(57)【要約】【課題】試し書き領域において、記録膜の劣化・欠陥がある領域を回避し、試し書きを実行すること。【解決手段】試し書き管理領域を設け、試し書き領域の管理を行う。データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクで、前記試し書き領域に関する情報を記録し、前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域を有する光ディスクとする。また光ディスク装置において、前記試し書き領域を管理するために設けた試し書き管理領域に前記試し書き領域に関する情報を記録する光ディスク装置とする。また、試し書き領域を試し書きの種類別に区分け使用する。【選択図】  図１
2005182886.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ記録領域と、
光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクであって、
前記試し書き領域に関する情報を記録し前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域を有することを特徴とする光ディスク。
【請求項２】
請求項１の光ディスクにおいて、
前記光ディスクは書き換え可能な光ディスクであることを特徴とする光ディスク。
【請求項３】
請求項１の光ディスクにおいて、
前記試し書き管理領域を複数有し、同一の情報をそれぞれの前記試し書き管理領域に記録することを特徴とする光ディスク。
【請求項４】
請求項１の光ディスクにおいて、
前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域をデータ記録の単位であるセクタの整数倍の単位で管理することを特徴とする光ディスク。
【請求項５】
請求項１の光ディスクにおいて、
前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域のアドレスまたはディスク記録面の膜面情報を記録することを特徴とする光ディスク。
【請求項６】
請求項５の光ディスクにおいて、
前記膜面情報は膜面の状態レベルを記録することを特徴とする光ディスク。
【請求項７】
請求項１の光ディスクにおいて、
前記試し書き領域は、前記試し書き領域の正常と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の劣化・欠陥と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の全領域に対応した前記試し書き管理領域で管理されることを特徴とする光ディスク。
【請求項８】
同一情報を複数箇所に記録する領域を有する光ディスクであって、
前記複数箇所の領域のうち使用している箇所を特定する情報を記録する領域を有することを特徴とする光ディスク。
【請求項９】
データ記録領域と、
光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクであって、
前記試し書き領域は、複数の種類の試し書き用にそれぞれの試し書き領域を設けることを特徴とする光ディスク。
【請求項１０】
請求項９の光ディスクにおいて、
前記複数の種類の試し書きは、レーザのパワーを決めるパワー試し書きと、レーザの発光パターンを決めるシフト試し書きであることを特徴とする光ディスク。
【請求項１１】
データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクに記録する光ディスク装置あって、
前記試し書き領域を管理するために設けた試し書き管理領域に前記試し書き領域に関する情報を記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
請求項１１の光ディスク装置において、
前記光ディスクは書き換え可能な光ディスクであることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
請求項１１の光ディスク装置において、
前記光ディスクは前記試し書き管理領域を複数有し、同一の情報をそれぞれの前記試し書き管理領域に記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
請求項１１の光ディスク装置において、
