(57)【要約】【課題】  ジッタの実効値を短時間で計測する。【解決手段】  ジッタ計測器は、ディスク回転周期情報を含むＲＦ信号を入力する手段と、ＲＦ信号からディスク回転周期情報を検出する手段と、ディスク回転周期情報を検出する毎に、ＲＦ信号のジッタの実効値を測定する手段と、を備える。ＲＦ信号のジッタの実効値を測定する手段の応答時定数Ｔσは、Ｔσ＝Ｔａｖｅ／Ｒ×Ｎの式で表され、Ｔａｖｅは、ディスクに形成されたピットの時間幅の平均値であり、Ｒは、測定対象のピットの出現率であり、Ｎは、ピットの時間幅をサンプルする数であり、応答時定数Ｔσは、ディスク回転周期に依存する。【選択図】  図６
2005182862.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ジッタ計測器であって、
ディスク回転周期情報を含む信号を入力する手段と、
ＲＦ信号のジッタの実効値をディスク回転周期毎に測定する手段と、
を備えるジッタ計測器。
【請求項２】
請求項１に記載のジッタ計測器であって、ディスク回転周期情報を含む信号が、ＲＦ信号である、ジッタ計測器。
【請求項３】
請求項１に記載のジッタ計測器であって、該計測器はさらに、
ディスク回転周期情報を含む信号から、ディスク回転周期を更新する手段を、
備えるジッタ計測器。
【請求項４】
請求項１に記載のジッタ計測器であって、該計測器はさらに、
ディスク回転周期情報を含む信号から、ディスク回転周期情報を検出する毎にパルス波を生成する手段と、
パルス波の周期を計測する手段と、
を備え、
ディスク回転周期が、パルス波の周期である、ジッタ計測器。
【請求項５】
請求項１に記載のジッタ計測器であって、該計測器はさらに、
ディスク回転周期情報を含む信号から、ディスク回転周期情報を検出する手段を、
備え、
ジッタの実効値を測定する前記手段は、ディスク回転周期情報を検出した時から所定期間を経過したときに、ジッタの実効値を測定する、ジッタ計測器。
【請求項６】
請求項５に記載のジッタ計測器であって、所定期間が、ほぼゼロである、ジッタ計測器。
【請求項７】
請求項５に記載のジッタ計測器であって、
所定期間が、第１、第２、第３及び第４の所定期間を含み、
第１、第２、第３及び第４の所定期間のそれぞれが、ディスク回転周期よりも小さい、ジッタ計測器。
【請求項８】
請求項７に記載のジッタ計測器であって、該計測器はさらに、
ディスク回転周期情報を検出した時から第１の所定期間を経過したときのジッタの実効値とディスク回転周期情報を検出した時から第３の所定期間を経過したときのジッタの実効値との第１の差分と、ディスク回転周期情報を検出した時から第２の所定期間を経過したときのジッタの実効値とディスク回転周期情報を検出した時から第４の所定期間を経過したときのジッタの実効値との第２の差分とを示す手段を、
備え、
第３の所定の期間から第１の所定期間を減算した期間が、ディスク回転周期×１／２であり、
第４の所定の期間から第２の所定期間を減算した期間が、ディスク回転周期×１／２である、ジッタ計測器。
【請求項９】
請求項７に記載のジッタ計測器であって、該計測器はさらに、
ディスク回転周期情報を検出した時から第１の所定期間を経過したときのジッタの実効値とディスク回転周期情報を検出した時から第３の所定期間を経過したときのジッタの実効値との第１の差分と、ディスク回転周期情報を検出した時から第２の所定期間を経過したときのジッタの実効値とディスク回転周期情報を検出した時から第４の所定期間を経過したときのジッタの実効値との第２の差分とを示す手段を、
備え、
第１の所定期間が、ほぼゼロであり、
第２の所定期間が、ディスク回転周期×１／４であり、
第３の所定期間が、ディスク回転周期×２／４であり、
第４の所定期間が、ディスク回転周期×３／４である、ジッタ計測器。
【請求項１０】
請求項９に記載のジッタ計測器であって、第１の差分と第２の差分とを示す手段が、２針で第１の差分と第２の差分とを示す、ジッタ計測器。
【請求項１１】
請求項１に記載のジッタ計測器であって、
ジッタの実効値を測定する前記手段の応答時定数Ｔσは、Ｔσ＝Ｔａｖｅ／Ｒ×Ｎの式で表され、
Ｔａｖｅは、ディスクに形成されたピットの時間幅の平均値であり、
Ｒは、測定対象のピットの出現率であり、
Ｎは、ピットの時間幅をサンプルする数であり、
