(57)【要約】【課題】短時間で精度を高く電極のずれを検出する位置検出パネルを提供する。【解決手段】例えば、タッチパネルの右端側の透明電極４の接続配線６の接続端とは逆の端部に下側検査電極４１を設け、タッチパネルの上端側の透明電極５の接続配線７の接続端に上側検査電極７１を設ける。上側検査電極７１を透明電極４の端部側に延設し、下側検査電極４１を上側検査電極７１側に延びるように形成する。下側検査電極４１および上側検査電極７１を、下側基板１および上側基板２が規定の位置に貼り合わされ、かつ上側基板２が押圧操作された状態で、透明電極４，５間の規定の方向へのずれの最大許容値の間隔をおくように配する。下側検査電極４１および上側検査電極７１上の上側基板２が押されて、両検査電極４１，７１が導通すると、透明電極４，５間でずれが生じていると判定される。【選択図】  図１
2005070821.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
押圧操作される第１基板と、該第１基板に対向する第２基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第１基板が対向面に第１電極を有し、前記第２基板が対向面に第２電極を有し、該第１および第２電極の接触位置に基づいて前記第１基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、
前記第１電極と一定の位置関係を持つように形成される第１検査電極と、前記第２電極と一定の位置関係を持つように形成される第２検査電極とを備え、前記第１検査電極と前記第２検査電極とが、規定の位置に前記第１電極が形成された前記第１基板と、規定の位置に前記第２電極が形成された前記第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記第２基板上で規定の方向へ前記第１電極と前記第２電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されていることを特徴とする位置検出パネル。
【請求項２】
押圧操作される第１基板と、該第１基板に対向する第２基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第１基板が対向面に第１電極を有し、前記第２基板が対向面に第２電極を有し、該第１および第２電極の接触位置に基づいて前記第１基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、
前記第１電極と一定の位置関係を持つように形成される第１検査電極と、前記第２電極と一定の位置関係を持つように形成される第２検査電極とを備え、前記第１検査電極と前記第２検査電極とが、前記第２基板上での規定の方向への前記第１電極と前記第２電極とのずれの最大許容値の幅を有し、規定の位置に前記第１電極が形成された前記第１基板と、規定の位置に前記第２電極が形成された前記第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記規定の方向にずれなく重なり合うことを特徴とする位置検出パネル。
【請求項３】
前記第１検査電極は前記第１電極と一体に形成され、前記第２検査電極は前記第２電極と一体に形成されていることを特徴とする請求項１または２に記載の位置検出パネル。
【請求項４】
前記第１または第２検査電極の一方が、前記第２基板上で他方の一部を包囲するように形成されていることを特徴とする請求項１または３に記載の位置検出パネル。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれか１項に記載の位置検出パネルにおいて、前記第１基板における前記第１および第２検査電極上の領域を押圧することにより、前記第１および第２検査電極の導通の有無を判定することを特徴とする位置検出パネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、タッチパネルなどの位置検出パネルにおける電極パターンの印刷ずれの検査を高精度かつ容易にする技術に係り、位置検出パネルおよびその検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
タッチパネルは、ディスプレイの表示面に設けられ、その表示面に表示された画面の入力箇所を押圧操作することにより、表示面上での入力を可能にしている。最も普及しているタッチパネルとしては、アナログ抵抗膜方式のタッチパネルが挙げられる。このアナログ抵抗膜方式のタッチパネルは、特許文献１に開示されているように、軟質フィルムで形成された入力側の基板と、硬質フィルムまたはガラスで形成された他方側の基板と、両基板の対向面側に設けられた抵抗膜とを有し、入力側基板の押圧操作により接触した両基板の抵抗膜と出力端子との間の抵抗値で２次元座標値を検出する。
【０００３】
あるいは、普及型の他のタイプのタッチパネルとしては、デジタルマトリクス式のタッチパネルが挙げられる。このタッチパネルは、両基板の対向面に互いに直交するように形成されたストライプ状の短冊電極を有しており、対向する短冊電極の交差部分が位置検出のためのスイッチ部となり、これらのスイッチ部がマトリクス状に配される構造をなす。このようなタッチパネルでは、押圧されたスイッチ部で互いに接触した対向する２つの短冊電極で入力座標を特定することができる。
【０００４】
このようなタッチパネルの製造には、ＩＴＯ（インジウム錫酸化物）などの透明導電材料がすでに形成された基板に、アナログ抵抗膜式タッチパネルでは出力端子となる銀電極を印刷する工程、デジタルマトリクス式タッチパネルではストライプ状電極の形成のためのエッチングレジスト、配線用銀電極、絶縁膜、取り出し電極などを印刷する工程と、両印刷工程後の両基板を所定間隔をおいて貼り合わせる工程とが含まれている。
【０００５】
貼り合わせの工程を経たタッチパネルには、絶縁不良や導通不良などを確認するための電気検査が行われる。アナログ抵抗膜式のタッチパネルの電気検査においては、棒状部材をタッチパネルの操作面に押圧させた状態で移動させて得られる電圧（押圧位置に応じた抵抗値を表す）が、各押圧位置に対応した規定の許容範囲内の値であるか否かをコンピュータにより解析する。一方、デジタルマトリクス式のタッチパネルの電気検査においては、マトリクス状の各スイッチ部を１つずつ押圧する押圧装置を用いて、押圧されたスイッチ部に対応する短冊電極のＯＮ抵抗を測定し、そのＯＮ抵抗が各押圧位置に対応した規定の許容範囲内の値であるか否かをコンピュータにより解析する。
【０００６】
電気検査により不良と判定されたタッチパネルには、両基板における導電膜材料や接続電極の印刷工程における印刷のずれ、または両基板の貼り合わせの工程における両基板の位置合わせのずれによって、配線電極やマトリクス状電極が正しい位置からずれてしまったタッチパネルが含まれる。
【０００７】
【特許文献１】
特開平２００２−８２７７２号公報（公開日２００２年０３月２２日）
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
従来、このようなタッチパネルによる電極のずれは、目視検査で判定されていた。外観でわかりやすいような大きなずれは、どの検査担当者によっても容易に判定が可能であるが、特に透明なマトリクス状電極については、許容範囲付近の微妙なずれは、判定が難しく検査担当者によって判定のばらつきが生じやすい。
【０００９】
タッチパネルを少品種（特に単一品種または同一規格）かつ大量に生産する場合では、製造工程の自動化が進められており、画像認識技術を用いた位置決めなどにより、電極ずれの発生を減少させることは比較的容易である。しかしながら、タッチパネルを多品種かつ少量に生産する場合では、一般に、各品種に対応した製造工程の自動化にはコスト面で制約があるため、製造に手作業の工程が含まれることが多い。
【００１０】
例えば、電極などの印刷工程においては、印刷台に基板を載置した状態で、印刷版を基板に降ろして印刷を行うため、印刷台における基板の位置決めが正しく行われないと、印刷された電極パターンにずれが生じてしまう。多品種のタッチパネルを製造するために大きさの異なる各種の基板に印刷を行うような場合、印刷台における基板の種類に応じた位置に位置決めのための部材を作業者が取り付ける必要があるが、その位置決め部材が正しい位置に取り付けられないことによってもずれが生じやすくなることがある。また、位置決め部材の配置を品種毎に変更する必要上、位置決め部材は、粘着テープなどの取り外しが容易な材料からなるため、初期には正しい位置に取り付けられていても、基板の入れ替えによって徐々に位置がずれるおそれがある。
【００１１】
また、貼り合わせの工程においては、両基板の所定位置に設けられた位置決め用のマークを両基板間で合わせて貼り合せを行うが、特に、多数の基板を貼り合わせるような場合、集中力の低下などにより、貼り合わせ位置に誤差が生じやすくなる。
【００１２】
手作業による電極のずれは、作業者の作業精度を向上させることにより減少させることができるが、作業者の作業精度には個人差があるため、作業者間で均一の作業精度を確保することは困難である。また、作業精度を向上させるには熟練や高度の注意力を要するため、作業者の育成などコスト面での制約もある。
【００１３】
