(57)【要約】【課題】  光ピックアップの小型化、低コスト化を図ること。【解決手段】  光ピックアップ装置は、第１、第２、第３の発光点１ａ、１ｂ、１ｃと、第１、第２および第３の発光点１ａ、１ｂ、１ｃから出射された光ビームを対物レンズ１０６に導く光学系と、光学系によって導かれた光ビームを情報記録媒体に集光する対物レンズ１０６と、情報記録媒体からの反射光を検出する光検出器１０９とを備えている。第１、第２、第３の発光点１ａ、１ｂ、１ｃから出射される光ビームの波長をそれぞれλ１、λ２、λ３とするとき、λ１＜λ２＜λ３の関係を満たし、対物レンズ１０６の中心軸１００に光学的に一致する基準軸と第１、第２、第３の発光点１ａ、１ｂ、１ｃとの距離をそれぞれＬ１、Ｌ２、Ｌ３とするとき、Ｌ１＝Ｌ２＜Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たす。【選択図】  図１Ａ
2005339771.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームをそれぞれ出射する第１、第２、第３の発光点と、
前記第１、第２および第３の発光点から出射された前記光ビームを対物レンズに導く光学系と、
前記光学系によって導かれた前記光ビームを情報記録媒体に集光する対物レンズと、
前記情報記録媒体からの反射光を検出する光検出器と
を備えた光ピックアップ装置であって、
前記第１、第２、第３の発光点から出射される光ビームの波長をそれぞれλ１、λ２、λ３とするとき、λ１＜λ２＜λ３の関係を満たし、
前記対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸と前記第１、第２、第３の発光点との距離をそれぞれＬ１、Ｌ２、Ｌ３とするとき、Ｌ１＝Ｌ２＜Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たす、光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記第３の発光点と前記第１および第２の発光点の一方とが共通パッケージに集積されており、前記第１および第２の発光点の他方が前記共通パッケージとは別のパッケージに集積されている、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
Ｌ１＝Ｌ２＝０、かつ、Ｌ３≠０という関係を満たす、請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
Ｌ１＝０、かつ、Ｌ２≠０、かつ、Ｌ３≠０という関係を満たす、請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記第１、第２、第３の発光点のうちの少なくとも１つと前記光検出器とが共通パッケージに集積されており、
Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たす、請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
前記第１、第２、第３の発光点が共通パッケージに集積されている、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項７】
前記光検出器が前記共通パッケージにさらに集積されている、請求項６に記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】
光ビームをそれぞれ出射する第１、第２、第３の発光点と、
前記第１、第２および第３の発光点から出射された前記光ビームを対物レンズに導く光学系と、
前記光学系によって導かれた前記光ビームを情報記録媒体に集光する対物レンズと、
前記情報記録媒体からの反射光を検出する光検出器と
を備えた光ピックアップ装置であって、
前記第１、第２、第３の発光点から出射される光ビームの最大出力をそれぞれＰ１、Ｐ２、Ｐ３とするとき、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係を満たし、
前記対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸と前記第１、第２、第３の発光点との距離をそれぞれＬ１、Ｌ２、Ｌ３とするとき、Ｌ１＝Ｌ２＜Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たす、光ピックアップ装置。
【請求項９】
前記第３の発光点と前記第１および第２の発光点の一方とが共通パッケージに集積されており、前記第１および第２の発光点の他方が前記共通パッケージとは別のパッケージに集積されている、請求項８に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１０】
Ｌ１＝Ｌ２＝０、かつ、Ｌ３≠０という関係を満たす、請求項９に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１１】
Ｌ１＝０、かつ、Ｌ２≠０、かつ、Ｌ３≠０という関係を満たす、請求項９に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１２】
前記第１、第２、第３の発光点のうちの少なくとも１つと前記光検出器とが共通パッケージに集積されており、
Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たす、請求項９に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１３】
前記第１、第２、第３の発光点が共通パッケージに集積されている、請求項８に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１４】
前記光検出器が前記共通パッケージにさらに集積されている、請求項１３に記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光源を用いて光ディスク等の情報記録媒体に対して情報を光学的に記録あるいは再生する光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクのフォーマットが多様化するなかで、一つの光ピックアップ装置で異なる複数のフォーマットの光ディスクに対して再生または記録を実現するために、複数の光源を用いる光ピックアップ装置、例えばＣＤ用の７９０ｎｍ（又は７８０ｎｍ）波長帯の光源とＤＶＤ用の６５０ｎｍ（又は６３５ｎｍ）波長帯の光源とを有する光ピックアップ装置が実現されている。さらに、近年記録密度を向上させた高密度の光ディスクも登場しており、記録再生に前記波長帯と異なる４００ｎｍ前後の波長帯の光源をもつ半導体レーザが使われる状況にある。
【０００３】
そこで３つ以上の複数の異なる光ディスクに対応する光ピックアップ装置が、特許文献１で提案されている。
【０００４】
しかしながら、前記複数の光ディスクのすべての記録再生に対応する光ピックアップ装置においては、異なるフォーマットの光ディスクごとに、対応するレーザ光源を各々用意する必要があり、光ピックアップ装置の部品点数は増加する。このため、レーザ光源などの構成部品の実装集積密度があがらず、光ピックアップ装置の小型化、低コスト化を妨げる要因となっていた。
【０００５】
前記複数の異なるフォーマットの光ディスクに対応する従来の光ピックアップ装置として、高密度光ディスク、ＤＶＤおよびＣＤの３つのフォーマットの光ディスクに対応する光ピックアップ装置の光学系の構成を図４に示す。４０１は高密度光ディスク用レーザ光源、４０２はＤＶＤ用レーザ光源、４０３はＣＤ用レーザ光源であり、搭載する半導体レーザの高密度光ディスク用光ビーム発光点４ａ、ＤＶＤ用光ビーム発光点４ｂ、ＣＤ用光ビーム発光点４ｃよりそれぞれ高密度光ディスク用光ビーム４０ａ、ＤＶＤ用光ビーム４０ｂ、ＣＤ用光ビーム４０ｃを出射する。光ビーム４０ａ、４０ｂ、４０ｃは各々ビームスプリッタ４０４、４０５を透過あるいは反射し、偏光ビームスプリッタ４０６へ入射する。光ビームは４０ａ、４０ｂ、４０ｃは偏光ビームスプリッタ４０６の偏光膜を透過し、コリメートレンズ４０７で平行光に変換されたあと１／４波長板４０８を通り対物レンズ４０９によって集光され、各々の光ビーム４０ａ、４０ｂ、４０ｃが対応する高密度光ディスク４１０ａあるいはＤＶＤ４１０ｂあるいはＣＤ４１０ｃ上に各々光スポットを結ぶ。さらに各々光ディスク４１０ａ、４１０ｂ、４１０ｃで反射された光は対物レンズ４０９を通り、再び１／４波長板４０８を通過し、偏光ビームスプリッタ４０６の偏光膜で反射され、集光レンズ４１１によって集光され、光検出器４１２に入射し、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号等の各種信号を得る。
【０００６】
また、前記複数の光ディスクのすべての記録再生に対応する光ピックアップ装置においては、異なるフォーマットの光ディスクごとに、対応する光源と光検出器を用意する必要があり、光ピックアップ装置の部品点数はますます増加していくと考えられる。このため、光源や光検出器の実装集積密度があがらず、光ピックアップ装置の小型化、低コスト化を妨げる要因となっていた。このため、例えば特許文献２に半導体レーザなどの光源の共通基板上への集積化や光検出器の集積化、共用化が提案されている。
【０００７】
前記複数の異なるフォーマットの光ディスクに対応する光ピックアップ装置として、図９に示すように、共通の基板１５００上に高密度用光ディスク用の光源である半導体レーザ１５０１と、ＤＶＤ用、ＣＤ用の光源であるモノリシック半導体レーザ１５０２が搭載された３波長対応の光源モジュールを用いる方式が提案されている。図９によると、光源モジュール１０５０においては、半導体レーザ１５０１の高密度光ディスク用光ビーム発光点１０５１ａ、半導体レーザ１５０２のＤＶＤ用光ビーム発光点１０５１ｂ、ＣＤ用光ビーム発光点１０５１ｃより出射された高密度光ディスク用光ビーム１０５２ａ、ＤＶＤ用光ビーム１０５２ｂ、ＣＤ用光ビーム１０５２ｃは、基板１５００上に設けられた反射面１５０３によって反射されるため、等価的な発光点１０５２ａ’、１０５２ｂ’、１０５２ｃ’より基板１５００に対して垂直な方向に、３つの波長の光ビームがほぼ平行に出射される構成となっている。以下、この等価的な発光点を１０５１ａ’、１０５１ｂ’、１０５１ｃ’を光源モジュール１０５０の発光点として扱う。
【０００８】
この光源モジュール１０５０を用いた、高密度光ディスク、ＤＶＤおよびＣＤの３つのフォーマットの光ディスクに対応する光ピックアップ装置の光学系を図１０に示す。光源モジュール１０５０に搭載された高密度光ディスク用発光点１０５１ａ’、ＤＶＤ用光ビーム発光点１０５１ｂ’、ＣＤ用光ビーム発光点１０５１ｃ’よりそれぞれ高密度光ディスク用光ビーム１０６０ａ、ＤＶＤ用光ビーム１０６０ｂ、ＣＤ用光ビーム１０６０ｃを出射する。光ビーム１０６０ａ、１０６０ｂ、１０６０ｃは各々ビームスプリッタ１６０１を透過し、コリメートレンズ１６０２で平行光に変換されたあと、１／４波長板１６０３を通り対物レンズ１６０４によって集光され、各々の光ビーム１０６０ａ、１０６０ｂ、１０６０ｃが対応する高密度光ディスク１６０５ａあるいはＤＶＤ１６０５ｂあるいはＣＤ１６０５ｃ上に各々光スポットを結ぶ。さらに各々光ディスク１６０５ａ、１６０５ｂ、１６０５ｃで反射された光は、対物レンズ１６０４を通り、再び１／４波長板１６０３を通過し、偏光ビームスプリッタ１６０１の偏光膜で反射され、集光レンズ１６０６によって集光され、光検出器１６０７に入射し、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号等の各種信号を得る。
【特許文献１】特開平１１−３３９３０７号公報（第4頁、図１）
【特許文献２】特開２００２−０２５１０４号公報（第３頁、図５）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、図４においては、レーザ光源４０１、４０２、４０３から各々出射される光ビーム４０ａ、４０ｂ、４０ｃを各々が対応する異なるフォーマットの光ディスク４１０ａ、４１０ｂ、４１０ｃへ導くために、ビームスプリッタなどの光学部品が多く必要となる。
