(57)【要約】 【課題】  特殊な記録パターンを用いることなく、使用する光ディスクに最適なパラメータを短時間で設定することができる光ディスク装置を提供することを目的とする。【解決手段】  光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測する手段と、計測されたマーク長およびスペース長と理論長にに基づいて、ライトストラテジが変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出する手段と、算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する手段とを有することにより、使用する光ディスク固有の伸縮量を短時間で算出することができる光ディスク装置を提供する。【選択図】  図１          
2005149580.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、
該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測する計測手段と、
該計測結果を記憶する計測値記憶手段と、
各マークおよびスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、
前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するデビエーション値算出手段と、
該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する伸縮量算出手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記設定パラメータが記録パルス先端のエッジ位置、記録パルス終端のエッジ位置、最終マルチパルスの終端エッジ位置、最終オフパルスの立ち上がりエッジ位置、最終オフパルスのパルス幅、パワードパルス幅、マルチパルス幅、先頭パルスのパルス幅であることを特徴とする請求項１に記載された光ディスク装置。
【請求項３】
前記光情報記録媒体に記録された信号のジッタ値を測定するジッタ値測定手段と、
前記設定パラメータのうち２つ以上のパラメータを変化させるときに、すべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する順序を決定する順序決定手段とを有し、
前記順序決定手段が、基準ライトストラテジで情報を記録したときの各エッジ前後のデビエーション値と、各設定パラメータを変化させて記録した信号のジッタ値とに基づいて、各設定パラメータに対応したすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する順序を決定することを特徴とする請求項１または請求項２に記載された光ディスク装置。
【請求項４】
前記算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークおよびスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段をさらに有することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク装置。
【請求項５】
前記ライトストラテジ設定手段が、前記補正値の算出を各マークおよびスペースの存在確率が高い順番に行うことを特徴とする請求項４に記載された光ディスク装置。
【請求項６】
光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行うためのプログラムであって、
光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、
該光情報記録媒体に基準ストラテジで情報を記録するステップと、
該基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで情報を記録するステップと、
前記記録されたマーク長およびスペース長を計測して、記憶するステップと、
該記憶されたマーク長およびスペース長と各マークおよびスペースの理論長に基づいて、各マークおよびスペースに関するそれぞれのデビエーション値を算出するステップと、
該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出するステップと、
を実行するためのプログラム。
【請求項７】
前記設定パラメータが記録パルス先端のエッジ位置、記録パルス終端のエッジ位置、最終マルチパルスの終端エッジ位置、最終オフパルスの立ち上がりエッジ位置、最終オフパルスのパルス幅、パワードパルス幅、マルチパルス幅、先頭パルスのパルス幅であることを特徴とする請求項６に記載されたプログラム。
【請求項８】
さらに、前記２つ以上のパラメータを変化させるときに、基準ライトストラテジで情報を記録したときの各マークあるいはスペースのエッジ前後におけるデビエーションを算出するステップと、
前記デビエーション値により選定された特定の設定パラメータを変化させたライトストラテジにより記録された信号のジッタ値を測定するステップと、
該測定されたジッタ値に基づいて、１の設定パラメータを特定し、あるいは、設定パラメータごとの実行順序を決定するステップと、
を実行するための請求項６または請求項７に記載されたプログラム。
【請求項９】
さらに、前記算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークおよびスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップを実行するための請求項６から請求項８のいずれかに記載されたプログラム。
