(57)【要約】【課題】Ｘ線撮像装置による取り込み画像のコントラスト向上、ノイズ低減等の画質向上を簡単な構成で達成すること。【解決手段】本発明は、被検体Ａに向けてＸ線を照射するＸ線源２１と、Ｘ線源２１から照射されたＸ線の被検体Ａでの透視画像を取得するＸ線検出器７と、Ｘ線源２１と被検体Ａとの間に配置される板状かつ重金属製の前段側Ｘ線フィルタ３と、Ｘ線源２１から被検体Ａに向けて照射されるＸ線の照射領域を可変する前段側Ｘ線絞り４とを備えるＸ線撮像装置１である。【選択図】図１
2005321334.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源と、
前記Ｘ線源から照射されたＸ線の前記被検体での透視画像を取得するＸ線検出手段と、
前記Ｘ線源と前記被検体との間に配置される板状かつ重金属製の前段側Ｘ線フィルタと、
前記Ｘ線源から前記被検体に向けて照射されるＸ線の照射領域を可変する前段側Ｘ線絞りと
を備えることを特徴とするＸ線撮像装置。
【請求項２】
前記被検体と前記Ｘ線検出手段との間に配置される板状かつ重金属製の後段側Ｘ線フィルタを備える
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線撮像装置。
【請求項３】
前記後段側Ｘ線フィルタと前記Ｘ線検出手段との間に配置され、前記後段側Ｘ線フィルタを透過したＸ線の前記Ｘ線検出手段への照射領域を可変する後段側Ｘ線絞りを備える
ことを特徴とする請求項２記載のＸ線撮像装置。
【請求項４】
前記前段側Ｘ線フィルタは、前記Ｘ線源から照射されるＸ線のうち所定のエネルギーに満たないものの透過を阻止する
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線撮像装置。
【請求項５】
前記後段側Ｘ線フィルタは、前記Ｘ線検出手段に向かうＸ線のうち所定のエネルギーに満たないものの透過を阻止する
ことを特徴とする請求項２記載のＸ線撮像装置。
【請求項６】
前記前段側Ｘ線フィルタは、タンタルから成る
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線撮像装置。
【請求項７】
前記後段側Ｘ線フィルタは、タンタルから成る
ことを特徴とする請求項２記載のＸ線撮像装置。
【請求項８】
前記前段側Ｘ線フィルタは、金から成る
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線撮像装置。
【請求項９】
前記後段側Ｘ線フィルタは、金から成る
ことを特徴とする請求項２記載のＸ線撮像装置。
【請求項１０】
前記前段側Ｘ線フィルタは、着脱自在に設けられている
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線撮像装置。
【請求項１１】
前記後段側Ｘ線フィルタは、着脱自在に設けられている
ことを特徴とする請求項２記載のＸ線撮影装置。
【請求項１２】
被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源と、
前記Ｘ線源から照射されたＸ線の前記被検体での透視画像を取得するＸ線検出手段と、
前記被検体と前記Ｘ線検出手段との間に配置される板状かつ重金属製のＸ線フィルタと、
前記Ｘ線フィルタと前記Ｘ線検出手段との間に配置され、前記Ｘ線フィルタを透過したＸ線の前記Ｘ線検出手段への照射領域を可変するＸ線絞りと
