(57)【要約】【課題】様々な動作状態においてスペクトラムアナライザの位相雑音を補償する【解決手段】スペクトラムアナライザの様々な動作状態に適応する位相ノイズモデルの構築に基づきスペクトラムアナライザの位相ノイズを補償する。そのモデルは、スペクトラムアナライザによって取得された測定トレースから出力信号を抽出するために適用される配列を形成するために用いられる。【選択図】図４
2005274571.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一連の動作状態にてスペクトラムアナライザの位相雑音モデルを構築するステップと、
前記スペクトラムアナライザの指定された動作状態に基づいて前記位相雑音モデルから配列を形成するステップと、
前記指定動作状態にて出力信号を抽出するために、前記スペクトラムアナライザが取得した測定トレースに前記配列を適用するステップとを有する、
ことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記位相ノイズモデルの構築ステップは、前記スペクトラムアナライザに一連の校正信号を適用するステップと、前記スペクトラムアナライザの対応動作状態を指定し、前記一連の校正信号のそれぞれを測定するステップと、前記測定した校正信号から前記スペクトラムアナライザの前記位相ノイズを分離するステップを有する、
ことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記配列の適用ステップは、前記配列に前記測定トレースを畳み込み、前記測定トレースから前記配列への前記測定トレースの畳み込み結果を減算するステップを有する、
ことを特徴とする請求項１または請求項２記載の方法。
【請求項４】
前記配列の形成ステップは、前記測定トレースの周波数幅と前記測定トレース内の測定点の数に従い前記位相ノイズモデルから一組の値を設定するステップを有する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の方法。
【請求項５】
前記スペクトラムアナライザの一連の動作状態と前記指定動作状態は、サンプラ中間周波数とサンプラ中間周波極性とサンプラ調和次数と位相ロックループ分周比を含むパラメータ群により指定する、
ことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項６】
前記位相ノイズモデルは、前記スペクトラムアナライザの一連の動作状態と前記指定動作状態を指定するパラメータ群の関数群を含む、
ことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項７】
前記モデルは、前記パラメータ群の関数群を含む、
ことを特徴とする請求項５記載の方法。
【請求項８】
システムであって、
パラメータ群を受信し、パラメータ群に依存する一連の動作状態にて前記スペクトラムアナライザの位相ノイズモデルから配列を形成する計算器と、
前記スペクトラムアナライザが指定動作状態で取得した測定トレースを受信し、前記配列を前記測定トレースへ適用し出力信号を抽出する信号プロセッサを備える、
ことを特徴とするシステム。
【請求項９】
前記位相ノイズモデルは、前記パラメータ群と前記校正群に依存する、
ことを特徴とする請求項８記載のシステム。
【請求項１０】
前記パラメータ群は、サンプラ中間周波数とサンプラ中間周波極性とサンプラ調和次数と位相ロックループ分周比とを含む、
ことを特徴とする請求項８記載のシステム。
【請求項１１】
前記校正群は、前記スペクトラムアナライザへ一連の校正信号を適用することと、前記スペクトラムアナライザの対応動作状態を指定して前記一連の校正信号内の前記各校正信号を測定することと、前記校正信号の対応測定値から前記スペクトラムアナライザの前記位相ノイズを分離することに基づく、
ことを特徴とする請求項９または請求項１０記載のシステム。
【請求項１２】
前記信号プロセッサは、前記配列に前記測定トレースを畳み込み、前記配列への前記測定トレースの畳み込み結果を前記測定トレースから減算する、
ことを特徴とする請求項８乃至請求項１０のいずれかに記載のシステム。
【請求項１３】
前記配列の形成は、前記測定トレースの周波数幅と前記測定トレース内の測定点の数に従い前記位相ノイズモデルから一組の値を設定することを含む、
ことを特徴とする請求項１１記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
