(57)【要約】【課題】集積回路を搭載する基板に対するバイパスコンデンサの最適配置を効果的に行い、ＥＭＩ対策期間を短くし、ＥＭＩ対策コストの低減化を図ることができるバイパスコンデンサ配置情報取得装置を提供する。【解決手段】ＥＭＩ対策周波数決定手段４は、特定対策周波数情報とＥＭＩノイズ解析結果とＥＭＩ規格を入力し、ＥＭＩ対策周波数を決定する。ＥＭＩ対策電源端子決定手段９は、ＥＭＩ対策周波数と電源端子電流波形を入力し、ＥＭＩ対策電源端子を決定する。最適バイパスコンデンサ決定手段１５は、ＥＭＩ対策周波数を入力し、バイパスコンデンサ・データベース１４内のバイパスコンデンサから、ＥＭＩ対策周波数で最もインピーダンスが低いものを最適バイパスコンデンサとして決定する。【選択図】          図１
2005321864.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
バイパスコンデンサの配置を行うための情報を取得するバイパスコンデンサ配置情報取得装置であって、
基板が発生するＥＭＩノイズの解析結果から、ＥＭＩ対策が必要な周波数を決定するＥＭＩ対策周波数決定手段を有することを特徴とするバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【請求項２】
前記ＥＭＩ対策周波数決定手段が決定した前記ＥＭＩ対策が必要な周波数及び集積回路の電源端子電流波形から、ＥＭＩ対策が必要な電源端子を決定するＥＭＩ対策電源端子決定手段を有することを特徴とする請求項１記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【請求項３】
前記ＥＭＩ対策電源端子決定手段は、前記集積回路の電源端子電流波形から、前記集積回路の各電源端子に流れる電流の電流振幅の周波数分布を算出し、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記集積回路の電源端子のうち、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の電流成分の電流振幅が最も大きな電流が流れる電源端子を前記ＥＭＩ対策が必要な電源端子として決定することを特徴とする請求項２記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【請求項４】
バイパスコンデンサ・データベース内のバイパスコンデンサの中から、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数でインピーダンスが最小となるバイパスコンデンサを最適バイパスコンデンサとして決定する最適バイパスコンデンサ決定手段を有することを特徴とする請求項１、２又は３記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【請求項５】
バイパスコンデンサの配置を行うための情報を取得するバイパスコンデンサ配置情報取得方法であって、
ＥＭＩ対策周波数決定手段が、基板が発生するＥＭＩノイズの解析結果から、ＥＭＩ対策が必要な周波数を決定するＥＭＩ対策周波数決定工程を有することを特徴とするバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＬＳＩ（large scale integrated circuit：大規模集積回路）等の集積回路を搭載する基板に対してＥＭＩ（electro-magnetic interference：電磁波妨害）対策用のバイパスコンデンサの最適配置を行うために必要な情報を取得するためのバイパスコンデンサ配置情報取得装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＥＭＩノイズ問題が顕在化している。ＥＭＩノイズとは、集積回路内部の電源電圧変動である電源ノイズが集積回路を搭載する基板の電源配線に伝播し、基板の電源配線のアンテナとしての働きにより、電源ノイズが電磁波として空間に放射される現象のことである。今後、集積回路の高速化、多ピン化、大電流化に伴い、電源ノイズはますます大きくなる傾向にあるが、これはＥＭＩノイズが大きくなることを意味している。
【０００３】
