有）【課題】各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる信号レベル差を低減させる。【解決手段】垂直方向に延びた境界を境にして右領域と左領域との間で信号レベル差が現れているとする。画素の一部を抽出するために、境界に接して画素を縦横にそれぞれ８個有した８×８領域を設定し（Ｓ１）、左右両領域の信号レベルの平均値を求めて、それらの平均値から信号レベル差を打ち消す値を求める（Ｓ２，Ｓ３）。この値を補正量として、信号レベル差を打ち消すように各画素の信号レベルにそれぞれ作用させる（Ｓ４）。各画素の並びで水平方向に現れる画素の信号レベル差は、画素の信号レベルの分布から発生する信号レベル差の一種でもあるので、その画素の信号レベルの分布に関する統計量として補正量を各画素の信号レベルにそれぞれ作用させて各画素を補正することで、各画素の並びで水平方向Ｈに現れる画素の信号レベル差を低減させることができる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、放射線検出手段から検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、検出された放射線検出信号に基づく画素の信号レベルの分布に関する統計量を算出する統計量算出手段と、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる信号レベル差を打ち消すように前記統計量を各画素の信号レベルに作用させて、前記信号レベル差を低減させて各画素を補正する画素補正手段とを備えることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、検出された放射線検出信号に基づく画素の信号レベルの分布に関する統計量を算出し、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を打ち消すように前記統計量を各画素の信号レベルに作用させて、前記信号レベル差を低減させて各画素を補正することを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【請求項３】
請求項２に記載の放射線検出信号処理方法において、前記統計量は、前記画素の少なくとも一部を抽出した信号レベルの平均値であることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【請求項４】
請求項３に記載の放射線検出信号処理方法において、前記信号レベル差が現れる境界から画素までの距離が長くなるのにしたがって重み付けを小さくして前記統計量を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正することを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法に係り、特に、画素を補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線撮像装置の例としてＸ線を検出してＸ線透視画像を得る撮像装置では、従来においてＸ線検出手段としてイメージインテンシファイア（Ｉ．Ｉ）が用いられていたが、近年において、フラットパネル型Ｘ線検出器（以下、『ＦＰＤ』と略記する）が用いられている。
【０００３】
ＦＰＤは、感応膜が基板上に積層されて構成されており、その感応膜に入射した放射線を検出して、検出された放射線を電荷に変換して、２次元アレイ状に配置されたキャパシタに電荷を蓄積する。蓄積された電荷はスイッチング素子をＯＮすることで読み出されて、放射線検出信号として画像処理部に送り込まれる。そして、画像処理部において放射線検出信号に基づく画素を有した画像が得られる。したがって、キャパシタやスイッチング素子を構成する検出素子ごとに蓄積される電荷の量にバラツキがあり、それによって検出素子ごとの放射線検出信号に基づく画素の信号レベルについてもバラツキがある。かかるバラツキを低減させるために、例えば検出素子ごとの増幅器（アンプ）のゲインをそれぞれ調節して出力側をそろえるキャリブレーション（校正）を行う。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、このようなキャリブレーションを行っても画素の信号レベルのバラツキ、すなわち信号レベル差を解消することができない場合がある。画像は、図７に示すように、各画素を２次元状に配置することで構成されている。この画像において、図７（ａ）に示すように、各画素の並びで水平方向Ｈに画素の信号レベル差が現れる。具体的に説明すると、ある垂直方向に延びた境界ＢVを境にして図７（ａ）の右領域Ｒと左領域Ｌとの間で信号レベル差が現れる。この信号レベル差が現れる原因は、主に検出器の構成上の特徴、例えばセンサ面内の領域を複数の電源が分担して電圧供給していることなどによる。もし、上下に分かれた２つの領域を２つの電源が分担している場合には、図７（ｂ）に示すように、各画素の並びで垂直方向Ｖに画素の信号レベル差が、ある水平方向に延びた境界ＢHを境にして、上領域Ｕと下領域Ｄとの間で現れる。また、上下左右の４つの領域をそれぞれ異なった電源が分担している場合には、図７（ｃ）に示すように水平方向Ｈ、垂直方向Ｖの双方に現れる。本明細書では、図７（ｃ）に示す信号レベル差のノイズを、『十字ノイズ』と呼ぶ。
