(57)【要約】【課題】  画素データ特性或いは画素センサ特性が異なり得る多数の画素データ中の欠陥画素データを適切に補正する。【解決手段】  千鳥配列ＣＣＤ２７には、各色毎に、多数の画素センサが２列になって千鳥状に配列されており、第１列の画素センサ７Ａからは、第１の出力経路を介して電荷が出力され、第２列の画素センサからは、第２の出力経路を介して電荷が出力されるようになっている。欠陥画素補正回路３は、その欠陥画素データに直近の２つの画素データであって、その欠陥画素データと同じ出力経路を経由した２つの画素データを用いて、欠陥画素データを補正する。或いは、欠陥画素補正回路３は、欠陥画素データに直近の２つの画素データであり、且つ、その欠陥画素データを出力した画素センサと同じ列であってその画素センサの左右両隣の画素センサから出力された２つの画素データを用いて、欠陥画素データを補正する。【選択図】        図１
2005073200.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を受けたイメージセンサから出力された多数の画素データを持つ画素ラスタデータに含まれ得る欠陥画素データを補正する装置であって、
前記イメージセンサは、受光量に応じた画素データを出力する多数の画素センサを列状に備えており、前記多数の画素センサのうち第１の画素センサ群からは、第１の出力経路を経由して画素データが出力され、第２の画素センサ群からは、第２の出力経路を経由して画素データが出力されるようになっており、
前記画素ラスタデータ中の各ターゲット画素データに前記列方向に隣接する画素データは、前記ターゲット画素データが経由した出力経路と異なる出力経路を経由して出力された画素データであり、
所定の画素ラスタデータに欠陥画素データが含まれるときは、該ラスタデータを構成する画素データのうち、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正することを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項２】
前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データのうち前記欠陥画素データに直近の複数の画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正する、請求項１記載の欠陥画素補正装置。
【請求項３】
光を受けたイメージセンサから出力された多数の画素データを持つ画素ラスタデータに含まれ得る欠陥画素データを補正する装置であって、
前記イメージセンサは、受光量に応じた画素データを出力する多数の画素センサを列状に備えていて、前記多数の画素センサのうち第１の画素センサ群が、第１の画素センサ列を構成し、第２の画素センサ群が、第２の画素センサ列を構成しており、
前記画素ラスタデータ中の各ターゲット画素データに前記列方向に隣接する画素データは、前記ターゲット画素データを出力した画素センサ群と異なる列を構成する画素センサ群から出力された画素データであり、
所定の画素ラスタデータに欠陥画素データが含まれるときは、該ラスタデータを構成する画素データのうち、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正することを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項４】
前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データのうち前記欠陥画素データに直近の複数の画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正する、請求項３記載の欠陥画素補正装置。
請求項１記載の欠陥画素補正装置。
【請求項５】
前記多数の画素センサは、前記イメージセンサ上に千鳥状に配列されている、
請求項１又は３記載の欠陥画素補正装置。
【請求項６】
光を受けてその受光量に応じた多数の画素データをそれぞれ出力する多数の画素センサを有したイメージセンサと、
請求項１又は３記載の欠陥画素補正装置と
を備える画像入力装置。
【請求項７】
光を受けたイメージセンサから出力された多数の画素データを持つ画素ラスタデータに含まれ得る欠陥画素データを補正するためのコンピュータプログラムであって、
前記イメージセンサは、受光量に応じた画素データを出力する多数の画素センサを列状に備えており、前記多数の画素センサのうち第１の画素センサ群からは、第１の出力経路を経由して画素データが出力され、第２の画素センサ群からは、第２の出力経路を経由して画素データが出力されるようになっており、
