(57)【要約】【課題】  接点間の導通状態を加振中に連続的に検出することを目的とする。また、導通と非導通（導通断）とが繰り返し発生する場合に、その状態を検出し、また、その回数を計測し表示することを目的とする。また、トリガー信号を別途取り出しタイミング調整しなくても検出を可能にすることを目的とする。【解決手段】  信号を入力し、入力されている信号が所定の基準により所定の接点の接触異常を示す異常信号かどうかを検出する検出部６と、上記検出部６による異常信号の検出回数を計測する回数計測部７と、上記回数計測部７により計測された検出回数を出力する表示部８とを備えたことを特徴とする。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号を入力し、入力されている信号が所定の基準により所定の接点の接触異常を示す異常信号かどうかを検出する検出部と、
上記検出部による異常信号の検出回数を計測する回数計測部と、
上記回数計測部により計測された検出回数を出力する検出回数出力部と
を備えたことを特徴とする接点信号異常検出装置。
【請求項２】
上記検出部は、所定の信号を入力した場合に、上記所定の信号の入力をトリガーとして、所定の期間を計測し、所定の期間が経過した時点での入力されている信号が異常信号かどうかを検出することを特徴とする請求項１記載の接点信号異常検出装置。
【請求項３】
所定の接点の導通を示す導通信号と上記所定の接点の導通断状態を示す導通断信号とを入力し、入力される信号が導通信号から導通断信号に変化した場合に、導通断信号の入力をトリガーとして、所定の期間を計測し、所定の期間が経過した時点での上記入力部により入力されている信号を検出する検出部と、
上記検出部により検出された導通断信号の検出回数を計測する回数計測部と、
上記回数計測部により計測された検出回数を出力する検出回数出力部と
を備えたことを特徴とする導通断信号検出装置。
【請求項４】
上記検出部は、
所定の期間を計測するタイマ部と、
上記タイマ部により計測される所定の期間が経過した時点で、上記入力部により入力されている信号を判定する判定部と
を有することを特徴とする請求項３記載の導通断信号検出装置。
【請求項５】
上記タイマ部は、所定の期間を計測している間に、再度、上記入力部により入力される信号が導通信号から導通断信号に変化した場合に、再度の導通断信号の入力をリトリガーとして、所定の期間を計測し直し、
上記判定部は、上記タイマ部により計測し直された所定の期間が経過した時点で、上記入力部により入力されている信号を判定することを特徴とする導通断信号検出装置。
【請求項６】
複数の接点の各接点における導通断を検出する検出部と、
上記検出部により検出された複数の接点の各接点における導通断の回数を計測する回数計測部と、
上記回数計測部により計測された各接点における導通断の回数を出力する検出回数出力部と
を備えたことを特徴とする接点信号異常検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、接点信号異常検出装置、或いは導通断信号検出装置に関する。特に、メモリーカードと接続するメモリーカード用のコネクタの接点安定性を測定するために、導通された接点の導通断を検出するコネクタの接点信号異常検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被試験用のコネクタのコンタクトとそれに嵌合するメモリーカードのコンタクト間の接触安定性を評価するために、両者を嵌合させた状態で振動を加える振動試験を実施し、振動を加えた状態で、コネクタのコンタクトとメモリーカードのコンタクトとの間で導通断が起こらないかどうかを測定し、その結果を確認する必要がある。
【０００３】
従来、メモリーカードのコンタクトと接続するメモリーカード用のコネクタの接点であるコンタクトの接点安定性を測定するために、メモリースコープ、またはペン式レコーダ等の汎用的測定装置を用いて、導通された接点の導通断を検出していた。
【０００４】
具体的には、２つのコンタクト間が内部で論理回路を構成する試験用メモリーカードを用意する。そして、用意された試験用メモリーカードを被試験用のコネクタに差し込む。すなわち、試験用メモリーカードの２つのコンタクトを対応するコネクタの２つのコンタクトと嵌合させる。そして、コネクタの２つのコンタクトを外部の汎用的測定装置に接続し、コネクタの２つのコンタクト間の導通状態を外部の汎用的測定装置でモニタしていた。
