(57)【要約】【課題】プリンタ等の装置で記憶媒体の検出のために用いられる光電方式の検査装置における発光素子の性能劣化を精度良く判別する。【解決手段】本検査装置では、入力電圧に応じて発光素子３０１によって発生した光は、用紙６００上で反射し受光素子３０２で受光され、受光した光量に応じた出力信号３０７（用紙有り／無し）を出力する。そこで、入力電圧を徐々に減少させていきながら出力信号３０７を測定し、出力信号３０７が変化するまでの電圧差などを検出し、この電圧差などが所定値以下となった場合に発光素子が性能劣化したと判別する。【選択図】図１Ａ
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置であって、
前記所定位置に検査対象物を配置した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測手段と、
前記計測手段により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定手段と、を有することを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記推定手段は、前記発光素子の性能劣化を警告する警告手段を更に有することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記計測手段は、前記入力電圧を所定電圧から所定量ずつ変化させながら前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項４】
前記推定手段は、前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値が所定値より大きい場合に、前記発光素子が性能劣化したと判別することを特徴とする請求項３に記載の検査装置。
【請求項５】
前記推定手段は、前記所定電圧と前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値との差である電圧変化値が所定値より小さい場合に、前記発光素子が性能劣化したと判別することを特徴とする請求項３に記載の検査装置。
【請求項６】
前記発光素子の発光時間を測定する発光時間測定手段と、前記発光素子の寿命を示す発光素子寿命時間と、前記発光時間測定手段により測定された前記発光素子の発光累積時間とを記憶する記憶手段とを更に備え、前記推定手段は、前記発光素子が性能劣化したと判別した場合において、前記発光累積時間が前記発光素子寿命時間より長い場合に、前記発光素子が寿命に達したと警告することを特徴とする請求項４に記載の検査装置。
【請求項７】
前記推定手段は、前記発光素子が性能劣化したと判別した場合において、前記発光累積時間が前記発光素子寿命時間より短い場合に、前記発光素子の清掃が必要であると警告することを特徴とする請求項６に記載の検査装置。
【請求項８】
前記検出物とは、画像を記録する記録媒体であることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項９】
所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置の制御方法であって、
前記所定位置に検査対象物を搬送する搬送工程と、
前記所定位置に検査対象物を搬送した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測工程と、
前記計測工程により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定工程と、を有することを特徴とする検査装置の制御方法。
【請求項１０】
所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置と、前記検査装置を用いて画像記録用の記録媒体の搬送を制御する制御手段とを有する装置であって、
前記所定位置に記録媒体を配置した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測手段と、
前記計測手段により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定手段と、を有することを特徴とする検査装置を用いる装置。
【請求項１１】
所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置と、前記検査装置を用いて画像記録用の記録媒体の搬送を制御する制御手段とを有する装置の制御方法であって、
前記所定位置に検査対象物を搬送する搬送工程と、
前記所定位置に記録媒体を配置した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測工程と、