前記光ディスクの前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域をデータ記録の単位であるセクタの整数倍の単位で管理することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１５】
請求項１１の光ディスク装置において、
前記光ディスクの前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域のアドレスまたはディスク記録面の膜面情報を記録することを特徴とする光ディスク。
【請求項１６】
請求項１５の光ディスク装置において、
前記膜面情報は膜面の状態レベルを記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１７】
請求項１１の光ディスク装置において、
前記試し書き領域は、前記試し書き領域の正常と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の劣化・欠陥と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の全領域に対応した前記試し書き管理領域で管理することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１８】
光ディスクに同一情報を複数箇所に記録する領域が設けられ、
前記複数箇所の領域のうち使用している箇所を特定する情報を記録する領域に特定する情報を記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１９】
データ記録領域と、
光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクに記録する光ディスク装置あって、
前記試し書き領域は、複数の種類の試し書き用にそれぞれの試し書き領域を設けることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２０】
請求項１９の光ディスクにおいて、
前記複数の種類の試し書きは、レーザのパワーを決めるパワー試し書きと、レーザの発光パターンを決めるシフト試し書きであることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２１】
データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクに記録する光ディスク装置あって、
前記試し書き領域を管理するために試し書き管理領域を確保し前記試し書き領域に関する情報を前記試し書き管理領域に記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２２】
データを記録する前に、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きを光ディスクの試し書き領域で行い、
前記試し書き領域に関する情報を前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域に記録し、
前記試し書き管理領域の情報に基き試し書きを行う光ディスクの装置における試し書き方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク及び光ディスク装置に関わるものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、データを光ディスクに記録する前に、光ディスクの特性及び光ディスク装置を使用する環境に適したレーザを出力するように、レーザ出力の調整を行う。上記レーザ出力の調整を試し書きと呼び、試し書き実行することが可能な領域を試し書き領域と呼ぶ。試し書きは一般的に、レーザのパワーを調整するパワー試し書きとレーザの発光タイミングを調整するシフト試し書きの二種類の試し書きがある。
【０００３】
図２を利用し手順を説明する。まず、パワー試し書きを行う。レーザのパワーを確定させるために、レーザパワーの強弱を変更しながら試し書き領域内の一部を利用し試し書き記録を行う。
【０００４】
次に、レーザパワーの強弱を変更しながら記録した場所を再生することにより、パワーに対するジッタ値などの評価基準が得られ、それらから曲線２０１が得られる。データを記録する上での信頼性を確保するための基準として閾値を設定しておき、曲線２０１が閾値を満足した領域２０２のパワー値を参考にして、最適な記録パワーを算出する。その後シフト試し書きを行い、決定したレーザパワーにて、レーザの発光タイミングを決定し、より信頼性の高いデータを記録できるよう調整する。以上が一般的な試し書きの概要である。
