(57)【要約】【課題】  容易にトラッキングエラー信号の精度を向上させる。【解決手段】  光ピックアップ装置は、半導体レーザ１０３と、レーザ光を、光ディスク基板９１に誘導するビームスプリッタ１０４と、光ディスク基板９１からの反射光の量の一部である、第１の量を検出する第１光検出器９４と、第１の量とは別の一部である、第２の量を検出する第２光検出器９５と、第１の量と第２の量との差に基づいて、反射光の光軸の、位置の誤差を算出し、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値、および第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値をそれぞれ特定し、その値の差に基づいて、補正値を算出し、補正値に基づいて、位置の誤差を補正する演算回路１０７と、第１の量および第２の量に基づいて、光ディスク基板９１に記録された情報を読取る読取り回路１０９とを含む。【選択図】        図１
2005166213.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発生するための発生手段と、
前記レーザ光を、ウォブルを有する記録媒体に誘導するための誘導手段と、
前記記録媒体からの反射光の量の一部である、第１の量を検出するための第１の検出手段と、
前記第１の量とは別の、前記反射光の量の一部である、第２の量を検出するための第２の検出手段と、
前記第１の量と第２の量との差に基づいて、前記反射光の光軸の、位置の誤差を算出するための第１の算出手段と、
前記第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値、および前記第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値をそれぞれ特定するための特定手段と、
前記特定手段によって特定された値の差に基づいて、前記位置の誤差の、補正値を算出するための第２の算出手段と、
前記補正値に基づいて、前記位置の誤差を補正するための補正手段と、
前記位置の誤差が補正された後の、前記第１の量および第２の量に基づいて、前記記録媒体に記録された情報を読取るための読取り手段とを含む、光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記第１の量の、前記ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値は、前記ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、前記ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する第１の値を含み、
前記第２の量の、前記ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値は、前記ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、前記ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する第２の値を含む、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値は、前記ウォブルの存在により生じた変動の周波数とは異なる周波数の変動の、変動幅の平均値である、請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記特定手段は、
前記第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段と、
前記第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段とを含む、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段は、
前記第１の量と第２の量との差が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第１の生成手段と、
前記第１の量が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第２の生成手段と、
前記第１の生成手段が生成した信号と第２の生成手段が生成した信号とが一致するか否かを表す信号を生成するための第３の生成手段と、
前記第３の生成手段が生成した信号の種類および数に基づいて、前記ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段とを含み、
前記第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段は、
前記第１の量と第２の量との差が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第４の生成手段と、
前記第２の量が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第５の生成手段と、
前記第５の生成手段が生成した信号とは逆の内容を表す信号を生成するための第６の生成手段と、
前記第４の生成手段が生成した信号と第６の生成手段が生成した信号とが一致するか否かを表す信号を生成するための第７の生成手段と、
前記第７の生成手段が生成した信号の種類および数に基づいて、前記ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段とを含む、請求項４に記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置に関し、特に、プッシュプル法を用いる光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクを記録媒体とした記録再生装置において、トラッキングサーボ用のトラッキングエラーの検出方法の１つに、プッシュプル法がある。図１３および図１４を参照して、プッシュプル法の原理を説明する。図１３に示すように、光ディスク基板９１には、案内溝９２および記録トラック９３が交互に形成されている。記録トラック９３の側面に設けられた波型のうねりが、「ウォブル」である。ウォブルは一定の周波数で刻まれている。光ディスクは、この記録トラック９３への反射光（なお、以下の説明において、「回折光」とは反射光の一種である。）を検知することにより、信号を検出する。図１４を参照して、光ディスクから信号を検出するための原理を説明する。光ディスク基板９１に照射された光は、主に（０次）回折光９６および（±１次）回折光となる。第１光検出器９４は、（０次）回折光９６および（＋１次）回折光９７からなる光束を検出する。第２光検出器９５は、（０次）回折光９６および（−１次）回折光９８からなる光束を検出する。その結果、第１光検出器９４および第２光検出器９５が出力する信号の強度の値は、次の式で表わされる。
