(57)【要約】【課題】  光源の前方出射光を一定に制御できる光信号制御装置を提供することにある。【解決手段】  前方に光信号である前方出射光Ｌを出射する光源３２と、光源３２の後方に漏れる後方出射光Ｌｂをモニタする後方出射光モニタ手段３３と、その後方出射光モニタ手段３３でモニタした信号に基づいて前方出射光Ｌを一定に制御する制御手段２と、後方出射光モニタ手段３３の温度特性テーブルが予め記憶される記憶手段４と、光源３２の周囲温度を検出する温度センサ３とを備え、制御手段２は温度センサ３によって周囲温度を認識し、温度特性テーブルを参照して前方出射光Ｌを補正制御するものである。【選択図】  図１
2005302874.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
前方に光信号である前方出射光を出射する光源と、該光源の後方に漏れる後方出射光をモニタする後方出射光モニタ手段と、その後方出射光モニタ手段でモニタした信号に基づいて上記前方出射光を一定に制御する制御手段と、上記後方出射光モニタ手段の温度特性テーブルが予め記憶される記憶手段と、上記光源の周囲温度を検出する温度センサとを備え、上記制御手段は上記温度センサによって上記周囲温度を認識し、上記温度特性テーブルを参照して上記前方出射光を補正制御することを特徴とする光信号制御装置。
【請求項２】
上記制御手段は、マイクロコントローラユニット、シーケンサ、あるいはリコンフィギュアラブルなＬＳＩまたはＩＣである請求項１記載の光信号制御装置。
【請求項３】
上記温度特性テーブルは、上記周囲温度に対応するアドレスと、そのアドレスに記憶した上記後方出射光モニタ手段の温度特性とからなる請求項１または２記載の光信号制御装置。
【請求項４】
上記温度特性テーブルは、上記後方出射光モニタ手段の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとに対応するアドレスと、そのアドレスに記憶した上記温度特性関数の各次数の係数とからなる請求項１または２記載の光信号制御装置。
【請求項５】
上記温度特性関数は、上記後方出射光モニタ手段の温度特性をｎ次の多項式からなる下式
ｆ（ｘ）＝Ａn ｘn ＋Ａn-1 ｘn-1 ＋…＋Ａ1 ｘ＋Ａ0 
ｘ：温度センサの温度検出量からなる入力変数
で近似したものである請求項４記載の光信号制御装置。
【請求項６】
上記温度特性テーブルは、上記前方出射光をモニタする前方出射光モニタ手段と、その前方出射光モニタ手段からの情報および上記制御手段からの制御に用いる情報を処理する処理手段と、上記周囲温度を一定かつ任意に制御できる温度制御手段とを使用して求められる請求項１〜５いずれかに記載の光信号制御装置。
【請求項７】
光源の後方に漏れる後方出射光をモニタし、該光源の光信号である前方出射光を予め記憶された情報に基づいて一定に制御する光信号制御装置の調整方法であって、上記光信号制御装置の組み立て後に、上記光源の周囲温度を所定の温度ステップごとに変化させつつ、上記前方出射光をモニタして上記後方出射光をモニタする後方出射光モニタ手段の温度特性を測定し、その温度特性から上記後方出射光モニタ手段の温度特性テーブルを作成し、作成した温度特性テーブルを予め記憶させることを特徴とする光信号制御装置の調整方法。
【請求項８】
上記温度特性テーブルは、上記周囲温度にアドレスを対応させ、そのアドレスに上記後方出射光モニタ手段の温度特性を記憶させて作成される請求項７記載の光信号制御装置の調整方法。
【請求項９】
