(57)【要約】【課題】  書き込み可能な光ディスクの特性のばらつき、及び光記録再生装置の特性のばらつきの影響を低減し得る記録条件の設定を効率よく行うことができる記録条件の設定方法及び設定装置、並びに録再生装置を提供する。【解決手段】  全てのマーク長に対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索し（Ｓ１，Ｓ２）、ここで良好な結果が得られなかった場合に、少なくとも一つのマーク長に対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索して（Ｓ４，Ｓ５）、記録パルス条件を定める（Ｓ３）。【選択図】  図１
2005190649.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、複数の要素からなる記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録方法の記録条件設定方法であって、
上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、
全てのマーク長或いは全ての組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索ステップと、
上記第１の探索ステップにて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索ステップと、
上記第２の探索ステップが行われた場合は上記第２の探索ステップの探索結果に基づく一方、上記第２の探索ステップが行われなかった場合は上記第１の探索ステップの探索結果に基づいて記録パルス条件を定める記録条件設定ステップとを備えたことを特徴とする記録条件設定方法。
【請求項２】
記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、複数の要素からなる記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録方法の記録条件設定方法であって、
上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、
全てのマーク長のうち半数以上のマーク長、或いは、全てのマーク長とスペース長の組み合わせのうち半数以上の組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索ステップと、
上記第１の探索ステップにて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索ステップと、
上記第２の探索ステップが行われた場合は上記第２の探索ステップの探索結果に基づく一方、上記第２の探索ステップが行われなかった場合は上記第１の探索ステップの探索結果に基づいて記録パルス条件を定める記録条件設定ステップとを備えたことを特徴とする記録条件設定方法。
【請求項３】
記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、複数の要素からなる記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録方法の記録条件設定方法であって、
光ビームのパルス立ち上がり特性及び／又はパルス立ち下がり特性に対して変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索ステップと、
上記第１の探索ステップにて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、少なくとも一つの記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索ステップと、
上記第２の探索ステップが行われた場合は上記第２の探索ステップの探索結果に基づく一方、上記第２の探索ステップが行われなかった場合は上記第１の探索ステップの探索結果に基づいて記録パルス条件を定める記録条件設定ステップとを備えたことを特徴とする記録条件設定方法。
【請求項４】
上記第２の探索ステップでは、上記第１の探索ステップによる探索の結果に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の記録条件設定方法。
【請求項５】
上記第２の探索ステップでは、上記第１の探索ステップにおいて予め定める信号品質を満たすに最も近かった記録パルス条件を用いて行うことを特徴とする請求項４に記載の記録条件設定方法。
【請求項６】
上記第２の探索ステップでは、上記第１の探索ステップにおいて予め定める信号品質を満たす記録パルス条件の範囲に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことを特徴とする請求項４に記載の記録条件設定方法。
【請求項７】
上記第１及び／又は第２の探索ステップでは、試し書きを行うにあたり、光ビームのパワーを規定する記録パワー条件も変化させ、良好な再生結果が得られる記録パワー条件も併せて探索することを特徴とする請求項１または３に記載の記録条件設定方法。
【請求項８】
記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録再生装置の記録条件設定装置であって、
上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、
全てのマーク長或いは全ての組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索手段と、
少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索手段と、
まずは上記第１の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、該第１の探索手段にて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、上記第２の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、上記第１の探索手段による探索のみの場合は該第１の探索手段による探索結果に基づく一方、上記第２の探索手段による探索が行われた場合は該第２の探索結果に基づいて記録パルス条件を決定する記録条件決定手段とを備えたことを特徴とする記録条件設定装置。
【請求項９】
記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録再生装置の記録条件設定装置であって、
上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、
全てのマーク長のうち半数以上のマーク長、或いは、全てのマーク長とスペース長の組み合わせのうち半数以上の組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索手段と、
少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索手段と、
まずは上記第１の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、該第１の探索手段にて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、上記第２の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、上記第１の探索手段による探索のみの場合は該第１の探索手段による探索結果に基づく一方、上記第２の探索手段による探索が行われた場合は該第２の探索結果に基づいて記録パルス条件を決定する記録条件決定手段とを備えたことを特徴とする記録条件設定装置。
【請求項１０】
記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録再生装置の記録条件設定装置であって、
光ビームのパルス立ち上がり特性及び／又はパルス立ち下がり特性に対して変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索手段と、
少なくとも一つの記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索手段と、
まずは上記第１の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、該第１の探索手段にて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、上記第１の探索手段の結果に基づいて記録パルス条件を設定し、それを元に、上記第２の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、上記第１の探索手段による探索のみの場合は該第１の探索手段による探索結果に基づく一方、上記第２の探索手段による探索が行われた場合は該第２の探索結果に基づいて記録パルス条件を決定する記録条件決定手段とを備えたことを特徴とする記録条件設定装置。
【請求項１１】
上記第２の探索手段は、上記第１の探索手段による探索の結果に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことを特徴とする請求項８〜１０の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項１２】
上記第２の探索手段は、上記第１の探索手段による探索の結果得られた、予め定める信号品質を満たすに最も近かった記録パルス条件を用いて行うことを特徴とする請求項１１に記載の記録条件設定装置。
【請求項１３】
上記第２の探索手段は、上記第１の探索手段による探索の結果得られた、予め定める信号品質を満たす記録パルス条件の範囲に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことを特徴とする請求項１１に記載の記録条件設定装置。
【請求項１４】
上記第１及び／又は第２の探索手段は、試し書きを行うにあたり、光ビームのパワーを規定する既定の記録パワー条件も変化させ、良好な再生結果が得られる記録パワー条件も併せて探索することを特徴とする請求項８〜１０の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項１５】
上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、記録パルス条件を構成する各要素のうちの、記録マークのマーク幅に変化を与える要素に変化を加えることを特徴とする請求項８〜１０の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項１６】
上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、パルス幅が増加する方向に対する変化をパルス幅が減少する方向に対する変化よりも先に加えることを特徴とする請求項８〜１０の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項１７】
上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、上記記録パルス条件を構成する要素のうちの、記録マークの前エッジ部位置を変化させる要素に対して変化を加えることを特徴とする請求項８〜１０の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項１８】
