(57)【要約】  【課題】  光ディスクのカバーシートの貼りズレを精度良く検出できるようにする。  【解決手段】  光ディスク１は、一主面に情報信号部が形成されたディスク基板と、情報信号部を少なくとも覆う中央に開口を有するカバーシートとから構成される。ディスク基板の一主面には、カバーシートの開口内にこの開口に応じた形状を有する凹部または凸部が形成されている。１または２以上の撮像手段５が、カバーシートの開口側のエッジおよびディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジを含む画像を撮像する。画像処理手段２が、撮像手段５により撮像された画像に基づきディスク基板に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された距離に基づきカバーシートの貼りズレを検出する。【選択図】  図１
2005063554.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一主面に情報信号部が形成されたディスク基板と、上記情報信号部を少なくとも覆う中央に開口を有するカバーシートとから構成され、
上記ディスク基板の一主面には、上記カバーシートの開口内に上記開口の形状に応じた形状を有する凹部または凸部が形成されている光ディスクのカバーシートの貼りズレを検出するシート貼りズレ検出装置であって、
光ディスクを載置する載置手段と、
上記載置手段に載置された上記光ディスクにおけるカバーシートの開口側のエッジおよびディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジを含む画像を撮像する１または２以上の撮像手段と、
上記撮像手段により撮像された画像に基づき上記カバーシートの開口側のエッジと上記ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとの距離を測定し、測定された上記距離に基づき上記カバーシートの貼りズレを検出する画像処理手段と
を備えることを特徴とするシート貼りズレ検出装置。
【請求項２】
上記載置手段により載置された光ディスクの内周部を照射する照明装置を更に備えることを特徴とする請求項１記載のシート貼りズレ検出装置。
【請求項３】
上記画像処理手段は、上記撮像手段により撮像された画像中の１または２以上の箇所において上記ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジと上記カバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された上記距離に基づき上記カバーシートの貼りズレを検出することを特徴とする請求項１記載のシート貼りズレ検出装置。
【請求項４】
上記画像処理手段は、上記撮像手段により撮像された画像を上記光ディスクの中心から外周に向けてまたは外周から中心に向けてサーチして、上記カバーシートの開口側のエッジを検出し、検出された上記カバーシートの開口側のエッジ位置に基づいて上記撮像手段により撮像された画像中の１または２以上の箇所において上記ディスク基板に形成された凹部または凸部のエッジと上記カバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された上記距離に基づき上記カバーシートの貼りズレを検出することを特徴とする請求項１記載のシート貼りズレ検出装置。
【請求項５】
上記載置手段は、載置された上記光ディスクを回転する回転手段を備え、
１または２以上の上記撮像手段が、上記回転手段により回転された上記光ディスクの内周部を撮像することを特徴とする請求項１記載のシート貼りズレ検出装置。
【請求項６】
上記カバーシートの開口は円形状を有し、上記ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部は、上記開口と中心を同じくする円形状の溝または突起であることを特徴とする請求項１記載のシート貼りズレ検出装置。
【請求項７】
一主面に情報信号部が形成されたディスク基板と、上記情報信号部を少なくとも覆う中央に開口を有するカバーシートとから構成され、
上記ディスク基板の一主面には、上記カバーシートの開口内に上記開口の形状に応じた形状を有する凹部または凸部が形成されている光ディスクのカバーシートの貼りズレを検出するシート貼りズレ検出方法であって
載置手段に載置された光ディスクにおける上記カバーシートの開口側のエッジおよびディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジを含む画像を１または２以上の撮像手段により撮像する撮像ステップと、
１または２以上の上記撮像手段により撮像された画像に基づきカバーシートの開口側のエッジと上記ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとの距離を測定し、測定された上記距離に基づき上記カバーシートの貼りズレを検出する検出ステップと
を備えることを特徴とするシート貼りズレ検出方法。
【請求項８】
上記撮像ステップの前に、上記載置手段により載置された光ディスクの内周部を照明装置により照射する照射ステップを更に備えることを特徴とする請求項７記載のシート貼りズレ検出方法。
【請求項９】
上記検出ステップは、上記撮像手段により撮像された画像中の１または２以上の箇所において上記ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジと上記カバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された上記距離に基づき上記カバーシートの貼りズレを検出することを特徴とする請求項７記載のシート貼りズレ検出方法。
