(57)【要約】【課題】欠陥画素の影響を低減しつつ、精度の高い欠陥画素補正を行うことを課題とする。【解決手段】シフトレジスタ１５からは注目画素の画素データ７５が、シフトレジスタ１１,１３,１７,１９からは周辺同色画素の画素データ７１,７３,７７,７９が出力される。画素データ７１,７３,７５,７９の平均画素値である判定用推測画素データ８１と画素データ７５との差分データ８３が比較部３３に入力され、レジスタ３１に格納された閾値は画素データ７３,７５の平均画素値である補正用推測画素データ８４で変調され、変調閾値データ８６として比較部３３に入力される。比較部３３において、差分データ８３が変調閾値データ８６より大きいと判断された場合には、セレクタ３４は、補正画素データ８８として補正用推測画素データ８４を出力する。【選択図】図４
2005295383.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
センサーから画像データを入力する手段と、
注目画素の周辺画素の中から４個の画素を選択し、前記４個の画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、
前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、
前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、
所定の閾値を前記補正用推測画素値で変調し、変調閾値を求める変調手段と、
前記差分値と前記変調閾値とを比較し、前記差分値が前記変調閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、
を備えることを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項２】
センサーから画像データを入力する手段と、
注目画素の周辺画素の中からＮ個の画素を選択し、前記Ｎ個の画素のうち、最大画素値と最小画素値をもつ画素を除いた画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、
前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、
前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、
所定の閾値を前記補正用推測画素値で変調し、変調閾値を求める変調手段と、
前記差分値と前記変調閾値とを比較し、前記差分値が前記変調閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、
を備えることを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項３】
センサーから画像データを入力する手段と、
注目画素の周辺画素の中から４個の画素を選択し、前記４個の画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、
前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、
前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、
前記差分値を前記補正用推測画素値で変調し、変調差分値を求める変調手段と、
前記変調差分値と所定の閾値とを比較し、前記変調差分値が前記閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、
を備えることを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項４】
センサーから画像データを入力する手段と、
注目画素の周辺画素の中からＮ個の画素を選択し、前記Ｎ個の画素のうち、最大画素値と最小画素値をもつ画素を除いた画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、
前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、
前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、
前記差分値を前記補正用推測画素値で変調し、変調差分値を求める変調手段と、
前記変調差分値と所定の閾値とを比較し、前記変調差分値が前記閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、
を備えることを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の欠陥画素補正装置において、
前記センサーは、カラー対応センサーであり、前記周辺画素は、それぞれ前記注目画素と同色の画素であることを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の欠陥画素補正装置において、
前記判定用推測画素値および／または前記補正用推測画素値は、前記周辺画素の画素平均値であることを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項７】
請求項１ないし請求項６のいずれかに記載の欠陥画素補正装置において、
前記センサーは、カラー対応センサーであり、前記所定の閾値は、前記カラー対応センサーの各色に対応して用意されている閾値であることを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項８】
請求項１または請求項２に記載の欠陥画素補正装置において、
前記変調手段は、
前記補正用推測画素値が高輝度側に変化するにつれて、前記変調閾値が大きくなるように前記閾値を変調する手段、
を含むことを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項９】
請求項１または請求項２に記載の欠陥画素補正装置において、
前記変調手段は、
前記補正用推測画素値の領域ごとに個別の関数を適用させて前記閾値を変調する手段、
を含むことを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項１０】
請求項３または請求項４に記載の欠陥画素補正装置において、
前記変調手段は、
前記補正用推測画素値が高輝度側に変化するにつれて、前記変調差分値が小さくなるように前記差分値を変調する手段、
を含むことを特徴とする欠陥画素補正装置。
【請求項１１】
請求項３または請求項４に記載の欠陥画素補正装置において、
前記変調手段は、
前記補正用推測画素値の領域ごとに個別の関数を適用させて前記差分値を変調する手段、
を含むことを特徴とする欠陥画素補正装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、センサーに存在する欠陥画素の補正技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＣＤ等のセンサーには、白欠陥や黒欠陥などの欠陥画素が存在する場合がある。このような欠陥画素は、画質に影響を与えるため補正する必要がある。たとえば、ＣＣＤの製造工場において、これら欠陥画素のアドレスを特定し、このアドレス情報を不揮発性メモリに記憶させ、ＣＣＤと共に出荷するといった方法がとられている。これにより、デジタルカメラなどにおいては、撮影時に、アドレス情報から欠陥画素位置を特定し、欠陥画素については周囲の画素で補正するなどの方法がとられる。したがって、このような方法をとるためには、アドレス情報を格納するためのメモリが必要であり、回路規模の縮小化の妨げとなっている。
