(57)【要約】【課題】  テストパターンデータに対する構文解析、特に波形を自由定義できる様式のテストデータ記述言語を構文解析するパーサー装置、パーサーシステム及びパーサー方法を提供する。【解決手段】  パーサーシステム１００は、パーサー装置１、顧客データ記憶装置２、構文解析記憶装置３、シミュレータ装置４、テスタインタフェース５、テスタ装置６、テスタ制約検査装置７及びジェネレータ装置８等を備えており、パーサー装置１は、顧客データ記憶装置２内の顧客データを構文解析し、テストデータ記述言語として使用可能に変換し、更に、イベント変化を定義する波形タイプを波形対応記憶装置１６内に有し、この波形タイプの情報を基に、タイミング定義を波形タイプへ変換する。テスタ装置６は、プログラム開発中にその一部をテスト処理する。【選択図】    図１
2005274451.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
動作テストを行なうテスタ装置に送信する為のデータを構文解析するパーサー装置であって、
テストパターン記述言語によって記述されたテストデータを取得するテストデータ入力手段と、
取得した前記テストデータを構文解析する構文解析手段と、
前記構文解析の結果データから前記動作テストに関連するデータ情報を取得し、前記動作テストが可能な波形タイプであるか判断するデータ解析手段と、
イベント変化によるタイミング定義を表現したタイミング定義と該タイミング定義に対応する波形タイプより構成される波形対応テーブルを前記テスタ装置の種類毎に格納する波形対応記憶装置と、
前記テストデータ内に前記タイミング定義による記述が存在する場合、前記波形対応テーブルを参照し、前記タイミング定義を対応する前記波形タイプに変換する波形タイプ変換手段
とを備えることを特徴とするパーサー装置。
【請求項２】
前記波形対応記憶装置は、前記波形タイプの正転及び反転を定義する波形対応テーブルを備え、
前記波形タイプ変換手段は、前記波形タイプを変換する際に、前記タイミング定義に記述された前記波形タイプが正転であるか反転であるかを確認する正転反転確認手段
とを更に備えることを特徴とする請求項１に記載のパーサー装置。
【請求項３】
前記波形対応記憶装置は、前記テストデータ内に前記テスタ装置にて処理不可能なタイミング定義がある場合でも、該処理不可能なタイミング定義を前記テスタ装置にて処理可能な波形タイプへ変換する為の定義情報を備え、
前記波形タイプ変換手段は、前記タイミング定義から波形を定義する波形定義文字を抽出する波形定義文字抽出手段、抽出された波形定義文字が前記テスタ装置のテストデータとして使用されていることを判定するパターン使用判定手段、前記テストデータとして使用されている波形定義文字が示すタイミング定義を、前記波形対応記憶装置内の前記定義情報を用いて、前記テスタ装置が使用可能な波形タイプに変換する為の準備をするタイミング簡素化手段とを更に備えることを特徴とする請求項１又は２に記載のパーサー装置。
【請求項４】
構文解析されたテストデータを基にテスタ装置にて動作テストを行なうパーサーシステムであって、
テストパターン記述言語によって記述された顧客データを格納する顧客データ記憶装置、
前記顧客データを取得するテストデータ入力手段、取得した前記顧客データを構文解析する構文解析手段、前記構文解析の結果データから前記動作テストに関連するデータ情報を取得し、前記動作テストが可能な波形タイプであるか判断するデータ解析手段、イベント変化によるタイミング定義を表現したタイミング定義と該タイミング定義に対応する波形タイプより構成される波形対応テーブルを前記テスタ装置の種類毎に格納する波形対応記憶装置、前記顧客データ内に前記タイミング定義による記述が存在する場合、前記波形対応テーブルを参照し、前記タイミング定義を対応する前記波形タイプに変換する波形タイプ変換手段とを備えるパーサー装置と、
前記パーサー装置の構文解析結果であるテストデータを格納する構文解析記憶装置と、
前記構文解析記憶装置内の前記テストデータを基に動作テストを行なうテスタ装置
とを備えることを特徴とするパーサーシステム。
【請求項５】
テストパターン記述言語によって記述されたテストデータをテストデータ入力手段が取得するステップと、
取得した前記テストデータを構文解析手段が構文解析するステップと、
前記構文解析の結果データから前記動作テストに関連するデータ情報をデータ解析手段が取得して前記動作テストが可能な波形タイプであるか判断するステップと、
イベント変化によるタイミング定義を表現したタイミング定義と該タイミング定義に対応する波形タイプより構成される波形対応テーブルを前記テスタ装置の種類毎に波形対応記憶装置に格納するステップと、
前記テストデータ内に前記タイミング定義による記述が存在する場合、波形タイプ変換手段が前記波形対応テーブルを参照し、前記タイミング定義を対応する前記波形タイプに変換するステップ
とを有することを特徴とするパーサー方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストパターンデータに対する構文解析、特に波形を自由定義できる様式のテストデータ記述言語を構文解析するパーサー装置、パーサーシステム及びパーサー方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