また、前述の電気検査によって電極のずれを検出することも可能であるが、電極のずれにある点を中心とする回転のずれが含まれている場合、回転の中心からの位置に応じてずれ量が異なるため、検査の精度を高めるには、検査点を基板のほぼ全面にわたって均等に分布させる必要がある。このように多点で検査を行おうとすると、検査時間が長引くことによるコストの上昇を招くという不都合がある。
【００１４】
さらに、良品率の向上が各種の改善により図ることができても、不良品の発生は完全にはなくならないので、上記のように検査の精度を高めることができない状態では、不良品の出荷率を十分に低下させることは困難である。
【００１５】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、短時間かつ高い精度で電極のずれを検出できる機能を備えた位置検出パネルおよびその機能を利用した位置検出パネルの検査方法を提供することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明の位置検出パネルは、上記の課題を解決するために、押圧操作される第１基板と、該第１基板に対向する第２基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第１基板が対向面に第１電極を有し、前記第２基板が対向面に第２電極を有し、該第１および第２電極の接触位置に基づいて前記第１基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、前記第１電極と一定の位置関係を持つように形成される第１検査電極と、前記第２電極と一定の位置関係を持つように形成される第２検査電極とを備え、前記第１検査電極と前記第２検査電極とが、規定の位置に前記第１電極が形成された前記第１基板と、規定の位置に前記第２電極が形成された前記第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記第２基板上で規定の方向へ前記第１電極と前記第２電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されていることを特徴としている。
【００１７】
上記の構成では、第１検査電極が第１電極と一定の位置関係を持つように形成され、第２検査電極が第２電極と一定の位置関係を持つように形成されるので、、形成工程で第１電極にずれが生じれば第１検査電極にも同じずれが生じ、形成工程で第２電極にずれが生じれば第２検査電極にも同じずれが生じる。
【００１８】
規定の位置に第１電極が第１基板と規定の位置に第２電極が形成された第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態では、第１電極と第２電極との間にずれが生じていないので、その状態で、第１検査電極と第２検査電極とが第２基板上での規定の方向に第１電極と第２電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されることにより、製造の工程（第１電極および／または第２電極の形成や第１および第２基板の貼り合わせ）で、第１電極と第２電極との間にずれが生じると、そのずれと同等のずれが第１検査電極と第２検査電極との間にも生じる。それゆえ、そのずれが前記の最大許容値を超えると、第１検査電極と第２検査電極とが重なり合うようになる。そこで、第１検査電極および第２検査電極の部分を第１基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触する。これにより、両検査電極の導通状態が検出されれば、第１電極と第２電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。
【００１９】
本発明の他の位置検出パネルは、上記の課題を解決するために、押圧操作される第１基板と、該第１基板に対向する第２基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第１基板が対向面に第１電極を有し、前記第２基板が対向面に第２電極を有し、該第１および第２電極の接触位置に基づいて前記第１基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、前記第１電極と一定の位置関係を持つように形成される第１検査電極と、前記第２電極と一定の位置関係を持つように形成される第２検査電極とを備え、前記第１検査電極と前記第２検査電極とが、前記第２基板上での規定の方向への前記第１電極と前記第２電極とのずれの最大許容値の幅を有し、規定の位置に前記第１電極が形成された前記第１基板と、規定の位置に前記第２電極が形成された前記第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記規定の方向にずれなく重なり合うことを特徴としている。
【００２０】
上記の構成でも、第１検査電極が第１電極と一定の位置関係を持つように形成され、第２検査電極が第２電極と一定の位置関係を持つように形成されるので、形成工程で第１電極にずれが生じれば第１検査電極にも同じずれが生じ、形成工程で第２電極にずれが生じれば第２検査電極にも同じずれが生じる。
【００２１】
規定の位置に第１電極が第１基板と規定の位置に第２電極が形成された第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態では、第１電極と第２電極との間にずれが生じていないので、その状態で、第１検査電極と第２検査電極とが第２基板上での規定の方向に第１電極と第２電極とのずれの最大許容値の幅を有し、ずれなく重なり合い、かつ接触するように配されることにより、製造の工程（第１電極および／または第２電極の形成や第１および第２基板の貼り合わせ）で、第１電極と第２電極との間にずれが生じると、そのずれと同等のずれが第１検査電極と第２検査電極との間にも生じる。それゆえ、そのずれが前記の最大許容値を超えると、第１検査電極と第２検査電極とが重なり合わないようになる。そこで、第１検査電極および第２検査電極の部分を第１基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触しなくなる。これにより、両検査電極の非導通状態が検出されれば、第１電極と第２電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。
【００２２】
前記の位置検出パネルにおいて、前記第１検査電極は前記第１電極と一体に形成され、前記第２検査電極は前記第２電極と一体に形成されていることが好ましい。このような構成では、第１検査電極を製造において第１電極と同じ形成工程で形成し、第２検査電極を製造において第２電極と同じ形成工程で形成することができる。それゆえ、両検査電極を形成するための工程を増加させないだけでなく、ずれ検査のための第１および第２検査電極の導通状態を第１および第２電極を介して外部に出力することができることから、その出力と位置検出の出力とを共通の出力配線で行うことが可能になる。
【００２３】
先の位置検出パネルにおいては、前記第１または第２検査電極の一方が、前記第２基板上で他方の一部を包囲するように形成されていることが好ましい。このような構成では、第１および第２検査電極間でずれを特定する規定方向を多方向に設定することができ、様々な方向へのずれ検出に対応することができる。
【００２４】
本発明の位置検出パネルの検査方法において、前述のいずれか１つの位置検出パネルにおいて、前記第１基板における前記第１および第２検査電極上の領域を押圧することにより、前記第１および第２検査電極の導通の有無を判定することを特徴としている。
【００２５】
上記の方法では、先の位置検出パネルにおいて、第１基板における該当領域を押圧することで、第１および第２検査電極が導通すれば、前述のように第１および第２電極が最大許容値を超えてずれていることが検出され、第１および第２電極が導通していなければ、第１および第２電極が最大許容値を超えてずれていないことが検出される。また、他の位置検出パネルにおいては、第１および第２検査電極の導通により前述のようにずれが検出されず、非導通によりずれが検出される。
【００２６】
【発明の実施の形態】
〔実施の形態１〕
本発明の一実施形態について図１ないし図６に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００２７】
図２（ａ）および（ｂ）に示すように、本実施形態に係る位置検出パネルとしてのタッチパネルは、下側基板１と、上側基板２と、ドットスペーサ３と、透明電極４，５と、接続配線６，７と、コネクタテール８，９と、シール材１０とを備えている。
【００２８】
第２基板としての下側基板１と第１基板としての上側基板２とは、互いに対向するように一定間隔をおいて配されている。下側基板１は、透明なフィルムまたはガラスによって形成されており、上側基板２は、押圧操作を可能とするようにフィルムなどの可撓性透明材料によって形成されている。
【００２９】
下側基板１の対向面には、一定の幅を有する薄膜状かつ短冊状の複数の透明電極４が互いに平行となるように形成されている。透明電極４は、ＩＴＯなどの透明導電材料によって形成されている。一方、上側基板２の対向面には、一定の幅を有する薄膜状かつ短冊状の複数の透明電極５が互いに平行となり、かつ透明電極４とほぼ直交するように形成されている。透明電極４は、ＩＴＯなどの透明導電材料によって形成されている。
