(57)【要約】【課題】マップ構造全体とマップ構造全体内の一部分の詳細構造を同時に表示することのできる稠密マップ構造のグラフィカル・ナビゲーション技法を提供する。【解決手段】本発明はパニング・ウィンドウ・インタフェースを備えるＧＵＩを提供する。パニング・ウィンドウ・インタフェースは、第１の画像スケールに従って描画されるマップ構造を表示する高レベル・マップ構造パネルと、表示されるマップ構造の一部分を選択するため、高レベル・マップ構造パネルに表示されるパニング・ウィンドウと、第１の画像スケールよりも大きい第２の画像スケールに従ってマップ構造の選択された一部分を描画する詳細部分構造パネルを備える。パニング・ウィンドウ・インタフェースは、チェック・ボックス、ラジオ・ボタン、または、プルダウン・メニューのようなグラフィカル・メニュー上の他のグラフィカル手段を介して、オン／オフすることが可能である。【選択図】図７
2005235202.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示画面に表示可能なＧＵＩをコンピュータに実現させるためのプログラムであって、
該ＧＵＩがパニング・ウィンドウ・インタフェースを有し、
該パニング・ウィンドウ・インタフェースが、
第１の画像スケールでマップ構造を表示するための高レベル・マップ構造パネルと、
前記表示されるマップ構造の一部分を選択するためのパニング・ウィンドウと、
前記第１の画像スケールより大きい第２の画像スケールで、前記マップ構造の前記選択された一部分を表示する詳細部分構造パネルと、を有するプログラム。
【請求項２】
前記パニング・ウィンドウ・インタフェースが強調表示機能を有し、該強調表示機能は、強調表示選択基準の入力を可能とし、前記高レベル・マップ構造パネルに表示される前記マップ構造に該強調表示選択基準を満たす要素を強調表示する、請求項１に記載のプログラム。
【請求項３】
前記強調表示機能が、複数の強調表示選択基準の入力を可能とし、前記高レベル・マップ構造パネルに表示される前記マップ構造に該強調表示選択基準を満たす要素を強調表示する、請求項２に記載のプログラム。
【請求項４】
前記強調表示機能が、別個の強調表示選択基準に従って強調表示される要素を視覚的に区別する、請求項３に記載のプログラム。
【請求項５】
前記パニング・ウィンドウ・インタフェースが探索及び強調表示機能を有し、該探索及び強調表示機能が、探索基準の入力を可能とし、前記高レベル・マップ構造パネルに表示される前記マップ構造に該探索基準を満たす要素を強調表示する、請求項１乃至請求項４に記載のプログラム。
【請求項６】
前記探索及び強調表示機能が、複数の探索基準の入力を可能とし、前記高レベル・マップ構造パネルに表示される前記マップ構造に該探索基準を満たす要素を強調表示する、請求項５に記載のプログラム。
【請求項７】
前記探索及び強調表示機能が、それぞれの探索基準に従って生成される強調表示を視覚的に区別する、請求項５または請求項６に記載のプログラム。
【請求項８】
マップ構造の高レベル構造と該マップ構造の詳細部分を表示画面に同時に表示するためのコンピュータで実施される方法であって、
前記表示画面の第１の領域に、第１の画像スケールで前記マップ構造を表示するステップと、
前記表示されるマップ構造の一部分を選択するためのパニング・ウィンドウを設けるステップと、
前記表示画面の第２の領域に、前記第１の画像スケールより大きい第２の画像スケールで前記マップ構造の前記選択された一部分を表示するステップと、
を有する方法。
【請求項９】
強調表示選択基準入力を受け取り、前記表示画面の第１の領域に表示される前記マップ構造に該強調表示選択基準入力を満たす要素を強調表示する強調表示機能を設けるステップを有する、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
探索基準入力を受け取り、前記表示画面の前記第１の領域に表示される前記マップ構造に該探索基準入力を満たす要素を強調表示する選択可能探索及び強調表示機能を設けるステップを有する、請求項８または請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、グラフィカル・ユーザ・インタフェース（graphical user interface、ＧＵＩ）に関するものであり、とりわけ、稠密（dense、密集した）グラフィカル・マップ構造内における詳細な情報のナビゲーション及び提示のためのパニング（panning）及び強調表示（highlighting）に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
グラフィカル・ユーザ・インタフェース（ＧＵＩ）は、コンピュータ化装置と装置の人間のオペレータとの間における情報の入力及び出力を容易にするため、コンピュータ化システムにおいて利用される。理想的なＧＵＩは、容易にナビゲーション可能で、必要とされる入力項目のタイプ及びフォーマットが簡単であり、人間のオペレータに理解しやすいフォーマットで、コンピュータ化装置から受信した情報を提示するものである。
【０００３】
用途によっては、ＧＵＩは、例えば、ウェブサイトのサイト・マップ、装置構造またはレイアウト、制御流れプロセス、または、問題となる項目間の相互関係を表わした他のこうしたグラフィカル構造等を表すマップ構造を提示することも可能である。一般に、ウェブサイト・マップによくあることだが、マップ構造は、何らかの形式のリスト（例えば、ドロップ・ダウン・リスト）として提示される。リストの項目は副項目を含むことが可能であり、同様に副項目はさらに副項目を含むことが可能であり、以下同様である。他のグラフィカル・マップ構造には、アイコンまたは形状（ボックスのような）で問題となる項目を表わしたり、線、矢印、または、他の何らかの選択された表現によって、問題となる項目間の相互関係を表わしたりするものもある。
【０００４】
表示画面のピクセル及び／またはフォントに制限があるため、表示画面上に問題となるマップ構造全体を表示することは不可能であり、さらに、合理的に検分可能なマップの構造的詳細を提示することも不可能である。この現象が生じるのは、とりわけ、マップ構造がかなり稠密な場合である。
【０００５】
この問題に対処する方法の１つは、マップ構造を表示するウィンドウにスクロール・バーを設けることである。スクロール・バーによって、ユーザは、マップ構造の一方の端からもう一方の端までパンすることが可能になる。稠密マップ構造の場合、ウィンドウには、マップ構造の一部だけしか表示されない。マップ構造の表示部分は、スクロール・バーの位置によって決まり、表示部分の内容は、オペレータがマップ構造全体のうち表示される一部に関する詳細な構造内容を容易に検分し、理解することができるように提示される。しかし、上記解決法は、テストフロー構造全体を提示し、同時に、問題となるレベルで詳細を提示する能力が制限される。
【０００６】
