(57)【要約】【課題】記録パワーの適切な制御を容易に行える光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスクにデータを記録し、記録したデータに対応するスライスレベルが所定の範囲と対応するか否かにより、記録パワーの切り替えを行う。記録されたユーザデータに基づき、記録パワーの切り替えを行えることから、光ディスクの適宜の箇所での切り替えの判断が可能となり、適切な記録パワーでの記録を容易に行える。【選択図】図６
2005190528.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の記録パワーで、光ディスクにデータを記録する第１のデータ記録部と、
前記第１のデータ記録部で記録されたデータに対応するＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成部と、
前記ＲＦ信号生成部で生成されるＲＦ信号に基づき、このＲＦ信号を２値化するためのスライスレベルを生成するスライスレベル生成部と、
前記スライスレベル生成部で生成されるスライスレベルが所定の範囲と対応するか否かを判定するスライスレベル判定部と、
前記スライスレベル判定部によって前記スライスレベルが前記所定の範囲と対応しないと判定したときに、前記第１の記録パワーと異なる第２の記録パワーで、光ディスクにデータを記録する第２のデータ記録部と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記第１、第２の記録パワーが、前記光ディスクに配置された第１、第２の領域への記録を再生したＲＦ信号に基づいて決定される
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第１、第２の領域が、前記光ディスクの内径側、外径側それぞれに配置されている
ことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記スライスレベル判定部によるスライスレベルの判定が、前記光ディスクの所定箇所で行われる
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記所定箇所が、前記光ディスクの径方向に沿って配置されている
ことを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクへの記録、再生を行う光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクへの情報の記録、再生に光ディスク装置が用いられる。
光ディスクへの情報の記録は光ディスクに光を断続的に照射して光ディスク上に記録マークの列を形成することで行われる。記録マークとそれ以外の箇所との特性（例えば、反射率）の相違を利用して、情報を記録・再生する。光ディスクへの情報の書き込みの際には照射時の記録パワーが情報の記録に適した強度に保たれる。
ところで、光ディスクへの記録に適した記録パワーはその光ディスクの種別等により変動する。
このため、光ディスクに試験領域（ＰＣＡ（Power Calibration Area））を設け、この領域に記録パワーを変化させて試験的な記録を行い、この再生データから最適な記録パワーを決定するＯＰＣ（Optimum Power Control）が行われる。
なお、記録動作の中断・再開に関わらず光ディスク媒体全体での均一な特性の記録を可能とする技術が公開されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００２−２０８１３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、光ディスクに反りが生じる場合がある。この場合には、反りの大きい箇所では記録光と記録面とが垂直とならず、反りの小さい箇所と比べて、最適な記録パワーが異なることから、データ記録の品位が低下する可能性がある。このため、記録時に光ディスクからの反射光の強度を検知し、この検知結果に基づき記録パワーを補正する手法が用いられる。
しかしながら、この手法では、記録された信号自体をモニターしているわけではないので、信頼性に欠ける可能性がある。
