(57)【要約】【課題】照合印影画像と登録印影画像との局所的な相違を検出し、印鑑照合の精度を向上すること。【解決手段】スキャナ２が印鑑の印影画像を入力し、印影画像を切出した照合印影画像を前処理部４が生成し、重ね合わせ処理部５が、照合印影画像に対応する登録印影画像を登録画像記憶部６から読み込む。重ね合わせ処理部５はさらに照合印影画像と登録印影画像とを重ね合わせた重複画像を生成する。そして、相違検出部７が重複画像に基づいて照合印影画像と登録印影画像との形状が一致しない相違部分を検出する。また、マスクパターン処理部９が相違部分を複数の領域に分割し、各領域に対する相違部分の割合を示す相違割合を順次算出し、判断部８が相違割合をもとにして照合印影画像と登録印影画像との一致・不一致を判定する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合装置であって、
前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出手段と、
前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出手段と、
前記特徴量算出手段が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする印鑑照合装置。
【請求項２】
前記特徴量算出手段は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における前記相違部分の画素数を算出し、前記画素数を前記領域に含まれる全画素数で除算した相違割合を順次算出し、該算出した相違割合を前記特徴量とすることを特徴とする請求項１に記載の印鑑照合装置。
【請求項３】
前記特徴量算出手段は、前記相違部分から所定以上の面積を有する相違形状を抽出し、該相違形状の面積値を前記特徴量として出力することを特徴とする請求項１に記載の印鑑照合装置。
【請求項４】
照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合方法であって、
前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出工程と、
前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出工程と、
前記特徴量算出工程が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定工程と、
を含んだことを特徴とする印鑑照合方法。
【請求項５】
照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合方法をコンピュータに実行させる印鑑照合プログラムであって、
前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出手順と、
前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出手順と、
前記特徴量算出手順が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定手順と、
を含んだことを特徴とする印鑑照合プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合装置、印鑑照合方法および印鑑照合プログラムに関し、類似した照合印影画像と登録印影画像とを重ね合わせた際に、効率良く相違部分を発見し、照合することができる印鑑照合装置、印鑑照合方法および印鑑照合プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、銀行などで行われる印鑑照合を自動化すべく、印鑑照合装置が考案されてきた。この印鑑照合装置は、スキャナ等の入力装置から読み込んだ印鑑の照合印影画像と予め登録した登録印影画像とを比較することで、照合印影画像と登録印影画像とが同一の印鑑から得られた印影であるか否かを自動的に判別することができる。
【０００３】
この従来の印鑑照合装置において利用される具体的な手法の一つとして、ベクトル演算を用いて印鑑照合があった（例えば、特許文献１参照。）。この特許文献１に開示された印鑑照合装置は、照合印影画像および登録印影画像から濃淡画像をそれぞれ作成し、濃淡画像の濃度値に基づいてベクトル演算を行ない、照合率を算出することで、位置ずれやかすれ等による影響を受けにくくしていた。
【０００４】
また、特許文献２に開示された印鑑照合装置では、照合印影画像と登録印影画像との位置ずれなどを防止すべく、それぞれの画像を複数のブロックに分割し、各ブロックごとに相関画像を作成した後、その相関画像の極大値を持つ画素と該画素の近傍画素のみに画素値を付与した補間極大値画像を作成し、この補間極大値画像を各ブロックについて加算した累積値画像に基づいて、印鑑の照合をおこなっていた。
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−２０２５１４号公報
