(57)【要約】【課題】光ディスク記録再生装置において、感度むらがあり、傷等の局部的な異常を有する光ディスクが装填されても、真に最適な記録パワーで情報を記録できるようにする。【解決手段】光ディスクの周方向に略等間隔に区画された複数の試し書き領域において、半導体レーザの発光パワーＷＰを変化させながら（＃２）、各領域毎に試し書きデータのアシンメトリがゼロになるような最適発光パワーＷＰ（Asym=0）を取得する（＃３）。各領域の最適発光パワーＷＰ（Asym=0）がいずれも規定値内であるとき（＃４においてＹＥＳ）、その平均値を光ディスクに対する最適記録パワーとして、記録時の半導体レーザを制御する（＃８）。いずれかの最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が規定値外であるとき（＃４においてＮＯ）、別の複数の試し書き領域において最適発光パワーＷＰ（Asym=0）を再度取得する（＃９）。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを回転駆動する駆動手段と、回転駆動された光ディスクに情報を記録／再生するためにレーザ光を照射する発光素子と、光ディスクに記録されている情報を再生するために光ディスクによって反射されたレーザ光を受光する受光素子と、前記発光素子の発光パワーを制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記発光素子の発光パワーを変化させながら光ディスクの試し書き領域に試し書きデータを記録させ、該発光素子によって試し書き領域に照射されたレーザ光を前記受光素子に受光させ、この受光したレーザ光から算出した試し書きデータのアシンメトリ（非対称性）に基づいて、前記発光素子の最適発光パワーを算定する光ディスク記録再生装置において、
前記制御部は、
光ディスクの周方向に略等間隔に区画された複数の試し書き領域の各領域毎に前記アシンメトリがゼロになるような前記発光素子の発光パワーを取得し、
前記各試し書き領域において取得した発光パワーがいずれも規定値内であるとき、各発光パワーの平均値を前記光ディスクに対する最適記録パワーとして、前記発光素子を制御し、
前記各試し書き領域において取得したいずれかの発光パワーが規定値外であるとき、前記複数の試し書き領域とは別の複数の試し書き領域において前記アシンメトリがゼロになるような前記発光素子の発光パワーを取得することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】
光ディスクに情報を記録／再生するためにレーザ光を照射する発光素子と、光ディスクに記録されている情報を再生するために光ディスクによって反射されたレーザ光を受光する受光素子と、前記発光素子の発光パワーを制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記発光素子の発光パワーを変化させながら光ディスクの試し書き領域に試し書きデータを記録させ、該発光素子によって試し書き領域に照射されたレーザ光を前記受光素子に受光させ、この受光したレーザ光から算出した試し書きデータのアシンメトリ（非対称性）に基づいて、前記発光素子の最適発光パワーを算定する光ディスク記録再生装置において、
前記制御部は、
光ディスクに区画された複数の試し書き領域の各領域において前記アシンメトリがゼロになるような前記発光素子の発光パワーを取得し、
前記各試し書き領域において取得した発光パワーがいずれも規定値内であるとき、各発光パワーの平均値を前記光ディスクに対する最適記録パワーとして、前記発光素子を制御することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記各試し書き領域において取得したいずれかの発光パワーが規定値外であるとき、この規定値外の発光パワーを除いて算出した発光パワーの平均値を前記光ディスクに対する最適記録パワーとして、前記発光素子を制御することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録時に最適な発光パワーでレーザ光を照射することにより、光ディスクの感度むらによる記録特性への影響を抑制することができる光ディスク記録再生装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）等の光ディスクにデータを記録することができる光ディスク記録再生装置においては、光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザの発光パワーによって光ディスクに形成される記録部のアシンメトリ（非対称性）が相違することを利用して、その光ディスクに対する最適な記録パワーを算定するように構成されている。