テストパターンの構文解析を行なうパーサーシステムがある（非特許文献１参照。）。パーサーシステムのなかには、タイミング定義を波形タイプで定義せずイベント変化を定義することで、自由に波形を定義できるテストデータ記述言語を使用できる仕様のシステムもあり、その記述言語を用いたテストデータでは、定義方法の自由度が高いために1つの波形タイプを定義する際に様々な定義方法が存在する。
【非特許文献１】クレデンスカンパニー“プロダクトプロフィール：テストデベロップメントシリーズ（ＴＤＳ）”［online］、［平成１６年２月２３日検索］インターネット＜ＵＲＬ：http://webber.credence.com/Solutions_PP_Test%20Development%20Series.htm＞  しかしながら半導体テスト装置等のオートマチックテストエクイップメントテスタ（以下「ATEテスタ」と記載）でサポートする波形タイプで表現できるかは、ATEテスタ用のテストパターンに変換する時にならなければ確認できない。一般にこの変換作業は、シミュレーションによる検証等の後のATEテスタでのテスト段階で行なう場合が多い。
【０００３】
また自由度の高いテストパターン記述言語によるタイミング定義は、誤った定義を行なうだけでなく、正しいと思われるタイミング定義でも実測定通りの定義であるとは限らない。それはタイミング定義が波形タイプを意識せず定義を行なうためで、ATEテスタでの実動作とは異なる動作としての記述になる場合が多いからである。ATEテスタでは波形タイプ毎に決められた動作を持っているため、ATEテスタを意識しないタイミング定義は、ATEテスタでは測定できないテストパターンとなり、最終的にテストパターンの修正を必要とする。
【０００４】
さらに波形タイプを直接記述する形式ではないテストデータ記述言語では、ATEテスタで持っている波形タイプが表現できる正転波形と反転波形に対応する定義方法が存在しないため、正転を表わす波形タイプとしてのタイミング定義だけとなり、反転を表わす定義を行なうことができない問題がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記問題点を解決する為になされたものであり、タイミング定義をイベント変化にて定義し、使用者によって波形を定義するテストデータ記述言語を使用して構文解析を行なうパーサー装置、パーサーシステム及びパーサー方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記問題点を解決する為、本発明の第１の特徴は、（イ）動作テストを行なうテスタ装置に送信する為のデータを構文解析するパーサー装置であって、テストパターン記述言語によって記述されたテストデータを取得するテストデータ入力手段と、（ロ）取得したテストデータを構文解析する構文解析手段と、（ハ）構文解析の結果データから動作テストに関連するデータ情報を取得し、動作テストが可能な波形タイプであるか判断するデータ解析手段と、（ニ）イベント変化によるタイミング定義を表現したタイミング定義とタイミング定義に対応する波形タイプより構成される波形対応テーブルをテスタ装置の種類毎に格納する波形対応記憶装置と、（ホ）テストデータ内にタイミング定義による記述が存在する場合、波形対応テーブルを参照し、タイミング定義を対応する波形タイプに変換する波形タイプ変換手段とを備えるパーサー装置であることを要旨とする。
【０００７】
本発明の第１の特徴は、更に（ヘ）波形対応記憶装置は、波形タイプの正転及び反転を定義する波形対応テーブルを備え、波形タイプ変換手段は、波形タイプを変換する際に、タイミング定義に記述された波形タイプが正転であるか反転であるかを確認する正転反転確認手段とを更に備え、（ト）波形対応記憶装置は、テストデータ内にテスタ装置にて処理不可能なタイミング定義がある場合でも、処理不可能なタイミング定義をテスタ装置にて処理可能な波形タイプへ変換する為の定義情報を備え、波形タイプ変換手段は、タイミング定義から波形を定義する波形定義文字を抽出する波形定義文字抽出手段、抽出された波形定義文字がテスタ装置のテストデータとして使用されていることを判定するパターン使用判定手段、テストデータとして使用されている波形定義文字が示すタイミング定義を、波形対応記憶装置内の定義情報を用いて、テスタ装置が使用可能な波形タイプに変換する為の準備をするタイミング簡素化手段とを更に備えることを加えても良い。
【０００８】
本発明の第２の特徴は、（イ）構文解析されたテストデータを基にテスタ装置にて動作テストを行なうパーサーシステムであって、テストパターン記述言語によって記述された顧客データを格納する顧客データ記憶装置、（ロ）顧客データを取得するテストデータ入力手段、取得した顧客データを構文解析する構文解析手段、構文解析の結果データから動作テストに関連するデータ情報を取得し、動作テストが可能な波形タイプであるか判断するデータ解析手段、イベント変化によるタイミング定義を表現したタイミング定義とタイミング定義に対応する波形タイプより構成される波形対応テーブルをテスタ装置の種類毎に格納する波形対応記憶装置、顧客データ内にタイミング定義による記述が存在する場合、波形対応テーブルを参照し、タイミング定義を対応する波形タイプに変換する波形タイプ変換手段とを備えるパーサー装置と、（ハ）パーサー装置の構文解析結果であるテストデータを格納する構文解析記憶装置と、（ニ）構文解析記憶装置内のテストデータを基に動作テストを行なうテスタ装置とを備えるパーサーシステムであることを要旨とする。
【０００９】
