(57)【要約】【課題】差動プッシュプル方式を採用した光ピックアップにおいて、グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つのビームを的確に調整する。【解決手段】第１段階の調整において、３つのビームが同一トラックの中心線上に位置するようにグレーティング３３の回転位置が調整される。第２段階の調整において、光ディスクＤＫに形成される先行および後行サブスポットが光ディスクＤＫに形成される中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずらした位置に形成されるように、グレーティング３３の回転位置が調整される。その後に、受光素子３９ａ，３９ｃからの受光信号Ｆ２、（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）に同一パターンが含まれることの検出により、前記３つの光スポットの配置が正しいか検査される。【選択図】  図１
2005056456.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つのビームを用いて、差動プッシュプル方式により、メインビームを光ディスクのトラックに追従させる光ピックアップの検査方法であって、
先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子であって、同受光素子をトラック方向に沿った分割線によって２分割した一方の側による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出することにより、
前記先行サブビームおよび後行サブビームによって光ディスクに形成される先行サブスポットおよび後行サブスポットが前記メインビームによって光ディスクに形成される中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかを検査するようにしたことを特徴とする光ピックアップの検査方法。
【請求項２】
グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つのビームを用いて、差動プッシュプル方式により、メインビームを光ディスクのトラックに追従させる光ピックアップの検査装置であって、
先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子であって、同受光素子をトラック方向に沿った分割線によって２分割した一方の側による受光信号を入力するサブビーム用受光信号入力手段と、
メインビーム用受光素子による受光信号を入力するメインビーム用受光信号入力手段と、
前記サブビーム用受光信号入力手段およびメインビーム用受光信号入力手段によりそれぞれ入力された両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出する同一パターン検出手段とを設け、
前記同一パターン検出手段よる検出結果に応じて、前記先行サブビームおよび後行サブビームによって光ディスクに形成される先行サブスポットおよび後行サブスポットが前記メインビームによって光ディスクに形成される中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかを検査するようにしたことを特徴とする光ピックアップの検査装置。
【請求項３】
グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つのビームを用いて、差動プッシュプル方式により、メインビームを光ディスクのトラックに追従させるようにした光ピックアップの調整方法において、
前記３つのビームが同一トラックの中心線上に位置するように前記グレーティングの回転位置を調整する第１調整ステップと、
前記第１調整ステップ後、前記先行サブビームおよび後行サブビームによって光ディスクに形成される先行サブスポットおよび後行サブスポットが前記メインビームによって光ディスクに形成される中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずらした位置に形成されるように前記グレーティングの回転位置を調整する第２調整ステップと、
前記第２調整ステップ後、前記先行サブスポットおよび後行サブスポットが前記中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかを検査する検査ステップとからなることを特徴とする光ピックアップの調整方法。
【請求項４】
前記第１調整ステップは、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出することにより、前記３つのビームが同一トラックの中心線上に位置するかを検査することを含む請求項３に記載した光ピックアップの調整方法。
【請求項５】
前記第２調整ステップは、トラッキングサーボをかけない状態で、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中の両低周波数域成分の位相が互いに１８０度ずれていることを検出することにより、前記先行サブスポットおよび後行サブスポットが前記中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずらした位置に形成されているかを検査することを含む請求項３または４に記載した光ピックアップの調整方法。
【請求項６】
前記第２調整ステップ後の検査ステップは、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子であって、同受光素子をトラック方向に沿った分割線によって２分割した一方の側による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出するものである請求項３ないし５のうちのいずれか一つに記載した光ピックアップの調整方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ビームを光ディスクのトラックに追従させるためのトラッキングエラー信号の検出に差動プッシュプル方式（ＤＰＰ方式）を用いた光ピックアップの検査方法、検査装置および調整方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクに光ビームを照射し、光ディスクに情報を記録しまたは同光ディスクから情報を再生する際には、光ディスク上に形成される光スポットが光ディスクのトラックを追従するように制御する必要がある。この制御のためには、光ディスクからの反射光の光量を検出して、光スポットのトラックからのずれ量をトラッキングエラー信号として検出することが行われている。このトラッキングエラー信号の検出方法としては、３ビーム方式やプッシュプル方式があるが、これらの方式はディスクの傾き、対物レンズのシフトなどによりオフセットが生じるという欠点がある。この欠点を解消した方式としてＤＰＰ方式がある。
【０００３】
