(57)【要約】【課題】複数の記録層をもつ光学式情報記録媒体に対し、記録層のレーザ光の透過率が情報記録の有無によって異なる場合であっても、各記録層の情報記録状態に関わらず、正しいパルス条件を求めてデータを正しく記録することを可能にする。【解決手段】本発明は、暫定パルス条件導出ステップ（Ｓ５０２）と、テスト領域反射光測定ステップ（Ｓ５０２）と、最終パルス条件導出ステップ（Ｓ５０３〜Ｓ５０６）と、記録実行ステップ（Ｓ５０６）とを備える。暫定パルス条件導出ステップは、テスト記録層においてテスト記録を行い、暫定パルス条件を導出する。テスト領域反射光測定ステップは、テスト領域反射光レベルを測定する。最終パルス条件導出ステップは、テスト領域反射光レベルに基づいて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。記録実行ステップは、最終パルス条件でデータを記録する【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録方法であって、
前記複数の記録層のうち、少なくとも１つの記録層であるテスト記録層においてテスト記録を行い、レーザー光の強度を含む暫定パルス条件を導出する暫定パルス条件導出ステップと、
前記テスト記録する領域におけるレーザー光の反射光レベルであるテスト領域反射光レベルを測定するテスト領域反射光測定ステップと、
測定された前記テスト領域反射光レベルに基づいて前記暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する最終パルス条件導出ステップと、
前記最終パルス条件でデータを記録する記録実行ステップと、
を備える記録方法。
【請求項２】
前記テスト領域反射光測定ステップは、前記テスト記録を行った領域における未記録部、マーク間部または情報消去部のいずれかの反射光レベルを測定する、
請求項１に記載の記録方法。
【請求項３】
前記テスト記録層におけるレーザー光の反射光レベルを測定するステップであって、前記テスト記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてデータが記録されていない半径位置における反射光レベルである基準反射光レベルを測定する基準反射光レベル測定ステップ、
をさらに備え、
前記最終パルス条件導出ステップは、前記基準反射光レベルと前記テスト領域反射光レベルとに基づいて前記暫定パルス条件を補正し、前記最終パルス条件を導出する、
請求項１または２に記載の記録方法。
【請求項４】
前記レーザー光入射側の記録層が記録状態にある場合と未記録状態にある場合とにおける前記レーザー光の透過率の違いを表す補正係数を取得する補正係数取得ステップ、
をさらに備え、
前記最終パルス条件導出ステップは、前記補正係数と前記基準反射光レベルと前記テスト領域反射光レベルとに基づいて前記暫定パルス条件を補正し、前記最終パルス条件を導出する、
請求項３に記載の記録方法。
【請求項５】
前記補正係数取得ステップは、前記光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録された前記補正係数を読み出すことにより前記補正係数を取得する、
請求項４に記載の記録方法。
【請求項６】
前記最終パルス条件導出ステップは、
前記基準反射光レベルと前記テスト領域反射光レベルとに基づいて前記暫定パルス条件を補正し、前記レーザ光入射側の記録層が未記録状態にある場合に好適なレーザー光の強度を含む実効パルス条件を導出する実効パルス条件導出ステップと、
前記補正係数に基づいて前記実効パルス条件を補正し、前記最終パルス条件を導出する実効パルス条件補正ステップと、
から構成されている、
請求項４または５に記載の記録方法。
【請求項７】
既にデータが記録された記録済記録層を特定する記録済記録層情報を前記光学式情報記録媒体から読み出す記録済記録層情報取得ステップ、
をさらに備え、
前記補正係数取得ステップは、前記光学式情報記録媒体が有する前記複数の記録層のいずれかを特定する目標記録層情報と前記目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側のいずれかの記録層を特定する記録層特定情報とに関連づけられた前記補正係数を前記光学式情報記録媒体から読み出すステップであって、データの記録を行う記録層と一致する目標記録層情報と前記記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とに関連づけられた前記補正係数を取得する、
請求項４〜６のいずれかに記載の記録方法。
【請求項８】
前記記録済記録層情報は、前記記録済記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報をさらに含む、
請求項７に記載の記録方法。
【請求項９】
前記補正係数取得ステップは、前記光学式情報記録媒体から読み出した前記記録済アドレス情報から、前記記録済記録層の前記記録済領域の位置を判断し、前記記録済領域の位置とデータの記録を行う位置とに基づいて前記補正係数を選択する、
請求項８に記載の記録方法。
【請求項１０】
データを記録する情報記録領域におけるレーザー光の反射光レベルであるユーザー領域反射光レベルを測定するユーザー領域反射光測定ステップ、
をさらに備え、
前記最終パルス条件導出ステップは、前記ユーザー領域反射光レベルと前記基準反射光レベルと前記テスト領域反射光レベルとに基づいて前記暫定パルス条件を補正し、前記最終パルス条件を導出する、
請求項３に記載の記録方法。
【請求項１１】
前記最終パルス条件導出ステップは、
前記基準反射光レベルと前記テスト領域反射光レベルとに基づいて前記暫定パルス条件を補正し、前記レーザ光入射側の記録層が未記録状態にある場合に好適なレーザー光の強度を含む実効パルス条件を導出する実効パルス条件導出ステップと、
前記ユーザ領域反射光レベルと前記基準反射光レベルとに基づいて前記実効パルス条件を補正し、前記最終パルス条件を導出する実効パルス条件補正ステップと、
から構成されている、
請求項１０に記載の記録方法。
【請求項１２】
前記ユーザー領域反射光測定ステップは、前記ユーザー領域反射光レベルの測定をデータ記録中に所定の時間ごとまたは前記光学式情報記録媒体の所定の半径位置ごとに行う、
請求項１０または１１に記載の記録方法。
【請求項１３】
前記暫定パルス条件導出ステップは、
前記テスト記録層において、レーザー光の強度を変えながらテスト記録を行い、前記テスト記録した信号を再生し、前記再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率のいずれかを測定して、前記再生した信号の品質を評価する信号品質評価ステップと、
前記テスト記録層よりもレーザ光入射側の記録層にデータが記録された場合に前記レーザ光入射側の記録層のレーザー光の透過率が低下する媒体に対しては、レーザー光の強度を、前記再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最大値近傍に設定し、透過率が増大する媒体に対しては、レーザー光の強度を、前記再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最小値近傍に設定する暫定パルス条件設定ステップと、
から構成されている、
請求項３に記載の記録方法。
【請求項１４】
記録層にデータを記録することによって、前記レーザー光の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を前記光学式情報記録媒体から読み出す透過率変化情報取得ステップ、
をさらに備え、
前記暫定パルス条件設定ステップは、前記透過率変化情報を取得し透過率変化の傾向を判断する、
請求項１３に記載の記録方法。
【請求項１５】
一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録方法であって、
少なくとも１つの記録層にデータを記録する場合のレーザー光強度の上限値を表す情報または前記上限値を算出するための情報であるレーザー光強度情報を前記光学式情報記録媒体から読み出すレーザー光強度情報取得ステップと、
前記レーザー光強度情報から取得される前記上限値よりも小さいレーザー光強度の範囲でテスト記録を行うテスト記録ステップと、
前記テスト記録に基づいて決定されるパルス条件でデータを記録する記録実行ステップと、
を備える記録方法。
【請求項１６】
一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録装置であって、
前記複数の記録層のうち、少なくとも１つの記録層であるテスト記録層においてテスト記録を行い、レーザー光の強度を含む暫定パルス条件を導出するテスト記録手段と、
記録層からのレーザ光の反射光レベルを測定する反射光レベル測定手段と、
前記反射光レベル測定手段により測定された前記テスト記録する領域におけるレーザー光の反射光レベルであるテスト領域反射光レベルと、前記反射光レベル測定手段により測定された前記テスト記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてデータが記録されていない半径位置における反射光レベルである基準反射光レベルとに基づいて、前記テスト記録手段により導出された前記暫定パルス条件を補正し、データの記録に用いられる最終パルス条件を導出する最終パルス条件導出手段と、
を備える記録装置。
【請求項１７】
記録層が記録状態の場合と未記録状態の場合でのレーザー光の透過率の違いを表す補正係数を取得する補正係数取得手段、
をさらに備え、
前記最終パルス条件導出手段は、前記補正係数をさらに用いて前記暫定パルス条件を補正し、前記最終パルス条件を導出する、
請求項１６に記載の記録装置。
【請求項１８】
既にデータが記録された記録済記録層を特定する記録済記録層情報を取得する記録済記録層取得手段、
をさらに備え、
前記最終パルス条件導出手段は、前記記録済記録層情報をさらに用いて前記暫定パルス条件を補正し、前記最終パルス条件を導出する、
請求項１７に記載の記録装置。
【請求項１９】
前記補正係数取得手段は、前記光学式情報記録媒体が有する前記複数の記録層のいずれかを特定する目標記録層情報と前記目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側のいずれかの記録層を特定する記録層特定情報とに関連づけられた前記補正係数を前記光学式情報記録媒体から読み出す手段であって、データの記録を行う記録層と一致する目標記録層情報と前記記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とに関連づけられた前記補正係数を取得する、
請求項１７または１８に記載の記録装置。
【請求項２０】
前記記録済記録層情報は、前記記録済記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報をさらに含む、
請求項１８に記載の記録装置。
【請求項２１】
前記補正係数取得手段は、前記光学式情報記録媒体から読み出した前記記録済アドレス情報から、前記記録済記録層の前記記録済領域の位置を判断し、前記記録済領域の位置とデータの記録を行う位置とに基づいて前記補正係数を選択する、
請求項２０に記載の記録装置。
【請求項２２】
前記テスト記録手段は、再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率のいずれかを測定して、前記信号の品質を評価する信号品質評価手段を含む、
請求項１６〜２１のいずれかに記載の記録装置。
【請求項２３】
前記最終パルス条件は、レーザー光の強度、パルス長さおよび発生タイミングを含み、記録するマークの長さおよび・または間隔に適応して設定される、
請求項１６〜２２のいずれかに記載の記録装置。
【請求項２４】
前記テスト記録手段は、
前記テスト記録層において、レーザー光の強度を変えながらテスト記録を行い、前記テスト記録した信号を再生し、前記再生した信号の品質を評価する信号品質評価手段と、
前記テスト記録層よりもレーザ光入射側の記録層にデータが記録された場合に前記レーザ光入射側の記録層のレーザー光の透過率が低下する媒体に対しては、レーザー光の強度を、前記再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最大値近傍に設定し、透過率が増大する媒体に対しては、レーザー光の強度を、前記再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最小値近傍に設定する暫定パルス条件設定手段と、
を含む、
請求項１６に記載の記録装置。
【請求項２５】
前記信号品質評価手段は、前記再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率のいずれかを測定して、前記信号の品質を評価する、
請求項２４に記載の記録装置。
【請求項２６】
前記最終パルス条件は、レーザー光の強度、パルス長さおよび発生タイミングを含み、記録するマークの長さおよび・または間隔に適応して設定される、
請求項２４または２５に記載の記録装置。
【請求項２７】
記録層にデータを記録することによって、前記レーザー光の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を前記光学式情報記録媒体から読み出す透過率変化情報取得手段、
をさらに備え、
前記暫定パルス条件設定手段は、前記透過率変化情報を取得し透過率変化の傾向を判断する、
請求項２４に記載の記録装置。
【請求項２８】
一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体であって、
記録層が記録状態にある場合と未記録状態にある場合とにおける前記レーザー光の透過率の違いを表す補正係数を格納する、
光学式情報記録媒体。
【請求項２９】
前記補正係数は、リードイン領域に格納されている、
