(57)【要約】【課題】  簡単な方法で適正なイコライザ係数によるフィルタ処理を行ない、タンジェンシャルスキューに対する再生特性の改善を図る。【解決手段】  光ディスクを少なくとも再生する光ピックアップと、この光ピックアップからの再生ＲＦ信号をイコライズするイコライザ部とを有し、このイコライザ部に、ＲＦ再生信号から収差量を検出することによってＲＦ再生信号品質を検出するＲＦ信号品質検出器と、このＲＦ信号品質検出器の検出情報からＲＦ再生信号の劣化度合いの領域判別を行ない、各劣化度合いの領域についてイコライザ係数を導く計算式を変更する規格化を行なう規格化機構とを設け、ＲＦ再生信号の劣化度合いの領域毎に異なるイコライザ係数を用いてイコライズ処理を最適化する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを少なくとも再生する光ピックアップと、
前記光ピックアップによって光ディスクから再生されたＲＦ再生信号をイコライズするイコライザ部とを有し、
前記イコライザ部は、
前記ＲＦ再生信号から収差量を検出することによってＲＦ再生信号品質を検出するＲＦ信号品質検出手段と、
前記ＲＦ信号品質検出手段の検出情報に対応して前記ＲＦ再生信号の劣化度合いを判定するとともに、ＲＦ再生信号の劣化度合いが予め設けられた劣化度合いの分割領域のうちのいずれの領域に含まれるかを判定し、その判定結果に基づいて、各領域毎に設けられたイコライザ係数算出用の計算式を選択し、イコライザ係数を算出する規格化手段と、
前記規格化手段によって算出されたイコライザ係数を用いて前記ＲＦ再生信号をイコライズするイコライズ手段とを有している、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記イコライザ部の前段にアナログＲＦ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器を設け、前記イコライザ部においてデジタル信号処理を行なうことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記イコライザ部の後段にデジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器を設けたことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記Ａ／Ｄ変換器の前段にアナログＲＦ信号の低周波信号成分の振幅が一定となるように自動ゲイン調整を行なうオートゲイン調整回路を設けたことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記アナログＲＦ信号をあるしきい値電圧で比較出力したエッジ信号を元にして同期クロックを生成するＰＬＬ回路を設けたことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記イコライザ部は、前記ＲＦ再生信号に対してアダプティブなイコライズ処理を行ない、収差の影響を緩和して信号特性を改善するアダプティブイコライザを含むことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記ＲＦ信号品質検出手段は、ＲＦ信号のうち最長周期信号を含むある特定パターン信号を判別する信号判定器を有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記ＲＦ信号品質検出手段は、ＲＦ信号品質を最長周期ＲＦ信号中の特定２点の信号レベル差によって検出することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記規格化手段は、前記ＲＦ信号品質検出手段によって検出された最長周期ＲＦ信号中の特定２点の信号レベル差の大きさによってＲＦ信号の品質度合いを判定することを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記規格化手段は、前記ＲＦ信号品質検出手段によって検出された信号レベル差の極性でＲＦ信号の位相進み、または位相遅れを判定することを