(57)【要約】  【課題】  ２ラインＣＣＤセンサを備えた放射線画像読取装置において、より品質の高い画像データを取得する。  【解決手段】  ２ライン３８Ａ、３８Ｂに並列された多数の受光素子を備えてなるＣＣＤラインセンサを備えた放射線画像読取装置において、プログラマブルゲインアンプ６１およ２ライン３８Ａ、３８Ｂの出力信号がそれぞれ独立して入力される２つのチャンネルを備えたＡＤコンバータ６０と、ゲイン設定を行うゲイン設定部７０を備え、ゲイン設定部７０において、ラインＡ，Ｂからの出力信号に基づいて、各ライン毎にプログラマブルゲインアンプ６１における最適なゲイン値を算出し、該各ライン毎に算出されたゲイン値のうち最小のゲイン値を最適ゲイン値として、プログラマブルゲインアンプ６１のゲイン設定を行う。【選択図】          図２
2005077628.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
蓄積性蛍光体シートに、一方向に延びる線状の励起光を照射する励起光照射手段と、
該励起光の照射を受けて前記蓄積性蛍光体シートから発生した輝尽発光光を受光して光電変換する、前記一方向と平行に延びる複数ライン状に並列された多数の受光素子を備えてなる複数ラインセンサと、
前記蓄積性蛍光体シートと、前記複数ラインセンサとを、相対的に前記一方向と交叉する方向に移動させる走査手段と、
前記複数ラインセンサからのアナログ信号出力を受け、該アナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換手段とを備えてなる、前記蓄積性蛍光体シートに記録された放射線画像の画像データを取得する放射線画像読取装置において、
前記ＡＤ変換手段が、プログラマブルゲインアンプおよび前記複数ライン状に並列された多数の受光素子の各ライン毎の出力信号がそれぞれ独立して入力される複数のチャンネルを備えてなるものであり、
前記複数ラインセンサの各ラインからの出力信号に基づいて、各ライン毎に前記プログラマブルゲインアンプにおける最適なゲイン値を算出し、該各ライン毎に算出されたゲイン値のうち最小のゲイン値を前記複数ラインセンサの最適ゲイン値として、前記プログラマブルゲインアンプのゲイン設定を行うゲイン設定手段を備えたことを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項２】
前記ゲイン設定手段が、所定の線量の放射線により一様曝射された蓄積性蛍光体シートから取得した画像データの該画像データを構成する各画素の前記各ライン毎の信号値についてのヒストグラムをそれぞれ作成し、該各ヒストグラムの累積度数の上位から所定番目の画素の信号値を最大信号値とみなし、該最大信号値に基づいて前記各ライン毎の最適なゲイン値を算出するものであることを特徴とする請求項１記載の放射線画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は複数ラインセンサを備えた放射線画像読取装置に関し、特に、複数ラインセンサに対して１つのＡＤ変換手段が備えられてなる場合における、ＡＤ変換手段のゲイン設定に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、Ｘ線等の放射線を照射するとこの放射線エネルギーの一部を蓄積し、その後、可視光等の励起光を照射するとこの蓄積された放射線エネルギーに応じて輝尽発光を示す蓄積性蛍光体（輝尽性蛍光体ともいう）を利用して、人体等の被写体の放射線画像を蓄積性蛍光体層に一旦潜像として記録し、この蓄積性蛍光体層にレーザ光等の一定の強度を持つ励起光を照射して輝尽発光光を生じせしめ、この輝尽発光光を光電読取手段により検出して被写体の放射線画像を表す画像データを取得する放射線画像記録装置および放射線画像読取装置等からなる放射線画像記録再生システムがＣＲ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｒａｄｉｏｇｒａｐｈｙ）として知られている。
