(57)【要約】  【課題】ユーザにおいても、適正なエッジ光量アップの光量を設定することができ、感光材料の特性ばらつきによらず、常に安定的な画質改善効果を得ることのできる画像露光装置における光量調整方法を提供する。  【解決手段】第１の光量レベルを設定するステップと、光ビームの感光材料上における焦点位置と、画像信号の変化に連動して出力される第１の光量レベルより大きい第２の光量レベルを変化させてテストパッチを露光するステップと、露光されたテストパッチの網パーセント変動が最小になるように第２の光量レベルを設定するステップとを含むことを特徴とする画像露光装置における光量調整方法を提供することにより、上記課題を解決する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを感光材料に対して走査することにより画像を記録する画像露光装置における光量調整方法であって、
第１の光量レベルを設定するステップと、
前記光ビームの前記感光材料上における焦点位置と、画像信号の変化に連動して出力される前記第１の光量レベルより大きい第２の光量レベルを変化させてテストパッチを露光するステップと、
前記露光されたテストパッチの網パーセント変動が最小になるように前記第２の光量レベルを設定するステップとを含むことを特徴とする画像露光装置における光量調整方法。
【請求項２】
前記第１の光量レベルを前記画像信号により駆動し、前記第２の光量レベルを前記画像信号のエッジ信号により駆動する請求項１に記載の画像露光装置における光量調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像露光装置における光量調整方法に係り、特に、画像信号のエッジ部分における光量をアップすることにより、光ビームの立ち上がり立ち下がり部における画質劣化を改善し画質を向上させる、画像露光装置における光量調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンピュータにより、デジタル画像を作成し、製版時にフィルムを介在させずに、直接印刷版に画像記録を行うＣＴＰ（Computer to Plate)が行われるようになってきている。このようなＣＴＰ等において用いられる画像露光装置として、回転するドラムの表面にＰＳ版などの感光材料を保持しながら、デジタル画像信号に応じてレーザ光露光を行い、潜像として画像を記録する画像露光装置が用いられている。
【０００３】
この技術では、露光用光源から照射される光ビームの点灯状態を、記録すべき原画像の画像データに基づいて生成された２値化画像信号によって制御し、露光用光源と感光材料とを相対的に移動させることによって上記光ビームを感光材料上で２次元的に走査させ、感光材料上に所望の画像が潜像として記録される。
製版用の画像は、いわゆる網点を用いる網点階調画像（面積変調）であり、各網点は、解像度に応じて決定される所定のサイズを有する光ビームを用いる走査露光により形成される多数のドットの集合により記録される。
【０００４】
従来、このような露光装置においては、レーザビームの品質が劣化した場合には、レーザビームのオン／オフ信号からエッジ信号を作成して、その瞬間の光量を変化させることで画質の改善を行っていた。このように、レーザビームのオン／オフ信号からエッジ信号を作成して、その瞬間の光量を増加させることを、ここではエッジ光量アップと言う。
例えば、感光材料に記録される画像の輪郭部を露光する際の光源の輝度を増加させて、当該輪郭部における濃度のエッジをシャープ化するために、２値化信号を微分して、エッジを強調する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平０８−０２３４２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来のエッジ光量アップにおけるアップ分の光量は、事前に評価した結果により一律に固定した値に決められており、このようにエッジ光量アップを固定パーセントで実施していたのでは、例えば、感光材料の感度がロットによりばらついたりするため、また、感光材料の種別によっては、エッジ光量アップによる光量補正が不足したり、逆に過補正になってしまうという問題があった。
【０００６】
