(57)【要約】【課題】正確な温度補正が可能であり、高精度の焦点調節を行うことができる焦点調節装置を提供すること。【解決手段】本焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置であり、複数の光電変換素子を有する焦点検出素子１と、焦点検出素子１と同一ＩＣチップ上に設けられる温度検出手段２と、焦点検出手段５が検出したデフォーカス量を補正する補正手段３と、焦点検出素子１に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段４と、焦点検出素子１の出力に基づいて焦点検出を行い、デフォーカス量を検出する焦点検出手段５とを有してなり、上記補正手段３によって時間計測手段４の出力が所定値より小さい時の温度検出手段２の出力に基づいてデフォーカス量が補正される。【選択図】図１
2005316187.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、
前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、
前記焦点検出素子と同一ＩＣチップ上に設けられた温度検出手段と、
前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、
前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段と、
を具備しており、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力に基づいてデフォーカス量を補正することを特徴とする焦点調節装置。
【請求項２】
撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、
前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、
前記焦点検出素子と同一ＩＣチップ上に設けられた温度検出手段と、
前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、
前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段と、
を具備し、前記補正手段は、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理してから、補正を実行することを特徴とする焦点調節装置。
【請求項３】
撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、
前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、
前記焦点検出素子と同一ＩＣチップ上に設けられた温度検出手段と、
前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、
前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段と、
前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段と、
を具備し、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力について、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理した結果に基づいてデフォーカス量を補正することを特徴とする焦点調節装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、合焦時の二像のズレ量から上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に開示された焦点調節装置は、公知のＴＴＬ位相差検出方式、すなわち、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像間隔のズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を算出する方式を採用した焦点調節装置に関するものである。
【０００３】
この焦点調節装置においては、ＴＴＬ位相差検出用のＡＦ（オートフォーカス）光学系の温度特性によるＡＦ精度の低下を防止するために、以下のような手法を用いている。すなわち、ＡＦセンサと同一ＩＣチップ上に温度検出回路を形成し、この温度検出回路により温度を検出して環境温度として採用し、ＴＴＬ位相差方式のＡＦ光学系の温度特性を補正する。
【０００４】
また、特許文献２に開示された焦点調節装置は、特許文献１と同様にＴＴＬ位相差検出方式を採用した焦点調節装置であって、ＡＦセンサとは別に温度検出素子を設け、この温度検出素子の検出温度に基づいてＡＦ光学系の温度特性を補正するものである。
【特許文献１】特許文献１は、特許公報第２５９５６３４号である。
【特許文献２】特許文献２は、特許公告公報平成８−３３５１１号である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記特許文献１の焦点調節装置においては、以下の問題点があった。すなわち、ＡＦセンサを動作させるとＡＦセンサ内部で電力消費が発生するため、ＡＦセンサＩＣチップ温度自体が上昇してしまい、求める環境温度とはずれた温度検出結果となる。このため温度補正の精度が低下し、結局、ＡＦ精度が低下しピントがずれてしまうという問題があった。また、センサデータ読出し時の一連のアナログ出力と同じシリアル出力で温度検出データを読み出すため、温度検出結果に繰り返しばらつきが発生して温度補正の精度が低下し、ＡＦ精度が低下する可能性もあった。
【０００６】
上記特許文献２の焦点調節装置においては、環境温度を正確に測定することができるが、別に温度検出素子を設ける必要があって、コストアップとなるという問題があった。
【０００７】
