(57)【要約】【課題】ＡＰＣ方式でレーザパワー制御を行う光ディスク装置において、フィードバックループのタイムラグによって再生モードから記録モードへの切り換え時に生じるレーザパワーの不安定化を防止する。【解決手段】パルス発生回路２０は、サンプルホールドパルスS/HとＡＤリクエストパルスADREQについて、通常のＡＰＣ動作時の周期のパルスS/H1,AREQ1とそれより短い周期のパルスS/H2,AREQ2を生成している。パルス切換回路２１は、通常のＡＰＣ動作時には、S/H1とAREQ1をＳ／Ｈ回路８とＡＤ変換回路９にそれぞれ出力するが、再生モードから記録モードへの切り換え直後に実行されるテスト発光期間では、S/H2,AREQ2を出力させて、Ｓ／Ｈ・ＡＤ変換動作を高速化し、また、ＬＰＦ７のカットオフ周波数を高く設定すると共に、補償回路１１の処理も高速化させる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を用いて光ディスクに情報の記録／再生を行う光ディスク装置にあって、前記光ディスクからの反射光を光電変換した信号を検出し、フィルタ手段で前記信号から高周波成分を除去した後、その信号をサンプルホールド手段がサンプルホールドパルスに基づいて一定期間保持し、その保持した信号をＡＤ変換手段がＡＤリクエストパルスに基づいてディジタルデータに変換してレーザパワーモニタ値を求め、そのレーザパワーモニタ値と予め設定された目標値との比較による差分値に応じて生成した制御データを用いて前記レーザ光源の発光光量を制御するフィードバックループを備え、再生モードと記録モードで前記目標値をそれぞれ各モード用の値に切り換えて前記レーザ光源の発光光量を制御し、また、再生モードから記録モードへの切り換え直後に前記レーザ光源をテスト発光信号で駆動させて前記発光光量の制御を実行するレーザパワー制御装置において、
前記フィードバックループが通常速度でレーザパワー制御を実行している状態での周期設定による第１のサンプルホールドパルスと第１のＡＤリクエストパルス、及び前記第１のサンプルホールドパルスより短い周期の有した第２のサンプルホールドパルスと前記第１のＡＤリクエストパルスより短い周期を有した第２のＡＤリクエストパルスを生成するパルス発生手段と、
再生モードから記録モードへ切り換った直後における前記テスト発光信号による駆動状態であることを示す最初のテスト発光領域信号の出力期間では、前記パルス発生手段が生成する前記第２のサンプルホールドパルスと前記第２のＡＤリクエストパルスを、それ以外の期間では、前記第１のサンプルホールドパルスと前記第１のＡＤリクエストパルスを、ぞれぞれ前記サンプルホールド手段と前記ＡＤ変換手段とへ出力させるパルス切換手段と、
前記パルス切換手段が前記第２のサンプルホールドパルスと前記第２のＡＤリクエストパルスを出力させている期間だけ、前記フィルタ手段のカットオフ周波数を高く設定するフィルタ制御手段と
を具備したことを特徴とする光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置。
【請求項２】
前記パルス発生手段が、レーザ光源駆動用の変調信号にｍ＊Ｔ（但し、ｍは３以上の整数、Ｔはピット周期）以上のスペース区間が発生した場合に第１のサンプルホールドパルスを生成し、ｎ＊Ｔ（但し、ｎはｍより小さい整数）以上のスペース区間が発生した場合に第２のサンプルホールドパルスを生成する手段である請求項１に記載の光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置。
【請求項３】
レーザ光を用いて光ディスクに情報の記録／再生を行う光ディスク装置にあって、前記光ディスクからの反射光を光電変換した信号を検出し、フィルタ手段で前記信号から高周波成分を除去した後、その信号をサンプルホールド手段がサンプルホールドパルスに基づいて一定期間保持し、その保持した信号をＡＤ変換手段がＡＤリクエストパルスに基づいてディジタルデータに変換してレーザパワーモニタ値を求め、そのレーザパワーモニタ値と予め設定された目標値との比較による差分値に応じて生成した制御データを用いて前記レーザ光源の発光光量を制御するフィードバックループを備え、再生モードと記録モードで前記目標値をそれぞれ各モード用の値に切り換えて前記レーザ光源の発光光量を制御し、また、再生モードから記録モードへの切り換え直後に前記レーザ光源をテスト発光信号で駆動させて前記発光光量の制御を実行するレーザパワー制御装置において、
