(57)【要約】【課題】被測定波形を含む波形判定情報を合成画像として表示する際の表示順位を任意に変えることができるようにして、作業者が最も知りたい情報を正確に目視確認できるようにした波形判定装置および表示画面への波形判定情報の表示方法を提供する。【解決手段】入力された電気信号を時系列に配したディジタル波形データとして作成する変換処理と、前記ディジタル波形データを含む各種データを読出し自在に第１メモリに保持させる処理と、該第１メモリから読み出された前記ディジタル波形データと波形判定に必要な適宜の判定データとのそれぞれを対応画像データ２１，２４，２５として第２メモリ１４に読出し自在に各別に保持させる処理とを含み、該第２メモリ１４に保持させた対応画像データ２１，２４，２５のそれぞれは、任意に設定される表示順位のもとで重ね合わせてなる合成画像３１を波形判定情報３３として表示部１６に一括表示する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された電気信号を時系列に配したディジタル波形データに変換するＡ／Ｄ変換部と、前記ディジタル波形データを含む各種データを読出し自在に保持する第１メモリと、該第１メモリから読み出された前記ディジタル波形データと波形判定に必要な適宜の判定データとのそれぞれを対応画像データとして読出し自在に保持する第２メモリと、設定等の必要操作を行う操作部と、前記各対応画像データに基づいて作成される被測定波形を含む波形判定画像を波形判定情報として表示する表示部と、これら構成各部を統括制御する中央処理部とを少なくとも備え、
前記波形判定画像は、前記第２メモリに各別に保持させた前記対応画像データのそれぞれを、任意に設定される表示順位のもとで重ね合わされる合成画像として前記表示部への一括表示を自在としたことを特徴とする波形判定装置。
【請求項２】
前記各対応画像データにあって相互に重なり合う部位は、表示順位の下位のものを消去した前記合成画像として前記表示部への表示を自在とした請求項１に記載の波形判定装置。
【請求項３】
入力された電気信号を時系列に配したディジタル波形データとして作成する変換処理と、前記ディジタル波形データを含む各種データを読出し自在に第１メモリに保持させる処理と、該第１メモリから読み出された前記ディジタル波形データと波形判定に必要な適宜の判定データとのそれぞれを各対応画像データとして第２メモリに読出し自在に各別に保持させる処理とを含み、
該第２メモリに保持させた前記対応画像データのそれぞれは、任意に設定される表示順位のもとで重ね合わせた合成画像を波形判定情報として前記表示部に一括表示することを特徴とする表示画面への波形判定情報の表示方法。
【請求項４】
前記各対応画像データにあって相互に重なり合う部位は、表示順位の下位のものを消去した前記合成画像として前記表示部に表示する請求項３に記載の表示画面への波形判定情報の表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波形判定装置および表示画面への波形判定情報の表示方法に係り、さらに詳しくは、被測定波形の良否判定結果をわかりやすく表示部に表示することができるようにした波形判定装置および表示画面への波形判定情報の表示方法に関する技術である。
【背景技術】
【０００２】
一般に、製造ラインなどでは、製品の良否を判別するために波形の歪率や波高率などを測定する特性試験を行っている。また、被測定波形の良否判定には、サンプリング毎に設定した上限ないしは下限データとの比較を行ったり、基準波形のデータとの差を演算したりする手法を採用する波形判定装置が一般に用いられている。
【０００３】
また、被測定波形の良否判定手法には、エリアとしてのある幅を付与して設定された判定基準範囲と、実測された被測定波形とを波形判定装置が備える表示画面に同時に表示することで、両者の位置関係を目視確認することでその良否を判定する手法もある。
【０００４】
このような目視確認手法のなかには、判定基準範囲データと被測定波形データとを個別に作成し、これら各データの表示画面への表示輝度に変化を与えて一括表示することにより、被測定波形が判定基準範囲内に位置しているか否かを輝度差により容易に目視確認できるようにすることで、被測定波形の良否判定を行うようにしたものも既にある。
【０００５】
【特許文献１】特開平１−１０５１７５号公報
【０００６】
また、目視確認による被測定波形の良否判定の従来手法には、図５に示すように波形画像データと判定基準画像データとグリッド画像データとを各別に作成し、これらの各画像データを予め定めてある優先順位のもとで重ね合わせたうえで表示画面に一括表示するようにしたものもある。
【０００７】
すなわち、図５に示す例によれば、波形判定装置が備えるＶＲＡＭからなるメモリ１０１には、その（ａ）に示すように第１メモリ領域１０１ａにグリッド画像データ１０５が、（ｂ）に示すように第２メモリ領域１０１ｂに波形画像データ１０６が、（ｃ）に示すように第３メモリ領域１０１ｃに判定基準画像データ１０７がそれぞれ格納される。
