(57)【要約】  【課題】  磁気抵抗効果を利用したヘッドを使用た磁気ディスク装置に関するもので、使用時における環境温度の変化に対応して使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することにより、装置全体の性能を高めんとするものである。  【解決手段】  磁気ディスク装置の温度変化を検知する温度検知手段１３を有し、その温度検知手段１３の検知温度の変化に応じて、オフセット測定手段によりリードライトオフセット量を測定し、その値により補正に使用されるリードヘッドと前記ライトヘッド間のリードライトオフセット量を変更することを特徴とする。【選択図】  図１
2005141874.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
リードヘッドとライトヘッドが分離している磁気抵抗効果型ヘッドを使用し、前記ライトヘッドにより磁気ディスクにデータを記録し、前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからのデータを読み取る磁気ディスク装置において、磁気ディスク装置の温度変化を検知する温度検知手段を有し、その温度検知手段の検知温度にもとづいて、補正に使用される前記リードヘッドと前記ライトヘッド間のリードライトオフセット量を変更することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記検知温度にもとづいて変更されるリードライトオフセツト量は、磁気ディスク装置内に予めデータとして検知温度に対応して格納保持されていることを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
リードライトオフセツト量を測定するオフセツト量測定手段を有しており、前記温度検知手段から検知温度が予め定められた複数の温度領域内に成った際に、前記オフセツト量測定手段によりリードライトオフセット量を測定し、その測定されたリードライトオフセット量を使用することを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記オフセツト量測定手段により測定された各温度領域ごとのリードライトオフセツト量は、データとしてそれぞれ格納保持されており、次に前記温度検知手段がそれらの温度領域の温度を示す際には、前記格納保持されたリードライトオフセット量をそれぞれ使用することを特徴とする請求項３記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記温度検知手段が、前記リードヘッドであることを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記オフセツト量測定手段のリードライトオフセット量の測定は、磁気ディスク装置のアイドル時に実行されることを特徴とする請求項３記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
磁気ディスクに対する磁気ヘッドの相対的な位置を元に計算した幾何学的なリードライトオフセット量を計算する手段を有し、その計算した幾何学的なリードライトオフセット量を使用して、前記オフセット量測定手段によりリードライトオフセット量の測定を実行することを特徴とする請求項３記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は磁気抵抗効果を利用したヘッドを使用して磁気ディスクにデータを記録再生する磁気ディスク装置（国際特許分類  Ｇ１１Ｂ  ２１／１０）に関するものであり、その磁気抵抗効果型ヘッドの制御方法を改善することにより装置全体の性能を高めんとするものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、磁気ディスク装置（ＨＤＤ：ハードディスクドライブ）の大半は、年々増加する記録密度の要求に伴いさまざまな要素技術が高められてきた。ＨＤＤの記録密度を決定する要素としては磁気ヘッド、記録媒体，記録再生チャンネル、位置決め機構などがある。今後更に記録密度の向上を現状トレンドに沿って持続していくためには、個々の要素技術を改善するだけではなくそれぞれの要素技術をシステムとして組み合わせ、トータルの効果として検討をすることが肝要と思われる。具体的には、超高密度化を達成するにはディスクの線記録密度方向（ＢＰＩ）と半径方向（ＴＰＩ）ともに記録密度を飛躍的に向上させる必要が生じてくる。
