(57)【要約】【課題】  起動時または記録媒体の交換時等における各パラメータの調整時に、装置に振動が加わったり、記録媒体に傷があっても、必要最小限の時間で且つ正確に各パラメータの調整を行うことが可能な光学的情報記録再生装置を提供する。【解決手段】  サーボ制御の異常（振動や光ディスク傷）を検出する振動／傷検出回路１２を有し、サーボ制御の異常を検出した場合には、再生信号の品位を示す再生指標を無効にすることにより、調整処理時間が長くなるようなことがなく、正確に調整処理を行うことが可能となる。【選択図】        図１
2005235253.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的情報記録媒体にスポット光を照射すると共に、前記記録媒体からの反射光を受光して、情報を記録し或いは記録情報の再生を行う光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体による反射光に基づいてサーボエラーを生成する手段と、前記サーボエラーに基づいてスポット光のサーボ制御を行う手段と、前記サーボ制御手段にオフセットを印加する手段と、前記記録媒体からの再生信号の品位を示す再生指標を検出する手段と、前記オフセットを変化させた時の再生指標に基づいて前記サーボ制御手段に印加するオフセット又は情報の記録／再生に関するパラメータを調整する手段と、前記オフセット又はパラメータ調整中のサーボ制御の異常を検出する手段と、サーボ制御の異常が検出された場合の再生指標を無効にする手段とを備えたことを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項２】
前記調整手段は、前記オフセット値又はパラメータを段階的に変化させて、各段階におけるオフセット値又はパラメータに対応する再生指標を検出し、前記無効手段は前記検出手段によりサーボ制御の異常が検出された時の各段階における再生指標を無効にすることを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項３】
前記サーボ制御異常検出手段は、前記サーボエラーの信号レベルに基づいて信号レベルが所定値以上または所定値以下の時にサーボ制御の異常を検出することを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項４】
前記サーボエラー信号は、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、又は対物レンズのレンズポジション信号であることを特徴とする請求項３に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項５】
前記再生指標検出手段は、再生指標を所定回数検出することで前記各段階におけるオフセット値又はパラメータに対応する再生指標とし、サーボ制御の異常が検出された場合には、異常が検出され場合の再生指標を無効とし、異常が検出されていない状態で再生指標が所定回数検出されるまで再生指標を検出することを特徴とする請求項２に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項６】
前記サーボ制御異常検出手段は、オフセット又はパラメータ調整中の振動又は記録媒体の傷を検出することを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項７】
光学的情報記録媒体にスポット光を照射すると共に、前記記録媒体からの反射光を受光して、情報を記録し或いは記録情報の再生を行う光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体による反射光に基づいてサーボエラーを生成する手段と、前記サーボエラーに基づいてスポット光のサーボ制御を行う手段と、前記サーボ制御手段にオフセットを印加する手段と、再生信号の品位を示す再生指標を検出する手段と、前記オフセットを変化させた時の再生指標に基づいて前記サーボ制御手段に印加するオフセット又は情報の記録／再生に関するパラメータを調整する手段と、前記サーボエラーに基づいてオフセット量を検出する手段とを含み、前記再生指標検出手段は検出されたオフセット量を現在のオフセット量と判断し、当該オフセット量に対応する再生指標として検出することを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項８】
前記サーボエラーに基づいてオフセット量が所定範囲に入っているかどうかを判断する手段を含み、オフセット量が所定範囲から外れていた場合には、調整処理を中断し、この中断から所定数前までの再生指標を無効にすることを特徴とする請求項７に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項９】
