(57)【要約】【課題】  光ディスクへの光情報の記録時に光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。【解決手段】  ディスクへの光情報の記録時に光ディスクの記録面で反射される記録光が光ディスク表面の欠陥によりレベル変化することを利用して欠陥信号を検出し、欠陥信号と基準電位とを比較して欠陥信号のレベルが基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出し、この欠陥検出時間から光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。【選択図】        図１
2005302153.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する信号処理装置であって、
前記光ディスクへの光情報の記録時に該光ディスクの記録面で反射される記録光を受けてＲＦ信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記記録光を受けて欠陥信号に変換する光電変換手段と、
前記光電変換手段から出力された前記ＲＦ信号を減衰させるとともに前記欠陥信号を通過させる低域フィルタと、
前記低域フィルタを通過した欠陥信号を積分して欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、
前記低域フィルタを通過した欠陥信号と前記基準電位とを比較し前記欠陥信号のレベルが前記基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出す欠陥検出時間処理回路と、
前記欠陥検出時間処理回路から出力された前記欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間延長し欠陥検出時間信号として出力する欠陥検出時間延長回路と、
前記欠陥検出時間延長回路から出力された欠陥検出時間信号を順次積算して総和エラー時間値を得るとともに該総和エラー時間値を１ＲＵＢ単位毎に出力するエラー発生時間積算回路と、
前記総和エラー時間値と予め設定した基準値とを比較して前記総和エラー時間値が前記基準値を超える時間幅を求め、この時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するエラー発生判定手段と、
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項２】
前記光ディスクの記録面は交替ＲＵＢを有し、欠陥を有する１ＲＵＢに記録されるべきデータを前記交替ＲＵＢに記録させるための交替ＲＵＢ制御部を備え、前記エラー発生判定手段は、前記時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が５％以上の時に光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定し、欠陥であると判定された場合に、欠陥であると判定された１ＲＵＢに記録されるべきデータを前記交替ＲＵＢに記録させるための欠陥処理割り込み指令を前記交替ＲＵＢ制御部へ出力することを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記光ディスクの記録面は交替ＲＵＢを有し、欠陥を有する１ＲＵＢに記録されるべきデータを前記交替ＲＵＢに記録させるための交替ＲＵＢ制御部を備え、記録時に前記エラー発生判定手段において、光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定した時の判定タイミングが１ＲＵＢの終端近くで行われた場合、前記交替ＲＵＢ制御部への欠陥処理割り込み指令の出力状態を、１ＲＵＢ毎に前記ＲＦ信号から抽出されるＲＵＢフォーマットの先頭を示すタイミング信号が次の１ＲＵＢから発生するまで保持するラッチ回路を設けたことを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項４】
前記再生されるＲＦ信号を基に同期信号を生成するＰＬＬ回路を有し、前記欠陥検出時間延長回路において、前記欠陥検出時間を欠陥毎に延長する所定の時間は、前記欠陥の発生により前記ＰＬＬ回路がロックアウトされてからロックインされるまでの時間であることを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項５】
駆動手段により回転駆動される光ディスクと、
送り手段により前記光ディスクの半径方向に移動される光ピックアップと、
前記光ディスクの回転と前記光ピックアップの移動とを記録及び／または再生動作に対応して制御する制御手段と、
前記光ピックアップによる前記光ディスクに対する記録及び／または再生動作の信号処理をする信号処理手段とを備える光ディスク装置であって、
光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する信号処理装置を備え、
