(57)【要約】【課題】  自己診断機能を備えるＡＳＩＣなどの電子制御装置で、自己診断を行う部分に故障が発生すれば、故障が発生していることも含めて確実に診断結果を導出可能にする。【解決手段】  エアバッグシステム１０でスクイブ１１を駆動するＡＳＩＣ１２には、２つのテスト回路２１，２２が設けられ、一方のテスト回路２１がシステム制御に必要な機能１４について自己診断テストを行い、テスト回路２１，２２同士で相互監視を行う。テスト回路２１，２２による自己診断テストの結果と相互監視の結果とは、結果出力回路２３，２４からそれぞれ通信ライン１５を介してマイコン１３に出力される。テスト回路７が単一のＡＳＩＣに比較して、テスト回路２１，２２内の故障についてもダイアグが可能となり、信頼性を高めることができる。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め定めるシステムの制御動作を、上位の制御装置からの制御を受けて行う電子制御装置であって、
該制御動作についての自己診断テストを行うテスト手段を複数含み、
該複数のテスト手段は、該自己診断テストとともに、テスト手段同士の相互監視も行い、自己診断結果および相互監視結果の出力を、該上位の制御装置に導出することを特徴とする電子制御装置。
【請求項２】
前記テスト手段は、前記自己診断テストおよび前記相互監視の実行と結果出力とを、それぞれ予め定める条件に従って行うことを特徴とする請求項１記載の電子制御装置。
【請求項３】
前記テスト手段は、前記予め定める条件として、前記上位の制御装置から予め定める結果出力要求が入力されるときに、前記自己診断テストおよび前記相互監視を実行することを特徴とする請求項２記載の電子制御装置。
【請求項４】
前記予め定める結果出力要求には、前記自己診断テストの結果を要求する機能の部分についての指定を含み、
前記テスト手段は、自己診断テストの結果のうち要求される機能の部分のみを導出することを特徴とする請求項３記載の電子制御装置。
【請求項５】
前記テスト手段は、前記結果出力要求で結果出力が指定される機能の部分についてのみ自己診断テストを行うことを特徴とする請求項４記載の電子制御装置。
【請求項６】
前記テスト手段は、前記自己診断テストの結果出力に、故障していると判断する機能の部分を示す情報を含めて導出することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の電子制御装置。
【請求項７】
前記制御動作は、半導体集積回路によって実行され、
前記機能の部分は、該半導体集積回路のチップレイアウトのエリアによって分割されることを特徴とする請求項４〜６のいずれかに記載の電子制御装置。
【請求項８】
前記テスト手段は、前記システムの制御動作に伴って入力される信号が前記予め定める条件を満たすときに、前記自己診断テストおよび前記相互監視を実行することを特徴とする請求項２記載の電子制御装置。
【請求項９】
前記テスト手段は、予め設定される時間的条件が満たされるときに、前記自己診断テストおよび前記相互監視を実行することを特徴とする請求項２記載の電子制御装置。
【請求項１０】
前記複数のテスト手段は、前記システムの制御動作についての自己診断テストをそれぞれ行うことを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載の電子制御装置。
【請求項１１】
前記複数のテスト手段からの結果出力を比較し、故障を示す結果出力が含まれるときのみ、前記上位の制御装置に結果出力を導出するＡＮＤ手段を、さらに含むことを特徴とする請求項１〜１０のいずれかに記載の電子制御装置。
【請求項１２】
前記テスト手段は、３以上の複数含まれ、
該複数のテスト手段からの相互監視の結果出力を比較し、相互監視結果の異常の有無についての多数決に従い、異常の有無を表す結果出力が多数であるときのみ、前記上位の制御装置に相互監視の結果出力を導出する多数決手段を、さらに含むことを特徴とする請求項１〜１０のいずれかに記載の電子制御装置。
【請求項１３】
前記テスト手段は、前記上位の制御装置が通常動作とは異なる予め定める動作を行う際に、故意に故障を示す結果出力を導出し、該制御装置が結果出力に応答することの確認を行うことを特徴とする請求項１〜１２のいずれかに記載の電子制御装置。
【請求項１４】
請求項１〜１３のいずれかに記載の電子制御装置を、半導体チップ上に集積して形成してあることを特徴とするＡＳＩＣ。
【請求項１５】
移動体に搭載され、移動体の乗員を保護する保護システムであって、
請求項１４記載のＡＳＩＣと、
移動体の予め定める動作状態を監視してＡＳＩＣに入力するセンサと、
センサによって移動体の動作状態が予め定める条件となることが検知されるとき、ＡＳＩＣによって駆動されて、乗員の保護を行う保護具とを含むことを含むことを特徴とする保護システム。
【請求項１６】
前記センサは、衝撃の加速度を検知し、
前記保護具は、エアバッグであることを特徴とする請求項１５記載の保護システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高い信頼性を要求されるシステムで使用されるような電子制御装置、ＡＳＩＣおよび保護システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、自動車などの移動体には、事故の際に乗員を保護するエアバッグシステムなどが設けられている。エアバッグシステムでは、事故時には確実にエアバッグが作動し、事故時以外ではエアバッグが作動しない必要がある。乗員保護の必要がないのにエアバッグが作動してしまうと、運転者などの動作や視界を妨げてしまうからである。
【０００３】
エアバッグシステムでは、事故が生じているか否かの判断に加速度センサなどを用い、エアバッグの展開の制御には、点火用の駆動も必要なので専用の電子制御ユニット（ＥＣＵ）を用いる。エアバッグの展開の判断は、移動体内の複数箇所に設ける加速度センサからの検知出力に基づいて総合的行う必要があるので、駆動用の電子制御ユニットとともに、全体の制御を行う電子制御ユニットも設けられる。すなわち、全体の制御を行う電子制御ユニットが上位となり、駆動用の電子制御ユニットが下位となって、複合的に制御を行うシステムが構成される。
【０００４】
図３５は、エアバッグシステムなどを一般化したシステム１の形態を示す。システム１は、ＡＳＩＣ２とマイコン３とを含む。ＡＳＩＣ２は、特定用途向けの半導体集積回路（
Application Specific Integrated Circuit ）であり、システム１の目的を達成するため、システム制御に必要な機能４を備え、システム１に特有のハードウエアに対するインタフェースや駆動を行う。マイコン３は、ＡＳＩＣ２を介してシステム１の全体的な制御を行う。マイコン３としては、ソフトウエア開発のツールなどが充実している汎用の半導体集積回路化されているマイクロコンピュータが用いられる。
【０００５】
半導体集積回路、特にＡＳＩＣには、自己チェック、自己修復、あるいは故障検出などの機能が設けられ、信頼性の向上が図られている（たとえば、特許文献１〜３参照。）また、複数の制御部を備えるコンピュータシステムでは、信頼性を高めるために診断動作を行い、障害発生時の動作を確認するために疑似障害を発生させることもある（たとえば、特許文献４参照）。
【０００６】
図３６は、図３５のシステム１で、ＡＳＩＣ２がダイアグ（diagnosis ）を行う動作タイミングの概要を示す。ＡＳＩＣ２には、自己診断のために、ダイアグ機能が設けられている。システム１が実際に市場に出てからも、ＡＳＩＣ２内に故障が発生しているか否かを常に監視するためである。ダイアグ機能では、時刻ｔ１にマイコン３が内蔵するタイマ５からの一定時間毎の要求や、外部要因６からの要求をトリガとして、（ａ）ダイアグ要求を示す制御信号をＡＳＩＣ２に与える。ＡＳＩＣ２では、ダイアグ要求を示す制御信号に応答して、時刻ｔ２から（ｂ）ダイアグを実施し、時刻ｔ３で診断結果を表す（ｃ）状態出力を含む状態通知を、マイコン３に返信する。マイコン３では、状態通知を受信して、ＡＳＩＣ２の状態出力を取込み、ＡＳＩＣ２内に故障が発生しているか否かを（ｄ）判定し、時刻ｔ４では判定に従って（ｅ）判定後処理を行う。