前記調整手段は、フォーカスサーボオフセットの調整、記録パワーの調整、再生パワーの調整又は球面収差補正量の調整を行うことを特徴とする請求項１又は７に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項１０】
前記再生指標検出手段は、再生信号振幅、再生信号のジッター、再生信号のエラーレート、又はトラッキングエラー信号を再生信号品位として検出することを特徴とする請求項１又は７に記載の光学的情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク等の情報記録媒体に情報を記録し或いは再生する光学的情報記録再生装置に関し、特に、サーボパラメータやレーザパワー等の記録／再生に関するパラメータを設定する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクを記録媒体とした光ディスク装置の電源投入時や光ディスクの交換時等において、最良な記録または再生信号の特性を得る為にフォーカス・トラッキングサーボに付加するオフセット値やレーザパワー、球面収差補正量等の各パラメータを調整することが不可欠となっている。
【０００３】
従来では再生信号の変調度が最大となる様な値にパラメータを設定したり、トラッキングエラー信号の振幅値が最大となる様な値にパラメータを設定している。しかし、パラメータの調整時に光ディスクに傷が付いていたり、光ディスク装置に振動が加わった時はパラメータの調整を正確に出来ない場合がある。
【０００４】
この問題点を解決する装置としては、例えば、特開平８−２８７４９４号公報に記載されている様な装置がある（特許文献１）。図１３は同公報の構成を示す。ここでは、フォーカスオフセット調整の方法について述べる。まず、装置の電源が投入されたり、光ディスク１が交換された時はコントローラ７はスピンドルモータ２を駆動し、光ピックアップ３内の図示しないレーザを点灯する。
【０００５】
レーザ光の反射光からフォーカスエラー生成回路４によりフォーカスエラー信号が生成され、位相補償フィルタ５によりフォーカスエラー信号に位相補償処理が施された後、フォーカスエラー信号に応じた駆動信号がアクチュエータドライバ６から光ピックアップ３内の図示しないアクチュエータに印加される。これにより、対物レンズが駆動され、光ディスク１の記録面にフォーカス制御がなされる。その後、光ディスク１の記録面上の所望のトラックにトラッキング制御がなされる。トラッキング制御の詳細な処理内容は説明を省略する。
【０００６】
フォーカス・トラッキング制御がなされた後、フォーカスオフセットやトラッキングオフセット等の各パラメータの調整を行う。ここではフォーカスオフセットの調整を例にとって説明する。まず、フォーカスエラー信号に直流オフセットを加算する様にオフセット加算回路８から直流オフセット値が出力される。この直流オフセット値は、例えば、フォーカスオフセット量として１μｍに相当する様な値に設定する。
【０００７】
フォーカスオフセットが加算された後、ＲＦ信号生成回路９により生成された光ディスク１からの全反射光量を示すＲＦ信号が振幅値検出回路１０に入力され、ＲＦ信号の振幅値を検出する。この振幅値の検出方法としては、例えば、所定周期でサンプリングした数回分のサンプル値の平均値をＲＦ信号の振幅値とする。検出された振幅値は振幅値記憶回路１１によってフォーカスオフセット量が１μｍに相当するオフセット値に対応するＲＦ信号振幅値として記憶される。
【０００８】
次に、コントローラ７はオフセット加算回路８の出力を変える様に制御する。この時のフォーカスオフセットはフォーカスオフセット量が０．９μｍに相当する値とする。この様にフォーカスオフセット値を１μｍ〜−１μｍの範囲で０．１μｍ毎に段階的に変化させ、各オフセット値におけるＲＦ信号振幅を検出、記憶する。全てのフォーカスオフセット値に対応するＲＦ信号振幅を検出し終えたら、検出したＲＦ信号振幅が一番大きい時のフォーカスオフセット値を最適なフォーカスオフセット値として、オフセット加算回路８が出力する様にコントローラ７が設定することでフォーカスオフセット値の調整を終了する。
【０００９】
次に、振動や傷を検出した際の処理を図１４のフローチャートを用いて説明する。まず、フォーカスオフセットの調整を開始する（Ｓ４１）。このフォーカスオフセット値の調整中、振動／傷検出回路１２は装置に加わる振動の大きさと光ディスク１上の傷の有無を常に検出している（Ｓ４２）。振動や傷の大きさの検出方法としては、例えば、ＲＦ信号の大きさに対して閾値を設定し、ＲＦ信号の大きさが閾値を超えたら装置に振動が加わった、または光ディスク１上に傷があると判定する。振動または傷を検出した場合には、振動／傷検出回路１２はコントローラ７に調整中止信号を出力する（Ｓ４３）。コントローラ７は調整中止信号が入力されたら、直ちに振幅検出回路１０にＲＦ信号の振幅検出を中止させる。
【００１０】