【０００５】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を低減させることができる放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
【０００７】
すなわち、請求項１に記載の発明は、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、放射線検出手段から検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、検出された放射線検出信号に基づく画素の信号レベルの分布に関する統計量を算出する統計量算出手段と、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる信号レベル差を打ち消すように前記統計量を各画素の信号レベルに作用させて、前記信号レベル差を低減させて各画素を補正する画素補正手段とを備えることを特徴とするものである。
【０００８】
［作用・効果］請求項1に記載の発明によれば、統計量算出手段は、検出された放射線検出信号に基づく画素の信号レベルの分布に関する統計量を算出し、画素補正手段は、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる信号レベル差を打ち消すように統計量を各画素の信号レベルに作用させている。各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差は、画素の信号レベルの分布から発生する信号レベル差の一種でもあるので、その画素の信号レベルの分布に関する統計量を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正することで、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を低減させることができる。
【０００９】
また、請求項２に記載の発明は、被検体を照射して検出された放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、検出された放射線検出信号に基づく画素の信号レベルの分布に関する統計量を算出し、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を打ち消すように前記統計量を各画素の信号レベルに作用させて、前記信号レベル差を低減させて各画素を補正することを特徴とするものである。
【００１０】
［作用・効果］請求項２に記載の発明によれば、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差は、画素の信号レベルの分布から発生する信号レベル差の一種でもあるので、画素の信号レベルの分布に関する統計量を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正することで、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を低減させることができる。
【００１１】
上述した発明において、統計量の一例は、画素の少なくとも一部を抽出した信号レベルの平均値である（請求項３に記載の発明）。また、通常用いられる統計量であれば、平均値に限定されず、例えば信号レベルの中央値であってもよい。
【００１２】
また上述した発明において、信号レベル差が現れる境界から画素までの距離が長くなるのにしたがって重み付けを小さくして統計量を各画素の信号レベル差に作用させて各画素を補正するのが好ましい（請求項４に記載の発明）。境界付近では信号レベル差が顕著に現れ、境界付近から遠ざかるのにしたがって、すなわち境界から画素までの距離が長くなるのにしたがってその画素の信号レベルは信号レベル差による影響が小さくなる。したがって、境界から画素までの距離が長くなるのにしたがって重み付けを小さくして統計量を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正することで、画素の信号レベル差をより一層低減させることができる。
【発明の効果】
【００１３】
この発明に係る放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法によれば、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差は、画素の信号レベルの分布から発生する信号レベル差の一種でもあるので、画素の信号レベルの分布に関する統計量を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正することで、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を低減させることができる。
【実施例】
【００１４】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
