(57)【要約】【課題】  パフォーマンスボードの設計の簡略化と小型化を図る液晶駆動ドライバの試験装置を実現することを目的にする。【解決手段】  本発明は、パフォーマンスボードを介して、複数の基準電圧により多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験する液晶駆動ドライバの試験装置に改良を加えたものである。本装置は、液晶駆動ドライバに電源電圧を与え、電源静止電流を測定するＩＤＤＱ測定部と、基準電圧を供給する複数の電圧源と、液晶駆動ドライバの基準電圧ピンに、ＩＤＤＱ測定部と前記電圧源とを切り替える複数の第１切替部とを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
パフォーマンスボードを介して、複数の基準電圧により多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験する液晶駆動ドライバの試験装置において、
前記液晶駆動ドライバに電源電圧を与え、電源静止電流を測定するＩＤＤＱ測定部と、
前記基準電圧を供給する複数の電圧源と、
前記液晶駆動ドライバの基準電圧ピンに、前記ＩＤＤＱ測定部と前記電圧源とを切り替える複数の第１切替部と
を備えたことを特徴とする液晶駆動ドライバの試験装置。
【請求項２】
液晶駆動ドライバの電源電圧を与える電源と、
液晶駆動ドライバの電源ピンに、ＩＤＤＱ測定部と前記電源とを切り替える第２切替部と
を設けたことを特徴とする請求項１記載の液晶駆動ドライバの試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶駆動ドライバを試験する液晶駆動ドライバの試験装置に関し、パフォーマンスボードの設計の簡略化と小型化を図る液晶駆動ドライバの試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶ディスプレイを駆動する液晶駆動ドライバの試験は、ＩＣテスタ（試験装置）を用いて試験を行っている。ＩＣテスタは、液晶駆動ドライバに試験信号を与え、液晶駆動ドライバの出力により、液晶駆動ドライバの良否の判定を行う。このような装置は例えば特許文献１等に記載されている。そして、液晶駆動ドライバの欠陥を比較的に容易に検出するために、電源電圧のＩＤＤＱ（電源静止電流）測定が行われていたが、多階調電圧の基準となる基準電圧に対しても、ＩＤＤＱ測定が行なわれるようになってきた。
【０００３】
ここで、ＩＤＤＱ測定とは、液晶駆動ドライバの入力ピンに流れ込む電流を、液晶駆動ドライバの静止状態で測定し、その大きさにより、液晶駆動ドライバ内部での短絡等の不良を検出する。流れ込む電流は正常な場合に比べ、故障時は大きくなることが通常で、１つの不良ピンに流れ込む電流の大きさは、正常時に全ての入力ピンに流れ込む電流の総和より大きい。ＩＤＤＱ測定は例えば特許文献２等に記載されている。以下、図３を用いて説明する。
【０００４】
【特許文献１】特開平７−１４６３３５号公報
【特許文献２】特開２０００−７４９８６号公報
【０００５】
図３において、ＩＣテスタ１は、電源１１、ＩＤＤＱ測定部１２、複数の電圧源１３等からなる。電源１１は、電源電圧を出力する。ＩＤＤＱ測定部１２は、電源１１の出力を入力し、電源静止電流を測定する。電圧源１３は、基準電圧を供給する。パフォーマンスボード２はプリント基板で、ＩＣテスタ１と電気的に接続し、複数のスイッチ２１等を搭載する。スイッチ２１は、ＩＤＤＱ測定部１２と電圧源１３とを切り替える。液晶駆動ドライバ（以下ＤＵＴ）３は、パフォーマンスボード２上に搭載され、電源ピンにＩＤＤＱ測定部１２の出力を接続し、基準電圧ピンのそれぞれにスイッチ２１の可動接点が接続される。
【０００６】
このような装置の動作を以下に説明する。すべてのスイッチ２１を電圧源１３に切り替える。そして、電源１１は、ＩＤＤＱ測定部１２を介して、ＤＵＴ３に電源電圧を供給し、それぞれの電圧源１３は、スイッチ２１を介して、ＤＵＴ３の基準電圧を供給する。そして、ＩＣテスタ１は、デジタル信号をＤＵＴ３に入力し、このデジタル信号に応答して、ＤＵＴ３が、基準電圧に基づいて、多階調電圧を出力する。この多階調電圧をＩＣテスタ１は測定し、ＤＵＴ３の良否の判定を行なう。
【０００７】
次に、すべてのスイッチ２１をＩＤＤＱ測定部１２に切り替える。電源１１は、ＩＤＤＱ測定部１２を介して、ＤＵＴ３の電源ピンに電圧を供給すると共に、ＩＤＤＱ測定部１２、スイッチ２１を介して、ＤＵＴ３の基準電圧ピンに電圧を供給する。そして、ＩＤＤＱ測定部１２が、ＤＵＴ３の静止時の入力ピンに流れ込む電流を、一度に測定し、ＤＵＴ３の良否の判定を行なう。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
