(57)【要約】【課題】  ミラーを当接支持する凸部が１つであってもその傾斜度や位置度を正確に測定することができると共に加工精度を高めることができるミラー保持ブラケット、画像読取装置、画像書込装置及びミラー保持ブラケットの製造方法を提供する。【解決手段】  一部がミラーに当接する３個の凸部を形成した部材から２個の凸部を除去することで成形した第１ブラケット５０と、部材と同一の金型から成形した部材から１個の凸部を除去することで成形した第２ブラケット５１とを備え、ミラーを第１ブラケット５０の１個の凸部と第２ブラケット５１の２個の凸部とに当接させることで所定の姿勢で保持する。【選択図】        図１
2005141088.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データを光学的に所定位置に導くための反射用のミラーを保持するミラー保持ブラケットであって、
一部が前記ミラーに当接する３個の凸部を形成した部材から２個の前記凸部を除去することで成形した第１ブラケットと、
前記部材と同一の金型から成形した前記部材から１個の前記凸部を除去することで成形した第２ブラケットとを備え、
前記ミラーを前記第１ブラケットの１個の前記凸部と前記第２ブラケットの２個の前記凸部とに当接させることで前記ミラーを所定の姿勢で保持したことを特徴とするミラー保持ブラケット。
【請求項２】
請求項１記載のミラー保持ブラケットにおいて、
前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように平滑部を形成して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように平滑部を形成して前記第２ブラケットを成形したことを特徴とするミラー保持ブラケット。
【請求項３】
請求項１記載のミラー保持ブラケットにおいて、
前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置のそれぞれに前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように湾曲形状の凹部を１箇所以上ずつ形成して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように湾曲形状の凹部を１箇所以上形成して前記第２ブラケットを成形したことを特徴とするミラー保持ブラケット。
【請求項４】
請求項１記載のミラー保持ブラケットにおいて、
前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置のそれぞれに前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるようにして３角以上の多角形状の凹部を１箇所以上ずつ形成して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるようにして３角以上の多角形状の凹部を１箇所以上形成して前記第２ブラケットを成形したことを特徴とするミラー保持ブラケット。
【請求項５】
請求項１記載のミラー保持ブラケットにおいて、
前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を屈曲して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を屈曲して前記第２ブラケットを成形したことを特徴とするミラー保持ブラケット。
【請求項６】
画像データを光学的に所定位置に導くための反射用のミラーを保持するミラー保持ブラケットの製造方法であって、
一部を前記ミラーに当接させることで前記ミラーを所定の姿勢で保持する３個の凸部を形成した部材から２個の前記凸部を除去することで第１ブラケットを成形し、
前記部材と同一の金型から成形した前記部材から１個の前記凸部を除去することで第２ブラケットを成形したことを特徴とするミラー保持ブラケットの製造方法。
【請求項７】
請求項６記載のミラー保持ブラケットの製造方法において、
請求項２から４のいずれかに記載のミラー保持ブラケットを製造することを特徴とするミラー保持ブラケットの製造方法。
【請求項８】
請求項６記載のミラー保持ブラケットの製造方法において、
請求項５に記載のミラー保持ブラケットを製造することを特徴とするミラー保持ブラケットの製造方法。
【請求項９】
請求項１から５のいずれかに記載のミラー保持ブラケットを用いたことを特徴とする画像読取装置。
【請求項１０】
請求項１から５のいずれかに記載のミラー保持ブラケットを用いたことを特徴とする画像書込装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機、プリンター、スキャナー装置等において、画像の光学情報を所定位置に反射するミラーの姿勢を高精度に保持することができるミラー保持ブラケット、画像読取装置、画像書込装置及びミラー保持ブラケットの製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
