(57)【要約】      （修正有）【課題】輝度値が低い輝点欠点などであってもその検査が容易な欠点検査装置を提供する。【解決手段】検査画素と、その周囲にある８個の周囲画素に、強調係数を有する空間フィルタをそれぞれ掛け、検査画素の輝度値が周囲画素の輝度値よりも強調されるようにすることにより、その検査画素が欠点画素であるか否かを判定する。【選択図】  なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査装置において、
前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力手段と、
前記画像データにおける検査対象となる検査画素の輝度値と強調係数βとの積の値Ａを計算し、また、前記検査画素の周囲にあるｎ個の周囲画素の各輝度値の合計の輝度値Ｂと強調係数α（但し、β＝−α×ｎである）との積の値Ｃを計算し、
前記計算したＡの値から前記計算したＣの値を差し引いて前記検査画素の強調輝度値を計算する強調輝度値計算手段と、
前記検査画素の強調輝度値と基準値と比較して、欠点画素か否かを判定する判定手段と、
を有する
ことを特徴とする欠点検査装置。
【請求項２】
前記検査する欠点画素が輝点欠点の場合には、
前記強調輝度計算手段における前記強調係数βの値が正の値であり、前記強調係数αの値が負の値であり、
前記判定手段は、前記検査画素の強調輝度値が前記基準値以上のときは、輝点欠点であると判定する
ことを特徴とする請求項１記載の欠点画素装置。
【請求項３】
前記検査する欠点画素が滅点欠点の場合には、
前記強調輝度計算手段における前記強調係数βの値が負の値であり、前記強調係数αの値が正の値であり、
前記判定手段は、前記検査画素の強調輝度値が前記基準値以下のときは、滅点欠点であると判定する
ことを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置。
【請求項４】
前記周囲画素が前記検査画素を中心に隣接して格子状に配され、ｎ＝８である
ことを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置。
【請求項５】
前記検査画素として一個の色画素を用い、前記周囲画素として隣接する各色画素を用いる
ことを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置。
【請求項６】
前記検査画素として、一個の色画素を用い、前記周囲画素として隣接する各画素の中の同じ色の色画素を用いる
ことを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置。
【請求項７】
ｘｙ方向に格子状に配された複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査装置において、
前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力手段と、
前記画像データに基づいて初期の基準欠点画素となる１個の欠点画素を検査すると共にその初期の基準欠点画素の座標位置を登録する初期位置検査手段と、
前記初期の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録する第１探索手段と、
前記次の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素で、かつ、既に登録された探索範囲外の画素の中で欠点画素があるか否かを探索し、その隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を前記所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録し、この探索を前記隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された欠点画素であると判定されるまで繰り返す第２探索手段と、
前記登録された複数の欠点画素のｘ方向の最小座標値と最大座標値及びｙ方向の最小座標値と最大座標値の範囲に含まれる全ての画素を欠点画素とする範囲決定手段と、
を有した
ことを特徴とする欠点検査装置。
【請求項８】
前記第１探索手段及び前記第２探索手段における所定の条件とは、
探索された複数の欠点画素の中で最小のｘ座標値を有する欠点画素を選択し、
前記選択した欠点画素が複数存在する場合には、最小のｙ座標値を有する欠点画素を、次の基準欠点画素とする
ことを特徴とする請求項７記載の欠点検査装置。
【請求項９】
前記第１探索手段及び前記第２探索手段における所定の条件とは、
探索された複数の欠点画素の中で最大のｘ座標値を有する欠点画素を選択し、
前記選択した欠点画素が複数存在する場合には、最小のｙ座標値を有する欠点画素を、次の基準欠点画素とする
ことを特徴とする請求項７記載の欠点検査装置。
【請求項１０】
複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法において、
前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力ステップと、
前記画像データにおける検査対象となる検査画素の輝度値と強調係数βとの積の値Ａを計算し、また、前記検査画素の周囲にあるｎ個の周囲画素の各輝度値の合計の輝度値Ｂと強調係数α（但し、β＝−α×ｎである）との積の値Ｃを計算し、
前記計算したＡの値から前記計算したＣの値を差し引いて前記検査画素の強調輝度値を計算する強調輝度値計算ステップと、
前記検査画素の強調輝度値と基準値と比較して、欠点画素か否かを判定する判定ステップと、