【特許文献２】特開平９−２８８７３４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の印鑑照合装置は全体の相違量に着目しているので、相違が局所的な場合には正確な判定ができなかった。具体的には、照合印影画像と登録印影画像を重ね合わせた際に、局所的に大きな相違量が存在する場合、全体の相違量をもとに判定する従来の印鑑照合装置では、局所的には相違量が大きくとも全体としての相違量が少ないために、照合印影画像と登録印影画像が一致する、と誤判定を下すこととなる。
【０００７】
すなわち、従来の印鑑照合装置では印鑑照合の精度が低いという問題点があり、特に相違が局所的な印影に対する正確な判定を実現し、照合精度を向上することが非常に重要な課題となっていた。
【０００８】
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消し、課題を解決するためになされたものであり、局所的な相違を検出することで照合精度を向上した印鑑症状装置、印鑑照合方法および印鑑照合プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１の発明に係る印鑑照合装置は、照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合装置であって、前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出手段と、前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出手段と、前記特徴量算出手段が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１０】
この請求項１の発明によれば、印鑑照合装置は、照合印影画像と登録印影画像との重複画像を作成し、重複画像において照合印影画像と登録印影画像とが一致しない相違部分を検出し、検出した相違部分から局所的な特徴を示す特徴量を算出し、算出された特徴量に基づいて照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定する。
【００１１】
また、請求項２の発明に係る印鑑照合装置は、請求項１の発明において、前記特徴量算出手段は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における前記相違部分の画素数を算出し、前記画素数を前記領域に含まれる全画素数で除算した相違割合を順次算出し、該算出した相違割合を前記特徴量とすることを特徴とする。
【００１２】
この請求項２の発明によれば、印鑑照合装置は、重複画像を複数の領域に分割して各領域における相違部分の画素数を算出し、画素数を各領域における全画素数で除算した相違割合を順次算出するマスクパターン処理をおこなう。
【００１３】
また、請求項３の発明に係る印鑑照合装置は、請求項１の発明において、前記特徴量算出手段は、前記相違部分から所定以上の面積を有する相違形状を抽出し、該相違形状の面積値を前記特徴量として出力することを特徴とする。
【００１４】
この請求項３の発明によれば、印鑑照合装置は、重複画像から相違部分を検出し、相違部分から所定以上の面積を有する相違形状を抽出し、相違形状の面積をもとに照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定する。
【００１５】
また、請求項４の発明に係る印鑑照合方法は、照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合方法であって、前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出工程と、前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出工程と、前記特徴量算出工程が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定工程と、を含んだことを特徴とする。
【００１６】
この請求項４の発明によれば、印鑑照合方法は、照合印影画像と登録印影画像との重複画像を作成し、重複画像において照合印影画像と登録印影画像とが一致しない相違部分を検出し、検出した相違部分から局所的な特徴を示す特徴量を算出し、算出された特徴量に基づいて照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定する。
【００１７】
また、請求項５の発明に係る印鑑照合プログラムは、照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合方法をコンピュータに実行させる印鑑照合プログラムであって、前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出手順と、前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出手順と、前記特徴量算出手順が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定手順と、を含んだことを特徴とする。