【０００５】
また、コネクタの瞬断試験装置として、ケーブルにより接続された一対のコネクタに分割抵抗を介して接続される電源供給回路と、前記ケーブルとコネクタとの接続が正常である場合に出力される分割抵抗による分圧値と略等しい電圧を供給する基準電圧供給回路と、前記分割抵抗による分圧値と、前記基準電圧供給回路からの出力電圧とを比較するコンパレータと、前記コンパレータからの出力の変化をトリガとして動作し、後段の表示装置を駆動するフリップフロップとから構成する技術が開示されている。（特許文献１参照）
【０００６】
また、波形表示された所定期間の測定データにトリガ発生点を表示するトリガポジション表示装置として、前記所定期間内に測定が停止された時に、前記測定データが予め設定したトリガ条件を満たしていれば、前記トリガ条件を満たした前記測定データに対してトリガ発生点を示すトリガポジション表示を行う技術が開示されている。（特許文献２参照）
【特許文献１】特開平５−２６４６３５号公報
【特許文献２】特開２００３−３０７５３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ここで、被試験用のコネクタのコンタクトとそれに嵌合するメモリーカードのコンタクト間の接触安定性を評価するためには、コンタクトという接点間の導通状態を加振中に連続的に検出する必要がある。また、導通と非導通（導通断）とが繰り返し発生する場合に、その状態を検出し、また、その回数を計測し表示する必要がある。また、ノイズと導通断とを区別するためにノイズを除去して導通状態を検出するためのトリガー信号を設定する必要がある。さらに、実用化段階では、多数の接点、及び多数のコネクタを同時に評価する必要がある。
【０００８】
しかしながら、メモリースコープを用いた場合、加振中に接点間の導通状態を連続的に検出する際、導通から導通断の信号変化を１回目は検出し記録することが可能であるが、連続してしかもどのタイミングで次の導通断が発生するか分からない次回以降の検出ができないといった問題がある。
【０００９】
また、１回目の信号変化を検出し記録するにあたっても、信号変化を検出し記録するためのトリガー信号を設定する必要があるが、そのため、トリガー信号を別途取り出し、タイミング調整が必要となり、さらに、トリガー信号を別途取り出し、タイミング調整をおこなうために、事前に予備試験などが必要となるといった問題があった。さらに言えば、被試験品であるコネクタに余分なストレスを加えられないなど事前に予備試験をおこなうことができない場合があり、メモリーカードのコンタクト間の接触安定性を評価すること自体が困難となる場合があるといった問題があった。
【００１０】
また、通常、多数の接点を有するコネクタに対し、第１，２番目の接点間の導通用に１つの装置、第３，４番目の接点間の導通用に１つの装置、・・・といったように、多数の接点のコネクタに対し、同時に試験をおこなう必要があった。したがって、簡単におこなうことができず、実用性に欠ける。また、測定するためには、測定数に対応する多数台数或いは多チャンネルタイプのメモリースコープを準備する必要がある。また、例えば、電子回路基板上に複数個のコネクタが実装されている場合なども同様に測定数に対応する多数台数或いは多チャンネルタイプのメモリースコープを準備する必要がある。以上のように、多数の接点、或いは多数のコネクタに対し、同時に測定するためには、多数台数或いは多チャンネルタイプのメモリースコープを準備する必要があり、コスト、及び設置面積等の経済的観点からも実用性に欠ける。その結果、多数接点を同時測定できないといった問題があった。
【００１１】
次に、ペン式レコーダを用いた場合、瞬断状態を検出できないといった問題があった。ペン式レコーダは、機械部があるため、導通断の検出が必要な、例えば、１０ｎｓｅｃ程度の短時間の導通断に対し、追従することができず記録できないといった問題があった。
【００１２】
また、どのタイミングで発生するかわからない導通断を検出するために例えば数１０ｍという装置に収納不能な量の記録用紙が必要となってしまうといった問題があった。
【００１３】
また、メモリースコープと同様に、多数の接点、或いは多数のコネクタに対し、同時に測定するためには、多数台数或いは多チャンネルタイプの装置を準備する必要があり、コスト、及び設置面積等の経済的観点からも実用性に欠ける。その結果、多数接点を同時測定できないといった問題があった。