ディスプレイ上における稠密マップ構造のナビゲーションを容易にするための先行技術によるもう１つの方法は、マップ構造内の特定位置に規定されたブックマークを用いることによるものである。しかし、ブックマークによって規定の位置にジャンプするためには、そのブックマークが前もって規定されていなければならない。従って、有用であるためには、ブックマークは、オペレータの役に立つ可能性の高い位置に前もって規定されていなければならない。さらに、各ブックマークは、そのブックマークに関連したマップ構造全体におけるその位置をオペレータに伝達するため、名前がつけられるか、または、別様に識別されなければならない。
【０００７】
稠密マップ構造のナビゲーションを容易にするもう１つの試みは、ダイアログ・ボックスによって得られる探索機能によるものである。この技法では、オペレータが、利用可能な項目のリスト・ボックスからマップ構造内のある項目の名目を選択することが可能である。しかし、探索ツールは、オペレータが、問題となる項目の名前を知っていることを必要とする。あるいはまた、探索ダイアログは、問題となる変数、または、ボックスによって提示される項目の内容、または、他の探索基準によって、ユーザが探索できるようにすることが可能である。しかし、やはり、この探索機能は、それが有用であるためには、ユーザが、特定の変数名、内容、または、探索基準に関してある程度の知識を備えていることを必要とする。
【０００８】
稠密マップ構造のナビゲーションを容易にするさらにもう１つの試みは、「グループ」・アイコンの生成であり、この場合、各「グループ」・アイコンは、そのグループにまとめられるいくつかのサブアイコンまたは記号を表わしている。グループ・アイコンが選択されると、その選択グループに属するマップ構造の一部が表示される。グループ化技法によって、マップ構造の視覚的複雑さが軽減され、その結果、表示される情報量が減少する。しかし、グループ化すると、認識できる可能性のあるコードの構造そのものが隠されることにもなる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
従って、本発明の目的は、マップ構造全体の視覚表示を可能にし、マップ構造全体内の詳細構造の表示も可能にする、稠密マップ構造の改良式グラフィカル・ナビゲーション技法を提供することにある。本発明のもう１つの目的は、マップ構造全体と、詳細部分構造のいくつかの部分を同時に表示可能にする改良式ナビゲーション技法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、マップ構造全体の視覚表示を可能にし、マップ構造全体内における個別要素及び詳細部分構造の表示も可能にする、表示される稠密グラフィカル・マップ構造をナビゲーションするための改良式技法である。本発明によれば、マップ構造全体と選択された詳細部分構造の同時表示も可能になる。
【００１１】
本発明によれば、表示画面に表示可能なＧＵＩがパニング・ウィンドウ・インタフェースを備えている。このパニング・ウィンドウ・インタフェースは、第１の画像スケールに従って描画されるマップ構造を表示する高レベル・マップ構造パネル（high-level map structure panel）と、表示されるマップ構造の一部分を選択するため、高レベル・マップ構造パネルに表示されるパニング・ウィンドウ（panning window）と、第１の画像スケールよりも大きい第２の画像スケールに従ってマップ構造の選択された一部分を描画する詳細部分構造パネル（detailed sub-structure panel）を備える。パニング・ウィンドウ・インタフェースは、チェック・ボックス、ラジオ・ボタン、または、プルダウン・メニューのようなグラフィカル・メニュー上の他のグラフィカル手段を介して、オン／オフすることが可能である。
【００１２】
例えば、強調表示（highlight）選択メニューの形式をなす強調表示機能を設けることによって、パニング・ウィンドウ・インタフェースを強化することが可能である。強調表示機能によって、オペレータによる強調表示選択基準の入力が可能になる。強調表示選択基準が選択されると、前記強調表示選択基準を満たす、前記高レベルマップ構造パネルに表示されるマップ構造の要素が、強調表示される。複数選択基準が選択される場合には、強調表示機能によって、異なるそれぞれの選択基準に従って強調表示される要素間の視覚的区別が行われるのが望ましい。
【００１３】
例えば、強調表示選択メニューの形式をなす探索及び強調表示機能を設けることによって、同様に、パニング・ウィンドウ・インタフェースを強化することが可能である。探索及び強調表示機能により探索機能及び強調機能が統合され、オペレータが探索基準を入力できるようになっている。探索基準が選択されると、探索及び強調表示機能は、マップ構造の要素を探索して、探索基準を満たすか否かを判定する。探索基準を満たす要素は、高レベル・マップ構造パネル及び詳細部分構造パネルに強調表示される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明及びそれに付随する利点の多くについては、同様の参照記号が同じかまたは同様のコンポーネントを表わしている、添付の図面に関連づけて検討すれば、下記の詳細な説明を参照することによってより理解が深まるので、より完全な認識が得られ、容易に明らかになるであろう。
【００１５】
本発明は、マップ構造全体の視覚表示と、マップ構造全体内の選択された詳細部分構造の同時表示を可能にする、ＧＵＩにおける稠密マップ構造のナビゲーション技法である。
【００１６】
より深い理解が得られるように、本発明は、特定の応用例、すなわち、自動プリント回路アセンブリ試験システム（automated printed circuit assembly test system）のテストフローＧＵＩに関連して論じることにする。しかし、云うまでもないが、請求の範囲に記載されている発明の新規の態様は、さまざまな用途のシステム、とりわけ、稠密マップ構造を提示して、マップ構造全体を伝えなければならず、しかも、マップ構造全体から選択された詳細部分構造を提示する機能が要求される、任意のＧＵＩに等しく当てはまるものである。
【００１７】
次に図面を参照すると、図１は、自動プリント回路アセンブリ試験システム１０、とりわけ、カリフォルニア州パロアルトのアジレント・テクノロジ社製、アジレント９３０００システム・オン・ア・チップ（ＳＯＣ）シリーズ試験システムの図である。試験システム１０には、被測定物（ＤＵＴ）１４とインタフェースして、ハードウェア資源を提供する試験ヘッド（test head）１２と、試験ヘッド１２の位置決めをするためのマニピュレータ１６と、電力、冷却水、及び、圧縮空気を試験ヘッド１２に供給するための支持ラック１８と、ワークステーション２２が含まれている。
【００１８】
試験ヘッド１２には、ＤＵＴ１４に電力を供給して、試験測定を実施するディジタル及びアナログ試験機能を含む全ての試験電子部品が含まれている。試験ヘッド１２には、ＤＵＴインタフェース２４が含まれている。被測定物（ＤＵＴ）１４は、ＤＵＴインタフェース２４によってＩ／Ｏチャネルに接続されたＤＵＴ基板１５に取り付けられている。ＤＵＴインタフェース２４は、高性能同軸ケーブルと、ＤＵＴ基板１５に電気的に接触するバネ接点ピン（ポーゴーピン（pogo pin））から構成されている。ＤＵＴインタフェース２４は、ハンドラ及びウェーハ・プローバ（water prober）（不図示）に対するドッキング機能を提供する。ドッキング機構は、圧縮空気によって制御されるが、必要があれば、手動操作も可能である。
