(57)【要約】  【課題】  集積回路の機能検証において、人に依存する検証項目の抽出作業による検証漏れを削減し、機能検証の期間を短縮する。  【解決手段】  集積回路を表現する記述言語の一つであるＶＥＲＩＬＯＧ−ＨＤＬＳ１の構文解析情報を記憶する工程、ＶＥＲＩＬＯＧの構文解析情報Ｓ３から集積回路の構成要素を推定する工程、集積回路の検証用データベース１００から構成要素機能を検索し、構成要素クラスタ情報Ｓ８を出力する工程、入力された構成要素の構成要素特性情報とＶＥＲＩＬＯＧの構文解析情報の中で構成要素を示す構成要素機能情報とを関連付けて記憶する工程、構成要素機能情報とそれに関連付けられた構成要素特性情報を出力する工程とを備えることを特徴とする。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
集積回路の構成要素に関する情報を格納する構成要素クラスタを有する集積回路の機能検証用データベースであって、
前記構成要素クラスタは、数値部分が変数として表わされた構成要素の機能情報であるパラメータ化構成要素機能情報を格納する構成要素機能クラスタと、構成要素が持つ検証されるべき特性情報であるパラメータ化構成要素特性情報を格納する構成要素特性クラスタとに区分され、
前記構成要素機能クラスタは、当該構成要素機能クラスタが前記構成要素特性クラスタと関連する場合は、前記構成要素特性クラスタを示す情報も格納するように構成されていることを特徴とする集積回路の機能検証用データベース。
【請求項２】
前記構成要素特性クラスタは、前記構成要素機能クラスタが当該構成要素特性クラスタと関連する場合は、前記構成要素機能クラスタを示す情報を格納するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載の集積回路の機能検証用データベース。
【請求項３】
集積回路を表現する記述言語を入力する工程と、
前記集積回路を表現する前記記述言語を構文解析しその構文解析した結果を構文解析情報として記憶する工程と、
前記構文解析情報から前記集積回路の構成要素を推定する工程と、
推定された前記構成要素と前記構文解析情報の中で推定された前記構成要素を示す情報を構成要素機能情報として記憶する工程と、
前記構成要素機能情報が示す構成要素の特性を構成要素特性情報として入力し前記構成要素特性情報を前記構成要素機能情報に関連付けて記憶する工程と、
前記構成要素特性情報を更新する工程と、
前記構成要素機能情報とそれに関連付けられた前記構成要素特性情報を出力する工程とを備えることを特徴とする集積回路の機能検証支援方法。
【請求項４】
さらに、前記構成要素機能情報を構成要素の機能ごとに分類し記憶する工程を備えることを特徴とする請求項３に記載の集積回路の機能検証支援方法。
【請求項５】
さらに、数値部分が変数となる集積回路の構成要素の機能情報であるパラメータ化構成要素機能情報を格納し、前記構成要素が持つ検証されるべき特性情報であるパラメータ化構成要素特性情報も格納する構成要素クラスタを備える集積回路の検証用データベースから前記構成要素機能情報を検索し、検索結果を出力し、検索照合された場合は照合された前記パラメータ化構成要素特性情報も出力する工程を備えることを特徴とする請求項３または請求項４に記載の集積回路の機能検証支援方法。
【請求項６】
さらに、集積回路の構成要素の特性を表現する記述言語を入力する工程と、
前記集積回路の構成要素の特性を表現する前記記述言語を構文解析し、その構文解析した結果から前記集積回路の構成要素の特性を構成要素特性構文解析情報として記憶する工程と、
前記構成要素機能情報に関連する特性を前記構成要素特性構文解析情報から検索し、検索照合された場合は照合された特性を構成要素特性情報として記憶する工程を備えることを特徴とする請求項３から請求項５までのいずれかに記載の集積回路の機能検証支援方法。
