(57)【要約】【課題】跳躍焦点を有するコンピュータ断層撮影装置によるコンピュータ断層撮影画像形成方法を提供する。【解決手段】Ｘ線管が検出器（Ｄ）との組合せでｚ軸の周りを円形状またはスパイラル状に移動させられて被検体（Ｂ）を走査し、Ｘ線管がＸ線管に対して相対的な２つ以上の異なる跳躍焦点位置（Ｆ1〜Ｆ6）を有する１つの跳躍焦点を持ち、取得された検出器データから複数のパラレルデータセットが形成され、このパラレルデータセットから断層画像が再構成される、コンピュータ断層撮影装置によるコンピュータ断層撮影画像形成方法において、パラレルデータセットの形成時に、その都度の現在の跳躍焦点（Ｆ）のＸ線管に対する半径方向の異なる相対位置（＝跳躍焦点位置）が考慮される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線管が検出器（Ｄ）との組合せでｚ軸の周りを円形状またはスパイラル状に移動させられて被検体（Ｂ）を走査し、Ｘ線管がＸ線管に対して相対的な２つ以上の異なる跳躍焦点位置（Ｆ1〜Ｆ6）を有する１つの跳躍焦点を持ち、取得された検出器データから複数のパラレルデータセットが形成され、このパラレルデータセットから断層画像が再構成される、コンピュータ断層撮影装置によるコンピュータ断層撮影画像形成方法において、
パラレルデータセットの形成時に、その都度の現在の跳躍焦点（Ｆ）のＸ線管に対する半径方向の異なる相対位置（＝跳躍焦点位置）が考慮される
ことを特徴とするコンピュータ断層撮影装置によるコンピュータ断層撮影画像形成方法。
【請求項２】
パラレルデータセットの形成時に、その都度の現在の跳躍焦点のＸ線管に対するｚ方向の異なる相対位置（Ｆ1〜Ｆ6）が考慮されることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
パラレルデータセットの形成時に、第１ステップにおいて、跳躍焦点位置（Ｆ1〜Ｆ6）に従っておよび検出器行に従って別々に同じビーム角θへの方位パラレルリビニングが行なわれ、その都度の跳躍焦点（Ｆ）の実際の半径（ｒ）がビーム角θの算出に用いられ、複数のデータセットが等しいΔθラスタで補間されることを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
【請求項４】
第２ステップにおいて、等しいｚ座標および等しいビーム角θを有する複数のデータセットが焦点位置から交互配置され、より狭い等間隔のΔθラスタで複数の新しいデータセットに合成および／または補間されることを特徴とする請求項１乃至３の１つに記載の方法。
【請求項５】
第３ステップにおいて、全ての跳躍焦点位置（Ｆ1〜Ｆ6）のデータセットを用いて同じ等間隔のΔｐラスタ（ｐ＝ｒ・ｓｉｎβ）への半径方向リビニングが行なわれることを特徴とする請求項１乃至４の１つに記載の方法。
【請求項６】
第４ステップにおいて、ｚ方向の異なる跳躍焦点位置（Ｆ1〜Ｆ6）および等しいビーム角θを持つ複数のデータセットが交互配置され、より小さい等間隔のΔｚラスタで１つのデータセットに補間されることを特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の方法。
【請求項７】
請求項１乃至６の１つによるデータ処理後に断層画像の算出のために再構成法が実行されることを特徴とする請求項１乃至６の１つに記載の方法。
【請求項８】
走査のために、方位角方向に少なくとも２つの跳躍焦点位置とｚ方向に少なくとも２つの跳躍焦点位置とを有する１つの跳躍焦点（Ｆ）が使用されることを特徴とする請求項１乃至７の１つに記載の方法。
【請求項９】
個々の各跳躍焦点位置（Ｆ1〜Ｆ6）が異なる方位角座標およびｚ座標を有する１つの跳躍焦点（Ｆ）が使用されることを特徴とする請求項１乃至８の１つに記載の方法。
【請求項１０】