【０００３】
このような放射線画像読取装置における光電読取手段としては、光電子増倍管（以下、「ＰＭＴ」という）を用いたもの、複数の光電変換素子を線状に配列したラインセンサを用いたもの等が提案されている。
【０００４】
ＰＭＴを備えた放射線画像読取装置では、ＰＭＴの電圧を調整することで、感度調整を行うことができる。つまり、ＰＭＴからの出力を、システムダイナミックレンジ（例えば、0.1ｍＲ〜100ｍＲ）を、必要な階調数で表現するためのｂｉｔ精度を持ったＡＤコンバータの入力レンジに適するように調整することができる。このＰＭＴの感度補正方法については、特許文献１および２等において提案されている。
【特許文献１】特開２００２−１５６７１３号公報、
【特許文献２】特開２００１−１００３４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一方、ラインセンサを備えた放射線画像読取装置においては、センサの感度を外部電圧により調整することができないために、センサからの出力をＡＤコンバータの入力レンジに適するように調整することはできない。そこで、ラインセンサを備えた装置においては、特に低光量での輝尽発光光をＳ／Ｎよく検出するために、センサからの出力信号を増幅しＡＤ変換時のｂｉｔ分解能を向上させることが求められる。
【０００６】
この要請は、プログラマブルゲインアンプ（ＰＧＡ）を内蔵したＡＤコンバータを用いることにより解決可能と思われるが、このＰＧＡを内蔵したＡＤコンバータにおけるゲイン設定値の設定方法は明らかではない。さらに、ラインセンサが、複数ライン状に並列された多数の受光素子を備えてなる複数ラインセンサであり、この複数ラインセンサの各ラインからの出力が１つのＡＤコンバータに入力される系においては、複数ラインについてのゲインを同一にする必要がある等の制約が生じる。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、光電変換手段として複数ラインセンサを備えた放射線画像読取装置であって、より品質の高い画像データを取得することができる放射線画像読取装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の放射線画像読取装置は、蓄積性蛍光体シートに、一方向に延びる線状の励起光を照射する励起光照射手段と、
該励起光の照射を受けて前記蓄積性蛍光体シートから発生した輝尽発光光を受光して光電変換する、前記一方向と平行に延びる複数ライン状に並列された多数の受光素子を備えてなる複数ラインセンサと、
前記蓄積性蛍光体シートと、前記複数ラインセンサとを、相対的に前記一方向と交叉する方向に移動させる走査手段と、
前記複数ラインセンサからのアナログ信号出力を受け、該アナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換手段とを備えてなる、前記蓄積性蛍光体シートに記録された放射線画像の画像データを取得する放射線画像読取装置において、
前記ＡＤ変換手段が、プログラマブルゲインアンプおよび前記複数ライン状に並列された多数の受光素子の各ライン毎の出力信号がそれぞれ独立して入力される複数のチャンネルを備えてなるものであり、
前記複数ラインセンサの各ラインからの出力信号に基づいて、各ライン毎に前記プログラマブルゲインアンプにおける最適なゲイン値を算出し、該各ライン毎に算出されたゲイン値のうち最小のゲイン値を前記複数ラインセンサの最適ゲイン値として、前記プログラマブルゲインアンプのゲイン設定を行うゲイン設定手段を備えたことを特徴とするものである。