【請求項７】
さらに、前記構成要素機能情報に関連する特性が前記構成要素特性構文解析情報から検索照合された場合は、前記構成要素機能情報と検索照合された構成要素特性情報とを、数値部分が変数となるパラメータ化構成要素機能情報とパラメータ化構成要素特性情報にする工程と、
数値部分が変数となった前記パラメータ化構成要素機能情報と前記パラメータ化構成要素特性情報をそれぞれ集積回路の機能検証用データベースの構成要素機能クラスタと構成要素特性クラスタに格納する工程と、
前記構成要素機能クラスタと前記構成要素特性クラスタとが関連する場合、その関連情報を前記構成要素機能クラスタまたは前記構成要素機能クラスタと前記構成要素特性クラスタに格納する工程と、
前記集積回路の機能検証用データベースの構成要素クラスタの情報を出力する工程を備えることを特徴とする請求項６に記載の集積回路の機能検証支援方法。
【請求項８】
さらに、前記集積回路の機能検証用データベースの構成要素特性クラスタの情報を出力する際、前記集積回路の構成要素の特性を表現する記述言語の形式で出力する工程を備えることを特徴とする請求項７に記載の集積回路の機能検証支援方法。
【請求項９】
さらに、前記パラメータ化構成要素特性情報の変数が前記パラメータ化構成要素特性情報と関連しているパラメータ化構成要素機能情報の変数に依存して決定される場合、前記パラメータ化構成要素特性情報を検索するために用いた前記構成要素機能情報を基に前記パラメータ化構成要素特性情報の変数の値を決定し構成要素特性情報として出力し、かつ、前記構成要素機能情報と関連付けて記憶する工程を備えることを特徴とする請求項５から請求項８までのいずれかに記載の集積回路の機能検証支援方法。
【請求項１０】
前記構成要素特性情報を出力する代わりに、前記集積回路の構成要素の特性を表現する記述言語の形式で出力する工程を備えることを特徴とする請求項３から請求項９までのいずれかに記載の集積回路の機能検証支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、集積回路の機能を効率的に検証するための集積回路の機能検証用データベースおよび機能検証支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、集積回路が大規模で複雑になったため、集積回路の機能検証で検証すべき項目は指数関数的に増大してきており、機能検証での検証漏れや検証内容の誤解などによる集積回路のバグも増えている。このような問題に対する集積回路の機能検証装置として、機能シミュレータに加え、テストパターンを必要としない形式的機能検証装置が利用されている。
【０００３】
従来、集積回路の機能検証の一般的な手順は、形式的機能検証装置も機能シミュレータと基本的には同様で、まず、人が集積回路の仕様書を理解し、検証項目を抽出し、次に、それぞれの機能検証装置の入力形式に人が直接表現記述し、機能検証装置を用いて機能検証を行う。抽出された検証項目には、集積回路の一つ一つの信号、レジスタ、セレクタ、有限ステートマシンやアドレスデコーダなどそれぞれの集積回路の構成要素が持つ特性が含まれる。
【０００４】
また、別の手順として、レジスタ転送レベル（以下ＲＴＬと呼ぶ）の集積回路の記述言語を構文解析し、その集積回路の一部の構成要素が持つ一部の特性を自動的に抽出し機能検証する機能検証装置を用いるものもある。このような機能検証装置が対象とする一部の構成要素の例としては、レジスタ、セレクタや有限ステートマシンなどあるが、アドレスデコーダのような機能ブロックは含まれていない。また、同様に対象とする一部の特性の例としては、有限ステートマシンの場合、ある状態から動かないことがないという特性があり、この特性は自動的に検証されるが、ある状態から別の状態へ一定の時間内で遷移するという特性は対象となっておらず、入力として与える必要がある。
