(57)【要約】      （修正有）【課題】負荷やエラーが発生する状況をサーバの資源を業務用アプリケーション等と競合して使用することなくシミュレートすることができる試験方法を提供する。【解決手段】  サーバと、前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、前記接続装置は、前記記憶部に、試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報と試験に関する設定情報とが対応付けられた試験リストが予め格納され、前記送受信部が受信した前記入出力要求が入力されると、該入出力要求のあて先が前記試験対象の前記データ記憶装置かを前記試験リストを参照して判定し、該入出力要求のあて先が前記試験対象である場合には所定期間経過後、該入出力要求を前記送受信部に出力する試験部を備えたことを特徴とする情報システムを提供する。【選択図】図２
2005165556.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、
前記接続装置は、更に、
前記記憶部に、試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報と試験に関する設定情報とが対応付けられた試験リストが予め格納され、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、前記送受信部が受信した前記入出力要求が入力されると、該入出力要求のあて先が前記試験対象の前記データ記憶装置かを前記試験リストを参照して判定し、該入出力要求のあて先が前記試験対象である場合には所定期間経過後、該入出力要求を前記送受信部に出力する試験部を備えたことを特徴とする情報システム。
【請求項２】
サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、
前記接続装置は、更に、
前記記憶部に、試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報と試験に関する設定情報とが対応付けられた試験リストが予め格納され、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、前記送受信部が受信した前記入出力要求が入力されると、該入出力要求のあて先が前記試験対象の前記データ記憶装置かを前記試験リストを参照して判定し、該入出力要求のあて先が前記試験対象である場合には所定の割合でエラーメッセージを生成し、該エラーメッセージを前記送受信部に出力する試験部を備え、
前記送受信部は、前記試験部より前記エラーメッセージが入力された場合には前記入出力要求を発行した前記サーバに該エラーメッセージを通知することを特徴とする情報システム。
【請求項３】
サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、
前記接続装置は、更に、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、要求元を前記接続装置とし、あて先を前記データ記憶装置とする前記入出力要求を生成し、生成された前記入出力要求を前記送受信部に出力する入出力生成部を備え、
前記送受信部は、前記試験部が生成した前記入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を受信すると、該情報を破棄することを特徴とする情報システム。
【請求項４】
請求項１乃至請求項２において、
前記接続装置は、更に、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、要求元を前記接続装置とし、あて先を前記データ記憶装置とする前記入出力要求を生成し、生成された前記入出力要求を前記送受信部に出力する入出力生成部を備え、
前記送受信部は、前記試験部が生成した前記入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を受信すると、該情報を破棄することを特徴とする情報システム。
【請求項５】
サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて前記データ記憶装置に対する負荷を発生させる試験方法であって、
前記接続装置は、前記サーバが前記データ記憶装置に対して発行した前記入出力要求を受信し、該入出力要求のあて先が試験対象の前記データ記憶装置であるかを判定し、該入出力要求のあて先が試験対象である場合、該入出力要求を所定期間保持した後、前記あて先の前記データ記憶装置に送信することにより前記データ記憶装置に対する擬似的な負荷を発生させることを特徴とする試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
複数のサーバにより共有されるストレージ（データ記憶装置）を有する情報システムにおいて、ストレージに対し負荷やエラーを発生させて試験を行う試験方法および試験が行われる情報システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、業務の効率化や顧客へのサービス提供を目的として、複数のサーバや複数のストレージからなる情報システムを構築する例が増えている。例えば、販売処理、受発注処理、会計処理等を行う業務システムやウェブコンテンツの配信等を処理するサービス提供システムがある。このような情報システムにおいては、情報システムを導入するユーザが求めるシステム要件に合致するかを判断するために情報システムの性能に関する情報を収集する性能試験、情報システムの動作を検証する動作試験を含む各種試験が行われることが多い。
【０００３】
こうした試験においては、ストレージにエラーや負荷を発生させることが多くある。例えば、性能試験として、ストレージに負荷を発生させたときの、サーバに含まれるCPUやメモリ、ストレージに含まれるディスク等の資源の使用率やレスポンスタイム等を測定したり、動作試験として、ストレージにエラーを発生させて、エラーの発生がない（正常な）ストレージだけで情報システムが行う処理を継続できるかを検証したりする。
【０００４】
従来、ストレージに対する負荷やエラーの発生機構を組み込む対象はサーバかストレージであった。例えば、それらの発生機構をプログラムで実現する場合、サーバにそのプログラムをインストールする必要があり、そのプログラムは、サーバのOS(Operating System)、使用するストレージのベンダ、使用するホストバスアダプタ（サーバ側でストレージとのインタフェースとして機能する機器）毎に異なるものである。
