(57)【要約】【目的】被検体深さが大きくなるのに従い観察位置からの反射光強度が低下し、これによる干渉波情報量の低下が生じるが、この低下を緩和するべく、参照ミラーの移動位置に応じて光源光強度を変化させることで、１つの断層映像において、被検体深さに拘わらず同様の明るさレベルとし、特に深い部分についての状態判断を誤る危険性を低減する。【構成】被検体３１の観察位置の深さが大となるのに伴う被検体３１の観察位置からの反射光強度の低下を緩和するように、参照ミラー４２の移動位置に応じて光源１０から出力光強度を変化させる制御部１を設けている。制御部１は、この光源光強度制御テーブルに基づき、被検体３１の深さ位置に相当する参照ミラー４２の移動位置に応じて、光源１０の強度を指数関数的に変化させる。【選択図】          図１
2005083954.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを２分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波情報量の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光源から出力される光ビームの強度を変化させる光源光強度制御部を備えてなることを特徴とする断層映像装置。
【請求項２】
低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを２分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光検出器における信号利得を制御する検出器利得制御部を備えてなることを特徴とする断層映像装置。
【請求項３】
前記参照ミラーの光軸方向への移動位置に応じて、前記光ビームの一方を前記被検体の観察位置に収束せしめるようにフォーカシングするオートフォーカス機能を備えてなることを特徴とする請求項１または２記載の断層映像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コヒーレンス長の短い光を出力する光源とマイケルソン干渉計等の等光路長型干渉計を組み合わせて構成されるOptical  Coherence  Tomography  (以下、ＯＣＴと称す)による手法を適用して、医療または工業等の分野において被検体の断層映像を得る際に用いられる断層映像装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、医療用や工業用等の被検体を撮像する分野、特に電子内視鏡の分野において、ＯＣＴの手法を用いて被検体の断層映像を撮影する装置が知られている。
このＯＣＴによる断層映像装置は、光を検出プローブとして用いていることから、従来のＸ線撮影装置の如く被検体がＸ線照射により被爆するという問題がなく、特に、被検体が人体であるような場合には極めて好ましい。また、ＣＴやＭＲＩ等のように大型な装置を要さず、簡易に被検体の検査を行なうことができるので、被検者のコスト的な負担や体力的な負担を軽減でき、この面でも好ましい。
【０００３】
また、このＯＣＴを用いた断層映像装置は、広帯域なスペクトル幅を有する光の低コヒーレンス性を利用して、被検体の深さ方向の各位置における干渉波情報を得るようにしているので、被検体内部からの反射光をμｍオーダーの空間分解能で検出することができ、従来のＸ線撮影装置に比べて測定分解能を大幅に向上させることができる。
このような多くの優れた特性を有するＯＣＴを用いた断層映像装置は、例えば下記非特許文献１等に開示されている。
【０００４】
図８は、従来の断層映像装置の概略を示すものである。すなわち、低可干渉光源３１０からの出力を光ファイバ３２１に入射せしめる。光ファイバ３２１内を進行する光束は、２×２カプラ３２５により２光束に分離され、その一方は光ファイバ３２２により被検体３３１側に導かれ、その他方は光ファイバ３２３により参照ミラー３４２側に導かれる。
光ファイバ３２２の光出射端の後段には、対物集光レンズ３３２が設けられており、このレンズ３３２により、光束が被検体３３１に集光されるようになっている。
【０００５】
一方、光ファイバ３２３の光出射端から射出された光はコリメータレンズ３４１を介して参照ミラー３４２に照射されるが、この参照ミラー３４２は、光軸方向に移動可能とされており、光ファイバ３２２の光出射端から被検体３３１の深さ方向の観察位置までの光路長と、光ファイバ３２３の光出射端から参照ミラー３４２までの光路長とが互いに等しくなるような位置にこの参照ミラー３４２が移動されるようになっている。これにより、低可干渉光によっても光干渉させることができる、いわゆるマイケルソン型の干渉計が構築され、被検体３３１の深さ方向各位置の干渉波情報が得られることになる。
【０００６】
