(57)【要約】【課題】搬送方向に対する位置ずれによる影響を少なくして安定した欠品検査を行う，【解決手段】マスク領域設定手段１５ａは、被検査物の内容物に適合する欠品検出用マスク領域を設定する。基準位置算出手段１９は、被検査物へのＸ線の曝射時に得られる内容物のＸ線透過画像と、内容物の配置に応じて予め設定された基準位置検出リミット値とを比較し、基準位置検出リミット値を最初に越える内容物のＸ線透過画像の位置を収容体の先頭に位置する内容物の略先端位置と判別し基準位置として算出する。欠品判別手段２０ａは、基準位置算出手段が算出した基準位置を基準として、内容物のＸ線透過画像と設定された欠品検出用マスク領域とを重ね合わせて内容物の欠品の有無を判別する。【選択図】      図２
2005024453.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
収容体に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴うＸ線透過量に基づいて前記被検査物の検査を行うＸ線検査装置（１）において、
前記被検査物の内容物に適合する欠品検出用マスク領域（Ｍ）を設定し、前記被検査物へのＸ線の曝射時に得られる前記被検査物の内容物（Ｗａ）のＸ線透過画像に基づいて検出される前記収容体の先頭に位置する内容物の略先端位置を基準位置（ＲＦ）として、前記内容物のＸ線透過画像と前記欠品検出用マスク領域とを重ね合わせて前記内容物の欠品の有無を判別する信号処理手段（１４）を備えたことを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２】
収容体に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴うＸ線透過量に基づいて前記被検査物の検査を行うＸ線検査装置（１）において、
前記被検査物の内容物に適合する欠品検出用マスク領域（Ｍ）を設定するマスク領域設定手段（１５ａ）と、
前記被検査物へのＸ線の曝射時に得られる前記被検査物の内容物（Ｗａ）のＸ線透過画像と、前記被検査物の内容物の配置に応じて予め設定された基準位置検出リミット値とを比較し、該基準位置検出リミット値を最初に越える前記内容物のＸ線透過画像の位置を前記収容体の先頭に位置する内容物の略先端位置と判別し基準位置（ＲＦ）として算出する基準位置算出手段（１９）と、
前記基準位置算出手段が算出した基準位置を基準として、前記内容物のＸ線透過画像と前記欠品検出用マスク領域とを重ね合わせて前記内容物の欠品の有無を判別する判別手段（２０）とを備えたことを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項３】
前記判別手段（２０）は、前記欠品検出用マスク領域（Ｍ）内に含まれる前記内容物（Ｗａ）のＸ線透過画像の面積の割合と、予め設定された基準値との比較に基づいて前記内容物の欠品の有無を判別することを特徴とする請求項２記載のＸ線検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線を曝射したときのＸ線の透過量から被検査物中の異物を検出するＸ線検査装置に関し、特に被検査物の内容物の欠品を正確に検出できるＸ線検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線異物検出装置は、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物（例えば、生肉、魚、加工食品、医薬など）にＸ線を曝射し、この曝射したＸ線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出する装置である。
この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては下記のものがある。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００２−２２８７６１号公報
【０００４】
ところで、被検査物としてトレイや箱などの収容体に内容物が収容されている場合、この種のＸ線異物検出装置では、被検査物における異物混入の有無を判定する前処理の段階で収容体内での内容物の有無を検出して欠品（不良品）判別が行われる。
【０００５】
