(57)【要約】【課題】電子部品の自動加工機の量産効率を低下させることなく検査時間の長い検査項目を検査可能な検査方法がない。【解決手段】複数の電子部品１２を保持する保持手段１４が待機ステーションＣに順次送られて待機し、たとえば６個の保持手段が待機すると、待機ステーションＣから６個の保持手段が検査ステーションＤに同時に移送され、検査ステーションＤから検査済の電子部品１２を保持する１つ前の６個の保持手段が退避ステーションＥに同時に移送される。待機ステーションＣから検査ステーションＤに移送された６個の保持手段１４上の複数の電子部品１２は、検査ユニット１６で電気特性が同時に検査される。検査ステーションＤでの検査中に、次の保持手段１４が待機ステーションＣに順次送り込まれ、検査済の電子部品１２を保持する１つ前の保持手段が退避ステーションＥから順次送り出される。【選択図】図１
2005321232.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電子部品を保持手段に移し；
検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送し；
待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送して、検査ステーションに配置した検査ユニットで保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査する電子部品の電気特性検査方法。
【請求項２】
ロータリーテーブルを利用して電子部品に一連の処理を施す自動加工機の電子部品の電気特性検査方法において；
電気特性を検査する検査ステーションは、ロータリーテーブル外に設定され；
ロータリーテーブルから複数の電子部品を保持手段に移し；
検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送し；
待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送して、検査ステーションに配置した検査ユニットで保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査することを特徴とする自動加工機の電子部品の電気特性検査方法。
【請求項３】
第１、第２のロータリーテーブルを利用して電子部品に一連の処理を施す自動加工機の電子部品の電気特性検査方法において；
電気特性を検査する検査ステーションは、第１、第２のロータリーテーブル外で第１、第２のロータリーテーブルの間に設定され；
第１のロータリーテーブルから複数の電子部品を保持手段に移し；
検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送し；
待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送して、検査ステーションに配置した検査ユニットで保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査し；
検査ステーションから所定数の保持手段を同時に取り除いた後、保持手段から電子部品を第２のロータリーテーブルに供給することを特徴とする自動加工機の電子部品の電気特性検査方法。
【請求項４】
保持手段は待機ステーション、検査ステーションを介して循環して移送されていることを特徴とする請求項２または３記載の電子部品の電気特性検査方法。
【請求項５】
複数の電子部品を保持する保持手段と；
検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送するとともに、待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送する移送手段と；
検査ステーションに配置されて、保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査する検査ユニットとを備えた電子部品の電気特性検査装置。
【請求項６】
ロータリーテーブルを利用して電子部品に一連の処理を施す電子部品の自動加工機に組み込まれて電子部品の電気特性を検査する電気特性検査装置において、
電気特性検査装置は、ロータリーテーブル外の検査ステーションに配置され；
複数の電子部品を保持する複数の保持手段と；
ロータリーテーブルに隣接する部品供給ステーションに配置されて、ロータリーテーブルから保持手段に電子部品を供給する部品供給手段と；
検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送するとともに、所定数の保持手段を待機ステーションから検査ステーションに同時に移送する搬入手段と；
検査ステーションに位置し、保持手段上の電子部品の電気特性を検査する検査ユニットと；
検査ステーションから所定数の保持手段を退避ステーションに同時に退避させる退避手段とを具備し；
検査ステーションに移送された所定数の保持手段上の電子部品を検査ユニットで測定可能に構成されたことを特徴とする自動加工機の電子部品の電気特性検査装置。
【請求項７】
ロータリーテーブルとして、電気特性の検査前の電子部品に一連の処理を施す第１のロータリーテーブルと、検査後の電子部品に一連の処理を施す第２のロータリーテーブルとが配置され；
保持手段に電子部品を移す前記部品供給手段は、第１のロータリーテーブルに隣接する部品供給ステーションに配置され；
