(57)【要約】【課題】本発明は、テストプログラムの検査方法及び検査装置に関し、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性をチェックすることでテストプログラムの品質向上を図ることを目的とする。【解決手段】一のテスト項目について、テストプログラムに被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、テスト要求仕様における合否判定条件に合致するか否かを判別する。また、テストプログラム上の、被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数に格納する処理が実行される結果格納位置を取得する。そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。上記した一連の処理をテスト項目ごとに実行する。【選択図】        図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被テスト対象の合否を判定するために実行されるテストプログラムが、要求される要求仕様どおりに作成されているかを検査するテストプログラムの検査方法であって、
前記テストプログラム上の、前記被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数値名に書き込む処理が実行される結果格納位置を取得する結果格納位置取得ステップと、
前記結果格納位置取得ステップにおいて取得された前記結果格納位置に従って、前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出するテスト条件抽出ステップと、
前記テスト条件抽出ステップにおいて抽出された前記被テスト対象のテスト条件が、前記要求仕様における該被テスト対象のテスト条件に合致するか否かを判別するテスト条件判別ステップと、
を備えることを特徴とするテストプログラムの検査方法。
【請求項２】
前記テスト条件判別ステップにおける判別が行われる前に、前記テストプログラムにテスト結果が書き込まれる変数値名として規定された所定の変数値名が、前記要求仕様に該被テスト対象のテスト結果が書き込まれるべき変数として規定された変数値名に合致するか否かを判別する結果格納変数判別ステップを備えることを特徴とする請求項１記載のテストプログラムの検査方法。
【請求項３】
前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、前記要求仕様における該被テスト対象の合否判定条件に合致するか否かを判別するリミット判別ステップを備えることを特徴とする請求項１又は２記載のテストプログラムの検査方法。
【請求項４】
被テスト対象の合否を判定するために実行されるテストプログラムが、要求される要求仕様どおりに作成されているかを検査するテストプログラムの検査装置であって、
前記要求仕様を記憶する記憶手段と、
前記テストプログラム上の、前記被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数値名に書き込む処理が実行される結果格納位置を取得する結果格納位置取得手段と、
前記結果格納位置取得手段により取得された前記結果格納位置に従って、前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出するテスト条件抽出手段と、
前記テスト条件抽出手段により抽出された前記被テスト対象のテスト条件が、前記記憶手段に記憶された要求仕様における該被テスト対象のテスト条件に合致するか否かを判別するテスト条件判別手段と、
を備えることを特徴とするテストプログラムの検査装置。
【請求項５】
前記テスト条件判別手段による判別が行われる前に、前記テストプログラムにテスト結果が書き込まれる変数値名として規定された所定の変数値名が、前記要求仕様に該被テスト対象のテスト結果が書き込まれるべき変数として規定された変数値名に合致するか否かを判別する結果格納変数判別手段を備えることを特徴とする請求項４記載のテストプログラムの検査装置。
【請求項６】