複写機、プリンター、スキャナー装置等におけるいわゆる光学系の機構部では、画像データを光学的に所定位置に導くための反射用のミラーが備えられている。このミラーが反射した光学的データに基づいて画像の読み込みや書き込みが行われるので、ミラーを含む機構部の機械的な安定性・信頼性が求められており、ミラー周辺の機構部については種々の工夫が施されている（例えば、特許文献１参照）。
図１６は他の従来例における光学系の主要機構部における反射用のミラー周辺の斜視図である。図１６に示す例では、２個の横長で板状のミラー４と、ミラー４の一方を保持する第１ブラケット２と、ミラー４の他方を保持する第２ブラケット１と、第１ブラケット２と第２ブラケット１を支持するステー部材３とによって光学系の主要機構部が構成されている。
第１ブラケット２、第２ブラケット１は金属プレートをプレス加工によって所定形状に打ち抜いたもので、ミラー４の一端が差し込まれる略矩形のミラー差し込み孔２ａ、１ａがそれぞれ２箇所ずつ穿設されている。第１ブラケット２のミラー差し込み孔２ａにはミラー４の幅中央部に相当する位置にミラー４に向かって突出する凸部２ｂが１つ形成され、第２ブラケット１のミラー差し込み孔１ａにはミラー４の幅両端部に相当する位置にミラー４に向かって突出する凸部１ｂが２つ形成されている。
第１ブラケット２のミラー差し込み孔２ａに配されたミラー４の一方の端部は１つの凸部２ｂに当接するように板バネ（図示せず）によって付勢され、第２ブラケット１のミラー差し込み孔１ａに配されたミラー４の他方の端部は２つの凸部１ｂに当接するように同じく図示しない板バネによって付勢されている。つまり、ミラー４が３つの凸部に当接するように付勢されることで、所定の姿勢が保持されるようになっている。一方、第１ブラケット２及び第２ブラケット１はこの例ではバーリングカシメによって図１７のようにステー部材３に固定される。
【特許文献１】特開平０９−３２１９４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、ミラー４やこれを保持するブラケットは画像の精度に影響を与える重要な部品であるため、ミラー保持部分の傾斜度、位置度などの要求精度が大変厳しく、精度を確保するためには、データの正確な測定等により構成部品の精度を厳しく管理することが必要になる。
現状では、ミラー保持部分のキャリッジの傾斜度、位置度を確保するために単品部品の目標公差を設定して加工しているが、近年、画像データのカラー化が進み著しく高精度化（例えば、図１８のように傾斜度０．０２５、位置度０．０５）を要求されているため、単品部品の目標公差は、プレス部品の加工限界を大幅に越えている。
例えば、ステー部材の平面度の場合、全長として３３０ｍｍ以上あり、一般的には、１００ｍｍで平面度０．１５が、加工限界であるため、本部品の場合は、平面度は約０．５が求められるところだが、組み立て後の精度を満足するためには、平面度を０．０５以下に作りこむ必要がある。
また、特に、図１９のように第１ブラケット２の凸部２ｂと第２ブラケット１の凸部１ｂの高低（前後）の偏差を極力少なくすることがスキュー（画像斜め読取）等の防止のために製品機能上の観点から求められている。高低の偏差が大きい場合、ミラーが斜めに取り付くことになるため、スキューの大きな原因となるからである。
図１９のような高低の偏差を極力少なくするには、図２０に示すように、第１ブラケット２のミラー差し込み孔２ａを通して第２ブラケット１のミラー差し込み孔１ａを見て凸部の高さを比較した場合に第１ブラケットの１つの凸部２ｂと第２ブラケットの２つの凸部１ｂの高さが同じになることが求められる。
ここで、第１ブラケットと第２ブラケットとでは凸部の数が異なるため、ミラー差し込み孔２ａ、１ａの形状も異なる。したがって、両ブラケットは別々の金型によって加工するため、加工精度に差が生じる。つまり、加工機械の精度などの問題により両ブラケットの３つの凸部の高低差は、図２０に示した方法による比較をしたときに±０．０１程度の差が発生する。
【０００４】
また、ミラー差し込み孔や凸部は決められた場所にあることが求められているため、位置決め用の基準などを用いて加工しているが、金型上に設けられる加工用基準ピンからミラー差し込み孔打ち抜き用のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔７と金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などは加工機械のセット状態や加工部品の相違等により大きなばらつきが発生する（図２１参照）。
画像読取装置や画像書込装置の場合、傾斜度０．０２５、位置度０．０５程度の部品精度が求められるため、上述のばらつきの程度では部品精度を満足することができない。そのため、組み立て後に追加工などの手段を用いて公差を満足しているが、追加工ミスなどにより多くの部品が、破棄されているのが実状である。
また、第１ブラケットのミラー差し込み孔には測定点である凸部が１箇所しかなく図２２のように値が大きくばらつくため、傾斜度、位置度は測定していないのが実状であり、ブラケットの単品精度の測定では、第２ブラケットの傾斜度、位置度のみを測定している。
