(57)【要約】【課題】測定センサ、作動パラメータに対する作業メモリ、作動パラメータに対する複数の別のメモリ領域を備え、別のメモリ領域としてアクティブ作動パラメータを記憶する第１のメモリ領域が設けられている電子測定装置において、ユーザが所定の作動パラメータに積極的にアクセスすることができ、測定装置の再初期化を実施できるようにする。【解決手段】引渡時作動パラメータを記憶する第２メモリ領域５およびユーザ固有の作動パラメータを記憶する第３のメモリ領域６が設けられている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定量を捕捉検出するためのセンサ（２）と、測定装置（１）の作動パラメータに対する作業メモリ（３）と、測定装置（１）の作動パラメータの少なくとも一部に対する複数の別のメモリ領域（４，５，６，７，８）とを備えており、別のメモリ領域としてアクティブ作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域（４）が設けられている電子測定装置において、
引渡時作動パラメータを記憶するための第２のメモリ領域（５）およびユーザ固有の作動パラメータを記憶するための第３のメモリ領域（６）が設けられている
ことを特徴とする電子測定装置。
【請求項２】
標準作動パラメータを記憶するための第４のメモリ領域（７）が設けられている
請求項１記載の電子測定装置。
【請求項３】
標準作動パラメータの加工バージョンを記憶するための第５のメモリ領域（８）が設けられている
請求項１記載の電子測定装置。
【請求項４】
測定装置（１）は電子装置ケーシング（９）および電子装置入れ子（１０）を有しており、その際電子装置入れ子（１０）は電子装置を有しており、電子装置ケーシング（９）に取り出し可能に挿入されておりかつ作業メモリ（３）は電子装置入れ子（１０）に設けられている
請求項１から３までのいずれか１項記載の電子測定装置。
【請求項５】
アクティブな作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域（４）および有利にはセンサ（２）に対する較正パラメータを含んでいる引渡時作動パラメータを記憶するための第２のメモリ領域（５）は電子装置ケーシング（９）に設けられている
請求項５記載の電子測定装置。
【請求項６】
ユーザ固有の作動パラメータを記憶するための第３のメモリ領域（６）は電子装置入れ子（１０）に設けられている
請求項４または５記載の電子測定装置。
【請求項７】
測定装置（１）が測定量を捕捉検出するためのセンサ（２）と、測定装置（１）の作動パラメータに対する作業メモリ（３）と、測定装置（１）の作動パラメータの少なくとも一部に対する複数の別のメモリ領域（４，５，６，７，８）とを有しており、かつ別のメモリ領域としてアクティブ作動パラメータが記憶される第１のメモリ領域（４）が設けられているという電子測定装置（１）を作動するための方法において、
第２のメモリ領域（５）を設けて、該メモリ領域に引渡時作動パラメータを記憶しかつ第３のメモリ領域（６）を設けて、該メモリ領域にユーザ固有の作動パラメータを記憶する
ことを特徴とする電子測定装置の作動方法。
【請求項８】
第４のメモリ領域（７）を設けて、該メモリ領域に標準作動パラメータを記憶する
請求項７記載の方法。
【請求項９】
第５のメモリ領域（８）を設けて、該メモリ領域に標準作動パラメータの加工バージョンを記憶する
請求項７または８記載の方法。
【請求項１０】
測定装置（１）は電子装置ケーシング（９）、電子装置を有している電子装置入れ子（１０）、入力装置（１１）および出力装置（１２）を有しており、その際作業メモリ（３）は電子装置入れ子（１０）に設けられておりかつ別のメモリ領域（４，５，６，７，８）は少なくとも部分的に電子装置ケーシング（９）に設けられておりかつ電子装置ケーシング（９）、センサ（２）および／または電子装置入れ子（１０）が新しい電子装置ケーシング（９）、新しいセンサ（２）ないし新しい電子装置入れ子（１０）と交換された後、測定装置（１）の１回目の始動の際に、電子装置ケーシング（９）、センサ（２）および／または電子装置入れ子（１０）が交換されたかどうかについての質問が自動的に行われる
請求項７から９までのいずれか１項記載の方法。
【請求項１１】
入力装置（１１）を介して行われる、電子装置ケーシング（９）、センサ（２）および／または電子装置入れ子（１０）が交換されたという入力に基づいて、作業メモリ（３）に記憶されている作動パラメータが変更されるかどうかを決定する
請求項１０記載の方法。
【請求項１２】
電子装置ケーシング（９）が交換されたという入力に基づいて、作業メモリ（３）に記憶されている作動パラメータの自動的な変更は行われない