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記規格化手段は、信号レベル差の絶対値がある特定値を超えていた場合、それをノイズと判断し、その値を無視することを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記規格化手段は、イコライザ係数計算式の切り替えを行なった結果、導かれたイコライザ係数において、さらに理想的なイコライザ係数に近づくように、＋−両極性でそれぞれ２つ以上の領域分けを行ない、各領域におけるイコライザ係数計算式を切り替えることを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種の方式による光ディスクを用いてデータの記録や再生を行なう光ディスク装置に関し、特に光ディスクから再生されたＲＦ信号の特性をイコライザを用いて補正することにより再生特性の向上を図る光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクを用いてデジタルデータの記録再生を行なう光ディスク装置において、光ディスクにおける記録密度の向上に伴い、従来に比べて、より高い周波数の再生信号（ＲＦ信号）を適正に処理する必要が生じている。そこで、例えば光ディスクから読み出された再生信号に対し、デジタルイコライザ（適応等化器）のタップ係数を調整することにより、再生信号の復号化における誤り率を低減するようにした記録再生装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
また、本件出願人は、光ディスク上で生じた収差（特にタンジェンシャル方向のコマ収差）に対し、ＲＦ信号の波形歪みからタンジェンシャル方向のコマ収差を検出し、それを元にアダプティブイコライザによるフィルタ処理を行なうことによって緩和し、信号特性を自動的に改善する信号処理方式を提案している（特願２００２−１０７０８２号参照；以下、先行出願という）。
この先行出願では、ＲＦ信号品質量を最長周期ＲＦ信号（ＤＶＤでは１４Ｔ）の２点間信号レベル差から検出しており、図８は１４Ｔの最長周期ＲＦ信号における２点Ａ、Ｂを示している。
そして、このような２点間信号レベル差（Ｂ−Ａ値）の検出値によってイコライザ係数を決定し、デジタルイコライザによるフィルタ処理を行なうようにしている。
【特許文献１】特開２００３−５９１８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上記先行出願では、最長周期ＲＦ信号の２点間信号レベル差の検出値からイコライザ係数を決定していることから、特にタンジェンシャル方向のスキュー量が大きくなると、２点間信号レベル差の応答が一次式でなくなり、出力が飽和してしまう問題がある。また、タンジェンシャル方向のスキュー量に対するアダプティブイコライザへの理想的なイコライザ係数は、２点間信号レベル差応答の飽和から離れる方向の３次関数曲線を描くことも確認されている。
図９は、このような２点間信号レベル差（Ｂ−Ａ値）の特性の一例を示す説明図であり、縦軸にイコライザ係数値、横軸にタンジェンシャルスキュー量を示している。そして、実線による曲線ａは上述したＢ−Ａ値によって決定されるイコライザ係数値を示し、破線による曲線ｂは実測による理想イコライザ係数値を示している。また、中心の直線ｃは一次式による線を示している。
図示のように、タンジェンシャルスキュー量がある範囲を超えた場合、Ｂ−Ａ値によって決定されるイコライザ係数値が飽和して一次式の直線から離れ、一方、理想イコライザ係数値もＢ−Ａ値によって決定されるイコライザ係数値から乖離する方向に３次関数曲線を描くことになり、両者の乖離が徐々に拡大する状態となっている。
したがって、上述のようにＲＦ信号品質量（Ｂ−Ａ値）からそのままイコライザ係数を導き出すと、タンジェンシャルスキュー量が大きい場合に、特性改善に必要な大きさの係数を導くことができず、イコライズ不足となる。
【０００５】
