(57)【要約】【課題】  急熱急冷に支障がある高温環境下においても短パルス群からなる記録ストラテジの制御により記録品質の悪化を抑えることができる光情報記録装置を提供する。【解決手段】  相変化型の光情報記録媒体である光ディスクの周囲温度に応じて短パルスである冷却パルスＣＰのパルス幅Ｔｃｐを変更することで、短パルス群からなる記録ストラテジを制御するようにした。これにより、急熱急冷に支障がある高温環境下においても記録品質の悪化を抑えることができる。【選択図】    図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１つ又は複数の短パルス群からなる記録パルス列を用いて相変化型の光情報記録媒体にデータを記録する光情報記録装置において、
前記光情報記録媒体の周囲温度を検出する温度検出手段と、
前記温度検出手段により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記短パルス群を構成する短パルスのパルス幅を変更するパルス幅変更手段と、
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項２】
前記パルス幅変更手段は、前記短パルス群を構成しその後端に位置する冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする請求項１記載の光情報記録装置。
【請求項３】
前記温度検出手段により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であるか否かを判断する温度判断手段を具備し、
前記パルス幅変更手段は、前記温度判断手段により前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であると判断した場合、室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅より短くなるように前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする請求項２記載の光情報記録装置。
【請求項４】
室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐとし、前記光情報記録媒体の周囲温度をＴとし、所定の温度をＴｔｈとし、Ｔ≧Ｔｔｈを満たす場合の前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐＨとすると、
前記パルス幅変更手段は、０．８Ｔｃｐ＜ＴｃｐＨ＜Ｔｃｐの範囲内でＴｃｐＨを変更することを特徴とする請求項２又は３記載の光情報記録装置。
【請求項５】
前記温度検出手段は、所定の時間毎に前記光情報記録媒体の周囲温度を検出し、
前記パルス幅変更手段は、所定の時間毎の前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする請求項２、３又は４記載の光情報記録装置。
【請求項６】
前記パルス幅変更手段は、前記短パルス群を構成する先頭加熱パルス、連続加熱パルス及び終端加熱パルスの各パルス幅を変更せず、前記冷却パルスだけを変更することを特徴とする請求項２、３、４又は５記載の光情報記録装置。
【請求項７】
前記光情報記録媒体は、ＡｇＩｎＳｎＴｅ系の記録材料からなる記録層を有することを特徴とする請求項１、２、３、４、５又は６記載の光情報記録装置。
【請求項８】
１つ又は複数の短パルス群からなる記録パルス列を用いて相変化型の光情報記録媒体にデータを記録する光情報記録方法において、
前記光情報記録媒体の周囲温度を検出する温度検出工程と、
前記温度検出工程により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記短パルス群を構成する短パルスのパルス幅を変更するパルス幅変更工程と、
を具備することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項９】
前記パルス幅変更工程は、前記短パルス群を構成しその後端に位置する冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする請求項８記載の光情報記録方法。
【請求項１０】
前記温度検出工程により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であるか否かを判断する温度判断工程を具備し、
前記パルス幅変更工程は、前記温度判断工程により前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であると判断した場合、室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅より短くなるように前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする請求項９記載の光情報記録方法。
【請求項１１】
室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐとし、前記光情報記録媒体の周囲温度をＴとし、所定の温度をＴｔｈとし、Ｔ≧Ｔｔｈを満たす場合の前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐＨとすると、
前記パルス幅変更工程は、０．８Ｔｃｐ＜ＴｃｐＨ＜Ｔｃｐの範囲内でＴｃｐＨを変更することを特徴とする請求項９又は１０記載の光情報記録方法。
【請求項１２】
前記温度検出工程は、所定の時間毎に前記光情報記録媒体の周囲温度を検出し、
前記パルス幅変更工程は、所定の時間毎の前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする請求項９、１０又は１１記載の光情報記録方法。
【請求項１３】
