(57)【要約】【課題】周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析装置等を提供することを課題とする。【解決手段】本発明に係るレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラムおよび記録媒体は、電波の入射角度を設定し、電波の観測角度を設定し、物体を複数の領域に分割し、分割した領域において電波を放射する領域を特定し、特定した領域の位置および設定した入射角度に基づいて予め格納した電力透過率および／または電力反射率の中から当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得し、取得した電力透過率および／または電力反射率に基づいて電波の散乱界を算出し、算出した各領域における散乱界を合成し、合成した物体全体における散乱界のうち観測される散乱界に基づいて物体のレーダ反射断面を解析する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、上記物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析装置において、
上記物体に対して複数の上記入射角度から上記電波を放射した際の、上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納手段と、
上記物体に対して放射する上記電波の上記入射角度を設定する入射角度設定手段と、
上記物体から反射される上記電波の観測角度を設定する観測角度設定手段と、
上記物体を複数の領域に分割する領域分割手段と、
上記領域分割手段にて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する放射領域特定手段と、
上記放射領域特定手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得する電力透過率・反射率取得手段と、
上記電力透過率・反射率取得手段にて取得した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の散乱界を算出する電波散乱界算出手段と、
上記電波散乱界算出手段にて算出した各上記領域における上記散乱界を合成することにより、上記物体全体における上記散乱界を算出する電波散乱界合成手段と、
上記電波散乱界合成手段にて合成した上記物体全体における上記散乱界のうち上記観測角度から観測される上記散乱界に基づいて、上記物体の上記レーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析手段と、
を備えたことを特徴とするレーダ反射断面解析装置。
【請求項２】
上記領域分割手段は、
上記領域分割手段にて分割した各上記領域を曲面に近似する領域曲面近似手段、
をさらに備え、
上記放射領域特定手段は、上記領域曲面近似手段にて曲面に近似した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定すること、
を特徴とする請求項１に記載のレーダ反射断面解析装置。
【請求項３】
上記放射領域特定手段は、
上記領域分割手段にて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する陰影処理を行う陰影処理手段、
をさらに備え、
上記電力透過率・反射率取得手段は、上記陰影処理手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得すること、
を特徴とする請求項１または２に記載のレーダ反射断面解析装置。
【請求項４】
上記電力透過率・反射率取得手段は、
上記放射領域特定手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算する補間値計算手段、
をさらに備え、
上記電波散乱界算出手段は、上記補間値計算手段にて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の上記補間値に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出すること、
を特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析装置。
【請求項５】
上記補間手法は、
ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間のうち少なくとも１つの手法であること、
を特徴とする請求項４に記載のレーダ反射断面解析装置。
【請求項６】
上記電力透過率・反射率取得手段は、
上記放射領域特定手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算する電力透過率・反射率計算手段、
をさらに備え、
上記電波散乱界算出手段は、上記電力透過率・反射率計算手段にて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出すること、
を特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析装置。
【請求項７】
上記計算手法は、
モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であること、
を特徴とする請求項６に記載のレーダ反射断面解析装置。
【請求項８】
上記レーダ反射断面解析手段にて解析した上記物体の上記レーダ反射断面を含む解析結果を出力する解析結果出力手段、
を備えたことを特徴とする請求項１〜７のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析装置。
【請求項９】
周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、上記物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析方法において、
上記物体に対して複数の上記入射角度から上記電波を放射した際の、上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納ステップと、
上記物体に対して放射する上記電波の上記入射角度を設定する入射角度設定ステップと、
上記物体から反射される上記電波の観測角度を設定する観測角度設定ステップと、
上記物体を複数の領域に分割する領域分割ステップと、
上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する放射領域特定ステップと、
上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得する電力透過率・反射率取得ステップと、
上記電力透過率・反射率取得ステップにて取得した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の散乱界を算出する電波散乱界算出ステップと、
上記電波散乱界算出ステップにて算出した各上記領域における上記散乱界を合成することにより、上記物体全体における上記散乱界を算出する電波散乱界合成ステップと、
上記電波散乱界合成ステップにて合成した上記物体全体における上記散乱界のうち上記観測角度から観測される上記散乱界に基づいて、上記物体の上記レーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析ステップと、
を含むことを特徴とするレーダ反射断面解析方法。
【請求項１０】
上記領域分割ステップは、
上記領域分割ステップにて分割した各上記領域を曲面に近似する領域曲面近似ステップ、
をさらに含み、
上記放射領域特定ステップは、上記領域曲面近似ステップにて曲面に近似した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定すること、
を特徴とする請求項９に記載のレーダ反射断面解析方法。
【請求項１１】
上記放射領域特定ステップは、
上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する陰影処理を行う陰影処理ステップ、
をさらに含み、
上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記陰影処理ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得すること、
を特徴とする請求項９または１０に記載のレーダ反射断面解析方法。
【請求項１２】
上記電力透過率・反射率取得ステップは、
上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算する補間値計算ステップ、
をさらに含み、
上記電波散乱界算出ステップは、上記補間値計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の上記補間値に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出すること、
を特徴とする請求項９〜１１のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析方法。
【請求項１３】
上記補間手法は、
ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間のうち少なくとも１つの手法であること、
を特徴とする請求項１２に記載のレーダ反射断面解析方法。
【請求項１４】
上記電力透過率・反射率取得ステップは、
上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算する電力透過率・反射率計算ステップ、
をさらに含み、
上記電波散乱界算出ステップは、上記電力透過率・反射率計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出すること、
を特徴とする請求項９〜１１のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析方法。
【請求項１５】
上記計算手法は、
モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であること、
を特徴とする請求項１４に記載のレーダ反射断面解析方法。
【請求項１６】
上記レーダ反射断面解析ステップにて解析した上記物体の上記レーダ反射断面を含む解析結果を出力する解析結果出力ステップ、
を含むことを特徴とする請求項９〜１５のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析方法。
【請求項１７】
周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、上記物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析方法をコンピュータに実行させるプログラムにおいて、
上記物体に対して複数の上記入射角度から上記電波を放射した際の、上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納ステップと、
