(57)【要約】【課題】  タッチパネルのＸ軸方向及びＹ軸方向の両方を考慮した直線性係数を求める。【解決手段】  マトリックス状に設定した複数の測定点で電圧値を検出し、その電圧値から直線性を評価する方法において、測定点がＹ軸方向にｎ個、Ｘ軸方向にｍ個の測定点を持ち、左上隅にある測定点からＹ軸方向にｉ番目、Ｘ軸方向にｊ番目になる測定点ＰｉｊでのＸ軸側の座標読取りパネルにおける測定電圧値をＶｉｊとし、Ｘ軸側の座標読取りパネルにおける測定点Ｐｉｊでの直線性係数をＣＸｉｊとすると、ＣＸｉｊ＝（ＫＶｉ０＋（ΔＶｉ／ｍ）×ｊ−Ｖｉｊ）／ΔＶｉ、の計算式で直線性係数を求める。また同様にして、Ｙ軸側の座標読取りパネルにおける測定点Ｐｉｊでの直線性係数をＣＹｉｊとすると、ＣＹｉｊ＝（ＫＶ０ｊ＋（ΔＶｊ／ｎ）×ｉ−Ｖｉｊ）／ΔＶｊ、の計算式で直線性係数を求める。【選択図】        図３
2005190236.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
方形の透明電極と該透明電極の対向する二辺に接続した一対の導電電極とを有するＸ軸側の座標読取りパネルと、方形の透明電極と該透明電極の対向する二辺に接続した一対の導電電極とを有するＹ軸側の座標読取りパネルとを一定の隙間を持たせて対向配置してなる抵抗膜式タッチパネルの直線性の評価方法において、
前記タッチパネルとして使用可能な方形の領域にて、縦・横それぞれ一定の間隔でマトリックス状に設定した複数の測定点を定め、
前記Ｘ軸側、及び前記Ｙ軸側の座標読取りパネルの一対の導電電極間にそれぞれ一定の電圧を印加した下でＸ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの各測定点における電圧値を検出し、
４隅の測定点の電圧値を基準にしてＸ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの直線性係数をそれぞれ一定の計算式に基づいて算出し、
該直線性係数をもってＸ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの直線性の評価をすることを特徴とするタッチパネルの直線性の評価方法。
【請求項２】
前記一対の導電電極はカソード側の導電電極とアノード側の導電電極に分かれており、カソード側の導電電極に一番近い列の複数の測定点の内の、前記４隅の測定点の内の２隅にあたる両端の測定点の検出した電圧値を基準にして他の複数の測定点の想定電圧値を計算し、
又、前記カソード側の導電電極に一番近い列の複数の測定点と対向するところの前記アノード側の導電電極に一番近い列の複数の測定点の想定電圧値を、該複数の測定点の内の両端の測定点の検出した電圧値を基準にして計算し、
更に、前記カソード側の導電電極に一番近い列の測定点の想定電圧値と、該測定点と対向しているところの前記アノード側の導電電極に一番近い列の測定点の想定電圧値とを基準にして、前記双方対向した測定点の間にある複数の測定点の想定電圧値を計算し、
更に、前記双方対向した測定点の間にある複数の測定点の計算した想定電圧値と、該複数の測定点の検出した電圧値との差を基にして前記直線性係数を計算し、
該直線性係数をもって前記Ｘ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの直線性の評価をすることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネルの直線性の評価方法。
【請求項３】
前記直線性係数の計算式は、前記測定点がＹ軸方向にｎ個、Ｘ軸方向にｍ個の測定点を持ち、左上隅にある測定点からＹ軸方向にｉ番目、Ｘ軸方向にｊ番目になる測定点Ｐｉｊでの前記Ｘ軸側の座標読取りパネルにおける測定電圧値をＶｉｊとし、Ｘ軸側の座標読取りパネルにおける測定点Ｐｉｊでの直線性係数をＣＸｉｊと呼ぶと、該直線性係数ＣＸｉｊの計算式は、
ＣＸｉｊ＝（ＫＶｉ０＋（ΔＶｉ／ｍ）×ｊ−Ｖｉｊ）／ΔＶｉ、
の計算式で与え、
Ｙ軸側の座標読取りパネルにおける測定点Ｐｉｊでの直線性係数をＣＹｉｊと呼ぶと、該直線性係数ＣＹｉｊの計算式は、
ＣＹｉｊ＝（ＫＶ０ｊ＋（ΔＶｊ／ｎ）×ｉ−Ｖｉｊ）／ΔＶｊ、
（但し、ｉ＝０〜ｎ、ｊ＝０〜ｍ、ＫＶｉ０は測定点Ｐｉ０における想定電圧値、ＫＶ０ｊは測定点Ｐ０ｊにおける想定電圧値、ΔＶｉは測定点Ｐｉ０における想定電圧値と測定点Ｐｉｍにおける想定電圧値との差、ΔＶｊは測定点Ｐ０ｊにおける想定電圧値と測定点Ｐｎｊにおける想定電圧値との差）
の計算式で与えることを特徴とする請求項１又は２に記載のタッチパネルの直線性の評価方法。
【請求項４】
前記請求項１乃至３のいずれか１つに記載の直線性係数を使用し、該直線性係数の最大値をもってタッチパネルの評価を行うことを特徴とするタッチパネルの直線性の評価方法。
【請求項５】
直線性を検査する直線性検査装置において、前記請求項１乃至４のいずれか１つに記載の直線性係数を算出してタッチパネルの直線性評価を行うことを特徴とする直線性検査装置。
【請求項６】
前記請求項１乃至４のいずれか１つに記載のタッチパネルの直線性の評価方法を用いて評価を行ったことを特徴とするタッチパネル。
【請求項７】
前記請求項５に記載の直線性検査装置を用いて直線性の評価を行ったことを特徴とするタッチパネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＡＴＭ、カーナビゲーション、自動販売機、複写機、各種端末機等の機器において、液晶ディスプレイ等の表示画面上に配置し、透視した画面の指示に従って使用者が情報の表示画面を指やペンで直接押してデータの入力が行われるタッチパネルに関するもので、特に、抵抗膜式タッチパネルの直線性（リニアリティ）の評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
抵抗膜式タッチパネルは、液晶表示装置などの表示装置の前面に配設されて使用され、方形の透明電極とそれに接続する導電電極を形成した一対の透明絶縁基板を対向して配置し、ペンや指で押圧して押圧位置座標をアナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器で検出する。Ａ／Ｄ変換の能力により高分解能が得られるため、ＡＴＭ、カーナビゲーション、自動販売機、複写機、各種端末機等の機器に良く用いられている。
