(57)【要約】【課題】  差動出力信号間のスキューを精度良く測定することができるスキュー測定回路を提供する。【解決手段】  差動出力信号Ａ、Ｂを比較器ａ１と比較器ｂ３に入力し比較基準電圧Ｖｒｅｆａ、Ｖｒｅｆｂと比較してパルス波ａ、ｂに変換する。このパルス波ａ、ｂをｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６に入力しそれぞれのパルス幅ｔａ、ｔｂに比例する電圧Ｖａ、Ｖｂに変換する。そして、この電圧Ｖａ、Ｖｂが等しくなるように電圧発生回路ｂ８により比較基準電圧Ｖｒｅｆｂを発生する。この電圧一致時に、パルス波ａ、ｂのスキューを測定することにより差動出力信号間のスキューを測定する。【選択図】    図１
2005172715.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１組の差動出力信号のスキュー測定に供するスキュー測定用回路であって、
各差動出力信号をそれぞれの比較基準電圧と比較して１組のパルス波に変換する比較部と、
各パルス波をそれぞれのパルス幅に応じた１組の電圧に変換する変換部と、
各電圧を測定する電圧測定部と、
前記電圧測定回路の測定結果に応じて前記変換部の出力である各電圧の値が一致するように一方の差動出力信号に対する比較基準電圧を発生する電圧発生部と
を備え、１組のパルス波のスキューを測定できるスキュー測定装置へ前記比較部の出力である１組のパルス波を出力することを特徴とするスキュー測定用回路。
【請求項２】
請求項１記載のスキュー測定用回路と、前記比較部の出力である１組のパルス波のスキューを測定できるスキュー測定装置からなるスキュー測定回路。
【請求項３】
請求項１記載のスキュー測定用回路において、前記比較部へ１組の差動出力信号に代えて同一信号を入力するトレーニング回路を設けるとともに、前記電圧発生部内に比較基準電圧のオフセット調整用素子を設け、前記比較部へ同一信号を入力している場合に前記比較部が出力する１組のパルス波からスキューが測定されなくなるように、前記オフセット調整用素子による比較基準電圧の調整が可能なことを特徴とするスキュー測定用回路。
【請求項４】
請求項２記載のスキュー測定回路において、前記比較部へ１組の差動出力信号に代えて同一信号を入力するトレーニング回路を設けるとともに、前記電圧発生部内に比較基準電圧のオフセット調整用素子を設け、前記比較部へ同一信号を入力している場合に前記比較部が出力する１組のパルス波からスキューが測定されなくなるように、前記オフセット調整用素子による比較基準電圧の調整が可能なことを特徴とするスキュー測定回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、１組の差動出力信号のスキュー測定に供するスキュー測定用回路、および１組の差動出力信号のスキューを測定するスキュー測定回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
以下、従来の１組の差動出力信号のスキュー判定方法を説明する（例えば、特許文献１参照。）。図９は、1組の差動出力信号Ｃ、Ｄを示す図である。図９において、４０は差動出力信号Ｃ、４１は差動出力信号Ｄ、４２は差動出力信号Ｃ、Ｄのセンター電圧を示す。
【０００３】
また、図７は１組の差動出力信号Ａ、Ｂを示す図である。図７において、２５は差動出力信号Ａ、２６は差動出力信号Ｂを示す。また、２７は差動出力信号Ａ２５のセンター電圧、２８は差動出力信号Ｂ２６のセンター電圧、２９はセンター電圧２７、２８の電位差ΔＶを示す。
【０００４】
上記の差動出力信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄはいずれも同じ設計図から作成された半導体回路から出力された信号であるとする。