【０００７】
図３７は、ＡＳＩＣ２として、ＡＳＩＣ自身のダイアグをマイコン３からの処理なしで行う場合の構成を示す。ＡＳＩＣ２内には、テスト回路７と結果出力回路８とが含まれる。図３８は、図３７の動作タイミングの概要を示す。時刻ｔ１１で、内蔵するタイマや外部要因などをトリガとして、（ａ）ダイアグ要求が行われる。時刻ｔ１２では、テスト回路７によって（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ１３では、テスト回路７によって、ダイアグに基づく診断結果の（ｄ）判定が行われる。時刻ｔ１４では、判定結果の出力が行われる。
【０００８】
【特許文献１】特開平１１−１６８１７９号公報
【特許文献２】特開平８−２５５５００号公報
【特許文献３】特開平９−２９２４４７号公報
【特許文献４】特開平５−２８０６４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
図３５に示すようなシステム１では、マイコン３がＡＳＩＣ２内に故障が発生していないことを、ダイアグによって常に確認している。マイコン３は、システム１の頭脳というべきものであり、ＡＳＩＣ２のダイアグのための制御も、ソフトウエアで実現することができる。しかしながら、マイコン３がシステム１のために行う処理の内容が高度化、複雑化すると、ＡＳＩＣ２に対してダイアグの処理を行うことは、マイコン３にかかる処理負担を無視することができなくなってきている。
【００１０】
図３７に示すように、ＡＳＩＣ２に自己診断の機能を持たせ、ダイアグをマイコン３からの処理無しで行うようにすれば、マイコン３の処理負担を軽減することができる。ただし、テスト回路７に故障などが発生すると、ダイアグ結果の信頼性が損われてしまう。故障が発生しているテスト回路７からは、故障を示す信号が発生されるとは限らず、システム制御に必要な機能４に故障が生じても、診断結果には示されない可能性がある。
【００１１】
本発明の目的は、自己診断機能を備えるＡＳＩＣなどの電子制御装置で、自己診断を行う部分に故障が発生すれば、故障が発生していることも含めて確実に診断結果を導出することができる電子制御装置、ＡＳＩＣおよび保護システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、予め定めるシステムの制御動作を、上位の制御装置からの制御を受けて行う電子制御装置であって、
該制御動作についての自己診断テストを行うテスト手段を複数含み、
該複数のテスト手段は、該自己診断テストとともに、テスト手段同士の相互監視も行い、自己診断結果および相互監視結果の出力を、該上位の制御装置に導出することを特徴とする電子制御装置である。
【００１３】
本発明に従えば、予め定めるシステムの制御動作を、上位の制御装置からの制御を受けて行う電子制御装置には、制御動作についての自己診断テストを行う複数のテスト手段が含まれる。複数のテスト手段は、自己診断テストとともに、テスト手段同士の相互監視も行い、自己診断結果および相互監視結果の出力を、上位の制御装置に導出する。テスト手段が自己診断テストを行うので、上位の制御装置の負担を軽減することができる。複数のテスト手段が設けられ、テスト手段同士の相互監視の結果も上位の制御装置に導出されるので、テスト手段のうちに故障が発生しているものがあれば、相互監視の結果から判断することができる。上位の制御装置では、テスト手段に故障が発生していないときで、自己診断テストの結果に異常がないときに、電子制御装置の動作には異常がないことを確実に知ることができる。
【００１４】
また本発明で、前記テスト手段は、前記自己診断テストおよび前記相互監視の実行と結果出力とを、それぞれ予め定める条件に従って行うことを特徴とする。
【００１５】
また本発明で、前記テスト手段は、前記予め定める条件として、前記上位の制御装置から予め定める結果出力要求が入力されるときに、前記自己診断テストおよび前記相互監視を実行することを特徴とする。
【００１６】
また本発明で、前記予め定める結果出力要求には、前記自己診断テストの結果を要求する機能の部分についての指定を含み、
前記テスト手段は、自己診断テストの結果のうち要求される機能の部分のみを導出することを特徴とする。
【００１７】
また本発明で、前記テスト手段は、前記結果出力要求で結果出力が指定される機能の部分についてのみ自己診断テストを行うことを特徴とする。
【００１８】
また本発明で、前記テスト手段は、前記自己診断テストの結果出力に、故障していると判断する機能の部分を示す情報を含めて導出することを特徴とする。
【００１９】
また本発明で、前記制御動作は、半導体集積回路によって実行され、
前記機能の部分は、該半導体集積回路のチップレイアウトのエリアによって分割されることを特徴とする。
【００２０】
また本発明で、前記テスト手段は、前記システムの制御動作に伴って入力される信号が前記予め定める条件を満たすときに、前記自己診断テストおよび前記相互監視を実行することを特徴とする。
【００２１】
また本発明で、前記テスト手段は、予め設定される時間的条件が満たされるときに、前記自己診断テストおよび前記相互監視を実行することを特徴とする。
【００２２】
また本発明で、前記複数のテスト手段は、前記システムの制御動作についての自己診断テストをそれぞれ行うことを特徴とする。
【００２３】
また本発明で、前記複数のテスト手段からの結果出力を比較し、故障を示す結果出力が含まれるときのみ、前記上位の制御装置に結果出力を導出するＡＮＤ手段を、さらに含むことを特徴とする。
【００２４】
また本発明で、前記テスト手段は、３以上の複数含まれ、
該複数のテスト手段からの相互監視の結果出力を比較し、相互監視結果の異常の有無についての多数決に従い、異常の有無を表す結果出力が多数であるときのみ、前記上位の制御装置に相互監視の結果出力を導出する多数決手段を、さらに含むことを特徴とする。
【００２５】
また本発明で、前記テスト手段は、前記上位の制御装置が通常動作とは異なる予め定める動作を行う際に、故意に故障を示す結果出力を導出し、該制御装置が結果出力に応答することの確認を行うことを特徴とする。
【００２６】
さらに本発明は、前述のいずれかに記載の電子制御装置を、半導体チップ上に集積して形成してあることを特徴とするＡＳＩＣである。
【００２７】
さらに本発明は、移動体に搭載され、移動体の乗員を保護する保護システムであって、
前述のＡＳＩＣと、
移動体の予め定める動作状態を監視してＡＳＩＣに入力するセンサと、
センサによって移動体の動作状態が予め定める条件となることが検知されるとき、ＡＳＩＣによって駆動されて、乗員の保護を行う保護具とを含むことを含むことを特徴とする保護システムである。
【００２８】
また本発明で、前記センサは、衝撃の加速度を検知し、
前記保護具は、エアバッグであることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、電子制御装置には制御動作についての自己診断テストを行う複数のテスト手段が含まれ、上位の制御装置の処理負担を軽減することができる。複数のテスト手段は自己診断テストとともに、テスト手段同士の相互監視も行い、自己診断結果および相互監視結果の出力を、上位の制御装置に導出するので、テスト手段のうちに故障が発生しているものがあれば、相互監視の結果から判断することができる。上位の制御装置では、テスト手段に故障が発生していないときで、自己診断テストの結果に異常がないときに、電子制御装置の動作には異常がないことを確実に知ることができ、自己診断を行う部分に故障が発生すれば、故障が発生していることも含めて確実に診断結果を導出することができる。