上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、上記記録パルス条件を構成する要素のうちの、記録マークの後エッジ部位置を変化させる要素に対して変化を加えることを特徴とする請求項８〜１０の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項１９】
上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録マークの前エッジ部位置を変化させる要素よりも先に記録マークの後エッジ部位置を変化させる要素に対して変化を加えることを特徴とする請求項８〜１０の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項２０】
上記既定の記録パルス条件及び／又は上記既定の記録パワー条件は、記録媒体に記録されており、上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録媒体より上記既定の記録パルス条件及び／又は上記既定の記録パワー条件を読み出して用いることを特徴とする請求項８〜１９の何れかに記載の記録条件設定装置。
【請求項２１】
上記請求項８〜２０の何れかに記載の記録条件設定装置を備えたことを特徴とする記録再生装置。
【請求項２２】
請求項８〜２０の何れかに記載の記録条件設定装置を動作させる記録条件設定プログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるための記録条件設定プログラム。
【請求項２３】
請求項２２に記載の記録条件設定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う記録再生装置に係り、より詳細には、該記録再生装置に供される、記録条件の設定方法及び設定装置、記録条件設定プログラム及び記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
大容量のデータを記録する光ディスク装置等の記録再生装置においては、記録情報に応じて変化するパルス列を、情報の最小単位より細かいパルス列に変換し、該細かいパルス列によってレーザビームを強度変調し、該強度変調されたレーザビームを記録媒体上に集光させて加熱することにより媒体の物理特性を変化させて記録マークを形成することで記録している。記録に必要な、つまり、記録マークの形成に必要なパルス幅や、各レーザビームのパワーなどの記録補償を行う記録条件の設定情報は、既定情報として予め光ディスク（以下、単にディスクとのみ称する場合もある）に記録されている。
【０００３】
ところで、光ディスクの高密度化が進むにつれて、マーク長（記録マークのトラック方向の寸法）毎或いはマーク長とスペース（記録マーク間）長の組み合わせ毎に標準記録条件を設定するといった厳密な設定が必要となってきている。これは、高密度記録では、記録するマーク長およびスペース長が小さいため、マークを形成するために加えたレーザ光の熱が自己マークのみならずスペースを伝わって前後のマークにまで到達し、自己マークおよび前後のマーク形状にひずみが発生するためである。
【０００４】
しかしながら、記録再生装置（以下、単に装置とのみ称する場合もある）を量産したとき、使用部品の特性ばらつきや環境変化等により、個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。例えば、記録に関係のあるレーザ駆動手段とレーザを搭載したヘッドは、レーザ特性のばらつきを主要因として、たとえ同一の電流波形をレーザに供給しても、パルス幅が変わり、個々の装置で常に同じ発光波形が得られるとは限らない。なお、該レーザ特性のばらつきには、レーザ自体のばらつき以外に、レーザ駆動手段（レーザ駆動回路）のばらつきによるものも含まれる。また、同様にして、光ディスク自体も量産時に特性のばらつきが発生し、同一の記録条件で記録しても個々の光ディスクで常に同じマーク形状が得られるとは限らない。
【０００５】
したがって、標準的な特性を有する基準ディスクを用い、かつ標準的な特性を有する基準装置で決定された標準記録条件であったとしても、特性のばらついた量産の、光ディスク及び記録再生装置をそのまま使用すると、組み合わせによっては適正な記録再生が行われず、品質不良が発生するという不具合があった。
【０００６】
また、十分な品質管理の基で製造された特性ばらつきの小さいディスクであれば問題は少ないが、ディスク上に予め記録してある記録パルス標準条件が、ディスク性能と大きくずれている場合は、装置がディスクから読み出した記録パルス標準条件を忠実に再現しても、このディスクでは特性を発揮することができないという不具合もあった。
【０００７】
このような不具合を解消するものとして、特許文献１には、標準記録条件を修正した記録条件を求める方法が開示されている。この方法では、特定領域に標準記録パルス条件が予め記録されている光ディスクにおいて、上記標準記録パルス条件のうち、マーク長とスペース長との組み合わせの全て、又はいずれか一つの組み合わせに対する位置情報を所定量変化させて、記録再生信号のジッタが許容値以下となる標準記録パルス条件から補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定している。
【０００８】
これによれば、上述したレーザ特性のばらつきを主要因としてパルス幅が変化するといった不具合に対しては、全てのマーク長とスペース長との組み合わせに対して、一律に所定量の変化を加えて補正する。また、上述したディスク上に予め記録してある記録パルス標準条件がディスク性能と大きくずれているために、装置がディスクから読み出した記録パルス標準条件を忠実に再現しても、このディスクでは特性を発揮することができないといった不具合に対しては、全てのマーク長とスペース長との組み合わせのうち、個別的に変化を加えて補正する。
【０００９】
また、特許文献２には、複数の記録パワーと複数のレーザ発光波形規則（パルス幅）により試し書きを行い、その結果に応じて記録パワーとパルス幅の両方を決定する方法について記載されている。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報（平成１２年７月１８日公開）
【特許文献２】特開２０００−１８２２４４号公報（平成１２年６月３０日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
上記特許文献１における記録パルス条件の設定方法では、一手法として、標準記録パスル条件のうち、全てのマーク長とスペース長との組み合わせに対して、一律または個別的に所定量の変化を加えることについては記載されている。
【００１１】
しかしながら、例えば、記録パルス条件を一律に変化させて対応するレーザ特性のばらつきと、記録パルス条件を個別的に変化させて対応するディスク特性のばらつきが共に生じている場合については特に考慮されていない。そのため、上述したように、このようなレーザ特性のばらつきとディスク特性のばらつきとが一緒に生じている場合において、効率のよい記録条件の設定といったことが行えず、記録条件の設定に要する時間が長くなる等の問題がある。
【００１２】
さらに、上記特許文献１では、記録パルス条件の設定において、パルス幅に対する条件のみの最適化を行っており、レーザパワーに対する条件の最適化は行っていない。パルス幅と同様に、レーザパワーも再生信号の品質に影響を与えるので、レーザパワーに対する条件も最適にすることで、より効率よく再生信号品質の改善することが可能となる。したがって、特許文献１は、この点において、さらなる改善の余地を有している。
【００１３】
特許文献２の方法では、レーザ特性のばらつきとディスク特性のばらつきとを分けて対応するようにさえなっておらず、全ての記録パワーとパルス幅の組み合わせで試し書きを行っているため、記録パワーとパルス幅の決定に膨大な処理時間と、試し書きのための記録領域が必要となる。また、試し書きにより最適記録パワーを決定した後、複数のパルス幅にて試し書きを行い、その結果に応じて記録パワーとパルス幅の両方を決定する方法についても記載されているが、全てのパルス幅の条件で試し書きを行っているため、同様に記録パワーとパルス幅の決定に膨大な処理時間と、試し書きのための記録領域が必要となるという問題がある。また、マーク長或いはマーク長とスペース長の組み合わせに対する条件について考慮していないため、装置側とディスク側に特性のばらつき生じていても、対応できないという問題を有している。
【００１４】
本発明は、上記従来の課題に鑑みなされたものであって、その目的は、書き込み可能な光ディスク側の特性ばらつき及び光記録再生装置側の特性ばらつきによる影響を低減し得る記録条件の設定を効率よく行うことができる記録条件の設定方法及び設定装置、記録再生装置、記録条件設定プログラム及び記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の第１の記録条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、複数の要素からなる記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録方法の記録条件設定方法であって、上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、全てのマーク長或いは全ての組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索ステップと、上記第１の探索ステップにて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索ステップと、上記第２の探索ステップが行われた場合は上記第２の探索ステップの探索結果に基づく一方、上記第２の探索ステップが行われなかった場合は上記第１の探索ステップの探索結果に基づいて記録パルス条件を定める記録条件設定ステップとを備えたことを特徴としている。
【００１６】
上記の構成によれば、まずは、全てのマーク長或いは全ての組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する（第１の探索ステップ）。つまり、発生の可能性が高く、全てのマーク長或いは組み合わせに影響のある装置側の特性のばらつきに対して、先に最適な記録パルス条件の合わせこみを行う。
【００１７】
そして、第１の探索ステップにて、良好な再生結果（予め定める信号品質を満たす再生結果）が得られなかった場合に、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する（第２の探索ステップ）。
【００１８】
ディスク側の特性のばらつきは装置側のそれよりも発生の可能性が低く、また、マーク長毎或いは組み合わせ毎に記録パルス条件を変化させていく必要があるため、所要時間も長い。したがって、このような順で良好な再生結果を得ることのできる記録パルス条件の探索を行うことで、たとえ装置側とディスク側との両方に特性のばらつき生じていても、最適な記録条件の設定（記録条件の補正）を効率よく行うことができる。
【００１９】
本発明の第２の記録条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、複数の要素からなる記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録方法の記録条件設定方法であって、上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、全てのマーク長のうち半数以上のマーク長、或いは、全てのマーク長とスペース長の組み合わせのうち半数以上の組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索ステップと、上記第１の探索ステップにて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索ステップと、上記第２の探索ステップが行われた場合は上記第２の探索ステップの探索結果に基づく一方、上記第２の探索ステップが行われなかった場合は上記第１の探索ステップの探索結果に基づいて記録パルス条件を定める記録条件設定ステップとを備えたことを特徴としている。