【特許文献１】特開平１０−３４０２８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このように、従来の集積回路の機能検証の一般的な手順では、抽出される検証項目が集積回路の設計仕様を理解する人に依存してしまうため、検証漏れの可能性が高くなる、また、設計仕様を理解し、検証項目を抽出する作業に多くの工数を割く必要がある、という問題がある。
【０００６】
また、別の機能検証の手順であるＲＴＬの集積回路の記述言語から構成要素の特性を自動抽出し、検証するような機能検証装置を用いる手順では、一部の構成要素の一部の特性を対象としているため、様々な構成要素や特性に対しては、別途機能検証する必要があり、一般的な手順と同様に、検証漏れや検証項目の抽出に必要となる工数に関する問題がある。
【０００７】
本発明は、上記従来の問題を改善するもので、集積回路の機能検証における検証漏れを削減し、機能検証の期間を短縮できる集積回路の機能検証用データベースおよび機能検証支援方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この目的を達成するために、本発明の集積回路の機能検証用データベースは、集積回路の構成要素に関する情報を格納する構成要素クラスタを有し、前記構成要素クラスタは、数値部分が変数として表わされた構成要素の機能情報であるパラメータ化構成要素機能情報を格納する構成要素機能クラスタと、構成要素が持つ検証されるべき特性情報であるパラメータ化構成要素特性情報を格納する構成要素特性クラスタとに区分され、さらに、前記構成要素機能クラスタは、当該構成要素機能クラスタが前記構成要素特性クラスタと関連する場合は、前記構成要素特性クラスタを示す情報も格納するように構成されている。
【０００９】
この発明によれば、集積回路の構成要素の機能から関連するその構成要素の特性を参照することができ、どの構成要素は検証項目としての特性が与えられていないか、また、特性が与えられている場合は、他に与えるべき特性はないかも簡単に確認でき、構成要素の検証漏れの問題を改善することができる。また、集積回路の構成要素ごとの検証されるべき特性を簡単に抽出でき、機能検証の期間を短縮することができる。
【００１０】
上記において、前記構成要素特性クラスタについては、前記構成要素機能クラスタが当該構成要素特性クラスタと関連する場合は、前記構成要素機能クラスタを示す情報を格納するように構成されていることが好ましい。
【００１１】
また、本発明の集積回路の機能検証支援方法は、集積回路を表現する記述言語を入力する工程と、集積回路を表現する前記記述言語を構文解析しその構文解析した結果を構文解析情報として記憶する工程と、前記構文解析情報から集積回路の構成要素を推定する工程と、推定された前記構成要素と前記構文解析情報の中で推定された前記構成要素を示す情報を構成要素機能情報として記憶する工程と、前記構成要素機能情報が示す構成要素の特性を構成要素特性情報として入力し前記構成要素特性情報を前記構成要素機能情報に関連付けて記憶する工程と、前記構成要素特性情報を更新する工程と、前記構成要素機能情報とそれに関連付けられた前記構成要素特性情報を出力する工程とを含むものとして構成とされている。
【００１２】
この発明によれば、集積回路の構成要素の機能から関連するその構成要素の特性を参照することができ、どの構成要素は検証項目としての特性が与えられていないか、また、特性が与えられている場合は、他に与えるべき特性はないかも簡単に確認でき、構成要素の検証漏れの問題を改善することができる。また、集積回路の構成要素ごとの検証されるべき特性を簡単に抽出でき、機能検証の期間を短縮することができる。
【００１３】
