(57)【要約】【課題】環境的及び物理的な変動の影響を受けずにＤＵＴの光学特性を測定する。【解決手段】DUTの群遅延は、局部発振器信号のテスト部分と基準部分を異なる周波数で変調して、変調側波帯(205)を生成し、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUT(120,420,920,1020,1120)に印加し、次に、２つ被変調信号を光学的に混合することによって測定される。２つの被変調信号を光学的に混合することによって、光周波数が電気周波数に変換される。DUTによって引き起こされる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって決定される。光学的混合の代わりに電気的混合によって周波数変換を行うこともできる。【選択図】図１
2005221500.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学特性を解析するための方法であって、
局部発振器信号を発生するステップ（１３０２）と、
前記局部発振器信号の少なくとも一部に第１の変調を施すステップ（１３０４）と、
被測定物（ＤＵＴ）に前記第１の変調が施された前記局部発振器信号を加えるステップ（１３０６）と、
前記第１の変調を施された前記局部発振器信号を受信するステップ（１３０８）と、
前記受信した局部発振器信号と第２の信号を光学的に混合するステップ（１３１０）
を含む、方法。
【請求項２】
さらに、前記受信するステップ（１３０８）及び混合するステップ（１３１０）からの電気信号に処理を加えて、前記ＤＵＴの群遅延特性を解明するステップを有することを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記第２の信号は、前記局部発振器信号の少なくとも一部に第２の変調を施すことによって発生されることからなる、請求項１に記載の方法であって、さらに、前記受信するステップ（１３０８）及び混合するステップ（１３１０）の前に、前記第１の変調を施された前記局部発振器信号の前記一部と前記第２の変調を施された前記局部発振器信号の前記一部を組み合わせるステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
局部発振器信号を発生するための局部発振器信号源（１０２、４０２、９０２、１００２、１１０２）と、
第１の周波数の第１の電気信号を送り出すように構成された変調コントローラ（１１０、４１０、９１０、１０１０、１１１０）と、
前記第１の電気信号に応答して、前記局部発振器信号の少なくとも一部を変調するように光学的に接続された第１の光信号変調器（１３４、４３４、９３４、１０３４、１１３４）と、
前記第１の変調器と光学的に通じている被測定物（ＤＵＴ）インターフェイス（１１２、４１２、９１２、１０１２、１１１２）と、
前記第１の光信号変調器及び前記ＤＵＴインターフェイスと光学的に通じていて、前記第１の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号を受信し、前記受信した局部発振器信号と第２の信号を光学的に混合するシステム（１１６、４１６、９１６、１０１５、１１１５）
とを具備する、光学特性を解析するためのシステム。
【請求項５】
さらに、前記受信及び混合システムに信号で通じており、電気信号に処理を加えて、前記ＤＵＴインターフェイスに光学的に接続されたＤＵＴの群遅延特性を解明するように構成された処理装置（１１８、９１８、１０１８）を具備することを特徴とする、請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
前記第１の光信号変調器（１３４、４３４、９３４、１０３４、１１３４）が、位相変調器、偏光変調器、及び、強度変調器の１つであることを特徴とする、請求項４に記載のシステム。
【請求項７】
さらに、前記変調コントローラからの第２の電気信号に応答して、前記局部発振器信号の少なくとも一部を変調するように光学的に接続された第２の光信号変調器（１４０、４４０、９４０）と、
前記ＤＵＴインターフェイス及び前記第２の光信号変調器と光学的に通じていて、前記第１の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号と、前記第２の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号とを組み合わせる光学組み合わせ装置（１１４、４１４、９１４）
とを具備することを特徴とする、請求項４に記載のシステム。
【請求項８】
さらに、前記第１の電気信号に応答して変調される前記局部発振器信号から生成される電気信号に、異なる電気信号を電気的に混合するように構成された電気ミクサ（１０１７、１１１７）を具備することを特徴とする、請求項４に記載のシステム。
【請求項９】
前記第１の光信号変調器（４３４、１１３４）が偏光変調器であることと、前記受信及び混合システムに、偏光ダイバーシティ受信機が含まれることを特徴とする、請求項４に記載のシステム。
【請求項１０】
さらに、前記受信及び混合システムに信号で通じていて、電気信号に処理を加え、群遅延差を特性解明するように構成された処理装置（４１８、１１１８）を具備することを特徴とする、請求項９に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、被測定物（ＤＵＴ）の光学特性の特性解明に関するものであり、とりわけ、ＤＵＴの振幅、位相、及び、群遅延を測定する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光コンポーネント及びネットワークの光学特性の測定は、光通信ネットワークの設計及び運用の成功にとって重要な要素である。光コンポーネントまたはネットワークの重要な特性は、透過または反射時に測定される振幅、位相、及び、群遅延応答である。光コンポーネントまたはネットワークの偏光依存特性には、偏光依存損失（ＰＤＬ）及び群遅延差（ＤＧＤ。または、微分群遅延。以下同じ）が含まれる。群遅延の特性は、従来の技法を用いて測定するのが比較的困難であるため、とりわけ重要である。群遅延は、コンポーネントまたはネットワークの位相応答の導関数（変化率）の負数と定義される（すなわち、コンポーネント伝達関数Ｈ（ω）の位相項φ（ω）＝ａ（ω）ｅｘｐ（ｊφ（ω））、ここで、ａ（ω）は振幅応答を表す）。すなわち、群遅延は、位相線形性の測度であり、次の方程式によって定義される。
τｇ＝−∂φ／∂ω
ここで、ωは光角周波数（ラジアン／秒を単位とする）である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
