(57)【要約】【課題】  端子板の位置の変動が少なく、組立性が良好で、且つ、生産性が良く、安価な電子回路ユニットの測定方法を提供する。【解決手段】  本発明の電子回路ユニットの測定方法において、電子回路ユニットＡは、端子板１７の自由端部１７ｂ側を上方にして、筺体１２がテーブル３に支持された後、押さえ部材６が端子板１７に向かって移動して、押さえ部材６の一部が端子板１７の自由端部１７ｂの下部に位置し、この状態で、可動部材７が電子回路ユニットＡに向かって下降して、接触部材８が端子板１７の自由端部１７ｂに接触して、自由端部１７ｂを押さえ部材７に押し付けるようにしたため、筺体１２がテーブル３に支持され、端子板１７を上方にした状態で、接触部材８が端子板１７に接触するようになり、端子板１７の変形が少なく、従って、面実装に適した電子回路ユニットの測定方法が得られる。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
筺体、及びこの筺体内に配置され、複数の端子板が設けられた回路基板を有する電子回路ユニットと、前記筺体の下部を支持するテーブルと、前記筺体の側面側から露出する前記端子板に対して移動可能に配置された押さえ部材と、前記筺体の上方に移動可能に配設され、複数の接触部材を設けた可動部材とを備え、前記端子板の自由端部は、前記回路基板の面とほぼ平行に延びると共に、前記電子回路ユニットは、前記端子板の前記自由端部側を上方にして、前記筺体が前記テーブルに支持された後、前記押さえ部材が前記端子板に向かって移動して、前記押さえ部材の一部が前記端子板の前記自由端部の下部に位置し、この状態で、前記可動部材が前記電子回路ユニットに向かって下降して、前記接触部材が前記端子板の前記自由端部に接触して、前記自由端部を前記押さえ部材に押し付けるようにしたことを特徴とする電子回路ユニットの測定方法。
【請求項２】
前記端子部は、前記筺体の対向する前記側面側から露出し、前記両側面側から露出した前記端子部の前記自由端部の下部には、移動によってそれぞれ前記押さえ部材を位置させた状態で、前記接触部材が前記端子板の前記自由端部に接触すると共に、前記接触部材によって、前記自由端部を前記押さえ部材に押し付けるようにしたことを特徴とする請求項１記載の電子回路ユニットの測定方法。
【請求項３】
前記接触部材は、金属ピン、又は／及びプリント基板に形成された導電パターンによって形成されたことを特徴とする請求項１、又は２記載の電子回路ユニットの測定方法。
【請求項４】
前記テーブルの下部にはバネ部材が配設され、前記接触部材によって前記端子板が押圧された時、前記電子回路ユニットを介して、前記テーブルが前記バネ部材のバネ力に抗して下降し、前記端子板の前記自由端部が前記押さえ部材に押し付けられるようにしたことを特徴とする請求項１から３の何れかに記載の電子回路ユニットの測定方法。
【請求項５】
前記筺体は、底壁と側壁を有する枠体と、この枠体の開放部を覆うカバーとで形成され、前記端子板の前記自由端部が前記底壁と同じ方向に延び、前記底壁を上方にした状態で、前記筺体が前記テーブルに支持されたことを特徴とする請求項１からの何れかに記載の電子回路ユニットの測定方法。
【請求項６】
前記底壁には、調整用の孔が設けられたことを特徴とする請求項５記載の電子回路ユニットの測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は自動車の自動料金収集システム（ＥＴＣ）等に使用される電子回路ユニットの測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の電子回路ユニットの測定方法の図面を説明すると、図７は従来の電子回路ユニットの測定方法を示す分解斜視図、図８は従来の電子回路ユニットの測定方法を説明するための説明図である。
【０００３】
次に、従来の電子回路ユニットの測定方法に使用される測定装置の構成を図７，図８に基づいて説明すると、絶縁材からなる基台５１の側面５１ａには、上部から下部に向かって広がるように形成された一対の傾斜部５１ｂが設けられている。