を有する
ことを特徴とする欠点検査方法。
【請求項１１】
ｘｙ方向に格子状に配された複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法において、
前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力ステップと、
前記画像データに基づいて初期の基準欠点画素となる１個の欠点画素を検査すると共にその初期の基準欠点画素の座標位置を登録する初期位置検査ステップと、
前記初期の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録する第１探索ステップと、
前記次の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素で、かつ、既に登録された探索範囲外の画素の中で欠点画素があるか否かを探索し、その隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を前記所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録し、この探索を前記隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された欠点画素であると判定されるまで繰り返す第２探索ステップと、
前記登録された複数の欠点画素のｘ方向の最小座標値と最大座標値及びｙ方向の最小座標値と最大座標値の範囲に含まれる全ての画素を欠点画素とする範囲決定ステップと、
を有した
ことを特徴とする欠点検査方法。
【請求項１２】
複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法をコンピュータによって実現するプログラムにおいて、
前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力機能と、
前記画像データにおける検査対象となる検査画素の輝度値と強調係数βとの積の値Ａを計算し、また、前記検査画素の周囲にあるｎ個の周囲画素の各輝度値の合計の輝度値Ｂと強調係数α（但し、β＝−α×ｎである）との積の値Ｃを計算し、
前記計算したＡの値から前記計算したＣの値を差し引いて前記検査画素の強調輝度値を計算する強調輝度値計算機能と、
前記検査画素の強調輝度値と基準値と比較して、欠点画素か否かを判定する判定機能と、
を実現する
ことを特徴とする欠点検査方法のプログラム。
【請求項１３】
ｘｙ方向に格子状に配された複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法をコンピュータによって実現するプログラムにおいて、
前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力機能と、
前記画像データに基づいて初期の基準欠点画素となる１個の欠点画素を検査すると共にその初期の基準欠点画素の座標位置を登録する初期位置検査機能と、
前記初期の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録する第１探索機能と、
前記次の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素で、かつ、既に登録された探索範囲外の画素の中で欠点画素があるか否かを探索し、その隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を前記所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録し、この探索を前記隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された欠点画素であると判定されるまで繰り返す第２探索機能と、
前記登録された複数の欠点画素のｘ方向の最小座標値と最大座標値及びｙ方向の最小座標値と最大座標値の範囲に含まれる全ての画素を欠点画素とする範囲決定機能と、
を実現する
ことを特徴とする欠点検査方法のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示装置や有機ＥＬ装置などの複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、ＣＣＤカメラにより表示パネルを撮影し、この表示パネルを構成する画素の輝度値に基づいて、その画素が欠点画素であるか否かを目視によらず判定するための欠点検査装置が種々提案されている。
【０００３】
例えば、一般的な欠点検査装置における輝点欠点の検出方法について説明する。
【０００４】
まず、表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する。
【０００５】
次に、この入力した画像データにおいて検査対象となる検査画素の輝度値と、その周囲にある周囲画素の輝度値とを平均して平均輝度を求める。
【０００６】
次に、この求めた平均輝度と、検査画素の輝度値との差分を求める。
【０００７】
次に、この差分の値が基準値以上であれば輝点欠点であると判断する。
【０００８】
このような欠点画素の検査方法においては、輝点欠点における輝度値が高い場合には、周囲画素との輝度値との差が大きくなり、容易に発見できる。
【０００９】
ところが、暗い輝点欠点やムラは、周囲画素に比べてそれほど輝度値が高くないので、その差分が小さくなり、輝点欠点であると判定しにくくなるという問題点がある。
【００１０】