【００１８】
この請求項５の発明によれば、印鑑照合プログラムは、照合印影画像と登録印影画像との重複画像を作成し、重複画像において照合印影画像と登録印影画像とが一致しない相違部分を検出し、検出した相違部分から局所的な特徴を示す特徴量を算出し、算出された特徴量に基づいて照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定する。
【発明の効果】
【００１９】
請求項１の発明によれば、印鑑照合装置は、照合印影画像と登録印影画像との重複画像を作成し、重複画像において照合印影画像と登録印影画像とが一致しない相違部分を検出し、検出した相違部分から局所的な特徴を示す特徴量を算出し、算出された特徴量に基づいて照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定するので、局所的な相違を検出して高い精度で照合をおこなう印鑑照合装置が得られるという効果を奏する。
【００２０】
また、請求項２の発明によれば、印鑑照合装置は、重複画像を複数の領域に分割して各領域における相違部分の画素数を算出し、画素数を各領域における全画素数で除算した相違割合を順次算出するマスクパターン処理をおこなうので、局所的な相違を効果的に検出して高い精度で照合をおこなう印鑑照合装置が得られるという効果を奏する。
【００２１】
また、請求項３の発明によれば、印鑑照合装置は、重複画像から相違部分を検出し、相違部分から所定以上の面積を有する相違形状を抽出し、相違形状の面積をもとに照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定するので、局所的な相違を効率よく検出して高い精度で照合をおこなう印鑑照合装置が得られるという効果を奏する。
【００２２】
また、請求項４の発明によれば、印鑑照合方法は、照合印影画像と登録印影画像との重複画像を作成し、重複画像において照合印影画像と登録印影画像とが一致しない相違部分を検出し、検出した相違部分から局所的な特徴を示す特徴量を算出し、算出された特徴量に基づいて照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定するので、局所的な相違を効果的に検出して高い精度で照合をおこなう印鑑照合方法が得られるという効果を奏する。
【００２３】
また、請求項５の発明によれば、印鑑照合プログラムは、照合印影画像と登録印影画像との重複画像を作成し、重複画像において照合印影画像と登録印影画像とが一致しない相違部分を検出し、検出した相違部分から局所的な特徴を示す特徴量を算出し、算出された特徴量に基づいて照合印影画像と登録印影画像とが一致するか否かを判定するので、局所的な相違を効果的に検出して高い精度で照合をおこなう印鑑照合プログラムが得られるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下に添付図面を参照して、この発明に係る印鑑照合装置、印鑑照合方法および印鑑照合プログラムの好適な実施の形態を詳細に説明する。
【実施例１】
【００２５】
まず、本実施例１にかかる印鑑照合の概念について説明する。実施例１に示す印鑑照合装置は、印鑑照合の対象となる照合印影画像と予め登録した登録印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成した後、重複画像に対してマスクパターン処理を実行することで局所的な相違を検出する。
【００２６】
図１は、本実施例１にかかる印鑑照合装置の概要構成を示す概要構成図である。同図に示すように、印鑑照合装置１は、スキャナ２およびディスプレイ１５に接続され、スキャナ２で取り込んだ印影の画像を予め印鑑照合装置１に登録した印影の画像と比較して比較結果をディスプレイ１５に表示する。
【００２７】
また、印鑑照合装置１は、その内部に入力部３、前処理部４、重ね合わせ処理部５、登録画像記憶部６、相違検出部７、判定部８、マスクパターン処理部９および出力部１０を有する。
【００２８】
入力部３はスキャナ２で取り込んだ照合対象となる印鑑の印影画像を読み込み、読み込んだ印影画像を前処理部４に出力する。前処理部４は、入力された画像に対して印影部分の切出し処理を行い、図２に示す照合印影画像５０を生成する。さらに、前処理部４は生成した照合印影画像５０を重ね合わせ処理部５に出力する。
【００２９】
登録画像記憶部６は、予め登録された印影の画像を登録印影画像として記憶している。重ね合わせ処理部５は、前処理部４から照合印影画像５０が入力された場合に、入力された照合印影画像５０に対応する登録印影画像５１を登録画像記憶部６から読み出して、照合印影画像５０と登録印影画像５１とを重ね合わせた重複画像５２を作成する。
【００３０】
相違検出部７は、その内部に一致箇所検出部７ａおよび不一致箇所検出部７ｂを有する。一致箇所検出部７ａは、重複画像５２から照合印影画像５０と登録印影画像５１が一致する一致部分５３を切出す処理をおこなう。また、不一致箇所検出部７ｂは、重複画像５２から照合印影画像５０と登録印影画像５１が相違する不一致部分５４を切出す処理をおこなう。