【０００５】
また、上記発生機構をハードウェアで実現する場合、例えば、ホストバスアダプタ(Host Bus Adapter、HBA)に発生機構を組み込む場合、HBAのファームウェアを書き換えるか、発生機構として機能するファームウェアが搭載されたHBAを新たにサーバに設置する必要があった。ストレージに上記発生機構を組み込む場合も、ストレージを制御するコントローラのファームウェアを書き換えるか、発生機構として機能するファームウェアが搭載されたコントローラに交換する必要があった。参考技術としては、擬似的に発生させた負荷を利用してネットワーク性能を評価するため、擬似トラフィックを発生させる方法が開示されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−２５２９８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の試験方法は負荷やエラーの発生機構が組み込まれる対象がサーバやストレージであったため、次のような課題を有している。まず第一に、負荷やエラーの発生機構をプログラムで実現する場合、そのプログラムと、情報システムを導入した本来の目的を達成するための処理（例えば、業務システムであれば業務用アプリケーション、ウェブコンテンツの配信を行うサービス提供システムであればウェブサーバアプリケーション）がサーバのCPU、メモリ等の資源を競合して使用するため、実際に上記処理を行って負荷やエラーが発生する状況とは異なる状況をシミュレートすることになる。
【０００７】
第二に、上記発生機構をプログラムで実現する場合、OSの違い、ストレージベンダの違い、使用するHBAの違い等に応じて用意しなければならないプログラムは多数になり、個々のサーバへのインストール作業、インストール後の設定作業に大変な労力と時間を要する。第三に、上記発生機構をハードウェアで実現する場合、そのハードウェアの設置作業、設置後の設定作業にやはり大変な労力と時間を要する。
【０００８】
そこで本発明の目的は、負荷やエラーが発生する状況をサーバの資源を業務用アプリケーション等と競合して使用することなくシミュレートすることができる試験方法を提供することである。本発明の別の目的は、試験前の準備に要する労力と時間を従来より削減する試験方法を提供することである。また、本発明の別の目的は、前述の試験方法が適用される情報システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的は、サーバと、前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、前記接続装置は、更に、前記記憶部に、試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報と試験に関する設定情報とが対応付けられた試験リストが予め格納され、前記送受信部と前記記憶部に接続され、前記送受信部が受信した前記入出力要求が入力されると、該入出力要求のあて先が前記試験対象の前記データ記憶装置かを前記試験リストを参照して判定し、該入出力要求のあて先が前記試験対象である場合には所定期間経過後、該入出力要求を前記送受信部に出力する試験部を備えたことを特徴とする情報システムを提供するこ
とにより達成される。
【００１０】
また上記目的は、サーバと、前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、前記接続装置は、更に、前記記憶部に、試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報と試験に関する設定情報とが対応付けられた試験リストが予め格納され、前記送受信部と前記記憶部に接続され、前記送受信部が受信した前記入出力要求が入力されると、該入出力要求のあて先が前記試験対象の前記データ記憶装置かを前記試験リストを参照して判定し、該入出力要求のあて先が前記試験対象である場合には所定の割合でエラーメッセージを生成し、該エラーメッセージを前記送受信部に出力する試験部を備え、前記送受信部は、前記試験部より前記エラーメッセージが入力された場合には前記入出力要求を発行した前記サーバに該エラーメッセージを通知することを特徴とする情報システムを提供することにより達成される。
【００１１】
また上記目的は、サーバと、前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、前記接続装置は、更に、前記送受信部と前記記憶部に接続され、要求元を前記接続装置とし、あて先を前記データ記憶装置とする前記入出力要求を生成し、生成された前記入出力要求を前記送受信部に出力する入出力生成部を備え、前記送受信部は、前記試験部が生成した前記入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を受信すると、該情報を破棄することを特徴とする情報システムを提供することにより達成される。
【００１２】
また上記目的は、サーバと、前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて前記データ記憶装置に対する負荷を発生させる試験方法であって、前記接続装置は、前記サーバが前記データ記憶装置に対して発行した前記入出力要求を受信し、該入出力要求のあて先が試験対象の前記データ記憶装置であるかを判定し、該入出力要求のあて先が試験対象である場合、該入出力要求を所定期間保持した後、前記あて先の前記データ記憶装置に送信することにより前記データ記憶装置に対する擬似的な負荷を発生させることを特徴とする試験方法を提供することにより達成される。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、サーバあるいはストレージにエラーや負荷の発生機構を組み込む必要がなく、サーバで実行される業務用アプリケーション等と競合することなく、性能試験、動作試験を含む各種試験を実施できる。また、本発明の試験方法において使用され、上記発生機構を組み込む接続装置は、サーバやストレージの台数より少なくて済み、かつ、OSやストレージのベンダ、使用するHBAの違いを意識することなく上記接続装置を導入することができるので、試験前の準備に要する労力と時間を従来より削減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態について図面に従って説明する。しかしながら、本発明の技術的範囲はかかる実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された発明とその均等物にまで及ぶものである。
