(57)【要約】【課題】  トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクでも短時間で精度良くトラッキングパラメータを調整する。【解決手段】  光ディスクに記録された情報を読み取る光ピックアップ３を、光ディスクの記録領域の一つである基準トラックピッチ領域に移動し、その領域におけるトラッキングサーボゲインが所定の特性となるようにトラッキングゲインを調整し、この得られた値を、例えば、不揮発性メモリ内に記憶しておく。その後、基準トラックピッチ領域で学習調整したトラッキングパラメータを用いて、他のトラックピッチ領域におけるトラッキングパラメータをトラックピッチの比を用いて算出するため、短時間で、精度良くトラッキングパラメータを調整できる。【選択図】  図１
2005166156.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクにおけるトラッキング学習調整方法であって、
該ディスクに記録された情報を読み取る光学的検出手段を、前記複数の記録領域の一つである基準トラックピッチ領域に移動し、
該基準トラックピッチ領域におけるトラッキングサーボゲインが所定の特性となるようにトラッキングゲインを調整し、
該調整により得られた値から、トラックピッチの異なる他の領域におけるトラッキングゲインを算出し、
もって、複数の記録領域におけるトラッキングゲインを調整することを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項２】
前記請求項１に記載したトラッキング学習調整方法において、前記基準トラックピッチ領域のトラックピッチは、前記他のトラックピッチ領域のトラックピッチよりも大きいことを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項３】
前記請求項１に記載したトラッキング学習調整方法において、前記トラッキングゲイン調整を行なう基準トラックピッチ領域は、前記光ディスクの再生専用領域であることを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項４】
前記請求項１に記載したトラッキング学習調整方法において、前記トラッキントラッキングゲイン調整を行なう際には、トラッキングエラー信号の振幅を用いて行なうことを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項５】
前記請求項４に記載したトラッキング学習調整方法において、前記トラッキングエラー信号は、プッシュプル法又は差動プッシュプル法の何れか一方を用いることにより生成することを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項６】
前記請求項４に記載したトラッキング学習調整方法において、前記トラッキングエラー信号の生成方法は、前記トラックピッチが異なる複数の記録領域の全てにおいて共通であることを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項７】
前記請求項１に記載したトラッキング学習調整方法において、前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングゲインの調整方法は、トラッキングサーボループに所定の周波数の外乱を注入して、前記注入外乱とループを一巡して戻ってきた信号の位相差が所定の値となるように調整することにより行なわれることを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項８】
前記請求項１に記載したトラッキング学習調整方法において、前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲインＹを、以下の式により求め、
Ｙ＝Ｘ÷｛Ｋ×Ｒｔ＋（１−Ｋ）｝
ここで、Ｘは前記調整により得られた値であり、Ｒｔは前記他のトラックピッチと前記基準トラックピッチとの比であり、そして、Ｋは定数であることを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項９】
前記請求項２に記載したトラッキング学習調整方法において、該定数Ｋは、一端算出した後、不揮発性メモリ内に記録することを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項１０】
前記請求項２に記載したトラッキング学習調整方法において、該定数Ｋは、以下の式により求め、
Ｋ＝（１−Ｇ２÷Ｇ１）÷（１−Ｔｐ２÷Ｔｐ１）
ここで、Ｔｐ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｔｐ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｇ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値、そして、Ｇ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値であることを特徴とするトラッキング学習調整方法。
【請求項１１】
トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクからの記録情報の再生、又は、情報の記録再生を光学的に行う光ディスク装置であって：
該光ディスクに記録された情報を読み取る光学的検出手段と；