また、例えば特許文献１に記載される技術では、輝度の水平方向および垂直方向の変化量を、それぞれに対応した空間フィルタを用いて検出し、この結果に基づいてムラ等の検出を可能にしている。
【特許文献１】特開平８−１４５９０７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、上記のような欠点画素の検査方法においても、依然として目視に比して精度の良い、且つ十分な感度の確保は難しい。また、互いに異なる方向性を持った空間フィルタをそれぞれ用いることとなると、高精細表示に伴い画素数が増大すると処理に時間を要する等の不都合も生じる。
そこで、本発明は上記問題点に鑑み、十分な感度と精度の確保が可能な欠点検査装置及びその方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１に係る発明は、複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査装置において、前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力手段と、前記画像データにおける検査対象となる検査画素の輝度値と強調係数βとの積の値Ａを計算し、また、前記検査画素の周囲にあるｎ個の周囲画素の各輝度値の合計の輝度値Ｂと強調係数α（但し、β＝−α×ｎである）との積の値Ｃを計算し、前記計算したＡの値から前記計算したＣの値を差し引いて前記検査画素の強調輝度値を計算する強調輝度値計算手段と、前記検査画素の強調輝度値と基準値と比較して、欠点画素か否かを判定する判定手段と、を有することを特徴とする欠点検査装置である。
【００１３】
請求項２に係る発明は、前記検査する欠点画素が輝点欠点の場合には、前記強調輝度計算手段における前記強調係数βの値が正の値であり、前記強調係数αの値が負の値であり、前記判定手段は、前記検査画素の強調輝度値が前記基準値以上のときは、輝点欠点であると判定することを特徴とする請求項１記載の欠点画素装置である。
【００１４】
請求項３に係る発明は、前記検査する欠点画素が滅点欠点の場合には、前記強調輝度計算手段における前記強調係数βの値が負の値であり、前記強調係数αの値が正の値であり、前記判定手段は、前記検査画素の強調輝度値が前記基準値以下のときは、滅点欠点であると判定することを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置である。
【００１５】
請求項４に係る発明は、前記周囲画素が前記検査画素を中心に隣接して格子状に配され、ｎ＝８であることを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置である。
【００１６】
請求項５に係る発明は、前記検査画素として一個の色画素を用い、前記周囲画素として隣接する各色画素を用いることを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置である。
【００１７】
請求項６に係る発明は、前記検査画素として、一個の色画素を用い、前記周囲画素として隣接する各画素の中の同じ色の色画素を用いることを特徴とする請求項１記載の欠点検査装置である。
【００１８】
請求項７に係る発明は、ｘｙ方向に格子状に配された複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査装置において、前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力手段と、前記画像データに基づいて初期の基準欠点画素となる１個の欠点画素を検査すると共にその初期の基準欠点画素の座標位置を登録する初期位置検査手段と、前記初期の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録する第１探索手段と、前記次の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素で、かつ、既に登録された探索範囲外の画素の中で欠点画素があるか否かを探索し、その隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を前記所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録し、この探索を前記隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された欠点画素であると判定されるまで繰り返す第２探索手段と、前記登録された複数の欠点画素のｘ方向の最小座標値と最大座標値及びｙ方向の最小座標値と最大座標値の範囲に含まれる全ての画素を欠点画素とする範囲決定手段と、を有したことを特徴とする欠点検査装置である。
【００１９】
請求項８に係る発明は、前記第１探索手段及び前記第２探索手段における所定の条件とは、探索された複数の欠点画素の中で最小のｘ座標値を有する欠点画素を選択し、前記選択した欠点画素が複数存在する場合には、最小のｙ座標値を有する欠点画素を、次の基準欠点画素とすることを特徴とする請求項７記載の欠点検査装置である。
【００２０】
請求項９に係る発明は、前記第１探索手段及び前記第２探索手段における所定の条件とは、探索された複数の欠点画素の中で最大のｘ座標値を有する欠点画素を選択し、前記選択した欠点画素が複数存在する場合には、最小のｙ座標値を有する欠点画素を、次の基準欠点画素とすることを特徴とする請求項７記載の欠点検査装置である。
【００２１】