前記パルス幅変更工程は、前記短パルス群を構成する先頭加熱パルス、連続加熱パルス及び終端加熱パルスの各パルス幅を変更せず、前記冷却パルスだけを変更することを特徴とする請求項９、１０、１１又は１２記載の光情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光情報記録装置及び光情報記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光学技術の進歩にともない、光情報記録媒体としては、音楽用ＣＤ（Compact Disk）やＣＤ−ＲＯＭ等の再生専用の光ディスク、色素系メディアを用いた追記型光ディスク、相変化記録材料を用いた書換え可能なＣＤ−ＲＷ（Rewritable）等の相変化型光ディスク等が実用化されている。また、相変化型光ディスクとしては、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）−ＲＡＭやＤＶＤ＋ＲＷ（Rewritable）等の大容量光ディスクが注目されている。
【０００３】
これらの光ディスクに情報（データ）を記録する場合には、半導体レーザを光源とする光ピックアップを備える光ディスク装置が用いられる。例えば、相変化型の光ディスクに情報を記録するための一般的な記録波形（発光波形）としては、ＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）変調コードや８−１６変調コード等の変調記録方式に基づいて生成された単パルスの発光波形がある（単パルス記録方式）。しかし、このような単パルス記録方式を用いた場合には、記録マークの歪が蓄熱により涙状に生じたり、アモルファス相の形成が冷却不足により不十分となり、レーザ光に対して低反射の記録マークが得られなかったりする等の問題がある。
【０００４】
そこで、相変化型の光ディスクに情報を記録する場合には、一般的に、１つ又は複数の短パルス群からなる記録パルス列によって記録マークを形成するマルチパルス波形方式が用いられる。ここで、短パルス群は、ＥＦＭ変調コードや８−１６変調コード等の記録変調方法に基づいた発光波形に一致する記録マークを形成するために用いられる。そして、その短パルス群を構成する各パルスのパルス幅や振幅等のパルス発光規則は記録ストラテジと呼ばれている。この記録ストラテジは、相変化型の光ディスクの記録層を融点以上に十分に予備加熱するための先頭加熱パルスＦＰ（Front Pulse）と、終端加熱パルスＬＰ（Last Pulse）と、先頭加熱パルスＦＰに後続し終端加熱パルスＬＰの直前まで連続する複数個の連続加熱パルスＭＰ（Multi Pulse）と、パルス群の終端に位置する冷却パルスＣＰ（Cooling Pulse）との組合せから構成されている。なお、ＬＰ及びＭＰは記録マーク長に応じて存在しない場合がある。
【０００５】
このようなマルチパルス発光波形によれば、相変化型の光ディスクのマーク部は加熱パルスＦＰ，ＭＰ，ＬＰと冷却パルスＣＰとによる加熱から冷却へ（加熱→冷却）の急冷条件によりアモルファス相を生成することで形成され、スペース部ではイレースパルスによる加熱のみの徐冷条件により結晶相を生成することで形成されるため、アモルファス相と結晶相とによって十分な反射率差が得られる。
【０００６】
相変化型の光ディスクの記録特性である再生ジッタ、オーバーライト特性及びパワーマージン等は、加熱パルスＦＰ，ＭＰ，ＬＰのパルス幅、冷却パルスＣＰのパルス幅、記録パワー（発光パワー）、光ディスクの種類や線速、及び光ディスクの周囲温度等の条件に応じて変化する。例えば、特許文献１では、有機色素記録層を有するＤＶＤ−Ｒ等の光ディスクについてレーザ周囲温度の変化に応じて適切な記録パルス波形を選択して適用している。特許文献１では、記録品質悪化の要因として波長の変動を挙げており、レーザ周囲温度を測定することで間接的に波長の変動を測定し、その測定結果に基づいて最適な記録パルス波形を随時選択している。
【０００７】
【特許文献１】特開２００２−２１６３４９公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
有機色素記録層を有する光ディスクの場合には、レーザパルスによる加熱のデューティにより記録マークを形成しているが、相変化型の光ディスクの場合には、例えば、急熱急冷によるアモルファス相の形成により記録マークを形成するため、特許文献１の技術を相変化型の光ディスクに適用することは困難である。
【０００９】
また、相変化型の光ディスクでは、加熱から冷却への急熱急冷条件によりアモルファス相が形成されるが、光ディスクの周辺温度が高温になると、急熱過程では熱し過ぎ、急冷過程では冷却不足が発生して記録品質が悪化する。
【００１０】
例えば、光ディスク装置はパーソナルコンピュータの内部に取り付けられて使用されることが多いが、近年のパーソナルコンピュータの高速化や多機能化により、パーソナルコンピュータ内部の様々な装置の発熱が大きくなり、光ディスク装置が使用される環境温度は高くなる傾向にある。さらに、高密度に集積されたノート型のパーソナルコンピュータでは、十分な排熱機構がないため、内部の温度上昇がより顕著となる。したがって、パーソナルコンピュータの内部のような高温環境下において、室温で最適化された記録ストラテジを用いて記録を行うと、室温時に想定されていた記録品質が得られないという問題がある。
【００１１】
本発明の目的は、急熱急冷に支障がある高温環境下においても短パルス群からなる記録ストラテジの制御により記録品質の悪化を抑えることができる光情報記録装置及び光情報記録方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１記載の発明は、１つ又は複数の短パルス群からなる記録パルス列を用いて相変化型の光情報記録媒体にデータを記録する光情報記録装置において、前記光情報記録媒体の周囲温度を検出する温度検出手段と、前記温度検出手段により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記短パルス群を構成する短パルスのパルス幅を変更するパルス幅変更手段と、を具備することを特徴とする。
【００１３】