前記計測工程により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定工程と、を有することを特徴とする検査装置を用いる装置の制御方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の装置の制御方法を実現することを特徴とする制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、用紙等の検出物の有無を検出する光電方式の発光素子を用いる検査装置、その検査装置を用いる装置、それらの制御方法、制御プログラムに関し、特に、発光素子の性能劣化の判別（発光素子表面の清掃時期及び発光素子の残存寿命予測等）に関する。
【０００２】
【従来の技術】
複写機やプリンタ等では、原稿もしくは用紙の通過を検出するためのセンサとして、反射式の光電センサを使用しており（例えば、特許文献１、２）、光電方式のセンサの寿命を判定する方式としては、電源ＯＮ／ＯＦＦ回数、センサ（発光素子）への通電時間、センサ（発光素子）平均動作温度等の機器の使用条件に基づいて、残存寿命を割り出していた。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−３０４４４８号公報
【特許文献２】
特開２０００−１４３０８６号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来用いられている光電方式のセンサ（発光素子）の残存寿命の割り出し方法では、必ずしも正確な発光素子の残存寿命を算出することができないため、場合によってはセンサ（発光素子）が寿命に達した状態で複写機やプリンタ等の画像記録装置を使用するために、画像記録装置のジャム（つまり、故障）等を引き起こす可能性があった。
【０００５】
また、光電方式のセンサを複写機やプリンタ等の画像記録装置の紙パスセンサとして用いた場合、紙粉がセンサ（発光素子）表面に蓄積することによりセンサの出力エラーが発生する可能性もあった。
【０００６】
本発明は、上記説明した従来技術の問題を解決するためになされたものであり、その目的は、光電方式の発光素子の性能変化を精度良く判別することのできる検査装置、その検査装置を各種記憶媒体の検出のために用いる複写機やプリンタ等の装置、それらの制御方法を提供することである。
【０００７】
さらに、本発明の別の目的は、上記の発光素子の性能変化が寿命に達したためか、あるいは清掃時期に達したためかを精度良く判別することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明に係る一実施形態の検査装置は、以下の構成を有する。すなわち、所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置であって、前記所定位置に検査対象物を配置した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測手段と、前記計測手段により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定手段と、を有することを特徴とする。
【０００９】
ここで、例えば、前記推定手段は、前記発光素子の性能劣化を警告する警告手段を更に有することが好ましい。
【００１０】
ここで、例えば、前記計測手段は、前記入力電圧を所定電圧から所定量ずつ変化させながら前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測することが好ましい。
【００１１】
ここで、例えば、前記計測手段は、前記入力電圧を所定電圧から所定量ずつ変化させながら前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測することが好ましい。
【００１２】
ここで、例えば、前記推定手段は、前記所定電圧と前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値との差である電圧変化値が所定値より小さい場合に、前記発光素子が性能劣化したと判別することが好ましい。
【００１３】
ここで、例えば、前記発光素子の発光時間を測定する発光時間測定手段と、前記発光素子の寿命を示す発光素子寿命時間と、前記発光時間測定手段により測定された前記発光素子の発光累積時間とを記憶する記憶手段とを更に備え、前記推定手段は、前記発光素子が性能劣化したと判別した場合において、前記発光累積時間が前記発光素子寿命時間より長い場合に、前記発光素子が寿命に達したと警告することが好ましい。
【００１４】
