(57)【要約】      （修正有）【課題】高速に欠陥画素情報を読み出すことができ、複数の要素（撮像素子温度、実効露光時間、実効感度）を考慮して欠陥画素を補正する。【解決手段】所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、前記撮像素子に係る温度を検出するための温度検出手段と、欠陥画素情報をあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、前記欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、前記温度検出手段の検出結果から決定される該当温度範囲情報と、欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有する。【選択図】  図１
2005175987.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、
前記撮像素子に係る温度を検出するための温度検出手段と、
前記撮像素子に係る温度によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、低温側から数えて第１から第Ｎの温度範囲について、前記第１の温度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される温度範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、前記第２の温度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される温度範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、
前記欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、前記温度検出手段の検出結果から決定される該当温度範囲情報Ｍ（Ｍは１以上Ｎ以下の整数）以下の（高温の温度範囲情報に大きな数を割り当てる場合、低温の温度範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）温度範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、
前記撮像素子に係る実効露光時間を認識する実効露光時間認識手段と、
前記撮像素子に係る実効露光時間によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、短時間側から数えて第１から第Ｎの実効露光時間範囲について、前記第１の実効露光時間範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効露光時間範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、前記第２の実効露光時間範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効露光時間範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、
前記欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、前記実効露光時間認識手段の結果から決定される該当実効露光時間範囲情報Ｍ（Ｍは1以上Ｎ以下の整数）以下の（長秒時の実効露光時間範囲情報に大きな数を割り当てる場合、短秒時の実効露光時間範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）実効露光時間範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、
前記撮像素子の実効感度を認識する実効感度認識手段と、
前記撮像素子に係る実効感度によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、低感度側から数えて第１から第Ｎの実効感度範囲について、前記第１の実効感度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効感度範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、前記第２の実効感度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効感度範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、
前記欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、前記実効感度認識手段の結果から決定される該当実効感度範囲情報Ｍ（Ｍは１以上Ｎ以下の整数）以下の（高感度の実効感度範囲情報に大きな数を割り当てる場合、低感度の実効感度範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）実効感度範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、
前記撮像素子に係る温度を検出するための温度検出手段と、
前記撮像素子に係る実効露光時間を認識する実効露光時間認識手段と、