この方式は、図７に示すように、レーザ光源１１、コリメートレンズ１２、偏光ビームスプリッタ１３、対物レンズ１４、シリンドリカルレンズ１５及びフォトディテクタ１６からなる光ピックアップにグレーティング（回折格子）１７を組み込み、光ディスクＤＫ上に３つの光スポットＳＰ１，ＳＰ２，ＳＰ３を形成する。この場合、図８に示すように、メインスポットＳＰ１に対して、先行サブスポットＳＰ２および後行サブスポットＳＰ３はトラックピッチの１／２だけ互いに反対方向にずれて位置している。なお、本明細書では、前記図８および他の図においても、光ディスクＤＫのトラック部分には模様を施し、各トラックの間のランド部分は白地のままに残して示している。
【０００４】
フォトディテクタ１６は、メインビーム用受光素子１６ａ、先行サブビーム用受光素子１６ｂおよび後行サブビーム用受光素子１６ｃからなる。メインビーム用受光素子１６ａはトラック方向とラジアル方向とに沿った２つの分割線によって４分割されていて、分割素子ごとに受光量Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに比例した信号を出力する。先行サブビーム用受光素子１６ｂおよび後行サブビーム用受光素子１６ｃは、トラック方向に沿った分割線によってそれぞれ２分割されていて、分割素子ごとに受光量Ｅ１，Ｅ２および受光量Ｆ１，Ｆ２に比例した信号をそれぞれ出力する。そして、これらの信号は演算回路１０にて導かれ、同演算回路１０は下記数１に従った演算によりトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
【０００５】
【数１】
ＴＥ＝｛（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）｝−Ｋ・｛（Ｅ１＋Ｆ１）−（Ｅ２＋Ｆ２）｝
【０００６】
ただし、係数Ｋは、サブスポットＳＰ２，ＳＰ３の加算出力のゲインとメインスポットＳＰ１のゲインを等しくするためのものである。この方式は、ディスクＤＫの傾き、レンズのシフトなどによって生じる各受光素子１６ａ〜１６ｃの受光アンバランスが、すべての受光素子１６ａ〜１６ｃにおいて同相で生じるために、オフセットは前記数１の演算により除去される。
【０００７】
この方式において、グレーティング１７を光ビームの軸線回りに回転させることにより、２つのサブスポットＳＰ２，ＳＰ３をメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対方向にずらすように位置させる必要がある。この調整は、通常、次の２段階で行われる。第１段階の調整においては、グレーティング１７の回転角度を調整して、メインスポットＳＰ１のサム信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）と、サブスポットＳＰ２（またはＳＰ３）のサム信号（Ｅ１＋Ｅ２）（または（Ｆ１＋Ｆ２））に時間差をもって同一の信号パターンが生ずるようにすることで、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が同一トラックの中心線上に位置するようにする。第２段階の調整においては、グレーティング１７を光軸回りの一方向に所定角度だけ回転し、メインスポットのサム信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）と、サブスポットＳＰ２（またはＳＰ３）のサム信号（Ｅ１＋Ｅ２）（または（Ｆ１＋Ｆ２））との位相差が１８０度になるようにすることで、２つのサブスポットＳＰ２，ＳＰ３をメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対方向にずらす。（特許文献１参照）
【０００８】
【特許文献１】
特開２００１−５２３５５号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
上記調整においては、通常、図９（Ａ）のように、光ディスクＤＫを上から見て、先行サブスポットＳＰ２がメインスポットＳＰ１の右側に位置するようにグレーティング１７は回転される。しかし、作業者が誤ってグレーティング１７を反対方向に回転させて、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図９（Ｂ）のように位置していても、メインスポットのサム信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）と、サブスポットＳＰ２（またはＳＰ３）のサム信号（Ｅ１＋Ｅ２）（または（Ｆ１＋Ｆ２））との位相差は、正規位置と同様、１８０度になっている。したがって、この誤りに気が付かず、グレーティングを誤って組み付けた状態の光ピックアップがそのまま出荷されてしまうことがあった。
【００１０】
【発明の概略】
本発明は上記問題に対処するためになされたもので、その目的は、グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つのビームを用いて、差動プッシュプル方式により、メインビームを光ディスクのトラックに追従させる光ピックアップに関し、先行および後行サブビームによる先行および後行サブスポットをメインビームによる中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずらした際、先行および後行サブスポットが正規位置であるか、反対位置であるかを簡単に検査することが可能な検査方法および検査装置を提供することにある。また、先行および後行サブスポットが中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずれるようにグレーティングを調整するための光ピックアップの調整方法を提供することにもある。
【００１１】
前記目的を達成するために、本発明の光ピックアップの検査方法の特徴は、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子であって、同受光素子をトラック方向に沿った分割線によって２分割した一方の側による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出することにより、先行サブビームおよび後行サブビームによって光ディスクに形成される先行サブスポットおよび後行サブスポットがメインビームによって光ディスクに形成される中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかを検査するようにしたことにある。
【００１２】