本発明は、前記従来の問題に鑑みてなされたものであり、ユーザにおいても、適正なエッジ光量アップの光量を設定することができ、感光材料の特性ばらつきによらず、常に安定的な画質改善効果を得ることのできる画像露光装置における光量調整方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するために、本発明は、光ビームを感光材料に対して走査することにより画像を記録する画像露光装置における光量調整方法であって、第１の光量レベルを設定するステップと、前記光ビームの前記感光材料上における焦点位置と、画像信号の変化に連動して出力される前記第１の光量レベルより大きい第２の光量レベルを変化させてテストパッチを露光するステップと、前記露光されたテストパッチの網パーセント変動が最小になるように前記第２の光量レベルを設定するステップと、を含むことを特徴とする画像露光装置における光量調整方法を提供する。
【０００８】
また、前記第１の光量レベルを前記画像信号により駆動し、前記第２の光量レベルを前記画像信号のエッジ信号により駆動することが好ましい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、焦点位置および第２の光量レベル（エッジ光量）をそれぞれ変化させて網％変動が最小となるような第２の光量レベルを自動的に設定するようにしたため、ユーザにおいても、適正なエッジ光量アップの光量を設定することができ、感光材料の特性ばらつきによらず、常に安定的な画質改善効果を得ることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の画像露光装置における光量調整方法について、添付の図面に示される好適実施形態を基に詳細に説明する。
本実施形態は、画像信号の立ち上がり立ち下がりの、画像信号のエッジ部分ににおける光量を変化させて画質改善を行ういわゆる「エッジ光量アップ補正」において、エッジ光量アップ分の光量（エッジ光量）を、例えばユーザにおいても適正に設定することができるようにするものである。
【００１１】
図１は、本発明に係る光量調整方法を実行する回路を含む画像露光装置の一実施形態の概略構成を示すブロック図である。
図１に示すように、本実施形態の光量調整を実行する回路を含む画像露光装置は、画像オン／オフ信号入力部１０、第１の光量レベルである画像を記録するための露光光量レベルを設定する露光光量レベル設定回路１２、光量調整時用パルス点灯および連続点灯回路１４、エッジ光量アップ分の光量であるエッジ光量レベルを設定するエッジ光量レベル設定回路１６、画像オン／オフ信号からその立ち上がり立ち下がり部分であるエッジを検出するエッジ検出回路１８、第１の光量レベルにより画像を記録するための画像信号のオン／オフを切り換えるオン／オフ回路２０、第２の光量レベルによりエッジ部分の記録の切り換えを行うオン／オフ回路２２、エッジ部分の記録を行う第２の光量レベルを作成するために、第１の光量レベルにエッジ光量アップ分の光量を加算する加算器２４、光ビームを射出するレーザダイオード（以下、ＬＤとする。）２６、ＬＤ２６の発光を検出するパワーディテクタ（以下、ＰＤとする。）２８およびＰＤ８から検出信号のフィードバックを受けるとともに回路全体の制御を行うＣＰＵ３０とを含んで構成される。
【００１２】
図１に示す画像露光装置による画像露光時の信号波形の一例を図２に示す。ここで、図２（ａ）は、実際に画像露光を行う光量波形、図２（ｂ）は、画像露光状態を示す画像オン信号、図２（ｃ）は、エッジ光量アップを行うべきタイミングを示すエッジ信号を示している。
画像オン／オフ信号入力部１０から図２（ｂ）に示すような画像オン信号がオン／オフ回路２０に入力されると、露光光量レベル設定回路１２で設定された第１の光量レベルＬ１を有する図２（ａ）の左側に示すような光量波形が露光光量レベル設定回路１２からオン／オフ回路２０を介して出力される。
【００１３】
エッジ光量アップ補正を行わない場合には、この（図２（ａ）左側に示す）光量波形がそのまま加算器２４を通ってＬＤ２６から出力され、第１の光量レベルＬ１で画像露光が行われる。このようにエッジ光量アップ補正を行わない場合には、図２（ａ）左側の波形が示すように、画像信号の立ち上がりおよび立ち下がり部において、波形がなまっており、画質劣化が生じる。
【００１４】
そこで画質改善を行うため、エッジ光量アップ補正を行う場合には、エッジ検出回路１８によって画像オン信号から検出された図２（ｃ）に示すようなエッジ信号がオン／オフ回路２２に入力され、エッジ光量レベル設定回路１６によって設定されたエッジ光量アップ分の光量（エッジ光量）がオン／オフ回路２２を介して加算器２４に入力される。