【０００５】
但し、試し書き領域内にて試し書きに利用した場所に、膜面の劣化・欠陥があった場合、例えば閾値を満足する評価基準が得られない場合などがあり（曲線２０３）、パワーを確定させることができなくなる。この場合、試し書き領域内の他の場所にて、再度試し書きを実行し、パワーを求めなおす。この時、試し書き領域内において実行される試し書き場所は、光ディスク装置側で任意に決定している。
【０００６】
光ディスクは、大きく分けて二つの領域に分かれており、外部ホストが送信したデータが記録されるデータ領域と、光ディスク装置が内部で管理する情報のための非データ領域が存在する。
【０００７】
データ領域においては、ディスク膜面の劣化・欠陥領域にデータを記録することを避けるため、例えばＤＶＤ-ＲＡＭ規格（非特許文献１参照）では、データ領域の欠陥を管理するために、ディスク上の非データ領域に欠陥管理領域（ＤＭＡ領域(Defect Management Area)）を配置し、該ＤＭＡ領域にデータ領域の欠陥領域を登録し管理を行っている。
【０００８】
一方の、非データ領域には前記ＤＭＡ領域や、光ディスク装置固有の情報が含まれるＤＩＺ領域(Disc identification zone)、試し書き領域などが存在しており、データ領域のような欠陥管理は行われてはいない。
【０００９】
しかし、ＤＭＡ領域、ＤＩＺ領域に関しては、頻繁に書き換えが起こらないことと、非データ領域内に同一情報を複数配置することで、一つの情報が破壊された場合も残りの情報を参照することができるようになっており、データ領域にあるような欠陥領域を管理するという配慮は存在していない。
【００１０】
なお、試し書きの従来技術として例えば特許文献１があり、特許文献１では、ディスクの周内変動の影響を受けにくい試し書きを課題としている。
【００１１】
【特許文献１】特開２００３−３４６３３８号公報
【００１２】
【非特許文献１】DVD Specification for Rewritable Disc (DVD-RAM) Part1:PHISYCAL SPECIFICATIONS Version2.0の5. Information area format （PH5-41〜）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
試し書き領域は、書き換え可能なディスクを利用した場合、比較的多く書き換えを行う領域であり、パワー試し書き時には、膜面に最適なレーザパワーよりも過大に強いパワーを掛けることがあるため、ディスク膜面が劣化しやすい領域である。そのうえ、試し書き領域のどこで試し書きを行うかの選択は、光ディスク装置が任意に決定しているため、劣化・欠陥がある膜面場所を選択し、試し書きを行う可能性がある。
【００１４】
よって本発明の課題は、試し書き領域において、記録膜の劣化・欠陥がある領域を回避して、試し書きを実行することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
前記課題を解決するため、本発明の光ディスクは以下とする。
データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクであって、
前記試し書き領域に関する情報を記録し前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域を有する光ディスクとする。
【００１６】
さらに、前記光ディスクは書き換え可能な光ディスクであり、
さらには、前記試し書き管理領域を複数有し、同一の情報をそれぞれの前記試し書き管理領域に記録する光ディスクとする。
【００１７】
さらには、前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域をデータ記録の単位であるセクタの整数倍の単位で管理する光ディスクとする。
【００１８】
さらには、前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域のアドレスまたはディスク記録面の膜面情報を記録する光ディスクとする。さらに、前記膜面情報は膜面の状態レベルを記録する光ディスクとする。
【００１９】
さらには、前記試し書き領域は、前記試し書き領域の正常と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の劣化・欠陥と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の全領域に対応した前記試し書き管理領域で管理される光ディスクとする。