【００１５】
図１は、実施例に係るＸ線透視撮影装置のブロック図であり、図２は、Ｘ線透視撮影装置に用いられている側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路であり、図３は、平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。本実施例では、放射線検出手段としてフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」という）を例に採るとともに、放射線撮像装置としてＸ線透視撮影装置を例に採って説明する。
【００１６】
本実施例に係るＸ線透視撮影装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板１と、その被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するＦＰＤ３とを備えている。Ｘ線管２は、この発明における放射線照射手段に相当し、ＦＰＤ３はこの発明における放射線検出手段に相当する。
【００１７】
Ｘ線透視撮影装置は、他に、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４や、ＦＰＤ３の走査を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部６を有するＸ線管制御部７や、ＦＰＤ３から電荷信号であるＸ線検出信号をディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器８や、Ａ／Ｄ変換器８から出力されたＸ線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部９や、これらの各構成部を統括するコントローラ１０や、処理された画像などを記憶するメモリ部１１や、オペレータが入力設定を行う入力部１２や、処理された画像などを表示するモニタ１３などを備えている。
【００１８】
天板制御部４は、天板１を水平移動させて被検体Ｍを撮像位置にまで収容したり、昇降、回転および水平移動させて被検体Ｍを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤ３を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部６は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部７は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させるによる走査に関する制御や、Ｘ線管３側のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤ３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３が検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤ３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
【００１９】
コントローラ１０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、メモリ部１１は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部１２は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。Ｘ線透視撮影装置では、被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３が検出して、検出されたＸ線に基づいて画像処理部９で画像処理を行うことで被検体Ｍの撮像を行う。
【００２０】
なお、画像処理部９は、画素の信号レベルの分布に関する統計量として後述する補正量を求める統計量算出部９ａと、各画素の並びで水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を打ち消すように補正量を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正する画素補正部９ｂを備えている。統計量算出部９ａや画素補正部９ｂも、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されている。統計量算出部９ａや画素補正部９ｂの具体的な機能については図４のフローチャートや図５の説明図で後述する。統計量算出部９ａは、この発明における統計量算出手段に相当し、画素補正部９ｂは、この発明における画素補正手段に相当する。
【００２１】
ＦＰＤ３は、図２に示すように、ガラス基板３１と、ガラス基板３１上に形成された薄膜トランジスタＴＦＴとから構成されている。薄膜トランジスタＴＦＴについては、図２、図３に示すように、縦・横式２次元マトリクス状配列でスイッチング素子３２が多数個（例えば、1024個×1024個）形成されており、キャリア収集電極３３ごとにスイッチング素子３２が互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３は、２次元アレイ放射線検出器でもある。