図１０は、差動出力信号Ｃ、Ｄの交差した電圧であるクロスオーバー電圧を測定することによりスキュー測定結果の判定を行う従来の方法を説明するための図である。図１０において、４５は差動出力信号Ｃと差動出力信号Ｄの交差した電圧であるクロスオーバー電圧ＶＣＲＳ、４３はクロスオーバー上限電圧ＶＯＨ、４４はクロスオーバー下限電圧ＶＯＬを示す。
【０００５】
この場合、スキュー測定結果としては、クロスオーバー電圧ＶＣＲＳ４５がクロスオーバー上限電圧ＶＯＨ４３とクロスオーバー下限電圧ＶＯＬ４４で定められた基準電圧範囲内に存在しているため、この差動出力信号Ｃ、Ｄは“良”と判定される。すなわち半導体装置のこの差動出力信号Ｃ、Ｄを生成する箇所は“良”と判定される。
【０００６】
一方、図１１は、差動出力信号Ａ、Ｂの交差した電圧であるクロスオーバー電圧を測定することによりスキュー測定結果の判定を行う従来の方法を説明するための図である。図１１において、４６は差動出力信号Ａと差動出力信号Ｂの交差した電圧であるクロスオーバー電圧ＶＣＲＳを示す。
【０００７】
この場合、スキュー測定結果としては、クロスオーバー電圧ＶＣＲＳ４６がクロスオーバー上限電圧ＶＯＨ４３とクロスオーバー下限電圧ＶＯＬ４４で定められた基準電圧範囲外に存在しているため、この差動出力信号Ａ、Ｂは不良と判定される。すなわち半導体装置のこの差動出力信号Ａ、Ｂを生成する箇所は“不良”と判定される。
【０００８】
しかしながら、差動出力信号を受信する側が、センター電圧２７、２８の電位差ΔＶに関係なく差動出力信号を基準電圧に変換するような場合には、差動出力信号Ａ、Ｂは“不良”であるとは言えない。
【０００９】
差動出力電圧Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの電圧を式で表すと下記の通りとなる。
差動出力信号Ａの電圧：Ａ×ｆ（ｘ）＋Ｖｃ
差動出力信号Ｂの電圧：（−１）×Ａ×ｆ（ｘ）＋Ｖｃ−ΔＶ
差動出力信号Ｃの電圧：Ａ×ｆ（ｘ）＋Ｖｃ
差動出力信号Ｄの電圧：（−１）×Ａ×ｆ（ｘ）＋Ｖｃ
ここで、Ａは電圧の最大振幅、ｆ（ｘ）は電圧の各時間における遷移を示す関数、Ｖｃはセンター電圧の絶対値である。また、差動出力電圧Ａ、Ｂ、差動出力信号Ｃ、Ｄの差分は下記の通りとなる。
【００１０】
差動出力信号Ａと差動出力信号Ｂの差分：２×Ａ×ｆ（ｘ）−ΔＶ
差動出力信号Ｃと差動出力信号Ｄの差分：２×Ａ×ｆ（ｘ）
したがって、差動出力信号を受信する側が、センター電圧の電位差ΔＶに関係なく、２×Ａ×ｆ（ｘ）の信号を基準電圧に変換するような場合には、差動出力信号Ｃと差動出力信号Ｄの差分も差動出力信号Ａと差動出力信号Ｂの差分も等しい信号として扱うことができるため、この場合は差動出力信号Ａ、Ｂは“不良”であるとは言えない。
【００１１】
しかし、上記従来の判定方法において、差動出力信号Ａ、Ｂを“良”にするためには、差動出力信号Ａ、Ｂ専用の基準電圧範囲を設けなければいけないことになる。
また、半導体生成過程におけるバラツキによってΔＶが発生する場合は、１製品毎に基準電圧範囲を設けなければいけないこととなる。
【００１２】
そこで、従来より、１組の差動出力信号Ａ、Ｂのセンター電圧間の電位差ΔＶを“０”にして差動出力信号のスキューを測定する手法が要求されていた。
図８はオシロスコープの機能を使用して１組の差動出力信号Ａ、Ｂのセンター電圧間の電位差ΔＶを“０”にして、差動出力信号のスキューを測定する一般的な手法を示す。
【００１３】
図８において、３０は被測定物、３１はオシロスコープを示す。また、３２、３３は被測定物３０の出力端子３４、３５はオシロスコープ３１の入力端子を示す。ここでは、出力端子３２から入力端子３４へ図７に示す差動出力信号Ａ２５を入力し、出力端子３３から入力端子３５へ図７に示す差動出力信号Ｂ２６を入力するものとして説明する。
【００１４】
また、３６はオシロスコープ３１により測定され、オシロスコープ３１の画面上に表示された差動出力信号Ａ２５の波形を示す。また、３７はオシロスコープ３１により測定され、オシロスコープ３１の画面上に表示された差動出力信号Ｂ２６の波形を電圧軸方向に反転させた波形（以下、反転波形と称す。）を示す。また、３８は差動出力信号Ａの波形３６と差動出力信号Ｂの反転波形３７のセンター電圧を重ねたライン、３９はスキューΔｔを示す。