群遅延は、伝統的に、既知の変調移相法を用いて測定される。変調移相法は、温度及び振動の変化といった環境的及び物理的不安定性による影響を本質的に受けない相対的測定技法である。変調移相法の欠点は、直接検出に依存しているため、そのダイナミック・レンジが制限されることにある。
【０００４】
群遅延は、また、さまざまな干渉法をベースにした方法を用いて測定されてきた。干渉法をベースにした方法では、変調移相法よりも優れたダイナミック・レンジが得られる。しかし、既知の干渉法をベースにした方法は、温度及び振動の変化といった環境的及び物理的不安定性の影響を極めて受けやすい。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明によれば、ＤＵＴの群遅延は、異なる周波数で局部発振器信号のテスト部分及び基準部分を変調して、変調側波帯を生じさせ、局部発振器信号の被変調テスト部分をＤＵＴに加え、さらに、２つの被変調信号を光学的に混合することによって測定される。２つの被変調信号を光学的に混合すると、光周波数が電気周波数に変換される。ＤＵＴによって生じる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって求められる。位相変化は、変調側波帯間の位相差を測定することによって導き出されるので、群遅延特性解明は、実際には、環境的及び物理的不安定性に影響されにくい。さらに、特性解明は、局部発振器信号の２つの部分の干渉に基づくので、このプロセスには、光学ヘテロダインを伴うことになり、従って、ダイナミック・レンジが広い。周波数変換は、光学的混合ではなく、電気的混合によって実現可能である。例えば、局部発振器信号のテスト部分を第１の周波数で変調して、変調側波帯を生じさせ、これをＤＵＴに加えて、さらに、局部発振器信号の基準部分と光学的に混合することによって、電気信号が発生する。局部発振器信号のテスト部分と基準部分の光学的混合から生じる電気信号は、次に、電気信号と電気的に混合されて、周波数変換が達成される。
【実施例】
【０００６】
図１には、ＤＵＴの振幅、位相、及び、群遅延特性を測定するために用いられるシステム１００の本発明による１実施態様が示されている。このシステムには、局部発振器信号源１０２、光スプリッタ１０４、テスト・アーム１０６、基準アーム１０８、変調コントローラ１１０、ＤＵＴインターフェイス１１２、光学組み合わせ装置１１４、光学受信機１１６、及び、処理装置１１８が含まれている。説明のため、システムはＤＵＴ１２０に接続されているが、ＤＵＴは必ずしもシステムの一部ではない。留意すべきは、説明全般にわたって、同様の参照番号を用いて、同様の要素を識別することが可能であるという点である。
【０００７】
図１を参照すると、局部発振器信号源（局所発振源）１０２は、局部発振器信号１２２を発生する。実施態様の１つでは、局部発振器信号源１０２は、２０ＧＨｚ以上の範囲にわたる掃引が行われる極めてコヒーレントな波長可変レーザ（チューナブルレーザ）である。掃引されるレーザは、連続掃引が可能である。ＤＵＴの特性解明中、局部（所）発振器信号は、一般に、ある波長範囲にわたるＤＵＴの特性解明のため、その波長または周波数の範囲にわたって掃引される。実施態様の１つでは、１，５５０ナノメートルの局部発振器信号の掃引速度は、約１００ｎｍ／ｓまたは１２．５ＭＨｚ／ｕｓであり、掃引範囲は、約１００ｎｍである。しかし、掃引速度及び掃引範囲は、増減可能である。実施態様の１つでは、ある波長範囲にわたる局部発振器信号の掃引には、位相が急激に変化する異なる波長に対して、局部発振器信号を少しずつ増分的に同調させることが必要になる。本発明によるもう１つの実施態様では、ある波長範囲にわたる局部発振器信号の掃引には、位相変化が「アコーディオンのように」滑らかな波長間の滑らかな遷移が必要になる。
【０００８】
局部発振器信号源１０２は、光スプリッタ１０４と光学的に通じている。図１の実施態様の場合、局部発振器ファイバ１２６は、局部発振器信号源を光スプリッタに光学的に接続する。光スプリッタは、システム１００のテスト・アーム１０６及び基準アーム１０８にも光学的に通じている。光スプリッタによって、局部発振器信号はテスト部分と基準部分に分割され、それぞれ、テスト・アーム及び基準アームに供給される。光スプリッタは、局部発振器信号を少なくとも２つの光路に送り込む光カプラとすることが可能である。例えば、光スプリッタは、光学的に指向性のある３ｄＢファイバ・カプラとすることができるが、他の光スプリッタを利用することも可能である。
【０００９】
テスト・アーム１０６には、テスト・ファイバ１２８、１３０、及び、１３２、テスト信号変調器１３４、及び、ＤＵＴインターフェイス１１２が含まれている。テスト・アームによって、光スプリッタ１０４と光学組み合わせ装置１１４が光学的に接続され、局部発振器信号のテスト部分が、光スプリッタからテスト信号変調器１３４及びＤＵＴ１２０を経て光学組み合わせ装置まで伝搬するようになっている。テスト信号変調器は、局部発振器信号のテスト部分を変調して、局部発振器信号の被変調テスト部分を生成する。テスト信号変調器は、位相変調器、偏光変調器、または、強度変調器とすることが可能である。実施態様の１つでは、変調器は、Ｔｉ拡散ＬｉＮｂＯ３（Ｔｉ−indiffused  ＬｉＮｂＯ３）変調器である。信号変調については、さらに詳細に後述する。
【００１０】
ＤＵＴインターフェイス１１２によって、ＤＵＴ１２０とシステム１００が光学的に接続される。図１の構成の場合、ＤＵＴインターフェイスには、テスト信号変調器１３４と光学組み合わせ装置１１４の間にＤＵＴを光学的に接続する、２つの接続ポイントが含まれている。すなわち、２つの接続ポイントには、光ファイバ１３０及び１３２をＤＵＴのポートに結合できるようにする２つの光ファイバ・コネクタが含まれている。あるいはまた、ＤＵＴインターフェイスは、テスト信号変調器と光学組み合わせ装置との間にＤＵＴを光学的に接続できるようにする、任意の光学系または機構とすることが可能である。本明細書で説明するＤＵＴインターフェイスには、テスト信号変調器と光学組み合わせ装置との間にＤＵＴを光学的に接続できるようにする、任意の光学系または機構が含まれることが意図されている。
【００１１】
ＤＵＴ１２０は、特性解明が施される、ファイバ、フィルタ、マルチプレクサ、デマルチプレクサ、サーキュレータ等のような光コンポーネントとすることが可能である。ＤＵＴは、複数の光コンポーネントから構成される光ネットワークとすることも可能である。ＤＵＴインターフェイスを介して、さまざまなＤＵＴとシステムを接続することが可能である。ＤＵＴの特性は、それぞれのＤＵＴに依存する透過または反射に関して解明することが可能である。
【００１２】