上記において、さらに、前記構成要素機能情報を構成要素の機能ごとに分類し記憶する工程を備えることが好ましい。構成要素機能情報を記憶する際、例えばレジスタといった構成要素の機能ごとに分類しておくことで、同様の機能ごとに分類された構成要素に関連する特性をひとまとめに参照することも可能となり、特性を与える効率が向上し、ひいては、機能検証の効率も向上する。
【００１４】
また、上記において好ましい態様は、数値部分が変数となる集積回路の構成要素の機能情報であるパラメータ化構成要素機能情報を格納し、前記構成要素が持つ検証されるべき特性情報であるパラメータ化構成要素特性情報も格納する構成要素クラスタを備える集積回路の検証用データベースから前記構成要素機能情報を検索し、検索結果を出力し、検索照合された場合は照合された前記パラメータ化構成要素特性情報も出力する工程を備えていることである。機能検証用データベースから構成要素機能クラスタを検索する時間も短縮することが可能となり、これも機能検証の効率を向上する。
【００１５】
また、上記において好ましい態様は、集積回路の構成要素の特性を表現する記述言語を入力する工程と、集積回路の構成要素の特性を表現する前記記述言語を構文解析し、その構文解析した結果から集積回路の構成要素の特性を構成要素特性構文解析情報として記憶する工程と、前記構成要素機能情報に関連する特性を前記構成要素特性構文解析情報から検索し、検索照合された場合は照合された特性を構成要素特性情報として記憶する工程とを備えていることである。これにより、集積回路の構成要素ごとに検証すべき特性は何かを検討することになり、検討された構成要素はどれか、また検討された結果、与えられた構成要素の特性は何かを確認することが可能となり、検証漏れを抑制することになる。
【００１６】
また、上記において次のように構成することが好ましい。すなわち、前記構成要素機能情報に関連する特性が前記構成要素特性構文解析情報から検索照合された場合は、前記構成要素機能情報と検索照合された構成要素特性情報とを、数値部分が変数となるパラメータ化構成要素機能情報とパラメータ化構成要素特性情報にする工程と、数値部分が変数となった前記パラメータ化構成要素機能情報と前記パラメータ化構成要素特性情報をそれぞれ集積回路の機能検証用データベースの構成要素機能クラスタと構成要素特性クラスタに格納する工程と、前記構成要素機能クラスタと前記構成要素特性クラスタとが関連する場合、その関連情報を前記構成要素機能クラスタまたは前記構成要素機能クラスタと前記構成要素特性クラスタに格納する工程と、前記集積回路の機能検証用データベースの構成要素クラスタの情報を出力する工程とを備えていることである。
【００１７】
これにより、過去の構成要素と同様の構成要素を検証する場合、過去の構成要素に対し与えられた特性を参照できることを意味する。これにより、人が新たに構成要素に対する特性を考える必要がなくなり、機能検証の効率が向上する。また同時に、検証漏れを抑止することにもなる。
【００１８】
上記において、好ましくは、前記集積回路の機能検証用データベースの構成要素特性クラスタの情報を出力する際、集積回路の構成要素の特性を表現する記述言語の形式で出力する工程を備えることである。
【００１９】
また、上記において好ましい態様は、前記パラメータ化構成要素特性情報の変数が前記パラメータ化構成要素特性情報と関連しているパラメータ化構成要素機能情報の変数に依存して決定される場合、前記パラメータ化構成要素特性情報を検索するために用いた前記構成要素機能情報を基に前記パラメータ化構成要素特性情報の変数の値を決定し構成要素特性情報として出力し、かつ、前記構成要素機能情報と関連付けて記憶する工程を備えることである。構成要素特性クラスタが持つ特性情報の変数を自動的に決定することが可能となるため、更に機能検証の効率が向上することになる。
【発明の効果】
【００２０】