【００３０】
下側基板１上には多数のドットスペーサ３が形成されており、このドットスペーサ３によって下側基板１と上側基板２との間が一定間隔に保持される。そして、下側基板１と上側基板２とは、基板周縁に塗布されたシール材１０によって貼り合わされている。
【００３１】
また、下側基板１上には、透明電極４の一端とコネクタテール８とを接続するための銀などからなる接続配線６が透明電極毎に形成されている。上側基板２上にも同様に、透明電極５の一端とコネクタテール９とを接続するための銀などからなる接続配線７が透明電極毎に形成されている。接続配線６，７は、透明電極４，５と接続される電極端子部と、コネクタテール８，９と接続されるテール端子部と、両端子部間を接続する配線部とからなり、配線部は絶縁膜により覆われている。
【００３２】
コネクタテール８は、透明電極４からの電圧を出力するためのフレキシブル基板からなる出力配線であり、下側基板１の一端縁に貼り付けられている。コネクタテール９は、透明電極５からの電圧を出力するためのフレキシブル基板からなる出力端子であり、下側基板２の一端縁に貼り付けられている。
【００３３】
図１に示すように、透明電極４とこれに対向する透明電極５とで方形のスイッチ部がマトリクス状に形成され、スイッチ部の形成される領域が操作領域となる。上側基板２が押圧操作されると、該当部分のスイッチ部は、透明電極５が対向する透明電極４と接触することによりオンする。そのスイッチ部における導通により、そのスイッチ部の透明電極４，５から接続電極６，７およびコネクタテール８，９を介して出力される電圧に基づいて、図示しないコントローラでは、スイッチ部でのオン抵抗を計測し、押圧された入力座標位置を特定（検出）する。
【００３４】
ここで、上記のように構成されるタッチパネルの製造工程について説明する。
【００３５】
まず、上側基板２側について説明する。一方の面に一面にＩＴＯ薄膜が形成されたフィルムを所望の大きさに切断した後、印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置し、印刷台に設けられたバキューム装置にて吸引固定する。次いで、そのフィルムに透明電極５のストライプパターンのエッチングレジストをシルク印刷法により印刷し、エッチングによりエッチングレジストの印刷されていない領域のＩＴＯ薄膜を除去する。これにより、透明電極５が形成される。また、透明電極５は、上記のようなエッチングによらず他の方法で形成されてもよい。例えば、レーザー光線を用いてＩＴＯ薄膜の不要部分を除去するレーザーエッチングと呼ばれるエッチング法によって透明電極５を形成してもよい。
【００３６】
続いて、接続配線７を形成するための銀ペーストをシルク印刷法により印刷し、さらに接続電極７の配線部上に絶縁膜を形成するための絶縁材料をシルク印刷により印刷する。そして、信号取り出し用の電極をフィルム上にシルク印刷し、その電極形成部分にコネクタテール９を貼り付ける。また、接続配線７の形成は、種々の方法を採用することが可能であり、上記の銀ペーストをシルク印刷する方法によらず他の方法を採用してもよい。例えば、蒸着法によって銀などの配線材料を上側基板２上に堆積形成させる方法がある。
【００３７】
下側基板１側の同様の工程で、透明電極４、接続配線６および絶縁膜の形成や、コネクタテール８の貼り付けなどを行う。そして、基板周縁にシール材１０を塗布して、下側基板１と上側基板２とを、両基板１，２の四隅に記された位置決め用のトンボマーク（十字形状のマーク）を両基板１，２間でそれぞれ一致させた状態で貼り合わせる。
【００３８】
なお、透明電極５の形成と接続配線７の形成とは別工程で行われるが、透明電極５と接続配線７との接続位置を正確に合わせる必要があることから、これらの工程は上側基板２を印刷台に配置した同じ位置で行われる。このため、透明電極と接続配線７とは、一定の位置関係を持つように形成されるので、透明電極５の形成時に生じたずれは、同様に接続配線７にも生じる。したがって、配線電極７に形成される後述の上側検査電極７１は透明電極５と同方向に同量ずれることになる。
【００３９】
ところで、本タッチパネルにおいては、図１中上端の透明電極４の接続配線６の接続端とは逆の端部に下側検査電極４１が設けられ、図１中右端の透明電極５の接続配線７の接続端に上側検査電極７１が設けられている。上側検査電極７１は透明電極４の上記の端部側に延設され、下側検査電極４１は上側検査電極７１側に延びるように形成されている。下側検査電極４１および上側検査電極７１は、透明電極４が規定の位置に形成された下側基板１および透明電極５が規定の位置に形成された上側基板２が、上記のトンボマークによって定まる規定の位置に貼り合わされ、かつ上側検査電極７１が下側基板１上に押圧された状態で、下側基板１上で規定の方向へ透明電極４，５間のずれの最大許容値の間隔をおくように配されている。
【００４０】
なお、上側検査電極７１は、接続端子７の電極端子部を拡大することにより設けられているが、スペースを確保できれば、透明電極５における電極端子部付近を上側検査電極７１と同方向に突出させて同様な形状に形成しても、透明電極５に上側検査電極７１と同等の機能を持たせることができる。
【００４１】
上記の下側検査電極４１および上側検査電極７１を備えることにより、上側基板２から両検査電極４１，７１の部分を押圧したときの両検査電極４１，７１の接触の有無から、透明電極４，５の規定方向のずれが最大許容値で定まる許容範囲を超えたか否かを判定することが可能になる。透明電極４，５のずれが許容範囲より小さい値であれば、両検査電極４１，７１のずれも同じ範囲（非接触範囲）内に収まるため、両検査電極４１，７１が接触しない。一方、透明電極４，５の規定方向のずれが許容範囲を超えれば、両検査電極４１，７１のずれも同様に非接触範囲を超えるため、両検査電極４１，７１が接触する。
【００４２】
続いて、下側検査電極４１および上側検査電極７１の詳細について説明する。
【００４３】
下側検査電極４１および上側検査電極７１は、最も基本的には、図３（ａ）に示すように構成される。図３（ａ）に示すように、透明電極４は、下側検査電極４１として上側検査電極７１に向かい合う端縁から上側検査電極７１側に帯状に延びて形成される帯状電極４１ａを有している。一方、上側検査電極７１は、下側検査電極４１に向かい合う端縁から下側検査電極４１側に帯状に延びて形成される帯状電極７１ａを有している。
【００４４】
帯状電極４１ａ，７１ａとの下側検査電極４１および上側検査電極７１は、下側基板１および上側基板２が規定の位置に貼り合わされた状態（以降、規定貼り合わせ状態と称する）でのＸ座標方向の間隔Ｘは、透明電極４，５間の規定の方向へのずれのＸ座標方向の最大許容値（以降、Ｘ方向最大許容値と称する）に設定されており、規定貼り合わせ状態でのＹ座標方向の間隔Ｙは、透明電極４，５間の規定の方向へのずれのＹ座標方向の最大許容値（以降、Ｙ方向最大許容値と称する）に設定されている。Ｘ方向最大許容値は、例えば、透明電極５の幅の５０％程度に設定され、Ｙ方向最大許容値は、例えば、透明電極４の幅の５０％程度に設定されるが、タッチパネルに要求される位置検出精度に応じて適宜設定される。
【００４５】
このような構成では、帯状電極４１ａから帯状電極７１ａ方向への透明電極４のずれや、その逆方向への透明電極５のずれがＸ方向最大許容値を超えると帯状電極４１ａ，７１ａが重なり合う。このような状態で帯状電極４１ａ，７１ａ上の上側基板２が押圧されると、帯状電極４１ａ，７１ａが接触し、その導通状態をとらえることによって電極のずれが検出される。また、帯状電極４１ａから上側検査電極７１方向への透明電極４のずれや、その逆方向への透明電極５のずれがＹ方向最大許容値を超えると帯状電極４１ａ，７１ａが重なり合う。しかしながら、帯状電極４１ａ，７１ａが互いにＸ座標方向に離れていくずれや、帯状電極４１ａと上側検査電極７１ａとが互いにＹ座標方向に離れていくずれが生じている場合、そのずれは検出できない。
【００４６】
図３（ｂ）に示す構成では、上側検査電極７１が、帯状電極４１ａを間において同様な大きさかつ形状の帯状電極７１ｂを有している。この帯状電極７１ｂも、下側検査電極４１に向かい合う端縁から下側検査電極４１側に向かって形成されており、帯状電極４１ａの間隔ＸはＸ方向最大許容値をおいて配されている。このような構成では、図３（ａ）の構成が検出できなかったＸ座標方向の上記のずれを検出することができるが、Ｙ座標方向の上記のずれについては検出できない。
【００４７】
図３（ｃ）に示す構成では、図３（ｂ）に示す帯状部材７１ａ，７１ｂを設ける代わりに、帯状部材４１ａより長く形成された帯状部材４１ｂの先端部分を取り囲む凹部７１ｃが上側検査電極７１に設けられていてもよい。したがって、この構成では、帯状電極４１ｂの先端部分が凹部７１内に配置される。勿論、この構成においても、帯状電極４１ｂと凹部７１ｃとの間隔ＸはＸ方向最大許容値に設定され、間隔ＹはＹ方向最大許容値に設定されているので、図３（ｂ）に示す構成と同様の方向にずれを検出することができる。
【００４８】
図４（ａ）に示す構成では、下側検査電極４１として下側電極４が振子状電極４１ｃを有している。振子状電極４１ｃは、上側検査電極７１に向かい合う端縁から上側検査電極７１側に帯状に延びて形成される帯状部と、この帯状部の先端に設けられた円形部とからなる。一方、上側検査電極７１は、振子状電極４１ｃの円形部より大きい径の円形部と、この円形部と上側検査電極７１の端縁との間に形成される括れ部を有する凹部７１ｄを有している。また、括れ部の幅は、振子状電極４１ｃの帯状部の幅より大きく設定されている。