本発明の第３の特徴は、（イ）テストパターン記述言語によって記述されたテストデータをテストデータ入力手段が取得するステップと、（ロ）取得したテストデータを構文解析手段が構文解析するステップと、（ハ）構文解析の結果データから動作テストに関連するデータ情報をデータ解析手段が取得して動作テストが可能な波形タイプであるか判断するステップと、（ニ）イベント変化によるタイミング定義を表現したタイミング定義とタイミング定義に対応する波形タイプより構成される波形対応テーブルをテスタ装置の種類毎に波形対応記憶装置に格納するステップと、（ホ）テストデータ内にタイミング定義による記述が存在する場合、波形タイプ変換手段が波形対応テーブルを参照し、タイミング定義を対応する波形タイプに変換するステップとを有するパーサー方法であることを要旨とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明のパーサー装置、パーサーシステム及びパーサー方法によると、タイミング定義を波形タイプではなく「イベント変化」を定義することで自由に波形を定義できるテストデータ記述言語を用いて記述している場合、波形タイプへの変換を波形対応テーブルと呼ばれる波形タイプへの対応情報が定義されたファイルを基に変換を行なう為、テストパターンが、使用する波形タイプを宣言する方法ではないテストデータ記述言語であっても、ATEテスタでの実測定で用いる波形タイプへの変換が容易となる。また波形対応テーブルをATEテスタでサポートしている波形タイプだけに対応するようにすることで、ATEテスタで扱えるテストパターンであるかを容易に検証できる。
【００１１】
ATEテスタがサポート可能な波形タイプで定義されたテストパターンであるかの判定を構文解析の後に実施する為、ATEテスタでの測定が可能であるかの検証を事前に行い、ATEテスタでの測定が可能であることを前提としたシミュレーション検証が可能になる。これにより、テストパターンの再設計回数を少なくすることができる。
【００１２】
波形タイプを直接指定する記述ではないテストデータ記述言語を用いたテストパターンでは、ATEテスタでの実測定における動作と異なる記述である場合があるが、その動作を事前にATEテスタで測定可能な波形タイプへ変換しておくことで、実動作と同じテストを行なうことが可能になる。
【００１３】
総合テストシステムにおいて、システムの入力にあたるパーサーシステムに波形対応テーブルを用いた波形タイプへの変換を行なう機能を追加するだけで、既存の総合テストシステムをそのまま流用することができる。
【００１４】
ATEテスタの実動作に対しテストデータの記述としては誤った定義である場合でも、波形対応テーブルに対してATEテスタがサポートする波形タイプへ変換できる定義情報が登録してある為、ATEテスタで扱える波形タイプの正しい定義情報を行なった場合と同じ記述として扱うことが可能で、結果的に定義情報の誤りを自動修正することが可能となる。
【００１５】
使用するATEテスタが決定している場合、予めそのATEテスタのイベント定義の波形タイプを調査し、ATEテスタ毎に波形タイプの変換を行なうことにより、より的確なテストパターンチェックが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであることに留意すべきである。
【００１７】
（第１の実施の形態）
（パーサーシステム）
本発明の実施の形態におけるパーサーシステム１００は、図１に示すように、
パーサー装置１、顧客データ記憶装置２、構文解析記憶装置３、シミュレータ装置４、テスタインタフェース５、テスタ装置６、テスタ制約検査装置７及びジェネレータ装置８等を備えている。
【００１８】
顧客データ記憶装置２は構文解析する顧客データを記憶する。顧客データとしては、テスト生成ツールによって生成されたファンクションベクタ等がある。パーサー装置１は、顧客データ記憶装置２内の顧客データを構文解析し、テストデータ記述言語として使用可能に変換する。パーサー装置１は波形対応記憶装置１６を備えている。尚、詳細については後述する。構文解析記憶装置３は、テストデータ及びシミュレーション結果等を記憶する。シミュレータ装置４は、テストデータを基にシミュレーション処理をおこなう。テスタインタフェース５は、テスタ装置６で使用可能なパターン記述であるか否かをチェックし、シミュレーション結果をサクライズする。テスタ装置６は、ATEテスタである。テスタ制約検査装置７は、テスタ制約チェックを行なう。ジェネレータ装置８は、構文解析記憶装置３の内容を、顧客データ２として出力する。
【００１９】
（パーサー装置）
次にパーサー装置１について詳細に説明する。パーサー装置１は、図２に示すように、入力装置１１、出力装置１２、通信制御装置１３、主記憶装置１４、セントラルプロセッシングユニット（以下「ＣＰＵ」と記載）１５及び波形対応記憶装置１６、テストパターン記憶装置１７及びデータファイル記憶装置１８等を備えている。
【００２０】
波形対応記憶装置１６は、図３に示すような、波形対応テーブルを格納する。波形対応テーブルは、イベント変化を定義することで波形を表わす記述またはそれを簡易表現した記述情報と、その定義情報に対応する波形タイプより構成される。波形対応テーブルは、ATEテスタ毎に記述することでサポートする波形タイプだけに変換できる制約を有する。図３では、テスタ装置６がT256の名称にて記述されている。波形対応テーブルは、サポートする全てのテスタ装置６での波形タイプを記述することで制約の少ない波形対応テーブルとしても構わない。
【００２１】
