(57)【要約】【課題】ＡＳＩＣが搭載された装置において、ＡＳＩＣの信号を容易に観測可能とするとともに、ＡＳＩＣの信号の履歴を確認可能とすることによって、デバッグの作業効率の優れたデバイス信号観測システムを提供することである。【解決手段】ＣＰＵ１３（中央演算装置）から出力される信号観測対象のＡＳＩＣ（半導体集積回路）を指定する信号を受信して、信号観測対象として指定された信号観測対象のピンの現状の信号レベル及び信号レベルが変化した際の信号レベルをＣＰＵ１３が取得可能に信号観測ピンレベルレジスタ４１３に記憶させ、信号観測対象のピンの信号レベルが変化した際に割込み信号発生部４４から出力される割込み信号をＣＰＵ１３が受信すると、ＣＰＵ１３は、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に記憶された信号レベルを取得して表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に記憶させる。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
機器の操作が可能な操作部と、前記操作部からの入力信号に基づいて前記機器を制御する中央演算装置と、前記中央演算装置からの制御信号により直接的又は間接的に制御可能に構成された１以上の半導体集積回路と、前記機器の状態を表示する表示部と、前記機器の状態を記憶する記憶部と、を有するデバイス信号観測システムにおいて、
前記操作部は、前記機器に搭載された半導体集積回路のピンの信号レベルを観測するか否かを選択的に切替可能に構成された信号観測モード切替部と、当該信号観測モード切替部により前記観測を行う旨の選択がされた際に、前記信号観測対象の半導体集積回路及びピンを指定可能に構成されたスイッチ部と、を備え、
前記半導体集積回路は、前記中央演算装置から出力される信号観測対象の前記半導体集積回路を指定する信号を受信する信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタと、前記中央演算装置から出力される信号観測対象のピンを指定する信号を受信する信号観測ピン指定レジスタと、前記指定された信号観測対象のピンの信号レベルを抽出する観測ピン判定部と、前記抽出された信号観測対象のピンの信号レベルを前記中央演算装置が取得可能に記憶する信号観測ピンレベルレジスタと、前記抽出された信号観測対象のピンの信号レベルの変化を検出する変化検出部と、前記変化検出部により変化が検出された際に前記中央演算装置に対し割込み信号を出力する割込み信号発生部と、を備え、
前記中央演算装置は、前記割込み信号を受信すると当該割込み信号を出力した半導体集積回路の信号観測ピンレベルレジスタに記憶された前記信号観測対象ピンの信号レベルを取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に履歴情報として記憶させることを特徴とするデバイス信号観測システム。
【請求項２】
前記信号観測ピンレベルレジスタは、前記観測ピン判定部により抽出された現状の信号レベルと、前記変化検出部により信号レベルの変化が検出された際の信号レベルと、を前記中央演算装置が取得可能に記憶し、
前記中央演算装置は、前記割込み信号を受信すると当該割込み信号を出力した半導体集積回路の信号観測ピンレベルレジスタに記憶された前記現状の信号レベルと変化が検出された際の信号レベルとを取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に履歴情報として記憶させることを特徴とする請求項１に記載のデバイス信号観測システム。
【請求項３】
前記半導体集積回路は、前記変化検出部により前記信号観測対象のピンの信号レベルの変化が検出されてから次の信号レベルの変化が検出されるまでの経過時間を計測する信号観測ピン動作間計測部と、前記計測された経過時間を前記中央演算装置が取得可能に記憶する動作間計測レジスタと、をさらに備え、
前記中央演算装置は、前記割込み信号を受信すると当該割込み信号を出力した半導体集積回路の前記動作間計測レジスタに記憶された経過時間を取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に前記履歴情報として記憶させることを特徴とする請求項１又は２に記載のデバイス信号観測システム。
【請求項４】
前記半導体集積回路は、前記信号観測ピン動作間計測部のカウンタ値がオーバーフローした際に、当該カウンタ値を前記中央演算装置が取得可能に記憶するカウンタオーバーフローレジスタをさらに備え、
前記割込み信号発生部は、前記信号観測ピン動作間計測部のカウンタ値がオーバーフローした際に、前記中央演算装置に対し前記カウンタ値がオーバーフローした旨の割込み信号を出力し、
前記中央演算装置は、前記オーバーフローした旨の割込み信号を受信すると当該オーバーフローした旨の割込み信号を出力した半導体集積回路のカウンタオーバーフローレジスタに記憶されたカウンタ値を取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に前記履歴情報として記憶させることを特徴とする請求項３に記載のデバイス信号観測システム。
【請求項５】
前記中央演算装置は、前記履歴情報を記憶部に記憶させるにあたり、前記スイッチ部から特定の半導体集積回路の特定のピンが指定された際に、当該指定された半導体集積回路のピンの履歴情報を前記記憶部に記憶させることを特徴とする請求項１〜４の何れか一項に記載のデバイス信号観測システム。
【請求項６】
前記操作部は、前記記憶部に記憶された履歴情報を読み出すか否かを選択的に切替可能に構成された読出スイッチ部をさらに備え、
前記中央演算装置は、前記読出スイッチ部から前記履歴情報の読み出し指示を受けた際に、前記記憶部から前記履歴情報を読み出して前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１〜５の何れか一項に記載のデバイス信号観測システム。
【請求項７】
前記中央演算装置は、前記読出スイッチ部から前記履歴情報の読み出し指示を受けるとともに前記スイッチ部から特定の半導体集積回路の特定のピンが指定された際に、前記記憶部から当該指定された半導体集積回路のピンに対応する履歴情報を読み出して前記表示部に表示させることを特徴とする請求項６に記載のデバイス信号観測システム。
【請求項８】
前記デバイス信号観測システムは、転写紙上に画像を形成する画像形成手段をさらに有し、
前記中央演算装置は、前記表示部に表示した結果を前記画像形成手段により転写紙上に形成させること特徴とする請求項１〜４、６又は７の何れか一項に記載のデバイス信号観測システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デバイス信号観測システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit：特定用途向け半導体集積回路）は、回路の大規模化、複雑化にともない１チップあたりのピン数が増加しており、ＡＳＩＣを搭載する基板も部品点数の増加にともなって多層基板が主流となっている。また、ハードウェア記述言語やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等の普及によりＡＳＩＣ設計者はもとより、ＡＳＩＣ設計者以外の技術者であっても手軽に設計することが可能になっている。
【０００３】
さて、ＡＳＩＣ基板を実際に機器に挿入し機器が異常動作を起こした場合、ＡＳＩＣの信号レベルの観測を行うことによってデバッグを行うことがある。このような場合、オシロスコープ等の測定機器のプローブをＡＳＩＣのピン等に接触させて信号レベルを測定することにより不良箇所の検出を行っている。また、オシロスコープ等の測定機器を使用せず、複数のＡＳＩＣが互いの基板間の配線異常検査を実行し、その結果を中央演算装置に送信する配線異常検出方法が提案されている（例えば、特許文献１、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００１−２５５７９０号公報
【特許文献２】特開２００２−１１９２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、オシロスコープ等の測定機器のプローブを接触させる箇所が、多層基板や基板の裏側に存在する等の理由によりプローブを接触させることが物理的に不可能な場合がある。また、特許文献１及び特許文献２の方法では、特定のＡＳＩＣ及びピンを指定して信号を観測することはできないため、測定を所望する特定ＡＳＩＣ及びピンの信号の変化を確認することはできない。
