(57)【要約】【課題】３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定する。【解決手段】同一多値レベルデータを、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きし（ステップ４０７）、そのテスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する（ステップ４０９〜４２３）。これにより、テスト領域からの再生信号に符号間干渉の影響が明瞭に出現することとなる。従って、テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、符号間干渉の影響が小さくなるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することができる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに、３値以上に多値化された情報を記録する際の記録条件を決定する記録条件決定方法であって、
同一多値レベルデータを、再生時に前記トラックに形成される光スポットのスポット径よりも前記トラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きする第１工程と；
前記テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する第２工程と；を含む記録条件決定方法。
【請求項２】
前記第２工程では、前記再生信号のレベルにおける最大値と最小値との差が所定の基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することを特徴とする請求項１に記載の記録条件決定方法。
【請求項３】
前記基準値は前記光ディスクに記録されていることを特徴とする請求項２に記載の記録条件決定方法。
【請求項４】
前記光ディスクの種類を判別する第３工程を更に含み、
前記基準値は、前記判別結果に基づいて、光ディスクの種類に応じて予め設定されている値の中から選択されることを特徴とする請求項２に記載の記録条件決定方法。
【請求項５】
前記基準値は、前記多値化された情報の多値化数α（α≧３）と、未記録領域の再生信号レベルと最大マークが形成された領域の再生信号レベルとのレベル差ＤＲと、１以上の値が設定されているγとを用いて、｛｜ＤＲ｜／｛γ・（α-１）｝で算出される値であることを特徴とする請求項２〜４のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項６】
前記多値レベルデータは、前記最大マークに対応する多値レベルデータであり、
前記第２工程では、前記テスト領域からの再生信号を用いて前記基準値を算出することを特徴とする請求項５に記載の記録条件決定方法。
【請求項７】
前記第２工程では、前記再生信号レベルの平均値が予め設定されている範囲内となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することを特徴とする請求項１に記載の記録条件決定方法。
【請求項８】
前記第２工程では、前記再生信号のレベルにおける最大値又は最小値と前記再生信号の平均レベルとの差が予め設定されている基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することを特徴とする請求項１に記載の記録条件決定方法。
【請求項９】
前記テスト領域は、該テスト領域に記録される前記多値レベルデータの数が、前記テスト領域におけるセル長Ｓ、及び前記光スポットのスポット径２Ｒを用いて、（２Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り上げた整数値に２を加算した値となるように設定されていることを特徴とする請求項１〜８のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項１０】
前記テスト領域からの再生信号のレベルは、前記テスト領域に記録された複数の多値レベルデータのうち、前記テスト領域の両端からそれぞれ、（Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り捨てた数の多値レベルデータを除いた多値レベルデータの再生信号のレベルであることを特徴とする請求項９に記載の記録条件決定方法。
【請求項１１】
光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに３値以上に多値化された情報を記録する記録方法であって、
請求項１〜１０のいずれか一項に記載の記録条件決定方法によって取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて光ディスクに情報を記録する工程を含む記録方法。
【請求項１２】
光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに３値以上に多値化された情報を記録可能な光ディスク装置であって、
同一多値レベルデータを、再生時に前記トラックに形成される光スポットのスポット径よりも前記トラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きする試し書き手段と；
前記テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する取得手段と；
前記取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて前記光ディスクに情報を記録する処理装置と；を備える光ディスク装置。
【請求項１３】
前記取得手段は、前記再生信号のレベルにおける最大値と最小値との差が所定の基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することを特徴とする請求項１２に記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記基準値は前記光ディスクに記録されていることを特徴とする請求項１３に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記光ディスクの種類を判別する判別手段を更に備え、
前記基準値は、前記判別手段での判別結果に基づいて、光ディスクの種類に応じて予め設定されている値の中から選択されることを特徴とする請求項１３に記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記基準値は、前記多値化された情報の多値化数α（α≧３）と、未記録領域の再生信号レベルと最大マークが形成された領域の再生信号レベルとのレベル差ＤＲと、１以上の値が設定されているγとを用いて、｛｜ＤＲ｜／｛γ・（α-１）｝で算出される値であることを特徴とする請求項１３〜１５のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記多値レベルデータは、前記最大マークに対応する多値レベルデータであり、
前記取得手段は、前記テスト領域からの再生信号を用いて前記基準値を算出することを特徴とする請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記取得手段は、更に前記算出した基準値を前記光ディスクに記録することを特徴とする請求項１７に記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