上記に鑑み、本発明は記録パワーの適切な制御を容易に行える光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために、本発明に係る光ディスク装置は、第１の記録パワーで、光ディスクにデータを記録する第１のデータ記録部と、前記第１のデータ記録部で記録されたデータに対応するＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成部と、前記ＲＦ信号生成部で生成されるＲＦ信号に基づき、このＲＦ信号を２値化するためのスライスレベルを生成するスライスレベル生成部と、前記スライスレベル生成部で生成されるスライスレベルが所定の範囲と対応するか否かを判定するスライスレベル判定部と、前記スライスレベル判定部によって前記スライスレベルが前記所定範囲と対応しないと判定したときに、前記第１の記録パワーと異なる第２の記録パワーで、光ディスクにデータを記録する第２のデータ記録部と、を具備することを特徴とする。
光ディスクにデータを記録し、記録したデータに対応するスライスレベルが所定の範囲と対応するか否かにより、記録パワーの切り替えを行う。記録されたユーザデータに基づき、記録パワーの切り替えを行えることから、光ディスクの適宜の箇所での切り替えの判断が可能となり、適切な記録パワーでの記録を容易に行える。
【０００５】
（１）ここで、前記第１、第２の記録パワーが、前記光ディスクに配置された第１、第２の領域への記録を再生したＲＦ信号に基づいて決定されてもよい。
光ディスク中に設けられた記録パワー決定用の試験領域に記録を行うことで、試験用のデータを適宜に記録することが可能となり、より適正な記録パワーを求めることが可能となる。
【０００６】
前記第１、第２の領域が、前記光ディスクの内径側、外径側それぞれに配置されていても差し支えない。
光ディスクの半径方向での最適記録パワーの変化への対応が容易となる。
【０００７】
（２）前記スライスレベル判定部によるスライスレベルの判定が前記光ディスクの所定箇所で行われてもよい。
スライスレベルの判定を行う箇所を予め定めておくことで、スライスレベルの判定に要する処理を軽減できる。
【０００８】
前記所定箇所が、前記光ディスクの径方向に沿って配置されていても差し支えない。光ディスクの半径方向での最適記録パワーの変化への対応が容易となる。
【発明の効果】
【０００９】
以上説明したように、本発明によれば記録パワーの適切な制御を容易に行える光ディスク装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る、光ディスク装置１００の全体的な構成を示す図である。
この光ディスク装置１００は、光ディスクＤへのデータの記録および再生が可能である。
【００１１】
図２は、光ディスクＤの詳細を表す上面図である。
この光ディスクＤは、試験的な記録を行い適切な記録パワーを設定するための試験領域（ＰＣＡ：Power Calibration Area）Ａｉ、Ａｏを内周側、外周側それぞれに有する。この試験領域Ａｉ、Ａｏは、光ディスクＤ上に例えば、リング状の領域として設定され、ユーザによるデータの記録、再生を前提としない領域である。
【００１２】
この光ディスクＤ上の領域は、所定のゾーンに区分されるものとする。但し、この区分は光ディスク装置１００で行われる仮想的なものである。例えば、光ディスクＤのデータアドレスを用いて、その領域をいくつかに分割する。このときの分割数は、例えば、５〜１０である。
図２では、光ディスクＤの内周Ｃｉ（半径：ｒｉ），外周Ｃｏ（半径：ｒｏ）の間に記録面が形成され、その間が円周形状のゾーン境界Ｃ１〜Ｃ４（半径：ｒ１〜ｒ４）によって、ゾーン（領域）１〜５に区分されている。
また、このゾーン境界Ｃｉ、Ｃ１間、ゾーン境界Ｃ４、Ｃｏ間にそれぞれ試験領域Ａｉ、Ａｏが配置される。即ち、区分されたゾーンの最内周側、最外周側に試験領域Ａｉ、Ａｏが配置されるように円周Ｃ１〜Ｃ４が設定されている。但し、これは絶対的なものではなく、試験領域Ａｉ、Ａｏを他のゾーンに配置することも可能である。
【００１３】
図２には、光ディスクＤの半径ｒと記録面の高さｈの関係を表すグラフの一例が示されている。この光ディスクＤの内周近傍では、高さｈがほほ一定で反りが小さく、外周側で高さｈが変化し反りも大きくなっている。
光ディスクＤの反りがこのように、光ディスクＤの半径ｒとある程度対応することから、半径ｒに対応して光ディスクＤのゾーンが区分される。
【００１４】
図１に示すように、光ディスク装置１００は、全体の動作を制御するシステム制御部１０１と、このシステム制御部１０１の制御用のプログラムや各種パラメータなどがファームウェアとして格納されたＲＯＭ１０２と、システム制御部１０１の作業領域として用いられるＲＡＭ１０３とを備える。
【００１５】
この光ディスク装置１００は、光ディスクＤに対する情報の書き込み及び読み出しを行う光ピックアップ１１１を有している。この光ピックアップ１１１は、レーザ光源ＬＤと、光検出器ＰＤと、レーザ光源ＬＤからの出射レーザを光ディスクＤの記録面に集光し、かつ光ディスクＤの記録面からの反射光を光検出器ＰＤの受光面に導く光学系（図示せず）を有する。
