(57)【要約】【課題】  作業効率の向上およびコスト削減を実現し、容易に製品などの偽造を防止する偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法を提供する。【解決手段】  低反射基材層の一方の面に低反射基材層よりも照射光の反射率の高い鱗片顔料含有樹脂層１を設け、他方の面に接着剤を塗布して粘着層を設ける。  さらに、鱗片顔料含有樹脂層１側にレーザを照射して、低反射基材層に達するまで鱗片顔料含有樹脂層１を昇華させることにより貫通孔４が生成された貫通単位セル１０と、低反射基材層に達しない程度に鱗片顔料含有樹脂層１を昇華させることにより非貫通孔５が生成された非貫通単位セル２０とを設ける。【選択図】  図１
2005115643.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、
前記高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は前記低反射基材層に達する深さで刻印され、前記コードマークの他の部分は前記低反射基材層に達しない深さで刻印されたことを特徴とする偽造防止部材。
【請求項２】
低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、
前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達する深さで前記コードマークを刻印されてなる１以上の貫通単位セルと、前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達しない深さで前記コードマークを刻印されてなる１以上の非貫通単位セルと、が設けられていることを特徴とする偽造防止部材。
【請求項３】
前記コードマークは、ＣＯ2レーザにより刻印された、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする請求項１または２記載の偽造防止部材。
【請求項４】
前記コードマークは、２次元コードであることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の偽造防止部材。
【請求項５】
前記低反射基材層の他方の面には接着剤層が設けられていることを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の偽造防止部材。
【請求項６】
前記高反射基材層は、鱗片顔料含有樹脂層であることを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の偽造防止部材。
【請求項７】
低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、前記高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、
前記偽造防止部材は、
前記高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は前記低反射基材層に達する深さで刻印されるとともに、前記コードマークの他の部分は前記低反射基材層に達しない深さで刻印され、
前記コードマーク読取装置は、
前記高反射基材層の前記コードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、該反射光の強度差に基づいて、前記コードマークを読み取ることを特徴とするコードマーク読取システム。
【請求項８】
低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、前記高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、
前記偽造防止部材は、
前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達する深さで前記コードマーク刻設されてなる１以上の貫通単位セルと、前記高反射基材層表面における所定領域内において前記低反射基材層に達しない深さで前記コードマーク刻設されてなる１以上の非貫通単位セルと、が設けられ、
前記コードマーク読取装置は、
前記高反射基材層の前記コードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、該反射光の強度差に基づいて、前記コードマークを読み取ることを特徴とするコードマーク読取システム。
【請求項９】
前記コードマーク読取装置は、
前記低反射基材層に達する深さで刻印されたコードマークのみを読み取ることを特徴とする請求項７または８記載のコードマーク読取システム。
【請求項１０】
前記コードマークは、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする請求項７から９のいずれか１項に記載のコードマーク読取システム。
【請求項１１】
前記コードマーク読取装置は、
前記コードマークの線が形成されている方向に垂直で、かつ前記高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して２０°〜４０°の方向から前記光源の光を照射し、該反射光の強度差に基づいて、前記コードマークを読み取ることを特徴とする請求項１０記載のコードマーク読取システム。
【請求項１２】
低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、
前記高反射基材層にＣＯ2レーザマーカによりＣＯ2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、前記高反射基材層の一部を前記低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印するとともに、他の部分を前記低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印する刻印工程と、