複数行検出器（Ｄ）との組合せでｚ軸の周りを円形状またはスパイラル状に移動させられて被検体（Ｂ）を走査するＸ線管を備え、Ｘ線管がＸ線管に対して相対的な２つ以上の異なる跳躍焦点位置（Ｆ1〜Ｆ6）を有する１つの跳躍焦点を持ち、取得された検出器データから事前にパラレルデータセットを形成して断層画像を再構成する手段が設けられているコンピュータ断層撮影装置において、請求項１乃至９の少なくとも１つによる方法ステップを実施するための手段、とりわけプログラムまたはプログラムモジュールが設けられていることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線管が対向する検出器との組合せでｚ軸の周りを円形状またはスパイラル状に移動させられて被検体を走査し、Ｘ線管がＸ線管に対して相対的な２つ以上の異なる跳躍焦点位置を有する１つの跳躍焦点を持ち、取得された検出器データから複数のパラレルデータセットが形成され、このパラレルデータセットから断層画像が再構成される、コンピュータ断層撮影装置（ＣＴ装置）によるコンピュータ断層撮影画像形成方法およびコンピュータ断層撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
跳躍焦点（ジャンプフォーカス（ｊｕｍｐ  ｆｏｃｕｓ）又はフライング・フォーカル・スポット（ｆｌｙｉｎｇ  ｆｏｃａｌ  ｓｐｏｔ）とも呼ばれている）を有するＸ線管を有するコンピュータ断層撮影装置は特許文献から公知である（特許文献１、特許文献２および特許文献３参照）。
【０００３】
特許文献１は、焦点位置の変化に応じて同一の対向する複数行検出器により被検体の走査を行なう複数のビーム経路が生じるように、焦点がｚ方向に複数の種々の焦点位置へＸ線管に対して相対的に跳躍することができるＣＴ装置を示す。跳躍焦点の焦点位置の移動は専らｚ方向に行なわれ、ビーム経過は半径方向または方位角方向に変化しない。
【０００４】
特許文献２から同様に跳躍焦点を有するＣＴ装置が公知であり、これの図１には次のようなＸ線管も示されている。すなわち、このＸ線管の跳躍焦点は検出器に対して一定の間隔を有するｘｙ平面内において、すなわちシステム軸線に対して垂直に移動する。ここでは半径方向の移動は行なわれない。
【０００５】
特許文献３は跳躍焦点を有するＣＴ装置の種々の変形例を示し、ここではｘｙ平面においてｚ方向への焦点の移動のほかに、半径方向への移動が示されている。
【０００６】
いずれの特許文献も基本的には確かに跳躍焦点を有するＣＴ構成を示しているが、しかし、被検体の改善された走査をＣＴ画像の算出に具体的にどのように利用すべきか、また、その際に必要なデータ収集およびデータ処理をどのように行なうべきかについては、従来技術から引き出すことはできない。
【特許文献１】米国特許第５６２５６６１号明細書
【特許文献２】米国特許第６２５６３６９号明細書
【特許文献３】独国実用新案特許第２９９２３９６７号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の課題は、跳躍焦点を有するコンピュータ断層撮影装置によるコンピュータ断層撮影画像形成方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この課題は独立の請求項によって解決される。本発明の有利な実施態様は従属請求項に記載されている。
【０００９】
本発明者は、跳躍焦点システムにより作成されたデータを有するＣＴ装置の検出器、特に複数行検出器の検出器出力データからパラレルデータセットを形成する際に、その都度の陽極ジオメトリおよびその配置に関係して、その都度の跳躍焦点から検出器までの距離が異なる値をとることがあり、これらの異なる値はパラレルデータセットの算出のための実際のビーム角θに関して相応の計算結果を生じなければならないことを考慮することが特に重要であることを認識した。
【００１０】
