(57)【要約】【課題】  外乱が発生しても記録特性が安定する光ディスク記録装置を提供する。【解決手段】  ＯＰＣ時（学習時）に記録対象ディスク（光ディスク）のテスト領域から第１の再生反射光量Ｘを得、データ記録開始直前時に記録対象ディスクのデータ領域から第２の再生反射光量Ｙを得、Ｂ／Ａ目標値補正部１０がこれら第１と第２の再生反射光量Ｘ、Ｙを基に目標Ｂ／Ａ学習値を補正し、この補正した目標Ｂ／Ａ値学習値をＲＯＰＣ部２０のＢ／Ａ目標値格納部２１に記憶させる。当該光ディスク記録装置は、この補正した目標Ｂ／Ａ値学習値により記録パワー制御を行う。【選択図】    図１
2005190599.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、
前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、
前記第１及び第２の再生反射光量を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段と、
データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、
前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク記録装置であって、前記目標光強度補正手段は、前記光強度補正量に加えて、前記光強度補正量を基に記録電流補正量を生成し、前記光強度安定化手段は、前記記録電流補正量を基に前記記録電流を補正して前記レーザ光照射手段へ出力することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
前記目標反射光量比補正手段は、前記学習した前記目標反射光量比に対し、前記第１の再生反射光量と前記第２の再生反射光量の比を乗算して前記更新目標反射光量比を生成することを特徴とする請求項１もしくは２のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】
データ記録終了後、追記を行う場合に、該追記動作に先立ち、光ディスク上の追記する領域で新たな前記第２の再生反射光量を得、この新たな前記第２の再生反射光量を以って前記目標反射光量比補正手段による前記学習した前記目標反射光量比の補正を行うことを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項５】
ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で前記第１のレーザ光の目標光強度を学習し、前記データ領域へのデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度と前記学習した前記目標光強度とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、
前記学習した前記目標光強度を保持し、この保持した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの保持した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、
該光ディスク記録装置の内部温度を検出する温度センサ手段と、
前記温度センサ手段の検出温度値に応じてデータ記録中の前記第１のレーザ光の光強度の上限・下限を決定し、前記光強度安定化手段により生成される前記記録電流を制御する可変記録パワーリミッタ手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、
前記学習した前記目標反射光量比を保持し、この保持した前記目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、
前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、
該光ディスク記録装置の内部温度を検出する温度センサ手段と、
前記温度センサ手段の検出温度値に応じてデータ記録中の前記第１のレーザ光の光強度の上限・下限を決定し、前記光強度安定化手段により生成される前記記録電流を制御する可変記録パワーリミッタ手段と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項７】
請求項６記載の光ディスク記録装置であって、
前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、
前記第１及び第２の再生反射光量を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段を備え、
前記目標光強度補正手段が、データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に前記光強度補正量を生成する
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項８】
請求項６もしくは７のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記目標光強度補正手段は、前記光強度補正量に加えて、前記光強度補正量を基に記録電流補正量を生成し、前記光強度安定化手段は、前記記録電流補正量を基に前記記録電流を補正して前記レーザ光照射手段へ出力することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項９】
前記可変記録パワーリミッタ手段は、メディアメーカ別に所定温度範囲毎の前記第１のレーザ光の光強度の上限・下限を決定することを特徴とする請求項５ないし８のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項１０】
ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、
前記学習時に、前記テスト領域にて前記第１のレーザ光の光強度を段階的に変化させて所定のピットを形成し各光強度毎に前記反射光量比を測定するように構成されており、
前記学習した前記目標反射光量比を保持し、この保持した前記目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、
前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、
該光ディスク記録装置の内部温度を検出する温度センサ手段と、
前記温度センサ手段の検出温度値に応じた更新目標光強度を生成する温度可変目標光強度生成手段と、
前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比と前記学習した前記目標光強度とを基に、前記データ領域における前記第１のレーザ光の光強度と前記反射光量比の特性を二つの領域に分ける記録パワー境界値を求め、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度と前記記録パワー境界値とを比較し、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下であるときには前記光強度安定化手段へ前記光強度補正量を入力させ、前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記光強度安定化手段への前記光強度補正量の入力を停止させる反射光量比変動検査手段と、
を備え、前記反射光量比変動検査手段による前記検知がなされると、前記光強度安定化手段は、前記学習した前記目標光強度に代えて前記温度可変目標光強度生成手段が生成する前記更新目標光強度を基に前記記録電流を生成することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１１】
前記反射光量比変動検査手段は、前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比を基に、前記段階的に変化された各光強度に対する前記反射光量比の傾きを算出し、この算出した傾き群から前記学習した前記目標光強度近傍の前記傾きを求め、前記段階的に変化された各光強度のうちの前記学習した前記目標光強度以上の光強度に対応する前記傾きと前記目標光強度近傍の前記傾きとの差分値をそれぞれ求め、この差分値群の各絶対値を順次所定のしきい値と比較し、最初に前記所定のしきい値より大きいと判定された前記差分値に対応する前記傾きを算出する元となった光強度を前記記録パワー境界値として記憶することを特徴とする請求項１０記載の光ディスク記録装置。
【請求項１２】
前記温度可変目標光強度生成手段は、前記反射光量比変動検査手段による前記検知がなされた時点で前記温度センサ手段から出力される検出温度値と観測される前記第１のレーザ光の光強度を記憶するとともに、この記憶した光強度を前記更新目標光強度として前記光強度安定化手段に記憶させ、該検知がなされた時点以降は、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下となるまで、記憶した検出温度値と前記温度センサ手段から出力される検出温度値との増減の差分が所定値に達する毎に、記憶した光強度に対し所定の補正量だけ増減し、この増減後の光強度とその時前記温度センサ手段から出力される検出温度値を再度記憶するとともに、この増減後の光強度を前記更新目標光強度として前記光強度安定化手段に記憶させることを特徴とする請求項１０もしくは１１のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項１３】
請求項１０ないし１２のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、
前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、
前記第１及び第２の再生反射光量比を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段を備え、
前記目標光強度補正手段が、データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に前記光強度補正量を生成する
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１４】
請求項１０ないし１３のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記目標光強度補正手段は、前記光強度補正量に加えて、前記光強度補正量を基に記録電流補正量を生成し、前記光強度安定化手段は、前記記録電流補正量を基に前記記録電流を補正して前記レーザ光照射手段へ出力し、前記反射光量比変動検査手段は、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下であるときには前記光強度安定化手段へ前記光強度補正量及び前記記録電流補正量を入力させ、前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記光強度安定化手段への前記光強度補正量及び前記記録電流補正量の入力を停止させることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１５】
請求項１０ないし１３のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、
前記学習した前記目標光強度と前記温度可変目標光強度生成手段により生成される前記更新目標光強度を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第１のセレクタ手段と、
前記目標光強度補正手段により生成される前記光強度補正量とゼロ値を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第２のセレクタ手段と、
を備え、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記反射光量比変動検査手段はフラグ信号をオンし、前記第１のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンすると前記更新目標光強度を選択し、前記第２のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンするとゼロ値を選択することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１６】
請求項１４記載の光ディスク記録装置であって、
