(57)【要約】【課題】  磁気ヘッドの書込み特性を最適化する。【解決手段】  メディアに読出し／書込みを行える磁気ヘッドの書込み特性を最適化する方法において：各磁気ヘッドを正常ヘッド，低温ＷＷヘッド，または高温ＷＷヘッドのいずれかの種類の磁気ヘッドとして定義する段階と；磁気ヘッドの種類及び環境温度によって，最適のオーバーシュートコントロール（ＯＳＣ）及び書込み電流（ＷＣ）を使用して書込み特性を最適化する段階と；を含む磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法を提供する。【選択図】    図６
2005093054.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メディアに読出し／書込みを行える磁気ヘッドの書込み特性を最適化する方法において：
前記磁気ヘッドを正常ヘッド，低温ＷＷヘッド，または高温ＷＷヘッドのいずれかの種類の磁気ヘッドとして定義する段階と；
前記磁気ヘッドの種類及び環境温度によって，最適のオーバーシュートコントロール（ＯＳＣ）及び書き込み電流（ＷＣ）を使用して書込み特性を最適化する段階と；
を含むことを特徴とする磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項２】
前記磁気ヘッドの種類を定義する段階は，
（ａ）前記メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンにＡＴＷを第１所定回数実行し，前記ターゲットトラックで最適のＢＥＲを示す第１オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｂ）前記複数のゾーンに対する第１オーバーシュートコントロール平均値を，前記低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第１特定値と比較して，前記磁気ヘッドが前記低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；
及び／または，
（ｃ）前記メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンにＡＴＷを前記第１所定回数より多い第２所定回数実行し，前記ターゲットトラックで最適のＢＥＲを示す第２オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｄ）前記複数のゾーンに対する第２オーバーシュートコントロール平均値を，前記高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第２特定値と比較して，前記磁気ヘッドが前記高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；
を含むことを特徴とする請求項１に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項３】
前記磁気ヘッドが前記低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階は，
前記第１オーバーシュートコントロール平均値が前記第１特定値より大きければ，前記磁気ヘッドを前記低温ＷＷヘッドと判断し，前記第１オーバーシュートコントロール平均値が前記第１特定値以下であれば，前記正常ヘッドと判断することを特徴とする請求項２に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項４】
前記磁気ヘッドが高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階は，
前記第２オーバーシュートコントロール平均値が前記第２特定値より大きければ，前記磁気ヘッドを前記高温ＷＷヘッドと判断し，前記第２オーバーシュートコントロール平均値が前記第２特定値以下であれば，前記正常ヘッドと判断することを特徴とする請求項２または３に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項５】
前記第２所定回数は前記第１所定回数より大きいことを特徴とする請求項２に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項６】
前記ＡＴＷは前記ターゲットトラックの両方の隣接トラックの全てのゾーンに対して行われ，
前記第１オーバーシュートコントロール平均値及び第２オーバーシュートコントロール平均値は全てのゾーンに対する平均値であることを特徴とする請求項２に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項７】
前記第１特定値は前記第２特定値より大きいことを特徴とする請求項２から６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項８】
前記書込み特性を最適化する段階は，
前記高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドに対して，高温環境で前記正常ヘッドに比べて前記ＯＳＣ及び前記ＷＣの値を高めて使用することを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項９】
前記書込み特性を最適化する段階は，
前記低温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドに対して，低温環境で前記正常ヘッドに比べて前記ＯＳＣ及び前記ＷＣを高めて使用することを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項１０】
前記書込み特性を最適化する段階は，
常温で，前記高温ＷＷヘッド，前記低温ＷＷヘッド及び前記正常ヘッドに対して前記第１オーバーシュートコントロールを使用する；
及び／または，
常温で，前記ＡＴＷが行われていない状態での最適の前記ＢＥＲで測定された前記ＷＣを使用する；
ことを特徴とする請求項２から６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項１１】
前記書込み特性を最適化する段階は，
低温環境で，前記低温ＷＷヘッドに対しては最大オーバーシュートコントロールを使用し，前記正常ヘッド及び前記高温ＷＷヘッドに対しては，前記ＡＴＷが行われていない状態での最適の前記ＢＥＲを示す前記ＯＳＣの値を使用する；
及び／または，
低温環境で，前記低温ＷＷヘッドは前記正常ヘッドより高い前記ＷＣを使用し，前記高温ＷＷヘッドと前記正常ヘッドは，低温ＷＷヘッドに比べて低温で相対的に低い前記ＷＣを使用する；
ことを特徴とする請求項２から６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項１２】
前記書込み特性を最適化する段階は，
高温環境で，前記高温ＷＷヘッドに対しては前記第２オーバーシュートコントロールより所定段階α高めて使用し，前記低温ＷＷヘッド及び前記正常ヘッドに対しては前記第２オーバーシュートコントロールを使用する；