上記物体に対して放射する上記電波の上記入射角度を設定する入射角度設定ステップと、
上記物体から反射される上記電波の観測角度を設定する観測角度設定ステップと、
上記物体を複数の領域に分割する領域分割ステップと、
上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する放射領域特定ステップと、
上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得する電力透過率・反射率取得ステップと、
上記電力透過率・反射率取得ステップにて取得した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の散乱界を算出する電波散乱界算出ステップと、
上記電波散乱界算出ステップにて算出した各上記領域における上記散乱界を合成することにより、上記物体全体における上記散乱界を算出する電波散乱界合成ステップと、
上記電波散乱界合成ステップにて合成した上記物体全体における上記散乱界のうち上記観測角度から観測される上記散乱界に基づいて、上記物体の上記レーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析ステップと、
を含むレーダ反射断面解析方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１８】
上記領域分割ステップは、
上記領域分割ステップにて分割した各上記領域を曲面に近似する領域曲面近似ステップ、
をさらに含み、
上記放射領域特定ステップは、上記領域曲面近似ステップにて曲面に近似した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定すること、
を特徴とする請求項１７に記載のプログラム。
【請求項１９】
上記放射領域特定ステップは、
上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する陰影処理を行う陰影処理ステップ、
をさらに含み、
上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記陰影処理ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得すること、
を特徴とする請求項１７または１８に記載のプログラム。
【請求項２０】
上記電力透過率・反射率取得ステップは、
上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算する補間値計算ステップ、
をさらに含み、
上記電波散乱界算出ステップは、上記補間値計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の上記補間値に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出すること、
を特徴とする請求項１７〜１９のいずれか１つに記載のプログラム。
【請求項２１】
上記補間手法は、
ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間のうち少なくとも１つの手法であること、
を特徴とする請求項２０に記載のプログラム。
【請求項２２】
上記電力透過率・反射率取得ステップは、
上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算する電力透過率・反射率計算ステップ、
をさらに含み、
上記電波散乱界算出ステップは、上記電力透過率・反射率計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出すること、
を特徴とする請求項１７〜１９のいずれか１つに記載のプログラム。
【請求項２３】
上記計算手法は、
モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であること、
を特徴とする請求項２２に記載のプログラム。
【請求項２４】
上記レーダ反射断面解析ステップにて解析した上記物体の上記レーダ反射断面を含む解析結果を出力する解析結果出力ステップ、
を含むことを特徴とする請求項１７〜２３のいずれか１つに記載のプログラム。
【請求項２５】
上記請求項１７〜２４のいずれか１つに記載されたプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体に関し、特に、周波数選択板（ＦＳＳ：Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ  Ｓｕｒｆａｃｅ）を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、当該物体のレーダ反射断面（ＲＣＳ：Ｒａｄａｒ  Ｃｒｏｓｓ  Ｓｅｃｔｉｏｎ）を計算機上でシミュレーションして解析することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、例えば防衛関連技術において、戦闘機や艦船などの存在を他から確認されないようにする「ステルス化技術」の必要性が叫ばれている。
【０００３】
このステルス化技術の１つとして、周波数選択板が開発されている。周波数選択板は、各種アンテナのレドームおよび電磁窓などの物体のステルス化を計るのに有効な技術の１つである。
【０００４】
しかし、周波数選択板のみでの適用機種のステルス化は考えにくいため、構造体、例えばノーズレドーム・各種アンテナカバー・電磁窓に周波数選択板を組み込んだ物によりステルス化が実現可能である。
【０００５】
そのため、これらの周波数選択板を組み込んだ部品等の開発はこれからの防衛技術等に必要かつ重要視される。また、当該開発においてレーダ反射断面の解析は大きく貢献することになる。
【０００６】
【特許文献１】特開平９−１５９７４９号公報
【特許文献２】特開２０００−２２７４７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、周波数選択板を組み込んだ部品等の開発において、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面を計算機上でシミュレーションして解析するアルゴリズムは現状では開発されていない。ここで、現状におけるレーダ反射断面等の解析について特許文献１および特許文献２を参照して説明する。
【０００８】
まず、特許文献１について説明する。特許文献１は航空機・船舶・特殊車両等に電波を放射した際のレーダ反射断面の計測について主に記載している。
【０００９】
しかしながら、特許文献１において周波数選択板を組み込んだ物体への適用については何ら記載も示唆もしていない。また、特許文献１に記載の発明は実空間においてレーダ反射断面を計測するものであるため、実際に計測を行うには広い敷地が必要である。
【００１０】
つぎに、特許文献２について説明する。特許文献２は、物体の電波散乱界を計算する技術について主に記載している。
【００１１】
しかしながら、特許文献２では物体を複数の領域（パッチ）に分割し、領域ごとに電波散乱界の計算を行っているため、多大な計算時間を要する。
【００１２】
このように、従来のシステム等は数々の問題点を有しており、その結果、システムの利用者および管理者のいずれにとっても、利便性が悪く、また、利用効率が悪いものであった。
【００１３】
本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、当該物体のレーダ反射断面を計算機上でシミュレーションして解析することができる、レーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
このような目的を達成するために、請求項１に記載のレーダ反射断面解析装置は、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、上記物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析装置において、上記物体に対して複数の上記入射角度から上記電波を放射した際の、上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納手段と、上記物体に対して放射する上記電波の上記入射角度を設定する入射角度設定手段と、上記物体から反射される上記電波の観測角度を設定する観測角度設定手段と、上記物体を複数の領域に分割する領域分割手段と、上記領域分割手段にて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する放射領域特定手段と、上記放射領域特定手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得する電力透過率・反射率取得手段と、上記電力透過率・反射率取得手段にて取得した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の散乱界を算出する電波散乱界算出手段と、上記電波散乱界算出手段にて算出した各上記領域における上記散乱界を合成することにより、上記物体全体における上記散乱界を算出する電波散乱界合成手段と、上記電波散乱界合成手段にて合成した上記物体全体における上記散乱界のうち上記観測角度から観測される上記散乱界に基づいて、上記物体の上記レーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析手段とを備えたことを特徴とする。
【００１５】
この装置によれば、物体に対して放射する電波の入射角度を変化させた場合の、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納し、物体に対して放射する電波の入射角度を設定し、物体から反射される電波の観測角度を設定し、物体を複数の領域に分割し、分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定し、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得し、取得した、領域における入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率に基づいて、当該領域における電波の散乱界を算出し、算出した各領域における散乱界を合成することにより、物体全体における散乱界を算出し、合成した物体全体における散乱界のうち観測角度から観測される散乱界に基づいて、物体のレーダ反射断面を解析するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発において、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができる。
【００１６】
すなわち、この装置によれば、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースに入射角度で問い合わせて、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を取得するので短時間で電力透過率および／または電力反射率を取得することができ、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができる。