システム１００の基準アーム１０８には、基準ファイバ１３６及び１３８、基準信号変調器１４０が含まれている。基準アームによって、光スプリッタ１０４と光学組み合わせ装置１１４が光学的に接続され、局部発振器信号の基準部分が、光スプリッタから基準信号変調器を経て光学組み合わせ装置まで伝搬できるようになっている。基準信号変調器によって、局部発振器信号の基準部分が変調され、局部発振器信号の被変調基準部分が生じることになる。基準信号変調器は、位相変調器、偏光変調器、または、強度変調器とすることが可能である。実施態様の１つでは、変調器は、Ｔｉ拡散ＬｉＮｂＯ３変調器である。信号変調については、さらに詳細に後述する。
【００１３】
変調コントローラ１１０は、テスト信号変調器１３４及び基準信号変調器１４０の両方と信号で通じている。変調コントローラは、変調器に対して、光信号変調を制御する変調信号を加える。例えば、変調コントローラは、テスト信号変調器に周波数ｆ１の変調信号を加え、基準信号変調器に周波数ｆ２の変調信号を加えるが、ここで、変調周波数ｆ１及びｆ２は互いに異なる。実施態様の１つでは、変調周波数は、２つの被変調信号間における周波数差が光受信機の帯域幅内に納まるように選択される。変調コントローラに対する入力は、テストシステムのユーザ・インターフェイス（不図示）によって行うことが可能である。変調コントローラは、接続１１７を介して処理装置１１８に電気基準信号（例えば、周波数差ｆ１−ｆ２における）を加えることも可能である。
【００１４】
光学組み合わせ装置１１４は、システム１００のテスト・アーム１０６及び基準アーム１０８を介して局部発振器信号源１０２と光学的に通じている。図１の実施態様の場合、光学組み合わせ装置は、それぞれファイバ１３２及び１３８によってテスト・アーム及び基準アームに通じている。光学組み合わせ装置は、局部発振器信号の被変調テスト部分と局部発振器信号の被変調基準部分を光学的に組み合わせて、組み合わせ光信号をなすようにし、出力ファイバ１４２を介して、組み合わせ光信号の少なくとも一部分を光受信機１１６に対して出力する。光学組み合わせ装置は、組み合わせ光信号を少なくとも１つの光路に送り出す光カプラとすることが可能である。例えば、光カプラは、光学的に指向性のある３ｄＢファイバ・カプラとすることが可能であるが、他の光カプラを利用することも可能である。本発明の１実施態様では、光信号の結合は、光信号の偏光とは実質的に無関係である。実施態様の１つでは、光信号の偏光状態は、ヘテロダイン・ビート信号を最大にするため、ほぼ同じになるように制御される（例えば、偏光コントローラを利用して）。光学組み合わせ装置は、後述のように、組み合わせ光信号のビームの１つを光受信機１１６に対して出力するが、もちろん、組み合わせ光信号の２つ以上のビームを出力する光学組み合わせ装置の実施態様（例えば、平衡受信機）も可能である。
【００１５】
光受信機１１６には、光学組み合わせ装置から出力される組み合わせ光信号を検出して、混合するようにアライメントがとられた、少なくとも１つの光検出器が含まれている。光受信機は、受信光信号に応答して、電気信号を発生する。光受信機によって発生する電気信号は、ＤＵＴの特性解明に利用するため、処理装置１１８に供給される。光受信機と処理装置との接続が、図１にライン１４８で描かれている。図示されていないが、光受信機には、当該分野において既知の信号増幅器、フィルタ、及び、信号コンバイナのような他の信号処理回路を含めることも可能である。光受信機には、入力信号の偏波（偏光）ダイバーシティ受信（または、偏光分岐受信。以下同じ）及び／または偏光分析を可能にする偏光選択光学素子を含めることも可能である。
【００１６】
処理装置１１８は、光受信機１１６から電気信号を受信し、電気信号に処理を加えて、ＤＵＴ１２０の少なくとも１つの光学特性を求める。すなわち、処理装置は、ＤＵＴの振幅、位相、及び、群遅延応答を求めることが可能である。処理装置には、電気信号処理の分野において既知のアナログ信号処理回路及び／またはディジタル処理回路を含めることが可能である。実施態様の１つでは、光受信機からのアナログ信号が、ディジタル・データに変換され、ディジタル・データに引き続き処理が施される。処理装置には、ハードウェア及びソフトウェアをベースにした処理の任意の組合せを含めることも可能である。
【００１７】
図１のシステム１００において、光ファイバは、さまざまな光コンポーネントを光学的に接続する当該技術分野において既知の単一モード光ファイバであるが、他の導波路を利用して、さまざまな光コンポーネントを光学的に接続することも可能である。さらに、導波路について説明するが、光信号を、自由空間において、システムに入力するか、システム内を伝搬させることも可能である。
【００１８】
図１に関して説明したシステム１００の動作には、ある波長範囲にわたって掃引される局部発振器信号を発生し、その局部発振器信号をテスト部分及び基準部分に分割することが含まれる。局部発振器信号のテスト部分は、テスト信号変調器１３４によって変調され、さらに、ＤＵＴ１２０に送られ、一方、局部発振器信号の基準部分は、基準信号変調器１４０によって変調される。さらに詳細に後述するように、局部発振器信号のテスト部分及び基準部分に付与される変調周波数は、互いに異なる。局部発振器信号の２つの被変調部分は、光学組み合わせ装置１１４において組み合わせられ、組み合わせ光信号を生じる。組み合わせ光信号は、光受信機１１６によって検出され、混合される。光受信機によって発生した電気信号は、プロセッサ１１８によって受信され、処理されて、ＤＵＴの少なくとも１つの光学特性が求められる。すなわち、ＤＵＴの振幅、位相、及び、群遅延応答が、受信した光信号から求められる。光スプリッタ、テスト信号変調器、基準信号変調器、光学組み合わせ装置、及び、光受信機の組み合わせによって、そのヘテロダイン的性質のため、ダイナミック・レンジの広いシステムが得られる（光検出器電流は、局部発振器基準信号の強電界とテスト信号の電界との積に比例する）。群遅延の測定は、変調側波帯を利用して行われ、事実上、環境的不安定性及び物理的不安定性に影響されることはない。
【００１９】
位相変調による群遅延測定
本発明による実施態様の１つでは、ＤＵＴの群遅延は、異なる周波数の局部発振器信号のテスト部分及び基準部分を位相変調することによって測定される。すなわち、群遅延は、光テスト信号の変調側波帯間の位相差から求められる。光周波数における位相差は、局部発振器信号の被変調テスト部分と局部発振器信号の被変調基準部分を混合することによって、電気周波数に変換される。従って、位相差は、ｆ１−ｆ２の電気周波数において測定される。図１のシステム１００において、テスト信号変調器１３４と基準信号変調器１４０は、両方とも、Ｔｉ拡散ＬｉＮｂＯ３位相変調器のような位相変調器である。図２Ａに示すように、変調周波数ｆ１で局部発振器信号のテスト部分に位相変調を施すと、中心スペクトル・ピーク２０３が搬送波周波数に位置し、複数の側波帯スペクトル・ピーク２０５（本明細書では側波帯と呼ぶ）がｆ１の間隔をあけて位置する、光信号が生じる。同様に、図２Ｂに示すように、変調周波数ｆ２で局部発振器信号の基準部分に位相変調を施すと、中心スペクトル・ピーク２０７が搬送波周波数に位置し、複数の側波帯がｆ２の間隔をあけて位置する、光信号が生じる。もう一度、図１を参照すると、局部発振器信号の位相被変調テスト部分が、ＤＵＴインターフェイス１１２を介してＤＵＴ１２０に供給される。次に、局部発振器信号の位相被変調テスト部分と局部発振器信号の位相被変調基準部分が、光学組み合わせ装置１１４において組み合わせられ、組み合わせ光信号が形成される。組み合わせ光信号は、光受信機１１６において検出され、混合される。
