(57)【要約】【課題】  複屈折欠陥のような光ディスクに反射光量の変化が生じにくい欠陥がある場合でも、安定したデータ再生が行える情報再生技術を提供すること。【解決手段】  本発明では、レーザビームを光ディスクに照射してデータを再生する際、光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、この照射光量検出信号に基づいて光ディスクの欠陥検出を行うこととする。また、本発明では、レーザビームを光ディスクに照射してデータを再生する際、光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、光ディスクにより反射されるレーザビームの光量に応じた反射光量検出信号を出力し、照射光量検出信号及び反射光量検出信号に基づいて光ディスクの欠陥検出を行うこととする。そして、光ディスクに欠陥があった場合でもレーザビームを光ディスクに照射し続けることとする。【選択図】  図１
2005190526.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源と、
前記レーザ光源を駆動する駆動回路と、
前記レーザ光源より光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力する照射光検出器と、を備え、
前記照射光量検出信号に基づいて前記光ディスクの欠陥検出を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記光ディスクにより反射されるレーザビームの光量に応じた反射光量検出信号を出力する反射光検出器を備え、
前記照射光量検出信号及び前記反射光量検出信号に基づいて前記光ディスクの欠陥検出を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または２記載の光ディスク装置において、
前記光ディスクに欠陥があった場合でも前記駆動回路により前記レーザ光源を駆動することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
レーザビームを光ディスクに照射してデータ再生を行うデータ再生方法において、
前記光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、
前記照射光量検出信号に基づいて前記光ディスクの欠陥検出を行うことを特徴とするデータ再生方法。
【請求項５】
請求項４記載のデータ再生方法において、
前記光ディスクにより反射されるレーザビームの光量に応じた反射光量検出信号を出力し、
前記照射光量検出信号及び前記反射光量検出信号に基づいて前記光ディスクの欠陥検出を行うことを特徴とするデータ再生方法。
【請求項６】
請求項４または５記載のデータ再生方法において、
前記光ディスクに欠陥があった場合でも前記レーザビームを前記光ディスクに照射することを特徴とするデータ再生方法。
【請求項７】
レーザ光源と、
前記レーザ光源を駆動する駆動回路と、
前記レーザ光源より光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力する照射光検出器と、を備え、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きい期間が所定期間より短い場合には、前記駆動回路により前記レーザ光源を駆動し続けることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項７記載の光ディスク装置において、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きい期間が所定期間より長い場合には、前記レーザ光源の駆動を停止することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
レーザビームを光ディスクに照射してデータ再生を行うデータ再生方法において、
前記光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きい期間が所定期間より短い場合には、前記レーザビームを前記光ディスクに照射しつづけることを特徴とするデータ再生方法。
【請求項１０】
請求項９記載のデータ再生方法において、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きい期間が所定期間より長い場合には、前記レーザビームの照射を停止することを特徴とするデータ再生方法。