該光学的検出手段によってトラッキングエラー信号を演算する演算手段と；
該光学的検出手段を、前記複数の記録領域の一つである基準トラックピッチ領域へ移動する移動手段と；
該トラックピッチが互いに異なる領域毎にトラッキングサーボゲインの設定値を調整するゲイン手段と；そして、
該基準トラックピッチ領域におけるトラッキングサーボゲインが所定の特性になるように該ゲイン手段の設定値を調整するゲイン調整手段とを備えており、更に、前記ゲイン手段は、前記ゲイン調整手段によって該基準トラックピッチ領域において調整された設定値から、前記基準トラックピッチ領域以外のトラックピッチ領域におけるトラッキングサーボゲインの設定値を算出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
前記請求項１１に記載した光ディスク装置において、前記基準トラックピッチ領域のトラックピッチは、前記他のトラックピッチ領域のトラックピッチよりも大きいことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
前記請求項１１に記載した光ディスク装置において、前記トラッキングゲイン調整を行なう基準トラックピッチ領域は、前記光ディスクの再生専用領域であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
前記請求項１１に記載した光ディスク装置において、さらに、前記トラッキントラッキングゲイン調整を行なう際にトラッキングエラー信号の振幅を検出する振幅測定手段を備えており、前記ゲイン調整手段は、前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングエラー信号の振幅が所定の振幅となるように調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１５】
前記請求項１４に記載した光ディスク装置において、前記トラッキングエラー信号は、プッシュプル法又は差動プッシュプル法の何れか一方を用いることにより生成することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１６】
前記請求項１４に記載した光ディスク装置において、前記トラッキングエラー信号の生成方法は、前記トラックピッチが異なる複数の記録領域の全てにおいて共通であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１７】
前記請求項１０に記載した光ディスク装置において、さらに、
トラッキングサーボループに所定の周波数の外乱を注入する外乱注入手段と、
前記注入外乱と前記サーボループを一巡して戻ってきた信号との位相差を測定する位相差測定手段とを備え、かつ、
該位相差測定手段の測定値が所定の値になるように調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１８】
前記請求項１０に記載した光ディスク装置において、前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲインＹを、以下の式により求め、
Ｙ＝Ｘ÷｛Ｋ×Ｒｔ＋（１−Ｋ）｝
ここで、Ｘは前記調整により得られた値であり、Ｒｔは前記他のトラックピッチと前記基準トラックピッチとの比であり、そして、Ｋは定数であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１９】
前記請求項１２に記載した光ディスク装置において、該定数Ｋは、一端算出した後、不揮発性メモリ内に記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２０】
前記請求項１２に記載した光ディスク装置において、該定数Ｋは、以下の式により求め、
Ｋ＝（１−Ｇ２÷Ｇ１）÷（１−Ｔｐ２÷Ｔｐ１）
ここで、Ｔｐ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｔｐ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｇ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値、そして、Ｇ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値であることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクにおいて、トラッキングパラメータを学習するトラッキング学習調整方法、及び、それを利用した光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光などを照射によって情報を記録・再生するための光学的情報記録媒体である光ディスクは、各種のものが提案され、かつ、実用化されている。その中には、例えば、以下の特許文献１によれば、その領域によってトラックピッチが異なる複数の記録領域を、単一のディスク内に有する光ディスクが既に知られている。なお、この特許文献では、トラックピッチの異なる領域においても同一のＴＥ信号の生成方法を用いて情報の記録・再生を行なう光ディスクが提案されている。
【０００３】
また、かかるトラックピッチの異なる複数の記録領域を単一のディスク内に有する光ディスクにおいて、安定したトラッキングサーボを実現する方法として、それぞれ、そのトラックピッチを測定して、その違いからトラッキングエラー信号（以下、「ＴＥ信号」と記す。）の生成方法を切り換える方法が、例えば、以下の特許文献２に開示されている。