そこで、本発明は、上述した実情を考慮してなされたもので、ミラーを当接支持する凸部が１つであってもその傾斜度や位置度を正確に測定することができると共に加工精度を高めることができるミラー保持ブラケット、画像読取装置、画像書込装置及びミラー保持ブラケットの製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明では、画像データを光学的に所定位置に導くための反射用のミラーを保持するミラー保持ブラケットであって、一部が前記ミラーに当接する３個の凸部を形成した部材から２個の前記凸部を除去することで成形した第１ブラケットと、前記部材と同一の金型から成形した前記部材から１個の前記凸部を除去することで成形した第２ブラケットとを備え、前記ミラーを前記第１ブラケットの１個の前記凸部と前記第２ブラケットの２個の前記凸部とに当接させることで前記ミラーを所定の姿勢で保持したミラー保持ブラケットを最も主要な特徴とする。
また、請求項２に記載の発明では、前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように平滑部を形成して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように平滑部を形成して前記第２ブラケットを成形したミラー保持ブラケットを主要な特徴とする。
また、請求項３に記載の発明では、前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置のそれぞれに前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように湾曲形状の凹部を１箇所以上ずつ形成して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるように湾曲形状の凹部を１箇所以上形成して前記第２ブラケットを成形したミラー保持ブラケットを主要な特徴とする。
【０００６】
また、請求項４に記載の発明では、前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置のそれぞれに前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるようにして３角以上の多角形状の凹部を１箇所以上ずつ形成して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を除去し、除去した前記凸部があった位置に前記凸部の凸方向の高さよりも低くなるようにして３角以上の多角形状の凹部を１箇所以上形成して前記第２ブラケットを成形したミラー保持ブラケットを主要な特徴とする。
また、請求項５に記載の発明では、前記部材における３個の前記凸部のうち両脇の前記凸部を屈曲して前記第１ブラケットを成形し、前記部材における３個の前記凸部のうち中央の前記凸部を屈曲して前記第２ブラケットを成形したミラー保持ブラケットを主要な特徴とする。
また、請求項６に記載の発明では、画像データを光学的に所定位置に導くための反射用のミラーを保持するミラー保持ブラケットの製造方法であって、一部を前記ミラーに当接させることで前記ミラーを所定の姿勢で保持する３個の凸部を形成した部材から２個の前記凸部を除去することで第１ブラケットを成形し、前記部材と同一の金型から成形した前記部材から１個の前記凸部を除去することで第２ブラケットを成形したミラー保持ブラケットの製造方法を主要な特徴とする。
また、請求項７に記載の発明では、請求項２から４のいずれかに記載のミラー保持ブラケットを製造するミラー保持ブラケットの製造方法を主要な特徴とする。
また、請求項８に記載の発明では、請求項５に記載のミラー保持ブラケットを製造するミラー保持ブラケットの製造方法を主要な特徴とする。
また、請求項９に記載の発明では、請求項１から５のいずれかに記載のミラー保持ブラケットを用いた画像読取装置を主要な特徴とする。
また、請求項１０に記載の発明では、請求項１から５のいずれかに記載のミラー保持ブラケットを用いた画像書込装置を主要な特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工条件が同じになり、ミラーを当接支持する凸部の高低のばらつきを抑えることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。実施例１〜５では、本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット及びその製造方法について説明し、実施例６では、本発明の実施形態である画像読取装置について説明し、実施例７では、本発明の実施形態である画像書込装置について説明する。
【実施例１】
【０００９】
図１は本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット１００（実施例１）の部品図である。ミラー保持ブラケットは画像読取装置や画像書込装置におけるいわゆる光学系の機構部に用いられ、光学的画像データを所定位置に反射するミラーを保持するためのブラケットである。