部品供給ステーションで電子部品の供給された保持手段は、中間ステーションを介して待機ステーションに順次移送され；
保持手段から第２のロータリーテーブルに電子部品を戻す部品戻し手段が、第２のロータリーテーブルに隣接する部品戻しステーションに配置され；
検査ステーションから同時に退避した保持手段は退避ステーションから別の中間ステーションを介して部品戻しステーションに順次移送され；
保持手段は部品供給ステーション、待機ステーション、検査ステーション、退避ステーション、部品戻しステーションの間を循環して移送されていることを特徴とする請求項６記載の自動加工機の電子部品の電気特性検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品の特性検査をロータリーテーブル外に設けた検査ステーションで行なう電子部品の電気特性検査方法、および自動加工機の電子部品の電気特性検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子機器の小型化、薄型化に伴って電子部品も小型化、薄型化され、小さな電子部品の量産のために、ロータリーテーブルを利用した電子部品の自動加工機が提供されている。
【０００３】
一般的に、この種の電子部品の自動加工機は、ロータリーテーブルにパーツフィーダー、テーピングユニットを組合わせて構成されている。そして、パーツフィーダーから電子部品をロータリーテーブルに供給して、成形などの所定の機械加工を電子部品の一部、たとえばリード端子に施し、電子部品の表面に機種名、品番などを印字し、電気特性を検査し、不良品を排除して良品の電子部品をキャリアテープ（エンボステープ）の凹部に収納し、カバーテープでキャリアテープをシールすることにより、機械加工、印字、検査、テーピング（包装）などの一連の処理が電子部品に施されている。
【０００４】
つまり、つまり、ロータリーテーブルの割出し角度（間欠送り）をたとえば１５°とすれば、２４個の割出し位置（ステーション）が得られ、２４個の割出し位置のいくつかを利用して、機械加工・印字・検査・テーピングのステーションが設定され、対応する処理装置がロータリーテーブルの回りでステーションに配置されている。割出し位置に対応した２４個の支持手段、たとえばサポートヘッドがロータリーテーブルに１５°ずつ離反して設けられ、パーツフィーダーから供給された電子部品はサポートヘッドに支持保持されて、保持されたまま機械加工・印字・検査・テーピングのステーションに送られて、処理装置によって機械加工・印字・検査・テーピングなどの所定の処理が電子部品に施され、ロータリーテーブルが間欠駆動（間欠送り）される間に完成品としての電子部品が生み出されている。
【０００５】
ロータリーテーブルは間欠駆動されており、その間欠駆動は、機械加工・印字・検査・テーピングのうち、もっとも処理時間の遅い工程より早くできず、間欠駆動を早くすれば、１回転に要する時間が短縮されて単位時間での量産が可能となる。通常、機械加工に最大の時間を要するため、機械加工をいくつかの工程に分け、それぞれの工程での処理時間を短縮しロータリーテーブルの回転速度を高速化して量産効率を改善している。
【０００６】
電子部品の種類によって電気特性の検査項目が相違し、検査項目によって電気特性の検査時間が大きく相違する。たとえば、電子部品がトランジスタであれば、遮断電流、降伏電圧、飽和電圧、順方向電圧などが電気特性の検査項目となる。これらの検査項目の検査時間は数１０ｍｓであり、ロータリーテーブルの検査ステーションにおいても困難を伴うことなく行なえる。
【０００７】
たとえば電子部品がタンタルコンデンサであれば、漏れ電流が検査項目となり、漏れ電流の検査では、検査前に充電し、検査後に放電する必要があり、充電に長時間を要するため、検査時間としてたとえば３０ｓ程度が必要とされ、トランジスタの遮断電流などと比較してその検査時間がはるかに長い。
【０００８】
このような長時間を要する検査項目の検査は、量産効率の観点から、ロータリーテーブルの検査ステーションで行なうことは難しい。
【０００９】
長時間を要する検査項目の検査に関して、たとえば特開平１０−１１５６５１号公報のコンデンサの漏れ電流検査方法では、検査ステーション（検査ステージ）として、充電ステーション（充電ステージ）、測定ステーション（測定ステージ）、放電ステーション（放電）を設け、最も時間を要する充電ステーションを９つに分割して充電に要する時間を分散している。
【００１０】
検査ステーションを多数設けて、個々のステーションでの所要時間を分散するこの検査方法が、どのような装置に採用されるのか特開平１０−１１５６５１号公報に開示されていない。しかし、電子部品の自動加工機への応用は（理論上）不可能でない。そして、ロータリーテーブルの割出し角度を１５°とした場合の２４個のステーションのうちの１１個（充電ステーションが９個、測定ステーションおよび放電ステーションが各１個）を検査ステーションとすることも想定できる。
【００１１】
ここで、通常、検査ユニットはプローブのような接触式であり、検査ステーションを多数設ければ、検査ステーションの数だけプローブが電子部品に接触し、プローブ、電子部品が損傷しやすい。さらに、検査ステーションを多数設けて検査時間を分散すれば、検査が中断されるため、正確な測定が難しくなる。そのため、検査ステーションを多数設けて、個々のステーションでの所要時間を分散する検査方法を、電子部品の自動加工機に応用することは現実的でない。
【００１２】