【０００４】
これは、各記録領域において、そのＴＥ信号の最適な生成方法が異なるためであり、例えば、トラックピッチ＝1.6μmの再生専用コンパクトディスク（以下、「ＣＤ−ＲＯＭ」と記す。）領域と、デジタルバーサタイルディスク（以下、「ＤＶＤ」と記す。）の一種でトラックピッチ＝0.74μmの再生専用ＤＶＤ（以下、「ＤＶＤ−ＲＯＭ」と記す。）領域とが混在する場合、前者のＣＤ−ＲＯＭ領域では３スポット法がＴＥ信号の最適な生成方法であり、他方、後者のＤＶＤ−ＲＯＭ領域ではＤＰＤ法がＴＥ信号の最適な生成方法であることによる。
【０００５】
更には、前記ＤＶＤ−ＲＯＭ領域と共に、トラックピッチ＝0.615μmの書き換え型ＤＶＤ（以下、「ＤＶＤ−ＲＡＭ」と記す。）とが混在する場合には、前者のＤＶＤ−ＲＯＭ領域ではＤＰＤ法がＴＥ信号の最適な生成方法であり、他方、ＤＶＤ−ＲＡＭ領域ではプッシュプル法がＴＥ信号の最適な生成方法である。このように、以上の特許文献２に記載の技術によれば、それぞれ、そのトラックピッチが異なる領域においては、そのＴＥ信号を生成するため、それぞれに異なる最適な生成方法を用いることが開示されている。また、以下の特許文献３、又は、特許文献４も既に知られている。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−１２３３３３号公報
【０００７】
【特許文献２】特開２００２−２５０７９号公報
【特許文献３】特開平５−２６６４９８号公報
【特許文献４】特開平５−２６６４９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、前記の特許文献１には、トラックピッチが0.35μmの再生専用領域と、トラックピッチが0.32μmの記録再生領域という、２種類の領域を一枚のディスク内に有する光ディスクのＴＥ信号を生成する方法が開示されているが、この従来技術に開示された光ディスクの両領域は、共に、相変化材料を用いたグルーブ状のトラック構造であることから、そのＴＥ信号を生成する方法としては、プッシュプル法を共通して用いることができる。しかしながら、この場合における問題点を以下に説明する。
【０００９】
まず、そのトラックピッチが、それぞれ、0.35μmと0.32μmである両領域におけるプッシュプル信号を、添付の図２に示す。まず、図２（ａ）はトラックピッチ＝0.35μmの場合のプッシュプル信号であり、その振幅はＡＭＰ１である。他方、図２（ｂ）はトラックピッチ＝0.32μmの場合のプッシュプル信号であり、その振幅はＡＭＰ２である。これらの振幅ＡＭＰ１とＡＭＰ２とを比べると、トラックピッチが大きい振幅ＡＭＰ１の方が原理的に振幅ＡＭＰ２よりも大きくなり、その間の比は、約1.5対1程度である。一方、ＴＥ信号の一周期はトラックピッチに比例しており、上記図２において、トラックピッチ＝0.35μm及びトラックピッチ＝0.32μmの場合におけるこれらＴＥ信号の一周期の時間が、それぞれ、符号ＰＲＤ１及びＰＲＤ２で示している。なお、これら一周期の時間ＰＲＤ１とＰＲＤ２との間の比は、トラックピッチの比であるから、0.35対0.32、つまり、1.09対1となる。
【００１０】
また、ここで、上記ＴＥ信号のゼロクロス（０レベルとの交点）における接線の傾きは、トラックずれの検出感度であるので、これはトラッキングループゲインの一部に相当する。ここで、上記図２（ａ）及び（ｂ）のそれぞれについて、そのゼロクロス接線の傾き（以下、「検出感度」と記す。）を以下に求める。
【００１１】
上記のプッシュプル信号は正弦波で近似できるので、図２（ｂ）の周波数をfとすると、図２（ａ）のＴＥ信号Ｘは、
Ｘ＝1.5×sin(2π×(1/1.09)×f×t)  …（数１）
と表される。求める検出感度αは、上式を時間tで微分したものであるので、
α＝1.5×2π×(1/1.09)×f×cos(2π×(1/1.09)×f×t)   …（数２）
となる。さらに、ゼロクロスにおける検出感度α0は、t=0の場合であるので、
α0=1.5×2π×(1/1.09)×f  …（数３）
となる。
【００１２】
一方、図２（ｂ）の場合には、ＴＥ信号Ｘは、
Ｘ＝sin(2π×f×t)   …（数４）
と表される。その検出感度αは、上記と同様に、上式を時間tで微分したものであるので、
α=2π×f×cos(2π×f×t)   …（数５）
となる。さらに、そのゼロクロスにおける検出感度α0も、t=0の場合であるので、
α0=2π×f  …（数６）
となる。
【００１３】
以上により、上記図２（ａ）及び（ｂ）における検出感度α0は、それぞれ、1.5×2π×(1/1.09)×f、そして、2π×fであるので、その間の比は、1.5×(1/1.09)対1、つまり、1.38対1となる。ここで、検出感度比（＝1.38）は、
検出感度比＝振幅比÷トラックピッチ比  …（数７）
から求めることができる。
【００１４】
このことは、上記図２（ａ）と（ｂ）の場合（即ち、トラックピッチが0.35μmと0.32μmと異なっている場合）では、トラッキングゲインが1.38対1になることを意味しており、その差は約2.8dBである。ここで、上記特許文献１に記載された光ディスクの偏芯と、残留許容誤差の規定とが、トラックピッチの異なる両領域で同じ場合には、トラッキングサーボ特性はこれら両領域において同じであることが望ましい。そこで、それぞれの領域でトラッキングサーボ特性が同一となるように、このトラッキングゲインを切り換える必要がある。
【００１５】