さらに、光ディスクに対して所望の記録再生性能を実現するために、光ディスク上での光スポットの収差を十分小さくするなどの光スポットを高い品質で実現することが必要であるが、そのために、図４においては、各々のレーザ光源に搭載される半導体レーザの発光点４ａ、４ｂ、４ｃとコリメートレンズ４０７の主点を結ぶ光ビーム４０ａ、４０ｂ、４０ｃが対物レンズ４０９の中心軸とほぼ一致するように、レーザ光源４０１、４０２、４０３に対して各々２軸以上の調整を行う必要がある。
このため、このような構成を備える光ピックアップ装置においては、構成部品が多くなり、調整箇所も多くならざるを得ず、光ピックアップ装置の小型化、低コスト化の妨げとなっていた。
【００１０】
また、一般的に記録再生を行おうとする光ディスクが高密度になるに従い、より短い波長の光を出射する半導体レーザや、より開口数の高い対物レンズを用いながら、光ディスク上の光スポットに発生する収差を小さくするなど、より高い品質の光スポットを実現することが求められる。従って、図１０において、光ビーム１０６０ａ、１０６０ｂ、１０６０ｃが各々対応する高密度光ディスク１６０５ａ、ＤＶＤ１６０５ｂ、ＣＤ１６０５ｃ上に形成する光スポットのうち、最も短波長であり、最も高密度である高密度光ディスク１６０５ａに対応する高密度光ディスク用光ビーム１０６０ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にし、光スポットの品質を最も高い精度で厳密に管理する必要がある。このとき、図１０で用いられるような高い開口数の対物レンズを用い、光ビームを集光し光スポットを形成する場合、対物レンズ１６０４の中心軸１６００と、発光点１０５１ａ’とコリメートレンズ１６０２の主点を結ぶ光ビーム１０６０ａとのなす角度が大きくなるほど、対物レンズ１１０６によって集光され光ディスク上に形成される光スポットには、収差が大きく発生して歪んだ光スポットとなり、品質が劣化してしまう。したがって、図１０においては、高密度光ディスク用光ビーム１０６０ａが高密度光ディスク１１６０５ａ上に形成する光スポットの品質が最善、すなわち光スポットの収差が最小となるように、発光点１０６１ａとコリメートレンズ１６０２の主点を結ぶ光ビーム１０６０ａが対物レンズ１６０４へ入射する角度がほぼゼロとするように、すなわち発光点１０５１ａ’が対物レンズ１６０４の中心軸１６００上に配置されるように光源モジュール１０５０を２軸以上に調整された構成をとる。
【００１１】
しかしながら、光源モジュール１０５０上で発光点１０５１ａ’、１０５１ｂ’、１０５１ｃ’は互いにゼロでないある有限の距離を持って配置されるため、上記の理由により高密度光ディスク用光ビーム１０６０ａが形成する光スポットの収差を最小とするべく、発光点１０５１ａ’から出射された光ビーム１０６０ａが対物レンズ１６０４のほぼ中心軸１６００上に配置されるように光源モジュール１０５０５０を調整した場合、他の発光点１０５１ｂ’、１０５１ｃ’とコリメートレンズ１６０２の主点を結ぶ光ビーム１０６０ｂ、１０６０ｃは対物レンズ１６０５へある角度α、βを持って入射する。そのため、上記に述べた理由によりＤＶＤ１６０５ｂ、ＣＤ１６０５ｃ上に形成される光スポットには収差が発生し、光スポットの品質が劣化し記録再生性能が劣ってしまうという問題点がある。
【００１２】
特に、発光点１０５１ａ’から最も離れた位置に配置された発光点１０５１ｃ’とコリメートレンズ１６０２の主点を通る光ビーム１０６０ｃは、対物レンズへ大きな角度を持って入射することになり、ＣＤ１６０５ｃ上に形成する光スポットは収差が大きく発生した歪んだ光スポットとなり、ＣＤ１６０５ｃの記録再生性能が大きく劣ってしまう。
【００１３】
本発明は、上述した問題点に着目してなされたものであり、複数のフォーマットの光ディスクの記録再生性能を実現することが可能となり、構成部品の少なく調整箇所の少ない簡素な構成で小型で低コストの光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【００１４】
また、本発明は、上述した問題点に着目してなされたものであり、最も高密度な情報記録媒体に対する記録再生性能を十分確保しながら、他の２つの発光点が対応する情報記録媒体の記録再生性能を保証することができ、複数の発光点を集積した簡素な構成の光源モジュールにて複数のフォーマットの情報記録媒体の記録再生性能を満足する、簡素で小型の光ピックアップ装置を低コストで提供することを目的とする。
【００１５】
さらに、本発明は、最も高い速度での記録性能を十分確保しながら、他の２つの発光点が対応する情報記録媒体の記録再生性能を保証することができ、複数の発光点を集積した簡素な構成の光源モジュールにて複数のフォーマットの情報記録媒体の記録再生性能を実現することが可能となり、構成部品の少なく調整箇所の少ない簡素な構成で小型で低コストの光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【００１６】
さらに、本発明は、光源モジュールの低コスト化を実現することが可能となり、小型で低コストの光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【００１７】
加えて、本発明では、複数の発光点を搭載しながらも、より簡素な構成の光源モジュールで複数の情報記録媒体に対して所望の記録再生特性を確保することが可能となる、小型で安価な光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明の光ピックアップ装置は、光ビームをそれぞれ出射する第１、第２、第３の発光点と、前記第１、第２および第３の発光点から出射された前記光ビームを対物レンズに導く光学系と、前記光学系によって導かれた前記光ビームを情報記録媒体に集光する対物レンズと、前記情報記録媒体からの反射光を検出する光検出器とを備えた光ピックアップ装置であって、前記第１、第２、第３の発光点から出射される光ビームの波長をそれぞれλ１、λ２、λ３とするとき、λ１＜λ２＜λ３の関係を満たし、前記対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸と前記第１、第２、第３の発光点との距離をそれぞれＬ１、Ｌ２、Ｌ３とするとき、Ｌ１＝Ｌ２＜Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たし、これにより、上記目的が達成される。
【００１９】
本発明の他の光ピックアップ装置は、光ビームをそれぞれ出射する第１、第２、第３の発光点と、前記第１、第２および第３の発光点から出射された前記光ビームを対物レンズに導く光学系と、前記光学系によって導かれた前記光ビームを情報記録媒体に集光する対物レンズと、前記情報記録媒体からの反射光を検出する光検出器とを備えた光ピックアップ装置であって、前記第１、第２、第３の発光点から出射される光ビームの最大出力をそれぞれＰ１、Ｐ２、Ｐ３とするとき、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ３の関係を満たし、前記対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸と前記第１、第２、第３の発光点との距離をそれぞれＬ１、Ｌ２、Ｌ３とするとき、Ｌ１＝Ｌ２＜Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たし、これにより、上記目的が達成される。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、３つの発光点から各々出射される光ビームから光ディスク上に形成される光スポットにおいて、各々が対応するフォーマットの光ディスクに対して所望の記録再生性能を実現するため、必要な品質を実現することが可能であり、複数のフォーマットの光ディスクの記録あるいは再生に対応する光ピックアップ装置の記録再生性能の改善、構成の簡素化および小型化、低コスト化に有効である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
（実施の形態１）
本発明の一実施形態の光ピックアップ装置の要部構成を図１Ａに示す。
【００２２】
第１のレーザ光源１０１は第１の波長の半導体レーザ１０ａを有し、発光点１ａより第１の波長の光ビーム１１ａを出射し、第２のレーザ光源１０２は、第２の波長の光ビーム１１ｂを出射する第２の波長の半導体レーザ１０ｂと第３の波長の光ビーム１１ｃを出射する第３の波長の半導体レーザ１０ｃとを有し、光ビーム１１ｂ、１１ｃが各々の発光点１ｂ、１ｃより出射される。３つの異なる波長の光ビーム１１ａ、１１ｂ、１１ｃはそれぞれ、第１の光ディスク１０７ａ、第２の光ディスク１０７ｂ、第３の光ディスク１０７ｃの記録または再生に対応する。また、光ビームの波長について、第１の波長をλ１、第２の波長をλ２、第３の波長をλ３とすると、λ１＜λ２＜λ３となっており、第１の光ディスク、第２の光ディスク、第３の光ディスクの順でより高密度なフォーマットとなっている。
【００２３】
図１Ａによると、第１のレーザ光源１０１の半導体レーザ１０ａから出射された第１の波長の光ビーム１１ａは、ビームスプリッタ１０３、１０４を透過し、コリメートレンズ１０５へ入射する。一方、第２のレーザ光源１０２の半導体レーザ１０ｂ、１０ｃから各々出射された第２の波長の光ビーム１１ｂおよび第３の波長の光ビーム１１ｃは、ビームスプリッタ１０３で反射され、ビームスプリッタ１０４を透過しコリメートレンズ１０５へ入射する。
【００２４】
コリメートレンズ１０５へ入射した各々の光ビーム１１ａ、１１ｂ、１１ｃは平行光へ変換され、対物レンズ１０６へ入射し、各々の対応する光ディスク１０７ａ、１０７ｂ、１０７ｃ照射され、各々光スポットを結ぶ。各々の光ディスクから反射された光ビームは、対物レンズ１０６、コリメートレンズ１０５を透過し、ビームスプリッタ１０４により反射されて集光レンズ１０８で集光されて光検出器１０９へ入射し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等の各種信号を得る。
【００２５】
ここで、光検出器１０９へ入射する各々の光ビームから各種信号を得るには、一般的に光ピックアップ装置で用いられる非点収差法などのフォーカス検出方式、プッシュプル法などのトラッキング検出方式を用いることによって容易に実現可能であるため、図１Ａにおいて詳細な説明は省略するが、以下に述べる本発明の効果はこれらの検出する方式や構成によって限定されるものではない。
【００２６】
また、図１Ａにおいて、１００は対物レンズの中心軸である。対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸が定義されている。本明細書において、ある軸に「光学的に一致する」とは、その軸そのものに一致する場合に加えて、ある光学系を経由することにより、その軸に一致することとなる場合をも含むものとする。図１Ａに示される例では、２つの基準軸が存在する。第１の基準軸は、第１のレーザ光源１０１から対物レンズ１０６に向かう方向に沿っている。第１の基準軸は、光ビーム１１ａと重なっているため、図１Ａでは光ビーム１１ａを示す実線として示されている。第２の基準軸は、第２のレーザ光源１０２からビームスプリッタ１０３を経由して対物レンズ１０６に向かう方向に沿っている。第２の基準軸は、光ビーム１１ｂと重なっているため、図１Ａでは光ビーム１１ｂを示す破線として示されている。
【００２７】
ここで、一般的に記録再生を行おうとする光ディスクが高密度になるに従い、より短い波長の光を出射する半導体レーザや、より開口数の高い対物レンズを用いながら、光ディスク上の光スポットに発生する収差を小さくするなど、より高い品質の光スポットを実現することが求められる。さらに、光スポットに発生する代表的な収差は光ビームの波長に反比例して、また対物レンズの開口数に比例して大きくなるため、より高密度の光ディスクの記録再生に対応する光スポットには、より厳密でより高い品質が求められることになる。従って、本実施形態の光ピックアップ装置では、光ビーム１１ａ、１１ｂ、１１ｃが各々対応する光ディスク１０７ａ、１０７ｂ、１０７ｃ上に形成する光スポットにおいては、最も短波長であり、最も高密度である第１の光ディスク１０７ａに対応する第１の波長の光ビーム１１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にし、光スポットの品質を最も高い精度で厳密に管理する必要がある。続いて、第２の波長の光ビームによる光スポット、第３の波長の光ビームによる光スポット、の順序でより収差の小さい、より高い品質の光スポットを実現する必要がある。