請求項２８に記載の光学式情報記録媒体。
【請求項３０】
前記補正係数は、前記光学式情報記録媒体が有する前記複数の記録層のいずれかを特定する目標記録層情報と前記目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側のいずれかの記録層を特定する記録層特定情報とに関連づけられて格納されている、
請求項２８または２９に記載の光学式情報記録媒体。
【請求項３１】
既にデータが記録された記録済記録層を特定する記録済記録層情報をさらに格納する、
請求項２８〜３０のいずれかに記載の光学式情報記録媒体。
【請求項３２】
前記記録済記録層情報は、前記記録済記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報を含む、
請求項３１に記載の光学式情報記録媒体。
【請求項３３】
一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体であって、
記録層にデータを記録することによって、前記レーザー光の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を格納する、
光学式情報記録媒体。
【請求項３４】
一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体であって、
少なくとも１つの記録層にデータを記録する場合のレーザー光強度の上限値を表す情報または前記上限値を算出するための情報であるレーザー光強度情報を格納する、
光学式情報記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザー光等の照射により情報の記録再生を行う複数の記録層を備えた光学式情報記録媒体の記録方法、記録装置及び光学式情報記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
大容量で高密度なメモリーとして光学式情報記録媒体がある。その内、情報の書換えが可能な消去型光学式情報記録媒体の一つとして、基板上にアモルファス状態と結晶状態の間で相変化する薄膜を記録層として有し、レーザー光の照射による熱エネルギーによって情報の記録及び消去を行うものがある。
【０００３】
この記録層用の相変化材料としては、Ｇｅ、Ｓｂ、Ｔｅ、Ｉｎ等を主成分とする合金膜、例えばＧｅＳｂＴｅ合金が知られている。情報の記録は記録層を部分的にアモルファス化して記録マークを形成して行う。情報の消去は、この記録マークを結晶化することによって行う。アモルファス化は記録層を融点以上に加熱した後に急激に冷却することによって行われる。一方、結晶化は記録層を結晶化温度以上、融点以下の温度に加熱することによって行われる。
【０００４】
また、基板上には記録再生時にレーザー光をトラッキングするスパイラル状もしくは同心円状の案内溝（グルーブ）を予め設けておくのが一般的である。グルーブとグルーブの間の領域はランドと呼ばれ、グルーブもしくはランドのどちらか一方のみを情報を記録する情報トラックとし、他方は、隣合う情報トラックを分離するためのガードバンドとなっている場合が多い。記録可能型ＣＤ（ＣＤ−Ｒ）やミニディスク（ＭＤ）でもこの方法が用いられている。
【０００５】
媒体への情報の記録方式としては、異なる長さのマークを種々のスペースを設けて形成することによって、マークの長さ及びスペースの長さ（つまり、マークの前端及び後端のエッジ位置）が情報を担うようにしたマーク長記録方式がある。
このマーク長記録方式では、記録時に、レーザーパルスの強度や発生タイミングなどのパルス条件が不適切であれば、マーク前部で発生した熱が後部での昇温を助長して前部が細く後部が太い歪んだマーク形状となったり、マーク形成時に発生する熱が隣接するマークの形成に影響を与え、マークのエッジ位置が変動する等して、信号品質が低下する。
【０００６】
最適なパルス条件は、媒体及び記録再生装置の特性に大きく依存する。従って、記録時に、記録再生装置に媒体を装着し、起動する際に、その都度、最適なパルス条件を求める学習動作が必要となる。この学習動作とは、パルス条件を変化させながらテスト記録を行い、再生した信号の品質を測定した結果をお互いに比較することによって、最適なパルス条件を求めるものである。
【０００７】
従来の光学式情報記録媒体の一例を図６に示す。図６において、光学式情報記録媒体６１は、中央に記録再生装置に装着するための中心孔６２を備えたポリカーボネートからなる厚さ１．１ｍｍの透明基板上に記録層を設け、厚さ０．１ｍｍの保護層を設けた構造である。光学式情報記録媒体６１には、保護層を通してレーザー光が照射され、情報の記録再生が行われる。基板には、記録再生時にレーザー光をトラッキングするトラック６６が設けられている。また、光学式情報記録媒体６１は、エンボスピット等によって媒体の識別情報等を記録した再生専用のリードイン領域６３、最適なパルス条件を求める学習動作を行うためのテスト記録領域６４、ユーザーデータを記録する情報記録領域６５を有している。
【０００８】
一方、最近では、各種情報機器の処理能力の向上に伴い、扱われる情報量が大きくなっている。そのために、より大容量かつ高速な記録再生が可能な記録媒体が求められている。この大容量化の手段として、複数の記録層を備え、片側の面からそれぞれの記録層に情報を記録再生することのできる多層記録媒体が提案されている。このような多層記録媒体では、記録時の最適なレーザーパルスの強度などの記録再生特性が記録層毎に異なる。したがって、従来の記録再生装置は、各記録層毎に前記学習動作を行っている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１１−３５５０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
このような多層記録媒体では、レーザー光照射側から見て最も手前の記録層以外の記録層への記録再生は、レーザ光照射側の記録層を透過したレーザー光によって行われる。ところが、記録層の材料によっては、アモルファス状態と結晶状態での光の透過率が異なるため、各記録層におけるレーザー光の透過率は、情報記録の有無によって異なる。
【００１０】
したがって、実際に情報の記録再生を行う記録層に到達するレーザー光の強度は、手前の記録層の記録状態によって異なるので、従来の方法による学習動作によって求めたパルス条件で記録した場合に、正しくユーザーデータが記録できないという課題がある。
また、学習動作においても、テスト記録を行う際に実際に学習動作を行う記録層に到達するレーザー光の強度は、手前の記録層の記録状態によって異なるため、正しいパルス条件が得られないという課題がある。
【００１１】
本発明は、上記従来の課題を解決するもので、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが出来る記録方法および記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１に記載の記録方法は、一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録方法であって、暫定パルス条件導出ステップと、テスト領域反射光測定ステップと、最終パルス条件導出ステップと、記録実行ステップとを備えている。暫定パルス条件導出ステップは、複数の記録層のうち、少なくとも１つの記録層であるテスト記録層においてテスト記録を行い、レーザー光の強度を含む暫定パルス条件を導出する。テスト領域反射光測定ステップは、テスト記録する領域におけるレーザー光の反射光レベルであるテスト領域反射光レベルを測定する。最終パルス条件導出ステップは、測定されたテスト領域反射光レベルに基づいて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。記録実行ステップは、最終パルス条件でデータを記録する。
【００１３】
本発明の記録方法では、テスト記録により導出された暫定パルス条件をテスト領域反射光レベルに基づいて補正し、最終パルス条件を導出する。テスト領域反射光レベルに基づいた補正では、例えば、各記録層における情報の記録状態を補償するように補正が行われる。これにより、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【００１４】
請求項２に記載の記録方法は、請求項１に記載の記録方法であって、テスト領域反射光測定ステップは、テスト記録を行った領域における未記録部、マーク間部または情報消去部のいずれかの反射光レベルを測定する。
本願出願人の調査により、未記録部、マーク間部または情報消去部では、それぞれほぼ同様の高い反射光レベルの信号が得られることが判明している。
【００１５】
請求項３に記載の記録方法は、請求項１または２に記載の記録方法であって、テスト記録層におけるレーザー光の反射光レベルを測定するステップであって、テスト記録層よりもレーザー光入射側の記録層においてデータが記録されていない半径位置における反射光レベルである基準反射光レベルを測定する基準反射光レベル測定ステップをさらに備えている。最終パルス条件導出ステップは、基準反射光レベルとテスト領域反射光レベルとに基づいて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。
【００１６】
本発明の記録方法では、基準反射光レベルとテスト領域反射光レベルとに基づいて、暫定パルス条件を補正する。このため、レーザー光入射側の記録層の記録状態が暫定パルス条件に対して与える影響を補償することが可能となる。
請求項４に記載の記録方法は、請求項３に記載の記録方法であって、レーザー光入射側の記録層が記録状態にある場合と未記録状態にある場合とにおけるレーザー光の透過率の違いを表す補正係数を取得する補正係数取得ステップをさらに備えている。最終パルス条件導出ステップは、補正係数と基準反射光レベルとテスト領域反射光レベルとに基づいて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。
【００１７】
本発明の記録方法では、さらに補正係数を用いてパルス条件を補正する。このため、記録時におけるレーザー光入射側の記録層の記録状態の影響を補償することが可能となる。
請求項５に記載の記録方法は、請求項４に記載の記録方法であって、補正係数取得ステップは、光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録された補正係数を読み出すことにより補正係数を取得する。
【００１８】
本発明の記録方法では、補正係数は、光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録されている。このため、光学式情報記録媒体の特性に応じて適切な補正係数を用いてパルス条件を導出することが可能となる。
請求項６に記載の記録方法は、請求項４または５に記載の記録方法であって、最終パルス条件導出ステップは、実効パルス条件導出ステップと、実効パルス条件補正ステップとから構成されている。実効パルス条件導出ステップは、基準反射光レベルとテスト領域反射光レベルとに基づいて暫定パルス条件を補正し、レーザ光入射側の記録層が未記録状態にある場合に好適なレーザー光の強度を含む実効パルス条件を導出する。実効パルス条件補正ステップは、補正係数に基づいて実効パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。
【００１９】
本発明の記録方法では、レーザー光入射側の記録層の記録状態が暫定パルス条件に対して与える影響を補償した実効パルス条件を導出することが可能となる。さらに、光学式情報記録媒体の特性に応じて適切な補正係数を用いて実効パルス条件を補正し最終パルス条件を導出することが可能となる。
【００２０】
請求項７に記載の記録方法は、請求項４〜６のいずれかに記載の記録方法であって、既にデータが記録された記録済記録層を特定する記録済記録層情報を光学式情報記録媒体から読み出す記録済記録層情報取得ステップをさらに備えている。補正係数取得ステップは、光学式情報記録媒体が有する複数の記録層のいずれかを特定する目標記録層情報と目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側のいずれかの記録層を特定する記録層特定情報とに関連づけられた補正係数を光学式情報記録媒体から読み出すステップであって、データの記録を行う記録層と一致する目標記録層情報と記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とに関連づけられた補正係数を取得する。
【００２１】
本発明の記録方法では、ユーザーデータを記録しようとする記録層よりもレーザー光照射側の記録層のうち何層の記録層が記録済であるかを判定する。さらに、その記録状態に適した補正係数を選択する。このため、より最適なパルス条件を求めることができ、より確実なユーザーデータの記録が可能となる。
【００２２】
請求項８に記載の記録方法は、請求項７に記載の記録方法であって、記録済記録層情報は、記録済記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報をさらに含む。
ここで、記録済アドレス情報とは、既に記録済の領域の位置を示すアドレスであってもよいし、記録が記録層上で連続して行われる場合（任意の記録層においてユーザーデータを記録することのできる未使用領域が無くなった場合に、別の記録層に継続して記録するような場合）には、既にユーザーデータを記録した最終位置を特定するアドレスであってもよい。
【００２３】
本発明の記録方法では、新たにユーザーデータを記録する前に記録済アドレス情報を読み出し、記録済領域の位置と、ユーザーデータを記録しようとする位置に基づいて、補正係数を選択することが可能となる。
請求項９に記載の記録方法は、請求項８に記載の記録方法であって、補正係数取得ステップは、光学式情報記録媒体から読み出した記録済アドレス情報から、記録済記録層の記録済領域の位置を判断し、記録済領域の位置とデータの記録を行う位置とに基づいて補正係数を選択する。