請求項１０に係る発明は、複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法において、前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力ステップと、前記画像データにおける検査対象となる検査画素の輝度値と強調係数βとの積の値Ａを計算し、また、前記検査画素の周囲にあるｎ個の周囲画素の各輝度値の合計の輝度値Ｂと強調係数α（但し、β＝−α×ｎである）との積の値Ｃを計算し、前記計算したＡの値から前記計算したＣの値を差し引いて前記検査画素の強調輝度値を計算する強調輝度値計算ステップと、前記検査画素の強調輝度値と基準値と比較して、欠点画素か否かを判定する判定ステップと、を有することを特徴とする欠点検査方法である。
【００２２】
請求項１１に係る発明は、ｘｙ方向に格子状に配された複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法において、前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力ステップと、前記画像データに基づいて初期の基準欠点画素となる１個の欠点画素を検査すると共にその初期の基準欠点画素の座標位置を登録する初期位置検査ステップと、前記初期の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録する第１探索ステップと、前記次の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素で、かつ、既に登録された探索範囲外の画素の中で欠点画素があるか否かを探索し、その隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を前記所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録し、この探索を前記隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された欠点画素であると判定されるまで繰り返す第２探索ステップと、前記登録された複数の欠点画素のｘ方向の最小座標値と最大座標値及びｙ方向の最小座標値と最大座標値の範囲に含まれる全ての画素を欠点画素とする範囲決定ステップと、を有したことを特徴とする欠点検査方法である。
【００２３】
請求項１２に係る発明は、複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法をコンピュータによって実現するプログラムにおいて、前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力機能と、前記画像データにおける検査対象となる検査画素の輝度値と強調係数βとの積の値Ａを計算し、また、前記検査画素の周囲にあるｎ個の周囲画素の各輝度値の合計の輝度値Ｂと強調係数α（但し、β＝−α×ｎである）との積の値Ｃを計算し、前記計算したＡの値から前記計算したＣの値を差し引いて前記検査画素の強調輝度値を計算する強調輝度値計算機能と、前記検査画素の強調輝度値と基準値と比較して、欠点画素か否かを判定する判定機能と、を実現することを特徴とする欠点検査方法のプログラムである。
【００２４】
請求項１３に係る発明は、ｘｙ方向に格子状に配された複数の画素から構成された表示パネルの欠点画素を検査する欠点検査方法をコンピュータによって実現するプログラムにおいて、前記表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する画像データ入力機能と、前記画像データに基づいて初期の基準欠点画素となる１個の欠点画素を検査すると共にその初期の基準欠点画素の座標位置を登録する初期位置検査機能と、前記初期の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録する第１探索機能と、前記次の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素で、かつ、既に登録された探索範囲外の画素の中で欠点画素があるか否かを探索し、その隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を前記所定の条件に基づいて次の基準欠点画素とすると共に、前記判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録し、この探索を前記隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された欠点画素であると判定されるまで繰り返す第２探索機能と、前記登録された複数の欠点画素のｘ方向の最小座標値と最大座標値及びｙ方向の最小座標値と最大座標値の範囲に含まれる全ての画素を欠点画素とする範囲決定機能と、を実現することを特徴とする欠点検査方法のプログラムである。
【発明の効果】
【００２５】
請求項１〜６、１０、１２に係る発明について説明する。
【００２６】
先ず、表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する。
【００２７】
次に、画像データにおける検査画素の輝度値と強調係数βとの積の値Ａを計算する。また、検査画素の周囲にあるｎ個の周囲画素の各輝度値の合計の輝度値Ｂと強調係数αとの積の値Ｃを計算する。但し、β＝−α×ｎである。なお、検査する欠点画素が輝点欠点であるときは、強調係数βの値が正の値であり、強調係数αの値が負の値となる。また、検査する欠点画素が滅点欠点のときは、強調係数βの値が負の値であり、強調係数αの値が正の値となる。さらに、例えば、周囲画素が検査画素を中心に隣接して格子状に配され、ｎ＝８であり、縦横に３×３の格子状の範囲で検査する。