【０００９】
ここで、各ライン毎に算出される最適なゲイン値とは、ＡＤ変換手段のダイナミックレンジを最大限に利用することができるようにするために各ライン信号値を規格化する際の最適な値である。
【００１０】
前記ゲイン設定手段としては、例えば、所定の線量の放射線により一様曝射された蓄積性蛍光体シートから取得した画像データの該画像データを構成する各画素の前記各ライン毎の信号値についてのヒストグラムをそれぞれ作成し、該各ヒストグラムの累積度数の上位から所定番目の画素の信号値を最大信号値とみなし、該最大信号値に基づいて前記各ライン毎の最適なゲイン値を算出するものを用いることができる。
【００１１】
励起光照射手段としては、蓄積性蛍光体シートに励起光を線状に照射するものであればよく、光源としてＬＥＤ、有機ＥＬ、蛍光灯、高圧ナトリウムランプ、冷陰極管等を用いることができる。また、出射される励起光が線状であるものだけでなく、蓄積性蛍光体シートの照射面において線状となるように、励起光を拡大する拡大機構を備えたものであってもよい。また、励起光を線状に出射するブロードエリアレーザ（ＢＬＤ）を用いてもよい。
【００１２】
また、励起光による蓄積性蛍光体シート上の照射領域の長軸方向（前記一方向）の長さが、蓄積性蛍光体シートの一辺よりも長いことまたは同等であることが望ましく、この場合、励起光をシートの辺に対して傾斜させて照射するようにしてもよい。
【００１３】
走査手段による、相対的に前記一方向と交叉する方向とは、前記一方向に略直交する方向あることが望ましいが、この方向に限るものではなく、シートの略全面に亘って均一に励起光を照射することができる範囲内で、この略直交する方向から外れた斜め方向に移動させるものであってもよいし、例えばジグザグ状に移動方向を変化させて移動させるものであってもよい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明の放射線画像読取装置によれば、ＡＤ変換手段が、プログラマブルゲインアンプを備えてなるものであるため、低光量の輝尽発光光をＳ／Ｎよく検出可能である。また、複数ラインセンサの各ラインからの出力信号に基づいて、各ライン毎に前記プログラマブルゲインアンプにおける最適なゲイン値を算出し、該各ライン毎に算出されたゲイン値のうち最小のゲイン値を複数ラインセンサの最適ゲイン値として、プログラマブルゲインアンプのゲイン設定を行うゲイン設定手段を備えていることから、部品や組立精度のばらつき等により各ラインの受光量が異なる場合が生じても、全ての複数ラインのダイナミックレンジ上限を確保することができるため、品質の高い画像データを取得することができる。
【００１５】
また、ゲイン設定手段を、所定の線量の放射線により一様曝射された蓄積性蛍光体シートから取得した画像データの該画像データを構成する各画素の前記各ライン毎の信号値についてのヒストグラムをそれぞれ作成し、該各ヒストグラムの累積度数の上位から所定番目の画素の信号値を最大信号値とみなし、該最大信号値に基づいて前記各ライン毎の最適なゲイン値を算出するものとすれば、異常画像データを除去した上でゲイン値を算出することができるため最適ゲイン値設定における信頼性を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。図１は本発明の第１の実施の形態による放射線画像読取装置の概略構成を示す斜視図、図２は励起光照射部および画像検出部を示す拡大側面図である。
【００１７】