【００２８】
ところが、本実施形態において、図１Ｂに示すように、対物レンズ１０６の中心軸１００に対して、レーザ光源１０１に搭載された半導体レーザ１０ａの発光点１ａがある距離Ｌをもつ場合、半導体レーザ１０ａの発光点１ａとコリメートレンズ１０５の主点とを結ぶ光ビーム１１ａは、対物レンズ１０６へある角度θをもって入射する。このとき、本実施形態で用いられるような高い開口数の対物レンズを用いて光ビームを集光し光スポットを形成する場合、対物レンズ１０６の中心軸１００と、半導体レーザ１０ａの発光点１ａとコリメートレンズ１０５の主点を結ぶ光ビーム１１ａとの角度θが大きくなるほど、対物レンズ１０６によって集光され光ディスク上に形成される光スポットには収差が大きく発生して歪んだ光スポットとなり、品質が劣化、記録再生性能の劣化が発生する。このとき、上記に述べたように、光スポットに発生する収差量は光ビームの波長が短いほど大きくなる。なお、図１Ｂにおいては、光ビーム１１ｂ、１１ｃ、およびその反射光については図示を省略してある。
【００２９】
従って、本実施形態では、第１のレーザ光源１０１に搭載された第１の波長の半導体レーザ１０ａの発光点１ａ、レーザ光源１０２に搭載された第２の波長の半導体レーザ１０ｂの発光点１ｂとコリメートレンズ１０５の主点を結ぶ光ビーム１１ａ、１１ｂが対物レンズ１０６へ入射する角度がそれぞれほぼゼロとなるように、すなわち、それぞれの発光点１ａ、１ｂが対物レンズ１０６の中心軸１００に光学的に一致する基準軸上に配置されるように、レーザ光源１０１と１０２とを２軸に調整し、構成することによって、光ビーム１１ａ、１１ｂから形成される光スポットに発生する収差を最小限にして光スポットの品質が最善となるように構成されている。すなわち、このときの第１、第２、第３の波長の半導体レーザ１０ａ、１０ｂ、１０ｃのそれぞれの発光点１ａ、１ｂ、１ｃと対物レンズ１０６の中心軸１００に光学的に一致する基準軸との相対距離をＬ１、Ｌ２、Ｌ３とするとＬ１＝０、Ｌ２＝０、Ｌ３は０以外、かつＬ１＝Ｌ２＜Ｌ３となっている。
【００３０】
このとき、第２のレーザ光源１０２に搭載された第３の波長の半導体レーザ１０ｃの発光点１ｃは、同じ第２のレーザ光源１０２に搭載された第２の波長の半導体レーザ１０ｂの発光点１ｂとある距離だけ離れて配置されているため、第３の波長の半導体レーザ１０ｃの発光点１ｃと対物レンズ１０６の中心軸１００に光学的に一致する基準軸との距離Ｌ３はゼロでないある値をとるため、半導体レーザ１０ｃの発光点１ｃとコリメートレンズ１０５の主点を結ぶ第３の波長の光ビーム１１ｃは、対物レンズ１０６に対して角度βをもって入射するため、光ビーム１１ｃが光ディスク１０７ｃ上へ形成する光スポットには収差が発生する。そのため、第３の波長の半導体レーザ１０ｃの発光点１ｃが対物レンズ１０６の中心軸１００に光学的に一致する基準軸上に配置され、角度βがゼロとなるとき、すなわちＬ３がゼロとなるときに形成される理想的な光スポットと比較するとその品質は劣化する。
【００３１】
一方、光ビーム１１ｃが対応する第３の光ディスク１０７ｃは最も低密度であるために、所望の記録再生性能を実現するための光スポットに発生する収差の許容量は比較的大きい。そこで、本実施形態のように、収差が発生し品質の劣化した光ビーム１１ｃから形成された光スポットによる第３の光ディスク１０７ｃの記録再生性能が、光ピックアップ装置に要求される性能の許容範囲内となるような角度βを設定しＬ３を設定することにより、レーザ光源１０２に搭載した半導体レーザ１０ｂ、１０ｃの発光点１ｂ、１ｃの間の距離などの配置を設定することができるため、本実施形態においては第３の光ディスク１０７ｃに対しても十分に高い記録再生性能を確保することが可能となる。
【００３２】
このように、本実施形態では、対応する３つの光ディスクのうち、２つのより高密度なディスクである第１の光ディスク１０７ａ、第２の光ディスク１０７ｂの記録再生性能を実現するために、厳密な管理が必要となる第１および第２の波長の光ビーム１１ａ、１１ｂによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるように２つのレーザ光源１０１、１０２を各々最適調整しながら、第３の波長の光ビーム１１ｃによる光スポットに発生する収差量を許容される範囲内に抑えることが可能となり、３つの異なるフォーマットの光ディスクに対する記録再生性能を実現できるため、第２のレーザ光源１０２のような複数の波長の異なる光ビームを出射する発光点を搭載するレーザ光源を用いる場合においても、発光点とコリメートレンズの主点とを結ぶ光ビームの光軸と対物レンズの中心軸とをそれぞれ一致させるため、光学素子などの構成部品を設ける必要がなく、またそれに付随する構成部品の調整などが不要となるため、簡素な構成で３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて大きな効果を有する。
【００３３】
さらに、本実施形態におけるレーザ光源１０２のように、波長の異なる光ビームを出射する複数の発光点を搭載するレーザ光源を用いることで、構成部品が少なく調整箇所の少ない簡素な構成で３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現することが可能であり、小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて有効である。
【００３４】
なお、本実施形態においては、第１ の波長の発光点１ａを搭載する第１のレーザ光源
１０１と、第２の波長の発光点１ｂと第３の波長の発光点１ｃを搭載する第２のレーザ光源１０２との２つのレーザ光源を用いる場合について述べたが、第１のレーザ光源１０１が第２の波長の発光点１ｂを搭載し光ビーム１１ｂを出射し、第２のレーザ光源１０２が第１の波長の発光点１ａと第３の波長の発光点１ｃを搭載し光ビーム１１ａ、１１ｃを出射する場合についても効果は同様である。すなわち、最も波長の長い光ビームを出射する第３の波長の発光点と第１あるいは第２のいずれかの波長の光ビームを出射する発光点とを共通のパッケージに集積したレーザ光源を用いることにより、上記に述べたように簡素な構成で３つの異なる光ディスクの記録再生性能を実現することが可能となり、３つの異なるフォーマットの光ディスクの記録あるいは再生に対応する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて大きな効果を有する。
【００３５】
また、本実施形態においては、レーザ光源１０２に搭載された２つの半導体レーザ１０ｂ、１０ｃが各々１つの発光点を有し、各々互いに波長の異なる光ビーム１１ｂ、１１ｃを出射する場合について述べたが、１つの半導体レーザが２つの発光点１ｂ、１ｃを有し、各々から波長の異なる光ビームを出射する構成においても本発明の効果は同様であり、本実施形態のようなレーザ光源の構成に限定されるものではない。
【００３６】
加えて、本実施形態において、レーザ光源１０１、１０２のいずれかあるいは両方が、搭載する発光点から出射される光ビームに対応する光ディスクからの反射光を検出する光検出器を搭載し共通のパッケージ内に集積される場合には、さらなる部品点数の削減、調整箇所の削減が可能となり、３つの異なるフォーマットの光ディスクの記録あるいは再生に対応する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて有効である。
【００３７】
また、本実施形態においては、光ビームは１本の光ビームで構成される場合について述べたが、光ビームがホログラム素子などの光学素子で複数本のビームへ分割されている場合においても、複数本の光ビームのうち主ビームについて本発明を適用することにより効果は同様である。
【００３８】
（実施の形態２）
本発明の他の実施形態の光ピックアップ装置の要部構成を図２に示す。第１のレーザ光源２０１は第１の波長の半導体レーザ２０ａを有し、発光点２ａより第１の波長の光ビーム２１ａを出射し、第２のレーザ光源２０２は、第２の波長の光ビーム２１ｂを出射する第２の波長の半導体レーザ２０ｂと、第３の波長の光ビーム２１ｃを出射する第３の波長の半導体レーザ２０ｃとを有し、光ビーム２１ｂ、２１ｃが各々の発光点２ｂ、２ｃより出射される。３つの異なる波長の光ビーム２１ａ、２１ｂ、２１ｃはそれぞれ、第１の光ディスク２０７ａ、第２の光ディスク２０７ｂ、第３の光ディスク２０７ｃの記録または再生に対応する。また、光ビームの波長については、第１の波長をλ１、第２の波長をλ２、第３の波長をλ３とすると、λ１＜λ２＜λ３となっており、第１の光ディスク、第２の光ディスク、第３の光ディスクの順でより高密度なフォーマットとなっている。
【００３９】
図２によると、第１のレーザ光源２０１の半導体レーザ２０ａから出射された第１の波長の光ビーム２１ａは、ビームスプリッタ２０３、２０４を透過し、コリメートレンズ２０５へ入射する。一方、第２のレーザ光源２０２の半導体レーザ２０ｂ、２０ｃから各々出射された第２の波長の光ビーム２１ｂおよび第３の波長の光ビーム２１ｃは、ビームスプリッタ２０３で反射され、ビームスプリッタ２０４を透過し、コリメートレンズ２０５へ入射する。コリメートレンズ２０５へ入射した各々の光ビーム２１ａ、２１ｂ、２１ｃは平行光へ変換され、対物レンズ２０６へ入射し、各々の対応する光ディスク２０７ａ、２０７ｂ、２０７ｃへ照射され、各々光スポットを結ぶ。各々の光ディスクから反射された光ビームは、対物レンズ２０６、コリメートレンズ２０５を透過し、ビームスプリッタ２０４により反射されて集光レンズ２０８で集光されて光検出器２０９へ入射し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等の各種信号を得る。ここで、光検出器２０９へ入射する各々の光ビームから各種信号を得るには、一般的に光ピックアップ装置で用いられる非点収差法などのフォーカス検出方式、プッシュプル法などのトラッキング検出方式を用いることによって容易に実現可能であるため、図２において詳細な説明は省略するが、以下に述べる本発明の効果はこれらの検出する方式や構成によって限定されるものではない。
【００４０】
また、図２において、２００は対物レンズ２０６の中心軸である。対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸が定義されている。図２に示される例では、２つの基準軸が存在する。第１の基準軸は、第１のレーザ光源２０１から対物レンズ２０６に向かう方向に沿っている。第１の基準軸は、光ビーム２１ａと重なっているため、図２では光ビーム２１ａを示す実線として示されている。第２の基準軸は、第２のレーザ光源２０２からビームスプリッタ２０３を経由して対物レンズ２０６に向かう方向に沿っている。第２の基準軸は、図２では一点鎖線として示されている。
【００４１】
ここで、前述したように、記録再生を行おうとする光ディスクが高密度になるに従って、より短い波長の光を出射する半導体レーザや、より開口数の高い対物レンズを用いながら、光ディスク上の光スポットに発生する収差を小さくするなど、より高い品質の光スポットを実現することが求められる。さらに、光スポットに発生する代表的な収差は光ビームの波長に反比例して、また対物レンズの開口数に比例して大きくなるため、より高密度の光ディスクの記録再生に対応する光スポットにはより厳密でより高い品質が求められることになる。
【００４２】
従って、本実施形態の光ピックアップ装置においては、光ビーム２１ａ、２１ｂ、２１ｃが各々対応する光ディスク２０７ａ、２０７ｂ、２０７ｃ上に形成する光スポットにおいては、最も短波長であり、最も高密度である第１の光ディスク２０７ａに対応する第１の波長の光ビーム２１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にし、光スポットの品質を最も高い精度で厳密に管理する必要がある。続いて、第２の波長の光ビームによる光スポット、第３の波長の光ビームによる光スポット、の順序でより収差の小さい、より高い品質の光スポットを実現する必要がある。