【請求項１０】
上記検出ステップは、上記撮像手段により撮像された画像を光ディスクの中心から外周に向けてまたは外周から中心に向けてサーチして、カバーシートの開口側のエッジを検出し、検出された上記カバーシートの開口側のエッジ位置に基づいて上記撮像手段により撮像された画像中の１または２以上の箇所において上記ディスク基板に形成された凹部または凸部のエッジと上記カバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された上記距離に基づき上記カバーシートの貼りズレを検出することを特徴とする請求項７記載のシート貼りズレ検出方法。
【請求項１１】
上記撮像ステップ後、上記検出ステップ前に、上記載置手段により載置された上記光ディスクを回転する回転ステップと、
上記回転ステップにより回転された上記光ディスクの内周部を１または２以上の上記撮像手段により撮像する撮像ステップと
を更に備えることを特徴とする請求項７記載のシート貼りズレ検出方法。
【請求項１２】
上記カバーシートの開口は円形状を有し、上記ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部は、上記開口と中心を同じくする円形状の溝または突起であることを特徴とする請求項７記載のシート貼りズレ検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ディスク基板の一主面に貼り合わされたカバーシートの貼りズレを検出するシート貼りズレ検出装置およびシート貼りズレ検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクでは、その耐久性および信頼性を保証するために、ディスク基板上に保護膜が正常に形成されているか、またはディスク基板自体に傷や割れ等の欠陥が存在していないか、を検査する必要がある。また、光ディスクでは、スムーズな記録／再生を保証するために、相変化膜もしくは磁性膜などの記録膜または反射膜がディスク基板上に正常に成膜されているか、またはこれらの膜中にキズや異物もしくはピンホール等の欠陥が存在していないか、を検査する必要もある。
【０００３】
そこで、欠陥の有無を検出する方法として、以下の方法が提案されている。この方法では、光ディスクを回転駆動させながら光ディスクに対して基板側からレーザ光を照射させて、レーザ光により光ディスク全面を走査する。光ディスクからの反射光（ピンホールの場合は透過光）が、フォトディテクタにおいて受光され、電気信号に変換されて出力される。そして、出力された電気信号が、検出回路において、正常な信号レベルよりも若干低いスライスレベル、もしくは若干高いレベルに予め設定されたスライスレベルと比較される。正常な信号レベルよりも若干低いスライスレベルより低い場合には、もしくは若干高いスライスレベルより高い場合には、光ディスク中に欠陥があると判別される。
【０００４】
また、保護膜の成膜状態を検出する方法として、以下の方法が提案されている。この方法では、光ディスクを回転駆動させながら、光ディスクに対して保護膜側からレーザ光を照射させて、レーザ光により光ディスク全面を走査する。光ディスクからの反射光が、フォトディテクタにおいて受光され、電気信号に変換されて出力される。そして、出力された電気信号が、検出回路において、正常な信号レベルよりも若干高いレベルに予め設定されたスライスレベルと比較され、このスライスレベルよりも高い場合には、保護膜が正常に成膜されていないと判別される。
【０００５】
ところで、近年では、ディスク基板側からではなく、ディスク基板上に形成された保護層側からレーザ光を照射することにより情報信号の記録および／または再生を行うようにした次世代の高密度光ディスク（例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）が提案されている。
【０００６】
図１１Ａは、次世代の高密度光ディスク１００の記録または再生時におけるイメージを示す。図１１Ａに示すように、次世代の高密度光ディスク１００では、光ピックアップ１０４により保護膜１０３側から記録膜１０２に対してレーザ光を照射することにより、情報信号の記録および／または再生が行われる。
【０００７】
図１１Ｂは、従来の光ディスク１１０の記録または再生時におけるイメージを示す。図１１Ｂに示すように、従来の光ディスク１１０では、光ピックアップ１１４によりディスク基板１１１側から記録膜１１２に対してレーザ光を照射することにより、情報信号の記録および／または再生が行われる。
【０００８】
また、次世代の高密度光ディスクでは、従来の光ディスクとは異なるプロセスにより保護膜がディスク基板上に形成される。従来の光ディスクでは、スピンコート法により紫外線硬化樹脂をディスク基板上に一様に塗布し、紫外線を照射して硬化することにより保護膜が形成される。一方、次世代の高密度光ディスクでは、ポリカーボネートからなる、無色透明のカバーシートを、接着剤を介して、ディスク基板に貼り合わせるプロセスにより、保護膜が形成される。
【０００９】
このため、次世代の高密度光ディスクの保護膜形成工程では、ディスク基板の中心とカバーシートの中心とが一致せずに、カバーシートの中心がディスク基板の中心からずれる、いわゆる貼りズレを起こすことがある。
【００１０】
図１２Ａに、カバーシートの貼りズレがある光ディスクの平面図を示す。図１２Ｂに、カバーシートの貼りズレがない光ディスクの平面図を示す。図１２Ａに示すように、カバーシートの貼りズレが生じた場合には、カバーシートが相変化膜や磁性膜など記録層または反射膜を完全に覆わないことになる。その結果、光ディスクの耐久性が損なわれるばかりではなく、相変化膜や磁性膜などの記録膜または反射膜が剥がれ、正常な記録／再生が損なわれる可能性もある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
