(57)【要約】  【課題】  Ｘ線源の回転面方向に拡大した視野を有し、かかる視野内においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることが可能なＸ線計測装置を提供する。  【解決手段】  検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線源２０１と、検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器２０２と、検査対象に対するＸ線源２０１およびＸ線検出器２０２の相対位置を変化させる回転装置と、計測データの演算処理を行う処理装置を有し、Ｘ線検出器２０２をＸ線源２０１が描く回転面の接線方向に、回転面に平行な方向におけるＸ線検出器２０２の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し、かつ、処理装置において、計測データに対数変換処理を行い投影データを得る処理と、投影データの値に重みを乗算する処理と、重みを乗算したデータを用いて再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行い、３次元再構成像を得るように構成する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管と、前記検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器と、前記検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と、前記計測データの演算処理を行う処理装置とを有し、前記Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に、回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し、かつ、前記処理装置において、前記計測データに対数変換処理を行い投影データを得る処理と、前記投影データの値に重みを乗算する処理と、前記重みを乗算したデータを用いて再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って、３次元再構成像を得るように構成したことを特徴とするＸ線計測装置。
【請求項２】
検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管と、前記検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器と、前記検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と、前記計測データの演算処理を行う処理装置とを有し、前記Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に、回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し、かつ、前記処理装置において、前記計測データの値に重みの指数変換値を乗算する処理と、前記重みを乗算したデータに対数変換処理を行い投影データを得る処理と、前記投影データを用いて再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って、３次元再構成像を得るように構成したことを特徴とするＸ線計測装置。
【請求項３】
前記Ｘ線検出器が、１次元もしくは２次元検出器であることを特徴とする請求項１又は２に記載のＸ線計測装置。
【請求項４】
前記重みを乗算する処理において、前記計測データ上に回転軸に相当する回転中心線を設定し、前記回転中心線から前記計測データの端までの距離を測り、前記回転中心線から長い方の端に向かって短い方の距離と同じ距離を持つ位置に境界線を設定し、前記境界線から長い方の端までの重みを１.０とし、前記回転中心線における重みを０.５とし、回転中心線から短い方の端における重みを０.０とすることを特徴とする請求項３に記載のＸ線計測装置。
【請求項５】
前記重みを乗算する処理において、前記重みを示す関数が連続関数であり、前記回転中心線から両端に向かって等距離の位置の重みの合計が１.０であることを特徴とする請求項４に記載のＸ線計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線計測技術に係り、特に、Ｘ線を用いて被写体の断層撮影を行うＸ線計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