【請求項１１】
レーザ光源と、
前記レーザ光源を駆動する駆動回路と、
前記レーザ光源より光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力する照射光検出器と、
前記光ディスクから反射されたレーザビームの光量に応じた反射光量検出信号を出力する反射光検出器と、を備え、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きく、かつ前記反射光量検出信号の振幅が所定値より小さい場合には、前記駆動回路により前記レーザ光源を駆動し続けることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
請求項７記載の光ディスク装置において、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きく、かつ前記反射光量検出信号の振幅が所定値より大きい場合には、前記レーザ光源の駆動を停止することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
レーザビームを光ディスクに照射してデータ再生を行うデータ再生方法において、
前記光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、
前記光ディスクから反射されたレーザビームの光量に応じた反射光量検出信号を出力し、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きく、かつ前記反射光量検出信号の振幅が所定値より小さい場合には、前記レーザビームを照射し続けることを特徴とするデータ再生方法。
【請求項１４】
請求項１３記載のデータ再生方法において、
前記照射光量検出信号の電圧が所定値より大きく、かつ前記反射光量検出信号の振幅が所定値より大きい場合には、前記レーザビームの照射を停止することを特徴とするデータ再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ再生技術に関し、特に光ディスクの欠陥の影響を受けにくく安定してデータ再生を行うことを可能にする技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
まず従来の光ディスク装置の構成及び動作を図２〜図６用いて説明する。図２は従来の光ディスク装置の一部構成を示す図である。図３（Ａ）は入力レーザビームａに対するビームスプリッタ３の作用を示し、図３（Ｂ）は入力レーザビームｂに対するビームスプリッタ３の作用を示している。図４（Ａ）は入力レーザビームａに対する１／４波長板４の作用を示し、図４（Ｂ）は入力レーザビームｂに対する１／４波長板４の作用を示している。図５（Ａ）はエンベロープ検波回路９における明欠陥の検出方法を示し、図５（Ｂ）はエンベロープ検波回路９における暗欠陥の検出方法を示し、図５（Ｃ）はエンベロープ検波回路９における振幅低下の検出方法を示している。図６はレーザパワー検出回路１１におけるレーザ異常発光の検出方法を示す図である。
【０００３】
図２において、１はレーザ光源、２はコリメータレンズ、３はビームスプリッタ、４は１／４波長板、５は対物レンズ、６は光ディスク、７は集光レンズ、８は反射光検出器、９はエンベロープ検波回路、１０は照射光検出器、１１はレーザパワー検出回路、２０はサーボ制御回路、２１はレーザ駆動回路である。
【０００４】
ここで、ビームスプリッタ３は２個のプリズムのどちらか一方の斜面に偏光膜を施し接着して立方体にしたもので、図３（Ａ）に示すようにｘ軸に平行な光の成分ａ１（Ｐ偏光成分）を通過させ、図３（Ｂ）に示すようにｙ軸に平行な光の成分ｂ１（Ｓ偏光成分）を光の成分ｃ１として反射する作用を持っている。また、１／４波長板４は、図４（Ａ）に示すようにｘ軸に平行な光の成分ａ１（Ｐ偏光成分）を円偏光成分ａ２に変換し、さらに図４（Ｂ）に示すように円偏光成分ｂ２をｙ軸に平行な光の成分ｂ１（Ｓ偏光成分）に変換する作用を持っている。
【０００５】