また、本発明の光ピックアップの検査装置においては、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子であって、同受光素子をトラック方向に沿った分割線によって２分割した一方の側による受光信号を入力するサブビーム用受光信号入力手段と、メインビーム用受光素子による受光信号を入力するメインビーム用受光信号入力手段と、サブビーム用受光信号入力手段およびメインビーム用受光信号入力手段によりそれぞれ入力された両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出する同一パターン検出手段とを設け、同一パターン検出手段よる検出結果に応じて、先行サブビームおよび後行サブビームによって光ディスクに形成される先行サブスポットおよび後行サブスポットがメインビームによって光ディスクに形成される中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかを検査するようにしたことにある。
【００１３】
前記同一パターンの信号の存在を検出するための所定時間は、例えば、先行サブスポットまたは後行サブスポットのうちの一方のスポットと、メインスポットとの間の距離と、前記２つの光スポットの光ディスクに対する相対速度とにより規定される時間である。
【００１４】
前記のような差動プッシュプル方式によりメインビームをトラックに追従させる光ピックアップにおいては、すなわち先行サブビームおよび後行サブビームにによる先行サブスポットおよび後行サブスポットがメインビームによる中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対方向にずれている場合、先行および後行サブビーム用受光素子においてトラック方向に沿った分割線によって２分割した各２つの受光素子部分のうちで、メインビーム用受光素子側の受光素子部分は、メインビーム用受光素子と同一トラックによる反射光を受光する。そして、図６（Ａ）に示すように、メインスポットＳＰ１、先行および後行サブスポットＳＰ２，ＳＰ３が正規位置に配列されている場合には、先行サブビーム用受光素子３９ｂの図示左側部分による受光信号Ｅ１と、メインビーム用受光素子３９ａによる受光信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）との両受光信号中には、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在する。また、メインビーム用受光素子３９ａによる受光信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）と、後行サブビーム用受光素子３９ｃの図示右側部分による受光信号Ｆ２との両受光信号中にも、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在する。そして、前記構成の方法および装置に関する本発明によれば、この同一パターンの存在により、先行および後行サブスポットがメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかが検査されるので、先行および後行サブスポットとメインスポットとの正規の配置が簡単かつ確実に検査でき、グレーティングが誤って組み付けられた光ピックアップを出荷してしまうことを防止できる。
【００１５】
また、本発明の他の特徴に係る光ピックアップの調整方法は、３つのビームが同一トラックの中心線上に位置するようにグレーティングの回転位置を調整する第１調整ステップと、第１調整ステップ後、先行サブビームおよび後行サブビームによって光ディスクに形成される先行サブスポットおよび後行サブスポットがメインビームによって光ディスクに形成される中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずらした位置に形成されるようにグレーティングの回転位置を調整する第２調整ステップと、第２調整ステップ後、先行サブスポットおよび後行サブスポットが中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかを検査する検査ステップとを備えたことにある。
【００１６】
この場合、第１調整ステップは、例えば、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出することにより、前記３つのビームが同一トラックの中心線上に位置するかを検査することを含む。また、第２調整ステップは、例えば、トラッキングサーボをかけない状態で、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中の両低周波数域成分の位相が互いに１８０度ずれていることを検出することにより、先行サブスポットおよび後行サブスポットが中央のメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずらした位置に形成されているかを検査することを含む。さらに、第２調整ステップ後の検査ステップは、例えば、先行サブビーム用受光素子および後行サブビーム用受光素子のうちのいずれか一方の受光素子であって、同受光素子をトラック方向に沿った分割線によって２分割した一方の側による受光信号と、メインビーム用受光素子による受光信号との両受光信号中に、所定時間だけ隔てて同一パターンの信号がそれぞれ存在することを検出するものである。
【００１７】
これらの同一パターンの信号の存在を検出するための所定時間は、例えば、先行サブスポットまたは後行サブスポットのうちの一方のスポットと、メインスポットとの間の距離と、前記２つの光スポットの光ディスクに対する相対速度とにより規定される時間である。
【００１８】
これによっても、前記本発明の特徴の場合と同様に、光ピックアップのグレーティングは、先行および後行サブスポットがメインスポットに対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されるように確実に調整されるので、グレーティングが誤って組み付けられた光ピックアップを出荷してしまうことを防止できる。
【００１９】
【実施の形態】
以下、本発明の一実施形態について図面を用いて説明すると、図１は、同実施形態に係る光ピックアップの調整および検査装置の全体を概略的に示す概略ブロック図である。
【００２０】
この調整および検査装置は、エンコーダ２１ａを内蔵したスピンドルモータ２１を備えている。スピンドルモータ２１は、スピンドルモータ制御回路２２によって駆動制御されて、光ディスクＤＫが組み付けられる支持テーブル２３を回転駆動する。エンコーダ２１ａは、スピンドルモータ２１の回転すなわち支持テーブル２３（光ディスクＤＫ）の回転を検出して、同モータ２１の回転を表す回転検出信号をスピンドルモータ制御回路２２に供給する。回転検出信号は、支持テーブル２３（光ディスクＤＫ）の回転位置が基準回転位置に来るごとに発生されるインデックス信号ＩＮＤＥＸと、互いにπ／２だけ位相がずれていて所定の微小な回転角度ずつハイレベルとローレベルとを繰返すパルス列信号φＡ，φＢとからなる。
【００２１】
また、このスピンドルモータ２１は、エンコーダ２１ａ及び支持テーブル２３と共に、フィードモータ２４、スクリューロッド２５および支持部材２６からなるフィード機構により光ディスクＤＫの径方向に駆動される。フィードモータ２４は、フィードモータ制御回路２７によって回転制御されて、スクリューロッド２５を回転させる。スクリューロッド２５は、支持部材２６に固着されているナット（図示しない）に螺合されている。これらスクリューロッド２５、支持部材２６およびナットは、ねじ機構を構成するものである。フィードモータ２４の回転により、支持部材２６は、スピンドルモータ２１などと共にスクリューロッド２５の軸線方向すなわち光ディスクＤＫの径方向に変位する。