【０００３】
磁気ヘッド技術に関して言えば、リードヘッドとライトヘッドが分離された状態で同じスライダーに実装された構造の形態が取られている。そしてリードヘッドとしてはＧＭＲ（巨大磁気抵抗）ヘッドを採用し、またライトヘッドとしては誘導型ヘッドを使用している。ＧＭＲヘッドを採用したことは、磁気記録信号の再生能力を高めることに成功し、また主としてディスクの線記録方向への高密度化に大きく寄与してきた。このＧＭＲヘッドにより読み出されるデータを記録する磁気メディアについてはローノイズ化や高保磁力化等の技術が、そしてＨＤＩ（ヘッドディスクインターフェース）やメカサーボ系ではヘッドの低浮上量やヘッド位置決め技術が高められてきてディスク半径方向の記録密度向上に大きく貢献してきた。
【０００４】
図１１（Ａ）はハードディスクドライブの磁気ヘッド浮上概念を示す斜視図であり、ヘッドを実装しているスライダー１１０は、ヘッドアクチュエータのサスペンション１１１によって磁気ディスク１１２の上を浮上した状態にて保持されている。このスライダー１１０の先端部には、同図（Ｂ）に示すように磁気ヘッド１１３が実装されている。磁気ヘッド１１３は同図（Ｃ）に示されるように、ライトヘッドのライトギャップ１１４とリードヘッドのリードギャップ１１５が分離された構造になっており、物理的に異なる位置に配置されている。
【０００５】
ハードディスクドライブの構造としては、図１２に磁気ディスク周辺の機構部の概略平面図を示すように、ヘッド構造物１２０はアクチェータ１２１の回動軸１２１ａを支点にして回転運動をしながら磁気ディスク１１２上をアクセスする。なお図１２において、ａはアクチュエータ１２１の回動軸１２１ａからの磁気ディスク中心の距離、Ｌはアクチュエーターの回動軸１２１ａからのヘッドギャップまでの距離、ｒは磁気ディスク中心からのアクセスしているデータトラックまでの距離である。磁気ディスク１１２上のデータトラックの接線方向ｓと、ヘッド構造部１２０の中の、信号を記録するライトヘッドと、再生信号を感知し読み出すリードヘッド１１４がある部分により作られる、いわゆるヘッドギャップ１２２とアクチェータ１２１のセンターを結ぶ直線ｔとの間にはスキュー角１２３（θ）が生じる。スキュー角１２３はヘッド構造物１２０がアクセスするデータトラックによって、それぞれ固有の値を有する。そしてこの光学的オフセット量とスキュー角１２３等によって、光学的オフセット量が発生するのである。ヘッドギャップ１２２が磁気ディスク１１２の内周側に位置する場合と外周側に位置する場合では、同一のトラック位置に対してライトヘッドとリードヘッドは磁気ディスク１１２の半径方向に対し物理的に異なる位置関係となる。すなわち、ライトヘッドがトラックセンターとなる物理的位置とリードヘッドがトラックセンターになる物理的位置が異なる。このためリードライトの特性を高めるためには１つはスライダー内にリードヘッドとライトヘッドを精度良く取り付けることである。しかしながら実際のヘッドではリードヘッドとライトヘッドにてリードライトオフセット量が発生する。したがって、ヘッドが複数存在する機種についてはそれぞれのヘッドに対して最適なリードライトオフセット量を設定する。
【０００６】
そこで、現在提案されている、ＴＰＩ方向に対するヘッド構造部１２０のリードライトオフセット量の補正を行う方法について、図１３を参照しつつ、簡単に説明する。
【０００７】
まず、磁気ディスク１１２の各ゾーンにおける任意のポイントでのヘッド構造部１２０のリードライトオフセット量を実測する。次いで、その実測値をそのゾーン全体におけるヘッド構造部１２０のリードライトオフセット量として決定する。この値は、固定磁気記録装置を製造して出荷する際に、予め固定磁気記録装置に記憶させておき、実際に固定磁気記録装置を用いる時にこの値を利用する。この方法では、実際には、あるデータトラックに対するオフセット量は、そのデータトラックが含まれるゾーンで実測されたリードライトオフセット量が適用されている。また以上の方法に加え、更に、測定ポイント以外のデータトラックに関しては直線補完を行う方法に関する提案もある。
