(57)【要約】【課題】１つの供試コネクタの特性測定を正確に行うことを可能とするコネクタの特性評価に使用される治具を提供する。【解決手段】本発明の治具２０は、第１のコネクタ及び第２のコネクタを備えた特性測定装置を使用し、（ａ）中心導体１１、（ｂ）中心導体１１を覆う誘電体層１４、及び、（ｃ）中心導体１１の一端側に位置する誘電体層の部分１４Ｂを覆う外側導体１５から成る供試コネクタ１０の特性評価を、供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ３０に接続し、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２を第２のコネクタ４０に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具であって、（Ａ）外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａが挿入される貫通孔２１、及び、（Ｂ）第２のコネクタ４０が接続される接続部２２を備えている。【選択図】  図１
2005221421.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のコネクタ及び第２のコネクタを備えた特性測定装置を使用し、
（ａ）中心導体、
（ｂ）中心導体を覆う誘電体層、及び、
（ｃ）中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、供試コネクタの中心導体の一端を第１のコネクタに接続し、供試コネクタの中心導体の他端を第２のコネクタに接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具であって、
（Ａ）外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
（Ｂ）第２のコネクタが接続される接続部、
を備えていることを特徴とするコネクタの特性測定に使用される治具。
【請求項２】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第２のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項１に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。
【請求項３】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第２のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項１に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。
【請求項４】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第２のコネクタと係合する凹部が設けられていることを特徴とする請求項１に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。
【請求項５】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第２のコネクタと係合する凸部が設けられていることを特徴とする請求項１に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。
【請求項６】
第１のコネクタ及び第２のコネクタを備えた特性測定装置を使用し、
（ａ）中心導体、
（ｂ）中心導体を覆う誘電体層、及び、
（ｃ）中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、
（Ａ）外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
（Ｂ）第２のコネクタが接続される接続部、
を備えている、導電材料から成る治具を使用して行うコネクタの特性測定方法であって、
供試コネクタの中心導体の一端を第１のコネクタに接続し、供試コネクタの外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分を治具の貫通孔に挿入し、且つ、供試コネクタの外側導体と治具とを接触させ、且つ、治具の接続部と第２のコネクタとを接続することで供試コネクタの中心導体の他端を第２のコネクタに接続した状態で、治具を接地して供試コネクタの特性測定を行うことを特徴とするコネクタの特性測定方法。
【請求項７】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第２のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項６に記載のコネクタの特性測定方法。
【請求項８】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第２のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項６に記載のコネクタの特性測定方法。
【請求項９】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第２のコネクタと係合する凹部が設けられていることを特徴とする請求項６に記載のコネクタの特性測定方法。
【請求項１０】
治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第２のコネクタと係合する凸部が設けられていることを特徴とする請求項６に記載のコネクタの特性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、無線通信等に用いる高周波同軸コネクタといったコネクタの特性測定に使用される治具、及び、コネクタの特性測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
無線通信等に用いられる高周波同軸コネクタの反射係数や通過損失等の高周波特性を測定するために、従来、図５に模式図を示すような特性測定装置５０（例えば、高周波測定用のネットワークアナライザから成る）が使用されている。この特性測定装置５０には第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ４０が備えられており、特性測定装置５０と第１のコネクタ３０とは第１のケーブル３９によって接続され、特性測定装置５０と第２のコネクタ４０とは第２のケーブル４９によって接続されている。尚、第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ４０の一部を切り欠いた模式図を、それぞれ、図３の（Ｂ）及び図３の（Ｃ）に示す。
【０００３】
ＳＭＡ型同軸コネクタ等の高周波同軸コネクタといった供試コネクタの特性測定においては、予め、プラグ型（オス型とも呼ばれる）同軸コネクタである第１のコネクタ３０と、ジャック型（メス型あるいはレセプタクル型とも呼ばれる）同軸コネクタである第２のコネクタ４０とを接続して、特性測定装置５０の校正を行っておく。尚、第１のコネクタ３０と図１８に示す終端器６０とを、第１のコネクタ３０の螺合部３６（図３の（Ｂ）参照）と終端器６０の螺合部６６とを螺合させることで接続して、校正を行う場合もある。
【０００４】
供試コネクタの特性測定においては、予め、図１６及び図１７に示すようなストリップライン、又は、コープレーナ等を作製しておく。尚、図１６の（Ａ）は、２つの供試コネクタ１０，７０をストリップライン４０１の両端に半田付けにて接続した状態を模式的に示す平面図であり、図１６の（Ｂ）は、図１６の（Ａ）の模式的な平面図における供試コネクタ１０，７０を切断したときの状態を示す模式図である。また、尚、図１７の（Ａ）及び（Ｂ）は、それぞれ、図１６の（Ａ）に示した２つの供試コネクタ１０，７０をストリップライン４０１の両端に半田付けにて接続した状態及びストリップライン保持台４１０の模式的な正面図及び模式的な断面図である。
【０００５】
ストリップライン４０１は、低誘電率、低誘電損失の材料（例えば、ガラス布基材等に比誘電率２．２のフッ素系樹脂等を含浸させたもの等）の両面に極薄の銅箔（数μｍ〜数十μｍ程度）を積層した銅張り積層板における銅箔を精密エッチング等の加工処理で任意の形状に加工して、５０オームラインとして形成したものである。図１６及び図１７においては、銅箔が除去された銅張り積層板の部分を参照番号４００で示し、この部分に斜線を付した。また、パターニングされた銅箔（ストリップライン４０１）にも斜線を付した。
【０００６】
アルミニウムといった金属材料あるいは導電性材料から作製されたストリップライン保持台４１０は、基部４１１、及び、基部４１１の両端部から上方に延びるコネクタ取付部４１２から構成されている。コネクタ取付部４１２には、供試コネクタ１０，７０の突出した誘電体層の部分１４Ａ，７４Ａを挿入するための貫通孔４１３、及び、供試コネクタ１０，７０を固定するためのネジ孔（図示せず）が設けられている。銅張り積層板４００は、コネクタ取付部４１２の間であって基部４１１の頂面に固定されている。尚、供試コネクタ１０，７０の構成要素に付された参照番号の説明は、後述する実施例における供試コネクタ１０，７０の説明を参照されたい。
