(57)【要約】【課題】製品歩留まりの高い表示装置および表示装置の製造方法を提供する。【解決手段】複数の蓄積容量素子２３、２４と、それぞれ複数の蓄積容量素子に接続された複数の画素電極２１と、を備えている。  複数の蓄積容量素子２３、２４および画素電極２１は、切断可能な複数の第１接続配線４４および第２接続配線４５によりそれぞれ接続されている。各画素電極２１および各画素電極に接続された複数の蓄積容量素子２３、２４の少なくとも１つは、接続可能配線４６により接続可能である。【選択図】      図１
2005084233.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素電極と、前記各画素電極に接続された複数の蓄積容量素子と、を備え、
前記各画素電極および複数の蓄積容量素子をそれぞれ接続しているとともに切断可能な複数の接続配線と、前記各画素電極および１つの画素電極に接続された複数の蓄積容量素子の少なくとも１つを接続可能な接続可能配線と、を有していることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記接続可能配線は、絶縁膜を介して対向配置された第１配線および第２配線を有し、前記第１配線は蓄積容量素子に、前記第２配線は画素電極にそれぞれ接続されていることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記複数の蓄積容量素子は、絶縁膜を介して対向配置された蓄積容量線および蓄積電極をそれぞれ有し、前記蓄積容量線および第１配線は同一の導電膜で形成されていることを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記複数の蓄積容量素子は、絶縁膜を介して対向配置された蓄積容量線および蓄積電極をそれぞれ有し、前記蓄積電極、接続配線、および第２配線は同一の導電膜で形成されていることを特徴とする請求項２または３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記第１配線または第２配線はアルミニウムで形成されていることを特徴とする請求項２ないし４のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項６】
複数の画素電極と、それぞれ切断可能な複数の接続配線により前記各画素電極と接続された複数の蓄積容量素子と、前記１つの画素電極に接続された蓄積容量素子のうち、少なくとも１つの蓄積容量素子に接続された第１蓄積容量線、および残りの蓄積容量素子に接続された第２蓄積容量線と、を有し、
前記複数の第１蓄積容量線および複数の第２蓄積容量線は、別々の電位に独立して制御されていることを特徴とする表示装置。
【請求項７】
複数の画素電極と、前記各画素電極に接続された複数の蓄積容量素子と、を備え、前記各画素電極および複数の蓄積容量素子をそれぞれ接続しているとともに切断可能な複数の接続配線と、前記各画素電極および１つの画素電極に接続された複数の蓄積容量素子の少なくとも１つを接続可能な接続可能配線と、を有した表示装置の製造方法において、
蓄積容量線の電位を変えて蓄積容量素子の短絡による点欠陥の有無を検査し、
点欠陥が生じた個所の画素電極に接続されている複数の蓄積容量素子のうち、接続可能配線に接続された蓄積容量素子の接続配線を切断し、
前記接続配線を切断した個所の点欠陥の有無を再検査し、
再検査した個所に点欠陥が生じている場合、前記点欠陥が生じている個所の画素電極に接続されている蓄積容量素子のうち、前記接続可能配線に接続された蓄積容量素子以外の蓄積容量素子の接続配線を切断した後、前記接続可能配線により前記蓄積容量素子と前記画素電極とを接続することを特徴とする表示装置の製造方法。
【請求項８】
複数の画素電極と、それぞれ切断可能な複数の接続配線により前記各画素電極と接続された複数の蓄積容量素子と、前記１つの画素電極に接続された蓄積容量素子のうち、少なくとも１つの蓄積容量素子に接続された第１蓄積容量線、および残りの蓄積容量素子に接続された第２蓄積容量線と、を有し、前記複数の第１蓄積容量線および複数の第２蓄積容量線は、別々の電位に独立して制御されている表示装置の製造方法において、
蓄積容量素子の短絡による点欠陥の有無を検査し、
