(57)【要約】  【課題】  点灯検査後の液晶パネルの修正作業における作業負荷を軽減する治具を提供する。  【解決手段】  ＴＦＴ基板８ｂを備えた液晶パネル８を載置させると共にバックライト９からの光を液晶パネル８に透過させる入光用穴Ｈを設けたベースプレート１１と、ベースプレート１１に設けられ液晶パネル８のＴＦＴ基板８ｂの入力端子８ｃに点灯信号を供給するプローブピン１５と、ＴＦＴ基板８ｂを上側に向けて配置された液晶パネルの入力端子にプローブピン１５の先端が接触した状態で液晶パネル８を保持するクランプユニット１６とを備えている。  【選択図】  図１
2005141035.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＴＦＴ基板を備えた液晶パネルを載置させると共にバックライトからの光を該液晶パネルに透過させる入光用穴を設けたベースプレートと、
該ベースプレートに設けられ上記液晶パネルのＴＦＴ基板の入力端子に点灯信号を供給するプローブピンと、
上記ＴＦＴ基板を上側に向けて配置された上記液晶パネルの入力端子に上記プローブピンの先端が接触した状態で液晶パネルを保持する保持手段とを備えていることを特徴とする液晶パネルの点灯検査用治具。
【請求項２】
上記プローブピンは、上記液晶パネルを上記ベースプレート上に載置して上記保持手段で位置決め保持した状態で上記ＴＦＴ基板の入力端子と接触するよう出没可能とし、
上記液晶パネルが保持されていない状態では、上記プローブピンの先端が上記ベースプレート内に収納される構成としている請求項１に記載の液晶パネルの点灯検査用治具。
【請求項３】
ＴＦＴ基板面を上方に向けた状態で液晶パネルを点灯検査用治具に載置する工程と、
上記液晶パネルの下方にバックライトを配置すると共に、上記液晶パネルのＴＦＴ基板の入力端子に上記点灯検査用治具のプローブピンを接触させて点灯信号を入力する工程と、
上記液晶パネルの表示部の点灯状況を目視検査する工程と、
上記液晶パネルに点灯不良が発生している場合に、上記点灯検査用治具を上下反転させず、既に上面側となっているＴＦＴ基板に向けて上方からレーザ照射してＴＦＴ基板の配線パターンの修正を行う工程とを備えたことを特徴とする液晶パネルの点灯検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶パネルの点灯検査用治具および点灯検査方法に関し、詳しくは、回路駆動用のドライバを実装する前の液晶パネルに対して点灯検査を行う際に使用する治具および方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置は液晶パネルの背面側にバックライトを配置して構成されており、該液晶パネルは、電極の形成された２枚の基板によって液晶を挟持し、両基板上の電極間に電気信号を印加することによって、バックライトから液晶パネルに入射する光の透過率を変化させて画像として表示させている。
液晶パネルは、その製造工程において高度な薄膜形成技術や微細加工技術が必要であるため、欠陥の発生を完全に抑えることは困難であった。従来においては欠陥を早期に発見するために、液晶パネルを駆動させるドライバを実装する前の段階において、液晶パネルの点灯検査を行っている。
【０００３】
一般に点灯検査は、点灯検査用治具を用いて液晶パネルの端子に点灯信号を入力することで点灯させ、これを作業員が目視することによって欠陥の有無を判別している。点灯欠陥があった場合には修正により救済可能かを判別し、修正可能な液晶パネルについては、引き続き修正工程により作業を行う。修正工程では一般的にレーザによる回路パターンの切断・接続を行うことで欠陥箇所の修正を行うが、不良パターン位置の確認、レーザ照射位置の微調整、修正工程後の点灯状態確認などを含む一連の作業において液晶パネルを上記点灯検査用冶具に保持させた状態のままで行っている。
【０００４】
以下、薄膜トランジスタをスイッチング素子として有するアクティブマトリクス型の液晶パネルにおける従来の目視検査およびレーザ修正について、図７〜図１０を用いて説明する。
点灯検査される液晶パネル８は、図８に示すように、ＣＦ（カラーフィルタ）基板８ａとＴＦＴ（薄膜トランジスタ）基板８ｂとで液晶を挟持しており、ＴＦＴ基板８ｂ周縁の一部において入力端子８ｃがＣＦ基板８と対向する表面に並設されている。
【０００５】
