(57)【要約】【課題】  ユーザーモードで隣接画素リークを補正することにより、撮像した画像の画質を向上させることを課題とする。【解決手段】  複数の出力端子に対応する複数の撮像領域を有し、前記複数の撮像領域の各々に複数の画素が配置された撮像素子と、前記複数の画素の各々からの信号が、前記撮像素子内で転送されているときに生じる、他の信号への信号の漏れ込みに対する補正信号を検出する検出手段と、前記補正信号に基づいて、前記複数の画素からの信号を補正する補正手段と、前記補正手段の補正結果に基づいて、前記信号の漏れ込みに対する補正信号を変更する変更手段とを有することを特徴とする撮像装置を提供する。【選択図】  図１
2005175682.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の出力端子に対応する複数の撮像領域を有し、前記複数の撮像領域の各々に複数の画素が配置された撮像素子と、
前記複数の画素の各々からの信号が、前記撮像素子内で転送されているときに生じる、他の信号への信号の漏れ込みに対する補正信号を検出する検出手段と、
前記補正信号に基づいて、前記複数の画素からの信号を補正する補正手段と、
前記補正手段の補正結果に基づいて、前記信号の漏れ込みに対する補正信号を変更する変更手段とを有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記撮像素子から信号が出力された後も前記撮像素子内で転送を続けることにより前記撮像素子内の転送部から出力されるダミー信号が、前記撮像素子内の転送部から出力される直前に、前記転送部から出力された信号の信号レベルが、所定の範囲内にあるときには、前記補正信号を前記変更手段によって変更し、
前記信号レベルが、所定の範囲外のときには、前記補正信号を前記変更手段によって変更しないことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記変更手段は、前記ダミー信号の平均値と前記隣接画素からの信号の平均値を用いて、前記隣接画素への漏れ込み信号に対応する補正信号を変更することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記撮像素子に接続した温度センサを更に有し、
前記検出手段は、前記温度センサにより得られた前記撮像素子の温度に応じて、前記補正信号を検出することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記撮像領域に像を結像するレンズと、
前記撮像領域からの信号をＡ／Ｄ変換して前記検出手段に転送するＡ／Ｄ変換器と、
前記補正手段から出力された信号に、カメラ信号処理を行うカメラ信号処理手段とを有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子を用いた撮像装置に関し、更には撮像素子の画像出力を分割して読み出す撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年ディジタル信号処理技術及び半導体技術の進歩により、標準テレビ方式、例えばＮＴＳＣ方式やＰＡＬ方式の動画像信号をディジタル記録する記録再生装置と撮像装置を一体化したディジタルビデオカメラが製品化されている。このようなディジタルビデオカメラでは、ディジタル記録という特徴を生かして、静止画記録機能を備えるものがある。また、コンピュータ等との接続のためにディジタルＩ／Ｆを具備し、撮影した画像をコンピュータに取り込む機能を有するものもある。さらに、複数の記録媒体を具備し、画像の使用目的に応じて記録媒体を選択できるようになっているものもある。
【０００３】
このような装置において、記録された画像をテレビに接続して再生する場合は、その画像サイズはディジタルビデオ規格で定められるもの、例えば７２０ｘ４８０画素でなんら問題は無いが、ディジタルＩ／Ｆを介して他のメディアに画像を転送する場合は、画質上の問題からより多くの画素数が要求される場合がある。
【０００４】
撮像素子の多画素化に伴い、撮像素子の全画素の情報を読み出すためにはより高い周波数で撮像素子を駆動する必要があり、Ｓ／Ｎの劣化や消費電力の増大を招いてしまう。
【０００５】
撮像素子の駆動周波数を低く抑えたまま撮像情報のデータレートを上げる方法の１つとして、撮像面を複数の領域に分割し、それぞれの領域に独立した電荷転送部、増幅器及び出力端子を持たせ、撮像信号を並列に読み出す方法がある。
【０００６】
しかしながらこの方法の欠点として、各領域の電荷転送部もしくは増幅器の特性の不均一により、複数の領域を合成して画像を生成した場合に、領域間の信号レベル差による境界線が生じるなどの画質劣化が発生する問題があった。
【０００７】