したがって、光情報記録媒体の周囲温度に応じて短パルスのパルス幅を変更することで、短パルス群からなる記録ストラテジが制御され、急熱急冷に支障がある高温環境下においても記録品質が維持されて記録品質の悪化を抑えることが可能になる。また、記録品質の悪化を抑えるため、例えば光情報記録装置にその内部温度を下げるための排熱ファン等を設けた場合に比べて、排熱ファン等が不要となり、コスト削減や軽量化等を実現するこが可能になる。
【００１４】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の光情報記録装置において、前記パルス幅変更手段は、前記短パルス群を構成しその後端に位置する冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする。
【００１５】
したがって、光情報記録媒体の周囲温度に応じて冷却パルスのパルス幅を変更することで、記録品質に大きな影響を与える冷却パルスが制御され、急熱急冷に支障がある高温環境下においても記録品質が維持されて記録品質の悪化を抑えることが可能になる。
【００１６】
請求項３記載の発明は、請求項２記載の光情報記録装置において、前記温度検出手段により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であるか否かを判断する温度判断手段を具備し、前記パルス幅変更手段は、前記温度判断手段により前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であると判断した場合、室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅より短くなるように前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする。
【００１７】
したがって、光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度、例えば室温より高い温度以上であるか否かを判断し、その周囲温度が室温より高い温度以上であると判断した場合、室温で最適化された短パルス群における冷却パルスのパルス幅より短くなるように冷却パルスのパルス幅を変更することによって、室温より高い高温環境下においても記録品質が維持され、記録品質の悪化を抑えることが可能になる。
【００１８】
請求項４記載の発明は、請求項２又は３記載の光情報記録装置において、室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐとし、前記光情報記録媒体の周囲温度をＴとし、所定の温度をＴｔｈとし、Ｔ≧Ｔｔｈを満たす場合の前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐＨとすると、前記パルス幅変更手段は、０．８Ｔｃｐ＜ＴｃｐＨ＜Ｔｃｐの範囲内でＴｃｐＨを変更することを特徴とする。
【００１９】
したがって、０．８Ｔｃｐ＜ＴｃｐＨ＜Ｔｃｐの範囲内でＴｃｐＨを変更することによって、室温より高い高温環境下においても記録品質が維持され、確実に記録品質の悪化を抑えることが可能になる。
【００２０】
請求項５記載の発明は、請求項２、３又は４記載の光情報記録装置において、前記温度検出手段は、所定の時間毎に前記光情報記録媒体の周囲温度を検出し、前記パルス幅変更手段は、所定の時間毎の前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする。
【００２１】
したがって、所定の時間毎に光情報記録媒体の周囲温度を検出し、検出した所定の時間毎の光情報記録媒体の周囲温度に応じて、冷却パルスのパルス幅を変更することによって、所定の時間毎に冷却パルスのパルス幅が変更され、確実に記録品質の悪化を抑えることが可能になる。
【００２２】
請求項６記載の発明は、請求項２、３、４又は５記載の光情報記録装置において、前記パルス幅変更手段は、前記短パルス群を構成する先頭加熱パルス、連続加熱パルス及び終端加熱パルスの各パルス幅を変更せず、前記冷却パルスだけを変更することを特徴とする。
【００２３】
したがって、先頭加熱パルス、連続加熱パルス及び終端加熱パルスの各パルス幅を光情報記録媒体の周囲温度に関わらず一定にすることによって、冷却パルス以外の各パルスを制御する必要がなく、容易に記録品質の悪化を抑えることが可能になる。
【００２４】
請求項７記載の発明は、請求項１、２、３、４、５又は６記載の光情報記録装置において、前記光情報記録媒体は、ＡｇＩｎＳｎＴｅ系の記録材料からなる記録層を有することを特徴とする。
【００２５】
したがって、ＡｇＩｎＳｎＴｅ系の記録材料で形成された記録層を有する光情報記録媒体を用いることによって、良好な記録品質を実現することが可能になる。
【００２６】
請求項８記載の発明は、１つ又は複数の短パルス群からなる記録パルス列を用いて相変化型の光情報記録媒体にデータを記録する光情報記録方法において、前記光情報記録媒体の周囲温度を検出する温度検出工程と、前記温度検出工程により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記短パルス群を構成する短パルスのパルス幅を変更するパルス幅変更工程と、を具備することを特徴とする。
【００２７】
したがって、請求項１記載の発明と同様な作用を奏する。
【００２８】
請求項９記載の発明は、請求項８記載の光情報記録方法において、前記パルス幅変更工程は、前記短パルス群を構成しその後端に位置する冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする。
【００２９】
したがって、請求項２記載の発明と同様な作用を奏する。
【００３０】
