(57)【要約】【課題】  従来は、回路基板の検査においては、回路基板の種類毎に回路基板検査治具を用意する必要があった。即ち、一般的に、回路基板の仕様等が異なれば、回路基板の大きさやレイアウト等が異なるため、スルーホール等の位置も回路基板の種類によって異なることになる。そのため、回路基板のスルーホールと接触するプローブの位置も回路基板の種類に対応する必要性が生じるため、製造する回路基板の種類分だけ回路基板検査治具を製造する必要がある。【解決手段】  回路基板検査治具１は、主に、上部側に上部基台２、下部側に下部基台３、上部基台２と下部基台３とを接続する支持軸５を具備して概略構成されるものである。例えば、下部基台３が略四角形状を有する場合において、１つに沿うようにストッパー４が設けられている。このストッパー４は、略四角形状を有するものであって、下部基台３よりも小型のものである。【選択図】図１
2005140723.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回路基板の端部に、種類の異なる複数の基板間で予め共通化された配列の導通部を設け、
回路基板検査治具に該導通部の配列に応じたプローブを設け、
上記プローブと上記導通部とを接触することによって上記回路基板の検査を行うことを特徴とする回路基板検査方法。
【請求項２】
種類の異なる複数の回路基板間で共通化された配列の導通部が設けられる回路基板の検査に共通で用いられる回路基板検査治具であって、
上記導通部に接触するプローブを、上記配列に対応する配列で設けたことを特徴とする回路基板検査治具。
【請求項３】
共通の回路基板検査治具により検査される種類の異なる複数の回路基板の中の一つであって、
該回路基板に備える導通部は、上記共通の回路基板検査治具に備えるプローブと接触可能であると共に、上記複数の回路基板間で予め共通化された配列で構成されることを特徴とする回路基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板の検査に関する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、電子機器等に実装されるプリント配線基板等の回路基板の動作確認等の検査を行う場合に、回路基板上のスルーホールやテストランド等の電気的に導通する導通部と、該回路基板検査治具のプローブとを接触させ、該プローブを介して信号の送受信を行ったり、電圧等を測定することによって、回路基板の検査を行っていた。
尚、上記スルーホールとは、技術分野によってはビアホールとも称されるものであって、プリント基板上において外部に露出される端子等の電気的な導通部のことを意味し、以下においてはスルーホールと表記を統一して説明する。
上述のような場合に、回路基板上のスルーホールと回路基板検査治具上のプローブとは予め互いに対応付けられているので、対応するスルーホールとプローブとを接触させることによって、該回路基板の検査行っていた。
このような技術の一例としては、下記特許文献１に示すようなものがある。
【０００３】
【特許文献１】特開平１０−１８５９９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、一般的に、回路基板の仕様、機能、種類、用途等が異なれば、回路基板の大きさやレイアウト等が異なるため、上述したスルーホール等の位置も回路基板の種類によって異なることになる。
そのため、上述のような回路基板の検査においては、回路基板の種類毎に回路基板検査治具を用意する必要があった。
つまり、回路基板のスルーホールと接触するプローブの位置も回路基板の種類に対応する必要性が生じるため、製造する回路基板の種類分だけ回路基板検査治具を製造する必要があり、コストの増大を招く恐れがある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
【０００６】
請求項１において、回路基板の端部に、種類の異なる複数の基板間で予め共通化された配列の導通部を設け、
回路基板検査治具に該導通部の配列に応じたプローブを設け、
上記プローブと上記導通部とを接触することによって上記回路基板の検査を行うことを特徴とする回路基板検査方法として構成されている。
【０００７】
請求項２において、種類の異なる複数の回路基板間で共通化された配列の導通部が設けられる回路基板の検査に共通で用いられる回路基板検査治具であって、
上記導通部に接触するプローブを、上記配列に対応する配列で設けたことを特徴とする回路基板検査治具として構成されている。
【０００８】
請求項３において、共通の回路基板検査治具により検査される種類の異なる複数の回路基板の中の一つであって、
該回路基板に備える導通部は、上記共通の回路基板検査治具に備えるプローブと接触可能であると共に、上記複数の回路基板間で予め共通化された配列で構成されることを特徴とする回路基板として構成されている。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。
【００１０】