請求項１０記載の方法。
【請求項１３】
引渡時作動パラメータを記憶するための第２のメモリ領域（５）は電子装置ケーシング（９）に設けられておりかつセンサ（２）および電子装置ケーシング（９）が交換されたという入力に基づいて、第２のメモリ領域（５）に記憶されている引渡時作動パラメータを自動的に、有利には完全に、作業メモリ（３）にコピーする
請求項１１記載の方法。
【請求項１４】
アクティブな作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域（４）は電子装置ケーシング（１０）に設けられておりかつ、電子装置入れ子（１０）が交換されたという入力に基づいて、第１のメモリ領域（４）に記憶されているアクティブな作動パラメータを自動的に、有利には完全に作業メモリ（３）にコピーする
請求項１１記載の方法。
【請求項１５】
その時点で作業メモリ（３）に記憶されている作動パラメータを自動的に、有利には完全に第１のメモリ領域（４）にコピーする
請求項１１から１４までのいずれか１項記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定量を捕捉検出するためのセンサと、測定装置の作動パラメータに対する作業メモリと、測定装置の作動パラメータの少なくとも一部に対する複数の別のメモリ領域とを備えており、別のメモリ領域としてアクティブ作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域が設けられている電子測定装置に関する。
【０００２】
本発明は更に、測定装置が測定量を捕捉検出するためのセンサと、測定装置の作動パラメータに対する作業メモリと、測定装置の作動パラメータの少なくとも一部に対する複数の別のメモリ領域とを有しており、かつ別のメモリ領域としてアクティブ作動パラメータが記憶される第１のメモリ領域が設けられているという電子測定装置を作動するための方法に関する。
【０００３】
この種の電子測定装置ないし電子測定装置を作動するためのこの種の方法は例えばＤＥ１０１４８０２９号から公知である。
【背景技術】
【０００４】
典型的な、工業的に使用される電子測定装置の全体のデータセットは複数のセグメントから成っている：その際電磁誘導流量測定装置の場合のように、例えばアナログ電流出力側に対しておよび電極電圧測定の増幅のために電子装置の較正パラメータを設定することができる。更に、測定装置のセンサに対する較正パラメータを設定することができる。例としてここに、コリオリの質量流量測定装置に対する密度較正値を挙げておく。更に、測定装置を所定の用途に整合するユーザ固有のパラメータを設定することもできる。例としてここに、指示装置における所定の時間定数または測定量の表示のための単位を挙げておく。
【０００５】
更に、例えば電子装置の回路モジュールをそれぞれの測定装置における固有の機能に整合する製造パラメータ、例えば機器内部のバスに対するモジュールのアドレスを設定することができる。これらのパラメータは殊に、複数の機能を有している回路モジュールに対しても構想されている。更に、測定装置を通常の範囲を超えてそれぞれの用途に整合するサービスパラメータを設定することができる。これらパラメータは一般に保護されているので、測定装置の使用者はパラメータを変更することができず、製造者のみがそれを行える。
【０００６】
電子測定装置の全体のデータセットは、一方における大域的なパラメータおよび他方における局所的なパラメータに分割することもできる。その際大域的なパラメータは全体の測定装置に関連しかつ局所的なパラメータはそれぞれ常に、測定装置の制限された領域にのみ関連していると言える。局所的なパラメータは一般に、パラメータを必要としているプリント基板に記憶される。これら局所的なパラメータは一般に、測定装置が用途に整合されるときには変更もされない。従って局所的なパラメータはこれらが必要とされる個所に記憶される。測定装置のプリント基板またはモジュール全体が交換される場合、このようにして、較正データのような相応の調整設定データはいつでもそのまま維持される。すなわち例えば電流出力側の較正パラメータは測定装置のアナログ部に関し、従って共通に交換されなければならない。
【０００７】
電子装置の較正パラメータおよび製造パラメータが局所的なパラメータを表している一方、センサに対する較正パラメータ、ユーザ固有のパラメータおよびサービスパラメータは全体の測定装置に関する大域的なパラメータである。測定装置をその作動の期間中アクティブに動作させるこれら大域的なパラメータは測定装置の作業メモリにホールドされる。その際作業メモリは『分配されていて』もよい、すなわち作業メモリは、測定装置内に分配配置されている複数のメモリモジュールから成っていてもよい。大域的なパラメータは更に、いわば安全コピーとして、１つまたは複数の別のメモリ領域に記憶するようにしてもよい。
