(57)【要約】【課題】信頼性を向上させた半導体パッケージ及びその製造方法を提供する。【解決手段】複数の被封止デバイス（半導体集積回路，ＣＣＤ等）が形成された半導体ウェハ１０と、その半導体ウェハ１０を支持し、かつ被封止デバイスを封止すガラス基板１１とを準備し、ガラス基板１１と対向する半導体ウェハ１０の主面上、もしくは半導体ウェハ１０に対向するガラス基板１１の主面上のいずれかに、常温硬化樹脂１２を塗布する工程と、半導体ウェハ１０とガラス基板１１とを、常温下で、常温硬化樹脂１２を介して接着する工程と、半導体ウェハ１０を、そのスクライブラインに沿ってスクライブし、個々の半導体パッケージに分割する工程と、を有することを特徴とするものである。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の半導体集積回路が形成された半導体ウェハと、
該半導体ウェハを支持する支持基板と、
前記半導体ウェハと前記支持基板とを常温下で接着可能な常温硬化樹脂と、
を有し、
前記半導体ウェハと前記支持基板とは、前記常温硬化樹脂を介して接着されたことを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
前記常温硬化樹脂は、紫外線硬化樹脂であることを特徴とする請求項１記載の半導体装置。
【請求項３】
前記常温硬化樹脂は、二液性エポキシ樹脂であることを特徴とする請求項１記載の半導体装置。
【請求項４】
複数の半導体集積回路が形成された半導体ウェハと、該半導体ウェハを支持する支持基板と、を準備し、
前記支持基板と対向する前記半導体ウェハの主面上、もしくは前記半導体ウェハに対向する前記支持基板の主面上のいずれかに、常温硬化樹脂を塗布する工程と、
前記半導体ウェハと前記支持基板とを、常温下で、前記常温硬化樹脂を介して接着する工程と、
前記半導体ウェハを、そのスクライブラインに沿ってスクライブし、個々の半導体チップに分割する工程と、を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項５】
前記常温硬化樹脂は、紫外線硬化樹脂であることを特徴とする請求項４記載の半導体装置の製造方法。
【請求項６】
前記常温硬化樹脂は、二液性エポキシ樹脂であることを特徴とする請求項４記載の半導体装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体装置及びその製造方法に関し、特に、チップサイズパッケージ（ＣＳＰ；Chip Size Package）及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、三次元実装技術として、また新たなパッケージ技術として、チップサイズパッケージ（ＣＳＰ；Chip Size Package）が注目されている。ＣＳＰとは、半導体チップの外形寸法と略同サイズの外形寸法を有する小型パッケージをいう。
【０００３】
従来より、ＣＳＰの一種として、ＢＧＡ型のＣＳＰが知られている。このＢＧＡ型のＣＳＰは、球状の導電端子をＣＳＰの一主面上に格子状に複数配列し、導電端子とＣＳＰの他の面上に搭載される半導体集積回路のパッド電極等とを電気的に接続したものである。
【０００４】
そして、このＣＳＰを電子機器に組み込む際には、各導電端子をプリント基板上の配線パターンに圧着することで、ＣＳＰ内の半導体集積回路とプリント基板上に搭載される外部回路とを電気的に接続している。
【０００５】
このＢＧＡ型のＣＳＰは、側部に突出したリードピンを有するＳＯＰ（Small Outline Package）やＱＦＰ（Quad Flat Package）等の他のＣＳＰに比べて、多数の導電端子を設けることが出来、しかも小型化できるという長所を有する。このようなＣＳＰは、例えば携帯電話機に搭載されるデジタルカメラのイメージセンサチップとしての用途がある。ここで、イメージセンサとして、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）等の受光素子を被封止デバイスとする場合、封止材料は、光を透過するガラス等の材料から成る。
【０００６】
次に、従来のＣＳＰの製造方法について、図面を参照して説明する。図２は、従来のＣＳＰの製造方法を示す断面図である。
