(57)【要約】 【課題】同一の被検査対象機器に対する検査で複数の検査プログラムを同時実行する場合に、検査時間の損失を無くして、常に、必要最小限の時間で効率的に検査を行うこと。【解決手段】ＣＰＵ１０はＲＯＭ１４内の複数の検査プログラムを同時に実行することにより、被検査部品１６−１〜１６−ｎの良否を判定する。その際、実行中の検査プログラムの中のひとつの検査プログラムに不良判定が生じたことが検出されると、ＣＰＵ１０は当該検査プログラムを終了すると共に、残りのすべての実行中の検査プログラムの実行を終了することにより、検査時間の損失を無くして、常に、必要最小限の時間で効率的に検査を行うことができる。【選択図】図１
2005114652.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査プログラムを実行することにより被検査対象機器の良否を判定する検査装置において、
複数の検査プログラムを同時に実行して前記被検査対象機器を構成する複数の部品の良否を判定する検査プログラム実行手段と、
前記実行中の検査プログラムで不良判定が生じたかどうかを検出する監視手段と、
前記実行中の検査プログラムの中のひとつの検査プログラムに不良判定が生じたことが検出されると、当該検査プログラムを終了すると共に、残りのすべての実行中の検査プログラムの実行を終了する制御手段と、
を具備することを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記監視手段は、前記検査プログラムに不良判定が生じると、当該検査プログラムがこれを示す情報を前記被検査対象機器の有するメモリ或いは外部メモリの所定領域に通知する手段と、前記検査プログラムにより前記所定領域に他の検査プログラムに不良判定が生じたことを示す情報があるか否かを監視する手段とから成り、前記制御手段は、前記検査プログラムが他の検査プログラムに不良判定が生じたこと示す情報を検出すると、自身のプログラムの実行を終了する手段から成ることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
前記実行中の検査プログラムの検査状態を表示する表示手段を具備することを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項４】
前記表示手段は、前記被検査対象機器に元々備わっている表示部を用いることを特徴とする請求項３記載の検査装置。
【請求項５】
前記表示手段は、前記被検査対象機器に接続された外部の表示部を用いることを特徴とする請求項３記載の検査装置。
【請求項６】
前記被検査対象機器は、少なくとも中央演算処理装置と記憶装置を備え、この記憶装置に予めロードされた複数の検査プログラムを前記中央演算処理装置が同時に実行して、当該被検査対象機器を構成する複数の部品の良否を判定することを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項７】
検査プログラムを実行することにより被検査対象機器の良否を判定する検査プログラム実行制御方法において、
前記被検査対象機器を構成する複数の部品の良否を判定するための複数の検査プログラムを同時に実行するステップと、
前記実行中の検査プログラムで不良判定が生じたかどうかを検出するステップと、
前記実行中の検査プログラムの中のひとつの検査プログラムに不良判定が生じたことが検出されると、当該検査プログラムを終了すると共に、残りのすべての実行中の検査プログラムを終了するステップと、
を具備することを特徴とする検査プログラム実行制御方法。
【請求項８】