前記信号処理装置は、
前記光ディスクへの光情報の記録時に該光ディスクの記録面で反射される記録光を受けてＲＦ信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記記録光を受けて欠陥信号に変換する光電変換手段と、
前記光電変換手段から出力された前記ＲＦ信号を減衰させるとともに前記欠陥信号を通過させる低域フィルタと、
前記低域フィルタを通過した欠陥信号を積分して欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、
前記低域フィルタを通過した欠陥信号と前記基準電位とを比較し前記欠陥信号のレベルが前記基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出す欠陥検出時間処理回路と、
前記欠陥検出時間処理回路から出力された前記欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間延長し欠陥検出時間信号として出力する欠陥検出時間延長回路と、
前記欠陥検出時間延長回路から出力された欠陥検出時間信号を順次積算して総和エラー時間値を得るとともに該総和エラー時間値を１ＲＵＢ単位毎に出力するエラー発生時間積算回路と、
前記総和エラー時間値と予め設定した基準値とを比較して前記総和エラー時間値が前記基準値を超える時間幅を求め、この時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するエラー発生判定手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
前記光ディスクの記録面は交替ＲＵＢを有し、欠陥を有する１ＲＵＢに記録されるべきデータを前記交替ＲＵＢに記録させるための交替ＲＵＢ制御部を備え、前記エラー発生判定手段は、前記時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が５％以上の時に光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定し、欠陥であると判定された場合に、欠陥であると判定された１ＲＵＢに記録されるべきデータを前記交替ＲＵＢに記録させるための欠陥処理割り込み指令を前記交替ＲＵＢ制御部へ出力することを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記光ディスクの記録面は交替ＲＵＢを有し、欠陥を有する１ＲＵＢに記録されるべきデータを前記交替ＲＵＢに記録させるための交替ＲＵＢ制御部を備え、記録時に前記エラー発生判定手段において、光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定した時の判定タイミングが１ＲＵＢの終端近くで行われた場合、前記交替ＲＵＢ制御部への欠陥処理割り込み指令の出力状態を、１ＲＵＢ毎に前記ＲＦ信号から抽出されるＲＵＢフォーマットの先頭を示すタイミング信号が次の１ＲＵＢから発生するまで保持するラッチ回路を設けたことを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記再生されるＲＦ信号を基に同期信号を生成するＰＬＬ回路を有し、前記欠陥検出時間延長回路において、前記欠陥検出時間を欠陥毎に延長する所定の時間は、前記欠陥の発生により前記ＰＬＬ回路がロックアウトされてからロックインされるまでの時間であることを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクへの光情報の記録時に光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥による光ディスクへの記録ミスを回避できるようにした信号処理装置及びこれを用いた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスクなどの記録媒体にレーザ光を照射してデータの記録または再生を行う高密度の光ディスク記録／再生装置が出現してきている。例えばＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷなどの光ディスクや４５０ｎｍ付近の短波長光源を用いた高密度ディスクであるＤＶＲ−ＢＵＬＥ等のブルーレイディスクに対応する記録装置では、光ディスク上のトラックに対して記録データで変調されたレーザ光を照射し、これにより、例えば相変化記録方式で光データを光ディスク上に記録するようにしている。
【０００３】
ここで、上記のような光ディスクにデータの記録を行う際にして、その光ディスクの表面に欠陥がある場合、６８０ｎｍの光ディスク（ＤＶＤ−Ｒなど）においては、ディスクのカバー層が厚いこと、レーザ光のビーム径が大きいこと、記録波長が長いこと等で、光ディスクの表面に付いた指紋や傷、ゴミなど関しては余裕がないものの、大きな弊害にはならなかった。
【０００４】