ここで、例えば、前記推定手段は、前記発光素子が性能劣化したと判別した場合において、前記発光累積時間が前記発光素子寿命時間より短い場合に、前記発光素子の清掃が必要であると警告することが好ましい。
【００１５】
ここで、例えば、前記検出物とは、画像を記録する記録媒体であることが好ましい。
【００１６】
上記目的を達成するための本発明に係る一実施形態の検査装置の制御方法は、以下の構成を有する。すなわち、所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置の制御方法であって、前記所定位置に検査対象物を搬送する搬送工程と、前記所定位置に検査対象物を搬送した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測工程と、前記計測工程により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定工程と、を有することを特徴とする。
【００１７】
上記目的を達成するための本発明に係る一実施形態の装置は、以下の構成を有する。すなわち、所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置と、前記検査装置を用いて画像記録用の記録媒体の搬送を制御する制御手段とを有する装置であって、前記所定位置に記録媒体を配置した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測手段と、前記計測手段により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定手段と、を有することを特徴とする。
【００１８】
上記目的を達成するための本発明に係る一実施形態の装置の制御方法は、以下の構成を有する。すなわち、所定量の光を発生する発光素子と、前記発光素子からの光による反射光を受光する受光素子と、前記受光素子の受光量に応じて所定位置における検査対象物の有無を判別する判別手段とを有する検査装置と、前記検査装置を用いて画像記録用の記録媒体の搬送を制御する制御手段とを有する装置の制御方法であって、前記所定位置に検査対象物を搬送する搬送工程と、前記所定位置に記録媒体を配置した状態で、前記発光素子の発光量を制御するための入力電圧を徐々に調整していき、その過程で前記判別手段の判別結果が切り替わるときの入力電圧値を計測する計測工程と、前記計測工程により計測された前記入力電圧値に応じて前記発光素子の状態を推定する推定工程と、を有することを特徴とする。
【００１９】
上記目的を達成するための本発明に係る一実施形態の装置の制御プログラムは、上記に記載の装置の制御方法を実現することを特徴とする。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００２１】
［画像読取装置の構成：図２］
図２は本発明による検査装置（以下、光電方式センサまたはセンサという場合もある）を有する装置の一例として、検査対象物（各種画像記録用の記録媒体）の有無を光電方式センサを用いて検出する画像読取装置の構成を示す図である。画像読取装置は、イメージリーダ部２００と、イメージリーダ部２００上部に位置する、開閉可能な原稿搬送部１００から構成される。
【００２２】
［原稿搬送部］
原稿搬送部１００では、上方に配置された積載トレイ１０１上に積載された原稿が、順次その最上紙から一枚毎に分離給紙され、イメージリーダ部２００の流し読み位置である流し読みプラテン（流し読みプラテンガラスまたはプラテン）２０１に原稿が搬送される。流し読みプラテン２０１上を搬送しながら原稿の画像を読み込み、画像の読み込みが終了すると、排紙トレイ１０２に原稿が排紙積載される。なお、この原稿搬送部１００の詳細については後述する。
【００２３】
イメージリーダ部２００は、原稿に記録された画像情報を光学的に読取り、光電変換をして画像データとして入力するものであり、流し読みプラテン２０１、ブックプラテン２０３、原稿走査用ランプ２０９とミラー２０４を有するスキャナユニット２１０、ミラー２０５、２０６、レンズ２０７、イメージセンサ２０８等を有している。原稿搬送部１００を使用して原稿を読み込む際にはスキャナユニット２１０を読取位置ｒ１に停止して、流し読みプラテン２０１上を移動する原稿の画像を読み込み、原稿搬送部１００を使用しない場合は、プラテン２０３に載置される原稿の画像をスキャナユニット２１０の移動により読み込む。
【００２４】
次に、原稿搬送部１００について詳しく説明する。本実施系に係る原稿搬送部１００は、片面に画像情報を有する原稿を搬送しつつその画像情報を読取る片面読取モードと、両面に画像情報を有する原稿を搬送しつつその画像情報を読取る両面読取モードを有する。以下、各読取モードの説明を搬送原稿の流れに沿って簡単に説明する。
【００２５】
［片面読取モード時の片面原稿の流れ］