【００１５】
一般的に、従来は、図８に示すように１組の差動出力信号Ａ２５、Ｂ２６をオシロスコープ３１に入力し、オシロスコープ３１の画面上で差動出力信号Ａの波形３６と差動出力信号Ｂの反転波形３７のセンター電圧を重ね合わせることでΔＶをキャンセルすることができ、１組の差動出力信号Ａ２５、Ｂ２６間のスキューΔｔ３９を測定することが可能となる。
【００１６】
しかしながら、上記のようにオシロスコープを使用した差動出力信号のスキュー測定方法では、前述したセンター電圧の重ね合わせは、作業者がオシロスコープ３１の画面上で目視により行うことになる。目視による誤差のために、センター電圧を重ね合わせたつもりでも実際には重なっておらず、したがって電位差ΔＶは“０”ではなく、この影響が時間軸方向に現れてスキューの測定誤差を大きくすることとなるため、精度良く測定することができない。
【特許文献１】特開２００２−３６５３４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
本発明は、上記問題点に鑑み、１組の差動出力信号Ａ、Ｂをそれぞれの比較基準電圧Ｖｒｅｆａ、Ｖｒｅｆｂと比較して１組のパルス波ａ、ｂに変換し、このパルス波ａ、ｂをそれぞれのパルス幅ｔａ、ｔｂに比例する１組の電圧Ｖａ、Ｖｂに変換（ｆ−ｖ変換）し、この電圧Ｖａ、Ｖｂが一致するように一方の差動出力信号に対する比較基準電圧Ｖｒｅｆを発生する。このように電圧Ｖａ、Ｖｂを一致させることは、１組の差動出力信号Ａ、Ｂのセンター電圧の電位差ΔＶを“０”にしたことに等しく、その１組のパルス波ａ、ｂのスキューを測定することは１組の差動出力信号Ａ、Ｂのスキューを測定することに等しいので、この電圧一致時のパルス波ａ、ｂのエッジ間の差を測定することで１組の差動出力信号Ａ、Ｂのスキューの測定が可能となる。本発明は、以上のように、１組の差動出力信号Ａ、Ｂのセンター電圧の電位差ΔＶを自動的に“０”にすることにより、測定誤差を減少させ、差動出力信号間のスキューを精度良く測定することができるスキュー測定用回路、およびスキュー測定回路を提供することを目的とする。
【００１８】
また、例えば電圧Ｖａ、Ｖｂを一致させるために比較基準電圧Ｖｒｅｆｂを発生する上記回路において、１組の差動出力信号Ａ、Ｂに代えて同一の信号を入力し、この同一の信号を変換して得た１組のパルス波ａ、ｂからスキューが測定されないように比較基準電圧Ｖｒｅｆｂに予めオフセットを持たせることにより、上記回路において発生する信号伝播遅延等の誤差によるスキューの測定誤差を減少させ、さらに高精度に差動出力信号のスキューを測定できるようになるスキュー測定用回路、およびスキュー測定回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明の請求項１記載のスキュー測定用回路は、１組の差動出力信号のスキュー測定に供するスキュー測定用回路であって、各差動出力信号をそれぞれの比較基準電圧と比較して１組のパルス波に変換する比較部と、各パルス波をそれぞれのパルス幅に応じた１組の電圧に変換する変換部と、各電圧を測定する電圧測定部と、前記電圧測定回路の測定結果に応じて前記変換部の出力である各電圧の値が一致するように一方の差動出力信号に対する比較基準電圧を発生する電圧発生部と、を備え、１組のパルス波のスキューを測定できるスキュー測定装置へ前記比較部の出力である１組のパルス波を出力することを特徴とする。
【００２０】
本発明の請求項２記載のスキュー測定回路は、請求項１記載のスキュー測定用回路と、前記比較部の出力である１組のパルス波のスキューを測定できるスキュー測定装置からなることを特徴とする。
【００２１】