被検体３３１の上記観察位置からの反射光と、参照ミラー３４２からの反射光は各々その照射経路を逆進し、２×２カプラ３２５で合波されて互いに干渉し、その干渉光は光ファイバ３２４を介して光検出器３５２に到達し、その干渉波情報がこの光検出器３５２により検出されることになる。この後、光検出器３５２により検出された干渉波情報は電気信号に変換されて、増幅器３６２、バンドパスフィルタ３６３、Ａ／Ｄコンバータ３６４を介してコンピュータ３６５に入力され、所定の画像処理がなされることになる。
【０００７】
【非特許文献１】光学３２巻４号（２００３）：佐藤学、丹野直弘著
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述したようなＯＣＴを用いた断層映像装置は、マイケルソン干渉計において低可干渉光を測定光として用い、被検体内部の各深さ位置における断層境界面での反射情報に基づいて断層映像化するものであり、観察する各深さ位置からの反射光強度が、その深さに応じて指数関数的に減衰するために、深部からの反射光強度は極端に微弱となり、これに伴って深部からの干渉波情報も極めて微弱となる。このため、断層映像として浅い部分は鮮明に、深い部分は不鮮明になるおそれがある。このため、１つの断層映像の浅い部分と深い部分とを同様の明るさレベルで判断することが困難であり、特に深い部分についての状態判断を誤る危険性が大となり、問題となっていた。
【０００９】
本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、１つの断層映像において、浅い部分と深い部分とを同様の明るさレベルで判断することを可能とし、特に深い部分についての状態判断を誤る危険性を低減し得る断層映像装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の第１の断層映像装置は、
低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを２分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波情報量の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光源から出力される光ビームの強度を変化させる光源光強度制御部を備えてなることを特徴とするものである。
【００１１】
本発明の第２の断層映像装置は、
低可干渉性を有する光ビームを出射する光源と、
該光源から出射された光ビームを２分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射し、該被検体および該参照ミラーから各々反射された光ビームを干渉せしめて、該干渉による光強度分布を光検出器により得るようにした等光路長型干渉計とを備え、
該被検体の深さ方向の干渉波情報を得ることができるように該参照ミラーを該参照ミラーの光軸方向に移動可能とされた断層映像装置において、
該被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光量の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光検出器における信号利得を制御する検出器利得制御部を備えてなることを特徴とするものである。
【００１２】
また、上述した第１および第２の断層映像装置において、前記参照ミラーの光軸方向への移動に応じて、前記光ビームの一方を前記被検体の観察位置に収束せしめるようにフォーカシングするオートフォーカス機能を備えてなることが好ましい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の第１の断層映像装置によれば、被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光強度の低下による干渉波情報量の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光源から出力される光ビームの光強度を変化させる光源光強度制御部を備えており、この光源光強度制御部により、参照ミラーの移動に応じて前記光源から出力される光強度を変化させ、観察位置の深さが大きくなっても、該観察位置からの反射光量の低下を緩和することができるので、浅い部分と深い部分とを同様の明るさレベルで判断することが可能となり、また、特に深い部分についての状態判断を誤る危険性を低減することができる。
【００１４】
また、本発明の第２の断層映像装置によれば、被検体の観察位置の深さが大きくなるのに伴う該観察位置からの反射光強度の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、該参照ミラーの移動位置に応じて前記光検出器における信号利得を変化させる検出器利得制御部を備えており、観察位置の深さが大きくなっても、該観察位置についての干渉波強度の低下を緩和することができるので、浅い部分と深い部分とを同様の明るさレベルで判断することが可能となり、また、特に深い部分についての状態判断を誤る危険性を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態に係る断層映像装置について図面を参照しつつ説明する。