【０００８】
図１３において実線で示したものが、上記方法で採用されたオフセット量であり、破線で示したものが直線補完をおこなったオフセット量である。尚、直線補完の方法について、ここでは説明を省略する。
【０００９】
従来のリードライトオフセット量自体を測定する方法としてはリードチャンネルを使いＭＳＥ（Ｍｅａｎ  Ｓｑｕａｒｅ  Ｅｒｒｏｒ）を分析して行う方法がある。（例えば特許文献１参照）
しかしながらデータ記憶装置の温度変化に対する対応については具体化されていなかった。また、温度を検知する手段としてはリードヘッド温度監視の手段として使う方法が提案されている。（例えば特許文献２参照）
【特許文献１】特開１１−３５３８２８号公報
【特許文献２】特開２０００−２３５７０１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
磁気ヘッドや磁気ディスクの周辺温度が変化すると磁気ディスクの保磁力が変化する。図１４に磁気ディスク保磁力の温度依存性の例を示す。図１４において、横軸が温度変化で縦軸が磁気ディスクの磁性層の保磁力（Ｈｃ）であり、温度が低いほど保磁力は大きくなることがわかり、逆に温度が高くなるにつれて保磁力は小さくなっていく傾向にある。この例では温度１度につき約２０Ｏｅの変化がある。一般的に、保磁力が大きくなることは磁気ディスクにデータを書き込みにくくなることであるから、磁気的なトラック幅は低温で小さくなり高温では大きくなる傾向にある。また磁気的なトラック幅の変化は線形的に変化するものではない。したがって磁気的なトラック幅だけでなくリードライトオフセット量に関しても温度で変化する。現状では工場出荷時にある１つの温度にて計測したリードライトオフセット量を、ユーザーが使用するときにたとえ温度が変化してもそのまま使用している。例として工場出荷時に６０℃の温度でリードライトオフセット量を計測した場合は、ユーザーが５℃の環境下で使用したとしても６０℃でのリードライトオフセット量の値を採用することになる。特にモバイル用途のハードディスク装置などでは従来のＰＣ用途に使われるものに比べてユーザーが使用する温度範囲は拡大している。よって常にある１つの温度で設定された値を使うことは好ましくない。また年々記録密度が上昇しトラック幅が０．２ｕｍ以下になってきている状況では、適切なリードライトオフセット量でないとデータ読出の際にエラーが生じる可能性が従来以上に高くなり、やはり好ましくない。即ち、従来の方法であれば、磁気ディスクドライブ装置の最適なパフォーマンスを引き出せずにいることになり問題であった。
【００１１】
そこで本発明はこのような問題点に鑑みて為されたものであり、その目的は、ヘッド構造部のオフセット量を常により最適なものとなるように調整可能とすることで、ＧＭＲヘッドからの再生効率を高められたり、またシーク時間を抑え、データ読出時のエラー発生率を低減させることを可能にせんとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の磁気ディスク装置は、磁気ディスク装置に、その磁気ディスク装置の温度変化を検知する温度検知手段を設け、その温度検知手段の検知温度にもとづいて、補正に使用されるリードヘッドとライトヘッド間のリードライトオフセット量を変更することを特徴とする磁気ディスク装置であり、それぞれのユーザーの使う環境下において最も良いエラーレートを引き出すことができ製品自体の信頼性を高めることができる。
【発明の効果】
【００１３】
