(57)【要約】【課題】  チップ型電子部品の電気的特性を測定するための電子部品測定治具に関し、チップ型電子部品３０を電子部品測定治具１０に押圧した際に、チップ型電子部品３０が電子部品測定治具１０に対して平行に保持され、チップ型電子部品３０を破損することなく電気的特性を正確に測定でき、異方性導電シート２０の長寿命化も図れる。【解決手段】  チップ型電子部品３０の外部電極３１に対応する位置において、電子部品測定面２１に測定電極１２〜１７を有した電子部品測定治具１０であって、異方性導電シート２０を介してチップ型電子部品３０が圧接され、当該チップ型電子部品３０の電気的特性を測定する際に、押圧位置の偏りに起因して当該チップ型電子部品３０が傾斜するのを規制する突起１８，１９を電子部品測定面２１に設けたものである。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップ型電子部品の外部電極に対応する位置において、電子部品測定面に測定電極を有した電子部品測定治具であって、
異方性導電シートを介してチップ型電子部品が圧接され、当該チップ型電子部品の電気的特性を測定する際に、押圧位置の偏りに起因して当該チップ型電子部品が傾斜するのを規制する突起を上記電子部品測定面に設けた電子部品測定治具。
【請求項２】
上記突起が複数設けられていることを特徴とする請求項１に記載の電子部品測定治具。
【請求項３】
上記電子部品測定面が矩形であり、上記突起が押圧位置の偏っている側における上記電子部品測定面の端縁の両端に設けられていることを特徴とする請求項２に記載の電子部品測定治具。
【請求項４】
上記電子部品測定面が矩形であり、上記突起が上記電子部品測定面の四隅に設けられていることを特徴とする請求項２に記載の電子部品測定治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、チップ型電子部品の電気的特性を測定するための電子部品測定治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子部品の製造後に当該電子部品の良品、不良品を判別するために、その電気的特性、例えば静電容量、電気抵抗など各種の測定が行われている。例えば、多端子型のセラミック電子部品の電気的特性を測定する場合、プローブピンなどの測定端子を押し当てて測定するが、チップ型電子部品などの小さいものは電子部品の外部電極パターンに合わせてパターン化された測定電極が形成された電子部品測定治具が用いられる。
【０００３】
図７および図８に、電子部品測定治具７０の一例を示す（特許文献１参照）。電子部品測定治具７０は、基材７１の電子部品測定面８１に測定電極７２〜７７を設けた構造をしている。電気的特性の測定に際しては、その測定電極７２〜７７にチップ型電子部品９０の外部電極９１が当接するように、電子部品測定治具７０上にチップ型電子部品９０を載置する。この場合、測定電極７２〜７７の外側端に図示略の測定器が電気的に接続される。上記測定では、チップ型電子部品９０の下面に形成されている外部電極９１の厚みにばらつきが存在する場合、全ての外部電極９１を同時に測定電極７２〜７７に接触させることはできない。そこで、チップ型電子部品９０と電子部品測定治具７０との間に当該チップ型電子部品９０の外部電極９１と電子部品測定治具７０の測定電極７２〜７７との導通をとるための異方性導電シート８０を介在させて押圧するとともに上記厚みのばらつきを吸収するように該異方性導電シート８０を弾性変形させることで、外部電極９１それぞれと測定電極７２〜７７それぞれとの対応した個別導通をとっている。
【０００４】
しかしながら、このような異方性導電シート８０を介在させる測定においては、チップ型電子部品９０を押圧する際に、チップ型電子部品９０の重心付近を押圧できれば、外部電極９１と測定電極７２〜７７との間にある異方性導電シート８０の各部に均等に力をかけることができる。しかし、実際には、チップ型電子部品９０の押圧面の形状等により、重心付近を押圧するのは困難であり、図８に示すように、重心から偏った位置が押圧されてチップ型電子部品９０が傾いて導通されることになる。例えば、チップ型電子部品９０にＳＡＷフィルタのように大型の部品が搭載されている場合、この大型の部品を押圧して測定することになるが、大型の部品が必ずしもチップ型電子部品９０の重心に搭載されているとは限らず、押圧位置がチップ型電子部品９０の重心から偏った位置になることがある。
