(57)【要約】【課題】  フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータにおいて、記述ミスの有無を容易に検出でき、記述ミスの箇所を特定できるようにテストデータを整形することで、記述ミスのないテストデータを作成できるよう支援する。【解決手段】  テストデータ作成支援装置10は、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータを入力するテストデータ入力部13と、テストデータの記述を整形するための規則が記述された整形規則を入力する整形規則入力部14と、入力されたテストデータの字句を解析し、整形規則に基づいて、テストデータの文節の範囲を区別するようにテストデータを整形し、テストデータが階層構造を有していればその階層構造を区別するようにテストデータを整形する整形処理部15と、整形後のテストデータを表示出力する整形後データ出力部16とを備える。【選択図】      図１
2005181132.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータを入力するテストデータ入力部と、
前記テストデータの記述を整形するための規則が記述された整形規則を入力する整形規則入力部と、
入力された前記テストデータの字句を解析し、前記整形規則に基づいて、前記テストデータの文節の範囲を区別するように前記テストデータを整形し、前記テストデータが階層構造を有していればその階層構造を区別するように前記テストデータを整形する整形処理部と、
整形後の前記テストデータを表示出力する整形後データ出力部と
を備えることを特徴とするテストデータ作成支援装置。
【請求項２】
前記整形処理部は、整形後の前記テストデータから記述ミスの箇所を検出し、
前記整形後データ出力部は、前記整形処理部により検出された前記テストデータの記述ミスの箇所を表示出力し、整形前のテストデータの行番号と整形後のテストデータの行番号との対応関係を表示出力すること
を特徴とする請求項１に記載のテストデータ作成支援装置。
【請求項３】
前記整形後データ出力部は、整形後の前記テストデータの文節あるいは文節の集合を区別できるように表示出力し、利用者の指示に従って前記文節あるいは文節の集合の表示を切り替えること
を特徴とする請求項１または請求項２に記載のテストデータ作成支援装置。
【請求項４】
フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータの作成をコンピュータにより支援するための作成支援方法であって、
テストデータをテストデータ入力部が入力する段階と、
前記テストデータの記述を整形するための規則が記述された整形規則を整形規則入力部が入力する段階と、
入力された前記テストデータの字句を整形処理部が解析する段階と、
前記整形処理部が前記整形規則に基づいて、前記テストデータの文節の範囲を区別するように前記テストデータを整形し、前記テストデータが階層構造を有していればその階層構造を区別するように前記テストデータを整形する段階と、
整形後の前記テストデータを整形後データ出力部が表示出力する段階とを含み、
前記各段階の処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする作成支援方法。
【請求項５】
フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータの作成をコンピュータにより支援するための作成支援プログラムであって、
テストデータをテストデータ入力部に入力させるステップと、
前記テストデータの記述を整形するための規則が記述された整形規則を整形規則入力部に入力させるステップと、
入力された前記テストデータの字句を整形処理部に解析させるステップと、
前記整形規則に基づいて前記整形処理部に、前記テストデータの文節の範囲を区別するように前記テストデータを整形させ、前記テストデータが階層構造を有していればその階層構造を区別するように前記テストデータを整形させるステップと、
整形後の前記テストデータを整形後データ出力部に表示出力させるステップとを含み、
前記各ステップの処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする作成支援プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータの作成を支援するためのテストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラムに係り、例えば、半導体集積回路のテストに用いられるテストデータの作成支援技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、半導体集積回路の大規模化が進み、それに伴って、半導体集積回路をテストするためのテストプログラムやテストパターンのデータ量も増大している。
