(57)【要約】【課題】振動や温度変動の影響を受けることなく、１．７μｍより長波長領域も短時間で測定ができる波長分散測定装置及び方法を提供すること。【解決手段】超短光パルスを発生する超短光パルス光源１と、該超短光パルス光源１から発生された該超短光パルスを伝搬させる被測定媒質２と、該被測定媒質２を伝搬した該超短光パルスを受光して二光子吸収信号を出力する二光子吸収検出手段３と、を有し、該二光子吸収検出手段から出力される二光子吸収信号から該被測定媒質２の波長分散を測定する波長分散測定装置。従来の光パルス法、干渉法、位相シフト法と測定原理が異なり、振動や温度変動の影響を受けることがなく、高精度測定が可能である。また、時間差を調整する必要がないので、高速測定が可能であり、被測定媒質の伝搬距離ｚが短くてもよいので、短尺の被測定媒質の測定ができる。さらに、二光子吸収信号から波長分散を測定するので、〜１．７μｍ以上の長波長領域の波長分散を測定することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
超短光パルスを発生する超短光パルス光源と、
該超短光パルス光源から発生された該超短光パルスを伝搬させる被測定媒質と、
該被測定媒質を伝搬した該超短光パルスを受光して二光子吸収信号を出力する二光子吸収検出手段と、
を有し、該二光子吸収検出手段から出力される二光子吸収信号から該被測定媒質の波長分散を測定することを特徴とする波長分散測定装置。
【請求項２】
前記超短光パルス光源は、波長が異なる超短光パルスを発生することを特徴とする請求項1に記載の波長分散測定装置。
【請求項３】
前記超短光パルス光源は、波長範囲が１．５６μｍ〜１．９μｍの超短光パルスを発生することを特徴とする請求項１に記載の波長分散測定装置。
【請求項４】
前記超短光パルスは、ハイパボリックセカンド型もしくはガウス型であることを特徴とする請求項１ないし３に記載の波長分散測定装置。
【請求項５】
前記超短光パルス光源から発生された前記超短光パルスを参照光パルスと被測定媒質に入射させる測定光パルスに切り換える光切換え手段をさらに有することを特徴とする請求項１ないし４に記載の波長分散測定装置。
【請求項６】
前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した測定光パルスの空間コヒーレンスを同一にする空間コヒーレンス調節器をさらに有することを特徴とする請求項５に記載の波長分散測定装置。
【請求項７】
前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した前記測定光パルスとをそれぞれ分波する光分波器と、
該分波器で分波された該参照光パルスと該測定光パルスを受光して一光子吸収信号を出力する一光子吸収検出器と、
をさらに有することを特徴とする請求項５及び６に記載の波長分散測定装置。
【請求項８】
超短光パルス光源から超短光パルスを発生させる超短光パルス発生ステップと、
該超短光パルス発生ステップで発生された該超短光パルスを被測定媒質に伝搬させる被測定媒質伝搬ステップと、
該被測定媒質伝搬ステップで該被測定媒質を伝搬した該超短光パルスを二光子吸収手段で受光して二光子吸収信号を出力する二光子吸収検出ステップと、
を有し、該二光子吸収検出ステップで検出される二光子吸収信号から該被測定媒質の波長分散を測定することを特徴とする波長分散測定方法。
【請求項９】
前記超短光パルス光源は、波長が異なる超短光パルスを発生することを特徴とする請求項８に記載の波長分散測定方法。
【請求項１０】
前記超短光パルス光源は、波長範囲が１．５６μｍ〜１．９μｍの超短光パルスを発生することを特徴とする請求項８に記載の波長分散測定方法。
【請求項１１】
前記超短光パルスは、ハイパボリックセカンド型もしくはガウス型であることを特徴とする請求項８ないし１０に記載の波長分散測定方法。
【請求項１２】
前記超短光パルス光源から発生された前記超短光パルスを光切換え手段で参照光パルスと被測定媒質に入射させる測定光パルスに切り換える光切換えステップをさらに有することを特徴とする請求項８ないし１１に記載の波長分散測定方法。
【請求項１３】
前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した測定光パルスの空間コヒーレンスを同一にする空間コヒーレンス調節ステップをさらに有することを特徴とする請求項１２に記載の波長分散測定方法。