前記取得手段は、前記再生信号レベルの平均値が予め設定されている範囲内となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することを特徴とする請求項１２に記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記取得手段は、前記再生信号のレベルにおける最大値又は最小値と前記再生信号の平均レベルとの差が予め設定されている基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することを特徴とする請求項１２に記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記テスト領域は、該テスト領域に記録される前記多値レベルデータの数が、前記テスト領域におけるセル長Ｓ、及び前記光スポットのスポット径２Ｒを用いて、（２Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り上げた整数値に２を加算した値となるように設定されていることを特徴とする請求項１２〜２０のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記テスト領域からの再生信号のレベルは、前記テスト領域に記録された複数の多値レベルデータのうち、前記テスト領域の両端からそれぞれ、（Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り捨てた数の多値レベルデータを除いた多値レベルデータの再生信号のレベルであることを特徴とする請求項２１に記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに３値以上に多値化された情報を記録可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、
同一多値レベルデータを、再生時に前記トラックに形成される光スポットのスポット径よりも前記トラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きする手順と；
前記テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する手順と；
前記取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて前記光ディスクに情報を記録する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項２４】
請求項２３に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録条件決定方法、記録方法、光ディスク装置、プログラム及び記録媒体に係り、更に詳しくは、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の記録条件を決定する記録条件決定方法、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する記録方法及び光ディスク装置、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル技術の進歩及びデータ圧縮技術の向上に伴い、音楽、映画、写真及びコンピュータソフトなどの情報（以下「コンテンツ」ともいう）を記録するための媒体として、ＣＤ（compact disc）や、ＣＤの約７倍相当のデータをＣＤと同じ直径のディスクに記録可能としたＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置が普及するようになった。
【０００３】
この光ディスク装置では、光源からレーザ光を出射し、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録面に微小スポットを形成して情報の記録及び消去を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。
【０００４】
光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク領域及びスペース領域のそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。この場合には、情報は０と１の２種類の数値（２値）の組み合わせに変換（２値化）されて光ディスクに書き込まれる。以下では、このような記録方式を２値記録方式という。
【０００５】
そして、光ディスク装置では、記録に際して、光ディスクの目標位置に目標長さのマーク領域及びスペース領域がそれぞれ形成されるように、情報の記録に先立って、ＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる試し書き領域に試し書きを行って、最適な記録パワーを取得している。この処理は、ＯＰＣ（Optimum Power Control）処理と呼ばれている。
【０００６】
ところで、前記コンテンツの情報量は、年々増加する傾向にあり、１枚の光ディスクに記録可能な情報量の更なる増加が期待されている。光ディスクに記録可能な情報量を増加させる手段の一つとして、情報を３種類以上の数値の組み合わせに変換して光ディスクに書き込むことが考えられ、実用化に向けて関連する各種技術の開発が精力的に行なわれている（例えば、特許文献１〜９参照）。以下では、情報を３種類以上の数値の組み合わせに変換することを多値化といい、多値化されたデータを多値化データ又は多値レベルデータという。また、このように、情報を多値化して記録する記録方式を多値記録方式という。
【０００７】
この多値記録方式においても、前記２値記録方式と同様に、情報の記録に先立って、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得することは記録品質を高めるのに重要である（例えば、特許文献１０参照）。多値記録方式では、２値記録方式よりも記録線密度が高く、１つの多値化データが記録される単位領域（セル）の大きさが光スポットのスポット径よりも小さいため、符号間干渉が生じ易い。しかしながら、特許文献１０に開示されている方法では、符号間干渉が考慮されていないため、今後セルの大きさが更に小さくなると、得られた記録パワー及び記録ストラテジは、必ずしも適切な記録パワー及び記録ストラテジとはならないおそれがある。
【０００８】
【特許文献１】特開２００１−１８４６４７号公報
【特許文献２】特開２００２−２５１１４号公報
【特許文献３】特開２００２−８３４４５号公報
【特許文献４】特開２００２−３３４４３８号公報
【特許文献５】特開２００２−３５２４２８号公報
【特許文献６】特開２００２−３５２４２９号公報
【特許文献７】特開２００２−３６７１８２号公報
【特許文献８】特開２００３−１５１１３７号公報
【特許文献９】特開２００３−１４１７２５号公報
【特許文献１０】特開２００３−１３２５３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定することができる記録条件決定方法を提供することにある。
【００１０】
また、本発明の第２の目的は、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することができる記録方法及び光ディスク装置を提供することにある。
【００１１】