【００１５】
図１は、本発明の実施形態における情報システム構成例である。図１の情報システムは、業務アプリケーション等を実行するサーバ１と、業務アプリケーションの実行にあたり使用するデータが格納され、サーバ１がアクセスするストレージ２と、サーバ１とストレージ２に共に接続される接続装置３を含む。接続装置３は、サーバ１、ストレージ２との接続インタフェースとなる複数のポート３２と、接続装置３の設定を制御する制御端末４が接続可能な制御用ポート（シリアルポート、パラレルポート、ネットワークポート等）３１を有する。
【００１６】
接続装置３は、サーバ１とストレージ２間で行われる入出力処理（IO処理）を仲介する機能を有する。即ち、図１のように接続装置３に複数のサーバ１と複数のストレージ２が接続されている場合、サーバ１Ａがストレージ２Ｂに格納されたデータにアクセスするために発行した入出力要求（IO要求）を接続装置３が受信すると、接続装置３は、ストレージ２Ｂが接続されたポート３２を選択し、そのIO要求を適切なポート３２へ渡す。IO要求としては、一例をあげればサーバ１が発行するinquiry、read、write等のコマンドが該当する。
【００１７】
サーバ１は、接続装置３へ接続するインタフェースとしてHBA１１を有し、接続装置３のポート３２とHBA１１がケーブルで接続される。サーバ１は汎用のコンピュータ（PC、サーバ１等）である。ストレージ２は、接続装置３へ接続するインタフェースとして接続モジュール(Connect Module、以下CMと略)２１を有し、接続装置３のポート３２とCM２１がケーブルで接続される。ストレージ２は、一筐体に複数のハードディスクを備え、大量のデータの保存が可能な装置である。
【００１８】
制御端末４は、汎用のコンピュータ（PC、サーバ１等）で実現される。接続装置３の制御用ポート３１を介して接続される。接続装置３の動作を設定するための試験リストを入力したり、試験の開始や終了を制御するために使用される装置である。
【００１９】
このような接続形態を有する構成として、本明細書においては、ストレージエリアネットワーク(Storage Area Network、以下SAN)環境を想定し、説明する。また、サーバ１とストレージ２間においてファイバチャネル(Fiber Channel、以下FCと略)プロトコルが使用され、IO要求に関する上位プロトコルとしてSCSI(Small Computer System Interface)が使用されるものとする。接続装置３が有する仲介機能というのは、SAN環境におけるファイバチャネルスイッチ（FCスイッチ）が従来有する機能と同じである。
【００２０】
従来図１のような情報システムにおいて、性能試験、動作試験を含む各種試験を行う場合には、サーバ１やストレージ２に負荷やエラーの発生機構を組み込んでいたため、業務アプリケーション等の処理に使用されるサーバ１の資源を消費するなど、前述したような課題を有していた。そこで、本発明においては、負荷やエラーの発生機構を本来サーバ１とストレージ２の接続を仲介する接続装置３に組み込むことで上記課題を解決するものである。また本発明の接続装置３を用いて試験を行うことにより、業務アプリケーション等の処理に使用されるサーバ１の資源を消費することなく試験を行うことができる。図２にて、接続装置３の概要を説明
する。
【００２１】
図２は、本発明の接続装置３の概要を説明するブロック図である。接続装置３は、通常時にサーバ１とストレージ２間で行われるIO処理を仲介する送受信部３３と、試験の動作を決定する情報等が格納された記憶部３５と、送受信部３３と記憶部３５に接続され、送受信部３３が受信したIO要求が入力され、試験時にはそのIO要求を解析し、記憶部３５に格納された情報に応じて、さまざまな処理を行う試験部３４を含む。
【００２２】
試験部３４は、例えば、IO要求を所定時間保持することにより、IO要求を故意に遅延させ、ストレージ２に擬似的な負荷を発生させたり、サーバ１が発行するIO要求とは別にIO要求を生成し、ストレージ２に負荷を発生させる。また、試験部３４は、送受信部３３が受信したIO要求のうち一定の割合に対しエラーメッセージを生成し、送受信部３３に出力する。すると、一定の割合でIO要求はストレージ２に送信されず、代わりにエラーメッセージがサーバ１に通知されることとなり、ストレージ２のエラーを擬似的に発生させることができる。試験部３４はこれらの処理を行う際に、記憶部３５に格納された情報にアクセスし、その動作を決定する。
【００２３】
図３は、本発明の接続装置３の実施形態を示すブロック図である。図３において、対サーバ受信部３３１、対サーバ送信部３３２、対ストレージ送信部３３３、対ストレージ受信部３３４は図２の送受信部３３に対応する。また、図３のIO解析部３４１、IO生成部３４２はそれぞれ図２の試験部３４に対応する。各機能ブロックは、ハードウェアで構成することもできるし、プログラムとして構成することもできる。各機能ブロックをプログラムにより実現する場合、接続装置３に備えられたCPU(Central Processing Unit)（図示省略）にてそのプログラムが実行される。
【００２４】
記憶部３５は、RAM(Random Access Memory)等の揮発性メモリやフラッシュメモリ、ハードディスク等の不揮発性メモリなどの書き換え可能な記憶手段である。記憶部３５には、試験を実行中であるかを示す状態フラグと試験の設定を示す試験リストが格納される。試験リストを参照することで、実行する試験のタイプやその試験に必要な情報が得られる。
【００２５】
対サーバ受信部３３１は、サーバ１が発行するIO要求を受信し、IO解析部３４１に出力する。IO解析部３４１は、記憶部３５に格納された図示しない状態フラグを参照して、試験実行中かを判定し、試験実行中でない場合（通常時）には、対サーバ受信部３３１より入力されたIO要求をそのまま対ストレージ送信部３３３へ出力する。試験実行中である場合には、IO解析部３４１は、記憶部３５に格納された図示しない試験リストを参照し、実行中である試験タイプを特定し、その試験タイプに応じて、対サーバ受信部３３１より入力されたIO要求を解析し、動作を決定する。例えば、試験タイプに応じて所定時間そのIO要求を保持した後対ストレージ送信部３３３に出力したり、所定の割合で対サーバ送信部３３２に対してエラーメッセージを出力する。