まず、原稿搬送部１００の概略構成の簡単説明と合わせて、片面読取モード時の片面原稿の流れを簡単に説明する。
図２に示すように、原稿搬送部１００は、積載手段としての積載トレイ１０１を有し、該積載トレイ１０１の面上に原稿を積載する。
【００２６】
原稿搬送部１００の原稿給紙部では、繰り出し手段としての給紙ローラ１０３が積載トレイ１０１上に積載された原稿束を分離部へ引き込み、分離部を構成する給送手段としての分離ローラ１０４により原稿束の最上紙を一枚ずつ分離し、引き抜きローラ１０５ａ、１０５ｂによりレジストローラ１０６ａ、１０６ｂへと搬送する。レジストローラ１０６ａ、１０６ｂは原稿先端の到着時には停止しており、引き抜きローラ１０５ａ、１０５ｂによる搬送でループを形成して斜行補正をした後に、後述の原稿搬送部へ搬送する。
【００２７】
原稿搬送部１００の原稿搬送部では、前述の原稿給紙部より搬送された原稿を第１のリードローラ１０９ａ、１０９ｂとリードコロ１１２ａ、リードコロ１１２ｂによって、流し読みプラテン２０１と原稿押さえローラ１０８との間を所定の速度で搬送していく。この時、流し読みプラテン２０１上の読取位置ｒ１の下に露光装置であるスキャナユニット２１０が固定されており、読取動作を行う。
【００２８】
原稿搬送部１００の原稿排紙部では、第２のリードローラ１１０ａ、１１０ｂ、排反ローラ１０７ａ、１０７ｂにより排紙トレイ１０２上へ裏面排出する。尚、図１において、Ｓ１０１は原稿の先端及び後端を検知することにより原稿サイズを検出するサイズ検知センサ、Ｓ１０２は原稿の先端を検知してイメージリーダ部２００に知らせるリードセンサ、Ｓ１０３は原稿の先端及び後端を検知する排反センサである。
【００２９】
［両面読取モード時の両面原稿の流れ］
次に、両面読取モード時の両面原稿の流れを簡単に説明する。まず積載トレイ１０１に積載された原稿は、原稿給紙部により一枚ずつ分離され、原稿搬送部へと搬送される。原稿搬送部では片面時と同様に流し読みプラテン２０１と原稿押さえローラ１０８との間を所定の速度で搬送していく。この時、流し読みプラテン２０１上の読取位置ｒ１の下に露光装置であるスキャナユニット２１０が固定されており、１面目である表面の読取動作を行う。
【００３０】
そして、原稿の後端が排反センサＳ１０３を通過した後、排反ローラ１０７ａ、１０７ｂが逆転し、原稿の排紙方向とは逆方向に位置する原稿搬送部のレジストローラ１０６ａ、１０６ｂへ第３のリードローラ１１１ａ、１１１ｂによって原稿をスイッチバックして搬送する。レジストローラ１０６ａ、１０６ｂは原稿先端の到着時には停止しており、第３のリードローラ１１１ａ、１１１ｂの駆動によりループを形成し、両面時の斜行補正を行い、原稿搬送部へ搬送する。
【００３１】
原稿搬送部では、１面目である表面と同様にして２面目である裏面の読取動作を行った後、原稿排紙部へ原稿を搬送する。
【００３２】
原稿排紙部では、本実施形態の原稿搬送部１００の構成上、２面目である裏面を読み込んだ後に原稿がフェイスアップ状態（１面目である表面が装置上方を向いている状態）になり、排紙される原稿の順序が狂ってしまうため、即ち積載トレイ１０１にページ順に積載された原稿が排紙トレイ１０２上においてそのページ順が狂ってしまうため、再反転を行う必要がある。そのため、原稿排紙部では、原稿の後端が排紙センサＳ１０３を通過した後、排反ローラ１０７ａ、１０７ｂが逆転し、再び原稿を原稿搬送部の方向へ搬送する。この時、原稿搬送部では裏面排紙を行うために原稿面の反転動作しか行わないため、レジストローラ１０６ａ、１０６ｂでは斜行補正を行わない。
【００３３】
原稿搬送部を通過した原稿は、再度原稿排紙部へ搬送され、第２のリードローラ１１０ａ、１１０ｂ、排反ローラ１０７ａ、１０７ｂにより排紙トレイ１０２上に裏面排紙される。これにより、原稿は、１面目である表面が装置下方を向いている状態であるフェイスダウン状態で排紙される。
【００３４】
本発明の反射型光電方式センサ（検査装置）は、上記説明した画像読取装置のサイズ検知センサ（紙パスセンサ）Ｓ１０１、リードセンサＳ１０２、排反センサＳ１０３等に使用することができる。
【００３５】
［光電方式センサの回路構成：図１Ａ］
図１は本発明の光電方式センサ（検査装置）の回路図を示している。このセンサ３００は、発光素子３０１からの光が、検出対象物である用紙６００などによって反射された光を受光素子３０２で受光する構成になっている。
【００３６】
発光素子３０１には、例えばＧａＡｌＡｓやＧａＡｓ等の発光ダイオード（ＬＥＤ）が設けられており、受光素子３０２には、フォトダイオードが設けられている。このセンサ３００の内部は、他にオペアンプ３０３、検出回路３０４、抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、コンデンサＣ１から構成されており、パッケージングにより入力電源ライン３０５、アース電位ライン３０６、出力信号ライン３０７のみ外部回路に接続でき、内部回路の信号を測定することはできない。
