(57)【要約】【課題】  測定環境の選択を不要として、被測定物が周辺機器と通信状態にある状態や電源が供給されている状態であっても、必要に応じて、随時、そのケーブル端子を持った被測定物から放射されるＥＭＩを容易に測定すること。【解決手段】  導電性の筐体１１内部に収容されている被測定物（ＥＵＴ）１２には、コモンモードフィルタ４７，４８及びシールドカバー４９が施されている通信用ケーブル５１及び電源コード５２が貫通管１１４を介し接続される一方、被測定物１２における任意の被測定部位（ＥＭＩ抽出ポート）それぞれは、可撓性ケーブル（ＥＭＩ抽出リード）４１を介し最寄の抵抗内蔵コネクタ１６に接続されることによって、筐体１１の絶対基準電位と被測定物１２の基準電位との間に生じるコモンモード電流を検出の上、そのレベルがスペクトラムアナライザ等により周波数解析されるようにした。【選択図】  図４
2005233833.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性の筐体の内部に被測定物が収容された状態で、上記筐体の絶対基準電位と上記被測定物の被測定部位との間に生じるコモンモード電流を検出の上、そのレベルが周波数解析されるようにした電磁波測定システムであって、
構成要素としての筐体には、少なくとも、
筐体外部に設置された周辺機器とのデータ通信用ケーブル及び筐体外部から被測定物に電源を供給する電源コードを筐体外部に引き出すための貫通管と、
内部に出力インピーダンス付加用の抵抗器が挿入され、且つ一端は上記被測定物における任意の被測定部位に間接的に接続可能とされ、他端は同軸ケーブルに接続される、１個以上の抵抗内蔵コネクタと、
上記筐体の底面と上記被測定物を隔離するための非導電体と
を設けたことを特徴とする電磁波測定システム。
【請求項２】
請求項１記載の電磁波測定システムにおいて、
上記任意の被測定部位と、上記抵抗内蔵コネクタの何れか１つとは、可撓性ケーブルを介して接続される
ことを特徴とする電磁波測定システム。
【請求項３】
請求項１記載の電磁波測定システムにおいて、
上記筐体の外部に存在している上記データ通信用ケーブル、電源コードそれぞれにはコモンモードフィルタが設けられた上、該コモンモードフィルタと上記貫通管との間には、それぞれシールドカバーが設けられる
ことを特徴とする電磁波測定システム。
【請求項４】
請求項１記載の電磁波測定システムにおいて、
上記筐体の内壁面には、電波吸収体が設けられる
ことを特徴とする電磁波測定システム。
【請求項５】
請求項１記載の電磁波測定システムにおいて、
デジタル系にあっては、入出力ポートにおける基準電位部分が被測定部位とされ、上記通信用ケーブルの一端としてのコネクタが上記被測定物に挿入接続される際には、上記コネクタのうち、剥き出し加工された基準電位金属表面部分が被測定部位とされ、
アナログ系にあっては、アナログ信号入出力端子に挿入接続された、定格終端抵抗が取付けされたコネクタにおける基準電位部分が被測定部位とされ
電源コードにあっては、絶縁表皮部分が被測定部位とされる
ことを特徴とする電磁波測定システム。
【請求項６】
請求項２記載の電磁波測定システムにおいて、
上記可撓性ケーブルと上記抵抗内蔵コネクタは、コネクタピンを介し着脱自在として接続される
ことを特徴する電磁波測定システム。
【請求項７】
請求項２記載の電磁波測定システムにおいて、
上記抵抗内蔵コネクタそれぞれの近傍の筐体内壁面には、上記可撓性ケーブルの筐体への接触防止用の非導電体が設けられる
ことを特徴とする電磁波測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定環境の選択を不要として、被測定物としての、比較的小型の電気・電子機器等が導電性筐体内部に収容された状態で、そのケーブル端子を持った被測定物から放射される電磁波のレベルを容易に測定されるようにした電磁波測定システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
これまでに、電気・電子機器等から放射される電磁波（以下、ＥＭＩ：Electro Magnetic Interferenceと称す）が測定、あるいは評価されるには、ＥＭＩ評価設備や比較的大型のＧ−ＴＥＭセル（ＴＥＭ（Transverse electromagnetic）モードのＥＭＩを伝搬させる、閉じ込められた試験容器）等の測定装置が必要とされている。
【０００３】
