(57)【要約】 【課題】  ディフェクトや衝撃を検出して、そのレベルに応じた適切な処理を行うことにより、正しい記録動作を実現する光記録装置を提供することを目的とする。【解決手段】  光ディスクの全光量信号からエンベロープ信号を検出する手段と、検出したエンベロープ信号のレベルを、少なくとも２値の閾値と比較する手段と、それぞれの閾値に対するディフェクト長を検出する手段と、検出したディフェクト長を規定値と比較し、検出したディフェクト長が規定値よりも長いときに、記録動作に割り込み処理を行う信号を発生する手段と、割込信号を発生したときの光ディスク上のアドレス情報を記憶する手段とにより、ディフェクトの大きさに応じて適切な処理を行う光記録装置を提供する。【選択図】  図２          
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの全光量信号からエンベロープ信号を検出するエンベロープ信号検出手段と、
該検出したエンベロープ信号のレベルを、少なくとも２値の閾値と比較するエンベロープレベル比較手段と、
該それぞれの閾値に対するディフェクト長を検出するディフェクト長検出手段と、
該検出したディフェクト長を規定値と比較し、該検出したディフェクト長が規定値よりも長いときに、記録動作に割り込み処理を行う信号を発生する割込信号発生手段と、
該割込信号を発生したときの光ディスク上のアドレス情報を記憶するアドレス情報記憶手段とを有することを特徴とする光記録装置。
【請求項２】
衝撃に伴うトラッキングエラー信号を検出する手段と、
該検出したトラッキングエラー信号のレベルを、少なくとも２値の閾値と比較する第１および第２のトラッキングエラーレベル比較手段と、
該第１のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号に基づいて、トラッキングサーボゲインを切り替えるサーボゲイン切換手段と、
前記第１のトラッキングエラーレベル比較手段よりも大きな値を有する前記第２のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号に基づいて、記録動作を中止する記録動作中止手段とを有することを特徴とする請求項１に記載された光記録装置。  
【請求項３】
前記エンベロープレベルがすべての閾値を超え、かつ、検出した各ディフェクト長が規定値よりも長いときに、記録動作を中止することを特徴とする請求項1または請求項２に記載された光記録装置。
【請求項４】
前記エンベロープレベル比較手段における第１の閾値と該第１の閾値よりも大きな値を有する第２の閾値との比較結果を入力し、前記エンベロープ信号が第１の閾値よりも大きく、第２の閾値よりも小さいときに信号を出力する信号切換手段と、
該信号切換手段の出力信号を遅延させる遅延発生手段と、
該遅延発生手段の出力信号の負論理信号と前記第２のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号との論理積を生成し、該生成した信号を前記記録動作中止手段に供給する論理回路とを有することを特徴とする請求項２および請求項３に記載された光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報を記録する光記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報関連技術の発達により、インターネット等の通信回線を介して、大量の情報がやりとりされている。こうした大量の情報を保存、管理するために小型で記録容量の大きい光ディスクが記録媒体として注目されている。
こうした光ディスクに情報を記録し、再生する光ディスク装置においては、情報の記録時には、光ピックアップ内の半導体レーザを光学系により収束光に変換して、所望のレーザスポットを光ディスク上に形成して、情報の記録動作が行い、記録信号の再生時には、記録されたトラックにレーザスポットを形成してレーザスポットをトレースすることにより記録された情報の読取を行う。
【０００３】
ところが、光ディスクには、その表面に信号を保護する保護層が形成されているものの、光ディスクの取り扱いによっては、表面の保護層に傷（ディフェクト）がついたり、人の指紋（フィンガープリント）が付着する場合がある。
また、光ディスクの製造過程で、樹脂内部に空気が混入し、保護層に黒点（ブラックドット）が形成される場合もある。こうした傷や黒点は、記録トラックに対するレーザスポットの正確なトレース（トラッキング）に影響を与えるばかりか、信号の再生を不可能にするといった問題があった。
