(57)【要約】【課題】その表面に微細な凹凸を有する測定対象体の厚みを正確に測定し得る厚み測定装置を提供する。【解決手段】測定用のレーザービームＬを測定対象面に照射すると共にレーザービームＬの反射光Ｒを受光して測定対象面との間の距離を特定可能な検出信号Ｓを出力する距離センサ１１と、その表面４１ａが平坦またはほぼ平坦に形成されたセラミック板４１を移動可能な移動機構と、移動機構に対してケース本体３２の一面にセラミック板４１を当接させると共に距離センサ１１に対してセラミック板４１の表面４１ａにレーザービームＬを照射させて検出信号Ｓを出力させる制御部と、検出信号Ｓに基づいてケース本体３２の厚みを測定する測定部とを備えている。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定用の照射光を測定対象面に照射すると共に当該照射光の反射光を受光して当該測定対象面との間の距離を特定可能な検出信号を出力する検出手段と、その表面が平坦またはほぼ平坦に形成された測定用板部材を移動可能な移動機構と、当該移動機構に対して測定対象体の一面に前記測定用板部材を当接させると共に前記検出手段に対して当該測定用板部材の前記表面に前記照射光を照射させて前記検出信号を出力させる制御部と、前記検出信号に基づいて前記測定対象体の厚みを測定する測定部とを備えている厚み測定装置。
【請求項２】
前記測定用板部材は、明色のセラミック材で形成されている請求項１記載の厚み測定装置。
【請求項３】
前記測定対象体が載置可能な基準面および前記検出手段の間の基準距離と、前記測定用板部材の厚みとを記憶する記憶部を備え、
前記測定部は、前記検出手段と前記測定用板部材における前記表面との間の距離を前記検出信号に基づいて特定すると共に当該特定した距離および前記測定用板部材の厚みを前記基準距離から減算することによって前記測定対象体の厚みを測定する請求項１または２記載の厚み測定装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の厚み測定装置と、当該厚み測定装置によって測定された前記測定対象体の厚みが所定の基準範囲内か否かを検査可能な検査部とを備え、
前記厚み測定装置は、前記測定対象体として、情報記録媒体用のカートリッジケースにおける互いに嵌合された状態の上ケースおよび下ケースからなるケース本体の厚みを測定する検査装置。
【請求項５】
請求項４記載の検査装置を備え、前記情報記録媒体用のカートリッジケースを製造可能に構成されている製造装置。
【請求項６】
測定用の照射光を照射すると共に当該照射光の反射光を受光して測定対象体の厚みを測定する際に、
その表面が平坦またはほぼ平坦に形成された測定用板部材を前記測定対象体の一面に当接させ、その状態の前記測定用板部材の前記表面に前記測定用の照射光を照射して受光した反射光に基づいて当該表面までの距離を特定し、当該特定した距離に基づいて前記測定対象体の前記厚みを測定する厚み測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定用の照射光を照射して測定対象体の厚みを測定可能に構成された厚み測定装置、その厚み測定装置を備えて情報記録媒体用のカートリッジケースにおけるケース本体の厚みが所定の基準範囲内か否かを検査可能に構成された検査装置、その検査装置を備えて情報記録媒体用のカートリッジケースを製造可能に構成された製造装置、および測定用の照射光を照射して測定対象体の厚みを測定する厚み測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
