(57)【要約】【課題】  製造ラインの作業効率を自動的に改善する。【解決手段】  製造された製品の性能評価を行う計測装置を備え、該計測装置から計測データを受信する受信部１２と、該計測データと該計測装置により以前に計測された計測データと予測データとを記憶する記憶部１１と、前記計測データに基づく所定の統計処理を実行し、得られた結果と以前に計測された計測データに基づく統計処理の結果とを比較したときの値の差が所定条件を満たす場合には、前記予測データよりも計測点数または計測回数が少ない新たな予測データへと前記予測データを更新する演算部１０と、前記予測データまたは該新たな予測データが記憶部１１に記憶されている場合にはこれを送信し、記憶部１１に記憶されていない場合には、該当する予測データがないことを示す信号を送信する送信部１３とを含む製造ライン制御装置１を含んでなる製造システム３を提供する。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
製造された製品の性能評価を行う測定装置を備え、
該測定装置から、該製品の性能評価項目についての予測データがあるかどうかを問い合わせる信号、または該測定装置により該製品の性能評価項目について得られた測定データを受信する受信部と、
該測定データと該測定装置により以前に測定された測定データと予測データとを記憶する記憶部と、
前記測定データに基づく所定の統計処理を実行し、これにより得られた結果と以前に測定された測定データに基づく統計処理の結果とを比較したときの値の差が所定条件を満たす場合には、前記予測データよりも測定点数または測定回数が少ない新たな予測データへと前記予測データを更新する演算部と、
前記予測データがあるかどうかを問い合わせる信号に応じて、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されている場合には、前記予測データまたは該新たな予測データを前記測定装置に送信し、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されていない場合には、該当する予測データがないことを示す信号を前記測定装置に送信する送信部と
を含む製造ライン制御装置を含んでなる製造システム。
【請求項２】
前記所定の統計処理は、回帰分析、クラスター分析、グレイモデル、コンジョイント分析、最近隣法、実験計画法、主成分分析法、数量化理論１類、数量化理論２類のいずれかに基づくものである請求項１に記載の製造システム。
【請求項３】
前記予測データは、平均値、平均値からのばらつき（偏差）、ある値における測定回数、測定繰り返し回数のいずれかの情報を含むものである請求項１または２に記載の製造システム。
【請求項４】
前記記憶部に前記予測データがない場合には、通常のシーケンスに従って前記製品の性能評価を行うよう指示する信号を前記測定装置に送信する請求項１から３のいずれかに記載の製造システム。
【請求項５】
前記演算部によって、前記測定装置への前記新たな予測データの適用が許可されている場合には、前記新たな予測データを適用した測定シーケンスに従って前記製品の性能評価を行うよう指示する信号を前記測定装置に送信する請求項１から４のいずれかに記載の製造システム。
【請求項６】
異なる工程または同一工程にある複数の前記測定装置から収集された各測定データに基づいて、前記製造ライン制御装置が前記所定の統計処理を実行する請求項１から５のいずれかに記載の製造システム。
【請求項７】
製造された製品の性能評価を行う各種の測定装置と、該各種の測定装置との間で測定データまたは予測データの通信を行う製造ライン制御装置とを含んでなる製造システムを用いて、前記製品の性能評価についての測定シーケンスを自動的に変更する方法であって、
該測定装置から測定データを前記制御装置が受信するステップと、
前記制御装置の演算部において、前記測定データと前記測定装置により以前に測定された測定データとに基づいて所定の統計処理を実行し、前記測定データに基づく統計処理と以前に測定された測定データに基づく統計処理との結果を比較したときの値の差が所定条件を満たす場合には、前記予測データよりも測定点数または測定回数が少ない新たな予測データへと前記予測データを更新するステップと、
該新たな予測データを前記測定装置に送信するステップと
を含んでなる、測定シーケンスを自動的に変更する方法。
【請求項８】
前記所定の統計処理は、回帰分析、クラスター分析、グレイモデル、コンジョイント分析、最近隣法、実験計画法、主成分分析法、数量化理論１類、数量化理論２類のいずれかに基づく処理である請求項７に記載の測定シーケンスを自動的に変更する方法。
【請求項９】
前記予測データは、平均値、平均値からのばらつき（偏差）、ある値における測定回数、測定繰り返し回数のいずれかの情報を含むものである請求項７または８に記載の測定シーケンスを自動的に変更する方法。
【請求項１０】
前記予測データまたは該新たな予測データがない場合には、そのような予測データがないことを示す信号を前記測定装置に送信するステップをさらに含む請求項７から９のいずれかに記載の測定シーケンスを自動的に変更する方法。