このため、カバーシートの貼りズレを検出することが重要になるが、上述した保護膜の成膜状態を検出する方法では、このカバーシートの貼りズレを検出することは困難である。すなわち、次世代の高密度光ディスクではカバーシートが厚さ０．１ｍｍを有する透明シートであるため、ディスク基板に対してカバーシートがズレて貼られている光ディスクをレーザ光により走査しても反射光の増減は殆どなない。
【００１２】
また、カバーシートの貼りズレの度合いによっては、カバーシートが情報信号部を覆っているが、ディスク基板からはみ出してしまう場合がある。上述した保護膜の成膜状態を検出する方法では、このような貼りズレを検出することはより困難である。これは、上述した保護膜の成膜状態を検出する方法では、図１３に示すように、その検査範囲が記録エリアに限定されているためである。この理由として、（１）光ディスクの安定した記録、再生に関わる部分は記録エリアであること、（２）ディスク最内周および最外周に一般的に存在するミラーエリアは、情報信号の記録などには直接関係が無いこと、（３）ミラーエリアと記録エリアには著しい反射率の差が存在するために、上述した記録膜などを検査する方法では、ミラーエリアと記録エリアの境目で電気信号が乱れ、カバーシートの貼りズレと判別する可能性があることが挙げられる。
【００１３】
そこで、目視によりカバーシートの貼りズレを検出する方法と、画像処理によりカバーシートの貼りズレを検出する方法とが提案されている。ところが、目視によりカバーシートの貼りズレを検出する方法では、カバーシートの貼りズレを検出する工程における人件費が増大することと、貼りズレの検出精度に個人差があることなどが問題となる。一方、画像処理によりカバーシートの貼りズレを検出する方法では、カバーシートの貼りズレを検出するシステムの構築に多額の費用がかかり、その結果、設備費用の上昇を招いてしまうという問題がある。
【００１４】
したがって、この発明の目的は、安価で且つ精度良くカバーシートの貼りズレを検出することができるシート貼りズレ検出装置およびシート貼りズレ検出方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するために、第１の発明は、一主面に情報信号部が形成されたディスク基板と、情報信号部を少なくとも覆う中央に開口を有するカバーシートとから構成され、
ディスク基板の一主面には、カバーシートの開口内に開口の形状に応じた形状を有する凹部または凸部が形成されている光ディスクのカバーシートの貼りズレを検出するシート貼りズレ検出装置であって、
光ディスクを載置する載置手段と、
載置手段に載置された光ディスクにおけるカバーシートの開口側のエッジおよびディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部を含む画像を撮像する１または２以上の撮像手段と、
撮像手段により撮像された画像に基づきディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された距離に基づきカバーシートの貼りズレを検出する画像処理手段と
を備えることを特徴とするシート貼りズレ検出装置である。
【００１６】
第１の発明において、撮像手段は、典型的にはカメラである。また、第１の発明において、載置手段は、典型的にはターンテーブルである。
【００１７】
第２の発明は、一主面に情報信号部が形成されたディスク基板と、情報信号部を少なくとも覆う中央に開口を有するカバーシートとから構成され、
ディスク基板の一主面には、カバーシートの開口内に開口の形状に応じた形状を有する凹部または凸部が形成されている光ディスクのカバーシートの貼りズレを検出するシート貼りズレ検出方法であって
載置手段に載置された光ディスクにおけるカバーシートの開口側のエッジおよびディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部を含む画像を撮像する１または２以上の撮像ステップと、
１または２以上の撮像手段により撮像された画像に基づきディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された距離に基づきカバーシートの貼りズレを検出する検出ステップと
を備えることを特徴とするシート貼りズレ検出方法である。
【００１８】
第２の発明において、撮像手段は、典型的にはカメラである。また、第２の発明において、載置手段は、典型的にはターンテーブルである。
【００１９】
この発明によれば、カバーシートの開口側のエッジおよびディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジを含む画像を撮像し、撮像された画像に基づきディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシートの開口側のエッジとの距離を測定し、測定された距離に基づきカバーシートの貼りズレを検出するため、ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシートの開口側のエッジとに基づきカバーシートの貼りズレを検出することができる。
【発明の効果】
【００２０】
以上説明したように、請求項１または７に係る発明によれば、ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシートの開口側のエッジとに基づきカバーシートの貼りズレを検出することができ、これにより、安価で且つ精度良くカバーシートの貼りズレを検出することができる。
