(57)【要約】【課題】いままで検査しにくかったり検査不可能だった位置にある被検査面でも検査できるてこ式ダイヤルゲージの測定子を提供する。【解決手段】てこ式ダイヤルゲージの測定子１は、細長い測定子本体２と、測定子本体２の先端に形成された接触部３とからなる。測定子本体２の基端４には、測定子１をダイヤルゲージ本体に取り付けるためのネジ５が設けられている。接触部３は、被検査面と接触するための曲面である球面６と、接触部３の先端に形成され且つ測定子本体２の長手軸Ａ１に垂直な平面７とを有している。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
てこ式ダイヤルゲージの測定子であって、一端にてダイヤルゲージ本体に取り付けられる細長い測定子本体と、前記測定子本体の他端に形成され、被検査面と接触するための曲面を有する接触部とからなり、前記接触部が非球面を有していることを特徴とする、てこ式ダイヤルゲージの測定子。
【請求項２】
請求項１に記載の測定子において、前記曲面が球面であり、前記非球面が、前記接触部の先端に形成され且つ前記測定子本体の長手軸に垂直な平面である、ことを特徴とする測定子。
【請求項３】
請求項１に記載の測定子において、前記曲面が、前記測定子本体の長手軸に垂直な軸を有する円柱面であり、前記非球面が、前記円柱面に隣接し且つ前記円柱面の軸に沿って互いに平行に配置された一対の平面である、ことを特徴とする測定子。
【請求項４】
請求項１に記載の測定子において、前記曲面が、前記測定子本体の長手軸を軸として有する一対の円柱面にして直径方向対向位置に互いに分離して配置された一対の円柱面であり、前記非球面が、前記一対の円柱面に隣接し且つ前記一対の円柱面の軸に垂直な軸に沿って互いに平行に配置された一対の平面、および、前記接触部の先端に形成され且つ前記一対の円柱面の軸に垂直な平面である、ことを特徴とする測定子。
【請求項５】
請求項１に記載の測定子において、前記曲面および前記非球面が、前記測定子本体の長手軸を軸として有する連続した一つの円柱面である、ことを特徴とする測定子。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はてこ式ダイヤルゲージの測定子に関する。
【背景技術】
【０００２】
てこ式ダイヤルゲージの測定子は、一端にてダイヤルゲージ本体に取り付けられる細長い測定子本体と、この測定子本体の他端に形成され、被検査面と接触するための接触部とからなっている。従来の接触部は、外表面全体が球面で形成されている。
てこ式ダイヤルゲージは、変位の測定のほか、回転体の振れ検査や走行面の高さ検査など、多岐にわたって利用されている。
【０００３】
また、目盛りから具体的数値を読みとることなく、零点基準からの偏差の程度を知ることだけを目的に使用されることもある。この場合には、測定子の長さを変えることにより目盛りの拡大率が変化してもかまわないので、必要に応じて長い測定子又は短い測定子を選択的に用いることができる（特開平１１−１６０００３号公報参照）。
【０００４】
外表面全体が球面で形成された接触部は、被検査面との接触を確実にするうえで便利である。特に、零点基準からの偏差（振れ）の程度を知ることだけを目的に使用する場合、測定方向と測定子の軸線とのなす角度が９０度に限定されないので、球面上の広い領域から被検査面との接触点を選択することができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、外表面全体が球面で形成された接触部を有する従来の測定子では、検査しにくい場合または検査不可能な場合がある。例えば、被検査面が、回転（または走行）する低い突起の側面であったり、回転（または走行）する狭い溝の底面であったりする場合である。前者の場合、接触部の先端または側部のふくらんだ球面が邪魔になって、接触部が被検査面に適正に接触できないことがある。また、後者の場合、接触部の両側部のふくらんだ球面が邪魔になって接触部が狭い溝の中に入れないことがある。
【０００６】
さらに、被検査面を有する回転体が大きく振れると、球体の接触部が被検査面と適正に接触できなくなることがある。
