(57)【要約】      （修正有）【課題】非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験を自動化し、再現性よく高精度、かつ迅速に試験を行えるようにする。【解決手段】非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験装置において、自動改札機３の電波放射エリアに非接触ＩＣカード９をかざすロボット７と、非接触ＩＣカードをかざしたときの自動改札機の反応結果のデータを取り込むとともに、ロボットを制御する制御手段１とを備えるようにしたものである。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験装置において、
自動改札機の電波放射エリアに非接触ＩＣカードをかざすロボットと、
非接触ＩＣカードをかざしたときの自動改札機の反応結果のデータを取り込むとともに、ロボットを制御する制御手段と、
を備えたことを特徴とする自動改札処理システムの試験装置。
【請求項２】
前記ロボットは、電波放射エリアの複数の測定ポイントで非接触ＩＣカードをかざすことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項３】
前記ロボットは、測定ポイント数、測定ポイント間の距離を変えて非接触ＩＣカードをかざすことを特徴とする請求項２記載の試験装置。
【請求項４】
前記ロボットは、非接触ＩＣカードの姿勢、角度を変えてかざすことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項５】
前記ロボットは、非接触触ＩＣカードの通過時間を変えてかざすことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項６】
前記ロボットは、非接触ＩＣカードの軌跡を変えてかざすことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
定期券情報、乗車券情報等の価値情報をチャージした非接触ＩＣカードを自動改札機の所定エリアにかざすと、自動改札機では非接触ＩＣカードの情報を読み取って必要な情報を書き込んで自動改札を行うシステムが普及してきている。このシステムでは、自動改札機から放射される電波のエリアに非接触ＩＣカードをかざすと、非接触ＩＣカードは受信した電波エネルギーを電源として自動改札機と通信可能な状態となり、自動改札機は非接触ＩＣカードにチャージされた価値情報を読み取り、必要な情報を書き込むことにより、瞬時の改札処理を可能にしている。
【０００３】
このように非接触ＩＣカードを用いた自動改札処理システムは瞬時の改札処理を行えることが特徴であり、そのためシステムがうまく稼働しない事態が起きないように実機試験を行う必要がある。従来実施されている自動改札処理システムの試験は、電波が放射されているエリアに人手で非接触ＩＣカードをかざし、かざす位置を定規等で測定しながら３次元的に変え、自動改札機が反応（情報の読み取りと書き込み）できたか否かを確認することにより行っている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の試験方法では、人手により定規で測定しながら非接触ＩＣカードのかざす位置を３次元的に変えているため、例えば１０ｃｍ×１０ｃｍのエリアで１０ｃｍの高さまでを試験範囲としたとき、１ｃｍ間隔で位置を変えると１０００ポイントで試験を行わなければならず、試験に膨大な手間と時間がかかり、より細かい測定ポイントでの高精度な試験を再現性よく実施するのは不可能に近い。さらに、実際にはカードをかざす姿勢や角度、通過時間、パス（移動軌跡）等により自動改札機の反応は異なり、これらの試験を人手で行うのは不可能である。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は上記課題を解決しようとするもので、非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験を自動化し、再現性よく高精度、かつ迅速に試験を行えるようにすることを目的とする。
そのために、本発明は、非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験装置において、自動改札機の電波放射エリアに非接触ＩＣカードをかざすロボットと、非接触ＩＣカードをかざしたときの自動改札機の反応結果のデータを取り込むとともに、ロボットを制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。
また、本発明は、前記ロボットが、電波放射エリアの複数の測定ポイントで非接触ＩＣカードをかざすことを特徴とする。
また、本発明は、前記ロボットが、測定ポイント数、測定ポイント間の距離を変えて非接触ＩＣカードをかざすことを特徴とする。
また、本発明は、前記ロボットが、非接触ＩＣカードの姿勢、角度を変えてかざすことを特徴とする。
また、本発明は、前記ロボットが、非接触触ＩＣカードの通過時間を変えてかざすことを特徴とする。
また、本発明は、前記ロボットが、非接触ＩＣカードの軌跡を変えてかざすことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明は、自動改札機の電波放射エリアに非接触ＩＣカードをかざす動作をロボットで行うようにしたので、測定ポイント数、測定ポイント間の距離を自由に変え、また、非接触ＩＣカードの姿勢や角度、通過時間、パスを変えて再現性よく高精度かつ迅速に試験を行うことが可能となる。
【発明の実施の形態】
【０００７】
以下、本発明の実施の形態について説明する。
図１は本実施形態の試験装置の構成を説明する概念図である。
なお、本試験装置は、自動改札機が正常に動作して非接触ＩＣカードの良否や性能を試験する場合、非接触ＩＣカードが正常で自動改札機の良否や性能を試験する場合、自動改札機、非接触ＩＣカードとも正常で両者の性能試験を行う場合等、自動改札処理システムにおけるさまざまな試験を行うことが可能である。
【０００８】