上記温度特性テーブルは、上記後方光モニタ手段の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとにアドレスを対応させ、そのアドレスに上記温度特性関数の各次数の係数を記憶させて作成される請求項７記載の光信号制御装置の調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源の前方出射光を一定に制御する光信号制御装置及びその調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図３に示すような従来の光信号制御装置３１は、半導体レーザ（ＬＤ）３２と、ＬＤ３２の後方出射光Ｌｂをモニタするモニタフォトダイオード（モニタＰＤ）３３とを内蔵した半導体レーザモジュール（ＬＤモジュール）３４と、そのＬＤモジュール３４に接続されてＬＤ３２をＡＰＣ制御（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）するＡＰＣ制御回路３５と、ＬＤ３２とＡＰＣ制御回路３５間に接続され、ＬＤ３２を駆動するためのバイアス電流を制御するトランジスタ（例えば、バイポーラトランジスタまたはＭＯＳ−ＦＥＴ）３６とを備えている。
【０００３】
後方出射光Ｌｂとは、ＬＤ３２が光信号として前方に出射する前方出射光（出力光）に対する光であり、ＬＤ３２の構造上ＬＤ３２の後方に漏れる微少な光のことをいう。
【０００４】
光信号制御装置３１は、主に光送信器として使用されるが、この場合、光通信の仕様により、光出力、波形、消光比などが定められている。このため、光信号制御装置３１は、ＬＤ３２をＡＰＣ制御回路３５によってＡＰＣ制御することで、すなわち、ＬＤ３２の後方出射光ＬｂをモニタＰＤ３３でモニタし、そのモニタＰＤ３３に流れるモニタ電流を一定に保つようにＬＤ３２に流すバイアス電流をフィードバック制御することで、ＬＤ３２の前方出射光を一定に保っている。
【０００５】
ＡＰＣ制御は、モニタＰＤ３３の温度特性が理想的には一定という仮定で行われる。つまり、光信号制御装置３１では、例えば図４（ｂ）の温度特性線４２に示されるように、後方出射光Ｌｂの強度（パワー）が一定であれば、ＬＤ３２の周囲温度Ｔ（℃）によらずモニタ電流Ｉｐが一定であると仮定している。
【０００６】
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、次のものがある。
【０００７】
【特許文献１】特開２００２−２０４０２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、実際のモニタＰＤ３３は、素子自体に起因する温度特性や、ＬＤモジュール３４の構造的な歪などによる温度特性を有するので、後方出射光Ｌｂのパワーが一定であっても、周囲温度Ｔによってモニタ電流Ｉｐが変化する。
【０００９】
すなわち、実際のモニタＰＤ３３は、図４（ｂ）に示されるように周囲温度Ｔによらず一定な温度特性線４２に従う特性ではなく、例えば図４（ａ）に示されるように周囲温度Ｔに依存して変化する温度特性曲線４１に従う特性を有する。この場合、モニタＰＤ３３から得られるモニタ電流Ｉｐは、後方出射光Ｌｂのパワーが一定であっても、周囲温度ｔ１では大きくなり、周囲温度ｔ２（＞ｔ１）では小さくなる。
【００１０】
つまり、従来の光信号制御装置３１では、温度特性線４２を仮定してＬＤ３２をＡＰＣ制御しているのに、実際はモニタＰＤ３３が温度特性曲線４１に従うことから、周囲温度がｔ１からｔ２に変化したときにモニタ電流Ｉｐに誤差Δが生じる。このように、制御や調整に用いる要素において、実際の値からの誤差やずれをトラッキングエラーという。
【００１１】