点灯検査用治具１は、図７に示すように、液晶パネル８を保持するためのベースプレート２と、ベースプレート２とヒンジ部４を介して接続された上蓋３とを備え、ベースプレート２には、別途設けられるバックライト９からの光を液晶パネル１０へ入射させるための入射光用抜き穴２ａが穿設されていると共に、入射光用抜き穴２ａの周縁近傍の所要位置には液晶パネル８を位置決めさせるための位置決め突起７が設けられている。
【０００６】
また、上蓋３には、液晶パネル８を点灯させた際に表示状態を目視検査するための目視用抜き穴３ａが設けられていると共に、上蓋３の下面にはベーク材や樹脂等のプローブピン保持部６が設けられており、該プローブピン保持部６には検査用信号を液晶パネル８の入力端子８ｃに供給するためのスプリングプローブ６が設けられている。また、これらスプリングプローブ６は、検査用信号線Ｗによって図示しない検査用信号供給手段に接続されている。
【０００７】
以下、上記点灯検査用治具１を用いた目視検査の方法について説明する。
図９に示すように、先ず、液晶パネル１を点灯検査用治具１のベースプレート２に載せ、パネル周縁を位置決め突起７に当接させて液晶パネル８を位置合わせした後、上蓋３を閉じることで、スプリングプローブ６が液晶パネル８の入力端子８ｃに接触される。そして、図示しない検査用信号供給手段によって検査信号をスプリングプローブ６に供給すると共にバックライト９を点灯させ、液晶パネル８の点灯状態を作業者がＣＦ基板８ａ側の方向から目視用抜き穴３ａを通じて目視Ｍによって検査し、欠陥があった部分にペン等でマーキングを行う。
【０００８】
上記目視検査により、修正対象となった液晶パネル８は不良部のレーザ修正による救済を行うが、修正作業はレーザ光を直接照射してＴＦＴ基板８ｂの配線パターンの切断・接続を行うため、液晶パネル８のＴＦＴ基板８ｂ側をレーザ照射装置Ｌに向ける必要がある。通常使用しているレーザ照射装置Ｌは装置構成上および安全性の面から点灯検査用治具１の上方からレーザを照射するため、図９に示す目視検査時の状態から、作業者が点灯検査用治具１ごと液晶パネル８を上下反転させて図１０に示す状態として修正作業を行っている。なお、修正位置の確認、レーザ修正位置合わせ、修正後の確認時は目視検査と同様に点灯信号をスプリングプローブ６を介して入力端子８ｃに入力した点灯状態で確認している。
【０００９】
また、特開平１０−５４９６７号公報で開示された検査用治具は、プローブに該当するコモンピンを治具の厚み方向にストロークさせずに略Ｌ字型に折りまげて形成し、コモンピンの保持部をなくして治具の薄型化を図っているが、その使用手順は上述した従来例とほぼ同様である。
【００１０】
しかしながら、近年、１０型画面クラスのものから３０型画面クラスまでの液晶パネルをラインアップする中で液晶パネル８の大型化が進み、それに伴って点灯検査用冶具１も大型化してきている。目視検査後にレーザ照射装置Ｌによる修正作業を行う場合には、点灯検査用治具１を反転させる作業が発生し、１６型クラスまでの大きさであれば点灯検査用冶具１の反転作業の作業負荷はあまり大きくはないが、１６型を超えるものになると、点灯検査用治具１が大きく且つ重くなり、液晶パネル８の脱着や、反転作業が作業員にとって大きな負担となる等問題が発生する。このような状況では、作業中の液晶パネル８の接触によるワレ、カケ等が生じて不良品の発生が極度に多くなってしまう。
【特許文献１】特開平１０−５４９６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたもので、点灯検査後の液晶パネルの修正作業における作業負荷を軽減し、作業中の品質悪化を低減することを課題としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するため、本発明は第１に、ＴＦＴ基板を備えた液晶パネルを載置させると共にバックライトからの光を該液晶パネルに透過させる入光用穴を設けたベースプレートと、
該ベースプレートに設けられ上記液晶パネルのＴＦＴ基板の入力端子に点灯信号を供給するプローブピンと、
上記ＴＦＴ基板を上側に向けて配置された上記液晶パネルの入力端子に上記プローブピンの先端が接触した状態で液晶パネルを保持する保持手段とを備えていることを特徴とする液晶パネルの点灯検査用治具を提供している。
【００１３】
上記構成とすると、点灯信号を供給するプローブピンをベースプレート側に配置し、その上にＴＦＴ基板側を上面に向けた状態で液晶パネルを載置することで該ＴＦＴ基板の入力端子をプローブピンに対向させることができる。よって、プローブピンに点灯信号を入力して点灯検査を行った際に点灯不良があった場合には、点灯検査用治具を反転させずに、そのまま上方からレーザを照射してＴＦＴ基板の配線切断・接続をすることにより修正作業を行うことができる。つまり、点灯検査後の修正作業において液晶パネルを保持した点灯検査用治具を反転させるハンドリング作業が廃止され、作業者の重労働軽減、反転時の衝撃・応力による液晶パネルまたは治具の破損を防止することが可能となる。
