(57)【要約】【課題】  複数のインターポーザーを含むインターポーザー付シートの状態で各インターポーザーに対する電気的特性検査を行う。【解決手段】  インターポーザー付シート３０は、ウェブ状非導電体シート１１ａと、ウェブ状非導電体シート１１ａ上に互いに絶縁されて配置された多数のインターポーザー２０ａとを備えている。各インターポーザー２０ａはウェブ状非導電体シート１１ａ上に支持された一対の拡大電極１２，１２と、一対の拡大電極１２，１２間に跨って配置されたＩＣチップ２０とを有している。インターポーザー付シート３０の状態で各拡大電極１２，１２にインターポーザーテスタ３１から延びる検査電極３４，３４を接触させて、インターポーザーテスタ３１によりインターポーザー２０ａの電気的特性を検査する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ウェブ状非導電体シートと、
非導電体シート上に連続して配置され、互いに絶縁された多数のインターポーザーとを備え、
各インターポーザーは、ウェブ状非導電体シート上に支持された一対の拡大電極と、一対の拡大電極間に跨って配置されたＩＣチップとを有していることを特徴とするインターポーザー付シート。
【請求項２】
各インターポーザーの拡大電極の全面は、ウェブ状非導電体シート上にあることを特徴とする請求項１記載のインターポーザー付シート。
【請求項３】
請求項１記載のインターポーザー付シートと、
巻付コアとを備え、
巻付コア周囲にインターポーザー付シートを巻付けてなるインターポーザー付シートの巻体。
【請求項４】
請求項１記載のインターポーザー付シートを検査するインターポーザー付シートの検査方法において、
インターポーザーテスタから延びる一対の検査電極の各電極をインターポーザーの一対の拡大電極の異なる拡大電極に接触させる工程と、
インターポーザーテスタによってインターポーザーの電気的特性を検査する工程と、
を備えたことを特徴とするインターポーザー付シートの検査方法。
【請求項５】
インターポーザーテスタは検査電極に接続されたテスト用アンテナと、テスト用アンテナとの間で非接触状態で信号を交信するリーダ／ライタとを有し、
インターポーザーテスタのリーダ／ライタによって、インターポーザーの電気的特性を検査することを特徴とする請求項４記載のインターポーザー付シートの検査方法。
【請求項６】
インターポーザーテスタのリーダ／ライタはインターポーザーの電気的特性を検査した後、必要な情報をインターポーザーに書込むことを特徴とする請求項５記載のインターポーザー付シートの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アンテナ回路の接続用に用いられるインターポーザーを有するインターポーザー付シート、その巻体およびその検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より外部のリーダ・ライタと非接触でデータの授受を行う非接触ＩＣタグは、アンテナ回路と、アンテナ回路に設けられた接続用のインターポーザーとを備え、このうちインターポーザーは一対の拡大電極と、ＩＣチップとを有している。このようなインターポーザーは非導電体シート上に帯状に延びる一対の導電体シートを設け、一対の導電体シート間にＩＣチップを連続して配置した後、非導電体シートおよび一対の導電体シートをＩＣチップ毎に断裁することにより得られる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上述のようにインターポーザーは非導電体シートおよび導電体シートを断裁することにより得られるが、断裁前の状態では導電体シートが連続しているため、断裁前に各インターポーザーの電気的特性を検査することはできない。このような場合、シートを断裁する前のシート状態で各インターポーザーの電気的特性を検査することができれば、検査工程の迅速化を図ることができて都合が良い。
【０００４】
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、インターポーザーの電気的特性をシートの状態で実行することができ、検査工程の迅速化を図ることができるインターポーザー付シート、その巻体およびその検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、ウェブ状非導電体シートと、非導電体シート上に連続して配置され、互いに絶縁された多数のインターポーザーとを備え、各インターポーザーは、ウェブ状非導電体シート上に支持された一対の拡大電極と、一対の拡大電極間に跨って配置されたＩＣチップとを有していることを特徴とするインターポーザー付シートである。