したがって、光信号制御装置３１では、トラッキングエラーが起こると、ＬＤ３２をＡＰＣ制御してもＬＤ３２に流すバイアス電流が適正な値からずれるので、ＬＤ３２の前方出射光が変化して一定にならないという問題がある。その結果、光通信の仕様が満たされなくなる。
【００１２】
また、トラッキングエラーが発生する原因には、モニタＰＤ３３が温度特性（ＬＤ３２の変化によるものを含む）を有する点の他にも、１）個体バラツキや素子自身の特性により、あるいは周囲温度により、ＬＤ３２の前方出射光と後方出射光との比率が変化する点、２）周囲温度により、光信号制御装置３１の出力ポートと光ファイバとの結合に軸ずれが生じる点、３）２）に伴ってＬＤ３２の前方出射光のビーム形が変化する点、４）周囲温度により、ＬＤ３２やモニタＰＤ３３が搭載された基板、あるいは光信号制御装置の筐体が機械的膨張・収縮する点などの様々な原因がある。
【００１３】
光信号制御装置３１では、モニタＰＤ３３の温度特性によるトラッキングエラーだけでなく、上述した１）〜４）の原因によるトラッキングエラーにも対応できないという問題がある。
【００１４】
そこで、本発明の目的は、いかなる原因によってトラッキングエラーが発生しても、光源の前方出射光を一定に制御できる光信号制御装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は上記目的を達成するために創案されたものであり、請求項１の発明は、前方に光信号である前方出射光を出射する光源と、該光源の後方に漏れる後方出射光をモニタする後方出射光モニタ手段と、その後方出射光モニタ手段でモニタした信号に基づいて上記前方出射光を一定に制御する制御手段と、上記後方出射光モニタ手段の温度特性テーブルが予め記憶される記憶手段と、上記光源の周囲温度を検出する温度センサとを備え、上記制御手段は上記温度センサによって上記周囲温度を認識し、上記温度特性テーブルを参照して上記前方出射光を補正制御する光信号制御装置である。
【００１６】
請求項２の発明は、上記制御手段は、マイクロコントローラユニット、シーケンサ、あるいはリコンフィギュアラブルなＬＳＩまたはＩＣである請求項１記載の光信号制御装置である。
【００１７】
請求項３の発明は、上記温度特性テーブルは、上記周囲温度に対応するアドレスと、そのアドレスに記憶した上記後方出射光モニタ手段の温度特性とからなる請求項１または２記載の光信号制御装置である。
【００１８】
請求項４の発明は、上記温度特性テーブルは、上記後方出射光モニタ手段の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとに対応するアドレスと、そのアドレスに記憶した上記温度特性関数の各次数の係数とからなる請求項１または２記載の光信号制御装置である。
【００１９】
請求項５の発明は、上記温度特性関数は、上記後方出射光モニタ手段の温度特性をｎ次の多項式からなる下式
ｆ（ｘ）＝Ａn ｘn ＋Ａn-1 ｘn-1 ＋…＋Ａ1 ｘ＋Ａ0 
ｘ：温度センサの温度検出量からなる入力変数
で近似したものである請求項４記載の光信号制御装置である。
【００２０】
請求項６の発明は、上記温度特性テーブルは、上記前方出射光をモニタする前方出射光モニタ手段と、その前方出射光モニタ手段からの情報および上記制御手段からの制御に用いる情報を処理する処理手段と、上記周囲温度を一定かつ任意に制御できる温度制御手段とを使用して求められる請求項１〜５いずれかに記載の光信号制御装置である。
【００２１】