【００３０】
また本発明によれば、テスト手段による自己診断テストおよび相互監視の実行と結果出力とは、それぞれ予め定める条件に従って行われるので、たとえば高頻度で自己診断テストと相互監視とを行い、異常が生じない限り結果出力は行わないなど、信頼性を高めて、上位の制御装置の負担を軽減するような動作を行わせることができる。
【００３１】
また本発明によれば、上位の制御装置からの要求に応じて、自己診断テストおよび相互監視を実行し、その結果出力を上位の制御装置に出力することができる。
【００３２】
また本発明によれば、上位の制御装置から要求される機能の部分のみを自己診断テストの結果出力として導出するので、結果出力として上位の制御装置に転送する情報量を低減し、上位の制御装置の負担を軽減することができる。
【００３３】
また本発明によれば、テスト手段は、上位の制御装置からの結果出力要求で結果出力が指定される機能の部分についてのみ自己診断テストを行うので、自己診断テストに要する時間を低減することができる。
【００３４】
また本発明によれば、テスト手段は、自己診断テストの結果出力に故障していると判断する機能の部分を示す情報を含めて導出するので、上位の制御装置ではどの部分に故障が発生しているかを迅速に知ることができる。
【００３５】
また本発明によれば、システムの制御動作は、半導体集積回路によって実行され、自己診断テストが行われて診断の対象となる機能を果す部分は、半導体集積回路のチップレイアウトのエリアによって分割されるので、故障原因の解析などで、ＡＳＩＣのパッケージを開封するような場合に、対象を判り易くすることができる。
【００３６】
また本発明によれば、システムの制御動作に伴う時間的な条件や、外界の環境に基づいて入力される信号が予め定める条件を満たすときに、自己診断テストおよび相互監視を実行するので、上位の制御装置からの制御を受けなくても実行することができ、制御装置の処理負担を軽減することができる。
【００３７】
また本発明によれば、タイマなどの計時で予め設定される時間的条件が満たされるときに、自己診断テストおよび相互監視を実行するので、定期的に信頼性の確認を行う鋼とができる。
【００３８】
また本発明によれば、システムの制御動作についての自己診断テストを複数のテスト手段それぞれ行うので、確実な自己診断テストを行うことができる。複数のテスト手段について故障が発生しているものがあれば、相互監視結果に基づいて容易に判定することができる。
【００３９】
また本発明によれば、ＡＮＤ手段は、複数のテスト手段からの結果出力を比較し、故障を示す結果出力が含まれるときのみ、上位の制御装置に結果出力を導出するので、確実な相互監視結果のみを導出することができる。
【００４０】
また本発明によれば、３以上のテスト回路からの相互監視の結果出力を比較し、相互監視結果の異常の有無についての多数決に従い、異常の有無を表す結果出力が多数であるときのみ、上位の制御装置に相互監視の結果出力を導出するので、テスト回路のうちに故障が発生しても、多数決の判定結果には影響を与えず、信頼性が高い結果出力を得ることができる。
【００４１】
また本発明によれば、上位の制御装置が通常動作とは異なる予め定める動作を行う際に、故意に故障を示す結果出力を導出し、制御装置が結果出力に応答することの確認を行うので、上位の制御装置の応答動作を含めて診断を行うことができる。
【００４２】
さらに本発明によれば、上位の制御装置の処理負担が軽減されて、信頼性が高い自己診断を行うＡＳＩＣを得ることができる。
【００４３】
さらに本発明によれば、移動体に搭載され、移動体の乗員を保護する保護システムでに使用するＡＳＩＣの動作の信頼性を向上させて、センサによって移動体の動作状態が予め定める条件となることが検知されるとき、ＡＳＩＣによって保護具を確実に駆動して、乗員の保護を行うことができる。
【００４４】
また本発明によれば、移動体の衝突時など、エアバッグによる乗員の保護が必要なときにのみ、確実に動作するように、制御用のＡＳＩＣに対して、常に故障の診断を行い、保護動作が可能な状態を保つことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４５】
図１は、本発明の実施の第１形態であるエアバッグシステム１０の概略的な構成を示す。エアバッグシステム１０は、自動車の車両に搭載され、衝突時などに乗員を保護するために、スクイブ１１に通電してエアバッグを膨らませる。スクイブ１１の電気的な駆動のためにＡＳＩＣ１２が設けられ、上位の制御装置としてのマイコン１３からの制御に従って動作する。ＡＳＩＣ１２内には、エアバッグシステム１０としてのシステム制御に必要な機能１４が含まれる。ＡＳＩＣ１２とマイコン１３とは、離れた場所に設置され、通信ライン１５で制御信号の伝送が可能なように接続される。ＡＳＩＣ１２とマイコン１３とには、それぞれ近傍に設置されるＧセンサ１６，１７が検出する衝撃の加速度に対応する入力が与えられる。Ｇセンサ１６は機械的なセンサであり、Ｇセンサ１７は半導体による電気的なセンサである。ＡＳＩＣ１２は、マイコン１３がＧセンサ１７によって予め設定される基準を超える加速度を検出してエアバッグ展開を指令する制御信号を導出し、Ｇセンサ１６も予め設定される基準を超える加速度を検出しているときに、スクイブ１１を点火するように動作する。
【００４６】
ＡＳＩＣ１２には、複数、たとえば２つのテスト回路２１，２２が設けられ、一方のテスト回路２１がシステム制御に必要な機能１４について自己診断テストを行い、テスト回路２１，２２同士で相互監視を行う。テスト回路２１，２２による自己診断テストの結果と相互監視の結果とは、結果出力回路２３，２４からそれぞれ通信ライン１５を介してマイコン１３に出力される。このようなＡＳＩＣ１２では、図３７に示すようなテスト回路７が単一のＡＳＩＣ２に比較して、テスト回路２１，２２内の故障についてもダイアグが可能となり、信頼性を高めることができる。このように信頼性を高める考え方は、エアバッグシステム１０ばかりではなく、安全性や確実性が要求される保護システムに好適に用いることができる。
【００４７】
図２は、図１のＡＳＩＣ１２の内部構成例を示す。自己診断テストを可能にするために、システム制御に必要な機能１４およびテスト回路２１には、セレクタ２５，２６がそれぞれ設けられる。テスト回路２１，２２同士の相互監視を行うために、テスト回路２２にもセレクタ２７が設けられる。セレクタ２５は、システム制御に必要な機能１４の入力を、通常動作時には外部入力信号、テスト時はテスト回路２１からの信号をそれぞれ選択するように切換える。セレクタ２６は、テスト時はシステム制御に必要な機能１４の出力信号、相互監視時はテスト回路２２からの出力信号を、テスト回路２１に入力するように切換える。セレクタ２７は、テスト回路２１からの出力に応じて、テスト時と相互監視時との切換を行う。相互監視は、テスト時に続けて行われ、テストは、タイマ２８がトリガとなって定期的に実行される。テスト回路２１，２２によるダイアグ実施の結果出力は、結果出力回路２３，２４からシリアルデータとしてそれぞれ導出される。
【００４８】
図３は、図１のエアバッグシステム１０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ２１では、タイマ２８によるトリガで（ａ）ダイアグ要求が発生し、時刻ｔ２２から（ｂ）ダイアグ実施がなされる。（ａ）ダイアグ要求は、外部要因で発生させるようにすることもできる。（ｂ）ダイアグ実施では、システム制御に必要な機能１４に対する自己診断テストと、テスト回路２１，２２同士の相互監視とが実行される。実行の順番は任意である。時刻ｔ２３からダイアグ実施結果に基づく（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ２４から結果出力が行われる。判定と結果出力とは、ＡＳＩＣ１２内で実行される。時刻ｔ２５からは、マイコン１３で（ｅ）判定後処理が行われる。