点欠陥が生じている場合、第１蓄積容量線および第２蓄積容量線に別々の電位を与えて検査した個所において、短絡している蓄積容量素子が第１蓄積容量線および第２蓄積容量線のいずれに接続されている蓄積容量素子であるかを判別し、
前記短絡していると判別された蓄積容量素子に接続されている接続配線を切断することを特徴とする表示装置の製造方法。
【請求項９】
前記点欠陥が生じている個所において、前記短絡している蓄積容量素子が第１蓄積容量線および第２蓄積容量線のいずれを有しているか判別する際、
黒色表示時に、第１蓄積容量線および第２蓄積容量線の一方に白色表示電位を、他方に黒色表示電位をそれぞれ与え、
白色表示に変化する場合、白色表示電位を与えた第１蓄積容量線または第２蓄積容量線が、短絡している蓄積容量素子を有していると判断し、
黒色表示を維持している場合、黒色表示電位を与えた第１蓄積容量線または第２蓄積容量線が、短絡している蓄積容量素子を有していると判断することを特徴とする請求項８に記載の表示装置の製造方法。
【請求項１０】
透明な基板を用意し、その基板上に前記蓄積容量素子、接続配線、および画素電極を形成してアレイ基板を形成し、
他の透明な基板を用意し、その基板を用いて対向基板を形成し、
前記アレイ基板および対向基板を貼り合わせ、
前記アレイ基板および対向基板の間に液晶を注入した後、点欠陥の有無を検査することを特徴とする請求項７ないし９のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
【請求項１１】
前記接続配線にレーザを照射して、その接続配線を切断することを特徴とする請求項７ないし１０のいずれか１項に記載の表示装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、蓄積容量素子を有した表示装置およびその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、画像表示を行うために表示装置として、例えば液晶表示装置が用いられている。このような液晶表示装置は、ガラス基板を有したアレイ基板を備えている。ガラス基板上には、複数の信号線および複数の走査線が交差して配設され、信号線および走査線で囲まれた領域には画素がそれぞれ形成されている。
【０００３】
各画素は、信号線および走査線の各交差部に設けられた薄膜トランジスタ（以下、ＴＦＴと称する）と、このＴＦＴに接続された画素電極と、この画素電極に接続された蓄積容量素子と、を有している。蓄積容量素子は、走査線に平行な蓄積容量線と、この蓄積容量線に絶縁膜を介して重なった蓄積電極と、を有し、蓄積容量線は画素電極と接続されている。
【０００４】
また、液晶表示装置は、他のガラス基板上に対向電極等を形成した対向基板を備えている。所定の隙間を保持して対向配置されたアレイ基板および対向基板の間には液晶層が狭持されている。
【０００５】
上記のように構成された液晶表示装置は、大量のデータを表示するため、非常に多くの画素を必要としている。例えば、パーソナルコンピュータに用いられる液晶表示装置の画面は、複数の画素で構成されている。各画素は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、および青色（Ｂ）の３色のいずれか１色を有している。そのため、液晶表示装置の代表的な画素数は数百万になる。昨今では、画像表示に対する要求は年々高度なものになり、画像表示の際、画素の不良で生じる点欠陥ができるだけ無いもの（少ないもの）が要求されている。
【０００６】
以上のように、点欠陥の少ない液晶表示装置やその製造方法を提供することが重要である。しかしながら、点欠陥の全く無い、すなわち製品歩留まりの高い液晶表示装置を得ることは非常に困難である。点欠陥が理由で製品歩留まりが高くならない場合、無駄やコスト高を招くことになる。この点欠陥は、例えば、蓄積容量線と蓄積電極とのショートに起因している。
【０００７】
上記した蓄積容量線と蓄積電極とのショートに起因した点欠陥を抑制するため、液晶表示装置は１画素につき２つの蓄積容量素子を形成して構成されている（例えば、特許文献１参照）。このため、ショートした蓄積容量素子と画素電極とを切り離すことにより、点欠陥の修復が可能となる。
【特許文献１】特開平２−７９０２６
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記したように、単に１画素につき２つの蓄積容量素子を形成した場合、点欠陥があったとしてもどちらの蓄積容量素子がショートしているかの判断は困難である。そのため、上記構成された液晶表示装置は、良好な蓄積容量素子と、画素電極と、が間違って切断される恐れがある。間違って切断した場合、その修復は困難となる。