データを大容量で記録可能な情報記録媒体として、ＬＴＯ(Linear Tape Open)規格に準拠した磁気テープカートリッジ（以下「テープカートリッジ」ともいう）が知られている。このテープカートリッジ用のカートリッジケースは、一例として、磁気テープを巻回するための単一のテープリール、ブレーキスプリング、ロック部材、ブレーキ解除板およびドア部材などの部品がケース本体内に収容されて構成されている。この場合、ケース本体は、互いに嵌合可能な上ケースおよび下ケースで構成されている。一方、このカートリッジケースを製造する製造装置は、上ケースおよび下ケースに各部品を組み付ける組み付け装置や、各部品を組み付けた上ケースおよび下ケースを嵌め合わせた後にねじ止めや溶着によって固定する固定装置などを備えている。また、この製造装置は、カートリッジケースが規格に適合しているか否かを検査可能な各種の検査装置を備えている。この場合、ケース本体の厚みが基準範囲内か否かを検査する厚み検査装置は、一般的に、レーザ光をケース本体に照射して非接触でその厚みを測定可能な厚み測定装置を備えて構成されている。
【０００３】
この種の厚み測定装置として、特開平６−１１３１３号公報に開示されている厚み測定装置が知られている。なお、本明細書では、以下、同公報中の符号については括弧付きで記載する。この厚み測定装置は、半導体レーザダイオード（１）、コリメートレンズ（２）、集光レンズ（８）、位置検出素子（９）およ処理部（１０）を備えて構成されている。この厚み測定装置では、半導体レーザダイオード（１）がレーザ光を発光（発生）し、コリメートレンズ（２）がそのレーザ光を所定のスポット径のレーザ光（６）に変換して測定対象体（被検査物）に照射する。次いで、集光レンズ（８）が、測定対象体（被検査物）で反射した反射レーザ光（７）を位置検出素子（９）に向けて集光する。続いて、位置検出素子（９）が、集光レンズ（８）によって集光された反射レーザ光（７）を受光（結像）して、測定対象体におけるレーザ光（６）を照射した面の高さを検出する。次に、処理部（１０）が、位置検出素子（９）によって検出された高さに基づいて測定対象体の厚みを算出（測定）する。一方、この厚み測定装置を備えた厚み検査装置では、例えば、検査部が、厚み測定装置によって測定されたケース本体（測定対象体）の厚みが基準範囲内か否かを検査して、その検査結果を表示部に表示させる。
【特許文献１】特開平６−１１３１３号公報（第２−３頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、上記した従来の厚み測定装置および厚み検査装置には、以下の問題点がある。すなわち、この厚み測定装置では、位置検出素子（９）が測定対象体で反射した反射レーザ光（７）を受光して測定対象体におけるレーザ光（６）を照射した面の高さを検出している。しかしながら、例えば、測定対象体としてカートリッジケースのケース本体（上ケースおよび下ケース）の厚みを測定する場合、その表面には、一般的に、傷つきを防止するためのシボ加工や梨地加工が施されている。このため、この種の厚み測定装置には、図７に示すように、例えばケース本体Ｃにレーザ光（６）を照射したときに、シボ加工や梨地加工で形成された微細な凹凸によってレーザ光（６）が散乱するため、位置検出素子（９）に入射する反射レーザ光（７）の光量が少なくなる結果、ケース本体Ｃの厚みを正確に測定するのが困難であるという問題点が存在する。また、ケース本体Ｃの厚みを正確に測定するのが困難なため、この厚み測定装置を備えた厚み検査装置には、ケース本体Ｃの厚みが基準範囲内か否かの検査を正確に行うのが困難であるという問題点が存在する。
【０００５】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、その表面に微細な凹凸を有する測定対象体の厚みを正確に測定し得る厚み測定装置および厚み測定方法を提供することを主目的とする。また、情報記録媒体用のカートリッジケースの厚みが基準範囲内か否かを正確に検査し得る検査装置および製造装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく本発明に係る厚み測定装置は、測定用の照射光を測定対象面に照射すると共に当該照射光の反射光を受光して当該測定対象面との間の距離を特定可能な検出信号を出力する検出手段と、その表面が平坦またはほぼ平坦に形成された測定用板部材を移動可能な移動機構と、当該移動機構に対して測定対象体の一面に前記測定用板部材を当接させると共に前記検出手段に対して当該測定用板部材の前記表面に前記照射光を照射させて前記検出信号を出力させる制御部と、前記検出信号に基づいて前記測定対象体の厚みを測定する測定部とを備えている。
