(57)【要約】【課題】  本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるようにする。【解決手段】  本発明は、水平駆動回路７と表示部６の信号線ＬＣとを遮断可能に遮断用のスイッチ回路ＳＷ１を設け、またこの表示部６の信号線ＬＣを外部装置に接続可能に接続用のスイッチ回路ＳＷ２を設ける。またこのようなスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２の制御により外部の装置で各画素の電位を測定する。【選択図】        図１
2005134527.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マトリックス状に画素を配置してなる表示部と、
前記表示部の画素をゲート線により順次選択する垂直駆動回路と、
前記表示部の信号線の駆動により、前記垂直駆動回路により選択された前記画素を階調データに対応する階調に設定する水平駆動回路と、
外部から制御可能により、前記表示部の前記信号線への前記水平駆動回路の接続を遮断する遮断用のスイッチ回路と、
外部からの制御により、前記表示部の前記信号線を外部に接続可能に設定する外部接続用のスイッチ回路と
を備えることを特徴とするフラットディスプレイ装置。
【請求項２】
外部入出力端子を有し、
前記外部接続用のスイッチ回路が、前記表示部の前記信号線をまとめて前記外部入出力端子に接続する複数のスイッチ回路である
ことを特徴とする請求項１に記載のフラットディスプレイ装置。
【請求項３】
マトリックス状に画素を配置してなる表示部と、
前記表示部の画素をゲート線により順次選択する垂直駆動回路と、
前記表示部の信号線の駆動により、前記垂直駆動回路により選択された前記画素を階調データに対応する階調に設定する水平駆動回路とを一体に基板上に形成してなるフラットディスプレイ装置の試験方法において、
前記フラットディスプレイ装置は、
外部から制御可能により、前記表示部の前記信号線への前記水平駆動回路の接続を遮断する遮断用のスイッチ回路と、
外部からの制御により、前記表示部の前記信号線を外部の装置に接続可能に設定する外部接続用のスイッチ回路とを備え、
前記フラットディスプレイ装置の試験方法は、
前記遮断用のスイッチ回路と前記外部接続用のスイッチ回路との制御により、
前記垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して、前記表示部の画素を所定電位に充電する充電の処理を実行した後、
前記垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して、前記表示部の前記信号線を介して、前記画素の電圧を前記外部の装置により順次測定する測定の処理を実行し、
前記外部の装置による測定結果を判定する
ことを特徴とするフラットディスプレイ装置の試験方法。
【請求項４】
前記充電の処理が、
前記遮断用のスイッチ回路による遮断を中止すると共に、前記外部接続用のスイッチ回路による前記外部の装置への接続を中止した状態で、
前記水平駆動回路による前記信号線の駆動により、前記階調データに対応する電位に前記画素を充電する処理であり、
前記測定の処理が、
前記遮断用のスイッチ回路による遮断を実行すると共に、前記外部接続用のスイッチ回路による前記外部の装置への接続を実行した状態で、
前記外部接続用のスイッチ回路を介して、前記画素の電圧を前記外部の装置で測定する処理である
ことを特徴とする請求項３に記載のフラットディスプレイ装置の試験方法。
【請求項５】
前記充電の処理が、前記階調データに対応する前記表示部の所定列の画素を充電する処理であり、
前記階調データの設定の切り換えにより充電に供する前記画素の列を順次切り換えて、前記充電の処理と前記測定の処理とを繰り返す
ことを特徴とする請求項４に記載のフラットディスプレイ装置の試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用することができる。本発明は、水平駆動回路と表示部の信号線とを遮断可能に遮断用のスイッチ回路を設け、またこの表示部の信号線を外部装置に接続可能に接続用のスイッチ回路を設けることにより、またこのようなスイッチ回路の制御により外部の装置で各画素の電位を測定することにより、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるようにする。