【請求項１０】
前記ライトストラテジを設定するステップにおいて、前記補正値の算出をマークおよびスペースの存在確率が高い順番に実行するための請求項９に記載されたプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤやＤＶＤ等の光記録媒体に情報を記録し、再生する光ディスク装置および光情報記録方法に関する。        
【背景技術】
【０００２】
近年、情報通信技術の発達により、インターネット等が目覚しい勢いで普及したことにより、ネットワークを介して多くの情報がさかんにやり取りされている。こうした状況の中、近年、情報記録装置の分野において、ＣＤ−Ｒなどの追記型光ディスクやＣＤ−ＲＷなどの書き換え型光ディスクが記録媒体として注目を浴びており、最近では、レーザ光源としての半導体レーザの短波長化、高い開口数（Numerical Aperture)を有する高ＮＡ対物レンズによるスポット径の小径化、及び薄型基板の採用などにより、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量の光ディスクが情報記録装置において用いられている。
【０００３】
ＣＤ−Ｒ等への情報の記録は、ＰＣ（ＰＣ：Personal Computer）等から与えられた記録情報をＥＦＭ（ＥＦＭ：Eight to Fourteen Modulation)信号に変換して行われるが、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いから、記録媒体の蓄熱や冷却速度の不足に起因するマークの形成不良等の問題が生じるために、ＥＦＭ信号をそのまま記録しようとしても、所望のランドやスペースを形成することはできない。
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスク固有の記録パラメータ（以下、これをライトストラテジという。）を定めて良好な記録品質を維持する方式が採用されている。
【０００４】
このライトストラテジは、上記のように、光ディスクの色素、相変化材料、色素の膜厚あるいは溝の形状等ばかりでなく、記録速度とも密接な関係があることが知られている。一般に、代表的なライトストラテジは、ピットとランドの比率を可変する方法、記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法、ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法、記録パルスをマルチパルス化する方法等がある。
【０００５】
ピットとランドの比率を可変する方法は、低速記録時にピットの長さを短くすることにより、強い記録パワーで短いパルスを光ディスクに照射することで、生成されるピットの先端および終端の形状を良くする作用がある。
記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法は、レーザの照射が熱に変換されにくいピットの先端部に対して、付加的に記録パワーを与えることにより、形成されるピット先端部の形状を良くする作用がある。
【０００６】
ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法は、例えば、ひとつ前のピットの熱がランドを伝わって次のピットに影響を与えることから、前のランドの長さに応じて、ランドの終端位置を変えたり、記録ピットの熱が前方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの先端位置を変えたり、記録ピットの熱が後方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの終端位置を変えたり、ひとつ後ろのピットの熱が、後のランドを伝わって影響を及ぼすために、後ろのランドの長さに従って、ランドの先端位置を変えることにより、形成されるピットおよびランドの長さのばらつきを均一化できる作用がある。
【０００７】
記録パルスをマルチパルス化する方法は、ＣＤ−ＲＷ等の相変化型ディスクあるいはＤＶＤに用いられる方法である。相変化型ディスクに連続したパルスで情報の記録を行うと、自身の熱の作用によって記録したピットの先端部分を消去してしまうため、ピット間に冷却期間を設けたマルチパルスが用いられるのである。
【０００８】
このようなライトストラテジは、上述のように、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いや記録速度の違いにより、使用する光ディスクごとに最適化されて用いられるが、このライトストラテジの最適化を行うドライブメーカは、このために大変な時間と工数を要しているのが現状である。
また、市場には、ドライブメーカが把握しきれないほどの大量の種類におよぶ光ディスクが流通していることから、市場に流通しているすべての光ディスクについて予め適切なライトストラテジを用意することは不可能である。
【０００９】
このような問題に対して、光ディスクのテストエリアにおいて、複数のトラックにライトストラテジを変化させた複数の情報を記録し、再生ジッタが最小となるストラテジを選択する方法（例えば、特許文献１参照。）や特殊な記録パターンにより情報を記録した後に、マークとスペースとの組み合わせによるジッタ値あるいはデビエーション値が最も小さくなる組み合わせを求める方法（例えば、特許文献２参照。）が提案されている。