【００３１】
判定部８は、相違検出部７によって切り出された一致部分５３および不一致部分５４をもとに照合印影画像５０と登録印影画像５１とが一致するか否かを判定する処理をおこなう。具体的には、判定部８は、その内部に一致率算出部８ａおよび一致箇所除去部８ｂを備えている。
【００３２】
一致率算出部８ａは、一致部分５３から一致画素数を算出するとともに不一致部分５４から不一致画素数を算出する。さらに一致率算出部８ａは、一致画素数を一致画素数と不一致画素数とを加算した加算値で除算し、一致率を算出する。すなわち、この一致率とは、印影全体における一致部分の比率を示す値である。判定部８は、この一致率が所定値に満たない場合、照合印影画像５０と登録印影画像５１とは一致しないと判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に出力する。
【００３３】
一方、一致率が所定値以上であれば、一致箇所除去部８ｂは、重複画像５２から一致箇所検出部８によって切出された一致部分５３を除去し、図２に示す不一致画像５５を生成してマスクパターン処理部９に出力する。
【００３４】
マスクパターン処理部９は、その内部にマスク内不一致箇所検出部９ａおよび相違割合算出部９ｂを有する。マスク内不一致箇所検出部９ａは、不一致画像５５に対して一定サイズのマスクを設定し、このマスクの位置を順次移動させてそれぞれのマスク位置における不一致画像５５の画素数を計数する処理をおこなう。また、相違割合算出部９ｂは、マスク内不一致箇所検出部９ａによって検出された画素数をマスク６６内に含まれる全ての画素数で除算した相違割合を算出し、判定部８に出力する。
【００３５】
すなわち、相違割合は、一定のマスク内における不一致部分の大きさを示す値であり、この値が大きいならば相違はそのマスク位置に集中して存在することとなる。判定部８は、この相違割合をもとに照合印影画像５０と登録印影画像５１とが一致するか否かを再び判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に表示する。
【００３６】
ここで、マスクパターン処理部９によるマスクパターン処理を、具体例を示して説明する。図３は、マスク内不一致箇所検出部９ａの処理を説明する説明図であり、図４は、相違割合算出部９ｂの処理を説明する説明図である。図３に示すように、マスク内不一致箇所検出部９ａは、不一致画像５５に対して所定サイズのマスク６６を設定してマスク内の画素数を計数する。マスク内の画素数の計数が終了したならば、マスク内不一致箇所検出部９ａは、図３に示すように、マスク位置を横方向に順次移動させ、それぞれのマスク内での画素数計数をおこなう。
【００３７】
さらに、マスクの横方向の移動が終了したならば、マスク内不一致箇所検出部９ａは、図３に示すようにマスク位置を縦方向にずらして同様の処理を繰り返す。このようにマスク位置を横方向および縦方向に順次移動させることで、不一致画像５５全体に対して局所的な相違を検出することができる。
【００３８】
一方、相違割合算出部９ｂは、図４に示すように、マスク内の不一致画素６７の数をマスク６６に含まれる全画素数で除することで不一致割合を算出する。図４においてマスク６６の大きさは一辺１２画素であるので、マスク６６全体の画素数は１４４画素となる。一方、マスク６６に含まれる不一致画素の数は８４画素であるので、相違割合は８４／１４４から５８％となる。
【００３９】
次に、印鑑照合装置１の処理動作について説明する。図５は、印鑑照合装置１の処理動作を説明するフローチャートである。同図に示すように、入力部３がスキャナ２で読み取った印鑑の印影画像を取り込んだならば（ステップＳ１０１）、前処理部４は入力された印影画像の印影領域の切出し処理を行い、生成した照合印影画像５０を重ね合わせ処理部５に出力する（ステップＳ１０２）。
【００４０】
その後、重ね合わせ処理部５は、入力された照合印影画像５０に対応する登録印影画像５１を選択し（ステップＳ１０３）、照合印影画像５０と登録印影画像５１とを重ね合わせた重複画像５２を生成する（ステップＳ１０４）。つづいて、相違検出部７が一致部分５３および不一致部分５４の切り出しをおこなう（ステップＳ１０５）。
【００４１】
その後、判定部８は、一致部分５３および不一致部分５４から一致率を算出し、一致率と所定値との比較をおこなう（ステップＳ１０６）。一致率が所定値未満の場合は（ステップＳ１０６，Ｎｏ）、判定部８は、照合印影画像５０と登録印影画像５１とが不一致であると判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ１０７）、処理を終了する。
【００４２】
一方、一致率が所定値以上である場合（ステップＳ１０６，Ｙｅｓ）、一致箇所除去部８ｂは、重複画像５２から一致部分５３を除去して不一致画像５５を作成し、マスクパターン処理部９に出力する（ステップＳ１０８）。さらに、マスクパターン処理部９は、不一致画像５５に対してマスク６６を設定し、マスク６６内の不一致画素を計数し（ステップＳ１０９）、相違割合を算出して判定部８に出力する（ステップＳ１１０）。
【００４３】
