(57)【要約】  【構成】  イコライザ１８は、複数のピットが形成されたＲＯＭディスク５０の記録面から反射されたレーザ光に基づいて波形等化処理が施されたＲＦ信号を生成する。生成されたＲＦ信号のアシンメトリレベルは、ＤＳＰ４０によってビタビ期待値Ｐ（０）として設定される。ブランチメトリック演算回路２４は、アシンメトリレベルを基準とするＲＦ信号の正極波形を、ビタビ期待値Ｐ（０）ないしＰ（４）でスライスする。ＤＳＰ４０は、“１／Ｍ（Ｍは１ないし４の整数）”の総和に占める“１／Ｎ”の割合に基づいて、ビタビ期待値Ｐ（Ｎ）とビタビ期待値Ｐ（Ｎ−１）との間隔を算出する。  【効果】  ＲＦ信号の復号精度が向上する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のピットが形成されたディスク記録媒体の記録面から反射されたレーザ光に基づいてＲＦ信号を生成する生成手段、
前記ＲＦ信号のアシンメトリレベルを第０スライスレベルとして設定する設定手段、
前記アシンメトリレベルを基準とする前記ＲＦ信号の正極波形および負極波形の各々を前記第０スライスレベルないし第Ｌスライスレベル（Ｌは２以上の整数）でスライスするスライス手段、
前記スライス手段の出力に基づいてデータを復号する復号手段、および
“１／Ｍ（Ｍは１ないしＬの整数）”の総和に占める“１／Ｎ”の割合に基づいて第Ｎスライスレベルと第Ｎ−１スライスレベルとの間隔を算出する算出手段を備える、復号装置。
【請求項２】
前記ＲＦ信号の振幅を測定する測定手段をさらに備え、
前記算出手段によって行われる演算は、前記測定手段によって測定された振幅と理想振幅との差分を前記割合に掛ける掛け算、および前記掛け算によって求められた数値を理想間隔に加える加算を含む、請求項１記載の復号装置。
【請求項３】
前記ＲＦ信号はＰＲＭＬ符号化処理を施された信号である、請求項１または２記載の復号装置。
【請求項４】
前記ＰＲＭＬ符号化処理はＰＲ（１２２２１）クラスを採用する、請求項３記載の復号装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、復号装置に関し、特にたとえば光ディスク装置に適用され、光ディスクから再生されたＲＦ信号を復号する、復号装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のこの種の復号処理技術が、非特許文献１に開示されている。この文献によれば、次世代ＤＶＤでは、符号化技術としてＰＲＭＬ（Partial Response and Maximum Likelihood）信号処理のＰＲ（１２２２１）クラスが採用される。そして、かかる信号処理を施されたＲＦ信号は、９つのメトリック値（ビタビ期待値）を用いてビタビ検出器によって復号される。
【非特許文献１】岩永敏明，「高密度信号処理」，月刊オプトロニクス，株式会社オプトロニクス社，２００３年７月，ｐ．１７１−１７６
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、ＲＯＭディスクについては、製造条件に起因するピット形状の微妙な変化が、ビタビ復号の精度の低下をもたらす。つまり、ピット形状が基準形状よりも大きくなると、再生されたＲＦ信号のアシンメトリレベルが増大し、ピット形状が基準形状よりも小さくなると、アシンメトリレベルが減少する。すると、ビタビ期待値を固定としたのでは、ビタビ検出器におけるブランチメトリック演算に誤りが発生し、これによって復号精度が低下してしまう。
【０００４】
それゆえに、この発明の主たる目的は、ＲＦ信号を正確に復号できる、復号装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１の発明に従う復号装置は、複数のピットが形成されたディスク記録媒体の記録面から反射されたレーザ光に基づいてＲＦ信号を生成する生成手段、ＲＦ信号のアシンメトリレベルを第０スライスレベルとして設定する設定手段、アシンメトリレベルを基準とするＲＦ信号の正極波形および負極波形の各々を第０スライスレベルないし第Ｌスライスレベル（Ｌは２以上の整数）でスライスするスライス手段、スライス手段の出力に基づいてデータを復号する復号手段、および“１／Ｍ（Ｍは１ないしＬの整数）”の総和に占める“１／Ｎ”の割合に基づいて第Ｎスライスレベルと第Ｎ−１スライスレベルとの間隔を算出する算出手段を備える。
【０００６】