【００４９】
振子状電極４１ｃおよび上側検査電極７１の両円形部間の間隔Ｘ，Ｙは、それぞれＸ，Ｙ方向最大許容値に設定されている。また、ここでは、間隔Ｘ，Ｙを等しく設定することにより、両円形部間の間隔が間隔Ｘ（＝Ｙ）となる。一方、振子状電極４１ｃの帯状部と凹部７１ｄの括れ部との間隔ＸはＸ方向最大許容値に設定されている。
【００５０】
上記の構成においては、振子状電極４１ｃおよび凹部７１ｄの両円形部により、Ｘ座標方向またはＹ座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができる。しかも、電極平面内のどの方向にずれても、振子状電極４１ｃと上側検査電極７１とが重なり合うため、図３の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、振子状電極４１ｃの帯状部および凹部７１ｄの括れ部により、Ｘ座標方向のずれが検出されるのは勿論であるが、帯状部が比較的長く形成されることから、ある点を中心に回転して生じる回転性のずれが生じている場合には、帯状部もそれに応じて傾斜するため上側検査電極７１と重なり、そのような回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【００５１】
図４（ｂ）に示す構成では、下側検査電極４１として下側電極４が十字状電極４１ｄを有している。十字状電極４１ｄは、上側検査電極７１に向かい合う端縁から上側検査電極７１側に帯状に延びた十字状に形成されている。一方、上側検査電極７１は、十字状電極４１ｄの外形より大きい十字形状の凹部７１ｅを有している。十字状電極４１ｄおよび凹部７１ｅ間の間隔Ｘ，Ｙは、それぞれＸ，Ｙ方向最大許容値に設定されている。
【００５２】
上記の構成においても、十字電極４１ｄおよび凹部７１ｅにより、Ｘ座標方向またはＹ座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができ、図３の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、十字状電極４１ｄのＹ座標方向に延びる部分が振子状電極４１ｃの帯状部と同様に比較的長く形成されることから、回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【００５３】
図５（ａ）に示す構成では、下側検査電極４１として下側電極４が屈曲電極４１ｅを有している。屈曲電極４１ｅは、下側電極４の端縁から上側検査電極７１側に延びる延設部と、その先端から垂直方向に下側電極４の端縁と平行に延びる平行部と、その先端から下側電極４側に垂直に屈曲する垂直部と、その先端からる延設部側に垂直に屈曲する先端部とを有している。一方、上側検査電極７１は、屈曲電極４１ｅと逆方向に延びる同形状の屈曲電極７１ｆを下側電極４と向かい合う側の端縁に有している。屈曲電極４１ｅ，７１ｆとは、それぞれの先端部の内側が互いに平行に向き合うように配されており、相互の間の間隔Ｘ，ＹがそれぞれＸ，Ｙ方向最大許容値に設定されている。
【００５４】
このような構成においても、屈曲電極４１ｅ，７１ｆにより、前述の図４（ａ）および（ｂ）の構成と同様、Ｘ座標方向またはＹ座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができ、図３の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、屈曲電極４１ｅ，７１ｆの最も長い延設部により、回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【００５５】
図５（ｂ）に示す構成では、下側検査電極４１として下側電極４が渦巻き電極４１ｆを有している。渦巻き電極４１ｆは、下側電極４の端縁から上側検査電極７１側に延びた太い根元部と、根元部からそれより細で渦巻き状に延びるように形成された渦巻き部とを有している。一方、上側検査電極７１は、渦巻き電極４１ｆの渦巻き部と逆方向に延びる同形状の根元部および渦巻き部を有する渦巻き電極７１ｇを下側電極４と向かい合う側の端縁に有している。渦巻き電極４１ｆ，７１ｇとは、それぞれの渦巻き部の先端部分の内側が互いに向き合うように配されており、両渦巻き部間の間隔が図４（ａ）の両円形部間の間隔（Ｘ＝Ｙ）と同様に設定されている。
【００５６】
このような構成においても、渦巻き電極４１ｆ，７１ｇにより、前述の図４（ａ）および（ｂ）の構成と同様、Ｘ座標方向またはＹ座標方向の単独のずれだけでなく、両方向の合成のずれも適正に検出することができ、図３の各構成のように、ずれの検出可能な方向に制限がない。また、渦巻き電極４１ｆ，７１ｇの渦巻き部によっても、回転性のずれを比較的容易に検出することができる。
【００５７】
引き続き、上記のように構成されるタッチパネルの電気検査について説明する。
【００５８】
電気検査においては、押圧装置と電気チェッカーとを含む検査装置が用いられ、透明電極４，５のずれによる検査に続いて、透明電極４，５の交差領域すなわちスイッチ部の導通検査が行われる。押圧装置は、スイッチ部や上側基板２における前述の両検査電極４１，７１上の検査領域を上方から降下して押圧する棒状部材を有している。上側基板２などを傷つけないように、棒状部材の先端にはゴムが取り付けられている。押圧部材の押圧位置をコンピュータ制御などによって自動的に移動できるように押圧装置が構成されていてもよいが、押圧部材の押圧位置を手動で移動させてもよい。
【００５９】
まず、検査対象となるタッチパネルが検査台の所定位置に載置されると、押圧部材が上側基板２における前記の検査領域を押圧する。このとき、両検査電極４１，７１が重なっていれば互いに接触するため、電気チェッカーはＮＧと判定する。これにより、透明電極４，５のずれが許容範囲を超えているため、検査対象のタッチパネルを不良品と判定することができる。一方、両検査電極４１，７１が重なっていなければ互いに接触しないため、電気チェッカーはＯＫと判定する。これにより、透明電極４，５のずれが許容範囲を超えていないため、検査対象のタッチパネルを良品と判定することができる。
【００６０】
続いて、良品と判定されたタッチパネルについて、所定の何点かのスイッチ部を押圧部材によって押圧する。これによって、電気チェッカーはそれぞれのスイッチ部で検出された導通信号に基づいてオン抵抗を測定し、そのオン抵抗が各スイッチ部に設定された規定のオン抵抗である場合には良品と判定し、規定のオン抵抗から外れる場合には不良品と判定する。
【００６１】
以上に述べたように、本実施の形態のタッチパネルは、下側基板１および上側基板２が規定の位置に貼り合わされた状態で、下側基板１上での規定の方向への透明電極４，５間のずれの最大許容値の間隔をおくように配された下側検査電極４１および上側検査電極７１を備えている。これにより、透明電極４，５のずれを前記のように電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止するとともに、検査作業者の作業負担を軽減する。また、両検査電極４１，７１がタッチパネルの操作領域内に配置されていたとしても、ユーザが誤って検査領域を押したときには、良品のタッチパネルであれば両検査電極４１，７１で導通することはない。したがって、良品のタッチパネルにおいて検査領域が押されても、下側検査電極４１が設けられる透明電極４と上側検査電極７１が設けられる接続配線７に接続された透明電極５との交点におけるスイッチ部が押圧されたと誤って検出されることはない。
【００６２】
しかも、下側検査電極４１は、透明電極４と一体に設けられているので、製造において透明電極４の形成工程で形成され、上側検査電極７１は、接続配線７と一体に設けられているので、製造において接続配線７の形成工程で形成される。それゆえ、両検査電極４１，７１を形成するための工程を増加させないだけでなく、接続配線６，７が、位置検出のための導通信号の出力と、ずれ検査のための導通信号の出力とを兼ねるので、ずれ検査のために独立した配線や出力端子を設ける必要がない。
【００６３】
しかしながら、両検査電極４１，７１が透明電極４や接続配線７と独立して設けられるような構成であっても、前記のような正確なずれ検査を行うことができることから、独立した検査電極のための配線や出力端子が必要となるものの、本発明に含まれるのは勿論である。ただし、両検査電極４１，７１が透明電極４や接続配線７と独立して設けられるような構成では、下側検査電極４１が透明電極４と同等にずれるとともに、上側検査電極７１が接続配線７と同等にずれるために、下側検査電極４１が透明電極４と同一の工程で形成される必要があり、上側検査電極７１が接続配線７と同一の工程で形成される必要がある。
【００６４】
なお、本実施の形態では、両検査電極４１，７１がタッチパネルにおいて１つずつ設けられる例について説明したが、その設置数については限定されない。例えば、タッチパネルの四隅のうちの少なくとも２箇所に検査電極を設けておけば、ずれの検出方向に制限のある図３（ａ）ないし（ｃ）の構成であっても、Ｘ，Ｙ座標方向および回転性に方向の制約のないずれ検出を行うことができる。特に、図４および図５の構成では、ずれの検出方向に制限がないため、両検査電極４１，７１を１箇所に設けるだけで精度の高いずれ検出が可能になる。