及び／または，
高温環境で，前記正常ヘッド及び前記低温ＷＷヘッドは前記ＡＴＷが行われていない状態での最適の前記ＢＥＲで測定された前記ＷＣより低い前記ＷＣを使用し，前記高温ＷＷヘッドは前記ＡＴＷが行われていない状態での最適の前記ＢＥＲで測定された前記ＷＣを使用する；
ことを特徴とする請求項２から６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項１３】
前記磁気ヘッドの書込み特性の最適化過程は，ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）に含まれた複数の前記磁気ヘッドのうち１つの前記磁気ヘッドまたは選択的に一部の前記磁気ヘッドに対して行われるか，または前記ＨＤＤに含まれた複数の前記磁気ヘッドの全てに対して行われることを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法。
【請求項１４】
（ａ）メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンにＡＴＷを第１所定回数実行し，前記ターゲットトラックで最適のＢＥＲを示す第１オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｂ）前記複数のゾーンに対する第１オーバーシュートコントロール平均値を，低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第１特定値と比較して，前記磁気ヘッドが前記低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；
及び／または，
（ｃ）メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンにＡＴＷを前記第１所定回数より多い第２所定回数実行し，前記ターゲットトラックで最適のＢＥＲを示す第２オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｄ）前記複数のゾーンに対する第２オーバーシュートコントロール平均値を高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第２特定値と比較して，前記磁気ヘッドが前記高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；
を含み，前記磁気ヘッドが正常ヘッドであるか，前記低温ＷＷヘッドであるか，前記高温ＷＷヘッドであるかを定義することを特徴とする磁気ヘッドの定義方法。
【請求項１５】
前記磁気ヘッドが低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する（ｂ）段階は，
前記第１オーバーシュートコントロール平均値が前記第１特定値より大きければ，前記磁気ヘッドを前記低温ＷＷヘッドと判断し，前記第１オーバーシュートコントロール平均値が前記第２特定値以下であれば，前記正常ヘッドと判断することを特徴とする請求項１４に記載の磁気ヘッドの定義方法。
【請求項１６】
前記磁気ヘッドが高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する（ｄ）段階は，
前記第２オーバーシュートコントロール平均値が前記第２特定値より大きければ，前記磁気ヘッドを前記高温ＷＷヘッドと判断し，前記第２オーバーシュートコントロール平均値が前記第２特定値以下であれば，前記正常ヘッドと判断することを特徴とする請求項１４または１５に記載の磁気ヘッドの定義方法。
【請求項１７】
前記第２所定回数は前記第１所定回数より大きいことを特徴とする請求項１４から１６のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの定義方法。
【請求項１８】
前記ＡＴＷは前記ターゲットトラックの両方の隣接トラックの全てのゾーンに対して行われ，
前記第１オーバーシュートコントロール平均値及び第２オーバーシュートコントロール平均値は全てのゾーンに対する平均値であることを特徴とする請求項１４から１７のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの定義方法。
【請求項１９】
前記第１特定値は前記第２特定値より大きいことを特徴とする請求項１４から１８のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの定義方法。
【請求項２０】
前記磁気ヘッドの定義過程は，前記ＨＤＤに含まれた複数の前記磁気ヘッドのうち１つの前記磁気ヘッドまたは選択的に一部の前記磁気ヘッドに対して行われるか，または前記ＨＤＤに含まれた複数の前記磁気ヘッドの全てに対して行われることを特徴とする請求項１４から１９のいずれか１項に記載の磁気ヘッドの定義方法。
【請求項２１】
メディアに読出し／書込み機能を行えるドライブの複数の磁気ヘッドの最適化された書込み特性でドライブを作動させる方法において：
前記各磁気ヘッドを正常ヘッド，低温ＷＷヘッド，または高温ＷＷヘッドのいずれかの種類の磁気ヘッドとして定義する段階と；
前記複数の磁気ヘッドの定義された前記種類及び環境温度によって，前記複数の磁気ヘッドの書込み特性を最適化する段階と；
前記正常ヘッド，前記低温ＷＷヘッドまたは前記高温ＷＷヘッドと定義された対応する前記磁気ヘッドの前記種類の定義及び前記最適化された書込み特性に基づいてメディアに情報を書き込む段階と；
を含むことを特徴とするドライブの作動方法。
【請求項２２】
前記ドライブの環境温度が高い時，定義された前記正常ヘッド及び前記低温ＷＷヘッドのための書込み特性は定義された前記高温ＷＷヘッドの書込み特性と異なり；
前記ドライブの環境温度が低い時，定義された前記正常ヘッド及び前記高温ＷＷヘッドの書込み特性は定義された前記低温ＷＷヘッドの書込み特性と異なり；
前記ドライブの環境温度が平常である時，定義された前記正常ヘッド，前記高温ＷＷヘッド及び前記低温ＷＷヘッドの書き込み特性は同じであることを特徴とする請求項２１に記載のドライブの作動方法。
【請求項２３】
情報を保存するメディアと；
前記メディアへの前記情報の追加及び／または前記メディアからの前記情報の削除を制御する磁気ヘッドを具備するヘッドアセンブリと；
前記ヘッドアセンブリを回転させるためのアクチュエータアセンブリと；を具備し，
前記磁気ヘッドにより行われる前記メディアへの情報の書込みを制御するための書込み特性は，請求項１から１３のいずれか１項に記載の方法によって最適化されることを特徴とするハードディスクドライブ。
【請求項２４】
情報を保存するメディアと；
前記メディアへの前記情報の追加及び／または前記メディアからの情報の削除を制御する磁気ヘッドを具備するヘッドアセンブリと；
前記ヘッドアセンブリを回転させるためのアクチュエータアセンブリと；を具備し，