【０００７】
この場合、明色のセラミック材で前記測定用板部材を形成するのが好ましい。
【０００８】
また、前記測定対象体が載置可能な基準面および前記検出手段の間の基準距離と、前記測定用板部材の厚みとを記憶する記憶部を備え、前記測定部が前記検出手段と前記測定用板部材における前記表面との間の距離を前記検出信号に基づいて特定すると共に当該特定した距離および前記測定用板部材の厚みを前記基準距離から減算することによって前記測定対象体の厚みを測定するのが好ましい。
【０００９】
また、本発明に係る検査装置は、上記の厚み測定装置と、当該厚み測定装置によって測定された前記測定対象体の厚みが所定の基準範囲内か否かを検査可能な検査部とを備え、前記厚み測定装置は、前記測定対象体として、情報記録媒体用のカートリッジケースにおける互いに嵌合された状態の上ケースおよび下ケースからなるケース本体の厚みを測定する。
【００１０】
また、本発明に係る製造装置は、上記の検査装置を備え、前記情報記録媒体用のカートリッジケースを製造可能に構成されている。
【００１１】
また、本発明に係る厚み測定方法は、測定用の照射光を照射すると共に当該照射光の反射光を受光して測定対象体の厚みを測定する際に、その表面が平坦またはほぼ平坦に形成された測定用板部材を前記測定対象体の一面に当接させ、その状態の前記測定用板部材の前記表面に前記測定用の照射光を照射して受光した反射光に基づいて当該表面までの距離を特定し、当該特定した距離に基づいて前記測定対象体の前記厚みを測定する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明に係る厚み測定装置および厚み測定方法によれば、その表面が平坦またはほぼ平坦に形成された測定用板部材を測定対象体の一面に当接させると共に測定用板部材の表面に照射光を照射させて測定対象体の厚みを測定することにより、照射させた照射光の多くを正反射させることができるため、十分な光量の反射光を検出手段に入射させることができる結果、表面に凹凸を有する測定対象体に対しても、その厚みを正確に測定することができる。
【００１３】
また、本発明に係る厚み測定装置によれば、セラミック材で測定用板部材を形成したことにより、セラミックが耐久性に優れているため、長期間の使用によっても測定用板部材の表面を平坦な状態に維持させることができる結果、正確な厚み測定を長期に亘って実行させることができる。また、明色のセラミック材で測定用板部材を形成したことにより、暗色のセラミック材で測定用板部材を形成した構成と比較して、照射した照射光を高効率で正反射させることができるため、さらに十分な光量の反射光を検出手段に受光させることができる結果、測定対象体の厚みをさらに正確に測定することができる。
【００１４】
また、本発明に係る厚み測定装置によれば、基準面および検出手段の間の基準距離と測定用板部材の厚みとを記憶する記憶部を備えたことにより、これらの値を測定することなく測定対象体の厚みを算出することができるため、測定対象体の厚みを正確にしかも短時間で測定することができる。
【００１５】
また、本発明に係る検査装置によれば、情報記録媒体用のカートリッジケースにおける互いに嵌合された状態の上ケースおよび下ケースからなるケース本体の厚みを測定する検査装置と、測定された厚みが所定の基準範囲内か否かを検査する検査部とを備えたことにより、情報記録媒体における上ケースおよび下ケースの表面に凹凸が形成されていたとしても、嵌合状態の両ケースの厚みを正確に測定することができるため、その厚みが基準範囲内か否かの検査を正確に行うことができる。
【００１６】