前記学習した前記目標光強度と前記温度可変目標光強度生成手段により生成される前記更新目標光強度を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第１のセレクタ手段と、
前記目標光強度補正手段により生成される前記光強度補正量とゼロ値を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第２のセレクタ手段と、
前記目標光強度補正手段により生成される前記記録電流補正量とゼロ値を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第３のセレクタ手段と、
を備え、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記反射光量比変動検査手段はフラグ信号をオンし、前記第１のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンすると前記更新目標光強度を選択し、前記第２及び第３のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンするとゼロ値を選択することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１７】
請求項１０もしくは１６のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記記録パワー境界値にヒステリシス特性を持たせ、前記反射光量比変動検査手段は、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下のときには前記記録パワー境界値を用いて前記比較を行い、前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えているときには前記記録パワー境界値を所定量減少させた記録パワー値を用いて前記比較を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１８】
ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、
前記学習時に、前記テスト領域にて前記第１のレーザ光の光強度を段階的に変化させて所定のピットを形成し各光強度毎に前記反射光量比を測定するように構成されており、
前記学習した前記目標反射光量比を保持し、この保持した前記目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、
前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、
前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比と前記学習した前記目標光強度とを基に、データ領域における前記第１のレーザ光の光強度と前記反射光量比の特性を二つの領域に分ける記録パワー境界値を求め、さらにこの求めた前記記録パワー境界値と前記学習した前記目標光強度との差分量を算出する反射光量比変動検査手段と、
前記差分量と外部から指定された光ディスク回転速度とを基に光ディスク回転速度を決定する記録速度決定手段と、
を備え、前記記録速度決定手段により決定された光ディスク回転速度にて、前記データ領域へのデータ記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１９】
前記反射光量比変動検査手段は、前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比を基に、前記段階的に変化された各光強度に対する前記反射光量比の傾きを算出し、この算出した傾き群から前記学習した前記目標光強度近傍の前記傾きを求め、前記段階的に変化された各光強度のうちの前記学習した前記目標光強度以上の光強度に対応する前記傾きと前記目標光強度近傍の前記傾きとの差分値をそれぞれ求め、この差分値群の各絶対値を順次所定のしきい値と比較し、最初に前記所定のしきい値より大きいと判定された前記差分値に対応する前記傾きを算出する元となった光強度を前記記録パワー境界値とすることを特徴とする請求項１８記載の光ディスク記録装置。
【請求項２０】
請求項１８もしくは１９のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記記録速度決定手段は、前記差分量と前記外部から指定される記録速度から最終的な記録速度を決定するためのテーブル情報を保持しており、前記記録速度決定手段により決定された記録速度にて、前記データ領域へのデータ記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２１】
請求項２０に記載の光ディスク記録装置であって、前記記録速度決定手段は、メディアメーカ別の前記テーブル情報を予め保持しており、メディアメーカ毎に記録速度を決定することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２２】
請求項２０もしくは２１のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記記録速度決定手段は、前記テーブル情報による記録速度の決定に際し、記録速度を決定不能の場合には、記録が不能であることを外部へ教示することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２３】
請求項１８ないし２２のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、
前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、
前記第１及び第２の再生反射光量を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段を備え、
前記目標光強度補正手段が、データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に前記光強度補正量を生成する
ことを特徴とする光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、追記・書換え可能な光ディスクに対し、データ信号を高速・高密度で安定して記録する光ディスク記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク記録装置は、データ記録時に、光ディスクからの反射光量を基にレーザパワー（光強度）を制御していた（例えば、特許文献１参照。）。以下、従来の光ディスク記録装置における記録パワー制御について説明する。
【０００３】
例えばＤＶＤ−Ｒ等の追記型光ディスクにデータ信号を記録する場合、一般的な光ディスク記録装置は、データ信号に誤り訂正のためのパリティを付加し、さらにその信号をＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）方式により変調して、記録を行っていた。
【０００４】
この変調された信号には、信号レベルがハイレベル時又はローレベル時の時間幅として、所定の基準時間幅Ｔを３ないし１１倍して得られる９通りの時間幅３Ｔないし１１Ｔが与えられている。
【０００５】
従来の光ディスク記録装置は、この変調された信号に基づき、例えば信号レベルがハイレベルである場合にパルス状のレーザ光を照射し、光ディスクの記録層にピット（マーク）を形成することにより、光ディスクにデータ信号を記録していた。なお、マーク期間以外の箇所は、一般にスペースと呼ぶ。
【０００６】
以下、ピットを形成するレーザ光を第１のレーザ光、この第１のレーザ光のレーザパワー（光強度）を記録パワーと称す。同様に、ピットを形成しないレーザ光すなわちスペースを形成するレーザ光を第２のレーザ光、この第２のレーザ光のレーザパワー（光強度）を再生パワーと称す。なお第２のレーザ光は、ディスク再生時にも使用される。
【０００７】
従来の光ディスク記録装置は、データ信号の記録を行う前に、記録パワー学習処理（以下、「ＯＰＣ」と称す。）を行う。一般に、追記型光ディスクは、ＯＰＣを行うためのパワーキャリブレーションエリア（以下、「ＰＣＡ」と称す。）を有している。ＰＣＡは、テストエリアとカウントエリアとからなる。テストエリアとカウントエリアはそれぞれ複数のパーティションを有し、テストエリアの１パーティションも、複数フレームを有している。
【０００８】
従来の光ディスク記録装置は、ＯＰＣ時、先ずＰＣＡなどのテスト領域に所定の信号を記録する。例えば、従来の光ディスク記録装置は、テスト領域の１５フレーム間で１５段階の記録パワーを用いてピット形成を行う。そして従来の光ディスク記録装置は、その記録箇所を再生して最も記録特性の良い記録パワーを検出し、これを目標記録パワー学習値（第１のレーザ光の目標光強度）として取得する。
【０００９】
さらに、従来の光ディスク記録装置は該目標記録パワー学習値による所定のテスト記録を行い、マーク先端とマーク後端の反射光量比（以下、「Ｂ／Ａ値」と称す。）を測定し、該Ｂ／Ａ値を目標Ｂ／Ａ学習値（目標反射光量比）として取得する。
【００１０】
従来の光ディスク記録装置は、実際のデータ記録時には、動的なレーザ制御（以下、「ＡＰＣ」と表現する。）とランニングＯＰＣ（以下、「ＲＯＰＣ」と称す。）を行う。ＡＰＣは、レーザピックアップから出力されるパワーモニタ信号（第１のレーザ光の光強度を観測するための信号）が所定の目標記録パワーに追従するように記録パワーを制御する処理であり、レーザ自身の特性や環境温度などによる比較的ゆったりした変動に対応するための処理である。
【００１１】
一方、ＲＯＰＣは、目標Ｂ／Ａ学習値とデータ記録中のＢ／Ａ測定値（データ記録中に測定される反射光量比）を比較し、その比較結果に基づいて目標記録パワーを随時補正する処理である。つまり、一般に、データ記録中のＢ／Ａ測定値を監視することで記録特性の変化を検知することができるので、従来の光ディスク記録装置はＲＯＰＣにより記録特性の変化を検知して目標記録パワーを補正し、記録特性が安定するようにしていた。
【００１２】
Ｂ／Ａ値を検出するためのマーク（ピット）には、時間幅９Ｔ〜１１Ｔを有するマークが使用される。マーク後端の反射光量（Ｂレベル値）と、マーク先端の反射光量（Ａレベル値）の比率が、Ｂ／Ａ値となる。
【００１３】
図１０に、Ｂ／Ａ値の算出例を示す。図１０（ａ）は上述したＥＦＭ変調後の信号波形を示す。また図１０（ｂ）は、半導体レーザダイオードから出力されたレーザ光の光強度（レーザパワー）を示す。
【００１４】
図１０（ｂ）において、「Ｐｗ」はマーク（ピット）形成時のレーザパワー値であり記録パワー値に相当する。また、「Ｐｂ」はマーク（ピット）を形成しない時（つまりスペース形成時）のレーザパワー値であり再生パワー値に相当する。
【００１５】
図１０（ｃ）は光ディスク上に形成されたマーク、スペースを示す。図１０（ｂ）に示すレーザ光が照射されると、図１０（ｃ）に示すように３Ｔマークと９Ｔマークが形成される。
【００１６】
図１０（ｄ）は、光ディスクからの反射光を電気信号に変換して得た信号波形を示す。この信号波形の振幅値は光ディスクからの反射光量に相当する。また、図１０（ｅ）は該電気信号をローパスフィルタに通して取得した信号波形を示す。図１０（ｅ）において、Ｌ１箇所のＶａは第２のレーザ光の反射光量から取得した信号レベル、Ｌ２箇所のＶｂはパルス状の第１のレーザ光（マルチパルス部）の反射光量から取得した信号レベルを示す。
【００１７】
従来の光ディスク記録装置は、Ｂ／Ａ値算出時、図１０（ｅ）に示す波形から反射光量Ａ、Ｂを次の式で算出してＢ／Ａ値を求めていた。
Ａ＝（Ｐｗ／Ｐｂ）×Ｖａ
Ｂ＝（Ｖｂ−Ｖａ）／Ｔｍｐ＋Ｖａ
ここに、Ｔｍｐは図１０（ｂ）に示すマルチパルス部の一周期部分のデューティ比である。
【００１８】
従来の光ディスク記録装置は、以上のように第１のレーザ光と第２のレーザ光の各反射光量（Ｖａ、Ｖｂ）から目標Ｂ／Ａ学習値とデータ記録中のＢ／Ａ測定値を算出し、両者を比較して、データ記録中のＢ／Ａ測定値が目標Ｂ／Ａ学習値となるように目標記録パワーを随時補正していた。
【００１９】
一方、記録特性を検知する他の方法として、アシンメトリを観測する方法がある。図１１に、一定の記録パワー値、再生パワー値でランダムデータが記録された光ディスクの再生波形を重ね合わせたものを示す。光ディスク上の記録パターンは、単位時間Ｔ基準で３Ｔないし１１Ｔの記録長マークと未記録長スペースからなる。作業者は、この再生波形から最長スペース、最短スペース、最長マーク、最短マークのそれぞれの振幅値ＡＨ１、ＡＨ２、ＡＬ１、ＡＬ２を求めて、下記の式を用いてアシンメトリ値ＡＳＹＭ（％）を算出する。
【００２０】