前記フィードバックループ中でレーザパワーモニタ値と予め設定された目標値との比較による差分値に応じて制御データを生成する手段と、パルス発生手段と、パルス切換手段と、フィルタ制御手段の各機能をコンピュータに実行させるプログラムであって、
前記パルス発生手段は、前記フィードバックループが通常速度でレーザパワー制御を実行している状態での周期設定による第１のサンプルホールドパルスと第１のＡＤリクエストパルス、及び前記第１のサンプルホールドパルスより短い周期の有した第２のサンプルホールドパルスと前記第１のＡＤリクエストパルスより短い周期を有した第２のＡＤリクエストパルスを生成する手段であり、
前記パルス切換手段は、再生モードから記録モードへ切り換った直後における前記テスト発光信号による駆動状態であることを示す最初のテスト発光領域信号の出力期間では、前記パルス発生手段が生成する前記第２のサンプルホールドパルスと前記第２のＡＤリクエストパルスを、それ以外の期間では、前記第１のサンプルホールドパルスと前記第１のＡＤリクエストパルスを、ぞれぞれ前記サンプルホールド手段と前記ＡＤ変換手段とへ出力させる手段であり、
前記フィルタ制御手段は、前記パルス切換手段が前記第２のサンプルホールドパルスと前記第２のＡＤリクエストパルスを出力させている期間だけ、前記フィルタ手段のカットオフ周波数を高く設定する手段である
ことを特徴とする光ディスク装置におけるレーザパワー制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザを用いて光ディスクに情報の記録／再生を行う光ディスク装置に適用され、特に、ＡＰＣ（Auto Power Control）方式でレーザパワーを制御する光ディスク装置において、再生モードから記録モードへの切り換え時に、レーザパワーの制御にタイムラグがあることに起因して情報の記録品質や最適パワー設定機能に不具合が生じることを防止するためのレーザパワー制御装置及びその制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、光ディスク装置においては、情報記録媒体である光ディスクへ光源であるレーザダイオードからのレーザ光を照射して情報の記録／再生動作を行う際に、ＡＰＣ方式と称されるレーザパワー制御方式が多用されている。
このＡＰＣ方式は、温度変化等に起因して生じるレーザパワーの変動を抑制し、記録／再生モードで常に一定の最適レーザパワーを保たせるものである。
【０００３】
そして、このＡＰＣ方式のレーザパワー制御装置は、一般的に図５に示すような回路構成を備えている。
先ず、レーザダイオード駆動回路（以下、「ＬＤ駆動回路」という）１によって駆動されて発光するレーザダイオード（ＬＤ）２のレーザ光は、ビームスプリッタ３等の光学系を介して光ディスク４上に光スポットを形成する態様で照射され、その反射光がビームスプリッタ３によって光検出器であるフォトダイオード（ＰＤ）５へ導かれ、レーザダイオード２のビームパワーが電流値として検出される。
そのフォトダイオード５の検出電流は電流／電圧変換回路（以下、「Ｉ／Ｖ変換回路」という）６で電圧値に変換され、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）７でその電圧の高周波成分を除去して電圧平均値とした後、サンプルホールド回路（以下、「Ｓ／Ｈ回路」という）８でサンプリングを行い、そのサンプリング値をＡＤ変換回路９でディジタルデータに変換する。
【０００４】
前記電圧平均値のディジタルデータは光パワーモニタ値として比較回路１０へ出力され、比較回路１０では所定の目標値と前記光パワーモニタ値とを比較してその差分を次段の補償回路１１へ出力する。
補償回路１１では比較回路１０から入力された差分値を位相補償してＬＤ駆動回路１に対する制御データＤapcを生成し、そのデータをＤＡ変換回路１２へ出力する。
そして、ＬＤ駆動回路１はＤＡ変換回路１２による変換後の制御信号に基づいてレーザダイオード２の出力パワーを制御するが、前記制御データＤapcは前記差分値を０に収束させるデータとして生成されるため、前記光パワーモニタ値は前記フィードバックループの動作によって前記目標値へ迅速に収斂し、レーザダイオード２の出力パワーは前記目標値に対応するレベルへ制御される。
【０００５】
