(57)【要約】【課題】  特に電子素子を使用した、入力装置であるアナログ抵抗膜方式タッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法及びそのタッチパネル、を提供する。【解決手段】  ２枚の基板を重ね合わせてタッチパネルとし、その各基板の周縁に抵抗誘導線を形成したタッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法であり、該タッチパネルにおける少なくとも１つの対角線における２つの対応する隅のＡ、Ｂ点は電圧整合の条件を満たし、その電圧整合の条件とは、該２つの隅の点の一方における抵抗誘導線の電圧が高電圧レベルであると共に、２つの隅の点の他方における抵抗誘導線の電圧が低電圧レベルであり、それら高・低電圧レベルが、抵抗誘導線の、基板における相対的な異なる点での電圧レベルの相対的な大きさを指すものである。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
２枚の基板を重ね合わせてタッチパネルとし、その各基板の周縁に抵抗誘導線を形成したタッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法であって、
前記２枚の基板を重ね合わせて成るタッチパネルにおける少なくとも１つの対角線における２つの対応する隅の点は電圧整合の条件を満たし、その電圧整合の条件とは、
前記２つの隅の点の一方における抵抗誘導線の電圧が高電圧レベルであり、
前記２つの隅の点の他方における抵抗誘導線の電圧が低電圧レベルであり、
それら高・低電圧レベルが、単独の抵抗誘導線の、基板における異なる点での電圧レベルの相対的な大きさを指すことであることを特徴とする抵抗膜方式タッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法。
【請求項２】
表面の周縁に２つの抵抗誘導線（Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）が形成される第１基板と、
前記第１基板と重ね合わされ、表面の周縁に２つの抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ）が形成される第２基板と、を含み、
前記２枚の基板を重ね合わした後、少なくとも１つの対角線における二つの隅の点の抵抗誘導線が電圧整合の条件を満たし、
前記電圧整合の条件とは、
前記２枚の基板の１つの隅の点における抵抗誘導線の電圧が高電圧レベルであり、
２枚の基板のもう１つの隅の点における抵抗誘導線の電圧が低電圧レベルであり、
それら高・低電圧レベルが、単独の抵抗誘導線の、基板における異なる点での電圧レベルの相対的な大きさを指すことであることを特徴とする抵抗膜方式タッチパネル。
【請求項３】
前記タッチパネルにおいて逆時計回りにＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの四つの隅の点が配置されると共に、該Ａ、Ｃ及びＢ、Ｄはそれぞれ対角に配置され、
前記抵抗誘導線（Ｙｉｎ）は第１基板のＡ−Ｄ辺の中央を起点として隅におけるＡ点まで伸びた後、方向転換してＤ点まで伸び、該Ａ点の電位レベルはＤ点より高く、
抵抗誘導線（Ｙｏｕｔ）は第１基板のＡ−Ｄ辺の中央に位置する、前記抵抗誘導線（Ｙｉｎ）の起点の近傍からＤ点に伸びた後、方向転換してＣ点を介してＢ点まで伸び、該Ｂ点の電位レベルはＣ点より高く、
抵抗誘導線（Ｘｉｎ）は第２基板のＡ−Ｄ辺の中央を起点として隅におけるＡ点まで伸びた後、方向転換してＢ点まで伸び、該Ａ点の電位レベルはＢ点より高く、
抵抗誘導線（Ｘｏｕｔ）は第２基板のＡ−Ｄ辺の中央に位置する、前記抵抗誘導線（Ｘｉｎ）の起点の近傍からＤ点を介してＣ点に伸びた後、方向転換して再びＤ点まで伸び、該Ｄ点の電位レベルはＣ点より高く、
該Ａ、Ｃ点は前記電圧整合の条件を満足させるものであることを特徴とする請求項２に記載の抵抗膜方式タッチパネル。
【請求項４】
表面周縁にＸ、Ｙ方向の４つの抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ，Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）が形成される第１基板と、
前記第１基板と重ね合わされ、一側の表面の周縁に閉路式の共通誘導線が形成される第２基板と、を含み、
前記第１基板の少なくとも１つの対角線における２隅の点に位置するＸ、Ｙの抵抗誘導線は電圧整合の条件を満たし、
該電圧整合の条件とは、
前記２つの隅の点の一方における抵抗誘導線の電圧が共に高電圧レベルであり、
前記２つの隅の点の他方における抵抗誘導線の電圧は共に低電圧レベルであり、
それら高・低電圧レベルが、単独の抵抗誘導線の、基板における異なる点での電圧レベルの相対的な大きさを指すことであることを特徴とする抵抗膜方式タッチパネル。
【請求項５】