【００４９】
図４は、本発明の実施の第２形態を一般化したシステム３０の概略的な構成を示す。このような一般化したシステムは、図１のエアバッグシステム１０と同様に用いることができ、自動車ではシートベルトシステムなど、乗員の安全に関する保護システムや、ブレーキ、エンジンなどの走行に関するシステムにも適用することができる。
【００５０】
本実施形態で、図１の実施形態に対応する部分には、同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム３０では、ＡＳＩＣ３２として、複数のテスト回路２１，２２に対してそれぞれダイアグ実施の結果出力を蓄積する情報蓄積回路３３，３４を設けておく。情報蓄積回路３３は、マイコン１３からの結果出力要求時に、蓄積されているダイアグ結果を通知する。システム３０では、図１のエアバッグシステム１０に比較して、マイコン１３が自分に都合がいいときに、自己診断テスト結果による故障情報などを引出すことができる。
【００５１】
図５は、図４のＡＳＩＣ３２の内部構成例を示す。情報蓄積回路３３，３４には、情報蓄積を行うラッチ３５，３６が設けられ、マイコン１３からの結果出力要求を検出して、検出時にラッチ３５，３６に蓄積されている結果出力をシリアルデータとして出力させる要求検出回路３７も設けられる。なお、通信ライン１５の本数を多くして、結果出力をパラレルデータとして導出させることもできる。以下に示す実施の形態でも、結果出力のデータは、シリアルデータと記載していても、同様にパラレルデータとして導出させることもできる。
【００５２】
図６は、図４のシステム３０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ３１でタイマ２８や外部要因による（ａ）ダイアグ要求が行われ、時刻ｔ３２から（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ３３からは、（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ３４で判定結果がラッチされる。その後、マイコン１３から任意の時刻ｔ３５に結果要求が行われ、時刻ｔ３６でＡＳＩＣ３２による結果出力が行われ、時刻ｔ３７からマイコン１３での（ｅ）判定後処理が行われる。
【００５３】
図７は、本発明の実施の第３形態を一般化したシステム４０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１または図４の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム４０のＡＳＩＣ４２では、システム制御に必要な機能４４が複数、たとえば１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌに分けて形成されている。回路ブロックには、演算処理、タイマ、割込み処理などの機能を実行する部分が含まれる。システム制御に必要な機能４４の自己診断テストを行うテスト回路２１は、回路ブロック毎に分けて判定を行い、結果出力回路２３から、たとえばシリアルデータとして結果出力を導出する。シリアルデータ中では、先頭からのビットの位置と、回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌのリスト中での位置とを対応させる。マイコン１３では、結果出力のシリアルデータで異常を示すビットの位置に基づいて、故障機能を特定することができる。
【００５４】
図８は、図７のシステム４０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ４１でタイマなどによるトリガがあると、ダイアグ実施が行われる。図３などと同様に、ダイアグ要求に一定の時間をかけることもできる。ダイアグ実施に続き、時刻ｔ４２では、（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ４３からはシリアルデータとして結果出力が行われる。シリアルデータとして、回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌを１ビットずつで順次表すように１２ビットを出力するときには、回路ブロックＤが故障の場合、４番目のビットで故障を示すことができる。
【００５５】
図９は、本発明の実施の第４形態を一般化したシステム５０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４または図７の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム５０のＡＳＩＣ５２では、システム制御に必要な機能４４が複数、たとえば１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌに分けて形成されている。回路ブロックには、演算処理、タイマ、割込み処理などの機能を実行する部分が含まれる。システム制御に必要な機能４４の自己診断テストを行うテスト回路２１は、回路ブロック毎に分けて判定を行い、結果出力を情報蓄積回路３３に蓄積する。テスト回路２２は、相互監視の結果出力を、情報蓄積回路３４に蓄積する。情報蓄積回路３３，３４に蓄積された結果出力は、マイコン１３からの結果出力要求時に、シリアルデータとして導出する。シリアルデータ中では、先頭からのビットの位置と、回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌのリスト中での位置とを対応させる。マイコン１３では、結果出力のシリアルデータで異常を示すビットの位置に基づいて、故障機能を特定することができる。
【００５６】
図１０は、図９のＡＳＩＣ５２とマイコン１３とのインタフェース部分の構成を示す。この構成は、図５の構成と同等である。図１１は、図９のシステム５０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ５１でタイマなどによるトリガがあると、（ａ）ダイアグ要求がなされ、時刻ｔ５２から（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ５３からは、（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ５４で情報蓄積回路３３，３４によるラッチ動作が行われる。その後、マイコン１３から任意の時刻ｔ５５に結果要求が行われ、時刻ｔ５６でＡＳＩＣ５２による結果出力が行われ、時刻ｔ５７からマイコン１３での（ｅ）判定後処理が行われる。図８と同様に、回路ブロックＤが故障の場合、４番目のビットで故障を示すことができる。
【００５７】
図１２は、本発明の実施の第５形態を一般化したシステム６０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７または図９の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム６０のＡＳＩＣ６２では、システム制御に必要な機能４４が複数、たとえば１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌに分けて形成されている。回路ブロックには、演算処理、タイマ、割込み処理などの機能を実行する部分が含まれる。システム制御に必要な機能４４の自己診断テストを行うテスト回路２１は、回路ブロック毎に分けて判定を行い、結果出力を情報蓄積回路６３に蓄積する。テスト回路２２は、相互監視の結果出力を、情報蓄積回路３４に蓄積する。情報蓄積回路６３，３４に蓄積された結果出力は、マイコン１３からの結果出力要求時に、シリアルデータとして導出する。シリアルデータ中では、先頭からのビットの位置と、回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌのリスト中での位置とを対応させる。マイコン１３では、結果出力のシリアルデータで異常を示すビットの位置に基づいて、故障機能を特定することができる。