【００２６】
対ストレージ送信部３３３は、IO解析部３４１より入力されたIO要求やIO生成部３４２より入力されたIO要求を目的のストレージ２に対し送信する。対ストレージ受信部３３４は、ストレージ２に到達したIO要求への応答として、ストレージ２からデータを受信し、対サーバ送信部３３２へ出力する。対サーバ送信部３３２は、対ストレージ受信部３３４より入力されるデータあるいは、IO解析部３４１より入力されるエラーメッセージを目的のサーバ１に送信する。
【００２７】
試験要求受付部３６は、予め試験の動作を決定する試験リストを制御端末４から受信し、記憶部３５に格納する。そして、制御端末４からの試験開始要求を受信すると、実行する試験タイプに応じて、記憶部３５に格納された状態フラグが試験中であることを示すよう更新する。また、制御端末４からの試験停止要求を受信すると、実行する試験タイプに応じて、記憶部３５に格納された状態フラグが通常時であることを示すよう更新する。
【００２８】
IO生成部３４２は、定期的に記憶部の状態フラグを参照し、状態フラグが試験中であることを示す場合は、記憶部３５に格納された試験リストの内容に基づいてIO要求を生成し、対ストレージ送信部３３３に出力する。
【００２９】
以下、実施形態の接続装置３における動作を、フローチャート、試験リストのデータ構成、その他必要な情報を適宜参考しながら説明する。説明する動作は、試験を実行していない時の動作（これを「通常時」の動作とする）、接続装置３にてIO要求を所定時間保持することにより、IO要求を故意に遅延させ、ストレージ２に擬似的な負荷を発生させるときの動作（これを「第一の試験」とする）、サーバ１が発行するIO要求とは別にIO要求を生成し、ストレージ２に負荷を発生させるときの動作（これを「第二の試験」とする）、そして接続装置３が受信したIO要求のうち一定の割合に対しエラーメッセージを生成し、ストレージ２のエラーを擬似的に発生させるときの動作（これを「第三の試験」とする）についてである。
【００３０】
まず「通常時」の動作を説明する。通常時、即ち試験が行われないとき、接続装置３はFCスイッチとして機能し、SAN環境において送受信されるパケット（フレーム）の送受信を仲介する。
【００３１】
図４は、SAN環境において送受信されるフレームのデータ構成を示す図である。４バイトのSOF(Start Of Frame)、２４バイトのフレームヘッダ、２１１２バイトのペイロード、４バイトのCRC(Cyclic Redundancy Check)、４バイトのEOF(End Of Frame)を有する。SOFには、フレームの先頭を示す情報が含まれる。フレームヘッダには、そのフレームの送信元アドレスとあて先アドレスが含まれる。
【００３２】
ファイバチャネルにおけるアドレスは、接続装置（FCスイッチ）３、HBA１１、CM２１等のハードウェアに固定的に割り当てられるワールドワイドネーム(World Wide Name)と呼ばれる８バイトのアドレスである。ペイロードには、最大６４バイトまでのオプションヘッダが含まれ、残りはオプションヘッダに合わせて可変長のユーザデータ領域である。
【００３３】
ファイバチャネルにおいてサポートされる上位プロトコル（SCSI、IP(Internet Protocol)等）に従ってやり取りされるデータが含まれる。従って、SCSIプロトコルに則ったIO要求等もペイロードに含まれる。ペイロードに含まれるIO要求を解析すれば、命令の種類や、命令の対象となるデバイス名又はファイル若しくはディレクトリへのパス（path）名等の情報が得られる。CRCは、送受信時の誤り検出用の符号である。EOFには、フレームの末尾を示す情報が含まれる。
【００３４】
図５は、接続装置３における通常時の動作を説明するためのフローチャートである。対サーバ受信部３３１は、ストレージ２に対するIO要求を含むフレームをサーバ１より受信し、IO解析部３４１に出力する（Ｓ１）。IO解析部３４１は、通常時は、対サーバ受信部３３１より入力されたフレームをそのまま対ストレージ送信部３３３に出力する（Ｓ２）。対ストレージ送信部３３３は、フレームのフレームヘッダ（図４参照）に含まれるあて先アドレスを参照し、そのあて先アドレスのストレージ２が接続されたポート３２を選択し、そのポート３２を介して目的のストレージ２へフレームを送信する（Ｓ３）。
【００３５】
ストレージ２は、フレームに含まれるサーバ１からのIO要求に従って処理を行い、処理結果として生成される情報をペイロード（図４参照）にセットし、送信元アドレスをそのストレージ２、あて先アドレスをIO要求の発行元のサーバ１とするフレームヘッダを含むフレームを送信する。
【００３６】
対ストレージ受信部３３４は、ストレージ２よりフレームを受信し、対サーバ送信部３３２に出力する（Ｓ４）。対サーバ送信部３３２は、フレームのフレームヘッダに含まれるあて先アドレスを参照し、そのあて先アドレスのサーバ１が接続されたポート３２を選択し、そのポート３２を介して目的のサーバ１へフレームを送信する（Ｓ５）。
【００３７】
こうして通常時、接続装置３は、サーバ１から受信したフレームを目的のストレージ２に送信し、ストレージ２から受信したフレームを目的のサーバ１に送信する。なお、図３では、通常時に対サーバ受信部３３１から出力されたフレームがIO解析部３４１を経由するが、通常時はIO解析部３４１を回避し、直接対ストレージ送信部３３３に入力されるよう接続装置３を構成することもできる。
【００３８】
続いて、接続装置３にてIO要求を所定時間保持することにより、IO要求を故意に遅延させ、ストレージ２に擬似的な負荷を発生させる「第一の試験」を実行するときの動作について説明する。
【００３９】
図６は、第一の試験が実行される際の試験リストのデータ構成例である。試験リストは、その試験の動作を決定するための設定情報であり、試験開始に先立って記憶部３５に格納される。図６の試験リストには、タイプ、デバイス名、分散方法、パラメータ情報が各データ項目に格納される。
【００４０】
「タイプ」は、試験の種類を識別する符号である。図５では、第一の試験であるので、「I」が使用される。「デバイス名」は、試験対象のストレージ２に含まれるデバイス名である。デバイス名は、ストレージ２に含まれるハードディスクの物理デバイス名、論理デバイス名を使用することができる。また、デバイス名としてファイルやディレクトリのパス(path)名を使用することもできる。この場合、パスに複数のハードディスクの記憶領域を合わせて仮想的に１つのハードディスクとして使用する論理ボリュームが含まれていてもよい。