前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、前記記憶手段に記憶された要求仕様における該被テスト対象の合否判定条件に合致するか否かを判別するリミット判別手段を備えることを特徴とする請求項４又は５記載のテストプログラムの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テストプログラムの検査方法及び検査装置に係り、特に、被テスト対象の合否を判定するために実行されるテストプログラムが、要求される要求仕様どおりに作成されているか否かを検査する検査方法及び検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ソフトウェアプログラムの機能を検査してそのプログラムの品質を向上させるシステムが知られている（例えば、特許文献１参照）。このシステムにおいては、まず、コンピュータ上で変更前のプログラムと変更後のプログラムとを同一の試験条件のもとで実行させた場合の試験結果から、両プログラムの同等性の検証に必要な所定の情報を抽出し、次に、試験項目ごとに変更前のプログラムに係る抽出情報を基準として変更後のプログラムに係る抽出情報を照合する。かかる構成においては、変更後のソフトウェアプログラムの機能が実際の試験結果に基づいて検査されるので、プログラムの品質の向上を実現することが可能となる。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００１−３５０６５０号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のシステムでは、プログラムの機能検査を行ううえでそのプログラムを用いた実際の試験を行う必要がある。このため、ソフトウェアのみを用いた検査を行うことは不可能であり、プログラム検査に時間や手間がかかると共に、また、プログラムに異常が生じているにもかかわらず実際の試験結果が正常の範囲内にある場合にはそのプログラムの異常を検出することができないという不都合が生じてしまう。
【０００５】
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであり、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性をチェックすることでテストプログラムの品質向上を図ることが可能なテストプログラムの検査方法及び検査装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の目的は、請求項１に記載する如く、被テスト対象の合否を判定するために実行されるテストプログラムが、要求される要求仕様どおりに作成されているかを検査するテストプログラムの検査方法であって、
前記テストプログラム上の、前記被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数値名に書き込む処理が実行される結果格納位置を取得する結果格納位置取得ステップと、
前記結果格納位置取得ステップにおいて取得された前記結果格納位置に従って、前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出するテスト条件抽出ステップと、
前記テスト条件抽出ステップにおいて抽出された前記被テスト対象のテスト条件が、前記要求仕様における該被テスト対象のテスト条件に合致するか否かを判別するテスト条件判別ステップと、
を備えるテストプログラムの検査方法により達成される。
【０００７】
また、上記の目的は、請求項４に記載する如く、被テスト対象の合否を判定するために実行されるテストプログラムが、要求される要求仕様どおりに作成されているかを検査するテストプログラムの検査装置であって、
前記要求仕様を記憶する記憶手段と、
前記テストプログラム上の、前記被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数値名に書き込む処理が実行される結果格納位置を取得する結果格納位置取得手段と、
前記結果格納位置取得手段により取得された前記結果格納位置に従って、前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出するテスト条件抽出手段と、
前記テスト条件抽出手段により抽出された前記被テスト対象のテスト条件が、前記記憶手段に記憶された要求仕様における該被テスト対象のテスト条件に合致するか否かを判別するテスト条件判別手段と、
を備えるテストプログラムの検査装置により達成される。
【０００８】