【００４３】
ところが、上記に述べたように、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸に対して、半導体レーザの発光点がある距離Ｌ’をもつ場合、半導体レーザの発光点とコリメートレンズの主点を結ぶ光ビームとは、対物レンズに対してある角度θ’をもって入射するが、本実施形態で用いられるような高い開口数の対物レンズを用いて光ビームを集光し光スポットを形成する場合、この角度θ’が大きくなるほど、対物レンズによって集光され光ディスク上に形成される光スポットには収差が大きく発生して歪んだ光スポットとなり、品質が劣化、記録再生性能の劣化が発生する。このとき、上記に述べたように、光スポットに発生する収差量は光ビームの波長が短いほど大きくなる。
【００４４】
そこで、本実施形態では、第１のレーザ光源２０１に搭載された第１の波長の半導体レーザ２０ａの発光点２ａと、コリメートレンズ２０５の主点を結ぶ光ビーム２１ａとが対物レンズ２０６へ入射する角度がほぼゼロとなるように、すなわち、発光点２ａが対物レンズ２０６の中心軸２００上に配置されるように、レーザ光源２０１を２軸に調整し、構成することによって、光ビーム２１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にして光スポットの品質が最善となるように構成されている。
【００４５】
さらに、第２のレーザ光源２０２に搭載された第２の波長の半導体レーザ２０ｂの発光
点２ｂと、第３の波長の半導体レーザ２０ｃの発光点２ｃとが対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸を隔てて左右に配置され、かつ第２の波長の半導体レーザ２０ｂの発光点２ｂ、第３の波長の半導体レーザ２０ｃの発光点２ｃと対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸との相対距離Ｌ２、Ｌ３がＬ２＜Ｌ３となるように第２のレーザ光源２０２が２軸に調整され構成されている。すなわち、このときの第１、第２、第３の波長の半導体レーザ２０ａ、２０ｂ、２０ｃのそれぞれの発光点２ａ、２ｂ、２ｃと対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸との相対距離をＬ１、Ｌ２、Ｌ３とすると、Ｌ１＝０、Ｌ２は０以外、Ｌ３は０以外、かつＬ１＜Ｌ２＜Ｌ３となっている。
【００４６】
このとき、第２の波長の半導体レーザ２０ｂの発光点２ｂ、第３の波長の半導体レーザ２０ｃの発光点２ｃは、対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸との相対距離Ｌ２、Ｌ３はゼロでないある値をとるため、半導体レーザ２０ｂ、２０ｃの発光点２ｂ、２ｃとコリメートレンズ２０５の主点をそれぞれ結ぶ第２、第３の光ビーム２１ｂ、２１ｃは、対物レンズ２０６に対してそれぞれ、ある角度α’、β’をもって入射し、光ビーム２１ｂ、２１ｃが第２の光ディスク２０７ｂ、第３の光ディスク２０７ｃへ形成する光スポットには収差が発生する。そのため、第２、第３の波長の半導体レーザ２０ｂ、２０ｃの発光点２ｂ、２ｃが対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸上に配置され、角度α’、β’がそれぞれゼロのとき、すなわちＬ２、Ｌ３がゼロとなるときに形成される理想的な光スポットと比較するとその品質は劣化する。
【００４７】
しかしながら、半導体レーザ２０ｂ、２０ｃの各々の発光点２ｂ、２ｃとコリメートレンズ２０５の主点を結ぶ光ビーム２１ｂ、２１ｃのうち、より高品質な光スポットが要求される第２の波長の光ビーム２１ｂが形成する光スポットの収差を小さくし、スポット品質を最善にした場合、すなわち半導体レーザ２０ｂの発光点２ｂを対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸上に配置し、Ｌ２をゼロとした場合を考えると、第２のレーザ光源２０２において第２の波長の半導体レーザ２０ｂの発光点２ｂと、第３の波長の半導体レーザ２０ｃの発光点２ｃとは、互いにある距離だけ離れて配置されているため、第３の波長の半導体レーザ２０ｃの発光点２ｃと対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸との距離Ｌ３は大きく、第３の光スポットに発生する収差が大きくなり、第３の光ディスク２０７ｃの記録再生性能は大きく劣化する。
【００４８】
そこで、Ｌ２＞０に設定し、第２の波長の光ビーム２１ｂが形成する光スポットに発生する収差量を、第２の光ディスク２０７ｂに対して所望の記録再生性能を実現するため、光スポットに許容される収差量の範囲内で実現すると同時に、第３の波長の光ビーム２１ｃが形成する光スポットに発生する収差量を第３の光ディスク２０７ｃに対して所望の記録再生性能を実現するために光スポットに許容される収差量の範囲内で実現するように、レーザ光源２０２の２つの半導体レーザ２０ｂ、２０ｃの発光点２ｂ、２ｃ間の距離およびＬ２、Ｌ３を設定することで第２の光ディスク２０７ｂおよび第３の光ディスク２０７ｃに対して所望の記録再生性能を実現することが可能となる。
【００４９】
ここで、レーザ光源２０２において、ある距離をもって配置されている２つの半導体レーザ２０ｂ、２０ｃの発光点２ｂ、２ｃを、対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸を隔てて左右に配置する構成をとることにより、Ｌ２、Ｌ３を小さくすることができるため、光ビーム２１ｂ、２１ｃによる光スポットに発生する収差をより小さくすることが可能となる。
【００５０】
さらにこのとき、上述した理由により、第２の光ビームによる光スポットに対してより収差を小さくし、より高い品質の光スポットを形成する必要があるため、第２の波長の半導体レーザ２０ｂの発光点２ｂとコリメートレンズ２０５とを結ぶ光ビーム２１ｂが、対物レンズへ入射する角度α’がより小さくなるように、すなわち、第２の波長の半導体レーザ２０ｂの発光点２ｂと対物レンズ２０６の中心軸２００に光学的に一致する基準軸との相対距離Ｌ２がより小さくなるようにＬ２＜Ｌ３に設定する。
一方で、上述した理由により、収差が発生する第２、第３の光ビーム２１ｂ、２１ｃによる光スポットによる記録再生性能が所望の記録再生性能の許容範囲内で収まるならば、Ｌ２とＬ３とを等しく設定することも可能である。
【００５１】
このように、本実施形態では、対応する３つの光ディスクのうち、最も高密度なディスクである第１の光ディスク２０７ａの記録再生性能を実現するため、厳密な管理が必要となる第１の波長の光ビーム２１ａによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるようにレーザ光源を最適調整し、かつ第２の波長の光ビーム２１ｂによる光スポット、第３の波長の光ビーム２１ｃによる光スポットに対して発生する収差を所望の記録再生性能を実現できる許容範囲内に収めることによって、３つの異なるフォーマットの光ディスクに対する所望の記録再生性能を実現できるため、第２のレーザ光源２０２のような複数の波長の異なる光ビームを出射する発光点を用いた場合においても、発光点とコリメートレンズの主点とを結ぶ光ビームの光軸と対物レンズの中心軸とをそれぞれ一致させるために光学素子などを設ける必要がなく、またそれに付随する構成部品の調整などが不要となるため、簡素な構成で３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて大きな効果を有する。
【００５２】
加えて、本実施形態のように、第３の光ディスクに対して所望の記録再生性能を実現するために、光スポットに許容される収差量の許容範囲が小さく、Ｌ３を小さくする必要がある場合には、特に有効である。
【００５３】
さらに、本実施形態のように、レーザ光源２０２のような複数の波長の異なる光ビームを出射する発光点を搭載するレーザ光源を用いることで、構成部品の少なく調整箇所の少ない簡素な構成で、３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて有効である。
【００５４】
なお、本実施形態においては、レーザ光源２０２に搭載された２つの半導体レーザ２０ｂ、２０ｃが各々１つの発光点を有し、各々互いに波長の異なる光ビーム２１ｂ、２１ｃを出射する場合について述べたが、１つの半導体レーザが２つの発光点２ｂ、２ｃを有し、各々から波長の異なる光ビームを出射する構成でも、本発明の効果は同様であり、本実施形態のようなレーザ光源の構成に限定されるものではない。
【００５５】
加えて、本実施形態において、レーザ光源２０１、２０２のいずれかあるいは両方が、搭載する発光点から出射される光ビームに対応する光ディスクからの反射光を検出する光検出器を搭載し、共通のパッケージ内に集積される場合には、さらなる部品点数の削減、調整箇所の削減が可能となり、３つの異なるフォーマットの光ディスクの記録あるいは再生に対応する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて有効である。
【００５６】
さらに、本実施形態においては、光ビームは１つの光ビームで構成される場合について述べたが、光ビームがホログラム素子などの光学素子で複数のビームへ分割されている場合においても、複数の光ビームのうち主ビームについて本発明を用いることにより効果は同様である。
【００５７】
（実施の形態３）
本発明の別の実施形態の光ピックアップ装置の要部構成を図３に示す。レーザ光源３０１は互いに波長の異なる、第１の波長の半導体レーザ３０ａ、第２の波長の半導体レーザ３０ｂ、第３の波長の半導体レーザ３０ｃを搭載し、各々が有す発光点３ａ、３ｂ、３ｃより第１の波長の光ビーム３１ａ、第２の波長の光ビーム３１ｂ、第３の波長の光ビーム３１ｃが出射される、３つの発光点が共通のパッケージに集積された構成をとる。３つの波長の光ビーム３１ａ、３１ｂ、３１ｃはそれぞれ、第１の光ディスク３０５ａ、第２の光ディスク３０５ｂ、第３の光ディスク３０５ｃの記録または再生に対応する。また、光ビームの波長について、第１の波長をλ１、第２の波長をλ２、第３の波長をλ３とすると、λ１＜λ２＜λ３となっており、第１の光ディスク、第２の光ディスク、第３の光ディスクの順でより高密度なフォーマットとなっている。
【００５８】
図３によると、レーザ光源３０１から出射された光ビーム３１ａ、３１ｂ、３１ｃは各々ビームスプリッタ３０２を透過し、コリメートレンズ３０３へ入射し平行光へ変換され、対物レンズ３０４へ入射し、それぞれの対応する光ディスク３０５ａ、３０５ｂ、３０５ｃへ照射され、各々光スポットを結ぶ。各々の光ディスクからの反射された光ビームは、対物レンズ３０４、コリメートレンズ３０３を透過し、ビームスプリッタ３０２により反射されて集光レンズ３０６で集光されて光検出器３０７へ入射し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等の各種信号を得る。ここで、光検出器３０７へ入射する各々の光ビームから各種信号を得るには、一般的に光ピックアップ装置で用いられる非点収差法などのフォーカス検出方式、プッシュプル法などのトラッキング検出方式を用いることによって容易に実現可能であるため、図３において詳細な説明は省略するが、以下に述べる本発明の効果はこれらの検出する方式や構成によって限定されるものではない。また図３において、３００は対物レンズ３０４の中心軸である。図３に示される例では、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸は、光ビーム３１ａと重なっており、実線で示されている。
【００５９】
ここで、前述したように、記録再生を行おうとする光ディスクが高密度になるに従って、より短い波長の光を出射する半導体レーザや、より開口数の高い対物レンズを用いながら、光ディスク上の光スポットに発生する収差を小さくするなど、より高い品質の光スポットを実現することが求められる。さらに、光スポットに発生する代表的な収差は光ビームの波長に反比例して、また対物レンズの開口数に比例して大きくなるため、より高密度の光ディスクの記録再生に対応する光スポットにはより厳密でより高い品質が求められることになる。