【００２２】
フィードモータ２４にも、前述したエンコーダ２１ａと同様なエンコーダ２４ａが内蔵されている。このエンコーダ２４ａも、フィードモータ２４の回転を表す回転検出信号を同モータ２４の回転を制御するためのフィードモータ制御回路２７に供給する。この回転検出信号も、前記エンコーダ２１ａの回転検出信号と同様に、インデックス信号ＩＮＤＥＸおよびパルス列信号φＡ，φＢからなる。
【００２３】
ここで、この検査装置に組み付けられる検査対象となる光ピックアップ３０について説明しておく。光ピックアップ３０は、ＣＤ，ＤＶＤなどの記録可能な光ディスクＤＫにデータを記録するとともに、同光ディスクＤＫに記録されたデータを再生するものである。光ピックアップ３０は、レーザ光源３１、コリメートレンズ３２、グレーティング（回折格子）３３、偏光ビームスプリッタ３４、１／４波長板３５、対物レンズ３６、集光レンズ３７、シリンドリカルレンズ３８及びフォトディテクタ３９を備えている。そして、この光ピックアップ３０においては、レーザ光源３１からのレーザ光を、コリメートレンズ３２、グレーティング３３、偏光ビームスプリッタ３４、１／４波長板３５及び対物レンズ３６を介して光ディスクＤＫに照射し、同光ディスクＤＫからの反射光を、対物レンズ３６、１／４波長板３５、偏光ビームスプリッタ３４、集光レンズ３７及びシリンドリカルレンズ３８を介してフォトディテクタ３９で受光して、光ディスクＤＫの信号記録状態を表す受光信号を出力するようになっている。
【００２４】
この場合、グレーティング３３は、レーザ光源３１から放射されてコリメートレンズによって平行光に変換された１つの光ビームを入射して回折により３つの光ビームを出射する。これらの３つの光ビームは光ディスクＤＫのトラック方向に一列に配置されるもので、以降、光ディスクＤＫの回転方向に沿って順に、先行サブビーム、メインビームおよび後行サブビームとそれぞれいう。フォトディテクタ３９は、メインビーム用受光素子３９ａ、先行サブビーム用受光素子３９ｂおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃからなり、各受光素子３９ａ，３９ｂ，３９ｃはメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームによる光ディスクＤＫからの反射光をそれぞれ受光して、受光量に比例した大きさの電圧信号を出力する。メインビーム用受光素子３９ａはトラック方向およびラジアル方向に沿った２本の分割線によって４分割されていて、同４分割された各受光素子は各受光量に比例した電圧信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄをそれぞれ出力する。先行サブビーム用受光素子３９ｂおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃはトラック方向に沿った１本の分割線によって２分割されていて、同２分割された各受光素子は各受光量に比例した電圧信号Ｅ１，Ｅ２およびＦ１，Ｆ２をそれぞれ出力する。
【００２５】
レーザ光源３１には、レーザ光源３１の作動および停止を制御するためのレーザ駆動回路４１が接続されている。メインビーム用受光素子３９ａの４分割された各受光素子出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、フォーカスエラー信号生成回路４２に供給される。フォーカスエラー信号生成回路４２は、非点収差法などによりフォーカスエラー信号を生成して、同エラー信号をフォーカスサーボ回路４３に供給する。フォーカスサーボ回路４３は、このフォーカスエラー信号をドライブ回路４４に供給して、対物レンズ３６を光軸方向に駆動するためのフォーカスアクチュエータ３６ａをフォーカスサーボ制御する。これにより、レーザ光の焦点が光ディスクＤＫの記録層に追従するように制御される。
【００２６】
メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃは、再生信号観測装置５０に接続されている。再生信号観測装置５０は、図２に示すように、メインビーム用受光素子３９ａに接続された再生信号生成回路５１、２値化回路５２、フレーム信号検出回路５３、遅延回路５４、ゲート信号発生回路５５およびカウント回路５６を備えている。再生信号生成回路５１は、メインビーム用受光素子３９ａからの受光信号を再生信号として増幅して出力する。ただし、再生信号生成回路５１は、メインビーム用受光素子３９ａの４分割された各受光素子の出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを全て加算して、同加算結果を再生信号（いわゆる、サム信号ＳＵＭ）として出力する。２値化回路５２は、再生信号生成回路５１からの再生信号を２値化すなわちディジタル化する。ディジタル化した信号は、例えばＣＤの場合には３Ｔ〜１１Ｔ、ＤＶＤの場合には３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔの信号長からなる信号である。なお、Ｔは単位パルスの時間幅を表すもので、光ディスクＤＫにおける光スポットの相対速度で決まる定数である。
【００２７】
フレーム信号検出回路５３は、基準クロック信号を用意していて、入力したディジタル化された受光信号（図３（Ａ）参照）においてハイレベル信号とそれに続くローレベル信号との合計時間をそれぞれ計算する。そして、この計算した合計時間が設定時間内にあるハイレベル信号とそれに続くローレベル信号との組み合わせをフレーム信号として検出し、このフレーム信号の検出時に検出パルス信号（図３（Ｂ）参照）をそれぞれ出力する。この場合、前記設定時間は、コンピュータ装置８０から供給されるもので、例えばＣＤの場合には１９Ｔ以上に設定されている。
【００２８】
遅延回路５４も、内部に基準クロック信号を用意していて、フレーム信号検出回路５３からの検出パルス信号を設定時間Ｔｂだけ遅延してゲート信号発生回路５５に出力する（図３（Ｃ）参照）。この設定時間Ｔｂは、例えばＣＤの場合には下記数２によって計算されるもので、コンピュータ装置８０から供給される。
【００２９】
【数２】
Ｔｂ＝Ｔａ−（２２Ｔ＋ΔＴ）
【００３０】
ただし、数２中のＴａは、トラック上の同一位置がメインビームで照射されてから後行サブビームで照射されるまでの時間であり、光ディスクＤＫ上に形成されるメインスポットＳＰ１と後行サブスポットＳＰ３との距離をＬとするとともに、各光スポットの光ディスクＤＫに対する線速度をＳとすると、下記数３によって計算される。なお、ΔＴは所定の誤差許容値である。
【００３１】
【数３】
Ｔａ＝Ｌ／Ｓ
【００３２】