請求項１及び４記載の発明において、テストプログラム上の、被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数値名に書き込む処理が実行される結果格納位置が取得される。テストプログラム上において、被テスト対象のテスト結果を得るために必要なテスト条件は、一般に、結果格納位置よりもプログラム開始位置側に規定される。本発明においては、取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに規定されたテスト条件が抽出され、その抽出されたテスト条件が要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かが判別される。従って、本発明によれば、テストプログラムのテスト条件が要求仕様どおりに作成されているかが検査されるので、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性のチェックによりテストプログラムの品質の向上を図ることができる。
【０００９】
尚、請求項２に記載する如く、請求項１記載のテストプログラムの検査方法において、前記テスト条件判別ステップにおける判別が行われる前に、前記テストプログラムにテスト結果が書き込まれる変数値名として規定された所定の変数値名が、前記要求仕様に該被テスト対象のテスト結果が書き込まれるべき変数として規定された変数値名に合致するか否かを判別する結果格納変数判別ステップを備えることとすれば、また、
請求項５に記載する如く、請求項４記載のテストプログラムの検査装置において、前記テスト条件判別手段による判別が行われる前に、前記テストプログラムにテスト結果が書き込まれる変数値名として規定された所定の変数値名が、前記要求仕様に該被テスト対象のテスト結果が書き込まれるべき変数として規定された変数値名に合致するか否かを判別する結果格納変数判別手段を備えることとすれば、テストプログラムのテスト結果が書き込まれる所定の変数値名が要求仕様どおりに作成されているかが検査されるので、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性のチェックによりテストプログラムの品質の向上を図ることができる。
【００１０】
更に、請求項３に記載する如く、請求項１又は２記載のテストプログラムの検査方法において、前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、前記要求仕様における該被テスト対象の合否判定条件に合致するか否かを判別するリミット判別ステップを備えることとすれば、また、
請求項６に記載する如く、請求項４又は５記載のテストプログラムの検査装置において、前記テストプログラムに前記被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、前記記憶手段に記憶された要求仕様における該被テスト対象の合否判定条件に合致するか否かを判別するリミット判別手段を備えることとすれば、テストプログラムの合否判定条件が要求仕様どおりに作成されているかが検査されるので、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性のチェックによりテストプログラムの品質の向上を図ることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の一実施例であるシステムの構成図を示す。本実施例のシステムは、製造された例えばヨーレートセンサＩＣ等の被テスト対象の合否をその出荷前等に判定するために作成されたテストプログラムを検査するシステムである。このテストプログラムは、通常、被テスト対象の合否を判定すべく、テスト装置に組み込まれて実行される。また、テストプログラムが組み込まれたテスト装置は、その組み込まれたテストプログラムを実行することにより被テスト対象について各種のテスト条件に対するテスト結果を取得し、その取得されたテスト結果に基づいて被テスト対象の合否を判定する。
【００１２】
本実施例のシステムは、図１に示す如く、テストプログラムを検査する検査装置１０を備えている。検査装置１０は、記憶部１２及び処理部１４を有している。記憶部１２は、ＤＶＤ，ＣＤやハードディスク等の不揮発性の記憶媒体である。記憶部１２は、検査するテストプログラムに用いられるべき被テスト対象に要求されるテスト項目ごとのテスト要求仕様及びそのテスト要求仕様に対する変数値の名称を格納する要求仕様部１２ａと、検査するテストプログラム自体を格納する検査プログラム部１２ｂと、を有している。
【００１３】