１次元Ｘ線検出器を用い、Ｘ線源と１次元Ｘ線検出器を被写体の周りで回転させながら回転撮影を行うＸ線計測装置（以下、ＣＴ装置）がある。また、２次元Ｘ線検出器を用い、Ｘ線源と２次元Ｘ線検出器を被写体の周りで回転させながら回転撮影を行うＸ線計測装置（以下、コーンビームＣＴ装置）がある。また、Ｘ線源とＸ線検出器を固定し、被写体を１回転させながら回転撮影を行うＣＴ装置およびコーンビームＣＴ装置がある。これらのＣＴ装置およびコーンビームＣＴ装置は周知である。
【０００３】
ＣＴ装置およびコーンビームＣＴ装置では、回転撮影により得られた複数の計測データにそれぞれ補正処理を施して、３次元再構成のための１組の投影データを得る。得られた１組の投影データに対して、３次元再構成アルゴリズムを用いて３次元再構成処理を行い、３次元像を得る。コーンビームＣＴ再構成アルゴリズムとしてはFeldkamp法等がある。これらの再構成アルゴリズムは周知である。
【０００４】
コーンビームＣＴに用いられる２次元Ｘ線検出器としては、Ｉ.Ｉ.（Image Intensifier：イメージインテンシファイア）とビデオカメラを光学系を介して組み合わせたＩ.Ｉ.−カメラ型Ｘ線検出器や、平面型Ｘ線検出器等がある。平面型Ｘ線検出器としては、アモルファスシリコンフォトダイオードとＴＦＴを一対としてこれを正方マトリックス上に配置し、これと蛍光板を直接組み合わせたもの等がある。これらのセンサは周知である。
【０００５】
検出器の視野角よりも広い視野角の断層像を再構成することが可能なＣＴ装置および再構成処理については、米国特許５４９３５９３号に提案されている。この従来例におけるＣＴ装置は、１次元検出器をＸ線源と検出器が描く回転面と平行な方向に移動させ、Ｘ線源とＸ線源の回転中心とを結ぶ直線に対してどちらか一方向側のみに配置して撮影を行い、得られた投影データの一方の側のデータを用いて再構成処理を行う。これにより、投影データの冗長性をなくすと同時に撮影視野をＸ線源の回転面方向に拡大し、再構成像の視野を拡大する。このＣＴ装置では、撮影視野をほぼ２倍に拡大することが可能である。
【０００６】
また、検出器の視野角よりも広い視野角の断層像を再構成することが可能なコーンビームＣＴ装置および再構成処理が、特開平１１−９５８３号公報に提案されている。この従来例におけるコーンビームＣＴ装置は、２次元検出器をＸ線源と２次元検出器が描く回転面と平行な方向に移動させ、Ｘ線源とＸ線源の回転中心とを結ぶ直線に対してどちらか一方向側に寄せて配置して撮影を行う。得られた投影データを２次元検出器の回転軸に該当する部分で分割し、分割した投影データの一方の側のデータを用いて再構成処理を行う。これにより、投影データの冗長性をなくすと同時に撮影視野をＸ線源の回転面方向に拡大し、再構成像の視野を拡大する。このコーンビームＣＴ装置では、撮影視野をほぼ２倍にまで拡大することが可能である。
【０００７】
【特許文献１】米国特許５４９３５９３号
【０００８】
【特許文献２】特開平１１−９５８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上述した従来装置は、回転軸に該当する境界線に対して一方の側の投影データのみを用いて再構成処理を行う。そのため、回転軸位置を中心として投影データの一方と他方では１８０°回転が異なるデータを再構成処理に用いることになり、投影データに不連続が生じ、再構成像の回転軸位置付近においてアーチファクトが生じるという課題を有していた。
【００１０】
アーチファクトは、断層像上では回転軸位置を中心とした同心円として現れ、周辺に比較して値が高くなるか、あるいは低くなる。回転軸位置付近では、特に、再構成処理に寄与する投影データの数が周辺位置に対して少なく、検出素子感度や照射Ｘ線のばらつきに伴う投影データの変動が再構成像に大きく影響を与える。そのため、回転軸位置を境として異なる回転データを用いる従来法では、回転軸位置に強いアーチファクトが生じ易い。
【００１１】
そこで、本発明の目的は、Ｘ線源の回転面方向に拡大した視野を有し、かかる視野内においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることが可能なＸ線計測技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために、本発明では、下記に示すような特徴を有する。以下、本発明の代表的な構成例について、その特徴を述べる。
【００１３】
（１）本発明のＸ線計測装置は、検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管と、前記検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器と、前記検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と、前記計測データの演算処理を行う処理装置とを有し、前記Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に、回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し、かつ、前記処理装置において、前記計測データに対数変換処理を行い投影データを得る処理と、前記投影データの値に重みを乗算する処理と、前記重みを乗算したデータを用いて再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って、３次元再構成像を得るように構成したことを特徴とする。