【０００４】
一対の可動部材５２は、それぞれ傾斜部５１ｂに対向して配置され、この可動部材５２には、複数の金属ピン５３が取り付けられ、これ等の金属ピン５３は、バネ部材（図示せず）によってそれぞれ押圧されて取り付けられると共に、可動部材５２は、金属ピン５３を伴って基台５１の方向に移動可能となっている。
【０００５】
半導体装置等からなる電子回路ユニット５４は、本体部５５と、この本体部５５の両側面から導出され、下方に延びる２列状態の端子板５６を有し、この電子回路ユニット５４は、ここでは図示しないが、端子板５６が電子機器のマザー基板の孔に挿通されて取り付けられるようになっている。
【０００６】
次に、従来の電子回路ユニットの測定方法を説明すると、先ず、図８に示すように、基台５１の上方に電子回路ユニット５４を位置させた状態で、電子回路ユニット５４を下降すると、本体部５５の両側面から下方に延びる２列状態の端子板５６が傾斜部５１ｂによって広げられながら下降し、２列状態の端子板５６によって基台５１を挟持する。
【０００７】
次に、可動部材５２を端子板５６の方向に移動して、金属ピン５３をバネ部材に抗して端子板５６に接触させると、金属ピン５３に接続された測定器（図示せず）によって、所望の電気的な測定が行われる。
【０００８】
また、測定が完了すると、可動部材５２と共に金属ピン５３を元の状態の戻し、且つ、電子回路ユニット５４を基台５１から取り外すと、従来の電子回路ユニットの測定が完了する。（例えば、特許文献１参照）
【０００９】
しかし、従来の電子回路ユニットの測定方法にあっては、端子板５６の自由端部が基台５１に押し付けられて、金属ピン５３との接触が良好となるが、端子板５６の自由端部が基台５１によって広げられて変形し、測定後、端子板５６の位置が変動して、マザー基板の孔への挿入が困難となって、組立性が悪くなる。
【００１０】
また、金属ピン５３が使用されるため、端子板５６への接触面積が小さくなって、信頼性に欠けるばかりか、個々の金属ピン５３に対応してバネ部材を配置する必要が生じて、生産性が悪く、コスト高になる。
【００１１】
【特許文献１】特開平６−３２４１０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
従来の電子回路ユニットの測定方法にあっては、端子板５６の自由端部が基台５１によって広げられて変形し、測定後、端子板５６の位置が変動して、マザー基板の孔への挿入が困難となって、組立性が悪くなるという問題がある。
【００１３】
また、金属ピン５３が使用されるため、端子板５６への接触面積が小さくなって、信頼性に欠けるばかりか、個々の金属ピン５３に対応してバネ部材を配置する必要が生じて、生産性が悪く、コスト高になるという問題がある。
【００１４】
そこで、本発明は端子板の位置の変動が少なく、組立性が良好で、且つ、生産性が良く、安価な電子回路ユニットの測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するための第１の解決手段として、筺体、及びこの筺体内に配置され、複数の端子板が設けられた回路基板を有する電子回路ユニットと、前記筺体の下部を支持するテーブルと、前記筺体の側面側から露出する前記端子板に対して移動可能に配置された押さえ部材と、前記筺体の上方に移動可能に配設され、複数の接触部材を設けた可動部材とを備え、前記端子板の自由端部は、前記回路基板の面とほぼ平行に延びると共に、前記電子回路ユニットは、前記端子板の前記自由端部側を上方にして、前記筺体が前記テーブルに支持された後、前記押さえ部材が前記端子板に向かって移動して、前記押さえ部材の一部が前記端子板の前記自由端部の下部に位置し、この状態で、前記可動部材が前記電子回路ユニットに向かって下降して、前記接触部材が前記端子板の前記自由端部に接触して、前記自由端部を前記押さえ部材に押し付けるようにした測定方法とした。
【００１６】