ここで、電波暗室やオープンサイトといったＥＭＩ評価設備での電気・電子機器等の評価について簡単に説明すれば、被測定物(以下、ＥＵＴ（Equipment Under Test）と称す)のみならず、その近傍に配置されている周辺機器とそれらに接続される通信ケーブルや電源コードを含めた状態として、ＥＵＴからのＥＭＩが評価されている。その際でのセットアップ例を図２２に示す。因みに、ここにいうセットアップとは、ＥＵＴと周辺機器との相対位置関係や各種ケーブルの交差の仕方・束ね方等の処理として定義される。
【０００４】
図２２に示すように、ＥＵＴ２２１はターンテーブル（図示せず）上に介在物（非導電性）２２５を介し載置される。ＥＵＴ２２１との間でデジタル系通信ケーブル２２６を介しデータ通信を行う周辺機器２２２〜２２４もまた、ＥＵＴ２２１周辺の介在物２２５上に配置され、ＥＵＴ２２１は周辺機器２２２〜２２４とともに水平面内で回転可能とされる。一方、そのターンテーブルから一定距離離れた位置には、受信アンテナ２２７が取付けされたアンテナマスト（図示せず）が立設されており、このアンテナマスト自体の垂直方向への昇降により、受信アンテナ２２７自体もまた、昇降可能となっている。これにより受信アンテナ２２７では、その昇降位置とターンテーブル回転位置に応じたＥＭＩが検出可能となる。
【０００５】
図２３にはまた、その際でのセットアップの簡易図が示されているが、この図から、ＥＵＴ２２１には３本のデジタル系通信ケーブル２２６と１本の電源コード２２８が接続されていることが判る。ＥＵＴ２２１及び周辺機器２２２〜２２４から直接、放射されるＥＭＩ、あるいはＥＵＴ２２１に接続されている各種ケーブル(デジタル系ケーブル、電源コード、アナログ系ケーブル)を介して放射されるＥＭＩは、合成された状態として受信アンテナ２２７で検出されているものである。更に、セットアップの模式図が図２４として示されているが、一般に、ＥＵＴに接続されている各種ケーブルからの放射が支配的であることを考慮すれば、各種ケーブルをアンテナとして、それらが接続されているポートをＥＭＩの供給源に置き換えて考え得るものとなっている。ＥＭＩ評価設備におけるＥＭＩレベルの変化分は、上記ポートにおけるコモンモード電流の変化分であるといえる。結局、ＥＭＩ測定ポイントをＥＭＩ供給源とし、デジタル系通信ケーブル２２６や電源コード２２８をアンテナとして機能させることでＥＭＩが放射され、合成された状態として受信アンテナ２２７で信号が検出され、そのレベルがスペクトラムアナライザ等で周波数解析されている。
【０００６】
因みに、特許文献１に記載のものでは、入出力信号ラインと電源ラインのうち、少なくとも何れか一方が具備されている被測定体から放射される電磁波を測定するには、入出力信号ライン上の信号電位、または電源ライン上の電源電位に重畳されている周波数成分が取り出された上、当該周波数成分の周波数スペクトルのレベルに基づいて、その放射電磁波の強度が判定されている。また、特許文献２に記載のものでは、導電性筐体内に測定対象物（矩形状の基板）を収納し、その筐体の絶対基準電位に対するその測定対象物（矩形状の基板）の基準電位に現れる電磁波ノイズが測定されるべく、測定周波数範囲より高い周波数で電波吸収特性を有し、かつその測定周波数範囲で所定条件の誘電率を有する電波吸収体が筐体内部に設けられている。
【特許文献１】特開２００１―２８９８９５号公報
【特許文献２】特開２００２―１８１８６３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
以上のように、これまでのＥＭＩの測定には、ＥＭＩ評価設備や比較的大型のＧ−ＴＥＭセルなどの簡易的な測定装置が必要とされていることから、以下のような不具合があった。
１）ＥＭＩ評価設備で測定が行われる場合、一般に一回当りの測定に１〜２時間の時間が必要とされ、ＥＭＩ対策効果や量産品のＥＭＩ品質等を評価するのに、多大な時間を要することになる。
２）ＥＭＩ評価設備では、ＥＵＴと周辺機器との位置関係や接続ケーブルの配置条件等により、放射レベルが変化するため、ＥＭＩ評価の再現性が乏しく、ＥＭＩ対策効果等を的確に把握し得ない場合が多い。
３）ＥＭＩ評価設備では、駆動系（アンテナマスト及びターンテーブル）を用いて測定が行われるが、時間的に放射レベルが変動するＥＭＩについては、測定の都度、異なる結果が得られることになる。
４）ＥＭＩ評価設備での測定には、経験や知識、スキルを必要とし、測定者によって結果が異なる場合が多い。
【０００８】
５）ＥＭＩ評価設備の利用に際しては、一般的に予約を必要とし、必要に応じて、随時、測定を行うことは不可能である。
６）ＥＭＩ評価設備の新規設置には、一般に数千万円〜数億円の投資が必要であるばかりか、更に、その維持管理費用および専門の管理担当者を必要とする。