【特許文献１】特開２０００−３０２５４号公報
【特許文献２】特開２００３−３０８３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、前者の方法では、最終的に選択されるライトストラテジが、設定したライトストラテジの中で最良のライトストラテジであるにすぎず、必ずしも、使用する光ディスクに最適なライトストラテジとは言えない。また、テストに要する記録領域だけトラックを使用してしまうという問題がある。
また、後者の方法では、特殊な記録パターンを使用する関係上、特定のマークあるいはスペースを変化させたときの他のマークあるいはスペースへの影響が十分考慮されないために、一度の記録再生テストにより、使用する光ディスクに最適なライトストラテジを設定することは極めて困難であるという問題がある。        
【００１１】
そこで、本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、特殊な記録パターンを用いることなく、使用する光ディスクに最適なパラメータを短時間で設定することができる光ディスク装置、光情報記録方法およびプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の課題を解決するために、本発明は以下の事項を提案している。
請求項１に係る発明は、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測する計測手段と、該計測結果を記憶する計測値記憶手段と、各マークおよびスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するデビエーション値算出手段と、該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する伸縮量算出手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１３】
請求項６に係る発明は、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行うためのプログラムであって、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、該光情報記録媒体に基準ストラテジで情報を記録するステップと、該基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで情報を記録するステップと、前記記録されたマーク長およびスペース長を計測して、記憶するステップと、該記憶されたマーク長およびスペース長と各マークおよびスペースの理論長に基づいて、各マークおよびスペースに関するそれぞれのデビエーション値を算出するステップと、該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出するステップとを実行するためのプログラムを提案している。
【００１４】
これらの発明によれば、基準ライトストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長の理論長に対するデビエーションと各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出するため、２回の記録動作により、同じライトストラテジで記録した場合の各光情報記録媒体固有の伸縮量を短時間に把握することができる。
【００１５】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載された光ディスク装置について、前記設定パラメータが記録パルス先端のエッジ位置、記録パルス終端のエッジ位置、最終マルチパルスの終端エッジ位置、最終オフパルスの立ち上がりエッジ位置、最終オフパルスのパルス幅、パワードパルス幅、マルチパルス幅、先頭パルスのパルス幅であることを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１６】
請求項７に係る発明は、請求項６に記載されたプログラムについて、前記設定パラメータが記録パルス先端のエッジ位置、記録パルス終端のエッジ位置、最終マルチパルスの終端エッジ位置、最終オフパルスの立ち上がりエッジ位置、最終オフパルスのパルス幅、パワードパルス幅、マルチパルス幅、先頭パルスのパルス幅であることを特徴とするプログラムを提案している。
【００１７】
請求項３に係る発明は、請求項１または請求項２に記載された光ディスク装置について、前記光情報記録媒体に記録された信号のジッタ値を測定するジッタ値測定手段と、前記設定パラメータのうち２つ以上のパラメータを変化させるときに、すべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する順序を決定する順序決定手段とを有し、前記順序決定手段が、基準ライトストラテジで情報を記録したときの各エッジ前後のデビエーション値と、各設定パラメータを変化させて記録した信号のジッタ値とに基づいて、各設定パラメータに対応したすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する順序を決定することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１８】