しかしながら、そのためには、光ピックアップをそれぞれの領域に位置付けてトラッキングゲインを各々学習調整する必要があり、これでは、学習時間が長くなるという問題が生じてしまう。また、トラックピッチ=0.32μmの領域は、記録再生領域であることから、反射率が異なる未記録部と記録部とが混在している場合が当然に考えられる。しかしながら、このように未記録部と記録部とが混在している場合、学習調整を行う位置が、未記録部であるか、記録部であるか、又は、これら両方の領域を含むか（混在している）に応じ、そのトラッキングゲインも異なっており、そのため、安定した学習調整を行うことは困難である。
【００１６】
そこで、本発明は、以上の従来技術における問題に鑑みて達成されたものであり、その目的は、トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクにおいて、短時間で、かつ、精度良く、上述したトラッキングパラメータの学習が可能なトラッキング学習調整方法及びそれを利用した光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
すなわち、本発明は、トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクでは、一のトラックピッチ領域において学習調整されたトラッキングパラメータは、他のトラックピッチ領域においても、比例関係を有しており、そこで、そのトラックピッチ比を用いることによって算出することが可能であるとの認識に基づいて達成されたものである。
【００１８】
本発明では、そこで、上記の目的を達成するため、まず、トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクにおけるトラッキング学習調整方法であって、該ディスクに記録された情報を読み取る光学的検出手段を、前記複数の記録領域の一つである基準トラックピッチ領域に移動し、該基準トラックピッチ領域におけるトラッキングサーボゲインが所定の特性となるようにトラッキングゲインを調整し、該調整により得られた値から、トラックピッチの異なる他の領域におけるトラッキングゲインを算出し、もって、複数の記録領域におけるトラッキングゲインを調整するトラッキング学習調整方法が提案される。
【００１９】
また、本発明では、前記に記載したトラッキング学習調整方法において、前記基準トラックピッチ領域のトラックピッチは、前記他のトラックピッチ領域のトラックピッチよりも大きいこと、又は、前記トラッキングゲイン調整を行なう基準トラックピッチ領域は、前記光ディスクの再生専用領域であること、又は、前記トラッキントラッキングゲイン調整を行なう際には、トラッキングエラー信号の振幅を用いて行なうことが好ましい。また、前記トラッキングエラー信号は、プッシュプル法又は差動プッシュプル法の何れか一方を用いることが、更には、前記トラッキングエラー信号の生成方法は、前記トラックピッチが異なる複数の記録領域の全てにおいて共通であることが好ましい。また、前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングゲインの調整方法は、トラッキングサーボループに所定の周波数の外乱を注入して、前記注入外乱とループを一巡して戻ってきた信号の位相差が所定の値となるように調整することにより行なわれることが好ましい。
【００２０】
さらに、本発明では、前記に記載したトラッキング学習調整方法において、前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲインＹを、以下の式により求め、
Ｙ＝Ｘ÷｛Ｋ×Ｒｔ＋（１−Ｋ）｝
ここで、Ｘは前記調整により得られた値であり、Ｒｔは前記他のトラックピッチと前記基準トラックピッチとの比であり、そして、Ｋは定数であり、又は、該定数Ｋは、一端算出した後、不揮発性メモリ内に記録し、また、該定数Ｋは、以下の式により求め、
Ｋ＝（１−Ｇ２÷Ｇ１）÷（１−Ｔｐ２÷Ｔｐ１）
ここで、Ｔｐ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｔｐ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｇ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値、そして、Ｇ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値であることが好ましい。
【００２１】
加えて、本発明によれば、やはり上記の目的を達成するため、トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディスクからの記録情報の再生、又は、情報の記録再生を光学的に行う光ディスク装置であって：該光ディスクに記録された情報を読み取る光学的検出手段と；該光学的検出手段によってトラッキングエラー信号を演算する演算手段と；該光学的検出手段を、前記複数の記録領域の一つである基準トラックピッチ領域へ移動する移動手段と；該トラックピッチが互いに異なる領域毎にトラッキングサーボゲインの設定値を調整するゲイン手段と；そして、該基準トラックピッチ領域におけるトラッキングサーボゲインが所定の特性になるように該ゲイン手段の設定値を調整するゲイン調整手段とを備えており、更に、前記ゲイン手段は、前記ゲイン調整手段によって該基準トラックピッチ領域において調整された設定値から、前記基準トラックピッチ領域以外のトラックピッチ領域におけるトラッキングサーボゲインの設定値を算出する光ディスク装置が提供される。