【０００７】
図２（ａ）に示すように、半導体ウェハ２０（例えばシリコンから成る）、及び半導体ウェハ２０を封止すると共に支持するためのガラス基板２１を準備する。半導体ウェハ２０上には、複数の半導体集積回路（不図示）や、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）等の受光素子（不図示）などが形成されている。ガラス基板２１は、半導体ウェハ２０上に形成されるＣＣＤ等の受光素子上に、半導体ウェハ２０外部からの光を透過して導入する性質を有している。
【０００８】
そして、図２（ｂ）に示すように、ガラス基板２１に対向する半導体ウェハ２０の主面上、もしくは半導体ウェハ２０に対向するガラス基板２１の主面上のいずれかに、高温硬化樹脂２２を塗布する。高温硬化樹脂２２は、高温（１２０℃前後）下で硬化し、その被着した材料同士を接着する機能を有した樹脂である。
【０００９】
そして、図２（ｃ）に示すように、ガラス基板２１と半導体ウェハ２０とを高温硬化樹脂２２を介して密着させた後、高温（１２０℃前後）下で高温硬化樹脂２２を硬化させる。これにより、ガラス基板２１と半導体ウェハ２０との接着が完了する。
【００１０】
そして、図示しないが、温度を高温（１２０℃前後）から常温（２５℃前後）に戻した後、ＣＳＰの基板側の主面に、ＣＳＰ内のパッド電極と電気的に接続する複数の導電端子を形成する。そして、ガラス基板２１と接着された半導体ウェハ２０を、そのスクライブラインに沿ってスクライブし、個々の半導体チップ、即ちＣＳＰに分割する。
【００１１】
なお、関連する技術文献としては、次の特許文献１がある。
【特許文献１】特表２００２−５１２４３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、接着完了後に戻された温度である常温（２５℃前後）下では、高温硬化樹脂２２を介して互いに接着された半導体ウェハ２０とガラス基板２１には、図２（ｄ）に示すように、ガラス基板２１が収縮し、ガラス基板２１側に反りが生じる。
【００１３】
この、半導体ウェハ２０とガラス基板２１に生じる反りついて、図３の半導体ウェハ２０及びガラス基板２１の断面図を参照して説明する。
【００１４】
図３に示すように、ガラス基板２１の線膨張率は一般的に＋１０ＰＰＭ／°Ｋ程度である。シリコンとの接着を目的として線膨張係数を低く抑えた超高品質ガラスでも、＋４ＰＰＭ／°Ｋであり、半導体ウェハ２０の線膨張率２ＰＰＭ／°Ｋよりも大きい。従って、高温硬化樹脂を硬化する際、高温（１２０℃前後）により、線膨張率の大きいガラス基板２１は、線膨張率の小さい半導体ウェハ２０よりも大きく膨張する。
【００１５】
そして、温度が常温（２５℃前後）に下げられると、線膨張率の大きいガラス基板２１の収縮力Ａは、線膨張率の小さい半導体ウェハ２０の収縮力Ｂに比して大きくなる。即ち、半導体ウェハ２０とガラス基板２１との境界面には、収縮力Ａと収縮力Ｂの差に相当する応力が生じる。これにより、常温（２５℃前後）下でのガラス基板２１は、接着された半導体ウェハ２０に比して大きく収縮するため、互いに接着された半導体ウェハ２０とガラス基板２１には、ガラス基板２１側に収縮するような反りが生じる。
【００１６】
上述した半導体ウェハ２０とガラス基板２１との境界面における応力は、半導体ウェハ２０がスクライブにより個々のパッケージに分割される際、急激に解放される。この様子を図４に示す。図４（ａ）は半導体ウェハ２０及びガラス基板２１の平面図、図４（ｂ）は半導体ウェハ２０及びガラス基板２１の断面図である。この応力の急激な解放により、図４（ａ）及び図４（ｂ）に示すように、半導体ウェハ２０のスクライブラインＳＬ近傍では、随所に亀裂が入ってしまう問題が生じていた。この亀裂により、ＣＳＰの動作不良、吸湿、配線不良等が生じていた。
【００１７】
また、スクライブ後においても、個々のパッケージには、上述した半導体ウェハ２０とガラス基板２１の収縮力の差異による応力が残存しているため、温度サイクルテスト時等において、半導体基板上に形成された集積回路、そのパッド電極、有機膜、もしくはマイクロレンズ等が疲労損傷する問題が生じていた。
【００１８】