【００１４】
（２）本発明のＸ線計測装置は、検査対象に照射するＸ線を発生するＸ線管と、前記検査対象に関する計測データを検出するＸ線検出器と、前記検査対象に対する前記Ｘ線管および前記Ｘ線検出器の相対位置を変化させる回転装置と、前記計測データの演算処理を行う処理装置とを有し、前記Ｘ線検出器を前記Ｘ線管が描く回転面の接線方向に、回転面に平行な方向における前記Ｘ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し、かつ、前記処理装置において、前記計測データの値に重みの指数変換値を乗算する処理と、前記重みを乗算したデータに対数変換処理を行い投影データを得る処理と、前記投影データを用いて再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行って、３次元再構成像を得るように構成したことを特徴とする。
【００１５】
（３）前記（１）または（２）のＸ線計測装置において、前記Ｘ線検出器が、１次元もしくは２次元検出器であることを特徴とする。
【００１６】
（４）前記（３）のＸ線計測装置は、前記重みを乗算する処理において、前記計測データ上に回転軸に相当する回転中心線を設定し、前記回転中心線から前記計測データの端までの距離を測り、前記回転中心線から長い方の端に向かって短い方の距離と同じ距離を持つ位置に境界線を設定し、前記境界線から長い方の端までの重みを１.０とし、前記回転中心線における重みを０.５とし、回転中心線から短い方の端における重みを０.０とすることを特徴とする。
【００１７】
（５）前記（４）のＸ線計測装置は、前記重みを乗算する処理において、前記重みを示す関数が連続関数であり、前記回転中心線から両端に向かって等距離の位置の重みの合計が１.０であることを特徴とする。
【００１８】
（６）前記（５）のＸ線計測装置は、前記重みを乗算する処理において、重みを示す関数の微分形が連続関数であることを特徴とする。
【００１９】
（７）前記（６）のＸ線計測装置は、前記重みを乗算する処理において、重みを表すプロファイルが回転中心線との交点を中心とした点対称形であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、再構成像の視野を回転面に平行な方向に拡大し、回転中心位置においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることを可能ならしめるＸ線計測装置を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施例を、図面を参照して詳述する。
【００２２】
図２は、本発明によるＸ線計測装置の一構成例を示す側面図である。第１のＸ線計測装置は、Ｘ線管２００内のＸ線源２０１、検出器２０２、支柱２０３、回転装置２０４、寝台２０５、処理装置２０６から成る。Ｘ線源２０１と検出器２０２は支柱２０３に設置されている。支柱２０３にはＣ字型のアームや、コ字型のアーム等が用いられる。支柱２０３を天井から吊るす形態や、支柱２０３を床から支える形態が用いられる。支柱２０３は回転装置２０４により、回転軸２０７を中心として寝台２０５上に横になった被写体２０８の周囲を回転する。最も一般的には、回転軸２０７は床に平行であり、回転面は床に垂直である。
【００２３】
図８に、本発明によるＸ線計測装置の別の構成例を示す。第２のＸ線計測装置は、Ｘ線管２００内のＸ線源２０１、検出器２０２、回転ガントリ８０１、寝台２０５、処理装置２０６から成る。Ｘ線源２０１と検出器２０２は回転ガントリ８０１に設置されており、寝台２０５上に横になった被写体２０８の周囲を回転する。最も一般的には、回転軸２０７は床に平行であり、回転面は床に垂直である。
【００２４】
図９に、本発明によるＸ線計測装置のさらに別の構成例を示す。第３のＸ線計測装置は、Ｘ線管２００内のＸ線源２０１、検出器２０２、支柱２０３、回転装置２０４、椅子９０１、処理装置２０６から成る。Ｘ線源２０１と検出器２０２は支柱２０３に設置されている。支柱２０３は回転装置２０４により、椅子８０１に座した被写体２０８の周囲を回転する。最も一般的には、回転軸２０７は床に垂直であり、回転面は床に平行である。
【００２５】
