(57)【要約】【課題】  巻き太りを定量化することができるテープ巻回体の変形測定方法及びテープ巻回体の変形測定装置を提供し、テープ巻回体の脱落や、巻回体の非真円変形の防止を図る。【解決手段】  テープ巻回体４７の巻回途中における半径方向所定距離の巻回数をテープ幅方向の異なる複数箇所で計測し、所定距離を巻回数で除することで所定距離の間のテープ平均厚さを求め、テープ平均厚さからテープ巻回体４７のテープ幅方向で生じる巻径の差異による変形を測定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テープ巻回体の巻回途中における半径方向所定距離の巻回数をテープ幅方向の異なる複数箇所で計測し、
前記所定距離を前記巻回数で除することで前記所定距離の間のテープ平均厚さを求め、
該テープ平均厚さからテープ巻回体のテープ幅方向で生じる巻径の差異による変形を測定することを特徴とするテープ巻回体の変形測定方法。
【請求項２】
テープ巻回体を回転させる巻取り手段と、
該巻取り手段の巻き取り回転数を検出する回転検出手段と、
テープ巻回体に対して直径と平行な方向で光路を横断させる内側の発光・受光素子及び該内側の発光・受光素子より光路を半径方向外側で横断させる外側の発光・受光素子からなる光学検出手段とを具備し、
前記光学検出手段が、テープ巻回体の同一半径位置で、かつテープ幅方向の異なる位置で前記光路を横断させるように複数配設されたことを特徴とするテープ巻回体の変形測定装置。
【請求項３】
テープ巻回体の同一半径位置で、かつテープ幅方向の異なる位置で前記光路を横断させるように複数配設した前記光学検出手段のそれぞれを、前記光路が交差するように配設したことを特徴とする請求項２記載のテープ巻回体の変形測定装置。
【請求項４】
テープ幅方向に配設された複数の前記光学検出手段の内、内側の発光・受光素子同士が単一の発光素子を共用してなり、外側の発光・受光素子同士が単一の発光素子を共用してなることを特徴とする請求項２又は請求項３記載のテープ巻回体の変形測定装置。
【請求項５】
前記回転検出手段が、前記巻取り手段の回転角度を検出する分解能を有することを特徴とする請求項２、請求項３又は請求項４記載のテープ巻回体の変形測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テープ巻回時に、テープ巻回体に生じる変形を測定するテープ巻回体の変形測定方法及びテープ巻回体の変形測定装置に関し、さらに詳しくは、テープ巻回体の幅方向で生じる巻径の差異（以下、「巻き太り」と言う。）を定量化可能なテープ巻回体の変形測定方法及びテープ巻回体の変形測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
カセットテープやビデオテープを始めとして、コンピュータのデータバックアップ用にも使用されている各種の磁気テープの製造においては、リールにロール状に巻回された幅広で帯状な磁気テープ原反を複数のガイドローラ等を介して連続的に引き出してスリッタに搬送し、スリッタで複数本の幅狭な磁気テープに裁断する裁断工程を行う。
【０００３】
図７に示すように裁断装置１は、主として、巻き戻しリール３、スリッタ５、複数の巻取リール７で構成される。巻き戻しリール３のハブ９には、中高ロール形状に巻回された磁気テープ原反１１のバルクが装着される。磁気テープ原反１１は、通常、非磁性支持体上に強磁性微粒子を含む磁性層を塗布法や真空蒸着法等により形成し、その磁性層に配向処理、乾燥処理、表面処理等を行うことによって製造される。
【０００４】
スリッタ５は、幅広で帯状の磁気テープ原反１１を上下一対の回転刃１３，１５により複数本の磁気テープ１７，１７，・・・に裁断する装置であり、受け刃としてローラ状に形成された複数の回転下刃１３，１３，・・・と、回転下刃１３との間で磁気テープ原反１１に剪断力を与えて裁断する薄円盤状の複数の回転上刃１５，１５，・・・とで構成される。また、巻き戻しリール３とスリッタ５との間には、磁気テープ原反１１の搬送路を形成する複数のガイドローラ１９，１９が、スリッタ５と巻取リール７との間には、磁気テープ１７の搬送路を形成する複数のガイドローラ２１，２１が設けられている。
【０００５】
