(57)【要約】【課題】製造工程負担を軽減することのできる電子機器用操作部を提供する。【解決手段】付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有し、当該応力センサ部には応力を感知する複数の歪ゲージ１が配置される電子機器用操作部において、上記制御部が、個々の歪ゲージ特性値を応力データとして時分割して測定する手段を有する。又は、各々の歪ゲージ特性値を独立して測定する手段、及びかかる測定値変化量を把握する手段を有し、当該測定値変化量は、応力を付与しない状態の歪ゲージ特性値と、応力付与後の歪ゲージ特性値との差により求められ、当該測定値変化量を応力データとして電子機器に供給する手段を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有し、当該応力センサ部には応力を感知する複数の歪ゲージが配置される電子機器用操作部において、
上記制御部が、個々の歪ゲージ特性値を応力データとして時分割して測定する手段を有することを特徴とする電子機器用操作部。
【請求項２】
付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有し、当該応力センサ部には応力を感知する複数の歪ゲージが配置される電子機器用操作部において、
各々の歪ゲージ特性値を独立して測定する手段、及びかかる測定値変化量を把握する手段を有し、
当該測定値変化量は、応力を付与しない状態の歪ゲージ特性値と、応力付与後の歪ゲージ特性値との差により求められ、
当該測定値変化量を応力データとして電子機器に供給する手段を有することを特徴とする電子機器用操作部。
【請求項３】
歪ゲージが抵抗素子であり、各々の歪ゲージと直列接続される固定抵抗素子を有し、
前記制御部が、歪ゲージ（抵抗値：Ａ）及び固定抵抗素子（抵抗値：Ｂ）間に一定の電圧（Ｅ０）を印加する手段と、
当該印加中の歪ゲージ間電圧（Ｅ１）又は固定抵抗素子間電圧（Ｅ２）を、
Ｅ１＝Ａ／（Ａ＋Ｂ）×Ｅ０
Ｅ２＝Ｂ／（Ａ＋Ｂ）×Ｅ０
として測定する手段とを有し、
前記歪ゲージ特性値が、Ｅ１又はＥ２であることを特徴とする請求項１又は２記載の電子機器用操作部。
【請求項４】
上記歪ゲージが応力センサ部の、当該応力に応じた刺激を受ける位置に配置され、
上記歪ゲージと直列接続される固定抵抗素子を有し、
当該固定抵抗素子は、応力センサ部の当該応力による刺激を受けない位置、又は制御部に配置されることを特徴とする請求項３記載の電子機器用操作部。
【請求項５】
Ａ>Ｂであり、歪ゲージ特性値がＥ１であること、
又はＡ<Ｂであり、歪ゲージ特性値がＥ２であることを特徴とする請求項３又は４記載の電子機器用操作部。
【請求項６】
応力センサ部が、基板面の中央領域に直立・固定される応力受け部材としてのスティック部材を有し、当該スティック部材底面の輪郭位置と対応する位置の基板面に歪ゲージが配され、当該スティック部材に付与された応力が歪ゲージに伝達されるものであり、
前記スティック部材底面の中心を中心軸として、４５°間隔に歪ゲージが２つ又は４つ、当該中心軸と実質的に等距離に配置されることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の電子機器用操作部。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器用操作部に関するものであり、特にパーソナルコンピュータのポインティングディバイスや携帯電話のメニュー切替え等に用いられる応力センサ型の電子機器用操作部に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有する、電子機器用操作部の製造法については、例えば国際公開第０３／０１０６５１号公報にその開示がある。
【０００３】