【０００３】
第１光検出器９４の信号の強度：ＩＲ＝ＤＣ＋ＡＣｏｓ（φ＋Ｖ）・・・（１）
第２光検出器９５の信号の強度：ＩＬ＝ＤＣ＋ＡＣｏｓ（φ−Ｖ）・・・（２）
また、これらの強度の差（差動信号）は、次の式で表わされる。
【０００４】
ＩＰ＝ＩＲ−ＩＬ＝−２ＡＳｉｎφＳｉｎＶ・・・（３）
以上の式において、ＤＣは直流成分である。直流成分ＤＣは、第１光検出器９４および第２光検出器９５がそれぞれ検出する、回折光の投影面積および回折光の強度により大きさが定められる値である。係数Ａおよび係数φの値は、上述した回折光の投影面積（なお、第１光検出器９４および第２光検出器９５がそれぞれ検出する回折光の投影面積のうち、（０次）回折光９６のみが投影される領域の投影面積をＳ（０）とする。（０次）回折光９６と（＋１次）回折光９７とが重複する領域の投影面積、および（０次）回折光９６と（−１次）回折光９８とが重複する領域の投影面積をいずれもＳ（１）とする。）、回折光の強度、および（０次）回折光９６と（±１次）回折光との位相差により定められる値である。値Ｖは、記録トラック９３の中心と光ディスク基板９１に照射される光のスポットの中心との距離である。これにより、トラッキングエラーがない場合、値Ｖおよび差動信号ＩＰは「０」となる。トラッキングエラーがある場合、値Ｖおよび差動信号ＩＰは「０」ではなくなる。これらのことは、差動信号ＩＰが「０」であるか否かにより、トラッキングエラーを検出できることを表わす。上述したプッシュプル法は、この差動信号ＩＰが「０」であるか否かに基づきトラッキングエラーを検出する方法である。また、差動信号ＩＰが「０」となるように光スポットの位置を制御すれば、記録トラック９３の中心に光スポットを照射することが可能になる。
【０００５】
上述したプッシュプル法を採用する場合、オフセット成分を的確に除去することが重要な要素となる。オフセット成分とは、トラッキングに伴う対物レンズ（光スポットの位置を制御するレンズ）のシフト（レンズシフト）や、光ディスク基板９１が傾くことなどにより発生する誤差である。レンズシフトした場合や光ディスク基板９１が傾いた場合、光ディスク基板９１からの反射光（回折光）の光路が正規の位置から離れる。回折光の光路が正規の位置から離れると、上述した式（１）および式（２）の直流成分ＤＣに差が現われる。これは、第１光検出器９４が検出する回折光の投影面積と第２光検出器９５が検出する回折光の投影面積との間に、差が生じるためである。このような直流成分ＤＣの差が発生するので、上述したオフセット成分も発生する。オフセット成分は、差動信号ＩＰの値に影響をおよぼす。このようなオフセット成分を適切に除去するため、記録トラック９３の蛇行（ウォブル）を利用してオフセット成分をキャンセルするといった工夫が用いられている。
【０００６】
具体的には、特許文献１に、次のステップを経てオフセット成分をキャンセルする信号を得るトラッキングエラー検出方法が開示されている。そのステップの第１は、４つの光検出器に回折光を導くステップである。第２のステップは、４つの光検出器の出力（具体的には、その出力に含まれる所定の周波数成分）について、演算を繰返すステップである。
【０００７】
しかしながら、特許文献１に開示されたように、４つの光検出器の出力について演算を繰返し、オフセット成分をキャンセルする信号を得る場合には、その信号の検出にピークホールド回路などを利用した複雑なアナログ処理が必要となるといった問題がある。また、その場合には、素子のばらつきに敏感になるといった問題もある。
【特許文献１】特開平６−１３１６８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は上述の問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、容易にトラッキングエラー信号の精度を向上できる光ピックアップ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明のある局面にしたがうと、光ピックアップ装置は、レーザ光を発生するための発生手段と、レーザ光を、ウォブルを有する記録媒体に誘導するための誘導手段と、記録媒体からの反射光の量の一部である、第１の量を検出するための第１の検出手段と、第１の量とは別の、反射光の量の一部である、第２の量を検出するための第２の検出手段と、第１の量と第２の量との差に基づいて、反射光の光軸の、位置の誤差を算出するための第１の算出手段と、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値、および第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値をそれぞれ特定するための特定手段と、特定手段によって特定された値の差に基づいて、位置の誤差の、補正値を算出するための第２の算出手段と、補正値に基づいて、位置の誤差を補正するための補正手段と、位置の誤差が補正された後の、第１の量および第２の量に基づいて、記録媒体に記録された情報を読取るための読取り手段とを含む。
【００１０】
すなわち、発生手段は、レーザ光を発生する。誘導手段は、レーザ光を、ウォブルを有する記録媒体に誘導する。第１の検出手段は、記録媒体からの反射光の量の一部である、第１の量を検出する。第２の検出手段は、第１の量とは別の、反射光の量の一部である、第２の量を検出する。第１の算出手段は、第１の量と第２の量との差に基づいて、反射光の光軸の、位置の誤差を算出する。特定手段は、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値、および第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値をそれぞれ特定する。第２の算出手段は、特定手段によって特定された値の差に基づいて、位置の誤差の、補正値を算出する。これにより、補正手段は、補正値に基づいて、位置の誤差を補正する。読取り手段は、位置の誤差が補正された後の、第１の量および第２の量に基づいて、記録媒体に記録された情報を読取る。その結果、容易にトラッキングエラー信号の精度を向上できる光ピックアップ装置を提供することができる。
【００１１】
また、上述の第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値は、ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する第１の値を含むことが望ましい。あわせて第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値は、ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する第２の値を含むことが望ましい。