この欠品判定処理では、収容体における内容物の収容位置を想定した座標軸位置に欠品検出用マスク領域を予め設定し、Ｘ線曝射時のＸ線透過データに基づいて画像展開した内容物と、欠品検出用マスク領域とを重ね合わせ、欠品検出用マスク領域内に内容物が存在すればその被検査物を正常と判断し、欠品検出用マスク領域内に内容物が存在しなければその被検査物を欠品（不良品）と判断している。
【０００６】
しかしながら、上述した従来の欠品判定処理では、欠品検出用マスク領域内に完全に内容物が重ならなければ被検査物が欠品と判断しているため、収容体内で内容物が移動した場合、内容物が収容体に存在していても欠品と誤判断することがあった。
【０００７】
そこで、上記問題に対処するため、本件出願人は、上記特許文献１に開示されるＸ異物検出装置を既に提案している。この特許文献１に開示されるＸ線異物検出装置では、被検査物として内容物が収容された収容体の先端位置を基準として欠品検出用マスク領域を設定し、この設定された欠品検出用マスク領域内に占める内容物の面積の割合によって欠品の有無を判断している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
上記特許文献１に開示されるＸ線異物検出装置によれば、収容体としての包装体やトレイがある程度剛性を有していれば、収容体の先端位置が変化しないので、収容体内の内容物の欠品を高精度に検出することができる。しかし、搬送方向に対して収容体の先端にバラツキがある場合には、検出される収容体の先端の位置によって欠品検出用マスク領域が全体的にずれてしまい、欠品の誤判断を招くおそれがあった。
【０００９】
さらに具体例を示して説明すると、収容体として例えばフィルム状の包装体に複数の内容物が袋詰めされた被検査物の場合には、包装体内での搬送方向に対する内容物の移動量は極めて少ない。ところが、この種の被検査物の収容に用いられる収容体Ｓは、図７（ａ），（ｂ）に示すように、シール部Ｓａの折れ曲がり具合によってバラツキがある。
【００１０】
このようなシール部Ｓａの状態にバラツキのある被検査物Ｗを欠品検査対象とした場合、上記特許文献１に開示されるＸ線異物検出装置では、包装体Ｓのシール部Ｓａの先端位置Ｐを基準として欠品検出用マスク領域を設定する。このため、図７（ａ）の状態では、包装体Ｓのシール部Ｓａの先端位置Ｐ１を基準として欠品検出用マスク領域が設定される。これに対し、図７（ｂ）の状態では、折れ曲がったシール部Ｓａの先端位置Ｐ２を基準として欠品検出用マスク領域が設定される。したがって、上記特許文献１に開示されるＸ線異物検出装置を採用した場合には、図７（ａ），（ｂ）に示すように、包装体Ｓのシール部Ｓａのバラツキによる先端位置のずれ分ｔ１だけ欠品検出用マスク領域が搬送方向に対して全体的にずれてしまい、欠品検出用マスク領域内に占める内容物Ｗａの面積の割合が変化して誤った欠品検査を行うおそれがあった。
【００１１】
また、例えば焼売や餃子を内容物Ｗａとするレトルト食品の場合には、図８に示すように、被検査物Ｗとして複数の焼売や餃子が内容物としてトレイＴの上に配置された状態でフィルム状の包装体Ｓに包装される。このような場合、包装体Ｓのシール部Ｓａの先端位置が変化しなくても、包装体Ｓ内でトレイＴが搬送方向に対して移動することがある。
【００１２】
このため、上記特許文献１に開示されるＸ線異物検出装置を採用して欠品検査を行うと、包装体Ｓの先端位置を基準として欠品検出用マスク領域を設定するので、トレイＴの移動量分だけ欠品検出用マスク領域が搬送方向に対して全体的にずれてしまい、上記同様、欠品検出用マスク領域内に占める内容物Ｗａの面積の割合が変化して誤った欠品検査を行うおそれがあった。
【００１３】
ところで、上記のように包装体Ｓ内のトレイＴ上に複数の内容物Ｗａが配置された被検査物Ｗを欠品検査対象とした場合、図８に示す包装体Ｓ内のトレイＴの先端位置Ｐ３を基準として欠品検出用マスク領域を設定することも考えられる。しかし、通常、この種のトレイＴは薄く形成されているものが多く、Ｘ線曝射時のＸ線透過データからではトレイＴの判別がつきにくく、Ｘ線による検出が困難であった。仮に、トレイＴの先端位置Ｐ３を検出できて、トレイＴの先端位置Ｐ３を基準として欠品検出用マスク領域を設定した場合でも、図８（ａ），（ｂ）に示すように、包装体Ｓ内のトレイＴ上で内容物Ｗａが搬送方向に対して移動すると、この内容物Ｗａの移動量ｔ２分だけ検品検出用マスク領域が全体的にずれてしまい、上記同様、欠品検出用マスク領域内に占める内容物Ｗａの面積の割合が変化して誤った欠品検査を行うおそれがあった。
【００１４】