図１は本発明の一実施形態に係る断層映像装置を示す概念図である。
本実施形態に係る断層映像装置は、医療用の内視鏡に適用されたものであって、光源部と干渉計部と信号処理部とからなる。
【００１６】
光源部は低可干渉光源１０からなる。また、干渉計部は、全体として、いわゆるアンバランス型のマイケルソン干渉計を構成しており、４つの光ファイバ２１、２２、２３、２４と、２×２カプラ２５と、被検体３１の前段に配される対物集光レンズ３２と、コリメータレンズ４１と、参照ミラー４２と、被検体情報を担持した干渉波映像を撮像する光検出器５２とを備えている。
また、信号処理部は、増幅器６２と、バンドパスフィルタ６３と、Ａ／Ｄコンバータ６４と、画像処理部６５と、画像表示部６６とを備えてなる。
【００１７】
以下、上記実施形態装置の作用を説明する。
低可干渉光源１０は、近赤外域に広いスペクトル幅（広波長帯域）を有する光（以下、低可干渉光とも称する）を出射する光源であって、例えばＳＬＤ（Super-luminescent  diode）やＡＳＥ(Amplified  Spontaneous  Emission)光源等からなる。この低可干渉光源１０から出射された光は図示されない集光レンズにより光ファイバ２１の入射端面に集光され、光ファイバ２１により２×２カプラ２５に伝送される。
【００１８】
伝送された低可干渉光は、この２×２カプラ２５において２分割され、一方は光ファイバ２２に他方は光ファイバ２３により伝送される。光ファイバ２２により伝送された低可干渉光は、光ファイバ２２の出射端面から出射され、対物集光レンズ３２によって被検体３１（人体）に集光照射される。
【００１９】
被検体３１に照射された低可干渉光は、被検体３１の深さ方向の各位置から反射され、その照射経路を逆に進み２×２カプラ２５に到達する。一方、参照ミラー４２から反射された低可干渉光も、その照射経路を逆に進み２×２カプラ２５に到達する。このようにして、被検体３１の深さ方向の各位置で反射された低可干渉光（以下物体光と称する）と参照ミラー４２により反射された低可干渉光（以下参照光と称する）は２×２カプラ２５において合波されるが、合波された両光はコヒーレンス長が極めて短いものであるため、参照光と略光路長の等しい物体光のみが干渉を生じることになる。
【００２０】
すなわち、参照ミラー４２の光軸方向の位置に対応する被検体３１の深さ方向の位置のみ（詳細には低可干渉光のコヒーレンス長の範囲）の干渉波情報が得られることになるから、参照ミラー４２を光軸方向（矢印Ｂ方向）に移動させることにより、被検体３１の深さ方向の各位置の干渉波情報が時系列的に得られることになる。
【００２１】
この後、２×２カプラ２５で得られた干渉光は光ファイバ２４を介して光検出器５２に到達し、その干渉波情報が光強度の変化として、この光検出器５２により検出されることになる。光検出器５２により検出された干渉波情報は電気信号に変換されて、増幅器６２、バンドパスフィルタ６３、Ａ／Ｄコンバータ６４を介して画像処理部６５に入力されて被検体３１の断層映像が生成され、生成された断層映像は画像表示部６６において表示される。
【００２２】
なお、上記画像処理部６５においては、光検出器５２から出力された、被検体３１の深さ方向の情報を担持した１次元の各反射光強度信号に対し、包絡線処理を施すようにしている。すなわち、上記各反射光強度信号は交流信号の形態で現れるため、マイナス成分を折り返してプラス成分のみを有する信号に変換し、その後、その包絡線を抽出して連続的な反射光強度信号を得るようにしている。
【００２３】
この後、連続的な深さ方向（ｚ方向）の各反射光強度分布をｙ方向の各点について繋げる画像信号処理を施して２次元断層映像信号を生成し、画像表示部６６に出力して被検体３１の２次元断層映像が表示される。
【００２４】
このように、低可干渉光を検査光として用い、等光路長型のマイケルソン干渉計を基本構成とすることで、互いに干渉しあう波長幅を極めて短くすることができるので、被検体３１の深さ方向の空間分解能を極めて短く設定でき、例えばμｍオーダーの空間分解能を得ることができる。
【００２５】
また、被検体３１に低可干渉光を集光照射する対物集光レンズ３２は、その一部のレンズが光軸方向（矢印Ｃ方向）に移動可能とされて、観察位置にフォーカシングし得るようになっており、これにより、観察位置における被検体画像のピンボケを防止することができるようになっている。
【００２６】
また、光ファイバ２２の光出射端部分および対物集光レンズ３２は内視鏡の鉗子チャンネルを通して使用する先端プローブ部分を構成しており、この先端プローブ部分を矢印Ａ方向に移動することで、被検体３１の横方向（ｙ方向）の各点に対応する断層映像情報を得ることができる。すなわち、上記先端プローブ部分のｙ方向への移動により被検体３１の２次元断層映像情報を得ることができる。
【００２７】
ところで、一般に、被検体３１が生体である場合、照射光強度が一定とすると、観察される各断層境界面の深さ位置からの反射光強度は、その深さに応じて指数関数的に減衰する。換言すれば、被検体３１の深さ情報は、照射光に対する反射光の強度比によって表される。