前記パワー目標値は記録／再生モードでそれぞれ最適ビームパワーを与える値であり、記録／再生切換信号によって選択的に切り換え設定される。（一般的には、記録モードでは再生モードより高いレベル値が設定される。）
また、記録モードでは、変調回路１３からの変調信号に応じたON/OFF信号に基づいてＬＤ駆動回路１がレーザダイオード２を点滅させる。
【０００６】
尚、前記ＡＰＣ方式のレーザパワー制御に関しては、下記特許文献等において、安定した最適レーザパワーを得るための各種対策が多数提案されている。
【特許文献１】特開平８−２８８５８０号公報
【特許文献２】特開平９−２１９０４４号公報
【特許文献３】特開平１１−１３４６９２号公報
【特許文献４】特開２００２−２０３３２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、前記レーザパワー制御回路においては、フォトダイオード５の出力がＡＤ変換されてから、比較回路１０と補償回路１１を介してＤＡ変換されるまでの間に多少のタイムラグが発生する。
また、ＡＰＣ方式ではレーザの温度変化による特性の変化に追従させるだけのレーザパワー制御でよいため、Ｓ／Ｈ回路８でのサンプリング周波数を数百Ｈz以下に低く設定していることが多く、それによって前記タイムラグは更に増大することになる。
【０００８】
その結果、再生モードから記録モードへの切り換え時に前記フィードバックループが正常に機能せず、図６に示すように、切り換え直後の一定期間にレーザダイオード２の発光パワーが不安定化してスパイク状に変化するような場合がある。
そして、その現象は、特に前記切り換え直後における情報の記録品質を低下させると共に、光ピックアップのサーボ機能に影響することもあり、極端な場合にはサーボ制御が不能になる可能性もある。
【０００９】
一方、前記のようにＳ／Ｈ回路８のサンプリング周波数が低いことがタイムラグの一要因となっているため、その周波数を高く設定してＡＤ変換の速度を上げることによって前記切り換え時の過渡特性は改善されることになるが、その場合には、ローパスフィルタ７のカットオフ周波数も高くする必要があり、逆に、ノイズの影響を受けやすくなって発光パワーが安定しなくなる可能性がある。
【００１０】
そこで、本発明は、前記タイムラグが存在していても、再生モードから記録モードへの切り換え時にレーザダイオードを安定的に発光させることができるレーザパワー制御装置及びその制御プログラムを提供することを目的として創作された。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
第１の発明は、レーザ光を用いて光ディスクに情報の記録／再生を行う光ディスク装置にあって、前記光ディスクからの反射光を光電変換した信号を検出し、フィルタ手段で前記信号から高周波成分を除去した後、その信号をサンプルホールド手段がサンプルホールドパルスに基づいて一定期間保持し、その保持した信号をＡＤ変換手段がＡＤリクエストパルスに基づいてディジタルデータに変換してレーザパワーモニタ値を求め、そのレーザパワーモニタ値と予め設定された目標値との比較による差分値に応じて生成した制御データを用いて前記レーザ光源の発光光量を制御するフィードバックループを備え、再生モードと記録モードで前記目標値をそれぞれ各モード用の値に切り換えて前記レーザ光源の発光光量を制御し、また、再生モードから記録モードへの切り換え直後に前記レーザ光源をテスト発光信号で駆動させて前記発光光量の制御を実行するレーザパワー制御装置において、前記フィードバックループが通常速度でレーザパワー制御を実行している状態での周期設定による第１のサンプルホールドパルスと第１のＡＤリクエストパルス、及び前記第１のサンプルホールドパルスより短い周期の有した第２のサンプルホールドパルスと前記第１のＡＤリクエストパルスより短い周期を有した第２のＡＤリクエストパルスを生成するパルス発生手段と、再生モードから記録モードへ切り換った直後における前記テスト発光信号による駆動状態であることを示す最初のテスト発光領域信号の出力期間では、前記パルス発生手段が生成する前記第２のサンプルホールドパルスと前記第２のＡＤリクエストパルスを、それ以外の期間では、前記第１のサンプルホールドパルスと前記第１のＡＤリクエストパルスを、ぞれぞれ前記サンプルホールド手段と前記ＡＤ変換手段とへ出力させるパルス切換手段と、前記パルス切換手段が前記第２のサンプルホールドパルスと前記第２のＡＤリクエストパルスを出力させている期間だけ、前記フィルタ手段のカットオフ周波数を高く設定するフィルタ制御手段とを具備したことを特徴とする光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置に係る。