本発明の請求項３記載のスキュー測定用回路は、請求項１記載のスキュー測定用回路において、前記比較部へ１組の差動出力信号に代えて同一信号を入力するトレーニング回路を設けるとともに、前記電圧発生部内に比較基準電圧のオフセット調整用素子を設け、前記比較部へ同一信号を入力している場合に前記比較部が出力する１組のパルス波からスキューが測定されなくなるように、前記オフセット調整用素子による比較基準電圧の調整が可能なことを特徴とする。
【００２２】
本発明の請求項４記載のスキュー測定回路は、請求項２記載のスキュー測定回路において、前記比較部へ１組の差動出力信号に代えて同一信号を入力するトレーニング回路を設けるとともに、前記電圧発生部内に比較基準電圧のオフセット調整用素子を設け、前記比較部へ同一信号を入力している場合に前記比較部が出力する１組のパルス波からスキューが測定されなくなるように、前記オフセット調整用素子による比較基準電圧の調整が可能なことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２３】
以上のように、本発明に係るスキュー測定用回路、およびスキュー測定回路によれば、１組の差動出力信号をそれぞれの比較基準電圧と比較して１組のパルス波に変換し、各パルス波をそれぞれのパルス幅に比例する１組の電圧に変換（ｆ−ｖ変換）し、これらの電圧が一致するように一方の差動出力信号に対する比較基準電圧を発生する。このように１組のパルス波をｆ−ｖ変換して得た電圧を一致させることは、１組の差動出力信号のセンター電圧の電位差ΔＶを“０”にしたことに等しく、その１組のパルス波のスキューを測定することは１組の差動出力信号のスキューを測定することに等しいので、この電圧一致時の一組のパルス波のエッジ間の差から１組の差動出力信号のスキュー測定が可能となる。したがって、本発明に係るスキュー測定用回路、およびスキュー測定回路によれば、１組の差動出力信号のセンター電圧の電位差ΔＶを自動的に“０”にすることができるので、測定誤差を減少させることができ、差動出力信号のスキューを精度良く測定することができるようになる。
【００２４】
また、本発明に係るスキュー測定用回路、およびスキュー測定回路によれば、例えば１組のパルス波ａ、ｂをｆ−ｖ変換して得た１組の電圧Ｖａ、Ｖｂを一致させるのに比較基準電圧Ｖｒｅｆｂを発生する上記回路において、１組の差動出力信号に代えて同一信号を入力し、この同一信号を変換して得た１組のパルス波からスキューが測定されないように比較基準電圧Ｖｒｅｆｂにオフセットを持たせることができるので、上記回路において発生する信号伝播遅延等の誤差によるスキューの測定誤差を減少させ、さらに高精度に差動出力信号のスキューを測定できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の実施の形態について図面を交えて説明する。
（実施の形態１）
図１は本実施の形態１における差動出力信号のスキューを測定するスキュー測定回路の構成を示す図である。また、図２、３は同測定回路上での信号状態を示す図である。図１において、１は比較器ａ、２は比較器ａ１の＋側入力端子を示す。また、３は比較器ｂ、４は比較器ｂ３の−側入力端子を示す。ここでは、この２つの比較器ａ、ｂにより本発明における比較部が構成される。また、ここでは、図７に示す差動増幅信号Ａ２５を比較器ａの＋側入力端子２に入力し、図７に示す差動増幅信号Ｂ２６を比較器ｂの−側入力端子４に入力するものとして説明する。なお、比較器ａ１の−側入力端子には一定電圧（比較基準電圧）Ｖｒｅｆａが入力され、比較器ｂ３の＋側入力端子には後述する電圧発生回路ｂの出力電圧（比較基準電圧）Ｖｒｅｆｂが入力される。また、比較器ａ１と比較器ｂ３は同一のものを使用する。
【００２６】
５、６はｆ−ｖ変換回路ａ、ｂを示す。ここでは、この２つのｆ−ｖ変換回路ａ、ｂにより本発明における変換部が構成される。比較器ａ１、ｂ３の出力は後述するようにパルス波ａ、ｂであり、ｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６はそのパルス波ａ、ｂをそれぞれのパルス幅ｔａ、ｔｂに比例する電圧Ｖａ、Ｖｂに変換して出力する。なお、ｆ−ｖ変換回路ａ５とｆ−ｖ変換回路ｂ６は同一のものを使用する。