【請求項１４】
前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した前記測定光パルスとをそれぞれ分波する光分波ステップと、
該分波ステップで分波された該参照光パルスと該測定光パルスを受光して一光子吸収信号を出力する一光子吸収検出ステップと、
をさらに有することを特徴とする請求項１２及び１３に記載の波長分散測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
光ファイバーなどの光学媒質の屈折率は波長によって変化し、あらゆる光学媒質は大なり小なり波長分散を有している。波長分散は、光ファイバー通信や超短光パルス生成においてチャープや波形歪みを引き起こす重要なパラメータである。本発明は、この波長分散を測定する装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
波長分散測定法としては、これまで、光パルス法、干渉法、位相シフト法など様々な方法が知られている。例えば、干渉法を用いた波長分散測定装置としては、波長の異なる光パルスを参照光と測定光に分岐し、被測定媒質による分散の影響を受けた測定光と参照光を干渉させて、干渉が最大になる干渉腕の光路差から群速度遅延時間を求めて波長分散を測定するものが知られている（例えば、特許文献１参照）。しかし、干渉のコントラストは干渉腕の光路差だけでなく、振動や温度変動などの影響を受けるため高精度な測定が難しかった。また、干渉のコントラストを上げるために干渉腕の光路差すなわち、両干渉腕を通過する時間差を調整する必要があり、波長分散測定に長時間を要した。光パルスを受光して電気信号に変換する半導体光検出器は検出できる波長帯域がバンドギャップで制限され、〜１．７μｍ以上の長波長光には感度がなく、従来の波長分散測定法は、〜１．７μｍ以上の長波長領域の波長分散を測定するのが難しかった。さらに、〜１．７μｍより長波長の波長可変光パルスを発生する光源がないため〜１．７μｍ以上の波長分散の測定をより一層困難にしていた。
【特許文献１】特許第３３４６５９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上記の背景技術で触れたように、これまでの波長分散測定装置は、振動や温度変動の影響を受けるため高精度測定が難しい、時間差を調整する必要があるため測定に長時間を要する、〜１．７μｍより長波長領域の分散測定が困難である、といった問題をもっていた。
【０００４】
本発明は、かかる問題を解決するために創出されたものである。すなわち、本発明の目的は、振動や温度変動の影響を受けることなく、１．７μｍより長波長領域も短時間で測定ができる波長分散測定装置及び方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
この課題を解決するためになされた本発明の波長分散測定装置は、超短光パルスを発生する超短光パルス光源と、該超短光パルス光源から発生された該超短光パルスを伝搬させる被測定媒質と、該被測定媒質を伝搬した該超短光パルスを受光して二光子吸収信号を出力する二光子吸収検出手段と、を有し、該二光子吸収検出手段から出力される二光子吸収信号から該被測定媒質の波長分散を測定することを特徴としている。
【０００６】
二光子吸収信号は、被測定媒質を伝搬した超短光パルスの二乗強度の時間積分値に比例し、被測定媒質の伝搬距離ｚと分散長さＬDの比（ｚ／ＬD）と所定の関係を有するので、被測定媒質を伝搬する前の超短光パルスのパルス幅Ｔoと伝搬距離ｚから被測定媒質の波長分散を求めることができる。したがって、従来の光パルス法、干渉法、位相シフト法と測定原理が異なり、振動や温度変動の影響を受けることがなく、高精度測定が可能である。また、時間差を調整する必要がないので、高速測定が可能であり、被測定媒質の伝搬距離ｚが短くてもよいので、短尺の被測定媒質の測定ができる。さらに、二光子吸収信号から波長分散を測定するので、〜１．７μｍ以上の長波長領域の波長分散を測定することができる。
【０００７】
また、前記超短光パルス光源は、波長が異なる超短光パルスを発生するものとすることができる。
【０００８】