レーザ駆動回路２０によりレーザ光源１を駆動してレーザビームａを光ディスク６に向けて照射する。レーザ光源１から照射されたレーザビームａは、コリメータレンズ２により平行な光の束（平行光）に変換される。レーザ光源１から照射されコリメータレンズ２を介して入射されるレーザビームａはＰ偏光成分の光であるためビームスプリッタ３をそのまま通過する。１／４波長板４はビームスプリッタ３から入射されたレーザビームａを円偏光に変換する。１／４波長板４により円偏光に変換されたレーザビームａは、対物レンズ５により絞り込まれて、回転している光ディスク６に照射される。
【０００６】
回転している光ディスク６により反射されたレーザビームｂは、対物レンズ５により集光され再び１／４波長板４に入射される。１／４波長板４に入射された円偏光であるレーザビームｂは、レーザ光源１から照射されるレーザビームａとは垂直なＳ偏光成分に変換されてビームスプリッタ３に入射される。ビームスプリッタ３は前述したようにＳ偏光成分を反射させる作用を持っているため、レーザビームｂはそのほとんど全てが反射されレーザビームｃとなり集光レンズ７を介して反射光検出器８面上に入射され、残りはレーザビームｄとしてコリメータレンズ２を通過しレーザ光源１に入射される。
【０００７】
反射光検出器８は複数の受光素子と演算回路で構成されており、各受光素子で受光した光量を演算し、光ディスク６に照射されるレーザビームａのフォーカス位置及びトラッキング位置に応じたサーボエラー信号ｅと、反射光量の絶対量に応じた反射光量検出信号ｋを出力する。反射光量検出信号ｋは、図示しない信号処理回路に出力され、所定の信号処理を行うことでデータの再生を行う。
【０００８】
サーボ制御回路２０は、入力されるサーボエラー信号ｅが常に所定の値となるようにサーボ制御信号ｚにより対物レンズ５を駆動し、レーザビームａのフォーカス及びトラッキング位置を調整する。ところが、上記光ディスク６に欠陥があった場合には、上記フォーカス及びトラッキング位置が最適な位置にあるにも拘わらずサーボエラー信号ｅに変化が生じてしまう。このとき、サーボ制御回路２０でサーボエラー信号ｅを所定の値に補正しようと誤った制御動作を行ってしまうと、レーザビームａが上記光ディスク６の欠陥部を通過し正常な部分に戻っても正規の制御状態に復帰するまでに時間がかかる場合がある。このため、上述の信号処理回路によりデータの信号処理を行ってデータを再生する場合には、データの再生が中断してしまう等の問題が発生する。
【０００９】
これに対してエンベロープ検波回路９は、入力される反射光量検出信号ｋのエンベロープを検出して、例えば図５に示すようなｆ１、ｆ２、ｆ３及びｆ４の各スライスレベルにより光ディスク６に発生する明欠陥及び暗欠陥や汚れ等による反射光量検出信号ｋの振幅低下を検出する。
【００１０】
図５において、横軸は時間を表し縦軸は反射光の光量である反射光量検出信号ｋとエンベロープ検波回路９における出力信号ｈ１、ｈ２、ｈ３の電圧を示す。明欠陥の場合は、例えば光ディスク６の記録面の蒸着が不充分な部位において反射膜が露出された状態になっているため、通常より反射光量が増加する。
【００１１】
図５（Ａ）に示すように入力される反射光量検出信号ｋの上側エンベロープｇ１に対して任意の位置に明欠陥検出用のスライスレベルｆ１が設定されており、明欠陥部ｊ１において上側エンベロープｇ１及び下側エンベロープｇ２がｆ１以上となる場合に出力信号ｈ１をＨＩ電圧にする。
【００１２】
また、暗欠陥の場合は、例えば光ディスク６の表面に光を通過させないゴミ等が付着していたりすることにより、通常より反射光量が減少する。
【００１３】
図５（Ｂ）に示すように入力される反射光量検出信号ｋの下側エンベロープｇ２に対して任意の位置に暗欠陥検出用のスライスレベルｆ２が設定されており、暗欠陥部ｊ２において上側エンベロープｇ１及び下側エンベロープｇ２がこれ以下となる場合に出力信号ｈ２をＨＩ電圧にする。
【００１４】
また、書き換え可能型の光ディスクにおいて、例えば記録時及び再生時に光ディスク６の表面に半透明なゴミ等が付着することにより発生する反射光検出器８による反射光量検出信号ｋの振幅低下については、図５（Ｃ）に示すように上側エンベロープｇ１と下側エンベロープｇ２間の任意の位置に振幅低下検出用のスライスレベルｆ３、ｆ４が設定されており、上記光ディスク６の汚れ等による振幅低下部ｊ３において上側エンベロープｇ１及び下側エンベロープｇ２がこれらの間となる場合に出力信号ｈ３をＨＩ電圧にする。これにより、欠陥を検出した場合は上記ｈ１、ｈ２、ｈ３を用いてサーボエラー信号ｅをマスクしてサーボ回路２０の制御をホールドすることにより、上述した欠陥等による誤動作を防止する。
【００１５】