この光ディスク装置１００は、この光ピックアップ１１１を光ディスクＤの半径方向に搬送駆動するフィードモータ１１２と、光ディスクを回転駆動するディスクモータ１１３とを備える。
【００１６】
この光ディスク装置１００は、変調・書き込み制御回路１２１、レーザ光源ＬＤを駆動するレーザ駆動回路１２２、ＲＦアンプ１２３、信号処理回路１３０を備える。
光ディスクＤへのデータ記録時には、誤り訂正用のパリティの付加およびスクランブル処理が行われた記録用データが、変調・書き込み制御回路１２１へ送られる。変調・書き込み制御回路１２１は、記録用のデータを変調した後、記録レーザ光を制御する信号波形を生成する。この信号波形の生成は、システム制御部１０１で設定されたライトストレジ用のパラメータ（たとえば、レーザパワー値（記録パワーに対応）、レーザ照射時間、照射タイミングなど）に基づいて行われる。このようにして生成された信号波形はレーザ駆動回路１２２に送られる。レーザ駆動回路１２２は、この信号波形に応じた駆動信号を生成してレーザ光源ＬＤに供給する。これによってレーザ光源ＬＤが駆動され、光ディスクＤの記録面に記録マークが形成される。
【００１７】
光ディスクＤからのデータ再生時には、光検出器ＰＤからの出力に基づきＲＦアンプ１２３でＲＦ信号が生成されて信号処理回路１３０に送られる。信号処理回路１３０は、ＲＦ信号の２値化（データスライス）などの信号処理を行う回路である。信号処理回路１３０でＲＦ信号が２値化され、２値化信号が得られる。
【００１８】
図３は、信号処理回路１３０の内部構成を表すブロック図である。また、図４は、ＲＦ信号と２値化信号とを対比して表すタイミングチャートである。
信号処理回路１３０は、スライサ１３１，積分器１３２，比較器１３３を有する。
スライサ１３１には、ＲＦ信号とスライス信号（「データスライサ信号」ともいう）が入力され、２値化信号が出力される。スライサ１３１は、ＲＦ信号とスライス信号とを比較して、ＲＦ信号がスライス信号よりも大きければ２値化信号をＨ（Ｈｉｇｈ）レベルとし、ＲＦ信号がスライス信号よりも小さければ２値化信号をＬ（Ｌｏｗ）レベルとする。即ち、スライス信号は、ＲＦ信号を２値化するための境界（スライスレベル）を規定する信号である。後述するように、スライス信号は２値化信号から生成される。
２値化信号は、信号処理回路１３０から出力されると共に、積分器１３２で積分される。この積分の結果は比較器１３３に入力され、基準積分値と比較され、スライス信号が出力され、スライサ１３１での処理に利用される。
【００１９】
このように、信号処理回路１３０は一種のフィードバックループを形成し、ＲＦ信号から適切な２値化信号が得られるように、スライス信号を自動的に調節し、スライスレベル生成部として機能する。
スライス信号の調節は、２値化信号の“Ｈ”期間と“Ｌ”期間とが等しくなるように行われる。これは、記録用のデータに基づいてレーザ光源ＬＤが駆動される際に、レーザ光源ＬＤのＯＮ／ＯＦＦの頻度が等しくなるようにデータが加工されることに基づく。
図４では、スライス信号はＲＦ信号の上下のピークの中央付近に固定されている。しかしながら、スライス信号はいつもこのようになるとは限らず、記録時におけるレーザ光源ＬＤからの光強度（記録パワー）や光ディスクＤの反り、材質、製造工程等によって変動する。
【００２０】
図５は、ＲＦ信号、スライス信号を記録マークの列と対比して表すタイミングチャートである。
ここでは、光ディスクＤ上に長短の記録マークＭ１，Ｍ２の列が形成されている。この記録マークＭ１，Ｍ２は、レーザ光源ＬＤからの照射時間の長短（例えば、それぞれ１４Ｔ，３Ｔ）に対応する。光ディスクＤが略一定速度で回転していることから、照射時間の長短に応じて記録マークの長さの長短が決定される。
【００２１】
光ディスクＤの再生時には、この記録マークに応じてＲＦ信号が生成される。図５では、記録マークＭ１、Ｍ２それぞれに対応するＲＦ信号のピークの高さが異なっている。既述のように、スライス信号は２値化信号のＨとＬの出現頻度が等しくなるように定められ、その結果、スライス信号の強度（スライスレベル）が、ＲＦ信号の中心レベル（ＲＦ信号の最大値、最小値の中央のレベル）から変化している。
図５ではスライスレベルが中心レベルから上昇した場合を示しているが、スライスレベルが中心レベルより下降する場合もある。
【００２２】
スライスレベルが中心レベルから大きくずれると、ＲＦ信号を２値化したときにデータの誤りが生じる可能性が大きくなる。このため、スライスレベルが所定の基準（基準スライスレベル）になるように、最適な記録パワーを設定する。このときの基準スライスレベルは、図５のＲＦ信号の中心レベルまたはそれに近い値を採用することができる。
光ディスクＤに最適記録パワーで記録を行うことで再生時のデータの誤りを低減できる。
【００２３】
（光ディスク装置１００の動作）