そこで本発明が解決しようとする課題は、接触部において、被検査面と接触するための曲面を確保しつつ、ふくらんだ球面のかわりとなる非球面（具体的には平面または円柱面）を一部採用することにより、これまではふくらんだ球面が邪魔になって検査しにくかったり検査不可能だった位置にある被検査面でも検査できる測定子を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明によれば、てこ式ダイヤルゲージの測定子であって、一端にてダイヤルゲージ本体に取り付けられる細長い測定子本体と、前記測定子本体の他端に形成され、被検査面と接触するための曲面を有する接触部とからなり、前記接触部が非球面を有していることを特徴とする、てこ式ダイヤルゲージの測定子が提供される。
【０００８】
前記曲面を球面とし、前記非球面を、前記接触部の先端に形成され且つ前記測定子本体の長手軸に垂直な平面とすることができる。
または、前記曲面を、前記測定子本体の長手軸に垂直な軸を有する円柱面とし、前記非球面を、前記円柱面に隣接し且つ前記円柱面の軸に沿って互いに平行に配置された一対の平面としてもよい。
【０００９】
あるいはまた、前記曲面を、前記測定子本体の長手軸を軸として有する一対の円柱面にして直径方向対向位置に互いに分離して配置された一対の円柱面とし、前記非球面を、前記一対の円柱面に隣接し且つ前記一対の円柱面の軸に垂直な軸に沿って互いに平行に配置された一対の平面、および、前記接触部の先端に形成され且つ前記一対の円柱面の軸に垂直な平面としてもよい。
【００１０】
さらにまた、前記曲面および前記非球面を、前記測定子本体の長手軸を軸として有する連続した一つの円柱面とすることもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
図５に従来の測定子１０１を示す。測定子１０１は、細長い測定子本体１０２と、この測定子本体１０２の先端に形成された接触部１０３とからなる。測定子本体１０２の基端１０４には、測定子１０１をダイヤルゲージ本体（図示せず）に取り付けられるためのネジ１０５が設けられている。被検査面と接触するための接触部１０３は、外表面全体が球面で形成されているため、側部および先端がふくらんだ形になっている。このふくらんだ球面によって、前述したように、従来は検査しにくい場合および検査不可能な場合があった。
【００１２】
図１は、本発明による測定子の第１の実施態様を示す。測定子１は、基端（一端）４にてダイヤルゲージ本体に取り付けられる細長い測定子本体２と、測定子本体２の先端（他端）に形成された接触部３とからなる。基端４には、測定子１をダイヤルゲージに取り付けるためのネジ５が設けられている。図１の測定子１における接触部３は、外表面全体が球面で形成されている従来の接触部１０３（図５）とは異なり、被検査面と接触するための曲面である球面６を有する一方で、非球面である平面７を接触部３の先端に形成されている。平面７は、測定子本体２の長手軸Ａ１に垂直である。
【００１３】
平面７は、球体の半分未満を切り落としたときの断面である。したがって、図１における接触部３は、図５における接触部１０５の先端のふくらんだ球面部分を半分未満だけ除去した格好になっている。
【００１４】
図１の測定子１は、図１（Ｃ）に見られるように、回転体Ｒの低い突起Ｐの側面（被検査面）Ｓの振れを検査するのに適している。図５における従来の測定子１０１では、接触部１０３は先端のふくらんだ球面部分が邪魔になって側面Ｓと接触することができないであろう。
【００１５】
図２は、本発明による測定子の第２の実施態様を示す。測定子１１は、基端（一端）１４にてダイヤルゲージ本体に取り付けられる細長い測定子本体１２と、測定子本体１２の先端（他端）に形成された接触部１３とからなる。基端１４には、測定子１１をダイヤルゲージに取り付けるためのネジ１５が設けられている。図２の測定子１１における接触部１３は、被検査面と接触するための曲面である円柱面１６を有する一方で、非球面である平面１７を接触部１３の両側部に形成されている。円柱面１６は、測定子本体１２の長手軸Ａ１に垂直な軸Ａ２を有している。一対の平面１７は、円柱面１６に隣接し且つ円柱面１６の軸Ａ２に沿って互いに平行に配置されている。別実施態様では、円柱面１６を球面とすることもできる。
【００１６】
図２の測定子１１は、図２（Ｃ）に見られるように、回転体Ｒの狭い溝Ｇの底面（被検査面）Ｂを検査するのに適している。図５における従来の測定子１０１では、接触部１０３はふくらんだ球面部分が邪魔になって狭い溝Ｇの中に入れず、底面Ｂと接触することができないであろう。
【００１７】