ＡＳＹＭ＝（（（（ＡＨ２＋ＡＬ２）／２）−（（ＡＨ１＋ＡＬ１）／２））／（ＡＨ１−ＡＬ１））×  １００
記録特性が良好な場合、図１１に示す再生波形のアイパターンがくっきり開く。したがって、ＯＰＣ時に得た最も記録特性の良い記録パワーで、外乱の無い状態でランダムデータが記録された光ディスクの再生波形は、アイパターンがはっきりしたものとなる。つまり、このときのアシンメトリ値を目標アシンメトリ値とすると、上記のＡＰＣとＲＯＰＣにより制御された記録パワーでデータ記録された光ディスクの再生波形から算出したアシンメトリ値は、目標アシンメトリ値に追従することになる。
【００２１】
続いて、従来の光ディスク記録装置について図面を交えて詳説する。図１２は、従来の光ディスク記録装置の記録パワー制御部分とメカ制御部分に係る概略ブロック図を示す。
図１２において、記録パワー制御装置１００は上記ＡＰＣとＲＯＰＣを行い、第１のレーザ光の光強度（記録パワー）を制御する。
【００２２】
また、記録パワー制御装置１００において、半導体レーザダイオード（レーザ照射手段）１０１はレーザ光を光ディスクに照射する。また光ディスクはＰＣＡなどのテスト領域とユーザデータエリアなどのデータ領域を有する。モニタ用フォトダイオード１０２は第１のレーザ光の光強度を観測するためのものであり、半導体レーザダイオード１０１からの出力直後の第１のレーザ光を受け、その光強度に対応した電気信号（パワーモニタ信号）を出力する。
【００２３】
サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は光ディスクからの反射光を受け、その反射光量に対応した電気信号を出力する。
Ｂ／Ａ値検出部１０４はサーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３からの電気信号を基にＢ／Ａ値を測定する。また、Ｂ／Ａ値検出部１０４は該電気信号を基に全反射光量信号（ＡＳ信号）を生成する。
【００２４】
ＲＯＰＣ部１０６は上記ＲＯＰＣを行うためのものであり、Ｂ／Ａ値検出部１０４からのＢ／Ａ測定値を基に、後述するＡＰＣ部のゲインを設定する。
ＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）部１０７は上記ＡＰＣを行うためのものであり、モニタ用フォトダイオード１０２の出力とＲＯＰＣ部１０６の出力を基に、半導体レーザダイオード１０１が照射する第１のレーザ光の光強度を制御する。
【００２５】
また、図１２において、サーボエラー検出部１０５は、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３からの電気信号を基に、メカ制御のための観測信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）とフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を生成する。サーボ制御部１０８はＴＥ信号とＦＥ信号、およびＡＳ信号を基に、レーザピックアップのトラッキング、フォーカス制御やディスクの回転制御を行う。また、メカ部１０９はサーボ制御部１０８で制御されるメカ部である。
【００２６】
以下、当該光ディスク記録装置のデータ記録時の動作について説明する。データ記録開始時、まず半導体レーザダイオード１０１はＯＰＣにより得た目標記録パワー学習値に相当する光強度の第１のレーザ光を光ディスクに照射してピットを形成する。モニタ用フォトダイオード１０２は、第１のレーザ光を受け、その光強度を電気信号に変換してＡＰＣ部１０７へ出力する。ＡＰＣ部１０７は、該出力を受け、半導体レーザダイオード１０１から出力される第１のレーザ光の光強度が目標記録パワー学習値に相当する光強度で一定となるように制御する。
【００２７】
サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、光ディスクからの反射光を受け、その反射光量を電気信号に変換して出力する。Ｂ／Ａ値検出部１０４は、該出力を受け、その電気信号の波形からＢ／Ａ測定値を算出する。
【００２８】
ＲＯＰＣ部１０６は、データ記録中に外乱が発生するとデータ記録中のＢ／Ａ測定値と目標Ｂ／Ａ学習値との差に基づいてＡＰＣ部１０６のゲインを調整する。これにより、データ記録中に外乱が発生しても、半導体レーザダイオード１０１から照射される第１のレーザ光の光強度は、Ｂ／Ａ測定値が所定の目標値になるように制御される。
【００２９】
このように記録パワー制御装置１００は、データ信号の記録中に、半導体レーザダイオード１０１から照射される第１のレーザ光の光強度（記録パワー）を、光ディスクの反射光から検出するＢ／Ａ測定値が常に目標Ｂ／Ａ学習値になるように制御している。
【００３０】
図１３は、ＲＯＰＣ部１０６及びＡＰＣ部１０７の構成を示すブロック図である。ＲＯＰＣ部１０６において、Ｂ／Ａ目標値格納部２１は、ＯＰＣにより得た目標Ｂ／Ａ学習値を保持する。減算器２２はＢ／Ａ目標値格納部２１が保持する目標Ｂ／Ａ学習値からＢ／Ａ値検出部１０４の出力（データ記録中のＢ／Ａ測定値）を減算する。ＲＯＰＣループフィルタ２３は減算器２２の出力を所定の周波数特性で制御する。記録電流補正部２４は、ＲＯＰＣループフィルタ２３の出力に基づいて記録電流（後述するＷＡＰＣループフィルタの出力）を補正する。
【００３１】
また、ＡＰＣ部１０７において、記録パワー目標値格納部３１はＯＰＣにより得た目標記録パワー学習値を保持する。加算器３２は、記録パワー目標値格納部３１が保持する目標記録パワー学習値と前述したＲＯＰＣループフィルタ２３の出力（光強度補正量）を加算する。減算器３３はモニタ用フォトダイオード１０２の出力であるパワーモニタ信号から加算器３２の出力を減算する。ＷＡＰＣ（Ｗｒｉｔｅ  ＡＰＣ）ループフィルタ３４は減算器３３の出力を所定の周波数特性で制御する。
【００３２】
加算器３５は、ＷＡＰＣループフィルタ３４の出力と前述した記録電流補正部２４の出力（記録電流補正量）を加算する。加算器３５は、減算器３３の出力がＷＡＰＣループフィルタ３４の制御周波数帯域限界を超える場合に、ＷＡＰＣループフィルタ３４の出力補正を行う。
【００３３】
記録パワーリミッタ３６は、加算器３５の出力に対し上限と下限を設定して上限値を超える場合に上限値を、また下限値を下回る場合に下限値を出力する。記録電流は、記録パワーの設定値となる。半導体レーザダイオード１０１はこの記録電流に基づく光強度（レーザパワー）の第１のレーザ光を照射し、光ディスク上にピットを形成する。
【００３４】
次にＲＯＰＣ部１０６及びＡＰＣ部１０７の動作について説明する。一般に外乱（半導体レーザダイオードの温度変化による出力変化（光強度変化）、光ディスクの形状変化、ディスク記録層の記録感度変化など）が無い状態では、データ記録中のＢ／Ａ測定値と目標Ｂ／Ａ学習値との差は無いので、ＡＰＣ部１０７は、パワーモニタ信号とＯＰＣにより得た目標記録パワー学習値との差分を基に、第１のレーザ光のレーザパワー値（記録パワー値）を半導体レーザダイオード１０１に設定する。
【００３５】
外乱が発生する場合は、記録特性が変化し、データ記録中のＢ／Ａ測定値と目標Ｂ／Ａ学習値に差分が発生するので、該差分を無くすようにＲＯＰＣループフィルタ２３が記録パワーの補正値（光強度補正量）を生成する。その結果、この補正値が加算器３２へ入力されるとともに、減算器３３の出力がＷＡＰＣループフィルタ３４の制御周波数帯域限界を超える場合には、この補正値を受けた記録電流補正部２４の出力（記録電流補正量）が加算器３５へ入力され、記録特性がＯＰＣ時と同等になる。
【００３６】
続いて、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３、Ｂ／Ａ値検出部１０４、及びサーボエラー検出部１０５について図１４を用いて説明する。サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３は、光ディスクからの反射光を受光し、その光強度に対応する電気信号を出力する。Ｂ／Ａ値検出部１０４は該電気信号を受けてＢ／Ａ値を算出するとともに、ＡＳ信号を生成する。サーボエラー検出部１０５は、該電気信号を受けてＴＥ、ＦＥ信号を生成する。
【００３７】
図１４において、Ｔｒは光ディスクのトラックを示し、Ｍｂ、Ｓｂ１、Ｓｂ２は、半導体レーザダイオード１０１からのメインビーム、サブビーム１、サブビーム２を示す。
また、サーボ／ＲＦ用フォトダイオード１０３おいて、メインビーム用フォトダイオード７１は、メインビームＭｂにより生ずる反射光を受光し、その光強度に対応した電気信号（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）を４分割のフォトダイオードから出力する。
【００３８】
一方、サブビーム用フォトダイオード７２、７３は、それぞれサブビームＳｂ１、Ｓｂ２により生ずる反射光を受光し、その光強度に対応した電気信号（Ｅ、Ｆ）、（Ｇ、Ｈ）を２分割のフォトダイオードからそれぞれ出力する。
【００３９】
また、サーボエラー検出部１０５において、サンプルホールド回路７４ａ〜７４ｄは、電気信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄをそれぞれサンプルホールドする。またサンプルホールド回路７４ｅは電気信号Ｅ及び電気信号Ｇをサンプルホールドし、サンプルホールド回路７４ｆは電気信号Ｆ及び電気信号Ｈをサンプルホールドする。
【００４０】
また、ＴＥ演算部７５はサンプルホールド回路７４ａ〜７４ｆの出力を基にＴＥ信号を生成し、ＦＥ演算部７６はサンプルホールド回路７４ａ〜７４ｄの出力を基にＦＥ信号を生成する。
【００４１】
但し、サンプルホールド回路７４ａ〜７４ｆにてサンプルされる信号は、第２のレーザ光の反射光量に対応する電気信号であり、図５におけるＬ１個所の信号である。
また、Ｂ／Ａ値検出部１０４において、加算器７７はメインビーム用フォトダイオード７１から出力される電気信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの和信号を生成する。サンプルホールド回路７８はこの和信号をサンプルホールドする。但し、サンプルホールド回路７８にてサンプルホールドされる信号は、第１及び第２のレーザ光の反射光量に対応する電気信号であり、図５におけるＬ１、Ｌ２個所の信号である（信号レベルＶａ、Ｖｂ）。
【００４２】
Ｂ／Ａ値演算部７９は、サンプルホールド回路７８によりサンプルホールドされた信号レベルＶａ、Ｖｂを基に、前記したＡレベル値とＢレベル値を算出して、Ｂ／Ａ値を求める。
【００４３】
なお、サンプルホールド回路７８が第２のレーザ光の反射光量に対応する電気信号（信号レベルＶａ）をサンプルホールドして出力した信号はＡＳ信号ともなる。
続いて、図１５を用いてＲＯＰＣ部１０６のＢ／Ａ値による記録パワー制御の動作例を示す。図１５に示すグラフは、記録パワーとＢ／Ａ値の特性（記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性曲線）を示す。
【００４４】
ユーザデータエリアなどのデータ領域へデータ記録を開始する場合、従来の光ディスク記録装置はＯＰＣによって得た目標記録パワー学習値Ｐｗ０に相当する記録パワーで記録を開始する。その後Ｂ／Ａ値検出部１０４がデータ記録中のＢ／Ａ測定値を逐次測定するが、外乱の影響を受けるとＢ／Ａ測定値が目標Ｂ／Ａ学習値からずれてくる。
【００４５】
例えば、記録開始時に位置Ｐ０（Ｂ／Ａ０）だったものが、外乱の影響でＢ／Ａ測定値が増加して“Ｂ／Ａ０Ｘ”で安定状態になったとすると、見かけ上、位置が“Ｐ０Ｘ”にずれることになる。
【００４６】
この場合、従来の光ディスク記録装置は“Ｂ／Ａ０Ｘ”を目標である“Ｂ／Ａ０”に戻すためにΔＰ０Ｘだけ記録パワーを増加させる。このように制御することで、最終的に制御後の記録パワー値は“Ｐｗ０＋ΔＰ０Ｘ”となる。
【００４７】
同様に、データ記録中に外乱によりＢ／Ａ測定値が減少して“Ｂ／Ａ０Ｙ”で安定状態になったとすると、見かけ上、位置が“Ｐ０Ｙ”にずれることになるため、従来の光ディスク記録装置は“Ｂ／Ａ０Ｙ”を目標である“Ｂ／Ａ０”に戻すためにΔＰ０Ｙだけ記録パワーを減少させる。このように制御することで、最終的に制御後の記録パワー値は“Ｐｗ０−ΔＰ０Ｙ”となる。
【００４８】
しかしながら、従来の光ディスク記録装置においては、さまざまな外乱による悪影響で、記録パワーが悪化する場合がある。特に、テスト領域でのスペース反射光量（スペース形成時の反射光量であり、Ｖａに相当する）とデータ領域でのスペース反射光量に誤差が発生した場合、ＲＯＰＣ部１０６の制御によって記録開始時の記録パワーが悪化する。
【００４９】
これは、上記の式
Ａ＝（Ｐｗ／Ｐｂ）×Ｖａ