【０００６】
本発明は、各インターポーザーの拡大電極の全面は、ウェブ状非導電体シート上にあることを特徴とするインターポーザー付シートである。
【０００７】
本発明は、インターポーザー付シートと、巻付コアとを備え、巻付コア周囲にインターポーザー付シートを巻付けてなるインターポーザー付シートの巻体である。
【０００８】
本発明は、インターポーザー付シートを検査するインターポーザー付シートの検査方法において、インターポーザーテスタから延びる一対の検査電極の各電極をインターポーザーの一対の拡大電極の異なる拡大電極に接触させる工程と、インターポーザーテスタによってインターポーザーの電気的特性を検査する工程と、を備えたことを特徴とするインターポーザー付シートの検査方法である。
【０００９】
本発明は、インターポーザーテスタは検査電極に接続されたテスト用アンテナと、テスト用アンテナとの間で非接触状態で信号を交信するリーダ／ライタとを有し、インターポーザーテスタのリーダ／ライタによって、インターポーザーの電気的特性を検査することを特徴とするインターポーザー付シートの検査方法である。
【００１０】
本発明は、インターポーザーテスタのリーダ／ライタは、インターポーザーの電気的特性を検査した後、必要な情報をインターポーザーに書込むことを特徴とするインターポーザー付シートの検査方法である。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、ＩＣチップと拡大電極とを有するインターポーザーに対する電気的特性をシートの状態で実行することができ、これによって不良なインターポーザーをアンテナ回路に実装する前に除去することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
【００１３】
図１および図２は、本発明によるインターポーザー付シート、その巻体およびその検査方法の実施の形態を示す図である。
【００１４】
まず図２により非接触ＩＣタグ付シートについて説明する。非接触ＩＣタグ付シート１０は基材シート２１と、基材シート２１上に予め設けられた多数のアンテナ回路２４と、各アンテナ回路２４上に導電性接着剤１８を介して接着固定されたインターポーザー２０ａとを備えている。
【００１５】
各インターポーザー２０ａは、導電体からなる一対の拡大電極１２，１２と、一対の拡大電極１２，１２間に跨って配置され、これらの拡大電極１２に接続されたＩＣチップ２０とを有している。一対の拡大電極１２は、非導電体シート１１に支持されるとともに、拡大電極１２，１２およびＩＣチップ２０の下面には、これら拡大電極１２，１２およびＩＣチップ２０を覆って保護層１３が設けられている。
【００１６】
図２において、各インターポーザー２０ａの拡大電極１２，１２は、保護層１３によって覆われていない両端部１２ａおよび導電性接着剤１８を介して基材シート２１上のアンテナ回路２４に導通している。なお、拡大電極１２，１２を非導電性接着剤を介して、かしめ、超音波または熱圧着により基材シート２１上のアンテナ回路２４に導通させてもよい。
【００１７】
さらに、拡大電極１２，１２を接着剤を用いることなく、超音波接合により基材シート２１上のアンテナ回路２４に導通させてもよい。
【００１８】
上記のように構成される非接触ＩＣタグ付シート１０は、後工程においてアンテナ回路単位で打抜かれ、このようにして基材シート２１と、アンテナ２４と、ＩＣチップ２０を含むインターポーザー２０ａとを有する非接触ＩＣタグが得られる。
【００１９】
次にインターポーザー２０ａについて説明する。インターポーザー２０ａは上述のように、一対の拡大電極１２，１２と、一対の拡大電極１２，１２間に跨って配置されかつ拡大電極１２，１２に接続されたＩＣチップ２０とを備え、一対の拡大電極１２，１２は非導電体シート１１により支持されている。また一対の拡大電極１２，１２とＩＣチップ２０を覆って保護層１３が設けられている。
【００２０】