【００２１】
また、請求項２または８に係る発明によれば、撮像手段により撮像される画像のコントラストを高めることができ、これにより、ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシートの開口側のエッジとの検出精度をより向上させることができる。すなわち、カバーシートの貼りズレ検出の精度をより向上させることができる。
【００２２】
請求項３または９に係る発明によれば、撮像手段により撮像された画像範囲を全て検出することなくカバーシートの貼りズレを検出することができ、これにより、カバーシートの貼りズレ検出時間を短縮することができる。
【００２３】
請求項４または１０に係る発明によれば、撮像手段により撮像された画像から、ディスク基板の一主面に形成された凹部または凸部のエッジとカバーシート開口側のエッジとを含む画像範囲を的確に選び出すことができ、これにより、カバーシートの貼りズレ検出時間を短縮することができ、且つ、安定した計測を行うことができる。
【００２４】
請求項５または１１の発明によれば、少ない台数の撮像手段によって光ディスクの内周部を広範囲に渡って撮像することができ、これにより、撮像手段の設置台数が少ない場合であってもカバーシートの貼りズレを精度良く検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
この発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態の全図においては、同一または対応する部分には同一の符号を付す。
【００２６】
図１は、この発明の第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置の全体構成の一例を示す側面図である。この第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置は、主として、画像処理装置２、ディスプレイ３、カメラケーブル４、１または２以上のカメラ５、ターンテーブル６、照明装置７およびカメラ支持部８から構成される。シート貼りズレ検出装置に備えられるカメラ５の数は、貼りズレを精度良く検出することを考慮すると、３以上であることが好ましい。以下では、一例として、３のカメラ５ａ，５ｂ，５ｃが貼りズレ検出装置に備えられている場合を例として示す。
【００２７】
図２は、光ディスク１の構成の一例を示す断面図である。図３は、光ディスク１の構成の一例を示す上面図である。光ディスク１は、主として、中央部にセンターホール１６を有する円環形状のディスク基板１１と、このディスク基板１１の一主面に形成された情報信号部１２と、中央部に貫通孔を有する平面円環形状の光透過層１５とから構成される。この光ディスク１は、情報信号部１２に対して薄い光透過層１５が設けられた側からレーザ光を照射することにより情報信号の記録／再生が行われる光ディスク（例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）である。記録／再生に用いられる光の波長は、好ましくは４００ｎｍ〜４１０ｎｍの範囲であり、例えば４０５ｎｍである。また、記録／再生に用いられる光を集光するレンズの開口数は、好ましくは０．８４〜０．８６の範囲であり、例えば０．８５である。
【００２８】
ディスク基板１１は、中央部にセンターホール１６を有するとともに、一主面に凹凸が形成されている。ディスク基板１１の厚さは、好ましくは０．６ｍｍ〜１．２ｍｍの範囲であり、例えば１．１ｍｍである。このディスク基板１１の直径（外径）は、例えば１２０ｍｍであり、センターホールの開口径（内口径）は、例えば１５ｍｍである。また、ディスク基板１１の材料としては、例えばポリカーボネート（ＰＣ）やシクロオレフィンポリマー（例えば、ゼオネックス（登録商標））などの低吸水性の樹脂が用いられる。
【００２９】
情報信号部１２は、反射膜または記録層を少なくとも有する積層膜である。記録層は、追記型および書換可能型のそれぞれのメモリ形態に応じて、有機色素膜、相変化膜、磁性膜などが選ばれる。光ディスク１が再生専用型である場合、情報信号部１２は、例えば、金属元素、半金属元素、およびこれらの化合物または混合物からなる反射膜である。また、光ディスク１が追記型である場合、情報信号部１２は、例えば、反射膜、有機色素膜をディスク基板１１上に順次積層して構成される積層膜である。また、光ディスク１が書換可能型である場合、情報信号部１２は、例えば、反射膜、下層誘電体層、相変化膜、上層誘電体層をディスク基板１１上に順次積層して構成される積層膜である。
【００３０】
光透過層１５は、カバーシート１４と、このカバーシート１４をディスク基板１１の一主面に接着するための接着層１３とから構成される。カバーシート１４は、ディスク基板１１におけると同様に、平面円環状に打ち抜かれた構造を有し、中央部に貫通孔が形成されている。カバーシート１４の直径（外径）は、ディスク基板１１の外径とほぼ同じ、またはそれ以下であり、例えば１２０ｍｍである。一方、貫通孔の径（内孔径）は、センターホールの開口径以上、かつ、クランプ領域の最内周径以下の範囲であり、例えば２２．７ｍｍである。また、カバーシート１４の厚さは、好適には６０μｍ〜１００μｍの範囲であり、より好適には７０〜１００μｍの範囲である。この第１の実施形態においては、カバーシート１４が、ディスク基板１１の一主面に感圧性粘着剤（ＰＳＡ）からなる接着層１３を介して貼り合わせられることを考慮すると、カバーシート１４の厚さは、例えば７０μｍに選ばれる。なお、このカバーシート１４の厚さは、情報信号の記録／再生に用いられるレーザ光の波長や、光透過層１５の所望とする膜厚を考慮して決定することが好ましい。