判定部８は、相違割合が所定の値以上であれば（ステップＳ１１１，Ｙｅｓ）、照合印影画像５０と登録印影画像５１とが不一致であると判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ１０７）、処理を終了する。
【００４４】
一方、相違割合が所定の値未満であれば（ステップＳ１１１，Ｎｏ）、マスクパターン処理部９は、不一致画像５５の全ての範囲に対して相違割合の算出が終了したか否かを判定し（ステップＳ１１２）、相違割合の算出が終了していない場合（ステップＳ１１２，Ｎｏ）、マスク６６の位置を移動させて（ステップＳ１１３）、不一致画素を計数する（ステップＳ１０９）。
【００４５】
これに対して、不一致画像５５の全ての範囲に対して相違割合の算出が終了したならば（ステップＳ１１２，Ｙｅｓ）、判定部８は、照合印影画像５０と登録印影画像５１とが一致すると判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ１１４）、処理を終了する。
【００４６】
このように、照合印影画像５０および登録印影画像５１から不一致画像５５を作成し、不一致画像５５に対してマスクパターン処理を実行することで、照合印影画像５０と登録印影画像５１との局所的な相違を検出して照合印影画像５０と登録印影画像５１とが一致するか否かを正確に判定することができる。
【００４７】
ところで、図５に示した処理フローでは、相違割合が所定値以上であることを一度でも検出した場合に印影が不一致であると判定しているが、例えば相違割合が所定値以上であることの検出回数が、予め設定した回数を越えた場合に不一致であると判定するように構成しても良い。
【００４８】
図６に相違割合が所定値以上になる回数を計数し、その計数結果に基づいて印鑑照合を行う場合の処理動作を示す。同図に示すように、入力部３がスキャナ２で読み取った印鑑の印影画像を取り込んだならば（ステップＳ２０１）、前処理部４は入力された印影画像の印影領域の切出し処理を行い、生成した照合印影画像５０を重ね合わせ処理部５に出力する（ステップＳ２０２）。
【００４９】
その後、重ね合わせ処理部５は、入力された照合印影画像５０に対応する登録印影画像５１を選択し（ステップＳ２０３）、照合印影画像５０と登録印影画像５１とを重ね合わせた重複画像５２を生成する（ステップＳ２０４）。つづいて、相違検出部７が一致部分５３および不一致部分５４の切り出しをおこなう（ステップＳ２０５）。
【００５０】
その後、判定部８は、一致部分５３および不一致部分５４から一致率を算出し、一致率と所定値との比較をおこなう（ステップＳ２０６）。一致率が所定値未満の場合は（ステップＳ２０６，Ｎｏ）、判定部８は、照合印影画像５０と登録印影画像５１とが不一致であると判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ２０７）、処理を終了する。
【００５１】
一方、一致率が所定値以上である場合（ステップＳ２０６，Ｙｅｓ）、一致箇所除去部８ｂは、重複画像５２から一致部分５３を除去して不一致画像５５を作成し、マスクパターン処理部９に出力する（ステップＳ２０８）。さらに、マスクパターン処理部９は、不一致画像５５に対してマスク６６を設定し、マスク６６内の不一致画素を計数し（ステップＳ２０９）、相違割合を算出して判定部８に出力する（ステップＳ２１０）。
【００５２】
判定部８は、相違割合が所定の値以上であれば、相違割合が所定の値以上となった回数を確認する（ステップＳ２１２）。相違割合が所定の値以上となった回数がｎ回に達したならば（ステップＳ２１２，Ｙｅｓ）、判定部８は、照合印影画像５０と登録印影画像５１とが不一致であると判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ２０７）、処理を終了する。
【００５３】
一方、相違割合が所定の値未満である場合（ステップＳ２１１，Ｎｏ）もしくは相違割合が所定の値以上となった回数がｎ回未満である場合（ステップＳ２１２，Ｎｏ）、マスクパターン処理部９は、不一致画像５５の全ての範囲に対して相違割合の算出が終了したか否かを判定する（ステップＳ２１３）。相違割合の算出が終了していない場合（ステップＳ２１３，Ｎｏ）、マスクパターン処理部９は、マスク６６の位置を移動させて（ステップＳ２１４）、不一致画素を計数する（ステップＳ２０９）。
【００５４】
これに対して、不一致画像５５の全ての範囲に対して相違割合の算出が終了したならば（ステップＳ２１３，Ｙｅｓ）、判定部８は、照合印影画像５０と登録印影画像５１とが一致すると判定し、出力部１０を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ２１５）、処理を終了する。
【００５５】
上述してきたように、本実施例１にかかる印鑑照合装置１では、照合印影画像５０および登録印影画像５１から不一致画像５５を作成し、不一致画像５５に対してマスクパターン処理を実行することで、照合印影画像５０と登録印影画像５１との局所的な相違を検出している。そのため、照合印影画像５０と登録印影画像５１との全体的な一致率が高い場合であっても、局所的な相違を高い精度で検出することができ、印影の照合精度を向上することができる。