請求項７の発明は、光源の後方に漏れる後方出射光をモニタし、該光源の光信号である前方出射光を予め記憶された情報に基づいて一定に制御する光信号制御装置の調整方法であって、上記光信号制御装置の組み立て後に、上記光源の周囲温度を所定の温度ステップごとに変化させつつ、上記前方出射光をモニタして上記後方出射光をモニタする後方出射光モニタ手段の温度特性を測定し、その温度特性から上記後方出射光モニタ手段の温度特性テーブルを作成し、作成した温度特性テーブルを予め記憶させる光信号制御装置の調整方法である。
【００２２】
請求項８の発明は、上記温度特性テーブルは、上記周囲温度にアドレスを対応させ、そのアドレスに上記後方出射光モニタ手段の温度特性を記憶させて作成される請求項７記載の光信号制御装置の調整方法である。
【００２３】
請求項９の発明は、上記温度特性テーブルは、上記後方光モニタ手段の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとにアドレスを対応させ、そのアドレスに上記温度特性関数の各次数の係数を記憶させて作成される請求項７記載の光信号制御装置の調整方法である。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、光源の前方出射光を一定に制御できるという優れた効果を発揮する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の好適実施の形態を添付図面にしたがって説明する。
【００２６】
図１は、本発明の好適実施の形態を示す光信号制御装置のブロック図を示したものである。
【００２７】
図１に示すように、本実施の形態に係る光信号制御装置１は、主に光送信器として使用され、前方に光信号である前方出射光（出力光）を出射する光源としてのＬＤ３２と、ＬＤ３２の後方に漏れる後方出射光Ｌｂをモニタする後方出射光モニタ手段としてのモニタＰＤ３３とを内蔵したＬＤモジュール３４と、ＬＤ３２とモニタＰＤ３３にそれぞれ接続され、モニタＰＤ３３でモニタした信号に基づいてＬＤ３２をＡＰＣ制御する制御手段としてのマイクロコントローラユニット（ＭＣＵ：Ｍｉｃｒｏ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ  Ｕｎｉｔ）２と、ＬＤ３２の周囲温度を検出するサーミスタなどの温度センサ３と、ＬＤ３２とＭＣＵ２間に接続され、ＬＤ３２を駆動するためのバイアス電流を制御するトランジスタ（例えば、バイポーラトランジスタまたはＭＯＳ−ＦＥＴ）３６とを備えている。
【００２８】
本実施に形態では、制御手段として、ソフトウエアとハードウエアとで構成されるＭＣＵ２を使用する例で説明するが、ＭＣＵ２における一連の処理をハードウエアのみで行うこともできるので、例えば、シーケンサ、あるいはリコンフィギュアラブル（いわゆるプログラム可能）なＬＳＩまたはＩＣを使用してもよい。
【００２９】
ＬＤ３２の周囲温度としては、光信号制御装置１が置かれている環境温度、ＬＤ３２自体の温度、光信号制御装置１のケースの温度などがある。温度センサは、これら様々な場合に応じて光信号制御装置１の適切な箇所に取り付けられる。
【００３０】
ＬＤ３２と、モニタＰＤ３３と、温度センサ３とは、ＭＣＵ２にそれぞれ接続される。前方出射光Ｌを送信する光信号制御装置１の出力ポート５には、伝送路に接続される光ファイバ６が接続される。
【００３１】
ＡＰＣ制御とは、モニタＰＤ３３に流れる電流（モニタ電流）Ｉｐを一定に保つようにＬＤ３２に流す電流（バイアス電流）ＩＬをフィードバック制御することで、ＬＤ３２の前方出射光Ｌを一定に制御することをいう。
【００３２】