異なる波長毎に波長分散を測定することができる。
【０００９】
さらに、前記超短光パルス光源は、波長範囲が１．５６μｍ〜１．９μｍの超短光パルスを発生するものとするとよい。
【００１０】
これまで測定が困難であった１．５６μｍ〜１．９μｍの長波長域の波長分散を測定することができる。
【００１１】
前記超短光パルス光源は、ファイバーレーザであることが好ましい。
【００１２】
波長分散測定装置を小型化できる。
【００１３】
前記超短光パルスは、ハイパボリックセカンド型もしくはガウス型のフーリエ限界パルス、ないしは、これらに近似できるパルスが望ましく、たとえば、フェムト秒ソリトンパルスであることがさらに望ましい。
【００１４】
二光子吸収信号が理論値に厳密に比例するようになり、波長分散測定精度が向上する。
【００１５】
前記二光子吸収検出手段を半導体光検出器としてもよい。
【００１６】
〜３．４μｍ（＝〜１．７μｍ×２）まで波長分散測定波長領域を拡げることができる。また、高速測定が可能になる。
【００１７】
前記二光子検出手段をＳＨＧ結晶とパワーメータの組合せとしてもよい。
【００１８】
被測定媒質で吸収損失が大でも二光子吸収検出ができる。
【００１９】
また、前記超短光パルス光源から発生された前記超短光パルスを参照光パルスと被測定媒質に入射させる測定光パルスに切り換える光切換え手段をさらに有するようにしてもよい。
【００２０】
被測定媒質がないときの二光子吸収信号を別途検出する必要がなくなり、波長分散の測定時間を短縮できる。
【００２１】
前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した測定光パルスの空間コヒーレンスを同一にする空間コヒーレンス調節器をさらに有するようにしてもよい。
【００２２】
二光子吸収信号が受ける参照光パルスと測定光パルスの空間コヒーレンス（ビーム径と拡がり角）の差の影響を除去して測定精度を上げることができる。
【００２３】
前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した前記測定光パルスとをそれぞれ分波する光分波器と、該分波器で分波された該参照光パルスと該測定光パルスを受光して一光子吸収信号を出力する一光子吸収検出器と、をさらに有するようにしてもよい。
【００２４】
二光子吸収信号は、被測定媒質の透過損失や結合損失の影響を受けるが、その影響を一光子吸収検出器の出力で補正することができる。
【００２５】
また、前述の課題を解決するための本発明の波長分散測定方法は、超短光パルス光源から超短光パルスを発生させる超短光パルス発生ステップと、該超短光パルス発生ステップで発生された該超短光パルスを被測定媒質に伝搬させる被測定媒質伝搬ステップと、該被測定媒質伝搬ステップで該被測定媒質を伝搬した該超短光パルスを二光子吸収手段で受光して二光子吸収信号を出力する二光子吸収検出ステップと、を有し、該二光子吸収検出ステップで検出される二光子吸収信号から該被測定媒質の波長分散を測定することを特徴とする。
【００２６】
前記超短光パルス光源は、波長が異なる超短光パルスを発生するものとすることができる。
【００２７】
さらに、前記超短光パルス光源は、波長範囲が１．５６μｍ〜１．９μｍの超短光パルスを発生するものとするとよい。
【００２８】
前記超短光パルス光源は、ファイバーレーザであることが好ましい。
【００２９】
前記超短光パルスは、ハイパボリックセカンド型もしくはガウス型のフーリエ限界パルスであることが望ましい。
【００３０】
前記二光子検出手段を半導体光検出器としてもよい。
【００３１】
前記二光子検出手段をＳＨＧ結晶とパワーメータの組合せとしてもよい。
【００３２】
前記超短光パルス光源から発生された前記超短光パルスを光切換え手段で参照光パルスと被測定媒質に入射させる測定光パルスに切り換える光切換えステップをさらに有するようにするとよい。
【００３３】
また、前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した測定光パルスの空間コヒーレンスを同一にする空間コヒーレンス調節ステップをさらに有するようにするとよい。
【００３４】