代表的な撮像素子であるＣＣＤエリアセンサを例にして考えた場合、領域間の信号レベル差を発生させる要因の１つに、電荷転送部における転送効率の低下が挙げられる。ＣＣＤエリアセンサでは、垂直もしくは水平転送部において転送効率の低下が発生すると、転送方向に対して隣接する画素に信号電荷が混入し、混色や色シェーディングなどの画質劣化を引き起こす。垂直転送部の転送効率低下は列毎のレベル差となるので領域間のレベル差の要因にはなりえないが、水平転送部の転送効率低下は領域間のレベル差の要因となる。
【０００８】
この問題を解決するために、例えば、特許文献１には、複数分割読み出しセンサにおいて、複数の領域間のアンバランス量を算出し、算出結果に応じて、複数の領域間の段差補正を行うことを特徴とする撮像装置が記載されている。
【特許文献１】特開２０００−２５３３０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
従来の撮像装置の場合、各領域間の画像信号のレベル差による合成画像の画像劣化が発生するが、さらに画像劣化の原因として、出力ゲート部の転送効率が低下すると隣接画素への信号電荷混入により画面上に一様の混色を引き起こすという問題があった。
【００１０】
（本発明の目的）
本発明は、画像部分における隣接画素への漏れ込み補償をし、分割読み出しした画像の画質を向上させることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
複数の出力端子に対応する複数の撮像領域を有し、前記複数の撮像領域の各々に複数の画素が配置された撮像素子と、前記複数の画素の各々からの信号が、前記撮像素子内で転送されているときに生じる、他の信号への信号の漏れ込みに対する補正信号を検出する検出手段と、前記補正信号に基づいて、前記複数の画素からの信号を補正する補正手段と、前記補正手段の補正結果に基づいて、前記信号の漏れ込みに対する補正信号を変更する変更手段とを有することを特徴とする撮像装置を提供する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、複数の撮像領域から、分割して読み出した画像の画質を、向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、この本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００１４】
（第１の実施の形態）
図１は、本実施の形態の特徴を最もよく表す図面である。同図において、レンズ１０１を通った画像はＣＣＤエリアセンサ１０３上に結像する。ＣＣＤエリアセンサ１０３上に結像した画像信号は、電気信号に変えられ、左右に２分割されて読み出され、左半分がバッファ１０５Ａへ、右半分がバッファ１０５Ｂへ加えられる。
【００１５】
ＣＣＤエリアセンサ１０３の具体例を図２に示す。エリアセンサ部分の左半分が２０１Ａであり、右半分が２０１Ｂである。ＣＣＤエリアセンサ１０３には光を受光して電荷信号に変換する光電変換部を有する複数の画素が二次元状に配置されており、エリアセンサ部の両端にはオプティカルブラック部２０３Ａ、２０３Ｂがある。エリアセンサ部分２０１Ａ、２０１Ｂから順次垂直転送されてきた画像は、水平転送部２０５Ａ、２０５Ｂに左右それぞれ加えられ、左の水平転送部２０５Ａでは同図の左方向に、右の水平転送部２０５Ｂでは同図の右方向に水平転送され、それぞれ読み出しアンプ２０７Ａ、２０７Ｂで電圧に変換され、出力端子２０９Ａ、２０９Ｂに出力される。
【００１６】
出力される画像信号のタイミングを、図３を用いて説明する。３０１Ａ、３０１Ｂがそれぞれ左側と右側の画像信号における１水平期間を示す。横軸は時間である。同じ水平期間の左右の画像信号は同じ１水平期間で読み出され、順番としては、外側から内側に向かって読み出されるので、まずオプティカルブラック部が読み出され、次に両サイドから中心に向かって画像が読み出され、全ての画像が読み終わってもしばらく水平転送パルスを与え続けることにより、ダミー画素信号が読み出される。ダミー画素信号部を拡大したのが図３（Ｂ）である。本実施例では原色フィルタを例に説明する。原色市松フィルタの場合、ＧＢＧＢの色フィルタとＲＧＲＧの色フィルタとが１ラインごとに交互に貼られている。同図においては、ＧＢラインの場合の例を示しており、左画面の信号３０３ＡはＧＢＧＢと順次読み出されたあと、ダミー画素がＤＭ１Ａ、ＤＭ２Ａ…と読み出される。また右画面の信号３０３Ｂは右端から読み出されているので、ＧとＢとの順番が逆になっており、ＢＧＢＧと読み出されたあと、ダミー画素がＤＭ１Ｂ、ＤＭ２Ｂ…と読み出される。
【００１７】
