(57)【要約】【課題】複雑な計算処理を行う必要がなく、製品規格とテスト項目を与えるだけで簡単かつ速やかにシステムＬＳＩのテスト仕様書を自動作成する。【解決手段】テスト対象ＬＳＩの仕様書１００がテキストデータとして格納されるテキストデータ格納手段２０と、ＬＳＩ機能の検証および評価手順が記述された複数のケースパレットを格納するケースパレット格納手段４０と、与えられたスクリプト３０に従い実行可能な検証および評価仕様書２００を作成するスクリプト実行手段５０とを備え、スクリプト実行手段５０は、テスト対象ＬＳＩに適合するケースパレットを選択し、その記述に基づきテキストデータ格納部２０のテキストデータを検索し、テスト対象ＬＳＩの検証および評価に必要な情報を抽出することにより、実行可能な検証および評価仕様書２００を作成する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト対象ＬＳＩの仕様書がテキストデータとして格納されるテキストデータ格納手段と、ＬＳＩ機能の検証および評価手順が記述された複数のケースパレットを格納するケースパレット格納手段と、与えられたスクリプトに従い実行可能な検証および評価仕様書を作成するスクリプト実行手段とを備えるスクリプタ装置を用いたテスト仕様自動作成生成方法であって、前記スクリプト実行手段は、
前記ケースパレット格納手段から前記テスト対象ＬＳＩに適合するケースパレットを選択し、選択されたケースパレットの記述に基づき前記テキストデータ格納部のテキストデータを検索し、前記テスト対象ＬＳＩの検証および評価に必要な情報を前記テキストデータから抽出して、前記実行可能な検証および評価仕様書を作成するテスト仕様自動生成方法。
【請求項２】
選択されたケースパレットに記述された機能評価毎の検索キーワードを用いて前記テキストデータ格納部のテキストデータを検索する請求項１記載のテスト仕様自動生成方法。
【請求項３】
前記ケースパレットに記述された機能評価毎の評価手順に対して前記検索キーワードによる検索で得られた情報を組み合わせることにより実行可能なコマンドおよびアーギュメントを生成し、検証および評価仕様書に記述する請求項２記載のテスト仕様自動生成方法。
【請求項４】
テスト対象ＬＳＩの仕様書がテキストデータとして格納されるテキストデータ格納手段と、ＬＳＩ機能の検証および評価手順が記述された複数のケースパレットを格納するケースパレット格納手段と、与えられたスクリプトに従い実行可能な検証および評価仕様書を作成するスクリプト実行手段とを備え、
前記スクリプト実行手段は、前記ケースパレット格納手段から前記テスト対象ＬＳＩに適合するケースパレットを選択する機能、選択されたケースパレットの記述に基づき前記テキストデータ格納部のテキストデータを検索する機能、前記テスト対象ＬＳＩの検証および評価に必要な情報を前記テキストデータから抽出して、前記実行可能な検証および評価仕様書を作成する機能を備えるテスト仕様自動生成装置。
【請求項５】
前記テキストデータ格納部のテキストデータを検索する機能は、選択されたケースパレットに記述された機能評価毎の検索キーワードを用いて前記テキストデータ格納部のテキストデータを検索する請求項４記載のテスト仕様自動生成装置。
【請求項６】
前記実行可能な検証および評価仕様書を作成する機能は、前記ケースパレットに記述された機能評価毎の評価手順に対して前記検索キーワードによる検索で得られた情報を組み合わせることにより実行可能なコマンドおよびアーギュメントを生成して検証および評価仕様書に記述する請求項５記載のテスト仕様自動生成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はシステムＬＳＩの検証および評価に用いるテスト仕様書の自動生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
システムＬＳＩのテスト仕様は、対象製品の規格とテスト仕様作成者の経験から、抜けがなく、かつテスト時間を短くするように、従来人手で作成されていた。しかし、システムＬＳＩのますますの大規模化、複雑化に伴い、テスト仕様の作成作業量が膨大になり、テスト仕様の人的誤りの可能性も高くなり、精度の高いテスト仕様を作成することが困難になっていた。
【０００３】
その対策として、システムＬＳＩの製品規格とテスト項目とからテスト仕様を自動生成する方法が提案されている。この種のテスト仕様自動生成方式として、例えば、特許文献１に記載されたものが知られている。この方式では、システムＬＳＩの製品規格とテスト項目とパラメータ設定ルールと回路モデル情報とからテスト仕様を自動生成している。
【特許文献１】特開平６−２６５５９８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記の従来のテスト仕様自動生成方法においては、製品規格とテスト項目に加え、パラメータ設定ルールの記憶と回路モデル情報の入力が必要である。また、回路シミュレーションを含む複雑な計算処理を伴い、テスト条件値を算出してテスト仕様書の作成に到るため処理負荷が重く、処理能力の高い計算機システムを必要とするという問題がある。