前記検査プログラムは、自身に不良判定が生じたことを示す情報を前記被検査対象機器の有するメモリ或いは外部メモリの所定領域に通知するステップと、前記所定の記憶領域に他の検査プログラムに不良判定が生じたことを示す情報があるか否かを監視するステップと、前記情報を検出すると、自身のプログラムの実行を終了するステップとを有することを特徴とする請求項７記載の検査プログラム実行制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器などの良否を判定する検査装置に係り、特に複数の検査プログラムの同時実行時の検査プログラム実行制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器の検査では、従来より、複数の検査を同時に実行して検査時間を短縮する方法が広く行われている。全体の検査時間がごくわずかであれば、１つの検査が不良判定された場合に他の検査の終了を待っていてもそれほど時間の損失は大きくない。しかし、例えば、ハードディスク（ＨＤＤ）のような記憶装置と電源であるバッテリの検査を同時に実施する場合は、双方が１時間〜数時間といった検査時間がかかるため、片方が不良判定された場合に他方が終了するのを待っていては大きな時間の損失となる。
【０００３】
図１２は被検査対象機器の構成例を示したブロック図である。被検査対象機器は、ＣＰＵ１、ＲＡＭ２、ＲＯＭ３、ＩＤＥコントローラ４、記憶装置５（ＨＤＤ）、サブマイコン６、バッテリ７を有して構成され、例えば携帯型電話機のような検査プログラムを実行できる制御系を有する電子機器であり、検査用の基板を予め設けなくとも自己の検査を行うことができるものである（例えば特許文献１参照）。
【０００４】
ここで、ＣＰＵ１は、一般的なＣＰＵであり、特に性能、種類には依存しない。ＲＡＭ２は、ＣＰＵ１に接続され、種類、容量等の制約は特にない。Ｒ０Ｍ３は、ＣＰＵ１に接続され、検査プログラムを実行可能なＯＳ及び、ストレージ検査プログラムとバッテリ検査プログラムが格納されている。ＩＤＥコンローラ４は、記憶装置５へのデータの読み書きを制御する。記憶装置５はＩＤＥコントローラ４に接続された例えばＨＤＤであり、容量等の制約は特にない。サブマイコン６は、ＣＰＵ１に接続され、ＳＭバス２０を通じてバッテリ７との通信が可能なものである。バッテリ７は、サブマイコン６に接続され、リチウムイオン２次電池のように充電可能で、サブマイコン６との通信が可能なものである。なお、この被検査対象機器にはシリアルポート出力があり、これを用いてパソコン（図示せず）に接続することにより、そのパソコン上でコンソール画面を表示することが可能となっている。
【０００５】
このような電子機器で上記のようにＨＤＤ５とバッテリ７を検査する場合、ＣＰＵ１はＲＯＭ（書き換え可能のフラッシュメモリ等）３に予め外部からロードされたストレージ検査プログラムとバッテリ検査プログラムをＲＡＭ２上に読み出して同時に実行する。従来のシステムでは、どちらか片方の検査プログラムが不良判定となっても、もう片方の検査プログラムはまだ実行されて続けている。不良判定が出た時点で、このシステムは不良解析や修理、再検査されるものになるため、これ以上他の検査を続けていることは製造検査工程上の時間の損失となる。このような場合、作業者は実行され続けているすべての検査プログラムを手動で強制終了しなければならなかった。さらに、再検査を行う場合は、すべてのプログラムを手動で再起動しなければならなかった。
【特許文献１】特開２０００−８８９２７号公報  （第３−５頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来の電子機器の検査では、不良判定発生時には作業者にとって煩わしく時間のかかる処理を強いられ、同時に実行する検査プログラムの数が多いほどその処理が増える可能性がある。また、実際には作業者が被検査対象機器の検査画面を監視し続けない限り、不良判定が発生してから作業者がそれに気付くまでに遅延が生じ、時間的損失が発生する。
【０００７】
また、複数の検査プログラムを同時実行する際に、それらをバックグラウンドで実行するか、検査プログラムの数だけウィンドウを開いて実行するといった方法がある。しかし、同時に実行する検査プログラムの数が多いほど、一目で実行状態を把握することは難しくなり、すべての検査プログラムを手動で強制終了するまでの時間が長くなって、上記した損失時間が長くなるという問題があった。
【０００８】