【背景技術】
【０００２】
近年、例えばＰＤＡ、携帯電話等の携帯端末装置に適用されるフラットディスプレイ装置である液晶表示装置においては、液晶表示パネルを構成する絶縁基板であるガラス基板上に、液晶表示パネルの駆動回路を一体に構成するものが提供されるようになされている。
【０００３】
すなわちこのような液晶表示装置は、液晶セル、この液晶セルのスイッチング素子であるポリシリコンＴＦＴ（Thin Film Transistor；薄膜トランジスタ）、保持容量とにより各画素が形成され、この画素をマトリックス状に配置して表示部が形成される。液晶表示装置は、この表示部の周囲に各種の駆動回路が配置され、この駆動回路により表示部を駆動して各種の画像を表示するようになされている。
【０００４】
液晶表示装置においては、このようにマトリックス状に配置した多数の画素において、正常に電位を立ち上げることが困難な欠陥画素（以下、電位欠陥の画素と呼ぶ）が発生する場合があり、この画素においては、所望する階調を確保することが困難になる。これにより液晶表示装置の製造工程においては、完成品の目視検査によりこのような電位欠陥の画素を有してなる液晶表示パネルを検出するようになされている。これに対して例えば特開２００３−１９４６６９号公報等においては、撮像装置により液晶表示パネルを撮像してこの結果得られる撮像結果を処理することにより、このような目視に係る検査を自動化する方法が提案されるようになされている。
【０００５】
しかしてこのような電位欠陥に係る不良を、さらに一段と簡易かつ確実に検出することができれば、液晶表示パネルの品質を一段と向上することができると考えられる。
【特許文献１】特開２００３−１９４６６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるフラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる課題を解決するため請求項１の発明においては、フラットディスプレイ装置に適用して、外部から制御可能により、表示部の信号線への水平駆動回路の接続を遮断する遮断用のスイッチ回路と、外部からの制御により、表示部の信号線を外部に接続可能に設定する外部接続用のスイッチ回路とを備えるようにする。
【０００８】
また請求項３の発明においては、フラットディスプレイ装置の試験方法に適用して、遮断用のスイッチ回路と外部接続用のスイッチ回路との制御により、垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して、表示部の画素を所定電位に充電する充電の処理を実行した後、垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して、表示部の信号線を介して画素の電圧を、外部の装置により順次測定する測定の処理を実行し、外部の装置による測定結果を判定する。
【０００９】
請求項１の構成により、フラットディスプレイ装置に適用して、外部から制御可能により、表示部の信号線への水平駆動回路の接続を遮断する遮断用のスイッチ回路と、外部からの制御により、表示部の信号線を外部に接続可能に設定する外部接続用のスイッチ回路とを備えるようにすれば、これら遮断用のスイッチ回路、外部接続用のスイッチ回路との制御により、必要に応じて直接画素の電圧を外部の装置で測定することができ、これにより電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。また垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して順次電圧を測定できることによっても、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。
【００１０】