そこで、本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであって、搬送方向に対する位置ずれによる影響を少なくして安定した欠品検査を行うことができるＸ線検査装置を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
次に、上記の課題を解決するための手段を、実施の形態に対応する図面を参照して説明する。
請求項１記載のＸ線検査装置は、収容体に収容された被検査物ＷにＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴うＸ線透過量に基づいて前記被検査物の検査を行うＸ線検査装置１において、
前記被検査物の内容物に適合する欠品検出用マスク領域Ｍを設定し、前記被検査物へのＸ線の曝射時に得られる前記被検査物の内容物ＷａのＸ線透過画像に基づいて検出される前記収容体の先頭に位置する内容物の略先端位置を基準位置ＲＦとして、前記内容物のＸ線透過画像と前記欠品検出用マスク領域とを重ね合わせて前記内容物の欠品の有無を判別する信号処理手段１４を備えたことを特徴とする。
【００１６】
請求項２記載のＸ線検査装置は、収容体に収容された被検査物ＷにＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴うＸ線透過量に基づいて前記被検査物の検査を行うＸ線検査装置１において、
前記被検査物の内容物に適合する欠品検出用マスク領域Ｍを設定するマスク領域設定手段１５ａと、
前記被検査物へのＸ線の曝射時に得られる前記被検査物の内容物ＷａのＸ線透過画像と、前記被検査物の内容物の配置に応じて予め設定された基準位置検出リミット値とを比較し、該基準位置検出リミット値を最初に越える前記内容物のＸ線透過画像の位置を前記収容体の先頭に位置する内容物の略先端位置と判別し基準位置ＲＦとして算出する基準位置算出手段１９と、
前記基準位置算出手段が算出した基準位置を基準として、前記内容物のＸ線透過画像と前記欠品検出用マスク領域とを重ね合わせて前記内容物の欠品の有無を判別する判別手段２０とを備えたことを特徴とする。
【００１７】
請求項３記載のＸ線検査装置は、請求項２記載のＸ線検査装置において、
前記判別手段２０は、前記欠品検出用マスク領域Ｍ内に含まれる前記内容物ＷａのＸ線透過画像の面積の割合と、予め設定された基準値との比較に基づいて前記内容物の欠品の有無を判別することを特徴とする。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るＸ線検査装置の好適な実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
【００１９】
図１は本発明に係るＸ線検査装置の外観図、図２は本発明に係るＸ線検査装置の電気的構成を示すブロック図、図３（ａ）〜（ｃ）は本発明に係るＸ線検査装置で検査される欠品検査対象とそのＸ線透過画像のレベルを示す図、図４は欠品検出用マスク領域の一例を示す図、図５は収容体に収容される被検査物の抽出画像の一例を示す図、図６（ａ）は収容体内に被検査物が正常に収容された状態を示す図、図６（ｂ）は被検査物が欠品状態を示す図、図６（ｃ）は面積比による判別処理を説明するための図である。なお、図３（ｃ）は内容物のみを強調した濃淡レベルを概略的に示している。
【００２０】
本例のＸ線検査装置１は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物の欠品検査（内容物の欠品の有無）や被検査物の異物混入検査（被検査物中の異物混入の有無）を行うものである。
【００２１】
特に、本例のＸ線検査装置１は、被検査物として内容物が収容体に収容された場合の欠品検査を安定して行う場合に適している。
【００２２】
欠品検査対象となる被検査物は、内容物が収容体に収容されたものであり、正常な状態で内容物が収容体内で半個分以上の移動が無いものとしている。具体的には、図３に示すような被検査物Ｗとして内容物Ｗａが包装体Ｓにより包装されたもの、図８に示すような被検査物Ｗとして内容物ＷａがトレイＴ上に並べられて包装体Ｓにより包装されたものなどがある。
【００２３】
なお、本例では、包装体Ｓのみ又はトレイＴを内包する包装体Ｓを収容体と称している。また、本例では、被検査物Ｗとして８つの内容物Ｗａが包装体Ｓに収容されたものを例にとって説明している。
【００２４】
図１に示すＸ線検査装置１は、搬送部２と異物検出部３とが装置本体４内部に設けられ、表示器５が装置本体４の前面上部に設けられている。
【００２５】