【０００３】
この抵抗膜式タッチパネルの一般的な構成を図６〜９を用いて説明する。図６は従来技術におけるタッチパネルの平面図、図７は図６おけるＥ−Ｅ断面図、図８は図６における下基板の平面図、図９は図６における上基板の平面図を示している。
【０００４】
図６、図７、図８、図９示すように、従来のタッチパネル２０は形状が方形をなす下基板１と可撓性を有する上基板１１とが主要構成部品になって構成されている。下基板１は、透明な方形のガラスからなる下透明基板２と、この下透明基板２の上面に方形形状に形成された下透明電極３と、この下透明電極３の図中上下の対向する両辺に沿って接続形成されて下透明基板２の片方端にある点線枠で囲ったＦＰＣ取付部Ｓまで延設した一対の下導電電極４及び５と、ＦＰＣ取付部Ｓ近辺に形成された一対の接続電極６、７と、下透明電極３上にマトリックス状に配置したドットスペーサ８とで構成されている。尚、上記一対の接続電極６、７は、後述する上基板１１の上導電電極１４、１５に導通接続を行うためにＦＰＣ取付部Ｓ近辺に設けられている。
【０００５】
上基板１１は、可撓性があって透明で方形形状をした上透明基板１２と、この上透明基板１２の下面に方形形状に形成されている上透明電極１３と、この上透明電極１３の図中左右の対向する両辺に沿って接続形成されてＦＰＣ取付部Ｓ方向に向かって延設された一対の上導電電極１４、１５とで構成されている。
【０００６】
そして、上基板１１の上導電電極１４、１５と下基板１の下導電電極４、５とが方形配置となるように対向配置し、上下基板１１、１とに一定の隙間を持たせてシール材１７で上下基板１１、１とを接着して固定すると共に、上下基板１１、１の外周域を周回してシールしている。更に、上基板１１に設けられた上導電電極１４及び１５は、接続部Ｂ及びＡの場所において、その先端部１４ａ、１５ａが下基板１に設けた一対の接続電極６及び７と導電性接着剤を介して接続され、導通がとられている。
【０００７】
また、防眩性を高めて透視性や品質表示を良くするために、上基板１１の上面には偏光板１８、下基板１の下面には位相差板１６が貼付けられている。また、下基板１のＦＰＣ取付部ＳにはＦＰＣ９が取り付けられて外部との導通が図られるようになっている。
【０００８】
上記構造を成すタッチパネル２０の各構成要素部品は次のようになっている。下基板１を構成する下透明基板２は透明なガラスが用いられる。このガラスはソーダガラスや石英ガラス、アルカリガラス、ほうけい酸ガラス、普通板ガラス等が利用でき、反り等が起きない程度の厚さのものが使われる。多くは０．７〜１．１ｍｍのものが選択される。上基板１１を構成する上透明基板１２は可撓性を必要とするところなので透明な薄板ガラスや透明なプラスチックフイルムが用いられる。一般的に、耐熱性が求められる機器（例えば、カーナビゲーション等）にはガラスが使用される。ガラスとしては耐熱性や衝撃性にも強く、且つ可撓性も有する０．２ｍｍ厚みのほうけい酸ガラスなどのマイクロガラス（マイクロシートガラス）などが用いられている。
【０００９】
下基板１を構成する下透明電極３及び上基板１１を構成する上透明電極１３は錫をドープした酸化インジウムのＩＴＯ（Indium Tin Oxide）膜で、真空蒸着法、スパッタリング法、ＣＶＤ法、印刷法等で形成する。この下透明電極３及び上透明電極１３は高抵抗値であることが求められるため２５０〜５００オングストロームの範囲で非常に薄く形成する。このＩＴＯ膜は、基板全面に形成したものをフォトリソグラフィにより不要部分を除去し、必要な部分を残して形成する。
【００１０】
下基板１を構成する下導電電極４、５、接続電極６、７、及び上基板１１を構成する上導電電極１４、１５は、下透明電極３及び上透明電極１３に電圧印加するために設けるもので、銀粉や銅粉等の高導電性金属粉を熱硬化性のエポキシ樹脂等に混ぜ合わせてインク化したものをスクリーン印刷等の印刷方法で形成する。タッチパネルの性能上、これらの電極の抵抗値が低ければ低いほど良いものであり、一般に、透明電極のシート抵抗値に対してこれらの電極のシート抵抗値は１００分の１以下であることが必要とされている。そこで、これらの電極の印刷の厚さを増したり、幅を広くしたりして抵抗値を小さく押さえる設計がなされている。
【００１１】
下基板１を構成するドットスペーサ８は、押圧した部分以外の部分の透明電極同士が接触しないために設けるもので、透明なアクリル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、その他の透明な樹脂材料をスクリーン印刷等の方法でドットマトリックス状に一定間隔に形成し、その後、熱または紫外線で硬化処理を施して形成する。このドットスペーサ８は目に見えない大きさであることが求められることから、直径３０〜６０μｍ、ドット間隔は１〜８ｍｍの範囲で設計される。また、厚みは、用いる上透明基板１２の材質や上下基板１１、１の隙間量にもよって異なるが、上透明基板１２に０．２ｍｍのマイクロガラスを使用し、上下基板１１、１の隙間量を１０μｍ前後に設定した場合は概ね２〜５μｍ位の厚みを取る。
【００１２】
シール材１７は、スペーサボールを分散させた熱硬化性のエポキシ樹脂接着剤やアクリル樹脂接着剤等をスクリーン印刷等の方法で印刷して形成する。ここで使われるスペーサボールは上基板１１と下基板１との隙間を一定隙間に保持するために設けるもので、所定の大きさの絶縁性のあるプラスチックボールやファイバーガラス等が利用される。このプラスチックボールやファイバーガラスの大きさは、上基板１１の透明基板１２の材質や厚さによって異なるが、０．２ｍｍのマイクロガラスを使用した場合は概ね１０μｍ前後の径のものが選択される。このシール材１７は上基板１１または下基板１の何れか一方に印刷した後、上基板１１と下基板１とを位置を合わせて貼合わせ、加圧の下で加熱処理を施して硬化させ、接着固定を行っている。また、このシール材１７は上基板１１と下基板１を固定する役目と共に内部に水分やゴミ等の進入を防止するシールの役目も持っている
