(57)【要約】【課題】ディスクのディフェクトや伝達系の雑音等への耐性に優れ、良好にウォブルシンクの検出を行うことのできる光ディスク装置を提供する。【解決手段】ウォブル信号とウォブルクロックとの位相相関値を算出する位相検波器４１と、この位相検波器４１から出力された２８ウォブル分の位相相関値が保持されるシフトレジスタ４２と、このシフトレジスタの各出力を決められたグループ単位で加算する複数の加算器４３−５６と、規定のシンクパターンと符号が一致したタイミングを判定するために特定の加算器の出力の論理積をとるＡＮＤ回路５８と、一部の加算器４７，５０，５２，５５の出力を加算してエッジ総和値を求める加算器５７と、加算器５７より出力されたエッジ総和値を閾値を用いて評価することでシンク到来検出を行うエッジレベル判定回路６０と、エッジレベル判定回路６０のシンク到来検出結果をＡＮＤ回路５８の符号一致判定結果により規制するゲート６１とを備える。【選択図】図３
2005166112.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ウォブル信号とこのウォブルクロックとの位相の一致度を示すウォブルクロック１波長ごとの位相相関値を求める位相相関値算出手段と、
前記位相相関値算出手段の出力を受け、前記ウォブル信号に含まれるシンクパターンの位相変化点の位相相関値の総和であるエッジ総和値を求めるエッジ総和値算出手段と、
前記エッジ総和値算出手段により算出されたエッジ総和値を閾値を基準に評価して、前記シンクパターンの到来タイミングを示すシンク検出信号を生成するエッジレベル判定手段と、
前記位相相関値算出手段の出力を受け、規定のシンクパターンとの符号一致のタイミングを判定する符号一致判定手段と、
前記エッジレベル判定手段により生成されたシンク検出信号のうちの有効なシンク検出信号を前記符号一致判定手段の判定結果に基づいて弁別する弁別手段と
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記弁別手段より出力された前記シンク検出信号とウォブルクロックとを用いてシンク到来の周期を保持し、このシンク到来の周期を基に前記シンク検出信号の補間を行う補間手段をさらに具備する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
出力されたシンク検出信号の信頼性の評価値を、少なくとも前記補間手段による前記シンク検出信号の補間状況に基づいて生成する信頼性評価手段をさらに具備する
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記補間手段は、前記シンク到来周期のシンク到来予測タイミングを中心とする窓で、前記弁別手段より出力された前記シンク検出信号にマスクを掛ける
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記エッジレベル判定手段は、前記補間手段から前記窓を入手し、この窓の中に入ったエッジ総和値のうち最大のものだけをエッジレベル判定結果として出力する
ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記エッジレベル判定手段の評価に用いられる閾値を、前記エッジ総和値算出手段により算出された最大のエッジ総和値に基づいて設定する閾値設定手段をさらに具備する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
ウォブル信号とこのウォブルクロックとの位相の一致度を示すウォブルクロック１波長ごとの位相相関値を求めるステップと、
前記求められた位相相関値を受け、前記ウォブル信号に含まれるシンクパターンの位相変化点の位相相関値の総和であるエッジ総和値を求めるステップと、
前記算出されたエッジ総和値を閾値を基準に評価して、前記シンクパターンの到来タイミングを示すシンク検出信号を生成するステップと、
前記求められた位相相関値を受け、規定のシンクパターンとの符号一致のタイミングを判定するステップと、
前記生成されたシンク検出信号のうちの有効なシンク検出信号を前記符号一致の判定結果に基づいて弁別するステップと
を具備することを特徴とするウォブルシンク検出方法。
【請求項８】
前記弁別されたシンク検出信号とウォブルクロックとを用いてシンク到来の周期を保持し、このシンク到来の周期を基に前記シンク検出信号の補間を行う