【０００９】
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、製品歩留まりの高い表示装置および表示装置の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するため、本発明の態様に係る表示装置は、複数の画素電極と、前記各画素電極に接続された複数の蓄積容量素子と、を備え、前記各画素電極および複数の蓄積容量素子をそれぞれ接続しているとともに切断可能な複数の接続配線と、前記各画素電極および１つの画素電極に接続された複数の蓄積容量素子の少なくとも１つを接続可能な接続可能配線と、を有していることを特徴としている。
【００１１】
また、本発明の他の態様に係る表示装置の製造方法は、複数の画素電極と、前記各画素電極に接続された複数の蓄積容量素子と、を備え、前記各画素電極および複数の蓄積容量素子をそれぞれ接続しているとともに切断可能な複数の接続配線と、前記各画素電極および１つの画素電極に接続された複数の蓄積容量素子の少なくとも１つを接続可能な接続可能配線と、を有した表示装置の製造方法において、蓄積容量線の電位を変えて蓄積容量素子の短絡による点欠陥の有無を検査し、点欠陥が生じた個所の画素電極に接続されている複数の蓄積容量素子のうち、接続可能配線に接続された蓄積容量素子の接続配線を切断し、前記接続配線を切断した個所の点欠陥の有無を再検査し、再検査した個所に点欠陥が生じている場合、前記点欠陥が生じている個所の画素電極に接続されている蓄積容量素子のうち、前記接続可能配線に接続された蓄積容量素子以外の蓄積容量素子の接続配線を切断した後、前記接続可能配線により前記蓄積容量素子と前記画素電極とを接続することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１２】
この発明によれば、製品歩留まりの高い表示装置および表示装置の製造方法を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面を参照しながらこの発明の表示装置を液晶表示装置に適用した実施の形態について詳細に説明する。  
図３に示すように、液晶表示装置は、柱状スペーサ６により対向配置されたアレイ基板１および対向基板２と、これら２つの基板の間に狭持された液晶層３と、を備えている。アレイ基板１および対向基板２は、透明な絶縁基板として、例えばガラス基板４、５をそれぞれ備えている。
【００１４】
アレイ基板１および対向基板２は、これら両基板の周縁部に配置されたシール材７により接合されている。アレイ基板１の外面側には、バックライト８が配置されている。このバックライト８は、アレイ基板１に対向配置された導光板９ａと、この導光板の一側縁に対向配置された光源９ｂおよび反射板９ｃと、を有している。
【００１５】
図４に示すように、ガラス基板４上には、画素部１１並びに、この画素部の外側に位置した走査線駆動回路１２、信号線駆動回路１３、および蓄積容量線駆動回路１４を有している。画素部１１において、ガラス基板４上には、複数の走査線１５、および複数の信号線１６がマトリクス状に配置されている。ガラス基板４上には、走査線１５に平行な複数の蓄積容量線１７が形成されている。この実施の形態において、隣接する２本の信号線１６および２本の蓄積容量線１７で囲まれた領域には画素１８が形成されている。
【００１６】
次に、画素１８を１つ取り出して詳述する。  
図１および図２に示すように、画素１８は、画素電極２１と、この画素電極に接続されたスイッチング素子としてのＴＦＴ２２、第１蓄積容量素子２３、および第２蓄積容量素子２４を有している。
【００１７】
図１、図２、および図５に示すように、ガラス基板４上には、半導体膜３１が形成され、ガラス基板および半導体膜上にはゲート絶縁膜３２が形成されている。半導体膜３１と重なった各々の領域において、ゲート絶縁膜３２上には、走査線１５の一部を延出した２つのゲート電極３３が形成されている。ゲート絶縁膜３２およびゲート電極３３上には、層間絶縁膜３５が形成されている。
【００１８】