その後、コントローラ７は光ピックアップ３の位置を振動または傷の影響の無い場所へ変更し（Ｓ４４）、フォーカスオフセット値の調整を最初から始めさせる。中止信号が入力されたら、直ちに振幅検出回路１０にＲＦ信号の振幅検出を中止させる。振動又は傷を検出しなかった時はフォーカスオフセット処理を終了する（Ｓ４５）。
【００１１】
以上の様に光ディスク装置において、電源投入時または光ディスク１の交換時等に行う各パラメータの調整動作中、装置に振動が加わったり、光ディスク１上に傷が付いていた場合には、各パラメータの調整を中断することで正確に調整を行っている。以上の構成はトラッキングオフセット値やレーザパワーの調整中にも適用できる。
【特許文献１】特開平８−２８７４９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
特許文献１の技術では、装置に振動が加わったり、光ディスク上に傷があっても正確に各パラメータの調整を行えるが、以下に挙げる問題点があった。
【００１３】
即ち、特許文献１の技術では、例えば、電源投入時のフォーカスオフセット調整中に振動や傷の影響を一度でも受けるとフォーカスオフセット調整処理を最初から行う。この場合、装置の起動時間が長くなってしまう。また、振動や傷が検出された場合には、フォーカスオフセット調整を最初から行う様な構成だと、例えば、装置に加わる振動が０．３ｓｅｃ毎に断続的に加わり、同様にフォーカスオフセット調整の開始から終了まで０．３ｓｅｃかかるとしたら、いつまでもフォーカスオフセットの調整が終わらなくなってしまう問題があった。
【００１４】
更に、レーザの記録パワーの調整処理は媒体の特性を保持する為にもテスト領域でのみ行う方が好ましい。しかし、従来技術の様に振動または傷の影響を受けた時に調整位置を変更する構成だと、テスト領域全域に渡る様な長さの傷があると記録パワーの調整処理を行えなくなる問題があった。
【００１５】
本発明は、上記従来の問題に鑑みなされたもので、その目的は、起動時または記録媒体の交換時等における各パラメータの調整時に、装置に振動が加わったり、記録媒体に傷があっても、必要最小限の時間で且つ正確に各パラメータの調整を行うことが可能な光学的情報記録再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明は、上記目的を達成するため、光学的情報記録媒体にスポット光を照射すると共に、前記記録媒体からの反射光を受光して、情報を記録し或いは記録情報の再生を行う光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体による反射光に基づいてサーボエラーを生成する手段と、前記サーボエラーに基づいてスポット光のサーボ制御を行う手段と、前記サーボ制御手段にオフセットを印加する手段と、前記記録媒体からの再生信号の品位を示す再生指標を検出する手段と、前記オフセットを変化させた時の再生指標に基づいて前記サーボ制御手段に印加するオフセット又は情報の記録／再生に関するパラメータを調整する手段と、前記オフセット又はパラメータ調整中のサーボ制御の異常を検出する手段と、サーボ制御の異常が検出された場合の再生指標を無効にする手段とを備えたことを特徴とする。
【００１７】
また、本発明は、光学的情報記録媒体にスポット光を照射すると共に、前記記録媒体からの反射光を受光して、情報を記録し或いは記録情報の再生を行う光学的情報記録再生装置において、前記記録媒体による反射光に基づいてサーボエラーを生成する手段と、前記サーボエラーに基づいてスポット光のサーボ制御を行う手段と、前記サーボ制御手段にオフセットを印加する手段と、再生信号の品位を示す再生指標を検出する手段と、前記オフセットを変化させた時の再生指標に基づいて前記サーボ制御手段に印加するオフセット又は情報の記録／再生に関するパラメータを調整する手段と、前記サーボエラーに基づいてオフセット量を検出する手段とを含み、前記再生指標検出手段は検出されたオフセット量を現在のオフセット量と判断し、当該オフセット量に対応する再生指標として検出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、記録媒体のフォーカスオフセット等のパラメータの調整処理において、振動や傷の影響を検出した場合の評価指標を調整処理に用いない事で、調整処理時間が長くなる様な事がなく且つ正確に調整処理を行うことができる。また。振動や傷の影響を検出した所定数前の評価指標を調整処理に用いない事でより正確に調整処理を行うことができる。更に、フォーカスエラー信号等を監視してフォーカスオフセット等の調整パラメータに対応する評価指標を正確に検出する事で必要最小限の時間で且つより正確に調整処理を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
次に、発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００２０】