【実施例２】
【００５６】
つぎに、本発明の実施例２について説明する。この実施例２では、照合印影画像と登録印影画像との相違を検出する場合に、照合印影画像の登録印影画像に対する相違と、登録印影画像の照合印影画像に対する相違とを識別して全体の一致・不一致を判定するように構成している。
【００５７】
図７は、本発明の実施例２にかかる印鑑照合装置２０の概要構成を説明する概要構成図である。同図に示すように、印鑑照合装置２０では、相違検出部２１は、一致箇所検出部２１ａ、照合印不一致箇所検出部２１ｂおよび登録印不一致箇所検出部２１ｃを有する。また、マスクパターン処理部２３は、マスク内照合印不一致箇所検出部２３ａ、マスク内登録印不一致箇所検出部２３ｂおよび比率割合算出部２３ｃを有する。その他の構成および動作は、実施例１に示した印鑑照合装置１と同様であるので同一の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【００５８】
まず、相違検出部２１による処理を説明する。図８は、相違検出部２１による処理を説明する説明図である。重ね合わせ処理部５が照合印影画像と登録印影画像とを重ね合わせた重複画像６０を出力した場合に、一致箇所検出部２１ａは、照合印影画像と登録印影画像とが一致する部分である一致部分６１を切出す処理をおこなう。
【００５９】
一方、照合印不一致箇所検出部２１ｂは、重複画像６０から、照合印影画像が登録印影画像に対して相違する部分である照合印不一致部分６２を切り出す処理をおこなう。また、照合印不一致箇所検出部２１ｃは、重複画像６０から、登録印影画像が照合印影画像に対して相違する部分である登録印不一致部分６３を切り出す処理をおこなう。
【００６０】
マスクパターン処理部２３は、不一致画像に対してマスクパターン処理を行う場合に、マスク内に含まれる照合印不一致部分６２の画素数と登録印不一致部分６３の画素数との比較を行う。図９は、マスク内に含まれる照合印不一致部分６２および登録印不一致部分６３の具体例を示す図である。
【００６１】
マスク内照合印不一致箇所検出部２３ａは、マスク６４に含まれる照合印不一致部分６２の画素数を計数し、照合印不一致画素数６２ａとして出力する。また、マスク内登録印不一致箇所検出部２３ｂは、マスク６４に含まれる照合印不一致部分６３の画素数を計数し、登録印不一致画素数６３ａとして出力する。
【００６２】
一方、比率割合算出部２３ｃは、照合印不一致画素数６２ａと登録印不一致画素数６３ａとの差分の絶対値を算出し、さらに算出した差分の絶対値を照合印不一致画素数６２ａと登録印不一致画素数６３ａとの和で除した値を比率割合として算出する。
【００６３】
この比率割合の分母（照合印不一致画素数６２ａと登録印不一致画素数６３ａとの和）は、マスク６４の内部に存在する不一致部分の総量であり、不一致部分が大きいほど大きい値をとる。また、比率割合の分子（照合印不一致画素数６２ａと登録印不一致画素数６３ａとの差分の絶対値）は、照合印不一致画素数６２ａが登録印不一致画素数６３ａに近いほど小さい値を取る。
【００６４】
したがって、比率割合は、照合印不一致部分６２と登録印不一致画素数６３のいずれかに不一致部分が集中するほど大きい値をとることとなり、不一致の偏りを示す指標となる。
【００６５】
この比率割合を利用して、マスク内に存在する相違が、照合印影画像のずれやかすれ、汚れなどに由来する相違であるか、照合印影画像と登録印影画像との形状の差に由来する相違であるかを峻別することができる。
【００６６】
たとえば、照合印影画像の形状が登録印影画像の形状と異なる場合、照合印影画像の登録印影画像に対する相違と、登録印影画像と照合印影画像に対する相違とがそれぞれ発生する。その結果、比率割合の値は小さくなる。
【００６７】
一方、照合印影画像にずれやかすれ、汚れなどが生じた場合、照合印影画像の登録印影画像に対する相違と、登録印影画像と照合印影画像に対する相違とのいずれか一方が特徴的に発生する。その結果、比率割合は比較的大きい値をとることとなる。
【００６８】
したがって、照合陰影画像および録印影画像から比率割合の値を算出し、この値をもとに印影全体の一致・不一致を判定することで、印影のかすれや汚れなどによる相違と印影の形状差による相違とを峻別し、局所的な形状の相違を検出して照合をおこなうことができる。
【００６９】
つぎに、印鑑照合装置２０の処理動作を説明する。図１０は、印鑑照合装置２０の処理動作を説明するフローチャートである。同図に示すように、入力部３がスキャナ２で読み取った印鑑の印影画像を取り込んだならば（ステップＳ３０１）、前処理部４は入力された印影画像の印影領域の切出し処理を行い、生成した照合印影画像を重ね合わせ処理部５に出力する（ステップＳ３０２）。
【００７０】
その後、重ね合わせ処理部５は、入力された照合印影画像に対応する登録印影画像を選択し（ステップＳ３０３）、照合印影画像と登録印影画像とを重ね合わせた重複画像６０を生成する（ステップＳ３０４）。つづいて、相違検出部２１が一致部分６１、照合印不一致部分６２および登録印不一致部分６３の切り出しをおこなう（ステップＳ３０５）。
