(57)【要約】【課題】簡単な構成でありながら、レーザ発生部を構成する部材の異常を判断できる写真処理装置を提供する。【解決手段】基準波長を有する第１のレーザ光を射出するレーザ光源１０４１Ｇ及び第１のレーザ光を所定の高調波を有する第２のレーザ光に変換して出力する波長変換部１０４２Ｇを有するレーザ発生部と、第１のレーザ光の強度を制御する駆動手段１０５Ｇとを備えたレーザ露光装置を有する写真処理装置において、第１のレーザ光の強度を検出する第１の検出部１０４５Ｇと、第２のレーザ光の強度を検出する第２の検出部１０４７Ｇと、検出された第１のレーザ光の強度と第２のレーザ光の強度とから、レーザ光源及び波長変換部のうち少なくとも一方の異常の有無を判断する異常判断手段１０５Ｇと、判断結果を報知する報知部３０とを備えたことを特徴とする。【選択図】          図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準波長を有する第１のレーザ光を射出するレーザ光源及び前記第１のレーザ光を所定の高調波を有する第２のレーザ光に変換して出力する波長変換部を有するレーザ発生部と、前記第１のレーザ光の強度を制御する駆動手段とを備えたレーザ露光装置を有する写真処理装置において、
前記第１のレーザ光の強度を検出する第１の検出部と、前記第２のレーザ光の強度を検出する第２の検出部と、前記検出された第１のレーザ光の強度と第２のレーザ光の強度とから、前記レーザ光源及び前記波長変換部のうち少なくとも一方の異常の有無を判断する異常判断手段と、判断結果を報知する報知部とを備えたことを特徴とする写真処理装置。
【請求項２】
前記報知部は、判断結果を表示するモニタを備えることを特徴とする請求項１に記載の写真処理装置。
【請求項３】
前記異常判断手段は、前記第２のレーザ光の強度の変動と前記第１のレーザ光の強度との相関に基づいて、前記レーザ光源及び前記波長変換部のうち少なくとも一方の異常の有無を判断することを特徴とする請求項１又は２に記載の写真処理装置。
【請求項４】
前記駆動手段は、前記第２のレーザ光の強度を所定レベルに維持するべく前記レーザ光源を制御し、前記異常判断手段は、前記駆動手段によって前記第２のレーザ光の強度を増加させるように前記レーザ光源が制御された場合に、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値より大きければ、前記波長変換部の異常を判断し、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値以下であれば、前記レーザ光源の異常を判断することを特徴とする請求項３に記載の写真処理装置。
【請求項５】
前記駆動手段は、前記レーザ光源を所定レベルで制御し、前記異常判断手段は、前記検出された第２のレーザ光の強度が規定値より小さい場合に、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値より小さければ、前記レーザ光源の異常を判断し、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値以上であれば、前記波長変換部の異常を判断することを特徴とする請求項３に記載の写真処理装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基準波長を有する第１のレーザ光を射出するレーザ光源及び第１のレーザ光を所定の高調波を有する第２のレーザ光に変換して出力する波長変換部を有するレーザ発生部と、第１のレーザ光の強度を制御する駆動手段とを備えたレーザ露光装置を有する写真処理装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来のレーザ露光装置を用いた写真処理装置は、Ｒ（赤色）、Ｇ（緑色）、Ｂ（青色）のレーザ光を射出する露光装置を備えている。この露光装置では、Ｒ、Ｇ、Ｂのレーザ光を射出するレーザ発生部を備え、このうちＲのレーザ発生部は、赤色波長帯のレーザ光を射出する半導体レーザ等である。一方、Ｇ、Ｂのレーザ発生部は、近赤外波長帯のレーザ光を射出するレーザ光源と、このレーザ光の第２高調波を生成してＧ、Ｂのレーザ光として射出する波長変換素子とを備えている。