従って、本発明者は、Ｘ線管が対向する検出器との組合せでｚ軸の周りを円形状またはスパイラル状に移動させられて被検体を走査し、Ｘ線管がＸ線管に対して相対的な２つ以上の異なる跳躍焦点位置を有する１つの跳躍焦点を持ち、取得された検出器データから複数のパラレルデータセットが形成され、このパラレルデータセットから断層画像が再構成されるＣＴ装置による公知のコンピュータ断層撮影画像形成方法を改善するために、パラレルデータセットの形成時に、その都度の現在の跳躍焦点のＸ線管に対する半径方向の異なる相対位置（跳躍焦点位置）が考慮されることを提案する。なお、「半径方向」は円筒座標α，ｒ，ｚを有する点Ｐ（α，ｒ，ｚ）のベクトルｒの方向である。但し、ｚはシステム軸線に相当し、αは焦点の回転角を表し、ｒはｚ軸すなわちシステム軸線からの半径方向距離を表す。
【００１１】
パラレルデータセットの形成時に、その都度の現在の跳躍焦点のＸ線管に対するｚ方向の異なる相対位置も考慮されると好ましい。
【００１２】
本発明による方法においては、パラレルデータセットの形成時に、とりわけ第１ステップにおいて、跳躍焦点位置に従っておよび検出器行に従って別々に同じビーム角θへの方位パラレルリビニングが行なわれ、その都度の跳躍焦点Ｆの実際の半径ｒ、すなわち考察された検出器要素から現在の跳躍焦点位置までの距離がビーム角θの算出に用いられ、複数のデータセットが等しいΔθラスタで補間される。従って、この第１ステップに応じて、予め与えられたビーム角θを有する実際または仮想的に補間されたＸ線から全て生じる検出器データからデータセットが収集され、存在しない場合には補間によって作成される。このＸ線ビーム角θの決定のために、Ｘ線管に対する焦点の半径方向への相対移動によって生じる小さな変化が考慮される。ビーム角θには式θ＝α＋βが当てはまる。なお、αは焦点の回転角であり、βはファン角である。
【００１３】
このデータセットの収集時に、勿論種々の跳躍焦点位置による異なる「読影」のデータは混合されない。従って、跳躍焦点位置（勿論、被検体の周りでのＸ線管の回転の枠内において空間的に移動する跳躍焦点位置）がＮ個ある場合、データセットもＮ個作成される。すなわち、基本的にはＮ個の各跳躍焦点について個別のデータ収集およびデータ処理が行なわれる。
【００１４】
同じｚ位置において異なる跳躍焦点から複数の読影が取得された場合、とりわけ第２ステップにおいて、等しいｚ座標および等しいビーム角θを有する複数のデータセットが焦点位置から交互配置され、より狭い等間隔のΔθラスタで複数の新しいデータセットに合成および／または補間される。
【００１５】
更に、本発明による方法においては、とりわけ第３ステップにおいて、全ての跳躍焦点位置のデータセットを用いて同じ等間隔のΔｐラスタ（ｐ＝ｒ・ｓｉｎβ（ｒ＝ｚ軸に対する距離、β＝ファン角））への半径方向リビニングが行なわれる。このために、今や、空間的な正しい位置合わせに従って分類されているがしかしｐ方向の共通なラスタを持たないこのデータセットが、予め与えられたラスタに応じて分類され、所望のラスタ個所にＸ線が存在しない場合にはこれは隣接のデータの補間によって作成される。
【００１６】
更に、本発明者は、とりわけ第４ステップにおいて、ｚ方向の異なる跳躍焦点位置および等しいビーム角θを持つ複数のデータセットが交互配置され、より小さい等間隔のΔｚラスタで１つのデータセットに補間されることを提案する。従って、ｚ方向に種々の跳躍焦点を有する１つのＸ線管が使用される場合、データセットの付加的な交互配置および走査のより小さいラスタが作成されることによって、この方向における付加的に得られた過走査が走査の更なる改善を達成するために利用される。
【００１７】
引続いて、そのように形成されたデータセットはそれらの処理後に断層画像の算出のために公知の再構成法、例えばＡＭＰＲ法（ＡＭＰＲ＝Ａｄａｐｔｉｖｅ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅ  Ｐｌａｎｅ  Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）またはＳＭＰＲ法（ＳＭＰＲ＝Ｓｅｇｍｅｎｔｅｄ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅ  Ｐｌａｎｅ  Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）を適用される。この種の算出方法は一般に知られており、典型的には独国特許出願公開第１０１２７２６９号明細書および国際公開第９８／３０９８０号パンフレットを参照されたい。