このような装置で、パフォーマンスボード２は、テスト条件がそれぞれ異なるＤＵＴ３の品種ごとに開発され、ＩＣテスタ１をＤＵＴ３の品種ごとに変更する必要性を下げる役割を担っている。そのため、ＤＵＴ３の品種の変更ごとに、パフォーマンスボード２のスイッチ２１の搭載作業をしなければならなかった。また、パフォーマンスボード２は、ＤＵＴ３の負荷回路や試験補助回路等の各種回路が搭載されるため、ＤＵＴ３の多ピン化により、実装が困難になってきた。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、パフォーマンスボードの設計の簡略化と小型化を図る液晶駆動ドライバの試験装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
パフォーマンスボードを介して、複数の基準電圧により多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験する液晶駆動ドライバの試験装置において、
前記液晶駆動ドライバに電源電圧を与え、電源静止電流を測定するＩＤＤＱ測定部と、
前記基準電圧を供給する複数の電圧源と、
前記液晶駆動ドライバの基準電圧ピンに、前記ＩＤＤＱ測定部と前記電圧源とを切り替える複数の第１切替部と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
液晶駆動ドライバの電源電圧を与える電源と、
液晶駆動ドライバの電源ピンに、ＩＤＤＱ測定部と前記電源とを切り替える第２切替部と
を設けたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば以下のような効果がある。
請求項１によれば、ＩＤＤＱ測定部と電圧源とを切り替える第１切替部を試験装置側に設けたので、パフォーマンスボードにスイッチを設ける必要がなく、パフォーマンスボードの設計の簡略化と小型化ができる。
【００１２】
請求項２によれば、第２切替部で、電源、ＩＤＤＱ測定部を切り替えて、液晶駆動ドライバの電源ピンの電源静止電流測定と液晶駆動ドライバの基準電圧ピンの電源静止電流測定とを切り分けて測定することができる。これにより、測定箇所を特定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図３と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１４】
図１において、スイッチ１４は、ＩＣテスタ１に設けられ、一端がＩＤＤＱ測定部１２の出力端と接続する。スイッチ１５は第１切替部で、スイッチ２１の代わりに、ＩＣテスタ１に設けられ、電圧源１３とスイッチ１４の他端と切り替えて、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の基準電圧ピンに接続する。
【００１５】
このような装置の動作を以下に説明する。スイッチ１４をオフにし、すべてのスイッチ１５を電圧源１３に切り替える。そして、電源１１は、ＩＤＤＱ測定部１２を介して、ＤＵＴ３に電源電圧を供給し、それぞれの電圧源１３は、スイッチ１５、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の基準電圧を供給する。そして、ＩＣテスタ１は、デジタル信号をＤＵＴ３に入力し、このデジタル信号に応答して、ＤＵＴ３が、基準電圧に基づいて、多階調電圧を出力する。この多階調電圧をＩＣテスタ１は測定し、ＤＵＴ３の良否の判定を行なう。
【００１６】
次に、スイッチ１４をオンとし、すべてのスイッチ１５をスイッチ１４に切り替える。電源１１は、ＩＤＤＱ測定部１２を介して、ＤＵＴ３の電源ピンに電圧を供給すると共に、ＩＤＤＱ測定部１２、スイッチ１４，１５、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の基準電圧ピンに電圧を供給する。そして、ＩＤＤＱ測定部１２が、ＤＵＴ３の静止時の入力ピンに流れ込む電流を、一度に測定し、ＤＵＴ３の良否の判定を行なう。
【００１７】
このように、ＩＤＤＱ測定部１２と電圧源１３とを切り替えるスイッチ１４，１５をＩＣテスタ１側に設けたので、パフォーマンスボード２にスイッチを設ける必要がなく、パフォーマンスボード２の設計の簡略化と小型化ができる。
【００１８】
次に、本発明の他の実施例を図２に示し説明する。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１９】
