(57)【要約】【課題】  光ファイバを使用した光ファイバ通信線路の媒体の状態を確認するための試験に適用する光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法を提供する。【解決手段】  光ファイバ通信線路の端部に接続されて通信光６，７とは異なる波長の試験光８，１３を光ファイバ１１に入射し、反射してきた試験光８，１３を検出することにより光ファイバ通信線路の試験を行う試験装置５，１５と、通信光６，７の波長に遮断特性を有し、かつ試験光８，１３の波長に透過特性を有する光フィルタ１２と、を備え、光ファイルタ１２によって試験装置５，１５に試験光８，１３のみを入射させる。【選択図】      図１
2005221388.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバを伝送媒体とする通信光により通信を行うための光ファイバ通信線路の試験システムであって、
前記光ファイバ通信線路の端部に接続されて前記通信光とは異なる波長の試験光を前記光ファイバに入射し、反射してきた前記試験光を検出することにより該光ファイバ通信線路の試験を行う試験装置と、
前記通信光の波長に遮断特性を有し、かつ前記試験光の波長に透過特性を有する光フィルタと、を備え、
前記光ファイルタによって前記試験装置に前記試験光のみを入射させることを特徴とする光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項２】
前記光ファイバ通信線路は、
ＰＤＳ方式による通信網を構成していることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項３】
前記試験装置は、
前記光ファイバ通信線路の両端部にそれぞれ接続され、それぞれの該試験装置が射出する前記試験光の波長が互いに異なることを特徴とする請求項１または２のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項４】
前記光フィルタは、
グレーティングフィルタであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項５】
前記光フィルタは、
前記光ファイバのファイバーグレーティングにより構成されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項６】
前記光フィルタは、
前記通信光の波長と前記試験光の波長との光損失差をすくなくとも２０ｄＢ〜３０ｄＢの範囲で有することを特徴とする請求項４または５のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項７】
前記通信光の波長は、
１．３１μｍと１．５５μｍの２種類の前記波長が使用されていることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項８】
前記試験光の波長は、
１．６００μｍ〜１．６３０μｍの波長帯の前記波長が使用されていることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項９】
前記試験光の波長は、
１．６５μｍと１．６２５μｍの２種類の前記波長が使用されていることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項１０】
前記試験装置は、
該試験装置と反対側端部に接続された試験装置から前記試験光が射出されていないことを確認したのちに前記試験を開始することを特徴とする請求項３〜９のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験システム。
【請求項１１】
光ファイバを伝送媒体とする通信光により通信を行うための光ファイバ通信線路の試験方法であって、
前記光ファイバ通信線路の端部に接続されて前記通信光とは異なる波長の試験光を前記光ファイバに入射し、反射してきた前記試験光を検出することにより該光ファイバ通信線路の試験を行う試験装置により反射してきた前記試験光を検出し、
前記通信光の波長に遮断特性を有し、かつ前記試験光の波長に透過特性を有する光フィルタによって前記試験装置に前記試験光のみを入射させ試験を行うことを特徴とする光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１２】
前記光ファイバ通信線路は、
ＰＤＳ方式による通信網を構成していることを特徴とする請求項１１に記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１３】
前記試験装置は、
前記光ファイバ通信線路の両端部にそれぞれ接続され、それぞれの該試験装置が射出する前記試験光の波長が互いに異なることを特徴とする請求項１１または１２のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１４】
前記光フィルタは、