【００１４】
本発明は、接点間の導通状態を加振中に連続的に検出することを目的とする。また、導通と非導通（導通断）とが繰り返し発生する場合に、その状態を検出し、また、その回数を計測し表示することを目的とする。また、トリガー信号を別途取り出しタイミング調整しなくても検出を可能にすることを目的とする。
【００１５】
また、多数の接点、及び多数のコネクタを同時に評価することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
この発明に係る接点信号異常検出装置は、信号を入力し、入力されている信号が所定の基準により所定の接点の接触異常を示す異常信号かどうかを検出する検出部と、
上記検出部による異常信号の検出回数を計測する回数計測部と、
上記回数計測部により計測された検出回数を出力する検出回数出力部と
を備えたことを特徴とする。
【００１７】
上記検出部は、所定の信号を入力した場合に、上記所定の信号の入力をトリガーとして、所定の期間を計測し、所定の期間が経過した時点での入力されている信号が異常信号かどうかを検出することを特徴とする。
【００１８】
この発明に係る導通断信号検出装置は、所定の接点の導通を示す導通信号と上記所定の接点の導通断状態を示す導通断信号とを入力し、入力される信号が導通信号から導通断信号に変化した場合に、導通断信号の入力をトリガーとして、所定の期間を計測し、所定の期間が経過した時点での上記入力部により入力されている信号を検出する検出部と、
上記検出部により検出された導通断信号の検出回数を計測する回数計測部と、
上記回数計測部により計測された検出回数を出力する検出回数出力部と
を備えたことを特徴とする。
【００１９】
上記検出部は、
所定の期間を計測するタイマ部と、
上記タイマ部により計測される所定の期間が経過した時点で、上記入力部により入力されている信号を判定する判定部と
を有することを特徴とする。
【００２０】
上記タイマ部は、所定の期間を計測している間に、再度、上記入力部により入力される信号が導通信号から導通断信号に変化した場合に、再度の導通断信号の入力をリトリガーとして、所定の期間を計測し直し、
上記判定部は、上記タイマ部により計測し直された所定の期間が経過した時点で、上記入力部により入力されている信号を判定することを特徴とする。
【００２１】
この発明に係る接点信号異常検出装置は、複数の接点の各接点における導通断を検出する検出部と、
上記検出部により検出された複数の接点の各接点における導通断の回数を計測する回数計測部と、
上記回数計測部により計測された各接点における導通断の回数を出力する検出回数出力部と
を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、異常信号を検出し、また、その回数を計測し出力することができる。
【００２３】
また、本発明によれば、トリガー信号を別途取り出し、タイミング調整しなくても、自動的にトリガー信号を生成することができる。さらに、任意の間隔で信号状態を検出することができる。
【００２４】
また、本発明によれば、コンタクトという接点の間の信号状態を加振中に連続的に検出することができる。また、導通と非導通（導通断）とが繰り返し発生する場合に、その状態を検出し、また、その回数を計測し出力することができる。
【００２５】
また、本発明によれば、自動的にノイズを除去することができる。
【００２６】
また、本発明によれば、多数の接点、及び多数のコネクタを同時に評価することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
実施の形態１．
図１は、実施の形態１における構成を示す図である。
【００２８】
図１では、被試験用のコネクタ１と、被試験用のコネクタ１に接続される試験用のメモリーカード２と、被試験用のコネクタ１に接続される接点信号異常検出装置１０とが示されている。
【００２９】