一方、照射光検出器１０は受光素子と増幅回路で構成されており、レーザ光源１から射出されるレーザビームａの一部を受光しその光量に応じた照射光量検出信号ｍを出力する。レーザパワー検出回路１１は、図６に示すような方式で入力される照射光量検出信号ｍによりレーザ光源１の異常発光を検出する。
【００１６】
図６において、横軸は時間、縦軸はレーザビームａの一部を受光した光量である照射光量検出信号ｍとレーザパワー検出回路１１の出力信号ｐの電圧を示す。レーザパワー検出回路１１では、入力される照射光量検出信号ｍの再生時の正常光量検出信号レベルｍ１に対して上記レーザ光源１の異常発光を検出するためのスライスレベルｎ１が設定されており、上記照射光量検出信号ｍが異常発光スライスレベルｎ１以上となった場合にレーザパワー回路１１の出力信号ｐをＨＩ電圧として、上記レーザパワー回路１１の出力信号ｐがＨＩ電圧となった場合にレーザ光源１の発光を停止させる。これにより、主に書き換え型の光ディスクにおいて発生するレーザ光源１の異常発光による記録データの破壊等の問題を防止する。
【００１７】
ところで、光ディスクの欠陥を検出する場合、誤検出をせず安定的な検出をすることが必要とされている。このような従来技術では、反射光検出器８を用いて、反射光量の直流成分の変動に応じて欠陥のスライスレベルを可変することにより欠陥の検出を精度良く行おうとする技術がある（例えば、特許文献１参照）。
【００１８】
【特許文献１】特開平７−１４１７０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
ところが、光ディスク６が例えばポリカーボネート樹脂材料を用いてインジェクション工法により成形される場合、光ディスク６にひずみが残り、光学的に異方的になり光の複屈折を生じる欠陥が局所的に形成されてしまうことがある。複屈折欠陥部においては、レーザビームａが光ディスク６で反射される際に複屈折を生じることにより、１／４波長板４を介して再びビームスプリッタ３に入射されるレーザビームｂはＰ偏光成分が多く(約２０％程度)残った光となる。これにより、レーザビームｂのＰ偏光成分はそのままコリメータレンズ２を通るため、レーザ光源１に戻るレーザビームｄの量が増加することとなる。
【００２０】
このときの、光ディスク装置の動作を図１２を用いて説明する。図１２において横軸は時間、縦軸は照射光量検出信号ｍとレーザパワー検出回路１１の出力電圧ｐ、反射光の光量である反射光量検出信号ｋを示す。複屈折欠陥部ｊ４において、反射光検出器８で検出されるレーザビームｃの光量には、複屈折によるＳ偏向成分の低下と、一方で上記レーザビームｄによる光共振作用により発生するレーザ光源１の発光レベルの増加が含まれることから、レーザビームａが複屈折欠陥部ｊ４を通過しても照射光量検出信号ｍにほとんど変化が現れない。
【００２１】
通常、光ディスク装置において、反射光検出器８の反射光量の変化は光ディスクの正常な部位においても約２０〜３０％程度変動するため、反射光検出器８を使用して欠陥の検出精度を向上させる上記特許文献１記載の従来技術では、上記複屈折欠陥による反射光量のわずかな変動を検出し欠陥として検出するのは困難である。
【００２２】
一方、複屈折欠陥によりＰ偏光成分が残ったレーザビームｂはビームスプリッタ３を通過してレーザビームｄとして残る。このレーザビームｄによる光共振作用により、レーザ光源１の発光レベルが大きく変化する。実際には通常１ｍＷ程度の照射光量検出信号ｍが２ｍＷ程度になってしまう。これにより、照射光検出器１０による照射光量検出信号ｍが変動する。レーザパワー検出回路１１では、１ｍＷ程度の照射光量検出信号ｍに対する異常発光スライスレベルｎ１は１．５ｍＷ程度に設定することが多いため、この期間は異常発光であるとして、レーザパワー回路１１の出力信号ｐがＨＩ電圧となり、レーザ駆動回路２１によるレーザ光源１の発光を停止させるまでに至ってしまう。
【００２３】
一旦レーザ光源１の発光が停止すると、再びレーザ光源１を発光させサーボ制御回路２０によりレーザビームａ３のフォーカス及トラッキング位置を制御し再生が可能な状態に復帰するまでに時間がかかるため、上記のような複屈折を含む欠陥が同じ光ディスクにおいて多発した場合には、データの再生が中断してしまう。特に画像ファイルのストリーム再生処理等のように時系列的な再生を行う際には、再生画像が中断してしまう等の問題が発生する。
【００２４】