請求項１０記載の発明は、請求項９記載の光情報記録方法において、前記温度検出工程により検出された前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であるか否かを判断する温度判断工程を具備し、前記パルス幅変更工程は、前記温度判断工程により前記光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度以上であると判断した場合、室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅より短くなるように前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする。
【００３１】
したがって、請求項３記載の発明と同様な作用を奏する。
【００３２】
請求項１１記載の発明は、請求項９又は１０記載の光情報記録方法において、室温で最適化された前記短パルス群における前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐとし、前記光情報記録媒体の周囲温度をＴとし、所定の温度をＴｔｈとし、Ｔ≧Ｔｔｈを満たす場合の前記冷却パルスのパルス幅をＴｃｐＨとすると、前記パルス幅変更工程は、０．８Ｔｃｐ＜ＴｃｐＨ＜Ｔｃｐの範囲内でＴｃｐＨを変更することを特徴とする。
【００３３】
したがって、請求項４記載の発明と同様な作用を奏する。
【００３４】
請求項１２記載の発明は、請求項９、１０又は１１記載の光情報記録方法において、前記温度検出工程は、所定の時間毎に前記光情報記録媒体の周囲温度を検出し、前記パルス幅変更工程は、所定の時間毎の前記光情報記録媒体の周囲温度に応じて、前記冷却パルスのパルス幅を変更することを特徴とする。
【００３５】
したがって、請求項５記載の発明と同様な作用を奏する。
【００３６】
請求項１３記載の発明は、請求項９、１０、１１又は１２記載の光情報記録方法において、前記パルス幅変更工程は、前記短パルス群を構成する先頭加熱パルス、連続加熱パルス及び終端加熱パルスの各パルス幅を変更せず、前記冷却パルスだけを変更することを特徴とする。
【００３７】
したがって、請求項６記載の発明と同様な作用を奏する。
【発明の効果】
【００３８】
請求項１記載の発明によれば、相変化型の光情報記録媒体の周囲温度に応じて短パルスのパルス幅を変更することで、短パルス群からなる記録ストラテジが制御され、急熱急冷に支障がある高温環境下においても記録品質が維持されて記録品質の悪化を抑えることができる。また、記録品質の悪化を抑えるため、例えば光情報記録装置にその内部温度を下げるための排熱ファン等を設けた場合に比べて、排熱ファン等が不要となり、コスト削減や軽量化等を実現するこができる。
【００３９】
請求項２記載の発明によれば、請求項１記載の光情報記録装置において、光情報記録媒体の周囲温度に応じて冷却パルスのパルス幅を変更することで、記録品質に大きな影響を与える冷却パルスが制御され、急熱急冷に支障がある高温環境下においても記録品質が維持されて記録品質の悪化を抑えることができる。
【００４０】
請求項３記載の発明によれば、請求項２記載の光情報記録装置において、光情報記録媒体の周囲温度が所定の温度、例えば室温より高い温度以上であるか否かを判断し、その周囲温度が室温より高い温度以上であると判断した場合、室温で最適化された短パルス群における冷却パルスのパルス幅より短くなるように冷却パルスのパルス幅を変更することによって、室温より高い高温環境下においても記録品質が維持され、記録品質の悪化を抑えることができる。
【００４１】
請求項４記載の発明によれば、請求項２又は３記載の光情報記録装置において、０．８Ｔｃｐ＜ＴｃｐＨ＜Ｔｃｐの範囲内でＴｃｐＨを変更することによって、室温より高い高温環境下においても記録品質が維持され、確実に記録品質の悪化を抑えることができる。
【００４２】
請求項５記載の発明によれば、請求項２、３又は４記載の光情報記録装置において、所定の時間毎に光情報記録媒体の周囲温度を検出し、検出した所定の時間毎の光情報記録媒体の周囲温度に応じて、冷却パルスのパルス幅を変更することによって、所定の時間毎に冷却パルスのパルス幅が変更され、確実に記録品質の悪化を抑えることができる。
【００４３】
請求項６記載の発明によれば、請求項２、３、４又は５記載の光情報記録装置において、先頭加熱パルス、連続加熱パルス及び終端加熱パルスの各パルス幅を光情報記録媒体の周囲温度に関わらず一定にすることによって、冷却パルス以外の各パルスを制御する必要がなく、容易に記録品質の悪化を抑えることができる。
【００４４】
請求項７記載の発明によれば、請求項１、２、３、４、５又は６記載の光情報記録装置において、ＡｇＩｎＳｎＴｅ系の記録材料で形成された記録層を有する光情報記録媒体を用いることによって、良好な記録品質を実現することができる。
【００４５】
請求項８記載の発明によれば、請求項１記載の発明と同様な効果を奏する。
【００４６】
請求項９記載の発明によれば、請求項８記載の光情報記録方法において、請求項２記載の発明と同様な効果を奏する。
【００４７】
請求項１０記載の発明によれば、請求項９記載の光情報記録方法において、請求項３記載の発明と同様な効果を奏する。
【００４８】
請求項１１記載の発明によれば、請求項９又は１０記載の光情報記録方法において、請求項４記載の発明と同様な効果を奏する。
【００４９】
請求項１２記載の発明によれば、請求項９、１０又は１１記載の光情報記録方法において、請求項５記載の発明と同様な効果を奏する。
【００５０】
請求項１３記載の発明によれば、請求項９、１０、１１又は１２記載の光情報記録方法において、請求項６記載の発明と同様な効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５１】
本発明の実施の一形態について図面に基づいて説明する。図１は本実施の形態の光情報記録装置である光ディスク装置の構成を概略的に示すブロック図である。
【００５２】