を備えることを特徴とするＸ線撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検体に向けてＸ線を照射して被検体での透過画像を取得するＸ線撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のＸ線撮影装置では、被検体や装置内部の物体との相互作用による散乱Ｘ線などの影響を除去するために、例えば特許文献１や特許文献２で示される散乱Ｘ線除去グリッドを使用してＸ線源より発生したＸ線と同一方向の放射線のみを透過し、散乱によって角度が変化した散乱Ｘ線を吸収することによりＸ線源と同一方向のＸ線のみを選択的にＸ線検出器で検出し、散乱Ｘ線の影響を低減する技術が開示されている。また、特許文献３や特許文献４では、散乱Ｘ線を除去するためにＸ線コリメータなどを使用している。
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−１９４４６２号公報
【特許文献２】特開２００３−７９６１５号公報
【特許文献３】特開平５−７２１５０号公報
【特許文献４】特開平６−２２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、この散乱Ｘ線除去グリッドは非常に構造が複雑である。したがって、検出器の分解能が高いとそれに見合う散乱Ｘ線除去グリッドの製作は非常に困難となる。さらに、グリッド自身が撮影され画像化される問題と、それを解決するためにグリッド移動機構などにより検出器前面でグリッドの配列方向に向け直線的に往復する構造をとっている。それゆえ更なる構造の複雑化および高コスト化を招くという問題もある。
【０００５】
また、グリッドには方向性があることから、グリッドの配列とＸ線源の方向との位置も重要でその調整が難しい。さらに、この散乱Ｘ線除去グリッドにより画像に干渉縞が発生するという問題もある。この干渉縞の除去に例えばグリッドの往復運動機構や、さらに複雑なシステムが必要となる。また、散乱Ｘ線除去グリッドはＸ線検出器の近傍に取り付けられるため、この散乱Ｘ線除去グリッド自身でのＸ線散乱によって画質の低下を招くこという問題もある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明はこのような課題を解決するために成されたものである。すなわち、本発明は、被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源と、Ｘ線源から照射されたＸ線の被検体での透視画像を取得するＸ線検出手段と、Ｘ線源と被検体との間に配置される板状かつ重金属製の前段側Ｘ線フィルタと、Ｘ線源から被検体に向けて照射されるＸ線の照射領域を可変する前段側Ｘ線絞りとを備えるＸ線撮像装置である。
【０００７】
このような本発明では、Ｘ線源と被検体との間に板状かつ重金属製の前段側Ｘ線フィルタと前段側Ｘ線絞りとを備えているため、構造が簡単な板状の前段側Ｘ線フィルタでＸ線源から照射されるＸ線のうちの良質な撮像に不要な低エネルギー成分を除去し、前段側Ｘ線絞りで被検体に向けたＸ線の照射領域を絞るため、不要な部分へのＸ線照射を防止して散乱Ｘ線の発生を抑制できるようになる。
【０００８】
また、本発明は、被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源と、Ｘ線源から照射されたＸ線の被検体での透視画像を取得するＸ線検出手段と、被検体とＸ線検出手段との間に配置される板状かつ重金属製のＸ線フィルタと、Ｘ線フィルタとＸ線検出手段との間に配置され、Ｘ線フィルタを透過したＸ線のＸ線検出手段への照射領域を可変するＸ線絞りとを備えるＸ線撮影装置である。
【０００９】
このような本発明では、被検体とＸ線検出手段との間に板状かつ重金属製のＸ線フィルタとＸ線絞りとを備えているため、構造が簡単な板状のＸ線フィルタで被検体を透過したＸ線のうちの良質な撮像に不要な低エネルギー成分を除去し、Ｘ線絞りでＸ線検出手段に向けたＸ線の照射領域を絞るため、不要な部分へのＸ線照射を防止して散乱Ｘ線の発生を抑制できるようになる。
【発明の効果】
【００１０】