【請求項１１】
前記測定装置において前記新たな予測データの適用が許可されている場合には前記新たな予測データを適用した測定シーケンスを実行するステップをさらに含む請求項７から１０のいずれかに記載の測定シーケンスを自動的に変更する方法。
【請求項１２】
前記製品の性能評価のための前記測定シーケンスが終了すると、前記測定項目と前記測定シーケンスにより得られた測定データとを前記制御装置に送信するステップと、
送信された前記測定項目と前記測定データとを前記制御装置の記憶部に記憶するステップとをさらに含む請求項７から１１のいずれかに記載の測定シーケンスを自動的に変更する方法。
【請求項１３】
異なる工程または同一工程にある複数の前記測定装置から収集された各測定データに基づいて、前記製造ライン制御装置が前記所定の統計処理を実行する請求項７から１２のいずれかに記載の測定シーケンスを自動的に変更する方法。
【請求項１４】
請求項７から１３のいずれかの方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１５】
製造された製品の性能評価を行う測定装置から、該製品の性能評価項目についての予測データがあるかどうかを問い合わせる信号、または該測定装置により該製品の性能評価項目について得られた測定データを受信する受信部と、
該測定データと前記測定装置により以前に測定された測定データと前記予測データとを記憶する記憶部と、
前記測定データに基づく所定の統計処理を実行し、前記測定データに基づく統計処理の結果と以前に測定された測定データに基づく統計処理の結果とを比較したときの値の差が所定条件を満たす場合には、前記予測データよりも測定点数または測定回数が少ない新たな予測データへと前記予測データを更新する演算部と、
前記予測データがあるかどうかを問い合わせる信号に応じて、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されている場合には、前記予測データまたは該新たな予測データを前記測定装置に送信し、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されていない場合には、該当する予測データがないことを示す信号を前記測定装置に送信する送信部と
を含んでなる製造ライン制御装置。
【請求項１６】
前記所定の統計処理は、回帰分析、クラスター分析、グレイモデル、コンジョイント分析、最近隣法、実験計画法、主成分分析法、数量化理論１類、数量化理論２類のいずれかに基づくものである請求項１５に記載の製造ライン制御装置。
【請求項１７】
前記予測データは、平均値、平均値からのばらつき（偏差）、ある値における測定回数、測定繰り返し回数のいずれかの情報を含むものである請求項１５または１６に記載の製造ライン制御装置。
【請求項１８】
前記演算部によって、前記測定装置への前記新たな予測データの適用が許可されている場合には、前記新たな予測データを適用した測定シーケンスに従って前記製品の性能評価を行うよう指示する信号を前記測定装置に送信する請求項１５から１７のいずれかに記載の製造ライン制御装置。
【請求項１９】
異なる工程または同一工程にある複数の前記測定装置から収集された各測定データに基づいて、前記所定の統計処理を実行する請求項１５から１８のいずれかに記載の製造ライン制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、生産設備全般の測定と調整のシーケンスの自動効率化方法および製造システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、製造ラインでは製造コストの低減が常に求められる。そして、この製造コストを低減させるためには、良品率の向上、測定時間の短縮、設備コストの削減、設備スペースの削減、テストオペレータの少人数化、製造量の変化に対する適応性などが求められている。
【０００３】
ここで、現在の製造ライン方式について説明する。現在、ライン方式とセル生産方式との２種類のものが知られている。ライン方式は、各工程の作業を単純化し、製品をベルトコンベアでどんどん流していくものである。各工程の処理能力が異なる場合には、前工程が仕掛品を押し付ける格好になるので、大量の仕掛品が発生する可能性がある。また、セル生産方式は、すべての工程をセルとよばれるスペースにまとめ、全工程を作業者１人でやり遂げるものである。これによって、各工程間の処理能力調整が自動的に行われて、作業者の効率が向上するので、生産能力の向上が図られることになる。
しかしながら、ライン方式およびセル生産方式の両方式ともに、半完成品あるいは完成品の測定と調整に時間がかかる点においては共通している。
【０００４】
測定と調整の工程を含む製造ラインの一例として、携帯電話の場合を見てみる。ダウンロード工程４１と調整工程４２と検査工程４３との３つの工程を含む携帯電話の製造ラインの一部を図４に示す。図４の工程以外の工程は製造現場によって異なることが多いが、図４に示す工程(または同等の機能をもつ工程)は、どの携帯電話の製造においても存在しているといえるような一般的または標準的な工程である。