従来のレーザ露光装置では、この波長変換素子によって変換されたＧ及びＢのレーザビームと、半導体レーザから射出されたＲのレーザビームとが光軸を一致させられた後、ポリゴンミラーへ導出され、ポリゴンミラーの回転により分波されたレーザビームを偏向して印画紙上に照射し、この印画紙が露光されることで、現像が行われるようになっている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００３−００１８６８号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来の写真処理装置では、波長変換素子によって変換されたレーザビームの光強度が適正レベルにないときに、その原因が半導体レーザの劣化に起因するものか、波長変換素子の劣化に起因するものか判断困難であった。そのため、修理に際しては、レーザ露光装置全体を交換する必要が生じ、不経済であった。
【０００５】
本発明は、上記課題に鑑みて、簡単な構成でありながら、レーザ発生部を構成する部材の異常を判断できる写真処理装置を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、基準波長を有する第１のレーザ光を射出するレーザ光源及び前記第１のレーザ光を所定の高調波を有する第２のレーザ光に変換して出力する波長変換部を有するレーザ発生部と、前記第１のレーザ光の強度を制御する駆動手段とを備えたレーザ露光装置を有する写真処理装置において、前記第１のレーザ光の強度を検出する第１の検出部と、前記第２のレーザ光の強度を検出する第２の検出部と、前記検出された第１のレーザ光の強度と第２のレーザ光の強度とから、前記レーザ光源及び前記波長変換部のうち少なくとも一方の異常の有無を判断する異常判断手段と、判断結果を報知する報知部とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
これによると、第１のレーザ光の強度と第２のレーザ光の強度とをモニタするだけの簡易な構成で、第２のレーザ光の強度に異常が生じたときに、レーザ光源及び波長変換部の少なくとも一方の異常の有無を判断することが可能となり、当該判断結果が報知され、操作者にレーザ光源及び波長変換部のいずれが劣化しているかを知らせることが可能となる。
【０００８】
本発明では、上記写真処理装置において、前記報知部は、判断結果を表示するモニタを備えることを特徴とする。これによると、判断結果を操作者に視覚的に理解させることが可能となる。
【０００９】
本発明では、上記写真処理装置において、前記異常判断手段は、前記第２のレーザ光の強度の変動と前記第１のレーザ光の強度との相関に基づいて、前記レーザ光源及び前記波長変換部のうち少なくとも一方の異常の有無を判断することを特徴とする。これによると、第２のレーザ光の強度の変動と第１のレーザ光の強度との相関をみるだけの簡易な構成でありながら、波長変換部及びレーザ光源部の少なくともいずれか一方の異常を一層正確に判断することが可能となる。
【００１０】
本発明では、上記写真処理装置において、前記駆動手段は、前記第２のレーザ光の強度を所定レベルに維持するべく前記レーザ光源を制御し、前記異常判断手段は、前記駆動手段によって前記第２のレーザ光の強度を増加させるように前記レーザ光源が制御された場合に、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値より大きければ、前記波長変換部の異常を判断し、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値以下であれば、前記レーザ光源の異常を判断することを特徴とする。
【００１１】
これによると、駆動手段によって第２のレーザ光の強度を所定レベルに維持するべくレーザ光源が制御されるモード（ＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）モード）では、第２のレーザ光の強度が所定レベルより小さくなったときに、この小さくなった分だけ第１のレーザ光の強度を大きくするようにレーザ光源が制御されるが、かかる構成であっても、第１のレーザ光の強度をモニタする簡易な構成で、波長変換部及びレーザ光源部の少なくともいずれか一方の異常を判断することが可能となる。
【００１２】