【０００５】
本発明は、上記従来の問題を容易に解決するもので、回路シミュレーションや複雑な計算処理を行う必要がなく、製品規格とテスト項目を与えるだけで、簡単かつ速やかにシステムＬＳＩのテスト仕様書を自動作成することができるテスト仕様自動生成方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明のテスト仕様自動生成方法は、テスト対象ＬＳＩの仕様書がテキストデータとして格納されるテキストデータ格納手段と、ＬＳＩ機能の検証および評価手順が記述された複数のケースパレットを格納するケースパレット格納手段と、与えられたスクリプトに従い実行可能な検証および評価仕様書を作成するスクリプト実行手段とを備えるスクリプタ装置を用いたテスト仕様自動作成生成方法であって、前記スクリプト実行手段は、前記ケースパレット格納手段から前記テスト対象ＬＳＩに適合するケースパレットを選択し、選択されたケースパレットの記述に基づき前記テキストデータ格納部のテキストデータを検索し、前記テスト対象ＬＳＩの検証および評価に必要な情報を前記テキストデータから抽出して、前記実行可能な検証および評価仕様書を作成する。
【０００７】
上記構成によれば、あらかじめ検証および評価手順をパターン化してケースパレットとして用意し、ケースパレットに記述された手順に従い、テスト対象ＬＳＩの仕様書のテキストデータを検索し、必要な情報を抽出して実行可能な検証および評価仕様書を作成することができるため、複雑な計算処理等を行う必要がなく、簡単かつ短時間にテスト仕様書を自動作成することができる。
【０００８】
さらに、選択されたケースパレットに記述された機能評価毎の検索キーワードを用いて前記テキストデータ格納部のテキストデータを検索する。上記構成によれば、ケースパレットに記述された機能評価毎の検索キーワードを用いて検索を実行するため、あらかじめケースパレットに設定された検証および評価手順に従い、テスト対象ＬＳＩの仕様書のテキストデータから正確に必要な情報を抽出することができる。
【０００９】
さらに、前記ケースパレットに記述された機能評価毎の評価手順に対して前記検索キーワードによる検索で得られた情報を組み合わせることにより実行可能なコマンドおよびアーギュメントを生成し、検証および評価仕様書に記述する。上記構成によれば、ケースパレットに記述された機能評価毎の評価手順に対して検索キーワードによる検索で得られた情報を組み合わせて実行可能なコマンドおよびアーギュメントを生成するため、あらかじめケースパレットに設定された検証および評価手順に忠実に従った実行可能な検証および評価仕様書を自動生成することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、あらかじめパターン化されたケースパレットに記述された検証および評価手順に従い、テスト対象ＬＳＩの仕様書のテキストデータを検索し、必要な情報を抽出して実行可能な検証および評価仕様書を作成することができるため、複雑な計算処理等を行う必要がなく、簡単かつ短時間にテスト仕様書を自動作成することができ、システムＬＳＩの検証および評価の業務効率を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の最良の実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は本発明の一実施の形態に係るテスト仕様自動生成方法を実行するスクリプタ装置の構成を示すブロック図である。図１において、１０はスクリプタ装置、１００はシステムＬＳＩ仕様書、２００は自動作成されたテスト仕様を記述する実行可能な検証および評価仕様書である。
【００１２】
スクリプタ装置１０は、テキストデータ格納部２０、スクリプト３０、ケースパレット部４０、スクリプト実行部５０から構成され、システムＬＳＩ仕様書１００の内容がテキストベースで格納されているテキストデータ格納部２０を検索対象として、スクリプタ装置１０でテスト仕様を自動生成し、実行可能な検証および評価仕様書２００を出力するように接続されている。
【００１３】
図１のように構成されたスクリプタ装置１０の動作を以下に説明する。テキストデータ格納部２０には、ＬＳＩ仕様を検索しやすいようにシステムＬＳＩ仕様書１００の内容がデータベースにテキストベースで格納されている。また、ケースパレット部４０には、ＬＳＩの機能評価のための制御手順があらかじめ記述された複数のケースパレットが格納されている。
【００１４】
スクリプト実行部５０はスクリプト３０を実行し、まず、ケースパレット部４０に対して検索方法を要求する。要求を受けたケースパレット部４０は、ＬＳＩの機能評価のための制御手順をスクリプト実行部５０に対して出力する。
【００１５】