ペクトル分析器の性能は、スペクトラムアナライザ内に固有の位相ノイズにより劣化することがある。例えば、スペクトラムアナライザが実施する信号測定値からスペクトラムアナライザの位相ノイズを分離できないときは、位相ノイズがスペクトラムアナライザの測定精度を低下させることがある。位相ノイズがスペクトラムアナライザの測定感度を制限することもある。スペクトラムアナライザの位相ノイズが測定対象信号に対し十分に高い場合、信号は位相ノイズによって掻き消されることがあり、スペクトラムアナライザにより検出できないままとなることがある。残念なことに、スペクトラムアナライザの位相ノイズを低減し測定精度と測定感度を改善することは、局部発振器内の固有ノイズや位相ノイズの一因をなすスペクトラムアナライザの周波数基準や他の成分が故に出費が嵩んだり達成困難となることがある。それ故、スペクトラムアナライザが取得する測定値上の位相ノイズの影響を補償する欲求が存在する。
【０００２】
一つの位相ノイズ補償技術が、アジレント・テクノロジーズ（ＡＧＩＬＥＮＴ  ＴＥＣＨＮＯＬＯＧＩＥＳ）社製型番Ｅ４４４０Ａ  ＰＳＡシリーズのスペクトラムアナライザ向けオプション２２６位相ノイズ測定パーソナリティに用いられている。この技術には、スペクトラムアナライザの位相ノイズよりも実質的に低い位相ノイズを有する信号でもってスペクトラムアナライザを刺激し、そこで刺激信号を測定することによるスペクトラムアナライザの位相ノイズの特性解明が含まれる。測定された刺激信号から得られる位相ノイズは、スペクトラムアナライザが実施する後続の信号測定の値から線形電力尺度（linear power scale）で減算される。
【０００３】
この位相ノイズの特性解明は、刺激信号を測定するスペクトラムアナライザの特定の一つの動作状態にのみ付随するものである。それ故、この技術を用いて位相ノイズを補償するには、通常はスペクトラムアナライザの動作状態の各切り替わりごとに特性解明を実行することになり、そのことがスペクトラムアナライザに対する測定立ち上げ時間を増やしてしまう。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の実施形態になるシステム及び方法は、スペクトラムアナライザの様々な動作状態に対応する位相ノイズの既成モデルに基づきスペクトラムアナライザの位相ノイズを補償する。このモデルは、スペクトラムアナライザが取得する測定トレースから出力信号を抽出すべく適用する配列を形成するのに用いる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００５】
図１Ａ乃至図１Ｆは、一般的なスペクトラムアナライザが取得するスペクトル測定値に関連する信号例を示す。図１Ａは、周波数ｆＣＷの低ノイズ連続波信号ＳＣＷを示す。図１Ｂは、スペクトラムアナライザが低ノイズ連続波信号ＳＣＷを測定したときに得られる測定信号ＳＣＷｍを示す。スペクトラムアナライザは、連続波信号ＳＣＷを測定する動作状態において位相ノイズφＳＡを有する。測定信号ＳＣＷｍはスペクトラムアナライザが一因となる位相ノイズφＳＡを含み、ＳＣＷｍ＝ＳＣＷ＋ＳＣＷ＊φＳＡとして表わすことができ、ここで＊は畳み込みを示す。かくして、測定信号ＳＣＷｍは、スペクトラムアナライザの位相ノイズφＳＡと低ノイズ連続波信号ＳＣＷの畳み込み結果を低ノイズ連続波信号ＳＣＷに加えたものとして表わすことができる。
【０００６】
図１Ｃは、周波数ｆ１，ｆ２の低ノイズ２トーン信号Ｓ２を示す。図１Ｄは、低ノイズ２トーン信号Ｓ２をスペクトラムアナライザが測定したときに得られる測定信号Ｓ２ｍを示す。測定信号Ｓ２ｍは、スペクトラムアナライザが一因をなす位相ノイズφＳＡを含み、Ｓ２ｍ＝Ｓ２＋Ｓ２＊φＳＡとして表わすことができる。図１Ｅは、信号帯域Ｎを有するノイズ過多信号ＳＮを示す。図１Ｆは、ノイズ過多信号ＳＮをスペクトラムアナライザが測定したときに得られる測定信号ＳＮｍを示す。測定信号ＳＮｍは、スペクトラムアナライザが一因をなす位相ノイズφＳＡを含み、ＳＮｍ＝ＳＮ＋ＳＮ＊φＳＡとして表わすことができる。
【０００７】
各事例において、位相ノイズφＳＡはスペクトラムアナライザに印加する信号の測定値に影響を及ぼす。信号ＳＩＮを通常のスペクトラムアナライザに印加すると、スペクトラムアナライザが取得する測定トレースＳＭＥＡＳは、式１に示す如く印加信号ＳＩＮにスペクトラムアナライザの位相ノイズφＳＡを畳み込んだ印加信号ＳＩＮを加えたものとして表わすことができる。
【０００８】
【数１】
2005274571.tif 000003
【０００９】
図２は、本発明の実施形態になる位相ノイズ補償システム１２を含む従来のスペクトラムアナライザ１０を示す。スペクトラムアナライザ１０は通常、キーボードやタッチスクリーンや他種のユーザインタフェース１６に結合した、コンピュータ又は他種のプロセッサであるコントローラ１４を含む。ユーザインタフェース１６も、インタフェースバスや他の通信路１５を介してスペクトラムアナライザ１０に結合されるコンピュータとすることができる。
【００１０】