【００６０】
従って、本実施形態の光ピックアップ装置においては、光ビーム３１ａ、３１ｂ、３１ｃが各々対応する光ディスク３０５ａ、３０５ｂ、３０５ｃ上に形成する光スポットにおいては、最も短波長であり、最も高密度である第１の光ディスク３０５ａに対応する第１の波長の光ビーム３１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にし、光スポットの品質を最も高い精度で厳密に管理する必要がある。続いて、第２の波長の光ビームによる光スポット、第３の波長の光ビームによる光スポット、の順序でより収差の小さい、より高い品質の光スポットを実現する必要がある。
【００６１】
一方、上記に述べたように、対物レンズの中心軸（もしくは、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸）に対して、半導体レーザの発光点がある距離Ｌ”をもつ場合、半導体レーザの発光点とコリメートレンズの主点を結ぶ光ビームは、対物レンズに対してある角度θ”をもって入射するが、本実施形態で用いられるような高い開口数の対物レンズを用いて光ビームを集光し光スポットを形成する場合、この角度θ”が大きくなるほど、対物レンズによって集光され光ディスク上に形成される光スポットには収差が大きく発生して歪んだ光スポットとなり、品質が劣化、記録再生性能の劣化が発生する。このとき、上記に述べたように、光スポットに発生する収差量は光ビームの波長が短いほど大きくなる。
【００６２】
そこで、本実施形態では、レーザ光源３０１に搭載された第１の波長の半導体レーザ３０ａの発光点３ａと、コリメートレンズ３０３の主点を結ぶ光ビーム３１ａとが対物レンズ３０４へ入射する角度がほぼゼロとなるように、すなわち、発光点３ａが対物レンズ３０４の中心軸３００上に配置されるようにレーザ光源３０１を２軸に調整し、構成することによって、光ビーム３１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にして光スポットの品質が最善となるように構成されている。
【００６３】
さらに、レーザ光源３０１に搭載された第２の波長の半導体レーザ３０ｂの発光点３ｂと、第３の波長の半導体レーザ３０ｃの発光点３ｃとが対物レンズ３０４の中心軸３００を隔てて左右に配置され、かつ第２の波長の半導体レーザ３０ｂの発光点３ｂ、第３の波長の半導体レーザ３０ｃの発光点３ｃと対物レンズ３０４の中心軸３００との各々の相対距離Ｌ２、Ｌ３がＬ２＜Ｌ３となるように構成されている。すなわち、このときの第１、第２、第３の波長の半導体レーザ３０ａ、３０ｂ、３０ｃのそれぞれの発光点３ａ、３ｂ、３ｃと対物レンズ３０４の中心軸３００との相対距離をＬ１、Ｌ２、Ｌ３とすると、Ｌ１＝０、Ｌ２は０以外、Ｌ３は０以外、かつＬ１＜Ｌ２＜Ｌ３となっている。このとき、第２の波長の半導体レーザ３０ｂの発光点３ｂ、第３の波長の半導体レーザ３０ｃの発光点３ｃは、対物レンズ３０４の中心軸との相対距離Ｌ２、Ｌ３はゼロでないある値をとるため、半導体レーザ３０ｂ、３０ｃの発光点３ｂ、３ｃとコリメートレンズ３０３の主点とをそれぞれ結ぶ第２、第３の光ビーム３１ｂ、３１ｃは、対物レンズ３０４に対してそれぞれある角度α”、β”をもって入射し、光ビーム３１ｂ、３１ｃが第２の光ディスク３０５ｂ、第３の光ディスク３０５ｃへ形成する光スポットには収差が発生する。そのため、第２、第３の波長の半導体レーザ３０ｂ、３０ｃの発光点３ｂ、３ｃが対物レンズ３０４の中心軸３００上に配置され、角度α”、β”がゼロのとき、すなわちＬ２、Ｌ３がゼロとなるときに形成される理想的な光スポットと比較するとその品質は劣化する。
【００６４】
そこで、上述した理由により、第２の波長の光ビーム３１ｂによる光スポットに対してより収差を小さくし、より高い品質の光スポットを形成する必要があるため、第２の波長の半導体レーザ３０ｂの発光点３ｂと、コリメートレンズ３０３を結ぶ光ビーム３１ｂとが対物レンズへ入射する角度α”がより小さくなるように、すなわち、第２の波長の半導体レーザ３０ｂの発光点３ｂと対物レンズ３０４の中心軸３００との相対距離Ｌ２がより小さくなるように、Ｌ２＜Ｌ３に設定しながら、第２の波長の光ビーム３１ｂが形成する光スポットに発生する収差量を、第２の光ディスク３０５ｂに対して所望の記録再生性能を実現するため光スポットに許容される収差量の範囲内で実現すると同時に、第３の波長の光ビーム３１ｃが形成する光スポットに発生する収差量を、所望の記録再生性能を実現するために光スポットに許容される収差量の範囲内で実現するように、２つの半導体レーザ３０ｂ、３０ｃの発光点３ｂ、３ｃ間の距離およびＬ２、Ｌ３を設定することで、第２および第３の光ディスクに対して所望の記録再生性能を実現することが可能となる。
【００６５】
ここで、レーザ光源３０１において、ある距離をもって配置されている３つの半導体レーザのうち、３０ｂ、３０ｃの発光点３ｂ、３ｃを、対物レンズ３０４の中心軸３００を隔てて左右に配置する構成をとることにより、Ｌ２、Ｌ３を小さくすることができるため、光ビーム３１ｂ、３１ｃによる光スポットに発生する収差をより小さくすることが可能となる。
【００６６】
また、収差が発生した第２、第３の光ビーム３１ｂ、３１ｃによる光スポットによる記録再生性能が所望の記録再生性能の許容範囲内で収まるならば、Ｌ２とＬ３とを等しく設定することも可能である。
【００６７】
このように、本実施形態では、対応する３つの光ディスクのうち、最も高密度なディスクである第１の光ディスク３０５ａの記録再生性能を実現するため、厳密な管理が必要となる第１の波長の光ビーム３１ａによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるようにレーザ光源３０１を最適調整し、かつ第２の波長の光ビーム３１ｂによる光スポット、第３の波長の光ビーム３１ｃによる光スポットに対して発生する収差を所望の記録再生性能を実現できる許容範囲内に収めることによって、３つの異なるフォーマットの光ディスクに対する所望の記録再生性能を実現できるため、レーザ光源３０１のような複数の波長の異なる光ビームを出射する発光点を搭載するレーザ光源を用いた場合においても、発光点及びコリメートレンズの主点を結ぶ光ビームの光軸と対物レンズの中心軸とをそれぞれ一致させるために光学素子などを設ける必要がなく、またそれに付随する構成部品の調整などが不要となるため、簡素な構成で３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて大きな効果を有する。
【００６８】
また、本実施形態においては、レーザ光源３０１に搭載された３つの半導体レーザ３０ａ、３０ｂ、３０ｃがそれぞれ１つの発光点を有し、各々互いに波長の異なる光ビーム３１ａ、３１ｂ、３１ｃを出射する場合について述べたが、レーザ光源３０１が３つの発光点を有し、波長の異なる光ビームを出射する１つの半導体レーザから構成される場合においても、また２つの発光点をもち、各々から波長の異なる光ビームを出射する半導体レーザと一つの発光点をもつ半導体レーザとから構成される場合においても、本発明の効果は同様であり、本実施形態のようなレーザ光源の構成に限定されるものではない。
【００６９】
加えて、本実施形態において、レーザ光源３０１が、搭載する発光点から出射される光ビームに対応する光ディスクからの反射光を検出する光検出器を搭載し共通のパッケージ内に集積される場合には、さらなる部品点数の削減、調整箇所の削減が可能となり、３つの異なるフォーマットの光ディスクの記録あるいは再生に対応する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて有効である。
【００７０】
さらに、本実施形態においては、光ビームは１つの光ビームで構成される場合について述べたが、光ビームがホログラム素子などの光学素子で複数のビームへ分割されている場合においても、複数の光ビームのうち主ビームについて本発明を用いることにより効果は同様である。
【００７１】
（実施の形態４）
本発明の一実施形態の光ピックアップ装置で用いる光源モジュールを図５Ａに、この光源モジュールを用いた光学系を図５Ｂに示す。図５Ａによると、光源モジュール１１０１は、互いに波長の異なる３つの、第１の波長の半導体レーザ１０１０ａ、第２の波長の半導体レーザ１０１０ｂ、第３の波長の半導体レーザ１０１０ｃを共通の基板１０１０上に並列に搭載し、各々が有す発光点１００１ａ’、１００１ｂ’、１００１ｃ’より第１の波長の光ビーム１０１１ａ、第２の波長の光ビーム１０１１ｂ、第３の波長の光ビーム１０１１ｃが出射され、共通基板１０１０に設けられた反射面１０１２によって反射されるため、等価的な発光点１００１ａ、１００１ｂ、１００１ｃより基板１０１０に対して垂直に出射される構成をとる。以下、この等価的な発光点１００１ａ、１００１ｂ、１００１ｃを光源モジュール１１０１の発光点として扱う。３つの波長の光ビーム１０１１ａ、１０１１ｂ、１０１１ｃはそれぞれ、第１の光ディスク１１０５ａ、第２の光ディスク１１０５ｂ、第３の光ディスク１１０５ｃの記録または再生に対応する。また、光ビームの波長について、第１の波長をλ１、第２の波長をλ２、第３の波長をλ３とすると、λ１＜λ２＜λ３となっており、第１の光ディスク１１０５ａ、第２の光ディスク１１０５ｂ、第３の光ディスク１１０５ｃの順でより高密度なフォーマットとなっている。
【００７２】
図５Ｂによると、光源モジュール１１０１から出射された光ビーム１０１１ａ、１０１１ｂ、１０１１ｃは各々ビームスプリッタ１１０２を透過し、コリメートレンズ１１０３へ入射し平行光へ変換され、対物レンズ１１０４へ入射し、それぞれの対応する光ディスク１１０５ａ、１１０５ｂ、１１０５ｃへ照射され、各々光スポットを結ぶ。ここで、対物レンズ１１０４は光源の波長に応じて複数個からなる場合、複数の波長の光を集光できる単体の場合がある。各々の光ディスクからの反射された光ビームは対物レンズ１１０４、コリメートレンズ１１０３を透過し、ビームスプリッタ１１０２により反射されて集光レンズ１１０６で集光されて光検出器１１０７へ入射し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等の各種信号を得る。ここで、光検出器１１０７へ入射する各々の光ビームから各種信号を得るには、一般的に光ピックアップ装置で用いられる非点収差法などのフォーカス検出方式、プッシュプル法などのトラッキング検出方式を用いることによって容易に実現可能であるため、図５Ａおよび図５Ｂにおいて詳細な説明は省略するが、以下に述べる本発明の効果はこれらの検出する方式や構成によって限定されるものではない。
【００７３】
また、図５Ｂにおいて、１１００は対物レンズ１１０４の中心軸である。図５Ｂに示される例では、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸は、光ビーム１０１１ａと重なっており、実線にて示されている。
【００７４】
ここで、一般に記録再生を行おうとする光ディスクが高密度になるに従って、より短い波長の光を出射する半導体レーザや、より開口数の高い対物レンズを用いながら、光ディスク上の光スポットに発生する収差を小さくするなど、より高い品質の光スポットを実現することが求められる。さらに、光スポットに発生する代表的な収差は光ビームの波長に反比例して、また対物レンズの開口数に比例して大きくなるため、より高密度の光ディスクの記録再生に対応する光スポットには、より厳密でより高い品質が求められることになる。従って、本実施形態の光ピックアップ装置においては、光ビーム１０１１ａ、１０１１ｂ、１０１１ｃが各々対応する光ディスク１１０５ａ、１１０５ｂ、１１０５ｃ上に形成する光スポットにおいては、最も短波長であり、最も高密度である第１の光ディスク１１０５ａに対応する第１の波長の光ビーム１０１１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にし、光スポットの品質を最も高い精度で厳密に管理する必要がある。続いて、第２の波長の光ビームによる光スポット、第３の波長の光ビームによる光スポット、の順序でより収差の小さい、より高い品質の光スポットを実現する必要がある。