【００１２】
すなわち、特定手段は、第１の量の、ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する値、および第２の量の、ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する値をそれぞれ特定する。これにより、第２の算出手段は、特定手段によって特定された値の差に基づいて、位置の誤差の、補正値を算出する。その結果、より容易にトラッキングエラー信号の精度を向上できる光ピックアップ装置を提供することができる。
【００１３】
もしくは、上述のウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値は、ウォブルの存在により生じた変動の周波数とは異なる周波数の変動の、変動幅の平均値であることが望ましい。
【００１４】
すなわち、特定手段は、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の周波数とは異なる周波数の変動の、変動幅の平均値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する値、および第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の周波数とは異なる周波数の変動の、変動幅の平均値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比に対応する値をそれぞれ特定する。これにより、第２の算出手段は、特定手段によって特定された値の差に基づいて、位置の誤差の、補正値を算出する。その結果、さらに容易にトラッキングエラー信号の精度を向上できる光ピックアップ装置を提供することができる。
【００１５】
また、上述の特定手段は、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段と、第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段とを含むことが望ましい。
【００１６】
すなわち、特定手段は、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値と、第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値とをそれぞれ独立して特定できる。これにより、特定手段は、これらの値を、より簡単な装置により、より速く特定できる。その結果、より簡単な装置により、より速く、かつ容易にトラッキングエラー信号の精度を向上できる光ピックアップ装置を提供することができる。
【００１７】
もしくは、上述の第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段は、第１の量と第２の量との差が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第１の生成手段と、第１の量が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第２の生成手段と、第１の生成手段が生成した信号と第２の生成手段が生成した信号とが一致するか否かを表す信号を生成するための第３の生成手段と、第３の生成手段が生成した信号の種類および数に基づいて、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段とを含むことが望ましい。あわせて第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段は、第１の量と第２の量との差が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第４の生成手段と、第２の量が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成するための第５の生成手段と、第５の生成手段が生成した信号とは逆の内容を表す信号を生成するための第６の生成手段と、第４の生成手段が生成した信号と第６の生成手段が生成した信号とが一致するか否かを表す信号を生成するための第７の生成手段と、第７の生成手段が生成した信号の種類および数に基づいて、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段とを含むことが望ましい。
【００１８】
すなわち、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段において、第１の生成手段は、第１の量と第２の量との差が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成する。第２の生成手段は、第１の量が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成する。第３の生成手段は、第１の生成手段が生成した信号と第２の生成手段が生成した信号とが一致するか否かを表す信号を生成する。値を特定するための手段は、第３の生成手段が生成した信号の種類および数に基づいて、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定する。第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定するための手段において、第４の生成手段は、第１の量と第２の量との差が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成する。第５の生成手段は、第２の量が、予め定められたしきい値以上か否かを表す信号を生成する。第６の生成手段は、第５の生成手段が生成した信号とは逆の内容を表す信号を生成する。第７の生成手段は、第４の生成手段が生成した信号と第６の生成手段が生成した信号とが一致するか否かを表す信号を生成する。値を特定するための手段は、第７の生成手段が生成した信号の種類および数に基づいて、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定する。これにより、第１の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値と、第２の量の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値とが、さらに簡単な装置により特定される。その結果、さらに簡単な装置により、容易にトラッキングエラー信号の精度を向上できる光ピックアップ装置を提供することができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明に係る光ピックアップ装置は、より簡単にトラッキングエラー信号の精度を向上できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同一である。したがって、それらについての詳細な説明は繰返さない。
