(57)【要約】【課題】  単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割してファインダ光学系および測光手段へ導くことで、測定時と同じ受光光学系を使用して測定対象をファインダで確認できる単眼式の測光装置において、測定作業を簡略化し、測定効率を向上する。【解決手段】  ファインダ接眼部５６からの逆入光を防止するためにファインダ光学系５３に介設されるシャッタ５７を、外光モニタセンサ６２で検知された前記逆入光のレベルが許容閾値を超えるか否かに応じて、ファインダ制御回路６０が開閉制御する。したがって、前記逆入光による影響を受けることなく、輝度を正確に測定できる。また、そのような正確な測定を実現するためのシャッタ５７を、操作者が測定の都度開閉操作する必要はなく、測定作業を簡略化し、測定効率を向上することができるとともに、測定に影響のある場合にのみシャッタ５７が遮蔽するので、手持ちでの測定の機会を増やすこともできる。【選択図】      図１
2005221651.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くようにした測光装置において、
前記ファインダ光学系に介設されるシャッタ手段と、
ファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段と、
前記検知手段からの出力に応答し、測定を行う際に、前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると前記シャッタ手段を遮蔽し、前記ファインダ光学系の光路を遮断する制御手段とを含むことを特徴とする測光装置。
【請求項２】
単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くようにした測光装置において、
前記ファインダ光学系に介設されるシャッタ手段と、
ファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段と、
前記検知手段からの出力に応答し、測定を行う際に、前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると、前記シャッタ手段の遮蔽を促す報知出力を出力する報知手段とを含むことを特徴とする測光装置。
【請求項３】
前記検知手段は、前記ファインダ接眼部と前記シャッタ手段との間に介設されることを特徴とする請求項１または２記載の測光装置。
【請求項４】
前記ファインダ光学系には、入射光の一部を透過する半透過鏡を有し、
前記検知手段は、前記半透過鏡の背後側で、前記ファインダ光学系の光軸上に配置されることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の測光装置。
【請求項５】
前記検知手段には、前記ファインダ接眼部方向を指向方向とし、前記受光光学系からの入射光を遮蔽する遮蔽手段がさらに設けられていることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の測光装置。
【請求項６】
前記測光手段によって、本測定を行う前に予備測定を行い、前記制御手段は、その予備測定の結果に基づいて、前記予め定めるレベルを設定することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の測光装置。
【請求項７】
前記測光手段によって、本測定を行う前に予備測定を行い、前記制御手段は、その予備測定の結果に基づいて、前記本測定を行う際の前記測光手段のゲインおよび／または積分時間を設定するとともに、その設定されたゲインおよび／または積分時間毎に、前記予め定めるレベルを設定することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の測光装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入射光の輝度や彩度などを測定する測光装置に関し、特に単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くことで、測定に使用するのと同じ受光光学系を使用して、測定対象をファインダで確認できるようにした、プリチャード方式と称される単眼式の測光装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