前記画素ラスタデータ中の各ターゲット画素データに前記列方向に隣接する画素データは、前記ターゲット画素データが経由した出力経路と異なる出力経路を経由して出力された画素データであり、
所定の画素ラスタデータに欠陥画素データが含まれるときは、該ラスタデータを構成する画素データのうち、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正するステップをコンピュータに実行させるためのコンピュータ読取可能なコンピュータプログラム。
【請求項８】
光を受けたイメージセンサから出力された多数の画素データを持つ画素ラスタデータに含まれ得る欠陥画素データを補正するためのコンピュータプログラムであって、
前記イメージセンサは、受光量に応じた画素データを出力する多数の画素センサを列状に備えていて、前記多数の画素センサのうち第１の画素センサ群が、第１の画素センサ列を構成し、第２の画素センサ群が、第２の画素センサ列を構成しており、
前記画素ラスタデータ中の各ターゲット画素データに前記列方向に隣接する画素データは、前記ターゲット画素データを出力した画素センサ群と異なる列を構成する画素センサ群から出力された画素データであり、
所定の画素ラスタデータに欠陥画素データが含まれるときは、該ラスタデータを構成する画素データのうち、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正するステップをコンピュータに実行させるためのコンピュータ読取可能なコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥画素を補正するための技術に関し、例えば、イメージスキャナに搭載されるリニアＣＣＤから出力された欠陥画素データを補正するための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の技術として、例えば、テレビジョンカメラ等に搭載されているＣＣＤから出力された欠陥画素データを、それに隣接する周囲の画素データに基づいて補正する方法が知られている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−２７１８０６号公報（段落１９）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、イメージスキャナに搭載されるＣＣＤには、副走査方向と直行する主走査方向に長いリニアＣＣＤがあり、また、そのリニアＣＣＤには、各色毎に、受光量に応じた画素データを出力する多数の画素センサが２列になって千鳥状に配列されているものがある。
【０００５】
このようなＣＣＤ（以下、「千鳥配列ＣＣＤ」と言う）では、一般に、いわゆる両側読み出しが行われる。具体的には、例えば、第１列に属する画素センサの電荷をシフトする第１のＣＣＤシフトレジスタによってシフトされた信号電荷を転送するための第１の転送チャネルと、第２列に属する画素センサの電荷をシフトする第２のＣＣＤシフトレジスタによってシフトされた信号電荷を転送するための第２の転送チャネルとが備えられる。この場合において、第１と第２の転送チャネルの特性、或いは、各転送チャネルを介された信号電荷を電圧信号に変換する各デバイス（例えばオペアンプ）の特性等の違いによって、得られる画素データに関する画素データ特性（例えば、同一光量の光がＣＣＤに照射された場合の、各画素センサとそれの出力画素データとの関係を表すリニアリティ）が異なっていることが少なくない。このため、千鳥配列ＣＣＤから出力された多数の画素データにおける各ターゲット画素データに隣接する画素データは、異なる画素データ特性に基づく画素データになっている場合がある。
【０００６】
また、千鳥配列ＣＣＤ上の各色各列の画素センサに、同じ光量の光が照射されても、第１列に属する画素センサから出力された画素データと、第１列の隣の第２列に属する画素センサから出力された画素データとは、第１列と第２列との物理的距離等に起因して、各列毎に画素センサの出力に関する画素センサ特性（例えば、受光量と出力画素データとの関係を表すリニアリティ）が異なっている場合がある。それ故、千鳥配列ＣＣＤから出力された画像データにおいて、各画素データとその周辺に隣接する画素データとでは、画素センサ特性が異なっている場合がある。
【０００７】
これらのような場合に、上述した従来の欠陥画素補正方法、すなわち、欠陥画素に隣接する周囲の画素のデータを用いて欠陥画素を補正する方法で、千鳥配列ＣＣＤから出力された画像データ中の欠陥画素データを補正しても、欠陥画素データとは異なる画素データ特性或いは画素センサ特性に基づく画素データを用いて補正してしまうことになるため、必ずしも適切に欠陥画素データが補正されるとは限らない。
