(57)【要約】【課題】複数の周波数変換段に依存しない正確な雑音測定システムの提供。【解決手段】印加信号の指定周波数帯域内で雑音を測定する雑音測定システム（１０）は、等間隔離間周波数群により前記印加信号を周波数変換して中間周波信号の対応群を供給する周波数変換器（１２）と、前記等間隔離間周波数の周波数間隔でもって離間する前記各中間周波信号内の少なくとも二つの測定帯域で雑音を測定するサンプラ（１４）と、前記サンプラにより測定した前記雑音に基づき前記印加信号の前記周波数帯域内の雑音電力を決定する信号処理装置（１６）とを備える。【選択図】図５
2005134398.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
印加信号の指定周波数帯域内で雑音を測定するシステムであって、
等間隔離間周波数群により前記印加信号を周波数変換して中間周波信号の対応群を供給する周波数変換器と、
前記等間隔離間周波数の周波数間隔でもって離間する前記各中間周波信号内の少なくとも二つの測定帯域で雑音を測定するサンプラと、
前記サンプラにより測定した前記雑音に基づき前記印加信号の前記周波数帯域内の雑音電力を決定する信号処理装置と、
を備える雑音測定システム。
【請求項２】
前記周波数変換器は、前記印加信号の帯域を制限する前置選択器と、該前置選択器に結合した第１のポートを有するミキサと、前記ミキサの第２のポートと前記サンプラとの間に介挿された縦続接続された高域通過フィルタ及び低域通過フィルタを備え、前記ミキサの第３のポートが前記等間隔離間周波数群内の前記周波数を逐次有する局部発振器信号を受信する、
ことを特徴とする請求項１記載の雑音測定システム。
【請求項３】
前記サンプラの前記測定は、前記各中間周波信号のサンプリングを含む、
ことを特徴とする請求項１記載の雑音測定システム。
【請求項４】
前記少なくとも二つの測定帯域は、前記各中間周波信号をサンプリングする前に該各中間周波信号を濾波することで規定される、
ことを特徴とする請求項３記載の雑音測定システム。
【請求項５】
前記各中間周波信号の少なくとも二つの測定帯域は、前記各中間周波信号のサンプリングと該サンプリングから得られるサンプルのディジタル濾波により規定する、
ことを特徴とする請求項３記載の雑音測定システム。
【請求項６】
前記信号処理装置は、前記サンプラによる前記各中間周波信号の前記少なくとも二つの測定帯域内で測定した雑音から得られる行列方程式を解くとともに最小二乗法を適用することにより、前記印加信号の前記周波数帯域内で前記雑音電力を決定する、
ことを特徴とする請求項１記載の雑音測定システム。
【請求項７】
前記各中間周波信号内の少なくとも二つの測定帯域は、それぞれ重複する上側波帯と下側波帯を有する、
ことを特徴とする請求項１記載の雑音測定システム。
【請求項８】
前記等間隔離間周波数群により前記印加信号を周波数変換して前記中間周波信号の対応群を供給するため、前記印加信号に前記等間隔離間周波数群内に逐次前記周波数を有する局部発振器信号を混合する、
ことを特徴とする請求項１記載の雑音測定システム。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
通信システムの無欠性の一つの測度は、システム内に存在する雑音量にある。通信システムの雑音の特性解明には、例えば図１に例示する雑音スペクトル内に図示した１以上の特定周波数帯域（ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ；ｂ、ｃ、ｄの中心周波数はそれぞれ周波数ｆ1，ｆ2，ｆ3）内の雑音電力の測定が含まれる。一方、雑音電力の測定には本質的に不規則な雑音の統計値の測定或いは推定が含まれる。
【０００２】
図２に示す従来の雑音指数計は、指定された周波数帯内の雑音電力の正確な測定値を提供する。雑音指数計では、周波数帯域内の雑音を逓降変換し、雑音電力検出器により測定する。雑音指数計は多数の周波数変換段を含むため、雑音指数計は一般に製造に費用がかかる。
【０００３】