の“Ｐｗ／Ｐｂ”が非常に大きな値（メディアメーカによって異なる）であるため、Ｖａの誤差を増幅することになり、Ａレベル値が大きく変化し、最終的にＢ／Ａ値の誤差が拡大することに起因する。
【００５０】
例えば、図１６において、ＯＰＣによって得た目標記録パワー学習値Ｐｗ０と目標Ｂ／Ａ学習値Ｂ／Ａ０は、ＯＰＣ時の記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性曲線５０１上に存在する（位置Ｐ０）。しかし、該目標記録パワー学習値Ｐｗ０を用いてデータ領域へデータ信号の記録を開始しようとした時点でスペース反射光量が変化して記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が特性曲線５０２の状態になっていたとすると、Ｂ／Ａ測定値はＢ／Ａ１になってしまい、目標Ｂ／Ａ学習値Ｂ／Ａ０より減少する。そのため従来の光ディスク記録装置は、特性曲線５０１上でＢ／Ａ測定値がＢ／Ａ０になるように（言い換えると、位置Ｐ２から位置Ｐ０へ戻すように）記録パワーを制御しようとする。その結果、記録開始時に、急激に記録パワーが“Ｐｗ２−Ｐｗ０”だけ減少してしまう（記録パワーの悪化）。
【００５１】
そのため、外乱によりテスト領域でのスペース反射光量とデータ領域でのスペース反射光量に誤差が発生した場合、図１７に示すように、アシンメトリ特性（記録特性）が、期待されないアシンメトリ特性６０２になるという問題があった。
【００５２】
つまり、Ｂ／Ａ値学習時とデータ記録時のスペース反射光量に誤差がない場合のアシンメトリ特性６０１が本来期待されるのに対し、外乱によるスペース反射光量の誤差の影響を受けて、本来の記録パワーよりも低い記録パワーでデータ信号が記録され、期待されないアシンメトリ特性６０２になってしまう。
【００５３】
特に高・低温状態でのデータ記録時には、テスト領域で得た目標Ｂ／Ａ学習値とデータ領域でのデータ記録開始直後のＢ／Ａ測定値との間の誤差が大きくなり、データ記録開始時の記録パワーが悪化する。これは、テスト領域でのＢ／Ａ値学習時とデータ領域でのデータ記録時の温度状態差によるレーザピックアップの特性変動、光ディスク上での記録位置の違いからくる記録層の記録感度の違いや面形状の相違などの外乱が影響している。
【００５４】
また、高温・低温状態にてデータ記録を行う場合、レーザ照射開始時のレーザピックアップの出力バラツキ、パワーモニタ信号の誤差変動が常温よりも大きくなる。そのため、高温・低温状態にてデータ信号が記録された光ディスクの再生波形より算出したアシンメトリ値は、例えば図２に示す波形２０７のように波打ち、目標アシンメトリ値（図２では“５％”）から大きく外れてしまい、記録特性が悪化するという問題があった。
【００５５】
また、高倍速記録時には低倍速記録時よりも高い記録パワーが必要になるが、高倍速記録時では、記録パワーが高くなると記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が異なってくる。すなわち、図４に示すように、記録パワーが高くなると、特性曲線が右肩上がりになる。
【００５６】
従来は、該特性曲線が右肩下がりであることを前提に、該特性曲線の接線の傾きに基づいてＲＯＰＣを行っていた。そのため、このまま高倍速記録を行おうとすると、特性曲線が右肩上がりになる記録パワーの高い領域においてＲＯＰＣ部により誤った制御がなされるという問題があった。
【特許文献１】特開２０００−２２２７３０号公報（第４−７頁、第４図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００５７】
本発明は、上記問題点に鑑み、ＯＰＣ時（学習時）にテスト領域から第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前時にデータ領域から第２の再生反射光量を得、これら第１と第２の再生反射光量を基に目標Ｂ／Ａ学習値（目標反射光量比）を補正し、この補正した目標Ｂ／Ａ値学習値（更新目標反射光量比）を基に記録パワー制御を行うことにより、外乱が発生しても記録特性が安定する光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【００５８】
また、本発明は、装置内部の温度を検出し、その検出温度値に応じて記録パワーの上限値・下限値を制御することにより、高温・低温状態でのデータ記録時に外乱が発生しても記録特性が安定する光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【００５９】
また、本発明は、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性曲線（図４参照。）が右肩上がりになる記録パワーの境界値を求め、記録パワーがこの記録パワー境界値を越える場合には、ＲＯＰＣ部の機能を停止して温度制御に切り換えることにより、高倍速記録における記録特性が安定する光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【００６０】
また、本発明は、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性曲線が右肩上がりになる記録パワーの境界値と目標記録パワー学習値との差分量及び外部からの記録速度指令より最適な記録速度を決定し、この決定した記録速度でデータ信号を記録することにより、高倍速記録が指令された場合においても記録特性が安定する光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００６１】
本発明の請求項１記載の光ディスク記録装置は、ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、前記第１及び第２の再生反射光量を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段と、データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、を備えることを特徴とする。
【００６２】
また、本発明の請求項２記載の光ディスク記録装置は、請求項１記載の光ディスク記録装置であって、前記目標光強度補正手段は、前記光強度補正量に加えて、前記光強度補正量を基に記録電流補正量を生成し、前記光強度安定化手段は、前記記録電流補正量を基に前記記録電流を補正して前記レーザ光照射手段へ出力することを特徴とする。
【００６３】
また、本発明の請求項３記載の光ディスク記録装置は、請求項１もしくは２のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記目標反射光量比補正手段は、前記学習した前記目標反射光量比に対し、前記第１の再生反射光量と前記第２の再生反射光量の比を乗算して前記更新目標反射光量比を生成することを特徴とする。
【００６４】
また、本発明の請求項４記載の光ディスク記録装置は、請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、データ記録終了後、追記を行う場合に、該追記動作に先立ち、光ディスク上の追記する領域で新たな前記第２の再生反射光量を得、この新たな前記第２の再生反射光量を以って前記目標反射光量比補正手段による前記学習した前記目標反射光量比の補正を行うことを特徴とする。
【００６５】
また、本発明の請求項５記載の光ディスク記録装置は、ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で前記第１のレーザ光の目標光強度を学習し、前記データ領域へのデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度と前記学習した前記目標光強度とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、前記学習した前記目標光強度を保持し、この保持した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの保持した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、該光ディスク記録装置の内部温度を検出する温度センサ手段と、前記温度センサ手段の検出温度値に応じてデータ記録中の前記第１のレーザ光の光強度の上限・下限を決定し、前記光強度安定化手段により生成される前記記録電流を制御する可変記録パワーリミッタ手段と、を備えることを特徴とする。
【００６６】
また、本発明の請求項６記載の光ディスク記録装置は、ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、前記学習した前記目標反射光量比を保持し、この保持した前記目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、該光ディスク記録装置の内部温度を検出する温度センサ手段と、前記温度センサ手段の検出温度値に応じてデータ記録中の前記第１のレーザ光の光強度の上限・下限を決定し、前記光強度安定化手段により生成される前記記録電流を制御する可変記録パワーリミッタ手段と、を備えることを特徴とする。
【００６７】
また、本発明の請求項７記載の光ディスク記録装置は、請求項６記載の光ディスク記録装置であって、前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、前記第１及び第２の再生反射光量を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段を備え、前記目標光強度補正手段が、データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に前記光強度補正量を生成することを特徴とする。
【００６８】
また、本発明の請求項８記載の光ディスク記録装置は、請求項６もしくは７のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記目標光強度補正手段は、前記光強度補正量に加えて、前記光強度補正量を基に記録電流補正量を生成し、前記光強度安定化手段は、前記記録電流補正量を基に前記記録電流を補正して前記レーザ光照射手段へ出力することを特徴とする。
【００６９】
また、本発明の請求項９記載の光ディスク記録装置は、請求項５ないし８のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記可変記録パワーリミッタ手段は、メディアメーカ別に所定温度範囲毎の前記第１のレーザ光の光強度の上限・下限を決定することを特徴とする。
【００７０】
また、本発明の請求項１０記載の光ディスク記録装置は、ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、前記学習時に、前記テスト領域にて前記第１のレーザ光の光強度を段階的に変化させて所定のピットを形成し各光強度毎に前記反射光量比を測定するように構成されており、前記学習した前記目標反射光量比を保持し、この保持した前記目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、該光ディスク記録装置の内部温度を検出する温度センサ手段と、前記温度センサ手段の検出温度値に応じた更新目標光強度を生成する温度可変目標光強度生成手段と、前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比と前記学習した前記目標光強度とを基に、前記データ領域における前記第１のレーザ光の光強度と前記反射光量比の特性を二つの領域に分ける記録パワー境界値を求め、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度と前記記録パワー境界値とを比較し、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下であるときには前記光強度安定化手段へ前記光強度補正量を入力させ、前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記光強度安定化手段への前記光強度補正量の入力を停止させる反射光量比変動検査手段と、を備え、前記反射光量比変動検査手段による前記検知がなされると、前記光強度安定化手段は、前記学習した前記目標光強度に代えて前記温度可変目標光強度生成手段が生成する前記更新目標光強度を基に前記記録電流を生成することを特徴とする。
【００７１】