また請求項３の構成によれば、フラットディスプレイ装置の試験方法に適用して、遮断用のスイッチ回路と外部接続用のスイッチ回路との制御により、垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して、表示部の画素を所定電位に充電する充電の処理を実行した後、垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して、表示部の信号線を介して画素の電圧を、外部の装置により順次測定する測定の処理を実行し、外部の装置による測定結果を判定することにより、直接画素の電圧を外部の装置で測定することができ、これにより電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。また垂直駆動回路によるゲート線の選択に対応して順次電圧を測定できることによっても、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。
【実施例１】
【００１３】
（１）実施例の構成
図１は、本発明の実施例１に係る液晶表示装置を示すブロック図である。この液晶表示装置１は、液晶セル２、保持容量３、ポリシリコンＴＦＴ４とによる画素がガラス基板５上にマトリックス状に配置されて有効表示領域である表示部６が形成され、この表示部６の信号線（列線）ＬＣ及びゲート線（行線）ＬＲがそれぞれ水平駆動回路７及び垂直駆動回路８に接続される。
【００１４】
ここで水平駆動回路７及び垂直駆動回路８は、表示部６の周囲、ガラス基板５上に形成され、水平駆動回路７は、各画素の階調を示す階調データＤ１を順次入力して各画素の駆動信号をライン単位で信号線ＬＣにより順次表示部７に出力し、垂直駆動回路８は、この水平駆動回路７の出力を選択する選択信号を表示部６のゲート線ＬＲに出力する。これにより液晶表示装置１では、マトリックス状に配置してなる表示部６の画素を、ゲート線ＬＲにより順次選択して信号線ＬＣにより駆動することにより、表示部６に所望の画像を表示するようになされている。
【００１５】
これらに加えて液晶表示装置１は、アクティブ素子であるトランジスタによる遮断用のスイッチ回路ＳＷ１が、水平駆動回路７と表示部６との間、各信号線ＬＣに設けられ、これによりこの遮断用のスイッチ回路ＳＷ１の動作を制御して水平駆動回路７と表示部６との信号線ＬＣによる接続を遮断できるようになされている。またガラス基板５の周辺部に設けられた入力端子Ｔ１に、これら遮断用のスイッチ回路ＳＷ１の制御信号に係る配線が共通に接続され、これによりこの入力端子Ｔ１を介して入力される制御信号ＴＭＢＷによりこれら遮断用のスイッチ回路ＳＷ１を連動させてオンオフ制御できるようになされている。
【００１６】
また液晶表示装置１は、信号線ＬＣに対してガラス基板５の外部から接続可能に、外部入出力端子Ｔ３がガラス基板５の周辺部に設けられ、またこの外部入出力端子Ｔ３を介した外部からの信号線ＬＣへの接続を可能、不可能に制御する制御信号ＴＭＢＷＸの入力端子Ｔ２が同様にガラス基板５の周辺部に設けられる。液晶表示装置１では、これら端子Ｔ２及びＴ３に係る接続が、遮断用のスイッチ回路ＳＷ１の表示部６側において、隣接する信号線ＬＣ間に、アクティブ素子であるトランジスタによる外部接続用のスイッチ回路ＳＷ２をそれぞれ配置し、これら外部接続用のスイッチ回路ＳＷ２により接続される信号線ＬＣを外部入出力端子Ｔ３に接続すると共に、入力端子Ｔ２から入力される制御信号ＴＭＢＷＸによりこれら外部接続用のスイッチ回路ＳＷ２を制御するように形成され、これにより表示部６に設けられている複数の信号線ＬＣを共通接続して外部より信号線ＬＣに接続できるようになされている。
【００１７】
これらにより液晶表示装置１では、何ら端子Ｔ１、Ｔ３により制御信号が入力されていない場合、通常の動作状態によりスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２がそれぞれオン状態、オフ状態に保持され、階調データＤ１に応じて水平駆動回路７により表示部６の各画素を駆動できるようになされている。
【００１８】