主要各国には、電子機器から発生するＥＭＩノイズについて上限値を定めたＥＭＩ規格が存在し、このＥＭＩ規格を満たすことが義務付けられている。例えば、日本ではＶＣＣＩ規格、ＥＵではＥＮ規格、米国ではＦＣＣ規格が存在し、これらの規格を満たさない機器の輸入、販売が禁止されている。
【０００４】
ＥＭＩ対策として、一般に、基板にバイパスコンデンサを配置するという方法が用いられているが、バイパスコンデンサの配置場所決定方法として、例えば、基板設計時に、集積回路近傍にバイパスコンデンサを適当に配置し、基板設計後に実測によるＥＭＩノイズの確認と、バイパスコンデンサ追加に伴う基板の再設計を繰り返すことで、ＥＭＩ規格をクリアできるバイパスコンデンサの配置場所を決めるという方法がある。
【０００５】
しかしながら、このような後追い的なＥＭＩ対策では、ＥＭＩ対策期間は数ヶ月もの長期にわたり、ＥＭＩ対策コストも大きな負担になってしまう。そこで、また、従来、簡易計算式を用いた電源ノイズの電圧判定から、バイパスコンデンサ配置場所の妥当性を簡易的に行う方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００２−１４０３８２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
集積回路を搭載する基板に対してバイパスコンデンサの最適配置を行うには、ＥＭＩ対策が必要な周波数を特定した上で、ＥＭＩ対策に有効な場所に、ＥＭＩ対策に有効な周波数特性を有するバイパスコンデンサを配置する必要がある。しかし、特許文献１に記載の技術は、このようなものではなく、特許文献１に記載の技術では、ＥＭＩ対策期間が長くなり、ＥＭＩ対策コストの上昇を招いてしまうという問題点があった。
【０００７】
本発明は、かかる点に鑑み、集積回路を搭載する基板に対するバイパスコンデンサの最適配置を効果的に行い、ＥＭＩ対策期間を短くし、ＥＭＩ対策コストの低減化を図ることができるようにしたバイパスコンデンサ配置情報取得装置及び方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置は、基板が発生するＥＭＩノイズの解析結果から、ＥＭＩ対策が必要な周波数を決定するＥＭＩ対策周波数決定手段を有するというものである。
【０００９】
本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得方法は、ＥＭＩ対策周波数決定手段が、基板が発生するＥＭＩノイズの解析結果から、ＥＭＩ対策が必要な周波数を決定するＥＭＩ対策周波数決定工程を有するというものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置によれば、ＥＭＩ対策周波数決定手段により、バイパスコンデンサ配置情報の一つとして、ＥＭＩ対策周波数情報を取得することができる。また、本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得方法によれば、ＥＭＩ対策周波数決定工程により、バイパスコンデンサ配置情報の一つとして、ＥＭＩ対策周波数情報を取得することができる。
【００１１】
そこで、本発明により取得したＥＭＩ対策周波数情報の他に、例えば、集積回路の電源端子電流波形を取得することでＥＭＩ対策が必要な電源端子を求めることが可能となる。また、共振周波数やインピーダンス情報等を含むバイパスコンデンサ・データベースを用意することで、ＥＭＩ対策周波数に最適な周波数特性を有するバイパスコンデンサを決定することが可能となる。
【００１２】
したがって、本発明によれば、集積回路を搭載する基板に対するバイパスコンデンサの最適配置を効果的に行い、ＥＭＩ対策期間を短くし、ＥＭＩ対策コストの低減化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
図１は本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態の概念図であり、本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態は、ＣＰＵとメモリ等を有するコンピュータで構成することができる。
【００１４】
図１中、１は特定対策周波数保持手段であり、ＥＭＩ対策を行うことが予め特定されている周波数を特定対策周波数として保持するものである。２はＥＭＩノイズ解析結果保持手段であり、ＬＳＩを搭載する基板をシミュレーションモデル化した基板モデル等を用いてＬＳＩを搭載する基板が発生するＥＭＩノイズを解析した結果（ＥＭＩノイズの大きさの周波数分布）を保持するものである。３はＥＭＩ規格保持手段であり、ＥＭＩ規格の内容を保持するものである。