図１に戻り説明を続ける。バッファ１０５Ａ、１０５Ｂの出力はアナログフロントエンド１０７へ加えられる。アナログフロントエンド１０７は２チャンネル分を１パッケージに内蔵した集積回路であり、内蔵したＣＤＳ１０９Ａ、１０９Ｂで、左右のＣＣＤ出力波形にそれぞれ相関二重サンプルを施すことで低周波ノイズを除去し、次に内蔵したＡ／Ｄ１１１Ａ、１１１Ｂでアナログ信号をディジタル信号に変換し、結果をリーク補償手段１１３Ａ、１１３Ｂに加える。リーク補償手段１１３Ｂと後述するリニアリティ補正手段１２３Ｂ、リーク量測定手段１６１ＢはＣＣＤ１０３からの信号が異なるだけで同様の回路構成なので、以下必要な場合のみ説明する。リーク補償手段１１３Ａは補償テーブル１１５Ａ、加算手段１１７Ａ、遅延手段１１９Ａ、減算手段１２１Ａで構成されている。ダミー１画素目への電荷の漏れ込み（リークともいう）は、図４に示すようにダミー隣接画素への入力光量に対して、最初は急峻で、あとはなだらかになるような特性を持っており、個々のＣＣＤによってレベルＡや傾きαが異なる。隣接画素への電荷の漏れは計測できないが、構造上  このダミー１画素目への電荷の漏れと同様なことが起こっており、この隣接画素への電荷の漏れを補償する必要がある。そこで、工場出荷時に、ＬＥＤ１５９を内蔵した冶具１５７を、マイコンバスのコネクタ１５５につなぎ、マイクロプロセッサ１４５でＬＥＤ１５９の輝度を変化させながらダミー１画素目のレベルを計測し、マイクロプロセッサ１４５に外付けしたフラッシュメモリ１６３に記憶しておき、電源投入時にマイクロプロセッサ１４５が当該補償テーブル１１５Ａに書き込むことで、当該リーク特性を持たせる。補償テーブルは、ここでは入力レベルに応じた３２折れ線の直線補間回路で構成しているが、ＲＡＭテーブルなど別な手段を用いることももちろん可能である。補償テーブル１１５Ａの出力は加算手段１１７Ａと遅延手段１１９Ａに加えられる。加算手段１１７Ａでは、隣接画素に漏れ出たことによる減少分をリーク補償手段１１３Ａの入力データに加えることで復元する。さらに補償テーブル１１５Ａの出力を遅延手段１１９Ａで１クロック分遅延させて、隣接画素から減算手段１２１Ａで加算手段１１７Ａの出力データを減算することで、隣接画素への漏れ込みを除去する。このように自画素へのリーク分の加算と隣接画素へのリーク分の減算を行うように構成することで、隣接画素間リークを補償する事ができる。
【００１８】
リーク補償手段１１３Ａの出力はリニアリティ補正手段１２３Ａとリーク量測定手段１６１Ａに加えられる。リニアリティ補正手段１２３Ａは補正テーブル１２５Ａと加算手段１２７Ａとで構成されており、補正テーブル１２５Ａの結果を元のデータに足し込むことでリニアリティを補正する。補正テーブル１２５Ａはリークの補償テーブル１１５Ａと同様に、３２折れ線の直線補間回路などで構成する。リニアリティはＣＣＤやアナログフロントエンドごとに異なるので、隣接画素間リークの補償と同様に、工場出荷時に冶具１５７を用いてリニアリティを計測し、マイクロプロセッサ１４５に外付けしたフラッシュメモリ１６３に記憶しておき、電源投入時にマイクロプロセッサ１４５がフラッシュメモリ１６３から読み出し、補正テーブル１２５Ａに書き込むことでリニアリティを補正する。
【００１９】
リニアリティ補正手段１２３Ａの出力はゲイン補正手段１２９Ａに加えられ、ゲイン補正手段１２９Ａの出力は輝度検出手段１３１Ａとメモリー１４７に加えられる。ゲイン補正手段１２９Ａ、１２９Ｂ（図示しない右側チャンネル用）には２つの役目がある。一つは絞りを開放にしても明るさが不足する場合に電気的にゲインアップする役目であり、もう一つは左右のゲインを合わせる役目である。従来はアナログフロントエンドにアナログアンプがあり、マイコンから当該アナログアンプにデシベルゲインを設定することで、ゲインアップを行っていたが、本実施例のような分割読み出しＣＣＤの場合、アナログアンプによるゲインアップでは、温度や電圧、経時変化などに対してチャンネル間のゲインを保証できないため、アナログアンプを廃止し、その代わりに、アナログフロントエンドにおけるＡ／Ｄ変換の精度を上げて、例えば従来の１２ビットから１４ビットにしておき、ディジタル的な乗算でゲインアップを実現している。ＣＣＤ１１３の２つの出力間や、バッファ１０５Ａ、１０５Ｂ間にもゲインの差があり、トータルで左右のゲインを合わせないと、画面の中心に輝度の段差が見えてしまうので、工場出荷時に冶具１５７を用いて輝度レベルを変化させながら左右の出力レベルを輝度検出手段１３１Ａ、１３１Ｂ（図示しない右側チャンネル用）を用いてマイクロプロセッサ１４５に読み出し、各輝度におけるゲイン差をフラッシュメモリ１６３にゲインテーブルとして記憶しておき、ゲインを変える際には、設定するゲインに応じてマイクロプロセッサ１４５が当該ゲインテーブルを参照して、ゲイン差を補正するようにゲイン補正手段１２９Ａ、１２９Ｂを設定することにより、輝度段差が画面に生じることを防いでいる。
【００２０】