【００５８】
情報蓄積回路６３では、マイコン１３から結果出力要求で指定される機能を有する回路ブロックのみについての結果出力を導出する。たとえば、システム制御に必要な機能４４が１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌに分けられるときに、６つの回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆが指定されていれば、情報蓄積回路６３は、指定された回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆのみについて蓄積されている結果出力をシリアルデータとして導出する。
【００５９】
図１３は、図１２のＡＳＩＣ６２とマイコン１３とのインタフェース部分の構成を示す。マイコン１３は、必要な回路ブロックのダイアグ結果の出力を要求し、要求検出回路６７が検出すると、情報蓄積回路６３に対しては、要求デコード回路６８によるデコード出力が与えられる。デコード出力には、マイコン１３がダイアグ結果の出力を要求する回路ブロックの指定が含まれる。
【００６０】
図１４は、図１２のシステム６０でのダイアグ動作のタイミングを、図１１での動作タイミングと比較して示す。すなわち、図１４（ａ）は図１１と同様に、全部の回路ブロックについての結果出力を導出する動作タイミングを示し、図１４（ｂ）でダイアグ結果の出力を指定された範囲のみについて行うダイアグ動作のタイミングを示す。図１４（ｂ）では、時刻ｔ６１でタイマなどによるトリガがあると、（ａ）ダイアグ要求がなされ、時刻ｔ６２から（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ６３からは、（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ６４で情報蓄積回路６３，３４によるラッチ動作が行われる。その後、マイコン１３から任意の時刻ｔ６５に結果要求が行われ、時刻ｔ６６でＡＳＩＣ６２による結果出力が行われ、時刻ｔ６７からマイコン１３での（ｅ）判定後処理が行われる。図８と同様に、回路ブロックＤが故障の場合、４番目のビットで故障を示すことができる。図１４（ａ）と図１４（ｂ）とを比較すると、図１４（ａ）では時刻ｔ５６から１２ビットのシリアルデータを導出する替りに、図１４（ｂ）では時刻ｔ６６から６ビットのシリアルデータを導出することが判る。このように、必要なデータのみ出力して、データ容量を小さくすることができる。
【００６１】
図１５は、本発明の実施の第６形態を一般化したシステム７０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７、図９または図１２の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム７０のＡＳＩＣ７２では、システム制御に必要な機能４４が複数、たとえば１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌに分けて形成されている。回路ブロックには、演算処理、タイマ、割込み処理などの機能を実行する部分が含まれる。システム制御に必要な機能４４の自己診断テストを行うテスト回路７３は、回路ブロック毎に分けて判定を行い、結果出力を情報蓄積回路６３に蓄積する。テスト回路２２は、相互監視の結果出力を、情報蓄積回路３４に蓄積する。情報蓄積回路６３，３４に蓄積された結果出力は、マイコン１３からの結果出力要求時に、シリアルデータとして導出する。シリアルデータ中では、先頭からのビットの位置と、回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌのリスト中での位置とを対応させる。マイコン１３では、結果出力のシリアルデータで異常を示すビットの位置に基づいて、故障機能を特定することができる。
【００６２】
テスト回路７３では、マイコン１３から結果出力要求で指定される機能を有する回路ブロックのみについての自己診断テストを実行する。たとえば、システム制御に必要な機能４４が１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌに分けられるときに、６つの回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆが指定されていれば、テスト回路７３は、指定された回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆのみについて自己診断テストを行い、情報蓄積回路６３に結果出力を蓄積する。
【００６３】
図１６は、図１５のＡＳＩＣ７２とマイコン１３とのインタフェース部分の構成を示す。マイコン１３は、必要な回路ブロックのダイアグ結果の出力を要求し、要求検出回路７７が検出すると、テスト回路７３および情報蓄積回路６３に対しては、要求デコード回路７８によるデコード出力が与えられる。デコード出力には、マイコン１３がダイアグ結果の出力を要求する回路ブロックの指定が含まれる。
【００６４】
図１７は、図１５のシステム７０でのダイアグ動作のタイミングを、図１１での動作タイミングと比較して示す。すなわち、図１７（ａ）は図１１と同様に、全部の回路ブロックについての自己診断テストを実施して、結果出力を導出する動作タイミングを示し、図１７（ｂ）でダイアグ結果の出力を指定された範囲のみについて自己診断テストと結果出力とを行うダイアグ動作のタイミングを示す。図１７（ｂ）では、時刻ｔ７１でタイマなどによるトリガがあると、（ａ）ダイアグ要求がなされ、時刻ｔ７２から（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ７３からは、（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ７４で情報蓄積回路６３，３４によるラッチ動作が行われる。時刻ｔ７２からのダイアグ実施では、６つの回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆまでについて自己診断テストを行うので、１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ全部について自己診断テストを行うよりも時間を短縮することができる。
【００６５】
その後、マイコン１３から任意の時刻ｔ７５に結果要求が行われ、時刻ｔ７６でＡＳＩＣ７２による結果出力が行われ、時刻ｔ７７からマイコン１３での（ｅ）判定後処理が行われる。図８と同様に、回路ブロックＤが故障の場合、４番目のビットで故障を示すことができる。図１７（ａ）と図１７（ｂ）とを比較すると、図１７（ａ）では時刻ｔ５２から１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌ全部について自己診断テストを行い、時刻ｔ５６から１２ビットのシリアルデータを導出する替りに、図１７（ｂ）では時刻ｔ７２から６つの回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆについて自己診断テストを行い、時刻ｔ７６から６ビットのシリアルデータを導出することが判る。このように、必要な回路ブロックのみ自己診断テストを実行して時間短縮を図り、その結果出力データのみ出力して、データ容量を小さくすることができる。
【００６６】