【００２０】
第１の記録条件設定方法では、装置側の特性のばらつきに対して最適な記録パルス条件の合わせこみを行う第１の探索ステップにおいて、全てのマーク長或いは全ての組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行っていた。しかしながら、必ずしも全てのマーク長や組み合わせに対して行う必要はなく、かつ、その場合の変化も一律でなくとも、レーザ特性のばらつきを主要因とする記録パルス条件の影響のうち半分以上の影響を低減することができ、信号品質を良化するという効果を得ることができる。そこで、この第２の記録条件設定方法では、第１の探索ステップにおいて、全てのマーク長のうち半数以上のマーク長、或いは、全てのマーク長とスペース長の組み合わせのうち半数以上の組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生とを行うようにしている。
【００２１】
本発明の第３の記録条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、複数の要素からなる記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録方法の記録条件設定方法であって、光ビームのパルス立ち上がり特性及び／又はパルス立ち下がり特性に対して変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索ステップと、上記第１の探索ステップにて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、少なくとも一つの記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索ステップと、上記第２の探索ステップが行われた場合は上記第２の探索ステップの探索結果に基づく一方、上記第２の探索ステップが行われなかった場合は上記第１の探索ステップの探索結果に基づいて記録パルス条件を定める記録条件設定ステップとを備えたことを特徴としている。
【００２２】
第１の記録条件設定方法では、装置側の特性のばらつきに対して最適な記録パルス条件の合わせこみを行う第１の探索ステップにおいて、全てのマーク長或いは全ての組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行っていた。しかしながら、パルス幅といった記録パルス条件に対する設定値に変化を与えるのではなく、レーザ駆動回路等において、レーザの立ち上がり特性、及び／又は、レーザの立ち下がり特性に変化を与えることでも、結果的に出射される記録パルスが変化することになり、同様にレーザ特性のばらつきの影響を低減し、信号品質を良化するという効果を得ることができる。そこで、この第３の記録条件設定方法では、第１の探索ステップにおいて、光ビームのパルス立ち上がり特性及び／又はパルス立ち下がり特性に対して変化を加えて試し書きと再生とを行うようにしている。
【００２３】
また、上記構成においては、さらに、上記第２の探索ステップでは、上記第１の探索ステップによる探索の結果に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことが好ましく、より好ましくは、上記第２の探索ステップでは、上記第１の探索ステップにおいて予め定める信号品質を満たすに最も近かった記録パルス条件を用いて行う、或いは上記第２の探索ステップでは、上記第１の探索ステップにおいて予め定める信号品質を満たす記録パルス条件の範囲に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことである。
【００２４】
これにより、第２の探索ステップにおいて良好な再生結果（予め定める信号品質を満たす再生結果）を効率よく得ることができ、記録条件設定に要する時間をより一層短縮することができる。
【００２５】
また、上記構成においては、さらに、上記第１及び／又は第２の探索ステップでは、試し書きを行うにあたり、光ビームのパワーを規定する記録パワー条件も変化させ、良好な再生結果が得られる記録パワー条件も併せて探索することが好ましい。
【００２６】
記録パルス条件だけでなく、記録マークのマーク幅を変化させる記録パワー条件も補正することができるので、より一層、再生信号品質の改善を行うことができる。
【００２７】
本発明の第１の記録条件設定装置は、上記課題を解決するために、記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録再生装置の記録条件設定装置であって、上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、全てのマーク長或いは全ての組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索手段と、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索手段と、まずは上記第１の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、該第１の探索手段にて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、上記第２の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、上記第１の探索手段による探索のみの場合は該第１の探索手段による探索結果に基づく一方、上記第２の探索手段による探索が行われた場合は該第２の探索結果に基づいて記録パルス条件を決定する記録条件決定手段とを備えたことを特徴としている。
【００２８】
本発明の第１の記録条件設定方法において既に説明したように、このような順で良好な再生結果を得ることのできる記録パルス条件の探索を行うことで、たとえ装置側とディスク側との両方に特性のばらつき生じていても、最適な記録条件の設定（記録条件の補正）を効率よく行うことができる。
【００２９】
本発明の第２の記録条件設定装置は、上記課題を解決するために、記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録再生装置の記録条件設定装置であって、上記記録パルス条件は、マーク長毎或いはマーク長とスペース長との組み合わせ毎に設定されており、全てのマーク長のうち半数以上のマーク長、或いは、全てのマーク長とスペース長の組み合わせのうち半数以上の組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索手段と、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、既定の記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索手段と、まずは上記第１の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、該第１の探索手段にて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、上記第２の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、上記第１の探索手段による探索のみの場合は該第１の探索手段による探索結果に基づく一方、上記第２の探索手段による探索が行われた場合は該第２の探索結果に基づいて記録パルス条件を決定する記録条件決定手段とを備えたことを特徴としている。
【００３０】
本発明の第２の記録条件設定方法において既に説明したように、このような順で良好な再生結果を得ることのできる記録パルス条件の探索を行うことで、たとえ装置側とディスク側との両方に特性のばらつき生じていても、最適な記録条件の設定（記録条件の補正）を効率よく行うことができる。
【００３１】
本発明の第２の記録条件設定装置は、上記課題を解決するために、記録マークを形成するための複数のパルス列のパルス立ち上がり位置及びパルス立ち下がり位置を特定する、記録パルス条件に基づいて光ビームを記録媒体に照射して記録マークを形成する記録再生装置の記録条件設定装置であって、光ビームのパルス立ち上がり特性及び／又はパルス立ち下がり特性に対して変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第１の探索手段と、少なくとも一つの記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する第２の探索手段と、まずは上記第１の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、該第１の探索手段にて予め定める信号品質を満たす結果が得られなかった場合に、上記第１の探索手段の結果に基づいて記録パルス条件を設定し、それを元に、上記第２の探索手段にて記録パルス条件の探索を行わせ、上記第１の探索手段による探索のみの場合は該第１の探索手段による探索結果に基づく一方、上記第２の探索手段による探索が行われた場合は該第２の探索結果に基づいて記録パルス条件を決定する記録条件決定手段とを備えたことを特徴としている。
【００３２】
本発明の第３の記録条件設定方法において既に説明したように、このような順で良好な再生結果を得ることのできる記録パルス条件の探索を行うことで、たとえ装置側とディスク側との両方に特性のばらつき生じていても、最適な記録条件の設定（記録条件の補正）を効率よく行うことができる。
【００３３】
また、上記構成では、さらに、上記第２の探索手段では、上記第１の探索手段による探索の結果に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことが好ましく、より好ましくは、上記第２の探索手段では、上記第１の探索ステップにおいて予め定める信号品質を満たすに最も近かった記録パルス条件を用いて行う、或いは上記第２の探索手段では、上記第１の探索ステップにおいて予め定める信号品質を満たす記録パルス条件の範囲に基づいて設定された記録パルス条件を用いて行うことである。
【００３４】
これにより、第２の探索手段による探索にて良好な再生結果（予め定める信号品質を満たす再生結果）を効率よく得ることができ、記録条件設定に要する時間をより一層短縮することができる。
【００３５】
また、上記構成では、さらに、上記第１及び／又は第２の探索手段は、試し書きを行うにあたり、光ビームのパワーを規定する既定の記録パワー条件も変化させ、良好な再生結果が得られる記録パワー条件も併せて探索することを特徴とすることもできる。
【００３６】
これにより、記録パルス条件だけでなく、記録マークのマーク幅を変化させる記録パワー条件も補正することができるので、より一層、再生信号品質の改善を行うことができる。
【００３７】
また、上記構成では、さらに、上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、記録パルス条件を構成する各要素のうちの、記録マークのマーク幅に変化を与える要素に変化を加えることを特徴とすることもできる。
【００３８】
記録パルス条件を構成する要素のうち、記録マークのマーク幅に変化を与える要素に対して変化を加えることによって、記録パワー条件を変化させるのと同様に、記録マークのマーク幅を最適にすることができるという効果を得ることができる。