本発明の実施の形態による放射線画像読取装置は、主走査方向（図中矢印Ｘ方向、以後主走査Ｘ方向という）に延びる線状の励起光を照射する励起光照射部２０と、励起光の照射を受けて蓄積性蛍光体シート１０から発生した輝尽発光光を結像させる結像光学系３１および結像光学系３１を通して結像された輝尽発光光を検出して蓄積性蛍光体シート１０に記録された放射線画像を表す画像データを取得する主走査Ｘ方向に線状に並べられた多数の受光素子３８を有する複数ラインＣＣＤセンサ３２を備えた輝尽光検出部３０と、輝尽光検出手段３０を蓄積性蛍光体シート１０に対して主走査方向と直交する副走査方向（図中矢印Ｙ方向、以後副走査Ｙ方向という）に相対的に移動させる走査手段である搬送部５０と、ＣＣＤセンサ３２で光電変換された信号ＳA（およびＳB）を増幅しＡ／Ｄ変換してデジタルデータＳｄとして出力する、プログラマブルゲインアンプ６１（以下、ＰＧＡ６１という）を備えてなるＡＤコンバータ６０（以下、ＡＤＣ６０という）と、該ＰＧＡ６１のゲイン設定を行うゲイン設定部７０を備えている。
【００１８】
励起光照射部２０は、励起光Ｌを射出する複数の半導体レーザが主走査Ｘ方向に並べられた励起光光源であるＬＤ光源２１、およびＬＤ光源２１から射出された励起光Ｌを蓄積性蛍光体シート１０上の主走査Ｘ方向に延びる線状領域に集光させるシリンドリカルレンズ２２等から構成されている。
【００１９】
輝尽光検出部３０は、上記結像光学系３１およびラインセンサ３２の他に、蓄積性蛍光体シート１０とラインセンサ３２との間に配置された、輝尽発光光を透過させ励起光を遮断する励起光カットフィルタ３３を有し、ラインセンサ３２は主走査方向に線状に並べられた多数の受光素子３８の列を複数（本例では２列）の受光素子列３８Ａ、３８Ｂを有する（図２参照）。
【００２０】
なお、結像光学系３１は主走査Ｘ方向に並べられた多数の屈折率分布型レンズ等からなるものである。
【００２１】
ラインセンサ３２は、上記結像レンズ３１を通して結像された輝尽発光光を受光素子列３８Ａ、３８Ｂで受光した光を光電変換してアナログ電圧としてぞれぞれ信号ＳA、ＳBをＡＤＣ6０に出力する。
【００２２】
励起光照射部２０と輝尽光検出部３０とは一体化されて読取ユニット４０を構成しており、この一体化された読取ユニット４０は、搬送部５０によって上記副走査Ｙ方向に搬送される。
【００２３】
ＡＤＣ６０は、ＰＧＡ６１を備えており、ラインセンサ３２から入力された信号を所定のゲインで増幅しＡ／Ｄ変換してデジタル値からなる画像データＳｄを出力するものである。
【００２４】
ゲイン設定部７０は、ＡＤＣ６０からの出力を受け、該ＡＤＣ６０のプログラマブルゲインアンプ６１の最適ゲイン値を算出して設定するものである。
【００２５】
次に上記実施の形態における作用について説明する。
【００２６】
励起光照射部２０から射出された励起光Ｌは蓄積性蛍光体シート１０上に主走査Ｘ方向に線状に集光される。励起光Ｌの照射を受けて蓄積性蛍光体シート１０から発生した輝尽発光光は結像レンズ３１および励起光カットフィルタ３３を通してラインセンサ３２上に結像され、この結像された輝尽発光光が受光素子列３８Ａ、３８Ｂによって検出される。
【００２７】
上記励起光照射部２０による励起光Ｌの照射と輝尽光検出部３０による輝尽発光光の検出を実行しながら、励起光照射部２０と輝尽光検出部３０とを一体化してなる読取ユニット４０が搬送部５０によって副走査Ｙ方向へ搬送されて、蓄積性蛍光体シート１０を２次元状に走査し、輝尽光検出部３０からのアナログ信号がＡＤＣ６０において最適ゲインで増幅されてＡ／Ｄ変換されデジタル信号Ｓｄとして、図示しない画像処理装置に出力される。
【００２８】
ここで、ＡＤＣ６０のＰＧＡ６１のゲイン設定を行うゲイン設定部７０による上述の「最適ゲイン」の設定方法について説明する。
【００２９】