【００２７】
７は電圧測定部を示す。この電圧測定部７はｆ−ｖ変換回路ａ、ｂの出力電圧Ｖａ、Ｖｂを測定する。また、８は電圧発生回路（電圧発生部）ｂを示す。この電圧発生回路ｂ８は電圧測定部７の測定結果に応じた比較基準電圧Ｖｒｅｆｂを発生して、比較器ｂ３の＋側入力端子へ入力する。また、９はスキュー測定装置を示す。このスキュー測定装置９により比較器ａ１、ｂ３の出力であるパルス波ａ、ｂのエッジ間の差（時間差）を測定することができる。
【００２８】
なお、本実施の形態１では、本発明に係るスキュー測定用回路が、上記比較器ａ１、ｂ３、ｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６、電圧測定部７、電圧発生回路ｂ８により構成されることになる。
【００２９】
以下、このスキュー測定回路の動作について、図２、３を交えて説明する。図２において、１０は比較基準電圧Ｖｒｅｆａ、１１は比較器ａの出力パルス波ａ、１２はパルス波ａのパルス幅ｔａ、１３はｆ−ｖ変換回路ａの出力電圧Ｖａを示す。また、図３において、１４は比較基準電圧Ｖｒｅｆｂ、１５は比較器ｂの出力パルス波ｂ、１６はパルス波ａのパルス幅ｔｂ、１７はｆ−ｖ変換回路ｂの出力電圧Ｖｂを示す。
【００３０】
比較器ａ１への差動出力信号入力を図１に示す方法で行うことにより、図２に示すように比較器ａ１は差動出力信号Ａ２５を、差動出力信号Ａ２５の電圧が比較基準電圧Ｖｒｅｆａ１０より高いときにはＨｉｇｈレベルとなり逆に低いときにはＬｏｗレベルとなるパルス波１１に変換する。
【００３１】
また、比較器ｂ３への差動出力信号入力を図１に示す方法で行うことにより、図３に示すように比較器ｂ３は差動出力信号Ｂ２６を、差動出力信号Ｂ２６の電圧が比較基準電圧Ｖｒｅｆｂ１４より高いときにはＬｏｗレベルとなり逆に低いときにはＨｉｇｈレベルとなるパルス波ｂ１５に変換する。この変換方法は、差動出力信号Ｂ２６を電圧軸方向に反転させた信号を比較器ｂ３の＋側入力端子に入力し、比較器ｂ３の−側入力端子に入力した比較基準電圧と比較してパルス波に変換する方法と等しい。
【００３２】
ｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６は、図２、３に示すように、比較器ａ１、ｂ３の出力パルス波ａ１１、ｂ１５をそれぞれのパルス幅ｔａ１２、ｔｂ１６に比例する電圧Ｖａ１３、Ｖｂ１７に変換する。
【００３３】
電圧測定部７はｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６の出力電圧Ｖａ、Ｖｂを測定する。また、電圧発生回路ｂ８は電圧測定部７の測定結果に応じた比較基準電圧Ｖｒｅｆｂを発生することで、電圧Ｖｂを電圧Ｖａに一致させる。このように電圧Ｖｂを電圧Ｖａに一致させることは、差動出力信号Ｂの波形を電圧軸方向に反転させた波形のセンター電圧を差動出力信号Ａの波形のセンター電圧を重ね合わせることに等しい。つまり差動出力信号Ａ、Ｂのセンター電圧の電位差ΔＶを“０”にすることに等しい。
【００３４】
スキュー測定装置９では、電圧Ｖａ、Ｖｂが一致したときの比較器ａ１、ｂ３の出力パルス波ａ、ｂのエッジ間の差（時間差）を測定することができる。
次に比較基準電圧Ｖｒｅｆｂを発生する具体的な回路について図４を参照しながら説明する。図４は、上記電圧測定部７と電圧発生回路ｂ８の内部回路の一例を示す。図４において、１８はセンスアンプｂを示す。このセンスアンプｂ１８により電圧測定部が構成される。センスアンプｂ１８はｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６の出力電圧Ｖａ、Ｖｂを入力とする。センスアンプｂ１８の出力電圧Ｖｂ´はＶａ＝Ｖｂのときには変動せず、Ｖａ＞Ｖｂのときには低くなり、逆にＶａ＜Ｖｂのときには高くなる。
【００３５】