また、本発明の請求項１１記載の光ディスク記録装置は、請求項１０記載の光ディスク記録装置であって、前記反射光量比変動検査手段は、前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比を基に、前記段階的に変化された各光強度に対する前記反射光量比の傾きを算出し、この算出した傾き群から前記学習した前記目標光強度近傍の前記傾きを求め、前記段階的に変化された各光強度のうちの前記学習した前記目標光強度以上の光強度に対応する前記傾きと前記目標光強度近傍の前記傾きとの差分値をそれぞれ求め、この差分値群の各絶対値を順次所定のしきい値と比較し、最初に前記所定のしきい値より大きいと判定された前記差分値に対応する前記傾きを算出する元となった光強度を前記記録パワー境界値として記憶することを特徴とする。
【００７２】
また、本発明の請求項１２記載の光ディスク記録装置は、請求項１０もしくは１１のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記温度可変目標光強度生成手段は、前記反射光量比変動検査手段による前記検知がなされた時点で前記温度センサ手段から出力される検出温度値と観測される前記第１のレーザ光の光強度を記憶するとともに、この記憶した光強度を前記更新目標光強度として前記光強度安定化手段に記憶させ、該検知がなされた時点以降は、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下となるまで、記憶した検出温度値と前記温度センサ手段から出力される検出温度値との増減の差分が所定値に達する毎に、記憶した光強度に対し所定の補正量だけ増減し、この増減後の光強度とその時前記温度センサ手段から出力される検出温度値を再度記憶するとともに、この増減後の光強度を前記更新目標光強度として前記光強度安定化手段に記憶させることを特徴とする。
【００７３】
また、本発明の請求項１３記載の光ディスク記録装置は、請求項１０ないし１２のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、前記第１及び第２の再生反射光量比を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段を備え、前記目標光強度補正手段が、データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に前記光強度補正量を生成することを特徴とする。
【００７４】
また、本発明の請求項１４記載の光ディスク記録装置は、請求項１０ないし１３のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記目標光強度補正手段は、前記光強度補正量に加えて、前記光強度補正量を基に記録電流補正量を生成し、前記光強度安定化手段は、前記記録電流補正量を基に前記記録電流を補正して前記レーザ光照射手段へ出力し、前記反射光量比変動検査手段は、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下であるときには前記光強度安定化手段へ前記光強度補正量及び前記記録電流補正量を入力させ、前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記光強度安定化手段への前記光強度補正量及び前記記録電流補正量の入力を停止させることを特徴とする。
【００７５】
また、本発明の請求項１５記載の光ディスク記録装置は、請求項１０ないし１３のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記学習した前記目標光強度と前記温度可変目標光強度生成手段により生成される前記更新目標光強度を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第１のセレクタ手段と、前記目標光強度補正手段により生成される前記光強度補正量とゼロ値を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第２のセレクタ手段と、
を備え、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記反射光量比変動検査手段はフラグ信号をオンし、前記第１のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンすると前記更新目標光強度を選択し、前記第２のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンするとゼロ値を選択することを特徴とする。
【００７６】
また、本発明の請求項１６記載の光ディスク記録装置は、請求項１４記載の光ディスク記録装置であって、前記学習した前記目標光強度と前記温度可変目標光強度生成手段により生成される前記更新目標光強度を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第１のセレクタ手段と、前記目標光強度補正手段により生成される前記光強度補正量とゼロ値を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第２のセレクタ手段と、前記目標光強度補正手段により生成される前記記録電流補正量とゼロ値を選択して前記光強度安定化手段へ出力する第３のセレクタ手段と、を備え、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えていることを検知すると前記反射光量比変動検査手段はフラグ信号をオンし、前記第１のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンすると前記更新目標光強度を選択し、前記第２及び第３のセレクタ手段は前記フラグ信号がオンするとゼロ値を選択することを特徴とする。
【００７７】
また、本発明の請求項１７記載の光ディスク記録装置は、請求項１０もしくは１６のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記記録パワー境界値にヒステリシス特性を持たせ、前記反射光量比変動検査手段は、データ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度が前記記録パワー境界値未満もしくは前記記録パワー境界値以下のときには前記記録パワー境界値を用いて前記比較を行い、前記記録パワー境界値以上もしくは前記記録パワー境界値を越えているときには前記記録パワー境界値を所定量減少させた記録パワー値を用いて前記比較を行うことを特徴とする。
【００７８】
また、本発明の請求項１８記載の光ディスク記録装置は、ピットを形成する光強度の第１のレーザ光とピットを形成しない光強度の第２のレーザ光を照射するレーザ光照射手段を備え、前記第１及び第２のレーザ光が照射されるテスト領域とデータ領域を有する光ディスクに対して、前記データ領域へのデータ記録を行う前に、前記テスト領域で、前記第１のレーザ光の目標光強度と前記第１及び第２のレーザ光の各反射光量から測定される反射光量比の目標反射光量比とを学習し、前記データ領域へのデータ記録中に測定される前記反射光量比と観測される前記第１のレーザ光の光強度及び前記学習した前記目標反射光量比と前記目標光強度を基に、データ記録中の前記第１のレーザ光を制御する光ディスク記録装置であって、前記学習時に、前記テスト領域にて前記第１のレーザ光の光強度を段階的に変化させて所定のピットを形成し各光強度毎に前記反射光量比を測定するように構成されており、前記学習した前記目標反射光量比を保持し、この保持した前記目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度補正量を生成する目標光強度補正手段と、前記学習した前記目標光強度を保持し、前記光強度補正量を基にこの保持した前記目標光強度を補正し、この補正した前記目標光強度とデータ記録中に観測される前記第１のレーザ光の光強度とを基に記録電流を生成して前記レーザ光照射手段へ出力し、データ記録中の前記第１のレーザ光の光強度をこの補正した前記目標光強度へ収束させる光強度安定化手段と、前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比と前記学習した前記目標光強度とを基に、データ領域における前記第１のレーザ光の光強度と前記反射光量比の特性を二つの領域に分ける記録パワー境界値を求め、さらにこの求めた前記記録パワー境界値と前記学習した前記目標光強度との差分量を算出する反射光量比変動検査手段と、前記差分量と外部から指定された光ディスク回転速度とを基に光ディスク回転速度を決定する記録速度決定手段と、を備え、前記記録速度決定手段により決定された光ディスク回転速度にて、前記データ領域へのデータ記録を行うことを特徴とする。
【００７９】
また、本発明の請求項１９記載の光ディスク記録装置は、請求項１８記載の光ディスク記録装置であって、前記反射光量比変動検査手段は、前記学習時に測定された前記段階的に変化された各光強度毎の前記反射光量比を基に、前記段階的に変化された各光強度に対する前記反射光量比の傾きを算出し、この算出した傾き群から前記学習した前記目標光強度近傍の前記傾きを求め、前記段階的に変化された各光強度のうちの前記学習した前記目標光強度以上の光強度に対応する前記傾きと前記目標光強度近傍の前記傾きとの差分値をそれぞれ求め、この差分値群の各絶対値を順次所定のしきい値と比較し、最初に前記所定のしきい値より大きいと判定された前記差分値に対応する前記傾きを算出する元となった光強度を前記記録パワー境界値とすることを特徴とする。
【００８０】
また、本発明の請求項２０記載の光ディスク記録装置は、請求項１８もしくは１９のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記記録速度決定手段は、前記差分量と前記外部から指定される記録速度から最終的な記録速度を決定するためのテーブル情報を保持しており、前記記録速度決定手段により決定された記録速度にて、前記データ領域へのデータ記録を行うことを特徴とする。
【００８１】
また、本発明の請求項２１記載の光ディスク記録装置は、請求項２０に記載の光ディスク記録装置であって、前記記録速度決定手段は、メディアメーカ別の前記テーブル情報を予め保持しており、メディアメーカ毎に記録速度を決定することを特徴とする。
【００８２】
また、本発明の請求項２２記載の光ディスク記録装置は、請求項２０もしくは２１のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記記録速度決定手段は、前記テーブル情報による記録速度の決定に際し、記録速度を決定不能の場合には、記録が不能であることを外部へ教示することを特徴とする。
【００８３】
また、本発明の請求項２３記載の光ディスク記録装置は、請求項１８ないし２２のいずれかに記載の光ディスク記録装置であって、前記学習時に、前記テスト領域へ前記第２のレーザ光を照射して第１の再生反射光量を得、データ記録開始直前に、前記データ領域へ前記第２のレーザ光を照射して第２の再生反射光量を得るように構成され、前記第１及び第２の再生反射光量を基に、前記学習した前記目標反射光量比を補正して更新目標反射光量比を生成する目標反射光量比補正手段を備え、前記目標光強度補正手段が、データ記録中は前記更新目標反射光量比を保持し、この保持した前記更新目標反射光量比とデータ記録中に測定される前記反射光量比とを基に前記光強度補正量を生成することを特徴とする。
【発明の効果】
【００８４】
本発明によれば、高温・低温・高倍速でのデータ記録において、レーザピックアップ出力の温度変化、光ディスクの形状変化、ディスク記録層の記録感度変化などの外乱変動があっても、安定した記録特性を得られる記録パワー制御を実現することが可能となる。そのため、可換で追記・書換え可能な光ディスクに対してデータ信号を高速・高密度で安定して記録することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００８５】
以下、本発明の実施の形態について図面を交えて説明する。
（実施の形態１）
上述したように、従来の光ディスク記録装置はＰＣＡなどのテスト領域におけるＯＰＣ（学習処理）により得た目標Ｂ／Ａ学習値を基に、記録パワー制御を行っていた。これに対し、本実施の形態１のねらいは、テスト領域からのスペース反射光量とユーザデータエリアなどのデータ領域からのスペース反射光量の差に基づいて、目標Ｂ／Ａ学習値を更新する点にある。つまり、スペース反射光量は第２のレーザ光を照射して得る再生反射光量と等しいことから、本実施の形態１における光ディスク記録装置は、ＯＰＣ時にテスト領域へ第２のレーザ光を照射し、データ記録開始直前時に第２のレーザ光をデータ領域へ照射して、それぞれの再生反射光量を測定する。そして、当該光ディスク記録装置は、この２種類の再生反射光量の比率から目標Ｂ／Ａ学習値を補正し更新目標Ｂ／Ａ学習値を生成して、これを基に記録パワー制御を行う。