【０００８】
次いで、表示順位の最上位を波形画像データ１０６とし、次が判定基準画像データ１０７とし、最下位がグリッド画像データ１０５とすることで、図５（ｄ）に示すように相互に重ね合わされた合成画像１１１を波形判定情報１１２として表示画面１２１に一括表示される。
【０００９】
このため、表示画面１２１には、判定基準範囲１１７とグリッドスケール１１５とに対し明瞭に視別できる状態のもとで被測定波形１１６をその全貌を余すところなく表示させることができるので、被測定波形１１６の良否自体のみならず、良否の程度をも容易に判定できることになる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、特許文献１に開示されている波形表示方法による場合には、判定基準範囲と被測定波形とをそれぞれの表示輝度を変えて表示できるので、その視別は容易であるものの、判定基準範囲の境界位置と被測定波形とが重なり合った際に彼此を見分けることが困難であるばかりでなく、グリッドスケールとの関係のもとで判定基準範囲と被測定波形とを表示することができないという不都合もあった。
【００１１】
また、図５に示す従来方法による場合、表示画面１２１には、例えばその（ｄ）からも明らかなように被測定波形１１６が最上位に表示されるので、その目視確認は容易である。しかし、図６に示すように、被測定波形１１６と判定基準範囲１１７の上限値１１７ａとが近接しているような場合には、被測定波形１１６と判定基準範囲１１７の上限値１１７ａとの見分けが難しくなり、被測定波形１１６が判定基準範囲１１７内にあるか否かの判別が困難になる不具合があった。このため、作業者は、被測定波形１１６が判定基準範囲１１７からどの程度外れているのか、数値による判定作業も別途追加的に行わなければならなくなる煩雑さがあった。
【００１２】
しかも、例えばグリッドスケール１１５が表示順位での最下位に表示される場合には、図７に示されているように被測定波形１１６の数値をグリッドスケール１１５を利用して読み取ろうとしても、その上位に固定的に表示される判定基準範囲１１７によりその対応部位が消去されてしまうため、その読み取りができなくなる問題もあった。
【００１３】
本発明は、従来手法にみられた上記課題に鑑みてなされたもので、その目的は、表示画面に被測定波形を含む波形判定情報を表示するに際し、その表示順位を所望に応じて任意に変えることができるようにして、作業者が最も知りたい情報を正確に目視確認できる表示パターンのもとで表示するようにした波形判定装置および表示画面への波形判定情報の表示方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、そのうちの第１の発明（装置）は、入力された電気信号を時系列に配したディジタル波形データに変換するＡ／Ｄ変換部と、前記ディジタル波形データを含む各種データを読出し自在に保持する第１メモリと、該第１メモリから読み出された前記ディジタル波形データと波形判定に必要な適宜の判定データとのそれぞれを対応画像データとして読出し自在に保持する第２メモリと、設定等の必要操作を行う操作部と、前記各対応画像データに基づいて作成される被測定波形を含む波形判定画像を波形判定情報として表示する表示部と、これら構成各部を統括制御する中央処理部とを少なくとも備え、
前記波形判定画像は、前記第２メモリに各別に保持させた前記対応画像データのそれぞれを、任意に設定される表示順位のもとで重ね合わされる合成画像として前記表示部への一括表示を自在としたことに特徴がある。この場合、前記各対応画像データにあって相互に重なり合う部位は、表示順位の下位のものを消去した前記合成画像として前記表示部への表示を自在とするのが好ましい。
【００１５】
また、第２の発明（方法）は、入力された電気信号を時系列に配したディジタル波形データとして作成する変換処理と、前記ディジタル波形データを含む各種データを読出し自在に第１メモリに保持させる処理と、該第１メモリから読み出された前記ディジタル波形データと波形判定に必要な適宜の判定データとのそれぞれを対応画像データとして第２メモリに読出し自在に各別に保持させる処理とを含み、該第２メモリに保持させた前記対応画像データのそれぞれは、任意に設定される表示順位のもとで重ね合わせた合成画像を波形判定情報として前記表示部に一括表示することに特徴がある。この場合、前記各対応画像データにあって相互に重なり合う部位は、表示順位の下位のものを消去した前記合成画像として前記表示部に表示するのが好ましい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明（装置および方法）によれば、対応画像データのそれぞれは、任意に設定される表示順位のもとで重ね合せた合成画像を波形判定情報として表示部に一括表示することができるので、波形判定結果を被測定波形とその時々の判定目的に応じて優先表示される個々の判定情報としてわかりやすく表示部に表示することができる。また、各対応画像データにあって相互に重なり合う部位を表示順位の下位のものを消去した合成画像として表示部に表示する場合は、波形判定結果をさらにわかりやすく表示することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