そこで本発明の目的は、簡単な方法で適正なイコライザ係数によるフィルタ処理を行なうことができ、タンジェンシャルスキューに対する再生特性の改善を図ることが可能な光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述の目的を達成するため、本発明にかかる光ディスク装置は、光ディスクを少なくとも再生する光ピックアップと、前記光ピックアップによって光ディスクから再生されたＲＦ再生信号をイコライズするイコライザ部とを有し、前記イコライザ部は、前記ＲＦ再生信号から収差量を検出することによってＲＦ再生信号品質を検出するＲＦ信号品質検出手段と、前記ＲＦ信号品質検出手段の検出情報に対応して前記ＲＦ再生信号の劣化度合いを判定するとともに、ＲＦ再生信号の劣化度合いが予め設けられた劣化度合いの分割領域のうちのいずれの領域に含まれるかを判定し、その判定結果に基づいて、各領域毎に設けられたイコライザ係数算出用の計算式を選択し、イコライザ係数を算出する規格化手段と、前記規格化手段によって算出されたイコライザ係数を用いて前記ＲＦ再生信号をイコライズするイコライズ手段とを有していることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明にかかる光ディスク装置によれば、イコライザ部において、ＲＦ再生信号から収差量を検出することによってＲＦ再生信号品質を検出し、その検出情報からＲＦ再生信号の劣化度合いが予め設けられた分割領域のどの領域に含まれるかの領域判別を行ない、各領域毎に設けられたイコライザ係数算出用の計算式を変更してイコライザ係数の算出を行なうようにしたことから、イコライザ係数値の飽和を招くことなく、理想イコライザの特性に近いイコライズを簡易な制御で行なうことができ、光ディスク装置における収差による読み取り精度の悪化を改善でき、特にタンジェンシャルスキューに対するマージンの拡大を図ることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明の実施の形態による光ディスク装置は、光ディスクを少なくとも再生する光ピックアップと、この光ピックアップからの再生ＲＦ信号をイコライズするイコライザ部とを有し、このイコライザ部に、ＲＦ再生信号から収差量を検出することによってＲＦ再生信号品質を検出するＲＦ信号品質検出器と、このＲＦ信号品質検出器の検出情報からＲＦ再生信号の劣化度合いの領域判別（劣化度合いレベル判別）を行ない、再生ＲＦ信号の劣化度合いが属する領域に対応してイコライザ係数を導く計算式を変更することにより、イコライザ係数の規格化を行なう規格化機構とを設け、ＲＦ再生信号の劣化度合いの領域毎に異なるイコライザ係数を用いてイコライズ処理を最適化するものである。
【０００９】
なお、イコライザ部にはデジタルイコライザを用い、その前段にはアナログＲＦ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器を設け、後段にデジタル信号をアナログ信号に変換して後段の信号再生系に出力するＤ／Ａ変換器を設ける。
また、Ａ／Ｄ変換器の前段にアナログＲＦ信号の低周波信号成分振幅が一定となるように自動ゲイン調整を行なうオートゲイン調整回路を設ける。また、Ａ／Ｄ変換器の前段またはＤ／Ａ変換器の後段に、アナログＲＦ信号をあるしきい値電圧で比較出力したエッジ信号を元にして、同期クロックを生成するＰＬＬ回路を設け、イコライザ部のループ（Ａ／Ｄ変換器及びＤ／Ａ変換器を含む）が正確な同期によって動作できるようにする。
また、イコライザ部にアダプティブイコライザを用いることにより、収差が乗って再生されたディスクＲＦ信号に対し、アダプティブなイコライズ処理を行ない、収差の影響を緩和して信号特性を改善する。
【００１０】
また、ＲＦ信号品質検出器は、ＲＦ信号のうち最長周期信号を含むある特定パターン信号（例えば１４Ｔパターンの両側に４Ｔを含むパターン）を判別する信号判定器を有するものとし、さらに、ＲＦ信号品質を最長周期ＲＦ信号中の特定２点の信号レベル差によって検出する。そして、規格化機構は、最長周期ＲＦ信号中の特定２点の信号レベル差の大きさによってＲＦ信号の品質度合いを判定するとともに、この信号レベル差の極性でＲＦ信号の位相進み、または位相遅れを判定し、内部イコライザ係数計算式の切り替えを行なう。また、信号レベル差の大きさ（絶対値）がある特定値を超えていた場合、それをノイズと判断し、その値を無視する。