【０００７】
供試コネクタ１０，７０の特性測定に際しては、供試コネクタ１０，７０の突出した誘電体層の部分１４Ａ，７４Ａをコネクタ取付部４１２に設けられた貫通孔４１３に挿入し、供試コネクタ１０，７０をコネクタ取付部４１２にビス１９，７９によってビス止めする。そして、供試コネクタ１０及び供試コネクタ７０の中心導体１１，７１の他端１２，７２をストリップライン４０１に半田付けする。この状態を、図１６の（Ａ）、（Ｂ）及び図１７の（Ａ）及び（Ｂ）に示す。尚、供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３は、例えば、メス形状を有し、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２は、例えば、オス形状を有している。また、供試コネクタ７０の中心導体７１の一端７３は、例えば、オス形状を有し、供試コネクタ７０の中心導体７１の他端７２も、例えば、オス形状を有している。そして、供試コネクタ１０にプラグ型同軸コネクタである第１のコネクタ３０を接続し、供試コネクタ７０にジャック型同軸コネクタである第２のコネクタ４０を接続し、基部４１１を接地した状態で、供試コネクタ１０，７０の特性測定（例えば、反射係数や通過損失等の高周波データの採取）を行う。
【０００８】
あるいは又、図１９の（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、供試コネクタ１０と供試コネクタ７０Ａとを治具５００を介して接続し、供試コネクタ１０，７０Ａの特性測定を行う方法もある。ここで、供試コネクタ１０と供試コネクタ７０Ａとを治具５００を介して接続した状態を示す模式的な平面図を図１９の（Ａ）に示し、模式的な断面図を図１９の（Ｂ）に示す。治具５００は、黄銅やステンレススチール等の材料に金メッキ等を施したものであり、供試コネクタ１０，７０Ａの突出した誘電体層の部分１４Ａ，７４Ａを挿入するための貫通孔５０１、及び、供試コネクタ１０，７０Ａを固定するためのネジ孔（図示せず）が設けられている。
【０００９】
供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３は、例えば、メス形状を有し、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２は、例えば、オス形状を有している。また、供試コネクタ７０Ａの中心導体７１の一端７３は、例えば、オス形状を有し、供試コネクタ７０Ａの中心導体７１の他端７２Ａは、例えば、メス形状を有している。そして、供試コネクタ１０，７０Ａの突出した誘電体層の部分１４Ａ，７４Ａを治具５００に設けられた貫通孔５０１に挿入し、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２と供試コネクタ７０Ａの中心導体７１の他端７２Ａとを接続する。あるいは又、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端と供試コネクタ７０Ａの中心導体７１の他端とを、中継用ピン等を用いて接続することもできる。そして、供試コネクタ１０，７０Ａを治具５００にビス１９，７９によってビス止めする。そして、供試コネクタ１０にプラグ型同軸コネクタである第１のコネクタ３０を接続し、供試コネクタ７０Ａにジャック型同軸コネクタである第２のコネクタ４０を接続し、治具５００を接地した状態で、供試コネクタ１０，７０Ａの特性測定（例えば、反射係数や通過損失等の高周波データの採取）を行う。尚、供試コネクタ７０Ａの構成要素に付された参照番号の説明は、後述する実施例における供試コネクタ７０Ａの説明を参照されたい。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
以上に説明したストリップライン４０１や治具５００を用いる特性測定にあっては、供試コネクタ１０，７０，７０Ａのいずれか一方の特性測定のみを行うことは不可能である。また、測定結果には、半田付け部４２０やストリップライン４０１の影響が含まれる。従って、以上に説明した方法では、１つの供試コネクタ単独の特性測定を正確に行うことはできない。
【００１１】
従って、本発明の目的は、１つの供試コネクタの特性測定を正確に行うことを可能とするコネクタの特性測定に使用される治具、及び、コネクタの特性測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の目的を達成するための本発明のコネクタの特性測定に使用される治具は、
第１のコネクタ及び第２のコネクタを備えた特性測定装置を使用し、
（ａ）中心導体、
（ｂ）中心導体を覆う誘電体層、及び、
（ｃ）中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、供試コネクタの中心導体の一端を第１のコネクタに接続し、供試コネクタの中心導体の他端を第２のコネクタに接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具であって、
（Ａ）外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
（Ｂ）第２のコネクタが接続される接続部、
を備えていることを特徴とする。
【００１３】
上記の目的を達成するための本発明のコネクタの特性測定方法は、
第１のコネクタ及び第２のコネクタを備えた特性測定装置を使用し、
（ａ）中心導体、
（ｂ）中心導体を覆う誘電体層、及び、
（ｃ）中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、
（Ａ）外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
（Ｂ）第２のコネクタが接続される接続部、
を備えている、導電材料から成る治具を使用して行うコネクタの特性測定方法であって、
供試コネクタの中心導体の一端を第１のコネクタに接続し、供試コネクタの外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分を治具の貫通孔に挿入し、且つ、供試コネクタの外側導体と治具とを接触させ、且つ、治具の接続部と第２のコネクタとを接続することで供試コネクタの中心導体の他端を第２のコネクタに接続した状態で、治具を接地して供試コネクタの特性測定を行うことを特徴とする。
【００１４】
本発明のコネクタの特性測定（特性評価）に使用される治具、あるいは又、本発明のコネクタの特性測定方法（特性評価方法）（以下、これらを総称して、単に、本発明と呼ぶ場合がある）において、治具に設けられた貫通孔の大きさ（径）は、供試コネクタの外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が確実に挿入できる大きさ（径）、云い換えれば、供試コネクタと同軸インピーダンス整合をとり得る大きさ（径）とする必要がある。
【００１５】
本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の内面には第２のコネクタと螺合する螺合部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第１の構成と呼ぶ。
【００１６】
あるいは又、本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の外面には第２のコネクタと螺合する螺合部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第２の構成と呼ぶ。
【００１７】
あるいは又、本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の外面には第２のコネクタと係合する凹部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第３の構成と呼ぶ。この第３の構成あるいは次に説明する第４の構成におけるこのような形式のコネクタは、プッシュオンタイプと呼ばれている。
【００１８】
あるいは又、本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の内面には第２のコネクタと係合する凸部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第４の構成と呼ぶ。
【００１９】
本発明において、治具を構成する導電材料として、黄銅（真鍮）、ステンレススチール、銅、亜鉛、鉄等の金属材料や合金材料を例示することができる。尚、治具の表面には０.１μｍ〜数μｍ程度の金メッキやニッケルメッキといった各種のメッキを施してもよい。
【００２０】
中心導体、誘電体層及び外側導体から構成された供試コネクタは、周知のコネクタとすることができる。例えば、外側導体は、黄銅（真鍮）やステンレススチール、亜鉛、銅、鉄といった導電性材料に各種の表面処理を施すことで得ることができる。誘電体層は、例えば、フッ素系樹脂、ポリプロピレン系樹脂、ポリエチレン系樹脂、ポリアセタール樹脂といった低誘電率を有する材料から構成することができる。また、中心導体は、ベリリウム銅やリン青銅といったバネ性を有する導電性材料（例えば、線材や板材）に金メッキ等を施したものから構成することができるし、あるいは又、黄銅やステンレススチールといったバネ性を有していない導電性材料（例えば、線材や板材）から構成することもできる。