【０００５】
次に、図４の各工程の内容を以下に簡単に説明する。ダウンロード工程４１は、携帯電話に内蔵されるＲＯＭへの設定値やデータの書き込みを行う工程である。また、調整工程４２は、各携帯電話に発生する各種モジュールや素子の性能差を補正して個体差を減らす処理をいう。設計段階において決定されて固定された設定値またはパラメータでは、携帯電話の性能を十分に発揮させるのに不十分な場合がありうる。このような理由から、本工程は、携帯電話を構成する各種モジュールや素子の個体差を無くして本来備わっている性能を十分に引きだす目的で行われる。具体的には、携帯電話を調整モードに設定し、携帯電話に接続された外部装置からの指示に従って、携帯電話のＲＯＭ内の設定値を変化させながら各種モジュールや素子の性能を測定し、それらが所望の性能を発揮するように調整する。また、本工程において、設計により定められたその他の能力が発揮できているかどうかを確認するためにデータを取得することもある。そして、検査工程４３では、製品が実際に使用される状態で試験が行われる。例えば、本工程では、基地局側の電波受信強度が弱いので携帯電話の出力パワーを上げる旨の指示を基地局から携帯電話に送信した場合において、この指示を受けた携帯電話の出力パワーの上昇が調整工程４２と同様に行われているかどうかを確認する。この検査工程４３は、携帯電話の動作がアンテナまたはアンテナ端子を介して制御される点で、調整工程４２と異なる。調整工程４２では、シリアルケーブルなどの、アンテナおよびアンテナ端子以外のインタフェースを介して携帯電話の動作が直接制御される。
【０００６】
このように、現在の携帯電話の製造ラインでは、基本性能を出すために個体差を無くす調整と性能を確認する検査とを全製品に対して行う。特に、携帯電話は電子機器の中でも製造台数が非常に多いので、携帯電話の製造ライン内の調整工程における調整時間を短くすることができれば、製品の生産効率を大きく向上させることができる。
【０００７】
従来より、製造ラインの生産効率を改善するために測定時間の短縮を図ることを目的とするものとして、特許文献１に記載された技術が知られている。通常は、６つの周波数帯（バンド）において７つのパワーレベルのための電子ボリューム設定値（４２個）を決定するために、測定を行いながら調整して設定値を決定している。この特許文献１に記載の技術では、各バンドにおいてパワーレベルに対応する設定値の幾つかを計算によって決定し、設定値を決定するための測定を省いて製造工程の調整工程の効率化を図っている。また、この特許文献１では、各バンドにおいて予め固定的な設定値またはパラメータが適用されている。
【０００８】
また、製造ラインの良品率を改善するものとして、リアルタイムに収集される様々なデータを用いて、現在の被測定物に対する最適な品質管理情報（良否判定範囲）を算出し、現在設定されている品質管理情報の適合度についても算出する、特許文献２に記載の技術が知られている。
【０００９】
しかしながら、特許文献１に記載の技術では、被測定物の良否率に関係なく固定的な効率改善がなされているので、たとえ被測定物の良品率が向上しても、測定工程の見直しがない限り、さらなる生産効率の改善は図られないという問題がある。また、特許文献２に記載の技術では、品質管理情報の最適値が算出されるものの、製造工程の見直しには人的作業が伴うという問題がある。
【００１０】
その他の関連技術としては、製造ラインの良品率の向上に関し、特許文献３および４に記載された方法が知られている。ここで、特許文献３は、ロット内の各個体における測定値のばらつき幅を監視することにより、ロット内での不良品発生を未然に検出して不具合対応を迅速化するものである。特許文献４は、リアルタイムに収集される各種データを用いて、現在の被測定物に対する最適な品質管理情報を算出するものである。しかしながら、特許文献３および４の方法は、各種統計データを用いて、被測定物の品質管理工程を改善するものであって、調整や検査に関する工程それ自体のさらなる効率化を図ることまでは言及していない。
【特許文献１】特開２００１−１１９３０９号公報
【特許文献２】特開２００３−２９８２５号公報
【特許文献３】特開２００２−１４９２２２号公報
【特許文献４】特開２００３−２９８２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明の目的は、製造工程を自動的に見直すことができるようにして、製造工程の生産効率を向上させることである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、最適な予測データを逐次生成して製造工程を効率化することができる製造システムを提供する。