【０００８】
このために例として、１次メモリおよび２次メモリが使用され、これらメモリから作業メモリに対するパラメータをロードすることができるようになっているＤＥ１０１４８０２９Ａ１を挙げておく。更に、ＤＥ１０１４８０２９Ａ１によれば、標準作動パラメータに対するメモリが設けられており、１次メモリおよび２次メモリの両方に欠陥があるとき、この標準作動パラメータメモリから作動パラメータが作業メモリにロードされる。
【０００９】
ＤＥ１０１４８０２９Ａ１から公知の方法は実質的に、電子測定装置の作動パラメータに対するバックアップ法であり、その枠内で、メモリ領域の不具合により作動パラメータが少なくとも部分的に消失すると、２次メモリが１次メモリの分も働きあるいはその逆もあり、その際１次メモリおよび２次メモリからの情報が完全に消失すると、別のメモリ領域からデフォルトパラメータ、すなわち標準作動パラメータがロードされる。
【特許文献１】ＤＥ１０１４８０２９号
【特許文献２】ＤＥ１０１４８０２９Ａ１
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の課題は、ユーザが所定の作動パラメータに積極的にアクセスすることができるようにして、例えば測定装置の再初期化を実施できるようにするような電子測定装置並びに電子測定装置の作動方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
冒頭に述べた形式の電子測定装置から出発して、上に導き出されかつ示しもした課題は、引渡時作動パラメータを記憶するための第２のメモリ領域およびユーザ固有の作動パラメータを記憶するための第３のメモリ領域が設けられていることによって解決される。
【００１２】
従って、アクティブな作動パラメータ、すなわち作業メモリに格納されていて測定装置の作動が保証されるようにするような作動パラメータの記憶のための第１のメモリ領域の他に、本発明によれば、別のメモリ領域として、第２および第３のメモリ領域が設けられている。その際第２のメモリ領域は引渡時作動パラメータ、すなわち標準作動パラメータを超えて既にすべての必要な較正パラメータも有しているような作動パラメータの記憶のために用いられる。第３のメモリ領域はユーザ固有の作動パラメータ、すなわち更に測定装置のユーザのその都度の用途にアレンジされているような作動パラメータを記憶するために設けられている。
【００１３】
測定装置の作動パラメータのこれら種々様々なバージョンについては次のように説明できよう：デフォルト作動パラメータとも称する標準作動パラメータは、較正なしにも基本的に測定装置の作動を可能にするような作動パラメータである。従来より、この種の標準作動パラメータを測定装置に記憶しておいて、測定装置の基本作動が保証されるようにするが公知である。本発明の有利な形態によれば、この種の標準作動パラメータを記憶するために第４のメモリ領域が設けられている。その際これら標準作動パラメータを用いた測定装置の作動によって較正、例えば較正測定が実施されると、較正値が得られ、かつ作動パラメータの新しいバージョン、すなわち引渡時作動パラメータが本発明によりすなわち第２のメモリ領域５に記憶されるようにすることができる。引渡時作動パラメータが測定装置の作業メモリにロードされると、較正された測定作動を実施することができる。
【００１４】
しかしこの較正された測定作動は一般に測定装置のユーザ固有の使用に整合されていない。この点に関し、本発明によれば第３のメモリ領域に設けられているユーザ固有の作動パラメータのバージョンが重要である。ここで所定のパラメータは、ユーザのその都度の用途に相応しているようなパラメータに置換される。
【００１５】
始動時に測定装置を初期化するためのバージョンとして、アクティブな作動パラメータを記憶するためのメモリ領域が設けられている。すなわち、測定装置は始動時に作動パラメータを第１のメモリ領域から作業メモリにロードする。実際にいつでも実時点の作動パラメータを使用するために、本発明の有利な実施形態によれば、作動パラメータの変化の後自動的にこれら新しい作動パラメータが第１のメモリ領域にコピーされるようになっている。というのは、これら新しい作動パラメータが今やアクティブな作動パラメータであるからである。
【００１６】