請求項８に係る発明は、請求項６または請求項７に記載されたプログラムについて、さらに、前記２つ以上のパラメータを変化させるときに、基準ライトストラテジで情報を記録したときの各マークあるいはスペースのエッジ前後におけるデビエーションを算出するステップと、前記デビエーション値により選定された特定の設定パラメータを変化させたライトストラテジにより記録された信号のジッタ値を測定するステップと、該測定されたジッタ値に基づいて、１の設定パラメータを特定し、あるいは、設定パラメータごとの実行順序を決定するステップと、を実行するためのプログラムを提案している。
【００１９】
これらの発明によれば、順序決定手段の作動により、基準ライトストラテジで情報を記録したときの各エッジ前後のデビエーション値と、各設定パラメータを変化させて記録した信号のジッタ値とに基づいて、各設定パラメータに対応したすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する順序を決定するため、特に、２つ以上の設定パラメータを変化させたときに、その結果のばらつきが生じやすいという問題を解消し、最適な処理順序を決定することができる。
【００２０】
請求項４に記載された発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載された光ディスク装置について、前記算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークおよびスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段をさらに有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００２１】
請求項９に記載された発明は、請求項６から請求項８のいずれかに記載されたプログラムについて、さらに、前記算出されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークおよびスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出し、最適なライトストラテジを設定するステップを実行するためのプログラムを提案している。
【００２２】
これらの発明によれば、すべてのマークおよびスペース固有の伸縮量と存在確率に基づいて、すべてのマークおよびスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出されるため、他のマークおよびスペースの変動による反動量をも考慮したすべての光情報記録媒体に最適なライトストラテジを短時間に設定することができる。
【００２３】
請求項５に記載された発明は、請求項４に記載された光ディスク装置について、前記ライトストラテジ設定手段が、前記補正値の算出を各マークおよびスペースの存在確率が高い順番に行うことを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００２４】
請求項１０に記載された発明は、請求項９に記載されたプログラムについて、前記ライトストラテジを設定するステップにおいて、前記補正値の算出をマークおよびスペースの存在確率が高い順番に実行するためのプログラムを提案している。
【００２５】
これらの発明によれば、補正値の算出を他のマークおよびスペースに影響を与える度合いの大きい存在確率の高い順番に行うこととしたことから、すべての光情報記録媒体に最適なライトストラテジを短時間に設定することができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、特殊な記録パターンを用いることなく、他のマークおよびスペースの影響をも考慮した最適なライトストラテジを設定することができるという効果がある。
また、各マークおよびスペースの存在確率を利用することにより、少ないの情報の記録再生動作により、最適なライトストラテジを設定することができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明の実施例に係る光ディスク装置について図１から図１２を参照して詳細に説明する。
【実施例１】
【００２８】
本発明の実施例に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ディスク１と、光ピックアップ２と、ヘッドアンプ３と、データデコーダ４と、記録長検出部５と、ＲＯＭ６と、ＲＡＭ７と、デビエーション算出部８と、パラメータ調整部９と、記録パルス列補正部１０と、制御部１１と、補正値算出順序決定部１２と、コントローラ１３と、データエンコーダ１４と、レーザ駆動部１５とから構成されている。
【００２９】
光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去を行える光情報記録媒体であり、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等がある。
光ピックアップ２は、図示しないレーザダイオード等のレーザ光源や、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータとによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等の光学部品、及びＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に分割され、光を電気信号に変換する４分割あるいは２分割のフォトディテクタ（ＰＤ）あるいは記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオード等を備えている。
【００３０】