以上のように本発明によると、本発明の磁気ディスク装置によれば、ヘッド構造部のオフセット量を常に最適なものとなるように調整可能とすることで、ＧＭＲヘッドからの再生効率を高められたり、またシーク時間を抑え、データ読出時のエラー発生率を低減させることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明の請求項１に記載の発明は、リードヘッドとライトヘッドが分離している磁気抵抗効果型ヘッドを使用し、前記ライトヘッドにより磁気ディスクにデータを記録し、前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからのデータを読み取る磁気ディスク装置において、磁気ディスク装置の温度変化を検知する温度検知手段を有し、その温度検知手段の検知温度にもとづいて、補正に使用される前記リードヘッドと前記ライトヘッド間のリードライトオフセット量を変更することを特徴とする磁気ディスク装置であり、この構成により従来の装置に比べてユーザーが使用する温度が変化しても使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。
【００１５】
本発明の請求項２に記載の発明は、前記検知温度にもとづいて変更されるリードライトオフセット量は、磁気ディスク装置内に予めデータとして検知温度に対応して格納保持されていることを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置であり、この構成により従来の装置に比べてユーザーが使用する温度が変化しても速やかに使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。
【００１６】
本発明の請求項３に記載の発明は、リードライトオフセット量を測定するオフセット量測定手段を有しており、前記温度検知手段から検知温度が予め定められた複数の温度領域内に成った際に、前記オフセット量測定手段によりリードライトオフセット量を測定し、その測定されたリードライトオフセット量を使用することを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置であり、比べてユーザーが使用する温度が変化しても速やかに使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。
【００１７】
本発明の請求項４に記載の発明は、前記オフセツト量測定手段により測定された各温度領域ごとのリードライトオフセツト量は、データとしてそれぞれ格納保持されており、次に前記温度検知手段がそれらの温度領域の温度を示す際には、前記格納保持されたリードライトオフセット量をそれぞれ使用することを特徴とする請求項３記載の磁気ディスク装置であり、オフセツト量測定手段により測定された各温度領域ごとのリードライトオフセツト量は、データとしてそれぞれ格納保持されているため、次に前記温度検知手段がそれらの温度領域の温度を示す際には、前記格納保持されたリードライトオフセット量をそれぞれ使用するのでより速やかに使用環境下での最適なリードライトオフセット量を設定することが可能となる。
【００１８】
本発明の請求項５に記載の発明は、前記温度検知手段が、前記リードヘッドであることを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置であり、温度検知手段として新たに検知素子を配置する必要なく、リアルタイムで温度の検出が可能ないものである。
【００１９】
本発明の請求項６に記載の発明は、前記オフセツト量測定手段のリードライトオフセット量の測定は、磁気ディスク装置のアイドル時に実行されることを特徴とする請求項３記載の磁気ディスク装置であり、オフセツト量測定動作によって、ユーザーが使用するときに影響を与えないようにリードライトオフセット量の測定が可能なものである。
【００２０】
本発明の請求項７に記載の発明は、磁気ディスクに対する磁気ヘッドの相対的な位置を元に計算した幾何学的なリードライトオフセット量を計算する手段を有し、その計算した幾何学的なリードライトオフセット量を使用して、前記オフセット量測定手段によりリードライトオフセット量の測定を実行することを特徴とする請求項３記載の磁気ディスク装置であり、実効的なリードライトオフセット量を測る前に、予めその値がどの辺りに存在するかを推測することができ、より速やかな測定が可能となる。
【００２１】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明をする。
【００２２】
（実施の形態１）