生成手段は、複数のピットが形成されたディスク記録媒体の記録面から反射されたレーザ光に基づいてＲＦ信号を生成する。生成されたＲＦ信号のアシンメトリレベルは、設定手段によって第０スライスレベルとして設定される。スライス手段は、アシンメトリレベルを基準とするＲＦ信号の正極波形および負極波形の各々を、第０スライスレベルないし第Ｌスライスレベル（Ｌは２以上の整数）でスライスする。また、復号手段は、かかるスライス手段の出力に基づいてデータを復号する。算出手段は、“１／Ｍ（Ｍは１ないしＬの整数）”の総和に占める“１／Ｎ”の割合に基づいて、第Ｎスライスレベルと第Ｎ−１スライスレベルとの間隔を算出する。
【０００７】
これによって、ＲＦ信号に歪みに対して正確なスライスレベル設定が可能となり、ＲＦ信号の復号精度が向上する。
【０００８】
請求項２の発明に従う復号装置は、請求項１に従属し、ＲＦ信号の振幅を測定する測定手段をさらに備え、算出手段によって行われる演算は、測定手段によって測定された振幅と理想振幅との差分を割合に掛ける掛け算、および掛け算によって求められた数値を理想間隔に加える加算を含む。
【０００９】
請求項３の発明に従う復号装置は、請求項１または２に従属し、ＲＦ信号はＰＲＭＬ符号化処理を施された信号である。
【００１０】
請求項４の発明に従う復号装置は、請求項３に従属し、ＰＲＭＬ符号化処理はＰＲ（１２２２１）クラスを採用する。
【発明の効果】
【００１１】
この発明によれば、“１／Ｍ（Ｍは１ないしＬの整数）”の総和に占める“１／Ｎ”の割合に基づいて、第Ｎスライスレベルと第Ｎ−１スライスレベルとの間隔を算出するようにしたため、ＲＦ信号に歪みに対して正確なスライスレベル設定が可能となり、ＲＦ信号の復号精度が向上する。
【００１２】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
図１を参照して、この実施例のディスク装置１０は、ＲＯＭディスク５０を回転させるスピンドルモータ１４を含む。光ピックアップ１２は、ＲＯＭディスク５０の記録面にレーザ光を照射し、記録面で反射されたレーザ光に基づいてＲＦ信号を出力する。光ピックアップ１２から出力されたＲＦ信号は、ＲＦアンプ１６で増幅され、かつイコライザ１８によって等化される。
【００１４】
ＲＦ信号はＰＲＭＬ信号処理を施されており、ＰＲクラスはＰＲ（１２２２１）クラスである。したがって、レーザ光が１つのピットを走査したときに、イコライザ１８から出力されるＲＦ信号の波形は図３に示すように変化する。実際には複数のピットが記録面に形成されるため、ＲＦ信号は、図４に示すようなアイパターン波形を描く。
【００１５】
Ａ／Ｄ変換器２０はイコライザ１８から出力されたＲＦ信号にＡ／Ｄ変換を施し、ディジタル信号であるＲＦデータをビタビ復号回路２２に与える。ＲＦデータは、ブランチメトリック演算回路２４およびパスメトリック演算回路２６でブランチメトリック演算およびパスメトリック演算を施され、演算結果つまりビタビ復号データはパスメモリ２８に書き込まれる。ＥＴＭ復調回路３０は、パスメモリ２８に格納されたビタビ復号データにＥＴＭ復調を施し、復調データを出力する。
【００１６】
イコライザ１８から出力されたＲＦ信号はまた、ピークホールド回路３２および３６、ならびにボトムホールド回路４０および４４に与えられる。ピークホールド回路３２は３ＴパターンのＲＦ信号のピークレベルＰＬ（３Ｔ）を検出し、ピークホールド回路３６は１１ＴパターンのＲＦ信号のピークレベルＰＬ（１１Ｔ）を検出する。また、ボトムホールド回路４０は３ＴパターンのＲＦ信号のボトムレベルＢＬ（３Ｔ）を検出し、ボトムホールド回路４４は１１ＴパターンのＲＦ信号のボトムレベルＢＬ（１１Ｔ）を検出する。
【００１７】
ピークホールド回路３２および３６の出力はそれぞれＡ／Ｄ変換器３４および３８を介してＤＳＰ４０に与えられ、ボトムホールド回路４０および４４の出力はそれぞれＡ／Ｄ変換器４２および４６を介してＤＳＰ４０に与えられる。ＤＳＰ４０は、Ａ／Ｄ変換器３４，３８，４２および４６の出力に基づいて９つのビタビ期待値（スライスレベル）Ｐ（＋４）〜Ｐ（−４）を求め、求められたビタビ期待値をブランチメトリック演算回路２４に設定する。
【００１８】
ブランチメトリック演算回路２４は、図２に示すように構成される。Ａ／Ｄ変換器２０から出力されたＲＦデータは、減算器２４ａ〜２４ｉに与えられる。一方、ＤＳＰ４０によって求められたビタビ期待値Ｐ（＋４）〜Ｐ（−４）は、レジスタ２４ｊに格納された後、減算器２４ａ〜２４ｉにそれぞれ与えられる。