また、内部イコライザ係数計算式の切り替えを行なった結果、導かれたイコライザ係数において、さらに理想的なイコライザ係数に近づくように、＋−両極性にてそれぞれ２つ以上の領域分けを行ない、各領域におけるイコライザ係数計算式を切り替える。
なお、本発明の光ディスク装置は、記録再生用の装置に適したものであるが、再生専用の装置にも適用可能なものである。
【実施例１】
【００１１】
図１は本発明の実施例１の光ディスク装置におけるＲＦ信号再生系の構成例を示すブロック図である。
図示のように、本例の光ディスク装置は、光ピックアップ１００、ＲＦアンプ１１０、オートゲインコントローラ１２０、Ａ／Ｄ変換器１３０、イコライズ部２００、ＰＬＬ部３００、及びＤ／Ａ変換器１４０を有している。
また、イコライズ部２００は、固定値イコライザ２１０、ＲＦ信号品質検出器２２０、規格化機構２３０、及びアダプティブイコライザ２４０を有している。さらに、ＰＬＬ部３００は、ＲＦ−ＰＬＬ３１０、及びＲＦコンパレータ３２０を有している。
【００１２】
光ピックアップ１００は、光ディスクに対する情報信号の記録、再生を行なうものであり、この光ピックアップ１００からのＲＦ再生信号はＲＦアンプ１１０によって増幅され、オートゲインコントローラ１２０によってゲイン調整された後、Ａ／Ｄ変換器１３０に入力される。Ａ／Ｄ変換器１３０では、オートゲインコントローラ１２０からのアナログＲＦ再生信号をデジタル化してイコライザ部２００に供給する。イコライザ部２００は、この入力されたデジタルＲＦ再生信号に対して本発明に係る収差補正のためのイコライズ処理を行ない、Ｄ／Ａ変換器１４０に出力する。Ｄ／Ａ変換器１４０では、イコライザ部２００からのデジタルＲＦ再生信号を再度アナログ信号に変換し、後段の再生処理系に出力する。
【００１３】
以下、このような光ディスク装置の各部の詳細について順次説明していく。
図２は固定値イコライザ２１０の構成を示すブロック図である。
図示のように、この固定値イコライザ２１０は、補正前ＲＦ信号を順次遅延させる複数段の遅延器２１１（シフトレジスタ）と、これら遅延器２１１による遅延信号を固定値係数Ｋによって補正する加算器２１２、乗算器２１３、及び減算器２１４を有し、固定値係数Ｋによって補正したＲＦ信号を出力する。
図３はＲＦ信号品質検出器２２０、及び規格化機構２３０の構成を示すブロック図である。
まず、ＲＦ信号品質検出器２２０は、固定値イコライザ２１０からの補正ＲＦ信号を複数段の遅延器によって順次遅延させてＡ点レベル信号とＢ点レベル信号を取り出す遅延部２２１と、固定値イコライザ２１０からの補正ＲＦ信号についてパターンマッチングを行ない、収差量検出パターン（４Ｔ＋４Ｔ＋１４Ｔ＋４Ｔ＋４Ｔ）を判別する信号判別器２２２と、この信号判別器２２２からの判別信号をトリガとして遅延部２２１からのＡ点レベル信号とＢ点レベル信号をラッチし、その差分信号（ＲＦ信号品質情報）を出力するＲＦ信号品質検出器（ラッチ回路２２３及び減算器２２４）を有する。
また、規格化機構２３０は、ＲＦ信号品質検出器２２０からのＲＦ信号品質情報を入力し、所定の出力条件でパターンマッチングを行ない、劣化度合い領域判別を行なう領域判別器２３１と、この領域判別器２３１からの判別信号について乗算及び加算を行ない、劣化度合い領域に対応するイコライザ係数を出力する乗算器２３２及び加算器２３３を有する。
【００１４】
図４はアダプティブイコライザ２４０の構成を示すブロック図である。
このアダプティブイコライザ２４０は、固定値イコライザ２１０による補正後ＲＦ信号を順次遅延させる複数段の遅延器２４１（シフトレジスタ）と、これら遅延器２４１による遅延信号と規格化機構２３０からのイコライザ係数とを入力してイコライザ係数に対応したパターンを判別して出力する判別器２４２と、この判別器２４２の出力信号をイコライザ係数によって変動する係数Ｋによって補正する乗算器２４３と、この乗算器２４３からの出力と遅延器２４１からの出力を加算して出力する加算器２４４を有する。
【００１５】
次に、このようなイコライザ部２００の動作について説明する。
