(57)【要約】【課題】画像形成装置で通紙することなく電子写真用感光体の劣化加速試験を行う方法を提供すること。【解決手段】帯電装置１０によってサンプル台１２条の電子写真用感光体１３を帯電する帯電工程と、露光装置１４によって電子写真感光体１３を露光して放電させる露光工程とを含むサイクルを繰り返して行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、電子写真用感光体の通過電荷量を１分あたり３．５×１０−５（Ｃ／ｃｍ２）以上とすることを特徴とする電子写真用感光体劣化加速試験方法。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
帯電装置によって電子写真用感光体を帯電する帯電工程と、露光装置によって電子写真感光体を露光して放電させる露光工程とを含むサイクルを繰り返して行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、電子写真用感光体の通過電荷量を１分あたり３．５×１０−５（Ｃ／ｃｍ２）以上とすることを特徴とする電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項２】
帯電と露光とを同時に行うことを特徴とする請求項１記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項３】
前記帯電装置として、電子写真用感光体に高電圧を印加する複数の１方向のみに張架されたワイヤを有し且つワイヤを囲むケーシングの形状が電子写真用感光体面に対して平行な面が全てケーシングされていない帯電装置を用いることを特徴とする請求項１又は２記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項４】
前記帯電装置と前記電子写真用感光体とを近接して配置し、該電子写真用感光体を使用する画像形成装置の画像形成プロセスにおける通紙枚数に対応した電子写真用感光体の通過電荷量と、電子写真用感光体劣化加速試験方法の通過電荷量を同じくして電子写真用感光体を劣化させることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項５】
前記通過電荷量と劣化加速試験後の電子写真感光体の特性値から、画像形成装置における通紙後の電子写真用感光体の特性値を予測することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の電子写真用劣化加速試験方法。
【請求項６】
劣化加速試験中に電子写真用感光体を動かすことを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項７】
劣化加速試験中の電子写真用感光体をワイヤが張架されている方向に対して垂直方向に動かすことを特徴とする請求項６記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項８】
前記電子写真用感光体を、試験時間の内１／２の時間は初期位置で劣化させ、残りの１／２の時間はワイヤ間隔の中間距離移動した位置で劣化させることを特徴とする請求項６記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項９】
少なくとも帯電装置と露光装置とを備えた、請求項１〜８のいずれかに記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法を実施するための電子写真用感光体劣化加速試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザープリンター・複写機等の画像形成装置に使用される電子写真用感光体の劣化加速試験方法及び加速試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真用感光体の劣化加速試験方法及び加速試験装置に関する従来技術を示す文献について以下説明する。
特許文献１には、既知数の像形成サイクルのサイクル操作寿命を有する少なくとも１つの電子写真像形成部材を用意し、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルに繰り返しかけてサイクル中の上記光導電性層の暗減衰を暗減衰量が最高値に達するまで測定し、上記最高値により暗減衰最高値対像形成サイクルの参照データを確立し、新鮮な電子写真像形成部材を静電気帯電工程と光放電工程を含む上記サイクルに、更にサイクル操作にかけても実質的に一定のままである最高値に暗減衰量が達するまで繰り返しかけ、上記新鮮な電子写真像形成部材の暗減衰最高値を上記参照データと比較して上記新鮮な電子写真像形成部材の推定サイクル寿命を確認する各工程を含む劣化加速試験方法が記載されている。