図１に示すように、光ディスク装置１は、相変化型の光情報記録媒体である光ディスクＤを回転駆動するスピンドルモータ２、モータドライバ３、サーボ手段４、光ピックアップ５、リードアンプ６、デコーダ７、バッファマネージャ８、バッファＲＡＭ９、ホストＩ／Ｆ１０、ディスク情報デコーダ１１、エンコーダ１２、ＬＤドライバ１３及び制御部１４等から構成されている。また、ＬＤドライバ１３は、レジスタ１５、マルチパルス生成部１６及びパワー制御部１７等を備えている。ここで、図１において、矢印はデータが主に流れる方向を示しており、また、図を簡略化するために、図１中の各ブロックを制御する制御部１４と各ブロックとの接続は省略されている。
【００５３】
光ピックアップ５は、光源としてのレーザダイオード（ＬＤ）、このレーザダイオードから出射されるレーザ光を光ディスクＤの記録面に導くとともに記録面で反射された戻り光を所定の受光位置まで導く光学系、受光位置に配置されて戻り光を受光する受光素子等の受光器、フォーカスアクチュエータ、トラックアクチュエータ、シークモータ及びポジションセンサ等（いずれも図示せず）を内蔵している。光学系は、光ディスクＤの記録面上にレーザ光を集光する対物レンズ（図示せず）等を有している。
【００５４】
また、光ピックアップ５には、その内部の温度を測定する温度計１８が設けられている。温度計１８としては、サーミスタが使用されており、サーミスタの抵抗値が温度により変化することでサーミスタ中を流れる電流値は変化する。この電流値の変化が制御部１４により検出される。この電流値と温度との相関関係から制御部１４により温度が求められる。ここで、温度計１８及び制御部１４は、温度検出手段として機能する。なお、光ピックアップ５の内部温度は、光ディスクＤの周囲温度として扱われ、光ディスク装置１の表面温度及び光ディスクＤの表面温度とほぼ同じ温度になる（図８参照）。したがって、本実施の形態では、光ピックアップ５の内部温度は光ディスク装置１の表面温度と等価として用いられ、光ディスク装置１の表面温度も光ディスクＤの周囲温度として扱われる。
【００５５】
このような光ピックアップ５は、シークモータによってスレッジ方向、すなわち光ディスクＤの半径方向に移動自在に設けられている。フォーカスアクチュエータ、トラックアクチュエータ、シークモータは、受光器とポジションセンサとから得られる信号に基づいて、モータドライバ３とサーボ手段４とにより、レーザ光のスポットが光ディスクＤ上の目的の場所に位置するように制御される。
【００５６】
制御部１４は、ＣＰＵ、ＲＯＭ及びＲＡＭ（いずれも図示せず）等から構成されており、光ディスク装置１が備えるマイクロコンピュータ（コンピュータ）として機能している。記憶媒体としても機能するＲＯＭには、ＣＰＵにより解読可能なコードで記述された制御プログラムを含むプログラムが格納されている。ＣＰＵは、ＲＯＭに格納されているプログラムに従って上述の各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータ等を一時的にＲＡＭに保存する。なお、光ディスク装置１の電源が投入されると、ＲＯＭに格納されているプログラムは、ＣＰＵのメインメモリ（図示せず）にロード（インストール）される。
【００５７】
光ディスク装置１は、光ディスクＤをスピンドルモータ２により回転駆動する。このとき、スピンドルモータ２は、モータドライバ３とサーボ手段４とにより光ディスクＤがＣＬＶ（記録線速度一定）方式やＣＡＶ（記録角速度一定）方式等で回転するように制御される。光ピックアップ５は、レーザダイオードからレーザ光を出射し、このレーザ光を対物レンズにより光ディスクＤの記録面に集光させ、サーボ手段４によりアクチュエータの制御を行うことでフォーカスサーボやトラックサーボを行い、光ディスクＤに記録されているデータを再生して再生信号を取得し、かつ、光ディスクＤにデータを記録する。
【００５８】
データ再生時には、光ピックアップ５で得られた再生信号は、リードアンプ６で増幅されて２値化された後、デコーダ７でデインターリーブ及びエラー訂正の処理が行われる。デコーダ７からのデータは、バッファマネージャ８によって、一旦バッファＲＡＭ９に蓄積され、セクタデータとして揃ったときにホストＩ／Ｆ（ホストインターフェース）１０を介してホスト、例えばパーソナルコンピュータ等へ一括して転送される。なお、ホストＩ／Ｆ１０は、ホストとの双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ及びＳＣＳＩ等の標準インターフェースに準拠している。
【００５９】
データ記録時には、ホストからホストＩ／Ｆ１０を介して送られてきたデータがバッファマネージャ８によって一旦バッファＲＡＭ９に蓄積されてからデータ記録が開始される。データ記録を開始する前に、光ディスクＤのＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる試し書き領域で、ＯＰＣ（Optimum Power Calibration）が行われ、最適な記録パワーが求められる。また、データ記録を開始する前には、レーザスポットを書き込み開始位置に移動させる。ＤＶＤ＋ＲＷ等では、開始位置は、予め光ディスクＤ上にトラックの蛇行により刻まれているウォブル信号によって求められる。なお、ＤＶＤ−ＲＷ等では、開始位置はウォブル信号の代わりにランドプリピットによって求められ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等では、開始位置はプリピットによって求められる。
【００６０】
ウォブル信号には、ＡＤＩＰ（ADress In Pre-groove）と呼ばれるアドレス情報が含まれており、このアドレス情報はディスク情報デコーダ１１によって取り出される。また、このディスク情報デコーダ１１によって生成される同期信号は、エンコーダ１２に入力され、光ディスクＤ上の正確な位置へのデータの書込みを可能にしている。
【００６１】
ＬＤドライバ１３では、制御部１４により記録チャネルクロックと記録情報であるＥＦＭデータとがエンコーダ１２から入力され、レジスタ１５にパルス情報として一時的に記憶される。ＬＤドライバ１３のマルチパルス生成部１６により、レジスタ１５に記憶されているパルス情報からマルチパルス（記録パルス列）が生成される。パワー制御部１７ではレジスタ１５に記憶されているパワー情報を用いて光ピックアップ５より照射されるレーザ光の照射パワーの制御を行うことで記録パルス列に基づくＬＤ発光波形が生成される。