【００１８】
本方法の特別な実施態様によれば、方法の「第３ステップ」も、すなわち共通なΔｐラスタへのリビニング（Ｒｅｂｉｎｎｉｎｇ）も最初のデータ処理では行なわれないで、これは再構成法において初めて考慮される。本発明によれば、例えばｚ方向およびｐ方向における２次元補間法において等間隔ラスタ処理が行なわれる。
【００１９】
代替として、「第３ステップ」は、半径方向リビニングが共通のΔｐラスタへ行なわれるのではなく、ｚ方向の種々の各跳躍焦点位置のために個別のラスタへ行なわれるように変更することができる。これによって、場合によっては、このステップにおいて補間費用を低減することができ、勿論、後続の再構成時に異なるラスタ処理が考慮されなければならない。これは、例えばｚ方向およびｐ方向における再構成中の２次元の補間によって行なわれる。
【００２０】
更に、走査のために、方位角方向に少なくとも２つの跳躍焦点位置とｚ方向に少なくとも２つの跳躍焦点位置とを有する１つの跳躍焦点が使用されるならば有利である。個々の各跳躍焦点位置が異なる方位角座標およびｚ座標を有する１つの跳躍焦点が使用されると特に好ましい。これによって特に高い過走査を達成することができ、付加的な情報を何も提供しない完全に等しいＸ線経過による冗長測定を大幅に回避することができる。
【００２１】
以上のとおり、上述の方法によって、複数行検出器による被検体のＣＴ走査時に跳躍焦点を使用することによって改善された過走査が画像データ処理時にも利用され、分解能の改善および、例えばＣＴ画像における風車のような構造の如きアーチファクトの低減が達成される。
【００２２】
本発明の基本思想に従って本発明者は更に、対向する複数行検出器との組合せでｚ軸の周りを円形状またはスパイラル状に移動させられて被検体を走査するＸ線管を備え、Ｘ線管がＸ線管に対して相対的な２つ以上の異なる跳躍焦点位置を有する１つの跳躍焦点を持ち、取得された検出器データから事前にパラレルデータセットを形成して断層画像を再構成する手段が設けられているコンピュータ断層撮影装置において、作動時に本発明による方法を実施することができる手段、特にプログラムまたはプログラムモジュールが設けられていることを提案する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下において本発明を図面を参照しながら好ましい実施例に基づいて更に詳細に説明する。
図１は使用されたジオメトリの説明図、
図２は４つの異なる焦点位置を有する跳躍焦点によって形成された４つのファンビームの説明図、
図３は図４乃至図１９の跳躍焦点位置の手引きをするための説明図、
図４乃至図１９は異なる跳躍焦点位置の変形例の説明図、
図２０は一定のΔθラスタへのリビニングの概略図、
図２１は一定のΔｐラスタへのリビニングの概略図である。
これらにおいては本発明の直接的な理解のために重要な要素だけが示されている。
【００２４】
これらの図において次の符号が使用されている。ａはｚ方向の跳躍焦点位置、ｂはｚ方向の跳躍焦点位置、Ｂは被検体、Ｄは検出器、Ｆは焦点、Ｆ1〜Ｆ6は焦点位置、ｐはｚ軸に対するＸ線の距離、Ｑは中心Ｘ線上の垂直面、ｒはｚ軸からの焦点の半径つまり距離、ＳはＸ線、Ｓzは中心Ｘ線、ｔは時間、ｚはシステム軸線、αは回転角、βはファン角、φはｚ軸に対するＸ線Ｓの傾斜角、θはビーム角である。
【００２５】