搬送部２は、内容物Ｗａが収容体（包装体Ｓ、又は包装体ＳとトレイＴの組み合わせ）に収容された同一品種の被検査物Ｗを、所定間隔をおいて順次搬送している。この搬送部２は、例えば装置本体４に対して水平に配置されたベルトコンベアで構成することができる。搬送部２は、図１に示す駆動モータ６の駆動により予め設定された所定の搬送速度で搬入口７から搬入された被検査物Ｗを搬出口８側（図１の搬送方向Ｘ）に向けて搬送させる。
【００２６】
異物検出部３は、搬送される被検査物Ｗを搬送路途中において欠品の有無や異物混入の有無を検出するもので、搬送部２の上方に所定高さ離れて設けられるＸ線発生器９と、搬送部２内にＸ線発生器９と対向して設けられるＸ線検出器１０を備えて構成される。
【００２７】
Ｘ線発生器９は、金属製の箱体１１内部に設けられる円筒状のＸ線管１２を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、Ｘ線管１２の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてＸ線を生成している。Ｘ線管１２は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交する方向（図１のＹ方向）に設けられている。Ｘ線管１２により生成されたＸ線は、下方のＸ線検出器１０に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【００２８】
Ｘ線検出器１０は、収容体Ｓに収容された被検査物Ｗに対してＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線を検出し、この検出したＸ線の透過量に応じた電気信号を出力している。このＸ線検出器１０は、搬送部２上を搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交するＹ方向に沿って設けられる。このＸ線検出器１０には、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
【００２９】
図２に示すように、搬送部２の搬入口７側には、被検査物Ｗの通過を検出するための位置検出手段１３が設けられている。この位置検出手段１３は、例えば搬送部２としてのベルトコンベアの入口側に設けられる一対の投受光器からなるフォトセンサで構成される。この構成により、被検査物Ｗがフォトセンサの前を通過している間では位置検出手段１３からオン信号が信号処理手段１４にタイミング信号として入力される。
【００３０】
このような構成によるＸ線検出器１０では、搬送部２上を搬送される被検査物Ｗに対してＸ線発生器９からＸ線が曝射される。そして、この被検査物ＷへのＸ線の曝射に伴って被検査物Ｗを透過してくるＸ線をシンチレータで受けて光に変換する。このシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このＸ線検出器１０は、受けたＸ線の強さに対応したレベルを有した電気信号を信号処理手段１４に出力する。
【００３１】
図２において、信号処理手段１４は、ＣＰＵやメモリなどを備えて構成され、位置検出手段１３が被検査物Ｗを検出したときのオン信号をタイミング信号とし、位置検出手段１３がオン信号を出力している期間が被検査物Ｗ（包装体Ｓ）の長さと判断し、Ｘ線検出器１０からの電気信号を取り込んで各種信号処理を行っている。
【００３２】
図２に示すように、信号処理手段１４は、設定入力手段１５、記憶手段（データメモリ）１６、画像処理手段１７を備えている。
【００３３】
設定入力手段１５は、被検査物Ｗとして包装体Ｓに収容された内容物Ｗａの欠品検査や異物混入検査に関する各種設定、表示に関する各種設定、各種指示を与えるためのユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成される。
【００３４】
図２に示すように、設定入力手段１５はマスク領域設定手段１５ａを有している。このマスク領域設定手段１５ａは、被検査物Ｗとして包装体Ｓに収容された内容物Ｗａの欠品検査を行う際に、収容体内の内容物Ｗａの配置に応じて被検査物Ｗ毎に予め記憶された複数種類の欠品検出用マスク領域Ｍのうち、検査対象となる被検査物Ｗの内容物Ｗａに適合する欠品検出用マスク領域Ｍを設定している。この欠品検出用マスク領域Ｍは、図４に示すように、最初の内容物Ｗａの略先端位置を基準として、座標軸位置ｘ，ｙ及びマスク範囲ｘＬ，ｙＬを各マスク領域毎に設定することにより選択設定される。図４及び図５に示すように、欠品検出用マスク領域Ｍは、基準位置ＲＦを基準とし、各マスク領域の座標軸位置ｘ，ｙが被検査物Ｗの対応する各内容物Ｗａのほぼ中心に位置し、マスク範囲ｘＬ，ｙＬが内容物Ｗａの大きさに応じて設定される。