前記プリチャード方式の測光装置は、測定対象までの距離などに拘わりなく、操作者がファインダで覗いて位置決めした測定対象を、スポット測光することができる。図４は、典型的な従来技術の測光装置である分光輝度計１（分光強度測定装置）の概略構成を示す断面図である。測定対象２の被測定域３からの放射光（光束）３ａおよびその周辺域４からの放射光（光束）４ａは、単一の受光光学系５に入射し、光束分割手段である測定域規制反射鏡６上に像７を作って収束する。
【０００３】
前記測定域規制反射鏡６の中心部には開口６ａが形成されており、前記像７の内、前記被測定域３からの放射光３ａはその開口６ａを通過し、リレー光学系８によって分光手段１０の入射開口１１に再収束する。前記分光手段１０は、結像光学系１２、回折格子１３およびセンサアレイ１４を備えて構成されており、前記入射開口１１を通過した放射光３ａの波長分散像を前記センサアレイ１４上に作成し、各波長毎の強度レベルを表す信号を出力する。
【０００４】
これに対して、前記像７の内、前記開口６ａを通過できなかった周辺域４からの放射光４ａは、前記測定域規制反射鏡６の周辺部６ｂで反射されて、ファインダ光学系２０へ向かう。前記ファインダ光学系２０では、前記放射光４ａは、平面鏡２１で全反射され、ファインダリレー光学系２２によって、前記像７のリレー像２４を作る。操作者２５は、接眼部２６からファインダ接眼光学系２３を通して前記リレー像２４を確認することができる。こうして、単一の受光光学系５を用いて、測定対象２の被測定域３を、距離などによるずれなく、確認できるようになっている。
【０００５】
一方、前記ファインダ光学系２０から入射した逆入光は、いくつかの経路を経て分光手段１０に入射する。被測定域３からの放射光３ａのレベルが小さいと、ノイズとなるその逆入光の影響が大きくなり、測定結果に誤差を生じることになる。このため、前記ファインダリレー光学系２２とファインダ接眼光学系２３との間には、特許文献１で示すようなシャッタ２７が設けられており、このシャッタ２７を閉じて測定を行うことで、前記分光手段１０で正確な測定が行われるようになっている。
【特許文献１】実開昭６２−１２１３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述の従来技術では、シャッタ２７を閉じることで、輝度や彩度などを、前記逆入光による影響を受けることなく、正確に測定することができる。
【０００７】
しかしながら、測定の際には、操作者は、シャッタ２７を開いた状態でファインダを覗いて測定対象２の位置決めを行い、シャッタ２７を閉じて測定を行い、再びシャッタ２７を開いて位置ずれが生じていないかを確認する必要がある。位置ずれが生じていると、再び位置決めを行い、測定を行わなければならない。
【０００８】
したがって、放射光３ａが大きく、測定結果に前記逆入光が影響しないような、余程明るい場所でしか、シャッタ２７を開いて測定を行う、すなわちファインダを覗いたままでの測定を行うことができず、それ以外の場合には、測定対象２が位置ずれしないように、三脚を使用する必要があり、前記シャッタ２７の開閉操作とともに、測定が非常に煩わしいものであった。
【０００９】
本発明の目的は、測定作業を簡略化し、測定効率を向上することができるとともに、手持ちでの測定の幅を広げることができる測光装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の測光装置は、単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くようにした測光装置において、前記ファインダ光学系に介設されるシャッタ手段と、ファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段と、前記検知手段からの出力に応答し、測定を行う際に、前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると前記シャッタ手段を遮蔽し、前記ファインダ光学系の光路を遮断する制御手段とを含むことを特徴とする。
【００１１】