すなわち、このような装置では、半導体レーザの発光パワーを変化させながら光ディスクの試し書き領域に試し書き用のデータを記録させ、該試し書き用のデータの記録部のアシンメトリがゼロである発光パワーを取得し、これを記録時に最適な発光パワー（最適記録パワー）として用いてデータの記録を行なう。ところが、光ディスクは、一般に、その製法上の理由から、レーザ光に対する感度を一定に維持することが困難であり、特に、光ディスクの感度特性は周方向に変動する傾向があるとされている。
【０００３】
そこで、このような周方向に感度むらを有する光ディスクにデータを記録する場合にも、同一の光ディスク内の感度特性の変動から大きな問題が生じないように、複数の試し書き領域でアシンメトリがゼロである発光パワーを取得し、各領域における発光パワーの平均値を最適な記録パワーとして用いるようにした光ディスク記録再生装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。また、データの書き換えに際して記録信号の品質低下を抑制することを目的として、試し書き領域に記録されたデータのアシンメトリが所定範囲内にあるか否かを判定し、最適記録パワーを求める光ディスク装置が知られている（例えば、特許文献２参照）。また、光ディスクにデータを追記することができる光ディスク記録再生装置においては、長時間に亘る連続記録動作が行なわれた場合であっても、安定した記録品質を得ることを目的して、試し書きによって得られた最適記録パワーでデータの記録を行なう装置が知られている（例えば、特許文献３参照）。
【特許文献１】特開平１１−２７３０７３号公報
【特許文献２】特開２００２−３５８６４５号公報
【特許文献３】特開平９−９１７０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記特許文献１に示された装置では、例えば、光ディスクに傷が存在する場合等においては、その影響によって異常な値で取得された発光パワーも含めて平均化されるので、真に最適な記録パワーが算出される保証はない。また、上記特許文献２に示された装置にあっては、感度むらを有する光ディスクについて最適な記録パワーを算出することができないことがある。さらに特許文献３に示された装置にあっては、ディスクの１回転に相当する期間サンプリングしたデータに基づいて最適な記録パワーを算出しているので、データ量が膨大で処理に時間がかかる。
【０００５】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、感度むらがあり、傷等の局部的な異常を有する光ディスクが装填されても、真に最適な記録パワーでデータを記録することができる光ディスク記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために請求項１の発明は、光ディスクを回転駆動する駆動手段と、回転駆動された光ディスクに情報を記録／再生するためにレーザ光を照射する発光素子と、光ディスクに記録されている情報を再生するために光ディスクによって反射されたレーザ光を受光する受光素子と、発光素子の発光パワーを制御する制御部とを備え、制御部は、発光素子の発光パワーを変化させながら光ディスクの試し書き領域に試し書きデータを記録させ、該発光素子によって試し書き領域に照射されたレーザ光を受光素子に受光させ、この受光したレーザ光から算出した試し書きデータのアシンメトリ（非対称性）に基づいて、発光素子の最適発光パワーを算定する光ディスク記録再生装置において、制御部は、光ディスクの周方向に略等間隔に区画された複数の試し書き領域の各領域毎にアシンメトリがゼロになるような発光素子の発光パワーを取得し、各試し書き領域において取得した発光パワーがいずれも規定値内であるとき、各発光パワーの平均値を光ディスクに対する最適記録パワーとして、発光素子を制御し、各試し書き領域において取得したいずれかの発光パワーが規定値外であるとき、複数の試し書き領域とは別の複数の試し書き領域においてアシンメトリがゼロになるような発光素子の発光パワーを取得するものである。