【００２８】
しかして、被検体３１が、図２に示すように深さ方向に直交する層構成とされている場合、各層の境界にて光反射が生じるため、各反射光が担持する被検体情報を干渉波信号として検出することになる。
【００２９】
このため、従来は、図２に示すような被検体３１について、断層映像信号を検出すると、図３に示す如くその信号強度のピーク値は深部に向かう程小さくなり、断層映像として表示すると、１枚の画像内での明暗の差が大きいため極めて見にくくなり、また、特に深部の映像は不鮮明になってしまう。
【００３０】
そこで、本実施形態の断層映像装置においては、図１に示すように、被検体３１の観察位置の深さが大きくなるのに伴う、被検体３１の観察位置からの反射光強度の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、参照ミラー４２の移動位置に応じて光源１０から出力される低可干渉光の光強度を変化させる、光源光強度制御用の制御部１を設けている。この制御部１は、被検体３１の深さ位置と、この深さ位置に応じて減衰する反射光強度との関係を表す関数の逆関数（指数関数）に相当する関係式テーブルを光源光強度制御テーブルとして備えている。この制御部１は、この光源光強度制御テーブルに基づき、被検体３１の深さ位置に相当する参照ミラー４２の移動位置に応じて、光源１０の強度を指数関数的に滑らかに変化させる。すなわち、光源１０から出力される低可干渉光の光強度は図４に示す如く、参照ミラー４２の移動位置に応じて指数関数的に変化することになり、得られる干渉波信号のピーク強度は、図５に示す如く、観察される被検体３１の深さ位置に拘わらず略一定となる。
【００３１】
これにより、画像表示部６６に表示された断層映像は、１枚の画像内での明暗の差がほとんどないため見易くなり、また、特に深部の映像を鮮明に表示することができる。
なお、参照ミラー４２の位置検出は周知の位置センサを用いればよい。
【００３２】
また、本実施形態の装置において、参照ミラー４２の光軸方向への移動位置に応じ、制御部１からの指示信号に基づいて対物集光レンズ３２の所定のレンズ（焦点距離ｆ）をその光軸方向（矢印Ｃ方向）に移動させてフォーカシングを行い、上記光ビームの一方を被検体３１の観察位置に収束せしめるようなオートフォーカス機能をもたせるようにすれば、マニュアル的に観察位置のフォーカス調整を行なわずともよくなるので、操作者の労力が軽減されるとともに、測定時間を短縮することができる。
なお、上記所定のレンズの駆動は、周知のレンズ駆動用のアクチュエータを用いる。
【００３３】
また、干渉波信号のコントラストを向上させるため、例えば参照ミラー４２の前段に透過光量を調整可能なＮＤフィルタを設けておき、物体光の光量変化に応じて、物体光の光量と参照光の光量が同一レベルとなるように調整可能としておくことが好ましい。この場合、ＮＤフィルタの位置調整が、上記制御部１からの指示信号に基づいて行なわれるようにしてもよい。
【００３４】
図７は、本実施形態により得られた被検体３１の２次元断層映像の一例を示すものである。なお、図７に示す画像はともに、縦方向がｚ方向に一致し（上方が被検体３１の表面）、横方向がｙ方向に一致している。また、図７の画像において、縦方向および横方向ともに、被検体３１の組織の２ｍｍの範囲を示すものである。
【００３５】
図７によれば、本実施形態により得られた２次元断層映像は、深さ方向の全範囲に亘って略一様なレベルの明るさとされており、深部においても鮮明な画像が得られ、さらに空間分解能においても優れていることが明らかである。
【００３６】
＜態様の変更＞
また、上記実施形態においては、参照ミラー４２の移動位置に応じて光源１０から出力される低可干渉光の光強度を変化させる光源光強度制御用の制御部１を設けているが、これに替えて、被検体３１の観察位置の深さが大きくなるのに伴う、被検体３１の観察位置からの反射光強度の低下による干渉波強度の低下を緩和するように、参照ミラー４２の移動に応じて光検出器５２における信号利得を制御する、検出器利得制御用の制御部１０１を備えることも可能である（図面の簡便のため、図１では光源光強度制御用の制御部１を検出器利得制御用の制御部１０１に転用する記載としている）。
【００３７】
すなわち、この検出器利得制御用の制御部１０１は、被検体３１の深さ位置と、この深さ位置に応じて減衰する反射光強度との関係を表す関数の逆関数（指数関数）に相当する関係式テーブルを検出器利得制御テーブルとして備えている。この制御部１０１は、この検出器利得制御テーブルに基づき、被検体３１の深さ位置に相当する参照ミラー４２の移動位置に応じて、光検出器５２の信号利得を指数関数的に滑らかに変化させる。すなわち、光検出器５２の信号利得も、上記光源１０から出力される低可干渉光の光強度と同様に、図４に示す如く、参照ミラー４２の移動位置に応じて指数関数的に変化することになり、得られる干渉波信号のピーク強度は、図５に示す如く、観察される被検体３１の深さ位置に拘わらず略一定となる。
【００３８】