また、本発明に係る製造装置によれば、上記の検査装置を備えたことにより、上ケースおよび下ケースの表面に凹凸が形成されている情報記録媒体用のカートリッジケースにおける嵌合状態の両ケースの厚みを正確に測定することができるため、その厚みが所定の基準範囲内か否かを正確に検査することができる。したがって、嵌合状態の両ケースの厚みが基準範囲内のカートリッジケースと、その厚みが基準範囲外のカートリッジケースとを正確に選別することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明に係る厚み測定装置、検査装置、製造装置および厚み測定方法の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１８】
最初に、製造装置１０１、および製造装置１０１を使用して組み立てられるカートリッジケース３１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１９】
図１に示す製造装置１０１は、検査置１および搬送装置２を備えて、図５示すテープカートリッジ（情報記録媒体）用のカートリッジケース３１を製造可能に構成されている。検査装置１は、製造装置１０１によって実行されるカートリッジケース３１の製造工程において、ケース本体３２の厚みが基準範囲内か否かの検査（以下「厚み検査」ともいう）を実行可能な装置であって、図１に示すように、距離センサ１１、第１移動機構１２、第２移動機構１３、制御部１４、記憶部１５、表示部１６および基台１７を備えて構成されている。この場合、距離センサ１１、第１移動機構１２および制御部１４によって本発明における厚み測定装置が構成される。
【００２０】
距離センサ１１は、本発明における検出手段に相当し、図３に示すように、後述するセラミック板４１の上方に位置するようにして、厚み検査を実行する作業位置Ｐ１に立設された支柱１１ａに固定されている。また、距離センサ１１は、図２に示すように、測定対象体としてのカートリッジケース３１におけるケース本体３２の上面に当接されたセラミック板４１にレーザービーム（本発明における照射光）Ｌを照射してセラミック板４１の表面４１ａ（本発明における測定対象面）までの間の距離を特定可能な検出信号Ｓを出力可能に構成されている。具体的には、距離センサ１１は、同図に示すように、半導体レーザ２１、投光レンズ２２、受光レンズ２３および受光素子２４を備えて構成されている。半導体レーザ２１は、レーザ光を発光して射出し、投光レンズ２２は、半導体レーザ２１によって射出されたレーザ光を所定のスポット径のレーザービームＬに変換してセラミック板４１に照射する。受光レンズ２３は、セラミック板４１で反射されたレーザービームＬの反射光Ｒを集光する。受光素子２４は、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device ）で構成されて、受光レンズ２３によって集光された反射光Ｒを受光して検出信号Ｓを出力する。
【００２１】
第１移動機構１２は、本発明における移動機構に相当し、図３に示すように、セラミック板４１を移動可能に構成されて、作業位置Ｐ１に配設されている。また、第１移動機構１２は、制御部１４の制御下でセラミック板４１を上下動させる。セラミック板４１は、本発明における測定用板部材に相当し、図４に示すように、白色のセラミック材によって薄板状に構成されると共に、その両面が平坦（またはほぼ平坦）に形成されている。第２移動機構１３は、図３に示すように、アーム１３ａを備えて構成されて、作業位置Ｐ２に配設されている。この場合、第２移動機構１３は、制御部１４の制御下でアーム１３ａを突き出すことにより、基台１７に載置されているケース本体３２を搬送装置２に隣接する他の搬送装置（図示せず）に移動させる。
【００２２】
制御部１４は、本発明における制御部、測定部および検査部に相当し、検査装置１を統括的に制御する。また、制御部１４は、第１移動機構１２を制御して搬送装置２によって作業位置Ｐ１に搬送されたケース本体３２の上面（本発明における一面）にセラミック板４１を当接させる。さらに、制御部１４は、距離センサ１１を制御して、ケース本体３２に当接させたセラミック板４１の表面４１ａにレーザービームＬを照射させて検出信号Ｓを出力させる。また、制御部１４は、距離センサ１１から出力された検出信号Ｓに基づいて距離センサ１１とセラミック板４１の表面４１ａとの間の距離を特定（算出）する。