【００１２】
この発明のレーザパワー制御装置におけるフィードバックループの基本的構成は、図５に示した構成と同様であるが、再生モードから記録モードへの切り換えられた後の最初のテスト発光信号を用いた発光光量の制御に際して、サンプルホールド手段に対するサンプルホールドパルスとＡＤ変換手段に対するＡＤリクエストパルスをそれぞれ通常の制御状態よりも短い周期のパルスに制御し、それに対応してフィルタ手段のカットオフ周波数も高く設定するようになっている。
ここに、テスト発光とは、Blue-Ray規格等で採用されており、光ディスクの所定領域に任意のデータを書き込みながらＡＰＣ方式のレーザパワー制御を行うものである。
この発明によれば、再生モードから記録モードへの切り換え直後に発生するレーザパワーの不安定期間に対して、テスト発光領域信号の出力期間を対応させて、サンプルホールド手段とＡＤ変換手段での処理を高速化し、またフィルタ手段のカットオフ周波数をその期間だけ高くすることにより、タイムラグの少ないフィードバックループでのレーザパワー制御を実行させることができる。
【００１３】
尚、パルス発生手段を、レーザ光源駆動用の変調信号にｍ＊Ｔ（但し、ｍは３以上の整数、Ｔはピット周期）以上のスペース区間が発生した場合に第１のサンプルホールドパルスを生成し、ｎ＊Ｔ（但し、ｎはｍより小さい整数）以上のスペース区間が発生した場合に第２のサンプルホールドパルスを生成する手段として構成すれば、変調信号に同期させながらサンプルホールドパルスの生成確率を制御できる。
【００１４】
第２の発明は、第１の発明におけるフィードバックループ中でレーザパワーモニタ値と予め設定された目標値との比較による差分値に応じて制御データを生成する手段と、パルス発生手段と、パルス切換手段と、フィルタ制御手段の各機能をコンピュータに実行させるプログラムに係る。
前記の各手段の機能については、必ずしも個別にハードウェアで構成する必要はなく、コンピュータによってソフトウェア的に実行させることができる。
その場合、予め必要な設定条件をコンピュータに入力して記憶させておき、プログラムを実行することによって、再生モードから記録モードへの切り換りとテスト発光領域信号を検出させて、サンプルホールドパルスとＡＤリクエストパルスの周期を切り換えることになる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の「光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置及びその制御プログラム」は、前記の構成に基づいて次のような効果を奏する。
ＡＰＣ方式でレーザパワー制御を行う光ディスク装置においては、フィードバックループにおけるタイムラグによって、再生モードから記録モードへの切り換え時にレーザパワーの不安定化を招くが、そのタイムラグの要因となっているサンプルホールド・ＡＤ変換動作をその不安定期間内で高速化し、適正なレーザパワー制御によってデータの記録の低下とサーボエラーの発生を防止する。
また、フィードバックループの前記高速化制御に関連した各構成手段をマイクロコンピュータで構成して、前記効果を実現させるプログラムを提供する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の「光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置及びその制御プログラム」の実施例を図１から図４を用いて詳細に説明する。
各実施例は、図５に示したレーザパワー制御回路のフィードバックループにおいて、フォトダイオード５の検出電流から光パワーモニタ値を得てＬＤ駆動回路１の制御を行うまでのタイムラグに起因して、再生モードから記録モードへの切り換え時にレーザパワーが不安定化する不具合に対処するものであり、テスト発光期間にＡＤ変換回路９に対するＡＤリクエストパルスの周波数とＳ／Ｈ回路８のサンプルホールドパルスの周期を制御することによりその問題を解消している。
【実施例１】
【００１７】
この実施例のレーザパワー制御装置の回路構成は図１に示される。