【０００８】
このような問題点は、千鳥配列ＣＣＤから出力された多数の画素データ中の欠陥画素データを補正する場合に限らず、画素データ特性或いは画素センサ特性が異なり得る多数の画素データ中の欠陥画素データを補正する他の場合にも存在し得る。
【０００９】
従って、本発明の目的は、画素データ特性或いは画素センサ特性が異なり得る多数の画素データ中の欠陥画素データを適切に補正することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の第１の側面に従う欠陥画素補正装置（以下、「第１の補正装置」と言う）は、光を受けたイメージセンサから出力された多数の画素データを持つ画素ラスタデータに含まれ得る欠陥画素データを補正する装置であって、前記イメージセンサは、受光量に応じた画素データを出力する多数の画素センサを列状に備えており、前記多数の画素センサのうち第１の画素センサ群からは、第１の出力経路を経由して画素データが出力され、第２の画素センサ群からは、第２の出力経路を経由して画素データが出力されるようになっており、前記画素ラスタデータ中の各ターゲット画素データに前記列方向に隣接する画素データは、前記ターゲット画素データが経由した出力経路と異なる出力経路を経由して出力された画素データであり、所定の画素ラスタデータに欠陥画素データが含まれるときは、該ラスタデータを構成する画素データのうち、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データに基づいて（別の言い方をすれば、例えば、前記欠陥画素データが経由した出力経路と同一の出力経路を経由して出力された画素データに基づいて）、前記欠陥画素データを補正する。
【００１１】
上記イメージセンサは、例えばリニアＣＣＤであり、画素センサは、フォトダイオードである。また、多数の画素センサは、１列又は複数列に配列されていても良い。また、第１の補正装置には、所定の方法で欠陥画素データがどれかを把握する欠陥画素把握手段が備えられていても良い。欠陥画素把握手段は、例えば、第１の補正装置に備えられている記憶装置から欠陥画素位置情報を読出し、その欠陥画素位置情報から、前記画素ラスタデータを構成する多数の画素データのどれが欠陥画素データであるかを把握する。
【００１２】
第１の補正装置における好適な実施形態では、第１の補正装置は、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データのうち前記欠陥画素データに直近の複数の画素データに基づいて（別の言い方をすれば、例えば、前記欠陥画素データが経由した出力経路と同一の出力経路を経由して出力された画素データであって、前記欠陥画素データに前記列方向に直近の複数の画素データに基づいて）、前記欠陥画素データを補正する。
【００１３】
本発明の第２の側面に従う欠陥画素補正装置（以下、「第２の補正装置」と言う）は、光を受けたイメージセンサから出力された多数の画素データを持つ画素ラスタデータに含まれ得る欠陥画素データを補正する装置であって、前記イメージセンサは、受光量に応じた画素データを出力する多数の画素センサを列状に備えていて、前記多数の画素センサのうち第１の画素センサ群が、第１の画素センサ列を構成し、第２の画素センサ群が、第２の画素センサ列を構成しており、前記画素ラスタデータ中の各ターゲット画素データに前記列方向に隣接する画素データは、前記ターゲット画素データを出力した画素センサ群と異なる列を構成する画素センサ群から出力された画素データであり、所定の画素ラスタデータに欠陥画素データが含まれるときは、該ラスタデータを構成する画素データのうち、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正する（別の言い方をすれば、例えば、前記欠陥画素データを出力した画素センサを含む画素センサ群と同一の画素センサ群に含まれる別の画素センサから出力された画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正する）。
【００１４】
上記イメージセンサは、例えばリニアＣＣＤであり、画素センサは、フォトダイオードである。また、第２の補正装置には、所定の方法で欠陥画素データがどれかを把握する欠陥画素把握手段が備えられていても良い。欠陥画素把握手段は、例えば、第２の補正装置に備えられている記憶装置から欠陥画素位置情報を読出し、その欠陥画素位置情報から、前記画素ラスタデータを構成する多数の画素データのどれが欠陥画素データであるかを把握する。