グレーティングフィルタであることを特徴とする請求項１１〜１３のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１５】
前記光フィルタは、
前記光ファイバのファイバーグレーティングにより構成されていることを特徴とする請求項１１〜１３のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１６】
前記光フィルタは、
前記通信光の波長と前記試験光の波長との光損失差をすくなくとも２０ｄＢ〜３０ｄＢの範囲で有することを特徴とする請求項１４または１５のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１７】
前記通信光の波長は、
１．３１μｍと１．５５μｍの２種類の前記波長が使用されていることを特徴とする請求項１１〜１６のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１８】
前記試験光の波長は、
１．６５μｍと１．６２５μｍの２種類の前記波長が使用されていることを特徴とする請求項１１〜１７のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項１９】
前記試験光の波長は、
１．６００μｍ〜１．６３０μｍの波長帯の前記波長が使用されていることを特徴とする請求項１１〜１７のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【請求項２０】
前記試験装置は、
該試験装置と反対側端部に接続された試験装置から前記試験光が射出されていないことを確認したのちに前記試験を開始することを特徴とする請求項１３〜１９のいずれかに記載の光ファイバ通信線路の試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバを使用した光ファイバ通信線路の媒体の状態を確認するための試験に適用する光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来において、光に変換した信号を送信する側の局内装置側と、局内装置側から送信された光を受信する側の端末装置側との間を、光ファイバにより接続し、この光ファイバを通信媒体とした光ファイバ通信線路が構成され通信に利用されている。このような光ファイバによる構成の光ファイバ通信線路において、端末装置側から光ファイバ通信線路を試験するために試験光を入射し、媒体である光ファイバを含む光ファイバ通信線路の試験が行なわれている。
【０００３】
この光ファイバ通信線路の試験では、端末装置側へ光ファイバを接続するための光コネクタの近傍において、局内装置側からの試験光を遮断あるいは反射するための光フィルタが装備されており、このため端末装置側から送信する試験光の波長と局内装置側から送信する試験光とを同一の波長にしている。またあるいは、こうした試験光に代えて信号を送信するための通信光と同一の波長を使用している。
【０００４】
なお、端末装置側の光コネクタ近傍に設置されている誘電体多層膜を使用した光フィルタ（誘電体多層膜フィルタ）の波長別の遮断特性は、通信光として使用する波長と、試験光として使用する波長の間の領域において、試験光の遮断量が漸近的に増加する特性を備えている。（特許文献１参照）
【特許文献１】公開特許公報：「特開２００３−００４５８７号公報」
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来技術による光ファイバ通信線路の試験においては、光ファイバを使用した光ファイバ通信線路に対して端末装置側から試験光を入射して媒体試験を行う場合、端末装置側の光コネクタ近傍に局内装置側からの試験光を遮断もしくは反射するためのフィルタが装着されている。そのため、局内装置側からの試験光と同一の波長の試験光を使用している。端末装置側から入射した試験光がフィルタにより遮断されてしまうので、局内装置側へ向けて十分な量の試験光を光ファイバ通信線路に入射できないので、光ファイバ通信線路の媒体試験の実施が難しかった。
【０００６】
また、通信光の波長は、１．３１μｍと１．５５μｍの２種類の波長が使用されているが、端末装置側から入射する試験光に通信光と同一の波長を用いると、試験光に通信光が干渉してしまい、所定の試験結果が得られなかった。
【０００７】
また、通信光に試験光が干渉して通信品質に影響を及ぼす可能性もあり、通信光と同一の波長を試験光として使用することは難しかった。
【０００８】
また、波長が１．３１μｍ未満の波長帯、および１．３１μｍと１．５５μｍの間の波長帯においては、光ファイバ中のレーリー散乱（透明な物質に光線を入射させると、直角方向に散乱光（入射光と全く同じ光）が放出される散乱。）による光レベル損失が大きいので、１．３１μｍと１．５５μｍの間の波長帯を端末装置側からの試験光として使用することは難しかった。
【０００９】
