(57)【要約】【課題】プラズマディスプレイパネルの点灯検査時に、パネル自体の温度を反映した、より正確な点灯検査を行う。【解決手段】プラズマディスプレイパネル７の特性値を測定する測定手段（制御装置１８、カメラ１９、カメラ制御部２０）と、プラズマディスプレイパネル７の温度であるパネル温度を検出する温度検出手段（温度センサ２１、温度検出回路２２）と、検査の合否判定を行う判定手段（比較回路２３）とを備え、判定手段（比較回路２３）は、パネル温度に応じて設定される基準値と測定された特性値とを比較することにより合否判定を行う。【選択図】図４
2005166517.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査装置において、プラズマディスプレイパネルの特性値を測定する測定手段と、前記プラズマディスプレイパネルの温度であるパネル温度を検出する温度検出手段と、検査の合否判定を行う判定手段とを備え、前記判定手段は、前記パネル温度に応じて設定される基準値と測定された特性値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置。
【請求項２】
プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査装置において、プラズマディスプレイパネルの特性値を測定する測定手段と、前記プラズマディスプレイパネルの温度であるパネル温度を検出する温度検出手段と、検査の合否判定を行う判定手段と、前記プラズマディスプレイパネルを所定温度近傍の温度に冷却する冷却装置を備え、前記判定手段は、パネル温度が所定温度であるとして設定された基準値と測定された特性値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置。
【請求項３】
プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査方法において、プラズマディスプレイパネルの特性値を測定するとともに、前記プラズマディスプレイパネルの温度であるパネル温度を検出し、検査の合否判定を行うときの基準値を、検出した前記パネル温度に応じて設定し、測定された特性値と前記基準値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項４】
プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査方法において、検査の合否判定を行うときの基準値を、パネル温度が所定温度であるとしたときに設定される値とし、パネル温度が前記所定温度近傍の温度になるようにプラズマディスプレイパネルを冷却して前記プラズマディスプレイパネルの特性値を測定し、その測定された特性値と前記基準値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルに駆動回路を実装する前に、プラズマディスプレイパネルに点灯信号を入力して表示し、点灯検査を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置と点灯検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、プラズマディスプレイパネルは駆動回路が実装され製品化される。製造工程では、実装工程への不良パネルの流出を防ぐため、駆動回路を実装する前にプラズマディスプレイパネルに点灯信号を入力し、点灯検査を行っている。
【０００３】
図９は、従来のプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置のブロック図である。プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置は、パネル保持部１および駆動回路２を備えたパネル検査部３と、駆動回路２へ電力を供給する電源４と、駆動回路２へ信号を供給する信号発生装置５と、電源４および信号発生装置５を制御するパーソナルコンピュータ等の制御装置６で構成されている。パネル保持部１にはプラズマディスプレイパネル７が装着され、駆動回路２によってプラズマディスプレイパネル７が駆動されて点灯する。
【０００４】
プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置として、検査用プローブピンを用いたもの（例えば特許文献１参照）が知られているが、この検査用プローブピンに代えて、フレキシブルプリント配線板（ＦＰＣ）に形成した電極を点灯検査用のプローブとして用いることも考えられている。