裁断装置１の運転が開始されると、磁気テープ原反１１は、巻き戻しリール３から連続的に引き出され、スリッタ５に搬送される。そして、スリッタ５で複数本の磁気テープ１７に裁断されて巻取リール７のハブ２３に巻き取られる。これにより、例えば磁気テープ原反１１が１００〜５００本に裁断され、規定の幅寸法（例えば１２．６５ｍｍ、２５．４ｍｍ、３．８１ｍｍ等）の磁気テープ１７が製造される。
【０００６】
【特許文献１】特開平２００３−２２８８２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、スリッタによって裁断した磁気テープを巻取リールに巻回して行くと、例えば回転刃の切れ味によって、図８（ａ）に示すように磁気テープ１７のエッジ１７ａに変形差が生じる。即ち、切味の良い回転刃の場合、エッジ変形（曲がり）が大きくなる前に原反が裁断されるが、切れ味の悪い回転刃の場合では裁断される前にエッジ変形が生じ、変形エッジ１７ａ同士が重なって巻かれて行けば、この当該エッチ側が厚めに巻かれることになる。この結果、例えばテープ巻回体の下側が厚めに巻かれれば、図８（ｂ）に示すように、テープ巻回体２５の幅方向（Ｗ方向）の下側で巻径が大きくなる巻き太りＦが生じた。この他、テープ巻回体の巻き太りは、エッジ部の打痕ダメージ、異物等の巻き込み等によっても発生した。
このような巻き太り等の変形が発生すると、磁気テープ巻回体が巻取リールから脱落したり、図９に示すように、テープ巻回体円周方向の一部分で巻径Ｒａ，Ｒｂに差異が生じ、放射方向で巻きが不均一となって、巻回体が真円（所定の真円度を有する円）とならない（例えば円周の一部が盛り上がったり、略楕円形状等となる）非真円変形の生じることもあった。
このような不具合に対して、従来より巻き太りを定量化しようとする試みはなされていたが、図８（ｃ）に示す巻き太りによる半径差Δｄが１５０μｍ以上で不具合が顕著となることは知見されたものの、巻き太りを誘発したテープの断面を観察しても変形が極めて微小であり、テープ断面の観察によって巻き太りを定量化することは極めて困難であった。
本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、巻き太りを定量化することができるテープ巻回体の変形測定方法及びテープ巻回体の変形測定装置を提供し、テープ巻回体の脱落や、巻回体の非真円変形の防止を図ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するための本発明に係る請求項１記載のテープ巻回体の変形測定方法は、テープ巻回体の巻回途中における半径方向所定距離の巻回数をテープ幅方向の異なる複数箇所で計測し、前記所定距離を前記巻回数で除することで前記所定距離の間のテープ平均厚さを求め、該テープ平均厚さからテープ巻回体のテープ幅方向で生じる巻径の差異による変形を測定することを特徴とする。
【０００９】
このテープ巻回体の変形測定方法では、半径方向所定距離におけるテープ平均厚さが、テープ幅方向の異なる位置で把握される。つまり、テープ平均厚さが厚ければ、巻き太りの発生が計測される。また、この巻き太りの程度は、テープ平均厚さに比例する。これにより、テープ幅方向における巻き太りの有無やその程度が定量的に把握可能となり、巻き太りの定量化が可能となる。
【００１０】
請求項２記載のテープ巻回体の変形測定装置は、テープ巻回体を回転させる巻取り手段と、該巻取り手段の巻き取り回転数を検出する回転検出手段と、テープ巻回体に対して直径と平行な方向で光路を横断させる内側の発光・受光素子及び該内側の発光・受光素子より光路を半径方向外側で横断させる外側の発光・受光素子からなる光学検出手段とを具備し、前記光学検出手段が、テープ巻回体の同一半径位置で、かつテープ幅方向の異なる位置で前記光路を横断させるように複数配設されたことを特徴とする。
【００１１】
このテープ巻回体の変形測定装置では、内側の発光・受光素子が巻回テープによって遮られてから、外側の発光・受光素子が巻回テープによって遮られるまでの回転数が計数される。内側の発光・受光素子と外側の発光・受光素子との間隔は既知（半径方向所定距離）とすることができるので、この半径方向所定距離が検出回転数で除されることで、その所定距離におけるテープ平均厚さが測定される。従って、このテープ平均厚さがテープ幅方向の異なる位置で測定されることで、テープ幅方向での巻き太りが定量化可能となる。
【００１２】
請求項３記載のテープ巻回体の変形測定装置は、テープ巻回体の同一半径位置で、かつテープ幅方向の異なる位置で前記光路を横断させるように複数配設した前記光学検出手段のそれぞれを、前記光路が交差するように配設したことを特徴とする。