【００２１】
本発明における供試コネクタとして、ＳＭＡ型同軸コネクタ、ＳＭＢ型同軸コネクタ、Ｎ型同軸コネクタ、ＢＮＣ型同軸コネクタ、ＴＮＣ型同軸コネクタを例示することができる。尚、供試コネクタは、その仕様に応じて、プラグ型（オス型とも呼ばれる）同軸コネクタであってもよいし、ジャック型（メス型あるいはレセプタクル型とも呼ばれる）同軸コネクタあってもよい。また、供試コネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構造（構成）も、その仕様に応じて、オス形状を有していてもよいし、メス形状を有していてもよい。
【００２２】
本発明において使用される特性測定装置として、高周波測定用のネットワークアナライザを挙げることができる。また、特性測定装置に備えられた第１のコネクタとして、供試コネクタに応じて、プラグ型同軸コネクタ、あるいは又、ジャック型同軸コネクタを挙げることができ、第２のコネクタとして、ジャック型同軸コネクタ、あるいは又、プラグ型同軸コネクタを挙げることができる。供試コネクタの特性測定として、例えば、反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行う挙げることができる。
【００２３】
本発明において、供試コネクタの中心導体の一端を第１のコネクタに接続し、供試コネクタの中心導体の他端を第２のコネクタに接続する具体的な方法として、
（１）供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端はメス形状を有し、第１のコネクタあるいは第２のコネクタを構成する中心導体はオス形状を有しており、これによって、供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端と第１のコネクタあるいは第２のコネクタを構成する中心導体とを接続する方法
（２）供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端はオス形状を有し、第１のコネクタあるいは第２のコネクタを構成する中心導体はメス形状を有しており、これによって、供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端と第１のコネクタあるいは第２のコネクタを構成する中心導体とを接続する方法
（３）中継用ピンを用いて接続する方法
を例示することができる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、治具を供試コネクタに取り付けることによって、治具と供試コネクタとによって同軸コネクタ開口部構造を構成することができるが故に、同軸構造のまま供試コネクタの特性測定が可能となり、ストリップライン等、あるいは又、他の同軸コネクタを含まずに、供試コネクタ単体で反射係数や通過損失等の高周波特性を測定することができる。即ち、供試コネクタの特性を、他の部品や部材の影響を受けること無く、単独にて、正確に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、図面を参照して、実施例に基づき本発明を説明する。
【実施例１】
【００２６】
実施例１は、本発明のコネクタの特性測定（特性評価）に使用される治具及びコネクタの特性測定方法（特性評価方法）に関し、より具体的には、治具は第１の構成を有する。実施例１における治具２０、供試コネクタ１０、特性測定装置に備えられた第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ４０の模式的な断面図を図１に示す。また、供試コネクタ１０の拡大模式断面図を図２の（Ａ）に示し、供試コネクタ１０を治具２０に取り付ける直前のこれらの模式的な断面図を図２の（Ｂ）に示し、供試コネクタ１０を治具２０に取り付けた状態の模式的な断面図を図２の（Ｃ）に示す。更には、供試コネクタ１０を治具２０に取り付けたものと、第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ４０とを接続する直前の状態を図３の（Ａ）に示し、第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ４０の一部を切り欠いた模式図を、それぞれ、図３の（Ｂ）及び（Ｃ）に示す。また、治具２０の模式的な正面図を図４の（Ａ）に示し、治具２０の模式的な側面図及び断面図を図４の（Ｂ）に示す。更には、第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ４０を備えた特性測定装置５０の模式図を図５に示す。
【００２７】
実施例１における供試コネクタ１０は、ＳＭＡ型同軸コネクタであり、しかも、ジャック型（メス型あるいはレセプタクル型）同軸コネクタである。そして、供試コネクタ１０は、ベリリウム銅あるいはリン青銅といったバネ性を有する導電性材料（例えば、線材や板材）に金メッキ等が施されたものから成る中心導体１１、中心導体１１を覆うフッ素系樹脂等から成る誘電体層１４、及び、中心導体１１の一端側に位置する誘電体層の部分１４Ｂを覆う黄銅あるいはステンレススチールといった導電性材料に各種の表面処理が施されて成る外側導体１５から構成されている。中心導体１１と外側導体１５とは誘電体層１４によって絶縁されている。外側導体１５の外面には螺合部１６が設けられている。尚、供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３はメス形状を有し、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２はオス形状を有している。具体的には、供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３には、第１のコネクタ３０の中心導体３１の突出部３２を挿入可能とするために孔部が設けられている。一方、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２は、中心導体１１の一端側に位置する誘電体層の部分１４Ｂから突出している。
【００２８】
実施例１の治具２０は、第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ４０を備えた特性測定装置５０（具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ）を使用し、供試コネクタ１０の特性測定を、供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ３０に接続し、供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２を第２のコネクタ４０に接続した状態で行う際に使用される治具である。そして、この治具２０は、導電材料から成り、より具体的には、表面に０.１μｍ〜数μｍ程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。
【００２９】
そして、実施例１における治具２０は、
（Ａ）外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａが挿入される貫通孔２１、及び、
（Ｂ）第２のコネクタ４０が接続される接続部２２、
を備えている。
【００３０】
より具体的には、実施例１における治具２０にあっては、治具２０の軸線と直角方向における貫通孔２１の断面形状は円形であり、治具２０の軸線と直角方向における接続部２２の断面形状は貫通孔２１と同心の円形であり、接続部２２の内面には第２のコネクタ４０と螺合する螺合部２３が設けられている。即ち、実施例１における治具２０は、プラグ型（オス型）である。更には、治具２０の外周部には孔部２４が設けられ、治具２０の供試コネクタ１０と接する面にはビス孔２５が設けられている。治具２０の軸線に沿った貫通孔２１の長さＬ（図２の（Ｂ）参照）は、外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａの長さと概ね等しい。
【００３１】
そして、供試コネクタ１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具２０の貫通孔２１に挿入し、外側導体１５の端部から延びるフランジ部１５Ａに設けられた孔部（図示せず）を介してビス１９を治具２０に設けられたビス孔２５にビス止めする。このような供試コネクタ１０と治具２０との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔２１の径は、供試コネクタ１０の誘電体層の部分１４Ａを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ１０と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具２０の外形は、供試コネクタ１０をビス止めできる大きさであり、治具２０の厚さ（治具の軸線方向の長さ）ｔ（図２の（Ｂ）参照）は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ（治具の軸線方向の長さ）、あるいは、それ以上の厚さ（治具の軸線方向の長さ）である。尚、治具の厚さとは、治具の軸線方向の長さである。以下の説明においても同様の意味で「治具の厚さ」という用語を用いる。