【０００３】
これに対して、アドレス情報を格納するためのメモリを不要とした技術が下記特許文献１において開示されている。
【０００４】
一方、下記特許文献２においては、画像の輝度レベルに応じて欠陥画素の補正を行う技術が開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−２２３３９１号公報
【特許文献２】特開２００２−１４２１５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、アドレス情報を格納するためのメモリを不要とした従来の技術においては、補正の精度に問題があった。また、画像の輝度レベルに応じて欠陥画素の補正を行う従来技術では、回路規模が大きくなるという問題があった。
【０００７】
そこで、本願出願人は、特願２００３−１０７８５１号において、回路規模の縮小化を図りながら、精度の高い適正な補正を行うことを目的とした欠陥画素の補正アルゴリズムに関する出願を行っている。この出願に係る補正アルゴリズムは、本願の出願時において未公開の技術である。
【０００８】
この補正アルゴリズムを、図１４を用いて説明する。図１４に示すように注目画素P(n)を中心とした左右の５画素（P(n-2),P(n-1),P(n),P(n+1),P(n+2)）を考える。そして、注目画素P(n)と同色画素である画素P(n-2)と画素P(n+2)の画素値を加算し、その画素平均値[(P(n-2)+P(n+2))/2]を求める。さらに、求めた画素平均値と注目画素の画素値との差分値の絶対値[|P(n)-{P(n-2)+P(n+2)}/2|]を算出する。そして、この差分絶対値が、周辺画素の輝度で変調した閾値ＴＨを超えている場合は、注目画素は欠陥画素と判定され、先に求めた画素平均値を注目画素の補正後の画素値として採用するのである。一方、差分絶対値が、周辺画素の輝度で変調した閾値ＴＨを超えていない場合は、注目画素は欠陥画素ではなく、正常な画素として判定され、注目画素の画素値はそのまま保持されるのである。
【０００９】
ところが、図１４で示した補正アルゴリズムでは、さらに、解決すべき課題が存在する。この課題について図１５を用いて説明する。図１５において、補正処理（１）は、画素P(n-2)についての補正処理手順を示しており、補正処理（２）は、画素P(n)についての補正処理手順を示しており、補正処理（３）は、画素P(n+2)についての補正処理手順を示している。そして、一番下の図は、補正処理（１）〜（３）を実行した後の結果を示している。
【００１０】
図１４を用いて説明した様に、画素P(n-2)と画素P(n+2)の画素平均値と注目画素P(n)の画素値との差分値から、注目画素P(n)が欠陥画素であるかどうかを判断している。そして、上記アルゴリズムは左右の画素P(n-2),P(n+2)が正常画素であることを前提としている。ところが欠陥画素の左右いずれかに位置する画素が注目画素となっている場合、当該注目画素にとっては、左右いずれかの画素が欠陥画素となる。例えば、補正処理（１）で示すように、画素P(n-2)を注目画素とする画素の集合｛P(n-4)、P(n-2)、P(n)｝を考える場合、画素P(n-4)と画素P(n)との画素平均値と注目画素P(n-2)の画素値との差分値をとることになるが、画素P(n)が欠陥画素である場合、画素P(n-4)と画素P(n)の画素平均値は本来あるべき基準値とは大きく異なった値となっている。この結果、注目画素P(n-2)の画素値はP(n-4)とP(n)の画素平均値で置き換えられることになり、欠陥画素P(n)の影響を受けることになる。同様に、補正処理（３）においても、欠陥画素P(n)の影響を受けることになる。
【００１１】
画素P(n)の画素値は画素P(n-2)と画素P(n+2)の画素平均値を用いて適正に補正することが可能であるが、画素P(n-2)と画素P(n+2)の画素値が間違って補正されることにより図１５の一番下の図で示すように欠陥の拡大現象が起きることになる。
【００１２】
本発明は前記問題点に鑑み、回路規模の縮小化を図りながら、精度の高い適正な補正を行うことを可能とした欠陥画素の補正技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するため、請求項１記載の発明は、センサーから画像データを入力する手段と、注目画素の周辺画素の中から４個の画素を選択し、前記４個の画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、所定の閾値を前記補正用推測画素値で変調し、変調閾値を求める変調手段と、前記差分値と前記変調閾値とを比較し、前記差分値が前記変調閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、を備えることを特徴とする。
【００１４】
請求項２記載の発明は、センサーから画像データを入力する手段と、注目画素の周辺画素の中からＮ個の画素を選択し、前記Ｎ個の画素のうち、最大画素値と最小画素値をもつ画素を除いた画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、所定の閾値を前記補正用推測画素値で変調し、変調閾値を求める変調手段と、前記差分値と前記変調閾値とを比較し、前記差分値が前記変調閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、を備えることを特徴とする。
【００１５】
請求項３記載の発明は、センサーから画像データを入力する手段と、注目画素の周辺画素の中から４個の画素を選択し、前記４個の画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、前記差分値を前記補正用推測画素値で変調し、変調差分値を求める変調手段と、前記変調差分値と所定の閾値とを比較し、前記変調差分値が前記閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、を備えることを特徴とする。
【００１６】
請求項４記載の発明は、センサーから画像データを入力する手段と、注目画素の周辺画素の中からＮ個の画素を選択し、前記Ｎ個の画素のうち、最大画素値と最小画素値をもつ画素を除いた画素の画素値から前記注目画素の判定用推測画素値を求める手段と、前記周辺画素のうち複数画素の画素値から前記注目画素の補正用推測画素値を求める手段と、前記注目画素についてのセンサー入力画素値と前記判定用推測画素値との差分値を求める手段と、前記差分値を前記補正用推測画素値で変調し、変調差分値を求める変調手段と、前記変調差分値と所定の閾値とを比較し、前記変調差分値が前記閾値よりも大きい場合には、前記注目画素の画素値として、前記センサー入力画素値に替えて前記補正用推測画素値を出力する手段と、を備えることを特徴とする。
【００１７】