請求項１により、例えばスルーホールやテストランド等の導通部の共通化を行うことで、共通化が施された回路基板を検査する回路基板検査治具は基本的には一種類で済むことになるので、従来のように異なる回路基板ごとに回路基板検査治具を用意する必要がなくなって、製造管理上のコスト低減に総合的に貢献することになる。
つまり、回路基板上の導通部であるスルーホールやテストランドの配列が予め定まっているので、回路基板検査治具のプローブであるテストピン等の配列を変化させる必要がなくなり、回路基板検査治具の共通化も図ることが可能となる。
また、回路基板の端部に導通部が設けられているため、該導通部が設けられている回路基板の端部のみを回路基板検査治具に接触させて検査を行うことが可能となるので、回路基板検査治具を小型化することが可能となり、回路基板の位置決めも容易となる。
【００１１】
請求項２、又は請求項３により、上述の効果を奏する回路基板検査治具と回路基板を製造して、同様の効果を奏することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、添付図面を参照しながら、本発明を実施するための最良の形態について説明し、本発明の理解に供する。尚、以下の本発明を実施するための最良の形態は、本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
図１は本発明の実施の形態に係る回路基板検査治具１と回路基板２０との概略構成を示した図、図２は図１に示す回路基板検査治具１と回路基板２０とを矢印Ａ方向より見た側面図、図３は回路基板２０に切欠を設けた場合の説明図である。
図１及び図２を用いて、本発明の実施の形態に係る回路基板検査治具１と回路基板２０との概略構成について説明する。
尚、図１においては、図面の見やすさを鑑みて、検査する回路基板２０を点線で示したが、該回路基板２０の詳細については図２及び図３を参照されたい。
【００１３】
先ず、回路基板検査治具１について説明する。
回路基板検査治具１は、主に、上部側に上部基台２、下部側に下部基台３とを具備して概略構成され、上部基台２と下部基台３とは支持軸５を介して接続されている。以下、詳細について説明する。
例えば、下部基台３が、図１に示すような略四角形状を有する場合において、１つの辺に沿うようにストッパー４が設けられている。
このストッパー４は、図１に示すように略四角形状を有するものであって、下部基台３よりも小型のものである。
尚、ストッパー４は後述するように位置決め体としても作用するものであり、回路基板２０のスルーホール側の辺に当接させる辺を有する形状であれば、図示する形状に限定されるものではない。
更に、該下部基台３には、支持軸５が立設されている。
具体的には、支持軸５は、図１に示すように、ストッパー４を貫通して下部基台３に挿嵌されるように立設されている。
【００１４】
上記支持軸５の軸上において、下部基台３よりも上部側には、図１に示すように上部基台２が設けられている。
この場合、上部基台２は、支持軸５によって貫通されるように構成されているので、支持軸５上を自在に上下動することが可能となっている。
また、図１は、上述のような構成を有する回路基板検査治具１の上部基台２と下部基台３とで回路基板２０を挟み込もうとしている状態を示している。
このような状態において、回路基板検査治具１と回路基板２０とを黒塗り矢印Ａの方向より見た側面図が図２である。
【００１５】
また、上部基台２及び下部基台３には、回路基板上の導通部であって外部の機器等と信号の送受信を行うスルーホール等に接触することによって電気的に接触するテストピンが複数設けられている。
例えば、図１に示す場合においては、図面の関係上、下部基台３に設けられるテストピン６３のみしか表現してないが、図２に示すように、上部基台２にもテストピン６２が設けられている。
即ち、このテストピン６２・６３が、回路基板上のスルーホール等の導通部に接触して信号の送受信を行うプローブの一例である。
【００１６】
このテストピン６２・６３は、異なる機能等を有する回路基板間で共通化された配列の導通部の一例であるスルーホールに接触可能な配列と形状とを有するものである。
ここで、上記「共通化」とは、回路基板検査治具１にて検査を行う種類が異なる回路基板上のスルーホールの配列、位置、又は形状等を共通化して予め定めることである。
換言するならば、共通化とは、多種類の回路基板におけるスルーホール等の導通部の配列や形状の相違を無くして、統一的に共通化を図っているため、どの回路基板をとってもスルーホールの配列や形状が同一とすることである。
また、テストピン６２・６３は、例えば図１および図２に示すように、各々６行３列となるように配列され、テストピン６２とテストピン６３とでは、テストピン６２の列がテストピン６３の列の間に並ぶように配列されても良い。
尚、回路基板２０の位置決めや表裏の区別をするために、位置決め用のピン等を別途設けてもよく、テストピン６２・６３のいずれかを位置決め用のピンと兼用させても良い。
【００１７】
また、共通化された導通部であるスルーホールを具備する回路基板の一例としては、図１〜図３に示す回路基板２０がある。