具体的には、製造された製品の性能評価を行う測定装置を備え、該測定装置から、該製品の性能評価項目についての予測データがあるかどうかを問い合わせる信号、または該測定装置により該製品の性能評価項目について得られた測定データを受信する受信部と、該測定データと該測定装置により以前に測定された測定データと予測データとを記憶する記憶部と、前記測定データに基づく所定の統計処理を実行し、これにより得られた結果と以前に測定された測定データに基づく統計処理の結果とを比較したときの値の差が所定条件を満たす場合には、前記予測データよりも測定点数または測定回数が少ない新たな予測データへと前記予測データを更新する演算部と、前記予測データがあるかどうかを問い合わせる信号に応じて、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されている場合には、前記予測データまたは該新たな予測データを前記測定装置に送信し、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されていない場合には、該当する予測データがないことを示す信号を前記測定装置に送信する送信部とを含む製造ライン制御装置を含んでなる製造システムを提供する。
ここで、前記所定の統計処理は、回帰分析、クラスター分析、グレイモデル、コンジョイント分析、最近隣法、実験計画法、主成分分析法、数量化理論１類、数量化理論２類のいずれかに基づくことができる。前記予測データは、平均値、平均値からのばらつき（偏差）、ある値における測定回数、測定繰り返し回数のいずれかの情報を含むものである態様や、前記記憶部に前記予測データがない場合には、通常のシーケンスに従って前記製品の性能評価を行うよう指示する信号を前記測定装置に送信する態様がある。前記演算部によって、前記測定装置への前記新たな予測データの適用が許可されている場合には、前記新たな予測データを適用した測定シーケンスに従って前記製品の性能評価を行うよう指示する信号を前記測定装置に送信する態様や、異なる工程または同一工程にある複数の前記測定装置から収集された各測定データに基づいて、前記製造ライン制御装置が前記所定の統計処理を実行する態様であることが好ましい。
【００１３】
また、上記のいずれかに記載の制御装置を含む、製品の性能評価項目についての測定シーケンスを自動的に変更するシステムについても提供する。
具体的には、製造された製品の性能評価を行う各種の測定装置と、該各種の測定装置との間で測定データまたは予測データの通信を行う製造ライン制御装置とを含んでなる製造システムを用いて、前記製品の性能評価についての測定シーケンスを自動的に変更する方法であって、該測定装置から測定データを前記制御装置が受信するステップと、前記制御装置の演算部において、前記測定データと前記測定装置により以前に測定された測定データとに基づいて所定の統計処理を実行し、前記測定データに基づく統計処理と以前に測定された測定データに基づく統計処理との結果を比較したときの値の差が所定条件を満たす場合には、前記予測データよりも測定点数または測定回数が少ない新たな予測データへと前記予測データを更新するステップと、該新たな予測データを前記測定装置に送信するステップとを含んでなる、測定シーケンスを自動的に変更する方法を提供する。
ここで、前記予測データまたは該新たな予測データがない場合には、そのような予測データがないことを示す信号を前記測定装置に送信するステップをさらに含む態様や、前記測定装置において前記新たな予測データの適用が許可されている場合には前記新たな予測データを適用した測定シーケンスを実行するステップをさらに含む態様がある。そして、前記製品の性能評価のための前記測定シーケンスが終了すると、前記測定項目と前記測定シーケンスにより得られた測定データとを前記制御装置に送信するステップと、送信された前記測定項目と前記測定データとを前記制御装置の記憶部に記憶するステップとをさらに含む態様や、異なる工程または同一工程にある複数の前記測定装置から収集された各測定データに基づいて、前記製造ライン制御装置が前記所定の統計処理を実行する態様であることが好ましい。
さらに、本発明は、上記のいずれかの測定シーケンスを自動的に変更する方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを提供する。
【００１４】
加えて、本発明は、上記の製造システムや上記の測定シーケンスを自動的に変更する方法に使用される制御装置を提供する。
具体的には、製造された製品の性能評価を行う測定装置から、該製品の性能評価項目についての予測データがあるかどうかを問い合わせる信号、または該測定装置により該製品の性能評価項目について得られた測定データを受信する受信部と、該測定データと前記測定装置により以前に測定された測定データと前記予測データとを記憶する記憶部と、前記測定データに基づく所定の統計処理を実行し、前記測定データに基づく統計処理の結果と以前に測定された測定データに基づく統計処理の結果とを比較したときの値の差が所定条件を満たす場合には、前記予測データよりも測定点数または測定回数が少ない新たな予測データへと前記予測データを更新する演算部と、前記予測データがあるかどうかを問い合わせる信号に応じて、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されている場合には、前記予測データまたは該新たな予測データを前記測定装置に送信し、前記予測データまたは該新たな予測データが前記記憶部に記憶されていない場合には、該当する予測データがないことを示す信号を前記測定装置に送信する送信部とを含んでなる製造ライン制御装置を提供する。