ゲート信号発生回路５５も、基準クロック信号を用意していて、遅延回路５４から供給された検出パルスからゲート時間Ｔｇにわたってハイレベルとなるゲート信号を出力する。この場合、ゲート時間Ｔｇは、前記数２で用いた時間値（２２Ｔ＋ΔＴ）よりも若干大きな値に設定されるもので、コンピュータ装置８０から供給される。これにより、後行ビーム用受光素子３９ｃによる受光信号に多少の誤差が含まれていても、前記数２および時間値（２２Ｔ＋ΔＴ）により規定されるゲート信号の発生中に、後行ビーム用受光素子３９ｃによる受光信号中から前記フレーム信号が高い確率で検出され得る。カウント回路５６は、前記ゲート信号のハイレベルからローレベルへの変化をカウントする。
【００３３】
また、再生信号観測装置５０は、後行サブビーム用受光素子３９ｃに接続された加算回路６１、セレクト回路６２、再生信号生成回路６３、２値化回路６４、フレーム信号検出回路６５およびカウント回路６６を備えている。加算回路６１は、後行サブビーム用受光素子３９ｃの２分割された各受光素子出力Ｆ１，Ｆ２を加算して出力する。セレクト回路６２は、加算回路６１からの加算信号Ｆ１＋Ｆ２と、後行サブビーム用受光素子３９ｃの２分割された一方の受光素子からの信号Ｆ２とを入力するもので、コンピュータ装置８０により制御されて、信号Ｆ１＋Ｆ２または信号Ｆ２を選択的に出力する。
【００３４】
再生信号生成回路６３は、セレクト回路６２からの信号を再生信号として増幅して出力する。２値化回路６４およびフレーム信号検出回路６５は、前述した２値化回路５２およびフレーム信号検出回路５３と同様に動作する。ただし、フレーム信号検出回路６５は、ゲート信号発生回路５５からのハイレベルのゲート信号（図３（Ｄ）参照）が出力されているときにのみ、前記検出パルス信号を出力する。カウント回路６６はフレーム信号検出回路６５からの検出パルス信号をカウントする。
【００３５】
カウント回路５６およびカウント回路６６には、カウント終了信号発生回路７１が接続されている。カウント終了信号発生回路７１は、カウント回路５６から供給されるカウント値が設定値になったことを検出すると、カウント回路５６およびカウント回路６６をリセットするとともにカウント動作を停止させる。この設定値は、入力装置８１を用いてユーザによってコンピュータ装置８０に入力されるもので、同入力された設定値がコンピュータ装置８０からカウント終了信号発生回路７１に供給される。
【００３６】
また、カウント終了信号発生回路７１は、カウント回路５６からのカウント値が設定値になったことの検出に応答して、演算回路７２に演算指令を出力する。
演算回路７２は、前記設定値に対するカウント回路６６からのカウント値の比を計算してコンピュータ装置８０に出力する。なお、前記設定値は、カウント終了信号発生回路７１と同様に、コンピュータ装置８０から供給される。また、演算回路７２は、前記計算した比をコンピュータ装置８０に出力した後に、計算終了信号をカウント開始信号発生回路７３に供給する。カウント開始信号発生回路７３は、コンピュータ装置８０にも接続され、観測開始時にコンピュータ装置８０によって指示されて、カウント回路５６，６６のカウント動作の開始を制御するとともに、演算回路７２からの計算終了信号の入力時にも、カウント回路５６，６６のカウント動作の再開を制御する。
【００３７】
また、再生信号観測装置５０は、ローパスフィルタ５７，６７および位相計７４も備えている。ローパスフィルタ５７，６７は、再生信号生成回路５１，６３にそれぞれ接続されていて、両回路５１，６３からの各出力信号をローパスフィルタ処理して位相計７４に出力する。これらのローパスフィルタ５７，６７のカットオフ周波数は、例えば、８．２ＫＨｚ程度に設定されている。位相計７４は、ローパスフィルタ５７，６７によってローパスフィルタ処理された２信号間の位相を計算して表示する。この位相計７４もコンピュータ装置８０に接続されていて、コンピュータ装置８０から指示信号を入力するとともに計算結果をコンピュータ装置８０に出力する。
【００３８】
コンピュータ装置８０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭなど、またはＦＰＧＡ，ＰＬＤなどのゲートアレイからなり、図示しないプログラムを実行することにより、光ピックアップ３０から光ディスクＤＫへ照射される３つの光ビームが光ディスクＤＫの所定位置を照射しているかの判定動作を制御する。また、コンピュータ装置８０は、前述したスピンドルモータ制御回路２２、フィードモータ制御回路２７およびレーザ駆動回路４１にも、それらの制御のために接続されている。
このコンピュータ装置８０には、ユーザによって操作されて情報を入力するための入力装置８１が接続されるとともに、前記演算結果、判定結果などを表示するための表示装置８２も接続されている。
【００３９】
上記のように構成した実施形態の動作を説明する。まず、図示しない電源スイッチの投入により、コンピュータ装置８０を含む検査装置の各種回路の作動を開始させる。そして、作業者は、入力装置８１を操作することにより、フレーム信号検出回路５３，６５で検出されるフレーム信号を表す情報、カウント終了信号発生回路７１で利用されるカウント設定値、その他の設定値に必要な情報をコンピュータ装置８０に入力する。コンピュータ装置８０は、これらの入力情報に基づく演算の実行により、各種設定値をフレーム信号検出回路５３，６５、遅延回路５４、ゲート信号発生回路５５、カウント終了信号発生回路７１および演算回路７２に出力する。
【００４０】
そして、調整および検査対象である光ピックアップ３０を検査装置に組み付ける。この光ピックアップ３０は、３つの光ビームが光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に位置するように、グレーティング３３の回転角を調整したものである。なお、検査に利用されるＣＤ，ＤＶＤなどの予めデータの記録された光ディスクＤＫも支持テーブル２３にセットされる。次に、入力装置８１を操作することにより、この検査装置による光ピックアップ３０の第１段階の調整および検査開始を指示する。この指示に応答して、コンピュータ装置８０は、この調整および検査のために光ビームが照射される光ディスクＤＫの径方向位置を表す情報をフィードモータ制御回路２７に出力する。フィードモータ制御回路２７は、エンコーダ２４ａから入力される回転検出信号を用いてフィードモータ２４の回転を制御して、光ビームが前記入力した径方向位置に照射されるように、光ディスクＤＫをその径方向に移動する。また、コンピュータ装置８０は、セレクト回路６２にも指示信号を出力して、セレクト回路６２が加算回路６１からの信号Ｆ１＋Ｆ２を選択出力するようにする。
【００４１】
次に、コンピュータ装置８０は、前記光ディスクＤＫの径方向位置において光スポットを予め決められた基準となる線速度で相対移動させるための光ディスクＤＫの回転速度を表す情報を、スピンドルモータ制御回路２２に出力する。スピンドルモータ制御回路２２は、エンコーダ２１ａから入力される回転検出信号を用いてスピンドルモータ２１の回転を制御して、光ディスクＤＫを前記回転速度で回転させる。
【００４２】