したがって、本発明によれば、散乱Ｘ線の主成分である低エネルギーＸ線を除去する構成として板状かつ重金属製のフィルタを用いるため、非常に簡単な構造で撮影に不要なＸ線を除去することが可能となる。また、散乱Ｘ線除去グリッドのような方向性に対する困難な調整が不要となる。また、Ｘ線フィルタとして重金属を使用することにより、従来のフィルタに比較して板厚を薄くできることができ、フィルタ自身でのＸ線散乱を低減でき、Ｘ線検出器の位置はそのままでも被検体をＸ線源により近い位置に配置ができることによって撮影時の拡大率を上げることが可能となる。以上より、簡単かつ調整がほとんど不要な構造で散乱Ｘ線を低減でき、画質改善（コントラスト能力向上と特性曲線の線形性向上）に大きく寄与することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態を図に基づき説明する。図１は、本実施形態に係るＸ線撮像装置を説明する模式図である。すなわち、このＸ線撮像装置１は、被検体Ａに向けてＸ線源２１からＸ線を照射するＸ線発生装置２と、Ｘ線発生装置２と対向して配置されるＸ線検出器７と、Ｘ線発生装置２のＸ線源２１の近傍、つまりＸ線源２１と被検体Ａとの間に配置される前段側Ｘ線フィルタ３と、この前段側Ｘ線フィルタ３の直後に配置される前段側Ｘ線絞り４と、被検体ＡとＸ線検出器７との間に配置される後段側Ｘ線フィルタ５と、この後段側Ｘ線フィルタ５の直後に配置される後段側Ｘ線絞り６とを備えた構成となっている。
【００１２】
上記構成のうち、前段側Ｘ線フィルタ３および後段側Ｘ線フィルタ５は重金属を薄板状（例えば、箔状）に形成したものから成り、被検体Ａの映像取り込みに不要な低エネルギーＸ線を吸収し、映像取り込みに必要な高エネルギーＸ線を透過できるようになっている。この重金属としては、例えばタンタル、白金、金、銀、タングステン、レニウム、鉛で、箔として厚みを精度良く製作できるものが望ましい。本実施形態では、このようなＸ線フィルタとして板状のものを用いるため、グリッド型のような複雑な構成をとる必要がなく、装置構成の簡素化および装置のコストダウンを図ることができる。
【００１３】
低エネルギーＸ線を吸収できる金属として従来ではアルミニウムや銅が使用されているが、上記のような重金属を使用することによりアルミニウムや銅と同等の低エネルギー除去効果をより薄い板厚で得ることができる。例えば管電圧１００ｋＶでタングステンターゲットにより発生するＸ線では、アルミニウム板のフィルタでは２．５ｍｍ必要であるのに対し、タンタル板のフィルタでは０．０１５ｍｍ厚で済むことになる。Ｘ線フィルタの厚さを薄くできると、フィルタ自身での散乱Ｘ線を低減でき、被検体ＡをよりＸ線源２１に近づけることが可能となって、Ｘ線源２１とＸ線検出器７との距離は同じでも、拡大率を上げることが可能となる。
【００１４】
図２は、Ｘ線撮像装置の被検体透視画像の拡大率について説明する模式図である。ここで、Ｘ線源２１と被検体Ａとの距離をＦＯＤ、Ｘ線源２１とＸ線検出器７との距離をＦＤＤとすると、拡大率はＦＤＤ／ＦＯＤによって決定される。したがって、ＦＤＤが一定で、前段側Ｘ線フィルタ３の厚さが厚くなるほどＦＯＤが大きくなることから、拡大率の低下を招くことになる。本実施形態では、前段側Ｘ線フィルタ３として重金属を用いることでアルミニウムや銅を用いる場合と比べて非常に薄くでき、ＦＯＤを小さくできることから、同じＦＤＤでも拡大率を向上できることになる。
【００１５】
図３は、Ｘ線検査装置１の各構成のレイアウトの一例を示す模式図で、（ａ）は上面図、（ｂ）は正面図ある。Ｘ線撮像装置１では、透視画像の拡大率を任意に設定できるようにＸ線発生装置２、Ｘ線検出器７、被検体Ａは、Ｘ線照射方向に沿って各々位置を可変できるようなスライドテーブルＳＴ１〜ＳＴ３上に各々配置され、例えばボールねじに接続されたモータの駆動にて任意の位置に設定可能となっている。
【００１６】
