(57)【要約】【課題】内容物が陰圧状態で密封されている缶詰の微小リークを高精度で短時間に検出できる缶詰のリーク試験方法を提供すること。【解決手段】陰圧状態で内容物が充填されている缶詰１のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、缶詰１をリークチェック用チャンバー５内に設置した状態で、かつ、このチャンバー５内の圧力Ｐ１  を缶詰１の内圧Ｐ２  より減圧した状態でリークしてくるガスを計測すること。【選択図】            図１
2005009967.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
陰圧状態で内容物が充填されている缶詰のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、缶詰の周囲圧力を缶詰の内圧より減圧した状態でリークしてくるガスを計測することを特徴とする缶詰のリーク試験方法。
【請求項２】
陰圧状態で内容物が充填されている缶詰のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、缶詰をリークチェック用チャンバー内に設置した状態で、かつ、このチャンバー内の圧力を缶詰の内圧より減圧した状態でリークしてくるガスを計測することを特徴とする缶詰のリーク試験方法。
【請求項３】
陰圧状態で内容物が充填されている缶詰のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、加熱により缶詰の内圧を缶詰周囲の圧力よりも高くしながらリークしてくるガスを計測することを特徴とする缶詰のリーク試験方法。
【請求項４】
缶詰の前記シール部分からリークしてくる前記ガスは、水蒸気および／または内容物の成分ガスである請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の缶詰のリーク試験方法。
【請求項５】
缶詰の前記シール部分からリークしてくる前記ガスは、内容物の充填時に充填されたＨｅガス等の不活性ガスである請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の缶詰のリーク試験方法。
【請求項６】
缶詰の前記シール部分からリークしてくる前記ガスを検出する手段が、微小重量計、半導体センサ、非分散型赤外線分析計のいずれかである請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の缶詰のリーク試験方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、缶詰のリーク試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
【特許文献１】特開昭６４−４３５号公報
缶詰の内部の圧力（以下内圧という）が陽圧状態で缶詰内に密封される内容物としてビールや炭酸飲料などがある一方、コーヒー飲料などの内容物は缶詰の内圧が陰圧状態で缶詰内に密封されている。このような缶詰は、シール部分（例えば、一般には胴と上下の蓋のつなぎ目、胴のつなぎ目の三箇所）に所定のシールが施されている。
【０００３】
そして、ビールや炭酸飲料などの内容物を充填してある陽圧缶詰のリーク試験として、ＨｅガスまたはＡｒガス等の不活性ガスを封入した陽圧缶詰を密封チャンバー内に導入し、密封チャンバー内のガスをＨｅガスまたはＡｒガス等の不活性ガス検出器で検出することによって、陽圧缶詰の前記シール部分からの不活性ガスの微小リークを検出することが従来より行われている（前記特許文献１参照）。
【０００４】
一方、コーヒー飲料などの内容物を充填してある陰圧缶詰の前記シール部分からのガスの微小リークの有無を計測するためのリーク試験には、リークがある場合陰圧缶詰の内圧が変化するのを利用し、前記内圧を計測する方法が採用されている。
【０００５】
この計測方法は、打音法と呼ばれており、陰圧缶詰の蓋をハンマーで叩いたときの発生音が陰圧缶詰の内圧と相関があることを利用して周波数から内圧を計測する方法である。
【０００６】