【００１５】
第２の補正装置における好適な実施形態では、第２の補正装置は、前記欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データのうち前記欠陥画素データに直近の複数の画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正する（例えば、前記欠陥画素データを出力した画素センサと同一の列で両隣に存在する画素センサから出力された２つの画素データに基づいて、前記欠陥画素データを補正する）。
【００１６】
第１及び第２の補正装置の少なくとも一方における好適な実施形態では、前記多数の画素センサは、前記イメージセンサ上に千鳥状に配列されている。
【００１７】
上述した第１及び第２の補正装置の少なくとも一方は、イメージスキャナ、デジタルカメラ、複写装置等の画像入力装置に搭載することが可能である。
【００１８】
また、上述した第１及び第２の補正装置の少なくとも一方は、ハードウェア装置のみ、ソフトウェアのみ、或いは、ハードウェア装置とソフトウェアの組合せで構成することができる。さらに、例えばソフトウェアで構成した場合は、第１又は第２の補正装置（厳密には、それを構築するためのコンピュータプログラム）は、イメージスキャナやデジタルカメラ等の画像入力装置や、その画像入力装置の上位装置（例えば、パーソナルコンピュータ等の汎用型コンピュータ）等にインストールし、それにより、インストールされた装置上で、第１又は第２の補正装置を構築することができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明に第１の側面に従う第１の補正装置によれば、画素ラスタデータ中の欠陥画素データの補正は、その欠陥画素データを出力した画素センサ群と同一の画素センサ群から出力された画素データ、すなわち、その欠陥画素データが経由した出力経路と同一の出力経路を経由した画素データに基づいて行われる。このため、各出力経路を介して得られる各画素データに関する画素データ特性（例えば、同一の光量の光がＣＣＤに照射された場合における、各画素センサの位置とそれの画素データとの関係を表すリニアリティ）が違っていても、欠陥画素補正データは、それと同一の出力経路を経由した画素データ、すなわち、同一の画素データ特性を具備し得る画素データに基づいて補正されるので、適切に欠陥画素データを補正することができる。
【００２０】
本発明に第２の側面に従う第２の補正装置によれば、画素ラスタデータ中の欠陥画素データの補正は、その欠陥画素補正データを出力した画素センサ群と同じ列を構成する画素センサ群から出力された画素データに基づいて行われる。このため、各列毎に画素センサの出力に関する画素センサ特性（例えば、受光量と出力画素データとの関係を表すリニアリティ）が異なっている場合があっても、欠陥画素補正データは、それを出力した画素センサを含む画素センサ群と同じ画素センサ群に属する別の画素センサから出力された画素データ、すなわち、同一の画素センサ特性を具備し得る画素データに基づいて補正されるので、適切に欠陥画素データを補正することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本発明は、画素データ特性或いは画素センサ特性が異なり得る多数の画素データがイメージセンサから出力されるようになった種々の装置に適用し得るが、以下、そのイメージセンサが「千鳥配列ＣＣＤ」であり、その装置が「イメージスキャナ」である場合を例に採り、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
【実施例１】
【００２２】
まず、図１を参照して本発明の第１実施例に係るイメージスキャナの概要を説明し、次に、図２以降を参照して、本実施例の要旨である欠陥画素補正技術について説明する。
【００２３】
図１は、本発明の一実施例に係るイメージスキャナの構成を示すブロック図である。
【００２４】
このイメージスキャナ１には、読取ヘッド５と、ＣＣＤ基板１５と、ヘッド駆動機構３８と、画素データメモリ（例えばＲＡＭ）４２と、欠陥画素メモリ（例えばＥＥＰＲＯＭ）４４と、光源用電源３５と、制御部４５と、欠陥画素補正回路３と、読取イメージ格納メモリ４６と、読取イメージ出力部４３とが備えられている。
【００２５】
読取ヘッド５には、光源２３と、光源２３の反射光或いは透過光を受けてその受光量に応じた信号電荷を出力する千鳥配列ＣＣＤ２７と、千鳥配列ＣＣＤ２７から出力された信号電荷を電圧信号に変換してＡ／Ｄ変換回路３１へ出力する信号変換部２９とが備えられている。
【００２６】