【０００５】
本発明の課題は、ＡＳＩＣが搭載された装置において、ＡＳＩＣの信号を容易に観測可能とするとともに、ＡＳＩＣの信号の履歴を確認可能とすることによって、デバッグの作業効率の優れたデバイス信号観測システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、
機器の操作が可能な操作部と、前記操作部からの入力信号に基づいて前記機器を制御する中央演算装置と、前記中央演算装置からの制御信号により直接的又は間接的に制御可能に構成された１以上の半導体集積回路と、前記機器の状態を表示する表示部と、前記機器の状態を記憶する記憶部と、を有するデバイス信号観測システムにおいて、
前記操作部は、前記機器に搭載された半導体集積回路のピンの信号レベルを観測するか否かを選択的に切替可能に構成された信号観測モード切替部と、当該信号観測モード切替部により前記観測を行う旨の選択がされた際に、前記信号観測対象の半導体集積回路及びピンを指定可能に構成されたスイッチ部と、を備え、
前記半導体集積回路は、前記中央演算装置から出力される信号観測対象の前記半導体集積回路を指定する信号を受信する信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタと、前記中央演算装置から出力される信号観測対象のピンを指定する信号を受信する信号観測ピン指定レジスタと、前記指定された信号観測対象のピンの信号レベルを抽出する観測ピン判定部と、前記抽出された信号観測対象のピンの信号レベルを前記中央演算装置が取得可能に記憶する信号観測ピンレベルレジスタと、前記抽出された信号観測対象のピンの信号レベルの変化を検出する変化検出部と、前記変化検出部により変化が検出された際に前記中央演算装置に対し割込み信号を出力する割込み信号発生部と、を備え、
前記中央演算装置は、前記割込み信号を受信すると当該割込み信号を出力した半導体集積回路の信号観測ピンレベルレジスタに記憶された前記信号観測対象ピンの信号レベルを取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に履歴情報として記憶させることを特徴としている。
【０００７】
更に、請求項２に記載の発明のように、請求項１に記載の発明において、
前記信号観測ピンレベルレジスタは、前記観測ピン判定部により抽出された現状の信号レベルと、前記変化検出部により信号レベルの変化が検出された際の信号レベルと、を前記中央演算装置が取得可能に記憶し、
前記中央演算装置は、前記割込み信号を受信すると当該割込み信号を出力した半導体集積回路の信号観測ピンレベルレジスタに記憶された前記現状の信号レベルと変化が検出された際の信号レベルとを取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に履歴情報として記憶させることを特徴としている。
【０００８】
更に、請求項３に記載の発明のように、請求項１又は２に記載の発明において、
前記半導体集積回路は、前記変化検出部により前記信号観測対象のピンの信号レベルの変化が検出されてから次の信号レベルの変化が検出されるまでの経過時間を計測する信号観測ピン動作間計測部と、前記計測された経過時間を前記中央演算装置が取得可能に記憶する動作間計測レジスタと、をさらに備え、
前記中央演算装置は、前記割込み信号を受信すると当該割込み信号を出力した半導体集積回路の前記動作間計測レジスタに記憶された経過時間を取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に前記履歴情報として記憶させることを特徴としている。
【０００９】
更に、請求項４に記載の発明のように、請求項３に記載の発明において、
前記半導体集積回路は、前記信号観測ピン動作間計測部のカウンタ値がオーバーフローした際に、当該カウンタ値を前記中央演算装置が取得可能に記憶するカウンタオーバーフローレジスタをさらに備え、
前記割込み信号発生部は、前記信号観測ピン動作間計測部のカウンタ値がオーバーフローした際に、前記中央演算装置に対し前記カウンタ値がオーバーフローした旨の割込み信号を出力し、
前記中央演算装置は、前記オーバーフローした旨の割込み信号を受信すると当該オーバーフローした旨の割込み信号を出力した半導体集積回路のカウンタオーバーフローレジスタに記憶されたカウンタ値を取得して、前記表示部に表示させるとともに、前記記憶部に前記履歴情報として記憶させることを特徴としている。
【００１０】
更に、請求項５に記載の発明のように、請求項１〜４の何れか一項に記載の発明において、
前記中央演算装置は、前記履歴情報を記憶部に記憶させるにあたり、前記スイッチ部から特定の半導体集積回路の特定のピンが指定された際に、当該指定された半導体集積回路のピンの履歴情報を前記記憶部に記憶させることを特徴としている。
【００１１】
更に、請求項６に記載の発明のように、請求項１〜５の何れか一項に記載の発明において、
前記操作部は、前記記憶部に記憶された履歴情報を読み出すか否かを選択的に切替可能に構成された読出スイッチ部をさらに備え、
前記中央演算装置は、前記読出スイッチ部から前記履歴情報の読み出し指示を受けた際に、前記記憶部から前記履歴情報を読み出して前記表示部に表示させることを特徴としている。
【００１２】
更に、請求項７に記載の発明のように、請求項６に記載の発明において、
前記中央演算装置は、前記読出スイッチ部から前記履歴情報の読み出し指示を受けるとともに前記スイッチ部から特定の半導体集積回路の特定のピンが指定された際に、前記記憶部から当該指定された半導体集積回路のピンに対応する履歴情報を読み出して前記表示部に表示させることを特徴としている。
【００１３】
更に、請求項８に記載の発明のように、請求項１〜４、６又は７の何れか一項に記載の発明において、
前記デバイス信号観測システムは、転写紙上に画像を形成する画像形成手段をさらに有し、
前記中央演算装置は、前記表示部に表示した結果を前記画像形成手段により転写紙上に形成させること特徴としている。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１の発明によれば、中央演算装置から信号観測対象として指定された半導体集積回路のピンの信号レベルを中央演算装置が取得可能に記憶し、中央演算装置が、この記憶された信号レベルを取得することにより、信号観測対象の半導体集積回路のピンに対し物理的にプローブ等を接触させることが不可能な場合であっても、信号レベルを取得することが可能となる。また、取得した信号レベルは、表示部を介して容易に確認することが可能であるとともに、記憶部に履歴情報として記憶することにより開発側や生産側に動作不良時等の履歴情報を容易にフィードバックすることや、後に参照することが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００１５】
請求項２の発明によれば、請求項１に記載の発明の効果に加えて、信号観測対象ピンの現状の信号レベルと信号レベルの変化が検出された際の信号レベルとを中央演算装置が取得可能に記録する。このことにより、中央演算装置が割込み信号受信後、信号観測ピンレベルレジスタに対して信号レベルの取得を行う迄の間に信号観測対象であるピンの信号レベルが変化したような場合であっても信号レベルを取得することができる。また、取得した信号レベルは、表示部を介して容易に確認することが可能であるとともに、記憶部に履歴情報として記憶することにより開発側や生産側に動作不良時等の履歴情報を容易にフィードバックすることや、後に参照することが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００１６】
請求項３の発明によれば、請求項１又は２に記載の発明の効果に加えて、信号観測対象であるピンの信号レベルの変化が検出されてから、次の信号レベルの変化迄の経過時間を計測し、当該経過時間を中央演算装置が取得可能に記憶し、中央演算装置が、この記憶された経過時間を、表示部に表示させるとともに、履歴情報として記憶部に記憶させるようにしたことにより、表示部を介して信号レベル変化迄の経過時間を容易に確認することが可能であるとともに、開発側や生産側に動作不良時等の履歴情報を容易にフィードバックすることが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００１７】