また、本発明の第３の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することができるプログラム、及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１に記載の発明は、光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに３値以上に多値化された情報を記録する際の記録条件を決定する記録条件決定方法であって、同一多値レベルデータを、再生時に前記トラックに形成される光スポットのスポット径よりも前記トラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きする第１工程と；前記テスト領域からの再生信号に基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する第２工程と；を含む記録条件決定方法である。
【００１３】
これによれば、同一多値レベルデータが、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きされ（第１工程）、そのテスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジが取得される（第２工程）。この場合には、テスト領域の長さがスポット径よりも長く、しかもテスト領域には複数個の同一多値レベルデータが書き込まれているため、テスト領域からの再生信号に符号間干渉の影響が明瞭に出現することとなる。そこで、テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、符号間干渉の影響が小さくなるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することができる。従って、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定することが可能となる。
【００１４】
この場合において、請求項２に記載の記録条件決定方法の如く、前記第２工程では、前記再生信号のレベルにおける最大値と最小値との差が所定の基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することとすることができる。
【００１５】
この場合において、請求項３に記載の記録条件決定方法の如く、前記基準値は前記光ディスクに記録されていることとすることができる。
【００１６】
上記請求項２に記載の記録条件決定方法において、請求項４に記載の記録条件決定方法の如く、前記光ディスクの種類を判別する第３工程を更に含み、前記基準値は、前記判別結果に基づいて、光ディスクの種類に応じて予め設定されている値の中から選択されることとすることができる。
【００１７】
上記請求項２〜４に記載の各記録条件決定方法において、請求項５に記載の記録条件決定方法の如く、前記基準値は、前記多値化された情報の多値化数α（α≧３）と、未記録領域の再生信号レベルと最大マークが形成された領域の再生信号レベルとのレベル差ＤＲと、１以上の値が設定されているγとを用いて、｛｜ＤＲ｜／｛γ・（α−１）｝で算出される値であることとすることができる。なお、本明細書では、「最大マーク」は面積が最も広いマーク、深さが最も深いマーク、及び面積が最も広くかつ深さが最も深いマークなどを含む。
【００１８】
この場合において、請求項６に記載の記録条件決定方法の如く、前記多値レベルデータは、前記最大マークに対応する多値レベルデータであり、前記第２工程では、前記テスト領域からの再生信号を用いて前記基準値を算出することとすることができる。
【００１９】
上記請求項１に記載の記録条件決定方法において、請求項７に記載の記録条件決定方法の如く、前記第２工程では、前記再生信号レベルの平均値が予め設定されている範囲内となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することとすることができる。
【００２０】
上記請求項１に記載の記録条件決定方法において、請求項８に記載の記録条件決定方法の如く、前記第２工程では、前記再生信号のレベルにおける最大値又は最小値と前記再生信号の平均レベルとの差が予め設定されている基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することとすることができる。
【００２１】
上記請求項１〜８に記載の各記録条件決定方法において、請求項９に記載の記録条件決定方法の如く、前記テスト領域は、該テスト領域に記録される前記多値レベルデータの数が、前記テスト領域におけるセル長Ｓ、及び前記光スポットのスポット径２Ｒを用いて、（２Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り上げた整数値に２を加算した値となるように設定されていることとすることができる。
【００２２】
この場合において、請求項１０に記載の記録条件決定方法の如く、前記テスト領域からの再生信号のレベルは、前記テスト領域に記録された複数の多値レベルデータのうち、前記テスト領域の両端からそれぞれ、（Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り捨てた数の多値レベルデータを除いた多値レベルデータの再生信号のレベルであることとすることができる。
【００２３】
請求項１１に記載の発明は、光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに３値以上に多値化された情報を記録する記録方法であって、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の記録条件決定方法によって取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて光ディスクに情報を記録する工程を含む記録方法である。
【００２４】
これによれば、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の記録条件決定方法によって取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて光ディスクに情報が記録されるため、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００２５】
請求項１２に記載の発明は、光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに３値以上に多値化された情報を記録可能な光ディスク装置であって、同一多値レベルデータを、再生時に前記トラックに形成される光スポットのスポット径よりも前記トラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きする試し書き手段と；前記テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する取得手段と；前記取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて前記光ディスクに情報を記録する処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００２６】
これによれば、試し書き手段により、同一多値レベルデータが、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きされ、取得手段により、テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジが取得される。そして、取得手段にて取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて、処理装置により光ディスクに情報が記録される。この場合には、テスト領域の長さがスポット径よりも長く、しかもテスト領域には複数個の同一多値レベルデータが書き込まれているため、テスト領域からの再生信号に符号間干渉の影響が明瞭に出現することとなる。そこで、取得手段では、符号間干渉の影響が小さくなるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することができる。従って、結果として３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００２７】