７）ＥＵＴを構成している基板を評価対象とする測定装置の場合、メカシャーシが実装された状態では、その評価を行うことができなくなる。一般的に、比較的小型の電気・電子機器のメカシャーシは基準電位として用いられているため、基板だけの状態と、メカシャーシが取外された状態、あるいはビス止めが緩められた状態とでは、ＥＭＩ評価設備におけるＥＭＩのレベルが異なってくる。
８）ある測定装置では、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）やＩＥＥＥ（Institute of Electrical and Electronics Engineers：米国電子電気技術者協会）１３９４等のデジタル系インタフェースバスには、コモンモードフィルタが取付けされていないため、周辺機器のＥＭＩや放送波、都市ノイズ等の周囲からのノイズ（以下、外来ノイズと称す）の影響を受け、周辺機器と通信状態での評価を行うことができない。
【０００９】
本発明の目的は、測定環境の選択を不要とし、ＥＵＴが周辺機器と通信状態にある状態であっても、必要に応じて、随時、そのケーブル端子を持ったＥＵＴから放射されるＥＭＩのレベルが容易に測定され得る電磁波測定システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明による電磁波測定システムは、導電性の筐体の内部にＥＵＴが収容された状態で、上記筐体の絶対基準電位と上記ＥＵＴの被測定部位との間に生じるコモンモード電流を検出の上、そのレベルが周波数解析されるようにしたものであって、構成要素としての筐体には、少なくとも、筐体外部に設置された周辺機器とのデータ通信用ケーブル及び筐体外部から被測定物に電源を供給するための電源コードを筐体外部に引き出すための貫通管と、内部に出力インピーダンス付加用の抵抗器が挿入され、且つ一端は上記ＥＵＴにおける任意の被測定部位に間接的に接続可能とされ、他端は同軸ケーブルに接続される、１個以上の抵抗内蔵コネクタと、上記筐体の底面と上記被測定物を隔離するための非導電体とを設けるようにした。
【００１１】
その導電性の筐体は、スペースや耐荷重等の設置環境による制限を受けないサイズ、例えばオフィス内のデスク等に容易に設置され得るサイズとされる。また、その筐体には貫通管が設けられており、ＥＵＴが外部の周辺機器との間でデータ通信を行うための通信用ケーブルはその貫通管を介し筐体外部に引き出され、コモンモードフィルタおよびシールドカバーを介して周辺機器に接続される。したがって、ＥＵＴが周辺機器と通信状態にある場合であっても、周辺機器からのＥＭＩおよび外来ノイズの影響を受けずに、そのケーブル端子を持ったＥＵＴから放射されるＥＭＩを、必要に応じて、随時、測定可能となる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明による電磁波測定システムによれば、測定環境の選択を不要とし、ＥＵＴが外部の周辺機器と通信状態にある場合や電源が供給されている状態であっても、随時、そのケーブル端子を持ったＥＵＴから放射されるＥＭＩのレベルを容易に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の一実施の形態を、図１から図２１により説明する。
まず本発明における測定原理を説明する。図１に示すように、導電性の筐体１１の内部底面には、その底面とＥＵＴ１２を隔離すべく、非導電体（図示せず）が設けられており、ＥＵＴ１２はその非導電体上に載置される。この結果、ＥＵＴ１２の基準電位と筐体１１底面との間には浮遊容量１３が発生する。したがって、ループ回路が形成されるように、ＥＵＴ１２における被測定部位（以下、ＥＭＩ抽出ポートと称す）１４が、可撓性ケーブル（以下、ＥＭＩ抽出リードと称す）１５、抵抗内蔵コネクタ１６を介し、筐体１１の底面に接続されるようにすれば、形成されたループ回路にはコモンモード電流が流れる。このコモンモード電流を抽出した上、５０Ω系ＥＭＩ測定機器（スペクトラムアナライザ／ＥＭＩレシーバ等）１７で周波数解析すれば、ＥＭＩの測定、あるいは評価が可能となる。
【００１４】
さて、本発明を具体的に説明すれば、まず本発明に係る筐体の斜視外観を図２として、また、その平面状態を図３として、更に、本発明による電磁波測定システムの一例での全体構成を図４として示す。図示のように、筐体１１自体は、比較的小型の電気・電子機器をその内部に収容可能な導電性のものとされ、また、スペースや耐荷重等の設置環境の制限を受けることがないように、オフィス内のデスク等に簡単に設置可能なサイズとして構成される。そのサイズは、例えば内寸４５０ｍｍ（Ｗ）×７００ｍｍ（Ｄ）×１５０ｍｍ（Ｈ）とされる。筐体１１が導電性とされることで、外来ノイズが遮断可能とされているものである。