【００４１】
「分散方法」には、IO要求を保持する時間を決定するのに使用される確率分布が指定される。そして、「パラメータ」は、分散方法に指定された確率分布を特定するためのパラメータ情報であり、パラメータ数は、確率分布に応じて可変である。例えば、正規分布であれば平均μ、分散σがパラメータであるので、図６の試験リスト１行目において、２つのパラメータ情報が格納される。また、ポアソン分布であれば母数λがパラメータであるので、図６の試験リスト２行目において、１つのパラメータ情報が格納される。
【００４２】
次に、第一の試験の動作を主要な機能部のフローチャートを用いて説明する。予め記憶部３５には、状態フラグが格納され、初期値は通常時を示す「０」がセットされる。
【００４３】
図７は、試験要求受付部３６の動作を示すフローチャートである。試験要求受付部３６が起動されると、試験リストが入力されるのを待つ状態になる。そして、試験リストが入力されると、入力された試験リストを記憶部３５に格納する（Ｓ１１）。入力される試験リストのデータ構成は、第一の試験の場合、図６に示されたようなものである。
【００４４】
続いて、試験開始要求が入力されるのを待つ状態になる。そして、試験開始要求が入力されると、記憶部３５に格納された状態フラグを試験実行中を示す「１」へ更新する（Ｓ１２）。続いて、試験終了要求が入力されるのを待つ状態になる。そして、試験終了要求が入力されると、状態フラグを「０」に戻し（Ｓ１３）、再び新たな試験リストが入力されるのを待つ。
【００４５】
ステップＳ１２とステップＳ１３の間、状態フラグは試験実行中を示す「１」である。そして、この間（試験実行期間）に第一の試験が実行される。それ以外の期間は接続装置３において「通常時」の処理（図５）が行われる。
【００４６】
図８は、試験実行期間に、第一の試験に関係する機能部が行う処理を説明するフローチャートである。試験実行期間に、対サーバ受信部３３１よりフレームを入力されたIO解析部３４１は、フレームのペイロード（図４参照）に含まれるIO要求を取得する（Ｓ２１）。そして、IO解析部３４１は、取得したIO要求の対象（命令対象）が、試験対象のデバイスであるかを判定する（Ｓ２２）。
【００４７】
ステップＳ２２の判定は、ステップＳ２１で取得したIO要求を解析して得られる命令対象のデバイス名をキーとして記憶部３５に格納された試験リスト（図６）を検索し、該当するエントリがあれば試験対象のデバイスであると判定する。ステップＳ２２の判定の結果、試験対象のデバイスである場合、IO解析部３４１は、試験リストに基づいて遅延時間を決定する（Ｓ２３）。ステップＳ２３は、試験リストに含まれる分散方法とパラメータにより指定される確率分布に基づく乱数を生成し、その値を遅延時間として採用する。
【００４８】
そして、IO解析部３４１は、ステップＳ２３で決定された遅延時間が経過するまでステップＳ２１で取得したIO要求を保持し、遅延時間経過後そのIO要求を含むフレームを対ストレージ送信部３３３へ出力する（Ｓ２４）。ステップＳ２２の判定の結果、試験対象のデバイスでない場合、IO解析部３４１は、そのままフレームを対ストレージ送信部３３３へ出力するので、遅延は生じない。
【００４９】
こうして、接続装置３にて、試験対象のデバイスへのIO要求を含んだフレームを所定時間保持し遅延させることにより、サーバ１がIO要求を発行してから、ストレージ２より応答を取得するまでの応答時間が遅延され、サーバ１の資源を使用することなく、ストレージ２の高負荷状態を再現することができる。こうして、ストレージ２に高負荷時を想定した場合のサーバ１の動作試験（例えば、特定のボリュームにアクセスが集中したと仮定したときサーバ１側で使用するボリュームの切り替えが可能かをテストする）や、その際の性能試験（例えば、負荷の認識から切り替えまでのかかる秒数の測定）等を容易に行うことが可能である。
【００５０】
続いて、サーバ１が発行するIO要求とは別にIO要求を生成し、ストレージ２に負荷を発生させる「第二の試験」を実行するときの動作について説明する。
【００５１】
図９は、第二の試験が実行される際の試験リストのデータ構成例である。試験リストは、その試験の動作を決定するための設定情報であり、試験開始に先立って記憶部３５に格納される。図９の試験リストには、タイプ、デバイス名、アクセス種類、データサイズ、IO比率、IO発行頻度が各データ項目に格納される。
【００５２】
「タイプ」は、試験の種類を識別する符号である。図９では、第二の試験であるので、「II」が使用される。「デバイス名」は、試験対象のストレージ２に含まれるデバイス名である。デバイス名は、ストレージ２に含まれるハードディスクの物理デバイス名、論理デバイス名を使用することができる。また、デバイス名としてファイルやディレクトリのパス(path)名を使用することもできる。この場合、パスに複数のハードディスクの記憶領域を合わせて仮想的に１つのハードディスクとして使用する論理ボリュームが含まれていてもよい。
【００５３】
「アクセス種類」は、接続装置３で生成されたIO要求のアクセス動作を決定するもので、ランダムアクセスかシーケンシャル(sequential)アクセスかである。「データサイズ」は、読み出すデータの大きさ、または書き込むデータの大きさを示す。図９での単位はキロバイト(KB)である。「IO比率」は、生成されるIO要求に占める書き込み要求と読み出し要求の数の比率を示す０から１までの値である。式で表すと、読み出し要求数／（読み出し要求数＋書き込み要求数）である。
【００５４】
例えば、IO比率が１とは、生成されるIO要求が１００％読み出し要求であり、０は逆に１００％書き込み要求であることを意味する。IO比率が０．３３とは、読み出し要求と書き込み要求が１：２の割合で生成され、IO比率が０．５とは、読み出し要求と書き込み要求がちょうど同じ割合で生成されていることを意味する。「IO発行頻度」は、単位秒あたりに生成されるIO要求数である。従って、図８の試験リストの１行目の場合、１秒間に２００個の読み出し要求が生成され、２行目の場合、１秒間に読み出し要求と書き込み要求が１００個ずつ生成される。
【００５５】