この場合において、請求項１３に記載の光ディスク装置の如く、前記取得手段は、前記再生信号のレベルにおける最大値と最小値との差が所定の基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することとすることができる。
【００２８】
この場合において、請求項１４に記載の光ディスク装置の如く、前記基準値は前記光ディスクに記録されていることとすることができる。
【００２９】
上記請求項１３に記載の光ディスク装置において、請求項１５に記載の光ディスク装置の如く、前記光ディスクの種類を判別する判別手段を更に備え、前記基準値は、前記判別手段での判別結果に基づいて、光ディスクの種類に応じて予め設定されている値の中から選択されることとすることができる。
【００３０】
上記請求項１３〜１５に記載の各光ディスク装置において、請求項１６に記載の光ディスク装置の如く、前記基準値は、前記多値化された情報の多値化数α（α≧３）と、未記録領域の再生信号レベルと最大マークが形成された領域の再生信号レベルとのレベル差ＤＲと、１以上の値が設定されているγとを用いて、｛｜ＤＲ｜／｛γ・（α−１）｝で算出される値であることとすることができる。
【００３１】
この場合において、請求項１７に記載の光ディスク装置の如く、前記多値レベルデータは、前記最大マークに対応する多値レベルデータであり、前記取得手段は、前記テスト領域からの再生信号を用いて前記基準値を算出することとすることができる。
【００３２】
この場合において、請求項１８に記載の光ディスク装置の如く、前記取得手段は、更に前記算出した基準値を前記光ディスクに記録することとすることができる。
【００３３】
上記請求項１２に記載の光ディスク装置において、請求項１９に記載の光ディスク装置の如く、前記取得手段は、前記再生信号レベルの平均値が予め設定されている範囲内となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することとすることができる。
【００３４】
上記請求項１２に記載の光ディスク装置において、請求項２０に記載の光ディスク装置の如く、前記取得手段は、前記再生信号のレベルにおける最大値又は最小値と前記再生信号の平均レベルとの差が予め設定されている基準値以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することとすることができる。
【００３５】
上記請求項１２〜２０に記載の各光ディスク装置において、請求項２１に記載の光ディスク装置の如く、前記テスト領域は、該テスト領域に記録される前記多値レベルデータの数が、前記テスト領域におけるセル長Ｓ、及び前記光スポットのスポット径２Ｒを用いて、（２Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り上げた整数値に２を加算した値となるように設定されていることとすることができる。
【００３６】
この場合において、請求項２２に記載の光ディスク装置の如く、前記テスト領域からの再生信号のレベルは、前記テスト領域に記録された複数の多値レベルデータのうち、前記テスト領域の両端からそれぞれ、（Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り捨てた数の多値レベルデータを除いた多値レベルデータの再生信号のレベルであることとすることができる。
【００３７】
請求項２３に記載の発明は、光ディスクの記録面に形成されているスパイラル状又は同心円状のトラックに３値以上に多値化された情報を記録可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、同一多値レベルデータを、再生時に前記トラックに形成される光スポットのスポット径よりも前記トラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きする手順と；前記テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する手順と；前記取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて前記光ディスクに情報を記録する手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００３８】
これによれば、本発明のプログラムが所定のメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、光ディスク装置の制御用コンピュータは、同一多値レベルデータを、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きし、テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する。そして、その取得された記録パワー及び記録ストラテジを用いて光ディスクに情報を記録する。この場合には、テスト領域の長さがスポット径よりも長く、しかもテスト領域には複数個の同一多値レベルデータが書き込まれているため、テスト領域からの再生信号に符号間干渉の影響が明瞭に出現することとなる。そこで、テスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、符号間干渉の影響が小さくなるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得することができる。従って、結果として３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００３９】
請求項２４に記載の発明は、請求項２３に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００４０】
これによれば、請求項２３に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図８に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。
【００４２】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３をスレッジ方向に駆動するためのシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、駆動制御回路２６、再生信号処理回路２８、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、光ディスク装置２０は、多値記録方式に対応し、記録用データ（情報）は、一例として８値（０〜７）に多値化されるものとする。さらに、本実施形態では、一例として約４０５ｎｍの波長に対応する情報記録媒体が光ディスク１５として用いられるものとする。
【００４３】
多値記録方式では、一例として図２に示されるように、トラックは仮想的に、トラックの接線方向に関して所定の長さ（ここでは、Ｓとする）毎に複数の領域（セル）に分割される。そして、１つのセルには１つの多値化データ（多値レベルデータ）が格納される。この多値化データの値が１〜７のときは、その値に対応する面積の記録マークがセルの中央部に形成される。なお、多値化データの値が０のときは、記録マークは形成されない。
【００４４】