【００３１】
カバーシート１４は、少なくとも記録／再生に用いられるレーザ光を透過可能な光学特性を満足した熱可塑性樹脂からなる。この熱可塑性樹脂は、耐熱寸法安定性、熱膨張率、または吸湿膨張率などの物性値がディスク基板１１に近い材料から選ばれ、具体的には、例えばポリカーボネート（ＰＣ）や、ポリメチルメタクリレート（ポリメタクリル酸メチル）などのメタクリル樹脂などから選ばれる。
【００３２】
また、接着層１３を構成するＰＳＡは、例えばメタクリル樹脂などである。また、この接着層１３の厚さは、例えば３０μｍであるが、接着層１３の厚さや、感圧性粘着剤として用いられる材料は、光透過層１５の所望とする膜厚や、情報信号の記録／再生に用いられるレーザ光の波長を考慮して決定することが好ましい。
【００３３】
溝１７は、センターホール１６と中心を同じくする円形状を有する。この溝１７は、例えば、従来の光ディスクの製造工程においてディスク基板１１の内周部に形成されるスタンパ溝である。また、この溝１７の直径は、センターホール１６の直径より大きくカバーシート１４の内径未満の範囲であり、例えば２２．４ｍｍである。以下では、溝１７における光ディスク１の中心側のエッジを、溝内周エッジ１７ａと称し、溝１７における光ディスク１の外周側のエッジを、溝外周エッジ１７ｂと称する。また、カバーシート１４における開口側のエッジをカバーシート内周エッジ１４ａと称し、カバーシート１４における外周側のエッジをカバーシート外周エッジ１４ｂと称する。
【００３４】
図４に、カバーシート１４の貼りズレがない光ディスク１の内周部の一例を示す。図５に、カバーシート１４の貼りズレがある光ディスク１の内周部の一例を示す。ここでは、カバーシート１４およびディスク基板１１に偏芯が無いものと仮定する。カバーシート１４がディスク基板１１に対してズレなく貼付された場合、図４に示すように、カバーシート内周エッジ１４ａと溝外周エッジ１７ｂとのエッジ間の距離は、光ディスク１の内周部のどの部分を計測しても一定の値となる。一方、カバーシート１４がディスク基板１１に対してズレて貼付された場合、図５に示すように、カバーシート内周エッジ１４ａと溝外周エッジ１７ｂとの距離は光ディスク１の内周部における計測位置によって値が変動する。この第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置では、上述の特性を利用して、ディスク基板１１に対するカバーシート１４の貼りズレを検出するものである。
【００３５】
カメラ支持部８は、支柱９と、この支柱９上に接続されたカメラ取付部１０とからなる。このカメラ取付部１０は、ターンテーブル６の所定位置に載置された光ディスク１の内周部を撮像可能な位置にカメラ５ａ，５ｂ，５ｃを支持する。また、支柱９は、図示を省略したシリンダを有し、このシリンダによりカメラ取付部１０を上下動することができる。
【００３６】
図６は、ターンテーブル６上に支持されたカメラ５ａ，５ｂ，５ｃの支持位置の一例を示す上面図である。図６に示すように、３台のカメラ５ａ，５ｂ，５ｃが、光ディスク１のセンターホール１６を中心とする同心円上に隣り合うカメラ５ａ，５ｂ，５ｃ同士が等間隔となるように配置されている。
【００３７】
カメラ５ａ，５ｂ，５ｃはディジタルカメラであり、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）カメラまたはＣＭＯＳ(Complementary Metal Oxide Semiconductor)カメラである。このカメラ５ａ，５ｂ，５ｃは、画像処理装置２の制御により、ターンテーブル６の所定位置に載置された光ディスク１の内周部を撮像し、撮像した画像のデータをカメラケーブル４ａ，４ｂ，４ｃを介して画像処理装置２に供給する。また、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃのシャッタースピードは、鮮明な画像を取ることを考慮して選ぶことが好ましく、例えば約１／１２５秒に選ばれる。
【００３８】
例えば、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃの撮像素子（例えば、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ）として（横）６４０画素×（縦）４８０画素のものを選択し、計測ウィンドウを５．５ｍｍ×５．５ｍｍに選択した場合には、１画素が８．６μｍ（横：５．５／６４０）、１１．５μｍ（縦：５．５／４８０）の分解能となる。
【００３９】
図７は、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃの撮像範囲の一例を示す。図８に示すように、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃの撮像範囲は、光ディスク１のセンターホール１６を中心とする同心円上に隣り合う撮像範囲と等間隔となるように位置されている。各撮像範囲は、例えば５．５ｍｍ×５．５ｍｍの範囲である。この範囲を角度に換算すると、約２０．６度の範囲である。以下では、カメラ５ａ，カメラ５ｂ，カメラ５ｃにより撮像される撮像範囲を、それぞれ、第１の計測ウィンドウ３１ａ、第２の計測ウィンドウ３１ｂ、第３の計測ウィンドウ３１ｃと称する。
【００４０】