図６は、光ディスク装置１００によって記録パワーとゾーンとの対応関係を設定する手順の一例を表すフロー図である。
この設定は、通例、ユーザが新たな光ディスクＤを光ディスク装置１００に装着した場合に行われる。記録パワーとゾーンとの対応関係が設定された後は、同一の光ディスクＤに対して設定された対応関係に基づきデータの記録が行われる。このようにするには、例えば、試験領域Ａｉ、Ａｏに設定した対応関係の情報を書き込み、光ディスクＤが挿入されたときに光ディスク装置１００がこの情報を読み込むようにすればよい。
【００２４】
以下、図６に基づき、光ディスク装置１００で記録パワーとゾーンとの対尾関係を設定する手順を説明する。
（１）光ピックアップ（ヘッド）１１１が光ディスクＤの試験領域Ａｉに移動され、記録パワーを変化させて光ディスクＤへの記録を行う（ステップＳ１１）。この結果、光ディスクＤの試験領域Ａｉの記録面上に記録マークＭの列が形成される。
【００２５】
このときの記録パワーの変化範囲は、例えば、光ディスクＤの種別に対応したテーブルとして、ＲＯＭ１０２等に記憶させておけばよい。光ディスクＤの種別を判定して、この判定結果に基づきテーブルを参照することで、記録パワーの変化範囲を定めることができる。光ディスクの種別に応じて、最適記録パワーの範囲がある程度予想可能だからである。
【００２６】
記録パワーの変化は連続的、段階的のいずれで変化されても差し支えない。また、変化が降順、昇順、あるいはランダムのいずれでもよい。また、記録が連続した領域に行われず、飛び飛びの領域に行われても差し支えない。即ち、記録パワーとスライスレベルとの対応関係が求められるのであれば、記録の順序は適宜に変更可能である。
【００２７】
記録マークＭの列を形成することからレーザ光源ＬＤからの光の照射は断続的に行われる（ＯＮ／ＯＦＦされる）。形成される記録マークは、図５に示したような長短の記録マークが含まれていることが好ましい。
【００２８】
また、長さの長短が異なる記録マークの形成が同一の記録パワーで行われることが、記録パワーとスライスレベルとの対応を把握する上で好ましい。
但し、１つの記録マークの生成時において、レーザ光源ＬＤから出射される光の強度が時間的に変化することが許容される。光の照射パターンがある程度維持されれば、光強度に時間的な変化があっても、時間的な変化を捨象した記録パワーとして把握することが可能である。例えば、記録マークの形成の開始初期、終了直前のみ光強度が変化して、その間の変化が小さければ、この中間地点での光強度を記録パワーとして取り扱うことができる。
記録パワーとして、変調・書き込み制御回路１２１を制御するためのライトストラテジのパラメータ（レーザパワー値）を用いることができ、変調・書き込み制御回路１２１の制御との関係が明確となる。
【００２９】
なお、光ディスクＤへの記録の際に、記録を行った光ディスクＤ上のアドレスとそのときの記録パワーの対応関係の情報をＲＡＭ１０３等に記憶させておくことが好ましい。後のステップＳ１２で、記録パワーとスライスレベルとの対応関係を求めるためである。
【００３０】
（２）光ディスクＤの試験領域Ａｉから記録を再生し、記録パワーを決定する（ステップＳ１２）。
記録を再生することでスライスレベルの情報を取得し、この光ディスクＤにおける記録パワーとスライスレベルとの関係を求めることができる。既述のように、スライスレベルは信号処理回路１３０から出力されるスライス信号に対応する。また、ステップＳ１１で記憶させた対応関係の情報を参照することで、再生を行った箇所のアドレスから記録時の記録パワーを求められる。このようにして、記録パワーとスライスレベルとの関係が求められる。求められたスライスレベルと基準（基準スライスレベル）と対応に基づき記録パワーを決定できる。例えば、スライスレベルと基準スライスレベルとが一致する箇所から最適記録パワーを決定できる。
【００３１】
以上のように、内周領域（試験領域Ａｉ）で、ＯＰＣ（Optimum Power Control）が行われ、内周側記録パワーＰｉが決定される。即ち、ＯＰＣは、ディスク記録の際の記録パワーを決める仕組みである。ＯＰＣでは、通例、記録パワーを数段階変化させて記録を行い、この後に記録データの再生してスライスレベルを求め、ＲＦ信号の中点に最も近い記録パワーを最適パワーとして採用する。
【００３２】
（３）内周側記録パワーＰｉでデータが記録される（ステップＳ１３）。
ここで記録されるデータはユーザが適宜に記録するためのユーザデータであり、試験のためのデータである必要はない。即ち、このステップＳ１３はユーザが光ディスク装置１００にユーザデータの記録を指示する（例えば、記録開始の指令を入力する）ことに伴って行われる。
この記録は内周側のゾーンから外周側のゾーンへと順に行われる。