【００２２】
そして、本発明では、前記に記載した光ディスク装置において、前記基準トラックピッチ領域のトラックピッチは、前記他のトラックピッチ領域のトラックピッチよりも大きく、又は、前記トラッキングゲイン調整を行なう基準トラックピッチ領域は、前記光ディスクの再生専用領域であることが好適であり、又は、前記光ディスク装置は、さらに、前記トラッキントラッキングゲイン調整を行なう際にトラッキングエラー信号の振幅を検出する振幅測定手段を備えており、前記ゲイン調整手段は、前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングエラー信号の振幅が所定の振幅となるように調整することが好ましい。そして、前記トラッキングエラー信号は、プッシュプル法又は差動プッシュプル法の何れか一方を用いることにより生成すること、そして、前記トラッキングエラー信号の生成方法は、前記トラックピッチが異なる複数の記録領域の全てにおいて共通であることが好ましい。
【００２３】
加えて、本発明では、前記の光ディスク装置において、さらに、トラッキングサーボループに所定の周波数の外乱を注入する外乱注入手段と、前記注入外乱と前記サーボループを一巡して戻ってきた信号との位相差を測定する位相差測定手段とを備え、かつ、該位相差測定手段の測定値が所定の値になるように調整してもよい。又は、前記の光ディスク装置において、前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲインＹを、以下の式により求め、
Ｙ＝Ｘ÷｛Ｋ×Ｒｔ＋（１−Ｋ）｝
ここで、Ｘは前記調整により得られた値であり、Ｒｔは前記他のトラックピッチと前記基準トラックピッチとの比であり、そして、Ｋは定数であり、そして、該定数Ｋを、一端算出した後、不揮発性メモリ内に記録し、又は、該定数Ｋは、以下の式により求め、
Ｋ＝（１−Ｇ２÷Ｇ１）÷（１−Ｔｐ２÷Ｔｐ１）
ここで、Ｔｐ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｔｐ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラックピッチ、Ｇ１は前記基準トラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値、そして、Ｇ２は前記他のトラックピッチ領域におけるトラッキングゲイン調整値であることが好ましい。
【発明の効果】
【００２４】
すなわち、本発明によれば、トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディクスにおいても、その一部の領域においてトラッキングサーボゲイン調整により得られた値から、トラックピッチの異なる他の領域におけるトラッキングサーボゲインを演算のみにより得ることが出来ることから、短時間で、かつ、精度良く、トラッキングサーボゲイン（パラメータ）を調整して、良好な記録・再生動作が可能な光ディスク装置を得ることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の実施の形態について、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２６】
まず、添付の図１は、本発明における第１の実施の形態になる光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。この図１において、符号１は、光ディスクであり、レーザ光の照射により情報の読み取り、消去、又は、書き込みが行われると共に、スピンドルモータ２０によって所定の速度で回転駆動される。
【００２７】
また、図中の符号２は、対物レンズを示しており、この対物レンズ２により、レーザ光を集光して光ディスク１の記録層に焦点を合わせる。符号３は、光ピックアップであり、上記対物レンズ２をレーザ光の光軸方向へ駆動するフォーカスアクチュエータ、及び、上記対物レンズ２をディスクの半径方向へ駆動するトラッキングアクチュエータを備える。なお、本実施の形態において、上記光ピックアップ３は、所謂、プッシュプル法によってＴＥ信号を得るために必要な光検出器を備えており、そして、上記光ディスク１からの反射光を電気信号に変えて以下に説明する信号処理回路４に供給する。
【００２８】
符号４は、信号処理回路であり、上記光ピックアップ３からの出力信号を処理して、フォーカスのずれに対応するフォーカスエラー信号、トラッキングのずれに対応するＴＥ信号、スピンドルの回転状態を示すスピンドル信号を出力する。また、符号５は、フォーカスサーボ制御回路であり、上記信号処理回路４から供給されるフォーカスエラー信号に対して、フォーカスサーボの安定性と追従性能を改善するために必要なゲインや位相の補償を行った信号を出力する。さらに、符号６は、ドライバ回路であり、上記フォーカスサーボ制御回路５の出力信号を受けてその信号を増幅し、光ピックアップ３内のフォーカスアクチュエータを駆動するための信号を出力し、もって対物レンズ２の光軸方向の位置を変化させる。
【００２９】
また、図中の符号７は、ゲイン回路を示しており、上記ＴＥ信号に第１の係数を乗じて、その出力信号を切り換え回路９の入力（ａ）へ供給する。符号８も、同様に、ゲイン回路であり、しかしながら、ここでは、上記ＴＥ信号に第２の係数を乗じて、その出力信号を切り換え回路９の入力（ｂ）へ供給する。
【００３０】