【０００４】
特に、信号を記録する光ディスク上にこうした傷や指紋、黒点が存在すると、これらの影響で、レーザスポットのトレースを制御するサーボ回路が誤動作を起こし、本来、記録を行おうとしていたトラックとは全く別のトラックに情報を記録してしまうという不具合があった。
こうした不具合は、光ディスク上の傷や指紋、黒点ばかりでなく、記録動作中に、外部から衝撃が加えられる場合においても同様であった。
【０００５】
そのため、こうした問題に対応して、光ディスク上にディフェクト等を検出したときには、トラッキングサーボをその間ホールドする技術や外部からの衝撃を検出したときは、トラッキングのサーボゲインを上げて、外乱に対する影響を減少させるような技術が提案されている。
また、上記の技術を用いて、情報の記録動作時において、情報記録を行うために照射されるレーザ光による光ディスク上での反射光の少なくとも一部を検出し、反射光により情報記録動作の異常を検出するとともに、異常を検出したセクタに連続して近接する他のセクタに情報の記録を再度行う技術も提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開平１１−１７５９７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、本来、安定的な記録動作を実現するためには、例えば、ディフェクトに関しては、そのディフェクトの大きさによって、記録動作を以下の様に分ける必要がある。
つまり、１）サイズの小さいディフェクトについては、正常に記録／再生が可能なため、ディフェクトの存在を無視しても問題なく、したがって、ディフェクト検出時には、トラッキングサーボをホールドすることにより処理できる。
【０００７】
２）中程度のサイズのディフェクトについては、記録動作は正常に行えるものの、記録後の再生においては、エラーが発生する可能性がある。そのため、中程度のサイズのディフェクトを検出した場合には、対応する記録位置を変更して再記録を行う必要がある。
３）大きなサイズのディフェクトについては、レーザスポットのオフトラック量が大きくなり、記録動作が異常となる可能性がある。そのため、直ちに記録動作を中止すべきである。
【０００８】
しかしながら、従来の光記録装置においては、ディフェクト検出部が1系統しかないために、上記のうち、特に、２）および３）を区別する事ができないといった問題があった。そのため、例えば、２）における閾値レベルでディフェクトを検出すると、大きなサイズのディフェクトの時に隣接するトラックに情報を記録してしまう場合が発生する。
また、３）における閾値レベルでディフェクトを検出し、この閾値を超えた場合は記録動作を中止する様に設定すると、隣接するトラックへの記録は防止できるが、中程度のサイズのディフェクトの存在を記録中に検出する事ができない。
したがって、この問題を解消するためには、記録後に再生を行い、エラー発生の有無を確認する必要があるが、こうした処理を行うと、これらの処理時間を含む記録動作終了までの時間が増大するという問題があった。
【０００９】
一方、外部からの衝撃についても、ディフェクトと同様に、その衝撃の大きさにより記録動作を以下の様に分ける必要がある。
つまり、１）小さな衝撃については、正常に記録／再生が可能なため、衝撃を無視して記録動作を行っても良い。
２）中程度の衝撃については、衝撃が検出されている間はトラッキングサーボのゲインを通常よりも高く設定し、この衝撃に耐えるようにする必要がある。
３）大きな衝撃については、オフトラック量が大きくなって、記録動作が異常となる可能性があるため、直ちに記録動作を中止すべきである。
【００１０】
しかしながら、従来の光記録装置においては、衝撃検出部が１系統しかないため、上記の１）から３）を区別する事ができない。そのため、例えば、２）における閾値レベルでディフェクトを検出すると、大きな衝撃が発生した時に隣接トラックに情報を記録してしまう場合が発生する。
【００１１】
又、３）における閾値レベルでディフェクトを検出し、この閾値を超えた場合は、記録動作を中止する様に設定すると、大きな衝撃が発生した時の隣接トラックへの記録は防止できるが、中程度の衝撃が発生した時に、トラッキングのサーボゲインを大きくして衝撃に耐える事ができない。そのため、中程度の衝撃が発生すると、オフトラック量が大きくなり、隣接トラックへ記録してしまう場合が発生する。