【００８６】
図１は本実施の形態１に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図を示す。但し、前述した図１３で説明した部材と同一の部材には同一の符号を付記して、説明を省略する。
【００８７】
図１において、ＲＯＰＣ部（目標光強度補正手段）２０は前述した図１３に示すＲＯＰＣ部１０６と同じ構成である。つまり、ＲＯＰＣ部２０はデータ領域へのデータ記録中に、Ｂ／Ａ目標値格納部２１に保持する目標Ｂ／Ａ値とＢ／Ａ測定値（データ記録中に測定される反射光量比）の差分を取り、記録パワーの補正値（光強度補正量）を生成する。
【００８８】
また、ＡＰＣ部（光強度安定化手段）３０も前述した図１３に示すＡＰＣ部１０７と同じ構成である。つまり、ＡＰＣ部３０はＯＰＣにより得た目標記録パワー学習値（第１のレーザ光の目標光強度）を記録パワー目標値格納部３１に保持しておく。そして、ＡＰＣ部３０は、データ領域へのデータ記録中にＲＯＰＣ部２０から入力される記録パワーの補正値を基に目標記録パワー学習値を補正し（ゲイン調整）、パワーモニタ信号（データ記録中に観測される第１のレーザ光の光強度）と補正した目標記録パワー学習値の差分を取り、該差分を基に記録パワー（第１のレーザ光の光強度）を制御して、該記録パワーが補正した目標記録パワー学習値に収束するようにする。
【００８９】
本実施の形態１における光ディスク記録装置には、このＡＰＣ部３０とＲＯＰＣ部２０の構成に加えて、Ｂ／Ａ目標値補正部（目標反射光量比補正手段）１０とセレクタ１１が追加されている。
【００９０】
Ｂ／Ａ目標値補正部１０は、ＯＰＣ時にテスト領域に第２のレーザ光を照射して得た再生反射光量（第１の再生反射光量）Ｘ、データ記録開始直前時にデータ領域に第２のレーザ光を照射して得た再生反射光量（第２の再生反射光量）Ｙ、及びＯＰＣ時に得た目標Ｂ／Ａ学習値（以下、初期目標Ｂ／Ａ学習値と称す。）を記憶し、再生反射光量Ｘ、Ｙを基に初期目標Ｂ／Ａ学習値（目標反射光量比）を補正し更新目標Ｂ／Ａ学習値（更新目標反射光量比）を生成する。なお、再生反射光量Ｘ、Ｙは、図１４に示すサンプルホールド回路７８から出力されるＡＳ信号により得ることができる。また、Ｂ／Ａ値の検出に用いられるマーク（ピット）の時間幅としては、図１０に示すＬ２箇所の「Ｖｂ」を求めることができる時間幅を用いる。
【００９１】
セレクタ１１は、ＯＰＣ時は初期目標Ｂ／Ａ学習値を選択し、データ記録中はＢ／Ａ目標値補正部１０の出力である更新目標Ｂ／Ａ学習値を選択する。この選択された値はＢ／Ａ目標値格納部２１に記憶される。
【００９２】
なお、図１４に示すＢ／Ａ値演算部７９としては、例えばＣＰＵ等を用いてもよい。
続いて、当該光ディスク記録装置の動作について説明する。当該光ディスク記録装置は、先ずデータ領域へのデータ記録に先立ち、テスト領域においてＯＰＣを行って目標記録パワー学習値、及び初期目標Ｂ／Ａ学習値を得る。目標記録パワー学習値は記録パワー目標値格納部３１に記憶される。同時に初期目標Ｂ／Ａ学習値はセレクタ１１を介してＢ／Ａ目標値格納部２１に記憶される。また初期目標Ｂ／Ａ学習値は、Ｂ／Ａ目標値補正部１０にも記憶される。このときセレクタ１１へのＯＰＣ期間信号はＯＮとなっている。
【００９３】
また、当該光ディスク記録装置は、ＯＰＣ時にテスト領域に対し第２のレーザ光を照射し、その再生反射光量Ｘ（ＡＳ値）を取得し、Ｂ／Ａ目標値補正部１０に記憶しておく。
次に、当該光ディスク記録装置は、データ領域へのデータ記録開始直前時にセレクタ１１へのＯＰＣ期間信号をＯＦＦした後、データ領域に対して第２のレーザ光を照射しその再生反射光量Ｙを取得し、Ｂ／Ａ目標値補正部１０に記憶させる。
【００９４】
Ｂ／Ａ目標値補正部１０は、再生反射光量Ｘ、Ｙと初期目標Ｂ／Ａ学習値を基に所定演算を行い、更新目標Ｂ／Ａ学習値を算出してセレクタ１１を介してＢ／Ａ目標値格納部２１へ出力する。この更新目標Ｂ／Ａ学習値は、初期目標Ｂ／Ａ学習値に上書きされる形でＢ／Ａ目標値格納部２１に記憶される。その後の記録パワー制御は、従来と同様である。
【００９５】
続いて、再生反射光量Ｘ、Ｙと初期目標Ｂ／Ａ学習値から、更新目標Ｂ／Ａ学習値を算出する手順を説明する。ＯＰＣ時における初期目標Ｂ／Ａ学習値をＢ１／Ａ１とすると、Ａ１、Ｂ１は、
Ａ１＝（Ｐｗ／Ｐｂ）・Ｘ
Ｂ１＝（Ｖｂ−Ｘ）／Ｔｍｐ＋Ｘ
となる。ここに、「Ｐｗ」は目標記録パワー学習値に相当する。また、「Ｐｂ」は再生パワー値に相当する。また、「Ｖｂ」は図１０におけるＬ２箇所の電位レベルに相当する。また、再生反射光量Ｘは、図１０におけるＬ１箇所の電位レベルＶａに相当する。
【００９６】
一方、データ領域へ再生パワー値Ｐｂの第２のレーザ光を照射したときの再生反射光量がＹであるので、仮に、データ領域にてＯＰＣと同様のＢ／Ａ値学習処理を行ったとして、目標Ｂ／Ａ学習値をＢ２／Ａ２とすると、Ａ２、Ｂ２は、
Ａ２＝（Ｐｗ／Ｐｂ）・Ｙ
Ｂ２＝（Ｖｂ−Ｙ）／Ｔｍｐ＋Ｙ
となる。再生反射光量Ｘと再生反射光量Ｙに誤差ΔＺが発生したとしてもＢ１≒Ｂ２であるが、Ａ１とＡ２の誤差“（Ｐｗ／Ｐｂ）・ΔＺ”は、“Ｐｗ／Ｐｂ”が非常に大きいため、“（Ｐｗ／Ｐｂ）・ΔＺ”は大きくなり、“Ｂ１／Ａ１”と“Ｂ２／Ａ２”の誤差はＡ１とＡ２の誤差が支配的になる。
【００９７】
よって、最終的に求めたい更新目標Ｂ／Ａ学習値は、
Ｂ２／Ａ２≒Ｂ１／Ａ２
＝（Ｂ１／Ａ１）・（Ａ１／Ａ２）
＝（Ｂ１／Ａ１）・（Ｘ／Ｙ）
となり、初期目標Ｂ／Ａ学習値であるＢ１／Ａ１に再生反射光量Ｘ、Ｙの比を乗算したものとなる。
【００９８】
なお、本実施の形態１では、テスト領域でのＯＰＣ後、最初のデータ記録に先立ち初期目標Ｂ／Ａ学習値の補正・更新処理を行うことを基本としているが、これ以外に、最初のデータ記録終了後、この最初の記録箇所に続けて追加する形でデータ記録を行う場合においても（いわゆる追記動作）、該追記動作に先立ち初期目標Ｂ／Ａ学習値の補正・更新処理を行うようにしてもよい。
【００９９】
すなわち、Ｂ／Ａ目標値補正部１０は初期目標Ｂ／Ａ学習値と再生反射光量比Ｘを保持しておき、当該光ディスク記録装置は追記動作に先立ち、追記するデータ領域で新たに再生反射光量Ｙを取得し、Ｂ／Ａ目標値補正部１０によりこの新たな再生反射光量Ｙを用いた補正・更新処理を行う。
【０１００】
以上のように、本実施の形態１によれば、テスト領域からのスペース反射光量とデータ領域からのスペース反射光量の誤差に起因して発生していた期待されないアシンメトリ特性が回避可能となる。
【０１０１】
（実施の形態２）
上述したように、高温・低温状態にてデータ記録を行うと、レーザ照射開始時のレーザピックアップの出力バラツキ、パワーモニタ信号の誤差変動が常温よりも大きくなる。そのため、高温・低温状態にてデータ記録を行うと、アシンメトリ値が目標アシンメトリ値から大きく変動し、記録特性が悪化する。
【０１０２】
図２は、高温・低温状態にてデータ信号が記録された光ディスクの再生波形より算出した光ディスクの半径位置毎のアシンメトリ値の一例を示す。図２に示すように、高温・低温状態にてデータ記録を行うと、アシンメトリ値が波形２０７のように波打ち、アシンメトリ値が一時的に低下・上昇する。
【０１０３】
そこで、本実施の形態２では、装置内部の温度を検出し、その検出温度値に応じて記録パワーの上限値・下限値を適当に設定し、アシンメトリ値が目標アシンメトリ値から大幅にずれないようにすることで、記録特性が不安定にならないようにする。
【０１０４】
図３は本実施の形態２に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図を示す。但し、図１３で説明した部材と同一の部材には同一の符号を付記して、説明を省略する。
【０１０５】
図３において、ＲＯＰＣ部２０は、前述した図１３に示すＲＯＰＣ部１０６の構成と同じ構成である。またＡＰＣ部３０は、前述した図１３に示すＡＰＣ部１０７とほぼ同じ構成であり、異なるのは、記録パワーリミッタに代えて可変記録パワーリミッタ（可変記録パワーリミッタ手段）４１を備える点である。また、当該装置には、ＡＰＣ部３０とＲＯＰＣ部２０の構成に加えて、温度センサ（温度センサ手段）４０が追加されている。
【０１０６】
温度センサ４０は、ＡＰＣ部３０の温度値を検出する。但し、温度センサは、ＡＰＣ部の温度に限らず、例えばドライブ内部の温度やレーザピックアップの内部温度を検出するように構成してもよい。以下、温度センサ４０の検出温度値を“Ｔ”として説明する。
【０１０７】
可変記録パワーリミッタ４１は、温度センサ４０の検出温度値に対応して記録パワーの上限値・下限値を制御する。なお、コントローラ（例えばＣＰＵ等）がデータ記録中の検出温度値をモニタし、可変記録パワーリミッタ４１に対して記録パワーの上限値・下限値を指示するようにしてもよい。
【０１０８】
例えば、図２に示すように、ＯＰＣにより得た目標記録パワー学習値によりデータ信号を記録した光ディスクの再生波形より算出した目標アシンメトリ値が“５％”であった場合、可変記録パワーリミッタ４１は、次のように、各温度範囲毎に記録パワーの上限値・下限値を制御する。
【０１０９】
すなわち、２０°Ｃ≦Ｔ＜３０°Ｃの場合は記録パワーの上限値をアシンメトリ値“１２％”（図２に示す２０１）に相当するレーザパワー値とし、下限値をアシンメトリ値“−２％”（図２に示す２０６）に相当するレーザパワー値とする。
【０１１０】
また、３０°Ｃ≦Ｔ＜４０°Ｃ、もしくは１０°Ｃ≦Ｔ＜２０°Ｃの場合は記録パワーの上限値をアシンメトリ値“１０％”（図２に示す２０２）に相当するレーザパワー値とし、下限値をアシンメトリ値“０％”（図２に示す２０５）に相当するレーザパワー値とする。
【０１１１】
また、４０°Ｃ≦Ｔ、もしくはＴ＜１０°Ｃの場合は記録パワーの上限値をアシンメトリ値“８％”（図２に示す２０３）に相当するレーザパワー値とし、下限値をアシンメトリ値“２％”（図２に示す２０４）に相当するレーザパワー値とする。
【０１１２】
なお、前記の各アシンメトリ値に相当する各記録パワー値は、目標アシンメトリ値（ここでは５％）に対する記録パワー値（いわゆる目標記録パワー学習値）が１０ｍＷであった場合、アシンメトリ値が１％変動する毎に記録パワー値が０．１ｍＷ変動するとみなして換算すると、アシンメトリ値“１２％”、“１０％”“８％”“２％”“０％”“−２％”に相当する記録パワー値はそれぞれ“１０．７ｍＷ”、“１０．５ｍＷ”、“１０．３ｍＷ”、“９．７ｍＷ”、“９．５ｍＷ”、“９．３ｍＷ”となる。
【０１１３】
温度環境が良い時はレーザピックアップの出力は安定しており、ＡＰＣとＲＯＰＣの制御により良好な記録特性を得ることができるが、高温・低温下では、レーザピックアップ出力の温度特性との関係でその出力の信頼性が低下するため、ＡＰＣとＲＯＰＣの制御により得られる記録特性の信頼性も低下する。そこで、高温・低温下では、このようにアシンメトリ値の上限値・下限値幅を狭くすることで、ＡＰＣとＲＯＰＣの制御により得られる記録特性の劣化防止を図る。
【０１１４】
但し、アシンメトリ値の１％の変動に対応する記録パワー値の変動量は、メディアメーカによっては異なる場合もある。そこで、メディアメーカ別に各温度範囲毎の記録パワーの上限値・下限値を定めたテーブルを可変記録パワーリミッタ４１に予め保持させておき、可変記録パワーリミッタ４１が、現在記録しようとする光ディスクのメディアメーカ情報を基に、記録パワーの上限値・下限値を決定するように構成してもよい。また、コントローラ（例えばＣＰＵ等）に上記のテーブルを予め保持させておき、現在記録しようとする光ディスクのメディアメーカ情報を該コントローラに入力し、該コントローラがデータ記録中の検出温度値をモニタして、可変記録パワーリミッタ４１に対して記録パワーの上限値・下限値を指示するようにしてもよい。なお、メディアメーカ情報（メーカ名）の取得は、例えば光ディスクに予め記録されているメディアメーカ情報を読み取ることで行ってもよいし、ユーザが外部入力装置より入力するようにするなどしてもよい。
【０１１５】
次に、当該光ディスク記録装置の動作について説明する。可変記録パワーリミッタ４１は、データ領域へのデータ記録中、常に温度センサ４０からの検出温度値Ｔを取得し、該検出温度値Ｔを上記した判定条件に照らして、データ記録中の記録パワーの上限値・下限値を決定する。
【０１１６】
可変記録パワーリミッタ４１は、ＡＰＣ部３０内部の加算器３５から出力される記録電流に対応する記録パワー値が上限値よりも大きい場合は上限値に対応する記録電流を出力する。また、可変記録パワーリミッタ４１は、加算器３５から出力される記録電流に対応する記録パワー値が上限値以下、下減値以上の場合は該加算器３５から出力される記録電流をそのまま出力する。また、可変記録パワーリミッタ４１は、加算器３５から出力される記録電流に対応する記録パワー値が下限値よりも小さい場合は、下限値に対応する記録電流を出力する。
