(57)【要約】【課題】  オーバーライト時のトラック位置の大幅な位置ずれに基づくリード時のオフトラックによる測定誤差の発生を回避し、オーバーライト値を精度良く測定すること。【解決手段】  オーバーライトされた測定トラックの内外周間の複数の測定点で信号強度を検出して、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとを作成し、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから実効トラックの位置を推定し、実効トラックの位置と低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとから残留する低周波数信号の信号成分を算出し、残留する低周波数信号の信号成分と測定されたオーバーライトされる前の低周波数信号の信号成分との比率を算出してオーバーライト値を決定する。【選択図】  図２
2005056496.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク媒体のオーバーライト特性を測定する方法であって、
前記磁気ディスク媒体の測定トラックを消磁した後、該前記トラックに低周波数信号を書込み、オーバーライトされる前の該低周波数信号の信号成分を測定する測定工程と、
前記低周波数信号の信号成分が書込まれた前記測定トラックを高周波数信号によってオーバーライトした後、該オーバーライトされた測定トラックの内外周間の複数の測定点で信号強度を検出することによって、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと、前記低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとを作成する作成工程と、
前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから実効トラックの位置を推定し、該推定された実効トラックの位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程と
前記算出された残留する低周波数信号の信号成分と、前記測定されたオーバーライトされる前の低周波数信号の信号成分との比率を算出してオーバーライト値を決定するオーバーライト値決定工程と
を具えたことを特徴とするオーバーライト特性の測定方法。
【請求項２】
前記算出工程は、
前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから、前記低周波数信号と前記高周波数信号とによって構成される実効トラックのエッジに対応した記録ヘッドのヘッド位置を算出する工程と、
前記算出されたヘッド位置から、該実行トラックの中心位置を算出する工程と、
前記算出された実効トラックの中心位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程と
を含むことを特徴とする請求項１記載のオーバーライト特性の測定方法。
【請求項３】
前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルの所定の測定点での信号強度を基準値と比較することにより、前記低周波数信号に対応したトラック位置と前記高周波数信号に対応したトラック位置とのトラック方向へのずれ幅を評価する工程と、
前記トラック位置のトラック方向へのずれ幅が所定値を超える場合には、オーバーライト特性の測定を無効とする工程と
をさらに具えたことを特徴とする請求項１又は２記載のオーバーライト特性の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク媒体の評価方法に関するものであり、特に、リードライト試験におけるオーバーライト特性の評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスク装置は、高速回転する磁気ディスク媒体の同心円上のトラックに、浮上ヘッドによりディジタル情報を読み書きする大容量外部記憶装置である。ハードディスク装置は、磁気ディスク媒体へディジタル情報を書き込む方式として、事前に消去を行わないオーバーライト方式を採用している。
【０００３】
このオーバーライト方式は、古いデータを新しいデータで上書きするので、磁気ディスク媒体は、書き込み能力が高いことが重要である。そのため、磁気ディスク媒体のリードライト試験では、オーバーライト特性を定量的に評価している。
【０００４】
ここで、従来の一般的なオーバーライト特性の測定方法について説明する。  