また、第２の解決手段として、前記端子部は、前記筺体の対向する前記側面側から露出し、前記両側面側から露出した前記端子部の前記自由端部の下部には、移動によってそれぞれ前記押さえ部材を位置させた状態で、前記接触部材が前記端子板の前記自由端部に接触すると共に、前記接触部材によって、前記自由端部を前記押さえ部材に押し付けるようにした測定方法とした。
【００１７】
また、第３の解決手段として、前記接触部材は、金属ピン、又は／及びプリント基板に形成された導電パターンによって形成された測定方法とした。
また、第４の解決手段として、前記テーブルの下部にはバネ部材が配設され、前記接触部材によって前記端子板が押圧された時、前記電子回路ユニットを介して、前記テーブルが前記バネ部材のバネ力に抗して下降し、前記端子板の前記自由端部が前記押さえ部材に押し付けられるようにした測定方法とした。
【００１８】
また、第５の解決手段として、前記筺体は、底壁と側壁を有する枠体と、この枠体の開放部を覆うカバーとで形成され、前記端子板の前記自由端部が前記底壁と同じ方向に延び、前記底壁を上方にした状態で、前記筺体が前記テーブルに支持された測定方法とした。
また、第６の解決手段として、前記底壁には、調整用の孔が設けられた測定方法とした。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の電子回路ユニットの測定方法は、筺体、及びこの筺体内に配置され、複数の端子板が設けられた回路基板を有する電子回路ユニットと、筺体の下部を支持するテーブルと、筺体の側面側から露出する端子板に対して移動可能に配置された押さえ部材と、筺体の上方に移動可能に配設され、複数の接触部材を設けた可動部材とを備え、端子板の自由端部は、回路基板の面とほぼ平行に延びると共に、電子回路ユニットは、端子板の自由端部側を上方にして、筺体がテーブルに支持された後、押さえ部材が端子板に向かって移動して、押さえ部材の一部が端子板の自由端部の下部に位置し、この状態で、可動部材が電子回路ユニットに向かって下降して、接触部材が端子板の自由端部に接触して、自由端部を押さえ部材に押し付けるようにした測定方法とした。
このように、筺体がテーブルに支持され、端子板を上方にした状態で、接触部材が端子板に接触するようにすると、端子板の変形が少なく、従って、面実装に適した電子回路ユニットの測定方法が得られる。
また、端子板が押さえ部材に押し付けられるため、端子板と接触部材間の接触の安定したものが得られる。
【００２０】
また、端子部は、筺体の対向する側面側から露出し、両側面側から露出した端子部の自由端部の下部には、移動によってそれぞれ押さえ部材を位置させた状態で、接触部材が端子板の自由端部に接触すると共に、接触部材によって、自由端部を押さえ部材に押し付けるようにしたため、両側面に位置した端子板の変形が少なく、従って、面実装に適した電子回路ユニットが得られると共に、端子板と接触部材間の接触の安定したものが得られる。
【００２１】
また、接触部材は、金属ピン、又は／及びプリント基板に形成された導電パターンによって形成されたため、必要に応じて金属ピンやプリント基板を選択できると共に、プリント基板を使用した場合は、端子板への接触面積が大きくなって、接触の安定したものが得られる。
【００２２】
また、テーブルの下部にはバネ部材が配設され、接触部材によって端子板が押圧された時、電子回路ユニットを介して、テーブルがバネ部材のバネ力に抗して下降し、端子板の自由端部が押さえ部材に押し付けられるようにしたため、接触部材と端子板間の接触圧を一定にできると共に、端子板の変形が少なく、従って、面実装に適した電子回路ユニットが得られる。
【００２３】
また、筺体は、底壁と側壁を有する枠体と、この枠体の開放部を覆うカバーとで形成され、端子板の自由端部が底壁と同じ方向に延び、底壁を上方にした状態で、筺体がテーブルに支持されたため、面実装型の電子回路ユニットに適した測定方法が得られる。
【００２４】
また、底壁には、調整用の孔が設けられたため、測定を行いながら電子回路ユニットの電気的な調整ができて、調整作業の容易なものが得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