【００１５】
４はＥＭＩ対策周波数決定手段であり、特定対策周波数保持手段１が保持する特定対策周波数と、ＥＭＩノイズ解析結果保持手段２が保持するＥＭＩノイズ解析結果と、ＥＭＩ規格保持手段３が保持するＥＭＩ規格を入力し、ＥＭＩ対策が必要な周波数をＥＭＩ対策周波数として決定するものである。５はＥＭＩ対策周波数保持手段であり、ＥＭＩ対策周波数決定手段４が決定したＥＭＩ対策周波数を保持するものである。
【００１６】
ＥＭＩ対策周波数決定手段４は、ＥＭＩ対策周波数算出部６とＥＭＩ対策周波数出力部７を有している。ＥＭＩ対策周波数算出部６は、ＥＭＩノイズ解析結果保持手段２から入力したＥＭＩノイズ解析結果と、ＥＭＩ規格保持手段３から入力したＥＭＩ規格を比較して、ＥＭＩ規格を超えている周波数を全てＥＭＩ対策周波数として算出するものである。
【００１７】
ＥＭＩ対策周波数出力部７は、ＥＭＩ対策周波数算出部６が算出したＥＭＩ対策周波数及び特定対策周波数保持手段１から入力した特定対策周波数をＥＭＩ対策周波数として決定し、これらをＥＭＩ対策周波数保持部５に出力するものである。
【００１８】
８は電源端子電流波形保持手段であり、基板に搭載されるＬＳＩをシミュレーションモデル化したＬＳＩモデルを用いてＬＳＩが有する外部端子の中の電源端子（ＬＳＩがパッケージ化されている場合には電源ピン、パッケージ化されていない場合には電源パッド）に流れる電流の波形を保持するものである。
【００１９】
９はＥＭＩ対策電源端子決定手段であり、ＥＭＩ対策周波数保持手段５が保持するＥＭＩ対策周波数と、電源端子電流波形保持手段８が保持するＬＳＩの電源端子の電流波形を入力し、ＥＭＩ対策が必要な電源端子を決定するものである。
【００２０】
１０はＥＭＩ対策電源端子番号・最適バイパスコンデンサ種類保持手段であり、ＥＭＩ対策周波数ごとに、ＥＭＩ対策電源端子決定手段９が決定したＥＭＩ対策電源端子の番号と、後述する最適バイパスコンデンサ決定手段が決定した最適バイパスコンデンサの種類を保持するものである。
【００２１】
ＥＭＩ対策電源端子決定手段９は、電流振幅周波数分布計算部１１と、電流振幅抽出部１２と、ＥＭＩ対策電源端子算出部１３を有している。電流振幅周波数分布計算部１１は、電源端子電流波形保持手段８から入力した各電源端子の電流波形をフーリエ変換することにより各電源端子に流れる電流の電流振幅の周波数分布を計算するものである。
【００２２】
電流振幅抽出部１２は、電流振幅周波数分布計算部１１が計算した各電源端子に流れる電流の電流振幅周波数分布から、各電源端子に流れる電流の成分のうち、ＥＭＩ対策周波数成分の電流振幅を抽出するものである。
【００２３】
ＥＭＩ対策電源端子算出部１３は、電流振幅抽出部１２が抽出した電源端子に流れる電流のＥＭＩ対策周波数成分の電流振幅から、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、各電源端子のうち、ＥＭＩ対策周波数成分の電流振幅が最も大きな電流が流れる電源端子をＥＭＩ対策電源端子として算出してＥＭＩ対策電源端子番号・最適バイパスコンデンサ種類保持手段１０に出力するものである。
【００２４】
１４はバイパスコンデンサ・データベースであり、使用可能とされた複数のバイパスコンデンサについて、例えば、図２に示すように、品番、容量、寄生インダクタンス（ＥＳＬ：equivalent series inductance）、寄生抵抗（ＥＳＲ：equivalent series resistance）、共振周波数を情報としてデータベース化してなるものである。
【００２５】
１５は最適バイパスコンデンサ決定手段であり、ＥＭＩ対策周波数保持手段５が保持するＥＭＩ対策周波数を入力し、バイパスコンデンサ・データベース１４内のバイパスコンデンサから、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、ＥＭＩ対策周波数で最もインピーダンスが低いバイパスコンデンサを最適バイパスコンデンサとして決定するものである。
【００２６】