被試験用のコネクタ１は、ここでは、例えば、８個のコンタクト３を有している。メモリーカード２は、コネクタ１のコンタクト３の数に対応するように８個のコンタクト３と、２つのコンタクト３にメモリーカード２内部で接続するように論理回路を構成する４つの論理回路部４とを有している。接点信号異常検出装置１０（導通断信号検出装置の一例である）は、ここでは、４つの検出ユニット９を有している。各検出ユニット９は、コネクタ１の端子に接続する検出端子５、検出部６、回数計測部７、表示部８を有している。検出端子５と検出部６と回数計測部７と表示部８とは、順次接続されている。各検出ユニット９は、コネクタ１の８つのコンタクト３のうち、２つのコンタクト３について、コネクタ１の接点信号異常（接点信号割れ）を検出する。
【００３０】
図２は、コネクタのコンタクトとメモリーカードのコンタクトとを嵌合させた状態を示す図である。
【００３１】
図２に示すように、コネクタ１の各コンタクト３には、対応するメモリーカード２の各コンタクト３が嵌合される。
【００３２】
図３は、検出部の内部構成を示すブロック図である。
【００３３】
図３において、検出部６（状態検出装置の一例である）は、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部６１、タイマ部６２、パルス幅判定信号生成部６３、判定部６４を有している。
【００３４】
被試験用のコネクタ１にメモリーカード２を差し込み、被試験用のコネクタ１とコネクタ接点信号異常検出装置１０とを接続した状態で、論理回路部４を用いて導通状態を生成する。
【００３５】
コネクタ１のコンタクト３とメモリーカード２のコンタクト３とを嵌合させた状態で、コンタクト間の接触安定性を評価するために振動を加える振動試験を実施する。振動を加えることにより、加振されたコネクタ１のコンタクト３とメモリーカード２のコンタクト３との嵌合状態は、不安定となり、論理回路部４を用いて導通状態を生成しているにもかかわらず、コンタクト接点において、導通／導通断が発生する。また、連続的に加振されるため、連続的或いは不規則に導通／導通断が発生する。かかる導通／導通断のアナログ信号は、導通状態で、Ｈ（Ｈｉｇｈ）レベル信号、非導通状態でＬ（Ｌｏｗ）レベル信号として、コネクタ１からコネクタ接点信号異常検出装置１０に検出端子５を介して検出部６に入力される。言い換えれば、検出端子５は、所定の接点の導通を示す導通信号と上記所定の接点の導通断状態を示す導通断信号とを入力する。ここでは、非導通状態を異常とし、検出端子５は、所定の接点の接触異常を示す少なくとも１つの異常信号としてのＬレベル信号を入力する。検出部６では、Ａ／Ｄ変換部６１が、入力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。
【００３６】
図４は、検出部における動作を説明するための図である。
【００３７】
検出部６は、Ａ／Ｄ変換部６１を介して検出端子５により入力されている信号が所定の基準により異常信号かどうかを検出する。所定の基準として、検出端子５により異常信号が入力された場合に、異常信号の入力をトリガーとして、所定の期間を計測し、所定の期間が経過した時点での上記検出端子５により入力されている信号が異常信号かどうかを検出する。言い換えれば、検出部６は、上記検出端子５により入力される信号が導通信号から導通断信号に変化した場合に、導通断信号の入力をトリガーとして、所定の期間を計測し、所定の期間が経過した時点での上記検出端子５により入力されている信号を検出する。
【００３８】
図４では、第１段目に、検出部６への入力信号として、Ａ／Ｄ変換部６１によりデジタル信号に変換されたパルス信号が表示されている。導通状態で、Ｈレベル信号、非導通状態でＬレベル信号として表示している。横軸は、時間軸である。
【００３９】
また、図４の第２段目に、パルス幅判定信号を示している。ノイズと区別するために、パルス幅判定信号がＬｏｗ状態である間中、上記パルス信号がＬレベル信号を維持した場合に、かかるＬレベル信号を導通断であると検出部６が検出する。
【００４０】