放射線画像読取装置において、蓄積性蛍光体シート１０に励起光Ｌを照射することにより、該シート１０から放出された輝尽発光光は、集光レンズ３１の集光効率、フィルタ３３の透過率、ＣＣＤセンサ３２の量子効率の掛け算で表される効率で、電荷として検出される。ＣＣＤセンサ３２により検出された電荷は電圧に変換され、ＣＣＤセンサからアナログ電圧として出力される。
【００３０】
ここで、蓄積性蛍光体シート１０に記録されたＸ線量（Ｘ線光子数）とＣＣＤセンサ３２で光電変換検出される電圧とは一般に線形な関係にある。例えば、１ｍＲあたり0.1Ｖの電圧として検出されるとする。ここで、１ｍＲあたり0.1Ｖの電圧として検出されるとは、１ｍＲの線量を蓄積性蛍光体シートに対して曝射し、これにより該蓄積性蛍光体シートに蓄積されたエネルギーが、レーザ光の照射により輝尽発光光として放出されＣＣＤセンサ３２で電荷として検出された場合、0.1Ｖの電圧に変換されることを意味する。
【００３１】
ＣＣＤセンサ３２の出力からＡＤＣ６０の入力にいたる経路は各システムによって任意に設計可能である。例えば、相関二重サンプリングによるＡＤ変換の系を採用することができる。相関二重サンプリングによるＡＤ変換の系では、ＣＣＤのリセット後のフィードスルーレベルをＣＤＳクロック１によってサンプルホールドし、データレベルをＣＤＳクロック２によってサンプルホールドし、両者の差分をＡＤ変換することにより、ノイズの低減を図ることができる。
【００３２】
ＡＤＣ６０としては、例えばアナログデバイス社製ＡＤＣ（AD9826、入力０−４V、16bitADコンバータ）を用いることができ、本実施形態においては、入力電圧０−４Ｖ，16bitＡＤコンバータを用いた場合を例として説明する。このようなＡＤＣ６０を用いた場合、蓄積性蛍光体シートの感度、ＣＣＤ感度、組立精度等のばらつきを考慮しないならば、ＡＤＣ６０の入力レンジ４Ｖを16ｂｉｔで変換するので10進で65535が40ｍＲとなるようにダイナミックレンジを設定すればよい。しかし上記ばらつき、例えば、ＣＣＤ感度が設計中心に対して±30％変動するというばらつきを考慮するならば、40ｍＲ／1.3＝30ｍＲをシステムのダイナミックレンジ上限としなければならない。そこで、本実施形態の装置においては、検出可能なダイナミックレンジ上限値を30ｍＲとし、ＣＣＤ・回路系のオフセット分を考慮して、30ｍＲをデジタル値60000に割り当てる（すなわち16ｂｉｔ、65535のうち5535をオフセット分とする）。これは、３Ｖの入力電圧に対してデジタル信号値60000を出力するように設定することを意味するものであり、このときのゲインを１とし、これをゲインデフォルト値とする。
【００３３】
さて、上記部品バラツキが設計中心付近のシステムでは、ＣＣＤセンサ３２は、30ｍＲあたり３Ｖの電圧として検出するのであるから、ＡＤ入力レンジの上部１Ｖを使用しないこととなる。そこで、ＡＤゲインを１以上の最適な値にすることでＡＤのｂｉｔ分解能を生かすことを考える。
【００３４】
さて、本実施形態は、受光素子列３８Ａ、３８Ｂ（以下、それぞれの素子列をラインＡ，ラインＢという）からなる２ラインＣＣＤセンサであるが、図２に示すように、集光系の被結像中心位置Ｈｏと励起光照射位置Ｊｏ（これはすなわち輝尽発光光発光位置）との相対位置ずれΔＹによって、一方のラインには多くの輝尽発光光が、他方のラインには少ない輝尽発光光が検出される場合が生じる。輝尽発光光の発光分布とＣＣＤの受光部幅は一般に略等しく数百μｍであり、上述のような相対位置ずれが生じても、該位置ずれが数十μｍ程度であれば、両ラインで検出される光量の総和にはほとんど影響しない。しかしながら、両ラインでの検出光量の比は変化してしまう。
【００３５】
このように両ライン間で検出光量が異なってしまう場合でも、該両ラインからの出力がそれぞれ入力される２チャンネルを備えたＡＤＣ６０においては、ゲインを１つに定める必要がある。