前記撮像素子の実効感度を認識する実効感度認識手段と、
前記撮像素子に係る温度、実効露光時間と前記撮像素子の実効感度の組み合わせによって決まる撮影条件によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、低レベル（発生欠陥画素数が少ない）側から数えて第１から第Ｎの撮影条件範囲について、前記第１の撮影条件範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される撮影条件範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、前記第２の撮影条件範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される撮影条件範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、
前記欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、前記撮像素子に係る温度、実効露光時間と前記撮像素子の実効感度の組み合わせによって決定された該当撮影条件範囲情報Ｍ（Ｍは1以上Ｎ以下の整数）以下の（高レベルの撮影条件範囲情報に大きな数を割り当てる場合、低レベルの撮影条件範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）撮影条件範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電荷結合素子（ＣＣＤ：Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）等の固体撮像素子に含まれる欠陥画素からの撮像出力に起因する画質劣化を補正する機能を有する電子スチルカメラやビデオカメラに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子スチルカメラやビデオカメラでは撮像素子の高画素化が進んでおり、それに伴って撮像素子中の欠陥画素補正の重要性はより高まってきている。
【０００３】
このような状況にあって、従来からこのような欠陥画素からの撮像出力に起因する画質劣化を補正する技術が種々提案されている。これら従来技術の多くのものは、常温における当該撮像素子の欠陥画素情報を保有し、この情報に依拠して欠陥画素を補正するように構成されている。
【０００４】
しかしながら、欠陥画素による画像の品位の低下は撮像素子の温度、あるいは実効露光時間や実効感度によってその程度が大きく変わることが知られている。よって、上述のように、常温における欠陥画素情報を用いて一律に欠陥画素を補正してしまうと、場合によっては不適切な補正がなされてしまい、欠陥画素による画像の品位低下が助長されてしまうといった結果を招く恐れがあった。
【０００５】
昨今、このような場合に対処するための技術もいくつか提案されており、例えば、特許文献１においては、あらかじめ第１の温度範囲０℃〜Ｔ１で発生する欠陥画素の位置情報をメモリＡ、第２の温度範囲Ｔ１〜Ｔ２で発生する欠陥画素の位置情報をメモリＢ、第３の温度範囲Ｔ２〜６０℃で発生する欠陥画素の位置情報をメモリＣにそれぞれ保持し、撮像素子の温度をサーミスタで検出して、その温度に対応したメモリから欠陥画素情報を読み出して、対象画素を補正する技術が提案されている。
【０００６】
また、この提案では、撮像素子温度と同様に、実効露光時間によってもこれを実施することが提案されている。
【特許文献１】特開平１１−１１２８７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記の従来例には、以下の課題がある。
【０００８】
つまり、第１の温度範囲の温度が検出された場合は、ＣＰＵがメモリＡを参照し、画像信号が信号処理回路に入力される順番でメモリＡ内の欠陥画素位置情報をサーチして、読み出さなくてはいけないので、欠陥画素が多いと速度的に補正処理が間に合わなくなる。
【０００９】
又、第２の温度範囲の温度が検出された場合は、ＣＰＵはメモリＡだけではなくメモリＢも参照して、メモリＡとメモリＢを交互にサーチして画像信号が信号処理回路に入力される順番で欠陥画素情報を読み出さなくてはいけないので、速度的にはより不利になる。
【００１０】
更に、第３の温度範囲の温度が検出された場合は、同様の理由で、更に速度的により不利になる。  また、実効露光時間によってこれを実施する場合も同様であり、実効感度についても一律に欠陥画素を補正してしまうと、場合によっては不適切な補正がなされてしまい、欠陥画素による画像の品位低下が助長されてしまうことがある。加えて、実効感度によってこれを実施する場合にも、撮像素子温度、実効露光時間と同様の課題がある。
【００１１】