請求項４の発明によれば、請求項３に記載の発明の効果に加えて、前記信号観測ピン動作間計測部のカウンタ値がオーバーフローした際の値を中央演算装置が取得可能に記憶し、中央演算装置が、この記憶されたカウンタ値を、表示部に表示させるとともに、履歴情報として記憶部に記憶させるようにしたことにより、表示部を介して信号レベル変化迄の経過時間がオーバーフローしたことを容易に確認することが可能であるとともに、開発側や生産側に動作不良時等の履歴情報を容易にフィードバックすることが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００１８】
請求項５の発明によれば、請求項１〜４の何れか一項に記載の発明の効果に加えて、中央演算装置は、履歴情報を記憶部に記憶させるにあたり、スイッチ部から特定の半導体集積回路の特定のピンが指定された際に、当該指定された半導体集積回路のピンの履歴情報を記憶部に記憶させる。このことにより、特定の半導体集積回路の特定のピンの履歴情報のみを記憶部に記憶することができる。
【００１９】
請求項６の発明によれば、請求項１〜５の何れか一項に記載の発明の効果に加えて、中央演算装置は、読出スイッチ部から履歴情報の読み出し指示を受けた際に、記憶部から履歴情報を読み出して、表示部に表示させる。このことにより、履歴情報を参照することが可能であり、動作不良時等の履歴情報を容易に確認することが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００２０】
請求項７の発明によれば、請求項６に記載の発明の効果に加えて、中央演算装置は、読出スイッチ部から履歴情報の読み出し指示を受けるとともに、スイッチ部から特定の半導体集積回路の特定のピンが指定された際に、記憶部から当該指定された半導体集積回路のピンに対応する履歴情報を読み出して前記表示部に表示させる。このことにより、特定の半導体の特定のピンに対応した履歴情報を参照することが可能であり、動作不良時等の履歴情報を容易に確認することが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００２１】
請求項８の発明によれば、請求項１〜４、６又は７の何れか一項に記載の発明の効果に加えて、中央演算装置は、表示部に表示した結果を転写紙上に形成させる。このことにより、信号観測の結果を転写紙を介して容易に確認することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、図を参照して本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。
図１に、本発明を実施するための最良の形態のデバイス信号観測システム１を示す。図１に示すように、デバイス信号観測システム１は、表示部１２と、操作部１１と、ＣＰＵ１３と、複数のＡＳＩＣ（１４ａ、１４ｂ、１４ｃ）と、記憶部１５と、を備えて構成されている。
【００２３】
操作部１１は、数字キーの他、各種機能に対応付けられた各種キーを備え、操作されたキーに対応する操作信号をＣＰＵ１３へ出力する。ユーザは、操作部１１を操作することによりデバイス信号観測システム１に対する各種操作指示を入力、操作指示データの送信等を行うことができる。
【００２４】
表示部１２は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）等の表示画面を備え、ＣＰＵ１３から入力される制御信号に基づいて、操作部１１における入力内容や各種表示を行う。また、後述するように、各ＡＳＩＣ（１４ａ、１４ｂ、１４ｃ）において、操作部１１より指定されたピンの信号レベルの表示を行う。
【００２５】
中央演算装置としてのＣＰＵ１３は、ＲＯＭ等（図示略）に記憶されているプログラム等の命令に従ってデバイス信号観測システム１を集中制御する。さらに、バスＳ１を介して各ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃに対しアドレス信号、ライトイネーブル信号、リードイネーブル信号、チップセレクト信号等を出力するとともにリードデータ等が入力されて、各ＡＳＩＣを１４ａ、１４ｂ、１４ｃを直接的に制御を行う。また、各ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃ間のバスＳ２、Ｓ３、Ｓ４、Ｓ５，Ｓ６，Ｓ７を介して各ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃを間接的に制御を行う。
【００２６】
半導体集積回路としてのＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃは、図示しないＣＰＵインターフェース部を備えており、バスＳ１を介してＣＰＵ１３との各種信号の入出力を行う。また、ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃは、ＣＰＵ１３から入力される各種信号を、バスＳ２、Ｓ３、Ｓ４、Ｓ５，Ｓ６，Ｓ７を介して相互に出力することが可能である。つまり、各ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃは、ＣＰＵ１３から入力される各種情報を、他ＡＳＩＣに中継することが可能である。なお、ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃは、同一の構成を有するＡＳＩＣ１４からなる。
【００２７】
記憶部１５は、フラッシュメモリ等の不揮発メモリであって、信号観測対象としたＡＳＩＣからＣＰＵ１３により取得される各種信号観測データを履歴情報として記憶する。なお、本実施の形態では、記憶部１５をデバイス信号観測システム１が内蔵する形態としたが、これに限らず、例えば、デバイス信号観測システム１が外部記憶手段と接続可能なシリアルインタフェースやモデム等に通信インターフェース等を備えるような場合、このインターフェースを介して接続される外部記憶手段に履歴情報を記憶することとしてもよい。
【００２８】
図２に、操作部１１及び表示部１２の一例を示す。ここで、操作部１１は、スイッチ部としての「数字キー」と、信号観測モード切替部としての信号観測モードキー「Ｔ」と、読出スイッチ部としての履歴読み出しキー「Ｒ」と、を有している。
【００２９】
ここで、信号観測モードキー「Ｔ」がユーザにより押下されると、当該押下信号に基づいてＣＰＵ１３は、デバイス信号観測システム１を通常動作モードから信号観測モードへと移行させ、表示部１２に信号観測画面を表示させる。また、履歴読み出しキー「Ｒ」がユーザに押下されると、当該押下信号に基づいてＣＰＵ１３は、記憶部１５に記憶された履歴情報を表示部１２に表示させる。
【００３０】
図３（ａ）は、表示部１２に表示された信号観測画面の一例を示している。ここで、ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃには予め各ＡＳＩＣを識別するためのＩＣ番号と、各ＡＳＩＣに備えられたピンを識別するためのピン番号とが定められており、ユーザにより操作部１１の数字キーを介して、信号観測対象ＡＳＩＣのＩＣ番号と当該ＡＳＩＣのピン番号とが夫々ＩＣ  Ｎｏ、Ｐｉｎ  Ｎｏに入力される。
【００３１】
例えば、図１のＡＳＩＣ１４ａのＩＣ番号が１、ＡＳＩＣ１４ｂのＩＣ番号が２、ＡＳＩＣ１４ｃのＩＣ番号が３と予め定められており、各ＡＳＩＣに備えられたピンに対し、所定のピン番号が予め定められていたとすると、図３（ｂ）のように信号観測を行うＡＳＩＣの指定が操作部１１を介してユーザにより行われる。ここで、３１で示したＩＣ番号及びピン番号の指定は、ＡＳＩＣ１４ａの１２番ピンの信号観測を行うことを示している。以下同様に、３２で示したＩＣ番号及びピン番号の指定は、ＡＳＩＣ１４ａの５６番ピン、３３で示したＩＣ番号及びピン番号の指定は、ＡＳＩＣ１４ｂの１２３番ピンの信号観測を行うことを示している。
【００３２】