【００３９】
また、上記構成では、さらに、上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、パルス幅が増加する方向に対する変化をパルス幅が減少する方向に対する変化よりも先に加えることを特徴とすることもできる。
【００４０】
パルス幅を変化させる場合は、パルス幅が増加する方向に対する変化を減少する方向に対する変化よりも先に加えることで、良好なエラーレートを得られる可能性が高く、最適記録条件をより効率よく設定することができる。
【００４１】
また、上記構成では、さらに、上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、上記記録パルス条件を構成する要素のうちの、記録マークの前エッジ部位置を変化させる要素に対して変化を加えることを特徴とすることもできる。
【００４２】
記録マークの前エッジ部を変化させる要素に対して変化を加えることによって、記録マークの始端位置が前方、あるいは後方に変化する。これにより、記録マーク長とその前に存在するスペース長の最適化が行えるという効果がある。
【００４３】
また、上記構成では、さらに、上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録パルス条件に変化を加えるにあたり、上記記録パルス条件を構成する要素のうちの、記録マークの後エッジ部位置を変化させる要素に対して変化を加えることを特徴とすることもできる。
【００４４】
記録マークの後エッジ部を変化させる要素に対して変化を加えることによって、記録マークの終端位置が前方、あるいは後方に変化する。これにより、記録マーク長とその後ろに存在するスペース長の最適化が行えるという効果がある。
【００４５】
また、上記構成では、さらに、上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録マークの前エッジ部位置を変化させる要素よりも先に記録マークの後エッジ部位置を変化させる要素に対して変化を加えることを特徴とすることもできる。
【００４６】
このように、記録パルス条件を構成する各要素間でも独立した要素である後エッジ部位置を変化させる要素に対して先に試し書きを行うことで、効率のよい最適条件設定を行うことができる。
【００４７】
また、上記構成では、さらに、上記既定の記録パルス条件及び／又は上記既定の記録パワー条件は、記録媒体に記録されており、上記第１及び／又は第２の探索手段は、記録媒体より上記既定の記録パルス条件及び／又は上記既定の記録パワー条件を読み出して用いることを特徴とすることもできる。
【００４８】
また、本発明の記録再生装置は、上記課題を解決するために、上記した本発明の記録条件設定装置を備えたことを特徴としている。
【００４９】
これにより、たとえ装置側とディスク側との両方に特性のばらつき生じていても、最適な記録条件の設定（記録条件の補正）を効率よく行うことができる記録再生装置を提供することができる。
【００５０】
なお、上記記録条件設定装置は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記各手段として動作させることにより上記記録条件設定装置をコンピュータにて実現させる記録条件設定プログラム、およびその記録条件設定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。
【発明の効果】
【００５１】
本発明によれば、まずは、発生の可能性が高く、全てのマーク長或いは組み合わせに影響のある装置側の特性のばらつきに対して、先に最適な記録パルス条件の合わせこみを行う。そして、ここで良好な再生結果（予め定める信号品質を満たす再生結果）が得られなかった場合に、少なくとも一つのマーク長或いは少なくとも一つの組み合わせに対し、記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索するので、たとえ装置側とディスク側との両方に特性のばらつき生じていても、最適な記録条件の設定（記録条件の補正）を効率よく行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５２】
本発明の実施の形態について図１ないし図２１に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００５３】
本実施の形態である記録再生装置としての光ディスク装置１は、図２に示すように、光ディスク１０、光ヘッド１１、ピックアップ１２、ピックアップ駆動回路１３、レーザ駆動回路１４、再生回路１５、センサ３０、及び制御部２０を備えている。光ヘッド１１は、ピックアップ１２に搭載されている。
【００５４】
光ディスク装置１では、記録時、制御部２０がピックアップ駆動回路１３を介してピックアップ１２を、回転する光ディスク（記録媒体）１０の図示しないトラックへと移動させる。そして、制御部２０がレーザ駆動回路１４を介して記録条件を設定し、光ヘッド１１から記録用のレーザビームを光ディスク１０の記録部位に照射する。これにより、光ディスク１０のトラックに情報が記録される。
【００５５】
また、再生時においては、制御部２０がピックアップ駆動回路１３を介してピックアップ１２を光ディスク１０の記録部位へと移動させる。そして、制御部２０がレーザ駆動回路１４を介して光ヘッド１１から再生用のレーザビームを光ディスク１０に照射する。光ディスク１０からの反射光は光ヘッド１１にて検出され、検出された反射光は再生回路１５にて再生信号に変換された後、制御部２０に入力される。これにより、光ディスク１０のトラックに記録された情報が再生される。
【００５６】
上記センサ３０は、光ディスク１０が光ディスク装置１に装填されたことを検出するため、及び／又は光ディスク１０への記録環境の変化を検出するためのものである。センサ３０は、例えば、光ディスク１０の記録部位の温度を検出するための温度センサからなる。そして、センサ３０は、検出した結果を検出信号として制御部２０へ出力する。
【００５７】
上記制御部２０は、上記した機能以外に、記録条件設定の動作を適宜起動するといった機能も有している。制御部２０は、光ディスク１０が光ディスク装置１に装填されたときに加えて、情報の記録動作中にもセンサ３０の検出信号から記録環境に所定の変化が検出されたときや、前回の試し書きから所定時間が経過したとき等に、記録条件設定の動作を適宜起動する。つまり、制御部２０が、記録条件設定装置であり、記録条件決定手段、第１及び第２の各探索手段である。
【００５８】
上記光ディスク装置１では、図３に示すように、光ディスク１０の設定用領域４１への試し書きに基づいて記録条件を設定する。そして、その記録条件によって、各トラックに情報を記録する。なお、光ディスク装置１の記録条件設定後のユーザ領域４２への記録動作は、一般に知られた動作と同様である。また、設定用領域４１内には、標準記録パワーパラメータと標準記録パルスパラメータとを含む標準記録条件が予め記録されているものとする。
【００５９】
また、上記光ディスク装置１では、光ディスク１０の設定用領域４１内の標準記録条件を読み出し、この標準記録条件を記録条件設定のために使用するものとする。また、読み出した標準記録条件を上記制御部２０内に設けられた記憶手段であるメモリ（不図示）に保存し、それを読み出して使用してもよい。なお、設定用領域４１の位置は、図３に示した位置に限らず、光ディスク１０の任意の半径位置に存在していても構わないし、設定用領域４１は複数存在していても構わない。
【００６０】
次に、上記光ディスク装置１で実施される記録条件設定方法を、図４ないし図１０に基づいて説明する。
【００６１】
以下においては、変調方式として（１，７）ＲＬＬ(Run Length Limited code)を例に
挙げて説明する。但し、本発明においては、変調方式として（１，７）ＲＬＬの変調方式に限るものではなく、他の変調方式であってもよいことは言うまでもない。
【００６２】
（１，７）ＲＬＬコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードである。また、この（１，７）ＲＬＬの変調方式では、後で詳述するが、一つの記録マークを形成するための記録パルスのパルス列は、最短の記録マークでは、始端部と終端部とから構成される。そして、最短の記録マークよりも長い記録マークでは、この始端部と終端部との間に、該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。
【００６３】
なお、他の変調方式においては、最短の記録マーク長が３Ｔから始まるものなどもある。このときは、最短の記録マーク長が始端部、中間部、終端部にて構成されている（例えば、ＤＶＤ−ＲＷ等）。また、最短マーク長が２Ｔであったとしても、始端部のみで構成されているものもある（例えば、ＤＶＤ−Ｒ等）。
【００６４】
図４に、記録情報、これに対応するパルス列、及び形成される記録マークの形状を示す。記録情報に対応する記録パルスのパルス列は、上記光ディスク１０に記録を行うための媒体温度分布を考慮して設定されている。なお、図４は、４Ｔマークに対応するためのパルス列を示す。該パルス列は、上述したように、始端部と終端部、及び３Ｔマーク以上にある中間部とを合わせて構成されている。ここで、「Ｔ」は、クロック１周期分の時間を表している。したがって、例えば４Ｔマークとは、クロック４周期分の時間に「１」が記録されるマーク、つまり記録領域をいう。
【００６５】
また、パルス列は、同図に示すように、記録パワー、消去パワー、及びバイアスパワーのパワーレベルを表す要素によっても構成されている。以降、これら記録パワー、消去パワー、及びバイアスパワーを総称して記録パワーパラメータとし、これら記録パワーパラメータよりなる条件を記録パワー条件とする。なお、同図では、始端部、中間部のパルスの記録パワーは同一であるが、必ずしもこれに限らず、パルス毎（始端部、各中間部）で別個の記録パワーであってもよい。
【００６６】
次に、図５に、２Ｔマークから８Ｔマークまでのそれぞれを形成するためのパルス列と、該パルス列を実現するための記録パルス条件を示す。記録パルス条件は、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐ、始端部パルス幅Ｔｔｏｐ、終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄ、中間部パルス幅Ｔｍｐ等の複数種類の要素の組み合わせにて構成され、これら要素を総称して記録パルスパラメータと呼ぶ。始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐは始端部のパルス開始位置（記録マークの前エッジ部を変化させる要素）、始端部パルス幅Ｔｔｏｐは始端部のパルス幅、終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄは終端部のパルス終了位置（記録マークの後エッジ部を変化させる要素）、及び中間部パルス幅Ｔｍｐは中間部のパルス幅を示している。これらの値の変化により、形成される記録マークの形状が変化する。記録パルス条件、記録パワー条件の標準値は、光ディスク１０の設定用領域４１に標準記録条件として予め記録されている。
【００６７】