【００３５】
さらに説明すると、上記設定項目の座標軸位置ｘ，ｙ及びマスク範囲ｘＬ，ｙＬは、検査を行う前の初期設定時に実際に被検査物Ｗを搬送部２で搬送させて設定することができる。例えば収容体内に欠品なく収容した被検査物をサンプルとして複数用意し、搬送部２で搬送させながら上記設定項目を変化させて「ＯＫ」と判別されるか確認する。その際、座標軸位置ｘ，ｙを収容体内で各所に移動させ、また、マスク範囲ｘＬ，ｙＬを変化させて全てのサンプルで「ＯＫ」と判別されるか確認する。そして、上記設定項目に加え、面積比Ｂを可変させて全てのサンプルで「ＯＫ」となったときの値を最良の設定とする。なお、上記設定を行う際には、収容体に内容物を収容しない状態のサンプルについて全て「ＮＧ」と判別されるか確認しておく。
【００３６】
また、設定入力手段１５は、上記設定の他、搬送部２の搬送速度の設定、後述する基準位置ＲＦを算出する際の基準となる基準位置検出リミット値の設定、後述する欠品の有無の判別に使用する面積比Ｂの設定、被検査物Ｗ中の異物の混入の有無を判別するための基準となる異物検出リミット値を設定している。
【００３７】
なお、上記面積比Ｂや各検出リミット値は、内容物Ｗａが包装体Ｓ内に占める面積の割合、包装体Ｓの種類、被検査物Ｗの品種、検出対象となる異物の種類などに応じて適宜設定可能とされている。
【００３８】
記憶手段１６には、各被検査物Ｗ毎のＸ線透過データが格納される。このＸ線透過データは、Ｘ線検出器１０からの電気信号を不図示のＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換したデータを位置検出手段１３の検出タイミングで取り込むことにより得られる。さらに説明すると、この記憶手段１６には、１つの被検査物Ｗの検査を行う毎に、Ｘ線検出器１０の１ライン（図１のＹ方向）あたり例えば６４０個のＸ線透過データが、少なくとも搬送される被検査物Ｗの搬送方向の長さ（前端から後端までの検出期間に相当）に対応した所定ライン数（４８０ライン）だけ格納される。
【００３９】
画像処理手段１７は、記憶手段１６に格納された１つの被検査物ＷのＸ線透過データに基づいて各種画像処理を行っており、内容物画像抽出手段１８、マスク基準位置算出手段１９、判別手段２０を備えている。また、画像処理手段１７は、Ｘ線検出器１０が出力したＸ線透過量を示す画像データを表示器５に表示出力している。その際、被検査物Ｗ内の異物部分の表示濃度を他の部分と異なるように濃く表示したり、異物部分以外と異なる色で表示している。これにより、包装体Ｓ内に内容物Ｗａが収容された被検査物Ｗを平面で見た外形の状態と、この被検査物Ｗ内でのＸ線の透過具合を表示器５の表示画面上で確認することができ、異物の混入位置も把握できる。また、画像処理手段１７は、「ＯＫ」，「ＮＧ」の良否判定結果や総検査数、良品数、ＮＧ総数などの検査結果を表示器５に表示出力している。
【００４０】
内容物画像抽出手段１８は、記憶手段１６に格納されたＸ線透過データに基づくＸ線透過画像から図５に示すような包装体Ｓを除く被検査物Ｗの内容物Ｗａのみの抽出画像Ａを抽出している。この内容物Ｗａのみの抽出画像Ａを抽出する際には、予め設定入力手段１５により収容体と内容物Ｗａの各Ｘ線透過量の略中間レベル付近に検出リミット値を設定しておく。一般に、内容物Ｗａの方が収容体よりもＸ線透過量が低いので、内容物画像抽出手段１８は、記憶手段１６のＸ線透過データに基づくＸ線透過画像において、検出リミット値より低い領域を内容物Ｗａと判定し、内容物Ｗａのみの抽出画像Ａを抽出する。この内容物Ｗａのみの抽出画像Ａは、所定の濃淡レベルを有する画像として処理される。
【００４１】
マスク基準位置算出手段１９は、被検査物ＷへのＸ線の曝射時に得られる被検査物Ｗの内容物Ｗａの抽出画像Ａの濃淡レベルと、被検査物Ｗの内容物Ｗａの配置に応じて予め設定された基準位置検出リミット値とを比較し、基準位置検出リミット値を最初に越える内容物Ｗａの濃淡レベルの位置を収容体（包装体Ｓ又はトレイＴを内包する包装体Ｓ）の先頭に位置する内容物Ｗａの略先端位置と判別し、この略先端位置を基準位置ＲＦとして算出している。
【００４２】
