(57)【要約】【課題】  制御を複雑化しないでごみ検知処理の生産性を向上させることができる画像読取装置を提供する。【解決手段】  読取位置に対して原稿を移動させながら原稿画像データを読み取る画像読取装置において、原稿押さえ白板１３の指定領域シェーディング後に読取位置におけるごみを検知するパラメータのレベルを、自動濃度調整の有無によって異ならせる。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
読取位置に対して原稿を移動させながら原稿画像データを読み取る画像読取装置において、原稿押さえ白板の指定領域シェーディング後に読取位置におけるごみを検知するパラメータのレベルを、自動濃度調整モードの有無にて異ならせるゴミ検知処理手段を有することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
ごみを検知するパラメータレベルは、自動濃度調整有りの場合が無しの場合に比べてより暗い値になることを特徴とする請求項１記載の画像読取装置。
【請求項３】
シェーディング時に圧版読取との明暗レベルをそろえるための調整演算機能を持ち、シェーディングと調整演算機能の結果に対して判定処理が行われるごみ検知処理手段を有することを特徴とする請求項１または２記載の画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ドキュメントフィーダ（以下ＤＦと記載）を備えたスキャナ、ＭＦＰ（多機能複写機）、ＦＡＸ等に適用される画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、ＭＦＰには、ＡＥとＮＡＥというモードがある。ＡＥとは自動濃度調整のことであり、地肌濃度を追従しながら地肌を飛ばす処理モードである。ＮＡＥとは、その自動濃度調整が行われないモードである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従来の画像読取装置では、シェーディング補正用の白基準白板をＡＥに基づき読み取り、そこから得られる基準値でＤＦの原稿押さえ白板に対してもＡＥ処理をかけようとすると、地肌濃度に追従するための時間がかかり、ごみ検知を行う際の生産性（原稿読み取り効率）が悪くなるという問題があった。
また、シェーディング補正用の白基準板をＡＥで読み取り、そこから得られる基準値で、ＤＦの原稿押さえ白板に対しても正確に地肌追従するスピードでＡＥ処理をかけた場合、次の原稿読取時では追従スピードが速くなってしまい、画質に影響を与えてしまうため、原稿読取前にＡＥ処理の再設定を行わなくてはならず、制御が複雑になるという問題点があった。
本発明は、上述の問題に鑑み、制御を複雑化しないでごみ検知処理の生産性を向上させることができる画像読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明では、読取位置に対して原稿を移動させながら原稿画像データを読み取る画像読取装置において、原稿押さえ白板の指定領域シェーディング後に読取位置におけるごみを検知するパラメータのレベルを、自動濃度調整モードの有無にて異ならせるゴミ検知処理手段を有する画像読取装置を最も主要な特徴とする。
請求項２記載の発明では、ごみを検知するパラメータレベルは、自動濃度調整有りの場合が無しの場合に比べてより暗い値になる請求項１記載の画像読取装置を主要な特徴とする。
請求項３記載の発明では、シェーディング時に圧版読取との明暗レベルをそろえるための調整演算機能を持ち、シェーディングと調整演算機能の結果に対して判定処理が行われるごみ検知処理手段を有する請求項１または２記載の画像読取装置を主要な特徴とする。
【発明の効果】
【０００５】
本発明では、読取位置に対して原稿を移動させながら原稿画像データを読み取る画像読取装置において、原稿押さえ白板の指定領域シェーディング後に読取位置におけるごみを検知するパラメータのレベルを、自動濃度調整の有無によって異ならせることで、制御を複雑化しないでごみ検知処理を含めた原稿読み取り効率を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
以下、本発明の実施形態を図面に従って説明する。
図１は本発明の実施形態に係る画像読取装置としてのＤＦの構成図である。以下、その構成を動作と併せて説明する。