【００２８】
計算したＡの値から計算したＣの値を差し引いて検査画素の強調輝度値を計算する。
【００２９】
この計算した検査画素の強調輝度値と基準値とを比較して、欠点画素か否かを判定する。
【００３０】
本発明においては、β＝−α×ｎの関係にある強調係数αとβをそれぞれ周囲画素と検査画素の輝度値に掛けることにより、検査したい検査画素の輝度値が空間的に強調され、その欠点検査を十分な感度を持って正確に容易に行うことができる。
【００３１】
請求項９、１１、１３に係る発明について説明する。
【００３２】
まず、表示パネルの画素毎の輝度値を画像データとして入力する。
【００３３】
次に、画像データに基づいて初期の基準欠点画素となる１個の欠点画素を検査すると共にその初期の基準欠点画素の座標位置を登録する。
【００３４】
次に、初期の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、隣接した画素が欠点画素であると判定されると、その判定された欠点画素の中の一個の欠点画素を所定の条件に基づいて、次の基準欠点画素とする。また、判定された全ての欠点画素の座標位置及び欠点画素の探索範囲を登録する。
【００３５】
そして、次の基準欠点画素を中心に隣接して周囲にある画素が欠点画素か否かを探索し、その隣接した画素が欠点画素であると判定されると、判定された欠点画素を次の基準欠点画素とし、この探索を隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された基準欠点画素であるとされるまで繰り返す。
【００３６】
そして、登録された複数の基準欠点画素のｘ方向の最小座標値と最大座標値及びｙ方向の最小座標値と最大座標値の範囲に含まれる全ての画素を欠点画素とする。
【００３７】
これによって、欠点画素で囲まれている画素であって、この欠点画素の輝度値と比較されて誤って正常な画素と判断されている画素であっても、欠点画素に囲まれている画素は全て欠点画素となる。従って、正確に欠点画素の領域を判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態の欠点検査装置１０について説明する。
【００３９】
本実施形態の欠点検査装置１０は、液晶表示装置１２の表示パネルを構成する表示画素の輝点欠点及び滅点欠点を検査するための装置である。
【００４０】
（１）欠点検査装置１０の構成
欠点検査装置１０の構成について図１３に基づいて説明する。
【００４１】
欠点検査装置１０は、制御装置１４、撮像装置１６、モニタである表示装置１８、キーボード等の入力装置２０とより構成されている。
【００４２】
検査対象となる液晶表示装置１２が検査テーブルの上に載置され、制御装置１４からの画像信号などの制御信号によって表示パネルを表示させる。
【００４３】
この表示された液晶表示装置１２の表示パネルを撮像装置１６によって撮影する。撮像装置１６は、ＣＣＤカメラであって、色識別フィルタ等を設けられていないものである。  この例では、ＣＣＤカメラは色識別フィルタ等を備えていないが、備えたものであっても構わない。また、ＣＣＤカメラの撮像素子の撮像画素は、液晶表示装置１２の画素の１個に対応する低解像分解能のものである。但し、本明細書における画素とは、ＲＧＢの各色の画素を一つにまとめた状態をいい、各色毎の画素を「色画素」という。
【００４４】
この撮像装置１６によって撮影された各画素毎の輝度値ｂ（ｘ，ｙ）を用いて各画素が欠点画素であるか否かを制御装置１４が検査する。なお、ここでｘ方向とは、表示パネルにおける横方向であり、ｙ方向は縦方向を意味し、座標（ｘ，ｙ）で画素の位置が特定できる。制御装置１４内部には、中央処理装置であるＣＰＵ２２と複数個の画像メモリ２６が設けられ、下記で説明する処理は、制御装置１４に記憶されたプログラムによって実行できる。
【００４５】
（２）欠点検査方法の概略
上記構成の欠点検査装置１０の欠点検査方法の概略について図１４のフローチャートに基づいて説明する。
【００４６】
ステップ１において、撮像装置１６を用いて液晶表示装置１２の表示パネルの各画素毎の輝度値ｂ（ｘ，ｙ）を入力する。
【００４７】
ステップ２において、各画素毎に、その画素が欠点画素であるか否かを検査する。この場合に、全ての画素について行う。この処理については後から詳しく説明する。
【００４８】
ステップ３において、検査された欠点画素のデータを用いて、欠点画素の範囲がどの範囲までかの検査を行う。この処理についても後から詳しく説明する。
【００４９】
ステップ４において、欠点画素であると判断されたデータを表示装置１８に表示する。
【００５０】
（３）欠点画素の検査方法
上記のステップ２における欠点画素の検査方法を、図１〜７に基づいて説明する。
【００５１】
（３−１）輝点欠点である場合
検査しようとしている欠点画素が輝点欠点である場合について説明する。
【００５２】
（３−１−１）検査方法の理論
検査対象となる検査画素を一個選択する。この選択方法は例えば、表示パネルの左上から順番に右端の画素までいき、次に下段の画素を左端から右端まで検査し最終的に右下まで順番に選択していく。
【００５３】
この選択した検査画素（ｉ，ｊ）を中心に、３×３の空間微分フィルタを掛ける。この空間微分フィルタは、中心となる検査画素にβ（但し、β＞１である。）の強調係数を掛け、周囲の８個の画素（以下、周囲画素という）には、α（但し、α＜−１である）の強調係数を掛ける。また、周囲画素とは、図１において検査画素（ｉ，ｊ）の上、下、左、右及び右上、右下、左上、左下の画素、即ち空間的な周囲の画素をいう。また、β＝８×−αの関係を有する。この関係を有する理由は、検査画素に掛ける強調係数βの値が、周囲画素の個数８×−αと等しいので、検査画素と周囲画素との差が相殺されると共に強調画素のみが空間的に強調しよとするからである。すなわち、縦方向、または、横方向の一方向の画素の情報を用いて強調するのでなく、少なくとも縦方向及び横方向の二方向の画素の空間的な情報を用いて強調しよとしている。なお、本実施形態の場合には、前記二方向に加えて左上と右下の斜めの情報と、右上と左下の斜めの情報も用い、空間的に強調している。