前記参照光パルスと前記被測定媒質を伝搬した前記測定光パルスとをそれぞれ分波する光分波ステップと、該分波ステップで分波された該参照光パルスと該測定光パルスを受光して一光子吸収信号を出力する一光子吸収検出ステップと、をさらに有するようにするとよい。
（発明の作用）
光強度Ｉ(t,0)の光パルスが波長分散がβ2の分散媒質を伝搬すると、伝搬距離に応じてパルス幅が広がり、距離ｚ伝搬するとＩ(t,z)となる（図４参照）。ここで、tは郡速度でパルスと共に進行する座標系で測られた時間を表す。したがって、Ｉ(t,z)は、波長分散の情報を有していることがわかる。
【００３５】
今、光パルスの波長をλ、角周波数をω（＝λ／２π）、パルス幅をＴ0とすると、伝搬前の光パルスの電場振幅Ｕ(t,0)、伝搬後の光パルスの電場振幅Ｕ(t,z)はそれぞれ、
U(t,0)＝(1/2π)∫Ｕ(ω,0)exp(-iωt)dω                 （１）
U(t,z)＝(1/2π)∫Ｕ(ω,z)exp(-iωt)dω                 （２）
と表される。ここで、Ｕ(ω,0)はU(t,0)のフーリエ変換であり、Ｕ(ω,z)は U(t,z)のフーリエ変換で、それぞれ、
Ｕ(ω,0)＝∫U(t,0)exp(iωt)dt                           （３）
Ｕ(ω,z)＝∫U(t,z)exp(iωt)dt＝Ｕ(ω,0)exp(iβ2ω2z/2)  （４）
と表される。また、光パルスがガウス型の場合は
U(t,0)＝exp(-t2/2T0)                                    （５）
ハイパボリックセカンド型（sech型）の場合は
U(t,0)＝sech(t/T0)                                      （６）
と表される。さらに、分散媒質を伝搬して光パルスが拡がる程度は次式で定義される分散距離ＬDにより決まる（小田垣孝、山田興一共訳「非線形ファイバー光学」吉岡書店出版、１９９７年５月２５日、ｐ６７−７８参照）。
【００３６】
ＬD＝T20/｜β2｜                                          （７）
なお、（１）〜（４）式における積分範囲は省略したが−∞〜∞である。
【００３７】
パルス強度は電場振幅の二乗に比例するので、伝搬前の光強度Ｉ(t,0)と伝搬後の光強度Ｉ(t,z)は、（１）式と（２）式からそれぞれ
Ｉ(t,0)∝｜(1/2π)∫Ｕ(ω,0)exp(-iωt)dω ｜2            （８）
Ｉ(t,z)∝｜(1/2π)∫Ｕ(ω,z)exp(-iωt)dω ｜2            （９）
と表される。
【００３８】
一方、二光子吸収信号は、パルスの二乗強度の積分値に比例するので、被測定媒質を伝搬した光パルスを受光したときの二光子吸収信号Ｄ2(z)、被測定媒質を伝搬しない光パルス（被測定媒質を伝搬する前の光パルス、すなわち参照光パルスに等しい）を受光したときの二光子吸収信号Ｄ2(0)は、それぞれ
Ｄ2(z)∝∫Ｉ2(t,z)dt                                      （１０）
Ｄ2(0)∝∫Ｉ2(t,0)dt                                      （１１）
と表される。
【００３９】
光パルスがsech型の場合、上記の（１）〜（４）式、及び（６）〜（１１）式を使って、Ｄ2(z)／Ｄ2(0)とz/LDの関係をシミュレーションすると、図５に示す関係が得られる。横軸のz/LDは無次元パラメータで｜β2｜ｚ/T20に等しいので、二光子吸収信号を測定することで、z/LDが求まり、伝搬距離zと伝搬前の光パルスのパルス幅T0から分散値｜β2｜が求まる。
【発明の効果】
【００４０】
本発明の波長分散測定装置は、上記のように、被測定媒質を伝搬した光パルスの二光子吸収信号から波長分散を測定するので、従来の光パルス法、干渉法、位相シフト法と測定原理が異なり、振動や温度変動の影響を受けることがなく、高精度測定が可能であり、〜１．７μｍ以上の長波長領域の測定が可能になる。また、時間差を調整する必要がないので、高速測定が可能であり、被測定媒質の伝搬距離ｚが短くてもよいので、短尺の被測定媒質の測定ができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下に本発明の好ましい実施の形態を図面を参照して説明する。