【００２０】
また、同一情報を複数箇所に記録する領域を有する光ディスクであって、
前記複数箇所の領域のうち使用している箇所を特定する情報を記録する領域を有する光ディスクとする。
【００２１】
また、データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクであって、
前記試し書き領域は、複数の種類の試し書き用にそれぞれの試し書き領域を設けることを特徴とする光ディスクとする。さらに、前記複数の種類の試し書きは、レーザのパワーを決めるパワー試し書きと、レーザの発光パターンを決めるシフト試し書きである光ディスクとする。
【００２２】
また、本発明の光ディスク装置は以下とする。
データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクに記録する光ディスク装置あって、
前記試し書き領域を管理するために設けた試し書き管理領域に前記試し書き領域に関する情報を記録する光ディスク装置とする。
【００２３】
さらに、前記光ディスクは書き換え可能な光ディスクである光ディスク装置とする。
【００２４】
さらには、前記光ディスクは前記試し書き管理領域を複数有し、同一の情報をそれぞれの前記試し書き管理領域に記録する光ディスク装置とする。
【００２５】
さらには、前記光ディスクの前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域をデータ記録の単位であるセクタの整数倍の単位で管理する光ディスク装置とする。
【００２６】
さらには、前記光ディスクの前記試し書き管理領域は、前記試し書き領域のアドレスまたはディスク記録面の膜面情報を記録する光ディスク装置とする。さらに、前記膜面情報は膜面の状態レベルを記録する光ディスク装置とする。
【００２７】
さらには、前記試し書き領域は、前記試し書き領域の正常と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の劣化・欠陥と判断された前記試し書き領域に対応した前記試し書き管理領域、または前記試し書き領域の全領域に対応した前記試し書き管理領域で管理する光ディスク装置とする。
【００２８】
また、光ディスクに同一情報を複数箇所に記録する領域が設けられ、
前記複数箇所の領域のうち使用している箇所を特定する情報を記録する領域に特定する情報を記録する光ディスク装置とする。
【００２９】
また、データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクに記録する光ディスク装置あって、前記試し書き領域は、複数の種類の試し書き用にそれぞれの試し書き領域を設ける光ディスク装置とする。さらに、前記複数の種類の試し書きは、レーザのパワーを決めるパワー試し書きと、レーザの発光パターンを決めるシフト試し書きである光ディスク装置とする。
【００３０】
また、データ記録領域と、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きに使用される試し書き領域を有する光ディスクに記録する光ディスク装置あって、前記試し書き領域を管理するために試し書き管理領域を確保し前記試し書き領域に関する情報を前記試し書き管理領域に記録する光ディスク装置とする。
【００３１】
また、本発明の光ディスク装置における試し書きの方法は以下とした。
データを記録する前に、光ディスクに記録を行うレーザの出力を調整するための試し書きを光ディスクの試し書き領域で行い、前記試し書き領域に関する情報を前記試し書き領域を管理するための試し書き管理領域に記録し、前記試し書き管理領域の情報に基き試し書きを行う光ディスクの装置における試し書き方法とする。
【発明の効果】
【００３２】
試し書き領域における劣化・欠陥がある膜面領域を回避して試し書きを行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
本発明の特長の一つは、光ディスクに新しく試し書き管理領域を設けることである。一例を図１に示す。図１は光ディスクの物理的構造を模式的に表したものである。一般的な光ディスクは内周、外周に非データ領域１０１、１０３があり、非データ領域１０１、１０３内に、試し書き領域１０４が存在する。本発明では、試し書き領域１０４内の記録膜の劣化・欠陥状態を、光ディスク上に情報として残しておくために試し書き領域の管理を行う試し書き管理領域１０５を光ディスク上に設ける。