【０００３】
そこで、半導体集積回路をテストするためのテストパターンのデータ量を削減する装置が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
また、半導体集積回路をテストするためのテストプログラムやテストパターンなどを共通の言語により表現可能なテストデータ記述言語として、ＳＴＩＬ（Standard Test Interface Language）が国際標準（IEEE Std 1450.0-1999）として策定されている。
【特許文献１】特開平１１−２８７８４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一般的なフリーフォーマットによりブロック構造を記述できる仕様を持つテストデータ（例えばＳＴＩＬによって記述されたテストパターンなど）において、単純な記述ミス（例えば二重引用符で文字列を囲む際に文字列の後ろ側につけるべき二重引用符の記述漏れなど）があった場合、簡単な構造の少量データであればテストデータ作成者が容易に見つけることができるが、長い文字列によるユーザ定義名などが連続して定義されている場合など、一見して見つけることが困難なケースが多々ある。このような場合、テストデータの文法チェックを行う検査ツールなどにおいて、誤りの箇所を特定できる機能を有していても、大まかな記述ミスの箇所を指摘することは可能であっても、誤りの箇所を特定することは困難である。
【０００６】
図１５は、ＳＴＩＬにより記述されたテストデータの一例である。図１５に例示したテストデータには一見して記述ミス等がないように見えるが、実際は第３行第７７カラム目において、ステートメントの記述の終わりを示すセミコロン“;”の記述漏れがある。また、第５行第７８カラム目には、二重引用符“””の記述漏れが含まれている。更に、余分な中閉じ括弧“}”の記述ミス（第９行第７９カラム目の中閉じ括弧と第１０行第１カラム目の中閉じ括弧とが重複）も含まれている。
【０００７】
このように、一見記述ミス等がないように見えるテストデータであっても、単純な記述ミスが多く含まれているケースが少なくない。特に、図１５に例示したような二重引用符の記述漏れを検出し、更に、本来二重引用符が記述されるべき箇所を特定することは、前記の検査ツールでは容易ではなく、どうしても人手による判断が必要になる。また、人手による判断を行う場合であっても、図１５に例示したテストデータのように、見易さを考慮した記述になっていないテストデータの中からエラー箇所を発見するには、テストデータ作成者の相当の経験と多大な労力が必要になる。
【０００８】
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであって、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータにおいて、記述ミスの有無を容易に検出でき、記述ミスの箇所を特定できるようにテストデータを整形することで、記述ミスのないテストデータを作成できるよう支援するためのテストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するため、本発明に係るテストデータ作成支援装置の特徴は、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータを入力するテストデータ入力部と、テストデータの記述を整形するための規則が記述された整形規則を入力する整形規則入力部と、入力されたテストデータの字句を解析し、整形規則に基づいて、テストデータの文節の範囲を区別するようにテストデータを整形し、テストデータが階層構造を有していればその階層構造を区別するようにテストデータを整形する整形処理部と、整形後のテストデータを表示出力する整形後データ出力部とを備えることにある。
【００１０】