【００２４】
請求項１０に記載の記録方法は、請求項３に記載の記録方法であって、データを記録する情報記録領域におけるレーザー光の反射光レベルであるユーザー領域反射光レベルを測定するユーザー領域反射光測定ステップをさらに備えている。最終パルス条件導出ステップは、ユーザー領域反射光レベルと基準反射光レベルとテスト領域反射光レベルとに基づいて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。
【００２５】
本発明の記録方法では、テスト領域反射光レベルと基準反射光レベルとを用いて補正を行う。このため、例えば、レーザー光入射側の記録層の記録状態が暫定パルス条件に対して与える影響を補償することが可能となる。さらに、ユーザ領域反射光レベルと基準反射光レベルとを用いて補正を行う。このため、例えば、記録時におけるレーザー光入射側の記録層の記録状態の影響を補償することが可能となる。
【００２６】
請求項１１に記載の記録方法は、請求項１０に記載の記録方法であって、最終パルス条件導出ステップは、実効パルス条件導出ステップと、実効パルス条件補正ステップとから構成されている。実効パルス条件導出ステップは、基準反射光レベルとテスト領域反射光レベルとに基づいて暫定パルス条件を補正し、レーザ光入射側の記録層が未記録状態にある場合に好適なレーザー光の強度を含む実効パルス条件を導出する。実効パルス条件補正ステップは、ユーザ領域反射光レベルと基準反射光レベルとに基づいて実効パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。
【００２７】
本発明の記録方法では、レーザー光入射側の記録層の記録状態が暫定パルス条件に対して与える影響を補償した実効パルス条件を導出することが可能となる。さらに、記録時におけるレーザー光入射側の記録層の記録状態の影響を補償するように実効パルス条件を補正し最終パルス条件を導出することが可能となる。
【００２８】
請求項１２に記載の記録方法は、請求項１０または１１に記載の記録方法であって、ユーザー領域反射光測定ステップは、ユーザー領域反射光レベルの測定をデータ記録中に所定の時間ごとまたは光学式情報記録媒体の所定の半径位置ごとに行う。
本発明の記録方法では、記録時におけるレーザー光入射側の記録層の記録状態をより適切に補償することが可能となる。
【００２９】
請求項１３に記載の記録方法は、請求項３に記載の記録方法であって、暫定パルス条件導出ステップは、信号品質評価ステップと、暫定パルス条件設定ステップから構成されている。信号品質評価ステップは、テスト記録層において、レーザー光の強度を変えながらテスト記録を行い、テスト記録した信号を再生し、再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率のいずれかを測定して、再生した信号の品質を評価する。暫定パルス条件設定ステップは、テスト記録層よりもレーザ光入射側の記録層にデータが記録された場合にレーザ光入射側の記録層のレーザー光の透過率が低下する媒体に対しては、レーザー光の強度を、再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最大値近傍に設定し、透過率が増大する媒体に対しては、レーザー光の強度を、再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最小値近傍に設定する。
【００３０】
本発明の記録方法では、レーザ光入射側の記録層の記録状態に関わらず再生した信号の品質が予め定められた基準を満足するような暫定パルス条件を導出することが可能となる。
請求項１４に記載の記録方法は、請求項１３に記載の記録方法であって、記録層にデータを記録することによって、レーザー光の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を光学式情報記録媒体から読み出す透過率変化情報取得ステップをさらに備えている。暫定パルス条件設定ステップは、透過率変化情報を取得し透過率変化の傾向を判断する。
【００３１】
本発明の記録方法では、透過率変化情報は、光学式情報記録媒体に予め記録されている。このため、光学式情報記録媒体の特性に応じて適切な透過率変化情報を用いてパルス条件を導出することが可能となる。
請求項１５に記載の記録方法は、一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録方法であって、レーザー光強度情報取得ステップと、テスト記録ステップと、記録実行ステップとを備えている。レーザー光強度情報取得ステップは、少なくとも１つの記録層にデータを記録する場合のレーザー光強度の上限値を表す情報または上限値を算出するための情報であるレーザー光強度情報を光学式情報記録媒体から読み出す。テスト記録ステップは、レーザー光強度情報から取得される上限値よりも小さいレーザー光強度の範囲でテスト記録を行う。記録実行ステップは、テスト記録に基づいて決定されるパルス条件でデータを記録する。
【００３２】
出願人の調査により、過剰なレーザ光強度で記録を行うと、情報の記録された記録層の透過率の変化が大きくなることが判明している。
本発明の記録方法では、記録層のテスト記録領域における透過率の変動を抑制し、より奥側の記録層の記録に与える影響を小さくすることができる。
【００３３】
請求項１６に記載の記録装置は、一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録装置であって、テスト記録手段と、反射光レベル測定手段と、最終パルス条件導出手段とを備えている。テスト記録手段は、複数の記録層のうち、少なくとも１つの記録層であるテスト記録層においてテスト記録を行い、レーザー光の強度を含む暫定パルス条件を導出する。反射光レベル測定手段は、記録層からのレーザ光の反射光レベルを測定する。最終パルス条件導出手段は、反射光レベル測定手段により測定されたテスト記録する領域におけるレーザー光の反射光レベルであるテスト領域反射光レベルと、反射光レベル測定手段により測定されたテスト記録層よりもレーザー光入射側の記録層においてデータが記録されていない半径位置における反射光レベルである基準反射光レベルとに基づいて、テスト記録手段により導出された暫定パルス条件を補正し、データの記録に用いられる最終パルス条件を導出する。
【００３４】
本発明の記録装置では、テスト記録により導出された暫定パルス条件をテスト領域反射光レベルと基準反射光レベルとに基づいて補正し、最終パルス条件を導出する。このため、レーザー光入射側の記録層の記録状態が暫定パルス条件に対して与える影響を補償することが可能となる。これにより、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【００３５】
請求項１７に記載の記録装置は、請求項１６に記載の記録装置であって、記録層が記録状態の場合と未記録状態の場合でのレーザー光の透過率の違いを表す補正係数を取得する補正係数取得手段をさらに備えている。最終パルス条件導出手段は、補正係数をさらに用いて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。
【００３６】
本発明の記録装置では、さらに補正係数を用いてパルス条件を補正する。このため、記録時におけるレーザー光入射側の記録層の記録状態の影響を補償することが可能となる。
請求項１８に記載の記録装置は、請求項１７に記載の記録装置であって、既にデータが記録された記録済記録層を特定する記録済記録層情報を取得する記録済記録層取得手段をさらに備えている。最終パルス条件導出手段は、記録済記録層情報をさらに用いて暫定パルス条件を補正し、最終パルス条件を導出する。
【００３７】
本発明の記録装置では、ユーザーデータを記録しようとする記録層よりもレーザー光照射側の記録層のうち何層の記録層が記録済であるかを判定する。このため、より最適なパルス条件を求めることができ、より確実なユーザーデータの記録が可能となる。
請求項１９に記載の記録装置は、請求項１７または１８に記載の記録装置であって、補正係数取得手段は、光学式情報記録媒体が有する複数の記録層のいずれかを特定する目標記録層情報と目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側のいずれかの記録層を特定する記録層特定情報とに関連づけられた補正係数を光学式情報記録媒体から読み出す手段であって、データの記録を行う記録層と一致する目標記録層情報と記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とに関連づけられた補正係数を取得する。
【００３８】
本発明の記録装置では、ユーザーデータを記録しようとする記録層よりもレーザー光照射側の記録層のうち何層の記録層が記録済であるかを判定する。さらに、その記録状態に適した補正係数を選択する。このため、より最適なパルス条件を求めることができ、より確実なユーザーデータの記録が可能となる。
【００３９】
請求項２０に記載の記録装置は、請求項１８に記載の記録装置であって、記録済記録層情報は、記録済記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報をさらに含む。
請求項２１に記載の記録装置は、請求項２０に記載の記録装置であって、補正係数取得手段は、光学式情報記録媒体から読み出した記録済アドレス情報から、記録済記録層の記録済領域の位置を判断し、記録済領域の位置とデータの記録を行う位置とに基づいて補正係数を選択する。
【００４０】
本発明の記録装置では、新たにユーザーデータを記録する前に記録済アドレス情報を読み出し、記録済領域の位置と、ユーザーデータを記録しようとする位置に基づいて、補正係数を選択することが可能となる。
請求項２２に記載の記録装置は、請求項１６〜２１のいずれかに記載の記録装置であって、テスト記録手段は、再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率のいずれかを測定して、信号の品質を評価する信号品質評価手段を含む。
【００４１】
請求項２３に記載の記録装置は、請求項１６〜２２のいずれかに記載の記録装置であって、最終パルス条件は、レーザー光の強度、パルス長さおよび発生タイミングを含み、記録するマークの長さおよび・または間隔に適応して設定される。
請求項２４に記載の記録装置は、請求項１６に記載の記録装置であって、テスト記録手段は、信号品質評価手段と、暫定パルス条件設定手段とから構成されている。信号品質評価手段は、テスト記録層において、レーザー光の強度を変えながらテスト記録を行い、テスト記録した信号を再生し、再生した信号の品質を評価する。暫定パルス条件設定手段は、テスト記録層よりもレーザ光入射側の記録層にデータが記録された場合にレーザ光入射側の記録層のレーザー光の透過率が低下する媒体に対しては、レーザー光の強度を、再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最大値近傍に設定し、透過率が増大する媒体に対しては、レーザー光の強度を、再生した信号の品質が予め定められた基準を満足する最小値近傍に設定する。
【００４２】
本発明の記録装置では、レーザ光入射側の記録層の記録状態に関わらず再生した信号の品質が予め定められた基準を満足するような暫定パルス条件を導出することが可能となる。
請求項２５に記載の記録装置は、請求項２４に記載の記録装置であって、信号品質評価手段は、再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率のいずれかを測定して、信号の品質を評価する。
【００４３】
請求項２６に記載の記録装置は、請求項２４または２５に記載の記録装置であって、最終パルス条件は、レーザー光の強度、パルス長さおよび発生タイミングを含み、記録するマークの長さおよび・または間隔に適応して設定される。
請求項２７に記載の記録装置は、請求項２４に記載の記録装置であって、記録層にデータを記録することによって、レーザー光の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を光学式情報記録媒体から読み出す透過率変化情報取得手段をさらに備えている。暫定パルス条件設定手段は、透過率変化情報を取得し透過率変化の傾向を判断する。
【００４４】
本発明の記録装置では、光学式情報記録媒体に予め記録されている透過率変化情報が取得される。このため、光学式情報記録媒体の特性に応じて適切な透過率変化情報を用いてパルス条件を導出することが可能となる。
請求項２８に記載の光学式情報記録媒体は、一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体であって、記録層が記録状態にある場合と未記録状態にある場合とにおけるレーザー光の透過率の違いを表す補正係数を格納する。
【００４５】
本発明の光学式情報記録媒体では、記録装置に補正係数を与え、記録時におけるレーザー光入射側の記録層の記録状態の影響を補償させることが可能となる。
請求項２９に記載の光学式情報記録媒体は、請求項２８に記載の光学式情報記録媒体であって、補正係数は、リードイン領域に格納されている。
【００４６】
本発明の光学式情報記録媒体では、補正係数は、リードイン領域に格納されており、ユーザーデータを記録する領域を確保することが可能となる。
請求項３０に記載の光学式情報記録媒体は、請求項２８または２９に記載の光学式情報記録媒体であって、補正係数は、光学式情報記録媒体が有する複数の記録層のいずれかを特定する目標記録層情報と目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側のいずれかの記録層を特定する記録層特定情報とに関連づけられて格納されている。
【００４７】