ユーザインタフェース１６は、入力１７をスペクトラムアナライザ１０の動作状態の調整に用いるコントローラ１４へ供給する。動作状態は、スペクトラムアナライザ１０の測定値取得器１８に関する中心周波数ＣＦや周波数幅ＳＰＡＮや帯域分解能ＲＢＷの設定を含む。しかしながら、追加の動作状態、すなわちスペクトラムアナライザ１０の測定値取得器１８に応じてこれらの例示動作状態とは異なる動作状態が存在することもある。測定値取得器１８には、スペクトラムアナライザ１０に印加される信号ＳＩＮのスペクトル内容の特性解明に用いる部品や要素やサブシステムが含まれる。図３は、オフセットシンセサイザＳＹＮＴＨを含むアジレント・テクノロジーズ社製、型番Ｅ４４４０  ＰＳＡシリーズスペクトラムアナライザ等の従来のスペクトラムアナライザ１０の測定値取得器１８の簡易ブロック線図を示す。オフセットシンセサイザＳＹＮＴＨは、スペクトラムアナライザ１０が実行する測定に関する中心周波数ＣＦと周波数幅ＳＰＡＮを設定する局部発振器信号ＳＬＯを供給する。フィルタ２６は、スペクトラムアナライザ１０が実施する測定に関し帯域分解能ＲＢＷを設定する。従来のスペクトラムアナライザの動作は、例えば米国カリフォルニア州パロアルトのアジレント・テクノロジーズ社が提供する「スペクトラムアナライザの基礎、アプリケーションノート１５０（Ｓｐｅｃｔｒｕｍ  Ａｎａｌｙｓｉｓ  Ｂａｓｉｃｓ，  Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｎｏｔｅ  １５０）」に記載されている。
【００１１】
スペクトラムアナライザ１０の動作状態は、スペクトラムアナライザ１０に関連する指定パラメータ群１３内のパラメータに従って設定される。パラメータは、ユーザインタフェース１６が供給する入力に応答し、コントローラ１４を介して調整し設定し或いは指定する。表１に作表した典型的なパラメータ群１３は、測定値取得器１８内にオフセットシンセサイザＳＹＮＴＨを含むスペクトラムアナライザ１０の動作状態を指定するものである。
【００１２】
【表１】
2005274571.tif 000004
【００１３】
スペクトラムアナライザ１０の動作状態を指定するパラメータ設定は、スペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡにも影響を及ぼす。表１のパラメータ群１３にとって、測定値取得器１８のオフセットシンセサイザＳＹＮＴＨ内のサンプラのＩＦ周波数（中間周波数）ｆＳＩＦとサンプラのＩＦ極性Ｐとサンプラの調和次数ＮとＰＬＬ（位相ロックループ）の分周比Ｒが、スペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡに影響を与える。かくして、スペクトラムアナライザ１０が信号ＳＩＮを測定するときに、測定用にスペクトラムアナライザ１０の動作状態を指定するパラメータ設定が、スペクトラムアナライザ１０が測定値へもたらす位相ノイズφＳＡを特定しもする。
【００１４】
図２に示した位相ノイズ補償システム１２は、計算器２０と信号処理器２２を含む。計算器２０と信号処理器２２はコントローラ１４から分離して図示したが、通常は計算器２０と信号処理器２２はコントローラ１４内に実装される。計算器２０は、周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴにおけるスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡを表わす位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）から配列Ｃを形成する。なお、文中における位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）は、次式の右項に読み替えられたし。
【００１５】
【数２】
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【００１６】
位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）は、スペクトラムアナライザ１０の動作状態に対応するパラメータ設定に基づくものである。信号処理器２２は、測定値取得システム１８が取得した信号ＳＩＮの測定値に配列Ｃを適用し出力信号ＳＯＵＴを抽出する。出力信号ＳＯＵＴは、スペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡの影響を低減する補償を含む信号ＳＩＮを表わす。
【００１７】