【００６２】
次に、本実施の形態で使用される光ディスクＤの一例について図２を参照して説明する。図２は本実施の形態の光ディスクＤの層構造を概略的に示す縦断側面図である。
【００６３】
図２に示すように、光ディスクＤは、透明基板２０の上に下部保護層２１、記録層２２、上部保護層２３、放熱層２４及びＵＶ保護膜２５が積層されて構成されている。
【００６４】
透明基板２０は、例えば、屈折率１．５８のポリカーボネート樹脂により形成されており、下部保護層２１は、例えば、ＺｎＳ又はＳｉＯ２を材料として膜厚１７ｎｍに形成されており、記録層２２は、例えば、Ａｇ（２）Ｉｎ（１０）Ｓｂ（２８）Ｔｅ（６０）を材料として膜厚２０ｎｍに形成されている。また、上部保護層２３は、例えば、屈折率２．１のＺｎＳ又はＳｉＯ２を材料として膜厚２５ｎｍに形成されており、放熱層２４は、例えば、Ａｌ合金（Ａｌ−Ｔｉ：１ｗｔ％合金）を材料として膜厚１００ｎｍに形成されており、ＵＶ保護膜２５は、最上層に例えばＵＶ硬化型樹脂により形成されている。
【００６５】
本実施の形態では、光ディスクＤとして、例えばＤＶＤ＋ＲＷが用いられており、記録速度は２．４Ｘとされているが、これに限るものではなく、例えば、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭ等が用いられても良い。なお、相変化型の光ディスクＤにおいては、一般に、書き換え回数、加熱パルスのパルス幅、冷却パルスのパルス幅、記録パワー、光ディスクＤの種類や線速、及び光ディスクＤの周囲温度等により記録品質が変化する。
【００６６】
ここで、光ディスク装置１の表面温度が室温（本実施の形態では、例えば室温を３０℃とする）、４０℃、５０℃であるそれぞれの場合において、室温で最適化された記録ストラテジを用いて、ＤＶＤ＋ＲＷである光ディスクＤに対してＤＯＷ（Direct Over Write）を実行し、記録品質の変化を調べた。なお、ＤＯＷ＝３０回でライトパワー（ライトＰｗ）を変化させながらデータが記録される。この結果が図３に示されている。図３は３０℃、４０℃及び５０℃の各温度におけるライトパワー（ライトＰｗ）とjitterとの関係を示すグラフである。ここでは、記録品質の良し悪しを表す指標としては、信号のばらつきであるjitter値が用いられる。一般的にjitter値が９％を下回れば記録品質は良好であると判断される。
【００６７】
図３に示すように、光ディスク装置１の表面温度が３０℃である場合には、jitterボトム値が最小となり、その表面温度が４０℃、５０℃と高くなるにしたがって、jitterボトム値は大きくなる。すなわち、光ディスク装置１の表面温度が３０℃である場合には、jitterボトム値は約８．５％であるが、光ディスク装置１の表面温度が５０℃である場合には、jitterボトム値は約９％になっている。これにより、光ディスク装置１の表面温度が５０℃である高温環境下においては、室温で最適化された記録ストラテジを用いると、記録品質が低下してしまうことが分かった。また、光ディスク装置１の表面温度が高くなるにしたがって、jitterがボトムとなるのに必要なライトパワーは高くなっている。これは、光ディスクＤの温度が高くなることで急熱後の急冷過程で十分冷却できないことに起因しており、ライトパワーを高くして急熱過程でより高い温度に急熱しておくことで、急冷過程によりアモルファス相を形成しやすくなることを示している。
【００６８】
本実施の形態では、変調記録方式としてＥＦＭ変調コードを用いてマークエッジ記録を行う一例が示されており（記録マーク長変調記録方式）、記録マークとスペースとのデータ長は３〜１４Ｔ（Ｔはチャネルクロックの１周期）とされている。また、記録ストラテジでは、各マークに対するパルス数がＮ−２（Ｎは１以上の整数によるデータ長）とされている。
【００６９】
図４はデータ長が５Ｔである場合の短パルス群の一例を概略的に示す模式図である。図４に示すように、本実施の形態の短パルス群は、光ディスクＤの記録層２２を融点以上に十分に予備加熱するための先頭加熱パルスＦＰ（Front Pulse）と、終端加熱パルスＬＰ（Last Pulse）と、ＦＰに後続しＬＰの直前までの複数個の連続加熱パルスＭＰ（Multi Pulse）と、短パルス群の終端に位置する冷却パルスＣＰ（Cooling Pulse）との組合せから構成されている。
【００７０】
Ｎ＝３の場合には、ＦＰ、ＭＰ及びＬＰのうちいずれか１つが存在しないことがある。また、ＦＰ、ＭＰ、ＬＰ及びＣＰは、それぞれパルス幅が０になることもある。これらのＦＰ−ＭＰ−ＬＰ−ＣＰの一塊が短パルス群と呼ばれ、この短パルス群中のＦＰ、ＭＰ、ＬＰ及びＣＰの組み合わせにより３Ｔから１４Ｔの長さの記録マークが１つ形成される。光ディスク装置１では、短パルス群が連続する記録パルス列により連続的にデータが光ディスクＤに記録される。本実施の形態では、ＦＰ、ＭＰ、ＬＰ及びＣＰのパルス幅を光ディスクＤの周囲温度に応じて制御して記録ストラテジを最適化することによって記録品質の向上が図られている。
【００７１】
ここで、ＦＰ、ＭＰ、ＬＰ及びＣＰのパルス幅をそれぞれＴｆｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ及びＴｃｐとして、室温（３０℃）で記録品質が最良となるように最適化された記録ストラテジは、Ｔｆｐ＝０．６７５Ｔ、Ｔｍｐ＝０．５Ｔ、Ｔｌｐ＝０．５Ｔ、Ｔｃｐ＝０．５２５Ｔである。この室温時に記録品質が最良となる記録ストラテジを基にして、品質工学的手法により光ディスク装置１の表面温度の上昇にともなってＦＰ、ＭＰ及びＣＰの各パルス幅Ｔｆｐ，Ｔｍｐ，Ｔｃｐのうちどの因子が記録品質に影響を及ぼす制御因子として最適化されると、高温環境下での記録品質が向上するかを調べた。なお、ＬＰに関しては、記録品質への寄与率が他のＦＰ、ＭＰ及びＣＰに比べて低いため、制御因子から除外されている。
【００７２】