ユーザにより信号観測を行うＡＳＩＣ番号及びピン番号が操作部１１を介して指定された後、ユーザにより操作部１１を介して入力される信号観測開始の旨の信号をＣＰＵ１３が受信すると、ＣＰＵ１３は、アドレスバスに所定アドレス、データバスに所定値、ライトイネーブル信号やチップセレクト信号等の制御信号が、信号観測対象として指定したＡＳＩＣに出力を行う。図３（ｂ）の例で示すと、ＣＰＵ１３は、ＡＳＩＣ１４ａのアドレス領域の所定アドレスに信号観測モード「ＯＮ」の指定と、ピン番号を示すデータ値「１２」をＡＳＩＣ１４ａにライトする。このような動作を、ＡＳＩＣ１４ａの５６番ピン、ＡＳＩＣ１４ｂの１２３番ピンを指定するためにＣＰＵ１３は繰り返す。
【００３３】
なお、図２では、操作部１１を表示部１２と独立して設けることとしているが、これに限定されず、操作部１１をタッチパネルとして表示部１２と一体的に構成するようにしてもよい。また、信号観測モードキー「Ｔ」が押下されることで信号観測モードへ移行することとしたが、信号観測モードキー「Ｔ」を特に設けず、予め定められたコードが、数字キーを介して入力されることで信号観測モードへ移行するようにしてもよい。また、同様に履歴読み出しキー「Ｒ」を特に設けず、予め定められたコードが、数字キーを介して入力されることで履歴参照モードへ移行するようにしてもよい。なお、履歴読み出しキー「Ｒ」が押下された際に表示部１２に表示される履歴情報については後に説明する。
【００３４】
[実施例１]
次に、本実施例１におけるデバイス信号観測システム１のＡＳＩＣ１４を説明する。図４を参照して、本実施例１におけるＡＳＩＣ１４の構成をより詳細に説明する。図４に示すように、ＡＳＩＣ１４は、ＣＰＵ−Ｉ／Ｆ４１と、観測ピン判定部４２と、変化検出部４３と、割込み信号発生部４４と、内部ロジック４５と、を備えて構成されている。
【００３５】
ＣＰＵ１３（不図示）から、ライトイネーブル信号、リードイネーブル信号及びチップセレクト信号等の信号がＡＳＩＣ１４に入力されると、ＡＳＩＣ１４の内部ロジック４５が動作し、ＡＳＩＣ１４から各種信号（不図示）が周辺デバイス等に出力される。さらに、ＣＰＵ１３によってアドレスバスやデータバスに必要なデータが出力され、デバイス信号観測システムを構成する各回路の動作の制御が行われる。ここで、ライトイネーブル信号及びリードイネーブル信号は、ＡＳＩＣ１４をライトモード及びリードモードにするための信号であり、チップセレクト信号は、ＡＳＩＣ１４の動作を開始させる為の信号である。
【００３６】
ＣＰＵ−Ｉ／Ｆ４１は、信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１と、信号観測ピン指定レジスタ４１２、信号観測ピンレベルレジスタ４１３と、を備えている。ＣＰＵ−Ｉ／Ｆ４１は、ＣＰＵ１３からのアドレスバス信号とチップセレクト信号をデコードし、ライトイネーブル信号がアクティブになった際にデータバス信号をレジスタ群に記憶させる機能を有する。ここで、信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１及び信号観測ピン指定レジスタ４１２は、ＣＰＵ１３からの制御信号により制御される。なお、本実施例１では、信号観測ピンレベルレジスタ４１３をＣＰＵ−Ｉ／Ｆ４１内に備えることとしたが、これに限定されず、ＣＰＵ−Ｉ／Ｆ４１外に備えることとしてもよい。
【００３７】
ＣＰＵ１３により信号観測対象と指定されたＡＳＩＣ１４の信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１は、ＣＰＵ１３により信号観測対象と指定されると、ＣＰＵから出力される制御信号により信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ値がＯＮに設定される。また、信号観測ピン指定レジスタ４１２は、ＣＰＵ１３から出力される制御信号により、信号観測対象のピン番号が信号観測ピン指定レジスタ値に設定される。
【００３８】
ＣＰＵ１３の制御により信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ値がＯＮに設定されると、内部バス信号Ｓ１１がアクティブとなる。また、信号観測ピン指定レジスタ値は、内部バス信号Ｓ１２により、観測ピン判定部４２に伝達される。
【００３９】
内部ロジック４５は、通常動作用の回路であって、Ａ、Ｂ、Ｃ、ＤはＡＳＩＣ１４の外部入力ピンを示しており、Ｅ、Ｆ、Ｇ、ＨはＡＳＩＣ１４の外部出力ピンを示している。ここで、外部入力ピンＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄからの信号は、内部ロジックへのパスと観測ピン判定部４２へのパスとが存在しており、また、外部出力ピンＥ、Ｆ、Ｇ、Ｈの信号は、当該ＡＳＩＣ１４の外部へ出力するパスと観測ピン判定部４２へのパスとが存在している。このように信号の入出力を観測ピン判定部４２に出力させるようにすることで、各ピンの信号レベルを観測ピン判定部４２を介して観測することが可能となる。なお、ピンＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈには予め各々のピンを識別するためのピン番号が設定されているものとし、ピンの数は本実施例１に限定されないものとする。
【００４０】
観測ピン判定部４２では、内部ロジック４５の外部入力ピンＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄからの信号及び外部出力ピンＥ、Ｆ、Ｇ、Ｈへの信号が入力されており、内部バス信号Ｓ１１がアクティブ状態であれば、内部バス信号Ｓ１２に基づいて信号観測対象のピンがＡ〜Ｈのどの信号か判定されて、当該信号観測を行うピンの信号を抽出され内部バス信号Ｓ１３として変化検出部４３と信号観測ピンレベルレジスタ４１３に出力される。なお、観測ピン判定部４２は、セレクタ回路等で実現することが可能である。
【００４１】
変化検出部４３は、２段のフリップフロップ等によって構成されており、観測ピン判定部４２から入力された内部バス信号Ｓ１３のレベル変化の検出を行う。変化検出部４３は、内部バス信号Ｓ１３のレベル変化を検出すると、内部バス信号Ｓ１４を１クロック幅のアクティブ信号を出力させて割込み信号発生部４４に出力するとともに、信号レベルの変化を検出した際の信号レベルを内部バス信号Ｓ１５として、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に出力する。
【００４２】
割込み信号発生部４４は、変化検出部４３から入力される内部バス信号Ｓ１４のトグルに基づいてＣＰＵ１３に割込み信号を出力する。
【００４３】
ＣＰＵ１３は、割込み信号発生部４４から割込み信号を受信すると、信号観測ピンレベルレジスタ４１３のリードを行い、当該リードアクセスにより取得されたデータを表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に履歴情報として記憶させる。
【００４４】
信号観測ピンレベルレジスタ４１３には、観測ピン判定部４２から入力された内部バス信号Ｓ１３及び変化検出部４３から入力された内部バス信号Ｓ１５の記憶がされる。つまり、信号観測ピンレベルレジスタ４１３には、信号観測対象であるピンの信号レベルの状態が2種類記憶されている。以下、信号観測ピンレベルレジスタ４１３の内部バス信号Ｓ１３の記憶を行う領域をレジスタＲ１３、内部バス信号Ｓ１５の記憶を行う領域をレジスタＲ１５という。
【００４５】
ここで、レジスタＲ１３に記憶される値は、信号観測を行うピンのリアルタイムの信号レベルを示しており、一方、レジスタＲ１５に記憶される値は、変化検出部４３が信号レベルの変化を検出した際の信号レベルを示している。ＣＰＵ１３は、割込み信号を受信した後、信号観測ピンレベルレジスタ４１３のリードを行うが、割込み信号受信からリード完了迄の間タイムラグが発生するため、信号観測対象のピンの信号レベルをリアルタイムに処理することは不可能である。そのため、ＣＰＵ１３は、上記したレジスタＲ１５のみならずレジスタＲ１３をリードすることにより、信号観測対象であるＡＳＩＣ１４のピンの、リアルタイムの信号レベルを取得することが可能となる。なお、ＣＰＵ１３からのリードアクセス終了後、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に記憶されたレジスタＲ１３及びレジスタＲ１５の値は消去され、割り込み信号もクリアされる。
【００４６】
次に、図５を参照して、本実施例１における信号観測処理について説明する。
なお、ここで、入力信号Ｕ１〜Ｕ５は、ユーザから操作部１１を介してＣＰＵ１３に入力される信号を示している。また、ステップＭ１１〜Ｍ１９は、ＣＰＵ１３により行われ、ステップＮ１１〜Ｎ１６は、信号観測対象のＡＳＩＣ１４にて行われる。