また、１．５５μｍと１．６５μｍの間の波長帯について、端末装置側に適用している光フィルタが誘電体多層膜を使用しているものである場合、１．５５μｍと１．６５μｍの間の波長帯での光フィルタによる光レベル損失が１．６５μｍから１．５５μｍにかけて漸近的に減少してしまう。このため、たとえ１．５５μｍと１．６５μｍの間の波長帯の波長の試験光を端末装置側から局内装置側へ入射しても、十分なパワーレベルの試験光を光ファイバ通信線路に入射できず、光ファイバ通信線路の状態を試験することが難しかった。
【００１０】
また、１．５５μｍと１．６５μｍの間の波長帯において、１．５５μｍ近傍の波長を試験光として光ファイバ通信線路に入射すると、十分なパワーレベルの試験光を光ファイバ通信線路に入射できるものの、同時に通信光と干渉してしまうので情報の伝送品質に影響を及ぼす可能性もあり、１．５５μｍ近傍の波長の光を試験光として使用することは難しかった。
【００１１】
また、１．６５μｍ以上の波長帯の光を試験光に用いることは、その波長帯に適応した規格の光学素子の入手が難しく、試験の実施に適用するには経済的な面や入手の困難さの面で難しかった。
【００１２】
このような課題に鑑み、本発明は、端末装置と局内装置が通信を行っている状態であっても伝送品質に影響を与えることなく、端末装置側から試験光を入射することにより、光ファイバを使用した光ファイバ通信線路の状態を確認することができ、また、ＰＤＳ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｄｏｕｂｌｅ  Ｓｔａｒ）方式の通信システムにおいては、同一スプリッタに収容された他の回線の伝送品質に影響を与えることなく光ファイバ通信線路の媒体試験を実施可能な光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
請求項１に記載の本発明は、光ファイバを伝送媒体とする通信光により通信を行うための光ファイバ通信線路の試験システムであって、前記光ファイバ通信線路の端部に接続されて前記通信光とは異なる波長の試験光を前記光ファイバに入射し、反射してきた前記試験光を検出することにより該光ファイバ通信線路の試験を行う試験装置と、前記通信光の波長に遮断特性を有し、かつ前記試験光の波長に透過特性を有する光フィルタと、を備え、前記光ファイルタによって前記試験装置に前記試験光のみを入射させる。
【００１４】
また、請求項２に記載の本発明は、請求項１において、前記光ファイバ通信線路は、ＰＤＳ方式による通信網を構成している。
【００１５】
また、請求項３に記載の本発明は、請求項１または２のいずれかにおいて、前記試験装置は、前記光ファイバ通信線路の両端部にそれぞれ接続され、それぞれの該試験装置が射出する前記試験光の波長が互いに異なる。
【００１６】
また、請求項４に記載の本発明は、請求項１〜３のいずれかにおいて、前記光フィルタは、グレーティングフィルタである。
【００１７】
また、請求項５に記載の本発明は、請求項１〜３のいずれかにおいて、前記光フィルタは、前記光ファイバのファイバーグレーティングにより構成されている。
【００１８】
また、請求項６に記載の本発明は、請求項４または５のいずれかにおいて、前記光フィルタは、前記通信光の波長と前記試験光の波長との光損失差をすくなくとも２０ｄＢ〜３０ｄＢの範囲で有する。
【００１９】
また、請求項７に記載の本発明は、請求項１〜６のいずれかにおいて、前記通信光の波長は、１．３１μｍと１．５５μｍの２種類の前記波長が使用されている。
【００２０】
また、請求項８に記載の本発明は、請求項１〜７のいずれかにおいて、前記試験光の波長は、１．６００μｍ〜１．６３０μｍの波長帯の前記波長が使用されている。
【００２１】
また、請求項９に記載の本発明は、請求項１〜７のいずれかにおいて、前記試験光の波長は、１．６５μｍと１．６２５μｍの２種類の前記波長が使用されている。
【００２２】
また、請求項１０に記載の本発明は、請求項３〜９のいずれかにおいて、前記試験装置は、該試験装置と反対側端部に接続された試験装置から前記試験光が射出されていないことを確認したのちに前記試験を開始する。
【００２３】
また、請求項１１に記載の本発明は、光ファイバを伝送媒体とする通信光により通信を行うための光ファイバ通信線路の試験方法であって、前記光ファイバ通信線路の端部に接続されて前記通信光とは異なる波長の試験光を前記光ファイバに入射し、反射してきた前記試験光を検出することにより該光ファイバ通信線路の試験を行う試験装置により反射してきた前記試験光を検出し、前記通信光の波長に遮断特性を有し、かつ前記試験光の波長に透過特性を有する光フィルタによって前記試験装置に前記試験光のみを入射させ試験を行う。
【００２４】
また、請求項１２に記載の本発明は、請求項１１において、前記光ファイバ通信線路は、ＰＤＳ方式による通信網を構成している。
【００２５】
また、請求項１３に記載の本発明は、請求項１１または１２のいずれかにおいて、前記試験装置は、前記光ファイバ通信線路の両端部にそれぞれ接続され、それぞれの該試験装置が射出する前記試験光の波長が互いに異なる。
【００２６】