また、本発明に係る作成支援方法は、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータの作成をコンピュータにより支援するための作成支援方法であって、テストデータをテストデータ入力部が入力する段階と、テストデータの記述を整形するための規則が記述された整形規則を整形規則入力部が入力する段階と、入力されたテストデータの字句を整形処理部が解析する段階と、整形処理部が整形規則に基づいて、テストデータの文節の範囲を区別するようにテストデータを整形し、テストデータが階層構造を有していればその階層構造を区別するようにテストデータを整形する段階と、整形後のテストデータを整形後データ出力部が表示出力する段階とを含み、各段階の処理をコンピュータに実行させることにある。
【００１１】
また、本発明に係る作成支援プログラムは、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータの作成をコンピュータにより支援するための作成支援プログラムであって、テストデータをテストデータ入力部に入力させるステップと、テストデータの記述を整形するための規則が記述された整形規則を整形規則入力部に入力させるステップと、入力されたテストデータの字句を整形処理部に解析させるステップと、整形規則に基づいて整形処理部に、テストデータの文節の範囲を区別するようにテストデータを整形させ、テストデータが階層構造を有していればその階層構造を区別するようにテストデータを整形させるステップと、整形後のテストデータを整形後データ出力部に表示出力させるステップとを含み、各ステップの処理をコンピュータに実行させることにある。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、記述ミスの有無を容易に検出でき、記述ミスの箇所を特定できるようにテストデータを整形することで、記述ミスのないテストデータを作成できるよう支援するテストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラムを提供できる。そのため、テストデータのデバッグ作業等に関わる作業時間を大幅に減少することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。尚、各図面を通じて同一もしくは同等の部位や構成要素には、同一もしくは同等の参照符号を付し、その説明を省略もしくは簡略化する。
【００１４】
本実施形態におけるテストデータ作成支援装置は、記述ミスの有無や箇所を容易に特定できるようにテストデータ作成者（ユーザ）を支援する。この作成支援装置は、オリジナルのテストデータを所定の規則に基づき整形し、ユーザが行うテストデータの検査作業等を支援する。テストデータ作成支援装置は、テストデータの字句を解析し、テストデータのうち文節やステートメントの範囲を区別できるようにテストデータを整形して表示出力することで、ユーザが文節やステートメントの範囲を目視で認識できるようにする。また、階層構造のステートメントであれば、その階層構造も含めユーザがその構成を目視で認識できるようにテストデータを整形して表示出力する。
【００１５】
また、テストデータ作成支援装置は、整形したテストデータから記述ミスの有無とその箇所を検出して表示し、オリジナルの（整形前の）テストデータの行番号と整形後のテストデータの行番号との対応関係の情報を表示出力する。
【００１６】
さらに、テストデータ作成支援装置は、テストデータ作成者が指定するテストデータの構成（１つのステートメントの構成も含む）に対して、表示色等を変更するなどして、強調表示を行う。
【００１７】
ここで、本明細書における「整形」とは、テキスト形式のテストデータに対して、インデントの設定（字下げ）、インデントの解除（字上げ）、改行、禁則処理等の編集処理を、所定の整形規則に従って実行し、記述ミスの有無や箇所を識別しやすい形式に整形することをいい、整形後のテストデータを単に表示するのみならず、整形されたテストデータから検出可能になった記述ミス等をユーザに提示することもできる。
【００１８】
本実施形態におけるテストデータ作成支援装置は、例えば、中央処理装置、記憶装置、入力装置、出力装置などを備えたコンピュータシステムにより実現される。
【００１９】
［実施例１］
図１に示すように、テストデータ作成支援装置１０は、テストデータ作成部１１、整形規則作成部１２、テストデータ入力部１３、整形規則入力部１４、整形処理部１５、整形後データ出力部１６などを備える。
【００２０】
テストデータ作成部１１は、例えば、半導体集積回路をテストするためのテストプログラムやテストパターンなどのテストデータを、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるＳＴＩＬ等のテストデータ記述言語で作成し、テストデータファイル２１に格納する。整形規則作成部１２は、テストデータファイル２１に格納されているテストデータを整形するための整形規則をテキスト形式で作成し、整形規則データファイル２２に格納する。尚、テストデータ作成部１１及び整形規則作成部１２は、必ずしもテストデータ作成支援装置１０の内部に設ける必要はなく、外部に独立させる形態としても良い。