ＤＦ読取時原稿テーブル１に置かれた原稿は、各ローラ２〜１１によって搬送される。ＤＦの下方に位置する図示しないランプは、白基準板１２から表面読取位置まで移動し、その位置で固定される。そして、搬送される原稿に光を当てて原稿を読み取る。この表面読取位置にＤＦ原稿押さえ白板１３が位置する。
ランプによる光の照射により、白基準板１２にてシェーディング用のデータを読み取ってからランプは表面読取位置まで移動し、原稿がその位置に搬送されてくるまでの時間、このＤＦ原稿押さえ白板１３を読み取る。このとき、表面読取位置のガラス部にごみが付着しているかどうかを検知する。
ごみが付着していると、本来白いはずのＤＦ原稿押さえ白板１２の中に暗いデータが混在するので、その暗さ、明るさのレベル差を利用して表面読取位置のごみの有無を判定する。なお、図１において、符号１４は給紙ベルト、１５は突き当てセンサ、１６は読取入口センサ、１７はレジストセンサを示す。
図２、３は画像処理制御装置（図示省略）でのごみ検知処理へ移行する処理のフロー図である（図２のＳ２０１〜Ｓ２０６、図３のＳ３０１〜Ｓ３０８）。すなわち図２において、白基準板１２の読み取り（Ｓ２０２）、ＤＦ原稿押さえ白板１３の読み取り（Ｓ２０３）、シェーディング補正後（Ｓ２０４）、この制御装置のゴミ検知処理手段（図示省略）によるごみ検知処理が行われ（Ｓ２０５）、このフローは終了する（Ｓ２０６）。また、図３においては、白基準板１２の読み取り（Ｓ３０２）、ＤＦ原稿押さえ白板１３の読み取り（Ｓ３０３）、シェーディング補正（Ｓ３０４）、スキャナγ及びフィルタスルー処理（Ｓ３０５）後、この制御装置のゴミ検知処理手段（図示省略）によるごみ検知処理が行われ（Ｓ３０６）、スキャナγおよびフィルタ再セット（Ｓ３０７）が行われ、このフローは終了する（Ｓ３０８）。つまり、白基準板１２の読取でシェーディング補正用の補正データを作成した後、ＤＦ原稿押さえ白板１３のデータを読み取る。そのＤＦ原稿押さえ白板１３のデータは、シェーディング補正にて用いられた後、ゴミ検知処理手段によるごみ検知処理が行われる。
【実施例１】
【０００７】
図４はＡＥをＤＦ原稿押さえ白板読取時にも行った場合の不具合を示す説明図である。図４で、Ａはシェーディング用の白基準板１２の読取時間、Ｂはごみ検知のためのＤＦ原稿押さえ白板１３の読取時間、Ｃは実際の原稿読取時間を模式的に示したものである。
ＡＥモード時２のように、Ａ、Ｂ、Ｃ全てをＡＥにて処理させようとした場合、ＡＥは、地肌を見ながらより明るいほうへ緩やかに追従していき、その最も明るい部分を地肌として白とする動作をするが、追従スピードが速いと、わずかな明るさの変動にも敏感に反応してしまうため、完全にＡＥ処理がかかるまで、時間を費やす。よって、短い時間でＤＦ原稿押さえ白板１３にＡＥ処理をかけても、ｐ１のように、地肌に追従し切る前に、ごみ検知処理（図の黒い四角部分）が行われてしまうことになって意味がない。
そこで、正確なＡＥ処理をかけるためには、ＡＥモード時３の、Ｂ’のように、原稿押さえ白板１３の読取時間を長くして、ちょうどごみ検知時にｐ２の地肌追従し切った状態にもっていくことになる。従って、双方のパターンの処理時間を比較するとｔ２の時間分、処理スピードが遅くなり、読取装置の生産性が落ちることになる。
また、ＡＥモード時３の場合には、ＤＦ原稿押さえ白板１３の読取時間内に、地肌追従し切ってしまうので、ｐ３では、白板が地肌レベルとして認識されていることになる（ｐ３）。そのとき、原稿に地肌の暗い（新聞のような）ものを読み取ると、今度は暗い地肌に追従するまでに時間がかかり、新聞など原稿の地肌が飛ばなくなってしまう不具合がある。ｐ３で、ＡＥを再設定する方法があるが、そうすると、再設定のための処理時間がかかり、更に読取装置の生産性が落ちることになる。
【０００８】
図５は本実施形態の原稿読取動作の説明図である。本実施形態では、図５にあるように、ＡＥモード時であってもＮＡＥモード時であっても、ＤＦ原稿押さえ白板１３の読取時（ごみ検知用データ読取時）には地肌追従なしにＮＡＥで読み取る。この場合、白基準板１２はＡＥモードで読み取っているので、ＮＡＥで読み取ったＤＦ原稿押さえ白板１３に対するシェーディング補正は、ＡＥ用の基準値で補正されてしまうことになる。