図１はこの明細書において使用されたジオメトリを示す。これは、ｘｙ平面に対して垂直なｚ軸が原点において紙面から突出するｘｙ座標系である。ｚ軸はＣＴのシステム軸線でもある。焦点Ｆの位置はｚ軸からの半径ｒとｚ軸の周りの回転角αとによって定められる。Ｘ線Ｓの位置は平面においてファン角βおよび原点からの距離ｐによって決定される。ｘ軸とＸ線Ｓとの間のビーム角θはそれぞれ焦点Ｆの位置とその都度考察された検出器要素とによって決定される。付加的にその都度考察された検出器行の位置と焦点のｚ位置とから、ｘ軸の周りにおけるＸ線Ｓの傾斜角φ（図示されていない）が生じる。
【００２６】
図２は、本発明による方法に応じて、４つの跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4を有する１つの模範的な跳躍焦点の概略図を示す。これらの跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4はそれぞれ、向かい側の検出器Ｄへ向けて、被検体Ｂを透過するＸ線を送出する。図の十分な見易さのために個々の跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4と検出器Ｄとの間に６つの縁部Ｘ線Ｓだけが示されている。本発明によれば、前述の方法において、それぞれの跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4におけるｚ軸と個々の焦点位置との半径方向距離の変化は、収集されたＸ線データからパラレルデータセットを形成する際に計算上考慮される。
【００２７】
従って、単純化して跳躍焦点位置はｚ方向に変化もしくは移動するとみなされるだけであり、回転中心の外側では明白な鮮明度損失およびアーチファクトが生じる従来技術と異なり、今や焦点の半径方向移動は、焦点の実際位置およびそれから算出される実際のファン角βがパラレルデータへのデータ換算に影響するかぎり考慮される。これによって、さもなければ発生する鮮明度損失およびアーチファクトが回避される。
【００２８】
次の図３〜図１８には、本発明による方法により使用可能な異なる跳躍焦点位置が示されている。
【００２９】
図３は、跳躍焦点位置の以下に示される変形例のための手引きをするために、単一の中心焦点Ｆから出射する縁部Ｘ線Ｓが入射する検出器Ｄと、システム軸線ｚに垂直に交わり中心にある中心Ｘ線Ｓzと、ｘ軸およびｚ軸によって設定され焦点Ｆを通る面Ｑとを示す。この面Ｑに関連付けて図４乃至図１４には跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ6の模範的な変形例が示されている。図４乃至図９には矩形の頂点に相当する４つの跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4が示され、跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4の間の矢印によってそれぞれの跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4の活性化順序が示されている。
【００３０】
図１０乃至図１４は、同様に４つの跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ4を有する１つの跳躍焦点の位置を示すが、しかしそれらの位置はそれぞれ菱形の頂点に相当する。ここでも個々の位置の跳躍順序が矢印によって示されている。
【００３１】
図１５および図１６には、２つの跳躍焦点位置Ｆ1，Ｆ2がｚｘ平面から外へ跳躍することができる変形例が示されている。跳躍焦点位置の図示された個数は単に例示にすぎず、空間内において他の跳躍焦点位置を使用することも同様に可能である。
【００３２】
更に、図１７乃至図１８には、６つの跳躍焦点位置Ｆ1〜Ｆ6を有する１つの跳躍焦点の変形例が例示されている。これらの図も可能な変形例の一部を示しているにすぎない。本発明による方法においては、跳躍焦点の異なる位置に基づいてそれぞれ跳躍焦点位置の異なる距離ベクトルが生じ、この距離ベクトルがＸ線経過およびそれから生じるＸ線方位、特にファン角βを算出する際に生じることが重要である。