また、請求項１４に記載の本発明は、請求項１１〜１３のいずれかにおいて、前記光フィルタは、グレーティングフィルタである。
【００２７】
また、請求項１５に記載の本発明は、請求項１１〜１３のいずれかにおいて、前記光フィルタは、前記光ファイバのファイバーグレーティングにより構成されている。
【００２８】
また、請求項１６に記載の本発明は、請求項１４または１５のいずれかにおいて、前記光フィルタは、前記通信光の波長と前記試験光の波長との光損失差をすくなくとも２０ｄＢ〜３０ｄＢの範囲で有する。
【００２９】
また、請求項１７に記載の本発明は、請求項１１〜１６のいずれかにおいて、前記通信光の波長は、１．３１μｍと１．５５μｍの２種類の前記波長が使用されている。
【００３０】
また、請求項１８に記載の本発明は、請求項１１〜１７のいずれかにおいて、前記試験光の波長は、１．６５μｍと１．６２５μｍの２種類の前記波長が使用されている。
【００３１】
また、請求項１９に記載の本発明は、請求項１１〜１７のいずれかにおいて、前記試験光の波長は、１．６００μｍ〜１．６３０μｍの波長帯の前記波長が使用されている。
【００３２】
また、請求項２０に記載の本発明は、請求項１３〜１９のいずれかにおいて、前記試験装置は、該試験装置と反対側端部に接続された試験装置から前記試験光が射出されていないことを確認したのちに前記試験を開始する。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によれば、端末装置と局内装置が通信を行っている状態であっても伝送品質に影響を与えることなく、端末装置側から試験光を入射することにより、光ファイバを使用した光ファイバ通信線路の状態を確認することができ、また、ＰＤＳ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｄｏｕｂｌｅ  Ｓｔａｒ）方式の通信システムにおいては、同一スプリッタに収容された他の回線の伝送品質に影響を与えることなく光ファイバ通信線路の媒体試験を実施可能な光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
＜第１の実施の形態＞
本発明の光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法が適用されるのに好適な試験として、例えば「ＪＩＳ  Ｃ  ６８２３：（光ファイバ損失試験法）」が挙げられる。この光ファイバ損失試験法のうち、特にはＯＴＤＲ法（パルス試験法：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）を説明のための前提としている。このＯＴＤＲ法による試験は、光ファイバの一端より光を入射し、その後に反射してきた光のパワー値を測定して、当該光ファイバーの損失を知る方法である。
【００３５】
光の反射が発生する要因としては、光ファイバの材料に固有に存在するレーリー散乱や、あるいは光ファイバの接続部および破断点から生じるフレネル反射などが知られている。こうした反射を利用した測定方法であるＯＴＤＲ法においては、光ファイバ内の伝搬速度や光ファイバの後方散乱作用に影響されて、光ファイバの損失を正確に測定できない可能性もある。この可能性を最小限度にし、正確な損失測定の試験を行うための方法として、測定対象の光ファイバの両端部からそれぞれ試験を行う。この両端部として、たとえば局内側伝送装置と端末側伝送装置との関係などが該当し、局内側伝送装置と端末側伝送装置の両方からそれぞれ試験を実施する。
【００３６】
こうして得られた両端部それぞれの測定値である後方散乱値を記録し、この２つの後方散乱値を平均化して数値を求めることにより、より正確な光ファイバの損失測定を実施することが可能になる。
【００３７】
図１に示すのは、本発明の光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法の第１の実施の形態に係る、光ファイバ通信線路の試験システムを説明するための構成図を示している。この図１には、情報を光信号に変換して送出あるいは光信号を受光するための局内側伝送装置１と、光ファイバ通信線路を試験するための局内側試験装置５と、光信号の媒体となる光ファイバ１１と、試験のための光を遮断するための試験光遮断フィルタ１２と、局内側伝送装置１から送出された光信号を受光あるいは光信号を送出するための端末側伝送装置１４と、光ファイバ通信線路を試験するための端末側試験装置１５とが示されており、また、光信号である下り方向通信光６と上り方向通信光７と、試験のための光信号である試験光８と、端末側試験装置試験光１３とが示され、光ファイバ通信線路および試験システムを構成している。
【００３８】
また、光ファイバ１１を接続するための光カプラ９と、光ファイバ１１を分岐するための光スプリッタ１０と、光ファイバ１１を局内伝送装置１や端末側伝送装置１４に接続するための光コネクタ２０と、が示されている。
【００３９】