図１に示すように、ミラー保持ブラケット１００は第１ブラケット５０と第２ブラケット５１とを有し、両ブラケット５０、５１は所定の間隔を隔てて平行に対向配置された状態で細長い矩形の反射用のミラー（図示せず）を、この例では２つ保持することができる。そのため、両ブラケットには略矩形のミラー差し込み孔５０ａ、５０ｂ、５１ａ、５１ｂが穿設されており、ミラーの両端部が差し込まれるようになっている。
第１ブラケット５０のミラー差し込み孔５０ａの内壁に相当する部分には凸部５０ｃが１つ形成され、ミラー差し込み孔５０ｂの内壁に相当する部分には凸部５０ｄが１つ形成されている。また、第２ブラケット５１のミラー差し込み孔５１ａの内壁に相当する部分には２つの凸部５１ｃ、５１ｄが形成され、ミラー差し込み孔５１ｂの内壁に相当する部分には凸部５１ｅ、５１ｆが形成されている。
これらの凸部５０ｃ、５０ｄ、５１ｃ、５１ｄ、５１ｅ、５１ｆにミラーが当接するように図示しない付勢手段（例えば、板バネ）によって付勢することでミラーを保持する。１つ目のミラーは凸部５０ｃ、５１ｃ、５１ｄによって当接支持され、２つ目のミラーは凸部５０ｄ、５１ｅ、５１ｆによって当接支持される。このように３点で支持すれば浮いてしまう箇所がなくなり、安定して支持することができる。
このように、第１ブラケット５０と第２ブラケット５１の孔形状は異なるが、両ブラケットは同一の部材Ａから成形される。この部材Ａはいずれも同一金型によって金属プレートをプレス加工して打ち抜いたもので、図２のようにミラー差し込み孔の内側には３つの凸部が連設されている（図２を含め、以下の説明で用いる図では第１ブラケットの孔形状と第２ブラケットの孔形状のみを並べて図示するものとする。）。
【００１０】
図３は部材のミラー差し込み孔を打ち抜くためのパンチ１３の平面図である。パンチ１３はこの例ではワイヤーカット加工機を用いて加工されている。パンチ１３には３箇所の凹部が波状に形成されており、打ち抜いたときのミラー差し込み孔の一辺に３つの凸部５５ａ、５５ｂ、５５ｃが形成されるようになっている。中央の凸部５５ａとその両脇の凸部５５ｂ、５５ｃを含む３つの凸部を同一条件下で一度に形成しているので、各凸部の高さのばらつきを最小限に抑えることができる。
特に、中央の凸部のみを有するブラケットと両脇の２つの凸部のみを有するブラケットを別々に成形する場合に比べると加工機のセット状態の差異や各加工部品の精度の差異による影響がないので高精度な加工が可能になっている。一方、ダイ（図示せず）の形状は、パンチ形状に一定のクリアランス分オフセットした形状であり、この例ではワイヤーカット加工機を用いて加工されている。動作としては、ダイの上に金属プレートを載せた状態でパンチ１３を下降させることで打ち抜き加工を行う。
このように成形された部材から第２ブラケット５１を成形する場合は、連設された３つの凸部のうち中央の凸部を除去して両脇の凸部を残すことで最終的に２つの凸部を形成する。凸部の除去にはプレス加工機を用いる。図４は中央の凸部を切断除去するためのパンチ１５の平面図である。パンチ１５はこの例ではワイヤーカット加工機を用いて加工されている。パンチ１５に対応するダイ（図示せず）の形状は、パンチ形状に一定のクリアランス分オフセットした形状であり、やはりワイヤーカット加工機を用いて加工されている。動作としては、ダイの上に金属プレートを載せた状態でパンチ１５を下降させることで切断加工を行う。ここでの切断加工は、不要凸部のカットだけであるため、他の寸法精度は変化しない。
【００１１】
第１ブラケット５０は、連設された３つの凸部のうち両脇の凸部を切断除去するためのパンチ及びダイを用いて第２ブラケット５１の場合と同様の加工法にて成形される。このように、部材を成形する第１ステップと所定の凸部を除去する第２ステップによって第２ブラケット５１及び第１ブラケット５０が成形される。
凸部が除去されて１つしか残っていなければその位置度や傾斜度を高精度に測定することは困難であるが、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、この時点では、例えば３次元測定器を用いて位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工用の基準からミラー保持形状のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔５２（図１）に対する金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などの条件は同じになるので、凸部の高低のばらつきを抑えることができる。
【実施例２】
【００１２】
次に、実施例２について説明する。図５は本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例２）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図である。実施例２では、実施例１と同様にパンチ１３（図３）で加工した部材から凸部が１つの第１ブラケットと凸部が２つの第２ブラケットを成形するが、図５に示すように、第１ブラケットの成形では、３つの凸部のうち両脇の凸部５５ｂ、５５ｃを除去してそこに凸部５５ａよりも低くなるように平らな平滑部９、９を形成し、第２ブラケットの成形では、中央の凸部を除去してそこに凸部よりも低い平らな平滑部９を形成している。