【００３２】
プラグ型同軸コネクタから成る第１のコネクタ３０は、中心導体３１、中心導体３１を覆う誘電体層３４、及び、誘電体層３４を覆う外側導体３５から成る。尚、中心導体３１、誘電体層３４及び外側導体３５の構成材料は、供試コネクタ１０におけるこれらの構成材料と同じとすることもできる。但し、中心導体３１を構成する材料は、バネ性を有していない導電性材料（例えば、黄銅やステンレススチールから成る線材や板材）から構成することもできる。誘電体層３４の端部から中心導体３１が突出しており、この突出部３２はオス形状を有する。図中、参照番号３７はカップリングであり、参照番号３６はカップリング３７の内面に設けられた螺合部であり、参照番号３７Ａはカップリング３７の回転及び第１のコネクタ３０の取り付けのためのリングであり、参照番号３７Ｂはシリコーン等の樹脂材料であり、パッキン等の役割を果たしている。特性測定装置５０と第１のコネクタ３０とは、第１のケーブル３９によって接続されている。
【００３３】
ジャック型同軸コネクタから成る第２のコネクタ４０も、中心導体４１、中心導体４１を覆う誘電体層４４、及び、誘電体層４４を覆う外側導体４５から成る。尚、中心導体４１、誘電体層４４及び外側導体４５の構成材料は、供試コネクタ１０におけるこれらの構成材料と同じとすることもできる。中心導体４１の一端４３には、オス形状を有する中心導体１１の他端１２を挿入可能な孔部が設けられている。外側導体４５の外面には螺合部４６が設けられている。更には、第２のコネクタ４０の先端部には、供試コネクタ１０の一部分を格納するための空間（凹部）４８が設けられている。特性測定装置５０と第２のコネクタ４０とは、第２のケーブル４９によって接続されている。
【００３４】
実施例１にあっては、上述の組立体における治具２０の接続部２２に第２のコネクタ４０の先端部を挿入し、治具２０の螺合部２３と第２のコネクタ４０の螺合部４６とを螺合させる。そして、黄銅製の差込ピン２７を治具２０の孔部２４に挿入し、組立体の軸線を中心として差込ピン２７を回転させることで、７８.５Ｎ〜９８.１Ｎ（８ｋｇｆ〜１０ｋｇｆ）のトルクでの供試コネクタ１０と第２のコネクタ４０との締め付けを容易に行うことができる。次いで、第１のコネクタ３０に供試コネクタ１０を挿入し、第１のコネクタ３０のカップリング３７を回転させることで、供試コネクタ１０の螺合部１６と第１のコネクタ３０の螺合部３６とを螺合させる。
【００３５】
こうして、供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ３０に接続し、供試コネクタ１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体１１の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具２０の貫通孔２１に挿入し、且つ、供試コネクタ１０の外側導体１５と治具２０とを接触させ、且つ、治具２０の接続部２２と第２のコネクタ４０とを接続することで供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２を第２のコネクタ４０に接続した状態を得ることができる。
【００３６】
より具体的には、供試コネクタ１０に設けられた空間（凹部）１８内に第１のコネクタ３０を構成する外側導体３５が格納された状態で、且つ、第１のコネクタ３０を構成する中心導体３１の突出部３２と供試コネクタ１０を構成する中心導体１１の一端１３とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第１のコネクタ３０を構成する外側導体３５と供試コネクタ１０を構成する外側導体１５とが接触した状態で、第１のコネクタ３０と供試コネクタ１０とは接続される。一方、第２のコネクタ４０に設けられた空間（凹部）４８内に治具２０に設けられた接続部２２が格納された状態で、且つ、第２のコネクタ４０を構成する中心導体４１の一端４３と供試コネクタ１０を構成する中心導体１１の他端１２とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第２のコネクタ４０を構成する外側導体４５と供試コネクタ１０を構成する外側導体１５とが治具２０を介して電気的に接続された状態で、第２のコネクタ４０と供試コネクタ１０とは接続される。
【００３７】
その後、治具２０を接地して、特性測定装置５０によって供試コネクタ１０の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置５０によって供試コネクタ１０の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第１のコネクタ３０と第２のコネクタ４０とを直接、接続して、特性測定装置５０の校正を行っておく。
【００３８】
実施例１においては、治具２０を用いることで、特性測定装置５０の校正を行った状態から、供試コネクタ１０以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ１０単体の反射係数，通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
【実施例２】
【００３９】
実施例２は、実施例１の変形である。実施例２における供試コネクタ７０は、実施例１における供試コネクタ１０と構造が相違する。実施例２における供試コネクタ７０の模式的な断面図を図６の（Ａ）に示し、実施例２における供試コネクタ７０と治具２０とを組み立てた状態を示す模式的な断面図を図６の（Ｂ）に示す。
【００４０】
実施例２における治具２０は、実施例１にて説明したプラグ型（オス型）の治具２０と同じとすることができる。また、実施例２における第１のコネクタ及び第２のコネクタとして、実施例１における第２のコネクタ４０を使用すればよい。従って、これらの詳細な説明は省略する。尚、以下においては、第１のコネクタを、第１のコネクタ４０と呼称して説明する。
【００４１】
実施例２における供試コネクタ７０は、ＳＭＡ型同軸コネクタであり、しかも、プラグ型同軸コネクタである。そして、供試コネクタ７０は、黄銅やステンレススチールといった導電性材料（例えば、線材や板材）に金メッキ等が施されたものから成る中心導体７１、中心導体７１を覆う主にフッ素系樹脂等から成る誘電体層７４、及び、中心導体７１の一端側に位置する誘電体層の部分７４Ｂを覆う黄銅あるいはステンレススチールといった導電性材料に各種の表面処理が施されて成る外側導体７５から構成されている。中心導体７１と外側導体７５とは誘電体層７４によって絶縁されている。誘電体層７４の一端から中心導体７１が突出しており、この突出部（中心導体７１の一端７３）はオス形状を有する。また、誘電体層７４の他端からも中心導体７１が突出しており、この突出部（中心導体７１の他端７２）もオス形状を有する。外側導体７５の外面にはカップリング７７が配されている。尚、参照番号７６はカップリング７７の内面に設けられた螺合部であり、参照番号７７Ａはカップリング７７の回転及び供試コネクタ７０の取り付けのためのリングであり、参照番号７７Ｂはシリコーン等の樹脂材料であり、パッキン等の役割を果たしている。
【００４２】
実施例２の治具２０も、第１のコネクタ４０（構造は、実施例１における第２のコネクタ４０と同じである）及び第２のコネクタ４０を備えた特性測定装置５０（具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ）を使用し、供試コネクタ７０の特性測定を、供試コネクタ７０の中心導体７１の一端７３を第１のコネクタ４０に接続し、供試コネクタ７０の中心導体７１の他端７２を第２のコネクタ４０に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。そして、実施例２における治具２０は、実施例１にて説明した治具２０と同じ構造、構成を有する。
【００４３】
実施例２にあっても、供試コネクタ７０の外側導体７５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分７４Ａを治具２０の貫通孔２１に挿入し、外側導体７５の端部から延びるフランジ部７５Ａに設けられた孔部（図示せず）を介してビスを治具２０に設けられたビス孔２５にビス止めする。このような組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔２１の径は、供試コネクタ７０の誘電体層の部分７４Ａを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ７０と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具２０の外形は、供試コネクタ７０をビス止めできる大きさであり、治具２０の厚さは、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