【０００３】
しかしながら、この方法では、透明ガラスを圧着させてバイアス印加を行うと共に光を照射させており、コロナ帯電・ローラ帯電という実際の電子写真プロセスとは異なる方法での劣化加速試験法である。また、寿命に到ったサンプルの暗減衰特性があらかじめ分かっていないといけない為、一度感光体を実機に搭載して通紙試験を行わなければならず、多大な手間がかかってしまうという問題があった。
【０００４】
その他の従来技術として、通紙試験を行わないで寿命を確認する方法がある。この方法は、電子写真用感光体（以下、感光体と略す）を高速で回転させた状態（１,０００〜２,０００ｒ．ｐ．ｍ）で感光体の周囲に配置された帯電器、露光装置で帯電、露光を繰り返し、寿命を予測する方法がある。この方法は更に２つの試験方法に分かれる。
【０００５】
一つは帯電器の出力と露光装置の光量をあらかじめ決めた条件で固定し、決められた時間だけ試験を行い、その後感光体の特性を測定し、劣化状態を判定する。２つめの方法は試験中の感光体露光後電位Ｖと感光体を通して流れる通過電流Ｉを計測し、この２つが常に決められたレベルにあるように帯電器の出力と露光装置の光量を調整しながら行う方法である。
【０００６】
この２つの方法で重要な点は、試験中に感光体に流れた通過電流を計測し、これを電荷量（単位面積当りの値）Ｑに変換し、一方、Ａ４サイズ１枚を実機でプリントアウトする時、感光体を流れる通過電流が感光体の静電容量をＣ（単位面積当りの値）、帯電電位Ｖ、感光体のサイズはＡ４紙１枚が感光体上をダブリなく印字されるサイズとするとＣ・Ｖで求まることから、Ｑ／（Ｃ・Ｖ）とすることで寿命試験時間を実機のプリント枚数に対応させることが出来る点である。
【０００７】
もう１つ重要な点はこの試験が加速寿命試験になっていることである。具体的に示すと、感光体に５μＡ／１０ｃｍ２の試料通過電流を流し２０Ｈｒ試験すると（１日１０時間の試験とすると２日間）、５／１０×１０−６×２０×６０×６０＝０．０３６（Ｃ／ｃｍ２）の電荷が感光体を通過したことになる。（感光体を通過した電荷量のことを、通過電荷量と呼ぶ）そしてＡ４用紙縦送りで印字する場合を想定すると、感光体の静電容量を１００（ｐＦ／ｃｍ２）、帯電電位−７００（Ｖ）、除電後も含めた露光後電位を０（Ｖ）とすると、１００×１０−１２×７００＝７×１０−８（Ｃ／ｃｍ２）がＡ４―１枚をプリントアウトする時の通過電荷量であるので、０．０３６／（７×１０−８）≒５１４，０００（枚）のプリントアウトしたことになり、大幅な加速試験になる。
【０００８】
このため、２つ目の方法で寿命試験が行われることが多いが、前述の具体的な計算で分かるように、試験中に感光体を通過する電流が一定であれば、プリントアウト何枚相当の試験を行ったのか、計算がしやすい。そのため試験は通過電流を一定にするようにして実施する方法が一般的に採られる。その本質は通過電荷量を知ることにある。また、感光体によっては帯電電位がどのレベルにあるかによって寿命試験の結果が異なることがあり、帯電電位も一定にして試験を行うことが要求される。この様に、帯電電位および通過電流を一定にする為に、帯電器の高圧電源出力調整、および露光装置の光量調整を行うシステムが必要となり従来の寿命試験装置が構築された。
【０００９】
この従来の劣化加速試験には、例えば、概略構成図の図１に示す様な、感光体試料片の特性評価装置（（株）川口電気製作所製ＥＰＡ８２００）によって劣化を加速する方法がある。この特性評価装置での劣化加速試験方法では、ターンテーブル１には感光体試料片を装着する開口部３が設けられており、開口部３の大きさは、例えば、中心から見て４４°の開口角度をもち、面積は１９．３６ｃｍ２（開口部：４４×４４ｍｍ）である。更に、ターンテーブル１に付属して導電性金属板からなる試料片押さえ板２が設けられている。この装置では、約１，１００ｒ.ｐ.ｍで感光体の周囲に配置された帯電器４と露光装置５で帯電・露光を繰り返し、実機と同程度のスピードで回転させることができ、また、高速で回転させて試料片をコロナ帯電器４に何度も通過させることができるようになっている。更に、コロナ帯電器４から試料片に与えられ試料片を充電するパルス電流は、所定の検出間隔で電流計６に送られその中の平滑化回路で平滑化等がされた後、Ａ／Ｄ変換器８で変換されコントローラ９に送られ演算処理される。