応答時定数Ｔσは、ディスク回転周期に依存する、ジッタ計測器。
【請求項１２】
請求項１１に記載のジッタ計測器であって、応答時定数Ｔσは、ディスク回転周期に等しい、ジッタ計測器。
【請求項１３】
請求項１１に記載のジッタ計測器であって、応答時定数Ｔσは、ディスク回転周期の整数分の１に等しい、ジッタ計測器。
【請求項１４】
ＲＭＳ演算器であって、
時間幅データが順次に入力され、Ｎ個の時間幅データ（Ｔ１〜ＴＮ）を記憶するメモリであって、最新の１個の時間幅データがメモリに記憶されると、最も古い１個の時間幅データがメモリから消去され、Ｎ個のピットの時間幅データ（Ｔ１〜ＴＮ）が、更新される、メモリと、
以下の式を用いてσ演算を実行するσ演算部であって、Ｎは、サンプリング数である、σ演算部と、
を備えるＲＭＳ演算器。
【数１】
2005182862.tif 000004
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、円盤状の記録媒体（以下、単に「ディスク」という）に記録される信号を再生するＲＦ信号（再生信号）のジッタを計測するジッタ計測器に関連する。本発明は、特に、ディスクの回転周期に基づいてジッタを計測するジッタ計測器、ディスクに対するピックアップの取り付け角度関係の調整、即ちタンジェルシャル・スキュー及びラジアル・スキュー調整を、再生装置の調整項目の一つとしてのジッタ値の変化として測定するジッタ計測器、及び、例えばジッタ計測などに用いるＲＭＳ演算器に関連する。
【背景技術】
【０００２】
ジッタ計測器は、ピックアップ又はピックアップを備えるディスク・ドライブなどのディスク再生装置の調整・評価に用いることができる。図１は、ピックアップの評価を実行するためのシステムのブロック図を示す。具体的には、ディスク１１に記録される信号を再生するＲＦ信号が、ピックアップ１２から出力され、ジッタ計測器１３に入力される。ジッタ計測器において、ＲＦ信号のジッタが、計測される。
【０００３】
ジッタとは、再生されるピット列の時間変動を言い、このジッタ計測は、一般に、時間変化を実効値処理してジッタ値を算出している。ジッタの実効値処理は、所定の期間に対して実行され、その所定の期間は、一般に、再生装置に使用されているフォーカス・サーボ特性及びトラック・サーボ特性、並びにディスク性能による変化の回転数に起因する。なお、ジッタの実効値が小さい程、ピックアップの光軸が、ディスク面に対して高い直交性を有することを意味する。
【０００４】
ジッタ計測器は、ピックアップ又はディスク・ドライブの上記直交性調整にも、用いることができる。図２は、ピックアップの調整を実行するための一つの方法である面ぶれ方式のシステムのブロック図を示す。具体的には、ディスク１１とディスク受けとの間に、面ぶれ発生台座２１（円盤状の台座であって、中心に穴を持ち、厚さが直線的に変化する台座）が取り付けられ、ディスク１１の回転に伴って面ぶれが発生し、ピックアップに対するディスクの取り付け角度の変化（スキュー）を計測するジッタ計測器において、ＲＦ信号のジッタ値の変化が、計測される。ジッタの実効値は、ジッタ計測器１３から出力され、オシロスコープ２２に入力される。また、面ぶれ方式は、スキュー変化の他に、ピックアップのレンズとディスクの距離が変化するため、フォーカス・サーボによってピックアップ１２の焦点を追従させるＦＤ（Ｆｏｃｕｓ  Ｄｒｉｖｅ）信号が得られる。このＦＤ信号が、位相器２３に入力される。ジッタ計測器１３は、ジッタの実効値を得るために所定の期間を要するため、面ぶれで発生するスキューの変化に遅れを生じる。位相器２３において、ＦＤ信号の位相器の位相遅れ量は、その所定の期間に応じて決められ、ＦＤ信号を遅延させる。位相遅延されたＦＤ信号は、位相器２３から出力され、オシロスコープ２２に入力される。オシロスコープ２２において、位相遅延されたＦＤ信号及びジッタの実効値を表す信号（ＪＩＴ＿ＤＣ）は、それぞれＸ軸及びＹ軸として、リサージュ波形表示２４される。リサージュ波形表示２４を観測しながら、ピックアップの対物レンズとディスクとの関係、即ちタンジェルシャル・スキュー及び／又はラジアル・スキューを調整し、又は、ディスク・ドライブに対するピックアップのマウント位置のタンジェルシャル・スキュー及び／又はラジアル・スキューを調整することができる。なお、面ぶれ調整方式に関する一般的な技術として、以下に示す特許文献１及び２が存在する。