図３は、本発明による測定子の第３の実施態様を示す。測定子２１は、基端（一端）２４にてダイヤルゲージ本体に取り付けられる細長い測定子本体２２と、測定子本体２２の先端（他端）に形成された接触部２３とからなる。基端２４には、測定子２１をダイヤルゲージに取り付けるためのネジ２５が設けられている。図３の測定子２１における接触部２３は、被検査面と接触するための曲面である一対の円柱面２６を有する一方で、非球面である一対の平面２７を接触部２３の両側部に形成されるとともに、接触部２３の先端にも平面２８を形成されている。一対の円柱面２６は、測定子本体２２の長手軸Ａ１を軸として有し、直径方向対向位置に互いに分離して配置されている。また、一対の平面２７は、一対の円柱面２６に隣接し、且つ、一対の円柱面２６の軸（測定子本体２２の軸Ａ１と同じ）に垂直な軸Ａ２に沿って互いに平行に配置されている。もう一つの平面２８は、一対の円柱面２６の軸に垂直である。
【００１８】
図３の測定子２１は、図３（Ｄ）に見られるように、回転体Ｒの低い突起Ｐの側面（被検査面）Ｓの振れを検査するのに適している。図１の実施態様では被検査面Ｓとの接触面が球面６であるのに対し、図３の実施態様では被検査面Ｓとの接触面が円柱面２６なので、より低い突起Ｐの側面Ｓに接触させることができる。また、接触部２３の両側部が平面２７になっているので、狭い間隙を通して接触部２３を被検査面に適用させることもできる。さらに、図２（Ｃ）に見られるように、接触部２３の横断面は、被検査面と接触する円柱面２６を上下に有する縦長の形状となっているので、接触部２３は十分な強度を得ることができる。
【００１９】
図４は、本発明による測定子の第４の実施例を示す。測定子３１は、基端（一端）３４にてダイヤルゲージ本体に取り付けられる細長い測定子本体３２と、測定子本体３２の先端（他端）に形成された接触部３３とからなる。基端３４には、測定子３１をダイヤルゲージに取り付けるためのネジ３５が設けられている。図４の測定子３１における接触部３３は、被検査面と接触するための曲面である円柱面３６を有する。円柱面３６は、接触部３３の全体にわたって連続して延びている。接触部３３の先端には平面３８が形成されている。
【００２０】
図４の測定子は、図４（Ｂ）に見られるように、回転体Ｒの振れを検査するのに適している。連続した一つの円柱面３６は、いずれの箇所でも回転体Ｒに接触することができるので、回転体Ｒが大きく振れても接触し損なうことがない。図５の従来の測定子１０１の接触部１０３は球体なので、回転体Ｒが大きく振れた時に接触し損なう可能性があるので、検査しにくかった。
【００２１】
以上に述べたように、本発明の測定子によれば、これまで検査しにくかったり検査不可能だった位置にある検査面でも検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の第１の実施態様によるてこ式ダイヤルゲージの測定子を示す図であり、（Ａ）は側面図、（Ｂ）は平面図、（Ｃ）は被検査物を検査している状態を示す断片側面図。
【図２】本発明の第２の実施態様によるてこ式ダイヤルゲージの測定子を示す図であり、（Ａ）は側面図、（Ｂ）は平面図、（Ｃ）は被検査物を検査している状態を示す断片側面図。
【図３】本発明の第３の実施態様によるてこ式ダイヤルゲージの測定子を示す図であり、（Ａ）は側面図、（Ｂ）は平面図、（Ｃ）は端面図、（Ｄ）は被検査物を検査している状態を示す断片側面図。
【図４】本発明の第４の実施態様によるてこ式ダイヤルゲージの測定子を示す図であり、（Ａ）は一部断面をとってある側面図、（Ｂ）は被検査物を検査している状態を示す断片側面図。
【図５】従来のてこ式ダイヤルゲージの測定子を示す図であり、（Ａ）は側面図、（Ｂ）は平面図。
【符号の説明】
【００２３】
１，１１，２１，３１  測定子、２，１２，２２，３２  測定子本体、３，１３，２３，３３  接触部、４，１４，２４，３４  測定子本体の基端、５，１５，２５，３５  ネジ、６  球面、７  平面、１６  円柱面、１７  平面、２６  円柱面、２７  平面、２８  平面、３６  円柱面、３８  平面、Ａ１  測定子本体の長手軸、Ａ２  測定子本体の長手軸に垂直な軸、Ｂ  溝の底面、Ｇ  溝、Ｒ  回転体、Ｐ  突起、Ｓ  突起の側面。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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