【００１９】
試験ヘッド１２は、水冷式である。試験ヘッド１２は、支持ラック１８から冷却水の供給を受けるが、支持ラック１８は、さらに、２つのフレキシブル・ホースによって冷却装置（不図示）に接続されている。マニピュレータ１６は、試験ヘッド１２を支持して、位置決めを行う。マニピュレータ１６は、試験ヘッド１２とハンドラまたはウェーハ・プローバとの間における正確で反復可能な接続のため、６自由度を備える。支持ラック１８は、マニピュレータ１６に取り付けられている。支持ラック１８は、試験ヘッド１２とその主供給源（ＡＣ電源、冷却水、圧縮空気）とのインタフェースである。93000ＳＯＣ試験システムの内部電子部品構成及び接続に関する詳細な情報については、その教示の全てが参考までに本明細書において援用されている、「SOC Series System Reference」（アジレント・テクノロジ社、２００３年２月）を参照されたい。
【００２０】
ワークステーション２２は、ユーザと試験ヘッド１２とのインタフェースである。アジレント９３０００ＳＯＣシリーズ試験システムの場合、アジレント93000SOCシリーズSmartTestソフトウェア26が、このワークステーション２２で実行される。ワークステーション２２は、HP‐UXオペレーティング・システムを実行する高性能Unixワークステーションと、Linuxオペレーティング・システムを実行する高性能ＰＣのいずれかが望ましい。ワークステーション２２は、オペレータ入力を受信するためキーボード４及びマウス５に接続され、モニタ３の表示画面６にＧＵＩ８を表示するため、ディスプレイ・モニタ３に接続されている。ＧＵＩソフトウェア（プログラム命令の形態をなす）２は、SmartTestソフトウェア２６に組み込まれて、モニタ３の表示画面６にＧＵＩ８を生成する。
【００２１】
ワークステーション２２と試験ヘッド１２間における通信は、直接ケーブル配線によって実施することもできるし、あるいは、全体が２０で示された無線通信チャネルを介して実施することも可能である。SmartTestソフトウェア２６によって、試験ヘッド１２に対するセットアップ及び試験データ２８ａのダウンロード、及び、このデータの編集が可能になる。全ての試験は、試験ヘッド１２によって実施され、試験結果２８ｂは、ワークステーション２２によってリードバックされ、モニタ３に表示される。試験プログラムが開始されると、試験ヘッド・プロセッサは、ワークステーション２２とは独立して動作するので、試験プログラムの実行中、アップロード及びダウンロードは一般に不要である。
【００２２】
既述のように、望ましい実施態様の場合、試験ソフトウェア２６は、テストフローによって被測定物（ＤＵＴ）１４の試験を可能にするアジレント社のSmartTest93000シリーズ・ソフトウェアである。本明細書において用いられる限りにおいて、テストフローは、試験スイート（test suites）と呼ばれる個別試験の相関した集合であり、試験スイートのそれぞれは特定のパラメータを試験する。これらの試験スイートは、何かしら有効なところ等がある限りは、以前の／別の結果に基づいて、順次多種多様なやり方で相関させることが可能である。これらの全ての試験スイートは、一緒になって、ある装置の完全な試験を構成する。
【００２３】
SmartTestソフトウェア26は、テストフロー・エディタ３０と呼ばれるグラフィカル・エディタを含むＧＵＩソフトウェア２を実行する。テストフロー・エディタ３０は、オペレータがテストフローを生成し、変更し、デバッグするために設けられた全ての機能にアクセスできるようにするメニュー及びダイアログを提供する。SmartTestソフトウェアの特徴及び機能に関する完全な説明については、その全ての教示が参考までに本明細書において援用されている、SmartTestマニュアル「Agilent  93000  SOC  Series：Test  Setup-Volume1-Introduction, Data Manager, Testflow」（アジレント・テクノロジ社、マニュアル部品番号E7050-91910、改訂4.2.0、２００３年８月）において知ることが可能である。
【００２４】
テストフローは、ＧＵＩ８、及び、ユーザ入力装置であるキーボード４及びマウス５とのインタフェースをとる、ワークステーション２２で実行されるSmartTestソフトウェア２６のテストフロー・エディタ３０によってセットアップされ、実行される。テストフロー・アイコンは、挿入プルダウン・メニュー（不図示）内からマウス選択によって選択される。アイコンは、既存のテストフローのアイコンを強調表示し、編集メニュー（不図示）を利用することによって操作することが可能である。
【００２５】
図２は、図１の試験システム１０におけるＧＵＩ８とＤＵＴ１４のインタラクションを例示したブロック図である。例示のように、テストフロー・エディタ３０（ワークステーション２２のSmartTestソフトウェア２６内で実行される）は、ＧＵＩ８をオペレータに提示する（ディスプレイ３の表示画面６を介して）。テストフロー・エディタ３０は、オペレータ入力を収集し（キーボード４及びマウス５を介して）、セットアップして、試験情報及び試験データをダウンロードし、試験ヘッド１２によるＤＵＴ１４のテストフローの実行を開始する。試験ヘッドは、SmartTestソフトウェア２６の命令に従って、ＤＵＴ１４の試験を実施し、試験結果を収集する。試験結果は、試験ヘッド１２からSmartTestソフトウェア２６にアップロードされ、そこで、その試験結果によってオペレータに提示されるＧＵＩ８が更新される。
【００２６】
図３は、テストフロー・エディタ３０の機能が略図で例示されている。図示のように、テストフロー・エディタ３０は、試験を受けるＤＵＴ１４のコンポーネント３２、及び、各コンポーネント３２毎に試験される関連パラメータ３４に関する情報を収集する。テストフロー・エディタ３０は、オペレータが、テストを受ける各装置コンポーネント３２及びそのコンポーネント３２について試験されるパラメータ３４に関する情報を入力できるようにする一連のダイアログを与える。
【００２７】
例示の実施態様の場合、試験アプローチは、試験機能に基づくものである。このアプローチでは、ピン構成、タイミング、レベル、ベクトル、ピン属性、アナログ制御、波形、及び、経路指定を含む、ＤＵＴ構成を納めた１組の大域セットアップ・ファイルが、ある特定のテストフロー全体のために生成される。次に、テスト機能に基づく試験スイートが、ある時点における特定のパラメータを試験する一連のテストフロー・エディタ・ダイアログを介して、オペレータによって開発される。
【００２８】
図４には、図３のテストフロー・エディタ３０によって作成された単一試験スイートに相当するグラフィカル部分構造（graphical sub-structure）５０が例示されている。
【００２９】
図示の特定の実施態様の場合、後述するように、条件５２、試験スイート５４、及び、ビン（bin）５６を表わすのに、アイコン５２、５４、５６が利用される。
【００３０】