ゲイン補正手段１２９Ａ、１２９Ｂでゲイン補正された左右の画像は、メモリー１４７で合成され、従来同様の１画面信号となってカメラ信号処理手段１４９に加えられ、多画素ＣＣＤで得られた大きな画像をＤＶＣディジタルビデオ規格に合わせる縮小処理、手ぶれ補正処理、γ補正、色の分離、輝度の輪郭強調などの各種処理が施され、画像信号として端子１５１に出力される。
【００２１】
次にリーク量測定手段１６１Ａの動作を説明する。リーク量測定手段１６１Ａに加えられた画像は、ダミー積分手段１３３Ａ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、比較手段１３７Ａに加えられる。ダミー積分手段１３３Ａはダミー１画素目である図３におけるＤＭ１Ａを積分する。ダミー１画素目は、毎水平期間に左右のチャンネルにそれぞれ１画素存在する。また、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａはダミー画素ＤＭ１Ａにリークを与える時間的に一つ前の画素３０５Ａの輝度レベルを積分する。ダミー隣接画素も、毎水平期間に左右のチャンネルにそれぞれ１画素存在する。比較手段１３７Ａは画素３０５Ａの輝度レベルが予め決められたスレッショルドＬＴＨ〜ＨＴＨ間にあるか比較し、結果を論理レベルでダミー積分手段１３３Ａ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、計数手段１４３Ａに加えることで、積分、計数するかどうかを制御する。ダミー積分手段１３３Ａ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、計数手段１４３Ａの結果はマイコンバスを通じてマイクロプロセッサ１４５が読み出すことができる。
【００２２】
ユーザーモード時の隣接画素間リークの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について図５のフローチャートを用いて説明する。Ｓ５０１にてダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂ、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂをクリアする。次にＳ５０３にて計数手段１４３Ａの値が規定値に達したかどうか判断する。次にＳ５０５にて計数手段１４３Ｂの値が規定値に達したか判断する。次にＳ５０７にてダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することで輝度レベルの平均値を算出し、また、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することでダミーレベルの平均値を算出する。なお、平均値を求めるためには積分値と何回積分したか（計数手段によってカウントした回数）が必要である。つまり、平均値は、下記の式で求めることができる。 
平均値＝積分値÷回数
【００２３】
次にＳ５０９にて前記平均ダミーレベルを平均輝度レベルで割り算することでリーク補償の過不足をチャンネル別に把握する。前記割り算の結果が正で大きければリーク補償は不足しており、負で大きければリーク補償は過補償となっている。そこでＳ５１１にてリーク補償の過不足を判断し、不足している場合はＳ５１３にてリーク補正量を増やし、過補償となっている場合はＳ５１５にてリーク補正量を減らす。具体的には、動画像を撮像する際、何枚か後の画像で、図４におけるＡの量を増減することにより、リーク補正量を増減させる。
【００２４】
隣接画素間リーク補償が適正量であれば、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂに検出されるダミーリーク量は０のはずであり、不足していれば正のダミーリーク量が検出され、過補償であれば負のダミーリーク量が検出される。リークの量はダミー画素に隣接する画素の輝度レベルに依存するので、本実施例ではダミーリーク量の平均値を、ダミー隣接画素の輝度レベルの平均値を割り算することで、ダミーリーク量を規格化することができる。ＬＴＨとＨＴＨを用いて、隣接画素の輝度レベルがある範囲内にある場合だけ積分しているのは、画面上で飽和しているような明るい部分や、あまりに暗い部分では、ダミーへの漏れ込みの状態が変化して、ダミーリークレベルの平均値を出すうえで好ましくないため、積分や計数から除外するようにしている。なお、当該隣接画素間リークはチャンネル別ごとに独立した特性を持っているので、左画面用のリーク量測定手段１６１Ａと右画面用のリーク量測定手段１６１Ｂから読み出された各計測値は、マイクロプロセッサ１４５でチャンネル個別に処理され、補償テーブル１１５Ａと補償テーブル１１５Ｂを変化させるように構成されており、チャンネルごとに独立している。よって、各チャンネルごとに画像劣化の少ない画質の良い画像が得られる。なお、本実施の形態では、ダミー積分手段１３３とダミー隣接画素積分手段１３５とは同じタイミングで積算することを想定しており、積算した回数を計数手段１４３が数える。よって、そのままではどんどん回数が増えていってしまうので、ダミー積分手段１３３、ダミー隣接画素積分手段１３５、および、計数手段１４３は適宜リセットする構成にするのが好ましい。