ＭＣＵ２には、ＡＰＣ制御するプログラムと共に、図２で後述する温度特性テーブルを参照してＡＰＣ制御を補正制御するための制御・演算プログラムが組み込まれる。また、ＭＣＵ２には、記憶手段４が内蔵される。記憶手段４は、不揮発性ＲＯＭなどの無電源で記憶が保持できる半導体メモリ素子で構成される。
【００３３】
さて、記憶手段４には、モニタＰＤ３３の温度特性テーブルが予め記憶される。温度特性テーブルは、後述するが、図２に示すように、横軸をＬＤ３２の周囲温度Ｔ（℃）にとり、縦軸をモニタ電流ＩｐにとったモニタＰＤ３３の実際の温度特性曲線２１から容易に得られる。この温度特性曲線２１は、トラッキングエラーが発生する全ての原因、すなわち、モニタＰＤ３３自体の温度特性（ＬＤ３２の変化によるものを含む）のみならず、上述した１）〜４）などの原因が反映されたものである。
【００３４】
温度特性テーブルには、ＬＤ３２の周囲温度に対応する複数のアドレス０ｘ００００〜０ｘ００００５…と、これら各アドレス０ｘ００００〜０ｘ００００５…にそれぞれ記憶したモニタＰＤ３３の温度特性データａ０〜ａ５…とからなる温度特性テーブル２２を使用する。各温度特性データａ０〜ａ５…は、図２の温度特性曲線２１の各周囲温度におけるモニタ電流Ｉｐの測定値である。
【００３５】
温度特性テーブル２２では、アドレスの個数が後述する温度ステップ総数であり、アドレスが１増減する（あるアドレスから隣のアドレスに移る）と、ＬＤ３２の周囲温度が所定温度だけ１ステップ上昇あるいは下降したときのモニタ電流Ｉｐに対応する。
【００３６】
また、温度特性テーブルとしては、モニタＰＤ３２の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとに対応するアドレス０ｘ００００〜０ｘ０００４…と、これら各アドレス０ｘ００００〜０ｘ０００４…にそれぞれ記憶した温度特性関数の各次数の係数データｂ０〜ｂ４…とからなる温度特性テーブル２３を使用してもよい。この温度特性関数は、図２の温度特性曲線２１を、例えばｎ次の多項式関数からなる下式
ｆ（ｘ）＝Ａn ｘn ＋Ａn-1 ｘn-1 ＋…＋Ａ1 ｘ＋Ａ0 
で近似したものである。
【００３７】
ｘは、図１の温度センサ３の温度検出電気量からなる入力変数である。Ａn 〜Ａ1 は関数ｆ（ｘ）の各次数の係数、Ａ0 は関数ｆ（ｘ）の定数であり、これらＡn 〜Ａ1 、Ａ0 が各アドレス０ｘ００００〜０ｘ０００４…にそれぞれ記憶される。本例の温度特性テーブル２３では、係数データｂ０が定数Ａ0 に相当し、各係数データｂ１〜ｂ４…がそれぞれ係数Ａ1 〜Ａn に相当する。
【００３８】
関数ｆ（ｘ）の計算結果は近似されたモニタ電流Ｉｐである。係数Ａn 〜Ａ1 と定数Ａ0 とを除く関数ｆ（ｘ）自体は、図１のＭＣＵ２および後述する処理手段に組み込まれた制御・演算プログラムに記憶される。
【００３９】
温度特性関数としては、例えば、３次の多項式関数を使用すれば十分であるが、３次以上の多項式関数を使用すれば、より図２の温度特性曲線２１に近づけることができる。
【００４０】
この温度特性テーブル２３は、温度特性テーブル２２に比べてデータ量が少なくできるので、温度特性テーブル２２の代わりに温度特性テーブル２３を用いれば、図１の記憶手段４として容量が小さいものを使用できる。
【００４１】
次に、光信号制御装置１の調整方法、つまり、温度特性テーブル２２，２３の作成方法を説明する。
【００４２】