前記タッチパネルにおいて逆時計回りにＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの四つの隅の点が配置されると共に、該Ａ、Ｃ及びＢ、Ｄはそれぞれ対角に配置され、
前記抵抗誘導線（Ｙｉｎ）は第１基板のＡ−Ｄ辺の中央を起点として隅におけるＡ点まで伸びた後、方向転換してＤ点まで伸び、該Ａ点の電位レベルはＤ点より高く、
抵抗誘導線（Ｙｏｕｔ）は第１基板のＡ−Ｄ辺の中央に位置する、前記抵抗誘導線（Ｙｉｎ）の起点の近傍からＤ点に伸びた後、方向転換してＣ点を介してＢ点まで伸び、該Ｂ点の電位レベルはＣ点より高く、
抵抗誘導線（Ｘｉｎ）は第２基板のＡ−Ｄ辺の中央を起点として隅におけるＡ点まで伸びた後、方向転換してＢ点まで伸び、該Ａ点の電位レベルはＢ点より高く、
抵抗誘導線（Ｘｏｕｔ）は第２基板のＡ−Ｄ辺の中央に位置する、前記抵抗誘導線（Ｘｉｎ）の起点の近傍からＤ点を介してＣ点に伸びた後、方向転換して再びＤ点まで伸び、該Ｄ点の電位レベルはＣ点より高く、
該Ａ、Ｃ点は前記電圧整合の条件を満足させるものであることを特徴とする請求項４に記載の抵抗膜方式タッチパネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、特に電子素子を使用した、入力装置であるアナログ抵抗膜方式タッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法及びそのタッチパネルに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般にタッチパネルは感応方式であり、抵抗膜方式や静電容量方式、超音波方式、赤外線方式などに分けられるが、その中でも抵抗膜方式タッチパネルは量産が非常に容易であり、製造コストも他の物より低いことから、ＰＤＡや電子手帳、ＬＣＤなどの入力装置として広く使用されている。
【０００３】
また、前記抵抗膜方式タッチパネルは導電フィルムが形成される２枚の基板を重ね合わせて成り、それら２枚の基板の間にスペーサを挟んでスペースを確保する構成であるので、指や物体で基板の表面を押圧して圧力を加えた時の電圧値の変化を測定することで、押圧点の位置を検出している。更に、抵抗膜方式タッチパネルはデジタルタッチパネル及びアナログタッチパネルに分けられ、前者は低価格且つ高性能の製品を大量生産できないので、現在では後者のアナログタッチパネルが主流となっている。
【０００４】
以下に従来のタッチパネルの構成を説明する。
【０００５】
図４に示すように、従来の抵抗膜方式タッチパネルはその２枚の第１基板（７１）及び第２基板（７２）の表面の対応する位置にそれぞれ導電フィルムが被覆されると共に、各基板（７１，７２）の周縁には複数の抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ，Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）が形成される。
【０００６】
図５Ａに示すように、前記第１基板（７１）上の２つの抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ）はＸ方向の電圧の変化を測定するものであり、図５Ｂに示す抵抗誘導線（Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）はＹ方向の電圧の変化を測定するものであり、その内、該２つのＸ方向の抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ）はそれぞれ第１基板（７１）の左右の対応し合う縁に形成され、その出入力端は第１基板（７１）の下縁中央から敷かれた導線を介して接続され、一方、前記Ｙ方向の抵抗誘導線（Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）は基板（７２）の底部側縁に対応するように形成され、その内の該抵抗誘導線（Ｙｉｎ）はその中央部から導線を介して接続され入力端子として用いられると共に、抵抗誘導線（Ｙｏｕｔ）は第１基板（７１）の下縁中央から左側縁を介して上側縁まで伸びる構成となっている。
【０００７】
また、図５Ａの抵抗誘導線（Ｘｉｎ）においては、前記タッチパネル上に例えば、５Ｖの作動電圧がかかると、Ａ点の電圧値は4.9718Ｖであり、Ｂ点では約4.9127Ｖであることから、抵抗誘導線（Ｘｉｎ）は長く敷かれるほど抵抗誘導線自身の抵抗により電気エネルギーが消耗されることになる。更に、Ａ、Ｂ点の電位差を見ると、Ａ点の電位はＢ点より高いことから、Ａ点を（Ｘｉｎ_Ｈｉｇｈ）、Ｂ点を（Ｘｉｎ_Ｌｏｗ）と表し、一方、抵抗誘導線（Ｘｏｕｔ）においては、Ｃ点の電圧値が0.0816Ｖであり、Ｄ点が0.0271Ｖであることから、前記と同様に、Ｃ点を（Ｘｏｕｔ_Ｈｉｇｈ）、Ｄ点を（Ｘｏｕｔ_Ｌｏｗ）と表す。
【０００８】
図５Ｂに示す抵抗誘導線（Ｙｉｎ）を測定する場合は、その中央位置において最高電圧値である５Ｖが検出され、Ａ、Ｄ点の隅に位置する末端部では殆どの場合4.975Ｖの電圧値が検出されることから、Ａ、Ｄ点を共に（Ｙｉｎ_Ｌｏｗ）と表す。  一方、抵抗誘導線（Ｙｏｕｔ）においてはＢ点の電圧値が0.0797Ｖであり、Ｃ点が0.459Ｖであることから、Ｂ点を（Ｙｏｕｔ_Ｈｉｇｈ）、Ｃ点を（Ｙｏｕｔ_Ｌｏｗ）と表す。