図５は因子割付を示す説明図である。水準２は、Ｔｆｐ、Ｔｍｐ及びＴｃｐがＴｆｐ＝０．６７５Ｔ、Ｔｍｐ＝０．５Ｔ、Ｔｃｐ＝０．５２５Ｔであり、図５中に０で示す。水準１は、水準２のＴｆｐ、Ｔｍｐ及びＴｃｐのそれぞれに対して−０．０５Ｔ、すなわちパルス幅を短くした場合であり、図５中に−０．０５Ｔで示す。水準３は、水準２のＴｆｐ、Ｔｍｐ及びＴｃｐのそれぞれに対して＋０．０５Ｔ、すなわちパルス幅を長くした場合であり、図５中に＋０．０５Ｔで示す。なお、水準１でパルス幅を−０．０５Ｔ、水準３でパルス幅を＋０．０５Ｔとする変化量は、この変化量が大きすぎると記録信号波形への影響が大きくなりjitter悪化の要因になり、逆に変化量が小さすぎるとパルス幅変更による記録品質向上の効果が小さいため、最適な変化量である。
【００７３】
図６は５０℃でＦＰ、ＭＰ及びＣＰの各パルス幅Ｔｆｐ，Ｔｍｐ，Ｔｃｐを図５に示す説明図に従って水準１、水準２及び水準３と変化させた場合の記録品質の変化を示す特性図である。なお、図６では、記録品質はＹ軸上方向に向かうにしたがって良くなる。図６に示すように、ＦＰ及びＭＰに関しては、水準２が最も記録品質が良い。一方、ＣＰに関しては、水準１が最も記録品質が良い。これにより、５０℃においての記録品質は、室温時の記録ストラテジと比較してＦＰ及びＭＰのパルス幅Ｔｆｐ，Ｔｍｐを変更せず、ＣＰのパルス幅Ｔｃｐを短くすることで改善されることが分かる。
【００７４】
したがって、本実施の形態では、室温用の記録ストラテジ及び高温用の記録ストラテジの２つの記録ストラテジが制御部１４のＲＯＭに格納されている。室温用の記録ストラテジは、室温（３０℃）で記録品質が最良となるように最適化された記録ストラテジであり、Ｔｆｐ＝０．６７５Ｔ、Ｔｍｐ＝０．５Ｔ、Ｔｌｐ＝０．５Ｔ、Ｔｃｐ＝０．５２５Ｔである。高温用の記録ストラテジは、室温用の記録ストラテジよりＣＰが短くされた記録ストラテジであり、Ｔｆｐ＝０．６７５Ｔ、Ｔｍｐ＝０．５Ｔ、Ｔｌｐ＝０．５Ｔ、Ｔｃｐ＝０．４７５Ｔである。これらの記録ストラテジは、記録動作の前にＲＯＭから読み出され、ＬＤドライバ１３のレジスタ１５に設定される。その後、レジスタ１５に設定された記録ストラテジに基づいてマルチパルス生成部１６により発光波形が形成され、記録動作が開始される。
【００７５】
ここで、室温用の記録ストラテジにおけるＣＰのパルス幅をＴｃｐとし、高温用の記録ストラテジにおけるＣＰのパルス幅をＴｃｐＨとすると、Ｔｃｐ＝０．５２５Ｔ及びＴｃｐＨ＝０．４７５Ｔであるので、ＴｃｐＨ＝０．９０５Ｔｃｐとなるが、光ディスクＤの特性等により最適なＴｃｐＨは変化するため、ＴｃｐＨは０．８Ｔｃｐ＜ＴｃｐＨ＜Ｔｃｐの条件式を満たすように設定されている。
【００７６】
このような構成において、光ディスク装置１により光ディスクＤに情報を記録する情報記録処理について図７を参照して説明する。実際には、制御部１４のＲＯＭに格納されたプログラムに基づいてＣＰＵが各部を駆動制御して情報記録を実行する。図７は情報記録処理の流れを示すフローチャートである。
【００７７】
まず、光ディスクＤに情報（データ）を記録する場合には、光ディスクＤに記録してあるＡＤＩＰ情報等のメディア情報が読み込まれる（ステップＳ１）。次に、読み込まれたメディア情報に基づき、光ディスクＤの製造ベンダー、ディスクタイプ及びディスクリビジョン等が判別される（Ｓ２）。その後、温度計１８により光ピックアップ５の内部温度、すなわち光ディスク装置１の表面温度が測定される（Ｓ３）。ここに、温度検出手段及び温度検出工程としての機能が実行される。なお、光ピックアップ５の内部温度は光ディスク装置１の表面温度と等価として用いることが可能である（図８参照）。
【００７８】
次に、測定された温度Ｔが所定の温度Ｔｔｈ（例えば室温より高い温度である４０℃）以上であるか否かが判断される（Ｓ４）。ここに、温度判断手段及び温度判断工程としての機能が実行される。Ｔ≧Ｔｔｈの場合には（Ｓ４のＹ）、レジスタ１５に高温用の記録ストラテジ、すなわち室温用の記録ストラテジより冷却パルスＣＰを短くした記録ストラテジが設定される（Ｓ５）。ここに、パルス幅変更手段及びパルス幅変更工程としての機能が実行される。一方、Ｔ＜Ｔｔｈの場合には（Ｓ４のＮ）、レジスタ１５に室温用の記録ストラテジが設定される（Ｓ６）。
【００７９】
その後、レジスタ１５に設定された記録ストラテジに基づいてマルチパルス生成部１６により発光波形が形成され、ライトが開始される（Ｓ７）。ライトが開始した後、ライトに伴う光ピックアップ５やＬＳＩ等による発熱のため表面温度が上昇する可能性があるので、最初に温度測定を行った時から一定時間ｔ（例えば１分）が経過する毎に、温度測定を行い（Ｓ３）、ステップＳ３からＳ７を繰り返す（Ｓ８のＹ）。温度測定を行った後に、一定時間ｔが経過する前に（Ｓ８のＮ）、ライトが終了すれば（Ｓ９）、フローは終了する。
【００８０】
このように本実施の形態では、光ディスクＤの周囲温度として扱われる光ディスク装置１の表面温度に応じて冷却パルスＣＰのパルス幅Ｔｃｐを変更することで、短パルス群からなる記録ストラテジが制御され、急熱急冷に支障がある高温環境下においても記録品質が維持されて記録品質の悪化を抑えることができる。また、記録品質の悪化を抑えるため、例えば光ディスク装置内にその内部温度を下げるための排熱ファン等を設けた場合に比べて、排熱ファン等が不要となり、コスト削減や軽量化等を実現するこができる。
【００８１】
なお、本実施の形態においては、光ディスクＤの周囲温度に応じて冷却パルスＣＰのパルス幅Ｔｃｐを変更しているが、これに限るものではなく、例えば先頭加熱パルスＦＰのパルス幅Ｔｆｐ、終端加熱パルスＬＰのパルス幅Ｔｌｐや連続加熱パルスＭＰのパルス幅Ｔｍｐ等を変更しても良い。
【００８２】