まず、最初に測定トラック周辺を消磁(すなわち、ＤＣイレーズ)する。次に、低周波数（ＬＦ）信号（周波数１０ＭＨｚ〜数１０ＭＨｚの一定周波数の信号）を測定トラックにライトし、ＬＦ周波数の信号成分（マグニチュード）を測定する。さらに、高周波数（ＨＦ）信号（ＬＦ信号の数倍の周波数の信号）をそのトラックにオーバーライトし、残留するＬＦ周波数の信号成分を測定する。オーバーライト値としては、オーバーライト後の残留ＬＦ周波数の信号成分（Ｍ２）の、オーバーライト前のＬＦ周波数の信号成分（Ｍ１）に対する比率（Ｍ２／Ｍ１）として求めている。
【０００５】
なお、ここで、従来の測定方法によるＭ２の求め方について説明しておく。
まず、前提条件として、測定トラックには予めＬＦ信号が１周分ライト（書込み）されているとする。
【０００６】
次に、ヘッド９（後述する図１参照）を測定トラックの中心位置へ移動させる。そして、測定トラックにＨＦ信号を１周分ライトする。これにより、ＬＦ信号の上にＨＦ信号がオーバーライトされる。
【０００７】
次に、ヘッド９をライトリードオフセット分だけトラック方向にオフセットさせ、再生ヘッドの中心位置を測定トラックの中心位置に合わせる。これにより、測定トラックに記録された信号がヘッド９の再生ヘッドによって再生される。ここで、リードライトオフセットは、予め周知の方法によって測定しておく。
【０００８】
そして、再生信号のＬＦ周波数成分を測定し、この測定値をＭ２とする。
【０００９】
【特許文献１】特開平１０−３２０７０２号公報
【特許文献２】特開２００２−９３０８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところで、ハードディスク装置は、様々な基盤技術の進歩により年々性能が向上し、最近の機種は非常に厳しい設計仕様を満足している。例えば、トラック密度は６０ｋＴＰＩ程度にまで達している。これに伴い、記録再生用ヘッドのライト幅も極めて狭くなっている。
【００１１】
記録再生用ヘッドのライト幅の縮小は、該ヘッドを使用した磁気ディスク媒体のリードライト特性の測定を一段と困難にしている。これは、スピンスタンドのトラック方向の位置決め精度には限界があり、ライト幅が縮小すればする程、位置決め誤差の影響が増加するためであり、特に、オーバーライト特性の測定において深刻な問題となっている。すなわち、オーバーライト特性の測定では、オーバーライト時とオーバーライトした信号をリードする時の各々の時点でヘッドの位置決めが行われ、その位置で位置誤差が発生するためである。
【００１２】
図１４に示すように、オーバーライト時にヘッド位置がトラック方向(半径方向)Ｔにずれると、実際にオーバーライトされている領域Ｒ１のトラック方向Ｔの幅が狭くなる。また、オーバーライトされずに残った領域Ｒ２が生ずる。この領域Ｒ２のトラック方向の幅がライト幅に対して一定の割合を超えると、本領域からの信号の漏れが影響し、残留ＬＦ信号成分の測定に誤差が生じる。
【００１３】
図８、図９は、オーバーライト後のＬＦ信号成分のトラックプロファイルを示したものである。  
図８はＬＦ信号とＨＦ信号のトラック位置の位置ずれΔＴが小さい場合、図９はそのトラック位置の位置ずれΔＴが大きい場合である。１００は、ＬＦ信号のライト時の記録ヘッドの位置である。２００は、ＨＦ信号のライト時の記録ヘッドの位置である。３００は、ＬＦ信号とＨＦ信号のトラックの重なりによりできた実行トラックであり、１００の一端から２００の一端までのトラック幅を定義される。３１０は、実行トラック３００の中心位置である。
【００１４】
図８に示すようにずれが小さい場合、オフトラックプロファイルはほぼ台形型となる。しかし、図９に示すようにずれが大きくなると、オフトラックプロファイルはＬＦ信号のオーバーライトされていない領域付近でピークを持つ形状となる。さらに、実効トラック３００の中心における信号強度Ｍｂは、オーバーライトされずに残った領域からの信号の漏れにより、ずれが小さい場合の信号強度Ｍａに比べ増加し、不正確な値となる。
【００１５】
また、オーバーライトした信号をリードする時には、実効トラック３００の中心位置３１０に正確に再生ヘッドを位置決めすることが必要となる。
【００１６】
しかし、従来の測定方法では、スピンスタンドのトラック方向Ｔの位置決め誤差により、実効トラック３００の中心位置３１０からずれた位置でリードが行われ、これが残留ＬＦ信号成分の測定に誤差を生じさせていた。
【００１７】
すなわち、従来の測定方法では、まず、記録ヘッドを用いてオーバーライトする時に、トラック位置の位置ずれΔＴを無制限に許容していた点に問題がある。さらに、オーバーライトした信号を再生ヘッドを用いてリードする時に、実効トラック３００の中心位置３１０からずれた位置でリードすることを許容していた点にも問題がある。
