(57)【要約】【課題】  未検査基板、検査不合格基板が混入した場合であっても、装置組立の段階で確実にこのような基板を識別できる画像形成装置を提供する。【解決手段】  回路部品が実装された複数の基板を有する画像形成装置において、少なくとも１つの上記基板に備えた、当該基板自身の検査の履歴を記憶する不揮発性の記憶手段と、画像形成装置の組立時に、当該装置に搭載した基板の上記記憶手段に記憶された検査履歴に基づいて、当該検査履歴に対応する基板の異常の有無を判定する判定手段とを備える構成とする。  また、上記判定手段が異常ありと判定したときに、異常を報知する報知手段を備える構成とする。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回路部品が実装された複数の基板を有する画像形成装置において、
少なくとも１つの上記基板に備えた、当該基板自身の検査の履歴を記憶する不揮発性の記憶手段と、
画像形成装置の組立時に、当該装置に搭載した基板の上記記憶手段に記憶された検査履歴に基づいて、当該検査履歴に対応する基板の異常の有無を判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
上記判定手段が異常ありと判定したときに、異常を報知する報知手段を備えた請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
上記報知手段が、装置に搭載した基板への電源の供給を遮断する電源遮断手段である請求項２に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリンタ、ファクシミリ、複写機やこれらの複合機等の画像形成装置に関し、特に、画像形成装置の検査技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器は、通常、ガラスエポキシ等からなる基板上に回路部品等を実装した回路基板を備えている。このような基板は、機器の小型化や製造歩留まり向上の観点から、例えば、機能ごとに分離された複数の回路基板で構成されており、機器の組立工程において、この複数の基板が電子機器に組み込まれて接続されるようになっている。
【０００３】
複写機や複合機等の画像形成装置も、例えば、画像読取部、画像形成部、用紙搬送部等の機構部の駆動制御を行う制御基板と、各制御基板に指令を出力して装置全体の動作を制御するメイン基板とに分離された複数の回路基板を有している。
【０００４】
これらの回路基板は、回路部品の実装及び実装済基板の検査が基板の種類ごとに行われ、この検査に合格した基板が画像形成装置の組立に使用される。
【０００５】
上記検査において不合格となった基板であっても、基板上に実装された回路部品の交換や調整により修復が可能な場合は人手により修復が行われる。そして、再検査に合格した基板は、合格基板として組立に使用される。
【０００６】
一方、上記機構部の各制御基板は、例えば、通紙タイミングデータ、画像調整データ、その他メンテナンスデータ等の個々の画像形成装置に固有の調整データが格納される不揮発性メモリを備えている。これらの調整データは、画像形成装置を適切に動作させるために使用されるデータであり、装置組立後に行われる調整工程で画像形成装置ごとに決定され、上記不揮発性メモリに記録される。
【０００７】
なお、本発明に類似する技術として、後掲の特許文献１には、記憶手段に記録された使用環境及び使用履歴に基づいて、構成部品の回収時に有効な再使用方法・再使用ルートを判断する電子機器が開示されている。
【特許文献１】特開２００２−６６９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記組立の段階で、何等かの理由、例えば、上述の修復した基板が未検査のまま使用されたり、不合格基板が使用されたりする等の人為的ミスにより、本来は検査で不合格となるべき基板が混入する可能性が考えられる。
【０００９】
このように、未検査基板や不合格基板が混入して装置の組立に使用された場合、このような基板を外観で識別することは不可能であり、上記調整工程で装置の動作不良が確認された場合に、はじめて不合格基板の混入が発覚することになる。このように調整工程で不具合が確認されたときには、不合格基板が原因で他の正常な基板や機構部が破損される可能性がある上、同時期に組み立てられた装置の基板を全て再検査する必要があり、生産効率を著しく低下させる。
【００１０】