以上のように本発明によれば、数値部分が変数として表わされた構成要素の機能情報であるパラメータ化構成要素機能情報を格納する構成要素機能クラスタと、構成要素が持つ検証されるべき特性情報であるパラメータ化構成要素特性情報を格納する構成要素特性クラスタとに区分される構成要素クラスタを有し、また、前記構成要素機能クラスタが前記構成要素特性クラスタと関連する場合は前記構成要素特性クラスタを示す情報も格納する前記構成要素機能クラスタを備えることにより、集積回路の構成要素の持つ検証されるべき特性を効率良く検証項目として挙げることができ、また、前記構成要素の検証の網羅性も向上し、検証漏れの問題を改善することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２２】
（実施の形態１）
まず、本発明の実施の形態１における集積回路の機能検証用データベースについて説明する。
【００２３】
図１は、本発明の実施の形態１における集積回路の機能検証用データベースの構成を示すブロック図である。図１において、１００は集積回路の機能検証用データベース、Ａ１〜Ａ４は機能検証用データベース１００に属する構成要素の機能クラスタ群、Ｂ１〜Ｂ５は機能検証用データベース１００に属する構成要素の特性クラスタ群である。ａ１はメモリ制御の機能情報であり、機能クラスタＡ１に格納されている。ａ２はメモリ制御の機能情報ａ１の構成を成す有限ステートマシンの機能情報であり、機能クラスタＡ２に格納されている。ａ３はメモリ制御の機能情報ａ１の構成を成すポインタ制御の機能情報であり、機能クラスタＡ３に格納されている。ａ４はポインタ制御の機能情報ａ３の構成を成すレジスタの機能情報であり、機能クラスタＡ４に格納されている。
【００２４】
ｂ１は数値部分が変数として表されるデータ書込み期間制約の特性情報であり、特性クラスタＢ１に格納されている。ｂ２は数値部分が変数として表される初期値の特性情報であり、特性クラスタＢ２に格納されている。ｂ３は数値部分が変数として表されるデッドロック発生の特性情報であり、特性クラスタＢ３に格納されている。ｂ４は数値部分が変数として表されるＲＥＡＤポインタとＷＲＩＴＥポインタの位置関係の特性情報であり、特性クラスタＢ４に格納されている。ｂ５は数値部分が変数として表されるレジスタ値の範囲の特性情報であり、特性クラスタＢ５に格納されている。
【００２５】
メモリ制御の機能情報ａ１は、特性として、データ書込み期間制約の特性情報ｂ１と初期値の特性情報ｂ２を持つため、機能クラスタＡ１に特性クラスタＢ１と特性クラスタＢ２を示す情報が格納され、かつ、特性クラスタＢ１と特性クラスタＢ２にも機能クラスタＡ１を示す情報が格納される。
【００２６】
有限ステートマシンの機能情報ａ２は、特性として、初期値の特性情報ｂ２とデッドロック発生の特性情報ｂ３を持つため、機能クラスタＡ２に特性クラスタＢ２と特性クラスタＢ３を示す情報が格納され、かつ、特性クラスタＢ２と特性クラスタＢ３にも、機能クラスタＡ２を示す情報が格納される。
【００２７】
ポインタ制御の機能情報ａ３は、特性として、ＲＥＡＤポインタとＷＲＩＴＥポインタの位置関係の特性情報ｂ４とレジスタ値の範囲の特性情報ｂ５を持つため、機能クラスタＡ３に特性クラスタＢ４と特性クラスタＢ５を示す情報が格納され、かつ、特性クラスタＢ４と特性クラスタＢ５にも、機能クラスタＡ３を示す情報が格納される。
【００２８】
レジスタの機能情報ａ４は、特性として、レジスタ値の範囲の特性情報ｂ５を持つため、機能クラスタＡ４に特性クラスタＢ５を示す情報が格納され、かつ、特性クラスタＢ５にも、機能クラスタＡ４を示す情報が格納される。
【００２９】
Ａ５０はある集積回路のメモリ制御ブロック内のポインタ制御部でポインタを記憶する８ビットレジスタを表す（以下、８ビットレジスタと呼ぶ）である。Ｂ５０は８ビットレジスタの最大値を表すある集積回路の特性（以下、８ビットレジスタ最大値と呼ぶ）である。