上記公報では、応力センサ部の基板面の中央領域に直立・固定される応力受け部材としてのスティック部材を有し、当該スティック部材底面の輪郭位置と対応する位置の基板面に歪ゲージとしての抵抗素子が配され、当該スティック部材に付与された応力が歪ゲージに伝達されるものであり、前記スティック部材底面の中心を中心軸として、略４５°間隔に歪ゲージが４つ配置される構成を例示している。そして４つの歪ゲージはブリッジ回路を構成することで、付与された応力の方向と大きさとを把握できる構成としている（図５）。
【特許文献１】国際公開第０３／０１０６５１号パンフレット
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記ブリッジ回路を構成することで付与された応力の方向と大きさとを把握するためには、全ての抵抗素子の抵抗値を等しくすることを要する。ここで抵抗素子は、その特性を完全に一律にする製造技術が確立されておらず、形成された抵抗素子の抵抗値の均一化が困難であることによる。若しくは、上記特許文献に記載されているように、当該抵抗素子各々と直列接続するトリマブルチップ抵抗器を配置し、当該抵抗素子とトリマブルチップ抵抗器との和が全てについて等しくなるようトリマブルチップ抵抗器の抵抗値調整をする必要があった。ブリッジ回路のバランスをとることを考慮したものである。
【０００５】
当該ブリッジ回路のバランスを適切に取ろうとすると、そのための作業が煩雑であり、製造工程負担が大きくなる。そこで本発明が解決しようとする課題は、そのような製造工程負担を軽減することのできる電子機器用操作部を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため本発明の第１の電子機器用操作部は、付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有し、当該応力センサ部には応力を感知する複数の歪ゲージ１が配置される電子機器用操作部において、上記制御部が、個々の歪ゲージ特性値を応力データとして時分割して測定する手段を有することを特徴とする。
【０００７】
上記第１の電子機器用操作部は、個々の歪ゲージ特性値を時分割して測定する。従って歪ゲージ１が抵抗素子の場合であっても、ブリッジ回路を構成すること無しに各々の歪ゲージ特性値を個々に測定することが可能となる。そのため上記ブリッジ回路のバランスを適切に取るために、歪ゲージが抵抗素子の場合の製造工程負担（トリミング工程等が必要となる負担等）を軽減することのできる電子機器用操作部を提供でき、本発明が解決しようとする課題が解決される。また、応力センサ部にブリッジ回路のパターニングを要する製品設計負担等も軽減される。
【０００８】
上記時分割の際の時間間隔は１〜１０ｍ秒が好適である。その理由は、例えば図１に示すように、歪ゲージ１が４つある場合には、全ての歪ゲージ特性値を測定するに４０ｍ秒以下の数十ｍ秒要する。それに対して通常の人間が応力付与方向や強さを変化させる際に要する時間は、約１００ｍ秒である。従って十分に通常の人間の応力付与状態を測定可能だからである。以上が上記１０ｍ秒以下が好適である理由である。また上記１ｍ秒以上が好適なのは、個々の歪ゲージ１に対して十分な測定時間を確保し、ノイズのみを測定するようなことを防止するためである。ここで、時分割手段としては、例えばスイッチング技術を活用した、いわゆるマルチプレクサ等を好適に使用することができる。
【０００９】
上記課題を解決するため本発明の第２の電子機器用操作部は、付与された応力に基づいた応力センサ特性値を出力し得る応力センサ部と、当該出力を信号に変換した応力データを電子機器に供給する制御部とを有し、当該応力センサ部には応力を感知する複数の歪ゲージ１が配置される電子機器用操作部において、各々の歪ゲージ特性値を独立して測定する手段、及びかかる測定値変化量を把握する手段を有し、当該測定値変化量は、応力を付与しない状態の歪ゲージ特性値と、応力付与後の歪ゲージ特性値との差により求められ、当該測定値変化量を応力データとして電子機器に供給する手段を有することを特徴とする。