本発明では、上記写真処理装置において、前記駆動手段は、前記レーザ光源を所定レベルで制御し、前記異常判断手段は、前記検出された第２のレーザ光の強度が規定値より小さい場合に、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値より小さければ、前記レーザ光源の異常を判断し、前記検出された第１のレーザ光の強度が規定値以上であれば、前記波長変換部の異常を判断することを特徴とする。
【００１３】
これによると、駆動手段によってレーザ光源が所定レベルで制御されるモード（ＡＣＣ（Ａｕｔｏ  Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）モード）であっても、第１及び第２のレーザ光の強度をモニタする簡易な構成で、波長変換部及びレーザ光源部の少なくともいずれか一方の異常を判断することが可能となる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施形態について説明する。図１は本実施形態におけるレーザ露光装置を用いた写真処理装置の概略構成図である。レーザ露光装置１００は、写真処理装置１０のハウジング１１の内部１１Ｂにおいて、感光材１を搬送するコンベア５上の露光位置５Ｘに対向するように設けられている。コンベア５は、複数組の駆動ローラ５Ａ及び従動ローラ５Ｂとガイドレール５Ｃなどで構成されている。ハウジング１１の上面１１Ａには、ロール状に巻回された感光材１をそれぞれ収納する複数、例えば２つのマガジン２０Ａ及び２０Ｂが装着されている。
【００１５】
ハウジング１１、マガジン２０Ａ及び２０Ｂはそれぞれ暗箱であり、感光材１の先端１Ｂはそれぞれマガジン２０Ａ及び２０Ｂからハウジング１１の内部１１Ｂに引き出されている。感光材１は、ハウジング１１の内部１Ｂに設けられたカッタ４により所定の大きさに切断される。以下、所定の大きさに切断された感光材１を「感光材片１Ａ」と称する。感光材片１Ａは、ハウジング１１の内部１１Ｂにおいて、コンベア５により露光位置５Ｘから現像ユニット２に搬送される。
【００１６】
現像ユニット２は、それぞれ現像液、定着液、漂白液及び安定化液を収容する複数のタンク２Ａ〜２Ｄを有している。レーザ露光装置１００により露光された感光材片１Ａが現像ユニット２中を搬送されると、潜像が現像され、感光材片１Ａの感光面上に画像が形成される。現像された感光材片１Ａは、乾燥ユニット３により乾燥され、ハウジング１１の内部１１Ｂから排出される。現像された感光材片１Ａは、ハウジング１１の上面１１Ａに設けられたソータ６上に積み重ねられる。
【００１７】
写真処理装置１０は、ハウジング１１に設けられた制御ユニット１２と、ＣＲＴなどのモニタ３１と、キーボード３２とマウス３３などの操作部を具備する。これらにより、操作者は、命令やデータを入力したり、感光材片１Ａの現像に関する情報を知ることができる。モニタ３１、キーボード３２及びマウス３３は、入出力ユニット３０（報知部）を構成する。なお、入出力ユニット３０は、写真処理装置１０のハウジング１１とは別に設けても良いし、あるいはハウジング１１と一体的に設けても良い。
【００１８】
図２は図１に示すレーザ露光装置１００、制御ユニット１２のブロック構成図である。レーザ露光装置１００は、それぞれＲ（赤）、Ｇ（緑）及びＢ（青）の三原色のレーザビームを出力する３つのレーザ光源部（レーザ発生部）１０４Ｒ、１０４Ｇ及び１０４Ｂを具備する。
【００１９】
レーザ光源部１０４Ｒは、所定波長のレーザビームを射出する半導体レーザ１０４１、１組のコリメータレンズ１０４３、  ＩＲカットフィルタ１０４４を含む。レーザ光源部１０４Ｇ、１０４Ｂは、ＳＨＧ（ｓｅｃｏｎｄ  ｈａｒｍｏｎｉｃ  ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ）レーザであり、半導体レーザ１０４１（レーザ光源）、この半導体レーザ１０４１に光ファイバを介して接続されるＳＨＧ素子１０４２（波長変換部）、レンズ１０４３、ＩＲカットフィルタ１０４４を備える。なお、これらの構成について、レーザ光源部１０４Ｒ、１０４Ｇ、１０４Ｂの備えるものを区別するときには、レーザ光源部１０４Ｒの符号にＲ、レーザ光源部１０４Ｇの符号にＧ、レーザ光源部１０４Ｂの符号にＢを付加するものとする。
【００２０】