を有することを特徴とする偽造防止部材の製造方法。
【請求項１３】
低反射基材層の一方の面上に該低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、
前記高反射基材層表面における所定領域に対してＣＯ2レーザマーカによりＣＯ2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、前記高反射基材層の一部を前記低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印して貫通単位セルを生成するとともに、前記高反射基材層表面における他の領域に対して前記低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印して非貫通単位セルを生成する刻印工程と、
を有することを特徴とする偽造防止部材の製造方法。
【請求項１４】
前記刻印工程は、
前記ＣＯ2レーザおよび前記偽造防止部材のうちの少なくとも一方を一定方向に移動させながら、前記高反射基材層上にＣＯ2レーザを照射させて、互いに平行な複数の線状の刻印部分からなる前記コードマークを刻印することを特徴とする請求項１３記載の偽造防止部材の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法に関し、特に、レーザでコードマークを刻印する偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、製品および有価証券などの偽造を防止するために、その製品および有価証券の表面にホログラムなどを加工したり、コードマークを形成したりといった様々な加工処理を施していた。
【０００３】
上記のような従来技術として、特許文献１が開示するところの磁性膜を有する有価証券があった。
特許文献１では、有価証券の墨インキで印刷した記号などの任意の一部分を磁性インキで形成していた。このことにより、有価証券のどの部分が磁性インキで形成されているか肉眼では外観上判別不可能であるとともに、マグネットビュアーで容易に有価証券の真偽のチェックを行うことを可能としていた。
【特許文献１】実開昭４９−１４１７９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１記載では、有価証券の一部を墨インキ、他の部分を磁性インキで印刷しており、互いに異なる材料を予め用意して印刷しなければならないため、煩雑な作業およびコストが生じていた。
【０００５】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、作業効率の向上およびコスト削減を実現し、容易に製品などの偽造を防止する偽造防止部材、コードマーク読取システムおよび偽造防止部材の製造方法を提供することを特徴とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
かかる目的を達成するため、本発明は、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は低反射基材層に達する深さで刻印され、コードマークの他の部分は低反射基材層に達しない深さで刻印されたことを特徴とする。
【０００７】
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材であって、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印されてなる１以上の貫通単位セルと、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印されてなる１以上の非貫通単位セルと、が設けられていることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明によれば、コードマークは、ＣＯ2レーザにより刻印された、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする。
【０００９】
また、本発明によれば、コードマークは、２次元コードであることを特徴とする。
【００１０】
また、本発明によれば、低反射基材層の他方の面には接着剤層が設けられていることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明によれば、高反射基材層は、鱗片顔料含有樹脂層であることを特徴とする。
【００１２】
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、偽造防止部材は、高反射基材層に刻印されたコードマークのうち一部は低反射基材層に達する深さで刻印されるとともに、コードマークの他の部分は低反射基材層に達しない深さで刻印され、コードマーク読取装置は、高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、反射光の強度差に基づいて、コードマークを読み取ることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層が積層された偽造防止部材と、高反射基材層に刻印されたコードマークを読み取るコードマーク読取装置と、を有するコードマーク読取システムであって、偽造防止部材は、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達する深さでコードマーク刻設されてなる１以上の貫通単位セルと、高反射基材層表面における所定領域内において低反射基材層に達しない深さでコードマーク刻設されてなる１以上の非貫通単位セルと、が設けられ、コードマーク読取装置は、高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して非垂直方向から自装置に設けられた光源の光を照射し、反射光の強度差に基づいて、コードマークを読み取ることを特徴とする。