機械加工のみをロータリーテーブルで行ない、印字、検査、テ−ピングの各ステ−ションをロータリーテーブルから分離し、機械加工の終わった電子部品をロータリーテーブルから取り出し、印字、検査、テ−ピングをロータリーテーブルの外部で行なう方法が、特開２００３−４５７４９号公報に記載されている。検査ステーションをロータリーテーブルの外部に設けたこの方法は、検査ステーションをロータリーテーブル上に設ける余地がないためであり、検査時間を考慮してロータリーテーブルの外部に検査ステーションを設けているのではない。
【００１３】
また、特開２００３−４５７４９号公報では、機械加工を行なう（第１の）ロータリーテーブルとは別の（第２の）ロータリーテーブルが設けられ、検査ステーションが第２のロータリーテーブルに設定されていることから、単一のロータリーテーブルにおいてなされると同様の方法で電気特性の検査がなされていることと考えられる。すなわち、電子部品を第２のロータリーテーブルに供給し、第２のロータリーテーブルを間欠駆動させる間に電気特性の検査がなされていると思われる。
【００１４】
別に設けた（第２の）ロータリーテーブルでは、電気特性の検査とキャリアテープへの電子部品の包装がなされているにすぎないため、検査ステーションとして多数のステーションが使用できる。そのため、検査ステーションを分割してその検査時間を分散することによって、時間を要する検査項目も比較的容易に検査できる。しかし、漏れ電流のような３０ｓという長時間を要する検査項目は、検査ステーションを分割してその検査時間を分散したとしても、第２のロータリーテーブルの回転速度は、第１のロータリーテーブルの回転速度より大幅に遅くならざるを得ない。
【００１５】
たとえば、漏れ電流の検査時間が３３ｓであり、検査ステーションとして、ステーションを１１個（充電ステーションが９個、測定ステーションおよび放電ステーションが各１個）設定しても、検査時間が３ｓに分散されるにすぎない。これに対して、第１のロータリーテーブルでは間欠駆動は０．３ｓ程度であり、第１、第２のロータリーテーブルを同期して駆動できない。そのため、回転速度の速い第１のロータリーテーブルの駆動を時々停止させて、第１、第２のロータリーテーブル間での電子部品の供給を調整する必要があり、第１のロータリーテーブルの回転速度に対応した量産効率が維持できない。また、検査ステーションを多数設ければ、プローブ、電子部品が頻繁に接触して損傷しやすく、さらに、検査時間の分散により検査が中断されて正確な測定が難しく、漏れ電流のような長時間を要する電気特性の検査は難しく現実的でない。
【特許文献１】特開平１０−１１５６５１号公報
【特許文献２】特開２００３−４５７４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
解決しようとする課題は、電気特性の検査における検査項目が検査に長時間を要する場合、量産効率の観点から、ロータリーテーブルの検査ステーションで行なうことは難しく、検査ステーションを分割して検査時間を分散させれば検査のためのステーションをロータリーテーブルに設定することができず、いずれにせよ、電子部品の自動加工機の量産効率を低下させることなく検査時間の長い検査項目を検査可能な検査方法がない点にある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明は、複数の電子部品を保持する保持手段を待機ステーションに待機させ、所定数の保持手段を検査ステーションに移送して、検査ステーションに配置した検査ユニットで保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査することを主要な特徴としている。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１記載の本発明では、複数の電子部品を保持手段に移し、検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送し、待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送して、検査ステーションに配置した検査ユニットで保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査している。この構成では、保持手段に保持されてから待機ステーションを経て検査ステーションに移送される直前までにかなりの時間が経過しこの時間を電子部品の検査時間として利用でき、多数の電子部品を同時に検査することによって検査時間を短縮できる。そして、長時間の検査時間が確保されるとともに検査時間が短縮化されるため、長時間を要する検査項目も支障なく行なえる。一度で検査できるため、検査時における検査ユニット、電子部品の接触回数が最少となり、接触に起因する検査ユニット、電子部品の損傷が防止できる。また、検査が中断されることなく一度で行なえるため、正確に検査できる。さらに、待機ステーションに待機して検査ステーションに同時に移送される保持手段の数を調整することにより、確保される検査時間が容易に調整できる。
【００１９】