すなわち、例えば８０℃に加熱された状態のコーヒーを充填巻締して（ホットパックして）冷却してなる前記陰圧缶詰は、大気圧に比べマイナス圧（例えば−０．２５±０．０５ｋｇ／ｃｍ２  ）の内圧を有している。そして、打音法では、この状態で５日間放置し、その後打音試験で例えば−０．２０ｋｇ／ｃｍ２  以下であることを確認することで微小リークを計測している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この方法では以下の欠点があった。
【０００８】
（１）例えばコーヒー充填時の温度と計測時の温度により陰圧缶詰の内圧が変わる点。
（２）打音試験の再現性が悪い点。すなわち、発生音を計測するときの周囲の外乱騒音により計測精度が低くなる点。
（３）ガスのリークが微小であることから、計測精度を上げるため内圧の変動が大きくなるよう陰圧缶詰を長時間放置しておく必要がある点。
【０００９】
この発明は上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、内容物が陰圧状態で密封されている缶詰の微小リークを高精度で短時間に検出できる缶詰のリーク試験方法を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、この発明は、陰圧状態で内容物が充填されている缶詰のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、缶詰の周囲圧力を缶詰の内圧より減圧した状態でリークしてくるガスを計測することを特徴とする缶詰のリーク試験方法を提供する。
【００１１】
また、この発明は別の観点から、陰圧状態で内容物が充填されている缶詰のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、缶詰をリークチェック用チャンバー内に設置した状態で、かつ、このチャンバー内の圧力を缶詰の内圧より減圧した状態でリークしてくるガスを計測することを特徴とする缶詰のリーク試験方法を提供する。
【００１２】
また、この発明は更に別の観点から、陰圧状態で内容物が充填されている缶詰のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、加熱により缶詰の内圧を缶詰周囲の圧力よりも高くしながらリークしてくるガスを計測することを特徴とする缶詰のリーク試験方法を提供する。
【００１３】
そして、この発明において、缶詰の前記シール部分からリークしてくる前記ガスとしては、水蒸気、内容物の成分ガス、あるいは、内容物の充填時に充填されたＨｅガス等の不活性ガスを挙げることができる。
【００１４】
この発明においては、微小重量計〔ＱＣＭ（Ｑｕａｒｚ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｍｉｃｒｏｂａｌａｎｃｅ）〕、半導体センサ、非分散型赤外線分析計のいずれかを用いることで缶詰のシール部分からリークしてくる前記ガスを検出するのが好ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施形態を、図を参照しながら説明するが、それによってこの発明は限定されるものではない。
【００１６】
図１は、微小重量計（ＱＣＭ）または半導体センサを陰圧缶詰のリーク想定位置であるシール部分（例えば、胴と上下の蓋のつなぎ目、胴のつなぎ目の三箇所）の近傍に複数個設置することにより、リーク想定箇所から離れた位置にセンサーを設置する場合に比して、より高い濃度で微小リークを検出するようにしたこの発明の第１の実施形態を示す。
【００１７】
図１において、１は、陰圧缶詰で、内容物として例えばコーヒーを充填してある。この陰圧缶詰１は、コーヒーが例えば８０℃に加熱された状態で充填巻締して（ホットパックして）冷却したもので、陰圧缶詰１は大気圧に比べ例えばマイナス圧（−０．２５±０．０５ｋｇ／ｃｍ２  ）の内圧を有している。陰圧缶詰１は、筒状の胴２と、胴２の上方開口を覆う平面視略楕円の上蓋３と、胴２の下方開口を覆う平面視略楕円下蓋４とよりなり、胴２と上蓋３のつなぎ目、胴２と下蓋４のつなぎ目、胴２のつなぎ目の三箇所に所定のシールが施されている。
【００１８】