凸部の除去にはプレス加工機を用いる。図６は中央の凸部５５ａを除去し、平滑部９を形成するためのパンチ１６の平面図である。パンチ１６はワイヤーカット加工機によって直方体状に加工されている。凸部の除去では、他の凸部の高さよりも低くなればよいため、図６の例では凸部の途中から切断している。パンチ１６に対応するダイ（図示せず）の形状は、パンチ形状に一定のクリアランス分オフセットした形状であり、ワイヤーカット加工機を用いて加工されている。動作としては、ダイの上に金属プレートを載せた状態でパンチ１６を下降させることで切断加工を行う。ここでの切断加工は、不要凸部のカットだけであるため、他の寸法精度は変化しない。このように構成された両ブラケットによって、実施例１と同様に１つのミラーを３つの凸部で当接保持する。
したがって、実施例２では、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、この時点では、例えば３次元測定器を用いて位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工用の基準からミラー保持形状のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔（図１参照）に対する金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などの条件は同じになるので、凸部の高低のばらつきを抑えることができる。
【実施例３】
【００１３】
次に、実施例３について説明する。図７は本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例３）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図である。実施例３では、実施例１と同様に部材から凸部が１つの第１ブラケットと、凸部が２つの第２ブラケットを成形するが、図７に示すように、第１ブラケットの成形では、中央の凸部５５ａの両脇の凸部５５ｂ、５５ｃを除去してそこに凸部よりも低くなるように湾曲形状の凹部１０、１０を形成し、第２ブラケットの成形では、中央の凸部を除去してそこに凸部よりも低い湾曲形状の凹部１０を形成している。凹部１０の形成には、実施例１及び２と同様の加工技術において、図７の湾曲形状に対応した形状のパンチ及びダイ（図示せず）が用いられる。ここでの加工は、不要凸部のカットだけであるため、他の寸法精度は変化しない。
このように、凸部の根元まで除去して湾曲形状の凹部１０を形成することにより、例えばミラーセット時のミラーの可動領域を確保することができる。なお、図８は１つの凸部があった位置において複数箇所この例では２箇所に湾曲形状の小凹部１０を形成した場合である。このように構成された両ブラケットによって、実施例１と同様に１つのミラーを３つの凸部で当接保持する。
したがって、実施例３では、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、この時点では、例えば３次元測定器を用いて位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工用の基準からミラー保持形状のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔（図１参照）に対する金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などの条件は同じになるので、凸部の高低のばらつきを抑えることができる。
【実施例４】
【００１４】
次に、実施例４について説明する。図９は本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例４）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図である。実施例４では、実施例１と同様に部材から凸部が１つの第１ブラケットと凸部が２つの第２ブラケットを成形するが、図９に示すように、第１ブラケットの成形では、中央の凸部５５ａの両脇の凸部５５ｂ、５５ｃを除去してそこに凸部よりも低くなるように多角形この例では四角形状の凹部１１、１１を形成し、第２ブラケットの成形では、中央の凸部を除去してそこに凸部よりも低い四角形状の凹部１１を形成している。
凸部の除去にはプレス加工機を用いる。図１０は中央の凸部を除去し、凹部１１を形成するためのパンチ２９の平面図である。パンチ２９はワイヤーカット加工機によって断面がＴ字のブロック状に加工されている。パンチ２９に対応するダイ（図示せず）の形状は、パンチ形状に一定のクリアランス分オフセットした形状であり、ワイヤーカット加工機を用いて加工されている。動作としては、ダイの上に金属プレートを載せた状態でパンチ２９を下降させることで切断加工を行う。ここでの加工は、不要凸部のカットだけであるため、他の寸法精度は変化しない。