【００２１】
テストデータ入力部１３は、テストデータファイル２１に予め格納されているテストデータを入力する。整形規則入力部１４は、整形規則データファイル２２に予め格納されている整形規則を入力する。
【００２２】
整形処理部１５は、テストデータ入力部１３が入力したテストデータの字句を解析し、整形規則入力部１４が入力した整形規則に基づいて、テストデータの文節の範囲を区別するようにテストデータを整形する。また、整形処理部１５は、入力したテストデータが階層構造を有していれば、その階層構造を区別するようにテストデータを整形する。
【００２３】
整形後データ出力部１６は、整形処理部１５により整形されたテストデータを、表示装置２３に表示したり、あるいは整形後テストデータファイル２４に出力したりする。
【００２４】
整形処理部１５は、図２に例示するような整形規則に基づいて整形処理を実行する。尚、図２に示した整形規則はあくまでも一例であり、また整形規則の書式は、図２に示した例に限定するものではない。
【００２５】
図２における整形規則には、インデントを下げるための条件（“$DOWN KEY”ブロック）、インデントを上げるための条件（“$UP KEY”ブロック）、インデントを下げないための条件（“$NOT_DOWN KEY”ブロック）、改行するための条件（“$RETURN KEY”ブロック）、改行しないための条件（“$NOT_RETURN KEY”ブロック）などが記述されている。
【００２６】
例えば、“$DOWN_KEY”ブロックを例に説明すると、第４行目の“$DOWN_KEY”から第７行目の“$END”までが“$DOWN_KEY”ブロックを表現しており、第５〜６行目に記述されているように、ここでは２つの条件（“$$CHARS$$”及び“$$ODD$$’”）が定義されている。整形処理部１５は、入力したテストデータの字句を解析し、この２つの条件に合致する場合にインデントを設定する（字下げを行う）。ここで、“$$CHARS$$”は、１つの文節（トークン）を１つの情報として無条件にインデントを設定するように整形することを意味し、“$$ODD$$’”は、奇数番目の一重引用符“’”が出現した場合に、インデントを設定して整形することを意味する。尚、第９〜１２行目に記述されている“$NOT_DOEWN KEY”ブロックでは、中括弧“{”が出現した場合に、インデントを下げないことを意味する条件が定義されている。
【００２７】
また、第１４〜１７行目に記述されている“$UP KEY”ブロックでも、２つの条件が定義されている。つまり、整形処理部１５は、入力したテストデータの字句を解析し、セミコロン“;”あるいは中閉じ括弧“}”が出現した場合に、インデントを上げて整形することを意味する。
【００２８】
また、第２０〜２２行目に記述されている“$RETURN KEY”ブロックでは、ブランク（空白）が出現したら改行することを意味する条件（“$$BLANK$$”）が定義されている。
【００２９】
このように、簡単な整形規則を定義するだけで、必要な整形が容易に行うことができるので、一般的なブロック構造の文書データなどにも適用可能である。
【００３０】
図３は、テストデータ作成支援装置１０が実行する整形処理手順の一例を示すフローチャートである。尚、図３に例示する整形処理手順をコンピュータプログラムにして、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体に格納し、コンピュータシステムにより実現されるテストデータ作成支援装置１０に読み取らせ、読み取らせたコンピュータプログラムに記述されている各処理をテストデータ作成支援装置１０に実行させることができる。
【００３１】
図３に示すように、まず、ステップＳ１１において、整形規則入力部１４は、整形規則データファイル２２に予め格納されている整形規則を入力する。ステップＳ１２において、テストデータ入力部１３は、テストデータファイル２１に格納されているテストデータを入力する。尚、ステップＳ１１の処理の前にステップＳ１２の処理を実行しても良いし、ステップＳ１１の処理とステップＳ１２の処理とを並行して行っても良い。
【００３２】
ステップＳ１３において、整形処理部１５は、テストデータ入力部１３が入力したテストデータの字句を解析する。
【００３３】
次に、整形処理部１５は、整形規則入力部１４が入力した整形規則に基づいて、テストデータを整形する。