請求項５記載の発明は、請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の欠陥画素補正装置において、前記センサーは、カラー対応センサーであり、前記周辺画素は、それぞれ前記注目画素と同色の画素であることを特徴とする。
【００１８】
請求項６記載の発明は、請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の欠陥画素補正装置において、前記判定用推測画素値および／または前記補正用推測画素値は、前記周辺画素の画素平均値であることを特徴とする。
【００１９】
請求項７記載の発明は、請求項１ないし請求項６のいずれかに記載の欠陥画素補正装置において、前記センサーは、カラー対応センサーであり、前記所定の閾値は、前記カラー対応センサーの各色に対応して用意されている閾値であることを特徴とする。
【００２０】
請求項８記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の欠陥画素補正装置において、前記変調手段は、前記補正用推測画素値が高輝度側に変化するにつれて、前記変調閾値が大きくなるように前記閾値を変調する手段、を含むことを特徴とする。
【００２１】
請求項９記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の欠陥画素補正装置において、前記変調手段は、前記補正用推測画素値の領域ごとに個別の関数を適用させて前記閾値を変調する手段、を含むことを特徴とする。
【００２２】
請求項１０記載の発明は、請求項３または請求項４に記載の欠陥画素補正装置において、前記変調手段は、前記補正用推測画素値が高輝度側に変化するにつれて、前記変調差分値が小さくなるように前記差分値を変調する手段、を含むことを特徴とする。
【００２３】
請求項１１記載の発明は、請求項３または請求項４に記載の欠陥画素補正装置において、前記変調手段は、前記補正用推測画素値の領域ごとに個別の関数を適用させて前記差分値を変調する手段、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２４】
本発明は、注目画素の周辺に位置する４画素を利用して判定用推測画素値を算出し、この判定用推測画素値と注目画素の画素値を比較することによって欠陥画素の判定を行う。したがって、注目画素の周辺に欠陥画素が存在する場合であっても、判定処理において欠陥画素の影響を受けることを低減させることが可能である。そして、欠陥画素を判定する際には、閾値を輝度で変調するようにしているので、精度の高い判定処理を行うことが可能である。
【００２５】
また、本発明においては、注目画素の周辺に位置する複数の画素のうち、最大画素値と最小画素値をもつ画素以外の画素を利用して判定用推測画素値を算出し、この判定用推測画素値と注目画素の画素値を比較することによって欠陥画素の判定を行う。したがって、注目画素の周辺に欠陥画素が存在する場合であっても、判定処理において欠陥画素の影響を受けることを低減させることが可能である。そして、欠陥画素を判定する際には、閾値を輝度で変調するようにしているので、精度の高い判定処理を行うことが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
【００２７】
｛全体概略構成｝
図１は、本発明の実施の形態にかかる欠陥画素補正回路６が組み込まれたデジタルカメラ１の概略ブロック図である。デジタルカメラ１において、被写体からの反射光は、光学部２を介してＣＣＤ撮像素子３で受光される。本実施の形態におけるＣＣＤ撮像素子３は、Ｒ（赤色）、Ｇ（緑色）、Ｂ（青色）の３色のカラーフィルタがベイヤ配列されたカラー対応センサーである。ＣＣＤ撮像素子３から出力されたＲＧＢ各色のアナログ信号は、各種のアナログ処理が施された後、Ａ／Ｄ変換部４においてデジタル変換され、デジタルの画素データとして画像処理部５に入力される。ここで、図に示したように、本実施の形態においては、画素データは、Ｒ→Ｇ→Ｒ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列と、Ｂ→Ｇ→Ｂ→Ｇ→の順で出力される画素列とが交互に繰り返されて出力される。ただし、この出力順序は一例であり、ＣＣＤ撮像素子３のカラーフィルタの配列に応じて、出力される色の順序が異なる。
【００２８】
画像処理部５は、入力した画素データに対して各種のデジタル処理を実行する機能部である。そして、欠陥画素補正回路６において、ＣＣＤ撮像素子３における欠陥画素から出力された画素データに対して補正処理が行われる。
【００２９】
｛補正アルゴリズム｝
次に、本発明の補正アルゴリズムの概略手順を図２および図３を用いて説明する。図２は、本発明の第１の補正アルゴリズムを示す図である。図に示すように、注目画素P(n)よりも左側に位置する２画素P(n-4),P(n-2)および右側に位置する２画素P(n+2),P(n+4)からなる４つの画素の画素値を加算し、この加算値の平均値を算出する。つまり、周辺の４画素の画素平均値を算出する。そして、注目画素P(n)の画素値と周辺４画素の画素平均値との差分絶対値を算出する（図中、ABSは絶対値算出部を示す。）。そして、この差分絶対値と閾値ＴＨとの比較処理を行うのである。ここで、この比較処理においては、差分絶対値あるいは閾値ＴＨのいずれかが周辺画素の輝度値によって変調された上で比較処理が実行される。
【００３０】
図３は、本発明の第２の補正アルゴリズムを示す図である。図に示すように、注目画素P(n)よりも左側に位置する２画素P(n-4),P(n-2)および右側に位置する２画素P(n+2),P(n+4)からなる４つの画素の画素値を取得し、この４画素の中で最大画素値と最小画素値をもつ画素を除いた２画素の画素値を加算し、この加算値の平均値を算出する。図中、MEDIANは、中央の２画素、つまり、最大画素値と最小画素値をもつ２画素以外の画素を選択する処理部である。つまり、このアルゴリズムでは、周辺の４画素のうち、最大画素値と最小画素値をもつ２画素以外の画素の画素平均値を算出する。そして、注目画素P(n)の画素値と２画素の画素平均値との差分絶対値を算出する（図中、ABSは絶対値算出部を示す。）。そして、この差分絶対値と閾値ＴＨとの比較処理を行うのである。ここで、この比較処理においては、差分絶対値あるいは閾値ＴＨのいずれかが周辺画素の輝度によって変調された上で比較処理が実行される。
【００３１】
次に、上記２つの補正アルゴリズムを適用させた本発明についての６つの実施の形態について順に説明する。
【００３２】
｛第１の実施の形態｝
図４は、第１の実施の形態にかかる欠陥画素補正回路６のブロック図である。欠陥画素補正回路６には、ＣＣＤ撮像素子３から出力された画素データ７０が入力されるが、この画素データ７０は、レジスタ１１〜１９からなるシフトレジスタに入力される。
【００３３】
各レジスタ１１〜１９は、それぞれ、１画素分のビット幅のデータを保持可能なレジスタであり、クロック信号６０に同期して、保持している１画素分の画素データを次段のレジスタに転送する。これにより、レジスタ１１〜１９によって９画素分の画素データを保持することが可能である。図に示すように、各レジスタ１１〜１９から出力される画素データをそれぞれ画素データ７１〜７９とする。