ＣＣＤ基板１５は、読取ヘッド５内の千鳥配列ＣＣＤ２７から信号変換部２９を介して出力された電圧信号を処理する回路基板であり、ＣＣＤ電源３３と、Ａ／Ｄ変換回路３１とを備えている。ＣＣＤ電源３３は、制御部４５からの制御信号に基づいてターンオンしたりターンオフしたりするものであり、ターンオンすることにより、図示しない電源回路から供給される電力を千鳥配列ＣＣＤ２７に供給し、一方、ターンオフすることにより、千鳥配列ＣＣＤ２７への給電を止めるようになっている。Ａ／Ｄ変換回路３１は、千鳥配列ＣＣＤ２７上の画素センサから出力されたアナログ電圧信号を入力しそれをデジタル電圧信号に変換し、そのデジタル電圧信号、つまり画素データをメモリ４２に格納するようになっている。
【００２７】
ヘッド駆動機構３８は、例えば、読取ヘッド５をシャフト（図示せず）に沿って走らせるためのベルトや、そのベルトを動かして読取ヘッド５を走行させるためのヘッド駆動モータや、そのモータを駆動させることにより読取ヘッド５を走行させるヘッド駆動回路等を含んでいる。ヘッド駆動機構３８の所定の構成要素（例えばヘッド駆動回路）は、制御部４５から制御信号を受け、その制御信号に基づいて、読取ヘッド５を走行させ且つそれの位置を制御する。
【００２８】
画素データメモリ４２には、読取り対象原稿の１ライン分の読取データ、つまり、複数の画素データが１列に横並びになった各色別の画素ラスタデータ（或いは、画素ラスタデータが副走査方向に並んだ原稿イメージデータ（各色プレーン））が格納される。
【００２９】
欠陥画素メモリ４４には、所定の欠陥画素検出方法によって検出された欠陥画素のデータの位置を特定するための情報（以下、「欠陥画素位置情報」と言う）が格納される。欠陥画素検出方法としては、いろいろな方法を採用し得るが、例えば、制御部４５が、テストパターンを読取ることによりそれの画素ラスタデータが格納された画素データメモリ４２から画素ラスタデータを読み出し、その画素ラスタデータに含まれる複数の画素データのうち所定値以上に値が異なる画素データ（換言すれば、各画素センサの位置とその画素センサからの画素データ値とのリニアな関係から所定値以上に外れた画素データ）を欠陥画素データとして検出する方法を採用し得る。この場合、例えば、その欠陥画素データのアドレスが制御部４５によって欠陥画素メモリ４４に格納される。
【００３０】
光源用電源３５は、制御部４５からの制御信号に基づいてターンオンしたりターンオフしたりするものであり、ターンオンすることにより、図示しない電源回路から供給される電力を光源２３に供給し、ターンオフすることにより、光源２３への給電を止めるようになっている。
【００３１】
制御部（例えばＣＰＵ）４５は、イメージスキャナ１の動作全体を制御する。
【００３２】
具体的には、例えば、制御部４５は、所定周期のクロックを図示しないタイミングジェネレータに入力することで、タイミングジェネレータをして千鳥配列ＣＣＤ２７から信号変換部２９を介して電圧信号が出力されるようにする。
【００３３】
また、例えば、制御部４５は、欠陥画素補正回路３に補正指令信号を入力し、欠陥画素補正回路３に欠陥画素補正処理を実行させる。
【００３４】
欠陥画素補正回路３は、例えば、ＡＳＩＣのような純粋なハードウェア回路であり、制御部４５からの補正指令信号に応答して、欠陥画素補正処理を開始する。具体的には、例えば、欠陥画素補正回路３は、画素データメモリ４２から各色の画素ラスタデータ（又は原稿イメージデータ）を読み出し、且つ、欠陥画素メモリ４４から欠陥画素位置情報を読み出し、その欠陥画素位置情報に基づいて、読み出された画素ラスタデータに含まれている複数の画素データから欠陥画素データを特定する。そして、欠陥画素補正回路３は、その欠陥画素データと同一の転送チャネルを介して出力された画素データ（又は、その欠陥画素データと同一の列に属する画素センサから出力された画素データ）に基づいて、その欠陥画素データを補正し、欠陥画素データが補正された画素ラスタデータ（つまり補正後の画素ラスタデータ）を読取イメージ格納メモリ４６に格納する。
【００３５】
読取イメージ格納メモリ（例えばＲＡＭ或いはＥＥＰＲＯＭ）４６には、補正後の画素ラスタデータ（或いは原稿イメージデータ）が格納される。これにより、読取イメージ格納メモリ４６には、補正後の原稿読取イメージデータが格納される。
【００３６】
読取イメージ出力部４３は、読取イメージ格納メモリ４６から補正後の原稿読取イメージデータを読み出して出力するものである。読取イメージ出力部４３は、具体的には、例えば、以下の（１）〜（５）、
（１）イメージスキャナ１に通信可能に接続されているホスト装置に有線又は無線で読取イメージデータを送信するデータ送信部、