【特許文献１】特許第２９５３０３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
プラズマディスプレイパネルでは、点灯状態によってパネル自体の温度が変化し、またパネルを点灯させるために必要な電圧値などのパネル特性がパネル自体の温度によって変化するが、従来のプラズマディスプレイパネルの点灯検査においてはパネル自体の温度を検出するようにしていないために、パネル自体の温度を正確に反映した点灯検査を行えておらず、検査結果が不正確になる場合があった。
【０００６】
本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、プラズマディスプレイパネルの点灯検査時に、パネル自体の温度を反映した、より正確な点灯検査を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置は、プラズマディスプレイパネルの特性値を測定する測定手段と、前記プラズマディスプレイパネルの温度であるパネル温度を検出する温度検出手段と、検査の合否判定を行う判定手段とを備え、前記判定手段は、前記パネル温度に応じて設定される基準値と測定された特性値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの点灯検査において、パネル自体の温度に基づいて適合品か否かを判定するので、より正確な点灯検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
請求項１に記載の発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査装置において、プラズマディスプレイパネルの特性値を測定する測定手段と、前記プラズマディスプレイパネルの温度であるパネル温度を検出する温度検出手段と、検査の合否判定を行う判定手段とを備え、前記判定手段は、前記パネル温度に応じて設定される基準値と測定された特性値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置である。
【００１０】
また、請求項２に記載の発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査装置において、プラズマディスプレイパネルの特性値を測定する測定手段と、前記プラズマディスプレイパネルの温度であるパネル温度を検出する温度検出手段と、検査の合否判定を行う判定手段と、前記プラズマディスプレイパネルを所定温度近傍の温度に冷却する冷却装置を備え、前記判定手段は、パネル温度が所定温度であるとして設定された基準値と測定された特性値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置である。
【００１１】
また、請求項３に記載の発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査方法において、プラズマディスプレイパネルの特性値を測定するとともに、前記プラズマディスプレイパネルの温度であるパネル温度を検出し、検査の合否判定を行うときの基準値を、検出した前記パネル温度に応じて設定し、測定された特性値と前記基準値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法である。
【００１２】
また、請求項４に記載の発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う点灯検査方法において、検査の合否判定を行うときの基準値を、パネル温度が所定温度であるとしたときに設定される値とし、パネル温度が前記所定温度近傍の温度になるようにプラズマディスプレイパネルを冷却して前記プラズマディスプレイパネルの特性値を測定し、その測定された特性値と前記基準値とを比較することにより合否判定を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法である。
【００１３】
以下、本発明の一実施の形態について図面を参照しながら説明する。
【００１４】
（実施の形態１）
プラズマディスプレイパネルは、Ｘ電極およびＹ電極が対をなして複数個（ｎ個）配列された前面基板と、アドレス電極が複数個（ｍ個）配列された背面基板とを、間に放電空間を形成するように対向配置して構成されており、Ｘ電極およびＹ電極とアドレス電極とは直角に立体交差している。前面基板上には、Ｘ電極およびＹ電極を覆うように誘電体層が形成され、誘電体層上には保護層が形成されている。また、背面基板上には、アドレス電極を覆うように絶縁体層が形成され、絶縁体層上にはアドレス電極間に位置するように隔壁が設けられており、隔壁で仕切られた領域には蛍光体層が形成されている。そして、１対のＸ電極およびＹ電極と１つのアドレス電極とが立体交差する部分に放電セルが形成される。すなわち、ｎ行のＸ電極およびＹ電極とｍ列のアドレス電極とによってｍ×ｎ個の放電セルが形成される。そして、各放電セルにおいて発生する放電を制御することにより映像が表示される。
