(57)【要約】【課題】ワーク軸部に軸線と直角に設けた貫通穴や、ワーク軸部の端面に軸線と平行に設けたスリットなどを検査でき、また、ワークをその軸線回り全周にわたって検査できる検査装置を提供する。【解決手段】外周に定ピッチで設けた切欠き溝１にフィーダから送り込む頭部付き軸体Ｗの首部を導入してその軸体Ｗの頭部を下側から支持する回転テーブルＴと、この回転テーブルＴの上方に設けたチャック３で軸体Ｗの頭部を把持し、このチャック３を回転機構４で軸線Ｌを中心として回転させ、側方に設けた光学センサ５またはカメラで軸体Ｗを検知してその良否を検査する検査部Ｋ２とを有し、回転テーブルＴが軸体Ｗをチャック３の位置で停止させる機能を有している頭部付き軸体の検査装置を採用する。【選択図】図１
2005337887.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外周に定ピッチで設けた切欠き溝にフィーダから送り込む頭部付き軸体の首部を導入してその軸体の頭部を下側から支持する回転テーブルと、この回転テーブルの上方に設けたチャックで前記軸体の頭部を把持し、このチャックを回転機構で前記軸体の軸線を中心として回転させ、その軸体の側方に設けた光学センサまたはカメラで前記軸体を検知して前記軸体の良否を検査する検査部とを有し、前記回転テーブルが、支持した前記軸体を前記チャックの位置で停止させる機能を有している頭部付き軸体の検査装置。
【請求項２】
前記チャックが、前記回転テーブルの径方向から前記軸体の頭部を把持するチャックである請求項１に記載の頭部付き軸体の検査装置。
【請求項３】
前記チャックを昇降させる昇降機構を有する請求項１または２に記載の頭部付き軸体の検査装置。
【請求項４】
前記回転テーブルで支持した前記軸体の移動経路に、前記軸体を検査する複数の検査部を設け、この検査部のうちの少なくとも１つが、前記検査部である請求項１から３のいずれかに記載の頭部付き軸体の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、頭部付きのねじ、釘、ボルト、リベット、連結ピン等の頭部付き軸体の良否検査を行なう、頭部付き軸体の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
頭部付きのねじ、釘、ボルト、リベット、連結ピン等の頭部付き軸体（以下、「ワーク」という）の良否を検査する場合、回転テーブルを連続的に回転させ、その回転テーブルの外周に設けた切欠き溝にワークの首部を導入し、回転テーブルの回転に伴って移動するワークを、光学センサまたはカメラで検査する検査装置が使用されている（特許文献１）。
【０００３】
しかし、この装置では、ワーク軸部に軸線と直角に設けた貫通穴や、ワーク軸部の端面に軸線と平行に設けたスリットなどについては検査できなかった。すなわち、ワークが光学センサ等の視野内を通過する時に、ワークの貫通穴等が光学センサ等から見えない位置にくることがあるので、その検査をすることができなかった。
【０００４】
また、この検査装置にはワークの軸線を中心としてワークを回転させる機能がなく、そのため、ワークが光学センサ等の視野内を通過する時に、光学センサ等から見てワーク裏側にある欠陥を発見することができなかった。
【０００５】
【特許文献１】特公昭６０−３５００３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
この発明が解決しようとする課題は、ワーク軸部に軸線と直角に設けた貫通穴や、ワーク軸部の端面に軸線と平行に設けたスリットなどを検査でき、また、ワークをその軸線回り全周にわたって検査できる検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するために、この発明においては、外周に定ピッチで設けた切欠き溝にフィーダから送り込む頭部付き軸体の首部を導入してその軸体の頭部を下側から支持する回転テーブルと、この回転テーブルの上方に設けたチャックで前記軸体の頭部を把持し、このチャックを回転機構で前記軸体の軸線を中心として回転させ、その軸体の側方に設けた光学センサまたはカメラで前記軸体を検知して前記軸体の良否を検査する検査部とを設け、前記回転テーブルに、支持した前記軸体を前記チャックの位置で停止させる機能を付与してなる頭部付き軸体の検査装置を提供する。