【００１０】
上記第１の電子機器用操作部は、各々の歪ゲージ特性値を独立して測定する。従って、ブリッジ回路を構成することなく、各歪ゲージ１の特性値変化を把握でき、その把握した情報から応力の方向及び大きさ等を把握できる。即ち上記本発明の第１の電子機器用操作部が、本発明が解決しようとする課題を解決するのと同様の理由から、本発明の第２の電子機器用操作部は、本発明が解決しようとする課題を解決できる。
【００１１】
上記本発明の第１及び第２の発明の電子機器用操作部は、応力センサ部と制御部とが脱着可能・不可のものの両者を含む。前者の場合、一方が不良品である場合に、他方を有効活用できる利点がある。
【００１２】
上記本発明の第１及び第２の発明に係る電子機器用操作部において、歪ゲージ１が抵抗素子であり、各々の歪ゲージ１と直列接続される固定抵抗素子を有し、前記制御部が、歪ゲージ１（抵抗値：Ａ）及び固定抵抗素子（抵抗値：Ｂ）間に一定の電圧（Ｅ０）を印加する手段と、当該印加中の歪ゲージ間電圧（Ｅ１）又は固定抵抗素子間電圧（Ｅ２）を、
Ｅ１＝Ａ／（Ａ＋Ｂ）×Ｅ０
Ｅ２＝Ｂ／（Ａ＋Ｂ）×Ｅ０
として測定する手段とを有し、前記歪ゲージ特性値が、Ｅ１又はＥ２であることが好適である。
【００１３】
上記「固定抵抗素子」は、一定の抵抗値を示す抵抗素子である。例えば市販のチップ型固定抵抗器等が好適に使用できる。他には、応力センサ部構成部材面に配した厚膜抵抗素子等も固定抵抗器となり得る。かかる固定抵抗器は、応力センサ部への応力付与によってその抵抗値を変化させない位置（例えば制御部等）に配することが好ましい。
【００１４】
歪ゲージ１が抵抗素子であり、各々の歪ゲージ１と直列接続される固定抵抗素子２を有している具体例を、図１に示している。同図の例では、時分割手段４により、複数の歪ゲージ１の各々に対して独立に電源５からＧＮＤへ一定の電圧（Ｅ０）が印加される。その結果得られる上記Ｅ１又は上記Ｅ２は、オペアンプ３により増幅され、出力される。当該出力を信号に変換した応力データが電子機器に供給される。ここで時分割手段を用いてＥ０を印加することにより、固定抵抗器２が１つで足りる利点がある。また、従来のブリッジ回路を利用した場合は、Ｘ軸方向とＹ軸方向との応力データ出力端子（Ｘｏｕｔ、Ｙｏｕｔ）を別に設けていたため（図５）オペアンプを２つ必要としたが、上記本発明の第１及び第２の発明に係る電子機器用操作部は、１つで足りる場合がある利点がある。
【００１５】
上記歪ゲージ間電圧Ｅ１は、応力センサ部への応力付与、それに伴う歪ゲージ１の抵抗値変化に伴い、値が変化するため、上記歪ゲージ特性値となり得る。固定抵抗素子間電圧Ｅ２についても同様である。ここで、上記歪ゲージが応力センサ部の、当該応力に応じた刺激を受ける位置に配置され、上記歪ゲージと直列接続される固定抵抗素子を有し、当該固定抵抗素子は、応力センサ部の当該応力による刺激を受けない位置、又は制御部に配置されることが好ましい。固定抵抗素子２の抵抗値変動により、Ｅ１及びＥ２の値が実際の正しい値からずれるのを抑制するためである。
【００１６】
上記歪ゲージの抵抗値：（Ａ）、固定抵抗素子の抵抗値（Ｂ）、歪ゲージ間電圧（Ｅ１）及び固定抵抗素子間電圧（Ｅ２）について、Ａ>Ｂであり、歪ゲージ特性値がＥ１であること、又はＡ<Ｂであり、歪ゲージ特性値がＥ２であることが好ましい。この理由は、Ｅ１及びＥ２の測定分解能が良好な方を選択した方が、歪ゲージ特性値のより正解な把握が可能となるためである。Ａ>Ｂ又はＡ<Ｂとする方法は、固定抵抗素子の抵抗値とは、明らかに異なるように歪ゲージ１を形成することである。例えばスクリーン印刷法による厚膜の抵抗素子（歪ゲージ１）を形成する際に、抵抗体の固有抵抗値、電極間距離、抵抗体幅又は高さを調整することによる。
【００１７】