同図と図５とを比較すれば明らかなように、この実施例装置もＡＰＣ方式の制御を行うものであり、基本的な回路構成は図５と共通している。即ち、この実施例では、パルス発生回路２０とパルス切換回路２１が新たに設けられているが、それ以外の回路部分については図５の場合と同様である。
従って、ここでは図５と共通した部分についての説明を省略することとし、主に、この実施例の特徴部分である前記のパルス発生回路２０とパルス切換回路２１によるテスト発光期間での制御動作について説明する。
尚、この実施例が適用されている光ディスク装置におけるＬＤ２のレーザ光はBlue-Rayであり、光ディスク４はその規格に対応したものであるとする。
【００１８】
先ず、パルス発生回路２０に対してシステム制御部１５からサンプリング関連設定値が入力できるようになっており、その入力値に基づいてパルス発生回路２０はＡＤリクエストパルスであるADREQ1及びADREQ2を生成し、それら２種類のパルスADREQ1,ADREQ2をパルス切換回路２１へ出力する。
ここに、ADREQ1はＡＰＣ方式のレーザパワー制御状態で通常使用されている周波数（数百Ｈz〜数ｋＨz）のパルスであり、ADREQ2はそれよりも高い数百ｋＨz〜数ＭＨzの周波数で発生するパルスとされている。
【００１９】
また、パルス発生回路２０はサンプリング関連設定値と変調回路１３から入力される変調信号をマスク信号として用いることで２種類のサンプルホールドパルス：SH1,SH2を生成してパルス切換回路２１へ出力する。
ここに、SH1はＡＰＣ方式のレーザパワー制御状態で通常使用されているパルスであって、例えば、６Ｔ（但し、Ｔはピット周期）以上のスペース区間が出現した場合に出力され、SH2は２Ｔ以上のスペース区間が出現した場合に出力されるパルスであり、当然にSH2の出現確率がSH1よりも高くなる。
【００２０】
パルス切換回路２１は、前記パルス発生回路２０が出力する２種類のＡＤリクエストパルスADREQ1,ADREQ2及び２種類のサンプルホールドパルスSH1,SH2をそれぞれ切り換えてＡＤ変換回路９とＳ／Ｈ回路８へ出力させる機能を有しており、変調回路１３から得られるテスト発光領域信号と外部から入力される記録／再生切換信号に基づいて各出力パルスの切換を行う。
ここで、「テスト発光領域」とは、Blue-Ray規格の場合の記録フォーマットにおいて、記録単位であるクラスタの先頭部のRun-in領域に設けられたＡＰＣ領域と称される部分であり、正規のデータ記録用の領域ではなく、ＡＰＣのために任意の信号を書き込めるようになっている。
前記の「テスト発光領域信号」はその領域の存在位置を示す信号である。
【００２１】
また、パルス切換回路２１は、前記のＡＤリクエストパルスADREQ1,ADREQ2やサンプルホールドパルスSH1,SH2とは別に、設定値切換信号を生成してＬＰＦ７と補償回路１１に対して出力する機能も有している。
その設定値切換信号は、記録／再生切換信号が“0”（再生モード）から“1”（記録モード）に切り換った後、最初にテスト発光領域信号が“0”から“1”へ変化してテスト発光領域であることが示された時点で“0”から“1”に反転し、そのテスト発光領域信号が“1”にある期間だけ同様に“1”を保つように制御される。
【００２２】
以上の構成に基づいて、このレーザパワー制御装置の動作を図２の信号タイミングチャートを参照しながら説明する。
先ず、APC ON信号が“1”の設定状態（ＡＰＣの動作状態）で、記録／再生切換信号が“0”（再生モード）の時には、パルス切換回路２１がサンプルホールドパルスとしてSH1をＳ／Ｈ回路８へ出力させる。
Ｓ／Ｈ回路８では、SH1が“1”の期間でＬＰＦ７からの出力電圧値をサンプリングし、“0”の期間でホールドするが、前記のようにSH1は変調信号のスペース部の出現に対応して発生せしめられるため、Blue-Ray規格の記録フォーマットではイレースパワーのレベルをサンプリングすることになる。
【００２３】
また、前記と同様にAPC ON信号が“1”の設定状態で、記録／再生切換信号が“0”の時には、パルス切換回路２１がＡＤリクエストパルスとしてADREQ1をＡＤ変換回路９へ出力させる。
ＡＤ変換回路９では、そのADREQ1のパルス入力がある度に、その時点でＳ／Ｈ回路８がホールドしている出力電圧値をディジタルデータに変換し、それを光パワーモニタ値として比較回路１０へ出力させる。