【００２０】
実施態様の１つでは、受信機の帯域幅が、テスト信号と基準信号の対応する側波帯だけが混合されるように制限される。すなわち、図２Ａに示すＪ−１側波帯２０５と図２Ｂに示すＪ−１側波帯２０９を混合すると、電気信号が生じる。同様に、図２Ａに示すＪ１側波帯２０５と図２Ｂに示すＪ１側波帯２０９を混合すると、やはり、電気信号が生じる。電気信号の混合及び形成プロセスは、光受信機１１６において行われる。さらに、２つの電気信号によって、光受信機内にビート信号が生じる。既知のように、異なる周波数の２つの音波は、２つの音波の周波数差に等しい周波数で、パルスまたは「ビート」を生じることになる。一例を挙げると、３０ヘルツ（Ｈｚ）と３４Ｈｚの２つの音波によって、４Ｈｚのビート周波数が生じることになる。ビートの位相には、２つの音波の位相差に関する情報が含まれている。このビート現象は、受信機において発生する電気信号にも生じる、従って、電気信号のビートには、２つの光信号に関連した位相情報が含まれている。位相情報は、局部発振器信号の２つの被変調部分のそれぞれの側波帯を組み合わせて、混合することによって生じるヘテロダイン信号に保存されているので、電気ビートの位相には、ＤＵＴを伝搬する光側波帯の位相差情報が含まれている。従って、ヘテロダイン信号のビートに含まれている位相情報を抽出して、局部発振器信号の被変調テスト部分の２つの側波帯間における位相差を測定することが可能である。群遅延は、変調側波帯分離によって分割される位相差から直接求められるが、これは、Δω＝４πｆ１に等しい。群遅延は、下記の式の形で表現される。
τｇ＝−Δφ／Δω
ここで、Δφは、測定された位相差を表わしている。
【００２１】
群遅延測定の原理
以下は、干渉法をベースにしたシステム及び信号変調の組合せを利用した群遅延測定に関する原理の説明である。以下の説明は、図１に関連して説明したシステムに関するものである。数学的表記を単純化するため、局部発振器信号は、ν０で表わされる一定の光周波数であると仮定する。局部発振器信号の電界振幅は、１に正規化され、ｅ０（ｔ）＝ｅｘｐ（ｊ２πν０ｔ＋ｊφ０）で表わされるが、ここで、位相項φ０は位相ノイズを表している。位相項φ０には、局部発振器信号掃引による光位相変化を含むことも可能である。テスト・アームにおいて、局部発振器信号は、変調度ａ１及び電気周波数ｆ１で位相変調される。従って、テスト信号変調器の後、被変調局部発振器信号の電界は、次の式によって表わされる。
【００２２】
【数１】
2005221500.tif 000003
【００２３】
ここで、ψ１は位相変調器に加えられる信号の電気位相ノイズを表している。ヤコビ・アンガー展開（Jacobi-Anger expansion）を利用すると、次のようになる。
【００２４】
【数２】
2005221500.tif 000004
【００２５】
ここで、Ｊｍ（ａ）は、ベッセル関数を表わし、搬送波と２つの最も近い側波帯だけを捕捉すると、式（１）は次のように書き直すことが可能である。
【００２６】
【数３】
2005221500.tif 000005
【００２７】
被変調局部発振器信号の複数の側波帯は、その位相がロックされた複数の光波とみなすことが可能である。これらの光波は、それぞれ、異なる光周波数を有し、分散性ＤＵＴを異なる速度で伝搬する。従って、式（３）からの各光波は、異なる移相（位相シフト）を受けることになる。さらに、掃引局部発振器信号に関して、全ての光波の周波数がγτだけシフトされるが、ここで、γは局部発振器信号の掃引速度であり、τは、ＤＵＴの遅延を含む、干渉計の不均衡に起因する遅延である。分散及び局部発振器信号の掃引を考慮した電界の方程式は、次の通りである。
【００２８】
【数４】
2005221500.tif 000006
【００２９】
ここで、θｍは分散に関連した移相を表わしている。
【００３０】
図１のシステムの基準アームにおける局部発振器の部分についても、同様の説明が可能である。位相変調周波数ｆ２は、２つの被変調信号の周波数差ｆ１−ｆ２が、光受信機の帯域幅内に納まるように選択される。電界の式は、次の通りである。
【００３１】
【数５】
2005221500.tif 000007
【００３２】
ここで、α２は、変調度であり、ψ２は、位相変調器に加えられる電気信号の位相ノイズを表わしている。ヤコビ・アンガー展開（２）から、次のようになる。
【００３３】
【数６】
2005221500.tif 000008
【００３４】
光受信機の光検出器における強度が、式Ｉ＝（ｅ１′＋ｅ２）（ｅ１′＋ｅ２）＊から計算される。受信機帯域幅内の周波数に関する干渉項だけが考慮される（例えば、式（４）及び（６）からの対応する側波帯の干渉だけ）。本発明による実施態様の１つでは、光受信機の帯域幅は、光受信機が低周波数の干渉信号を検出するが、他のより高い周波数の干渉信号を検出しないように選択される。単純化のため、検出器の応答性は１に等しく、交流（ＡＣ）項だけ測定されるものと仮定すると、光受信機の光検出器における電流は、次の通りである。
【００３５】
【数７】
2005221500.tif 000009
【００３６】
ここで、Δｆ＝ｆ１−ｆ２である。式（４）、（６）、及び、（７）は、図３Ａ〜図３Ｃにグラフで例示されている。すなわち、図３Ａでは、光学領域において、局部発振器信号の被変調テスト部分の電界が識別され、図３Ｂでは、光学領域において、局部発振器信号の被変調基準部分の電界が識別され、図３Ｃでは、電気領域において、局部発振器信号の被変調テスト部分と被変調基準部分の混合から生じる電流が識別される。積の形で表現される電気周波数Δｆの電流は、次の通りである。
【００３７】
【数８】
2005221500.tif 000010
【００３８】
ここで、θ０＝（θ−１＋θ１）／２及びΔθ＝（θ−１−θ１）／２である。上記式は、振幅変調された（ＡＭ）信号を表す。Δｆ＞γτの場合、搬送周波数はΔｆであり、ＡＭ周波数はγτである。ＡＭ信号ｃｏｓ（２πγτｔ＋θ０）は、干渉法によるヘテロダイン光ネットワーク・アナライザにおいて従来式に測定された信号を表わしている。この信号の移相θ０によって、分散の測度（または分散の測定値）が得られる。この従来式方法の熱不安定性及び振動不安定性に対する影響の受けやすさは、干渉計の不均衡τが熱及び振動効果に左右されるために生じるものである。さらに、測定は、掃引速度γの変化に影響されやすい。