【００１４】
また、本発明によれば、コードマーク読取装置は、低反射基材層に達する深さで刻印されたコードマークのみを読み取ることを特徴とする。
【００１５】
また、本発明によれば、コードマークは、互いに平行な複数の線状の刻印部分により構成されることを特徴とする。
【００１６】
また、本発明によれば、コードマーク読取装置は、コードマークの線が形成されている方向に垂直で、かつ高反射基材層のコードマークが刻印された面に対して２０°〜４０°の方向から光源の光を照射し、反射光の強度差に基づいて、コードマークを読み取ることを特徴とする。
【００１７】
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、高反射基材層にＣＯ2レーザマーカによりＣＯ2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、高反射基材層の一部を低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印するとともに、他の部分を低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印する刻印工程と、を有することを特徴とする。
【００１８】
また、本発明によれば、低反射基材層の一方の面上に低反射基材層と所定の反射濃度差の高反射基材層を積層する積層工程と、高反射基材層表面における所定領域に対してＣＯ2レーザマーカによりＣＯ2レーザを照射し、レーザ照射部分を加熱し気化させ、高反射基材層の一部を低反射基材層に達する深さでコードマークを刻印して貫通単位セルを生成するとともに、高反射基材層表面における他の領域に対して低反射基材層に達しない深さでコードマークを刻印して非貫通単位セルを生成する刻印工程と、を有することを特徴とする。
【００１９】
また、本発明によれば、刻印工程は、ＣＯ2レーザおよび偽造防止部材のうちの少なくとも一方を一定方向に移動させながら、高反射基材層上にＣＯ2レーザを照射させて、互いに平行な複数の線状の刻印部分からなるコードマークを刻印することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、複製が困難なコードマークが刻印された偽造防止部材を容易に形成し、偽造を防止することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本発明の実施の形態では、低反射基材層の一方の面に低反射基材層よりも照射光の反射率の高い高反射基材層（鱗片顔料含有樹脂層またはホログラム層など）を設け、他方の面に接着剤を塗布して粘着層を設ける。
さらに、高反射基材層側にレーザを照射して、低反射基材層に達するまで高反射基材層を昇華させることにより貫通孔が生成された貫通単位セルと、低反射基材層に達しない程度に高反射基材層を昇華させることにより非貫通孔が生成された非貫通単位セルとを設ける。
【実施例１】
【００２２】
図１は、本発明の実施例１における偽造防止部材の正面図である。
また、図２は、本発明の実施例１における偽造防止部材の断面図であって、図１の点線Ａの断面を示す。
以下、図１および図２を用いて、本実施例における偽造防止部材について説明する。
【００２３】
図２に示されているように、偽造防止部材は、鱗片顔料含有樹脂層１と、低反射基材層２と、接着剤層３とからなる。粘着層３上には低反射基材層２が積層されている。また、低反射基材層２上には、鱗片顔料含有樹脂層１が積層されている。
【００２４】
鱗片顔料含有樹脂層１は、鱗片顔料を含有する樹脂からなる層であって、光輝性を有する。その鱗片顔料としては、例えば各種雲母、セリサイト（絹雲母）、タルク、カオリン、ムライトなどの天然鉱物、または合成雲母などの鱗片状の合成化合物が用いられるとしてもよい。
【００２５】
低反射基材層２は、鱗片顔料含有樹脂層１よりも著しく反射濃度の低い基材からなる層である。例えば、低反射基材層２は、黒色の紙または樹脂からなるとしてもよい。
【００２６】
粘着層３は、例えば感圧接着剤などからなり、偽造防止の対象の物品に偽造防止部材を接着するための層である。
【００２７】
図１に示されているように、鱗片顔料含有樹脂層１表面には、貫通単位セル１０と、非貫通単位セル２０とが形成されている。
貫通単位セル１０は、所定面積の鱗片顔料含有樹脂層１表面が低反射基材層２に達するまで掘削されてコードマークが刻印されて形成される。
また、非貫通単位セル２０は、所定面積の鱗片顔料含有樹脂層１表面が低反射基材層２に達しない程度に掘削されてコードマークが刻印されて形成される。
なお、図１に示される例では、１つの貫通単位セル１０の周囲に８つの非貫通単位セル２０が設けられているが、各単位セルの数および偽造防止部材上の各単位セルの配置位置は、図１の例に限定されないものとする。
【００２８】
貫通単位セル１０および非貫通単位セル２０に刻印されたコードマークには、例えば偽造防止部材が貼付された製品の識別情報または管理情報（例えばロットナンバー、製造日、製造地など）が含まれるとしてもよい。偽造防止部材上のコードマークを読取装置で読み取ることにより、偽造防止部材が貼付された物品の製造、流通の管理が容易になる。
【００２９】
なお、上記のコードマークは、スタック型２次元コードであってもよいし、マトリックス型２次元コードであってもよい。さらに、偽造防止部材上に刻印されるコードマークは、２次元コードに限らず、バーコード、ロゴまたは文字パターンのような他のコードマークであってもよい。
【００３０】
上記のように、偽造防止部材は、黒色紙などの低反射基材層２上に鱗片顔料含有樹脂層１を積層して作成される。従って、再帰反射基材などを用いた場合に比べて安価な偽造防止部材を生成することが可能となる。