【００６５】
また、両検査電極４１，７１の形状は、図３ないし図５に示した形状に限定されることなく、透明電極４，５のずれを検出できれば種々の形状が適用可能である。さらに、下側検査電極４１および上側検査電極７１が互いに逆の電極構造を有していてもよい。つまり、このような構成では、上側検査電極７１が透明電極４側に向かって延びる、下側検査電極４１と同形状の検査電極を有する一方、透明電極４の端部が上側検査電極７１と同様な構造となるような形状に形成されている。
【００６６】
ここで、本実施の形態の変形例について説明する。
【００６７】
前述の実施の形態では、両検査電極４１，７１が互いに重なり合うときに透明電極４，５のずれを検出するが、本変形例では、両検査電極４１，７１が互いに重なり合うときに透明電極４，５のずれを検出せず、重なり合わなくなったときにずれを検出する構成を提供する。
【００６８】
具体的には、図６に示す構成では、透明電極４から延長された延設部４２が設けられ、接続配線７の電極端子部から延設部４２と平行に延長された延設部７２を有し、延設部４２は延設部７２側に延びる下側検査電極４２ａを有する一方、延設部７２は延設部４２側に延びる上側検査電極７２ａを有している。両検査電極４２ａ，７２ａは、それぞれの先端部が同じ大きさかつ同じ形状に形成されている。また、両検査電極４２ａ，７２ａは、下側基板１および上側基板２の規定貼り合わせ状態で、それぞれの先端部が互いに重なり合うように設けられている。先端部のＸ座標方向の最大幅ＷはＸ方向最大許容値に設定され、両先端部のＹ座標方向の重なりの最大長さＬはＹ方向最大許容値に設定されている。
【００６９】
このような構成では、透明電極４，５のずれがＸ方向最大許容値またはＹ方向最大許容値を超えないとき、両検査電極４２ａ，７２ａの先端部が少なくとも一部で重なり合うので、両検査電極４２ａ，７２ａ上の検査領域を押圧すると、両検査電極４２ａ，７２ａでの導通が得られ、そのタッチパネルが良品と判定される。一方、透明電極４，５がＸ方向最大許容値またはＹ方向最大許容値を超えてずれているとき、両検査電極４２ａ，７２ａの先端部が重なり合わなくなるので、両検査電極４２ａ，７２ａ上の検査領域を押圧しても、両検査電極４２ａ，７２ａでの導通が得られず、そのタッチパネルが不良品と判定される。
【００７０】
上記の構成によっても、透明電極４，５のずれを電気的に判定することができるので、前述の実施の形態の構成と同様、高精度のずれ検出を可能にするが、導通によりずれを検出するので、ユーザが誤って両検査電極４２ａ，７２ａの部分を押すと、両検査電極４２ａ，７２ａに対応するスイッチ部の導通が検出されるという誤検出が生じる。このような不都合を回避するには、両検査電極４２ａ，７２ａをそれぞれ延設部４２，７２と独立して形成すればよいが、前述のように、そのための配線や出力端子が必要となる。あるいは、両検査電極４２ａ，７２ａ上の検査領域を押圧されないようにカバーなどで覆ってもよいが、そのために部品点数や製造工程数の増加を招き、製品コストを上昇させてしまう。
【００７１】
なお、上記の構成においても、両検査電極４２ａ，７２ａの形状は問わないが、重なり合う先端部が、検出方向の制限をなくす観点で、前述の振子状電極４１ｃの円形部と同様に形成されていることが望ましい。
【００７２】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施形態について図３ないし図８に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００７３】
図７（ａ）および（ｂ）に示すように、本実施形態に係る位置検出パネルとしてのタッチパネルは、下側基板１１と、上側基板１２と、ドットスペーサ１３と、透明電極１４，１５と、電極１６〜１９と、コネクタテール２０と、シール材２１とを備えている。
【００７４】
第２基板としての下側基板１１と第１基板としての上側基板１２とは、互いに対向するように一定間隔をおいて配されている。下側基板１１は、透明なフィルムまたはガラスによって形成されており、上側基板１２は、押圧操作を可能とするようにフィルムなどの可撓性透明材料によって形成されている。
【００７５】
下側基板１１の対向面には、両側端縁部に一定の幅を有する第２電極としての電極１６，１７と、これらの間にＩＴＯなどの透明導電材料からなる薄膜状の透明導電膜１４が形成されている。一方、上側基板２の対向面には、両側端縁部に電極１６，１７と直交するように配されて一定の幅を有する第１電極としての電極１８，１９と、これらの間にＩＴＯなどの透明導電材料からなる薄膜状の透明導電膜１５とが形成されている。
【００７６】
下側基板１１上には多数のドットスペーサ１３が形成されており、このドットスペーサ１３によって下側基板１１と上側基板１２との間が一定間隔に保持される。そして、下側基板１１と上側基板１２とは、基板周縁に塗布されたシール材２０によって貼り合わされている。
【００７７】
また、上側基板１２には、電極１６，１７および電極１８，１９の電圧を外部に取り出すためのコネクタテール２０が取り付けられている。下側基板１１の電極１８，１９からのコネクタテール２０への信号伝達は図示しない電極端子によって行なわれる。上記の電極１６〜１９は、絶縁膜により覆われている。
【００７８】
透明導電膜１４，１５の全体が操作領域となる。上側基板１２が押圧操作されると、透明導電膜１４においては押圧点（入力点）で電極１６，１７間の抵抗値（Ｙ座標方向の抵抗値）が分割され、透明導電膜１５においては押圧点（入力点）で電極１８，１９間の抵抗値（Ｘ座標方向の抵抗値）が分割される。そして、電極１８（正極）に電圧Ｅを印加して電極１８から押圧点を経て電極１６（負極）に現れる電圧を計測することによりＸ座標値が検出され、電極１７（正極）に電圧Ｅを印加して電極１７から押圧点を経て電極１９（負極）に現れる電圧を計測することによりＹ座標値が検出される。このようにして、押圧操作された入力位置のＸ座標値およびＹ座標値が得られる。
【００７９】
ここで、上記のように構成されるタッチパネルの製造工程について説明する。
【００８０】
まず、上側基板１２側について説明する。一方の面に一面にＩＴＯ薄膜が形成されたフィルムを所望の大きさに切断し、印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置する。次いで、そのフィルムに電極１８，１９のパターンのエッチングレジストをシルク印刷法により印刷し、エッチングによりエッチングレジストの印刷されていない領域のＩＴＯ薄膜を除去する。これにより、透明導電膜１５が形成される。
【００８１】
続いて、電極１８，１９を形成するための銀ペーストをシルク印刷法により印刷し、さらに電極１８，１９上に絶縁膜を形成するための絶縁材料をシルク印刷により印刷する。そして、信号取り出し用の電極をフィルム上にシルク印刷し、その電極形成部分にコネクタテール２０を貼り付ける。
【００８２】
下側基板１２側の同様の工程で、透明導電膜１４および電極１６，１７や絶縁膜の形成などを行う。そして、基板周縁にシール材２１を塗布して、下側基板１１と上側基板１２とを、両基板１１，１２の四隅に記された位置決め用のトンボマーク（十字形状のマーク）を両基板１１，１２間でそれぞれ一致させた状態で貼り合わせる。
【００８３】
ところで、本タッチパネルにおいては、図８（ａ）に示すように、上側基板１２が透明導電膜１５の領域を超えて図中右側へ拡張しており、その拡張された上側基板１２上で、電極１７の図中右端が透明導電膜１５の領域を超えて延設され、その先端部に下側検査電極１７１が設けられている。第２検査電極としての下側検査電極１７１は、電極１７の長手方向に垂直な方向に、上側基板１２の電極１６側端縁方向へ延びるように形成されている。このように、下側検査電極１７１は、電極１７と一体に形成されることにより、電極１７と一定の位置関係を保つように形成される。
【００８４】
一方、図８（ｂ）に示すように、上側基板１１が透明導電膜１５の領域を超えて図中右側へ拡張しており、その拡張された上側基板１１上で、下側電極１１の電極１８の図中上端からやや下方に上側検査電極１８１が設けられている。第１検査電極としての上側検査電極１８１は、下側検査電極１７１と平行に延びるように形成されている。このように、下側検査電極１８１は、電極１８と一体に形成されることにより、電極１８と一定の位置関係を保つように形成される。
【００８５】
図８（ｃ）に示すように、下側検査電極１７１および上側検査電極１８１は、電極１６，１７が規定の位置に形成された下側基板１１および電極１８，１９が規定の位置に形成された上側基板１２が、上記のトンボマークによって定まる規定の位置に貼り合わされ、かつ下側検査電極１７１が下側基板１１上に押圧された状態で、下側基板１１上で規定の方向へ電極１６，１７と電極１８，１９との間のずれの最大許容値の間隔をおくように配されている。
【００８６】