（第１の実施形態）
図１は本発明による光ディスク装置の第１の実施形態の構成を示すブロック図である。なお、図１では図１３の従来装置と同一機能を持つブロックには同一符号を付している。本実施形態では従来と同様に装置の電源投入時或いは光ディスク１の交換時等において、まず、コントローラ７はスピンドルモータ２を駆動し、光ピックアップ３内の図示しない半導体レーザを点灯する。
【００２１】
その後、光ディスク１の記録面上の所望のトラックに対してフォーカス・トラッキング制御を行う。フォーカス・トラッキング制御がなされた後、フォーカスオフセットやトラッキングオフセット等の各パラメータの調整を行う。ここではフォーカスオフセットの調整を例にとって説明する。
【００２２】
フォーカスオフセット値の調整方法は背景技術の場合と同様にフォーカスオフセット量が、例えば、−１μｍから０．１μｍ毎に−１μｍ〜１μｍの範囲で段階的に変化するフォーカスオフセット値がオフセット加算回路８から出力され、フォーカスエラー信号に加算される。また、それぞれのフォーカスオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅値が振幅検出回路１０で検出され、振幅値記憶回路１１が記憶する。コントローラ７はこの記憶したＲＦ信号振幅から最適なフォーカスオフセット値を算出し、オフセット加算回路８が最適なフォーカスオフセット値を出力する様に設定する事でフォーカスオフセット値の調整を行う。
【００２３】
次に、本実施形態において振動や傷の影響を受けた時の処理の内容を図２に示すフローチャートを用いて説明する。まず、フォーカスオフセットの調整を開始すると、調整用の初期のオフセット値を−１μｍに設定する（Ｓ１１）。また、振幅検出回路１１はＲＦ信号生成回路９からのＲＦ信号振幅を所定時間検出する（Ｓ１２）。この時、例えば、４ｍｓ程度の再生信号の平均的な振幅値を検出する。この４ｍｓの間に振動／傷検出回路１２は装置に加わる振動の大きさと光ディスク１上の傷の有無を常に検出する（Ｓ１３）。振動や傷の大きさの検出方法としては、例えば、フォーカスエラー信号の大きさに対して閾値を設定し、フォーカスエラー信号の大きさが閾値を超えたら、装置に振動が加わった、または光ディスク１上に傷があると判定する。
【００２４】
振動或いは傷がなかった場合には、オフセット値を次の段階、例えば、−０．９μｍに設定し（Ｓ１６）、再びＳ１２からの処理を行う。これを−１μｍから１μｍまで、０．１μｍずつ２１ステップ行い、全段階で振幅検出を終了すると（Ｓ１７）、コントローラ７は全段階で検出したＲＦ信号の振幅値が一番大きいフォーカスオフセット値を算出し（Ｓ１８）、そのフォーカスオフセット値を最適なフォーカスオフセット値として、オフセット加算回路８に設定する（Ｓ１９）。
【００２５】
次に、Ｓ１３で振動又は傷を検出した場合の処理について説明する。ここでは、装置に振動が加わった場合を例にとって図２と図３を用いて説明する。図３のｔ１の時点で装置に振動が加わると、フォーカスエラー信号は図３に示す様な波形となる。図３の丸点はディジタルサーボでのサンプル点である。同図に示す様にフォーカスエラー信号レベルに対してＦＥｔｈ−の大きさの閾値を設定すると、ｔ２の時点で振動／傷検出回路１２は装置に振動が加わったと判断し、 その時に検出していたＲＦ信号振幅値を振幅値記憶回路１１から消去する（Ｓ１４）。
【００２６】
図３において、Ｖｏｆｓｔがフォーカスオフセット量にして−０．４μｍに相当する値の場合、ＦＥｔｈ−は、例えば、フォーカスオフセット量が−０．５μｍに相当する値に設定する。フォーカスオフセット量が−０．４μｍに相当するオフセット量を印加しながらＲＦ信号振幅を検出した後、その最中に振動が検出されていたらフォーカスオフセットが−０．４μｍの時の振幅検出値を消去するのである。
【００２７】
その後、振動が検出されなくなったら（Ｓ１５）、ステップ監視回路１３はオフセット加算回路８に次の段階のオフセット値を出力する（Ｓ１６）。即ち、図３におけるｔ３の時点で次の段階である−０．３μｍに相当するフォーカスオフセット値をオフセット加算回路８に出力する。つまり、図４に示す様にフォーカスオフセット量が−０．４μｍの時のＲＦ信号振幅は検出せずに、次のフォーカスオフセット量が−０．３μｍにおけるＲＦ信号振幅の検出に移るのである。
【００２８】
この様に振動を検出した際のオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅検出は行わず、振動が検出されなかったオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅値のみ振幅値記憶回路１１に逐次記憶させる。その後、所定の範囲（例えば、−１μｍ〜１μｍ）での振幅値の検出がすべて終わると（Ｓ１７）、振動が検出されなかったオフセット値における複数のＲＦ信号振幅の値から、例えば、図４の様に２次曲線を近似して最適なフォーカスオフセット値を決定する（Ｓ１８）。