図４は、一連の校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬのスペクトラムアナライザ１０への印加（ステップ４１）を含む位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）を構築するフロー線図４０を示す。校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬは、スペクトラムアナライザ１０を十分な数の周波数と他の刺激条件において刺激し、スペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡが所定の周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴ及びスペクトラムアナライザ１０の動作状態を指定する様々なパラメータ設定にて表われるようにする。
【００１８】
フロー線図４０のステップ４２において、パラメータ群１３中のパラメータは、各校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬの測定するためのスペクトラムアナライザの対応する動作状態を指定する設定｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝ＣＡＬへ調整される。ステップ４４は、パラメータ群１３中のパラメータ｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝ＣＡＬが指定する動作状態が定める中心周波数ＣＦと周波数幅ＳＰＡＮと帯域分解能ＲＢＷにおける各校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬの測定を含む。測定された校正信号からの所定周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴでのスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡは、ステップ４６において分離され、設定｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝ＣＡＬへ調整されたパラメータ群１３内のパラメータの関数である位相ノイズ校正群φＣＡＬ｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝ＣＡＬを形成する。スペクトラムアナライザへ印加する校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬは、スペクトラムアナライザ１０よりも実質的により低い位相ノイズを有しており、かくして各測定校正信号の位相ノイズはスペクトラムアナライザ１０に原因があると考えられる。さもなくば、校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬの位相ノイズは低度の不確実性を有し、かくしてスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡは、スペクトラムアナライザが測定する全位相ノイズから線形電力尺度において校正信号の位相ノイズを減算することで分離することができ、ここではこの減算は周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴにて実行される。
【００１９】
ステップ４８は、周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴとパラメータ群１３内のパラメータの関数Ｆとしての位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）の構築を含む。パラメータ群が表１の例示パラメータを含むとき、位相ノイズモデルは、Ｌ（ｆＯＦＦＳＥＴ）＝Ｆ｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝で表わされる。関数Ｆは、一般に配列や参照用テーブル内の係数や多項式の項や要素によって表わされる一連の輪郭を含み、この参照用テーブルは、ステップ４６において設定された位相ノイズ校正群φＣＡＬ｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝ＣＡＬに対し周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴにおける位相ノイズの曲線適合或いは他の写像から得られる。
【００２０】
一例では、関数Ｆ群は線形であり、ここで関数Ｆ群内の各関数ＦｘはサンプラＩＦ極性Ｐとサンプラ調和次数ＮとＰＬＬ分周比Ｒの関数である勾配ｍを有する。各関数Ｆｘは、サンプラＩＦ極性Ｐとサンプラ調和次数ＮとＰＬＬ分周比Ｒの関数であるオフセットｂもまた有する。スペクトラムアナライザ１０のモデル化された位相ノイズと、オフセット周波数ｆＯＦＦＳＥＴにおけるサンプラＩＦ極性Ｐとサンプラ調和次数ＮとＰＬＬ分周比Ｒの各設定或いは調整に関するサンプラＩＦ周波数ｆＳＩＦの線形関係は、次式で表わされる。