記録マークが形成された部分では、記録マークの面積が大きいほどレーザ光の反射率が低下するため、光ディスクの記録面で反射されたレーザ光から生成される再生信号（ＲＦ信号）は、図２に示されるように、多値化データの値が０のときに最大レベル（Ｌ0とする）となり、多値化データの値が７のときに最小レベル（Ｌ7とする）となる。なお、多値化データの値が１〜６のときの信号レベルをＬ1〜Ｌ6とする。
【００４５】
前記光ピックアップ装置２３は、スピンドルモータ２２によって回転している光ディスク１５のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置である。この光ピックアップ装置２３は、一例として図３に示されるように、光源ユニット５１、コリメートレンズ５２、ビームスプリッタ５４、対物レンズ６０、検出レンズ５８、受光器ＰＤ及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ（いずれも図示省略））などを備えている。
【００４６】
前記光源ユニット５１は、波長が約４０５ｎｍのレーザ光を発光する光源としての半導体レーザＬＤを含んで構成されている。なお、本実施形態では、光源ユニット５１から出射されるレーザ光の光束の最大強度出射方向を＋Ｘ方向とする。前記コリメートレンズ５２は、光源ユニット５１の＋Ｘ側に配置され、光源ユニット５１から出射された光束を略平行光とする。
【００４７】
前記ビームスプリッタ５４は、コリメートレンズ５２の＋Ｘ側に配置され、光ディスク１５で反射した光束（戻り光束）を−Ｚ方向に分岐する。前記対物レンズ６０は、ビームスプリッタ５４の＋Ｘ側に配置され、ビームスプリッタ５４を透過した光束を光ディスク１５の記録面に集光する。
【００４８】
前記検出レンズ５８は、ビームスプリッタ５４の−Ｚ側に配置され、ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束を前記受光器ＰＤの受光面に集光する。受光器ＰＤは、通常の光ディスク装置と同様に、ウォブル信号情報、再生データ情報、フォーカスエラー情報及びトラックエラー情報などを含む信号を出力する複数の受光素子（又は受光領域）を含んで構成されている。
【００４９】
前記フォーカシングアクチュエータ（図示省略）は、対物レンズ６０の光軸方向であるフォーカス方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。前記トラッキングアクチュエータ（図示省略）は、トラックの接線方向に直交する方向であるトラッキング方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。
【００５０】
上記のように構成される光ピックアップ装置２３の作用を簡単に説明すると、光源ユニット５１から出射された光束は、コリメートレンズ５２で略平行光とされた後、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４を透過した光束は、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。光ディスク１５の記録面で反射した光束は、戻り光束として対物レンズ６０で略平行光とされ、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束は、検出レンズ５８を介して受光器ＰＤで受光される。受光器ＰＤでは光電変換により受光量に応じた電流信号が生成され、その電流信号は再生信号処理回路２８に出力される。
【００５１】
図１に戻り、前記再生信号処理回路２８は、前記受光器ＰＤの出力信号に基づいて、サーボ信号（フォーカスエラー信号やトラックエラー信号など）、アドレス情報、同期信号、及びＲＦ信号などを取得する。ここで得られたサーボ信号は前記駆動制御回路２６に出力され、アドレス情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。さらに、再生信号処理回路２８は、ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ３７を介して前記バッファＲＡＭ３４に格納する。
【００５２】
前記駆動制御回路２６は、再生信号処理回路２８からのトラックエラー信号に基づいて、トラッキング方向に関する対物レンズ６０の位置ずれを補正するための前記トラッキングアクチュエータの駆動信号を生成するとともに、フォーカスエラー信号に基づいて、対物レンズ６０のフォーカスずれを補正するための前記フォーカシングアクチュエータの駆動信号を生成する。ここで生成された各駆動信号は光ピックアップ装置２３に出力される。これにより、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。また、駆動制御回路２６は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、シークモータ２１を駆動するための駆動信号、及びスピンドルモータ２２を駆動するための駆動信号を生成する。各駆動信号は、それぞれシークモータ２１及びスピンドルモータ２２に出力される。
【００５３】
前記バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ３７によって管理されている。
【００５４】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。ここで生成された書き込み信号はレーザ制御回路２４に出力される。
【００５５】
前記レーザ制御回路２４は、半導体レーザＬＤの発光パワーを制御する。例えば記録の際には、前記書き込み信号、記録条件、及び半導体レーザＬＤの発光特性などに基づいて、半導体レーザＬＤの駆動信号がレーザ制御回路２４にて生成される。
【００５６】
前記インターフェース３８は、上位装置９０（例えば、パソコン）との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）及びＵＳＢ（Universal Serial Bus）などの標準インターフェースに準拠している。
【００５７】
前記フラッシュメモリ３９は、プログラム領域及びデータ領域を含んで構成されている。フラッシュメモリ３９のプログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された本発明に係るプログラムを含むプログラムが格納されている。また、データ領域には、半導体レーザＬＤの発光特性、及び記録パワーや記録ストラテジを含む記録条件などが格納されている。この記録条件は、光ディスクの種類（例えばメーカ名、ロット等）毎、かつ記録速度毎に予め実験、シミュレーション、理論計算及び経験則などにより取得されている。
【００５８】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されているプログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【００５９】
《記録処理》
次に、上記のようにして構成された光ディスク装置２０が、上位装置９０から記録要求コマンドを受信したときの処理について図４を用いて説明する。図４のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。
【００６０】
上位装置９０から記録要求コマンドを受信すると、図４のフローチャートに対応するプログラム（以下、「記録処理プログラム」という）の先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録処理がスタートする。なお、光ディスク１５の種類は、光ディスク１５が光ディスク装置２０にセットされたときに判別され、レーザ制御回路２４や再生信号処理回路２８などに通知されるとともに、ＲＡＭ４１にすでに保存されているものとする。