【００５４】
この空間フィルタを掛けて、検査画素（ｉ，ｊ）の輝度値ｂ（ｉ，ｊ）を強調した強調輝度値ｃ（ｉ，ｊ）を（１）式と（２）式によって求める。
【００５５】
ｃ（ｉ，ｊ）＝β×ｂ（ｉ，ｊ）−α×Ｂ      ・・・（１）
Ｂ＝ｂ（ｉ−１，ｊ−１）＋ｂ（ｉ，ｊ−１）＋ｂ（ｉ＋１，ｊ−１）＋ｂ（ｉ−１，ｊ）＋ｂ（ｉ＋１，ｊ）＋ｂ（ｉ−１，ｊ＋１）＋ｂ（ｉ，ｊ＋１）＋ｂ（ｉ＋１，ｊ＋１）      ・・・（２）
そして、強調輝度値ｃ（ｉ，ｊ）が、基準値より高ければ輝点欠点であり、低ければ滅点欠点と一度に判断される。
【００５６】
（３−１−２）具体例
図２は、αとβに具体的な値を入れた場合の空間フィルタの例示であり、β＝８、α＝−１とした場合である。以下、この図２の例示した強調係数を用いて、本実施形態の欠点検査方法が、従来の欠点検査方法よりも優れている理由について図５及び図６に基づいて説明する。
【００５７】
図５（ａ）、図６（ａ）は、撮影した表示パネルの画素を示したものであり、その中心部にある画素が検査画素であるとする。この検査画素の緑色Ｇの色画素が輝点欠点であり、図５（ａ）では明るい輝点欠点であり、図６（ａ）では暗い輝点欠点であるとする。
【００５８】
図５（ｂ）、図６（ｂ）は、この図５（ａ）、図６（ａ）の９個の画素を、それぞれ輝度値ｂ（ｉ，ｊ）に変換して表したものである。図５（ｂ）の検査画素の輝度値は７０で、９個の画素の平均輝度は３４である。図６（ｂ）の検査画素の輝度値は４５で、９個の画素の平均輝度は３１である。
【００５９】
従来の欠点検査方法の具体例について図５及び図６に基づいて説明する。
【００６０】
図５の明るい輝点欠点の場合について説明する。
【００６１】
検査画素の輝度値が７０であり、平均輝度が３４であるため、輝度値７０から平均輝度３４を差し引いた値３６を検査画素の座標位置（ｉ，ｊ）に登録する。
【００６２】
周囲画素に関しても、その周囲画素の輝度値から平均輝度値を差し引いた値を登録する。なお、マイナスの輝度値の場合には０を登録する。この登録したものが図５（ｄ）である。この場合、検査画素の差し引いた値が３６となり、基準値２０よりも高く、検査画素が輝点欠点であると判断される。
【００６３】
図６の暗い輝点欠点の場合について説明する。
【００６４】
図６も同様に、検査画素の輝度値４５及び周囲画素の各輝度値から平均輝度３１を差し引いた状態が図６（ｄ）である。この場合、検査画素の差し引いた値が１４となり、基準値２０よりも低く、検査画素が輝点欠点であるにも関わらず、欠点画素であると判断されない。
【００６５】
本実施形態の欠点検査方法の具体例について図５及び図６に基づいて説明する。
【００６６】
図５の明るい輝点欠点の場合について説明する。
【００６７】
まず、図５（ｂ）のように、従来と同様に検査画素及び周囲画素の輝度値を求める。
【００６８】
次に、この求めた検査画素及び周囲画素に、上記で説明した空間フィルタの（１）式、（２）式に基づいて計算すると、図５（ｃ）のようになる。即ち、検査画素の強調輝度値ｃ（ｉ，ｊ）＝３２０となり、周囲画素の強調輝度値が０となる。そして、前回と同様に基準値２０で比較した場合に、この検査画素が輝点欠点であると判断できる。
【００６９】
図６の暗い輝点欠点の場合について説明する。
【００７０】
図６の場合も同様に図６（ｂ）に示すように検査画素と周囲画素の輝度値を求める。
【００７１】
上記で説明した空間フィルタを掛けると、強調輝度値は図６（ｃ）のようになる。この空間フィルタを掛けた検査画素の強調輝度値ｃ（ｉ，ｊ）＝１２０となり、基準値２０よりも大きいため、この検査画素が輝点欠点であると判断できる。
【００７２】
上記のように、従来の欠点検査方法では、明るい輝点欠点には容易に検査できたが、周囲輝度値と殆ど変わらないが暗い輝点欠点である場合では検査できない。しかし、本実施形態では、強調係数を有する空間フィルタを掛けることにより、周囲画素の輝度値と殆ど変わらない輝点欠点であっても容易に検査することができる。この理由は、検査画素に掛ける強調係数βの値が、周囲画素の個数８×−αと等しいので、検査画素と周囲画素との差が相殺されると共に強調画素のみが強調されるからである。
【００７３】
（３−１−３）変更例
上記具体例ではα＝−１，β＝８で説明したが、これに代えて図３に示すようにα＝−２，β＝１６で行うと、更に検査画素の輝度値が強調される。
【００７４】
（３−２）滅点欠点の場合
検査しようとする欠点画素が滅点欠点である場合について説明する。
【００７５】
滅点欠点を検査しようとする場合には、図４に示すような３×３の空間フィルタを掛けるものである。即ち、検査画素に掛ける強調係数βが負の値であり、周囲画素に掛ける強調係数αが正の値の場合である。これによって、滅点欠点である検査画素の輝度値が更に暗くなるように強調され、その検査を容易にすることができる。
【００７６】
図７に基づいて、その具体例を説明する。
【００７７】
図７（ａ）における中心部の画素が検査画素であって、滅点欠点とする。
【００７８】
図７（ｂ）に示すように９個の表示画素の各輝度値を登録し、９個の平均輝度値６５を求める。
【００７９】