また遮断用のスイッチ回路ＳＷ１により水平駆動回路７を表示部６の信号線ＬＣから切り離し、さらに外部接続用のスイッチ回路ＳＷ２により外部入出力端子Ｔ３を介して表示部６の信号線を外部の装置に接続できるようになされ、これによりこの外部の装置により各画素の電圧を測定できるようになされている。
【００１９】
液晶表示装置１は、このような接続に係る表示部６、水平駆動回路７、垂直駆動回路８が関連する回路ブロックと共に、大型のガラス基板上に、多数個取り可能に形成された後、対向電極を設けたガラス基板が対向するように配置され、その後、各ガラス基板５の形状にスクライビングされた後、液晶を封止して形成される。
【００２０】
液晶表示装置１は、これら一連の製造工程の中で、大型のガラス基板に多数個取りにより形成された状態で、電位欠陥に係る試験が実施され、この試験により電位欠陥の画素が発見された場合には、スクライビングされた後、不良品として以降の製造工程への供給が停止される。これに対してこの試験により電位欠陥の画素が発見されない場合に、スクライビングされた後、液晶が封止される。
【００２１】
図２は、この試験に係る試験装置２１と液晶表示装置１との接続を示すブロック図である。この試験においては、試験装置２１に設けられたプローブにより、大型のガラス基板上に形成された各液晶表示装置１に順次試験装置２１を接続し、これら液晶表示装置１を順次この試験装置２１により試験して電位欠陥を検出する。
【００２２】
ここで試験装置２１においては、コンピュータ２２の制御により、コンピュータ２２に記録された処理手順に従って液晶表示装置１を駆動すると共に、駆動結果をコンピュータ２２に通知する。具体的に、試験装置２１は、コンピュータ２２の制御により、液晶表示装置１の駆動に供する各種タイミング信号、このタイミング信号を基準にしてなる階調データＤ１、スイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２の制御に供する制御信号ＴＭＢＷ、ＴＭＢＷＸを液晶表示装置１に出力する。またこのタイミング信号に基づいて、垂直駆動回路７によるラインの選択に同期して外部入出力端子Ｔ２の電圧を測定し、測定結果をコンピュータ２２に通知する。
【００２３】
コンピュータ２２は、所定の処理プログラムの実行によりこの試験装置２１の動作を制御し、さらには試験装置２１のプローブに係る可動機構を制御することにより、各液晶表示装置１を順次試験する。図３は、このようにして実行される１つの液晶表示装置１に係るコンピュータ２２の処理手順を示すフローチャートである。コンピュータ２２は、プローブの可動機構を制御して、試験対象に係る液晶表示装置１に試験装置２１が接続されるとこの処理手順を開始する。
【００２４】
ここでコンピュータ２２は、この処理手順においてステップＳＰ１からステップＳＰ２に移り、表示部６に設けられた左端の画素、１列を処理対象に設定し、この１列の画素を白レベルに、他の列の画素を黒レベルに設定してなる画像データを生成し、この画像データにより液晶表示装置１を駆動するように、試験装置２１の動作を制御する。これにより図４（Ａ）に示すように、コンピュータ２２は、左端の信号線ＬＣ（１Ｒ）を白レベル（Ｗ）の電位に設定すると共に、他の信号線ＬＣ（１Ｇ、１Ｂ、２Ｒ、２Ｇ、……）を黒レベル（Ｂ）の電位に設定し、垂直駆動回路８による各画素の選択により、これら信号線ＬＣに割り振られた画素を順次充電するようになされている。
【００２５】
コンピュータ２２は、このようにして各画素を所定電位に充電すると、続くステップＳＰ３において、制御信号ＴＭＢＷ、ＴＭＢＷＸの切り換えを試験装置２１に指示し、これにより水平駆動回路７を表示部６の信号線ＬＣより切り離し、また外部入出力端子Ｔ３を介して表示部６の信号線ＬＣに試験装置２１を接続する。
【００２６】
コンピュータ２２は、このように液晶表示装置１の接続を切り換えると、続くステップＳＰ４において、液晶表示装置１の駆動、この駆動に同期した外部入出力端子Ｔ３の電圧測定を試験装置２１に指示する。
【００２７】
これによりコンピュータ２２は、図５に示すように、ステップＳＰ２で白レベルの電位に充電してなる画素の電位を、垂直駆動回路８の駆動により順次検出するようになされている。なおここでＶＤ（図５（Ａ））は、垂直同期信号であり、ＨＤ（図５（Ｂ））は、水平同期信号であり、ＶＴ３（図５（Ｃ））は、外部入出力端子Ｔ３の電圧であり、矢印が試験装置２１による電圧検出のタイミングである。