また、１９はオペアンプｂ、２０はカレントミラー回路ｂを示す。このオペアンプｂ１９とカレントミラー回路ｂ２０により電圧発生回路ｂが構成される。図３に示すようにオペアンプｂ１９とカレントミラー回路ｂ２０を構成することにより、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２に流れる電流値は等しくなるので、オペアンプｂ１９が受けるセンスアンプｂ１８の出力電圧Ｖｂ´が高くなると、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２に流れる電流値は大きくなり、抵抗Ｒ２による電位降下が大きくなるために比較基準電圧Ｖｒｅｆｂは低くなる。図３に示すように比較基準電圧Ｖｒｅｆｂが低くなるとパルス波ｂのパルス幅ｔｂが小さくなるので、ｆ−ｖ変換回路ｂ６の出力電圧Ｖｂは低くなる。逆にオペアンプｂ１９が受けるセンスアンプｂ１８の出力電圧Ｖｂ´が低くなると、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２に流れる電流値は小さくなり、抵抗Ｒ２による電位降下が小さくなるために比較基準電圧Ｖｒｅｆｂは高くなり、ｆ−ｖ変換回路ｂ６の出力電圧Ｖｂは高くなる。（図３参照。）。一方、ｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６の出力電圧Ｖａ、ＶｂがＶａ＝Ｖｂのときには、比較基準電圧Ｖｒｅｆｂはそのときの電圧値を保持する。
【００３６】
すなわち、ｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６の出力電圧Ｖａ、ＶｂがＶａ＜Ｖｂのときには、ｆ−ｖ変換回路ｂ６の出力電圧Ｖｂが低くなり、Ｖａ＞Ｖｂのときには高くなるので、最終的にはＶａ＝Ｖｂになる。
【００３７】
よって、図４の回路構成によりｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６の出力電圧Ｖａ、Ｖｂを等しくすることができ、このように出力電圧Ｖａ、Ｖｂを等しくすることは差動出力信号Ａ、Ｂのセンター電圧の電位差ΔＶを“０”にすることに等しいので、スキュー測定装置９にてパルス波ａ、ｂのエッジ間の差（時間差）、つまりパルス波ａ、ｂのスキューを測定することで、差動出力信号Ａと差動出力信号ＢのスキューΔｔを測定することができる。
【００３８】
パルス波ａ、ｂのスキューの測定は、例えば図５に示すように、比較器ａの出力であるパルス波ａ１１の立ち上がりエッジと比較器ｂの出力であるパルス波ｂ１５の立ち上がりエッジの時間差Δｔ２１をオシロスコープで測定する。
【００３９】
（実施の形態２）
図６は、上記スキュー測定回路が持っている信号伝播遅延や比較器ａと比較器ｂのサンプルばらつき等によって生じるスキューの測定誤差を減少させるための回路構成を示す。図６において、２２、２３はスイッチａ、ｂ、２４はテストパターン入力端子を示す。本実施の形態２では、このスイッチａ２２、ｂ２３、テストパターン入力端子２４により本発明におけるトレーニング回路が構成される。
【００４０】
図６に示すように比較器ａ１の＋側入力端子にスイッチａ２２、比較器ｂ３の−側入力端子にスイッチｂ２３を接続し、比較器ａ１の＋側入力端子と比較器ｂ３の−側入力端子にテストパターン入力端子２４より同じ電圧信号を入力する。例えばその電圧信号を差動出力信号Ａとする。
【００４１】
例えば比較器ａ１の−側入力端子に定電圧源より差動出力信号Ａのセンター電圧を入力したならば、ｆ−ｖ変換回路ａ５、ｂ６の出力電圧Ｖａ、ＶｂがＶａ＝Ｖｂとなるとき、パルス波ａ、ｂのスキューΔｔは“０”となるはずである。このスキューΔｔが“０”でない場合は、スキュー測定回路が持っている信号伝播遅延や比較器ａ１と比較器ｂ３のサンプルばらつき等による誤差が発生しているので、電圧発生回路ｂ８（カレントミラー回路ｂ２０）内部の可変抵抗器（オフセット調整用素子）Ｒ３を調整してスキューΔｔが“０”になるようにする。この調節により、比較基準電圧Ｖｒｅｆｂに回路上で発生する測定誤差分のオフセットを予め持たすことができる。