長方形の形状で表示された各試験スイートアイコン５４は、別個に独立して実行可能な装置試験（例えば、機能試験）を表わしている。試験では、ＤＵＴ２６の単一ノードの単一パラメータを試験することもできるし、あるいは、ＤＵＴ２６の１つ以上のコンポーネントの複数のパラメータを試験することも可能である。例示の実施態様の場合、テストフローは、試験スイートの結果に従って、実施する場合もあるし、あるいは、実施しない場合もあり得る。テストフローがある特定の試験スイートの結果に左右されない場合、その試験スイートは、単純な「実行」試験スイートアイコンとして構成される。テストフローがその試験スイートの結果（例えば、合／否）に従って実施されることになる場合、その試験スイートは、「実行及び分岐」試験スイートアイコンとして構成される。「実行」試験スイートアイコンと「実行及び分岐」試験スイートアイコンは、ここでは、例示だけを目的として提示される。本発明の範囲外の他の試験スイートアイコン・タイプを定義することも可能である。さらに、アイコンが表わす実行可能試験スイートは、任意のタイプの実行可能試験スイートとすることが可能である。
【００３１】
八角形または三角形の形状で表示される各ビン・アイコン５６は、同様のカテゴリに分類されるいくつかの装置を表している。例えば、例示の実施態様の場合、八角形のビンは、そのビンに関連した試験スイートに不合格となる装置の装置数をリストにするための記憶ビンである。もちろん、関連した試験スイートに合格する装置の装置識別子を記憶するビン、及び、まだ試験されていない装置の装置識別子を記憶するビンといった、本発明の範囲外の他のビン・アイコン・タイプを定義することも可能である。
【００３２】
六角形の形状で表示される各条件アイコン５２は、分岐、whileループ、forループ、反復ループの流れ制御、または、他の流れ制御を決定する条件または１組の条件を表わしている。
【００３３】
各アイコン５２、５４、５６には、入力５２ｉ、５４ｉ、５６ｉ、及び１つ以上の出力５２ｏ１、５２ｏ２、５４ｏ１、５４ｏ２、５６ｏが含まれている。テストフローのシーケンスが、接続線、すなわち、それぞれのアイコンの出力と他のアイコンの入力との間の「コネクタ」によって表されている。試験プログラムの実行中、テストフローは、アイコンに関連した実行可能試験スイートを実行し、入力がその出力に接続されているアイコンに移行する。図示のテストフロー例では、２つ以上の出力が存在する場合、１つの出力だけが選択されることになる。選択される出力は、一般に、アイコンによって表示された実行可能試験スイートの結果によって決まる。例えば、図４の条件アイコン５２を参照すると、２つの出力５２ｏ１及び５２ｏ２が存在する。しかし、テストフローの実行中、テストフローは、出力５２ｏ１及び５２ｏ２の一方だけに移行し、テストフローがどちらの出力に移行するかの決定は、条件付き制御フローアイコン５２によって表される、実行可能試験スイートにおいて決まる条件付き試験の結果に左右される。同様に、試験スイートアイコン５４には、２つの出力５４ｏ１及び５４ｏ２がある。テストフローの実行中、テストフローは、試験スイートアイコン５４によって表わされる、実行可能試験スイートにおいて決まる条件付き試験の結果に従って、出力５４ｏ１及び５４ｏ２の一方だけに移行する。出力の一方５４ｏ２は、不合格ビン５６の入力に接続されているので、試験結果が、試験スイートアイコン５４によって表示される実行可能試験スイートによって試験されたコンポーネントまたはピンの不合格を表わしている場合には、出力５４ｏ２が選択される。別様であれば、出力５４ｏ１が選択される。
【００３４】
例示の実施態様の場合、グラフィカル部分構造５０には、試験スイートアイコン５４が後続する条件アイコン５２が含まれており、試験スイートアイコン５４には、装置不合格ビン５６が含まれている。明らかに、部分構造５０は、例証のためだけに提示されたものであり、他の構造的構成を規定することも可能である。例えば、全試験プログラムの間中、全ての試験スイートに先立って、条件付き制御流れアイコン５２を実行しなければならないというのはありそうにない。試験スイートは、一般に、不合格、合格、及び／または、他の情報を追跡記録する１つ以上の関連するビンを備えているが、全ての試験スイートについてこうした情報を収集しなくても済む理由が存在する場合もある。例えば、情報は、テストフロー変数に記憶するか、ファイルに記録することが可能である。
【００３５】
典型的な試験プログラムには、数百の試験スイートを含むことが可能である。図５は、テストフロー・ソフトウェア２８によって生成可能な試験プログラム例のテストフロー・マップ６０の一例である。例示のように、テストフロー・マップ６０には、いくつかの試験スイート（長方形のボックスで表示）、条件付き試験（六角形のボックスで表示）、及び、ビン（八角形のボックスで表示）が含まれている。試験スイート、条件付き試験、及び、ビン間のコネクタは、プログラムのテストフローを表わしている。
【００３６】
周知のように、ディスプレイ・モニタに表示可能なアイコン数には制限がある。従って、限界サイズの試験プログラムであると仮定した場合でも、単一のＧＵＩウィンドウ内に、試験プログラム・マップ構造を表わす全ての条件、試験スイート、及び、ビンのアイコンを同時に提示できるとは到底思えない。
【００３７】
背景技術のセクションにおいて解説したように、ＧＵＩウィンドウ内の制限された検分スペースの問題に対処する方法の１つは、テストフロー・マップを表示するウィンドウにスクロール・バーを設けることである。スクロール・バーによって、ユーザは、テストフロー・マップの任意の位置に対するテストフロー・マップ・ウィンドウの内容を変更し、ウィンドウ内にあらかじめ決められた数のテストフロー・マップ・アイコンだけしか表示されないようにすることが可能になる。他の解決法では、やはり背景技術セクションで論じた、ブックマーキング方式または探索機能を実施することになる場合もあり得る。しかし、これらの解決法は、それぞれ、詳細部分構造の提示を可能にするが、テストフロー構造全体を提示する能力には制限がある。
【００３８】
代替解決法は、やはり、背景技術のセクションにおいて論じられた、グループにまとめられたいくつかの試験スイートアイコンに相当する、「グループ」・アイコンを実施することである。しかし、前に指摘したように、グループ・アイコンによれば、詳細テストフロー構造をディスプレイ・モニタ上に表示可能な形態にまとめることが可能になるが、グループ化によって、問題となる可能性のあるマップ構造全体の詳細部分構造も隠れることになる。
【００３９】
図６には、図５に例示のような稠密テストフロー・マップの一部を提示する、ディスプレイ・モニタ４上に提示可能な先行技術によるＧＵＩウィンドウ８０の一例が示されている。この図に例示されているように、テストフロー・マップの表示部分は、図４に関連して論じたアイコン及びコネクタを用いて、テストフロー・マップ構造を提示している。テストフロー・マップの提示は、テスト・オペレータが、特定のＤＵＴ設計を試験するためのテストフローを生成して、編集できるようにするため、例えば、テスト・セットアップ・エディタにおいて利用することが可能である。テストフロー・マップ構造には、テストフローの各条件、試験スイート、及び、ビン毎に能動アイコンを含むことが可能である。これを利用する際、マウスによってクリック・オンすると（または、周知のＧＵＩ入力方法を用いて別様に起動すると）、例えば、ポップアップ・ウィンドウまたは別のパネルに、選択されたアイコンによって表示される実行可能試験スイートに関連したテスト・セットアップ情報を表示して、編集することが可能になる。