ところで、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷやＤＶＲ−ＢＵＬＥなどの光ディスク自体は裸の状態で取り扱われるため、光ディスクの表面には指紋や傷または埃等が付き易く、これらが欠陥（ディフェクト）となって光ディスクへのデータの記録障害や読み取り障害の要因となる。例えば、光ディスクの記録面に到達するレーザ光の光量を低下させて正しい記録をできなくし、また、光ディスクからの反射光の光量を変化させて正確なデータの読み出しをできなくする。
【０００５】
一方、４５０ｎｍのブルーレイディスクでは、６８０ｎｍの光ディスクに比べて記録密度が約４倍、ディスクのカバー層の厚さが１／７となっているため、ディスク表面に付けられた欠陥の影響を受け易い。そこで、ＥＣＣ（Error Check and Correct）部での欠陥判定処理を強くするため、１ＥＣＣ部（１ＲＵＢ）を６４ＫByteと大きくしてあるが、予想外の大きな指紋や大きな擦り傷がディスク表面に付いていると、これらの欠陥は１ＲＵＢの１／３にも達し、１ＲＵＢのデータが破綻してしまう。この場合、ＲＵＢのアドレス領域にも指紋や擦り傷があってアドレスデータもエラーになれば、記録も停止されるので、記録ミスとはならない。しかしながら、ＲＵＢのアドレスは１ＲＵＢに３箇所挿入されており、かつその周波数も２００ＫＨｚと低周波であるため、これらの外乱は受けにくい。しかしながら、記録時にアドレスが読めれば、光ディクスの表面に指紋や擦り傷があっても記録されてしまう。すなわち、１ＲＵＢ内に存在する欠陥の数が１ＲＵＢのデータを破綻させる量のものか否かにかかわらず順次記録されてしまうという問題がある。
【０００６】
そこで、従来においては、記録媒体の反射光に対応したプルイン信号から反射光識別部を用いて、ディスク記録面のディフェクトに対応して比較的レベル変化の速い信号に対応したディフェクト検出信号と、ディスク表面のゴミに対応して比較的レベル変化の遅い信号に対応したゴミ検出信号とを生成し、このディフェクト検出信号およびゴミ検出信号を用いて欠陥部の記録をレーザ光のパワーで補償するもの（例えば特許文献１参照）、または、記録媒体から記録されたデータを３分割された後行の第２光ビームで読み出し、この読み出されたデータのエラーを検出するとともに、反射光からデータが記録された部分の媒体の欠陥を検出し、このエラー検出及び欠陥検出の両方の結果が予め設定された判定基準以下である場合は記録を良とし、エラー検出及び欠陥検出の少なくとも一方の結果が判定基準を越えた場合は記録を不良と判定するもの（例えば特許文献２参照）がある。
【特許文献１】特開２０００−３１１３７５号公報
【特許文献２】特開平５−２７４８１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このような従来の方式では、ディスク記録面のディフェクトやディスク表面に付けられたゴミを識別し検出することができる。
しかるに、ブルーレイディスクの表面に生じる欠陥には、大きな傷や黒マジックによる大きな汚れ等のブラックベルト状の欠陥、ディスクのカバー層を通して記録面が露出された状態になるスポット状の欠陥、ディスク表面に小さな傷や指紋で付くスクラッチ状の欠陥及び塵や傷で付く単発の欠陥などがあり、これら欠陥のディスク反射率を表すと図５に示すようになる。
この図５において、反射率２０％はブルーレイディスクの記録面の反射率を表し、反射率１０％はブルーレイディスクの記録面が光ビームによってアモルファス化された時の反射率である。そして、ブラックベルト状欠陥７１の反射率は最大ゼロまで低下し、スポット状欠陥７２の反射率は最大１００％近くに達する。また、スクラッチ状欠陥７３及び単発の欠陥７４の反射率は図５に示すようになる。
【０００８】
しかし、上記のような従来の方式では、図５に示すように反射率の異なる各種の欠陥がディスク表面に存在した場合、これら欠陥を確実に検出し、１ＲＵＢ内に存在する欠陥の数が１ＲＵＢのデータを破綻させる量のものであるか否かを判定することができないという問題があった。
【０００９】
本発明は、このような従来の問題を解決するためになされたもので、光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定できるようにした信号処理装置及びこれを用いた光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は上記目的を達成するため、光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する信号処理装置であって、前記光ディスクへの光情報の記録時に該光ディスクの記録面で反射される記録光を受けてＲＦ信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記記録光を受けて欠陥信号に変換する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された