また、検査で不合格となる原因が、回路部品の半田接続不良等の一見正常に動作する不具合である場合には、調整工程においても確認されず、そのまま市場に流出して市場事故を引き起こす可能性もある。
【００１１】
本発明は、上記従来の事情に基づいて提案されたものであって、未検査基板、不合格基板が混入した場合であっても、装置組立の段階でこのような基板を確実に識別できる画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、上記目的を達成するために以下の手段を採用している。すなわち、本発明は、回路部品が実装された複数の基板を有する画像形成装置において、少なくとも１つの上記基板に備えた、当該基板自身の検査の履歴を記憶する不揮発性の記憶手段と、画像形成装置の組立時に、当該装置に搭載した基板の上記記憶手段に記憶された検査履歴に基づいて、当該検査履歴に対応する基板の異常の有無を判定する判定手段とを備える構成としている。
【００１３】
上記構成によれば、例えば、検査種類、検査回数、検査結果、修復記録等の基板の検査履歴を当該基板上にある記憶手段に記憶し、画像形成装置に備えた判定手段が当該検査履歴に基づいて当該基板の異常の有無を判定するので、画像形成装置の組立段階で、未検査基板及び不合格基板の混入を確実に検知することができる。このため、生産効率の低下を避けることができると共に、市場事故を防止することができる。
【００１４】
特に、上記記憶手段として、本来は、上記調整データの格納等の別用途で使用するために基板上に配置されている記憶手段を流用する構成とすれば、検査装置が出力する検査結果を、上記記憶手段に検査履歴として格納するための書込手段を従来の製造工程に追加するだけで実現できるため低コストである。
【００１５】
また、上記判定手段が異常と判定したときに、異常を報知する報知手段を備える構成を採用すれば、未検査基板及び不合格基板の混入をより確実に検知することができる。特に、この報知手段として、装置に搭載した基板への電源供給を遮断する電源遮断手段を採用すれば、混入した不合格基板が原因で、他の正常な基板や機構部が破損されることを確実に防止することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、例えば、検査の種類、検査回数、検査結果、修復記録等の基板の検査履歴を検査対象の基板上にある記憶手段に記憶し、画像形成装置に備えた判定手段が当該検査履歴に基づいて基板の異常の有無を判定するので、画像形成装置の組立の段階で、未検査基板及び不合格基板の混入を確実に検知することが可能となる。このため、生産効率の低下を避けることができると共に、基板の不具合による市場事故の発生を防止することができる。
【００１７】
また、上記記憶手段として、本来は、上記調整データの格納等の別用途で使用するために基板上に配置されている記憶手段を流用する構成とすれば、基板レイアウトの変更が不要である上、上記記憶手段に検査装置が出力する検査結果を検査履歴として格納するための書込手段を従来の製造工程に追加するだけであるため、低コストで本構成を実現することができる。
【００１８】
さらに、判定手段が異常と判定したときに、異常を報知する報知手段として、装置に搭載した基板への電源の供給を遮断する電源遮断手段を採用すれば、混入した不合格基板が原因で他の正常な基板や機構部が破損されることを防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態を図面にしたがって詳細に説明する。なお、図１は、画像形成装置の本発明に係る部分を示す概略図である。
【００２０】
画像形成装置１は、従来からある画像形成装置と同様に、例えば、画像データをスキャンして読み取る画像読取部や画像データを用紙上に印字する画像形成部等の機構部２を有しており、この各機構部２の動作が、それぞれの機構部２に接続された制御基板３ａによって制御されるようになっている。
【００２１】
また、各制御基板３ａは、装置全体の動作を制御するメイン基板３ｂに接続されており、メイン基板３ｂ上に備えたＣＰＵ４が出力する信号に基づいて動作している。なお、上記制御基板３ａ及びメイン基板３ｂ（以下では、制御基板３ａとメイン基板３ｂとを区別しない場合、両基板を合わせて基板３と記述する。）や機構部２は、画像形成装置１内に適宜配置されるものであるが、本発明は配置と無関係であるため、ここでは詳述しない。
【００２２】
