(57)【要約】【課題】周波数変換器装置の試験において、計算や試験装置の設定が不便である。【解決手段】周波数変換器の試験において、複数の混合生成物についてラベル表示され、る。これらの複数の混合生成物からのユーザーによる第１混合生成物の選択に応答し、第１混合生成物の適切な周波数を算出する。又、第１混合生成物の計測設定をも判定する。【選択図】図２
2005128017.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
周波数変換器を試験する方法であって、
複数の混合生成物のラベルを表示する第一ステップと、
前記複数の混合生成物からのユーザーによる第１混合生成物の選択に応答し、前記第１混合生成物の適切な周波数を算出するステップと前記第１混合生成物の計測設定を判定するステップとを実行する第二ステップと、
を有することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記第一ステップにおいて、前記ラベルは、前記複数の混合生成物を定義するテーブルから取得されることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記周波数算出ステップは、前記周波数変換器のパラメータと前記ユーザーから取得された計測パラメータを使用する段階を有することを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記第二ステップは、コマンドをハードウェアに送信して計測を行うステップを、さらに実行することを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項５】
前記複数の混合生成物において、
整合入力、
整合出力、
整合局部発振器、
アイソレーション（入力→出力）、
アイソレーション（局部発振器→出力）、
アイソレーション（出力→入力）、
アイソレーション（局部発振器→入力）、
アイソレーション（出力→局部発振器）、
アイソレーション（入力→局部発振器）、
変換利得対入力パワー、
入力整合対入力パワー、
スパーテーブル、
イメージ除去、
掃引スパー、
変換利得、
利得圧縮、
からなる計測値の中の少なくとも１つを含むことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項６】
試験装置用のインターフェイスであって、
複数の混合生成物を定義するテーブルであって、前記複数の混合生成物のラベルを含むテーブルと、
前記ラベルの少なくともサブセットを表示する第１表示インターフェイスと、
前記複数の混合生成物からのユーザーによる第１混合生成物の選択に応答し、前記第１混合生成物の適切な周波数を算出し、前記第１混合生成物の計測設定を判定するプロセッサと、
を有することを特徴とするインターフェイス。
【請求項７】
前記第１混合生成物の計測設定を判定する際に、前記プロセッサは、前記ユーザーから取得した計測パラメータを使用することを特徴とする請求項６記載のインターフェイス。
【請求項８】
前記第１混合生成物の適切な周波数を算出する際に、前記プロセッサは、前記周波数変換器のパラメータを使用することを特徴とする請求項６記載のインターフェイス。
【請求項９】
前記第１混合生成物の適切な周波数を算出する際に、前記プロセッサは、前記周波数変換器のパラメータと前記ユーザーから取得した計測パラメータを使用することを特徴とする請求項６記載のインターフェイス。
【請求項１０】
前記プロセッサは、コマンドを計測装置ハードウェアに送信して計測を実行することを特徴とする請求項６記載のインターフェイス。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子装置の試験に関し、更に詳しくは、周波数変換器装置の自動化試験に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
周波数変換器装置は、ある周波数範囲の信号を別の周波数範囲の信号に変換するために使用するものである。たとえば、通常の周波数変換器装置は、ミキサを使用して、入力信号を出力信号にダウンコンバージョン又はアップコンバージョンする。
【０００３】
