(57)【要約】【課題】  物理的な操作を行わずに擬似障害をテストすること。【解決手段】  磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に擬似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする擬似障害テスト方法であって、擬似障害を発生させる回路素子の配置図と該回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておき、前記記憶した配置図を表示し、該配置図から選択された素子の障害名リストを表示し、この障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生素子に指示するもの。【選択図】図１
2005107807.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に疑似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする疑似障害テスト方法であって、
前記疑似障害を発生させる回路素子に対応した回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておき、
前記記憶した配置図を表示し、該配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示し、この障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生素子に指示することを特徴とする疑似障害テスト方法。
【請求項２】
磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に疑似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする疑似障害テストプログラムであって、
コンピュータに、
前記疑似障害を発生させる回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておく第１機能と、
該記憶した配置図をモニタへ表示する第２機能と、
該第２機能により表示した配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示する第３機能と、
該第３機能により表示された障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生回路素子に指示する第４機能と、を実現させることを特徴とする疑似障害テストプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク制御部のハードウェア障害を擬似的にテストすることができる疑似障害テスト方法及び疑似障害テストプログラムに係り、特にハードウェアを構築することなく疑似障害をテストすることができる疑似障害テスト方法及び疑似障害テストプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に磁気ディスク装置には、該装置内の磁気ディスクに対するデータの記録再生その他を制御する磁気ディスク制御部がプリント基板として内蔵され、この磁気ディスク装置は、製品の出荷前に前記磁気ディスク制御部の障害に起因する各種テストが行われる。
【０００３】
このテストの１つとして磁気ディスク制御部のハード障害を想定した疑似障害テストがある。従来技術による疑似障害テストは、プリント基板として構成された磁気ディスク制御部のエラーフォース機能を利用し、例えば障害を発生させる回路素子間を物理的にリード線等を介して短絡したり、ディップスイッチを切り替えることによって行われていた。
【０００４】
尚、前記磁気ディスク装置の疑似障害に関する技術が記載された文献としては、例えば次特許文献１が挙げられる。
【特許文献１】特開２００２−１１６８８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、前述の従来技術による物理的な治具を用いた疑似障害のテスト手法は、近年の磁気ディスク制御部の回路素子の微細複雑化並びにテスト項目の増大に伴って手作業での対応が困難であると言う不具合があった。
【０００６】
本発明の目的は、前述の従来技術による不具合を除去することであり、物理的な手法によらず疑似障害テストを行うことができる疑似障害テスト方法及び疑似障害テストプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するために本発明は、磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に疑似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする疑似障害テスト方法において、前記疑似障害を発生させる回路素子に対応した回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておき、前記記憶した配置図を表示し、該配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示し、この障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生素子に指示することを第１の特徴とする。
【０００８】
更に本発明は、磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に疑似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする疑似障害テストプログラムにおいて、コンピュータに、前記疑似障害を発生させる回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておく第１機能と、該記憶した配置図をモニタへ表示する第２機能と、該第２機能により表示した配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示する第３機能と、該第３機能により表示された障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生回路素子に指示する第４機能とを実現させることを第２の特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明による疑似障害テスト方法及び疑似障害テストプログラムによれば、予め記憶した回路素子の配置図を表示し、該配置図から選択された回路素子に対応した障害名の障害テストを障害発生回路素子が実行することにより、物理的な手法によらず疑似障害テストを容易に行うことができる