層間絶縁膜３５上には信号線１６およびコンタクト配線３８が形成され、これら信号線およびコンタクト配線は、ゲート絶縁膜３２および層間絶縁膜の一部を貫通して半導体膜３１にそれぞれ接続されている。ここで、信号線１６およびコンタクト配線３８は、半導体膜３１のソース領域ＲＳおよびドレイン領域ＲＤにそれぞれ形成されている。
【００１９】
次いで、第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４について説明する。  
図１に示すように、蓄積容量線１７および第１蓄積電極４１は第１蓄積容量素子２３を、蓄積容量線および第２蓄積電極４３は第２蓄積容量素子２４を、それぞれ構成している。また、第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４は、蓄積容量線１７にそれぞれ接続されている。
【００２０】
図１、図２、および図６に示すように、ガラス基板４上に形成されたゲート絶縁膜３２上には、蓄積容量線１７および第１配線３４が同一の導電膜で形成されている。この実施の形態において、蓄積容量線１７および第１配線３４はアルミニウムからなる同一の膜で形成されている。ゲート絶縁膜３２、蓄積容量線１７、および第１配線３４上には層間絶縁膜３５が形成されている。
【００２１】
第１蓄積容量素子２３において、層間絶縁膜３５上には、蓄積容量線１７に重なった第１蓄積電極４１と、この第１蓄積電極に接続された第１接続配線４４と、画素電極２１に接続されているとともに、第１配線３４に対向配置された第２配線４２と、が形成されている。なお、第１蓄積電極４１および蓄積容量線１７は、絶縁膜としての層間絶縁膜３５を介して対向配置されていることはいうまでもない。第１配線３４および第２配線４２は、画素電極２１および第１蓄積電極４１を接続可能な接続可能配線４６として機能する。
【００２２】
第１蓄積電極４１は、層間絶縁膜３５の一部に形成されたコンタクトホールを介して第１配線３４に接続されている。第１接続配線４４は、第１蓄積容量素子２３および画素電極２１をそれぞれ接続するとともに切断可能に形成されている。
【００２３】
第２蓄積容量素子２４において、層間絶縁膜３５上には、蓄積容量線１７に重なった第２蓄積電極４３と、この第２蓄積電極に接続された第２接続配線４５と、が形成されている。第２接続配線４５は、第１接続配線４４と同様に、第２蓄積容量素子２４および画素電極２１をそれぞれ接続するとともに切断可能に形成されている。
【００２４】
上記した第１蓄積電極４１、第２蓄積電極４３、第１接続配線４４、第２接続配線４５、第２配線４２、コンタクト配線３８、および信号線１６は、同一の導電膜で形成されている。
【００２５】
図１、図５、および図６に示すように、ＴＦＴ２２、第１蓄積容量素子２３、および第２蓄積容量素子２４が形成されたガラス基板４上には、着色層５１が形成されている。着色層５１上に、複数の画素電極２１が隣接する２本の信号線１６および２本の蓄積容量線１７に周縁を重ねてストライプ状に形成されている。着色層５１および画素電極２１上には配向膜５２が形成され、アレイ基板１を構成している。  
図５に示すように、ガラス基板５上には対向電極６１および配向膜６２が順次形成され、対向基板２を構成している。
【００２６】
次に、上記した液晶表示装置の一層詳しい構成をその製造方法と併せて説明する。  
アレイ基板１において、ガラス基板４を用意する。ガラス基板４上に上記した配線等のアレイパターンを形成する。対向基板２において、ガラス基板５を用意する。ガラス基板５上に上記した所定パターンを形成する。アレイ基板１および対向基板２を柱状スペーサ６により対向配置し、これら基板の周縁部同士をシール材７で接合する。そして、シール材７に形成された図示しない液晶注入口により両基板の間に液晶を注入する。その後、液晶注入口を封止材で封止する。これにより、アレイ基板１および対向基板２の間に液晶層３が狭持される。
【００２７】
続いて、上記した画素１８の点欠陥の有無を検査し、点欠陥の画素を修復するリペア工程に移行する。  
図１、図４、および図７に示すように、まず、ステップＳ１ａにおいて、リペア工程がスタートすると、ステップＳ２ａにおいて、走査線駆動回路１２、信号線駆動回路１３、および蓄積容量線駆動回路１４を通じて走査線１５、信号線１６、および蓄積容量線１７にそれぞれ電圧を印加し、画素部１１に電荷をチャージする。そして、各画素１８の点欠陥の有無を検査する。画素部１１に電荷をチャージする際、例えば、全ての蓄積容量線１７に黒色表示電位、または白色表示電位を与える。この実施の形態において、黒色表示時、全ての蓄積容量線１７に白色表示電位を与える。これにより、各画素は黒色表示となるが、点欠陥の画素のみバックライトからの光が抜けるため白色表示となる。