さらに、図３に示す様に、ディフェクト検出終了後には、一時的にトラッキングエラー信号が大きく乱れ、これによって大きなオフトラックが発生する。したがって、実際には衝撃の加えられていないこの部分を衝撃と誤検出する場合がある。
【００１２】
そこで、本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであり、ディフェクトや衝撃を検出して、そのレベルに応じた適切な処理を行うことにより、正しい記録動作を実現する光記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、上述の課題を解決するために、以下の手段を提案している。
請求項１に係る発明は、光ディスクの全光量信号からエンベロープ信号を検出するエンベロープ信号検出手段と、該検出したエンベロープ信号のレベルを、少なくとも２値の閾値と比較するエンベロープレベル比較手段と、該それぞれの閾値に対するディフェクト長を検出するディフェクト長検出手段と、該検出したディフェクト長を規定値と比較し、該検出したディフェクト長が規定値よりも長いときに、記録動作に割り込み処理を行う信号を発生する割込信号発生手段と、該割込信号を発生したときの光ディスク上のアドレス情報を記憶するアドレス情報記憶手段とを有することを特徴とする光記録装置を提案している。
【００１４】
この発明によれば、エンベロープ信号検出手段の作動により、光ディスクの全光量信号からエンベロープ信号が検出される。検出されたエンベロープ信号は、エンベロープレベル比較手段に入力され、少なくとも２つの閾値に対して、レベルが検出される。次いで、ディフェクト長検出手段の作動により、それぞれの閾値に対するディフェクト長が検出され、検出された各ディフェクト長が、割込信号発生手段の作動により、規定値と比較され、検出したディフェクト長が規定値よりも長いときに、記録動作に割り込み処理を行う信号を発生される。また、割込信号が発生したときには、割込信号が発生した光ディスク上のアドレス情報がアドレス情報記憶手段に記憶される。したがって、ディフェクトの幅や深さを検出して、ディフェクトの幅や深さが正しい記録動作に影響を及ぼす範囲のものであるときは、記録動作に割り込み処理を行う。
【００１５】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載された光記録装置について、衝撃に伴うトラッキングエラー信号を検出する手段と、該検出したトラッキングエラー信号のレベルを、少なくとも２値の閾値と比較する第１および第２のトラッキングエラーレベル比較手段と、該第１のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号に基づいて、トラッキングサーボゲインを切り替えるサーボゲイン切換手段と、前記第１のトラッキングエラーレベル比較手段よりも大きな値を有する前記第２のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号に基づいて、記録動作を中止する記録動作中止手段とを有することを特徴とする光記録装置を提案している。
【００１６】
この発明によれば、トラッキングエラー信号検出手段の作動により、衝撃に伴うトラッキングエラー信号が検出される。検出されたトラッキングエラー信号は、第１および第２のトラッキングエラーレベル比較手段に入力され、それぞれの閾値と比較される。その結果、入力されたトラッキングエラー信号のレベルが、第１のトラッキングエラーレベル比較手段の閾値を超えた場合には、トラッキングサーボゲインが切り替えられ、第２のトラッキングエラーレベル比較手段の閾値を超えた場合には、記録動作が中止される。
【００１７】
請求項３に係る発明は、請求項1または請求項２に記載された光記録装置について、前記エンベロープレベルがすべての閾値を超え、かつ、検出した各ディフェクト長が規定値よりも長いときに、記録動作を中止することを特徴とする光記録装置を提案している。
【００１８】
この発明によれば、エンベロープレベルがすべての閾値を超え、かつ、検出したディフェクト長が規定値よりも長いとき、すなわち、深さが深く、幅の広いディフェクトについては、記録動作を中止するため、オフトラック量の増加に伴い、隣接トラックに情報を記録するような事態を未然に回避することができる。
【００１９】