【００１０】
また、試料片の表面電位は、コロナ帯電器４と別の位置に配置された表面電位計７のモニタ部である表面電位計電極５でモニタされ、モニタされた信号は所定の検出間隔で表面電位計７に送られ、その中の増幅器で増幅等がされた後、Ａ／Ｄ変換器８で変換され、コントローラ９に送られ演算処理される。この様に、この装置により劣化加速試験が可能であり、更に感光体の帯電能・電荷保持性能・感度等の特性評価も行うことが出来る装置である。
【００１１】
しかし、この様な従来のシステムは、２つの測定量、表面電位Ｘ，通過電流Ｙと、２つの操作量、帯電器高圧電源の出力制御値Ａ、除電露光ランプ光量の出力制御値Ｂの関係は、Ａを増加するとＸ，Ｙは増加し、Ａを減少させるとＸ，Ｙも減少し、Ｂを増加するとＸは減少、Ｙは増加し、Ｂを減少するとＸは増加し、Ｙは減少する関係があり、仮にＸが目標値からはずれ、これを目標範囲に入れようとＡまたはＢを操作すると、もう１つの測定量Ｙが変化してしまい、Ｙにとっては外乱が作用することになる。これを目標範囲に維持しようとＡまたはＢを操作すると今度はＸが変化するという状態になってしまい、複雑な制御を行わなければならなかった。また、劣化加速試験中に感光体表面電位・通過電流の瞬間的なバラツキがあった場合でも、それらが瞬間的な誤差として通過電荷量算出に反映されないシステムとなっており、正確な劣化加速試験を行う上で改善の余地があった。
【００１２】
そこで、これらの問題を解決する為に、特許文献２に記載の劣化加速試験装置が提案された。この装置は、電子写真感光体を高速で回転させ、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルを繰り返しかけて感光体の劣化を加速させる試験システムにおいて、感光体の通過電流・表面電位を計測し、感光体の電位を一定条件に保つように制御し、試験中計測された通過電流から通過電荷量を算出されるシステムとして、単純で精度を良くした感光体の劣化加速試験装置である。
【００１３】
しかしながら、最近の感光体は高寿命化されてきており、この様な劣化加速試験装置においても、寿命を判断するまで試験を行うには多大な時間が必要となってきている。そこで、更に劣化を加速し、短時間で寿命を判断可能な劣化加速試験方法が要望されるようになった。その実現の為には、単位面積当りの通過電荷量を増加することが重要であることが分かった。
【００１４】
そこで、感光体面の単位面積あたりの通過電荷量を増大させる帯電方法として、高電圧が印加される複数のワイヤを有し、ワイヤが１方向のみに張架されており、かつワイヤを囲むケーシングの形状は感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない帯電装置によって、単位面積あたりの感光体面への電流量を増加する方法が提案されているが、この帯電方法は、静止した状態で劣化加速試験を行う為、感光体面に帯電ムラ（放電ムラ）が発生することが分かり、改善の余地があった。
【００１５】
帯電ムラを抑制する従来技術として、特許文献３には、シールドケース内にグリッド電極と放電ワイヤを有するコロナ帯電器において、前記シールドケースに当接あるいは近接して、該シールドケースを加熱する加熱部材を設けたことを特徴とするコロナ帯電器が記載されている。この発明は、湿度が高い場合に、コロナ帯電器で感光ドラムを帯電処理する際に放電ムラが起こり、帯電ムラが発生して良好な画像が得られなくなるため、コロナ帯電器に加熱部材を取り付け帯電ムラの発生を防止することを特徴としているが、これは実際の劣化加速試験で使用される帯電方法とは異なる方法であり、また、この方法ではコロナ帯電器に加熱部材を取り付ける必要が生じることや、コロナ帯電器周辺の温湿度を測定する為の温湿度計の設置も必要であり、更にそれらの制御に必要な機構も用意する必要があり容易に本劣化加速試験方法で帯電ムラを抑制する方法ではなかった。
【００１６】
【特許文献１】特開平５−１９７３号公報
【特許文献２】特開２００２−１４９００５号公報
【特許文献３】特開２００１−２２１５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