本発明は前記事情に鑑み案出されたものであって、本発明の目的は、同一の被検査対象機器に対する検査で複数の検査プログラムを同時実行する場合に、検査時間の損失を無くして、常に、必要最小限の時間で効率的に検査を行うことができる検査装置及び検査プログラム実行制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は上記目的を達成するため、検査プログラムを実行することにより被検査対象機器の良否を判定する検査装置において、複数の検査プログラムを同時に実行して前記被検査対象機器を構成する複数の部品の良否を判定する検査プログラム実行手段と、前記実行中の検査プログラムで不良判定が生じたかどうかを検出する監視手段と、前記実行中の検査プログラムの中のひとつの検査プログラムに不良判定が生じたことが検出されると、当該検査プログラムを終了すると共に、残りのすべての実行中の検査プログラムの実行を終了する制御手段とを具備することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明は、検査プログラムを実行することにより被検査対象機器の良否を判定する検査プログラム実行制御方法において、前記被検査対象機器を構成する複数の部品の良否を判定するための複数の検査プログラムを同時に実行するステップと、前記実行中の検査プログラムで不良判定が生じたかどうかを検出するステップと、前記実行中の検査プログラムの中のひとつの検査プログラムに不良判定が生じたことが検出されると、当該検査プログラムを終了すると共に、残りのすべての実行中の検査プログラムを終了するステップとを具備することを特徴とする。
【００１１】
このように本発明の検査装置では、実行中の検査プログラムの中のひとつの検査プログラムでも不良判定が生じると、少なくともひとつの部品は不良であることになるため、他の残りの部品が例え良品であっても、被検査対象機器は不良となるため、残りの検査プログラムを実行する意味が無くなり、最初に不良判定した検査プログラムを終了すると共に、残りのすべての実行中の検査プログラムの実行を終了する。これにより、残りの検査プログラムの実行を終了する前に、前記被検査対象機器の検査を終了することができるため、検査時間の損失を無くして、常に、必要最小時間で効率的な検査を行うことができる。
【発明の効果】
【００１２】
以上詳細に説明したように、本発明によれば、複数の検査プログラムを同時に実行した場合ひとつの検査プログラムで不良判定が生じると、残りの実行中の検査プログラム共々すべての検査プログラムの実行を終了することにより、同一の被検査対象機器に対する検査で複数の検査プログラムを同時実行する場合に、検査時間の損失を無くして、常に、必要最小限の時間で効率的に検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
同一の被検査対象機器に対する検査で複数の検査プログラムを同時実行する場合に、検査時間の損失を無くして、常に、必要最小限の時間で効率的に検査を行う目的を、実行中の検査プログラムの中でひとつでも不良判定が出ると、当該検査プログラムを終了すると共に、残りのすべての実行中の検査プログラムを終了することによって実現した。
【実施例１】
【００１４】
図１は、本発明の一実施の形態に係る被検査対象機器の構成を示したブロック図である。被検査対象機器は、検査プログラムを実行するＣＰＵ１０、ＣＰＵ１０のワークメモリであるＲＡＭ１２、検査プログラムなどがロードされるＲＯＭ１４、ｎ個の検査対象部品１６−１、１６−２、…、１６−ｎ及びＣＰＵ１０と検査対象部品を接続するインターフェース１８−１、１８−２、…、１８−ｎを有している。尚、検査対象部品として例えば、記憶装置（ＨＤＤ）やバッテリが含まれる。但し、特許請求の範囲の検査プログラム実行手段、監視手段、制御手段はＣＰＵ１０に相当する。
【００１５】
図２は図１に示したＲＡＭ１２に生成される検査プログラム用のデータ形式を示した図である。この図は、複数の検査プログラムの同時実行時にＲＡＭ１２に生成されるデータ形式を、検査プログラムからソフトウエア的に見て示したものである。検査１実行ビット１１は、検査１プログラムが実行されているということを表す１ｂｉｔのデータである。検査１エラー発生ビット１２は、検査１プログラムにエラー（異常）が発生したということを他のすべての検査プログラムに伝える１ｂｉｔのデータである。検査１終了要求ビット１３は、検査１プログラムが他のすべての検査プログラムに対して終了要求を伝える１ｂｉｔのデータである。検査１正常終了ビット１４は、検査１プログラムが正常終了したということを他のすべての検査プログラムに伝える１ｂｉｔのデータである。