図１は、本発明における実施の形態１の磁気ディスク装置の構成を示すブロック図であり、１０は磁気ディスク、１１は磁気ヘッド、１２は増幅器、１３は温度検知手段、１４はＡＤ変換器、１５は温度算出手段、１７は最適化判定手段、１８はオフセット測定手段、１６はデータ格納手段である。
【００２３】
磁気ディスク１０はユーザーの情報やサーボ情報などの磁気信号を記録している。磁気ヘッド１１はリードヘッド及びライトヘッドを含み磁気ディスク１０とのデータの読み書きを行う。増幅器１２は磁気ヘッド１１の信号を増幅する。温度検知手段１３は磁気ディスク１０の近傍に配置されており温度を検知する。温度が変わると温度検知手段から出力されるアナログの値が変わる。この温度検知手段１３として、具体的には磁気ヘッド１１にあるリードヘッドを用いても或いは温度センサーを配備しても差し支えない。
【００２４】
図２に温度検知手段１３として例えばリードヘッドを用いたとき、リードヘッドの温度に対する抵抗値のアナログ値の変化の様子を示す。温度が変化するとこれに応じて、ヘッドの抵抗値がアナログ的に変化する。なお温度の監視は例えばヘッドがリードライトしていないサーボやデータ領域以外の磁気ディスク１０上の場所を通過しているとき、あるいは複数のヘッドが存在する装置では使用していないヘッドで行うことによってリアルタイムに行うことができる。ＡＤ変換手段１４ではリードヘッドの温度変化に伴う抵抗値の値をデジタル値に変換する。温度算出手段１５ではＡＤ変換手段から送られてきているリードヘッド抵抗値のデジタル値を分析し現状の温度を算出する。図２に示されるような抵抗値の温度依存性の相関を全ての磁気ヘッドについて予め工場出荷時に把握しておけば抵抗値を基に温度を算出することができる。また温度検知手段１３として温度センサーを採用した場合でも同様に温度を把握できる。
【００２５】
データ格納手段１６では工場出荷時に作成された図２に示されるような抵抗値を温度に換算するテーブルや、図３のような工場出荷時に測定された各ヘッドの各半径ごとにある固有のリードライトオフセット量のテーブルをそれぞれ格納している。最適化判定手段１７では温度算出手段１５にて算出された温度が現在設定されているリードライトオフセット量に対して妥当かどうかを判断する。例えば工場出荷時にリードライトオフセット量を測定した温度が２５度であるとする。最適なリードライトオフセット量を再測定するかどうかの判断は下記対応表に基づく。このテーブルもデータ格納手段１６に収められる。
【００２６】
温度算出手段による検知温度    リードライトオフセット量再測定の要否
０℃〜１０℃        再測定
１０℃〜２０℃        再測定
２０℃〜３０℃        工場出荷時の値を使用
３０℃〜４０℃        再測定
４０℃〜５０℃        再測定
５０℃〜６０℃        再測定
この例では温度の範囲を１０℃で設定しているが開発段階での製品設計の仕様やリードヘッドの特性により機種や個々の磁気ヘッドによって可変にすることは差し支えない。温度算出手段１５での検知温度が３５度の場合では上記の対応表により再測定必要と判定される。オフセット測定手段１８では、最適化判定手段１７にて再測定が必要であると判断された場合にリードライトオフセット量を測定する。たとえばユーザーがデータを書き込んだり、読み出していないアイドル時に行えば使用に際して差し障りがない。
【００２７】
図３にリードライトオフセット量の測定アルゴリズムの例を示す。まずＶＣＭ（ボイスコイルモータ）を駆動して、磁気ヘッドを測定する位置に大まかにシークする（ステップＳ０２）。そして測定のする領域周辺の場所をＤＣイレーズし、すでに書き込まれている信号が今回の計測に影響を及ぼさないように初期化する（ステップＳ０３）。通常書込みヘッドのメカニカルなトラック幅の５倍程度の領域をイレーズすれば十分である。例えばヘッドのトラック幅が０．３μｍであるならば０．３×５＝１．５μｍＤＣイレーズすればよい。次に測定する場所に微細にシーク（マイクロシーク）する（ステップＳ０４）。その次に測定データを現在オントラックしてある位置で書き込む（ステップＳ０５）。
【００２８】