【００３４】
具体的には、整形処理部１５は、ステップＳ１４において、解析した字句が整形規則の中のインデントを下げるための条件（“$DOWN KEY”ブロックに定義されている条件）に合致するか否かを判定する。判定の結果、条件に合致する場合、ステップＳ１５において、インデントを下げる整形処理を施し、条件に合致しない場合は、処理を行わずに次の処理へ進む。
【００３５】
整形処理部１５は、ステップＳ１６において、解析した字句が整形規則の中のインデントを上げるための条件（“$UP KEY”ブロックに定義されている条件）に合致するか否かを判定する。判定の結果、条件に合致する場合、ステップＳ１７において、改行してインデントを上げる整形処理を施し、条件に合致しない場合は、処理を行わずに次の処理へ進む。
【００３６】
更に、整形処理部１５は、ステップＳ１８において、解析した字句が整形規則の中の改行するための条件（“$RETURN KEY”ブロックに定義されている条件）に合致するか否かを判定する。判定の結果、条件に合致する場合、ステップＳ１９において、改行する整形処理を施し、条件に合致しない場合は、処理を行わずに次の処理へ進む。
【００３７】
その他、図示しないが、整形規則に定義されている他の条件（“$NOT_DOWN KEY”ブロック、“$NOT_RETURN KEY”ブロックなどに定義されている条件）について、同様の手順で処理を実行し、必要な整形処理を実行する。尚、ステップ１４〜１６の処理、ステップ１６〜１７の処理、ステップ１８〜１９の処理の処理順は、図２に示した順番に限定されず、適宜変更することができる。
【００３８】
そして、ステップＳ２０において、整形処理部１５は、入力したテストデータに記述されているすべての字句について処理を行ったか否か判定し、未処理の字句があればステップＳ１４に処理を戻す。
【００３９】
一方、入力したテストデータに記述されているすべての字句について処理済みの場合、ステップＳ２１において、整形後データ出力部１６は、整形処理部１５によって整形がなされたテストデータを、表示装置２３に表示する、あるいは整形後テストデータファイル２４に出力する。
【００４０】
次に、図４〜図５を用いて、更に具体的に説明する。尚、図４は、図１５に示したテストデータを図２に示した整形規則に従って整形した整形後のテストデータの一部を示しており、図５は、図１５に示したテストデータに記述ミスがなかった場合の、整形後テストデータの一部を示している。ここでは、インデントを上げ／下げする量を、２カラム分（２文字分）とした例を示すが、インデントを上げ／下げする量はこれに限らず、例えば、４カラム分（４文字分）としたり、５カラム分（５文字分）としたり適宜変更できる。
【００４１】
先に説明したように、図１５のテストパターンは、ＳＴＩＬ（IEEE std 1450.0-1999）によって記述されており、テストパターン中の各文節は、空白、改行、タブなどで区切られ、各文の終端をセミコロン“;”または中閉じ括弧“}”で表現している。従って、整形処理部１５は、図２に示した整形規則に従って、文節の区切りでは改行してインデントを下げ、終端を表わすセミコロンや中閉じ括弧ではインデントを上げて出力する整形を行う。
【００４２】
その結果、本来、図５に示すような整形結果が得られるはずである。しかしながら、図１５のテストパターンには記述ミス（例えば、図１５における第３行第７７カラム目のセミコロン“;”の記述漏れ）が含まれているため、図２に示した整形規則に従って整形すると、テストパターンの一連の記述が規則正しく表示されない。図４に示すように、記述ミスの箇所以降の記述（第１５行目の記述）が第１４行目までの記述と明らかに異なっていることが容易に判断できる。そのため、テストデータ作成者は、図４の第１４〜１５行目に、ステートメントの記述の終わりを示すセミコロン“;”の記述漏れがあることを容易に特定できる。
【００４３】
このように、フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるＳＴＩＬ等のテストデータ記述言語で作成されたテストデータに対して、所定の整形規則に従って、記述ミスの有無や箇所を識別しやすい形式に整形することで、整形されたテストデータから検出可能になった記述ミス等をユーザに提示することができる。
【００４４】
また、図６に例示するように、整形後データ出力部１６は、整形処理部１５により検出されたテストデータの記述ミスの箇所を表示出力する際に、オリジナル（整形前）のテストデータの行番号と整形後のテストデータの行番号との対応関係を表示出力することで、記述ミスの箇所の特定をより容易にできる。