【００６１】
最初のステップ４０１では、記録速度に応じてスピンドルモータ２２を駆動するための信号を駆動制御回路２６に出力するとともに、上位装置９０からの記録要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。また、上位装置９０から受信したユーザデータ（記録用データ）のバッファＲＡＭ３４への蓄積をバッファマネージャ３７に指示する。
【００６２】
次のステップ４０３では、光ディスク１５が所定の線速度（又は角速度）で回転していることを確認すると、駆動制御装置２６に対してサーボオンを設定する。これにより、前述の如くトラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。なお、トラッキング制御及びフォーカス制御は記録処理が終了するまで随時行われる。
【００６３】
次のステップ４０５では、記録パワー及び記録ストラテジなどの記録条件を設定する。この記録条件は、光ディスク１５の種類及び記録速度に応じて、フラッシュメモリ３９のデータ領域から抽出される。なお、対応する記録条件が見つからない場合には、データ領域に格納されているデフォルトの記録条件を用いる。また、記録条件が光ディスク１５に記録されている場合には、その記録条件を用いても良い。
【００６４】
次のステップ４０７では、ステップ４０５で設定された記録条件で、光ディスク１５に設けられているテスト領域に複数の同一多値化データからなるテストパターンを記録する。すなわち、試し書きを行う。
【００６５】
このテスト領域の大きさについて説明する。ここでは、一例として、１つのテスト領域を構成するセルの数βが、次の（１）式を満足するように設定されている。この（１）式では、再生時にトラックに形成される光スポットの、トラックの接線方向に関するスポット径（直径）を２Ｒとしたときに、２Ｒ／Ｓの演算結果の小数点以下を切り上げた整数値をＡとしている。例えば、Ｓ＝０．２４（μｍ）、２Ｒ＝０．５４（μｍ）の場合には、β＝５となる。この場合には、テスト領域を構成するセルの数は５個となる。
【００６６】
β＝Ａ＋２  ……（１）
【００６７】
テスト領域を構成する各セルには、それぞれ最大マークに対応する多値化データ「７」が記録される（図５参照）。すなわち、テストパターンは５個の多値化データ「７」で構成される。本実施形態では、精度を高めるために、一例として同一のテストパターンを３回繰り返している（図６参照）。なお、図６では、テストパターンが記録された各領域の前後には、ビーム径よりも長い未記録領域が設けられているが、未記録領域を設けることは必須ではない。また、テスト領域は、データ領域外（データ領域よりも内周側又は外周側）にあっても良いし、データ領域内にあっても良い。
【００６８】
次のステップ４０９では、各テスト領域を再生する（図６参照）。
【００６９】
次のステップ４１１では、テスト領域の再生信号を、各セルの中心位置に対応したタイミング（Ｔ1〜Ｔ5とする）でサンプリングし、セル毎の信号レベルを検出する（図７（Ａ）〜図７（Ｃ）参照）。
【００７０】
次のステップ４１３では、未記録領域の信号レベルを検出する。ここでは、テスト領域間の未記録領域の信号レベルを検出する。
【００７１】
次のステップ４１５では、テスト領域の再生信号を評価するための基準値Ｑを次の（２）式に基づいて算出する。ここで、ＤＲは未記録領域の再生信号レベルと最大マークが記録されている領域の再生信号レベルとの差、αは多値化数（ここでは、８）、γは１より大きな値であり、好ましくは２≦γ≦１００である。
【００７２】
なお、本実施形態では、テスト領域に記録される多値化データが最大マークに対応する多値化データ「７」であり、かつテスト領域間に未記録領域が存在しているため、テスト領域間の未記録領域の再生信号とテスト領域の再生信号とからＤＲを求めることができる。
【００７３】
また、γについては、その値を大きくすると記録品質をより向上させることができるが、あまり値を大きくし過ぎると、過剰な評価を行うこととなるため、光ディスクの種類や光ディスク装置の特性に合わせてその値が決定される。すなわち、γは再生信号レベルのばらつきの許容度を規定する値（係数）である。例えば、１つのテスト領域を構成するセルの数βが非常に大きい（例えば１００以上）ときには、再生信号におけるレベルのばらつき量に関する検出データは信頼性が高いため、γ≒１であっても良いが、βが比較的小さい（例えば１００未満）ときには、再生信号におけるレベルのばらつき量に関する検出データは信頼性が十分でないため、γ≧２とすることが好ましい。本実施形態では、γの値は予め実験等により求められ、フラッシュメモリ３９に格納されているものとする。なお、γの値が光ディスク１５に記録されている場合には、その値を用いても良い。
【００７４】
Ｑ＝｜ＤＲ｜／｛γ・（α−１）｝  ……（２）
【００７５】
次のステップ４１７では、テスト領域毎に、信号レベルの最大値と最小値を求める。但し、このときには、各テスト領域の先頭及び最後尾から「（Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り捨てた数」のセルのデータは使用しない。ここでは、（Ｒ÷Ｓ）の演算結果の小数点以下を切り捨てた数は１であるので、中央の３つのセルのデータ、すなわちタイミングＴ2、Ｔ3及びＴ4のサンプリングデータから最大値と最小値を求める。本実施形態では、３つのテストパターンを記録しているので、３つの最大値と３つの最小値が得られる。そこで、３つの最大値の平均値を新たな最大値とするとともに、３つの最小値の平均値を新たな最小値とする。そして、新たな最大値と新たな最小値との差（δとする）を算出する。なお、最大値及び最小値には、欠陥などによる異常値は含めない。
【００７６】
次のステップ４１９では、δが基準値Ｑ以下であるか否かを判断する。
【００７７】
ここで、例えば図７（Ｂ）又は図７（Ｃ）のように、再生信号レベルが大きく傾斜している場合には、δが基準値Ｑを超える値となり、ステップ４１９での判断は否定され、ステップ４２１に移行する。すなわち、再生信号レベルが大きく傾斜しているということは、符号間干渉量が記録位置によって異なっていることを示している。
【００７８】
このステップ４２１では、δと基準値Ｑとの差に応じて、記録パワー及び記録ストラテジの少なくとも一方を調整する。そして、前記ステップ４０７に戻る。
【００７９】
以下、ステップ４１９での判断が肯定されるまで、ステップ４０７〜４２１の処理を繰り返す。
【００８０】
例えば図７（Ａ）のように、再生信号レベルがほぼフラットな場合には、δは基準値Ｑ以下となり、ステップ４１９での判断は肯定され、ステップ４２３に移行する。すなわち、再生信号レベルがほぼフラットであるということは、符号間干渉量が記録位置に依らず一様であることを示している。
【００８１】
このステップ４２３では、そのときの記録パワー及び記録ストラテジを、適切な記録パワー及び記録ストラテジと決定する。ここで決定された記録パワー及び記録ストラテジに関する情報はレーザ制御回路２４に通知される。これにより、レーザ制御回路２４では、適切な駆動信号が生成されることとなる。
【００８２】
次のステップ４２５では、上記算出された基準値に関する情報を光ディスク１５に記録するように指示する。
【００８３】
次のステップ４２７では、目標位置の手前に光スポットが形成されるように、駆動制御回路２６に指示する。これにより、光ピックアップ装置２３のシーク動作が行なわれる。なお、シーク動作が不要であれば、ここでの処理はスキップされる。
【００８４】
次のステップ４２９では、ユーザデータの記録を許可する。これにより、エンコーダ２５、レーザ制御回路２４及び光ピックアップ装置２３などを介して、ユーザデータが光ディスク１５に適切な記録条件で記録される。
【００８５】