請求項３１に記載の光学式情報記録媒体は、請求項２８〜３０のいずれかに記載の光学式情報記録媒体であって、既にデータが記録された記録済記録層を特定する記録済記録層情報をさらに格納する。
本発明の光学式情報記録媒体では、記録装置に記録済み記録層情報を与え、記録時におけるレーザー光入射側の記録層の記録状態の影響を補償させることが可能となる。
【００４８】
請求項３２に記載の光学式情報記録媒体は、請求項３１に記載の光学式情報記録媒体であって、記録済記録層情報は、記録済記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報を含む。
本発明の光学式情報記録媒体は、記録装置に記録済みアドレス情報を与え、新たにユーザーデータを記録する前に記録済アドレス情報を読み出させ、記録済領域の位置と、ユーザーデータを記録しようとする位置に基づいて、補正係数を選択させることが可能となる。
【００４９】
請求項３３に記載の光学式情報記録媒体は、一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体であって、記録層にデータを記録することによって、レーザー光の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を格納する。
【００５０】
本発明の光学式情報記録媒体は、記録装置に透過率変化情報を与え、光学式情報記録媒体の特性に応じて適切な透過率変化情報を用いてパルス条件を導出させることが可能となる。
請求項３４に記載の光学式情報記録媒体は、一方の面からレーザー光を照射することによってデータの記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体であって、少なくとも１つの記録層にデータを記録する場合のレーザー光強度の上限値を表す情報または上限値を算出するための情報であるレーザー光強度情報を格納する。
【００５１】
出願人の調査により、過剰なレーザ光強度で記録を行うと、情報の記録された記録層の透過率の変化が大きくなることが判明している。
本発明の光学式情報記録媒体では、記録装置にレーザー光強度の上限値を表す情報または上限値を算出するための情報を与え、記録層の記録状態における透過率の変動を抑制し、より奥側の記録層の記録に与える影響を小さくすることができる。
【発明の効果】
【００５２】
本発明の記録方法および記録装置によれば、一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体に対して、記録層におけるレーザー光の透過率が情報記録の有無によって異なる場合であっても、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５３】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態１）
〈構成・作用〉
図１は本発明の実施の形態１における記録再生方法を適用する光学式情報記録媒体の一例を示す断面図である。図１において、記録媒体１は、ポリカーボネートからなる厚さ約１．１ｍｍの基板６上に第１の記録層５、厚さ約０．０２５ｍｍの透明分離層４、厚さ約１００ｎｍの半透明層からなる第２の記録層３を順次形成し、その上に厚さ約０．０７５ｍｍの保護膜２を設けたものであり、記録層３及び５には記録再生時にレーザー光７をトラッキングする深さ約２０ｎｍ、幅約０．２μｍの情報トラック（図示せず）が約０．３２μｍのピッチで設けられている。レーザー光７は、記録層３側の面から照射される。
【００５４】
記録層３は、情報トラックをウォブリングすることによって媒体の識別情報等を記録した半径約２２ｍｍから２３ｍｍの位置に設けられた再生専用のリードイン領域１０１、半径約２３ｍｍから２４ｍｍの位置に設けられ、最適なパルス条件を求める学習動作を行うためのテスト記録領域１０２、半径約２４ｍｍから５８ｍｍの位置に設けられ、ユーザーデータを記録する情報記録領域１０３を有している。また、記録層５は、記録層３と同様に情報トラックをウォブリングすることによって媒体の識別情報等を記録した半径約２２ｍｍから２３ｍｍの位置に設けられた再生専用のリードイン領域１０４、半径約２３ｍｍから２４ｍｍの位置に設けられ、最適なパルス条件を求める学習動作を行うためのテスト記録領域１０５、半径約２４ｍｍから５８ｍｍの位置に設けられ、ユーザーデータを記録する情報記録領域１０６を有している。
【００５５】
記録媒体１のさらに詳細な構造を図２に示す。図２において、記録層３は、誘電体材料からなる保護層２０１、ＳｂおよびＴｅを主成分とする薄膜からなる相変化層２０２及び誘電体材料からなる保護層２０３の多層薄膜で構成されている。本実施の形態では、情報の記録により相変化層２０２が部分的に結晶状態からアモルファス状態に変化することによって、レーザー光７の波長における記録層３の透過率が低下するものとする。
【００５６】
記録層５は、誘電体材料からなる保護層２０４、ＳｂおよびＴｅを主成分とする薄膜からなる相変化層２０５、誘電体材料からなる保護層２０６及び金属材料からなる反射層２０７の多層薄膜で構成されている。
図１におけるリードイン領域１０４には、情報の記録による記録層３の透過率の低下量を表す補正係数αが記録されている。補正係数αは、例えば、未記録の記録層３の透過率をＴ１、記録後の記録層３の透過率をＴ２としたときに、
α＝Ｔ１／Ｔ２
の関係式で与えられる。
【００５７】
記録媒体１を使用する際に、記録再生装置において、起動時に、リードイン領域１０４に記録されている補正係数αを読み出すとともに、基準反射光レベルＲ１を測定する。ここで、基準反射光レベルＲ１とは、リードイン領域１０４における反射光レベルであり、第１の記録層５よりもレーザ光入射側の第２の記録層３においてデータが記録されていない半径位置である再生専用のリードイン領域１０１に対応する第１の記録層５の半径位置における反射光レベルである。
【００５８】
次に、記録層３及び５のテスト記録領域１０２及び１０５において、レーザーパルスの強度や長さ、発生タイミングなどのパルス条件を変化させながらテスト記録を行い、これらから再生した信号の品質を測定した結果から、暫定パルス条件を求める学習動作を行う。ここで、暫定パルス条件を求める学習動作は、パルス条件を変化させながらテスト記録を行い、再生した信号の品質を測定した結果をお互いに比較することによって、より適切なパルス条件を求める動作であり、従来手法が用いられてもよい。
【００５９】
また、記録層５における学習動作時に、テスト記録領域１０５の反射光レベルＲ２を測定する。図９は、テスト記録領域で得られる反射光レベル信号の波形図である。信号が記録された領域において、記録マーク部では、低い反射光レベルであるＲＬ、マーク間部では、未記録部と略同等の高い反射光レベルであるＲＨの強度の信号が得られる。
【００６０】
テスト記録領域１０５の反射光レベルＲ２は、図９におけるＲＨを測定することによって得られる。なお、テスト記録領域１０５における反射光レベルＲ２の測定は、記録されている情報を消去した後に行っても良い。
記録層３の情報記録領域１０３にユーザーデータを記録する場合には、テスト記録領域１０２で求めた暫定パルス条件で記録する。すなわち、暫定パルス条件が最終パルス条件となる。
【００６１】
また、記録層５の情報記録領域１０６にユーザーデータを記録する場合には、テスト記録領域１０５で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度を、リードイン領域１０４の基準反射光レベルＲ１と、テスト記録領域１０５の反射光レベルＲ２と、補正係数αとで補正した最終パルス条件で記録する。
【００６２】
より詳しくは、暫定パルス条件のレーザ光レベルをリードイン領域１０４およびテスト記録領域１０５の反射光レベルＲ１、Ｒ２で補正し、テスト記録領域１０２の使用状態による透過率変動の影響を補償した実効パルス条件を求める。さらに実効パルス条件のレーザー光強度を補正係数αで補正して求めた最終パルス条件で記録を行う。
【００６３】
ここで、実効パルス条件とは、記録層３が未記録の状態における記録層５の最適なパルス条件を表している。記録層５における反射光レベルは、記録層３の透過率の２乗に比例する。また、記録層５における最適なレーザー光強度は、記録層３の透過率に反比例する。したがって、テスト記録領域１０５で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度がＰ０の時、実効パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ０ｘ（Ｒ２／Ｒ１）＾（１／２）
となる。
【００６４】
さらに、情報記録領域１０６にユーザーデータを記録するときの最終パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ０ｘ（Ｒ２／Ｒ１）＾（１／２）ｘα
となる。
【００６５】
なお、補正係数αは、α＝Ｔ１／Ｔ２で与えられる値に限定されるものではなく、記録層３が未記録状態つまり透過率が大きい状態で、最終パルス条件を用いて記録層５に情報を記録した場合に、その再生信号の品質が一定の基準を満たす範囲となるように定めてもよい。
【００６６】
例えば、図７に示す記録時のレーザーパルスの強度と再生した信号のジッターとの関係のように、ジッター値が最小となるレーザー強度がＰ１であり、ジッター値が基準値Ｊ１以下となる最大のレーザー強度がＰ２である場合、補正係数αは、
Ｐ１ｘα＜Ｐ２
となる範囲で定めてもよい。
【００６７】
さらに、最終パルス条件におけるレーザー光強度が、学習動作において再生した信号の品質が一定の条件を満たす実効パルス条件におけるレーザー光強度の上限値よりも大きい場合には、レーザー光強度を、上限値近傍としたパルス条件で、ユーザーデータを記録することが好ましい。
【００６８】
例えば、図８に示す実際の学習動作によって得られた実効パルス条件におけるレーザーパルスの強度と再生した信号のジッターとの関係のように、ジッター値が最小となるレーザー強度がＰ１であり、ジッター値が基準値Ｊ１以下となる最大のレーザー強度がＰ２であり、最終パルス条件におけるレーザー強度がＰ２よりも大きい場合、記録時のレーザー強度をＰ２近傍の値とするのが好ましい。
【００６９】
〈効果〉
以上で説明したように、記録層５のテスト記録領域１０５における学習動作により得られるパルス条件（暫定パルス条件）のレーザー光強度をリードイン領域１０４の基準反射光レベルＲ１とテスト記録領域１０５の反射光レベルＲ２とで補正することにより、テスト記録領域１０２の記録状態と未記録状態での透過率差の影響を受けることなく、常に一定のパルス条件（実効パルス条件）が得られる。
【００７０】
一方、記録層３は記録層５よりもレーザー光照射側にあるため記録層５の記録状態の影響を受けない。したがって、記録層３のテスト記録領域１０２における学習動作では常に一定のパルス条件が得られる。
また、記録層５の情報記録領域１０６にユーザーデータを記録する際に、記録層３が記録されていることによる記録層５の記録感度低下を、補正係数αを用いて補償することができ、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【００７１】
以上により、記録層におけるレーザー光の透過率が情報記録の有無によって異なる場合であっても、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【００７２】
〈変形例〉
なお、記録層５の基準反射光レベルの測定は、リードイン領域１０４とは別に設けた反射率基準領域で行っても良い。この場合、リードイン領域は記録層３または記録層５のどちらか一方のみに設けても良いし、リードイン領域の情報はエンボスピットによって記録しても良い。
【００７３】
さらに、学習動作においては、記録再生条件を変化させながらテスト記録を行い、再生した信号の品質を測定した結果をお互いに比較することによって、最適なパルス条件を求めてもよいし、より簡易な方法を用いて暫定パルス条件を求めてもよい。より簡易な方法とは、例えば、再生した信号の品質を測定した結果を所定の条件と随時比較し、測定結果が所定の条件を満たしたときに、その時点でのパルス条件を暫定パルス条件とする、などといった方法である。このとき、再生信号の品質の測定は、再生信号のジッター値（基準となるクロックに対する再生された信号位置の変動量）、データの誤り率、再生信号の振幅または変調度を測定して行うのが好ましい。
【００７４】
また、本実施の形態では情報の記録によって記録層３の透過率が低下する場合について述べたが、情報の記録によって記録層３の透過率が増大する場合にも同様の効果が得られる。このとき、最終パルス条件におけるレーザー光強度が、学習動作において再生した信号の品質が一定の条件を満たす実効パルス条件におけるレーザー光強度の下限値よりも小さい場合には、レーザー光強度を下限値近傍としたパルス条件でユーザーデータを記録することが好ましい。
【００７５】
さらに、補正係数αの代わりに、記録層３に情報を記録することによって、透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を記録媒体上に記録しておいても良い。この透過率変化情報を読み出すことによって、記録層３に情報を記録した場合に透過率が低下するか増大するかを判別することが出来る。
【００７６】
この情報を基に、透過率が低下する媒体では、記録層５にテスト記録された信号の品質が予め定められた基準を満足する最大値近傍にレーザー光の強度を設定した実効パルス条件でユーザーデータを記録し、透過率が増大する媒体では、信号品質が予め定められた基準を満足する最小値近傍にレーザー光の強度を設定した実効パルス条件でユーザーデータを記録する。
【００７７】
これによって、記録層５の情報記録領域１０６にユーザーデータを記録する際に、記録層３が記録されていることによる記録層５の記録感度の変化を補償し、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