検出器２０２には、フラットパネルセンサ、Ｘ線イメージインテンシファイアとＣＣＤカメラの組み合わせ、イメージングプレート、ＣＣＤ検出器、固体検出器等が用いられる。Ｘ線源２０１から発生されたＸ線は、被写体２０８を透過し、検出器２０２によりＸ線強度に応じた電気信号に変換され、処理装置２０６に計測データとして入力される。処理装置２０６において、計測データは、対数変換等の補正処理を加えられ、投影データとして再構成処理され、３次元再構成像が得られる。
【００２６】
補正処理としては、対数変換の他に、検出器の素子毎の感度のばらつき、幾何学的な歪等の補正が必要に応じて加えられる。検出器２０２内部において、計測データに対して補正処理の全てあるいは一部が加えられた後に、処理装置２０６に入力される場合もある。
【００２７】
処理装置２０６は、再構成処理を行う前に、投影データに対して重み関数を乗算することが可能である。処理装置２０６は、重み関数を入力し、記憶する手段を有する。重み関数の入力形態はプロファイルや、数式の係数が考えられる。重み関数入力手段としては、キーボードからのキー入力や、ファイルからの読み込みが考えられる。処理手段２０６は操作メニューとして重み関数を入力するモードを有し、入力の際にはディスプレイ上に入力結果を表示する。
【００２８】
図１に、本発明における検出器の配置の概略構成を示す。図１は、図２、８、９に示すＸ線計測装置において回転面に平行に切った断面図である。図２では、回転軸２０７は紙面上で真横に設定され、回転面は回転軸２０７に垂直で紙面に垂直な面となる。説明のために、図２において、紙面奥行き方向にｘ軸、紙面縦方向にｙ軸、紙面横方向にｚ軸をとるｘｙｚ直交座標系を設定する。図１は、図２のｘｙ面を紙面上にとり、紙面奥行き方向にｚ軸をとった図である。検出器２０２は、Ｘ線源２０１の正面位置から回転軌道１０１の接線方向にシフトした位置に配置されている。検出器は、設置時にシフト位置に配置される場合と、検出器移動手段によって移動されてシフト位置に配置される場合、とがある。検出器をシフト位置に配置することにより、シフトした方向に、再構成像の視野を拡大することができる。
【００２９】
図３に、Ｘ線源２０１から見た検出器２０２を示す。回転面に垂直で、Ｘ線源２０１と回転中心を通る面が検出器２０２と交わる線を回転中心線３０１とする。検出器２０２において回転中心線３０１と平行方向にｚ軸をとり、回転中心線３０１と直交する方向にｔ軸をとり、座標t上において回転中心線３０１の位置を原点０と設定する。回転面に垂直で、検出器２０２の中心を通る線を検出器中心線３０２とする。検出器２０２がＸ線源２０１の正面位置に配置される場合、検出器中心線３０２は回転中心線３０１に一致する。検出器２０２が正面位置からシフトされた位置に設置されると、検出器中心線３０２は回転中心線３０１とずれる。
【００３０】
検出器２０２がt軸上を正の方向に移動するに伴い、検出器中心線３０２はt軸上を正の方向に移動する。回転中心線３０１に対して、移動方向の側の検出器をサイドＡ３０３、反対方向をサイドＢ３０４とする。回転中心線３０１位置からサイドＡ３０３の端までの距離をＴＡ、回転中心線３０１位置からサイドＢ３０４の端までの距離をＴＢとする。
【００３１】
検出器中心線３０２から検出器２０２の端までの距離は、検出器２０２のt軸方向の長さの半分である。検出器２０２がシフト位置に設置されると、距離ＴＡは検出器中心線３０２から端までの距離より長くなり、距離ＴＢは検出器中心線３０２から端までの距離より短くなる。検出器２０２の移動距離が、検出器中心線３０２から端までの距離より長くなると、回転中心線３０１周辺において検出器が存在せず、投影データが欠損し、再構成像が欠落する。検出器２０２の移動距離を、検出器中心線３０２から端までの距離より短く制限することにより、回転中心線３０１周辺で投影データが欠損することを防ぐことができる。
【００３２】
図１において、検出器２０２が３６０°回転する場合、Ｘ線源２０１とサイドＢ３０４の端を結ぶ線分が描く軌跡によって形成される軌道１０２の内部では、Ｘ線源２０１が０〜１８０°を回転する際と、１８０〜３６０°を回転する際とで、投影データが２回取得できる。Ｘ線源２０１とサイドＢ３０４の端を結ぶ線分が描く軌跡によって形成される軌道１０２の外部にあって、Ｘ線源２０１とサイドＡ３０３の端を結ぶ線分が描く軌跡によって形成される軌道１０３の内部では、Ｘ線源２０１が０〜３６０°を回転する際に投影データは１回取得される。Ｘ線源２０１とサイドＡ３０３の端を結ぶ線分が描く軌跡によって形成される軌道１０３の外部では、Ｘ線源２０１が０〜３６０°を回転する際に投影データの欠損が生じる。即ち、領域毎に再構成処理に寄与可能な投影データの数が異なる。
【００３３】
再構成処理を行う前に、投影データに重みを乗算する処理を行う。再構成処理に寄与する投影データの数が異なるため、重みを全て１.０とすると、軌道１０２および軌道１０３上を境界として値の段差が生じ、再構成像の値の定量性は失われる。再構成処理に寄与する投影データの数に応じた重みを乗算することにより、軌道１０２および軌道１０３上に段差状のアーチファクトを生じず、定量性の保たれた再構成を得ることができる。