【００７５】
一方、上記に述べたように、対物レンズの中心軸（もしくは、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸）に対して、半導体レーザの発光点がある距離Ｌをもつ場合、半導体レーザの発光点とコリメートレンズの主点とを結ぶ光ビームは、対物レンズに対してある角度θをもって入射するが、本実施形態で用いられるような高い開口数の対物レンズを用いて光ビームを集光し光スポットを形成する場合、この角度θが大きくなるほど、対物レンズによって集光され光ディスク上に形成される光スポットには収差が大きく発生して歪んだ光スポットとなり、品質が劣化、記録再生性能の劣化が発生する。このとき、上記に述べたように、光スポットに発生する収差量は光ビームの波長が短いほど大きくなる。
【００７６】
そこで、本実施形態では、光源モジュール１１０１に搭載された第１の波長の半導体レーザ１０１０ａの発光点１００１ａとコリメートレンズ１１０３の主点とを結ぶ光ビーム１０１１ａが、対物レンズ１１０４へ入射する角度がほぼゼロとなるように、すなわち、発光点１００１ａが対物レンズ１１０４の中心軸１１００上に配置されるように光源モジュール１１０１を２軸に調整し、構成することによって、光ビーム１０１１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にして光スポットの品質が最善となるように構成されている。
【００７７】
さらに、光源モジュール１１０１に搭載された第２の波長の半導体レーザ１０１０ｂの発光点１００１ｂと、第３の波長の半導体レーザ１０１０ｃの発光点１００１ｃが対物レンズ１１０４の中心軸１１００を隔てて左右に配置され、かつ第２の波長の半導体レーザ１０１０ｂの発光点１００１ｂ、第３の波長の半導体レーザ１０１０ｃの発光点１００１ｃと対物レンズ１１０４の中心軸１１００との各々の相対距離Ｌ２、Ｌ３がＬ２＜Ｌ３となるように構成している。すなわち、このときの第１、第２、第３の波長の半導体レーザ１０１０ａ、１０１０ｂ、１０１０ｃそれぞれの発光点１００１ａ、１００１ｂ、１００１ｃと対物レンズ１１０４の中心軸１１００との相対距離をＬ１、Ｌ２、Ｌ３とすると、Ｌ１＝０、Ｌ２は０以外、Ｌ３は０以外、かつＬ１＜Ｌ２＜Ｌ３となっている。
【００７８】
このとき、第２の波長の半導体レーザ１０１０ｂの発光点１００１ｂ、第３の波長の半導体レーザ１０１０ｃの発光点１００１ｃは、対物レンズ１１０４の中心軸１１００との相対距離Ｌ２、Ｌ３はゼロでないある値をとるため、半導体レーザ１０１０ｂ、１０１０ｃの発光点１００１ｂ、１００１ｃとコリメートレンズ１１０３の主点とをそれぞれ結ぶ第２、第３の光ビーム１０１１ｂ、１０１１ｃ、対物レンズ１１０４に対してそれぞれある角度α、βをもって入射し、光ビーム１０１１ｂ、１０１１ｃが第２の光ディスク１１０５ｂ、第３の光ディスク１１０５ｃへ形成する光スポットには収差が発生する。そのため、第２、第３の波長の半導体レーザ１０１０ｂ、１０１０ｃの発光点１００１ｂ、１００１ｃが対物レンズ１１０４の中心軸１１００上に配置され、角度α、βがゼロのとき、すなわちＬ２とＬ３とがゼロとなるときに形成される理想的な光スポットと比較するとその品質は劣化する。
【００７９】
そこで上述した理由により、第２の波長の光ビーム１０１１ｂによる光スポットに対してより収差を小さくし、より高い品質の光スポットを形成する必要があるため、第２の波長の半導体レーザ１０１０ｂの発光点１００１ｂとコリメートレンズ１１０３とを結ぶ光ビーム１０１１ｂが、対物レンズへ入射する角度αがより小さくなるように、すなわち、第２の波長の半導体レーザ１０１０ｂの発光点１００１ｂと対物レンズ１１０４の中心軸１１００との相対距離Ｌ２がより小さくなるように、Ｌ２＜Ｌ３に設定しながら、第２の波長の光ビーム１０１１ｂが形成する光スポットに発生する収差量を、第２の光ディスク１１０５ｂに対して所望の記録再生性能を実現するために、光スポットに許容される収差量の範囲内で実現すると同時に、第３の波長の光ビーム１０１１ｃが形成する光スポットに発生する収差量を、所望の記録再生性能を実現するために、光スポットに許容される収差量の範囲内で実現するように、２つの半導体レーザ１０１０ｂ、１０１０ｃの発光点１００１ｂと１００１ｃとの間の距離、およびＬ２とＬ３とを設定することで、第２および第３の光ディスクに対して所望の記録再生性能を実現することが可能となる。
【００８０】
ここで、光源モジュール１１０１において、ある距離をもって配置されている３つの半導体レーザのうち、１０１０ｂ、１０１０ｃの発光点１００１ｂおよび１００１ｃを、対物レンズ１１０４の中心軸１１００を隔てて左右に配置する構成をとることにより、Ｌ２およびＬ３を小さくすることができるため、光ビーム１０１１ｂおよび１０１１ｃによる光スポットに発生する収差をより小さくすることが可能となる。また、収差が発生した第２、第３の光ビーム１０１１ｂおよび１０１１ｃの光スポットによる記録再生性能が所望の記録再生性能の許容範囲内で収まる場合、Ｌ２とＬ３とを等しく設定することも可能である。
【００８１】
このように、本実施形態では、対応する３つの光ディスクのうち、最も高密度なディスクである第１の光ディスク１１０５ａの記録再生性能を実現するため、厳密な管理が必要となる第１の波長の光ビーム１０１１ａによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるように光源モジュール１１０１を最適調整し、かつ第２の波長の光ビーム１０１１ｂによる光スポット、第３の波長の光ビーム１０１１ｃによる光スポットに対して発生する収差を所望の記録再生性能を実現できる許容範囲内に収めることによって、３つの異なるフォーマットの光ディスクに対する所望の記録再生性能を実現できるため、光源モジュール１１０１のような複数の波長の異なる光ビームを出射する発光点を搭載する光源モジュールを用いた場合においても、発光点とコリメートレンズの主点とを結ぶ光ビームの光軸と対物レンズの中心軸とをそれぞれ一致させるための光学素子などを設ける必要がなく、またそれに付随する構成部品の調整などが不要となるため、簡素な構成で３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて大きな効果を有する。
【００８２】
また、本実施形態においては、光源モジュール１１０１に搭載された３つの半導体レーザ１０１０ａ、１０１０ｂ、１０１０ｃがそれぞれ１つの発光点を有し、各々互いに波長の異なる光ビーム１０１１ａ、１０１１ｂ、１０１１ｃを出射する場合について述べたが、光源モジュール１１０１が３つの発光点を有し、波長の異なる光ビームを出射する１つのモノリシック半導体レーザから構成される場合においても、また図６に示すような、第１の波長の光ビーム１０２１ａを出射する第１の発光点１００２ａをもつ半導体レーザ１２０２と、第２の波長の光ビーム１０２１ｂを出射する第２の発光点１００２ｂと、第３の波長の光ビーム１０２１ｃを出射する第３の発光点１００２ｃとをもつモノリシック半導体レーザ１２０３とから構成される場合においても、３つあるいは２つの光ビームを出射する半導体レーザを用いることで、光源モジュールに搭載する半導体レーザの数が減るため、光源モジュールの製造の際の半導体レーザの位置決め調整などの手順が不要または簡素になり、光源モジュールの低コスト化に効果がある。このとき、３つの光ビームのうち最も波長の短い光ビームによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるように光源モジュールを最適調整することにより、本発明の効果は同様である。
【００８３】
さらに、本実施形態においては、光ビームは１つの光ビームで構成される場合について述べたが、光ビームがホログラム素子などの光学素子で複数のビームへ分割されている場合においても、複数の光ビームのうち主ビームについて本発明を用いることにより効果は同様である。
【００８４】
（実施の形態５）
本発明の他の実施形態の光ピックアップ装置で用いる光源モジュールを図７Ａに、光学系を図７Ｂに示す。図７Ａに示すように、光源モジュール１３０１は、互いに波長の異なる、第１の波長の半導体レーザ１０３０ａ、第２の波長の半導体レーザ１０３０ｂ、第３の波長の半導体レーザ１０３０ｃを共通の基板１０３０上に並列に搭載し、各々が有す発光点１００３ａ’、１００３ｂ’、１００３ｃ’より第１の波長の光ビーム１０３１ａ、第２の波長の光ビーム１０３１ｂ、第３の波長の光ビーム１０３１ｃが出射され、共通基板１０３０に設けられた反射面１０３２によって反射されるため、等価的な発光点１００３ａ、１００３ｂ、１００３ｃより基板１０３０に対して垂直に出射される構成をとる。３つの波長の光ビーム１０３１ａ、１０３１ｂ、１０３１ｃは、それぞれ第１の光ディスク１３０５ａ、第２の光ディスク１３０５ｂ、第３の光ディスク１３０５ｃの記録または再生に対応する。また基板１０３０上には複数に分割された光検出器１０３３が集積されている。ここで、光ビームの波長について、第１の波長をλ１、第２の波長をλ２、第３の波長をλ３とすると、λ１＜λ２＜λ３となっており、第１の光ディスク１３０５ａ、第２の光ディスク１３０５ｂ、第３の光ディスク１３０５ｃの順でより高密度なフォーマットとなっている。
【００８５】
図７Ｂに示すように、光源モジュール１３０１から出射された第１の光ビーム１０３１ａあるいは第２の光ビーム１０３１ｂはコリメートレンズ１３０２を通過し、偏光ホログラム１３０３ａへ入射する。このとき、偏光ホログラム１３０３ａは１／４波長板１３０３ｂと一体化されており、光ビームの偏光方向に対しては透過させ、その方向に対して直行する方向の偏光方向に対しては回折、集光させる特徴を持つ回折格子を施してあるため、この入射光は偏光ホログラム１３０３ａを透過し１／４波長板１３０３ｂを通り円偏光に変換され、対物レンズ１３０４によって集光され、それぞれ対応する光ディスク１３０５ａ、１３０５ｂ、１３０５ｃに照射される。光ディスク１３０５ａ、１３０５ｂ、１３０５ｃで反射された光は対物レンズ１３０４を通過し、１／４波長板１３０３ｂにより円偏光から直線偏光に変換されるため、偏光ホログラム１３０３ａによって回折され、集光され光検出器１０３３に入射し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等の各種信号を得る。このとき第１の波長の光ビームの反射光については、１０３１ａ’、１０３１ａ”のようになる。ここで、光検出器１０３３へ入射する各々の光ビームから各種信号を得るには、一般的に光ピックアップ装置で用いられるスポットサイズ検出（ＳＳＤ）法などのフォーカス検出方式、プッシュプル法などのトラッキング検出方式を用いることによって容易に実現可能であるため、図７Ａおよび図７Ｂにおいて詳細な説明は省略するが、以下に述べる本発明の効果はこれらの検出する方式や構成によって限定されるものではない。
【００８６】
また、図７Ｂにおいて、１３００は対物レンズ１３０４の中心軸である。図７Ｂに示される例では、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸は、光ビーム１０３１ａと重なっており、実線にて示されている。
【００８７】
ここで、上記で述べたように、本実施形態の光ピックアップ装置においては、光ビーム１０３１ａ、１０３１ｂ、１０３１ｃが各々対応する光ディスク１３０５ａ、１３０５ｂ、１３０５ｃ上に形成する光スポットにおいては、最も短波長であり、最も高密度である第１の光ディスク１３０５ａに対応する第１の波長の光ビーム１０３１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にし、光スポットの品質を最も高い精度で厳密に管理する必要がある。続いて、第２の波長の光ビームによる光スポット、第３の波長の光ビームによる光スポット、の順序でより収差の小さい、より高い品質の光スポットを実現する必要がある。
【００８８】