【００３９】
搬送信号ｃｏｓ（２πΔｆｔ＋Δθ＋ψ１−ψ２）によって、新たな分散測定手段が得られる。干渉計（または干渉法による）信号γτの周波数とは異なり、周波数Δｆは、一定であり、環境の変動及び局部発振器信号の掃引速度の変動とは無関係である。移相Δθには、分散効果が含まれており、側波帯Ｊ−１とＪ１の間で測定される。群遅延は、下記の式から計算することが可能である。
τｇ≒Δθ／Δω                                （９）
ここで、Δω＝２πｆ及びｆ≒ｆ１，２である。群遅延測定の精度は、位相項ψ１−ψ２に含まれる電気位相ノイズの関数であり、従って、図１からの変調コントローラ１１０は、電気位相ノイズが低くなければならない。留意すべきは、ヘテロダイン光ネットワーク・アナライザにおいて従来用いられている信号が、維持され、処理に利用可能であるという点である。
【００４０】
Δｆ＜γτの場合（例えば、リードの極めて長いＤＵＴまたは極めて速い局部発振器信号掃引速度）、信号ｃｏｓ（２πγτｔ＋θ０）は、搬送波の働きをし、ｃｏｓ（２πΔｆｔ＋Δθ＋ψ１−ψ２）は、その振幅変調を表わしている。このシナリオ（状況）では、干渉法による測定は、環境的不安定性が高く、γτが高周波であるため、極めて困難か、あるいは、不可能である。しかし、この方法のＡＭ信号ｃｏｓ（２πΔｆｔ＋Δθ＋ψ１−ψ２）は、ＡＭ復調の従来の方法（例えば、混合またはピーク検出）によって検出可能であり、移相Δθは、測定可能である。従って、説明した技法によれば、長いＤＵＴの群遅延測定が可能になる。これは、従来の干渉法によるヘテロダイン・ネットワーク・アナライザに対する本技法のもう１つの利点である。
【００４１】
本セクションにおいて重要な式は、最も近い側波帯Ｊ−１とＪ１について導き出された。しかし、この重要な式は、任意の１対の側波帯に容易に一般化することが可能である。偏光状態の異なる複数の側波帯を含む偏光分解測定を考慮する場合には、より高次の側波帯を利用することが可能である。また、長いＤＵＴの測定にも、より高次の側波帯を利用することが可能である。
【００４２】
偏光変調による群遅延差測定
本発明による実施態様の１つでは、ＤＵＴの偏光依存特性（群遅延差を含む）が、局部発振器信号のテスト部分の偏光変調によって測定される。図４には、ＤＵＴの偏光依存特性（群遅延差を含む）の測定に用いられるシステム４００が示されている。図４のシステムのテスト信号変調器４３４が偏光変調器であり、光受信機４１６が偏波ダイバーシティ受信機（または、偏光分岐受信機。以下同じ）である点を除けば、図４のシステムは、図１のシステムと同様である。図４を参照すると、偏光ビーム・スプリッタ４５２は、光学組み合わせ装置４１４と光受信機４１６の間の光路内に配置されている。光受信機には、偏光ビーム・スプリッタから出射される２つの被偏光ビームのそれぞれに１つの光検出器が含まれている。偏光ビーム・スプリッタと複数の光検出器によって、光受信機を当該技術分野において既知の偏波ダイバーシティ受信機にすることが可能になる。偏光変調器４３４には、Ｔｉ拡散ＬｉＮｂＯ３位相変調器の入力に偏光子４５０が含まれている。従って、偏光変調は、直線偏光局部発振器信号を４５度の角度で複屈折素子に送り込み、２つの直線偏光モードのパワーを等化することによって実現される。局部発振器信号の各偏光モードは、電気光学係数の値が異なるため、異なる位相変調を受けることになる。図５Ａに示すように、局部発振器信号のテスト部分に偏光変調を施すと、中心スペクトル・ピーク５０３が搬送周波数に位置し、複数の側波帯スペクトル・ピーク５０５がｆ１の間隔をあけて位置する光信号が生じる。偏光変調の結果、スペクトル・ピークは、それぞれ、偏光状態が異なるようになる（例えば、Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、及び、Ｐ４）。局部発振器信号の基準部分は、位相変調または偏光変調を施されて、図５Ｂに示すように、中心スペクトル・ピーク５０７が搬送周波数に位置し、複数の側波帯５０９がｆ２の周波数間隔をあけて位置する光信号が生じる。２つの被変調信号の周波数のオフセットは、干渉計の自由スペクトル範囲に対応しており、τに等しい。従って、図５Ａと図５Ｂと間のオフセットは、変調周波数の差Δｆ＝ｆ１−ｆ２がτ未満の場合（例えば、短いＤＵＴまたは低掃引速度の場合）の測定シナリオを表わしている。
【００４３】
動作時、局部発振器信号の偏光被変調テスト部分が、ＤＵＴインターフェイス４１２を介してＤＵＴ４２０に供給される。次に、局部発振器信号の偏光被変調テスト部分及び局部発振器信号の被変調基準部分が、光学組み合わせ装置４１４において組み合わせられて、組み合わせ光信号が形成される。組み合わせ光信号が、光受信機４１６において検出され、混合される。局部発振器信号の偏光被変調テスト部分と局部発振器信号の被変調基準部分を混合することによって、光周波数が所望の電気周波数に変換される。次に対応する周波数の変換された電気信号から、局部発振器信号の偏光変調テスト部分のスペクトル・ピーク間の位相差を求めて、群遅延差のような偏光依存特性の測定に用いることが可能である。検出信号の振幅を利用して、偏光依存損失のような偏光状態依存振幅応答を求めることが可能である。群遅延差は、偏光状態の異なる、異なる組をなす変調側波帯間の移相から直接求められる。
【００４４】
群遅延差測定原理
以下は、干渉計ベースのシステムを備え、偏光変調を伴うＤＵＴの偏光依存特性（群遅延差を含む）の測定に関する原理の説明である。
【００４５】
偏光変調
図４には、変調器４３４及び偏光子４５０を含む偏光変調器が示されている。偏光変調器は、２つの偏光モードに異なる変調を施す、従って、偏光状態を変調する装置である。偏光変調器は、例えば、偏光子及びＴｉ拡散ＬｉＮｂＯ３位相変調器を用いて実現することが可能である。局部発振器信号は、直線偏光状態で、偏光子を介して、４５度の角度でＴｉ拡散ＬｉＮｂＯ３位相変調器に送り込まれ、変調器の２つの直線偏光モードのパワーが等化される。各偏光モードは、電気光学係数の値が異なる（γ３３≒３γ１３）ため、異なる位相変調を受けることになる。数学的には、ジョーンズ・ベクトル表記法（Jones vector notation）を用いると、偏光被変調光波の電界は、下記の式によって表わされる。
【００４６】
【数９】
2005221500.tif 000011
【００４７】
ここで、ａ１≒３ｂ１である。ヤコビ・アンガー展開（５）を利用すると、下記の式が得られる。
【００４８】
【数１０】
2005221500.tif 000012