【００３１】
図３は、本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する貫通単位セル１０をより詳細に示した正面図である。
また、図４は、本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する貫通単位セル１０の断面図であって、図１の点線Ｂの断面を示すものである。
以下、図３および図４を用いて、本実施例における貫通単位セル１０について説明する。
【００３２】
図４に示されているように、貫通単位セル１０は、鱗片顔料含有樹脂層１と、低反射基材層２と、粘着層３とからなる。粘着層３上には低反射基材層２が積層されている。また、低反射基材層２上には、鱗片顔料含有樹脂層１が積層されている。
【００３３】
ＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を一定方向に移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層１上にＣＯ2レーザを照射させて、低反射基材層２に達する深さまで鱗片顔料含有樹脂層１を昇華させることにより、ライン状（溝形状）の貫通孔４が形成される。さらに、その一定方向に平行にＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層１上へＣＯ2レーザを照射して貫通孔４形成を繰り返してコードマークを刻印することにより、偽造防止部材に貫通単位セル１０が形成される。
【００３４】
以下、貫通単位セル１０上のコードマークの読み取りについて説明する。この偽造防止部材上に刻印されたコードマークを読取装置により読み取る。読取装置は、自装置に設けられている光源から対象となる物体に光を照射して、その反射光を受光し、その受光した反射光の強度を測定してコードを読み取る装置である。
読取装置は、自装置が保持する光源光を鱗片顔料含有樹脂層１表面に照射し、その反射光の光強度を測定する。そして、読取装置は、その測定された反射光の光強度差に基づいて、偽造防止部材上の画像（コードマーク）を読み取る。
本実施例における貫通単位セル１０では、高輝度の鱗片顔料含有樹脂層１と、鱗片顔料含有樹脂層１を貫通するようにマーキングすることにより低反射基材層２表面が露出した貫通孔４表面との間に大きなコントラスト（反射光の光強度差）が生じ、読取装置による読取精度を向上させることが可能となる。
【００３５】
読取装置は、鱗片顔料含有樹脂層１表面に対して垂直方向または非垂直方向から、貫通単位セル１０に読み取り用の光を照射すると、低反射基材層２表面が露出した貫通孔４では鱗片顔料含有樹脂層１表面に比べて照射光の吸収率が高いため、貫通孔４からの反射光の光強度は鱗片顔料含有樹脂層１表面からの反射光の光強度よりも低い値となり、両反射光の光強度差から偽造防止部材上の画像が読み取られる。
【００３６】
図５は、本発明の実施例１における読取装置による貫通単位セル１０の読取画像を示す図である。
図５に示されるように、鱗片顔料含有樹脂層１表面に対して垂直方向からであっても、非垂直方向からであっても、読取装置が鱗片顔料含有樹脂層１へ読み取り用の光を照射すると、貫通孔４の集合により形成される貫通単位セル１０上のコードマークを読み取ることができる。
【００３７】
図６は、本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する非貫通単位セル２０をより詳細に示した正面図である。
また、図７は、本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する非貫通単位セル２０の断面図であって、図６の点線Ｃの断面を示すものである。
以下、図６および図７を用いて、本実施例における非貫通単位セル２０について説明する。
【００３８】
図７に示されているように、偽造防止部材は、鱗片顔料含有樹脂層１と、低反射基材層２と、粘着層３とからなる。粘着層３上には低反射基材層２が積層されている。また、低反射基材層２上には、鱗片顔料含有樹脂層１が積層されている。
また、ＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を一定方向に移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層１上にＣＯ2レーザを照射させて、低反射基材層２に達しない程度に鱗片顔料含有樹脂層１を昇華させることにより、ライン状（溝形状）の非貫通孔５を形成する。さらに、その一定方向に平行にＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を移動させながら、鱗片顔料含有樹脂層１上へＣＯ2レーザを照射して非貫通孔５形成を繰り返すことにより、非貫通単位セル２０上にコードマークが形成される。
この非貫通孔５は、例えば鱗片顔料含有樹脂層１の積層方向の厚さの１／２程度の深さであるとしてよい。この複数の非貫通孔５の集合によりコードマークが形成される。
このように、非貫通単位セル２０は、貫通単位セル１０と比べて、そのコードマークを形成するライン状の孔が鱗片顔料含有樹脂層１を貫通していない点で異なる。なお、他の部分については、非貫通単位セル２０は、貫通単位セル１０と同様であるとする。
【００３９】
以下、非貫通単位セル２０上のコードマークの読み取りについて説明する。読取装置は、自装置に設けられている光源から対象となる物体に光を照射して、その反射光を受光し、その受光した反射光の強度を測定して偽造防止部材上のコードマークを読み取る。
【００４０】
図７に示されるように、読取装置は、照射面（非貫通単位セル２０の鱗片顔料含有樹脂層１側の面）に対して垂直方向から光を照射して、その反射光の光強度を測定する場合、貫通単位セル１０における貫通孔４と同様に、反射光の光強度差から非貫通孔５をコードマークとして読み取ることができる。