最適バイパスコンデンサ決定手段１５は、インピーダンス計算部１６と最適バイパスコンデンサ算出部１７を有している。インピーダンス計算部１６は、バイパスコンデンサ・データベース１４内にあるバイパスコンデンサの容量、寄生インダクタンス及び寄生抵抗から、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、バイパスコンデンサ・データベース１４内の各バイパスコンデンサのＥＭＩ対策周波数でのインピーダンスを計算するものである。
【００２７】
最適バイパスコンデンサ算出部１７は、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、各バイパスコンデンサのインピーダンスを比較し、最もインピーダンスの低いバイパスコンデンサをＥＭＩ対策に最適なバイパスコンデンサとして算出し、ＥＭＩ対策電源端子番号・最適バイパスコンデンサ種類保持手段１０に出力するものである。
【００２８】
図３は電源端子電流波形及びＥＭＩノイズ解析結果の取得装置の一例の概念図である。図３中、１８は基板に搭載するＬＳＩをシミュレーションモデル化したＬＳＩモデルを保持するＬＳＩモデル保持手段、１９はＬＳＩモデル保持手段１８が保持するＬＳＩモデルから電源端子電流波形を取得する電源端子電流波形取得手段（例えば、回路解析シミュレータ）である。
【００２９】
２０はＬＳＩを搭載する基板をシミュレーションモデル化した基板モデルを保持する基板モデル保持手段、２１は基板モデル保持手段２０が保持する基板モデル及び電源端子電流波形保持手段８が保持する電源端子電流波形からＥＭＩノイズを解析するＥＭＩノイズ解析手段（例えば、電磁界解析シミュレータ）である。
【００３０】
電源端子電流波形取得手段１９は、ＬＳＩを搭載する基板がプリント基板の場合には、図４に示すように、プリント基板２２に搭載されるＬＳＩ２３をシミュレーションモデル化したＬＳＩモデルを用いて電源ピン２４等、ＬＳＩ２３の全ての電源ピンの電流波形を電源端子電流波形として取得する。
【００３１】
また、ＬＳＩを搭載する基板がＳＩＰ（system in package）の場合、電源端子電流波形取得手段１９は、ＬＳＩを搭載する基板がＳＩＰを構成する多層配線基板の場合には、図５に示すように、多層配線基板２５に搭載されるＬＳＩ２６、２７をシミュレーションモデル化したＬＳＩモデルを用いて電源パッド２８、２９等、ＬＳＩ２６、２７の全ての電源パッドの電流波形を電源端子電流波形として取得する。なお、３０、３１はボンディングワイヤである。
【００３２】
ＥＭＩノイズ解析手段２１は、ＬＳＩを搭載する基板がプリント基板の場合には、図４に示すプリント基板２２をシミュレーションモデル化した基板モデル及び電源端子電流波形取得手段１９がＬＳＩ２３のシミュレーションモデルから取得した電源端子電流波形に基づいてＥＭＩノイズを解析することになる。
【００３３】
また、ＥＭＩノイズ解析手段２１は、ＬＳＩを搭載する基板がＳＩＰを構成する多層配線基板の場合には、図５に示す多層配線基板２５をシミュレーションモデル化した多層配線基板モデル及び電源端子電流波形取得手段１９がＬＳＩ２６、２７のシミュレーションモデルから取得した電源端子電流波形に基づいてＥＭＩノイズを解析することになる。
【００３４】
本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態では、本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得方法の一実施形態が実行される。本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得方法の一実施形態は、次の３つの工程を含んでいる。
【００３５】
第１の工程は、ＥＭＩ対策周波数決定手段４が、特定対策周波数保持手段１が保持する特定対策周波数と、ＥＭＩノイズ解析結果保持手段２が保持するＥＭＩノイズ解析結果と、ＥＭＩ規格保持手段３が保持するＥＭＩ規格を入力し、ＥＭＩ対策周波数を決定し、決定したＥＭＩ対策周波数をＥＭＩ対策周波数保持手段５に保持させるＥＭＩ対策周波数決定工程である。
【００３６】
第２の工程は、ＥＭＩ対策電源端子決定手段９が、ＥＭＩ対策周波数保持手段５が保持するＥＭＩ対策周波数と、電源端子電流波形保持手段８が保持する電源端子電流波形を入力し、ＥＭＩ対策電源端子を決定し、決定したＥＭＩ対策電源端子の番号をＥＭＩ対策電源端子番号・最適バイパスコンデンサ種類保持手段１０に保持させるＥＭＩ対策電源端子決定工程である。