５は、リークチェック用の減圧チャンバーで、リーク試験時には減圧チャンバー５内に一個の陰圧缶詰１が設置される。なお、図１では、減圧チャンバー５内に二つの陰圧缶詰１が設置されているように示されているが、便宜上、一個の陰圧缶詰１を側面側からみたもの（正面向かって左側）と、上面側からみたもの（正面向かって右側）を示しているだけである。
【００１９】
そして、一個の前記缶詰１を減圧チャンバー５内に設置し、減圧チャンバー５内の圧力Ｐ１  を前記缶詰１の内圧Ｐ２  （＞Ｐ１  ）より低く設定してある。この実施形態では、胴２と上蓋３のつなぎ目のシール部分の近傍に微小重量計（ＱＣＭ）７または半導体センサで構成されるリークガス検出手段を設けている。また、この実施形態では、リークガス（コーヒーの場合チェックされるガス成分は例えばＨＣや水蒸気である。）検出手段として、複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７を用いている。微小重量計（ＱＣＭ）（微小重量センサー）７は、上蓋３の外周端３ａのまわりにアレイ状に設置されている。なお、微小重量計（ＱＣＭ）７とは、水晶の表面にガスが吸着することにより水晶の見かけの質量が増加し、発信周波数が変化することを利用して吸着ガスの微小重量を計測するためのものである。
【００２０】
複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７は、前記缶詰１の例えば上部のリーク箇所（巻締め部）に設置されている。すなわち、上蓋３の外周端３ａの直上に、複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７を密集させたり、点在させたりして設置されている。つまり、外周端３ａの直上における領域Ｍには、複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７が外周端３ａに沿う形で密集配置されている。領域Ｍ以外の外周端３ａの直上領域には、複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７が点在配置されている。特に、領域Ｍに微小重量計（ＱＣＭ）７が密集配置されているのは、リークし易い場所を特定したいからである。また、複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７で一つのセンサユニット７’が構成される。そして、複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７によって、リークがあった場合のリーク箇所から導出する微小量のリーク成分であるＨＣや水蒸気が精度良く検出されうる。
【００２１】
図２は、陰圧状態で内容物が充填されている缶詰１のシール部分からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、減圧チャンバー（リークチェック用チャンバー）５内に複数個の陰圧缶詰１を設置した状態で、かつ、このチャンバー５内の圧力Ｐ１  を前記缶詰１の内圧Ｐ２  より減圧した状態でリークしてくるガスを計測するようにしたこの発明の第２の実施形態を示す。図２において、図１に示した符号と同一のものは、同一または相当物である。
【００２２】
図２において、１０は、陰圧缶詰１の生産ライン（ライン速度は最大１５００缶／分）に設けられた入口側のゲートバルブで、減圧チャンバー（リークチェック用チャンバー）５の直上流側に位置する。１１は、出口側のゲートバルブで、減圧チャンバー５の直下流側に位置する。１２は、減圧チャンバー５に接続され、チャンバー５内を減圧するための減圧手段で、減圧シリンジ１３およびエアーシリンダー１４より主としてなる。
【００２３】
而して、複数個の前記缶詰１が一列状態でゲートバルブ１０を介して減圧チャンバー５内に設置される。そして、ゲートバルブ１０および１１は閉じたままでチャンバー５内が減圧される。前記各缶詰１には、複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７が上蓋３の外周端３ａの直上に、外周端３ａに沿う形で配置されている。つまり、減圧チャンバー５は、内部に、前記缶詰１の数量と同じ数のセンサユニット７’を有する。リーク試験は、減圧チャンバー５内の全ての缶詰１のリーク試験を同時に行うように構成されている。リーク試験終了後は、複数個の前記缶詰１はゲートバルブ１１を介して一列状態で減圧チャンバー５内から導出される。その後、新たに、複数個の前記缶詰１がゲートバルブ１０を介して減圧チャンバー５内に一列状態で設置される。このプロセスが繰り返される。