【００７１】
その後、判定部８は、一致部分６１、照合印不一致部分６２および登録印不一致部分６３から一致率を算出し、一致率と所定値との比較をおこなう（ステップＳ３０６）。一致率が所定値未満の場合（ステップＳ３０６，Ｎｏ）、判定部８は、照合印影画像と登録印影画像とが不一致であると判定し、出力部１４を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ３０７）、処理を終了する。
【００７２】
一方、一致率が所定値以上である場合（ステップＳ３０６，Ｙｅｓ）、一致箇所除去部８ｂは、重複画像６０から一致部分６１を除去して不一致画像を作成し、マスクパターン処理部２３に出力する（ステップＳ３０８）。さらに、マスクパターン処理部２３は、不一致画像に対してマスク６４を設定し、マスク６４内の照合印不一致画素数６２ａを計数する（ステップＳ３０９）とともに、マスク６４内の登録印不一致画素数６３ａを計数する（ステップＳ３１０）。
【００７３】
その後、比率割合算出部２３ｃは、照合印不一致画素数６２ａおよび登録印不一致画素数６３ａから比率割合を算出して判定部８に出力する（ステップＳ３１１）。
【００７４】
判定部８は、比率割合が所定の値以下であれば（ステップＳ３１２，Ｙｅｓ）、照合印影画像と登録印影画像とが不一致であると判定し、出力部１４を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ３０７）、処理を終了する。
【００７５】
一方、比率割合が所定の値に比して大きければ（ステップＳ３１２，Ｎｏ）、マスクパターン処理部２３は、不一致画像の全ての範囲に対して比率割合の算出が終了したか否かを判定し（ステップＳ３１３）、比率割合の算出が終了していない場合（ステップＳ３１３，Ｎｏ）、マスクの位置を移動させて（ステップＳ３１４）、照合印不一致画素数６２ａを計数する（ステップＳ３０９）。
【００７６】
これに対して、不一致画像の全ての範囲に対して比率割合の算出が終了したならば（ステップＳ３１３，Ｙｅｓ）、判定部８は、照合印影画像と登録印影画像とが一致すると判定し、出力部１４を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ３１５）、処理を終了する。
【００７７】
上述してきたように、本実施例２にかかる印鑑照合装置２０では、照合印影画像と登録印影画像とを重ね合わせた重複画像から、照合印影画像の登録印影画像に対する相違と、登録印影画像の照合印影画像に対する相違とを検出し、マスクパターン処理時に不一致の偏りを示す指標である比率割合を利用することで、照合印影画像と登録印影画像との局所的な形状の相違を検出している。
【００７８】
そのため、照合印影画像にずれやかすれ、汚れなどがある場合であっても、かすれなどによる相違と形状の差による装置とを峻別し、印影の照合精度を向上することができる。
【００７９】
なお、本実施例２では、マスクパターン処理において比率割合が所定値以下であることを一度でも検出した場合に印影が不一致であると判定しているが、実施例１に示した相違割合の場合と同様に、比率割合が所定値以下であることの検出回数が、予め設定した回数を越えた場合に不一致であると判定するように構成しても良いことは言うまでもない。
【００８０】
また、実施例１および実施例２では、マスクパターン処理を行う場合に、マスク位置のそれぞれについて相違割合もしくは比率割合の値と所定値との比較を行い、相違割合の値が所定値以上となった場合、もしくは比率割合が所定以下となる場合には処理を終了していたが、本発明はこれに限定されるものではなく、たとえば不一致画像全体に対してマスクパターン処理を実行し、相違割合の最大値もしくは比率割合の最小値と所定値とを比較する構成としてもよい。
【００８１】
さらに、実施例１に示した相違割合と、実施例２に示した比率割合は、必ずしも単独で用いる必要は無く、相違割合と比率割合とを共に使用して照合を行う構成としてもよいことは言うまでもない。
【実施例３】
【００８２】
つぎに、本発明の実施例３について説明する。上述した実施例１および実施例２では、マスクパターン処理によって照合印影画像と登録印影画像との局所的な相違を検出したが、本実施例３では、平滑化処理を利用して局所的な相違を検出する印鑑照合装置について説明する。
【００８３】
図１１は、本発明の実施例３にかかる印鑑照合装置７０の概要構成を説明する説明図である。同図に示すように、印鑑照合装置７０は、判定部７１の内部に一致率算出部７１ａ、一致箇所除去部７１ｂに加えて平滑化処理部７１ｃを有し、マスクパターン処理部を有さない。その他の構成および動作は、実施例１に示した印鑑照合装置１と同様であるので同一の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【００８４】
この印鑑照合装置７０による照合処理の概念について、図１２を参照して説明する。印鑑照合装置７０は、まず、図１２に示すように照合印影画像８０と登録印影画像８１とを重ね合わせて重複画像８２を作成する。重複画像８２は、一致部分８３と不一致部部分８４とを有するので、重複画像８２から一致部分８３を除去することで、不一致画像８５を得ることができる。