【０００９】
そして、２枚の基板（７１，７２）を重畳すると、前記Ａ−Ｄの各点が正確に位置決めされる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、前記Ａ点の組み合わせは、（Ｘｉｎ_Ｈｉｇｈ）＋（Ｙｉｎ_Ｌｏｗ）であると共に、Ｃ点の組み合わせは（Ｘｏｕｔ_Ｈｉｇｈ）＋（Ｙｏｕｔ_Ｌｏｗ）であり、それぞれ対角線の両端の点における電圧の組み合わせが（Ｈｉｇｈ＋Ｈｉｇｈ）及び（Ｌｏｗ＋Ｌｏｗ）とならないので、若しこの状態でタッチパネルが押圧されると、電圧の変化を精確に測定することができない。故に、この構成では押圧点の位置の測定にかなりの誤差が生じてしまうことになる。また、前記Ｂ、Ｃ点においても前記Ａ、Ｃ点と同様の問題を有する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、
２枚の基板を重ね合わせてタッチパネルとし、その各基板の周縁に抵抗誘導線を形成したタッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法であって、
前記２枚の基板を重ね合わせて成るタッチパネルにおける少なくとも１つの対角線における２つの対応する隅の点は電圧整合の条件を満たし、その電圧整合の条件とは、
前記２つの隅の点の一方における抵抗誘導線の電圧が高電圧レベルであり、
前記２つの隅の点の他方における抵抗誘導線の電圧が低電圧レベルであり、
それら高・低電圧レベルが、単独の抵抗誘導線の、基板における異なる点での電圧レベルの相対的な大きさを指すことであることを特徴とする抵抗膜方式タッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法、
及び、表面周縁にＸ、Ｙ方向の４つの抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ，Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）が形成される第１基板と、
前記第１基板と重ね合わされ、一側の表面の周縁に閉路式の共通誘導線が形成される第２基板と、を含み、
前記第１基板の少なくとも１つの対角線における２隅の点に位置するＸ、Ｙの抵抗誘導線は電圧整合の条件を満たし、
該電圧整合の条件とは、
前記２つの隅の点の一方における抵抗誘導線の電圧が共に高電圧レベルであり、
前記２つの隅の点の他方における抵抗誘導線の電圧は共に低電圧レベルであり、
それら高・低電圧レベルが、単独の抵抗誘導線の、基板における異なる点での電圧レベルの相対的な大きさを指すことであることを特徴とする抵抗膜方式タッチパネル、を提供する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明は、上述したようであるから、タッチパネルを押圧した時の電圧の変化を精確に測定できるので、精確な入力個所の位置を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００１４】
図１は本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルの実施例の分解斜視図であり、図２Ａは本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルにおけるＸ方向の抵抗誘導線を示す平面図であり、図２Ｂは本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルにおけるＹ方向の抵抗誘導線を示す平面図であり、図３は本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルの他の実施例の分解斜視図である。     
本発明は抵抗膜方式タッチパネルにおける抵抗誘導線の形成方法及びそのタッチパネルに係るものであり、該抵抗膜方式タッチパネルは２枚の基板が重ね合わされて成り、その各基板上に、その線の位置が特定の条件を満たす抵抗誘導線が形成される。その条件とは即ち、各基板の隅のＡ点における抵抗誘導線の電圧が共に高電圧レベルであると共に、各基板の隅のＣ点における抵抗誘導線の電圧が共に低電圧レベルであり、それらＡ、Ｃ点は対角位置に設けられることである。       
図１、図２Ａ及び図２Ｂの実施例に示すように、本発明の抵抗膜方式タッチパネルは第１基板（１１）及び第２基板（１２）を重ね合わせて成り、その構成は一般のタッチパネルとほぼ同一であるが、該第１基板（１１）上にはＹ方向の電圧の変化を測定するための二つの抵抗誘導線（Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）が特種配列となるように形成されると共に、第２基板（１２）上にはＸ方向の電圧の変化を測定するための二つの抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ）が特殊配列となるように形成される。