【００２２】
図２に示すようにキャリア収集電極３３の上にはＸ線感応型半導体３４が積層形成されており、図２、図３に示すようにキャリア収集電極３３は、スイッチング素子３２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ３５からは複数本のゲートバスライン３６が接続されているとともに、各ゲートバスライン３６はスイッチング素子３２のゲートＧに接続されている。一方、図３に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ３７には増幅器３８を介して複数本のデータバスライン３９が接続されているとともに、図２、図３に示すように各データバスライン３９はスイッチング素子３２のドレインＤに接続されている。
【００２３】
図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン３６の電圧を印加（または０Ｖに）することでスイッチング素子３２のゲートがＯＮされて、キャリア収集電極３３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体３４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、スイッチング素子３２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３９に読み出す。なお、スイッチング素子がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタ（図示省略）で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３９に読み出された電荷信号を増幅器３８で増幅して、マルチプレクサ３７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器８でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。
【００２４】
次に、本実施例装置における統計量算出部９ａや画素補正部９ｂによる一連の信号処理について、図４のフローチャートおよび図５の説明図を参照して説明する。なお、この処理では、図５に示すように、各画素の並びで水平方向Ｈに画素の信号レベル差が現れたときの補正を例に採って説明する。
【００２５】
画素が、図５に示すように２次元状にｍ列（ｍは自然数）の画素列、ｎ行（ｎは自然数）の画素行で配置されている。ある垂直方向に延びた境界ＢVを境にして図４の右領域Ｒと左領域Ｌとの間で信号レベル差が現れているとする。また、ｉは１≦ｉ≦ｍを満たすとともに、ｊは１≦ｊ≦ｎを満たすとする。
【００２６】
（ステップＳ１）８×８領域を設定する
ｉ番目の画素列とｊ番目の画素行とが交差した画素Ｐijについて着目してみる。ｊ番目の画素行を含み、かつ境界ＢVに接する領域であって、画素を縦横にそれぞれ８個有した領域（以下、この領域を『８×８領域』と呼ぶ）を設定する。図５中の符号ＴRは、右領域Ｒ側にある８×８領域を示し、符号ＴLは、左領域Ｌ側にある８×８領域を示す。なお、領域内の画素数は８×８に限定されず、例えば４×４であってもよいし、２×８や８×２であってもよい。
【００２７】
（ステップＳ２）左右の両領域の平均値を求める
次に、右領域Ｒ側にある８×８領域ＴRおよび左領域Ｌ側にある８×８領域ＴLにおける画素の信号レベルの平均値を統計量算出部９ａ（図１を参照）がそれぞれ求める。右領域Ｒ側にある８×８領域ＴRにおける画素の信号レベルの平均値をＸRとし、左領域Ｌ側にある８×８領域ＴLにおける画素の信号レベルの平均値をＸLとする。なお、平均値は、各領域ＴR，ＴL内の全画素の信号レベルの加算平均であってもよいし、各領域ＴR，ＴL内の全画素の信号レベルの加乗平均であってもよい。
【００２８】
（ステップＳ３）両領域に基づく補正量を求める
そして、右領域Ｒ側にある８×８領域ＴRにおける画素の信号レベルの平均値ＸRと、左領域Ｌ側にある８×８領域ＴLにおける画素の信号レベルの平均値ＸLとに基づいて、水平方向Ｈに現れる信号レベル差を打ち消す値を統計量算出部９ａ（図１を参照）が求める。この値を補正量Ｘとすると、補正量Ｘは下記（１）式により求まる。
【００２９】
Ｘ＝（ＸL−ＸR）／２                                …（１）
ステップＳ２で求められた平均値ＸR，ＸLやステップＳ３で求められた補正量Ｘは、この発明における画素の信号レベルの分布に関する統計量に相当する。
【００３０】
（ステップＳ４）補正量を信号レベルに作用させる
水平方向Ｈに現れる信号レベル差を打ち消すように、ステップＳ３で求められた補正量Ｘをｊ番目の画素行にある各画素[Ｐ1j，Ｐ2j，…，Ｐij，…，Ｐ(m-1)j，Ｐmj]の信号レベルに、ｉ＝１，２，…，ｍ−１，ｍの順に作用させる。この作用の際には、以下の条件で行う。
【００３１】