このように、凸部の根元まで除去して湾曲形状の凹部１１を形成することにより、例えばミラーセット時の稼動領域を確保することができる。なお、図１１は１つの凸部があった位置において複数箇所この例では２箇所に三角形状の凹部１１を形成した場合であり、図１２は１つの凸部があった位置において複数箇所この例では２箇所に正方形状の小凹部１１を形成した場合である。このように構成された両ブラケットによって、実施例１と同様に１つのミラーを３つの凸部で当接保持する。
したがって、実施例４では、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、この時点では、例えば３次元測定器を用いて位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工用の基準からミラー保持形状のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔（図１参照）に対する金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などの条件は同じになるので、凸部の高低のばらつきを抑えることができる。
【実施例５】
【００１５】
次に、実施例５について説明する。図１３は本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例５）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図である。実施例５では、実施例１と同様に部材から凸部が１つの第１ブラケットと凸部が２つの第２ブラケットを成形するが、図１３に示すように、第１ブラケットの成形では、中央の凸部５５ａの両脇の凸部５５ｂ、５５ｃをこの例では９０°に折り曲げて屈曲部１２、１２を形成し、第２ブラケットの成形では、中央の凸部を９０°に折り曲げて屈曲部１２を形成している。
この折り曲げ加工はワイヤーカット加工機で加工したパンチとダイ（図示せず）を用いたプレス加工によって行われる。動作としては、ダイの上に金属プレートを載せた状態でパンチを下降させることで折り曲げ加工を行う。ここでの加工は、不要凸部を折り曲げているだけであるため、他の寸法精度は変化しない。なお、この例では９０°に屈曲した場合を示したが、これに限定されず、凸部よりも低くなるのであれば折り曲げ角度は任意に決めてよい。このように構成された両ブラケットによって、実施例１と同様に１つのミラーを３つの凸部で当接保持する。
したがって、実施例５では、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、この時点では、例えば３次元測定器を用いて位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工用の基準からミラー保持形状のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔（図１参照）に対する金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などの条件は同じになるので、凸部の高低のばらつきを抑えることができる。
【実施例６】
【００１６】
次に、実施例６について説明する。図１４は本発明の実施形態である画像読取装置２００の要部斜視図である。画像読取装置２００は原稿の画像データを光学的に読み取るための装置であり、図１４に示すように、画像の光学データを反射するためのミラー２２と、ミラー２２を保持する第１ブラケット２０及び第２ブラケット１８と、両ブラケットを支持するステー部材２１とを備えている。
第１ブラケット２０にはミラー２２の一端側が差し込まれるミラー差し込み孔１９が穿設され、第２ブラケット１８にはミラー２２の他端が差し込まれるミラー差し込み孔１７が穿設されている。ミラー差し込み孔１９の内側には上述の実施例１〜５で示したいずれかの加工法によって１つの凸部が形成されており、ミラー差し込み孔１７の内側には上述の実施例１〜５で示したいずれかの加工法によって２つの凸部が形成されている。これら３つの凸部がミラー２２に当接しながらこれを保持している。
したがって、実施例６では、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、この時点では、例えば３次元測定器を用いて位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工用の基準からミラー保持形状のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔（図１参照）に対する金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などの条件は同じになるので、凸部の高低のばらつきを抑えることができる。この結果、ミラーの姿勢を高精度に保持することができるので、高精度な画像読み取りが可能になる。
【実施例７】
【００１７】
次に、実施例７について説明する。図１５は本発明の実施形態である画像書込装置３００の要部斜視図である。画像書込装置３００は画像データから光学的書込み手段を用いて画像を形成する装置であり、図１５に示すように、画像の光学データを反射するミラー（図示せず）を保持する第１ブラケット２３及び第２ブラケット２１と、両ブラケットを支持するステー部材２５、２５とを備えている。