上述の問題に対しては、各種対策が用いられているが、例えば、線膨張率が半導体ウェハ２０の材料（例えばシリコン）に近いガラス材料をガラス基板２１に用いる方法がある。この方法によれば、半導体ウェハ２０とガラス基板２１の収縮力の差異が減少するため、半導体ウェハ２０とガラス基板２１の境界面における応力も減少する。
【００１９】
また、上述の問題に対処する他の方法の例としては、スクライブ時に使用するブレードを常に高品質な状態に管理する方法がある。この方法によれば、スクライブ時の亀裂の発生を減少させることが可能となる。
【００２０】
しかしながら、上述した線膨張率が半導体ウェハ２０の材料の線膨張率に近い材料をガラス基板２１に用いる方法は、上述した接着温度による応力を減少させることが可能なものの、ガラス基板２１の材料が、封止目的に用いられる一般的なガラス材料に比して高価となり、製造コストが増大するといった問題が生じていた。
【００２１】
また、スクライブ時に使用するブレードを常に高品質な状態に管理する方法は、スクライブ時の応力解放による亀裂の発生を減少させることが可能なものの、ブレードの交換頻度が高まることや、高品質ブレードの導入、工程内検査の導入により、製造コストが増大していた。
【００２２】
そこで本発明は、半導体ウェハ２０とガラス基板２１の境界面に、接着温度による応力を発生させない接着方法を有したＣＳＰの製造方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
本発明の半導体装置は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、複数の半導体集積回路が形成された半導体ウェハと、その半導体ウェハを支持するガラス基板と、半導体ウェハとガラス基板とを常温下で接着可能な常温硬化樹脂と、を有し、半導体ウェハとガラス基板とは、常温硬化樹脂を介して接着されたことを特徴とするものである。
【００２４】
また、本発明の半導体装置は、上記構成において、常温硬化樹脂が紫外線硬化樹脂もしくは二液性エポキシ樹脂であることを特徴とするものである。
【００２５】
また、本発明の半導体装置の製造方法は、以下の工程を含むことを特徴とするものである。即ち、複数の半導体集積回路が形成された半導体ウェハと、その半導体ウェハを支持するガラス基板とを準備し、ガラス基板と対向する半導体ウェハの主面上、もしくは半導体ウェハに対向するガラス基板の主面上のいずれかに、常温硬化樹脂を塗布する工程と、半導体ウェハとガラス基板とを、常温下で、常温硬化樹脂を介して接着する工程と、半導体ウェハを、そのスクライブラインに沿ってスクライブし、個々の半導体チップに分割する工程と、を有するものである。
【００２６】
また、本発明の半導体装置の製造方法は、上記製造方法において、常温硬化樹脂が紫外線硬化樹脂もしくは二液性エポキシ樹脂であることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２７】
本発明の半導体装置の製造方法によれば、常温下で、半導体ウェハとガラス基板とを接着することができる。これにより、線膨張率の差異による応力を起因とする亀裂や疲労損傷が生じにくい半導体パッケージを実現することができる。
【００２８】
また、上述した半導体パッケージを実現する際に、従来必要としていた特殊なガラス基板や、スクライブ用ブレードの高品質管理を要さない。これにより、製造コストを増加させることなく、そのような半導体パッケージを実現することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
次に、本発明を実施するための最良の形態に係る半導体パッケージ及びその製造方法ついて図面を参照しながら詳細に説明する。
【００３０】
図１は、本発明の実施形態に係る半導体パッケージ及びその製造方法を示す断面図である。半導体パッケージの製造は以下の工程を経る。
【００３１】
図１（ａ）に示すように、不図示の複数の被封止デバイス（例えば半導体集積回路やＣＣＤなど）が形成された半導体ウェハ１０（例えばシリコンから成る）を準備する。ここで、被封止デバイスは、半導体ウェハ１０のスクライブラインＳＬによって格子状に区分された領域に形成されている。
【００３２】