上記の下側検査電極１７１および上側検査電極１８１を備えることにより、上側基板１２から両検査電極１７１，１８１の部分を押圧したときの両検査電極１７１，１８１の接触の有無から、電極１６，１７と電極１８，１９との間の規定方向のずれが実施の形態１で述べた最大許容値で定まる許容範囲を超えたか否かを判定することが可能になる。電極１６，１７と電極１８，１９との間のずれが許容範囲より小さい値であれば、両検査電極１７１，１８１のずれも同じ範囲（非接触範囲）内に収まるため、両検査電極１７１，１８１が接触しない。一方、電極１６，１７と電極１８，１９との間の規定方向のずれが許容範囲を超えれば、両検査電極１７１，１８１のずれも同様に非接触範囲を超えるため、両検査電極１７１，１８１が接触する。
【００８７】
下側検査電極１７１および上側検査電極１８１は、具体的には、実施の形態１における図３ないし図５の構成と同じであるので、その説明を省略する。
【００８８】
上記のように構成されるタッチパネルの電気検査について説明する。
【００８９】
電気検査においては、実施の形態１と同様の押圧装置と電気チェッカーとを含む検査装置が用いられ、電極１６，１７と電極１８，１９との間のずれによる検査に続いて、透明導電膜１４，１５の導通検査が行われる。
【００９０】
まず、検査対象となるタッチパネルが検査台の所定位置に載置されると、押圧部材が上側基板１２における両検査電極１７１，１８１上の検査領域を押圧する。このとき、両検査電極１７１，１８１が重なっていれば互いに接触するため、電気チェッカーはＮＧと判定する。これにより、電極１６，１７と電極１８，１９との間のずれが許容範囲を超えているため、検査対象のタッチパネルを不良品と判定することができる。一方、両検査電極１７１，１８１が重なっていなければ互いに接触しないため、電気チェッカーはＯＫと判定する。これにより、電極１６，１７と電極１８，１９との間のずれが許容範囲を超えていないため、検査対象のタッチパネルを良品と判定することができる。
【００９１】
続いて、良品と判定されたタッチパネルについて、透明導電膜１４，１５における所定の何点かを押圧部材によって押圧する。これによって、電気チェッカーはそれぞれの押圧点で検出された電圧を測定し、その電圧がその押圧点に設定された規定範囲内の電圧である場合には良品と判定し、規定範囲外の電圧である場合には不良品と判定する。
【００９２】
以上に述べたように、本実施の形態のタッチパネルは、下側基板１１および上側基板１２が規定の位置に貼り合わされた状態で、下側基板１１上での規定の方向への電極１６，１７と電極１８，１９との間のずれの最大許容値の間隔をおくように配された下側検査電極１７１および上側検査電極１８１を備えている。これにより、電極１６，１７と電極１８，１９とのずれを前記のように電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止することができ、また検査作業者の作業負担が軽減される。また、両検査電極１７１，１８１がタッチパネルの操作領域内に配置されていたとしても、ユーザが誤って検査領域を押したときには、良品のタッチパネルであれば両検査電極１７１，１８１で導通することはない。したがって、良品のタッチパネルにおいて検査領域が押されても、通常は両検査電極１７１，１８１にそれぞれ接続される電極１７，１８の領域を押圧するのではなく透明導電膜１４，１５の領域を押圧するように構成されているので、透明導電膜１４，１５のいずれかの部分が押圧されたと誤って検出されることはない。
【００９３】
しかも、両検査電極１７１，１８１は、それぞれ電極１８，１７と一体に設けられているので、製造において電極１８，１７の形成工程で形成される。それゆえ、両検査電極１７１，１８１を形成するための工程を増加させないだけでなく、電極１８，１７が、位置検出のための電圧の出力と、ずれ検査のための導通信号の出力とを兼ねるので、ずれ検査のために独立した配線や出力端子を設ける必要がない。しかしながら、両検査電極１８１，１７１がそれぞれ電極１８１，１７１と独立して設けられるような構成であっても、前記のような正確なずれ検査を行うことができることから、独立した検査電極のための配線や出力端子が必要となるものの、本発明に含まれるのは勿論である。
【００９４】
なお、本実施の形態では、両検査電極１８１，１７１がタッチパネルにおいて１つずつ設けられる例について説明したが、その設置数については限定されない。例えば、タッチパネルの四隅のうちの少なくとも２箇所に検査電極を設けておけば、ずれの検出方向に制限のある図３（ａ）ないし（ｃ）の構成であっても、Ｘ，Ｙ座標方向および回転性に方向の制約のないずれ検出を行うことができる。特に、図４および図５の構成では、ずれの検出方向に制限がないため、両検査電極１８１，１７１を１箇所に設けるだけで精度の高いずれ検出が可能になる。
【００９５】
また、両検査電極１８１，１７１の形状は、図３ないし図５に示した形状に限定されることなく、電極１６，１７と電極１８，１９とのずれを検出できれば種々の形状が適用可能である。さらに、上側検査電極１８１および下側検査電極１７１が互いに逆の電極構造を有していてもよい。つまり、このような構成では、上側検査電極１８１が下側検査電極１７１側に向かって延びる、下側検査電極１７１と同形状の検査電極を有する一方、下側検査電極１７１が上側検査電極１８１と同様な電極構造となるような形状に形成されている。
【００９６】
さらに、本実施の形態でも実施の形態１で述べた変形例と同様、両検査電極１７１，１８１が互いに重なり合うときに電極１６，１７と電極１８，１９とのずれを検出するようにしてもよく、例えば、図６に示す構成が適用できる。
【００９７】
〔実施の形態３〕
本発明のさらに他の実施形態について図３ないし図６ならびに図９および図１０に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００９８】
図９（ａ）および（ｂ）に示すように、本実施形態に係る位置検出パネルとしてのメンブレンスイッチは、上側シート３１と、下側シート３２と、下側接点シート３３と、上側接点シート３４と、スペーサ３５とを備えている。
【００９９】
第２基板としての下側シート３１と第１基板としての上側シート３２とは、互いに対向するように一定間隔をおいて配されている。上側シート３２には、スイッチ操作をする領域が分かりやすいように操作部３２１が設けられている。操作部３２１は、エンボス状に上方へ膨出するように形成されていてもよいし、表面に他の部分と異なる加工（ざらつき加工やエナメル状加工）が施されていてもよい。この操作部３２１は、押圧操作を可能とするために下方に変形するように形成されている。
【０１００】
第２基板としての下側接点シート３３は、ポリエステルなどからなるフィルムによって形成されており、操作部３２１と対向する位置に第２電極としての接点電極３６が設けられている。この接点電極３６は、導電インクを上記のフィルム上に印刷することによって形成されており、一列ずつ共通接続されている。また、第１基板としての下側接点シート３３は、接点電極３６から引き出される配線パターンをまとめて外部に取り出すためのテール部３３ａを有している。下側接点シート３３には、上記の配線パターンも、導電インクの印刷によって接点電極３６と同様に形成される。
【０１０１】
一方、上側接点シート３４も、下側接点シート３４と同材料のフィルムによって形成されており、操作部３２１と対向する位置に第１電極としての接点電極３７が設けられている。この接点電極３７も、導電インクの印刷によって接点電極３６と同様に形成されているが、接点電極３６の列と直交する方向に一行ずつ共通接続されている。また、上側接点シート３４は、接点電極３７から引き出される配線パターンをまとめて外部に取り出すための図示しないテール部を有している。
【０１０２】
スペーサ３５は、両接点シート３３，３４間に挟持されるように設けられており、ポリエステルなどからなるフィルムによって形成されている。また、スペーサ３５は、操作部３２１と対向する位置に貫通孔３５１を有しており、操作部３２１の押圧操作によって下方に押し下げられた接点電極３７をその貫通孔３５１を介して接点電極３６に接することができるように構成されている。
【０１０３】
下側シート３１は、上側シート３２との対向面の全体に粘着材が塗布されており、下側接点シート３３を保持するとともに、上側シート３２と周縁で貼り合わされる。これにより、下側シート３１と上側シート３２との間に両接点シート３３，３４とスペーサ３５とが固定保持される。
【０１０４】
上記のように構成されるメンブレインスイッチにおいて、下側シート３３と上側シート３４との間で、複数の接点電極列と複数の接点電極行とが交差することにより、マトリクス状電極群が構成されている。これにより、本メンブレインスイッチは、図１のタッチパネルと同様に、各接点電極３６，３７の対に応じた押圧位置（入力点）の座標信号を出力することから、押圧操作される入力位置を検出する機能を有するが、予め押圧操作される位置が固定されているので、キーボードなどの入力装置に適している。
【０１０５】
ここで、上記のように構成されるメンブレンスイッチの製造工程について説明する。
【０１０６】
まず、下側接点シート３３用のフィルムを印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置すると、そのフィルムの一方の面に、接点電極３６および配線を形成するための所定パターンに導電インクをシルク印刷で印刷する。一方、上側接点シート３４用のフィルムを印刷台に位置決め部材に合わせた規定の位置に載置すると、そのフィルムの一方の面に、接点電極３７を形成するための所定パターンに導電インクをシルク印刷で印刷する。
【０１０７】