次に、コンピュータ装置８０は、レーザ駆動回路４１にレーザ光源３１の作動開始信号を出力する。レーザ駆動回路４１は、これに応答してレーザ光源３１を作動させるので、レーザ光源３１はレーザ光を放射し始める。このレーザ光の放射開始により、光ディスクＤＫ上には先行サブビーム、メインビームおよび後行サブビームからなる３つの光ビームが照射されて、３つの光スポットが形成される。この場合、３つの光スポットはほぼ同一トラックの中心線上に存在するように配置されている。これらの３つの光スポットからの反射光は、メインビーム用受光素子３９ａ、先行サブビーム用受光素子３９ｂおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃでそれぞれ受光される。
【００４３】
メインビーム用受光素子３９ａは４分割されており、フォーカスエラー信号生成回路４２はこの４分割された各受光素子による受光信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、フォーカスサーボ回路４３、ドライブ回路４４およびフォーカスアクチュエータ３６ａとの協働により対物レンズ３６をフォーカスサーボ制御する。一方、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃによる受光信号は、再生信号観測装置５０に供給される。また、再生信号観測装置５０も、コンピュータ装置８０からの始動指示信号を受けて、作動を開始し始める。具体的には、カウント開始信号発生回路７３への始動指示信号の供給により、カウント回路５６，６６はカウント動作を「０」から開始し始める。
【００４４】
メインビーム用受光素子３９ａからの受光信号が再生信号観測装置５０に供給されると、同受光信号は２値化回路５２にてディジタル化されて、フレーム信号検出回路５３に供給される（図３（Ａ）参照）。そして、フレーム信号検出回路５３は、ディジタル化された受光信号中に含まれている所定のフレーム信号（例えば、ハイレベルとローレベルの合計時間が１９Ｔ以上の信号）を検出して、検出時に検出パルス信号（図３（Ｂ）参照）を出力する。この検出パルス信号は、遅延回路５４によって所定時間Ｔｂだけ遅延されてゲート信号発生回路５５に供給されて、ゲート信号発生回路５５は所定時間Ｔｇだけハイレベルとなるゲート信号を出力する（図３（Ｄ）参照）。このゲート信号はカウント回路５６に供給されて、カウント回路５６はゲート信号のハイレベルからローレベルへの変化タイミングでカウント値を「１」だけカウントアップする。
【００４５】
また、前記ゲート信号はフレーム信号検出回路６５にも供給される。このフレーム信号検出回路６５には、後行サブビーム用受光素子３９ｃからの受光信号Ｆ１，Ｆ２が加算回路６１にて加算され、セレクト回路６２、再生信号生成回路６３および２値化回路６４を介して供給されている（図３（Ｅ）参照）。そして、フレーム信号検出回路６５は、ゲート信号がハイレベルであることを条件に、前記した所定のフレーム信号を検出して、検出時に検出パルス信号をカウント回路６６に供給する（図３（Ｆ）参照）。カウント回路６６は、この検出パルス信号に応答して、カウント値を「１」だけカウントアップする。この場合、ゲート信号は、メインビームおよび後行サブビームによって光ディスクＤＫに形成される光スポット間の距離に加えて、これらのビームの光ディスクＤＫに対する線速度を考慮して形成されているもので、フレーム信号検出回路６５によって検出されるフレーム信号は、基本的には前記フレーム検出回路５３で検出されたフレーム信号と同じ光ディスクＤＫ上のパターンに基づくものである。
【００４６】
そして、所定のフレーム信号がフレーム信号検出回路５３，６５によって検出されるごとに、カウント回路５６，６６はそれらのカウント値を「１」ずつ増加させる。そして、カウント回路５６によるカウント値が設定値に達すると、カウント終了信号発生回路７１がこれを検出し、演算回路７２に演算指示信号を出力する。演算回路７２は、カウント回路６６にてカウントされているカウント値を前記設定値で除して、設定値（カウント回路５６によるカウント値に等しい）に対するカウント回路６６によるカウント値の比を計算してコンピュータ装置８０に供給する。
【００４７】
また、カウント終了信号発生回路７１がカウント回路５６によるカウント値が設定値に達したことを検出したとき、カウント回路５６，６６にそれぞれリセット信号を出力して、次のカウント動作の開始のための準備を行う。そして、前記比の計算の終了時に、演算回路７２はカウント開始信号発生回路７３に新たなカウントの開始を指示し、カウント開始信号発生回路７３がカウント回路５６，６６の新たなカウント動作の開始を制御する。したがって、前述したカウント回路５６，６６によるカウント動作および演算回路７２による演算動作が繰り返し行われて、コンピュータ装置８０に演算回路７２による演算結果が順次供給される。すなわち、メインビーム用受光素子３９ａによる受光信号に含まれる所定のフレーム信号の検出数に対する、後行サブビーム用受光素子３９ｃによる受光信号に含まれる所定のフレーム信号の検出数の比が、順次コンピュータ装置８０に供給される。
【００４８】
コンピュータ装置８０は、前記順次供給される比の値を所定の基準値と比較して、基準値より大きければ、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に形成されていると判定する。基準値より小さければ、３つの光スポットが光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に形成されていないと判定する。これらの判定結果および前記供給された比の値は、表示装置８２に表示される。
【００４９】
これにより、３つの光スポットが、図４（Ａ）に示すように、光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に形成されていると判定されれば、作業者は、第２段階の調整に即座に移行する。３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に形成されていると判定されなければ、作業者は、グレーティング３３を光軸回りに微少量だけ回転させて、前記検査をふたたび行う。
３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に形成されるまで、作業者は、この作業を繰り返し行って最終的に第２段階の調整に移行する。
【００５０】
この第２段階の調整においては、前記図４（Ａ）に示すように、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に形成されている状態から、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図４（Ｂ）に示す位置になるように、グレーティング３３を所定角度だけ所定方向に回転させる。すなわち、先行サブスポットＳＰ２がメインスポットＳＰ１に対して図示右側にトラックピッチの１／２だけずれ、かつメインスポットＳＰ１が後行サブスポットＳＰ３に対して図示右側にトラックピッチの１／２だけずれるようにする。