ことを特徴とする請求項７に記載のウォブルシンク検出方法。
【請求項９】
出力されたシンク検出信号の信頼性の評価値を、少なくとも前記シンク検出信号の補間状況に基づいて生成する
ことを特徴とする請求項８に記載のウォブルシンク検出方法。
【請求項１０】
前記弁別されたシンク検出信号に、前記シンク到来周期のシンク到来予測タイミングを中心とする窓でマスクを掛ける
ことを特徴とする請求項８に記載のウォブルシンク検出方法。
【請求項１１】
シンク検出信号を生成するステップは、前記窓の中に入ったエッジ総和値のうち最大のものを有効とみなす
ことを特徴とする請求項１０に記載のウォブルシンク検出方法。
【請求項１２】
前記閾値を、過去に算出された最大のエッジ総和値に基づいて設定する
ことを特徴とする請求項７に記載のウォブルシンク検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に係り、特にプリグルーブのウォブルに、一定クロック間隔に出現するシンクパターンとこれに続くデータが位相変調を掛けて記録されているディスクを扱う光ディスク装置とそのウォブルシンク検出方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
次世代光ディスク規格の書き換え型ディスクなどに代表される高密度書き換え型のディスクでは、プリグルーブのウォブルに位相変調を掛けることで、一定クロック間隔に出現するシンクパターンとこれに続くデータ（物理アドレス）のコーディングを実現している。シンクパターンには、他のデータには現れることのないユニークなパターンが採用され、このユニークパターンを検出してシンクの到来を検出することとされている。
【０００３】
これに関連する従来技術としては、シンクパターンを構成するすべてのビット列について、基準のシンクパターンとのマッチングを行って、すべてのビット列が基準のシンクパターンと一致したならシンクの到来を検出するというものがある（たとえば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００２−１６３８６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このように一般に、シンクパターンを検出するには、ピックアップの出力からプリグルーブの蛇行を表すプッシュプル信号を生成し、このプッシュプル信号を二値スライス回路にて一定閾値をもって“１”と“０”の二値化信号にスライスし、あらかじめ用意されている基準のシンクパターン符号と一致したパターンの検出をもってシンクの到来を判定していた。
【０００５】
しかし、高密度記録を要求されたフォーマット設計では、ウォブル変調度が非常に小さく、媒体の歪みや傷、伝達系の雑音などによって元波形が劣化した場合、正しい二値化信号が得られずに、シンクパターンの誤検出が生じるおそれが考えられる。
【０００６】
本発明はこのような事情を鑑みて、ディスクのディフェクトや伝達系の雑音等への耐性に優れ、良好にウォブルシンクの検出を行うことのできる光ディスク装置およびウォブルシンク検出方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の光ディスク装置は、上記課題を解決するために、ウォブル信号とこのウォブルクロックとの位相の一致度を示すウォブルクロック１波長ごとの位相相関値を求める位相相関値算出手段と、前記位相相関値算出手段の出力を受け、前記ウォブル信号に含まれるシンクパターンの位相変化点の位相相関値の総和であるエッジ総和値を求めるエッジ総和値算出手段と、前記エッジ総和値算出手段により算出されたエッジ総和値を閾値を基準に評価して、前記シンクパターンの到来タイミングを示すシンク検出信号を生成するエッジレベル判定手段と、前記位相相関値算出手段の出力を受け、規定のシンクパターンとの符号一致のタイミングを判定する符号一致判定手段と、前記エッジレベル判定手段により生成されたシンク検出信号のうちの有効なシンク検出信号を前記符号一致判定手段の判定結果に基づいて弁別する弁別手段とを具備している。
【０００８】
この発明では、エッジレベル判定と符号一致判定とを併用してシンク検出を行うことで、より信頼性の高いシンク検出が可能になる。すなわち、エッジレベル判定では、Ｃ／Ｎの低下やレベル変動の影響でシンクパターンのエッジ以外の位置で位相相関値の総和値が閾値を越え、偽のシンク検出信号を発生させてしまうおそれがあるが、この偽のシンクエッジ検出信号を符号一致判定結果で排除することで、より信頼性の高いシンク検出が可能になる。