そして、加算器２４において、露光光量レベル設定回路１２によって設定されオン／オフ回路２０を介して加算器２４に入力された第１の光量レベルＬ１に、上記エッジ光量ｄが加算され、図２（ａ）の右側の波形に示すように、画像信号のエッジ部においてのみ第１の光量レベルより大きな第２の光量レベルとなるように光量波形が形成される。このような光量波形がＬＤ２６から出力され、これにより、エッジ部において光量が変更された光ビームにより画像露光が行われ、画質劣化が改善される。
【００１５】
本実施形態は、このようなエッジ光量アップ補正を行う際の、アップ分の光量（エッジ光量）ｄを自動的に設定することにより、例えばユーザでも適正に設定することができるような方法を提供するものである。
以下、エッジ光量アップ分の光量であるエッジ光量ｄの決定（調整）方法について説明する。
【００１６】
図３に、エッジ光量決定方法の流れの一例をフローチャートで示す。
以下、このフローチャートに沿ってエッジ光量決定方法を説明する。
まず、図３のステップ１００において、エッジ光量を決定する前に、第１の光量レベルである露光光量すなわちエッジ光量アップ補正を行わないときの平均光量、あるいはべた露光時の光量を決定する。
【００１７】
この露光光量の決定は、光量調整時用パルス点灯および連続点灯回路１４によってＬＤ２６をパルス点灯して光量調整し、あるいはＬＤ２６を連続点灯して光量調整を行う。具体的には、例えば、べた露光のパッチを露光し、現像後これを観察し、適正な光量を決定する。このとき、適正な光量としては、例えばオペレータが現像後のべた露光パッチを見て、きれいに抜ける光量の１．２倍の光量等として設定する。
【００１８】
次にステップ１１０において、エッジ光量ｄを決定するために、焦点位置（ピント位置）とエッジ部における露光光量である第２の光量レベルを変化させながらテストパッチを露光する。
このテストパッチの露光は２つの方法が考えられる。第１の方法は、最初焦点位置を固定して、この焦点位置に対し、第２の光量レベルを変化させるものであり、第２の方法は、最初第２の光量レベルを固定して、この第２の光量レベルに対し、焦点位置を変化させるものである。
【００１９】
まず、第１の方法について説明する。図４に、テストパッチ露光の第１の方法の一例のフローチャートを示す。
図４のステップ２００において、まず焦点位置を最小位置ｚ1 （例えば、ジャストピント位置を０μｍとして、ｚ1 ＝−４０μｍ）に固定する。
次に、ステップ２１０において、第２の光量レベルをＰ1 （例えば、第１の光量レベルである露光光量をＰ0 として、Ｐ1 ＝Ｐ0 ）とする。
【００２０】
次にステップ２２０において、この条件でパッチを露光する。
次にステップ２３０において、第２の露光レベルをαだけ増加させて、Ｐ2 とする。すなわち、Ｐ2 ＝Ｐ1 ＋α（＝Ｐ0 ＋α）とする。ここで、第２の光量レベルの増加分αは、特に限定はされないが、例えば、露光光量Ｐ0 の０．１倍、すなわち、α＝０．１×Ｐ0 等とする。このとき、Ｐ2 ＝Ｐ0 ＋０．１×Ｐ0 ＝１．１×Ｐ0 となる。
【００２１】
次にステップ２４０において、第２の光量レベルが予め指定された光量レベルの範囲を超えたか、例えば、Ｐn ＝Ｐ0 ＋（ｎ−１）×αに達したか等を判断する。
その結果、まだ指定された光量レベルの範囲を超えていない場合には、ステップ２２０へもどり、前と同じ焦点位置、および前よりα（＝０．１×Ｐ0 ）だけ増加した光量レベルの下でパッチ露光を行う。
このようにして、第２の光量レベルが予め指定された光量レベルの範囲を超えるまでこの操作を繰り返し、パッチの露光を続行する。
【００２２】
そして、指定された光量レベルの範囲を超えた場合には、次のステップ２５０へ進み、今度は、焦点位置を変化させる。例えば、前の焦点位置ｚ1 に対して、位置をβだけずらす。すなわち、ｚ2 ＝ｚ1 ＋βという新しい焦点位置ｚ2 とする。この焦点位置変化量βは、特に限定されるものではなく、例えば、この場合には、β＝２０μｍ等が例示される。すなわち、ｚ1 ＝−４０μｍであるとすると、ｚ2 ＝ｚ1 ＋β＝−４０＋２０＝−２０μｍとなる。
【００２３】
次にステップ２６０において、この焦点位置が予め指定された範囲を超えたか否か判断する。例えば、焦点位置の最大値ｚm ＝ｚ1 ＋（ｍ−１）×βに達したか、判断する。
その結果、まだ焦点位置が指定された範囲を超えていない場合には、ステップ２１０へもどり、この焦点位置の下で、前と同じように、第２の光量レベルを変化させてパッチ露光を行う。