図３Ａと図３Ｂに図示する従来の直接変換受信機もまた、雑音電力の測定に用いられる。直接変換受信機は一般に雑音指数計よりも製造コストが低い。何故なら該受信機は周波数変換段を一つしか含まないからである。直接変換受信機は、周波数帯域（例えば、図３Ｃ内に図示した周波数帯域ｃ）内の雑音を基底帯域雑音信号（図３Ｄに図示）へ変換し、この信号を雑音電力検出器（図３Ａに図示）或いは狭帯域アナログ／ディジタル変換器（図３Ｂに図示）により測定する。しかしながら、これらの直接変換受信機は雑音指数計ほど正確ではない。誤差の一つの測度、すなわち測定した雑音電力の分散は、雑音指数計よりも直接変換受信機の方が本質的により高いものである。例えば、一般の直接変換受信機が測定する雑音電力の分散は、雑音指数計が測定する雑音電力の分散のほぼ２倍である。
【０００４】
図４Ａに雑音電力測定の他の手法を示す。この手法では、周波数変換段により単一の測定帯域Ｂ内に上下の雑音側波帯を重複させる。図４Ｂ乃至図４Ｄは、周波数変換段内の局部発振器を周波数ｆ1，ｆ2，ｆ3間で歩進させた際の単一の測定帯域Ｂ内に落ちて重複する雑音側波帯を示す。雑音電力検出器はそこで、局部発振器の各歩進周波数ごとに、単一測定帯域Ｂ内で雑音電力を測定する。この手法は、重複する雑音側波帯に基づき低コスト信号処理を利用して指定周波数帯域（例えば、周波数帯域ｃ）内で雑音電力を抽出するが、測定確度は従来の雑音指数計のそれほどには良好ではない。例えば、この手法を用いて測定される雑音電力の分散は、従来の雑音指数計を用いて測定したときの雑音電力の分散のほぼ３倍の大きさである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記に鑑み、雑音指数計の複数周波数変換段に依存しない正確な雑音測定システムの必要性が存在し、該システムの提供が本発明の課題である。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の実施形態による雑音測定システムは、印加信号の１以上の指定周波数帯域内の雑音電力を測定する。雑音測定システムは、等間隔離間周波数群により印加信号を周波数変換して中間周波信号の対応群を形成する周波数変換器を含む。雑音測定システム内のサンプラは、等間隔離間する周波数間隔で隔てられた中間周波信号の各々ごとに少なくとも二つの測定帯域内で雑音を測定する。雑音測定システムはまた、サンプラによる雑音測定値に基づいて印加信号の指定周波数帯域内で雑音電力を決定する信号処理装置を含む。本発明の代替実施形態は、雑音測定方法に関する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
図６Ａは、信号ＳINのスペクトル内に指定した一連の周波数帯域ａ〜ｅを備える例示信号ＳINを示す。本発明の実施形態になる雑音測定システム１０と雑音測定方法２０は、１以上の周波数帯域ａ〜ｅ内で雑音電力を測定する。雑音測定システム１０（図５に図示）は、サンプラ１４と信号の処理装置１６に縦続接続された周波数変換器１２を含む。信号処理装置１６に随意選択的に結合した表示（器）１８或いは他の出力装置により、雑音測定システム１０が測定した雑音電力を表示することができる。
【０００８】
周波数変換器１２は一般に、前置選択器ＦＩＬとミキサＭと局部発振器ＬＯと出力フィルタＨＰ，ＬＰを含む。前置選択器ＦＩＬは、ミキサＭへの印加前に信号ＳINの帯域を制限し、周波数変換器１２の出力端にて不要な雑音側波帯が中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnの帯域内に混入する高次混合積の効果を低減する。本例では、ミキサＭは二重平衡ミキサとするのがよい。しかしながら、周波数変換器１２内には他に適当などんな周波数変換装置も代用することができる。
【０００９】
局部発振器ＬＯは一連の局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯnをミキサＭへ供給することのできる任意の適当な信号源である。ここで各局部発振器信号は等間隔離間周波数ｆ1〜ｆnの指定群に属する周波数を有する。通常の実装にあっては、局部発振器ＬＯは周波数歩進できる信号源や各周波数ｆ1〜ｆnにて逐次に局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯnを供給する可調整フィルタを備える櫛型発生器である。