【０００９】
また、本発明の光ディスク装置は、前記弁別手段より出力された前記シンク検出信号とウォブルクロックとを用いてシンク到来の周期を保持し、このシンク到来の周期を基に前記シンク検出信号の補間を行う補間手段を具備するものとしてもよい。
【００１０】
これにより、ディスクの歪みや傷などの影響で欠落するおそれのあるシンク検出信号の補間が行われ、シンク到来位置情報を必要としている他の信号処理系にシンク到来位置情報が提供されることが保証される。
【００１１】
さらに、本発明の光ディスク装置は、出力されたシンク検出信号の信頼性の評価値を、少なくとも前記補間手段による前記シンク検出信号の補間状況に基づいて生成する信頼性評価手段をさらに具備するものとしてもよい。
【００１２】
これにより、出力された個々のシンク検出信号に対する信頼性の評価値を他の信号処理系や制御系に通知することができ、他の信号処理系や制御系において、その評価値に応じた、シンク到来位置情報への対処が可能となる。
【００１３】
また、本発明の光ディスク装置において、前記補間手段は、前記シンク到来周期のシンク到来予測タイミングを中心とする窓で、前記弁別手段より出力された前記シンク検出信号にマスクを掛けるものとしてもよい。これにより、シンク誤検出の影響を低減することができる。
【００１４】
さらに、本発明の光ディスク装置において、前記エッジレベル判定手段は、前記補間手段から前記窓を入手し、この窓の中に入ったエッジ総和値のうち最大のものだけをエッジレベル判定結果として出力するものとしてよい。これにより、波形歪みなどでエッジが鈍った場合に複数の位置がシンクエッジとして判定される誤動作を防ぐことができる。
【００１５】
さらに、本発明の光ディスク装置は、前記エッジレベル判定手段の評価に用いられる閾値を、前記エッジ総和値算出手段により算出された最大のエッジ総和値に基づいて設定する閾値設定手段をさらに具備するものとしてもよい。これにより、ディスクの状態や様々な再生条件に応じて最適な閾値を動的に設定することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の光ディスク装置のウォブルシンク検出方法によれば、ディスクのディフェクトや伝達系の雑音等への耐性に優れ、良好にウォブルシンクの検出を行うことができる、という優れた効果を奏し得る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施するための形態を図面に基づいて説明する。
【００１８】
図１は、本発明の一実施形態にかかる光ディスク装置１００の全体の構成を図である。
同図において、この実施の形態である光ディスク装置１００は、全体の動作を制御するシステム制御部１と、このシステム制御部１の制御用のプログラムや各種パラメータなどが固定的に格納されたＲＯＭ２と、システム制御部１の制御用の作業領域などとして用いられるＲＡＭ３とを有している。光ディスクＤは、スピンドルモータ４によって駆動される。スピンドルモータ４はサーボコントローラ１１によって回転速度の制御が行われる。光ディスクＤに対する情報の書き込み及び読み出しは、光ディスクＤの半径方向に移送自在なピックアップ６によって行われる。ピックアップ６は、レーザを出射するレーザダイオード７と、レーザダイオード７からの出射レーザを光ディスクＤの記録面に集光し、かつ光ディスクＤの記録面からの反射光を４分割フォトディテクなどからなる光検出器８に導く光学系９とを備えて構成されている。また、この光ディスク装置１００は、トラッキング、フォーカシング、ディスク回転速度などの各種サーボのための処理と制御を行うサーボコントローラ１１と、サーボコントローラ１１の制御の下でピックアップ６の光学系９における対物レンズ１０などを駆動するアクチュエータドライバ１２を有している。
【００１９】
ピックアップ６の光検出器８の出力はプリアンプ１３に送られる。プリアンプ１３で後段の処理に適したレベルに増幅されたＲＦ信号はＲＦ回路１４に供給されるとともに、光検出器８の４分割フォトディテクタの各出力はウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路１５に出力される。ＲＦ回路１４は、取り込んだＲＦ信号を二値化し、光ディスクＤに記録しやすいかたちに変調された信号を生成してデータ処理部１おに供給する。