【００１３】
このテープ巻回体の変形測定装置では、複数の光学検出手段を狭いテープ幅方向に多段状に重ねて配置する必要がなくなる。これにより、複数の光学検出手段同士の干渉が回避される。
【００１４】
請求項４記載のテープ巻回体の変形測定装置は、テープ幅方向に配設された複数の前記光学検出手段の内、内側の発光・受光素子同士が単一の発光素子を共用してなり、外側の発光・受光素子同士が単一の発光素子を共用してなることを特徴とする。
【００１５】
このテープ巻回体の変形測定装置では、本来構成では受光素子と同数必要である発光素子が、単一の発光素子を用いて構成可能となり、発光素子の数量が低減される。
【００１６】
請求項５記載のテープ巻回体の変形測定装置は、前記回転検出手段が、前記巻取り手段の回転角度を検出する分解能を有することを特徴とする。
【００１７】
このテープ巻回体の変形測定装置では、テープ巻回体の任意の回転角度でのテープ平均厚さが測定可能となる。例えば巻取リールの回転角１０度ごとにテープ平均厚さが求められれば、円周方向に等間隔で３６箇所の巻き太り程度が測定可能となり、その分布状況によって、非真円変形の定量化が可能となる。例えば０度箇所と１８０度箇所のテープ平均厚さが小さく、９０度箇所と２７０度箇所のテープ平均厚さが大きければ、横長の楕円変形との測定が可能となる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明に係る請求項１記載のテープ巻回体の変形測定方法によれば、半径方向所定距離の間のテープ平均厚さを、テープ幅方向の異なる複数箇所で求め、このテープ平均厚さからテープ巻回体のテープ幅方向で生じる巻径の差異による変形を測定するので、巻き太りの有無やその程度が定量的に把握可能となり、巻き太りを定量化することができる。この結果、原反裁断時の条件設定や、繰り返し使用する磁気テープカートリッジドライブの調整が可能となり、さらには、巻き太りと、テープ巻回体の脱落や、巻回体の非真円変形との相関が解析調査できるようになり、これらの防止が可能となる。
【００１９】
本発明に係る請求項２記載のテープ巻回体の変形測定装置によれば、巻取り手段と、回転検出手段と、内側の発光・受光素子及び外側の発光・受光素子からなる光学検出手段とを具備し、この光学検出手段を同一半径位置でテープ幅方向の異なる位置で複数配設したので、内側の発光・受光素子が巻回テープによって遮られてから、外側の発光・受光素子が巻回テープによって遮られるまでの回転数を計数することで、テープ幅方向の異なる位置ごとに半径方向所定距離でのテープ巻回数が検出でき、テープ幅方向の異なる位置におけるテープ平均厚さが把握可能となる。この結果、テープ幅方向のどの位置でどの程度の巻き太りが発生しているかが定量化可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明に係るテープ巻回体の変形測定方法及びテープ巻回体の変形測定装置の好適な実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図１は本発明に係るテープ巻回体の変形測定装置を模式的に表した構成図、図２は一つの光学検出手段とテープ巻回体との位置関係を表した平面図、図３は光学検出手段の光路とテープ巻回体との位置関係を表した側面図である。
【００２１】
本実施の形態によるテープ巻回体の変形測定装置１００は、巻取り手段３１と、回転検出手段３３と、複数（本実施の形態では３つ）の光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄと、制御手段３７とをその主要な構成として備えている。
【００２２】
巻取り手段３１は、図示しない回転駆動機構の回転軸にハブ４１を固定してなる。このハブ４１には、磁気テープカートリッジに巻装された磁気テープや原反から裁断された磁気テープ（以下、単に「テープ」と言う。）４３が巻き取られて行く。図中４５は、磁気テープカートリッジ等と巻取り手段３１との間の搬送路を形成するガイドローラを示す。
【００２３】