【０００５】
図３は、デジタル方式のジッタ計測器の一つであるＴＩＡ方式（タイム・インターバル・アナライザ）のジッタ計測器のブロック図を示す。図３中のデジタル方式のＲＭＳ演算部３１は、メモリに記憶されたＮ個の時間データＴＮをσ演算して、ジッタの実効値を得る。例えばジッタ計測などに用いるＲＭＳ演算部は、サンプル数Ｎ毎に、σ演算する。具体的には、ＲＭＳ演算部は、Ｎ個のデータ（Ｔ１〜ＴＮ）を用いてσ演算し、さらに、次のＮ個のデータ（ＴＮ＋１〜Ｔ２Ｎ）を用いてσ演算する。
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−３３１９４８号公報
【特許文献２】特開２００３−２１７１３３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
面ぶれ調整方式において、リサージュ波形表示２４を観測しながら、調整完了のリサージュ波形を把握することには、調整者の経験を必要としていた。
また、面ぶれ調整方式のシステムにおいて、ＦＤ信号が、必要であった。さらに、ジッタの実効値を得るために所定の期間を要するため、面ぶれ調整方式において、位相器２３が必要であった。
【０００８】
ディスクに記録される信号は、線速度が一定の条件で再生されるため、ディスクの回転周期が変化する。従って、ピックアップの位置がディスクの外周に対応するときのディスクの回転周期は、ピックアップの位置がディスクの内周に対応するときのディスクの回転周期よりも約２倍長くなる。しかしながら、ジッタ計測器の応答時定数は、回転周期に依存しておらず、このため、ピックアップの位置に関係しない。面ぶれ調整方式では、回転周期で発生するタンジェンシャル・スキュー及びラジアル・スキューのジッタの変化を、ディスクの回転周期に関係なく測定する必要がある。ジッタの実効値処理回路の応答時定数は、ディスクの回転周期の変動に伴って変化しないために、同一の条件でジッタの実効値を測定することができなかった。図４は、アナログ方式のジッタ計測器のブロック図を示し、アナログ方式のジッタ計測器の応答時定数は、ＲＭＳ演算部４１の時定数に依存していた。従って、アナログ方式のジッタ計測器の応答時定数も、ディスクの回転周期の変動に伴って変化しない。
【０００９】
例えばジッタ計測などに用いるＴＩＡ方式のデジタル方式ジッタ計測器のＲＭＳ演算部は、サンプル数Ｎ毎に、σ演算するので、連続的に又は高速に、σ演算することができなかった。
【００１０】
本発明の目的は、ジッタの実効値を短時間で計測することができるジッタ計測器を提供することである。
本発明のもう１つの目的は、面ぶれ調整方式のタンジェルシャル・スキュー及びラジアル・スキューを容易に調整することができるジッタ計測器を提供することである。
本発明のさらなる目的は、ピックアップの調整を実行するためのシステムにとって、ＦＤ信号又は位相器を不要にさせることである。
【００１１】
本発明のさらなる目的は、ディスクの回転周期に依存する応答時定数を備えるジッタ計測器を提供することである。
本発明のさらなる目的は、連続的に又は高速にσ演算することができるＲＭＳ演算器を提供することである。
本発明の他の目的は、明細書及び図面を参照することにより、当業者にとって明らかであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明のジッタ計測器は、ディスク回転周期情報を含む信号を入力する手段と、ＲＦ信号のジッタの実効値をディスク回転周期毎に測定する手段と、を備える。ジッタ計測器はさらに、ディスク回転周期情報を含む信号から、ディスク回転周期を更新する手段を、備えることができる。具体的には、ジッタ計測器は、ディスク回転周期情報を含む信号から、ディスク回転周期情報を検出する手段を、備え、ジッタの実効値を測定する前記手段は、ディスク回転周期情報を検出した時から所定期間を経過したときに、ジッタの実効値を測定する。
【００１３】