【００１０】
出力フィルタＨＰは、ミキサＭにより中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnの周波数範囲へ変換される局部発振器ＬＯからの近接雑音を濾波する高域通過フィルタである。出力フィルタＬＰは通常、周波数変換器１２の出力端に存在する各中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnの帯域を制限し、サンプラ１４が中間周波信号をそれぞれサンプリングするときの折り返し歪を阻止する低域通過フィルタである。
【００１１】
サンプラ１４は、アナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器、すなわち周波数変換器１２の出力端で各中間周波数信号信号ＩＦ1〜ＩＦnをサンプリングするのに適した信号デジタイザ或いは他種のサンプリングシステムである。信号処理装置１６は、本例ではディジタル信号処理装置（ＤＳＰ）を用いて実装してあり、サンプラ１４が取得した中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnのサンプルを処理し、信号ＳINの１以上の周波数帯域ａ〜ｅ内での雑音電力を決定する。
【００１２】
信号ＳIN内の指定周波数帯域内の雑音電力を決定すべく、周波数変換器１２は信号ＳINを周波数変換し、サンプラ１４の入力端に中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnを供給する。この周波数変換は、信号ＳINと各局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯnとの混合を含む。対応周波数ｆ1〜ｆnを有する局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯnは、周波数間隔ｆSでもって離間している。図６Ｂと図６Ｃと図６Ｄは、信号ＳINを３個の等間隔離間周波数ｆ1〜ｆ3により変換したときに周波数変換器１２の出力端で得られる３個の中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnの例をそれぞれ示すものである。得られる中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦ3はそれぞれ、重複する上側及び下側スペクトルの側波帯の重ね合わせを含む。上側波帯ＵＳＢXと下側波帯ＬＳＢXとは実際には重複しているが、図６Ｂ乃至図６Ｄでは便宜上に垂直にずらして図示してある（Ｘ＝１〜３）。
【００１３】
各中間周波信号、例えば中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦ3の雑音は、各中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦ3のスペクトル内に規定した２以上の測定帯域Ｂ1〜ＢK内にて測定する。測定帯域Ｂ1〜ＢKは、周波数ｆ1〜ｆnを仕切る周波数間隔ｆSでもってそれぞれ離間している。中間周波信号の雑音を測定するため、サンプラ１４は十分に高いサンプリング速度でもって各中間周波信号のサンプルを取得し、局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯnの周波数間隔ｆSよりも幅広の信号帯域に対応する。特に、サンプラ１４のサンプリング速度は相当高くし、周波数間隔ｆSでもって区分けしたときに２以上の規定測定帯域Ｂ1〜ＢKに関するナイキスト判定基準を満たすようにしてある。これらの測定帯域Ｂ1〜ＢKは、サンプラ１４によるサンプリングの前の中間周波数信号の濾波、あるいは、サンプラ１４により中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnから取得するサンプルのディジタル濾波或いは他の信号処理のいずれかにより、中間周波数信号ＩＦ1〜ＩＦnにおいて規定される。局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯnの周波数ｆ1〜ｆnに応じ、信号ＳINの様々な周波数帯域ａ〜ｅが２以上の測定帯域Ｂ1〜ＢK内で重複する。