【００１８】
そこで、本発明の目的は、オーバーライト時(重ね書込み時)のトラック位置の大幅な位置ずれに基づくリード時(再生時)のオフトラックによる測定誤差の発生を回避し、オーバーライト値を精度良く測定することが可能なオーバーライト特性の測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明は、磁気ディスク媒体のオーバーライト特性を測定する方法であって、前記磁気ディスク媒体の測定トラックを消磁した後、該前記トラックに低周波数信号を書込み、オーバーライトされる前の該低周波数信号の信号成分を測定する測定工程と、前記低周波数信号の信号成分が書込まれた前記測定トラックを高周波数信号によってオーバーライトした後、該オーバーライトされた測定トラックの内外周間の複数の測定点で信号強度を検出することによって、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと、前記低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとを作成する作成工程と、前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから実効トラックの位置を推定し、該推定された実効トラックの位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程と、前記算出された残留する低周波数信号の信号成分と、前記測定されたオーバーライトされる前の低周波数信号の信号成分との比率を算出してオーバーライト値を決定するオーバーライト値決定工程とを具えることによって、オーバーライト特性の測定方法を提供する。
【００２０】
前記算出工程は、前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから、前記低周波数信号と前記高周波数信号とによって構成される実効トラックのエッジに対応した記録ヘッドのヘッド位置を算出する工程と、前記算出されたヘッド位置から、該実行トラックの中心位置を算出する工程と、前記算出された実効トラックの中心位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程とを含んでもよい。
【００２１】
前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルの所定の測定点での信号強度を基準値と比較することにより、前記低周波数信号に対応したトラック位置と前記高周波数信号に対応したトラック位置とのトラック方向へのずれ幅を評価する工程と、前記トラック位置のトラック方向へのずれ幅が所定値を超える場合には、オーバーライト特性の測定を無効とする工程とをさらに具えてもよい。
【発明の効果】
【００２２】
以上発明したように、本発明によれば、オーバーライトされた測定トラックの内外周間の複数の測定点で信号強度を検出して、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとを作成し、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから実効トラックの位置を推定し、実効トラックの位置と低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとから残留する低周波数信号の信号成分を算出し、残留する低周波数信号の信号成分と測定されたオーバーライトされる前の低周波数信号の信号成分との比率を算出してオーバーライト値を決定するようにしたので、常に実効トラックの中心位置の残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイルを採用してオーバーライトの測定を行うことができ、これにより、リード時のオフトラックによる誤差の発生を回避でき、ライト幅の狭いヘッドを使用した場合でも、オーバーライト特性を精度良く測定することが可能となる。
【００２３】
また、本発明によれば、ＨＦ信号とＬＦ信号とのトラック位置の位置ずれ量が許容範囲内である場合にのみオーバーライト特性の測定を有効とするようにしたので、オーバーライト時のトラック位置の大幅な位置ずれに対応した測定誤差の発生を回避することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【実施例１】
【００２５】
(構成)
まず、本発明に係るオーバーライト特性の測定方法に用いられる、リードライト試験装置の構成について説明する。
【００２６】