本発明はこのような課題に鑑みて成されたものであり、より高速に欠陥画素情報を読み出すことができ、複数の要素（撮像素子温度、実効露光時間、実効感度）を考慮してグレード分けするよりも簡単な手順で処理が実現できる画像処理装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に記載の画像処理装置は、所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、撮像素子に係る温度を検出するための温度検出手段と、撮像素子に係る温度によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、低温側から数えて第１から第Ｎの温度範囲について、第1の温度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される温度範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、第２の温度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される温度範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、温度検出手段の検出結果から決定される該当温度範囲情報Ｍ（Ｍは1以上Ｎ以下の整数）以下の（高温の温度範囲情報に大きな数を割り当てる場合。低温の温度範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）温度範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有する。
【００１３】
本発明の請求項２に記載の画像処理装置は、所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、撮像素子に係る実効露光時間を認識する実効露光時間認識手段と、撮像素子に係る実効露光時間によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、短時間側から数えて第１から第Ｎの実効露光時間範囲について、第1の実効露光時間範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効露光時間範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、第２の実効露光時間範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効露光時間範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、実効露光時間認識手段の結果から決定される該当実効露光時間範囲情報Ｍ（Ｍは1以上Ｎ以下の整数）以下の（長秒時の実効露光時間範囲情報に大きな数を割り当てる場合。短秒時の実効露光時間範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）実効露光時間範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有する。
【００１４】
本発明の請求項３に記載の画像処理装置は、所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、撮像素子の実効感度を認識する実効感度認識手段と、撮像素子に係る実効感度によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、低感度側から数えて第１から第Ｎの実効感度範囲について、第1の実効感度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効感度範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、第２の実効感度範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される実効感度範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、実効感度認識手段の結果から決定される該当実効感度範囲情報Ｍ（Ｍは1以上Ｎ以下の整数）以下の（高感度の実効感度範囲情報に大きな数を割り当てる場合。低感度の実効感度範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）実効感度範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有する。
【００１５】
本発明の請求項４に記載の画像処理装置は、所望の被写体像が結像されてその画像に応じた画像信号を出力する撮像素子と、撮像素子に係る温度を検出するための温度検出手段と、撮像素子に係る実効露光時間を認識する実効露光時間認識手段と、撮像素子の実効感度を認識する実効感度認識手段と、撮像素子に係る温度、実効露光時間と撮像素子の実効感度の組み合わせによって決まる撮影条件によって所定の数Ｎ（Ｎは２以上の整数）に区分された、低レベル（発生欠陥画素数が少ない）側から数えて第１から第Ｎの撮影条件範囲について、第1の撮影条件範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される撮影条件範囲情報を付加した第１の欠陥画素情報と、第２の撮影条件範囲で発生する少なくとも一つの欠陥画素の位置情報それぞれに所定の数字で表される撮影条件範囲情報を付加した第２の欠陥画素情報（但し、第１の欠陥画素情報は含まない）と、以下同様にして定義される第Ｎまでの欠陥画素情報とをあらかじめ保持しておく欠陥画素情報保持手段と、欠陥画素情報保持手段から欠陥画素情報を読み出して、撮像素子に係る温度、実効露光時間と撮像素子の実効感度の組み合わせによって決定された該当撮影条件範囲情報Ｍ（Ｍは1以上Ｎ以下の整数）以下の（高レベルの撮影条件範囲情報に大きな数を割り当てる場合。