【００１４】
図６Ｂは、局部発振器信号ＳＬＯ1を供給する局部発振器ＬＯが周波数ｆ1を有する時点ｔ１での中間周波信号ＩＦ1のスペクトルを示す。信号ＳIN内の周波数帯域ｂの雑音成分ｂ１，ｂ２は、中間周波信号ＩＦ1内の測定帯域Ｂ1と重複させて図示してある。信号ＳIN内の周波数帯域ａ，ｃは、中間周波信号ＩＦ1内の測定帯域Ｂ2と重複する。測定帯域Ｂ1内の重複雑音成分ｂ１，ｂ２の測定により、雑音測定値Ｍbが得られる。測定帯域Ｂ2内の重複周波数帯域ａとｃの雑音測定により、雑音測定値Ｍac＝Ｎa＋Ｎcが得られる。雑音測定値Ｍacは、中間周波信号ＩＦ1内の下側波帯ＬＳＢ1へ変換した周波数帯域ａ内の雑音電力Ｎaと中間周波信号ＩＦ1の重複上側波帯ＵＳＢ1へ変換した周波数帯域ｃ内の雑音電力Ｎcとの和を表わす。
【００１５】
図６Ｃは、局部発振器信号ＳＬＯ2を供給する局部発振器ＬＯが周波数ｆ2を有するときに得られる中間周波数信号ＩＦ2のスペクトルを示す。信号ＳINの周波数帯域ｃの雑音成分ｃ１，ｃ２は、中間周波信号ＩＦ2の測定帯域Ｂ1内に重複させて図示してある。信号ＳIN内の周波数帯域ｂとｄは、中間周波信号ＩＦ2内の測定帯域Ｂ2内で重複している。信号ＳIN内の周波数帯域ａ，ｅは、中間周波信号ＩＦ2内の測定帯域Ｂ3と重複している。測定帯域Ｂ1内の重複雑音成分ｃ１，ｃ２の測定により、雑音測定値Ｍcが得られる。測定帯域Ｂ2内の重複周波数帯域ｂ，ｄの雑音測定により、雑音測定値Ｍbd＝Ｎb＋Ｎdが得られる。雑音測定値Ｍbdは、中間周波信号ＩＦ2の下側波帯ＬＳＢ2へ変換した周波数帯域ｂ内の雑音電力Ｎbと中間周波信号ＩＦ2の重複上側波帯ＵＳＢ2へ変換した周波数帯域ｄ内の雑音電力Ｎdとの和を表わす。測定帯域Ｂ3内の重複周波数帯域ａ，ｅの雑音測定により、雑音測定値Ｍae＝Ｎa＋Ｎeが得られる。雑音測定値Ｍaeは、中間周波信号ＩＦ2の下側波帯ＬＳＢ2へ変換した周波数帯域ａ内の雑音電力Ｎaと中間周波信号ＩＦ2の重複上側波帯ＵＳＢ2へ変換した周波数帯域ｅ内の雑音電力Ｎeとの和を表わす。
【００１６】
図６Ｄは、局部発振器信号ＳＬＯ3を供給する局部発振器ＬＯが周波数ｆ3を有するときに得られる中間周波信号ＩＦ3のスペクトルを示すものである。信号ＳINの周波数帯域ｄ内の雑音成分ｄ１，ｄ２は、中間周波信号ＩＦ3の測定帯域Ｂ1内に重複させて図示してある。信号ＳIN内の周波数帯域ｃ，ｅは、中間周波信号ＩＦ3内の測定帯域Ｂ2内で重複している。測定帯域Ｂ1内での重複雑音成分ｄ１，ｄ２の測定により、雑音測定値Ｍdが得られる。測定値帯域Ｂ2内の重複周波数帯域ｃ，ｅの雑音測定により、雑音測定値Ｍce＝Ｎc＋Ｎeが得られる。雑音測定値Ｍceは、中間周波信号ＩＦ3の下側波帯ＬＳＢ3へ変換した周波数帯域ｅ内の雑音電力Ｎcと中間周波信号ＩＦ3の重複上側波帯ＵＳＢ3へ変換した周波数帯域ｅ内の雑音電力Ｎeとの和を表わす。
【００１７】
信号ＳINの１以上の周波数帯域ａ〜ｅ内の雑音電力は、雑音測定値に基づいて信号処理装置１６により決定される。本例では、雑音電力の決定は、雑音測定値Ｍb，Ｍc，Ｍd，Ｍac，Ｍbd，Ｍae，Ｍceと行列方程式、式（１）内の周波数帯域ａ〜ｅ内の雑音電力Ｎa，Ｎb，Ｎc，Ｎd，Ｎeの間の関係を表現することで簡単化される。
【００１８】
【数１】
2005134398.tif 000003
【００１９】
代替表記法では、式（１）は行列方程式：［Ｈ］＊［Ｎ］＝［Ｍ］で表現される。本願明細書に参照用に取り込むチャールズ・ダブリュー・セリエン（Ｃｈａｒｌｅｓ  Ｗ．  Ｔｈｅｒｒｉｅｎ）による「離散不規則信号と統計的信号処理（Ｄｉｓｃｒｅｔｅ  Ｒａｎｄｏｍ  Ｓｉｇｎａｌｓ  ａｎｄ  Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）」、ＩＳＢＮ（国際標準図書番号）第０−１３−８５２１１２−３号、頁５１８−５２３に記載された最小二乗法を行列方程式、式（１）に適用することにより、式（２）のように雑音電力行列［Ｎ］に関する解が導かれる。ただし、［Ｈ］Tは、行列［Ｈ］の転置行列である。