ヘッドアンプ３は、光ディスク１からの反射光を検出し、検出した反射光より反射光量を演算して、４分割ＰＤの各領域への反射光量の総和を示すＲＦ信号を生成するとともに、光ピックアップ２の照射レーザの焦点ずれを検出した信号であるフォーカスエラー信号（ＦＥ）を非点収差法によって生成し、さらに光ピックアップ２の照射レーザのトラックずれを検出した信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ）をプッシュプル法によって生成する。また、本実施例においては、生成したＲＦ信号のジッタ値を測定する機能およびＲＦ信号からアシンメトリを検出する機能をも有している。
【００３１】
データデコーダ４は、ヘッドアンプ３において生成されたＲＦ信号からＥＦＭ信号を生成し、さらにこれを所望の形式の信号に変換してコントローラ１３に出力する。
記録長検出部５は、データデコーダ４からＥＦＭ信号を入力し、図示しない時間計測回路により、入力したＥＦＭ信号のパルス幅を測定する。ＲＯＭ６は、書き換え不能の記憶装置であり、光ディスク装置全体を制御するための制御プログラムや基準ライトストラテジ、各マークおよびスペースの理論長あるいは各マークおよびスペースの組合せにおける存在確率等が記憶されている。
【００３２】
ＲＡＭ７は書き換え可能な記憶装置であり、光ディスクごとの補正量、記録長検出部５から入力した記録長の測定結果、記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とのデビエーション値、各マークおよびスペース固有の伸縮量あるいは測定したジッタ値等が一時的に記憶される。
デビエーション算出部８は、ＲＡＭ７内に記憶された記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とのデビエーション値、さらに、すでにデビエーション値を算出した結果同士を対比してさらにデビエーション値を算出する。
【００３３】
パラメータ調整部９は、ＲＡＭ７に記憶されたすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量とＲＯＭ６に記憶された存在確率に基づいて、すべてのマークおよびスペースのデビエーション値が所定の範囲になるように、基準ライトストラテジに対する補正値を算出する。
記録パルス列補正部１０は、パラメータ調整部９から補正値を入力し、これに基づいて記録パルス列を使用する光ディスクに最適な記録パルス列に補正する。
【００３４】
制御部１１は、光ディスク装置全体を制御プログラムにしたがって光ディスクに対する情報の記録および再生動作に関する制御を行う。
補正値算出順序決定部１２は、基準ライトストラテジで情報を記録したときの各エッジ前後のデビエーション値と、各設定パラメータを変化させて記録した信号のジッタ値とに基づいて、各設定パラメータに対応したすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する順序を決定する。
【００３５】
コントローラ１３は、記録信号をデータエンコーダ１４に供給し、また、データデコーダ４から記録信号の読み出す装置であり、データエンコーダ１４は、コントローラ１３からの記録信号をＥＦＭ信号等に変換して記録パルス列補正部１０に出力する。レーザ駆動部１５は、入力した記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ２内の図示しない半導体レーザに供給する。
【００３６】
次に、図２から図４を用いて、各マークおよびスペース固有の伸縮量を算定する方法について説明する。
本実施例においては、各マークおよびスペースの組合せによる存在確率を利用して、他のスペースあるいはマークの長さが変化したときの影響度を求め、これを利用して各マークおよびスペース固有の伸縮量を算定している。
これを図４を用いて説明すると、本来、ＥＦＭ信号のマークとスペースは、マーク長の総和とスペース長の総和が等しくなるように構成されている。したがって、例えば、あるスペースの長さが長くなると、マークとスペースの分布バランスが崩れてしまい、これを補正するために、変化した特定のスペースを含め、全体的にスペースの長さが長くなる。この現象は、実際の再生波形（ＲＦ信号）においては、スライスレベルが変化した状態で現われることになる。
【００３７】
具体的に、ＥＦＭ信号のうち、３ＴスペースをΔＴ（３Ｔ）だけ伸ばした場合の他のスペース、すなわち、４Ｔから１１Ｔのスペース長の変化をみてみると、図４（ａ）のようになる。なお、図４（ａ）は、縦軸に理論長に対するデビエーションを、横軸に３Ｔから１１Ｔを割り当てたものであり、各線は、３Ｔスペースのデビエーションが０の場合、１４．４ｎｓ、２８．８ｎｓ、４３．２ｎｓのデビエーションをそれぞれ加えた場合のそれぞれのデビエーションの変化を示している。
【００３８】
いま、ＥＦＭ信号における３Ｔスペースの存在確率を３３％とすれば、４Ｔから１１Ｔスペースの変化量との間には、数１の関係が成り立つ。
【００３９】
【数１】
2005149580.tif 000003
【００４０】
これから、４Ｔから１１Ｔスペースの変化量は、３Ｔスペースの変化量の約半分になることがわかる。このことは、図４（ａ）に示す実測結果によっても裏付けられており、図４（ｂ）に示すように、存在確率の低い６Ｔスペースを同様に変化させた場合には、他のマークあるいはスペースの長さに与える影響度合いは極めて小さいことがわかる。
よって、各マークおよびスペースの組合せによる存在確率を利用すれば、特定のマークあるいはスペースの長さが変化した場合の他のマークあるいはスペースの長さに関する影響度を把握することが可能となる。
【００４１】