また、処理部１４は、メモリ及びＣＰＵ（中央演算処理装置）等により構成されており、メモリにロードされたソフトウェアプログラムを実行することにより当該処理部１４の機能を実現する。処理部１４は、記憶部１２の要求仕様部１２ａに格納されたテスト要求仕様と検査プログラム部１２ｂに記憶されたテストプログラムとの整合性を後に詳述する如くチェックして、テスト項目ごとの整合性のチェック結果を生成し、そして、全テスト項目のチェック結果に基づいてテストプログラムがテスト要求仕様どおりに作成されているか否かを検査する。
【００１４】
検査装置１０は、また、処理部１４に接続されたＣＲＴや液晶等からなる表示部１６を備えている。処理部１４は、検査すべきテストプログラムがテスト要求仕様どおりに作成されているか否かを検査した後、その検査結果を視認可能に表示部１６に表示する。具体的には、検査されたテストプログラムがテスト要求仕様どおりに作成されている場合には検査合格の旨を表示部１６に表示し、そのテストプログラムがテスト要求仕様どおりに作成されていない場合にはその作成されていない部位を明示して検査不合格の旨を表示部１６に表示する。
【００１５】
図２は、本実施例の被テスト対象に要求されるテスト項目ごとのテスト要求仕様及びそのテスト要求仕様に対するテストプログラム上での変数値の名称を表した図を示す。本実施例において、被テスト対象の合否判定は、複数（例えば１００個や１０００個）の互いに異なるテストのテスト結果に基づいて行われる。そこで、複数のテストそれぞれに対応して、複数のテスト項目がテスト要求仕様として用意されている。テスト要求仕様としての各テスト項目は、図２に示す如く、テスト項目ごとに独自のテスト番号（テストＮＯ．）を有しており、そのテスト番号と関連付けられた、当該テストを行ううえでのテスト条件と、当該テストを行った場合にテスト結果を書き込むべき変数値の名称と、上記のテスト条件下でテストを行った場合に被テスト対象がテスト合格であると判断できるテスト結果の最小値及び最大値（リミット；合否判定条件）と、そのテスト条件に対してテスト結果が取るべき単位と、により規定されている。
【００１６】
例えば、被テスト対象がヨーレートセンサＩＣである場合、そのＩＣの１番ピンに加える電圧Ｖ１及び２番ピンに加える電圧Ｖ２がテスト条件として設定されると共に、３番ピンに現れる電圧がテスト結果として設定されるものとすると、電圧Ｖ１又はＶ２（テスト条件）が異なるテスト項目ごとに、３番ピンに現れる電圧がそのテスト項目のテスト結果として得られることとなる。尚、テスト結果として設定される対象が、異なる部位の電圧又は異なる単位であれば、それらのテストは互いに異なるテスト項目となる。例えば、３番ピンの電圧を測定するテストと電流を測定するテストとは別個のテスト項目となる。
【００１７】
具体的には、図２に示す如く、テスト番号が“２００１”であるテストでは、テスト条件として電圧Ｖ１が“６．０”Ｖにかつ電圧Ｖ２が“１６．０”Ｖにそれぞれ設定された場合に３番ピンに現れる電圧を測定した結果が変数値名称Ｍ２００１に書き込まれる。尚、この際、ヨーレートセンサＩＣがテスト合格であるためには、３番ピンの電圧は最小値“４．８”Ｖと最大値“５．２”Ｖとの間の値であることが必要であり、単位は“Ｖ”であることが必要である。また、テスト番号が“２００２”であるテストでは、テスト条件として電圧Ｖ１が“１２．０”Ｖにかつ電圧Ｖ２が“１６．５”Ｖにそれぞれ設定された場合に３番ピンに現れる電圧を測定した結果が変数値名称Ｍ２００２に書き込まれる。尚、この際、ヨーレートセンサＩＣがテスト合格であるためには、３番ピンの電圧は最小値“４．８”Ｖと最大値“５．２”Ｖとの間の値であることが必要であり、単位は“Ｖ”であることが必要である。
【００１８】
更に、テスト番号が“２００３”であるテストでは、テスト条件として電圧Ｖ１が“１２．０”Ｖにかつ電圧Ｖ２が“１７．５”Ｖにそれぞれ設定された場合に３番ピンに現れる電圧を測定した結果が変数値名称Ｍ２００３に書き込まれる。尚、この際、ヨーレートセンサＩＣがテスト合格であるためには、３番ピンの電圧は最小値“４．８”Ｖと最大値“５．２”Ｖとの間の値であることが必要であり、単位は“Ｖ”であることが必要である。また、テスト番号が“２００４”であるテストでは、テスト条件として電圧Ｖ１が“１６．０”Ｖにかつ電圧Ｖ２が“１７．５”Ｖにそれぞれ設定された場合に３番ピンに現れる電圧を測定した結果が変数値名称Ｍ２００４に書き込まれる。尚、この際、ヨーレートセンサＩＣがテスト合格であるためには、３番ピンの電圧は最小値“４．８”Ｖと最大値“５．２”Ｖとの間の値であることが必要であり、単位は“Ｖ”であることが必要である。以下、同様に、テスト項目ごとにテスト番号が付され、そのテスト条件やリミット，単位，テスト結果格納のための変数値名称が定められている。
