(57)【要約】【課題】ディスクリートトラック型の磁気記録媒体であってもオフセット量を正確に測定して正確な位置に記録再生を行うこと。【解決手段】データ書き込み可能な磁気記録領域２０２を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域２０１とを有するディスクリート領域１０１を備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体であって、磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域１０２を備えた。【選択図】        図１
2005166115.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域を備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体であって、
前記磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域
を備えたことを特徴とする磁気記録媒体。
【請求項２】
前記オフセット量測定領域は、磁気記録媒体の半径方向に亘って設けられていることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項３】
前記複合型磁気ヘッドの位置決め行うための位置情報が記録されたサーボ領域をさらに備え、
前記オフセット量測定領域は、前記サーボ領域と前記ディスクリート領域との間に設けられていることを特徴とする請求項２に記載の磁気記録媒体。
【請求項４】
前記オフセット量測定領域は、前記トラックを構成するセクタ領域ごとに設けられていることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項５】
前記オフセット量測定領域は、最内周の前記ディスクリート領域よりも内側に周方向に亘る領域、と最外周の前記ディスクリート領域よりも外側に周方向に亘る領域とに設けられていることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項６】
前記オフセット量測定領域は、最内周の前記ディスクリート領域よりも内側に周方向に亘る領域と、最外周の前記ディスクリート領域よりも外側に周方向に亘る領域と、前記サーボ領域と前記ディスクリート領域との間に設けられていることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項７】
前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置とが一致しているセクタ領域と、前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置とが異なるセクタ領域が設けられていることを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項８】
前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置とが異なるセクタ領域は、セクタ毎に異なるように前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置とが異なっていることを特徴とする請求項７に記載の磁気記録媒体。
【請求項９】
前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置とが異なるセクタ領域は、磁気記録媒体の中心近傍位置に設けられていることを特徴とする請求項７または８に記載の磁気記録媒体。
【請求項１０】
前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置との差は少なくとも２つ以上のセクタ領域で異なることを特徴とする請求項７〜９のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
【請求項１１】
データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域と、前記磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域とを備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体と、
前記オフセット量測定領域に前記再生ヘッドが所定のトラックに位置決めされた状態で前記記録ヘッドにより測定データを記録する記録手段と
前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドを、前記位置決めされた位置から予め定められた距離だけ径方向に移動させた状態で、前記再生ヘッドにより前記記録手段によって記録された測定データを読み出す再生手段と、
前記再生手段によって読み出された測定データを記憶する記憶手段と、
前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドの移動と測定データの読み出しを複数回実行し、前記記憶手段に記憶された複数の測定データに基づいて、前記オフセット量を決定する決定手段と、
を備えたことを特徴とする磁気記録装置。
【請求項１２】
前記記録手段は、全てのトラックに設けられた前記オフセット量測定領域に対して前記再生ヘッドがトラックに位置決めされた状態で前記記録ヘッドにより測定データを記録し、
前記再生手段は、前記全てのトラックに設けられた前記オフセット量測定領域に対して、前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドを、前記位置決めされた位置から予め定められた距離だけ径方向に移動させた状態で、前記再生ヘッドにより前記記録手段によって記録された測定データを読み出すことを特徴とする請求項１１に記載の磁気記録装置。
【請求項１３】
前記記録手段は、一部のトラックに設けられた前記オフセット量測定領域に対して前記再生ヘッドが所定のトラックに位置決めされた状態で前記記録ヘッドにより測定データを記録し、
前記再生手段は、前記一部のトラックに設けられた前記オフセット量測定領域に対して、前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドを、前記位置決めされた位置から予め定められた距離だけ径方向に移動させた状態で、前記再生ヘッドにより前記記録手段によって記録された測定データを読み出し、
前記決定手段は、前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドの移動と測定データの読み出しとを複数回実行し、前記記憶手段に記憶された複数の測定データに基づいて前記一部のトラックに対するオフセット量を決定し、前記一部のトラック以外のトラックに対しては、決定した前記オフセット量を補間することによりオフセット量を算出することを特徴とする請求項１１に記載の磁気記録装置。
【請求項１４】
前記記録手段は、さらに前記決定手段により前記オフセット量を決定した後、前記測定データを前記オフセット量測定領域から削除することを特徴とする請求項１１〜１３のいずれか一つに記載の磁気記録装置。
【請求項１５】
前記記録ヘッドによって前記磁気記録媒体の磁気記録領域にデータを記録する際に、前記決定手段によって決定されたオフセット量に基づいて前記記録ヘッドを位置決めする位置決め手段をさらに備えたことを特徴とする請求項１１〜１４のいずれか一つに記載の磁気記録装置。
【請求項１６】
前記磁気記録媒体は、さらに、前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置とが一致しているセクタ領域と、前記オフセット量測定領域のトラック中心位置と前記サーボ領域のトラック中心位置とが異なるセクタ領域とを有し、
前記記録手段は、前記記録ヘッドおよび前記再生ヘッドを前記オフセット量測定領域のトラック中心位置から第１の所定距離だけ径方向に移動した状態で、前記記録ヘッドにより測定データを記録し、