【００４５】
また、図４の整形結果のように、インデントを下げた位置が正しくない箇所が複数存在する場合（第１５行目や第１８行目など）、整形後データ出力部１６が、インデントを下げた位置が不正な箇所を順に辿るように表示することで、エラー箇所の検索が更に容易になる。
【００４６】
［実施例２］
図７に例示するように、中閉じ括弧を余分に記述したミス（図７の第７行目の中閉じ括弧“}”と第８行目の中閉じ括弧“}”とが重複）について、図２に示した整形規則に従って、整形処理部１５が、図８に示すように自動的に記述ミスを検出し修正する例を説明する。
【００４７】
図９は、実施例２におけるテストデータ作成支援装置の処理動作例を示すフローチャートである。テストデータ中に記述された中閉じ括弧“}”に対して整形処理を行う場合、整形処理部１５は、ステップＳ１６において、インデントを上げるための条件（“$UP KEY”ブロックに定義されている条件）に合致するか否かを判定する。この場合、インデントを上げるための条件に合致するので、整形処理部１５は、ステップＳ１６Ａにおいて、中閉じ括弧“}”についてインデントを上げることが可能か否かを判定する。例えば、図７の第７行目の中閉じ括弧“}”の場合、スペースに余裕があるため、インデントを上げることが可能であり、整形処理部１５は、ステップＳ１７において、改行してインデントを上げる整形処理を施す。それに対し、図７の第８行目の中閉じ括弧“}”の場合、インデントを上げるスペースがないため、整形処理部１５は、ステップＳ１７Ａにおいて、図７の第８行目の中閉じ括弧“}”を削除する整形処理を施す。
【００４８】
その結果、重複して記述されていた中閉じ括弧“}”の一方が自動的に削除され、図８に示すように正しい記述のテストデータを生成できる。
【００４９】
このように、整形処理部１５による整形処理によれば、記述ミスの有無や箇所を検出するだけでなく、自動的に記述ミスを修正することもできる。
【００５０】
［実施例３］
図１０は、図１５の第１１〜１３行目のテストパターンを、図２の整形規則に従って整形した結果を示している。図２の整形規則に含まれている文節で改行を入れインデント付けを行う規則（“$DOWN KEY”ブロック）に基づいて整形すると、図１０に示すように、記述ミスを検出するための整形とは異なる、意図しない結果に整形されてしまう。つまり、図１５の第１１〜１３行目のように、１つの文が複数の文節によって構成されているようなブロック構造の場合、図２の整形規則に記述されている整形規則だけでは、満足できる整形（図１１に例示するような整形）を行うことができない。
【００５１】
図１１に示すような整形結果を求めるためには、図１２に例示するように、整形規則を追加すれば良い。図１２において、新たに追加された整形規則は、“$UP KEY”ブロックの中に定義された、プラス文字“+”に続く文字はインデントを上げる規則（図１２の第１６行目に定義された“$$NEXT$$+”）と、偶数回目に出現する一重引用符“’”はインデントを上げる規則（図１２の第１７行目に定義された“$$EVEN$$’”）である。
【００５２】
このように、追加された規則に従って整形処理を行うことで、プラス文字“+”の後に続く文節はインデントを上げて整形され（図１１における第９，１１，１３，１５，１７行目）、偶数回目（２回目の）一重引用符“’”はインデントを上げて整形される（図１１における第１８行目）ことになる。そして、例えば、プラス文字“+”が記述から漏れていた場合には、本来プラス文字“+”に続くはずの文字のインデントが下げられるため、プラス文字“+”の記述漏れを容易に検出可能となる。このように、整形対象となるテストデータの構造に従って必要な整形規則を準備することで、様々な構造のテストデータに対しても適用できる。
【００５３】
［実施例４］
テストデータに長い文字列で形成された文節が含まれているような場合、整形後のテストデータを表示するだけでは、どこから始まってどこまで続く文節であるのか、一見しただけでは分からないといったケースが生じる。
【００５４】
そこで、実施例４では、整形後データ出力部１６は、整形後のテストデータの文節あるいは文節の集合を区別できるように表示出力し、更に、ユーザの指示に従って文節あるいは文節の集合の表示を切り替える。このように、対象となる文節に対して表示色を変更することによって、テストデータ作成者に対して、記述ミスの箇所を更に容易に発見できるように支援可能となる。表示色の変更は、整形後の結果に対するものであり、図１３〜図１４に例示するように、例えば、テストデータ作成者がポインティングデバイス等のカーソル３１を用いて対象となる文節を指定した場合に、整形後データ出力部１６は、指定された文節あるいは文節の集合の表示色を変更する。