本発明は、電子写真用感光体を帯電する帯電工程と、露光工程を含むサイクルを行う短時間の劣化によって、画像形成装置で通紙することなくかつ劣化ムラを抑制して、通紙した状態と同じ状況にすることが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
前記課題を解決するための本発明の態様は次の通りである。
（１）帯電装置によって電子写真用感光体を帯電する帯電工程と、露光装置によって電子写真感光体を露光して放電させる露光工程とを含むサイクルを繰り返して行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、電子写真用感光体の通過電荷量を１分あたり３．５×１０−５（Ｃ／ｃｍ２）以上とすることを特徴とする電子写真用感光体劣化加速試験方法。
（２）帯電と露光とを同時に行うことを特徴とする上記（１）の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
（３）前記帯電装置として、電子写真用感光体に高電圧を印加する複数の１方向のみに張架されたワイヤを有し且つワイヤを囲むケーシングの形状が電子写真用感光体面に対して平行な面が全てケーシングされていない帯電装置を用いることを特徴とする上記（１）、（２）の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
（４）前記帯電装置と前記電子写真用感光体とを近接して配置し、該電子写真用感光体を使用する画像形成装置の画像形成プロセスにおける通紙枚数に対応した電子写真用感光体の通過電荷量と、電子写真用感光体劣化加速試験方法の通過電荷量を同じくして電子写真用感光体を劣化させることを特徴とする上記（１）〜（３）の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
（５）前記通過電荷量と劣化加速試験後の電子写真感光体の特性値から、画像形成装置における通紙後の電子写真用感光体の特性値を予測することを特徴とする上記（１）〜（４）の電子写真用劣化加速試験方法。
（６）劣化加速試験中に電子写真用感光体を動かすことを特徴とする上記（１）〜（５）の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
（７）劣化加速試験中の電子写真用感光体をワイヤが張架されている方向に対して垂直方向に動かすことを特徴とする上記（６）の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
（８）前記電子写真用感光体を、試験時間の内１／２の時間は初期位置で劣化させ、残りの１／２の時間はワイヤ間隔の中間距離移動した位置で劣化させることを特徴とする上記（６）の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
（９）少なくとも帯電装置と露光装置とを備えた、上記（１）〜（８）の電子写真用感光体劣化加速試験方法を実施するための電子写真用感光体劣化加速試験装置。
【発明の効果】
【００１９】
上記態様（１）〜（４）により、短時間の劣化で実際に画像形成装置で通紙した状態と同じ状況にすることが可能となる。
上記態様（５）により、短時間の劣化試験で通紙後の特性値を予測することが可能となる。
上記態様（６）、（７）により、劣化ムラを抑制することが出来る。
上記態様（８）により、複雑な制御を必要とせず劣化ムラを抑制することが出来る。
上記態様（９）により、感光体試料片を用いた劣化加速試験が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
本発明に係る、劣化加速試験装置としては、例えば図２に示すような装置を使用することができる。図２に示す装置を用いて劣化加速試験を行う場合の手順を以下に述べる。
まず、感光体試料片１３の感光面が上向きになるようにサンプル台１２に載せる。サンプル台１２表面には、アースに接続された導電性の部材が取り付けられている。次に、絶縁性のテープ等で感光体試料片１３がサンプル台１２に密着するように貼り付ける。所定の光量になるように設定された露光装置１４によって感光体面に露光し、高圧電源１１に接続された帯電装置１０でコロナ放電を同時に行う。帯電同時露光のサイクルを繰り返して行うことにより劣化加速試験が可能となる。
【００２１】
この試験装置を用いることにより、劣化加速試験中の電流値の変化により単位面積あたりの通過電荷量を変化させることが可能となり、劣化加速度合いを変化させることが可能になる。劣化加速試験終了後、帯電能・電荷保持性能等の特性値を測定し評価する。あるいは感光体の表面観察によって、感光体の劣化度合いも確認する。