請求項４に係る発明は、請求項２および請求項３に記載された光記録装置について、前記エンベロープレベル比較手段における第１の閾値と該第１の閾値よりも大きな値を有する第２の閾値との比較結果を入力し、前記エンベロープ信号が第１の閾値よりも大きく、第２の閾値よりも小さいときに信号を出力する信号切換手段と、該信号切換手段の出力信号を遅延させる遅延発生手段と、該遅延発生手段の出力信号の負論理信号と前記第２のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号との論理積を生成し、該生成した信号を前記記録動作中止手段に供給する論理回路とを有することを特徴とする光記録装置を提案している。
【００２０】
この発明によれば、信号切換手段の作動により、エンベロープレベル比較手段における第１の閾値と第１の閾値よりも大きな値を有する第２の閾値との比較結果を入力し、エンベロープ信号が第１の閾値よりも大きく、第２の閾値よりも小さいときに信号が出力される。この信号は、遅延発生器に入力され、所望の遅延を加えられて負論理信号に変換される。この負論理信号と第２のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号は、論理回路に入力され、論理回路の出力信号が記録動作中止手段に供給される。したがって、遅延発生器に出力信号がある間は、第２のトラッキングエラーレベル比較手段の出力信号が無効となるため、ディフェクト通過後に発生するトラッキングエラー信号の乱れにより、記録動作中止手段が誤動作することを防止することができる。
【発明の効果】
【００２１】
この発明によれば、エンベロープ信号レベルを複数の閾値で検出し、かつ、ディフェクト長を検出することから記録中に記録セクタを代替すべきディフェクトの検出と記録動作を中止すべきディフェクトの検出が同時に行えるという効果がある。
また、外部からの衝撃についても、トラッキングエラー信号のレベルを複数の閾値で検出するため、記録中にトラッキングサーボゲインを高くして耐えるべき衝撃と記録動作を中止すべき衝撃とを同時に検出できるという効果がある。
さらに、ディフェクト通過時に発生するトラッキングエラー信号の乱れをマスクする手段を設けたことから、衝撃検出に関して誤動作を防止できるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施例に係る光記録装置について図１から図６を参照して詳細に説明する。
【実施例】
【００２３】
本発明の実施例に係る光記録装置は、図１に示すように、光ディスク１と、光ピックアップ２と、ＡＰＣ（ＡＰＣ：Auto Power Control）３と、ＲＦアンプ４と、サーボ回路５と、信号処理回路６と、ＣＰＵ（ＣＰＵ：Central Processing Unit）７と、ドライバーＩＣ８とを備えている。
【００２４】
光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去を行える記録媒体であり、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等がある。光ピックアップ２は、図示しないレーザダイオード等のレーザ光源や、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータとによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等の光学部品、及びＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に分割され、光を電気信号に変換する４分割あるいは２分割のフォトディテクタ（ＰＤ）あるいは記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオード等を備えている。ＡＰＣ３は、光ピックアップ２内のフロントモニタダイオードからの電流をモニタして、半導体レーザの出射パワーを所望の値に制御するための制御ブロックである。
【００２５】
ＲＦアンプ４は、光ディスク１からの反射光を検出し、検出した反射光より反射光量を演算して、４分割ＰＤの各領域への反射光量の総和を示すＲＦ信号を生成するとともに、光ピックアップ２の照射レーザの焦点ずれを検出した信号であるフォーカスエラー信号（ＦＥ）を非点収差法によって生成し、さらに光ピックアップ２の照射レーザのトラックずれを検出した信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ）をプッシュプル法によって生成する。サーボ回路５は、ＲＦアンプ４において生成されたＦＥ及びＴＥに基づいて、フォーカス駆動信号（ＦＯＤＲＶ）、トラッキング駆動信号（ＴＲＤＲＶ）を生成する。また、後述するディフェクト検出部および衝撃検出部を備え、ディフェクトまたは衝撃のレベルに応じて、トラッキングサーボを適切に制御する。