低レベルの撮影条件範囲情報に大きな数を割り当てる場合は、Ｍ以上の）撮影条件範囲情報を有する欠陥画素情報のみを選択して、その欠陥画素位置情報に対応する欠陥画素について補正処理を施す補正手段とを有する。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の請求項１に記載の画像処理装置によれば、撮像素子の温度によって補正する欠陥画素を選択して補正する場合に、ＣＰＵが複数のメモリを画像信号が入力される順番でサーチして読み出すのではなく、欠陥画素補正回路が欠陥グレードを判別して読み出すので、より高速に欠陥画素情報を読み出すことができる。加えて、重複データが無いので、メモリ容量的に有利である。また、撮像素子温度のみで欠陥画素をグレード分けするので、複数の要素（撮像素子温度、実効露光時間、実効感度）を考慮してグレード分けするよりも簡単な手順で処理が実現できる。
【００１７】
本発明の請求２に記載の画像処理装置によれば、実効露光時間によって補正する欠陥画素を選択して補正する場合に、ＣＰＵが複数のメモリを画像信号が入力される順番でサーチして読み出すのではなく、欠陥画素補正回路が欠陥グレードを判別して読み出すので、より高速に欠陥画素情報を読み出すことができる。加えて、重複データが無いので、メモリ容量的に有利である。また、実効露光時間のみで欠陥画素をグレード分けするので、複数の要素（撮像素子温度、実効露光時間、実効感度）を考慮してグレード分けするよりも簡単な手順で処理が実現できる。
【００１８】
本発明の請求３に記載の画像処理装置によれば、実効感度によって補正する欠陥画素を選択して補正することができる。また、ＣＰＵが複数のメモリを画像信号が入力される順番でサーチして読み出すのではなく、欠陥画素補正回路が欠陥グレードを判別して読み出すので、より高速に欠陥画素情報を読み出すことができる。加えて、重複データが無いので、メモリ容量的に有利である。また、実効感度のみで欠陥画素をグレード分けするので、複数の要素（撮像素子温度、実効露光時間、実効感度）を考慮してグレード分けするよりも簡単な手順で処理が実現できる。
【００１９】
本発明の請求４に記載の画像処理装置によれば、撮像素子温度、実効露光時間、実効感度の影響を全て考慮して補正する欠陥画素を選択して補正することができる。また、ＣＰＵが複数のメモリを画像信号が入力される順番でサーチして読み出すのではなく、欠陥画素補正回路が欠陥グレードを判別して読み出すので、より高速に欠陥画素情報を読み出すことができる。加えて、重複データが無いので、メモリ容量的に有利である。
【発明の最良の実施形態】
【００２０】
以下に本発明の実施例について説明する。
【実施例１】
【００２１】
以下に、本発明の第１の実施例の画像処理装置を説明する。
【００２２】
図１は、本発明の第１の実施の形態である欠陥画素補正機能を有する電子スチルカメラ等の画像処理装置を説明するための概略ブロック図である。図１において、１００は画像処理装置である。
【００２３】
１０は撮影レンズ、１２は絞り機能を備えるシャッター、１４は光学像を電気信号に変換する撮像素子、１６は撮像素子１４のアナログ信号出力にゲインをかけてからディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器である。ゲインはシステム制御回路５０によって制御される。
【００２４】
１７はＡ／Ｄ変換器１６の出力する画像信号を入力して、欠陥画素による画像信号劣化を補正する欠陥画素補正回路であり、１９は欠陥画素の情報を保持しておくメモリである。欠陥画素補正回路１７の入力としては、Ａ／Ｄ変換器１６の出力に限らず、メモリ３０からメモリ制御回路２２を介して画像信号を入力するようにしても構わない。
【００２５】
１８は撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、Ｄ／Ａ変換器２６にクロック信号や制御信号を供給するタイミング発生回路であり、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０により制御される。
【００２６】
２０は画像処理回路であり、欠陥画素補正回路１７からのデータ或いはメモリ制御回路２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。
【００２７】
また、画像処理回路２０においては、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてシステム制御回路５０が露光制御手段４０に対して制御を行う、ＡＥ（自動露出）処理を行っている。
【００２８】
２２はメモリ制御回路であり、Ａ／Ｄ変換器１６、欠陥画素補正回路１７、タイミング発生回路１８、メモリ１９、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０、圧縮・伸長回路３２を制御する。
【００２９】
画像欠陥補正回路１７のデータが画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器１６のデータが直接メモリ制御回路２２を介して、画像表示メモリ２４或いはメモリ３０に書き込まれる。
【００３０】
２４は画像表示メモリ、２６はＤ／Ａ変換器、２８はＴＦＴ  ＬＣＤ等から成る画像表示部であり、画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データはＤ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８により表示される。