【００４４】
実施例２にあっては、供試コネクタ７０と治具２０との組立体における治具２０の接続部２２に第２のコネクタ４０の先端部を挿入し、治具２０の螺合部２３と第２のコネクタ４０の螺合部４６とを螺合させる。そして、黄銅製の差込ピン２７を治具２０の孔部２４に挿入し、組立体の軸線を中心として差込ピン２７を回転させることで、７８.５Ｎ〜９８.１Ｎ（８ｋｇｆ〜１０ｋｇｆ）のトルクでの供試コネクタ７０と第２のコネクタ４０との締め付けを容易に行うことができる。次いで、カップリング７７を回転させることで、供試コネクタ７０の螺合部７６と第１のコネクタ４０の螺合部（より具体的には、図３の（Ｃ）に示した第２のコネクタ４０における螺合部４６）を螺合させる。
【００４５】
こうして、供試コネクタ７０の中心導体７１の一端７３を第１のコネクタ４０に接続し、供試コネクタ７０の外側導体７５によって覆われていない中心導体７１の他端側に位置する誘電体層の部分７４Ａを治具２０の貫通孔２１に挿入し、且つ、供試コネクタ７０の外側導体７５と治具２０とを接触させ、且つ、治具２０の接続部２２と第２のコネクタ４０とを接続することで供試コネクタ７０の中心導体７１の他端７２を第２のコネクタ４０に接続した状態を得ることができる。
【００４６】
より具体的には、第１のコネクタ４０に設けられた空間（凹部）４８内に供試コネクタ７０に設けられた接続部７８が格納された状態で、且つ、第１のコネクタ４０を構成する中心導体４１の一端４３と供試コネクタ７０を構成する中心導体７１の一端７３とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第１のコネクタ４０を構成する外側導体４５と供試コネクタ７０を構成する外側導体７５とが接触した状態で、第１のコネクタ４０と供試コネクタ７０とは接続される。一方、第２のコネクタ４０に設けられた空間（凹部）４８内に治具２０に設けられた接続部２２が格納された状態で、且つ、第２のコネクタ４０を構成する中心導体４１の一端４３と供試コネクタ７０を構成する中心導体７１の他端７２とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第２のコネクタ４０を構成する外側導体４５と供試コネクタ７０を構成する外側導体７５とが治具２０を介して電気的に接続された状態で、第２のコネクタ４０と供試コネクタ７０とは接続される。
【００４７】
その後、治具２０を接地して、特性測定装置５０によって供試コネクタ７０の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置５０によって供試コネクタ７０の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第１のコネクタ４０と終端器とを接続して特性測定装置５０の校正を行い、第２のコネクタ４０と終端器とを接続して特性測定装置５０の校正を行う。あるいは又、第１のコネクタ４０と第２のコネクタ４０との間に中継用の同軸コネクタを介する等により校正を行っておく。
【００４８】
実施例２においても、治具２０を用いることで、特性測定装置５０の校正を行った状態から、供試コネクタ７０以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ７０単体の反射係数，通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
【実施例３】
【００４９】
実施例３も、本発明のコネクタの特性測定（特性評価）に使用される治具及びコネクタの特性測定方法（特性評価方法）に関し、より具体的には、治具は第２の構成を有する。実施例３における治具１２０及び供試コネクタ１０Ａの組立前の模式的な断面図を図７の（Ａ）に示し、組立後の模式的な断面図を図７の（Ｂ）に示す。
【００５０】
実施例３における供試コネクタ１０Ａは、ＳＭＡ型同軸コネクタであり、しかも、ジャック型（メス型あるいはレセプタクル型）同軸コネクタである。そして、供試コネクタ１０Ａは、中心導体１１の他端１２Ａの構造が実施例１における供試コネクタ１０の中心導体１１の他端１２の構造と異なる点を除き、実施例１における供試コネクタ１０と同じ構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。実施例３においては、第１のコネクタ及び第２のコネクタとして、実施例１における第１のコネクタ３０を使用すればよい。従って、これらの詳細な説明は省略する。尚、以下においては、第２のコネクタを、第２のコネクタ３０と呼称して説明する。
【００５１】
実施例３の供試コネクタ１０Ａにあっては、中心導体１１の他端１２Ａには、第２のコネクタ３０の中心導体３１の突出部３２を挿入可能とするために孔部が設けられている。即ち、供試コネクタ１０Ａの中心導体１１の他端１２Ａはメス形状を有している。尚、供試コネクタ１０Ａの中心導体１１の一端１３もメス形状を有している。
【００５２】
実施例３の治具１２０も、第１のコネクタ３０及び第２のコネクタ３０を備えた特性測定装置５０（具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ）を使用し、供試コネクタ１０Ａの特性測定を、供試コネクタ１０Ａの中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ３０に接続し、供試コネクタ１０Ａの中心導体１１の他端１２Ａを第２のコネクタ３０に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。実施例３の治具１２０も、より具体的には、表面に０.１μｍ〜数μｍ程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。
【００５３】
そして、実施例３における治具１２０も、
（Ａ）外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａが挿入される貫通孔１２１、及び、
（Ｂ）第２のコネクタ３０が接続される接続部１２２、
を備えている。
【００５４】
より具体的には、実施例３における治具１２０にあっては、治具１２０の軸線と直角方向における貫通孔１２１の断面形状は円形であり、治具１２０の軸線と直角方向における接続部１２２の断面形状は貫通孔１２１と同心の円形であり、接続部１２２の外面には第２のコネクタ３０と螺合する螺合部１２３が設けられている。即ち、実施例３における治具１２０は、ジャック型（メス型）である。更に、治具１２０の供試コネクタ１０Ａと接する面にはビス孔（実施例１の治具２０におけるビス孔２５と同じもの）が設けられている。治具１２０の軸線に沿った貫通孔１２１の長さＬ（図７の（Ａ）参照）は、外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａの長さと概ね等しい。
【００５５】
そして、供試コネクタ１０Ａの外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具１２０の貫通孔１２１に挿入し、外側導体１５の端部から延びるフランジ部１５Ａに設けられた孔部（図示せず）を介してビス（図示せず）を治具１２０に設けられたビス孔（図示せず）にビス止めする。このような供試コネクタ１０Ａと治具１２０との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔１２１の径は、供試コネクタ１０Ａの誘電体層の部分１４Ａを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ１０Ａと同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具１２０の外形は、供試コネクタ１０Ａをビス止めできる大きさであり、治具１２０の厚さｔ（図７の（Ａ）参照）は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
【００５６】
実施例３にあっては、上述の組立体における治具１２０の接続部１２２に第２のコネクタ３０の先端部を挿入し、カップリング３７を回転させることで、治具１２０の螺合部１２３と第２のコネクタ３０の螺合部３６とを螺合させる。次いで、第１のコネクタ３０におけるカップリング３７を回転させることで、供試コネクタ１０Ａの螺合部１６と第１のコネクタ３０の螺合部３６とを螺合させる。
【００５７】
こうして、供試コネクタ１０Ａの中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ３０に接続し、供試コネクタ１０Ａの外側導体１５によって覆われていない中心導体１１の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具１２０の貫通孔１２１に挿入し、且つ、供試コネクタ１０Ａの外側導体１５と治具１２０とを接触させ、且つ、治具１２０の接続部１２２と第２のコネクタ３０とを接続することで供試コネクタ１０Ａの中心導体１１の他端１２Ａを第２のコネクタ３０に接続した状態を得ることができる。
【００５８】