請求項２記載の本発明では、検査ステーションをロータリーテーブル外に設定し、ロータリーテーブルから複数の電子部品を保持手段に移し、検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送し、待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送して、検査ユニットで保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査している。そのため、請求項１記載の本発明と同様の効果に加えて、検査中にロータリーテーブルから電子部品が連続的に供給されても十分対応でき、ロータリーテーブルを停止させる必要がなく、電子部品の自動加工機の量産効率を低下させることなく検査時間の長い検査項目も検査できる。
【００２０】
請求項３記載の本発明では、第１、第２のロータリーテーブル外で第１、第２のロータリーテーブルの間に電気特性を検査する検査ステーションを設定し、第１のロータリーテーブルから複数の電子部品を保持手段に移し、検査ステーションの手前に位置する待機ステーションに保持手段を順次移送し、待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送して、検査ステーションに配置した検査ユニットで保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査し、検査ステーションから所定数の保持手段を同時に取り除いた後、保持手段から電子部品を第２のロータリーテーブルに供給している。この構成では、請求項１記載の本発明と同様の効果に加えて、検査中に第１のロータリーテーブルから電子部品が連続的に供給されても十分対応でき、第１のロータリーテーブルを停止させる必要がなく、電子部品の自動加工機の量産効率を低下させることなく検査時間の長い検査項目も検査できる。
【００２１】
請求項４記載の本発明では、保持手段は待機ステーション、検査ステーションを介して循環して移送されているため、保持手段の移動が迅速、円滑に行なえる。また、保持手段が無駄なく使用され、最少の保持手段を用意すれば足りる。
【００２２】
請求項５記載の本発明では、複数の電子部品を保持する保持手段と、検査ステーションの手前に隣接する待機ステーションに保持手段を順次移送するとともに、待機ステーションから所定数の保持手段を検査ステーションに同時に移送する移送手段と、検査ステーションに配置されて、保持手段上の複数の電子部品の電気特性を検査する検査ユニットとを備えて構成されている。この構成では、保持手段に保持されてから待機ステーションを経て検査ステーションに移送される直前までにかなりの時間が経過しこの時間を電子部品の検査時間として利用でき、多数の電子部品を同時に検査することによって検査時間を短縮できる。そして、長時間の検査時間が確保されるとともに検査時間が短縮化されるため、長時間を要する検査項目も支障なく行なえる。一度で検査できるため、検査時における検査ユニット、電子部品の接触回数が最少となり、接触に起因する検査ユニット、電子部品の損傷が防止できる。また、検査が中断されることなく一度で行なえるため、正確に検査できる。さらに、待機ステーションに待機されて検査ステーションに同時に移送される保持手段の数を調整することにより、確保される検査時間が容易に調整できる。
【００２３】
請求項６記載の本発明では、電気特性検査装置はロータリーテーブル外の検査ステーションに配置され、電気特性検査装置は、複数の電子部品を保持する複数の保持手段と、ロータリーテーブルに隣接する部品供給ステーションに配置されてロータリーテーブルから保持手段に電子部品を供給する部品供給手段と、検査ステーションに位置し保持手段上の電子部品の電気特性を検査する検査ユニットと、検査ステーションの手前に隣接する待機ステーションに保持手段を移送するとともに所定数の保持手段を待機ステーションから検査ステーションに移送する搬入手段と、検査ステーションから所定数の保持手段を退避ステーションに同時に退避させる退避手段とを具備し、検査ステーションに移送された所定数の保持手段上の電子部品を検査ユニットで測定可能に構成されている。そのため、請求項５記載の本発明と同様の効果に加えて、検査中にロータリーテーブルから電子部品が連続的に供給されても十分対応でき、ロータリーテーブルを停止させる必要がなく、電子部品の自動加工機の量産効率を低下させることなく検査時間の長い検査項目も検査できる。
【００２４】
請求項７記載の本発明では、ロータリーテーブルとして、検査前の電子部品に一連の処理を施す第１のロータリーテーブルと、検査後の電子部品に一連の処理を施す第２のロータリーテーブルとが配置され、保持手段に電子部品を移す前記部品供給手段は、第１のロータリーテーブルに隣接する部品供給ステーションに配置され、部品供給ステーションで電子部品の供給された保持手段は、中間ステーションを介して待機ステーションに順次移送され、保持手段から第２のロータリーテーブルに電子部品を戻す部品戻し手段が、第２のロータリーテーブルに隣接する部品戻しステーションに配置され；検査ステーションから同時に退避した保持手段は退避ステーションから別の中間ステーションを介して部品戻しステーションに順次移送され、保持手段は部品供給ステーション、待機ステーション、検査ステーション、退避ステーション、部品戻しステーションの間を循環して移送されている。そのため、検査中に第１のロータリーテーブルから電子部品が連続的に供給されても十分対応でき、第１のロータリーテーブルを停止させる必要がなく、電子部品の自動加工機の量産効率を低下させることなく検査時間の長い検査項目も検査できる。また、保持手段が循環して移送されているため、保持手段の移動が迅速、円滑に行なえるとともに、保持手段が無駄なく使用され、最少の保持手段を用意すれば足りる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