図２において、電圧源１６は、ＩＣテスタ１に設けられ、電圧を出力する。スイッチ１７は、ＩＣテスタ１に設けられ、電源１１に接続し、一方の出力端をＩＤＤＱ測定部１２の入力端に接続する。スイッチ１８は、一端が電圧源１６に接続され、他端がＩＤＤＱ測定部１２の入力端に接続される。スイッチ１９は、ＩＣテスタ１に設けられ、一方の入力端がスイッチ１７の他方の入力端に接続され、他方の入力端がＩＤＤＱ測定部１２の出力端に接続され、出力端が、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の電源ピンに接続される。そして、スイッチ１７〜１９は第２切替部を構成する。
【００２０】
このような装置の動作を以下に説明する。スイッチ１４，１８をオフにし、すべてのスイッチ１５を電圧源１３に切り替え、スイッチ１７をスイッチ１９に切り替え、スイッチ１９をスイッチ１７に切り替える。そして、電源１１は、スイッチ１７，１９、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３に電源電圧を供給し、それぞれの電圧源１３は、スイッチ１５、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の基準電圧を供給する。そして、ＩＣテスタ１は、デジタル信号をＤＵＴ３に入力し、このデジタル信号に応答して、ＤＵＴ３が、基準電圧に基づいて、多階調電圧を出力する。この多階調電圧をＩＣテスタ１は測定し、ＤＵＴ３の良否の判定を行なう。
【００２１】
次に、スイッチ１４，１８をオフにし、すべてのスイッチ１５を電圧源１３に切り替え、スイッチ１７をＩＤＤＱ測定部１２に切り替え、スイッチ１９をＩＤＤＱ測定部１２に切り替える。そして、電源１１は、スイッチ１７、ＩＤＤＱ測定部１２、スイッチ１９、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の電源電圧を供給し、それぞれの電圧源１３は、スイッチ１５、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の基準電圧に供給する。このとき、ＩＤＤＱ測定部１２が電源ピンの電源静止電流を測定し、ＤＵＴ３の良否の判定を行なう。
【００２２】
そして、スイッチ１４，１８をオンとし、すべてのスイッチ１５をスイッチ１４に切り替え、スイッチ１７をスイッチ１９に切り替え、スイッチ１９をスイッチ１７に切り替える。電源１１は、スイッチ１７，１９、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の電源電圧を供給し、電圧源１６が、スイッチ１８、ＩＤＤＱ測定部１２、スイッチ１４，１５、パフォーマンスボード２を介して、ＤＵＴ３の基準電圧ピンに電圧を供給する。このとき、ＩＤＤＱ測定部１２が、ＤＵＴ３の基準電圧ピンの電源静止電流を測定し、ＤＵＴ３の良否の判定を行なう。
【００２３】
このように、スイッチ１７〜１９で、電源１１、ＩＤＤＱ測定部１２を切り替えて、ＤＵＴ３の電源ピンの電源静止電流測定とＤＵＴ３の基準電圧ピンの電源静止電流測定とを切り分けて測定することができる。これにより、測定箇所を特定することができる。
【００２４】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、スイッチ１４を設けない構成でもよい。また、図２において、スッチ１７，１８を設けずに、電源１１を直接スイッチ１９に接続し、電圧源１６を直接ＩＤＤＱ測定部１２に接続し、スイッチ１９により、電源１１とＩＤＤＱ測定部１２とを切り替える構成にしてもよい。
【００２５】
また、ＩＤＤＱ測定部１２は、電源１１と別の構成で示したが、一体の構成でもよい。
【００２６】
そして、パフォーマンスボード２は、パッケージのＤＵＴ３と接続するＩＣソケットを搭載するＤＵＴボードやウェハのＤＵＴ３と接続するプローブカードも含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】本発明の他の実施例を示した構成図である。
【図３】従来の液晶駆動ドライバの試験装置の構成を示した図である。
【符号の説明】
【００２８】
１  ＩＣテスタ
１１  電源
１２  ＩＤＤＱ測定部
１３，１６  電圧源
１５，１７〜１９  スイッチ
２  パフォーマンスボード
３  液晶駆動ドライバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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