【００２０】
［Ｎ］＝｛［Ｈ］T＊［Ｈ］｝-1＊［Ｈ］T＊［Ｍ］      （２）
雑音電力行列［Ｎ］の解は、周波数群ｆ1〜ｆnが３個の周波数ｆ1，ｆ2，ｆ3で出来ている例では式（３）にて明示される。
【００２１】
【数２】
2005134398.tif 000004
【００２２】
式（３）から、信号ＳINの１以上の周波数帯域ａ〜ｅ内の雑音電力がそのまま利用可能となる。例えば、信号ＳINの周波数帯域ｃ内の雑音電力は、以下の如く雑音電力測定値で表わされる。
【００２３】
Ｎｃ＝（６Ｍac−６Ｍae＋９Ｍc＋６Ｍce）／２１
＝（２Ｍac−２Ｍae＋３Ｍc＋２Ｍce）／７
雑音電力は例示目的に信号ＳINの周波数帯域ｃ内で決定したが、雑音電力は信号ＳIN内の他の周波数帯域内で決定することもできる。
【００２４】
信号ＳINの雑音の不規則性が原因で、雑音電力（例えば、Ｎc）は周波数帯域ｃ内の雑音の統計測度をもたらす。行列［Ｍ］で表わされた被測定雑音もまた不規則変数であり、行列［Ｍ］内の雑音測定値の分散が雑音電力測定値の不確実性の測度をもたらす。例示した雑音測定では、周波数ｆ1〜ｆ3の局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯ3でもって雑音測定を行なったが、雑音測定値Ｍbの分散は１．５６であり、雑音測定Ｍcの分散は１．３５であり、雑音測定値Ｍdの分散は１．５６である。ただしこれらの各分散は信号ＳINの指定周波数帯域内で雑音電力を決定するのに従来の雑音指数計を用いたときに得られる分散に正規化してある。
【００２５】
本例の雑音電力は、例示目的に３個の周波数ｆ1〜ｆ3により信号ＳINの周波数変換に基づいて決定してきた。３個の局部発振器周波数ｆ1〜ｆ3を上回るものを周波数変換に用いて信号ＳIN内に周波数帯域ａ〜ｅに加え周波数帯域を指定したときに、雑音電力測定値の確度は増大する。図８は、局部発振周波数ｆ1〜ｆnの数ｎが増えるにつれ減少する雑音電力測定の正規化分散として描いた測定確度の結果増大を示す。
【００２６】
本発明の代替実施形態によれば、雑音電力は図７のフロー線図に示す雑音測定方法２０により決定する。雑音測定法２０はステップ２２〜２６を含んでおり、信号ＳINの１以上の指定周波数帯域ａ〜ｅ内の雑音電力を決定する。
【００２７】
ステップ２２では、等間隔離間周波数ｆ1〜ｆn群により中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnを形成する信号ＳINの周波数変換を含む。周波数変換は、一般に信号ＳINと各局部発振器信号ＳＬＯ1〜ＳＬＯnとの混合を含む。
【００２８】
ステップ２４では、等間隔離間周波数ｆ1〜ｆnの周波数間隔ｆSでもって離間する各中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnの２以上の測定帯域Ｂ1〜ＢK内での雑音の測定を含む。雑音測定は、各中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnのサンプルを十分高いサンプリング速度にて取得し、周波数間隔ｆSでもって離間する２以上の規定測定帯域Ｂ1〜ＢKの信号帯域に対応する。測定帯域Ｂ1〜ＢKは、サンプラ１４によるサンプリング前の中間周波信号の濾波、又は、サンプラ１４により中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦnを得たサンプルのディジタル濾波或いは他の信号処理、のいずれかにより中間周波信号ＩＦ1〜ＩＦn内で規定される。  
【００２９】
ステップ２６において、ステップ２４において実行した雑音測定に基づいて信号ＳINの指定周波数帯域内の雑音電力を決定する。一例では、信号ＳINの１以上の指定周波数帯域内の雑音電力は行列方程式、式（１）の解と最小二乗法の適用により決定される。
【００３０】