【００３１】
画像表示部２８を用いて撮像した画像データを逐次表示すれば、電子ファインダー機能を実現することが可能である。
【００３２】
３０は撮影した静止画像や動画像を格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶量を備えている。
【００３３】
また、メモリ３０はシステム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００３４】
３２は適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により画像データを圧縮伸長する圧縮・伸長回路であり、メモリ３０に格納された画像を読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。
【００３５】
４０は絞り機能を備えるシャッター１２を制御する露光制御手段である。
【００３６】
露光制御手段４０はＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式を用いて制御されており、撮像した画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果に基づき、システム制御回路５０が露光制御手段４０に対して制御を行う。  ４２は撮像素子１４の温度を検出する温度検出手段である。
【００３７】
５０は画像処理装置１００全体を制御するシステム制御回路、５２はシステム制御回路５０の動作用の定数、変数、プログラム等を記憶するメモリである。
【００３８】
５４はシステム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声等を用いて動作状態やメッセージ等を表示する液晶表示装置、スピーカー等の表示部であり、画像処理装置１００の操作部近辺の視認し易い位置に単数或いは複数個所設置され、例えばＬＣＤやＬＥＤ、発音素子等の組み合わせにより構成されている。
【００３９】
５６は電気的に消去・記録可能な不揮発性メモリであり、例えばＥＥＰＲＯＭ等が用いられる。  ７０は各種ボタンやタッチパネル等からなる操作部である。
【００４０】
９０はメモリカードやハードディスク等の記録媒体とのインターフェース、９２はメモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行うコネクタである。
【００４１】
インターフェース及びコネクタとしては、ＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ：登録商標）カード等の規格に準拠したものを用いて構成して構わない。
【００４２】
２００はメモリカードやハードディスク等の記録媒体である。記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２０２、画像処理装置１００とのインターフェース２０４、画像処理装置１００と接続を行うコネクタ２０６を備えている。
【００４３】
図２は、本実施の第１の実施形態の画像処理装置１００において、撮像素子の温度を検出して、その温度がどの温度区分内にあるかを示す欠陥グレードを決定する処理を説明するための図である。以下で、図２を参照してこの処理を説明する。
【００４４】
以下の説明では、欠陥グレードの数が４の場合を示すが、この数はこれより多くしても少なくしても構わない。
【００４５】
まず、温度検出手段４２から温度Ｔを取得する（Ｓ２）。次に、工場出荷時等にあらかじめ測定される複数の欠陥グレードＧの境界温度（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３：Ｔ１＜Ｔ２＜Ｔ３）と取得した温度Ｔとを比較する。境界温度は不揮発メモリ５６に記憶しておくようにしておいて構わない。もし、温度ＴがＴ１を超えていなければ（Ｓ４）、欠陥グレードＧ＝０とする（Ｓ６）。温度ＴがＴ１を超えていれば（Ｓ４）、次の処理に進み、もし、温度ＴがＴ２を超えていなければ（Ｓ８）、欠陥グレードＧ＝１とする（Ｓ１０）。温度ＴがＴ２を超えていれば（Ｓ８）、次の処理に進み、もし、温度ＴがＴ３を超えていなければ（Ｓ１２）、欠陥グレードＧ＝２とする（Ｓ１４）。温度ＴがＴ３を超えていれば（Ｓ１２）、欠陥グレードＧ＝３とする（Ｓ１６）。
【００４６】
図３（ａ）は、本実施の第１の実施形態の画像処理装置１００内の欠陥画素補正回路１７の概略ブロック図で、図３（ｂ）は、欠陥画素情報を格納するメモリ１９のイメージ図である。
【００４７】
以下で、図３を参照して、欠陥画素情報を元に画像信号に欠陥画素補正を施す処理を説明する。
【００４８】
メモリ１９は図３（ｂ）に示すような構成になっており、１つの欠陥画素あたり欠陥グレードＧｎと欠陥画素位置情報Ｈｎ（水平画素位置）、Ｖｎ（垂直ライン位置）からなる欠陥画素情報を１組持つ（ｎ＝０〜Ｎ、Ｎは欠陥画素総数）。欠陥画素情報は、図３（ｂ）に示すように、画像信号が読み出される順番で格納されている。欠陥画素情報は、工場出荷時等にあらかじめ測定されるが、これを不揮発メモリ５６に記憶しておいてメモリ１９にロードするようにしておいて構わない。
【００４９】