【００１５】
図１は、本実施の形態におけるプラズマディスプレイパネルのドライバ構成を示す図である。前述のように、プラズマディスプレイパネル７は、一対のＸ電極８およびＹ電極９とアドレス電極１０との立体交差部に放電セルを形成して構成されている。そして、Ｘ電極ドライバ１１はＸ電極８に接続され、Ｙ電極ドライバ１２はＹ電極９に接続され、アドレス電極ドライバ１３はアドレス電極１０に接続されており、各ドライバは駆動回路１４からの信号を受けてそれぞれ接続された電極に駆動信号を供給する。
【００１６】
プラズマディスプレイパネル７を駆動して映像表示を行う場合、映像信号の１フィールド期間を輝度の重みづけを有する複数のサブフィールドに分割し、各サブフィールドで輝度の重みづけに対応した回数だけ放電セルにおいて放電を起こす。そして、放電を起こすサブフィールドを組み合わせることにより映像信号の階調を表現している。
【００１７】
図２は、プラズマディスプレイパネルを駆動する際に、Ｘ電極８、Ｙ電極９およびアドレス電極１０に印加する駆動波形の一例を示す図であり、１つのサブフィールドについて示している。図２に示すように、１サブフィールドは、リセット期間、アドレス期間および維持放電期間の３つの期間を有している。
【００１８】
リセット期間では、次のアドレス期間における書き込み放電を安定化させるためと、駆動ドライバＩＣの消費電力を抑え低いアドレス電圧で高速に書き込み放電を行うために、全画面一括消去、全画面一括書き込み、全画面一括消去の３段階の動作が為される。最初の全画面一括消去では、全てのＸ電極８に、壁電荷の残留分のみを消去するようにイレーズパルスＶｅを印加する。これは、前のサブフィールドでの維持放電期間における表示状態、すなわち、全放電セル数に対する維持放電している放電セル数の割合等によって壁電荷の影響を受けないようにするためである。次の全画面一括書き込みでは、全てのＹ電極９に、その電圧のみで放電が開始する大きさの電圧であるライトパルスＶｗを印加し、全ての放電セルにおいてＸ電極８とＹ電極９との間で書き込み放電を行う。このとき、アドレス電極１０がＸ電極８と同電位になっているため、イオン（正電荷）がアドレス電極１０とＸ電極８とに２分されて各電極上に蓄積することで、正の壁電荷が蓄積される。一方、Ｙ電極９上には電子（負電荷）が蓄積することで、負の壁電荷が蓄積される。そして、全画面一括書き込みに続く全画面一括消去では、再度Ｘ電極８にイレーズパルスＶｅを印加し、全ての放電セルにおいて壁電荷の一部を消去する消去放電を行うことにより、次のアドレス期間における書き込み放電に必要な分だけの壁電荷を残留させる。
【００１９】
次のアドレス期間では、点灯させる放電セルを選択するためのアドレス放電を行う。すなわち、全てのＹ電極９に電圧Ｖａを印加しておき、１行目からｎ行目に向かって各行のＹ電極９を１行ずつ順に０Ｖの電圧にすることにより波高値がＶａのスキャンパルスを印加する。このスキャンパルスをＹ電極９に印加すると同時に、表示させる放電セルに対応するアドレス電極１０にのみアドレスパルスを選択的に印加する。アドレスパルスの波高値ＶａはＹ電極９に印加している電圧値Ｖａと同じにしている。また、Ｘ電極８には、アドレス期間中、維持放電期間で印加するサステインパルスと同電位のサステイン電圧ホールドパルスが印加される。これにより、Ｙ電極９にスキャンパルスが印加されるとともに、アドレス電極１０にアドレスパルスが印加された放電セルにおいてのみ書き込み放電が起こり、画像情報が書き込まれる。このとき、各放電セル内には、画像情報に対応するように壁電荷が形成されている。
【００２０】
次の維持放電期間では、アドレス期間においてアドレス放電を起こした放電セルにおいて維持放電を行う。すなわち、アドレス電極１０は０Ｖに固定しておき、Ｙ電極９とＸ電極８とにサステインパルスを交互に印加する。このとき、アドレス期間において画像情報が書き込まれた放電セルでは、サステインパルスを印加した回数だけ維持放電が行われ、画像情報が書き込まれなかった放電セルでは維持放電は発生しない。
【００２１】
以上のような一連の動作を繰り返すことにより、プラズマディスプレイパネルは点灯され、映像表示がなされる。
【００２２】