すなわち、上記反射光検出器８では複屈折欠陥を検出できないため、レーザ光源１の発光停止を防ぐことが困難であり、従って、データの信号処理が中断してしまうという問題があった。
【００２５】
本発明は、光ディスクに反射光量の変化が生じにくい欠陥がある場合でも、安定したデータ再生が行える情報再生技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
上記課題を解決するため、本発明では、レーザビームを光ディスクに照射してデータを再生する際、光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、この照射光量検出信号に基づいて光ディスクの欠陥検出を行うこととする。
【００２７】
また、本発明では、レーザビームを光ディスクに照射してデータを再生する際、光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、光ディスクにより反射されるレーザビームの光量に応じた反射光量検出信号を出力し、照射光量検出信号及び反射光量検出信号に基づいて前記光ディスクの欠陥検出を行うこととする。
【００２８】
そして、光ディスクに欠陥があった場合でもレーザビームを光ディスクに照射し続けることとする。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、光ディスクに反射光量の変化が生じにくい欠陥がある場合でも、安定したデータ再生を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明を適用した実施例について図面を参酌して説明する。
【実施例１】
【００３１】
本発明を適用した第１の実施例である光ディスク装置の構成及び動作を図１、図７、図８を用いて説明する。図１は、本発明による第１の実施例である光ディスク装置の一実施例の構成を示す図である。図１は、図２で説明した従来の光ディスク装置の照射光検出器１０の後段に欠陥検出回路１２を新たに設けた構成となっている。本実施例では、重複した説明を避けるため、図２に示した光ディスク装置と異なる動作についてのみ説明する。
【００３２】
図７は欠陥検出回路１２の構成を示す図であり、例えば抵抗、コンデンサによる低域通過フィルタ２１とコンパレータ２２により構成されている。図８には上記欠陥検出回路１２の信号処理を示す。図８において、横軸は時間、縦軸はレーザビームａの一部を受光した光量である照射光量検出信号ｍとレーザパワー検出回路１１の出力信号ｐ、低域通過フィルタ２１の出力信号ｓ、コンパレータ２２の出力信号ｔを示す。
【００３３】
本構成により、複屈折欠陥が発生した場合には、図８（Ａ）に示すように、上記複屈折欠陥部ｊ４において照射光検出器１０における照射光量検出信号ｍが通常の１ｍＷに対して２ｍＷ程度にまで増加する。レーザパワー検出回路１１では異常発光スライスレベルｎ１が１．５ｍＷ相当に設定されており、上記ｊ４の期間は出力信号ｐはＨＩ電圧を出力する。欠陥検出回路１２では、複屈折欠陥のほとんどが時間長で２０μＳ以下であることより、低域通過フィルタ２１の時定数とコンパレータ２２の比較電圧ｒにより、入力されるレーザパワー検出回路１１の出力信号ｐの立ち上がり及び立下りに対して所定時間の約２０μＳの間は出力が変動しないように設定されている。これにより、上記複屈折欠陥部ｊ４においては、低域通過フィルタ２１の出力ｓが比較電圧ｒに到達しないため、欠陥検出回路１２の出力信号ｔはＬＯ電圧のままとなる。したがって、レーザ駆動回路２１はレーザ光源１を駆動しつづけることになり、複屈折欠陥時にレーザ光源１の発光を停止することを防止できる。なお、複屈折欠陥部の時間長は、光ディスク６がＤＶＤ(Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ)で２倍速再生したときの時間長であり、物理的な長さは約０．２ｍｍである。複屈折欠陥部の時間長は、光ディスクの種類、再生速度により変わるので、光ディスクの種類、再生速度に応じて所定時間を適宜設定するようにする。
【００３４】
これに対して、レーザパワー異常発光は主に信号処理回路、レーザ光源１を駆動するレーザ駆動回路等の回路動作異常等によるものであり、一旦発生すると２０μＳ以上継続するものがほとんどである。このため、図８（Ｂ）に示すように、１．５ｍＷを超える異常発光が発生した場合、２０μＳを超えた時点で低域通過フィルタ２１の出力信号ｓが比較電圧ｒ以上となりコンパレータ２２の出力信号ｔがＨＩ電圧となる。そして、レーザ駆動回路２１は、このＨＩ電圧を受けてレーザ光源１の発光を停止する。