なお、テスト記録領域の反射光レベルを信号が記録された領域で測定する場合、信号品質が予め定められた判定基準を満たす部分、つまり、適切なパルス条件で記録された部分の反射光レベルを測定することが好ましい。
【００７８】
（実施の形態２）
〈構成・作用〉
図３は本発明の実施の形態２における記録再生方法を適用する光学式情報記録媒体の一例を示す断面図である。図３において、記録媒体１１は、ポリカーボネートからなる厚さ約１．１ｍｍの基板１８上に第１の記録層１７、厚さ約０．０２ｍｍの透明分離層１６、厚さ約１００ｎｍの半透明層からなる第２の記録層１５、厚さ約０．０２ｍｍの透明分離層１４、厚さ約１００ｎｍの半透明層からなる第３の記録層１３を順次形成し、その上に厚さ約０．０６ｍｍの保護膜１２を設けたものであり、記録層１３、１５及び１７には記録再生時にレーザー光７をトラッキングする深さ約２０ｎｍ、幅約０．２μｍの情報トラック（図示せず）が約０．３２μｍのピッチで設けられている。レーザー光７は、記録層１３側の面から照射される。
【００７９】
記録層１３、１５および１７には、それぞれ情報トラックをウォブリングすることによって媒体の識別情報等を記録した半径約２２ｍｍから２３ｍｍの位置に設けられた再生専用のリードイン領域１１１、１１４および１１７、半径約２３ｍｍから２４ｍｍの位置に設けられ、最適なパルス条件を求める学習動作を行うためのテスト記録領域１１２、１１５および１１８、半径約２４ｍｍから５８ｍｍの位置に設けられ、ユーザーデータを記録する情報記録領域１１３、１１６および１１９を有している。
【００８０】
記録層１３及び１５は、図２における記録層３と同様の多層薄膜で構成されており、情報の記録により透過率が低下するものとする。記録層１７は、図２における記録層５と同様の多層薄膜で構成されている。
リードイン領域１１７には、記録層１５に情報を記録したときの記録層１５の透過率の低下量を表す補正係数α１、記録層１３に情報を記録したときの記録層１３の透過率の低下量を表す補正係数α２、記録層１３及び１５の両方に情報を記録したときの記録層１３及び１５を合わせた透過率の低下量を表す補正係数α３が記録されている。例えば、前記補正係数α１は、未記録の記録層１５の透過率をＴ１１、記録後の記録層１５の透過率をＴ１２としたときに、
α１＝Ｔ１１／Ｔ１２
の関係式で与えられる。
【００８１】
補正係数α１及びα２は、それぞれ記録層１５及び１３を示す記録層特定情報とともに記録され、補正係数α３は、記録層１３及び１５の両方を示す記録層特定情報とともに記録されている。
記録媒体１１にユーザーデータを記録した場合には、記録済の記録層の番号を示す記録済記録層情報を、情報記録領域１１９の特定の場所に記録する。例えば、記録済記録層情報を３ビットの情報βで表し、記録層１７のみ記録済みであればβ＝１００とし、記録層１７と１６が記録済みであればβ＝１１０とし、全ての記録層が記録済みであればβ＝１１１とする。
【００８２】
そして、再度記録媒体１１に情報を記録する際には、記録再生装置において、起動時に、リードイン領域１１４および１１７において基準反射光レベルＲ１１およびＲ２１を測定し、補正係数α１、α２、α３および記録済記録層情報βを読み出す。
また、実施の形態１と同様に、記録層１３、１５及び１７のテスト記録領域１１２、１１５及び１１８において、パルス条件を変化させながらテスト記録を行い、これらから再生した信号の品質を測定した結果から暫定パルス条件を求める学習動作を行う。
【００８３】
また、学習動作時にテスト記録領域１１５および１１８の反射光レベルＲ１２およびＲ２２を測定する。
記録層１３の情報記録領域１１３にユーザーデータを記録する場合には、テスト記録領域１１２で求めた暫定パルス条件で記録する。すなわち、暫定パルス条件が最終パルス条件となる。
【００８４】
記録層１５の情報記録領域１１６にユーザーデータを記録する場合には、テスト記録領域１１５で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度を、リードイン領域１１４の基準反射光レベルＲ１１と、テスト記録領域１１５の反射光レベルＲ１２と、必要に応じて補正係数α２とで補正した最終パルス条件で記録する。
【００８５】
より詳しくは、暫定パルス条件のレーザ光レベルを、リードイン領域１１４およびテスト記録領域１１５の反射光レベルＲ１１，Ｒ１２で補正することによりテスト記録領域１１２の使用状態による透過率変動の影響を補償した実効パルス条件を求める。さらに、記録済記録層情報から記録層１３が記録済かどうかを判断する。記録層１３が未記録の場合には、テスト記録領域１１５で求めた実効パルス条件で記録を行う。すなわち、実効パルス条件が最終パルス条件となる。一方、記録層１３が記録済みの場合には、実効パルス条件のレーザー光の強度を補正係数α２で補正した最終パルス条件で記録を行う。
【００８６】
ここでの実効パルス条件とは、記録層１３が未記録の状態における記録層１５の最適なパルス条件を表している。記録層１５における反射光レベルは、記録層１３の透過率の２乗に比例する。また、記録層１５における最適なレーザー光強度は、記録層１３の透過率に反比例する。したがって、テスト記録領域１１５で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度がＰ１０の時、実効パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ１０ｘ（Ｒ１２／Ｒ１１）＾（１／２）
で求めることができる。
【００８７】
また、情報記録領域１１６にユーザーデータを記録するときの最終パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ１０ｘ（Ｒ１２／Ｒ１１）＾（１／２）ｘα２
で求めることができる。
【００８８】
記録層１７の情報記録領域１１９にユーザーデータを記録する場合には、テスト記録領域１１８で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度を、リードイン領域１１７の基準反射光レベルＲ２１と、テスト記録領域１１８の反射光レベルＲ２２と、必要に応じて補正係数α１〜α３とで補正した最終パルス条件で記録する。
【００８９】
より詳しくは、暫定パルス条件のレーザ光レベルを、リードイン領域１１７およびテスト記録領域１１８の反射光レベルＲ２１、Ｒ２２で補正することによりテスト記録領域１１２の使用状態による透過率変動の影響を補償した実効パルス条件を求める。さらに、記録済記録層情報から記録層１３及び１５が記録済かどうかを判断する。
【００９０】
記録層１３及び１５がともに未記録の場合には、テスト記録領域１１８で求めた実効パルス条件で記録を行う。すなわち、実効パルス条件が最終パルス条件となる。ここでの実効パルス条件とは、記録層１３および１５が未記録の状態における記録層１７の最適なパルス条件を表している。テスト記録領域１１８で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度がＰ２０のとき、実効パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ２０ｘ（Ｒ２２／Ｒ２１）＾（１／２）
で求めることができる。
【００９１】
記録層１３のみが記録済みの場合には、実効パルス条件のレーザー光の強度を補正係数α２で補正し、
Ｐ２０ｘ（Ｒ２２／Ｒ２１）＾（１／２）ｘα２
で求められるレーザー光強度の最終パルス条件で記録を行う。
【００９２】
記録層１５のみが記録済みの場合には、暫定パルス条件のレーザー光の強度を補正係数α１で補正し、
Ｐ２０ｘ（Ｒ２２／Ｒ２１）＾（１／２）ｘα１
で求められるレーザー光強度の最終パルス条件で記録を行う。
【００９３】
記録層１３及び１５がともに記録済みの場合には、暫定パルス条件のレーザー光の強度を補正係数α３で補正し、
Ｐ２０ｘ（Ｒ２２／Ｒ２１）＾（１／２）ｘα３
で求められる最終パルス条件で記録を行う。
【００９４】
〈効果〉
以上で説明したように、記録層１５のテスト記録領域１１５における学習動作により得られるパルス条件（暫定パルス条件）のレーザー光強度を、リードイン領域１１４の基準反射光レベルＲ１１とテスト記録領域１１５の反射光レベルＲ１２とで補正することにより、テスト記録領域１１２の記録状態と未記録状態での透過率差の影響を受けることなく、常に一定のパルス条件（実効パルス条件）が得られる。
【００９５】
また、記録層１７のテスト記録領域１１８における学習動作により得られるパルス条件（暫定パルス条件）のレーザー光強度をリードイン領域１１７の基準反射光レベルＲ２１とテスト記録領域１１８の反射光レベルＲ２２とで補正することにより、テスト記録領域１１２および１１５の記録状態と未記録状態での透過率差の影響を受けることなく、常に一定のパルス条件（実効パルス条件）が得られる。
【００９６】
さらに、記録層１５及び１７の情報記録領域にユーザーデータを記録する際に、補正係数α１、α２及びα３の中から、記録済記録層情報に対応した補正係数を選択する。これにより、記録層１３及び１５への情報記録にともなう記録層１５及び１７の記録感度低下を、補正係数を用いて補償することができ、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【００９７】
以上により、記録層におけるレーザー光の透過率が情報記録の有無によって異なる場合であっても、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【００９８】
〈変形例〉
なお、記録層１５および１７の基準反射光レベルの測定は、リードイン領域とは別に設けた反射率基準領域で行っても良い。この場合、リードイン領域は何れか１つの記録層のみに設けても良い。また、リードイン領域の情報はエンボスピットによって記録しても良い。
【００９９】
さらに、本実施の形態では記録層の数を３つとしたが２つまたは４つ以上としても、同様の効果が得られることは明らかである。
また、テスト記録領域の反射光レベルを信号が記録された領域で測定する場合、信号品質が予め定められた判定基準を満たす部分、つまり、適切なパルス条件で記録された部分の反射光レベルを測定することが好ましい。
【０１００】
さらに、学習動作においては、記録再生条件を変化させながらテスト記録を行い、再生した信号の品質を測定した結果をお互いに比較することによって、最適なパルス条件を求めてもよいし、より簡易な方法を用いて暫定パルス条件を求めてもよい。より簡易な方法とは、例えば、再生した信号の品質を測定した結果を所定の条件と随時比較し、測定結果が所定の条件を満たしたときに、その時点でのパルス条件を暫定パルス条件とする、などといった方法である。このとき、再生信号の品質の測定は、再生信号のジッター値（基準となるクロックに対する再生された信号位置の変動量）、データの誤り率、再生信号の振幅または変調度を測定して行うのが好ましい。
【０１０１】
（実施の形態３）
〈構成〉
図４は、本発明の記録再生装置の一形態の構成を示すブロック図であり、図３に示した複数の記録層を有する光学式情報記録媒体１１を装着した状態を示している。
【０１０２】
図４に示した記録再生装置は、記録媒体を装着して回転させるスピンドルモーター４０２、コントローラー４０３、記録するデータを記録信号に変換する変調器４０４、記録信号に従って半導体レーザーを駆動するレーザー駆動回路４０５、半導体レーザーを有し、レーザー光を媒体に集光し、情報の記録を行うと共に、反射光から再生信号を得る光学ヘッド４０１、再生信号を増幅し、反射光レベル信号４０６Ａ、情報再生信号４０６Ｓおよび４０６Ｐ、フォーカスエラー信号４０６Ｆ、トラッキングエラー信号４０６Ｔを生成するプリアンプ４０６、反射光レベル信号４０６Ａから反射光レベルを測定する反射光レベル測定回路４１８、測定した反射光レベルを格納する反射光レベル格納回路４１９、情報再生信号４０６Ｐを２値化信号に変換する２値化回路４２０、２値化信号から識別情報を復調する識別情報復調回路４２１、情報再生信号４０６Ｓを２値化信号に変換する２値化回路４０７、２値化信号からデータを復調するデータ復調回路４０８、記録媒体１１のテスト記録領域において特定のデータを試験的に記録再生した信号の品質を判定する信号品質判定回路４０９、学習動作によって得られた最適な記録条件を格納するパルス条件格納回路４１２、記録媒体１１から読み出した記録状態による記録層の透過率差を表す補正係数を格納する補正係数格納回路４１０、記録媒体１１から読み出した記録済記録層情報を格納する記録済記録層情報格納回路４１１、記録条件、記録済記録層情報及び補正係数に従ってレーザーパルスを制御するパルス条件設定回路４１３、レーザー光が記録媒体１１の目的とする記録層に焦点を合わせるようにフォーカスエラー信号４０６Ｆに基づいて光学ヘッド４０１を制御するフォーカス制御回路４１４、レーザー光が記録媒体１１のトラックを適切に走査するようにトラッキングエラー信号４０６Ｔに基づいて光学ヘッド４０１を制御するトラッキング制御回路４１５、情報を記録または再生を行う記録層上でのレーザー光の球面収差が最小となるように光学ヘッド４０１を制御する収差制御回路４１６、光学ヘッド４０１を記録媒体１１の径方向に移動させる移動手段４１７を備えている。
【０１０３】
ここで、フォーカスエラー信号４０６Ｆは、非点収差法と呼ばれる一般的な方法などで生成される。トラッキングエラー信号４０６Ｔは、プッシュプル法と呼ばれる一般的な方法などで生成される。
なお、信号は、記録媒体１１の記録層１３、１５、１７における相変化層（図示せず）を結晶状態から部分的にアモルファス状態に相変化させてマークを形成することによって記録される。また、記録層１３、１５、１７は、それぞれの相変化層が結晶状態であるときに反射光レベルが高く、相変化層がアモルファス状態であるときに反射光レベルが低いという特性を有しているものとする。
【０１０４】