【００１３】
偏光板１８と位相差板１６は防眩性を高めて透視性や表示品質を良くするために設けている。偏光板１８は、様々なものが使用されているが一例をあげると、ポリビニールアルコールフイルムを常法により一軸延伸することによって厚さが２０μｍの偏光フイルムを作成し、この両面に厚さが８０μｍのセルロース系フイルムを張り合わせて厚さ１８０μｍの偏光板としたもの等が利用できる。また、位相差板１６は、ポリカーボネイトを素材として形成され、厚さ８０μｍ程度である。
【００１４】
図１０はペンで上基板１１を押圧したときの押圧状態を示した模式図である。上記構成を取るタッチパネル２０の上基板１１を構成する可撓性のある上透明基板１２をペン１０１で図中入力点Ｐで示した位置を押圧すると、上透明基板１２が撓んで上透明電極１３が下基板１の下透明電極３に接触し、その接触位置で電気的導通が行われる。
【００１５】
ここで、押圧入力点の位置座標は図１１に示す原理に基づいて求めることができる。図１１は座標入力の原理を説明する模式的回路図を示していて、（ａ）図はＸ軸側の座標読取りパネルに電圧を印加した状態を示しており、（ｂ）図はＹ軸側の座標読取りパネルに電圧を印加した状態を示している。ここで、Ｘ１はＸ軸側の座標読取りパネルで、透明電極Ｔ２とその対向する二辺に設けられた一対の導電電極Ｄ２とが主構成部品になって構成されていて、前述の図６〜９で説明した上透明電極１３と導電電極１４、１５を設けた上基板１１がＸ軸側の座標読取りパネルの役目を成している。また、Ｙ１はＹ軸側の座標読取りパネルで、透明電極Ｔ１とその対向する二辺に設けられた一対の導電電極Ｄ１とが主構成部品になって構成されていて、前述の図６〜９で説明した下透明電極３と導電電極４、５を設けた下基板１がＹ軸側の座標読取りパネルの役目を成している。３１はスイッチ、３２は定電圧電源、３３は電圧計である。
【００１６】
図１１の（ａ）図に示すように、Ｘ軸側の座標読取りパネルＸ１に定電圧電源３２を介して電圧を印加した状態で、ペン１０１で入力点Ｐの位置を押圧すると、Ｘ軸側の座標読取りパネルＸ１の接触点ＰｘとＹ軸側の座標読取りパネルＹ１の接触点Ｐｙで、電圧が対面するＹ軸側の座標読取りパネルＹ１側に分圧して流れる。このとき、パネルＹ１側の抵抗ＹＲ２が電圧計３３の内部抵抗値に比べて非常に小さく無視できる値であるので、電圧計３３にはパネルＸ１側の抵抗ＸＲ２に対する電圧値が示される。
【００１７】
次に、（ｂ）図に示すように、スイッチ３１を切り替えてＹ軸側の座標読取りパネルＹ１に電圧を印加すると、接触点Ｐｙの電圧が接触点ＰｘでＸ軸の座標読取りパネルＸ１側に分圧して流れる。このとき、パネＸ１側の抵抗ＸＲ２が電圧計３３の内部抵抗値に比べて非常に小さく無視できる値であるので、電圧計３３にはパネルＹ１側の抵抗ＹＲ２に対する電圧値が示される。
【００１８】
このように、入力点におけるＸ軸側の座標読取りパネル、及び、Ｙ軸側の座標読取りパネルの電圧値を検出して、この電圧値と印加電圧との比から入力点ＰのＸ軸、Ｙ軸の位置座標が算出される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
ところで、一般的には、測定位置の距離（位置変量と呼ぶ）に比例して内部抵抗値が変わり、電圧値も比例的に変わる。しかしながら、Ｘ軸側の座標読取りパネルＸ１の透明電極Ｔ２、並びにＹ軸側の座標読取りパネルＹ１の透明電極Ｔ１の内部抵抗値はすべて均一なものではなく、位置（場所）によってバラツキを持っている。このため、検出される電圧値もこの内部抵抗値のバラツキに応じて変動する。位置変量に対する内部抵抗値の直線的な関係を、一般的に、直線性と呼んで表現しており、別名「リニアリティ」とも呼んでいる。位置変量に対する内部抵抗値の違い割合を直線性係数と呼ぶ。タッチパネルにおいては特に精度の高い直線性が要求される。このため、Ｘ軸側の座標読取りパネルＸ１、並びにＹ軸側の座標読取りパネルＹ１の広い領域にわたってその直線性を評価することを行っている。
【００２０】
タッチパネルの直線性を評価する方法として、従来は図１２〜図１４に示すような評価方法を取っている。図１２はタッチパネルの電圧測定点の測定位置を示した平面図である。図１３は図１２における電圧測定点におけるＸ軸側の座標読取りパネルの測定電圧値及びその直線性係数を示した表で、（ａ）図はＸ軸側の座標読取りパネルの測定点における測定電圧値、（ｂ）図は（ａ）図における測定電圧値の直線性係数を示したものである。また、図１４は図１２における電圧測定点におけるＹ軸側の座標読取りパネルの測定電圧値及びその直線性係数を示した表で、（ａ）図はＹ軸側の座標読取りパネルの測定点における測定電圧値、（ｂ）図は（ａ）図における測定電圧値の直線性係数を示したものである。尚、便宜上、符号で示している。
【００２１】
先ず、図１２に示すように、アクティブエリヤ（使用領域）内Ｘ軸方向、及びＹ軸方向にそれぞれ一定間隔でマトリックス状に測定点が設定されているタッチパネル２０を検査機の載品台上に置き、３箇所のガイドピン１０２の下で位置決め固定して、予め設定してある測定点（図中ではＰ００〜Ｐ４８までのＸ軸方向で９箇所、Ｙ軸方向で５箇所の合計４５箇所）における電圧を測定する。この測定点の数はタッチパネルの大きさや品質レベルなどに応じて適宜設定されるものであるが、ここでは図に示すように、Ｘ軸方向（横方向）に対してはそれぞれ一定間隔に９点、Ｙ軸方向（縦方向）に対してはそれぞれ一定間隔に５点、合計４５点の測定点を設定したもので説明する。
【００２２】
次に、上記測定点におけるＸ軸側の座標読取りパネルの電圧値、及びＹ軸側の座標読取りパネルの電圧値を測定する。Ｘ軸側の座標読取りパネルの電圧値は上基板１１のカソード電極側にあたる上導電電極１４と、アノード電極側にあたる上導電電極１５にそれぞれ−電圧と＋電圧、例えば、上導電電極１４に０Ｖ電圧、上導電電極１５に５Ｖ電圧を印加した状態で各測定点における電圧値を検出して求める。Ｙ軸側の座標読取りパネルの電圧値は、スイッチを切替えて、下基板１の下導電電極４と５にそれぞれ−電圧と＋電圧を印加して各測定点における電圧値を検出して求める。図１３の（ａ）図は上記の方法で求めたＸ軸側の座標読取りパネルの測定電圧値を示したものである。同様にして、図１４の（ａ）図はＹ軸側の座標読取りパネルの測定電圧値を示したものである。