従来の欠点検査方法を用いると、図７（ｄ）に示すように、検査画素の輝度値３２から平均輝度６５を差し引いた値を登録する。この値が−３８である。
【００８０】
本実施形態の欠点検査方法を用いると、図７（ｃ）に示すように検査画素の強調輝度値が３０４となる。
【００８１】
従って、従来方法の−３８よりも約１０倍近く強調され、容易に滅点欠点であると判定できる。
【００８２】
（３−３）変更例
上記実施形態では、３×３の空間微分フィルタを用いたが、５×５の空間微分フィルタを用いてもよい。この場合には、β＝２４×αの関係が必要である。即ち、この場合も検査画素に対して空間的な周囲の画素を含むことが重要である。
【００８３】
（４）欠点画素の範囲判定方法
次に、上記のステップ３で説明した欠点画素の範囲の判定について、図８〜１２と図１５に基づいて説明する。
【００８４】
（４−１）欠点画素の範囲を判定する理由
図８は、画像入力を行い、各画素の輝度値を表したものであり、ハッチングで示されている部分が、輝点欠点の可能性がある画素である。但し、この図８の状態ではどの画素が輝点欠点であるかは判定されていない。
【００８５】
上記欠点検査方法を用いて、全ての画素について輝点欠点であるか否かを判定する。その判定した状態が図９である。
【００８６】
ここで、問題となるのが輝点欠点に囲まれている画素が欠点画素か否かの判定である。上記方法においては、周囲画素の輝度値に基づいてその中心にある検査画素が輝点欠点であるか否かを判定しているため、周囲画素が輝点欠点であり正常な画素よりも高い輝度値の場合には、その中心にある検査画素が輝点欠点であっても、誤って正常な画素であると判断される場合がある。
【００８７】
一方、このように多数の画素が輝点欠点である場合にはその真ん中にある画素が輝点欠点である確率は高く、このような場合は真ん中の画素は輝点欠点であると判断する必要がある。そこで、この輝点欠点の範囲を探索するために次のような判定方法を採用する。
【００８８】
（４−２）範囲判定方法の内容
まず、以下の説明を簡単にするために図９において、座標の定義を行う。図９において、左上にある画素の座標値（ｘ，ｙ）を（０，０）とし、右上にある画素の座標値（ｘ，ｙ）＝（５，０）とする。同様に、左下の座標値が（０，５）であり、右下の座標値（ｘ，ｙ）＝（５，５）である。
【００８９】
そして、左上から順番に図９に示す矢印のように各画素が欠点画素であるか否かを判定していき、正常な画素である場合には０を登録し、輝点欠点である場合には１の値を登録する。その登録した状態が図１０である。ここで、問題となるのが座標値（２，３）と（３，３）にある画素である。上記したように、ここの画素は欠点画素である確率が高いが、周囲画素と比較した場合にその輝度値が低いため正常な画素と判断されている。そのため、その欠点画素の範囲を特定する必要があるので、この判定方法を図１１と図１５のフローチャートに基づいて説明する。
【００９０】
ステップ３１において、図１１（ａ）に示すように、左上から右下に向かって順番に欠点画素であるか否かを判定し、初期の基準欠点画素を探索する。ここでは、初期の基準欠点画素とは、左上から右下に向かって順番に探索して最初に発見された欠点画素のことであり、座標値は（２，１）である。
【００９１】
ステップ３２において、この（２，１）の初期の基準欠点画素を中心に隣接する８個の周囲画素に欠点画素があるか否かを判定する。ここでは、基準欠点画素（２，１）の下、左下、右下の画素（１，２）（２，２）（２，３）が欠点画素となっている。
【００９２】
ステップ３３において、この発見された（１，２）（２，２）（２，３）が欠点画素の位置と、探索した範囲を登録する。
【００９３】
ステップ３４において、次の基準欠点画素を選択する。この選択する条件は、探索された複数の欠点画素（１，２）（２，２）（２，３）の中で最小のｘ座標値を有する欠点画素（１，２）を次の基準欠点画素として選択する。なお、同じｘ座標に複数の欠点画素が存在する場合には、最小のｙ座標値を有する欠点画素を次の基準欠点画素とする。
【００９４】
ステップ３５において、この選択した次の基準欠点画素（１，２）を中心にして、図１１（ｂ）に示すように、その周囲画素が欠点画素であるか否かを判定する。但し、この場合に既に探索を終えている範囲（１，１）（２，１）（２，２）については探索を行わず、それ以外の未探索範囲を探索する。そして、この探索によって基準欠点画素（１，２）の下にある画素（１，３）が欠点画素であると判定できる。
【００９５】
このように、図１１（ｃ）〜（ｆ）及びステップ３４〜３８に示すように、下記の探索終了条件が具備されるまで、発見された１個の欠点画素を次の基準欠点画素とし、次々と探索を行っていく。探索終了条件が具備されるとステップ３９に進む。
【００９６】
探索終了条件は、ステップ３６に示すように、隣接した画素に欠点画素が発見されなくなるまで、または、ステップ３７に示すように、これから探索しようとしている隣接画素が既に登録された欠点画素であるかである。即ち、隣接する画素に欠点画素が発見されなくなれば、その付近にある欠点画素は全て探索されたものとなり、また、既に登録されている欠点画素に行き着くと、図１１に示すように、初期の基準欠点画素から半時計回りに一周して欠点画素を探索したこととなるからである。
【００９７】
ステップ３９において、登録された欠点画素の座標値の中で、ｘ方向の最小座標値と、最大座標値を抽出する。また、同じようにｙ方向の最小座標値と最大座標値を抽出する。そして、このｘ方向の最小座標値から最大座標値にある表示画素と、ｙ方向の最小座標値から最大座標値にある表示画素を全て欠点画素とする。これにより、図１２に示すように、輝点欠点で囲まれている画素であっても、欠点画素であると判断できる。
【００９８】