前記再生手段は、前記記録ヘッドおよび前記再生ヘッドを前記セクタ領域に対応して予め定められた距離だけ径方向に移動した状態で、前記再生ヘッドにより測定データを読み出し、
前記決定手段は、前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドの移動と前記再生手段による測定データの読み出しを複数回実行し、前記再生手段によって前記記憶手段に記憶された複数の測定データに基づいて、前記オフセット量を決定することを特徴とする請求項１１に記載の磁気記録装置。
【請求項１７】
データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域と、前記磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域とを備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体に対し、前記オフセット量を測定するオフセット量測定方法であって、
前記オフセット量測定領域に前記再生ヘッドが所定のトラックに位置決めされた状態で前記記録ヘッドにより測定データを記録する記録工程と
前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドを、前記位置決めされた位置から予め定められた距離に径方向に移動させた状態で、前記再生ヘッドにより前記記録工程によって記録された測定データを読み出して、この読み出した測定データを記憶手段に記憶する再生工程と、
前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドの移動と前記測定データの読み出しおよび前記記憶手段への記憶とを複数回実行し、前記再生工程によって前記記憶手段に記憶された複数の測定データに基づいて、前記オフセット量を決定する決定工程と、
を含むことを特徴とするオフセット量測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域を備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体、この磁気記録媒体に対してトラック中心位置から半径方向の磁気ヘッドまでの相対距離を測定するオフセット量測定方法およびこのようなオフセット量測定機能を有する磁気記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、計算機の記録容量の増大に伴い、ハードディスクドライブ装置（ＨＤＤ）等の磁気記録装置の記録容量は、大容量化される傾向にある。磁気記録装置の記憶容量を大容量化するために、磁気ヘッドから発生する信号磁界によって形成される磁気記録層中の記録磁区列を微細化してより高密度な記録を行う必要があるが、このような記録方式として、垂直記録方式が従来から一般的に知られている。
【０００３】
この垂直記録方式では、磁気記録媒体の記録層面内に対して垂直方向に磁化させることによって記録する方式である。しかしながら、この垂直記録方式では、１００Ｇｂｉｔ／ｉｎ2以上の超記録密度となると、磁気ヘッド側面から発生するサイドフリンジングによって、隣接するトラックへの書き込み動作が行われてしまい、記録不良および再生不良が生じてしまうという問題がある。
【０００４】
このため、磁気記録媒体の記録層の円周方向に非磁性体から構成される非磁性領域を形成し、磁性体部分である磁気記録領域にのみデータを記録していく、いわゆるディスクリートトラック型の磁気記録媒体が提唱されている。このディスクリートトラック型の磁気記録媒体によれば、トラック間に非磁性体領域が設けられているため、隣接するトラックにデータを書き込んでしまうことが回避され、良好な記録再生特性を実現することができるという利点がある。
【０００５】
ここで、従来の磁気記録装置では、磁気記録媒体へのデータの書き込みを行う記録ヘッドに薄膜インダクティブヘッドを使用し、磁気記録媒体からのデータの読み出しを行う再生ヘッドとしてＭＲ（磁気抵抗効果）ヘッドを使用して、各ヘッドを同一のスライダーに実装した複合ヘッドを使用することが一般的に行われている。この複合ヘッドは、ロータリ型のドライブ構造では、ヘッドアクチュエータの先端に支持され、磁気記録媒体のトラックを横切る径方向に移動して所望のセクタに位置決めされるように制御される。また、磁気記録媒体の記録面には、トラック方向に一定間隔でトラック位置およびセクタ位置などの位置情報を記録したサーボ領域が設けられている。
【０００６】
図２６は、このようなサーボ領域１０３を有するディスクリートトラック型の磁気記録媒体であるＨＤＤの記録面および複合ヘッドの構成を示す模式図である。このような、磁気記録媒体では、磁気ヘッド２１０が記録ヘッド２１１と再生ヘッド２１２が分離配置された構成となっているため、一般にデータ書込み時の記録ヘッドの記録中心位置とデータ読出し時の再生ヘッドの読み出し中心位置にはずれが生ずる。所定の目標トラックに対して、信号を再生するときの再生ヘッド位置はトラックの中心位置に位置決めされるが、信号を記録するときの記録ヘッドの位置はトラックの中心位置よりずれて位置決めされてしまう。
【０００７】
一方、記録ヘッド位置をトラック中心位置に位置決めすると、再生ヘッドの位置がトラック中心位置からずれて位置決めされてしまう。このようなずれの量は、目標トラックによって磁気ヘッドの角度が変わるため、トラック毎に異なる値を有する。
【０００８】
従って、目標のトラックに対応できるように、記録の際の中心位置と再生の際の中心位置のずれ量であるオフセット量を予め測定しておき、記録と再生の中心位置を補正するオフセット量制御を行う必要がある。
【０００９】
このオフセット量を測定する方法としては、まず、トラック中心に再生ヘッドを位置決めして、記録ヘッドの位置を示す測定パターンを書き込み、その後、再生ヘッドを少しずつ移動させながらデータを読み出し、再生信号の振幅が最大となるオフセット量、あるいは、最大になるオフセット範囲の中心位置を判別することによって、最適なオフセット量を決定としている（例えば、特許文献１参照）。
【００１０】
【特許文献１】特開平９−４５０２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、このような従来技術では、トラックの中心位置に再生ヘッドを位置決めし、再生ヘッドを徐々に移動させながら記録ヘッドで記録された測定パターンのデータを読み出しているので、ディスクリードトラック型の磁気記録媒体において正確なオフセット量の測定ができない場合がある。
【００１２】
すなわち、図２６に示すように、ディスクリートトラック型の磁気記録媒体では、トラック間でトラックの中心位置の両側を挟むように非磁性体領域２０１が設けられているため、再生ヘッドをトラックの中心位置に位置決めした場合、トラックによっては非磁性領域に測定パターンを書き込もうとしてしまい、測定パターンの書き込みができない場合がある。このため、このような状態でオフセット量を測定しようとしても、正確なオフセット量を得ることができず、この結果、磁気記録媒体の正確な位置に記録再生を行うことができないという問題がある。
【００１３】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ディスクリートトラック型の磁気記録媒体であってもオフセット量を正確に測定して正確な位置に記録再生を行うことができる磁気記録媒体、磁気記録装置およびオフセット量測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域を備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体であって、前記磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域を備えたことを特徴とする。
【００１５】