次いで、両接点シート３３，３４およびスペーサ３５の四隅に記された位置決め用のトンボマーク（十字形状のマーク）をそれぞれ一致させた状態で仮固定し、下側シート３１の所定位置に配置して、その上から上側シート３２を覆いかぶせることによって、下側シート３１と上側シート３２とを貼り合わせる。
【０１０８】
上記の接点電極３６，３７の印刷工程においては、印刷台上にフィルムが正しい位置に配置されないと、接点電極３６，３７の印刷ずれが生じ、接点電極３６，３７が正しい位置からずれて形成されてしまう。また、貼り合わせの構成においても、上側シート３２、両接点シート３３，３４およびスペーサ３５が正しい位置に合わされた状態で貼り合わされないと、接点電極３６，３７やスペーサ３５の貫通孔３５１の位置がずれてしまう。このため、正しいスイッチ動作が行えなくなるおそれがある。
【０１０９】
ところで、本メンブレンスイッチにおいては、図１０（ａ）および（ｂ）に示すように、少なくとも１つの接点電極３６に、下側接点シート３３上でいずれか一方向に突出する下側検査電極３６１が設けられており、その接点電極３６に対向する接点電極３７に、上側接点シート３４上で下側検査電極３６１と同方向に突出する上側検査電極３７１が設けられている。下側検査電極３６１は、接点電極３６と一体に形成されることにより、接点電極３６と一定の位置関係を保つように形成される。また、上側検査電極３７１は、接点電極３７と一体に形成されることにより、接点電極３７と一定の位置関係を保つように形成される。
【０１１０】
第１検査電極としての上側検査電極３７１は、第２検査電極としての下側検査電極３６１とほぼ同じ外形を有し、下側検査電極３６１よりも大きい貫通部３７１ａを有している。また、スペーサ３５の貫通孔３５１は、上側検査電極３７ａの下方への変位を可能とするように貫通部３５１ａを有している。
【０１１１】
図１０（ｄ）に示すように、下側検査電極３６１および上側検査電極３７１は、規定の位置に接点電極３６が形成された下側接点シート３３および規定の位置に接点電極３７が形成された上側接点シート３４が規定の位置に合わされ、かつ接点電極３７が押圧されて接点電極３６と接触した状態で、下側接点シート３３上で規定の方向へ接点電極３６，３７のずれの最大許容値の間隔をおくように配されている。
【０１１２】
なお、図１０（ｂ）および（ｄ）では、上側接点シート３４の下面側に接点電極３７が設けられているため、接点電極３７を破線で図示すべきであるが、分かりやすくするために接点電極３７を実線で描いている。
【０１１３】
上記の下側検査電極３６１および上側検査電極３７１を備えることにより、上側シート３２から両検査電極３６１，３７１の部分を押圧したときの両検査電極３６１，３７１の接触の有無から、接点電極３６，３７間の規定方向のずれが実施の形態１で述べた最大許容値で定まる許容範囲を超えたか否かを判定することが可能になる。接点電極３６，３７間のずれが許容範囲より小さい値であれば、両検査電極３６１，３７１のずれも同じ範囲（非接触範囲）内に収まるため、両検査電極３６１，３７１が接触しない。一方、接点電極３６，３７間の規定方向のずれが許容範囲を超えれば、両検査電極３６１，３７１のずれも同様に非接触範囲を超えるため、両検査電極３６１，３７１が接触する。
【０１１４】
下側検査電極３６１および上側検査電極３７１は、具体的には、実施の形態１における図３ないし図５の構成と同じである。
【０１１５】
具体的には、接点電極３６，３７が重なり合うことから、接点電極３６は、下側検査電極３６１として図３（ａ）および（ｂ）に示す帯状電極４１ａと同等の電極を有し、接点電極３７は、上側検査電極３７１として接点電極３７から延びる向きは逆となるが帯状電極４１ａとの関係が帯状電極７１ａ，７１ｂと同等の電極を有している。
【０１１６】
また、接点電極３６は、下側検査電極３６１として図５（ａ）または（ｂ）に示す屈曲電極４１ｅまたは渦巻き電極４２ｆと同等の電極を有し、接点電極３７は、上側検査電極３７１として接点電極３７から延びる向きは逆となるが屈曲電極４１ｅまたは渦巻き電極４２ｆとの配置関係が屈曲電極７１ｆまたは渦巻き電極７１ｇと同等の電極を有している。
【０１１７】
さらに、図１０（ａ）に示す下側検査電極３６１は、図４（ａ）に示す振子状電極４２ｃと同等の形状をなしており、図１０（ｂ）に示す貫通部３７１ａは図４（ａ）に示す凹部７１ｄと同形状をなしている。その他、下側検査電極３６１は、図４（ｂ）に示す十字状電極４１ｄと同等の形状をなしており、貫通部３７１ａは図４（ｂ）に示す凹部７１ｅと同形状をなしている。
【０１１８】
上記のように構成されるメンブレインスイッチの電気検査について説明する。
【０１１９】
電気検査においては、実施の形態１と同様の押圧装置と電気チェッカーとを含む検査装置が用いられ、設定３６，３７間のずれによる検査に続いて、接点電極３６，３７の導通検査が行われる。
【０１２０】
まず、検査対象となるメンブレインスイッチが検査台の所定位置に載置されると、押圧部材が上側シート３２における下側検査電極３６１および上側検査電極３７１上の検査領域を押圧する。このとき、接点電極３６，３７が適正に重なっていれば互いに接触するため、電気チェッカーはＮＧと判定する。これにより、接点電極３６，３７間のずれが許容範囲を超えているため、検査対象のメンブレインスイッチを不良品と判定することができる。一方、両検査電極３６１，３７１が重なっていなければ互いに接触しないため、電気チェッカーはＯＫと判定する。これにより、接点電極３６，３７間のずれが許容範囲を超えていないため、検査対象のメンブレインスイッチを良品と判定することができる。
【０１２１】
続いて、良品と判定されたメンブレインスイッチについて、所定のいくつかの操作部３２１を押圧部材によって押圧する。これによって、電気チェッカーはそれぞれの押圧点で検出された電圧を測定し、その電圧がその押圧点に設定された規定範囲内の電圧である場合には良品と判定し、規定範囲外の電圧である場合には不良品と判定する。
【０１２２】
以上に述べたように、本実施の形態のメンブレインスイッチは、下側シート３１および上側シート３２が規定の位置に貼り合わされた状態で、下側接点シート３３上での規定の方向への接点電極３６，３７間のずれの最大許容値の間隔をおくように配された下側検査電極３６１および上側検査電極３７１を備えている。これにより、接点電極３６，３７のずれを前記のように電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止することができ、また検査作業者の作業負担が軽減される。また、両検査電極３６１，３７１がメンブレインスイッチの操作領域内に配置されていたとしても、ユーザが誤って検査領域を押したときには、良品のメンブレンスイッチであれば両検査電極３６１，３７１で導通することはない。したがって、良品のメンブレンスイッチにおいて検査領域が押されても、下側検査電極３６１が設けられる接点電極３６と上側検査電極３７１が設けられる接点電極３７とが押圧されたと誤って検出されることはない。
【０１２３】
しかも、両検査電極３６１，３７１は、それぞれ接点電極３６，３７と一体に設けられているので、製造において接点電極３６，３７の形成工程で形成される。それゆえ、両検査電極３６１，３７１を形成するための工程を増加させないだけでなく、接点電極３６，３７が、位置検出のための入力電極と、ずれ検査のための入力電極とを兼ねるので、ずれ検査のために独立した配線や電極を設ける必要がない。しかしながら、両検査電極３６１，３７１がそれぞれ接点電極３６，３７と独立して設けられるような構成であっても、前記のような正確なずれ検査を行うことができることから、独立した検査電極のための配線や出力端子が必要となるものの、本発明に含まれるのは勿論である。
【０１２４】
なお、本実施の形態では、両検査電極３６１，３７１がメンブレインスイッチにおいて１つずつ設けられる例について説明したが、その設置数については限定されない。例えば、メンブレインスイッチの四隅の接点電極３６，３７のうちの少なくとも２つの接点電極３６，３７に検査電極を設けておけば、ずれの検出方向に制限のある図３（ａ）ないし（ｃ）と同等の検査電極構成であっても、Ｘ，Ｙ座標方向および回転性に方向の制約のないずれ検出を行うことができる。特に、図４および図５の構成では、ずれの検出方向に制限がないため、両検査電極３６１，３７１を１箇所に設けるだけで精度の高いずれ検出が可能になる。
【０１２５】
また、両検査電極３６１，３７１の形状は、図３ないし図５の構成に相当する形状に限定されることなく、接点電極３６，３７のずれを検出できれば種々の形状が適用可能である。さらに、下側検査電極３６１および上側検査電極３７１が互いに逆の電極構造を有していてもよい。つまり、このような構成では、上側検査電極３７６が下側検査電極３６１の電極構造を有する一方、下側検査電極３６１が上側検査電極３７１と同様な電極構造となるような形状に形成されている。
【０１２６】
さらに、本実施の形態でも実施の形態１で述べた変形例と同様、両検査電極３６１，３７１が互いに重なり合うときに接点電極３６，３７のずれを検出するようにしてもよく、例えば、図６に示す構成が適用できる。
【０１２７】
本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【０１２８】