本発明は、上述の問題を解決するためになされたものであり、コストアップを招くことなく、正確な温度補正が可能であって、高精度の焦点調節を行うことができる焦点調節装置をを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の請求項１記載の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、前記焦点検出素子と同一ＩＣチップ上に設けられた温度検出手段と、前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段とを具備しており、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力に基づいてデフォーカス量を補正する。
【０００９】
本発明の請求項２記載の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、前記焦点検出素子と同一ＩＣチップ上に設けられた温度検出手段と、前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段とを具備し、前記補正手段は、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理してから、補正を実行する。
【００１０】
本発明の請求項３記載の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置において、前記二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子と、前記焦点検出素子と同一ＩＣチップ上に設けられた温度検出手段と、前記温度検出手段の出力に応じて検出したデフォーカス量を補正する補正手段と、前記焦点検出素子に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段と、前記焦点検出素子に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、繰り返し温度検出を実行させる制御手段とを具備し、前記補正手段は、前記時間計測手段の出力が所定値より小さい時の前記温度検出手段の出力について、繰り返し検出した温度検出手段の出力を統計処理した結果に基づいてデフォーカス量を補正する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、コストアップを招くことなく、正確な温度補正が可能であって、高精度の焦点調節を行うことができる焦点調節装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の実施形態に説明に先立って本発明の概念について説明する。 
図１は、本発明の焦点調節装置の１つの概念を示すブロック構成図である。 
本焦点調節装置７Ａは、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置である。本装置７Ａは、二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子１と、焦点検出素子１と同一ＩＣチップ上に設けられ、温度に関連する出力を発生する温度検出手段２と、焦点検出手段５が検出したデフォーカス量を、温度検出手段２の出力に応じて補正する補正手段３と、焦点検出素子１に電源投入してからの時間を計測する時間計測手段４と、焦点検出素子１の出力に基づいて焦点検出を行い、デフォーカス量を検出する焦点検出手段５とを有してなり、上記補正手段３によって時間計測手段４の出力が所定値より小さい時の温度検出手段２の出力に基づいてデフォーカス量が補正される。
【００１３】
図２は、本発明の焦点調節装置の他の１つの概念を示すブロック構成図である。 
本焦点調節装置７Ｂも撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める焦点調節装置である。本装置７Ｂは、二像を結像させるための複数の光電変換素子を有する焦点検出素子１と、焦点検出素子１と同一ＩＣチップ上に設けられ、温度に関連する出力を発生する温度検出手段２と、焦点検出手段５が検出したデフォーカス量を温度検出手段２の出力に応じて補正する補正手段３と、焦点検出素子１の出力に基づいて焦点検出を行いデフォーカス量を検出する焦点検出手段５と、焦点検出素子１に対して繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに、温度検出手段２に繰り返し温度検出を実行させる制御手段６とを有してなり、上記補正手段３は、繰り返し検出した温度検出手段２の出力を統計処理してから補正を実行するように制御手段６により制御される。
【００１４】
以下、本発明の各実施形態について図を用いて説明する。 
図３は、本発明の第一の実施形態の焦点調節装置を搭載するレンズ交換式カメラの主要構成を示す断面図である。図４は、上記焦点調節装置における光電変換素子アレイに被写体光を導くための焦点検出光学系の詳細な構成とその光路を示す図である。図５は、上記カメラにおける撮影画面内の焦点検出領域（エリア）を示す図である。図６は、上記カメラのカメラボディ側電気制御回路のブロック構成図である。図７は、上記カメラの交換レンズ側電気制御回路のブロック構成図である。図８は、カメラボディ側電気制御回路内のＡＦセンサのブロック構成図である。図９は、上記ＡＦセンサ内の温度検出部の回路図である。図１０は、上記温度検出部における出力特性の一例を示す図である。
【００１５】
本実施形態のカメラ１００は、レンズ交換式カメラ（一眼レフカメラ）であって、図３に示すように交換レンズ１１とカメラボディ１０とで構成されている。
【００１６】
カメラボディ１０は、主にサブミラー１７を有するメインミラー１４と、カメラボディ上部に配置され、ペンタプリズム１５を有するファインダ１６と、シャッタ２８と、撮像素子２９と、カメラボディ下部に配置される焦点検出装置１２と、図６に示すカメラボディ側電気制御回路等を有してなる。
【００１７】