【００１７】
また、この装置によれば、周波数選択板を任意形状の物体に組み込んだ場合のレーダ反射断面の解析が可能となり、開発時間とコストを効果的に低減することができる。
【００１８】
また、請求項２に記載のレーダ反射断面解析装置は、請求項１に記載のレーダ反射断面解析装置において、上記領域分割手段は、上記領域分割手段にて分割した各上記領域を曲面に近似する領域曲面近似手段をさらに備え、上記放射領域特定手段は、上記領域曲面近似手段にて曲面に近似した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定することを特徴とする。
【００１９】
これは領域分割の一例を一層具体的に示すものである。この装置によれば、分割した各領域を曲面に近似するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各領域（パッチ）を効果的に曲面に近似することができる。
【００２０】
また、請求項３に記載のレーダ反射断面解析装置は、請求項１または２に記載のレーダ反射断面解析装置において、上記放射領域特定手段は、上記領域分割手段にて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する陰影処理を行う陰影処理手段をさらに備え、上記電力透過率・反射率取得手段は、上記陰影処理手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得することを特徴とする。
【００２１】
これは放射領域特定の一例を一層具体的に示すものである。この装置によれば、分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定する陰影処理を行うので、放射する領域を効果的に特定することができる。
【００２２】
また、請求項４に記載のレーダ反射断面解析装置は、請求項１〜３のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析装置において、上記電力透過率・反射率取得手段は、上記放射領域特定手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算する補間値計算手段をさらに備え、上記電波散乱界算出手段は、上記補間値計算手段にて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の上記補間値に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出することを特徴とする。
【００２３】
これは電力透過率・反射率取得の一例を一層具体的に示すものである。この装置によれば、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができる。
【００２４】
また、請求項５に記載のレーダ反射断面解析装置は、請求項４に記載のレーダ反射断面解析装置において、上記補間手法は、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間のうち少なくとも１つの手法であることを特徴とする。
【００２５】
これは補間手法の一例を一層具体的に示すものである。この装置によれば、補間手法は、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データを補間する手法のうち少なくとも１つの手法であるので、周知の補間手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができる。
【００２６】
また、請求項６に記載のレーダ反射断面解析装置は、請求項１〜３のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析装置において、上記電力透過率・反射率取得手段は、上記放射領域特定手段にて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定手段にて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納手段に格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算する電力透過率・反射率計算手段をさらに備え、上記電波散乱界算出手段は、上記電力透過率・反射率計算手段にて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出することを特徴とする。
【００２７】
これは電力透過率・反射率取得の一例を一層具体的に示すものである。この装置によれば、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算するので、周波数選択板を組み込んだ物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができる。
【００２８】
また、請求項７に記載のレーダ反射断面解析装置は、請求項６に記載のレーダ反射断面解析装置において、上記計算手法は、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であることを特徴とする。
【００２９】
これは計算手法の一例を一層具体的に示すものである。この装置によれば、計算手法は、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であるので、周知の計算手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができる。
【００３０】
また、請求項８に記載のレーダ反射断面解析装置は、請求項１〜７のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析装置において、上記レーダ反射断面解析手段にて解析した上記物体の上記レーダ反射断面を含む解析結果を出力する解析結果出力手段を備えたことを特徴とする。
【００３１】
この装置によれば、解析した物体のレーダ反射断面を含む解析結果を出力するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面のシミュレーション結果を表示することができ、利用者は当該シミュレーション結果を参考に周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発を効果的に行うことができる。
【００３２】
また、本発明はレーダ反射断面解析方法に関するものであり、請求項９に記載のレーダ反射断面解析方法は、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、上記物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析方法において、上記物体に対して複数の上記入射角度から上記電波を放射した際の、上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納ステップと、上記物体に対して放射する上記電波の上記入射角度を設定する入射角度設定ステップと、上記物体から反射される上記電波の観測角度を設定する観測角度設定ステップと、上記物体を複数の領域に分割する領域分割ステップと、上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する放射領域特定ステップと、上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得する電力透過率・反射率取得ステップと、上記電力透過率・反射率取得ステップにて取得した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の散乱界を算出する電波散乱界算出ステップと、上記電波散乱界算出ステップにて算出した各上記領域における上記散乱界を合成することにより、上記物体全体における上記散乱界を算出する電波散乱界合成ステップと、上記電波散乱界合成ステップにて合成した上記物体全体における上記散乱界のうち上記観測角度から観測される上記散乱界に基づいて、上記物体の上記レーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析ステップとを含むことを特徴とする。
【００３３】
この方法によれば、物体に対して放射する電波の入射角度を変化させた場合の、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納し、物体に対して放射する電波の入射角度を設定し、物体から反射される電波の観測角度を設定し、物体を複数の領域に分割し、分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定し、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得し、取得した、領域における入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率に基づいて、当該領域における電波の散乱界を算出し、算出した各領域における散乱界を合成することにより、物体全体における散乱界を算出し、合成した物体全体における散乱界のうち観測角度から観測される散乱界に基づいて、物体のレーダ反射断面を解析するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発において、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができる。
【００３４】
すなわち、この方法によれば、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースに入射角度で問い合わせて、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を取得するので短時間で電力透過率および／または電力反射率を取得することができ、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができる。
【００３５】
また、この方法によれば、周波数選択板を任意形状の物体に組み込んだ場合のレーダ反射断面の解析が可能となり、開発時間とコストを効果的に低減することができる。
【００３６】
また、請求項１０に記載のレーダ反射断面解析方法は、請求項９に記載のレーダ反射断面解析方法において、上記領域分割ステップは、上記領域分割ステップにて分割した各上記領域を曲面に近似する領域曲面近似ステップをさらに含み、上記放射領域特定ステップは、上記領域曲面近似ステップにて曲面に近似した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定することを特徴とする。
【００３７】
これは領域分割の一例を一層具体的に示すものである。この方法によれば、分割した各領域を曲面に近似するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各領域（パッチ）を効果的に曲面に近似することができる。