図１は、オーバーライトの測定に使用されるリードライト試験装置９の構成例を示す。  リードライト試験装置１は、磁気ディスク媒体２を回転させるためのスピンスタンド３と、ライトデータ４ａを発生する信号発生器４、ライトデータ４ａに対応したライト電流５ａを発生しスピンスタンド３に入力するライトアンプ５と、スピンスタンド３から出力されたヘッド信号６ａを増幅するリードアンプ６と、スペクトラムアナライザ７と、オシロスコープ８とから構成される。
【００２７】
スピンスタンド３は、記録再生用のヘッド９を磁気ディスク媒体２上の任意のトラックに位置決めするための位置決め機構１０を備えている。
【００２８】
ヘッド９は、記録ヘッドとしてのインダクティブヘッドと、再生ヘッドとしてのＭＲ（Ｍａｇｎｅｔｏ  Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッド又はＧＭＲ（Ｇｉａｎｔ  Ｍａｇｎｅｔｏ  Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッドとによって構成される。なお、ヘッド９は、主に、記録素子と再生素子とが独立した複合型ヘッドが用いられるが、これに限るものではない。
【００２９】
(測定方法)
次に、オーバーライトの測定方法について説明する。  
図２は、オーバーライトの測定方法の測定手順を示したフローチャートである。  
まず、準備作業として測定する磁気ディスク媒体をスピンスタンド３にセットした後、これを一定の回転数で回転させ、ヘッド９の記録ヘッドを測定トラックに移動させる。
【００３０】
次に、実際の測定作業に移る。  
ステップＳ１では、測定トラックを含む周辺トラックを直流消磁(ＤＣイレーズ)する。
【００３１】
ステップＳ２では、ＬＦ信号（例えば周波数１０ＭＨｚの一定周波数の信号）を測定トラックに１周分ライトする。
【００３２】
ステップＳ３では、ＬＦ信号成分Ｍ１を測定する。このため、まず、ヘッド９の再生ヘッドを測定トラック上に移動させ、記録した信号を再生する。
【００３３】
この再生により、図４に示すような再生信号の波形がリードアンプ６から出力される。再生信号の波形は、周波数領域では図５に示すようなスペクトラムとなる。
【００３４】
スペクトラムは、１０ＭＨｚの基本周波数成分Ｈ１と、その奇数次の高調波成分Ｈ３、Ｈ５、Ｈ７．．．を含んでいる。このうち、１０ＭＨｚの基本周波数成分Ｈ１の強度（単位Ｖｏｌｔ）をスペクトラムアナライザ７で測定し、この測定値をＬＦ信号成分Ｍ１とする。
【００３５】
ステップＳ４では、ヘッド９の記録ヘッドを測定トラック上に移動させ、ＨＦ信号（例えば、周波数６０ＭＨｚの一定周波数の信号）をオーバーライトする。
【００３６】
ステップＳ５では、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと、残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイルとの取得を行う。
【００３７】
ここで、その取得手順について説明する。  
図６は、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイル２０を示す。図７は、残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０を示す。
【００３８】
まず、測定トラックから内周側に例えば０．４μｍ離れた位置に、ヘッド９の再生ヘッドを移動させる。そして、再生信号のピークｔｏピークの振幅をオシロスコープ８で測定し、その結果を記録する。さらに、１０ＭＨｚの基本周波数成分の信号強度をスペクトラムアナライザ７で測定し、その結果を記録する。また、現在のヘッド位置を記録する。
【００３９】
同様にして、ヘッド９をその現在のヘッド位置からトラック方向Ｔ（図１４参照）へ例えば０．０５μｍだけ外周へ移動させ、ＬＦ信号成分と振幅値とを測定し、それらの結果と現在のヘッド位置を記録する。
【００４０】
このような＜移動―測定―記録＞の一連の操作を、ヘッド９の再生ヘッドが測定トラックから外周側に０．４μｍだけ離れた位置に到達するまで繰り返して行う。
【００４１】
その結果、図６に示した振幅値のオフトラックプロファイル２０と、図７に示したＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０とが求まる。
【００４２】
取得した振幅値のオフトラックプロファイル２０は、振幅値データＡＭ（ｎ）（単位Ｖｏｌｔ）と、ヘッド位置データＰ（ｎ）（単位μｍ）とから構成される。ここで、ｎは、測定したヘッド位置に対応したインデクス番号である。
【００４３】