ｊ番目の画素行にある画素が左領域Ｌに属して、その画素の信号レベルに補正量Ｘを作用させる場合には、その画素の信号レベルから補正量Ｘを減算する（Ｐij−Ｘ）。ｊ番目の画素行にある画素が右領域Ｒに属して、その画素の信号レベルに補正量Ｘを作用させる場合には、その画素の信号レベルに補正量Ｘを加算する（Ｐij＋Ｘ）。
【００３２】
（ステップＳ５）ｉ＝ｍになったか？
各画素の信号レベルについてｉ＝１，２，…，ｍ−１，ｍの順に作用させるたびに、ｉ＝ｍになったか否かを画素補正部９ｂ（図１を参照）が判断する。ｉ＜ｍであればステップＳ４に戻り、ｉ＝ｍになるまで、ステップＳ４，Ｓ５の処理をループする。ｉ＝ｍになれば、補正量Ｘを作用させることで、ｊ番目の画素行にある各画素[Ｐ1j，Ｐ2j，…，Ｐij，…，Ｐ(m-1)j，Ｐmj]の信号レベルが全て補正されたとして、次のステップＳ６に移行する。
【００３３】
（ステップＳ６）ｊの値を１ずつ繰り上げる
上述したステップＳ１〜Ｓ５を、各画素行[Ｐi1，Ｐi2，…，Ｐij，…，Ｐi(n-1)，Ｐin]の信号レベルについても、ｊ＝１，２，…，ｎ−１，ｎの順に行う。つまり、ステップＳ１〜Ｓ５でのｊの値を１ずつ繰り上げる。
【００３４】
（ステップＳ７）ｊ＝ｎになったか？
そして、各画素行の信号レベルについてｊ＝１，２，…，ｎ−１，ｎの順に行うたびに、ｊ＝ｎになったか否かを画素補正部９ｂ（図１を参照）が判断する。ｊ＜ｎであればステップＳ１に戻り、ｊ＝ｎになるまで、ステップＳ１からの処理をループする。ｊ＝ｎになれば、画像内の画素が全て補正されたとして、一連の信号処理を終了する。
【００３５】
以上のように構成された本実施例装置によれば、統計量算出部９ａは、検出されたＸ線検出信号に基づく画素の信号レベルの分布に関する統計量として補正量Ｘを求め、画素補正部９ｂは、各画素の並びで水平方向Ｈに現れる信号レベル差を打ち消すように補正量Ｘを各画素の信号レベルに作用させている。各画素の並びで水平方向Ｈに現れる画素の信号レベル差は、画素の信号レベルの分布から発生する信号レベル差の一種でもあるので、その画素の信号レベルの分布に関する統計量として補正量Ｘを各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正することで、各画素の並びで水平方向Ｈに現れる画素の信号レベル差を低減させることができる。
【００３６】
本実施例は、補正量Ｘは、画素の一部を抽出した右，左領域Ｒ，Ｌにある８×８領域ＴR，ＴLの各信号レベルの平均値に基づいて上記（１）式で求められた、信号レベル差を打ち消す値である。
【００３７】
なお、垂直方向についても、図４のフローチャートにおいて水平方向を垂直方向に置き換えて、水平方向に延びた境界に接する８×８領域を設定して補正量を求め、その補正量を各画素の信号レベルにそれぞれ作用させることで、同様の作用・効果を奏する。さらに、十字ノイズの場合には、水平方向および垂直方向の両方向についても、同様の補正を行うことで、十字ノイズを消すことができる。
【００３８】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００３９】
（１）上述した実施例では、図１に示すようなＸ線透視撮影装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばＣ型アームに配設されたＸ線透視撮影装置にも適用してもよい。また、この発明は、Ｘ線ＣＴ装置にも適用してもよい。
【００４０】
（２）上述した実施例では、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３を例に採って説明したが、画素を区画する２次元マトリクス状で配列された検出素子から構成されるＸ線検出器であれば、この発明は適用することができる。
【００４１】
（３）上述した実施例では、Ｘ線を検出するＸ線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように放射性同位元素（ＲＩ）を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したＥＣＴ装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。
【００４２】
（４）上述した実施例では、ＦＰＤ３は、放射線（実施例ではＸ線）感応型の半導体を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。
【００４３】
（５）上述した実施例では、上記（１）式（Ｘ＝（ＸL−ＸR）／２）から補正量Ｘを求めて、ｊ番目の画素行にある画素が左領域Ｌに属して、その画素の信号レベルに補正量Ｘを作用させる場合には、その画素の信号レベルから補正量Ｘを減算する処理（Ｐij−Ｘ）を行い、ｊ番目の画素行にある画素が右領域Ｒに属して、その画素の信号レベルに補正量Ｘを作用させる場合には、その画素の信号レベルに補正量Ｘを加算する処理（Ｐij＋Ｘ）を行ったが、下記（２）式のように補正量を求めてから補正量Ｘ´を各画素の信号レベルに作用させてもよい。
【００４４】
Ｘ´＝（ＸR−ＸL）／２                                …（２）