【００３８】
また、請求項１１に記載のレーダ反射断面解析方法は、請求項９または１０に記載のレーダ反射断面解析方法において、上記放射領域特定ステップは、上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する陰影処理を行う陰影処理ステップをさらに含み、上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記陰影処理ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得することを特徴とする。
【００３９】
これは放射領域特定の一例を一層具体的に示すものである。この方法によれば、分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定する陰影処理を行うので、放射する領域を効果的に特定することができる。
【００４０】
また、請求項１２に記載のレーダ反射断面解析方法は、請求項９〜１１のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析方法において、上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算する補間値計算ステップをさらに含み、上記電波散乱界算出ステップは、上記補間値計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の上記補間値に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出することを特徴とする。
【００４１】
これは電力透過率・反射率取得の一例を一層具体的に示すものである。この方法によれば、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができる。
【００４２】
また、請求項１３に記載のレーダ反射断面解析方法は、請求項１２に記載のレーダ反射断面解析方法において、上記補間手法は、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間のうち少なくとも１つの手法であることを特徴とする。
【００４３】
これは補間手法の一例を一層具体的に示すものである。この方法によれば、補間手法は、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データを補間する手法のうち少なくとも１つの手法であるので、周知の補間手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができる。
【００４４】
また、請求項１４に記載のレーダ反射断面解析方法は、請求項９〜１１のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析方法において、上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算する電力透過率・反射率計算ステップをさらに含み、上記電波散乱界算出ステップは、上記電力透過率・反射率計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出することを特徴とする。
【００４５】
これは電力透過率・反射率取得の一例を一層具体的に示すものである。この方法によれば、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算するので、周波数選択板を組み込んだ物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができる。
【００４６】
また、請求項１５に記載のレーダ反射断面解析方法は、請求項１４に記載のレーダ反射断面解析方法において、上記計算手法は、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であることを特徴とする。
【００４７】
これは計算手法の一例を一層具体的に示すものである。この方法によれば、計算手法は、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であるので、周知の計算手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができる。
【００４８】
また、請求項１６に記載のレーダ反射断面解析方法は、請求項９〜１５のいずれか１つに記載のレーダ反射断面解析方法において、上記レーダ反射断面解析ステップにて解析した上記物体の上記レーダ反射断面を含む解析結果を出力する解析結果出力ステップを含むことを特徴とする。
【００４９】
この方法によれば、解析した物体のレーダ反射断面を含む解析結果を出力するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面のシミュレーション結果を表示することができ、利用者は当該シミュレーション結果を参考に周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発を効果的に行うことができる。
【００５０】
また、本発明はプログラムに関するものであり、請求項１７に記載のレーダ反射断面解析方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラムは、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、上記物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析方法をコンピュータに実行させるプログラムにおいて、上記物体に対して複数の上記入射角度から上記電波を放射した際の、上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納ステップと、上記物体に対して放射する上記電波の上記入射角度を設定する入射角度設定ステップと、上記物体から反射される上記電波の観測角度を設定する観測角度設定ステップと、上記物体を複数の領域に分割する領域分割ステップと、上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する放射領域特定ステップと、上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得する電力透過率・反射率取得ステップと、上記電力透過率・反射率取得ステップにて取得した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の散乱界を算出する電波散乱界算出ステップと、上記電波散乱界算出ステップにて算出した各上記領域における上記散乱界を合成することにより、上記物体全体における上記散乱界を算出する電波散乱界合成ステップと、上記電波散乱界合成ステップにて合成した上記物体全体における上記散乱界のうち上記観測角度から観測される上記散乱界に基づいて、上記物体の上記レーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析ステップとを含むことを特徴とする。
【００５１】
このプログラムによれば、物体に対して放射する電波の入射角度を変化させた場合の、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納し、物体に対して放射する電波の入射角度を設定し、物体から反射される電波の観測角度を設定し、物体を複数の領域に分割し、分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定し、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得し、取得した、領域における入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率に基づいて、当該領域における電波の散乱界を算出し、算出した各領域における散乱界を合成することにより、物体全体における散乱界を算出し、合成した物体全体における散乱界のうち観測角度から観測される散乱界に基づいて、物体のレーダ反射断面を解析するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発において、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができる。
【００５２】
すなわち、このプログラムによれば、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースに入射角度で問い合わせて、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を取得するので短時間で電力透過率および／または電力反射率を取得することができ、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができる。
【００５３】
また、このプログラムによれば、周波数選択板を任意形状の物体に組み込んだ場合のレーダ反射断面の解析が可能となり、開発時間とコストを効果的に低減することができる。
【００５４】
また、請求項１８に記載のプログラムは、請求項１７に記載のプログラムにおいて、上記領域分割ステップは、上記領域分割ステップにて分割した各上記領域を曲面に近似する領域曲面近似ステップをさらに含み、上記放射領域特定ステップは、上記領域曲面近似ステップにて曲面に近似した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定することを特徴とする。
【００５５】
これは領域分割の一例を一層具体的に示すものである。このプログラムによれば、分割した各領域を曲面に近似するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各領域（パッチ）を効果的に曲面に近似することができる。
【００５６】
また、請求項１９に記載のプログラムは、請求項１７または１８に記載のプログラムにおいて、上記放射領域特定ステップは、上記領域分割ステップにて分割した複数の上記領域において、上記電波を放射する上記領域を特定する陰影処理を行う陰影処理ステップをさらに含み、上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記陰影処理ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得することを特徴とする。
【００５７】
これは放射領域特定の一例を一層具体的に示すものである。このプログラムによれば、分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定する陰影処理を行うので、放射する領域を効果的に特定することができる。
【００５８】