請求項１４から２０のいずれか１項に記載の方法により正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドの定義に基づいて，前記磁気ヘッドが制御され，前記メディアにデータが書き込まれることを特徴とするハードディスクドライブ。
【請求項２５】
情報を保存するメディアと；
前記メディアへの前記情報の追加及び／または前記メディアからの情報の削除を制御する磁気ヘッドを具備するヘッドアセンブリと；
前記ヘッドアセンブリを回転させるためのアクチュエータアセンブリと；を具備し，
請求項２１または請求項２２に記載の作動方法によって，正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドの定義に基づいて前記磁気ヘッドが制御され，前記メディアにデータが書き込まれることを特徴とするハードディスクドライブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はハードディスクドライブ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ，以下，ＨＤＤとも称する。）分野に係り，より詳細には，ＨＤＤにおける各磁気ヘッドの書込み性を考慮して磁気ヘッドの書込み特性を最適化する方法，磁気ヘッドの定義方法，ドライブの作動方法及びそれを利用したハードディスクドライブに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＨＤＤは磁気ヘッドによりディスクに書き込まれた情報を読み出すか，またはディスクにデータを書き込む装置である。ディスクはスピンドルモータに回転自在に搭載され，情報はボイスコイルモータ（Ｖｏｉｃｅ  Ｃｏｉｌ  Ｍｏｔｏｒ，以下，ＶＣＭとも称する。）により回転されるアクチュエータアームに搭載された磁気ヘッド（読取り／書込みヘッド）によりアクセスされる。ＶＣＭは電流により励磁されてアクチュエータを回転させ，ヘッドを移動させる。読出し／書込みヘッドはディスクの表面から出てくる磁気の変化を感知してディスク表面に書き込まれた情報を判読する。データトラックに情報を書き込むために，電流がヘッドに供給される。電流は磁界を発生させ，それによりディスク表面を磁化させる。
【０００３】
ＨＤＤの環境条件での性能は，ドライブの信頼性の基本的な，極めて重要な項目である。特に，温度及び湿度条件でのドライブの性能は，隣接トラック消去（Ａｄｊａｃｅｎｔ  Ｔｒａｃｋ  Ｅｒａｓｅ，以下，ＡＴＥとも称する。）や弱い書込み（Ｗｅａｋ  Ｗｒｉｔｅ，以下，ＷＷとも称する。）のような書込み性と深い関連がある。
【０００４】
ここで，磁気ヘッドに提供される書込み電流によりターゲットトラックに隣接したトラック（以下，隣接トラック）に書き込まれたデータが消去される現象をＡＴＥという。
ＨＤＤで書込み性は極めて重要な特性であり，このような書込み性能はＨＤＤを取り囲む環境に影響される。
【０００５】
一般的に低温の下ではＣｏＣｒＰｔ物質に基づいたメディアの磁性層，例えばハードディスクの磁性層の保磁力が増加して，常温（平常の温度）下の場合と対比して書込み特性が落ちる。これにより，ＨＤＤは正確なデータを書き込むことができず，また，以前に書き込まれているデータを正常にオーバーライトできないオーバーライト特性が低下するという問題が生じる。逆に，高温の下では保磁力の減少によって同じ書込みフィールドに対して極めて強く書き込まれるという現象によって，隣接トラックに干渉を与えるトラック侵犯（Ｔｒａｃｋ  Ｅｎｃｒｏａｃｈｍｅｎｔ，以下，ＴＥとも称する。）かＡＴＥのような問題がもたらされる。
【０００６】
磁気ヘッドのＡＴＥ特性は，高温下ではメディアの磁性層の保磁力減少及び飛行高さ（Ｆｌｙｉｎｇ  Ｈｅｉｇｈｔ，以下，ＦＨとも称する。）の減少によって劣化され，低温下では，メディアの保磁力増加によって劣化される。
【０００７】
最近，ＨＤＤの容量が増えるにつれて，ヘッドの読出し／書込みセンサのサイズは縮小され，ＦＴも次第に低くなる傾向がある。このように磁気ヘッドの物理的サイズが小さくなれば，そのヘッドに提供される書込み電流により隣接トラックのデータが消去される隣接トラック消去現象が起こりやすい。
【０００８】
一般的な場合，ＷＷは低温でのメディアの磁気保持力の増加による書込み特性の低下，及びそれによる誤った情報の入力を示す低温ＷＷが多い。
【０００９】
最近では，高温でのメディア磁性層の保磁力減少によるトラック間干渉（ＴＥまたはＡＴＥ）の補償または改善のために，オーバーシュートコントロール（Ｏｖｅｒ  Ｓｈｏｏｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌ，以下，ＯＳＣとも称する。）や書込み電流（Ｗｒｉｔｅ  Ｃｕｒｒｅｎｔ，以下，ＷＣとも称する。）を高温でのみ低くして使用するが，このような場合に使われるＯＳＣやＷＣ値が磁気ヘッド特性に対比して低過ぎることにより発生する高温ＷＷの問題も生じる。
【００１０】
ここで，書込み電流の波形の一例を示した図１を参照すれば，メディアの磁性層１に書き込まれたデータ２ａ，２ｂの転換点３で，書込み電流は鋭く上昇した形状を示しているが，この時の書込み電流のｄｃ成分を上記ＷＣといい，起立成分をＯＳＣという。ＷＣは，磁界の強度を保磁力の近くに維持させる役割をし，ＯＳＣは，書込み位置で磁界の強度を保磁力以上に引き上げるトリガとしての役割をする。
【００１１】
現在，ほとんどのＨＤＤは，プリアンプのダイ温度（プリアンプに内蔵された温度センサによりプリアンプが検出する温度）を測定してＨＤＤの周辺環境温度を測定し，これに基づいて，書込み性を改善するために，低温下では，メディアの保磁力増加による高保磁力に対応するようにＯＳＣやＷＣを一定量に増やし，高温下では，メディアの保磁力の減少による低保磁力に対応するようにＯＳＣやＷＣを逆に一定量を減らすことによって，温度環境に適した書込み特性を維持している。
【００１２】
すなわち，最近のＨＤＤはドライブの温度測定（実際にはプリアンプ端の温度測定）を通じてＷＣやＯＳＣを制御する方法によって，低温下では，高いＷＣ及びＯＳＣを使用して保磁力の増加に対応し，高温では，低いＷＣ及びＯＳＣを使用して保磁力減少に対応するようにしている。
【００１３】
【特許文献１】特開平１２−２２２７０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
ところが，磁気ヘッド及びプリアンプは広い特性分布を有するために，従来の方法のように検出された温度のみに基づいて一定量のＯＳＣ及びＷＣが増加または減少された場合にはオーバーライトや書込み性の特性はまだ十分でない。その結果，低温，高温ＷＷの問題が発生してビットエラーまたは記録されているデータの破壊のような問題がもたらされる可能性があった。
【００１５】