波形対応テーブルの記述は、図４（ａ）に示すように、波形タイプ名＝その波形タイプを表わす波形定義の簡易表現の組み合わせより成る。
【００２２】
波形タイプ名については、自由に変更して構わない。図５に波形の例として、DT波形、PP波形及びNP波形等を示す。尚、DT波形は、一般的にNRZ波形と呼ばれ、PP波形は、一般にRZ波形と呼ばれる。
【００２３】
波形定義の簡易表現の記述については、まず波形タイプで扱える波形定義文字（ウェブフォームキャラクタ：以下「WFC」と記載」）を記述する。この波形タイプで用いるWFCは、STIL等のテストパターン記述言語で扱える文字であれば何を用いても良いが、一般的に用いることの多い文字を使うことが望ましい。
【００２４】
これに続き、WFCに対する簡易表現の波形定義である「イベント変化情報」が少なくとも１つ以上記述される。尚、１つのイベント変化情報は、イベント時刻及びイベント情報の組み合わせより構成される。イベント時刻で用いる文字については図４（ｂ）の表を参照して決定される。尚、イベント変化情報を複数記述する場合は、それぞれをカンマで区切り記述する。
【００２５】
尚、波形タイプではなく、タイミング定義による記述をテストパターンのデータとして使用することにより、動作の違いが発生する場合がある。これは、タイミング定義が、１つのサイクルを基準に、その中で変化するイベント情報をWFCとして定義する為である。
【００２６】
例えば、WFCの定義をイベントがずっとダウンしている状態のみを想定してタイミング定義を行なった際に、実際にはサイクルエンド毎にイベントがダウンしてしまう場合がある。つまり、WFCパターンが「０→０→０→１」と想定していたのに、実際はWFCパターンが「０→１→１→０」と予想外の動作をすることがある。更に、WFCの定義、つまりタイミング定義の段階で、パターンの実行が「０→１」や「１→０」、「１→１」、「０→０」等の組み合わせによってどのように実際動作するかを想定することは、定義するWFCの個数が多くなるにつれ、困難となってくる。
【００２７】
これを解決する為に、最初から波形タイプへの変換を行なうことを前提にしておけば、上記の想定外の動作であっても、予め決められた動作が明確なので、定義の際は定義したい波形タイプに変換するためのWFC定義を行なうだけで、テストデータの記述が容易となる。波形タイプ毎の動作は、テスタ装置６毎に基づく動作にしておくことで、テストデータの設計・検証の工程段階において、テスタ装置毎でのテストを想定した設計が可能となる。
【００２８】
ＣＰＵ１５は、テストデータ入力手段１５ａ、構文解析手段１５ｂ、構文解析結果出力手段１５ｃ、データ解析手段１５ｄ、波形タイプ変換手段１５ｅ、データ解析結果出力手段１５ｆ、データ構築手段１５ｇ、データベース生成手段１５ｈ及びデータベース出力手段１５ｉ等を備えている。
【００２９】
テストデータ入力手段１５ａは、テストパターン記述言語によって記述されたの顧客データ（テストデータ）を、入力装置１１を介して取得する。更にテストデータに記載される指定されたファイル名の情報を取得し、このファイル名の情報を基にテストパターン記述情報を読み込む。
【００３０】
構文解析手段１５ｂは、読み込んだテストパターン記述情報の構文を解析する。構文解析結果出力手段１５ｃは、構文を解析することで得られたシンタックスの誤りを出力装置１２へ出力する。データ解析手段１５ｄは、構文解析手段１５ｂの解析結果より得られたデータから関連するデータ情報を取得する。データ解析の際、図１のテスタ装置６で扱える波形タイプであるかも判断する。
【００３１】
波形タイプ変換手段１５ｅは、図３の波形対応テーブルを参照し、イベント変化情報と波形タイプの対応付けを行なう。データ解析結果出力手段１５ｆは、データ解析手段１５ｄのデータ解析結果として、矛盾のある記述、不十分な記述等の記述エラー情報を出力装置１２に出力する。
【００３２】
データ構築手段１５ｇは、エラー記述がなかったテストパターン記述情報を後のデータ解析結果出力手段１５ｆで構造データとして構文解析記憶装置３へファイル出力できるように、データの構築処理を行う。
【００３３】
データベース生成手段１５ｈは、中間データベースファイルを生成する。中間データベースファイルとは、データ構築手段１５ｇによって生成された構造データを、パーサーシステム１００において、シミュレータ入力用データへの変換やATEテスタ入力用テストパターンへの変換を行なう際に変換が容易となるようにデータアクセスルーチンと共に提供される特定のフォーマットにて生成されたファイルである。データベース出力手段１５ｉは、データベース生成手段１５ｈより生成された中間データベースファイルを出力する。
【００３４】
入力装置１１は、キーボード、マウス等から入力信号を受信するインターフェイスである。ＦＤ、ＭＤ等の外部記憶装置を介して入力されても良い。出力装置１２は、分析結果等を出力するための装置であり、具体的には液晶ディスプレイ、ＣＲＴディスプレイ、プリンタ等を指す。通信制御装置１３は、他装置に対しデータを送受信する為の制御信号を生成する。主記憶装置１４は、処理の手順を記述したプログラムや処理されるべきデータを一時的に記憶し、ＣＰＵ１５の要請に従ってプログラムの機械命令やデータを引き渡す。ＣＰＵ１５で処理されたデータは主記憶装置１４に書き込まれる。主記憶装置１４とＣＰＵ１５はアドレスバス、データバス、制御信号等で結ばれている。
【００３５】
（パーサーシステムの動作）
次に、パーサーシステム１００の全体の動作について図６のフローチャートを参照して説明する。
【００３６】