半導体レーザ１０４１には、例えばＦＢＧ（Ｆｉｂｅｒ  Ｂｒａｇｇ  Ｇｒａｔｉｎｇ）付ＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）ピグテール等が用いられる。半導体レーザ１０４１Ｒは、例えば波長６８０ｎｍの赤色レーザビームを射出し、半導体レーザ１０４１Ｇ，１０４１Ｂは、基準波長（例えばＧで波長１０６４ｎｍ、Ｂで波長９４６ｎｍ）を有するレーザビーム（第１のレーザ光）を射出する。半導体レーザ１０４１Ｇ，１０４１Ｂには、フォトダイオード１０４５Ｇ，１０４５Ｂ（第１の検出部）が内蔵され、射出されるレーザビームの強度を電圧値に変換して検出するようになっている。ＳＨＧ素子１０４２は、例えばＰＰＬＮ（Ｐｅｒｉｏｄｉｃａｌｌｙ  Ｐｏｌｌｅｄ  Ｌｉｔｈｉｕｍ  Ｎｉｏｂａｔｅ）等から成り、ＳＨＧ素子１０４２Ｇは、半導体レーザ１０４１から射出されたレーザビームを所定の第２高調波（例えば波長５３２ｎｍ）を有する緑色レーザビーム（第２のレーザ光）に変換して射出し、ＳＨＧ素子１０４２Ｂは、所定の第２高調波（例えば波長４７３ｎｍ）を有する青色レーザビーム（第２のレーザ光）に変換して射出するものである。レーザ光源部１０４Ｇ，１０４Ｂは、それぞれ第２高調波レーザビームの射出方向に所定角度ハーフミラーからなるビームスプリッタ１０４６Ｇ，１０４６Ｂと、フォトダイオード１０４７Ｇ，１０４７Ｂ（第２の検出部）とを備える。フォトダイオード１０４７Ｇ，１０４７Ｂは、第２高調波の光の強度を電圧値に変換して検出するものである（レーザ光源部１０４Ｇ，１０４Ｂについて、詳細は後述する）。
【００２１】
レーザ露光装置１００は、さらに、３組の音響光学変調素子（Ａｃｏｕｓｔｏ−Ｏｐｔｉｃ  Ｍｏｄｕｌａｔｏｒ）などの光変調素子１０６Ｒ、１０６Ｇ及び１０６Ｂと、スリット板１０８Ｒ、１０８Ｇ及び１０８Ｂとが、各レーザ光源部１０４Ｒ、１０４Ｇ及び１０４Ｂの前方の光路上に配置されている。さらに、各レーザ光源部１０４Ｒ、１０４Ｇ及び１０４Ｂから出力されたレーザビームをポリゴンミラー１１８の方向に反射するために、ミラー１１２Ｒ、１１２Ｇ、１１２Ｂ、１１４及びレンズ１１６が光路上に設けられている。
【００２２】
ミラー１１２Ｒは全反射ミラーであり、スリット板１０８Ｒを透過した赤色レーザビームをミラー１１２Ｇ側に反射する。ミラー１１２Ｇはハーフミラーであり、赤色レーザビームを透過させると共に、スリット板１０８Ｇを透過した緑色レーザビームをミラー１１２Ｂ側に反射する。ミラー１１２Ｂはハーフミラーであり、赤色レーザビーム及び緑色レーザビームを透過させると共に、スリット板１０８Ｂを透過した青色レーザビームをミラー１１４側に反射する。このような構成により、赤色、緑色及び青色のレーザビームが重畳（合波）される。
【００２３】
ポリゴンミラー１１８は、例えば矢印Ａで示す方向に一定速度で回転されており、レーザビームを所定の範囲の方向に反射する。ポリゴンミラー１１８の前方にはｆθレンズ１２０が設けられており、ポリゴンミラー１１８とｆθレンズ１２０とで、レーザビームを矢印Ｂで示す主走査方向に偏向させる。感光材片１Ａは、コンベア５により図２の紙面に対して垂直な方向に搬送されるので、レーザビームを変調させるために用いられた画像データに対応する潜像が、感光材片１Ａの感光面上に露光される。ｆθレンズ１２０の出射側であって、画像露光領域の直近であって主走査方向Ｂの上流側には、レーザビームを同期センサ１３０側に反射するためのミラー１３１が設けられている。同期センサ１３０は、例えば受光素子などで構成され、例えば赤色レーザビームを受光することにより、所定の同期信号を出力する。
【００２４】
制御ユニット１２は、このレーザ露光装置１００の全体の動作を制御するためのＣＰＵなどの主制御部１０１、様々なデータを一時的に記憶するためのＲＡＭなどの第１メモリ１０２、レーザ露光装置１００の制御プログラムなどを記憶したＲＯＭなどの第２メモリ１０３などを具備する。コンベア駆動部（ＣＤ）５０及びポリゴンミラー駆動部（ＰＭＤ）５１は、それぞれコンベア５による感光材片１Ａの搬送制御やポリゴンミラーの回転制御のために、主制御部１０１に接続されている。
【００２５】