【００３４】
図４に、重み関数のプロファイルの一例を示す。座標ＴＢからＴＡの範囲では検出器２０２は３６０°の回転中に投影データを１回取得するので、重みを１.０とする。座標−ＴＢからＴＢの範囲では検出器２０２は３６０°の回転中に投影データを２回取得するので、重みを０.５とする。ＴＡより大きい座標と−ＴＢより小さい座標では検出器２０２が存在しないので、重みを０.０とする。
【００３５】
図５に、重み関数のプロファイルの別の例を示す。重み関数は連続関数である。座標ＴＢからＴＡの範囲では重みを１.０とし、ＴＡより大きい座標と−ＴＢより小さい座標では重みを０.０とする。回転中心線３０１位置から等距離に任意の距離ＴＣをとり、座標−ＴＣからＴＣの範囲において重みを０.５とする。距離ＴＣはＴＢよりも小さい。例えば、座標−ＴＢから−ＴＣの範囲では、座標−ＴＢで０.０となり座標−ＴＣで０.５となるように、重みを１次式で表す。座標ＴＣからＴＢの範囲では、座標ＴＣで０.５となり座標ＴＢで１.０となるように、重みを１次式で表す。
図６に、重み関数のプロファイルのさらに別の例を示す。重み関数は、その微分形が連続関数である。座標ＴＢからＴＡの範囲では重みを１.０とし、ＴＡより大きい座標と−ＴＢより小さい座標では重みを０.０とする。座標−ＴＢからＴＢの範囲では、重みの合計が１.０となるように重みを設定する。回転中心線３０１位置から等距離の座標にある２つの投影データが再構成像の同じ画素に寄与するので、重み関数のプロファイルは回転中心線３０１位置で０.５となり、回転中心線３０１位置を中心として点対称形となる。例えば、重み関数は回転中心線３０１位置を中心とするsin関数となる。
図７に、重み関数のプロファイルのさらに別の例を示す。座標ＴＢからＴＡの範囲では重みを１.０とし、ＴＡより大きい座標と−ＴＢより小さい座標では重みを０.０とする。回転中心線３０１位置から等距離に任意の距離ＴＣをとり、座標-ＴＣからＴＣの範囲において重みを０.５とする。距離ＴＣはＴＢよりも小さい。回転中心線３０１位置から等距離の座標にある重み関数の合計値が１.０となるように、−ＴＢから−ＴＣの範囲と、ＴＣからＴＢの範囲の重み関数を設定する。−ＴＢから−ＴＣの範囲とＴＣからＴＢの範囲において、微分関数が連続的な形状となる関数を重み関数として設定する。連続的な形状としては、例えば、−ＴＢと−ＴＣの中心線位置を中心とするsin関数、あるいは、ＴＣとＴＢの中心線位置を中心とするsin関数が考えられる。
【００３６】
投影データは、検出器２０２の検出可能領域の制限がなければ、ＴＡより大きい座標および-ＴＢより小さい座標でも値を持つ。再構成像の値の定量性を向上するために、ＴＡより大きい座標および−ＴＢより小さい座標の投影データを推定して再構成処理に用いる。例えば、図１０に示すように、座標ＴＤまで投影データを推定する場合、推定された投影データのプロファイルは、回転中心線３０１を中心とし、座標ＴＡで計測された投影データと同じ値をとり、座標ＴＤで０となる楕円関数とする。座標−ＴＥまで投影データを推定する場合、推定された投影データのプロファイルは、回転中心線３０１を中心とし、座標−ＴＢで計測された投影データと同じ値をとり、座標−ＴＥで０となる楕円関数とする。
別の例では、図１１に示すように、推定された投影データのプロファイルは、座標ＴＡで計測された投影データと同じ値をとり、座標ＴＡの近傍で計測された投影データと同じ傾きを持ち、座標ＴＤで０となる関数とする。座標−ＴＢで計測された投影データと同じ値をとり、座標−ＴＢの近傍で計測された投影データと同じ傾きを持ち、座標−ＴＥで０となる関数とする。この場合、上記の重み関数は、図７に点線で示すように、座標ＴＡから座標ＴＤまで１.０をとり、座標−ＴＢから座標−ＴＥまで０.０をとる。
【００３７】
上記実施例では、Ｘ線源２０１と検出器２０２が３６０°回転し、図１のＸ線源２０１とサイドＢ３０４の端を結ぶ線分が描く軌道１０２の内部において、投影データが２回取得される場合について示した。軌道１０２の内部において、投影データが１回取得される角度だけ回転が行われる場合には、重みとして、上記の値に２.０を乗算した値を用いることにより、同様の効果を得ることが可能である。
【００３８】
上記実施例では、対数変換処理後の投影データに対して重みを乗算する処理を行った。別の実施例では、対数変換処理前のデータに対して、重みの指数変換値を乗算する処理を行い、その後に対数変換処理を行うことも可能である。その場合、処理装置２０６は、重みの値に指数変換処理を加え、計測データに対して指数変換した重みを乗算し、重みを乗算したデータを対数変換処理し、対数変換データを用いて再構成処理を行う。あるいは、処理装置２０６に重みを入力する際に、指数変換処理を加えた後の重みを入力することも可能である。あるいは、入力した重みに指数変換処理を加えた上で、処理装置２０６に記憶することも可能である。その場合、処理装置２０６は、計測データに対して指数変換した重みを乗算し、重みを乗算したデータを対数変換処理し、対数変換データを用いて再構成処理を行う。