【０００５】
その結果、異方性導電シート８０の所定箇所のみが特に押圧されることになり、これを繰り返すうちに当該押圧部分が塑性変形して元の形状に復帰しなくなる。これにより、電気的特性を正確に測定することができなくなり、異方性導電シート８０の寿命が短くなるという課題があった。また、チップ型電子部品９０が傾いて押圧されることにより、チップ型電子部品９０が破損するという課題もあった。
【特許文献１】特開２０００−３５６６５０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
したがって、本発明により解決すべき課題は、チップ型電子部品を電子部品測定治具に押圧した際に、チップ型電子部品を電子部品測定治具に対して平行に保持可能としてチップ型電子部品を破損することなくその電気的特性の正確な測定と異方性導電シートの長寿命化の達成とを可能にすることである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、チップ型電子部品の外部電極に対応する位置において、電子部品測定面に測定電極を有した電子部品測定治具であって、異方性導電シートを介してチップ型電子部品が圧接され、当該チップ型電子部品の電気的特性を測定する際に、押圧位置の偏りに起因して当該チップ型電子部品が傾斜するのを規制する突起を上記電子部品測定面に設けたものである。
【０００８】
上記突起は、押圧位置が偏っている側において、１箇所でもよく、また複数設けられていてもよい。複数設ける例として、例えば矩形の電子部品測定面の押圧位置の偏っている側における端縁の両端や四隅に設ける。
【０００９】
本発明の電子部品測定治具によると、チップ型電子部品を異方性導電シートを介して電子部品測定治具に押圧した際に、チップ型電子部品が突起に当接して電子部品測定治具に対して平行に保持され、チップ型電子部品が均一に異方性導電シートに押圧される。その結果、測定時にチップ型電子部品ががたつくことなく電気的特性を正確に測定でき、かつ、チップ型電子部品を破損することなく、異方性導電シートの長寿命化も図れる。
【００１０】
また、電子部品測定面に複数の突起を設けることで、チップ型電子部品の保持が安定し、より正確に電気的特性の測定が行える。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の電子部品測定治具によると、チップ型電子部品を電子部品測定治具に押圧した際に、チップ型電子部品が電子部品測定治具に対して平行に保持され、チップ型電子部品を破損することなく電気的特性を正確に測定でき、異方性導電シートの長寿命化も図れる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の最良の実施形態を図１ないし図３に基づいて説明する。
【００１３】
図１は電子部品測定治具による測定工程の分解斜視図、図２は電子部品測定治具の平面図、図３は電子部品測定治具による測定工程の正面図である。
【００１４】
電子部品測定治具１０は、基材１１と、基材１１の電子部品測定面２１に設けられた測定電極１２〜１７ならびに突起１８，１９とから構成されている。なお、電子部品測定治具１０の電子部品測定面２１は、チップ型電子部品３０の下面より外形が大きく形成されており、チップ型電子部品３０を電子部品測定治具１０に載置した際に、測定電極１２〜１７がチップ型電子部品３０の外周よりはみ出すように構成されている。
【００１５】
基材１１を構成する材料については、絶縁性を示す限り、特に限定されず、例えば絶縁性樹脂などを用いて構成することができる。なお、基材１１としては、板状のものに限定されず、ブロック状のものであってもよい。
【００１６】
測定電極１２〜１７は、基材１１の電子部品測定面２１に金属板を貼り合わせることにより、電子部品測定面２１の対向する両端縁１１ａ，１１ｂに沿ってそれぞれ３個ずつ設けられている。
【００１７】
突起１８，１９は、電子部品測定面２１の残りの対向する両端縁１１ｃ，１１ｄの略中央において接着等にて電子部品測定面２１に固定されている。突起１８，１９は角柱状であり、その高さ寸法は測定電極１２〜１７の厚みより大きく測定電極１２〜１７と後述する異方性導電シート２０の厚みの和以下に設定されている。なお、突起１８，１９の形状は角柱状に限らず、円柱状等であってもよい。突起１８，１９の材質は、測定時の磨耗を軽減するため、ベリリウム、銅、真鋳等の硬い金属が好ましい。