【００２８】
しかしてこのように白レベルに充電した後、垂直駆動回路８の駆動による外部入出力端子Ｔ３の電圧ＶＴ３を測定した場合にあって、何ら電位欠陥が生じていない場合、外部入出力端子Ｔ３の電圧ＶＴ３においては、ほぼ所定の電圧が測定される。これに対して電位欠陥が発生している場合、この電位欠陥の画素が垂直駆動回路８により選択されたタイミングで、矢印Ａにより示すように、外部入出力端子Ｔ３の電圧ＶＴ３が一時的に低下して測定されることになる。これによりコンピュータ２２は、このような電圧ＶＴ３の判定により電位欠陥を検出する。
【００２９】
すなわちコンピュータ２２は、このようにして試験装置２１に電圧ＶＴ３の測定を指示すると、試験装置２１から電圧ＶＴ３の測定結果を順次取り込み、１画面分の取り込みを完了すると、続くステップＳＰ５において、全ての列について、白レベルによる充電、電圧ＶＴ３の測定を完了したか否か判断し、ここで否定結果が得られると、ステップＳＰ５からステップＳＰ６に移り、次の右側の列に処理対象を切り換える。また続くステップＳＰ７において、制御信号ＴＭＢＷ、ＴＭＢＷＸの切り換えを試験装置２１に指示し、これにより階調データＤ１により表示部６を駆動できるように液晶表示装置１の接続を切り換えた後、ステップＳＰ２に戻る。
【００３０】
これによりコンピュータ２２は、順次ステップＳＰ２−ＳＰ３−ＳＰ４−ＳＰ５−ＳＰ６−ＳＰ７−ＳＰ２の処理手順を繰り返し、表示部６の左端側より右端側に、順次、白レベルの電位により各画素を充電してその電位を外部入出力端子Ｔ３により測定し、全ての画素について測定を完了すると、ステップＳＰ５で肯定結果が得られることにより、ステップＳＰ８に移る。
【００３１】
このステップＳＰ８において、コンピュータ２２は、各画素について測定した外部入出力端子Ｔ３の電圧ＶＴ３を所定の判定基準値により判定し、これにより電位欠陥の有無を検出した後、ステップＳＰ９に移ってこの処理手順を終了する。なおコンピュータ２２は、このステップＳＰ８における判定により電位欠陥の画素が検出されると、所定のマーキング手段により、この電位欠陥が検出された液晶表示装置１にマーキングし、この液晶表示装置１の製造工程では、このマーキングを基準にしてこの電位欠陥に係る液晶表示装置１については、続く工程に供給しないようになされている。
【００３２】
（２）実施例の動作
以上の構成において、この液晶表示装置１では（図１）、大型のガラス基板上に、複数台分の水平駆動回路７、垂直駆動回路８、表示部６等が作成される。このとき液晶表示装置１では、端子Ｔ１を介して外部から制御可能により表示部６の信号線ＬＣへの水平駆動回路７の接続を遮断する遮断用のスイッチ回路ＳＷ１が設けられ、また同様の端子Ｔ２を介して外部からの制御により表示部６の信号線ＬＣを外部に接続可能に設定する外部接続用のスイッチ回路ＳＷ２が設けられ、この外部接続用のスイッチ回路ＳＷ２が外部入出力端子Ｔ３に接続されて形成される。
【００３３】
これによりこの液晶表示装置１では、これら端子Ｔ１、Ｔ２を介して外部の機器よりスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２の動作を制御すると共に、この外部入出力端子Ｔ３を介して信号線ＬＣを外部の装置に接続することができ、これにより必要に応じてこの外部の装置により外部入出力端子Ｔ３に所定の電圧を印加し、垂直駆動回路８の駆動により順次ゲート線ＬＲを選択して所望する画素を充電することができる。またこのようにして充電した画素について、この外部入出力端子Ｔ３への電圧の印加を中止すると共に、この外部入出力端子Ｔ３の電圧ＶＴ３をディジタルアナログ変換回路に接続し、垂直駆動回路８の駆動により順次ゲート線ＬＲを選択することにより、各画素の電圧を測定することができ、これによりこの測定結果に基づいて、電位欠陥を検出することができる。
【００３４】