より具体的には、供試コネクタ１０Ａに設けられた空間（凹部）１８内に第１のコネクタ３０を構成する外側導体３５が格納された状態で、且つ、第１のコネクタ３０を構成する中心導体３１の突出部３２と供試コネクタ１０Ａを構成する中心導体１１の一端１３とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第１のコネクタ３０を構成する外側導体３５と供試コネクタ１０Ａを構成する外側導体１５とが接触した状態で、第１のコネクタ３０と供試コネクタ１０Ａとは接続される。一方、治具１２０に設けられた接続部１２２内に第２のコネクタ３０を構成する外側導体３５が格納された状態で、且つ、第２のコネクタ３０を構成する中心導体３１の突出部３２と供試コネクタ１０Ａを構成する中心導体１１の他端１２Ａとが接続（嵌合）した状態で、且つ、第２のコネクタ３０を構成する外側導体３５と供試コネクタ１０Ａを構成する外側導体１５とが治具１２０を介して電気的に接続された状態で、第２のコネクタ３０と供試コネクタ１０Ａとは接続される。
【００５９】
その後、治具１２０を接地して、特性測定装置５０によって供試コネクタ１０Ａの特性測定を行う。具体的には、特性測定装置５０によって供試コネクタ１０Ａの反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第１のコネクタ３０と終端器とを接続して特性測定装置５０の校正を行い、第２のコネクタ３０と終端器とを接続して特性測定装置５０の校正を行う。あるいは又、第１のコネクタ３０と第２のコネクタ３０との間に中継用の同軸コネクタを介する等により校正を行っておく。
【００６０】
実施例３においても、治具１２０を用いることで、特性測定装置５０の校正を行った状態から、供試コネクタ１０Ａ以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ１０Ａ単体の反射係数，通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
【００６１】
図７に示した実施例３の供試コネクタ１０Ａの変形例として供試コネクタ７０Ａを使用した例を、図８に示す。尚、治具１２０及び供試コネクタ７０Ａの組立前の模式的な断面図を図８の（Ａ）に示し、組立後の模式的な断面図を図８の（Ｂ）に示す。
【００６２】
この供試コネクタ７０Ａは、ＳＭＡ型同軸コネクタであるが、プラグ型同軸コネクタである点、中心導体７１の一端７３の構造がオス形状である点が、図７に示した供試コネクタ１０Ａと相違している。尚、この供試コネクタ７０Ａは、実施例２において説明した供試コネクタ７０と、中心導体７１の他端７２Ａの構造がメス形状である点で相違しているが、その他の点では実施例２において説明した供試コネクタ７０と同じ構造、構成を有する。それ故、供試コネクタ７０Ａの詳細な説明は省略する。尚、中心導体７１の他端７２Ａの有するメス形状は、実施例１における供試コネクタ１０の中心導体１１の一端１３の形状と同じである。この供試コネクタ７０Ａにあっては、図３の（Ｃ）に図示した第２のコネクタ４０を第１のコネクタとして使用し、図３の（Ｂ）に図示した第１のコネクタ３０を第２のコネクタとして使用すればよい。
【実施例４】
【００６３】
実施例４も、本発明のコネクタの特性測定（特性評価）に使用される治具及びコネクタの特性測定方法（特性評価方法）に関し、より具体的には、治具は第３の構成を有する。実施例４における治具２２０及び供試コネクタ２１０の組立前の模式的な断面図を図９に示し、組立前の模式的な正面図を図１０に示し、組立後の模式的な断面図を図１１に示す。また、第１のコネクタ２３０の模式的な一部断面図を図１２の（Ａ）に示し、模式的な正面図を図１２の（Ｂ）に示す。更には、第２のコネクタ２４０の模式的な一部断面図を図１３の（Ａ）に示し、模式的な正面図を図１３の（Ｂ）に示す。
【００６４】
実施例４における供試コネクタ２１０は、ＳＭＢ型同軸コネクタであり、しかも、プラグ型同軸コネクタである。そして、供試コネクタ２１０は、第１のコネクタ２３０との接続部分が異なる。即ち、実施例４における供試コネクタ２１０は、第１のコネクタ２３０との接続部分が、着脱をワンタッチで行うことができる所謂プッシュオンタイプである。具体的には、外側導体１５に割り溝部２１７が設けられている。この点を除き、実施例４における供試コネクタ２１０は、実質的に実施例１における供試コネクタ１０と同じ構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。
【００６５】
実施例４の治具２２０も、第１のコネクタ２３０及び第２のコネクタ２４０を備えた特性測定装置５０（具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ）を使用し、供試コネクタ２１０の特性測定を、供試コネクタ２１０の中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ２３０に接続し、供試コネクタ２１０の中心導体１１の他端１２を第２のコネクタ２４０に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。この治具２２０も、第２のコネクタ２４０との接続部分が、着脱をワンタッチで行うことができる所謂プッシュオンタイプである。
【００６６】
具体的には、実施例４における治具２２０も、
（Ａ）供試コネクタ２１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａが挿入される貫通孔２２１、及び、
（Ｂ）第２のコネクタ２４０が接続される接続部２２２、
を備えている。
【００６７】
実施例４の治具２２０も、より具体的には、表面に０.１μｍ〜数μｍ程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。そして、接続部２２２の内面には誘電体層２２４が嵌合されている。治具２２０にあっては、治具２２０の軸線と直角方向における貫通孔２２１の断面形状は円形であり、治具２２０の軸線と直角方向における接続部２２２の断面形状は貫通孔２２１と同心の円形であり、接続部２２２の外面には、第２のコネクタ２４０と係合する凹部２２３が設けられている。即ち、実施例４における治具２２０は、ジャック型（メス型）である。更に、治具２２０の供試コネクタ２１０と接する面にはビス孔（実施例１の治具２０におけるビス孔２５と同じもの）が設けられている。治具２２０の軸線に沿った貫通孔２２１の長さＬ（図９参照）は、外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａの長さと概ね等しい。
【００６８】
そして、供試コネクタ２１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具２２０の貫通孔２２１に挿入し、外側導体１５の端部から延びるフランジ部１５Ａに設けられた孔部（図示せず）を介してビス（図示せず）を治具２２０に設けられたビス孔（図示せず）にビス止めする。このような供試コネクタ２１０と治具２２０との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔２２１の径は、供試コネクタ２１０の誘電体層の部分１４Ａを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ２１０と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具２２０の外形は、供試コネクタ２１０をビス止めできる大きさであり、治具２２０の厚さｔ（図９参照）は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
【００６９】
実施例４にあっては、上述の組立体における治具２２０の接続部２２２に、図１３に示す第２のコネクタ２４０の先端部を挿入すると、第２のコネクタ２４０の先端部における空間２４８内における割り溝部２４７に設けられた凸部（突起部）２４６が治具２２０に設けられた凹部２２３と係合することで、供試コネクタ２１０と第２のコネクタ２４０とが接続される。尚、実施例４における第２のコネクタ２４０は、螺合部４６が無い代わりに、外側導体４５に割り溝部２４７に設けられ、割り溝部２４７に凸部（突起部）２４６が設けられている点を除き、実施例１における第２のコネクタ４０と同様の構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。尚、参照番号２４９は、割り溝部２４７を補強するための一種のリングである。
【００７０】
一方、図１２に示す第１のコネクタ２３０を供試コネクタ２１０の空間２１８内に挿入すると、割り溝部２１７に設けられた凸部（突起部）２１６が第１のコネクタ２３０の外側導体３５に設けられた凹部２３６と係合することで、供試コネクタ２１０と第１のコネクタ２３０とが接続される。尚、参照番号２１９は、割り溝部２１７を補強するための一種のリングである。また、実施例４における第１のコネクタ２３０は、螺合部３６、カップリング３７等が無い代わりに、外側導体３５に凹部２３６が設けられている点を除き、実施例１における第１のコネクタ３０と同様の構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。