上記の構成によれば、単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くことで、測定に使用するのと同じ受光光学系を使用して、測定対象をファインダで確認できるようにした、プリチャード方式と称される単眼式の測光装置において、前記ファインダ光学系にシャッタ手段を介設し、かつファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段を設けるとともに、測定を行う際に、前記検知手段で検知された前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると前記シャッタ手段を遮蔽し、前記ファインダ光学系の光路を遮断する制御手段を設ける。逆入光に対する前記予め定めるレベルは、たとえば最低輝度域（最大ゲイン）の測定時に影響が生じ始めるレベルや、設定されている各輝度域において影響が生じ始めるレベル等に選ばれ、すなわちそのレベルを超えると測定に影響が生じるレベルとされる。
【００１２】
したがって、輝度や彩度などを、前記逆入光による影響を受けることなく、正確に測定することができる。また、そのような正確な測定を実現するためのシャッタ手段を、操作者が測定の都度開閉操作する必要はなく、測定作業を簡略化し、測定効率を向上することができるとともに、測定に影響のある場合にのみシャッタ手段が遮蔽するので、手持ちでの測定の幅を広げる（手持ちでの測定の機会を増やす）こともできる。
【００１３】
また、本発明の測光装置は、単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くようにした測光装置において、前記ファインダ光学系に介設されるシャッタ手段と、ファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段と、前記検知手段からの出力に応答し、測定を行う際に、前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると、前記シャッタ手段の遮蔽を促す報知出力を出力する報知手段とを含むことを特徴とする。
【００１４】
上記の構成によれば、単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くことで、測定に使用するのと同じ受光光学系を使用して、測定対象をファインダで確認できるようにした、プリチャード方式と称される単眼式の測光装置において、前記ファインダ光学系にシャッタ手段を介設し、かつファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段を設けるとともに、測定を行う際に、前記検知手段で検知された前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると、操作者に、前記シャッタ手段の遮蔽を促す報知出力を出力する報知手段を設ける。逆入光に対する前記予め定めるレベルは、たとえば最低輝度域（最大ゲイン）の測定時に影響が生じ始めるレベルや、設定されている各輝度域において影響が生じ始めるレベル等に選ばれ、すなわちそのレベルを超えると測定に影響が生じるレベルとされる。
【００１５】
したがって、輝度や彩度などを、前記逆入光による影響を受けることなく、正確に測定することができる。また、そのような正確な測定を実現するためのシャッタ手段を、操作者は測定に影響のあるときにだけ遮蔽操作すればよく、測定作業を簡略化し、測定効率を向上することができるとともに、手持ちでの測定の幅を広げる（手持ちでの測定の機会を増やす）こともできる。
【００１６】
さらにまた、本発明の測光装置では、前記検知手段は、前記ファインダ接眼部と前記シャッタ手段との間に介設されることを特徴とする。
【００１７】
上記の構成によれば、操作者がファインダ接眼部から一旦眼を離し、制御手段が前記逆入光によって測定に影響が生じると判定してシャッタ手段を遮蔽しても、ファインダ接眼部からの逆入光は検知手段に入力され続けており、操作者が測定にあたって再びファインダ接眼部に眼を着けて前記逆入光がなくなると、制御手段はシャッタ手段を開放し、測定対象の確認が可能になる。
【００１８】
したがって、不所望なシャッタ手段の遮蔽を抑え、操作性を一層向上することができる。
【００１９】
また、本発明の測光装置では、前記ファインダ光学系には、入射光の一部を透過する半透過鏡を有し、前記検知手段は、前記半透過鏡の背後側で、前記ファインダ光学系の光軸上に配置されることを特徴とする。