一方、対物レンズ１３０４の中心軸１３００（もしくは、対物レンズ１３０４の中心軸１３００に光学的に一致する基準軸）に対して半導体レーザの発光点がある距離Ｌをもつ場合、半導体レーザの発光点とコリメートレンズ１３０２の主点とを結ぶ光ビームは、対物レンズに対してある角度θをもって入射するが、本実施形態で用いられるような高い開口数の対物レンズを用いて光ビームを集光し光スポットを形成する場合、この角度θが大きくなるほど、対物レンズによって集光され光ディスク上に形成される光スポットには収差が大きく発生して歪んだ光スポットとなり、品質が劣化、記録再生性能の劣化が発生する。このとき、上記に述べたように、光スポットに発生する収差量は光ビームの波長が短いほど大きくなる。
【００８９】
そこで、本実施形態では、光源モジュール１３０１に搭載された第１の波長の半導体レーザ１０３０ａの発光点３ａとコリメートレンズ１３０３の主点とを結ぶ光ビーム１０３１ａが、対物レンズ１３０４へ入射する角度がほぼゼロとなるように、すなわち、発光点１００３ａが対物レンズ１３０４の中心軸１３００上に配置されるように光源モジュール１３０１を２軸に調整し、構成することによって、光ビーム１０３１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にして光スポットの品質が最善となるように構成されている。
【００９０】
さらに、光源モジュール１３０１に搭載された第２の波長の半導体レーザ１０３０ｂの発光点１００３ｂと、第３の波長の半導体レーザ１０３０ｃの発光点１００３ｃとが、対物レンズ１３０４の中心軸１３００を隔てて左右に配置され、かつ第２の波長の半導体レーザ１０３０ｂの発光点１００３ｂ、第３の波長の半導体レーザ１０３０ｃの発光点１００３ｃと対物レンズ１３０４の中心軸１３００との各々の相対距離Ｌ２、Ｌ３がＬ２＜Ｌ３となるように構成されている。すなわち、このときの第１、第２、第３の波長の半導体レーザ１０３０ａ、１０３０ｂ、１０３０ｃそれぞれの発光点１００３ａ、１００３ｂ、１００３ｃと、対物レンズ１３０４の中心軸１３００との相対距離をＬ１、Ｌ２、Ｌ３とすると、Ｌ１＝０、Ｌ２は０以外、Ｌ３は０以外、かつＬ１＜Ｌ２＜Ｌ３となっている。
【００９１】
このとき、第２の波長の半導体レーザ１０３０ｂの発光点１００３ｂ、第３の波長の半導体レーザ１０３０ｃの発光点１００３ｃは、対物レンズ１３０４の中心軸１３００との相対距離Ｌ２、Ｌ３はゼロでないある値をとるため、半導体レーザ１０３０ｂ、１０３０ｃの発光点１００３ｂ、１００３ｃとコリメートレンズ１３０３の主点とをそれぞれ結ぶ第２、第３の光ビーム１０３１ｂ、１０３１ｃは、対物レンズ１３０４に対してそれぞれある角度α、βをもって入射し、光ビーム１０３１ｂ、１０３１ｃが第２の光ディスク１３０５ｂ、第３の光ディスク１３０５ｃへ形成する光スポットには収差が発生する。そのため、第２、第３の波長の半導体レーザ１０３０ｂ、１０３０ｃの発光点１００３ｂ、１００３ｃが対物レンズ１３０４の中心軸１３００上に配置され、角度α、βがゼロのとき、すなわちＬ２、Ｌ３がゼロとなるときに形成される理想的な光スポットと比較するとその品質は劣化する。
【００９２】
そこで、上述した理由により、第２の波長の光ビーム１０３１ｂによる光スポットに対してより収差を小さくし、より高い品質の光スポットを形成する必要があるため、第２の波長の半導体レーザ１０３０ｂの発光点３ｂとコリメートレンズ１３０３とを結ぶ光ビーム１０３１ｂが対物レンズへ入射する角度αがより小さくなるように、すなわち、第２の波長の半導体レーザ１０３０ｂの発光点１００３ｂと対物レンズ１３０４の中心軸１３００との相対距離Ｌ２がより小さくなるように、Ｌ２＜Ｌ３に設定しながら、第２の波長の光ビーム１０３１ｂが形成する光スポットに発生する収差量を、第２の光ディスク１３０５ｂに対して所望の記録再生性能を実現するために光スポットに許容される収差量の範囲内で実現すると同時に、第３の波長の光ビーム１０３１ｃが形成する光スポットに発生する収差量を、所望の記録再生性能を実現するために光スポットに許容される収差量の範囲内で実現するように、２つの半導体レーザ１０３０ｂ、１０３０ｃの発光点１００３ｂと１００３ｃとの間の距離およびＬ２とＬ３とを設定することで、第２および第３の光ディスクに対して所望の記録再生性能を実現することが可能となる。ここで、光源モジュール１３０１において、ある距離をもって配置されている３つの半導体レーザのうち、１０３０ｂ、１０３０ｃの発光点１００３ｂおよび１００３ｃを、対物レンズ１３０４の中心軸１３００を隔てて左右に配置する構成をとることにより、Ｌ２とＬ３とを小さくすることができるため、光ビーム１０３１ｂ、１０３１ｃによる光スポットに発生する収差をより小さくすることが可能となる。また、収差が発生した第２、第３の光ビーム１０３１ｂ、１０３１ｃによる光スポットによる記録再生性能が、所望の記録再生性能の許容範囲内で収まる場合、Ｌ２とＬ３とを等しく設定することも可能である。
【００９３】
このように、本実施の形態では、対応する３つの光ディスクのうち、最も高密度なディスクである第１の光ディスク１３０５ａの記録再生性能を実現するために、厳密な管理が必要となる第１の波長の光ビーム１０３１ａによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるように光源モジュール１３０１を最適調整し、かつ第２の波長の光ビーム１０３１ｂによる光スポット、第３の波長の光ビーム１０３１ｃによる光スポットに対して発生する収差を所望の記録再生性能を実現できる許容範囲内に収めることによって、３つの異なるフォーマットの光ディスクに対する所望の記録再生性能を実現できるため、光源モジュール１３０１のような複数の波長の異なる光ビームを出射する発光点を搭載する光源モジュールを用いた場合においても、発光点とコリメートレンズの主点とを結ぶ光ビームの光軸と対物レンズの中心軸とをそれぞれ一致させるために光学素子などを設ける必要がなく、またそれに付随する構成部品の調整などが不要となるため、簡素な構成で３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて大きな効果を有する。
【００９４】
さらに、本実施形態においては、複数の発光点と光検出器が光源モジュール１３０１に一体化されているため、光源モジュールとは別に反射光を検出するための光学部品などを用いる必要がなく、また調整などが不要になるため、より簡素な構成で複数の光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する光ピックアップ装置の小型化、低コスト化に極めて有効である。
【００９５】
また、本実施の形態においては、光源モジュール１３０１に搭載された３つの半導体レーザ１０３０ａ、１０３０ｂ、１０３０ｃがそれぞれ１つの発光点を有し、各々互いに波長の異なる光ビーム１０３１ａ、１０３１ｂ、１０３１ｃを出射する場合について述べたが、光源モジュール１３０１が３つの発光点を有し、波長の異なる光ビームを出射する１つの半導体レーザから構成される場合においても、また、第１の光ビームを出射する第１の半導体レーザと、第２の光ビームを出射する第２の発光点と第３の波長の光ビームを出射する第３の発光点の２つの発光点をもつモノリシック半導体レーザとの２つの半導体レーザから構成される場合においても、３つあるいは２つの光ビームを出射する半導体レーザを用いることで、光源モジュールに搭載する半導体レーザの数が減るため、光源モジュールの製造の際の半導体レーザの位置決め調整などの手順が不要または簡素になり、光源モジュールの低コスト化に効果がある。このとき、３つの光ビームのうち最も出力の高い光ビームによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるように光源モジュールを最適調整することにより、本発明の効果は同様である。さらに、本実施形態においては、光ビームは１つの光ビームで構成される場合について述べたが、光ビームがホログラム素子などの光学素子で複数のビームへ分割されている場合においても、複数の光ビームのうち主ビームについて本発明を用いることにより効果は同様である。
【００９６】
（実施の形態６）
本発明の別の実施形態の光ピックアップ装置における光源モジュールを図８Ａに、光学系を図８Ｂに示す。図８Ａによると、光源モジュール１４０１は、第１の半導体レーザ１０４０ａ、第２の半導体レーザ１０４０ｂ、第３の半導体レーザ１０４０ｃを共通の基板１０４０上に並列に搭載し、各々が有す発光点１００４ａ、１００４ｂ、１００４ｃより第１の光ビーム１０４１ａ、第２の光ビーム１０４１ｂ、第３の光ビーム１０４１ｃが出射される。３つの光ビーム１０４１ａ、１０４１ｂ、１０４１ｃはそれぞれ、第１の光ディスク１４０５ａ、第２の光ディスク１４０５ｂ、第３の光ディスク１４０５ｃの記録または再生に対応する。また、出射される光ビームの最大出力について、第１の光ビームの最大出力をＰ１、第２の光ビームの最大出力をＰ２、第３の光ビームの最大出力をＰ３とすると、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ３となっており、第１の光ディスク、第２の光ディスク、第３の光ディスクの順でより高い速度での記録に対応するフォーマットとなっている。
【００９７】
図８Ｂによると、光源モジュール１４０１から出射された光ビーム１０４１ａ、１０４１ｂ、１０４１ｃは各々ビームスプリッタ１４０２を透過し、コリメートレンズ１４０３へ入射し平行光へ変換され、対物レンズ１４０４へ入射し、それぞれの対応する光ディスク１４０５ａ、１４０５ｂ、１４０５ｃへ照射され、各々光スポットを結ぶ。ここで、対物レンズ１４０４は光源の波長に応じて複数個からなる場合、複数の波長の光を集光できる単体の場合がある。各々の光ディスクからの反射された光ビームは対物レンズ１４０４、コリメートレンズ１４０３を透過し、ビームスプリッタ１４０２で反射されて集光レンズ１４０６で集光され、光検出器１４０７へ入射し、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号等の各種信号を得る。ここで、光検出器１４０７へ入射する各々の光ビームから各種信号を得るには、一般的に光ピックアップ装置で用いられる非点収差法などのフォーカス検出方式、プッシュプル法などのトラッキング検出方式を用いることによって容易に実現可能であるため、図８Ａおよび図８Ｂにおいて詳細な説明は省略するが、以下に述べる本発明の効果はこれらの検出する方式や構成によって限定されるものではない。
【００９８】
また図８Ｂにおいて、１４００は対物レンズ１４０４の中心軸である。図８Ｂに示される例では、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸は、光ビーム１０４１ａと重なっており、実線にて示されている。
【００９９】
ここで、一般に、光ディスクの回転速度を高めて記録する際には、記録速度が高くなるに従って、半導体レーザからの光ビームの出力を高くし、光ディスク上の光スポットの強度を高めることが求められる。一方、光ディスク上に形成される光スポットに発生する収差が大きくなるほど光ビームの強度が低下するため、より速度を高めた記録を行う光ディスクに対応する光スポットには収差の小さく、より厳密でより高い品質が求められることになる。従って、本実施形態の光ピックアップ装置においては、光ビーム１０４１ａ、１０４１ｂ、１０４１ｃが各々対応する光ディスク１４０５ａ、１４０５ｂ、１４０５ｃ上に形成する光スポットにおいては、最も高い光ビームを出力し、最も高い速度で記録を行う第１の光ディスク１４０５ａに対応する第１の光ビーム１０４１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にし、光スポットの品質を最も高い精度で厳密に管理し、強度の低下を抑制する必要がある。続いて、第２の光ビームによる光スポット、第３の光ビームによる光スポット、の順序でより収差の小さい、より高い品質の光スポットを実現し強度の低下を抑制する必要がある。
【０１００】