【００２１】
＜第１の実施の形態＞
図１を参照して、本実施の形態に係る光ディスクドライブは、光ピックアップ装置９０と、光ディスク基板９１と、スピンドルモータ１０２とを含む。光ピックアップ装置９０は、光ディスク基板９１からの反射光を検出して、トラッキングエラー信号を出力する。光ディスク基板９１は、情報を、信号として記録する、ウォブルを有する記録媒体の一種である。光ディスク基板９１は、上述したウォブル（記録面に設けられた、周波数が一定のうねり）を有する基板である。スピンドルモータ１０２は、光ディスク基板９１を回転させる。
【００２２】
光ピックアップ装置９０は、第１光検出器９４と、第２光検出器９５と、半導体レーザ１０３と、ビームスプリッタ１０４と、コリメータレンズ１０５と、対物レンズ１０６と、演算回路１０７と、レンズ制御装置１０８と、読取り回路１０９とを含む。第１光検出器９４および第２光検出器９５は、光ディスク基板９１からの反射光の強度（光の量）を検出し、出力する。第１光検出器９４および第２光検出器９５は、いずれも光ディスク基板９１からの反射光の量の一部を検出する装置である。ただし、第２光検出器９５は、第１光検出器９４が検出した反射光の量の一部とは別の一部を検出する。第１光検出器９４および第２光検出器９５は、レンズシフトなどにより光スポットが記録トラック９３の中心からシフトした場合、その出力に差が生じるように配置されている。次に、半導体レーザ１０３は、レーザ光を発生する。ビームスプリッタ１０４は、レーザ光を光ディスク基板９１に誘導する。また、ビームスプリッタ１０４は、光ディスク基板９１からの反射光を第１検出器９４および第２検出器９５に導く装置でもある。コリメータレンズ１０５は、半導体レーザ１０３が出力したレーザ光を、ビームスプリッタ１０４に導く。対物レンズ１０６は、ビームスプリッタ１０４によって導かれたレーザ光を光スポットに集中させる。演算回路１０７は、トラッキングエラー信号を出力する。レンズ制御装置１０８は、対物レンズ１０６の位置を制御する。読取り回路１０９は、光ディスク基板９１からの反射光の光軸の、位置の誤差が補正された後の、第１光検出器９４が検出した光の量および第２光検出器９５が検出した光の量に基づいて、光ディスク基板９１に記録された情報を読取る。
【００２３】
図２を参照して、本実施の形態における、第１光検出器９４および第２光検出器９５の配置を説明する。図２（Ａ）は、レンズシフトなどがない場合の、第１光検出器９４および第２光検出器９５における反射光の投影面を表す概念図である。光スポットに対して第１光検出器９４および第２光検出器９５が対称に配置されている。これにより、第１光検出器９４および第２光検出器９５において、（０次）回折光９６のみが投影される領域の投影面積は互いに等しくなる。（０次）回折光９６と（＋１次）回折光９７とが重複する領域の投影面積、および（０次）回折光９６と（−１次）回折光９８とが重複する領域の投影面積も、互いに等しくなる。これらが等しいので、レンズシフトなどがない場合、第１光検出器９４および第２光検出器９５の出力は常に等しくなる。その結果、これらから出力されるウォブル信号の振幅も等しくなる。一方図２（Ｂ）は、レンズシフトなどがある場合の、第１光検出器９４および第２光検出器９５における反射光の投影面を表す概念図である。光スポットの中心が、第１光検出器９４側に偏っている。これにより、第１光検出器９４における（０次）回折光９６のみが投影される領域の投影面積は、第２光検出器９５における（０次）回折光９６のみが投影される領域の投影面積より大きくなる。また、（０次）回折光９６と（＋１次）回折光９７とが重複する領域の投影面積、および（０次）回折光９６と（−１次）回折光９８とが重複する領域の投影面積の間には、差が生じる。したがって、レンズシフトなどがある場合、第１光検出器９４および第２光検出器９５の出力は常に等しくない。その結果、これらから出力されるウォブル信号の振幅も異なる。
【００２４】
図３を参照して、演算回路１０７は、オフセット回路１１と、第１差動増幅器１４と、第２差動増幅器１５と、加算器１６とを含む。オフセット回路１１は、第１光検出器９４および第２光検出器９５に接続され、第１光検出器９４の出力の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値、第２光検出器９５の出力の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値をそれぞれ特定する。第１差動増幅器１４は、第１光検出器９４および第２光検出器９５に接続され、第１光検出器９４の出力と第２光検出器９５の出力との差を算出する。これにより、反射光の光軸の、位置の誤差が算出されることになる。第１差動増幅器１４の出力は、いわゆるプッシュプル信号である。レンズシフトなどがある場合、このプッシュプル信号には、オフセット成分が含まれている。第２差動増幅器１５は、オフセット回路１１によって特定された値の差に基づいて、反射光の光軸の、位置の誤差の、補正値を算出する。第２差動増幅器１５の出力は、上述したオフセット成分に対し、正負の符号を逆にした値に相当する。加算器１６は、第１差動増幅器１４、および第２差動増幅器１５に接続され、第１差動増幅器１４と、第２差動増幅器１５との和を算出する。これにより、加算器１６は、第２差動増幅器１５が算出した補正値に基づいて、上述した位置の誤差を補正する。加算器１６の出力は、オフセット成分が打消された、精度のよいトラッキングエラー信号となる。
【００２５】
オフセット回路１１は、第１ＳＮ比検出器１２と、第２ＳＮ比検出器１３とを含む。第１ＳＮ比検出器１２は、第１光検出器９４の出力に基づいて、ＳＮ比を出力する。本実施の形態において、ＳＮ比とは、光検出器の出力のうち、ノイズ成分に基づく出力に対する、ウォブル信号に基づく出力の比のことである。ＳＮ比を算出するための具体的な手順は、後述する。第２ＳＮ比検出器１３は、第２光検出器９５の出力に基づいて、ＳＮ比を出力する。
【００２６】
本実施の形態において、オフセット回路１１は、ＡＤ（Analog-to-Digital）変換器およびＤＳＰ（Digital Signal Processor）を含むハードウェアと、ＤＦＴ（Discrete Fourier Transform：離散フーリエ変換）演算を核にしたソフトウェアとにより実現される。なお、ＤＦＴ演算は、ＦＦＴ（Fast Fourier Transform：高速離散フーリエ変換）アルゴリズムを用いることが望ましい。計算量が少なく高速に演算できることがその理由である。本実施の形態において用いられるＤＦＴ演算の式を以下に示す。なお、この式に基づく処理および動作は後述する。