【００４０】
テストフロー・マップ構造の提示は、例えば、試験の実行中に、テスト・オペレータがテストフローの進行をモニタできるようにするために利用することも可能である。テストフロー・マップ構造には、各条件、試験スイート、及び／または、ビン毎に能動アイコンを含むことが可能である。これを利用する際、マウスによってクリック・オンすると（または、周知のＧＵＩ入力方法を用いて別様に起動すると）、例えば、ポップアップ・ウィンドウまたは別のパネルに、選択されたアイコンの実行結果に関連した試験情報を表示することが可能になる。
【００４１】
次に、図６のウィンドウ８０に示されたテストフロー・マップ構造６０の表示部分の詳細を参照すると、テストフロー制御は、試験プログラム・マップ構造（不図示）の前のテストフロー部分から、ウィンドウ８０の最も左側の条件アイコン５２ａに移行する。実行された条件の結果に従って、テストフロー制御は、試験スイートアイコン５４ａと試験スイートアイコン５４ｃのいずれかに移行する。制御が試験スイートアイコン５４ａに移行する場合、試験スイートアイコン５４ａによって表示される実行可能試験スイートが実行される（そして、コンポーネントが試験に不合格になると、そのコンポーネントの識別子がビン５６ａに追加される）。次に、テストフロー制御は、試験スイート５４ｂに移行する。次に、試験スイートアイコン５４ｂによって表示される実行可能試験スイートが実行され（そして、コンポーネントが試験に不合格になると、そのコンポーネントの識別子がビン５６ｂに追加され）、テストフロー制御は、さらに、ウィンドウ８０には見えない試験プログラム・マップ構造の後続テストフロー部分に移行する。
【００４２】
その代わりに、条件付き制御流れアイコン５２ａによって表示される条件の結果として、テストフロー制御が試験スイートアイコン５４ｃに移行すると、試験スイートアイコン５４ｃによって表示される実行可能試験スイートが実行される（そして、コンポーネントが試験に不合格になると、そのコンポーネントの識別子がビン５６ｃに追加される）。テストフロー制御は、次に、条件付き制御流れアイコン５２ｄに移行する。実行される条件の結果として、テストフロー制御は、試験スイートアイコン５４ｄと試験スイートアイコン５４ｅのいずれかに移行する。制御が試験スイートアイコン５４ｄに移行する場合、試験スイートアイコン５４ｄによって表示される実行可能試験スイートが実行され、テストフロー制御は、さらに、ウィンドウ８０には見えない試験プログラム・マップ構造の後続テストフロー部分に移行する。制御が、代わりに、試験スイートアイコン５４ｅに移行する場合、試験スイートアイコン５４ｅによって表示される実行可能試験スイートが実行され、テストフロー制御は、さらに、ウィンドウ８０には見えない試験プログラム・マップ構造６０の後続テストフロー部分に移行する。
【００４３】
図６のテストフロー・マップ・ウィンドウ８０の提示は、テストフロー・マップ全体の表示部分内におけるテストフロー構造に関する有用な詳細情報が提示されるので好都合である。アイコン５２ａ、５４ａ、５６ａ、５４ｂ、５６ｂ、５４ｃ、５６ｃ、５２ｄ、５４ｄ、５４ｅ、及び、それらの間の接続は、それぞれ、ウィンドウ８０を検分するオペレータが、テストフロー・マップ全体の表示部分内における試験プログラムのテストフローを理解できるようにするのに十分な大きさである。アイコンの大きさは、テキスト、または、他のアイコンから区別する他の特徴を含めるのにも十分であり、このため、グラフィカル・テストフロー・インタフェースの習熟者によるアイコン機能の迅速な理解を促進する。
【００４４】
しかし、図６から明らかなように、テストフロー・マップ・ウィンドウ８０が、試験プログラム・マップ構造６０の全体構造に関する有用な情報を提示することはない。試験プログラム・マップ構造のナビゲーションのため、オペレータは、一度に１つの表示画面をスクロールするか（稠密マップ構造の一方の端からもう一方の端までナビゲーションするのは極めて厄介になる可能性がある）、または、背景技術のセクションにおいて論じた先行技術による技法（テストフロー・ソフトウェアによって、ブックマーク、探索、及び、グループ化が可能であれば、こうした機能を含む）の１つを利用することが必要になる。しかし、これらの技法のどれにも、オペレータがテストフロー・マップ構造６０全体を検分できるようにして、その結果、テストフロー・マップ構造６０全体におけるウィンドウ８０に表示される詳細部分構造の位置が容易に分るようにするものはない。
【００４５】
本発明によれば、これらの問題が解決される。図７には、本発明の望ましい実施態様に従って実施される、稠密テストフロー・マップ構造１６０のようなマップ構造を表示するためにディスプレイ・モニタ４に提示可能なウィンドウ１００が示されている。この図に例示のように、ウィンドウ１００には、高レベルマップ構造パネル１２０及び詳細部分構造パネル１１０が含まれている。高レベルマップ構造パネル１２０には、対象となるマップ構造１６０の高レベル図が含まれており、この例の場合テストフロー・マップ構造１６０である。高レベル・マップ構造パネル１２０には、高レベル・マップ構造パネル１２０に表示される高レベル・マップ構造１６０のいくつかの部分の上に配置することが可能なパニング・ウィンドウ１３０が含まれている。
【００４６】
詳細部分構造パネル１１０は、高レベル・マップ構造パネル１２０のパニング・ウィンドウ１３０内に含まれる高レベル・マップ構造１６０の一部の詳細構造図の拡大図である。
【００４７】
例えば、図７の場合、ＰＯＳ  Ａによって表示される位置において、パニング・ウィンドウ１３０には、高レベルマップ構造１６０の一部が含まれている。詳細部分構造パネル１１０の内容は、パニング・ウィンドウ１３０に含まれる高レベル・マップ構造１６０の一部に対応するが、詳細構造をよりはっきりと示すため、倍率を大きくして表示されている。すなわち、この例の場合、パニング・ウィンドウ１３０に含まれる高レベル・マップ構造１６０の一部には、試験スイートアイコン１５４ａまたは１５４ｃのそれぞれに対するコネクタを備えた条件アイコン１５２ａが含まれている。試験スイートアイコン１５４ａ及び１５４ｃは、それぞれ、それらに関連したそれぞれの不合格ビン・アイコン１５６ａ、１５６ｃを備えている。パニング・ウィンドウ１３０に含まれていて、詳細部分構造パネル１１０に表示される高レベル・マップ構造１６０の一部には、試験スイートアイコン１５４ａの出力に接続された試験スイートアイコン１５４ｂ及びその関連する不合格ビン・アイコン１５６ｂと、試験スイートアイコン１５４ｄが後続する、試験スイートアイコン１５４ｃの出力に接続された条件アイコン１５２ｄも含まれている。図７に例示のように、高レベル・マップ構造パネル１２０のパニング・ウィンドウ１３０内に含まれる高レベル・マップ構造１６０の一部は、小さすぎて、テキストまたはアイコン内の他の情報といった詳細情報を検分することができない。そのパニング・ウィンドウ１３０と、パニング・ウィンドウ１３０内に含まれる高レベル・マップ構造１６０の対応部分を表示する詳細部分構造パネル１１０を備えた、高レベル・マップ構造パネル１２０によって、オペレータは、試験プログラムのマップ構造全体と、高レベル・マップ構造１６０の部分に関する詳細部分構造情報を同時に検分することが可能になる。