ここで、前記所定の統計処理は、回帰分析、クラスター分析、グレイモデル、コンジョイント分析、最近隣法、実験計画法、主成分分析法、数量化理論１類、数量化理論２類のいずれかに基づくものである態様や、前記予測データは、平均値、平均値からのばらつき（偏差）、ある値における測定回数、測定繰り返し回数のいずれかの情報を含むものである態様や、前記演算部によって、前記測定装置への前記新たな予測データの適用が許可されている場合には、前記新たな予測データを適用した測定シーケンスに従って前記製品の性能評価を行うよう指示する信号を前記測定装置に送信する態様や、異なる工程または同一工程にある複数の前記測定装置から収集された各測定データに基づいて、前記所定の統計処理を実行する態様であることが好ましい。
【００１５】
ここで、「制御装置」は、パーソナルコンピュータやワークステーションなどの計算機でありうるが、これに限らず、例えば、ＰＤＡや携帯電話などの携帯用情報端末も含みうる。また、ＬＡＮやインターネットなどを用いて、測定装置と制御装置との間の通信を有線または無線で行うことができる。
そして、「測定装置」は、単体の測定装置に限らず、（各工程を限定的に制御するものであり、生産工程全体を制御するものとは異なる）制御装置によって制御された少なくとも１つの測定装置を含む測定システムまたは調整システムを含みうる。
また、「予測データがあるかどうかを問い合わせる信号」は、測定装置が測定を開始したことを知らせる信号を含みうる。
ここで、「予測データ」とは、各測定装置において実行される各種の測定項目についての測定データを取得または解析するために使用される測定条件または解析条件を規定するデータを意味する。このような測定条件または解析条件としては、特に限定はされないが、例えば、測定装置の測定データを解析するためのソフトウェアに対して与えられる初期値や、各種の測定項目の測定データの予測される平均値とその平均値からのばらつき（３σや６σなどの偏差）や、各種の測定項目の測定時の測定回数などを含みうる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の効果としては、測定装置による測定と並行して、本発明の制御装置を用いて予測データを求めて所定値と比較することができるので、リアルタイムに工程を自動的に見直すことができる。また、測定装置による測定データが多くなるほど制御装置による工程の見直しの信頼性が高くなるので、製造量の増加に応じてさらなる製造工程の効率化が図られる。
また、各工程における人的な工程見直しの場合とは異なり、各工程での測定結果を総合的に制御装置が自動的に判断して工程見直しを行うことができるので、製造工程全体としての最適化が自動的かつ迅速に図られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
図１に、本発明の制御装置１を示す。この制御装置１は、製造された製品の性能評価を行う測定装置（図示せず）に接続され、製品の性能評価項目についての予測データがあるかどうかを問い合わせる信号と、測定装置により製品の性能評価項目について得られた測定データとを受信する受信部１２と、受信した測定データと測定装置により以前に測定された測定データと予測データとを記憶する記憶部１１と、測定データと測定装置により以前に測定された測定データとに基づいて所定の統計処理を実行して、予測データを作成、追加、または更新する演算部１０と、予測データが記憶部１１に記憶されている場合には、予測データを測定装置に送信し、予測データが記憶部１１に記憶されていない場合には、該当する予測データがないことを示す信号を測定装置に送信する送信部１３とを含んでなる。
【００１８】
次に、図１の制御装置１を用いた本発明の製造システム３の概要を図２に示す。図２には、制御装置１と、例えば携帯電話の製造ラインの一部でありうるダウンロード工程２１と調整工程２２と検査工程２３とを有する調整システムまたは測定システム２とを含んでなる製造システム３が記載されている。図４の従来の製造システムとを比較すると、制御装置１が、調整工程２２または検査工程２３にある測定装置からの調整・測定データを収集して各種の統計処理を行い、この統計処理により得られた予測データを測定システム２の調整工程２２または検査工程２３にある測定装置へとフィードバックできるように構成されている点において、図２の本発明の製造システム３は異なっている。
【００１９】