【００２７】
【数１】
2005166213.tif 000003
【００２８】
ｘ（ｎ）は、サンプリング周波数ｆｓでサンプリングされたＮ個の離散データのうち、（ｎ＋１）番目のデータを表す。
【００２９】
Ｘ（ｋ）は、周波数ｆｔ（ｆｔ＝ｋ・ｆｓ／Ｎ）におけるＤＦＴ結果を表す。
【００３０】
|Ｘ（ｋ）|は周波数ｆｔにおける振幅を表す。
【００３１】
オフセット回路１１に記憶されたソフトウェアは、ハードウェアと協調して、上述したＤＦＴ演算を実施する。これにより、後述する図５に示したノイズフロアにおける振幅と、ウォブルの周波数における振幅とが求められる。これらの振幅が求められると、オフセット回路１１は、以下の式（４）を演算する。その結果、オフセット成分をキャンセルする信号ＯＣが求められる。信号ＯＣは、第２差動増幅器１５の出力に相当する。
【００３２】
ＯＣ ＝Ｋ（（Ｗｂ−Ｎｂ）−（Ｗａ−Ｎａ））・・・（４）
Ｗａは、第１光検出器９４の出力をＤＦＴ演算したときのウォブル信号周波数における振幅を表す。
【００３３】
Ｎａは、ウォブルの周波数から所定周波数だけ離れた箇所の振幅の平均値を表す。
【００３４】
Ｗｂは、第２光検出器９５の出力をＤＦＴ演算したときの、ウォブル信号周波数における振幅を表す。
【００３５】
Ｎｂは、ウォブルの周波数から所定周波数だけ離れた箇所の振幅の平均値を表す。
【００３６】
Ｋは、ゲイン調整係数である。あらかじめ実験などによって最も適切な値が求められている。
【００３７】
図４を参照して、光ディスクドライブで実行されるプログラムは、トラッキングエラー信号の出力に関し、以下のような制御構造を有する。
【００３８】
ステップ１００（以下、ステップをＳと略す。）にて、スピンドルモータ１０２は、光ディスク基板９１を回転させる。
【００３９】
Ｓ１０２にて、半導体レーザ１０３は、レーザ光をビームスプリッタ１０４に向けて照射する。ビームスプリッタ１０４は、照射されたレーザ光を、対物レンズ１０６に照射する。対物レンズ１０６は、ビームスプリッタ１０４から照射されたレーザ光を、光スポットに集中させる。レーザ光は、光ディスク基板９１で反射し、対物レンズ１０６およびビームスプリッタ１０４を通過して、第１光検出器９４および第２光検出器９５に到達する。
【００４０】
Ｓ１０４にて、第１光検出器９４および第２光検出器９５は、反射光を検出する。このとき、第１光検出器９４および第２光検出器９５は、反射光の強度に応じた値を出力する。このときの第１光検出器９４および第２光検出器９５の出力は、周波数Ｆで変動する。このような出力の変動を「ウォブル信号」と称する。このときの第１光検出器９４および第２光検出器９５のウォブル信号は、互いに位相が逆となる。ウォブル信号の周波数Ｆは、ウォブルの周波数に一致する。ウォブル信号が発生する理由は、記録トラック９３の中心がウォブルにより蛇行しているにも関わらず、レンズ制御装置１０８が、光スポットの位置をウォブルに追従するように制御できない点にある。レンズ制御装置１０８がそのように制御できない理由は、ウォブルの周波数Ｆがレンズ制御装置１０８の制御帯域に比べ高過ぎる点にある。
【００４１】
Ｓ１０６にて、第１ＳＮ比検出器１２および第２ＳＮ比検出器１３は、各々光検出器の出力をＤＦＴ演算する。図５を参照して、ＤＦＴ演算について説明する。ＤＦＴ演算は、第１ＳＮ比検出器１２および第２ＳＮ比検出器１３の出力における変動の振幅を、その変動の周波数ごとに抽出する処理である。図５（Ａ）は、第１ＳＮ比検出器１２におけるＤＦＴ演算の結果を示した図である。図５（Ｂ）は、第２ＳＮ比検出器１３におけるＤＦＴ演算の結果を示した図である。これにより、上述したウォブル信号の影響が明確化される。
【００４２】
Ｓ１０８にて、第１ＳＮ比検出器１２および第２ＳＮ比検出器１３は、各々ＳＮ比を演算する。ＳＮ比は、ＤＦＴ演算された、第１光検出器９４および第２光検出器９５の出力のうち、ウォブル信号に基づく出力（ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値）を、ノイズ成分に基づく出力（ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値）で除算することによって算出される。本実施の形態の場合、第１ＳＮ比検出器１２は、ウォブル信号の周波数Ｆとは異なる周波数の変動の、変動幅の平均値を、ノイズ成分に基づく出力とみなす。第２ＳＮ比検出器１３も同様である。したがって、第１ＳＮ比検出器１２は、上述したウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値として、第１光検出器９４の出力の、ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比を特定することとなる。第２ＳＮ比検出器１３は、上述したウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値として、第２光検出器９５の出力の、ウォブルの存在とは異なる原因により生じた変動の変動幅に基づく値に対する、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅を表す値の比を特定することとなる。ちなみに、本実施の形態の場合、ＳＮ比が小さければ小さいほど悪い値であるとみなす。したがって、図２（Ｂ）の場合、第１ＳＮ比検出器１２が出力するＳＮ比の値と第２ＳＮ比検出器１３が出力するＳＮ比の値との間には、式（５）の関係が成立する。
【００４３】
第１ＳＮ比検出器１２の出力＞第２ＳＮ比検出器１３の出力・・・（５）
Ｓ１１０にて、第２差動増幅器１５は、入力された値の差を演算する。この場合、第２差動増幅器１５は、上述したＳＮ比の差を演算することとなる。その差が求められると、第２差動増幅器１５は、予め定められた係数Ｋをその差に乗算する。本実施の形態の場合、係数Ｋは、上述したＳＮ比の差がオフセット成分に合致するように定められた値である。係数Ｋがこのように定められているため、第２差動増幅器１５が演算した値は、オフセット成分に合致する。
【００４４】
Ｓ１１２にて、第１差動増幅器１４は、第１光検出器９４および第２光検出器９５の出力の差を演算する。上述したように、このステップにおいて第１差動増幅器１４が演算した値が、プッシュプル信号である。
【００４５】
Ｓ１１４にて、加算器１６は、第１差動増幅器１４、および第２差動増幅器１５の出力を加算する。この場合、第２差動増幅器１５の出力は、第１差動増幅器１４が出力するトラッキングエラー信号のうち、オフセット成分に相当する値となっている。また第１差動増幅器１４、および第２差動増幅器１５の符号は互いに逆となっている。これらにより、その出力は、オフセット成分が取除かれたトラッキングエラー信号に相当することとなる。その結果、オフセット成分が取除かれたトラッキングエラー信号が得られる。