【００２８】
上記のように、点欠陥の画素１８は、黒色表示時に白色表示となる等、他の画素の表示色と相違している。そのため点欠陥の有無は、上記した白色／黒色表示により判断できる。ここで、この実施の形態において、数百万個の画素で数個の点欠陥の画素が発生する場合を想定しているため、点欠陥の画素は、第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４のいずれか一方がショートしていると考えられる。
【００２９】
ステップＳ３ａにおいて、点欠陥の画素の有無を判断し、点欠陥画素が無い場合、ステップＳ８ａにおいて、リペア工程を終了する。点欠陥画素が有る場合、図８および図９に示すように、点欠陥が発生している全ての画素の第１接続配線４４を切断する（ステップＳ４ａ）。切断する際は、例えばアレイ基板の裏面側から第１接続配線４４にレーザを照射し、第１接続配線４４に第１切断部４７を形成する。その後、ステップＳ５ａにおいて、各画素１８の点欠陥の有無を再検査する。続いて、ステップＳ６ａにおいて、再び点欠陥の画素の有無を判断し、点欠陥画素がない場合、リペア工程を終了する（ステップＳ８ａ）。
【００３０】
点欠陥画素が残っている場合、図１０および図１１に示すように、点欠陥の発生している全ての画素の第２接続配線４５を切断するとともに、第１配線３４および第２配線４２を互いに接続する（ステップＳ７ａ）。この際、第２接続配線４５にレーザを照射して切断し、第２切断部４８を形成する。また、第１配線３４および第２配線４２が対向した個所にレーザを照射し、第１配線３４および第２配線４２を接続する。
【００３１】
これにより、ショートしていた第２蓄積容量素子２４が画素電極２１から切り離され、第１蓄積容量素子２３が再び画素電極に接続される。したがって、各画素電極２１は、少なくとも１つの正常蓄積容量素子に接続され、点欠陥が修復される。  
以上の工程により、リペア工程が終了し（ステップＳ８ａ）、液晶表示装置が得られる。
【００３２】
上記のように構成された、液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法によれば、第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４と、画素電極２１をそれぞれ接続するとともに切断可能な第１接続配線４４および第２接続配線４５と、画素電極２１および第１蓄積容量素子２３を接続可能な接続可能配線４６を有している。このため、点欠陥が発生している画素１８の有無を検査し、点欠陥の画素が検出された場合、まず、第１接続配線４４を切断する。これにより、第１蓄積容量素子２３のショートに起因した画素の点欠陥を修復することができる。
【００３３】
また、第１接続配線４４を切断した場合であっても点欠陥が解消されない画素１８が有る場合、その画素については、続いて第２接続配線４５を切断し、かつ第１配線３４と第２配線４２とを接続する。これにより、点欠陥の画素１８において、良好な第１蓄積容量素子２３に接続された第１接続配線４４を切断した場合であっても、接続可能配線４６により、画素電極２１と、第１蓄積容量素子２３を良好に接続することができる。このため、画素電極２１は、第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４の少なくとも一方に接続することができる。
【００３４】
画素電極２１が上記したいずれか一方の蓄積容量素子にのみ接続された修復済みの画素１８の場合、その蓄積容量素子に蓄積される容量は、未修復の画素の半分となる。しかしながら、ＴＦＴ２２や液晶層３のリーク成分が小さければほとんど正常動作する。また、実用上は多少のリークがあっても回りの画素から容量の差異を見つけ出すことは非常に難しい。そのため、上記修復された画素では課題となるような点欠陥にはならない。
【００３５】
第１接続配線４４および第２接続配線４５を切断する際、並びに第１配線３４および第２配線４２を接続する際は、レーザを照射することにより行われる。このため、アレイ基板１と対向基板２と、を貼り合わせた後にレーザを照射する場合であっても点欠陥の画素１８を修復することができる。また、着色層５１を貫通してレーザを照射する場合であっても、照射条件を設定することにより、点欠陥の画素１８を修復することができる。