本発明の実施形態を詳細に説明してきたが、特許請求の範囲に記載した本発明範囲から逸脱することなくこれらの実施形態に対する改変や適用が当業者に想起するであろうことは言うまでもない。なお、本発明の実施者の参考に供するため、本発明の実施態様の一部を下記に記す。
【００３１】
（実施態様１）：印加信号の指定周波数帯域内で雑音を測定する雑音測定システムであって、等間隔離間周波数群により前記印加信号を周波数変換して中間周波信号の対応群を供給する周波数変換器と、前記等間隔離間周波数の周波数間隔でもって離間する前記各中間周波信号内の少なくとも二つの測定帯域で雑音を測定するサンプラと、前記サンプラにより測定した前記雑音に基づき前記印加信号の前記周波数帯域内の雑音電力を決定する信号処理装置とを備える。
【００３２】
（実施態様２）：前記周波数変換器は、前記印加信号の帯域を制限する前置選択器と、該前置選択器に結合した第１のポートを有するミキサと、前記ミキサの第２のポートと前記サンプラとの間に介挿された縦続接続された高域通過フィルタ及び低域通過フィルタを備え、前記ミキサの第３のポートが前記等間隔離間周波数群内の前記周波数を逐次有する局部発振器信号を受信することを特徴とする実施態様１記載の雑音測定システム。
【００３３】
（実施態様３）：前記サンプラの前記測定は、前記各中間周波信号のサンプリングを含む、ことを特徴とする実施態様１記載の雑音測定システム。
【００３４】
（実施態様４）：前記少なくとも二つの測定帯域は、前記各中間周波信号をサンプリングする前に該各中間周波信号を濾波することで規定されることを特徴とする実施態様３記載の雑音測定システム。
【００３５】
（実施態様５）：前記各中間周波信号の少なくとも二つの測定帯域は、前記各中間周波信号のサンプリングと該サンプリングから得られるサンプルのディジタル濾波により規定する、ことを特徴とする実施態様３記載の雑音測定システム。
【００３６】
（実施態様６）：前記信号処理装置は、前記サンプラによる前記各中間周波信号の前記少なくとも二つの測定帯域内で測定した雑音から得られる行列方程式を解くとともに最小二乗法を適用することにより、前記印加信号の前記周波数帯域内で前記雑音電力を決定する、
ことを特徴とする実施態様１記載の雑音測定システム。
【００３７】
（実施態様７）：前記各中間周波信号内の少なくとも二つの測定帯域は、それぞれ重複する上側波帯と下側波帯を有することを特徴とする実施態様１記載の雑音測定システム。
【００３８】
（実施態様８）：前記等間隔離間周波数群により前記印加信号を周波数変換して前記中間周波信号の対応群を供給するため、前記印加信号に前記等間隔離間周波数群内に逐次前記周波数を有する局部発振器信号を混合することを特徴とする実施態様１記載の雑音測定システム。
【００３９】
（実施態様９）：前記各中間周波信号内の前記少なくとも二つの測定帯域は、それぞれ重複する上側波帯と下側波帯を有することを特徴とする実施態様３記載の雑音測定システム。
【００４０】
（実施態様１０）：印加信号の周波数帯域内の雑音を測定する方法であって、（ａ）等間隔離間する周波数群により印加信号を周波数変換し、中間周波信号の対応群を形成するステップと、（ｂ）前記等間隔離間周波数の周波数間隔で離間する前記各中間周波信号の少なくとも二つの測定帯域内で雑音を測定するステップと、（ｃ）ステップ（ｂ）において測定した前記雑音に基づき前記印加信号の前記周波数帯域内で前記雑音電力を決定するステップを有する、ことを特徴とする雑音測定方法。
【００４１】
（実施態様１１）：ステップ（ａ）が、前記印加信号に、前記等間隔離間する周波数群内の周波数を逐次有する局部発振器信号を混合するステップを有することを特徴とする実施態様１０記載の雑音測定方法。
【００４２】
（実施態様１２）：ステップ（ｂ）は、前記各中間周波信号をサンプリングするステップを有することを特徴とする実施態様１０記載の雑音測定方法。
【００４３】
（実施態様１３）：ステップ（ｂ）は、前記各中間周波信号のサンプリングするステップを有することを特徴とする実施態様１１記載の雑音測定方法。
【００４４】
（実施態様１４）：前記各中間周波信号のサンプリング前に前記各中間周波信号を濾波することで前記少なくとも二つの測定帯域を規定することを特徴とする実施態様１２記載の雑音測定方法。