温度特性テーブルを作成するには、図１に示すように、ＬＤ３２の周囲温度が一定かつ任意に制御できる温度制御手段としての恒温槽１１と、ＬＤ３２の前方出射光Ｌをモニタする前方出射光モニタ手段としてのパワーモニタ１２と、そのパワーモニタ１２からの情報（前方出射光パワーＰＬ）およびＭＣＵ２からの制御に用いる情報（ＬＤ３２の周囲温度Ｔ、バイアス電流ＩＬ、モニタ電流Ｉｐ）を処理し、温度特性テーブルを作成するための処理手段としてのコンピュータ１３とからなる調整装置１４を使用する。パワーモニタ１２は、入力される前方出射光Ｌをそのパワーに応じた電気信号に変換し、その電気信号をさらにＡ／Ｄ変換して出力するものである。
【００４３】
光信号制御装置１を組み立てた後、一端が出力ポート５に接続された光ファイバ６の他端にパワーモニタ１２を接続し、そのパワーモニタ１２とＭＣＵ２間に信号線を介してコンピュータ１３を接続し、光信号制御装置１を恒温槽１１内に置く。
【００４４】
この状態で光信号制御装置１を作動し、出力ポート５からテスト用の前方出射光Ｌを送信する。このとき、ＭＣＵ２はＬＤ３２をＡＰＣ制御する。前方出射光Ｌは、パワーモニタ１２で受光され、前方出射光パワーＰＬの情報としてコンピュータ１３に入力される。コンピュータ１３は、ＭＣＵ２にアクセスすることにより、温度センサ３で検出された恒温槽１１の温度（ＬＤ３２の周囲温度）Ｔと、ＬＤ３２に流れるバイアス電流ＩＬと、モニタＰＤ３３に流れるモニタ電流Ｉｐとからなる情報をＭＣＵ２から受け取る。
【００４５】
以上の動作は、以後、恒温槽１１を広い温度範囲に亘り、適宜な温度ステップごとに変化させつつ行われる。本例では、温度範囲を−１０〜８０℃にし、温度ステップを２℃ごと（温度ステップ総数４６）にした。
【００４６】
コンピュータ１３は、各周囲温度Ｔ、モニタ電流Ｉｐ、バイアス電流ＩＬ、前方出射光パワーＰＬからなる四つの情報を処理する。より具体的には、コンピュータ１３は、周囲温度Ｔによらず、前方出射光パワーＰＬを光通信の仕様に定められた所望の一定値となるように監視し、前方出射光パワーＰＬが一定値を超えたとき、ＭＣＵ２にバイアス電流ＩＬを減少するように指示し、前方出射光パワーＰＬが一定値未満のとき、ＭＣＵ２にバイアス電流ＩＬを増加するように指示する。このとき、コンピュータ１３は、各周囲温度Ｔと、各周囲温度Ｔにおけるモニタ電流Ｉｐとを記憶する。これにより、コンピュータ１３は、トラッキングエラーが発生する全ての原因を反映した図２の温度特性曲線２１を得る。
【００４７】
コンピュータ１３は、温度特性曲線２１を得ると、ＭＣＵ２の記憶手段４にアクセスし、各温度にアドレスをそれぞれ対応させ、これら各アドレスに温度特性曲線２１の各温度におけるモニタ電流Ｉｐがそれぞれ記憶されるように、記憶手段４にデータを書き込むことで、図２の温度特性テーブル２２を作成する。
【００４８】
他方、コンピュータ１３は、温度特性曲線２１を得ると、制御・演算プログラムに組み込まれた係数と定数とを除く温度特性関数を参照し、係数と定数を決定して温度特性曲線２１に近似した温度特性関数を得る。コンピュータ１３は、温度特性関数を得ると、ＭＣＵ２の記憶手段４にアクセスし、各アドレスに温度特性関数の係数と定数とがそれぞれ記憶されるように、記憶手段４にデータを書き込むことで、図２の温度特性テーブル２３を作成する。
【００４９】
上述した温度特性テーブルの作成は、本発明に係る各光信号制御装置１について個別にそれぞれ行う。温度特性テーブルが記憶手段４に記憶された光信号制御装置１は、調整装置１４が外されて製品出荷前の調整が終了し、その後、製品として出荷される。
【００５０】
次に、光信号制御装置１の動作を説明する。
【００５１】
まず、光信号制御装置１は周囲温度Ｔ２に置かれているものとする。周囲温度Ｔ２では、図２の温度特性曲線２１のモニタ電流値と、図４の温度特性線４２のモニタ電流値とは同じである。
【００５２】