【００２１】
【数３】
2005274571.tif 000006
【００２２】
位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）は、周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴにおけるスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡとパラメータ群１３内のパラメータ設定との間の写像または対応関係をもたらす。かくして、パラメータが指定するスペクトラムアナライザ１０の所与の動作状態にとって、スペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡは位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）から割り出すことができる。一般に、位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）は、コントローラ１４がアクセス可能なメモリ或いは他の記憶媒体（図示せず）に保存される。
【００２３】
位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）が一旦構築されると、印加信号は続いてスペクトラムアナライザ１０により測定される。例えば、測定値取得器１８は信号ＳＩＮを受信し、信号ＳＩＮを表わす測定トレースＳＭＥＡＳを取得する。表示メモリ２４内に通常保存する測定トレースＳＭＥＡＳは、中心周波数ＣＦと周波数幅ＳＰＡＮと帯域分解能ＲＢＷの指定設定を含む動作状態にて取得される。測定トレースＳＭＥＡＳは図５Ａに示す如く、整数指数ｉにて指定される所定数ｎの測定点を有する。
【００２４】
計算器２０は、周波数幅ＳＰＡＮと測定トレースＳＭＥＡＳ内の測定点の数ｎに基づいて位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）から配列Ｃを形成する。一般に、配列Ｃは図５Ｂに示す如く２ｎ＋１個の点を有するよう指定される。指数ｉで指定される配列Ｃ内の各点は、ｆＯＦＦＳＥＴ＝｜ｉ｜ＳＰＡＮ／（ｎ−１）にて評価する位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）から設定される対応値Ｃｉを有する。配列Ｃは、線形尺度で表わされる電力比である一組の値Ｃｉを含む。２ｎ＋１個の点を有する配列Ｃにとって、値Ｃｉの指数ｉは−ｎからｎまで変化する整数である。
【００２５】
一例では、各指数ｉにおける配列Ｃの値Ｃｉは式２に従って特定される。
【００２６】
【数４】
2005274571.tif 000007
【００２７】
式２中、項ＮＢＷは、スペクトラムアナライザ１０の帯域分解能ＲＢＷの設定に基づいて特定されるスペクトラムアナライザ１０のノイズ帯域を表わす。ノイズ帯域ＮＢＷは通常、帯域分解能ＲＢＷの倍数で表わされる。
【００２８】
信号処理器２２は配列Ｃを測定トレースＳＭＥＡＳへ適用し、出力信号ＳＯＵＴを抽出する。配列Ｃの適用には通常、測定トレースＳＭＥＡＳと配列Ｃの算術的畳み込みと、得られた畳み込みＳＭＥＡＳ＊Ｃの測定トレースＳＭＥＡＳからの減算が含まれる。測定トレースＳＭＥＡＳと配列Ｃは、それぞれ信号処理器２２によりこの処理について線形電力尺度で表わされる。測定トレースＳＭＥＡＳがｎ個の点を有し、配列Ｃが２ｎ＋１個の点を有するときに、この得られた畳み込みＳＭＥＡＳ＊Ｃは３ｎ＋１個の点を有するが、得られた畳み込みＳＭＥＡＳ＊Ｃの中間のｎ個の点が、測定トレースＳＭＥＡＳ内のｎ個の測定点からの畳み込み結果ＳＭＥＡＳ＊Ｃの減算に用いられる。
【００２９】
測定トレースＳＭＥＡＳに対する配列Ｃの適用の結果として信号処理器２２が供給する出力信号ＳＯＵＴは、式３で表わされる。
【００３０】
【数５】
2005274571.tif 000008
【００３１】
スペクトラムアナライザ１０が取得する測定値に対するスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡの影響が故に、出力信号ＳＯＵＴに関する式は式４に帰結し、ここで項ＳＩＮｍはｎ個の測定点での信号ＳＩＮを表わす。
【００３２】
配列Ｃがスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡの推定値を提供するため、配列Ｃはスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡにほぼ等しく、出力信号ＳＯＵＴをＳＩＮｍ−ＳＩＮｍ＊φＳＡ＊Ｃにほぼ等しくさせる。線形電力尺度で表わしたときにスペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡと配列Ｃは低い値を有するため、ＳＯＵＴに関する式中の項ＳＩＮｍ＊φＳＡ＊Ｃは項ＳＩＮｍに対し無視することができる。かくして、得られる出力信号ＳＯＵＴはＳＩＮｍにほぼ等しく、スペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡの影響を低減する補償を含む信号ＳＩＮを表わす。