図８に、ターンテーブル６の構成の一例を示す上面図を示す。ターンテーブル６は円盤状の形状を有し、その一主面には複数の光ディスク１を所定位置に載置するための複数の受け皿２１が設けられている。これらの受け皿２１は、ターンテーブル６と中心を同じくする円周上に隣り合う受け皿２１同士が等間隔となるように配置されている。また、受け皿２１には、ターンテーブル６の下に備えられた照明装置７から出射される光を少なくとも光ディスク１の内周部分に照射するための照射孔２２が設けられている。ターンテーブル６の中心は、図示を省略した支柱に回転可能に支持されている。また、ターンテーブル６上のカバーシート貼りズレ検査位置２３は、ターンテーブル６上に載置された複数の光ディスク１のうち、貼りズレの検査が行われる光ディスク１の位置を示す。この貼りズレ検査位置２３の上方に、上述のカメラ５ａ，５ｂ，５ｃが配置されている。
【００４１】
照明装置７は、カバーシート貼りズレ検査位置２３の下方に配置され、ターンテーブル６上のディスク受け皿２１に載置された光ディスク１の内周部に照射孔２２を介して光を照射する。この照明装置７としては、ターンテーブル６に載置された光ディスク１の内周部全面を均一に照射可能な照明装置が好ましい。このような照明装置としては、例えば同軸落射照明装置が挙げられる。また、照明装置の光源としては、コントラストを高めてカバーシート内周エッジ１４ａおよび溝外周エッジ１７ｂを精度よく検出することを考慮すると、白色光を出射する光源を用いることが好ましい。このような光源としては、例えば白色ＬＥＤ(Light Emitting Diode)、ハロゲンランプなどが挙げられる。
【００４２】
画像処理装置２は、カメラケーブル４ａ，４ｂ，４ｃによりカメラ５ａ，５ｂ，５ｃと接続され、このカメラケーブル４ａ，４ｂ，４ｃを介してカメラ５ａ，５ｂ，５ｃから供給される画像のデータを処理する。カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにより撮像された画像に基づきカバーシート内周エッジ１４ａと溝外周エッジ１７ｂとを検出し、この検出されたカバーシート内周エッジ１４ａと溝外周エッジ１７ｂとの距離を計測し、この計測結果に基づきカバーシート１４の貼りズレを検出する。
【００４３】
図９は、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにより撮像された画像の一例を示す。図９に示すように、撮像された光ディスク１の内周部には、エッジサーチ位置補正用ボックス４１、第１の計測ボックス４２ａ、第２の計測ボックス４２ｂおよび第３の計測ブックス４２ｃが配置される。エッジサーチ位置補正用ボックス４１は、カバーシート内周エッジ１４ａを検出するためのサーチ範囲である。このエッジサーチ位置補正用ボックス４１内において検出されたカバーシート内周エッジ１４ａを基準として各計測ボックス４２ａ，４２ｂ，４２ｃが配置される。ここで、計測ボックス４２ａ，４２ｂ，４２ｃは、隣り合う計測ボックス４２ａ，４２ｂ，４２ｃ同士が等間隔となるように配置されることが好ましい。各計測ボックス４２ａ，４２ｂ，４２ｃは、溝外周エッジ１７ｂと、カバーシート内周エッジ１４ａとの間の距離を計測するための計測範囲である。ここでは、距離は画素数として計測される。なお、計測ボックス４２の数はこの例に限られるものではなく、１または２以上の計測ボックス４２を撮像された画像内に配置することが可能であることは言うまでもない。但し、計測ボックス４２の数は、２または３であることが好ましい。計測ボックス４２の数が１であると、貼りズレ検出精度が低下する。また、計測ボックス４２の数が４以上であっても、貼りズレ検出精度は計測ボックス４２の数が１または２の場合とほぼ同様である。
【００４４】
ディスプレイ３は、図示を省略したケーブルにより画像処理装置２と接続され、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにおいて撮影された画像や画像処理プログラムなどが表示される。
【００４５】
以下、図１０を参照しながら、この第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置の動作について説明する。図１０は、この第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【００４６】
まず、ステップＳ１において、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃが、画像処理装置２の制御により、第１の計測ウィンドウ３１ａ、第２の計測ウィンドウ３１ｂ、第３の計測ウィンドウ３１ｃにおける画像を撮像し、撮像した画像のデータを画像処理装置２に供給する。
【００４７】
次に、ステップＳ２において、画像処理装置２が、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにより撮像されたそれぞれの画像中において、光ディスク１の外周から中心に向けて（図９中、サーチ方向４１ａ）または中心から外周に向けて（図９中、サーチ方向４１ｂ）エッジサーチ位置補正用ボックス４１内をサーチし、例えば輝度の変化に基づきカバーシート内周エッジ１４ａを検出する。そして、カバーシート内周エッジ１４ａを基準にして、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにより撮像された各画像内においてそれぞれ第１の計測ボックス４２ａ、第２の計測ボックス４２ｂ、第３の計測ボックス４２ｃを配置する。なお、サーチ方向は、カバーシート内周エッジ１４ａの検出精度の観点からすると、光ディスク１の外周から中心に向かう方向であることが好ましい。ディスク基板１１の成型時にセンターホール１６と溝１７との間に凹凸などが形成されているため、光ディスク１の中心から外周に向けてエッジサーチ位置補正用ボックス４１内をサーチすると、カバーシート内周エッジ１４ａの検出精度が低下してしまう傾向がある。