本発明の電子回路ユニットの測定方法の図面を説明すると、図１は本発明の電子回路ユニットの測定方法の第１工程を示す説明図、図２は本発明の電子回路ユニットの測定方法の第２工程を示す説明図、図３は本発明の電子回路ユニットの測定方法の第３工程を示す説明図、図４は本発明の電子回路ユニットの測定方法に使用される測定装置の要部の斜視図、図５は本発明の電子回路ユニットの測定方法に使用される測定装置の要部の裏返した斜視図、図６は本発明の電子回路ユニットの測定方法に係る電子回路ユニットの要部断面図である。
【００２６】
次に、本発明の電子回路ユニットの測定方法に使用される測定装置の構成を図１〜図５に基づいて説明すると、基台１には、複数の取付部材２が取り付けられると共に、中央部に位置する取付部材２には、上下動可能な状態でテーブル３が支持され、このテーブル３は、テーブル３と基台１との間に介在されたコイルバネ等からなるバネ部材４によって常時上方に弾圧されている。
【００２７】
また、テーブル３の両側には、平板状の支持部材５が配置され、この支持部材５は、この支持部材５は、テーブル３とほぼ面一状態で、取付部材２によって取り付けられている。
【００２８】
絶縁材からなる一対の押さえ部材６は、先端部に凸状の押さえ部６ａを有し、この押さえ部材６は、テーブル３の両側に位置する支持部材５上にそれぞれ載置され、テーブル３の方向に出入りするようにスライド可能となっている。
【００２９】
絶縁材からなる可動部材７は、複数の接触部材８が取り付けられた状態で、テーブル３の上方に配設されて、上下動可能に配置されている。
また、可動部材７に取り付けられた接触部材８は、複数の金属ピン９からなる接触部材８と、接触体である複数の導電パターン１０ａを設けたプリント基板１０とで構成されている。
【００３０】
そして、プリント基板１０は、特に図４，図５に示すように、下面側に設けられた信号用の導電パターン１０ａと反対側に設けられた信号用の導電パターン１０ｂと、導電パターン１０ａ、１０ｂを接続する接続導体１０ｃと、導電パターン１０ａ、１０ｂを囲むようにプリント基板１０の両面に設けられ、互いに導通する接地用の導電パターン１０ｄを有する。
【００３１】
また、同軸型のケーブル１１は、中心導体１１ａと、この中心導体１１ａから絶縁体を介して設けられた外部導体１１ｂを有し、ケーブル１１は、外部導体１１ｂが接地用の導電パターン１０ｄに半田付けされて取り付けられると共に、中心導体１１ａが導電パターン１０ｂ側から導電パターン１０ａに接続され、この中心導体１１ａが接続導体１０ｃとなっている。
【００３２】
このように、信号用の導電パターン１０ａ、１０ｂが接地用の導電パターン１０ｄによって囲まれた状態にすると、導電パターン１０ａ、１０ｂからの不要輻射が導電パターン１０ｄによって防止できて、精度の良い測定が得られる。
【００３３】
なお、この実施例では、金属ピン９とプリント基板１０が併用されたもので説明したが、金属ピン９とプリント基板１０の何れか一方のみによって、接触部材８を形成しても良い。
【００３４】
電気的な測定を行うための電子回路ユニットＡの構成を説明すると、図６に示すように、筺体１２は、箱形の枠体１３とカバー１４とで構成されると共に、枠体１３は、孔１３ａを有する底壁１３ｂと、この底壁１３ｂの四方から上方に延びる４つの側壁１３ｃを有し、カバー１４が枠体１３の上方開放部を覆った状態で、枠体１３に取り付けられている。
【００３５】
プリント配線基板からなる回路基板１５は、両面に配線パターン（図示せず）が設けられると共に、この回路基板１５の両面には、種々の電子部品１６が搭載されて、所望の電気回路が形成されている。
この回路基板１６は、筺体１２内に収納された状態で配置されると共に、回路基板１６の両端部は、枠体１３の対向する側壁１３ｃから外方に突出している。
【００３６】
金属板からなる複数の端子板１７は、取付部１７ａと、略コ字状に形成された自由端部１７ｂを有し、この複数の端子板１７は、取付部１７ａによって、枠体１３の側壁１３ｃから突出した回路基板１６の両端部に並設して取り付けられている。
【００３７】