このようなインターポーザー２０ａは、図１に示すようなインターポーザー付シート３０から得ることができる。図１に示すように、インターポーザー付シート３０は帯状に延びるウェブ状非導電体シート１１ａと、ウェブ状非導電体シート１１ａ上に連続して配置された多数のインターポーザー２０ａとからなっている。
【００２１】
このようなインターポーザー付シート３０を巻付コア３５ａの周囲に巻付けることにより供給用の巻体３５が構成される。供給用の巻体３５から送り出されたインターポーザー付シート３０は、巻付コア３６ａの周囲に巻付けられて巻取用の巻体３６を構成する。
【００２２】
またインターポーザー付シート３０は、供給用の巻体３５と巻取用の巻体３６との間で後述のように電気的検査が行われる。電気的検査が行われたインターポーザー付シート３０に対して拡大電極１２，１２およびＩＣチップ２０を覆うように保護層１３が後工程で設けられる。その後、インターポーザー付シート３０を各インターポーザー２０ａ毎に断裁することにより、一対の拡大電極１２，１２と、一対の拡大電極１２，１２間に設けられたＩＣチップ２０を有し、一対の拡大電極１２，１２が非導電体シート１１により支持されるとともに、一対の拡大電極１２，１２とＩＣチップ２０が保護層１３により覆われたインターポーザー２０ａが得られる。
【００２３】
次にインターポーザー付シート３０について更に詳述する。インターポーザー付シート３０は、上述のようにウェブ状非導電体シート１１ａ上に配置された多数のインターポーザー２０ａを有しており、各インターポーザー２０ａはウェブ状非導電体シート１１ａ上において互いに所定間隔をおいて離間している。このためウェブ状非導電体シート１１ａ上において、各インターポーザー２０ａは互いに絶縁され、これによりウェブ状シートの状態のインターポーザー付シート３０上の各インターポーザー２０ａに対して電気的特性を検査することができる。
【００２４】
また、各インターポーザー２０ａの拡大電極１２，１２は、その全面がウェブ状非導電体シート１１ａにより覆われて支持されている。
【００２５】
このようなインターポーザー付シート３０は、ＰＥＴまたは紙等の材料からなるウェブ状非導電体シート１１ａ上に導電ペーストを用いて多数の対の拡大電極１２，１２を印刷により形成し、各拡大電極１２，１２間に跨るようＩＣチップを配置することにより得られる。
【００２６】
なお、拡大電極１２，１２を印刷により形成する代わりに、Ａｕ、Ｃｕ等の金属箔をエッチングして拡大電極１２，１２を設けてもよい。あるいは、金属箔を打ち抜いて拡大電極１２，１２を形成し、この拡大電極１２，１２をウェブ状非導電体シート１１ａ上に転写してもよい。
【００２７】
さらに、金属箔を打ち抜いて拡大電極１２、１２を形成し、この拡大電極１２、１２を金属箔から分離してウェブ状非導電体シート１１ａ上に設けてもよい。また、ウェブ状非導電体シート１１ａ上に一対の導電体シートを設け、一対の導電体シートをＩＣチップ２０毎に打ち抜いて拡大電極１２、１２を形成してもよい。
【００２８】
次にインターポーザー付シート３０に対して電気的特性の検査を行うインターポーザー付シートの検査方法について説明する。
【００２９】
図１に示すように、インターポーザー付シート３０の検査は、インターポーザーテスタ３１を用いて行われる。このインターポーザーテスタ３１は、基材３２ａ上に設けられたテスト用アンテナ３２と、テスト用アンテナ３２近傍に配置され、テスト用アンテナ３２との間で非接触状態でデータの交信を行うリーダ／ライタ３３とを有している。
【００３０】
インターポーザーテスタ３１のテスト用アンテナ３２にワイヤ３４ａを介して一対の検査電極３４が接続され、この一対の検査電極３４を用いてインターポーザー付シート３０の各インターポーザー２０ａに対する電気的特性検査が行われる。
【００３１】
インターポーザー付シート３０の検査方法について以下詳述する。まず一対の検査電極３４をインターポーザー２０ａの一対の拡大電極１２に接触させる。このことにより、インターポーザー２０ａがテスト用アンテナ３２に接続されて、擬似的にテスト用アンテナ３２上にインターポーザー２０ａを実装した状態となる。
【００３２】
この状態でテスト用アンテナ３２とリーダ／ライタ３３との間で非接触状態でデータの交信が行われ、このことによりリーダ／ライタ３３によりインターポーザー２０ａに対する電気的特性検査が行われる。
【００３３】