そして、焦点位置が指定された範囲を超えた場合には、この処理を終了する。
【００２４】
このようにして、例えば、図５に示すようなテストパッチが作成される。
図５に示すテストパッチは、焦点位置をジャストピント位置を０として、±２０μｍ、±４０μｍと振り、また各焦点位置に対して第２の光量レベルを、第１の光量レベル（露光光量）の１．０倍、１．１倍、１．２倍、１．３倍、１．４倍と５段階に変化させて作成したものである。
【００２５】
次に、テストパッチを露光する第２の方法について説明する。図６に、テストパッチ露光の第２の方法の一例のフローチャートを示す。
図６のステップ３００において、まず第２の光量レベルＰ1 を最小光量、例えば、第１の光量レベル（露光光量）Ｐ0 の１．０倍に固定する。すなわち、第２の光量レベルＰ1 ＝Ｐ0 とする。
次に、ステップ３１０において、焦点位置ｚ1 を最小位置、例えばジャストピント位置を０としてｚ1 ＝−４０μｍとする。
【００２６】
次にステップ３２０において、この条件でパッチを露光する。
次にステップ３３０において、焦点位置をβだけ変化させて、ｚ2 とする。すなわち、ｚ2 ＝ｚ1 ＋βとする。ここで、焦点位置の変化分αは、特に限定はされないが、例えば、２０μｍ、すなわち、この場合、ｚ2 ＝ｚ1 ＋β＝−４０＋２０＝−２０μｍ等とする。
【００２７】
次に、ステップ３４０において、焦点位置が予め指定された焦点位置の範囲を超えたか、例えば、最大位置ｚm ＝ｚ1 ＋（ｍ−１）×βに達したか等を判断する。その結果、まだ指定された焦点位置の範囲を超えていない場合には、ステップ３２０へもどり、前と同じ第２の光量レベルおよび前よりβ（＝２０μｍ）だけ変化した焦点位置の下でパッチ露光を行う。
このようにして、焦点位置が予め指定された範囲を超えるまでこの操作を繰り返し、パッチの露光を続行する。
【００２８】
そして、指定された焦点位置の範囲を超えた場合には、次のステップ３５０へ進み、今度は第２の光量レベルを変化させる。例えば、前の第２の光量レベルＰ1 に対して、αだけ増加させる。すなわち、Ｐ1 ＝Ｐ0 ＋αという新しい第２の光量レベルとする。この光量レベル増加量αは、特に限定されるものではなく、例えば、この場合、第１の光量レベル（露光光量）の０．１倍、すなわち、α＝０．１×Ｐ0 等が例示される。すなわち、Ｐ2 ＝Ｐ1 ＋０．１×Ｐ0 ＝Ｐ0 ＋０．１×Ｐ0 ＝１．１×Ｐ0 となる。
【００２９】
次に、ステップ３６０において、この第２の光量レベルが予め指定された範囲を超えたか否か判断する。例えば、第２の光量レベルの最大値Ｐn ＝Ｐ0 ＋（ｎ−１）×αに達したか、判断する。
その結果、まだ第２の光量レベルが指定された範囲を超えていない場合には、ステップ３１０へもどり、この第２の光量レベルの下で、前と同じように、焦点位置を変化させてパッチ露光を行う。
そして、第２の光量レベルが指定された範囲を超えた場合には、この処理を終了する。
【００３０】
このようにして、例えば、図７に示すようなテストパッチが作成される。
図７に示すテストパッチは、第２の光量レベルを第１の光量レベル（露光光量）の１．０倍、１．１倍、１．２倍、１．３倍、１．４倍と振って、各第２の光量レベルに対し、焦点位置を、ジャストピント位置を０として、±２０μｍ、±４０μｍと変化させてパッチを露光して作成したものである。
【００３１】
このように２通りの方法のいずれかによりテストパッチを露光するが、実際に使用するテストパターンの一例を図８に示す。
前述した図５あるいは図７のテストパッチの主走査方向の各ラインは、図８に示すような、黒べた、白べた、バーティカル２ライン、バーティカル１ライン、ホリゾンタル２ライン、ホリゾンタル１ライン、１７５線５０％、ＦＭ５０％のパッチが主走査方向に繰り返されて形成されている。ここで、バーティカル１ラインとは、垂直方向に１ラインごとにオン、オフを繰り返すものであり、ホリゾンタル１ラインとは、水平方向に１ラインごとにオン、オフを繰り返すものである。
【００３２】
再び、図３のフローチャートにもどり、ステップ１２０において、ここで作成したテストパッチを測定して網パーセント変動が最小となるように第２の光量レベルを設定する。
各第２の光量レベルＰ1 、Ｐ2 、・・・、Ｐn および焦点位置ｚ1 、ｚ2 、・・・、ｚm に対する各パッチの網％Ｓ（＝Ｓ（Ｐi ，ｚj ））を測定する。
そして、次の式（１）で定義される各第２の光量レベルＰi に対する網％の変動幅を算出する。