【００３３】
（４）ゾーン境界Ｃ１〜Ｃ４であるか否かが判断される（ステップＳ１４）。この判断は、例えば、ゾーン境界Ｃ１〜Ｃ４と光ディスクＤのアドレスとの対応関係をＲＯＭ１０２に記憶させておき、これと記録するアドレスとを比較することで行える。
この判断がＹｅｓとなるのは、例えば、第１ゾーンへの記録が終了し、ゾーン境界Ｃ１（第１、第２ゾーンの境界）に達したときである。
【００３４】
（５）ステップＳ１４での判断がＹｅｓであればスライスレベルが基準範囲内であるかが判断される（ステップＳ１５）。
このとき、ユーザデータの記録を一時的に中断し、中断した直前のアドレスにアクセスし、データを再生する。このデータ再生時に信号処理回路１３０から出力されるスライスレベル（シンメトリ）をＲＦ信号の中心レベルと比較して、このずれ量が基準内（許容範囲）であるか否かを判定する。この基準範囲は、例えば、ＲＯＭ１０２等に上限、下限を予め記憶させておいたものを用いることができる。
この場合、ゾーン境界Ｃ１〜Ｃ４でデータの記録を一時的に中断することから、データの繋ぎ目が発生する。しかし、ロスレスリンク等を行うことでデータ再生時のエラーの発生を抑えることができる。
【００３５】
なお、このときに記録されるデータは試験用のデータではなく、ユーザデータであることから、記録パワーの決定に適するように、形成する記録マークＭを任意に調節することは困難である。しかしながら、記録マークＭの長短の双方が有る程度出現することが保証されるのが通例なので、このときのスライスレベルを用いて、記録パワーの切り替え判断を行える。
【００３６】
（６）ステップＳ１５での判断がＹｅｓであればデータの記録が続行され（ステップＳ１３）、例えば、第２ゾーンへの記録も第１ゾーンと同様に内周側記録パワーＰｉで行われる。
一方、ステップＳ１５での判断がＮｏであれば外周側記録パワーＰｏが決定される（ステップＳ１６，Ｓ１７）。
例えば、図２の光ディスクＤでは、ゾーン境界Ｃ２，Ｃ３で、ディスクＤの反りが大きくなっていることから、ゾーン境界Ｃ３において、スライスレベルが基準範囲から逸脱している。
即ち、外周領域（試験領域Ａｏ）で、ＯＰＣ（Optimum Power Control）が行われ、外周側記録パワーが決定される。この決定内容は、ステップＳ１１，Ｓ１２と実質的に同様なので、その詳細を省略する。
【００３７】
（７）その後、データの記録が再開され、外周側記録パワーＰｏでデータが記録される（ステップＳ１８）。
図２の光ディスクＤでは、ゾーン３以降でのデータの記録に外周側記録パワーＰｏが用いられる。
【００３８】
以上のようにして、ゾーン対応する記録パワーでデータの記録が行われる。
図７は、ゾーンと記録パワーとの関係の一例を表すグラフである。ゾーン１〜３までは内周側記録パワーＰｉで、ゾーン４，５は外周側記録パワーＰｏでデータが記録される。このように、ゾーンに対応して記録パワーを変化させることで、光ディスクＤの反り等による最適記録パワーの変化に対応することができる。
【００３９】
本実施形態では、光ディスクＤを５ゾーンに区分して、その境界でのスライスレベルから記録パワーの切り替えの要否を判断しているが、この区分の数は適宜に変更することができる。また、この境界の間隔も適宜に変更できる。例えば、内周付近では間隔を広く、外周付近では間隔を狭くすることもできる。このようにすると、ディスクＤの反りと半径との対応関係の傾向を利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置を表すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る光ディスクを表す模式図である。
【図３】光ディスク装置の信号処理回路の内部構成例を表すブロック図である。
【図４】ＲＦ信号、スライスレベル、および２値化信号の対応関係を表すタイミングチャートである。
【図５】スライスレベルの変化を表すタイミングチャートである。
【図６】光ディスク装置の動作手順の一例を表すブロック図である。
【図７】ゾーンと記録パワーとの関係の一例を表すグラフである。
【符号の説明】
【００４１】
１００…光ディスク装置、１０１…システム制御部、１０２…ＲＯＭ、１０３…ＲＡＭ、１１１…光ピックアップ、１１２…フィードモータ、１１３…ディスクモータ、１２１…制御回路、１２２…レーザ駆動回路、１２３…アンプ、１３０…信号処理回路、１３１…スライサ、１３２…積分器、１３３…比較器、Ｄ…光ディスク、ＬＤ…レーザ光源、ＰＤ…光検出器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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