さらに、符号９は、切り換え回路であり、上記制御回路２１が出力する制御信号ＳＥＬがＬｏｗのときは（ａ）側の入力信号を、他方、Ｈｉのときは（ｂ）側の入力信号を切り換えて出力する。また、符号１０は、トラッキングサーボ制御回路であり、上記信号処理回路４から供給されるＴＥ信号に対して、トラッキングサーボの安定性と追従性能を改善するために必要なゲインや位相の補償を行った信号をスイッチ１１に供給する。このスイッチ１１は、以下に説明する制御回路２１が出力する制御信号ＴＭがＨｉのときはトラッキング制御回路１０から供給される信号を、他方、Ｌｏｗのときは０レベルの信号を出力する。
【００３１】
符号１２は、ドライバ回路であり、上記スイッチ１１から供給される信号を増幅して、光ピックアップ３内のトラッキングアクチュエータを駆動する信号を出力し、もって、対物レンズ２のディスク半径方向の位置を変化させる。また、符号１３は、スレッドサーボ制御回路であり、スイッチ１１から供給される信号を受け、スレッドサーボの追従性能を改善するためにゲインの補償を行った信号を出力する。なお、このスレッドサーボ制御回路１３は、光ピックアップ３内のトラッキングアクチュエータによって移動した対物レンズ２が移動限界を超えないように光ピックアップ３の位置を制御する。また、光ピックアップ３を所望のトラックに移動させるシーク時には、以下に説明する制御回路２１が出力する制御信号ＳＫに応じて動作する。
【００３２】
符号１４は、ドライバ回路であり、上記スレッドサーボ制御回路１３の出力信号を増幅してスレッドモータ１５に供給する。また、符号１５は、スレッドモータであり、スレッドモータ駆動回路１４から供給される信号により、光ピックアップ送り機構１６を駆動する。さらに、符号１６は、光ピックアップ送り機構であり、光ピックアップ３を光ディスク１の内周方向、または外周方向へ移動させる。また、符号１７は、振幅測定回路であり、切り換えスイッチ９の出力信号の振幅を測定して、以下に述べる制御回路２１へ供給する。
【００３３】
そして、図中の符号１８は、スピンドルサーボ制御回路であり、信号処理回路４から供給されるスピンドル信号を受けて、スピンドルモータ２０を所定の回転速度で回転させるための制御を行う。また、符号１９は、ドライバ回路であり、スピンドルサーボ制御回路１８の出力信号を増幅し、以下に説明するスピンドルモータ２０を回転させる。なお、このスピンドルモータ２０は、上記ドライバ回路１９の出力信号に応じて光ディスク１を回転させる。そして、図中の符号２１は、制御回路であり、前述したゲイン回路７、８を設定するＳＥＴ信号、切り換えスイッチ９を制御するＳＥＬ信号、スイッチ１１を制御するＴＭ信号、シーク時にスレッド制御回路１３を制御するＳＫ信号を出力する。また、振幅測定回路１７からの出力信号が入力される。なお、この制御回路２０は、一般的なＣＰＵを用いて構成することができる。
【００３４】
以上に述べた構成におけるトラッキング学習調整方法について、添付の図１に加え、更には、図３をも参照しながら、以下に詳細に説明する。なお、図３は、本発明の第１の実施の形態になるトラッキング学習調整方法のフローチャートである。
【００３５】
まず、上記の図１において、光ディスク１はスピンドルモータ２０によって所望の速度で回転しており、また、同時に、フォーカスサーボ制御回路５によってフォーカスサーボが定常的に動作している状態にあるものとする。このような状態において、トラッキング学習を開始すると（ステップＳ１０１）、制御回路２１は制御信号ＳＫによって光ピックアップ３を第１の領域へ位置付ける（ステップＳ１０２）。なお、ここで、第１の領域とは、再生専用領域であることが好ましい。その理由は、この第１の領域が再生専用領域とは異なり、例えば、記録再生部であった場合には、この調整学習の位置で記録部と未記録部が混在することとなり、上述でも指摘したように、正確な調整が難しくなる。そこで、反射率が常に一定である再生専用領域で学習調整することにより、正確な調整を可能とするためである。
【００３６】
次に、制御回路２１は制御信号ＴＭにＬｏｗレベルを出力してスイッチ１１をオフにする。このことにより、トラッキング制御がオフされる（ステップＳ１０３）。さらに、この制御回路２１は、制御信号ＳＥＬにＬｏｗ信号を出力して、切り換えスイッチ９を入力（ａ）側へ切り換える。このことにより、ゲイン回路７を選択する。つまり、２つあるゲイン回路のうち、第１のゲイン回路に切り換えることとなる（ステップＳ１０４）。
【００３７】
この時、フォーカス制御はオン状態であり、他方、トラッキング制御はオフ状態であるので、上記切り換えスイッチ９の出力は、上記の図２に示したプッシュプル信号を出力している。そして、振幅測定回路１７は、このプッシュプル信号の振幅を測定する（ステップＳ１０５）。
【００３８】
ここで、トラッキングサーボゲインを所定の特性とするためには、トラッキングサーボ制御回路１０へ入力するプッシュプル信号は、所定の振幅を有するものである必要がある。そこで、上記のステップＳ１０５では、振幅測定回路１７によって振幅を測定し、そして、この測定された振幅をＴａｍｐ、所定の振幅をＴｒｅｆとすると、制御回路２１がゲイン回路７にＴｒｅｆ／Ｔａｍｐを設定する。すなわち、第１のゲイン回路を設定する（ステップＳ１０６）。これにより、トラッキングサーボ制御回路１０に入力されるプッシュプル信号の振幅は、所定の振幅Ｔｒｅｆとなる。
【００３９】
その後、制御回路２１は、ゲイン回路７に設定したＴｒｅｆ／Ｔａｍｐに、後述する所定の係数βを乗じて、β×Ｔｒｅｆ／Ｔａｍｐを演算して、第２のゲイン回路の設定値を演算する（ステップＳ１０７）。その後、この演算結果をゲイン回路８に設定（ステップＳ１０８）した後、学習を終了する（ステップＳ１０９）。
【００４０】