【０００７】
請求項２の発明は、光ディスクに情報を記録／再生するためにレーザ光を照射する発光素子と、光ディスクに記録されている情報を再生するために光ディスクによって反射されたレーザ光を受光する受光素子と、発光素子の発光パワーを制御する制御部とを備え、制御部は、発光素子の発光パワーを変化させながら光ディスクの試し書き領域に試し書きデータを記録させ、該発光素子によって試し書き領域に照射されたレーザ光を受光素子に受光させ、この受光したレーザ光から算出した試し書きデータのアシンメトリ（非対称性）に基づいて、発光素子の最適発光パワーを算定する光ディスク記録再生装置において、制御部は、光ディスクに区画された複数の試し書き領域の各領域においてアシンメトリがゼロになるような発光素子の発光パワーを取得し、各試し書き領域において取得した発光パワーがいずれも規定値内であるとき、各発光パワーの平均値を光ディスクに対する最適記録パワーとして、発光素子を制御するものである。
【０００８】
請求項３の発明は、請求項２に記載の光ディスク記録再生装置において、制御部は、各試し書き領域において取得したいずれかの発光パワーが規定値外であるとき、この規定値外の発光パワーを除いて算出した発光パワーの平均値を光ディスクに対する最適記録パワーとして、発光素子を制御するものである。
【発明の効果】
【０００９】
請求項１の発明によれば、正常な試し書きによって得られた各領域毎の最適発光パワーを平均することにより装填された光ディスクについての最適記録パワーを算定するので、感度むらを有し、かつ試し書き領域の一部が損傷している光ディスクが装填された場合であっても、最適な記録パワーで発光素子を制御することができる。また、各試し書き領域において取得したいずれかの発光パワーが規定値外であるとき、別の試し書き領域に場所を替えて試し書きを再開するので、試し書き領域の一部が損傷している光ディスクが装填された場合であっても、損傷を受けていない試し書き領域を用いて真に最適な記録パワーを算定することができる。
【００１０】
請求項２の発明によれば、各試し書き領域において取得した発光パワーがいずれも規定値内であるとき、該発光パワーを平均することにより装填された光ディスクについての最適記録パワーを算定するので、感度むらを有する光ディスクが装填された場合であっても、最適な記録パワーで発光素子を制御することができる。
【００１１】
請求項３の発明によれば、正常な試し書きによって得られた各領域毎の最適発光パワーを平均することにより装填された光ディスクについての最適記録パワーを算定するので、感度むらを有し、かつ試し書き領域の一部が損傷している光ディスクが装填された場合であっても、最適な記録パワーで発光素子を制御することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明を実施するための最良の実施形態による光ディスク記録再生装置について図面を参照して説明する。図１は光ディスク記録再生装置の構成を示している。光ディスク記録再生装置１は、例えば、光ディスク２に向かって所定波長のレーザ光を照射し、光ディスク２に記録されているデータを再生すると共に、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどのデータの記録が可能な光ディスク２に対してデータ再生時よりも強度（パワー）の大きいレーザ光を照射してデータを記録するものである。
【００１３】
図１に示すように、光ディスク記録再生装置１は、光ディスク２を保持するテーブル３と、テーブル３及びその上に保持された光ディスク２を回転駆動するスピンドルモータ４と、光ディスク２に対してレーザ光を照射してデータの記録及び／又は再生を行う光ピックアップ５と、光ピックアップ５を光ディスク２の半径方向に移動させる光ピックアップ駆動機構６と、スピンドルモータ（駆動手段）４、光ピックアップ５及び光ピックアップ駆動機構６などを制御する制御部７と、光ピックアップ５から出力されるＲＦ信号を処理するためのＲＦ信号処理部８と、処理されたＲＦ信号をパーソナルコンピュータやモニタディスプレイ装置に出力するためのインタフェース（Ｉ／Ｆ）９と、光ディスク記録再生装置１の動作状況やユーザへのメッセージなどを表示するためのＬＣＤなどの表示部１０と、光ディスク記録再生装置１の動作選択などを行うためのプッシュボタンスイッチ又はリモコン装置などの入力部１１と、制御部７の動作に必要なプログラム及び各種のデータを記憶するメモリ１２等によって構成されている。