ｍａｘ｛  Ｓ（Ｐi ，ｚ1 ），Ｓ（Ｐi ，ｚ2 ），・・・，Ｓ（Ｐi ，ｚm ）｝    −  ｍｉｎ｛  Ｓ（Ｐi ，ｚ1 ），Ｓ（Ｐi ，ｚ2 ），・・・
，Ｓ（Ｐi ，ｚm ）｝      ・・・（１）
【００３３】
この式（１）により各第２の光量レベルＰi に対して算出した網％変動の値が最小のもの、すなわち網％変動が最も０に近い第２の光量レベルＰi を設定光量として決定する。
また、このときの第２の光量レベルＰi と第１の光量レベルＰ0 との差が図２に示すエッジ光量ｄとなる。エッジ光量レベル設定回路１６はこの値を、第１の光量レベルに加算すべきエッジ光量として設定する。
なお、上では網％変動を測定していたが、これに限定されるものではなく、各パッチの濃度を測定するようにしてもよい。
【００３４】
また、図９に、デフォーカス特性と網％との関係の一例を示す。グラフＡは、従来方式の場合であり、同図に示すようにデフォーカスに対し網％が大きく変動している。これに対し、グラフＢは、本実施形態によるものであり、エッジ光量アップ補正を行ったもので、網％変動が非常に小さく抑えられている。
また、図１０は、エッジ光量（第２の光量レベル）を色々に変化させた場合のデフォーカス特性と網％との関係の一例を示すグラフである。図１０において、グラフＣは、第２の光量レベルを露光光量の１．２倍とした場合であり、グラフＤは、１．４倍、グラフＥは、１．７倍、グラフＦは、２．２倍とした場合である。このように第２の光量レベルを露光光量のせいぜい１．７倍程度以上とすればかなり網％変動を小さくできることがわかる。
【００３５】
以上説明したように、本実施形態によれば、焦点位置および第２の光量レベル（エッジ光量）をそれぞれ変化させて網％変動が最小となるようにして光量調整をするようにしたため、感光材料の特性ばらつきによらず常に安定的な画質改善効果を得ることができる。また、上記のように網％変動を最小とするような第２の光量レベルの設定を自動的に行うようにしたため、ユーザにおいても適正なエッジ光量アップの設定が可能となった。
さらに、感光材料の特性に合わせて補正するため、過補正にならずに画質改善ができるため、ＬＤの寿命をのばし、またＬＤの温度上昇を抑えることができるため環境にもやさしいという効果を有している。
【００３６】
以上、本発明の画像露光装置における光量調整方法について、詳細に説明したが、本発明は、以上の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変更を行ってもよいのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明に係る光量調整方法を実行する回路を含む画像露光装置の一実施形態の概略構成を示すブロック図である。
【図２】画像露光時の信号波形の一例を示す線図であり、（ａ）は画像露光の光量波形、（ｂ）は画像オン信号、（ｃ）はエッジ信号をそれぞれ示す。
【図３】本実施形態に係る光量調整方法の流れの一例を示すフローチャートである。
【図４】本実施形態においてテストパッチを露光する第１の方法の一例を示すフローチャートである。
【図５】テストパッチを露光する第１の方法によって作成したテストパッチの一例を示す説明図である。
【図６】本実施形態においてテストパッチを露光する第２の方法の一例を示すフローチャートである。
【図７】テストパッチを露光する第２の方法によって作成したテストパッチの一例を示す説明図である。
【図８】本実施形態におけるテストパッチで用いられるパッチの一例を示す説明図である。
【図９】本発明の効果を示すデフォーカス特性と網％変動との関係の一例を示す線図である。
【図１０】本実施形態における第２の光量レベルを変化させた場合のデフォーカス特性と網％変動との関係の一例を示す線図である。
【符号の説明】
【００３８】
１０  画像オン／オフ信号入力部
１２  露光光量レベル設定回路
１４  光量調整時用パルス点灯および連続点灯回路
１６  エッジ光量レベル設定回路
１８  エッジ検出回路
２０、２２  オン／オフ回路
２４  加算器
２６  レーザダイオード（ＬＤ）
２８  パワーディテクタ（ＰＤ）
３０  ＣＰＵ
【図１】
2005084609.tif 000003
【図２】
2005084609.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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