この場合、回路基板２０は、図２及び図３に示すように６行６列のスルーホール２１を具備している。
即ち、このスルーホール２１は、上記６行３列の上記テストピン６２・６３と対応するように６行６列で設けられている。
更に、この６行６列のスルーホール２１は、回路基板２０の端部側に設けられている。  既に上述したように構成されているので、スルーホール等の導通部の共通化を行うことで、共通化が施された回路基板を検査する回路基板検査治具は基本的には一種類で済むことになるので、従来のように異なる回路基板毎に回路基板検査治具を用意する必要がなくなって、製造管理上のコスト低減に総合的に貢献することになる。
つまり、回路基板上の導通部であるスルーホールの配列が予め定まっているので、回路基板検査治具のプローブであるテストピン等の配列を変化させる必要がなくなり、回路基板検査治具の共通化も図ることが可能となる。
【００１８】
このような構成により、以下の手順で回路基板２０を回路基板検査治具１に取り付けることで、回路基板２０の検査を実行することが可能となる。
回路基板２０の端部側に予め共通化された配列のスルーホール２１を設け、該スルーホール２１の配列に応じたテストピン６２・６３を回路基板検査治具１に設け、上記テストピン６２・６３と、上記スルーホール２１とを接触させる。
具体的には、回路基板２０のスルーホール２１の３列分を下部基台３のテストピン６３と接触させ、上部基台２を下部基台３側へ移動させることによって（図２の２ａは、下方へ移動中の上部基台２を表現している。）、残りの３列分のスルーホール２１に上部基台２のテストピン６２を接触させる。
このようにテストピン６２・６３とスルーホール２１とを接触させることによって、該テストピン６２・６３を介してスルーホール２１の電圧や信号の状態を計測することが可能となるので、回路基板２０の検査を行うことが可能となる。
【００１９】
また、上述のような構成である場合に、例えば図２に示す状況であれば、回路基板２０の一辺をストッパー４に当接させ、回路基板２０を下部基台３へ落し込むことで、テストピン６３がスルーホール２１に接触される。
更に、上部基台２を下部基台３側へ移動させることでテストピン６２が残りのスルーホール２１に接触される。
つまり、ストッパー４は、回路基板２０を回路基板検査治具１に取り付ける場合の位置決めの機能を担っている。
勿論、該ストッパー４による位置決めの機能を十分果たすように、回路基板２０上におけるスルーホール２１の位置を精度良く定められていることが望ましい。
【００２０】
また、上述の構成により、回路基板２０を外部側から支持軸５への方向の位置決めはストッパー４によって行われるが、図１における矢印Ａ方向（即ち、図２における紙面に対して手前から奥方向）の位置決めは行われない。
そこで、図３に示すように、ストッパー４に突起４ａを設け、回路基板２０においてストッパー４に当接する辺に該突起４ａと合致する形状を有する切欠２２を設ける。
このようにストッパー４と回路基板２０とを構成した場合に、回路基板２０の切欠２２を該突起４ａに嵌めるようにして、回路基板２０をストッパー４に図３の矢印方向に当接させることによって、図３の矢印方向（外部側から支持軸５への方向）の位置決めを行えると共に、図１に矢印Ａ方向（即ち、図２における紙面に対して手前から奥方向）の位置決めも行えるようになる。
したがって、ストッパー４、突起４ａ、及びストッパー４に当接する回路基板２０の一辺に設けた切欠２２によって、回路基板２０の２方向の位置決めを容易に行うことが可能となる。
つまり、回路基板２０のスルーホール２１と、テストピン６２・６３との接触を容易に行うことが可能となるので、作業効率を向上させることが可能となる。
【００２１】
また、上述のスルーホール２１等の導通部の他に、回路基板２０上にアドレスバスやデータバス等が存在する場合においては、該アドレスバスやデータバスの一部を外部に露出させた端子部分を、上述してきたスルーホール２１と同様の導通部として適用する。
勿論、このような場合においては、アドレスバスやデータバスの一部を外部に露出させた端子部分と電気的に接触することができるテストピン等を上述した上部基台２や下部基台３に設ける必要がある。
尚、上部基台２の昇降及び回路基板２０の移動及び昇降は手動であってもアクチュエータによる自動駆動であってもよく限定するものではない。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施の形態に係る回路基板検査治具１と回路基板２０との概略構成を示した図。
【図２】図１に示す回路基板検査治具１と回路基板２０とを矢印Ａ方向より見た側面図。
【図３】回路基板２０に切欠を設けた場合の説明図。
【符号の説明】
【００２３】
１    回路基板検査治具
２    上部基台
３    下部基台
４    ストッパー
５    支持軸
２０    回路基板
２１    スルーホール
２２    切欠
４ａ    突起
６２    テストピン
６３    テストピン
【図１】
2005140723.tif 000003
【図２】
2005140723.tif 000004
【図３】
2005140723.tif 000005