【００２３】
さらに、制御部１４は、セラミック板４１の厚みと、予め規定されているセラミック板４１の表面４１ａおよび基台１７の載置面（基準面：基台１７に載置されたケース本体３２の下面）の距離とを記憶部１５から読み出すと共に、読み出したこれらの各値と距離センサ１１およびセラミック板４１の表面４１ａの間の距離とに基づいて、ケース本体３２の上面と基台１７の載置面との間の距離（つまりケース本体３２の厚み）を算出する。また、制御部１４は、ケース本体３２の厚みについての基準範囲の値（上下限値）を記憶部１５から読み出してケース本体３２の厚みが基準範囲内か否かを検査すると共に、その厚みが基準範囲外のときには、第２移動機構１３を制御してケース本体３２を基台１７から図外の搬送装置（搬送装置２に隣接する他の搬送装置）に移動させる。さらに、制御部１４は、ケース本体３２の厚みや厚み検査の検査結果（良否判定結果）を表示部１６に表示させる。
【００２４】
記憶部１５は、セラミック板４１の厚みと、距離センサ１１および基台１７の載置面の間の距離（本発明における基準距離）と、ケース本体３２の厚みについての基準範囲（上下限値）とを記憶する。表示部１６は、制御部１４によって算出されたケース本体３２の厚みや制御部１４による厚み検査の検査結果を表示する。基台１７は、図３に示すように、一例として、搬送装置２の搬送用レールで構成されて、ケース本体３２を載置可能に形成されている。
【００２５】
一方、カートリッジケース３１は、例えば電子計算機に記録された記録データをバックアップするためのストレージデバイスとして使用可能なＬＴＯ規格に準拠した１リールタイプのカートリッジ式の磁気記録媒体（情報記録媒体）用のケースであって、図５に示すように、互いに嵌合可能な上ケース３２ａおよび下ケース３２ｂで構成されたケース本体３２を備え、このケース本体３２には、テープリール３３、ブレーキスプリング３４、ロック部材３５、ブレーキ解除板３６およびドア部材３７などの各種部品が収容されている（組み付けられている）。この場合、テープリール３３には、カートリッジケース３１の完成後において磁気テープ（図示せず）が巻回され、この磁気テープの先端には、記録データの記録再生時にケース本体３２内から磁気テープを引き出すためのリーダピン３８が固定される。また、ケース本体３２の表面（上ケース３２ａおよび下ケース３２ｂの表面）には、傷つき防止用の梨地加工が施されている。なお、ブレーキスプリング３４、ロック部材３５、ブレーキ解除板３６およびドア部材３７などの形状や機能等については公知のため、本発明についての理解を容易とするためにその説明を省略する。
【００２６】
次に、カートリッジケース３１を製造する際の製造装置１０１の全体的な動作、および本発明に係る厚み測定方法に従ってカートリッジケース３１の厚みを測定すると共にその厚みに基づいてカートリッジケース３１の厚み検査を実行する際の検査装置１の動作について、図面を参照して説明する。
【００２７】
この製造装置１０１では、各種の組み付け装置（図示せず）が、上ケース３２ａおよび下ケース３２ｂに上記の各種部品を組み付ける。次に、嵌合装置（図示せず）が、各部品を組み付けた上ケース３２ａおよび下ケース３２ｂを嵌合させた後に、上ケース３２ａを下向きにして搬送装置２の基台１７に載置する。次いで、固定装置（図示せず）が、上ケース３２ａと下ケース３２ｂとをねじ止めした後に、両ケースの例えば角部を超音波溶着する。これにより、上ケース３２ａと下ケース３２ｂとが固定される。続いて、搬送装置２が、図３に示すように、各部品が組み付けられて互いに固定された上ケース３２ａおよび下ケース３２ｂ（以下「組み付け済みのケース本体３２」ともいう）を搬送して、検査装置１によって厚み検査が実行される作業位置Ｐ１で停止させる。
【００２８】