【００１４】
上記プローブピンは、上記液晶パネルを上記ベースプレート上に載置して上記保持手段で位置決め保持した状態で上記ＴＦＴ基板の入力端子と接触するよう出没可能とし、
上記液晶パネルが保持されていない状態では、上記プローブピンの先端が上記ベースプレート内に収納される構成としていることが好ましい。
【００１５】
上記構成とすると、上記保持手段で液晶パネルを位置決め保持して点灯検査するとき以外はプローブピンが隠れることとなるので、プローブピンと液晶パネルの表示部等との誤接触を回避することができ、液晶パネルの損傷を防止することができる。
【００１６】
本発明は第２に、ＴＦＴ基板面を上方に向けた状態で液晶パネルを点灯検査用治具に載置する工程と、
上記液晶パネルの下方にバックライトを配置すると共に、上記液晶パネルのＴＦＴ基板の入力端子に上記点灯検査用治具のプローブピンを接触させて点灯信号を入力する工程と、
上記液晶パネルの表示部の点灯状況を目視検査する工程と、
上記液晶パネルに点灯不良が発生している場合に、上記点灯検査用治具を上下反転させず、既に上面側となっているＴＦＴ基板に向けて上方からレーザ照射してＴＦＴ基板の配線パターンの修正を行う工程とを備えたことを特徴とする液晶パネルの点灯検査方法を提供している。
【００１７】
上記方法によれば、液晶パネルをＴＦＴ基板が上面側となるように点灯検査用治具に設置して点灯検査を行っているので、点灯不良が発生した場合にレーザを上方から照射してＴＦＴ基板の配線パターンを修正する作業を行う際に、液晶パネルを反転させるハンドリング作業を不要とすることができ、作業負担の軽減、反転作業時の衝撃・応力による液晶パネルまたは治具の破損を防止することが可能となる。
【発明の効果】
【００１８】
以上の説明より明らかなように、本発明によれば、点灯検査用治具を用いて点灯検査をして点灯不良が発生した場合において、既にＴＦＴ基板面が上面側となるように液晶パネルが治具に載置されているので、そのままの状態でレーザを上方から照射してＴＦＴ基板の配線パターンの修正作業を行うことができる。よって、点灯検査用治具の反転作業の廃止による作業負担の軽減、液晶パネルまたは治具の破損防止を実現することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
点灯検査用治具１０は、図１〜図３に示すように、液晶パネル８を載置するベースプレート１１に点灯信号を供給するプローブピン１５を設けていると共に液晶パネル８を保持するクランプユニット（保持手段）１６を備えている。なお、使用される液晶パネル８は従来例に記載したものと同様の構成である。
【００２０】
ベースプレート１１は、矩形板状の本体プレート２２にバックライト９からの光を通すための入光用穴Ｈがテーパ状に穿設されており、本体プレート２２の上面の入光用穴Ｈの周縁位置にはベース枠部１２が設けられている。
ベース枠部１２の直交する二辺の上面には、ベース枠部１２上の凹部１２ｄに埋設されたバネＢ４を介してパネル載置部２１が載置されており、そのパネル載置部２１上の所要位置には液晶パネル８の周縁を当接させて位置決め保持するための位置決め突起１３が立設されている。
【００２１】
ベース枠部１２の残りの二辺の上面には、図４（Ａ）に示すように、液晶パネル８の入力端子８ｃのある面を載置するための昇降部材１４がバネＢ２、Ｂ３を介して昇降可能に設置されていると共に、昇降部材１４の溝部１４ａには検査用信号供給手段（図示せず）と接続された導通用のプローブピン１５がバネＢ１を介して埋設されている。
【００２２】
詳しくは、ベース枠部１２に凹設された溝部１２ａと昇降部材１４の溝部１４ａとが連通するように設置され、その連通した溝部１２ａ、１４ａの内部にバネＢ１を介してプローブピン１５が埋設されている。また、溝部１２ａの両側には小溝部１２ｂ、１２ｃがそれぞれ凹設されており、小溝部１２ｂ、１２ｃの内部にバネＢ２、Ｂ３を介して昇降部材１４の下端突出部１４ｂ、１４ｃを挿入している。そして、液晶パネル８をセットする前の各バネＢ１、Ｂ２、Ｂ３に外力が負荷されていない開放状態では、プローブピン１５の上端は昇降部材１４の上面よりも下方に位置し、プローブピン１５の先端が隠れている状態としている。なお、昇降部材１４の少なくとも上面（液晶パネル接触面）は、電気的絶縁および衝突による衝撃を和らげるため樹脂を使用している。