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明による疑似障害テスト方法及び該方法を適用した疑似障害テストプログラムを図面を参照して詳細に説明する。図１は本実施形態による疑似障害テスト工程の第１段階を説明するための図、図２は、本疑似障害テスト工程の回路素子を選択する第２段階を説明するための図、図３は本疑似障害テスト工程の障害発生素子を表示する第３段階を説明するための図、図４は本疑似障害テスト工程の磁気ディスク制御部への障害発生を指示する第４段階を説明するための図である。
【００１１】
さて、本実施形態による疑似障害テスト方法は、情報処理を行うＣＰＵ／データ乃至プログラムを一時的に格納するメモリ／各種データ及び疑似障害テストプログラム他のプログラムを記憶した内部磁気ディスク装置／検査対象となる磁気ディスク制御部（プリント基板）と接続するためのＬＡＮインタフェース回路／メモリ画面表示を行うためのモニタ／データ等を入力するためのキーボード／ポインタを移動し且つ実行を指示するクリック等を行うマウス等の入力手段を含むコンピュータと、該コンピュータとＬＡＮ接続され、磁気ディスク装置の各種制御機能並びに指定された回路素子の疑似障害のテストを行うエラーフォース機能を備えるプリント基板とによって行われる。
【００１２】
前記プリント基板は、基板上に、磁気ディスク装置の各種制御機能を実施するための複数の回路素子と、該回路素子に疑似障害を発生される障害発生回路素子と、前記各素子を制御する制御回路と、一時的にデータを格納するバツファメモリとを搭載している。
【００１３】
また前記疑似障害テストプログラムは、前記疑似障害を発生させる回路素子の配置図データ（必要なら疑似障害を発生させる回路素子名の素子名リスト）／該回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておく第１機能と、前記第１機能により記憶した配置図（及び回路素子名リスト）をモニタへ表示する第２機能と、該第２機能により表示した配置図（素子名リスト）から選択された素子の障害名リストを表示する第３機能と、該第３機能により表示された障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生回路素子に指示する第４機能とを実現させるものである。
【００１４】
さて、この様に構成されたコンピュータシステムを用いた障害テスト方法は、図１に示す第１段階において、コンピュータの疑似障害テストプログラムを実行することにより、疑似障害テストプログラムに記憶された当該基板上の複数の回路素子構成を図示した回路構成画面４をモニタ上に表示する。この回路構成画面４に表示される回路素子は、例えばＭＰＵ／ＲＡＭ／ＬＡＮ／ＰＣＩ／ＦＣ／ＳＤＲＡＭ／書き込み制御部／データ転送回路／ＰＣＩ制御回路等の磁気ディスク装置を制御するための複数の回路素子である。
【００１５】
次いで本障害テストプログラムは、操作者が前記回路構成画面４から障害を発生させる回路素子、例えばデータ転送回路をマウスのクリック等により指定及び選択すると第２段階に移行し、図２に示す如く、当該データ転送回路に発生が予想される障害の障害リスト画面５をモニタに表示する。
【００１６】
この障害リスト画面５に表示された内容は、エラーフォース（障害名）及びエラー内容との対応表であり、例えば、「ＰＣＩアドレスパリティーエラー」の内容が「ＰＣＩバスのアドレスパリティーエラー」、「ＰＣＩデータパリティーエラー」の内容が「ＰＣＩバスのデータパリティーエラー」、「ライトプロテクトエラー」の内容が「ライト禁止エリアのライト」等の一覧表である。
【００１７】
更に本障害テストプログラムは、操作者が前記障害リスト画面５に表示されたエラーフォースから任意の障害をマウスのクリック等により選択すると、第３段階に移り、図３に示す如く、回路構成画面４上に障害が発生する部位の表示形態を変えて表示する、本例では回路構成画面４のＲＳ２３２Ｃ回路とＦＣ回路間において「ＰＣＩアドレスパリティーエラー」を発生させることを、同素子間を繋ぐ太線の配色を変化させることにより表示する。
【００１８】
次いで本障害テストプログラムは、前記第３段階から次の第４段階に移行し、モニタ１０に表示し、前記第３段階で選択されたエラーフォース、即ち障害名に対応するコードをプリント基板１に転送すると、図４に示す如く、プリント基板１内では、バッファメモリ１１に一時的に前記コードを格納し、このコードを障害発生回路素子１２に転送することにより、障害発生回路素子１２が指定されたデータ転送回路１３のエラーフォース回路を起動して擬似的な障害を発生する。本例の場合は、データ転送回路にＰＣＩアドレスパリティーエラーを発生させる様に動作する。
【００１９】
尚、前記バッファメモリ１１に記憶したコードによる障害発生回路素子１２の起動は、基板に含まれる図示しない制御回路が前記バッファメモリ１１内を所定周期で監視し、コードが格納されていることを判定した場合に実行するものであるが、これに限られるものではなく、例えばコンピュータからの直接の命令により起動する様に構成してもしても良い。
【００２０】
この様に本実施形態による疑似障害テスト方法及び該方法を適用した疑似障害テストプログラムは、予め回路素子の配置図／回路素子対応の障害名を記憶しておき、選択された回路素子の障害名の障害テストを障害発生回路素子が実行することにより、物理的な手法によらず疑似障害テストを容易に行うことができる
【００２１】
尚、本発明の疑似障害テスト方法及び疑似障害テストプログラムは、上記した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。例えば前記回路素子の配置図に替えて回路素子の一覧リストを表示するように構成しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施形態による疑似障害テスト工程の第１段階を説明するための図。
【図２】本疑似障害テスト工程の回路素子を選択する第２段階を説明するための図。
【図３】本疑似障害テスト工程の障害発生素子を表示する第３段階を説明するための図。