（ａ）先ず、ステップＳ１００において、パーサー装置１は、顧客データ記憶装置２より顧客データを取得する。顧客データは、テストパターン記述言語にて記述され、テストデータとして読み込まれる。更にパーサー装置１は、読み込まれたテストデータは構文解析処理し、テストデータ中のイベント変化情報と波形タイプの対応付けを行なう。尚、詳細については後述する。テストデータ及び構文解析結果は図１の構文解析記憶装置３に格納される。
【００３７】
（ｂ）ステップＳ１０５において、シミュレータ装置４は、構文解析記憶装置３内のテストデータを基に論理検証用の入力パターンを作成し、ステップＳ１１０において、シミュレーション処理を実行する。ステップＳ１１５において、シミュレーション結果は構文解析記憶装置３に格納され、シミュレーション結果の解析処理がなされる。更にステップＳ１２０においてシミュレーション解析結果を基にシミュレーション期待値が抽出される。尚、シミュレーション解析結果及びシミュレーション期待値は構文解析記憶装置３にて格納される。
【００３８】
（ｃ）ステップＳ１２５においては、テスタインタフェース５が構文解析記憶装置３より取得したテストデータのパターンを変換する。パターン変換されたテストデータはテスタ装置６においてプログラムテストされる。最後にステップＳ１３０において、テスタ制約検査装置７が、テスタ制約のチェックを行なう。
【００３９】
（パーサー装置の動作）
次に、ステップＳ１００のパーサー装置１の動作について図７のフローチャートを参照して詳細に説明する。
【００４０】
（ａ）ステップＳ２００においては、図２のテストデータ入力手段１５ａが、自由に波形を定義できるテストデータ記述言語によって記述されたテストパターン（図８参照）を読み込む。ステップＳ２０５においては、構文解析手段１５ｂが、記述言語の仕様に基づいて構文解析を行ない、文法のチェックを実施する。ステップＳ２１０において、文法チェックの結果、記述違反無しと判断された場合は、ステップＳ２１５に進む。使用不可能な記述であると判断された場合は、処理を中断する。
【００４１】
（ｂ）ステップＳ２１５では、データ解析手段１５ｄが、構文解析手段１５ｂより取得する解析結果データを解析し、必要なデータ情報を取得する。データ解析の際、図１のテスタ装置６で扱える波形タイプであるかも判断する。この際、波形タイプ変換手段１５ｅが、波形対応記憶装置１６の波形対応テーブルの読み込み処理を行い、テストパターンでの波形定義と波形タイプとの対応付けを行なう。
【００４２】
（ｃ）ステップＳ２２０においては、波形タイプ変換手段１５ｅが、タイミング定義から波形タイプへの変換処理を行う。例えば、テストデータ記述言語によって記述されたテストパターンが図８の記述であったとする。タイミング定義はTimingブロックで記述された部分である。タイミング記述６０１は、初期値(0ns)でイベントがForcePrior、ディレイ値が30nsのイベント時刻で、ForceDownとForceUpに変化する波形を記述したものである。またタイミング記述６０２は、初期値(0ns)でイベントがForceDown、ディレイ値が20nsのイベント時刻でForceDownとForceUp、更に次のイベント時刻50nsでForceDownに変化する波形を記述したものである。続いてタイミング記述６０３は、0nsでイベントがCompareUnknown、80nsのイベントがCompareLowとCompareHighに変化する波形を記述したものである。
【００４３】
この変換処理では、初めに、タイミング定義の簡素化処理として、波形タイプ変換手段１５ｅが、イベント時刻を簡素な記号に置き換える。一例として、図８のタイミング定義は、図９に示すように、初期値の「0ns」は「0」に、ディレイ値の「20ns」、「30ns」及び「80ns」は「d1」に置き換えられる。「d1」の「1」は先頭から一番目のディレイ値の時刻であることを表わしている。
【００４４】
更に、イベント時刻「50ns」は「d1+w1」に変換される。「d1」はクロックの立ち上がるディレイ値で、「w1」はクロック幅の時刻を表わしている。従ってクロックが立ち下がるイベント時刻の「50ns」は「d1+w1」で表わされる。又、イベント時刻のディレイ値「d」とクロック幅などの幅値を表わす「w」に対して、２番目、３番目、ｎ番目の数値を表わす２，３，…,ｎを付し、変換を行っても構わない。尚、「d1」や「w1」における先頭から一番目の数値を示す「1」を省略し、「d」や「w」と記述しても構わない。
【００４５】
（ｄ）ステップＳ２２５においては、波形タイプ変換手段１５ｅが、この簡素化されたタイミング定義の記述が、図３の波形対応記憶装置１６の波形対応テーブルに登録されているかを検索する。
【００４６】
ステップＳ２３０において、波形対応テーブルに登録されていれば、ステップＳ２３５において、波形タイプを波形対応記憶装置１６より取得する。例えば、図９の簡素化されたタイミング定義の記述８０１は、図３の波形対応記憶装置１６の波形対応テーブルと照合すると、一致するのは記述３０１である。よって波形タイプは「DT」と決定される。簡素化されたタイミング定義の記述８０２の場合は波形対応テーブルの記述３０２なので、波形タイプは「PP」として決定される。簡素化されたタイミング定義の記述８０３の場合は、波形対応テーブルの記述３０３なので、波形タイプは「STB」として決定される。波形タイプが決定されたタイミング定義は、図１のテスタ装置６でサポート可能な波形タイプである為、全てのタイミング定義が波形タイプへ変換できたことは、これらのタイミング定義全てがテスタ装置６でテスト処理可能であることになる。つまり、この段階でテストデータの構文解析を行なうと共に、テスタ装置６でのテストパターンとして利用可能か否かの確認作業が実施できる。