次のステップ４３１では、ユーザデータの記録が完了したか否かを判断する。完了していなければ、ここでの判断は否定され、所定時間経過後に再度判断する。完了していれば、ここでの判断は肯定され、ステップ４３３に移行する。
【００８６】
このステップ４３３では、駆動制御回路２６に対してサーボオフを指示する。そして、記録処理を終了する。
【００８７】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、試し書き手段及び取得手段が実現されている。すなわち、図４のステップ４０７の処理によって試し書き手段が実現され、図４のステップ４０９〜４２３の処理によって取得手段が実現されている。なお、ＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した各手段の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【００８８】
また、エンコーダ２５とレーザ制御回路２４と光ピックアップ装置２３とＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、処理装置が実現されている。
【００８９】
また、本実施形態では、フラッシュメモリ３９に格納されているプログラムのうち、前記記録処理プログラムにおいて、本発明のプログラムが実行されている。すなわち、図４のステップ４０７の処理に対応するプログラムによって試し書きする手順が実行され、図４のステップ４０９〜４２３の処理に対応するプログラムによって取得する手順が実行され、ステップ４２９の処理に対応するプログラムによって記録する手順が実行されている。
【００９０】
そして、上記記録処理において、本発明に係る記録条件決定方法及び記録方法が実施されている。すなわち、図４のステップ４０７の処理において記録条件決定方法の第１工程が実施され、図４のステップ４０７〜４２３の処理において記録条件決定方法の第２工程が実施され、ステップ４２９の処理において記録方法の記録する工程が実施されている。
【００９１】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、ユーザデータを記録する前に、同一の多値化データ（多値レベルデータ）を、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きし、そのテスト領域からの再生信号におけるレベルの最大値と最小値との差が基準値Ｑ以下となるときの記録パワー及び記録ストラテジを取得している。この場合には、テスト領域の長さがスポット径よりも長く、しかもテスト領域には複数個の同一の多値化データが書き込まれているため、テスト領域からの再生信号に符号間干渉の影響が明瞭に出現することとなる。そこで、取得された記録パワー及び記録ストラテジは、符号間干渉の影響が小さくなるときの記録条件となる。従って、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定することが可能となる。
【００９２】
また、符号間干渉の影響が小さくなるときの記録条件で光ディスクに情報が記録されるため、結果として３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００９３】
また、基準値Ｑをテスト領域の再生信号を用いて算出しているため、符号間干渉の影響を精度良く評価することができる。
【００９４】
また、算出された基準値Ｑを光ディスク１５に記録しているため、光ディスク１５が再度ローディングされたときに、利用することができる。
【００９５】
なお、上記実施形態では、１つのテスト領域が５セルで構成される場合について説明したが、これに限定されるものではない。上記βの値以上の個数のセルで構成されていれば良い。例えば、１つのテスト領域が１０セル（セルＡ〜Ｊとする）で構成される場合の再生信号が図８（Ａ）及び図８（Ｂ）に示されている。ここでは、記録パワー及び記録ストラテジが適切な場合の再生信号が図８（Ａ）に示され、記録パワー及び記録ストラテジが不適切な場合の再生信号が図８（Ｂ）に示されている。
【００９６】
ところで、１つのテスト領域が、例えば図９に示されるように、βの値よりも小さい３セルで構成されていると、図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）に示されるように、サンプリングタイミングＴ1及びＴ3での信号レベルが十分に低下しないため、各セル（セルＡ、セルＢ、セルＣ）にはそれぞれ同一の記録マークが形成されているにもかかわらず、再生信号レベルは同一とはならない。従って、記録パワー及び記録ストラテジが適切か否かの正しい評価をすることはできない。
【００９７】
また、上記実施形態では、同一のテストパターンを３回繰り返して試し書きする場合について説明したが、これに限らず、例えばテストパターンを１回だけ試し書きしても良い。必要な精度や許容される処理時間に応じて変更しても良い。
【００９８】
また、上記実施形態では、記録マークの面積が広くなると、再生信号の信号レベルが小さくなる光ディスクを用いる場合について説明したが、逆に、記録マークの面積が広くなると、再生信号の信号レベルが大きくなるような光ディスクを用いても良い。
【００９９】
また、上記実施形態では、情報が８値（０〜７）に多値化される場合について説明したが、これに限定されるものではない。３値以上に多値化されれば良い。
【０１００】
また、上記実施形態では、Ｓ＝０．２４（μｍ）、２Ｒ＝０．５４（μｍ）の場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０１０１】
また、上記実施形態では、多値化データに対応する面積の記録マークがセルに形成される場合について説明したが、これに限らず、例えば、多値化データに対応する深さの記録マークがセルに形成されても良い。更に、多値化データに対応する面積と深さの記録マークがセルに形成されても良い。
【０１０２】
また、上記実施形態では、記録パワー及び記録ストラテジが適切か否かを判断する際に、上記（２）式に基づいて算出された基準値Ｑを用いる場合について説明したが、これに限らず、例えば、未記録領域の再生信号レベルを経験値で割った値を基準値としても良い。
【０１０３】
《記録処理の変形例》
また、上記実施形態では、再生信号レベルの最大値と最小値との差に基づいて、記録パワー及び記録ストラテジが適切であるか否かを判断しているが、更に再生信号レベルの平均値を用いて記録パワー及び記録ストラテジが適切であるか否かを判断しても良い。この場合の記録処理におけるＣＰＵ４０の処理、動作について図１１のフローチャートを用いて説明する。
【０１０４】
最初のステップ５０１〜５１１では、前記ステップ４０１〜４１１での処理と同様な処理を行う。
【０１０５】
次のステップ５１３では、ステップ５１１で検出された信号レベルの平均値（ｍとする）を算出する。但し、テスト領域の先頭及び最後尾から「Ｒ／Ｓよりも小さい最大整数値」分のセルのデータは使用しない。ここでは、Ｒ／Ｓよりも小さい最大整数値＝１であるので、中央の３つのセルのデータ、すなわちタイミングＴ2、Ｔ3及びＴ4のサンプリングデータの平均値を求める。
【０１０６】
次のステップ５１５では、平均値ｍが予め設定されている下限値以上であり、かつ予め設定されている上限値以下であるか否かを判断する。平均値ｍが下限値と上限値との間に含まれれば、ここでの判断は肯定され、ステップ５１７に移行する。
【０１０７】
次のステップ５１７〜５２１では、前記ステップ４１３〜４１７での処理と同様にして、基準値Ｑ及び再生信号レベルにおける最大値と最小値との差δを算出する。
【０１０８】