【００２３】
次に、各々の測定点における求めた測定電圧値から直線性係数を求める。図１３の（ｂ）図はＸ軸側の座標読取りパネルの直線性係数を示し、図１４の（ｂ）図はＹ軸側の座標読取りパネルの直線性係数を示したものである。Ｘ軸側の座標読取りパネルの直線性係数は、図中左端の測定点及び図中右端の測定点における直線性係数を０に設定してある。即ち、ここでの直線性係数を求める式は、下記の数１に示す計算式になっており、Ｘ軸方向（横方向）の両端の測定点（この測定点は導電電極に一番近い所にある）における電圧値（Ｖｉ０、及びＶｉ８）を基準にして直線性係数を算出する式になっている。従って、測定点の行毎に算出した直線性係数にて直線性の評価を行っている。ここで、左上隅にある測定点からＹ軸方向にｉ番目、Ｘ軸方向にｊ番目になる測定点における電圧値をＶｉｊ、その直線性係数をＣＸｉｊで表示している。尚、ここでの直線性係数ＣＸはＸ軸側の座標読取りパネルの直線性係数を示していて、後述するＹ軸側の座標読取りパネルの直線性係数ＣＹと区別する意味でＣＸの符号を取っている。
【００２４】
（数１）  ＣＸｉｊ＝（Ｖｉ０＋（（（Ｖｉ８−Ｖｉ０）／８）×ｊ）−Ｖｉｊ）／（Ｖｉ８−Ｖｉ０）、
【００２５】
尚、上記数１において、ｉ＝０〜８、ｊ＝０〜４の数値を示す。また、Ｖｉ８＞Ｖｉ０となっている。図１５は直線性係数を説明する説明図で、図１２における測定点Ｐ００、Ｐ０３、Ｐ０８、即ち、測定電圧値がＶ００、Ｖ０３、Ｖ０８を示す部分を取り出して描いている。図１５において、測定点Ｐ００、Ｐ０８における測定電圧値Ｖ００、Ｖ０８を基準にして基準直線Ｌを描く。図に示すごとく、測定点Ｐ０３の測定電圧値Ｖ０３が基準直線Ｌより少し外れてΔ量の差異を持っている。この差異を示すΔ量と測定点Ｐ００、Ｐ０８における測定電圧の差（Ｖ０８−Ｖ００）との比、即ち、Δ／（Ｖ０８−Ｖ００）を直線性係数としている。これを式で表すと上記数１の式になる。実際上、直線性計数ＣＸの値は各測定点において色々バラツキのある値を示す。このＣＸの値が０に近ければ近いほど直線性が良いと云える。
【００２６】
同様にして、Ｙ軸側の座標読取りパネルにおける直線性係数は、図１４の（ｂ）図に示している。ここでの直線性係数ＣＹを求める式は、下記の数２に示す計算式になっており、図中Ｙ軸方向の上端の行の測定点と下端の行の測定点（この測定点は導電電極に一番近い所にある）における電圧値（Ｖ０ｊ、及びＶ４ｊ）を基準にして直線性係数を算出する式になっている。従って、測定点の列（縦方向）毎に算出した直線性係数で直線性の評価を行っている。
【００２７】
（数２）  ＣＹｉｊ＝（Ｖ０ｊ＋（（（Ｖ４ｊ−Ｖ０ｊ）／４）×ｉ）−Ｖｉｊ）／（Ｖ４ｊ−Ｖ０ｊ）、
【００２８】
尚、上記数２において、Ｖ４ｊ＞Ｖ０ｊである。以上述べたような計算式で直線性係数を算出して直線性を評価する方法は、Ｘ軸側の座標読取りパネルでは測定点の行毎に、Ｙ軸側の座標読取りパネルでは列毎に行っている。従って、斜め方向の直線性については全く考慮されていない。また、Ｘ軸側の座標読取りパネルでみた場合に、図１３の（ａ）図に示すように、図中一番左側の列（導電電極に一番近いところにある）の測定電圧値Ｖ００、Ｖ１０、Ｖ２０、Ｖ３０、Ｖ４０は実際にそれぞれ多少異なった値を示す。しかしながら、その直線性係数は０として評価されてしまう。同様にして、一番右側の列（導電電極に一番近いところにある）の測定電圧値Ｖ０８、Ｖ１８、Ｖ２８、Ｖ３８、Ｖ４８は実際に測定電圧値がそれぞれ多少異なるにも関わらずその直線性係数は０となる。このことはＹ軸側の座標読取りパネルでも同じことが云える。このことからも、上記の計算式による評価方法は真値のデータを十分反映する評価方法になっていない。
【００２９】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、Ｘ軸方向（横方向）やＹ軸方向（縦方向）を同時に考慮した直線性の評価方法を見いだすことを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００３０】
上記課題を解決する手段として、本発明の請求項１に記載の発明は、方形の透明電極と該透明電極の対向する二辺に接続した一対の導電電極とを有するＸ軸側の座標読取りパネルと、方形の透明電極と該透明電極の対向する二辺に接続した一対の導電電極とを有するＹ軸側の座標読取りパネルとを一定の隙間を持たせて対向配置してなる抵抗膜式タッチパネルの直線性の評価方法において、前記タッチパネルとして使用可能な方形の領域にて、縦・横それぞれ一定の間隔でマトリックス状に設定した複数の測定点を定め、前記Ｘ軸側、及び前記Ｙ軸側の座標読取りパネルの一対の導電電極間にそれぞれ一定の電圧を印加した下でＸ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの各測定点における電圧値を検出し、４隅の測定点の電圧値を基準にしてＸ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの直線性係数をそれぞれ一定の計算式に基づいて算出し、該直線性係数をもってＸ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの直線性の評価をすることを特徴とするものである。
【００３１】
また、本発明の請求項２に記載の発明は、前記一対の導電電極はカソード側の導電電極とアノード側の導電電極に分かれており、カソード側の導電電極に一番近い列の複数の測定点の内の、前記４隅の測定点の内の２隅にあたる両端の測定点の検出した電圧値を基準にして他の複数の測定点の想定電圧値を計算し、又、前記カソード側の導電電極に一番近い列の複数の測定点と対向するところの前記アノード側の導電電極に一番近い列の複数の測定点の想定電圧値を、該複数の測定点の内の両端の測定点の検出した電圧値を基準にして計算し、更に、前記カソード側の導電電極に一番近い列の測定点の想定電圧値と、該測定点と対向しているところの前記アノード側の導電電極に一番近い列の測定点の想定電圧値とを基準にして、前記双方対向した測定点の間にある複数の測定点の想定電圧値を計算し、更に、前記双方対向した測定点の間にある複数の測定点の計算した想定電圧値と、該複数の測定点の検出した電圧値との差を基にして前記直線性係数を計算し、該直線性係数をもって前記Ｘ軸側、及びＹ軸側の座標読取りパネルの直線性の評価をすることを特徴とするものである。