【００２６】
信号処理回路６は、再生時のＲＦ信号から生成したＥＦＭ信号を入力し、データの処理を行う一方、図示しないＰＬＬ回路を備え、スピンドルモータの回転を制御する。ＣＰＵ７は、ＲＯＭ（ＲＯＭ：Read Only Memory）等に格納された制御プログラムに基づいて、装置全体の制御を行う。また、本実施形態においては、ディフェクト検出部および衝撃検出部の検出結果に基づいて、記録動作の続行、サーボ出力のホールドあるいは記録動作の中止を行う。
【００２７】
ドライバーＩＣ８は、信号処理回路６において生成されたフォーカス駆動信号（ＦＯＤＲＶ）、トラッキング駆動信号（ＴＲＤＲＶ）、あるいは、スピンドル制御信号を入力し、これを所望の大きさに増幅した後、フォーカスアクチュエータ、トラッキングアクチュエータあるいはスピンドルモータ等に供給する。また、トラッキング駆動信号（ＴＲＤＲＶ）から生成されたフィードモータ駆動信号を所望の大きさに増幅した後、これをフィードモータに供給する。
【００２８】
ディフェクト検出部および衝撃検出部は、図２に示すように、ローパスフィルタ（ＬＰＦ−１、ＬＰＦ−２）１１ａ、１１ｂと、レベル比較器１２ａ、１２ｂ、２２ａ、２２ｂと、ディフェクト測長器１３ａ、１３ｂと、パルス長比較器１４ａ、１４ｂと、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ−１、ＢＰＦ−２）２１ａ、２１ｂと、切り替え器２３と、遅延発生器２４と、サーボゲイン切替器２５と、ドライバー駆動信号発生器２６と、サーボ出力ホールド器２７と、ＡＮＤ回路２８と、条件設定器２９とから構成されている。
【００２９】
ローパスフィルタ（ＬＰＦ−１、ＬＰＦ−２）１１ａ、１１ｂは、全光量信号（以下、ＲＦ信号という。）を入力して、エンベロープ信号を抽出する。レベル比較器１２ａ、１２ｂは、ローパスフィルタ（ＬＰＦ−１、ＬＰＦ−２）１１ａ、１１ｂにおいて抽出されたエンベロープ信号のレベルを予め定められた閾値と比較してその結果をローレベル、ハイレベルの２値の信号で出力する。
【００３０】
ディフェクト測長器１３ａ、１３ｂは、レベル比較器１２ａ、１２ｂの出力信号を入力し、パルス長をタイマー等を用いて測定することにより、レベル比較器１２ａ、１２ｂの各閾値に対するディフェクトの長さを測定する。パルス長比較器１４ａ、１４ｂは、ディフェクト測長器１３ａ、１３ｂにおいて、測定されたディフェクト長を予め定められた閾値と比較してその結果をローレベル、ハイレベルの２値の信号で出力する。
【００３１】
バンドパスフィルタ（ＢＰＦ−１、ＢＰＦ−２）２１ａ、２１ｂは、トラッキングエラー信号を入力して、光ピックアップ内のトラッキングアクチュエータの応答周波数内のトラッキングエラー信号を抽出する。なお、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ−１、ＢＰＦ−２）２１ａ、２１ｂの通過帯域は、数ｋＨｚである。レベル比較器２２ａ、２２ｂは、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ−１、ＢＰＦ−２）２１ａ、２１ｂにおいて抽出されたトラッキングエラー信号のレベルを予め定められた閾値と比較してその結果をローレベル、ハイレベルの２値の信号で出力する。
【００３２】
切り替え器２３は、ディフェクト検出部内の２つのレベル比較器１２ａ、１２ｂの出力信号を入力し、設定される閾値の小さいレベル比較器１２ａがハイレベルでレベル比較器１２ｂがローレベルであるときに出力信号をサーボ出力ホールド器２７、遅延発生器２４に出力する。遅延発生器２４は、切り替え器２３からの信号を入力し、この信号に所望の遅延量を付加する。なお、遅延量は、ディフェクトを通過した後に発生するトラッキングエラー信号の乱れが発生する時間に設定されている。
【００３３】
サーボゲイン切替器２５は、レベル比較器２２ｂからの信号を入力し、この入力信号に基づいて、トラッキングサーボのオープンループゲインを制御する信号を出力する。ドライバー駆動信号発生器２６は、サーボゲイン切替器２５からの制御信号を入力し、この信号に基づいて、ドライバーＩＣ８に入力するトラッキング駆動信号のレベルを制御する。また、サーボ出力ホールド器２７からの信号を入力し、ドライバーＩＣ８へ出力する駆動信号を基準電位に切り替えて、対物レンズをトラッキング方向にホールドする。