【００２５】
（第２の実施の形態）
第２の実施の形態の撮像装置の構成は、第１の実施の形態の撮像装置の構成と同様の回路構成なので、以下必要な場合のみ説明する。
【００２６】
ユーザーモード時の隣接画素間リークの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について図６のフローチャートを用いて説明する。
【００２７】
Ｓ６０１にてダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂ、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂをクリアする。次にＳ６０２にて温度センサ１３９の温度をマイクロプロセッサが使用しているＲＡＭエリアにレジスタとして保持する。次にＳ６０３にて、レジスタに保持した温度センサの値と、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度とを比較して、一定値以上温度の変化があったかどうか判断する。変化が無かった場合はＳ６０６に移る。変化があった場合はＳ６０４にて、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度をレジスタとして保持する。そしてＳ６０５にて、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの規定値を減少させる。次にＳ６０６にて計数手段１４３Ａの値が規定値に達したかどうかを判断し、達していない場合はＳ６０３に移り、達している場合はＳ６０７に移る。次にＳ６０７にて計数手段１４３Ｂの値が規定値に達したかどうかを判断し、達していない場合はＳ６０３に移り、達しているときはＳ６０８に移る。
【００２８】
次にＳ６０８にてダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することで輝度レベルの平均値を算出し、また、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することでダミーレベルの平均値を算出する。次にＳ６０９にて前記平均ダミーレベルを平均輝度レベルで割り算することでリーク補償の過不足をチャンネル別に把握する。前記割り算の結果が正で大きければリーク補償は不足しており、負で大きければリーク補償は過補償となっている。そこでＳ６１０にてリーク補償の過不足を判断し、不足している場合はＳ６１１にてリーク補正量を増やし、過補償となっている場合はＳ６１２にてリーク補正量を減らす。具体的には、図４におけるＡの量を増減することにより、リーク補正量を増減させる。隣接画素間リーク補償が適正量であれば、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂに検出されるダミーリーク量は０のはずであり、不足していれば正のダミーリーク量が検出され、過補償であれば負のダミーリーク量が検出される。リークの量はダミー画素に隣接する画素の輝度レベルに依存するので、本実施例ではダミーリーク量の平均値を、ダミー隣接画素の輝度レベルの平均値で割り算することで、ダミーリーク量を規格化することができる。ＬＴＨとＨＴＨを用いて、隣接画素の輝度レベルがある範囲内にある場合だけ積分しているのは、画面上で飽和しているような明るい部分や、あまりに暗い部分では、ダミーへの漏れ込みの状態が変化して、ダミーリークレベルの平均値を出す上で好ましくないため、積分や計数から除外するようにしている。なお、当該隣接画素間リークはチャンネル別ごとに独立した特性を持っているので、左画面用のリーク量測定手段１６１Ａと右画面用のリーク量測定手段１６１Ｂから読み出された各計測値は、マイクロプロセッサ１４５でチャンネル個別に処理され、補償テーブル１１５Ａと補償テーブル１１５Ｂを変化させるように構成されており、チャンネルごとに独立している。次に、Ｓ６１３にて、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの規定値を最初に設定していた値に戻す。
【００２９】
このような構成を取ることにより、ＣＣＤの温度変化があった場合でも分割して読み出した画像の画質を向上させることができる。
【００３０】
（第３の実施の形態）
マイクロプロセッサ１４５の動作以外の処理は第２の実施例と同じであるため説明を省き、本実施の形態の新規要素のみ説明する。