【００４８】
次に、ステップＳ３において、画像処理装置２が、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにより撮像された各画像内の第１の計測ボックス４２ａにおいて、例えば輝度の違いに基づいて溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとを検出する。そして、検出された溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとに基づいて溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとの間の距離を計測する。ここでは、距離は画素数として検出される。
【００４９】
次に、ステップＳ４において、画像処理装置２が、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにより撮像された各画像内の第２の計測ボックス４２ｂにおいて、例えば輝度の違いに基づいて溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとを検出する。そして、検出された溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとに基づいて溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとの間の距離を計測する。ここでは、距離は画素数として検出される。
【００５０】
次に、ステップＳ５において、画像処理装置２が、カメラ５ａ，５ｂ，５ｃにより撮像された各画像内の第３の計測ボックス４２ｃにおいて、例えば輝度の違いに基づいて溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとを検出する。そして、検出された溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとに基づいて溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとの間の距離を計測する。ここでは、距離は画素数として検出される。
【００５１】
次に、ステップＳ６において、画像処理装置２が、上述のようにして測定された９個の計測値のうち、最大値をＺｍａｘとする。
【００５２】
次に、ステップＳ７において、画像処理装置２が、上述のようにして測定された９個の計測値のうち、最小値をＺｍｉｎとする。
【００５３】
次に、ステップＳ８において、画像処理装置２が、最終判定対象値（最終貼りズレ値）ＦｚｕｒｅとしてＦｚｕｒｅ＝Ｚｍａｘ−Ｚｍｉｎを算出する。
【００５４】
次に、ステップＳ９において、画像処理装置２が、最終判定対象値Ｆｚｕｒｅがしきい値より大きいか否かを判別する。しきい値より大きい場合には、被検査ディスクである光ディスク１は、カバーシート１４の貼りズレがある不良ディスクと判別され、図示を省略した搬出装置によりリジェクトされる。一方、しきい値以下である場合には、被検査ディスクである光ディスク１は、カバーシート１４の貼りズレがない良品ディスクと判別され、図示を省略した搬出装置により、例えばディスク保管部に搬送される。
【００５５】
カメラ５に備えられた撮像素子の画素数が（横）６４０画素×（縦）４８０画素であり、計測ウィンドウが５．５ｍｍ×５．５ｍｍの範囲である場合には、しきい値を例えば８画素とすることが好ましい。
【００５６】
表１に、この第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置による計測データの一例を示す。表１に示すように、カメラ５ｂにおける第３の計測ボックス４２の測定値（画素）が、Ｚｍａｘ（最大値）であり、カメラ５ｃにおける第２の計測ボックス４２の測定値（画素）が、Ｚｍｉｎ（最小値）である。この場合、最終判定対象値、すなわち、ＺｍａｘとＺｍｉｎとの差（Ｚｍａｘ−Ｚｍｉｎ）は、７．９７１となる。例えば、しきい値を７画素とすると、表１の測定値を有する光ディスク１は不良ディスクとなり、しきい値を８画素とすると、表１の測定値を有する光ディスク１は良品ディスクとなる。
【００５７】
【表１】
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【００５８】
この発明の第１の実施形態によれば以下の効果を得ることができる。
１または２以上のカメラ５がターンテーブル６のディスク受け皿２１に載置された光ディスク１の内周部を撮像し、画像処理装置２がカメラ５により撮像された画像に基づきディスク基板１１に形成された溝１７の溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとを検出し、この検出されたエッジ間の距離を計測し、この計測された距離に基づきカバーシート１４の貼りズレを検出するため、安価で且つ精度良くカバーシートの貼りズレを検出することができる。
【００５９】
画像の撮像からシート貼りズレ検出までの時間は、カメラ５および画像処理装置２の性能にもよるが、約０．１秒程度である。すなわち、この第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置では、光ディスク１の生産性の低下を招くことなく、カバーシート１４の貼りズレを精度良く検出することができる。
【００６０】
また、被検査ディスクである光ディスク１においてカバーシート１４の貼りズレを検出し、貼りズレがある光ディスク１を排除するため、ディスク基板１１に対してカバーシート１４を貼り合わせてなる光ディスク１（例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）の信頼性を向上させることができる。