また、請求項２０に記載のプログラムは、請求項１７〜１９のいずれか１つに記載のプログラムにおいて、上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算する補間値計算ステップをさらに含み、上記電波散乱界算出ステップは、上記補間値計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の上記補間値に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出することを特徴とする。
【００５９】
これは電力透過率・反射率取得の一例を一層具体的に示すものである。このプログラムによれば、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の補間値を予め定められた補間手法に基づいて計算するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができる。
【００６０】
また、請求項２１に記載のプログラムは、請求項２０に記載のプログラムにおいて、上記補間手法は、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間のうち少なくとも１つの手法であることを特徴とする。
【００６１】
これは補間手法の一例を一層具体的に示すものである。このプログラムによれば、補間手法は、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データを補間する手法のうち少なくとも１つの手法であるので、周知の補間手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができる。
【００６２】
また、請求項２２に記載のプログラムは、請求項１７〜１９のいずれか１つに記載のプログラムにおいて、上記電力透過率・反射率取得ステップは、上記放射領域特定ステップにて特定した上記領域の位置、および、上記入射角度設定ステップにて設定した上記入射角度に基づいて、上記電力透過率・反射率格納ステップに格納した上記物体の各位置における各上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算する電力透過率・反射率計算ステップをさらに含み、上記電波散乱界算出ステップは、上記電力透過率・反射率計算ステップにて計算した、上記領域における上記入射角度に対応する上記電力透過率および／または上記電力反射率に基づいて、当該領域における上記電波の上記散乱界を算出することを特徴とする。
【００６３】
これは電力透過率・反射率取得の一例を一層具体的に示すものである。このプログラムによれば、特定した領域の位置、および、設定した入射角度に基づいて、格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を予め定められた計算手法に基づいて計算するので、周波数選択板を組み込んだ物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができる。
【００６４】
また、請求項２３に記載のプログラムは、請求項２２に記載のプログラムにおいて、上記計算手法は、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であることを特徴とする。
【００６５】
これは計算手法の一例を一層具体的に示すものである。このプログラムによれば、計算手法は、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法のうち少なくとも１つの手法であるので、周知の計算手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができる。
【００６６】
また、請求項２４に記載のプログラムは、請求項１７〜２３のいずれか１つに記載のプログラムにおいて、上記レーダ反射断面解析ステップにて解析した上記物体の上記レーダ反射断面を含む解析結果を出力する解析結果出力ステップを含むことを特徴とする。
【００６７】
このプログラムによれば、解析した物体のレーダ反射断面を含む解析結果を出力するので、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面のシミュレーション結果を表示することができ、利用者は当該シミュレーション結果を参考に周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発を効果的に行うことができる。
【００６８】
また、本発明は記録媒体に関するものであり、請求項２５に記載の記録媒体は、上記請求項１７〜２４のいずれか１つに記載されたプログラムを記録したことを特徴とする。
【００６９】
この記録媒体によれば、当該記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータに読み取らせて実行することによって、請求項１７〜２４のいずれか１つに記載されたプログラムをコンピュータを利用して実現することができ、これら各方法と同様の効果を得ることができる。
【発明の効果】
【００７０】
本発明によれば、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発において、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７１】
すなわち、本発明によれば、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースに入射角度で問い合わせて、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を取得するので短時間で電力透過率および／または電力反射率を取得することができ、当該物体のレーダ反射断面を計算機上のシミュレーションで効率よく、短時間で解析することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７２】
また、本発明によれば、周波数選択板を任意形状の物体に組み込んだ場合のレーダ反射断面の解析が可能となり、開発時間とコストを効果的に低減することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７３】
また、本発明によれば、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各領域（パッチ）を効果的に曲面に近似することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７４】
また、本発明によれば、放射する領域を効果的に特定することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７５】
また、本発明によれば、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７６】
また、本発明によれば、周知の補間手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率の補間値を効率よく計算することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７７】
また、本発明によれば、周波数選択板を組み込んだ物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納したデータベースの中に、問い合わせた位置および入射角度に一致する電力透過率および／または電力反射率がない場合でも、当該データベースから電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７８】
また、本発明によれば、周知の計算手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率を効率よく計算することができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【００７９】
さらに、本発明によれば、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面のシミュレーション結果を表示することができ、利用者は当該シミュレーション結果を参考に周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の開発を効果的に行うことができるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００８０】
以下に、本発明にかかるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
【００８１】
［本発明の概要］
以下、本発明の概要について図１を用いて説明し、その後、本発明の構成および処理等について詳細に説明する。図１は本発明の基本原理を示すフローチャートである。
【００８２】
まず、対象となる物体の座標データおよび物理パラメータを読み込む（ステップＳ−０）。具体的には、対象となる物体を分割モデル化するために、対象となる物体の３次元座標データならびに誘電率および構造のうち少なくとも一つを含む物理パラメータを読み込む。
【００８３】
ついで、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して放射する電波の入射角度を設定する（ステップＳ−１）。
【００８４】
ついで、物体から反射される電波の観測角度を設定する（ステップＳ−２）。
【００８５】
ついで、物体を複数の領域に分割する（ステップＳ−３）。
【００８６】
ここで、ステップＳ−３において、分割した各領域を曲面に近似してもよい。
【００８７】
ついで、ステップＳ−３にて分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定する（ステップＳ−４）。
【００８８】
ここで、ステップＳ−４において、分割した複数の領域に対して電波を放射する領域を特定する陰影処理を行ってもよい。
【００８９】
ついで、ステップＳ−４にて特定した領域の位置、および、ステップＳ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得する（ステップＳ−５）。
【００９０】
ここで、ステップＳ−５において、ステップＳ−４にて特定した領域の位置、および、ステップＳ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の補間値を予め定められた補間手法（例えば、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間などの周知の補間手法）に基づいて計算してもよい。
【００９１】
また、ステップＳ−５において、ステップＳ−４にて特定した領域の位置、および、ステップＳ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を予め定められた計算手法（例えば、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法など）に基づいて計算してもよい（例えば、周波数選択板を組み込んだ積層構造体（入射角・構造数・偏波）に対して予め定められた計算手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率を計算してもよい）。
【００９２】