【００１４】
光ピックアップ５は、光ディスク２にレーザ光を照射する半導体レーザ（発光素子）と、光ディスク２によって反射されたレーザ光を受光するフォトダイオード（受光素子）と、半導体レーザの発光パワーをモニタするためのモニタ用フォトダイオード等を有している。
【００１５】
記録機能を有する光ディスク記録再生装置１では、データ記録時にデータ再生時よりも強度の大きいレーザ光を照射することによってデータを記録する。このとき、光ディスクの種類、メーカの差異、個体差等により、光ディスク２毎にレーザ光に対する感度が異なるため、データ記録前に試し書き（キャリブレーション）を行ない、装填された光ディスク２に最適な発光パワーを算定し、この最適な発光パワーでデータを記録するのが一般的である。このため、データを欠き込むことができる記録型の光ディスク２は、その外周側又は内周側に試し書き領域が形成されている。
【００１６】
図２は、このような記録型の光ディスク２を示している。同図においては、外周側に試し書き領域Ｃが形成された光ディスク２が例示されており、（ａ）は試し書き領域Ｃ１〜Ｃ６を設定した場合、（ｂ）は試し書き領域Ｃ１〜Ｃ３を設定した後、さらに別の試し書き領域Ｃ’１〜Ｃ’６を設定した場合を示している。光ディスク記録再生装置１は、まず、図２（ａ）に示すように、試し書き領域Ｃを周方向に略等間隔で、かつ等しい幅に区画して、６箇所の試し書き領域Ｃ１〜Ｃ６を設定する。そして、光ディスク記録再生装置１は、各領域Ｃ１〜Ｃ６において試し書きを行なうことにより各領域Ｃ１〜Ｃ６毎に最適な発光パワーを取得し、その平均値を装填された光ディスク２についての最適記録パワーとして、記録時の半導体レーザの発光パワーを制御する。
【００１７】
各領域毎の最適な発光パワーは、以下の要領で取得することができる。まず、光ディスク２の試し書き領域Ｃ１に発光パワーを変化させながら所定の試し書きデータを記録させ、この試し書きデータが記録された領域Ｃ１にデータ再生時のレーザ光を照射して、その反射光をフォトダイオードに受光させる。次に、フォトダイオードが受光した反射光に基づいて試し書きデータのアシンメトリ（非対称性）を算出し、アシンメトリがゼロになるような発光パワーを取得し、これをデータの記録に最適な発光パワーＷＰ（Asym=0）とする。
【００１８】
ところで、光ディスク２の試し書き領域に傷等の異常があった場合は、試し書きデータの記録／再生が正常に行なえなくなることから、最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が異常な値をとることがある。光ディスク２についての最適発光パワーを算定する際、このような異常な値の最適発光パワーＷＰ（Asym=0）を含めて平均をとると、真に最適な記録パワーを求めることができない。
【００１９】
そこで、光ディスク記録再生装置１では、最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が規定値外であるとき、試し書き領域Ｃ３において規定値を超える異常な値の最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が取得された場合は、例えば図２（ｂ）に示すように、別の試し書き領域Ｃ’１〜Ｃ’６においてアシンメトリがゼロになるような最適発光パワーを再度取得し、その平均値を求めることにより、光ディスク２についての最適記録パワーを算定する。このとき、試し書き領域Ｃ’１は、試し書き領域Ｃ１に対して所定の回転角度だけ隔てた位置に区画され、この領域Ｃ’１を基準として各試し書き領域Ｃ’２〜Ｃ’６が、周方向に略等間隔に区画される。なお、試し書き領域Ｃ’１〜Ｃ’６において取得した最適発光パワーＷＰ（Asym=0）のうちいずれかが規定値外であるときは、試し書き領域Ｃ１〜Ｃ６及びＣ’１〜Ｃ’６に属さない別の６箇所の試し書き領域で試し書きを再開するものとする。
【００２０】
試し書き領域Ｃに複数の損傷がある場合には、上述した試し書きを繰り返すことにより、空の試し書き領域が存在しなくなる場合も考えられる。このような場合にあっては、既に取得した規定値内の正常な最適発光パワーＷＰ（Asym=0）の平均値を算出することにより、光ディスクの最適記録パワーを算定することができる。また、装填された光ディスク２がＤＶＤ−ＲＷ（Rewritable）等の書き換えが可能なものであるときは、損傷を受けた場所を回避するように新たな試し書き領域を区画して、再度キャリブレーションを実行することも可能である。