【００３３】
本発明によれば、焦点のその都度の実際位置を計算に入れてあるので、跳躍焦点の図示された位置は任意に配置することができ、図示された例に限定されない。
【００３４】
図１９は、図２０および図２１に示されている補間のための基礎となるようなｚ軸に沿った２つの跳躍焦点位置Ｆ1，Ｆ2の空間的配置の他の変形例を示す。勿論、本発明は跳躍焦点位置のこの空間的配置に限定されない。
【００３５】
図２０は、パラレルデータセットの形成時に跳躍焦点の変化した半径方向位置を考慮することの本発明による影響を示す。横座標にファン角βが取られ、縦座標が焦点の回転角α、正確に扱うならば考察された跳躍焦点の回転角に対応する直交座標系が示され、回転角が計数される開始角は全ての跳躍焦点位置に対して同一である。単一焦点の先の考察と違って、ここでは回転角がもはや時間経過ｔに一義的に割り付けられていない。というのは同じ時点ｔで異なる跳躍焦点が異なる回転角αを有するからである。
【００３６】
水平な実線は実際に利用された個々の検出器行の測定時点を示し、個々の点は検出器要素に対応する測定点であり、実線上の全ての測定点「●」は第１の跳躍焦点位置ａに相当する。同様に破線上には同じ検出器行の測定点「×」が示されているが、しかしこれらは一方では時間的に移動されており、他方ではこれらの測定点を発生する異なる跳躍焦点位置ｂに基づいてα軸に向けて軽くずらされた状態にある。両跳躍焦点位置の間における測定点「×」のこの軽いずれあるいは移動は、半径方向に変化した焦点位置によるファンビーム変化を示す。
【００３７】
４５°の角度に配置された実線は同じθ＝α＋βを有するＸ線の位置に相当する。
【００３８】
本発明によれば、一定のθを有する直線への同じ跳躍焦点位置ａもしくはｂの測定値のリビニングつまり補間が行なわれる。更にこれらの新しいデータを本来のシンボル「●、×」に対応させて付加的な円「○」で囲むことによって、個々の焦点のデータ間の区別がなされている。従って、この方法ステップの補間結果は、見易くするために、２つの代表的な符号「○付き●」および「○付き×」によって示され、計算時に実際には斜めの線と点「●」および「×」垂直線との各交点でそれぞれ補間値「○付き●」および「○付き×」が生じる。記入されている矢印は同じ跳躍焦点位置の４つの隣接する測定点に亘る補間の例を示す。なお、符号「○付き●」は図面において「●」が「○」で囲まれている符号を示し、符号「○付き×」は同様に「×」が「○」で囲まれている符号を示す。
【００３９】
従って、ここで示されたリビニングは、ｚ方向にずれている図１９による２つの異なる跳躍焦点位置を有する１つの跳躍焦点による測定状態に相当する。しかしながら、同じようにして、例えば図１乃至図１４で説明したような２×２の跳躍焦点位置を有する１つの跳躍焦点による測定も行なうことができる。この場合には勿論、先ずβ方向に交互配置が行なわれなければならない。この場合にも注意すべきことは他の補間法も可能であることである。従って例えば同じ焦点位置からの隣接する測定点に亘る２ｄ補間も実施することができる。
【００４０】
この上述のリビニング後には、間隔Δθを持つ斜めに延びる直線によって示されている一定のΔθラスタを有する複数のデータセットが存在する。
【００４１】
このデータセットは、今や図２１においては、横座標がｐ座標に相当し縦座標がシステム軸線すなわちｚ軸に相当する座標系で示されている。更に異なる跳躍焦点位置の測定値はデータセットごとにも区別されている。
【００４２】
符号「○付き●」で表された図２０による方法からの測定点、つまり正確に言えば補間結果は第１の跳躍焦点位置ａに対応し、これに対して符号「○付き×」は他の跳躍焦点位置ｂに付属している。同じ符号表示はそれぞれ同じ跳躍焦点位置によって撮影されたものである。測定点の記入部分の右側に２つの欄Ｉ，ＩＩが示され、欄Ｉにはそれぞれの跳躍焦点が記入され、これに対して欄ＩＩには対応する検出器行への割り当てが記入されている。