図８は、本発明の実施例１において、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル２０上の画像を示す図である。
図８に示されるように、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射すると、非貫通単位セル２０上の非貫通孔５から形成されるコードマークを読み取ることができる。
【００４１】
一方、読取装置が、非貫通孔５形成時のＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材移動方向（非貫通孔５のライン形状が形成されている方向に平行な方向）に略垂直で、かつ照射面（鱗片顔料含有樹脂層１側）に対して所定角度をなす方向から光を照射して、その反射光の光強度を測定する場合、非貫通孔５に入射した光は非貫通孔５の内壁で乱反射を起こし、非貫通孔５が白色に発光する。この場合、読取装置が受光する反射光の強度と、鱗片顔料含有樹脂層１表面からの反射光の強度との差が小さくなる。
図９は、本発明の実施例１において、読取装置が線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル２０上の画像を示す図である。
図９に示されるように、鱗片顔料含有樹脂層１と貫通孔５との反射光の光強度差が小さなものとなるため、読取装置は非貫通孔５をコードマークとして読み取らない。
なお、上記の照射面となす所定の角度は、２０°〜４０°、好ましくは３０±２．５°としてよい。
【００４２】
このように、照射面に対して所定の角度から読み取り用の光を照射した場合においてのみ認識が可能なコードマークを偽造防止部材上にマーキングし、その偽造防止部材を物品の表面に貼付などすることにより、偽造防止部材の複製を著しく困難なものとし、物品の偽造を防止することが可能となる。
【００４３】
以下、本実施形態における偽造防止部材の製造工程について説明する。
まず、透明樹脂に鱗片顔料を練り込んで、２０〜１００μｍの厚さに圧延処理し、シート化して鱗片顔料含有樹脂層１を作成する。このとき、鱗片顔料は、鱗片顔料含有樹脂層１全体に対して１０〜５０％、好ましくは２０〜３０％の体積比で混入させるとよい。
次に、低反射基材層２の一方の面上に光輝性を有する鱗片顔料を含有する鱗片顔料含有樹脂層１を貼り合わせ、低反射基材層２上に鱗片顔料含有樹脂層１を積層する。
次に、低反射基材層２の他方の面に接着剤を塗布して粘着層３を設ける。
次に、ＣＯ2レーザマーカからＣＯ2レーザを鱗片顔料含有樹脂層１に照射し、ＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を一定方向に移動させて、低反射基材層２に達する深さまで鱗片顔料含有樹脂層１を昇華させ、ライン状の貫通孔４を形成する。この貫通孔４形成部分では、低反射基材層２表面が露出する。
ＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を、所定面積内において上記の一定方向と平行な方向へ移動させながらレーザ照射を繰り返し、互いに平行なライン状の貫通孔４を鱗片顔料含有樹脂層１上に複数形成してコードマークを刻印することにより、貫通単位セル１０が形成される。上記工程を繰り返して、貫通単位セル１０を必要な数だけ偽造防止部材上に形成する。
次に、ＣＯ2レーザマーカからＣＯ2レーザを鱗片顔料含有樹脂層１に照射し、ＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を一定方向に移動させて、低反射基材層２に達しない深さまで鱗片顔料含有樹脂層１を昇華させ、ライン状の非貫通孔５を形成する。
ＣＯ2レーザビーム及び／又は偽造防止部材を、所定面積内において上記の一定方向と平行な方向へ移動させながらレーザ照射を繰り返し、互いに平行なライン状の非貫通孔５を鱗片顔料含有樹脂層１上に複数形成してコードマークを刻印することにより、非貫通単位セル２０が形成される。上記工程を繰り返して、非貫通単位セル２０を必要な数だけ偽造防止部材上に形成する。
このようにして、偽造防止部材が完成する。
なお、貫通単位セル１０形成工程と非貫通単位セル２０形成工程とは、その順序が入れ替わってもよい。
また、ここで使用するＣＯ2レーザマーカは、堀内電機製作所製の「１２Ｗ  ＣＯ2レーザマーカ  ＬＳＳ−Ｓ０５０ＶＡＨ」であるとしてもよい。
【００４４】
以下、読取装置が、照射面（鱗片顔料含有樹脂層１の上面）に対して垂直に光を照射し、その反射光によりコードマークを読み取る場合について説明する。
【００４５】
図５に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、反射光の光強度差から貫通単位セル１０の貫通孔４をコードマークとして読み取ることができる。
また、図８に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、反射光の光強度差から非貫通単位セル２０非貫通孔５をコードマークとして読み取ることができる。
【００４６】
図１０は、本発明の実施例１において、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合における偽造防止部材上の読み取り画像を示す図である。
上述したことから、図１０に示されるように、読取装置は、照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合、貫通単位セル１０および非貫通単位セル２０両方のコードマークを読み取る。
【００４７】
以下、読取装置が、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面（鱗片顔料含有樹脂層１の上面）に対して所定角度をなす方向から光を照射し、その反射光によりコードマークを読み取る場合について説明する。