【００３７】
第３の工程は、最適バイパスコンデンサ決定手段１５が、ＥＭＩ対策周波数保持手段５が保持するＥＭＩ対策周波数を入力し、バイパスコンデンサ・データベース１４内のバイパスコンデンサから、ＥＭＩ対策周波数で最もインピーダンスが低いバイパスコンデンサを最適バイパスコンデンサとして決定する最適バイパスコンデンサ決定工程である。
【００３８】
図６はＥＭＩノイズ解析結果保持手段２が保持するＥＭＩノイズ解析結果の例を示す図である。図６に示すようにＥＭＩノイズには周波数依存性があり、図６の例では、周波数ＦｘにおいてＥＭＩ規格の一種であるＶＣＣＩ規格をオーバーしていることが分かる。この周波数ＦｘがＥＭＩ対策周波数である。
【００３９】
本実施形態においては、ＥＭＩ対策周波数決定手段４が、特定対策周波数保持手段１が保持する特定対策周波数と、ＥＭＩノイズ解析結果保持手段２が保持するＥＭＩノイズ解析結果と、ＥＭＩ規格保持手段３が保持するＥＭＩ規格を入力し、ＥＭＩ対策周波数を決定する。
【００４０】
具体的には、ＥＭＩ対策周波数算出部６が、ＥＭＩノイズ解析結果保持手段２から入力したＥＭＩノイズ解析結果と、ＥＭＩ規格保持手段３から入力したＥＭＩ規格を比較し、ＥＭＩ規格を超えている周波数を全て算出する。例えば、複数の周波数Ｆ１、Ｆ２、・・・、ＦｎにおいてＥＭＩ規格を超えている場合には、これら複数の周波数Ｆ１、Ｆ２、・・・、ＦｎをＥＭＩ対策周波数として算出する。
【００４１】
そして、ＥＭＩ対策周波数出力部７が、ＥＭＩ対策周波数算出部６が算出したＥＭＩ対策周波数及び特定対策周波数保持手段１から入力した特定対策周波数をＥＭＩ対策周波数として決定し、これらをＥＭＩ対策周波数保持手段５に出力し、ＥＭＩ対策周波数保持手段５は、ＥＭＩ対策周波数出力部７から出力されるＥＭＩ対策周波数を保持する。
【００４２】
図７は電源端子電流波形保持手段８が保持する電源端子電流波形の例（或る１つの電源端子の電流波形の例）を示す図である。本実施形態では、ＥＭＩ対策電源端子決定手段９が、ＥＭＩ対策周波数保持手段５が保持するＥＭＩ対策周波数と、電源端子電流波形保持手段８が保持するＬＳＩの電源端子の電流波形を入力し、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、ＥＭＩ対策電源端子を決定する。
【００４３】
具体的には、電流振幅周波数分布計算部１１が、電源端子電流波形保持手段８が保持する電源端子電流波形（ＬＳＩ動作時の１周期分の情報）をフーリエ変換し、図８に示すように、各電源端子に流れる電流の電流振幅の周波数分布を算出し、そして、電流振幅抽出部１２が、電流振幅周波数分布計算部１１が計算した各電源端子の電流振幅周波数分布から、図９に示すように、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、各電源端子に流れる電流のＥＭＩ対策周波数成分の電流振幅を抽出する。
【００４４】
更に、ＥＭＩ対策電源端子算出部１３が、電流振幅抽出部１２が抽出した各電源端子に流れる電流のＥＭＩ対策周波数成分の電流振幅から、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、ＥＭＩ対策周波数の電流成分の電流振幅が最も大きな電流が流れる電源端子をＥＭＩ対策電源端子として算出し、これをＥＭＩ対策電源端子番号・最適バイパスコンデンサ種類保持手段１０に出力する。図９の例では、端子番号Ｎｘの電源端子がＥＭＩ対策電源端子として算出されることになる。
【００４５】
本実施形態では、ＥＭＩ対策電源端子の近傍をＥＭＩ対策場所としてバイパスコンデンサを配置する。例えば、配線基板がプリント基板の場合において、図１０に示すように、電源ピン３２がＥＭＩ対策電源端子の場合には、電源ピン３２の近傍をバイパスコンデンサ３３の配置場所とする。また、配線基板がＳＩＰの多層配線基板の場合には、図１１に示すように、電源パッド３４がＥＭＩ対策電源端子の場合には、電源パッド３４の近傍をバイパスコンデンサ３５の配置場所とする。
【００４６】
図１２はバイパスコンデンサのインピーダンスの周波数特性の例を示す図である。バイパスコンデンサには、容量だけでなく、寄生インピーダンスと寄生抵抗が存在する。この３つの要素により、バイパスコンデンサのインピーダンスは、周波数に大きく依存することになる。このため、バイパスコンデンサには、ＥＭＩノイズに対して効果のある周波数領域と、ほとんど効果が望めない周波数領域が存在する。