交換レンズ１１は、カメラボディ１０に対して着脱自在であり、フォーカスレンズ１３Ａ，ズーム系レンズ１３Ｂからなる撮影レンズ１３と、絞り１８と、ズームリング２６と、図７に示す交換レンズ側電気制御回路等を有してなる。
【００１８】
なお、本実施形態の焦点調節装置は、撮影レンズを通過した被写体像を二像に分割して二像の間隔を測定し、合焦時の二像の間隔からのズレ量を求めて上記撮影レンズのデフォーカス量を求める装置であって、ＡＦセンサを有する上記焦点検出装置１２とコントローラを内蔵する上記カメラボディ側電気制御回路および上記交換レンズ側電気制御回路等を有してなる。
【００１９】
交換レンズ１１が装着されたカメラボディ１０において、ファインダ観察状態時には、撮影レンズ１３を通過した被写体からの光束は、メインミラー１４により一部が反射され、他の一部が透過される。メインミラー１４で反射された光束は、ペンタプリズム１５を介してファインダ１６の接眼部に導かれる。一方、メインミラー１４を透過した光束は、サブミラー１７で反射され、焦点検出装置１２に導かれる。撮影時には、図示しないレリーズスイッチの操作によってメインミラー１４とサブミラー１７は光軸Ｏ（撮影レンズ）の光路から退避して（図３の矢印方向）、シャッタ２８が開口することにより、撮像素子２９に撮影光束が導かれて露光が行われる。
【００２０】
焦点検出装置１２は、ＴＴＬ位相差検出方式を採用する焦点検出手段であり、図３に示すように撮影レンズ１３を通過した光束を絞り込む視野マスク１９と、赤外光をカットする赤外カットフィルタ２０と、光束を集めるためのコンデンサレンズ２１と、光束を全反射する全反射ミラー２２と、光束を制限するセパレータ絞り２３、光束を再結像させるセパレータレンズ２４と、後述する光電変換素子アレイおよびその処理回路から成るＡＦセンサ２５等で構成されている。
【００２１】
焦点検出装置１２における焦点検出光学系の詳細について、該光学系の構成を示す図４を用いて説明すると、該焦点検出光学系として被写体側（図４において左側）から撮影レンズ１３、視野マスク１９、コンデンサレンズ２１、撮影レンズ１３の光軸に対して略対称に配置された開口部２３ａ、２３ｂを有するセパレータ絞り２３、このセパレータ絞り２３の開口部２３ａ、２３ｂに対応してその後方に配置されたセパレータレンズ２４ａ、２４ｂが配置されている。なお、図４では上述した全反射ミラー２２、赤外カットフィルタ２０は、説明の簡単化のために省略している。
【００２２】
上記焦点検出光学系において、撮影レンズ１３の領域１３ａ、または、領域１３ｂを介して入射された被写体からの光束は、視野マスク１９、コンデンサレンズ２１と、さらに、セパレータ絞り２３の開口部２３ａおよびセパレータレンズ２４ａ、または、セパレータ絞り２３の開口部２３ｂおよびセパレータレンズ２４ｂを通って、ＡＦセンサ２５内の焦点検出素子である光電変換素子アレイ２７上に配置されている第一、第二の光電変換素子アレイ２７ａ、２７ｂに再結像される。 
なお、上記第一、第二の光電変換素子アレイ２７ａ、２７ｂは、セパレータレンズ２４ａ、２４ｂに対応して配置されている。
【００２３】
撮影レンズ１３が合焦位置にあって、結像面Ｇ上に被写体像Ｉが形成される場合、その被写体像Ｉは、コンデンサレンズ２１およびセパレータレンズ２４ａ、２４ｂによって、光軸Ｏに対して垂直な２次結像面の光電変換素子アレイ２７上に再結像されて第一像Ｉ1 第二像Ｉ2 となる。
【００２４】
撮影レンズ１３が前ピン位置にあって、結像面Ｇの前方に被写体像Ｆが形成される場合、その被写体像Ｆは、お互いにより光軸Ｏに近付いた形で光軸Ｏに対して垂直に再結像されて、第一像Ｆ1 、第二像Ｆ2 となる。
【００２５】
さらに、撮影レンズ１３が後ピン位置にあって、結像面Ｇの後方に被写体像Ｒが形成される場合、その被写体像Ｒは、お互いにより光軸Ｏから離れた形で、光軸Ｏに対して垂直に再結像されて第一像Ｒ1 、第二像Ｒ2 となる。
【００２６】
上述した第一像と第二像の間隔を検出することにより、撮影レンズ１３の合焦状態を前ピン、後ピンを含めて検出することができる。具体的には、第一像と第二像の光強度分布を光電変換素子アレイ２７の出力信号により求めて両像の間隔を測定することによって合焦状態が検出される。
【００２７】
なお、上記セパレータレンズ２４ａ、２４ｂはアクリルやポリカーボネイト等の光学プラスチック材料で一体化されて形成されており、環境温度によって収縮膨張が発生する。このため、合焦状態での第一像と第二像の間隔は温度により変化し、これはピント検出誤差となる。また、図５は、上述した焦点検出光学系における撮影画面内３０の焦点検出領域３１を示している。
【００２８】
ここで、上記カメラボディ１０に内蔵されるカメラボディ側電気制御回路について、図６の電気制御回路のブロック構成図を用いて説明する。 
上記カメラボディ側電気制御回路は、カメラの制御装置であるコントローラ（システムコントローラ）３５を有しており、該コントローラ３５は、例えば、内部にＣＰＵ（中央処理装置）３６、ＲＯＭ３７、ＲＡＭ３８、ＥＥＰＲＯＭ３９およびＡ／Ｄコンバータ４０を有して構成される。なお、コントローラ３５には、上記カメラ制御のための各制御部の他にデフォーカス量を補正する補正手段や焦点検出部電源投入後の時間を計測する時間計測手段や繰り返し焦点検出動作を実行させるとともに繰り返し温度検出を実行させる制御手段等が内蔵されている。
【００２９】
コントローラ３５内のＣＰＵ３６は、ＲＯＭ３７に格納されたカメラのシーケンスプログラムに従ってカメラの一連の動作制御を行う。また、上記ＥＥＰＲＯＭ３９は、ＡＦ制御、測光等に関する補正データをカメラボディ１０毎に記憶することができる。
【００３０】
コントローラ３５には、交換レンズ１１のカメラボディ１０への装着により交換レンズ側のレンズマウント接点部７９（図７）と接続される複数のボディマウント接点部５９と、ＡＦセンサ２５と、測光部５３と、ストロボ部５４と、ミラー駆動部５５と、シャッタ駆動部５６と、撮像素子駆動部５７と、表示部５８と、ファーストレリーズスイッチ（以下、１ＲＳＷと記載する）４１、および、セカンドレリーズスイッチ(以下、２ＲＳＷと記載する)４２が接続されている。