供給される電子部品を保持手段に保持させ、保持手段が所定数集まるまで電気特性の検査の開始を待つことによって、電子部品の供給を中断させることなく、検査に使用可能な時間を十分に確保するとともに、大量の電子部品の電気特性を同時に検査することによって検査時間を短縮化することを実現した。
【実施例】
【００２６】
図１は本発明の電子部品の電気特性検査方法の概略図を示し、部品供給ステーションＡにおいて、電子部品１２が保持手段１４に供給されて保持される。図２に保持手段１４の一例を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は一部を破断した正面図である。図２（Ａ）（Ｂ）からわかるように、保持手段１４はその上面に多数の底付の保持孔１４ａを持つ板状部材から構成されている。
【００２７】
そして、保持手段１４は部品供給ステーションＡに間欠送りされ、部品供給ステーションで電子部品１２が保持手段の保持孔１４ａに１つずつ供給される。
【００２８】
図１において、電子部品１２を保持しない保持孔１４ａを白で、電子部品１２を保持した保持孔を黒で示しており、図面上、黒い保持孔は電子部品を示している。
【００２９】
電子部品１２がすべての保持孔１４ａに供給されると保持手段１４は中間ステーションＢを経て待機ステーションＣに順次送られる。待機ステーションＣは検査ステーションＤに隣接して手前に設定され、検査ステーションＤの背後に退避ステーションＥが設定されている。
【００３０】
本発明では、保持手段１４は待機ステーションＣから検査ステーションＤに直ちに送られず、所定数の保持手段が待機ステーションＣから検査ステーションＤに同時に送り込まれている。すなわち、待機ステーションＣに送られた保持手段１４は待機ステーションＣに待機し、所定数、たとえば、６個の保持手段が溜まると、待機ステーションＣから検査ステーションＤに同時に送られる。
【００３１】
所定数の保持手段１４が検査ステーションＤに同時に送られると、検査ステーションに位置する検査ユニット１６によって電気特性の検査が保持手段上の電子部材１２に対して同時に開始される。検査ユニット１６は、同時に検査される電子部品の数に対応した数の検査部材、たとえば、昇降可能なプローブ（図示しない）を備えている。たとえば、１つの保持手段１４に保持される電子部品１２が３６個、待機ステーションＣから検査ステーションＤに同時に送られる保持手段を６個とすれば、２１６個（＝３６×６）のプローブが同時に下降し、対応する電子部品に接触して所定の電気特性の検査が行なわれる。
【００３２】
検査が終了すると、プローブは上昇して初期位置に戻り、検査済の電子部品１２を保持する６個の保持手段１４は検査ステーションＤから次の退避テーションＥに同時に送り出される。退避ステーションＥに送られた６個の保持手段１４は、中間ステーションＦを経て順次送り出され、電子部品１２は、たとえば部品回収ステーションＧにおいて保持手段から回収されて次工程に移される。
【００３３】
検査ステーションＤで６個の保持手段１４の電子部品１２に対して検査がなされている間も、部品供給ステーションＡで保持手段に電子部品が次々と供給され、電子部品を満載した保持手段が中間ステーションＢを経て待機ステーションＣに送られ、検査ステーションＤでの検査が終了する直前までに、６個の保持手段が待機ステーションＣに送られる。そして、検査ステーションＤでの検査が終了して、６個の保持手段１４が検査ステーションＤから退避ステーションＥに送られると、待機ステーションＣに待機している次の６個の保持手段が待機ステーションＣから検査ステーションＤに同時に送り込まれ、検査装置による検査が開始される。
【００３４】
保持手段１４の移動について、図３を参照しながら詳細に説明する。なお、図３では、先行する１つ前の６個の保持手段１４−１を一点鎖線で、２つ前の６個の保持手段１４−２を２点鎖線で示すことにより、中間ステーションＢを経て待機ステーションＣに送られる保持手段１４と区別している。また、図面の複雑化を避けるために、保持手段１４による電子部品１２の保持状態を図示しない。
【００３５】
図３（Ａ）は、１つ前の６個の保持手段１４−１が待機ステーションＣから検査ステーションＤに、検査の終わった２つ前の６個の保持手段１４−２が検査ステーションＤから退避ステーションＥに送られた状態を示す。この状態において検査ステーションＤに送り込まれた６個の保持手段１４−１の電子部品１２に検査ユニット１６によって電気特性の検査が開始され、検査は図３（Ｄ）まで継続される。
【００３６】
図３（Ｂ）に示すように、保持手段１４−１が検査ステーションＤで検査されている間、待機ステーションＣには保持手段１４が中間ステーションＢを経て一つずつ送り込まれ、逆に、退避ステーションＥから保持手段１４−２が中間ステーションＦに１つずつ送り出される。４工程の図示が省略され、図３（Ｃ）では、待機ステーションＣには５個の保持手段１４が送り込まれて待機し、退避ステーションＥからは５個の保持手段１４−２が送り出されて１個の保持手段１４−２のみが退避ステーションＥに残っている。なお、退避ステーションＥから送り出された保持手段１４−２は中間ステーションＦを経て部品回収ステーションＧ（図１参照）に送られる。
【００３７】