【００４９】
従って、光周波数ν０±ｍｆ１の光波は、ジョーンズ・ベクトル
【００５０】
【数１１】
2005221500.tif 000013
【００５１】
によって表わされる偏光状態を有している。Ｊｍ（ａ１）及びＪｍ（ｂ１）は実数であるため、対応する偏光状態は、直線性であり、ポアンカレ球の赤道に沿って分布している。変調度をａ１≒３ｂ１に調整することによって、個々の直線偏光状態の方位角を制御することが可能になる。図６には、側波帯の異なる偏光状態の表現が示されているが、ここで、被変調局部発振器信号の複数のスペクトル・ピーク（変調周波数ｆ１だけ隔置されている）は、異なる直線偏光状態を有している。特に興味深い構成は、２つの異なる側波帯の偏光状態を直交またはほぼ直交させる構成である。例えば、Ｊ１（ａ１）Ｊ３（ａ１）＋Ｊ１（ｂ１）Ｊ３（ｂ１）＝０とすることによって、光周波数ν０±ｆ１及びν０±３ｆ１の光波が、直交偏光状態を有するようになる。さらに、これらの光波は、次のセクションで示す異なる電気周波数で検出することが可能である。これによって、２つ以上の偏光状態でＤＵＴの同時測定が可能になる。同時測定を利用して、群遅延差または偏光依存損失のような、ＤＵＴの偏光特性を求めることが可能になる。
【００５２】
偏光分解（polarization resolved）測定
局部発振器信号の偏光被変調テスト部分が、ジョーンズ行列Ｍによって表されるＤＵＴを伝搬する場合を考える。行列Ｍの要素は、振幅が被変調局部発振器信号のスペクトル幅にわたって一定しているものと仮定する。すなわち、行列要素の振幅は、被変調局部発振器信号を構成する側波帯（３〜４の側波帯）について同じである。しかし、要素の位相は、添え字ｍで表される側波帯毎に変わる。
【００５３】
【数１２】
2005221500.tif 000014
【００５４】
さらに、テスト・アームの光波は周波数シフトγτを受けることになる。式（１１）と（１２）を掛け、追加の位相シフトを考慮することによって、ＤＵＴを伝搬した後の電界の式が以下のように得られる。
【００５５】
【数１３】
2005221500.tif 000015
【００５６】
上記式では、３つの側波帯だけしか考慮されていない。図７には、ＤＵＴを通る光波の伝搬が例示されている。すなわち、図７には、ＤＵＴ７２０に加えられる前、及び、ＤＵＴに加えられた後の、偏光被変調信号の偏光状態が例示されている。式（１３）からの３つの側波帯だけが、搬送波のそれぞれの側に示されている。図４に示すように、光受信機は、偏光ダイバーシティによるものであり、従って、基準アームにおける局部発振器信号の偏光状態は、光受信機の２つの光検出器で等しいパワーが得られるように選択される。等しいパワーは、任意の偏光状態を表わすジョーンズ・ベクトル
【００５７】
【数１４】
2005221500.tif 000016
【００５８】
の角度αがπ／４にほぼ等しい場合に得られる。偏光状態を考慮し、ヤコビ・アンガー展開（２）を利用すると、基準アームにおける局部発振器信号を記述する式（５）は、次のようになる。
【００５９】
【数１５】
2005221500.tif 000017
【００６０】
テスト・アーム４０６からの波ｅ′１（ｔ）及び基準アーム４０８からの波ｅ２（ｔ）は、光学組み合わせ装置４１４において組み合わせられる。結果得られる電界ｅ（ｔ）＝ｅ１′（ｔ）＋ｅ２（ｔ）は、偏光ダイバーシティ受信機４１６において検出される。従って、結果得られるジョーンズ・ベクトルの上方要素及び下方要素に対応する水平及び垂直直線偏光成分は、別個に検出される。数学的には、水平成分はｅｈ（ｔ）＝Ｐｈｅ（ｔ）によって定義され、垂直成分は、ｅｖ（ｔ）＝Ｐｖｅ（ｔ）によって定義されるが、ここで、
【００６１】
【数１６】
2005221500.tif 000018
である。
【００６２】
受信機の光検出器の応答性が１に等しいものと仮定すると、水平偏光状態から生じる電流は、方程式ｉｈ（ｔ）＝ｅｈ（ｔ）ｅｈ（ｔ）＊から計算され、下記に等しい。
【００６３】
【数１７】
2005221500.tif 000019
【００６４】
ここで、Δｆ＝ｆ１−ｆ２及びΔψ＝ψ１―ψ２である。上記方程式は、測定システムにおいて検出され、処理されるＡＣ項だけがリストアップされている。同様に、垂直偏光状態の場合、ｉｖ（ｔ）＝ｅｖ（ｔ）ｅｖ（ｔ）＊から次のようになる。
【００６５】
【数１８】
2005221500.tif 000020
【００６６】
次に、光周波数ν０±ｆ１における位相変調器からの入力偏光状態は、Ｊ１（ａ１）＝０になるように変調度を調整することによって、強制的に垂直にされると想定する。変調度ｂ１は約３倍小さいので、Ｊ３（ｂ１）≒０になる。従って、光周波数ν０±３ｆ１は、ほぼ水平偏光状態である。周波数Δｆにおける第１の側波帯及び周波数３Δｆにおける第３の側波帯を検出することによって、ＤＵＴの応答が、ほぼ直交偏光状態について測定される。光受信機の水平偏光状態において測定される水平偏光状態励起に対するＤＵＴ応答が、式（１５）によって第３高調波から求められる。
【００６７】
【数１９】
2005221500.tif 000021
【００６８】
ここで、α０＝（α３＋α−３）／２及びΔα３＝（α３−α−３）／２である。同様に、水平偏光状態において測定される垂直偏光状態励起に対するＤＵＴ応答は、式（１５）によって基本波（第１高調波）から求められる。
【００６９】
【数２０】
2005221500.tif 000022
【００７０】
ここで、β０＝（β１＋β−１）／２及びΔβ１＝（β１−β−１）／２である。同じ手順を利用すると、光受信機の垂直偏光状態において測定される水平偏光状態励起に対するＤＵＴ応答は、式（１６）によって第３高調波から求められる。
【００７１】
【数２１】
2005221500.tif 000023
【００７２】
ここで、γ０＝（γ３＋γ−３）／２及びΔγ３＝（γ３−γ−３）／２である。最後に、光受信機の垂直偏光状態において測定される垂直偏光状態励起に対するＤＵＴ応答が、式（１６）によって基本波（第１高調波）から求められる。
【００７３】
【数２２】
2005221500.tif 000024
【００７４】