高周波数（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ：ＲＦ）信号の中間周波数（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ：ＩＦ）へのダウンコンバージョンの場合には、ミキサは、ＲＦ信号を局部発振器（Ｌｏｃａｌ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ：ＬＯ）信号と合成して、和と差を生成する。そして、この差から、ダウンコンバージョン信号が得られる。
【０００４】
一方、ＩＦのＲＦ信号へのアップコンバージョンの場合には、ミキサは、ＩＦ信号をＬＯ信号と合成して、和と差を生成する。そして、この和から、アップコンバージョン信号が得られる。
【０００５】
周波数変換器装置の試験には、様々なタイプの試験装置を使用することができる。例えば、ネットワークアナライザを使用し、周波数変換装置に入力を提供すると共に、その出力を計測することができる。或いは、この代わりに、周波数変換器装置に入力を提供すると共にその出力を計測する能力を有する試験用の装置を使用することも可能である。
【０００６】
入力及びＬＯ（局部発振器）ポートを刺激すると、周波数変換装置において、いくつかの混合生成物が生成され、これらが出力に現れる。これらには、基本的な混合生成物だけでなく、調波及びスパー、並びに入力及びＬＯ信号からのリークも含まれる。試験装置のユーザーは、通常、「基本波」と呼ばれる所望の出力と、１つ又は複数のその他の混合生成物の両方に興味を有している。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
周波数変換器装置を試験する際には、ユーザーは、通常、試験装置に対して、周波数変換器装置の出力信号の対象周波数範囲を指定する必要がある。これは、通常、入力信号とＬＯ信号から導出することができる。しかしながら、計算を実行し、次いで、試験装置を適切に設定するのは、不便であり、厄介である。複数のミキサを含む周波数変換器からの予想出力を判定する場合には、状況は、更に複雑化する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
周波数変換器を試験する。複数の混合生成物のラベルを表示する。これらの複数の混合生成物からのユーザーによる第１混合生成物の選択に応答し、第１混合生成物の適切な周波数を算出する。又、第１混合生成物の計測設定をも判定する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
図１は、被測定物（Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ：ＤＵＴ）１１と試験装置１０を示している。例えば、ＤＵＴ１０は、周波数変換器である。ＤＵＴ１１は、ミキサ１３を含んでいる。尚、ＤＵＴ１１内には、ミキサ１３が１つしか示されていないが、当業者であれば理解するように、本発明の原理は、複数のミキサを有する周波数変換器にも等しく適用することができる。
【００１０】
局部発振器（Ｌｏｃａｌ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ：ＬＯ）１２から、信号がＤＵＴ１１のＬＯポート１６に供給される。
【００１１】
試験装置１０は、試験装置入／出力（Ｉ／Ｏ）１７、プロセッサ１８、メモリ１９、及び試験装置ハードウェア２０を含んでいる。試験装置ハードウェア２０は、ポート１４、ポート１５、第１基準（Ｒ１）レシーバ２１、第２基準（Ｒ２）レシーバ２２、ポート１（Ａ）レシーバ２３、ポート２（Ｂ）レシーバ２４、内部ソース２７、スプリッタ２５、及びスプリッタ２６を含んでいる。スイッチ２８が、内部ソース２７をスプリッタ２５又はスプリッタ２６に接続している。第１基準（Ｒ１）レシーバ２１は、ポート１４の基準信号（Ｒ１）を計測する。第２基準（Ｒ２）レシーバ２２は、ポート１５の基準信号（Ｒ２）を計測する。ポート１（Ａ）レシーバ２３は、ＤＵＴ１１がポート１４において刺激された場合のポート１４における反射信号（Ａ）を計測し、ＤＵＴ１１がポート１５において刺激された場合の伝送信号を計測する。ポート２（Ｂ）レシーバ２４は、ＤＵＴ１１がポート１５において刺激された場合のポート１５における反射信号（Ｂ）を計測し、ＤＵＴ１１がポート１４において刺激された場合の伝送信号を計測する。尚、説明及び例示を目的として、試験装置１０は、特定のレシーバ構成を有する２ポートネットワークアナライザとして示されているが、後述する計測は、そのソースをそのレシーバとは異なる周波数にチューニング可能な２つ以上のポートを有するネットワークアナライザであれば、どのようなものにおいても実行することができる。