【００４７】
そこで、本実施形態では、バイパスコンデンサ・データベース１４を設け、最適バイパスコンデンサ決定手段１５は、ＥＭＩ対策周波数保持手段５が保持するＥＭＩ対策周波数を入力し、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、バイパスコンデンサ・データベース１４内のバイパスコンデンサから、ＥＭＩ対策周波数において最もインピーダンスが低いバイパスコンデンサを最適バイパスコンデンサとして決定するとしている。
【００４８】
具体的には、インピーダンス計算部１６が、バイパスコンデンサ・データベース１４内にあるバイパスコンデンサの容量、寄生インダクタンス、寄生抵抗から、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、各バイパスコンデンサのＥＭＩ対策周波数でのインピーダンスを計算する。
【００４９】
そして、最適バイパスコンデンサ算出部１７が、ＥＭＩ対策周波数の各々ごとに、各バイパスコンデンサのインピーダンスを比較し、最もインピーダンスの低いバイパスコンデンサをＥＭＩ対策に最適なバイパスコンデンサとして算出し、これをＥＭＩ対策電源端子番号・最適バイパスコンデンサ種類保持手段１０に出力する。
【００５０】
本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態によれば、本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得方法の一実施形態を実行することができる。即ち、ＥＭＩ対策周波数決定手段４によりＥＭＩ対策周波数を決定することができ、ＥＭＩ対策電源端子決定手段９によりＥＭＩ対策電源端子を決定することができ、最適バイパスコンデンサ決定手段１５によりＥＭＩ対策周波数に最も有効なバイパスコンデンサを選択することができる。
【００５１】
したがって、ＥＭＩ対策電源端子の近傍にＥＭＩ対策に有効な周波数特性を有するバイパスコンデンサを配置することができるので、集積回路を搭載する基板に対するバイパスコンデンサの最適配置を効果的に行い、ＥＭＩ対策期間を短くし、ＥＭＩ対策コストの低減化を図ることができる。
【００５２】
ここで、本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置及び方法を整理すると、本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置及び方法には、少なくとも、以下に記述するバイパスコンデンサ配置情報取得装置及び方法が含まれる。
【００５３】
（付記１）バイパスコンデンサの配置を行うための情報を取得するバイパスコンデンサ配置情報取得装置であって、基板が発生するＥＭＩノイズの解析結果から、ＥＭＩ対策が必要な周波数を決定するＥＭＩ対策周波数決定手段を有することを特徴とするバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００５４】
（付記２）前記ＥＭＩ対策周波数決定手段は、ＥＭＩノイズの値がＥＭＩ規格を超えている周波数を前記ＥＭＩ対策が必要な周波数として決定することを特徴とする付記１記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００５５】
（付記３）前記ＥＭＩ対策周波数決定手段は、ＥＭＩ対策を行うことが予め特定されている周波数、及び、ＥＭＩノイズ解析結果から得られるＥＭＩノイズの値がＥＭＩ規格を超えている周波数を前記ＥＭＩ対策が必要な周波数として決定することを特徴とする付記１記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００５６】
（付記４）前記ＥＭＩ対策周波数決定手段が決定した前記ＥＭＩ対策が必要な周波数及び集積回路の電源端子電流波形から、ＥＭＩ対策が必要な電源端子を決定するＥＭＩ対策電源端子決定手段を有することを特徴とする付記１、２又は３記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００５７】