【００３１】
ユーザーモード時の隣接画素間リークの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について図７のフローチャートを用いて説明する。Ｓ７０１にてダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂ、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂをクリアする。次にＳ７０２にて温度センサ１３９の温度をマイクロプロセッサが使用しているＲＡＭエリアにレジスタとして保持する。次にＳ７０３にて、レジスタに保持した温度センサの値と、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度とを比較して、一定値以上温度の変化があったかどうか判断する。変化が無かった場合はＳ７０６に移る。変化があった場合はＳ７０４にて、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度をレジスタとして保持する。そしてＳ７０５にて、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの規定値を減少させる。次にＳ７０６にて計数手段１４３Ａの値が規定値に達したかどうかを判断し、達していない場合は達するまでＳ７０６の処理を繰り返す。次にＳ７０７にて計数手段１４３Ｂの値が規定値に達したかどうかを判断し、達していない場合は達するまでＳ７０７の処理を繰り返す。次にＳ７０８にてダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することで輝度レベルの平均値を算出し、また、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することでダミーレベルの平均値を算出する。次にＳ７０９にて前記平均ダミーレベルを平均輝度レベルで割り算することでリーク補償の過不足をチャンネル別に把握する。前記割り算の結果が正で大きければリーク補償は不足しており、負で大きければリーク補償は過補償となっている。そこでＳ７１０にてリーク補償の過不足を判断し、不足している場合はＳ７１１にてリーク補正量を増やし、過補償となっている場合はＳ７１２にてリーク補正量を減らす。具体的には、図４におけるＡの量を増減することにより、リーク補正量を増減させる。隣接画素間リーク補償が適正量であれば、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂに検出されるダミーリーク量は０のはずであり、不足していれば正のダミーリーク量が検出され、過補償であれば負のダミーリーク量が検出される。リークの量はダミー画素に隣接する画素の輝度レベルに依存するので、本実施例ではダミーリーク量の平均値を、ダミー隣接画素の輝度レベルの平均値で割り算することで、ダミーリーク量を規格化することができる。ＬＴＨとＨＴＨを用いて、隣接画素の輝度レベルがある範囲内にある場合だけ積分しているのは、画面上で飽和しているような明るい部分や、あまりに暗い部分では、ダミーへの漏れ込みの状態が変化して、ダミーリークレベルの平均値を出す上で好ましくないため、積分や計数から除外するようにしている。なお、当該隣接画素間リークはチャンネル別ごとに独立した特性を持っているので、左画面用のリーク量測定手段１６１Ａと右画面用のリーク量測定手段１６１Ｂから読み出された各計測値は、マイクロプロセッサ１４５でチャンネル個別に処理され、補償テーブル１１５Ａと補償テーブル１１５Ｂを変化させるように構成されており、チャンネルごとに独立している。次にＳ７１３にて、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの規定値を最初に設定していた値に戻す。
【００３２】
このような構成を取ることにより、ＣＣＤの温度変化があった場合でも分割して読み出した画像の画質を向上させることができる。
【００３３】
（第４の実施の形態）
マイクロプロセッサ１４５の動作以外の処理は第２の実施例と同じであるため説明を省き、本実施の形態の新規要素のみ説明する。
【００３４】
ユーザーモード時の隣接画素間リークの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について図８のフローチャートを用いて説明する。Ｓ８０１にてダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂ、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂをクリアする。
【００３５】