次のステップ５２３では、δが前記基準値Ｑ以下であるか否かを判断する。δが基準値Ｑ以下でなければ、ここでの判断は否定され、ステップ５２５に移行する。
【０１０９】
このステップ５２５では、前記ステップ４２１での処理と同様な処理を行う。そして、前記ステップ５０７に戻る。
【０１１０】
なお、前記ステップ５１５において、平均値ｍが下限値未満、あるいは上限値を超えていれば、ステップ５１５での判断は否定され、前記ステップ５２５に移行する。
【０１１１】
また、前記ステップ５２３において、δが基準値Ｑ以下であれば、ステップ５２３での判断は肯定され、ステップ５２７に移行する。
【０１１２】
このステップ５２７〜５３３では、前記ステップ４２３〜４２９での処理と同様な処理を行う。
【０１１３】
次のステップ５３５では、ユーザデータの記録が完了したか否かを判断する。完了していなければ、ここでの判断は否定され、所定時間経過後に再度判断する。完了していれば、ここでの判断は肯定され、ステップ５３７に移行する。
【０１１４】
このステップ５３７では、駆動制御回路２６に対してサーボオフを指示する。そして、記録処理を終了する。
【０１１５】
この変形例の場合も、上記実施形態と同様に、適切な記録条件でユーザデータの記録が行われる。なお、平均値ｍによる判断より先に最大値と最小値の差δによる判断を行なっても良い。
【０１１６】
また、上記実施形態及び変形例において、記録パワー及び記録ストラテジが適切であるか否かを判断するのに、前記再生信号レベルの最大値と最小値との差δに代えて、再生信号レベルの最大値又は最小値と平均レベルとの差、及び再生信号レベルの標準偏差を用いても良い。但し、この場合には、前記基準値Ｑとは異なる基準値が用いられることとなる。
【０１１７】
また、第１のテスト領域に多値化データ「１」を試し書きし、第２のテスト領域に多値化データ「７」を試し書きし、第１のテスト領域の再生信号レベル（平均値）（Ｓ１とする）、第２のテスト領域の再生信号レベル（平均値）（Ｓ２とする）、及び再生信号レベルＳ１と再生信号レベルＳ２との差（絶対値）のうちの少なくともいずれかに基づいて、記録パワー及び記録ストラテジが適切であるか否かを判断しても良い。なお、この場合の基準値は、フラッシュメモリ３９のデータ領域に格納されている値又は光ディスク１５に記録されている値を用いても良い。
【０１１８】
また、記録パワー及び記録ストラテジが適切であるか否かを判断する処理として複数種類の判断を行う場合には、その順序を互いに入れ替えても良い。
【０１１９】
また、上記実施形態及び変形例では、未記録領域の再生信号レベルとテスト領域の再生信号レベルとを用いて基準値Ｑをその都度、算出する場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、未記録領域の再生信号レベルと多値化データ「７」が記録されている領域の再生信号レベルとを用いて前もって算出された基準値Ｑを用いても良い。さらに、光ディスクに基準値Ｑが記録されている場合には、その基準値Ｑを用いても良い。また、光ディスクの種類と基準値Ｑとの対応テーブルを予め作成し、フラッシュメモリ３９に格納していても良い。この場合には、光ディスク１５の種類に対応する基準値Ｑが対応テーブルから抽出（選択）されることとなる。
【０１２０】
また、上記実施形態及び変形例では、テストパターンを構成する多値化データとして多値化データ「７」を用いる場合について説明したが、これに限らず、多値化データ「１」〜「７」のいずれであっても良い。但し、テストパターンを構成する多値化データが、多値化データ「１」〜「６」のいずれかのときには、予め取得されている基準値Ｑを用いることとなる。
【０１２１】
また、ユーザデータの中にテストパターンを挿入しておくことにより、ユーザデータを記録しつつ、記録パワー及び記録ストラテジを調整することができる。いわゆる、ランニングＯＰＣが可能となる。また、上記実施形態では、多値化データの値が０のときは、記録マークが形成されない場合について説明したが、多値化データの値が０のときに、多値化データが１のときの記録マークより小さい記録マークが形成されても良い。
【０１２２】
また、上記実施形態では、本発明に係るプログラムは、フラッシュメモリ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ、光磁気ディスク、ＤＶＤ、メモリカード、ＵＳＢメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応する再生装置（又は専用インターフェース）を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ３９にロードすることとなる。また、ネットワーク（ＬＡＮ、イントラネット、インターネットなど）を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ３９に転送しても良い。要するに、本発明に係るプログラムがフラッシュメモリ３９に格納されていれば良い。
【０１２３】
また、上記実施形態では、光ディスク１５が約４０５ｎｍの波長の光に対応した情報記録媒体の場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではなく、例えば、市販の追記型や書換え型の情報記録媒体であっても良い。
【０１２４】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光束を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約４０５ｎｍの光束を発光する半導体レーザ、波長が約６６０ｎｍの光束を発光する半導体レーザ及び波長が約７８０ｎｍの光束を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。このときには、複数種類の光ディスクのうち少なくとも１種類の光ディスクで多値記録方式が用いられれば良い。
【図面の簡単な説明】
【０１２５】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】情報の多値化を説明するための図である。
【図３】図１における光ピックアップ装置の構成を説明するための図である。
【図４】記録処理を説明するためのフローチャートである。
【図５】１つのテスト領域を説明するための図である。
【図６】テスト領域の再生信号を説明するための波形図である。
【図７】図７（Ａ）〜図７（Ｃ）は、それぞれ１つのテスト領域の再生信号を説明するための波形図である。
【図８】図８（Ａ）及び図８（Ｂ）は、それぞれテスト領域が１０個のセルで構成されているときの再生信号を説明するための波形図である。
【図９】３個のセルで構成されるテスト領域を説明するための図である。
【図１０】図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）は、それぞれ図９のテスト領域の再生信号を説明するための波形図である。
【図１１】記録処理の変形例を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【０１２６】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置（処理装置の一部）、２４…レーザ制御回路（処理装置の一部）、２５…エンコーダ（処理装置の一部）、３９…フラッシュメモリ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（試し書き手段、取得手段、処理装置の一部）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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