【００３４】
本例では、具体的イメージが湧くよう一般的な光ディスクの物理構造を参考にし、上記説明をした。すなわち、本例においては、試し書き領域１０４、試し書き管理領域１０５は、共に非データ領域１０１内に一つずつ設けてあるが、これは一例であり、試し書き領域１０４及び、試し書き管理領域１０５は複数設けても構わない。又、試し書き管理領域を設ける場所もディスクの内周から外周までのどこに設けても構わないし、非データ領域内１０１、１０３に限らず、データ領域１０２に設けても構わない。
【００３５】
さらには、ディスクの物理構造自体も図１の構造である必要性はない。但し、試し書き領域１０４及び試し書き管理領域１０５は、光ディスク内にそれぞれ一つ以上存在し、試し書き領域１０４に対応した情報が試し書き管理領域１０５に含まれていることとする。
【００３６】
試し書き管理領域１０５は、試し書き領域１０４におけるアドレスを表す位置情報と該位置情報に対応した場所における膜面状態が把握できる情報を含む構造をしている。例えば、光ディスク装置が試し書き領域１０４において膜面の劣化・欠陥を発見した時は、膜面の劣化・欠陥がある場所の位置情報と膜面の状態の情報などを試し書き管理領域１０５に登録することとなる。
【００３７】
ディスク膜面の劣化・欠陥を判断する方法の一例として、対象となるセクタにおいて、実際に試し書きを実行する方法がある。試し書きを実行した場所が劣化・欠陥がある膜面であった場合は、曲線２０３のような特性が得られ試し書きが失敗する。劣化・欠陥のない膜面において必ず試し書きが成功すると仮定した場合、試し書きが失敗したセクタは、劣化・欠陥がある膜面領域であると判断できる。これにより、セクタ単位で試し書き領域の劣化・欠陥を把握することができる。上記例は一例であるため、試し書き領域におけるディスク膜面の劣化・欠陥を判断する方法は、この方法でなくても構わない。
【００３８】
ディスク膜面の劣化・欠陥を見つけたら、その情報を試し書き管理領域１０５に登録する。登録方法の一例を図３に示す。図３（ａ）に試し書き領域１０４を、図３（ｂ）に試し書き領域１０４に対応した試し書き管理領域１０５のデータ構造を模式的に示す。図３（ａ）のアルファベットは、試し書き領域１０４内のアドレス情報を表している。ここで、図３（ａ）と図３（ｂ）は同じ容量の領域に見えるが、説明上同じ大きさに描いただけであるため、図３（ａ）と図３（ｂ）の領域は、同じ容量である必要性はない。
【００３９】
後に示す、図４、図５も図３と同様の見方をする。試し書き領域１０４において、膜面に劣化・欠陥があるセクタ３０１、３０２、３０３が発見された場合、図３（ｂ）に示すように、劣化・欠陥セクタのアドレスを３０４、３０５、３０６のように登録していく。よって、図３（ｂ）の内容を読み取ることによって、試し書き領域１０４においてどのセクタに膜面の劣化・欠陥が存在するのかがわかる。本例の試し書き領域１０５には、試し書き領域１０４の劣化・欠陥領域のアドレスを登録したものであるが、登録内容や登録する情報の大きさは本例に限る必要はない。
【００４０】
例えば、図２の例を利用して試し書き領域１０４の劣化・欠陥領域を判断した場合、試し書きが成功した場所は劣化・欠陥が無い領域であることが言える。図４（ａ）に示すように４０１、４０２、４０３、４０４、４０５、４０６にて試し書きを行い、４０１、４０３、４０６では試し書きが成功し、４０２、４０４、４０５では試し書きが失敗したとする。この場合、図４（ｂ）に情報を登録するときに、試し書きが失敗した領域を劣化・欠陥場所として登録するだけではなく、試し書きが成功した領域についても、試し書きが成功した実績のある良好な膜面領域であることを登録する。本例では、アドレス情報と膜面状態を表すフラグを１セットの情報とし、４０７、４０８のように図４（ｂ）に登録する。これにより、試し書き管理領域１０５を読み取ることで、試し書き領域１０４の詳細な情報が得られることとなる。
【００４１】
さらには、試し書き領域１０４の全領域に関する情報を、あらかじめ試し書き管理領域１０５に割り当てておくことにより、試し書き領域１０４の全領域の膜面情報を一括して管理することができる。対象とする光ディスクが書き換え可能なものであった場合を例に挙げる。例えば図５に示すように、図５（ｂ）は、図５（ａ）の全領域に対する情報をあらかじめ所持するものとする。試し書きが一度も行われていない領域に関しては、アドレス情報と共に、まだ一度も使っていない“未使用”を表す情報が付加されている。その状態から試し書きを行い、５０１、５０３、５０６の領域において試し書きが成功したとする。その場合、図５（ｂ）の５０１、５０３、５０６に対応する管理領域である５０７、５０９、５１２の“未使用”を表す情報を、膜面が“正常”であることを表す情報に書き換える。同様に、５０２、５０４、５０５の領域にて試し書きが失敗した場合は、図５（ｂ）の５０２、５０４、５０５に対応する管理領域である５０８、５１０、５１１の“未使用”を表す情報を“劣化・欠陥”を表す情報に書き換える。