【００１５】
その筐体１１は、以下の要素から構成される。
・ガスケット：外来ノイズを遮断すべく、筐体１１内の天板の縁には、ガスケット(例えば、シールドフィンガー)１１３が設置される(図２を参照のこと)。
・貫通管：周辺機器４６とのデータ通信やＥＵＴ１２への電源供給を行うため、ＥＵＴに１２接続されるケーブル(デジタル系ケーブル（通信用ケーブル５１）、電源コード５２)を筐体１１外部に引き出すための貫通管１１４が筐体１１の壁面部に設置される。その設置数は任意であるが、通常は、筐体１１手前の壁面に４個、奥の壁面に４個設置される(図２〜図４を参照のこと)。尤も、貫通管１１４はその全てが実際に使用されるとは限らず、使用されない貫通管については、外来ノイズを遮断すべく、導電性のキャップで覆う必要がある。
・非導電体（その１）：筐体１１の内底面とＥＵＴ１２のＥＭＩ抽出ポート間の浮遊容量を一定として、安定なコモンモード電流を抽出するために、その内底面とＥＵＴ１２の間に非導電体（図示せず）が設置される。この非導電体の高さは、通常、３０ｍｍに設定される。
【００１６】
・抵抗内蔵コネクタ：安定な出力インピーダンス特性を保ち、測定の再現性を高める抵抗器が内蔵された抵抗内蔵コネクタ（これの詳細については、後述）１６が設置される。その抵抗器の抵抗値及び種類は任意であるが、通常、１００Ωの金属皮膜抵抗器、あるいはチップ抵抗器が１個、内蔵される。この抵抗内蔵コネクタ１６の設置部位と設置数は任意であるが、通常、筐体１１手前に３個、奥に３個、設置される(図２〜図4を参照)。この抵抗内蔵コネクタ１６は、後に具体的に説明されるＥＭＩ抽出リード４１とコネクタピンを介して着脱自在に接続されることにより、操作性の簡易化及び再現性の向上が実現される。
・取っ手（その１）：筐体１１自体の移動をスムーズ、かつ安全に行うために、各種の取っ手１１１が筐体１１の外壁部に設置される(図２や図３を参照)。
・取っ手（その２）：天板の開閉をスムーズに行うために、取っ手１１５が筐体１１の外天板部に設置される(図３を参照)。
・ダンパー：天板の開閉をスムーズに行うために、ダンパー１１２が筐体１１の外壁部に設置される(図２や図３を参照のこと)。
・非導電体（その２）：筐体１１内壁面へのＥＭＩ抽出リードの接触を防止し、共振等
による測定データのエラーレートの悪化を防止するために、非導電体（これについても、後述）が抵抗内蔵コネクタ１６周辺の筐体１１内壁面に設置される。
・電波吸収体：ＥＵＴ１２や通信用ケーブル５１、電源コード１２それぞれから発生されるＥＭＩの筐体１１内における反射を抑制するため、電波吸収体（図示せず）が筐体１１内部に設置される。通常、筐体１１の内壁部に設置される。
【００１７】
以上、筐体の構成要素について説明したが、以下、筐体以外の構成要素について説明する。
・ＥＭＩ抽出リード：ＥＭＩ抽出リード４１は、図４に示すように、ＥＭＩ抽出ポート１４と抵抗内蔵コネクタ１６の間を接続するための可撓性ケーブルであり、絶縁チューブ（ウレタンフォーム等でも可とされ、一般に可撓性に富む絶縁物が使用可能）と、この絶縁チューブを被覆する導電性ワイアメッシュと、ＥＭＩ抽出ポートをクリップする一端としての鰐口クリップと、他端としてのコネクタピン(操作性の簡易化及び測定の再現性向上を目的とする)とから構成されている（これについても、後述）。
・５０Ω系ＥＭＩ測定機器：抽出されたコモンモード電流のレベルを周波数解析するための測定機器であり、この５０Ω系ＥＭＩ測定機器１７として、スペクトラムアナライザやＥＭＩレシーバ等が使用される（図４を参照）。
・ＲＦアンプ：抽出されたコモンモード電流を増幅するアンプであり、このＲＦアンプ４２としては、ＥＭＩ測定機器に内蔵されているアンプを代用することも可能である（図４を参照）。
【００１８】
・コンピュータ等：５０Ω系ＥＭＩ測定機器１７で取得された測定データの収集・管理や計算処理、及びその５０Ω系ＥＭＩ測定機器１７の制御に使用されるものであり、コンピュータ等４３としては、通常、パーソナルコンピュータが使用される（図４を参照）。
・５０Ω系同軸ケーブル：筐体１１に設置されている抵抗内蔵コネクタ１６と５０Ω系ＥＭＩ測定機器１７との間を接続するための５０Ω系の同軸ケーブルであり、この５０Ω系同軸ケーブル４４は、途中にＲＦアンプ４２が介在されていることから、２本、必要となっている（図４を参照）