またこのような外部入出力端子Ｔ３を介した画素の充電に代えて、通常の接続状態により、階調データＤ１を水平駆動回路７に供給し、この水平駆動回路７による信号線ＬＣの駆動により各画素を所定電位に充電した後、スイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２を切り換えて外部の装置により充電された画素の電圧を測定することによっても、電位欠陥を検出することができる。
【００３５】
これにより液晶表示装置１では、これら端子Ｔ１〜Ｔ３をこのような機能を有する試験装置に接続するだけで、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。
【００３６】
この液晶表示装置１では、このような欠陥画素の検出に係る試験が、大型のガラス基板上に、複数台分の水平駆動回路７、垂直駆動回路８、表示部６等が作成された状態で実行される。またこの試験により電位欠陥が検出された液晶表示装置をも含めて、対向電極を形成してなるガラス基板が配置された後、各液晶表示装置にこの大型のガラス基板がスクライビングされ、画素欠陥が検出されていない液晶表示装置が選択されて液晶が封止される。
【００３７】
これによりこの液晶表示装置１に係る製造工程においては、電位欠陥の検出された液晶表示装置については、後続の工程に係る処理を省略し得、その分、無駄を省くことができるようになされている。またこのように後の工程に係る処理を省略するにつき、対向電極を形成してなるガラス基板を配置した後、各液晶表示装置にスクライビングして電位欠陥の液晶表示装置を取り除くことにより、これら対向電極のガラス基板の配置等の処理については、複数台の液晶表示装置１をまとめて処理し得、その分、液晶表示装置１を効率良く生産することができる。
【００３８】
また従来のような最終的な完成品による目視による試験とは異なり、画素の電圧を直接測定して電位欠陥を検出することにより、高い精度により電位欠陥を検出することができ、その分、液晶表示装置１に係る信頼性を向上することができる。
【００３９】
しかしてこの実施例においては、このように外部入出力端子Ｔ３に信号線ＬＣを接続する接続用のスイッチ回路ＳＷ２については、隣接する信号線を接続する複数のスイッチ回路ＳＷ２により構成されて、表示部６の信号線をまとめて外部入出力端子Ｔ３に接続する複数のスイッチ回路であることにより、表示部６に高密度に画素が設けられている場合でも、外部装置との間の接続については簡略化することができる。
【００４０】
これに対して試験装置２１、コンピュータ２２においては、液晶表示装置１に設けられた水平駆動回路７により各信号線ＬＣを駆動して表示部６の画素を所定電位に充電した後、スイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２を切り換えて外部入出力端子Ｔ３の電圧を測定するようになされ、これにより液晶表示装置１に設けられた水平駆動回路７の構成を有効に利用して電位欠陥が検出され、その分、試験装置の構成が簡略化される。
【００４１】
またこのようにして水平駆動回路７により表示部６の画素を充電して、所定列毎にこの充電の処理を実行して外部入出力端子により画素の電圧を検出し、この処理対象である列を順次切り換えてこれらの処理を繰り返すことにより、表示部６が多数の画素により構成されている場合でも、何れの箇所で電位欠陥が発生しているかを簡易かつ確実に検出することができる。しかしてこの実施例では、１列単位でこの充電の処理を実行することにより、水平方向については、この１列単位で電位欠陥の画素を検出することができる。しかして垂直方向については垂直駆動回路８によるゲート線ＬＲの選択のタイミングにより何れのラインで電位欠陥が発生しているかを検出することができ、これらにより高い精度により電位欠陥の画素を検出することができる。
【００４２】
（３）実施例の効果
以上の構成によれば、水平駆動回路と表示部の信号線とを遮断可能に遮断用のスイッチ回路を設け、またこの表示部の信号線を外部装置に接続可能に接続用のスイッチ回路を設けることにより、必要に応じて外部の装置により各画素の電圧を測定することができ、これにより電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。
【００４３】