前記ＲＦ信号を減衰させるとともに前記欠陥信号を通過させる低域フィルタと、前記低域フィルタを通過した欠陥信号を積分して欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、前記低域フィルタを通過した欠陥信号と前記基準電位とを比較し前記欠陥信号のレベルが前記基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出す欠陥検出時間処理回路と、前記欠陥検出時間処理回路から出力された前記欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間延長し欠陥検出時間信号として出力する欠陥検出時間延長回路と、前記欠陥検出時間延長回路から出力された欠陥検出時間信号を順次積算して総和エラー時間値を得、該総和エラー時間値を１ＲＵＢ単位毎に出力するエラー発生時間積算回路と、前記総和エラー時間値と予め設定した基準値とを比較して前記総和エラー時間値が前記基準値を超える時間幅を求め、この時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するエラー発生判定手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
また、本発明は、駆動手段により回転駆動される光ディスクと、送り手段により前記光ディスクの半径方向に移動される光ピックアップと、前記光ディスクの回転と前記光ピックアップの移動とを記録及び／または再生動作に対応して制御する制御手段と、前記光ピックアップによる前記光ディスクに対する記録及び／または再生動作の信号処理をする信号処理手段とを備える光ディスク装置であって、光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する信号処理装置を備え、前記信号処理装置は、前記光ディスクへの光情報の記録時に該光ディスクの記録面で反射される記録光を受けてＲＦ信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記記録光を受けて欠陥信号に変換する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された前記ＲＦ信号を減衰させるとともに前記欠陥信号を通過させる低域フィルタと、前記低域フィルタを通過した欠陥信号を積分して欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路と、前記低域フィルタを通過した欠陥信号と前記基準電位とを比較し前記欠陥信号のレベルが前記基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出す欠陥検出時間処理回路と、前記欠陥検出時間処理回路から出力された前記欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間延長し欠陥検出時間信号として出力する欠陥検出時間延長回路と、前記欠陥検出時間延長回路から出力された欠陥検出時間信号を順次積算して総和エラー時間値を得るとともに該総和エラー時間値を１ＲＵＢ単位毎に出力するエラー発生時間積算回路と、前記総和エラー時間値と予め設定した基準値とを比較して前記総和エラー時間値が前記基準値を超える時間幅を求め、この時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するエラー発生判定手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の信号処理装置及び光ディスク装置では、基準電位生成回路が低域フィルタを通過した欠陥信号を積分して欠陥の種類に応じた基準電位を生成し、欠陥検出時間処理回路が低域フィルタを通過した欠陥信号と前記基準電位とを比較して欠陥信号のレベルが基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出す。そして、欠陥検出時間延長回路が欠陥検出時間処理回路からの欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間延長し欠陥検出時間信号として出力する。また、エラー発生時間積算回路は欠陥検出時間延長回路から出力された欠陥検出時間信号を順次積算して総和エラー時間値を得るとともに、この総和エラー時間値を１ＲＵＢ単位毎に出力し、エラー発生判定手段において、総和エラー時間値と予め設定した基準値とを比較して総和エラー時間値が基準値を超える時間幅を求め、この時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。