【００３２】
また、本発明の請求項３に記載の発明は、前記直線性係数の計算式は、前記測定点がＹ軸方向にｎ個、Ｘ軸方向にｍ個の測定点を持ち、左上隅にある測定点からＹ軸方向にｉ番目、Ｘ軸方向にｊ番目になる測定点Ｐｉｊでの前記Ｘ軸側の座標読取りパネルにおける測定電圧値をＶｉｊとし、Ｘ軸側の座標読取りパネルにおける測定点Ｐｉｊでの直線性係数をＣＸｉｊと呼ぶと、該直線性係数ＣＸｉｊの計算式は、ＣＸｉｊ＝（ＫＶｉ０＋（ΔＶｉ／ｍ）×ｊ−Ｖｉｊ）／ΔＶｉ、の計算式で与え、Ｙ軸側の座標読取りパネルにおける測定点Ｐｉｊでの直線性係数をＣＹｉｊと呼ぶと、該直線性係数ＣＹｉｊの計算式は、ＣＹｉｊ＝（ＫＶ０ｊ＋（ΔＶｊ／ｎ）×ｉ−Ｖｉｊ）／ΔＶｊ、（但し、ｉ＝０〜ｎ、ｊ＝０〜ｍ、ＫＶｉ０は測定点Ｐｉ０における想定電圧値、ＫＶ０ｊは測定点Ｐ０ｊにおける想定電圧値、ΔＶｉは測定点Ｐｉ０における想定電圧値と測定点Ｐｉｍにおける想定電圧値との差、ΔＶｊは測定点Ｐ０ｊにおける想定電圧値と測定点Ｐｎｊにおける想定電圧値との差）の計算式で与えることを特徴とするものである。
【００３３】
また、本発明の請求項４に記載の発明は、前記請求項１乃至３のいずれか１つに記載の直線性係数を使用し、該直線性係数の最大値をもってタッチパネルの評価を行うことを特徴とするものである。
【００３４】
また、本発明の請求項５に記載の直線性検査装置は、前記の請求項１乃至４のいずれか１つに記載の直線性係数を算出してタッチパネルの直線性評価を行うことを特徴とするものである。
【００３５】
また、本発明の請求項６に記載のタッチパネルは、前記の請求項１乃至４のいずれか１つに記載のタッチパネルの直線性の評価方法を用いて評価を行ったことを特徴とするものである。
【００３６】
また、本発明の請求項７に記載のタッチパネルは、前記の請求項５に記載の直線性検査装置を用いて直線性の評価を行ったことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００３７】
請求項１、２、３に記載の発明の下では、４隅の測定点における測定電圧値を基準にして直線性係数を算出する。従って、４隅の直線性係数は０になるが、その他の測定点においては実測値を考慮した係数値が算出される。従って、導電電極に近いところの直線性係数も知ることができ、従来の方法と比べると、使い勝手に合った評価ができると共に、より信頼性の高い評価が得られる。
【００３８】
また、請求項４に記載の発明の下では、直線性の判定基準を明確にすることができ、管理基準との比較が容易となり、合否の判定がし易くなる。
【００３９】
また、請求項５に記載の発明の下では、自動的に測定し、自動的に直線性係数を算出して直線性評価の結果が印刷出力される。検査時間が非常に短時間で終わり、同時に、スピーディに評価結果が分かる。
【００４０】
また、請求項６に記載の発明の下では、本発明の評価方法によって求めた直線性係数は、従来方法で求めた係数より大き目に現れる。従って、決められた管理基準の下で判定すると従来より厳しい判定がなされることになる。このことは、信頼性の高いタッチパネルを供給することになる。
【００４１】
更にまた、請求項７に記載の発明の下では、直線性係数が正確に算出される。従って、データに信頼性が高い。また、検査時間が非常に短時間で終わり、スピーディに評価結果が分かるので検査コストがかからない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４２】
以下、本発明の最良の実施形態を図１〜図５を用いて説明する。ここで、図１は本発明のＸ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値と直線性係数を示したもので、（ａ）図は測定電圧値、（ｂ）図は直線性係数を示している。図２は本発明のＹ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値と直線性係数を示したもので、（ａ）図は測定電圧値、（ｂ）図は直線性係数を示している。図３は図１の（ｂ）図におけるＸ軸側の座標読取りパネルにおける直線性係数を求める方法の説明図を示したものであり、また、図４は図２の（ｂ）図におけるＹ軸側の座標読取りパネルにおける直線性係数を求める方法の説明図を示したものである。また、図５は本発明の直線性検査装置を説明する説明図を示している。尚、測定電圧値や直線性係数は便宜上符号で表示している。また、本発明はタッチパネルの直線性の評価方法に関する発明で、使用するタッチパネルは従来例と全く同じ構成のものを使用する。また、背景技術で説明したように、タッチパネル２０の上透明電極１３と一対の上導電電極１４、１５を設けた上基板１１がＸ軸側の座標読取りパネルに成っており、下透明電極３と一対の下導電電極４、５を設けた下基板１がＹ軸側の座標読取りパネルに成っている。
【００４３】
タッチパネルの直線性の評価をするにあたり、電圧の測定点の設定や電圧測定方法などは背景技術で述べた従来方法と同じ方法を取る。従って、従来技術で図１２を用いて説明した測定点の下で説明する。ここで測定されたＸ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値を図１の（ａ）図、Ｙ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値を図２の（ａ）図に示している。図１の（ａ）図の測定電圧値、図２の（ａ）図の測定電圧値は何れもＶ００〜Ｖ４８の符号で表示しているが、何れも異なった値を示すもので、便宜的に同一符号を使用しているものである。また、Ｘ軸方向にそれぞれ９箇所、Ｙ軸方向にそれぞれ５箇所、総計９列５行による４５箇所の電圧値が示されている。行をｉ（ｉ＝０〜ｎ）、列ｊ（ｊ＝０〜ｍ）で表示して（（ａ）図においてはｎ＝４、ｍ＝８になるが）、それぞれの電圧値をＶｉｊと表示して説明する。