ところで、図３に示すように、使用環境が低温である場合のようにプラズマディスプレイパネルの温度が低くなると、全ての放電セルで維持放電を発生させてパネルを全面点灯させるために必要なスキャンパルスの電圧（完全点灯電圧という）は高くなるため、パネルが点灯しにくくなる傾向にある。プラズマディスプレイパネルが使用される環境は様々であり低い温度で使用されることもあるため、低温環境においてパネルが正常に点灯するか否かの動作確認は点灯検査項目の１つとなっている。
【００２３】
次に、本実施の形態におけるプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置について、その概略構成図である図４および主要部の構成を示す概略断面図である図５を用いて説明する。
【００２４】
図４および図５に示すように、検査対象のプラズマディスプレイパネル７はパネル保持部１５に装着され、駆動回路１４によって駆動される。これらの図においては、図１で示したＸ電極ドライバ１１、Ｙ電極ドライバ１２およびアドレス電極ドライバ１３の図示を省略している。電源１６は駆動回路１４に電力を供給し、信号発生装置１７は駆動回路１４に信号を供給するものであり、電源１６および信号発生装置１７は制御装置１８によって制御される。カメラ１９はプラズマディスプレイパネル７の点灯状態を自動認識するためのものであり、カメラ制御部２０によって制御される。温度センサ２１はプラズマディスプレイパネル７の温度（パネル温度）を測定するための接触型温度センサで、温度検出回路２２によって温度センサ２１で測定された温度を検出するようにしており、温度センサ２１および温度検出回路２２はパネル温度を検出する温度検出手段である。図５に示すように、温度センサ２１はプラズマディスプレイパネル７の背面側に接触するようにパネル保持部１５の複数箇所に設置されている。また、複数のデータの大きさを比較するための比較回路２３と所定のデータを蓄えるためのメモリ２４を備えており、メモリ２４には図３に示した温度と完全点灯電圧との関係を示すデータが蓄えられている。
【００２５】
以上のような構成を有する点灯検査装置を用いてプラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う方法について、以下に説明する。
【００２６】
まず、点灯検査対象のプラズマディスプレイパネル７をパネル保持部１５に装着し、その後、Ｘ電極ドライバ１１をＸ電極８に電気的に接続し、Ｙ電極ドライバ１２をＹ電極９に電気的に接続し、アドレス電極ドライバ１３をアドレス電極１０に電気的に接続する。そして、点灯信号と駆動電圧を入力してプラズマディスプレイパネル７を点灯させ、点灯検査を開始する。ここで、点灯検査を行う際の検査項目としては、色むらや輝度むらが無いことを確認すること、点灯しない放電セルが無いことを確認することなど複数の検査項目があるが、以下では、低温環境での動作を保証するための点灯検査項目である、スキャンパルスの完全点灯電圧の測定について説明する。
【００２７】
プラズマディスプレイパネル７の点灯検査時に印加するサステインパルス、アドレスパルスなどの電圧は、予め定められている設定値とする。スキャンパルスは、制御装置１８によって制御された駆動回路１４によって印加し、その波高値を０Ｖから徐々に上昇させていく。スキャンパルスの波高値を上昇させていく際に、カメラ１９によりプラズマディスプレイパネル７の画像表示領域を撮像し、カメラ制御部２０によって全面点灯しているか否かの判定を行う。全面点灯していないと判定された場合は、引き続き制御装置１８によってスキャンパルスの波高値を上昇させていき、繰り返し全面点灯しているか否かの判定を行う。全面点灯していると判定された場合、その時のスキャンパルスの波高値を制御装置１８から読み出して、その波高値を比較回路２３に出力するとともに、全面点灯したことを知らせる全面点灯認識信号を温度検出回路２２に出力する。温度検出回路２２は、全面点灯認識信号が入力されると、その時点で測定されたパネル温度を比較回路２３に出力する。ここで、温度センサ２１は複数箇所に設置されており、これら各箇所の温度センサ２１で測定された温度のうち最高の温度をパネル温度とする。
【００２８】
パネル温度が入力された比較回路２３は、メモリ２４に記憶された温度と完全点灯電圧との関係を示すデータより、入力されたパネル温度におけるスキャンパルスの完全点灯電圧を読み出す。この読み出された完全点灯電圧値は、パネルが適合品か否かの判定を行うときの基準値であり、上記のようにパネル温度に応じて設定される。そして、比較回路２３において、カメラ制御部２０から入力された全面点灯時のスキャンパルスの波高値が前記基準値より高いか低いかを比較し、同じ場合あるいは低い場合には低温環境において使用する場合でも動作が保証されるとして適合品と判定し、高い場合には不適合品と判定する。