【００４２】
勿論、膜面が“正常”であった領域にて試し書きを実行し、試し書きが失敗した場合は、膜面が“正常”であることを表す情報を“劣化・欠陥”を表す情報に書き換えることもできる。これにより、試し書き領域における膜面状態を全領域にて管理することができるだけでなく、試し書きが成功した実績のある良好な膜面の領域、未だ使用したことのない未知の膜面の領域、既に試し書きを失敗している劣化・欠陥のある膜面の領域を区別することができ、膜面状態のレベル分けができる。情報として、複数回試し書きが成功したことのある領域や複数回試し書きを試みたがやはり失敗した領域などの情報を付加すれば、さらに細かいレベル分けをすることができ、試し書き領域全体の膜面分布の詳細を把握することが可能である。
【００４３】
図３、図４、図５を用いた例では、試し書き領域１０４をセクタ単位で区切り、試し書き管理領域１０５にアドレス情報を登録していたが、試し書きの方法によっては、試し書き領域１０４をセクタ単位で使うとは限らないため、登録するアドレス情報もセクタ毎の情報である必要はない。例えば試し書きがセクタの整数倍であるＥＣＣブロック単位で行われるものであれば、登録するアドレス情報はＥＣＣブロック単位で登録すれば良い。
【００４４】
試し書き管理領域１０５に試し書き領域１０４の膜面状態が登録されたら、光ディスク装置が試し書き管理領域から情報を読み出すことにより、試し書き領域１０４の膜面状態をアドレス毎に把握できるようになる。よって、次回試し書きを行う際には、劣化及び欠陥があるアドレスを避けて試し書きを行うことができる。これにより、試し書きが失敗する可能性を大幅に軽減でき、試し書きの信頼性も向上し結果として試し書きを再び行うことによる無駄な時間を省くことに繋がる。
【００４５】
試し書き管理領域１０５は、試し書き領域１０４の膜面状態を管理する領域ではあるが、場合によっては、試し書き管理領域１０５自体の膜面に劣化・欠陥がある場合も想定される。よって試し書き管理領域１０５は、光ディスク上に複数用意し、全て同一情報を記録しておくことで、一つの領域に膜面の劣化・欠陥があったとしても残りの領域から、正しい情報を得るようにすることが好ましい。複数の試し書き管理領域１０５のディスク上への配置の仕方として、ディスク上の一部分に集中して複数配置する方法や、ディスク半径位置において離れた場所にそれぞれ配置を行う方法がある。前者、後者ともに利点があり、前者のように配置した場合は、全ての試し書き管理領域１０５を読むのに、光ディスク装置の光ピックアップの移動時間がかからないという利点がある。後者のように配置した場合は、ディスクに欠陥があった場合に、ディスク面において離れた位置に試し書き管理領域１０５が配置されているため、どちらか一方の領域の情報は欠陥の影響を受けない可能性が高く、試し書き管理領域１０５が全て無効となる可能性は低いという利点がある。勿論、前者、後者を両方使って、より試し書き管理領域１０５が無効になる可能性を低くする方法もある。
【００４６】
但し、光ディスク装置を利用している製品によって望む効果が異なり、試し書き領域のデータの信頼性を欲する製品もあれば、リアルタイムデータを記録する装置においては、記録開始可能になるまでの時間を短くしたい製品も存在する。そこで、本発明では光ディスクドライブ毎に、利用する試し書き管理領域１０５を選択できるようにする。そして、利用した試し書き管理領域１０５の位置がわかるような情報（以下、管理領域位置情報）をディスク上に残すようにする。例を挙げて説明を行う。
【００４７】
例えば、あらかじめ光ディスク上に試し書き管理領域１０５に使用してもよい専用領域を図６の６０１、６０２、６０３、６０４のように割り当てておく。光ディスク装置によって、６０１、６０２、６０３、６０４の試し書き管理領域１０５の中でどこを利用してもよい。光ディスク装置が６０１、６０２を試し書き管理領域１０５として利用したときは、管理領域位置情報６０５に６０１と６０２を利用したことがわかる情報を残しておく。これにより、該光ディスクは、試し書き管理領域１０５の６０１と６０２が有効であるという情報が残されることとなる。