【００３１】
上記コントローラ３５は、マウント接点部５９を介して、交換レンズ１１内のレンズコントローラ６１（図７）と通信を行い、カメラボディ１０内および交換レンズ１１内の各種調整、補正データの授受や、交換レンズ１１内のフォーカス、絞り駆動の制御信号の授受を行い、各制御を行う。
【００３２】
ＡＦセンサ２５は、光電変換素子アレイ（センサアレイ）２７からなる光電変換部８０と、処理回路８１等で構成されている。上記コントローラ３５からの制御信号により、上記光電変換部８０のフォトダイオードアレイ９１（図８）上に形成される被写体像に応じた画像信号が発生され、この発生された画像信号がコントローラ３５に出力される。
【００３３】
測光部５３は、被写体の輝度に応じた出力を発生するものである。コントローラ３５は、その測光出力をＡ／Ｄコンバータ４０によりＡ／Ｄ変換して、測光値としてＲＡＭ３８に格納する。
【００３４】
ストロボ部５４は、低輝度時の撮影に使用されるもので、コントローラ３５によって、充電、発光タイミング、発光量の制御が行われる。このストロボ部５４は、ＡＦ動作時の補助光としても使用され、ＡＦセンサ２５の蓄積タイミングに同期して所定の発光量で間欠発光される。
【００３５】
ミラー駆動部５５、シャッタ駆動部５６、撮像素子駆動部５７は、コントローラ３５により制御されるもので、それぞれ前述のシャッタ２８の駆動、撮像素子２９の駆動、メインミラー１４、サブミラー１７の駆動動作を行う。
【００３６】
さらに、表示部５８は、ＬＣＤ、ＬＥＤ等を内蔵して、カメラの撮影モード、シャッタ速度、絞り値等の表示を行うものである。
【００３７】
１ＲＳＷ４１および２ＲＳＷ４２は、図示されないレリーズ釦操作に連動するスイッチであり、レリーズ釦の第一段階の押し下げによって１ＲＳＷ４１がオンし、引続いて第二段階の押し下げによって２ＲＳＷ４２がオンするようになっている。コントローラ３５は、１ＲＳＷ４１のオンで測光、ＡＦを行い、２ＲＳＷ４２のオンで露出動作と撮像素子２９からの画像読出し動作を行う。
【００３８】
次に、上記交換レンズ１１に内蔵される交換レンズ側電気制御回路について、図７の電気制御回路のブロック構成図を用いて説明する。 
上記交換レンズ側電気制御回路は、交換レンズ１１の制御装置であるレンズコントローラ６１を有しており、該レンズコントローラ６１は、例えば、内部にＣＰＵ（中央処理装置）６２、ＲＯＭ６３、ＲＡＭ６４、ＥＥＰＲＯＭ６５およびＡ／Ｄコンバータ６６を有して構成される。
【００３９】
レンズコントローラ６１内のＣＰＵ６２は、ＲＯＭ６３に格納された交換レンズのシーケンスプログラムに従って交換レンズの一連の動作制御を行う。また、上記ＥＥＰＲＯＭ６５は、ＡＦ制御、測光等に関する補正データや調整データを交換レンズ毎に記憶することができる。
【００４０】
さらに、レンズコントローラ６１には、交換レンズ１１のカメラボディ１０への装着によりカメラボディ１０側のボディマウント接点部５９と接続される複数のレンズマウント接点部７９と、レンズ駆動部６７と、フォーカスエンコーダ６９と、ズームエンコーダ７４と、絞り駆動部７１とが接続されている。
【００４１】
上記レンズコントローラ６１は、レンズマウント接点部７９を介して、カメラボディ１０内のコントローラ３５と通信を行い、カメラボディ１０内および交換レンズ１１内の各種調整、補正データの授受や、交換レンズ１１内のフォーカス、絞り駆動の制御値の授受を行う。
【００４２】
レンズ駆動部６７は、レンズコントローラ６１によって制御されるもので、レンズモータ（ＭL ）６８を駆動し、撮影レンズ１３内のフォーカスレンズ１３Ａを進退駆動させる。また、フォーカスエンコーダ６９は、フォーカスレンズ１３Ａの移動位置を検出して、その検出結果をレンズコントローラ６１に出力する。レンズコントローラ６１では、この移動位置情報に基いてフォーカスレンズ１３Ａの位置制御を行なう。
【００４３】
交換レンズ１１に設けられるズームリング２６は、撮影者により操作される操作部材であり、その回転量に応じて撮影光学系内のズーム系レンズ１３Ｂが所望の焦点距離ｆを与えるズーム位置に進退駆動される。ズームエンコーダ７４は、ズーム系レンズ１３Ｂの焦点距離ｆに応じた移動量信号を検出してレンズコントローラ６１に出力する。
【００４４】
絞り駆動部７１は、レンズコントローラ６１によって制御されるもので、ステッピングモーターである絞りモータ（ＭA ）７２によって撮影レンズ内の絞り１８を駆動させる。
【００４５】
次に、上記ＡＦセンサ２５の詳細について図６，図８を用いて説明する。
【００４６】
カメラボディ側電気制御回路に内蔵されるＡＦセンサ２５は、前述したように光電変換素子アレイ（センサアレイ）２７からなる光電変換部８０と処理回路８１等で構成されており、該ＡＦセンサ２５は、１つの基板上に光電変換素子アレイ２７や温度検出部８５を含む各構成部分を設けた１チップＩＣとして形成されている。
【００４７】
上記光電変換部８０は、照射された光の量に応じて光電荷を発生するフォトダイオードアレイ９１と、シフトゲート９２と、電荷を転送するシフトレジスタ９３と、シフトレジスタ９３の出力用バッファ９４、フォトダイオードアレイの近傍に配置されたモニター用フォトダイオード９５等の各要素で構成されている。上記コントローラ３５からの制御信号により、上記光電変換部８０のフォトダイオードアレイ９１上に形成される被写体像に応じた画像信号が発生し、この画像信号がコントローラ３５に出力される。
【００４８】
上記処理回路８１は、図８に示すようにフォトダイオードアレイ９１側からシフトレジスタ９３側への電荷転送、シフトレジスタ９３での電荷転送の制御、および、後述のアナログ処理部の信号処理タイミングの制御などを行なうデータ出力制御部８２と、光電変換部８０の積分時間等を制御する積分制御部８４と、光電変換部８０からのアナログ信号を処理するアナログ信号処理部８３と、温度変化に感応して温度情報をコントローラ３５に供給するための温度検出手段である温度検出部８５と、外部端子が接続されるＩ／Ｏコントロール部８６等で構成されている。
【００４９】