さらに説明すると、このマスク基準位置算出手段１９では、内容物画像抽出手段１８によって抽出された被検査物Ｗの内容物Ｗａのみの所定の濃淡レベルを有ｓルウ抽出画像Ａが入力されると、この抽出画像Ａの各ライン（搬送方向と直交する方向）毎の画素の濃淡レベルと、予め設定入力手段１５で設定された基準位置検出リミット値とを比較する。そして、ライン毎の画素の濃淡レベルが基準位置検出リミット値を越えた位置を最初の内容物Ｗａの先頭位置と判断し、その位置を基準位置ＲＦとして算出している。なお、上記基準位置検出リミット値は、被検査物Ｗの内容物Ｗａに応じて設定入力手段１５から予め設定されており、被検査物Ｗの内容物Ｗａが検出できる値に設定される。例えば被検査物Ｗの内容物Ｗａが球形状の場合には、内容物Ｗａと搬送部２のベルト面との中間値に設定される。
【００４３】
判別手段２０は、欠品判別手段２０ａ、異物判別手段２０ｂ、良否判別手段２０ｃを有している。欠品判別手段２０ａは、マスク領域設定手段１５ａにより予め設定された欠品検出用マスク領域Ｍを読み出し、マスク基準位置算出手段１９により内容物Ｗａの先頭位置の検出に基づいて算出された基準位置ＲＦを基準として、読み出した欠品検出用マスク領域Ｍと、内容物Ｗａの抽出画像Ａとを重ね合わせて欠品の有無を判別している。この欠品の有無の判別処理は、以下に説明する各画素の論理積演算によって行われる。この論理積演算は、画素単位で走査して行われ、重ね合わせの状態で欠品検出用マスク領域Ｍの範囲内に内容物Ｗａの抽出画像Ａが位置していれば、その画素を１つづつカウントしていく。設定される欠品検出用マスク領域Ｍは画素数ｎを有しており、欠品検出用マスク領域Ｍに含まれる内容物Ｗａの抽出画像Ａの画素数までカウント値ＣＮＴが増加していくことになる。
【００４４】
図６（ａ）は包装体Ｓ内に内容物Ｗａが正常に収容された状態を示す図である。図６（ａ）には、欠品検出用マスク領域Ｍと、内容物Ｗａの抽出画像Ａを重ね合わせた状態が示されている。この図６（ａ）の状態では、欠品検出用マスク領域Ｍに内容物Ｗａの抽出画像Ａの全てが含まれるので、カウント値ＣＮＴは欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎに一致（厳密にはほぼ一致）する値となる。
【００４５】
欠品判別手段２０ａは、上記カウント値ＣＮＴと、欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎ×面積比Ｂとを比較し、カウント値ＣＮＴの方が高ければ「ＯＫ」、カウント値ＣＮＴの方が低ければ「ＮＧ（欠品）」と判別する。図６（ａ）の例では、カウント値ＣＮＴが欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎにほぼ一致するので、「ＯＫ」、すなわち包装体Ｓ内に内容物Ｗａが存在していると判断する。このときの判別結果は、判別信号（ＯＫ信号、又はＮＧ信号）として良否判別手段２０ｃに出力される。
【００４６】
図６（ｂ）は内容物Ｗａの欠品状態を示す図である。図６（ｂ）のように、包装体Ｓ内において内容物Ｗａが存在しない状態（欠品）のとき、欠品検出用マスク領域Ｍと、内容物Ｗａの抽出画像Ａを重ね合わせた状態では、欠品検出用マスク領域Ｍに内容物Ｗａの抽出画像Ａが含まれないので、カウント値ＣＮＴは０（厳密には限りなく０に近い値）となる。この場合、欠品判別手段２０ａは、上記カウント値ＣＮＴと、欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎ×面積比Ｂとを比較すると、カウント値ＣＮＴの方が低いので、「ＮＧ（欠品）」と判別する。このときの判別結果は、判別信号（ＮＧ信号）として良否判別手段２０ｃに出力される。
【００４７】
図６（ｃ）は面積比による内容物Ｗａの検出状態を示す図である。Ｘ線検出時に、被検査物Ｗは、包装体Ｓ内で内容物Ｗａが僅かながらも移動したり、包装体Ｓ内で内容物Ｗａを載せたトレイＴが移動することがある。このため、本例では、欠品検出用マスク領域Ｍ内に占める内容物Ｗａの抽出画像Ａの面積の割合によって内容物Ｗａの存在の有無を判別している。
【００４８】
図６（ｃ）の場合、欠品検出用マスク領域Ｍと、内容物Ｗａの抽出画像Ａを重ね合わせた状態では、内容物Ｗａの抽出画像Ａの一部（図示の例では略半部の５０％）のみが欠品検出用マスク領域Ｍに重なり、欠品検出用マスク領域Ｍ全体には含まれない状態である。この場合、カウント値ＣＮＴは２／ｎとなる。ここで、設定入力手段１５により面積比Ｂとして４０％が設定されていれば、欠品判別手段２０ａは、カウント値ＣＮＴと、欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎ×面積比Ｂ（４０％）とを比較し、カウント値ＣＮＴの方が高いので、判別結果は「ＯＫ」、すなわち、包装体Ｓ内に内容物Ｗａが存在していると判断する。