【００２４】
この場合、生産ラインにおいて、減圧チャンバー５内から導出されて複数個の前記缶詰１のうちリーク量の大きなものを不合格品として選別処理する工程を設けてもよい。また、減圧チャンバー５内から導出されて複数個の前記缶詰１のうちリーク量の小さな、あるいは、リークが検出されなかった合格品１は、その後例えばレトルト工程に付され１２０℃で高温殺菌される。
【００２５】
このように、上記各実施形態では、一つの前記缶詰１または複数個の前記缶詰１を減圧チャンバー５内に設置し、減圧チャンバー５の圧力Ｐ１  を前記缶詰１の内圧Ｐ２  （＞Ｐ１  ）より低くしておき、また、前記缶詰１の胴２と上蓋３のつなぎ目のシール部分の近傍に複数個の微小重量計（ＱＣＭ）７または半導体センサを前記シール部分に対応して隣接するように設置し、減圧チャンバー５内に、前記缶詰１の数量と同じ数のセンサユニット７’を設け、更に、複数個の前記缶詰１を減圧チャンバー５内に設置される場合には、減圧チャンバー５内の全ての前記缶詰１のリーク試験を同時に行えるように構成している。
【００２６】
なお、減圧チャンバー５内の圧力Ｐ１  を減圧する程リーク量が増えるので圧力Ｐ１  は低い程良い。
【００２７】
この場合は、缶詰の前記シール部分からコーヒーの成分の一つであるＨＣや水蒸気をトレーサーとして用いるため、特別なトレースガスを必要としない。
【００２８】
また、微小重量センサー７または半導体ガスセンサーをリーク想定箇所の近傍に設置するため、リーク想定箇所の周囲でリーク想定箇所から離れた位置に前記センサーを設置した場合に比べて、より高濃度のリークガスを検出でき、計測時間を短縮でき、また、高感度で計測することができる。
【００２９】
更に、微小重量センサー７または半導体ガスセンサーをアレイ状に設置するので、広い範囲でリーク箇所を検討することができる。すなわち、リークがあった場合、設置した微小重量センサー７または半導体ガスセンサーの中で濃度分布を得ることができる。これにより、リーク箇所の特定が可能となる。
【００３０】
また、この発明では、前記センサユニット７’（アレイ状に設置した微小重量センサー７または半導体ガスセンサー）を缶詰１の胴２と上蓋３のつなぎ目部分の近傍だけではなく、缶詰１の胴２と上蓋４のつなぎ目部分の近傍ならびに胴２のつなぎ目部分の三箇所に立体的に配置するのが好ましい。具体的には、試験する缶詰１より一回り大きい形状の缶を作成し、この大きい形状の缶の中に缶詰１を収納して缶詰１のリーク試験を行う。その結果、３ピース（缶詰１の胴２と上下の蓋３，４のつなぎ目、胴２のつなぎ目の三箇所のシール部分）を持つ前記缶詰１を一斉に試験することができる。
【００３１】
また、この発明では、水晶の表面に吸着材を塗布することにより、特定のガスを選択的に高感度で計測することが可能である。例えば、コーヒー缶詰１はＨＣや水蒸気に選択性のあるものが好ましい。
なお、上記各実施形態において、微小重量計（ＱＣＭ）７または半導体センサに代えて後述する非分散型赤外線分析計１６を用いてもよい。
【００３２】
図３は、陰圧缶詰１の生産ラインに設けたレトルト（高温殺菌）工程の加熱を利用して前記缶詰１の内圧Ｐ２  を缶詰周囲（レトルト雰囲気中）の大気圧Ｐ３  よりも高くしたこの発明の第３の実施形態を示す。図３において、図１、図２に示した符号と同一のものは、同一または相当物である。
【００３３】
図３において、１６は、前記缶詰１の例えば上部のリーク箇所（巻締め部）からリークしてくるコーヒーの成分ガス（ＨＣ）または水蒸気を検出する非分散型赤外線分析計（ＮＤＩＲ）で、赤外線光源１７とセルと検出器１８とより主としてなり、この実施形態では単光路の光学系で構成されている。更に、この実施形態では、前記缶詰１の胴２と上蓋３のつなぎ目のシール部分の近傍のリーク箇所の特定を行うために、前記缶詰１の上部に非分散型赤外線分析計１６を設置している。なお、非分散型赤外線分析計１６の代わりに、複数個の上記微小重量センサー７または半導体ガスセンサーを用いても良い。