【００３９】
以上、詳述したように、本発明によれば、Ｘ線検出器をＸ線管が描く回転面の接線方向に、回転面に平行な方向におけるＸ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し、処理装置において、計測データに対数変換処理を行い投影データを得る処理と、投影データの値に重みを乗算する処理と、重みを乗算したデータを用いて再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行い、３次元再構成像を得ることにより、再構成像の視野を回転面に平行な方向に拡大し、回転中心位置においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることができる。
【００４０】
また、本発明によれば、Ｘ線検出器をＸ線管が描く回転面の接線方向に、回転面に平行な方向におけるＸ線検出器の長さの半分よりも小さい距離だけ移動させて配置し、処理装置において、計測データの値に重みの指数変換値を乗算する処理と、重みを乗算したデータに対数変換処理を行い投影データを得る処理と、投影データを用いて再構成処理を行い再構成データを得る処理とを行い、３次元再構成像を得ることにより、再構成像の視野を回転面に平行な方向に拡大し、回転中心位置においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることができる。
【００４１】
また、本発明によれば、検出器が１次元検出器であることにより、再構成像の視野を回転面に平行な方向に拡大し、回転中心位置においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることが可能なＣＴ装置を得ることができる。
【００４２】
また、本発明によれば、検出器が２次元検出器であることにより、再構成像の視野を回転面に平行な方向に拡大し、回転中心位置においてアーチファクトを生じない再構成像を得ることが可能なコーンビームＣＴ装置を得ることができる。
【００４３】
また、本発明によれば、計測データ上に回転軸に相当する回転中心線を設定し、回転中心線から計測データの端までの距離を測り、回転中心線から長いほうの端に向かって短いほうの距離と同じ距離を持つ位置に境界線を設定し、境界線から長いほうの端までの重み
を１.０とし、回転中心線における重みを０.５とし、回転中心線から短いほうの端における重みを０.０とすることにより、拡大された再構成像において値の定量性を向上することができる。
【００４４】
また、本発明によれば、重みを示す関数が連続関数であり、回転中心線から両端に向かって等距離の位置の重みの合計を１.０とすることにより、拡大された再構成像においてアーチファクトを低減することができる。
【００４５】
また、本発明によれば、重みを示す関数の微分形を連続関数とすることにより、拡大された再構成像において高精度にアーチファクトを低減することができる。
【００４６】
また、本発明によれば、重みのプロファイルを回転中心線との交点を中心とした点対称形とすることにより、拡大された再構成像において高精度に値の定量性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明における検出器の配置を示す概略図。
【図２】本発明によるＸ線計測装置の一構成例を示す側面図。
【図３】Ｘ線源から見た検出器を説明する図。
【図４】重み関数のプロファイル（１）を説明する図。
【図５】重み関数のプロファイル（２）を説明する図。
【図６】重み関数のプロファイル（３）を説明する図。
【図７】重み関数のプロファイル（４）を説明する図。
【図８】本発明によるＸ線計測装置の別の構成例を示す側面図。
【図９】本発明によるＸ線計測装置のさらに別の構成例を示す側面図。
【図１０】推定される投影データのプロファイルの一例を示す図。
【図１１】推定される投影データのプロファイルの別の例を示す図。
【符号の説明】
【００４８】
１０１…検出器の回転軌道、１０２…サイドＢの端が描く軌道、１０３…サイドＡの端が描く軌道、２００…Ｘ線管、２０１…Ｘ線源、２０２…検出器、２０３…支柱、２０４…回転装置、２０５…寝台、２０６…処理装置、２０７…回転軸、２０８…被写体、３０１…回転中心線、３０２…検出器中心線、３０３…移動方向側の検出器（サイドＡ）、３０４…移動方向と反対側の検出器（サイドＢ）、８０１…回転ガントリ、９０１…椅子。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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