上記データ出力制御部８２は、コントローラ３５からＩ／Ｏコントロール部８６を通して与えられる信号に基づいてシフトレジスタ９３に対して駆動用の転送クロックを発生する。また、ＡＦセンサ２５から外部へ出力される信号の切換えを行うタイミング信号をアナログ信号処理部８３に与える。
【００５０】
上記積分制御部８４は、光電変換部８０に対して積分開始を実行させ、積分動作中にモニター用フォトダイオード（ＭＰＤ）９５の出力をモニターし、そのモニター結果により適正な積分量に達したことを検出して、シフトゲート９２へのシフトゲートパルスを発生して積分動作の終了、積分時間の制御を行なう。そして、Ｉ／Ｏコントロール部８６を介してコントローラ３５との間で通信を行ない積分完了信号をコントローラ３５に出力する。また、積分制御部８４は、光電変換部８０での積分量が所定時間内に、予め定めた所定量まで達しなかった場合に、コントローラ３５からの強制積分終了信号Ｔ3 により強制的に積分を終了させる。
【００５１】
アナログ信号処理部８３は、シフトレジスタ９３から出力用バッファ９４を介しての画素信号に対して暗時出力信号補償、自動利得制御など各種のアナログ処理や出力信号をコントローラ３５のＡ／Ｄ変換部のダイナミックレンジに合致させるための基準電圧クランプ等の処理を行なった後、スイッチＳＷ９６のアナログ出力端子９６ａを介してコントローラ３５のＡ／Ｄコンバータ４０にアナログ出力信号Ｔ5 として画素信号(センサデータ）を出力する。
【００５２】
Ｉ／Ｏコントロール部８６は、各ブロックとコントローラ３５とのインターフェイスの機能を有している。Ｉ／Ｏコントロール部８６の入出力であるＡＦセンサ２５の外部端子８６ａ〜８６ｄは、以下の信号の入，出力端子である。すなわち、
外部端子８６ａは、積分開始信号Ｔ1 の入力端子である。 
外部端子８６ｂは、積分完了信号Ｔ2 の出力端子である。 
外部端子８６ｃは、強制的に積分を終了させるための積分強制終了信号Ｔ3 の入力端子である。 
外部端子８６ｄは、画素信号読出しの時のコントローラ３５からの読出しクロック信号（Ａ／Ｄ変換同期用クロック信号）Ｔ4 の入力端子である。
【００５３】
温度検出部８５は、前述した図４に示した焦点検出光学系に起因し、温度変化により発生する測距誤差を除去するために、温度補償を電気的に行なうための温度検出を行う検出部である。図９は、上記温度検出部８５の回路を示しており、この回路では、所定の基準電圧とＧＮＤ間に温度特性の異なる抵抗Ｒ１、Ｒ２を直列に接続し、その接続点の出力を温度検出信号ＶTEMPとする。例えば、抵抗Ｒ１を温度係数βＲｌ＝５０００ｐｐｍのイオン注入型抵抗とし、抵抗Ｒ２を温度係数βＲ２＝５００ｐｐｍのポリシリコン抵抗とすれば、温度特性の差により温度に依存した電圧が抵抗Ｒ１の両端に発生する。この電圧が温度検出部８５より出力される。図１０に温度検出部８５の出力(抵抗Ｒ１の両端電圧）の対温度特性の一例を示す。
【００５４】
アナログ信号処理部８３から読出しクロック信号に応じて出力される画素出力信号のうち、先頭から所定番目の出力までは測距演算に不要なダミー画素（遮光画素等）の信号である。そのため所定番目までは不要な画素出力信号の代わりに、温度検出信号ＶTEMPを同一のアナログ信号出力端子９６ａを通してアナログ出力信号Ｔ5 としてコントローラ３５へ出力する。
【００５５】
アナログ信号処理部８３と温度検出部８５の接続部にスイッチＳＷ９６が設けられており、このスイッチＳＷ９６にデータ出力制御部８２からスイッチ制御信号が供給されて、上記画素信号と上記温度検出信号の切換えが行われる。
【００５６】
上述した構成を有する本実施形態のカメラ１００における撮影シーケンス処理動作について、図１１のメインルーチンのフローチャート，図１２〜１５のサブルーチンのフローチャート，図１６のタイムチャ−ト等を参照して説明する。
【００５７】
上記撮影シーケンス処理のメインルーチン及びサブルーチンは、図６に示したコントローラ３５の動作制御手順によるルーチンである。
【００５８】
先ず、カメラの電源投入やスリープ状態からの復帰によりコントローラ３５の動作が開始されると、図１１のメインルーチンがコントローラ３５の制御のもとで実行される。ステップＳ１にて、図１２に示すサブルーチンの「初期化処理」が呼び出され、実行される。
【００５９】
その初期化処理においては、ステップＳ２０にてＥＥＰＲＯＭ３９に予め記憶されているＡＦ用、測光用等の各種補正データが読込まれてＲＡＭ３８に展開され、交換レンズ内のレンズデータをボディ内のコントローラ３５とレンズコントローラ６１との通信により取得してＲＡＭ６４およびＲＡＭ３８に展開する等の各ブロックの初期化が実行される。
【００６０】
続いて、ステップＳ２１においてＡＦセンサ２５の電源がオンされる。ステップＳ２２にてＡＦセンサ２５の電源オンからの時間を計測するための時間計測タイマーの計時動作が開始され、本サブルーチンからメインルーチンに戻る。
【００６１】
メインルーチンに戻り、ステップＳ２にて１ＲＳＷ４１がオンされているか否かが判断される。１ＲＳＷ４１がオンされていなければ、ステップＳ１０に移行して図１４に示すサブルーチン「常時測距」が実行される（後述）。また、１ＲＳＷ４１がオンであれば、ステップＳ３に進み、図１３に示すサブルーチン「ＡＦ」が実行される。
【００６２】
上記サブルーチン「ＡＦ」は、処理動作詳細は後で説明するが、このＡＦ処理においては、被写体の焦点状態（被写体距離状態）が検出され、焦点検出結果を交換レンズ１１内のレンズコントローラ６１に送信される。レンズコントローラ６１は、上記焦点検出結果に基いてフォーカスレンズ１３Ａを合焦位置へ駆動して、被写体にピントを合わせるＡＦが行われる。
【００６３】
その後、メインルーチンに戻り、ステップＳ４において、上記ＡＦ動作の結果、合焦したか否かが判断される。ステップＳ４にて、合焦していなければ、後述するステップＳ９に移行する。一方、合焦している場合は、更にステップＳ５に移行する。
【００６４】
ステップＳ５では、露出量を決定するために測光部５３を動作させて被写体輝度を測定する測光が行われる。
【００６５】