ここで、上記ＡとＢの抵抗値を極端に異ならせると、抵抗値の小さい方の影響を実質的に受けなくなる場合があるため、注意を要する。例えばＡをＢに比べて極端に小さくすると、応力付与による歪ゲージ１特性値変化が無視できる程度になり、付与された応力を測定し難くなる場合がある。従って、ＡとＢとの抵抗値を異ならせる場合は、一方の抵抗値を他方のそれの１０倍以下とすることが好ましい。
【００１８】
上記本発明の第１及び第２の発明に係る電子機器用操作部、及びそれらを基本とした好ましい電子機器用操作部を具体的に示すと、図２に示すような、応力センサ部が、基板７面の中央領域に直立・固定される応力受け部材としてのスティック部材６を有し、当該スティック部材６底面の輪郭位置と対応する位置の基板７面に歪ゲージ１が配され、当該スティック部材６に付与された応力が歪ゲージ１に伝達されるものであり、前記スティック部材６底面の中心を中心軸として、４５°間隔に歪ゲージ１が２つ又は４つ、当該中心軸と実質的に等距離に配置される電子機器用操作部である。
【００１９】
ここで、スティック部材６が配される基板７面と、歪ゲージ１が配される基板７面とは、同一であっても逆側の面であってもよい。同一基板７面に両者が配された場合は、スティック部材６底面による歪ゲージ１の押圧・押圧解除により歪ゲージ１特性値が変化する。両方の基板７面に両者が各々配された場合は、スティック部材６底面が基板７を押圧することで基板７を撓ませ、その撓みに歪ゲージ１を追従させることで歪ゲージ１特性値が変化することとなる。
【００２０】
図２では、歪ゲージ１が４つ基板７面に配されている。Ｘ軸方向（基板７面に水平で、スティック部材６底面の中心を通る任意の方向）及びＹ軸方向（Ｘ軸方向とスティック部材６底面の中心位置で直交する基盤７面に水平な方向）のみを応力測定対象とするのであれば、スティック部材６底面の中心を中心軸として、４５°間隔に歪ゲージ１が２つあれば足りる。±Ｘ軸方向の応力測定に要する歪ゲージ１が一つと、±Ｙ軸方向の応力測定に要する歪ゲージ１が一つあれば、Ｘ−Ｙ平面上の任意の一方向に付与された応力を特定できるからである。
【００２１】
しかし前記Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に加え、Ｚ軸方向（スティック部材６頂面を押下する方向）をも応力測定の対象としようとすると、スティック部材６底面の中心を中心軸として、４５°間隔に歪ゲージ１が４つ（図２（ｂ）に示すような配置）必要となる。その理由は、上記のように歪ゲージ１が２つある応力センサ部の場合は、スティック部材６頂面を押下したときと、２つの歪ゲージ１の存在領域の間のＸ軸・Ｙ軸方向に応力付与したときとの区別が困難であるのに対し、歪ゲージ１が４つあると、スティック部材６頂面を押下したときには全ての歪ゲージが略同様の特性値変化し、４つのうち２つの歪ゲージ１の存在領域の間のＸ軸・Ｙ軸方向に応力付与したときには、当該２つの歪ゲージ１は、残りの２つの歪ゲージ１とは逆の特性値変化をするため、両者を区別できるためである。
【００２２】
このように、上記Ｚ軸方向への応力の付与を実施できるようにすることを考慮したのは、電子機器用操作部の使用のされ方を考慮したためである。通常電子機器用操作部は、例えばパーソナルコンピュータのポインティングディバイスのように、Ｚ方向に応力付与していわゆるクリックと同様の命令を入力する用途がある。このように、前記電子機器用操作部が、Ｚ軸方向への応力付与によりＸ軸、Ｙ軸への応力付与とは異なる応力データを電子機器に供給する場合が多い。そのような電子機器特有の使用のされ方にも適合する電子機器用操作部を提供するために、図２に示す応力センサ部の構成のように、歪ゲージ１を４つとするのが特に好適である。
【００２３】