回転検出手段３３は、回転駆動機構の回転軸又はハブ４１の回転を検出する他、ハブ４１に巻回されたテープ巻回体４７の回転を直接検出するものであってもよい。この回転の検出には、例えば回転軸に、円周方向複数のスロットの穿設されたスロットディスクを固設し、このスロットディスクを挟んで発光素子と受光素子を設けた角度センサを用いることができる。この角度センサでは、回転軸の回転によって発光素子と受光素子との間の光が透過・遮断され、ＯＮ・ＯＦＦのパルスを発生するので、その立ち上がり信号を計数することにより、回転軸の回転角度及び回転数を検出することができる。
【００２４】
本実施の形態では、３つの光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄが設けられるが、その構成は同一であるので、光学検出手段３５Ｕの場合を例に説明する。光学検出手段３５Ｕは、図２に示すように、テープ巻回体４７に対して直径と平行な方向で光路５１を横断させる内側の発光素子５３・受光素子５５、及び内側の発光素子５３・受光素子５５より光路５７を半径方向外側で横断させる外側の発光素子５９・受光素子６１からなる。この内側の発光素子５３・受光素子５５と、外側の発光素子５９・受光素子６１とは、光路５１と光路５７との間隔が半径方向所定距離ｒとなるように配設されている。
【００２５】
それぞれが上記の構成と同様に構成された光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄは、図３に示すように、テープ巻回体４７の同一半径位置で、かつテープ幅方向Ｗの異なる位置で光路を横断させるように配設されている。本実施の形態では、光学検出手段３５Ｍの光路５１，５７がテープ幅方向Ｗの中央位置６３を通り、光学検出手段３５Ｕ，３５Ｄの光路５１，５７が、この中央位置６３から上下にｈだけずれた位置を通る。
【００２６】
なお、本実施の形態では、図１に示したように、テープ巻回体４７の同一半径位置で、かつテープ幅方向Ｗの異なる位置で光路５１，５７を横断させるように複数配設した光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄのそれぞれを、光路５１，５７が交差するように配設している。このような配置とすることで、複数の光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄを狭いテープ幅方向Ｗに多段状に重ねて配置する必要がなくなる。これにより、複数の光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄ同士の干渉が回避される。従って、このような光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄの配置によれば、光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄの光路５１，５７をテープ幅方向Ｗに容易に複数配置することができる。
【００２７】
制御手段３７には、例えばコンピュータを用いることができる。制御手段３７には上記の光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄが接続される。光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄと制御手段３７との間には、光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄからの検出信号を増幅する増幅器（ＡＭＰ）６５と、この増幅信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄコンバータ６７が設けられている。また、制御手段３７には、上記の回転検出手段３３が接続されている。
【００２８】
この変形測定装置１００では、巻取り手段３１によってハブ４１にテープ４３が巻回されて行くと、内側の発光素子５３・受光素子５５がテープ４３によって遮られてから、外側の発光素子５９・受光素子６１がテープ４３によって遮られるまでの回転数が計数される。内側の発光素子５３・受光素子５５と外側の発光素子５９・受光素子６１との間隔は既知（半径方向所定距離ｒ）とすることができるので、この半径方向所定距離ｒが検出回転数で除されることで、その所定距離ｒにおけるテープ平均厚さＴが測定される。従って、このテープ平均厚さがテープ幅方向Ｗの異なる位置で測定されることで、テープ幅方向Ｗでの巻き太りが定量化可能となっている。
【００２９】
次に、以上のように構成されたテープ巻回体の変形測定装置１００によるテープ巻回体の変形測定方法を説明する。