【００１２】
図２は、試験装置１０用のインターフェイスの動作を示す概略フローチャートである。このインターフェイスは、例えば、プロセッサ１８、メモリ１９、並びに試験装置Ｉ／Ｏ１７内に含まれる入力装置及びディスプレイによって提供される。或いは、この代わりに、試験装置１０には外付けの演算システムにより、このインターフェイスの一部又はすべてをリモートで実装することも可能である。
【００１３】
ブロック３２において、このインターフェイスは、混合生成物名をユーザーに対して表示する。混合生成物の定義は、ブロック３１において、図１に示されている試験装置１０のメモリ１９内に保存されている。後述する表１には、この混合生成物の定義の一実施例が更に詳しく提供されている。この混合生成物の定義は、「入力整合」や「３／２スパー」などのユーザー概念と試験装置セットアップパラメータ間を変換するべく機能するものである。尚、後述する表１は、図８に示されているコンポーネントを有するネットワークアナライザに固有のものになっている。当業者であれば理解するように、刺激及び応答電子機器に応じて、様々な表を作成することができる。
【００１４】
ブロック３３において、ユーザーは、所望の混合生成物を選択する。図３は、所望の混合生成物の選択に使用可能な概略インターフェイスウィンドウ５０を示している。例えば、ユーザーは、カーソル５１を使用して、混合生成物又はリーク／アイソレーション条件を選択することができる。図３は、入力→出力、ＬＯ→出力、出力→入力、ＬＯ→入力、ＬＯ→入力、出力→ＬＯ、入力→ＬＯというリーク／アイソレーション条件を示している。スクロールバー５２を使用し、その他のリーク／アイソレーション条件にアクセスすることも可能である。
【００１５】
図４は、計測対象の複数の混合生成物を選択するのに使用可能な別の概略インターフェイスウィンドウ１５０を示している。例えば、ユーザーは、カーソル１５１を使用して、混合生成物又はリーク／アイソレーション条件を強調表示することができる。図４は、入力→出力、ＬＯ→出力、出力→入力、ＬＯ→入力、ＬＯ→入力、出力→ＬＯ、入力→ＬＯというリーク／アイソレーション条件を示している。スクロールバー１５２を使用し、その他のリーク／アイソレーション条件にアクセスすることも可能である。
【００１６】
ボックス１５８を使用し、ユーザーは、強調表示された混合生成物又はリーク／アイソレーション条件のチャネルを選択することができる。そして、ユーザーが「追加」ボタン１５４を選択すると、強調表示された混合生成物又はリーク／アイソレーション条件が、選択されたチャネルと共にボックス１５３に新しいエントリとして追加される。又、エントリを選択して「削除」ボタン１５５を選択することにより、エントリをボックス１５３から削除することも可能である。又、「ＯＫ］ボタン１５６及び「キャンセル」ボタン１５７も示されている。
【００１７】
図５は、計測する複数の混合生成物を選択するのに使用可能な別の概略インターフェイスウィンドウ２５０を示している。この代わりに、仕様書に類似したフォーム記入式のインターフェイスなどのその他のタイプのユーザーインターフェイスを使用することも可能である。
【００１８】
図２に示されているブロック３４において、ＤＵＴ１１の記述を取得し、これを使用してＤＵＴパラメータを取り纏める（ブロック３５）。ＤＵＴ１１の記述には、例えば、（１）入力刺激周波数又は周波数範囲、（２）１つ又は複数の局部発振器のＬＯ刺激周波数又は周波数範囲、（３）内部乗数、又は（４）多段ミキサの最終段を除くすべての段からの出力として使用される正又は負の混合生成物という４つのパラメータが含まれている。
【００１９】
この情報をユーザーから受領するための専用のユーザーインターフェイスを使用することにより、ユーザーは、このＤＵＴ１１の記述を入力することができる。或いは、この代わりに、ユーザーは、例えば、周波数変換器及びＤＵＴに関する包括的な情報を入力するのに使用可能なものなどの更に一般的なインターフェイスを使用し、ＤＵＴの記述を入力することも可能である。
【００２０】