【０１１７】
例えば３０°Ｃ≦Ｔ＜４０°Ｃ、もしくは１０°Ｃ≦Ｔ＜２０°Ｃの温度状態でデータ信号を記録する場合、従来の光ディスク記録装置では、アシンメトリ値が図２に示す波形２０７のように目標アシンメトリ値“５％”から大きく外れるのに対し、当該光ディスク記録装置では、アシンメトリ値が波形２０８のように“０％”以下にはならず、目標アシンメトリ値“５％”から大きく外れない。
【０１１８】
なお、実施の形態２ではＲＯＰＣ部２０として従来のＲＯＰＣ部１０６を使用したが、無論、実施の形態１のようにＢ／Ａ目標値補正部１０とセレクタ１１を追加して目標Ｂ／Ａ学習値を補正する機能を持たせてもよい。
【０１１９】
このように、本実施の形態２によれば、ＲＯＰＣ部が正常に動作していても、ＡＰＣ部の入力であるパワーモニタ信号の誤差変動が温度状態によって常温時よりも大きくなる場合に、アシンメトリ値が目標アシンメトリ値から大幅に外れないようにすることで、記録特性が不安定にならないようにする。
【０１２０】
（実施の形態３）
上述したように、高倍速記録時には低倍速記録時よりも高い記録パワーが必要になるが、高倍速記録時では、記録パワーの低い領域と高い領域で記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が異なる。
【０１２１】
図４は、記録パワーの低い領域と高い領域で記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が異なる一例を示す図である。図４に示すように、記録パワーの低い領域と高い領域で、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が右肩下がりの領域と右肩上がりの領域に分かれる。
【０１２２】
しかし、従来の光ディスク記録装置では、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が右肩下がりであることを前提にしてＲＯＰＣを行っていた。そのため、高倍速記録を行おうとすると、従来の光ディスク記録装置では記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が右肩上がりの領域においてＲＯＰＣ部により誤った制御がなされるという問題があった。
【０１２３】
本実施の形態３における光ディスク記録装置は、後述するように図４に示す境界４０１に対応する記録パワー値を求め、境界４０１を境として、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性をＢ／Ａ値制御可能領域４０２とＢ／Ａ値制御不可領域４０３に分ける。そして、当該光ディスク記録装置は、データ記録中の記録パワー値がＢ／Ａ値制御不可領域４０３の範囲内に存在する場合には、ＲＯＰＣの機能をＯＦＦし、後述する温度制御を行うことで、ＲＯＰＣ部での誤った制御を防ぐ。
【０１２４】
図５は本実施の形態３に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図を示す。但し、図３、１３で説明した部材と同一の部材には同一の符号を付記して、説明を省略する。
【０１２５】
図５において、ＲＯＰＣ部２０とＡＰＣ部３０は、前述した図１３に示すＡＰＣ部１０７とＲＯＰＣ部１０６の構成と同じ構成である。
当該光ディスク記録装置には、このＲＯＰＣ部２０とＡＰＣ部３０の構成に加えて、温度センサ（温度センサ手段）４０、温度可変記録パワー目標値生成部（温度可変目標光強度生成手段）５０、セレクタ（第１のセレクタ手段）５１、Ｂ／Ａ値変動検査部（反射光量比変動検査手段）５２、セレクタ（第２のセレクタ手段）５３、セレクタ（第３のセレクタ手段）５４が追加されている。
【０１２６】
温度センサ４０は、前述した実施の形態２と同様に、ＡＰＣ部３０の温度値を検出する。但し、温度センサは、ＡＰＣ部の温度に限らず、例えばドライブ内部の温度やレーザピックアップの内部温度を検出するように構成してもよい。
【０１２７】
Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、ＯＰＣ時とデータ記録時とで処理が異なる。当該光ディスク記録装置は、ＯＰＣ時に、段階的に変化する複数の記録パワーを用いて所定のピット形成を行い、目標記録パワー学習値を決定すると共に、各記録パワーによる記録個所のＢ／Ａ値を求める。
【０１２８】
Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、ＯＰＣ時に、上記の複数の記録パワー値、各Ｂ／Ａ値、および目標記録パワー学習値を取得し、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が右肩上がりになる領域（図４に示すＢ／Ａ値制御不可領域４０３）を検出し、右肩下がりの領域（図４に示すＢ／Ａ値制御可能領域４０２）との境界４０１における記録パワー値を記録パワー境界値として記憶する。
【０１２９】
またＢ／Ａ値変動検査部５２は、データ領域へのデータ記録時に、入力されるパワーモニタ信号と記憶した記録パワー境界値を比較し、現在の記録パワー値が図４に示すＢ／Ａ値制御可能領域４０２の範囲内に存在する場合は、記録パワー境界フラグ（フラグ信号）をＯＦＦとし、Ｂ／Ａ値制御不可領域４０３の範囲内に存在する場合は、記録パワー境界フラグをＯＮとして信号出力する。
【０１３０】
温度可変記録パワー目標値生成部５０は、記録パワー境界フラグがＯＮになると、温度センサ４０の出力（検出温度値）とパワーモニタ信号を参照して更新目標記録パワー値を生成する。
【０１３１】
セレクタ５１は、記録パワー境界フラグがＯＮになると、温度可変記録パワー目標値生成部５０が生成する更新目標記録パワー値（更新目標光強度）を選択して記録パワー目標値格納部３１へ転送する。記録パワー目標値格納部３１は、目標記録パワー学習値もしくは更新目標記録パワー値に上書きする形で、温度変動毎に更新目標記録パワー値を記憶する。
【０１３２】
セレクタ５３は、記録パワー境界フラグがＯＦＦの時はＲＯＰＣループフィルタ２３の出力を選択し、該フラグがＯＮの時はゼロ値を選択する。同様にセレクタ５４は、記録パワー境界フラグがＯＦＦの時は記録電流補正部２４の出力を選択し、該フラグがＯＮの時はゼロ値を選択する。
【０１３３】
次に、当該光ディスク記録装置の動作について説明する。従来のＯＰＣでは、所定の記録パワー値を中心に±５ｍＷの範囲で０．５ｍＷ刻みの記録パワー毎に所定のピットを形成し、該記録箇所を再生することで、目標記録パワー学習値を取得していた。
【０１３４】
当該光ディスク記録装置は、ＯＰＣ時に、記録パワーを段階的に変化させて所定のピットを形成する際にＢ／Ａ値を測定し、Ｂ／Ａ値変動検査部５２に入力する。Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、段階的に変化する記録パワー値毎のＢ／Ａ値を取得・記憶する。
【０１３５】
例えば、記録パワー値を５ｍＷから１５ｍＷの範囲で０．５ｍＷずつ増加させて所定のピットを形成した場合、５ｍＷの時のＢ／Ａ値をＤ０、５．５ｍＷ時のＢ／Ａ値をＤ１、・・・、１５ｍＷ時のＢ／Ａ値をＤ２０とすると、Ｂ／Ａ値変動検査部５２は記録パワー値対Ｂ／Ａ値の傾きとして、
傾きＧ０＝（Ｄ０−Ｄ１）／０．５
傾きＧ１＝（Ｄ１−Ｄ２）／０．５
・・・・
傾きＧ１９＝（Ｄ１９−Ｄ２０）／０．５
を算出する。別途決定された目標記録パワー学習値が１０ｍＷであるとすると、Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、
傾きＧ９＝（Ｄ９−Ｄ１０）／０．５
と
傾きＧ１０＝（Ｄ１０−Ｄ１１）／０．５
の平均値である
平均傾きＧＧ＝（Ｇ９＋Ｇ１０）／２
を目標記録パワー学習値近傍の記録パワー値対Ｂ／Ａ値の傾きとみなす。そして、Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、平均傾きＧＧと目標記録パワー学習値以上の各傾きＧ１１〜Ｇ１９との差分を計算する。
【０１３６】
すなわちＢ／Ａ値変動検査部５２は、
差分ΔＧ１１＝ＧＧ−Ｇ１１
差分ΔＧ１２＝ＧＧ−Ｇ１２
・・・・
差分ΔＧ１９＝ＧＧ−Ｇ１９
を算出した後、該差分ΔＧ１１〜ΔＧ１９の各絶対値をΔＧ１１から順に所定値（所定のしきい値）Ｆと比較していく。Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、最初に所定値Ｆより大きくなった差分が、例えばΔＧ１５であるとすると、Ｇ１５の算出の基になったＢ／Ａ値Ｄ１５に対応する記録パワー値を記録パワー境界値として記憶する。
【０１３７】
また、Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、データ記録時に、パワーモニタ信号と記録パワー境界値（ここでは１２．５ｍＷ）を比較し、データ記録中の記録パワー値が記録パワー境界値未満の場合はＲＯＰＣ（Ｂ／Ａ値による制御）が可能な状態であると判断して記録パワー境界フラグをＯＦＦとする。
【０１３８】
これにより、セレクタ５１は目標記録パワー学習値を選択して記録パワー目標値格納部３１に記憶させ、セレクタ５３はＲＯＰＣループフィルタ２３の出力（光強度補正量）を選択し、セレクタ５４は記録電流補正部２４の出力（記録電流補正量）を選択する。つまり、当該光ディスク記録装置は、記録パワー値が記録パワー境界値未満の場合は従来の通りＡＰＣおよびＲＯＰＣによる記録パワー制御を行う。
【０１３９】
一方、Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、データ記録中の記録パワー値が記録パワー境界値以上になるとＲＯＰＣが不可能な状態であると判断して、記録パワー境界フラグをＯＮとする。
【０１４０】
これにより、セレクタ５１は温度可変記録パワー目標値生成部５０の出力を選択して温度変動毎に更新目標記録パワー値を記録パワー目標値格納部３１に記憶させる。またセレクタ５３、５４はゼロ値を選択する。つまり、当該光ディスク記録装置は、記録パワー値が記録パワー境界値以上の場合はＲＯＰＣの機能をオフし、温度変動による記録パワー制御を行う。
【０１４１】
続いて、図４を用いて上記制御動作の概要を説明する。図４に示すグラフは記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性を表すグラフであり、横軸は記録パワー値、縦軸はＢ／Ａ値を示す。図４において、Ｐｗ０が前記の目標記録パワー学習値１０ｍＷ、Ｐｗ１が１２ｍＷ、Ｐｗ２が前記の記録パワー境界値１２．５ｍＷ、Ｐｗ３が１４．５ｍＷである。従って、Ｂ／Ａ値変動検査部５２は、記録パワーがＰｗ２未満の状態をＢ／Ａ値制御可能領域４０２、記録パワーがＰｗ２以上の状態をＢ／Ａ制御不可領域４０３とみなしている。
【０１４２】
なお、記録パワー境界フラグは、ヒステリシス特性を持たせてもよい。例えば、記録パワー境界フラグがＯＦＦからＯＮに変化した時点での記録パワーがＰｗ２の場合、記録パワーがＰｗ２−ΔＰｈとなったとき、記録パワー境界フラグがＯＮからＯＦＦに変化するようにしてもよい。ここに、ΔＰｈはヒステリシスを持たせるために準備した所定値（所定量）である。
【０１４３】
次に、Ｂ／Ａ値制御不可領域４０３における温度変動による記録パワー制御の動作について、図６を交えて説明する。温度可変記録パワー目標値生成部５０は、温度センサ４０からの出力（以下、Ｔとする。）を参照してデータ記録中の温度を認識しており、記録パワー境界フラグがＯＦＦからＯＮに変化した時点での温度Ｔｉ、モニタ用フォトダイオードの出力である記録パワー値Ｐｏを記憶すると共に、この記録パワー値Ｐｏを更新目標記録パワー値として記録パワー目標値格納部３１に入力・記憶させる。
【０１４４】
その後、温度可変記録パワー目標値生成部５０は、検出温度値Ｔと温度Ｔｉの差が所定温度（図６ではΔＴ＝５°Ｃ）に達する毎に、所定の記録パワー補正量（図６に示すΔＰ）だけ記録パワー値Ｐｏに対し増減し、“Ｐｏ＋ΔＰ”もしくは“Ｐｏ−ΔＰ”を更新目標記録パワー値として記録パワー目標値格納部３１に入力・記憶させると共に、この更新目標記録パワー値を新たな“Ｐｏ”とし、且つ“Ｔｉ＋ΔＴ”もしくは“Ｔｉ−ΔＴ”を新たな“Ｔｉ”とする。
【０１４５】
温度可変記録パワー目標値生成部５０は、検出温度値ＴがΔＴ変化する毎に上記動作を繰り返す。つまり、上記の温度判定がＴ−Ｔｉ＞ΔＴになった時点で、記録パワー値Ｐｏを“Ｐｏ＋ΔＰ”に更新し、且つ温度Ｔｉを“Ｔｉ＋ΔＴ”に更新すると共に、この更新した記録パワー値を記録パワー目標値格納部３１に送る。また、Ｔｉ−Ｔ＞ΔＴになった時点で、記録パワー値Ｐｏを“Ｐｏ−ΔＰ”に更新し、且つ温度Ｔｉを“Ｔｉ−ΔＴ”に更新すると共に、この更新した記録パワー値を記録パワー目標値格納部３１に送る。