３つのレーザ駆動部（ＬＤＤ）１０５Ｒ、１０５Ｇ及び１０５Ｂ（異常判断手段、駆動手段）は、それぞれ主制御部１０１とレーザ光源部１０４Ｒ、１０４Ｇ及び１０４Ｂとの間に接続されており、レーザ光源部１０４Ｒ、１０４Ｇ及び１０４Ｂを制御する。ＬＤＤ１０５Ｒ、１０５Ｇ及び１０５Ｂは、レーザ光源部１０４Ｒ，１０４Ｇ，１０４Ｂから射出されるＲ、Ｇ、Ｂのレーザビームの強度がそれぞれ同一階調で同一になるように半導体レーザ１０４１Ｒ，１０４１Ｇ，１０４１Ｂに供給する電流量を制御するＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）モードと、一定量の電流を半導体レーザ１０４１Ｒ，１０４１Ｇ，１０４１Ｂへ供給する（半導体レーザ１０４１を所定レベルで制御する）ＡＣＣ（Ａｕｔｏ  Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）モードとを切り換える切換スイッチ（図略）を備え、スイッチングによってモード切換可能になっている。ＡＣＣモードは、主電源がオンしたときに、半導体レーザ１０４１に供給する電流量と、これによりＳＨＧ素子１０４２からフィードバックされる電圧値との関係を示す情報を得るために設定される。ＡＰＣモードは、印画紙への走査時に設定される。ここでは、ＡＣＣモードで得た供給電流量と電圧値との関係を示す情報を基に、走査時のＲ，Ｇ，Ｂのレーザビームのフィードバック電圧値が規定値（Ｒ，Ｇ，Ｂそれぞれの階調毎に設定される）を維持しているかがモニタされ、維持していないときには半導体レーザ１０４１に供給される電流量が増加される。
【００２６】
また、ＬＤＤ１０５Ｒはフォトダイオード１０４７Ｒから、ＬＤＤ１０５Ｇ，１０５Ｂはフォトダイオード１０４７Ｇ，１０４７Ｂ及びフォトダイオード１０４５Ｇ，１０４５Ｂから電圧値が出力される。そして、ＬＤＤ１０５Ｒ，１０５Ｇ、１０５Ｂは、入力した電圧値を基に、第２波長のレーザ光の出力量の異常の発生（規定出力量より少ない状態か）を判断する（詳しくは後述する）。また、ＬＤＤ１０５Ｇ，１０５Ｂは、フォトダイオード１０４５Ｇ，１０４５Ｂに検出されたレーザ光の強度に基づいて、入力した第２高調波のレーザ光の出力量の異常が半導体レーザ１０４１及びＳＨＧ素子１０４２のうちいずれの劣化（異常）に起因するかを判断する（詳しくは後述する）。
【００２７】
３つの光変調素子駆動部（ＭＤ）１０７Ｒ、１０７Ｇ及び１０７Ｂは、主制御部１０１と光変調素子１０６Ｒ、１０６Ｇ及び１０６Ｂの間に接続されており、画像データに含まれる赤色、緑色及び青色の各成分ごとの階調度に応じて、光変調素子１０６Ｒ、１０６Ｇ及び１０６Ｂを通過するレーザビームの強度を変調するように制御する。
【００２８】
メモリ１０２は、この写真処理装置１０で使用可能な感光材の種類及び現像液の種類の各組み合わせに対応した複数のルックアップテーブル１０２Ａ、１０２Ｂ、１０２Ｃ・・・を記憶している。画像処理部１５０は、入出力ユニット３０を介して入力された画像データに所定の画像処理を施したり、画像データの入出力を制御する。画像データメモリ１５１は、赤、緑及び青の各色成分ごとに、入力された画像データを一時的に記憶する。クロック制御部１５２は、同期センサ１３０からの同期信号を受信して、画像処理部１５０による画像データメモリ１５１からの画像データの読み出し及び光変調素子駆動部１０７Ｒ、１０７Ｇ及び１０７Ｂへの画像データの出力のタイミングを制御する。
【００２９】
バッファメモリ１５３は、画像データメモリ１５１から１走査線分ごとに読み出された画像データを一時的に記憶する。そして、バッファメモリ１５３からの各走査線ごとの画像データの読み出しのタイミングを調節することにより、感光材片１Ａ上に露光される各色のレーザビームの走査線のずれを補正する。
【００３０】
入出力ユニット３０は、主制御部１０１に接続され、ＬＤＤ１０５Ｒ，１０５Ｇ，１０５Ｂによる、第２高調波のレーザ光の出力量の低下原因に対する判断結果をモニタ３１に表示することで、操作者に判断結果を報知するものである。なお、当該判断結果は、必ずしもモニタ３１に表示して報知される必要はない。例えば、入出力ユニット３０がスピーカを備え、このスピーカから音として出力して判断結果を報知してもよく、何らかの方法で操作者に報知できる構成であればよい。また、入出力ユニット３０は、そのキーボード３２やマウス３３が操作されることで、操作者のＡＰＣモード及びＡＣＣモード間でのモード切り換え指示を受け付ける。この指示に基づいて、主制御部１０１によってＬＤＤ１０５Ｇのモード設定がなされる。
【００３１】