・ＧＰＩＢ（General Purpose Interface Bus：汎用計測インタフェースバス）ケーブル：ＥＭＩ測定機器制御用通信ケーブルであり、このＧＰＩＢケーブル４５によって、コンピュータ等４３と５０Ω系ＥＭＩ測定機器１７間が接続される（図４を参照）。
・コモンモードフィルタ：筐体１１外部からのＥＭＩ、すなわち、周辺機器４６からのＥＭＩや外来ノイズ等を遮断し、かつ必要な信号のみを通過させるために、通信用コモンモードフィルタ４７が使用され、電源５０用には、電源用コモンモードフィルタ４８が使用される(図４を参照)。このコモンモードフィルタの構造としては、例えば、磁性体（フェライトリング等）に、ケーブル(デジタル系ケーブルや電源コード等)をバイファイラ巻きし、導電性筐体に収容したものである。
・シールドカバー：貫通管１１４とコモンモードフィルタ４７，４８間のケーブルに重畳される外来ノイズを遮断するために、シールドカバー４９が使用される(図４を参照)。
【００１９】
ここで、以上に述べた構成要素のうち、更に必要なものについて補足説明を行う。まず抵抗内蔵コネクタについて補足説明すれば、図５（Ａ）及び図５（Ｂ）に示すように、抵抗内蔵コネクタ１６は、一端部がフランジ１６２として形成された円筒１６１として構成されており、また、その円筒１６１内部には、雄型コネクタピン１６３が一部外部に突出した状態として取付けされている。その雄型コネクタピン１６３の他端にはまた、抵抗器１６４の一端が接続され、その抵抗器１６４の他端はまた、ＲＦアンプへの５０Ω系同軸ケーブルに接続される。このように構成されている抵抗内蔵コネクタ１６は、フランジ１６２に穿たれているビス止め固定用孔１６５により、筐体１１壁面にビスにより取付け固定された状態で、その雄型コネクタピン１６３は、ＥＭＩ抽出リードにおける一端としての雌型コネクタピンと嵌合されることで、ＥＭＩ抽出ポートと接続される。
【００２０】
次に、筐体内壁面へのＥＭＩ抽出リードの接触を防止するための非導電体について補足説明する。この非導電体の接触防止用治具６１としての取付け状態の例を図６に示す。図６に示すように、その接触防止用治具６１は、その形状は任意とされるが、抵抗内蔵コネクタ１６近傍の筐体１１内壁面に、抵抗内蔵コネクタ１６を囲繞するよう、全体がコ字状のものとして取付けされる。
【００２１】
更に、ＥＭＩ抽出リードについて補足説明する。このＥＭＩ抽出リードは、抵抗内蔵コネクタとともに、その全体外観が図７に示されている。図７から判るように、ＥＭＩ抽出リード４１は、可撓性に富む絶縁物（図示せず）（ゴムチューブやウレタンフォーム等）の外表面はワイアメッシュ４１２により被覆された上、その一端は雌型コネクタピン４１１として、また、他端は鰐口クリップ４１３として構成される。この使用に際しては、その鰐口クリップ４１３によりＥＭＩ抽出ポートがクリップされるとともに、雌型コネクタピン４１１は最寄の抵抗内蔵コネクタ１６における雄型コネクタピンに嵌合されるようになっている。因みに、参考までに、雄型の抵抗内蔵コネクタ１６及び雌型コネクタピン４１１の概観を図８として、また、ＥＭＩ抽出リード４１の抵抗内蔵コネクタ１６への接続状態を図９として示す。
【００２２】
ところで、以上の抵抗内蔵コネクタ、ＥＭＩ抽出リードには、それぞれ、雄型コネクタピン、雌型コネクタピンが具備されているが、逆の場合、すなわち、それぞれに、雌型コネクタピン、雄型コネクタピンが具備されるようにしても、同様な接続機能が得られることは言うまでもない。この場合でのＥＭＩ抽出リードの全体外観を、抵抗内蔵コネクタとともに図１０に示す。図示のように、ＥＭＩ抽出リード４１の一端は雄型コネクタピン４１４に置換されており、また、抵抗内蔵コネクタ１６には、雄型コネクタピンに代って、雌型コネクタピン（図示せず）が具備されるようになっている。これの使用に際しては、その鰐口クリップ４１３によりＥＭＩ抽出ポートがクリップされるとともに、雄型コネクタピン４１４は最寄の抵抗内蔵コネクタ１６における雌型コネクタピンに嵌合されるようになっている。因みに、参考までに、雌型の抵抗内蔵コネクタ１８及び雄型コネクタピン４１４の概観を図１１として、また、そのＥＭＩ抽出リード４１の抵抗内蔵コネクタ１６への接続状態を図１２として示す。
【００２３】
さて、既述のように、ＥＭＩ評価設備におけるＥＭＩレベルの変化分は、各種ケーブルが接続されているポートにおけるコモンモード電流のレベルの変化分であるといえる。したがって、周辺機器との通信状態や電源供給状態等でデジタル系やアナログ系におけるＥＭＩ特性の変化（ＥＭＩ対策効果やバラツキ等）を定量的に評価するため、コモンモード電流を測定する最適なポイント、すなわち、ＥＭＩ抽出ポートとしては、以下のものが挙げられる。