【００４６】
以上のような構造およびフローチャートに基づく、光ディスクドライブの動作について説明する。スピンドルモータ１０２は、光ディスク基板９１を回転させる（Ｓ１００）。光ディスク基板９１が回転されると、半導体レーザ１０３は、レーザ光を照射する（Ｓ１０２）。レーザ光が照射されると、第１光検出器９４および第２光検出器９５は、反射光を検出する（Ｓ１０４）。反射光が検出されると、第１ＳＮ比検出器１２および第２ＳＮ比検出器１３は、各々光検出器の出力をＤＦＴ演算する（Ｓ１０６）。光検出器の出力がＤＦＴ演算されると、第１ＳＮ比検出器１２および第２ＳＮ比検出器１３は、各々ＳＮ比を演算する（Ｓ１０８）。ＳＮ比が演算されると、第２差動増幅器１５は、入力された値の差を演算し、その差に係数Ｋを乗算する（Ｓ１１０）。係数Ｋが乗算されると、第１差動増幅器１４は、第１光検出器９４および第２光検出器９５の出力の差を演算する（Ｓ１１２）。出力の差が演算されると、加算器１６は、第１差動増幅器１４、および第２差動増幅器１５の出力を加算する（Ｓ１１４）。このとき加算された結果が、トラッキングエラー信号を表す。
【００４７】
以上のようにして、本実施の形態に係る光ディスクドライブは、トラッキングエラー信号のオフセット成分に相当する値を算出することができる。オフセット成分に相当する値が算出されるので、本実施の形態に係る光ディスクドライブは、トラッキングエラー信号からオフセット成分を除去することができる。その結果、簡単な構成でトラッキングエラー信号の精度を向上できる光ピックアップ装置を提供することができる。
【００４８】
＜第２の実施の形態＞
図６を参照して、本実施の形態に係る演算回路１１７は、第１ＳＮ比検出器１２および第２ＳＮ比検出器１３に代えて、オフセット回路１７を含む。オフセット回路１７は、第１ＳＮ比検出部１８と第２ＳＮ比検出部１９とを含む。
【００４９】
第１ＳＮ比検出部１８は、第１光検出器９４の出力に基づいて、パルスを出力する。第１ＳＮ比検出部１８は、第１光検出器９４の出力の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定する装置である。
【００５０】
第２ＳＮ比検出部１９は、第２光検出器９５の出力に基づいて、パルスを出力する。第２ＳＮ比検出部１９は、第２光検出器９５の出力の、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値を特定する装置である。
【００５１】
第１ＳＮ比検出部１８は、プッシュプル用２値化器２０と、出力用２値化器２１と、イクスクルーシブオアゲート２３と、ローパスフィルタ２５とを含む。プッシュプル用２値化器２０は、第１差動増幅器１４に接続され、第１差動増幅器１４の出力（第１光検出器９４の出力と第２光検出器９５の出力との差）が、予め定められたしきい値（図１０の上段に示す波形の中心軸に対応する値）以上か否かを表す信号を生成する回路である。これにより、第１差動増幅器１４の出力は２値化される。出力用２値化器２１は、第１光検出器９４に接続され、第１光検出器９４の出力が、予め定められたしきい値（図９の上段に示す波形の中心軸に対応する値）以上か否かを表す信号を生成する。これにより、第１光検出器９４の出力は２値化される。イクスクルーシブオアゲート２３は、プッシュプル用２値化器２０および出力用２値化器２１に接続され、プッシュプル用２値化器２０の出力と出力用２値化器２１の出力との排他的論理和（プッシュプル用２値化器２０の出力と出力用２値化器２１の出力とが一致するか否かを表す信号）を生成する回路である。ローパスフィルタ２５は、イクスクルーシブオアゲート２３に接続され、イクスクルーシブオアゲート２３の出力の低周波成分を除去する回路である。
【００５２】
第２ＳＮ比検出部１９は、プッシュプル用２値化器２０と、出力用２値化器２２と、インバータ２２０と、イクスクルーシブオアゲート２４と、ローパスフィルタ２６とを含む。プッシュプル用２値化器２０は、第２ＳＮ比検出部１９のプッシュプル用２値化器２０と同一物である。第１ＳＮ比検出部１８および第２ＳＮ比検出部１９は、プッシュプル用２値化器２０を共用する。出力用２値化器２２は、第２光検出器９５に接続され、第２光検出器９５の出力が、予め定められたしきい値（図１２の上段に示す波形の中心軸に対応する値）以上か否かを表す信号を生成する。これにより、第２光検出器９５の出力は２値化される。インバータ２２０は、出力用２値化器２２に接続される、いわゆる論理否定回路である。インバータ２２０は、出力用２値化器２２が生成した信号とは逆の内容を表す信号を生成する。具体的には、インバータ２２０は、出力用２値化器２２がハイレベルを表す信号を出力するとローレベルを表す信号を出力する。インバータ２２０は、出力用２値化器２２がローレベルを表す信号を出力するとハイレベルを表す信号を出力する。イクスクルーシブオアゲート２４は、プッシュプル用２値化器２０および出力用２値化器２２に接続され、プッシュプル用２値化器２０の出力とインバータ２２０の出力との排他的論理和（プッシュプル用２値化器２０の出力とインバータ２２０の出力とが一致するか否かを表す信号）を生成する回路である。ローパスフィルタ２６は、イクスクルーシブオアゲート２４に接続され、イクスクルーシブオアゲート２４の出力から低周波のノイズを除去する回路である。なお、その他のハードウェア構成については前述の第１の実施の形態と同じである。それらについての機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明はここでは繰返さない。
【００５３】
図７を参照して、本実施の形態に係る光ディスクドライブは、トラッキングエラー信号の出力に関し、以下のような制御構造を有する。なお、図７に示すフローチャートの中で、前述の図４に示した処理は同じステップ番号を付してある。それらの処理も同じである。したがって、それらについての詳細な説明はここでは繰返さない。
【００５４】