ステップ４０において、表示パネルの左上から右下に向かって順番に欠点画素であるか否かを判定し、次の初期の基準欠点画素を探索する。なお、この探索の場合に、既に登録した欠点範囲は除外する。そして、ステップ３２に戻る。
【００９９】
以上により、欠点画素に囲まれた欠点画素が、誤って正常な画素と判断されても、欠点画素の範囲を探索することにより、その誤って判断された表示画素も正確に欠点画素であると判断できる。
【０１００】
（４−３）変更例１
上記実施形態では、検査画素の周囲には全て表示画素が存在する場合について説明したが、表示パネルの角部、上辺、右辺、左辺、下辺に存在する画素については、周囲画素の一部が存在しない。そのため、この場合には周囲画素の輝度値に代えて、表示パネル全体の全体平均輝度値を用いて、その検査画素が欠点画素であるかどうかを判定する。
【０１０１】
（４−４）変更例２
上記範囲判定方法では、探索された複数の欠点画素の中で最小のｘ座標値を有する欠点画素を選択し、前記選択した欠点画素が複数存在する場合には、最小のｙ座標値を有する欠点画素を、次の基準欠点画素とした。これに代えて、探索された複数の欠点画素の中で最大のｘ座標値を有する欠点画素を選択し、前記選択した欠点画素が複数存在する場合には、最小のｙ座標値を有する欠点画素を、次の基準欠点画素としてもよい。
【０１０２】
（４−５）変更例３
上記範囲判定方法は、（３）の欠点画素の検査方法を用いた後に行った。しかし、本実施形態の範囲判定方法は、従来技術で説明した欠点画素の検査方法やその他の欠点画素検査方法を用いた後に、その範囲を決定するために用いてもよい。
【０１０３】
（第２の実施形態）
ＲＧＢの色画素毎に撮像素子の撮像画素が対応する高解像分解能のものを用いた第２の実施形態について説明する。
【０１０４】
第１の実施形態では、ＣＣＤカメラの撮像素子の撮像画素は、液晶表示装置１２の画素の１個に対応する低解像分解能のものを用いたが、これに代えて、ＲＧＢの色画素毎に撮像素子の撮像画素が対応する高解像分解能のものを用いる。
【０１０５】
図１６に示すように、検査画素として、一個の色画素（例えば、Ｇの色画素）を選択し（図１６では、ダブルハッチングで示された色画素である）、周囲画素として左方向に隣接するＲの色画素、右方向に隣接するＢの色画素、上方向に隣接するＧの色画素、下方向に隣接するＧの色画素、斜めに隣接するＲの色画素、Ｂの色画素を用いる。
【０１０６】
（第３の実施形態）
ＲＧＢの色画素毎に撮像素子の撮像画素が対応する高解像分解能のものを用いた第３の実施形態について説明する。また、この実施形態においては、ＣＣＤカメラに色識別フィルタが設けられている。
【０１０７】
図１７に示すように、検査画素として、一個の色画素（例えば、Ｇの色画素）を選択し（図１７では、ダブルハッチングで示された色画素である）、周囲画素として左方向に隣接する画素のＧの色画素、右方向に隣接する画素のＧの色画素、上方向に隣接する画素のＧの色画素、下方向に隣接する画素のＧの色画素、斜めに隣接する画素のＧの色画素を用いる。すなわち、この方法は、検査画素と隣接する画素の中で同じ色の色画素で比較する。
【産業上の利用可能性】
【０１０８】
本発明は、液晶表示装置、有機ＥＬ装置、プラズマディスプレイ装置などの平面表示装置における表示画素の欠点を検査するものに好適である。
【図面の簡単な説明】
【０１０９】
【図１】本発明の一実施形態を示す輝点欠点を発見する場合の空間フィルタの説明図である。
【図２】同じく輝点欠点を発見する場合のα＝−１の空間フィルタの説明図である。
【図３】同じくα＝−２の空間フィルタの説明図である。
【図４】滅点欠点の空間フィルタの説明図である。
【図５】明るい輝点欠点を発見する場合の説明図である。
【図６】暗い輝点欠点を発見する場合の説明図である。
【図７】滅点欠点を発見する場合の説明図である。
【図８】欠点画素の範囲を定める場合の各表示画素の輝度値を表した図である。
【図９】同じく強調輝度値を表した図である。
【図１０】判定を行う前の欠点画素と正常な画素とを区別した図である。
【図１１】欠点画素の範囲を探索する図である。
【図１２】欠点画素の範囲が決定された図である。
【図１３】欠点検査装置のブロック図である。
【図１４】欠点検査装置のフローチャートである。
【図１５】欠点画素の探索を行うフローチャートである。
【図１６】第２の実施形態の色画素の配置図である。
【図１７】第３の実施形態の色画素の配置図である。
【符号の説明】
【０１１０】
１０  欠点検査装置
１２  液晶表示装置
１４  制御装置
１６  撮像装置
１８  表示装置
２０  入力装置
【図１】
2005195514.tif 000002
【図２】
2005195514.tif 000003
【図３】
2005195514.tif 000004
【図４】
2005195514.tif 000005
【図５】
2005195514.tif 000006
【図６】
2005195514.tif 000007
【図７】
2005195514.tif 000008
【図８】
2005195514.tif 000009
【図９】
2005195514.tif 000010
【図１０】
2005195514.tif 000011
【図１１】
2005195514.tif 000012
【図１２】
2005195514.tif 000013
【図１３】
2005195514.tif 000014
【図１４】
2005195514.tif 000015
【図１５】
2005195514.tif 000016
【図１６】
2005195514.tif 000017
【図１７】
2005195514.tif 000018