次にＳ８０２にて温度センサ１３９の温度をマイクロプロセッサが使用しているＲＡＭエリアにレジスタとして保持する。次にＳ８０３にて、マイクロプロセッサ１４５が保持しているタイマーをセットする。次にＳ８０４にて、レジスタに保持した温度センサの値と、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度とを比較して、一定値以上温度の変化があったかどうか判断する。変化が無かった場合はＳ８０７に移る。変化があった場合はＳ８０５にて、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度をレジスタとして保持する。そしてＳ８０６にてマイクロプロセッサ１４５がセットしたタイマーの規定時間を減少させる。次にＳ８０７にて、マイクロプロセッサ１４５がセットしたタイマーの時間が規定時間を経過したかどうかを判断し、達していない場合はＳ８０４に移り、達している場合はＳ８０８に移る。次にＳ８０８にてダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することで輝度レベルの平均値を算出し、また、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することでダミーレベルの平均値を算出する。次にＳ８０９にて前記平均ダミーレベルを平均輝度レベルで割り算することでリーク補償の過不足をチャンネル別に把握する。前記割り算の結果が正で大きければリーク補償は不足しており、負で大きければリーク補償は過補償となっている。そこでＳ８１０にてリーク補償の過不足を判断し、不足している場合はＳ８１１にてリーク補正量を増やし、過補償となっている場合はＳ８１２にてリーク補正量を減らす。具体的には、図４におけるＡの量を増減することにより、リーク補正量を増減させる。隣接画素間リーク補償が適正量であれば、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂに検出されるダミーリーク量は０のはずであり、不足していれば正のダミーリーク量が検出され、過補償であれば負のダミーリーク量が検出される。リークの量はダミー画素に隣接する画素の輝度レベルに依存するので、本実施例ではダミーリーク量の平均値を、ダミー隣接画素の輝度レベルの平均値で割り算することで、ダミーリーク量を規格化することができる。ＬＴＨとＨＴＨを用いて、隣接画素の輝度レベルがある範囲内にある場合だけ積分しているのは、画面上で飽和しているような明るい部分や、あまりに暗い部分では、ダミーへの漏れ込みの状態が変化して、ダミーリークレベルの平均値を出す上で好ましくないため、積分や計数から除外するようにしている。なお、当該隣接画素間リークはチャンネル別ごとに独立した特性を持っているので、左画面用のリーク量測定手段１６１Ａと右画面用のリーク量測定手段１６１Ｂから読み出された各計測値は、マイクロプロセッサ１４５でチャンネル個別に処理され、補償テーブル１１５Ａと補償テーブル１１５Ｂを変化させるように構成されており、チャンネルごとに独立している。次にＳ８１３にて、マイクロプロセッサ１４５がセットしたタイマーの規定時間を元に戻す。
【００３６】
このような構成を取ることにより、ＣＣＤの温度変化があった場合でも分割して読み出した画像の画質を向上させることができる。
【００３７】
（第５の実施の形態）
マイクロプロセッサ１４５の動作以外の処理は第２の実施例と同じであるため説明を省き、本実施の形態の新規要素のみ説明する。
【００３８】
ユーザーモード時の隣接画素間リークの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について図９のフローチャートを用いて説明する。Ｓ９０１にてダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂ、ダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂ、計数手段１４３Ａ、１４３Ｂをクリアする。
【００３９】
次にＳ９０２にて温度センサ１３９の温度をマイクロプロセッサが使用しているＲＡＭエリアにレジスタとして保持する。次にＳ９０３にて、マイクロプロセッサ１４５が保持しているタイマーをセットする。次にＳ９０４にて、レジスタに保持した温度センサの値と、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度とを比較して、一定値以上温度の変化があったかどうか判断する。変化が無かった場合はＳ９０７に移る。変化があった場合はＳ９０５にて、温度センサ１３９からマイクロプロセッサ１４５が読み出した温度をレジスタとして保持する。そしてＳ９０６にてマイクロプロセッサ１４５がセットしたタイマーの規定時間を減少させる。