【００３４】
サーボ出力ホールド器２７は、切り替え器２３からの信号を入力し、この信号に基づいて、トラッキングサーボをホールドする信号をドライバー駆動信号発生器２６に出力する。ＡＮＤ回路２８は、遅延発生器２４の出力信号を反転した信号とレベル比較器２２ａの出力信号を入力し、これらの論理積信号を出力する。条件設定器２９は、パルス長比較器１４ｂおよびＡＮＤ回路２８からの信号を入力し、これらの入力信号に基づいて、記録中止器を制御する。
【００３５】
次に、図３から図６を用いて、本実施例の作用を説明する。
まず、図３を用いて、光ディスク１にディフェクトがある場合の各信号の様子を説明する。図中、上から、ＲＦ信号、ディフェクト検出信号、ホールド信号、トラッキングエラー信号、衝撃検知信号を示している。ＲＦ信号は所定の幅を有する信号で表され、上側のレベルは、光ディスク１に照射したレーザ光が全反射した場合を、下側のレベルは、光ディスク１に照射したレーザ光がピットで屈折し、戻り光が少なくなった場合を示している。
【００３６】
光ディスク１にディフェクトがあると、ディフェクトに照射されたレーザ光が乱反射して戻り光が大幅に減少する。そのため、ＲＦ信号は、ディフェクト部では、そのレベルが大幅に減少し、ＲＦ信号の波形が一部欠落したようになる。したがって、ＲＦ信号のエンベロープ信号を検出し、これをモニタすれば、ディフェクトの存在を検出することができる。一般に、ディフェクトは、ＲＦ信号よりも、周波数が低いため、ＲＦ信号をローパスフィルタに通し、出力信号のレベルを所定の閾値によって比較すれば、ディフェクトを的確に検出することができる。
【００３７】
ところで、ディフェクトには、様々なサイズのものが存在する。また、ディフェクトがあるときに、トラッキングサーボによって、トラッキングを確保しようとしても、トラッキングサーボを正常に機能させるためのトラッキングエラー信号がディフェクトの影響で乱れてしまっているため、正確なトラッキングは期待できないそのため、むしろ、ディフェクトのサイズが小さいときには、トラッキングサーボループをオープンにした方が信号の再生動作や情報の記録動作に与える影響が少ない。
【００３８】
一方で、ディフェクトのサイズが大きいときに、トラッキングサーボループをオープンにすると、オフトラック量が大きくなって、ディフェクト通過後に、トラッキングサーボループをクローズしても、まったく異なったトラックに光ディスク１内の対物レンズが変位している場合がある。こうした状況は、例えば、信号の再生時であれば、リトライ動作を行い、ディフェクトの近傍から再生動作を開始することにより回避することができるが、情報の記録時には、正しい記録ができないばかりか、既に記録したトラックに情報を上書きする等の問題を生ずる。
【００３９】
図６は、トラッキングのドライブ信号を示している。この振幅は、光ディスク１の偏芯量に相当する。仮に、光ディスク１に何ら偏芯がないとすれば、トラッキングサーボを相当時間ホールドしても、そんなに大きなオフトラックは発生しないが、光ディスク１の偏芯量が大きくなると、トラッキングドライブ信号のＡＣ成分の傾きが大きくなるため、小さなディフェクトであっても、ホールド時のオフトラックが問題となる。また、偏芯量はさほど大きくなくても、ディフェクトの幅が大きい場合にも、ホールド時のオフトラックが問題となる。なお、図５は、光ディスク１の偏芯量と、ホールド動作が許容されるディフェクト長との関係を示している。
【００４０】
そのため、本実施例においては、レベル比較器１２ａ、１２ｂに２つの閾値を設けている。図４は、記録中の全光量信号（ＲＦ信号）と閾値との関係を示したものであり、ＲＦ信号のエンベロープ信号が閾値―１０を越えるとレベル比較器１２ａの出力がハイレベルのパルス信号となる。この信号はディフェクト測長器１３ａに入力され、この入力信号のパルス幅が閾値―１１を越えると、割り込み処理を行う信号がＣＰＵ７に出力される。ＣＰＵ７は、この時の光ディスク上のセクタ番号を記憶し、しかるべき時点でセクタの代替処理を行って、別のセクタに記録すべき情報を再度記録する。
【００４１】
次に、ＲＦ信号のエンベロープ信号が閾値―２０を越えるとレベル比較器１２ｂの出力がハイレベルのパルス信号となる。この信号はディフェクト測長器１３ｂに入力され、この入力信号のパルス幅が閾値―２１を越えると、割り込み処理を行う信号がＣＰＵ７および条件設定器２９に出力される。条件設定器２９はパルス長比較器１４ｂおよびＡＮＤ回路２８からの信号を入力し、これらの信号の論理和を出力する。