ついで、ステップＳ−５にて取得した、領域における入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率に基づいて、当該領域における電波の散乱界を算出する（ステップＳ−６）。
【００９３】
ついで、ステップＳ−６にて算出した各領域における散乱界を合成することにより、物体全体における散乱界を算出する（ステップＳ−７）。
【００９４】
さらに、ステップＳ−７にて合成した物体全体における散乱界のうちステップＳ−２にて設定した観測角度から観測される散乱界に基づいて、物体のレーダ反射断面を解析する（ステップＳ−８）。
【００９５】
ここで、ステップＳ−８にて解析した物体のレーダ反射断面を含む解析結果を出力してもよい。
【００９６】
［システム構成］
まず、本システムの構成について説明する。図２は、本発明が適用される本システムの構成の一例を示すブロック図であり、該構成のうち本発明に関係する部分のみを概念的に示している。本システムは、概略的に、レーダ反射断面解析装置１００と、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面等に関する外部データベースや周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面等を解析するための外部プログラム等を提供する外部システム２００とを、ネットワーク３００を介して通信可能に接続して構成されている。
【００９７】
図２においてネットワーク３００は、レーダ反射断面解析装置１００と外部システム２００とを相互に接続する機能を有し、例えば、インターネット等である。
【００９８】
図２において外部システム２００は、ネットワーク３００を介して、レーダ反射断面解析装置１００と相互に接続され、利用者に対して周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面等に関する外部データベースや周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面等を解析するための外部プログラムを実行するウェブサイトを提供する機能を有する。
【００９９】
ここで、外部システム２００は、ＷＥＢサーバやＡＳＰサーバ等として構成してもよく、そのハードウェア構成は、一般に市販されるワークステーション、パーソナルコンピュータ等の情報処理装置およびその付属装置により構成してもよい。また、外部システム２００の各機能は、外部システム２００のハードウェア構成中のＣＰＵ、ディスク装置、メモリ装置、入力装置、出力装置、通信制御装置等およびそれらを制御するプログラム等により実現される。
【０１００】
図２においてレーダ反射断面解析装置１００は、概略的に、レーダ反射断面解析装置１００の全体を統括的に制御するＣＰＵ等の制御部１０２、通信回線等に接続されるルータ等の通信装置（図示せず）に接続される通信制御インターフェース部１０４、入力装置１１２や出力装置１１４に接続される入出力制御インターフェース部１０８、および、各種のデータベースやテーブルやファイルなどを格納する記憶部１０６を備えて構成されており、これら各部は任意の通信路を介して通信可能に接続されている。さらに、このレーダ反射断面解析装置１００は、ルータ等の通信装置および専用線等の有線または無線の通信回線を介して、ネットワーク３００に通信可能に接続されている。
【０１０１】
記憶部１０６に格納される各種のデータベースやテーブルやファイル（電力透過率・反射率データベース１０６ａ〜解析結果ファイル１０６ｉ）は、固定ディスク装置等のストレージ手段であり、各種処理に用いる各種のプログラムやテーブルやファイルやデータベースやウェブページ用ファイル等を格納する。
【０１０２】
これら記憶部１０６の各構成要素のうち、電力透過率・反射率データベース１０６ａは、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体の各位置に対して複数の入射角度から電波を放射した際の、当該物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納手段である。
【０１０３】
この電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納される情報は、物体位置を一意に識別する物体位置識別情報と、ｘ座標・ｙ座標・ｚ座標を含む物体位置と、電波の入射角度と、当該入射角度ごとの電力透過率・電力反射率とを相互に関連付けて構成されている。
【０１０４】
また、入射角度・観測角度ファイル１０６ｂは、物体に対して放射する電波の入射角度、および、物体から反射される電波の観測角度を格納する入射角度・観測角度格納手段である。
【０１０５】
この入射角度・観測角度ファイル１０６ｂに格納される情報は、物体に対して放射する電波の入射角度、および、物体から反射される電波の観測角度で構成されている。
【０１０６】
また、領域分割済物体ファイル１０６ｃは、後述する領域分割手段にて複数の領域に分割された物体を格納する領域分割済物体格納手段である。
【０１０７】
この領域分割済物体ファイル１０６ｃに格納される情報は、領域を一意に識別する領域識別情報と、ｘ座標・ｙ座標・ｚ座標を含む領域位置とを相互に関連付けて構成されている。
【０１０８】
また、放射領域ファイル１０６ｄは、電波を放射する領域（放射領域）を格納する放射領域格納手段である。
【０１０９】
この放射領域ファイル１０６ｄに格納される情報は、電波を放射する領域の領域識別情報で構成されている。
【０１１０】
また、取得電力透過率・反射率ファイル１０６ｅは、後述する電力透過率・反射率取得手段にて取得した、領域における入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する取得電力透過率・反射率格納手段である。
【０１１１】
この取得電力透過率・反射率ファイル１０６ｅに格納される情報は、領域識別情報と、電力透過率・電力反射率とを相互に関連付けて構成されている。
【０１１２】
また、電波散乱界ファイル１０６ｆは、後述する電波散乱界算出手段にて算出した各領域における電波の散乱界を格納する電波散乱界格納手段である。
【０１１３】
この電波散乱界ファイル１０６ｆに格納される情報は、領域識別情報と、電波の散乱界とを相互に関連付けて構成されている。
【０１１４】
また、合成電波散乱界ファイル１０６ｇは、後述する電波散乱界合成手段にて合成した物体全体における散乱界を格納する合成電波散乱界格納手段である。
【０１１５】
この合成電波散乱界ファイル１０６ｇに格納される情報は、物体全体における散乱界で構成されている。
【０１１６】
また、レーダ反射断面ファイル１０６ｈは、物体のレーダ反射断面を格納するレーダ反射断面格納手段である。
【０１１７】
このレーダ反射断面ファイル１０６ｈに格納される情報は、物体のレーダ反射断面で構成されている。
【０１１８】
また、解析結果ファイル１０６ｉは、物体のレーダ反射断面を含む解析結果を格納する解析結果格納手段である。
【０１１９】
この解析結果ファイル１０６ｉに格納される情報は、物体のレーダ反射断面を含む解析結果で構成されている。
【０１２０】
また、図２において、通信制御インターフェース部１０４は、レーダ反射断面解析装置１００とネットワーク３００（またはルータ等の通信装置）との間における通信制御を行う。すなわち、通信制御インターフェース部１０４は、他の端末と通信回線を介してデータを通信する機能を有する。
【０１２１】
また、図２において、入出力制御インターフェース部１０８は、入力装置１１２や出力装置１１４の制御を行う。ここで、出力装置１１４としては、モニタ（家庭用テレビを含む）の他、スピーカを用いることができる（なお、以下においては出力装置１１４をモニタとして記載する場合がある）。また、入力装置１１２としては、キーボード、マウス、および、マイク等を用いることができる。また、モニタも、マウスと協働してポインティングデバイス機能を実現する。
【０１２２】
また、図２において、制御部１０２は、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）等の制御プログラム、各種の処理手順等を規定したプログラム、および所要データを格納するための内部メモリを有し、これらのプログラム等により、種々の処理を実行するための情報処理を行う。制御部１０２は、機能概念的に、電力透過率・反射率格納部１０２ａ、入射角度設定部１０２ｂ、観測角度設定部１０２ｃ、領域分割部１０２ｄ、放射領域特定部１０２ｅ、電力透過率・反射率取得部１０２ｆ、電波散乱界算出部１０２ｇ、電波散乱界合成部１０２ｈ、レーダ反射断面解析部１０２ｉ、解析結果出力部１０２ｊを備えて構成されている。
【０１２３】
このうち、電力透過率・反射率格納部１０２ａは、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して複数の入射角度から電波を放射した際の、物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を格納する電力透過率・反射率格納手段である。
【０１２４】
また、入射角度設定部１０２ｂは、物体に対して放射する電波の入射角度を設定する入射角度設定手段である。
【０１２５】
また、観測角度設定部１０２ｃは、物体から反射される電波の観測角度を設定する観測角度設定手段である。
【０１２６】
また、領域分割部１０２ｄは、物体を複数の領域に分割する領域分割手段である。ここで、図３は、領域分割部１０２ｄの構成の一例を示すブロック図である。図３に示すように、領域分割部１０２ｄは、領域曲面近似部１０２ｋを含んで構成されている。
【０１２７】
ここで、領域曲面近似部１０２ｋは、領域分割部１０２ｄにて分割した各領域を曲面に近似する領域曲面近似手段である。
【０１２８】
再び図２に戻り、放射領域特定部１０２ｅは、分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定する放射領域特定手段である。ここで、図４は、放射領域特定部１０２ｅの構成の一例を示すブロック図である。図４に示すように、放射領域特定部１０２ｅは、陰影処理部１０２ｍを含んで構成されている。
【０１２９】
ここで、陰影処理部１０２ｍは、複数の領域において、電波を放射する領域を特定する陰影処理を行う陰影処理手段である。
【０１３０】
再び図２に戻り、電力透過率・反射率取得部１０２ｆは、領域の位置、および、入射角度に基づいて、電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得する電力透過率・反射率取得手段である。ここで、図５は、電力透過率・反射率取得部１０２ｆの構成の一例を示すブロック図である。図５に示すように、電力透過率・反射率取得部１０２ｆは、補間値計算部１０２ｎ、および、電力透過率・反射率計算部１０２ｐを含んで構成されている。
【０１３１】
ここで、補間値計算部１０２ｎは、領域の位置、および、入射角度に基づいて、電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の補間値を予め定められた補間手法（例えば、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間などの周知の補間手法）に基づいて計算する補間値計算手段である。