【００３４】
ここで、前述したように、欠陥画素補正回路６に入力される画素データ７０は、Ｒ→Ｇ→Ｒ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列、あるいは、Ｂ→Ｇ→Ｂ→Ｇ→の順で出力される画素列であるので、各レジスタ１１〜１９には、１段おきに同色の画素データが保持されることになる。したがって、レジスタ１１,１３,１５,１７,１９には、同じ色の画素データが保持されることになり、クロック信号６０に同期して出力される画素データ７１,７３,７５,７７,７９は、同じ色の画素データである。
【００３５】
あるクロック周期において、レジスタ１１,１３から出力された画素データ７１,７３は、加算回路２１において加算され、レジスタ１７,１９から出力された画素データ７７,７９は、加算回路２２において加算される。さらに、加算回路２１からの出力データと、加算回路２２からの出力データが加算回路２５で加算される。このようにして、画素データ７１,７３,７７,７９が加算され、４画素分の画素加算値が算出される。次に、この画素加算値は、平均値算出回路２６において４で除算される。これによって、判定用推測画素データ８１が出力される。判定用推測画素データ８１は、４画素分の画素の画素平均値を示している。
【００３６】
ここで、画素データ７１,７３,７７,７９は、画素データ７５の左右に位置する同じ色の画素データである。画素データ７５を注目画素の画素データとすると、判定用推測画素データ８１は、注目画素の左右に位置する同じ色の４画素の画素平均値であり、注目画素の画素データ７５が欠陥画素であるか否かを判定するために用いるデータである。
【００３７】
次に、減算回路２７において、判定用推測画素データ８１と画素データ７５との差分データ８２が算出される。ここで、画素データ７５は、ＣＣＤ撮像素子３によって入力された注目画素の画素値を示す。つまり、判定用推測画素データ８１が注目画素の推測画素値であるのに対して、画素データ７５は、センサー入力画素値である。
【００３８】
さらに、絶対値演算回路２８において、差分データ８２の絶対値が算出され、差分データ８３が出力される。この差分データ８３は、比較部３３に入力される。
【００３９】
一方、レジスタ１３,１７から出力された画素データ７３,７７は、加算回路２３において加算される。そして、加算回路２３からの出力データは、平均値算出回路２４において２で除算される。これにより、注目画素である画素データ７５の左右に位置する２画素の画素平均値である補正用推測画素データ８４が算出される。そして、補正用推測画素データ８４は、変換部３２に入力される。
【００４０】
ここで、画素データ７３,７７は、画素データ７５の左右に位置する同じ色の画素データである。画素データ７５を注目画素の画素データとすると、補正用推測画素データ８４は、注目画素の左右の同じ色の２画素の画素平均値であり、注目画素の画素データ７５が欠陥画素から取得されたデータである場合に、この画素データ７５に替えて注目画素の画素値として利用される。つまり、補正用推測画素データ８１は、注目画素の周辺画素を用いて求められた注目画素の画素値を推測するデータである。
【００４１】
図５は、変換部３２の機能ブロック図である。変換部３２に入力された補正用推測画素データ８４は、係数算出部３２１に入力され、閾値変調用の係数が算出される。補正用推測画素データ８４から係数を算出する処理は、図６に示すような関数を用いて実行される。図中、横軸は補正推測画素データ８４の値（画素値）であり、縦軸は係数を示している。ここでは、補正用推測画素データ８４が１０ビットのデータであり、この関数によって１０ビットの係数に変換される場合を例にしている。
【００４２】
図に示すように、この係数を求める関数は、単純なリニア関数ではなく、補正用推測画素データ８４の画素値の領域によって、その傾きが異なるように設定されている。つまり、輝度域に応じて異なる関数を適用させるようにしている。図に示した各領域における関数の傾きは一例であるが、このように、各領域における関数を自由に設定できるようにしているのである。
【００４３】
ただし、係数を求める関数は、図６でも示すように、補正用推測画素データ８４の画素値が大きくなるに従って、つまり、高輝度側になるに従って、その係数が大きくなるようにすることが望ましい。これにより、高輝度域における過補正を抑制することができる。また、中濃度域や暗部における補正漏れを防ぐこともできる。
【００４４】
係数算出部３２１から係数データ３２５が出力されると、乗算回路３２２において、係数データ３２５とレジスタ３１（図４に図示）から出力された閾値データ８５との間で乗算処理が行われ、変調閾値データ３２６が算出される。ここで、閾値データ８５は、欠陥画素を判定するための閾値を示すデータであり、この閾値データ８５が係数データ３２５によって変調されることによって、補正用推測画素データ８４の輝度に応じて閾値が変調されることになる。このようにして算出された変調閾値データ３２６は、除算回路３２３において１２８で除算される。
【００４５】
この例では、閾値データ８５には、乗算回路３２２において、０〜１０２３（１０ビット）の係数データ３２５が乗算されて変調された後、１２８で除算（７ビットシフト演算）されるので、閾値は、０〜７倍の８通りに変調されることになる。このようにして、変換部３２は、変調閾値データ８６を出力する。なお、除算回路３２３において除算する数値を調整することにより、閾値の変調段階を任意に変更することが可能である。
【００４６】
再び、図４を参照する。変換部３２から出力された変調閾値データ８６は、比較部３３に入力される。比較部３３は、差分データ８３と変調閾値データ８６の大小関係を比較する。そして、この大小関係に従って、選択信号６１を出力する。ここでは、変調閾値データ８６よりも差分データ８３が小さい場合には、選択信号６１として「０」が出力され、変調閾値データ８６よりも差分データ８３が大きい場合には、選択信号６１として「１」が出力される。
【００４７】
セレクタ３４には、画素データ７５および補正用推測画素データ８４が入力されるとともに、選択信号６１が入力される。そして、セレクタ３４は、選択信号６１として「０」を入力すると、補正画素データ８８として画素データ７５を出力する。つまり、注目画素の画素データとしてセンサー入力画素値を採用する。選択信号６１として「１」を入力すると、補正画素データ８８として補正用推測画素データ８４を出力する。つまり、注目画素の画素データとしてセンサー入力画素値に替えて、推測画素値を採用するのである。このようにして、ＣＣＤ撮像素子３から出力された各画素データ７０に対して補正画素データ８８を出力する。
【００４８】
本実施の形態の欠陥画素補正回路６は、デジタルカメラ１において撮像された画像データを、リアルタイムで処理し、欠陥画素を補正して出力するので、欠陥画素のアドレスを記憶するためのメモリが不要である。また、機器の起動時に、黒レベルや白レベルなどの基準レベルを撮影する必要がないので、起動時間を短縮させることが可能である。
【００４９】
さらに、欠陥画素を判断するための閾値を補正用推測画素データ８４の値（画素値）に応じて変調するので、欠陥画素の判定精度が向上する。すなわち、固定閾値との比較により欠陥画素を判断した場合に発生する過補正（正常な画素を欠陥画素と判断し補正すること）や、固定閾値では欠陥画素として判断することができない中間濃度部や暗部における欠陥画素も補正することができるのである。
