(57)【要約】【課題】磁気テープにおける電磁変換特性についての測定結果の分析効率を向上させ得る電磁変換特性測定方法を提供する。【解決手段】磁気テープ１０の表面１０ａに対向している磁気ヘッド３１によって出力された出力信号に基づいて電磁変換特性を測定する際に、磁気テープ１０の幅方向における縁部の表面１０ａと磁気ヘッド３１における対向面との間の隙間の有無を検出し、電磁変換特性についての異常値を測定しかつ基準幅を超える隙間を検出したときに異常値の発生要因がその隙間によるスペーシングロスに起因していると特定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープの記録面に対向している磁気ヘッドによって出力された出力信号に基づいて電磁変換特性を測定する際に、
前記磁気テープの幅方向における縁部の前記記録面と前記磁気ヘッドにおける対向面との間の隙間の有無を検出し、前記電磁変換特性についての異常値を測定しかつ基準幅を超える前記隙間を検出したときに当該異常値の発生要因が当該隙間によるスペーシングロスに起因していると特定する電磁変換特性測定方法。
【請求項２】
前記磁気テープの前記縁部と基準位置との離間距離を測定し、当該測定した離間距離に基づいて前記隙間の有無を検出する請求項１記載の電磁変換特性測定方法。
【請求項３】
反射型の光センサで前記離間距離を測定する請求項２記載の電磁変換特性測定方法。
【請求項４】
磁気テープの記録面に対向している磁気ヘッドによって出力された出力信号に基づいて電磁変換特性を測定する電磁変換特性測定部と、前記磁気テープの幅方向における縁部の前記記録面と前記磁気ヘッドにおける対向面との間の隙間の有無を検出する検出部と、前記電磁変換特性測定部によって前記電磁変換特性についての異常値が測定されかつ前記検出部によって基準幅を超える前記隙間が検出されたときに当該異常値の発生要因が当該隙間によるスペーシングロスに起因していると特定する特定部とを備えている電磁変換特性測定装置。
【請求項５】
前記磁気テープの前記縁部と基準位置との離間距離を測定する距離測定部を備え、前記検出部は、前記測定された離間距離に基づいて前記隙間の有無を検出する請求項４記載の電磁変換特性測定装置。
【請求項６】
前記距離測定部は、前記離間距離を測定するための反射型の光センサを備えて構成されている請求項５記載の電磁変換特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気テープの電磁変換特性を測定する電磁変換特性測定方法および電磁変換特性測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
固定型（非回転型）の磁気ヘッドに接触させた磁気テープを長手方向に走行（移動）させるリニア方式でデータを記録再生可能な記録媒体として、例えば、ＬＴＯ(Linear Tape Open)規格に準拠したテープカートリッジが従来から知られている。また、この種のテープカートリッジに用いられる磁気テープの電磁変換特性を測定する測定装置として、例えば、特開２００３−６８４５号公報に開示された電磁変換特性測定機（以下、「測定機」ともいう）が知られている。この測定機は、ドライブ、記録／再生アンプ、記録／再生制御部および出力信号処理部等を備え、複数の種類の電磁変換特性（Ｓ／Ｎ比やＯ／Ｗ特性）を１回のテープ走行中に測定可能に構成されている。したがって、この測定機では、全体の測定時間を短縮することが可能となっている。