【００１６】
同様に、検査２実行ビット１５は、検査２プログラムが実行されているということを表す１ｂｉｔのデータである。検査２エラー発生ビット１６は、検査２プログラムにエラー（異常）が発生したということを他のすべての検査プログラムに伝える１ｂｉｔのデータである。検査２終了要求ビット１７は、検査２プログラムが他のすべての検査プログラムに対して終了要求を伝える１ｂｉｔのデータである。検査２正常終了ビット１８は、検査２プログラムが正常終了したということを他のすべての検査プログラムに伝える１ｂｉｔのデータである。
【００１７】
このようにして、同時に実行する検査プログラムが全部でｎ個（ｎ≧２）ある場合を考える。検査ｎ実行ビット１９は、検査ｎプログラムが実行されているということ表す１ｂｉｔのデータである。検査ｎエラー発生ビット２０は、検査ｎプログラムにエラー（異常）が発生したということを他のすべての検査プログラムに伝える１ｂｉｔの′データである。検査ｎ終了要求ビット２１は、検査ｎプログラムが他のすべての検査プログラムに対して終了要求を伝える１ｂｉｔのデータである。検査ｎ正常終了ビット２２は、検査ｎプログラムが正常終了したということを他のすべての検査プログラムに伝える１ｂｉｔのデータである。
【００１８】
図３は図２で示したデータ領域について、各ビットの値に対する状態定義を示した表図である。但し、図２で示したデータ領域について、各ビットの値に対する状態定義を示したものであり、各ビットとは正常終了ビット、終了要求ビット、エラー発生ビット、実行ビットの４ビット１組を示す。
【００１９】
状態１はすべてのビットが０である。初期状態すなわち検査プログラムが未実行の状態を表す。検査プログラムの開始とともに状態２に移行する。
【００２０】
状態２は実行ビットのみが１である。検査プログラムの開始の段階でセットされ、検査プログラムが実行中の状態を表す。検査プログラム中でエラーが発生した場合は状態４に、終了要求が発生した場合は状態６に、正常判定の場合は状態１０にそれぞれ移行する。
【００２１】
状態３はエラー発生ビットのみが１である。検査プログラムにエラーが発生して終了した場合にセットされ、検査プログラムが終了している状態を表す。この状態からは変化しない。
【００２２】
状態４はエラー発生ビットと実行ビットが１である。検査プログラムにエラーが発生した場合にセットされ、検査プログラムが終了処理中の状態を表す。プログラム終了とともに状態３に移行する。
【００２３】
状態５は終了要求ビットのみが１である。他の検査プログラムのエラー発生に伴う終了要求により終了した場合にセットされ、検査プログラムが終了している状態を表す。この状態からは変化しない。
【００２４】
状態６は終了要求ビットと実行ビットが１である。他の検査プログラムのエラー発生に伴う終了要求が発生した場合にセットされ、検査プログラムが終了処理中の状態を表す。プログラム終了とともに状態５に移行する。
【００２５】
状態７、８は終了要求ビットとエラー発生ビットがともに１である。終了要求による終了なのか、異常終了なのかがわからなくなるため、この組合せは禁止する。
【００２６】
状態９は正常終了ビットのみが１である。正常判定により終了した場合にセットされ、検査プログラムが終了している状態を表す。この状態からは変化しない。
【００２７】
状態１０は正常終了ビットと実行ビットが１である。正常判定された場合にセットされ、検査プログラムが終了処理中の状態を表す。プログラム終了とともに状態９に移行する。
【００２８】
状態１１、１２は正常終了ビットとエラー発生ビットがともに１である。正常終了なのか、異常終了なのかがわからなくなるため、この組合せは禁止する。
【００２９】
状態１３、１４は正常終了ビットと終了要求ビットがともに１である。正常終了なのか、終了要求による終了なのかがわからなくなるため、この組合せは禁止する。
【００３０】
状態１５、１６は正常終了ビット、終了要求ビット、エラー発生ビットがすべて１である。正常終了なのか終了要求による終了なのか、異常終了なのかがわからなくなるため、この組合せは禁止する。