【００５０】
また、変調された閾値と差分値の比較処理を行っているが、この差分値は、注目画素の周辺４画素の画素平均値と注目画素の画素値との差分である。このように、周辺４画素の画素平均値を判定用の推測画素値としているので、注目画素の周辺に欠陥画素が存在するような場合でも、比較処理において受ける欠陥画素の影響を低減させることが可能である。
【００５１】
第１の実施の形態においては、注目画素の左右に位置する４画素を用いて判定用推測画素データを生成するようにしているが、判定用推測画素データを生成するために利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。たとえば、２次元画像上における注目画素の上下左右の周辺４画素から判定用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【００５２】
また、第１の実施の形態においては、注目画素の左右に位置する２画素を用いて補正用推測画素データを生成するようにしているが、補正用推測画素データを生成するために利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。たとえば、２次元画像上における注目画素の上下左右の周辺４画素から補正用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【００５３】
｛第２の実施の形態｝
図７は、第２の実施の形態にかかる欠陥画素補正回路６のブロック図である。なお、第２の実施の形態において、第１の実施の形態と同様の構成については、第１の実施の形態で用いた番号と同一の番号を使用して各機能部を説明する。また、第１の実施の形態と同様の機能および処理内容については、適宜説明を省略する。
【００５４】
欠陥画素補正回路６には、ＣＣＤ撮像素子３から出力された画素データ７０が入力されるが、この画素データ７０は、レジスタ１１〜１９からなるシフトレジスタに入力される。あるクロック周期において、レジスタ１１,１３,１７,１９から出力された画素データ７１,７３,７７,７９は、メディアン処理部３５に入力される。メディアン処理部３５は、画素データ７１,７３,７７,７９の画素値を昇順（あるいは降順）に配列し、その中央の２つの値をとる２画素分のデータを選択して、この２画素の画素値を加算した結果を、メディアンデータ９１として出力する。言い換えると、メディアン処理部３５は、画素データ７１,７３,７７,７９のうち、最大画素値および最小画素値をもつ画素以外の画素の画素加算値をメディアンデータ９１として出力する。
【００５５】
次に、このメディアンデータ９１は、平均値算出回路２９において２で除算される。これによって、判定用推測画素データ９２が出力される。判定用推測画素データ９２は、２画素分の画素の画素平均値を示している。
【００５６】
ここで、画素データ７１,７３,７７,７９は、画素データ７５の左右に位置する同じ色の画素データである。画素データ７５を注目画素の画素データとすると、判定用推測画素データ９２は、注目画素の左右に位置する同じ色の２画素の平均値であり、注目画素の画素データ７５が欠陥画素であるか否かを判定するために用いるデータである。
【００５７】
次に、減算回路２７において、判定用推測画素データ９２と画素データ７５との差分データ９３が算出される。ここで、画素データ７５は、ＣＣＤ撮像素子３によって入力された注目画素の画素値を示す。つまり、判定用推測画素データ９２が注目画素の推測画素値であるのに対して、画素データ７５は、センサー入力画素値である。
【００５８】
さらに、絶対値演算回路２８において、差分データ９３の絶対値が算出され、差分データ９４が出力される。この差分データ９４は、比較部３３に入力される。
【００５９】
一方、レジスタ１３,１７から出力された画素データ７３,７７は、加算回路２３において加算される。そして、加算回路２３からの出力データは、平均値算出回路２４において２で除算される。これにより、注目画素である画素データ７５の左右に位置する２画素の画素平均値である補正用推測画素データ８４が算出される。そして、補正用推測画素データ８４は、変換部３２に入力される。
【００６０】
ここで、画素データ７３,７７は、画素データ７５の左右に位置する同じ色の画素データである。画素データ７５を注目画素の画素データとすると、補正用推測画素データ８４は、注目画素の左右の同じ色の２画素の平均値であり、注目画素の画素データ７５が欠陥画素から取得されたデータである場合に、この画素データ７５に替えて注目画素の画素値として利用される。つまり、補正用推測画素データ８１は、注目画素の周辺画素を用いて求められた注目画素の画素値を推測するデータである。
【００６１】
第２の実施の形態における変換部３２は、図５および図６を用いて説明した第１の実施の形態における変換部３２と同様である。変換部３２は、補正用推測画素データ８４および閾値データ８５を入力し、変調閾値データ８６を出力する。変換部３２から出力された変調閾値データ８６は、比較部３３に入力される。比較部３３は、差分データ９４と変調閾値データ８６の大小関係を比較する。そして、この大小関係に従って、選択信号６１を出力する。ここでは、変調閾値データ８６よりも差分データ９４が小さい場合には、選択信号６１として「０」が出力され、変調閾値データ８６よりも差分データ９４が大きい場合には、選択信号６１として「１」が出力される。
【００６２】
セレクタ３４には、画素データ７５および補正用推測画素データ８４が入力されるとともに、選択信号６１が入力される。そして、セレクタ３４は、選択信号６１として「０」を入力すると、補正画素データ８８として画素データ７５を出力する。つまり、注目画素の画素データとしてセンサー入力画素値を採用する。選択信号６１として「１」を入力すると、補正画素データ８８として補正用推測画素データ８４を出力する。つまり、注目画素の画素データとしてセンサー入力画素値に替えて、推測画素値を採用するのである。このようにして、ＣＣＤ撮像素子３から出力された各画素データ７０に対して補正画素データ８８を出力する。
【００６３】
この実施の形態においても、リアルタイムで欠陥画素を補正するので、欠陥画素のアドレスを記憶するためのメモリが不要である。また、機器の起動時に、黒レベルや白レベルなどの基準レベルを撮影する必要がないので、起動時間を短縮させることが可能である。また、欠陥画素を判断するための閾値を補正用推測画素データ８４の値（画素値）に応じて変調するので、欠陥画素の判定精度が向上する。
【００６４】
また、変調された閾値と差分値の比較処理を行っているが、この差分値は、注目画素の周辺４画素をメディアン処理することによって得られた画素平均値と注目画素の画素値との差分である。これにより、注目画素の周辺に欠陥画素が存在するような場合でも、メディアン処理によって、欠陥画素の影響が低減されるので、比較処理において欠陥画素の影響を受けることを低減させることが可能である。
【００６５】