これに対して付加的にまたは択一的に、作動パラメータの加工バージョンを記憶するための第５のメモリ領域が設けられているようにすることができる。具体的には、作動パラメータの変化の際これらの変化がただちに作業メモリまたはアクティブな作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域に書き込まれるのではなくて、第５のメモリ領域に書き込まれることを言う。作動パラメータの処理が確認される、すなわち処理された作動パラメータが今やアクティブな作動パラメータとなったとことが確認されて初めて、新しい作動パラメータの記憶が一方において作業メモリおよび他方において上に既に説明したように、第１のメモリ領域において行われ、こうして第１のメモリ領域はアクティブな作動パラメータのコピーを含んでいることになる。
【００１７】
上に述べた別のメモリ領域を設けることによって、電子的な測定装置のユーザが例えば、用途を変更する際に作動パラメータの以前のバージョン、ひいては電子測定装置の以前の調整設定を参照することができるという目的が追求される。その際引渡時作動パラメータのバージョンには特別な意義がある。というのは、ここにはセンサに対する較正パラメータも含まれているからである。
【００１８】
更に例えば、測定装置が誤って、ユーザが測定装置の機能正しい調整設定にもう戻れなくなるほどに位置変化されてしまったときに、アクティブな作動パラメータとは異なっている、作動パラメータのバージョンが使用されることになる。その場合ここでは、変更に対する出発点として最初にもう一度、ユーザ固有の作動パラメータのバージョンに、場合によっては引渡時作動パラメータにも戻ることができる。背景として説明しておくが、典型的な電子測定装置はしばしば１００以上の作動パラメータを有しているので、測定装置の不慣れなユーザは殊に、作動パラメータの変更の際に、変更された作動パラメータおよびこれらの相互作用に関する概観を見失う状態にたちまち陥る可能性がある。
【００１９】
従来技術から公知の測定装置、殊にＤＥ１０１４８０２９Ａ１から公知の測定装置に比して、本発明の意図している課題は、バックアップの可能性、すなわちデータ消失の場合のデータ確保およびデータ再生成にあるのではなく、測定装置のユーザが積極的に作動パラメータの所定のバージョンにアクセスして使用できるようにすることである。このために本発明の有利な発展形態によれば殊に、作業メモリは作動パラメータを伝送するために他の、有利にはすべての他のメモリ領域に相互接続されているようになっている。更に本発明の有利な発展形態によれば、別のメモリ領域は相互にも、有利には完全に、作動パラメータを伝送するために相互接続されているようになっている。こうなっていれば、電子測定装置のユーザの意志に基づいて、作動パラメータを別のメモリ領域の１つからまたは別のメモリ領域の別のものへ伝送することができる。
【００２０】
本発明の有利な発展形態によれば更に、測定装置は電子装置ケーシングおよび電子装置入れ子を有しており、その際電子装置入れ子は電子装置を有しており、電子装置ケーシングに取り出し可能に挿入されているようになっている。その際本発明の有利な発展形態によれば作業メモリは電子装置入れ子に設けられている。更に本発明の有利な発展形態によれば、アクティブな作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域および引渡時作動パラメータを記憶するための第２のメモリ領域は電子装置ケーシングに設けられている。全く特別有利には更に、ユーザ固有の作動パラメータを記憶するための第３のメモリ領域および／または標準作動パラメータを記憶するための第４のメモリ領域および／または作動パラメータの加工バージョンを記憶するための第５のメモリ領域は電子装置入れ子に設けられている。これに関連している利点および可能性は、以下に説明する、電子測定装置の作動方法を考慮すると殊に明らかである。
【００２１】
冒頭に述べた形式の、電子測定装置を作動するための方法から出発して、ずっと前の方で導き出しかつ説明した課題は、引渡時作動パラメータを記憶する第２のメモリ領域およびユーザ固有の作動パラメータを記憶する第３のメモリ領域を設けることによって解決される。
【００２２】
上に説明した電子測定装置と類似して、本発明のこの形式の有利な発展形態によれば、標準作動パラメータを記憶する第４のメモリ領域および／または標準作動パラメータの加工バージョンを記憶する第５のメモリ領域を用意するようにしている。
【００２３】