ここで、σ０＝（σ１＋σ−１）／２及びΔσ１＝（σ１−σ−１）／２である。式（１３）、（１４）と、式（１７）〜（２０）をもたらすことになる混合プロセスが、図８にグラフで例示されている。すなわち、図８の左側は、テスト部分がＤＵＴに加えられた後であるが、２つの信号が組み合わせられて、混合される前の、局部発振器信号の被変調テスト部分と被変調基準部分の偏光状態を表わしている。図８の右側は、混合信号の水平成分と垂直成分を別個に表わしている。式（１７）〜（２０）は、式（８）によって表わされる信号と同じ特性を有する信号を表わしている。従って、可能性のある測定アプローチは、類似している。電気周波数γτで干渉法による信号を測定し、ジョーンズ行列（１２）の位相項α、β、γ、及び、σを求めることが可能である。この従来式の測定は、熱的不安定性及び振動に影響されやすい。代わりに、本発明によれば、周波数Δｆ及び３Δｆにおける位相差Δα、Δβ、Δγ、及び、Δσの差分測定によって、環境に影響されにくい技法が構成される。位相項は、積分によって位相差から求められる。振幅ａ、ｂ、ｃ、及び、ｄは、検出信号の強度からいずれの方法でも求められる。従って、いずれの方法の場合にも、ジョーンズ行列（１２）を再構成することが可能である。重要なのは、一般に、その要素の一部が定数に設定された（例えば、ｄ＝１及びσ０＝０）正規化ジョーンズ行列を再構成すれば十分であるという点に言及しておくことである。これは、振幅及び位相の相対測定を意味することになる（例えば、ａ／ｄ及びα−σ）。位相の一定のオフセットは少しも重要ではない。これは、式（１９）及び（２０）における位相シフトζまたは積分プロセスが、例えば、固有解析から求められる群遅延差に影響を与えないためである。また、位相差測定によって、長いリードを備えたＤＵＴの特性解明（例えば、ファイバのスプールの分散測定）が可能になるという点にも留意されたい。既知の干渉法による方法を利用する場合には、リードの長いコンポーネントの測定は、極めて困難か、不可能である。上述の解決法は、唯一の解決法ではないが、比較的単純である。一般に、直交偏光状態の利用は不要である。さらに、解析には、直交偏光状態を有する２つの側波帯だけが利用された。他の偏光状態を有する追加の側波帯を利用すると、測定または較正の正確度がさらに向上する可能性がある。数学的な複雑性を回避するため、より複雑な測定シナリオ（測定内容）の説明は本説明から除外されている。
【００７５】
図１及び図４に関連して説明したシステムによって、局部発振器信号がテスト部分と基準部分に分割され、異なる変調周波数が付与されるが、代替実施態様では、局部発振器信号をテスト部分と基準部分に分割した後、２つの異なる変調周波数を局部発振器信号のテスト部分に加えることが可能である。図９には、局部発振器信号を個々の部分に分割した後、２つの変調周波数が局部発振器信号のテスト部分に加えられるシステム９００の例が示されている。このシステムには、局部発振器信号源９０２、光スプリッタ９０４、第１の変調器９３４、ＤＵＴインターフェイス９１２（ＤＵＴ９２０に接続するための）、第２の変調器９４０、光学組み合わせ装置９１４、光受信機９１６、及び、処理装置９１８が含まれている。
【００７６】
図９に関連して説明されるシステム９００の動作には、ある波長範囲にわたって掃引される局部発振器信号の発生が含まれる。局部発振器信号は、テスト部分と基準部分に分割され、テスト部分は、第１の変調器９３４によって周波数ｆ１で変調され、さらに、ＤＵＴ９２０に供給される。ＤＵＴとの相互作用の後、局部発振器信号のテスト部分は、第２の変調器９４０によって周波数ｆ２で変調されるが、変調周波数ｆ１とｆ２は互いに異なる。次に、局部発振器信号のテスト部分と局部発振器信号の基準部分が組み合わせられ、組み合わせられた光信号が、光受信機９１６によって検出され、混合される。光受信機によって発生する電気信号は、プロセッサ９１８によって受信され、処理されて、ＤＵＴの少なくとも１つの光学特性が求められる。すなわち、受信光信号に応答して、ＤＵＴの振幅、位相、及び、群遅延応答を求めることが可能である。偏光依存特性を測定する場合には、このシステムに、偏光子９６２及び９６４と、偏光ダイバーシティ受信機（不図示）を含めることも可能である。
【００７７】
もう１つの代替実施態様の場合、光テスト信号及び光基準信号の光学混合に加えて、２つの電気信号を混合することによって、周波数変換が実現される。すなわち、光受信機において、周波数ｆ１で変調される光信号の光スペクトル・ピークと局部発振器信号の基準部分を組み合わせて、光学的に混合することにより、電気周波数ｆ１に近い電気信号が得られる。次に、光受信機からの電気信号と周波数ｆ２の電気信号を電気的に混合することにより、電気周波数ｆ１−ｆ２に変換される電気信号が得られる。図１に例示の実施態様の場合と同様、周波数ｆ１−ｆ２に近い電気信号には、ＤＵＴを伝搬する光テスト信号の側波帯間の位相差が含まれている。電気的混合の場合、光受信機の帯域幅は、電気周波数ｆ１を含まなければならない。しかし、処理装置の帯域幅は、電気周波数ｆ１−ｆ２に制限することが可能である。図１０には、２つの信号の電気的混合を利用する、本発明に従って光学特性を解析するためのもう１つのシステム１０００の例が示されている。図１０のシステムには、局部発振器信号源１００２、光スプリッタ１００４、テスト・アーム１００６、基準アーム１００８、変調コントローラ１０１０、ＤＵＴインターフェイス１０１２（図示のようにＤＵＴ１０２０に接続されている）、光学組み合わせ装置１０１４、光受信機１０１６及び電気ミクサ１０１７を含む受信／混合システム１０１５、及び、処理装置が含まれている。システム１０００は、局部発振器信号の基準部分が変調されない点を除けば、図１のシステム１００と同様である。代わりに、周波数ｆ２の電気信号が、変調コントローラによって発生され、テスト・アームにおける局部発振器信号の被変調テスト部分と、基準アーム１００８における局部発振器信号の基準部分との組み合わせから光受信機１０１６内において発生される電気信号と電気的に混合される。電気的混合によって、２つの信号の周波数が、ｆ１−ｆ２に近い所望の電気周波数に変換される。変換された信号は、次に、上述のように処理を施されて、ＤＵＴの所望の特性が解明される。
【００７８】
図１１には、ＤＵＴの偏光依存特性（群遅延差を含む）を測定するためのシステム１１００が描かれている。システム１１００は、局部発振器信号の基準部分が変調されず、信号が、受信／混合システム１１１５において受信され、混合されるという点を除けば、図４のシステム４００と同様である。システム１１００は、図１０のシステム１０００と同様の電気的混合を利用して動作する。図１１のシステムを利用すると、局部発振器信号のテスト部分は、周波数ｆ１で偏光変調を施され、ＤＵＴに加えられて、さらに、局部発振器信号の変調されていない基準部分と組み合わせられる。組み合わされた光信号（組み合わせ光信号）は、偏光ダイバーシティ受信機である光受信機１１１６において検出される。変調コントローラは、また、周波数ｆ２、２ｆ２、及び、３ｆ２の３つの電気信号も発生する。これらの電気信号は、受信した組み合わせ光信号から生成される電気信号と電気的に混合される。電気的混合によって、混合信号の周波数がΔｆ、２Δｆ、及び、３Δｆに近い所望の電気周波数に変換される（ここで、Δｆ＝ｆ１−ｆ２）。変換された信号は、次に、図４に関連して上述したように処理を施されて、ＤＵＴの所望の偏光依存特性が解明される。
【００７９】