【００４８】
図５に示されるように、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面（鱗片顔料含有樹脂層１の上面）に対して所定角度をなす方向（照射面に対して非垂直方向）から読み取り用の光を照射した場合、反射光の光強度差から貫通単位セル１０の貫通孔４をコードマークとして読み取ることができる。
一方、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面（鱗片顔料含有樹脂層１の上面）に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合、その照射光が非貫通孔５の内壁で乱反射し、非貫通孔５が白色に発光する。このことから、非貫通孔５からの反射光の強度が増加し、鱗片顔料含有樹脂層１との反射強度の差が小さくなるため、図９に示されるように、読取装置は非貫通孔５の画像をコードマークとして読み取らない。
【００４９】
図１１は、本発明の実施例１において、読取装置が線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合における偽造防止部材上の読み取り画像を示す図である。
上述したことから、図１１に示されるように、読取装置は、線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合、非貫通単位セル２０上のコードマークを読み取らずに、貫通単位セル１０上のコードマークのみを読み取る。
なお、上記の所定角度は２０°から４０°、好ましくは３０°±２．５°である。
【００５０】
以上説明したように、読取装置は、偽造防止部材の照射面と所定角度をなす方向から照射光を照射面上に照射した場合においてのみ、貫通単位セル１０上のコードマークだけを容易に読み取ることができる。
例えば、読み取られることを目的とするコードマークの部分を貫通単位セル１０で形成し、鱗片顔料含有樹脂層１側の面上のその他の部分にはダミーとして非貫通単位セル２０を設けるとしてもよい。この偽造防止部材を肉眼で観察した場合、あるいは読取装置により読み取り用の光を垂直に照射して読み取る場合では、一見して貫通単位セル１０と非貫通単位セル２０（貫通孔４と非貫通孔５）の区別が困難であるため、コードマークを複製することが著しく困難とすることが可能となる。
また、この偽造防止部材を物品に貼付することにより、物品の偽造を防止するとともに、読取装置を用いて斜め方向から照射光を照射してコードマークの有無を確認することにより、真贋判定を容易に行うことが可能となる。
【００５１】
なお、上記の実施例１は本発明の好適な実施の一例であり、本発明の実施例は、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形して実施することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の実施例１における偽造防止部材の正面図である。
【図２】本発明の実施例１における偽造防止部材の断面図である。
【図３】本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する貫通単位セルをより詳細に示した正面図である。
【図４】本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する貫通単位セルの断面図である。
【図５】本発明の実施例１における読取装置による貫通単位セルの読取画像を示す図である。
【図６】本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する非貫通単位セルをより詳細に示した正面図である。
【図７】本発明の実施例１における偽造防止部材を構成する非貫通単位セルの断面図である。
【図８】本発明の実施例１において、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル２０上の画像を示す図である。
【図９】本発明の実施例１において、読取装置が線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射して、その反射光の強度差から読み取った非貫通単位セル上の画像を示す図である。
【図１０】本発明の実施例１において、読取装置が照射面に対して垂直方向から読み取り用の光を照射した場合における偽造防止部材上の読み取り画像を示す図である。
【図１１】本発明の実施例１において、読取装置が線形成方向に平行な方向に略垂直で、かつ照射面に対して所定角度をなす方向から読み取り用の光を照射した場合における偽造防止部材上の読み取り画像を示す図である。
【符号の説明】
【００５３】
１    鱗片顔料含有樹脂層
２    低反射基材層
３    粘着層
４    貫通孔
５    非貫通孔
６    ホログラム層
１０    貫通単位セル
２０    非貫通単位セル
【図１】
2005115643.tif 000003
【図２】
2005115643.tif 000004
【図３】
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【図４】
2005115643.tif 000006
【図５】
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【図６】
2005115643.tif 000008
【図７】
2005115643.tif 000009
【図８】
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【図９】
2005115643.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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