【００２０】
データ処理部１６は、外部から与えられるデータを光ディスクＤに記録しやすい形式の信号に変調したり、ＲＦ回路１４より供給された信号の復調、エラー訂正、データの圧縮／伸長などを行って再生データを得る。ＲＡＭ１７は、データ処理部１６の再生データおよびこれから光ディスクＤに記録する変調前のデータなどが一時的に格納されるメモリである。Ｉ／Ｆ１８は、上位装置との間でデータの入出力を行うためのインターフェースである。
【００２１】
ウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路１５は、プリグループのウォブル信号を検出して、サーボ制御部やデータ処理部の基準クロックとして使用されるＰＬＬウォブルクロックを生成するとともに、プリグルーブのウォブルに含まれるシンクパターンを検出し、このシンク検出のタイミングからシンクパターンに続いてコーディングされているアドレスのデータを読み出すための回路である。
【００２２】
図２は、このウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路１５の構成を示す図である。
同図に示すように、ウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路１５は、プッシュプル信号生成回路２１、ウォブルクロック再生回路２２、シンク検出回路２３、アドレス抽出回路２４から構成されている。
【００２３】
プッシュプル信号生成回路２１は、プリアンプ１３を通して増幅された光検出器８の４分割フォトディテクタの個々の出力から、ラジアル半面ずつの差信号を求めたものをプッシュプル信号（ウォブル信号）として生成する回路である。
【００２４】
ウォブルクロック再生回路２２は、プッシュプル信号生成回路２１により生成されたウォブル信号からクロックを生成する回路である。このウォブルクロック再生回路２２は、たとえば、プッシュプル信号生成回路２１により生成されたウォブル信号とＶＣＯ(Voltage Control 0scillator)の発振出力信号とを乗算する乗算器と、ＶＣＯ(Voltage Control 0scillator)と、乗算器の出力をＶＣＯ出力の１波長区間の単位で積分する積分器と、積分器の出力を基にＶＣＯの制御入力を生成するループ補償器などで構成される。ここで、乗算器は、たとえば、ウォブル信号をウォブル周波数のたとえば１６倍の周波数でサンプリング・量子化してディジタル化し、これをＶＣＯ発振出力信号と乗算する。ＶＣＯからはウォブルに対応した周波数がウォブルクロックとして出力される。なお、ウォブルクロック再生回路２２の位相同期の追従時定数は、ときどき混じるウォブルアドレスコーディングによる反転波に応答しないように充分長くないといけない。
【００２５】
シンク検出回路２３は、プッシュプル信号生成回路２１で生成されたウォブル信号とウォブルクロック再生回路２２にて生成されたウォブルクロックとに基づいて、プリグルーブのウォブルに含まれるシンクパターンの検出を行う。
【００２６】
アドレス抽出回路２４は、このシンク検出回路２３により検出されたシンクの到来タイミングを基に、シンクパターンに続いてプリグルーブのウォブルにコーディングされているアドレスのデータを読み出す回路である。
【００２７】
図３は、ウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路１５の中のシンク検出回路２３の構成を示す図である。
同図に示すように、シンク検出回路２３は、プッシュプル信号生成回路２１で生成されたウォブル信号とウォブルクロック再生回路２２にて生成されたウォブルクロックとの位相相関値を算出する位相検波器４１と、位相検波器４１から出力された２８ウォブル分の位相相関値が保持されるシフトレジスタ４２（Ｄ１−Ｄ２８）と、シフトレジスタ４２（Ｄ１−Ｄ２８）の各出力を決められたグループ単位で加算する複数の加算器４３−５６と、規定のシンクパターンと符号が一致したタイミングを判定するために、特定の位置の加算器４３−４６，４８，４９，５１，５３，５４，５６の出力の論理積をとるＡＮＤ回路５８と、加算器４７，５０，５２，５５の出力を加算してエッジ総和値を求める加算器５７と、加算器５７