（２）インターネット等の通信ネットワークを介してイメージスキャナ１に通信可能に接続されている遠隔の装置に読取イメージデータを例えば電子メールで送信するデータ送信部、
（３）読取イメージデータを公衆電話網を介してファクシミリで所定の又はユーザ所望の宛先に送信するファクシミリ送信部、
（４）イメージスキャナ１に着脱可能に装着された外部記憶装置（例えば、メモリカード等の可搬型記録媒体又は外付け式のハードディスク装置）に読取イメージデータを格納するデータ格納部、
（５）読取イメージデータを所定の印刷媒体（例えば普通紙又は光沢紙等）にインクジェット方式又は電子写真方式等により印刷する印刷部、
のうちの少なくとも１つである。
【００３７】
図２は、千鳥配列ＣＣＤ２７の構成の概略図である。
【００３８】
千鳥配列ＣＣＤ２７には、上記光源２３からの反射光又は透過光を受ける受光面上に、ＲＧＢの各色毎に、多数の画素センサ（例えばフォトダイオード）が主走査方向に千鳥状に配列されている。
【００３９】
ＲＧＢ各色用の画素センサの配置はどれも同じなのでＲ（レッド）を代表的に説明すると、Ｒ用の多数の画素センサのうち、複数の第１の画素センサ７Ａ、７Ａ、…は、第１の列に沿って主走査方向に並んでおり、複数の第２の画素センサ７Ｂ、７Ｂ、…は、第２の列に沿って主走査方向に並んでいる。
【００４０】
第１の列において、各第１の画素センサ７Ａと、隣の第１の画素センサ７Ａとの間隔は、第１の距離、例えば１６００dpiである。また、第１列の画素センサ７Ａと、第２列の画素センサ７Ｂとの副走査方向に沿った間隔は、上記の第１の距離よりも長い第２の距離、例えば８００dpiである。更に、第１の色（例えばＲ）における第２列の画素センサ７Ｂと、第１の色の隣の第２の色（例えばＧ）における第１列の画素センサとの副走査方向に沿った間隔は、上記の第２の距離の数倍の距離、例えば５倍の１６０dpiである。
【００４１】
Ｒ用の多数の画素センサについて、複数の第１の画素センサ７Ａ、７Ａ、…からは、図２及び図３に示すように、第１の出力経路７１を介して信号変換部２９の第１の電荷電圧変換デバイス２９Ａに電荷が転送され、同様に、複数の第２の画素センサ７Ｂ、７Ｂ、…からは、第２の出力経路７３を介して信号変換部２９の第２の電荷電圧変換デバイス２９Ｂに電荷が転送される。なお、各出力経路７１、７３は、例えば、電荷電圧変換デバイス２９Ａ、２９Ｂへの転送チャネルと、各画素センサからの電荷を前述の転送チャネルを介して転送するシフトレジスタとを含んでいる。また、電荷電圧変換デバイス２９Ａ、２９Ｂ（例えばオペアンプ）は、転送されて来た電荷をアナログ電圧信号に変換してＡ／Ｄ変換回路３１（図１参照）に転送するものである。
【００４２】
以上のような構成の下、千鳥配列ＣＣＤ２７上の多数の画素センサから出力された信号電荷は、図１に示すように、信号変換部２９及びＡ／Ｄ変換回路３１を介してデジタルの電圧信号、つまり画素データとなって画素データメモリ４２に格納される。
【００４３】
さて、制御部４５は、前述したように、図示しないタイミングジェネレータを介して千鳥配列ＣＣＤ２７上の多数の画素センサから信号電荷を出力させるが、ユーザから指定された読み込み解像度に応じて、どの画素センサから信号電荷を出力させるかを制御する（解像度は、例えば、イメージスキャナ１に搭載された図示しないコントロールパネル、或いは、イメージスキャナ１に接続されたホスト装置を介して指定される）。
【００４４】
例えば、制御部４５は、第１の解像度（一例として３２００dpi）が指定されてその解像度の原稿読取イメージデータを生成する場合には、千鳥配列ＣＣＤ２７上の全ての画素センサから信号電荷を出力させる。その結果、画素データメモリ４２に格納される１つの画素ラスタデータは、図４に示すように、第１の出力経路７１を経由して得られた第１画素データ１００Ａと、第２の出力経路７３を経由して得られた第２画素データ１００Ｂが交互に並んだラスタデータ１００となる。
【００４５】
この場合において、例えば、欠陥画素データが、第２出力経路７３を経由した或る１つの第２画素データであるとき、欠陥画素補正回路３は、以下のようにして欠陥画素データの補正処理を行う。
【００４６】
すなわち、図５に示すように、欠陥画素補正回路３は、欠陥画素メモリ４４内の欠陥画素位置情報から特定された欠陥画素データ（第２画素データ）を、その欠陥画素データの左右に（つまり画素ラスタデータ２００において両隣に）隣接した画素データを一つ隔てた位置にある２つの画素データに基づいて補正する。別の言い方をすれば、欠陥画素補正回路３は、その欠陥画素データに直近の２つの画素データであって、その欠陥画素データと同様に第２出力経路７３を経由した２つの画素データを用いて、欠陥画素データを補正する。具体的には、例えば、欠陥画素補正回路３は、その２つの画素データがそれぞれ表す２つの値Ａ、Ｂの平均値を求め、その平均値を、欠陥画素データの本来の値として代替する（補正方法はこれに限らず他の方法を採用しても良い）。