図３は、レーザ光源部１０４Ｇ及びその周辺部材の機能構成を示すブロック図である。なお、レーザ光源部１０４Ｇについて説明するが、レーザ光源部１０４Ｂについても同様の構成である。半導体レーザ１０４１Ｇは、ＳＨＧ素子１０４２Ｇに対して射出するレーザ光の一部を、そのフォトダイオード１０４５Ｇで電圧値（以下、電圧値Ａと記載する）に変換して所定時間毎にＬＤＤ１０５Ｇへ出力するものである。ここで、半導体レーザ１０４１Ｇが劣化していない場合には、電圧値Ａが規定値（例えば、２．５Ｖ）になるように設定されている。ＳＨＧ素子１０４２Ｇは、入力したレーザ光から第２高調波をビームスプリッタ１０４６Ｇの方向へ射出し、ビームスプリッタ１０４６Ｇは、射出された第２高調波の一部を透過させると共に、一部をフォトダイオード１０４７の方向に偏向させるものである。フォトダイオード１０４７Ｇは、第２高調波の光の強度を電圧値（以下、電圧値Ｂと記載する）に変換して検出し、検出した電圧値を所定時間毎に半導体レーザ１０４１Ｇへ出力するものである。ここで、半導体レーザ１０４１Ｇ及びＳＨＧ素子１０４２Ｇが劣化していない場合には、電圧値Ｂが規定値（例えば、２．５Ｖ）になるように設定されている。
【００３２】
ＬＤＤ１０５Ｇは、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）を備え、入力された電圧値Ｂを基に、レーザ露光装置１００の出力量の低下を判断する。具体的には、ＬＤＤ１０５Ｇは、電圧値Ｂが規定値より小さいときに、レーザ露光装置１００の出力量の異常（正常値より低下）を判断し、半導体レーザ１０４１Ｇ及びＳＨＧ素子１０４２Ｇのいずれかが劣化したと判断する。そして、ＬＤＤ１０５Ｇは、電圧値Ｂが規定値より小さいときでＡＰＣモードとなっている場合、ＳＨＧ素子１０４２Ｇからの出力量を正常値に回復させるように半導体レーザ１０４１Ｇへの出力電流量を増加させる。
【００３３】
そして、ＬＤＤ１０５Ｇは、電圧値Ｂが規定値より小さくなったこと（電圧値Ｂの変動）と電圧値Ａとの相関に基づいて、レーザ露光装置１００の出力量の異常が半導体レーザ１０４１Ｇ及びＳＨＧ素子１０４２Ｇのうちいずれの劣化に起因するかを判断する。すなわち、ＡＰＣモードに設定され、電圧値Ａに基づいて半導体レーザ１０４１Ｇ及びＳＨＧ素子１０４２Ｇのうちいずれかが劣化しているとき、ＬＤＤ１０５Ｇは、半導体レーザ１０４１Ｇへの供給電流量を増加させる。このため、半導体レーザ１０４１Ｇが劣化していないと電圧値Ａが規定値より大きくなる。従って、電圧値Ａが規定値より大きい場合、ＳＨＧ素子１０４２Ｇが劣化していると判断される。そして、電圧値Ａが規定値以下である場合、半導体レーザ１０４１Ｇが劣化していると判断される。ここで、ＡＰＣモードでは、Ｇの画像データの階調が最大階調以上であるときの電圧値Ａで劣化部位が判断されることが正確な判断を期待できるため、好ましい。一方、ＡＣＣモードに設定されているとき、ＬＤＤ１０５Ｇは、電圧値Ｂに応じて半導体レーザ１０４１Ｇへの出力電流量を増加させないため、電圧値Ａが規定値より小さい場合に、半導体レーザ１０４１Ｇが劣化していると判断される。従って、電圧値Ａが規定値以上である場合に、半導体レーザ１０４１Ｇは劣化していないため、ＳＨＧ素子１０４２Ｇが劣化していると判断される。ＬＤＤ１０５Ｇは上記判断結果を主制御部１０１に出力する。ここで、ＡＣＣモードでは、ＡＰＣモードにおける場合とは異なり、Ｇの画像データがいずれの階調であるときの電圧値Ａを用いて劣化部位が判断されても正確な判断を期待できる。
【００３４】
主制御部１０１は、入力した判断結果を入出力ユニット３０に出力し、この判断結果を入出力ユニット３０がそのモニタ３１に表示する。これによると、異常のある個所をモニタ３１で操作者に視覚的に報知することができ、異常を容易に把握させることができる。例えば、Ｒ、Ｇ、Ｂいずれのレーザ光源部１０４に異常があったか、半導体レーザ１０４１Ｇ及びＳＨＧ素子１０４２Ｇのいずれが劣化しているか等が表示されることで、操作者に劣化個所を具体的に報知することができる。また、電圧値Ａ，電圧値Ｂが、規定値と比較可能なように表示されてもよく、操作者にレーザ露光装置１００の劣化の度合いを報知させることができる。
【００３５】