【００１８】
異方性導電シート２０は、シートの厚み方向に沿って金属線を多数有し、厚み方向のみに導電性を有するものである。
【００１９】
次に、電子部品測定治具１０を用いたチップ型電子部品３０の電気的特性の測定方法について説明する。測定に際しては、電子部品測定治具１０の測定電極１２〜１７の外側端を測定装置（図示せず）に電気的に接続する。
【００２０】
基材１１の電子部品測定面２１の突起１８，１９間において、各測定電極１２〜１７上に異方性導電シート２０を載置する。さらに、異方性導電シート２０上に、チップ型電子部品３０を吸引装置のノズル４０の先端にて吸引保持しながら載置し、さらに電子部品測定治具１０方向に押圧して異方性導電シート２０に圧接させる。なお、チップ型電子部品３０の下面には、測定電極１２〜１７に対向する位置に外部電極３１が設けられており、突起１８，１９に対向する部位の下面は略平らに形成されている。チップ型電子部品３０を異方性導電シート２０に押圧することで、外部電極３１と測定電極１２〜１７が異方性導電シート２０を介して電気的に接続される。この際、チップ型電子部品３０の下面の両端が突起１８，１９の上端に当接し、チップ型電子部品３０が電子部品測定治具１０に対して水平に保持される。
【００２１】
このように構成された電子部品測定治具１０によると、チップ型電子部品３０を異方性導電シート２０を介して電子部品測定治具１０に押圧した際に、チップ型電子部品３０の両端が突起１８，１９に当接して電子部品測定治具１０に対して平行に保持される。その結果、測定時にチップ型電子部品３０ががたつくことなく電気的特性を正確に測定でき、かつ、チップ型電子部品３０を破損することなく、異方性導電シート２０の長寿命化も図れる。
【００２２】
また、チップ型電子部品３０と接触する突起１８，１９の先端部の面積が大きい方が、チップ型電子部品３０の安定性、耐摩耗性が向上して好ましい。
【００２３】
さらに、電子部品測定面２１に複数の突起１８，１９を設けることで、チップ型電子部品３０の保持が安定し、より正確に電気的特性の測定が行える。
【００２４】
図４ないし図６に、電子部品測定治具１０の変形例を示す。なお、図１ないし図３に示した例と同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【００２５】
図４の電子部品測定治具１０は、基材１１の上面の対角線上に対向する一対の隅部に突起５１，５２を設けたものである。
【００２６】
図５の電子部品測定治具１０は、基材１１の電子部品測定面２１の一方の端縁１１ａの両端に突起６１，６２を設けたものである。このように、突起１８，１９を押圧位置の偏っている側における電子部品測定面２１の端縁の両端に設けることにより、より安定した状態でチップ型電子部品３０を保持できる。
【００２７】
図６の電子部品測定治具１０は、基材１１の電子部品測定面２１の四隅に突起４１〜４４を設けたものである。この結果、チップ型電子部品３０の四隅を保持することができ、押圧位置の偏りによってチップ型電子部品３０がいずれの方向に傾いても水平に保持できる。
【産業上の利用可能性】
【００２８】
本発明は、チップ型の高周波電子部品等の電気的特性を測定するための電子部品測定治具として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施形態における電子部品測定治具による測定工程の分解斜視図
【図２】本発明の実施形態における電子部品測定治具の平面図
【図３】本発明の実施形態における電子部品測定治具による測定工程の正面図
【図４】本発明の実施形態における変形例の電子部品測定治具の平面図
【図５】本発明の実施形態におけるその他の変形例の電子部品測定治具の平面図
【図６】本発明の実施形態におけるその他の変形例の電子部品測定治具の平面図
【図７】従来例における電子部品測定治具による測定工程の分解斜視図
【図８】従来例における電子部品測定治具による測定工程の正面図
【符号の説明】
【００３０】
１０  電子部品測定治具
１１  基材
１２〜１７  測定電極
１８，１９  突起
２０  異方性導電シート
２１  電子部品測定面
３０  チップ型電子部品
３１  外部電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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