一方、ＮＡＥモードの場合は、ＮＡＥ用の基準値でシェーディング補正されるため、同じＤＦ原稿押さえ白板１３の読取値であってもシェーディング後のデータは異なることになる。そこで、ＡＥモード時とＮＡＥモード時のごみ検知用のパラメータを切り替える処理を行う。図６は図２のステップ２０５及び図３のステップ３０６におけるゴミ検知処理において、ＡＥモード時とＮＡＥモード時のごみ検知用のパラメータを切り替える処理のフロー図である（Ｓ６０１〜Ｓ６１１）。すなわち、図６においては、図５のＡＥモードとＮＡＥモードとを判断し（Ｓ６０２）、パラメータの切り替え値として、白基準板１２のＡＥ読取モードでない場合には、閾値としてＡをセットし（Ｓ６０３）、ＡＥでない場合には閾値としてＢをセットする（Ｓ６０４）。そして、この閾値より暗い値ｄの有無を判断し（Ｓ６０５）、該当する値があった時カウンタをインクリメントする（Ｓ６０６）、検知領域内の場合にはステップ６０５に戻り、検知領域外の場合にはステップ６０８へ進み（Ｓ６０７）、カウンタ値が閾値を越える場合には（Ｓ６０８、Ｙｅｓ）、ゴミありと判定し（Ｓ６０９）、閾値以下の場合にはゴミなしと判定する（Ｓ６１０）。
【実施例２】
【０００９】
図７は、ＡＥの白基準値とＮＡＥの白基準値でシェーディングを行った場合、ＮＡＥで読み取ったデータのシェーディング補正後結果が変わる様子を示す説明図である。
同じｐ４というデータを見たとき、ＡＥ時はＮＡＥ時に比べて白基準がより明るいところに置かれるためレンジが広がる。そのため、ｐ４は相対的にレベルが変わってしまう。同じデータであれば、ＡＥ時の基準値でシェーディングしたときの方がより暗い計算結果になる。
そこで、本実施形態のごみ検知のパラメータ切り替え設定においては、以下のようにする。
ＡＥ時の検知パラメータ＞ＮＡＥ時の検知パラメータ（２５５＝白、０＝黒の場合）
ＡＥ時の検知パラメータ＜ＮＡＥ時の検知パラメータ（２５５＝黒、０＝白の場合）
【実施例３】
【００１０】
図８はＤＦ読取時のレベル調整の説明図である。圧板読取に比べ、ＤＦ読取時には光量が少なくなるため、読取レベルＤ２が暗くなる。そこで、圧板読取時のレベルＤ１になるように、明るいほうへレベルを変える。レベル調整後のデータをＤｏｕｔとするとき、Ｄｏｕｔ＝Ｄ２＋Ｄ２＊Ｌ１
というレベルの調整演算を行う。このとき、Ｄｏｕｔ≒Ｄ１となるように、Ｌ１の値を決定する。この結果、読み取ったデータのレンジが広くなるので、パラメータ切り替え設定の余裕度ができて精度を高くすることができるようになる。
本発明では、ＡＥ時の処理を以下のとおりとする。
ＤＦの原稿押さえ白板１３に対してはＮＡＥのままで処理を行う。（２）ＤＦの原稿押さえ白板１３がＮＡＥのデータのままなのに対して、ＡＥ時の白基準板１２でシェーディング補正がかかるため白板１３の明るさが暗くなるが、その分をごみ検知のパラメータ切り替えによって吸収し、ＡＥ時であってもＮＡＥ時であっても同じようなごみ検知の性能を確保する。
本実施形態によれば、原稿押さえ白板１３にＡＥ処理を行う必要がなくなり、ごみ検知を行う場合の処理時間を必要最低限にすることで生産性を確保できる。
また、ＡＥモード時に、原稿押さえ白板１３にＡＥ処理を行わなくても、正しくごみが検知でき、誤検知によるアプライアンスの低下を防ぐことができる。
また、ＤＦ読取時の若干暗いデータを明るいほうへ調整し、ごみ判定のパラメータ設定余裕度を大きくすることができるので、誤検知によるアプライアンスの低下を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態に係る画像読取装置としてのＤＦの構成図である。
【図２】ごみ検知処理へ移行する処理のフロー図（その１）である。
【図３】ごみ検知処理へ移行する処理のフロー図（その２）である。
【図４】ＡＥをＤＦ原稿押さえ白板読取時にも行った場合の不具合を示す説明図である。
【図５】本発明の原稿読取動作の説明図である。
【図６】ＡＥモード時とＮＡＥモード時のごみ検知用のパラメータを切り替える処理のフロー図である
【図７】ＡＥの白基準値とＮＡＥの白基準値でシェーディングを行った場合、ＮＡＥで読み取ったデータのシェーディング補正後結果が変わる様子を示す説明図である。
【図８】ＤＦ読取時のレベル調整の説明図である。
【符号の説明】
【００１２】
１２  白基準板
１３  ＤＦ原稿押さえ白板（原稿押さえ白板）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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