図１は、本発明に係る波形判定装置（第１の発明）の構成例を示す機能ブロック図であり、波形判定装置１１の全体は、入力端子Ｔを介して入力された電気信号を時系列に配したディジタル波形データに変換するＡ／Ｄ変換部１２と、取り込まれたディジタル波形データを含む各種データを読出し自在に保持する例えばＲＡＭなどからなる第１メモリ１３と、該第１メモリ１３から読み出されたディジタル波形データと波形判定に必要な適宜の判定データととのそれぞれを対応画像データとして読出し自在に保持する例えばＶＲＡＭなどからなる第２メモリ１４と、処理上必要な各種の設定等を行う操作部１５と、図２に示すように各対応画像データ２１，２３，２５に基づいて作成される被測定波形２６を含む波形判定情報３３を波形判定画像３２として表示する表示部１６と、これら構成各部を統括制御する中央処理部（以下、「ＣＰＵ」という。）１７とを少なくとも備えて構成されている。
【００１８】
この場合、第２メモリ１４は、図２（ａ）にグリッドスケールとして示されている対応画像データ２１が保持される第１メモリ領域１４ａと、同（ｂ）に判定基準範囲２４として示されている対応画像データ２３が保持される第２メモリ領域１４ｂと、同（ｃ）に被測定波形２６として示されている対応画像データ２５が保持される第３メモリ領域１４ｃとを少なくとも備えている。
【００１９】
また、各対応画像データ２１，２３，２５は、予め操作部１５における設定キーなどを操作することにより、図２（ａ）のようなグリッドスケール２２や、同（ｂ）のような判定基準範囲２４など、実測された被測定波形２６の種類や特性との関係で定まる適宜の表示パターンのもとで設定することができるようになっている。
【００２０】
さらに、第２メモリ１４における第１メモリ領域１４ａと第２メモリ領域１４ｂと第３メモリ領域１４ｃとに各別に保持されるそれぞれの対応画像データ２１，２３，２５は、操作部１５からの操作入力に基づいて行われるＣＰＵ１７の設定処理により、その表示順位（重ね合わせ順）を任意に設定・変更することができるようになっている。
【００２１】
このようにして表示順位の設定・変更が行われた後は、最も低い表示順位の対応画像データ２１、例えばグリッドスケール２２の上に、次に表示順位の低い対応画像データ２３、例えば判定基準範囲２４が重ね合わされ（このとき、重なり合う部分は、優先度の低い側の画像データ２１が消去される。）、さらに最も表示順位の高い対応画像データ２５、例えば被測定波形２６が重ね合わされる（このときも、重なり合う部分は、優先度の低い側の対応画像データ２３が消去される。）。
【００２２】
このため、表示部１６の表示画面１６ａには、表示順位に従って下位から順に重ね合わされた各対応画像データ２１，２３，２５に基づいてＣＰＵ１７の演算・制御処理により作成される被測定波形２６を含む波形判定情報３３からなる波形判定画像３２が合成画像３１として一括表示できることになる。
【００２３】
次に、本発明に係る波形判定情報の表示方法（第２の発明）を、第１の発明である上記波形判定装置１１の作用・効果とともに説明すれば、まず、ＣＰＵ１７は、入力端子Ｔを介して入力された電気信号（被測定波形２６）をＡ／Ｄ変換部１２を介して時系列に配したディジタル波形データとして作成して取り込み、これを第１メモリ１３に保持させる。
【００２４】
一方、第２メモリ１４には、図２（ａ）のグリッドスケール２２の対応画像データ２１であるグリッド画像データがその第１メモリ領域１４ａに、同（ｂ）の判定基準範囲２４の対応画像データ２３である判定基準画像データが第２メモリ領域１４ｂにそれぞれ保持されている。
【００２５】
該第２メモリ１４には、さらに、第１メモリ１３から読み出されたディジタル波形データが同（ｃ）の被測定波形２６の対応画像データ２５である波形画像データとして第３メモリ領域１４ｃに保持される。なお、図２（ｄ）は、表示順位を下位からグリッドスケール２２の対応画像データ２１→判定基準範囲２４の対応画像データ２３→被測定波形２６の対応画像データ２５の順とした場合を例示したものであり、以下の説明は、この表示順位によることとする。
【００２６】
ＣＰＵ１７は、上記表示順位に従ってグリッドスケール２２の対応画像データ２１と判定基準範囲２４の対応画像データ２３と被測定波形２６の対応画像データ２５とを重ね合わせた波形判定情報３３である波形判定画像３２を作成する処理を行い、図２（ｅ）に示す合成画像３１として表示部１６の表示画面１６ａに一括表示させてその処理を終える。その結果、表示画面１６ａには、対応画像データ２１から得られるグリッドスケール２２と、対応画像データ２３から得られる判定基準範囲２４と、対応画像データ２５から得られる被測定波形２６とが順に重ね合わされた合成画像３１として一括表示されることになる。しかも、この際、グリッドスケール２２にあって判定基準範囲２４と重なり合う部位と、判定基準範囲２４にあって被測定波形２６と重なり合う部位とのそれぞれは、図２（ｅ）に示されるように消去された状態となって表示されるので、最優先で表示させたい被測定波形２６は、余すところなくその全貌を表示させることができることになる。