【特許文献１】特開特開２００３−６８４５号公報（第２−４頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、従来の測定機には、以下の問題点がある。すなわち、この測定機では、測定時間を短縮することが可能なものの、この測定機によって測定された電磁変換特性を分析するときに不都合が生じている。具体的には、大量のデータを短時間で記録再生するために、近年では、記録再生時における磁気テープの走行速度が高速で、かつ高速走行時においても安定したデータの記録再生が可能な高性能の磁気テープの開発が求められている。したがって、磁気テープの研究開発に際しては、磁気テープを高速走行させて電磁変換特性を測定し、例えば、測定値に異常値を発見したときにはその要因を突きとめて磁気テープの設計にフィードバックする必要がある。一方、発明者の実験により、磁気ヘッドに対向させた状態の磁気テープを所定の速度以上で（高速で）走行させたときには、磁気テープの幅方向の縁部（以下単に「縁部」ともいう）において捲れやばたつきが発生し、この捲れやばたつきに起因して縁部の記録面と磁気ヘッドの対向面とが互いに離間して両者の間に隙間が生じることが明らかとなった。また、両者の間に隙間が生じたときには、磁気ヘッドによる磁気テープからの磁束の捕捉が不十分となることに起因して記録信号の再生出力低下（スペーシングロス）が発生し、電磁変換特性（例えばビットエラーレート）が極端に悪化することも発明者の実験によって明らかとなった。しかしながら、従来の測定機が電磁変換特性を測定する機能しか有していないため、電磁変換特性についての異常値が測定されたとしても、その異常値の発生が既知の要因である上記のスペーシングロスによるものか、または未知の要因によるものかを区別するのが困難な結果、測定結果に対する分析効率の低さが問題となっている。
【０００４】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、磁気テープにおける電磁変換特性についての測定結果の分析効率を向上させ得る電磁変換特性測定方法および電磁変換特性測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく本発明に係る電磁変換特性測定方法は、磁気テープの記録面に対向している磁気ヘッドによって出力された出力信号に基づいて電磁変換特性を測定する際に、前記磁気テープの幅方向における縁部の前記記録面と前記磁気ヘッドにおける対向面との間の隙間の有無を検出し、前記電磁変換特性についての異常値を測定しかつ基準幅を超える前記隙間を検出したときに当該異常値の発生要因が当該隙間によるスペーシングロスに起因していると特定する。
【０００６】
この場合、前記磁気テープの前記縁部と基準位置との離間距離を測定し、当該測定した離間距離に基づいて前記隙間の有無を検出するのが好ましい。
【０００７】
また、反射型の光センサで前記離間距離を測定するのが好ましい。
【０００８】
また、本発明に係る電磁変換特性測定装置は、磁気テープの記録面に対向している磁気ヘッドによって出力された出力信号に基づいて電磁変換特性を測定する電磁変換特性測定部と、前記磁気テープの幅方向における縁部の前記記録面と前記磁気ヘッドにおける対向面との間の隙間の有無を検出する検出部と、前記電磁変換特性測定部によって前記電磁変換特性についての異常値が測定されかつ前記検出部によって基準幅を超える前記隙間が検出されたときに当該異常値の発生要因が当該隙間によるスペーシングロスに起因していると特定する特定部とを備えている。
【０００９】
この場合、前記磁気テープの前記縁部と基準位置との離間距離を測定する距離測定部を備え、前記検出部は、前記測定された離間距離に基づいて前記隙間の有無を検出するのが好ましい。
【００１０】
また、前記離間距離を測定するための反射型の光センサを備えて前記距離測定部を構成するのが好ましい。
【発明の効果】
【００１１】
本発明に係る電磁変換特性測定方法および電磁変換特性測定装置によれば、電磁変換特性についての異常値を測定しかつ磁気テープにおける縁部の記録面と磁気ヘッドにおける対向面との間において基準幅を超える隙間を検出したときに、その異常値の発生要因が隙間によるスペーシングロスに起因していると特定することにより、測定された異常値がスペーシングロスに起因するものであるか否かを確実かつ容易に判別することができる。したがって、測定結果の分析に際して、スペーシングロスに起因する異常値と、それ以外の異常値とを確実かつ迅速に区別することができる結果、測定結果の分析効率を十分に向上させることができる。