【００４７】
また、例えば、制御部４５は、第１の解像度よりも小さい第２の解像度（一例として１６００dpi）が指定されてその解像度の原稿読取イメージデータを生成する場合には、千鳥配列ＣＣＤ２７上の第１列（或いは第２列）にある画素センサのみから信号電荷を出力させる。その結果、画素データメモリ４２に格納される１つの画素ラスタデータは、図６に示すように、第１の出力経路７１を経由して得られた第１画素データ１００Ａのみから成るラスタデータ２００となる。
【００４８】
その画素ラスタデータ２００に欠陥画素データがあるときは、欠陥画素補正回路３は、図６に示すように、第１の解像度のときと同様に、欠陥画素データの左右に隣接した画素データを一つ隔てた位置にある２つの画素データに基づいて補正（具体的には、その２つの画素データがそれぞれ表す２つの値ａ，ｂの平均値を求め、その平均値を、欠陥画素データの本来の値として代替）する。
【００４９】
以上が、第１実施例についての説明である。
【００５０】
なお、この第１実施例において、画素ラスタデータ２００を構成する画素データが、全て同一の出力経路を経由した画素データである場合には、欠陥画素補正回路３は、欠陥画素データに左右に隣接する画素データを用いて欠陥画素データを補正しても良い。
【００５１】
また、この第１実施例では、ＣＣＤは、各色毎に多数の画素センサが２列になった千鳥配列になっているが、それら多数の画素センサが１列になっていても、それら多数の画素センサの読出し経路が２つ以上ある場合には（例えばいわゆる両側読出しの場合には）、本実施例に係る欠陥画素補正技術を適用することができる。
【００５２】
この第１の実施例によれば、画素ラスタデータ中の欠陥画素データの補正は、その欠陥画素補正データと同一の出力経路を経由した画素データに基づいて行われる（換言すれば、例えば、各色毎の多数の画素センサについてＭ個の出力経路が存在し、画素ラスタデータの構成が、各出力経路を経由した各画素データが交互に並んだ構成となっている場合、欠陥画素データは、それの左右にＭ−１個隔てた２つの画素データを用いて補正される）。このため、たとえ、各画素センサが出力する電荷の出力経路上の転送チャネル或いは電荷電圧変換デバイス等の特性の違いによって、得られる画素データに関する画素データ特性（例えば、同一の光量の光がＣＣＤに照射された場合における、各画素センサの位置とそれの画素データとの関係を表すリニアリティ）が違っていても、欠陥画素補正データは、それと同一の出力経路を経由した画素データ、すなわち、同一の画素データ特性を具備し得る画素データに基づいて補正されるので、適切にデータに補正されることになる。
【実施例２】
【００５３】
次に第２実施例について説明する。その際、第１実施例と重複する内容については説明を省略或いは簡略し、第１実施例との相違点を主に説明する。
【００５４】
この第２実施例において、制御部４５は、第１の解像度（一例として３２００dpi）が指定されてその解像度の原稿読取イメージデータを生成する場合には、千鳥配列ＣＣＤ２７上の全ての画素センサから信号電荷を出力させる。その結果、画素データメモリ４２に格納される１つの画素ラスタデータは、図７に示すように、第１列に属する複数の画素センサから得られた第１画素データ３００Ａと、第２列に属する複数の画素センサから得られた第２画素データ３００Ｂが交互に並んだラスタデータ３００となる。
【００５５】
この場合において、例えば、欠陥画素データが、第２列に属する或る１つの画素センサから出力された或る１つの第２画素データであるとき、欠陥画素補正回路３は、以下のようにして欠陥画素データの補正処理を行う。
【００５６】
すなわち、図７に示すように、欠陥画素補正回路３は、欠陥画素メモリ４４内の欠陥画素位置情報から特定された欠陥画素データ（第２画素データ）を、その欠陥画素データの左右に隣接した画素データを一つ隔てた位置にある２つの画素データに基づいて補正する。別の言い方をすれば、欠陥画素補正回路３は、その欠陥画素データに直近の２つの画素データであり、且つ、その欠陥画素データを出力した画素センサと同じ列であってその画素センサの左右両隣の画素センサから出力された２つの画素データを用いて、欠陥画素データを補正する。具体的には、例えば、欠陥画素補正回路３は、その２つの画素データがそれぞれ表す２つの値Ｃ、Ｄの平均値を求め、その平均値を、欠陥画素データの本来の値として代替する。
【００５７】