【００３６】
蓄積容量線１７および第１配線３４は同一の導電膜で形成され、また、第１蓄積電極４１、第２蓄積電極４３、第１接続配線４４、第２接続配線４５、第２配線４２、コンタクト配線３８、および信号線１６は同一の導電膜で形成されている。そのため、第１配線３４および第２配線４２を有した接続可能配線４６は製造工程を増やすことなく形成できる。
【００３７】
第１配線３４はアルミニウムで形成されている。このため、第１配線３４および第２配線４２が対向した個所にレーザを照射した場合、これら第１配線および第２配線を良好に接続することができる。なお、上記した効果は、第１配線３４に限らず、第１配線または第２配線４２をアルミニウムで形成することにより得られる（層間に絶縁層がある２種の金属配線をレーザで接続する場合、少なくともどちらか一方をアルミニウムまたはその合金を含む構成にしておくと接続が容易である）。  
以上のことから、製品歩留まりの高い液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法が得られるため、製品として流出することができる。
【００３８】
次に、この発明の他の実施の形態に係る液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法について説明する。始めに、この実施の形態に係る液晶表示装置について説明する。  
図１２に示すように、ガラス基板４上には画素部１１、走査線駆動回路１２、信号線駆動回路１３の他、第１蓄積容量線駆動回路１４ａおよび第２蓄積容量線駆動回路１４ｂが設けられている。
【００３９】
画素部１１において、ガラス基板４上には、複数の走査線１５、および複数の信号線１６の他、走査線に平行な複数の第１蓄積容量線１７ａ、および複数の第２蓄積容量線１７ｂが形成されている。複数の第１蓄積容量線１７ａは第１蓄積容量線駆動回路１４ａに接続され、複数の第２蓄積容量線１７ｂは他の第２蓄積容量線駆動回路１４ｂに接続されている。このため、第１蓄積容量線１７ａと第２蓄積容量線１７ｂとを、別々の電位に独立して制御することができる。
【００４０】
この実施の形態において、隣接する２本の信号線１６、第１蓄積容量線１７ａ、および第２蓄積容量線１７ｂで囲まれた領域には画素１８が形成されている。
【００４１】
次に、画素１８を１つ取り出して詳述する。  
図１３および図１４に示すように、ガラス基板４上には、上記した蓄積容量線１７および第１配線３４を除き、図５および図６に示したようにＴＦＴ２２を含み、層間絶縁膜３５まで同様に形成されている。
【００４２】
次いで、第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４について説明する。  
層間絶縁膜３５上には、信号線１６と、コンタクト配線３８と、第１蓄積容量線１７ａに重なった第１蓄積電極４１および第２蓄積電極４３と、第２蓄積容量線１７ｂに重なった第１蓄積容量線および第２蓄積容量線と、が形成されている。
【００４３】
その他、層間絶縁膜３５上には、第１蓄積電極４１に接続された第１接続配線４４と、第２蓄積電極４３に接続された第２接続配線４５と、が形成されている。なお、第１蓄積電極４１および第２蓄積電極４３は、第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積容量線１７ｂにそれぞれ対向配置されていることはいうまでもない。
【００４４】
第１接続配線４４は、第１蓄積電極４１および画素電極２１を接続するとともに切断可能に形成されている。第２接続配線４５は、第２蓄積電極４３およびコンタクト配線３８を介して画素電極２１を接続するとともに切断可能に形成されている。これら第１蓄積電極４１、第２蓄積電極４３、第１接続配線４４、第２接続配線４５、コンタクト配線３８、および信号線１６は同一の導電膜で形成されている。図１３に示すように、例えば、上記した第２蓄積容量線１７ｂおよび第１蓄積電極４１は第１蓄積容量素子２３を、第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積電極４３は第２蓄積容量素子２４を、それぞれ構成している。
【００４５】