そして、端子板１７が取り付けられた際、自由端部１７ｂは、回路基板１５の面と平行状態で外方に延びると共に、底壁１３ｂの下面とほぼ面一状態になり、自由端部１７ｂは、枠体１３外に位置して露出した状態となっている。
また、端子板１７が取り付けられた際、端子板１７は、回路基板１５の一方の面、或いは両面に位置する配線パターンに接続された状態となる。
【００３８】
なお、この実施例では、端子板１７の自由端部１７ｂがコ字状に形成されたもので説明したが、自由端部１７ｂがＬ字状等の形状を有したものでも良い。
【００３９】
この電子回路ユニットＡは、筺体１２と端子板１７の自由端部１７ｂが電子機器のマザー基板１８上に載置され、自由端部１７ｂがマザー基板１８の配線パターン（図示せず）に半田付けされて、電子回路ユニットＡは、マザー基板１８に面実装されるようになっている。
【００４０】
次に、本発明の電子回路ユニットの測定方法を説明すると、先ず、第１工程として図１に示すように、電子回路ユニットＡを裏返して、端子板１７の自由端部１７ｂ側を上にした状態で、カバー１４をテーブル３上に載置し、テーブル３上において、電子回路ユニットＡを適宜手段により支持する。
【００４１】
次に、第２工程として図２に示すように、一対の押さえ部材６を電子回路ユニットＡ側にスライド移動して、押さえ部６ａが自由端部１７ｂの下部に位置した状態にする。
【００４２】
次に、第３工程として図３に示すように、可動部材７を端子板１７の方向（下方）に移動して、接触部材８である金属ピン９と導電パターン１０ａを自由端部１７ｂに接触させると共に、接触部材８によって自由端部１７ｂを更に押圧すると、電子回路ユニットＡがバネ部材４のバネ力に抗して下降し、自由端部１７ｂが押さえ部６ａに押し付けられた状態となる。
【００４３】
この時、プリント基板１０側では、導電パターン１０ａと、この導電パターン１０ａに隣接する接地用の導電パターン１０ｄのそれぞれが端子板１７の自由端部１７ｂに接触するようになっている。
【００４４】
この状態で、接触部材８に接続された測定器（図示せず）によって、所望の電気的な測定が行われると共に、必要によって、底壁１３ｂに設けられた孔１３ａに調整治具（図示せず）を差し込んで、電気的な調整が行われるようになっている。
【００４５】
また、測定が完了すると、可動部材８と共に接触部材８を元の状態の戻した後、可動部材７を元の状態に戻した状態で、電子回路ユニットＡをテーブル３から取り外すと、本発明の電子回路ユニットの測定が完了する。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の電子回路ユニットの測定方法の第１工程を示す説明図。
【図２】本発明の電子回路ユニットの測定方法の第２工程を示す説明図。
【図３】本発明の電子回路ユニットの測定方法の第３工程を示す説明図。
【図４】本発明の電子回路ユニットの測定方法に使用される測定装置の要部の斜視図。
【図５】本発明の電子回路ユニットの測定方法に使用される測定装置の要部の裏返した斜視図。
【図６】本発明の電子回路ユニットの測定方法に係る電子回路ユニットの要部断面図。
【図７】従来の電子回路ユニットの測定方法を示す分解斜視図。
【図８】従来の電子回路ユニットの測定方法を説明するための説明図。
【符号の説明】
【００４７】
１：基台
２：取付部材
３：テーブル
４：バネ部材
５：支持部材
６：押さえ部材
６ａ：押さえ部
７：可動部材
８：接触部材
９：金属ピン
１０：プリント基板
１０ａ：導電パターン
１０ｂ：導電パターン
１０ｃ：接続導体
１０ｄ：導電パターン
１１：ケーブル
１１ａ：中心導体
１１ｂ：外部導体
Ａ：電子回路ユニット
１２：筺体
１３：枠体
１３ａ：孔
１３ｂ：底壁
１３ｃ：側壁
１４：カバー
１５：回路基板
１６：電子部品
１７：端子板
１７ａ：取付部
１７ｂ：自由端部
１８：マザー基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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