図１に示すように、光ファイバ通信線路の光媒体としてＳＭ型光ファイバ（ｓｉｎｇｌｅ  ｍｅｄｉｕｍ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｆｉｂｅｒ）１１（以下、光ファイバ１１と記載）を使用している。この光ファイバ１１には光信号として、下り方向通信光６と、上り方向通信光７と、試験光８と、端末側試験装置試験光１３とが入射され通っている。
【００４０】
下り方向通信光６として、局内側伝送装置（局内装置）１から端末側伝送装置１４に向けて１．５５±０．０３μｍの波長の光を使用している。また、端末側伝送装置１４から局内側伝送装置１に向かう方向の上り方向通信光７として、１．３１±０．０３μｍの波長を使用している。また、局内側試験装置５からの試験光８として、１．６５±０．０１μｍの波長を使用している。
【００４１】
これらの３種類の波長の光を使用したＰＤＳ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｄｏｕｂｌｅ  Ｓｔａｒ）方式の光ファイバ通信線路において、端末側伝送装置１４および端末側試験装置１５に光ファイバ１１を接続するための光コネクタ２０が設けられ、この光コネクタ２０の局内側伝送装置１側にはそれぞれ試験光遮断フィルタ１２が配置されている。
【００４２】
この試験光遮断フィルタ１２は、その特性として１．６４μｍから１．６６μｍの波長帯を遮断する。さらに、１．６５±０．０１μｍの任意の波長における任意の１点と１．５５±０．０３μｍの任意の波長における任意の１点との比較において、比較対象となるこれら２点同士の光レベル損失差が２０ｄＢ以上である。
【００４３】
また、この試験光遮断フィルタ１２は、図３に示す波長別光遮断量２５に参照されるように、１．６５±０．０１μｍの任意の１点と１．６２５μｍの波長における光レベルの損失差が２０ｄＢ以上となる特性を示すグレーティングフィルタである。この試験光遮断フィルタ１２は波長別光遮断量２５において、試験光遮断フィルタとして一点鎖線で示されており、１．６５μｍ（１６５０ｎｍ）付近で約３０ｄＢ程度の遮断量の遮断特性を示す。この遮断量はおおむね２０ｄＢ〜３０ｄＢ程度の遮断特性を示すグレーティングフィルタを用いることが好ましい。さらに、この試験光遮断フィルタ１２は１．６２５μｍ（１６２５ｎｍ）付近ではほとんど光の遮断特性を示さない。
【００４４】
また、この波長別光遮断量２５には、本発明の理解を容易にするために多層膜による試験光遮断フィルタ（点線で示す）と通信光遮断フィルタ（実線で示す）の光の遮断特性も併記した。多層膜による試験光遮断フィルタは通信光帯域の１．５５μｍ付近では遮断特性を示さず、１．６μｍ付近から１．６５μｍへ向けて漸増する遮断特性を示す。また、通信光遮断フィルタは１．５５μｍ付近の帯域で良好な光の遮断特性を示し、１．６μｍへ向けて漸減する特性を示す。
【００４５】
こうした特性のグレーティングフィルタにより構成される試験光遮断フィルタ１２を、端末側伝送装置１４と端末側試験装置１５に光ファイバ１１が接続される部分それぞれ設置する。この試験光遮断フィルタ１２の設置部分は、光ファイバ１１の先端部に設けられた光コネクタ２０の手前に設けるのが好ましい。こうして試験光遮断フィルタ１２が設けられた光ファイバ１１に対して、端末側試験装置１５からこの光ファイバ１１に出力される試験用の光として、１．６２５μｍの波長の光である端末側試験装置試験光１３を使用する。
【００４６】
また、図２には、本発明の光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法の実施の形態に係る、局内側伝送装置を説明するための構成図である。この局内側伝送装置１に備わり光信号を受光して電気信号に変換するための受光素子２と、および同様に局内側伝送装置１に備わり電気信号を光信号に変換して送出するための発光素子３と、ＷＤＭ（Ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  Ｄｉｖｉｓｉｏｎ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ）カプラ４と、戻り反射を防ぐためのアイソレータ２１とが示されている。
【００４７】
すでに示した図１と、および図２とを参照して、局内伝送装置１における１．３１μｍ帯の受光素子２の手前には、ＷＤＭカプラ４が配置されており、１．３１μｍよりも長い波長の光を十分な量だけ遮断するフィルタ特性を生じている。このようなフィルタ特性により、受光素子２で受光した上り方向通信光７の１．３１μｍの波長に対して、１．６２５μｍの波長の端末側試験装置試験光１３が与える影響を回避している。端末側試験装置１５から、光ファイバ１１の損失を測定するためのＯＴＤＲ法による試験を行い、この試験光として端末側試験装置試験光１３を使用しても、その波長が１．６２５μｍであることから、上り方向通信光７に対してはＷＤＭカプラ４により１．３１μｍの上り方向通信光７のみを選択的に受光素子２へ導いている。
【００４８】