上記基板３は、金属配線を形成したガラスエポキシ等からなる基板上に、自動実装機等を用いて各種回路部品が実装されたものである。この回路部品の実装工程で、一部の種類の基板３上には、上記背景技術で説明した調整データを格納するためのＥＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリ等の不揮発性の記憶手段５が実装される。例えば、画像形成部の制御基板３ａには、画像調整データを格納する記憶手段５が実装され、用紙搬送部の制御基板３ａには、通紙タイミングデータを記憶する記憶手段５が実装されている。
【００２３】
上記回路部品の実装が完了すると、各基板３に対して、例えば、回路部品の実装不良等の有無を検査するインサーキットテストや、基板に検査信号を入力して回路が正常に動作しているか否かを検査するファンクションテスト等の検査が行われる。
【００２４】
この検査には、例えば、電流電圧測定器、信号発生器、信号検出器等の測定器を備えた基板検査装置１０が使用される。この基板検査装置１０は、上記検査における各検査項目で指定されている基板３上の電極に、プローブ（検査ピン）を接触させる等により上記測定器と基板３とを電気的に接続して各検査項目に対応する測定を行う。そして、当該測定結果に基づいて基板３が合格基板であるか不合格基板であるかを判定する。
【００２５】
また、上記基板検査装置１０は、図２に示すように、１つの基板３に対する検査が完了すると、当該基板３の検査情報を書込手段６に出力する。そして、検査情報が入力された書込手段６は、当該基板３上の記憶手段５のデータ入力線であるデータバス７に接触している上記プローブを介して当該検査情報を書込むようになっている。
【００２６】
なお、図２では、検査時及び検査情報書込時に、データバス７に接触させた同一のプローブを使用する場合を示しており、検査時には当該電極と測定器とを電気的に接続し、検査情報書込時には、当該電極と書込手段６とを電気的に接続する切換スイッチ８を備える構成としている。また、基板検査装置１０に接続されるデータバス７以外の配線は本願に関与しないため省略している。
【００２７】
これにより、基板３の記憶手段５には、当該基板３自身の検査履歴が記憶されることになる。ここで、上記検査情報とは、例えば、検査の種類、検査の回数、検査結果（不合格であるときは、不良モード）等のデータである。
【００２８】
また、上記書込手段６は、記憶手段５にデータを書込む機能を有していればよく、例えば、パーソナルコンピュータ上で実行されるソフトウエア等を使用することができる。また、書込手段６を、基板検査装置１０が備える装置制御用のコンピュータ上で実行されるソフトウエアとすれば構成が容易となる。
【００２９】
ここで、上記検査を実行したときに基板３上の記憶手段５に記憶される検査情報について説明する。
【００３０】
例えば、インサーキットテストに合格した基板３上の記憶手段５には、検査の種類がインサーキットテストであることを示す「Ｉ」と、１回目のインサーキットテストの結果であることを示す「１」と、インサーキットテストにおける全検査項目に合格したことを示す「０」が、「Ｉ、１、０」として記憶される。
【００３１】
また、不合格であった基板３の記憶手段５には、上記の合格したことを示す「０」に代えて、不合格であったことを示す「１」及び不合格となった検査項目の番号（ここでは、検査項目番号５番の項目が不合格であった場合を示している。）を示す「５」が、「Ｉ、１、１、５」として記憶される。
【００３２】
上述のように、検査で不合格となった基板３は人手により修復されるが、この修復作業を行う際に、修復する基板３に記憶されている上記不合格となった検査項目番号を読み出して参照するようにすれば、交換の必要のある回路部品を間違うことなく容易に確定することができる。なお、修復を完了した際に、修復した基板３上の記憶手段５に、修復作業で交換した回路部品を示す番号等の修復内容を記憶するようにしてもよい。
【００３３】
そして、修復が完了した基板３に対して再度インサーキットテストを実行し、再検査に合格した基板３の記憶手段５には、２回目のインサーキットテストで合格したことを示す、「Ｉ、２、０」が追記憶されることになる。
【００３４】
ところで、上記検査に合格した基板３は、画像形成装置１の組立工程において、装置本体に搭載され、メイン基板３ｂと各制御基板３ａとが配線ケーブル等により電気的に接続される。
【００３５】