【００２０】
上記の構成によれば、測光手段とファインダ接眼部との相互の配置位置関係などによって、反射鏡を用いて、ファインダ光学系を屈曲形成するにあたって、前記反射鏡を半透過鏡として入射光の一部を透過させ、その背後側で、ファインダ光学系の光軸上に設けた検知手段で逆入光を検知することで、該半透過鏡で反射した後、光束分割手段を通過し、測光手段へ入射してしまう逆入光を検知することができる。また、検知手段を半透過鏡から離間して配置することで、前記受光光学系からの入射光が該検知手段に入射することを防止することができる。
【００２１】
さらにまた、本発明の測光装置では、前記検知手段には、前記ファインダ接眼部方向を指向方向とし、前記受光光学系からの入射光を遮蔽する遮蔽手段がさらに設けられていることを特徴とする。
【００２２】
上記の構成によれば、検知手段にも、受光光学系からの入射光が入射する可能性があるので、前記受光光学系からの入射光を遮蔽するために、ファインダ接眼部方向を指向方向とし、受光素子に被せられる筒状のフードなどから成る遮蔽手段をさらに該検知手段に設けることで、前記逆入光のレベルを正確に検知することができる。
【００２３】
また、本発明の測光装置では、前記測光手段によって、本測定を行う前に予備測定を行い、前記制御手段は、その予備測定の結果に基づいて、前記予め定めるレベルを設定することを特徴とする。
【００２４】
上記の構成によれば、シャッタ手段を制御する基準となる前記予め定めるレベルを、前記測光手段によって予備測定を行って決定する。
【００２５】
したがって、測定対象の輝度レベルや照度レベルによって、ファインダ接眼部からの逆入光による影響度合いが変化しても、それに正確に対応して、シャッタ手段の制御のための前記予め定めるレベルを設定することができる。これによって、測定精度の低下を招くことなく、シャッタ手段を遮蔽する割合を少なくし、ファインダから測定対象を覗いての測定頻度を高くすることができる。
【００２６】
さらにまた、本発明の測光装置では、前記測光手段によって、本測定を行う前に予備測定を行い、前記制御手段は、その予備測定の結果に基づいて、前記本測定を行う際の前記測光手段のゲインおよび／または積分時間を設定するとともに、その設定されたゲインおよび／または積分時間毎に、前記予め定めるレベルを設定することを特徴とする。
【００２７】
上記の構成によれば、シャッタ手段を制御する基準となる前記予め定めるレベルを、前記測光手段によって予備測定を行って決定した測光手段のゲインおよび／または積分時間毎に対応して決定する。
【００２８】
したがって、測定対象の輝度レベルや照度レベルによって、ファインダ接眼部からの逆入光による影響度合いが変化しても、それに正確に対応して、シャッタ手段の制御のための前記予め定めるレベルを設定することができる。これによって、測定精度の低下を招くことなく、シャッタ手段を遮蔽する割合を少なくし、ファインダから測定対象を覗いての測定頻度を高くすることができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明の測光装置は、以上のように、単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くことで、測定に使用するのと同じ受光光学系を使用して、測定対象をファインダで確認できるようにした、プリチャード方式と称される単眼式の測光装置において、前記ファインダ光学系にシャッタ手段を介設し、かつファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段を設けるとともに、測定を行う際に、前記検知手段で検知された前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると前記シャッタ手段を遮蔽し、前記ファインダ光学系の光路を遮断する制御手段を設ける。
【００３０】
それゆえ、輝度や彩度などを、前記逆入光による影響を受けることなく、正確に測定することができる。また、そのような正確な測定を実現するためのシャッタ手段を、操作者が測定の都度開閉操作する必要はなく、測定作業を簡略化し、測定効率を向上することができるとともに、測定に影響のある場合にのみシャッタ手段が遮蔽するので、手持ちでの測定の幅を広げることもできる。