そのために、タイマ部６２は、Ａ／Ｄ変換部６１を介して上記入力部の一例としての検出端子５により入力される信号が導通信号から導通断信号に変化した場合に、導通断信号の入力をトリガーとして、所定の期間を計測（カウント）する。言い換えると、タイマ部６２は、入力されたパルス信号が、Ｈレベル信号からＬレベル信号への立下がり（図４におけるＴ１の時点）をトリガーとして、所定の期間を計測する。また、タイマ部６２は、所定の期間を計測している間に、再度、上記検出端子５により入力される信号が導通信号から導通断信号に変化した場合に、再度の導通断信号の入力をリトリガーとして、所定の期間を計測し直す。すなわち、所定の期間を計測している間に、さらに、上記検出端子５により次の導通断信号が入力された場合、言い換えれば、次のＨレベル信号からＬレベル信号への立下がりが生じた場合に、入力されたパルス信号が、Ｈレベル信号からＬレベル信号への立下がり（図４におけるＴ２の時点）をリトリガーとして、上記所定の期間を計測し直す。また、その次に上記検出端子５により所定の信号が入力された場合に、改めて所定の期間を計測する。言い換えると、タイマ部６２は、入力されたパルス信号が、次にＨレベル信号からＬレベル信号への立下がり（図４におけるＴ４の時点）をトリガーとして、改めて所定の期間を計測する。今度は、所定の期間を計測している間に、さらに、上記検出端子５により次の所定の信号が入力されていないので、カウントし直していない。所定の期間は、例えば、１０ｎｓｅｃである。この所定の期間は、ユーザにより自由に設定（調整）することができる。調整可能とすることによりノイズのような短いパルス（入力信号）を削除することが可能であると共に、任意の周波数変化の検出を設定することができる。また、次のＨレベル信号からＬレベル信号への立下がりが生じた場合に、カウントし直すことにより、後述するように、ノイズを排除し、導通断と判断されるべきＬレベル信号のみを正確に検出することが可能となる。
【００４１】
パルス幅判定信号生成部６３は、タイマ部６２により所定の期間がカウントされている間、パルス幅判定信号を生成する。すなわち、図４におけるパルス幅判定信号の幅ａが上記所定の期間に該当する。図４では、Ｌｏｗ状態がパルス幅判定信号を生成している期間を示す。判定信号幅以内でパルス信号の入力が再度入ってきた場合は、上述したようにリトリガーがかかり、常に判定信号幅を確保することができるようになっている。
【００４２】
判定部６４は、判定部６４は、と上記タイマ部６２により計測される所定の期間が経過した時点で、上記検出端子５により入力され、Ａ／Ｄ変換部６１により変換されているデジタル信号を判定する。言い換えれば、パルス幅判定信号生成部６３によるパルス幅判定信号の発生が終了した時点で上記検出端子５により入力され、Ａ／Ｄ変換部６１により変換されているパルス信号がＬレベル信号かＨレベル信号かを判定する。また、上記判定部６４は、上記タイマ部６２により計測し直された場合、計測し直された所定の期間が経過した時点で、上記検出端子５により入力され、Ａ／Ｄ変換部６１により変換されている信号を判定する。すなわち、図４で示すパルス幅判定信号のＬｏｗ状態からＨｉｇｈ状態への立上がりをトリガーにして、図４における時点Ａ，Ｂでの信号レベルを検出する。図４では、Ｔ３の時点が、期間カウント部６２により所定の期間がカウントし直された時点Ａであり、時点Ａでパルス幅判定信号の生成が終了しているが、上記検出端子５により入力され、Ａ／Ｄ変換部６１により変換されているパルス信号がＨレベル信号であるため、導通断となる入力信号無しの状態と判定する。一方、Ｔ５の時点（時点Ｂ）でパルス幅判定信号の発生が終了しているが、上記検出端子５により入力され、Ａ／Ｄ変換部６１により変換されているパルス信号がＬレベル信号であるため、導通断となる入力信号有りの状態と判定する。
【００４３】
図４では、第３段目に検出部６の出力信号を示している。検出部６の出力信号として、Ｔ５の時点（時点Ｂ）で導通断となる入力信号有りの状態と判定されているため、入力信号有りの状態を表示している。そして、検出部６の出力信号がＨレベルにある場合に、次回の導通断信号の入力をトリガーとして、ＨレベルからＬレベルに変更する。或いは、上記入力部により入力されている信号がＬレベル信号からＨレベル信号に変化した場合に変更しても構わない。
【００４４】
図５は、検出部６の出力信号を示す図である。
【００４５】
図５では、便宜上、導通状態をＨレベル、導通断をＬレベルとして示している。横軸は、時間軸である。
【００４６】
回数計測部７は、上記検出部６により検出された信号が異常信号である場合に、異常信号の検出回数を計測する。すなわち、上記検出部６により検出された導通断信号であるＬレベル信号の検出回数を計測する。言い換えれば、検出部６の出力信号に基づきＨレベル信号からＬレベル信号への立下り変化の回数をカウントし、表示部８に出力する。
【００４７】