【００２１】
次に、光ディスク２のキャリブレーション時における制御部７の動作について、図３を参照して説明する。まず、試し書き領域の番号を示す変数Ａ＝１とし（＃１）、半導体レーザの発光パワーＷＰを変化させながら、試し書き領域Ｃ１に試し書きデータを書き込み、そのアシンメトリ値を算出し（＃２）、アシンメトリ値がゼロになる最適発光パワーＷＰ（Asym=0）を取得する（＃３）。最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が規定値内であれば（＃４においてＹＥＳ）、最適発光パワーＷＰ（Asym=0）をメモリ１２に記憶させ（＃５）、変数Ａに１を加える（＃６）。この後、変数Ａが７よりも大きくなければ（＃７においてＮＯ）、＃２から＃６のループを繰り返して試し書き領域Ｃ２乃至Ｃ６にてキャリブレーションを実行する。変数Ａが７よりも大きくなると（＃７においてＹＥＳ）、メモリ１２に記憶された各領域Ｃ１乃至Ｃ６における最適発光パワーＷＰ（Asym=0）の平均値を算出し、これを光ディスクについての最適記録パワーとする（＃８）。なお、最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が規定値を超える場合は（＃４においてＮＯ）、試し書き領域（キャリブレーション領域）をＣ’１等に変更して（＃９）、＃１に戻り、上述した動作を再度行なう。
【００２２】
以上のように、本実施形態の光ディスク記録再生装置１によれば、正常な試し書きによって得られた各領域毎の最適発光パワーＷＰ（Asym=0）を平均することにより装填された光ディスク２についての最適記録パワーを算定するので、感度むらを有し、かつ試し書き領域の一部が損傷している光ディスク２が装填された場合であっても、最適な記録パワーで発光素子を制御することができる。また、各試し書き領域Ｃ１〜Ｃ６において取得したいずれかの発光パワーＷＰ（Asym=0）が規定値外であるとき、別の試し書き領域Ｃ’１〜Ｃ’６に場所を替えて試し書きを再開するので、試し書き領域Ｃ１〜Ｃ６の一部が損傷している光ディスク２が装填された場合であっても、損傷を受けていない試し書き領域Ｃ’１〜Ｃ’６を用いて真に最適な記録パワーを算定することができる。このとき、新たに試し書き領域として区画された領域Ｃ’１〜Ｃ’６は、光ディスク２の周方向に偏ることなく略等間隔となるように区画されているので、光ディスク２の全体に対して最適な記録パワーを算定することができる。
【００２３】
なお、本発明は上記実施形態の構成に限られることなく種々の変形が可能であり、例えば、図３において、いずれかの試し書き領域で取得した最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が規定値を超える場合は（＃４においてＮＯ）、試し書き領域を変更（＃９に移行）することなく、＃６又は＃７に移行して、異常な試し書き領域をスキップするようにしてもよい。また、同様に、いずれかの試し書き領域で取得した最適発光パワーＷＰ（Asym=0）が規定値を超える場合は（＃４においてＮＯ）、＃８に移行して、既に取得済みの正常な最適発光パワーＷＰ（Asym=0）を平均して光ディスク２に対する最適記録パワーを算出するようにしても構わない。また、図２及び図３は、６箇所の試し書き領域において最適発光パワーＷＰ（Asym=0）を取得する形態を示しているが、最適記録パワーを算出するため試し書き領域の個数はこれに限定されない。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の一実施形態による光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図。
【図２】同装置によって試し書き領域が区画された光ディスクを示す図。
【図３】キャリブレーション時における同装置の制御部の動作を示したフローチャート。
【符号の説明】
【００２５】
１    光ディスク装置
４    スピンドルモータ（駆動手段）
５    光ピックアップ（発光素子、受光素子）
７    制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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