そこで，本発明は，このような問題に鑑みてなされたもので，その目的とするところは，ＨＤＤでの各磁気ヘッドの書込み性を考慮して，各磁気ヘッドの特性に合わせて最適化されたＯＳＣ及びＷＣを使用することによって，ＷＷの問題を解決することができる，磁気ヘッドの書込み特性を最適化する方法，磁気ヘッドの定義方法，ドライブの作動方法及びそれを利用したハードディスクドライブ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記課題を解決するために，本発明のある観点によれば，メディアに読出し／書込みを行える磁気ヘッドの書込み特性を最適化する方法において：各磁気ヘッドを正常ヘッド，低温ＷＷ（Ｗｅａｋ  Ｗｒｉｔｅ）ヘッド，または高温ＷＷヘッドのいずれかの種類の磁気ヘッドとして定義する段階と；磁気ヘッドの種類及び環境温度によって，最適のオーバーシュートコントロール（ＯＳＣ：Ｏｖｅｒｓｈｏｏｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌ：オーバーシュート制御信号）及び書込み電流（ＷＣ：Ｗｒｉｔｅ  Ｃｕｒｒｅｎｔ）を使用して書込み特性を最適化する段階と；を含むことを特徴とする磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法が提供される。
【００１７】
上記磁気ヘッドの種類を定義する段階は，（ａ）メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンに隣接トラック書込み（ＡＴＷ：Ａｄｊａｃｅｎｔ  Ｔｒａｃｋ  Ｗｒｉｔｅ）を第１所定回数実行し，ターゲットトラックで最適のＢＥＲを示す第１オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｂ）複数のゾーンに対する第１オーバーシュートコントロール平均値を，低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第１特定値と比較して，磁気ヘッドが低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；及び／または，（ｃ）メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンにＡＴＷを第１所定回数より多い第２所定回数実行し，ターゲットトラックで最適のビットエラー率（ＢＥＲ：Ｂｉｔ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）を示す第２オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｄ）複数のゾーンに対する第２オーバーシュートコントロール平均値を，高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第２特定値と比較して，磁気ヘッドが高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；を含んでもよい。
【００１８】
上記磁気ヘッドが高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階は，第２オーバーシュートコントロール平均値が第２特定値より大きければ，磁気ヘッドを高温ＷＷヘッドと判断し，第２オーバーシュートコントロール平均値が第２特定値以下であれば，正常ヘッドと判断するようにしてもよい。
【００１９】
上記第２所定回数は第１所定回数より大きくてもよい。
【００２０】
上記ＡＴＷはターゲットトラックの両方の隣接トラックの全てのゾーンに対して行われ，第１オーバーシュートコントロール平均値及び第２オーバーシュートコントロール平均値は全てのゾーンに対する平均値であってもよい。
【００２１】
上記第１特定値は第２特定値より大きくてもよい。
【００２２】
上記書込み特性を最適化する段階は，高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドに対して，高温環境で正常ヘッドに比べてＯＳＣ及びＷＣの値を高めて使用してもよい。
【００２３】
上記書込み特性を最適化する段階は，低温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドに対して，低温環境で正常ヘッドに比べてＯＳＣ及びＷＣを高めて使用してもよい。
【００２４】
上記書込み特性を最適化する段階は，常温で，高温ＷＷヘッド，低温ＷＷヘッド及び正常ヘッドに対して第１オーバーシュートコントロールを使用する；及び／または，常温で，ＡＴＷが行われていない状態での最適のＢＥＲで測定されたＷＣを使用する；ようにしてもよい。
【００２５】
上書込み特性を最適化する段階は，低温環境で，低温ＷＷヘッドに対しては最大オーバーシュートコントロールを使用し，正常ヘッド及び高温ＷＷヘッドに対しては，ＡＴＷが行われていない状態での最適のＢＥＲを示すＯＳＣの値を使用する；及び／または，低温環境で，低温ＷＷヘッドは正常ヘッドより高いＷＣを使用し，高温ＷＷヘッドと正常ヘッドは，低温ＷＷヘッドに比べて低温で相対的に低いＷＣを使用する；ようにしてもよい。
【００２６】
上記書込み特性を最適化する段階は，高温環境で，高温ＷＷヘッドに対しては第２オーバーシュートコントロールより所定段階α高めて使用し，低温ＷＷヘッド及び正常ヘッドに対しては第２オーバーシュートコントロールを使用する；及び／または，高温環境で，正常ヘッド及び低温ＷＷヘッドはＡＴＷが行われていない状態での最適のＢＥＲで測定されたＷＣより低いＷＣを使用し，高温ＷＷヘッドはＡＴＷが行われていない状態での最適のＢＥＲで測定されたＷＣを使用する；ようにしてもよい。
【００２７】
上記磁気ヘッドの書込み特性の最適化過程は，ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）に含まれた複数の磁気ヘッドのうち１つの磁気ヘッドまたは選択的に一部の磁気ヘッドに対して行われるか，またはＨＤＤに含まれた複数の磁気ヘッドの全てに対して行われるようにしてもよい。
【００２８】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，（ａ）メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンにＡＴＷを第１所定回数実行し，ターゲットトラックで最適のＢＥＲを示す第１オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｂ）複数のゾーンに対する第１オーバーシュートコントロール平均値を，低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第１特定値と比較して，磁気ヘッドが低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；及び／または，（ｃ）メディアのターゲットトラックに隣接した隣接トラックの複数のゾーンにＡＴＷを第１所定回数より多い第２所定回数実行し，ターゲットトラックで最適のＢＥＲを示す第２オーバーシュートコントロールを測定する段階と；（ｄ）複数のゾーンに対する第２オーバーシュートコントロール平均値を高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する基準になる第２特定値と比較して，磁気ヘッドが高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する段階と；を含み，磁気ヘッドが正常ヘッドであるか，低温ＷＷヘッドであるか，高温ＷＷヘッドであるかを定義することを特徴とする磁気ヘッドの定義方法が提供される。