通常は実際にその半径位置で使用するデータ周波数の中で低い周波数（ＬＦ）を使って書き込む。同じ半径に於いても記録したいデータによってあるときは例えば１００００００１のように０が１と１の間に６つあるときがあり、また１０００１のように３つある場合が生じる。試験の周波数としては１と１の間の間隔が広い（１の間に０が多い）ＬＦを採用するということである。またこの書き込む範囲は必ずしもトラック全周である必要はない。例えばインデックスからＬＦの２０周期分を測定するように設定する。そして今書き込んだ位置をセンター基準として内周にマイクロシークする（ステップＳ０６）。この値はメカニカルなトラック幅が例えば０．５μｍであるならば１．０μｍ内周側にマイクロシークするというように行う。なお今回はまず内周側にシークするように説明してあるが外周側からシークしても構わない。続いてそのマイクロシークした場所で予めセンター位置でＬＦで書き込んである試験信号のＴＡＡ（Ｔｒａｃｋ  Ａｖｅｒａｇｅ  Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ）を測定する（ステップＳ０７）。このデータをバッファ等のメモリーに格納しておく。次に外周側にマイクロステップする（ステップＳ０８）。
【００２９】
このマイクロステップ量は実効トラック幅を測定する時の分解能であるので小さければ小さいほど測定精度は上がる。しかしながら小さくするほど逆に測定に時間を要するので適当な値を設定する必要がある。例えばメカニカルなトラック幅が０．５μｍであるならばマイクロステップは０．０５μｍ程度にすれば十分である。最初に設定したマイクロシークが限界に達したかどうかを判定する（ステップＳ０９）。
【００３０】
そして、マイクロシークが限界に達していなければ再びステップＳ０７とステップＳ０８を繰り返す。このデータをまたバッファ等のメモリーに格納しておく。そしてマイクロシークの限界に達したらステップＳ１０でリードライトオフセット量を計算する。リードライトオフセット量とはデータを書き込んだ位置を原点としたときの、ＴＡＡの値が最も大きいときのマイクロシーク量である。これで一連のリードライトオフセット量測定の動作を終える。
【００３１】
図４にある温度でのＴＡＡの測定結果例を示す。３つグラフがあるがディスクのＩＤ（内周）、ＭＤ１（中周）、ＯＤ（外周）での結果である。グラフの横軸がマイクロステップ量で縦軸がそれぞれの位置において測定したＴＡＡの値である。なお個々のヘッドではＴＰＩ方向の位置を変えた時のＴＡＡの特性が異なっている。無論それぞれの磁気ヘッドでリードライトオフセット量は異なる。
【００３２】
磁気ディスク上の同じ場所でもたとえば、温度が５℃、２５℃、４５℃になっているときでのリードライトオフセット量は図５のようになる。図１で、温度算出手段１５にて示された温度により、最適化判定手段１７が再測定必要と判断した場合は磁気ディスク上のあるポイント（たとえばＩＤ）でリードライトオフセット量を再計測し、その結果をオフセットテーブルに更新する。ＭＤ、ＯＤに関してはＩＤでの温度に対するリードライトオフセット量の変化を分析することによってオフセット量の温度依存性を実測することなく推測することにもできる。これによりアイドル状態にオフセット量を再計測する時間を短縮できる。そして規定以上の温度変化が検出され、再び最適化判定手段１７が再測定必要と判断するまでこの値を使用する。このような方法を用いることによって最適なリードライトオフセット量を、現在使用している温度環境に沿ってリアルタイムに設定することができる。
【００３３】
（実施の形態２）
本発明における実施の形態２の磁気ディスク装置は、予めリードヘッドと前記ライトヘッド間のリードライトオフセット量を複数の温度にて測定しておき、その複数の温度にてリードライトオフセット量を測定したときのデータを格納し、その複数の温度にて測定した時に対応するリードライトオフセット量を参照し温度に対するリードライトオフセット量の相関テーブルを生成する相関テーブル生成する機能を有している。図６はその流れを示すフローである。
【００３４】