【００３１】
図４は、図３に示した表をもとに図２で示したデータ領域の状態遷移図を示したものである。状態遷移の流れは以下の通りである。（１）検査プログラム開始時では、初期状態で未実行を示す状態１から実行中を示す状態２に移行する。（２）状態２から（２−１）エラー発生、（２−２）終了要求発生、（２−３）正常終了の３つの場合に分かれる。
【００３２】
（２−１）エラー発生では、エラー発生による終了処理中を示す状態４に移行し、検査プログラム終了時に状態３に移行する。（２−２）終了発生では、終了要求発生による終了処理中を示す状態６に移行し、検査プログラム終了時に状態５に移行する。（２−３）正常終了では、正常終了処理中を示す状態１０に移行し、検査プログラム終了時に状態９に移行する。
【００３３】
図５は、図３に示した表の定義をもとに、同時実行されている複数の検査プログラムの実行状態の表示例を示したものである。
【００３４】
図５（Ａ）は検査プログラム開始段階での表示例で、同時検査の開始とともに、各検査の表示は「未実行」から「実行中」になっていく。
【００３５】
図５（Ｂ）は検査プログラムがすべて正常の場合の表示例で、検査が正常終了した場合、表示は「実行中」から「正常終了」になる。
【００３６】
図５（Ｃ）はどれか１つの検査プログラムでエラーが発生した直後の表示例で、同時検査の実行中、エラーが発生した場合は「エラー発生により終了処理中」となり、他の実行中である検査は「終了要求により終了処理中」となる。
【００３７】
図５（Ｄ）はすべての検査プログラムが終了した場合の表示例で、図５（Ｃ）の状態からすべての検査が終わった場合、エラーが発生した検査は「異常終了」、終了要求が発生した検査は『終了要求により終了』となる。
【００３８】
なお、図５（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）、（Ｄ）の表示例で使用した語句は、検査を行う作業者にわかりやすいものであればよく、他の表現であってもかまわない。また、表示のレイアウトもこの限りではない。このように、同時に実行しているすべての検査プログラムの実行状態をまとめて表示する場合、すべての検査がどのような状態にあるのかが一目でわかるようになるという利点がある。
【００３９】
次に上記のことを踏まえて、本実施形態における同時検査全体の動作を説明する。まず、外部からｎ本の検査１プログラム〜検査ｎプログラムをＲＯＭ１４にロードする。その後、ＣＰＵ１０はＲＯＭ１４からｎ本の検査プログラムをＲＡＭ１２上に読み出して同時に実行する。基本は、すべての検査プログラムがそれぞれ図２で示したデータ領域にアクセスし、データ領域に記載される値の監視を行うことである。ある検査プログラムにエラーが発生した場合、実行中であるその他すべての検査プログラムの検査終了要求ビットをセットする。各検査プログラムは自身の検査終了要求ビットがセットされていたら、その要求を受けて自身のプログラムを終了させる。
【００４０】
このように、お互いに相手のプログラムに対して自分のプログラムの実行状態を通知することにより、少なくとも１つの検査プログラムが異常終了した場合に他のすべて検査ブ口グラムを即座にかつ安全に自動終了させることが可能となる。
【００４１】
図６は、検査１プログラム〜検査ｎプログラム同時に実行した場合の検査全体の動作概要をフローチャートで示したものである。この図６では、検査１、検査２、検査ｎプログラムの検査手順が並列に記載されている。但し、紙面の制約上、ｎ≧４の場合において、検査３プログラムから検査（ｎ−１）プログラムにおける図および説明は省略する（以降の図７から図１１のフローチャートについても同様である）。
【００４２】
まず、ステップＳＴ１で、すべての検査プログラム間の通信に用いるＲＡＭ１２のメモリ領域を４ｎ［ビット］以上確保する。ステップＳＴ２では、ステップＳＴ１で確保したメモリ領域の全ビットに０を代入して初期化する。ステップＳＴ１１で、検査１プログラムが開始されるとともに「通常動作１」に入り、正常判定、エラー発生、終了要求のいずれかがあるまでこの処理を実行する。処理の詳細は図７で説明する。