そして、これら各記録パルス条件は、マーク長に応じて設定されており、その設定は互いに独立している。つまり、最短の記録マーク長のパルス列は始端部と終端部とからなり、その記録パルス条件を構成する記録パルスパラメータは、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐ、始端部パルス幅Ｔｔｏｐ、及び終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄであるが、この記録パルスパラメータが、他のマーク長の始端部及び終端部の設定に用いられるものではなく、例えば、３Ｔマークの記録パルス条件における始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐ、始端部パルス幅Ｔｔｏｐ、及び終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄは、これとは全く別もので、個別に設定されているものである。
【００６８】
ここで、記録パルス条件を構成する記録パルスパラメータと形成される記録マークとの関係について説明する。まず、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐについて言えば、これが大きくなると記録マークの始端位置が前方に移動し、逆に小さくなると記録マークの始端位置が後方に移動する。また、始端部パルス幅Ｔｔｏｐでは、これが大きくなると記録マークにおける先頭部分の幅（トラックの周方向と垂直な方向の寸法）が増大し、逆に小さくなると記録マークにおける先頭部分の幅は減少する。終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄでは、これが大きくなると記録マークの終端位置が後方に移動し、逆にこれが小さくなると記録マークの終端位置が前方に移動する。そして、中間部パルス幅Ｔｍｐでは、これが大きくなると記録マークの幅が増大し、逆に小さくなると幅が減少する。
【００６９】
また、記録マークの幅（以下、マーク幅）は、記録パワーパラメータの変化によっても変化する。したがって、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐとは、記録パワーパラメータに影響を与える記録パルスパラメータであると言える。
【００７０】
ここで、装置側の特性のばらつきであるレーザ特性のばらつきの主要因として、たとえ同一の電流波形をレーザに供給しても、個々の装置で常に同じ発光波形が得られるとは限らないということが挙げられる。具体的には、装置によって、発光パルスの立ち上がり時間、立ち下がり時間にばらつきがあるため、設定した波形に対してパルス幅の異なる波形が出力される。
【００７１】
図６に、設定した波形と、レーザ特性のばらつきのために、異なる波形となった出力波形の例を示す。パルスの立ち上がり時間が早く、かつ、立ち下がり時間が遅い場合、パルス幅は、設定した波形よりも増加する。逆に、パルスの立ち上がり時間が遅く、かつ、立ち下がり時間が早い場合は、パルス幅は設定した波形よりも減少する。これらのばらつきは、マーク長の違いに関わらず、全てのマーク長の記録マークにおいて発生するものであるため、全てのマーク長の各記録パルス条件に対して、一律に所定量の変化を加えて補正することになる。
【００７２】
図１０に、あるディスクの標準記録条件として既定されている記録パルス条件のうちの、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐの２つの記録パルスパラメータに対して、それぞれ一律に２ｎｓの増減を加えた場合のエラーレートの変化を示す。図１０より、パルス幅の増減により、エラーレートが悪化することがわかる。
【００７３】
したがって、このことから、パルス幅が減少して設定された場合は、パルス幅を増加する方向に一律の補正を加えることでエラーレートを改善でき、逆にパルス幅が増加して設定された場合は、パルス幅を減少する方向に一律の補正を加えることで、エラーレートを改善できることがわかる。但し、パルス幅が設定通りに出力されているかを検出するのは困難であるため、パルス幅を一律に増減させて試し書きを行い、そのエラーレートの変化を検出することにより、パルス幅の補正を行う。
【００７４】
また、十分な品質管理の基で製造された特性ばらつきの小さいディスクであればディスク上に予め記録してある標準記録条件どおりに設定し、装置によるパルス幅のばらつきの補正を上記のように行うことで問題は少ない。しかしながら、量産の光ディスクであったりして、標準記録条件がディスク性能と大きくずれている場合は、装置にてディスクから読み出した標準記録条件を忠実に再現したとしても、このディスクでは特性を発揮することができない。
【００７５】
このようなディスク側の特性のばらつきの場合は、マーク長毎に設定されている記録パルス条件のうちの、どのマーク長に対する記録パルス条件がずれているかがわからないため、全てのマーク長のうち少なくとも一つのマーク長に対する記録パルス条件に変化を加えて、試し書きを実施し、エラーレートを検出することにより個別に補正していくこととなる。なお、本明細書中、記録パルス条件に変化を加えるとは、記録パルス条件を構成する複数ある記録パルスパラメータの少なくとも一つに変化を加えることである。
【００７６】
ここで重要となるのが、上記の２つの補正の順番であるが、本実施の形態の光ディスク装置１では、まず、全てのマーク長の記録パルス条件に対して一律に変化を加えて試し書きを行い、それを再生して良好な結果が得られるかどうかを判断し、良好な結果が得られればその値で補正し、良好な結果が得られない場合は、その後に、個別（マーク長別）に記録パルス条件に対して変化を加えて試し書きを行い、それを再生して良好な結果が得られるかどうかを判断して補正を行うようにしている。
【００７７】
これはつまり、装置毎のレーザパルスの立ち上がり、立ち下がり時間のばらつきは、発生の可能性として十分考えられること、また、ずれの可能性のわからないマーク長別の記録パルス条件に対して変化を加えるよりも、全てのマーク長に対する記録パルス条件に一律に変化を加えることによってエラーレートの改善を図るほうが効率的であるためである。
【００７８】
なお、ディスク上に予め標準記録条件が記録されていない場合は、ディスクの特性がわからないため、このようなディスクに対しては、装置側で最初に基準として記録条件を設定し（これを既定の記録条件とする）、設定した該記録条件に対して、上記と同様、パルス幅の一律補正、個別の記録パルスパラメータの変化を加えて、試し書きを実施し、エラーレートを検出することで補正を行っていく。
【００７９】
次に、図１、及び図７〜図９に示すフローチャートに基づいて、上記光ディスク装置１における記録条件設定の具体的動作を説明する。
【００８０】
先ずは、図１のフローチャートを用いて、記録条件設定の全体動作を説明する。光ディスク装置１では、制御部２０の制御により、先ずは、後述する記録パルス条件一律変化処理（第１の探索ステップ：以下、Ａ処理）を行う（Ｓ１）。そして、該Ａ処理の結果がＯＫかどうかの判定を行う(Ｓ２)。ここで、ＯＫが返ってきた場合は、最適な記録条件が得られたとして、その記録条件を最適記録条件として設定する（Ｓ３）。レーザ特性のばらつき等、装置側の特性のばらつきのみであれば、Ａ処理にてＯＫが返ってくるので、この時点で処理を終了する。ディスク側の特性のばらつきがある場合は、Ａ処理にてＯＫが返ってくることはない。
【００８１】
一方、Ａ処理でＯＫが返ってこなかった場合は、Ｓ４に進み、後述する記録パルス条件部分変化処理（第２の探索ステップ：以下、Ｂ処理）を行う。Ｓ５では、Ｂ処理の結果がＯＫかどうかの判定を行う。該Ｂ処理において、ＯＫが返ってきた場合は、Ｓ３に進み、最適な記録条件が得られたとして、その記録条件を最適記録条件として設定する。一方、Ｂ処理でもＯＫが返ってこなかった場合は、現在使用しているトラックが異常である可能性があるため、別のトラックへ移動して（Ｓ６）、再びＳ１以降の処理を実行する。
【００８２】
次いで、図７のフローチャートを用いて、上記Ａ処理である記録パルス条件一律変化処理（第１の探索ステップ）の動作手順を説明する。Ａ処理では、まず、予め定めている変化量全ての値を使用したか、つまり、記録パルス条件を構成する複数ある記録パルスパラメータのうちの所定のパラメータに対して、所定範囲内で定められている変化量の全てを使用したかどうかの判定を行う（Ｓ１１）。例えば、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐとに対して、一律に、１ｎｓ、２ｎｓ、３ｎｓ、−１ｎｓ、−２ｎｓ、−３ｎｓの順で変化を加えるといった条件が定められているとすると、ここで、これら６通りの変化を与え終わるまでは、全条件を使用していないとしてＮＯと判定する。
【００８３】
全条件を使用していない場合は、Ｓ１２に進み、全てのマーク長に対する記録パルス条件（所定の記録パルスパラメータ）に対して、一律に変化を加えて設定する。Ｓ１２では、パルス幅を一律に変化させる場合、まずパルス幅が増加する方向に対する変化を加えるようにすることが好ましい。これは、図１０の結果において、パルス幅が２ｎｓ減少させた場合よりも、２ｎｓ増加させた場合のほうが、標準条件に近いエラーレートが得られているためである。
【００８４】
そして、Ｓ１２で設定された記録パルス条件を用いて、後述する試し書き処理（以下、Ｃ処理）を行う（Ｓ１３）。Ｃ処理の結果として、ＯＫが返ってきたかどうかを判定し（Ｓ１４）、ここでＯＫが返ってきた場合は、Ａ処理としてＯＫを返す。一方、Ｃ処理において、ＯＫが返ってこなかった場合は、Ｓ１１に戻り、実行すべき全条件が使用されたかどうかの判定を行い、まだ試していない変化量がある場合は、Ｓ１２に進む。一方、試すべき変化量を全て試して全条件終了の場合が、Ａ処理としてＮＧを返す。
【００８５】
なお、図７では、所定の記録パルスパラメータにおいて一律に加える変化量を換えながら試し書きを行っていき、これにおいて、ＯＫと判断されない場合に、Ａ処理としてＮＧを返すようになっているが、一律に加える変化量を換えながら試し書きを行う記録パルスパラメータを切り換えて、図７に示すＳ１１〜Ｓ１４を繰り返し行うようにしてもよい。
【００８６】
続いて、図８のフローチャートを用いて、上記Ｂ処理である記録パルス条件部分変化処理（第２の探索ステップ）の動作手順を説明する。まず、予め定めている変化量全ての値を使用したか、つまり、記録パルス条件を構成する複数ある記録パルスパラメータのうちの所定のパラメータに対して、所定範囲内で定められている変化量の全てを使用したかどうかの判定を行う（Ｓ２１）。例えば、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐとに対して、１ｎｓ、２ｎｓ、３ｎｓ、−１ｎｓ、−２ｎｓ、−３ｎｓの順で変化を加えるといった条件が定められているとすると、ここで、これら６通りの変化を与え終わるまでは、全条件を使用していないとしてＮＯと判定する。
【００８７】
全条件を使用していない場合は、Ｓ２２に進み、少なくとも一つのマーク長に対する記録パルス条件（所定の記録パルスパラメータ）に対して、変化を加えて設定する。Ｓ２２でも、Ｓ１２と同様に、パルス幅を一律に変化させる場合、まずパルス幅が増加する方向に対する変化を加えるようにすることが好ましい。
【００８８】
そして、Ｓ２２で設定された記録パルス条件を用いて、後述する試し書き処理（以下、Ｃ処理）を行う（Ｓ２３）。Ｃ処理の結果として、ＯＫが返ってきたかどうかを判定し（Ｓ１４）、ここでＯＫが返ってきた場合は、Ｂ処理としてＯＫを返す。一方、Ｃ処理において、ＯＫが返ってこなかった場合は、Ｓ２１に戻り、実行すべき全条件が使用されたかどうかの判定を行い、まだ試していない変化量がある場合は、Ｓ２２に進む。一方、試すべき変化量を全て試して全条件終了の場合が、Ｂ処理としてＮＧを返す。
【００８９】