【００４８】
本発明によれば、パニング・ウィンドウ１３０は、オペレータが、高レベル・マップ構造パネル１２０に表示される高レベル・マップ構造１６０の問題となる部分を選択できるようにするため、移動可能である。望ましい実施態様の場合、パニング・ウィンドウ１３０は、標準ドラッグ・アンド・ドロップ・マウス操作を用いて移動させることが可能である。例えば、図８に例示のように、パニング・ウィンドウ１３０は、点線の接続矢印によって示されるように、ＰＯＳ Ａによって表示の位置からＰＯＳ Ｂによって表示の位置に移動させられる。パニング・ウィンドウ１３０に含まれる高レベル・マップ構造１６０の一部を変更すると、詳細部分構造パネル１１０の対応する内容が更新されて、パニング・ウィンドウ１３０に含まれる高レベル・マップ構造１６０の対応部分が倍率を大きくして表示される。従って、この例の場合、詳細部分構造パネル１１０は、図７に示すものから、関連する不合格ビン・アイコン１５６ｅを備えた試験スイートアイコン１５４ｅ、それに後続する、関連する不合格ビン・アイコン１５６ｆを備えた試験スイートアイコン１５６ｆ、それに後続する試験スイートアイコン１５４ｇを示すように変化している。やはり、その新しい位置ＰＯＳ Ｂにおいて、パニング・ウィンドウ１３０に含まれる高レベル・マップ構造１６０の諸部分に関する詳細部分構造及び情報は、ウィンドウ１００を検分するオペレータがはっきりと見て取ることが可能になる。
【００４９】
マップ構造１６０全体のうち高レベル・マップ構造パネル１２０内に提示可能な部分が増すほど、マップ構造１６０のナビゲーションが容易になるのは明らかである。従って、構造の全体的な細部を損なうことなく、単一高レベル・マップ構造パネル１２０内にマップ構造１６０全体を提示することができれば、そうしたように提示するのが望ましい。しかし、スクリーン・サイズ、フォント・サイズ、及び画素数の制限のために、構造の全体的な細部を損なうことなく、高レベルマップ構造パネル１２０内に高レベル・マップ構造１６０全体を提示することができなければ、いくつかの方法の１つを用いて、テストフロー・マップ構造全体に対するオペレータの最大限の理解が得られ、同時に、単純なナビゲーションが可能になるように考慮されている。
【００５０】
実施態様の１つでは、高レベル・テストフロー・マップ・パネルには、オペレータが、一般に、ドラッグ・アンド・ドロップ・マウス技法、左右矢印キーボード入力、または、現在一般に利用されているか、または、今後利用されることになる、スクロール・バーを移動させるための他の手段を用いて、パネルに設けられたスクロール・バーをスクロールすることによって、高レベル・テストフロー・マップ構造全体をスクロールできるようにする、水平及び／または垂直スクロール・バー１２２ａ、１２２ｂ（図７及び図８）を含むことが可能である。この実施態様の場合、パニング・ウィンドウ１３０は、パネル１２０の固定位置にとどまることが可能であり、一方、下にある高レベル・マップ構造１６０は、スクロール・バー１２２ａ、１２２ｂの一方またはもう一方を起動することにより、パネル１２０内を移動させられる。詳細部分構造パネル１１０の内容は、パニング・ウィンドウ１３０内に含まれる高レベル・マップ構造１６０の詳細構造を表示するために更新される。あるいはまた、パニング・ウィンドウ１３０及び下にある高レベル・マップ構造１６０は、両方とも、スクロール、ドラッグ・アンド・ドロップ・マウス技法、左右矢印キーボード入力、または、現在一般に利用されているか、または、今後利用されることになる、スクロール・バーを移動させるための他の手段を介して、個別に移動させることも可能である。
【００５１】
もう１つの実施態様では、高レベル・マップ構造パネル１２０は、ズームイン及びズームアウト機能を含むことも可能である。この機能は、オペレータがさまざまな解像度レベルでテストフロー・マップ全体を表示できるようにする。解像度レベルは、高レベル・マップ構造パネル１２０にテストフロー・マップ全体を表示する最低解像度レベルから、より一層多くの構造上の詳細及び／または読み取り可能な詳細を表示するが、高レベル・マップ構造パネル１２０内に高レベル・マップ構造１６０全体を表示することはできないより高い解像度までが好ましい。この実施態様の場合、パニング・ウィンドウ１３０は、高レベル・マップ構造パネル１２０に表示される高レベル・マップ構造１６０の問題となる領域を包囲するため、ドラッグ・アンド・ドロップ・マウス技法、スクロール、左右矢印キーボード入力、または、現在一般に利用されているか、または、今後利用されることになる、スクロール・バーを移動させるための他の手段を介して移動可能である。
【００５２】
オプションにより、パニング・ウィンドウの機能は、切換え可能にオン／オフすることが可能である。実施態様の１つでは、パニング・ウィンドウ機能は、メニューの副項目オプションを選択することによって切換え可能にオン／オフされる。実施態様の１つでは、図９に例示のように、パニング・ウィンドウ・オプションは、ツール・バー１４０上のビュー・メニュー１４２の選択可能副項目１４４として提示される。こうしたオプションが利用可能である場合、パニング・ウィンドウ・オプションを選択すると、ウィンドウ１００が、図７、図８、及び、図９に例示のように、パニング・ウィンドウ１３０及び対応する詳細部分構造パネル１１０を備えた高レベル・マップ構造パネル１２０を含む分割スクリーン・フォーマットに更新される。パニング・ウィンドウ・オプションが選択解除されると、ウィンドウは、例えば、図６に例示のように、マップ構造１６０の全てまたは一部を表示する単一マップ構造パネルを表示するように更新することが可能である。
【００５３】