【００４３】
ステップＳＴ１２で、ステップＳＴ１１で正常判定、エラー発生、終了要求のいずれかがあった場合、それぞれステップＳＴ１３、ステップＳＴ１４、ステップＳＴ１５に分岐する。ステップＳＴ１３で、ステップＳＴ１１で正常判定の場合、「正常終了処理１」に入る。処理の詳細は図８で説明する。
【００４４】
ステップＳＴ１４では、ステップＳＴ１１でエラー発生の場合、「異常終了処理１」に入る。この処理の詳細は図９で説明する。ステップＳＴ１５では、ステップＳＴ１１で終了要求の場合、「終了要求による終了処理１」に入る。処理の詳細は図１０で説明する。ステップＳＴ２１〜ステップＳＴ２５は検査２プログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ１１〜ＳＴ１５と同様である。
【００４５】
ステップＳＴ３１〜ステップＳＴ３５は検査ｎプログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ１１〜ステップＳＴ１５と同様である。ステップＳＴ４１で、すべての検査プログラムが終了したらステップＳＴ４２に進み、そうでなければステップＳＴ４１で待機する。ステップＳＴ４２で、すべての検査プログラムが終了したら、ステップＳＴ１で確保したメモリ領域を破棄して、この検査工程を終了する。
【００４６】
なお、検査１プログラム、検査２プログラム、検査ｎプログラムにおけるそれぞれステップＳＴ１１〜ステップＳＴ１５、ステップＳＴ２１〜ステップＳＴ２５、ステップＳＴ３１〜ステップＳＴ３５の処理は同時に行われる。検査３プログラム〜検査（ｎ−１）プログラムにおいても同様である。
【００４７】
図７は、同時検査全体のうち「通常動作」の詳細をフローチャートで示したものである。ステップＳＴ５１で、検査１プログラムの開始段階で検査１実行ビット１１を１にセットする。ステップＳＴ５２、ステップＳＴ５３で検査状態一覧を更新し、「検査１実行中」の表示をする。なお、検査状態一覧の更新処理詳細は図１１で説明する。
【００４８】
ステップＳＴ５４で、検査１終了要求ビット１３の値を読み取り、１であれば「終了要求による終了処理１」に進んで終了処理を行い、０であればＳＴ５５に進む。なお、「終了要求による終了処理１」の詳細は図１０で説明する。
【００４９】
ステップＳＴ５５で、検査１にエラーが発生したら「異常終了処理１」に進んで終了要求および終了処理を行い、そうでなければステップＳＴ５６に進む。なお、「異常終了処理１」の詳細は図９で説明する。
【００５０】
ステップＳＴ５６で、検査１が最後まで終わっていて正常であれば「正常終了処理１」に進んで終了処理を行い、そうでなければＳＴ５７に進む。なお、「正常終了処理１」の詳細は図８で説明する。
【００５１】
ステップＳＴ５７で、被検査対象機器のＣＰＵ１０への負担を軽減するための待機をした後、ステップＳＴ５４に戻る。この待機時間は任意であり、一定でなくてもかまわない。検査１プログラムに正常判定またはエラー発生が起きるか、他の検査プログラムが検査１プログラムに対して終了要求を行うまでステップＳＴ５４とステップＳＴ５７間の処理を繰り返す。
【００５２】
ステップＳＴ６１〜ステップＳＴ６７は、検査２プログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ５１〜ステップＳＴ５７と同様である。ステップＳＴ７１〜ステップＳＴ７７は、検査ｎプログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ５１〜ステップＳＴ５７と同様である。
【００５３】
図８は、同時検査全体のうち「正常終了処理」の詳細をフローチャートで示したものである。ステップＳＴ８１で、検査１が最後まで正常に終わっている場合、検査１正常終了ビット１４を１にセットする。ステップＳＴ８２、ステップＳＴ８３で、検査状態一覧を更新し、「検査１正常終了処理中」の表示をする。なお、検査状態一覧の更新処理詳細は図１１で説明する。
【００５４】
ステップＳＴ８４で、検査１実行ビット１１を０にクリアする。ステップＳＴ８５、ステップＳＴ８６で、検査状態一覧を更新し、「検査１正常終了」の表示をして、検査１プログラムを終了する。なお、検査状態一覧の更新処理詳細は図１１で説明する。