続いて、ステップＳ６では、２ＲＳＷ４２がオンされているか否かが判断される。２ＲＳＷ４２がオンされていなければ、後述するステップＳ９に移行し、オンされていれば、ステップＳ７へ移行する。
【００６６】
ステップＳ７では、露出が行われる。すなわち、上記ステップＳ５で求められた測光値などに基いて決定された絞り値をレンズコントローラ６１に送信する。レンズコントローラ６１は、絞り駆動部７１を制御して撮影レンズの絞り１８を所の絞り値に絞り込む。続いて、シャッタ駆動部５６によりシャッタ２８が制御されて、上記ステップＳ５で求められた測光値などに基いて決定された所定時間だけシャッタ２８が開かれて露出動作が行われる。露出時には上記測光値に基いてストロボ発光が必要であるかが判断され、必要な場合は、シャッタ全開状態でストロボ部５４に発光信号が出力されて発光が行われる。シャッタ動作が終了したら、ステップＳ８に移行して、絞り１８が開放状態に戻された後、撮像素子駆動部５７によって撮像素子２９から画像データが読み出されて一連の撮影動作が終了する。
【００６７】
続いて、ステップＳ９に移行して、所定のスリープ時間が経過したか否かをスリープ時間計測タイマーにて測定し、チェックされる。スリープ時間が経過したら、カメラの電源をオフするＣＰＵスリープ状態（省電モード）に移行する。
【００６８】
上記メインルーチンのステップＳ１０に移行してサブルーチン「常時測距」が呼び出された場合は、測距動作のみを行い、レンズ駆動を実行しない常時測距が実行される。その後、ステップＳ９に移行するが、カメラ動作としては、１ＲＳＷ４１の操作がなされるまで常時測距動作つまり測距動作のみを繰り返し実行する。この常時測距動作により常に最新の測距情報が更新される。１ＲＳＷ４１がオンされてＡＦ動作を行う時、すなわち、メインルーチンのステップＳ２、Ｓ３にてこの最新の測距情報を採用することにより１回分の測距動作を省略することができ、ＡＦ動作におけるタイムラグを少なくすることができる。
【００６９】
上記サブルーチン「常時測距」処理の詳細について図１４のフローチャートと、図１６のＡＦセンサにおける積分、読出し動作のタイムチャートを参照して説明する。 
本サブルーチンの処理もコントローラ３５の制御のもとで実行される。図１４に示すようにステップＳ２００において、ＡＦセンサ２５に対して端子８６ａより積分開始信号Ｔ1 を出力し（Ｌ→Ｈへ立ち上がり）、蓄積動作を開始させる。なお、以下の説明で蓄積と積分とは、同一動作を示す。
【００７０】
ステップＳ２０１にてコントローラ３５内部のカウンタを参照して蓄積（積分）時間が所定のリミット時間に達したか否かが判別される。達していない場合は、ステップＳ２０２に移行する。到達した場合は、ステップＳ２０３に移行する。
【００７１】
ステップＳ２０２では、ＡＦセンサ２５の蓄積動作が終了したか否かをＡＦセンサ２５の出力である積分終了信号Ｔ2 を端子８６ｂより取り込んでチェックする。積分終了信号が出力された場合（Ｌ→Ｈに立ち上がり）、ステップＳ２０４に進む。
【００７２】
一方、ステップＳ２０３に移行した場合、ＡＦセンサ２５に対して端子８６ｃより強制積分終了信号Ｔ3 を与えて（Ｌ→Ｈに立ち上がり）、強制的に蓄積動作を終了させて、ステップＳ２０４に移行する。
【００７３】
ステップＳ２０４では、ＡＦセンサ２５に対して端子８６ｄより読出しクロック信号Ｔ4 を与えて、出力端子９６ａよりアナログ出力信号Ｔ5 として出力される温度検出部の温度検出信号ＶTEMPを読み出す。この読出し期間は、アナログ信号処理部８３からは測距演算に不要なダミー画素（遮光画素等）信号が出力される期間に相当する期間であって、この間、スイッチＳＷ９６の制御信号は、温度検出信号ＶTEMP側に設定される。
【００７４】
引き続き、ステップＳ２０５にて読出しクロック信号Ｔ4 を与えるとともに、スイッチＳＷ９６の制御信号は、画素信号出力側に設定され、ＡＦセンサ２５において蓄積された画像信号が出力端子９６ａよりアナログ出力信号Ｔ5 としてセンサデータ（画素データ）が出力され、読出される。
【００７５】
上述のようにコントローラ３５から読出しクロックがＡＦセンサ２５に入力されると、それに同期して温度検出信号ＶTEMPおよびセンサデータが所定の順でＡＦセンサ２５から出力される。コントローラ３５は、このセンサデータをＡ／Ｄコンバータ４０によって順次Ａ／Ｄ変換してＲＡＭ３８に格納する。所定画素数に対応する読出しクロック信号が出力されると、読出し動作を終了する。
【００７６】
続いて、ステップＳ２０６にてＲＡＭ３８に格納されたセンサデータに基いて、測距演算が行われ、後述するデフォーカス量ＤＦが求められる。さらに、ステップＳ２０７にて図１６に示すサブルーチン「温度補正I 」が呼び出され、上記測距演算の結果に対する温度検出信号ＶTEMPに基づいた温度補正が実行され、後述する補正後のデフォーカス量ＤＦ′が求められる。その後、メインルーチンに戻る。
【００７７】
上記サブルーチン「温度補正I 」処理について、図１５のフローチャートを参照して説明する。本サブルーチンの処理もコントローラ３５の制御のもとで実行される。まず、ステップＳ３００にて常時測距動作中に取り込まれた温度検出部８５の検出信号ＶTEMPデータの平均処理が行われる。図１１のメインルーチンで説明したように、１ＲＳＷ４１がオンされていない状態では、繰り返し常時測距を行っている。この時に取得される温度検出信号ＶTEMPデータを統計的な処理として最新の所定回数分、例えば、２０回分を記憶しておいて、それらを平均処理して繰り返し検出誤差を除去した温度データを生成する。
【００７８】
なお、カメラの電源がオフされるか、ＣＰＵスリープ状態に移行した際には、記憶されている温度データはクリアされ、電源のオンやスリープ状態からの復帰により新たに最新温度データが繰り返し取り込まれる。また、例えば、２０回よりも少ないデータ数しかまだ取得していない場合は、その少ないデータ数での平均処理が行われる。
【００７９】
続いて、ステップＳ３０１にて上記平均温度データに基づいて補正演算が行われる。この補正演算処理では、次式の温度補正式によって温度補正前のデフォーカス量ＤＦに対する温度補正後のデフォーカス量ＤＦ′が求められる。すなわち、