またこの外部接続用のスイッチ回路が、表示部の信号線をまとめて外部入出力端子に接続する複数のスイッチ回路であることにより、これら表示部に多くの画素が設けられている場合でも、これらの画素を水平方向にまとめて処理し得、その分、液晶表示装置、さらには試験装置の構成を簡略化して、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。
【００４４】
また以上の構成によれば、このような遮断用のスイッチ回路、接続用のスイッチ回路の制御により外部の装置で各画素の電位を測定することにより、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができる。
【００４５】
またこの処理において、遮断用のスイッチ回路による遮断を中止すると共に、外部接続用のスイッチ回路による外部の装置への接続を中止した状態である通常の状態で、水平駆動回路による駆動により、階調データに対応する電位に画素を充電し、また遮断用のスイッチ回路により接続を遮断すると共に、外部接続用のスイッチ回路より外部の装置に信号線を接続した状態で、この外部の装置で画素の電圧を測定することにより、水平駆動回路の構成を有効に利用して電位欠陥を検出することができる。
【００４６】
またこの処理において、表示部の所定列の画素を充電するようにして、この充電に供する画素の列を順次切り換えて、充電の処理と測定の処理とを繰り返すことにより、この所定列を単位にして電位欠陥の画素を高い精度により検出することができる。
【実施例２】
【００４７】
図６は、本発明の実施例２に係る液晶表示装置を示すブロック図である。この液晶表示装置３０において、図１について上述した液晶表示装置１と同一の構成は、対応する符号を付して示し重複した説明は省略する。
【００４８】
この液晶表示装置３０においては、実施例１に係る液晶表示装置１と同様に、遮断用のスイッチ回路ＳＷ１により、表示部６の信号線ＬＣへの水平駆動回路７の接続を遮断できるように形成され、このスイッチ回路ＳＷ１の制御信号ＴＭＢＷを端子Ｔ１から入力できるようになされている。またこのスイッチ回路ＳＷ１の表示部６側にそれぞれスイッチ回路ＳＷ２が設けられ、このスイッチ回路ＳＷ２の他端が共通に接続されて外部入出力端子Ｔ３に接続され、さらにこれらスイッチ回路ＳＷ２の制御信号ＴＭＢＷを端子Ｔ２から入力できるようになされている。
【００４９】
これによりこの液晶表示装置３０では、実施例１について上述した液晶表示装置１と同様に、スイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２の制御により外部の装置により各信号線の電圧を検出し、電位欠陥を簡易かつ確実に検出できるようになされている。
【００５０】
さらに液晶表示装置３０は、この外部入出力端子Ｔ３への配線パターンがＣＳ駆動回路３１に接続される。また表示部６に設けられている保持容量３の信号線側とは逆側電極の配線パターンである共通線ＣＯＭが、端子Ｔ１〜Ｔ３に併設された端子Ｔ４に接続され、この端子Ｔ４がガラス基板５の外部で端子Ｔ３に接続され、これにより共通線ＣＯＭがスイッチ回路ＳＷ２を介して各信号線ＬＣに接続可能に形成される。ここでＣＳ駆動回路３１は、信号線ＬＣを所定電位にプリチャージするプリチャージ回路であり、フレーム反転、ライン反転等の、液晶表示装置３０における駆動の形式に応じて、所定のタイミングによりプリチャージの処理を実行する。なおこの図６に示す構成において、Ｃは外付の容量であり、３２はパッド電極である。
【００５１】
これにより液晶表示装置３０では、ＣＳ駆動回路３１によるスイッチ回路ＳＷ１、ＳＷ２の制御によりプリチャージの処理を実行できるようになされている。またこれら端子Ｔ３〜Ｔ５を外部の試験装置に接続し、スイッチ回路ＳＷ１及びＳＷ２をオフ状態及びオン状態に設定して端子Ｔ３、Ｔ４間に高電圧のパルスを印加することにより、市場における使用により画素欠陥となる耐圧の低い画素を事前に破壊し、このような画素欠陥を有してなる液晶表示装置をスクリーニングできるようになされている。
【００５２】