【００３０】
以上のように構成された集積回路の機能検証用データベースについて、以下に、その作用について説明する。
【００３１】
機能検証用データベース１００において、８ビットレジスタＡ５０の機能が属する機能クラスタを検索すると、機能クラスタＡ４が照合され、次に、機能クラスタＡ４の情報が示す特性クラスタＢ５を参照し、レジスタ値の範囲の特性情報ｂ５を得ることになる。
【００３２】
また、逆に、機能検証用データベース１００において、８ビットレジスタ最大値Ｂ５０の属する特性クラスタを検索すると、特性クラスタＢ５が照合され、特性クラスタＢ５の情報が示す機能クラスタＡ３と機能クラスタＡ４を参照し、ポインタ制御の機能情報ａ３とレジスタの機能情報ａ４を得る。
【００３３】
以上のように本実施の形態１によれば、８ビットレジスタＡ５０の機能を機能検証用データベース１００で検索すれば、８ビットレジスタＡ５０について検証されるべき特性の候補としてレジスタ値の範囲の特性情報ｂ５を得ることが可能となる。その結果、必然的に特性情報ｂ５について検証すべきかどうかを検討することになり、検証漏れを起こさなくなる。
【００３４】
さらに、様々な機能クラスタと特性クラスタを登録し、各機能クラスタに多くの特性クラスタを関連付けることにより、検証されるべき特性の網羅性を向上し、検証漏れの可能性をさらに低くすることができる。そして、検証されるべき特性を検証項目として効率良くピックアップすることが可能となり、機能検証の期間を短縮化することができる。
【００３５】
またさらに、第三者が作成した検証項目として８ビットレジスタ最大値Ｂ５０を受け取った場合、その８ビットレジスタ最大値Ｂ５０を機能検証用データベース１００で検索すれば、８ビットレジスタ最大値Ｂ５０により検証される構成要素の候補としてのポインタ制御の機能情報ａ３とレジスタの機能情報ａ４を得、８ビットレジスタ最大値Ｂ５０がどういった構成要素を検証しているかといった検証の網羅性を確認することが可能となる。
【００３６】
なお、機能クラスタＡ１は特性クラスタＢ１，Ｂ２，Ｂ４およびＢ５と関連付けられるが、機能クラスタＡ２は特性クラスタＢ２を示す情報、機能クラスタＡ３は特性クラスタＢ４を示す情報、機能クラスタＡ４は特性クラスタＢ５を示す情報をそれぞれ格納しており、機能クラスタＡ２，Ａ３およびＡ４が示す情報は機能クラスタＡ１が示す構成要素であるメモリ制御を構成するものであるので、機能クラスタＡ１が持つ情報は特性クラスタＢ１を示す情報のみにすることが可能であり、機能検証用データベース１００のデータサイズを削減する効果もある。
【００３７】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２における集積回路の機能検証支援方法について説明する。
【００３８】
図２は、本発明の実施の形態２における集積回路の機能検証支援方法の構成を示すブロック図である。図２において、Ｓ１は集積回路を表現する記述言語を入力する工程で入力されたＲＴＬのＶＥＲＩＬＯＧ−ＨＤＬである。ＶＥＲＩＬＯＧ−ＨＤＬはハードウェア記述言語であるが、ＲＴＬのＶＥＲＩＬＯＧ−ＨＤＬＳ１としては、集積回路を表現する記述言語であれば、他のハードウェア記述言語でも構わない。また、ＲＴＬに限らず、システムレベルの動作を記述する他の記述言語でも構わない。
【００３９】
Ｓ２はＲＴＬのＶＥＲＩＬＯＧ−ＨＤＬＳ１を構文解析する工程（以下、ＶＥＲＩＬＯＧ構文解析工程と呼ぶ）であり、Ｓ３はＶＥＲＩＬＯＧ構文解析工程Ｓ２の結果を構文解析情報として記憶する工程で記憶されるＶＥＲＩＬＯＧ構文解析情報である。Ａ５０は８ビットレジスタ、Ｂ５０は８ビットレジスタ最大値で、これらは実施の形態１の構成と同じである。Ｓ４はＶＥＲＩＬＯＧ構文解析情報Ｓ３から集積回路の構成要素を推定する工程（以下、構成要素推定工程と呼ぶ）であり、本実施の形態２では構成要素推定工程Ｓ４から８ビットレジスタＡ５０が構成要素として推定され、８ビットレジスタＡ５０の構成要素機能情報も記憶される。このような構成要素の推定は、論理合成などで用いられる構成要素推定の手段で可能である。