まず、動作概要として、Ａ／Ｄ変換器１３０によってデジタル信号化されたＲＦ信号は固定値イコライザ２１０に入力され、任意の固定係数値にて波形成形が行なわれ、信号判別器２２２によってＲＦ信号のうち収差量検出パターン（４Ｔ＋４Ｔ＋１４Ｔ＋４Ｔ＋４Ｔ）が検出され、ＲＦ信号品質検出器２２０によってＲＦ信号の収差量検出が行なわれ、規格化機構２３０によってＲＦ信号劣化度合いの領域判別と、それに基づいたイコライザ係数の計算が行なわれ、アダプティブイコライザ２４０にてイコライザ係数に基づき波形成形が行なわれる。そして、これらの補正が行なわれたデジタルＲＦ信号は、Ｄ／Ａ変換器１４０によってアナログ信号化される。
次に、ＰＬＬ部３００について説明する。Ｄ／Ａ変換器１４０によってアナログ信号化されたＲＦ信号はＲＦコンパレータ３２０によって任意のしきい値で２値化され、ＲＦ−ＰＬＬ回路３１０によってディスク信号に含まれるチャネルクロック信号（ＰＬＣＫ）が抽出され、このチャネルクロック信号あるいはこれに同期した信号がイコライザ部２００、Ａ／Ｄ変換器１３０、Ｄ／Ａ変換器１４０の基準動作クロックとしてそれぞれの回路に入力される。
【００１６】
次に、イコライザ部２００の詳細について説明する。
まず、固定値イコライザ２１０について説明する。この固定値イコライザ２１０は、既にＤＶＤ装置においてはフォーマット上でも規定されているものであり、劣化したＲＦ信号のうちＭＴＦに起因する分の改善を可能とするものである。ただし、補正係数が任意の固定値であること、また、イコライズに使用するタップのうち、時間進み分、時間遅れ分ともにセンタータップから同距離（２ｃｌｋ）にあることにより、特にタンジェンシャルスキューによる収差により顕著に現れるＲＦ信号のＰＴＦ劣化分に対して、このイコライザは有効な補正特性を示さない。
【００１７】
次に、ＲＦ信号品質検出器２２０の信号判別器２２２は、ＲＦ信号のうち次段の補正品質検出器（ラッチ回路２３３）で使用する最長周期信号（１４Ｔ信号）を検出するためのものであり、例えばシフトレジスタから構成されている。なお、検出信号は１４Ｔのみでなく、（４Ｔ＋４Ｔ＋１４Ｔ＋４Ｔ＋４Ｔ）のフレーム信号としているが、これは１４Ｔの前後のデータの変動による符号間干渉変動と、光ディスクにおける０次スポットと１次リングとの間の距離から想定される波形干渉の影響によるＲＦ波形歪みの対策である。また、シフトレジスタでは、１４Ｔ信号のあまりに大きな値の変動はノイズ等による誤検出とみなし、その後の補正処理では、その波形を使用しないような機能を有する。
【００１８】
次に、ＲＦ信号品質検出器２２０の補正品質検出器（ラッチ回路２２３及び減算器２２４）について説明する。上述した信号判別器２２２において、フレーム信号（４Ｔ＋４Ｔ＋１４Ｔ＋４Ｔ＋４Ｔ）が検出されると、パターン一致信号ＭＡＴＣＨ−ＰＡＴ−Ｈが出力される。この時、所定段の遅延器出力のレベル差を計算することにより、現時点のＲＦ信号に乗っている収差量を計測することでＲＦ信号の品質量を導く。
図５はＲＦ信号品質検出器２２０の動作を示すフローチャートである。
まず、信号判別器２２２によって収差補正後フレームから収差量検出パターンを検出し（ステップＳ１）、補正品質検出器（ラッチ回路２２３及び減算器２２４）によって１４Ｔ信号の任意の２点（Ａ点、Ｂ点）の信号レベル差（Ｂ−Ａ）の値により、ＲＦ信号品質情報を検出し、更新、保持を行なう（ステップＳ２）。
【００１９】
次に、規格化機構２３０について説明する。
ＲＦ信号品質検出器２２０より出力されたＲＦ信号品質量がＲＦ信号劣化度合いのどの領域にあるかを判定し、その判定結果よりＲＦ信号品質情報に乗算する定数を切り替え、イコライザ係数を計算する。これにより、イコライザ係数は理想値に近づき、イコライズ処理性能が向上する。
図６はＲＦ信号品質検出器２２０及び規格化機構２３０の具体的な演算例を示す説明図であり、図６（Ａ）はフローチャート、図６（Ｂ）は補正結果の一例を示している。