また、本発明は、データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域と、前記磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域とを備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体と、前記オフセット量測定領域に前記再生ヘッドが所定のトラックに位置決めされた状態で前記記録ヘッドにより測定データを記録する記録手段と前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドを、前記位置決めされた位置から予め定められた距離だけ径方向に移動させた状態で、前記再生ヘッドにより前記記録手段によって記録された測定データを読み出す再生手段と、前記再生手段によって読み出された測定データを記憶する記憶手段と、前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドの移動と測定データの読み出しを複数回実行し、前記記憶手段に記憶された複数の測定データに基づいて、前記オフセット量を決定する決定手段と  を備えたことを特徴とする。
【００１６】
また、本発明は、データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域と、前記磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域とを備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体に対し、前記オフセット量を測定する磁気ヘッドオフセット量測定方法であって、前記オフセット量測定領域に前記再生ヘッドが所定のトラックに位置決めされた状態で前記記録ヘッドにより測定データを記録する記録工程と、前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドを、前記位置決めされた位置から予め定められた距離に径方向に移動させた状態で、前記再生ヘッドにより前記記録工程によって記録された測定データを読み出して、この読み出した測定データを記憶手段に記憶する再生工程と、前記再生ヘッドおよび前記記録ヘッドの移動と前記測定データの読み出しおよび前記記憶手段への記憶とを複数回実行し、前記再生工程によって前記記憶手段に記憶された複数の測定データに基づいて、前記オフセット量を決定する決定工程とを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域を備えたことで、ディスクリートトラック型の磁気記録媒体であっても非磁性部の存在しないオフセット量測定領域でオフセット量を測定できるので、測定したオフセット量を用いることにより、データの書き込み時にディスクリート領域のトラック中心位置に磁気記録を行うことが可能となり、再生信号を劣化させずにディスクリート作用を効果的に発揮させ、超高記録密度磁気記録を可能としながらも良好な記録再生特性を得ることができるという効果を奏する。
【００１８】
また、本発明によれば、データ書き込み可能な磁気記録領域を有する複数のトラックと隣接するトラック間にデータ書き込み不能な非磁性領域とを有するディスクリート領域と、前記磁気記録領域にデータの書き込みを行う記録ヘッドと前記磁気記録領域に記録されたデータを読み出す再生ヘッドを有する複合型磁気ヘッドの前記記録ヘッドと前記再生ヘッドのうち一方のヘッドを各トラックの中心位置に位置決めした際のトラック中心位置から半径方向の他方のヘッドまでの相対距離を示すオフセット量を測定するための測定データを書き込み可能なオフセット量測定領域とを備えたディスクリートトラック型の磁気記憶媒体のオフセット量測定領域に再生ヘッドが所定のトラックに位置決めされた状態で記録ヘッドにより測定データを記録し、再生ヘッドおよび記録ヘッドを、位置決めされた位置から予め定められた距離だけ径方向に移動させた状態で、再生ヘッドにより測定データを読み出し、再生ヘッドおよび記録ヘッドの移動と測定データの読み出しを複数回実行し、記憶手段に記憶された複数の測定データに基づいて、オフセット量を決定することで、ディスクリートトラック型の磁気記録媒体であっても非磁性部の存在しないオフセット量測定領域でオフセット量を測定でき、測定したオフセット量を用いることにより、データの書き込み時にディスクリート領域のトラック中心位置に磁気記録を行うことが可能となり、再生信号を劣化させずにディスクリート作用を効果的に発揮させ、超高記録密度磁気記録を可能としながらも良好な記録再生特性を得ることができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる磁気記録媒体、磁気記録装置およびオフセット量測定方法の最良な実施の形態を詳細に説明する。本実施の形態は、本発明の磁気記録媒体および磁気記録装置を、ハードディスク（ＨＤ）およびハードディスクドライブ装置（ＨＤＤ）に適用したものである。
【００２０】
（実施の形態１）
まず、本実施の形態にかかるハードディスクの構造について説明する。本実施の形態のハードディスクは、再生ヘッドと記録ヘッドの記憶媒体半径方向の相対距離であるオフセット量を測定するためのオフセット量測定領域が、ディスクリート領域とサーボ領域との間に半径方向に設けられた構造のものである。
【００２１】
図１は、本実施の形態にかかるハードディスクの構造を示す模式図である。本実施の形態のハードディスクは、各トラックの記録領域の間に非磁性領域を有するディスクリートトラック型となっており、各セクタはディスクリート領域１０１とサーボ領域１０３とオフセット量測定領域１０２とから構成される。
【００２２】
ディスクリート領域１０１は、データを記録する記録領域と各トラックの記録領域の間にデータの書き込みが不可能な非磁性領域とを有する領域である。
【００２３】
サーボ領域１０３は、セクタの位置情報であるトラック番号とセクタ番号とを有するサーボデータが記憶された領域である。
【００２４】
オフセット量測定領域１０２は、ＨＤＤの再生ヘッドと記録ヘッドの記憶媒体半径方向の相対距離であるオフセット量を測定するための領域であり、ディスクリート領域１０１とサーボ領域１０３との間に半径方向に設けられている。サーボ領域１０３とオフセット量測定領域１０２は、セクタごとに存在している。
【００２５】
図２は、本実施の形態のハードディスクにおけるディスクリート領域１０１、オフセット量記録領域１０２およびサーボ領域１０３の詳細な構造を示す模式図である。図２に示すように、ディスクリート領域１０１は、データの書き込み可能な磁性体からなる記録領域２０２と、各トラック間、すなわち記録領域２０２間に設けられ、データの書き込み不可能な非磁性領域２０１とから構成される。オフセット量測定領域１０２は、データの書き込み可能な磁性体のみから構成され、非磁性領域は存在しない構成となっている。サーボ領域１０３もデータの書き込み可能な磁性体のみから構成される。ここで、波線はトラックの中心位置を示すものである。
【００２６】
このようにサーボ領域１０３とディスクリート領域１０１の間にオフセット量測定領域１０２が設けられているため、磁気ヘッドの位置決めの後にオフセット量の測定処理を行う際に磁気ヘッドの移動量を最小限にすることができ、オフセット量の測定処理を迅速に行うことが可能となる。
【００２７】
また、図２には、磁気ヘッド２１０がサーボ領域１０３に位置決めされた状態を示している。本実施の形態では、磁気ヘッド２１０として記録ヘッド２１１と再生ヘッド２１２が分離して設けられた複合ヘッドを使用している。図２では、再生ヘッド２１２がトラック中心位置に位置決めされた状態を示している。ハードディスクの各シリンダが図１に示すように円盤形状であり、磁気ヘッドが移動する軌跡が円弧状であるため、再生ヘッド２１２と記録ヘッド２１１のハードディスクの経方向の相対距離（オフセット量）は、トラックごとに変化する。本実施の形態では、この相対距離であるオフセット量を、トラックごとに測定するものである。
【００２８】
次に、本実施の形態のハードディスクドライブ装置（ＨＤＤ）の構成について説明する。図３は、本実施の形態のハードディスクドライブ装置の構成を示す構成図である。本実施の形態にかかるハードディスクドライブ装置（ＨＤＤ）は、ハードディスク（ＨＤ）３２４と、磁気ヘッド３２１、アーム３２２などの機構を備えた駆動機構部３２０と、ハードディスクドライブ装置内部のプリント基板上に制御回路として設けられたＨＤＤ制御部３１０とを備えた構成となっている。