例えば、図６は、試験装置Ｉ／Ｏ１７、プロセッサ１８、及びメモリ１９によって生成された汎用の設定インターフェイス表示１３０を示している。この設定インターフェイス表示１３０により、複数のミキサを有する周波数変換器に関する情報を指定することができる。例えば、領域１３１内において、ユーザーは、周波数変換器入力ポートに印加する入力信号（入力）に関する情報を指定することができる。ユーザーは、入力が固定であると指定したり、指定周波数範囲を指定したり、固定周波数のリストを指定したり、周波数範囲のリストを指定したりすることができる。周波数範囲は、例えば、開始及び停止値を選択するか、或いは、中心周波数と周波数のスパンを選択することにより、指定することができる。図６に示されている例においては、入力信号の周波数範囲は、開始及び停止値によって指定されている。
【００２１】
領域１３２内において、ユーザーは、ＬＯ１ポートに印加するＬＯ１信号に関する情報を指定することができる。ユーザーは、ＬＯ１信号が固定であると指定したり、指定周波数範囲を指定したり、固定周波数のリストを指定したり、周波数範囲のリストを指定したりすることができる。図６に示されている例においては、ユーザーは、固定周波数を選択している。
【００２２】
領域１３４内において、ユーザーは、ＬＯ２ポートに印加するＬＯ２信号に関する情報を指定することができる。ユーザーは、ＬＯ２信号が固定であると指定したり、指定周波数範囲を指定したり、固定周波数のリストを指定したり、周波数範囲のリストを指定したりすることができる。図６に示されている例においては、ユーザーは、固定周波数を選択している。
【００２３】
領域１３３内において、ユーザーは、周波数変換器内のＩＦライン上に予想されるＩＦ信号に関する情報を指定することができる。そして、領域１３５内において、ユーザーは、周波数変換器の出力上に予想される出力信号に関する情報を指定することができる。
【００２４】
領域１３６には、領域１３７内に表示される図をユーザーが隠蔽或いは表示することを可能にする「隠蔽」／「表示」ボタンが含まれている。この領域１３６内において、ユーザーは、試験対象の周波数変換器が有している局部発振器の数が１つであるか或いは２つであるかを指定することができる。又、この領域１３６内においては、ユーザーは、「読込」ボタン、「保存」ボタン、「適用」ボタン、「ＯＫ」ボタン、「キャンセル」ボタン、及び「ヘルプ」ボタンを起動することもできる。尚、この領域１３６内には、ボタンが提示されているが、当業者であれば理解するように、ユーザーによる選択を円滑に実行するその他のタイプのコマンドにより、これらのボタンを置換することもできる。これらには、例えば、プルダウンメニューや特殊なキーボードコマンドなどが含まれる。
【００２５】
領域１３７には、周波数変換器上において実行される試験に関する情報をユーザーに対して提示する図が示される。又、この領域１３７は、ＬＯ１の設定に使用する「設定」ボタン１４１と、ＬＯ２の設定に使用する「設定」ボタン１４２も含まれている。
【００２６】
入力信号、ＬＯ１信号、及びＬＯ２信号に関するすべての必要な情報を指定したら、ユーザーは、「計算」ボタン１３８を選択可能であり、この結果、試験装置により、出力信号の予想値とＩＦ信号の予想値が算出されることになる。そして、この算出値は、設定インターフェイス表示１３０内に表示される。当業者であれば理解するように、この「計算」ボタンは、ユーザーによる選択を円滑に実行するその他のタイプのコマンドによって置換することができる。これらには、例えば、プルダウンメニューや特殊なキーボードコマンドなどが含まれる。
【００２７】
予想されるＩＦ信号、ＬＯ１信号、及びＬＯ２信号に関する情報の指定が完了したら、ユーザーは、「計算」ボタン１３９を選択可能であり、この結果、試験装置により、入力信号と、出力信号の予想値が算出されることになる。
【００２８】
予想される出力信号、ＬＯ１信号、及びＬＯ２信号に関する情報の指定が完了したら、ユーザーは、「計算」ボタン１４０を選択可能であり、この結果、試験装置により、入力信号と、ＩＦ信号の予想値が算出されることになる。
【００２９】
計測を実行するべく、試験装置は、入力ポート、ＬＯ１ポート、及びＬＯ２ポートにおいて、信号刺激を周波数変換器に加え、出力ポートにおいて、その応答を計測する。説明対象である本発明の実施例においては、図６に示されている汎用の設定インターフェイス表示１３０において要求されているすべての情報のユーザーによる指定が不要であって、試験のセットアップが簡略化されている。
【００３０】