図３（ａ）において、３００はコンパレータ、３０２はマグニチュード・コンパレータ、３０４は水平画素・垂直ラインをカウントするＨ、Ｖカウンタ、３０６はＡＮＤゲート、３０８、３１０、３１２はＤフリップフロップ（ＤＦＦ） ３１４は加算器、３１６は右１ビットシフタ、３１８は２入力１出力セレクタである。今、図２の処理により、Ｇ＝２と決定されているとする。
【００５０】
メモリ１９のデータは「＃０」から順に読み出され、まず、「＃０」のデータが入力される。すると、Ｇ０＝１でＧ≧Ｇ０を満たし、マグニチュード・コンパレータ３０２の反転出力は‘１’となるので、Ｈ、Ｖカウンタ３０４がカウントアップしてＨ＝Ｈ０＝１０、Ｖ＝Ｖ０＝８になってコンパレータ３００の出力が‘１’になるタイミングで、セレクタ３１８は補正値として前の画素と後ろの画素の平均値を出力する。図３（ａ）では、前の画素と後ろの画素を使って補正を施しているが、補正の方法はこの方法に限らない。左右だけでなく上下の画素を使ってもよいし、隣接画素に限らなくてもよい。また、補正する係数も均等配分に限らなくてもよい。
【００５１】
次に、「＃１」のデータが入力される。すると今度は、Ｇ１＝３でＧ≧Ｇ１を満たさず、マグニチュード・コンパレータ３０２の反転出力は‘０’となるので、Ｈ、Ｖカウンタ３０４がＨ０、Ｖ０からカウントアップしてＨ＝Ｈ１＝１２、Ｖ＝Ｖ１＝１００になってコンパレータ３００の出力が‘１’になるタイミングになっても、セレクタ３１８は補正値を出力しない。
【００５２】
次に、「＃２」のデータが入力される。すると、Ｇ２＝２でＧ≧Ｇ２を満たし、マグニチュード・コンパレータ３０２の反転出力は‘１’となるので、Ｈ、Ｖカウンタ３０４がＨ１、Ｖ１からカウントアップしてＨ＝Ｈ２＝１５０、Ｖ＝Ｖ２＝４００になってコンパレータ３００の出力が‘１’になるタイミングで、セレクタ３１８は補正値を出力する。      
【００５３】
以後、「＃Ｎ」のデータまで、この動作を繰り返す。
【実施例２】
【００５４】
図４は、本発明の第２の実施の形態である欠陥画素補正機能を有する電子スチルカメラ等の画像処理装置を説明するための概略ブロック図である。図４において、５００は画像処理装置である。
【００５５】
４１０は撮影レンズ、４１２は絞り機能を備えるシャッター、４１４は光学像を電気信号に変換する撮像素子、４１６は撮像素子４１４のアナログ信号出力にゲインをかけてからディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器である。ゲインはシステム制御回路４５０によって制御される。
【００５６】
４１７はA／D変換器４１６の出力する画像信号を入力して、欠陥画素による画像信号劣化を補正する欠陥画素補正回路であり、４１９は欠陥画素の情報を保持しておくメモリである。欠陥画素補正回路４１７の入力としては、A／D変換器４１６の出力に限らず、メモリ４３０からメモリ制御回路４２２を介して画像信号を入力するようにしても構わない。
【００５７】
４１８は撮像素子４１４、 Ａ／Ｄ変換器４１６、 Ｄ／Ａ変換器４２６にクロック信号や制御信号を供給するタイミング発生回路であり、メモリ制御回路４２２及びシステム制御回路４５０により制御される。
【００５８】
４２０は画像処理回路であり、 欠陥画素補正回路４１７からのデータ或いはメモリ制御回路４２２からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。
【００５９】
また、画像処理回路４２０においては、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてシステム制御回路４５０が露光制御手段４４０に対して制御を行う、AE（自動露出）処理を行っている。
【００６０】
４２２はメモリ制御回路であり、Ａ／Ｄ変換器４１６、欠陥画素補正回路４１７、タイミング発生回路４１８、メモリ４１９、画像処理回路４２０、画像表示メモリ４２４、Ｄ／Ａ変換器４２６、メモリ４３０、圧縮・伸長回路４３２を制御する。
【００６１】
画像欠陥補正回路４１７のデータが画像処理回路４２０、メモリ制御回路４２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器４１６のデータが直接メモリ制御回路４２２を介して、画像表示メモリ４２４或いはメモリ４３０に書き込まれる。
【００６２】
４２４は画像表示メモリ、４２６はＤ／Ａ変換器、４２８はＴＦＴ  ＬＣＤ等から成る画像表示部であり、画像表示メモリ４２４に書き込まれた表示用の画像データはＤ／Ａ変換器４２６を介して画像表示部４２８により表示される。
【００６３】
画像表示部４２８を用いて撮像した画像データを逐次表示すれば、電子ファインダー機能を実現することが可能である。
【００６４】
４３０は撮影した静止画像や動画像を格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像や所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶量を備えている。
【００６５】
また、メモリ４３０はシステム制御回路４５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００６６】
４３２は適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により画像データを圧縮伸長する圧縮・伸長回路であり、メモリ４３０に格納された画像を読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ４３０に書き込む。