第２の実施の形態においても、注目画素の左右に位置する４画素を用いて判定用推測画素データを生成するようにしているが、判定用推測画素データを生成するために利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。たとえば、２次元画像上における注目画素の上下左右の周辺４画素から判定用推測画素データを生成するようにしてもよい。また、この実施の形態では、注目画素の周辺４画素のうち、最大画素値あるいは最小画素値をもつ画素以外の２画素を利用して判定用推測画素データを生成するようにしているが、たとえば、注目画素の周辺から５画素あるいは６画素など、さらに多くの画素を選択し、これらの画素のうち最大画素値あるいは最小画素値をもつ画素以外の３画素あるいは４画素など、さらに多くの画素を利用して判定用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【００６６】
また、第２の実施の形態においては、注目画素の左右に位置する２つの画素を用いて補正用推測画素データを生成するようにしているが、補正用推測画素データを生成するために利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。たとえば、２次元画像上における注目画素の上下左右の周辺４画素から補正用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【００６７】
｛第３の実施の形態｝
次に、第３の実施の形態における欠陥画素補正回路６について説明する。図８は、第３の実施の形態に係る欠陥画素補正回路６のブロック図である。図中、第１の実施の形態と同様の機能部については、同一の番号を付している。以下、第１の実施の形態と異なる機能部を中心に説明する。
【００６８】
レジスタ１１,１３,１７,１９から出力された画素データ７１,７３,７７,７９が、加算回路２１,２２,２５、平均値算出回路２６において処理されることにより、判定用推測画素データ８１が出力される。減算回路２７、絶対値算出回路２８を経て算出された差分データ８３は比較部３３に入力される。また、画素データ７３,７７の画素平均値である補正用推測画素データ８４は、変換部３２に入力される。
【００６９】
第１の実施の形態とは異なり、欠陥画素補正回路６は、ＣＣＤ撮像素子３から出力される画素データの各色に対応した閾値を格納する複数のレジスタ３１１〜３１４を備えている。レジスタ３１１,３１２には、Ｒ→Ｇ→Ｒ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列に対応して、Ｒ用閾値データ１０１,Ｇ用閾値データ１０２が格納されている。レジスタ３１３,３１４には、Ｂ→Ｇ→Ｂ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列に対応して、Ｂ用閾値データ１０３,Ｇ用閾値データ１０４が格納されている。ただし、２つのＧ用閾値データを共通のレジスタに格納するようにしてもよい。
【００７０】
セレクタ３５は、各色の閾値データ１０１〜１０４を入力するとともに、選択信号１００を入力する。選択信号１００は、タイミングジェネレータ（図示せず）から与えられる信号であり、現在レジスタ１１,１３,１５,１７,１９から出力されている画素データ７１,７３,７５,７７,７９の色（５つとも同じ色である。）を指定する信号である。ここでは、Ｒ→Ｇ→Ｒ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列について、Ｒ色が出力されている場合には、選択信号１００として「０」を、Ｇ色が出力されている場合には、選択信号１００として「１」を出力する。また、Ｂ→Ｇ→Ｂ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列について、Ｂ色が出力されている場合には、選択信号１００として「２」を、Ｇ色が出力されている場合には、選択信号１００として「３」を出力する。
【００７１】
セレクタ３５は、選択信号１００に従って、対応する色用の閾値データ１０５を出力する。閾値データ１０５は変換部３２に入力される。変換部３２では第１の実施の形態と同様の処理が行われ、変調閾値データ８６が出力される。
【００７２】
比較部３３では、差分データ８３と変調閾値データ８６の比較処理が行われ、変調閾値データ８６よりも差分データ８３が小さい場合には、選択信号６１として「０」が出力され、変調閾値データ８６よりも差分データ８３が大きい場合には、選択信号６１として「１」が出力される。そして、セレクタ３４は、選択信号６１として「０」を入力すると、補正画素データ８８として画素データ７５を出力し、選択信号６１として「１」を入力すると、補正画素データ８８として補正用推測画素データ８４を出力するのである。このようにして、ＣＣＤ撮像素子３から出力された各画素データ７０に対して補正画素データ８８を出力する。
【００７３】
このように、第３の実施の形態によれば、色毎に最適な変調閾値を設定することが可能であり、より高精度な欠陥検出が可能である。
【００７４】
｛第４の実施の形態｝
次に、第４の実施の形態における欠陥画素補正回路６について説明する。図９は、第４の実施の形態に係る欠陥画素補正回路６のブロック図である。図中、第２の実施の形態と同様の機能部については、同一の番号を付している。以下、第２の実施の形態と異なる機能部を中心に説明する。
【００７５】
レジスタ１１,１３,１７,１９から出力された画素データ７１,７３,７７,７９は、メディアン処理部３５においてメディアン処理される。すなわち、画素データ７１,７３,７７,７９のうち、最大画素値と最小画素値をもつ画素以外の画素の画素加算値がメディアンデータ９１として出力される。そして、平均値算出回路２９において２で除算されることにより、判定用推測画素データ９２が出力される。さらに、減算回路２７、絶対値算出回路２８を経て算出された差分データ９４は比較部３３に入力される。また、画素データ７３,７７の画素平均値である補正用推測画素データ８４は、変換部３２に入力される。
【００７６】
第２の実施の形態とは異なり、欠陥画素補正回路６は、ＣＣＤ撮像素子３から出力される画素データの各色に対応した閾値を格納する複数のレジスタ３１１〜３１４を備えている。レジスタ３１１,３１２には、Ｒ→Ｇ→Ｒ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列に対応して、Ｒ用閾値データ１０１,Ｇ用閾値データ１０２が格納されている。レジスタ３１３,３１４には、Ｂ→Ｇ→Ｂ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列に対応して、Ｂ用閾値データ１０３,Ｇ用閾値データ１０４が格納されている。ただし、２つのＧ用閾値データを共通のレジスタに格納するようにしてもよい。
【００７７】
セレクタ３５は、各色の閾値データ１０１〜１０４を入力するとともに、選択信号１００を入力する。選択信号１００は、タイミングジェネレータ（図示せず）から与えられる信号であり、現在レジスタ１１,１３,１５,１７,１９から出力されている画素データ７１,７３,７５,７７,７９の色（５つとも同じ色である。）を指定する信号である。ここでは、Ｒ→Ｇ→Ｒ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列について、Ｒ色が出力されている場合には、選択信号１００として「０」を、Ｇ色が出力されている場合には、選択信号１００として「１」を出力する。また、Ｂ→Ｇ→Ｂ→Ｇ→・・・の順で出力される画素列について、Ｂ色が出力されている場合には、選択信号１００として「２」を、Ｇ色が出力されている場合には、選択信号１００として「３」を出力する。