の出力のピーク値を保持してエッジレベル判定のための閾値を生成するピークホールド回路５９と、加算器５７より出力されたエッジ総和値を閾値を用いて評価することでシンク到来検出を行うエッジレベル判定回路６０と、エッジレベル判定回路６０のシンク到来検出結果をＡＮＤ回路５８の符号一致判定結果により規制するゲート６１と、ゲート６１の出力とウォブルクロックとからシンク到来予測周期を生成し、ディスクの歪みや傷などの影響で欠落したシンク検出信号を補間するフライホイール補間回路６２と、フライホイール補間回路６２のシンク検出信号の補間状況、ＡＮＤ回路５８の出力である符号一致判定結果、加算器５７から出力されたエッジ総和値などからシンク検出結果の信頼性を総合的に評価する信頼性評価回路６３とを備える。
【００２８】
本実施形態は、次世代光ディスク規格の書き換え型ディスクを対象とするものである。そこで、この次世代光ディスク規格の書き換え型ディスクにおける物理アドレスコーディングについて説明する。
【００２９】
次世代光ディスク規格の書き換え型ディスクでは、プリグルーブのウォブルに位相変調を掛けることで物理アドレスのコーディングを実現している。位相変調の方式は、ウォブル波長の４倍周期をコーディング変調符号のビットクロックとし、無変調部分（ＮＰＷ）”０”に対して符号”１”に相当する部分をウォブル位相を１８０度反転（ＩＰＷ）させて変調している。
【００３０】
図４は次世代光ディスク規格の書き換え型ディスクのウォブルアドレスコーディングの符号構成を示している。
【００３１】
ウォブルによるアドレスコーディングは物理セグメント単位で完結した並びになっている。１つの物理セグメントはＷＤＵ(Wobble Data Unit)という単位で構成される。ＷＤＵのうち先頭のＷＤＵがシンクパターン（Sync）、それより後の１３個のＷＤＵがアドレスフィールド（Address field）、残り３個のＷＤＵが無変調のユニティーフィールド（Unity field）である。
【００３２】
シンクパターンは前の物理セグメントの”０”が終わった後、６波（６Ｔ）の”１”、４波（４Ｔ）の”０”、６波（６Ｔ）の”１”、６８波の”０”となるものである。６波の”１”というパターンはシンクパターン以外の領域には出現しないユニークパターンである。したがって、シンクパターンはパターンの形で特定することが可能である。
【００３３】
シンクパターン（Sync）を含むＷＤＵの後には、１３個のＷＤＵからなるアドレスフィールドが続いている。アドレスフィールドでは、スタートビットを含むアドレス変調符号を１つの符号あたり４波長を使って符号の”０”と”１”を表している。
この物理セグメント単位で１回の物理アドレスを持っており、続く物理セグメントでは新しくインクリメントされたアドレスデータとなる。
【００３４】
このアドレスフィールドのアドレスデータを読むためには、ウォブルクロックの周期を基準としてシンクパターンを検出し、シンクの次から始まるアドレスフィールドの先頭から順にデータを読み取って行く。
【００３５】
次に、この実施形態の光ディスク装置においてシンクパターンを検出する動作を説明する。
【００３６】
光ディスクＤから読み出され、プリアンプ１３にて増幅された、光検出器８（４分割フォトディテクタ）の個々の出力は、プッシュプル信号生成回路２１により、プリグルーブの蛇行を表すウォブル信号を含むプッシュプル信号となってウォブルクロック再生回路２２と位相検波器４１とに与えられる。
【００３７】
ウォブルクロック再生回路２２では、前述したように、ウォブル信号の周波数に対応したウォブルクロックが生成される。
【００３８】
位相検波器４１は、入力されたウォブル信号と、ウォブルクロック再生回路２２にて生成されたウォブルクロックとのウォブルクロック１波長ごとの位相相関値を算出する。位相相関値は、ウォブルクロック１波長ごとに、ウォブルクロックと位相がどれだけ合っているかを示す値である。具体的には、ウォブル信号とウォブルクロックとを乗算し、乗算結果を積分することなどによって行われる。詳細には、乗算は、たとえば、ウォブル信号をウォブル周波数のたとえば１６倍の周波数でサンプリング、量子化してディジタル化し、これをウォブルクロックと乗算することなどによって行われる。積分はウォブルクロックの１波長区間の単位で行われる。
【００３９】