【００４７】
まず、ユーザにより信号観測を行う旨の入力信号Ｕ１が操作部１１の信号観測モードキー「Ｔ」を介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ１に基づいて通常動作モードから信号観測モードへ移行させ、表示部１２に図３（ａ）で例示したような信号観測画面を表示させる（ステップＭ１１）。
【００４８】
次いで、ユーザにより信号観測を行うＡＳＩＣ番号を指定する入力信号Ｕ２が操作部１１の数字キーを介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ２に基づいて信号観測対象として指定されたＡＳＩＣ番号を信号観測画面に表示させ、該当するＡＳＩＣ１４の信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１をＯＮに設定させる制御信号を出力する（ステップＭ１２）。
【００４９】
ステップＭ１２でＣＰＵ１３から入力される信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１をＯＮ設定する制御信号を受信した信号観測対象のＡＳＩＣ１４は、信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１をＯＮに設定する（ステップＮ１１）。
【００５０】
次いで、ユーザにより信号観測を行うピン番号を指定する入力信号Ｕ３が操作部１１の数字キーを介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ３に基づいて信号観測対象として指定されたピン番号を信号観測画面に表示させ、該当するＡＳＩＣに指定されたピン番号を信号観測ピン指定レジスタ４１２に設定させる制御信号を出力する（ステップＭ１３）。
【００５１】
ステップＭ１３でＣＰＵ１３から入力されるピン番号を設定する制御信号を受信した信号観測対象のＡＳＩＣ１４は、信号観測ピン指定レジスタ４１２に指定されたピン番号に対応する値を設定する（ステップＮ１２）。
【００５２】
ここで、ユーザにより設定完了を指示する入力信号Ｕ４が操作部１１を介してＣＰＵ１３に入力された場合（ステップＭ１４；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１３は、ステップＭ１５へと移行するが、再度入力信号Ｕ２が入力される等、ユーザから設定続行を旨する入力信号が入力されるような場合（ステップＭ１４；Ｎｏ）、ステップＭ１２へと再び戻り、ユーザから入力される入力信号Ｕ２、Ｕ３に応じてステップＭ１２〜Ｍ１４を入力信号Ｕ４が入力されるまで繰返し実行する。また、観測対象と指定されたＡＳＩＣ１４は、当該処理に伴ってステップＮ１１、Ｎ１２を繰返し実行する。
【００５３】
ステップＭ１４で設定完了を指示する入力信号Ｕ４がＣＰＵ１３に入力された場合（ステップＭ１４；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１３は、デバイス信号観測システム１に対し、通常動作を行うよう指示する制御信号を出力し、当該制御信号を受けてデバイス信号観測システム１は通常動作を開始する（ステップＭ１５）。
【００５４】
信号観測対象のＡＳＩＣ１４は、ステップＭ１５でＣＰＵ１３から出力された制御信号を受信すると、内部バス信号Ｓ１１を観測ピン判定部４２に対してアクティブとするとともに、内部バス信号Ｓ１２を観測ピン判定部４２に出力する。
【００５５】
次いで、観測ピン判定部４２は、内部バス信号Ｓ１２に基づいて信号観測対象のピン番号の信号レベルを抽出し内部バス信号Ｓ１３として出力する（ステップＮ１３）。この内部バス信号Ｓ１３は、変化検出部４３に出力されるとともに、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に出力され、観測対象であるピンのリアルタイムの信号レベルとして信号観測ピンレベルレジスタ４１３のレジスタＲ１３に記憶される。
【００５６】
変化検出部４３は、入力された内部バス信号Ｓ１３の信号レベルの変化を検出すると（ステップＮ１４；Ｙｅｓ）、信号レベルの変化を検出した際の信号レベルを内部バス信号Ｓ１５として信号観測ピンレベルレジスタ４１３に出力するとともに割込み信号発生部４４に対して内部バス信号Ｓ１４を出力する。ここで、信号観測ピンレベルレジスタ４１３は、当該内部バス信号Ｓ１５を観測対象であるピンに信号レベルの変化があった際の信号レベルとしてレジスタＲ１５に記憶する（ステップＮ１５）。
【００５７】
割込み信号発生部４４は、変化検出部４３から出力された内部バス信号Ｓ１４を受信すると、ＣＰＵ１３に対し割込み信号を出力する（ステップＮ１６）。
【００５８】
ＣＰＵ１３は、変化検出部４３から出力された割込み信号を受信すると（ステップＭ１６）、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に対し、レジスタＲ１３及びレジスタＲ１５に記憶されたデータのリードを行い（ステップＭ１７）、当該リードアクセスにより得られたデータを表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に履歴情報として記憶させる（ステップＭ１８）。
【００５９】
ここで、ユーザにより観測終了を指示する入力信号Ｕ５がＣＰＵ１３に入力されるまでの間（ステップＭ１９；Ｎｏ）、ＣＰＵ１３でのステップＭ１５〜Ｍ１９の処理及び当該処理に伴うＡＳＩＣ１４でのステップＮ１３〜Ｎ１６の処理が繰返し行われ、観測終了を指示する入力信号Ｕ５が操作部１１を介して入力された場合（ステップＭ１９；Ｙｅｓ）、本処理は終了する。
【００６０】
なお、本実施例１では記憶部１５に信号観測対象ＡＳＩＣの信号観測ピンレベルレジスタからリードした全ての信号レベルを履歴情報として記憶することとしたが、これに限らず、例えば、複数の信号観測対象ＡＳＩＣやピンが存在するような場合、信号観測対象ＡＳＩＣのうち、特定のＡＳＩＣが有する信号観測ピンレベルレジスタのリード値のみ記憶することとしてもよいし、信号観測対象ＡＳＩＣのうち、特定のＡＳＩＣの特定のピンに対応した信号観測ピンレベルレジスタのリード値のみを記憶することとしてもよい。
【００６１】
また、本実施例１では記憶部１５に信号観測対象ＡＳＩＣの信号観測ピンレベルレジスタからリードした全ての信号レベルを履歴情報として記憶することとしたが、全ての履歴情報を一時的に記憶する一時記憶手段を別途備え、当該一時記憶された全ての履歴情報から操作部１１の数字キー等を介して、信号観測を行ったＡＳＩＣのうち、特定のＡＳＩＣの特定ピンを選択して、当該選択された特定ＡＳＩＣの特定ピンに関する履歴情報のみ記憶部１５に記憶させる構成としてもよい。なお、このように構成した場合、一時記憶手段が設けられる場所はＣＰＵ１３がアクセス可能な場所であれば特に問わず、ＣＰＵ１３に直接接続される形態で設けられることとしてもよいし、ＡＳＩＣ１４ａ、１４ｂ、１４ｃがそれぞれ内蔵する形態で設けられることとしてもよい。
【００６２】
次に、図６を参照して、記憶部１５に記憶された履歴情報の参照処理について説明する。なお、ここで、入力信号Ｕ６〜Ｕ８は、ユーザから操作部１１を介してＣＰＵ１３に入力される信号を示している。また、ステップＭ２１〜Ｍ２３は、ＣＰＵ１３により行われる。
【００６３】
まず、ユーザにより履歴情報を参照する旨の入力信号Ｕ６が操作部１１の履歴参照モードキー「Ｒ」を介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ６に基づいて通常動作モードから履歴参照モードへ移行させ、表示部１２に図３（ａ）で例示したような信号観測画面を表示させる（ステップＭ２１）。
【００６４】
次いで、ユーザにより履歴参照を行うＡＳＩＣ番号とピン番号とを指定する入力信号Ｕ７が操作部１１の数字キーを介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ７に基づいて信号観測対象として指定されたＡＳＩＣ番号とピン番号とを信号観測画面に表示させる（ステップＭ２２）。
【００６５】