次に、第二の試験の動作を主要な機能部のフローチャートを用いて説明する。予め記憶部３５には、状態フラグが格納され、初期値は通常時を示す「０」がセットされる。試験要求受付部３６の動作は図７と同じである。即ち、試験要求受付部３６が起動されると、試験リストが入力されるのを待つ状態になる。そして、図９に示される試験リストが入力されると、入力された試験リストを記憶部３５に格納する（Ｓ１１）。
【００５６】
続いて、試験開始要求が入力されるのを待ち、試験開始要求が入力されると、記憶部３５に格納された状態フラグを試験実行中を示す「１」へ更新する（Ｓ１２）。続いて、試験終了要求が入力されるのを待ち、試験終了要求が入力されると、状態フラグを「０」に戻し（Ｓ１３）、再び新たな試験リストが入力されるのを待つ。そして、試験実行期間（状態フラグが「１」である期間）に第二の試験が実行される。それ以外の期間は接続装置３において「通常時」の処理（図５）が行われる。
【００５７】
図１０は、試験実行期間に、第二の試験に関係する機能部が行う処理を説明するフローチャートである。試験実行期間中、IO生成部３４２は、記憶部３５に格納された試験リストに基づいてIO要求を生成し、そのIO要求をペイロードにセットしたフレームを対ストレージ送信部３３３に出力する（Ｓ３１）。生成されたIO要求の対象は、図９の試験リストのデバイス名によって決定される。IO生成部３４２は、IO要求の対象を含むストレージ２を特定する。
【００５８】
そして、そのストレージ２（のCM）をあて先アドレス、接続装置３を送信元アドレスとするフレームヘッドを有し、生成されたIO要求がペイロードにセットされたフレームを、対ストレージ送信部３３３に出力する。IO生成部３４２よりフレームを入力された対ストレージ送信部３３３は、フレームのフレームヘッダ（図４参照）に含まれるあて先アドレスを参照し、そのあて先アドレスのストレージ２が接続されたポート３２を選択し、そのポート３２を介して目的のストレージ２へフレームを送信する（Ｓ３２）。
【００５９】
第二の試験は、サーバ１により発行されたIO要求を妨げるものではないので、試験実行期間にサーバ１よりフレームを受信した場合、接続装置３は図４のステップＳ１からＳ３までの処理を行う。試験実行期間にストレージ２よりフレームを受信した場合は、図４のステップＳ４、Ｓ５ではなく、次に述べる処理が行われる。
【００６０】
対ストレージ受信部３３４は、ストレージ２よりフレームを受信し、受信したフレームのあて先が接続装置３かを判定する（Ｓ３３）。受信したフレームのあて先が接続装置３である場合、そのフレームはIO生成部３４２が生成したIO要求にストレージ２が応答したものであり、そのフレームをサーバ１に送信する必要はない。
【００６１】
そこで、対ストレージ受信部３３４は、フレームヘッダに含まれるあて先アドレスを参照し、それが接続装置３である場合、フレームを破棄する（Ｓ３４）。あて先が接続装置３でない場合（Ｓ３３でＮｏ）、対ストレージ受信部３３４は、フレームを対サーバ送信部３３２に出力する。そして、対サーバ送信部３３２は、フレームのフレームヘッダに含まれるあて先アドレスを参照し、そのあて先アドレスのサーバ１が接続されたポート３２を選択し、そのポート３２を介して目的のサーバ１へフレームを送信する（Ｓ５）。
【００６２】
こうして、接続装置３にて、試験対象のデバイスへのIO要求を生成し、IO要求を含むフレームを目的のストレージ２へ接続装置３から送信することにより、サーバ１の資源を使用することなくストレージ２に負荷を発生させることができる。こうして、ストレージ２高負荷時のサーバ１の動作試験や、その際の性能試験等を容易に行うことが可能である。
【００６３】
以上の試験は、ストレージ２の高負荷状態を再現するものであったが、次に接続装置３が受信したIO要求のうち一定の割合に対しエラーメッセージを生成し、ストレージ２のエラーを擬似的に発生させる「第三の試験」を実行するときの動作について説明する。
【００６４】
図１１は、第三の試験が実行される際の試験リストのデータ構成例である。試験リストは、その試験の動作を決定するための設定情報であり、試験開始に先立って記憶部３５に格納される。図１１の試験リストには、タイプ、デバイス名、IO種類、エラー発生確率、受信IO数、エラー応答数が各データ項目に格納される。
【００６５】
「タイプ」は、試験の種類を識別する符号である。図１１では、第三の試験であるので、「III」が使用される。「デバイス名」は、試験対象のストレージ２に含まれるデバイス名である。デバイス名は、ストレージ２に含まれるハードディスクの物理デバイス名、論理デバイス名を使用することができる。また、デバイス名としてファイルやディレクトリのパス(path)名を使用することもできる。この場合、パスに複数のハードディスクの記憶領域を合わせて仮想的に１つのハードディスクとして使用する論理ボリュームが含まれていてもよい。
【００６６】
「IO種類」は、エラーが応答される対象となるIO要求を特定するものである。例えば、WRITEとすれば、あるデバイスに対する書き込み要求のうち所定の割合に対し、エラーメッセージが生成され、また、READとすれば、あるデバイスに対する読み出し要求のうち所定の割合に対し、エラーメッセージが生成される。ALLとすれば、あるデバイスに対するすべてのIO要求のうち所定の割合に対し、エラーメッセージが生成される。
【００６７】
「エラー発生確率」は、受信したIO要求に対しエラーメッセージを生成するかを判定するための閾値である。「エラー種別」は、エラー応答時に生成されるエラーメッセージの種類である。例えば、IO種類がREADである場合、設定可能なエラー種別は、EAGAIN、ERESATRTS等があり、IO種類がWRITEである場合、設定可能なエラー種別は、EIO、EAGAIN等である。「受信IO数」は、それまでに受信したIO要求数、「エラー応答数」は、それまでにエラーメッセージを生成した回数を示す。受信IO数、エラー応答数は、それぞれ初期値が０であり、試験の実行に伴って更新される値である。
【００６８】
次に、第三の試験の動作を主要な機能部のフローチャートを用いて説明する。予め記憶部３５には、状態フラグが格納され、初期値は通常時を示す「０」がセットされる。試験要求受付部３６の動作は図７と同じである。即ち、試験要求受付部３６が起動されると、試験リストが入力されるのを待つ状態になる。そして、図１１に示される試験リストが入力されると、入力された試験リストを記憶部３５に格納する（Ｓ１１）。なお、受信IO数、エラー応答数は初期値として「０」が自動的にセットされるので、入力されるのは図１１のデータ項目の内、デバイス名、IO種類、エラー発生確率のみでよい。