このように、待機ステーションＣに保持手段１４が１つ送り込まれると、退避ステーションＥからの保持手段１４−２が１つ送り出されており、検査ステーションＤを挟んで、いわゆる「トコロテン」の押し出しのように保持手段１４（１４−２）が移動され、待機ステーションＣ、退避ステーションＥには、最大６個の保持手段がそれぞれ溜まるようになっている。
【００３８】
６個の保持手段１４が待機ステーションＤに待機するとともに、６個の保持手段１４−２が退避ステーションＥから中間ステーションＦに１つずつ送り出される。退避ステーションＥが空になる図３（Ｄ）の時点では、検査ステーションＤの保持手段１４−1の電子部品１２に対する検査は完了している。そして、図３（Ａ）に示すように、待機ステーションＣの６個の保持手段１４（図３（Ａ）では１４−１として図示されている）は検査ステーションＤに、検査ステーションＤの６個の保持手段１４−１（図３（Ａ）では１４−２として図示されている）は退避ステーションＥに同時に移され、検査ステーションＤに送り込まれた６個の保持手段に対して電気特性の検査が開始される。
【００３９】
本発明の電気特性検査方法では、供給される電子部品１２は保持手段１４に複数保持され、電子部品１２の保持された保持手段を待機ステーションＣに待機させて、所定数の保持手段が検査ステーションＤに一括して移送されて電気特性の検査が多数の電子部品に同時になされる。この方法では、保持手段１４に保持されてから待機ステーションＣを経て検査ステーションＤに移送される直前までにかなりの時間が経過し、この時間を先行する電子部品１２の検査時間として利用できる。また、多数の電子部品１２を同時に検査することによって検査時間を短縮できる。そのため、長時間の検査時間の確保および検査時間の短縮によって、長時間を要する検査項目も支障なく行なえる。一度で検査できるため、検査時における検査ユニットと電子部品１２とのの接触回数が最少となり、接触に起因する検査ユニット、電子部品の損傷が防止できる。また、検査が中断されることなく一度で行なえるため、正確に検査できる。もちろん、短時間ですむ１つの検査項目をいくつか組み合わせて複数項目の検査を連続的に行なってよい。なお、同時に検査すれば有利であるとはいえ、時間的に余裕があれば、必ずしも同時に検査する必要はない。
【００４０】
検査時間中に大量の電子部品１２が供給されても、複数の保持手段１４に電子部品を保持することで大量の電子部品１２の供給にも対応でき、電子部品を供給するサイドの量産効率が維持され、量産効率を低下させることなく検査時間の長い検査項目も検査できる。また、待機ステーションＣに待機させて検査ステーションＤに同時に移送される保持手段の数を調整することにより、確保される検査時間が容易に調整できる。
【００４１】
この電気特性検査方法は、ロータリーテーブルを利用して電子部品に一連の処理を施す電子部品の自動加工機に応用することができ、図４に自動加工機１０の一例を示す。自動加工機１０は電気特性検査装置２０と電気特性検査装置を挟んで配置された２つのロータリーテーブル２１、２２とを組合わせて構成され、第１のロータリーテーブル２１から電気特性検査装置２０に供給された電子部品１２に検査ステーションＤで電気特性の検査がなされ、検査済の電子部品は第２のロータリーテーブル２２に戻されている。ここでは、電子部品１２がロータリーテーブル２２に戻されているため、ステーションＧは部品戻しステーションということができる。
【００４２】
ロータリーテーブル２１、２２の割出し角度（間欠送り）を１５°とすれば、２４個の割出し位置（ステーション）が得られる。パーツフィーダーのような部品供給手段２４から電子部品１２が第１のロータリーテーブル２１に供給され、つまり、２４個の割出し位置のいくつかを利用して、機械加工などの前処理が電子部品に施されている。電子部品１２としてタンタルコンデンサを考えれば、タンタルコンデンサ（電子部品）のリード端子の成形(機械加工)が２つの成形手段２６（２６−２、２６−２）を利用してなされる。
【００４３】
ロータリーテーブル２１では、短時間で測定可能な電気特性も検査手段２７で測定されている。たとえば、オープン検査、ショート検査が検査手段２７−１で、静電容量検査、ｔａｎデルタ（コンデンサの損失角の正接）検査が検査手段２７−２で、ＥＳＲ（等価直列抵抗）検査が検査手段２７−３でなされ、オープン検査、ショート検査で不良品と判断された電子部品が回収手段２８によって回収されている。また、印字手段２９によって、機種名、品番などが電子部品１２の表面に印字されている。
【００４４】
機械加工、電気特性検査（一次検査）を経て、電子部品（タンタルコンデンサ）１２は、ロータリーテーブル２１から電気特性検査装置２０に移される。ロータリーテーブル２１に隣接して部品供給ステーションＡが設けられ、部品供給手段３０が配置されている。図５に示すように、部品供給手段３０は、たとえば、水平な支持軸３１の回りを間欠駆動される受渡テーブル３２を備えて構成され、受渡テーブルの間欠駆動に伴って電子部品１２がロータリーテーブル２１から保持手段１４に移されるように構成されている。
【００４５】
すなわち、ロータリーテーブル２１には、昇降可能なサポートへッド２３が、割出し位置（ステーション）と同じ数だけ設けられ、サポートヘッド２３に負圧を作用させて、その下端に電子部品１２を吸着・支持している。また、多数の、実施例では８個の支持アーム３３が受渡テーブル３２の一面に放射状に設けられ、この支持アーム３３にも負圧が作用してその先端で電子部品を吸着・支持するように構成されている。
【００４６】