ＴＦＴ２２、第１蓄積容量素子２３、および第２蓄積容量素子２４が形成されたガラス基板４上には、着色層５１が形成されている。着色層５１上に、複数の画素電極２１が、隣接する２本の信号線１６、並びに隣接する第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積容量線１７ｂに周縁を重ねてストライプ状に形成されている。この実施の形態において、画素電極２１は、互いに異なる第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積容量線１７ｂをそれぞれ有した第１蓄積容量素子２３および第２第１蓄積容量素子２４に接続されている。着色層５１および画素電極２１上には配向膜５２が形成され、アレイ基板１を構成している。  
対向基板２は、ガラス基板５に対向電極および配向膜が順次形成されることにより、構成されている。
【００４６】
次に、上記した液晶表示装置の一層詳しい構成をその製造方法と併せて説明する。  
上記したように、特定のパターンを形成したアレイ基板１および対向基板２を所定の隙間を保持して対向配置し、これら基板の周縁部同士をシール材で接合する。シール材の一部に形成された液晶注入口により両基板間に液晶を注入した後、この液晶注入口を封止材で封止する。
【００４７】
続いて、上記した画素１８の点欠陥の有無を検査し、点欠陥の画素を修復するリペア工程に移行する。  
図１２、図１３、および図１５に示すように、まず、ステップＳ１ｂにおいて、リペア工程がスタートすると、ステップＳ２ｂにおいて、走査線駆動回路１２、信号線駆動回路１３、第１蓄積容量線駆動回路１４ａ、および第２蓄積容量線駆動回路１４ｂを通じて走査線１５、信号線１６、第１蓄積容量線１７ａ、および第２蓄積容量線１７ｂにそれぞれ電圧を印加し、画素部１１に電荷をチャージする。この際、黒色表示時においては、複数の第１蓄積容量線１７ａ、および複数の第２蓄積容量線１７ｂに白色表示電位をそれぞれ与える。
【００４８】
つまり、黒色表示時には白色表示電位を、また白色表示時には黒色表示電位を、第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積容量線１７ｂにそれぞれ印加することにより、各画素１８を検査する。各画素は黒色表示となるが、点欠陥の画素のみバックライトからの光が抜けるため白色表示となる。そのため点欠陥の有無は、上記した白色／黒色表示により判断できる。黒色表示時に、白色表示となる画素１８が有る場合、その画素の有した第１蓄積容量素子または、第２蓄積容量素子がショートしていると考えられる。
【００４９】
ステップＳ３ｂにおいて、点欠陥の画素の有無を判断し、点欠陥の画素がない場合、ステップＳ９ｂにおいて、リペア工程を終了する。点欠陥の画素が有る場合、ステップＳ４ｂにおいて、第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積容量線１７ｂに別々の電位を与えて画素を再検査する。
【００５０】
そして、ステップＳ５ｂにおいて、短絡している蓄積容量素子が第１蓄積容量線１７ａ、および第２蓄積容量線１７ｂのいずれに接続されている蓄積容量素子であるかを判別する。例えば、第１蓄積容量線１７ａを有した第２蓄積容量素子２４（図１３）が短絡した点欠陥の画素の場合、図１６に示すように、点欠陥が発生している画素の第２接続配線４５を切断する（ステップＳ６ｂ）。切断する際は、第２接続配線４５にレーザを照射し、第２接続配線４５に第２切断部４８を形成する。
【００５１】
その後、ステップＳ８ｂにおいて、再び点欠陥の画素の有無を判断し、点欠陥が無い場合、リペア工程を終了する（ステップＳ９ｂ）。点欠陥画素が有る場合、ステップＳ４ｂに戻り、第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積容量線１７ｂに別々の電位を与えて画素を再び検査した後、再び第１蓄積容量線１７ａを有した第２蓄積容量素子２４（図１３）が短絡しているか判断する（ステップＳ５ｂ）。
【００５２】
例えば、第２蓄積容量線１７ｂを有した第１蓄積容量素子２３（図１３）が短絡した点欠陥の画素の場合、図１７に示すように、点欠陥が発生している画素の第１接続配線４４を切断する（ステップＳ７ｂ）。切断する際は、第１接続配線４４にレーザを照射し、第１接続配線４４に第１切断部４７を形成する。
【００５３】