このようにしてウォブルクロック１波長ごとに得られた位相相関値はシフトレジスタ４２（Ｄ１−Ｄ２８）に順次入力され、２８ウォブル分の位相相関値がシフトレジスタ４２のＤ２８のレジスタから入って順に格納されて行く。さらにウォブルクロックが進めば、Ｄ２８のレジスタから新しい位相相関値が入力され、Ｄ１のレジスタからデータが捨てられる。
【００４０】
このシフトレジスタ４２における一部のレジスタに格納された値、または格納された値に正もしくは負のいずれかの符号が付与された値に対して、５つの加算器４７，５０，５２，５５，５７でエッジ総和値を求める処理が行われる。
【００４１】
すなわち、まず、加算器４７ではレジスタＤ９の値に対して正を掛けた値とレジスタＤ１０の値に対して負の符号を掛けた値とを加算する。この加算結果は、前後の位相相関値の差分となり、位相相関値が急に下がった境界で大きな値を示す。すなわち１ウォブルクロックごとに順次シフト更新されていく位相相関値波形の中でＮＰＷからＩＰＷに変化した箇所に対して大きな値を示す。
【００４２】
次に、加算器５０ではレジスタＤ１５の値に対して負を掛けた値とレジスタＤ１６の値に対して正の符号を掛けた値とを加算する。この値も前後の差分であるが、加算器４７の場合とは極性が逆なので位相相関値が急に上がった境界で大きな値を示す。すなわち位相相関値波形の中でＩＰＷからＮＰＷに変化した箇所に対して大きな値を示す。
【００４３】
次に、加算器５２ではレジスタＤ１９の値に対して正を掛けた値とレジスタＤ２０の値に対して負の符号を掛けた値とを加算する。この値も前後の差分であり、加算器４７の場合と極性が同一であるから、位相相関値が急に下がった境界で大きな値を示す。すなわち位相相関値波形の中でＮＰＷからＩＰＷに変化した箇所に対して大きな値を示す。
【００４４】
次に、加算器５５ではレジスタＤ２５の値に対して負を掛けた値とレジスタＤ２６の値に対して正の符号を掛けた値とを加算する。この値も前後の差分であり、加算器４７の場合と極性が逆であるから、位相相関値が急に上がった境界で大きな値を示す。すなわち位相相関値波形の中でＩＰＷからＮＰＷに変化した箇所に対して大きな値を示す。
【００４５】
上記４箇所での位相変化点（エッジ）に対応する加算器４７，加算器５０，加算器５２，加算器５５の結果は加算器５７にて合計され、これによりエッジ総和値が得られる。
【００４６】
上記４箇所の位相変化点（エッジ）の位置はシンクパターンの位相変化点の位置に合せたものである。したがって、シンクパターンの４箇所の位相変化点（エッジ）に対応する各位相相関値がシフトレジスタ４２のレジスタＤ９，Ｄ１０，Ｄ１５，Ｄ１６，Ｄ１９，Ｄ２０，Ｄ２５，Ｄ２６に同時にセットされたタイミングでエッジ総和値が大きな値になる。
【００４７】
なお、ここでは各加算器４７，５０，５２，５５の出力の総和を求めたが、上記各出力の積をエッジ総和値としてもよい。この場合、シンクパターンと他のパターンとの差異が先鋭に出るが、ディスクの歪みや傷などの影響で一部のエッジの加算値が低くなる場合に、返って精度が低下する場合が考えられる。そこで、ディスクの歪みや傷といったディスク特性などに合わせて、エッジ総和値を加算値の和とするか、加算値の積とするかを切り替えられるようにしてもよい。
【００４８】
加算器５７で得られたエッジ総和値は、エッジレベル判定回路６０にて判定用の閾値により、シンクパターンと一致している可能性の有無を示す信号を出力する。すなわち、エッジ総和値が判定用の閾値を越えている場合にシンクパターンと一致している可能性があることを示すシンク検出信号をゲート６１へ出力する。
【００４９】
このエッジレベル判定で用いられる閾値はピークホールド回路５９にて生成される。この閾値はディスクの状態や様々な再生条件により変動するので、ピークホールド回路５９は、毎回のエッジのエッジ総和のピーク値から適当な閾値（たとえばピーク値の平均の半分など)を生成し、これをエッジレベル判定回路６０に与える。また、動作立ち上げ当初は一旦閾値を標準的な値に固定するなどして、立ち上げ初期のウォブル信号波形の不安定な時期に得られるエッジ総和値に対して誤ったシンク検出信号が出力されることを防止している。
【００５０】
次に、ここまでの動作を図５に示す位相相関値の例を用いて説明する。
【００５１】
図５は、横軸に時間をとり、物理セグメントが先頭が始まる位置から、６波（６Ｔ）の”１”、４波（４Ｔ）の”０”、６波（６Ｔ）の”１”の並びからなるシンクパターンの現れる部分を示している。
【００５２】