【００３１】
また、本発明の測光装置は、以上のように、単一の受光光学系から入射された光束を光束分割手段で分割して、ファインダ光学系および測光手段へ導くことで、測定に使用するのと同じ受光光学系を使用して、測定対象をファインダで確認できるようにした、プリチャード方式と称される単眼式の測光装置において、前記ファインダ光学系にシャッタ手段を介設し、かつファインダ接眼部からの逆入光のレベルを検知する検知手段を設けるとともに、測定を行う際に、前記検知手段で検知された前記逆入光のレベルが予め定めるレベル以上となると、操作者に、前記シャッタ手段の遮蔽を促す報知出力を出力する報知手段を設ける。
【００３２】
それゆえ、輝度や彩度などを、前記逆入光による影響を受けることなく、正確に測定することができる。また、そのような正確な測定を実現するためのシャッタ手段を、操作者は測定に影響のあるときにだけ遮蔽操作すればよく、測定作業を簡略化し、測定効率を向上することができるとともに、手持ちでの測定の幅を広げることもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
［実施の形態１］
図１は、本発明の実施の一形態の測光装置である分光輝度計３１（分光強度測定装置）の概略構成を示す断面図である。測定対象３２の被測定域３３からの放射光（光束）３３ａおよびその周辺域３４からの放射光（光束）３４ａは、単一の受光光学系３５に入射し、光束分割手段である測定域規制反射鏡３６上に像３７を作って収束する。
【００３４】
前記測定域規制反射鏡３６の中心部には開口３６ａが形成されており、前記像３７の内、前記被測定域３３からの放射光３３ａはその開口３６ａを通過し、リレー光学系３８によって分光手段４０の入射開口４１に再収束する。前記分光手段４１は、結像光学系４２、回折格子４３およびセンサアレイ４４を備えて構成されており、前記入射開口４１を通過した放射光３３ａの波長分散像を前記センサアレイ４４上に作成し、各波長毎の強度レベルを表す信号を出力する。前記センサアレイ４４からの出力は、信号処理回路４５で処理され、デジタル信号に変換されて、演算制御回路４６に与えられる。
【００３５】
前記分光手段４０の入射開口４１の直前にはシャッタ４７が介設されており、このシャッタ４７は、ソレノイドなどのアクチュエータ４８によって開閉制御され、非測定時や該分光輝度計３１の校正時には遮蔽され、測光時には開放される。前記アクチュエータ４８は、前記演算制御回路４６からの制御出力に応答して、駆動回路４９を介して駆動制御される。また、前記測定域規制反射鏡３６は、たとえば回転可能な円板の周方向に複数種類の孔径を有する前記開口３６ａが形成されており、その円板を回転することで、スポット測光域、すなわち前記被測定域３３の画角を、たとえば２°，１°，０．２°，０．１°の種類で切換えることができる。
【００３６】
これに対して、前記像３７の内、前記開口３６ａを通過できなかった周辺域３４からの放射光３４ａは、前記測定域規制反射鏡３６の周辺部３６ｂで反射されて、ファインダ光学系５０へ向かう。前記ファインダ光学系５０では、前記放射光３４ａは、平面鏡５１で全反射され、ファインダリレー光学系５２によって、前記像３７のリレー像５４を作る。操作者５５は、接眼部５６からファインダ接眼光学系５３を通して前記リレー像５４を確認することができる。このとき、前記リレー像５４において、被測定域３３に対応する前記測定域規制反射鏡３６の開口３６ａ部分が欠落するので、該被測定域３３を確認することができる。こうして、単一の受光光学系３５を用いて、測定対象３２の被測定域３３を、距離などによるずれなく、確認できるようになっている。
【００３７】
一方、前記ファインダ光学系５０から入射した逆入光は、いくつかの経路を経て分光手段４０に入射する。被測定域３３からの放射光３３ａのレベルが小さいと、ノイズとなるその逆入光の影響が大きくなり、測定結果に誤差を生じることになる。このため、前記ファインダリレー光学系５２とファインダ接眼光学系５３との間には、シャッタ５７が設けられており、このシャッタ５７を閉じて測定を行うことで、前記分光手段４０で正確な測定が行われるようになっている。
【００３８】