【００３４】
而して、レトルト（高温殺菌）工程では、前記缶詰１はコーヒー充填時以上の高温（例えば１２０〜１３０℃）に付されることにより、前記缶詰１の内圧Ｐ２  を大気圧Ｐ３  に比べてプラス圧にできる。すなわち、レトルト（高温殺菌）工程での高温加熱（例えば１２０〜１３０℃）により、コーヒーの水分が蒸発する。また、コーヒー充填時に封入された空気も膨張して内圧Ｐ２  が高くなる。
【００３５】
そして、内圧Ｐ２  が上昇することにより、大気に比べ大きな圧力差ΔＰ（＝Ｐ２  −Ｐ３  ）が生まれる。このため、前記缶詰１を常温で放置している場合に比べて６〜１０倍の圧力差ΔＰ（＝Ｐ２  −Ｐ３  ）となり、リーク速度もそれだけ速くなる。
【００３６】
よって、前記缶詰１の上部にリーク箇所がある場合、非分散型赤外線分析計１６で前記缶詰１のコーヒーからでる成分ガス（ＨＣ）またはコーヒーの水分が蒸発した水蒸気がリークしてくるのを計測でき、かつ、ＨＣ濃度または水蒸気濃度を求めることができる。ＨＣ濃度とリーク量は比例することから、リーク量が求まる。
【００３７】
このように、コーヒーの成分ガス（ＨＣ）または前記水蒸気のリークを加速させることにより計測時間を短縮できるとともに、コーヒーの成分ガス（ＨＣ）または前記水蒸気がリークしてくるのを高感度で計測することができる。
【００３８】
また、レトルト（高温殺菌）工程での加熱（例えば１２０〜１３０℃）を利用して計測しているので、このレトルト（高温殺菌）工程の直後に、わざわざコーヒーからでる成分ガス（ＨＣ）またはコーヒーの水分が蒸発した水蒸気がリークしてくるのを計測する加熱のためのヒータを設置する必要はなくなる。
【００３９】
図４は、陰圧缶詰１の生産ラインに設けたレトルト（高温殺菌）工程の加熱を利用して前記缶詰１の内圧Ｐ２  を缶詰周囲の圧力Ｐ３  よりも高くするとともに、非分散型赤外線分析計１６における光路長を上記第３の実施形態の場合よりも長くして、コーヒーからでる成分ガス（ＨＣ）またはコーヒーの水分が蒸発した水蒸気がリークしてくるのを、より高感度に計測するようにしたこの発明の第４の実施形態を示す。図４において、図１〜図３に示した符号と同一のものは、同一または相当物である。
【００４０】
図４において、非分散型赤外線分析計１６は、多重反射のためのミラー２０を複数個有している。この場合、前記缶詰１の上部のリーク箇所（巻締め部）を多角形の形になるよう複数個のミラー２０が設けられている。すなわち、上蓋３の外周端面３ｂに沿って複数個のミラー２０が設けられており、この実施形態では、光路を六角形にしてある。そのため、セル長（光路長）を長くできる。よって、より高濃度が分布しているリーク箇所を計測できることになり、コーヒーからでる成分ガス（ＨＣ）またはコーヒーの水分が蒸発した水蒸気がリークしてくるのを高感度で計測することができる。要するに、リーク箇所（巻締め箇所からのリーク）を中心に計測感度を上げることができる。
【００４１】
また、前記多角形を螺旋状にして、上蓋３の外周端面３ｂや胴２の上部側面に沿って複数回周回するように構成することにより、更にセル長（光路長）を長くでき、高感度化を図ることができる。
【００４２】
要するに、この実施形態では、セル長（光路長）が長くなるよう設置した多重反射のための複数個のミラー２０を有するオープンセルの非分散型赤外線分析計１６を、前記缶詰１の上部のリーク箇所（巻締め部）に設けたものである。
なお、非分散型赤外線分析計１６の代わりに、複数個の上記微小重量センサー７または半導体ガスセンサーを用いても良い。
【００４３】
図５は、前記陰圧缶詰１を密封容器３０に収容し、この状態で、密封容器３０の外周に設けたヒータ１５によって、前記缶詰１の内圧Ｐ２  を缶詰周囲の圧力Ｐ１  よりも高くし、内容物であるコーヒーからでる成分ガス（ＨＣ）や水蒸気を計測するように構成したこの発明の第５の実施形態を示す。図５において、図１〜図４に示した符号と同一のものは、同一または相当物である。
【００４４】