【００２９】
このように、制御装置１８、カメラ１９およびカメラ制御部２０は、プラズマディスプレイパネル７の特性値である完全点灯電圧を測定する測定手段であり、比較回路２３は点灯検査の合否判定を行う判定手段である。
【００３０】
ところで、プラズマディスプレイパネルの低温での動作を保証するための点灯検査を行う際に、本実施の形態のようにパネル温度を測定するのではなく、経験的に設定された一定の基準値に基づいて適合品か否かの判定を行う場合には、次のような不具合が生じることになる。例えば、図３に示すように、経験的に設定された基準値Ｖ０に対応する温度を基準温度Ｔ０とする。そして、点灯検査時のパネル温度が基準温度Ｔ０よりも低い温度Ｔ１である場合には、完全点灯電圧がＶ１以下であれば適合品である。しかしながら、点灯検査では、前記基準値Ｖ０と比較することによって適合品か否か判定することになり、実際に測定された完全点灯電圧がＶ０〜Ｖ１の範囲の値であった場合、実際には適合品であるパネルにもかかわらず不適合品と判定されることになる。一方、点灯検査時のパネル温度が基準温度Ｔ０よりも高い温度Ｔ２である場合には、完全点灯電圧がＶ２以下であれば適合品である。しかし、点灯検査では、前記基準値Ｖ０と比較することによって適合品か否か判定することになり、実際に測定された完全点灯電圧がＶ２〜Ｖ０の範囲の値であった場合、実際には不適合品であるパネルにもかかわらず適合品と判定されることになる。
【００３１】
これに対して本実施の形態による点灯検査では、パネル温度を測定し、その測定値に基づいてパネルが適合品か否かの判定を行っているので、低温での動作を保証するための点灯検査を、より正確に行うことができる。
【００３２】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置について説明する。図６は本実施の形態における点灯検査装置の概略構成図であり、図７はその主要部の構成を示す概略断面図である。なお、プラズマディスプレイパネルの構造やプラズマディスプレイパネルを駆動するためのドライバ構成、各電極に印加する駆動波形については実施の形態１で説明したものと同様である。
【００３３】
図６および図７に示すように、検査対象のプラズマディスプレイパネル７はパネル保持部１５に装着され、駆動回路１４によって駆動される。これらの図においては、図１で示したＸ電極ドライバ１１、Ｙ電極ドライバ１２およびアドレス電極ドライバ１３の図示を省略している。電源１６は駆動回路１４に電力を供給し、信号発生装置１７は駆動回路１４に信号を供給するものであり、電源１６および信号発生装置１７は制御装置１８によって制御される。カメラ１９はプラズマディスプレイパネル７の点灯状態を自動認識するためのものであり、カメラ制御部２０によって制御される。また、複数のデータの大きさを比較するための比較回路２３が設けられている。温度センサ２１はプラズマディスプレイパネル７の温度（パネル温度）を測定するための接触型温度センサで、温度検出回路２２によって温度センサ２１で測定された温度を検出するようにしており、温度センサ２１および温度検出回路２２はパネル温度を検出する温度検出手段である。また、プラズマディスプレイパネル７を冷却するための冷却装置２５と、その冷却装置２５を制御するための冷却装置制御部２６と、温度調整用のフィードバック回路２７が設けられている。冷却装置２５および温度センサ２１は、図７に示すように、プラズマディスプレイパネル７の背面に接触するようにパネル保持部１５に設置されており、冷却装置２５によってプラズマディスプレイパネル７のほぼ全面を背面側から冷却できるようにしている。
【００３４】
以上のような構成を有する点灯検査装置を用いてプラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う方法について、以下に説明する。
【００３５】
まず、点灯検査対象のプラズマディスプレイパネル７をパネル保持部１５に装着し、その後、Ｘ電極ドライバ１１をＸ電極８に電気的に接続し、Ｙ電極ドライバ１２をＹ電極９に電気的に接続し、アドレス電極ドライバ１３をアドレス電極１０に電気的に接続する。そして、点灯信号と駆動電圧を入力してプラズマディスプレイパネル７を点灯させ、点灯検査を開始する。ここで、低温環境での動作を保証するための点灯検査項目である、スキャンパルスの完全点灯電圧の測定について説明する。完全点灯電圧に関して、点灯検査の合否判定を行うときの基準値を経験的に設定された基準値Ｖ０とし、この基準値Ｖ０に対応する温度を基準温度Ｔ０とする。