図２に示されているブロック３７において、ユーザーは、計測パラメータを入力し、これらのパラメータは、ブロック３８に示されているように保存される。これらの計測パラメータは、例えば、図６に示されている汎用の設定表示１３０を使用して入力することができる。或いは、この代わりに、ユーザーは、ユーザーからこの情報を受領するのに専用のインターフェイスを使用することにより、これらの計測パラメータを入力することもできる。
【００３１】
例えば、図７は、掃引のタイプ、入力開始周波数、入力停止周波数、入力パワーＬＯ情報、中間周波数帯域幅（Ｉｎｔｅｒｍｅｄｉａｔｅ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｂａｎｄｗｉｄｔｈ：ＩＦＢＷ）、及び周波数範囲内において生成されるステップの数をユーザーが指定可能なユーザーインターフェイス６０を示している。
【００３２】
図２に示されているブロック３６において、ユーザーがブロック３３において選択した所望の１つの混合生成物（又は、複数の生成物）の適切な周波数を算出する。試験装置１０は、ＤＵＴパラメータ（ブロック３５）、計測パラメータ（ブロック３８）、及びブロック３３において選択された所望の１つの混合生成物（又は、複数の生成物）の混合生成物の定義内に保存されている記述（ブロック３１）に基づいて、この計算を実行する。
【００３３】
適切な周波数は、次のミキサ式を使用して算出する。
【００３４】
ＦＭｉｘｉｎｇＰｒｏｄｕｃｔ＝（（Ｎ１＊Ｘ１）／（Ｎ２＊Ｘ２））＊ＦＩｎｐｕｔ＋／−（Ｍ１＊Ｙ１）＊ＦＬＯ１＋／−（Ｍ２＊Ｙ２）＊ＦＬＯ２    〔ミキサ式〕
【００３５】
このミキサ式において、値Ｎ１、Ｎ２、Ｍ１、及びＭ２は、混合生成物の定義内において特定の所望の混合生成物について定義されているものである（ブロック３１）。値Ｘ１、Ｘ２、Ｙ１、及びＹ２は、ＤＵＴパラメータによって指定される内部乗数を表している（ブロック３５）。信号周波数値ＦＩｎｐｕｔ、ＦＬＯ１、ＦＬＯ２は、計測パラメータによって指定されている（ブロック３８）。そして、値ＦＭｉｘｉｎｇＰｒｏｄｕｃｔは、混合生成物の定義内において特定の所望の混合生成物について定義されている計測を実行する周波数範囲である（ブロック３１）。
【００３６】
図２のブロック４０において、計測設定を判定する。この最終的な設定においては、（計測パラメータの一部として指定されている）入力パワー（ブロック３８）、及び試験の一部を構成すると共に、ＤＵＴパラメータ（ブロック３５）、計測パラメータ（３８）、又は所望の混合生成物の定義（ブロック３１）内の一部を構成するその他の必要なパラメータが考慮されている。
【００３７】
ブロック４１において、プロセッサ１８は、試験装置ハードウェア２０、局部発振器１２、及び／又はその他の適切な計測器に対してコマンドを出力し、指定された計測を実行する。
【００３８】
次の表１は、図８に示されているブロックダイアグラムに示されている構成を使用する１つのミキサを有する周波数変換器を試験するネットワークアナライザの様々なタイプのミキサ計測値の定義の一例である。
【００３９】
【表１】
2005128017.tif 000003
【００４０】
表１の第１列は、ユーザーに対して表示された計測値の名称を示している。第２列は、ＤＵＴの入力又は出力ポートのいずれを刺激するかを示している。第３列は、局部発振器（ＬＯ）を刺激に使用するかどうかを示している。第４列は、レシーバ周波数を示している。
【００４１】
表１の第５列は、計測値の定義を示している。例えば、「Ｒ１」は、第１基準（Ｒ１）レシーバ２１によって取得される計測値を示している。「Ｒ２」は、第２基準（Ｒ２）レシーバ２２によって取得される計測値を示している。「Ａ」は、ポート１（Ａ）レシーバ２３によって取得される計測値を示している。「Ｂ」は、ポート２（Ｂ）レシーバ２４によって取得される計測値を示している。
【００４２】
表１の第６列は、計測対象のパラメータの名称を示している。第７列は、ソースポートによる刺激を示している。例えば、図１に示されている試験装置１０の場合に、第７列の値が「１」であれば、内部ソース２７がスプリッタ２５に接続されることを示している。一方、第７列内の値が「２」の場合には、内部ソース２７がスプリッタ２６に接続されることを示している。
【００４３】
「整合」の場合には、３つの計測値が存在している。ＬＯ整合計測値は、外部ソースと外部試験セットを使用して実行される擬似Ｓ２２計測値である。図８には、この種のセットアップが示されている。
【００４４】