この考え方をベースとして、本実施例における各マークおよびスペース固有の伸縮量を算定する方法を図２および図３を用いて説明すると、制御部１１は、ＲＯＭ６に格納してある基準ライトストラテジを記録パルス列補正部にセットして、記録動作を実行する（ステップ１０１）。次に、基準ライトストラテジに対して、他のマークおよびスペースに対して影響度の高い、存在確率の高い３Ｔスペースから５Ｔスペース前の３Ｔマークから５Ｔマークをライトストラテジを設定できる最小分解能の整数倍だけのばしたライトストラテジで記録動作を実行する（ステップ１０２）。なお、後の処理を考慮すれば、伸張量は、最小分解能であるほうが良いが、最小分解能が極めて小さい値であることを考えれば、誤差の影響を小さくする意味でも最小分解能の整数倍とすることが望ましい。
【００４２】
それぞれの記録動作が完了すると、それぞれの記録信号を再生し、記録長検出部５において、すべてのマークおよびスペースの組合せにおける記録長を測定し、測定結果をライトストラテジごとに、ＲＡＭ７に格納する（ステップ１０３）。
デビエーション算出部８は、ＲＡＭ７に格納された基準ストラテジで記録したときの記録長とＲＯＭ６に格納されたすべてのマークおよびスペースの組合せにおける理論長とのデビエーション（図３（ａ）参照）および上記の所定のマークおよびスペースを最小分解能の整数倍だけのばしたライトストラテジで記録した場合の記録長とＲＯＭ６に格納されたすべてのマークおよびスペースの組合せにおける理論長とのデビエーション（図３（ｂ）参照）を算出し（ステップ１０４）、さらに両者のデビエーション値（図３（ｃ）参照）を算出する（ステップ１０５）。なお、基準ライトストラテジに対する３Ｔスペースから５Ｔスペース前の３Ｔマークから５Ｔマークの伸張量が最小分解能の整数倍であるときは、求めたデビエーション値を前記整数値で除算して、最小分解能に対するデビエーション値とする。
【００４３】
ここで、図３（ｃ）示すような算出したデビエーション値から各マークおよびスペース固有の伸縮量を算出するためには、上記で説明した各マークおよびスペースの組合せによる存在確率を用いて行う。いま、例えば、図３（ｃ）の３ＴＰの横軸に注目すると、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせによる固有の伸縮量は、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせにおけるデビエーション値から、他のマークおよびスペースの変動による影響を除去したものとなるから、３Ｔマークと３Ｔスペース、４Ｔスペース、５Ｔスペースの組合せにおける固有の伸縮量をそれぞれ、ΔＴ（３、３）、ΔＴ（４、３）、ΔＴ（５、３）とし、それぞれの組合せの存在確率をＲ（３、３）、Ｒ（４、３）、Ｒ（５、３）と、３Ｔマークと３Ｔスペースのデビエーション値をＡとすると、数２のような関係になる。
【００４４】
【数２】
2005149580.tif 000004
【００４５】
一方、図３（ｃ）の太線部分に注目すると、６Ｔマークあるいは６Ｔスペースが含まれる組合せにおいては、６Ｔマークあるいは６Ｔスペースが変動していないにも関わらず、各組合せにおいて、近い値のデビエーションが存在している。このデビエーションは、３Ｔスペースから５Ｔスペース前の３Ｔマークから５Ｔマークの長さを変化させたことによる影響が集約されたものである。
【００４６】
したがって、例えば、３Ｔマークと６Ｔスペースのデビエーション値をＺとすると、Ｚは、数３のように表され、この式を数２に代入すれば、数４が得られる。数４を図３（ｃ）の数値にしたがって、具体的に記述すると、数５のようになり、各マークおよびスペースの組合せにおける存在確率は明らかであるから、この関係式を用いることにより、各マークおよびスペースの組合せにおける固有の伸縮量を求めることができる（ステップ１０５）。
【００４７】
【数３】
2005149580.tif 000005
【００４８】
【数４】
2005149580.tif 000006
【００４９】
【数５】
2005149580.tif 000007
【００５０】
次に、図５から図８を用いて、２つ以上の設定パラメータを変化させる場合の最適なストラテジパラメータの設定方法について説明する。なお、説明にあっては、記録パルスの立上がりエッジおよび立下りエッジの２箇所のみが可変可能な場合を想定し、図５に示すように、４種類想定される調整方法について、どの調整方法を選択することが有効であるかを決定する手順について説明する。
【００５１】
まず、制御部１１は、基準ライトストラテジによる記録動作を実行し、マークの立下りエッジ前のマークおよびマークの立下りエッジ後のスペース、マークの立上りエッジ前のスペースおよびマークの立上りエッジ後のマークのデビエーションを測定する（ステップ２０１）。この結果を例えば、図７に示す。次に、マークの立下りおよび立上りエッジごとに測定したデビエーションの和を算出し、各デビエーションのバラツキを測定する。一般に、エッジに対する前側および後側のデビエーションを調整するにあたっては、一方を調整すると、もう一方もその反動で調整される関係にあるため、各デビエーションのバラツキが少ない方を選択した方が効果が大きい。そのため、図７の例で言えば、立上りエッジを選択した方が効果が高い（ステップ２０２）。
【００５２】
そこで、次に、立上りエッジに関連するパラメータ（図５の例では、(３)と（４））をそれぞれ変化させたストラテジ（例えば、（ｎ＋０．５）Ｔ）で情報を記録したときの３Ｔジッタを測定する（ステップ２０３）。そして、両者のジッタ値のうち、値の悪い方のパラメータを調整パラメータとして設定する。これは、ジッタ値の悪い方を調整のターゲットとした方が改善効果が大きいためである。したがって、図５の例では、最終的に、(３)のパラメータが選択されることになる。