【０１３２】
また、電力透過率・反射率計算部１０２ｐは、領域の位置、および、入射角度に基づいて、電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を予め定められた計算手法（例えば、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法など）に基づいて計算する電力透過率・反射率計算手段である。
【０１３３】
再び図２に戻り、電波散乱界算出部１０２ｇは、領域における入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率に基づいて、当該領域における電波の散乱界を算出する電波散乱界算出手段である。
【０１３４】
また、電波散乱界合成部１０２ｈは、各領域における散乱界を合成することにより、物体全体における散乱界を算出する電波散乱界合成手段である。
【０１３５】
また、レーダ反射断面解析部１０２ｉは、物体全体における散乱界のうち観測角度から観測される散乱界に基づいて、物体のレーダ反射断面を解析するレーダ反射断面解析手段である。
【０１３６】
さらに、解析結果出力部１０２ｊは、解析した物体のレーダ反射断面を含む解析結果を出力する解析結果出力手段である。
【０１３７】
なお、これら各部によって行なわれる処理の詳細については、後述する。
【０１３８】
［システムの処理］
次に、このように構成された本実施の形態における本システムの処理の一例について、以下に図６、図７等を参照して詳細に説明する。
【０１３９】
まず、メイン処理の詳細について、図６等を参照して説明する。図６は、本実施形態における本システムのメイン処理の一例を示すフローチャートである。
【０１４０】
まず、レーダ反射断面解析装置１００は、制御部１０２の処理により、対象となる物体の座標データおよび物理パラメータを読み込み、記憶部１０６の所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−０）。具体的には、レーダ反射断面解析装置１００は、制御部１０２の処理により、対象となる物体を分割モデル化するために、対象となる物体の３次元座標データならびに誘電率および構造のうち少なくとも一つを含む物理パラメータを読み込み、記憶部１０６の所定の記憶領域に格納する。
【０１４１】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００は、入射角度設定部１０２ｂの処理により、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して放射する電波の入射角度を設定し、入射角度・観測角度ファイル１０６ｂの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−１）。
【０１４２】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００は、観測角度設定部１０２ｃの処理により、物体から反射される電波の観測角度を設定し、入射角度・観測角度ファイル１０６ｂの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−２）。
【０１４３】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００は、領域分割部１０２ｄの処理により、物体を複数の領域に分割し、領域分割済物体ファイル１０６ｃの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−３）。
【０１４４】
ここで、ステップＳＡ−３において、領域分割部１０２ｄの処理により分割した各領域を曲面に近似してもよい（領域曲面近似処理）。
【０１４５】
ここで、領域曲面近似部１０２ｋにて行われる領域曲面近似処理について、詳細に説明する。
【０１４６】
まず、領域分割部１０２ｄは、領域曲面近似部１０２ｋの処理により、分割した各領域を曲面に近似し、領域分割済物体ファイル１０６ｃの所定の記憶領域に格納する。これにて領域曲面近似処理が終了する。
【０１４７】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００は、放射領域特定部１０２ｅの処理により、ステップＳＡ−３にて分割した複数の領域において、電波を放射する領域を特定し、放射領域ファイル１０６ｄの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−４）。
【０１４８】
ここで、ステップＳＡ−４において、ステップＳＡ−３にて分割した複数の領域に対して、電波を放射する領域を特定する陰影処理を行ってもよい（陰影処理）。
【０１４９】
ここで、陰影処理部１０２ｍにて行われる陰影処理について、詳細に説明する。
【０１５０】
まず、放射領域特定部１０２ｅは、陰影処理部１０２ｍの処理により、ステップＳＡ−３にて分割した複数の領域において、電波を放射する領域（放射領域）を特定する陰影処理を行い、特定された放射領域を放射領域ファイル１０６ｄの所定の記憶領域に格納する。これにて陰影処理が終了する。
【０１５１】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００は、電力透過率・反射率取得部１０２ｆの処理により、ステップＳＡ−４にて特定した領域の中から１つの領域を選択し（ステップＳＡ−５）、ステップＳＡ−５にて選択した領域の位置、および、ステップＳＡ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得し、取得電力透過率・反射率ファイル１０６ｅの所定の記憶領域に格納する（電力透過率・反射率取得処理）（ステップＳＡ−６）。
【０１５２】
ここで、ステップＳＡ−６において、電力透過率・反射率取得部１０２ｆは、ステップＳＡ−５にて選択した領域の位置、および、ステップＳＡ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の補間値を予め定められた補間手法（例えば、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間などの周知の補間手法）に基づいて計算してもよい。
【０１５３】
また、ステップＳＡ−６において、電力透過率・反射率取得部１０２ｆは、ステップＳＡ−５にて選択した領域の位置、および、ステップＳＡ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できない場合、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を予め定められた計算手法（例えば、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法など）に基づいて計算してもよい（例えば、周波数選択板を組み込んだ積層構造体（入射角・構造数・偏波）に対して予め定められた計算手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率を計算してもよい）。
【０１５４】
ここで、電力透過率・反射率取得部１０２ｆ、補間値計算部１０２ｎ、および、電力透過率・反射率計算部１０２ｐにて行われる電力透過率・反射率取得処理について、図７を参照して詳細に説明する。図７は、本実施形態における本システムの電力透過率・反射率取得処理の一例を示すフローチャートである。
【０１５５】
まず、レーダ反射断面解析装置１００は、電力透過率・反射率取得部１０２ｆの処理により、ステップＳＡ−５にて選択した領域の位置、および、ステップＳＡ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得し、取得電力透過率・反射率ファイル１０６ｅの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＢ−１）。
【０１５６】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００が、電力透過率・反射率取得部１０２ｆの処理により、ステップＳＡ−５にて選択した領域の位置、および、ステップＳＡ−１にて設定した入射角度に基づいて、予め電力透過率・反射率データベース１０６ａに格納した物体の各位置における各入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の中から、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を取得できるか否かを判定する（ステップＳＢ−２）。
【０１５７】
ついで、ステップＳＢ−２にて取得できないと判定された場合、電力透過率・反射率取得部１０２ｆは、補間値計算部１０２ｎの処理により、当該領域における当該入射角度に近い２つ以上の入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率の補間値を予め定められた補間手法（例えば、ラグランジュ補間、スプライン補間、離散データ補間などの周知の補間手法）に基づいて計算し（ステップＳＢ−３）、ステップＳＢ−３にて計算した補間値を当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率として取得し、取得電力透過率・反射率ファイル１０６ｅの所定の記憶領域に格納する。
【０１５８】
また、ステップＳＢ−２にて取得できないと判定された場合、電力透過率・反射率取得部１０２ｆは、電力透過率・反射率計算部１０２ｐの処理により、当該領域における当該入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率を予め定められた計算手法（例えば、モーメント法、スペクトラルドメイン法、ＦＤＴＤ法、ＦＥＭ法など）に基づいて計算し（例えば、周波数選択板を組み込んだ積層構造体（入射角・構造数・偏波）に対して予め定められた計算手法に基づいて電力透過率および／または電力反射率を計算し）（ステップＳＢ−４）、ステップＳＢ−４にて計算した電力透過率および／または電力反射率を取得し、取得電力透過率・反射率ファイル１０６ｅの所定の記憶領域に格納する。これにて、電力透過率・反射率取得処理が終了する。
【０１５９】
再び図６に戻り、レーダ反射断面解析装置１００は、電波散乱界算出部１０２ｇの処理により、ステップＳＡ−６にて取得した、領域における入射角度に対応する電力透過率および／または電力反射率に基づいて、当該領域における電波の散乱界を算出し、電波散乱界ファイル１０６ｆの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−７）。
【０１６０】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００は、制御部１０２の処理により、ステップＳＡ−４にて特定した領域全てについて散乱界の算出が終了した場合（ステップＳＡ−８）、電波散乱界合成部１０２ｈの処理により、ステップＳＡ−７にて算出した各領域における散乱界を合成することにより、物体全体における散乱界を算出し、合成電波散乱界ファイル１０６ｇの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−９）。