【００１２】
また、本発明に係る電磁変換特性測定方法および電磁変換特性測定装置によれば、磁気テープの縁部と基準位置との離間距離を測定し、その離間距離に基づいて隙間の有無を検出することにより、例えば、カメラを用いて磁気テープと磁気ヘッドとを撮像し、その撮像画像を画像処理して隙間の有無を検出する方法と比較して、隙間の有無を確実かつ容易に検出することができる。
【００１３】
また、本発明に係る電磁変換特性測定方法および電磁変換特性測定装置によれば、反射型の光センサで磁気テープの縁部と基準位置との離間距離を測定することにより、その離間距離を正確に測定することができる。したがって、スペーシングロスに起因する異常値の特定を正確に行うことができる。また、磁気テープにおける記録面およびその裏面のうちの一方側から測定用の光を照射することで離間距離を正確に測定することができるため、磁気テープを挟むようにして記録面側およびその裏面側にそれぞれ照射部および受光部の設置が必要な透過型の光センサとは異なり、例えば、磁気テープの記録面側における設置スペースの有無に拘わらず反射型の光センサを設置することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明に係る電磁変換特性測定方法および電磁変換特性測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１５】
最初に、電磁変換特性測定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１６】
電磁変換特性測定装置（以下、「測定装置」ともいう）１は、図１に示すように、テープ走行機構２、電磁変換特性測定部（以下、「特性測定部」ともいう）３、距離測定部４、制御部５、記憶部６、操作部７および表示部８を備え、本発明に係る電磁変換特性測定方法に従って磁気テープ１０についてのビットエラーレート（本発明における電磁変換特性の一例）を測定可能に構成されている。この場合、磁気テープ１０は、例えば、ＬＴＯ規格に準拠したテープカートリッジ等のリニア方式でデータを記録再生可能な情報記録媒体に用いられる磁気テープであって、一例として、支持体としてのベースフィルムと、ベースフィルムの表面１０ａ（本発明における記録面に相当する）に形成された非磁性層および磁性層と、ベースフィルムの裏面１０ｂに形成されたバックコート層とを備え、その厚みが１０μｍ程度で長さが６００ｍ程度に形成されている。なお、測定装置１の測定対象としては、磁気テープ１０に限定されず、各種磁気テープが含まれる。
【００１７】
テープ走行機構２は、図１に示すように、測定対象の磁気テープ１０が巻回された送り側リール２１ａと、特性測定部３による測定が完了した部分を巻き取る巻取り側リール２１ｂと、両リール２１ａ，２１ｂを回転させるモータ（図示せず）とを備え、操作部７の操作によって指定された速度（一例として、毎秒３ｍ〜５ｍ程度）で磁気テープ１０を長手方向（同図に示す矢印の向き）に走行（移動）させる。この場合、磁気テープ１０は、図２，３に示すように、ガイド２２ａ，２２ｂ、ローラ２３ａ，２３ｂおよび後述する特性測定部３の磁気ヘッド３１におけるそれぞれ対向面にその表面１０ａが当接（対向）させられると共に、図外のテンション機構によって所定のテンションが付与された状態で走行させられる。
【００１８】