【００２９】
ＨＤＤ制御部３１０は、図３に示すように、システムコントローラ３１１と、振幅値記憶判断回路３１２と、オフセット記憶回路３１３と、記録パターン生成回路３１４と、位置決めアクチュエータ制御回路３１８と、ヘッド再生信号処理回路３１５と、ヘッド記録信号処理回路３１６と、オフセット付与回路３１７とを備えた構成となっている。ヘッド記録信号処理回路３１６は本発明における記録手段を、ヘッド再生信号処理回路３１５は本発明における再生手段を、オフセット付与回路３１７および位置決めアクチュエータ制御回路３１８は本発明における位置決め手段をそれぞれ構成する。
【００３０】
振幅値記憶判断回路３１２は、本発明における記憶手段および決定手段を構成する。振幅値記憶判断回路３１２は、再生ヘッド２１２から再生した再生信号の振幅値を記憶し、最大振幅値を決定するものである。オフセット記憶回路３１３はトラックごとの最大振幅値を最適オフセット量として記憶するものである。
【００３１】
記録パターン生成回路３１４は、ハードディスクに書き込むデータの記録パターンを生成するものである。位置決めアクチュエータ制御回路３１８は、再生ヘッド２１２および記録ヘッド２１１の位置決めを行うものである。位置決めアクチュエータ制御回路３１８は、記録ヘッド２１１による記録領域２０２へのデータ記録時にオフセット付与回路３１７から最適オフセット量を受け取って、磁気ヘッド２１０を受け取った最適オフセット量だけハードディスクの経方向に移動させる。ヘッド再生信号処理回路３１５は、再生ヘッド２１２からの再生信号を受け取り、システムコントローラ３１１に受け渡すものである。ヘッド記録信号処理回路３１６は、記録パターン生成回路３１４によって生成された記録パターンの信号を記録ヘッド２１１によってハードディスクに記録するものである。オフセット付与回路３１７は、オフセット記憶回路３１３に保持されている最適オフセット量を、位置決めアクチュエータ制御回路３１８に受け渡すものである。
【００３２】
システムコントローラ３１１は、振幅値記憶判断回路３１２、オフセット記憶回路３１３、記録パターン生成回路３１４、位置決めアクチュエータ制御回路３１８、ヘッド再生信号処理回路３１５、ヘッド記録信号処理回路３１６、オフセット付与回路３１７を制御するものである。
【００３３】
次に、このように構成された本実施の形態にかかるハードディスクドライブ装置によるオフセット量測定処理について説明する。本実施の形態にかかるハードディスクドライブ装置では、オフセット量測定処理は、測定パターンの記録処理と記録された測定パターンからのオフセット測定処理の２段階で行われるようになっている。図４は、測定パターンの記録処理の手順を示すフローチャートである。
【００３４】
本実施の形態にかかるオフセット測定処理および調整処理作は、非磁性部が存在しないオフセット量測定領域１０２に、初期化が行われ、まだデータの磁気情報が書き込まれていない状態で開始される。この状態で、再生ヘッド２１２と記録ヘッド２１１が搭載された磁気ヘッド２１０を支持するサスペンションアーム３２２は、磁気ヘッド２１０をディスク最内周に移動させる。このとき、磁気ヘッド２１０とサスペンションアーム３２２の軸が同一であれば、再生ヘッド２１２と記録ヘッド２１１の、ディスクリート領域に対する位置関係は、トラックの中心に対して、再生ヘッド２１２の中心が位置決めされたとき、記録ヘッド２１１の中心位置は、トラック中心からずれた状態となる。
【００３５】
まず、システムコントローラ３１１からオフセット調整開始司令が出され、これを受けた位置決めアクチュエータ制御回路３１８は、サスペンションアーム３２２をディスクの最内周に移動させる。ヘッド再生信号処理回路３１５はかかる位置でセクタ領域の開始信号の到来を待つ（ステップＳ４０１）。
【００３６】
ヘッド再生信号処理回路３１５はセクタ領域開始信号を受けると、システムコントローラ３１はサーボ領域１０３からの再生信号に基づいて位置決めアクチュエータ３２３を変位させ、サーボ領域１０３のトラック中心位置に再生ヘッド２１２を位置決めする（ステップＳ４０２）。
【００３７】
次に、システムコントローラ３１１は、サーボ信号の終了をヘッド再生信号処理回路から検知すると（ステップＳ４０３）、引き続き到来する磁性体部からのみなるオフセット量測定領域１０２に対して、記録ヘッド２１１によって測定パターンの記録動作を行う（ステップＳ４０４）。図５は、ステップＳ４０２およびＳ４０４における磁気ヘッド２１０の位置を示した説明図である。
【００３８】
このとき記録される測定パターンは、所定の周波数で変化するビットパターンであり、変調方式に応じて、データとして存在する最短の周期Ｔよりも長く、データの最長の周期より短い周期のパターン、例えば２Ｔないし４Ｔパターンであることが好ましい。２Ｔないし４Ｔのパターンは、ハードディスクドライブ装置の変調回路において比較的頻繁に発生する長さであり、フィルタ回路での処理がこれらの周期のデータに合せて調整されるためである。
【００３９】
ディスクリート領域１０１の到来を示すトリガ信号の発生を受けると（ステップＳ４０５）、測定パターンの記録が停止される（ステップＳ４０６）。このトリガ信号は、ディスクリート領域１０１の記録領域２０２への誤記録を防止するため、ディスクリート領域１０１の到来よりやや早めに入力されるように、ディスク半径位置に応じたカウントクロックから生成される信号である。次に、同一トラックに再生ヘッド２１２をトラッキングさせた状態で、この記録開始セクタに連なるＮｓ個のセクタ（ダウントラック方向）に対しても、記録開始セクタと同様の２Ｔないし４Ｔパターンの測定パターンを記録する。Ｎｓ個のセクタに対して、同一の条件で測定用のデータの記録を終了したら（ステップＳ４０７）、オフセット調整のための記録処理を終了し、オフセット量測定処理に移行する。
【００４０】
なお、かかる測定パターンの記録処理において、同一トラックに再生ヘッド２１２をトラッキングさせた状態で同様のパターンの記録を繰返すセクタ数Ｎｓは、ｎセクタの測定がｍ種類のオフセット量に対して行えるように、Ｎｓ＝ｎ×ｍとなるように設定されることが好ましい。
【００４１】
図６は、オフセット量測定処理の手順を示すフローチャートである。この測定処理は、記録開始セクタから開始される。まず、磁気ヘッド２１０の経方向への移動距離を示すＴをＴmaxで初期化する（ステップＳ６０１）。そして、記録開始セクタの到来をシステムコントローラで受信すると（ステップＳ６０２）、再生ヘッド２１２をサーボ領域１０３の示すディスクリート領域１０１のトラック中心位置に位置決めする（ステップＳ６０３）。
【００４２】
次に、磁気ヘッド２１０が記録開始セクタのサーボ領域１０３を通過した時に、サーボ領域１０３の通過を告知するフラグ信号を検知すると（ステップＳ６０４）、磁気ヘッドを再生ヘッド２１２の示すトラック中心位置から距離Ｔ（初回はＴmax）だけ内周方向に移動させる（ステップＳ６０５）。図７は再生ヘッド２１２の示すトラック中心位置から距離Ｔmaxだけ内周方向に移動した状態を示す説明図である。
【００４３】
かかる移動方向は、外周方向であってもよい。そして、再生ヘッド２１２によりオフセット量測定領域１０２に記録された測定パターンを再生する（ステップＳ６０６）。このとき測定する値は、非磁性部のないオフセット量測定領域１０２に記録処理で記録した固定周波数パターンの再生信号の振幅値である。この信号の振幅値の測定は、記録動作と同様にディスクリート領域１０１の到来よりやや早いタイミングで発生するトリガ信号を受けて終了する。このようなステップＳ６０２からＳ６０６までの測定処理を所定のｎセクタに対して繰り返し行い（ステップＳ６０７）、オフセット量を内周側にＴ分としたときの振幅値データとして、振幅値記憶判断回路３１２に保存する（ステップＳ６０８）。そして、振幅値記憶判断回路３１２に保存されている前回のオフセット量と現在のオフセット量を比較して、現在のオフセット量の振幅値が極大となっているか否かを判断する（ステップＳ６０９）。そして、極大となっていない場合には、Ｔ＝Ｔ−Ｔ０として（ステップＳ６１０）、ステップＳ６０２からＳ６０８までの処理を繰り返す。これにより、磁気ヘッド２１０は、ディスク内周側に距離Ｔだけ移動した状態からディスク外周側へ距離Ｔ０だけ移動した状態にし、ステップＳ６０２からＳ６０８までのオフセット量測定処理が実行されることになる。図８は磁気ヘッド２１０をトラック中心位置から内周方向に距離Ｔmaxだけ移動した位置から外周方向にＴ0に移動した状態を示す説明図である。