Ｘ線発生装置１を配置するスライドテーブルＳＴ１には前段側Ｘ線フィルタ３および前段側Ｘ線絞り４が配置されており、拡大率変更に伴ってＸ線発生装置２、Ｘ線検出器７、被検体Ａの位置変更があってもＸ線源２１と前段側Ｘ線フィルタ３および前段側Ｘ線絞り４との位置関係が変化しない構造となっている。
【００１７】
また、被検体Ａを配置するスライドテーブルＳＴ２には後段側Ｘ線フィルタ５および後段側Ｘ線絞り６が配置され、上記同様に拡大率変更に伴い被検体Ａとの位置関係が変化しない構造をとる。被検体Ａは、スライドテーブルＳＴ２上で別の移動軸を持つスライドテーブルＳＴ２１に配置されているため、スライドテーブルＳＴ２およびスライドテーブルＳＴ２１の２軸方向に沿った移動によって面方向で移動可能となっている。
【００１８】
Ｘ線検出器７もスライドテーブルＳＴ３上で別の移動軸を持つスライドテーブルＳＴ３１に配置されており、スライドテーブルＳＴ３およびスライドテーブルＳＴ３１の２軸方向に沿った移動が可能となっている。
【００１９】
Ｘ線発生装置２により発生されたＸ線は画像形成に寄与しない低エネルギーＸ線を含んでいる。本実施形態のＸ線撮像装置１では、前段側Ｘ線絞り４および後段側Ｘ線フィルタ５として重金属を用いることにより、透視画像の取り込みに寄与しない低エネルギーＸ線を吸収できるようになる。
【００２０】
前段側Ｘ線フィルタ３および後段側Ｘ線フィルタ５はカセット式となっており、撮影条件によるＸ線強度の変化に対応して材質、板厚を変更可能になっている。図４は前段側Ｘ線フィルタのカセット構成を説明する模式図で、（ａ）は断面図、（ｂ）は正面図である。なお、ここでは前段側Ｘ線フィルタ３を例とするが、後段側Ｘ線フィルタでも同様である。
【００２１】
フィルタカセット３１には溝が形成されており、この溝に適宜条件に見合った材質、板厚のフィルタ材料を挿入する。そして、このフィルタカセット３１をＸ線撮像装置のフィルタカセット挿入口に差し込むようにすることで、フィルタの材質、板厚の変更を可能とする。なお、上記のようなカセット構成のほか、複数種類のフィルタ材を備えた支持部材を回転もしくはスライドさせて、使用するフィルタ材を適宜選択できる構成であってもよい。
【００２２】
また、前段側Ｘ線フィルタ３の直後に設けられている前段側Ｘ線絞り４は、前段側Ｘ線フィルタ３を透過してＸ線のうち被検体Ａに照射する領域を可変できるようになっている。また、後段側Ｘ線フィルタ５の直後に設けられている後段側Ｘ線絞り６は、後段側Ｘ線フィルタ５を透過したＸ線のうちはＸ線検出器７へ照射される領域を可変できるようになっている。これらの絞りによって、画像形成に寄与しない不要なＸ線を除去でき、被検体Ａ以外の物体などによる散乱Ｘ線の発生を抑制できるようになる。
【００２３】
図５は、前段側Ｘ線絞りの機構部を説明する模式図で、（ａ）は上面図、（ｂ）は正面図である。なお、ここでは前段側Ｘ線絞りについて示すが、後段側Ｘ線絞りであっても同様である。前段側Ｘ線絞り４は、鉛あるいはタングステンからなる２枚のＬ型プレート４ａ、４ｂを組み合わせた構成となっており、各Ｌ型プレート４ａ、４ｂが各々基台４１、４２に取り付けられた構成となっている。これらの基台４１、４２は絞り開閉ねじ４０によって間隔が設定できるようになっており、間隔を開くとＬ型プレート４ａ、４ｂの間隔が開いてＬ型プレート４ａ、４ｂによって構成される開口が大きくなり、反対に基台４１、４２の間隔を狭くすると、Ｌ型プレート４ａ、４ｂによって構成される開口が小さくなる。この開口の大きさによってＸ線の照射領域を可変できるようになる。拡大率変更に伴う絞り量の調整も行うことができる。
【００２４】
図６は、Ｘ線の散乱について説明する模式図である。Ｘ線発生装置２のＸ線源２１から出射されるＸ線には、画像形成に必要のない所定エネルギーより低いＸ線（低エネルギーＸ線）および画像形成に必要のない所定エネルギーより高いＸ線（高エネルギーＸ線）ならびに画像形成に必要な高エネルギーＸ線を含んでいる。このうち、低エネルギーＸ線は前段側Ｘ線フィルタ３で吸収できる。また、前段側Ｘ線絞り４によって高エネルギーＸ線のうち被検体Ａの撮影には不要なものを除去し、被検体Ａには撮影に必要な高エネルギーＸ線だけが照射される。