図４は、レーザ光源部１０４Ｇの劣化部位を判断、報知する処理の一例を示すフローチャートである。ここでは、ＬＤＤ１０５ＧがＡＣＣモードに設定されている場合の処理を示す。まず、ステップＳ１で、フォトダイオード１０４５Ｇが電圧値Ａを検出し、ステップＳ２でフォトダイオード１０４７Ｇが電圧値Ｂを検出する。そして、ＬＤＤ１０５Ｇは、電圧値Ｂが規定値より小さいかどうかを判断し（Ｓ３）、電圧値Ｂが規定値より小さいと判断される場合に（Ｓ３でＹＥＳ）、ステップＳ４が実行され、電圧値Ｂが規定値より小さいと判断されない場合に（Ｓ３でＮＯ）、処理はステップＳ１に戻る。ステップＳ４では、ＬＤＤ１０５Ｇは、電圧値Ｂが規定値より小さいかどうかを判断し、電圧値Ａが規定値より小さいと判断される場合に（Ｓ４でＹＥＳ）、半導体レーザ１０４１Ｇが劣化したと判断し、この判断結果がモニタ３１に表示される。電圧値Ａが規定値より小さいと判断されない場合に（Ｓ４でＮＯ）、ＳＨＧ素子１０４２Ｇが劣化したと判断され、当該判断結果がモニタ３１に表示される（Ｓ６）。
【００３６】
そして、ステップＳ７で、主制御部１０１は、電圧値Ｂが規定値より小さいとの判断時に露光されている画像データを特定する情報をメモリ１０２に記憶させる。例えば、全画像データのうち何枚目の画像データであるか、ＩＤが付与されている場合には、当該ＩＤ等が記憶される。これによって、半導体レーザ１０４１Ｇ、ＳＨＧ素子１０４２Ｇのうち劣化した部材が修復された後、劣化してから後に印刷された画像データを特定し、印刷のやり直しを行うことが容易になる。その後、処理は終了する。
【００３７】
なお、上記ステップＳ１が上記ステップＳ３の後に実行されてもよい。また、上記ステップＳ１とステップＳ２との順番は入れ替わってもよい。また、ステップＳ５の後、ＬＤＤ０１５Ｇが、電圧値Ａの規定値からの変動量と電圧値Ｂの規定値からの変動量とを比較し、両者が一致している場合に、半導体レーザ１０４１Ｇのみが劣化していると判断して、モニタ３１に表示させ、両者が一致していない場合に、半導体レーザ１０４１Ｇだけでなく、ＳＨＧ素子１０４２Ｇも劣化していると判断し、モニタに表示させてもよい。これによると、レーザ光源部１０４Ｇの劣化部位をより詳細に特定することができる。
【００３８】
図５は、レーザ光源部１０４Ｇの劣化部位を判断・報知する処理の一例を示すフローチャートである。ここでは、ＬＤＤ１０５ＧがＡＰＣモードに設定されている場合の処理を示す。なお、図４に示すステップと同様のステップには同一の符号を付し、説明を省略する。まず、電圧値Ｂが規定値より小さいと判断された場合に（Ｓ３でＹＥＳ）、ＬＤＤ１０５Ｇは、半導体レーザ１０４１Ｇへ供給する電流量を増加する（Ｓ１１）。そして、ＬＤＤ１０５Ｇは、電圧値Ａが規定値以上であるかを判断する（Ｓ１２）。電圧値Ａが規定値以上であると判断された場合に（Ｓ１２でＹＥＳ）、ＬＤＤ１０５Ｇは、ＳＨＧ素子１０４２Ｇが劣化したと判断して、この判断結果をモニタ３１に表示させる（Ｓ１３）。電圧値Ａが規定値以上であると判断されない場合に（Ｓ１２でＮＯ）、半導体レーザ１０４１Ｇが劣化したと判断して、この判断結果をモニタ３１に表示させる（Ｓ１４）。
【００３９】
なお、上記ステップＳ１が上記ステップＳ３又はステップＳ４の後に実行されてもよい。また、上記ステップＳ１とステップＳ２との順番は入れ替わってもよい。ステップＳ１３の後、ＬＤＤ０１５Ｇが、電圧値Ａの規定値からの変動量と電圧値Ｂの規定値からの変動量とを比較し、両者が一致している場合に、ＳＨＧ素子１０４２Ｇのみが劣化していると判断して、モニタ３１に表示させ、両者が一致していない場合に、ＳＨＧ素子１０４２Ｇだけでなく、半導体レーザ１０４１Ｇも劣化していると判断し、モニタに表示させてもよい。これによると、レーザ光源部１０４Ｇの劣化部位をより詳細に特定することができる。
【００４０】
図６は、図４、図５に示す処理において、モニタに表示される判断結果の一例を示す図である。判断結果表示欄２００は、色表示欄３００、部材表示欄４００及び劣化有無表示欄５００から構成されている。色表示欄３００は、Ｒ、Ｇ、Ｂのいずれのレーザ光源部１０４が劣化しているかを表示するためのものである。部材表示欄４００は、Ｇ、Ｂのレーザ光源部１０４において、半導体レーザ１０４１、ＳＨＧ素子１０４２のうちのいずれが劣化しているかを表示するためのものである。劣化有無表示欄５００は、劣化していない場合に「○」を表示し、劣化している場合に「×」を表示して、操作者に劣化の有無を報知するためのものである。ここでは、半導体レーザ１０４１Ｂが劣化していることが示されている。
【００４１】