【００２９】
即ち、図４に示す様にフォーカスオフセット量にして−０．４μｍと０．８μｍの時に振動が装置に加わり、ＲＦ信号の振幅の検出値がなくても、図４の場合だとＲＦ信号の振幅が一番大きいフォーカスオフセット量が０．２μｍに相当するフォーカスオフセット値が最適であると判断する。そして、コントローラ７はオフセット加算回路８に最適なフォーカスオフセット値を出力させる（Ｓ１９）。この様にしてフォーカスオフセットの調整を終了する。
【００３０】
また、振動／傷検出回路１２が光ディスク１上の傷を検出した時も同様の動作となる。例えば、上述の例と同様にフォーカスオフセット量が−０．４μｍに相当するフォーカスオフセットをフォーカスエラー信号に印加している時は、ＲＦ信号の振幅検出値を消去して次の段階に進む。この様に光ディスク１上の傷を検出した際のオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅検出値を消去し、傷が検出されなかったオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅値のみ振幅値記憶回路１１に逐次記憶させる。その後、所定の範囲での振幅値の検出が終わると、傷が検出されなかった振幅値から一番ＲＦ信号の振幅が大きいフォーカスオフセットの値を算出し、最適なフォーカスオフセット値としてコントローラ７はオフセット加算回路８に最適なフォーカスオフセット値を出力させる。
【００３１】
以上の様に光ディスク装置において、フォーカスオフセットの調整中に装置に振動が加わったり、光ディスク１上に傷がある場合でもフォーカスオフセットの調整処理の時間が長くなる事は無く、最適なフォーカスオフセット値を算出できる。また、光ディスク１上に傷があった場合も、傷の影響を受けた時のみＲＦ信号の振幅の検出を中断しているので、調整位置を変更する必要もない。
【００３２】
更に、本実施形態ではフォーカスオフセット値の調整処理を例に説明したが、再生または記録に最適なレーザパワーの調整や球面収差補正量の調整処理にも適用できる。また、フォーカスエラー信号レベルを参照して、振動の大きさや傷の検出を行っているが、トラッキングエラー信号レベルや対物レンズのレンズポジション信号を用いて振動の大きさや傷の検出を行っても良い。
【００３３】
また、本実施形態では最適なフォーカスオフセット値の導出方法として、ＲＦ信号の振幅値が一番大きいものを最適なフォーカスオフセット値としたが、再生信号のジッターやｂＥＲ（エラーレート）、トラッキングエラー信号振幅等を評価指標として用いて最適なフォーカスオフセット値を求めても良い。
【００３４】
（第２の実施形態）
図５は本発明の第２の実施形態を示すブロック図である。図５では図１と同じ機能を持つブロックには同一符号を付している。本実施形態では、図１と同様に装置の電源投入時または光ディスク１の交換時等には、先ず、光ディスク１上の所望のトラックにフォーカス・トラッキング制御を行う。その後、第１の実施形態と同様にフォーカスオフセットの調整処理を始める。即ち、フォーカスオフセット量が、例えば、−１μｍから０．１μｍ毎に−１μｍ〜１μｍの範囲で段階的に変化する様にフォーカスオフセット値を変化させ、それぞれのフォーカスオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅値をＲＦ信号振幅検出回路１０が検出し、振幅値記憶回路１１が記憶する。
【００３５】
コントローラ７はこの記憶したＲＦ信号振幅を参照し、最大のＲＦ信号振幅が検出されたフォーカスオフセット値を最適なフォーカスオフセット値として、フォーカスオフセット加算回路８がこのフォーカスオフセット値を出力する様に設定する事でフォーカスオフセット値の調整を行う。
【００３６】
図６は本実施形態の動作を示すフローチャートである。図６において、まず、フォーカスオフセットの調整を開始すると、第１の実施形態と同様にオフセットの初期値（例えば、−１μｍ）を設定する（Ｓ２１）。また、振動／傷検出回路１２は振動と傷の検出を行う（Ｓ２２）。この際、振動／傷検出回路１２にはフォーカスエラー信号が入力されており、第１の実施形態と同様にフォーカスエラー信号レベルに閾値を設定し、フォーカスエラー信号がこの閾値を超えたら、装置に振動が加わったと判定する。
【００３７】
ここでは第１の実施形態と同様に振動が加わったとするが、光デイスク１の傷を検出した場合も同様である。振動／傷検出回路１２は装置に振動が加わったと判断すると、振幅値検出回路１０とサンプル数カウント回路１４に調整中断信号を出力する（Ｓ２３）。サンプル数カウント回路１４はＲＦ信号振幅値のサンプル数をカウントする回路である。
【００３８】