【００３３】
【数６】
2005274571.tif 000009
【００３４】
図６は、本発明の代替実施形態になる位相ノイズ補償法５０のフロー線図を示す。ステップ５２は、スペクトラムアナライザ向けの位相ノイズモデルの構築を含む。位相ノイズ補償法５０のこのステップは通常、一連の校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬのスペクトラムアナライザ１０への印加と、パラメータ群１３内のパラメータの設定｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝ＣＡＬへの調整を含み、各校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬの測定値に対するスペクトラムアナライザの対応動作状態を指定する。各校正信号Ｓ１ＣＡＬ・・・ＳＮＣＡＬはそこで、指定動作状態が定める中心周波数ＣＦや周波数幅ＳＰＡＮや帯域分解能ＲＢＷにて測定される。そこで、スペクトラムアナライザ１０の位相ノイズφＳＡは測定校正信号からの所定周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴにおいて分離され、パラメータ群１３が表１のパラメータを含むときに位相ノイズ校正群φＣＡＬ｛ｆＯＦＦＳＥＴ，ｆＳＩＦ，Ｐ，Ｎ，Ｒ｝ＣＡＬを形成する。そこで、位相ノイズモデルＬ（ｆＯＦＦＳＥＴ）は、周波数オフセットｆＯＦＦＳＥＴとパラメータ群１３内のパラメータの関数Ｆ群として構築される。
【００３５】
ステップ５４では、スペクトラムアナライザ１０に印加された信号ＳＩＮに応答して測定値取得器１８により１以上の測定トレースＳＭＥＡＳが取得される。
【００３６】
ステップ５６では、例えば周波数幅ＳＰＡＮや測定トレースＳＭＥＡＳ内の測定点の数ｎを含むパラメータ群１３により指定されるスペクトラムアナライザ１０の動作状態に基づいて、位相ノイズモデルから配列Ｃが形成される。ステップ５４はステップ５６に先行して示したが、配列Ｃは測定トレースＳＭＥＡＳの取得の前後に形成することもできる。
【００３７】
ステップ５８には、配列Ｃを測定トレースＳＭＥＡＳへ適用して出力信号ＳＯＵＴを抽出することが含まれる。これには、典型的に、測定トレースＳＭＥＡＳと配列Ｃの算術的畳み込みと、畳み込み結果ＳＭＥＡＳ＊Ｃの測定トレースＳＭＥＡＳからの減算が含まれ、ここでは測定トレースＳＭＥＡＳと配列Ｃはそれぞれ線形電力尺度で表わされる。
【００３８】
本発明の実施形態を詳細に説明してきたが、特許請求の範囲に記載した本発明範囲から逸脱することなくこれらの実施形態に対する改変や適用が当事者に想起されようことは明らかであろう。念のため、以下に本発明の実施態様を列挙する。
【００３９】
（実施態様１）
一連の動作状態にてスペクトラムアナライザの位相雑音モデルを構築するステップと、
前記スペクトラムアナライザの指定された動作状態に基づいて前記位相雑音モデルから配列を形成するステップと、
前記指定動作状態にて出力信号を抽出するために、前記スペクトラムアナライザが取得した測定トレースに前記配列を適用するステップとを有する、
ことを特徴とする方法。
【００４０】
（実施態様２）
前記位相ノイズモデルの構築ステップは、前記スペクトラムアナライザに一連の校正信号を適用するステップと、前記スペクトラムアナライザの対応動作状態を指定し、前記一連の校正信号のそれぞれを測定するステップと、前記測定した校正信号から前記スペクトラムアナライザの前記位相ノイズを分離するステップを有する、
ことを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００４１】
（実施態様３）
前記配列の適用ステップは、前記配列に前記測定トレースを畳み込み、前記測定トレースから前記配列への前記測定トレースの畳み込み結果を減算するステップを有する、
ことを特徴とする実施態様１または実施態様２記載の方法。
【００４２】
（実施態様４）
前記配列の形成ステップは、前記測定トレースの周波数幅と前記測定トレース内の測定点の数に従い前記位相ノイズモデルから一組の値を設定するステップを有する、
ことを特徴とする実施態様１乃至実施態様３のいずれかに記載の方法。
【００４３】
（実施態様５）
前記スペクトラムアナライザの一連の動作状態と前記指定動作状態は、サンプラ中間周波数とサンプラ中間周波極性とサンプラ調和次数と位相ロックループ分周比を含むパラメータ群により指定する、