この図８においては、外部試験セット６５が試験装置１０及びＤＵＴ１１に接続されている。この外部試験セット６５には、Ｘ及びＹレシーバ６８、スイッチ６６、及びスイッチ６７が含まれている。基準レシーバＹは、外部ＬＯソース１２の基準信号（Ｙ）を計測する。一方、反射レシーバＸは、ＬＯポート１６からの反射信号（Ｘ）を計測する。
【００４５】
表１には、６つのアイソレーション計測値が存在している。アイソレーション（ＬＯ→出力）計測値には、２つの役割でポート２（Ｂ）レシーバ２４を使用するカスタマイズされた２ポート校正又は単純な正規化校正のいずれかが必要である。アイソレーション（ＬＯ→入力）計測値には、カスタマイズされた２ポート校正又は単純な正規化校正のいずれかが必要である。アイソレーション（出力→ＬＯ）計測値には、カスタマイズされた２ポート校正又は単純な正規化校正のいずれかが必要である。
【００４６】
表１には、２つのパワー掃引計測値が存在している。変換利得対入力パワー計測は、入力パワーの指定範囲（又は、リスト）において実行される。連続波（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｗａｖｅ：ＣＷ）計測の場合には、結果は、Ｃ２１対入力パワーのトレースとして表示される。掃引計測の場合には、結果は、それぞれが１つの入力レベルにおけるトレースの集団となる。入力整合対入力パワー計測は、標準的なＳ１１の計測であり、入力パワーの指定範囲（又は、リスト）において実行される。ＣＷ計測の場合には、結果は、Ｓ１１対入力パワーのトレースとして表示される。一方、掃引計測の場合には、結果は、それぞれが１つの入力パワーレベルにおけるトレースの集団となる。
【００４７】
表１には、３つのスプリアス信号計測値が存在している。スパーテーブル（Sｐｕｒ  Ｔａｂｌｅ）計測値は、ＮｘＭミキサ生成物のユーザー定義出力信号に対する出力パワーである（図５を参照されたい。ここで、Ｎは、概略インターフェイスウィンドウ２５０の行を意味し、Ｍは、この列を意味している）。ＳＭＣ（Ｓｃａｌａｒ  Ｍｉｘｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ：スカラーミキサ校正）校正タイプの場合には、ポート２（Ｂ）レシーバ２４における計測値が５０Ω負荷へのＤＵＴの補正出力パワーとなるように、ＤＵＴの出力パワーを補正することができる。これは、ＣＷ計測であり、複数の生成物が選択されている場合には、結果の表が生成されることになる。ＳＭＣ校正タイプは、いくつかのミキサ計測において、大きさ及び整合誤差を補正するために使用される校正技法である。
【００４８】
掃引スパー（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｐｕｒ）計測値は、所与のＮ×Ｍミキサ生成物対入力周波数に関するものである。これは、１つの生成物の掃引周波数計測値である。
【００４９】
表１には、２つの利得計測値が存在している。変換利得（Ｃｏｎｖｅｒｓｉｏｎ  Ｇａｉｎ）計測値は、標準掃引周波数のＣ２１の計測値である。利得圧縮（Ｇａｉｎ  Ｃｏｍｐｒｅｓｓｉｏｎ）計測値は、周波数とパワーの両方において掃引される。それぞれの周波数においてパワーが掃引され、所望の圧縮レベルにおける入力又は出力パワーが判定される。結果は、圧縮対周波数における入力（又は、出力）パワーのトレースである。
【００５０】
以上の説明は、本発明の模範的な方法及び実施例を開示及び説明したものに過ぎない。当業者であれば理解するように、本発明は、その精神又は本質的な特性を逸脱することなしに、その他の特定の形態において実施可能である。従って、本発明の開示内容は、例示を目的とするものであって、本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲に記述されているとおりである。
【００５１】
（実施態様１）
周波数変換器（１１）を試験する方法であって、
（ａ）複数の混合生成物のラベルを表示する段階（３２）と；
（ｂ）前記複数の混合生成物からのユーザーによる第１混合生成物の選択に応答し、
（ｂ１）前記第１混合生成物の適切な周波数を算出する段階（３６）と、
（ｂ２）前記第１混合生成物の計測設定を判定する段階（４０）と、
を実行する段階と；
を有することを特徴とする方法。
【００５２】
（実施態様２）
（ａ）段階において、前記ラベルは、前記複数の混合生成物を定義するテーブルから取得されることを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００５３】