上記構成において、信号品質判定回路４０９およびコントローラー４０３により、複数の記録層のうち、少なくとも１つの記録層であるテスト記録層においてテスト記録を行い、レーザー光の強度を含む暫定パルス条件を導出するテスト記録手段が構築される。特に、信号品質判定回路４０９により、再生した信号の品質を評価する信号品質評価手段が構築され、コントローラー４０３により、暫定パルス条件設定手段が構築される。また、反射光レベル測定回路４１８により、記録層からのレーザ光の反射光レベルを測定する反射光レベル測定手段が構築される。また、コントローラー４０３により、最終パルス条件を導出する最終パルス条件導出手段が構築される。データ復調回路４０８により、補正係数を取得する補正係数取得手段、記録済記録層情報を取得する記録済記録層取得手段、レーザー光の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を取得する透過率変化情報取得手段などが構築される。
【０１０５】
〈記録再生方法〉
図５は、図４の記録再生装置を用いた記録再生方法を示すフローチャートであり、図３と共に説明する。
〈１〉
最初に、Ｓ５０１でコントローラー４０３は、記録再生装置を起動する。具体的には、スピンドルモーター４０２に装着された記録媒体１１を回転させた後、記録媒体１１上に光学ヘッド４０１によって情報再生用のレーザー光を照射させる。さらに、フォーカス制御回路４１４、トラッキング制御回路４１５を駆動させ、記録層１７にレーザー光の焦点を合わせ、リードイン領域１１７にアクセスし、レーザー光を情報トラックにトラッキングさせる。これにより、リードイン領域１１７に格納されている記録媒体１１の識別情報、記録済記録層情報及び補正係数等を読み出す。またさらに、リードイン領域１１７の基準反射光レベルＲ２１を測定する。
【０１０６】
ここで、識別情報等の読み出しは、光学ヘッド４０１で記録媒体１１からの反射光から得られた情報再生信号４０６Ｐを２値化回路４２０で２値化し、２値化した信号を識別情報復調回路４２１で復調し、コントローラー４０３に取り込むことにより行われる。基準反射光レベルの測定は、反射光レベル信号４０６Ａの強度を反射光レベル測定回路４１８で測定し、コントローラー４０３に取り込むことにより行われる。
【０１０７】
また、記録層１５におけるリードイン領域１１４の基準反射光レベルＲ１１は、基準反射光レベルＲ２１と同様にして測定される。
コントローラー４０３は、記録済記録層情報、補正係数および基準反射光レベルを、それぞれ記録済記録層情報格納回路４１１、補正係数格納回路４１０および反射光レベル格納回路４１９に格納する。
【０１０８】
〈２〉
次に、Ｓ５０２で暫定パルス条件を求める学習動作を行う。学習動作は、以下の手順で行われる。
まず、コントローラー４０３は、光学ヘッド４０１を移動させて、記録層１７のテスト記録領域１１８にアクセスする。コントローラー４０３は、パルス条件設定回路４１３を、予め定められた特定の条件または識別情報で指定された条件に設定する。
【０１０９】
次にコントローラー４０３から出力された学習動作用の特定データ（テスト記録用のデータ）を変調器４０４でレーザー駆動信号に変換する。レーザー駆動回路４０５は、レーザー駆動信号に従って光学ヘッド４０１に設けられた半導体レーザーを駆動する。光学ヘッド４０１によって半導体レーザーから出射された光は、記録媒体１１に集光され、テスト記録領域１１８にテスト信号の記録を行う。
【０１１０】
テスト記録されたデータは、プリアンプ４０６、２値化回路４０７により再生処理される。さらに、信号品質判定回路４０９は、再生信号のジッター値（基準となるクロックに対する再生された信号位置の変動量）を測定し、予め定められた判定基準と比較して、信号品質の判定を行う。
【０１１１】
ジッター値が判定基準を満足した場合、学習結果をコントローラー４０３に送り、学習動作を終了する。
ジッター値が判定基準を満足しなかった場合、コントローラー４０３は、パルス条件設定回路４１３のパルス条件を順次変化させて、特定データのテスト記録及びテスト記録されたデータの信号品質の判定を行う。この作業をジッター値が判定基準を満足するまで繰り返すことによって、テスト記録領域１１８における最適な記録条件である暫定パルス条件が求められる。
【０１１２】
また、反射光レベル測定回路４１８は、テスト記録領域１１８の反射光レベルＲ２２を測定し、測定結果は、反射光レベル格納回路４１９に格納される。図９は、テスト記録領域で得られる反射光レベル信号の波形図である。信号が記録された領域では、記録マーク部では低い反射光レベルであるＲＬ、マーク間部では未記録部と略同等で高い反射光レベルであるＲＨの強度の信号が得られる。テスト記録領域１１８の反射光レベルＲ２２は、図９におけるＲＨを測定することによって得られる。
【０１１３】
記録層１５及び１３についても同様の手順で最適な記録条件および反射光レベルを求める。
〈３〉
次に、Ｓ５０３では、Ｓ５０２の学習動作によって得られた暫定パルス条件のレーザー光強度をリードイン領域およびテスト記録領域の反射光レベルで補正した実効パルス条件を求める。ここでの実効パルス条件とは、よりレーザー光入射側にある記録層のテスト記録領域が未記録の状態における最適なパルス条件を表す。
【０１１４】
例えば、記録層１５における実効パルス条件を求める場合、記録層１５における反射光レベルは、記録層１３の透過率の２乗に比例する。また、記録層１５における最適なレーザー光強度は記録層１３の透過率に反比例する。したがって、暫定パルス条件のレーザー光強度をＰ１０、基準反射光レベルをＲ１１、テスト記録領域１１５の反射光レベルをＲ１２とすると、実効パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ１０ｘ（Ｒ１２／Ｒ１１）＾（１／２）
で求めることができる。
【０１１５】
〈４〉
次に、Ｓ５０４では、Ｓ５０３でコントローラー４０３により求められた実効パルス条件をパルス条件格納回路４１２に格納する。
〈５〉
次に、Ｓ５０５では、コントローラー４０３は、ユーザーデータを記録しようとする記録層を特定する目標記録層情報及び記録済記録層情報に基づいて補正係数の中から対応する補正係数を選択する。
【０１１６】
例えば、記録層１７にユーザーデータを記録する場合には、Ｓ５０１で記録媒体１１から読み出された補正係数α１〜α３（補正係数α１は、記録層１５に情報を記録したときの記録層１５の透過率の低下量を表す。補正係数α２は、記録層１３に情報を記録したときの記録層１３の透過率の低下量を表す。補正係数α３は、記録層１３及び１５の両方に情報を記録したときの記録層１３及び１５を合わせた透過率の低下量を表す。）に対して、記録済記録層情報から記録層１３及び１５が記録済かどうかが判断される。記録層１３及び１５がともに未記録の場合には、補正係数は用いず、記録層１３のみが記録済みの場合には、補正係数α２が選択され、記録層１５のみが記録済みの場合には補正係数α１が選択され、記録層１３及び１５がともに記録済みの場合には補正係数α３が選択される。
【０１１７】
〈６〉
次に、Ｓ５０６では、コントローラー４０３は、実効パルス条件および補正係数に基づいて最終パルス条件を導出し、パルス条件設定回路４１３に設定し、ユーザーデータを情報記録領域に記録する。ここで、最終パルス条件は、レーザーパルスの強度、長さ及び発生タイミングを含み、記録するマークの長さ及び間隔に適応して設定される。なお、最終パルス条件の詳しい内容は、上記実施の形態で説明したため、ここでは説明を省略する。
【０１１８】
〈７〉
さらに、Ｓ５０７では、コントローラー４０３は、最新の記録済記録層情報を、記録媒体１１の特定の領域に、あるいは記録済記録層情報格納回路４１１に記録する。
〈効果〉
以上により、記録層１３及び１５へのユーザーデータの記録にともなう記録層１５及び１７の記録感度低下を補正係数を用いて補償することができ、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【０１１９】
〈変形例〉
なお、記録済記録層情報に、ユーザーデータを記録した記録済領域の位置を特定する記録済アドレス情報を含ませても良い。この場合、新たにユーザーデータを記録する前に記録済アドレス情報を読み出し、記録済領域の位置と、ユーザーデータを記録しようとする位置を基に、補正係数を選択することが可能となる。
【０１２０】
例えば、記録層１７にユーザーデータを記録する場合、Ｓ５０１で読み出された記録済記録層情報に含まれた記録済アドレス情報から、記録層１５が全領域に記録済であり、記録層１３が途中まで記録済であることが判断できたとする。この場合、Ｓ５０５では、情報を記録しようとする記録層１７上の位置が、記録層１５の記録済領域の位置に当たる場合には、補正係数α３が選択され、記録層１５の未記録領域の位置に当たる場合には、補正係数α１が選択される。
【０１２１】
これによって、手前側の記録層が途中まで記録されている場合でも、記録済領域の位置と記録しようとする位置関係に基づき、手前側の記録層へのユーザーデータの記録にともなう記録感度低下を確実に補償することが出来る。
また、本実施の形態では、学習動作において、テスト記録されたデータを再生し、再生した信号のジッター値を測定してパルス条件を決定するものとしたが、データの誤り率、再生信号の振幅または変調度を測定してパルス条件を決定してもよい。なお、再生信号の振幅または変調度を測定する場合には、２値化していない情報再生信号４０６Ｓを用いるのが好ましい。
【０１２２】
また、本実施の形態で図５を用いて説明した記録再生方法の各処理は、必ずしも説明した順序で行われなくてもよく、一部の処理を前後して行うことが可能である。
例えば、Ｓ５０１における基準反射光レベルの測定や、Ｓ５０２における反射光レベルの測定は、Ｓ５０３において実効パルス条件を導出する直前に測定されてもよい。
【０１２３】
また、図４に示したブロック図の各ブロックや、ハードウェア構成は、典型的には集積回路であるＬＳＩとして実現される。これらは個別に１チップ化されても良いし、一部又は全てを含むように１チップ化されても良い。
例えば、図４におけるコントローラーは、１チップ化されていてもよいし、その他の要素とともに１チップ化されていても良い。
【０１２４】
ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
【０１２５】
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適応等が可能性としてありえる。
（実施の形態４）
〈構成・作用〉
本発明の実施の形態４における記録再生方法を、図３に示した光学式情報記録媒体に対して適用した場合について説明する。
【０１２６】
図３における記録媒体１１に情報を記録する場合、記録再生装置は、起動時に、リードイン領域１１４および１１７において基準反射光レベルＲ１１およびＲ２１を測定する。
次に、実施の形態２と同様に、学習動作を行う。すなわち、記録再生装置は、記録層１３、１５及び１７のテスト記録領域１１２、１１５及び１１８において、パルス条件を変化させながらテスト記録を行う。さらに、テスト記録された信号を再生し、再生した信号の品質を測定し、その測定結果から暫定パルス条件を求める。さらに、学習動作時に、テスト記録領域１１５および１１８の反射光レベルＲ１２およびＲ２２を測定する。
【０１２７】
記録層１３の情報記録領域１１３にユーザーデータを記録する場合には、テスト記録領域１１２で求めた暫定パルス条件で記録する。
記録層１５の情報記録領域１１６にユーザーデータを記録する場合には、まず、テスト記録領域１１５で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度をリードイン領域１１４およびテスト記録領域１１５の反射光レベルＲ１１、Ｒ１２で補正することにより、テスト記録領域１１２の使用状態による透過率変動の影響を補償した実効パルス条件を求める。ここでの実効パルス条件とは、記録層１３が未記録の状態における記録層１５の最適なパルス条件を表し、実施の形態２と同様の方法で決定される。次に、情報記録領域１１６における反射光レベルＲ１３を測定し、実効パルス条件のレーザー光強度を反射光レベルＲ１１、Ｒ１３で補正することにより、情報記録領域１１３の使用状態による透過率変動の影響を補償した最終パルス条件を求め、最終パルス条件でユーザーデータを記録する。
【０１２８】
ここで、実効パルス条件におけるレーザー光強度をＰ１１とすると、最終パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ１１ｘ（Ｒ１１／Ｒ１３）＾（１／２）
で求めることができる。
【０１２９】
記録層１７の情報記録領域１１９にユーザーデータを記録する場合には、まず、テスト記録領域１１８で求めた暫定パルス条件のレーザー光強度をリードイン領域１１７およびテスト記録領域１１８の反射光レベルＲ２１、Ｒ２２で補正することにより、テスト記録領域１１２の使用状態による透過率変動の影響を補償した実効パルス条件を求める。ここでの実効パルス条件とは、記録層１３および１５が未記録の状態における記録層１７の最適なパルス条件を表し、実施の形態２と同様の方法で決定される。次に、情報記録領域１１９における反射光レベルＲ２３を測定し、実効パルス条件のレーザー光強度を反射光レベルＲ２１、Ｒ２３で補正することにより、情報記録領域１１３および１１５の使用状態による透過率変動の影響を補償した最終パルス条件を求め、最終パルス条件でユーザーデータを記録する。
【０１３０】
ここで、実効パルス条件におけるレーザー光強度をＰ２１とすると、最終パルス条件におけるレーザー光強度は、
Ｐ２１ｘ（Ｒ２１／Ｒ２３）＾（１／２）
で求めることができる。
【０１３１】
なお、テスト記録領域および情報記録領域の反射光レベルは、図９で説明したように、信号が記録された領域のマーク間部または未記録部の反射光レベルＲＨを測定することによって得られる。
〈効果〉