例えば、実施の形態１および２では、それぞれデジタルマトリクス式のタッチパネルとアナログ抵抗膜式のタッチパネルについて説明したが、本発明は、このようななタッチパネルに限らず、対向する電極の接触により位置を検出する構成を有するものであれば、例えば、導電膜式のタッチパネルであっても適用が可能である。また、タッチパネル以外でも実施の形態３のようなメンブレンスイッチやその他の位置検出パネルも、対向する電極の接触により位置を検出する構成を有するものであれば、本発明の適用が可能であることは勿論である。
【０１２９】
【発明の効果】
本発明の位置検出パネルは、以上のように、押圧操作される第１基板と、該第１基板に対向する第２基板とが所定の間隔をおいて貼り合わされ、前記第１基板が対向面に第１電極を有し、前記第２基板が対向面に第２電極を有し、該第１および第２電極の接触位置に基づいて前記第１基板上での押圧操作の位置を検出する位置検出パネルにおいて、以下の構成を採用している。
（１）位置検出パネルは、前記第１電極と一定の位置関係を持つように形成される第１検査電極と、前記第２電極と一定の位置関係を持つように形成される第２検査電極とを備え、前記第１検査電極と前記第２検査電極とが、規定の位置に前記第１電極が形成された前記第１基板と、規定の位置に前記第２電極が形成された前記第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記第２基板上で規定の方向へ前記第１電極と前記第２電極とのずれの最大許容値の間隔をおくように配されているように構成されている。
（２）他の位置検出パネルは、前記第１電極と一定の位置関係を持つように形成される第１検査電極と、前記第２電極と一定の位置関係を持つように形成される第２検査電極とを備え、前記第１検査電極と前記第２検査電極とが、前記第２基板上での規定の方向への前記第１電極と前記第２電極とのずれの最大許容値の幅を有し、規定の位置に前記第１電極が形成された前記第１基板と、規定の位置に前記第２電極が形成された前記第２基板とが規定の位置に貼り合わされた状態で、前記規定の方向にずれなく重なり合うように構成されている。
【０１３０】
（１）の位置検出パネルでは、第１検査電極と第２検査電極との間のずれが前記の最大許容値を超えると、第１検査電極と第２検査電極とが重なり合うようになるので、第１検査電極および第２検査電極の部分を第１基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触する。これにより、両検査電極の導通状態が検出されれば、第１電極と第２電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。一方（２）の位置検出パネルでは、第１検査電極と第２検査電極との間のずれが前記の最大許容値を超えると、第１検査電極と第２検査電極とが重なり合わないようになるので、第１検査電極および第２検査電極の部分を第１基板側から押圧操作すれば、両検査電極は接触しなくなる。これにより、両検査電極の非導通状態が検出されれば、第１電極と第２電極とが最大許容値を超えてずれていることが判る。
【０１３１】
したがって、（１）および（２）の位置検出パネルによれば、第１および第２電極のずれを電気的に判定することができる。それゆえ、人手によらずに正確な検査を行うことが可能になるので、不良品が出荷されるという不都合をより確実に防止するとともに、検査作業者の検査負担を軽減する。その結果、短時間かつ高い精度で電極のずれを検出することができるという効果を奏する。
【０１３２】
（１）および（２）の位置検出パネルにおいて、前記第１検査電極は前記第１電極と一体に形成され、前記第２検査電極は前記第２電極と一体に形成されているので、第１検査電極を製造において第１電極と同じ形成工程で形成し、第２検査電極を製造において第２電極と同じ形成工程で形成することができる。それゆえ、両検査電極を形成するための工程を増加させないだけでなく、ずれ検査のための第１および第２検査電極の導通状態の出力と位置検出の出力とを共通の出力配線で行うことが可能になる。したがって、構成を複雑化させることなく、ずれ検査の精度向上を図ることができるという効果を奏する。
【０１３３】
この位置検出パネルおよび（１）の位置検出パネルにおいては、前記第１または第２検査電極の一方が、前記第２基板上で他方の一部を包囲するように形成されていることにより、第１および第２検査電極間でずれを特定する規定方向を多方向に設定することができ、様々な方向へのずれ検出に対応することができる。
【０１３４】
本発明の位置検出パネルの検査方法は、前述のいずれか１つの位置検出パネルにおいて、前記第１基板における前記第１および第２検査電極上の領域を押圧することにより、前記第１および第２検査電極の導通の有無を判定するので、第１基板における該当領域を押圧することで、（１）の位置検出パネルにおいては、第１および第２検査電極が導通すれば、前述のように第１および第２電極が最大許容値を超えてずれていることが検出され、第１および第２電極が導通していなければ、第１および第２電極が最大許容値を超えてずれていないことが検出される。また、（２）の位置検出パネルでは、第１および第２検査電極が導通すればずれが検出されず、導通していなければずれが検出される。したがって、第１および第２電極のずれの検査を正確かつ簡単に行うことにより、検査の精度および効率を飛躍的に向上させることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係るタッチパネルの構成を示す平面図である。
【図２】（ａ）は図１のタッチパネルの構成を示す断面図であり、（ｂ）は図１のタッチパネルの構成を示す分解斜視図である。
【図３】（ａ）ないし（ｃ）は実施の形態１ないし３に共通する上側検査電極および下側検査電極の構成を示す平面図である。
【図４】（ａ）および（ｂ）は実施の形態１ないし３に共通する他の上側検査電極および下側検査電極の構成を示す平面図である。
【図５】（ａ）および（ｂ）は実施の形態１ないし３に共通するさらに他の上側検査電極および下側検査電極の構成を示す平面図である。
【図６】実施の形態１ないし３に共通する変形例の上側検査電極および下側検査電極の構成を示す図である。
【図７】（ａ）は本発明の実施の形態２に係るタッチパネルの構成を示す断面図であり、（ｂ）は上記のタッチパネルの構成を示す分解斜視図である。
【図８】（ａ）ないし（ｃ）はそれぞれ図７のタッチパネルにおける下側基板側、上側基板側および両者を重ね合わせた構成を示す平面図である。
【図９】（ａ）は本発明の実施の形態３に係るメンブレインスイッチの構成を示す断面図であり、（ｂ）は上記のメンブレインスイッチの構成を示す分解斜視図である。
【図１０】（ａ）ないし（ｄ）はそれぞれ上記のメンブレインスイッチにおける下側シート、上側シート、スペーサならびに重ね合わされた下側シートおよび上側シートの一部を拡大して示す平面図である。
【符号の説明】
１            下側基板（第２基板）
２            上側基板（第１基板）
４            透明電極（第２電極）
５            透明電極（第１電極）
７            接続配線
６            接続配線
１１            下側基板（第２基板）
１２            上側基板（第１基板）
１４，１５      透明導電膜
１６，１７      電極（第２電極）
１８，１９      電極（第１電極）
３１            下側シート
３２            上側シート
３３            下側接点シート（第２基板）
３４            上側接点シート（第１基板）
３６            接点電極（第２電極）
３７            接点電極（第１電極）
４１            下側検査電極（第２検査電極）
４１ａ，４１ｂ  帯状電極
４１ｃ          振子状電極
４１ｄ          十字状電極
４１ｅ          屈曲電極
４１ｆ          渦巻き電極
４２            延設部
４２ａ          上側検査電極（第２検査電極）
７１            上側検査電極（第１検査電極）
７１ａ，７１ｂ  帯状電極
７１ｃ〜７１ｅ  凹部
７１ｆ          屈曲電極
７１ｇ          渦巻き電極
７２            延設部
７２ａ          上側検査電極（第１検査電極）
１７１            下側検査電極（第２検査電極）
１８１            上側検査電極（第１検査電極）
３６１            下側検査電極（第２検査電極）
３５１ａ          貫通部
３７１            上側検査電極（第１検査電極）
３７１ａ          貫通部
【図１】
2005070821.tif 000003
【図２】
2005070821.tif 000004
【図３】
2005070821.tif 000005
【図４】
2005070821.tif 000006
【図５】
2005070821.tif 000007
【図６】
2005070821.tif 000008
【図７】
2005070821.tif 000009
【図８】
2005070821.tif 000010
【図９】
2005070821.tif 000011
【図１０】
2005070821.tif 000012