図４はテープ巻回体の巻回過程と光学検出手段の光路遮断過程を（ａ）〜（ｆ）で表した模式図、図５は巻き太りと回転数との相関を表したグラフである。
【００３０】
このテープ巻回体の変形測定方法では、テープ巻回体４７の巻回途中における半径方向所定距離ｒの巻回数をテープ幅方向Ｗの異なる複数箇所で計測し、所定距離ｒを巻回数で除することで所定距離ｒの間のテープ平均厚さを求める。そして、そのテープ平均厚さからテープ巻回体４７のテープ幅方向Ｗで生じる巻径の差異による変形を測定する。
【００３１】
以下に、例えば図４に示すように、下エッジに巻き太りＦの生じるテープ巻回体４７の具体的な測定例を説明する。テープ４３の先端が、巻取り手段３１のハブ４１に巻き付けられ、連続的に巻き取りが行なわれると、当初、テープ４３の表面は、内側の発光素子５３・受光素子５５による光路５１よりもさらに内側に位置しているが、巻き取りが進行するに従って、まず、図４（ａ）に示すように、光学検出手段３５Ｄの内側の光路５１を遮り、光学検出手段３５Ｄの内側の発光素子５３・受光素子５５により検知される。
【００３２】
この時点から、次に、テープ４３の表面が外側の発光素子５９・受光素子６１により検知されるまでの間が、テープ巻き数（巻取り手段３１のハブ４１の回転数と同じ数になる）を計測すべき期間であり、この間のテープ巻き数が、例えば、巻取り手段３１の回転軸に同軸に設けられている回転検出手段３３により、計測される。
【００３３】
本例の場合、巻き取りがさらに進行するに従って、図４（ｂ）、図４（ｃ）に示すように、光学検出手段３５Ｕ、光学検出手段３５Ｍの内側の光路５１が順次遮られて行く。その後、回転検出手段３３によるテープ巻き数の計数も進捗し、やがて、図４（ｄ）に示すように、テープ４３の表面が、光学検出手段３５Ｄの外側の光路５７を遮り、外側の発光素子５９・受光素子６１により検知される。この時点で、光学検出手段３５Ｄに対してのテープ巻き数の計数を終了し、その値を、制御手段３７に記憶する。
【００３４】
同様にして、図４（ｅ）、図４（ｆ）に示すように、テープ４３の表面が、光学検出手段３５Ｕ、光学検出手段３５Ｍの外側の発光素子５９・受光素子６１により順次検知され、この時点で、光学検出手段３５Ｕ、光学検出手段３５Ｍに対してのテープ巻き数の計数を終了し、その値を、制御手段３７に記憶する。
【００３５】
制御手段３７では、テープの巻き数の値（ｎ）と、予め定められている光路５１，５７間の距離の値（ｒ）とから、ｒ／ｎの値が算出される。このｒ／ｎが、測定対象となった半径方向所定距離ｒにおけるテープ平均厚さＴの値となる。図示の例では、光学検出手段３５Ｄによって検出された巻き数ｎ＝７、光学検出手段３５Ｕによって検出された巻き数ｎ＝９、光学検出手段３５Ｍによって検出された巻き数ｎ＝１０となっている。テープ巻回体４７は、下エッジにおけるテープ平均厚さＴ＝ｒ／７、上エッジにおけるテープ平均厚さＴ＝ｒ／９、中央におけるテープ平均厚さＴ＝ｒ／１０となり、テープ平均厚さＴの最も厚い下エッジに巻き太りＦの生じていることが計測される。
【００３６】
制御手段３７は、このような検出値からテープ幅方向Ｗの各点におけるテープ平均厚さＴの差分を算出して巻き太りを計測し、さらに、その差分と計測時間に基づき、テープ巻回体４７に生じる変形を、図５に示すテープ幅方向Ｗの各位置（下エッジ、中央、上エッジ）における巻き太り量と回転数との相関として出力できるようになっている。なお、このケースでは、テープ巻回体４７の周面が、テープを巻かれて増径する程、エッジの変形が大きくなっている。
【００３７】
このテープ巻回体の変形測定方法では、半径方向所定距離ｒにおけるテープ平均厚さＴが、テープ幅方向Ｗの異なる位置で把握される。つまり、テープ平均厚さＴが厚ければ、巻き太りの発生が計測される。また、この巻き太りの程度は、テープ平均厚さＴに比例する。これにより、テープ幅方向Ｗにおける巻き太りの有無やその程度が定量的に把握可能となり、巻き太りのレベル判断が容易となる。
【００３８】
従って、上記の変形測定装置１００によれば、内側の発光素子５３・受光素子５５が巻回テープ４３によって遮られてから、外側の発光素子５９・受光素子６１が巻回テープ４３によって遮られるまでの回転数を計数することで、テープ幅方向Ｗの異なる位置ごとに半径方向所定距離ｒでのテープ巻回数が検出でき、テープ幅方向Ｗの異なる位置におけるテープ平均厚さＴが把握可能となる。この結果、テープ幅方向Ｗのどの位置でどの程度の巻き太りが発生しているかが定量化可能となる。