ここで、図８は光ディスク装置１の各部における温度測定結果を示す説明図である。図８には、同様な構造からなる光ディスク装置（ドライブ）１を５台用意して、光ディスク装置１の周囲雰囲気中、ドライブ底面、ディスク表面及びドライブ表面での測定温度（℃）と、光ピックアップ５内の温度計１８による測定温度（℃）との関係が示されている。図８に示すように、ディスク表面、ドライブ表面及び温度計１８による測定温度は、いずれも約３℃程度以内の差であるので、本実施の形態では、等価として扱われる。したがって、本実施の形態においては、光ピックアップ５内の温度計１８による測定温度、すなわち光ディスク装置１の表面温度によりパルス幅の制御を行っているが、これに限るものではなく、例えば、光ディスク装置１の周囲雰囲気中の温度と光ピックアップ５内の温度計１８による測定温度との相関関係を求めて、光ディスク装置１の周囲雰囲気中の温度によりパルス幅を制御しても良い。
【実施例】
【００８３】
一般的に、記録品質を判断する際に重要とされているのが、ＤＯＷ１と、ＤＯＷを繰り返した場合とである。ＤＯＷ１は、光ディスクＤを工場で生産する際に記録層（記録材料）２２の結晶化を行なうためにイレースパワーで書き込みを行う。ここで、記録媒質が均一となっている際に記録を行なうＤＯＷ０では、記録品質が良好であるが、一度光ディスク装置１により書き込みを行なった光ディスクＤでは、工場で書き込みを行なった部分と光ディスク装置１によって書き込みを行なった部分とが混在することになる。工場と光ディスク装置１とでは記録条件が異なっているため、そのような状態の光ディスクＤにさらに書き込みを行なうＤＯＷ１では記録品質が悪化する。本実施例では、ＤＯＷ１及びＤＯＷ３０に着目した。
【００８４】
記録品質の良し悪しを表すパラメータとしては、jitter値が用いられる。jitter値が低いほど記録品質は良く、一般的にはjitter値が９％を下回れば十分記録品質が良いと判断される。また、光ディスク装置１は、その本体中の素子のばらつき、あるいは、使用する相変化型の光ディスクＤのばらつき等の多くの要因により、記録パワーがばらつくことがあるために、jitter値が９％を下回るライトパワー範囲（ライトＰｗ範囲）が広い、すなわちパワーマージンが広い方が記録品質は良い。
【００８５】
本実施例では、５０℃にて記録ストラテジがＴｆｐ＝０．６７５Ｔ、Ｔｍｐ＝０．５Ｔ、Ｔｌｐ＝０．５Ｔ及びＴｃｐ＝０．５２５Ｔである場合とＴｆｐ＝０．６７５Ｔ、Ｔｍｐ＝０．５Ｔ、Ｔｌｐ＝０．５Ｔ及びＴｃｐ＝０．４７５Ｔである場合とにおいて、記録品質の比較を行った。なお、Ｔｃｐだけが異なっている。
【００８６】
図９はＤＯＷ１の場合のライトパワー（ライトＰｗ）とjitterとの関係を示すグラフ、図１０はＤＯＷ３０の場合のライトパワーとjitterとの関係を示すグラフである。図９及び図１０に示すように、いずれもＴｃｐ＝０．５２５ＴよりＴｃｐ＝０．４７５Ｔの場合の方が、jitterボトム値が低く、すなわち記録品質が良くなっている。
【００８７】
図１１は図９の場合のライトパワー（ライトＰｗ）とＩ１４／Ｉ１４Ｈ（modulation：再生信号波形のピークレベルに対する再生信号波形の振幅の大きさ)との関係を示すグラフ、図１２は図１０の場合のライトパワーとＩ１４／Ｉ１４Ｈとの関係を示すグラフである。図１１及び図１２に示すように、いずれもＴｃｐ＝０．５２５ＴよりＴｃｐ＝０．４７５Ｔの場合の方が、Ｉ１４／Ｉ１４Ｈの値が大きくなっている。ここで、Ｉ１４／Ｉ１４Ｈの値が大きい方が、再生信号振幅が大きくなり、光ディスク装置１の信号増幅器での信号の増幅が小さくて済むので、信号増幅にともなうノイズ成分の印加が軽減されるため、記録品質が高いといえる。
【００８８】
これらの結果から、ＣＰのパルス幅Ｔｃｐを高温時に短くする（０．５２５Ｔ→０．４７５Ｔ）ことによって、記録品質が向上することが分かる。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】本発明の実施の一形態の光情報記録装置である光ディスク装置の構成を概略的に示すブロック図である。
【図２】光ディスクの層構造を概略的に示す縦断側面図である。
【図３】３０℃、４０℃及び５０℃の各温度におけるライトパワーとjitterとの関係を示すグラフである。
【図４】データ長が５Ｔである場合の短パルス群の一例を概略的に示す模式図である。
【図５】因子割付を示す説明図である。
【図６】５０℃でＦＰ、ＭＰ及びＣＰのパルス幅を図５に示す説明図に従って水準１、水準２及び水準３と変化させた場合の記録品質の変化を示す特性図である。
【図７】情報記録処理の流れを示すフローチャートである。
【図８】光ディスク装置の各部における温度測定結果を示す説明図である。
【図９】ＤＯＷ１の場合のライトパワーとjitterとの関係を示すグラフである。
【図１０】ＤＯＷ３０の場合のライトパワーとjitterとの関係を示すグラフである。
【図１１】図９の場合のライトパワーとＩ１４／Ｉ１４Ｈとの関係を示すグラフである。
【図１２】図１０の場合のライトパワーとＩ１４／Ｉ１４Ｈとの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
【００９０】
１              光情報記録装置（光ディスク装置）
１４，１８      温度検出手段（制御部、温度計）
２２            記録層
Ｄ              光情報記録媒体（光ディスク）
ＣＰ            冷却パルス
ＦＰ            先頭加熱パルス
ＬＰ            終端加熱パルス
ＭＰ            連続加熱パルス
【図１】
2005093017.tif 000003
【図２】
2005093017.tif 000004
【図３】
2005093017.tif 000005
【図４】
2005093017.tif 000006
【図５】
2005093017.tif 000007
【図６】
2005093017.tif 000008
【図７】
2005093017.tif 000009
【図８】
2005093017.tif 000010
【図９】
2005093017.tif 000011
【図１０】
2005093017.tif 000012
【図１１】
2005093017.tif 000013
【図１２】
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