【００６７】
４４０は絞り機能を備えるシャッター４１２を制御する露光制御手段である。
【００６８】
露光制御手段４４０はＴＴＬ（スルー・ザ・レンズ）方式を用いて制御されており、撮像した画像データを画像処理回路２０によって演算した演算結果に基づき、システム制御回路４５０が露光制御手段４４０に対して制御を行う。
【００６９】
４５０は画像処理装置５００全体を制御するシステム制御回路、４５２はシステム制御回路４５０の動作用の定数、変数、プログラム等を記憶するメモリである。
【００７０】
４５４はシステム制御回路４５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像、音声等を用いて動作状態やメッセージ等を表示する液晶表示装置、スピーカー等の表示部であり、画像処理装置５００の操作部近辺の視認し易い位置に単数或いは複数個所設置され、例えばＬＣＤやＬＥＤ、発音素子等の組み合わせにより構成されている。
【００７１】
４５６は電気的に消去・記録可能な不揮発性メモリであり、例えばＥＥＰＲＯＭ等が用いられる。４７０は各種ボタンやタッチパネル等からなる操作部である。
【００７２】
４９０はメモリカードやハードディスク等の記録媒体とのインターフェース、４９２はメモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行うコネクタである。
【００７３】
インターフェース及びコネクタとしては、ＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ：登録商標）カード等の規格に準拠したものを用いて構成して構わない。
【００７４】
６００はメモリカードやハードディスク等の記録媒体である。記録媒体６００は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部６０２、画像処理装置５００とのインターフェース６０４、画像処理装置５００と接続を行うコネクタ６０６を備えている。
【００７５】
図５は、本実施の第２の実施形態の画像処理装置５００において、実効露光時間を認識して、その実効露光時間がどの時間区分内にあるかを示す欠陥グレードを決定する処理を説明するための図である。実効露光時間はシャッタースピードと絞りで決定される等価的な露光時間である。以下で、図５を参照してこの処理を説明する。
【００７６】
以下の説明では、欠陥グレードの数が４の場合を示すが、この数はこれより多くしても少なくしても構わない。
【００７７】
まず、シャッタースピードと絞りから実効露光時間Ｅを算出する（Ｓ２２）。次に、工場出荷時等にあらかじめ測定される複数の欠陥グレードＧの境界時間（Ｅ１、Ｅ２、Ｅ３：Ｅ１＜Ｅ２＜Ｅ３）と算出した実効露光時間Ｅとを比較する。境界時間は不揮発メモリ４５６に記憶しておくようにしておいて構わない。もし、実効露光時間ＥがＥ１を超えていなければ（Ｓ２４）、欠陥グレードＧ＝０とする（Ｓ２６）。実効露光時間ＥがＥ１を超えていれば（Ｓ２４）、次の処理に進み、もし、実効露光時間ＥがＥ２を超えていなければ（Ｓ２８）、欠陥グレードＧ＝１とする（Ｓ３０）。実効露光時間ＥがＥ２を超えていれば（Ｓ２８）、次の処理に進み、もし、実効露光時間ＥがＥ３を超えていなければ（Ｓ３２）、欠陥グレードＧ＝２とする（Ｓ３４）。実効露光時間ＥがＥ３を超えていれば（Ｓ３２）、欠陥グレードＧ＝３とする（Ｓ３６）。
【００７８】
欠陥画素補正回路４１７およびメモリ４１９の構成は図３(ａ)、（ｂ）と同じ構成である。
【実施例３】
【００７９】
本発明の第３の実施形態である欠陥画素補正機能を有する電子スチルカメラ等の画像処理装置の構成は、図４の５００と同じである。
【００８０】
図６は、本実施の第３の実施形態の画像処理装置５００において、実効感度を認識して、その実効感度がどの感度区分内にあるかを示す欠陥グレードを決定する処理を説明するための図である。実効感度はＡ／Ｄ変換器４１６のアナログ信号ゲインによる等価的な感度である。以下で、図６を使って、この処理を説明する。以下の説明では、欠陥グレードの数が４の場合を示すが、この数はこれより多くしても少なくしても構わない。
【００８１】
まず、Ａ／Ｄ変換器１６のアナログ信号ゲインから実効感度Ａを算出する（Ｓ４２）。次に、工場出荷時等にあらかじめ測定される複数の欠陥グレードＧの境界感度（Ａ１、Ａ２、Ａ３：Ａ１＜Ａ２＜Ａ３）と算出した実効感度Ａとを比較する。境界感度は不揮発メモリ４５６に記憶しておくようにしておいて構わない。もし、実効感度ＡがＡ１を超えていなければ（Ｓ４４）、欠陥グレードＧ＝０とする（Ｓ４６）。実効感度ＡがＡ１を超えていれば（Ｓ４４）、次の処理に進み、もし、実効感度ＡがＡ２を超えていなければ（Ｓ４８）、欠陥グレードＧ＝１とする（Ｓ５０）。実効露光時間ＥがＥ２を超えていれば（Ｓ４８）、次の処理に進み、もし、実効感度ＡがＡ３を超えていなければ（Ｓ５２）、欠陥グレードＧ＝２とする（Ｓ５４）。実効感度ＡがＡ３を超えていれば（Ｓ５２）、欠陥グレードＧ＝３とする（Ｓ５６）。
【実施例４】
【００８２】
本発明の第４の実施の形態である欠陥画素補正機能を有する電子スチルカメラ等の画像処理装置の構成は、図１の１００と同じである。
【００８３】