（付記５）前記ＥＭＩ対策電源端子決定手段は、集積回路の電源端子電流波形から、前記集積回路の各電源端子に流れる電流の電流振幅の周波数分布を算出し、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記集積回路の電源端子のうち、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の電流成分の電流振幅が最も大きな電流が流れる電源端子を前記ＥＭＩ対策が必要な電源端子として決定することを特徴とする付記２記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００５８】
（付記６）バイパスコンデンサ・データベース内のバイパスコンデンサの中から、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数でインピーダンスが最小となるバイパスコンデンサを最適バイパスコンデンサとして決定する最適バイパスコンデンサ決定手段を有することを特徴とする付記１〜５のいずれか一項に記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００５９】
（付記７）前記バイパスコンデンサ・データベースは、品番、容量、寄生インダクタンス、寄生抵抗、共振周波数を情報としてバイパスコンデンサをデータベース化してなるものであることを特徴とする付記６記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００６０】
（付記８）前記最適バイパスコンデンサ決定手段は、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記バイパスコンデンサ・データベース内のバイパスコンデンサの前記ＥＭＩ対策が必要な周波数でのインピーダンスを計算し、該計算したインピーダンスが最小のバイパスコンデンサを前記最適バイパスコンデンサとして決定することを特徴とする付記６又は７記載のバイパスコンデンサ配置情報取得装置。
【００６１】
（付記９）バイパスコンデンサの配置を行うための情報を取得するバイパスコンデンサ配置情報取得方法であって、ＥＭＩ対策周波数決定手段が、基板が発生するＥＭＩノイズの解析結果から、ＥＭＩ対策が必要な周波数を決定するＥＭＩ対策周波数決定工程を有することを特徴とするバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【００６２】
（付記１０）前記ＥＭＩ対策周波数決定工程では、ＥＭＩノイズの値がＥＭＩ規格を超えている周波数を前記ＥＭＩ対策が必要な周波数として決定することを特徴とする付記９記載のバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【００６３】
（付記１１）前記ＥＭＩ対策周波数決定工程では、ＥＭＩ対策を行うことが予め特定されている周波数、及び、ＥＭＩノイズ解析結果から得られるＥＭＩノイズの値がＥＭＩ規格を超えている周波数を前記ＥＭＩ対策が必要な周波数として決定することを特徴とする付記９記載のバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【００６４】
（付記１２）ＥＭＩ対策電源端子決定手段が、前記ＥＭＩ対策周波数決定工程で決定したＥＭＩ対策に必要な周波数及び集積回路の電源端子電流波形から、ＥＭＩ対策が必要な電源端子を決定するＥＭＩ対策電源端子決定工程を有することを特徴とする付記９、１０又は１１記載のバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【００６５】
（付記１３）前記ＥＭＩ対策電源端子決定工程は、前記集積回路の電源端子電流波形から、前記集積回路の各電源端子に流れる電流の電流振幅の周波数分布を算出し、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記集積回路の電源端子のうち、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の電流成分の電流振幅が最も大きな電流が流れる電源端子を前記ＥＭＩ対策が必要な電源端子として決定する工程を有することを特徴とする付記１２記載のバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【００６６】