図６において、まず磁気ヘッド、磁気ディスク周辺の温度に関連する情報を検知する（ステップＳ１３）。たとえば検知する手段としてヘッドを採用した場合はリードヘッドの抵抗値のアナログデータを使う。次にステップ１３で得たアナログの温度に関連する情報をデジタルデータに変換する（ステップＳ１４）。それからデジタル化された情報を元に現状の温度を算出する（ステップＳ１５）。たとえば図２のようなヘッド抵抗値と温度の相関関係をもとに現状の温度を計算する。そして現状の温度環境下にて図４に示されるようなトラックプロファイルを作成しリードライトオフセット量を磁気ディスク上の数ポイントにて作成する（ステップＳ１６）。ステップ１６で各ヘッドごとに磁気ディスク上の数ポイントにて測定したリードライトオフセット量を格納する。このとき測定した温度条件のデータも同時に記録しておく。格納するデータ例としては以下のような表になる。
リードライトオフセット（ｕｍ）  温度（℃）
磁気ディスク半径      ヘッド１      ヘッド２            
ＩＤ                  ０．１６７    ０．１２９        ２５
ＭＤ１                −０．３５３  −０．３９３      ２５
ＭＤ２                −０．６９３  −０．７３３      ２５
ＯＤ                  −０．９７２  −１．０１３      ２５
次に、磁気ディスク装置周辺の温度を恒温槽（チャンバー）などを使い温度を変更する。温度をたとえば４５℃に変更しステップＳ１８にて設定の確認をする。再びステップＳ１３に戻り温度を磁気ディスク装置自身で確認し同様なステップを行う。４５℃においても上記各ヘッドに対応するオフセット対応表を作成し格納する。このようにして、図５のように各温度でのリードライトオフセット量が求まるからオフセット相関テーブルが作成できる（ステップＳ１９）。図７にステップＳ１９にて作成した磁気ディスクＩＤでのオフセット相関テーブルの例を示す。このテーブルによって、個々のヘッドに関して現状の温度でのリードライトオフセット量が求められる。このようなデータを同様に磁気ディスクＭＤやＯＤなどのポイントで記録しておく。
【００３５】
以上一連のステップを工場出荷時において実施しておけばデータ記憶装置自身がリードライトオフセット量の温度依存性をユーザーの手元に行く前に持っていることができる。すなわち以後ユーザーの手に渡ったあと温度が変わったときのオフセット量を再測定する必要がなくなる。
【００３６】
（実施の形態３）
本発明における実施の形態３の磁気ディスク装置は、温度に対応する前記相関テーブルを使用することにより、前記磁気ディスク装置の測定された温度が１つの動作温度範囲から他の動作温度範囲に変化する毎に、前記相関テーブルの異なった１つをロードするステップと、前記更新されたテーブルを使用することにより次回のリードを行うステップを有するデータ記憶方法であり、図８にその流れのフローを示す。
【００３７】
工場出荷時の時点では、たとえば２５℃でのリードライトオフセット量を設定して出荷される（ステップＳ２２）。その後ユーザーが使用しているとき、すなわちデータ記憶装置の電源がオンされているときに常に実施例１のように温度を監視する（ステップＳ２３）。現状の温度をステップ２３にて把握した後、実施例２で示した方法にて予め工場出荷時に作成しておいたオフセット相関テーブルを参照する（ステップＳ２４）。そして現在の温度での最適なオフセット量を相関テーブルから調べ、その値を実際のデータ記憶装置のデータの読み出しに使うように設定する（ステップＳ２５）。Ｓ２１からＳ２６の動作をリアルタイムに行うことによって常に現在の温度での最適なリードライトオフセット量を各々の磁気ヘッドで設定することができる。
【００３８】
（実施の形態４）
本発明における実施の形態４の磁気ディスク装置は、磁気ディスクに対する磁気ヘッドの相対的な位置を元に計算した幾何学的なリードライトオフセット量を計算するステップを、リードライトオフセット量を測定する前に実行することを特徴とするものであり、図９にその流れのフローを示す。
【００３９】
まずディスクの幾何学的なオフセット量を計算する（ステップＳ２２）。図１２におけるスキュー角θは、磁気ディスク中心からのアクセスしているデータトラックまでの距離ｒ、アクチュエーターからのヘッドギャップまでの距離Ｌ、アクチュエーターからの磁気ディスク中心の距離ａが解れば計算することが可能である。すなわち下記計算式
θ＝π／２−ａｃｏｓ｛（Ｌ２＋ｒ２−ａ２）／（２ｘＬｘｒ）｝