上記構成によると、半導体レーザ１０４１Ｇ，１０４１Ｂからのレーザ光の強度を検出、判断するだけの簡易な構成で、第２高調波の出力量の異常が半導体レーザ１０４１Ｇ，１０４１ＢとＳＨＧ素子１０４２Ｇ，１０４２Ｂとのうちいずれの劣化に起因するものであるかを特定し、判断することができる。当該判断結果をモニタに表示することで、操作者に対して劣化個所を確実に報知することができるため、劣化した部材のみを修理、交換することができる。なお、ＡＰＣモードでＬＤＤ１０５が作動する構成であるため、半導体レーザ１０４１等の部材が経時的に劣化した場合であっても、劣化度合いが軽微なときには、劣化部位が判別された後に当該劣化した部材の修理、交換がなされずとも、半導体レーザ１０４１に供給する電流量を増加させることで、劣化に影響なく画像形成を行うことは可能である。ゆえに、劣化度合いが画像形成に影響を与える程に進んだときに、劣化した部材を修理、交換することも可能である。
【００４２】
更に、上記構成によると、ＡＰＣモードであっても、ＡＣＣモードであっても、半導体レーザ１０４１Ｇ，１０４１Ｂからのレーザ光の強度を検出、判断するだけの簡易な構成で、第２高調波の出力量の異常が半導体レーザ１０４１Ｇ，１０４１ＢとＳＨＧ素子１０４２Ｇ，１０４２Ｂとのうちいずれの劣化に起因するものであるかを特定することができる。
【００４３】
【発明の効果】
請求項１に記載の発明によれば、簡易な構成でありながら、レーザ光源及び波長変換部の少なくともいずれか一方の異常を判断、報知する写真処理装置を提供でき、操作者は劣化した部材のみを修理、交換することができる。
【００４４】
請求項２に記載の発明によれば、判断結果を操作者に視覚的に理解させることが可能となるため、操作者に理解容易に、判断結果を知らせることができる。
【００４５】
請求項３に記載の発明によれば、第１のレーザ光の強度の変動と前記第２のレーザ光の強度の変動との相関をみるだけの簡易な構成でありながら、波長変換部及びレーザ光源部の少なくともいずれか一方の異常を一層正確に判断、報知する写真処理装置を提供できる。
【００４６】
請求項４に記載の発明によれば、ＡＰＣモードであっても、簡易な構成でレーザ光源及び波長変換部の少なくとも一方の異常を判断、報知する写真処理装置を提供することができる。
【００４７】
請求項５に記載の発明によれば、ＡＣＣモードであっても、簡易な構成でレーザ光源及び波長変換部の少なくとも一方の異常を判断、報知する写真処理装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態におけるレーザ露光装置を用いた写真処理装置の概略構成図である。
【図２】図１に示すレーザ露光装置１００、制御ユニット１２のブロック構成図である。
【図３】レーザ光源部１０４Ｇ及びその周辺部材の機能構成を示すブロック図である。
【図４】レーザ光源部１０４Ｇの劣化部位を判断、報知する処理の一例を示すフローチャートである。
【図５】レーザ光源部１０４１Ｇの劣化部位を判断・報知する処理の一例を示すフローチャートである。
【図６】図４、図５に示す処理において、モニタに表示される判断結果の一例を示す図である。
【符号の説明】
１０                                                            写真処理装置
３１                                                              モニタ（報知部）
１００                                                          レーザ露光装置
１０４１                                          半導体レーザ（レーザ光源）
１０４Ｒ，Ｇ，Ｂ                    レーザ光源部（レーザ発生部）
１０４２Ｇ，Ｂ                                    ＳＨＧ素子（波長変換部）
１０４５Ｇ，Ｂ                                          フォトダイオード（第１の検出部）
１０４７Ｇ，Ｂ                                    フォトダイオード（第２の検出部）
１０５                              ＬＤＤ（異常判断手段、駆動手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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