ここで、ユーザにより設定完了を指示する入力信号Ｕ８が操作部１１を介してＣＰＵ１３に入力された場合（ステップＭ２３；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１３は、ステップＭ２４へと移行するが、ユーザから設定続行を旨する入力信号が入力されるような場合（ステップＭ２３；Ｎｏ）、ステップＭ２２へと再び戻り、ユーザから入力される入力信号Ｕ７に応じてステップＭ２２を処理する。
【００６６】
ステップＭ２３で設定完了を指示する入力信号Ｕ８がＣＰＵ１３に入力された場合（ステップＭ２３；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１３は、指定されたＡＳＩＣ番号のピン番号に対応する履歴情報を記憶部１５から読み出して（ステップＭ２４）、当該読み出した履歴情報を表示部１２に表示させ（ステップＭ２５）、本処理は終了する。
【００６７】
図７に、本実施例１の履歴参照処理によって表示部１２に表示される履歴情報の一例を示す。図７は、図６のステップＭ２２で、ＡＳＩＣ１４ａの１２番ピン、ＡＳＩＣ１４ａの５６番ピン、ＡＳＩＣ１４ｂの１２３番ピンが指定された場合の表示結果を示している。ここで、“↑”、“↓”は、ピンの信号レベルがトグルしたときの状態を示しており、“−”は、信号観測対象であるピンの信号レベルがトグルしていない状態を示している。“↑”は、信号レベルがＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を、“↓”は、信号レベルがＨｉｇｈからＬｏｗに変化したことを示している。なお、ここで信号レベルの変化を、画面左から右にかけて時系列的に示している。
【００６８】
また、“↑”、“↓”が連続で表示されているものは、ＣＰＵ１３が、信号観測ピンレベルレジスタ４１３をリードした際、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に記憶されている内部バス信号Ｓ１５の記憶結果と、内部バス信号Ｓ１３の記憶結果とが異なったため、信号レベルの変化があった際の信号レベルであるレジスタＲ１５の記憶結果を記憶部１５に記憶した後、リアルタイムの信号レベルであるレジスタＲ１３の記憶結果を記憶部１５に記憶したことを示している。つまり、ＣＰＵ１３が割込み信号受信後、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に対してリードアクセスを行う迄の間に信号観測対象であるピンの信号レベルが変化した場合に相当しており、このような場合であっても、信号レベルの変化を確認することが可能である。
【００６９】
なお、信号観測時に表示部１２に表示される信号観測結果も図７と同様の画面構成で表示されるものとし、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に記憶された記憶結果が取得後、順次表示されるものとする。
【００７０】
以上のように、信号観測対象として指定されたＡＳＩＣ１４のピンの信号レベルをＣＰＵ１３が取得可能に記憶し、ＣＰＵ１３が、この記憶された信号レベルを取得することにより、信号観測対象ＡＳＩＣのピンに対し物理的にプローブ等を接触させることが不可能な場合であっても、信号レベルを取得することが可能となる。また、取得した信号レベルは、表示部１２を介して容易に確認することが可能であるとともに、記憶部１５に履歴情報として記憶することにより開発側や生産側に動作不良時等の履歴情報を容易にフィードバックすることや、後に参照することが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【００７１】
また、信号観測対象ピンの現状の信号レベルと、信号レベルの変化が検出された際の信号レベルと、を表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に記憶させるようにしたことにより、ＣＰＵ１３が割込み信号受信後、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に対してリードアクセスを行う迄の間に信号観測対象であるピンの信号レベルが変化したような場合であっても信号レベルを確認することができる。
【００７２】
なお、本実施例１では、ユーザの指定により特定のＡＳＩＣの特定のピンに対応する履歴情報を表示部１２に表示させることとしたが、これに限らず、記憶部１５に記憶された全ての履歴情報を表示部１２に表示させることとしてもよい。
【００７３】
また、特定のＡＳＩＣの特定のピンに対応する履歴情報が複数存在する場合、その複数の履歴情報を全て表示させることとしてもよいし、最も直近に記憶された履歴情報のみ表示させることとしてもよい。
【００７４】
また、信号観測ピン指定レジスタ４１２、変化検出部４３をｎ個（ｎは自然数、以下同様）及び内部バス信号Ｓ１２、内部バス信号Ｓ１３をｎ本設けることにより、ｎ本のピン観測を行うことが可能となる。さらに、信号観測ピンレベルレジスタ４１３にレジスタＲ１３及びレジスタＲ１５をｎ個設け、ＣＰＵ１３が同時にリードすることが可能であれば、ＣＰＵ１３は同一ＡＳＩＣ内の観測信号ピンの状態を一回のリードアクセスでｎ本分のピンの信号レベルを処理することが可能となる。
【００７５】
[実施例２]
次に、本実施例２におけるデバイス信号観測システム１のＡＳＩＣ１４を説明する。図８を参照して、本実施例２におけるＡＳＩＣ１４の構成をより詳細に説明する。図８に示すように、ＡＳＩＣ１４は、ＣＰＵ−Ｉ／Ｆ４１と、観測ピン判定部４２と、変化検出部４３と、割込み信号発生部４４と、内部ロジック４５と、モード切替部４６と、信号観測ピン動作間計測部４７と、を備えて構成されている。
【００７６】
ＡＳＩＣ１４の各部のうち実施例１の各部と同名称の各部は、概して実施例１の各部と同様の構成を有する。このため、デバイス信号観測システム１の各部と異なる部分を主として説明する。
【００７７】
モード切替部４６には、内部バス信号Ｓ１１が入力可能な経路が設けられている。モード切替部４６は、信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１がＯＮに設定されて内部バス信号Ｓ１１がアクティブとなる信号を受信すると、内部バス信号Ｓ１６を信号観測ピン動作間計測部４７に対して出力する。
【００７８】
信号観測ピン動作間計測部４７は、時間計測を行うカウント機能を備えており、通常動作時には当該カウント機能は通常動作を行う為に動作しているが、モード切替部４６から、内部バス信号Ｓ１６を受信すると、当該カウント機能を信号観測対象となるピンのレベル変化の時間を計測する信号観測ピン動作間計測として動作し、信号観測モード中常にカウントを継続する。
【００７９】
信号観測ピン動作間計測部４７には、割込み信号発生部４４から出力される割込み信号が入力可能な経路が設けられており、当該割込み信号を受信すると、信号観測ピン動作間計測部４７は、その際のカウント値を動作間計測レジスタ４１４に内部バス信号Ｓ１７として出力した後、カウント値を初期値０に戻し再度カウントを行う。
【００８０】
また、信号観測ピン動作間計測部４７は、カウント値がオーバーフローした場合、カウント値を初期値０に戻し再度カウントを行うが、その際に、カウンタオーバーフローレジスタ４１５に対しオーバーフローしたフルカウント値を内部バス信号Ｓ１９として出力するとともに内部バス信号Ｓ１８を割込み信号発生部４４に出力する。当該内部バス信号Ｓ１８を受信した割込み信号発生部４４は、ＣＰＵ１３に対しカウンタがオーバーフローした旨の割込み信号を出力する。
【００８１】
動作間計測レジスタ４１４は、信号観測ピン動作間計測部４７から入力される内部バス信号Ｓ１７、つまり、割込み信号発生時のカウント値の記憶を行う。以下、動作間計測レジスタ４１４の内部バス信号Ｓ１７の記憶を行う領域をレジスタＲ１７という。
【００８２】
カウンタオーバーフローレジスタ４１５は、信号観測ピン動作間計測部４７から入力される内部バス信号Ｓ１９、つまり、カウンタオーバーフロー時のカウンタ値の記憶を行う。以下、カウンタオーバーフローレジスタ４１５の内部バス信号Ｓ１９の記憶を行う領域をレジスタＲ１９という。
【００８３】
ＣＰＵ１３は、割込み信号発生部４４から割込み信号を受信すると、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に記憶されたレジスタＲ１３及びレジスタＲ１５をリードするとともに、動作間計測レジスタ４１４に記憶されたレジスタＲ１７のリードを行い、当該リードアクセスにより取得されたデータを表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に履歴情報として記憶させる。