【００４８】
つまり、該光ディスク装置で該光ディスクを使用している限りは、ディスク内周側に存在する６０１、６０２の試し書き管理領域１０５だけを読めば、試し書き領域１０４の膜面状態を把握できることとなる。この場合、光ディスクの外周側を読みに行く必要がなくなるため、光ディスク装置が次の動作に移るまでの時間短縮に繋がる。同様に、光ディスク装置によっては、次の動作に移るまでの時間を犠牲にしてでも試し書き管理領域１０５の確実性を求めたいものがある。その場合は、６０１、６０２、６０３、６０４の全ての試し書き領域を利用すれば良い。そして、管理領域位置情報６０５に６０１、６０２、６０３、６０４の試し書き管理領域１０５を利用したことがわかる情報を残せば良い。
【００４９】
ここで、試し書き管理領域１０５の構造と、膜面の劣化・欠陥の判断基準をどの光ディスク装置でも共通なものに統一してしまえば、他の光ディスク装置においても試し書き管理領域１０５の情報を受け継ぐことができる。他の光ディスク装置によって記録された光ディスクを使用するときに、管理領域位置情報６０５を参照することにより、該光ディスクの試し書き管理領域１０５がどこにあるかがわかるため、該光ディスクの試し書き領域１０４の膜面状態情報を引き継ぐことができる。又、ある光ディスクを前回使っていた光ディスク装置と今回その光ディスクを使用する光ディスク装置とで、異なる試し書き領域１０５を利用したい場合は、最初だけ管理領域位置情報６０５にある試し書き管理情報から情報を受け取り、その後は利用したい試し書き管理領域１０５を利用し、管理領域位置情報６０５をそれに対応し書き変えれば良い。
【００５０】
これにより、光ディスク装置毎に、用途にあった試し書き管理領域を指定することが可能となり、さらに試し書き管理領域の構造を共通化することにより、他の光ディスク装置においても試し書き管理領域１０５の情報を受け継ぐことが可能となる。本例は、図６を一例として挙げているだけであるため、試し書き管理領域１０５及び管理領域位置情報６０５の数、配置場所などは、これに限定するものではない。
【００５１】
さらに、本考え方は、試し書き管理領域１０５に限らず、同一情報を複数箇所に記録するフォーマットを持つ光ディスクに対しても適用可能である。
【００５２】
例えば、既存のディスクであるＤＶＤ-ＲＡＭディスク内には、ＤＭＡ領域が存在するが、ＤＭＡ領域はディスク上の内周側に２箇所、外周側に２箇所存在し、ディスク内に計４箇所存在する。現在では、ディスクの規格上、４箇所全ての領域を利用しなければならないが、本考え方を適用すれば、必ずしも４箇所の領域を全て使用しなくて良い状況が生まれ、つまり４箇所のうちどの箇所を使用しているかを管理領域位置情報６０５に記録しておき利用することで、製品によっては大きなメリットが生まれる。
【００５３】
試し書き領域１０４における膜面の劣化・欠陥領域を回避する方法として、試し書き領域１０４の膜面状態を管理する例を前述したが、試し書きの種類によって試し書き領域１０４を区分けすることにより、試し書きの種類によっては、劣化・欠陥が存在する領域を避けて試し書きを行うことが可能となり、さらに試し書きの成功率を向上させることができる。以下、本発明の第二の特徴である、試し書き領域１０４を試し書きの種類別に区分けする方法について説明する。
【００５４】
シフト試し書きは、基本的にはパワー試し書きが終了して、レーザのパワーがディスクにとって最適なパワーに調整されてから行う試し書きであるため、ディスク膜面に過大なレーザパワーを照射する可能性は低い。一方のパワー試し書きは、ディスク膜面にとって必ずしも最適なパワーで行っているとは限らない。よって、パワー試し書きとシフト試し書きでは、ディスク膜面に掛ける負担が違うと言える。但し、従来はパワー試し書きとシフト試し書きを実行する領域を区別しているわけではなく、同一の試し書き領域にて二種類の試し書きを行っている。
【００５５】
シフト試し書きを行う場合、パワー試し書きを行った後の膜面領域にて試し書きを行うよりも、シフト試し書きの専用領域を設け、その領域において試し書きを実行させたほうが、劣化・欠陥が存在する可能性が高い領域を回避することができ、シフト試し書きが成功する可能性が上がると考えられる。よって、本発明では試し書きの種類別に試し書き領域１０４を区分けし、それぞれの試し書きの専用領域にて試し書きを実行する。例を図７に示す。図７（ａ）、図７（ｂ）は、試し書き領域１０４を模式的に表したものである。