調整中断信号が入力されると、振幅値検出回路１０はＲＦ信号の振幅値の検出を中断し、サンプル数カウント回路１４は振動が検出される寸前までのＲＦ信号の振幅のサンプル数が何個だったかをコントローラ７に通知する。本実施形態では、例えば、フォーカスオフセット量が１μｍの場合のＲＦ信号の振幅を決定する方法として、ＲＦ信号の振幅値を所定タイミング毎に１００個採取し、その平均値（または積算値）をフォーカスオフセット量が１μｍ時のＲＦ振幅値と決定する。
【００３９】
この検出方式において装置に振動が加わったと判断された時のＲＦ信号のサンプル数が、例えば、８０個だった場合には、サンプル数カウント回路１４はその数をコントローラ７に出力し、コントローラ７はサンプル数が入力された瞬間、即ち、装置に振動が加わったと判断した瞬間より所定数前の（例えば、振動が加わったと判断する前の５個）のサンプル値を振幅値記憶回路１１から消去する（Ｓ２４）。次に、振動／傷検出回路１２から調整中断信号が出力されなくなったら（Ｓ２５）、振幅値検出回路１０はＲＦ信号振幅の検出を再開し（Ｓ２６）、振幅値記憶回路１１は所定数（上記例でいうと残り２０個）記憶し終えたら（Ｓ２７）、コントローラ７はオフセット加算回路８に次の段階のフォーカスオフセット値を出力させる（Ｓ２８）。
【００４０】
この様にフォーカスオフセットの調整中に振動が加わった場合には、振動が加わった所定数前のＲＦ信号の振幅値を捨て、更に、その後ＲＦ信号の振幅値のサンプル数が振動が加わってない状態で所定数検出できるまで、振幅の検出を続ける。以上の方法で全段階にでフォーカスオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅値の検出が終わったら（Ｓ２９）、ＲＦ信号の振幅値が一番大きい時のフォーカスオフセット値を算出し（Ｓ２１０）、最適なフォーカスオフセット値として、コントローラ７はオフセット加算回路８に値を設定する（Ｓ２１１）。
【００４１】
次に、振動が加わったと判断された前の所定数のＲＦ信号振幅値を消去する効果を説明する。先ず、第１の実施形態と同様にフォーカスオフセット値の調整処理中に装置に振動が加わった場合には、フォーカスエラーは第１の実施形態の場合と同様に図７の様に変化すると仮定する。図中においてｔ１の時点で装置に振動が加わった場合、ｔ２の時点、即ち、フォーカスエラー信号が閾値ＦＥｔｈ−を越えた時点で振動／傷検出回路１２は装置に振動が加わったと判断する。
【００４２】
この様に装置に振動が加わった場合、ＲＦ信号振幅も同様に図８の様に変化する。ｔ２の時点で装置に振動が加わったと判断した場合、コントローラ７はｔ２の時点におけるＲＦ信号の検出値から５個前までのＲＦ信号の検出値（ＲＦ１〜ＲＦ５を振幅値記憶回路１１から消去する事により、振動による影響を受けていないＲＦ信号の振幅を正確に検出できる。また、その後、ｔ３の時点で振動／傷検出回路１２は調整中断信号の出力を一度止める。調整中断信号が入力されなくなったら振幅値検出回路１０はＲＦ信号の振幅値の検出を再開する。即ち、図８におけるＲＦ６の値から振幅値記憶回路１１はＲＦ信号振幅の記憶を再開する。
【００４３】
しかし、更にその後ｔ４の時点でフォーカスエラー信号レベルは閾値ＦＥｔｈ＋を超えるので、振動／傷検出回路１２は再び調整中断信号を出力する。調整中断信号の出力を受けてサンプル数カウント回路１４は検出したＲＦ信号の振幅値のサンプル数をコントローラ７に通知し、コントローラ７は調整中断信号が出力される前５個のサンプル値（図８中のＲＦ６〜ＲＦ１０の値）を振幅値記憶回路１１から消去する。
【００４４】
その後、ｔ５において振動／傷検出回路１２は再び調整中断信号の出力を止め、ＲＦ信号振幅の検出（図８中のＲＦ１１から）を再開する。実際には振動の影響が残っているにも拘わらずｔ３〜ｔ４の間の様に振動の影響がなくなったと振動／傷検出回路１２が判断する様な場合でも、振動を検出した所定数前のサンプル値をＲＦ信号振幅の検出に加えない事で（前述の例でいうと１００個のサンプル値の平均値計算に加えない事で）常に正確にＲＦ信号の振幅値を検出できる。
【００４５】
以上の様にフォーカスオフセットの調整中に装置に振動が加わったり、光ディスク上に傷がある場合、振動または傷の影響を検出した時点の所定数前のＲＦ信号振幅の振幅値を除去する事で常に最適なフォーカスオフセット値を検出できる。また、振動が加わっている瞬間のＲＦ信号振幅を無視し、振動が加わっていない時のＲＦ信号振幅を平均計算に必要なサンプル数だけ検出することにより、外部から加わる振動の頻度が高い場合でも、短時間で正確なフォーカスオフセット調整が可能になる。
【００４６】
更に、本実施形態ではフォーカスオフセット値の調整処理を例に説明したが、再生または記録に最適なレーザパワーの調整や球面収差補正量の調整処理中にも適用できる。また本実施形態ではフォーカスエラー信号レベルを参照して、振動の大きさや傷の検出を行っているが、トラッキングエラー信号レベルやレンズポジション信号を用いて振動の大きさや傷の検出を行っても良い。
【００４７】