所定期間は、ほぼゼロである。或いは、所定期間は、第１、第２、第３及び第４の所定期間を含み、第１、第２、第３及び第４の所定期間のそれぞれが、ディスク回転周期よりも小さい。ジッタ計測器はさらに、ディスク回転周期情報を検出した時から第１の所定期間を経過したときのジッタの実効値とディスク回転周期情報を検出した時から第３の所定期間を経過したときのジッタの実効値との第１の差分と、ディスク回転周期情報を検出した時から第２の所定期間を経過したときのジッタの実効値とディスク回転周期情報を検出した時から第４の所定期間を経過したときのジッタの実効値との第２の差分とを示す手段を、備えることができる。
【００１４】
ＲＦ信号のジッタの実効値を測定する手段の応答時定数Ｔσは、Ｔσ＝Ｔａｖｅ／Ｒ×Ｎの式で表され、Ｔａｖｅは、ディスクに形成されたピットの時間幅の平均値であり、Ｒは、測定対象のピットの出現率であり、Ｎは、ピットの時間幅をサンプルする数であり、応答時定数Ｔσは、ディスク回転周期に依存する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
図５は、ピックアップの評価又は調整を実行するためのジッタ計測器のブロック図を示し、図６は、図５のジッタ計測器のブロック図を示す。
【００１６】
まず、ディスク５１の情報記録面側には、ディスクの中心から、ディスクの半径方向に向かって、ディスクの外側に、ディスクに記録される信号を無信号にさせる無信号化手段５２が、設けられている。無信号化手段５２は、例えば、黒色のマジックのインクであり、ディスク５１の情報記録面上に、マジックで一本の直線を描くことによって構成することができる。或いは、無信号化手段５２は、例えば、黒色のテープであり、ディスク５１の情報記録面上に、直線状のテープを貼ることによって構成することができる。無信号化手段５２の幅は、例えば、０．５ｍｍであり、後述のマーク検出手段６２によって検出できる程度の幅以上であればよく、また、ピックアップ１２のフォーカス・サーボを阻害しない程度の幅以下であればよい。
【００１７】
ジッタ計測器５０は、ジッタの実効値を測定するモードとスキューを測定するモードとを切り替えるためのスイッチ５３を備える。
【００１８】
（ジッタ測定モード）
スイッチ５３によって、ジッタの実効値を測定するモードが選択されるときのジッタ計測器５０の動作を以下に説明する。
無信号化手段５２を備えるディスク１１は、ディスク受けに、直接取り付けられる。ディスク１１に記録される信号を再生するＲＦ信号が、ピックアップ１２から出力され、ジッタ計測器５０に入力される。
【００１９】
ＲＦ信号は、前置増幅器手段及びイコライザーによって、波形整形された後、２値化手段とともに、ディスク回転検出手段６２に、入力される。無信号化手段５２が設けられていない位置に対応するＲＦ信号は、通常のＲＦ信号であり、上限ピーク値から下限ピーク値に変化する電圧である。一方、無信号化手段５２が設けられている位置に対応するＲＦ信号は、通常のＲＦ信号の下限ピーク値を下回る電圧である。なぜならば、無信号化手段５２が、ディスクでの光反射を無くすからである。
【００２０】
ディスク回転検出手段６２は、無信号化手段５２が設けられている位置に対応するＲＦ信号を検出する。図７は、ＲＦ信号からディスク回転周期信号を生成する手法を説明するための図である。具体的には、ディスク回転検出手段６２は、通常のＲＦ信号の下限ピーク値を検出し、さらに、その下限ピーク値を下回る電圧値（無信号化手段５２が設けられている位置に対応する電圧値）を検出する。ディスク回転検出手段６２は、下限ピーク値とそれを下回る電圧値との電圧差ｄＶを算出し、下限ピーク値から例えば（ｄＶ／２）だけ下回る電圧で、パルス波７１（即ち、ディスク回転周期信号７１）を生成する。パルス波７１は、ディスク回転検出手段６２から出力され、信号選択手段６３に入力される。
【００２１】
ＲＦ信号からディスク回転周期信号を生成する代わりに、ディスクを回転させるモータの回転周期信号（＝ディスク回転周期信号）を利用することもできる。或いは、ＲＦ信号からディスク回転周期信号を生成する代わりに、ＦＤ信号からディスク回転周期信号を生成することもできる。
【００２２】