１）ＥＵＴに接続されるデジタル系ケーブルにおける基準電位部分（後述）
２）デジタル系ケーブルが接続されるＥＵＴでのI/O Port（入出力ポート）の基準電位部分
３）電源（直流電源及び交流電源）コードの表皮部分
４）電源（直流電源）コードが接続されるＥＵＴの電源基準電位部分
５）ＥＵＴに接続されるアナログ系ケーブルの基準電位部分
６）アナログケーブルが接続されるＥＵＴの基準電位部分
７）定格終端抵抗付属アタッチメントにおける基準電位部分（後述）
【００２４】
次に、定格終端抵抗付属アタッチメントについて補足説明する。これは、アナログ系（ヘッドフォンやマイクロフォン等、周辺機器との通信を行わない系統）の評価を行うために、定格終端抵抗が取付けされたアナログ系コネクタとして構成されている。これを、ＥＵＴにおけるアナログ系入出力信号用コネクタに取付けて、ＥＭＩ抽出ポートとして測定を行うようにしている。その定格終端抵抗付属アタッチメントの例を図１３に示す。図示のように、定格終端抵抗付属アタッチメント５２は、その左チャネル用導体５２１、右チャネル用導体５２２及び基準電位用導体５２３のうち、基準電位用導体５２３は鰐口クリップにより容易にクリップされるように、挿入方向とは反対側の方向に、より突出された状態として設けられている。また、その基準電位用導体５２３と左チャネル用導体５２１、右チャネル用導体５２２それぞれとの間には、負荷抵抗器５２４が設けられている。これにより、ＥＵＴに接続されるアナログ系ケーブルの配置やケーブルの束ね方等の取扱条件によるＥＭＩレベルの変化が抑制されることになる。
【００２５】
続いて、周辺機器との通信状態におけるデジタル系の評価を行うために、ＥＵＴに接続されるコネクタ部分が加工されたデジタル系ケーブルについて説明する。このデジタル系ケーブルのコネクタ部分での基準電位（金属部）は剥き出し状態となるように、加工されている。その加工例を図１４に示す。図示のように、通信用ケーブル５１のうち、ＥＵＴへのコネクタ部分では、通常、基準電位用導体５１２のみが露出された状態にあるが、その近傍の絶縁被覆５１１が除去される。この除去により基準電位用導体５１３が新たに剥き出しされた状態となる。したがって、そのコネクタ部分がＥＵＴに接続された状態では、基準電位用導体５１３は外部に露出された状態になるため、鰐口クリップにより容易にクリップされ得るものである。これにより、ＥＭＩ抽出ポートとしてクリップされた際での接触抵抗が安定化され、周辺機器との通信状態を保持しつつ、その評価が再現よく行えることになる。
【００２６】
次に、図１５に基づいて、さて、ＥＭＩ抽出リードの一端が抵抗内蔵コネクタに接続されている状態で、ＥＭＩ測定を行うときの測定フローについて説明する。なお、この測定は、ＥＭＩ抽出ポートそれぞれが鰐口クリップによりクリップされる毎に行われる。まずＥＵＴが筐体内の中央付近に設置される（ステップＳ１）。次に、ＥＵＴに通信用ケーブル及び電源用ケーブル（電源コード）が接続される（ステップＳ２）。このステップＳ２では、ケーブルが貫通管から筐体外部に引き出された上、コモンモードフィルタ及びシールドカバーを介し、周辺機器、または電源に接続される。その後、通信状態での評価を行うか否かが判定される（ステップＳ３）。この判定で、通信状態での評価を行うと判定された場合には、ＥＵＴ及び周辺機器にはともに電源が投入される（ステップＳ４）。また、もしも、通信状態での評価を行わないと判定された場合は、ＥＵＴのみに電源が投入される（ステップＳ５）。
【００２７】
以上のようにして、電源が投入された後は、アナログ系を加味しての評価を行うか否かが判定される（ステップＳ６）。この判定で、アナログ系を加味しての評価を行うと判定された場合、定格終端抵抗付属アタッチメントがアナログポートに取付けされる（ステップＳ７）。その後に、ＥＭＩ抽出ポートがＥＭＩ抽出リードによりクリップされるともに、必要に応じてＥＭＩ抽出リードのコネクタピンが最寄の抵抗内蔵コネクタに接続される（ステップＳ８）。一方、ステップＳ６での判定で、アナログ系を加味しての評価を行わないと判定された場合には、ＥＭＩ抽出ポートがＥＭＩ抽出リードによりクリップされるともに、必要に応じてＥＭＩ抽出リードのコネクタピンが最寄の抵抗内蔵コネクタに接続される（ステップＳ８）。その後は、筐体の天板が閉じられ（ステップＳ９）、ＥＭＩ測定機器を用いて、スペクトラムデータ（測定データ）の取得が開始されるが、取得されたスペクトラムデータはコンピュータ等に保存される（ステップＳ１０）。そのスペクトラムデータの取得後は、全てのＥＭＩ抽出ポートが測定されたか否かが判定される（ステップＳ１１）。この判定で、全てが測定された場合には、一連の処理は終了される。全てが測定されていない場合には、全てが測定されるまでの間、筐体の天板が開けられ（ステップＳＳ１２）、ステップＳ８に戻る。そして、新たなＥＭＩ抽出ポートがＥＭＩ抽出リードによりクリップされるともに、必要に応じてＥＭＩ抽出リードのコネクタピンが最寄の抵抗内蔵コネクタに接続された上、同様な処理が繰返し行われるようになっている。