【００６１】
また、この第１の実施形態による貼りズレ検出装置では、光ディスク１を回転する回転機構などが不要であるため、シート貼りズレ装置の作製に要するコストを安価に抑えることができる。
【００６２】
次に、この発明の第２の実施形態について説明する。
この第２の実施形態による貼りズレ検出装置では、ターンテーブル６が、ディスク受け皿２１に載置された光ディスク１を回転する回転手段を備え、１または２以上のカメラが、回転手段により回転された光ディスク１の内周部を撮像する。回転手段としては、例えばインデックスドライブやＤＤドライブを挙げることができる。これ以外のことは第１の実施形態と略同様であるので説明を省略する。
【００６３】
この発明の第２の実施形態によれば、上述した第１の実施形態により得られる効果以外に以下の効果を得ることができる。
少ない数のカメラ５によって光ディスク１の内周部を広範囲に渡って撮像することができ、これにより、カメラ５の設置数が少ない場合であってもカバーシート１４の貼りズレを精度良く検出することができる。
【００６４】
以上、この発明の第１および第２の実施形態について具体的に説明したが、この発明は、上述の第１および第２の実施形態に限定されるものではなく、この発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
【００６５】
例えば、上述の第１および第２の実施形態において挙げた数値はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる数値を用いてもよい。
【００６６】
また、上述した第１および第２の実施形態では、ディスク基板１１の一主面に設けられた溝（スタンパ溝）１７を利用してカバーシート１４の貼りズレを検出する場合を例として示したが、カバーシート１４の貼りズレを検出するためにディスク基板１１に設けられる凹部または凸部はこの例に限られるものではない。カバーシート１４の貼りズレ検出のためにディスク基板１１に設けられる凹部または凸部は、コントラストが明確となる形状であることが好ましい。このような形状を有する凹部または凸部としては、例えば光ディスク１と中心を同じくする円形状の突起、光ディスク１と中心を同じくする円柱状の突起または窪みなどが挙げられる。
【００６７】
また、上述した第１および第２の実施形態では、カバーシート１４の貼りズレを、溝外周エッジ１７ｂとカバーシート内周エッジ１４ａとの距離に基づき検出する例について示したが、溝内周エッジ１７ａとカバーシート内周エッジ１４ａとに基づき検出するよにしてよい。
【００６８】
また、上述した第１および第２の実施形態では、シート貼り合わせ時における気泡などの混入のために、２以上の計測ボックス４２のうちのいずれかにおいて、カバーシート内周エッジ１４ａおよび溝外周エッジ１７ｂの少なくとも一方が検出できなかった場合には、エッジ検出できなかった計測ボックス４２を排除して、エッジの検出ができた計測ボックス４２のみを用いて貼りズレを検出するようにしてもよい。これにより、貼りズレの検出精度をより向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】この発明の第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置の全体構成の一例を示す側面図である。
【図２】この発明の第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置により検査される被検査ディスクの構成の一例を示す断面図である。
【図３】この発明の第１の実施形態によるシート貼りズレ検出装置により検査される被検査ディスクの構成の一例を示す上面図である。
【図４】カバーシートの貼りズレがない被検査ディスクの内周部の一例を示す略線図である。
【図５】カバーシートの貼りズレがある被検査ディスクの内周部の一例を示す略線図である。
【図６】この発明の第１の実施形態による貼りズレ検出装置に備えられたカメラの配置位置の一例を示す上面図である。
【図７】この発明の第１の実施形態による貼りズレ検出装置に備えられたカメラにより撮像される撮像位置の一例を示す略線図である。
【図８】この発明の第１の実施形態による貼りズレ検出装置に備えられたターンテーブルの上面図である。
【図９】この発明の第１の実施形態による貼りズレ検出装置に備えられたカメラにより撮像された画像の一例を示す略線図である。
【図１０】この発明の第１の実施形態による貼りズレ検出装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図１１】図１１Ａは、次世代の高密度光ディスクの記録または再生時におけるイメージを示す断面図、図１１Ｂは、従来の光ディスクの記録または再生時におけるイメージを示す断面図である。
【図１２】図１２Ａは、カバーシートの貼りズレがある光ディスクの平面図、図１２Ｂは、カバーシートの貼りズレがない光ディスクの平面図を示す。
【図１３】次世代の高密度光ディスクの検査範囲を示す平面図である。
【符号の説明】
【００７０】
１・・・光ディスク、２・・・画像処理装置、３・・・ディスプレイ、４ａ，４ｂ，４ｃ・・・カメラケーブル、５ａ，５ｂ，５ｃ・・・カメラ、６・・・ターンテーブル、７・・・照明装置、８・・・カメラ支持部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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