図７は、本実施の第４の実施形態の画像処理装置１００において、撮像素子の温度を検出し、実効露光時間、実効感度を認識して、それらから算出される撮影条件程度がどの程度区分内にあるかを示す欠陥グレードを決定する処理を説明するための図である。撮影条件程度は、撮像素子温度、実効露光時間、実効感度のそれぞれが欠陥画素に与える影響を考慮して算出される。よって、撮影条件程度は、撮像素子温度、実効露光時間、実効感度を引数とするある関数で表される。以下で、図７を参照してこの処理を説明する。
【００８４】
以下の説明では、欠陥グレードの数が４の場合を示すが、この数はこれより多くしても少なくしても構わない。
【００８５】
まず、撮像素子温度、実効露光時間、実効感度から撮影条件程度Ｌを算出する（Ｓ６０〜Ｓ６３）。次に、工場出荷時等にあらかじめ測定される複数の欠陥グレードＧの境界程度（Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３：Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３）と算出した撮影条件程度Ｌとを比較する。境界程度は不揮発メモリ５６に記憶しておくようにしておいて構わない。もし、撮影条件程度ＬがＬ１を超えていなければ（Ｓ６４）、欠陥グレードＧ＝０とする（Ｓ６６）。撮影条件感度ＬがＬ１を超えていれば（Ｓ６４）、次の処理に進み、もし、撮影条件程度ＬがＬ２を超えていなければ（Ｓ６８）、欠陥グレードＧ＝１とする（Ｓ７０）。撮影条件程度ＬがＬ２を超えていれば（Ｓ６８）、次の処理に進み、もし、撮影条件程度ＬがＬ３を超えていなければ（Ｓ７２）、欠陥グレードＧ＝２とする（Ｓ７４）。撮影条件程度ＬがＬ３を超えていれば（Ｓ７２）、欠陥グレードＧ＝３とする（Ｓ７６）。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本発明の第１、第４の実施の形態における画像処理装置の構成図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態における欠陥グレードを決定するためのフローチャートである。
【図３】欠陥画素補正回路１７および４１７の構成図（ａ）とメモリ１９（４１９）のイメージ図（ｂ）である。
【図４】本発明の第２、第３の実施の形態における画像処理装置の構成図である。
【図５】本発明の第２の実施の形態における、欠陥グレードを決定するためのフローチャートである。
【図６】本発明の第３の実施の形態における、欠陥グレードを決定するためのフローチャートである。
【図７】本発明の第４の実施の形態における、欠陥グレードを決定するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【００８７】
１０        撮影レンズ
１２        シャッター
１４        撮像素子
１６        Ａ／Ｄ変換器
１７        欠陥画素補正回路
１８        タイミング発生回路
１９        メモリ
２０        画像処理回路
２２        メモリ制御回路
２４        画像表示メモリ
２６        Ｄ／Ａ変換器
２８        画像表示部
３０        メモリ
３２        画像圧縮・伸長回路
４０        露光制御手段
４２        温度検出手段
５０        システム制御回路
５２        メモリ
５４        表示部
５６        不揮発性メモリ
７０        操作部
９０        インターフェース
９２        コネクタ
１００      画像処理装置
２００      記録媒体
２０２      記録部
２０４      インターフェース
２０６      コネクタ  
３００      コンパレータ
３０２      マグニチュード・コンパレータ
３０４      水平・垂直カウンタ
３０６      ＡＮＤゲート
３０８      Ｄフリップフロップ
３１０      Ｄフリップフロップ
３１２      Ｄフリップフロップ
３１４      加算器
３１６      右１ビットシフタ
３１８      ２入力１出力セレクタ
４１０      撮影レンズ
４１２      シャッター
４１４      撮像素子
４１６      Ａ／Ｄ変換器
４１７      欠陥画素補正回路
４１８      タイミング発生回路
４１９      メモリ
４２０      画像処理回路
４２２      メモリ制御回路
４２４      画像表示メモリ
４２６      Ｄ／Ａ変換器
４２８      画像表示部
４３０      メモリ
４３２      画像圧縮・伸長回路
４４０      露光制御手段
４５０      システム制御回路
４５２      メモリ
４５４      表示部
４５６      不揮発性メモリ
４７０      操作部
４９０      インターフェース
４９２      コネクタ
５００      画像処理装置
６００      記録媒体
６０２      記録部
６０４      インターフェース
６０６      コネクタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2005175987.tif 000007
【図６】
2005175987.tif 000008
【図７】
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