【００１９】
減算器２４ａ〜２４ｉは、ＲＦデータからビタビ期待値Ｐ（＋４）〜Ｐ（−４）をそれぞれ減算し、減算値｛ＲＦ−Ｐ（＋４）｝〜｛ＲＦ−Ｐ（−４）｝を出力する。出力された減算値｛ＲＦ−Ｐ（＋４）｝〜｛ＲＦ−Ｐ（−４）｝は掛け算器２４ｋ〜２４ｓによってそれぞれ２乗され、これによって｛ＲＦ−Ｐ（＋４）｝２〜｛ＲＦ−Ｐ（−４）｝２が求められる。
【００２０】
ＤＳＰ４０は、図６〜図８に示すフロー図に従う処理を行う。まずステップＳ１で、リードインエリアへのレーザ光の照射を光ピックアップ１２に命令する。リードインエリアには上述のピットが多数形成されており、この結果、図４に示すようなアイパターンを描くＲＦ信号がイコライザ１８から出力される。ステップＳ３では、かかるＲＦ信号から検出されたピークレベルおよびボトムレベルに数１に従う演算を施し、ＲＦ信号のアシンメトリレベルＡＳＬを求める。
【００２１】
【数１】
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【００２２】
数１によれば、ピークレベルＰＬ（１１Ｔ）およびボトムレベルＢＬ（１１Ｔ）の平均値（センター値）からピークレベルＰＬ（１１Ｔ）およびボトムレベルＢＬ（１１Ｔ）の平均値（センター値）が減算され、減算値がピークレベルＰＬ（１１Ｔ）およびボトムレベルＢＬ（１１Ｔ）の差分値によって割り算される。
【００２３】
ステップＳ５では数２に従って係数Ｋ１を決定し、ステップＳ７では数３に従って係数Ｋ２を決定する。
【００２４】
【数２】
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【００２５】
【数３】
2005267759.tif 000005
【００２６】
数２の分子の演算によれば、ピークレベルＰＬ（１１Ｔ）からアシンメトリレベルＡＳＬが減算され、これによって得られた減算値から“４”がさらに減算される。“４”は、ピークレベルＰＬ（１１Ｔ）およびアシンメトリレベルＡＳＬの差分の理論値である。これによって、実際に測定された振幅と理想的な振幅との誤差が判明する。数２の分母の演算は、後述する数４を考慮したものである。
【００２７】
数３の分子の演算によれば、アシンメトリレベルＡＳＬからボトムレベルＢＬ（１１Ｔ）が減算され、これによって得られた減算値から“４”がさらに減算される。“４”は、ボトムレベルＢＬ（１１Ｔ）およびアシンメトリレベルＡＳＬの差分の理論値である。これによって、数２と同様、実際に測定された振幅と理想的な振幅との誤差が判明する。数３の分母の演算も、後述する数６を考慮したものである。
【００２８】
こうして係数Ｋ１およびＫ２が決定されると、ステップＳ９でアシンメトリレベルＡＳＬをビタビ期待値Ｐ（０）として設定し、ステップＳ１１以降の処理に進む。
【００２９】
ステップＳ１１では変数ｉを１に設定し、ステップＳ１３では数４に従って期待値間隔ΔＰ（＋ｉ）を求める。数４によれば、“１／ｉ”が係数Ｋ１に掛け算され、これによって得られた掛け算値に理想的な間隔である“１”が加算される。こうして求められる期待値間隔ΔＰ（＋ｉ）は、図５から分かるように、ビタビ期待値Ｐ（＋ｉ）とビタビ期待値Ｐ（＋ｉ−１）との差分である。
【００３０】
【数４】
2005267759.tif 000006
【００３１】
ステップＳ１５では数５に従ってビタビ期待値Ｐ（＋ｉ）を算出する。数５によれば、これまでに求められた期待値間隔ΔＰ（＋ｉ）が積算され、積算値にビタビ期待値Ｐ（０）が加算される。
【００３２】
【数５】
2005267759.tif 000007
【００３３】
ステップＳ１７では変数ｉが“４”に達したか否か判断し、ＮＯであればステップＳ１９で変数ｉをインクリメントしてからステップＳ１３に戻る。これによって、図５に示す期待値間隔ΔＰ（＋１）〜ΔＰ（＋４）と、ビタビ期待値Ｐ（＋１）〜Ｐ（＋４）とが求められる。
【００３４】
ステップＳ１７でＹＥＳと判断されると、ステップＳ２１で変数ｊを“１”に設定する。ステップＳ２３では数６に従って期待値間隔ΔＰ（−ｊ）を算出し、ステップＳ２５では数７に従ってビタビ期待値Ｐ（−ｊ）を算出する。
【００３５】
【数６】
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【００３６】
【数７】