この状態で電源が投入された場合、メイン基板３ｂ上のＣＰＵ４は、メイン基板３ｂ上の記憶手段５に格納されている基板診断プログラムを自動的に起動する。図３は、この回路診断プログラムの処理を示すフロー図であり、以下では、この図３に基づいて基板診断プログラムの処理について説明する。
【００３６】
この基板診断プログラムが起動されると、ＣＰＵ４は、基板診断プログラムで指定されている順番の１番目にある制御基板３ａの記憶手段５にアクセスし、当該記憶手段５に記憶されている上記検査情報を読み出す（Ｓ１）。
【００３７】
そして、読み出した検査情報に基づいて、その制御基板３ａが正常（制御基板３ａに対して行われているべき各検査の全てに合格している）であるか否かの判定を行う（Ｓ２）。
【００３８】
正常と判定された場合には、基板診断プログラムで指定されている順番に従って次の制御基板３ａの記憶手段５にアクセスし、検査情報を読み出す（Ｓ３→Ｓ１、図１に破線で示す。）。
【００３９】
画像形成装置１に搭載した全ての制御基板３ａに対して上記判定を繰り返して行い、全ての制御基板３ａが正常である場合には、ＣＰＵ４は基板診断プログラムを終了する。
【００４０】
このように、全ての制御基板が正常と判定された場合、以降の電源投入によって基板診断プログラムは起動される必要がない。このため、基板診断プログラムが正常に終了するときに、以降の電源投入で基板診断プログラムが起動されないよう設定変更するようにしている（Ｓ４）。
【００４１】
一方、判断ステップＳ２において異常と判定された場合、ＣＰＵ４は画像形成装置１に備えた報知手段９である表示手段（図１に示す。）に、異常と判定された制御基板３ａの名称や番号等の制御基板３ａを特定するための情報と、異常と判定された内容を表示することで異常を報知し（Ｓ５）、基板診断プログラムを停止する（Ｓ６）。
【００４２】
このように制御基板３ａの異常が報知された場合、作業者は、上記表示手段で報知された内容を確認した上で電源を遮断した後、異常と判定された制御基板３ａを、同種の他の制御基板に交換する。そして、電源を再投入することで、再度、上記基板診断プログラムが起動され、交換した制御基板を含めた全制御基板の異常判定を行うことができる。
【００４３】
このようにすれば、画像形成装置の組立の段階で、未検査基板及び不合格基板の混入を確実に検知することが可能となる。このため、生産効率の低下を避けることができると共に、基板の不具合による市場事故の発生を防止することができる。
【００４４】
また、上記構成では、検査履歴を記憶する記憶手段５として、調整データを格納するために制御基板上に配置されている記憶手段５を利用しているので、基板レイアウトを変更する必要がない上、従来の装置に書込手段６を付加するだけでよいため、低コストで本構成を実現することができる。
【００４５】
なお、上記では、表示手段により異常を報知する構成としたが、表示手段に代えて、あるいは加えて、装置に搭載した制御基板への電源の供給を遮断する電源遮断スイッチを各制御基板の電源ラインに備える構成とすれば、混入した不合格基板が原因で他の正常な制御基板や機構部が破損されることを防止することができる。
【００４６】
また、上記では、基板診断プログラムが正常に終了するときに、以降の電源投入で基板診断プログラムが起動されないよう設定変更するようにしているが、何らかの要因で基板交換が発生した場合に備え、基板診断プログラムを再起動する手段を備える構成としても良い。
【００４７】
また、上記では検査履歴を記憶する記憶手段として、他の目的で制御基板に設置されている記憶手段を流用する構成としたが、全制御基板に検査履歴を記憶する専用の記憶手段を備える構成としてもよいことは勿論である。
【産業上の利用可能性】
【００４８】
本発明は、検査の未実施基板、不合格基板を組立工程で確実に識別できるため、生産効率を低下させないという効果を有し、画像形成装置等の検査に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の画像形成装置の概略機能ブロック図。
【図２】本発明の検査履歴の記憶を説明する説明図。
【図３】本発明の基板診断処理を示すフロー図。
【符号の説明】
【００５０】
１  画像形成装置
２  機構部
３ａ  制御基板
３ｂ  メイン基板
４  ＣＰＵ（判定手段）
５  記憶手段
６  書込手段
９  報知手段
１０  基板測定装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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