よって、光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の最良の形態では、光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定する目的を達成するために、基準電位生成回路により、低域フィルタを通過した欠陥信号を積分して欠陥の種類に応じた基準電位を生成し、欠陥検出時間処理回路により、低域フィルタを通過した欠陥信号と前記基準電位とを比較して欠陥信号のレベルが基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出し、欠陥検出時間延長回路により、欠陥検出時間処理回路からの欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間延長し欠陥検出時間信号として出力する。そして、エラー発生時間積算回路により、欠陥検出時間延長回路からの欠陥検出時間信号を順次積算して総和エラー時間値を得るとともに、この総和エラー時間値を１ＲＵＢ単位毎に出力し、さらに、エラー発生判定手段により、総和エラー時間値と予め設定した基準値とを比較して総和エラー時間値が基準値を超える時間幅を求め、この時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。
【実施例１】
【００１４】
次に本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
図１は本発明にかかる信号処理装置を備えた光ディスク装置の全体の構成を示すブロック図、図２は図１における欠陥検出時間延長回路の一構成例を示す回路図である。
【００１５】
図１に示す光ディスク装置１０１の構成について説明する。
この光ディスク装置１０１は、ＤＶＤ±Ｒ／ＲＷやＣＤ−Ｒ／ＲＷ、またはブルーレイディスクのような光記録媒体である光ディスク１０２を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ１０３と、光ピックアップ１０４と、この光ピックアップ１０４を光ディスク１０２の半径方向に移動する駆動手段としての送りモータ１０５とを備えている。  ここで、スピンドルモータ１０３及び送りモータ１０５は、システムコントローラ１０７からの指令に基づいて制御されるサーボ制御部１０９により駆動制御される構成になっている。
【００１６】
図１に示す信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８は、信号の変調、復調及びＥＣＣ（エラー訂正符号）の付加、ＥＣＣに基づくエラー訂正処理を行う。
光ピックアップ１０４は、システムコントローラ１０７からの指令に従い、回転する光ディスク１０２の記録面に対して、レーザ光源１０４Ｂからの光束を図示省略の光学系を通して記録／再生用の１つのメインスポットとトラッキング用の２つのサイドスポットに分離して照射されるように構成されている。さらに、光ピックアップ１０４は、光ディスク１０２の記録面から反射されたメインスポットおよびサイドスポットに対応する反射光束に応じて、光ピックアップ１０４の光電変換手段（フォトダイオード）１０４Ａから出力される各種の信号をプリアンプ１２０に対して供給するように構成されている。
【００１７】
上記プリアンプ１２０は、光ピックアップ１０４の光電変換手段（フォトダイオード）１０４Ａから出力される各種の信号に基づいてフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号及び欠陥信号を増幅し生成するもので、このプリアンプ１２０には、例えば１００ＭＨｚのＲＦ（高周波信号）再生用のフォトダイオード用の増幅器が用いられる。また、光電変換手段（フォトダイオード）１０４Ａは、光ディスクへの光情報の記録時に該光ディスクの記録面で反射される記録光を受けてＲＦ信号に変換するとともに前記光ディスク表面の欠陥によりレベルが変化する前記記録光を受けて欠陥信号に変換するものである。
【００１８】
また、プリアンプ１２０から出力される信号は記録媒体の種類に応じてサーボ制御部１０９に入力されるように構成されているとともに、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８に出力され、この信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８においてプリアンプ１２０から出力信号に基づく復調及び誤り訂正処理等の所定の処理が行われる。
ここで、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により復調された記録信号が、例えばコンピュータのデータストレージ用であれば、インタフェース１１１を介して外部コンピュータ１３０等に送出される。これにより、外部コンピュータ１３０等は光ディスク１０２に記録された信号を再生信号として受け取ることができるようになる。また、上記の場合の逆に外部コンピュータ１３０からのデータを信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により変調してレーザ制御部１２１に出力し、レーザ光源を駆動することにより、外部コンピュータ１３０からのデータを光ディスク１０２に書き込み得るように構成されている。