【００４２】
なお、実施の形態１、２では、比較器ａの−側入力端子に一定電圧を入力し、比較器ｂの＋側入力端子に電圧発生回路ｂの出力電圧を入力して、ｆ−ｖ変換回路ｂの出力電圧Ｖｂをｆ−ｖ変換回路ａの出力電圧Ｖａに合わせる構成としたが、無論、比較器ａの−側入力端子に、電圧測定部の測定結果に応じた電圧を発生する電圧発生回路を接続し、比較器ｂの＋側入力端子に一定電圧を入力して、ｆ−ｖ変換回路ａの出力電圧Ｖａをｆ−ｖ変換回路ｂの出力電圧Ｖｂに合わせる構成とすることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明の実施の形態１におけるスキュー測定回路の構成を示す図
【図２】同スキュー測定回路上での信号状態を示す図
【図３】同スキュー測定回路上での信号状態を示す図
【図４】同スキュー測定回路の電圧測定部と電圧発生回路ｂの内部回路の一例を示す図
【図５】同スキュー測定回路にて測定されるパルス波ａ、ｂの立ち上がりエッジ間の時間差（スキュー）Δｔを示す図
【図６】本発明の実施の形態２におけるスキュー測定回路の構成を示す図
【図７】１組の差動出力信号Ａ、Ｂを示す図
【図８】１組の差動出力信号のスキューをオシロスコープを使用して測定する方法を示す図
【図９】１組の差動出力信号Ｃ、Ｄを示す図
【図１０】１組の差動出力信号のスキューの測定結果から判定を行う従来例を説明するための図
【図１１】１組の差動出力信号のスキューの測定結果から判定を行う従来例を説明するための図
【符号の説明】
【００４４】
１  比較器ａ
２  比較器ａの＋側入力端子
３  比較器ｂ
４  比較器ｂの−側入力端子
５  ｆ−ｖ変換回路ａ
６  ｆ−ｖ変換回路ｂ
７  電圧測定部
８  電圧発生回路ｂ
９  スキュー測定装置
１０  比較基準電圧Ｖｒｅｆａ
１１  比較器ａの出力波形（パルス波ａ）
１２  パルス幅ｔａ
１３  ｆ−ｖ変換回路ａの出力電圧Ｖａ
１４  比較基準電圧Ｖｒｅｆｂ
１５  比較器ｂの出力波形（パルス波ｂ）
１６  パルス幅ｔｂ
１７  ｆ−ｖ変換回路ｂの出力電圧Ｖｂ
１８  センスアンプｂ
１９  オペアンプｂ
２０  カレントミラー回路ｂ
２１  スキューΔｔ
２２  スイッチａ
２３  スイッチｂ
２４  テストパターン入力端子
２５  差動出力信号Ａ
２６  差動出力信号Ｂ
２７  差動出力信号Ａのセンター電圧
２８  差動出力信号Ｂのセンター電圧
２９  差動出力信号Ａと差動出力信号Ｂのセンター電圧の電位差ΔＶ
３０  被測定物
３１  オシロスコープ
３２、３３  被測定物の出力端子
３４、３５  オシロスコープの入力端子
３６  オシロスコープ画面上での差動出力信号Ａの波形
３７  オシロスコープ画面上で電圧軸方向に反転させた差動出力信号Ｂの波形（反転波形）
３８  オシロスコープ画面上で差動出力信号Ａの波形と差動出力信号Ｂの反転波形のセンター電圧を重ねたライン
３９  スキューΔｔ
４０  差動出力信号Ｃ
４１  差動出力信号Ｄ
４２  差動出力信号Ｃと差動出力信号Ｄのセンター電圧
４３  クロスオーバー上限電圧ＶＯＨ
４４  クロスオーバー下限電圧ＶＯＬ
４５  差動出力信号Ｃと差動出力信号Ｄのクロスオーバー電圧ＶＣＲＳ
４６  差動出力信号Ａと差動出力信号Ｂのクロスオーバー電圧ＶＣＲＳ
【図１】
2005172715.tif 000003
【図２】
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【図３】
2005172715.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2005172715.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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