【００４２】
このとき、割り込み処理を行う信号が出力されると、記録中止器は直ちに記録を中止する。一方、ＣＰＵ７はこの時のセクタ番号を記憶し、しかるべき時点でセクタ代替処理を行い、別のセクタにこの情報を再度記録する。
【００４３】
また、切り替え器２３は、レベル比較器１２ａ、１２ｂの出力信号を入力し、ＲＦ信号のエンベロープ信号のレベルが閾値１０よりも大きく、閾値２０よりも小さいときに出力信号をサーボ出力ホールド器２７、遅延発生器２４に出力する。これにより、エンベロープ信号のレベルが閾値１０よりも大きく、閾値２０よりも小さいときには、トラッキングサーボがホールドされる。
【００４４】
一方、衝撃検出部は、対物レンズをオフトラックさせるような大きな衝撃を検出できるように、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ−１）及び閾値−３０を設定している。そして、この出力と、切り替え器２４の出力信号に所望な時間だけ遅延させた信号の反転信号とを入力するＡＮＤ回路２８の出力を条件設定器２９に入力し、トラッキングエラー信号のレベルが閾値３０よりも大きいときに、記録動作を中止させる。なお、条件設定器２９の前段に切り替え器２３、遅延発生器２４およびＡＮＤ回路２８を設けたのは、図３に示すように、ディフェクト通過後に発生するトラッキングエラー信号の乱れを衝撃によるものと誤検出することを防止するためである。
【００４５】
また、衝撃検出部は、中程度以下の衝撃を検出するためにバンドパスフィルタ（ＢＰＦ−１）及び閾値−３０を設定している。そして、この出力をサーボゲイン切り替え器２５に入力し、トラッキングサーボのゲインを高くすることで、中程度以下の衝撃についてはオフトラックの発生を防止する。
【００４６】
したがって、本実施例によれば、ディフェクトおよび外部の衝撃について、少なくとも２つの閾値を設けたことから、ディフェクトのサイズや衝撃の大きさに応じた適切な処理を実行することができる。
【００４７】
以上、図面を参照して本発明の実施の形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本実施例においては、光ディスクの種別については、言及しなかったが、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷおよび他の形態の光ディスクであってもよい。
【００４８】
また、本実施例については、ディフェクト検出、衝撃検出として、例えば、ローパスフィルタ、バンドパスフィルタ、レベル比較器、ディフェクト長測長器等をそれぞれ２系統もつ構成について説明したが、これらを機能的に統合してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明に係る光記録装置の構成図である。
【図２】ディフェクト検出部、衝撃検出部の構成図である。
【図３】エンベロープ信号と閾値との関係を示した図である。
【図４】ディフェクト通過時の各信号の様子を示した図である。
【図５】。光ディスクの偏芯量と許容されるディフェクト長との関係を示した図である。
【図６】トラッキングドライブ信号とディフェクトの関係を示した図である
【符号の説明】
【００５０】
１・・・光ディスク、２・・・光ピックアップ、３・・・ＡＰＣ、４・・・ＲＦアンプ、５・・・サーボ回路、６・・・信号処理回路、７・・・ＣＰＵ、８・・・ドライバーＩＣ、
１１ａ、１１ｂ・・・ローパスフィルタ（ＬＰＦ−１、ＬＰＦ−２）、１２ａ、１２ｂ、２２ａ、２２ｂ・・・レベル比較器、１３ａ、１３ｂ・・・ディフェクト測長器、１４ａ、１４ｂ・・・パルス長比較器、２１ａ、２１ｂ・・・バンドパスフィルタ（ＢＰＦ−１、ＢＰＦ−２）、２３・・・切り替え器、２４・・・遅延発生器、２５・・・サーボゲイン切替器、２６・・・ドライバー駆動信号発生器、２７・・・サーボ出力ホールド器、２８・・・ＡＮＤ回路、２９・・・条件設定器。
【図１】
2005196825.tif 000003
【図２】
2005196825.tif 000004
【図３】
2005196825.tif 000005
【図４】
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【図５】
2005196825.tif 000007
【図６】
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