しかしてこれにより液晶表示装置３０では、このような画素欠陥のスクリーニングに係る信号線ＬＣへの配線パターン、スイッチ回路ＳＷ２、外部端子Ｔ３が、電位欠陥の検出に供する信号線への配線パターン、スイッチ回路ＳＷ２、外部端子Ｔ３に兼用され、これにより電位欠陥の検出に供する構成においては、既存の液晶表示装置の構成を有効に利用して形成され、その分、構成を簡略化できるようになされている。
【００５３】
またこの液晶表示装置３０の構成に対応して、この液晶表示装置３０の製造工程では、この液晶表示装置３０を試験装置に接続して、スクリーニングの処理を実行した後、電位欠陥の試験を実行する。
【００５４】
具体的にスクリーニングの処理においては、スイッチ回路ＳＷ１をオフ状態に設定して表示部６の信号線ＬＣを水平駆動回路７から切り離し、またスイッチ回路ＳＷ２をオン状態に設定して表示部６の各信号線を外部入出力端子Ｔ３に接続する。この状態で、端子Ｔ３、Ｔ４間に高電圧のパルスを印加し、これにより耐圧の低い画素を破壊する。
【００５５】
しかしてこのようにして破壊されてなる画素においては、続く電位欠陥により検出することができ、これによりこの実施例に係る液晶表示装置３０の製造工程においては、確実にスクリーニングの処理を実行できるようになされている。
【００５６】
この実施例の処理においては、高電圧の印加によるスクリーニングの処理に供する配線パターンを電位欠陥の検出に利用することにより、液晶表示装置３０の構成を簡略化して実施例１と同様の効果を得ることができる。
【実施例３】
【００５７】
なお上述の実施例においては、１列単位で画素を充電して電位欠陥を検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、実用上十分な検出精度を確保できる場合には、複数列単位でこれらの処理を実行してもよく、さらには全ての列についてまとめてこれらの処理を実行してもよい。
【００５８】
また上述の実施例においては、遮断用のスイッチ回路と接続用のスイッチ回路とで制御信号の入力用端子を個別に設ける場合について述べたが、本発明はこれに限らず、これらスイッチ回路にあってはオンオフ動作が相補的であることにより、これらの端子をまとめるようにしてもよい。
【００５９】
また上述の実施例においては、大型のガラス基板上で電位欠陥の試験を実行する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、個々の液晶表示装置にスクライビングした後、さらには液晶を封止した後に実行するようにしてもよい。
【００６０】
また上述の実施例においては、ガラス基板上に表示部等を作成してなるＴＦＴ液晶に本発明を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＣＧＳ（Continuous Grain Silicon）液晶等、各種の液晶表示装置、さらにはＥＬ（Electro Luminescence）表示装置等、種々のフラットディスプレイ装置に広く適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６１】
本発明は、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の実施例１に係る液晶表示装置を示すブロック図である。
【図２】図１の液晶表示装置の試験の説明に供するブロック図である。
【図３】図２のコンピュータの処理手順を示すフローチャートである。
【図４】図３の処理手順の説明に供する図表である。
【図５】図３の処理手順による電圧測定の説明に供するタイムチャートである。
【図６】本発明の実施例２に係る液晶表示装置を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００６３】
１、３０……液晶表示装置、２……液晶セル、３……保持容量、４……ＴＦＴ、６……表示部、７……水平駆動回路、８……垂直駆動回路、２１……試験装置、２２……コンピュータ、Ｔ１〜Ｔ５……端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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