【００３７】
センサ３００は、入力電源ライン３０５に電圧を印加することにより動作し、出力信号ライン３０７に２値のデジタル信号（例えば、用紙有り：Ｈｉｇｈ、用紙無し：Ｌｏｗ）で出力される。従って、ＣＰＵ４００によりセンサ３００に供給される電源電圧のオン、オフ、及び電圧値を調整し、２値のデジタル出力信号はＣＰＵ４００を介して、メモリ５００に格納される。なお、出力信号ライン３０７に接続されるＣＰＵ４００のポートは、Ａ／Ｄ入力、もしくは想定される電源電圧より十分しきい値が低く設定されている。
【００３８】
［発光素子（正常）と出力信号の関係：図１Ｂ］
図１Ｂに図１Ａの光電方式センサ（正常な発光素子の場合）における、電源電圧と発光量の関係（図１Ｂ（ａ））および電源電圧と出力信号の関係（図１Ｂ（ｂ））を模式的に示す。
【００３９】
図１Ｂ（ａ）に示すように電源電圧と発光量は比例関係にあり、電源電圧が低下すると発光量も低下する。しかしながら、例えば、図１Ｂ（ｂ）に示すように電源電圧がＶ０〜Ｖ１の範囲（電圧差ΔＶ１）では、出力信号は用紙を検出したことを示すｈｉｇｈ信号を出力するが、電源電圧がＶ１において、出力信号は用紙を検出しないことを示すｌｏｗ信号を出力する様に変化する。これは、電源電圧の低下に伴い発光素子３０１の発光量が低下したため用紙表面から反射して受光素子３０２に入力する光の量が減少して受光量がある光量以下となり、出力信号は用紙を検出しないことを示すｌｏｗ信号を出力するように変化したからである。
【００４０】
［発光素子（劣化）と出力信号の関係：図１Ｃ］
図１Ｃに図１Ａの光電方式センサ（劣化した発光素子の場合）における、電源電圧と発光量の関係（図１Ｃ（ａ））および電源電圧と出力信号の関係（図１Ｃ（ｂ））を模式的に示す。
【００４１】
図１Ｃ（ａ）に示すように電源電圧と発光量は比例関係にあり、劣化した発光素子の場合も正常の発光素子と同様に、電源電圧が低下すると発光量も低下する。しかしながら、正常の発光素子の場合には、図１Ｂ（ｂ）に示すように電源電圧がＶ０〜Ｖ１の範囲（電圧差ΔＶ２）では、出力信号は用紙を検出したことを示すｈｉｇｈ信号を出力するが、劣化した発光素子の場合には、図１Ｃ（ｂ）に示すように電源電圧がＶ２まで低下すると、出力信号は用紙を検出しないことを示すｌｏｗ信号を出力する。これは、劣化した発光素子では発光素子３０１の発光量が正常の発光素子に比べて少ないため、用紙表面から反射して受光素子３０２に入力する光の量も少なくなり、電源電圧がＶ２まで低下すると、発光素子３０１の発光量は正常の発光素子の場合の電源電圧がＶ１における発光量と同じになるからである。このため、劣化した発光素子の場合には、図１Ｃ（ｂ）に示すように紙検出範囲（Ｖ０〜Ｖ２）（電圧差ΔＶ２）は、正常の発光素子の紙検出範囲（Ｖ０〜Ｖ１）（電圧差ΔＶ１）に比べて狭くなる。
【００４２】
［正常の発光素子による紙検出範囲：図１Ｄ］
図１Ｄは、正常な発光素子の紙検出範囲の測定方法を模式的に説明する図である。
【００４３】
図１Ｄ（ａ）に示すように通常使用する電源電圧Ｖ０（所定電圧）を所定量、例えば０．１Ｖずつ減らし発光量を減少しながら、図１Ｄの（ｂ）に示す出力信号を測定する。電源電圧がＶ０〜Ｖ１の範囲では、電源電圧を低下しても出力信号は用紙を検出したことを示すｈｉｇｈ信号を出力するが、電源電圧がＶ１において、出力信号は用紙を検出しないことを示すｌｏｗ信号を出力する様に変化する。そこで、電源電圧Ｖ０を０．１Ｖずつ減らしながら出力信号の変化する電源電圧（Ｖ１）（電圧差ΔＶ１）を測定することにより、正常な発光素子の紙検出範囲を測定することができる。
【００４４】
［劣化した発光素子による紙検出範囲：図１Ｅ］
図１Ｅは、劣化した発光素子の紙検出範囲の測定方法を模式的に説明する図である。
【００４５】
図１Ｅ（ａ）に示すように通常使用する電源電圧Ｖ０（所定電圧）を所定量、例えば０．１Ｖずつ減らし発光量を減少しながら、図１Ｅ（ｂ）に示す出力信号を測定する。電源電圧がＶ０〜Ｖ２の範囲では、電源電圧を低下しても出力信号は用紙を検出したことを示すｈｉｇｈ信号を出力するが、電源電圧がＶ２において、出力信号は用紙を検出しないことを示すｌｏｗ信号を出力する様に変化する。そこで、電源電圧Ｖ０を０．１Ｖずつ減らしながら出力信号の変化する電源電圧（Ｖ２）（電圧差ΔＶ２）を測定することにより、劣化した発光素子の紙検出範囲を測定することができる。
【００４６】
また、図１Ｄと図１Ｅとを比較し、出力信号の変化する電源電圧（Ｖ１またはＶ２）あるいは、通常使用する電源電圧から出力信号の変化する電源電圧までの電圧の差分値（図１Ｄの電圧差ΔＶ１または図１Ｅの電圧差ΔＶ２）を求めることができる。