【００３６】
ＡＤＣ６０のゲインが１である場合に、例えば10ｍＲ曝射した蓄積性蛍光体シートを読み取ったとき、ラインＡからの出力信号がＡ／Ｄ変換された値として18000、ラインＢからの出力信号がＡ／Ｄ変換された値として6000の信号値が検出されたとする。既述の通り、30ｍＲをデジタル値60000に割り当てるため、10ｍＲを20000に規格化したいので、ラインＡからの信号値については20000／18000＝1.111、ラインＢからの信号値については20000／6000＝3.333がそれぞれ最適なゲイン値として算出される。すなわち、ラインＡについてはゲインを1.1に設定し、ラインBについてはゲインを3.3に設定すればそれぞれ10ｍＲに対して略20000の信号値を出力することとなる。したがって、１ラインのＣＣＤセンサを１つのＡＤコンバータで処理する系であれば、それぞれの設定値によりゲインを設定すればよいが、ここでは１つのゲインに設定する必要がある。ここで、Ｂのゲイン値3.3を採用しＡの出力信号値18000に適用すると、ダイナミックレンジ上限の30ｍＲのときすなわち３Ｖの時、３×180000×3.3＝193,314となり、ダイナミックレンジの上限が破綻してしまう。したがって、Ａ・Ｂ両者の算出したゲイン設定値の小さい値のものを本実施形態における最適ゲイン設定値として採用する。
【００３７】
ＡＤゲイン算出の工程を、図３はに示すフローチャートに沿って説明する。
【００３８】
まず、ＡＤゲインをデフォルト値１に設定しておく（Ｓ１）。
【００３９】
以下、ＡラインおよびＢラインについてそれぞに最適なゲイン設定値を以下の手順で算出する。
【００４０】
暗補正データを作成するために、まず、暗時画像を取得する（Ｓ２）。ここでは、暗状態において２６５ライン分の画像データＤdark（p,q)を取得する。なお、ｐは主走査Ｘ方向の画素位置、qは副走査Ｙ方向のラインである。
【００４１】
取得した画像データＤdark(p,q)の各画素値と閾値Ｔdを比較し、異常データを抽出する（Ｓ３）。なお、このとき異常データを示した画素を欠陥画素とみなし、この欠陥画素のアドレスｄをメモリに記憶しておく。
【００４２】
画像データＤdark(p,q)を用い、その主方向の画素毎に副方向に平均化して暗補正データＤd(p)を生成する（Ｓ４）。
【００４３】
続いて、暗補正データDd(p)について主方向に平均化した暗時画像データ平均値Ｄdaveを求め、このＤdaveを閾値Ｔdaveと比較し、ＣＣＤの正常、異常の判定をする（Ｓ５）。ここで、ＣＣＤが異常である（Ｓ５：NG）と判定した場合、所定の報知手段により、ユーザに対して警告（ワーニング）を行い（Ｓ６）、処理を終了する。一方、ＣＣＤが正常である（Ｓ５：ＯＫ）と判定した場合、ベタ曝射画像の読取りを行う（Ｓ７）。ベタ曝射画像とは、例えば、10mRの線量をＩＰに対して一様曝射して得られた画像であり、このベタ曝射画像からベタ曝射画像データＤ10(p.q)を取得する。
【００４４】
ベタ曝射画像データＤ10(p,q)から暗補正データＤd(p)を各ラインごとに減算する暗補正処理を行い、暗補正済画像データＤ10d(p,q)を得る（Ｓ８）。
【００４５】
暗補正済画像データＤ10(p,q)のヒストグラムを作成する（Ｓ９）。なお、異常データ検出時に記憶された欠陥画素アドレスｄを読出し、この欠陥画素のデータを排除した上で、ヒストグラムを作成する。
【００４６】
このヒストグラムに基づいて最適なゲイン値を求める（Ｓ１０)。具体的には、ヒストグラムの累積度数の上位から数えて「全画素数（p×ｑ）×累積度数判別値ｋ」番目の画素のデータを最大画素値Ｄmaxとして検出する。例えば、ｋ＝0.05であれば、全画素数のうち累積度数の上位から５％の度数の画素のデータをＤmaxとする。これはすなわち、上位から５％未満の画素のデータを無視すること意味し、これは稀に生じる異常な画素データをゲイン設定値の算出に用いることを防止するための処理である。