図１０は、ＧＵＩ８に提示されたパニング・ウィンドウ機能を実施するための方法の一例２００を例示した流れ図である。この実施態様の場合、条件、試験スイート、及び、ビンのようなテストフロー情報を納めたファイル受信して、解析し（ステップ２０１）、テストフローを表わすテストフロー・コンポーネント・データ構造が生成される（ステップ２０２）。高レベル・マップ構造パネル１２０に描画される可能性のある、テストフロー・マップ構造における各テストフロー・コンポーネント・データ構造に対応するＧＵＩ要素が生成される（２０３）。次に、方法２００は、各ＧＵＩ要素の処理を開始する。この方法では、まだ処理されないでいるＧＵＩ要素があるか否かの判定が行われる（ステップ２０４）。もしあれば、この方法では、次のＧＵＩ要素の位置及びサイズを計算し（ステップ２０５）、テストフロー・マップ構造における各ＧＵＩ要素、テストフロー・マップ構造内における各ＧＵＩ要素の相対位置、及び、全てのＧＵＩ要素を表示するのに必要な全体サイズを含むテストフロー・マップ・データ構造にそれを追加する（ステップ２０６）。ステップ２０４〜２０６は、ステップ２０３で生成された全てのＧＵＩ要素が処理されるまで繰り返される。方法２００では、次に、テストフロー・マップ・データ構造に含まれる全てのＧＵＩ要素を表示するのに必要な全体サイズが、現在表示されている高レベル・マップ構造パネル１２０のサイズより大きいか否かの判定が行われる（ステップ２０７）。テストフロー・マップ・データ構造に含まれる全てのＧＵＩ要素を表示するのに必要な全体サイズが、現在表示されている高レベル・マップ構造パネル１２０のサイズ以下であれば（すなわち、描画されるテストフロー・マップ構造全体が、高レベル・マップ構造パネル１２０内にうまく納まる場合）、パネル１２０が、表示画面上に描画（又は再描画）され、テストフロー・マップ・データ構造に含まれる全てのＧＵＩ要素が表示される（ステップ２１０）。テストフロー・マップ・データ構造に含まれる全てのＧＵＩ要素を表示するのに必要な全体サイズが、現在表示されている高レベル・マップ構造パネル１２０のサイズを超えると（すなわち、描画されるテストフロー・マップ構造全体が、高レベル・マップ構造パネル１２０内に納まらない場合）、方法２００では、高レベル・マップ構造パネル１２０に表示されるテストフロー・マップ・データ構造に含まれるＧＵＩ要素の一部を計算し（例えば、各ＧＵＩ毎に、それぞれ、描画すべきか否かを指示するフラグを立てることによって）（ステップ２０８）、高レベル・マップ構造パネル１２０のスクロール・バーを起動して、描画する（ステップ２０９）。次に、パネル１２０が表示画面上に描画され（または再描画され）、テストフロー・マップ・データ構造に含まれる全てのＧＵＩ要素が表示される（ステップ２１０）。方法２００では、次に、テストフロー・マップ・データ構造内のＧＵＩ要素のうちのどれが、パニング・ウィンドウ１３０内にあるかが確認され（ステップ２１１）、その後、確認されたＧＵＩ要素が詳細部分構造パネル１１０に描画または再描画される（ステップ２１２）。
【００５４】
図６〜図１０に関連して上述のパニング・ウィンドウ・インタフェースは、後述するさまざまな機能によってさらに向上させることが可能である。第１の強化は、探索機能（search capability）と、少なくとも高レベル・マップ構造パネル１２０において、できれば、詳細部分構造パネル１１０においても強調表示されるアイコンとの組み合わせである。このために、図６〜図９に示す高レベル・マップ構造パネル１２０から明らかなように、パニング・ウィンドウ１３０内に配置されたアイコンは、小さすぎて、マップ構造１６０のセクション（この場合、テストフロー）の識別を助けることが可能なテキスト情報またはグラフィカル情報を提示することができない可能性がある。パニング・ウィンドウ１３０内に含まれるマップ構造１６０の一部に関するテキスト情報またはグラフィカル情報は、詳細部分構造パネル１１０内に現れるが、いくつかの応用例では、信頼できる効率の良いやり方で、マップ構造１６０の特定の領域またはマップ構造１６０内のアイコンを見つける能力が役立つ場合もあり得る。例えば、例示の実施態様の場合、マップ構造１６０は、数百の試験スイートを含むテストフローのマップ構造である。オペレータにとっては、特定の試験スイートまたは不合格ビン番号をすばやく見つけることが役立つ可能性がある。パニング・ウィンドウ・インタフェースは、従って、探索機能と強調表示機能を組み合わせることによって、すなわち、オペレータが、探索基準（例えば、試験スイートの名前または問題となる不合格ビンの識別子のような）を入力して、パニング・ウィンドウ・インタフェースに、探索基準に一致する高レベル・マップ構造パネル１２０のマップ構造１６０における各特定の試験スイートまたは不合格ビンを強調表示させる能力を付与することによって、強化することが可能である。オペレータは、従って、特定の試験スイートまたは不合格ビンがマップ構造１６０内のどこに配置されているかを突き止めて、強調表示される試験スイートまたは不合格ビンを含んでいるマップ構造１６０の部分の上にパニング・ウィンドウ１３０を位置決めし、その後、選択された強調表示される試験スイートまたは不合格ビンを含んでいるマップ構造１６０の選択部分に関するより詳細な図を見ることが可能になる。
【００５５】
本発明に対する探索及び強調表示による向上は、いくつかある方法の１つによってパニング・ウィンドウ・インタフェースで実施することが可能である。ある例では、強調表示をウィンドウ・インタフェースの探索エンジンに関連づけることが可能である。従って、メイン・ツールバーの探索メニュー項目が選択され、オペレータが探索基準を入力すると、高レベル・マップ構造パネル１２０に表示されるアイコンのどれかに、探索結果との一致が含まれている場合、パニング・ウィンドウ・インタフェースは、そのパネルの対応するアイコンを強調表示して、オペレータがそれらをより綿密に確認できるようにする（結果としてポップアップ・ウィンドウになる、高レベル・マップ構造パネル１２０から直接強調表示アイコンを選択するか、または、問題となる強調表示アイコンの上でパニング・ウィンドウ１３０を移動させて、パニング・ウィンドウ１３０に含まれるマップ構造１６０の一部によって詳細部分構造パネル１１０を更新することによって）。
【００５６】
探索及び強調表示機能を実施するための代替方法は、ツールバー内のメニュー項目とウィンドウ内の個別パネルのいずれかとして、強調表示選択メニューを含むことである。図１１には、高レベル・マップ構造パネル１２０及び詳細部分構造パネル１１０を備える、分割スクリーン・パニング・ウィンドウ・インタフェースを含むウィンドウ２００を例示した、この最後の実施態様が示されている。このウィンドウ２００には、オペレータが、高レベル・マップ構造パネル１２０にマップ構造１６０に関する視覚的相関情報を生成するために利用することが可能な、事前定義基準リストを提供する強調表示選択パネル２１０も含まれている。その最も単純な実施態様の場合、強調表示色は１つだけしか用いられない、従って、１つの探索基準だけしか選択できないか、あるいは、代わりに、複数の探索基準を選択することができるが、ある選択された基準に対応する、高レベル・マップ構造パネル１２０内のマップ構造１６０に生じる強調表示と、任意の他の選択された基準に対応する、高レベル・マップ構造パネル１２０内のマップ構造１６０に生じる強調表示とが視覚的に区別されないことになる。
【００５７】
より高度な実施態様の場合、探索及び強調表示機能によって、ある探索基準が選択されることによって生じる強調表示が、他の探索基準が選択されることによって生じる強調表示から視覚的に区別される。強調表示の区別は、異なる色、異なる線の太さまたはパターン、または、当該技術において既知の他のこうした視覚的区別技法を用いて実施することが可能である。例えば、図１２を参照すると、強調表示選択パネル２１０において、２つの異なる基準が選択される。例示のように、「試験機能」基準、及び、ドロップ・ダウン・リストから番号「１２３」が選択される「ビン＃」基準が、選択される。強調表示選択パネルにおいて選択された探索基準と一致する高レベル・マップ構造パネル１２０及び詳細部分構造パネル１１０内のアイコンが、強調表示され、強調表示選択基準は、異なる色、すなわち、赤と緑を用いて区別される。この例の場合、「試験機能」基準と一致するアイコンは、緑で強調表示され、「ビン＃１２３」基準と一致するアイコンは、赤で強調表示される。（図１２に示す赤及び緑の点線ボックス及び線は、本特許のために、選択基準及び強調表示アイコンの強調表示色を表わすために設けられており、実際には、ウィンドウ２００の内容の一部ではないし、あるいは、実際の操作中にディスプレイ・モニタによって表示されるものでもない）。この実施態様の場合、選択基準は、マップ構造１６０における対応する強調表示色に統一して着色される。