【００５３】
次に、図９および図１０を用いて、最適なライトストラテジを設定するための補正値の算出方法について説明する。
本実施例の補正値算出方法は、先程、説明した最小分解能に相当する伸縮に対応する固有の伸縮量を用いて、基準ライトストラテジで情報を記録した場合のストラテジを最小分解能以下に押さえ込むことにより、最適なライトストラテジを設定するものである。
また、各マークおよびスペースの補正値の追い込みは、存在確率が高い順番に処理することを特徴としている。すなわち、存在確率の高いマークおよびスペースの組合せを調整（図１０の処理順序を参照。）すると、その影響が他のマークおよびスペースの組合せに大きく作用することから、こうした処理を行うことにより、短時間で、各補正値を収束することができる。
【００５４】
具体的には、図９に示すように、存在確率の最も高い３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせについて、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より大きいか否かを判断する（ステップ３０１）。判断の結果、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より大きいときには、デビエーションを補正するとともに、他のマークおよびスペースの組合せについても存在確率に基づいてデビエーション値を調整する（ステップ３０２）。
【００５５】
一方で、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より小さいときには、次に存在確率の高い３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせについて調整を行う（ステップ３０３）。なお、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせについて調整についても、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせと同様の処理が行われ（ステップ３０３、３０４）、こうした処理が１１Ｔマークと１１Ｔスペースの組合わせについてまで実行される。
【００５６】
図１１は、ＣＤ−Ｒディスクに記録速度を変化させて、情報を記録した場合の性能比較をβ値とジッタ値に基づいて評価したものである。ここで、Auto WSとは、本発明により、最適なストラテジを設定して記録を行った場合、設定 WSとは、従来通り、熟練した知識をもつドライブの設計者が最適なライトストラテジを設定して記録した場合、Ａ社、Ｂ社、Ｃ社とは、それぞれのメーカのドライブで同一のディスクを記録して評価した場合である。これによると、本発明のライトストラテジ設定方法により設定されたライトストラテジによる記録品質は、熟練した知識をもつドライブの設計者が設定したライトストラテジと変わらぬ記録品質を有していることが分かる。
【００５７】
また、図１２は、本発明のライトストラテジ設定プログラムを用いた場合の記録品質の違いを示したものである。同左上図は、基準ライトストラテジで記録した場合の初期のランドに関するデビエーションを示したグラフである。なお、このときのピットジッタ値は、２６．２ｎｓ、ランドジッタ値は、３８．０ｎｓである。
同左中段の図は、計算により求めた各ランド固有の伸縮量であり、同左上図は、計算により求めた各ランド固有の伸縮量および各ランドの存在確率等に基づいて初期のデビエーションに補正を加えた後のデビエーションの分布を示している。このときのピットジッタ値は、２４．８ｎｓ、ランドジッタ値は、２３．９ｎｓであり、初期状態からは、明らかな改善効果が見られる。
【００５８】
以上、図面を参照して本発明の実施の形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】光ディスク装置の構成図である。
【図２】固有の伸縮量を求めるための処理フローである。
【図３】求められるデビエーションの一例を示す図である。
【図４】３Ｔマークあるいは６Ｔマークの長さを変化させたときの他のマークへの影響度を示す図である。
【図５】最適な調整パラメータを選択する手順を示した図である。
【図６】最適な調整パラメータを選択する手順を説明するための具体例を示す図である。
【図７】最適な調整パラメータを選択する手順を説明するための具体例を示す図である。
【図８】最適な調整パラメータを選択する手順を説明するための具体例を示す図である。
【図９】最適なライトストラテジを求めるための手順を示した図である。
【図１０】最適なライトストラテジを求めるための調整順序を示した図である。
【図１１】本発明の効果を示す図である。
【図１２】本発明の効果を示す図である。
【符号の説明】
【００６０】
１・・・光ディスク、２・・・光ピックアップ、３・・・ヘッドアンプ、４・・・データデコーダ、５・・・記録長検出部、６・・・ＲＯＭ、７・・・ＲＡＭ、８・・・デビエーション算出部、９・・・パラメータ調整部、１０・・・記録パルス列補正部、１１・・・制御部、１２・・・補正値算出順序決定部、１３・・・コントローラ、１４・・・データエンコーダ、１５・・・レーザ駆動部、
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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