【００４７】
Ｄmaxが１ｍＲあたりの目標値（2000）（すなわち、10ｍＲあたり20000）に規格化するためのゲイン設定値Ｇを算出する。
【００４８】
Ｇ＝目標値（2000）×入射線量（10ｍR）／Dmax    ・・・（１）
なお、現実にはＡＤゲインの設定値は連続的には設定できないために、上式（１）で求められたゲイン設定値Ｇを超えない最大の設定可能なゲイン設定値Ｇ’（≦Ｇ）を決定する必要がある。
【００４９】
上記、手順Ｓ２〜Ｓ１０をラインＡ、ラインＢの各ライン出力毎に行い、それぞれにすいてのゲイン設定値ＧAとＧBを求める。
【００５０】
次に、両ラインについての最適なゲイン値ＧA、ＧBを比較し（Ｓ１１）、ＧAが小さければＧAを（Ｓ１２：Ｙｅｓ）、ＧBが小さければＧBを選択し（Ｓ１３：Ｎｏ）、ＡＤＣ６０のプログラマブルゲインアンプ６１のゲインを設定する。
【００５１】
このようなゲイン設定方法により、ＣＣＤ量子効率・ＩＰ感度・フィルタ透過率、ＣＣＤの量子効率などの部品個体差、励起位置、集光位置、ＩＰ平面度、被写界深度などの各ずれの影響を考慮した最適なゲインを設定することができる。
【００５２】
なお、上記実施形態においては、異常データの取扱いは、該異常データを示した画素の該データを排除するものとしたが、異常データを、異常データを示した画素の直前のラインの同一画素のデータ、もしくは、同一ラインの隣接画素のデータで置き換えて処理してもよい。
【００５３】
また、異常データの検出は暗補正データ生成前に行うものとしたが、ベタ曝射画像取得の際に異常データの抽出を行って該データを排除するようにしてもよい。
【００５４】
なお、ゲイン設定部７０により算出された最適ゲイン値が１未満の場合は、１を設定するものとすることが望ましい。
【００５５】
さらに、ゲイン算出を行う前に、グリッド検出を行い、グリッドがある場合は取り除くように案内する機能を備えるようにしてもよい。
【００５６】
なお、医療診断に用いられる放射線画像を得る場合、同一線量で曝射した放射線画像について放射線画像読取装置毎で異なるデジタル信号値として出力されてしまうと、診断時における画像の比較等の際に異なる放射線画像読取装置で得られた放射線画像を精度よく比較できなくなるという不都合が生じる虞がある。したがって、異なるシステム（異なる放射線画像読取装置）間で同一の線量で曝射した放射線画像についての読取り時には、同一のデジタルデータを出力するように装置間での入出力値を規格化することが望ましい。
【００５７】
なお、上述の実施形態においては、複数ラインセンサとしてＣＣＤを備えたラインセンサを例に挙げて説明したが、ラインセンサに用いられるのはＣＣＤに限るものではなく、ＣＭＯＳ、その他同等の機能を有するものであればいかなるものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の第１の実施の形態による放射線画像読取装置の概略構成を示す斜視図
【図２】励起光照射部および画像検出部を示す拡大側面図
【図３】最適ゲイン値の算出手順を示すフローチャート
【符号の説明】
【００５９】
１０    蓄積性蛍光体シート
２０    励起光照射部
３０    輝尽光検出部
３１    結像光学系
３２    ＣＣＤセンサ
５０    搬送部
６０    ＡＤコンバータ（ADC）
６１    プログラマブルアンプ（PGA）
７０    ゲイン設定部
【図１】
2005077628.tif 000003
【図２】
2005077628.tif 000004
【図３】
2005077628.tif 000005