【００１９】
また、信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により復調された記録信号がオーディオ・ビジュアル用であれば、Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２のＤ／Ａ変換部でアナログ信号に変換されてオーディオ・ビジュアル処理部１１３に供給される。そして、このオーディオ・ビジュアル処理部１１３でオーディオ・ビデオ信号処理が行われ、オーディオ・ビジュアル信号入出力部１１４を介して外部の撮像・映写機器に伝送される。また、上記の場合の逆に外部の撮像・映写機器からオーディオ・ビジュアル信号入出力部１１４を通してオーディオ・ビジュアル処理部１１３に取り込まれた情報をＤ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２のＡ／Ｄ変換部でデジタル信号に変換され、さらに信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８により変調してレーザ制御部１２１に出力し、レーザ光源を駆動することにより、外部の撮像・映写機器からオーディオ・ビジュアル情報を光ディスク１０２に書き込み得るようになっている。
【００２０】
上記光ピックアップ１０４には、例えば光ディスク１０２上の所定の記録トラックまで移動させるための送りモータ１０５が接続されている。スピンドルモータ１０３の制御、送りモータ１０５の制御、光ピックアップ１０４の対物レンズを保持する二軸アクチュエータのフォーカシング方向及びトラッキング方向の制御は、それぞれサーボ制御部１０９により行われる。
また、レーザ制御部１２１は、光ピックアップ１０４におけるレーザ光源１０４Ｂを制御するものであり、レーザ光源１０４Ｂの出力パワーを記録モード時と再生モード時に制御する構成になっている。
図１に示すＰＬＬ回路１２２は、再生時に信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８から出力される再生ＲＦ信号を基に同期信号（クロック）を生成し、この同期信号をＤ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２に加えることにより、定められた時間帯の中に光の再生パルスがあるかないかを検出し、この検出符号列をデータビット列に復調するようになっている。
【００２１】
また、図１において、信号処理装置２００は、光ディスクの記録面への光情報の記録時に該光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ（Recording Unit Block）内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するもので、この信号処理装置２００は、光ディスクの反射率変化に伴う光電変換手段１０４Ａから出力され、かつプリアンプ１２０で増幅されたＲＦ信号及び欠陥信号をＳ／Ｎよく検出する狭帯域増幅回路２０１と、この狭帯域増幅回路２０１で増幅された信号のうち、ＲＦ信号を減衰させるとともに欠陥信号を通過させる低域フィルタ２０２と、この低域フィルタ２０２を通過した欠陥信号を積分して欠陥の種類に応じた基準電位を生成する基準電位生成回路２０３と、低域フィルタ２０２を通過した欠陥信号と前記基準電位とを比較し欠陥信号のレベルが基準電位以下となっている時間を欠陥検出時間として取り出す欠陥検出時間処理回路２０４と、この欠陥検出時間処理回路２０４から出力された欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間延長し欠陥検出時間信号として出力する欠陥検出時間延長回路２０５と、この欠陥検出時間延長回路２０５から出力された欠陥検出時間信号を順次積算して総和エラー時間値を得るとともに、総和エラー時間値を１ＲＵＢ単位毎に出力するエラー発生時間積算回路２０６と、前記総和エラー時間値と予め設定した基準値とを比較して総和エラー時間値が基準値を超える時間幅を求め、この時間幅の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定するエラー発生判定手段２０７と、このエラー発生判定手段２０７において、光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定した時の判定タイミングが１ＲＵＢの終端近くで行われた場合、前記システムコントローラ１０７に設けられた交替ＲＵＢ制御部１０７Ａへの欠陥処理割り込み指令の出力状態を、１ＲＵＢ毎に前記ＲＦ信号から抽出されるＲＵＢフォーマットの先頭を示すタイミング信号を次の１ＲＵＢから発生するまで保持するラッチ回路２０８とを備える構成になっている。
【００２２】
前記光ディスク１０２の記録面は周知の交替ＲＵＢ（図示せず）を有し、また、前記交替ＲＵＢ制御部１０７Ａは、１ＲＵＢにＥＣＣを付けてデータを記録してもエラー訂正ができず、かつ正しく再生できない欠陥のある１ＲＵＢに記録されるべきデータを前記交替ＲＵＢに記録させる欠陥処理を行うためのものである。