信号選択手段６３には、例えばモータの回転周期信号、ＦＤ信号などのディスク回転周期情報を含む信号が、外部から入力される。外部入力端子（図示せず）と信号選択手段６３との間には、外部入力信号に応じて適宜の処理手段（図示せず）を設けることができる。ディスク回転周期情報を含む信号が、モータの回転周期信号である場合、モータの回転周期信号（パルス波）は、信号選択手段６３に、直接入力される。ディスク回転周期情報を含む信号が、ＦＤ信号である場合、ＦＤ信号は、処理手段に入力される。処理手段は、例えば、ＦＤ信号の上限ピーク値を検出し、上限ピーク値に対応するパルス波（ディスク回転周期信号）を生成する。ＦＤ信号から生成されたディスク回転周期信号が、処理手段から出力され、信号選択手段６３に入力される。
【００２３】
信号選択手段６３は、ディスク回転検出手段６２からのディスク回転周期信号又は外部入力端子からのディスク回転周期信号の何れか一方を選択する。選択されたディスク回転周期信号は、信号選択手段６３から出力され、ＣＰＵ６４に入力される。
【００２４】
ＣＰＵ６４は、ディスク回転周期信号のパルスを検出し、１パルス検出する毎に、直前の１パルスと検出したばかりの１パルスとの期間（ディスク１回転当たりの回転時間（ディスク回転周期）に相当する）を計測する。スイッチ５３によって、ジッタの実効値を測定するモードが選択されるとき、ＣＰＵ６４は、ジッタ計測器５０の応答時定数を、ディスク回転周期に一致させるように設定する。
【００２５】
図８は、ディスクに記録されている情報を説明するための図である。ディスク５１には、ＥＦＭ変調されたピット列が形成されており、各ピットの時間幅は、ピット・クロック（ＣＫ）のｎ倍である。ディスク５１がＤＶＤの場合、ｎは、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１及び１４からランダムに選択され、各ピットの時間幅（ｎＴ）が形成される。ランダムに変化するピットの時間幅の平均値をＴａｖｅとして表すと、Ｔａｖｅは、ＥＦＭ変調方式の規格から、約５Ｔになることが知られている。また、測定対象のピットの出現率をＲとして表すと、ＤＶＤの場合、Ｒが１．０となり、ＣＤの場合、Ｒが約１／３×１／２となることが知られている。言い換えれば、ＤＶＤの場合、すべてのピットの時間幅が、測定され、ＣＤの場合、プラス極性又はマイナス極性を持つ３Ｔの時間幅のみが、測定される。ピットの時間幅をサンプルする数をＮとして表す。Ｔａｖｅ、Ｒ及びＮと、ジッタ計測器５０の応答時定数（演算時定数）Ｔσとの関係は、以下の式（１）で表される：
Ｔσ＝Ｔａｖｅ／Ｒ×Ｎ  ・・・（１）。
【００２６】
ＣＰＵ６４の動作の説明に戻り、ＣＰＵ６４は、ジッタ計測器５０の応答時定数Ｔσを、ディスク回転周期に一致させるように設定する。即ち、ＣＰＵ６４は、サンプリング数Ｎ＝（ディスク回転周期）／Ｔａｖｅ×Ｒを算出する。算出されたサンプリング数Ｎを表す信号（サンプル数指定信号）は、ＣＰＵ６４から出力され、ＲＭＳ演算部６１のメモリに入力される。
【００２７】
ＲＭＳ演算部６１のメモリには、時間幅データが順次に入力され、Ｎ個のピットの時間幅データ（Ｔ１〜ＴＮ）が記憶される。ＤＶＤの場合、すべてのピットの時間幅データが、Ｎ個だけ記憶され、ＣＤの場合、プラス極性又はマイナス極性を持つ３Ｔの時間幅データのみが、Ｎ個だけ記憶される。具体的には、ＣＤの場合、入力された時間幅データが、２．５Ｔから３．５Ｔまでの範囲内にあるか否か判定され、その範囲内に属する３Ｔの時間幅データのみが、Ｎ個だけ記憶される。なお、最新の１個の時間幅データがメモリに記憶されると、最も古い１個の時間幅データがメモリから消去され、Ｎ個のピットの時間幅データ（Ｔ１〜ＴＮ）は、更新される。
【００２８】
ＲＭＳ演算部６１のσ演算部は、Ｎ個のピットの時間幅データ（Ｔ１〜ＴＮ）を用いてσ演算を実行する。具体的には、σ演算部は、以下に示す式（３）で表される値を演算してジッタの実効値を求める。
【００２９】
【数２】
2005182862.tif 000003
【００３０】
ここで、Ｎは、式（１）に基づいて求められたサンプリング数であり、ＴＮは、ピットの時間幅データであり、式（２）のＡＮは、Ｎ個の時間幅データの平均値であり、式（３）のσＮは、ジッタの実効値である。
【００３１】
注目すべき点は、σ演算部は、Ｎ個のピットの時間幅データ（Ｔ１〜ＴＮ）が更新される毎に、実行される。言い換えれば、σ演算部は、最新の１個の時間幅データがメモリに記憶される毎に実行される。一方、従来のσ演算部（図３）は、最新のＮ個の時間幅データがメモリに記憶される毎に実行される。従って、ＲＭＳ演算部６１は、連続的に又は高速にσ演算することができる。