而して、図５（Ａ）に示すように、前記陰圧缶詰１をＨＣフリーの空気でパージし、図５（Ｂ）に示すように、パージした前記缶詰１を試験機Ｓ内に設置されている前記密封容器３０内に投入し、前記密封容器３０の蓋３１を締め、ヒータ１５で前記缶詰１を例えば高温加熱（例えば１２０〜１３０℃）に付す。この状態で数秒間待機し、前記缶詰１の例えば上部のリーク箇所（巻締め部）からリークしてくるコーヒーの成分ガス（ＨＣ）の濃度を非分散型赤外線分析計（ＮＤＩＲ）で計測する。ＨＣ濃度とリーク量は比例することから、リーク量が求まる。続いて、図５（Ｃ）に示すように、蓋３１を開いて前記缶詰１を取り出す。
なお、水蒸気を計測する場合も水蒸気濃度とリーク量は比例することから、リーク量が求まる。また、非分散型赤外線分析計１６の代わりに、複数個の上記微小重量センサー７または半導体ガスセンサーを用いても良い。
【００４５】
図６は、陰圧缶詰１の例えば上部のリーク箇所（巻締め部）からガスがリークしてくるのを計測するにあたり、コーヒーの充填時にＨｅガス等の不活性ガスを充填した状態の陰圧缶詰１を加熱して陰圧缶詰１の内圧Ｐ２  を缶詰周囲の圧力Ｐ３  よりも高くし、この状態でリークしてくる不活性ガスを計測するようにしたこの発明の第６の実施形態を示す。図６において、図１〜図５に示した符号と同一のものは、同一または相当物である。
【００４６】
図６において、４０は、Ｈｅガス等の不活性ガスを検出する検出器で、陰圧缶詰１の例えば上部のリーク箇所（巻締め部）から不活性ガスがリークしてくるのを計測するために、上蓋３におけるリーク箇所の近傍（例えば上蓋３の直上位置）に設置されている。この実施形態ではＨｅガスを封入している。
【００４７】
この実施形態では、前記缶詰１はコーヒー充填時以上の高温（例えば１２０〜１３０℃）に付されることにより、前記缶詰１の内圧Ｐ２  を大気圧Ｐ３  に比べてプラス圧にできる。すなわち、ヒータ１５での高温加熱（例えば１２０〜１３０℃）により、コーヒーの水分が蒸発する。また、コーヒー充填時に封入された空気も膨張して内圧Ｐ２  が高くなる。
【００４８】
そして、内圧Ｐ２  が上昇することにより、大気に比べ大きな圧力差ΔＰ（＝Ｐ２  −Ｐ３  ）が生まれる。このため、前記缶詰１を常温で放置している場合に比べて６〜１０倍の圧力差ΔＰ（＝Ｐ２  −Ｐ３  ）となり、リーク速度もそれだけ速くなる。
【００４９】
よって、前記缶詰１の上部にリーク箇所がある場合、Ｈｅガス検出器４０により前記缶詰１の上部リーク箇所からでるＨｅガスがリークしてくるのを計測でき、Ｈｅガスのリーク量を得ることができる。
【００５０】
なお、コーヒーの充填時にＨｅガスが充填された陰圧缶詰１を、図５に示したように、密封容器３０に収容し、この状態で、密封容器３０の外周に設けたヒータ１５によって、前記缶詰１の内圧Ｐ２  を缶詰周囲の圧力Ｐ１  よりも高くしてもよい。
【００５１】
【発明の効果】
以上説明したようにこの発明では、内容物が陰圧状態で密封されている缶詰の微小リークを高精度で短時間に検出できる缶詰のリーク試験方法を提供することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１の実施形態を説明するための図である。
【図２】この発明の第２の実施形態を説明するための構成説明図である。
【図３】この発明の第３の実施形態を説明するための図である。
【図４】この発明の第４の実施形態を説明するための構成説明図である。
【図５】（Ａ）は、この発明の第５の実施形態におけるリーク量計測前のパージ動作を示す構成説明図である。
（Ｂ）は、上記第５の実施形態におけるリーク量計測動作を示す構成説明図である。
（Ｃ）は、上記第５の実施形態においてリーク量計測後の陰圧缶詰取り出し動作を示す構成説明図である。
【図６】この発明の第６の実施形態を説明するための図である。
【符号の説明】
１…缶詰、５…リークチェック用チャンバー、Ｐ１  …チャンバー内の圧力、Ｐ２  …缶詰の内圧。
【図１】
2005009967.tif 000003
【図２】
2005009967.tif 000004
【図３】
2005009967.tif 000005
【図４】
2005009967.tif 000006
【図５】
2005009967.tif 000007
【図６】
2005009967.tif 000008