【００２３】
次に、図２に示す欠陥検出時間延長回路の構成について説明する。
図２において、欠陥検出時間延長回路２０５は、欠陥検出時間処理回路２０４から出力された負のパルス状の欠陥検出時間信号Ｓ１をトリガー入力として所定幅（２０μＳ）のパルス信号Ｓ２を送出する第１モノマルチバイブレータ２０５Ａと、この第１モノマルチバイブレータ２０５Ａのパルス信号Ｓ２と欠陥検出時間信号Ｓ１との論理積を取ったパルス信号Ｓ３を出力する第１ＡＮＤゲート２０５Ｂと、この第１ＡＮＤゲート２０５Ｂのパルス信号Ｓ３をトリガー入力として所定幅（２０μＳ）のパルス信号Ｓ４を送出する第２モノマルチバイブレータ２０５Ｃと、この第２モノマルチバイブレータ２０５Ｃのパルス信号Ｓ４と欠陥検出時間信号Ｓ１を反転するＮＯＴゲート２０５Ｄの信号とを論理積を取ったパルス信号Ｓ５を出力する第２ＡＮＤゲート２０５Ｅとから構成されている。
【００２４】
次に、光ディスク１０２の表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かの処理動作について図３及び図４の動作波形図を参照して説明する。
まず、光ディスク１０２の表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥の検出は、光ピックアップ１０４を利用して行われる。すなわち、レーザ光源１０４Ｂから出射された光束は図示省略の光学系を通して光ディスク１０２の記録面に照射される。
一方、光ディスク１０２の記録面で反射された記録光は図示省略の光学系を通して光電変換手段１０４Ａに入射され、この光電変換手段１０４Ａにより電気信号に変換され、かつプリアンプ１２０で増幅された後、狭帯域増幅回路２０１によりＲＦ信号成分を減衰させ、欠陥信号成分を所定のレベルに増幅する。この時の狭帯域増幅回路２０１からの出力波形３１は図３（Ａ）に示すようになる。この出力波形３１はＲＦ信号Ｓ３１１と指紋に相当する欠陥信号Ｓ３１２を含んでいる。ここで、狭帯域増幅回路２０１の帯域を約２００ＫＨｚとすることで、記録データを減衰できる構成になっている。
【００２５】
狭帯域増幅回路２０１で増幅された出力波形３１のうち、ＲＦ信号Ｓ３１１は低域フィルタ２０２により確実に減衰され、欠陥信号Ｓ３１２は低域フィルタ２０２を通過して基準電位生成回路２０３及び欠陥検出時間処理回路２０４に出力される。この低域フィルタ２０２を通過した信号波形３２を図３（Ｂ）に示す。
基準電位生成回路２０３では、低域フィルタ２０２を通過した欠陥信号Ｓ３１２を積分することにより、図３（Ｃ）に示すような直流レベルの信号３３に変換するとともに欠陥の種類に応じた所定レベルにシフトして、図３（Ｄ）に示すような基準電位の信号３４を生成する。また、欠陥検出時間処理回路２０４では、低域フィルタ２０２を通過した欠陥信号Ｓ３１２と前記基準電位の信号３４とを比較し、欠陥信号Ｓ３１２のレベルが基準電位以下となっている時間Ｔを欠陥検出時間として取り出す。この時の欠陥検出時間の波形３５を図３（Ｅ）に示す。
【００２６】
欠陥検出時間延長回路２０５では、欠陥検出時間処理回路２０４から出力された欠陥検出時間を欠陥毎に、予め設定された所定の時間、例えば２０μＳ延長し、欠陥検出時間信号として出力する。この時の欠陥検出時間信号の波形を図３（Ｆ）に示す。
なお、前記延長される時間２０μＳは、欠陥の発生によりＰＬＬ回路１２２に信号が入力されてからロックインされるまでの時間に相当する。
図３(Ｇ)は１ＲＵＢ毎にＲＦ信号から抽出されるＲＵＢフォーマットの先頭を示すタイミング信号Ｓ３６を示し、図３(Ｈ)は１ＲＵＢの期間に生じる欠陥信号Ｓ３１２を表している。
また、図３では負の欠陥に対して説明したが、図５のように正の欠陥もあるので、正負の欠陥検出時間信号を検出する構成としてもよい。
【００２７】
また、エラー発生時間積算回路２０６では、欠陥検出時間延長回路２０５から出力された欠陥検出時間信号を図３（Ｉ）に示す波形３７のように順次積算して総和エラー時間値ｔを得るとともに、この総和エラー時間値ｔを１ＲＵＢ単位毎に出力する。そして、エラー発生判定手段２０７では、前記総和エラー時間値ｔと予め設定した基準値とを比較して総和エラー時間値ｔが基準値を超える時間幅Ｔ１を求め、この時間幅Ｔ１の１ＲＵＢ内で占める割合が予め設定した設定値以上であるか否かにより光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを判定する。ここで、例えば前記時間幅Ｔ１の１ＲＵＢ内で占める割合が５％以上の時に光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定した場合は、欠陥であると判定された１ＲＵＢに記録されるべきデータを光ディスク１０２の交替ＲＵＢに記録させるための割り込み指令を交替ＲＵＢ制御部１０７Ａへ出力する。また、時間幅Ｔ１の１ＲＵＢ内で占める割合が５％以下の場合は、光ディスク表面に光情報の記録ミスを生じさせる欠陥がないと判定する。