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【００３７】
数６によれば、“１／ｊ”が係数Ｋ２に掛け算され、これによって得られた掛け算値に理想的な間隔である“１”が加算される。数７によれば、これまでに求められた期待値間隔ΔＰ（−ｉ）が積算され、ビタビ期待値Ｐ（０）から積算値が減算される。
【００３８】
ステップＳ２７では変数ｊが“４”に達したか否か判断し、ＮＯであればステップＳ２９で変数ｊをインクリメントしてからステップＳ２３に戻る。これによって、図５に示す期待値間隔ΔＰ（−１）〜ΔＰ（−４）と、ビタビ期待値Ｐ（−１）〜Ｐ（−４）とが求められる。
【００３９】
図５を参照して、製造段階では、ＲＯＭディスク５０の記録面にレーザ光を照射することで、ピットが形成される。このとき、レーザパワーが基準値よりも強いと、ピットがわずかに大きくなる。逆に、レーザパワーが基準値よりも弱いと、ピットがわずかに小さくなる。ＲＯＭディスク５０から再生されるＲＦ信号の波形は、このようなピット形状の歪みに起因して歪む。ビタビ期待値Ｐ（＋４）〜Ｐ（−４）は、かかるＲＦ信号の波形のひずみを考慮して、上述の要領で決定される。これによって、ブランチメトリック演算が正確に実行され、良好なビタビ復号が実現される。
【００４０】
【表１】
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【００４１】
製造時のレーザパワーが基準値の場合、２Ｔパターン〜１１Ｔパターンの上側波形に適したビタビ期待値の平均値は、表１の項目（１）の通りである。レーザパワーが基準値よりも大きければ、ピットのデューティ比は２Ｔパターン〜１１Ｔパターンのいずれについても、表１の項目（２）のように“０．１”ずれる。これは、基準値よりも大きいレーザパワーの立ち上がりおよび立ち下りが、ピットのエッジに均一に影響を及ぼすからである。すると、レーザパワーが大きい場合のビタビ期待値の平均値は、表１の項目（３）の通りに表され、項目（１）および項目（３）の誤差は項目（４）の通りに求められる。
【００４２】
パターン係数（２Ｔパターンにおける“２”、３Ｔパターンにおける“３”、４Ｔパターンにおける“４”、…）の逆数は、表１の項目（５）の通りに求められる。そして、項目（４）および項目（５）の間には図９に示すような比例関係が成立する。これより、ピットが短い場合の方がビットが長い場合よりもレーザパワーの影響を受け易く、ビタビ期待値も“１／パターン係数”に近似して影響を受けることが分かる。
【００４３】
この実施例によれば、“１／Ｍ（Ｍは１ないし４の整数）”の総和に占める“１／Ｎ”の割合に基づいて、期待値間隔ΔＰ（Ｎ）を求めるようにしたため、ＲＦ信号に歪みに応じて適切なビタビ期待値を設定することができ、ＲＦ信号の復号精度が向上する。
【００４４】
なお、ステップＳ３におけるアシンメトリレベルの算出にあたっては、３ＴパターンのピークレベルＰＬ（３Ｔ）およびボトムレベルＢＬ（３Ｔ）に代えて、２ＴパターンのピークレベルＰＬ（２Ｔ）およびボトムレベルＢＬ（２Ｔ）を用いるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】この発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１実施例に適用されるブランチメトリック演算回路の構成の一例を示すブロック図である。
【図３】インパルス応答波形の一例を示す波形図である。
【図４】再生アイパターン波形の一例を示す波形図である。
【図５】図１実施例の動作の一部を示す波形図である。
【図６】図１実施例に適用されるＤＳＰの動作の一部を示すフロー図である。
【図７】図１実施例に適用されるＤＳＰの動作の他の一部を示すフロー図である。
【図８】図１実施例に適用されるＤＳＰの動作のその他の一部を示すフロー図である。
【図９】ビタビ期待値誤差とパターン係数の逆数との関係の一例を示すグラフである。
【符号の説明】
【００４６】
１０…  ディスク装置
１２…  光ピックアップ
２２…  ビタビ復号回路
２４…  ブランチメトリック演算回路
２６…  パスメトリック演算回路
４０…  ＤＳＰ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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