特性測定部３は、図１に示すように、磁気ヘッド３１と信号処理回路３２とを備えてビットエラーレートを測定可能に構成されている。磁気ヘッド３１は、一例として、ＭＲ（Magneto Resistive）素子（図示せず）を備えたインダクティブヘッドであって、信号処理回路３２から出力される測定用データ（測定用信号）を磁気テープ１０に磁気的に書き込む。また、磁気ヘッド３１は、書き込んだ測定用データを磁気テープ１０から読み取って再生信号（出力信号）を出力する。この場合、磁気ヘッド３１は、図２，３に示すように、テープ走行機構２におけるガイド２２ａ，２２ｂの間に配設されている。信号処理回路３２は、制御部５の制御下で磁気ヘッド３１に対する測定用信号の出力を制御すると共に、磁気ヘッド３１から出力される再生信号を信号処理してビットエラーレートを演算し、エラーレートデータＤａを制御部５に出力する。
【００１９】
距離測定部４は、図１に示すように、距離センサ４１と演算回路４２とを備えて構成されている。距離センサ４１は、本発明における反射型の光センサの一例であって、図２，４に示すように、磁気ヘッド３１における対向面（ＭＲ素子が配置されている面であって図２における下側の面）に対向するようにして配設されて、制御部５の制御に従い、磁気ヘッド３１の対向面側に位置している磁気テープ１０の裏面１０ｂであって幅方向における一方の縁部（同図では下側の縁部、以下、この位置を「被測定部位」ともいう）と距離センサ４１の前面の位置（本発明における基準位置であって、以下、単に「距離センサ４１」と省略する）との離間距離Ｍ（図５参照）を特定可能な検出信号Ｓを演算回路４２に出力する。具体的には、距離センサ４１は、同図に示すように、半導体レーザ５１、投光レンズ５２、受光レンズ５３および受光素子５４を備えたレーザ変位計で構成されている。半導体レーザ５１は、レーザ光を射出し、投光レンズ５２は、半導体レーザ５１によって射出されたレーザ光を所定のスポット径のレーザービームＬに変換して磁気テープ１０の被測定部位に照射する。受光レンズ５３は、磁気テープ１０で反射されたレーザービームＬの反射光Ｒを集光する。受光素子５４は、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device ）で構成されて、受光レンズ５３によって集光された反射光Ｒを受光して検出信号Ｓを出力する。演算回路４２は、距離センサ４１から出力された検出信号Ｓに基づいて、距離センサ４１から磁気テープ１０の被測定部位までの離間距離Ｍを演算して距離データＤｂを制御部５に出力する。
【００２０】
制御部５は、本発明における検出部および特定部に相当し、テープ走行機構２を制御して磁気テープ１０を高速走行させると共に、特性測定部３を制御して磁気テープ１０についてのビットエラーレートを測定させる。また、制御部５は、距離測定部４を制御して、距離センサ４１から磁気テープ１０における被測定部位までの離間距離Ｍを測定させる。また、制御部５は、距離センサ４１から磁気ヘッド３１の対向面までの離間距離Ｌ（図５参照）の値、および磁気テープ１０の厚みＴ（同図参照）の値を記憶部６から読み出すと共に、読み出したこれらの値と距離データＤｂとに基づき、磁気テープ１０と磁気ヘッド３１との間の隙間の有無を検出する。さらに、制御部５は、特性測定部３から出力されたエラーレートデータＤａに基づき、ビットエラーレートが予め規定されたしきい値を超えるか否かを判別すると共に、しきい値を超えたとき（異常値が測定されたとき）には、その異常値の発生要因を特定する特定処理を実行する。具体的には、制御部５は、磁気テープ１０における異常値の発生位置を算出し、その算出した位置において磁気テープ１０と磁気ヘッド３１との間に基準幅を超える隙間が生じていたときには、その異常値の発生が隙間によるスペーシングロスに起因していると特定する。この場合、基準幅は、磁気ヘッド３１の特性に応じて規定されている。具体的には、磁気ヘッド３１は、その対向面と磁気テープ１０の表面１０ａとの間に規定幅（例えば２μｍ）以下の隙間が生じている状態において、磁気テープ１０からの磁束を十分に補足可能に設計されている。一方、隙間の幅がその規定幅を超えたときには、磁気ヘッド３１による磁気テープ１０からの磁束の補足が不十分となる結果、スペーシングロスが発生してビットエラーレートが悪化する。したがって、上記の基準幅は、ビットエラーレートが悪化し始める隙間の幅、つまり上記の規定幅（この例では２μｍ）に規定されている。