【０１６１】
なお、レーダ反射断面解析装置１００は、制御部１０２の処理により、ステップＳＡ−４にて特定した領域全てについて散乱界の算出が終了していない場合（ステップＳＡ−８）、ステップＳＡ−５の処理に戻る。
【０１６２】
ついで、レーダ反射断面解析装置１００は、レーダ反射断面解析部１０２ｉの処理により、ステップＳＡ−９にて合成した物体全体における散乱界のうちステップＳＡ−２にて設定した観測角度から観測される散乱界に基づいて、物体のレーダ反射断面を解析し、レーダ反射断面ファイル１０６ｈの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−１０）。
【０１６３】
さらに、レーダ反射断面解析装置１００は、解析結果出力部１０２ｊの処理により、ステップＳＡ−１０にて解析した周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体のレーダ反射断面を含む解析結果を出力装置１１４に出力し、解析結果ファイル１０６ｉの所定の記憶領域に格納する（ステップＳＡ−１１）。
【０１６４】
これにて、メイン処理が終了する。
【０１６５】
［他の実施の形態］
さて、これまで本発明の実施の形態について説明したが、本発明は、上述した実施の形態以外にも、上記特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において種々の異なる実施の形態にて実施されてよいものである。
【０１６６】
例えば、レーダ反射断面解析装置１００がスタンドアローンの形態で処理を行う場合を一例に説明したが、レーダ反射断面解析装置１００とは別筐体で構成されるクライアント端末からの要求に応じて処理を行い、その処理結果を当該クライアント端末に返却するように構成してもよい。
【０１６７】
また、実施形態において説明した各処理のうち、自動的に行なわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的に行うこともでき、あるいは、手動的に行なわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的に行うこともできる。
この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種の登録データや検索条件等のパラメータを含む情報、画面例、データベース構成については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【０１６８】
また、レーダ反射断面解析装置１００に関して、図示の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。
【０１６９】
例えば、レーダ反射断面解析装置１００の各部または各装置が備える処理機能、特に制御部１０２にて行なわれる各処理機能については、その全部または任意の一部を、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）および当該ＣＰＵにて解釈実行されるプログラムにて実現することができ、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現することも可能である。なお、プログラムは、後述する記録媒体に記録されており、必要に応じてレーダ反射断面解析装置１００に機械的に読み取られる。
【０１７０】
すなわち、ＲＯＭまたはＨＤなどの記憶部１０６などには、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）と協働してＣＰＵに命令を与え、各種処理を行うためのコンピュータプログラムが記録されている。このコンピュータプログラムは、ＲＡＭ等にロードされることによって実行され、ＣＰＵと協働して制御部１０２を構成する。また、このコンピュータプログラムは、レーダ反射断面解析装置１００に対して任意のネットワーク３００を介して接続されたアプリケーションプログラムサーバに記録されてもよく、必要に応じてその全部または一部をダウンロードすることも可能である。
【０１７１】
また、本発明にかかるプログラムを、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納することもできる。ここで、この「記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等の任意の「可搬用の物理媒体」や、各種コンピュータシステムに内蔵されるＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤ等の任意の「固定用の物理媒体」、あるいは、ＬＡＮ、ＷＡＮ、インターネットに代表されるネットワークを介してプログラムを送信する場合の通信回線や搬送波のように、短期にプログラムを保持する「通信媒体」を含むものとする。
【０１７２】
また、「プログラム」とは、任意の言語や記述方法にて記述されたデータ処理方法であり、ソースコードやバイナリコード等の形式を問わない。なお、「プログラム」は必ずしも単一的に構成されるものに限られず、複数のモジュールやライブラリとして分散構成されるものや、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）に代表される別個のプログラムと協働してその機能を達成するものをも含む。なお、実施の形態に示した各装置において記録媒体を読み取るための具体的な構成、読み取り手順、あるいは、読み取り後のインストール手順等については、周知の構成や手順を用いることができる。
【０１７３】
記憶部１０６に格納される各種のデータベース等（電力透過率・反射率データベース１０６ａ〜解析結果ファイル１０６ｉ）は、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のメモリ装置、ハードディスク等の固定ディスク装置、フレキシブルディスク、光ディスク等のストレージ手段であり、各種処理やウェブサイト提供に用いる各種のプログラムやテーブルやファイルやデータベースやウェブページ用ファイル等を格納する。
【０１７４】
また、レーダ反射断面解析装置１００は、既知のパーソナルコンピュータ、ワークステーション等の情報処理端末等の情報処理装置にプリンタやモニタやイメージスキャナ等の周辺装置を接続し、該情報処理装置に本発明の方法を実現させるソフトウェア（プログラム、データ等を含む）を実装することにより実現してもよい。
【０１７５】
さらに、レーダ反射断面解析装置１００等の分散・統合の具体的形態は明細書および図面に示すものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷等に応じた任意の単位で、機能的または物理的に分散・統合して構成することができる（例えば、グリッド・コンピューティングなど）。例えば、各データベースを独立したデータベース装置として独立に構成してもよく、また、処理の一部をＣＧＩ（Ｃｏｍｍｏｎ  Ｇａｔｅｗａｙ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）を用いて実現してもよい。
【０１７６】
また、ネットワーク３００は、レーダ反射断面解析装置１００と外部システム２００とを相互に接続する機能を有し、例えば、インターネットや、イントラネットや、ＬＡＮ（有線／無線の双方を含む）や、ＶＡＮや、パソコン通信網や、公衆電話網（アナログ／デジタルの双方を含む）や、専用回線網（アナログ／デジタルの双方を含む）や、ＣＡＴＶ網や、ＩＭＴ２０００方式、ＧＳＭ方式またはＰＤＣ／ＰＤＣ−Ｐ方式等の携帯回線交換網／携帯パケット交換網や、無線呼出網や、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ等の局所無線網や、ＰＨＳ網や、ＣＳ、ＢＳまたはＩＳＤＢ等の衛星通信網等のうちいずれかを含んでもよい。すなわち、本システムは、有線・無線を問わず任意のネットワークを介して、各種データを送受信することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１７７】
以上のように、本発明にかかるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体は、特に、周波数選択板を組み込んだ任意形状の物体に対して任意の入射角度から特定の周波数の電波を放射した際の、当該物体のレーダ反射断面を計算機上でシミュレーションして解析することができる。
【０１７８】
これにより、本発明にかかるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体は、電波解析分野に極めて有用である。また、本発明にかかるレーダ反射断面解析装置、レーダ反射断面解析方法、プログラム、および、記録媒体は、産業上多くの分野、特に周波数選択板を組み込んだ物体の開発を行う、軍事関連、防衛関連、通信関連等の分野で広く実施することができ、極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１７９】
【図１】本発明の基本原理を示すフローチャートである。
【図２】本発明が適用される本システムの構成の一例を示すブロック図である。
【図３】領域分割部１０２ｄの構成の一例を示すブロック図である。
【図４】放射領域特定部１０２ｅの構成の一例を示すブロック図である。
【図５】電力透過率・反射率取得部１０２ｆの構成の一例を示すブロック図である。
【図６】本実施形態における本システムのメイン処理の一例を示すフローチャートである。
【図７】本実施形態における本システムの電力透過率・反射率取得処理の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１８０】
１００  レーダ反射断面解析装置
１０２  制御部
１０２ａ  電力透過率・反射率格納部
１０２ｂ  入射角度設定部
１０２ｃ  観測角度設定部
１０２ｄ  領域分割部
１０２ｅ  放射領域特定部
１０２ｆ  電力透過率・反射率取得部
１０２ｇ  電波散乱界算出部
１０２ｈ  電波散乱界合成部
１０２ｉ  レーダ反射断面解析部
１０２ｊ  解析結果出力部
１０２ｋ  領域曲面近似部
１０２ｍ  陰影処理部
１０２ｎ  補間値計算部
１０２ｐ  電力透過率・反射率計算部
１０４  通信制御インターフェース部
１０６  記憶部
１０６ａ  電力透過率・反射率データベース
１０６ｂ  入射角度・観測角度ファイル
１０６ｃ  領域分割済物体ファイル
１０６ｄ  放射領域ファイル
１０６ｅ  取得電力透過率・反射率ファイル
１０６ｆ  電波散乱界ファイル
１０６ｇ  合成電波散乱界ファイル
１０６ｈ  レーダ反射断面ファイル
１０６ｉ  解析結果ファイル
１０８  入出力制御インターフェース部
１１２  入力装置
１１４  出力装置
２００  外部システム
３００  ネットワーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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