図１８は、本発明の実施の第７形態を一般化したシステム８０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７、図９、図１２または図１５の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム８０のＡＳＩＣ８２では、システム制御に必要な機能１４に対し、複数、たとえば２つのテスト回路２１，８３で自己診断テストを実施することができる。２つのテスト回路２１，８３は、図７、図９、図１２または図１５の実施形態と同様に、システム制御に必要な機能１４を複数の回路ブロックに分けて、自己診断テストをそれぞれ行い、結果出力をシリアルデータまたはパラレルデータとして導出する。同一の機能に対する総合的な診断は、ＡＮＤ回路８４で複数のテスト回路２１，８３からの結果出力の論理積（ＡＮＤ）をとって行うことができる。すなわち、全部のテスト回路２１，８３が異常なしを示すときにのみ、対象となる回路ブロックに故障が発生していないと診断して、診断結果の出力を結果出力回路２３から導出することができる。
【００６７】
図１９は、図１８のＡＳＩＣ８２の内部構成例を示す。自己診断テストを可能にするために、システム制御に必要な機能１４およびテスト回路２１，８３には、セレクタ２５，２６，８７がそれぞれ設けられる。テスト回路２１，８３は、システム制御に必要な機能１４およびテスト回路２１，８３同士の相互監視を行い、結果出力をＡＮＤ回路８４に与えて、ＡＮＤ演算の結果を、結果出力回路２３からシリアルデータとして導出する。
【００６８】
図２０は、図１８のシステム８０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ８１では、タイマ２８によるトリガで（ａ）ダイアグ要求が発生し、時刻ｔ８２から（ｂ）ダイアグ実施がなされる。（ｂ）ダイアグ実施では、システム制御に必要な機能１４に対する２つのテスト回路２１，８３による自己診断テストと、テスト回路２１，８３同士の相互監視とが実行される。実行の順番は任意である。時刻ｔ８３からダイアグ実施結果に基づく（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ８４からは、全てのテスト回路２１，８３による結果出力についてＡＮＤ回路８４によるＡＮＤ処理が行われ、時刻ｔ８５から結果出力が行われる。このように、判定から結果出力までは、ＡＳＩＣ１２内で実行される。時刻ｔ８６からは、マイコン１３で（ｅ）判定後処理が行われる。
【００６９】
図２１は、本発明の実施の第８形態を一般化したシステム９０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７、図９、図１２、図１５または図１８の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム９０のＡＳＩＣ９２では、システム制御に必要な機能１４に対し、３以上の複数、たとえば３つのテスト回路２１，８３，９３で自己診断テストを実施することができる。３つのテスト回路２１，８３，９３は、図７、図９、図１２、図１５または図１８の実施形態と同様に、システム制御に必要な機能１４を複数の回路ブロックに分けて、自己診断テストをそれぞれ行い、結果出力をシリアルデータまたはパラレルデータとして導出する。同一の機能に対する総合的な診断は、多数決回路９４によって、複数のテスト回路２１，８３，９３からの結果出力の多数決をとって行うことができる。すなわち、テスト回路２１，８３，９３のうちの多数が異常なしを示すときにのみ、結果出力回路９５から異常なしを示す結果出力が導出され、対象となる回路ブロックに故障が発生していないと診断することができる。テスト回路８３，９３からの結果出力は、結果出力回路２４，９６からもそれぞれ導出される。
【００７０】
図２２は、図２１のＡＳＩＣ９２の内部構成例を示す。自己診断テストを可能にするために、システム制御に必要な機能１４およびテスト回路２１，８３，９３には、セレクタ２５，２６，８７，９７がそれぞれ設けられる。テスト回路２１，８３，９３は、システム制御に必要な機能４４およびテスト回路２１，８３，９３同士の相互監視を行い、結果出力を多数決回路９４に入力し、多数決回路９４からの結果出力が結果出力回路２３を介してシリアルデータとして導出される。
【００７１】
図２３は、図２１のシステム９０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ９１では、タイマ２８によるトリガで（ａ）ダイアグ要求が発生し、時刻ｔ９２から（ｂ）ダイアグ実施がなされる。（ｂ）ダイアグ実施では、システム制御に必要な機能１４に対する３つのテスト回路２１，８３，９３による自己診断テストと、テスト回路２１，８３，９３同士の相互監視とが実行される。実行の順番は任意である。時刻ｔ９３から各テスト回路２１，８３，９３によるダイアグ実施結果に基づく（ｄ）判定が行われる。時刻ｔ９４からは、多数決回路９４によって、テスト回路２１，８３，９３の判定結果に対する多数決処理が行われ、時刻ｔ９５から結果出力が行われる。判定と結果出力とは、ＡＳＩＣ９２内で実行される。時刻ｔ９６からは、マイコン１３で（ｅ）判定後処理が行われる。
【００７２】
テスト回路２１，８３，９３からの結果出力を同時に多数決回路９４に入力することによって、テスト回路２１，８３，９３の故障を検知することができる。テスト回路２１，８３，９３の判定結果で多い方の判定結果を採用する。ＡＳＩＣ９２などの半導体集積回路は基本的に信頼性が高く、複数のテスト回路２１，８３，９３に故障が生じるとしても少数であることが期待されるので、多数決をとれば、確実な判定結果を得ることができる。
【００７３】
図２４は、本発明の実施の第９形態を一般化したシステム１００の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７、図９、図１２、図１５、図１８または図２１の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム１００のＡＳＩＣ１０２では、システム制御に必要な機能１４に対し、複数、たとえば２つのテスト回路１０３，１０４のうちの一方のテスト回路１０３で自己診断テストを実施することができる。全部のテスト回路で自己診断テストを実施してもよいことはもちろんである。また、回路ブロックに分けて自己診断テストを実施してもよりことはもちろんである。
【００７４】
２つのテスト回路１０３，１０４には、結果出力回路２３，２４をそれぞれ設けるとともに、検知回路１０５，１０６をそれぞれ設ける。マイコン１３は、結果出力回路２３，２４からの結果出力が正常判定であるときは、ＡＳＩＣ１０２に対して特別な信号を与えない物とする。ＡＳＩＣ１０２からマイコン１３に異常判定を示す結果出力が与えられと、まず、その結果出力が入力されることを確認する確認応答信号ＡＣＫがマイコン１３からＡＳＩＣ１０２に返信されるものとする。
【００７５】
実際の通常動作時には、異常判定を示す結果出力がＡＳＩＣ１０２からマイコン１３に与えられることはないので、異常時のマイコン１３側の動作を通常のダイアグ機能のみでは確認することができない。たとえば、ＡＳＩＣ１０２とマイコン１３との間を接続する通信ライン１５に断線などが生じていると、異常時になるまで気が付かず、異常時にシステム１００が期待された保護動作などを行うことができない。この対策として、テスト回路１０３，１０４では、ダイアグ動作の一環として、マイコン１３に対し、故意に故障判定結果を導出する機能を有する。
【００７６】
図２５は、図２４のＡＳＩＣ１０２の内部構成例を示す。検知回路１０５，１０６は、テスト回路１０３，１０４からの故障判定結果に対してマイコン１３が確認応答信号ＡＣＫを導出するか否かを判断する。故障判定結果に対してマイコン１３が確認応答信号ＡＣＫを導出しないと判断するとき、マイコン１３に対して断線検知を通知する。通信ライン１５の断線によって、故障判定結果がマイコン１３まで到達しないか、到達しても確認応答信号ＡＣＫを検知回路１０５，１０６で検知することができない可能性が高いからである。