【００４４】
ここで、図１に示されたＸ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値は、上基板１１のカソード電極にあたる上導電電極１４に−電圧、アノード電極にあたる上導電電極１５に＋電圧を印加して求めている。例えば、上導電電極１４に０Ｖ電圧、上導電電極１５に５Ｖ電圧を印加して各測定点の電圧を測定すると、上導電電極１４に一番近い列の測定点の電圧値Ｖｉ０（Ｖ００、Ｖ１０、Ｖ２０、Ｖ３０、Ｖ４０）は０Ｖに近い電圧値ではあるがそれぞれ違った値が検出される。一方、上導電電極１５に一番近い列の測定点の電圧値Ｖｉ８（Ｖ０８、Ｖ１８、Ｖ２８、Ｖ３８、Ｖ４８）は５Ｖに近い電圧値ではあるがそれぞれ違った値が検出される。同様に、図２に示されたＹ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値も、下基板１のカソード電極側にあたる下導電電極５とアノード電極側にあたる下導電電極４とに上基板１１の上導電電極１４、１５に印加した電圧と同じ電圧を印加して求めている。従って、下導電電極５に一番近い行の測定点の電圧値Ｖ０ｊ（Ｖ００、Ｖ０１、・・・Ｖ０８）は下導電電極に印加した電圧に近い電圧値で、それぞれ違った電圧値が検出される。一方、下導電電極４に一番近い行の測定点の電圧値Ｖ４ｊ（Ｖ４０、Ｖ４１、・・・Ｖ４8）も下導電電極４に印加した電圧に近い電圧値で、それぞれ違った電圧値が検出される。
【００４５】
図３はＸ軸側の座標読取りパネルの直線性係数を求める説明図を示している。尚、分かり易くするために少し誇張して描いてある。図中、左端の方にＰ００、Ｐｉ０、Ｐｎ０ の測定点が示されており、その測定点での電圧値Ｖ００、ＫＶｉ０、Ｖｎ０ が示されている。ここでの測定点Ｐｉ０ における電圧値ＫＶｉ０ は計算上の想定電圧値を指していて、電圧値Ｖ００、Ｖｎ０  とを結ぶ直線Ｌ０ と測定点Ｐｉ０ との交点ＬＰｉ０ における電圧値を示している。この電圧値ＫＶｉ０ は、ＫＶｉ０＝Ｖ００−ΔＶｉ０  で求められる。ここで、ΔＶｉ０ は測定点Ｐ００と測定点Ｐｉ０との距離における電圧変化量を示していて、ΔＶｉ０ ＝(（Ｖ００−Ｖｎ０ ）／ｎ）×ｉで求められる。尚、ここでのｎ、ｉは測定点Ｐ００から測定点Ｐｎ０、Ｐｉ０までの距離を指している。
【００４６】
次に、図中、右端の方にＰ０ｍ、Ｐｉｍ、Ｐｎｍ の測定点が示されており、その測定点での電圧値Ｖ０ｍ、ＫＶｉｍ、Ｖｎｍ が示されている。ここでの測定点Ｐｉｍ における電圧値ＫＶｉｍ は計算上の想定電圧値を指していて、電圧値Ｖ０ｍ、Ｖｎｍ  とを結ぶ直線Ｌｍ と測定点Ｐｉｍ との交点ＬＰｉｍ における電圧値を示している。この電圧値ＫＶｉｍ は、ＫＶｉｍ＝Ｖ０ｍ−ΔＶｉｍ  で求められる。ここで、ΔＶｉｍ は測定点Ｐ０ｍと測定点Ｐｉｎとの距離における電圧変化量を示していて、ΔＶｉｍ ＝(（Ｖ０ｍ−Ｖｎｍ ）／ｎ）×ｉで求められる。
【００４７】
以上のことから、測定点Ｐｉ０と測定点Ｐｉｍとの間で想定電圧値がＫＶｉ０ からＫＶｉｍ に変わり、ＫＶｉｍ −ＫＶｉ０ ＝ΔＶｉ  分想定電圧値が増分したことになる。即ち、測定点Ｐｉ０と測定点Ｐｉｍとの距離ｍの間で想定電圧値がΔＶｉ 増えたことになる。尚ここで、ＫＶｉｍ ＞ＫＶｉ０である。
【００４８】
次に、測定点Ｐｉｊにおける想定電圧値を求める。これは、測定点Ｐｉ０における想定電圧値ＫＶｉ０と測定点Ｐｉｍにおける想定電圧値ＫＶｉｍとを結ぶ直線Ｌｉと測定点Ｐｉｊとの交点ＬＰｉｊで求められる。測定点Ｐｉｊにおける想定電圧値をＫＶｉｊとすると、ＫＶｉｊ＝ＫＶｉ０ ＋ΔＶｉｊで求められる。ここでのΔＶｉｊは、ΔＶｉｊ＝（ΔＶｉ ／ｍ）×ｊで求められることから、従って、ＫＶｉｊ＝ＫＶｉ０ ＋（ΔＶｉ ／ｍ）×ｊの式で与えられる。尚、ここでのｍ、ｊは測定点Ｐｉ０から測定点Ｐｉｍ、Ｐｉｊまでの距離を指している。
【００４９】
測定点Ｐｉｊにおける測定電圧値がＶｉｊである。この測定電圧値Ｖｉｊと想定電圧値ＫＶｉｊとの差をΔとすると、Δ＝ＫＶｉｊ−Ｖｉｊとなり、上記の式をこれに当てはめると、Δ＝ＫＶｉ０ ＋（ΔＶｉ ／ｍ）×ｊ−Ｖｉｊで求められることになる。今まで、Δ／ΔＶｉを直線性係数として定義付けてきた。従って、測定点Ｐｉｊの測定電圧値Ｖｉｊに対する直線性係数ＣＸｉｊは下記の数３の式で与えることができる。
【００５０】
（３）  ＣＸｉｊ＝（ＫＶｉ０ ＋（ΔＶｉ ／ｍ）×ｊ−Ｖｉｊ）／ΔＶｉ
【００５１】
図１の（ｂ）図に示す各々の直線性係数は上記の数３の式に、ｎ＝４、ｍ＝８を与えて求められるものとなっている。また、上記の数３の式は４隅の測定点Ｐ００、Ｐｎ０、Ｐ０ｍ、Ｐｎｍの測定電圧値Ｖ００、Ｖｎ０、Ｖ０ｍ、Ｖｎｍを基準にして算出している。従って、この所における直線性係数は何れも０になる。
【００５２】
このようにして求めたＸ軸側の座標読取りパネルの直線性係数はＹ軸方向（縦方向）とＸ軸方向（横方向）とを同時に考慮した直線性係数になっている。従って、Ｙ軸方向（縦方向）とＸ軸方向（横方向）とを同時に考慮した直線性の評価ができる。また、導電電極に近いところの直線性係数も知ることがで、従来の方法と比べると、使い勝手に合った評価ができると共に、より信頼性の高い評価が得られる。
【００５３】
次に、Ｙ軸側の座標読取りパネルの直線性係数を求める求め方を図４を用いて説明する。尚、図４も分かり易くするために少し誇張して描いてある。求め方は前述したＸ軸側の座標読取りパネルの直線性係数の求め方と全く同じ方法を取る。以下、簡単にその求め方を説明する。図中、下側にＰ００、Ｐ０ｊ、Ｐ０ｍ の測定点が示されており、その測定点での電圧値Ｖ００、ＫＶ０ｊ、Ｖ０ｍ が示されている。Ｐ００、Ｐ０ｊ、Ｐ０ｍ の測定点は下基板１のカソード電極側にあたる下導電電極５に一番近い行の所にある測定点になっている。両端の測定点Ｐ００、Ｐ０ｍ の測定電圧値Ｖ００、Ｖ０ｍを基準にして測定点Ｐ０ｊの想定電圧値を求める。図中ＫＶ０ｊはその想定電圧値を指していて、電圧値Ｖ００、Ｖ０ｍ  とを結ぶ直線Ｌ０ と測定点Ｐ０ｊ との交点ＬＰ０ｊ から求められる。即ち、ＫＶ０ｊ＝Ｖ００−ΔＶ０ｊ  で求められる。ここで、ΔＶ０ｊ は測定点Ｐ００と測定点Ｐ０ｊとの距離における電圧変化量を示していて、ΔＶ０ｊ ＝(（Ｖ００−Ｖ０ｍ ）／ｍ）×ｊで求められる。尚、ここでのｍ、ｊは測定点Ｐ００から測定点Ｐ０ｍ、Ｐ０ｊまでの距離を指している。