【図４】本疑似障害テスト工程の第４段階を説明するための図。
【符号の説明】
【００２３】
１：プリント基板（磁気ディスク制御部）、４：回路構成画面、５：障害リスト画面、１０：モニタ、１１：バッファメモリ、１２：障害発生回路素子、
１３：データ転送回路。
【図１】
2005107807.tif 000003
【図２】
2005107807.tif 000004
【図３】
2005107807.tif 000005
【図４】
2005107807.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成15年10月1日(2003.10.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に擬似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする擬似障害テスト方法であって、
前記擬似障害を発生させる回路素子に対応した回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておき、
前記記憶した配置図を表示し、該配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示し、この障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生素子に指示することを特徴とする擬似障害テスト方法。
【請求項２】
磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に擬似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする擬似障害テストプログラムであって、
コンピュータに、
前記擬似障害を発生させる回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておく第１機能と、
該記憶した配置図をモニタへ表示する第２機能と、
該第２機能により表示した配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示する第３機能と、
該第３機能により表示された障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生回路素子に指示する第４機能と、を実現させることを特徴とする擬似障害テストプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク制御部のハードウェア障害を擬似的にテストすることができる擬似障害テスト方法及び擬似障害テストプログラムに係り、特にハードウェアを構築することなく擬似障害をテストすることができる擬似障害テスト方法及び擬似障害テストプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に磁気ディスク装置には、該装置内の磁気ディスクに対するデータの記録再生その他を制御する磁気ディスク制御部がプリント基板として内蔵され、この磁気ディスク装置は、製品の出荷前に前記磁気ディスク制御部の障害に起因する各種テストが行われる。
【０００３】
このテストの１つとして磁気ディスク制御部のハード障害を想定した擬似障害テストがある。従来技術による擬似障害テストは、プリント基板として構成された磁気ディスク制御部のエラーフォース機能を利用し、例えば障害を発生させる回路素子間を物理的にリード線等を介して短絡したり、ディップスイッチを切り替えることによって行われていた。
【０００４】
尚、前記磁気ディスク装置の擬似障害に関する技術が記載された文献としては、例えば次特許文献１が挙げられる。
【特許文献１】特開２００２−１１６８８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、前述の従来技術による物理的な治具を用いた擬似障害のテスト手法は、近年の磁気ディスク制御部の回路素子の微細複雑化並びにテスト項目の増大に伴って手作業での対応が困難であると言う不具合があった。
【０００６】
本発明の目的は、前述の従来技術による不具合を除去することであり、物理的な手法によらず擬似障害テストを行うことができる擬似障害テスト方法及び擬似障害テストプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記目的を達成するために本発明は、磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に擬似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする擬似障害テスト方法において、前記擬似障害を発生させる回路素子に対応した回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておき、前記記憶した配置図を表示し、該配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示し、この障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生素子に指示することを第１の特徴とする。
【０００８】
更に本発明は、磁気ディスク制御機能を実行する複数の回路素子と、該回路素子に擬似障害を発生される障害発生回路素子とを搭載した磁気ディスク制御部を用い、磁気ディスク装置に対する擬似的な障害をテストする擬似障害テストプログラムにおいて、コンピュータに、前記擬似障害を発生させる回路素子の配置図と該配置図の回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておく第１機能と、該記憶した配置図をモニタへ表示する第２機能と、該第２機能により表示した配置図から選択された回路素子の障害名リストを表示する第３機能と、該第３機能により表示された障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生回路素子に指示する第４機能とを実現させることを第２の特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明による擬似障害テスト方法及び擬似障害テストプログラムによれば、予め記憶した回路素子の配置図を表示し、該配置図から選択された回路素子に対応した障害名の障害テストを障害発生回路素子が実行することにより、物理的な手法によらず擬似障害テストを容易に行うことができる