【００７８】
セレクタ３５は、選択信号１００に従って、対応する色用の閾値データ１０５を出力する。閾値データ１０５は変換部３２に入力される。変換部３２では第２の実施の形態と同様の処理が行われ、変調閾値データ８６が出力される。
【００７９】
比較部３３では、差分データ９４と変調閾値データ８６の比較処理が行われ、変調閾値データ８６よりも差分データ９４が小さい場合には、選択信号６１として「０」が出力され、変調閾値データ８６よりも差分データ９４が大きい場合には、選択信号６１として「１」が出力される。そして、セレクタ３４は、選択信号６１として「０」を入力すると、補正画素データ８８として画素データ７５を出力し、選択信号６１として「１」を入力すると、補正画素データ８８として補正用推測画素データ８４を出力するのである。このようにして、ＣＣＤ撮像素子３から出力された各画素データ７０に対して補正画素データ８８を出力する。
【００８０】
このように、第４の実施の形態によれば、色毎に最適な変調閾値を設定することが可能であり、より高精度な欠陥検出が可能である。
【００８１】
｛第５の実施の形態｝
次に、第５の実施の形態における欠陥画素補正回路６について説明する。図１０は、第５の実施の形態に係る欠陥画素補正回路６のブロック図である。図中、第１の実施の形態と同様の機能部については、同一の番号を付している。以下、第１の実施の形態と異なる機能部を中心に説明する。
【００８２】
レジスタ１１,１３,１７,１９から出力された画素データ７１,７３,７７,７９が、加算回路２１,２２,２５、平均値算出回路２６において処理されることにより、判定用推測画素データ８１が出力される。さらに、減算回路２７、絶対値算出回路２８を経て差分データ８３が出力される。
【００８３】
次に、第１の実施の形態とは異なり差分データ８３は変換部４１に入力される。また、画素データ７３,７７は、加算回路２３において加算され、次に、平均値算出回路２４において２で除算されることにより、画素データ７３,７７の画素平均値である補正用推測画素データ８４として出力される。そして、補正用推測画素データ８４は、変換部４１に入力される。
【００８４】
図１１は、変換部４１の機能ブロック図である。変換部４１に入力された補正用推測画素データ８４は、係数算出部４１１に入力され、閾値変調用の係数が算出される。補正用推測画素データ８４から係数を算出する処理は、図１２に示すような関数を用いて実行される。図中、横軸は補正用推測画素データ８４の値（画素値）であり、縦軸は係数を示している。ここでは、補正用推測画素データ８４が１０ビットのデータであり、この関数によって１０ビットの係数に変換される場合を例にしている。
【００８５】
図に示すように、この係数を求める関数は、単純なリニア関数ではなく、補正用推測画素データ８４の画素値の領域によって、その傾きが異なるように設定されている。図に示した各領域における関数の傾きは一例であるが、補正用推測画素データ８４の画素値の領域毎に関数を自由に設定できるようにしているのである。
【００８６】
ただし、係数を求める関数は、図１２でも示すように、補正用推測画素データ８４の画素値が小さくなるに従って、つまり、低輝度側になるに従って、その係数が大きくなるようにすることが望ましい。これにより、高輝度域における過補正を抑制することができる。また、中濃度域や暗部における補正漏れを防ぐこともできる。
【００８７】
係数算出部４１１から係数データ４１５が出力されると、乗算回路４１２において、係数データ４１５と差分データ８３との間で乗算処理が行われ、変調差分データ４１６が出力される。このようにして算出された変調差分データ４１６は、除算回路４１３において１２８で除算される。この例では、差分データ８３には、０〜１０２３（１０ビット）の係数データ４１５が乗算されて変調された後、１２８で除算（７ビットシフト演算）されるので変調差分値は、０〜７倍の８通りに変調されることになる。このようにして、変換部４１は、変調差分データ１１０を出力する。
【００８８】
再び、図１０を参照する。レジスタ４３から出力された閾値データ１１１と、変換部４１から出力された変調差分データ１１０は、比較部４２に入力される。ここで、閾値データ１１１は、欠陥画素を判定するための閾値を示すデータであり、この閾値データ１１１と輝度変調された変調差分データ１１０との間で大小関係が判定される。
【００８９】
そして、この大小関係に従って、比較部４２は、選択信号６１を出力する。ここでは、閾値データ１１１よりも変調差分データ１１０が小さい場合には、選択信号６１として「０」が出力され、閾値データ１１１よりも変調差分データ１１０が大きい場合には、選択信号６１として「１」が出力される。
【００９０】
そして、セレクタ３４は、選択信号６１として「０」を入力すると、補正画素データ８８として画素データ７５を出力する。つまり、注目画素の画素値としてセンサー入力画素値を採用する。選択信号６１として「１」を入力すると、補正画素データ８８として補正用推測画素データ８４を出力する。つまり、注目画素の画素値として推測画素値を採用するのである。このようにして、ＣＣＤ撮像素子３から出力された各画素データ７０に対して補正画素データ８８を出力するのである。
【００９１】
このように、リアルタイムで欠陥画素を補正して出力するので、欠陥画素のアドレスを記憶するためのメモリが不要である。さらに、欠陥画素を判断するための差分値を補正用推測画素データ８４の値（画素値）に応じて変調するので、欠陥画素の判定精度が向上する。
【００９２】
第５の実施の形態においては、注目画素の左右に位置する４つの画素を用いて判定用推測画素データを生成するようにしているが、判定用推測画素データを生成するために利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。たとえば、２次元画像上における注目画素の上下左右の周辺４画素から判定用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【００９３】
また、第５の実施の形態においては、注目画素の左右に位置する２画素を用いて補正用推測画素データを生成するようにしているが、補正用推測画素データを生成するために利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。２次元画像上における注目画素の上下左右に位置する４画素から補正用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【００９４】
また、第３の実施の形態と第５の実施の形態とを統合させた構成とすることもできる。つまり、図１０において閾値データ１１１を格納するレジスタ４３を、図８で示した４つのレジスタ３１１〜３１４とセレクタ３５からなる回路に置き換えるのである。これにより、各色ごとに閾値を設定することが可能であり、より精度の高い欠陥画素補正を行うことが可能である。
【００９５】
｛第６の実施の形態｝