続いて、再びステップＳ８ｂにおいて、点欠陥の画素の有無を判断し、点欠陥が有る場合はステップＳ４ｂに、点欠陥が無い場合はステップＳ９ｂにそれぞれ移行する。  
以上の工程により、リペア工程が終了し（ステップＳ９ｂ）、液晶表示装置が得られる。
【００５４】
上記のように構成された液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法によれば、互いに異なる蓄積容量線を有した第１蓄積容量素子２３、および第２蓄積容量素子２４と、画素電極２１と、がそれぞれ接続されている。このため、第１蓄積容量線１７ａおよび第２蓄積容量線１７ｂの電位を互いに変えて検査することにより、点欠陥が発生している画素１８の第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４のいずれが短絡しているか判別できる。そのため、点欠陥の画素１８において、例えば短絡した第１蓄積容量素子２３と、画素電極２１と、を接続する第１接続配線４４のみを切断することにより、第１蓄積容量素子のショートに起因した画素の点欠陥を修復することができる。複数の第１蓄積容量線１７ａおよび複数の第２蓄積容量線１７ｂは、それぞれ１つの駆動回路に接続する必要は無く、２以上の駆動回路に接続されていても良い。
【００５５】
なお、この発明は、上述した実施の形態に限定されることなく、この発明の範囲内で種々変形可能である。例えば、リペア工程はアレイ基板１および対向基板２の間に液晶を注入する前に行なうことも可能であり、例えば、画素電極２１を形成した後でも良い。各画素電極２１は、第１蓄積容量素子２３および第２蓄積容量素子２４の２つの蓄積容量素子に接続される場合を示したが、それぞれ３つ以上の蓄積容量素子に接続されていても良い。この場合、上述した実施の形態において、点欠陥の画素１８は、第２接続配線４５を切断したが（図７、ステップＳ７ａ）、短絡した蓄積容量素子と、画素電極が断線するまで第１接続配線４４以外の接続配線を１本以上切断すれば良い。なお、ＴＦＴ２２を複数設置してそのＴＦＴの点欠陥を回避することや、画素電極２１を複数に分割してその画素電極と対向電極６１とのショートを救済する等の方法を併用すれば点欠陥が一層修復され、相乗効果で点欠陥救済率が高くなる。上述した実施の形態において、液晶表示装置を例に説明したが、液晶表示装置に限らず、ＥＬ（Electro-Luminescent）表示装置等の他の表示装置であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の実施の形態に係るアレイ基板の一部を拡大して示す平面図。
【図２】図１に示したアレイ基板の等価回路図。
【図３】図１に示したアレイ基板を有した液晶表示装置の断面図。
【図４】図１および図３に示したアレイ基板の平面図。
【図５】図１に示した液晶表示装置のＡ−Ａ断面図。
【図６】図１に示したアレイ基板のＢ−Ｂ断面図。
【図７】図５に示した液晶表示装置の製造の流れ図。
【図８】図１に示した接続配線が切断された状態を示すアレイ基板の平面図。
【図９】図８に示したアレイ基板の等価回路図。
【図１０】図１に示した接続可能配線により画素電極と蓄積容量素子を接続した状態を示すアレイ基板の平面図。
【図１１】図１０に示したアレイ基板の等価回路図。
【図１２】本発明の他の実施の形態に係るアレイ基板の平面図。
【図１３】図１２に示したアレイ基板の一部を拡大して示す平面図。
【図１４】図１３に示したアレイ基板の等価回路図。
【図１５】図１３に示した液晶表示装置の製造の流れ図。
【図１６】図１３に示した一方の接続配線を切断した状態を示すアレイ基板の平面図。
【図１７】図１３に示した他方の接続配線を切断した状態を示しアレイ基板の平面図。
【符号の説明】
【００５７】
１…アレイ基板，２…対向基板，３…液晶層，４、５…ガラス基板，１７…蓄積容量線，１７ａ…第１蓄積容量線，１７ｂ…第２蓄積容量線，２１…画素電極，２３…第１蓄積容量素子，２４…第１蓄積容量素子，３４…第１配線，３５…層間絶縁膜，４１…第１蓄積容量線，４２…第２配線，４３…第２蓄積容量線，４４…第１接続配線，４５…第２接続配線，４６…接続可能配線，４７…第１切断部，４８…第２切断部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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