ここで、図２に示す本発明の製造システム３では、まず、各工程にある測定装置から制御装置１へと測定データまたは調整データが送信される。そして、制御装置１の演算部において、このような測定データまたは調整データを用いて所定の統計処理が実行される。この所定の統計処理により、各工程にある測定装置の測定シーケンスに適切な設定値またはパラメータでありうる予測データが求められる。この予測データは、測定データまたは調整データを各種の統計処理することにより得られるものであり、製品に適した調整用の設定値またはパラメータや各種の測定のための測定条件についてのデータを含みうる。そして、制御装置１から測定システム２の調整工程２２または検査工程２３にある測定装置にこの予測データが送信される。これにより、各工程２１、２２、２３の測定装置による測定シーケンスが自動的に最適化されることになる。
【００２０】
つまり、本発明の製造システム３は、各工程の測定装置から収集された各種の測定データに各種統計処理を行って得られた適正な設定値またはパラメータなどの測定条件を含む予測データを各工程の測定装置へとフィードバックするよう構成されている。このため、予測データを介して各工程の測定装置で実行される測定において余計な測定項目を削除したり測定点数または測定回数などが減らしたりすることができる。その結果、各工程の測定装置において最適な設定値またはパラメータを求めるための時間などを短縮することができるので、製造量の向上が図られることになる。
【００２１】
次に、図３を参照して、本発明の制御装置１を用いて、製造システム３の調整工程２２または検査工程２３の測定シーケンスを自動的に効率化する方法を説明する。
ステップ２００では、ある測定項目の検査が開始される。ステップ２０２では、この測定項目に関連する予測データが制御装置１の記憶部１１にあるかどうかを問い合わせる信号を測定装置から送信する。ここで、待機状態であった制御装置１は、この信号を受信すると動作状態となり、記憶部１１に該当する予測データがある場合には、問合せ信号を送信した測定装置に送信する。また、予測データがない場合には、該当する予測データがないことを示す信号を測定装置に送信する。そして、送信後に、制御装置１は再び待機状態に戻る。
【００２２】
ステップ２０４では、ステップ２０２において制御装置１から該当する予測データを受信することができた場合とできなかった場合との２つの場合が考えられる。そのため、それぞれの場合に分けて以下に説明する。
まず、ステップ２０２において予測データを受信できた場合において、制御装置１からその予測データを直ちに測定において適用してもよい旨の許可がある場合には、ステップ２１０へと進み、予測データを適用した効率化シーケンスにより測定が行われる。そして、効率化シーケンスによる測定が終了すると、ステップ２１２へと進み、測定項目の検査を終了する。
一方、ステップ２０２において予測データを受信できなかった場合、または予測データを受信できたが測定において適用してもよい旨の許可が制御装置１から送信されなかった場合には、使用できる予測データがないことになるので、ステップ２０８へと進み、通常シーケンスにより測定が行われる。そして、通常シーケンスによる測定が終了すると、ステップ２１２へと進み、測定項目の検査を終了する。
【００２３】
測定項目の検査が終了すると、ステップ２１４に進み、測定項目の測定データを制御装置１に送信する。ここでは、通常シーケンスと効率化シーケンスとのいずれかによって得られた測定データが存在している訳であるが、いずれの場合であってもこの測定により得られた測定データが制御装置に送信される。そして、ステップ２１６では、全ての測定項目についての測定が終了したかどうかが判断される。もし、全ての測定項目を終了している場合には、ステップ２１６に進み、検査工程を終了する。一方、まだ測定すべき測定項目がある場合には、ステップ２００に戻り、上記に説明した処理が繰り返されることになる。
【００２４】
次に、上記のステップ２１４において測定データが送信された制御装置の動作を説明する。待機状態２２４にある制御装置１は、ステップ２１４において送信された測定データの受信をトリガとして動作を開始する。そして、ステップ２２６では、測定装置から送信された測定データを受信する。ステップ２２８では、受信した測定データをデータベースに登録する（つまり、記憶部１１に記憶する）。ステップ２３０では、制御装置１の演算部１０において、過去の測定データと受信した測定データとに基づいて所定の統計処理が実行されて、予測データが更新される。
【００２５】
ステップ２３２では、制御データを更新して、更新された予測データを記憶部１１に記憶し、将来の測定に更新された予測データを利用できるようにする。ここで、更新された予測データを直ちに次回の測定に使用するよう運用する場合には、その旨の許可が与えられるよう初期設定することができる。一方、工程の担当者などが更新された予測データを確認してから次回の測定に使用するように運用する場合には、更新された予測データの使用を許可しないよう初期設定しておく。この場合には、キーボードやマウスなどの入力手段を介して、更新された予測データの適用を許可する旨の信号を受信したときに、更新された予測データを測定に使用できるように許可されることになる。そして、ステップ２２４に戻り、制御装置１は再び待機状態になる。