これにより、画像表示部６６に表示された断層映像は、１つの画像内での明暗の差がほとんどないため見易くなり、また、特に深部の映像を鮮明に表示することができる。
【００３９】
また、図１に示す装置においては、アンバランス型のマイケルソン干渉計を用いているが、これに替えて、図６に示すような、バランス型のマイケルソン干渉計を用いてもよい。アンバランス型のマイケルソン干渉計で用いられた処理はこのバランス型のマイケルソン干渉計でも略同様に用いることができる。したがって、図６において図１と対応する部材については、図１の部材に付された符号に２００を加えた符号を付すものとし、その詳細な説明は省略する。ただし、バランス型のマイケルソン干渉計においては、アンバランス型のマイケルソン干渉計では用いられなかった経路が必要となり、２つの２×２カプラ２１２、２１３および光学アイソレータ２１４等が配されている。また、２×２カプラ２１３からの２つの光出力同士では、各信号Ｉ＋、Ｉ−において、干渉波成分が正負逆符号となっており、一方、バイアス成分は同符号となっている。したがって、光検出器２５２Ａ、２５２Ｂからの両出力信号強度に対し、コンパレータ等を用いて両者の差分をとることにより、光源の揺らぎも含めたバイアス成分が相殺され、干渉波信号成分のみを理論上２倍として得ることができる。
【００４０】
このことを数式を用いて説明すると、参照ミラー２４２からの光信号強度をＩｒ、被検体３１からの光信号強度をＩｓとし、干渉させる２光波の位相差をφとし、合波された後の干渉波信号強度をＩｐとすると、アンバランス型のマイケルソン干渉計による干渉波信号強度Ｉｐは、以下の式で表される。
【００４１】
【数１】
2005083954.tif 000003
【００４２】
これに対し、バランス型マイケルソン干渉計による干渉波信号強度Ｉｐは、上述したように光検出器２５２Ａ、２５２Ｂからの両出力信号強度Ｉ＋、Ｉ−の差として表されるから以下の式で表される。
【００４３】
【数２】
2005083954.tif 000004
【００４４】
上記２式の比較から明らかなように、バランス型マイケルソン干渉計による干渉波信号強度Ｉｐでは、検出信号におけるバイアス成分が相殺され、被検体２３１に関する必要な情報成分のみを抽出していることになる。このため、光検出器２５２Ａ、２５２Ｂの利得を上げても、光検出器２５２Ａ、２５２Ｂのダイナミックレンジを越えることがなく、検出信号の強度を高めることができる。
【００４５】
なお、本発明の断層映像装置としては、その他の形態の変更が可能であり、例えば低可干渉光源としても上述した光源に替えて、通常のダイオードや高圧水銀ランプ等の周知の低可干渉光源を使用することが可能である。
【００４６】
また、上記実施形態においては、等光路長型干渉計としてマイケルソンタイプのものを用いているが、これに替えてマッハ−ツェンダタイプ等の他の等光路長型干渉計を用いるようにしてもよい。
【００４７】
また、被検体としては人体に限られず、光が内部に侵入して、内部の各位置から反射光が得られるその他の種々の組織とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施形態に係る断層映像装置を示す概念図
【図２】被検体の、深さ方向に直交する層構成を示す模式図
【図３】従来技術における、被検体の深さ位置に対する干渉信号強度を示すグラフ
【図４】本発明の実施形態における、深さ位置に対する光源から出力される低可干渉光の光強度を示すグラフ
【図５】本発明の実施形態における、被検体の深さ位置に対する干渉信号強度を示すグラフ
【図６】図１に示す実施形態の一部変更態様を示す図
【図７】図１に示す実施形態により得られた被検体の２次元断層映像の一例を示す図
【図８】従来技術に係る断層映像装置を示す概念図
【符号の説明】
【００４９】
１、１０１、２０１      制御部
１０、１１０、２１０      低可干渉光源
２１、２２、２３、２４、２２１、２２２、２２３、２２４、
３２１、３２２、３２３、３２４      光ファイバ
２５、２１２、２１３、２２５、３２５      ２×２カプラ
３１、２３１、３３１      被検体
３２、２３２、３３２      対物集光レンズ
４２、２４２、３４２      参照ミラー
５２、２５２Ａ、２５２Ｂ、３５２      光検出器
４１、２４１、３４１      コリメータレンズ
６２、２６２、３６２      増幅器
６３、２６３、３６３      バンドパスフィルタ
６４、２６４、３６４      Ａ／Ｄコンバータ
６５、２６５、３６５      画像処理部
６６、２６６、３６６      画像表示部
【図１】
2005083954.tif 000005
【図２】
2005083954.tif 000006
【図３】
2005083954.tif 000007
【図４】
2005083954.tif 000008
【図５】
2005083954.tif 000009
【図６】
2005083954.tif 000010
【図７】
2005083954.tif 000011
【図８】
2005083954.tif 000012