【００１５】
また、図２Ｂに示すように、前記抵抗誘導線（Ｙｉｎ）は第１基板の下縁中央を起点として右隅におけるＡ点まで伸びた後、方向転換してＤ点まで伸び、該Ａ点の電位レベルはＤ点より高く設定される。故に、Ａ点を（Ｙｉｎ_Ｈｉｇｈ）、Ｄ点を（Ｙｉｎ_Ｌｏｗ）と表す。一方、抵抗誘導線（Ｙｏｕｔ）も同様に第１基板の下縁中央を起点として左隅におけるＤ点まで伸びた後、方向転換してＣ点を介してＢ点まで伸び、該Ｂ点の電位レベルはＣ点より高く設定される。故に、Ｃ点を（Ｙｏｕｔ_Ｌｏｗ）、Ｂ点を（Ｙｏｕｔ_Ｈｉｇｈ）と表す。   
更に、前記第２基板（１２）におけるＸ方向の二つの抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ）は図２Ａに示すような配列であり、即ち、該抵抗誘導線（Ｘｉｎ）は第２基板の下縁の中央を起点として右隅におけるＡ点まで伸びた後、方向転換してＢ点まで伸び、該Ａ点の電位レベルはＢ点より高く設定される。故に、Ａ点を（Ｘｉｎ_Ｈｉｇｈ）、Ｂ点を（Ｘｉｎ_Ｌｏｗ）と表す。一方、抵抗誘導線（Ｘｏｕｔ）も同様に第２基板の下縁の中央を起点として、前記抵抗誘導線（Ｘｉｎ）の起点の近傍から左隅のＤ点を介してＣ点に伸びた後、方向転換して再びＤ点まで伸び、該Ｄ点の電位レベルはＣ点より高く設定される。故に、Ｄ点は（Ｘｏｕｔ_Ｈｉｇｈ）、Ｃ点は（Ｘｏｕｔ_Ｌｏｗ）と表す。
【００１６】
上述したように、前記２つの基板（１１，１２）におけるＡ−Ｄの各隅の点は対応するように重ね合わされる構成であることから、対角の位置であるＡ、Ｃ点或いはＢ、Ｄ点の何れかが電圧整合の条件を満たすことになる。即ち、本実施例ではＡ、Ｃ点がその条件を満たしており、Ａ点での電圧レベルの組み合わせは（Ｘｉｎ_Ｈｉｇｈ）＋（Ｙｉｎ_Ｈｉｇｈ）であると共に、Ｃ点での電圧レベルの組み合わせは（Ｘｏｕｔ_Ｈｉｇｈ）＋（Ｙｏｕｔ_Ｈｉｇｈ）である。故に、該タッチパネルにおける２つの対角位置の電圧レベルの組み合わせは（Ｈｉｇｈ＋Ｈｉｇｈ）及び（Ｌｏｗ＋Ｌｏｗ）となる。   
しかし、前記構成において注意する点としては、抵抗誘導線における高・低圧レベル（Ｈｉｇｈ，Ｌｏｗ）は２つの異なる抵抗誘導線を比較して得るものではなく、それぞれ基板の異なる隅の点において電圧レベルを設定する必要があることである。
【００１７】
また、前記実施例においては、タッチパネルに４本の誘導線が用いられ、それらの誘導線は２枚の基板にそれぞれ形成されるが、図３に示す、他の実施例のように、第１基板（１１）及び第２基板（１２）を重ね合わせてタッチパネルとし、その内、第１基板（１１）に、前記実施例と同様の方式でＹ方向の抵抗誘導線（Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ）以外に、Ｚ方向の抵抗誘導線（Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ）を形成し、一方、第２基板（１２）には共通誘導線（１３）を形成してもよい。尚、この場合、該共通誘導線（１３）の形成方式は第２基板（１２）の４辺の周縁に沿って閉路状に形成するものであるので、タッチパネルを押圧した時の電圧の変化を精確に測定するとの目的を達成することができる。
【産業上の利用可能性】
【００１８】
本発明は、押圧した時の電圧の変化を精確に測定して、精確な入力個所の位置を得ることができるタッチパネルに適している。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルの実施例の分解斜視図である。
【図２Ａ】本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルにおけるＸ方向の抵抗誘導線を示す平面図である。
【図２Ｂ】本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルにおけるＹ方向の抵抗誘導線を示す平面図である。
【図３】本発明に係る抵抗膜方式タッチパネルの他の実施例の分解斜視図である。
【図４】従来の抵抗膜方式タッチパネルの分解斜視図である。
【図５Ａ】従来の抵抗膜方式タッチパネルにおけるＸ方向の抵抗誘導線を示す平面図である。
【図５Ｂ】従来の抵抗膜方式タッチパネルにおけるＹ方向の抵抗誘導線を示す平面図である。
【符号の説明】
【００２０】
１１，７１        第１基板
１２，７２        第２基板
１３        共通誘導線
Ｘｉｎ，Ｘｏｕｔ，Ｙｉｎ，Ｙｏｕｔ        抵抗誘導線
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
2005267212.tif 000005
【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
2005267212.tif 000008
【図５Ｂ】
2005267212.tif 000009