【００１９】
図３は、本実施例のテストプログラムの構成を模式的に表した図を示す。本実施例において、テストプログラムは、被テスト対象のテスト項目ごとのテスト結果を得るために実行される測定部２０、及び、測定部２０で得られたテスト結果についてテスト項目ごとに合否判定を行うために実行される判定部２２を有している。
【００２０】
測定部２０は、テスト番号順でテスト番号ごとに、テスト結果を得るうえで必要なテスト条件を設定し実現させるためのテスト条件設定部と、テスト条件に対して得られるテスト結果を対応の変数値名称に書き込み・代入する処理を実現するための結果格納部とがその位置順に形成されるようにプログラミングされている。尚、テストプログラムのプログラム量が過大となるのを防止すべく、テスト条件設定部においては、そのテスト番号におけるテスト条件がそのテスト番号よりも“１”だけ小さいテスト番号におけるテスト条件と同一である場合、すなわち、連続するテスト番号間においてテスト条件が変化しない場合には、その位置でテスト条件は規定されず、“１”だけ前或いは同一のテスト条件がテスト番号順に連続する場合にはそれ以上前に規定されているテスト条件が援用されて用いられるようにプログラミングが施されている。
【００２１】
また、判定部２２は、テスト番号をキーにしてそのテスト番号に関連付けられている、そのテスト項目について実際に対応の変数値名称に書き込まれたテスト結果とそのテスト項目におけるリミットとを取得し、そのテスト結果とリミットとの具体的な数値比較により被テスト対象の合否判定を行うようにプログラミングされている。
【００２２】
ところで、テストプログラム自体にプログラミング上の誤り等の異常が存在していると、被テスト対象が本来は正常に機能するにもかかわらず不良品であると誤判定されたり、或いは、本来は不良品であるにもかかわらず正常に機能する良品であると誤判定されるおそれがある。そこで、かかる誤判定を生じさせないためにはテストプログラムの品質検査を行うことが必要であるが、その手法としてテストプログラムを実際に実行させた場合における被テスト対象のテスト結果を用いることが考えられる。
【００２３】
しかしながら、かかる手法では、被テスト対象を用いたテストを行うことが必要となるため、ソフトウェアのみを用いたプログラム検査を行うことが不可能となり、その検査に時間と手間がかかると共に、テスト結果自体が正常の範囲内にあればテストプログラムの異常を検出することができないという不都合が生じてしまう。そこで、本実施例のシステムにおいては、被テスト対象のテスト結果に密接に関連するテスト条件やリミット，変数値名称がテスト要求仕様に合致してテストプログラムに規定されているか、すなわち、テストプログラム自体がテスト要求仕様どおりに作成されているかを検査することにより、テストプログラムの品質検査を行うこととしている。
【００２４】
図４は、本実施例の検査装置１０においてテストプログラムとテスト要求仕様との整合性をチェックする手法を説明するための図を示す。上記の如く、本実施例の検査装置１０において、記憶部１２は、被テスト対象に要求されるテスト要求仕様及びそのテスト要求仕様に対する変数値の名称をテスト項目単位で記憶する要求仕様部１２ａと、検査するテストプログラム自体を記憶する検査プログラム部１２ｂと、を有している。
【００２５】
検査装置１０の処理部１４は、記憶部１２の検査プログラム部１２ｂに格納されているテストプログラムを検査するために、まず、その記憶部１２の要求仕様部１２ａから被テスト対象に要求されるテスト要求仕様における１．テスト番号、２．テスト条件、３．テスト結果格納のための変数値名称、及び４．リミットを互いに関連付けて読み出し取得する。次に、その取得したテスト要求仕様におけるテスト番号と同一のテスト番号を、検査プログラム部１２ｂに格納されたテストプログラムの判定部２２内において検索し、その判定部２２からそのテスト番号と対応付けられているテスト結果及びリミットを取得する。
【００２６】