また、ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０は、信号強度データＬＦ（ｎ）  （単位Ｖｏｌｔ）と、ヘッド位置データＰ（ｎ）（単位μｍ）とから構成される。
【００４４】
図６からわかるように、振幅値のオフトラックプロファイル２０は、一般に釣鐘状となり、そのピークは測定トラックのほぼ中心にある。
【００４５】
ステップＳ６では、図７の残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０を解析する。ここでは、その残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０の形状を調べて、その結果から、ＬＦ信号のトラックとＨＦ信号のトラックとのずれ幅（図８、図９に示す位置ずれΔＴ）の大小を評価する。
【００４６】
その評価方法としては、図７に示すように、残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０におけるヘッド位置の測定点毎の信号強度値ＬＦ（ｎ）を、閾値Ｍｍａｘと比較する。この比較処理は、全ての測定点ｎ（ｎ＝１，２，．．，Ｎ，Ｎは測定位置数）について行う。
【００４７】
ステップＳ７では、オーバーライト処理が、ＯＫか又はＮＧかを判定する。その比較結果から、信号強度値が、ＬＦ（ｎ）≦Ｍｍａｘの条件を満たす場合には、ステップＳ８に進み、オーバーライト処理を実行する。しかし、その条件を満たさない場合には、測定結果を無効とし、オーバーライト処理は行わずにステップＳ１に戻り、測定を最初からやり直す。
【００４８】
ここで、ステップＳ７の判定処理について、例を挙げて説明する。  
図８、図９は、残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０の例である。  
図８は、ＬＦ信号とＨＦ信号のトラック位置のずれが小さい場合の例である。図９は、ずれが大きい場合の例である。
【００４９】
図８のようにトラック位置の位置ずれΔＴが小さい場合、オフトラックプロファイル３０は、ほぼ台形型となる。しかし、図９のように位置ずれΔＴが大きい場合、オフトラックプロファイル３０は、ＬＦ信号のオーバーライトされていない領域付近でピークを持つ形状となる。このピーク値は、位置ずれΔＴが大きくなるほど増大するので、ピーク値による位置ずれ幅の大小判定が可能となる。
【００５０】
ステップ８では、図９に示す実効トラック３００の中心における残留ＬＦ信号成分を求める。
【００５１】
図３は、ステップＳ８の詳細なオーバーライト処理を示すフローチャートである。このオーバーライト処理を、図１０および図１１に基づいて説明する。
【００５２】
ステップＳ１１では、図１０に示した再生信号の振幅値のオフトラックプロファイル２０から、実効トラック３００のエッジにおけるヘッド位置Ｐ１，Ｐ２を求める。
【００５３】
ステップＳ１２では、実効トラック３００の中心におけるヘッド位置Ｐ０を次の式により求める。  
Ｐ０＝（Ｐ１＋Ｐ２）／２
【００５４】
実効トラック３００のエッジ位置Ｐ１，Ｐ２は、図１０に示したように、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイル２０の振幅が、最大値の５０％となるヘッド位置に対応する。
【００５５】
ステップＳ１３では、図１１に示した残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０のヘッド位置Ｐ０における信号強度Ｍ２を求める。
【００５６】
信号強度Ｍ２は、残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０の信号強度データＬＦ（ｎ）の補間処理によって行う。ここでは、直線補間を使用しているが、直線補間に限らず、その他の周知の補間方式を適用することができる。
【００５７】
最後に、図２のステップＳ９に戻り、オーバーライト特性の定義に基づき、ステップ８で求めた残留ＬＦ信号成分Ｍ２と、ステップ３で求めたＬＦ信号成分Ｍ１との比率（Ｍ２／Ｍ１）を計算し、この計算値をオーバーライト値とする。
【００５８】
(比較例)
次に、オーバーライト特性を従来方式と比較した例について説明する。  
ここでは、オーバーライト特性の測定方法を、実際の磁気ディスク媒体の測定に適用した結果を示す。
【００５９】
図１２は本発明による方式を示し、図１３は従来方式を示し、同一の磁気ディスク媒体についてオーバーライト特性を測定した結果を比較した。各々複数回測定を行い、測定結果をヒストグラム４００，４１０で示す。
測定条件は、以下のとおりである。