【０００８】
かかる検査装置は、以下の構成を加えると、より好ましいものとなる。
１）前記チャックを、前記回転テーブルの径方向から前記軸体の頭部を把持するチャックとする。
２）前記チャックを昇降させる昇降機構を設ける。
３）前記回転テーブルで支持した前記軸体の移動経路に、前記軸体を検査する複数の検査部を設け、この検査部のうちの少なくとも１つを前記検査部とする。
【発明の効果】
【０００９】
チャックを回転させる回転機構によりワークをその軸線を中心として回転させ、側方から光学センサまたはカメラでワークを検知するので、ワークが光学センサ等の視野内に入ってきた時に、ワーク軸部に設けた貫通穴やスリットなどが光学センサ等から見えない位置にあっても、その良否を検査することができる。また、光学センサ等から見てワーク裏側の欠陥を発見することもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
図１および図２に、この発明の検査装置の実施形態を示す。この検査装置は、ワークＷを送り込むフィーダＦと、送り込まれたワークＷを移動させる回転テーブルＴと、ワークＷを検査する検査部Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３と、検査したワークＷを払い出す排出部Ｈとからなる。
【００１１】
フィーダＦから、フィーダＦの出口に設けられた回転テーブルＴの外周にワークＷが送り込まれ、回転テーブルＴの外周に定ピッチで設けられた切欠き溝１に、ワークＷの首部が導入される。こうして首部の上側に連なる頭部が回転テーブルＴにより下側から支持され、ワークＷは回転テーブルＴの回転に伴って移動する。このとき、回転テーブルＴの外周に沿うように設けられた円弧状のガイド２が、切欠き溝１からワークＷが抜け出すことを防止しているので、移動中におけるワークＷの落下は起こらない。
【００１２】
回転テーブルＴによるワークＷの移動経路には、検査部Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３が設けられている。検査部Ｋ２は、たとえば図３（ａ）に示すワークＷの横穴Ｗ１を検査する検査部である。この検査部Ｋ２は、チャック３と回転機構４と光学センサ５と昇降機構６とを有する。それ以外の検査部Ｋ１およびＫ３は、たとえば、ワークＷの長短検査用の検査部やメッキ検査用の検査部である。
【００１３】
回転テーブルＴは回転駆動機構（図示せず）に駆動されて間欠回転し、切欠き溝１のワークＷを、回転テーブルＴの上方に設けたチャック３の真下の位置で停止させる。停止したワークＷの頭部を、チャック３の対向する爪３ａが、図４（ａ）および（ｂ）に示すように、回転テーブルＴの径方向から把持する。回転テーブルＴの径方向から把持するので、回転テーブルＴの上方に設けられたチャック３が昇降機構６により下降した状態であっても、回転テーブルＴの周方向に移動するワークＷは、チャック３の爪３ａと干渉することなく、チャック３の真下まで移動することができる。
【００１４】
ワークＷの頭部をチャック３が把持すると、その上側に設けられた回転機構４が、チャック３をワークＷの軸線Ｌを中心として回転させる。
【００１５】
このときワークＷの側方に設けられた光学センサ５は、軸線Ｌを中心として回転するワークＷの横穴Ｗ１の位置に光を当てて、ワークＷから反射する光をとらえる。横穴Ｗ１が光学センサ５の方向にくるとワークＷからの反射光が変化するので、この反射光を検知することにより、正常に横穴Ｗ１が設けられているか否かを検査できる。
【００１６】
その後、チャック３がワークＷの頭部を開放し、回転テーブルＴが回転する。こうして、ワークＷを下流の検査部Ｋ３に送り出すと同時に、次のワークＷをチャック３の真下まで移動させる。
【００１７】
検査部Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３により不良品と判定されたワークＷは、回転テーブルＴの切欠き溝１から排出部Ｈの不良品排出口７に払い出され、良品と判定されたワークＷは、排出部Ｈの良品排出口８に払い出される。払い出しは、たとえば、回転テーブルＴにより移動するワークＷにエアを吹き付ける機構（図示せず）でなされる。