もう１つの代替実施態様の場合、１つまたは複数の集積光学素子チップ（例えば、平面導波路または、プレーナー型導波路）に、変調器、スプリッタ、及び、カプラの組合せが含まれる。図１２Ａ、図１２Ｂ、及び、図１２Ｃには、図１及び図４のシステムに利用可能な集積光学素子の例が示されている。図１２Ａのシステムには、集積光学素子１２７０に含まれている２つの変調器１２３４及び１２４０が含まれている。図１２Ｂのシステムには、２つの変調器１２３４及び１２４０、光スプリッタ１２０４、及び、光カプラ１２１４が含まれている。図１２Ｃには、２つの集積光学素子１２７３及び１２７５が含まれており、第１の素子１２７３には、光スプリッタ１２０４及び２つの変調器が含まれ、第２の素子１２７５には、光カプラ１２１４及び２つの変調器が含まれている。集積化（または一体化された）変調器、スプリッタ、及び、カプラは、図１及び図４のシステムにおける対応する光学素子と同等の機能を実施する。これらのシステムのどれにも、図４に関連して上述したように、偏光依存解析を支援するために、入力部に偏光子を、出力部に偏光ビーム・スプリッタを含むことができる。
【００８０】
図１３には、光学特性を解明するための１方法の処理フロー図が示されている。ブロック１３０２では、局部発振器信号を生成する。ブロック１３０４では、局部発振器信号の少なくとも一部に第１の変調が施される。ブロック１３０６では、前記第１の変調を施された局部発振器信号が、ＤＵＴに加えられる。ブロック１３０８では、第１の変調を施された局部発振器信号が受信される。ブロック１３１０では、受信した局部発振器信号が第２の信号と光学的に混合される。
【００８１】
測定対象デバイス（DUT）の群遅延は、局部発振器信号のテスト部分と基準部分を異なる周波数で変調して、変調側波帯(205)を生成し、局部発振器信号の被変調テスト部分をDUT(120,420,920,1020,1120)に印加し、次に、２つ被変調信号を光学的に混合することによって測定される。２つの被変調信号を光学的に混合することによって、光周波数が電気周波数に変換される。DUTによって引き起こされる位相変化は、局部発振器信号のテスト部分の変調側波帯間の位相差を測定することによって決定される。光学的混合の代わりに電気的混合によって周波数変換を行うこともできる。
【００８２】
本発明による特定の実施態様について図示し、説明したが、本発明は、図示し、説明した部分の特定の形態及び構成に限定されるものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみ制限される。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】テスト信号変調器を備えるテスト・アームと基準信号変調器を備える基準アームを含む、ＤＵＴの振幅、位相、及び、群遅延応答を測定するためのシステムの本発明による実施態様の１つを示す図である。
【図２Ａ】局部発振器信号の位相被変調テスト部分のスペクトル・ピークを示す図である。
【図２Ｂ】局部発振器信号の位相被変調基準部分のスペクトル・ピークを示す図である。
【図３Ａ】光学領域における局部発振器信号の被変調テスト部分のスペクトル・ピーク及び関連する電界を表わした図である。
【図３Ｂ】光学領域における局部発振器信号の被変調基準部分のスペクトル・ピーク及び関連する電界を表わした図である。
【図３Ｃ】混合後に、局部発振器信号のテスト部分及び基準部分の電界に応答して発生する光検出器電流の、電気領域におけるスペクトル・ピークを表わした図である。
【図４】テスト・アームにおける偏光変調を利用する、ＤＵＴの偏光特性を測定するためのシステムの本発明による実施態様の１つを示す図である。
【図５Ａ】局部発振器信号の偏光被変調テスト部分のスペクトル・ピークを示す図である。
【図５Ｂ】局部発振器信号の位相または偏光被変調基準部分のスペクトル・ピークを示す図である。
【図６】偏光被変調局部発振器信号の３次元描写図である。
【図７】ＤＵＴを伝搬する前及び伝搬した後における偏光被変調局部発振器信号の偏光状態に関する３次元描写図である。
【図８】局部発振器信号の偏光被変調テスト部分と局部発振器信号の位相被変調基準部分の混合からのジョーンズ行列要素の回復に関する３次元描写図である。
【図９】直列をなす２つの変調器を利用する、ＤＵＴの光学特性を測定するためのシステムの本発明による実施態様の１つを示す図である。
【図１０】電気的混合を利用する、ＤＵＴの振幅、位相、及び、群遅延応答を測定するためのシステムを示す図である。
【図１１】電気的混合を利用する、ＤＵＴの偏光依存特性を測定するためのシステムを示す図である。
【図１２Ａ】２つの変調器を含む、図１及び図４のシステムに利用可能な集積光学素子を示す図である。
【図１２Ｂ】２つの変調器、スプリッタ、及び、カプラを含む、図１及び図４のシステムに利用可能な集積光学素子を示す図である。
【図１２Ｃ】スプリッタ、カプラ、及び、複数の変調器を含む、図１及び図４のシステムに利用可能な２つの集積光学素子を示す図である。
【図１３】ＤＵＴの光学特性を解析するための１方法の処理フロー図である。
【符号の説明】
【００８４】
１０２、４０２、９０２、１００２、１１０２  局部発振器信号源
１２０、４２０、９２０、１０２０、１１２０  ＤＵＴ
１１０、４１０、１０１０、１１１０  変調コントローラ
１１２、４１２、９１２、１０１２、１１１２  ＤＵＴインターフェイス
１１４、４１４、９１４、１０１４、１１１４  光学組み合わせ装置（または光結合装置）
１１６、４１６、９１６、１０１６、１１１６  光レシーバ
１１８、４１８、９１８、１０１８、１１１８  処理装置
【図１】
2005221500.tif 000025
【図２Ａ】
2005221500.tif 000026
【図２Ｂ】
2005221500.tif 000027
【図３Ａ】
2005221500.tif 000028
【図３Ｂ】
2005221500.tif 000029
【図３Ｃ】
2005221500.tif 000030
【図４】
2005221500.tif 000031
【図５Ａ】
2005221500.tif 000032
【図５Ｂ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２Ａ】
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【図１２Ｂ】
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【図１２Ｃ】
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【図１３】
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