【００８４】
また、ＣＰＵ１３は、割込み信号発生部４４からカウンタがオーバーフローした旨の割込み信号を受信すると、カウンタオーバーフローレジスタ４１５に記憶されたレジスタＲ１９のリードを行い、当該リードアクセスにより取得されたデータを表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に履歴情報として記憶させる。
【００８５】
次に、図９を参照して、実施例２における信号観測処理について説明する。
なお、ここで、入力信号Ｕ１〜Ｕ５は、ユーザから操作部１１を介してＣＰＵ１３に入力される信号を示しており、図５で説明した入力信号Ｕ１〜Ｕ５と同様であるため、入力信号Ｕ１〜Ｕ５にかかる図は省略する。また、ステップＭ３１〜Ｍ３９は、ＣＰＵ１３により行われ、ステップＮ３１〜Ｎ３９は、信号観測対象のＡＳＩＣ１４にて行われる。
【００８６】
まず、ユーザにより信号観測を行う旨の入力信号Ｕ１が操作部１１の信号観測モードキー「Ｔ」を介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ１に基づいて通常動作モードから信号観測モードへ移行させ、表示部１２に図３（ａ）で例示したような信号観測画面を表示させる（ステップＭ３１）。
【００８７】
次いで、ユーザにより信号観測を行うＡＳＩＣ番号を指定する入力信号Ｕ２が操作部１１の数字キーを介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ２に基づいて信号観測対象として指定されたＡＳＩＣ番号を信号観測画面に表示させ、該当するＡＳＩＣ１４の信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１をＯＮに設定させる制御信号を出力する（ステップＭ３２）。
【００８８】
ステップＭ３２でＣＰＵ１３から入力される信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１をＯＮ設定する制御信号を受信した信号観測対象のＡＳＩＣ１４は、信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ４１１をＯＮに設定する（ステップＮ３１）。
【００８９】
次いで、ユーザにより信号観測を行うピン番号を指定する入力信号Ｕ３が操作部１１の数字キーを介して入力されると、ＣＰＵ１３は、当該入力信号Ｕ３に基づいて信号観測対象として指定されたピン番号を信号観測画面に表示させ、該当するＡＳＩＣに指定されたピン番号を信号観測ピン指定レジスタ４１２に設定させる制御信号を出力する（ステップＭ３３）。
【００９０】
ステップＭ３３でＣＰＵ１３から入力されるピン番号を設定する制御信号を受信した、信号観測対象のＡＳＩＣ１４は、信号観測ピン指定レジスタ４１２に指定されたピン番号に対応する値を設定する（ステップＮ３２）。
【００９１】
ここで、ユーザにより設定完了を指示する入力信号Ｕ４が操作部１１を介してＣＰＵ１３に入力された場合（ステップＭ３４；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１３は、ステップＭ３５へと移行するが、再度入力信号Ｕ２が入力される等、ユーザから設定続行を旨する入力信号が入力されるような場合（ステップＭ３４；Ｎｏ）、ステップＭ３２へと再び戻り、ユーザから入力される入力信号Ｕ２、Ｕ３に応じてステップＭ３２〜Ｍ３４を入力信号Ｕ４が入力されるまで繰返し実行する。また、観測対象と指定されたＡＳＩＣ１４は、当該処理に伴ってステップＮ３１、Ｎ３２を繰返し実行する。
【００９２】
ステップＭ１４で設定完了を指示する入力信号Ｕ４がＣＰＵ１３に入力された場合（ステップＭ３４；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１３は、デバイス信号観測システム１に対し、通常動作を行うよう指示する制御信号を出力し、当該制御信号を受けてデバイス信号観測システム１は通常動作を開始する（ステップＭ３５）。
【００９３】
信号観測対象のＡＳＩＣ１４は、ステップＭ１５でＣＰＵ１３から出力された制御信号を受けると、内部バス信号Ｓ１１を観測ピン判定部４２に対してアクティブとするとともに、内部バス信号Ｓ１２を観測ピン判定部４２に出力する。
【００９４】
次いで、観測ピン判定部４２は、内部バス信号Ｓ１２に基づいて信号観測対象のピン番号の信号レベルを抽出し内部バス信号Ｓ１３として出力する（ステップＮ３３）。この内部バス信号Ｓ１３は、変化検出部４３に出力されるとともに信号観測ピンレベルレジスタ４１３に出力され、観測対象であるピンのリアルタイムの信号レベルとして信号観測ピンレベルレジスタ４１３のレジスタＲ１３に記憶される。
【００９５】
また、モード切替部４６は、内部バス信号Ｓ１１を受信すると、信号観測ピン動作間計測部４７に対し内部バス信号Ｓ１６の出力を行う。信号観測ピン動作間計測部４７は、内部バス信号Ｓ１６を受信すると、信号観測対象となるピンのレベル変化の時間を計測するためのカウンタを開始する（ステップＮ３４）。
【００９６】
変化検出部４３は、入力される内部バス信号Ｓ１３の信号レベルの変化を検出すると（ステップＮ３５；Ｙｅｓ）、信号レベルの変化を検出した際の信号レベルを内部バス信号Ｓ１５として信号観測ピンレベルレジスタ４１３に出力するとともに内部バス信号Ｓ１４を割込み信号発生部４４及び信号観測ピン動作間計測部４７に対して出力する。
【００９７】
信号観測ピンレベルレジスタ４１３は、入力された内部バス信号Ｓ１５の記憶を行い、動作間計測レジスタは、その際のカウンタ値を信号観測ピン動作間計測部４７から入力される内部バス信号Ｓ１７に基づいて記憶する（ステップＮ３６）。
【００９８】
さらに、割込み信号発生部４４は、変化検出部４３から出力された内部バス信号Ｓ１４を受信すると、ＣＰＵ１３に対し割込み信号を出力する（ステップＮ３９）。
【００９９】
一方、ステップＭ３５で信号観測対象となるピンの信号レベルの変化が検出されない場合（ステップＮ３５；Ｎｏ）、信号観測ピン動作間計測部４７のカウント値がオーバーフローか否かが判定される。ここで、カウント値がオーバーフローでない場合（ステップＮ３７；Ｎｏ）、ステップＮ３５に再び戻る。
【０１００】
カウント値がオーバーフローである場合（ステップＮ３７；Ｙｅｓ）、信号観測ピン動作間計測部４７から、カウンタオーバーフロー時のカウンタ値が内部バス信号Ｓ１９としてカウンタオーバーフローレジスタ４１５に出力され、レジスタＲ１９に記憶される（ステップＮ３８）。なお、ここで内部バス信号Ｓ１９が出力されるとカウンタ値は初期値０に戻されるものとする。
【０１０１】
さらに、信号観測ピン動作間計測部４７から割込み信号発生部４４に対し、内部バス信号Ｓ１８が出力され、割込み信号発生部４４は、この内部バス信号Ｓ１８を受信すると、ＣＰＵ１３に対しカウンタがオーバーフローした旨を示す割込み信号を出力する（ステップＮ３９）。
【０１０２】
ＣＰＵ１３は、割込み信号発生部４４から出力された割込み信号を受信すると（ステップＭ３６）、レジスタＲ１３、レジスタＲ１５及びレジスタＲ１７のリードを行う。なお、割込み信号発生部４４から出力された割込み信号がオーバーフローした旨の割込み信号であった場合は、ＣＰＵ１３はレジスタＲ１９のリードを行う（ステップＭ３７）。
【０１０３】
次いで、ＣＰＵ１３は、ステップＭ３７で得られたデータを表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に履歴情報として記憶させる（ステップＭ３５）。
【０１０４】
ここで、ユーザにより観測終了を指示する入力信号Ｕ５がＣＰＵ１３に入力されるまでの間（ステップＭ３９；Ｎｏ）、ＣＰＵ１３でのステップＭ３５〜Ｍ３９の処理及び当該処理に伴うＡＳＩＣ１４でのステップＮ３３〜Ｎ３９の処理が繰返し行われ、観測終了を指示する入力信号Ｕ５が操作部１１を介して入力された場合（ステップＭ３９；Ｙｅｓ）、本処理は終了する。
【０１０５】
なお、上記した本実施例２の信号観測処理で記憶部１５に記憶された履歴情報の参照は、実施例１で説明した履歴参照処理（図６参照）と同様であるため省略する。
【０１０６】