図６（Ａ）において、まず、ＲＦ信号品質情報に変数ｚ、イコライザ係数値に変数ｙを設定する（ステップＳ１１）。そして、領域１、領域２、領域３のしきい値α、βを用いてｚを判定し、領域判別を行なった後（ステップＳ１２、Ｓ１３、Ｓ１４）、ｚの極性判別を行なう（ステップＳ１５、Ｓ１６、Ｓ１７）。そして、各判別結果に応じて、イコライザ係数値ｙを決定する。なお、ここでは、イコライザ係数式として、１次式ｙ＝Ｋ* ×ｚ＋Ｃ* を用いており、定数Ｋ及びＣを変更することにより、規格化されたイコライザ係数を出力する（ステップＳ１８〜Ｓ２３）。なお、本例では、イコライザ係数式に１次式を用いることで、演算処理の簡易化を図るものである。
図６（Ｂ）において、縦軸にイコライザ係数値、横軸にタンジェンシャルスキュー量を示している。そして、破線による曲線ｚは上述したＢ−Ａ値によって決定されるイコライザ係数値を示し、実線による曲線ｙは規格化イコライザ係数値を示している。
図６（Ｂ）に示す規格化イコライザ係数値は、Ｂ−Ａ値によるイコライザ係数値を領域１、領域２、領域３で固有の数式によって補正し、図９で示した理想イコライザ係数値に近い値に補正したものとなる。
【００２０】
最後にアダプティブイコライザ２４０について説明する。このイコライザ２４０では、イコライザ係数に基づいてＲＦ信号の波形成形を行なう。イコライザ係数は、各収差量に対して常に最適な値となる変動補正係数であり、このイコライザ係数によって固定値イコライザでは不可能であった劣化ＲＦ信号のＰＴＦの改善が可能である。
図７はアダプティブイコライザ２４０の動作を示すフローチャートである。まず、イコライザ係数に基づいてＲＦ信号を補正し（ステップＳ３１）、この収差補正後のＲＦ信号を出力する（ステップＳ３２）。
【００２１】
以上のような構成のイコライザ部により、ＲＦ再生信号の劣化度合いに応じた領域毎にイコライザ係数を動的に制御し、理想的なイコライザの補正特性を得ることができることから、光ディスク装置における収差による読み取り精度の悪化を改善でき、特にタンジェンシャルスキューに対するマージンの拡大を図ることが可能となる。
なお、以上の実施例１では、イコライザ係数計算式を「乗算定数×ＲＦ信号品質量（Ｂ−Ａ値）」としたが、これ以外にも他の乗算計算式や階乗計算式を用いることが可能である。
例えば、乗算計算式としては、領域１をＫ1 ×（Ｂ−Ａ）＋Ｃ1 、領域２をＫ2 ×（Ｂ−Ａ）＋Ｃ2 、領域３をＫ3 ×（Ｂ−Ａ）＋Ｃ3 といった式を用いたり、階乗計算式としては、領域１を（Ｂ−Ａ）、領域２を（Ｂ−Ａ）2 、領域３を（Ｂ−Ａ）3 といった式を用いることが可能である。また、分割する領域としては、上述の例に限らず、適宜変更し得ることはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施例１による光ディスク装置の再生系の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す光ディスク装置のイコライザ部に設けられる固定値イコライザの構成を示すブロック図である。
【図３】図１に示す光ディスク装置のイコライザ部に設けられるＲＦ信号品質検出器、及び規格化機構の構成を示すブロック図である。
【図４】図１に示す光ディスク装置のイコライザ部に設けられるアダプティブイコライザの構成を示すブロック図である。
【図５】図３に示すＲＦ信号品質検出器の動作を示すフローチャートである。
【図６】図３に示すＲＦ信号品質検出器及び規格化機構の具体的な演算例を示す説明図であり、（Ａ）はフローチャート、（Ｂ）は補正結果の一例を示している。
【図７】図４に示すアダプティブイコライザの動作を示すフローチャートである。
【図８】従来のスキュー検出方法を示す説明図である。
【図９】図８に示すスキュー検出方法で検出した値を用いて決定されるイコライザ係数の特性を示す説明図である。
【符号の説明】
【００２３】
１００……光ピックアップ、１１０……ＲＦアンプ、１２０……オートゲインコントローラ、１３０……Ａ／Ｄ変換器、１４０……Ｄ／Ａ変換器、２００……イコライズ部、２１０……固定値イコライザ、２２０……ＲＦ信号品質検出器、２３０……規格化機構、２４０……アダプティブイコライザ、３００……ＰＬＬ部、３１０……ＲＦ−ＰＬＬ、３２０……ＲＦコンパレータ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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