【００４７】
（ｅ）ステップＳ２３０において、波形対応テーブルに登録されていなければ、ステップＳ２４５において、対応する波形タイプは存在しないと判断され、波形タイプへの変換は不可能であるためこの処理は終了する。この際は、波形タイプへ変換できないことにより所望のテスタ装置６ではテストができない旨のエラーメッセージを出力装置１２に表示してもよい。
【００４８】
（変更例１）
第１の実施の形態で用いた図８のテストデータのタイミング定義では、WFC内をまとめて記述しているが、図１０に示すように、Inputsのタイミング定義９０１、９０２及びOutputsのタイミング定義９０４、９０５を独立して定義しても構わない。さらにCLKのタイミング定義９０３のように、ピン名に対して全てのイベント時刻でWFCの個数分を記述しても構わない。例えば、WFCが１つなら図８のように「D」とし、WFCが２つなら図１０のように「D/D」と記述する。
【００４９】
これにより図７のステップＳ２２０のタイミング定義の簡素化処理において、タイミング定義９０１、９０２毎のWFCを1つにまとめる処理及びタイミング定義９０４、９０５毎のWFCを1つにまとめる処理が必要になる。具体的には、それぞれのイベント時刻の論理和をとり、必要なイベント時刻で定義を行なっているものと変換する。
【００５０】
WFCを１つにまとめる際に、２つ以上あるWFCのどのタイミング定義を先に記述するかによって、波形対応記憶装置１６の中に一致する記述があるかを検索した際に検索結果に違いが生じる場合が生じる。その場合は、記述順番を変更して再度検索を行う等の処理が必要となる。
【００５１】
簡素化処理により、図１０のタイミング定義９０１、９０２は図１１のタイミング定義１００１のように変換される。
【００５２】
この際、波形対応記憶装置１６の波形対応テーブル内容をタイミング定義１００１と一致するように変更しても良い。若しくは、波形対応テーブルを簡略にする為に、タイミング定義１００１に簡素化処理を再度行なう。
【００５３】
つまり、波形対応テーブルでは同じイベント記述は、例えばD/Dの記述は全てDとして記述されている為、簡素化されたタイミング定義１００１では、波形対応記憶装置１６内に一致する記述が存在しない。この場合、タイミング定義１００１の記述に対して更なる簡素化処理を行ない、タイミング定義１００４の記述へ変換する。タイミング定義９０４、９０５についても同様の処理を行い、簡素化処理によってタイミング定義１００３へ変換を行ない、続いてタイミング定義１００５へ変換する。尚、タイミング定義９０３はタイミング定義１００２へ変換するだけでよい。以降の波形タイプの決定は第１の実施の形態と同様であるため説明を省略する。
【００５４】
（第２の実施の形態）
第１の実施の形態においては、波形タイプが正転する場合について説明したが、この波形タイプの正転及び反転の利用が可能なパーサー装置１ａについて以下に説明する。
【００５５】
本発明の第２の実施の形態に係るパーサー装置１ａは、図１２に示すように、入力装置１１、出力装置１２、通信制御装置１３、主記憶装置１４、ＣＰＵ１５０及び波形対応記憶装置１６ａ、テストパターン記憶装置１７及びデータファイル記憶装置１８等を備えている。ＣＰＵ１５０は、テストデータ入力手段１５ａ、構文解析手段１５ｂ、構文解析結果出力手段１５ｃ、データ解析手段１５ｄ、波形タイプ変換手段２０、データ解析結果出力手段１５ｆ、データ構築手段１５ｇ、データベース生成手段１５ｈ及びデータベース出力手段１５ｉ等を備えている。波形タイプ変換手段２０は、一致確認手段２０ａ及び正転反転確認手段２０ｂ等を備えている。
【００５６】
一致確認手段２０ａは、波形タイプを変換する際、WFCが一致するかの確認を行なう。正転反転確認手段２０ｂは、波形タイプが正転であるか反転であるかを確認する。波形対応記憶装置１６ａは、図１３に示すように、正転及び反転する波形タイプの対応テーブルを記憶する。これ以外の装置については第１の実施の形態と同様である為説明を省略する。
【００５７】
（パーサー装置の動作）
次に、パーサー装置１ａの動作について図１３のフローチャートを参照して
説明する。尚、ステップＳ３００〜ステップＳ３３０及びステップＳ３５５は、図７のステップＳ２００〜Ｓ２３０及びステップＳ２４５と同様である為説明を省略する。
【００５８】
（ａ）ステップＳ３３０において、波形対応テーブルに登録されていれば、ステップＳ３３５において、タイミング定義を簡素化した記述において、WFCの文字も含めて一致するか否かを確認する。これは、タイミング定義のWFCの記述順番を替えることで、簡素化した記述がWFCの記述も含めて一致する場合がある為である。
【００５９】
（ｂ）ステップＳ３４０では、波形タイプを波形対応記憶装置１６ａより取得する。ステップＳ３４５では、波形タイプが正転か反転かの確認をする。例えば、図１５のタイミング定義１３０１は簡素化の処理によって図１６のタイミング定義１４０１、１４０２に置き換えることができるが、WFCも含めて一致するほうはタイミング定義１４０２である。この為、タイミング定義１４０２に置き換えると判断し、ステップＳ３５０では、タイミング定義１４０２が波形対応テーブルと一致するものとして決定する。
【００６０】