ＤＦ′＝ＤＦ＋ＫＴ×（ＶTEMP−ＶTEMP0）  …（１）
ここで、ＫＴは、前記焦点検出光学系（図４）の温度特性やその他のカメラ内部の温度特性の全体を含む温度補正係数である。 
ＶTEMPには、前述の温度検出部の検出信号ＶTEMPの出力値を平均して得られた値が採用される。 
ＶTEMP0は、基準温度データ値であって、基準温度２５℃のときの温度検出部出力ＶTEMPの出力値である。
【００８０】
上述のようにサブルーチン「温度補正I 」の処理では、繰り返し取得した温度データの平均値を求め、それに基づき温度補正することによって、より高精度な測距情報を得ることができる。この補正測距情報によれば、ランダムに発生する繰り返しバラツキや外乱ノイズにより発生する検出誤差を軽減することができる。
【００８１】
次に、上記図１１のメインルーチンのステップＳ３で呼び出されるサブルーチン「ＡＦ」の処理について図１３のフローチャートを参照して説明する。 
このサブルーチン「ＡＦ」の処理もコントローラ３５の制御のもとで実行される。まず、ステップＳ１００にてＡＦセンサ２５に対して積分開始信号Ｔ1 を出力して蓄積動作制御を開始させる。ステップＳ１０１にてコントローラ３５内部のカウンタを参照して蓄積時間が所定のリミット時間に達したか否かが判別され、達していない場合は、ステップＳ１０２に移行する。上記リミット時間に達した場合は、ステップＳ１０３に移行する。
【００８２】
ステップＳ１０２では、ＡＦセンサ２５の蓄積動作が終了したか否かをＡＦセンサ２５の出力である積分終了信号Ｔ2 を参照してチェックする。積分終了を確認後、ステップＳ１０４に進む。
【００８３】
一方、ステップＳ１０３に移行した場合、ＡＦセンサ２５に対して強制積分終了信号Ｔ3 を出力して強制的に蓄積動作を終了させ、ステップＳ１０４に進む。
【００８４】
ステップＳ１０４では、ＡＦセンサ２５に対して読出しクロック信号Ｔ4 を与えて、温度センサデータである温度検出信号ＶTEMPが読み出される。なお、このステップの処理は、前記サブルーチン「常時測距」のステップＳ２０４と同様の処理である。
【００８５】
さらに、ステップＳ１０５にて引き続きＡＦセンサ２５に対して読出しクロック信号Ｔ4 を与えてＡＦセンサ２５において蓄積された画素信号がセンサデータとして読出される。なお、このステップの処理も前記サブルーチン「常時測距」のステップＳ２０５と同様の処理である。
【００８６】
上述のようにコントローラ３５から読出しクロック信号Ｔ4 がＡＦセンサ２５に入力され、それに同期して温度検出信号ＶTEMPおよびセンサデータ（画素データ）がＡＦセンサ２５の出力端子９６ａより出力される。コントローラ３５では、上記センサデータ（画素データ）をＡ／Ｄコンバータ４０によって順次Ａ／Ｄ変換してＲＡＭ３８に格納する。
【００８７】
その後、ステップＳ１０６にてＲＡＭ３８に格納された上記センサデータ（画素データ）に基いて、測距演算を行い未だ温度補正がなされない状態のデフォーカス量ＤＦが求められる。なお、このステップの処理も前記サブルーチン「常時測距」のステップＳ２０６と同様の処理である。
【００８８】
続いて、ステップＳ１０７に移行し、サブルーチン「温度補正I 」が呼び出され、実行される。この処理は、前述した図１６のフローチャートと同様の処理であって、上記測距演算の結果のデフォーカス量ＤＦに対して温度補正が実行され、補正デフォーカス量ＤＦ′が求められる。
【００８９】
ステップＳ１０８にて測距演算、温度補正後の補正デフォーカス量ＤＦ′が合焦範囲内か否かの判定が行われる。合焦であれば、本サブルーチンのＡＦ動作を終了し、図１１のメインルーチンに戻る。
【００９０】
一方、非合焦の場合は、ステップＳ１０９へ移行してデフォーカス量に基づくレンズ駆動が実行される。すなわち、コントローラ３５よりレンズ駆動コマンドをレンズコントローラ６１に送信する。さらに、デフォーカス量をレンズコントローラ６１に送信する。レンズコントローラ６１は、上記デフォーカス量に基いてレンズ駆動量を演算し、フォーカスレンズ１３Ａの駆動制御が実行される。その後、ステップＳ１００に戻り再度測距動作が行われ、合焦するまで測距動作およびレンズ駆動のループが繰返される。
【００９１】
上記ＡＦ処理が実行され、上記メインルーチンに戻った後、カメラ１００としては、表示部５８に合焦状態をがされるファインダ内ＬＥＤが点灯したり、図示されないＰＣＶが発音されて合焦となったことが報知される。
【００９２】
上述した第一の実施形態の焦点調節装置によれば、ＡＦセンサ２５のＩＣチップに設けられる温度検出部８５より検出される所定の複数回の温度データの平均によってデフォーカス量の温度補正を行うことによって正確な温度補正を可能とし、高精度な焦点調節を行うことができる。
【００９３】
次に本発明の第二の実施形態の焦点検出装置が搭載されたレンズ交換式カメラについて、図１７，１８を参照して説明する。 
図１７は、ＡＦセンサの電源オン後の経過時間に対する温度データ（温度検出信号ＶTEMP）の変化を示す線図である。図１８は、本実施形態のカメラの撮影シーケンスにおけるサブルーチン「常時測距」，「ＡＦ」で呼び出されるサブルーチン「温度補正II」のフローチャートである。
【００９４】
本実施形態のカメラでは、前記第一の実施形態のカメラ１００の撮影シーケンスにおけるサブルーチン「温度補正I 」に替えて上記サブルーチン「温度補正II」が適用される。ＡＦセンサ２５は、電源オンにより動作を開始し、ＩＣチップに消費電流が流れるのでＩＣチップ自体の温度が上昇する。したがって、電源オン時は環境温度とほぼ等しい温度を示す温度データが出力されるが、時間の経過によってＩＣチップの温度が上昇し、検出された温度データの値も変化し、正しい温度補正が行われない可能性がある。そこで、本実施形態におけるサブルーチン「温度補正II」では、上記ＩＣチップ温度の上昇による検出誤差を軽減するために、ＡＦセンサ２５の電源をオンした直後における、より環境温度に近い温度データを採用するようにしている。具体的には、常時測距時において取得する温度データをＡＦセンサ２５の電源オンから所定期間以内に取得された温度データを採用するように制限する。その他の処理ルーチン、および、カメラの構成は、第一の実施形態のものと同様とする。以下、異なる処理について説明する。