なお、図８では、少なくとも一つのマーク長に対する記録パルス条件、つまり所定の記録パルスパラメータに対して変化量を換えながら試し書きを行っていき、これにおいて、ＯＫと判断されない場合に、Ｂ処理としてＮＧを返すようになっているが、変化量を換えながら試し書きを行う記録パルスパラメータを切り換えて、図８に示すＳ２１〜Ｓ２４を繰り返し行うようにしてもよい。また、ここで、記録パルス条件を変化させる対象となるマーク長は、当然のこと順次切り換えられているものである。
【００９０】
そして、本実施の形態の光ディスク装置１では、Ｂ処理をスタートする際の記録条件として、Ａ処理を実施した中で最良となった記録条件を選択して使用するようになっている。つまり、Ａ処理の結果、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐに対して、２ｎｓ増加させた結果が最良であった場合は、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐに対して、２ｎｓ増加させる記録条件を選択するようになっている。したがって、Ｂ処理でＯＫを効率よく（短い時間で得る）得ることができる。
【００９１】
ここで、図１８に基づいて、上記光ディスク装置１の制御部２０の構成及びその動作を説明する。制御部２０は、比較手段５１と、最良条件記憶手段５２と、記録条件選択手段５３とを備えている。比較手段５１は、図２の再生回路１５から得られた再生信号の信号品質を元に、入力された再生信号を得た記録条件が、これまでの最良記録条件かどうかを比較にて判断するものである。最良条件記憶手段５２には、これまでに比較手段５１にて最良記録条件であると判断された最良記録条件が格納さており、比較手段５１は、該最良条件記録手段５２に格納されている最良記録条件と比較することで、これまでの最良記録条件かどうか判断する。Ａ処理が実施された後、最良条件記憶手段５２に格納されている最良記録条件を記録条件選択手段５３が選択し、Ｂ処理を実施するための記録条件としてレーザ駆動回路１４へ送る。
【００９２】
なお、実施の形態の光ディスク装置１では、Ｂ処理をスタートする際の記録条件として、Ａ処理を実施した中で最良となった記録条件を選択して使用するようになっているが、少なくとも、Ａ処理を実施した結果に基づいて設定された記録条件を、Ｂ処理をスタートする際の記録条件として選択して使用することで、Ｂ処理でＯＫを効率よく（短い時間で得る）得ることができる。
【００９３】
つまり、Ａ処理の結果として、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐに対して変化させた結果が、図１７のように、エラーレートの最良値とその条件の付近のエラーレートに差がほとんどない場合なども考えられる。そのような場合は、予め定める信号品質を満たす記録パルス条件の範囲（図１７では、破線で示す所定のエラーレート以下の記録パルス条件の範囲）をもとめ、その結果に基づいて、例えば、範囲の略中心の記録パルス条件を選択するような構成にしてもよい。これにより、Ｂ処理でＯＫを効率よく（短い時間で得る）得ることができる。
【００９４】
図１９に、このようなＡ処理を実施した結果に基づいてＢ処理をスタートする際の記録条件を設定する別の制御部２０’の構成とその動作を説明する。制御部２０’は、検出手段６１と、記録条件記憶手段５２と、記録条件選択手段６３とを備えている。検出手段６１は、図２の再生回路１５から得られた再生信号の信号品質を元に、入力された再生信号を得た記録条件が、予め定める信号品質を満たす場合にこれを検出するものである。予め定める信号品質を満たす記録条件は記録条件記憶手段６２に格納される。記録条件選択手段６３は、Ａ処理が実施された後、記録条件記憶手段６２に格納されている記録条件に基づいて範囲を求め、その結果より設定する記録条件を選択し、Ｂ処理を実施するための記録条件としてレーザ駆動回路１４へ送る。
【００９５】
次に、図９のフローチャートを用いて、上記Ｃ処理である試し書き処理について説明する。Ｃ処理では、まず、設定されている記録条件（記録パルス条件及び記録パワー条件）に基づいて、テストパターンを記録して試し書きを行う（Ｓ３１）。そして、記録したこのテストパターンの再生を行い（Ｓ３２）、得られた再生信号品質が所定の条件を満たしているかどうかを判定する（Ｓ３３）。例えば、エラーレートが所定値以下の場合は、再生信号品質が所定の条件を満たしているとし、Ｃ処理としてＯＫを返す。一方、再生信号品質が所定の条件を満たしていない場合は、Ｃ処理としてＮＧを返す。
【００９６】
なお、Ｓ３２において用いる再生信号品質の検出量としては、必ずしもエラーレートだけでなく、ジッタを用いることができる。エラーレート及びジッタ、光ディスク１０のシステムマージンを規定する指標になっていることが多く、記録状態をその光ディスク１０のマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【００９７】
さらに、ここで、別のＣ処理（試し書き処理）について説明する。図１１に、あるディスクの標準記録条件として既定されている記録パルス条件のうちの、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐの２つの記録パルスパラメータに対して、一律に２ｎｓの増減を加えて、記録パワーを変化させた場合のエラーレートの変化を示す。図１１より、パルス幅の増減により、エラーレートが悪化していることがわかる。また、パルス幅の増減により、良好なエラーレートが得られる記録パワーが変化していることもわかる。したがって、このことから、Ｃ処理において、さらに記録パワーを変化させることで、記録パワーを一定とした場合よりもさらに良好なエラーレートを得るための記録条件を求めることができることがわかる。
【００９８】
図１２のフローチャートを用いて、記録パワー条件を変化させるＣ処理（試し書き処理）について説明する。まず、Ｓ４１では、予め定めている変化量全ての値を使用したか、つまり、記録パワー条件を構成する複数ある記録パワーパラメータのうちの予め定められているパラメータに対して、定められている変化量の全てを使用したかどうかの判定を行う。全条件を使用していない場合は、Ｓ４２に進み、記録パワーパラメータに変化量を加えて設定する。そして、試し書きに使用するテストパターンを記録し（Ｓ４３）、記録したテストパターンの再生を行い（Ｓ４４）、得られた再生信号品質が所定の条件を満たしているかどうかを判定する（Ｓ４５）。例えば、エラーレートが所定値以下の場合は、再生信号品質が所定の条件を満たしているとし、Ｃ処理としてＯＫを返す。一方、再生信号品質が所定の条件を満たしていない場合は、Ｃ処理としてＮＧを返す。
【００９９】
なお、Ｓ４２において用いる再生信号品質の検出量としては、この場合も、必ずしもエラーレートだけでなく、ジッタを用いることができる。エラーレート及びジッタ、光ディスク１０のシステムマージンを規定する指標になっていることが多く、記録状態をその光ディスク１０のマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【０１００】
Ｃ試し書きにおいて、このように記録パワー条件を構成する記録パワーパラメータを切り換えることで、記録パルス条件だけでなく、記録パワー条件も最適に設定でき、これによって、一層の再生信号品質の改善を行うことができる。
【０１０１】
なお、これら、図９のフローチャートに示したＣ処理と、図１２のフローチャートに示したＣ処理とを、上記したＡ処理とＢ処理とで適宜選択して用いればよく、Ａ処理とＢ処理とで異なるＣ処理を組み合わせて使用することもできる。
【０１０２】
ところで、上ではＡ処理及びＢ処理における記録パルス条件を変化させるにおいて、記録パルス条件を構成する記録パルスパラメータのうちの、どの記録パルスパラメータを変化させるかを具体的に記載していなかったが、以下において具体的に説明する。
【０１０３】
例えば、記録パルス条件を構成する記録パルスパラメータのうちの、記録マークのマーク幅に変化を与える始端部パルス幅Ｔｔｏｐや中間部パルス幅Ｔｍｐに対して変化を加えた場合、記録パワー条件を変化させたと同様に、記録マークのマーク幅の最適化が行えるといった効果がある。
【０１０４】
また、始端部パルス幅Ｔｔｏｐや中間部パルス幅Ｔｍｐのパルス幅を変化させる場合は、パルス幅が増加する方向に対する変化を減少する方向に対する変化よりも先に加えることで、良好なエラーレートを得られる可能性が高く、最適記録条件をより効率よく設定することができる。
【０１０５】
また、記録パルス条件を構成する記録パルスパラメータのうちの、記録マークの前エッジ部位置を変化させる始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐに対して変化を加えた場合、記録マークの始端位置が前方、あるいは後方に変化するので、当該記録マークのマーク長とその前に存在するスペース長の最適化が行えるという効果がある。
【０１０６】
また、記録パルス条件を構成する記録パルスパラメータのうちの、記録マークの後エッジ部位置を変化させる終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄに対して変化を加えた場合、記録マークの終端位置が前方、あるいは後方に変化するので、当該記録マークのマーク長とその後ろに存在するスペース長の最適化が行えるという効果がある。
【０１０７】
また、記録パルス条件を構成する記録パルスパラメータのうちの、記録マークの後エッジ部位置を変化させる終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄと、記録マークの前エッジ部位置を変化させる始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐとの両方に変化を加える場合は、先に終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄに変化を加えることで、効率のよい最適条件設定を行うことができる。
【０１０８】
これは、つまり、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐは始端部パルス幅Ｔｔｏｐの開始位置であり、始端部パルス幅Ｔｔｏｐの補正により、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐのずれの影響を低減できる可能性がある。また、始端部パルス幅Ｔｔｏｐは記録パワーパラメータに影響を与えるパラメータであるため、記録パワーの補正を行うことでも始端部パルス幅Ｔｔｏｐの影響が低減されるため、これによっても始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐのずれの影響も低減できる可能性がある。これに対し、終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄは他の記録パルスパラメータから独立しており、終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄのずれは、記録パワーパラメータの変化により低減されにくい。したがって、まず終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄを、次に始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐを変化させて試し書きを行うことで、より効率よく最適条件設定を行うことができると考えられるためである。
【０１０９】
図１３のフローチャートを用いて、一例として、Ｂ処理で、記録マークの後エッジ部位置を変化させる終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄと、記録マークの前エッジ部位置を変化させる始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐとの両記録パルスパラメータを変化させる場合を説明する。