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明による擬似障害テスト方法及び該方法を適用した擬似障害テストプログラムを図面を参照して詳細に説明する。図１は本実施形態による擬似障害テスト工程の第１段階を説明するための図、図２は、本擬似障害テスト工程の回路素子を選択する第２段階を説明するための図、図３は本擬似障害テスト工程の障害発生素子を表示する第３段階を説明するための図、図４は本擬似障害テスト工程の磁気ディスク制御部への障害発生を指示する第４段階を説明するための図である。
【００１１】
さて、本実施形態による擬似障害テスト方法は、情報処理を行うＣＰＵ／データ乃至プログラムを一時的に格納するメモリ／各種データ及び擬似障害テストプログラム他のプログラムを記憶した内部磁気ディスク装置／検査対象となる磁気ディスク制御部（プリント基板）と接続するためのＬＡＮインタフェース回路／メモリ画面表示を行うためのモニタ／データ等を入力するためのキーボード／ポインタを移動し且つ実行を指示するクリック等を行うマウス等の入力手段を含むコンピュータと、該コンピュータとＬＡＮ接続され、磁気ディスク装置の各種制御機能並びに指定された回路素子の擬似障害のテストを行うエラーフォース機能を備えるプリント基板とによって行われる。
【００１２】
前記プリント基板は、基板上に、磁気ディスク装置の各種制御機能を実施するための複数の回路素子と、該回路素子に擬似障害を発生される障害発生回路素子と、前記各素子を制御する制御回路と、一時的にデータを格納するバツファメモリとを搭載している。
【００１３】
また前記擬似障害テストプログラムは、前記擬似障害を発生させる回路素子の配置図データ（必要なら擬似障害を発生させる回路素子名の素子名リスト）／該回路素子毎に対応した障害名の障害名リストを記憶しておく第１機能と、前記第１機能により記憶した配置図（及び回路素子名リスト）をモニタへ表示する第２機能と、該第２機能により表示した配置図（素子名リスト）から選択された素子の障害名リストを表示する第３機能と、該第３機能により表示された障害名リストから障害名が選択されたとき、該選択された回路素子に対応した障害名の障害発生を磁気ディスク制御部の障害発生回路素子に指示する第４機能とを実現させるものである。
【００１４】
さて、この様に構成されたコンピュータシステムを用いた障害テスト方法は、図１に示す第１段階において、コンピュータの擬似障害テストプログラムを実行することにより、擬似障害テストプログラムに記憶された当該基板上の複数の回路素子構成を図示した回路構成画面４をモニタ上に表示する。この回路構成画面４に表示される回路素子は、例えばＭＰＵ／ＲＡＭ／ＬＡＮ／ＰＣＩ／ＦＣ／ＳＤＲＡＭ／書き込み制御部／データ転送回路／ＰＣＩ制御回路等の磁気ディスク装置を制御するための複数の回路素子である。
【００１５】
次いで本障害テストプログラムは、操作者が前記回路構成画面４から障害を発生させる回路素子、例えばデータ転送回路をマウスのクリック等により指定及び選択すると第２段階に移行し、図２に示す如く、当該データ転送回路に発生が予想される障害の障害リスト画面５をモニタに表示する。
【００１６】
この障害リスト画面５に表示された内容は、エラーフォース（障害名）及びエラー内容との対応表であり、例えば、「ＰＣＩアドレスパリティーエラー」の内容が「ＰＣＩバスのアドレスパリティーエラー」、「ＰＣＩデータパリティーエラー」の内容が「ＰＣＩバスのデータパリティーエラー」、「ライトプロテクトエラー」の内容が「ライト禁止エリアのライト」等の一覧表である。
【００１７】
更に本障害テストプログラムは、操作者が前記障害リスト画面５に表示されたエラーフォースから任意の障害をマウスのクリック等により選択すると、第３段階に移り、図３に示す如く、回路構成画面４上に障害が発生する部位の表示形態を変えて表示する、本例では回路構成画面４のＲＳ２３２Ｃ回路とＦＣ回路間において「ＰＣＩアドレスパリティーエラー」を発生させることを、同素子間を繋ぐ太線の配色を変化させることにより表示する。
【００１８】
次いで本障害テストプログラムは、前記第３段階から次の第４段階に移行し、モニタ１０に表示し、前記第３段階で選択されたエラーフォース、即ち障害名に対応するコードをプリント基板１に転送すると、図４に示す如く、プリント基板１内では、バッファメモリ１１に一時的に前記コードを格納し、このコードを障害発生回路素子１２に転送することにより、障害発生回路素子１２が指定されたデータ転送回路１３のエラーフォース回路を起動して擬似的な障害を発生する。本例の場合は、データ転送回路にＰＣＩアドレスパリティーエラーを発生させる様に動作する。
【００１９】
尚、前記バッファメモリ１１に記憶したコードによる障害発生回路素子１２の起動は、基板に含まれる図示しない制御回路が前記バッファメモリ１１内を所定周期で監視し、コードが格納されていることを判定した場合に実行するものであるが、これに限られるものではなく、例えばコンピュータからの直接の命令により起動する様に構成してもしても良い。
【００２０】
この様に本実施形態による擬似障害テスト方法及び該方法を適用した擬似障害テストプログラムは、予め回路素子の配置図／回路素子対応の障害名を記憶しておき、選択された回路素子の障害名の障害テストを障害発生回路素子が実行することにより、物理的な手法によらず擬似障害テストを容易に行うことができる
【００２１】
尚、本発明の擬似障害テスト方法及び擬似障害テストプログラムは、上記した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。例えば前記回路素子の配置図に替えて回路素子の一覧リストを表示するように構成しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の一実施形態による擬似障害テスト工程の第１段階を説明するための図。
【図２】本擬似障害テスト工程の回路素子を選択する第２段階を説明するための図。
【図３】本擬似障害テスト工程の障害発生素子を表示する第３段階を説明するための図。
【図４】本擬似障害テスト工程の第４段階を説明するための図。
【符号の説明】
【００２３】
１：プリント基板（磁気ディスク制御部）、４：回路構成画面、５：障害リスト画面、１０：モニタ、１１：バッファメモリ、１２：障害発生回路素子、
１３：データ転送回路。