【００２６】
ここで、ステップ２３０において実行される所定の統計処理としては、限定されるものではないが、例えば図６に記載された統計処理などが挙げられる。この図６には、本発明の各種の統計処理に用いられるアルゴリズムの例として、回帰分析、クラスター分析、グレイモデル、コンジョイント分析、最近隣法（または最短距離法）、実験計画法、主成分分析、数量化理論１類、数量化理論２類などが記載されている。
なお、図６に示すこれらの統計処理の全てを制御装置１の演算部１０において実行することもできるが、これに限らず、必要に応じてキーボードやマウスなどの入力手段（図示せず）を介して特定の統計処理を実行する旨の命令を制御装置に送信して、特定の統計処理に基づく解析だけを実行することもできる。
【００２７】
ここで、図３は、制御装置１を適用して、製造ライン３内の調整システムまたは測定システム２にある工程内の２以上の測定シーケンスを自動的に最適化する手法を説明するものである。しかしながら、本発明の制御装置１を適用した測定シーケンスの自動効率化方法は、このような場合に限られるものではない。例えば、本発明の制御装置１を用いて調整工程の特定の測定シーケンスだけを最適化することもできる。このことを、以下の（１）〜（３）において、より詳細に説明する。
【００２８】
(１)設定値もしくは測定値が、安定状態にあるかまたは不安定状態にあるかの判断について
統計処理されたデータに基づいて、現在の設定値が安定状態または不安定状態のいずれかを判断する。もし、現在の設定値が安定状態にある場合には、設定値に関連する測定項目の測定点数または測定回数を少なくする。
例として、測定点数を５点とし、その５点の測定点数の測定値から測定項目の平均値を求める場合を考える。ここで、もし、平均値からの偏差または分散量が例えば２σ以内であり安定状態にあると判断した場合には、５点の測定を行う代わりに、その両端の測定点を除いた残りの中央の３点についての測定を行い、それらの測定値から平均値を求めてこの測定項目の平均値とすることができる。これによって、測定工程において測定点数を５点から３点に減らすことができるので、測定時間が短縮され測定工程が最適化されることになる。
ここで、上記の平均値としては、全ての値を加えて測定点数で割ったような単純な平均値を想定しているが、これに限らず、例えば、ある測定値に重み付けしてから平均をとるような加重平均を採用することもできる。また、過去の測定データに所定の統計処理を実行して得られた分布に基づく分散であるμと現在の測定値に基づく分散σとを比較して、その差が所定の閾値よりも小さい場合には安定状態にあると判断することもできる。
【００２９】
(２)過去の調整工程における設定値の推移から、ある設定値を補間により求めて測定点数を減らすことについて
設定値がある程度収集されてきた場合、つまり、設定値の数が統計処理を行うのに十分な数に達した場合には、それらの設定値の統計処理に基づく数式などを用いて、ある設定値の間に他のある設定値を補間して推測できる場合がある。すなわち、実際に測定を行って設定値を求めなくても、信頼性の高い設定値を補間により得ることができる場合がある。
例えば、ある製造ラインを流れた過去のある製品の調整項目の設定値が１０、２０、３０、４０、５０の５つであることが既にわかっているような場合を考える。数日後、同じ製造ラインにおいて、上記の調整項目での設定値が１０、２０、３０となる製品が流れてきたとする。このような場合には、それまでに得られた設定値の推移を踏まえると、残りの２点の設定値は４０および５０に近似するものとなる可能性が高い。そこで、設定値が３０であることと、設定値が５０になると推測される箇所から得られた設定値とを用いて、設定値が４０にどの程度近似しているかを補間により求めることができる。ここで、設定値が５０になると推測される箇所から得られた設定値として、５１という値が得られたとすれば、補間により（５１＋３０）÷２＝４０．５として設定値を求めることができる。
このように、設定値が４０であると推測される箇所の測定を省略して補間により求めることにより、測定時間を短縮して、調整工程の最適化を図ることができる。
【００３０】
（３）調整ポイント間の類似性による相関パターン推測
調整には類似性があるものが非常に多い。このため(２)では計算により求めたが、ここでは直前にその固体で測定したデータから推測し、データ間の値を求める。
例えば、直前の設定値として、１０、２０、３０、４０、５０というデータが得られている場合を考える。ここで、蓄積された過去の設定値の推移に基づいて、この設定値の傾きは直線により近似できるものであることがわかっているとする。すると、設定値として実際に１１、２１、３１という３つの値が得られた場合には、残りの４０および５０に対応する箇所の設定値は、４１および５１になるものと推測できる。そのため、残りの４０および５０に対応する箇所の設定値については、実際の測定を行わずに、それまでに得られた設定値の差分から求めることができる。具体的には、残りの４０および５０に対応する箇所の設定値を、４１および５１とすることができる。