【００４７】
このように、性能が劣化した発光素子の出力信号の変化する電圧差ΔＶ２を正常な発光素子の出力信号の変化する電圧差ΔＶ１と比較することにより、発光素子の性能劣化を調べることができる。
【００４８】
［発光素子の性能劣化を調べる別の方法：図１Ｆ］
上記の電圧差を利用する以外の発光素子の性能劣化を判別する方法として、図１Ｆに示す別の方法を説明する。図１Ｆは、検査装置（光電方式センサ）の出力信号が変化するときの入力電圧と発光素子の状態の関係を説明する図である。図１Ｄと図１Ｅの比較から、性能劣化した発光素子の出力信号の変化する電圧値Ｖ２は、正常な発光素子の出力信号の変化する電圧値Ｖ１より大きくなる。図１Ｆは、この出力信号が変化するときの入力電圧値を用いて、発光素子の性能劣化を調べる方法であり、測定された発光素子の出力信号が変化する電源電圧Ｖが、例えば、Ｖ１以下の場合を発光素子が劣化していない（図１Ｄ）と判別し、Ｖ１より大きい場合を発光素子が劣化している（図１Ｅ）と判別することにより、発光素子の性能劣化を測定する。
【００４９】
［通紙モードの処理：図３］
次に、本発明に係る光電式センサ３００を画像記録装置のセンサ、例えば、紙パスセンサ（例えば、サイズ検知センサ１０３）として使用した際の通紙モードにおける処理について説明する。なお以下の処理は、例えば、図１Ａのメモリ５００に格納された制御プログラムを用いてＣＰＵ４００が各部を制御しながら実行するものである。
【００５０】
図３は、通紙モードにおける処理を示すフローチャートである。
【００５１】
まず、ステップＳ１で通紙モードが選択された場合、ステップＳ２に進み、原稿が積載トレイ１０１上に積載されたことを確認すると、ステップＳ３に進み、センサ３００の電源をＯＮにする。
【００５２】
次に、ステップＳ４において、センサ３００の出力が変化するまで待機し、センサ３００の出力が変化したのを検出すると、ステップＳ５に進み、原稿先端を検出する。
【００５３】
次に、ステップＳ６において、センサ３００の出力が再度変化するまで待機し、センサ３００の出力が変化したのを検出すると、ステップＳ６に進み、原稿後端を検出する。
【００５４】
次に、ステップＳ８で次の原稿があるかないかを判断し、次の原稿がある場合は、ステップＳ４に戻り、上記説明したステップＳ４〜ステップＳ７までの処理を次の原稿がなくなるまで繰り返し行う。一方、ステップＳ８において、次の原稿がなくなった時点で、ステップＳ９に進み、センサ３００の電源をＯＦＦにし、次にステップＳ１０に進み、センサ３００の発光累積時間をメモリ５００へ書き込んでからステップＳ１１に進み、通紙モードの一連の動作を終了する。
【００５５】
［センサチェックモードの処理：図４］
次に、本発明に係る光電式センサ３００のセンサチェックモードにおける処理の一例を説明する。図４は本発明の光電方式センサ３００を紙パスセンサとして使用した際のセンサチェックモードのフローチャートである。また以下の説明では、上記説明した図１Ｄまたは図１Ｅを参照する。
【００５６】
まず、ステップＳ２１でセンサチェックモードが選択された場合、ステップＳ２２に進み、センサ３００の電源をＯＮにする。
【００５７】
次に、ステップＳ２３に示すように、センサ３００の電源電圧を０．１Ｖずつ減少させていき、ステップＳ２４に示すようにセンサ３００の出力信号が変化するまでステップＳ２３〜ステップＳ２４の工程を繰り返し行う。
【００５８】
次に、ステップＳ２４において、センサ３００の出力が変化したところで、ステップＳ２５に進み、センサ３００の電源電圧変化量（ΔＶ＝Ｖ０−Ｖ）を算出する。ここで、Ｖ０は、例えば、通常使用する電源電圧、Ｖは、出力信号が変化するときの出力電圧である。
【００５９】
次に、ステップＳ２６ではステップＳ２５で算出された電源電圧変化量（ΔＶ）と予め定められた所定値（ΔＶ１＝Ｖ０−Ｖ１、Ｖ１は、例えば、通常使用する電圧（動作保証電圧）の８０％）とを比較し、電源電圧変化量が所定値と同等以上の場合には、何もしないでステップＳ２８に進み、一方、ステップＳ２６で電源電圧変化量が所定値よりも小さい場合には、ステップＳ２７に進みアラーム表示を行ってからステップＳ２８に進む。
【００６０】
ステップＳ２８では、センサ３００の電源をＯＦＦにしてからステップＳ２９に進み、センサ３００の発光時間の累積時間をメモリ５００へ書き込んでからステップＳ３０に進み、センサチェックモードの一連の動作を終了する。
【００６１】
このようにして、センサチェックモードでは、光電方式センサの寿命警告を行うことができる。なお、上記説明では、センサ３００の発光累積時間をメモリ５００に記憶する場合について説明したが、必ずしも発光累積時間を記憶する必要はない。なお、上記説明は一例であり、発光素子の性能劣化の判別に電源電圧変化量を用いる代わりに出力信号の変化するときの電源電圧値を用いてもよい。