【００２９】
上記磁気ヘッドが低温ＷＷヘッドであるか否かを判断する（ｂ）段階は，第１オーバーシュートコントロール平均値が第１特定値より大きければ，磁気ヘッドを低温ＷＷヘッドと判断し，第１オーバーシュートコントロール平均値が第２特定値以下であれば，正常ヘッドと判断するようにしてもよい。
【００３０】
上記磁気ヘッドが高温ＷＷヘッドであるか否かを判断する（ｄ）段階は，第２オーバーシュートコントロール平均値が第２特定値より大きければ，磁気ヘッドを高温ＷＷヘッドと判断し，第２オーバーシュートコントロール平均値が第２特定値以下であれば，正常ヘッドと判断するようにしてもよい。
【００３１】
上記第２所定回数は第１所定回数より大きくてもよい。
【００３２】
上記ＡＴＷはターゲットトラックの両方の隣接トラックの全てのゾーンに対して行われ，第１オーバーシュートコントロール平均値及び第２オーバーシュートコントロール平均値は全てのゾーンに対する平均値であるようにしてもよい。
【００３３】
上記第１特定値は第２特定値より大きくてもよい。
【００３４】
上記磁気ヘッドの定義過程は，ＨＤＤに含まれた複数の磁気ヘッドのうち１つの磁気ヘッドまたは選択的に一部の磁気ヘッドに対して行われるか，またはＨＤＤに含まれた複数の磁気ヘッドの全てに対して行われるようにしてもよい。
【００３５】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，メディアに読出し／書込み機能を行えるドライブの複数の磁気ヘッドの最適化された書込み特性でドライブを作動させる方法において：各磁気ヘッドを正常ヘッド，低温ＷＷヘッド，または高温ＷＷヘッドのいずれかの種類の磁気ヘッドとして定義する段階と；複数の磁気ヘッドの定義された種類及び環境温度によって，複数の磁気ヘッドの書込み特性を最適化する段階と；正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドと定義された対応する磁気ヘッドの種類の定義及び最適化された書込み特性に基づいてメディアに情報を書き込む段階と；を含むことを特徴とするドライブの作動方法が提供される。
【００３６】
上記ドライブの作動方法は，上記ドライブの環境温度が高い時，定義された正常ヘッド及び低温ＷＷヘッドのための書込み特性は定義された高温ＷＷヘッドの書込み特性と異なり；ドライブの環境温度が低い時，定義された正常ヘッド及び高温ＷＷヘッドの書込み特性は定義された低温ＷＷヘッドの書込み特性と異なり；ドライブの環境温度が平常である時，定義された正常ヘッド，高温ＷＷヘッド及び低温ＷＷヘッドの書込み特性は同じであるようにしてもよい。
【００３７】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，情報を保存するメディアと；メディアへの情報の追加及び／またはメディアからの情報の削除を制御する磁気ヘッドを具備するヘッドアセンブリと；ヘッドアセンブリを回転させるためのアクチュエータアセンブリと；を具備し，磁気ヘッドにより行われるメディアへの情報の書込みを制御するための書込み特性は，上記の磁気ヘッドの書込み特性を最適化する方法によって最適化されることを特徴とするハードディスクドライブが提供される。
【００３８】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，情報を保存するメディアと；メディアへの情報の追加及び／またはメディアからの情報の削除を制御する磁気ヘッドを具備するヘッドアセンブリと；ヘッドアセンブリを回転させるためのアクチュエータアセンブリと；を具備し，上記の磁気ヘッドの定義方法によって正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドの定義に基づいて，磁気ヘッドが制御され，メディアにデータが書き込まれることを特徴とするハードディスクドライブが提供される。
【００３９】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，情報を保存するメディアと；メディアへの情報の追加及び／またはメディアからの情報の削除を制御する磁気ヘッドを具備するヘッドアセンブリと；ヘッドアセンブリを回転させるためのアクチュエータアセンブリと；を具備し，上記の磁気ヘッドの定義方法によって正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドの定義に基づいて磁気ヘッドが制御され，メディアにデータが書き込まれることを特徴とするハードディスクドライブが提供される。
【発明の効果】
【００４０】
以上説明したように本発明によれば，ＨＤＤで各磁気ヘッドが正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドであるか否かを定義でき，磁気ヘッドの種類による書込み性を考慮し，環境温度を考慮して，各磁気ヘッドの特性に合わせて最適化されたＯＳＣ及びＷＣを使用できるので，低温，高温ＷＷ問題が生じない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下に添付図面を参照しながら，本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお，本明細書及び図面において，実質的に同一の機能構成を有する構成要素については，同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００４２】
ハードディスクドライブ（以下，ＨＤＤとも称する）は，回転するハードディスクの読出し／書込み面に対応する磁気ヘッドを具備する。ＨＤＤには通常数枚のハードディスクが同一回転軸上に設置されるので，これに対応していくつかの磁気ヘッドが配置される。磁気ヘッドは，ディスク面の磁気領域を磁化または磁気を検出することにより情報を書き込むか，または読み出す。
【００４３】
ＨＤＤで，読出し／書込みは，ベース上に回動可能に設置された磁気ヘッドの組立て体の回動を利用して，その端部の方向に設置された磁気ヘッドを回転ディスク上の適正位置に移動させるスイングアーム駆動方式により行われる。
【００４４】
図２は，ＨＤＤ構造の一例を概略的に示した平面図である。図２を参照すると，ＨＤＤ１０は，情報が書き込まれるメディアの一例であるハードディスク２０と，情報の書込み及び読取りのために磁気ヘッド５０をハードディスク２０上の任意のトラック位置に移動させる磁気ヘッド移動装置などを具備する。ここで，ハードディスク２０は情報が書き込まれる書込み領域２２と，このハードディスク２０の回転が停止した時に磁気ヘッド５０がパーキングされるように備えられたパーキング領域２１と，に区分されうる。
【００４５】
ディスク２０は，ベース１１上に回転自在に設置されてスピンドルモータ（図示せず）により回転される。
【００４６】