また、本実施形態では最適なフォーカスオフセット値の導出方法として、ＲＦ信号の振幅値が一番大きいものを最適なフォーカスオフセット値としたが、再生信号のジッターやｂＥＲ、トラッキングエラー信号振幅等を評価指標として用いて最適なフォーカスオフセット値を求めても良い。
【００４８】
（第３の実施形態）
図９は本発明の第３の実施形態の構成を示すブロック図である。なお、図９では図１と同じ機能を持つブロックには同一符号を付している。フォーカスエラー監視回路１５のみが新しい機能ブロックとなる。本実施形態では同様に装置の電源投入時または光ディスク１の交換時等は、先ず、光ディスク１上の所望のトラックにフォーカス・トラッキング制御を行う。その後、第１、第２の実施形態と同様にフォーカスオフセットの調整処理を開始する。
【００４９】
即ち、フォーカスオフセット量が、例えば、−１μｍから０．１μｍ毎に−１μｍ〜１μｍの範囲で段階的に変化する様にフォーカスオフセット値を段階的に変化させ、それぞれのフォーカスオフセット値に対応するＲＦ信号の振幅値を振幅値検出回路１０が検出し、振幅値記憶回路１１が記憶する。コントローラ７はこの記憶したＲＦ信号振幅を参照し、最大のＲＦ信号振幅が検出されたフォーカスオフセット値を最適なフォーカスオフセット値として、オフセット加算回路８が出力する様に設定してフォーカスオフセット値の調整を行う。
【００５０】
次に、本実施形態の動作を図１０に示すフローチャートを用いて説明する。フォーカスエラー監視回路１５にはフォーカスオフセットの調整処理中にフォーカスエラー信号が入力されている。フォーカスオフセットの調整を開始すると、第１、第２の実施形態と同様にコントローラ７はオフセット加算回路８を介してフォーカスオフセットの初期値（例えば、−１μｍ）を設定する（Ｓ３１）。また、フォーカスエラー監視回路１５はフォーカスエラー信号レベルから実際のフォーカスオフセット量が所定の範囲内(上記例で言うと−１μｍ〜１μｍ)に入っているかを判断する（Ｓ３２）。
【００５１】
所定範囲内に入っていなかった場合には、振動または傷の影響を受けたとしてフォーカスエラー監視回路１５は調整中断信号をコントローラ７に出力する（Ｓ３３）。調整中断信号が入力されると、コントローラ７は第２の実施形態と同様に調整中断信号が入力された瞬間から所定数前の振幅値検出値を振幅値記憶回路１１から削除する（Ｓ３４）。
【００５２】
次に、フォーカスオフセット量が所定範囲内に入っているかを判断し（Ｓ３５）、フォーカスオフセット量が所定範囲内に入っていたら、フォーカスエラー監視回路１５はフォーカスエラー信号レベルから実際のフォーカスオフセット量がどれくらいに相当するかを算出する（Ｓ３６）。
【００５３】
この方法について図１１を参照して説明する。図１１はフォーカスオフセット値切り換え時のフォーカスエラー信号の変化を示す。図１１において、Ｖｏｆｓｔはフォーカスオフセット調整処理の際にフォーカスエラー信号に加算するオフセット値である。図中ＶｏｆｓｔがＶｏｆｓｔ１の時、フォーカスオフセット量は−１μｍに相当すると仮定する。即ち、Ｖｏｆｓｔ１がフォーカスエラー信号に加算されている時は、振幅値検出回路１０はフォーカスオフセットが−１μｍの時のＲＦ信号振幅を検出している事になる。
【００５４】
Ｖｏｆｓｔの大きさがＶｏｆｓｔ１の時、即ち、フォーカスオフセットが−１μｍの時のＲＦ信号振幅値を所定数検出し終わると、コントローラ７は次のフォーカスオフセット値、例えば、フォーカスオフセット量が−０．９μｍに相当するＶｏｆｓｔ２をオフセット加算回路８に出力させる。このフォーカスオフセット値の変化が図１１の様にステップ状であると、フォーカスエラーＦＥはフォーカスオフセット値の切り替わり時にピーキングを持つ。
【００５５】
ここで、フォーカスエラー監視回路１５はフォーカスエラー信号レベルがＦＥｔｈ２からＦＥｔｈ３の間の時フォーカスオフセット値は−０．９μｍに相当し、ＦＥｔｈ３からＦＥｔｈ４の間の時フォーカスオフセット値は−０．８μｍに相当すると判断する場合、フォーカスエラー信号レベルがＦＥ１〜ＦＥ３の時のフォーカスオフセット量は−０．９μｍではなく次の段階である−０．８μｍであるとフォーカスエラー監視回路１５は判断し、コントローラ７に通知する。
【００５６】
よって、フォーカスエラー信号レベルがＦＥ１〜ＦＥ３の時のＲＦ信号振幅はフォーカスオフセット量が−０．８μｍの時のＲＦ信号振幅値としてコントローラ７は振幅値記憶回路１１に記憶させる。この様にフォーカスエラー信号レベルを監視し、フォーカスオフセット量を正確に検出し、この検出したオフセット量に対応するＲＦ信号振幅値としてコントローラ７は振幅値記憶回路１１に振幅値を記憶させる（Ｓ３７）。次に、現在印加しているオフセット値に対応する振幅値が所定数検出できたら（Ｓ３８）、コントローラ７は次の段階のオフセット値をオフセット加算回路８に出力させる（Ｓ３９）。
【００５７】