サポートへッド２３の下降時にサポートへッド２３の負圧を除くとともに、支持アーム３３（３３Ｕ）の先端に負圧を作用させることにより、水平面で間欠駆動されるロータリーテーブル２１と垂直面で間欠駆動される受渡テーブル３２との交差位置で、ロータリーテーブル２１のサポートへッド２３から受渡テーブル３２の最上位の支持アーム３３（３３Ｕ）に電子部品１２が移される。そして、受渡テーブル３２の間欠駆動によって支持アーム３３が最下位に至ると、最下位の支持アーム３３（３３Ｌ）は保持手段１４の保持孔１４ａの直ぐ真上に位置し、この位置で支持アーム３３（３３Ｌ）への負圧を除いて吸着・支持を解除することにより、電子部品１２は支持アーム３３（３３Ｌ）から保持孔１４ａに移され、保持手段１４に供給される。
【００４７】
保持手段１４は電気特性検査装置２０において循環して移送されており、図４からわかるように、その移送路は搬入レーンＬ１、検査レーンＬ２、搬出レーンＬ３、回収レーンＬ４にほぼ４分割され、搬入レーンＬ１が搬出レーンＬ３に、検査レーンＬ２が回収レーンＬ４にそれぞれ対向した略正方形の移送路が形成されている。
【００４８】
搬入レーンＬ１において、保持手段１４は移送手段によって移送されており、部品供給ステーションＡを含む搬入レーンＬ１の前半部では間欠送りされ、中間ステーションＢを含む後半部では連続送りされている。つまり、保持手段１４は、たとえば一軸ロボットによって供給ステーションＡまで間欠送りされ、間欠送りされる間に、部品供給手段３０によって保持手段１４の保持孔１４ａに電子部品１２が順次供給される。すべての保持孔１４ａに電子部品１２が供給されて満載されると、保持手段は連続送りされて中間ステーションＢまで送られる。搬入レーンＬ１の移送手段は、検査レーンＬ２の待機ステーションＣの移送手段とともに、検査ステーションへＤへの保持手段１２の搬入手段として機能している。
【００４９】
検査レーンＬ２の前半部には待機ステーションＣが、中間部には検査ステーションＤが、後半部には退避ステーションＥが設定されており、中間ステーションＢに至った保持手段１４は別の移送手段、たとえば、エアシリンダによって中間ステーションＢから待機ステーションＣに送られる。
【００５０】
検査レーンＬ２の待機ステーションＣ、検査ステーションＤ、退避ステーションＥには、保持手段１４を移送する移送手段がそれぞれ配置されている。そして、図３（Ｂ）（Ｃ）に示すように、中間ステーションＢから待機ステーションＣに保持手段１４が送られるとともに、２つ前の保持手段１４−２が退避ステーションＥから中間ステーションＦに送られる場合には、待機ステーションＣ、退避ステーションＥの移送手段がそれぞれ同期して間欠駆動されて、保持手段１４、１４−２を１つずつ移送している。
【００５１】
保持手段１４が待機ステーションＣに１つずつ送られて、図３（Ｄ）に示すように、６個の保持手段が待機ステーションＣに待機すると、待機ステーションＣ、検査ステーションＤ、退避ステーションＥのそれぞれの移送手段が同期して連続駆動されて、１つ前の６個の保持手段１４−１は検査ステーションＤから退避ステーションＥに移されるとともに、待機ステーションＣに待機中の６個の保持手段１４は待機ステーションＣから検査ステーションＤに送り込まれる。そして、図３（Ａ）からわかるように、検査ステーションＤにおいて６個の保持手段１４−１の電子部品１２に対して検査ユニット１６により電気特性の検査が開始される。
【００５２】
図３（Ｂ）に示すように、待機ステーションＣの移送手段に同期した、退避ステーションＥの移送手段の間欠駆動によって、保持手段１４−２が１つずつ退避ステーションＥから中間ステーションＦに送り出されることはいうまでもない。なお、待機ステーションＣの移送手段と退避ステーションＥの移送手段とは同期して間欠駆動または連続駆動されており、これらの２つの移送手段を共用の移送手段に代えてもよい。
【００５３】
検査レーンＬ２の待機ステーションＣの移送手段は、搬入レーンＬ１の移送手段とともに、検査ステーションＤへの保持手段１２の搬入手段として機能し、退避ステーションＥの移送手段は、検査ステーションＤからの保持手段の退避手段として機能している。
【００５４】
搬出レーンＬ３も、搬入レーンＬ１と同様に、その前半部では間欠送りされ、後半部では連続送りされている。搬出レーンＬ３には中間ステーションＦ、部品戻しステーションＧが設定され、部品戻しステーションＧには、第１のロータリーテーブル２１から保持手段１４に電子部材１２を移す部品供給手段３０と同一の構成で逆の機能の別の部品供給手段３０'が配置されている。つまり、部品戻しステーションＧの部品供給手段は、水平な支持軸の回りを間欠駆動される受渡テーブルを備えて構成され、受渡テーブルの間欠駆動に伴って、電子部品１２が部品戻しステーションＧにおいて保持手段１４から第２のロータリーテーブル２２のサポートへッドに移されて吸着・支持されるように構成されている。
【００５５】
搬出レーンＬ３において、保持手段１４は部品戻しステーションＧまで間欠送りされ、電子部品が第２のロータリーテーブル２２に移されて空になった保持手段１４は搬出レーンＬ３の先端まで連続送りされる。搬出レーンＬ３の先端に至ると、中間ステーションＢから待機ステーションＣへの移送手段と同様の移送手段によって、保持手段１４は回収レーンＬ４に移され、回収レーンＬ４の移送手段の連続送りによって、回収レーンＬ４の端まで送られ、搬入レーンＬ１に移されてから供給ステーションＡまで間欠送りされる。
【００５６】