【００２８】
また、エラー発生判定手段２０７において、光ディスク表面の欠陥が光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であると判定した時の判定タイミングが１ＲＵＢの終端近くで行われた場合は、交替ＲＵＢ制御部１０７Ａへの欠陥処理割り込み指令の出力状態を、１ＲＵＢ毎にＲＦ信号から抽出されるＲＵＢフォーマットの先頭を示すタイミング信号が次の１ＲＵＢから発生するまでラッチ回路２０７で保持する。
【００２９】
このような本実施の形態によれば、光ディスクの記録面への光情報の記録時に光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥が１ＲＵＢ内において光情報の記録ミスを生じさせる欠陥であるか否かを正確に判定することができるとともに、光ディスクの信頼性を向上できる。そして、１ＲＵＢ単位の記録ミスが検出された時は、交替ＲＵＢへシフトさせるという欠陥処理が可能であるため、記録データをエラーのない交替ＲＵＢに書き直すことができる。
また、本発明によれば、ディスクへの光情報の記録時に光ディスクの記録面で反射される記録光が光ディスク表面の欠陥によりレベル変化することを利用して欠陥信号を検出できるようにするとともに、検出した欠陥を数ではなく、欠陥時間の積算値から判定するように構成したので、記録パワーや光ディスクの反射率が異なる場合でも、ＡＧＣ回路を設けることなしに処理装置を安定に動作させることができる。
【００３０】
次に、図２に示す欠陥検出時間延長回路２０５の動作について図４の動作波形図を参照して説明する。
欠陥検出時間処理回路２０４から出力された図４（Ａ）に示す負のパルスである欠陥検出時間信号Ｓ１がトリガーとして第１モノマルチバイブレータ２０５Ａに入力されると、第１モノマルチバイブレータ２０５Ａからは図４（Ｂ）に示す所定幅（２０μＳ）のパルス信号Ｓ２が送出される。また、第１モノマルチバイブレータ２０５Ａのパルス信号Ｓ２と欠陥検出時間信号Ｓ１とが第１ＡＮＤゲート４０５Ｂに入力されると、第１ＡＮＤゲート２０５Ｂからは両信号の論理積に相当する図４（Ｃ）に示すパルス信号Ｓ３が出力される。さらに、第１ＡＮＤゲート２０５Ｂのパルス信号Ｓ３が第２モノマルチバイブレータ２０５Ｃにトリガーとして入力されると、第２モノマルチバイブレータ２０５Ｃからは、図４（Ｄ）に示す所定幅（２０μＳ）のパルス信号Ｓ４が送出される。また、第２モノマルチバイブレータ２０５Ｃのパルス信号Ｓ４と欠陥検出時間信号Ｓ１を反転するＮＯＴゲート２０５Ｄの信号とが第２ＡＮＤゲート４０５Ｅに入力されると、第２ＡＮＤゲート２０５Ｅからは両信号の論理積に相当する図４（Ｃ）に示すパルス信号Ｓ５が出力される。
【００３１】
このような図２に示す欠陥検出時間延長回路２０５を備えた信号処理装置によれば、延長される時間２０μＳは、欠陥の発生によりＰＬＬ回路１２２に信号が入力されてからロックインされるまでの時間に相当し、データエラーはディフェクトの時間となるので、２０μＳ以下のディフェクトには時間の加算を行わずにディフェクトパルスの大小判別を行って、加算パルスを発生させないようにできる。そして、２０μＳより大きいディフェクトのみに時間の加算を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明にかかる信号処理装置を備えた光でスク装置の全体の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における欠陥検出時間延長回路の一構成例を示す回路図である。
【図３】図１に示した信号処理装置の動作を示す波形図である。
【図４】図２に示した欠陥検出時間延長回路の動作を示す波形図である。
【図５】光ディスクの表面に付けられた指紋や傷、ゴミなどの欠陥とこれら欠陥のディスク反射率との関係を表した説明図である。
【符号の説明】
【００３３】
１０１……光ディスク装置、１０２……光ディスク、１０３……スピンドルモータ、１０４……光ピックアップ、１０４Ａ……光電変換手段、１０４Ｂ……レーザ光源、１０５……送りモータ、１０７……システムコントローラ、１０７Ａ……交替ＲＵＢ制御部、１０８……信号変復調器＆ＥＣＣ部、１０９……サーボ制御部、１１２……Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器、１２０……プリアンプ、１２２……ＰＬＬ回路、２００……信号処理装置、２０１……狭帯域増幅回路、２０２……低域フィルタ、２０３……基準電位生成回路、２０４……欠陥検出時間処理回路、２０５……欠陥検出時間延長回路、２０６……エラー発生時間積算回路、２０７……エラー発生判定手段、２０８……ラッチ回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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