【００５４】
次に、図中、上側のＰ０ｍ、Ｐｉｍ、Ｐｎｍ の測定点はアノード電極側にあたる下導電電極４に一番近い行の測定点になっている。両端の測定点Ｐｎ０、Ｐｎｍ の測定電圧値Ｖｎ０、Ｖｎｍを基準にして測定点Ｐｎｊの想定電圧値ＫＶｎｊを求める。この想定電圧値ＫＶｎｊは、電圧値Ｖｎ０、Ｖｎｍ  とを結ぶ直線Ｌｎ と測定点Ｐｎｊ との交点ＬＰｎｊ における計算上の電圧値を示していて、ＫＶｎｊ＝Ｖｎ０−ΔＶｎｊ  で求められる。ここで、ΔＶｎｊ は測定点Ｐｎ０と測定点Ｐｎｊとの距離における電圧変化量を示していて、ΔＶｎｊ ＝(（Ｖｎ０−Ｖｎｍ ）／ｍ）×ｊで求められる。
【００５５】
以上のことから、測定点Ｐ０ｊと測定点Ｐｎｊとの間で想定電圧値がＫＶ０ｊ からＫＶｎｊに変わり、ＫＶｎｊ −ＫＶ０ｊ ＝ΔＶｊ分想定電圧値が増分したことになる。即ち、測定点Ｐ０ｊと測定点Ｐｎｊとの距離ｎの間で想定電圧値がΔＶｊ増えたことになる。尚ここで、ＫＶｎｊ ＞ＫＶ０ｊである。
【００５６】
次に、測定点Ｐｉｊにおける想定電圧値を求める。これは、測定点Ｐ０ｊにおける想定電圧値ＫＶ０ｊと測定点Ｐｎｊにおける想定電圧値ＫＶｎｊとを結ぶ直線Ｌｊと測定点Ｐｉｊとの交点ＬＰｉｊで求められる。測定点Ｐｉｊにおける想定電圧値をＫＶｉｊとすると、ＫＶｉｊ＝ＫＶ０ｊ ＋ΔＶｉｊで求められる。ここでのΔＶｉｊは、ΔＶｉｊ＝（ΔＶｊ ／ｎ）×ｉで求められることから、従って、ＫＶｉｊ＝ＫＶ０ｊ ＋（ΔＶｊ ／ｎ）×ｉの式で与えられる。尚、ここでのｎ、ｉは測定点Ｐ０ｊから測定点Ｐｎｊ、Ｐｉｊまでの距離を指している。
【００５７】
測定点Ｐｉｊにおける測定電圧値がＶｉｊである。この測定電圧値Ｖｉｊと想定電圧値ＫＶｉｊとの差をΔとすると、Δ＝ＫＶｉｊ−Ｖｉｊとなり、上記の式をこれに当てはめると、Δ＝ＫＶ０ｊ ＋（ΔＶｊ ／ｎ）×ｉ−Ｖｉｊで求められることになる。今まで、Δ／ΔＶｊを直線性係数として定義付けてきた。従って、測定点Ｐｉｊの測定電圧値Ｖｉｊに対する直線性係数ＣＹｉｊは下記の数４の式で与えることができる。
【００５８】
（４）  ＣＹｉｊ＝（ＫＶ０ｊ ＋（ΔＶｊ ／ｎ）×ｉ−Ｖｉｊ）／ΔＶｊ 、
【００５９】
図２の（ｂ）図に示す各々の直線性係数は上記の数４の式に、ｎ＝４、ｍ＝８を与えて求められるものとなっている。また、上記の数４の式は４隅の測定点Ｐ００、Ｐ０ｍ、Ｐｎ０、Ｐｎｍの測定電圧値Ｖ００、Ｖ０ｍ、Ｖｎ０、Ｖｎｍを基準にして算出している。従って、この所における直線性係数は何れも０になる。
【００６０】
このようにして求めたＹ軸側の座標読取りパネルの直線性係数はＸ軸方向（横方向）とＹ軸方向（縦方向）とを同時に考慮した直線性係数になっている。従って、Ｘ軸方向（横方向）とＹ軸方向（縦方向）とを同時に考慮した直線性の評価ができる。また、導電電極に近いところの直線性係数も知ることがで、従来の方法と比べると、使い勝手に合った評価ができると共に、より信頼性の高い評価が得られる。
【００６１】
以上、Ｘ軸側の座標読取りパネルの直線性係数、及びＹ軸側の座標読取りパネルの直線性係数の求め方について説明した。このようにして算出した直線性係数の値は＋の数値、或いは、−の数値で表れてくる。何れもその大きい方の数値をもって最大の直線性係数の値と定義付けて考える。また、これらの係数の値を百分率（％）で表示することもできる。そして、決められた管理基準に対して、例えば、±３％とか、±５％とかの管理基準に納まっているか否かの判定を行えば良い。
【００６２】
また、上記の直線性係数の求め方は、例えば、Ｘ軸側の座標読取りパネルの直線性係数で考えれば、行間の電圧値の違い、行内の電圧値の違いを考慮した求め方をしている。従って、従来の行内の違いのみを考慮した係数値と比較して本発明の係数値は違い量が大きくなって現れてくる。これは、Ｙ軸側の座標読取りパネルの直線性係数でも同じである。同じ管理基準値で判定した場合、本発明の方が厳しく判定されることになる。このことは逆に、信頼性の高いタッチパネルを供給することになって製品の信頼度を高める効果を得る。
【００６３】
次に、図５に示すものは本発明の直線性検査装置を説明する説明図を示したものである。今まで述べた各電圧測定点の電圧値の測定から直線性係数の算出、更には、それらの算出結果の数値表の印刷出力まで、自動的に作業を行う検査装置になっている。本発明の直線性検査装置４０はパソコン４１、モニター４２、ＸＹ駆動装置４３、本体部４５、ＤＭＭ（デジタルマルチメータ）４６、Ｉ／Ｏボード４７、プリンター４８などが主要構成になってできている。パソコン４１はモニータ４２と接続されていて、キーボード入力で必要な情報をモニータ４２にて確認しながらパソコン４１に記憶させる。また、パソコン４１はＸＹ駆動装置４３と接続されていて、パソコン４１から出た情報に基づいてＸＹ駆動装置４３が駆動し、また、本体４５からの命令により、所定の測定点における抵抗や電圧が測定され、それらの値が検出できるようになっている。
【００６４】
ＸＹ駆動装置４３は、載品台４３ｆがあり、その載品台４３ｆの図中左端側に固定台４３ａが固定されている。また、この固定台４３ａには図中縦方向、即ち、矢印で示したＹ軸に摺動可能にＹ軸用スライダー４３ｂが設けられている。また、このＹ軸用スライダー４３ｂには図中左右横方向、即ち、Ｘ軸に摺動可能にＸ軸用スライダー４３ｃが設けられている。また、Ｘ軸用スライダー４３ｃの下面側には押圧測定子４３ｄが上下に運動可能に設けられている。パソコン４１から発せられた測定点の座標位置情報に基づき、Ｙ軸用スライダー４３ｂが動き、更に、Ｘ軸用スライダー４３ｃが動いて所定の位置に押圧測定子４３ｄがくる。そして、押圧測定子４３ｄが上下に動いてタッチパネル２０の上基板を押圧する。押圧測定子４３ｄは、先端が半球状のウレタンゴムなどでできており、ソレノイドやエアーシリンダなどによって上下に運動するようになっている。Ｘ軸用スライダー４３ｃはベルトとパルスモータによってＸ軸側を運動する。Ｙ軸用スライダー４３ｂは固定台４３ａとボールネジなどによって係合してＹ軸側を運動する。載品台４３ｆには３本のガイドピン４３ｇが設けられており、タッチパネル２０がＸ軸と平行に載置できるようになっている。また、載置されたタッチパネル２０は真空吸引で載品台４３ｆ上に固定される。