【００３２】
ジッタの実効値は、ＲＭＳ演算部６１のσ演算部から出力され、ＣＰＵ６４に入力される。ジッタの実効値は、最新の１個の時間幅データがメモリに記憶される毎に更新される。
【００３３】
ＣＰＵ６４は、ジッタの実効値が更新される毎にジッタの実効値をメータ６５に出力するのではなく、ディスク回転周期信号のパルスを検出する毎に、検出した時点で入力されているジッタの実効値をメータ６５に出力する。言い換えれば、ＣＰＵ６４は、ディスクが１回転する毎に、ジッタの実効値をメータ６５に出力する。従って、本発明のジッタ計測器５０は、ディスクが１回転する毎に、即ち短時間で、ジッタの実効値を計測することができる。
【００３４】
上述のように、ＣＰＵ６４は、ジッタ計測器５０の応答時定数Ｔσを、ディスク回転周期に一致させるように設定する。従って、本発明のジッタ計測器５０は、ディスクの回転周期に依存する応答時定数を備える。これにより、ピックアップの位置が、ディスクの内側又は外側に位置していても、本発明のジッタ計測器５０は、同一の条件でジッタの実効値を測定することができる。
【００３５】
メータ６５は、後述のスキュー測定モード用に、２つの針を備えるが、従来のメータと同様に、１つの針で、ジッタの実効値を表す。
【００３６】
本発明のジッタ計測器５０の変形例として、スイッチ５３を省略し、後述のスキュー測定モードを省略することもできる。この場合、ジッタ計測器５０のメータ６５は、１つの針を持つメータとすることができる。なお、このジッタ計測器５０の変形例を、図２のジッタ測定器１３として構成することにより、図２中の位相器２３を省略することができる。なぜならば、ジッタ計測器５０の応答時定数Ｔσは、ディスク回転周期に一致し、必要な遅延量が一定であるからである。
【００３７】
（スキュー測定モード）
スイッチ５３によって、スキューを測定するモードが選択されるときのジッタ計測器５０の動作を以下に説明する。但し、上述のジッタ測定モードと異なる動作を主に説明する。
【００３８】
無信号化手段５２を備えるディスク１１とディスク受けとの間に、面ぶれ発生台座２１が取り付けられる。このとき、台座に対する無信号化手段５２の位置は、ジッタメータのスキュー処理順序を考慮して取り付けられる。
【００３９】
ジッタメータのスキュー処理順序は、ディスクが９０度回転するとき、タンジェルシャル・スキューが、最大値（Ｔ＋）となる。その後、ディスクがさらに９０度回転するとき、ラジアル・スキューが、最小値（Ｒ−）となる。その後、ディスクがさらに９０度回転するとき、タンジェルシャル・スキューが、最小値（Ｔ−）となる。
【００４０】
スイッチ５３によって、スキューを測定するモードが選択されるとき、ＣＰＵ６４は、ジッタ計測器５０の応答時定数Ｔσを、ディスク回転周期（ディスク１回転当たりの回転時間）よりも短い時間（例えば、ディスク回転周期の１０分の１）に一致させるように設定する。即ち、ＣＰＵ６４は、サンプリング数Ｎ＝Ｔσ／Ｔａｖｅ×Ｒ＝（ディスク回転周期／１０）／Ｔａｖｅ×Ｒを算出する。
【００４１】
図１０の様に、ＣＰＵ６４は、ディスク回転周期信号のパルスを検出する毎に、検出した時点で入力されているジッタの実効値（Ｒ＋）と、検出した時から（ディスク回転周期）×１／４だけ経過した時点で入力されているジッタの実効値（Ｔ＋）と、検出した時から（ディスク回転周期）×２／４だけ経過した時点で入力されているジッタの実効値（Ｒ−）と、検出した時から（ディスク回転周期）×３／４だけ経過した時点で入力されているジッタの実効値（Ｔ−）とをメータ６５に出力する。具体的には、ＣＰＵ６４は、ディスク回転周期信号のパルスを検出した時点で入力されているジッタの実効値（Ｒ＋）から検出した時から（ディスク回転周期）×２／４だけ経過した時点で入力されているジッタの実効値（Ｒ−）を減算して、ラジアル・スキュー差分ジッタをメータ６５に出力する。ＣＰＵ６４は、ディスク回転周期信号のパルスを検出した時から（ディスク回転周期）×１／４だけ経過した時点で入力されているジッタの実効値（Ｔ＋）から、検出した時から（ディスク回転周期）×３／４だけ経過した時点で入力されているジッタの実効値（Ｔ−）を減算して、タンジェルシャル・スキュー差分ジッタをメータ６５に出力する。言い換えれば、ＣＰＵ６４は、ディスクが１回転する毎に、ラジアル・スキュー差分ジッタ及びタンジェルシャル・スキュー差分ジッタをメータ６５に出力する。