【０１１０】
まず、Ｓ５１において、予め定めている変化量全ての値を使用したか、つまり、終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄに対して、所定範囲内で定められている変化量の全てを使用したかどうかの判定を行う。全条件を使用していない場合は、Ｓ５２に進み、全てのマーク長のうち少なくとも一つのマーク長に対する記録パルスパラメータとして、終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄに変化を加えて設定する。Ｓ５２で設定されたパラメータを用いて、Ｃの試し書き処理を行う（Ｓ５３）。Ｃ処理において、ＯＫが返ってきた場合は（Ｓ５４）、Ｂ処理としてＯＫを返す。一方、Ｃ処理において、ＯＫが返ってこなかった場合は、Ｓ５１に戻り、変化量全てが使用されたかどうかの判定を行い、まだ使用する変化量がある場合は、Ｓ５２に進む。
【０１１１】
一方、変化量全てを使用した場合は、Ｓ５５に進み、予め定めている変化量全ての値を使用したか、つまり、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐに対して、所定範囲内で定められている変化量の全てを使用したかどうかの判定を行う。全条件を使用していない場合は、Ｓ５６に進み、全てのマーク長のうち少なくとも一つのマーク長に対する記録パルスパラメータとして、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐに変化を加えて設定する。Ｓ５６で設定されたパラメータを用いて、Ｃの試し書き処理を行う（Ｓ５７）。Ｃ処理において、ＯＫが返ってきた場合は（Ｓ５８）、Ｂ処理としてＯＫを返す。一方、Ｃ処理において、ＯＫが返ってこなかった場合は、Ｓ５５に戻り、変化量全てが使用されたかどうかの判定を行い、まだ使用する変化量がある場合は、Ｓ５６に進む。一方、変化量全てを使用した場合は、Ｂの処理としてＮＧを返す。
【０１１２】
このように、記録パルスパラメータのずれの影響を考え、影響のより大きな終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄに対してまず試し書きを行い、次に始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐに対して試し書きを行うことで、効率のよい最適条件設定を行うことができる。
【０１１３】
また、Ａ処理において、記録マークのマーク幅を変化させる記録パルスパラメータ（言い換えれば、記録パワーパラメータに影響を与える記録パルスパラメータ）である始端部パルス幅Ｔｔｏｐ、中間部パルス幅Ｔｍｐを変化させて試し書きを行い、Ｂ処理では、始端部パルス幅Ｔｔｏｐ、中間部パルス幅Ｔｍｐを変化させることなく、残りの記録パルスパラメータである始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐと終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄを変化させて試し書きを行い、再生信号品質が所定の条件を満たす記録パルス条件、或いは記録パルス条件と記録パワー条件とを設定するといったこともできる。
【０１１４】
以上のように、本実施の形態では、まずは、全てのマーク長に対し、標準（既定）の定の各記録パルス条件に一律の変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する（記録パルス条件一律変化処理）ようになっている。つまり、発生の可能性が高く、全てのマーク長に影響のある装置側の特性のばらつきに対して、先に補正を行う。
【０１１５】
そして、記録パルス条件一律変化処理にて、良好な再生結果（予め定める信号品質を満たす再生結果）が得られなかった場合にのみ、少なくとも一つのマーク長の組み合わせに対し、記録パルス条件に変化を加えて試し書きと再生を行い、予め定める信号品質を満たす再生結果が得られる記録パルス条件を探索する（記録パルス条件部分変化処理）。ディスク側の特性のばらつきは装置側のそれよりも発生の可能性が低く、また、マーク長毎或いは組み合わせ毎に記録パルス条件を変化させていく必要があるため、所要時間も長い。したがって、このような順で良好な再生結果を得ることのできる記録パルス条件の探索を行うことで、たとえ装置側とディスク側との両方に特性のばらつき生じていても、最適な記録条件の設定（記録条件の補正）を効率よく行うことができる。
【０１１６】
しかも、本実施の形態では、記録パルス条件部分変化処理では、先に行った記録パルス条件部分一律変化処理において予め定める信号品質を満たすに最も近かった記録パルス条件を用いて行うようになっているので、記録パルス条件部分変化処理おいて良好な再生結果（予め定める信号品質を満たす再生結果）を効率よく得ることができ、記録条件設定に要する時間を短縮することができる。
【０１１７】
なお、本実施の形態は本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の範囲内で種々の変更が可能である。例えば、記録条件の設定は、各トラックにおいて少なくとも１回行うことが望ましいが、必ずしも全てのトラックで行う必要はなく、複数トラックごとであってもよい。
【０１１８】
また、本実施の形態は、全てのマーク長に対して、既定の各記録パルス条件に変化を加えた場合の説明を行っているが、必ずしも全てのマーク長に対して行う必要はない。例えば、２Ｔマークから８Ｔマークまでの全てのマーク長の記録パルス条件のうちの３Ｔマークから８Ｔマークまでといったように、複数の記録マーク長の記録パルス条件に変化を加えたとしても、同様にレーザ特性のばらつきを主要因とする記録パルス条件の影響を低減し、信号品質を良化するという効果を得ることができる。
【０１１９】
このとき、全てのマーク長のうちの半数以上のマーク長、或いは、全てのマーク長とスペース長の組み合わせのうちの半数以上の組み合わせに対し、既定の各記録パルス条件に変化を加えて試し書きを行えば、レーザ特性のばらつきを主要因とする記録パルス条件の影響のうち半分以上の影響を低減することができ、信号品質を良化するという効果を得ることができる。ここで半数以上の組み合わせは、任意の組み合わせで半数以上であればよい。
【０１２０】
ここで、図２０のフローチャートを用いて、全てのマーク長のうちの半数以上のマーク長に対し、既定の各記録パルス条件に変化を加えて試し書きを行うことで、装置側のばらつきによる影響の低減を図る別の実施の形態である記録再生装置としての光ディスク装置における、上記Ａ処理の動作手順を説明する。本光ディスク装置では、Ａ処理として記録パルス条件変化処理（第１の探索ステップ）を行う。ここでは、まず、予め定めている変化量全ての値を使用したか、つまり、記録パルス条件を構成する複数ある記録パルスパラメータのうちの所定のパラメータに対して、所定範囲内で定められている変化量の全てを使用したかどうかの判定を行う（Ｓ６１）。例えば、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐとに対して、１ｎｓ、２ｎｓ、３ｎｓ、−１ｎｓ、−２ｎｓ、−３ｎｓの順で変化を加えるといった条件が定められているとすると、ここで、これら６通りの変化を与え終わるまでは、全条件を使用していないとしてＮＯと判定する。
【０１２１】
全条件を使用していない場合は、Ｓ６２に進み、全てのマーク長のうちの半数以上のマーク長に対する記録パルス条件（所定の記録パルスパラメータ）に対して、変化を加えて設定する。Ｓ６２では、パルス幅を変化させる場合、まずパルス幅が増加する方向に対する変化を加えるようにすることが好ましい。これは、図１０の結果において、パルス幅が２ｎｓ減少させた場合よりも、２ｎｓ増加させた場合のほうが、標準条件に近いエラーレートが得られているためである。
【０１２２】
そして、Ｓ６２で設定された記録パルス条件を用いて、前述の試し書き処理（Ｃ処理）を行う（Ｓ６３）。Ｃ処理の結果として、ＯＫが返ってきたかどうかを判定し（Ｓ６４）、ここでＯＫが返ってきた場合は、Ａ処理としてＯＫを返す。一方、Ｃ処理において、ＯＫが返ってこなかった場合は、Ｓ６１に戻り、実行すべき全条件が使用されたかどうかの判定を行い、まだ試していない変化量がある場合は、Ｓ６２に進む。一方、試すべき変化量を全て試して全条件終了の場合が、Ａ処理としてＮＧを返す。
【０１２３】
なお、図２０内では、全てのマーク長のうちの半数以上のマーク長を対象とする例を説明したが、全てのマーク長とスペース長の組み合わせのうちの半数以上の組み合わせを対象としてもよい。
【０１２４】
また、各記録パルス条件に加える変化量も、必ずしも一律でなくてもよく、例えば、一律に−２ｎｓ与えていたところを、−２ｎｓと−１ｎｓ、±０ｎｓが混在するように各記録パルス条件に変化量を与えたとしても、同様にレーザ特性のばらつきを主要因とする記録パルス条件の増加に対する影響を低減し、信号品質を良化するという効果を得ることができる。
【０１２５】
図１６に、あるディスクの標準記録条件として既定されている記録パルス条件のうちの、始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐの２つの記録パルスパラメータに対して、変化を加えた場合のエラーレートの変化を示す。横軸に設定した５つの記録パルス条件１〜５を、縦軸に各記録パルス条件で記録再生を行った場合のエラーレートを示す。
【０１２６】
記録パルス条件１は、既定されている記録パルス条件である。記録パルス条件２は、記録パルス条件１に対して、全てのマーク長の始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐとに一律＋２ｎｓの変化を与えた記録パルス条件である。記録パルス条件３は、記録パルス条件１に対して、全てのマーク長ではなく、３Ｔマーク以上の始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐとに＋２ｎｓの変化を与えた記録パルス条件である。記録パルス条件４は、記録パルス条件１に対して、４Ｔマーク以上の始端部パルス幅Ｔｔｏｐのみ変化を与えず（±０ｎｓの変化）、他の始端部パルス幅Ｔｔｏｐと、中間部パルス幅ＴＴｍｐとには＋２ｎｓの変化を与えた記録パルス条件である。記録パルス条件５は、記録パルス条件１に対して、４Ｔマーク以上の始端部パルス幅Ｔｔｏｐには変化を与えず（±０ｎｓの変化）、それ以外の３Ｔマーク以上の始端部パルス幅Ｔｔｏｐと中間部パルス幅Ｔｍｐに対して＋２ｎｓの変化を与えた記録パルス条件である。
【０１２７】
図１６に示すように、記録パルス条件２から記録パルス条件５のいずれも、記録パルス条件１よりもエラーレートが良くなっており、記録パルス条件の変化において、必ずしも全てのマーク長に対して変化を与える必要はなく、かつ、与える変化量が必ずしも一律でなくてもよいことがわかる。
【０１２８】
また、本実施の形態では、全てのマーク長に対して、既定の各記録パルス条件に変化を加えて、レーザ特性のばらつきを主要因とする記録パルス条件の影響を低減し、信号品質を良化するという効果を得ることを説明している。しかしながら、パルス幅といった記録パルス条件に対する設定値に変化を与えるのではなく、レーザ駆動回路１４（図２参照）において、レーザの立ち上がり特性、及び／又は、レーザの立ち下がり特性に変化を与えることでも、結果的に出射される記録パルスが変化することになり、同様にレーザ特性のばらつきの影響を低減し、信号品質を良化するという効果を得ることができる。
【０１２９】