注目すべきは、本発明では、前記シャッタ５７は、ソレノイドなどのアクチュエータ５８によって開閉制御され、前記アクチュエータ５８は、ファインダ制御回路６０からの制御出力に応答して、駆動回路５１を介して駆動制御されることである。制御手段である前記ファインダ制御回路６０は、前記ファインダ光学系５３に設けられた外光モニタセンサ６２によって検知されたファインダ逆入光レベルが、前記被測定域３３からの放射光３３ａの測定に影響を与えるか否かから、後述するように前記シャッタ５７の開閉を制御する。
【００３９】
前記外光モニタセンサ６２は、前記ファインダの接眼部５６と前記シャッタ５７との間に介設される。そして、この外光モニタセンサ６２には、前記接眼部５６方向を指向方向とし、前記受光光学系３５からの入射光を遮蔽する筒状のフード６３が設けられている。
【００４０】
前記外光モニタセンサ６２からの出力は、モニタ信号処理回路６４において増幅等の信号処理が施されて外光信号Ｎとなり、前記ファインダ制御回路６０内のコンパレータ６５の一方の入力に与えられる。このコンパレータ６５の他方の入力には、前記演算制御回路４６からのデジタルの許容値データＳｄが、デジタル／アナログ変換回路６６にてアナログの許容値信号Ｓに変換されて入力されている。コンパレータ６５は、前記外光信号Ｎのレベルが許容値信号Ｓのレベル未満である場合にはハイレベルを出力し、その出力はＡＮＤゲート６７を介して前記駆動回路６１に与えられ、アクチュエータ５８によってシャッタ５７が開放され、ファインダでの被測定域３３の確認が可能になる。
【００４１】
これに対して、前記外光信号Ｎのレベルが許容値信号Ｓのレベル以上となる場合には、コンパレータ６５はローレベルを出力し、その出力はＡＮＤゲート６７を介して前記駆動回路６１に与えられ、アクチュエータ５８によってシャッタ５７が遮蔽され、ファインダでの被測定域３３の確認が不可能になるけれども、前記ファインダからの逆入光による分光手段４０での測定への影響を無くすことができる。
【００４２】
ところで、前記コンパレータ６５の出力はＡＮＤゲート６７の一方の入力に与えられており、このＡＮＤゲート６７の他方の入力には手動操作スイッチ６８からの出力が与えられる。手動操作スイッチ６８の一方の入力は論理１、たとえばハイレベルを表し、他方の
入力は論理０、たとえばローレベルを表す。したがって、操作者の操作によって、該手動操作スイッチ６８が、通常状態である論理１に選択されている場合には、前記ＡＮＤゲート６７の出力はコンパレータ６５の出力に対応したものとなってシャッタ５７は開閉制御され、強制的な遮蔽状態である論理０に選択されている場合には、前記ＡＮＤゲート６７の出力はコンパレータ６５の出力に拘わらずローレベルとなり、シャッタ５７は遮蔽されたままとなる。
【００４３】
図２は、上述のように構成される分光輝度形３１の測定動作を説明するためのフローチャートである。前記演算制御回路４６は、測定に先立って、先ずステップＳ１で前記許容値データＳｄを最大値Ｓｄｍａｘにセットして、シャッタ５７を開放し、ファインダからの被測定域３３の確認を可能にしておく。次に、ステップＳ２において、シャッタ４７を遮蔽し、予め定める基準ゲイン、基準積分時間で測定を行う。すなわち、このステップＳ３では、光入力がない状態で、該分光手段４０で発生するオフセット成分を測定し、各波長λ毎にオフセット値ＯＳｏ（λ）として記憶される。
【００４４】
ステップＳ４では、シャッタ４７を開放し、前記被測定域３３からの放射光３３ａを通過させ、ステップＳ５で、分光手段４０によって、予め定める基準ゲイン、基準積分時間で測定を行う。すなわち、このステップＳ５は、本測定にあたっての予備測定となり、ステップＳ６で、その各波長λ毎の測定結果Ｄｏ（λ）から、前記オフセット値ＯＳｏ（λ）が減算されて、各波長λ毎の予備測定の分光強度Ｃｏ（λ）が求められる。ステップＳ７では、総ての波長の光強度Ｃｏ（λ）が積算され、光強度Ｃｏが求められる。
【００４５】
こうして予備測定が終了すると、ステップＳ８で、前記光強度Ｃｏから、予め設定・記憶された変換方式、たとえば予め定める係数Ｃｓが乗算されて前記許容値データＳｄが求められる。ステップＳ９では、その許容値データＳｄが出力され、ステップＳ１０では、前記ステップＳ６において、各波長λ毎に求められた予備測定での分光強度Ｃｏ（λ）から、測定に適したゲインおよび基準積分時間がそれぞれ設定され、ステップＳ１１で、被測定域３３からの放射光３３ａの本測定を行い、測定結果Ｄ（λ）が得られる。
【００４６】