磁気ヘッド移動装置は，磁気ヘッド５０が搭載され，ベース１１上に備えられた回動軸３４を中心に回動可能に設置される磁気ヘッド組立て体３０（ヘッドアセンブリ）と，磁気ヘッド組立て体３０を電磁気力により回動させるためのアクチュエータ４０（アクチュエータアセンブリ）と，を具備する。
【００４７】
磁気ヘッド組立て体３０は，回動軸３４に回転自在に結合されるアクチュエータアーム３２の端部に結合されるサスペンション３１と，ハードディスク２０に情報を書き込み，ハードディスク２０に書き込まれている情報を読み出すための磁気ヘッド（図３の７０）を具備し，サスペンション３１に設置される磁気ヘッドスライダ５０と，を含んで構成される。
【００４８】
磁気ヘッドスライダ５０は，サスペンション３１によりハードディスク２０側にバイアスされており，ハードディスク２０が回転し始めると，ハードディスク２０の回転により発生する空気動圧により，ハードディスク２０に対して浮上したまま飛行する。この時，磁気ヘッドスライダ５０が浮上したまま飛行する高さはサスペンション３１のグラム荷重と，ハードディスク２０の回転による空気の流れによる揚力などにより決定される。
【００４９】
ここで，飛行高さとは，ハードディスク２０の回転の間，磁気ヘッドスライダ５０がハードディスク２０に対して浮上したまま飛行する際の，磁気ヘッドスライダ５０の先端側に備えられた読出しセンサ，すなわち磁気抵抗ヘッドとハードディスク２０の表面との間の間隔である。グラム荷重とは，サスペンション３１により発揮された力をいう。
【００５０】
図３は，図２のＨＤＤに使用可能な磁気ヘッド７０の一例を示す。図３の示したように，磁気ヘッド７０は，読出しのための磁気抵抗（Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｌｕｃｔａｎｃｅ，以下，ＭＲとも称する。）ヘッド７４と，書込みのための誘導書込みヘッドと，を含んでいる。ＭＲヘッド７４は，ハードディスク２０に書き込まれた磁気信号を感知して読み出す役割をする。誘導書込みヘッドは，ハードディスク２０へ漏れる磁束を形成するためのトップポール７１とボトムポール７２，及び，電流が供給されと磁界が発生する書込み用コイル７３を具備し，所望の磁気信号をハードディスク２０に書き込む役割をする。
【００５１】
各ハードディスク２０の面毎に上記のような磁気ヘッド７０が１つずつ対応して配置される。
【００５２】
また，図２を参照すると，アクチュエータ４０は，公知であるように，磁石（図示せず）とボイスコイル１４とを含む。ボイスコイル１４に電流を印加して，磁気ヘッド７０をハードディスク２０上の所望のトラック位置に移動させる。
【００５３】
スピンドルモータ，ボイスコイル１４，磁気ヘッド７０は印刷回路基板アセンブリ（Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ  Ａｓｓｅｍｂｌｙ，以下，ＰＣＢＡとも称する。）１５の電子回路と電気的に連結される。電子回路は，プリアンプと，読出し／書込みチャンネル回路と，サーボ制御機と，を含む。電子回路はハードディスクの磁界を感知する磁気ヘッドと電気的に連結される。
【００５４】
磁気ヘッド７０はハードディスクの磁界に相応する読出し信号を生成する。読出し信号はプリアンプにより増幅され，読出し／書込みチャンネル回路に送られる。読出し／書込みチャンネル回路は，磁気ヘッド７０により読取られて増幅されたアナログ信号をデジタル信号に変調させ，ユーザーデータを受けてハードディスク２０に書き込めるように書込み電流に変換させる信号処理を実行する。サーボ制御機は，ＨＤＤを総括的に制御する。
【００５５】
上記のような構成を有するＨＤＤの組立て後には，ＨＤＤを検証して最適化するための工程に進む。
【００５６】
上記のＨＤＤを検証して最適化するための工程は，組立てられたＨＤＤの動作を最適化する工程，及び読出し／書込み性能の検証工程を含む。
【００５７】
ＨＤＤの動作を最適化する工程には，例えばサーボ較正，チャンネル最適化，ＰＣＢＡのチェック工程を含む多様な較正工程及びパラメータ最適化工程が含まれる。
【００５８】
サーボ較正段階は，読出し／書込みヘッド，すなわちＭＲヘッドの機構的，電気的な位置制御のためのパラメータの最適化工程を含む。ここで，最適化すべきパラメータはＭＲヘッドのスキュー（ＭＲ  ｓｋｅｗ），ＫＴ値などを含む。ＫＴ値はＭＲへッドが動く時にどれほどの回転力でどれほど加速されたかを示す値である。
【００５９】
チャンネル最適化はＭＲへッドで正常的な読出し／書込みを行うための読出し／書込み関連パラメータの最適化工程を含む。読出し／書込み関連のパラメータには，例えば読出し電流と書込み電流がある。
【００６０】
ＰＣＢＡチェックは，ＰＣＢＡが機構／電気的動作を行えるか否かを検出して，回路システムが正常に動作しているか否かを検査する工程をいう。ＰＣＢＡの印刷回路基板には読出し／書込み機能を行うための回路（ＲＷ  ＩＣ），コントローラ，モーターを制御するコンボ回路などを含む多数の回路が具備される。
【００６１】
ＨＤＤの動作実行のための最適化工程は，上述のようにＨＤＤを構成する多様な部品の機構的／電気的較正工程及び各種パラメータの最適化工程を含む。
【００６２】
ＨＤＤ内にはハードディスクの読出し／書込み面と対応する複数の磁気ヘッドが具備されている。読出し／書込み性能の検証工程は各磁気ヘッドに対して行われる。例えば，ＨＤＤ内にＮ個の磁気ヘッドが具備されているならば，最初の磁気ヘッドに対する性能テスト工程からＮ番目の磁気ヘッドに対する性能テスト工程まで行われる。読出し／書込みの性能テストにより読出し／書込みを検証する。読出し／書込みの検証はオフトラックの読出し，多様な書込みパターンの変更などを通じて行われる。
【００６３】
本実施形態は，磁気ヘッドの書込み性の特性を検証する工程を通じて，磁気ヘッドを，正常ヘッド，高温ＷＷヘッド及び低温ＷＷヘッドの３種のいずれかであると定義し，各定義されたヘッド特性に合わせて最適化された低温，高温工程で最適にＯＳＣ及びＷＣを使用する方法に関する。
【００６４】
本実施形態の各プロセスは，ＨＤＤの動作の最適化工程の段階で行われる。ＨＤＤの読出し／書込みの性能検証工程は，本実施形態で低温ＷＷヘッドを定義するために得られる後述のＯＳＣ１値を使用して行われる。
【００６５】
本実施形態は，一般的に，潜在的なＷＷヘッドは正常ヘッドに比べてフリンジフィールドが弱いという事実に基づいて，ターゲットトラックの両側に隣接したトラックに対するＡＴＷを実行して，この時に設定されたＢＥＲが最も良い時（すなわち，最適である時）のＯＳＣ値を測定し，この時に測定されたＯＳＣ値のサイズによって低温，高温ＷＷを定義する。
【００６６】
ＢＥＲは，磁気ヘッドによって読取られた信号に含まれた一定数のデータビットのうちいくつのエラービットが発生したかを示す比率である。
【００６７】
図４は，ＯＳＣとＢＥＲとの関係を示すグラフの一例である。図４を参照すると，ＯＳＣに対するＢＥＲは，概略的に最低のＢＥＲ（ＢＥＲ＿ｍｉｎ）を湾曲点ａとする概略的なＶ字状を現す。例えば，これはＯＳＣが低ければ，低磁界によりＢＥＲが高まり，ＯＳＣが高ければ，列的ポールチップ突起（ＴＰＴＰ：Ｔｈｅｒｍａｌ  Ｐｏｌｅ  Ｔｉｐ  Ｐｒｏｔｒｕｓｉｏｎ）がひどくなるためにＢＥＲが高まると解釈することができる。図４で，ｂは使用範囲内の最大ＯＳＣ（ＯＳＣｍａｘ）でのＢＥＲ（ＢＥＲ＿ｏｓｃｍａｘ）を示す。