従って、この状態ではフィードバックループによるレーザパワー制御が数百Ｈz〜数ｋＨz程度のサイクルで実行されることになり、通常の温度変化によるレーザの特性変動に対応した制御動作が行われる。
【００２４】
次に、記録／再生切換信号が“0”から“1”に切り換って記録モードが設定されると、最初にテスト発光領域信号が“0”から“1”へ変化した時点で、パルス切換回路２１は、サンプルホールドパルスとしてSH2をＳ／Ｈ回路８へ、ＡＤリクエストパルスとしてADREQ2をＡＤ変換回路９へそれぞれ出力させる。
また、パルス切換回路２１は、その時点で設定値切換信号も“0”から“1”に反転させ、ＬＰＦ７の特性を高速制御対応のカットオフ周波数（数ＭＨz）又はスルーモードに切り換えると共に、補償回路１１のループフィルタ特性も高速制御対応の定数に切り換える。
【００２５】
その結果、レーザパワー制御は数百ｋＨz〜数ＭＨz程度のサイクルの高速フィードバックモードで実行することが可能になり、レーザパワーを目標値へ極めて短時間で収束させることができる。
即ち、図６に示した発光パワーの不安定期間に相当する期間にテスト発光領域を利用した高速フィードバック処理によって、目標値へのレーザパワー制御を迅速に実行させることができる。
ところで、高速フィードバックモードではＡＤ変換回路９が高速動作状態になり、そのＡＤ変換回路９をレーザパワー制御以外の他のモジュールと共用しているような場合には、それらの共用モジュールによるＡＤ変換回路９へのアクセスを禁止する必要があるが、この実施例においては、前記の設定値切換信号を他の共用モジュールに対するホールド信号として用い、その期間はＡＤ変換回路９へアクセスせずに、前値ホールド状態に設定する処理を行わせている。
【００２６】
その後、前記の最初のテスト発光領域が終了するとテスト発光領域信号が“1”から“0”へ戻るが、それに基づいて、パルス切換回路２１はサンプルホールドパルスをSH2からSH1に、ＡＤリクエストパルスをADREQ2からADREQ1にそれぞれ切り換えて元に戻す。
また、パルス切換回路２１は、設定値切換信号も“1”から“0”に戻して、ＬＰＦ７のカットオフ周波数と補償回路１１のループフィルタ特性を通常のレーザパワー制御状態に戻す。
尚、以降において記録／再生切換信号の“1”（記録モード）が継続している限り、テスト発光領域信号が“1”になっても、SH1とADREQ1はそのまま維持される。
【００２７】
従って、最初のテスト発光領域が終了した後は通常のレーザパワー制御がなされるが、その時点では既にレーザパワーが目標値に収束せしめられると共に、メインデータの記録が開示される前にはレーザパワーも安定しており、その状態で適正な記録を行えることになる。
【実施例２】
【００２８】
前記の実施例１（図１の回路構成）ではハードウェアの構成で記録／再生モードの切り換え時におけるレーザパワーの制御を実行しているが、この実施例はその主要制御部分をマイクロコンピュータ回路（以下、「マイコン回路」という）に置き換えて、ソフトウェア的に制御を実行させるものである。
この実施例のレーザパワー制御装置の回路構成は図３に示される。
同図と図１とを比較すれば明らかなように、この実施例の装置では、図１における比較回路１０と補償回路１１とパルス発生回路２０とパルス切換回路２１の部分がマイコン回路３０で構成されているが、他の回路部分については図１の場合と同様である。
ここで、マイコン回路３０はＣＰＵ３１とＲＯＭ３２とＲＡＭ３３とＩ／Ｏポート３４からなる一般的な回路構成からなり、図３の前記各回路１０，１１，２０，２１が担っている機能の動作手順をプログラムとしてＲＯＭ３２に格納している。
そして、ＣＰＵ３１がそのプログラムを実行することにより、実施例１の装置と同様の制御が行われる。
以下、図４のフローチャートを参照しながら、この実施例装置によるレーザパワー制御手順を説明する。
先ず、次の各種設定値をＩ／Ｏポート３４から入力する。
即ち、実施例１において補償回路１１に対して入力したループ特性を決定するゲイン等に相当する設定値と、パルス発生回路２０に入力したサンプルホールドパルスSH1，SH2の出力条件及びＡＤリクエストパルスADREQ1，ADREQ2の周期設定値と、比較回路１０に入力した目標値に相当する記録モード用及び再生モード用の設定値とを入力し、それぞれを予めＲＡＭ３３の所定領域に格納しておく（S1〜S4）。尚、前記の各設定値やデータの入力順序は特に問わない。
【００２９】