ステップＳ１２では、前記シャッタ４７を再び遮蔽し、ステップＳ１３で、各波長λ毎のオフセット値ＯＳ（λ）を、同じゲインと積分時間で測定する。ステップＳ１４では、前記ステップＳ１１での各波長λ毎の測定結果Ｄ（λ）から、前記オフセット値ＯＳ（λ）が減算されて、各波長λ毎の本測定の分光強度Ｃ（λ）が求められる。ステップＳ１５では、演算制御回路４６は前記分光強度Ｃ（λ）を出力する。
【００４７】
本発明の分光輝度計３１は、以上のように、単一の受光光学系３５から入射された放射光３３ａ，３４ａを測定域規制反射鏡３６で分割して、ファインダ光学系５０および分光手段４０へ導くことで、測定に使用するのと同じ受光光学系３５を使用して、測定対象３２をファインダで確認できるようにした単眼式の分光輝度計において、前記ファインダ光学系５０にシャッタ５７を介設し、かつファインダ接眼部５６からの逆入光のレベルを検知する外光モニタセンサ６２を設けるとともに、測定を行う際に、前記外光モニタセンサ６２で検知された外光信号Ｎのレベルが許容値信号Ｓのレベル以上となると前記シャッタ５７を遮蔽し、前記ファインダ光学系５０の光路を遮断するファインダ制御回路６０を設けるので、前記放射光３３ａの分光強度を、前記逆入光による影響を受けることなく、正確に測定することができる。また、そのような正確な測定を実現するためのシャッタ５７を、操作者が測定の都度開閉操作する必要はなく、測定作業を簡略化し、測定効率を向上することができるとともに、操作者がファインダ接眼部５６から眼を離すなどして、測定に影響のある逆入光が入射した場合にのみ、ファインダ制御回路６０が瞬時にシャッタ５７を遮蔽するので、操作者は測定中も精度への影響を気にすることなく、測定対象３２を確認することができ、手持ちでの測定の幅を広げる（手持ちでの測定の機会を増やす）こともできる。
【００４８】
また、前記外光モニタセンサ６２を、ファインダ接眼部５６とシャッタ５７との間に介設するので、操作者がファインダ接眼部５６から一旦眼を離し、ファインダ制御回路６０が前記逆入光によって測定に影響が生じると判定してシャッタ５７を遮蔽しても、ファインダ接眼部５６からの逆入光は前記外光モニタセンサ６２に入力され続けており、操作者が測定にあたって再びファインダ接眼部５６に眼を着けて前記逆入光がなくなると、ファインダ制御回路６０はシャッタ５７を開放し、測定対象３２の確認が可能になるので、不所望なシャッタ５７の遮蔽を抑え、操作性を一層向上することができる。
【００４９】
さらにまた、前記外光モニタセンサ６２には、前記接眼部５６方向を指向方向とし、前記受光光学系３５からの入射光を遮蔽する筒状のフード６３が設けられているので、前記逆入光のレベルを正確に検知することができる。
【００５０】
また、本発明の分光輝度計３１では、前記分光手段４０によって、本測定を行う前に予備測定を行い、前記ファインダ制御回路６０は、その予備測定の結果に基づいて、前記本測定を行う際の前記分光手段４０のゲインおよび積分時間を設定する（ステップＳ１０）とともに、その設定されたゲインおよび積分時間に対応して、シャッタ５７を制御する基準となる前記許容値データＳｄを設定する（ステップＳ９）ので、測定対象３２の輝度レベルや照度レベルによって、ファインダ接眼部５６からの逆入光による影響度合いが変化しても、それに正確に対応して、前記許容値データＳｄを設定することができる。これによって、測定精度の低下を招くことなく、シャッタ５７を遮蔽する割合を少なく（必要最小限と）し、ファインダから測定対象３２を覗いての測定頻度を高くすることができる。
【００５１】
［実施の形態２］
図３は、本発明の実施の他の形態の測光装置である分光輝度計７１の構成を模式的に示す断面図である。この分光輝度計７１は、前述の分光輝度計３１に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、この分光輝度計７１では、分光手段４０とファインダ接眼部５６との相互の配置位置関係などによって、反射鏡７２を用いて、ファインダ光学系７０を屈曲形成するにあたって、前記反射鏡７２を半透過鏡として入射光の一部を透過させ、その背後側に前記外光モニタセンサ６２を設けて逆入光を検知することで、該反射鏡７２で反射した後、測定域規制反射鏡３６の開口３６ａを通過し、分光手段４０へ入射してしまう逆入光を検知していることである。また、前記外光モニタセンサ６２を反射鏡７２から離間して配置することで、前記受光光学系３５からの放射光３３ａが該外光モニタセンサ６２に入射することを防止することができる。前記反射鏡７２に代えて、中央に小孔を持つ部分透過鏡を用いる方式でもよく、同様の効果が得られる。