Ｓ２００にて、プッシュプル用２値化器２０は、第１差動増幅器１４の出力を２値化する。Ｓ２０２にて、出力用２値化器２１は、第１光検出器９４の出力を２値化する。Ｓ２０４にて、イクスクルーシブオアゲート２３は、プッシュプル用２値化器２０の出力と出力用２値化器２１の出力との排他的論理和を出力する。Ｓ２０６にて、ローパスフィルタ２５は、イクスクルーシブオアゲート２３の出力を平均化する。これにより、イクスクルーシブオアゲート２３が生成した信号の種類および数（本実施の形態の場合、これはプッシュプル用２値化器２０が生成した信号とインバータ２２０が生成した信号とが一致することを表す信号およびその数のことである。しかしながら、これはたとえばプッシュプル用２値化器２０が生成した信号とインバータ２２０が生成した信号とが一致しないことを表す信号およびその数であってもよい。）に基づいて、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値が特定されることとなる。ローパスフィルタがイクスクルーシブオアゲートの出力を平均化する際の、カットオフ周波数の選定基準について説明する。レンズシフトが発生する要因は、光ディスク基板９１の中心とスピンドルモータ１０２の軸中心とのずれ、いわゆる偏心が主である。したがってレンズシフトは光ディスク基板９１の回転周期で発生する。これにより、ローパスフィルタ２５およびローパスフィルタ２６の出力を長いスパンで観測すると、図８の上段に示すように、ローパスフィルタ２５およびローパスフィルタ２６の出力の周期はそれぞれ逆位相となる。また、ローパスフィルタ２５およびローパスフィルタ２６の出力の周期は、光ディスク基板９１の回転周期と概ね一致する。これらにより、図８の下段に示すように、第２差動増幅器１５が出力する、オフセット成分をキャンセルするための信号は、回転周期と概ね一致する。したがって、ローパスフィルタ２５およびローパスフィルタ２６のカットオフ周波数は、次の要件を満たす周波数であることが必要となる。その第１は、なるべく低いことである。その理由は、オフセット成分をキャンセルするための信号の検出誤差を抑制する点にある。第２は、光ディスク基板９１の回転周波数より十分に高いことである。
【００５５】
Ｓ２０８にて、出力用２値化器２２は、第２光検出器９５の出力を２値化する。Ｓ２１０にて、インバータ２２０は、出力用２値化器２２の出力を反転する。Ｓ２１２にて、イクスクルーシブオアゲート２４は、プッシュプル用２値化器２０の出力とインバータ２２０の出力との排他的論理和を出力する。Ｓ２１４にて、ローパスフィルタ２６は、イクスクルーシブオアゲート２４の出力を平均化する。これにより、イクスクルーシブオアゲート２４が生成した信号の種類および数（本実施の形態の場合、これはプッシュプル用２値化器２０が生成した信号と出力用２値化器２２が生成した信号とが一致することを表す信号の数およびその数のことである。しかしながら、これはたとえばプッシュプル用２値化器２０が生成した信号と出力用２値化器２２が生成した信号とが一致しないことを表す信号およびその数であってもよい。）に基づいて、ウォブルの存在により生じた変動の変動幅に対応する値が特定されることとなる。
【００５６】
以上のような構造およびフローチャートに基づく、光ディスクドライブの動作について説明する。
【００５７】
Ｓ１００〜Ｓ１１２の処理を経て、プッシュプル用２値化器２０は、第１差動増幅器１４の出力を２値化する（Ｓ２００）。出力が２値化されると、出力用２値化器２１は、第１光検出器９４の出力を２値化する（Ｓ２０２）。図９および図１０を参照して、プッシュプル用２値化器２０および出力用２値化器２１の、入力および出力について説明する。なお、この場合、第１光検出器９４および第２光検出器９５には、図２の（Ｂ）のように反射光が照射されていると仮定する。本実施の形態において、出力用２値化器２１には第１光検出器９４の出力が入力されている。以上の前提において、出力用２値化器２１の入力波形（図９の上段参照）には、ノイズが重畳されている。したがって出力用２値化器２１の出力つまりウォブル信号を振幅中心付近でスライスした信号は、図９の下段に示すパルスとなる。図９の下段に示す破線は、この破線で囲まれた部分（出力用２値化器２１の出力における不確定区間）のレベルが、どのようなノイズが重畳されているかに基づいて、ハイレベルおよびローレベルのいずれかに確定されることを意味している。一方プッシュプル用２値化器２０には、プッシュプル信号が入力されている。このプッシュプル信号は、第１差動増幅器１４の演算によって得られた信号である。図１０の上段に示すように、プッシュプル信号の変動の振幅は、第１光検出器９４の出力の変動の振幅よりも大きい。プッシュプル信号が、第１光検出器９４の出力と第２光検出器９５の出力との差動であることがその理由である（これについては別途説明する）。また、プッシュプル信号のノイズ幅（図１０の上段における、実線の波形で挟まれた領域）は、第１光検出器９４の出力のノイズ幅（図９の上段における、実線の波形で挟まれた領域）よりも狭い。プッシュプル信号から、ノイズの同相成分が除去されたことがその理由である。したがって、図１０の下段に示すように、プッシュプル用２値化器２０の出力における不確定区間（図１０の下段において破線で囲まれた領域）は、出力用２値化器２１の出力における不確定区間より狭い。これにより、プッシュプル用２値化器２０の出力は、出力用２値化器２１および出力用２値化器２２の出力に比べ、より正確にウォブル信号を２値化した信号ということができる。ちなみに、通常プッシュプル用２値化器２０の出力が回転制御などに用いられる。このような出力用２値化器２１の出力が得られると、イクスクルーシブオアゲート２３は、プッシュプル用２値化器２０の出力と出力用２値化器２１の出力との排他的論理和を出力する（Ｓ２０４）。図１１を参照して、プッシュプル用２値化器２０の出力と出力用２値化器２１の出力とイクスクルーシブオアゲート２３の出力とを対比した結果について説明する。上述したように、プッシュプル用２値化器２０の出力には、ノイズ成分があまり含まれていない。ノイズ成分があまり含まれていないので、イクスクルーシブオアゲート２３の出力は、出力用２値化器２１の出力にオフセット成分が含まれるか否かより定められる。オフセット成分が含まれない場合、イクスクルーシブオアゲート２３の出力は、通常ローレベルとなる。逆にオフセット成分が含まれる場合、イクスクルーシブオアゲート２３の出力は、通常ハイレベルとなる。排他的論理和が出力されると、ローパスフィルタ２５は、イクスクルーシブオアゲート２３の出力を平均化する（Ｓ２０６）。これにより、第１ＳＮ比検出部１８の出力が得られる。
【００５８】
その出力が得られると、出力用２値化器２２は、第２光検出器９５の出力を２値化する（Ｓ２０８）。出力用２値化器２２によって出力が２値化されると、インバータ２２０は、出力用２値化器２２の出力を反転する（Ｓ２１０）。出力が反転されると、イクスクルーシブオアゲート２４は、プッシュプル用２値化器２０の出力とインバータ２２０の出力との排他的論理和を出力する（Ｓ２１２）。図１１に、このときのインバータ２２０の出力とイクスクルーシブオアゲート２４の出力とを示す。これはプッシュプル用２値化器２０の出力がウォブルを正確に２値化したものと仮定して出力用２値化器２２の出力（インバータ２２０の入力）がノイズによりエラーしたときだけハイレベルを出力していることを意味する。排他的論理和が出力されると、ローパスフィルタ２６は、イクスクルーシブオアゲート２４の出力を平均化する（Ｓ２１４）。これにより、第２ＳＮ比検出部１９の出力が得られる。この後、Ｓ１１０にて、オフセット成分に相当する値が演算される。その際、長期的には（個々の２値化ウォブル信号のエッジに関しては、その時点のノイズのレベルによって変わってくる）、ローパスフィルタ２６の出力とローパスフィルタ２５の出力との差が、オフセット成分に対応する。また、ローパスフィルタ２６の出力は、ローパスフィルタ２５の出力より大きくなる。これらにより、第２差動増幅器１５の出力は、オフセット成分をキャンセルする信号として機能することになる。ただし第２差動増幅器１５の出力をオフセット成分のキャンセルのための信号として機能させるためには、ローパスフィルタ２５およびローパスフィルタ２６のカットオフ周波数、ならびに係数Ｋを適切に選ぶことが必要である。