更に本発明の有利な発展形態によれば、測定装置は電子装置ケーシング、電子装置を有している電子装置入れ子、入力装置および出力装置を有しており、その際作業メモリは電子装置入れ子に設けられておりかつ別のメモリ領域は少なくとも部分的に電子装置ケーシングに設けられておりかつ電子装置ケーシング、センサおよび／または電子装置入れ子が新しい電子装置ケーシング、新しいセンサないし新しい電子装置入れ子と交換された後、測定装置の１回目の始動の際に、電子装置ケーシング、センサおよび／または電子装置入れ子が交換されたかどうかについての質問が自動的に行われるようになっている。
【００２４】
このような質問は、有利な発展形態により、入力装置を介して行われる、電子装置ケーシング、センサおよび／または電子装置入れ子が交換されたという入力に基づいて、作業メモリに記憶されている作動パラメータを変更するかどうかを自動的に決定するようにする場合に有利である。すなわち作業メモリに記憶されている作動パラメータのこのような変更は、新しい電子装置ケーシング、新しいセンサおよび／または新しい電子装置入れ子が少なくとも部分的に新しいまたはアクティブな作動パラメータとは少なくとも相異している作動パラメータを要求しているという理由で必要になるまたは少なくともそうした方が有利であることがある。
【００２５】
本発明の有利な発展形態によれば殊に、電子装置ケーシングが交換されたという入力に基づいて、作業メモリに記憶されている作動パラメータの自動的な変更は行われないようになっている。このことは殊に、作業メモリに記憶されている作動パラメータが電子装置ケーシングの機能に関連していないときに有意義である。このことは殊に、すべての重要な電子装置が電子装置入れ子の構成部分であるときにそういうことになる。
【００２６】
更に本発明の有利な発展形態によれば、引渡時作動パラメータを記憶するための第２のメモリ領域は電子装置ケーシングに設けられておりかつセンサおよび電子装置ケーシングが交換されたという入力に基づいて、第２のメモリ領域に記憶されている引渡時作動パラメータが自動的に、有利には完全に、作業メモリにコピーされるようにしている。このような手法において、センサに対する単数または複数の較正パラメータは引渡時作動パラメータのバージョンから新しいセンサのために移し替えることができる。従ってこれまで作業メモリに存在していたパラメータは第２のメモリ領域からもらった引渡時作動パラメータによってオーバライトされる。
【００２７】
更に本発明の有利な発展形態によれば、アクティブな作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域は電子装置ケーシングに設けられておりかつ、電子装置入れ子が交換されたという入力に基づいて、第１のメモリ領域に記憶されているアクティブな作動パラメータを自動的に、有利には完全に作業メモリにコピーするようにしている。
【００２８】
更に第１のメモリ領域においていつでも、アクティブな作動パラメータのコピーを使用できるようにするために本発明の有利な発展形態によれば、今や作業メモリに記憶されている作動パラメータを自動的に、有利には完全に第１のメモリ領域にコピーするようになっている。
【００２９】
個々には、本発明の電子測定装置並びに電子測定装置を作動するための本発明の方法を実施しかつ発展させるために数多くの可能性がある。このために、独立請求項にそれぞれ従属している請求項並びに図面を参照した本発明の有利な実施例の次の詳細な説明が参考になる。
【実施例】
【００３０】
次に本発明を図示の実施例に付き図面を用いて詳細に説明する。
【００３１】
図１から分かるように、電子測定装置は本発明のここに説明する有利な実施例によれば、測定量を捕捉検出するためのセンサ２、測定装置の作動パラメータに対する作業メモリ３および殊に大域的パラメータに対する別のメモリ領域４，５，６，７，８を有している。別のメモリ領域としてとりわけ、アクティブ作動パラメータを記憶するための第１のメモリ領域４が設けられている。例えば第１のメモリ領域には、作業メモリ３に保持されて、測定装置１の測定作動が保証されるようにする作動パラメータのコピーが存在している。
【００３２】
付加的なメモリ領域として更に、引き渡し用作動パラメータを記憶するための第２のメモリ領域５が設けられている。引き渡し用作動パラメータの例と１つとして、センサ３に対する較正パラメータもある。別のメモリ領域として更に、ユーザ固有の作動パラメータを記憶するための第３のメモリ領域６がある。ユーザ固有の作動パラメータは測定装置１のユーザのその都度の使用に対して固有の量を有している。更に、別のメモリ領域として、第４のメモリ領域７および第５のメモリ領域８が設けられており、その際測定装置１の基本作動を保証するものである標準作動パラメータを記憶するための第４のメモリ領域７および作動パラメータの加工バージョンを記憶するための第５のメモリ領域８が設けられている。
【００３３】