【００２１】
記憶部６は、特性測定部３から出力されたエラーレートデータＤａ、および距離測定部４から出力された距離データＤｂを記憶する。また、記憶部６は、距離センサ４１から磁気ヘッド３１の対向面までの離間距離Ｌ、および磁気テープ１０の厚みＴを記憶する。操作部７は、特性測定部３に測定を開始させるスタートボタンやテープ走行機構２による磁気テープ１０の走行速度を指定するための操作ボタンなどを備えている。表示部８は、制御部５の制御に従い、特性測定部３によって測定されたビットエラーレートを表すグラフ画像などを表示する。
【００２２】
次に、測定装置１による磁気テープ１０の電磁変換特性の測定方法について、図面を参照して説明する。
【００２３】
まず、測定対象の磁気テープ１０が巻回された送り側リール２１ａと、巻取り側リール２１ｂとをテープ走行機構２におけるモータの回転軸に取り付ける。次に、送り側リール２１ａから磁気テープ１０の先端部を引き出して、図２，４に示すように、磁気テープ１０をローラ２３ａ、ガイド２２ａ、磁気ヘッド３１、ガイド２２ｂおよびローラ２３ｂをこの順で通過するようにセットした後に、巻取り側リール２１ｂに先端部を固定する。次に、操作部７を操作して、磁気テープ１０の走行速度を例えば５ｍ／秒にセットした後に測定を開始させる。これに応じて、制御部５が、テープ走行機構２を制御して送り側リール２１ａおよび巻取り側リール２１ｂを所定の回転速度で回転させることにより、送り側リール２１ａに巻回されている磁気テープ１０を巻取り側リール２１ｂに巻回させる。この際に、図外のテンション機構によって磁気テープ１０に所定の張力が付与されているため、図２に示すように、磁気テープ１０は、その表面１０ａが磁気ヘッド３１の対向面に当接（対向）させられた状態で送り側リール２１ａから巻取り側リール２１ｂに向けて（同図に示す矢印の方向に）走行させられる。
【００２４】
次に、制御部５は、特性測定部３を制御して、磁気テープ１０についてのビットエラーレートの測定を開始させると共に、距離測定部４を制御して、距離センサ４１から磁気テープ１０の被測定部位までの離間距離Ｍの測定を開始させる。この際に、特性測定部３の磁気ヘッド３１が、信号処理回路３２から出力された測定用データを磁気テープ１０に磁気的に書き込む。また、磁気ヘッド３１は、書き込まれた測定用データを読み取って再生信号を出力する。次いで、特性測定部３の信号処理回路３２が、磁気ヘッド３１から出力された再生信号を信号処理してビットエラーレートを演算し、エラーレートデータＤａを出力する。この場合、信号処理回路３２は、一例として、５０メガバイト分の測定用データを出力する度にその測定用データに対するビットエラーレートを算出する。
【００２５】
一方、距離測定部４では、距離センサ４１の半導体レーザ５１が測定用のレーザ光を発光して射出し、投光レンズ５２が、レーザ光を所定のスポット径のレーザービームＬに変換して磁気テープ１０の被測定部位に照射する。この際に、図５に示すように、照射されたレーザービームＬが、被測定部位（裏面１０ｂ）で反射して、その反射光Ｒが、受光レンズ５３に入射する。次いで、受光レンズ５３は、反射光Ｒを集光して受光素子５４上にスポットを結像させる。続いて、受光素子５４は、受光素子５４内において結像したスポットの位置を特定可能な検出信号Ｓを出力する。次に、演算回路４２は、距離センサ４１から出力された検出信号Ｓに基づいて、距離センサ４１から磁気テープ１０の被測定部位までの離間距離Ｍを所定の時間間隔で演算して距離データＤｂを制御部５に出力する。この場合、同図に実線および破線で示すように、磁気テープ１０が磁気ヘッド３１の対向面から離間して距離センサ４１と被測定部位との離間距離Ｍが変化した際には、その変化に伴って反射光Ｒが結像される受光素子５４内におけるスポットの位置が変化する。具体的には、磁気テープ１０の被測定部位が磁気ヘッド３１に当接して被測定部位までの離間距離Ｍが最も長いときには、反射光Ｒが受光素子５４の同図において中央部よりもやや下部側に入射し、磁気テープ１０の被測定部位が磁気ヘッド３１から遠ざかるようにして離間しているときには、反射光Ｒが受光素子５４の同図において上部側に入射する。したがって、検出信号Ｓに基づいて距離センサ４１と被測定部位との離間距離Ｍが特定される。