【００４０】
Ｓ５は、構成要素推定工程Ｓ４で推定された構成要素の特性を構成要素特性情報として入力し、構成要素推定工程Ｓ４で推定された構成要素機能情報と関連付けて記憶する工程（以下、構成要素特性入力工程と呼ぶ）であり、本実施の形態２では、構成要素特性入力工程Ｓ５で８ビットレジスタ最大値Ｂ５０を構成要素の特性情報として与えられ、８ビットレジスタＡ５０の構成要素機能情報と関連付けられて記憶される。Ｓ６は、構成要素推定工程Ｓ４で推定された構成要素の構成要素機能情報と構成要素特性情報を出力する工程（以下、構成要素情報出力工程と呼ぶ）である。
【００４１】
１００は集積回路の機能検証用データベース、Ａ４は構成要素機能クラスタ、Ｂ５は構成要素特性クラスタで、実施の形態１の構成と同じである。
【００４２】
Ｓ７は、８ビットレジスタＡ５０が属する構成要素機能クラスタＡ４を機能検証用データベース１００から検索する工程（以下、構成要素機能検索工程と呼ぶ）であり、Ｓ８は、構成要素機能検索工程Ｓ７での検索結果または照合された構成要素機能クラスタやそれに関連付けられている構成要素特性クラスタＢ５の内容を出力する工程（以下、構成要素クラスタ情報出力工程と呼ぶ）である。Ｓ９は、８ビットレジスタＡ５０と構成要素クラスタ情報出力工程Ｓ８から構成要素特性クラスタＢ５の変数を決定し、８ビットレジスタ最大値Ｂ５０を構成要素の特性情報として与え、８ビットレジスタＡ５０の構成要素機能情報と関連付けて記憶する工程（以下、構成要素特性クラスタの変数決定工程と呼ぶ）である。
【００４３】
Ｓ１０は、集積回路の構成要素の特性を表現する記述言語の一つのＳｕｇａｒである。なお、Ｓ１０は構成要素の特性を表現する記述言語であれば他の記述言語でもよい。Ｓ１１はＳｕｇａｒの構文解析工程で、Ｓ１２はＳｕｇａｒの構文解析工程Ｓ１１の結果を構文解析情報として記憶する工程で記憶されるＳｕｇａｒ構文解析情報である。Ｓ１３は、８ビットレジスタＡ５０に関連する特性をＳｕｇａｒ構文解析情報Ｓ１２から検索し、構成要素特性入力工程Ｓ５への入力として渡す工程（以下、構成要素特性検索工程と呼ぶ）である。
【００４４】
Ｓ１４は、構成要素特性検索工程Ｓ１３で照合された特性情報とその照合元となった構成要素の機能情報を数値が変数となる情報としてそれぞれ機能検証用データベース１００の構成要素特性クラスタＢ５と構成要素機能クラスタＡ４に格納する工程（以下、パラメータ化工程と呼ぶ）である。
【００４５】
なお、構成要素情報出力工程Ｓ６や構成要素クラスタ情報出力工程Ｓ８は、特性情報をＳｕｇａｒのような集積回路の構成要素の特性を表現する記述言語の形式で出力する手段も有することがあり、また、その出力される記述言語は、ＳｕｇａｒＳ１０と同じである必要はない。
【００４６】
以上のように構成された集積回路の機能検証支援方法について、以下に、その作用とその効果について説明する。
【００４７】
構成要素情報出力工程Ｓ６は、構成要素推定工程Ｓ４で推定された８ビットレジスタＡ５０とそれに関連付けられている集積回路の構成要素の特性である８ビットレジスタ最大値Ｂ５０を出力し、また、ＳｕｇａｒＳ１０で与えられた特性とその特性に関連する集積回路の構成要素の情報を出力する。この出力は、Ｖｅｒｉｌｏｇといった記述言語で表現される集積回路の各構成要素に対し、検証されるべき特性が与えられているか、与えられている特性はどのようなものかといった情報となる。これにより、集積回路の構成要素ごとに検証すべき特性は何かを検討することになり、検討された構成要素はどれか、また検討された結果、与えられた構成要素の特性は何かを確認することが可能となり、検証漏れを抑制することになる。