【００６９】
続いて、試験開始要求が入力されるのを待ち、試験開始要求が入力されると、記憶部３５に格納された状態フラグを試験実行中を示す「１」へ更新する（Ｓ１２）。続いて、試験終了要求が入力されるのを待ち、試験終了要求が入力されると、状態フラグを「０」に戻し（Ｓ１３）、再び新たな試験リストが入力されるのを待つ。そして、試験実行期間（状態フラグが「１」である期間）に第三の試験が実行される。それ以外の期間は接続装置３において「通常時」の処理（図４）が行われる。
【００７０】
図１２は、試験実行期間に、第三の試験に関係する機能部が行う処理を説明するフローチャートである。試験実行期間中、対サーバ受信部３３１よりフレームを入力されたIO解析部３４１は、フレームのペイロード（図４参照）に含まれるIO要求を取得する（Ｓ４１）。そして、IO解析部３４１は、取得したIO要求の対象（命令対象）が、試験対象のデバイスであるかを判定する（Ｓ４２）。
【００７１】
ステップＳ４２の判定は、ステップＳ２２と同じく、ステップＳ４１で取得したIO要求を解析して得られる命令対象のデバイス名をキーとして記憶部３５に格納された試験リスト（図１１）を検索し、該当するエントリがあれば試験対象のデバイスであると判定する。ステップＳ４２の判定の結果、試験対象のデバイスである場合、IO解析部３４１は、試験リストの受信IO数を１増やす。
【００７２】
そして、受信したIO要求に対しエラーメッセージを生成し、エラー応答すべきかを判定する（Ｓ４４）。ステップＳ４４の判定は、ステップＳ４２の判定で該当したエントリのIO種類が、取得したIO要求の命令と一致するかをまず判定する。一致しない場合は、エラー応答すべきではないので、ステップＳ４４の判定はＮｏである。一致する場合更に、エラー発生確率≧エラー応答数／受信IO数（式Ａ）が成立するかを判定する。
【００７３】
これらの値は、試験リスト（図１１）にアクセスすることで得られる。式Ａが成立する場合は、エラー応答すべきであり、式Ａが成立しなければエラー応答すべきでない。ステップＳ４４の判定の結果、エラー応答すべき場合は、IO解析部３４１は、試験リストのエラー応答数を１増やす（Ｓ４５）。
【００７４】
最後に、IO解析部３４１は、試験リストのエラー種別に設定された種類のエラーメッセージを生成しペイロードにセットし、ステップＳ４１で入力されたフレームのフレームヘッダに含まれる送信元アドレスとあて先アドレスを交換したフレームヘッダを生成し、このフレームヘッダとエラーメッセージ入りのペイロードを含むフレームを対サーバ送信部３３２に出力する（Ｓ４６）。ステップＳ４２の判定の結果、試験対象のデバイスでない場合とステップＳ４４の判定の結果エラー応答すべきでない場合、IO解析部３４１は、そのままフレームを対ストレージ送信部３３３へ出力する。
【００７５】
こうして、接続装置３にて、受信したIO要求のうち所定の割合に対し、エラーメッセージを生成し、サーバ１に送信することにより、サーバ１あるいはストレージ２の資源を使用することなく、試験対象のストレージ２のエラー状態を再現することができる。こうして、ストレージ２エラー発生時のサーバ１の動作試験や、その際の性能試験等を容易に行うことが可能である。
【００７６】
また、以上に説明した接続装置３を用いて試験を行えば、サーバ１やストレージ２の設定を変えることなく試験を行うことができるため、試験を行っても既に構築された情報システムに与える影響を抑えることができる。また、当初より本発明の接続装置３を用いて情報システムを構築すれば機器の交換をすることなく試験が行えることはもちろん、情報システムの構築時に本発明の接続装置３を用いていなくても、既存のFCスイッチ等を置き換えるだけで済む。一般に情報システムに占めるFCスイッチの台数は、サーバ１やストレージ２の総数に比較すると少なく、置き換え作業は、従来のようにサーバ１やストレージ２毎に設定作業を行うより短時間で済む点で本発明の方が有利である。
【００７７】
従って、例えば、比較的アクセスが少なく、トランザクション、資源使用率に余裕がある時間帯に既に構築された情報システムをそのまま利用して、容易に性能試験、動作試験等を行うことが可能となる。また、システム構築時に接続装置を情報システムに含めておけば、試験を実行する際に発生する誤配線、誤接続等の問題も起こりにくい。
【００７８】
以上をまとめると付記のようになる。
【００７９】
（付記１）  サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、
前記接続装置は、更に、
前記記憶部に、試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報と試験に関する設定情報とが対応付けられた試験リストが予め格納され、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、前記送受信部が受信した前記入出力要求が入力されると、該入出力要求のあて先が前記試験対象の前記データ記憶装置かを前記試験リストを参照して判定し、該入出力要求のあて先が前記試験対象である場合には所定期間経過後、該入出力要求を前記送受信部に出力する入出力解析部を備えたことを特徴とする情報システム。
【００８０】
（付記２）  付記１において、
前記設定情報は、更に、前記試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報に対応付けられた確率分布及び該確率分布を特定するパラメータを有し、
前記所定期間は、前記確率分布及び前記パラメータに基づいて決定されることを特徴とする情報システム。
【００８１】
（付記３）  サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、
前記接続装置は、更に、
前記記憶部に、試験対象の前記データ記憶装置を特定する情報と試験に関する設定情報とが対応付けられた試験リストが予め格納され、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、前記送受信部が受信した前記入出力要求が入力されると、該入出力要求のあて先が前記試験対象の前記データ記憶装置かを前記試験リストを参照して判定し、該入出力要求のあて先が前記試験対象である場合には所定の割合でエラーメッセージを生成し、該エラーメッセージを前記送受信部に出力する入出力解析部を備え、