【００４４】
このようにして得られたオフセット量に対する振幅値のデータは、図９に示すようにオフセット量と振幅値のグラフとして表すことができる。図９に示すように、オフセット量を内周側にＴmaxとした状態から、徐々に磁気ヘッド２１０外周側に変化させる場合、測定した振幅値が極大となって変曲するオフセット量が得られるか、振幅値が所定の値以上となれば測定自体を終了することができる。振幅値記憶判断回路３１２は、このように記憶したデータに基づいて、振幅値が始めて最大値となるオフセット量を最適オフセット量Ｔoptとして検出する。
【００４５】
すなわち、磁気ヘッド２１０を徐々にディスク外周側へ距離Ｔ０ずつ移動して測定パターンの再生を行い、現在のオフセット量の振幅値が極大と検出された位置が測定パターンが記録された位置である。
【００４６】
従って、ステップＳ６０９において、振幅値記憶判断回路３１２が現在のオフセット量の振幅値が極大となっていると判断した場合には、現在のオフセット量を現在処理中のトラックにおける最適オフセット量Ｔoptと決定し（ステップＳ６１１）、オフセット記憶回路３１３に保存する（ステップＳ６１２）。トラックに対する最適オフセット量が検出されると、非磁性部がないオフセット量測定領域１０２に書き込んだ測定パターンは、同様の書込みシーケンスでイレースされる。このようにイレース処理を行うことにより、非磁性部がないオフセット量測定領域１０２に記録された測定パターンの影響でディスクリート領域１０１に記録されたデータ信号が劣化したり、干渉する影響を除去することが可能となる。
【００４７】
これにより、一つのトラックにおける最適オフセット量が決定されるが、かかるステップＳ６０１からＳ６１２までの測定処理を全てのトラックについて実行する。これにより、全トラックにおける最適オフセット量が測定されることになる。図１０は、オフセット記憶回路３１３に保存されたトラック毎の最適オフセット量の一例をグラフ化した説明図であり、図１１は、オフセット記憶回路３１３に保存されたトラック毎の最適オフセット量の一例をテーブル化した説明図である。図１１に示す例では、１０トラック毎に測定されたオフセット量がメモリに保存されている。なお、この例では１０トラックとしているが精度に応じた間隔であればよい。メモリ間のトラックは、線形補間処理が施されて算出される。このように、オフセット記憶回路３１３には、トラック毎の最適オフセット量が保存されることになるが、ディスクリート領域１０１の記録領域２０２にデータを記録する際には、オフセット付与回路３１７によってオフセット記憶回路３１３に記憶されている記録対象トラックに対応するオフセット量を読み出して、位置決めアクチュエータ制御回路３１８に受け渡す。そして、位置決めアクチュエータ制御回路３１８によって磁気ヘッドを最適オフセット量だけ経方向に移動して記録処理を行うことにより、ディスクリート領域１０１の非磁性領域２０１へのデータの記録動作が防止される。
【００４８】
なお、振幅値記憶判断回路３１２に記憶されたデータの振幅値の最大値が、あらかじめ規定された振幅値よりも小さい場合は、オフセット量が最適なオフセット量に到達していない可能性がある。この場合には、振幅値記憶判断回路３１２によってかかる状態を判断し、記録開始セクタから再度測定パターンの記録処理を開始し、測定処理についても再度実行されるように構成すればよい。なお、この記録開始セクタでのオフセット量は前回の記録処理開始時のオフセット量Ｔmaxより大きい値となるように設定される。
【００４９】
このように実施の形態１の磁気記録媒体では、オフセット量測定領域１０２が設けられ、このオフセット量測定領域１０２はデータの書き込み可能な磁性体のみから構成され、非磁性領域は存在しない構成となっているため、ディスクリートトラック型の磁気記録媒体であってもオフセット量を正確に測定して、測定したオフセット量を用いることにより、データの書き込み時にディスクリート領域のトラック中心位置に磁気記録を行うことが可能となり、再生信号を劣化させずにディスクリート作用を効果的に発揮させ、超高記録密度磁気記録を可能としながらも良好な記録再生特性を得ることができる。
【００５０】
また、実施の形態１の磁気記録媒体では、サーボ領域１０３とディスクリート領域１０１の間にオフセット量測定領域１０２が設けられているため、磁気ヘッドの位置決めの後にオフセット量の測定処理を行う際に磁気ヘッドの移動量を最小限にすることができ、オフセット量の測定処理を迅速に行うことができる。
【００５１】
さらに、実施の形態１の磁気記録装置では、オフセット量測定領域１０２に再生ヘッド２１２がトラック中心位置に位置決めされた状態で記録ヘッド２１１により測定データを記録し、再生ヘッド２１２および記録ヘッド２１１を、位置決めされた位置から予め定められた距離だけ径方向に移動させた状態で、再生ヘッド２１２により測定データを読み出し、再生ヘッド２１２および記録ヘッド２１１の移動と測定データの読み出しを複数回実行し、振幅値記憶判断回路３１２に記憶された複数の測定データの振幅値が極大となる振幅値を最適オフセット量として決定しているので、ディスクリートトラック型の磁気記録媒体であっても非磁性部の存在しないオフセット量測定領域１０２でオフセット量を測定でき、オフセット量を正確に測定して正確な位置に記録再生を行うことができる
なお、本実施の形態のハードディスクでは、各セクタに対して全てオフセット量測定領域１０２が備わった構成となっているが、この形態に限定するものでなく、オフセット測定が可能な数のセクタのみにオフセット量測定領域１０２を設ける構成としてもよい。
【００５２】
また、本実施の形態のハードディスクでは、全てのトラックに対して、オフセット量測定領域１０２を備えた構成となっているが、この形態に限定するものではなく、所定のトラックにのみオフセット量測定領域１０２を設ける構成としてもよい。この場合、最適オフセット量を測定したトラック以外のトラックに対する最適オフセット量は、既知の最適オフセット量から補間処理を行うことにより算出するようにハードディスクドライブ装置を構成すればよい。
【００５３】
（実施の形態２）
本実施の形態のハードディスクは、オフセット量測定領域をディスクのディスクリート領域の内周側および外周側に設けたものである。
【００５４】
図１２は、本実施の形態にかかるハードディスクの構造を示す模式図である。本実施の形態のハードディスクは、各トラックの記録領域の間に非磁性領域を有するディスクリートトラック型となっており、各セクタはディスクリート領域１０１とサーボ領域１０３とから構成される。そして、最内周のディスクリート領域１０１のさらに内周側に非磁性部の存在しないオフセット量測定領域１２０２ｂが、最外周のディスクリート領域１０１のさらに外周側にオフセット量測定領域１２０２ａが設けられた構成となっている。
【００５５】
図１３は、本実施の形態のハードディスクにおけるディスクリート領域１０１、オフセット量記録領域１２０２ａ，１２０２ｂおよびサーボ領域１０３の詳細な構造を示す模式図である。ディスクリート領域１０１、サーボ領域１０３については、実施の形態１のハードディスクと同様の機能を有している。
【００５６】
オフセット量測定領域１２０２ａ．１２０２ｂは、ＨＤＤの再生ヘッドと記録ヘッドの記憶媒体半径方向の相対距離であるオフセット量を測定するための領域であり、最内周のディスクリート領域１０１のさらに内周側と最外周のディスクリート領域１０１のさらに外周側に設けられていることにより、ハードディスクの初期化処理を効率よく行うことができるようになっている。
【００５７】
なお、本実施の形態のハードディスクドライブ装置の構成は、図３に示した実施の形態１と同様である。
【００５８】
次に、このように構成された本実施の形態にかかるハードディスクドライブ装置によるオフセット量測定処理について説明する。本実施の形態にかかるハードディスクドライブ装置においても、オフセット量測定処理は、測定パターンの記録処理と記録された測定パターンからのオフセット測定処理の２段階で行われるようになっている。図１４は、測定パターンの記録処理の手順を示すフローチャートである。