他方、２つの歪ゲージ１の構成を採用することは、４つの歪ゲージ１の構成を採用するよりも飛躍的に制御部の負担や、例えば図２（ｂ）における歪ゲージ１及び導体９のレイアウトを簡略化できる大きな利点がある。その結果、設計や製造の容易化が図れ、規格外の製品が激減し、製品コストも低く抑えることができることが考えられる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明により、製造工程負担を軽減することのできる電子機器用操作部を提供することができた。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
（センサ部の製造）
図２を参照しながら説明する。基板７としてガラス繊維混入エポキシ系樹脂成型体を用いた。その基板７面に銅箔を貼付し、サブストラクト法によりその銅箔の一部を除去し、残部を導体９とした。当該導体９の一部が抵抗素子用電極となるよう、所定位置に抵抗体ペーストをスクリーン印刷の手法により配置し、歪ゲージ１としての抵抗素子を４つ形成した。かかる抵抗素子によって、図１に示す電気接続状態（固定抵抗素子２、オペアンプ３、時分割手段４、電源５を除く。）が実現されるよう、導体９と抵抗体との配置位置を調整する。ここで、図２（ｂ）では導体９の一部の描写を省略している。導体９及び抵抗体が配される基板７面とは反対の基板７面には、アルミナセラミックからなる応力受け部材としてのスティック部材６が、その下面及び下部側面と基板７面にて基板７面へと固定されるようエポキシ樹脂系の接着剤により固着される。その固着位置は、スティック部材６底面の輪郭が基板７を介して抵抗素子と対応する位置とし、極力付与された応力が抵抗素子に伝達しやすくなるよう留意した。以上で応力センサ部が製造される。
【００２６】
上記形成した４つの抵抗素子は、後述する固定抵抗素子２の抵抗値の凡そ１．５倍となるよう、上記導体９形成の際及び上記スクリーン印刷の際留意した。
【００２７】
（制御部の製造）
応力センサ部用基板７と同手法により得られる導体９を備えた、応力センサ部用基板７と同材質の基板７面上に、いわゆるコントロールＩＣ、図１に示した固定チップ抵抗器からなる固定抵抗素子２、時分割手段４等、応力センサが出力する特性値を電子機器に伝達するための応力データに変換するに必要な部品（電源５、オペアンプ３を除く。）を搭載する。尚当該基板７には、前記必要な部品以外は搭載していない。センサ部と制御部の一方に不具合があった場合、他方を有効活用できるようにする最も合理的な構造とするためである。ここで、当該合理性を失わない程度に制御部とは無関係な部品を有する構造は、不利な制御部の構造ではない。以上で制御部が製造される。
【００２８】
（電子機器用操作部の構成）
図１、図２を参照しながら説明する。４つの歪ゲージ１は、それぞれ±Ｘ軸方向の応力付与を感知するＸ１及びＸ２、±Ｙ軸方向の応力付与を感知するＹ１及びＹ２である。図２（ｂ）で描画を省略した導体９は、基板端子部１１を経由して制御部と電気接続され、図１に示す全体の電気接続状態となる。
【００２９】
（電子機器用操作部の動作）
図１〜図４を参照しながら説明する。図２（ｂ）に示す固定用穴１２が電子機器の筐体等にネジ等により固定された状態で、Ｘ，Ｙ方向に応力を付与した様子を図３（ａ）に示している。同図によれば、例えばＸ１方向にスティック部材６を倒すと、同図右側の歪ゲージ１のように、Ｘ１に相当する歪ゲージ１が伸張し、同図左側の歪ゲージ１のように、Ｘ２に相当する歪ゲージ１が収縮することとなることがわかる。このような動作は、歪ゲージＸ２、Ｙ１、Ｙ２の各方向にスティック部材６を倒した場合も同様に起こる。このような歪ゲージ１の伸張・収縮を、抵抗素子（歪ゲージ１）の抵抗値増大・減少として制御部により把握される。
【００３０】
また、例えば歪ゲージＸ１、Ｘ２の間の方向にスティック部材６を倒した場合等、全ての抵抗素子（歪ゲージ１）が抵抗値増大又は減少を起こしている場合もあり得る。そのような場合であっても、歪ゲージＸ１、Ｘ２の抵抗値増大・減少量、及び歪ゲージＹ１、Ｙ２の抵抗値増大・減少量との関係から、Ｘ方向成分とＹ方向成分との比が得られ、応力付与方向及びその応力の大きさが特定できる。