【００６８】
ここで，現在，ＨＤＤは，非金属成分のスライダにパーマロイよりなった金属成分のポールが内蔵された構造の磁気ヘッドを備える。したがって，書込み動作の間，書込み電流が磁気ヘッドに備えられたコイルに流れれば，ジュール熱が発生し，この時に金属と非金属間の熱膨張係数の差によって金属成分のポール周辺が膨らんで突出されるが，これをＴＰＴＰという。このようなＴＰＴＰにより磁気ヘッドとハードディスク間のインターフェース（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ，以下，ＨＤＩとも称する。）のマージンが減り，磁気ヘッドのＦＴを下げる効果を出す。したがって，過度のＴＰＴＰは磁気ヘッドとハードディスクとの衝突によるポールの損傷，厳しい熱，信号変調などの問題をもたらす。
【００６９】
したがって，ＯＳＣが高ければ，ＴＰＴＰがひどくなり，これによりＢＥＲが高まる。
【００７０】
図５は，本実施形態による磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法を概略的に示すフローチャートであり，図６は，図５に適用される本実施形態による磁気ヘッドの定義方法の一実施例を示したフローチャートである。
【００７１】
図５を参照すると，メディア，例えばＨＤＤのハードディスクに読出し／書込みを行える磁気ヘッドの書込み特性を最適化する過程は，対象磁気ヘッドが正常ヘッドであるか，低温ＷＷヘッドであるか，高温ＷＷヘッドであるかの磁気ヘッドの種類を定義する段階（Ｓ１００）と，磁気ヘッドの定義された種類によって最適のＯＳＣ及びＷＣを使用して対象磁気ヘッドの書込み特性を最適化する段階（Ｓ２００）と，を含む。
【００７２】
本実施形態による磁気ヘッドの書込み特性の最適化検証は常温で行われる。
【００７３】
本実施形態は，複数のＨＤＤに含まれた複数の磁気ヘッドの書込み特性を最適化するために適用される場合には，一つの磁気ヘッドに対する定義及び書込み特性の最適化が終了した後に，次の段階（Ｓ３００）に進んで，次の磁気ヘッドに対する定義及び書込み特性の最適化過程が行われ，かかる過程が繰り返される。
【００７４】
後述のように，書込み特性を最適化する段階（Ｓ２００）で高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドに対しては，高温環境において正常ヘッドよりもＯＳＣ及びＷＣ値を高めて使用する。書込み特性を最適化する段階（Ｓ２００）で低温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドに対しては，低温環境において正常ヘッドよりもＯＳＣ及びＷＣを高めて使用する。
【００７５】
図６に示すように，磁気ヘッドの種類は，次のような過程を通じて定義することができる。
【００７６】
まず，ＢＥＲテストによるＡＴＷが全く行われていない状態（ＡＴＷ＝０）のターゲットトラックに対するオントラックＯＳＣ値を測定する（Ｓ１０１）。この時測定されたＯＳＣ値は，ＡＴＷが全く行われていない状態状態（ＡＴＷ＝０）のターゲットトラックに対する最も良いＢＥＲ値を伴う最適のＯＳＣ値であると認められる。
【００７７】
具体的に，与えられたＯＳＣ条件でターゲットトラックに所定回数，例えば１０回データを書き込んだ後，ターゲットトラックを所定回数，例えば６００回ほど読取ってＢＥＲを測定する過程をＯＳＣ条件を変えながら繰り返して，ＢＥＲ値が最適である（望ましくは，最も低い）ＯＳＣ値を検出する。この時，ＯＳＣはＨＤＤシステムで許容する最小ＯＳＣ〜最大ＯＳＣ範囲内の値であって，実際のシステムでＯＳＣは数〜数十段階に区分されて適用される。ここで，最小ＯＳＣ，最大ＯＳＣ値及びＯＳＣを区分する段階数はＨＤＤシステムを製造する製造社別に異なりうる。
【００７８】
ここで，ＡＴＷが０である状態でＢＥＲが最適であるＯＳＣは，低温で正常ヘッドが使用するＯＳＣ値である。後述の内容から分かるように，低温ＷＷヘッドと定義されれば，このＯＳＣ値を使わずに最大ＯＳＣ値を使用する。
【００７９】
次に，両方の隣接トラックのあらゆるゾーンにＡＴＷを第１所定回数としてＭ回，例えば１００回ほど行った後，ターゲットトラックで最適のＢＥＲ値を示すＯＳＣを測定する（Ｓ１０３）。この時に測定されたＯＳＣ値をＯＳＣ１という。ＯＳＣ１はＡＴＷをＭ回行った時のＢＥＲが最も良いＯＳＣ値を示す。
【００８０】
具体的に，与えられたＯＳＣ条件で目標トラックに隣接したトラックにＭ回，例えば１００回ほどデータを書き込んだ後，ターゲットトラックを所定回数，例えば６００回ほど読取ってＢＥＲ値を測定する過程をＯＳＣ条件を変えながら繰り返して，ＢＥＲが最適である（最も低い）ＯＳＣ１値を検出する（Ｓ１０３）。
【００８１】
次に，あらゆるゾーンに対して平均したＯＳＣ１値が特定値ａ以下であるか否かを比較する（Ｓ１０５）。ここで，特定値ａはＯＳＣの範囲及びＨＤＤの製作条件によって異なる可能性があり，例えば，概略的にＯＳＣ範囲の中間程度に該当する値になりうる。
【００８２】
あらゆるゾーンに対して平均したＯＳＣ１値が特定値ａより大きければ，書込みフリンジフィールドが弱いという意味である。したがって，平均したＯＳＣ１値が特定値ａより大きければ，磁気ヘッドは低温ＷＷヘッドと定義される（Ｓ１０７）。低温ＷＷヘッドは正常の場合に比べて低温環境においてより高いＯＳＣ及びＷＣを使用する（Ｓ１０９）。望ましくは，このような低温ＷＷヘッドは，低温環境で最大ＯＳＣ値を使用する。
【００８３】
平均したＯＳＣ１値が特定値ａ以下であれば，この段階でヘッドは正常ヘッドと判断される（Ｓ１１１）。
【００８４】
次に，磁気ヘッドで両方の隣接トラックのあらゆるゾーンにＡＴＷを第２所定回数としてＮ回（ここで，Ｎ＞Ｍ），例えば１０００（１ｋ）回ほど行った後，ＯＳＣ値を測定する（Ｓ１１３）。この時に測定されたＯＳＣ値をＯＳＣ２という。ＯＳＣ２はＡＴＷをＮ回行った時のＢＥＲ値が最も良いＯＳＣ値を示す。
【００８５】
具体的に，与えられたＯＳＣ条件でターゲットトラックに隣接したトラックにＮ回，例えば１０００回ほどデータを書き込んだ後，ターゲットトラックを所定回数，例えば６００回ほど読取ってＢＥＲ値を測定する過程をＯＳＣ条件を変えながら繰り返して，ＢＥＲが最適である（最も低い）ＯＳＣ２値を検出する（Ｓ１１３）。
【００８６】
次に，あらゆるゾーンに対して平均したＯＳＣ２値が特定値ｂ以下であるか否かを比較する（Ｓ１１５）。ここで，特定値ｂは特定値ａと同様に，ＯＳＣの範囲及びＨＤＤの製作条件によって異なる可能性があり，例えば概略的に特定値ａの半分程度に該当する値になりうる。
【００８７】
あらゆるゾーンに対して平均したＯＳＣ２値が特定値ｂ（ここで，ｂ＜ａ）より大きければ，高温下において低すぎるＯＳＣを使用した時に高温ＷＷが発生する可能性があると判断する。したがって，平均したＯＳＣ２値が特定値ｂより大きければ，磁気ヘッドを高温ＷＷヘッドと定義し（Ｓ１１７），高温ＷＷヘッドは高温環境で正常ヘッドに比べてＯＳＣ値を所定段階高めて使用する（Ｓ１１９）。望ましくは，このような高温ＷＷヘッドは，高温環境でＯＳＣ２値よりα段階，例えば２段階高めて使用する。