【００４９】
異物判別手段２０ｂは、被検査物Ｗの内容物領域において、内容物領域内で濃淡レベルが他と違う部分を異物として判断している。さらに説明すると、異物判別手段２０ｂは、記憶手段１６に格納された被検査物ＷのＸ線透過データの濃淡レベルと、設定入力手段１５により予め設定された異物検出リミット値とを比較し、Ｘ線透過データが異物検出リミット値を越えたときに、その被検査物Ｗに異物が混入していると判断している。このときの判別結果は、判別信号（ＯＫ信号、又はＮＧ信号）として良否判別手段２０ｃに出力される。なお、異物検出リミット値は、被検査物Ｗ毎に適宜設定入力手段１５から設定可能となっている。
【００５０】
良否判別手段２０ｃは、欠品判別手段２０ａからの判別信号と異物判別手段２０ｂからの判別信号に基づき、その被検査物Ｗが正常又は不良を示す選別信号を外部出力している。
【００５１】
すなわち、この良否判別手段２０ｃでは、欠品判別手段２０ａ及び異物判別手段２０ｂの両方から正常を示す判別信号（ＯＫ信号）が入力されると、その被検査物Ｗに欠品及び異物混入無しと判別し、正常を示す選別信号を外部出力する。これに対し、欠品判別手段２０ａから欠品を示す判別信号（ＮＧ信号）が入力されるか、異物判別手段２０ｂから異物混入を示す判別信号（ＮＧ信号）が入力されると、被検査物Ｗに欠品又は異物混入有りと判別し、不良を示す選別信号を外部出力する。
【００５２】
表示器５の表示画面には、判別手段２０の判別結果に基づいて被検査物Ｗを平面視したＸ線透過画像、「ＯＫ」や「ＮＧ」の良否判定結果、総検査数、良品数、ＮＧ総数などの検査結果が設定入力手段１５からの所定のキー操作に基づいて表示される。
【００５３】
上記構成のＸ線検査装置１を用いて包装体Ｓに収容された被検査物Ｗの欠品検査を行う場合には、信号処理手段１４において以下の処理が実行される。まず、検査対象となる被検査物Ｗの品種に応じて最適な欠品検出用マスク領域Ｍをマクス領域設定手段１５ａより予め入力しておく。
【００５４】
搬送部２上を搬送される被検査物ＷにＸ線が曝射されると、このＸ線の曝射に伴うＸ線透過データが記憶手段１６に格納される。そして、画像処理手段１７は、記憶手段１６に格納されたＸ線透過データから全体の濃淡画像（被検査物Ｗと搬送部２のベルト面を含む全体画像）を作成する。
【００５５】
次に、内容物抽出手段１８は、作成されたＸ線透過画像の全体の濃淡画像から包装体Ｓを除く被検査物Ｗの内容物Ｗａのみの抽出画像Ａを抽出する。
【００５６】
次に、マスク基準位置算出手段１９は、抽出された被検査物Ｗの内容物Ｗａのみの抽出画像Ａの各ライン（図１の搬送方向Ｘと直交するＹ方向）毎の画素の濃淡レベルと、予め設定入力手段１５で設定された基準位置検出リミット値とを比較する。そして、ライン毎の画素の濃淡レベルが基準位置検出リミット値を越えた位置を最初の内容物Ｗａの略先端位置と判断し、この略先端位置を基準位置ＲＦとして算出する。
【００５７】
その後、欠品判別手段２０ａは、マスク領域設定手段１５ａから予め設定された欠品検出用マスク領域Ｍを読み出し、マスク基準位置算出手段１９により算出された先頭の内容物Ｗａの略先端位置である基準位置ＲＦを基準として、欠品検出用マスク領域Ｍと、内容物Ｗａの抽出画像Ａとを重ね合わせ、前述した判別処理により欠品の有無を判別する。
【００５８】
ところで、本例のＸ線検査装置１では、上述した被検査物Ｗの欠品検査とともに、被検査物ＷにＸ線を曝射したときのＸ線透過量から被検査物Ｗ中の異物混入の有無の検査も行われる。
【００５９】
被検査物Ｗ中の異物混入の有無を検査する場合には、記憶手段１６に記憶されたＸ線透過データと、設定入力手段１５により予め設定された異物検出リミット値とを比較する。そして、Ｘ線透過データが異物検出リミット値を越えたときに、その被検査物Ｗに異物が混入していると判断する。
【００６０】
このように、本例のＸ線検査装置では、搬送されて来る被検査物の収容体内の先頭に位置する内容物の略先端位置を検出し、この検出した略先端位置を基準位置として、欠品検出用マスク領域と、被検査物の内容物の抽出画像とを重ね合わせて被検査物の内容物の欠品検査を行うので、収容体内での内容物の移動や内容物を載せたトレイなどの移動による位置のバラツキに影響されることなく、安定した欠品検査を行うことができる。
【００６１】