【００２６】
一方、制御部５は、特性測定部３から出力されたエラーレートデータＤａ、および距離測定部４から出力された距離データＤｂを記憶部６に記憶させる。続いて、制御部５は、磁気テープ１０がテープ走行機構２の巻取り側リール２１ｂに巻き取られるまで、特性測定部３および距離測定部４に対して、ビットエラーレートの測定および離間距離Ｍの測定をそれぞれ継続して実行させると共に、エラーレートデータＤａおよび距離データＤｂの記憶部６への記憶を継続して実行する。
【００２７】
テープ走行機構２の巻取り側リール２１ｂによる磁気テープ１０の巻き取りが終了した際には、制御部５は、エラーレートデータＤａを記憶部６から読み出して、ビットエラーレートを表すグラフ（図６に示すグラフ）の画像を表示部８に表示させる。この際に、制御部５は、エラーレートデータＤａに基づいてビットエラーレートが予め規定されたしきい値（例えば−６．５（１０−６．５））を超えているか否かを判別する。この場合、例えば、ビットエラーレートがしきい値以下のとき（正常値のとき）には、制御部５は、グラフを青色で表示させる。一方、ビットエラーレートがしきい値を超えているとき（異常値のとき）には、その部分を正常値の部分とは異なる色（例えば赤色）で表示すると共に、その異常値の発生要因を特定する特定処理を実行する。この特定処理では、制御部５は、磁気テープ１０における異常値の発生位置を求め、求めた位置（同図に示すＡの位置）における磁気テープ１０と磁気ヘッド３１との間の基準幅（例えば２μｍ）を超える隙間の有無を検出する。この場合、制御部５は、距離センサ４１から磁気ヘッド３１の対向面までの離間距離Ｌ、磁気テープ１０の厚みＴ、および距離データＤｂを記憶部６から読み出して、距離データＤｂに基づく離間距離Ｍと厚みＴとを離間距離Ｌから減算することによって隙間の幅を算出する。ここで、異常値の発生位置において磁気テープ１０と磁気ヘッド３１との間に基準幅を超える隙間が生じていたときには、制御部５は、その異常値の発生が隙間によるスペーシングロスに起因していると特定して、表示部８に対して、同図に示すように、その旨を表す文字画像を上記したグラフの画像内に表示させる。これにより、ビットエラーレートに異常値が存在するか否か（許容範囲内か否か）が容易に把握されると共に、異常値が存在するときには、その異常値の要因がスペーシングロスに起因するものか否かが容易に把握される。次に、制御部５は、上記のようにして算出した隙間（離間距離）の長さを表すグラフ（図７に示すグラフ）の画像を表示部８に表示させる。この場合、表示部８は、このグラフの画像と、上記したビットエラーレートを表すグラフの画像とを例えば上下に２分割した表示画面内に上下に並べて表示する。
【００２８】
このように、この測定装置１によれば、制御部５が、ビットエラーレートについての異常値を検出しかつ磁気テープ１０における縁部の表面１０ａと磁気ヘッド３１における対向面との間に基準幅を超える隙間の存在を検出したときに、その異常値の発生要因が隙間によるスペーシングロスに起因するものと特定することにより、その異常値がスペーシングロスに起因するものであるか否かを確実かつ容易に判別することができる。したがって、測定結果の分析に際して、スペーシングロスに起因する異常値と、それ以外の異常値とを確実かつ迅速に区別することができる結果、測定結果の分析効率を十分に向上させることができる。
【００２９】
また、この測定装置１によれば、距離センサ４１から磁気テープ１０の被測定部位までの離間距離Ｍを測定し、その測定値に基づいて隙間の有無を検出することにより、例えば、カメラを用いて磁気テープ１０と磁気ヘッド３１とを撮像し、その撮像画像を画像処理して隙間の有無を検出する方法と比較して、隙間の有無を確実かつ容易に検出することができる。