前記送受信部は、前記入出力解析部より前記エラーメッセージが入力された場合には前記入出力要求を発行した前記サーバに該エラーメッセージを通知することを特徴とする情報システム。
【００８２】
（付記４）  サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて、
前記接続装置は、更に、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、要求元を前記接続装置とし、あて先を前記データ記憶装置とする前記入出力要求を生成し、生成された前記入出力要求を前記送受信部に出力する入出力生成部を備え、
前記送受信部は、前記入出力生成部が生成した前記入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を受信すると、該情報を破棄することを特徴とする情報システム。
【００８３】
（付記５）  付記１若しくは付記３において、
前記接続装置は、更に、
前記送受信部と前記記憶部に接続され、要求元を前記接続装置とし、あて先を前記データ記憶装置とする前記入出力要求を生成し、生成された前記入出力要求を前記送受信部に出力する入出力生成部を備え、
前記送受信部は、前記入出力生成部が生成した前記入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を受信すると、該情報を破棄することを特徴とする情報システム。
【００８４】
（付記６）  サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて前記データ記憶装置に対する負荷を発生させる試験方法であって、
前記接続装置は、前記サーバが前記データ記憶装置に対して発行した前記入出力要求を受信し、該入出力要求のあて先が試験対象の前記データ記憶装置であるかを判定し、該入出力要求のあて先が試験対象である場合、該入出力要求を所定期間保持した後、前記あて先の前記データ記憶装置に送信することにより前記データ記憶装置に対する擬似的な負荷を発生させることを特徴とする試験方法。
【００８５】
（付記７）  サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて前記データ記憶装置でのエラーを発生させる試験方法であって、
前記接続装置は、前記サーバが前記データ記憶装置に対して発行した入出力要求を受信し、該入出力要求のあて先が試験対象の前記データ記憶装置であるかを判定し、該入出力要求のあて先が試験対象である場合、所定の割合で該入出力要求を発行した前記サーバにエラーメッセージを送信することにより前記データ記憶装置に対する擬似的なエラーを発生させることを特徴とする試験方法。
【００８６】
（付記８）サーバと、
前記サーバが、情報を書き込むため又は書き込まれた前記情報を読み出すため、入出力要求を発行してアクセスするデータ記憶装置と、
前記サーバ及び前記データ記憶装置が接続され、前記サーバ及び前記データ記憶装置間で送受信される情報を仲介する送受信部を備え、前記サーバより送信される前記入出力要求を前記データ記憶装置に転送し、該入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を前記サーバに転送する接続装置とを有する情報システムにおいて前記データ記憶装置でのエラーを発生させる試験方法であって、
前記接続装置は、前記データ記憶装置に対する入出力要求を生成して前記データ記憶装置に対して発行し、該接続装置が発行した前記入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を受信すると、該情報を破棄することにより前記データ記憶装置に対する負荷を発生させることを特徴とする試験方法。
【００８７】
（付記９）  付記６乃至付記７において、
前記接続装置は、前記データ記憶装置に対する入出力要求を生成して前記データ記憶装置に対して発行し、該接続装置が発行した前記入出力要求に対し前記データ記憶装置が応答する情報を受信すると、該情報を破棄することにより前記データ記憶装置に対する負荷を発生させることを特徴とする試験方法。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の実施形態における情報システムの構成例である。
【図２】本発明の接続装置の概要を説明するブロック図である。
【図３】本発明の接続装置の実施形態を示すブロック図である。
【図４】SAN環境において送受信されるフレームのデータ構成を示す図である。
【図５】接続装置における通常時の動作を説明するためのフローチャートである。
【図６】第一の試験が実行される際の試験リストのデータ構成例である。
【図７】試験要求受付部の動作を示すフローチャートである。
【図８】試験実行期間に、第一の試験に関係する機能部が行う処理を説明するフローチャートである。
【図９】第二の試験が実行される際の試験リストのデータ構成例である。
【図１０】試験実行期間に、第二の試験に関係する機能部が行う処理を説明するフローチャートである。
【図１１】第三の試験が実行される際の試験リストのデータ構成例である。
【図１２】試験実行期間に、第三の試験に関係する機能部が行う処理を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００８９】
１  サーバ、２  ストレージ、３  接続装置、４  制御端末、１１ HBA、２１  CM、３１  制御用ポート、３２  ポート、３３  送受信部、３４  試験部、３５  記憶部、３６  試験要求受付部、３３１  対サーバ受信部、３３２  対サーバ送信部、３３３  対ストレージ送信部、３３４  対ストレージ受信部、３４１  IO解析部、３４２ IO生成部
【図１】
2005165556.tif 000003
【図２】
2005165556.tif 000004
【図３】
2005165556.tif 000005
【図４】
2005165556.tif 000006
【図５】
2005165556.tif 000007
【図６】
2005165556.tif 000008
【図７】
2005165556.tif 000009
【図８】
2005165556.tif 000010
【図９】
2005165556.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
2005165556.tif 000013
【図１２】
2005165556.tif 000014