【００７１】
こうして、供試コネクタ２１０の中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ２３０に接続し、供試コネクタ２１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体１１の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具２２０の貫通孔２２１に挿入し、且つ、供試コネクタ２１０の外側導体１５と治具２２０とを接触させ、且つ、治具２２０の接続部２２２と第２のコネクタ２４０とを接続することで供試コネクタ２１０の中心導体１１の他端１２を第２のコネクタ２４０に接続した状態を得ることができる。
【００７２】
より具体的には、供試コネクタ２１０に設けられた空間（凹部）２１８内に第１のコネクタ２３０を構成する外側導体３５が格納された状態で、且つ、第１のコネクタ２３０を構成する中心導体３１の突出部３２と供試コネクタ２１０を構成する中心導体１１の一端１３とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第１のコネクタ２３０を構成する外側導体３５と供試コネクタ２１０を構成する外側導体１５とが接触した状態で、第１のコネクタ２３０と供試コネクタ２１０とは接続される。一方、治具２２０に設けられた接続部２２２内に第２のコネクタ２４０を構成する外側導体４５が格納された状態で、且つ、第２のコネクタ２４０を構成する中心導体４１の一端４３と供試コネクタ２１０を構成する中心導体１１の他端１２とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第２のコネクタ２４０を構成する外側導体４５と供試コネクタ２１０を構成する外側導体１５とが治具２２０を介して電気的に接続された状態で、第２のコネクタ２４０と供試コネクタ２１０とは接続される。
【００７３】
その後、治具２２０を接地して、特性測定装置５０によって供試コネクタ２１０の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置５０によって供試コネクタ２１０の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第１のコネクタ２３０と第２のコネクタ２４０を直接、接続して特性測定装置５０の校正を行っておく。
【００７４】
実施例４においても、治具２２０を用いることで、特性測定装置５０の校正を行った状態から、供試コネクタ２１０以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ２１０単体の反射係数，通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
【実施例５】
【００７５】
実施例５も、本発明のコネクタの特性測定（特性評価）に使用される治具及びコネクタの特性測定方法（特性評価方法）に関し、より具体的には、治具は第４の構成を有する。実施例５における治具３２０及び供試コネクタ２１０の組立前の模式的な断面図を図１４に示し、組立後の模式的な断面図を図１５の（Ａ）に示し、第２のコネクタ３４０の模式的な断面図を図１５の（Ｂ）に示す。
【００７６】
実施例５における供試コネクタ２１０、第１のコネクタ２３０は、実施例４にて説明した供試コネクタ２１０、第１のコネクタ２３０と同じものであるので、詳細な説明は省略する。また、実施例５における第２のコネクタ３４０として、実施例４にて説明した第１のコネクタ２３０を構成する中心導体３１の突出部３２を、メス形状を有する一端（実施例４における第２のコネクタ２４０を構成する中心導体４１の一端４３と同じ形状）に置き換えたコネクタを使用すればよい。
【００７７】
実施例５の治具３２０も、第１のコネクタ２３０及び第２のコネクタ３４０を備えた特性測定装置５０（具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ）を使用し、供試コネクタ２１０の特性測定を、供試コネクタ２１０の中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ２３０に接続し、供試コネクタ２１０の中心導体１１の他端１２を第２のコネクタ３４０に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。実施例５の治具３２０も、第２のコネクタ３４０との接続部分が、着脱をワンタッチで行うことができる所謂プッシュオンタイプである。
【００７８】
具体的には、実施例５における治具３２０も、
（Ａ）供試コネクタ２１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａが挿入される貫通孔３２１、及び、
（Ｂ）第２のコネクタ３４０が接続される接続部３２２、
を備えている。
【００７９】
実施例５の治具３２０も、より具体的には、表面に０.１μｍ〜数μｍ程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。治具３２０にあっては、治具３２０の軸線と直角方向における貫通孔３２１の断面形状は円形であり、治具３２０の軸線と直角方向における接続部３２２の断面形状は貫通孔３２１と同心の円形であり、接続部３２２の内面には、第２のコネクタ３４０と係合する凸部（突起部）３２６が設けられている。即ち、実施例５における治具２２０は、プラグ型（オス型）である。更に、治具３２０の供試コネクタ２１０と接する面にはビス孔（実施例１の治具２０におけるビス孔２５と同じもの）が設けられている。治具３２０の軸線に沿った貫通孔３２１の長さＬ（図１４参照）は、外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａの長さと概ね等しい。尚、実施例５における治具３２０は、凹部２２３及び誘電体層２２４が無い代わりに、接続部３２２に割り溝部３２７に設けられ、割り溝部３２７に凸部（突起部）３２６が設けられている点を除き、実施例４における治具２２０と同様の構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。図中、参照番号３２９は、割り溝部３２７を補強するための一種のリングである。
【００８０】
そして、供試コネクタ２１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具３２０の貫通孔３２１に挿入し、外側導体１５の端部から延びるフランジ部１５Ａに設けられた孔部（図示せず）を介してビス（図示せず）を治具３２０に設けられたビス孔（図示せず）にビス止めする。このような供試コネクタ２１０と治具３２０との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔３２１の径は、供試コネクタ２１０の誘電体層の部分１４Ａを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ２１０と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具３２０の外形は、供試コネクタ２１０をビス止めできる大きさであり、治具３２０の厚さｔ（図１４参照）は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
【００８１】
実施例５にあっては、上述の組立体における治具３２０の接続部３２２に第２のコネクタ３４０の先端部を挿入すると、治具３２０の割り溝部３２７に設けられた凸部（突起部）３２６が第２のコネクタ３４０の外側導体４５に設けられた凹部３４６と係合することで、治具３２０と第２のコネクタ３４０とが接続される。また、実施例４と同様にして、供試コネクタ２１０と第１のコネクタ２３０とが接続される。
【００８２】
こうして、供試コネクタ２１０の中心導体１１の一端１３を第１のコネクタ２３０に接続し、供試コネクタ２１０の外側導体１５によって覆われていない中心導体１１の他端側に位置する誘電体層の部分１４Ａを治具３２０の貫通孔３２１に挿入し、且つ、供試コネクタ２１０の外側導体１５と治具３２０とを接触させ、且つ、治具３２０の接続部３２２と第２のコネクタ３４０とを接続することで供試コネクタ２１０の中心導体１１の他端１２を第２のコネクタ３４０に接続した状態を得ることができる。
【００８３】
より具体的には、供試コネクタ２１０に設けられた空間（凹部）２１８内に第１のコネクタ２３０を構成する外側導体３５が格納された状態で、且つ、第１のコネクタ２３０を構成する中心導体３１の突出部３２と供試コネクタ２１０を構成する中心導体１１の一端１３とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第１のコネクタ２３０を構成する外側導体３５と供試コネクタ２１０を構成する外側導体１５とが接触した状態で、第１のコネクタ２３０と供試コネクタ２１０とは接続される。一方、治具３２０に設けられた接続部２２２内に第２のコネクタ３４０を構成する外側導体４５が格納された状態で、且つ、第２のコネクタ３４０を構成する中心導体４１の一端４３と供試コネクタ２１０を構成する中心導体１１の他端１２とが接続（嵌合）した状態で、且つ、第２のコネクタ３４０を構成する外側導体４５と供試コネクタ２１０を構成する外側導体１５とが治具３２０を介して電気的に接続された状態で、第２のコネクタ３４０と供試コネクタ２１０とは接続される。