そして、上記の如く取得したテストプログラムの判定部２２に規定されているリミットが要求仕様部１２ａからのテスト要求仕様におけるリミットに整合しているか否かのチェックを行う。具体的には、テスト番号が例えば“２００１”である場合には、テストプログラムに規定されているそのテスト番号に対応するリミットの最小値及び最大値がそれぞれテスト要求仕様における“４．８”及び“５．２”に合致しているか否かの判別を行う。そのチェック結果として合致していればそのテスト項目についてはテストプログラムにテスト要求仕様どおりのリミットが規定されていると判定する。一方、合致していなければテストプログラムにテスト要求仕様どおりのリミットが規定されていないと判定し、テストプログラムのリミットがテスト要求仕様どおりに作成されていないと判定する。
【００２７】
処理部１４は、上記の如くテストプログラムのリミットとテスト要求仕様のリミットとの整合性をチェックした後、次に、テストプログラムの判定部２２から取得されたそのテスト番号に対応付けられているテスト結果が書き込まれた変数値名称と同一の変数値名称をテストプログラムの測定部２０内において検索し、その測定部２０からその変数値名称にテスト結果が書き込まれる処理が行われる位置（結果格納位置）を取得する。
【００２８】
そして、上記の如く検索したテストプログラムにそのテスト番号に対応付けられている変数値名称が要求仕様部１２ａからのテスト要求仕様におけるそのテスト番号の変数値名称に整合しているか否かのチェックを行う。具体的には、テスト番号が例えば“２００２”である場合には、テストプログラムに規定されているそのテスト番号に対応する変数値名称がテスト要求仕様における“Ｍ２００２”に合致しているか否かの判別を行う。そのチェック結果として合致していればそのテスト項目についてはテストプログラムにテスト要求仕様どおりの変数値名称が規定されていると判定する。一方、合致していなければテストプログラムにテスト要求仕様どおりの変数値名称が規定されていないと判定し、テストプログラムの変数値名称がテスト要求仕様どおりに作成されていないと判定する。
【００２９】
処理部１４は、上記の如くテストプログラムの変数値名称とテスト要求仕様の変数値名称との整合性をチェックした後、次に、上記の如く取得した結果格納位置に従って、具体的にはその結果格納位置を遡って、テストプログラム上の結果格納位置の前すなわちプログラム開始位置側の直近に規定されているテスト条件を抽出する。この抽出は、その時点で検査すべきテスト番号に関連付けられているすべてのテスト条件に対して行う。
【００３０】
尚、上記の如く、連続するテスト番号間においてテスト条件が変化しない場合には、テストプログラムにおいて後のテスト番号のテスト項目に対するテスト条件設定部自体においてテスト条件が規定されないので、結果格納位置の直前に対応のすべてのテスト条件が存在するとは限らず、“１”だけ前或いはそれ以上前の結果格納位置の直前に対応のテスト条件が存在する可能性がある。具体的には、テスト番号が例えば“２００３”である場合には、電圧Ｖ１及びＶ２のそれぞれ具体的な値を抽出するが、この際、テスト要求仕様では電圧Ｖ１の値は１２．０であって、テスト番号“２００２”のテスト条件である電圧Ｖ１の値と同一であるので、テストプログラムが正規にプログラミングされていれば、電圧Ｖ１の値はテスト番号“２００３”に対する結果格納位置の直前ではなく、テスト番号“２００２”に対する結果格納位置の直前から抽出されることとなる。
【００３１】
そして、上記の如く抽出したテストプログラムの測定部２０に規定されているテスト条件が要求仕様部１２ａからのテスト要求仕様におけるテスト条件に整合しているか否かのチェックを行う。具体的には、テスト番号が例えば“２００４”である場合には、テストプログラムに規定されているそのテスト番号に対応するテスト条件のＶ１及びＶ２がそれぞれテスト要求仕様における“１６．０”及び“１７．５”に合致しているか否かの判別を行う。そのチェック結果として合致していればそのテスト項目についてはテストプログラムにテスト要求仕様どおりのテスト条件が規定されていると判定する。一方、合致していなければテストプログラムにテスト要求仕様どおりのテスト条件が規定されていないと判定し、テストプログラムのテスト条件がテスト要求仕様どおりに作成されていないと判定する。
【００３２】
処理部１４は、上記した一連の処理をテスト番号ごとにテスト番号順に実行する。このように、本実施例のシステムによれば、複数のテスト項目ごとにそれぞれ、▲１▼テストプログラムのリミット（合否判定条件）がテスト要求仕様どおりに作成されているか否か、▲２▼テストプログラムの変数値名称がテスト要求仕様どおりに作成されているか否か、及び▲３▼テストプログラムのテスト条件がテスト要求仕様どおりに作成されているかを検査することができる。