【００３１】
Ｚ方向への応力付与の有無は、図３（ｂ）に示すように全ての歪ゲージ１が伸張しているか否かで判断される。またその伸張の大きさにより、応力の大きさを把握することができる。このように特定したＸ−Ｙ平面上や、Ｚ方向応力データが、制御部によって電子機器に供給される。
【００３２】
図４は、４つの歪ゲージ１に対して時分割して一定の電圧（Ｅ０）を印加する様子を示す図である。Ｅ０は、図１に示す電源５から各歪ゲージ１及び固定抵抗素子２を介してＧＮＤに通電させる一定電圧である。同図の電源５と歪ゲージ１との間にＥ０の時分割手段４としてのいわゆるマルチプレクサを設けた。かかる時分割手段４により、図４に示すように、Ｘ１、Ｘ２、Ｙ１、Ｙ２の順番でＥ０を印加して各々を所定期間ハイインピーダンス状態とする。このときの１つの歪ゲージ１に対しＥ０を一度に印加する時間は、１０ｍ秒とした。また、ある歪ゲージ１の測定終了から、次の歪ゲージ１の測定開始までには休止時間は設けなかった。同図における、実線はＥ０を印加している期間、破線は各々の歪ゲージ１に何ら電圧を印加してない期間を示している。
【００３３】
そして、
Ｅ１＝Ａ／（Ａ＋Ｂ）×Ｅ０
の式により得られる歪ゲージ間電圧（Ｅ１）を歪ゲージ特性値として、応力センサ部からの出力を得る。次いで制御部は、当該出力を応力データ信号に変換して電子機器に供給する。以上で電子機器用操作部の動作が完了する。
【００３４】
（本形態の改良又は変更形態）
本形態では、上記時分割手段４を用いて、個々の歪ゲージ特性値を感知しているが、上記時分割手段４は必ずしも要しない。例えば各々の歪ゲージ１に対して一つずつ固定抵抗素子２及びオペアンプ３を設けて、時分割させずに常時個々の歪ゲージ特性値を独立して測定する形態とすることができる。
【００３５】
また本形態では、固定チップ抵抗器からなる固定抵抗素子２を制御部に配置したが、応力センサ部の当該応力による刺激を受けない若しくは受けにくい位置に配置してもよい。
また本形態では、歪ゲージ１の抵抗値Ａを固定抵抗素子の抵抗値Ｂよりも大きくした（Ａ>Ｂ）。そのため測定分解能が良好な歪ゲージ間電圧（Ｅ１）を歪ゲージ特性値としたが、固定抵抗素子間電圧（Ｅ２）を歪ゲージ特性値としてもよい。また、Ａ<Ｂの関係とした上で（Ｅ２）を歪ゲージ特性値としても、前記測定分解能の良好さを実現できる。
【産業上の利用可能性】
【００３６】
本発明は、パーソナルコンピュータのポインティングディバイスや携帯電話のメニュー切り替え等に用いられる電子機器用操作部に関連する産業への利用が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の電子機器用操作部の、歪ゲージ、固定抵抗素子、時分割手段、電源、及びオペアンプの接続状態の一例を示している。
【図２】（ａ）は、本発明に係る応力センサ部の側面を示す一例である。（ｂ）は、（ａ）の応力センサ部の底面図の一部を省略した図である。
【図３】（ａ）は、スティック部材へ、Ｘ軸方向又はＹ軸方向へ応力付与した場合の応力センサ部の動作の様子を示す図である。（ｂ）は、スティック部材へ、Ｚ軸方向へ応力付与した場合の応力センサ部の動作の様子を示す図である。
【図４】４つの歪ゲージ１に対して時分割して一定の電圧（Ｅ０）を印加する様子を示す図である。
【図５】従来の歪ゲージ同士の接続状態（ブリッジ回路）を示す図である。
【符号の説明】
【００３８】
１．歪ゲージ（抵抗素子）
２．固定抵抗器
３．オペアンプ
４．時分割手段
５．電源
６．スティック部材
７．基板
９．導体
１１．基板端子部
１２．固定用穴
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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