【００３５】
つまり、上述したように照射光検出器１０の照射光量検出信号ｍの変化を用い、上記照射光量検出信号ｍが変化する時間に応じてレーザ光源１の発光のＯＮ／ＯＦＦを切り替えることにより、従来反射光検出器８では検出が困難であった複屈折欠陥を制度良く検出することが可能となる。したがって、上記欠陥検出回路１２の出力信号ｔをレーザ発光停止信号に基づいてレーザ駆動回路を制御すれば、上記複屈折欠陥部においては、レーザ光源１の発光停止を行わず、異常発光時には発生から２０μＳ後にレーザ光源１の発光を停止することが可能となる。通常、例えば光ディスク６がＤＶＤであった場合、ＤＶＤにおける欠陥レベルについては、１ＥＣＣブロック以内に２０μＳ以下であれば、信号処理回路による再生データのエラー訂正が可能であるため、上記２０μＳの間の異常発光により万一データを破壊するに至った場合でも再生性能に問題は生じない。
【００３６】
上記の構成を用いれば複屈折欠陥が多発した際にも、レーザ光源１の発光を停止することが無いため、安定したデータ再生が可能になる。特に画像ファイルのストリーム再生処理等のように時系列的な再生を行う際には、再生画像が中断しづらくなる。
【実施例２】
【００３７】
本発明を適用した第２の実施例である光ディスク装置の構成及び動作を図９、図１０、図１１を用いて説明する。図９は、本発明による第２の実施例である光ディスク装置の一実施例の構成を示す図である。本実施例でも、重複した説明を避けるため、図２に示した光ディスク装置と異なる動作についてのみ説明する。
【００３８】
図９において１８は欠陥検出回路、２３はエンベロープ検波回路である。図１０は上記上記欠陥検出回路１８の構成を示す図である。図１０において１５はＡＮＤ回路、１９はマスク回路である。図１１（Ａ）に上記複屈折欠陥部ｊ４発生時、図１１（Ｂ）にレーザ光源１の異常発光発生時におけるエンベロープ検波回路２３及び欠陥検出回路１８の信号波形を示す。図１１において横軸は時間、縦軸には上図よりレーザビームａの一部を受光した光量である照射光量検出信号ｍとレーザパワー検出回路１１の出力信号ｐの電圧、反射効用光検出器８が検出した反射光の光量である反射光量検出信号ｋ、エンベロープ検波回路２３の出力信号ｈ４の電圧、ＡＮＤ回路１５の出力信号ｕの電圧、マスク回路１９の出力信号ｖの電圧を示す。
【００３９】
本構成により、複屈折欠陥が発生した場合には図１１（Ａ）に示すように、上記複屈折欠陥部ｊ４において照射光検出器１０における照射光量検出信号ｍが通常の１ｍＷに対して２ｍＷ程度にまで増加する。レーザパワー検出回路１１では異常発光スライスレベルｎ１が１．５ｍＷ相当に設定されており、上記ｊ４の期間において出力信号ｐにＨＩ電圧が出力される。
【００４０】
一方、上記エンベロープ検波回路２３は、上記エンベロープ検波回路９に対して新たに、上側エンベロープｇ１の上部と下側エンベロープｇ２の下部の例えば４０％程度の位置に振幅増加検出用のスライスレベルｆ５、ｆ６が設定されており、正常な状態では入力される反射光量検出信号ｋの上側エンベロープｇ１及び下側エンベロープｇ２がこれらの間にあり出力信号ｈ４にはＨＩ電圧が出力され、振幅増加によりこれらの所定値を超えた場合にＬＯ電圧が出力される構成となっている。
【００４１】
これにより、複屈折欠陥部においては前述したように反射光検出器８で検出されるレーザビームｃの光量にほとんど変化が現れないため、出力信号ｈ４もＨＩ電圧のままとなる。ＡＮＤ回路１５では上記レーザパワー検出回路１１の出力信号ｐと上記エンベロープ検波回路２３の出力信号ｈ４の積をとり出力信号ｕを出力する。マスク回路１９では、レーザパワー検出回路１１の出力信号ｐに対して、上記ＡＮＤ回路１５の出力信号ｕがＨＩ電圧となる場合を常にＬＯ電圧とした出力信号ｖを出力する。これにより、上記複屈折欠陥部ｊ４においては、ＡＮＤ回路１５の出力信号ｕがＨＩ電圧となるため、上記マスク回路１９の出力信号ｖにはＬＯ電圧が出力される。レーザ駆動回路２１は、このＬＯ電圧に基づき、レーザ光源１を駆動しつづけるので、複屈折欠陥があってもレーザ光源１の発光を停止することがない。
【００４２】