レーザの立ち上がり特性は、レーザの立ち上がり時間、立ち上がりの開始位置、立ち上がり完了位置の少なくとも何れかを換えることで変化させることができる。また、レーザの立ち下がり特性は、レーザの立ち下がり時間、立ち下がりの開始位置、立ち下がり完了位置の少なくとも何れかを換えることで変化させることができる。
【０１３０】
ここで、図２１のフローチャートを用いて、レーザの立ち上がり特性に変化を加えて試し書きを行うことで、装置側のばらつきによる影響の低減を図るさらなる別の実施の形態である記録再生装置としての光ディスク装置における、上記Ａ処理の動作手順を説明する。本光ディスク装置では、Ａ処理としてレーザ立ち上がり特性変化処理（第１の探索ステップ）を行う。ここでは、まず、予め定めている変化量全ての値を使用したか、つまり、レーザ立ち上がり特性を構成する複数あるパラメータのうちの所定のパラメータに対して、所定範囲内で定められている変化量の全てを使用したかどうかの判定を行う（Ｓ７１）。全条件を使用していないとしてＮＯと判定する。
【０１３１】
全条件を使用していない場合は、Ｓ７２に進み、レーザ立ち上がり特性に対して、変化を加えて設定する。そして、Ｓ７２で設定されたレーザ立ち上がり特性を用いて、前述の試し書き処理（Ｃ処理）を行う（Ｓ７３）。Ｃ処理の結果として、ＯＫが返ってきたかどうかを判定し（Ｓ７４）、ここでＯＫが返ってきた場合は、Ａ処理としてＯＫを返す。一方、Ｃ処理において、ＯＫが返ってこなかった場合は、Ｓ７１に戻り、実行すべき全条件が使用されたかどうかの判定を行い、まだ試していない変化量がある場合は、Ｓ７２に進む。一方、試すべき変化量を全て試して全条件終了の場合が、Ａ処理としてＮＧを返す。
【０１３２】
なお、図２１内では、レーザ立ち上がり特性を例に挙げて説明したが、レーザの立ち下がり特性を変化させてもよく、また、レーザ立ち上がり特性とレーザ立ち下がり特性の両方を変化させてもよい。
【０１３３】
また、本実施の形態は、マーク長に対する記録パルスパラメータを用いて説明を行っているが、マーク長とスペース長との組み合わせに対してパラメータが設定されている場合にも同様に用いることができる。
【０１３４】
また、図４において、記録情報、これに対応するパルス列、および形成される記録マークの形状を示したが、図１４のように、パルス列を構成する始端部と中間部、終端部のうち、最後尾の記録パルス幅とパルス終了位置を終端部とする構成にしてもよい。このとき、最後尾の記録パルス幅も、記録マークの後エッジを変化させる要素となる。
【０１３５】
図１５に、最後尾の記録パルス幅とパルス終了位置を終端部とする構成とした場合の、２Ｔマークから８Ｔマークまでのそれぞれを形成するためのパルス列と、該パルス列を実現するための記録パルス条件を示す。記録パルス条件は、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐ、始端部パルス幅Ｔｔｏｐ、終端部パルス終了位置ｄＴｅｎｄ、中間部パルス幅Ｔｍｐ、終端部パルス幅Ｔｌａｓｔ等の複数種類の要素の組み合わせにて構成されることになる。
【０１３６】
また、上記光ディスク装置１は、制御部２０の各機能を実現するプログラム（記録条件設定プログラム）の命令を実行する演算手段であるＣＰＵ（Central Processing Unit）
、上記プログラムを格納した記憶手段であるＲＯＭ（Lead Only Memory）、上記プログラムを展開する記憶手段であるＲＡＭ（Random Access Memory）、上記プログラム及び各種データを格納する記憶手段であるメモリ等の図示しない記憶装置（記憶媒体）等を備えている。
【０１３７】
そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウエアである制御プログラムのプログラムコード（実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム）をコンピュータで読み取り可能にした記録媒体を、上記光ディスク装置１に供給し、そのコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。この場合、記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が上述した機能を実現することにより、そのプログラムコードを記録した記録媒体は本発明を構成することになる。
【０１３８】
また、本実施の形態の制御プログラムは、上記記載の光ディスク装置１を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを前記の各手段として機能させる。
【０１３９】
したがって、コンピュータを前記の各手段として機能させる制御プログラムを提供することができる。
【０１４０】
また、本実施の形態のコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、上記記載の制御プログラムを記録したものである。
【０１４１】
したがって、制御プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することができる。
【０１４２】
また、本発明は、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータに一律に変化を加えるステップと、設定された記録パルスパラメータを用いて光ディスク上に第１の試し書きを行うステップと、上記第１の試し書きを再生し、その再生信号を検出するステップと、上記第１の試し書きの再生結果に基づいて、全てのマーク長のうち少なくとも一つのマーク長に対する記録パルスパラメータに変化を加えるステップと、設定された記録パルスパラメータを用いて光ディスク上に第２の試し書きを行うステップと、上記第２の試し書きを再生し、その再生信号を検出するステップと、上記第２の試し書きの再生結果に基づいて記録条件を決定するステップと、を備えることを特徴とする光パルス条件設定方法であるとも言える。
【０１４３】
また、本発明は、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータに一律に変化を加える記録パルスパラメータ一律変更手段と、全てのマーク長のうち少なくとも一つのマーク長に対する記録パルスパラメータに変化を加える記録パルスパラメータ部分変更手段と、光ディスク上に試し書きを行う試し書き手段と、上記試し書きを再生し、その再生信号を検出する再生信号検出手段と、再生結果に基づいて記録条件を決定する記録条件決定手段とを備える光記録再生装置において、上記記録パルスパラメータ一律変更手段で設定した記録パルスパラメータを用いて試し書きを行った後、その再生結果に基づいて記録パルスパラメータ部分変更手段により記録パルスパラメータを設定し、試し書きを行うことを特徴とする光記録再生装置であるとも言える。
【０１４４】
この場合、さらに、上記試し書き手段において、複数の記録パワーパラメータにて光ディスク上に試し書きを行うことを特徴とすることもできる。また、上記記録パルスパラメータのうち、記録パワーパラメータに影響を与えるパラメータに変化を加えること、記録マークの前エッジ部を変化させる記録パルスパラメータに対して変化を加えること、記録マークの後エッジ部を変化させる記録パルスパラメータに対して変化を加えることをそれぞれ特徴とすることもできる。記録マークの前エッジ部を変化させる記録パルスパラメータと、記録マークの後エッジ部を変化させる記録パルスパラメータの両方に変化を加える場合は、記録マークの後エッジ部を変化させる記録パルスパラメータに変化を加えた後、記録マークの前エッジ部を変化させる記録パルスパラメータの変化を加えることを特徴とすることもできる。
【０１４５】
また、さらに、上記記録パルスパラメータ一律変更手段と、記録パルスパラメータ部分変更手段のいずれか、あるいは両方において、パルス幅が増加する方向に対する変化を先に加えることを特徴とすることもできる。
【０１４６】
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０１４７】
本発明は、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−Ｒ等の記録可能な光ディスクを扱う記録再生装置等に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１４８】
【図１】本発明の実施の一形態を示すもので、光ディスク装置において実施される記録条件設定処理のフローチャートである。
【図２】上記光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図３】上記光ディスク装置により情報が記録される光ディスクを示す斜視図である。
【図４】記録情報に対応するパルス列の設定を説明するタイミングチャートである。
【図５】２Ｔマークから８Ｔマークを形成するためのパルス列及び記録パルス条件を構成する各種記録パルスパラメータを説明するタイミングチャートである。
【図６】設定した波形と、レーザ特性のずれの影響を受けて変化する出力波形の例を示す波形図である。
【図７】図１のフローチャートにおけるＳ１の記録パルス条件一律変化処理のフローチャートである。
【図８】図１のフローチャートにおけるＳ４２の記録パルス条件部分変化処理のフローチャートである。
【図９】図７のフローチャートのＳ１３、或いは図８のフローチャートのＳ２３における、試し書き処理の一例のフローチャートである。
【図１０】記録パルスずれの記録／再生性能に対する影響を示す説明図である。
【図１１】記録パルスずれの記録／再生性能に対する影響を示す説明図である。
【図１２】図７のフローチャートのＳ１３、或いは図８のフローチャートのＳ２３における、試し書き処理の別の例のフローチャートである。
【図１３】図８のフローチャートにおける記録パルス条件部分変化処理の一例のフローチャートである。
【図１４】記録情報に対応するパルス列の設定を説明するタイミングチャートである。
【図１５】２Ｔマークから８Ｔマークを形成するためのパルス列及び記録パルス条件を構成する各種記録パルスパラメータを説明するタイミングチャートである。
【図１６】記録パルスずれの記録／再生性能に対する影響を示す説明図である。
【図１７】記録パルスずれの記録／再生性能に対する影響を示す説明図である。
【図１８】上記光ディスク装置の制御部の構成を示すブロック図である。
【図１９】変形例の光ディスク装置の制御部の構成を示すブロック図である。
【図２０】本発明のその他の実施の形態を示すもので、図１のフローチャートにおけるＳ１の記録パルス条件一率変化処理に換えて実施でする記録パルス条件変化処理のフローチャートである。
【図２１】本発明のその他の実施の形態を示すもので、図１のフローチャートにおけるＳ１の記録パルス条件一律変化処理に換えて実施するレーザ立ち上がり特性変化処理のフローチャートである。
【符号の説明】
【０１４９】
１  光ディスク装置（記録再生装置）
１０  光ディスク（記録媒体）
１２  ピックアップ
１６  記録再生回路群
２０  制御部（記録条件設定装置、記録条件決定手段、第１の探索手段、
第２の探索手段）
３０  センサ
４１  設定用領域
【図１】
2005190649.tif 000003
【図２】
2005190649.tif 000004
【図３】
2005190649.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2005190649.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
2005190649.tif 000021
【図２０】
2005190649.tif 000022
【図２１】
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