【００６２】
［アラーム表示モードの処理：図５］
次に、図４のアラーム表示モードの処理について説明する。図５は本発明の光電方式センサ３００を紙パスセンサとして使用した際のアラーム表示モードでのフローチャートである。
【００６３】
まずステップＳ３１において、図４でアラーム表示が実行された場合、ステップＳ３２に進み、センサ発光累積時間をメモリ５００から読み出す。
【００６４】
次に、ステップＳ３３において、センサ３００の発光累積時間と予め測定されメモリ５００に記憶されているセンサ３００の寿命時間とを比較し、センサ発光累積時間がセンサ３００の寿命時間より大きい場合には、ステップＳ３４に進み、センサの寿命交換表示を行ってからステップＳ３６に進み、一連のアラーム表示モードの処理を終了する。一方、ステップＳ３３においてセンサ発光累積時間がセンサ３００の寿命時間より小さい場合には、ステップＳ３５においてセンサ表面の清掃表示を行ってから、ステップＳ３６に進みアラーム表示モードの一連の処理を終了する。なお、センサの発光累積時間とセンサの発光累積時間については、図６を用いて説明する。
【００６５】
［光電方式センサの発光累積時間と電源電圧との関係：図６］
図６は本発明の光電方式センサの発光累積時間と電源電圧との関係を示すグラフである。センサの寿命による特性を実線で示し、紙粉等のゴミによる影響を加味したときの特性を破線で示す。
【００６６】
すなわち、実線に示すセンサの寿命による特性では、発光累積時間Ａまでは、通常使用する電源電圧とセンサ出力が現れなくなるときの電源電圧の差（ΔＶ）は一定であるが、発光累積時間Ａを超えるとΔＶは徐々に小さくなり、発光累積時間ＣでΔＶ＝０、すなわちセンサ寿命時間となる。
【００６７】
一方、破線に示すセンサ上に紙粉などが堆積した場合の特性は、発光累積時間Ａまでは、通常使用する電源電圧とセンサ出力が現れなくなるときの電源電圧の差（ΔＶ）は一定であるが、発光累積時間Ａを超えるとΔＶは徐々に小さくなり、発光累積時間ＢでΔＶ＝０、すなわちセンサが汚染された場合のセンサ寿命時間となる。
【００６８】
すなわち、発光素子が汚染された場合の発光素子（センサ）寿命時間は、発光素子が正常な場合の発光素子（センサ）寿命時間に比べて短くなる。このように、発光素子が正常な場合の発光素子の寿命時間よりも測定された発光素子寿命時間が短い場合には、発光素子は紙粉等のゴミにより汚染されているために発光素子の本来の特性が発揮されていない場合であり、このような場合には、発光素子の清掃により発光素子出力が復帰する可能性が高い。そこで、発光素子（センサ）が正常な場合の発光素子寿命時間と測定された発光素子寿命時間を比較することにより、発光素子が清掃時期に達したか、あるいは発光素子が寿命に達して発光素子の交換が必要であるかの判断することが可能となる。
【００６９】
【他の実施形態】
なお、本発明は、例えばシステム、装置、方法、プログラムもしくは記憶媒体等としての実施態様をとることが可能であり、具体的には、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
【００７０】
この場合、記憶媒体から読出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【００７１】
プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フロッピディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭなどを用いることができる。
【００７２】
また、コンピュータが読出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【００７３】
さらに、記憶媒体から読出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
【００７４】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した（図３〜５に示す）フローチャートに対応するプログラムコードが格納されることになる。
【００７５】
このように、本発明によれば、複写機やプリンタ等の画像記録装置で各種記憶媒体の検出に用いられる検査装置（光電方式センサ）の発光素子の性能変化を、発光素子に印加する入力電圧を所定電圧から所定量づつ変化させながら対応して得られる出力信号の変化を測定する際に、例えば、出力信号が変化するまでの電圧変化を検出し、検出された電圧変化を正常な発光素子に対して得られる電圧変化と比較することにより、発光素子の性能劣化を精度良く判別することができる。そのため、性能劣化したセンサに対して性能劣化の警告を行うことにより、センサを使用続ける場合の誤動作の防止やセンサの速やかな交換を可能とする。