次に、検査装置１の制御部１４が、セラミック板４１を下方に移動させるための制御信号を第１移動機構１２に出力する。これに応じて、第１移動機構１２が、セラミック板４１を下方に移動させて、作業位置Ｐ１に搬送された組み付け済みのケース本体３２の上面（下ケース３２ｂの表面）に当接させる。次いで、制御部１４は、レーザービームＬの照射および検出信号Ｓの出力を指示する制御信号を距離センサ１１に出力する。これに応じて、距離センサ１１の半導体レーザ２１が、測定用のレーザ光を発光して射出し、投光レンズ２２が、レーザ光を所定のスポット径のレーザービームＬに変換して、組み付け済みのケース本体３２の上面に当接させられたセラミック板４１の表面４１ａに照射する。
【００２９】
この場合、図６に示すように、照射されたレーザービームＬが、セラミック板４１の表面４１ａで反射して、その反射光Ｒが、受光レンズ２３に入射する。この際に、同図に示すように、セラミック板４１の表面４１ａが平坦に形成されているため、照射されたレーザービームＬのうちの一部を除く多くが正反射する結果、十分な光量の反射光Ｒが受光レンズ２３に入射する。次に、受光レンズ２３は、反射光Ｒを集光して受光素子２４上にスポットを結像させる。次いで、受光素子２４は、受光素子２４内におけるスポットの位置情報を含む検出信号Ｓを制御部１４に出力する。この場合、図２に実線と破線とで示すように、距離センサ１１とセラミック板４１との距離の変化に伴って反射光Ｒが結像される受光素子２４内におけるスポットの位置が変化する。したがって、検出信号Ｓに含ませたスポットの位置情報に基づいて距離センサ１１とセラミック板４１の表面４１ａとの距離が特定される。
【００３０】
次に、制御部１４は、ケース本体３２の厚みを算出（測定）する。具体的には、制御部１４は、検出信号Ｓに基づいて距離センサ１１とセラミック板４１の表面４１ａとの間の距離（以後「距離Ｄ１」ともいう）を例えば三角測距法によって算出（特定）する。次いで、制御部１４は、セラミック板４１の厚みと、距離センサ１１および基台１７の載置面の間の距離（以後「距離Ｄ２」ともいう）とを記憶部１５から読み出す。続いて、制御部１４は、セラミック板４１の厚みおよび距離Ｄ１を距離Ｄ２から減算することにより、ケース本体３２の上面と基台１７の載置面との距離（つまりケース本体３２の厚み）を算出する。次に、制御部１４は、算出した厚み（測定値）を表示部１６に表示させる。また、制御部１４は、ケース本体３２の厚みについての基準範囲（上下限値）を記憶部１５から読み出して、算出したケース本体３２の厚みが基準範囲内か否かを検査する。この際に、測定値が基準範囲内のときには、制御部１４は、その旨（合格）を示す表示部１６内の青ランプを点灯させる。一方、測定値が基準範囲外のときには、制御部１４は、その旨（不合格）を示す表示部１６内の赤ランプを点灯させる。この場合、赤ランプの点灯に合わせてアラーム音を出力させてもよい。これにより、測定値が基準範囲内か否か（厚みが合格か不合格か）が報知されて、厚み検査が終了する。
【００３１】
次に、制御部１４は、第１移動機構１２を制御してセラミック板４１を上方に移動させてケース本体３２への当接を解除させる。次いで、搬送装置２は、厚み検査を終了した組み付け済みのケース本体３２を次の工程が実行される作業位置に搬送する。一方、測定値が基準範囲外のときには、制御部１４は、厚みが不合格の組み付け済みのケース本体３２を搬送装置２（基体１７）から移動（排除）させるための制御信号を第２移動機構１３に出力する。これに応じて、第２移動機構１３は、図３に示すように、厚み検査を終了した組み付け済みのケース本体３２が作業位置Ｐ２に搬送されたときに、アーム１３ａを前方（同図では下方）に突き出すことにより、そのケース本体３２を搬送装置２から隣接する他の搬送装置（図示せず）に移動させる。次いで、検査装置１および搬送装置２は、上記した組み付け済みのケース本体３２の搬送や厚み検査をそれぞれ繰り返して実行する。
【００３２】