【００７７】
図２６は、図２４のシステム１００でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ１０１では、故意に故障判定結果をマイコン１３に送信する。時刻ｔ１０２では、マイコン１３でテスト信号を判定し、故障判定結果であるので確認応答信号ＡＣＫを導出する。時刻ｔ１０３では、ＡＳＩＣ１０２の検知回路１０５，１０６でマイコン１３からの確認応答ＡＣＫの有無を検知し、時刻ｔ１０４で検知結果をマイコン１３に通知する。このような故障判定を含む動作を、マイコン１３の通常動作時に行うと、マイコン１３は本物の故障判定として動作してしまうので、通常動作時以外、たとえば、電源投入後などで、マイコン１３がダイアグ動作を行うタイミングに合わせて実施する。
【００７８】
図２７は、本発明の実施の第１０形態を一般化したシステム１１０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７、図９、図１２、図１５、図１８、図２１または図２４の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム１１０のＡＳＩＣ１１２では、システム制御に必要な機能１４に対し、複数、たとえば２つのテスト回路１１３，１１４のうちの一方のテスト回路１１３で自己診断テストを実施することができる。全部のテスト回路で自己診断テストを実施してもよいことはもちろんである。また、回路ブロックに分けて自己診断テストを実施してもよりことはもちろんである。
【００７９】
２つのテスト回路１１３，１１４には、結果出力回路２３，２４をそれぞれ設ける。テスト回路１１３，１１４は、マイコン１３からの要求ではなく、外部からの要求でダイアグを実施し、結果を出力する。すなわち、ＡＳＩＣ１１２自らが外部要因等をトリガとして、ダイアグを実施する。ＡＳＩＣ１１２やマイコン１３では制御することができない外部要因をトリガ発生のイベントとして、ダイアグを実施することができる。
【００８０】
図２８は、図２７のＡＳＩＣ１１２の内部構成例を示す。テスト回路１１３，１１４には、外部からの指示やスイッチ（ＳＷ）によるダイアグ開始の信号が与えられる。テスト回路１１３，１１４からの結果出力は、結果出力回路２３，２４を介してマイコン１３に与えられる。が確認応答信号ＡＣＫを導出するか否かを判断する。
【００８１】
図２９は、図２７のシステム１１０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ１１１では、外部要因に基づくトリガで、（ａ）ダイアグ要求がなされる。ダイアグに対する要求であるか否かは、ＡＳＩＣ１１２内で判断される。時刻ｔ１１２では、（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ１１３からは、（ｄ）判定が行われる。時刻ｔ１１４からは、結果出力が行われる。時刻ｔ１１１から結果出力の終了までは、ＡＳＩＣ１１２での動作であり、マイコン１３の動作には影響しない。時刻ｔ１１５からは、マイコン１３による（ｅ）判定後処理が行われる。
【００８２】
図３０は、本発明の実施の第１１形態を一般化したシステム１２０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７、図９、図１２、図１５、図１８、図２１、図２４または図２７の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム１２０のＡＳＩＣ１２２では、システム制御に必要な機能１２４が複数、たとえば１２の回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌに分けて形成されている。回路ブロックには、演算処理、タイマ、割込み処理などの機能を実行する部分が含まれ、機能毎に、半導体チップレイアウトのエリアを分割するように形成される。システム制御に必要な機能１２４の自己診断テストを行うテスト回路２１は、回路ブロック毎に分けて判定を行い、結果出力を情報蓄積回路３３に蓄積し、マイコン１３からの要求に応じてシリアルデータとして出力する。テスト回路２２は、相互監視の結果出力を、情報蓄積回路３４に蓄積してマイコン１３に出力する。シリアルデータ中では、先頭からのビットの位置と、回路ブロックＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉ，Ｊ，Ｋ，Ｌのチップレイアウト上での位置とを対応させる。ＡＳＩＣ１２２のパッケージを部分的に開封して、半導体チップの回路パターンを検査するような場合に、位置を特定することができる。
【００８３】
図３１は、図３０のシステム１２０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ１２１でタイマなどによるトリガがあると、（ａ）ダイアグ要求がなされ、時刻ｔ１２２から（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ１２３からは、（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ１２４で情報蓄積回路３３，３４によるラッチ動作が行われる。その後、マイコン１３から任意の時刻ｔ１２５に結果要求が行われ、時刻ｔ１２６でＡＳＩＣ５２による結果出力が行われ、時刻ｔ１２７からマイコン１３での（ｅ）判定後処理が行われる。図８と同様に、回路ブロックＤが故障の場合、４番目のビットで故障を示すことができる。
【００８４】
図３２は、本発明の実施の第１２形態を一般化したシステム１３０の概略的な構成を示す。本実施形態で、図１、図４、図７、図９、図１２、図１５、図１８、図２１、図２４図２７、または図３０の実施形態に対応する部分には同一の参照符を付し、重複する説明を省略する。システム１３０のＡＳＩＣ１３２では、システム制御に必要な機能１４に対してテスト回路１３３で自己診断テストを実施した結果、またはテスト回路１３３，１３４同士の相互監視の結果で、異常が発生していると判定される故障時のみ、結果出力回路１３５，１３６はマイコン１３への通知を行う。システム制御に必要な機能１４については、前述のように、回路ブロックに分けて自己診断テストを行うこともできる。
【００８５】
図３３は、図３２のＡＳＩＣ１３２の内部構成例を示す。図３４は、図３２のシステム１３０でのダイアグ動作のタイミングを示す。時刻ｔ１３１でタイマ２８によるトリガがあると、（ａ）ダイアグ要求がなされ、時刻ｔ１３２から（ｂ）ダイアグ実施が行われる。時刻ｔ１３３からは、（ｄ）判定が行われ、時刻ｔ１３４で判定結果を集積し、異常があれば、時刻ｔ１３５から，結果出力回路１３５，１３６からマイコン１３に対してシリアルデータで結果出力が行われる。蓄積された判定結果に対しては、閾値を設けて、マイコン１３に対する結果出力を行うか否かを判定するようにすることもできる。その後、マイコン１３では時刻ｔ１３６から（ｅ）判定後処理が行われる。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本発明の実施の第１形態であるエアバッグシステム１０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図２】図１のＡＳＩＣ１２の内部構成例を示すブロック図である。
【図３】図１のエアバッグシステム１０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図４】本発明の実施の第２形態を一般化したシステム３０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図５】図４のＡＳＩＣ３２の内部構成例を示すブロック図である。