【００２５】
また、被検体Ａに照射され透過したＸ線は、被検体Ａによる散乱Ｘ線を含んでいる。画像形成に必要なのはＸ線源２１と同一方向の被検体Ａを透過して減弱されたＸ線のみである。散乱Ｘ線は低エネルギー成分が主成分であり、本実施形態では、後段側Ｘ線フィルタ５でこの低エネルギー成分を吸収する。
【００２６】
また、後段側Ｘ線フィルタ５では除去できない高エネルギーの散乱Ｘ線でＸ線検出器７には直接入射しないＸ線は後段側Ｘ線絞り６で除去する。これらにより、Ｘ線検出器７に入射するＸ線は被検体Ａによって発生した散乱Ｘ線の主成分である低エネルギーＸ線が除去され、不要Ｘ線は除去されているために、装置内壁１１や被検体Ａのスライドテーブルなどを起因とする散乱Ｘ線は発生しないことになる。よって、Ｘ線検出器７に到達するＸ線は良質なＸ線であり、画像形成に寄与し、高品質な画像を得ることができる。
【００２７】
図７は、被検体に入射するＸ線の様子を説明する模式図である。被検体Ａに入射されるＸ線は、高エネルギー散乱Ｘ線と、入射Ｘ線と同一方向の透過Ｘ線と、低エネルギー散乱Ｘ線とに分けられる。このうち低エネルギー散乱Ｘ線は後段側Ｘ線フィルタ５によって吸収される。また後段側Ｘ線フィルタ５を透過する高エネルギー散乱Ｘ線は後段側Ｘ線絞り６で吸収される。したがって、後段側Ｘ線フィルタ５および後段側Ｘ線絞り６のいずれも通過するＸ線は、画像形成に必要な入射Ｘ線と同一方向の透過Ｘ線のみとなる。
【００２８】
図８は、Ｘ線フィルタの効果を説明する図で、横軸はＸ線の光子エネルギー、縦軸はＸ線検出器で検出したＸ線強度である。Ｘ線フィルタがない場合には低エネルギーのＸ線も検出されており、除去できていないことを示している。一方、Ｘ線フィルタ（タンタル、０．０２５ｍｍ厚）を設けることで、低エネルギーのＸ線の検出量が低くなっており、低エネルギーのＸ線を除去できていることが分かる。
【００２９】
次に、図９に示すような装置構成を用いてＸ線絞りの効果を説明する。図９に示す装置は、Ｘ線源２１から管電圧１００ｋＶでＸ線を出射し、板厚１０ｍｍの鉛板を被検体としてＸ線照射領域の図中左半分を鉛板でかくし、図中右半分をそのまま透過してＸ線検出器７でＸ線検出強度を測定している。鉛板はＸ線が透過できずＸ検出器自身のノイズにもよるが値は０になる。
【００３０】
図１０は、Ｘ線検出器での検出結果を示す図で、図９（ｂ）に示す横線上でのＸ線検出強度を示している。この図の２つのグラフのうち、一方は本実施形態のＸ線絞りを設けた場合、他方はＸ線絞りを設けない場合（従来）である。この図から明らかなように従来に比べ鉛板部の検出器の画素値は０に近くなる。また、散乱含有率（鉛板部／鉛無し部×１００％）は１／３程度となっている。
【００３１】
図１１は、本実施形態のＸ線撮像装置の効果を検証するための被検体サンプルの例を示す模式図である。この被検体サンプルは、主成分銀でφ３ｍｍの円筒形の被検体３つを位置をずらして重ねたものである。この被検体サンプルを用いて各種の条件でＸ線透過画像を取り込んだ結果を図１２に示す。図１２は、図１１に示す被検体サンプルのＸ線透過画像のうち、図中一点鎖線に示す位置でのＸ線検出強度を示している。Ｘ線は１００ｋＶ、７０μＡで発生し、図中４つのグラフは、（１）Ｘ線絞りなし、Ｘ線フィルタなし、（２）Ｘ線絞りあり、Ｘ線フィルタなし、（３）Ｘ線絞りあり、Ａｕ（金）のＸ線フィルタあり、（４）Ｘ線絞りあり、Ｔａ（タンタル）のＸ線フィルタありの場合を示している。
【００３２】
この図に示すように、最もレンジが広いのは、（４）Ｘ線絞りあり、ＴａのＸ線フィルタありの場合、次に、（３）Ｘ線絞りあり、ＡｕのＸ線フィルタありの場合となっており、コントラストの高い画像を得ていることが分かる。