ＭＣＵ２によってＬＤ３２にバイアス電流ＩＬを流すと、ＬＤ３２が発光し、出力ポート５から前方出射光Ｌが光ファイバ６を介して送信される。ＬＤ３２からは後方出射光Ｌｂが漏れ、この後方出射光ＬｂがモニタＰＤ３３で受光される。ＭＣＵ２は、周囲温度がＴ２のままならば、図２の温度特性曲線２１の電流値Ｉｐ２に基づいてＬＤ３２をＡＰＣ制御し、ＬＤ３２の前方出射光Ｌを一定に制御する。
【００５３】
周囲温度がＴ２からＴ１に下がると、ＭＣＵ２は温度センサ３からの信号によって周囲温度がＴ２からＴ１に下がったことを認識する。このとき、図２の温度特性曲線２１に示されるように、モニタ電流Ｉｐは温度Ｔ２のときの電流値Ｉｐ２から電流値Ｉｐ１に上昇するので、電流値Ｉｐ２に基づいてＬＤ３２をＡＰＣ制御すると誤差ΔＩ（Ｉｐ１−Ｉｐ２）が生じる。すなわち、光信号制御装置１にはトラッキングエラーが発生する。
【００５４】
記憶手段４に図２の温度特性テーブル２２が記憶されている場合；
ＭＣＵ２は、周囲温度がＴ２からＴ１に下がったことを認識すると、温度特性テーブル２２を参照し、周囲温度Ｔ１に対応するアドレスに記憶された電流値Ｉｐ１を得る。ＭＣＵ２はこの電流値Ｉｐ１に基づき、ＡＰＣ制御を誤差ΔＩをなくすように（電流値Ｉｐが一定になるように）補正制御することで、ＬＤ３２の前方出射光Ｌを一定に制御する。これにより、光信号制御装置１に発生したトラッキングエラーが解消される。
【００５５】
記憶手段４に図２の温度特性テーブル２３が記憶されている場合；
ＭＣＵ２は、周囲温度がＴ２からＴ１に下がったことを認識すると、図２の温度特性曲線２１を近似する温度特性関数の次数を決定した後、温度特性テーブル２３を参照し、決定した次数に対応するアドレスに記憶された温度特性関数の係数と定数とを得て、図２の温度特性曲線２１に近似した温度特性関数を得る。ＭＣＵ２は、この温度特性関数に、周囲温度Ｔ２における温度センサ３の温度検出電気量からなる入力変数を代入することで、近似された電流値Ｉｐ１を得る。ＭＣＵ２はこの近似された電流値Ｉｐ１に基づき、ＡＰＣ制御を補正制御することで、ＬＤ３２の前方出射光Ｌを一定に制御する。これにより、光信号制御装置１に発生したトラッキングエラーが解消される。
【００５６】
このように、本発明に係る光信号制御装置１では、ＭＣＵ２がＬＤ３２をＡＰＣ制御すると共に、ＭＣＵ２の記憶手段４に予め記憶された温度特性テーブル２２（あるいは２３）を参照してＡＰＣ制御を補正制御しているので、いかなる原因によってトラッキングエラーが発生しても、ＬＤ３２の前方出射光Ｌを常に高精度かつ一定に制御できる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の好適実施の形態を示す光信号制御装置のブロック図である。
【図２】モニタＰＤの実際の温度特性の一例と、温度特性テーブルの一例とを示す図である。
【図３】従来の光信号制御装置の動作を説明する概略図である。
【図４】図４（ａ）はモニタＰＤの実際の温度特性を示す図であり、図４（ｂ）は、モニタＰＤの理想の温度特性を示す図である。
【符号の説明】
【００５８】
１  光信号制御装置
２  ＭＣＵ（制御手段）
３  温度センサ
４  記憶手段
１１  恒温槽
１２  パワーモニタ（前方出射光モニタ手段）
１３  コンピュータ（処理手段）
３２  ＬＤ（光源）
３３  モニタＰＤ（後方出射光モニタ手段）
Ｌ  前方出射光
Ｌｂ  後方出射光
【図１】
2005302874.tif 000003
【図２】
2005302874.tif 000004
【図３】
2005302874.tif 000005
【図４】
2005302874.tif 000006