【００５９】
図１２を参照して、ローパスフィルタ２６の出力とローパスフィルタ２５の出力との差が、オフセット成分に対応する理由を説明する。図１２の上段は、出力用２値化器２２の入力波形（すなわち、第２光検出器９５の出力波形）を表わす。出力用２値化器２２の入力波形は、図９の上段に示した波形に対して逆位相の波形である。さらに、出力用２値化器２２の入力波形は、そのような波形にノイズが重畳したものである。この波形の振幅は出力用２値化器２１の入力波形の振幅より小さく、かつオフセット成分に対応する。上述したように、第１光検出器９４および第２光検出器９５に、図２の（Ｂ）のように反射光が照射されていることがその理由である。このように振幅の差が生じるので、仮に重畳されているノイズの大きさが同じであっても、出力用２値化器２２の場合、ノイズ部分がスライスレベルを横切る時間は、出力用２値化器２１の場合より長くなり、かつその差はオフセット成分に対応する。したがって出力用２値化器２２の出力において、ノイズによる不確定期間は、出力用２値化器２１の不確定期間より長く、かつそれらの差はオフセット成分に対応する。不確定期間が長くなるということは、イクスクルーシブオアゲート２４がハイレベルを出力する期間が、イクスクルーシブオアゲート２３がハイレベルを出力する期間より長くなることを意味する。不確定期間の差がオフセット成分に対応することは、それらがハイレベルを出力する期間の差がオフセット成分に対応することを意味する。これらのことが、ローパスフィルタ２５が出力する値とローパスフィルタ２６が出力する値との差が、オフセット成分に対応して大きくなる理由である。
【００６０】
なお、上述したプッシュプル信号の変動の振幅が、第１光検出器９４の出力の変動の振幅よりも大きい理由は、以下の通りである。既に説明したように、プッシュプル信号は、第１光検出器９４の出力と第２光検出器９５の出力との差動である。一方、出力用２値化器２２の入力波形（すなわち、第２光検出器９５の出力波形）は、図９の上段に示した波形（すなわち、第１光検出器９４の出力波形）に対して逆位相の波形に、ノイズが重畳した波形である。したがって、プッシュプル信号は、第１光検出器９４の出力に、第２光検出器９５の出力の絶対値を重畳させた波形となる。これが、プッシュプル信号の変動の振幅が、第１光検出器９４の出力の変動の振幅よりも大きい理由である。
【００６１】
以上のようにして、本実施の形態に係る光ディスクドライブは、トラッキングエラー信号のうち、オフセット成分に相当する値を得ることができる。オフセット成分に相当する値を得ることができるので、トラッキングエラー信号の誤差はより少なくなる。さらに、本実施の形態に係る演算回路は、ＤＦＴ演算などを必要としない。ＤＦＴ演算などが必要とされないので、ハードウェアの規模をかなり小さくできる。その結果、比較的小規模なハードウェアにより、簡単な構成で、正確なトラッキングエラー信号を得ることができる光ピックアップ装置を提供することができる。
【００６２】
なお、プッシュプル用２値化器２０に代えて、別途設けられた光検出器の出力から、オフセット成分を含むトラッキングエラー信号（上述の動作における、プッシュプル用２値化器２０の出力に相当）を生成してもよい。
【００６３】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスクドライブの、全体構成図である。
【図２】レンズシフトを説明する概念図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係る演算回路の制御ブロック図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態に係るトラッキングエラー信号の出力処理の制御の手順を示すフローチャートである。
【図５】本発明の第１の実施の形態に係る演算回路のフーリエ変換の結果を表わす図である。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係る光ディスクドライブの、全体構成図である。
【図７】本発明の第２の実施の形態に係るトラッキングエラー信号の出力処理の制御の手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施の形態に係るローパスフィルタの出力を表わす図である。
【図９】本発明の第２の実施の形態に係る第１ＳＮ比検出部の、出力用２値化器の、入力および出力を表わす図である。
【図１０】本発明の第２の実施の形態に係るプッシュプル用２値化器の入力および出力を表わす図である。
【図１１】本発明の第２の実施の形態に係る２値化器の出力とイクスクルーシブオアゲートの出力との関係を表わす図である。
【図１２】本発明の第２の実施の形態に係る第２ＳＮ比検出部の、出力用２値化器の、入力および出力を表わす図である。
【図１３】光ディスクの構造を表わす図である。
【図１４】従来の技術におけるプッシュプル法を説明する図である。
【符号の説明】
【００６５】
１１，１７  オフセット回路、１２  第１ＳＮ比検出器、１３  第２ＳＮ比検出器、１４  第１差動増幅器、１５  第２差動増幅器、１６  加算器、１８  第１ＳＮ比検出部、１９  第２ＳＮ比検出部、２０  プッシュプル用２値化器、２１，２２  出力用２値化器、２３，２４  イクスクルーシブオアゲート、２５，２６  ローパスフィルタ、９０  光ピックアップ装置、９１  光ディスク基板、９２  案内溝、９３  記録トラック、９４  第１光検出器、９５  第２光検出器、９６  ０次回折光、９７  １次回折光、９８  −１次回折光、１０２  スピンドルモータ、１０３  半導体レーザ、１０４  ビームスプリッタ、１０５  コリメータレンズ、１０６  対物レンズ、１０７，１１７  演算回路、１０８  レンズ制御装置、１０９  読取り回路、２２０  インバータ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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