次にＳ９０７にて、マイクロプロセッサ１４５がセットしたタイマーの時間が規定時間を経過したかどうかを判断し、達していない場合は達するまでＳ９０７の処理を繰り返す。次にＳ９０８にてダミー隣接画素積分手段１３５Ａ、１３５Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することで輝度レベルの平均値を算出し、また、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂの値を計数手段１４３Ａ、１４３Ｂの値でそれぞれ割り算することでダミーレベルの平均値を算出する。次にＳ９０９にて前記平均ダミーレベルを平均輝度レベルで割り算することでリーク補償の過不足をチャンネル別に把握する。前記割り算の結果が正で大きければリーク補償は不足しており、負で大きければリーク補償は過補償となっている。そこでＳ９１０にてリーク補償の過不足を判断し、不足している場合はＳ９１１にてリーク補正量を増やし、過補償となっている場合はＳ９１２にてリーク補正量を減らす。具体的には、図４におけるＡの量を増減することにより、リーク補正量を増減させる。隣接画素間リーク補償が適正量であれば、ダミー積分手段１３３Ａ、１３３Ｂに検出されるダミーリーク量は０のはずであり、不足していれば正のダミーリーク量が検出され、過補償であれば負のダミーリーク量が検出される。リークの量はダミー画素に隣接する画素の輝度レベルに依存するので、本実施例ではダミーリーク量の平均値を、ダミー隣接画素の輝度レベルの平均値で割り算することで、ダミーリーク量を規格化することができる。ＬＴＨとＨＴＨを用いて、隣接画素の輝度レベルがある範囲内にある場合だけ積分しているのは、画面上で飽和しているような明るい部分や、あまりに暗い部分では、ダミーへの漏れ込みの状態が変化して、ダミーリークレベルの平均値を出す上で好ましくないため、積分や計数から除外するようにしている。なお、当該隣接画素間リークはチャンネル別ごとに独立した特性を持っているので、左画面用のリーク量測定手段１６１Ａと右画面用のリーク量測定手段１６１Ｂから読み出された各計測値は、マイクロプロセッサ１４５でチャンネル個別に処理され、補償テーブル１１５Ａと補償テーブル１１５Ｂを変化させるように構成されており、チャンネルごとに独立している。次にＳ９１３にて、マイクロプロセッサ１４５がセットしたタイマーの規定時間を元に戻す。
【００４０】
このような構成を取ることにより、ＣＣＤの温度変化があった場合でも分割して読み出した画像の画質を向上させることができる。
【００４１】
なお、請求項に記載の補正手段は、本発明の実施の形態で説明したリーク補償手段に相当する。また、請求項に記載の変更手段は、本発明の実施の形態で説明したダミー積分手段１３３、ダミー隣接画素積分手段１３５、比較手段１３７、計数手段１４３、マイクロプロセッサ１４５に相当する。また、本発明の本実施の形態ではダミー信号を用いて信号の補正の補償を行ったが、撮像素子からの信号を用いて補正手段を補償するものであれば、他の方法で補償を行っても良い。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本実施の形態が適用される撮像装置を示す図である。
【図２】ＣＣＤエリアセンサの具体例を示す図である。
【図３】出力される画像信号のタイミングを説明する図である。
【図４】ダミー隣接画素からダミー画素への漏れ込みの様子を説明する図である。
【図５】ユーザーモード時の隣接画素間漏れ込みの補償に関するマイクロプロセッサの動作フローチャ−トを示す図である。
【図６】隣接画素間漏れ込みの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について説明する図である。
【図７】隣接画素間漏れ込みの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について説明する図である。
【図８】隣接画素間漏れ込みの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について説明する図である。
【図９】隣接画素間漏れ込みの補償に関するマイクロプロセッサ１４５の動作について説明する図である。
【符号の説明】
【００４３】
１０３  ＣＣＤエリアセンサ
１０７  アナログフロントエンド
１１３Ａ，１１３Ｂ  リーク補償手段
１２３Ａ，１２３Ｂ  リニアリティ補正手段
１２９Ａ，１２９Ｂ  ゲイン補正手段
１３９  温度センサ
１４５  マイクロプロセッサ
１４７  メモリー
１６１Ａ，１６１Ｂ  リーク量測定手段
１６３  フラッシュメモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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