【００２２】
通過電荷量は１分あたり３．５×１０−５（Ｃ／ｃｍ２）以上とすることにより、短時間での劣化試験が可能となる。
また、帯電装置１０としては、図３（Ａ）、（Ｂ）に示すような、帯電工程で高電圧を印加する複数の１方向のみに張架されたワイヤ１６を有し、且つワイヤを囲むケーシング１５の形状が電子写真用感光体面に対して平行な面が全てケーシングされていない帯電装置を用いることが好ましい。
【００２３】
帯電装置と電子写真用感光体との距離を近接させて、帯電と露光とを同時に行い、電子写真用感光体を使用する画像形成装置の画像形成プロセスにおける通紙枚数に対応した電子写真用感光体の通過電荷量と、電子写真用感光体劣化加速試験方法の通過電荷量とを同じくして、試験片を劣化させる。これにより、短時間の劣化試験で、実際に画像形成装置で通紙したのと同じ状況にすることができる。
更に、電子写真用感光体劣化加速試験での通過電荷量と特性値から、画像形成装置における通紙後の電子写真用感光体の特性値を予測することができる。
【００２４】
前記の図３に示すような帯電装置を用いた場合の放電状況を確認する試験を行った。この試験の概要を以下に述べる。
帯電装置としては、対向する感光体面に対して平行な面にケーシングは無く４０×４０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔で１方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤ、ワイヤ径：６０μｍ）が張られ、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：テフロン（登録商標））を使用した帯電装置（帯電装置概略図を図３（Ａ）、（Ｂ）に示す。）を使用し、感光体面とワイヤの距離は５ｍｍとした。サンプル台（サイズ：７５×７５×５０（ｍｍ））の上にサンプル台の上面サイズよりも大きいアルミ板（サイズ：１２０×１２０×０．２５（ｍｍ））を置いた。このアルミ板の上にはアルミ蒸着したＰＥＴフィルム（サイズ：８０×１×０．１（ｍｍ）、アルミ蒸着面を上側）が貼り付けられ、ＰＥＴフィルム（アルミ蒸着側）には抵抗（１．５ｋΩ）を介して電位計が接続されており、ＰＥＴフィルムに流れる電流を確認できるようになっている。このサンプル台を帯電器の真下を等速で通過させ（ワイヤが張架している方向に対して垂直方向に移動）、帯電器を通過している時のＰＥＴフィルムに流れる電流の状況を確認した。電流測定結果を図５に示す。
電流測定用実験装置の概略図を図４に示す。図５で菱形のプロットはワイヤの位置である。またこの結果は、感光体試料片を帯電装置に対向させて静止した状態での放電ムラを調査した結果を示すものである。
【００２５】
図５に示した測定結果から、ワイヤ真下部分に最も電流が流れるということが分かり、帯電同時露光可能なこの帯電装置を使用し、感光体劣化加速試験を行った場合、放電ムラが形成されてしまうことがわかる。帯電装置に感光体試料片を対向させ静止した状態では、感光体面へ均一に劣化されないということが判る。
次にこの静止状態の結果と、ワイヤ間隔の中間距離５ｍｍ移動した時の結果を重ね合わせる為、図５に示された結果と、図５に示された結果を５ｍｍ分（ワイヤ間隔の中間位置分）ずらした結果とを重ね合わせた結果を図６に示す。（図６で菱形のプロットはワイヤの位置である。）
図６の結果から、静止状態での結果と、ワイヤ間隔の中間距離５ｍｍ移動した時の結果を重ね合わせることによって劣化ムラが抑制できるとことがわかる。
【００２６】
上記の結果から、劣化加速試験方法においては、劣化加速試験中に電子写真用感光体を動かすことにより、劣化ムラを抑制することが可能となることがわかる。また、電子写真用感光体の動かし方としては、劣化加速試験中のサンプルをワイヤが張架されている方向に対して垂直方向に動かす方法、及び、サンプルを試験時間の内１／２の時間を初期位置で劣化させ、残りの１／２の時間をワイヤ間隔の中間距離に移動させた位置で行う方法を挙げることができる。
【実施例】
【００２７】
以下に、本発明の実施例により具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００２８】
［実施例１］