よって、１．６２５μｍの波長を心線の対照試験もしくはＯＴＤＲ法の試験による試験光として使用することにより、１．３１±０．０３μｍと１．５５±０．０３μｍの双方の波長の通信光に影響を及ぼすことなく、端末側試験装置１５から光ファイバ芯線の対照試験もしくはＯＴＤＲ法による試験を可能としている。
【００４９】
さらに、端末側試験装置１５から入射する１．６２５μｍの波長の端末側試験装置試験光１３を受光する局内側試験装置５に対して、１．５５μｍの波長の通信光を遮断するための光フィルタを設置すれば、光ファイバ通信線路の光パワー損失等の線路状態を確認するＯＴＤＲ法による試験を行うこともできる。
【００５０】
一方、局内側試験装置５から行うＯＴＤＲ法による試験において、１．６５±０．０１μｍの波長を使用した試験も行うことができる。この場合は、試験光遮断フィルタ１２が１．５５μｍの波長や１．３１μｍの光を急峻に遮断するので、選択的に１．６５μｍの波長の試験光８が端末側試験装置１５へ入射するからである。これら、一連の試験において、ＰＤＳ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｄｏｕｂｌｅ  Ｓｔａｒ）方式の通信システムでは、同一スプリッタに収容された他の光通信回線の伝送品質に影響を与えることなく、光ファイバ通信線路における媒体試験を実施することができる。
【００５１】
＜第２の実施の形態＞
すでに示した図１において、局内側試験装置５と端末側試験装置１５が同時に試験光を送出すると、互いの試験システムに影響が生じ、正確な試験を実施することの妨げとなる可能性があり、たとえば、第１の実施の形態で説明したＯＴＤＲ法によりパルス試験を行う際は、局内側試験装置５と端末側試験装置１５とで互いに同時に試験パルス光を送出しないようにする必要がある。
【００５２】
そこで、局内側試験装置５によって試験を行う場合には、試験の実行開始前に局内側試験装置５に対して、端末側試験装置１５から射出された端末側試験装置試験光１３が入射していないことを検出して確認し、その後に局内側試験装置５により試験を開始する。この検出手段として、局内側試験装置５に備わる図示しない受光手段により端末側試験装置試験光１３の検出を行い、この検出結果により確認してもよい。また、同様に、端末側試験装置１５によって試験を行う場合も、試験の実行開始前に試験光８が入射していないことを検出して確認し、その後に端末側試験装置１５による試験を開始する。
【００５３】
なお、以上説明した本発明の第１と第２の実施の形態において、試験光遮断フィルタ１２の代わりに、ファイバーグレーティング（ＦＢＧ（Ｆｉｂｅｒ  Ｂｒａｇｇ  Ｇｒａｔｉｎｇ  光ファイバー回折格子（グレーティング）：光ファイバーのコア部分に波長オーダ（〜１ミクロン）周期の屈折率変化を与えたもので、鋭い波長選択反射特性をもつデバイス。）を用いてもよい。
【００５４】
このファイバーグレーティングを用いることにより、上り方向通信光７や下り方向通信光６などの通信光と局内側試験装置５からの試験光８との間の関係において、それぞれの波長に対する光フィルタ特性の波長別の光レベル遮断量が、局内側試験装置５からの試験光８の波長帯近傍でのみ大きく、かつ通信光の波長帯に向かうにつれて局内側試験装置５からの試験光８の波長帯近傍で急激に低下させることができる。
【００５５】
よって、通信光と局内側試験装置５からの試験光８の間の波長帯で、通信光から十分に離れ、かつ光レベル損失が十分に小さな波長を、端末側試験装置１５からの端末側試験装置試験光１３として入射することによって、端末側試験装置１５に局内側試験装置５からの試験光８を入射するための光フィルタが設置されている光ファイバ通信線路の設備であっても、通信光に影響を与えることなく所定の線路状態の試験が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法の実施の形態に係る、光ファイバ通信線路の試験システムを説明するための構成図を示す。
【図２】本発明の光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法の実施の形態に係る、局内側伝送装置を説明するための構成図を示す。
【図３】本発明の光ファイバ通信線路の試験システムおよび方法の実施の形態に係る、波長別光遮断量を説明するための図を示す。
【符号の説明】
【００５７】
１  局内側伝送装置（局内装置）
２  受光素子
３  発光素子
４  ＷＤＭカプラ
５  局内側試験装置（試験装置）
６  下り方向通信光（通信光）
７  上り方向通信光（通信光）
８  試験光
９  光カプラ
１０  光スプリッタ
１１  光ファイバ
１２  試験光遮断フィルタ（グレーティングフィルタ）
１３  端末側試験装置試験光（試験光）
１４  端末側伝送装置
１５  端末側試験装置（試験装置）
２０  光コネクタ
２１  アイソレータ
２５  波長別光遮断量特性図
【図１】
2005221388.tif 000003
【図２】
2005221388.tif 000004
【図３】
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