これに対して、レーザパワー異常発光時には、図１１（Ｂ）に示すように、照射光検出器１０における照射光量検出信号ｍの変化量が１．５ｍＷ以上となり、レーザパワー検出回路１１における出力信号ｐには上記複屈折欠陥部ｊ４と同様にＨＩ電圧が出力される。一方で、通常光ディスク６の正常な部位においては、レーザ光源１の光量の変化と反射光量の変化は比例関係にあるため、上記エンベロープ検波回路２３における反射光量が増加し、スライスレベルｆ５、ｆ６をこえてしまうため出力信号ｈ４にはＬＯ電圧が出力される。これによりＡＮＤ回路１５により積をとった結果、出力信号ｕにはＬＯ電圧が出力されるためマスク回路１９の出力信号ｖにはレーザパワー検出回路１１の出力ＨＩ電圧がそのまま出力されることになる。従って、レーザ駆動回路２１は、このＨＩ電圧に基づいてレーザ光源１の駆動を停止するので、レーザ光源の発光が停止される。
【００４３】
つまり、上述したように照射光検出器１０の照射光量検出信号ｍの変化と、反射光検出器８の反射光量検出信号ｋの変化の両方を用いることにより、従来反射光検出器８のみでは検出が困難であった複屈折欠陥を制度良く検出することが可能となる。したがって、上記マスク回路１９の出力信号ｖをレーザ発光停止信号として用い、このレーザ発光停止信号に基づいてレーザ駆動回路２１の駆動を制御することで、上記複屈折欠陥部においては、レーザ光源１の発光停止を行わず、異常発光時には瞬時にレーザ光源１の発光を停止することが可能となる。このため上記実施例１で述べたような２０μＳの間の異常発光によるデータ破壊の可能性も発生しなくすることが可能となる。
【００４４】
上記の構成を用いれば複屈折欠陥が多発した際にも、レーザ光源１の発光を停止することが無いため、安定したデータ再生が可能になる。特に画像ファイルのストリーム再生処理等のように時系列的な再生を行う際には、再生画像が中断しづらくなる。
【００４５】
また、さらに上記ＡＮＤ回路１５の出力信号ｕを用いて、この信号がＨＩ電圧となる期間において、例えばレーザ光源１の発光量を任意の値だけ低下させる処理を行ったり、例えばＨＩ電圧となる期間に１／４波長板４の角度を変えるなどして照射光検出器９における光量が所定の値になるように操作すると、上記複屈折欠陥ｊ４期間が２０μＳ以上となった場合においても、記録データの破壊を伴わずにレーザ光源１の発光を一切停止させない構成が可能となる。
【００４６】
上記複屈折欠陥部に対応したデータ再生技術について説明したが、本発明は、複屈折欠陥に限らず、他の原因によって反射光用検出器で検出した反射光に変化が現れない欠陥に対しても対応できることは明らかである。
【００４７】
以上説明した欠陥検出回路の構成は、あくまでも一例である。反射光に変化が現れにくい欠陥を検出できる限り、以上説明したものと異なる回路構成であっても、本発明の権利範囲に含まれることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明を適用した第１の実施例である光ディスク装置の構成を示す図
【図２】従来の光ディスク装置の構成を示す図
【図３】入力レーザビームに対するビームスプリッタ３の作用を示す図
【図４】入力レーザビームに対する１／４波長板４の作用を示す図
【図５】エンベロープ検波回路９における光ディスクの欠陥検出方法を示す図
【図６】レーザパワー検出回路１１におけるレーザ異常発光の検出方法を示す図
【図７】欠陥検出回路１２の構成の実施例を示す図
【図８】欠陥検出回路１２の動作を示す図である。
【図９】本発明を適用した第２の実施例である光ディスク装置の構成を示す図
【図１０】欠陥検出回路１８の構成の実施例を示す図
【図１１Ａ】複屈折欠陥があった場合の欠陥検出回路１８の動作を示す図
【図１１Ｂ】レーザの異常発光があった場合の欠陥検出回路１８の動作を示す図
【図１２】複屈折欠陥部におけるエンベロープ検波回路９及びレーザパワー検出回路１１の動作を示す図
【符号の説明】
【００４９】
１  レーザ光源
２  コリメータレンズ
３  ビームスプリッタ
４  １／４波長板
５  対物レンズ
６  光ディスク
７  集光レンズ
８  反射光検出器
９  エンベロープ検波回路
１０  照射光検出器
１１  レーザパワー検出回路
１２  欠陥検出回路
１５  ＡＮＤ回路
１８  欠陥検出回路
１９  マスク回路
２０  サーボ制御回路
２１  低域通過フィルタ
２２  コンパレータ
２３  エンベロープ検波回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１２】
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