【００２８】
以上、測定フローについて説明したが、その際に使用されるＥＭＩ抽出リードは１本とし、ＥＭＩ抽出ポートそれぞれから順次、コモンモード電流が抽出される。これにより、ＥＭＩ抽出ポートそれぞれにおけるコモンモード電流のレベルの変化分や集中部分が検証可能となり、ＥＭＩ対策効果等のＥＭＩレベル変化の評価や放射源（放射ルート）が特定可能となる。因みに、同一ＥＵＴについてのＥＭＩ対策により、ＥＭＩレベルがその対策前後で如何に変化するかを、電波暗室でのものを図１６として、また、本発明でのものを図１７として示す。
【００２９】
ＥＭＩ対策効果（ＥＭＩ特性の変化）の評価に際しては、原則として、各周波数について全ＥＭＩ抽出ポートでの最大値が算出された上、評価されるようになっている。但し、ＥＭＩ評価設備における測定では、ＥＵＴに接続されるケーブル等の配置条件でケーブル自体の放射効率が変化するため、高放射効率のケーブルが接続されるＥＭＩ抽出ポート（ＥＭＩ評価専用設備において特定）に優先順位をおいて、評価されることがある。
【００３０】
本発明による電磁波測定システムは以上のように構成されていることから、ＥＭＩの時間変動特性の解析やその把握が可能となる。すなわち、測定機器のデータを連続的に取得する機能（例えばスペクトラムアナライザでのスイープ（掃引）毎のデータを全て取得）を持ったソフトウエアと組合せるようにすれば、各周波数のレベルの時間変動特性(安定ＥＭＩ、間欠性レベル変動ＥＭＩ（レベルが時間的に間欠的に変動するＥＭＩ）)や温度特性等が定量的に評価可能となる。参考までに、ある特定周波数での２次元タイムドメイン（２０分）を図１８として、全測定周波数帯域での３次元タイムドメイン（２０分）を図１９として、ある特定周波数での２次元タイムドメイン（３０秒  間欠性ＥＭＩ）を図２０として、ある特定周波数での２次元タイムドメイン（３０秒  安定ＥＭＩ）を図２１として、それぞれ示す。
【００３１】
また、上記タイムドメイン解析機能を持ったソフトウエアにより取得されたタイムドメインデータからは、ＱＰ検波回路の応答特性をシミュレートした関数を使い、ＥＭＩレシーバのＱＰ検波モードにより取得されるＱＰ値が推定可能となる。
更に、ＥＭＩ抽出リードが複数、同時に使用される場合には、その分、天板の開閉が少なくて済まされるから、最大ＥＭＩのレベルが短時間に評価されることになる。例えば、ＥＭＩ抽出ポート数と同数の抽出リードが使用される場合には、全てのＥＭＩ抽出ポートが一括評価されることになる。
【００３２】
以上、説明したように、本発明による電磁波測定システムによれば、ケーブル端子を持った比較的小型の電気・電子機器のＥＭＩ対策検討が、設計オフィス(設計ベンチ)にて外来ノイズの影響を受けずに行えることになる。これにより、事前予約による利用が一般的とされている、従来のＥＭＩ評価設備でのＥＭＩ対策検討とは異なり、必要に応じて、随時、タイムリーな検討が可能となる。また、数千万円〜数億円の投資を伴うＥＭＩ評価設備(電波暗室等)数の増強が回避・抑制されることになる。
また、従来の場合に比し、１／１０以下の時間で、ＥＭＩ対策検討・評価を行える。例えば、試算条件として、測定周波数範囲が３０ＭＨz―１ＧＨz、インタフェース数(Ｐｏｒｔ数)が６である場合での評価時間（セットアップに要される時間を除く）を試算すれば、従来(ＥＭＩ評価設備における測定)にあっては、1時間以上、要されていたのに対し、本発明(場所の制限無し)による場合は、僅か６分(＝１分×６Ｐｏｒｔ)で済まされるものである。
【００３３】
更に、周辺機器との通信状態(ＥＭＩ測定規格で定義されているシステム構成の１条件)で、ＥＭＩ抽出ポート毎のＥＭＩ対策効果を評価し得、主となる放射ルート(ＥＭＩ的なアンテナ)のレベル変化を的確に把握することが可能となる。
また、周辺機器からのＥＭＩ及び外来ノイズが遮断され、かつ駆動系が存在しない状態、つまり、安定した測定環境で評価を行えることから、測定装置全体のエラーレートを１ｄＢ以下に抑制することが可能となる。この特徴を活かし、再現性や繰返し性、複数のＥＵＴにおけるレベルのバラツキ、間欠性レベル変動ＥＭＩのＥＭＩ対策効果等を定量的に評価し得ることになる。