【００３９】
また、回転検出手段３３が、巻取り手段３１の回転角度を検出する分解能を有するので、テープ巻回体４７の回転角度でのテープ平均厚さＴが測定可能となる。例えば巻取り手段３１の回転角１０度ごとにテープ平均厚さＴが求められれば、円周方向に等間隔で３６箇所の巻き太り程度が測定可能となり、その分布状況によって、非真円変形の定量化が可能となる。例えば０度箇所と１８０度箇所のテープ平均厚さが小さく、９０度箇所と２７０度箇所のテープ平均厚さが大きければ、横長の楕円変形が生じていることの判断が可能となる。
具体的な測定方法としては、最初に外側の発光素子５９・受光素子６１が巻回テープ４３によって遮られたときの回転角を検出して非真円変形量を求めたり、或いは、発光素子が発光するタイミングを、巻回テープ４３の回転１周あたり１回に設定して、特定の回転角で発光させることを異なる回転角位置で繰り返し行う（例えば、１０度毎に３６回）ことで非真円変形量を求めることができる。
これにより、テープ巻回体円周方向の一部分で生じた巻径の差異による変形、即ち、放射方向で巻きが不均一となる非真円変形を測定することができる。
【００４０】
また、上記のテープ巻回体の変形測定方法によれば、半径方向所定距離ｒの間のテープ平均厚さＴを、テープ幅方向Ｗの異なる複数箇所で求め、このテープ平均厚さＴからテープ巻回体４７のテープ幅方向Ｗで生じる巻径の差異による変形を測定するので、巻き太りの有無やその程度が定量的に把握可能となり、巻き太りのレベル判断を容易にすることができる。この結果、原反裁断時の条件設定や、繰り返し使用する磁気テープカートリッジドライブの調整が可能となり、さらには、巻き太りと、テープ巻回体４７の脱落や、巻回体４７の非真円変形との相関が解析調査できるようになり、これらの防止が可能となる。
【００４１】
なお、上記の実施の形態では、複数の光学検出手段を設け、その発光素子と受光素子とが同数である場合を例に説明したが、この他、本発明に係るテープ巻回体の変形測定装置は、例えば図６に示すように、テープ幅方向Ｗに配設された複数の光学検出手段３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄの内、内側の発光・受光素子同士が単一の発光素子７１を共用してなり、外側の発光・受光素子同士が単一の発光素子７３を共用してなるものであってもよい。このような変形例では、本来構成で受光素子５５（又は６１）と同数必要である発光素子５３（又は５９）が、単一の発光素子７１（又は７３）を用いて構成可能となり、発光素子の数量が低減される。従って、この変形例によれば、発光素子の数を少なくすることができ、装置のコスト低減やコンパクト化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明に係るテープ巻回体の変形測定装置を模式的に表した構成図である。
【図２】一つの光学検出手段とテープ巻回体との位置関係を表した平面図である。
【図３】光学検出手段の光路とテープ巻回体との位置関係を表した側面図である。
【図４】テープ巻回体の巻回過程と光学検出手段の光路遮断過程を（ａ）〜（ｆ）で表した模式図である。
【図５】巻き太りと回転数との相関を表したグラフである。
【図６】光学検出手段の変形例における側面視を（ａ）、平面視を（ｂ）で表した説明図である。
【図７】従来の裁断装置を模式的に表した構成図である。
【図８】従来のテープに生じるエッジ変形を（ａ）、巻き太りの生じたテープ巻回体の斜視を（ｂ）、巻き太りの生じたテープ巻回体の断面を（ｃ）に表した説明図である。
【図９】従来のテープに生じる非真円変形の一例を表した説明図である。
【符号の説明】
【００４３】
３１  巻取り手段
３３  回転検出手段
３５Ｕ，３５Ｍ，３５Ｄ  光学検出手段
４７  テープ巻回体
５１，５７  光路
５３，５５  内側の発光・受光素子
５９，６１  外側の発光・受光素子
７１，７３  単一の発光素子
１００  テープ巻回体の変形測定装置
ｒ  半径方向所定距離
Ｔ  テープ平均厚さ
Ｗ  テープ幅方向
【図１】
2005134342.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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