ことを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００４４】
（実施態様６）
前記位相ノイズモデルは、前記スペクトラムアナライザの一連の動作状態と前記指定動作状態を指定するパラメータ群の関数群を含む、
ことを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００４５】
（実施態様７）
前記モデルは、前記パラメータ群の関数群を含む、
ことを特徴とする実施態様５記載の方法。
【００４６】
（実施態様８）
システムであって、
パラメータ群を受信し、パラメータ群に依存する一連の動作状態にて前記スペクトラムアナライザの位相ノイズモデルから配列を形成する計算器と、
前記スペクトラムアナライザが指定動作状態で取得した測定トレースを受信し、前記配列を前記測定トレースへ適用し出力信号を抽出する信号プロセッサを備える、
ことを特徴とするシステム。
【００４７】
（実施態様９）
前記位相ノイズモデルは、前記パラメータ群と前記校正群に依存する、
ことを特徴とする実施態様８記載のシステム。
【００４８】
（実施態様１０）
前記パラメータ群は、サンプラ中間周波数とサンプラ中間周波極性とサンプラ調和次数と位相ロックループ分周比とを含む、
ことを特徴とする実施態様８記載のシステム。
【００４９】
（実施態様１１）
前記校正群は、前記スペクトラムアナライザへ一連の校正信号を適用することと、前記スペクトラムアナライザの対応動作状態を指定して前記一連の校正信号内の前記各校正信号を測定することと、前記校正信号の対応測定値から前記スペクトラムアナライザの前記位相ノイズを分離することに基づく、
ことを特徴とする実施態様９または実施態様１０記載のシステム。
【００５０】
（実施態様１２）
前記信号プロセッサは、前記配列に前記測定トレースを畳み込み、前記配列への前記測定トレースの畳み込み結果を前記測定トレースから減算する、
ことを特徴とする実施態様８乃至実施態様１０のいずれかに記載のシステム。
【００５１】
（実施態様１３）
前記配列の形成は、前記測定トレースの周波数幅と前記測定トレース内の測定点の数に従い前記位相ノイズモデルから一組の値を設定することを含む、
ことを特徴とする実施態様１１記載のシステム。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１Ａ】スペクトラムアナライザによるスペクトル測定に関連する例示信号を示す図である。
【図１Ｂ】スペクトラムアナライザによるスペクトル測定に関連する例示信号を示す図である。
【図１Ｃ】スペクトラムアナライザによるスペクトル測定に関連する例示信号を示す図である。
【図１Ｄ】スペクトラムアナライザによるスペクトル測定に関連する例示信号を示す図である。
【図１Ｅ】スペクトラムアナライザによるスペクトル測定に関連する例示信号を示す図である。
【図１Ｆ】スペクトラムアナライザによるスペクトル測定に関連する例示信号を示す図である。
【図２】本発明の実施形態になる位相ノイズ補償システムを示すブロック線図である。
【図３】従来のスペクトラムアナライザの測定値取得器を示すブロック線図である。
【図４】本発明の実施形態になる位相ノイズモデルの構築を示すフロー線図である。
【図５Ａ】本発明の実施形態に関連する例示信号を示す図である。
【図５Ｂ】本発明の実施形態に関連する例示信号を示す図である。
【図６】本発明の代替実施形態になる位相ノイズ補償法のフロー線図である。
【符号の説明】
【００５３】
１０  スペクトラムアナライザ
１２  位相ノイズ補償システム
１３  パラメータ群
１４  コントローラ
１５  通信路
１６  ユーザインタフェース
１７  入力
１８  測定値取得器
２０  計算器
２２  信号処理器
２４  表示メモリ
２６  フィルタ
【図１Ａ】
2005274571.tif 000010
【図１Ｂ】
2005274571.tif 000011
【図１Ｃ】
2005274571.tif 000012
【図１Ｄ】
2005274571.tif 000013
【図１Ｅ】
2005274571.tif 000014
【図１Ｆ】
2005274571.tif 000015
【図２】
2005274571.tif 000016
【図３】
2005274571.tif 000017
【図４】
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【図５Ａ】
2005274571.tif 000019
【図５Ｂ】
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【図６】
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