試験ステージ６には、制御装置１により制御されるロボット７が設置される。ロボットの動作は、制御装置１に搭載されるプログラム、入力装置２から入力されるデータによりいろいろなパターンが可能である。試験ステージ６は電源５で稼働するステージコントローラ４によりその３次元的位置、角度が変えられ、いろいろな自動改札機に対応できるようになっている。試験ステージ６の下方には、試験用の自動改札機３が設置され、ロボットがもつＩＣカード設置台８上にセットされた非接触ＩＣカード９が電波放射エリアにかざせるようになっている。
【０００９】
ロボット７がＩＣカード設置台８にセットされた非接触ＩＣカード９を自動改札機の電波放射エリアにかざすと、非接触ＩＣカード９は受信した電波をエネルギー源として自動改札機と通信可能な状態となり、自動改札機３は非接触ＩＣカード９の識別情報、価値情報等を読み取り、必要な情報の書き込みを行う。この一連の処理が正常に行われたか否かの測定結果は制御装置１に取り込まれる。制御装置１ではロボット７により電波放射エリアの複数の測定ポイントで非接触ＩＣカードをかざし、各測定ポイントでの測定結果を処理し、処理結果をモニタ１０に表示する。
【００１０】
このように、自動改札機の電波放射エリアに非接触ＩＣカードをかざす動作をロボットで行うようにしたので、測定ポイント数、測定ポイント間の距離を自由に変え、また、非接触ＩＣカードの姿勢や角度、通過時間、パスを変え、再現性よく試験を行うことが可能である。
【００１１】
図２は自動改札機通過測定法の例を説明する図である。
この例では、ロボットにより自動改札機３の電波放射面の法線に対して鋭角的に非接触ＩＣカード９を接近、離間させたものであり、非接触ＩＣカード９をＶ字形パスで放射電波エリア２０を通過させて自動改札機の反応を試験する。非接触ＩＣカードを動かすのがロボットであるため、設定すれば同じパスでの通過が可能である。また、非接触ＩＣカード９が接近、離間する場合の電波放射面の法線に対する角度をいろいろ変えたり、姿勢を変えて試験することも可能である。また、非接触ＩＣカードを動かすパスを固定し、速度を変えて放射電波エリア２０を通過する時間をいろいろ変えて試験することも可能である。このように、従来の人手による測定では困難であった特定パスでの測定、角度や姿勢を変えての測定、通過時間を変えての測定等を再現性よく定量的に行うことが可能である。
【００１２】
図３は自動改札機通過測定法の他の例を説明する図である。
この例では、図２におけるＶ字形パスの高さをいろいろ変えて試験しており、ロボットにより非接触ＩＣカード９を異なるＶ字形パスパス２１、２２、２３で自動改札機３の放射電波エリア２０を通過させている。この測定パターンでも、図２の場合と同様に角度や姿勢を変えての測定、通過時間を変える測定を併用して行うようにしてもよい。
【００１３】
図４は傾斜面を有する自動改札機通過測定法の例を説明する図である。
自動改札機の電波放射面が傾斜している場合にも、図２の場合と同様に、ロボットにより自動改札機３の電波放射面の法線に対して鋭角的に非接触ＩＣカードを接近、離間させ、Ｖ字形パスで放射電波エリア２０を通過させて自動改札機の反応を試験する。この例でも、角度や姿勢を変えての測定、通過時間を変えての測定を併用して行ってもよい。
【００１４】
図５は通過パスの高さを変えた試験法の例を説明する図である。
この例では、ロボットにより自動改札機３の電波放射面に平行に異なる高さのパス３１，３２，３３，３４，３５，３６で非接触ＩＣカード９を動かして放射電波エリアを通過させて試験を行っている。この例でも、放射電波エリア２０を通過する時間をいろいろ変えて試験してもよい。
【００１５】
図６は傾斜面を有する自動改札機通過測定法の他の例を説明する図である。
この例では、自動改札機の電波を放射する面が一定の角度で傾斜しており、これに対して非接触ＩＣカード９は高さを変えて水平に４１，４２，４３，４４，４５，４６のパスで電波エリアを通過させている。この例でも、放射電波エリア２０を通過する時間をいろいろ変えて試験してもよい。
【００１６】
図７は自動改札機の角度に合わせた通過測定法の例を説明する図である。
この例では、自動改札機の電波を放射する面が一定の角度で傾斜しており、この面に平行に高さを変えて５１，５２，５３，５４，５５，５６のパスで電波エリアを通過させている。この例でも放射電波エリア２０を通過する時間をいろいろ変えて試験してもよい。
【００１７】
図８はモニタに表示された測定結果を示す図である。
図示の例は、自動改札機、非接触ＩＣカードを使用し、測定ポイントを順次変えて測定したとき、情報の読み取りと書き込みができた通信距離測定結果を示したものである。上記したように、ロボット７は電波放射エリアの複数の測定ポイントに非接触ＩＣカードを位置させることができ、測定ポイントの数やその間の距離など設定により自由に変えることができる。測定ポイントを細密にし、各２次元位置での最大通信可能な距離をプロットしたのが図８である。従来の人手による試験では分からなかったが、図８に示すように、２次元位置によっては電波がほとんど出ていないことが分かり、通信可能な範囲が２次元位置で大きく変化し、この範囲内で非接触ＩＣカードをかざせばよいことがわかる。
【産業上の利用可能性】
【００１８】
本発明によれば、非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験を自動化し、再現性よく高精度かつ迅速に試験を行えるので産業上の利用価値は極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】試験装置の構成を説明する概念図である。
【図２】自動改札機通過測定法の例を説明する図である。
【図３】自動改札機通過測定法の他の例を説明する図である。
【図４】傾斜面を有する自動改札機通過測定法の例を説明する図である。
【図５】通過パスの高さを変えた試験法の例を説明する図である。
【図６】通過パスの高さを変えた試験法の他の例を説明する図である。
【図７】自動改札機の角度に合わせた通過測定法の例を説明する図である。
【図８】モニタに表示された測定結果を示す図である。
【符号の説明】
【００２０】
１…制御装置、２…入力装置、３…自動改札機、４…ステージコントローラ、５…電源、６…試験ステージ、７…ロボット、８…ＩＣカード設置台、９…非接触ＩＣカード、１０…モニタ、２０…電波放射エリア。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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