そして、上記（２）式から求まった補正量Ｘ´では、ｊ番目の画素行にある画素が左領域Ｌに属して、その画素の信号レベルに補正量Ｘ´を作用させる場合には、その画素の信号レベルに補正量Ｘ´を加算する処理（Ｐij＋Ｘ´）を行い、ｊ番目の画素行にある画素が右領域Ｒに属して、その画素の信号レベルに補正量Ｘ´を作用させる場合には、その画素の信号レベルから補正量Ｘ´を減算する処理（Ｐij−Ｘ´）を行う。垂直方向についても同様の補正を行うことができる。
【００４５】
（６）上述した実施例では、上記（１）式（Ｘ＝（ＸL−ＸR）／２）から補正量Ｘを求めて、その補正量Ｘを各画素の信号レベルに作用させて補正を行ったが、過補正になる場合がある。そこで、下記（３）式のように一定の割合αを補正量Ｘに乗じて小さくしてもよい。ここでαは１未満である。
【００４６】
Ｙ＝α・Ｘ＝α・（ＸL−ＸR）／２                      …（３）
そして、この補正量Ｙを各画素の信号レベルに作用させて補正を行えばよい。なお、実験では、αは０．７程度のときに好適な補正が行えることが確認されている。垂直方向についても同様の補正を行うことができる。
【００４７】
（７）上述した実施例では、上記（１）式（Ｘ＝（ＸL−ＸR）／２）から補正量Ｘを求めて、その補正量Ｘを各画素の信号レベルにそれぞれ作用させて補正を行ったが、境界付近では信号レベル差が顕著に現れ、境界付近から遠ざかるのにしたがって、すなわち境界から画素までの距離が長くなるのにしたがってその画素の信号レベルは信号レベル差による影響が小さくなることから、重み付けを行うことで補正を行ってもよい。
【００４８】
すなわち、図６に示すように、境界ＢVから画素までの距離（ここでは画素数）をｔとしたときに、下記（４）式のように、境界ＢVから画素までの距離ｔが長くなるのにしたがって重み付けを小さくして平均値などに代表される統計量を各画素の信号レベル作用させて各画素を補正すればよい。
【００４９】
Ｙ´＝α・Ｘ／（ｔ−α）                            …（４）
そして、上記（４）式で求まった補正量Ｙ´を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正することで、画素の信号レベル差をより一層低減させることができる。実験では、αは０．０２〜０．０５程度のときに好適な補正が行えることが確認されている。垂直方向についても同様の補正を行うことができる。
【００５０】
なお、距離ｔは画素数に限定されず、画素数に比例した値あるいは画素数に所定の数を加算した値を距離ｔにしてもよい。また、上記（４）式に限定されず、上記（４）式中の分母を距離ｔのみにしてもよいし、距離ｔで除算せずに距離ｔで減算した値を補正量Ｙ´としてもよい。つまり、境界ＢVから画素までの距離ｔが長くなるのにしたがって重み付けを小さくして平均値などに代表される統計量を各画素の信号レベルに作用させて各画素を補正するのであれば、上記（４）式に限定されない。
【００５１】
（８）上述した実施例では、平均値は、画素の一部を抽出した右，左領域Ｒ，Ｌにある８×８領域ＴR，ＴLの各信号レベルの平均値であったが、全画素の信号レベルを抽出した平均値であってもよい。つまり、画素の少なくとも一部を抽出した信号レベルの平均値であれば特に限定されない。垂直方向についても同様の補正を行うことができる。
【００５２】
（９）上述した実施例では、画素の信号レベルの分布に関する統計量の一例は平均値であったが、通常用いられる統計量であれば、平均値に限定されず、例えば信号レベルの中央値であってもよい。また、平均値と中央値との双方を組み合わせるなど、互いに異なる統計量を２つ以上組み合わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】実施例に係るＸ線透視撮影装置のブロック図である。
【図２】Ｘ線透視撮影装置に用いられている側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図３】平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図４】本実施例装置における統計量算出部や画素補正部による一連の信号処理を示すフローチャートである。
【図５】実施例に係る信号処理を説明するために画像を模式的に表した説明図である。
【図６】変形例に係る信号処理を説明するために画像を模式的に表した説明図である。
【図７】（ａ）〜（ｃ）は、従来において水平方向あるいは垂直方向に現れる画素の信号レベル差を説明するために画像を模式的に表した説明図である。
【符号の説明】
【００５４】
２  …  Ｘ線管
３  …  フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
９ａ  …  統計量算出部
９ｂ  …  画素補正部
Ｘ  …  補正量
Ｍ  …  被検体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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