【００５１】
前記グレーティング３３の回転後、コンピュータ装置８０は、フィードモータ制御回路２７およびスピンドルモータ制御回路２２を制御して、前述の場合と同様に、光ディスクＤＫを径方向に移動させるとともに、光ディスクＤＫを線速度一定で回転させる。また、レーザ駆動回路４１も制御して、光ディスクＤＫ上に３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３を形成する。この場合も、対物レンズ３６ａは、フォーカスエラー信号生成回路４２、フォーカスサーボ回路４３およびドライブ回路４４により、メインビーム用受光素子３９ａからの受光信号に基づいてフォーカサーボ制御される。しかしながら、この場合も、対物レンズ３６ａはトラッキングサーボ制御されない。
【００５２】
このトラッキングサーボ制御の省略のために、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３はトラックを横切りながら光ディスクＤＫ上を移動する。そして、この第２段階の調整においては、この光スポットＳＰ１〜ＳＰ３がトラックを横切りながら光ディスクＤＫ上を移動する現象を積極的に利用している。すなわち、光スポットＳＰ１〜ＳＰ３がトラックを横切るために、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行ビーム用受光素子３９ｃによる受光信号の振幅は変化する。この場合、メインビーム用受光素子３９ａと後行ビーム用受光素子３９ｃがラジアル方向にトラックピッチの１／２だけずれていれば、図５（Ａ）（Ｂ）に示すように、両受光信号の振幅の変化は位相において１８０度だけずれるはずである。逆に言えば、両受光信号の振幅変化の位相ずれが１８０度であれば、ラジアル方向にトラックピッチの１／２だけずれていることになる。
【００５３】
このような第２段階の調整について具体的に説明すると、コンピュータ装置８０は、位相計７４に対して位相測定の指示を発し、位相計７４に両入力信号の位相差を表示させる。この場合、位相計７４には、再生信号生成回路５１，６３にて再生され、ローパスフィルタ５７，６７によってローパスフィルタ処理された信号が供給されている。すなわち、位相計７４には、図５（Ａ）（Ｂ）の振幅変化を表す２信号が供給されており、位相計７４はこれらの２信号の位相差を表示する。なお、位相計７４にて前記２信号の位相差を表示するのに代えて、コンピュータ装置８０が位相計７４から前記２信号の位相差を入力して表示装置８２に表示させるようにしてもよい。また、コンピュータ装置８０に前記２信号自体を入力して、同２信号の位相差を計算して表示するようにしてもよい。さらに、前記位相差に代えて、前記２信号の位相差が許容範囲内にあるか、すなわちメインビーム用受光素子３９ａと後行ビーム用受光素子３９ｃがラジアル方向にトラックピッチの１／２だけずれているかを判定して、同判定結果を表示装置８２に表示させるようにしてもよい。
【００５４】
２信号の位相差が許容範囲内にあれば、この第２段階の調整を一旦終了する。
一方、２信号の位相差が許容範囲内になければ、グレーティング３３の光軸回りの回転調整を再度行って、前述した第２段階の調整に対する検査を実行する。
【００５５】
このような検査の終了後、コンピュータ装置８０は、セレクト回路６２に対して切換え信号を発生して、後行ビーム用受光素子３９ｃの分割された一方の受光素子からの信号Ｆ２を再生信号生成回路６３に出力するようにセレクト回路６２を制御する。この場合、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図６（Ａ）に示すように正規に配列されていれば、再生信号生成回路６３に供給される信号は、前記第１段階の調整の場合と同様に、再生信号生成回路５１に供給される信号を遅延したものと同じである。ただし、この場合には、再生信号生成回路６３に供給される信号のレベルは、再生信号生成回路５１に供給される信号のレベルに比べて小さい。一方、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図６（Ｂ）に示すように正規と反対向きに配列されていれば、再生信号生成回路６３に供給される信号は、再生信号生成回路５１に供給される信号とは異なるもの（隣りのトラックの信号）となる。
【００５６】
次に、コンピュータ装置８０は、前記第１段階の調整の場合と同様に、フレーム信号検出回路５３，６５、遅延回路５４、ゲート信号発生回路５５、カウント終了信号発生回路７１、演算回路７２およびカウント開始信号発生回路７３を制御して、再生信号生成回路５１に入力される受光信号に含まれる所定のフレーム信号の検出数に対する、再生信号生成回路６３に入力される受光信号に含まれる所定のフレーム信号の検出数の比が、順次コンピュータ装置８０に供給される。そして、コンピュータ装置８０は、前記順次供給される比の値を所定の基準値と比較して、基準値より大きければ、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図６（Ａ）の正規の配列状態にあると判定する。基準値より小さければ、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図６（Ｂ）に示すように誤った配列状態にあると判定する。これらの判定結果および前記供給された比の値は、表示装置８２に表示される。ただし、この場合の基準値は、再生信号生成回路６３に入力される信号レベルが前記第１段階の調整の場合に比べて低く、ノイズの影響を受け易いので、同第１段階の調整の場合に比べて小さな値に設定されている。
【００５７】
これにより、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図６（Ａ）の正規の配列状態にあると判定されれば、作業者は、第２段階の調整を終了して、次の新たな光ディスクＤＫの調整に移行する。一方、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図６（Ｂ）の誤った配列状態にあると判定されれば、作業者は、グレーティング３３を光軸回りに前記とは逆方向に回転させて、前記第２段階の調整を初めからやり直す。
【００５８】
上記作動説明からも理解できるように、上記実施形態によれば、３つの光ビームが同一トラックの中心線上に位置するようにグレーティング３３の回転位置を調整し、その後に、先行および後行サブスポットＳＰ２，ＳＰ３がメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずらした位置に形成されるようにグレーティング３３の回転位置を調整し、この調整後に、先行および後行サブスポットＳＰ２，ＳＰ３がメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかを検査するようにした。したがって、グレーティング３３の組み付けが確実になり、グレーティング３３が誤って組み付けられた光ピックアップ３０を出荷してしまうことを防止できる。