【００５５】
ステップＳＴ９１〜ステップＳＴ９６は、検査２プログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ８１〜ステップＳＴ８６と同様である。ステップＳＴ１０１〜ステップＳＴ１０６は、検査ｎプログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ８１〜ステップＳＴ８６と同様である。
【００５６】
図９は、同時検査全体のうち「異常終了処理」の詳細をフローチャートで示したものである。ステップＳＴ１１１で、検査１にエラーが発生した場合、検査１エラー発生ビット１２を１にセットする。ステップＳＴ１１２〜ステップＳＴ１１６で、検査１以外のすべての検査プログラムの検査正常ビットおよびエラー発生ビットについて、両方とも０であれば検査終了要求ビットを１にセットし、どちらかが１であれば何もしないという処理を繰り返す。すなわち、検査１以外で正常終了または異常終了に達していないすべての検査プログラムに対して終了を要求する。ステップＳＴ１１７、ステップＳＴ１１８で、検査状態一覧を更新し、「検査１エラー発生により終了処理中」の表示をする。なお、検査状態一覧の更新処理詳細は図１１で説明する。
【００５７】
ステップＳＴ１１９で、検査１実行ビット１１を０にクリアする。ステップＳＴ１２０、ステップＳＴ１２１で、検査状態一覧を更新し、「検査異常終了」の表示をして、検査１プログラムを終了する。なお、検査状態一覧の更新処理詳細は図１１で説明する。ステップＳＴ１３１〜ステップＳＴ１４１は、検査２プログラムについての流れであり、動作内容はＳＴ１１１〜ＳＴ１２１と同様である。ステップＳＴ１５１〜ステップＳＴ１６１は、検査ｎプログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ１１１〜ステップＳＴ１２１と同様である。
【００５８】
図１０は、同時検査全体のうち「終了要求による終了処理」の詳細をフローチャートで示したものである。ステップＳＴ１７１で、エラーが発生した他の検査プログラムにより検査状態一覧がステップＳＴ１３７、ステップＳＴ１５７といった段階で更新され、「検査１終了要求により終了処理中」の表示がされている。ステップＳＴ１７２で、検査１プログラムに対して他の検査プログラムから終了要求が発生した場合、検査１実行ビット１１を０にクリアする。ステップＳＴ１７３、ステップＳＴ１７４で、検査状態一覧を更新し、「検査１終了要求により終了」の表示をして、検査１プログラムを終了する。なお、検査状態一覧の更新処理詳細は図１１で説明する。
【００５９】
ステップＳＴ１８１〜ステップＳＴ１８４は、検査２プログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ１７１〜ステップＳＴ１７４と同様である。ステップＳＴ１９１〜ステップＳＴ１９４は、検査ｎプログラムについての流れであり、動作内容はステップＳＴ１７１〜ステップＳＴ１７４と同様である。
【００６０】
図１１は、同時検査全体のうち「検査状態一覧の更新」の詳細をフローチャートで示したものである。ステップＳＴ２０１で、ＲＡＭ１２に生成されている検査プログラム用のデータ領域をすべて読み取る。ステップＳＴ２０２で、ウィンドウに書かれている文字をすべてクリアする。ステップＳＴ２０３〜ステップＳＴ２０６で、すべての検査プログラムに対して、検査名およびステップＳＴ２０１で読み取ったデータに対応する検査実行状態を画面に出力する。なお、検査実行状態は図３の表に定義されている。
【００６１】
本実施の形態によれば、複数の検査プログラムを同時に実行してひとつの電子機器を検査する場合、どれかひとつの検査プログラムで不良判定がなされると、他の実行中の検査プログラムを自動的に終了させることにより、無駄な検査プログラムの実行を終了でき、時間的損失無くして、常に、必要最小時間で効率的に検査を行うことができる。
【００６２】
これにより、すべての検査プログラムは即座にかつ安全に自動終了することができるようになり、作業者はすぐに再検査または不良解析・修理を実施できる状態に移行することが可能となる。