また、半導体ウェハ１０を支持し、かつ被封止デバイスを封止するガラス基板１１を準備する。ここで、このガラス基板２１の線膨張率は、半導体ウェハ１０の線膨張率に近しいものであることが好ましいが、これには限定されず、異なる線膨張率を有していてもよい。例えば、ガラス基板２１の線膨張率が４ＰＰＭ／°Ｋ程度、半導体ウェハの線膨張率が２ＰＰＭ／°Ｋ程度であってもよい。
【００３３】
そして、図１（ｂ）に示すように、ガラス基板１１と対向する半導体ウェハ１０の主面上、もしくは半導体ウェハ１０に対向するガラス基板１１の主面上のいずれかに、常温硬化樹脂１２を塗布する。図１（ｂ）においては、半導体ウェハ１０と対向するガラス基板１１の主面上に常温硬化樹脂１２を塗布している。
【００３４】
この常温硬化樹脂は、常温（２５℃前後）において硬化する樹脂である。常温硬化樹脂は、紫外線の照射により硬化する紫外線硬化樹脂（例えば、株式会社テスクの一般接着用紫外線硬化性樹脂：Ａ−１３６３，Ａ−１３６８，Ａ−１４０８等）であることが好ましい。もしくは、常温硬化樹脂は、二液性エポキシ樹脂（例えば株式会社テスクの低粘着度型二液性エポキシ樹脂：Ｃ−１０７４Ａ／Ｂ，Ｃ−１０７５Ａ／Ｂ等）や、その他のエポキシ系樹脂（例えばオーテックス株式会社の光硬化型エポキシ系接着剤「ＰＡＲＱＩＴ」等）であってもよい。
【００３５】
そして、図１（ｃ）に示すように、半導体ウェハ１０の常温硬化樹脂１２が塗布された主面を、半導体ウェハ１０の被封止デバイスが形成された主面に密着させる。その後、硬化に必要な所定の時間を経過させることで半導体ウェハ１０とガラス基板１１との接着を完了させる。なお、常温硬化樹脂１２が紫外線硬化樹脂である場合、互いに密着した半導体ウェハ１０とガラス基板１１に対して、紫外線を照射する工程を含む。
【００３６】
このような接着工程は、常温において行われるため、半導体ウェハ１０及びガラス基板１１は、膨張もしくは収縮することがない。これにより、接着完了後の半導体ウェハ１０及びガラス基板１１の境界面には応力が生じず、スクライブ時の急激な応力の解放による亀裂等を抑止することができる。
【００３７】
そして、図示しないが、互いに接着されたガラス基板２１と半導体ウェハ２０を、半導体ウェハ１０のスクライブラインに沿ってスクライブし、個々の半導体パッケージ１０Ａに分割する。ここで、スクライブ後の半導体パッケージ１０Ａ内には、高温硬化樹脂による接着時にみられたような応力の残留が生じない。これは、常温下で接着され、スクライブ前の半導体ウェハ１０及びガラス基板１１の境界面に応力が生じていないことによるものである。これにより、温度サイクルテスト時において、半導体基板上に形成された集積回路、そのパッド電極、有機膜、もしくはマイクロレンズ等が疲労損傷する問題を回避することが可能となる。
【００３８】
また、上述した製造方法によれば、高温硬化樹脂を介した接着時の温度による応力を防ぐために必要であった特殊なガラス材料、スクライブ用ブレードの高品質管理を必要としないため、製造コストの増大を防ぐことができる。
【００３９】
なお、上述の実施形態においては、常温硬化樹脂１２は、紫外線硬化樹脂もしくは二液性エポキシ樹脂であるとしたが、これには限定されず、常温で硬化する性質を有し、かつ半導体ウェハ１０とガラス基板１１を接着可能な硬化性樹脂であればよい。
【００４０】
また、上述の実施形態においては、半導体ウェハ１０上に形成された被封止デバイスを、ガラス基板１１により封止したが、被封止デバイスがＣＣＤ等の受光素子を含まない場合、これには限定されず、ガラス基板に替えて、光を透過しない材料から成る基板によって被封止デバイスを封止してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明を実施するための最良の形態に係る半導体装置及びその製造方法を示す断面図である。
【図２】従来例に係る半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図３】従来例に係る半導体装置の一部を示す断面図である。
【図４】従来例に係る半導体装置の一部を示す平面図及び断面図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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