保持手段１４の移送路（搬入レーンＬ１、検査レーンＬ２、搬出レーンＬ３、回収レーンＬ４）が循環路を形成し、保持手段が循環して移送されることにより、保持手段の移動が迅速、円滑に行なえ、電気特性検査装置２０が容易に自動化、小型化でき、電気特性検査装置２０を組み込んだ電子部品の自動加工機も容易に自動化、小型化できる。また、保持手段１４を循環させることにより、保持手段１４が無駄なく使用され、最少の保持手段を用意すれば足りる。
【００５７】
第２のロータリーテーブル２２も１５°で間欠駆動されており、２４個のステーションを利用して電子部品１２に一連の処理が施されている。たとえば、第２のロータリーテーブル２２では、主として不良品の回収とテーピング（包装）といった処理が行なわれている。つまり、第１のロータリーテーブル２１での静電容量検査、ｔａｎデルタ検査における不良品が回収手段３６−１で、ＥＳＲ検査での不良品が回収手段３６−２で、電気特性検査装置２０での漏れ電流検査での不良品が回収手段３６−３で回収されている。
【００５８】
さらに、電子部品１２の外形が画像検査手段３８によって検査され、不良品が回収手段３６−４で回収される。そして、各種の検査を合格した良品の電子部品のみが、テーピング手段４０によって、キャリアテープ（エンボステープ）の凹部に収納され、カバーテープでキャリアテープをシールして、最終的な製品が得られる。
【００５９】
なお、図６に示すように、検査ユニット１６、ロータリーテーブル２１、２２・・・・テーピング手段４０、電気特性検査装置２０での保持手段の移送路における各種の移送手段は、マイクロプロセッサを内蔵するコントロールユニット４２によって所定のプログラムのもとで制御されている。
【００６０】
実施例では、電子部品の自動加工機１０は、電気特性検査装置２０と第１、第２のロータリーテーブル２１、２２とを組合わせて構成され、第１のロータリーテーブル２１で、機械加工、短時間の検査および回収、印字の処理が、電気特性検査装置２０で漏れ電流検査のような長時間の検査が、第２のロータリーテーブル２２で画像検査および不良品の回収、テーピングの処理が電子部品になされている。しかし、これは一例であり、第１、第２のロータリーテーブル２１、２２でなされる処理の内容はこれに限定されない。
【００６１】
また、２つのロータリーテーブル２１、２２を使用せず、電気特性検査装置２０で電子部品を長時間検査してから、第１のロータリーテーブルに戻して、画像検査などの処理を施してもよい。２つのロータリーテーブル２１、２２を使用した自動加工機１０においては、検査中に第１のロータリーテーブルから電子部品１２が連続的に供給されても十分対応でき、量産効率を落とすことなく、長時間の検査時間が確保できる。また、ロータリーテーブルを１つしか使用しない構成においては、自動加工機１０を小型化できる。なお、長時間を要する検査だけでなく、短時間でなされる検査項目を電気特性検査装置２０で連続的に行なってもよい。
【００６２】
上述した実施の形態は、この発明を説明するためのものであり、この発明を何等限定するものでなく、この発明の技術範囲内で変形、改造等の施されたものも全てこの発明に包含されることはいうまでもない。
【００６３】
たとえば、電子部品１２を保持した保持手段１４は、待機ステーションＣに所定数溜まると、待機ステーションＣから検査ステーションＤに「同時」に送り込まれ、検査後、検査ステーションＤから退避ステーションＥに「同時」に送り出されるが、無駄な時間をなくすために「同時」に送られているのであり、「同時」という文言から逃げるために時間をずらして送られた場合も、「同時」に送られたものとしてこの発明に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００６４】
電子部品が連続的に供給されても、供給を中断することなく、電気特性の検査に必要な時間が確保できるから、検査に長時間を要する各種の電子部品の電気特性の検査に広範囲に応用できる。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の一実施例に係る電子部品の電気特性検査方法を説明する概略図である。
【図２】電子部品を保持する保持手段を示し、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は一部を破断した正面図である。
【図３】中間ステーション、待機ステーション、検査ステーション、退避ステーション、別の中間ステーションの間における保持手段の移動状況を示す図である。
【図４】本発明の一実施例に係る電気特性検査装置の組み込まれた電子部品の自動加工機の概略図である。
【図５】ロータリーテーブルから保持手段に電子部品を移送する受渡手段の概略図である。
【図６】コントロールユニットによる制御を示す図である。
【符号の説明】
【００６６】
１０  電子部品の自動加工機
１２  電子部品
１４  保持手段
１６  検査ユニット
２０  電気特性検査装置
２１、２２  ロータリーテーブル
３０  部品供給手段
３２  受渡テーブル
Ａ    部品供給ステーション
Ｂ    中間ステーション
Ｃ    待機ステーション
Ｄ    検査ステーション
Ｅ    退避ステーション
Ｆ    中間ステーション
Ｇ    部品戻し(部品回収)ステーション
Ｌ１〜Ｌ４    保持手段の移送路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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