ＬＦ周波数：        １０ＭＨｚ
ＨＦ周波数：        ６０ＭＨｚ
ライト電流値：        ４９．７ｍＡ
ディスク媒体：        ３．５ｉｎｃｈ
回転数：        ５４００ｒｐｍ
半径値：        ３２ｍｍ
スキュー角：        ３．１８７ｄｅｇ
【００６０】
図１２、図１３において、横軸はオーバーライト値(Ｍ２／Ｍ１)、縦軸は各棒グラフが現れる頻度の回数（度数）である。
【００６１】
図１２の本発明による方式の場合、オーバーライト値の平均値は−２８．４９ｄＢ、標準偏差は１．２ｄＢである。図１３の従来方式の場合、オーバーライト値の平均値は−２７．７８ｄＢ、標準偏差は３．０ｄＢである。
【００６２】
オーバーライト値は、標準偏差で比較すると、従来方式の３．０ｄＢに対して、本発明による方式では１．２ｄＢと大幅に減少していることがわかる。測定値は、理想的には、バラツキの無い１本の棒グラフに集約されていることが望ましいが、本発明による方式では従来方式に比べて、明らかに測定値のバラツキが少なくなっていることが分かる。
【００６３】
以上の比較結果から、本発明によるオーバーライト特性の測定方法は、従来方式に比べて、格段に有効性があることが実証されるものである。
【００６４】
なお、本例では、説明を簡略化するために１回の測定につき、振幅値のオフトラックプロファイル２０とＬＦ信号成分のオフトラックプロファイル３０とをそれぞれ１回だけ取得する例を示した。
【００６５】
しかし、実際には、１回の測定につき、各オフトラックプロファイルの取得をそれぞれＭ回（Ｍは５〜１０程度の値）行うことが望ましい。この場合は、図１のフローチャートのステップ８において、実効トラックの中心位置における残留ＬＦ信号成分Ｍ２をＭ個のオフトラックプロファイルについてそれぞれ計算する。そして、Ｍ個の残留ＬＦ信号成分Ｍ２を平均化した値をオーバーライト特性の計算（Ｍ２／Ｍ１）に用いる。この計算により、スピンスタンド３のヘッド位置の位置決め誤差や、その他の要因による測定誤差の影響が取り除かれ、オーバーライト特性の測定精度を一段と向上させることができる。
【産業上の利用可能性】
【００６６】
本発明は、磁気ディスク媒体の評価方法に関するものであり、特に、リードライト試験におけるオーバーライト特性の評価方法に関する。オーバーライト時(重ね書込み時)のトラック位置の大幅な位置ずれに基づくリード時(再生時)のオフトラックによる測定誤差の発生を回避し、オーバーライト値を精度良く測定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明に使用されるリードライト試験装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係るオーバーライト特性の評価方法を示すフローチャートである。
【図３】本発明に係るオーバーライトの処理を示すフローチャートである。
【図４】再生信号の波形を示す説明図である。
【図５】再生信号のスペクトラムを示す説明図である。
【図６】再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルを示す波形図である。
【図７】残留ＬＦ信号成分のオフトラックプロファイルを示す波形図である。
【図８】オーバーライト後のＬＦ信号成分のオフトラックプロファイルを示す説明図である。
【図９】オーバーライト後のＬＦ信号成分のオフトラックプロファイルを示す説明図である。
【図１０】実効トラックのエッジと中心位置を求める方法を示す説明図である。
【図１１】残留ＬＦ信号成分を求める方法を示す説明図である。
【図１２】本発明の方式によるオーバーライト値の測定結果を示す説明図である。
【図１３】従来方式によるオーバーライト値の測定結果を示す説明図である。
【図１４】トラック位置のずれの様子を示す説明図である。
【符号の説明】
【００６８】
１    リードライト試験装置
２    磁気ディスク媒体
３    スピンスタンド
４    信号発生器４
４ａ  ライトデータ
５    ライトアンプ
５ａ  ライト電流
６    リードアンプ
６ａ  ヘッド信号
７    スペクトラムアナライザ
８    オシロスコープ
９    ヘッド
１０  位置決め機構
１００  ＬＦ信号のライト時の記録ヘッドの位置
２００  ＨＦ信号のライト時の記録ヘッドの位置
３００  実行トラック
３１０  実行トラックの中心位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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