【００７６】
また、発光素子の性能劣化を検出した場合、発光素子の発光累積時間を計測し、発光素子寿命時間と比較して、発光素子の劣化が寿命に達したためなのか、あるいは発光素子表面が汚れ発光素子の清掃時期に達したかを精度良く判別することができる。そのため、発光素子が寿命に達すると寿命警告をまた発光素子が清掃時期に達すると清掃警告を行うことにより、寿命あるいは清掃時期に達した発光素子を使用続ける場合の誤動作の防止や発光素子の交換あるいは清掃時期の警告を速やかなに行うことができる。
【００７７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光電方式の発光素子の性能変化を精度良く判別することのできる検査装置、その検査装置を各種記憶媒体の検出のために用いる複写機やプリンタ等の装置、それらの制御方法を提供することができる。また、上記の発光素子の性能変化が寿命に達したためか、あるいは清掃時期に達したためかを精度良く判別することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１Ａ】本発明に係る一実施形態の検査装置（光電方式センサ）の回路図の一例である。
【図１Ｂ】本発明に係る一実施形態の光電方式センサ（正常な発光素子）における、電源電圧と発光量の関係および電源電圧と出力信号の関係を模式的に示す図である。
【図１Ｃ】本発明に係る一実施形態の光電方式センサ（劣化した発光素子）における、電源電圧と発光量の関係および電源電圧と出力信号の関係を模式的に示す図である。
【図１Ｄ】本発明に係る一実施形態の光電方式センサ（正常な発光素子）における、電源電圧を低減した場合の発光量の減少および出力信号の変化を模式的に示す図である。
【図１Ｅ】本発明に係る一実施形態の光電方式センサ（劣化した発光素子）における、電源電圧を低減した場合の発光量の減少および出力信号の変化を模式的に示す図である。
【図１Ｆ】本発明に係る一実施形態の検査装置（光電方式センサ）における出力信号が変化するときの入力電圧と発光素子の状態の関係を説明する図である。
【図２】本発明に係る一実施形態の光電方式センサを搭載した画像読取装置の構成を示す図である。
【図３】本発明に係る一実施形態の光電方式センサを画像読取装置の紙パスセンサとして使用した際の通紙時の処理を示すフローチャートである。
【図４】本発明に係る一実施形態の光電方式センサを画像読取装置の紙パスセンサとして使用した際のセンサチェックモードの処理を示すフローチャートである。
【図５】本発明に係る一実施形態の光電方式センサを画像読取装置の紙パスセンサとして使用した際のアラーム表示モードの処理を示すフローチャートである。
【図６】本発明に係る一実施形態の光電方式センサ（正常な状態で使用した場合とセンサ表面に紙粉が付着した場合）の発光累積時間と電源電圧との関係を示すグラフを示す図である。
【符号の説明】
ｒ１  ：原稿読取位置
１００  ：原稿搬送部
１０１  ：積載トレイ
１０２  ：排紙トレイ
１０３  ：給紙ローラ
１０４  ：分離ローラ
１０５ａ、ｂ  ：引き抜きローラ
１０６ａ、ｂ  ：レジストローラ
１０７ａ、ｂ  ：排反ローラ
１０８  ：原稿押さえローラ
１０９ａ、ｂ  ：第１のリードローラ
１１０ａ、ｂ  ：第２のリードローラ
１１１ａ、ｂ  ：第３のリードローラ
１１２ａ、ｂ  ：リードコロ
２００  ：イメージリーダ部
２０１  ：流し読みプラテン
２０２  ：ジャンプ台
２０３  ：ブックプラテン
２０４、２０５、２０６  ：ミラー
２０７  ：レンズ
２０８  ：イメージセンサ
２０９  ：原稿走査用ランプ
２１０  ：スキャナユニット
Ｓ１０１：サイズ検知センサ
Ｓ１０２  ：リードセンサ
Ｓ１０３  ：排反センサ
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図１Ｃ】
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【図１Ｄ】
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【図１Ｅ】
2005047635.tif 000007
【図１Ｆ】
2005047635.tif 000008
【図２】
2005047635.tif 000009
【図３】
2005047635.tif 000010
【図４】
2005047635.tif 000011
【図５】
2005047635.tif 000012
【図６】
2005047635.tif 000013