以上で説明したように、記録層１５のテスト記録領域１１５における学習動作により得られるパルス条件（暫定パルス条件）のレーザー光強度をリードイン領域１１４の基準反射光レベルＲ１１とテスト記録領域１１５の反射光レベルＲ１２とで補正することにより、テスト記録領域１１２の記録状態と未記録状態での透過率差の影響を受けることなく、常に一定のパルス条件（実効パルス条件）が得られる。
【０１３２】
また、情報記録領域１１６にユーザーデータを記録する際に、レーザー光強度をリードイン領域１１４および情報記録領域１１６の反射光レベルＲ１１、Ｒ１３で補正することにより、記録層１３への情報記録にともなう記録層１５の記録感度低下を補正係数を用いて補償し、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【０１３３】
また、記録層１７のテスト記録領域１１８における学習動作により得られるパルス条件（暫定パルス条件）のレーザー光強度をリードイン領域１１７の基準反射光レベルＲ２１とテスト記録領域１１８の反射光レベルＲ２２とで補正することにより、テスト記録領域１１２および１１５の記録状態と未記録状態での透過率差の影響を受けることなく、常に一定のパルス条件（実効パルス条件）が得られる。
【０１３４】
また、情報記録領域１１９にユーザーデータを記録する際に、レーザー光強度をリードイン領域１１７および情報記録領域１１９の反射光レベルＲ２１、Ｒ２３で補正することにより、記録層１３および１５への情報記録にともなう記録層１７の記録感度低下を補正係数を用いて補償し、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
【０１３５】
〈変形例〉
なお、記録層１５および１７の基準反射光レベルの測定は、リードイン領域とは別に設けた反射率基準領域で行っても良い。この場合、リードイン領域は何れか１つの記録層のみに設けても良い。また、リードイン領域の情報はエンボスピットによって記録しても良い。
【０１３６】
さらに、本実施の形態では記録層の数を３つとしたが２つまたは４つ以上としても、同様の効果が得られることは明らかである。
また、テスト記録領域の反射光レベルを信号が記録された領域で測定する場合、信号品質が予め定められた判定基準を満たす部分、つまり、適切なパルス条件で記録された部分の反射光レベルを測定することが好ましい。
【０１３７】
また、テスト記録領域および情報記録領域の反射光レベルの測定は、記録されている信号を消去した後に行っても良い。
また、情報記録領域の反射光レベルの測定は、ユーザーデータ記録中に所定の時間間隔または所定の半径位置ごとに行うか、ユーザーデータ記録前に所定の半径位置ごとに行うことが好ましい。
【０１３８】
（実施の形態５）
〈構成・作用〉
本発明の実施の形態５における記録再生方法を、図１および図２に示した光学式情報記録媒体に対して適用した場合について説明する。
【０１３９】
図１におけるリードイン領域１０４には、情報の記録による記録層３に情報を記録する場合のレーザー光強度の上限値を予め記録しておく。レーザー光強度の上限値は、情報の記録による記録層３の透過率の変化量が一定値以下となるように選ぶ。
記録媒体１を使用する場合、記録再生装置において、起動時に、リードイン領域１０４に記録されているレーザー光強度の上限値を読み出す。次に、記録層５のテスト記録領域１０５において、レーザーパルスの強度や長さ、発生タイミングなどのパルス条件を変化させながらテスト記録を行い、これらから再生した信号の品質を測定した結果から、最適なパルス条件を求める学習動作を行う。また、記録層３のテスト記録領域１０２において、レーザー光強度の上限値を超えない範囲で、学習動作を行う。
【０１４０】
記録層３の情報記録領域１０３および記録層５の情報記録領域１０６にユーザーデータを記録する場合には、それぞれ、テスト記録領域１０２で求めたパルス条件およびテスト記録領域１０５で求めたパルス条件で記録を行う。
〈効果〉
記録層３の透過率は、図２における相変化層２０２の結晶部分とアモルファス部分の面
積比に対応して変化する。つまり、記録マークが大きくなるほど未記録状態と情報記録状態の透過率差は大きくなる。
【０１４１】
したがって、記録時のレーザー光強度を一定値以下とすることで、記録マークが過剰に大きくなることによる透過率変化を抑制し、記録層５での記録再生に与える影響を小さくすることができる。
例えば、相変化層２０２が全て結晶状態の場合の記録層３の透過率が５０％であり、相変化層２０２が全てアモルファス状態の場合の記録層３の透過率が４０％であるとする。記録マークの幅と半径方向のマーク間の幅とが略同一であり、マーク長記録方式で適切なパルス条件で情報を記録した場合にアモルファス状態の領域の面積は全体の約１／４であるとすると、記録層３の透過率は、
４０％ｘ１／４  ＋  ５０％ｘ３／４  ＝  ４７．５％
となる。つまり、適切なパルス条件で情報を記録した時、記録層３の透過率の低下量は、
５０％  −  ４７．５％  ＝  ２．５％
である。
【０１４２】
これに対して、適切なパルス条件の１．６倍のレーザー光強度で記録した場合、アモルファス状態の領域の面積は、適切なパルス条件で記録した場合の約１．６倍となるとすると、全体の面積の約１．６／４を占めることになる。したがって、このときの記録層３の透過率は、
４０％ｘ１．６／４  ＋  ５０％ｘ２．４／４  ＝  ４６％
となる。つまり、適切なパルス条件で情報を記録したとき、記録層３の透過率の低下量は、
５０％  −  ４６％  ＝  ４％
である。
【０１４３】
したがって、記録層５で良好に情報の記録再生を行うために許容される記録層３の透過率の低下量が４％の場合、記録時のレーザー光強度の上限値は適切なレーザー光強度の１．６倍に設定する。
〈変形例〉
なお、本実施の形態ではテスト記録領域１０２の半径位置での記録層５にテスト記録領域を配置したが、再生専用領域または情報記録領域を配置しても同様の効果が得られる。また、記録層の数を３つ以上としても良い。
【０１４４】
また、情報を記録する場合のレーザー光強度の上限値のかわりに、上限値を算出するための情報を記録媒体の特定の領域に予め記録しておき、この情報とテスト記録の結果とから上限値を算出しても良い。この上限値の決定方法は特に限定されるものではない。例えば、テスト記録において再生信号の強度が所定の値となるレーザー光強度に一定の係数を掛けて上限値を算出する方法や、レーザー光強度に対する再生信号の強度の変化率が所定の値となるレーザー光強度に一定の係数を掛けて上限値を算出する方法などがある。
【０１４５】
また、実施の形態１から５において、結晶状態の記録層を部分的にアモルファス化して記録マークを形成しても良いし、アモルファス状態の記録層を部分的に結晶化して記録マークを形成しても良い。さらに、記録媒体は、情報の書き換えが可能な消去型に限られるものではなく、１回だけ記録が可能な追記形の記録媒体であっても良い。
【０１４６】
（付記）
《付記の内容》
（付記１）
一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録再生方法であって、
少なくとも１つの記録層に関して、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層の記録状態と未記録状態での前記レーザー光の透過率の違いを表す補正係数を前記光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録しておき、
前記少なくとも１つの記録層では、テスト記録によりレーザーパルスの強度を含む暫定パルス条件を決定し、前記テスト記録を行った領域の未記録部、マーク間部または情報消去部の何れかの反射光レベルを測定し、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてテスト記録または情報記録を行う領域とは異なる半径位置で基準反射光レベルを測定し、前記暫定パルス条件と前記テスト記録を行った領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから実効パルス条件を算出し、前記実効パルス条件と前記補正係数を用いて、最終パルス条件を決定し、前記最終パルス条件でユーザーデータを記録することを特徴とする記録再生方法。
【０１４７】
（付記２）
ユーザーデータを記録する際には、任意の記録層において前記ユーザーデータを記録することのできる未使用領域が無くなった場合に、別の記録層に継続して記録するものとし、補正係数を用いてユーザーデータの記録を行う記録層を特定する目標記録層情報及び、前記目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側の何れかの記録層を特定する記録層特定情報を、前記補正係数とともに、光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録しておき、
既にユーザーデータを記録した記録層を特定する記録済記録層情報を前記光学式情報記録媒体の特定の場所に記録し、新たにユーザーデータを記録する前に前記記録済記録層情報を読み出し、記録しようとする記録層と一致する目標記録層情報及び前記記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とともに記録されている補正係数を選択し、実効パルス条件と前記選択された補正係数を用いて最終パルス条件を決定することを特徴とする付記１記載の記録再生方法。
【０１４８】
（付記３）
光学式情報記録媒体から読み出した記録済記録層情報によって、ユーザーデータを記録しようとする記録層よりもレーザー光入射側の各記録層が記録済かどうかを判別し、記録済の記録層に応じた補正係数を選択することを特徴とする付記２記載の記録再生方法。
【０１４９】
（付記４）
補正係数を用いてユーザーデータの記録を行う記録層を特定する目標記録層情報及び、前記目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側の何れかの記録層を特定する記録層特定情報を、前記補正係数とともに、光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録しておき、
既にユーザーデータを記録した記録層を特定するとともに前記記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報を含む記録済記録層情報を前記光学式情報記録媒体の特定の場所に記録し、新たにユーザーデータを記録する前に前記記録済記録層情報を読み出し、記録しようとする記録層と一致する目標記録層情報及び前記記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とともに記録されている補正係数を選択し、実効パルス条件と前記選択された補正係数を用いて最終パルス条件を決定することを特徴とする付記１記載の記録再生方法。
【０１５０】
（付記５）
記録媒体から読み出した記録済アドレス情報から、記録層の記録済領域の位置を判断し、前記記録済領域の位置と、新たにユーザーデータを記録しようとする位置を基に、補正係数を選択することを特徴とする付記４記載の記録再生方法。
【０１５１】
（付記６）
一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録再生方法であって、
少なくとも１つの記録層では、テスト記録によりレーザーパルスの強度を含む暫定パルス条件を決定し、前記テスト記録を行った領域の未記録部、マーク間部または情報消去部の何れかの反射光レベルを測定し、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてテスト記録または情報記録を行う領域とは異なる半径位置で基準反射光レベルを測定し、前記暫定パルス条件と前記テスト記録を行った領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから実効パルス条件を算出し、
ユーザーデータを記録する情報記録領域の反射光レベルを測定し、前記実効パルス条件と前記情報記録領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから最終パルス条件を決定し、前記最終パルス条件でユーザーデータを記録することを特徴とする記録再生方法。
【０１５２】
（付記７）
情報記録領域の反射光レベルを、ユーザーデータ記録中に所定の時間または所定の半径位置ごとに行うことを特徴とする付記６記載の記録再生方法。
（付記８）
一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有し、少なくとも１つの記録層が情報を記録することによって前記レーザー光の透過率が低下または増大する光学式情報記録媒体の記録再生方法であって、
少なくとも前記記録層よりもレーザー光入射側から見て奥側の記録層において、レーザー光の強度を変えながらテスト記録を行い、前記テスト記録した信号を再生し、前記再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率の何れかを測定して、前記再生した信号の品質を評価し、
前記透過率が低下する媒体では、暫定パルス条件のレーザー光の強度を、前記信号品質が予め定められた基準を満足する最大値近傍に設定し、
前記透過率が増大する媒体では、暫定パルス条件のレーザー光の強度を、前記信号品質が予め定められた基準を満足する最小値近傍に設定し、
前記テスト記録を行った領域の未記録部、マーク間部または情報消去部の何れかの反射光レベルを測定し、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてテスト記録または情報記録を行う領域とは異なる半径位置で基準反射光レベルを測定し、前記暫定パルス条件と前記テスト記録を行った領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから最終パルス条件を決定し、前記最終パルス条件でユーザーデータを記録することを特徴とする記録再生方法。
【０１５３】
（付記９）