【００１８】
同様にして、図３（ｂ）に示すようなワークＷの先端に設けられたスリットＷ２についても検査することができる。ワークＷの首下部分が長く、その先端が光学センサ５の視野から外れるときは、チャック３でワークＷの頭部を把持した後に、図５に示すように昇降機構６でチャック３を上昇させて、ワークＷの先端のスリットＷ２を視野に入れることにより、スリットＷ２の検査をすることができる。なお、チャック３を昇降機構６により上昇させ、回転機構４により回転させる際に、ワークＷの下側に設けた補助シリンダ７のロッド先端をワークＷの軸端に押し当てておくと、ワークＷの上昇および回転を安定させることができる。
【００１９】
回転機構４は、電動モータ、エア駆動ロータリーアクチュエータなど、チャック３をワークＷの軸線を中心として回転させることができるものであればよい。
【００２０】
回転機構４の回転角度は１８０度の整数倍が好ましい。このようにすれば、チャック３が回転した後、チャック３の爪３ａが元の位置または元の位置から半回転した位置にくるので、チャック３の真下からワークＷを送り出すときに、ワークＷの頭部とチャック３の爪３ａとが干渉しない。
【００２１】
チャック３は、図では爪３ａが平行に移動する平行型チャックであるが、爪の先端側が開閉するレバー型チャックでもよく、ワークＷの頭部が鉄などの強磁性体であるときは、電磁チャックなどのマグネットチャックでもよい。このようなチャックにすると、ワークＷの位置が回転テーブルＴの径方向にずれても、ワークＷがチャック３の下を移動する際に、ワークＷの頭部とチャック３とが干渉しない。また、軸線Ｌを中心として回転する前のワークＷの頭部と、回転した後のワークＷの頭部とを光センサまたはカメラで検知することにより、ワークＷの頭部についても軸線Ｌ回り全周にわたって検査することができる。
【００２２】
昇降機構６は、図では、チャック３と回転機構４とを取り付けた移動フレーム６ａと、この移動フレーム６ａを昇降させるエアシリンダ６ｂと、移動フレームの昇降を案内するガイド６ｃと、エアシリンダ６ｂおよびガイド６ｃを固定する固定フレーム６ｄとからなり、チャック３と回転機構４とを共に昇降させるようになっている。このようにすれば、回転機構４はチャック３のみを回転させればよく、昇降機構６を回転させる必要がないので、回転機構４を大きくする必要がない。
【００２３】
光学センサ５にかえてＣＣＤカメラ等のカメラを用いてもよい。軸線Ｌを中心として回転する前のワークＷの画像と、回転した後のワークＷの画像とを、カメラでとらえることにより、カメラから見てワークＷの表側に存在する欠陥のみならず裏側に存在する欠陥をも発見することができる。
【００２４】
なお、ワークＷをチャック３の位置で停止させる機能を用いず、回転テーブルＴを連続回転させてもよい。連続回転させると、ワークＷをチャック３で把持できないので、検査部Ｋ２で横穴Ｗ１やスリットＷ２などの検査をすることはできないが、従来の検査をすることはできる。この場合、昇降機構６でチャック３を上昇させておくと、ワークＷとチャック３とが干渉するおそれがない。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】この発明の検査装置の実施形態を示す正面図
【図２】図１のＡ−Ａ線に沿った断面図
【図３】（ａ）はワーク軸部に軸線と直角に設けた貫通穴の例を示す図、（ｂ）はワーク軸部の端面に軸線と平行に設けたスリットの例を示す図
【図４】（ａ）はワークを把持する前のチャックを示す図、（ｂ）は把持した後のチャックを示す図
【図５】昇降機構により上昇したチャックを示す図
【符号の説明】
【００２６】
Ｆ    フィーダ
Ｔ    回転テーブル
Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３    検査部
Ｈ    排出部
１    切欠き溝
２    ガイド
３    チャック
４    回転機構
５    光学センサ
６    昇降機構
【図１】
2005337887.tif 000003
【図２】
2005337887.tif 000004
【図３】
2005337887.tif 000005
【図４】
2005337887.tif 000006
【図５】
2005337887.tif 000007