波形対応テーブルから波形タイプは「-DT」が得られるが、波形タイプにマイナスの文字が付く場合は、反転波形を表わしており、結果は反転のDT波形に対応付けられたという結果になる。
【００６１】
尚、図１５のタイミング定義１３０２も同様に図１６のタイミング定義１４０３、１４０４は、タイミング定義１４０４に置き換えることができるが、WFCまで一致するものはタイミング定義１４０４であり、結果的には波形テーブルの反転のPP波形であると判断する。
【００６２】
（第３の実施の形態）
第３の実施の形態では、第１の実施の形態のパーサー機能に加え、テストパターンデータが誤ったタイミング定義のためにサポートできない波形タイプとして認識され、タイミング定義に対する手修正を必要とする場合に、利用者の意図した波形タイプへ自動的に正しく変換するパーサー装置１ｂについて説明する。
【００６３】
（パーサー装置）
本発明の第３の実施の形態に係るパーサー装置１ｂは、図１７に示すように、入力装置１１、出力装置１２、通信制御装置１３、主記憶装置１４、ＣＰＵ１５１及び波形対応記憶装置１６、テストパターン記憶装置１７ｂ及びデータファイル記憶装置１８等を備えている。ＣＰＵ１５１は、テストデータ入力手段１５ａ、構文解析手段１５ｂ、構文解析結果出力手段１５ｃ、データ解析手段１５ｄ、波形タイプ変換手段３０、データ解析結果出力手段１５ｆ、データ構築手段１５ｇ、データベース生成手段１５ｈ及びデータベース出力手段１５ｉ等を備えている。波形タイプ変換手段３０は、波形定義文字抽出手段であるWFC抽出手段３０ａ、パターン使用確認手段３０ｂ、WFC使用判定手段３０ｃ及びタイミング簡素化手段であるWFCタイミング簡素化手段３０ｄ等を備えている。
【００６４】
テストパターン記憶装置１７ｂは、図１９に示すテストパターンを格納している。
【００６５】
WFC抽出手段３０ａは、タイミング定義からWFCを抽出する処理を行う。パターン使用確認手段３０ｂは、抽出されたWFCがパターンとして実際に使用されているか否かを確認する。WFC使用判定手段３０ｃは、WFCがパターンとして使用されているか否かの使用状況を判定する。
【００６６】
WFCタイミング簡素化手段３０ｄは、パターンとして使用されているWFCのタイミング定義の簡素化を行なう。タイミング定義はステップＳ２２０及びＳ３２０にて説明した動作を行なう。これ以外の装置については第１の実施の形態と同様である為説明を省略する。
【００６７】
（パーサー装置の動作）
次に、パーサー装置１ｂの動作について説明する。前提として、テストパターン記憶装置１７ｂ内のテストパターンは、タイミング定義がテスタ装置６でサポート不可能な波形タイプを表わすタイミング定義１５０１（図１９参照）を含んでいる。タイミング定義１５０１で示したWFC定義は、図２１に示すような３つの波形、WFC＝0、WFC＝1、WFC＝Pを定義している。あるテスタ装置６では、これをFCR波形等として定義可能としている。しかしながら、テスタ装置６によっては、その３つの波形を表現できる波形タイプをサポートしておらず、記述エラーとして扱われる場合がある。
【００６８】
そこで、記述エラーとなる前に、第１の実施の形態に、パターン記述を参照してFCR波形等を利用すべきものかを判断する処理を加えることで、変換すべき波形タイプが正しいか否かを判定する。以下、詳細について図１８のフローチャートを参照して説明する
尚、ステップＳ４００〜ステップＳ４３０及びステップＳ４６５は、図７のステップＳ２００〜Ｓ２３０及びステップＳ２４５と同様である為説明を省略する。
【００６９】
(ａ)先ず、波形対応テーブルと一致する記述がある場合、ステップＳ４３５において、WFC抽出手段３０ａが、タイミング定義からWFCを抽出する。例えば、図１９のタイミング定義１５０１より、WFCとして「0」、「1」、「P」を抽出する。
【００７０】
ステップＳ４４０では、パターン使用確認手段３０ｂが、抽出されたWFC「0」、「1」、「P」が、パターンとして実際に使用されているか否かの確認を行なう。
【００７１】
（ｂ）ステップＳ４４５では、WFC使用判定手段３０ｃが、WFCの使用の有無、つまり使用しないWFCが存在するか否かの判定を行い、使用しないWFCが存在する場合、ステップＳ４６５へ進み波形タイプ無しの際の処理を行なう。使用しないWFCが存在しない場合、ステップＳ４５０へ進む。ステップＳ４５０では、WFCタイミング簡素化手段３０ｄが、使用するWFCだけでのタイミング定義の簡素化を行なう。使用していないWFCがあれば、そのWFCに対応するイベント定義を除いてタイミング定義を簡素化する。
【００７２】
例えば、使用するWFCが「0」「P」で、使用しないWFCが「1」であった場合のタイミング定義の簡素化を図２２を用いて説明すると、基のタイミング定義が図２２（ａ）であった場合、対象となるWFC「0」「P」のみでタイミング定義を行い、この結果、図２２（ｂ）のような記述のタイミング定義となる。このタイミング定義を更に簡素化し、図２２（ｃ）のような記述を得る。
【００７３】
（ｃ）ステップＳ４５５では、簡素化されたタイミング定義を、図３の波形対応記憶装置１６内の波形対応テーブルと比較し、対応する波形タイプを取得する。この図２２（ｃ）のケースでは、記述３０４と定義が一致する為、ステップＳ４６０において、PP波形として決定される。
【００７４】
（変更例）