【００８８】
平均したＯＳＣ２値が特定値ｂ以下であれば，この段階で磁気ヘッドは正常ヘッドと定義される（Ｓ１２１）。
【００８９】
ここで，正常ヘッド及び低温ＷＷヘッドは何れも高温ではＯＳＣ２を使用し，高温ＷＷヘッドの場合にのみ，ＯＳＣ２＋αのように使用することが望ましい。
【００９０】
上述のように，ＡＴＷ１００回を行った後であらゆるゾーンに対して平均したＯＳＣ１値がａより大きければ，低温ＷＷヘッドと定義する。また，ＡＴＷ１０００回を行った後であらゆるゾーンに対して平均したＯＳＣ２値がｂより大きければ，高温ＷＷヘッドと定義する。また，平均したＯＳＣ１値がａ以下及び／または平均したＯＳＣ２値がｂ以下であれば，正常ヘッドと定義する。
【００９１】
上述のように，対象磁気ヘッドの種類が定義されれば，その次の段階，例えば対象磁気ヘッドの書込み特性を最適化する段階（図５のＳ２００），または次の磁気ヘッドに対して上記の定義過程を繰り返す段階に進む（Ｓ１２３）。
【００９２】
ここで，複数の磁気ヘッドが設置されたＨＤＤ内における各磁気ヘッドの書込み特性最適化は，各磁気ヘッドの種類を定義する毎にその都度行われるか，または全ての磁気ヘッドの種類を定義した後に各磁気ヘッドに対して順次行われる場合もある。
【００９３】
磁気ヘッドの書込み特性の最適化は，図６のＳ１０９，Ｓ１１９段階で行われうる。図６に示されたように磁気ヘッドの書込み特性の最適化は磁気ヘッドを定義する過程で直ちに行われる場合と，全ての磁気ヘッドの定義を終了した後，各磁気ヘッドに対して行われる場合とがある。
【００９４】
低温環境で，低温ＷＷヘッドは上述のように，最大ＯＳＣを使用し，正常ヘッド及び高温ＷＷヘッドはＡＴＷ＝０でのＯＳＣ値を使用できる。
【００９５】
常温で，低温ＷＷヘッド，正常ヘッド及び高温ＷＷヘッドの全てはＯＳＣ１を使用できる。
【００９６】
また，高温環境で，低温ＷＷヘッド及び正常ヘッドはＯＳＣ２を使用し，高温ＷＷヘッドにのみＯＳＣ２より所定α段階ほど高めて使用できる。
【００９７】
ＷＣの場合はＯＳＣに比べて書込み性の特性にそれほど影響を及ぼさない。正常ヘッド，低温ＷＷヘッド及び高温ＷＷヘッドの何れも常温ではＯＳＣ１とＡＴＷ＝０で最適のＢＥＲ値で測定されたＷＣとを使用できる。
【００９８】
低温環境で，低温ＷＷヘッドと定義されたヘッドの場合には，正常ヘッドに比べてさらに高いＷＣを使用し，高温ＷＷヘッドと正常ヘッドとは低温ＷＷヘッドに比べて低温で相対的に低いＷＣ，望ましくはＡＴＷ＝０で最適のＢＥＲで測定されたＷＣを使用できる。
【００９９】
高温環境で，正常ヘッド及び低温ＷＷヘッドはＡＴＷ＝０で最適のＢＥＲで測定されたＷＣより小さなＷＣを使用し，高温ＷＷヘッドはＡＴＷ＝０で最適のＢＥＲで測定されたＷＣを使用できる。
【０１００】
ＨＤＤで，各磁気ヘッドの書込み特性を最適化する最適のＯＳＣ及びＷＣは電子回路のメモリ（図示せず）に保存されうる。ＨＤＤの読出し／書込みの動作時に，各磁気ヘッドはメモリに保存されたＯＳＣ及びＷＣ条件値を使用して最適に書込みを行うことができる。
【０１０１】
上述のような本実施形態によれば，ＡＴＷテストを実行した後，設定されたＯＳＣ値によって正常ヘッド，低温ＷＷヘッド，高温ＷＷヘッドと定義して，潜在的なＷＷヘッドに対して，最適にＯＳＣ及びＷＣを使用できるので，書込み性を向上させることができる。
【０１０２】
低温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドの場合には，低温環境条件で正常ヘッドよりＯＳＣ及びＷＣをより高く使用すれば，書込み性とオーバーライト特性とを改善させることができる。
【０１０３】
一方，高温ＷＷヘッドと定義された磁気ヘッドの場合には，望ましくは高温でＯＳＣ及びＷＣを下げすぎることによってもたらされる高温ＷＷ問題を解決するために，高温環境で正常ヘッドに対比してＯＳＣ値及びＷＣを高く使用することが望ましい。
【０１０４】
ＨＤＤに対しては，上述のような本実施形態による，磁気ヘッドを正常ヘッド，高温ＷＷヘッドまたは低温ＷＷヘッドと定義し，これに対応して最適にＯＳＣ及びＷＣを使用して書込み特性を最適化する過程が磁気ヘッド数反復的に行われることが望ましい。
【０１０５】
実質的にＨＤＤ内にはハードディスク面とそれぞれ対応する複数の磁気ヘッドが具備されているので上記のような磁気ヘッドの書込み特性最適化過程は，ＨＤＤ内に含まれた全ての磁気ヘッドに対して行われるまで反復的に行われうる。
【０１０６】
また，上述のような工程は必要に応じて１つの磁気ヘッドまたは選択的に一部の磁気ヘッドに対してのみ行われる場合もある。
【０１０７】
上記のような各磁気ヘッドに対する正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドの定義データはＨＤＤの電子回路のメモリに保存する。実際のユーザー環境では，本実施形態によれば，磁気ヘッドが正常ヘッド，低温ＷＷヘッドまたは高温ＷＷヘッドのいずれであるかを考慮し，かつ環境温度を考慮して磁気ヘッドの書込み性能を保証する最適のＯＳＣ及びＷＣが使用されるので，本実施形態によれば優秀な書込み特性を保障できる。
【０１０８】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された範疇内において，各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【０１０９】
本発明はハードディスクドライブに適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１１０】
【図１】書込み電流の波形図である。
【図２】本発明の実施形態にかかるハードディスクドライブの主要部分を概略的に示した平面図である。
【図３】図２の磁気ヘッドを概略的に示した斜視図である。
【図４】本発明の実施形態にかかるＯＳＣとＢＥＲとの関係を示したグラフの一例である。
【図５】同実施形態による磁気ヘッドの書込み特性の最適化方法を概略的に示したフローチャートである。
【図６】図５に適用される本実施形態による磁気ヘッドの定義方法の一例を示したフローチャートである。
【符号の説明】
【０１１１】
１０      ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）
２０      ハードディスク
３０      磁気ヘッド組立て体
５０，７０      磁気ヘッド
【図１】
2005093054.tif 000003
【図２】
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【図３】
2005093054.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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