作動パラメータの加工バージョンの記憶が意味するものは、作業メモリ３に保持されている作動パラメータを変更する際に、この変更がただちに作業メモリ３または作業メモリ３に保持される作動パラメータのコピーを含んでいる第１のメモリ領域に書き込まれずに、まず第５のメモリ領域８に書き込まれることである。作動パラメータの変更が実際に行われるべきであることが確認された後に漸く、変更された作動パラメータが作業メモリ３に転送され、作業メモリにおいて作動パラメータの加工バージョンが第５のメモリ領域８から作業メモリ領域にコピーされる。
【００３４】
作業メモリ３と個々の別のメモリ領域４，５，６，７，８との間の作動パラメータの伝送のために、作業メモリ３およびすべての別のメモリ領域４，５，６，７，８は相互に接続されているが、図１では分かり易くするために詳細には図示されていない。
【００３５】
本発明のここに説明する実施例による電子測定装置は電子装置ケーシング９および電子装置入れ子１０を有している。その際電子装置入れ子１０は電子装置ケーシング９に挿入可能でありかつここから再び取り出し可能である。電子装置入れ子１０は図１には詳細に示されていない複数の電子装置、すなわち本発明のここに説明する有利な実施例による電子測定装置１の作動のために必要であるすべての電子装置を備えている。電子装置ケーシング９の課題は、電子装置を備えている電子装置入れ子１０を収容しかつ外部に対して保護することである。更に電子装置ケーシング９は入力装置１１および出力装置１２を有している。これらは以下に説明する機能を有している：
図２ａに示されているように、電子測定装置１のスイッチオン後（ステップＡ）本発明のここに説明する有利な実施例によれば、センサ２、電子装置ケーシング９および電子装置入れ子１０のシリアルナンバーの問い合わせが行われる（ステップＢ）。検出されたシリアルナンバーがこれまでのシリアルナンバーに相応すると、構成部品の１つの交換は行われず、かつ通常の測定作動に移ることができる（ステップＣ）。しかしセンサ２、電子装置ケーシング９および／または電子装置入れ子１０のシリアルナンバーの少なくとも１つがこれまでのシリアルナンバーに相応していないことが確かめられると、電子装置１のユーザに、図２ｂに図示されているように、入力装置１１を介して所定の入力をする可能性が与えられる。入力するようにという相応の要求は出力装置１２を介して行われる。
【００３６】
図２ｂに詳しく図示されているように、電子測定装置のユーザは出力装置１２を介して、入力装置１１の３つの前以て決められているキー１３，１４，１５の１つを操作することを要求される、その際出力装置１２を介して電子測定装置のユーザに送出される、第１のキー１３を操作するという要求は、電子装置ケーシング９が交換されたときに生じ、第２のキー１４を操作するという要求は、電子装置入れ子１０が交換されたときに生じ、かつ第３のキー１５を操作するという要求は、センサ２が電子装置ケーシング９と一緒に交換されたときに生じる。
【００３７】
電子測定装置のユーザの入力に基づいて、第１のキー１３が操作されると作業メモリ３に記憶されている作動パラメータの自動的な変更は行われないようになる。すなわち、作業メモリ３に記憶されている作動パラメータはそのまま維持される。第２のキー１４が操作されると、第１のメモリ領域４に記憶されているアクティブな作動パラメータは自動的に完全に作業メモリ３にコピーされる。更に第３のキー１５が操作されると、第２のメモリ領域５に記憶されている引渡時作動パラメータがセンサ２に対する較正パラメータも含めて自動的に完全に作業メモリ３にコピーされる。
【００３８】
更にその後、それぞれの場合において、作動パラメータが作業メモリ３から第１のメモリ領域４にコピーされて、それぞれの場合において、第１のメモリ領域１４が常に、作業メモリ３に存在しておりかつ電子測定装置１の現在の測定作動のために使用される作動パラメータが存在していることが保証されるようにされる。作動パラメータの相応のバージョンが第１のメモリ領域１４に部分的に既に存在している可能性があってかつその際にこのバージョンが上書きされることは問題でなく、そうなっても構わない。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の有利な実施例による電子測定装置の略図
【図２】電子測定装置を交換した後に、作業メモリに記憶された作動パラメータを変更するためのシーケンスを示す図
【符号の説明】
【００４０】
１  電子測定装置
２  センサ
３  作業メモリ
４，５，６，７，８  メモリ領域
９  電子装置ケーシング
１０  電子装置入れ子
【図１】
2005164591.tif 000003
【図２】
2005164591.tif 000004