同図において、Ｃは実際のウォブル信号Ａから得られる位相相関値の例である。このように、位相相関値は、ＮＰＷ時に正、ＩＰＷ時に負を示すが、ウォブル信号のＣ／Ｎ(Carrier to Noise Ratio)の低下やレベル変動によって、このように歪んだ波形をしている場合がある。理想的な位相相関値はＢの基準パターンのようにＮＰＷ時に”１”、ＩＰＷ時に”−１”のように一定値となるものの、実際にはこうならない。
【００５３】
さて、このような位相相関値の列がシフトレジスタ４２に入ってきた状態を考えると、ウォブル信号Ａのシンクパターンに対応する４つ位相変化点（エッジ）のうち、最初の位相変化点の直前の位相相関値がＤ９のレジスタ、この最初の位相変化点の直後の位相相関値がＤ１０のレジスタ、二番目の位相変化点の直前の位相相関値がＤ１５のレジスタ、この二番目の位相変化点の直後の位相相関値がＤ１６のレジスタ、三番目の位相変化点の直前の位相相関値がＤ１９のレジスタ、この三番目の位相変化点の直後の位相相関値がＤ２０のレジスタ、最後の位相変化点の直前の位相相関値がＤ２５のレジスタ、この最後の位相変化点の直後の位相相関値がＤ２６のレジスタに格納されたとき、エッジ総和値のピークが現れ、このエッジ総和値のピークが閾値を越えているなら、シンク検出信号が得られる。
【００５４】
なお、図５のＤは、シフトレジスタ４２から各加算器４３−５６に、各々の加算器４３−５６ごとに決められた符号を付与して入力される位相相関値の例を示している。各々の加算器４３−５６に入力される値に付与される符号はＢの基準パターンに対応しており、ＮＰＷ時に正、ＩＰＷ時に負の符号が付与される。これにより、各位相相関値は正の値として加算される。また、図５のＥは、Ｄの位相相関値の中からエッジ総和値を求める位置の位相相関値のみを切り出したものである。
【００５５】
一方、Ｄ１−Ｄ８，Ｄ１１−Ｄ１４，Ｄ１７，Ｄ１８，Ｄ２１−Ｄ２４，Ｄ２７，Ｄ２８のレジスタに保持された位相相関値に対して、加算器４３−４６，４８，４９，５１，５３，５４，５６とＡＮＤ回路５８とで規定のシンクパターンとの符号一致判定が行われる。
【００５６】
すなわち、加算器４３ではＤ１とＤ２の各レジスタに保持された値が加算される。加算器４４ではＤ３とＤ４の各レジスタに保持された値が加算される。加算器４５ではＤ５とＤ６の各レジスタに保持された値が加算される。加算器４６ではＤ７とＤ８の各レジスタに保持された値が加算される。加算器４８ではＤ１１とＤ１２の各レジスタに保持された値にそれぞれ負が掛けられて加算される。加算器４９ではＤ１３とＤ１４の各レジスタに保持された値にそれぞれ負が掛けられて加算される。加算器５１ではＤ１７とＤ１８の各レジスタに保持された値が加算される。加算器５３ではＤ２１とＤ２２の各レジスタに保持された値にそれぞれ負が掛けられて加算される。加算器５４ではＤ２３とＤ２４の各レジスタに保持された値にそれぞれ負が掛けられて加算される。加算器５６ではＤ２７とＤ２８の各レジスタに保持された値が加算される。
【００５７】
これら加算器４３−４６，４８，４９，５１，５３，５４，５６の加算結果はＡＮＤ回路５８に入力され、各加算結果の論理積が求められる。なお、図５のＦはＡＮＤ回路５８への入力を示している。この各加算結果の論理積の値が”１”ならば、規定のシンクパターンとの符号一致が判定され、論理積の値が”０”ならば、規定のシンクパターンとの符号不一致が判定される。そして判定結果はゲート６１へ送られる。
【００５８】
ゲート６１は、エッジレベル判定回路６０から与えられたシンク検出信号に対し、ＡＮＤ回路５８から与えられた符号一致判定結果でゲートを掛ける。すなわち、符号一致の判定結果が与えられた場合にはシンク検出信号を有効とし、符号不一致の判定結果が与えられた場合にはシンク検出信号を無効とする。
【００５９】
このようにエッジレベル判定と符号一致判定とを併用することで、エッジレベル判定のみによるシンク検出の弱点を軽減できる。すなわち、エッジレベル判定は、特定の個所(Ｄ９，Ｄ１０，Ｄ１５，Ｄ１６，Ｄ１９，Ｄ２０，Ｄ２５，Ｄ２６のレジスタ)の位相相関値の総和値のみに依存して行われる判定のため、Ｃ／Ｎの低下やレベル変動によりシンクパターンの位相変化点（エッジ）以外の位置での位相相関値の総和値が閾値を越えてしまい、偽のシンク検出信号を発生してしまう可能性がある。そこで、この偽のシンクエッジ検出信号を符号一致判定結果で排除することで、より信頼性の高いシンク検出が可能になる。