【００９５】
本実施形態のカメラの撮影シーケンスにおけるサブルーチン「常時測距」，「ＡＦ」中に呼び出される温度補正処理は、図１８に示すサブルーチン「温度補正II」であり、本サブルーチンにおいてもコントローラ３５の制御のもとで処理される。すなわち、図１８のフローチャートに示すようにステップＳ５００にてＡＦセンサ２５の電源をオンしてからの経過時間が所定の時間を経過したかどうかをチェックする。この電源をオンしてからの経過時間は、図１２に示すサブルーチン「初期化処理」におけるステップＳ２２でＡＦセンサ２５の電源オンからカウントを開始しているコントローラ３５内蔵のタイマーのカウント値（計測時間）が参照される。そして、上記計測時間を所定の判定時間より小さい場合はステップＳ５０１に移行する。一方、より大きい場合はここで検出される温度データを採用せずそのままステップＳ５０２に移行する。
【００９６】
ステップＳ５０１では、繰り返し測定された温度検出部８５の温度データである温度検出信号ＶTEMPデータの最新の２０回分を平均処理して、繰り返し検出誤差を除去した温度データが求められる。
【００９７】
ステップＳ５０２では、上記平均された温度データ、あるいは、以前の平均温度データに基づいて、前述サブルーチン「温度補正I 」におけるステップＳ３０１と同様に検出デフォーカス量ＤＦに対する温度補正が行われる。
【００９８】
上述のように本サブルーチンでは、ステップＳ５００において判定時間を経過した場合は、新たに温度検出データを平均処理して更新する処理を行わず、上記判定時間内で最後に平均処理された温度データが記憶し、そのデータを採用して以降の温度補正が行われる。
【００９９】
本実施形態の焦点調節装置を適用したカメラによれば、ＩＣチップの時間経過による温度上昇に伴う温度データの値の増加による検出誤差を軽減することができ、正確な温度補正が行え、より高精度な測距、ＡＦが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０１００】
本発明による焦点調節装置は、コストアップを招くことなく、正確な温度補正が可能であって、高精度の焦点調節を行うことができる焦点調節装置として利用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１０１】
【図１】本発明の焦点調節装置の１つの概念を示すブロック構成図である。
【図２】本発明の焦点調節装置の他の１つの概念を示すブロック構成図である。
【図３】本発明の第一の実施形態の焦点調節装置を搭載するレンズ交換式カメラの主要構成を示す断面図である。
【図４】図３のカメラの焦点調節装置における光電変換素子列に被写体光を導くための焦点検出光学系の詳細な構成とその光路を示す図である。
【図５】図３のカメラにおける撮影画面内の焦点検出領域を示す図である。
【図６】図３のカメラのカメラボディ側電気制御回路のブロック構成図である。
【図７】図３のカメラの交換レンズ側電気制御回路のブロック構成図である。
【図８】図６のカメラボディ側電気制御回路内のＡＦセンサのブロック構成図である。
【図９】図８のＡＦセンサ内の温度検出部の回路図である。
【図１０】図９の温度検出部における出力特性の一例を示す図である。
【図１１】カメラ１００における撮影シーケンス処理のメインルーチンのフローチャートである。
【図１２】図１１のメインルーチンにて呼び出されるサブルーチン「初期化処理」のフローチャートである。
【図１３】図１１のメインルーチンにて呼び出されるサブルーチン「ＡＦ」のフローチャートである。
【図１４】図１１のメインルーチンにて呼び出されるサブルーチン「常時測距」のフローチャートである。
【図１５】図１３のサブルーチン「ＡＦ」および図１４のサブルーチン「常時測距」で呼び出されるサブルーチン「温度補正I 」のフローチャートである。
【図１６】図８のＡＦセンサにおける積分、読出し動作のタイムチャートである。
【図１７】本発明の第二の実施形態の焦点調節装置を搭載するレンズ交換式カメラに適用されるＡＦセンサの電源オン後の経過時間に対する温度データの変化を示す線図である。
【図１８】図１７のカメラの撮影シーケンスにおけるサブルーチン「常時測距」，「ＡＦ」で呼び出されるサブルーチン「温度補正II」のフローチャートである。
【符号の説明】
【０１０２】
１  …焦点検出素子
２  …温度検出手段
３  …補正手段
４  …時間検出手段
２７  …光電変換素子アレイ（焦点検出素子）
３５  …コントローラ（制御手段，補正手段，時間計測手段）
８０  …光電変換部（焦点検出素子）
８５  …温度検出部（温度検出手段）
サブルーチン「温度補正I」，「温度補正II」
…補正手段
ステップＳ２２…時間計測手段
代理人      弁理士    伊  藤    進
【図１】
2005316187.tif 000003
【図２】
2005316187.tif 000004
【図３】
2005316187.tif 000005
【図４】
2005316187.tif 000006
【図５】
2005316187.tif 000007
【図６】
2005316187.tif 000008
【図７】
2005316187.tif 000009
【図８】
2005316187.tif 000010
【図９】
2005316187.tif 000011
【図１０】
2005316187.tif 000012
【図１１】
2005316187.tif 000013
【図１２】
2005316187.tif 000014
【図１３】
2005316187.tif 000015
【図１４】
2005316187.tif 000016
【図１５】
2005316187.tif 000017
【図１６】
2005316187.tif 000018
【図１７】
2005316187.tif 000019
【図１８】
2005316187.tif 000020