【００５９】
本実施の形態にかかるオフセット測定処理および調整処理作も、非磁性部が存在しないオフセット量測定領域１０２に、初期化が行われ、まだデータの磁気情報が書き込まれていない状態で開始される。
【００６０】
まず、システムコントローラ３１１からオフセット調整開始司令が出され、これを受けた位置決めアクチュエータ制御回路３１８は、サスペンションアーム３２２をディスクの最内周に移動させる。ヘッド再生信号処理回路３１５はかかる位置でセクタ領域の開始信号の到来を待つ（ステップＳ１４０１）。
【００６１】
ヘッド再生信号処理回路３１５はセクタ領域開始信号を受けると、システムコントローラ３１はサーボ領域１０３のトラック中心位置に再生ヘッド２１２を位置決めし（ステップＳ１４０２）、システムコントローラ３１１がサーボ信号の終了をヘッド再生信号処理回路から検知すると（ステップＳ１４０３）、引き続き到来する磁性体部からのみなるオフセット量測定領域１０２に対して、記録ヘッド２１１によって測定パターンの記録動作を行う（ステップＳ１４０４）。
【００６２】
次のセクタの到来を示すトリガ信号の発生を受けて（ステップＳ１４０５）、測定パターンの記録が停止される（ステップＳ１４０６）。Ｎｓ個のセクタに対して、同一の条件で測定用のデータの記録を終了したら（ステップＳ１４０７）、オフセット調整のための記録処理を終了し、オフセット量測定処理に移行する。
【００６３】
図１５は、オフセット量測定処理の手順を示すフローチャートである。まず、磁気ヘッド２１０を、ディスクの最内周のディスクリート領域１０１よりさらに内周側のオフセット量測定領域１２０２ｂに移動する（ステップＳ１５０１）。そして、磁気ヘッド２１０の経方向への移動距離を示すＴをＴmaxで初期化する（ステップＳ１５０２）。次に、記録開始セクタの到来をシステムコントローラで受信すると（ステップＳ１５０３）、再生ヘッド２１２をサーボ領域１０３の示すディスクリート領域１０１のトラック中心位置に位置決めする（ステップＳ１５０４）。
【００６４】
次に、磁気ヘッド２１０が記録開始セクタのサーボ領域１０３を通過した時に、サーボ領域１０３の通過を告知するフラグ信号を検知すると（ステップＳ１５０５）、磁気ヘッドを再生ヘッド２１２の示すトラック中心位置から距離Ｔ（初回はＴmax）だけ内周方向に移動させる（ステップＳ１５０６）。
【００６５】
かかる移動方向は、外周方向であってもよい。そして、再生ヘッド２１２によりオフセット量測定領域１０２に記録された測定パターンを再生する（ステップＳ１５０７）。このとき測定する値は、実施の形態１と同様に非磁性部のないオフセット量測定領域１０２に記録処理で記録した固定周波数パターンの再生信号の振幅値である。
【００６６】
この信号の振幅値の測定は、記録動作と同様にディスクリート領域１０１の到来よりやや早いタイミングで発生するトリガ信号を受けて終了する。このようなステップＳ１５０３からＳ１５０７までの測定処理を所定のｎセクタに対して繰り返し行い（ステップＳ１５０８）、オフセット量を内周側にＴ分としたときの振幅値データとして、振幅値記憶判断回路３１２に保存する（ステップＳ１５０９）。そして、振幅値記憶判断回路３１２に保存されている前回のオフセット量と現在のオフセット量を比較して、現在のオフセット量の振幅値が極大となっているか否かを判断する（ステップＳ１５１０）。そして、極大となっていない場合には、Ｔ＝Ｔ−Ｔ０として（ステップＳ１５１１）、ステップＳ１５０３からＳ１５０９までの処理を繰り返すことにより、磁気ヘッド２１０は、ディスク内周側に距離Ｔだけ移動した状態からディスク外周側へ距離Ｔ０だけ移動した状態にし、ステップＳ１５０３からＳ１５０９までのオフセット量測定処理が実行されることになる。
【００６７】
従って、ステップＳ１５１０において、振幅値記憶判断回路３１２が現在のオフセット量の振幅値が極大となっていると判断した場合には、現在のオフセット量を現在処理中のトラックにおける最適オフセット量Ｔoptと決定し（ステップＳ１５１２）、オフセット記憶回路３１３に保存する（ステップＳ１５１３）。
【００６８】
このようなステップＳ１５０２からＳ１５１３までの測定処理を、内周側のオフセット量測定領域１２０２ｂの全てのトラックに対して実行し、内周側のオフセット量測定領域１２０２ｂの全てのトラックについて終了したら（ステップＳ１５１４）、磁気ヘッド２１０をディスクの最外周のディスクリート領域１０１よりさらに外周側のオフセット量測定領域１２０２ａに移動する（ステップＳ１５１５、Ｓ１５１６）。そして、内周側のオフセット量測定領域１２０２ｂに対するオフセット量測定処理と同様にステップＳ１５０２からＳ１５１３までの測定処理を実行する。
【００６９】
このようにして内周側と外周側のオフセット量測定領域１２０２ａ，１２０２ｂの全てのトラックについて最適オフセット量が決定したら（ステップＳ１５１５）、最適オフセット量が未測定のトラックの最適オフセット量を、内周側および外周側のオフセット量測定領域１２０２ａ，１２０２ｂから測定された最適オフセット量を数１式の多項式を用いて近似する補間処理を行うことにより求める（ステップＳ１５１７）。数１式は、ｋトラックの最適オフセット量ｏｆｆｓｅｔ（ｋ）を算出する３次、４次、ｎ次の多項式である。係数は最小二乗法で求めるのが一般的である。
【００７０】
【数１】
2005166115.tif 000003
例えば、全トラック数が６５５９１である場合、１０００トラックごとに最適オフセット量を測定して他のトラックのオフセット量を数１式で補間する場合を考える。このとき、数１式の３次多項式で近似した場合には、最大６ｎｍ程度の推定誤差があり、４次多項式で近似した場合、最大１ｎｍ程度の推定誤差に収まる。また、内周側トラックの２点、半径中央付近のトラックの１点、外周側トラックの２点の計５点において最適オフセット量を測定し、数１式の４次多項式で近似した場合、２ｎｍ程度の誤差となる。
【００７１】
図１６は、オフセット量とトラックの関係を示す説明図である。内周側および外周側のオフセット量測定領域１２０２ａ，１２０２ｂから測定された最適オフセット量は実線で表されているが、この他、未測定のトラックについては上記近似式を利用することにより最適オフセット量を算出することが可能である。
【００７２】
このように実施の形態２のハードディスクおよびハードディスクドライブ装置では、実施の形態１と同様に、オフセット量を正確に測定して、測定したオフセット量を用いることにより、データの書き込み時にディスクリート領域のトラック中心位置に磁気記録を行うことが可能となり、再生信号を劣化させずにディスクリート作用を効果的に発揮させ、超高記録密度磁気記録を可能としながらも良好な記録再生特性を得ることができる。
【００７３】
また、実施の形態２のハードディスクでは、ハードディスクにオフセット量測定領域が最内周のディスクリート領域より更に内周側と最外周のディスクリート領域より更に外周側に設けられているので、セクタ領域ごとにオフセット量測定領域が設けられている場合に比べて、フォーマット処理の時間が短時間で済み、ハードディスクのフォーマット処理効率を向上させることができる。
【００７４】
（変形例１）
実施の形態２のハードディスクでは、最内周のディスクリート領域１０１より内周側と最外周のディスクリート領域１０１より外周側にそれぞれオフセット量測定領域１２０２ａ，１２０２ｂを設けていたが、さらに図１７に示すように、ディスクの中央付近のトラックにオフセット量測定領域１２０２ｃを設けるように構成してもよい。この場合には、図１８に示すように、ディスクの中央付近のトラックにおけるオフセット量測定領域１２０２ｃからも最適オフセット量を測定することができるので、数１式による未測定のトラックに対する最適オフセット量の算出精度が向上するという利点がある。
【００７５】
（変形例２）