【０１４６】
このように温度変化に応じて記録パワーを更新することにより、レーザピックアップ出力の温度特性や光ディスクの記録層の温度特性に起因する記録特性の劣化を防止できる。
その後、記録パワー境界フラグがＯＮからＯＦＦに変化した場合には、セレクタ５１がＯＰＣにより得た目標記録パワー学習値を選択し、セレクタ５３、５４がＲＯＰＣループフィルタ２３の出力、記録電流補正部２４の出力を選択するので、通常の記録パワー制御が行われる。
【０１４７】
なお、本実施の形態３ではＲＯＰＣ部２０、ＡＰＣ部３０として従来のＲＯＰＣ部１０６、ＡＰＣ部１０７を使用したが、無論、実施の形態１のようにＢ／Ａ目標値補正部１０とセレクタ１１を追加してもよいし、実施の形態２のように、可変記録パワーリミッタ４１を追加してもよい。
【０１４８】
以上のように、本実施の形態３によれば、高倍速記録時と低倍速記録時で記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が異なる場合であっても、安定した記録特性を得られるように記録パワーを制御可能となる。
【０１４９】
（実施の形態４）
前述したように、高倍速記録時には低倍速記録時よりも高い記録パワーが必要になるが、高倍速記録を行おうとすると、記録パワーの低い領域と高い領域で記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が異なる。そして、従来の光ディスク記録装置では、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が右肩下がりであることを前提にしてＲＯＰＣを行っていたため、高倍速記録を行おうとすると、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が右肩上がりの領域でＲＯＰＣ部により誤った制御がなされるという問題があった。本実施の形態４も、前述した実施の形態３と同様に、このＲＯＰＣ部による誤った制御を防ぐことを目的としている。
【０１５０】
本実施の形態４では、記録線速度が小さくなるにつれて前記の記録パワー境界値（図４に示すＰｗ２）が大きくなる特性を利用しており、記録線速度を意図的に小さくすることで、上記問題の解決を図っている。
【０１５１】
図７は本実施の形態４に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図を示す。但し、図５、１３で説明した部材と同一の部材には同一の符号を付記して、説明を省略する。
【０１５２】
図７において、ＲＯＰＣ部２０とＡＰＣ部３０は、前述した図１３に示すＡＰＣ部１０７とＲＯＰＣ部１０６の構成と同じ構成である。
当該光ディスク記録装置には、このＲＯＰＣ部２０とＡＰＣ部３０の構成に加えて、Ｂ／Ａ値変動検査部（反射光量比変動検査手段）５２と記録速度決定部（記録速度決定手段）６０が追加されている。
【０１５３】
当該光ディスク記録装置におけるＢ／Ａ値変動検査部５２は、ＯＰＣ時に記録パワー境界値を算出する点は実施の形態３におけるＢ／Ａ値変動検査部と同様であるが、この算出した記録パワー境界値と目標記録パワー学習値の差分量であるパワー差分値を算出する点が実施の形態３におけるＢ／Ａ値変動検査部とは異なる。
【０１５４】
また、実施の形態３におけるＢ／Ａ値変動検査部は、データ記録時にパワーモニタ信号を参照してフラグ信号を生成していたが、当該光ディスク記録装置におけるＢ／Ａ値変動検査部５２はデータ記録時には動作せず、よってフラグ信号も生成しない。
【０１５５】
記録速度決定部６０は、外部（例えばホストコンピュータ等）から指定された記録線速度（記録速度）とＢ／Ａ値変動検査部５２が出力する前記のパワー差分値を基に最終的な記録線速度を決定し、サーボ制御部に指示する（図１２に示すサーボ制御部１０８を参照。）。
【０１５６】
当該光ディスク記録装置では、ＯＰＣ時に、外部から指定された記録線速度にて記録パワー境界値を算出し、当該ＯＰＣ時に得た目標記録パワー学習値との差分量によって記録速度決定部６０がデータ記録時の記録線速度を決定する点に特徴がある。
【０１５７】
以下、当該光ディスク記録装置の動作について説明する。ＯＰＣ時のＢ／Ａ値変動検査部５２による記録パワー境界値の算出動作は、前述した実施の形態３と同様である。以下、外部より指定された記録線速度が６倍速、記録パワー境界値が“１２．５ｍＷ”、ＯＰＣによって得られた目標記録パワー学習値が“１０ｍＷ”として説明する。
【０１５８】
データ領域へのデータ記録を行う前に、記録線速度“６倍速”でＯＰＣを行い、記録パワー境界値と目標記録パワー学習値とのパワー差分値Ｐｓを算出し、記録速度決定部６０へ転送する。ここでは、パワー差分値Ｐｓは、“２．５ｍＷ”となる。
【０１５９】
記録速度決定部６０は外部（例えばホストコンピュータ等）から指定された記録線速度とこのパワー差分値Ｐｓを基に最終的な記録線速度を決定し、サーボ制御部へ指示する。具体的には、記録速度決定部６０は、外部から指定された記録線速度とパワー差分値Ｐｓとに応じて最終的な記録線速度を決定するためのマトリックステーブルを保持しており、このマトリックステーブルを用いて最終的な記録線速度を決定する。
【０１６０】
図８に上記のマトリックステーブルの一例を示す。図８に示す例では、パワー差分値を所定パワー量ΔＰｓ“１ｍＷ”毎に区切っている。例えば、２ｍＷ≦Ｐｓ＜３ｍＷで、且つ指定された記録線速度が６倍速の場合、このマトリックステーブルからは２倍速が選択されることになる。従って、記録速度決定部６０は最終的な記録線速度を２倍速としてサーボ制御部に指示する。
【０１６１】
その後、２倍速で再度ＯＰＣを行い、従来と同様にＲＯＰＣとＡＰＣによる記録パワー制御を行う。
なお、例えば、１ｍＷ≦Ｐｓ＜２ｍＷでかつ指定された記録線速度が２倍速の場合、図８に示すマトリックステーブルにて記録不能が選択されるが、この場合は、サーボ制御部への記録線速度としてゼロを指定して光ディスクの回転を止め、ホストコンピュータ等の外部へ記録不能であることを教示する。
【０１６２】
また、記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性はメディアメーカ毎に異なる場合もある。そこで、記録速度決定部に各メディアメーカ毎のマトリックステーブルを保持させておき、記録速度決定部が、現在記録しようとする光ディスクのメディアメーカ情報を基にメディアメーカ毎に最終的な記録速度を決定するように構成してもよい。なお、メディアメーカ情報（メーカ名）の取得は、例えば光ディスクに予め記録されているメディアメーカ情報を読み取ることで行ってもよいし、ユーザが外部入力装置より入力するようにするなどしてもよい。
【０１６３】
また、本実施の形態４ではＲＯＰＣ部２０、ＡＰＣ部３０として従来のＲＯＰＣ部１０６、ＡＰＣ部１０７を使用したが、無論、実施の形態１のようにＢ／Ａ目標値補正部１０とセレクタ１１を追加してもよいし、実施の形態２のように、可変記録パワーリミッタ４１を追加してもよい。さらに、本実施の形態４のように記録線速度を決定した上で、実施の形態３のようにＢ／Ａ値制御不可領域での温度制御が可能なようにしてもよい。図９に、実施の形態１〜４で説明したすべての構成を具備する記録パワー制御部分のブロック図を示す。
【０１６４】
以上のように、本実施の形態４によれば、高倍速記録時と低倍速記録時で記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性が異なる場合であっても、安定した記録特性を得られるように光ディスクの回転速度を制御可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０１６５】
本発明にかかる光ディスク記録装置は、高温・低温・高倍速でのデータ記録において、レーザピックアップ出力の温度変化、光ディスクの形状変化、ディスク記録層の記録感度変化などの外乱変動があっても、安定した記録特性を得られるように記録パワー制御を行うことが可能となり、可換で追記・書換え可能な光ディスクに対してデータ信号を高速・高密度で安定して記録する装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１６６】
【図１】本発明の実施の形態１に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図
【図２】本発明の実施の形態２に係る光ディスク記録装置の動作を説明するための図
【図３】本発明の実施の形態２に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図
【図４】本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装置における記録パワー制御の動作を説明するための図
【図５】本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図
【図６】本発明の実施の形態３における温度変動による記録パワー制御の動作を説明するための図
【図７】本発明の実施の形態４に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図
【図８】本発明の実施の形態４における記録速度決定用のマトリックステーブルを示す図
【図９】本発明の他の実施の形態に係る光ディスク記録装置の記録パワー制御部分のブロック図
【図１０】光ディスク上にデータ信号を記録する時のレーザパワー値と反射光量の波形の一例を示す図
【図１１】アシンメトリ値の算出方法を説明するための図
【図１２】従来の光ディスク記録装置の記録パワー制御部分とメカ制御部分に係る概略ブロック図
【図１３】従来の光ディスク記録装置におけるＲＯＰＣ部及びＡＰＣ部の構成を示すブロック図
【図１４】従来の光ディスク記録装置の反射光を演算処理する経路の構成を示すブロック図
【図１５】従来の光ディスク記録装置におけるＢ／Ａ値による記録パワー制御の動作を説明するための図
【図１６】外乱発生時の記録パワー値対Ｂ／Ａ値の特性の変動を示す図
【図１７】外乱発生時の記録特性の誤差を示す図
【符号の説明】
【０１６７】
１０      Ｂ／Ａ目標値補正部
１１、５１、５３、５４      セレクタ
２０      ＲＯＰＣ部
２１      Ｂ／Ａ目標値格納部
２２、３３      減算器
２３      ＲＯＰＣループフィルタ
２４      記録電流補正部
３０      ＡＰＣ部
３１      記録パワー目標値格納部
３２、３５      加算器
３４      ＷＡＰＣループフィルタ
３６      記録パワーリミッタ
４０      温度センサ
４１      可変記録パワーリミッタ
５０      温度可変記録パワー目標値生成部
５２      Ｂ／Ａ値変動検査部
６０      記録速度決定部
７１      メインビーム用フォトダイオード
７２、７３      サブビーム用フォトダイオード
７４、７８      サンプルホールド回路
７５      ＴＥ演算部
７６      ＦＥ演算部
７７      加算器
７９      Ｂ／Ａ値演算部
１００      記録パワー制御装置
１０１      半導体レーザダイオード
１０２      モニタ用フォトダイオード
１０３      サーボ／ＲＦ用フォトダイオード
１０４      Ｂ／Ａ値検出部
１０５      サーボエラー検出部
１０６      ＲＯＰＣ部
１０７      ＡＰＣ部
１０８      サーボ制御部
１０９      メカ部
４０１      境界値
４０２      Ｂ／Ａ値制御可能領域
４０３      Ｂ／Ａ値制御不可領域
【図１】
2005190599.tif 000003
【図２】
2005190599.tif 000004
【図３】
2005190599.tif 000005
【図４】
2005190599.tif 000006
【図５】
2005190599.tif 000007
【図６】
2005190599.tif 000008
【図７】
2005190599.tif 000009
【図８】
2005190599.tif 000010
【図９】
2005190599.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
2005190599.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2005190599.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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