具体的には、図３（ｃ）に示すように、包装体Ｓ内の最初の内容物Ｗａの略先端位置を基準位置ＲＦとして、欠品検出用マスク領域Ｍと内容物Ｗａの抽出画像を重ね合わせて欠品検査を行うので、図３（ａ），（ｂ）に示す如く包装体Ｓのシール部Ｓａに折れ曲がりなどによるバラツキがあっても、このバラツキに影響されることなく、正確な欠品検査を行うことができる。
【００６２】
また、包装体Ｓ内の最初の内容物Ｗａが欠落している場合には、その次の内容物Ｗａの略先端位置が基準位置ＲＦとして、欠品検出用マスク領域Ｍと内容物Ｗａの抽出画像を重ね合わせるため、欠品検出用マスク領域Ｍが全体的に搬送方向にずれることになるが、欠品と判別されるマスク領域が存在するので、誤って欠品無しと判別するのを防止できる。
【００６３】
さらに、実際には収容体内に内容物が存在していても、収容体内で内容物や内容物を載せたトレイが移動してずれた状態のままＸ線検出される場合がある。しかし、本例のＸ線検査装置では、欠品検査時に、欠品検出用マスク領域内に含まれる内容物のＸ線透過画像の割合と、予め設定された基準値（欠品検出用マスク領域の画素数×面積比）との比較に基づいて内容物の欠品の有無を判別するので、誤って「ＮＧ（欠品）」と判別するのを防止でき、欠品判別の信頼性を向上させることができる。しかも、欠品検出用マスク領域内に内容物全体が含まれない場合でも、欠品検出用マスク領域内に重なる内容物の面積の割合が予め設定された面積比以上であれば、内容物が存在するものとして検出することができる。
【００６４】
さらに、被検査物の内容物の欠品検査に加え、被検査物中の異物混入検査も同時に行うので、異なる検査項目を１つの装置で行え、設備費を抑えることができる。
【００６５】
ところで、上述した実施の形態では、１つの内容物Ｗａに対して１つのマスク領域が割り当てられた欠品検出用マスク領域Ｍを用いる構成としたが、１つの内容物Ｗａに対して複数のマスク領域を割り当てた欠品検出用マスク領域を用いることも可能である。この場合、内容物Ｗａの欠品検査に加え、内容物Ｗａの一部欠けなどの欠損を検出することができる。
【００６６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るＸ線検査装置によれば、被検査物の収容体内の先頭に位置する内容物の略先端位置を検出し、この検出した略先端位置を基準位置として、欠品検出用マスク領域と、被検査物の内容物の抽出画像とを重ね合わせて被検査物の内容物の欠品検査を行うので、収容体内での内容物の移動や内容物を載せたトレイの移動による位置のバラツキに影響されず、安定した欠品検査を行うことができる。
【００６７】
また、収容体内で内容物や内容物を載せたトレイが移動してずれた状態のままＸ線検出された場合であっても、欠品検出用マスク領域内に含まれる内容物のＸ線透過画像の面積の割合と、予め設定された基準値との比較に基づいて内容物の欠品の有無を判別するので、誤判別を防止して欠品判別の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＸ線検査装置の外観図である。
【図２】本発明に係るＸ線検査装置の電気的構成を示すブロック図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）本発明に係るＸ線検査装置で検査される欠品検査対象とそのＸ線透過画像のレベルを示す図である。
【図４】欠品検出用マスク領域の一例を示す図である。
【図５】収容体に収容される被検査物の抽出画像の一例を示す図である。
【図６】（ａ）収容体内に被検査物が正常に収容された状態を示す図である。
（ｂ）被検査物が欠品状態を示す図である。
（ｃ）面積比による判別処理を説明するための図本発明に係るＸ線検査装置の外観図である。
【図７】収容体に収容された被検査物の一例を示す図であって、特許文献１のＸ線異物検出装置を採用した場合の課題を説明するための図である。
【図８】収容体に収容された被検査物の他の例を示す図であって、特許文献１のＸ線異物検出装置を採用した場合の課題を説明するための図である。
【符号の説明】
１…Ｘ線検査装置、１４…信号処理手段、１５ａ…マスク領域設定手段、１９…マスク基準位置算出手段、２０…判別手段、Ｗ…被検査物、Ｗａ…内容物、Ｓ…収容体、Ｓａ…シール部、ＲＦ…基準位置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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