【００３０】
また、この測定装置１によれば、反射型の距離センサ４１を用いて距離センサ４１から磁気テープ１０までの離間距離Ｍを測定することにより、離間距離Ｍを正確に測定することができるため、磁気テープ１０と磁気ヘッド３１との間における基準幅を超える隙間の有無を正確に検出することができる。この結果、スペーシングロスに起因する異常値の特定を正確に行うとができる。また、磁気テープ１０の裏面１０ｂ側（つまり磁気テープ１０の表裏両面のうちの一方側）からレーザービームＬを照射することで離間距離Ｍを正確に測定することができるため、例えば、磁気テープ１０を挟むようにして表面１０ａ側および裏面１０ｂ側にそれぞれ照射部および受光部の設置が必要な透過型のセンサとは異なり、磁気テープ１０の表面１０ａ側における設置スペースの有無に拘わらず距離センサ４１を設置することができる。
【００３１】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、ＬＴＯ規格に準拠したテープカートリッジ用の磁気テープ１０を例に挙げて上記したが、ＤＬＴ（Digital Linear Tape ）規格に準拠したテープカートリッジやＳＤＬＴ（Super Digital Linear Tape ）規格に準拠したテープカートリッジなどのリニア方式でデータを記録可能な各種の情報記録媒体用の磁気テープに対する測定に本発明を適用することができる。この場合、磁気テープを高速（例えば秒速２〜１０ｍ）で走行させる情報記録媒体用の磁気テープの測定に本発明を適用した場合には、上記の効果を一層十分に得ることができる。また、回転型の磁気ヘッドを用いてヘリカル方式でデータを記録可能な情報記録媒体用の磁気テープに対する測定に本発明を適用することもできる。また、磁気テープ１０の裏面１０ｂであって幅方向における下側の縁部までの離間距離を測定する構成例について上記したが、幅方向における上側の縁部までの離間距離を測定する構成や、これらの双方を測定する構成を採用することもできる。また、距離センサ４１を磁気ヘッド３１に隣接するように配設して、磁気テープ１０の表面１０ａであって幅方向における一方の縁部までの離間距離を測定する構成を採用することもできる。また、反射型の距離センサ４１に代えて、透過型のセンサを用いて磁気ヘッド３１と磁気テープ１０との隙間の有無を検出する構成を採用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】電磁変換特性測定装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】ガイド２２ａ，２２ｂ、ローラ２３ａ，２３ｂ、磁気ヘッド３１および距離センサ４１の位置関係を示す平面図である。
【図３】ガイド２２ａ，２２ｂ、ローラ２３ａ，２３ｂ、磁気ヘッド３１および距離センサ４１の位置関係を示す斜視図である。
【図４】テープ走行機構２に磁気テープ１０が掛け渡された状態の斜視図である。
【図５】距離センサ４１の概略構成を示す側面図である。
【図６】ビットエラーレートを測定した測定結果図である。
【図７】磁気ヘッド３１と磁気テープ１０との隙間を測定した測定結果図である。
【符号の説明】
【００３３】
１  電磁変換特性測定装置
３  電磁変換特性測定部
４  距離測定部
１０  磁気テープ
３１  磁気ヘッド
４１  距離センサ
Ｍ  離間距離
【図１】
2005235284.tif 000003
【図２】
2005235284.tif 000004
【図３】
2005235284.tif 000005
【図４】
2005235284.tif 000006
【図５】
2005235284.tif 000007
【図６】
2005235284.tif 000008
【図７】
2005235284.tif 000009