【００３３】
このため、本実施例の検査装置１０を用いた検査手法によれば、テストプログラム自体とテスト要求仕様との整合性をテスト項目ごとに具体的にチェックすることができるので、テストプログラムの品質の向上を図ることが可能となると共に、テストプログラムのデバック効率の向上を図ることが可能となる。
【００３４】
図５は、上記の機能を実現すべく、本実施例の検査装置１０において処理部１４が実行する制御ルーチンの一例のフローチャートを示す。図５に示すルーチンは、テストプログラムの検査開始後その処理が終了するごとに繰り返し起動されるルーチンである。図５に示すルーチンが起動されると、まずステップ１００の処理が実行される。
【００３５】
ステップ１００では、検査すべきテスト番号として、本ステップ１１０の処理直前に検査すべきとして設定されていたテスト番号に“１”を加えたものを設定する処理が実行される。本実施例において、テストプログラムの検査が開始される初期には、テスト番号“２００１”が検査すべきテスト番号として設定される。
【００３６】
ステップ１０２では、検査するテスト項目のテスト番号をキーにして、記憶部１２の要求仕様部１２ａに記憶されているテスト要求仕様においてそのテスト番号に関連付けられているリミットを取得すると共に、テストプログラムの判定部２２に規定されているそのテスト番号に対応付けられているリミットを取得した後、両リミットの整合性をチェックする処理が実行される。かかる処理が実行されると、以後、テストプログラムの判定部２２に規定されているリミットがテスト要求仕様どおりに作成されていないと判定された場合には、そのテスト番号のリミットがテストプログラムに正常にプログラミングされていないとして、その異常部位を明らかにした上でテストプログラムの検査が不合格である旨が表示部１６に表示される。
【００３７】
ステップ１０４では、検査するテスト項目のテスト番号をキーにして、テストプログラムの判定部２２に規定されているそのテスト番号に対応付けられているテスト結果が書き込まれた変数値名称を取得し、その変数値名称と同一の変数値名称をテストプログラムの測定部２０内において検索し、そして、その測定部２０からその変数値名称にテスト結果が書き込まれる処理が行われる結果格納位置を取得処理が実行される。
【００３８】
ステップ１０６では、検査するテスト項目のテスト番号をキーにして、記憶部１２の要求仕様部１２ａに記憶されているテスト要求仕様においてそのテスト番号に関連付けられている変数値名称を取得した後、その変数値名称と上記ステップ１０４で取得したテストプログラムにおける変数値名称との整合性をチェックする処理が実行される。かかる処理が実行されると、以後、テストプログラムに規定されている変数値名称がテスト要求仕様どおりに作成されていないと判定された場合には、そのテスト番号の変数値名称がテストプログラムに正常にプログラミングされていないとして、その異常部位を明らかにした上でテストプログラムの検査が不合格である旨が表示部１６に表示される。
【００３９】
ステップ１０８では、上記ステップ１０４で取得した結果格納位置をプログラム開始位置側へ向けて遡って、そのテスト番号に関連付けられているすべてのテスト条件を抽出する処理が実行される。
【００４０】
ステップ１１０では、検査するテスト項目のテスト番号をキーにして、記憶部１２の要求仕様部１２ａに記憶されているテスト要求仕様においてそのテスト番号に関連付けられているテスト条件を取得した後、そのテスト条件と上記ステップ１０８で抽出されたテストプログラムにおけるテスト条件との整合性をチェックする処理が実行される。かかる処理が実行されると、以後、テストプログラムの測定部２０に規定されているテスト条件がテスト要求仕様どおりに作成されていないと判定された場合には、そのテスト番号のテスト条件がテストプログラムに正常にプログラミングされていないとして、その異常部位を明らかにした上でテストプログラムの検査が不合格である旨が表示部１６に表示される。
【００４１】
上記図５に示すルーチンによれば、複数の互いに異なるテスト項目ごとに、テストプログラムのリミット、変数値名称、及びテスト条件がそれぞれテスト要求仕様どおりに作成されているか否かの検査を行うことができる。このため、本実施例のシステムによれば、テストプログラム自体のテスト要求仕様に対する整合性をテスト項目ごとに具体的にチェックすることができるので、テストプログラムの品質の向上を図ることができると共に、テストプログラムのデバック効率の向上を図ることができる。