【００５６】
例えば、図７（ａ）のように、試し書き領域１０４を、パワー試し書き領域７０１とシフト試し書き領域７０２に分け、パワー試し書きは７０１内にて行い、シフト試し書きは７０２内にて行うこととする。領域を区分けする時は、二分割しなければならないわけではなく、図７（ｂ）のように、試し書き領域１０４をどのように割り当てても構わない。試し書きの種類が、パワー試し書き、シフト試し書き以外の種類の試し書きであったとしても同様に試し書き領域を区切って割り当てることができる。
【００５７】
以上実施例として列挙した全ての例の大多数が、光ディスクに試し書き管理領域があることを前提としての例であったが、本発明は、既存する光ディスクに関しても同様のことを実現することができる。つまりは、試し書き領域として利用できる領域を有する光ディスクで、且つ試し書き管理領域１０５と同等のものを用意できる領域がある光ディスクであれば既存のディスクに対しても前述した実施例のほとんどが実現可能で、これにさらに管理領域位置情報６０５と同等のものを用意できる領域がある光ディスクであれば既存のディスクに対しても前述した実施例の全内容を実現することが可能である。
【００５８】
例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクを例に挙げる。ＤＶＤ−ＲＡＭディスクの物理的構造を模式的に表すと、図８に示すような構造となり、これは規格上定められている。非データ領域である、Ｌｅａｄ−ｉｎ  ａｒｅａとＬｅａｄ−ｏｕｔ  ａｒｅａ内にＤｒｉｖｅ  ｔｅｓｔ  ｚｏｎｅ  ８０１、８０２が光ディスク装置のテスト用に分け与えられている。
【００５９】
一般的にはこの領域を利用し、試し書きを行う。他に、光ディスク装置に開放されている領域としてＤｉｓｃ  ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  ｚｏｎｅ  ８０３、８０４が同じくＬｅａｄ−ｉｎ  ａｒｅａとＬｅａｄ−ｏｕｔ  ａｒｅａ内に存在する。この領域内のＤｒｉｖｅ  ｃｏｎｄｉｔｉｏｎは、光ディスク装置毎任意のデータを書いてもよい領域であるため、この領域を利用し、試し書き管理領域１０５と管理領域位置情報６０５の領域を確保し、試し書き領域１０４の膜面状態を管理することが可能となる。
【００６０】
但し、Ｄｉｓｃ  ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  ｚｏｎｅは、光ディスク装置固有の情報であるため、本領域に、書かれた情報は他の光ディスク装置には適用されない。試し書き管理領域１０５の共有化を図るためには、他の領域、例えば全ての光ディスク装置で共通に参照できるＤｒｉｖｅ  ｔｅｓｔ  ｚｏｎｅの一部を用い、その領域を試し書き管理領域１０５と管理領域位置情報６０５に割り当てることを定め、試し書き管理領域１０５を定められた共通の決まりに従い管理するようにすれば実現可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明における光ディスクの物理構造。
【図２】試し書き領域における劣化・欠陥判別方法例。
【図３】本発明の一実施例における試し書き管理領域構造及び登録方法例１。
【図４】本発明の一実施例における試し書き管理領域構造及び登録方法例２。
【図５】本発明の一実施例における試し書き管理領域構造及び登録方法例３。
【図６】本発明の一実施例における試し書き管理領域及び管理領域位置情報配置例。
【図７】本発明の一実施例における試し書き領域区分け方法例。
【図８】ＤＶＤ-ＲＡＭディスク物理構造。
【符号の説明】
【００６２】
１０１、１０３…非データ領域、  １０２…データ領域、  １０４…試し書き領域、
１０５…試し書き管理領域、
３０１、３０２、３０３…試し書き領域、
３０４、３０５、３０６…試し書き管理領域、
４０１、４０２、４０３、４０４、４０５、４０６…試し書き領域、
４０７、４０８…試し書き管理領域、
５０１、５０２、５０３、５０４、５０５、５０６…試し書き領域
５０７、５０８、５０９、５１０、５１１、５１２…試し書き管理領域、
６０１、６０２、６０３、６０４…試し書き管理領域、
６０５…管理領域位置情報、
７０１…パワー試し書き領域、  ７０２…シフト試し書き領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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