【００５２】
なお、特開２００２−２０２１９９号公報には、接眼センサによって接眼が検知されないときはスタンバイモードになる赤外線カメラが提案されているけれども、本発明は、ファインダ接眼部５６からの逆入光の量から接眼を検知し、接眼していないときは、分光手段４０での測定に影響を与える前記逆入光を遮断するものであり、その目的および構成が全く異なるものである。
【００５３】
また、本発明の実施のさらに他の形態として、シャッタ５７の開閉は手動操作とし、前記ファインダ制御回路６０は、逆入光のレベルが分光手段４０での測定に影響を与えるときに、ブザーなどで操作者へ報知し、遮蔽を促す報知手段に置換えられてもよい。
【００５４】
さらにまた、本発明の実施の他の形態として、前記モニタ信号処理回路６４を公知の対数変換回路で構成し、これに対応して演算制御回路４６も前記許容値データＳｄを対数変換して、外光信号Ｎおよび許容値信号Ｓを共に対数化すれば、広い測定レンジに対応することができる。また、測定対象３２の確認を、前記ファインダ接眼部５６に取付けたビデオカメラで行う場合には、ビデオカメラが前記逆入光を遮断するので、前記外光信号Ｎは０近くに抑えられ、シャッタ５７は開放したままとなり、測定中も測定対象３２を継続して確認し続けることができる。
【００５５】
また、上述の分光輝度計３１，７１では、ファインダ制御回路６０は分光手段４０で予備測定された放射光３３ａの強度を基に設定された許容値データＳｄを基準に、ファインダ接眼部５６からの逆入光が測定に影響を与えるか否かを判定し、シャッタ５７の開閉を制御しているけれども、本発明の実施のさらに他の形態として、許容値データＳｄを、センサアレイ４４からの出力を信号処理する信号処理回路４５のゲインおよび積分時間あるいはそれらの組合わせ毎に設定・記憶しておき、自動的あるいは手動で設定される前記ゲインおよび積分時間あるいはそれらの組合わせに対応する許容値を基準に、逆入光が測定に影響を与えるか否かを判定し、シャッタ５７の開閉を制御するようにしてもよい。前記積分時間の種類としては、たとえば０．１ｓ，０．５ｓ，１ｓ，５ｓ，１０ｓ，２０ｓなどである。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の実施の一形態の測光装置である分光輝度計の概略構成を示す断面図である。
【図２】図１で示す分光輝度形の測定動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】本発明の実施の他の形態の測光装置である分光輝度計の構成を模式的に示す断面図である。
【図４】典型的な従来技術の測光装置である分光輝度計の概略構成を示す断面図である。
【符号の説明】
【００５７】
３１，７１    分光輝度計（測光装置）
３２    測定対象
３３    被測定域
３２ａ，３４ａ    放射光
３４    周辺域
３５    受光光学系
３６    測定域規制反射鏡（光束分割手段）
３７    像
３８    リレー光学系
４０    分光手段
４２    結像光学系
４３    回折格子
４４    センサアレイ
４５    信号処理回路
４６    演算制御回路
４７    シャッタ
４８    アクチュエータ
４９    駆動回路
５０，７０    ファインダ光学系
５１    平面鏡
５２    ファインダリレー光学系
５３    ファインダ接眼光学系
５４    リレー像
５５    操作者
５６    接眼部
５７    シャッタ（シャッタ手段）
５８    アクチュエータ
６０    ファインダ制御回路（制御手段）
６２    外光モニタセンサ（検知手段）
６３    フード（遮蔽手段）
６４    モニタ信号処理回路
６５    コンパレータ
６６    デジタル／アナログ変換回路
６７    ＡＮＤゲート
６８    手動操作スイッチ
７２    平面鏡（半透過鏡）
【図１】
2005221651.tif 000003
【図２】
2005221651.tif 000004
【図３】
2005221651.tif 000005
【図４】
2005221651.tif 000006