【００２７】
また、被測定波形２６と判定基準範囲２４とグリッドスケール２２との相互の表示順位は、操作部１５を介しての設定操作によって任意に設定できるので、被測定波形２６を表示画面１６ａに表示する際には、図３に示すように被測定波形２６を下位とし、判定基準範囲２４を上位として重ね合わせて一括表示させることもできる。
【００２８】
このため、被測定波形２６の一部が判定基準範囲２４の上限ライン２４ａ外にある場合には、判定基準範囲２４の上限ライン２４ａから飛び出ている部位の被測定波形２６を明確に目視確認することができるので、被測定波形２６と判定基準範囲２４との関係を明瞭に視別しながら波形判定作業を正確、かつ、迅速に遂行することができることになる。
【００２９】
一方、グリッドスケール２２を最上位とし、その下位に被測定波形２６が位置するように表示順位を設定した場合には、図４に示すように被測定波形２６にグリッドスケール２２を重ね合わせた状態のもとで判定基準範囲２４とともに一括表示させることができるので、被測定波形２６に対するグリッドスケール２２と判定用基準範囲２４との位置関係を容易に目視確認することができることになる。
【００３０】
このため、被測定波形２６が判定基準範囲２４内にあるか否かの判別のみならず、グリッドスケール２２との関係で被測定波形２６の数値の把握も容易に行うことができるので、被測定波形２６の数値表示を別途に行わせる処理を追加的に行う必要をなくして、波形判定作業の効率化を実現することができる。
【００３１】
以上は、予めグリッドスケール２２の対応画像データ２１であるグリッド画像データを第２メモリ１４の第１メモリ領域１４ａに、判定基準範囲２４の対応画像データ２３である判定基準画像データを同第２メモリ領域１４ｂにそれぞれ保持させた例について説明してあるが、個々の対応画像データ２１，２３，２５の内容および種類はこれに限られるものではない。例えば、被測定波形２６の波形判定に必要なＸ，Ｙ座標値を表示する対応画像データなど、所望に応じ適宜パターンの対応画像データを第２メモリ１４に保持させておくこともできる。
【００３２】
また、本発明方法における被測定波形２６と判定基準範囲２４とグリッドスケール２２との表示順位は、測定前に設定されている場合を例に説明したが、対応画像データが保持されている限りは測定中であっても測定後であっても所望に応じ任意にそれぞれの表示順位を変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明装置の構成例を示す機能ブロック図。
【図２】本発明方法における各対応画像データの合成プロセスの一例を模式的に示す説明図であり、そのうちの（ａ）は、第２メモリにおける各対応画像データの保持状況を、（ｂ）は、その表示順位を、（ｃ）は、表示画面に表示される最終的な合成画像をそれぞれ示す。
【図３】本発明方法による表示画面への波形判定情報の表示パターンの一例を模式的に示す説明図。
【図４】本発明方法による表示画面への波形判定情報の表示パターンの他例を模式的に示す説明図。
【図５】従来方法による各対応画像データの合成プロセスを模式的に示す説明図であり、そのうちの（ａ）はグリッド画像データの、（ｂ）は波形画像データの、（ｃ）は判定基準画像データのメモリへの保持状況を、（ｄ）は表示画面に表示される最終的な合成画像をそれぞれ示す。
【図６】従来方法による表示画面への波形判定情報の表示パターンの一例と、その一部を拡大して模式的に示す説明図。
【図７】従来方法による表示画面への波形判定情報の表示パターンの他例を模式的に示す説明図。
【符号の説明】
【００３４】
１１  波形判定装置
１２  Ａ／Ｄ変換部
１３  第１メモリ
１４  第２メモリ
１４ａ  第１メモリ領域
１４ｂ  第２メモリ領域
１４ｃ  第３メモリ領域
１５  操作部
１６  表示部
１６ａ  表示画面
１７  中央処理部（ＣＰＵ）
２１，２３，２５  対応画像データ
２２  グリッドスケール
２４  判定基準範囲
２４ａ  上限ライン
２６  被測定波形
３１  合成画像
３２  波形判定画像
３３  波形判定情報
Ｔ  入力端子
【図１】
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【図２】
2005274370.tif 000004
【図３】
2005274370.tif 000005
【図４】
2005274370.tif 000006
【図５】
2005274370.tif 000007
【図６】
2005274370.tif 000008
【図７】
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