（実施態様３）
（ｂ１）段階は、前記周波数変換器（１１）のパラメータと前記ユーザーから取得された計測パラメータを使用する段階を有することを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００５４】
（実施態様４）
（ｂ）段階は、
（ｂ３）コマンド（４１）をハードウェア（２０）に送信して計測を行う段階、
を実行する段階を更に有することを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００５５】
（実施態様５）
前記複数の混合生成物において、整合入力、整合出力、整合局部発振器（ＬＯ）、アイソレーション入力→出力、アイソレーションＬＯ→出力、アイソレーション出力→入力、アイソレーションＬＯ→入力、アイソレーション出力→ＬＯ、アイソレーション入力→ＬＯ、変換利得対入力パワー、入力整合対入力パワー、スパーテーブル、イメージ除去、掃引スパー、変換利得、利得圧縮からなる計測値の中の少なくとも１つを含むことを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００５６】
（実施態様６）
試験装置用のインターフェイスであって、
複数の混合生成物を定義するテーブル（３１）であって、前記複数の混合生成物のラベルを含むテーブルと、
前記ラベルの少なくともサブセットを表示する第１表示インターフェイス（５０、１５０）と、
前記複数の混合生成物からのユーザーによる第１混合生成物の選択に応答し、前記第１混合生成物の適切な周波数を算出し、前記第１混合生成物の計測設定を判定するプロセッサ（１８）と、
を有することを特徴とするインターフェイス。
【００５７】
（実施態様７）
前記第１混合生成物の計測設定を判定する際に、前記プロセッサ（１８）は、前記ユーザーから取得した計測パラメータを使用することを特徴とする実施態様６記載のインターフェイス。
【００５８】
（実施態様８）
前記第１混合生成物の適切な周波数を算出する際に、前記プロセッサ（１８）は、前記周波数変換器（１１）のパラメータを使用することを特徴とする実施態様６記載のインターフェイス。
【００５９】
（実施態様９）
前記第１混合生成物の適切な周波数を算出する際に、前記プロセッサ（１８）は、前記周波数変換器（１１）のパラメータと前記ユーザーから取得した計測パラメータを使用することを特徴とする実施態様６記載のインターフェイス。
【００６０】
前記プロセッサ（１８）は、コマンドを計測装置ハードウェア（２０）に送信して計測を実行することを特徴とする請求項６記載のインターフェイス。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】周波数変換器を試験するべく構成された試験装置の概略ブロックダイアグラムである。
【図２】本発明の実施例による試験装置用のインターフェイス表示の動作を示す概略フローチャートである。
【図３】本発明の実施例による試験用の日付の入力に使用されるグラフィカルユーザーインターフェイスウィンドウを示している。
【図４】本発明の実施例による試験用の日付の入力に使用されるグラフィカルユーザーインターフェイスウィンドウを示している。
【図５】本発明の実施例による試験用の日付の入力に使用されるグラフィカルユーザーインターフェイスウィンドウを示している。
【図６】本発明の実施例による試験用の日付の入力に使用されるグラフィカルユーザーインターフェイスウィンドウを示している。
【図７】本発明の実施例による試験用の日付の入力に使用されるグラフィカルユーザーインターフェイスウィンドウを示している。
【図８】外部試験セットが追加された図１に示されている試験装置の概略ブロックダイアグラムである。
【符号の説明】
【００６２】
１１  周波数変換器
１８  プロセッサ
２０  計測装置ハードウェア
４１  コマンド
５０、１５０  第１表示インターフェイス
【図１】
2005128017.tif 000004
【図２】
2005128017.tif 000005
【図３】
2005128017.tif 000006
【図４】
2005128017.tif 000007
【図５】
2005128017.tif 000008
【図６】
2005128017.tif 000009
【図７】
2005128017.tif 000010
【図８】
2005128017.tif 000011