【００６５】
本体部４５は位置検出回路やリレー切替回路などからなっており、この本体部４５はタッチパネル２０、及びＤＭＭ４６と接続されている。押圧測定子４３ｄでタッチパネル２０の測定点における上基板を押圧すると上基板の上透明電極と下基板の下透明電極と接触し電気的導通が行われる。最初、上基板側即ちＸ軸側の座標読取りパネルの測定点における抵抗値、電圧値をＤＭＭ４６で測定し、次に、本体部４５のリレー切替えにより、下基板側即ちＹ軸側の座標読取りパネルの測定点における抵抗値、電圧値をＤＭＭ４６で測定する。これらの測定したデータはＤＭＭ４６よりＲＳ２３２Ｃインターフェースを通して接続したパソコン４１のハードデスクにデータファイルとして書き込まれる。また、押圧された測定点の位置は本体部４５の位置検出回路で検出して、その位置をパソコンで読みこむようになっている。
【００６６】
また、プリンター４８がパソコン４１に接続されていて、測定して得られたデータが印刷できるようになっている。
【００６７】
予め測定点の位置や直線性係数の計算式などをキーボード操作でモニータ４２にて確認しながらパソコン４１に登録しておく。そして、検査スタート指示が入ると、パソコン４１に接続したＸＹ駆動装置４３と本体４５とが駆動して各測定点の電圧測定が始まる。電圧値はＤＭＭ４６で検出してそのデータをパソコン４１に書き込み、次に、パソコン４１内で所定の計算式の下で直線性係数が算出される。そして、最後にプリンターで印刷出力される。本発明の直線性検査装置は、このように、測定から印刷までの一連の作業を自動的に、そして、スピーディに行えるようになっている。そして、直線性係数の評価結果までを盛り込んだデータが得られるようになっている。また、直線性係数が管理基準に対して外れたものが現れた場合にはＸＹ駆動装置４３に赤ランプがついて作業者に知らせることもできるようになっている。また、プリンター４８の印刷出力もマニアル出力に切替えることもできるようにもなっている。
【００６８】
以上のことから、本発明の直線性検査装置を用いてタッチパネルの直線性評価を行えば、その処理時間は非常に短時間で、且つ、スピーディに処理できる。早く、安く、且つ、正確に直線性評価を行うことができる。そして、そのようにして得られたタッチパネルは信頼性の高いタッチパネルとして供給することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明のＸ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値と直線性係数を示したもので、（ａ）図は測定電圧値、（ｂ）図は直線性係数を示したものである。
【図２】本発明のＹ軸側の座標読取りパネルの各測定点における測定電圧値と直線性係数を示したもので、（ａ）図は測定電圧値、（ｂ）図は直線性係数を示したものである。
【図３】図１の（ｂ）図におけるＸ軸側の座標読取りパネルにおける直線性係数を求める方法の説明図である。
【図４】図２の（ｂ）図におけるＹ軸側の座標読取りパネルにおける直線性係数を求める方法の説明図である。
【図５】本発明の直線性検査装置を説明する説明図である。
【図６】従来技術におけるタッチパネルの平面図である。
【図７】図６おけるＥ−Ｅ断面図である。
【図８】図６における下基板の平面図である。
【図９】図６における上基板の平面図である。
【図１０】ペンで上基板を押圧したときの押圧状態を示した模式図である。
【図１１】座標入力の原理を説明する模式的回路図で、（ａ）図はＸ軸側の座標読取りパネルに電圧を印加した状態を示しており、（ｂ）図はＹ軸側の座標読取りパネルに電圧を印加した状態を示したものである。
【図１２】タッチパネルの電圧測定点の測定位置を示した平面図である。
【図１３】図１２における電圧測定点におけるＸ軸側の座標読取りパネルの測定電圧値及びその直線性係数を示した表で、（ａ）図はＸ軸側の座標読取りパネルの測定点における測定電圧値、（ｂ）図は（ａ）図における測定電圧値の直線性係数を示したものである。
【図１４】図１２における電圧測定点におけるＹ軸側の座標読取りパネルの測定電圧値及びその直線性係数を示した表で、（ａ）図はＹ軸側の座標読取りパネルの測定点における測定電圧値、（ｂ）図は（ａ）図における測定電圧値の直線性係数を示したものである。
【図１５】直線性係数を説明する説明図である。
【符号の説明】
【００７０】
１      下基板
２      下透明基板
３      下透明電極
４、５  下導電電極
６、７  接続電極
８      ドットスペーサ
９      ＦＰＣ
１１      上基板
１２      上透明基板
１３      上透明電極
１４、１５上導電電極
１６      位相差板
１７      シール材
１８      偏光板
２０      タッチパネル
４０      直線性検査装置
４１      パソコン
４２      モニター
４３      ＸＹ駆動装置
４３ａ    固定台
４３ｂ    Ｙ軸用スライダー
４３ｃ    Ｘ軸用スライダー
４３ｄ    押圧測定子
４３ｆ    載品台
４３ｇ    ガイドピン
４５      本体部
４６      ＤＭＭ
４７      Ｉ／Ｏボード
４８      プリンター
Ｐｉｊ      測定点
Ｖｉｊ      電圧値
ＣＸｉｊ    Ｘ軸側の座標読取りパネルの直線性係数
ＣＹｉｊ    Ｙ軸側の座標読取りパネルの直線性係数
ＫＶｉ０、ＫＶｉｍ、ＫＶｉｊ、ＫＶ０ｊ、ＫＶｎｊ    想定電圧値
【図１】
2005190236.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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