により算術的に求められる。スキュー角θが求まると、図１１のヘッドの寸法仕様をもとに幾何学的に求められたリードライトオフセット量が計算できる。すなわち下記計算式である。
【００４０】
（Ｒ―Ｗ  ｄｉｓｔａｎｃｅ）ｘｓｉｎθ
このようにして、計算された理論的なオフセット量でまずシークする（ステップＳ２３）。その後ＴＡＡ１を計測する（ステップＳ２４）。ＴＡＡ１を測定した後、ＴＡＡ１を測定した位置に対して外周側にシークする（ステップＳ２５）。シークする量はトラックピッチの２０％程度が望ましい。この位置でＴＡＡ２を測定する（ステップＳ２６）。次にＴＡＡ２を測定した後、ＴＡＡ１を測定した位置に対して内周側にシークする（ステップＳ２７）。内周側もやはりシークする量はトラックピッチの２０％程度を目安とする。この位置でＴＡＡ３を測定する（ステップＳ２８）。ＴＡＡ１、ＴＡＡ２、ＴＡＡ３が求められたら次に３つの値の大小を比較する。ｃａｓｅ２はピークより外周側にある。ｃａｓｅ３はピークの近傍にある。まずｃａｓｅ１としてＴＡＡ１＜ＴＡＡ２、ＴＡＡ１＞ＴＡＡ３に該当するかどうか判定する（ステップＳ２９）。該当すればピークより内周側にあるということなので外周側にシークし再びステップＳ２４へ移行する。ステップＳ２９で該当しなければ、次にｃａｓｅ２としてＴＡＡ１＞ＴＡＡ２、ＴＡＡ１＜ＴＡＡ３に該当するかどうか判定する（ステップＳ３０）。該当すればピークより外周側にあるということなので内周側にシークし再びステップＳ２４へ移行する。ステップＳ３０で該当しなければ、次にｃａｓｅ３としてＴＡＡ１＞ＴＡＡ２、ＴＡＡ１＞ＴＡＡ３に該当するかどうか判定する（ステップＳ３１）。該当すればピーク近傍にあるということなので処理を終了する（ステップＳ３２）。図１０にｃａｓｅ１、ｃａｓｅ２、ｃａｓｅ３の３つの場合のトラックプロファイルの中の位置関係を模式的に示す。ｃａｓｅ１はリードライトオフトラック量を示すピークより内周側にある。このように実際にトラックプロファイルを測定する計算から求めたリードライトオフトラック量を求め、ピークの近傍の位置に目星をつけることで計測時間の効率化を図れ、ピーク周辺を重点的に調べられる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の実施の形態１の磁気ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】同磁気ディスク装置のリードヘッドの抵抗値の温度依存性を示す図
【図３】同磁気ディスク装置のトラックプロファイル作成の処理の流れを示すフローチャート
【図４】同磁気ディスク装置のオフトラック量を示す図
【図５】同磁気ディスク装置のトラックプロファイルの温度依存性を示す図
【図６】本発明の実施の形態２の磁気ディスク装置の処理の流れのフローチャート
【図７】同磁気ディスク装置のオフトラック量の温度依存性を示す図
【図８】本発明の実施の形態３の磁気ディスク装置の処理の流れのフローチャート
【図９】本発明の実施の形態４の磁気ディスク装置の処理の流れのフローチャート
【図１０】同磁気ディスク装置のトラックプロファイルピークを検出過程を示す図
【図１１】一般的な磁気ディスク装置ヘッド浮上概念を示す斜視図及び一部拡大平面図
【図１２】一般的な磁気ディスク装置の平面図
【図１３】一般的な磁気ディスク装置におけるオフセット量を示す図
【図１４】磁気ディスクの保磁力の温度依存性を示す図
【符号の説明】
【００４２】
１０  磁気ディスク
１１  磁気ヘッド
１２  増幅器
１３  温度検知手段
１４  ＡＤ変換手段
１５  温度算出手段
１６  データ格納手段
１７  最適化判定手段
１８  オフセット測定手段
１１０  スライダー
１１１  サスペンション
１１２  磁気ディスク
１１３  磁気ヘッド
１１４  ライトギャップ
１１５  リードギャップ
１２０  ヘッド構造物
１２１  アクチュエータ
１２２  ヘッドギャップ
１２３  スキュー角
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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