また、制御部４５は、第１の解像度よりも小さい第２の解像度（一例として１６００dpi）が指定されてその解像度の原稿読取イメージデータを生成する場合には、千鳥配列ＣＣＤ２７上の第１列（或いは第２列）にある画素センサのみから信号電荷を出力させる。このため、結果として、画素データメモリ４２に格納される１つの画素ラスタデータは、第１列に属する複数の画素センサからそれぞれ出力された複数の第１画素データのみから成るデータとなる。この場合に、その画素ラスタデータに欠陥画素データがあるときは、欠陥画素補正回路３は、第１の解像度のときと同様に、欠陥画素データの左右に隣接した画素データを一つ隔てた位置にある２つの画素データに基づいて補正する。
【００５８】
以上が、第２実施例についての説明である。
【００５９】
なお、この第２実施例において、画素ラスタデータを構成する複数の画素データが、全て同一の列に属する複数の画素センサからそれぞれ出力された画素データである場合には、欠陥画素補正回路３は、欠陥画素データに左右に隣接する画素データを用いて欠陥画素データを補正しても良い。
【００６０】
また、この第２実施例では、ＣＣＤには、各色毎に多数の画素センサが２列になって配列されているが、３列以上にわたって配列されている場合も、本実施例に係る欠陥画素補正技術を適用することができる。すなわち、例えば、各色毎に３列になって画素センサが配列されている場合、欠陥画素データが、第３列に属する或る１つの画素センサから出力されたものであるとき、欠陥画素補正回路３は、その欠陥画素データに直近の２つの画素データであり、且つ、その欠陥画素データを出力した画素センサと同じ列であってその画素センサの左右両隣の画素センサから出力された２つの画素データを用いて、欠陥画素データを補正することができる。
【００６１】
この第２の実施例によれば、画素ラスタデータ中の欠陥画素データの補正は、その欠陥画素補正データを出力した画素センサと同じ列に属する画素センサから出力された画素データに基づいて行われる（換言すれば、例えば、各色毎の多数の画素センサがＮ列に別れて配列されており、画素ラスタデータの構成が、各列毎の画素データが交互に並んだ構成となっている場合、欠陥画素データは、それの左右にＮ−１個隔てた２つの画素データを用いて補正される）。このため、たとえ、画素センサの第１列と第２列との物理的距離等によって、各列毎に画素センサの出力に関する画素センサ特性（例えば、受光量と出力画素データとの関係を表すリニアリティ）が異なっている場合があっても、欠陥画素補正データは、それを出力した画素センサと同じ列に属する画素センサから出力された画素データ、すなわち、同一の画素センサ特性を具備し得る画素データに基づいて補正されるので、適切にデータに補正されることになる。
【００６２】
以上、本発明の好適な幾つかの実施例を説明したが、これらは本発明の説明のための例示であって、本発明の範囲をこれらの実施例にのみ限定する趣旨ではない。本発明は、他の種々の形態でも実施することが可能である。例えば、制御部４５は、第１列と第２列のいずれか一方の列に属する画素センサのみから信号電荷を出力させる場合、どの列の画素センサを使用するかについて、例えば、各列毎の画素ラスタデータに欠陥画素データの有無及び欠陥画素データの数を検出し、欠陥画素データの数が少ない方の列を選択して使用するようにしても良い。また、第１の出力経路７１及び第２の出力経路７３は、図２に示したように、画素センサの第１列と第２列との間（換言すれば各列の内側）に備えられていても良いし、反対に、各列の外側に備えられていても良い。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の第１実施例に係るイメージスキャナの構成を示すブロック図。
【図２】千鳥配列ＣＣＤ２７の構成の概略図。
【図３】信号変換部２９の構成を示す図。
【図４】第１の解像度が指定された場合の画素ラスタデータを示す図。
【図５】第１の解像度が指定された場合の画素ラスタデータ中の欠陥画素データの補正方法を説明するための図。
【図６】第２の解像度が指定された場合の画素ラスタデータ中の欠陥画素データの補正方法を説明するための図。
【図７】第２の実施例において、第１の解像度が指定された場合の画素ラスタデータ中の欠陥画素データの補正方法を説明するための図。
【符号の説明】
【００６４】
３  欠陥画素補正回路
２７  千鳥配列ＣＣＤ
２９  信号変換部
４４  欠陥画素メモリ
４５  制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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