【００４２】
図１は、本発明の一実施形態を示す波長分散測定装置の概略構成図である。この図に示すように、波長分散測定装置は、超短光パルス光源１と、超短光パルス光源１から発生された超短光パルスを参照光パルスと被測定媒質２に入射させる測定光パルスに切り換える光切換え手段４と、参照光パルスと被測定媒質２を伝搬した測定光パルスの空間コヒーレンスを同一にする空間コヒーレンス調節器５と、参照光パルスと被測定媒質２を伝搬した測定光パルスとをそれぞれ分波する光分波器６と、光分波器６で分波された参照光パルスと測定光パルスを受光して一光子吸収信号を出力する一光子吸収検出器７と、光分波器６を通過した参照光パルスと測定光パルスを受光して二光子吸収信号を出力する二光子吸収検出手段３と、二光子吸収信号と一光子吸収信号を入力して処理する処理手段８と、を有している。ここで、基本的な構成要素は、超短光パルス光源１、被測定媒質２、及び二光子吸収検出手段３である。たとえば、光切り換え手段４がなくても、超短光パルス光源１と二光子吸収検出手段３の間に被測定媒質２を挿入して二光子吸収検出し、その後被測定媒質２を取り去って二光子吸収検出することで、波長分散を測定することができる。
【００４３】
超短光パルス光源１は、波長の異なる超短光パルスを発生するものが望ましい。単一波長の超短光パルスを発生するものだと、複数の超短光パルス光源が必要になる。波長の異なる超短光パルスを発生する超短光パルス光源としては、たとえば、フェムト秒ファイバーレーザからの超短光パルスを強度変調してファイバに入射し波長の異なるソリトンパルスを発生させるものを用いることができる。この波長可変超短光パルス光源は、特許第３３９０７５５号で開示されているもので、ファイバに入射させる超短光パルスの強度を変えることでラマン散乱シフト量を変え、入射超短光パルスより長波長側にシフトした光パルスがファイバの自己位相変調と波長分散によるソリトン効果で超短パルス化するものである。
【００４４】
被測定媒質２は超短光パルス光源１から発生された超短光パルスが透過する媒質であれば良く、長さも特に限定されない。
【００４５】
二光子吸収検出手段３としては、アバランシェフォトダイオード（APD）、PINフォトダイオード等を用いることができる。ＳＨＧ結晶とパワーメータの組合せを用いてもよい。被測定媒質２で減衰が大きい場合でも二光子吸収検出することができる。
【００４６】
光切り換え手段４は、４５°回動ミラー４１、４１’からなり、ミラー４１、４１’を共に実線の位置にすることで、超短光パルスは被測定媒質２を伝搬することなく参照光パルスとなる。ミラー４１、４１’を共に点線の位置にすることで、超短光パルスは被測定媒質２を伝搬する測定光パルスとなる。なお、ミラー４１、４１’をビームスプリッタで構成してもよい。その場合、参照光パルスと測定光パルスは光路差による時間差で分割して二光子吸収検出手段３で検出されることになる。光路差が小さい場合は測定光パルスの光路中に光学遅延線を挿入すればよい。ビームスプリッタにすることで、機械的に動く部分がなくなり、分散測定装置の信頼性が増す。
【００４７】
空間コヒーレンス調節器５は、参照光パルスと測定光パルスの空間コヒーレンス（ビーム径、拡がり角）を同じにして、二光子吸収信号が被測定媒質２の分散だけに影響されるようにするもので、長さ５ｃｍ前後の光ファイバ５１と集光レンズ５２、コリメータレンズ５２’とからなる。光ファイバ５１の波長分散や吸収損失などが問題になる場合は、光ファイバ５１の代わりにピンホールなどの空間フィルタを用いればよい。
【００４８】
光分波器６は、波長板と偏光ビームスプリッタを組み合わせたものでもよいが、入射光の一部を反射し残りを透過させるハーフミラーが好ましい。ハーフミラーの反射率は、一光子吸収検出器７が一光子吸収検出するように設定される。すなわち、一光子吸収検出器７として、アバランシェフォトダイオード（APD）、PINフォトダイオード等を用いる場合、二光子吸収が起きないようにハーフミラーの反射率を設定する。反射率の調整だけで二光子吸収を防ぐことができない場合は、光分波器６と一光子吸収検出器７の間に減衰フィルタ等を挿入すればよい。
【００４９】