図２に示す感光体劣化加速試験装置を使用した。帯電装置としては、対向する感光体面に対して平行な面にケーシングは無く４０×４０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔で１方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤ、ワイヤ径：６０μｍ）が張られ、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：テフロン（登録商標））である帯電装置を使用した。また、この試験装置での感光体面とワイヤの距離は５ｍｍとし、サンプル台（サイズ：７５×７５×５０（ｍｍ））の上に感光体試料片を置いた。感光体試料片は、リコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料・処方構成を使用した。
【００２９】
［比較例１］
プリンター（リコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００）を使用し、実際に通紙して感光体を劣化させた。感光体としてはリコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料・処方構成の感光体を使用した。感光体の径はφ１６８ｍｍ、静電容量は１１０ｐＦ／ｃｍ２で実施した。また、プリンターの現像条件は、帯電電位：７００Ｖ、露光後電位：１００Ｖ、紙間：Ａ４横の１．５倍、通紙条件：Ａ４横、ＱＬ：有り、原稿のべた密度：７％とした。
【００３０】
［比較例２］
図１に示す現行の劣化加速試験装置を使用して試験を行った。感光体としてはリコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料・処方構成の感光体を使用した。
上記の実施例及び比較例のそれぞれの装置で、１分あたりで感光体に与えることの出来る通過電荷量の結果を表１に示す。
【００３１】
【表１】
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【００３２】
実施例１の通過電荷量を最大にした時の劣化条件は、通過電流が−１６１．９μＡ（感光体の劣化面積：３５×４０ｍｍ）、照度が２６０ｌｕｘであり、比較例２の通過電荷量を最大にした時の劣化条件は、通過電流が−１１．２μＡ（感光体の劣化面積４４×４４ｍｍ）、照度が１０６ｌｕｘであった。
【００３３】
表１の結果から、比較例２の図１のような現行の感光体劣化加速試験装置でも、大幅に通過電荷量を増やすことが可能となることが分かるが、それ以上の劣化加速可能な方式としては、図２に示すような感光体劣化加速試験装置が必要になることが分かる。その条件として、通過電荷量３．５×１０−５以上（Ｃ／ｃｍ２）でより効果的な劣化加速試験となることが分かる。
【００３４】
［実施例２］
図２に示す感光体劣化加速試験装置を使用した。帯電装置としては、対向する感光体面に対して平行な面にケーシングは無く４０×４０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔で１方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤ、ワイヤ径：６０μｍ）が張られ、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：テフロン（登録商標））である帯電装置を使用した。また、この試験装置での感光体面とワイヤの距離は５ｍｍとし、サンプル台（サイズ：７５×７５×５０（ｍｍ））の上に感光体試料片を置いた。感光体試料片は、リコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料・処方構成を使用し、劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を−１２１．５μＡ（感光体の劣化面積：３５×４０ｍｍ）、照度を１９４ｌｕｘに設定し劣化加速試験を行った（この時の電子写真用感光体に与える１分あたりの通過電荷量は、５．２１×１０−４Ｃ／ｃｍ２であった）。
【００３５】
［比較例３］
プリンター（リコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００）を使用し、実際に通紙して感光体を劣化させた。感光体はリコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料・処方構成の感光体を使用した。この感光体の径はφ１６８ｍｍ、静電容量は１１０ｐＦ／ｃｍ２であった。プリンターの現像条件は、帯電電位：−７００Ｖ、露光後電位：−１００Ｖ、紙間：Ａ４横の１．５倍、通紙条件：Ａ４横、ＱＬ：有り、原稿のべた密度：７％とした。