このように、設定値が４０および５０であると推測される箇所の測定を省略し、それまでに得られた設定値から残りの４０および５０に対応する箇所の設定値を求めることができる。これにより、上記（２）の補間の場合と同様、測定時間を短縮して、測定工程の最適化を図ることができる。
【００３１】
次に、図３に示す本発明の製造システムによる製造方法と図５に示す従来の製造システムによる製造方法との違いを具体的に説明する。ここでは、理解を容易にするために、携帯電話の出力パワーの調整工程を含む製造ラインを例として説明する。一般に、携帯電話の製造ラインでは、携帯電話の電波を出力する機構の個体差をなくすために出力パワーの調整が行われる。しかしながら、本発明は、このような製造システムに限定されるものではないことに留意されたい。
【００３２】
まず、この出力パワーの調整工程を例として、回帰分析手法を用いて生産効率の向上を行う従来の製造システムにおける製造工程を説明する。図５に示される従来の携帯電話の出力パワーの調整では、ダウンロード工程において初期値 １００(パワー調整用ＤＡＣ値)を書き込み、調整工程では携帯電話の出力パワーが目標値（２０．５ｄＢ±１．０ｄＢ）となるようにパワー調整用ＤＡＣ値を最適化し、検査工程では、調整工程で得られたパワー調整用ＤＡＣ値（ここでは１１０）であるときに、携帯電話の出力パワーが目標値となるかどうか検査される。
このように、従来の製造ラインにおいては、上記ように各値は相互に関連するものであるにもかかわらず、各工程間でのデータのやり取りによる最適化は実行されていない。これは、従来の製造ラインの各工程では、各工程がそれぞれ独立したものであるという前提の下に製造ラインが構築されていることによる。そのため、ある測定装置により得られた測定データなどが、同一工程において後続する製品の測定や、その後の工程において有効に活用することができない。その結果、製造ラインのさらなる効率化が困難なものになっている。
【００３３】
一方、上記の例に対して本発明の制御装置を適用した製造ラインの場合を以下に説明する。上記の検査工程において、仮に、携帯電話の出力パワー測定値の分布が２０ｄＢを中心としたガウス分布であったとする。この時、出力パワー測定値が２１．０〜２１．５ｄＢである携帯電話の台数は、出力パワー測定値が１９〜１９．５ｄＢである携帯電話に比べて少ないので、調整工程において改善の余地があることが分かる。本発明の制御装置を適用した製造ラインでは、検査工程での得られたデータを活用して、予測データを変更して調整工程での目標値を２１．０ｄＢ（＝２０．５ｄＢ＋０．５ｄＢ）に自動的に変更する。これにより、検査工程における携帯電話の出力パワー測定の分布は２０．５ｄＢを中心とするようになり、歩留まり率を自動的に向上させることができる。
このように、本発明の制御装置を適用した製造ラインでは、各工程が相互に関連するものであるという実状に即した前提の下に製造ラインが構築されている。そのため、ある測定装置により得られた測定データなどが、同一工程において後続する製品の測定や、その前後の工程においても有効に活用することができる。その結果、製造ラインのさらなる効率化が図られることになる。
【００３４】
また、本発明の制御装置を適用した製造ラインの効率化は各種測定装置からの測定データに基づいて自動的に行われる。そのため、各種統計処理に十分な測定データを収集することができ次第、最適な測定条件または解析条件を含む予測データを製造ラインの各工程へと送信することにより速やかにフィードバックすることができる。このことは、従来のように、製造ラインの各工程の担当者が会議を行って合意が得られてから各工程の測定条件または解析条件を最適なものへと変更する場合と比べて、製造ラインの効率がよいことは明らかである。さらに、製造ラインに制御装置を適用することにより、各工程の管理者の数を減らして、製造ラインの管理・維持に要するコストを削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の製造ライン制御装置１の構成を示す概略図である。
【図２】図１に示す製造ライン制御装置１と、ダウンロード、調整、検査の各工程を有する製造ライン２とを含む製造システム３を示す概略図である。
【図３】図２に示す製造システム３を用いて、製造ラインの各工程を効率化する方法を示すフローチャートである。
【図４】一般的な携帯電話の製造工程を示すフローチャートである。
【図５】従来の製造システムの構成を示す概略図である。
【図６】本発明の所定の統計処理に適用される分析手法のアルゴリズムとその概要を示す説明図である。
【符号の説明】
【００３６】
１  制御装置
１０  演算部
１１  記憶部
１２  受信部
１３  送信部
２  計測システム
３  製造システム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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