【００８４】
その後、治具３２０を接地して、特性測定装置５０によって供試コネクタ２１０の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置５０によって供試コネクタ２１０の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第１のコネクタ２３０と終端器とを接続して特性測定装置５０の校正を行い、第２のコネクタ３４０と終端器とを接続して特性測定装置５０の校正を行っておく。
【００８５】
実施例５においても、治具３２０を用いることで、特性測定装置５０の校正を行った状態から、供試コネクタ２１０以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ２１０単体の反射係数，通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
【００８６】
以上、本発明を好ましい実施例に基づき説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。実施例にて説明した治具、供試コネクタ、第１のコネクタ、第２のコネクタの構造、構成は例示であり、適宜変更することができるし、これらを構成する材料、材質、表面処理等も例示であり、適宜変更することができる。
【００８７】
供試コネクタの形式［プラグ型であるか、ジャック型であるか］、供試コネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構成［オス形状を有するか、メス形状を有するか］も、実施例に示した例に限定されるものではない。供試コネクタの形式、供試コネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構成、並びに、供試コネクタと接続すべき第１及び第２のコネクタの形式、第１及び第２のコネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構成の組合せを、以下の、表１及び表２に示す。ここで、実施例１、実施例２、実施例３、実施例３の変形例、実施例４、実施例５は、それぞれ、表１及び表２中の「ケース−３」、「ケース−１５」、「ケース−２」、「ケース−１４」、「ケース−１２」、「ケース−１１」に該当する。
【００８８】
2005221421.tif 000003
【００８９】
2005221421.tif 000004
【００９０】
供試コネクタの治具への取付けは、ビス止めが一般的であるが、半田付け等の他の取付け方法を採用してもよい。また、実施例１〜実施例３における供試コネクタと第２のコネクタとの締め付けは、代替的に、トルクレンチとスパナを用いて行ってもよいし、持ち易さや滑り止め等を考慮して、治具の外周部にローレットを設けてもよいし、治具の外周部の形状を六角形状やＨカット形状（対称に位置する円の２カ所を切り欠いた形状）とすることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】図１は、実施例１における治具、供試コネクタ、特性測定装置に備えられた第１のコネクタ及び第２のコネクタの模式的な断面図である。
【図２】図２の（Ａ）は、実施例１における供試コネクタの拡大された模式的断面図であり、図２の（Ｂ）は、供試コネクタを治具に取り付ける直前のこれらの模式的な断面図であり、図２の（Ｃ）は、供試コネクタを治具に取り付けた状態の模式的な断面図である。
【図３】図３の（Ａ）は、実施例１において、供試コネクタを治具に取り付けたものと、第１のコネクタ及び第２のコネクタとを接続する直前の状態を示す模式図であり、図３の（Ｂ）及び（Ｃ）は、それぞれ、第１のコネクタ及び第２のコネクタの一部を切り欠いた模式図である。
【図４】図４の（Ａ）は、実施例１における治具の模式的な正面図であり、図４の（Ｂ）は、実施例１における治具の模式的な側面図及び断面図である。
【図５】図５は、第１のコネクタ及び第２のコネクタを備えた特性測定装置の模式図である。
【図６】図６の（Ａ）は、実施例２における供試コネクタの模式的な断面図であり、図６の（Ｂ）は、実施例２における供試コネクタと治具を組み立てた状態を示す模式的な断面図である。
【図７】図７の（Ａ）は、実施例３における供試コネクタの模式的な断面図であり、図７の（Ｂ）は、実施例３における供試コネクタと治具を組み立てた状態を示す模式的な断面図である。
【図８】図８の（Ａ）は、実施例３の変形例における供試コネクタの模式的な断面図であり、図８の（Ｂ）は、実施例３の変形例における供試コネクタと治具を組み立てた状態を示す模式的な断面図である。
【図９】図９は、実施例４における供試コネクタと治具の組立前の模式的な断面図である。
【図１０】図１０は、実施例４における供試コネクタと治具の組立前の模式的な正面図である。
【図１１】図１１は、実施例４における供試コネクタと治具を組み立てた状態を示す模式的な断面図である。
【図１２】図１２の（Ａ）は、実施例４における第１のコネクタの模式的な断面図であり、図１２の（Ｂ）は、実施例４における第１のコネクタの模式的な正面図である。
【図１３】図１３の（Ａ）は、実施例４における第２のコネクタの模式的な断面図であり、図１３の（Ｂ）は、実施例４における第１のコネクタの模式的な正面図である。
【図１４】図１４は、実施例５における治具及び供試コネクタの組立前の模式的な断面図である。
【図１５】図１５の（Ａ）は、実施例５における治具及び供試コネクタの組立後の模式的な断面図であり、図１５の（Ｂ）は、実施例５における第２のコネクタの模式的な断面図である。
【図１６】図１６の（Ａ）は、従来の技術における２つの供試コネクタをストリップラインの両端に接続した状態を模式的に示す平面図であり、図１６の（Ｂ）は、図１６の（Ａ）の模式的な平面図における供試コネクタを切断したときの状態を示す模式図である。
【図１７】図１７の（Ａ）及び（Ｂ）は、それぞれ、図１６の（Ａ）に示した２つの供試コネクタをストリップラインの両端に接続した状態及びストリップライン保持台を示し模式的な正面図及び模式的な断面図である。
【図１８】図１８は、特性測定装置の校正を行う直前の第１のコネクタ及び終端器の状態を示す模式図である。
【図１９】図１９の（Ａ）は、従来の技術における１つの供試コネクタを治具を介して接続した状態を示す模式的な平面図であり、図１９の（Ｂ）は模式的な断面図である。
【符号の説明】
【００９２】
１０，７０，７０Ａ，２１０・・・供試コネクタ、１１，７１・・・中心導体、１２，７２，７２Ａ・・・供試コネクタの中心導体の他端、１３，７３・・・供試コネクタの中心導体の一端、１４，７４・・・誘電体層、１４Ａ，１４Ｂ，７４Ａ，７４Ｂ・・・誘電体層の部分、１５，７５・・・外側導体、１５Ａ，７５Ａ・・・フランジ部、１６，７６・・・螺合部、１８，７８，２１８・・・空間、１９，７９・・・ビス、２０，１２０，２２０・・・治具、２１，１２１，２２１・・・貫通孔、２２，１２２，２２２・・・接続部、２３，１２３・・・螺合部、２２３・・・凹部、２２４・・・誘電体層、２４・・・孔部、２５・・・ビス孔、２７・・・差込ピン、３０，２３０・・・第１のコネクタ、３１・・・中心導体、３２・・・突出部、３４・・・誘電体層、３５・・・外側導体、３６・・・螺合部、３７・・・カップリング、３７Ａ，・・・リング、３７Ｂ・・・樹脂材料、３９・・・第１のケーブル、４０，２４０・・・第２のコネクタ、４１・・・中心導体、４３・・・中心導体の一端、４４・・・誘電体層、４５・・・外側導体、４６・・・螺合部、４８，２４８・・・空間（凹部）、４９・・・第２のケーブル、５０・・・特性測定装置、７７・・・カップリング、７７Ａ，・・・リング、７７Ｂ・・・樹脂材料、２３６・・・凹部、２１６，２４６・・・凸部（突起部）、２１７，２４７・・・割り溝部、２１９，２４９・・・リング
【図１】
2005221421.tif 000005
【図２】
2005221421.tif 000006
【図３】
2005221421.tif 000007
【図４】
2005221421.tif 000008
【図５】
2005221421.tif 000009
【図６】
2005221421.tif 000010
【図７】
2005221421.tif 000011
【図８】
2005221421.tif 000012
【図９】
2005221421.tif 000013
【図１０】
2005221421.tif 000014
【図１１】
2005221421.tif 000015
【図１２】
2005221421.tif 000016
【図１３】
2005221421.tif 000017
【図１４】
2005221421.tif 000018
【図１５】
2005221421.tif 000019
【図１６】
2005221421.tif 000020
【図１７】
2005221421.tif 000021
【図１８】
2005221421.tif 000022
【図１９】
2005221421.tif 000023