また、変形例１のようにディスクの中央付近のトラックにオフセット量測定領域１２０２ｃを設ける代わりに、図１９に示すように、実施の形態１のようにディスクの半径方向に亘ってオフセット量測定領域１２０２ｄを設けるように構成してもよい。この場合には、内周および外周のオフセット量測定領域１２０２ａ，１２０２ｂの他、半径方向に亘って存在するオフセット量測定領域１２０２ｄの任意のトラックからも最適オフセット量を測定することができるので、数１式による未測定のトラックに対する最適オフセット量の算出精度をさらに向上させることができるという利点がある。
【００７６】
（実施の形態３）
実施の形態１および２のハードディスクは、いずれのセクタにおいてもオフセット量測定領域のトラック中心位置とサーボ領域のトラック中心位置とが一致しているものであったが、この実施の形態３にかかるハードディスクはオフセット量測定領域のトラック中心位置とサーボ領域のトラック中心位置とが一致しているセクタと異なるセクタを有するものである。
【００７７】
図２０は、実施の形態３にかかるハードディスクのセクタ毎の構造を示す模式図である。図２０に示すように、記録開始セクタである１−セクタではオフセット量測定領域２００３のトラック中心位置とサーボ領域２００４のトラック中心位置が一致しているが、ｎ−セクタとｍーセクタでは、オフセット量測定領域２００３のトラック中心位置とサーボ領域２００４のトラック中心位置が一致せずに異なっている。また、ｎ−セクタとｍーセクタとでは、図２０に示すように、オフセット量測定領域２００３のトラック中心位置とサーボ領域２００４のトラック中心位置の差が異なっているように構成されている。また、本実施の形態にかかるハードディスクでは、このようにオフセット量測定領域２００３のトラック中心位置とサーボ領域２００４のトラック中心位置が一致せずに異なっているセクタは、ディスクの最内周のトラックに設けられている。なお、ディスクの最内周のトラックに限らず、ディスクの中心から所定の距離に位置する複数のトラックをこのような構成としてもよい。
【００７８】
なお、本実施の形態のハードディスクドライブ装置の構成は、図３に示した実施の形態１と同様である。
【００７９】
次に、このように構成された本実施の形態にかかるハードディスクドライブ装置によるオフセット量測定処理について説明する。本実施の形態にかかるハードディスクドライブ装置でも実施の形態１および２と同様に、オフセット量測定処理は、測定パターンの記録処理と記録された測定パターンからのオフセット測定処理の２段階で行われるようになっている。図２１は、測定パターンの記録処理の手順を示すフローチャートである。
【００８０】
本実施の形態にかかるオフセット測定処理および調整処理作も実施の形態１および２と同様に、非磁性部が存在しないオフセット量測定領域１０２に、初期化が行われ、まだデータの磁気情報が書き込まれていない状態で開始される。この状態で、再生ヘッド２１２と記録ヘッド２１１が搭載された磁気ヘッド２１０を支持するサスペンションアーム３２２は、磁気ヘッド２１０をディスク最内周に移動させる。このとき、磁気ヘッド２１０とサスペンションアーム３２２の軸が同一であれば、再生ヘッド２１２と記録ヘッド２１１の、ディスクリート領域に対する位置関係は、トラックの中心に対して、再生ヘッド２１２の中心が位置決めされたとき、記録ヘッド２１１の中心位置は、トラック中心からずれた状態となる。
【００８１】
まず、システムコントローラ３１１からオフセット調整開始司令が出され、これを受けた位置決めアクチュエータ制御回路３１８は、サスペンションアーム３２２をディスクの最内周に移動させる。ヘッド再生信号処理回路３１５はかかる位置でセクタ領域の開始信号の到来を待つ（ステップＳ２１０１）。
【００８２】
ヘッド再生信号処理回路３１５はセクタ領域開始信号を受けると、システムコントローラ３１はサーボ領域１０３からの再生信号に基づいて位置決めアクチュエータ３２３を変位させ、サーボ領域１０３のトラック中心位置に再生ヘッド２１２を位置決めする（ステップＳ２１０２）。
【００８３】
次に、システムコントローラ３１１は、サーボ信号の終了をヘッド再生信号処理回路から検知すると（ステップＳ２１０３）、位置決めアクチュエータ制御回路３１８に第１所定量のオフセットを与え、磁気ヘッド２１０をこの第１所定量だけ外周方向に移動する（ステップＳ２１０４）。そして、引き続き到来する磁性体部からのみなるオフセット量測定領域２００３に対して、記録ヘッド２１１によって測定パターンの記録動作を行う（ステップＳ２１０５）。図２２は、ステップＳ２１０２およびＳ２１０４における磁気ヘッド２１０の位置を示した説明図である。
【００８４】
このとき記録される測定パターンは、実施の形態１と同様に所定の周波数で変化するビットパターンである。
【００８５】
次に、ディスクリート領域１０１の到来を示すトリガ信号の発生を受けると（ステップＳ２１０６）、測定パターンの記録が停止される（ステップＳ２１０７）。
【００８６】
この記録処理を開始した記録開始セクタから、同一のシリンダに対して一周の記録が終了するまで、ステップＳ２１０１からＳ２１０７までの処理を繰り返し実行する。すなわち、同一のシリンダ内で、記録のためのオフセット量は、ステップＳ２１０４における第１所定量の一定値のまま、記録動作が完了することになる。
【００８７】
図２３は、オフセット量測定処理の手順を示すフローチャートである。本実施の形態では、サーボ領域２００４のトラック中心に位置決めした再生ヘッド２１２を、セクタのセクタ番号に応じた距離に径方向に移動させながら記録信号の再生を行う。すなわち、本発明のハードディスクでは、サーボ領域２００４のトラック中心位置と中心位置が異なるように形成されたオフセット量測定領域２００３を有しているが、このオフセット量測定領域２００３のトラック中心位置とサーボ領域２００４のトラック中心位置との関係はセクタのセクタ番号に応じて予め定められた値である。このため、かかる関係を利用して、サーボ領域２００４に続くオフセット量測定領域２００３の中心位置で記録信号の再生を行うために、必要なオフセット量を、セクタ番号から求めることとしている。
【００８８】
この測定処理は、記録開始セクタから開始される。まず、記録開始セクタの到来をシステムコントローラで受信すると（ステップＳ２３０１）、再生ヘッド２１２をサーボ領域１０３の示すディスクリート領域１０１のトラック中心位置に位置決めする（ステップＳ２３０２）。
【００８９】
次に、磁気ヘッド２１０が記録開始セクタのサーボ領域１０３を通過した時に、サーボ領域１０３の通過を告知するフラグ信号を検知すると（ステップＳ２３０３）、磁気ヘッドを再生ヘッド２１２の示すトラック中心位置からセクタに対応した距離だけ内周方向に移動させる（ステップＳ２３０４）。図２４は、ステップＳ２３０２およびＳ２３０４における磁気ヘッド２１０の位置を示した説明図である。
【００９０】
ここで、ステップＳ２３０４において磁気ヘッド２１０を移動するオフセット量は、上述したように、セクタごとに予め定められた値であり、オフセット記憶回路３１３に保持されている。図２５は、セクタ番号ごとのオフセット量を定めたテーブルの一例を示す説明図である。
【００９１】
そして、この状態で再生ヘッド２１２によりオフセット量測定領域２００３に記録された測定パターンを再生し（ステップＳ２３０５）、再生信号の振幅値を振幅値記憶判断回路３１２に保存する（ステップＳ２３０６）。そして、ステップＳ２３０１からＳ２３０６間での再生処理を同一トラックの全てのセクタについて終了するまで繰り返し実行する（ステップＳ２３０７）。
【００９２】
この再生信号は、先の記録シーケンスで記録された信号を再生して得られるもので、記録のためのオフセット量である第１所定値が適正な値であれば、サーボ領域２００４のトラック中心位置に対するオフセット量測定領域２００３の中心位置が同一となるように設けられたセクタにおいて、再生信号振幅が最大となる。
【００９３】
一方、第１所定量のオフセット量が適正の値でない場合は、サーボ領域２００４のトラック中心位置とオフセット量測定領域２００３のトラック中心位置が、第２所定値だけずれたセクタにおいて再生信号振幅が最大となって検出される。
【００９４】