【００３６】
プラズマディスプレイパネル７の点灯検査と並行して温度センサ２１および温度検出回路２２によってパネル温度を測定し、測定されたパネル温度をフィードバック回路２７に伝達する。ここで、温度センサ２１は複数箇所に設置されており、これら各箇所の温度センサ２１で測定された温度のうち最高の温度をパネル温度とする。フィードバック回路２７は、図８に示すように、温度検出回路２２から入力されたパネル温度と基準温度Ｔ０とを比較する比較器２８と、比較器２８の出力に応じて演算して冷却装置制御部２６へ操作信号を出力する演算器２９とにより構成されており、冷却装置制御部２６は、フィードバック回路２７からの操作信号に基づいてパネル温度を下げるための減温操作を行うように冷却装置２５を制御する。そして、温度センサ２１で測定されたパネル温度が基準温度Ｔ０に近づくように減温操作を繰り返す。ここで、温度センサ２１で測定されたパネル温度が基準温度Ｔ０と完全に一致する必要はなく、基準温度Ｔ０を中心値とした微小幅の範囲内に入るようにすればよく、検査の合否判定によって不具合が生じないような範囲内であればよい。
【００３７】
以上の動作によって、プラズマディスプレイパネル７の点灯検査持のパネル温度を基準温度Ｔ０近傍の温度に設定することができる。そして、このときのスキャンパルスの完全点灯電圧を、実施の形態１で説明した方法と同様にして測定し、その測定値に基づいてパネルが適合品であるか否かを判定する。すなわち、点灯検査の合否判定を行う判定手段である比較回路２３において、測定された完全点灯電圧が基準値Ｖ０より高いか低いかを比較し、同じ場合あるいは低い場合には低温環境において使用する場合でも動作が保証されるとして適合品と判定し、高い場合には不適合品と判定する。
【００３８】
以上のように実施の形態２による点灯検査では、パネル温度に基づいてパネルが適合品か否かの判定を行っているので、上記実施の形態１の場合と同様に、低温での動作を保証するための点灯検査を、より正確に行うことができる。
【００３９】
上記各実施の形態において、温度センサ２１として用いる接触型温度センサの例として熱電対や白金測温抵抗体を挙げることができる。また、温度センサ２１として赤外線センサのような非接触型の温度センサを用いることもできる。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイパネル自体の温度に基づいて適合品か否かを判定することで、より正確な点灯検査を行うことができるので、プラズマディスプレイパネルの点灯検査に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の一実施の形態におけるプラズマディスプレイパネルのドライバ構成を示す図
【図２】同プラズマディスプレイパネルの駆動波形図
【図３】同プラズマディスプレイパネルの完全点灯電圧の温度依存性を示す特性図
【図４】本発明の実施の形態１における点灯検査装置の概略構成図
【図５】同点灯検査装置の主要部の構成を示す概略断面図
【図６】本発明の実施の形態２における点灯検査装置の概略構成図
【図７】同点灯検査装置の主要部の構成を示す概略断面図
【図８】同点灯検査装置に備えられたフィードバック回路の構成図
【図９】従来のプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置のブロック図
【符号の説明】
【００４２】
７  プラズマディスプレイパネル
１４  駆動回路
１５  パネル保持部
１８  制御装置
１９  カメラ
２０  カメラ制御部
２１  温度センサ
２２  温度検出回路
２３  比較回路
２４  メモリ
２５  冷却装置
２６  冷却装置制御部
２７  フィードバック回路
【図１】
2005166517.tif 000003
【図２】
2005166517.tif 000004
【図３】
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【図４】
2005166517.tif 000006
【図５】
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【図６】
2005166517.tif 000008
【図７】
2005166517.tif 000009
【図８】
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【図９】
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