一方、上記に述べたように、対物レンズの中心軸（もしくは、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸）に対して、半導体レーザの発光点がある距離Ｌをもつ場合、半導体レーザの発光点とコリメートレンズの主点とを結ぶ光ビームは、対物レンズに対してある角度θをもって入射するが、本実施形態で用いられるような高い開口数の対物レンズを用いて光ビームを集光し光スポットを形成する場合、この角度θが大きくなるほど、対物レンズによって集光され光ディスク上に形成される光スポットには収差が大きく発生して歪んだ光スポットとなり、品質が劣化、強度が低下し記録性能の劣化が発生する。そこで、本実施形態では、光源モジュール１４０１に搭載された第１の半導体レーザ１０４０ａの発光点１００４ａとコリメートレンズ１４０３の主点とを結ぶ光ビーム１０４１ａが対物レンズ１４０４へ入射する角度がほぼゼロとなるように、すなわち、発光点１００４ａが対物レンズ１４０４の中心軸１４００上に配置されるように、光源モジュール１４０１を２軸に調整し、また光ビームの広がりの中心軸が対物レンズ１４０４の中心軸１４００とほぼ一致するように構成することによって、光ビーム１０４１ａから形成される光スポットに発生する収差を最小限にして光スポットの品質が最善となるように構成されている。
【０１０１】
さらに、光源モジュール１４０１に搭載された第２の半導体レーザ１０４０ｂの発光点４ｂと第３の半導体レーザ１０４０ｃの発光点１００４ｃとが、対物レンズ１４０４の中心軸１４００を隔てて左右に配置され、かつ第２の半導体レーザ１０４０ｂの発光点１００４ｂ、第３の半導体レーザ１０４０ｃの発光点１００４ｃと対物レンズ１４０４の中心軸１４００との各々の相対距離Ｌ２、Ｌ３がＬ２＜Ｌ３となるように構成されている。すなわち、このときの第１、第２、第３の半導体レーザ１０４０ａ、１０４０ｂ、１０４０ｃのそれぞれの発光点１００４ａ、１００４ｂ、１００４ｃと対物レンズ１４０４の中心軸１４００との相対距離をＬ１、Ｌ２、Ｌ３とすると、Ｌ１＝０、Ｌ２は０以外、Ｌ３は０以外、かつＬ１＜Ｌ２＜Ｌ３となっている。
【０１０２】
このとき、第２の半導体レーザ１０４０ｂの発光点１００４ｂ、第３の半導体レーザ１０４０ｃの発光点１００４ｃは対物レンズ１４０４の中心軸との相対距離Ｌ２、Ｌ３はゼロでないある値をとるため、半導体レーザ１０４０ｂ、１０４０ｃの発光点１００４ｂ、１００４ｃとコリメートレンズ１４０３の主点とをそれぞれ結ぶ第２、第３の光ビーム１０４１ｂ、１０４１ｃは、対物レンズ１４０４に対してそれぞれある角度α、βをもって入射し、光ビーム１０４１ｂ、１０４１ｃが第２の光ディスク１４０５ｂ、第３の光ディスク１４０５ｃへ形成する光スポットには収差が発生する。そのため、第２、第３の半導体レーザ１０４０ｂ、１０４０ｃの発光点１００４ｂ、１００４ｃが対物レンズ１４０４の中心軸１４００上に配置され、角度α、βがゼロのとき、すなわちＬ２、Ｌ３がゼロとなるときに形成される理想的な光スポットと比較すると、その品質は劣化し、強度が低下する。そこで、上述した理由により、第２の光ビーム１０４１ｂによる光スポットに対してより収差を小さくし、より高い強度をもつ光スポットを形成する必要があるため、第２の半導体レーザ１０４０ｂの発光点１００４ｂとコリメートレンズ１４０３を結ぶ光ビーム１０４１ｂが対物レンズへ入射する角度αがより小さくなるように、すなわち、第２の半導体レーザ１０４０ｂの発光点４ｂと対物レンズ１４０４の中心軸１４００との相対距離Ｌ２がより小さくなるように、Ｌ２＜Ｌ３に設定しながら、第２の光ビーム１０４１ｂが形成する光スポットに発生する収差量を、第２の光ディスク１４０５ｂに対して所望の記録性能を実現するために、光スポットに許容される収差量の範囲内で実現し、光スポットの強度を確保すると同時に、第３の光ビーム１０４１ｃが形成する光スポットに発生する収差量を、所望の光スポットの強度を確保し記録性能を実現するために、光スポットに許容される収差量の範囲内で実現するように、２つの半導体レーザ１０４０ｂ、１０４０ｃの発光点１００４ｂと１００４ｃとの間の距離およびＬ２、Ｌ３を設定することで、第２および第３の光ディスクに対して所望の光スポットの強度を確保し、記録性能を実現することが可能となる。
【０１０３】
ここで、光源モジュール１４０１において、ある距離をもって配置されている３つの半導体レーザのうち、１０４０ｂ、１０４０ｃの発光点１００４ｂ、１００４ｃを、対物レンズ１４０４の中心軸１４００を隔てて左右に配置する構成をとることにより、Ｌ２、Ｌ３を小さくすることができるため、光ビーム１０４１ｂ、１０４１ｃによる光スポットに発生する収差をより小さくすることが可能となる。また、収差が発生し、強度の低下した第２、第３の光ビーム１０４１ｂ、１０４１ｃによる光スポットによる記録性能が所望の記録性能の許容範囲内で収まる場合、Ｌ２とＬ３とを等しく設定することも可能である。
【０１０４】
このように、本実施形態では、対応する３つの光ディスクのうち、最も高い速度で記録を行う第１の光ディスク１４０５ａの記録性能を実現するために厳密な管理が必要となる第１の光ビーム１０４１ａによる光スポットに発生する収差が十分小さくし、強度の低下が最長減となるように光源モジュール１４０１を最適調整し、かつ第２の波長の光ビーム１０４１ｂによる光スポット、第３の光ビーム１０４１ｃによる光スポットに対して発生する収差を所望の強度を確保し、記録性能を実現できる許容範囲内に収めることによって、３つの異なるフォーマットの光ディスクに対する所望の記録性能を実現できるため、光源モジュール１４０１のような複数の異なる光ビームを出射する発光点を搭載する光源モジュールを用いた場合においても、発光点とコリメートレンズの主点とを結ぶ光ビームの光軸と対物レンズの中心軸とをそれぞれ一致させるために光学素子などを設ける必要がなく、またそれに付随する構成部品の調整などが不要となるため、簡素な構成で３つの異なる光ディスクに対する記録あるいは再生性能を実現する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて大きな効果を有する。
【０１０５】
また、本実施形態においては、光源モジュール１４０１に搭載された３つの半導体レーザ１０４０ａ、１０４０ｂ、１０４０ｃがそれぞれ１つの発光点を有し、各々出力の異なる光ビーム１０４１ａ、１０４１ｂ、１０４１ｃを出射する場合について述べたが、光源モジュール１４０１が、３つの発光点を有し出力の異なる光ビームを出射する１つの半導体レーザから構成される場合においても、また、本実施形態においては、光源モジュール１４０１に搭載された３つの半導体レーザ１０４０ａ、１０４０ｂ、１０４０ｃがそれぞれ１つの発光点を有し、各々出力の異なる光ビーム１０４１ａ、１０４１ｂ、１０４１ｃを出射する場合について述べたが、光源モジュール１４０１が、３つの発光点を有し、出力の異なる光ビームを出射する１つのモノリシック半導体レーザから構成される場合においても、または、第１の光ビームを出射する第１の半導体レーザと、第２の光ビームを出射する第２の発光点と第３の波長の光ビームを出射する第３の発光点の２つの発光点をもつモノリシック半導体レーザとの２つの半導体レーザから構成される場合においても、３つあるいは２つの光ビームを出射する半導体レーザを用いることで、光源モジュールに搭載する半導体レーザの数が減るため、光源モジュールの製造の際の半導体レーザの位置決め調整などの手順が不要または簡素になり、光源モジュールの低コスト化に効果がある。このとき、３つの光ビームのうち最も出力の高い光ビームによる光スポットに発生する収差が十分小さくなるように、光源モジュールを最適調整することにより、本発明の効果は同様である。
【０１０６】
さらに、本実施形態においては、光ビームは１つの光ビームで構成される場合について述べたが、光ビームがホログラム素子などの光学素子で複数のビームへ分割されている場合においても、複数の光ビームのうち主ビームについて本発明を用いることにより効果は同様である。
【０１０７】
加えて、本実施形態において、光源モジュール１４０１が、搭載する発光点から出射される光ビームに対応する光ディスクからの反射光を検出する光検出器を搭載し、共通のパッケージ内に集積される場合には、さらなる部品点数の削減、調整箇所の削減が可能となり、３つの異なるフォーマットの光ディスクの記録あるいは再生に対応する小型で低コストの光ピックアップ装置の実現に極めて有効である。
【０１０８】
なお、実施の形態４〜６では、単一の光源モジュールが３つの発光点を有する例を説明したが、実施の形態１、２で説明したように、１つの光源モジュールが２つの発光点を有し、もう１つの光源モジュールが１つの発光点を有するようにしてもよい。この場合には、Ｐ１＞Ｐ２＞Ｐ３という条件下においても、実施の形態１、２で説明した場合と同様に、Ｌ１＝Ｌ２＜Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＝Ｌ３、または、Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３のいずれかの関係を満たすようにすることができる。ここで、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３は、第１、第２、第３の発光点から出射される光ビームの最大出力をそれぞれ示し、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３は、対物レンズの中心軸に光学的に一致する基準軸と第１、第２、第３の発光点との距離をそれぞれ示す。
【０１０９】
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。  
【産業上の利用可能性】
【０１１０】
以上のように、本発明にかかる光ピックアップ装置は、レーザ光源を用いて光ディスク等の光情報記録装置に対して情報を光学的に記録あるいは再生する光情報記録装置等の光ピックアップ装置として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１１１】
【図１Ａ】本発明の一実施形態における光学系を示す要部構成図
【図１Ｂ】同光学系を示す要部構成図
【図２】本発明の他の実施形態における光学系を示す要部構成図
【図３】本発明の別の実施形態における光学系を示す要部構成図
【図４】従来の光ピックアップ装置における光学系を示す要部構成図
【図５Ａ】本発明の一実施形態に係る光源モジュールの要部構成図
【図５Ｂ】同モジュールを適用した光ピックアップの要部構成図
【図６】本発明の他の実施形態に係る光源モジュールの要部構成図
【図７Ａ】本発明の別の実施形態に係る光源モジュールの要部構成図
【図７Ｂ】同モジュールを適用した光ピックアップの要部構成図
【図８Ａ】本発明のさらに別の実施形態に係る光源モジュールの要部構成図
【図８Ｂ】同モジュールを適用した光ピックアップの要部構成図
【図９】従来の光源モジュールの要部構成図
【図１０】同モジュールを適用した光ピックアップ装置の要部構成図
【符号の説明】
【０１１２】
１ａ  第１の波長の光ビームの発光点
１ｂ  第２の波長の光ビームの発光点
１ｃ  第３の波長の光ビームの発光点
１０ａ  第１の波長の半導体レーザ
１０ｂ  第２の波長の半導体レーザ
１０ｃ  第３の波長の半導体レーザ
１１ａ  第１の波長の光ビーム
１１ｂ  第２の波長の光ビーム
１１ｃ  第３の波長の光ビーム
１０１  第１のレーザ光源
１０２  第２のレーザ光源
１０３、１０４  ビームスプリッタ
１０５  コリメートレンズ
１０６  対物レンズ
１０７ａ  第１の光ディスク
１０７ｂ  第２の光ディスク
１０７ｃ  第３の光ディスク
１０８  集光レンズ
１０９  光検出器
１００１ａ  第１の光ビームの発光点
１００１ｂ  第２の光ビームの発光点
１００１ｃ  第３の光ビームの発光点
１０１０ａ  第１の半導体レーザ
１０１０ｂ  第２の半導体レーザ
１０１０ｃ  第３の半導体レーザ
１０１１ａ  第１の光ビーム
１０１１ｂ  第２の光ビーム
１０１１ｃ  第３の光ビーム
１１０２  ビームスプリッタ
１１０４  対物レンズ
１１０５ａ  第１の光ディスク
１１０５ｂ  第２の光ディスク
１１０５ｃ  第３の光ディスク
１１０６  集光レンズ
１１０７  光検出器
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図９】
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【図１０】
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