ここで、上記第２のゲイン回路の設定値を演算するのに使用した係数βについて説明する。すなわち、上記した図２の（ａ）及び（ｂ）における例では、トラッキングゲイン比は、前述した通り、1.38対1であるので、β＝1.38としてゲイン回路７に対して1.38倍大きい係数をゲイン回路８に設定すると、トラックピッチが異なる再生専用領域だけではなく、更には、記録再生領域の何れの場合であっても、そのトラッキングサーボゲインは一定となる。そのため、安定したトラッキングサーボ制御を行うことが可能となる。
【００４１】
なお、上記の係数βの設定例は、トラックピッチが0.32μmと0.35μmの場合であるが、次に、これを一般式に置き換えて考える。
【００４２】
まず、図４は、0.32μmから0.40μmまでのトラックピッチ（横軸）におけるプッシュプル信号振幅比（縦軸）の一例である。このプッシュプル信号の振幅は、上述したように用いるシステムに依存するため、比を用いて示すことが出来る。更には、ここで、再生専用領域のトラックピッチが例えば0.36μmであった場合には、この0.36μmのトラックピッチを基準として、上記図４の横軸をトラックピッチの比にしたものが添付の図５である。
【００４３】
このように、ここで、上記の（数７）に示したように、検出感度比＝振幅比÷トラックピッチ比で求めることが出来るので、トラックピッチ比と検出感度比との関係を求め、これを添付の図６に示す。これによれば、上記トラックピッチ比Ｒｔと上記検出感度比Ｒｋとは、ほぼ、比例関係にあることが分かる。すなわち、両端の２点(0.89,0.53),(1.11,1.44)を結ぶ直線の傾きは、
(1.44-0.53)÷(1.11-0.89)＝4.14 …（数８）
であり、この傾きによって、点(1.0,1.0)を通る直線をＲｔとＲｋの関係を示す直線と近似すると、
Ｒｋ＝4.14×Ｒｔ＋(1−4.14)  …（数９）
として表すことが出来る。なお、上記（数９）において、切片（1−4.14）を計算せずに残している理由は、上記（数９）において係数4.14をパラメータにするためである。
【００４４】
以上において、再生専用領域でトラッキング学習調整したゲイン回路７の設定値がＧ１であったとき、トラックピッチ比Ｒｔ＝0.95の記録再生領域におけるゲイン回路８の設定値を求める。上記の（数９）より、Ｒｔ＝0.95における検出感度比Ｒｋは、
Ｒｋ＝4.14×0.95＋(1-4.14)
＝0.793                 …（数１０）
となるので、ゲイン回路７とゲイン回路８の設定値を同じにすると、記録再生領域ではトラッキングゲインが0.793倍に小さくなってしまう。そこで、ゲイン回路７の設定値に対して、β(＝1/0.793)倍した値をゲイン回路８に設定する。
【００４５】
このことによれば、再生専用領域と記録再生領域とでそれぞれ検出感度が変化しても、上記ゲイン回路７とゲイン回路８とを切り換えることにより、トラッキングサーボループとしては一定とすることが出来、もって、安定したトラッキングサーボ制御を得ることが出来る。
【００４６】
以上のように、本発明の第１の実施例においては、例えば、再生専用領域で学習調整したゲイン係数を、トラックピッチの比Ｒｔから求めた検出感度比Ｒｋの逆数である係数β倍した値を記録再生領域でのゲイン係数とする。なお、この検出感度比Ｒｋは、トラックピッチの比Ｒｔ、及び、Ｒｔと検出感度比Ｒｋとの関係を示す直線の傾きである定数Ｋを用いて、
Ｒｋ＝Ｋ×Ｒｔ＋(1−Ｋ)  …（数１１）
により求めることが出来る。なお、定数Ｋは、トラッキング学習調整を行う光ディスクドライブによって固定となる。
【００４７】
なお、上記に説明した第１の実施の形態では、再生専用領域におけるトラッキングゲイン調整学習の方法として、得られるプッシュプル信号を所定の振幅とする方法により説明したが、しかしながら、本発明はこれにのみ限定されるものではなく、その他、例えば、トラッキングサーボループに所定の周波数の外乱を注入して、この注入外乱とトラッキングループを一巡して戻ってきた信号の位相差を比較して所定の位相差となるようにゲイン回路７の設定値を調整する方法等を用いることも可能である。
【００４８】
次に、本発明の第２の実施の形態について、以下に説明する。なお、上述した第１の実施の形態においては、上記（数１１）において検出感度比Ｒｋを求めるために、定数Ｋを用いたが、光ピックアップの個別のばらつきのため、適用する光ディスク装置によって、この定数Ｋにばらつきが生じる。そこで、本発明の第２の実施の形態では、かかる問題を解決し、即ち、光ピックアップの個別のばらつきにもかかわらず、上記の定数Ｋを精度よく決定する方法について示す。
【００４９】
単一ディスク内にトラックピッチが異なる複数の記録領域が規定されている場合、光ディスクの半径によって各領域は分割される。ここで、各領域の位置に対応付けてトラッキングサーボ特性が同じになるようにゲイン調整を行うと、各調整値の比は、検出感度の比を表すことになる。つまり、各領域におけるゲインの比を求めることにより、トラックピッチの比と検出感度の比との間の関係を求めることが出来る。
【００５０】
なお、この本発明の第２の実施例に用いるブロック図は、上記第１の実施例と同じ、即ち、上記図１に示した構成であり、ここでは、その説明は省略する。なお、この第２の実施例におけるトラッキング学習方法のフローチャートを、添付の図７に示す。以下、図７のフローチャートに従って説明をする。
【００５１】