【００４５】
（実施態様１５）：前記各中間周波信号のサンプリング前に前記各中間周波信号を濾波することで前記少なくとも二つの測定帯域を規定することを特徴とする実施態様１３記載の雑音測定方法。
【００４６】
（実施態様１６）：前記各中間周波信号のサンプリングと該サンプリングから得られるサンプルのディジタル的濾波により前記少なくとも二つの測定帯域を規定することを特徴とする実施態様１０記載の雑音測定方法。
【００４７】
（実施態様１７）：前記各中間周波信号の前記少なくとも二つの測定帯域が、前記群内で前記中間周波信号を濾波することで規定されることを特徴とする実施態様１０記載の雑音測定方法。
【００４８】
（実施態様１８）：ステップ（ｃ）が、ステップ（ｂ）における雑音測定から生ずる行列方程式の解算出と最小二乗法の適用を含むことを特徴とする実施態様１０記載の雑音測定方法。
【００４９】
（実施態様１９）：ステップ（ｃ）が、ステップ（ｂ）における雑音測定から生ずる行列方程式の解算出と最小二乗法の適用を含むことを特徴とする実施態様１１記載の雑音測定方法。
【００５０】
（実施態様２０）：前記各中間周波数信号内の少なくとも二つの測定帯域は、それぞれ重複する上側波帯と下側波帯を有することを特徴とする実施態様１０記載の雑音測定方法。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】例示的な雑音スペクトル内の一連の周波数帯域を示す図である。
【図２】従来の雑音指数計を示す図である。
【図３Ａ】従来の直接変換受信機の例を示すブロック図である。
【図３Ｂ】従来の直接変換受信機の例を示すブロック図である。
【図３Ｃ】従来の直接変換受信機に関連する測定雑音スペクトルを示す図である。
【図３Ｄ】従来の直接変換受信機に関連する基底帯域の測定雑音スペクトルを示す図である。
【図４Ａ】従来の代替雑音測定受信機のブロック図である。
【図４Ｂ】従来の代替雑音測定受信機（局部発信機周波数ｆ1）に関連する雑音側波帯を示す図である。
【図４Ｃ】従来の代替雑音測定受信機（局部発信機周波数ｆ2）に関連する雑音側波帯を示す図である。
【図４Ｄ】従来の代替雑音測定受信機（局部発信機周波数ｆ3）に関連する雑音側波帯を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態になる雑音測定システムを示すブロック図である。
【図６Ａ】図５の雑音測定システムに関連する入力雑音スペクトルを示す図である。
【図６Ｂ】図５の雑音測定システムに関連する中間周波数スペクトルを示す図である。
【図６Ｃ】図５の雑音測定システムに関連する中間周波数スペクトルを示す図である。
【図６Ｄ】図５の雑音測定システムに関連する中間周波数スペクトルを示す図である。
【図７】本発明の代替実施形態になる雑音測定方法を示すフロー線図である。
【図８】本発明の実施形態になる雑音測定システム及び雑音測定方法の測定確度をプロットしたグラフである。
【符号の説明】
【００５２】
１０  雑音測定システム
１２  周波数変換器
１４  サンプラ
１６  処理装置
１８  表示（器）
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図３Ｄ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図４Ｃ】
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【図４Ｄ】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図６Ｃ】
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【図６Ｄ】
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【図７】
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【図８】
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