【図６】図４のシステム３０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図７】本発明の実施の第３形態を一般化したシステム４０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図８】図７のシステム４０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図９】本発明の実施の第４形態を一般化したシステム５０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図１０】図９のＡＳＩＣ５２とマイコン１３とのインタフェース部分の構成例を示すブロック図である。
【図１１】図９のシステム５０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図１２】本発明の実施の第５形態を一般化したシステム６０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図１３】図１１のＡＳＩＣ６２とマイコン１３とのインタフェース部分の構成例を示すブロック図である。
【図１４】図１２のシステム６０でのダイアグ動作のタイミングを、図１１での動作タイミングと比較して示すタイミングチャートである。
【図１５】本発明の実施の第６形態を一般化したシステム７０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図１６】図１５のＡＳＩＣ７２とマイコン１３とのインタフェース部分の構成例を示すブロック図である。
【図１７】図１５のシステム７０でのダイアグ動作のタイミングを、図１１での動作タイミングと比較して示すタイミングチャートである。
【図１８】本発明の実施の第７形態を一般化したシステム８０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図１９】図１８のＡＳＩＣ８２の内部構成例を示すブロック図である。
【図２０】図１８のシステム８０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【００８７】
【図２１】本発明の実施の第８形態を一般化したシステム９０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図２２】図２１のＡＳＩＣ９２の内部構成例を示すブロック図である。
【図２３】図２１のシステム９０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図２４】本発明の実施の第９形態を一般化したシステム１００の概略的な構成を示すブロック図である。
【図２５】図２４のＡＳＩＣ１０２の内部構成例を示すブロック図である。
【図２６】図２４のシステム１００でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図２７】本発明の実施の第１０形態を一般化したシステム１１０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図２８】図２７のＡＳＩＣ１１２の内部構成例を示すブロック図である。
【図２９】図２７のシステム１１０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図３０】本発明の実施の第１１形態を一般化したシステム１２０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図３１】図３０のシステム１２０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図３２】本発明の実施の第１２形態を一般化したシステム１３０の概略的な構成を示すブロック図である。
【図３３】図３２のＡＳＩＣ１３２の内部構成例を示すブロック図である。
【図３４】図３２のシステム１３０でのダイアグ動作のタイミングチャートである。
【図３５】従来からのエアバッグシステムなどを一般化したシステム１の形態を示すブロック図である。
【図３６】図３５のシステム１で、ＡＳＩＣ２がダイアグ動作を行うタイミングの概要を示すタイミングチャートである。
【図３７】従来からのＡＳＩＣ２で、ＡＳＩＣ自身のダイアグをマイコン３からの処理なしで行う場合の構成を示すブロック図である。
【図３８】図３７の動作タイミングの概要を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
【００８８】
１０  エアバッグシステム
１１  スクイブ
１２、３２，４２，５２，６２，７２，８２，９２，１０２，１１２，１２２，１３２  ＡＳＩＣ
１３  マイコン
１４，４４，１２４  システム制御に必要な機能
１５  通信ライン
１６，１７  Ｇセンサ
２１，２２，７３，８３，９３，１０３，１０４，１１３，１１４  テスト回路
２３，２４，１３５，１３６  結果出力回路
２８  タイマ
３０，４０，５０，６０，７０，８０，９０，１００，１１０，１２０，１３０  システム
３３，３４，６３  情報蓄積回路
３７，６７，７７  要求検出回路
６８，７８  要求デコード回路
８４  ＡＮＤ回路
９４  多数決回路
１０５，１０６  検知回路
【図１】
2005063054.tif 000003
【図２】
2005063054.tif 000004
【図３】
2005063054.tif 000005
【図４】
2005063054.tif 000006
【図５】
2005063054.tif 000007
【図６】
2005063054.tif 000008
【図７】
2005063054.tif 000009
【図８】
2005063054.tif 000010
【図９】
2005063054.tif 000011
【図１０】
2005063054.tif 000012
【図１１】
2005063054.tif 000013
【図１２】
2005063054.tif 000014
【図１３】
2005063054.tif 000015
【図１４】
2005063054.tif 000016
【図１５】
2005063054.tif 000017
【図１６】
2005063054.tif 000018
【図１７】
2005063054.tif 000019
【図１８】
2005063054.tif 000020
【図１９】
2005063054.tif 000021
【図２０】
2005063054.tif 000022
【図２１】
2005063054.tif 000023
【図２２】
2005063054.tif 000024
【図２３】
2005063054.tif 000025
【図２４】
2005063054.tif 000026
【図２５】
2005063054.tif 000027
【図２６】
2005063054.tif 000028
【図２７】
2005063054.tif 000029
【図２８】
2005063054.tif 000030
【図２９】
2005063054.tif 000031
【図３０】
2005063054.tif 000032
【図３１】
2005063054.tif 000033
【図３２】
2005063054.tif 000034
【図３３】
2005063054.tif 000035
【図３４】
2005063054.tif 000036
【図３５】
2005063054.tif 000037
【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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