また、測定環境の設定が容易で、かつ特別な評価スキルが不要であるため、測定の熟練者を必要としない。つまり、評価スキル不足の測定者(例えば、設計者)によるＥＭＩ対策検討も容易となる。
【００３４】
以上、本発明者によってなされた発明を一実施の形態に基づき、具体的に説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内で種々変更可能であることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の電磁波測定原理を示す図である。
【図２】本発明に係る筐体の斜視外観を示す図である。
【図３】同じく、その平面状態を示す図である。
【図４】本発明による電磁波測定システムの一例での全体構成を示す図である。
【図５】本発明に係る抵抗内蔵コネクタの一部が断面とされた正面状態と、その左側面状態とを示す図である。
【図６】筐体内壁面へのＥＭＩ抽出リード接触を防止するための非導電体のその内壁面への取付け状態を示す図である。
【図７】ＥＭＩ抽出リード（その１）の全体外観を抵抗内蔵コネクタとともに示す図である。
【図８】抵抗内蔵コネクタ及び雌型コネクタピンの外観を示す図である。
【図９】ＥＭＩ抽出リードの抵抗内蔵コネクタへの接続状態を示す図である。
【図１０】ＥＭＩ抽出リード（その２）の全体外観を抵抗内蔵コネクタとともに示す図である。
【図１１】抵抗内蔵コネクタ及び雄型コネクタピンの外観を示す図である。
【図１２】ＥＭＩ抽出リードの抵抗内蔵コネクタへの接続状態を示す図である。
【図１３】定格終端抵抗付属アタッチメントの一例での概観を示す図である。
【図１４】ＥＵＴに接続されるコネクタ部分に対する加工例を示す図である。
【図１５】本発明に係るＥＭＩ測定フローの一例を示す図である。
【図１６】ＥＭＩ対策によりＥＭＩレベルがその対策前後で如何に変化するかを、電波暗室でのものとして示す図である。
【図１７】ＥＭＩ対策によりＥＭＩレベルがその対策前後で如何に変化するかを、本発明でのものとして示す図である。
【図１８】ある特定周波数での２次元タイムドメイン（２０分）を示す図である。
【図１９】全測定周波数帯域での３次元タイムドメイン（２０分）を示す図である。
【図２０】ある特定周波数での２次元タイムドメイン（３０秒  間欠性ＥＭＩ）を示す図である。
【図２１】ある特定周波数での２次元タイムドメイン（３０秒  安定ＥＭＩ）を示す図である。
【図２２】ＥＭＩ評価設備におけるセットアップ例を示す図である。
【図２３】そのセットアップの簡易図を示す図である。
【図２４】そのセットアップの模式図を示す図である。
【符号の説明】
【００３６】
１１…（導電性の）筐体、１２…ＥＵＴ（被測定物）、１１４…貫通管、１６…抵抗内蔵コネクタ、１５，４１…ＥＭＩ抽出リード（可撓性ケーブル）、５１…通信用ケーブル、５２…電源コード、４７…通信用コモンモードフィルタ、４８…電源用コモンモードフィルタ、４９…シールドカバー、４１１，４１４，１６３…コネクタピン、６１…（ＥＭＩ抽出リード）接触防止用治具、５２…定格終端抵抗付属アタッチメント
【図１】
2005233833.tif 000003
【図２】
2005233833.tif 000004
【図３】
2005233833.tif 000005
【図４】
2005233833.tif 000006
【図５】
2005233833.tif 000007
【図６】
2005233833.tif 000008
【図７】
2005233833.tif 000009
【図８】
2005233833.tif 000010
【図９】
2005233833.tif 000011
【図１０】
2005233833.tif 000012
【図１１】
2005233833.tif 000013
【図１２】
2005233833.tif 000014
【図１３】
2005233833.tif 000015
【図１４】
2005233833.tif 000016
【図１５】
2005233833.tif 000017
【図１６】
2005233833.tif 000018
【図１７】
2005233833.tif 000019
【図１８】
2005233833.tif 000020
【図２０】
2005233833.tif 000021
【図２１】
2005233833.tif 000022
【図２２】
2005233833.tif 000023
【図２３】
2005233833.tif 000024
【図２４】
2005233833.tif 000025
【図１９】
2005233833.tif 000026