図１０に、本実施例２の履歴参照処理によって表示部１２に表示される履歴情報の一例を示す。図１０は、図６のステップＭ２２で、ＡＳＩＣ１４ａの１２番ピン、ＡＳＩＣ１４ａの５６番ピン、ＡＳＩＣ１４ｂの１２３番ピンが指定された場合の表示結果を示している。ここで、“↑”、“↓”は、信号観測対象であるピンの信号レベルがトグルしたときの状態を示している。なお、“↑”は、信号レベルがＬｏｗからＨｉｇｈへの変化を、“↓”は、信号レベルがＨｉｇｈからＬｏｗに変化したことを示している。なお、ここで信号レベルの変化を、画面左から右にかけて時系列的に示している。
【０１０７】
図１０の点線９１内において数値で示される値は、信号レベルが変化する迄の経過時間を示している。例えば、図１０の一列目では、信号観測開始からＡＳＩＣ１４ｂの１２３番ピンの信号レベルが変化する迄の間が２０カウント経過したことを示しており、二列目では、ＡＳＩＣ１４ｂの１２３番ピンの信号レベルが変化した時からＡＳＩＣ１４ａの５６番ピンの信号レベルが変化する迄の間が３０カウント経過したことを示している。このように経過時間をカウンタ値で表示することにより、ユーザは、信号観測対象であるピンの信号レベルの変化から次の変化までの時間を確認することができる。
【０１０８】
また、数値“２５５”で示された値は、フルカウント値を示しており、計時を行うカウント値がオーバーフローしたことを意味している。障害等の理由により、信号観測対象であるピンの信号レベルが変化しない場合やフルカウント値以上で信号レベルが変化する場合、表示部１２にフルカウント値が連続して表示されることになる。なお、ここで信号観測ピン動作間計測部４７のカウンタの上限値を２５５とした場合を示しているが、この値に限定はされず、カウンタの上限値は任意に設定することが可能であるものとする。
【０１０９】
また、“↑”、“↓”が連続で表示されているものは、ＣＰＵ１３が、信号観測ピンレベルレジスタ４１３をリードした際、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に記憶されているレジスタＲ１５の値と、レジスタＲ１３の値とが異なったため、信号レベルの変化があった際の信号レベルであるレジスタＲ１５の記憶結果を表示した後、リアルタイムの信号レベルであるレジスタＲ１３の記憶結果を表示している。つまり、ＣＰＵ１３が割込み信号受信後、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に対してリードアクセスを行う迄の間に信号観測対象であるピンの信号レベルが変化した場合に相当している。このような場合、レジスタＲ１５の値からレジスタＲ１３の値への変化迄の時間を“−”で示している。
【０１１０】
なお、信号観測時に表示部１２に表示される信号観測結果も図１０と同様の画面構成で表示されるものとし、信号観測ピンレベルレジスタ４１３、動作間計測レジスタ、カウントオーバーフローレジスタに記憶された記憶結果が取得後、順次表示されるものとする。
【０１１１】
以上のように、信号観測対象として指定されたＡＳＩＣ１４のピンの信号レベルをＣＰＵ１３が取得可能に記憶し、ＣＰＵ１３が、この記憶された信号レベルを取得することにより、信号観測対象ＡＳＩＣのピンに対し物理的にプローブ等を接触させることが不可能な場合であっても、信号レベルを取得することが可能となる。また、取得した信号レベルは、表示部１２を介して容易に確認することが可能であるとともに、記憶部１５に履歴情報として記憶することにより開発側や生産側に動作不良時等の履歴情報を容易にフィードバックすることや、後に参照することが可能であるため、デバッグの作業効率を向上させることができる。
【０１１２】
また、信号観測対象ピンの現状の信号レベルと、信号レベルの変化が検出された際の信号レベルと、を表示部１２に表示させるとともに、記憶部１５に記憶させるようにしたことにより、ＣＰＵ１３が割込み信号受信後、信号観測ピンレベルレジスタ４１３に対してリードアクセスを行う迄の間に信号観測対象であるピンの信号レベルが変化したような場合であっても信号レベルを確認することができる。
【０１１３】
また、信号観測対象であるピンの信号レベルの変化が検出されてから、次の信号レベルの変化迄の経過時間を計測し、当該経過時間を中央演算装置が取得可能に記憶し、中央演算装置が、この記憶された経過時間を、表示部に表示させるとともに、履歴情報として記憶部に記憶させるようにしたことにより、信号レベル変化迄の経過時間を確認することが可能であり、さらに、信号レベル変化迄の経過時間がオーバーフローしたことを容易に確認することができる。
【０１１４】
なお、本実施例２では、ユーザの指定により特定のＡＳＩＣの特定のピンに対応する履歴情報を表示部１２に表示させることとしたが、これに限らず、記憶部１５に記憶された全ての履歴情報を表示部１２に表示させることとしてもよい。
【０１１５】
また、特定のＡＳＩＣの特定のピンに対応する履歴情報が複数存在する場合、その複数の履歴情報を全て表示させることとしてもよいし、最も直近に記憶された履歴情報のみ表示させることとしてもよい。
【０１１６】
また、本実施例２では、各ＡＳＩＣ１４に設けられた信号観測ピン動作間計測部４７のカウンタ機能を使用することで信号観測を行うピンの信号レベル変化間の時間を測定することとしたが、これに限らず、デバイス信号観測システム１の何れかに設けられたカウンタ機能を使用して信号観測を行うピンの信号レベル変化間の時間を測定することとしてもよい。例えば、複数のＡＳＩＣが備えられており、特定のＡＳＩＣの信号観測ピン動作間計測部４７を使用して、他のＡＳＩＣの信号観測を行うピンの信号レベル変化間の時間を測定するような場合には、時間の計測を行うＡＳＩＣに対し、他のＡＳＩＣから割込み信号を入力させるような手段が必要となる。
【０１１７】
なお、本実施の形態におけるデバイス信号観測システム１の細部構成および詳細動作に関しては、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【０１１８】
例えば、信号観測時及び履歴情報参照時に表示部１２に表示される信号レベル表示画面を、スクロールするように表示させることとしてもよく、この場合、長時間の測定結果を表示することが可能となる。また、印刷装置等の画像形成手段をデバイス信号観測システム１に備えることにより、表示部１２に表示される表示結果をＣＰＵ１３の制御に基づき画像形成手段を用いて記録紙等に形成させるようにしてもよい。
【０１１９】
また、履歴情報と信号観測結果とを表示部１２の同一画面上に表示させるようにしてもよく、この場合、信号観測を行う特定ＡＳＩＣの特定ピンの信号レベルの状態と該ＡＳＩＣのピンに対応する履歴情報とを同時に参照することが可能な表示形態にすることが好ましい。このような表示形態にすることにより、例えば、履歴情報に記憶された動作不良時の信号レベルの状態と修復後の信号レベルとを容易に比較することができるため、デバッグの作業効率をより向上させることができる。    
【図面の簡単な説明】
【０１２０】
【図１】デバイス信号観測システムの構成を示すブロック図である。
【図２】操作部及び表示部の一例を示す図である。
【図３】表示部に表示される信号観測画面の一例を示す図である。
【図４】実施例１におけるＡＳＩＣの構成を示すブロック図である。
【図５】実施例１における信号観測処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】実施例１における履歴情報参照処理の流れを示すフローチャートである。
【図７】実施例１における履歴情報の表示結果画面の一例を示す図である。
【図８】実施例２におけるＡＳＩＣの構成を示すブロック図である。
【図９】実施例２における信号観測処理の流れを示すフローチャートである。
【図１０】実施例２における履歴情報の表示結果画面の一例を示す図である。
【符号の説明】
【０１２１】
１  デバイス信号観測システム
１１  操作部
１２  表示部
１３  ＣＰＵ
１４  ＡＳＩＣ
１５  記憶部
４１  ＣＰＵ−Ｉ／Ｆ
４１１  信号観測ＯＮ／ＯＦＦレジスタ
４１２  信号観測ピン指定レジスタ
４１３  信号観測ピンレベルレジスタ
４１４  動作間計測レジスタ
４１５  カウンタオーバーフローレジスタ
４２  観測ピン判定部
４３  変化検出部
４４  割込み信号発生部
４５  内部ロジック
４６  モード切替部
４７  信号観測ピン動作間計測部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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