検出回数出力部の一例として、表示部８は、上記回数計測部７により計測された検出回数を出力する。例えば、表示部８は、カウントされた回数を数値として表示する。或いは、カウントされた回数分だけＬＥＤ表示デバイス等のランプを表示、すなわち、ＬＥＤセグメント表示をする。
【００４８】
以上のように、回数計測部７を備えたことで、自動的に導通断の回数を計測することができるようになった。また、表示部８を備えたことで、導通断の回数をユーザに分かるようにすることができるようになった。
【００４９】
また、以上のように、上記検出部６が、導通断信号の入力をトリガーとすることで、別途トリガー信号を取り出す必要がなくなった。また、トリガー信号の調整も不要となった。
【００５０】
また、再度の導通断信号の入力をリトリガーとすることで、所定の期間導通断である信号のみを検出することが可能となり、ノイズの検出を排除することができるようになった。
【００５１】
ここで、各検出ユニット９は、同様の動作をおこなう。すなわち、接点信号異常検出装置１０は、複数の検出部６で構成する検出機構（検出部の一例である）、複数の回数計測部７で構成する計測機構（計測部の一例である）、複数の表示部８で構成する回数出力機構（検出回数出力部の一例である）を備えていることになる。
【００５２】
したがって、複数の検出部６で構成する検出機構は、複数の接点の導通断となる信号異常を検出する。そして、複数の回数計測部７で構成する計測機構は、上記検出機構により検出された複数の接点の信号異常に対し、各接点の信号異常の回数を計測する。そして、複数の表示部８で構成する回数出力機構は、上記計測機構により計測された各接点の信号異常の回数をそれぞれ出力する。
【００５３】
以上のように、本実施の形態１における接点信号異常検出装置１０のように、安価な検出ユニット９のような回路を複数個準備することにより、２つの接点を１つの被検出品とするｎ個の多数接点（図１では、８個の接点であるから４つの被検出品）が存在する場合でも、その状態を同時に被検出品ごと独立して測定することができる。同時に多数のコンタクト状態の不規則で連続的に発生する信号変化を制限なき長時間測定可能とすることができる。また、本実施の形態１における検出部の構成により導通断の発生周波数（パルス幅時間）を選択でき、発生トリガーを容易に得て回数カウント抜けをなくすことができる。
【００５４】
実施の形態２．
図６は、実施の形態２におけるコネクタと接点信号異常検出装置とを示す図である。
【００５５】
図６において、接点信号異常検出装置１０の各構成は、実施の形態１と同様である。接点信号異常検出装置１０は、複数のコネクタ（コネクタ１〜コネクタｍ）と接続されている。複数のコネクタの各コネクタは、図示されていないが、各コネクタのコンタクトの数に対応したコンタクトを有する試験用のメモリーカードが差し込まれている。
【００５６】
図６では、４つのコンタクト接点の安定性を測定することを、同時にｍ個のコネクタについて測定する場合の例を示している。すなわち、４×ｍ個の接点安定性を同時に測定している。各検出ユニット９は、同様な動作をおこなうので、同時に４×ｍ個の接点の導通断の回数を独立して検出し表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】実施の形態１における構成を示す図である。
【図２】コネクタのコンタクトとメモリーカードのコンタクトとを嵌合させた状態を示す図である。
【図３】検出部の内部構成を示すブロック図である。
【図４】検出部における動作を説明するための図である。
【図５】検出部４の出力信号を示す図である。
【図６】実施の形態２におけるコネクタと接点信号異常検出装置とを示す図である。
【符号の説明】
【００５８】
１  コネクタ、２  メモリーカード、３  コンタクト、４  論理回路部、５  検出端子、６  検出部、７  回数計測部、８  表示部、９  検出ユニット、１０  接点信号異常検出装置、６１  Ａ／Ｄ変換部、６２  タイマ部、６３  パルス幅判定信号生成部、６４  判定部、６５  状態出力部。
【図１】
2005164418.tif 000003
【図２】
2005164418.tif 000004
【図３】
2005164418.tif 000005
【図４】
2005164418.tif 000006
【図５】
2005164418.tif 000007
【図６】
2005164418.tif 000008