（付記１４）最適バイパスコンデンサ決定手段が、バイパスコンデンサ・データベース内のバイパスコンデンサの中から、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数でインピーダンスが最小となるバイパスコンデンサを最適バイパスコンデンサとして決定する最適バイパスコンデンサ決定工程を有することを特徴とする付記９〜１３のいずれか一項に記載のバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【００６７】
（付記１５）前記最適バイパスコンデンサ決定手段では、前記ＥＭＩ対策が必要な周波数の各々ごとに、前記バイパスコンデンサ・データベース内のバイパスコンデンサの前記ＥＭＩ対策が必要な周波数でのインピーダンスを計算し、該計算したインピーダンスが最小のバイパスコンデンサを前記最適バイパスコンデンサとして決定することを特徴とする付記１４記載のバイパスコンデンサ配置情報取得方法。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態の概念図である。
【図２】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態が備えるバイパスコンデンサ・データベースの例を示す図である。
【図３】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態が備える電源端子電流波形保持手段が保持する電源端子電流波形及びＥＭＩ解析結果保持手段が保持するＥＭＩノイズ解析結果の取得装置の一例の概念図である。
【図４】プリント基板の概念図である。
【図５】ＳＩＰ（システム・イン・パッケージ）の多層配線基板の概念図である。
【図６】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態が備えるＥＭＩノイズ解析結果保持手段が保持するＥＭＩノイズ解析結果の例を示す図である。
【図７】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態が備える電源端子電流波形保持手段が保持する電源端子電流波形の例を示す図である。
【図８】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態が備えるＥＭＩ対策電源端子決定手段が備える電流振幅計算部が計算した電流振幅周波数分布の例を示す図である。
【図９】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態が備えるＥＭＩ対策電源端子決定手段が備える電流振幅抽出部が抽出した各電源端子の電流振幅の例を示す図である。
【図１０】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態を使用したバイパスコンデンサの配置場所を説明するための図である。
【図１１】本発明のバイパスコンデンサ配置情報取得装置の一実施形態を使用したバイパスコンデンサの配置場所を説明するための図である。
【図１２】バイパスコンデンサのインピーダンスの周波数特性の例を示す図である。
【符号の説明】
【００６９】
１…特定対策周波数保持手段
２…ＥＭＩノイズ解析結果保持手段
３…ＥＭＩ規格保持手段
４…ＥＭＩ対策周波数決定手段
５…ＥＭＩ対策周波数保持手段
６…ＥＭＩ対策周波数算出部
７…ＥＭＩ対策周波数出力部
８…電源端子電流波形保持手段
９…ＥＭＩ対策電源端子決定手段
１０…ＥＭＩ対策電源端子番号・最適バイパスコンデンサ種類保持手段
１１…電流振幅周波数分布計算部
１２…電流振幅抽出部
１３…ＥＭＩ対策電源端子算出部
１４…バイパスコンデンサ・データベース
１５…最適バイパスコンデンサ決定手段
１６…インピーダンス計算部
１７…最適バイパスコンデンサ算出部
１８…ＬＳＩモデル保持手段
１９…電源端子電流波形取得手段
２０…基板モデル保持手段
２１…ＥＭＩノイズ解析手段
２２…プリント基板
２３…ＬＳＩ
２４…電源ピン
２５…多層配線基板
２６、２７…ＬＳＩ
２８、２９…電源パッド
３０、３１…ワイヤボンディング
３２…電源ピン
３３…バイパスコンデンサ
３４…電源パッド
３５…バイパスコンデンサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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