記録層に情報を記録することによって、前記記録層の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を予め記録媒体上に記録しておき、前記透過率変化情報を読み出して、前記記録層に情報を記録することによる透過率変化の方向を判断することを特徴とする付記８記載の記録再生方法。
【０１５４】
（付記１０）
一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有し、少なくとも１つの記録層が情報を記録することによって前記レーザー光の透過率が低下または増大する光学式情報記録媒体の記録再生方法であって、
前記少なくとも１つの記録層に情報を記録する場合のレーザー光強度の上限値を表す情報または前記上限値を算出するための情報を前記光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録しておき、前記上限値よりも小さいレーザー光強度の範囲でテスト記録を行い、前記テスト記録によって決定したパルス条件でユーザーデータを記録することを特徴とする記録再生方法。
【０１５５】
（付記１１）
一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録再生装置であって、
記録層からの反射光レベルを測定する反射光レベル測定手段と、測定した前記反射光レベルを格納する反射光レベル格納手段と、記録層が記録状態の場合と未記録状態の場合でのレーザー光の透過率の違いを表す補正係数を格納する補正係数格納手段と、既にユーザーデータを記録した記録層を特定する記録済記録層情報を格納する記録済記録層情報格納手段と、情報を記録する際のレーザー光強度を含むパルス条件を制御するパルス条件設定手段と、再生した信号の品質を判定する信号品質判定器と、装置全体を制御するコントローラーを含み、前記コントローラーは、テスト記録の結果と前記テスト記録を行った領域の反射光レベルと基準となる反射光レベルと前記記録済記録層情報および前記補正係数を用いて、ユーザーデータを記録するパルス条件を決定することを特徴とする記録再生装置。
【０１５６】
（付記１２）
コントローラーは、複数の係数の中から、記録しようとする記録層と一致する目標記録層情報及び記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とともに記録されている補正係数を選択し、前記選択された補正係数を用いて、ユーザーデータを記録するパルス条件を決定することを特徴とする付記１１記載の記録再生装置。
【０１５７】
（付記１３）
コントローラーは、光学式情報記録媒体から読み出した記録済記録層情報によって、ユーザーデータを記録しようとする記録層よりもレーザー光入射側の各記録層が記録済かどうかを判別し、記録済の記録層に応じた補正係数を選択することを特徴とする付記１１記載の記録再生装置。
【０１５８】
（付記１４）
記録済記録層情報が、記録層における記録済領域の位置を示す記録済アドレス情報を含むことを特徴とする付記１１記載の記録再生装置。
（付記１５）
コントローラーは、記録媒体から読み出した記録済アドレス情報から、記録層の記録済領域の位置を判断し、前記記録済領域の位置と、新たにユーザーデータを記録しようとする位置を基に、補正係数を選択することを特徴とする付記１４記載の記録再生装置。
【０１５９】
（付記１６）
信号品質判定器は再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率の何れかを測定して、前記信号の品質を評価することを特徴とする付記１１記載の記録再生装置。
（付記１７）
パルス条件は、レーザーパルスの強度、長さ及び発生タイミングを含み、記録するマークの長さ及び、または間隔に適応して設定されることを特徴とする付記１１記載の記録再生装置。
【０１６０】
（付記１８）
一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録再生装置であって、
記録層からの反射光レベルを測定する反射光レベル測定手段と、測定した前記反射光レベルを格納する反射光レベル格納手段と、情報を記録する際のレーザー光強度を含むパルス条件を制御するパルス条件設定手段と、再生した信号の品質を判定する信号品質判定器と、装置全体を制御するコントローラーを含み、
前記コントローラーは、レーザー光の強度を変えながらテスト記録を行い、前記テスト記録した信号を再生し、前記再生した信号の品質を評価し、前記記録層よりもレーザー光入射側の記録層の透過率が情報を記録することによって低下する媒体では、暫定パルス条件のレーザー光の強度を、前記信号品質が予め定められた基準を満足する最大値近傍に設定し、前記レーザー光入射側の記録層の透過率が情報を記録することによって増大する媒体では、暫定パルス条件のレーザー光の強度を、前記信号品質が予め定められた基準を満足する最小値近傍に設定し、
前記テスト記録を行った領域の反射光レベルを測定し、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてテスト記録または情報記録を行う領域とは異なる半径位置で基準反射光レベルを測定し、前記暫定パルス条件と前記テスト記録を行った領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから最終パルス条件を決定し、前記最終パルス条件でユーザーデータを記録することを特徴とする記録再生装置。
【０１６１】
（付記１９）
信号品質判定器は再生した信号の振幅、変調度、ジッター値または誤り率の何れかを測定して、前記信号の品質を評価することを特徴とする付記１８記載の記録再生装置。
（付記２０）
パルス条件は、レーザーパルスの強度、長さ及び発生タイミングを含み、記録するマークの長さ及び、または間隔に適応して設定されることを特徴とする付記１８記載の記録再生装置。
【０１６２】
（付記２１）
コントローラーは、記録層に情報を記録することによって前記記録層の透過率が低下するか増大するかを示す透過率変化情報を記録媒体から読み出し、前記記録層に情報を記録することによる透過率変化の方向を判断することを特徴とする付記１８記載の記録再生装置。
【０１６３】
《付記の説明》
上記目的を達成するために本発明の第１の記録再生方法は、一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体の記録再生方法であって、少なくとも１つの記録層に関して、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層の記録状態と未記録状態での前記レーザー光の透過率の違いを表す補正係数を前記光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録しておき、前記少なくとも１つの記録層では、テスト記録によりレーザーパルスの強度を含む暫定パルス条件を決定し、前記テスト記録を行った領域の反射光レベルを測定し、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてテスト記録または情報記録を行う領域とは異なる半径位置で基準反射光レベルを測定し、前記暫定パルス条件と前記テスト記録を行った領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから実効パルス条件を算出し、前記実効パルス条件と前記補正係数を用いて、最終パルス条件を決定し、前記最終パルス条件でユーザーデータを記録することを特徴とする。
【０１６４】
これによって、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
なお、レーザー光入射側の記録層の透過率が、情報の記録によって低下する媒体では、レーザー光の強度を、テスト記録した信号の品質が予め定められた基準を満足する最大値を越えない範囲で、なおかつ前記信号品質が最も良好となる値よりも大きく設定し、ユーザーデータを記録してもよい。
【０１６５】
また、レーザー光入射側の記録層の透過率が、情報の記録によって増大する媒体では、レーザー光の強度を、テスト記録した信号の品質が予め定められた基準を満足する最小値を下回らない範囲で、なおかつ前記信号品質が最も良好となる値よりも小さく設定し、ユーザーデータを記録しても良い。
【０１６６】
本発明の第２の記録再生方法は、補正係数を用いてユーザーデータの記録を行う記録層を特定する目標記録層情報及び、前記目標記録層情報が示す記録層よりもレーザー光入射側の何れかの記録層を特定する記録層特定情報を、前記補正係数とともに、光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録しておき、既にユーザーデータを記録した記録層を特定する記録済記録層情報を前記光学式情報記録媒体の特定の場所に記録し、新たにユーザーデータを記録する前に前記記録済記録層情報を読み出し、記録しようとする記録層と一致する目標記録層情報及び前記記録済記録層情報と一致する記録層特定情報とともに記録されている補正係数を選択し、テスト記録の結果と前記選択された補正係数を用いて最終パルス条件を決定することを特徴とする。
【０１６７】
これによって、ユーザーデータを記録しようとする記録層よりもレーザー光照射側の記録層のうち何層の記録層が記録済であるかを判定し、その記録状態に適した前記補正係数を選択することがでるため、より最適なパルス条件を求めることができる。したがって、より確実なユーザーデータの記録が可能となる。
【０１６８】
また、前記記録済記録層情報の代わりに、既にユーザーデータを記録した最終位置を特定する記録済アドレス情報を用いても良い。
本発明の第３の記録再生方法は、少なくとも１つの記録層で、テスト記録によりレーザーパルスの強度を含む暫定パルス条件を決定し、前記テスト記録を行った領域の反射光レベルを測定し、前記記録層よりも前記レーザー光入射側の記録層においてテスト記録または情報記録を行う領域とは異なる半径位置で基準反射光レベルを測定し、前記暫定パルス条件と前記テスト記録を行った領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから実効パルス条件を算出し、ユーザーデータを記録する情報記録領域の反射光レベルを測定し、前記実効パルス条件と前記情報記録領域の反射光レベルおよび前記基準反射光レベルから最終パルス条件を決定し、前記最終パルス条件でユーザーデータを記録することを特徴とする。
【０１６９】
これによって、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来ると共に、ユーザーデータを正しく記録することが可能となる。
また、記録層に情報を記録する場合のレーザー光強度の上限値を光学式情報記録媒体の特定の場所に予め記録しておき、前記上限値よりも小さいレーザー光強度の範囲でテスト記録を行い、前記テスト記録によって決定したパルス条件でユーザーデータを記録することにより、前記記録層のテスト記録領域における透過率の変動を抑制し、より奥側の記録層での記録再生に与える影響を小さくすることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１７０】
本発明にかかる記録再生方法および記録再生装置は、一方の面からレーザー光を照射することによって情報の記録、再生もしくは消去を行う複数の記録層を有する光学式情報記録媒体に対して、記録層におけるレーザー光の透過率が情報記録の有無によって異なる場合であっても、各記録層における情報の記録状態に関わらず、学習動作によって正しいパルス条件を求めることが出来るとともに、ユーザーデータを正しく記録することが出来るという効果を有し、大きな記録容量を必要とする情報記録装置等に有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１７１】
【図１】本発明の実施の形態１における記録再生方法を適用する光学式情報記録媒体の一例を示す断面図
【図２】本発明の実施の形態１における記録再生方法を適用する光学式情報記録媒体の一例の要部を示す断面図
【図３】本発明の実施の形態２における記録再生方法を適用する光学式情報記録媒体の一例を示す断面図
【図４】本発明の記録再生装置の一実施の形態の構成を示すブロック図
【図５】本発明の記録再生方法の一実施の形態を示すフローチャート
【図６】従来の光学式情報記録媒体を示す斜視図
【図７】本発明の記録再生方法においてテスト記録した信号の品質を示す特性図
【図８】本発明の記録再生方法においてテスト記録した信号の品質を示す特性図
【図９】本発明の記録再生装置における反射光レベル信号の波形図
【符号の説明】
【０１７２】
１，１１    光学式情報記録媒体
２，１２    保護膜
３，５，１３，１５，１７    記録層
４，１４，１６    透明分離層
６，１８    基板
１０１，１０４，１１１，１１４，１１７    リードイン領域
１０２，１０５，１１２，１１５，１１８    テスト記録領域
１０３，１０６，１１３，１１６，１１９    情報記録領域
２０１，２０３，２０４，２０６    保護層
２０２，２０５    相変化層
２０７    反射層
４０１    光学ヘッド
４０３    コントローラー
４１０    補正係数格納回路
４１１    記録済記録層情報格納回路
４１２    パルス条件格納回路
４１３    パルス条件設定回路
４１８    反射光レベル測定回路
４１９    反射光レベル格納回路
【図１】
2005182984.tif 000003
【図２】
2005182984.tif 000004
【図３】
2005182984.tif 000005
【図４】
2005182984.tif 000006
【図５】
2005182984.tif 000007
【図６】
2005182984.tif 000008
【図７】
2005182984.tif 000009
【図８】
2005182984.tif 000010
【図９】
2005182984.tif 000011