【００４２】
上述の如く、連続するテスト番号間においてテスト条件が変化しない場合には、後のテスト番号のテスト項目に対するテスト条件設定部自体においてテスト条件が規定されないため、結果格納位置の直前に対応のすべてのテスト条件が存在するとは限らず、“１”だけ前或いはそれ以上前の結果格納位置の直前に対応のテスト条件が存在する可能性がある。これに対して、本実施例のシステムにおいては、その時点で検査すべきテスト番号に対応付けられた変数値名称をキーにして結果格納位置を取得すると共に、そのテスト番号に関連付けられているすべてのテスト条件について、その取得した結果格納位置を遡ってプログラム開始位置側の直近に規定されているテスト条件を抽出した後に、テスト条件がテスト要求仕様どおりに作成されているかのチェックを行うため、その検査を適切に行うことが可能となっている。
【００４３】
また、本実施例のシステムにおいては、上記のテスト条件の検査を行うに際し、その検査前に、テストプログラムの結果格納位置に用いられている変数値名称がテスト要求仕様どおりに作成されているのチェックを行う。この場合、変数値名称のチェックが行われた後に、テスト条件のチェックが行われることとなる。このため、本実施例によれば、誤った変数値名称に基づく結果格納位置の取得を防止することができるので、テスト条件の抽出を適切に行うことができ、その検査精度の向上を図ることが可能となっている。
【００４４】
尚、上記の実施例においては、検査装置１０の処理部１４が、上記図５に示すルーチン中ステップ１０４の処理を実行することにより特許請求の範囲に記載した「結果格納位置取得ステップ」及び「結果格納位置取得手段」が、ステップ１０８の処理を実行することにより特許請求の範囲に記載した「テスト条件抽出ステップ」及び「テスト条件抽出手段」が、ステップ１１０の処理を実行することにより特許請求の範囲に記載した「テスト条件判別ステップ」及び「テスト条件判別手段」が、ステップ１０６の処理を実行することにより特許請求の範囲に記載した「結果格納変数判別ステップ」及び「結果格納変数判別手段」が、ステップ１０２の処理を実行することにより特許請求の範囲に記載した「リミット判別ステップ」及び「リミット判別手段」が、それぞれ実現されている。
【００４５】
ところで、上記の実施例においては、テストプログラムと要求仕様とのリミットの整合性チェックを、変数値名称の整合性チェックの前、かつ、テスト条件の整合性のチェックの前に行うこととしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、少なくとも何れかの後に行うこととしてもよい。
【００４６】
【発明の効果】
上述の如く、請求項１及び４記載の発明によれば、テストプログラムに規定されたテスト条件の要求仕様に対する整合性をチェックすることで、テストプログラムの品質の向上を図ることができる。
【００４７】
請求項２及び５記載の発明によれば、テストプログラムに規定されたテスト結果が書き込まれる所定の変数の要求仕様に対する整合性をチェックすることで、テストプログラムの品質の向上を図ることができる。
【００４８】
また、請求項３及び６記載の発明によれば、テストプログラムに規定された合否判定条件の要求仕様に対する整合性をチェックすることで、テストプログラムの品質の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例であるシステムの構成図である。
【図２】本実施例の被テスト対象に要求されるテスト項目ごとのテスト要求仕様及びそのテスト要求仕様に対するテストプログラム上での変数値の名称を表した図である。
【図３】本実施例のテストプログラムの構成を模式的に表した図である。
【図４】本実施例の検査装置においてテストプログラムとテスト要求仕様との整合性をチェックする手法を説明するための図である。
【図５】本実施例の検査装置において実行される制御ルーチンのフローチャートである。
【符号の説明】
１０  検査装置
１２  記憶部
１４  処理部
【図１】
2005070887.tif 000003
【図２】
2005070887.tif 000004
【図３】
2005070887.tif 000005
【図４】
2005070887.tif 000006
【図５】
2005070887.tif 000007