このように、この検査装置１によれば、その表面が平坦に形成されたセラミック板４１をケース本体３２の上面に当接させると共に距離センサ１１に対してセラミック板４１の表面４１ａにレーザービームＬを照射させてセラミック板４１の表面４１ａまでの間の距離を特定可能な検出信号Ｓを出力させることにより、照射させたレーザービームＬの多くをセラミック板４１によって正反射させることができるため、十分な光量の反射光Ｒを受光レンズ２３（受光素子２４）に入射させることができる。このため、その表面に微細な凹凸が形成されたケース本体３２に対しても、その厚みを正確に測定することができる結果、測定した厚みが基準範囲内か否かの厚み検査を正確に行うことができる。したがって、この製造装置１０１によれば、ケース本体３２の厚みが基準範囲内の（厚みが合格の）カートリッジケース３１と、その厚みが基準範囲外の（厚みが不合格の）カートリッジケース３１とを正確に選別することができる。
【００３３】
また、測定用板部材としてセラミック板４１を使用したことにより、セラミックが耐久性に優れているため、長期間の使用によってもセラミック板４１の表面４１ａを平坦な状態に維持させることができる結果、正確な厚み測定を長期に亘って実行させることができる。また、白色のセラミック板４１を用いたことにより、暗色のセラミック板を用いる構成と比較して、照射したレーザービームＬを高効率で正反射させることができるため、さらに十分な光量の反射光Ｒを受光レンズ２３に入射させることができる結果、ケース本体３２の厚みをさらに正確に測定することができる。
【００３４】
また、セラミック板４１の厚みと、距離センサ１１および基台１７の載置面の間の距離とを記憶する記憶部１５を備えたことにより、これらの値を測定することなくケース本体３２の厚みを算出することができる。したがって、ケース本体３２の厚みを正確にしかも短時間で測定することができる。
【００３５】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、カートリッジケース３１におけるケース本体３２を検査対象とした検査装置１について上記したが、本発明はこれに限定されず、表面に微細な凹凸を有する各種の部品や組み付け途中の中間体の厚み検査に検査装置１を適用することができる。また、カートリッジケース３１以外のビデオテープやカセットテープ等の他の製品を製造する製造装置に検査装置１を適用することもできる。この場合、検査装置１に対して、測定値が基準範囲内か否かの検査を実行させずに、厚み測定のみを実行させることもできる。また、白色のセラミックで形成したセラミック板４１を使用する例について説明したが、セラミック板４１の色は白色に限定されず乳白色等の他の色のセラミック板を採用することもできる。また、材質もセラミックに限定されず例えば樹脂で形成した板状部材を採用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】製造装置１０１の構成を示すブロック図である。
【図２】距離センサ１１の概略構成を示す側面図である。
【図３】製造装置１０１の平面図である。
【図４】セラミック板４１の斜視図である。
【図５】カートリッジケース３１の分解斜視図である。
【図６】レーザービームＬが照射されている状態のケース本体３２およびセラミック板４１の断面図である。
【図７】従来の厚み測定装置によってケース本体Ｃにレーザ光（６）が照射されている状態の断面図である。
【符号の説明】
【００３７】
１  検査装置
１１  距離センサ
１２  第１移動機構
１４  制御部
３１  カートリッジケース
３２  ケース本体
３２ａ  上ケース
３２ｂ  下ケース
４１  セラミック板
４１ａ  表面
１０１  製造装置
Ｌ  レーザービーム
Ｒ  反射光
Ｓ  検出信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2005083894.tif 000007
【図６】
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【図７】
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