このため、次に、振幅値記憶判断回路３１２において、同一トラックの全セクタ領域について再生信号振幅の比較を行い（ステップＳ２３０８）、信号振幅が最大となるセクタ領域、セクタ番号を求める（ステップＳ２３０９）。この結果、第２所定量の値だけずれてサーボ領域２００４のトラック中心位置とオフセット量測定領域２００３のトラック中心位置が設けられたセクタ領域での信号振幅が最大となったならば、この第２所定量に相当するオフセット量によってオフセット記憶回路３１３に保存されている第１所定量のオフセット量を補正する（ステップＳ２３１０）。
【００９５】
このように実施の形態３のハードディスクおよびハードディスクドライブ装置では、実施の形態１と同様に、オフセット量を正確に測定して、測定したオフセット量を用いることにより、データの書き込み時にディスクリート領域のトラック中心位置に磁気記録を行うことが可能となり、再生信号を劣化させずにディスクリート作用を効果的に発揮させ、超高記録密度磁気記録を可能としながらも良好な記録再生特性を得ることができる。
【００９６】
また、実施の形態３のハードディスクでは、オフセット量測定領域２００３のトラック中心位置とサーボ領域２００４のトラック中心位置とが一致しているセクタと異なるセクタとを有した構成となっており、ハードディスクドライブ装置は、同一トラックの全セクタ領域について再生信号振幅を比較し、信号振幅が最大となるセクタ領域、セクタ番号を求め、第２所定量の値だけずれてサーボ領域２００４のトラック中心位置とオフセット量測定領域２００３のトラック中心位置が設けられたセクタ領域での信号振幅が最大となる場合に、第２所定量に相当するオフセット量によって第１所定量のオフセット量を補正しているので、小型化された磁気ヘッド２１０の再生ヘッド２１２と記録ヘッド２１１が狭い間隔で配設されている場合において、ディスク中心付近におけるのオフセット量の測定および記録時におけるオフセット量による調整を容易に行うことができる。
【００９７】
なお、このオフセット量測定処理では、磁気ヘッド２１０のディスクの中心付近でのセクタ領域に応じてオフセット量が予め定められているが、一度所定の半径位置でのみオフセット量の補正を行えば、同じ補正量によって内周から外周まで全ての半径位置でのオフセット量の補正を容易に行うことができる。
【００９８】
また、実施の形態１および２と同様に、再生信号の振幅値の比較において、振幅値が最大となるセクタ領域での振幅値が予め定められた値を超えていない場合や、振幅値が極大となるセクタ領域が得られない場合には、第１所定量のオフセット量をより大きな値に設定して、再度測定データの記録処理を行い、より適切なオフセット量の補正値を得ることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００９９】
以上のように、本発明にかかる磁気記録媒体、磁気記録装置およびオフセット量測定方法は、ハードディスク、ハードディスクドライブ装置およびハードディスクドライブ装置で実行されるオフセット量測定方法に有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１００】
【図１】実施の形態１にかかるハードディスクの構造を示す模式図である。
【図２】実施の形態１のハードディスクにおけるディスクリート領域１０１、オフセット量記録領域１０２およびサーボ領域１０３の詳細な構造を示す模式図である。
【図３】実施の形態１のハードディスクドライブ装置の構成を示す構成図である。
【図４】測定パターンの記録処理の手順を示すフローチャートである。
【図５】ステップＳ４０２およびＳ４０４における磁気ヘッド２１０の位置を示した説明図である。
【図６】オフセット量測定処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】再生ヘッド２１２の示すトラック中心位置から距離Ｔmaxだけ内周方向に移動した状態を示す説明図である。
【図８】磁気ヘッド２１０をトラック中心位置から内周方向に距離Ｔmaxだけ移動した位置から外周方向にＴ0に移動した状態を示す説明図である。
【図９】オフセット量と振幅値の関係をグラフ化して示した説明図である。
【図１０】オフセット記憶回路３１３に保存されたトラック毎の最適オフセット量の一例をグラフ化した説明図である。
【図１１】オフセット記憶回路３１３に保存されたトラック毎の最適オフセット量の一例をテーブル化した説明図である。
【図１２】実施の形態２にかかるハードディスクの構造を示す模式図である。
【図１３】実施の形態２のハードディスクにおけるディスクリート領域１０１、オフセット量記録領域１２０２ａ，１２０２ｂおよびサーボ領域１０３の詳細な構造を示す模式図である。
【図１４】測定パターンの記録処理の手順を示すフローチャートである。
【図１５】オフセット量測定処理の手順を示すフローチャートである。
【図１６】オフセット量とトラックの関係を示す説明図である。
【図１７】ディスクの中央付近のトラックにオフセット量測定領域１２０２ｃを設けるように構成したハードディスクの構造を示す模式図である。
【図１８】オフセット記憶回路３１３に保存されたトラック毎の最適オフセット量の一例をグラフ化した説明図である。
【図１９】ディスクの半径方向に亘ってオフセット量測定領域１２０２ｄを設けるように構成したハードディスクの構造を示す模式図である。
【図２０】実施の形態３にかかるハードディスクのセクタ毎の構造を示す模式図である。
【図２１】測定パターンの記録処理の手順を示すフローチャートである。
【図２２】ステップＳ２１０２およびＳ２１０４における磁気ヘッド２１０の位置を示した説明図である。
【図２３】オフセット量測定処理の手順を示すフローチャートである。
【図２４】ステップＳ２３０２およびＳ２３０４における磁気ヘッド２１０の位置を示した説明図である。
【図２５】セクタ番号ごとのオフセット量を定めたテーブルの一例を示す説明図である。
【図２６】サーボ領域を有するディスクリートトラック型の磁気記録媒体であるＨＤＤの記録面および複合ヘッドの構成を示す模式図である。
【符号の説明】
【０１０１】
１０１  ディスクリート領域
１０２，１２０２ａ，１２０２ｂ，１２０２ｃ，１２０２ｄ，２００３  オフセット量測定領域
１０３，２００４  サーボ領域
２０１  非磁性領域
２０２  記録領域
２１０  磁気ヘッド
２１１  記録ヘッド
２１２  再生ヘッド
３１０  ＨＤＤ制御部
３１１  システムコントローラ
３１２  振幅値記憶判断回路
３１３  オフセット記憶回路
３１４  記録パターン生成回路
３１５  ヘッド再生信号処理回路
３１６  ヘッド記録信号処理回路
３１７  オフセット付与回路
３１８  位置決めアクチュエータ制御回路
３２０  駆動機構部
３２１  磁気ヘッド
３２２  サスペンションアーム
【図１】
2005166115.tif 000004
【図２】
2005166115.tif 000005
【図３】
2005166115.tif 000006
【図４】
2005166115.tif 000007
【図５】
2005166115.tif 000008
【図６】
2005166115.tif 000009
【図７】
2005166115.tif 000010
【図８】
2005166115.tif 000011
【図９】
2005166115.tif 000012
【図１０】
2005166115.tif 000013
【図１１】
2005166115.tif 000014
【図１２】
2005166115.tif 000015
【図１３】
2005166115.tif 000016
【図１４】
2005166115.tif 000017
【図１５】
2005166115.tif 000018
【図１６】
2005166115.tif 000019
【図１７】
2005166115.tif 000020
【図１８】
2005166115.tif 000021
【図１９】
2005166115.tif 000022
【図２０】
2005166115.tif 000023
【図２１】
2005166115.tif 000024
【図２２】
2005166115.tif 000025
【図２３】
2005166115.tif 000026
【図２４】
2005166115.tif 000027
【図２５】
2005166115.tif 000028
【図２６】
2005166115.tif 000029