前記の各入力が完了した後、サンプルホールドパルスはSH1の出力状態に、ＡＤリクエストパルスはADREQ1の出力状態にし、Ｉ／Ｏポート３４に入力されているAPC ON信号をＯＮとしてＡＰＣ方式のレーザパワー制御状態にすると共に、ＬＤ２を再生モードでＯＮ設定する（S1〜S6）。
ここで、再生モードでＬＤ２を起動させるのは、ＯＮ設定時の過電流によってレーザ破壊等を生じないようにするためである。
【００３０】
その後、記録／再生切換信号が“0”から“1”へ変化したか否かを監視し、“0”（再生モード）のままであった場合はそのまま監視状態を継続するが、“1”への反転を検出することで記録モードになったことを確認する（S7）。
そして、記録モードになった場合は、直ちにテスト領域発光信号が“0”から“1”に切り換ったか否かを確認する（S7→S8）。
【００３１】
テスト領域発光信号が“1”になると、Ｓ／Ｈ回路８に対するサンプルホールドパルスの出力状態をSH1からSH2に、ＡＤ変換回路９に対するＡＤリクエストパルスの出力状態をADREQ1からADREQ2にそれぞれ変更する（S8,S9）。
また、ホールド信号を出力させることにより、レーザパワー制御以外のモジュールがＡＤ変換回路９をアクセスしてしまうことを防止すると共に、それらモジュールが前値ホールド状態を保つようにする（S10）。
更に、ＡＰＣのフィードバックループが高速モードになるように、ゲイン等の設定値を切り換える（S11）。
尚、ステップS9〜S11の処理は同時に行う。
【００３２】
従って、実施例１の場合と同様に、再生モードから記録モードへ切り換った際の発光パワーの不安的期間において、テスト発光領域を利用した高速フィードバック処理でレーザパワー制御を行うことにより、短時間でレーザパワーを目標値へ収束させることができる。
【００３３】
テスト発光領域信号が“0”に戻ると、サンプルホールドパルスはSH1へ、ＡＤリクエストパルスはADREQ1へ戻され（S13）、他のモジュールによるＡＤ変換回路９に対するアクセスの禁止を解除し、更にゲイン等の設定値も元に戻してＡＰＣのフィードバックループを通常モードに戻す（S13〜S15）。
また、それらの復旧処理に係るステップS13〜S15も同時に行う。
そして、その状態でデータの記録が実行されることになるが、記録モードが設定された後の最初のテスト領域発光信号の“1”が得られている期間だけ前記の高速フィードバック処理を行うようにし、第２番目以降のテスト発光領域信号が得られても無視して通常のレーザパワー制御をそのまま継続する。
【００３４】
以降、記録／再生切換信号によって再生モードに切り換えられて、再び記録モードが設定される度に、前記のステップS8〜S15の処理を繰り返して実行する（S16→S7,S8〜S15）。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】実施例１に係る光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置のブロック回路図である。
【図２】実施例１におけるレーザパワー制御動作を説明するための信号タイミングチャートである。
【図３】実施例２に係る光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置のブロック回路図である。
【図４】実施例２におけるレーザパワー制御手順を示すフローチャートである。
【図５】従来技術に係る光ディスク装置におけるレーザパワー制御装置のブロック回路図である。
【図６】従来装置によるＡＰＣ実行時における問題点を示す信号タイミングチャートである。
【符号の説明】
【００３６】
１…レーザダイオード駆動回路、２…レーザダイオード、３…ビームスプリッタ、４…光ディスク、５…フォトダイオード、６…電流／電圧変換回路、７…ローパスフィルタ、８…サンプルホールド回路、９…ＡＤ変換回路、１０…比較回路、１１…補償回路、１２…ＤＡ変換回路、１３…変調回路、２０…パルス発生回路、２１…パルス切換回路、３０…マイクロコンピュータ回路、３１…ＣＰＵ、３２…ＲＯＭ、３３…ＲＡＭ、３４…Ｉ／Ｏポート、ADREQ1,ADREQ2…ＡＤリクエストパルス、SH1,SH2…サンプルホールドパルス。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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