【００４２】
ピックアップの光軸が無信号化手段５２に位置するときのジッタの実効値（Ｒ＋）から、ピックアップの光軸が無信号化手段５２に位置するときからディスクが１８０度回転するときのジッタの実効値（Ｒ−）を減算することにより、ラジアル・スキュー差分ジッタを得ることができる。ラジアル・スキュー差分ジッタをゼロに調整することにより、ラジアル方向の調整が完了する。
【００４３】
同様に、タンジェルシャル・スキュー差分ジッタをゼロに調整することにより、タンジェルシャル方向の調整が完了する。
【００４４】
ラジアル・スキュー差分ジッタ及びタンジェルシャル・スキュー差分ジッタが、２針メータ６５に出力され、表示されるので、ラジアル・スキュー及びタンジェルシャル・スキューを容易に調整することができる。例えば、タンジェルシャル・スキュー差分ジッタを表す１針を見ながら、タンジェルシャル・スキュー差分ジッタをゼロに調整し、タンジェルシャル方向の調整を容易に完了することができる。
【００４５】
メータ６５は、図９の右図に表されるような２針で、ラジアル・スキュー差分ジッタ及びタンジェルシャル・スキュー差分ジッタを示すこともでき、或いは、図９の左図に表されるような２つのバーグラフ表示で、ラジアル・スキュー差分ジッタ及びタンジェルシャル・スキュー差分ジッタことを示すこともできる。もちろん、メータ６５の変形例は、ラジアル・スキュー差分ジッタ及びタンジェルシャル・スキュー差分ジッタを、数値として示すこともできる。
【００４６】
本発明のジッタ計測器５０の変形例として、図６の信号選択手段６３を省略し、ＲＦ信号のみから、ジッタの実効値を測定することができる。従って、図２中のＦＤ信号及び位相器２３、並びにオシロスコープ２４を、省略することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】ピックアップの評価を実行するためのシステムのブロック図を示す。
【図２】ピックアップの調整を実行するための一つの方法である面ぶれ方式のシステムのブロック図を示す。
【図３】デジタル方式のジッタ計測器の一つであるＴＩＡ方式（タイム・インターバル・アナライザ）のジッタ計測器のブロック図を示す。
【図４】アナログ方式のジッタ計測器のブロック図を示す。
【図５】ピックアップの評価又は調整を実行するためのジッタ計測器のブロック図を示す。
【図６】図５のジッタ計測器のブロック図を示す。
【図７】ＲＦ信号からディスク回転周期信号を生成する手法を説明するための図である。
【図８】ディスクに記録されている情報を説明するための図である。
【図９】ジッタ計測器のメータの例を表す図である。
【図１０】タンジェルシャル・スキュー及びラジアル・スキューを説明するための図である。
【図１】
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【図２】
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【図５】
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【図６】
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【図８】
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【図１０】
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【図３】
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【図４】
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【図７】
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【図９】
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