画像書込装置３００には４つのミラーが備えられる。そのため、第１ブラケット２３にはミラーの一端側が差し込まれるミラー差し込み孔２４が４箇所に穿設され、第２ブラケット２１にはミラーの他端が差し込まれるミラー差し込み孔２６が４箇所に穿設されている。ミラー差し込み孔２４の内側には上述の実施例１〜５で示したいずれかの加工法によって１つの凸部が形成されており、ミラー差し込み孔２６の内側には上述の実施例１〜５で示したいずれかの加工法によって２つの凸部が形成されている。ミラーが差し込まれる一対のミラー差し込み孔２４及びミラー差し込み孔２６が有する３つの凸部がミラーに当接しながらそれを保持する。
したがって、実施例７では、部材の成形後は３つの凸部が形成されているので、この時点では、例えば３次元測定器を用いて位置度や傾斜度を単品ずつ高精度に測定することができる。また、第１ブラケットと第２ブラケットは同一金型から作られた同一部材から成形されるため、加工用の基準からミラー保持形状のパンチまでの位置精度やブラケット上の加工用基準孔（図１参照）に対する金型上の加工用基準ピンのクリアランスの程度などの条件は同じになるので、凸部の高低のばらつきを抑えることができる。この結果、ミラーの姿勢を高精度に保持することができるので、高精度な画像書き込みが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット１００（実施例１）の部品図。
【図２】部材の孔形状を示す平面図。
【図３】パンチ１３の平面図とパンチ１３で打ち抜いたときの孔形状を示す平面図。
【図４】パンチ１５の平面図。
【図５】本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例２）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図。
【図６】パンチ１６の平面図。
【図７】本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例３）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図。
【図８】１つの凸部があった位置に２箇所ずつ湾曲形状の凹部１０を形成した場合の第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図。
【図９】本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例４）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図。
【図１０】パンチ２９の平面図。
【図１１】１つの凸部があった位置に２箇所ずつ三角形状の凹部１１を形成した場合の第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図。
【図１２】１つの凸部があった位置に２箇所ずつ正方形状の凹部１１を形成した場合の第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図。
【図１３】本発明の実施形態であるミラー保持ブラケット（実施例５）における第１ブラケット及び第２ブラケットの孔形状を示す平面図。
【図１４】本発明の実施形態である画像読取装置２００の要部斜視図。
【図１５】本発明の実施形態である画像書込装置３００の要部斜視図。
【図１６】従来の光学系の主要機構部における反射用のミラー周辺の斜視図。
【図１７】第１ブラケット２及び第２ブラケット１を固定したステー部材３の上面図。
【図１８】傾斜度、位置度の要求値の例を示す図。
【図１９】第１ブラケットの凸部と第２ブラケットの凸部の高低の偏差を説明する図。
【図２０】第１ブラケット側から凸部の高さを比較した場合の平面図。
【図２１】加工用基準孔７を基準としたときの加工精度のばらつきを説明する図。
【図２２】測定点である凸部が１箇所しかない場合の測定値のばらつきを説明する図。
【符号の説明】
【００１９】
１、１８、２１、５１  第２ブラケット
２、２０、２３、５０  第１ブラケット
３、２５  ステー部材
４、２２  ミラー
７、５２  加工用基準孔
９  平滑部
１０、１１  凹部
１２  屈曲部
１３、１５、１６、２９  パンチ
１７、１９、２４、２６、５０ａ、５０ｂ、５１ａ、５１ｂ  ミラー差し込み孔
５０ｃ、５０ｄ、５１ｃ、５１ｄ、５１ｅ、５１ｆ  凸部
１００  ミラー保持ブラケット
２００  画像読取装置
３００  画像書込装置
【図１】
2005141088.tif 000003
【図２】
2005141088.tif 000004
【図３】
2005141088.tif 000005
【図４】
2005141088.tif 000006
【図５】
2005141088.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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