【００２３】
また、ベース枠部１２の昇降部材１４が配置された辺の外縁側には液晶パネル８を保持するためのクランプユニット１６が設けられている。クランプユニット１６は、ベース枠部１２に立設固定された支持部１７の上側にヒンジとなる回転軸１８を介してクランプ部１６が設けられており、クランプ部２０の内側面にはゴム等の弾性材２０が貼付されている。
【００２４】
次に、点灯検査用治具１０を用いた液晶パネル８の検査・修正手順について説明する。
先ず、液晶パネル８をＴＦＴ基板８ｂが上面側でＣＦ基板８ａが下面側となるようにした状態でパネル周縁を位置決め突起１３に当接させて点灯検査用治具１０上に位置決め配置する。この状態では、液晶パネル８のＣＦ基板８ａの縁部がパネル載置部２１に載置されていると共にＴＦＴ基板８ｂの入力端子８ｃが昇降部材１４の上面に載置されている。
【００２５】
次いで、図５に示すように、クランプ部１９を回転軸１８を支点として内側に傾動させ、弾性材２０を介して液晶パネル８の上面を押圧保持する。この際、クランプ部１９の押圧力により液晶パネル８がプローブピン１５側に押し付けられることで昇降部材１４がバネＢ２、Ｂ３に抗して凹部１２ｂ、１２ｃ内に沈み込み、プローブピン１５の先端が液晶パネル８の入力端子８ｃにコンタクトする。しかも、プローブピン１５もバネＢ１で付勢されているため、プローブピン１５と入力端子８ｃとの接触圧が過大にならないようになっている。
【００２６】
そして、点灯検査用治具１０の入光用穴Ｈの下方にバックライト９を配置した状態で、検査用信号供給手段（図示せず）から検査用信号をプローブピン１５に出力することで、入力端子８ｃを介して液晶パネル８の画面が点灯され、作業員は上方より液晶パネル８の画面を目視して点灯欠陥を見つける。
【００２７】
次いで、上記目視検査により、修正対象となった液晶パネル８があった場合には、液晶パネル８は既にＴＦＴ基板８ｂ側が上に向いた状態とされているので、液晶パネル８を保持した点灯検査用治具１０を反転させることなくそのままの状態で、図６に示すように、上方に配置されたレーザ照射装置Ｌによりレーザ光を照射し、ＴＦＴ基板８ｂの配線パターンの切断・接続を行って回路修正を行う。
【００２８】
以上より、本発明の点灯検査用治具１０を用いれば、ＴＦＴ基板８ｂが上面側となるように液晶パネル８が治具１０に載置されているので、点灯不良が発生した場合において点灯検査から修正作業に移る際に、液晶パネル８および治具１０の反転作業を行う必要がなく、そのままの状態でレーザを上方から照射してＴＦＴ基板８ｂの配線パターンの修正作業を行うことができ、作業性の向上及びそれによる品質向上を図ることができる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施形態の点灯検査用治具の斜視図である。
【図２】点灯検査用治具の上面図である。
【図３】点灯検査用治具の断面図である。
【図４】点灯検査用治具の液晶パネル保持前の要部断面図である。
【図５】点灯検査用治具の液晶パネル保持後の要部断面図である。
【図６】レーザによる修正作業時の断面図である。
【図７】従来例の点灯検査用治具の斜視図である。
【図８】（Ａ）は液晶パネルの平面図、（Ｂ）は側面図である。
【図９】従来例の点灯検査用治具の点灯検査時の断面図である。
【図１０】従来例の点灯検査用治具の修正作業時の断面図である。
【符号の説明】
【００３０】
８      液晶パネル
８ａ    ＣＦ基板
８ｂ    ＴＦＴ基板
８ｃ    入力端子
９      バックライト
１０    点灯検査治具
１１    ベースプレート
１２    ベース枠部
１２ａ  溝部
１３    位置決め突起
１４    昇降部材
１４ａ  溝部
１５    プローブピン
１６    クランプユニット
１７    支持部
１８    回転軸
１９    クランプ部
２０    弾性材
２１    パネル載置部
Ｂ１〜Ｂ４  バネ
Ｈ      入光用穴
Ｌ      レーザ照射装置
【図１】
2005141035.tif 000003
【図２】
2005141035.tif 000004
【図３】
2005141035.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
2005141035.tif 000008
【図７】
2005141035.tif 000009
【図８】
2005141035.tif 000010
【図９】
2005141035.tif 000011
【図１０】
2005141035.tif 000012