次に、スクリプト実行部５０は、ケースパレット部４０から出力されたＬＳＩの機能評価のための制御手順に従い、テキストデータ格納部２０に対して機能評価毎にケースパレットから得られた検索キーワードによる検索を実行し、ＬＳＩ仕様の中から必要な情報を取り出す。
【００１６】
検索で得られた情報により、スクリプト実行部５０は、検証および評価でアクセスするレジスタまたはＲＡＭ名、アドレス値、アクセス回数、データ値、期待値等を実行可能なコマンドおよびアーギュメントで記述することにより、実行可能な検証および評価仕様書２００を作成する。
【００１７】
図２は本実施の形態におけるケースパレット部４０の動作を説明する流れ図である。図２において、ケースパレット部４０は、スクリプト実行部５０の要求により、レジスタリード／ライト判定部４００、タイマ制御判定部４１０、ポート制御判定部４２０、シリアル制御判定部４３０、割込み制御判定部４４０の順にどの要求であるかを判定し、判定した要求に応じて、スクリプト実行部５０に対して、レジスタリード／ライトの制御手順生成部４０１、タイマの制御手順生成部４１１、ポートの制御手順生成部４２１、シリアルの制御手順生成部４３１、割込みの制御手順生成部４４１のいずれかの制御手順を制御手順指示部４５０から指示する。
【００１８】
図３はスクリプト実行部５０により作成された実行可能な検証および評価仕様書２００の記述例を示す図である。図３において、テスト内容説明欄にはテスト仕様の説明内容が記述される。また、手順の説明欄には、スクリプト実行部５０の要求に対してケースパレット部４０から出力された制御手順の説明が順番に記述される。
【００１９】
さらに、実行可能な検証および評価手順欄には、制御手順の説明欄に対応して同順に、実行可能なコマンドおよびアーギュメントとして、レジスタ名またはＲＡＭ名、コマンド、アクセスするスタートアドレスとエンドアドレス、アクセス回数、入力値、期待値が記述される。
【００２０】
図４は本実施の形態におけるテキストデータ格納部２０に対する機能評価毎の検索方法を説明する図である。図４において、機能評価毎に検索キーワードによる検索を実行する手順として、仕様書の上から下方向へ、機能ブロック名、制御レジスタ名、レジスタ記号、アドレス値、制御レジスタの使用目的、ビットＮｏ．、ビット名、リード／ライトアクセス、リセット時の初期値といったキーワードで縦検索を行い、キーワードが一致すると横検索を行う。
【００２１】
さらに、次々とキーワードによる縦検索と横検索を繰り返すことにより、検索キーワードに付随する必要な情報を得ることができる。これにより、スクリプト実行部５０は実行可能な検証および評価仕様書２００にテスト内容説明を記述し、ケースパレット部４０に従った手順の説明と合わせて、実行可能な検証および評価手順を作成することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２２】
本発明のテスト仕様自動生成方法は、あらかじめパターン化されたケースパレットに記述された検証および評価手順に従い、テスト対象ＬＳＩの仕様書のテキストデータを検索し、必要な情報を抽出して実行可能な検証および評価仕様書を作成することができるため、複雑な計算処理等を行う必要がなく、簡単かつ短時間にテスト仕様書を自動作成することができ、システムＬＳＩの検証および評価の業務効率を向上させることができ、システムＬＳＩの検証および評価に用いるテスト仕様書の自動生成方法等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の一実施の形態に係るテスト仕様自動生成方法を実行するスクリプタ装置の構成を示すブロック図。
【図２】本発明の一実施の形態に係るテスト仕様自動生成方法におけるケースパレット部の動作を説明する流れ図。
【図３】本発明の一実施の形態に係るテスト仕様自動生成方法により自動生成された実行可能な検証および評価仕様書の記述例を示す図。
【図４】本発明の一実施の形態に係るテスト仕様自動生成方法におけるテキストデータ格納部に対する機能評価毎の検索手順を説明する図。
【符号の説明】
【００２４】
１０  スクリプタ装置
２０  テキストデータ格納部
３０  スクリプト
４０  ケースパレット部
５０  スクリプト実行部
１００  システムＬＳＩ仕様書
２００  実行可能な検証および評価仕様書
４００  レジスタリード／ライト判定部
４０１  レジスタリード／ライトの制御手順生成部
４１０  タイマ制御判定部
４１１  タイマの制御手順生成部
４２０  ポート制御判定部
４２１  ポートの制御手順生成部
４３０  シリアル制御判定部
４３１  シリアルの制御手順生成部
４４０  割込み制御判定部
４４１  割込みの制御手順生成部
４５０  制御手順指示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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