【００５８】
代わりに、線の太さまたはパターンを利用して、選択基準に関して強調表示アイコンが区別される場合、オペレータが、選択された基準とそれぞれの強調表示アイコンを視覚的に相関させることができるように、キーを提示するのが望ましい。
【００５９】
図１３は、本発明のパニング・ウィンドウ・インタフェースにおいて探索及び強調表示機能を実施するための方法の一例３００を例示した流れ図である。例示のように、方法３００では、例えば、図１１及び図１２の強調表示選択メニュー２１０を介してユーザが入力した、テストフロー構造データ構造の検索（ステップ３０１）、及び、探索基準を含む探索基準データ構造の検索（ステップ３０２）を実施する。方法３００では、次に、テストフロー構造データ構造の各ＧＵＩ要素を処理して、探索基準を満たすか否かの判定を行う。このために、方法３００では、テストフロー構造データ構造に残りのＧＵＩ要素が存在するか否かの判定を行う（ステップ３０３）。存在する場合、方法３００では、次に処理すべきＧＵＩ要素を選択して、検索し（ステップ３０４）、さらに、選択されたＧＵＩ要素を探索して、それに探索基準が含まれているか否かの判定を行う（ステップ３０５）。含まれている場合、方法３００では、強調表示に備えてその選択されたＧＵＩ要素にマーキングを施す（ステップ３０６）。ステップ３０３〜ステップ３０６は、テストフロー構造データ構造内の全てのＧＵＩ要素が処理されるまで、繰り返される。方法３００では、次に、高レベル・マップ構造パネル１２０における強調表示に備えてマーキングされたＧＵＩ要素を再描画し（ステップ３０７）、詳細部分構造パネル１１０における強調表示に備えてマーキングされたＧＵＩ要素を再描画する（ステップ３０８）。
【００６０】
パニング・ウィンドウ・インタフェースに探索及び強調表示機能を付加することによって、インタフェースの効用が改善されるのは明らかである。探索及び強調表示機能によって、表示されるマップ構造１６０に探索基準に合致するアイコンの全ての事例が視覚的に示されるので、オペレータは、探索事例をより迅速に突き止めることが可能になる。例えば、オペレータが、強調表示選択パネルの「変数１」選択基準に変数名を入力するものと仮定する。高レベル・マップ構造パネル１２０及び詳細部分構造パネル１１０に結果生じる強調表示された画像は、この変数を用いる全ての試験スイートアイコン（及び他のアイコン）を表示する。これによって、経験をつんだオペレータには、変数の誤った使用法がすぐに明らかになり、問題をすばやく補正することが可能になる。さらに、とりわけ、複数探索基準が同時に認められる場合、明敏なオペレータであれば、提示される情報から見解及び結論をより容易に導き出すことが可能になる。
【００６１】
本発明のこの望ましい実施態様は、例証のために開示されたものであるが、当該技術者には明らかなように、付属の請求項に開示された本発明の範囲及び理念を逸脱することなく、さまざまな変更、追加、及び、置換が可能である。例えば、云うまでもないが、明細書と請求項の両方において用いられている「ウィンドウ」または「パネル」という用語には、オペレータに画像を表示するディスプレイ・モニタの表示画面の任意の規定セクションまたは領域が含まれており、本明細書において既知のまたは今後開発されるさまざまな用語は、この定義に当てはまるものとする。従って、この定義を満たすいかなる要素または装置も、これらの用語の意味内に含まれるように意図されている。また、現在開示されている発明の他の利点または用途については、時間と共に明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】自動プリント回路アセンブリ試験システムの斜視図である。
【図２】図１の試験システムにおけるＧＵＩとＤＵＴとの間におけるコンポーネント相互関係を例示したブロック図である。
【図３】本発明の実施形態においてテストフロー・マップ構造の作成に用いられる図１のテスト・エディタの機能図である。
【図４】図３のテスト・エディタによって生成される単一試験スイートを表わしたグラフィカル部分構造例を示す構造図である。
【図５】本発明の実施形態において、テストフロー・ソフトウェアによって生成することが可能なテストフロー・マップ構造例の構造図である。
【図６】テスト・マップ構造を表わした先行技術によるＧＵＩウィンドウの一例を示す図である。
【図７】本発明のパニング・ウィンドウ・インタフェースを利用してテスト・マップ構造を提示するＧＵＩウィンドウの一例を示す図である。
【図８】パニング・ウィンドウの第１の位置から第２の位置への再位置決めを例示した、図７のＧＵＩウィンドウを示す図である。
【図９】ドロップ・ダウン選択可能メニュー項目の形態をなすパニング・ウィンドウ・インタフェースをオン／オフするためのグラフィカル・スイッチを例示した、図７及び図８のＧＵＩウィンドウを示す図である。
【図１０】図７、図８、及び、図９のＧＵＩに提示されるパニング・ウィンドウ機能を実施するための方法の一例を示す流れ図である。
【図１１】強調表示機能によって強化された本発明のパニング・ウィンドウ・インタフェースを用いて、テスト・マップ構造を提示するＧＵＩウィンドウの一例を示す図である。
【図１２】探索及び強調表示機能を備えた本発明のパニング・ウィンドウ・インタフェースを用いて、テスト・マップ構造を提示するＧＵＩの一例を示す図である。
【図１３】図１２のＧＵＩに提示される探索及び強調表示機能を実施するための方法の一例を示す流れ図である。
【符号の説明】
【００６３】
６  表示画面
８、１００  ＧＵＩ
１１０  詳細部分構造パネル
１２０  高レベル・マップ構造パネル
１３０  パニング・ウィンドウ
１６０  マップ構造
２００  ＧＵＩ
２１０  強調表示機能
【図１】
2005235202.tif 000003
【図２】
2005235202.tif 000004
【図３】
2005235202.tif 000005
【図４】
2005235202.tif 000006
【図５】
2005235202.tif 000007
【図６】
2005235202.tif 000008
【図７】
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【図８】
2005235202.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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