【００６０】
さらに、ゲート６１の出力はフライホイール補間回路６２に与えられる。ここでは、ディスクの歪みや傷などの影響で欠落するおそれのあるシンク検出信号の補間が行われる。これによって、シンク到来位置情報（シンクフラグが立つタイミング）を必要としているデータ処理部１６、アドレス抽出回路２４などの信号処理系にシンク到来位置情報を提供することを保証している。フライホイール補間回路６２は、具体的には、ウォブルクロック再生回路２２からのウォブルクロックに基づいて物理セグメントの１周期をカウントするリングカウンタが用いられている。このリングカウンタのカウントはゲート６１からのシンク検出信号によりリセットが掛けられるようになっている。このリングカウンタは、カウント中はシンク検出信号が入力されなくても、カウントオーバーのタイミングで擬似のシンク検出信号を発生することで、シンク検出信号（シンクフラグ）の補間を行うことが可能となっている。
【００６１】
さらに、以上のようにして予測されたシンク到来タイミングの信頼性を保証するために、信頼性評価回路６３は、フライホイール補間回路６２のシンク検出信号の補間状況、ＡＮＤ回路５８の出力であるシンク符号パターンの一致評価結果、加算器５７から出力されたエッジ総和値などからシンク検出結果の信頼性を総合的に評価し、評価結果をデータ処理部１６、アドレス抽出回路２４などの信号処理系やシステム制御部１などに通知する。この信頼性評価回路６３の最も簡単な例として、今回のシンクフラグがシンクの検出によって立ったものか、補間により立ったものであるかを２値の信頼性評価値で出力するといったものも考えられる。
【００６２】
以上、本発明にかかる代表的な実施形態を説明したが、次のような変形が考えられる。  フライホイール補間回路６２は、自身でシンク到来周期を持っているので、次にシンク検出信号が来るであろうタイミングを予想できる。これを利用してシンク到来予測タイミングを中心とした数クロック分の狭い時間幅の窓を作り、この窓でシンク検出信号にマスクを掛けることで、シンク誤検出の影響を低減できる。
【００６３】
また、この場合、フライホイールそのものが正しくない位置にロックしてしまう場合もあり得るので、複数回シンク検出が続いた場合に、窓によるシンク検出信号のマスクを行う動作に移行し、窓内にシンクが検出されなくなったらマスクを解除するなどの適応動作が有効である。
【００６４】
さらに、エッジレベル判定回路６０が、フライホイール補間回路６２から与えられた窓（シンク到来予測タイミングを中心とした何クロックかの狭い時間幅の窓）の中に入ったエッジレベルのうち最大のもの１つだけをエッジレベル判定結果として採用するようにしてもよい。これにより、波形歪みなどでエッジが鈍った場合に複数の位置がシンクエッジとして判定される誤動作を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の一実施形態にかかる光ディスク装置の全体の構成を図である。
【図２】図１のウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路１５の構成を示す図である。
【図３】図２のウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路１５の中のシンク検出回路２３の構成を示す図である。
【図４】次世代光ディスク規格の書き換え型ディスクのウォブルアドレスコーディングの符号構成を示す図である。
【図５】本実施形態のシンク検出の動作における位相相関値の処理の例を示す図である。
【符号の説明】
【００６６】
Ｄ…光ディスク、１…システム制御部、１５…ウォブルＰＬＬ・アドレス抽出回路、２１…プッシュプル信号生成回路、２２…ウォブルクロック再生回路、２３…シンク検出回路、２４…アドレス抽出回路、４１…位相検波器、４２…シフトレジスタ、４３〜５７…加算器、５８…ＡＮＤ回路、５９…ピークホールド回路、６０…エッジレベル判定回路、６１…ゲート回路、６２…フライホイール補間回路、６３…信頼性評価回路、１００…光ディスク装置。
【図１】
2005166112.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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