【００４８】
構成要素クラスタ情報出力工程Ｓ８は、機能検証用データベース１００から８ビットレジスタＡ５０のような集積回路の各構成要素が関連する特性を出力し、出力された特性の中から構成要素の検証されるべき特性を与えることを可能とする。これにより、集積回路の構成要素が検証されるべき特性を容易に与えることが可能となり、機能検証の効率が向上することになる。
【００４９】
また、構成要素特性クラスタの変数決定工程Ｓ９により、構成要素特性クラスタが持つ特性情報の変数を自動的に決定することが可能となるため、更に機能検証の効率が向上することになる。
【００５０】
なお、８ビットレジスタＡ５０を記憶する際、レジスタというような機能ごとに分類しておくことで、同様の機能ごとに分類された構成要素に関連する特性をひとまとめに参照することも可能となり、特性を与える効率が向上し、ひいては、機能検証の効率も向上する。
【００５１】
また更に、構成要素機能検索工程Ｓ７において、機能検証用データベース１００から構成要素機能クラスタを検索する時間も短縮することが可能となり、これも機能検証の効率を向上する。
【００５２】
パラメータ化工程Ｓ１４は、構成要素特性検索工程Ｓ１３で照合された特性情報とその照合元となった構成要素の機能情報を数値が変数となる情報として、それぞれ機能検証用データベース１００の構成要素特性クラスタＢ５と構成要素機能クラスタＡ４に格納し、集積回路の機能検証用データベースはより多くの構成要素機能クラスタと構成要素特性クラスタを持つことになる。これは、過去の構成要素と同様の構成要素を検証する場合、過去の構成要素に対し与えられた特性を参照できることを意味する。これにより、人が新たに構成要素に対する特性を考える必要がなくなり、機能検証の効率が向上する。また同時に、検証漏れを抑止することにもなる。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
本発明の集積回路の機能検証用データベース・機能検証支援方法は、半導体集積回路の機能シミュレータ等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の実施の形態１における集積回路の機能検証用データベースの構成を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態２における集積回路の機能検証支援方法の構成を示すブロック図
【符号の説明】
【００５５】
１００  機能検証用データベース
Ａ１〜Ａ４  構成要素機能クラスタ
Ｂ１〜Ｂ５  構成要素特性クラスタ
Ａ５０  ８ビットレジスタ（構成要素）
Ｂ５０  ８ビットレジスタ最大値（特性）
ａ１  メモリ制御の機能情報
ａ２  有限ステートマシンに機能情報
ａ３  ポインタ制御の機能情報
ａ４  レジスタの機能情報
ｂ１  データ書込み期間制約の特性情報
ｂ２  初期値の特性情報
ｂ３  デッドロック発生の特性情報
ｂ４  ＲＥＡＤポインタとＷＲＩＴＥポインタの位置関係の特性情報
ｂ５  レジスタ値の範囲の特性情報
Ｓ１  ＲＴＬのＶＥＲＩＬＯＧ−ＨＤＬ
Ｓ２  ＶＥＲＩＬＯＧ構文解析工程
Ｓ３  ＶＥＲＩＬＯＧ構文解析情報
Ｓ４  構成要素推定工程
Ｓ５  構成要素特性入力工程
Ｓ６  構成要素情報出力工程
Ｓ７  構成要素機能検索工程
Ｓ８  構成要素クラスタ情報出力工程
Ｓ９  構成要素特性クラスタの変数決定工程
Ｓ１０  Ｓｕｇａｒ
Ｓ１１  Ｓｕｇａｒの構文解析工程
Ｓ１２  Ｓｕｇａｒ構文解析情報
Ｓ１３  構成要素特性検索工程
Ｓ１４  パラメータ化工程
【図１】
2005182118.tif 000003
【図２】
2005182118.tif 000004