次に、第６の実施の形態における欠陥画素補正回路６について説明する。図１３は、第６の実施の形態に係る欠陥画素補正回路６のブロック図である。図中、第２の実施の形態と同様の機能部については、同一の番号を付している。以下、第２の実施の形態と異なる機能部を中心に説明する。
【００９６】
レジスタ１１,１３,１７,１９から出力された画素データ７１,７３,７７,７９に対しては、メディアン処理部３５において、メディアン処理が行われる。すなわち、画素データ７１,７３,７７,７９のうち、最大画素値と最小画素値をもつ画素以外の画素の画素平均値が算出され、メディアンデータ９１として出力される。次に、メディアンデータ９１は、平均値算出回路２９において２で除算されることにより、２画素の画素平均値である判定用推測画素データ９２として出力される。さらに、減算回路２７、絶対値算出回路２８を経て差分データ９４が出力される。
【００９７】
次に、第２の実施の形態とは異なり差分データ９４は変換部４１に入力される。また、画素データ７３,７７は、加算回路２３において加算され、次に、平均値算出回路２４において２で除算されることにより、画素データ７３,７７の画素平均値である補正用推測画素データ８４として出力される。そして、補正用推測画素データ８４は、変換部４１に入力される。
【００９８】
変換部４１の構成および処理内容は、図１１および図１２を用いて説明した第５の実施の形態における変換部４１と同様である。変換部４１は、判定用推測画素データ９４および補正用推測画素データ８４を入力し、変調差分データ１１２を出力する。変調差分データ１１２は、比較部４２に入力される。また、レジスタ４３に格納されていた閾値データ１１３が、比較部４２に入力される。ここで、閾値データ１１３は、欠陥画素を判定するための閾値を示すデータであり、この閾値データ１１３と輝度変調された変調差分データ１１２との間で大小関係が判定される。
【００９９】
そして、この大小関係に従って、比較部４２は、選択信号６１を出力する。ここでは、閾値データ１１３よりも変調差分データ１１２が小さい場合には、選択信号６１として「０」が出力され、閾値データ１１３よりも変調差分データ１１２が大きい場合には、選択信号６１として「１」が出力される。
【０１００】
そして、セレクタ３４は、選択信号６１として「０」を入力すると、補正画素データ８８として画素データ７５を出力する。つまり、注目画素の画素値としてセンサー入力画素値を採用する。選択信号６１として「１」を入力すると、補正画素データ８８として補正用推測画素データ８４を出力する。つまり、注目画素の画素値として推測画素値を採用するのである。このようにして、ＣＣＤ撮像素子３から出力された各画素データ７０に対して補正画素データ８８を出力するのである。
【０１０１】
このように、リアルタイムで欠陥画素を補正して出力するので、欠陥画素のアドレスを記憶するためのメモリが不要である。さらに、欠陥画素を判断するための差分値を補正用推測画素データ８４の値（画素値）に応じて変調するので、欠陥画素の判定精度が向上する。
【０１０２】
第６の実施の形態においては、注目画素の左右に位置する４画素を用いて判定用推測画素データを生成するようにしているが、判定用推測画素データを生成する際に利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。たとえば、２次元画像上における注目画素の上下左右に位置する４画素から判定用推測画素データを生成するようにしてもよい。また、この実施の形態では、注目画素の周辺４画素のうち、最大画素値あるいは最小画素値をもつ画素以外の２画素を利用して判定用推測画素データを生成するようにしているが、たとえば、注目画素の周辺から５画素あるいは６画素など、さらに多くの画素を選択し、これらの画素うち最大画素値あるいは最小画素値をもつ画素以外の３画素あるいは４画素など、さらに多くの画素を利用して判定用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【０１０３】
また、第６の実施の形態においては、注目画素の左右に位置する２画素を用いて補正用推測画素データを生成するようにしているが、補正用推測画素データを生成するために利用する周辺画素の位置および個数は特に限定されるものではない。たとえば、２次元画像上における注目画素の上下左右に位置する４画素から補正用推測画素データを生成するようにしてもよい。
【０１０４】
また、第４の実施の形態と第６の実施の形態とを統合させた構成とすることもできる。つまり、図１３において閾値データ１１３を格納するレジスタ４３を、図９で示した４つのレジスタ３１１〜３１４とセレクタ３５からなる回路に置き換えるのである。これにより、各色ごとに閾値を設定することが可能であり、より精度の高い欠陥画素補正を行うことが可能である。
【０１０５】
以上、本発明にかかる６つの実施の形態について、欠陥画素補正回路がデジタルカメラに組み込まれている場合を例に説明したが、各実施の形態の欠陥画素補正回路は、デジタルムービーやイメージスキャナーなど各種の画像撮像装置や画像読取装置に適用させることが可能である。
【０１０６】
また、上記各実施の形態においては、ＲＧＢ各色からなる画素データに対して欠陥画素補正を行う場合を例に説明したが、本発明は、他にも、補色フィルターを備えたＣＣＤ撮像素子からＹ（黄）、Ｃ（シアン）、Ｍ（マゼンダ）の各色の画素データを入力し、これら補色系の画素データを用いて欠陥補正を行うなど、各種の画像撮像装置に適用可能である。
【０１０７】
また、処理対象の画素データは、ＣＣＤ撮像素子から出力されたものに限らず、ＣＯＭＳセンサーから出力された画素データなど、各種のセンサーから出力された画素データに対して適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１０８】
【図１】デジタルカメラの概略構成図である。
【図２】本発明の第１の補正アルゴリズムを簡易的に示す図である。
【図３】本発明の第２の補正アルゴリズムを簡易的に示す図である。
【図４】第１の実施の形態に係る欠陥画素補正回路の機能ブロック図である。
【図５】閾値を変調する変換部の機能ブロック図である。
【図６】輝度と変調係数との関係を示す図である。
【図７】第２の実施の形態に係る欠陥画素補正回路の機能ブロック図である。
【図８】第３の実施の形態に係る欠陥画素補正回路の機能ブロック図である。
【図９】第４の実施の形態に係る欠陥画素補正回路の機能ブロック図である。
【図１０】第５の実施の形態に係る欠陥画素補正回路の機能ブロック図である。
【図１１】閾値を変調する変換部の機能ブロック図である。
【図１２】輝度と変調係数との関係を示す図である。
【図１３】第５の実施の形態に係る欠陥画素補正回路の機能ブロック図である。
【図１４】従来の補正アルゴリズムを簡易的に示す図である。
【図１５】従来の補正アルゴリズムにおける欠陥画素の影響を表す図である。
【符号の説明】
【０１０９】
１１〜１９    レジスタ
２１,２２,２３,２５    加算回路
２４,２６    平均値算出回路
２７    減算回路
２８    絶対値算出回路
３４    セレクタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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