このようにしてフォーカスエラー信号レベルを監視し、正確なフォーカスオフセット量を算出しながらＲＦ信号振幅値を検出・記憶しながら全ての段階のオフセット値に対応する所定数の振幅値が検出できたら（Ｓ３１０）、ＲＦ信号の振幅値が一番大きい時のフォーカスオフセット値を算出し（Ｓ３１１）、最適なフォーカスオフセット値として、コントローラ７はオフセット加算回路８に値を設定する（Ｓ３１２）。
【００５８】
本実施形態では、フォーカスエラー信号レベルから正確なフォーカスオフセット量を算出することにより、不必要に調整処理を中断する事無く、必要最小限の時間で且つ正確に最適なフォーカスオフセット調整を行える。
【００５９】
また、調整処理を中断すべきではない程度の微小な振動等の影響を受けずにフォーカスオフセット調整を行うことができる。例えば、装置に微小な振動が加わった場合、フォーカスエラー信号が図１２の様に変化する場合を考える。オフセット加算回路８が出力しているオフセット値がフォーカスオフセット量−１μｍに相当する時に更にフォーカスエラー信号レベルがＦＥｔｈ１〜ＦＥｔｈ２の範囲にある時、フォーカスエラー監視回路１５はフォーカスオフセット量が−１μｍに相当すると判断する。
【００６０】
しかし、装置に微小な振動が加わると、図１２の様にフォーカスエラー信号レベルがＦＥｔｈ１〜ＦＥｔｈ２の範囲を超えることがある。図中、ＦＥ１〜ＦＥ３、ＦＥ４、ＦＥ５の時点がそれに当たる。フォーカスエラー監視回路１５はＦＥ１〜ＦＥ５の時のフォーカスオフセット値を−１μｍではなく、−０．９μｍとしてその時のＲＦ信号振幅を振幅値記憶回路１１に記憶させる。
【００６１】
以上の様に、フォーカスエラー信号レベルを監視し、フォーカスオフセット量を常に正確に監視する事で振動や傷の影響を受ける事がなく、且つ、無駄にフォーカスオフセット調整を中断する事がないので、必要最小限の時間で且つ正確にフォーカスオフセット調整を行うことができる。また、光ディスクを用いたカムコーダ等携帯型の光ディスク装置の場合、装置には使用中常に装置に振動が加わっている。この様な場合でもフォーカスエラー信号レベルを監視する事で、正確なフォーカスオフセットに対応したＲＦ信号振幅を検出できる。
【００６２】
また、本実施形態ではフォーカスオフセット値の調整処理を例に説明したが、再生または記録に最適なレーザパワーの調整や球面収差補正量の調整処理中にも適用できる。更に、フォーカスエラー信号レベルを参照して、振動の大きさや傷の検出を行っているが、トラッキングエラー信号レベルやレンズポジション信号を用いて振動の大きさや傷の検出を行っても良い。
【００６３】
更に、最適なフォーカスオフセット値の導出方法として、ＲＦ信号の振幅値が一番大きいものを最適なフォーカスオフセット値としたが、メトリックジッターやｂＥＲ、トラキングエラー信号振幅等を評価指標として用いて最適なフォーカスオフセット値を求めても良い。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明による光学的情報記録再生装置の第１の実施形態を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態の動作を説明するフローチャートである。
【図３】振動下におけるフォーカスエラー信号レベルの変化を示すグラフである。
【図４】ＲＦ信号振幅からの最適なフォーカスオフセット値を算出する方法を説明するグラフである。
【図５】本発明の第２の実施形態を示すブロック図である。
【図６】第２の実施形態の動作を説明するフローチャートである。
【図７】振動下におけるフォーカスラー信号レベルの変化を示すグラフである。
【図８】振動下におけるＲＦ信号レベルの変化を示すグラフである。
【図９】本発明の第３の実施形態を示すブロック図である。
【図１０】第３の実施形態の動作を説明するフローチャートである。
【図１１】フォーカスオフセット値切り換え時のフォーカスエラー信号レベルの変化を示すグラフである。
【図１２】微小な振動下におけるフォーカスエラー信号レベルの変化を示すグラフである。
【図１３】従来例の光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１４】従来の光ディスク装置の動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００６５】
１  光ディスク
２  スピンドルモータ
３  光ピックアップ
４  フォーカスエラー生成回路
５  位相補償フィルタ
６  アクチュエータドライバー
７  コントローラ
８  オフセット加算回路
９  ＲＦ信号生成回路
１０  振幅値検出回路
１１  振幅値記憶回路
１２  振動／傷検出回路
１３  ステップ監視回路
１４  サンプル数カウント回路
１５  フォーカスエラー監視回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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