まず、ゲイン比学習を開始すると（ステップＳ１１０）、制御回路２１は光ピックアップを第１の領域へ位置付ける（ステップＳ１１１）。なお、第１の領域は、基準トラックピッチとなる領域である。次に、制御回路２１は、ＴＭ信号にＬｏｗレベルの信号を出力してスイッチ１１をオフにし、トラッキング制御をオフにする（ステップＳ１１２）。そして、制御回路２１は、ＳＥＬ信号にＬｏｗレベルの信号を出力し、切り換えスイッチ９を入力（ａ）側の第１のゲイン回路７へ切り換える（ステップＳ１１３）。この時、トラッキング制御はオフ状態であるので、やはり、上記図２に示したプッシュプル信号が現れる。そこで、このプッシュプル信号の振幅を測定して（ステップＳ１１４）、振幅が所定の値となるように、制御回路２１は第１のゲイン回路７の設定値を調整する（ステップＳ１１５）。すなわち、これまでの操作により、上記第１の領域におけるトラッキングサーボは所望の特性となる。
【００５２】
次に、制御回路２１は光ピックアップの位置を第２の領域に移動し（ステップＳ１１６）、そして、ＳＥＬ信号にＨｉレベルの信号を出力して切り換えスイッチ９を入力（ｂ）側の第２のゲイン回路８へ切り換える（ステップＳ１１７）。その後、上記第１の領域の場合と同様に、プッシュプル信号の振幅を測定して（ステップＳ１１８）、その振幅が所定の値となるように、第２のゲイン回路８の設定値を調整する（ステップＳ１１９）。すなわち、以上の操作により、上記第１及び第２の領域におけるトラッキングサーボ特性は同じになる。
【００５３】
その後、制御回路２１は第１の領域に対する第２の領域のトラックピッチ比と、上記調整された第１のゲイン回路の設定値及び第２のゲイン回路の設定値を用いて、上記図６に示したトラックピッチ比と検出感度比との関係を示す直線の傾きＫを算出する（ステップＳ１２０）。さらに、制御回路２１は、上記で求めた傾きＫを、その内部に設けられた不揮発性メモリに記録して（ステップＳ１２１）、学習を終了する（ステップＳ１２２）。
【００５４】
ここで、上記のステップＳ１２０において、基準トラックピッチをＴｐ１、第２の領域のトラックピッチをＴｐ２、基準トラックピッチ領域における調整値、つまりゲイン回路７の設定値をＧ１、第２の領域における調整値つまりゲイン回路８の設定値をＧ１とすると、上記図６における直線の傾きＫは、
Ｋ＝｛（Ｇ１−Ｇ２）÷Ｇ１｝÷｛（Ｔｐ１−Ｔｐ２）÷Ｔｐ１｝
＝（１−Ｇ２÷Ｇ１）÷（１−Ｔｐ２÷Ｔｐ１）              …（数１２）
と求めることが出来る。
【００５５】
すなわち、本発明によれば、トラックピッチが異なる複数の記録領域を単一ディスク内に有する光ディクスにおいても、その一部の領域においてトラッキングサーボゲイン調整により得られた値から、トラックピッチの異なる他の領域におけるトラッキングサーボゲインを演算のみにより得ることが出来ることから、短時間で、かつ、精度良く、トラッキングサーボゲイン（パラメータ）を調整して、良好な記録・再生動作が可能な光ディスク装置を得ることが可能となる。
【００５６】
なお、以上に述べた学習は、例えば、光ディスク装置を工場から出荷する前に行って当該装置内部の不揮発性メモリに記録しておくことが望ましい。なぜならば、その後、光ディスクをローディングする度に複数の領域に位置付けて各領域でトラッキングゲイン学習を行うと、その調整学習のための時間が長くなってしまうことによる。一方、上述したように、工場から出荷する前に学習により得られた結果を不揮発性メモリに記録しておけば、工場出荷時に一度だけ定数Ｋを学習すればよいので、この出荷された光ディスク装置をユーザが使用する際には、例えば、本発明の第１の実施の形態で説明したように、単一ディスク内に複数のトラックピッチが異なる領域を有する光ディスクであっても、その基準トラックピッチ領域のみで一度学習すればよいので、短時間で済むこととなる。
【００５７】
これまでに説明した本発明になる上記第１の実施の形態および第２の実施形態において、トラッキングエラー信号の生成方法としては、その一例として、プッシュプル法を用いて説明したが、しかしながら、本発明はこれにのみ限定されることなく、その他、例えば、レンズシフトに応じて直流オフセットを除去するために考案された公知の差動プッシュプル法を用いてもよいことは明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の第１実施形態に係るトラッキング学習装置のブロック図である。
【図２】トラックピッチが0.35μmと0.32μmの場合のプッシュプル信号を示す波形模式図である。
【図３】本発明の第１の実施形態を示すフローチャートである。
【図４】トラックピッチとプッシュプル信号の振幅比を示すグラフである。
【図５】トラックピッチ比とプッシュプル信号の振幅比を示すグラフである。
【図６】トラックピッチ比とトラックずれの検出感度比を示すグラフである。
【図７】本発明の第２の実施形態を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５９】
１…光ディスク、２…対物レンズ、３…光ピックアップ、４…信号処理回路、５…フォーカスサーボ制御回路、６，１２，１４，１９…ドライバ回路、７，８…ゲイン回路、９…切り換えスイッチ、１０…トラッキングサーボ制御回路、１１…スイッチ、１３…スレッドサーボ制御回路、１５…スレッドモータ、１６…光ピックアップ送り機構、１７…振幅測定回路、１８…スピンドルサーボ制御回路、２０…スピンドルモータ、２１…制御回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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