プリンターでの通紙枚数２５０ｋ枚毎の通過電荷量と、その通過電荷量に到達するまでのそれぞれの条件における試験で費やす時間を表２に示す。更に、その試験時間における感光体の残留電位（所定の電位から十分露光させた後の電位を（株）川口電気製作所製ＥＰＡ８２００で測定）の測定結果を表３に示す。
【００３６】
【表２】
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【００３７】
【表３】
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【００３８】
表２の結果から、試験する感光体の特性値（径・静電容量）と、感光体を使用するプリンターにおける現像条件（帯電電位・露光後電位・紙間・通紙条件・ＱＬ・原稿のべた密度）から算出されたある通紙枚数における通過電荷量と同じ通過電荷量分を、図２のような感光体劣化加速試験装置で劣化させることによって、通紙させるよりも大幅に時間を短縮できることがわかる。
また、表３の特性値の結果からは、通過電荷量が同じであれば劣化後の特性値もほぼ同じであることがわかり、図２のような劣化加速試験装置で感光体を劣化すれば、実際に通紙したある枚数における特性値の予測や、実際のプリンターにおける寿命枚数での特性値予測が短時間で可能となることが判る。
【００３９】
［実施例３］
感光体試料片としてリコーＩＰＳＩＯ  Ｃｏｌｏｒ６５００用感光体と同じ材料・処方構成の感光体試料片を使用し、劣化加速試験中の通過電流を−１２１．５μＡ（感光体の劣化面積：３５×４０ｍｍ）、照度を１９４ｌｕｘに設定し３０分間初期位置で劣化加速試験を行い、その後ワイヤが張架している方向に対して垂直方向に５ｍｍ移動させ３０分間劣化加速試験を行った（この時の電子写真用感光体に与える1分あたりの通過電荷量は、５．２１×１０−４Ｃ／ｃｍ２であった）。
【００４０】
それぞれの条件で試験を行った後の感光体表面を観察した。
観察した結果、実施例３・比較例４のどちらも感光体の劣化面積内で変色が確認された。これは劣化による影響で変色したものであるが、変色の仕方に違いが現れており、実施例２では変色ムラは観察されなかったが、比較例２では変色ムラが確認された。このことから比較例２の試験中に感光体を移動しない静止状態では、帯電ムラ（放電ムラ）が発生しているということが分かる。
よって、ある時間劣化させる場合は、１／２の時間を初期位置・１／２の時間をワイヤ間隔の中間距離移動（ワイヤが張架している方向に対して垂直方向に）した位置で行うことが、感光体面の劣化ムラを抑制させる方法であることが分かる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明の劣化加速試験法によれば、電子写真用感光体に通紙することなく簡便に劣化加速試験を行うことができるので、画像形成装置等に用いる電子写真用感光体の劣化加速試験を行う方法として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】従来の劣化加速試験装置の概略を示す図である。
【図２】本発明の電子写真用感光体の劣化加速試験装置の構成を示す図である。
【図３】本発明の電子写真用感光体の劣化加速試験装置において使用する帯電装置を示す図である。
【図４】通過電流を測定するための実験装置の構成を示す図である。
【図５】図４の実験装置によって得られた通過電流と時間との関係を示す図である。
【図６】図４の実験装置によって得られた通過電流と時間との関係を示す図である。
【符号の説明】
【００４３】
１  ターンテーブル
２  試料片押え板    
３  開口部
４  コロナ帯電器
５  表面電位計電極部・露光装置
６  電流計測・平滑化回路、他
７  表面電位計：アンプ回路、他
８  インターフェース（Ａ／Ｄ変換）
９  コントローラー
１０  帯電装置
１１  高圧電源
１２  サンプル台
１３  感光体試料片
１４  露光装置
１５  ケーシング
１６  ワイヤ
１７  アルミ板
１８  アルミ蒸着ＰＥＴフィルム
１９  電位計
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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