【００４３】
本発明によれば、これらの補間データがここで再度予め与えられたΔｐラスタへ補間されるので、最終的には一様なΔｐラスタを有するパラレルビームが存在し、これらはＣＴ撮影の他の再構成に利用することができる。図２１においては、Δｐラスタが等間隔の垂直線と、これらの垂直線とそれぞれ１つの検出器行に対応する水平線との交点とによって示されている。
【００４４】
更に補足するに、補間は種々の様式で行なうことができる。図２０および図２１には同じ行もしくは列の隣接する点に亘る補間が矢印によって示され、勿論、定められた周辺における全ての点も、あるいは２つの隣接点も補間に使用することができる。最終的には図２１における交点に対応する補間点での等間隔ラスタが得られる。このラスタにより公知のようにして再構成を行なうことができ、跳躍焦点位置の実際の空間的ずれおよびその幾何学的影響が算出時に考慮されている。
【００４５】
以上のとおり、本発明は、跳躍焦点を持つＸ線管によって求められるＣＴデータの処理のために、現在の跳躍焦点の半径方向の異なる相対位置の変化と、これに関連するビーム角θおよびＸ線ビーム位置の正確な算出の考慮に基づいて画質の著しい改善をもたらす方法を提案する。
【００４６】
本発明の上述の特徴は、その都度述べた組み合わせにて使用可能であるのみならず、本発明の枠を逸脱することなしに他の組み合わせ又は単独にても使用可能である。更に、本発明の意味においてＣＴ装置とは、閉じられたガントリを有する古典的なＸ線コンピュータ断層撮影装置のみならず、所謂Ｃアーム装置も含むものと解すべきである。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】使用されたジオメトリの説明図
【図２】４つの異なる焦点位置を有する跳躍焦点によって形成される４つのファンビームの説明図
【図３】図４乃至図１９の跳躍焦点位置の手引きをするための説明図
【図４】跳躍焦点位置の第１変形例の説明図
【図５】跳躍焦点位置の第２変形例の説明図
【図６】跳躍焦点位置の第３変形例の説明図
【図７】跳躍焦点位置の第４変形例の説明図
【図８】跳躍焦点位置の第５変形例の説明図
【図９】跳躍焦点位置の第６変形例の説明図
【図１０】跳躍焦点位置の第７変形例の説明図
【図１１】跳躍焦点位置の第８変形例の説明図
【図１２】跳躍焦点位置の第９変形例の説明図
【図１３】跳躍焦点位置の第１０変形例の説明図
【図１４】跳躍焦点位置の第１１変形例の説明図
【図１５】跳躍焦点位置の第１２変形例の説明図
【図１６】跳躍焦点位置の第１３変形例の説明図
【図１７】跳躍焦点位置の第１４変形例の説明図
【図１８】跳躍焦点位置の第１５変形例の説明図
【図１９】跳躍焦点位置の第１６変形例の説明図
【図２０】一定のΔθラスタへのリビニングの概略図
【図２１】一定のΔｐラスタへのリビニングの概略図
【符号の説明】
【００４８】
ａ            ｚ方向の跳躍焦点位置
ｂ            ｚ方向の跳躍焦点位置
Ｂ            被検体
Ｄ            検出器
Ｆ            焦点
Ｆ1〜Ｆ6     焦点位置
ｐ            ｚ軸に対するＸ線の距離
Ｑ            中心Ｘ線上の垂直面
ｒ            ｚ軸からの焦点の半径つまり距離
Ｓ            Ｘ線
Ｓz          中心Ｘ線
ｔ            時間的前進
ｚ            システム軸線
α            回転角
β            ファン角
φ            ｚ軸に対するＸ線の傾斜角
θ            ビーム角
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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