処理手段８は、コンピュータが望ましい。図５に示す二光子吸収信号比Ｄ2(z)／Ｄ2(0)とz/LDの関係を予め入力しておくことで、二光子吸収信号比を一光子吸収信号比で補正し、伝搬距離zと伝搬前のパルス幅T0を入力するだけで、分散値｜β2｜を求めることができる。さらに、被測定媒質２を分散値が既知の媒質とすることで、分散値の絶対値だけでなく符号も含めて求めることができる。処理手段８としてオッシロスコープを用いると、超短光パルス光源１から発生される超短光パルスの波長をスキャンすることで、分散値の相対的な波長依存性を観測することができる。そして、別途異なる波長の超短光パルスでの二光子吸収信号比を一光子吸収信号比で補正し、図５の関係を使って分散値の相対値を校正するようにしてもよい。
【００５０】
なお、二光子吸収信号比Ｄ2(z)／Ｄ2(0)は、測定光パルスの一光子吸収信号をＤ1(z)、参照光パルスの一光子吸収信号をＤ1(0)とすると、
（Ｄ2(z)/Ｄ2(0)）／（Ｄ1(z)/Ｄ1(0)）2                      （１２）
で補正される。
【実施例１】
【００５１】
前述の図１は、本発明の実施例１の波長分散測定装置の概略構成図である。図２は、図１の超短光パルス光源１の構成図である。
【００５２】
超短光パルス光源１は、単一波長の超短光パルス発生するレーザ１１と、その超短光パルスの強度を変調する強度変調器１２と、長さ１００ｍの定偏波ファイバ１３と、を有している。強度変調器１２は、音響光学変調素子１２１と駆動制御用マイクロコンピュータ１２２とを有し、通過する超短光パルスの強度を１ｍｓの周期で連続的に変えることができるようになっている。強度変調器１２の後には定偏波ファイバ１３の偏光軸を調整するための半波長板１４が挿入されている。
【００５３】
レーザ１１は、波長が１．５５μｍ、パルス幅が１００ｆｓ、パルス繰り返し周期が５０ＭＨｚ、平均出力が６０ｍＷの超短光パルスを発生する市販のファイバーレーザである。レーザ１１から発生した超短光パルスは強度変調器１２で強度変調された後、半波長板１４で偏光軸が調整されてレンズ１５で集光され定偏波ファイバ１３に入射される。波長が１．５５μｍの超短光パルスが入射されるとそのパルスの強度に応じて１．５５μｍより長波長側にシフトした誘導ラマン散乱光パルスが誘起され、自己位相変調と郡速度分散によるソリトン効果でその誘起された光パルスが超短光パルス化され、定偏波ファイバ１３から波長が１．６２μｍから１．９０μｍまで変化したパルス幅２１０ｆｓのsech2型強度の超短光パルス（ソリトンパルス）が出射される。出射される超短光パルスの波長は、周期１ｍｓの鋸歯状波で連続的に１．６２〜１．９０μｍ範囲走査される。出射された超短光パルスはレンズ１５’でコリメートされ光フィルタ１６で１．５５μｍの入射超短光パルスがカットされた後、光切り換え手段４に入射される。
【００５４】
二光子吸収検出手段３はアバランシェフォトダイオードであり、一光子吸収検出器７はPINフォトダイオードである。処理手段８はオッシロスコープである。
【００５５】
図３が被測定媒質２を長さ１ｃｍの音響光学変調素子（AMTIR(GeAsSe Glass)）、長さ５０ｃｍの定偏波ファイバ（PMF）、長さ５０ｃｍの分散シフトファイバ（DSF）にしたときの波長分散測定結果である。従来の干渉法で測定した結果よく一致することが確認された。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の一実施形態を示す波長分散測定装置の概略構成図である。
【図２】実施例１の波長分散測定装置の超短光パルス光源の構成図である。
【図３】実施例１の波長分散測定装置で測定した波長分散を示すグラフである。
【図４】光パルスが分散媒質を伝搬することによって拡がる現象を説明する鳥瞰図である。
【図５】二光子吸収信号比の伝搬依存性を示すグラフである。
【符号の説明】
【００５７】
１      超短光パルス光源
２      被測定媒質
３      二光子吸収検出手段
４      光切り換え手段
５      空間コヒーレンス調節器
６      光分波器
７      一光子吸収検出器
８      処理手段
【図１】
2005241284.tif 000003
【図２】
2005241284.tif 000004
【図３】
2005241284.tif 000005
【図４】
2005241284.tif 000006
【図５】
2005241284.tif 000007