【００３３】
図１３は、Ｘ線フィルタの特性を説明する図である。この図の横軸はＸ線フィルタに入射するＸ線の相対露光量、縦軸はＸ線フィルタを透過したＸ線のＸ線検出器による検出強度を示している。図中（１）はＸ線絞りなし、Ｘ線フィルタなしの場合、（２）はＸ線絞りあり、Ｘ線フィルタなしの場合、（３）はＸ線絞りあり、ＡｕのＸ線フィルタありの場合、（４）はＸ線絞りあり、ＴａのＸ線フィルタありの場合である。この図より、（３）、（４）に示すＸ線絞りおよびＸ線フィルタを用いる場合では不要な散乱Ｘ線を抑制しているため、相対露光量に対するＸ線検出強度のリニアリティが高い結果となっている。なお、Ｘ線フィルタの材質では、ＡｕよりＴａの方が高いリニアリティを示している。
【００３４】
図１４は、Ｘ線絞りによる銀減弱曲線の変化を示す図であり、横軸は銀の厚み、縦軸は銀を透過したＸ線の検出強度である。図中（１）は１００ｋＶで発生したＸ線の銀減弱曲線の理論値、（２）はＸ線絞りなしの場合、（３）はＸ線絞りありの場合、（４）は１５０ｋＶで発生したＸ線の銀減弱曲線の理論値である。このように、（３）に示すＸ線絞りを用いることで、（１）の理論値に近い銀減弱曲線となり、散乱Ｘ線による悪影響を抑制できることが分かる。
【００３５】
上記説明したように、被検体の前後にＸ線フィルタおよびＸ線絞りを設けることで、コントラストが高く、しかも散乱Ｘ線によるノイズ等の悪影響のないＸ線透過画像を得ることが可能となる。
【００３６】
なお、本実施形態では、主として被検体の前後にＸ線フィルタおよびＸ線絞りを設ける構成を説明したが、必要に応じて被検体の前側もしくは後ろ側のみにＸ線フィルタおよびＸ線絞りを設ける構成でも、これらＸ線フィルタおよびＸ線絞りがない構成に比べて良質な画像を得ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本実施形態に係るＸ線撮像装置を説明する模式図である。
【図２】Ｘ線撮像装置の被検体透視画像の拡大率について説明する模式図である。
【図３】Ｘ線検査装置１の各構成のレイアウトの一例を示す模式図で、（ａ）は上面図、（ｂ）は正面図ある。
【図４】前段側Ｘ線フィルタのカセット構成を説明する模式図で、（ａ）は断面図、（ｂ）は正面図である。
【図５】前段側Ｘ線絞りの機構部を説明する模式図で、（ａ）は上面図、（ｂ）は正面図である。
【図６】Ｘ線の散乱について説明する模式図である。
【図７】被検体に入射するＸ線の様子を説明する模式図である。
【図８】Ｘ線フィルタの効果を説明する図である。
【図９】Ｘ線絞りの効果を検証する装置構成を説明する模式図である。
【図１０】Ｘ線検出器での検出結果を示す図である。
【図１１】本実施形態のＸ線撮像装置の効果を検証するための被検体サンプルの例を示す模式図である。
【図１２】図１１に示す被検体サンプルのＸ線透過画像のうち、図中一点鎖線に示す位置でのＸ線検出強度を示している。
【図１３】Ｘ線フィルタの特性を説明する図である。
【図１４】Ｘ線絞りによる銀減弱曲線の変化を示す図である。
【符号の説明】
【００３８】
１…Ｘ線撮像装置、２…Ｘ線発生装置、３…前段側Ｘ線フィルタ、４…前段側Ｘ線絞り、５…後段側Ｘ線フィルタ、６…後段側Ｘ線絞り、７…Ｘ線検出器、２１…Ｘ線源、Ａ…被検体
【図１】
2005321334.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2005321334.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
2005321334.tif 000012
【図１１】
2005321334.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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