リーダ／ライタ３３により行われる電気的特性検査としては、例えばインターポーザー２０ａの導通検査、リーダ／ライタ３３の動作のＯＫ／ＮＧ検査、リーダ／ライタ３３とテスト用アンテナ３２との間の動作距離の検査等が挙げられる。
【００３４】
またインターポーザーテスタ３１のリーダ／ライタ３３の代わりに、インピダンスアナライザおよびネットワークアナライザを設け、これらインピダンスアナライザおよびネットワークアナライザによってインピダンス特性（共振周波数）、リアクタンスおよびキャパシタを検査することもできる。
【００３５】
このように、本実施の形態によれば、インターポーザー付シート３０において、各インターポーザー２０ａはウェブ状非導電体シート１１ａ上で互いに離間しているため、インターポーザー付シート３０を断裁する前のシートの状態で各インターポーザー２０ａの電気的特性を検査することができる。このためインターポーザー付シート３０の製造ライン中において、各インターポーザー２０ａに対して電気的特性を検査することができる。このためインターポーザー２０ａに対する電気的特性を連続してかつ迅速に行うことができる。さらにインターポーザー付シート３０を断裁して各インターポーザー２０ａを作製し、このインターポーザー２０ａを基材シート２１上のアンテナ回路２４に実装する直前に、各インターポーザー２０ａに対する電気的特性を検査することもできる。
【００３６】
このようにして、ウェブ状非導電体シート１１ａ上で各インターポーザー２０ａに対する電気的特性の検査を行うことができ、検査の結果不良品と認められたインターポーザー２０ａに対しては、ウェブ状非導電体シート１１ａ上のインターポーザー２０ａの側部にＮＧマーク３８を付すことができる。そして後工程において、ＮＧマーク３８が付されたインターポーザー２０ａのみを外部へ排出することができる。
【００３７】
ところで、インターポーザーテスタ３１は、上述のようなインターポーザー２０ａに対する電気的特性検査のみではなく、リーダ／ライタ３３を用いてインターポーザー２０ａのＩＣチップ２０に対して電気的特性検査の結果およびその他の情報を書込むことができる。
【００３８】
リーダ／ライタ３３によってインターポーザー２０ａに書込まれる情報としては、例えば電気的特性検査の結果（良品、不良品の結果）、あるいはインターポーザー２０ａの製品情報が考えられる。
【００３９】
インターポーザー２０ａの製品情報としては、例えば製造番号、製造年月日、製品名、納入先情報等が考えられる。
【００４０】
インターポーザーテスタ３１によりインターポーザー２０ａに対して必要な情報が書込まれた場合、インターポーザー付シート３０の状態では各インターポーザー２０ａに書込まれた情報を読み取ることはできない。
【００４１】
インターポーザー２０ａの情報は、インターポーザー２０ａをアンテナに接続して初めて読み取ることができる。このため、インターポーザー付シート３０を断裁して各々のインターポーザー２０ａを得る直前に、図１に示すインターポーザーテスタ３１と同様のインターポーザーテスタを用いてインターポーザー２０ａのＩＣチップ２０に書込まれた情報を読み取る。そして電気的検査の結果不良品と認められ、この不良品の情報が書込まれた不良品インターポーザー２０ａのみを外部へ排出することができる。このため不良品のインターポーザー２０ａのアンテナ回路２４への実装作業を未然に防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明によるインターポーザー付シート、その巻体およびその検査方法の概略示す図。
【図２】非接触ＩＣタグ付シートを示す側面図。
【符号の説明】
【００４３】
１０  非接触ＩＣタグ付シート
１１  非導電体シート
１２  拡大電極
１３  保護層
１８  導電性接着剤
２０  ＩＣチップ
２０ａ  インターポーザー
２１  基材シート
２４  アンテナ回路
３０  インターポーザー付シート
３１  インターポーザーテスタ
３２  テスト用アンテナ
３３  リーダ／ライタ
３４  検査電極
３５  供給用の巻体
３６  巻取用の巻体
【図１】
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【図２】
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