【００５５】
図１３は、対象となる文節（”SignalDataInput001”）について、文字部分を白抜きにし、背景部分を着色することによって表示を変更した例を示している。また、図１４は、対象となる文節（”SignalDataInput002”）のフォント表示色を、他の文節のフォント表示色と異なる表示色に変更した例を示している。
【００５６】
尚、図１３〜図１４に示す表示色の変更方法は、あくまで一例であり、他の変更方法を用いても構わない。例えば、あるキーワードを指定すると、そのキーワードが示すステートメントの最後までを表示し、次に、キーワードに続く文字に指定箇所を移動すると、その文字に連続する文字列だけを表示させるといった表示手法を用いることもできる。
【００５７】
以上、本発明の実施の形態について詳細に説明したが、本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他の色々な形で実施することができる。従って、前述の各実施例はあらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する変形や変更は、全て本発明の範囲内のものである。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の一実施形態におけるテストデータ作成支援装置の構成例を示す概略ブロック図である。
【図２】実施例１において、テストデータ作成支援装置で用いられる整形規則の一例を示す図である。
【図３】実施例１において、テストデータ作成支援装置が実行する整形処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】図１５に示すテストデータを、図２に示した整形規則に従って整形した整形後のテストデータの一部を示す図である。
【図５】図１５に示すテストデータに記述ミスがなかった場合の、整形後テストデータの一部を示す図である。
【図６】整形後テストデータを表示する際に、オリジナル（整形前）のテストデータの行番号と整形後のテストデータの行番号との対応関係を表示した例を示す図である。
【図７】中閉じ括弧を余分に記述したミスが含まれているテストデータの一例を示す図である。
【図８】図７に示すテストデータを、図２に示した整形規則に従って整形した整形後のテストデータを示す図である。
【図９】実施例２において、テストデータ作成支援装置が実行する整形処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図１０】図１５の第１１〜１３行目のテストパターンを、図２の整形規則に従って整形した整形後のテストデータを示す図である。
【図１１】図１５の第１１〜１３行目のテストパターンを、図１２の整形規則に従って整形した整形後のテストデータを示す図である。
【図１２】実施例３において、テストデータ作成支援装置で用いられる整形規則の一例を示す図である。
【図１３】ユーザによって指定された文節について、文字部分を白抜きにし、背景部分を着色することによって表示を変更した例を示す図である。
【図１４】ユーザによって指定された文節のフォント表示色を、他の文節のフォント表示色と異なる表示色に変更した例を示す図である。
【図１５】ＳＴＩＬにより記述されたテストデータの一例を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１０…テストデータ作成支援装置
１１…テストデータ作成部
１２…整形規則作成部
１３…テストデータ入力部
１４…整形規則入力部
１５…整形処理部
１６…整形後データ出力部
２１…テストデータファイル
２２…整形規則データファイル
２３…表示装置
２４…整形後テストデータファイル
３１…カーソル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2005181132.tif 000009
【図８】
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【図９】
2005181132.tif 000011
【図１０】
2005181132.tif 000012
【図１１】
2005181132.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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