【００６３】
また、上記効果によりノートブック型パソコンはじめとしたコンピュータ機器では、ＨＤＤとバッテリ（製品によってはデュアルバッテリで２個）を使用する機器が多い。これらに応用することで、それらの同時検査を円滑に実施し、また不良発生時に再試験または不良解析・修理が迅速にできるようにすることで、作業者の対応時間を含めた全体の検査時間を削減することができる。
【００６４】
さらに、上記実施の形態では、図１に示した被検査対象機器にＣＲＴやＬＣＤ等の表示部がある場合は、検査の実行状態をこの表示部に表示し、無い場合は別体のパソコン等を接続し、この表示部を用いて前記検査の実行状態を表示する。
【００６５】
尚、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、その要旨を逸脱しない範囲において、具体的な構成、機能、作用、効果において、他の種々の形態によっても実施することができる。例えば、コンピュータ機器にはＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、ＰＣカード、メモリースティック、ＬＡＮ、モデム、ＶＧＡ、シリアル、パラレル等たくさんのポートがあるため、これらの検査を実行する際に本発明を利用してマルチタスク化することにより、すべての検査実行状態を一目で把握できるうえ、全体の検査時間を削減可能性とすることができる。
【００６６】
また、上記実施の形態では被検査対象機器のＲＯＭに検査プログラムをロードし、同機器のＣＰＵに前記検査プログラムを実行させて検査する場合について述べたが、被検査対象機器に検査プログラムを内蔵する外部の検査装置を接続し、この検査装置により前記電子機器を検査する場合についても、本発明を適用して、複数の検査プログラムの同時実行中にひとつの検査プログラムで不良判定が行われると、残りの実行中のすべての検査プログラムを終了することにより同様の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の一実施の形態に係る被検査対象機器の構成を示したブロック図である。
【図２】図１に示したＲＡＭに生成される検査プログラム用のデータ形式を示した図である。
【図３】図２で示したデータ領域について、各ビットの値に対する状態定義を示した表図である。
【図４】図３に示した表をもとに図２で示したデータ領域の状態遷移を示した図である。
【図５】図３に示した表の定義をもとに、同時実行されている複数の検査プログラムの実行状態の表示例を示した図である。
【図６】図１のＣＰＵにより複数の検査プログラムを同時実行した際の処理手順の全体概要を示したフローチャートである。
【図７】図６に示した手順のうち「通常動作処理」の詳細を示したフローチャートである。
【図８】図６に示した手順のうち「正常終了処理」の詳細を示したフローチャートである。
【図９】図６に示した手順のうち「異常終了処理」の詳細を示したフローチャートである。
【図１０】図６に示した手順のうち「終了要求による終了処理」の詳細を示したフローチャートである。
【図１１】図６に示した手順のうち「検査状態一覧の更新」の詳細を示したフローチャートである。
【図１２】従来の被検査対象機器の構成を示したブロック図である。
【符号の説明】
【００６８】
１０……ＣＰＵ、１２……ＲＡＭ、１４……ＲＯＭ、１６−１〜１６−ｎ……被検査部品、１８−１〜１８−ｎ……インターフェース。
【図１】
2005114652.tif 000003
【図２】
2005114652.tif 000004
【図３】
2005114652.tif 000005
【図４】
2005114652.tif 000006
【図５】
2005114652.tif 000007
【図６】
2005114652.tif 000008
【図７】
2005114652.tif 000009
【図８】
2005114652.tif 000010
【図９】
2005114652.tif 000011
【図１０】
2005114652.tif 000012
【図１１】
2005114652.tif 000013
【図１２】
2005114652.tif 000014