【００５９】
また、上記実施形態によれば、同一パターンの存在により、先行および後行サブスポットＳＰ２，ＳＰ３がメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／２だけ互いに正しく反対側にずらした位置に形成されているかが検査されるので、先行および後行サブスポットＳＰ２，ＳＰ３とメインスポットＳＰ１との正規の配置が簡単かつ確実に検査できる。
【００６０】
また、この同一パターンの検出にあっては、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が同一トラックの中心線上にあるかの第１段階の調整の場合をも含めて、先行および後行する受光信号をそれぞれディジタル化し、これらのディジタル化された受光信号の中から規定パルス信号をそれぞれ検出して、これらの規定パルス信号の検出状況により、光ピックアップ３０から光ディスクＤＫへ照射される３つの光ビームが光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上にあるかを判定するので、トラッキングサーボをかけないために受光信号に多くのノイズ成分が含まれていても、ノイズ成分の影響を受けることなく、前記判定が高精度で行われる。
【００６１】
また、先行および後行する受光信号に対して所定時間にわたって規定パルスの検出回数をそれぞれ計数して、各計数結果を比較することにより、３つの光ビームが光ディスクＤＫの同一トラックを照射しているかを判定するようにしたので、所定時間を適当に設定することにより簡単かつ高精度で前記判定が行われる。
また、規定パルス信号として、ディジタル化されたパルス信号列のうちで隣り合うハイレベル信号とローレベル信号との合計パルス幅が所定の範囲内のパルス信号を採用したことにより、先行および後行する受光信号中のパルス信号の幅に多少の変動が生じても、検出精度の悪化を防止できる。
【００６２】
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００６３】
上記実施形態においては、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃによる両受光信号を用いて、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３の位置調整を検査するようにした。しかし、これに代えて、先行サブビーム用受光素子３９ｂおよびメインビーム用受光素子３９ａによる両受光信号を用いて、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３の位置調整を検査するようにしてもよい。この場合、加算回路６１およびセレクト回路６２を先行サブビーム用受光素子３９ｂ側に接続するとともに、先行サブビーム用受光素子３９ｂによる受光信号を加算回路６１およびセレクト回路６２を介して再生信号生成回路５１に導くとともに、メインビーム用受光素子３９ａによる受光信号を再生信号生成回路６３にそれぞれ導くようにすればよい。
【００６４】
また、上記実施形態においては、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃからの両受光信号中に特定の同一パターンの信号が含まれていることを検出するために、図２に示すような回路を用いたが、特定の同一パターンが含まれていることを検出できれば、どのような回路を用いてもよい。また、回路を用いて判定しなくも、例えば、ディジタルオシロスコープなどの機器に両受光信号を入力させて表示し、作業者が両受光信号の波形を観察することにより、両受光信号中に同一パターンの信号が含まれていることを検出するようにしてもよい。
【００６５】
また、上記実施形態では、第１および第２段階の調整における検査において、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃからの両受光信号中に特定の同一パターンの信号が含まれている比率を計算するとともに表示し、かつこの計算した比率が基準値を超えているかを判定して同判定結果も表示するようにした。しかし、前記比率を表示装置８２にて表示して、作業者が光ピックアップ３０の良否の判定をするようにしてもよい。また、前記比率を計算することもなく、所定時間にわたるメインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃにそれぞれ含まれる特定パターンの計数値を表示装置８２にてそれぞれ表示して、作業者が光ピックアップ３０の良否の判定をするようにしてもよい。
【００６６】
また、上記実施形態においては、光ピックアップ３０と光ディスクＤＫとの径方向相対位置を変化させるために、フィードモータ２４、スクリューロッド２５、支持部材２６などからなるフィード機構を用いてスピンドルモータ２１及び支持テーブル２３を移動させるようにした。しかし、これに代えて、光ピックアップ３０全体をフィード機構により光ディスクＤＫの径方向に移動させるようにして、光ピックアップ３０と光ディスクＤＫとの径方向相対位置を変化させるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ピックアップの調整および検査装置の全体を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１の再生信号観測装置の詳細ブロック図である。
【図３】前記再生信号観測装置の各部の信号波形図である。
【図４】（Ａ），（Ｂ）は３つの光スポットの位置を説明するための説明図である。
【図５】（Ａ），（Ｂ）は光スポットの調整時に利用される信号波形図である。
【図６】（Ａ）は３つの光スポットの正規の配列状態を示す図であり、（Ｂ）は３つの光スポットの誤った配列状態を示す図である。
【図７】ＤＰＰ方式の光ピックアップの一例を示す概略図である。
【図８】図７の光ピックアップのフォトディテクタからの受光信号の取出し回路を示すブロック図である。
【図９】（Ａ）は従来例における３つの光スポットの正規の配列状態を示す図であり、（Ｂ）は従来例における３つの光スポットの誤った配列状態を示す図である。
【符号の説明】
ＤＫ…光ディスク、２１…スピンドルモータ、２４…フィードモータ、３０…光ピックアップ、３１…レーザ光源、３３…グレーティング、３９…フォトディテクタ、５０…再生信号観測装置、５２，６４…２値化回路、５３，６５…フレーム信号検出回路、５６，６６…カウント回路、６１…加算回路、６２…セレクト回路、７２…演算回路、７４…位相計、８０…コンピュータ装置。
【図１】
2005056456.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2005056456.tif 000009
【図８】
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【図９】
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