尚、上記の第３の実施の形態で説明されているステップＳ４３０〜Ｓ４６５の簡素化のケースについて補足すると、この簡素化のケースでは、図１８のフローチャートによる適用ではなく、パターンとしてWFCを使用していない場合ではなく、WFCを使用していないものとして強制的に扱えるようにしてある。つまり、パターンの記述を検索して使用しているかを確認するのではなく、使用していないものとして自由に決定することが出来る。使用しないWFCの決定は例えば、外部からのインタフェース、例えば、パーサー装置１ｂ実行時の実行オプションを用いる等によって行なう。
【００７５】
使用しないWFC（WFCの１はWFCのPとしての定義にする）として、例えば図２３（ａ）のタイミング定義の簡素化を行なった場合、先ず、使用しないWFCを他のWFCと同じ定義にタイミング定義を変更し、図２３（ｂ）の記述になる。次に、図２３（ｂ）の記述の簡素化を行い図２３（ｃ）の記述を得る。
【００７６】
上記の処理を行うことにより、波形対応テーブルを用いて波形タイプへの変換処理を行なうパーサー装置１ｂでは、サポートできない波形タイプに対するタイミング定義でも手修正をすることなく目的の波形タイプへの変換を容易に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本発明のパーサーシステムの構成を示すシステム構成図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係るパーサー装置の構成を示す構成図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係る波形対応テーブルの構成図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態に係るタイミング定義のデータ構成を示す図である。
【図５】波形タイプの一例を示す図である。
【図６】本発明の第１の実施の形態に係るパーサーシステムの動作を示すフロー図である。
【図７】本発明の第１の実施の形態に係るパーサー装置の動作を示すフロー図である。
【図８】テストパターン記憶装置内のタイミング記述を示す図である。
【図９】タイミング記述の簡素化を示す図である。
【図１０】テストパターン記憶装置内のタイミング記述を示す図である。
【図１１】タイミング記述の簡素化を示す図である。
【図１２】本発明の第２の実施の形態に係るパーサー装置の構成を示す構成図である。
【図１３】本発明の第２の実施の形態に係る波形対応テーブルの構成図である。
【図１４】本発明の第２の実施の形態に係るパーサー装置の動作を示すフロー図である。
【図１５】テストパターン記憶装置内のタイミング記述を示す図である。
【図１６】タイミング記述の簡素化を示す図である。
【図１７】本発明の第３の実施の形態に係るパーサー装置の構成を示す構成図である。
【図１８】本発明の第３の実施の形態に係るパーサー装置の動作を示すフロー図である。
【図１９】テストパターン記憶装置内のタイミング記述を示す図である。
【図２０】タイミング記述の簡素化を示す図である。
【図２１】波形タイプの一例を示す図である。
【図２２】タイミング記述の簡素化を示す図である。
【図２３】タイミング記述の簡素化を示す図である。
【符号の説明】
【００７８】
１、１ａ、１ｂ…パーサー装置
２…顧客データ記憶装置
３…構文解析記憶装置
４…シミュレータ装置
５…テスタインタフェース
６…テスタ装置
７…テスタ制約検査装置
８…ジェネレータ装置
１１…入力装置
１２…出力装置
１３…通信制御装置
１４…主記憶装置
１５、１５０、１５１…ＣＰＵ
１５ａ…テストデータ入力手段
１５ｂ…構文解析手段
１５ｃ…構文解析結果出力手段
１５ｄ…データ解析手段
１５ｅ…波形タイプ変換手段
１５ｆ…データ解析結果出力手段
１５ｇ…データ構築手段
１５ｈ…データベース生成手段
１５ｉ…データベース出力手段
１６、１６ａ…波形対応記憶装置
１７、１７ｂ…テストパターン記憶装置
１８…データファイル記憶装置
２０…波形タイプ変換手段
２０ａ…一致確認手段
２０ｂ…正転反転確認手段
３０…波形タイプ変換手段
３０ａ…WFC抽出手段
３０ｂ…パターン使用確認手段
３０ｃ…WFC使用判定手段
３０ｄ…WFCタイミング簡素化手段
１００…パーサーシステム
【図１】
2005274451.tif 000003
【図２】
2005274451.tif 000004
【図３】
2005274451.tif 000005
【図４】
2005274451.tif 000006
【図５】
2005274451.tif 000007
【図６】
2005274451.tif 000008
【図７】
2005274451.tif 000009
【図８】
2005274451.tif 000010
【図９】
2005274451.tif 000011
【図１０】
2005274451.tif 000012
【図１１】
2005274451.tif 000013
【図１２】
2005274451.tif 000014
【図１３】
2005274451.tif 000015
【図１４】
2005274451.tif 000016
【図１５】
2005274451.tif 000017
【図１６】
2005274451.tif 000018
【図１７】
2005274451.tif 000019
【図１８】
2005274451.tif 000020
【図１９】
2005274451.tif 000021
【図２０】
2005274451.tif 000022
【図２１】
2005274451.tif 000023
【図２２】
2005274451.tif 000024
【図２３】
2005274451.tif 000025