【００８５】
さらに、不一致画像８５に対して平滑化処理を行うと、微細な相違が除去されて比較的大きな不一致部分（平滑化不一致部分８６）が残ることとなる。したがって、この平滑化処理後の平滑化不一致部分８６のサイズ（面積）を求め、平滑化不一致部分８６のサイズを所定の値と比較することで、照合印影画像８０と登録印影画像８１との局所的な相違に基づいた照合をおこなうことができる。
【００８６】
つぎに、印鑑照合装置７０の処理動作を説明する。図１３は、印鑑照合装置７０の処理動作を説明するフローチャートである。同図に示すように、入力部３がスキャナ２で読み取った印鑑の印影画像を取り込んだならば（ステップＳ４０１）、前処理部４は入力された印影画像の印影領域の切出し処理を行い、生成した照合印影画像８０を重ね合わせ処理部５に出力する（ステップＳ４０２）。
【００８７】
その後、重ね合わせ処理部５は、入力された照合印影画像８０に対応する登録印影画像８１を選択し（ステップＳ４０３）、照合印影画像８０と登録印影画像８１とを重ね合わせた重複画像８２を生成する（ステップＳ４０４）。つづいて、相違検出部７は、重複画像８２における一致部分８３および不一致部分８４の切り出しをおこなう（ステップＳ４０５）。
【００８８】
その後、判定部７１は、一致部分８３および不一致部分８４から一致率を算出し、一致率と所定値との比較をおこなう（ステップＳ４０６）。一致率が所定値未満の場合は（ステップＳ４０６，Ｎｏ）、判定部７１は、照合印影画像８０と登録印影画像８１とが不一致であると判定し、出力部１４を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ４０７）、処理を終了する。
【００８９】
一方、一致率が所定値以上である場合（ステップＳ４０６，Ｙｅｓ）、一致箇所除去部７１ｂは、重複画像８２から一致部分８３を除去して不一致画像８５を作成する（ステップＳ４０８）。平滑化処理部７１ｃは、この不一致画像８５に対して平滑化処理をおこない、平滑化不一致部分８６を作成する（ステップＳ４０９）。その後、判定部７１は、平滑化不一致部分８６のサイズを算出し（ステップＳ４１０）、算出したサイズの値を所定の値と比較する（ステップＳ４１１）。
【００９０】
平滑化不一致部分８６のサイズが所定の値以上であれば（ステップＳ４１１，Ｙｅｓ）、判定部２１は、照合印影画像８０と登録印影画像８１とが不一致であると判定し、出力部１４を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ４０７）、処理を終了する。
【００９１】
一方、平滑化不一致部分８６のサイズが所定の値未満であれば（ステップＳ４１１，Ｎｏ）、判定部２１は、照合印影画像８０と登録印影画像８１とが一致すると判定し、出力部１４を介して判定結果をディスプレイ１５に表示して（ステップＳ４１２）、処理を終了する。
【００９２】
なお、平滑処理によって複数の平滑化不一致部分が得られた場合、それぞれの平滑化不一致部分のサイズを算出し、算出したサイズの最大値と所定の値とを比較するようにしてもよいし、平滑化不一致部分のサイズの合計値と所定の値とを比較する構成であっても良い。
【００９３】
上述してきたように、本実施例３にかかる印鑑照合装置７０では、照合印影画像８０および登録印影画像８１から不一致画像８５を作成し、不一致画像８５に対して平滑化処理を実行することで、照合印影画像８０と登録印影画像８１との局所的な相違を検出している。
【００９４】
そのため、照合印影画像８０と登録印影画像８１との全体的な一致率が高い場合や、微細な相違が多い場合であっても、局所的な相違を高い精度で検出することができ、印影の照合精度を向上することができる。また、画像全体に対する処理によって局所的な相違を検出できるので、装置の構成を簡易化し、処理負荷を軽減することができる。
【００９５】
なお、上述した実施例１，２および３では、照合結果として「一致」「不一致」のいずれかを出力するように構成したが、本発明の利用はこれに限定されるものではなく、たとえば照合印影画像と登録印影画像との照合結果を「照合率」としてパーセンテージなどによって表示してもよい。
【００９６】
さらに、パーセンテージによって照合結果を出力する場合、例えば画像全体の照合率を一次処理として作成し、その後、上述した局所的な相違を求める処理を行って、一次処理の結果得られた照合率を修正する構成としてもよい。
【００９７】
一次処理の例としては、たとえば重ね合わせ処理によって得られた重複画像全体の画素数をもって、重複画像における一致画素数を除算すれば良い。具体的には、重複画像全体の画素数が５４９６画素であり、そのうち照合印影画像と登録印影画像とが一致した画素数が４３７６画素であった場合、一次処理による照合率は「４３７６÷５４９６」より「７９．６％」となる。この一次処理による照合率「７９．６％」に対し、局所的な相違の比率を用いて修正を行うことで、簡易かつ正確に印鑑の照合をおこなうことができる。
【産業上の利用可能性】
【００９８】
以上のように、本発明に係る印鑑照合装置、印鑑照合方法および印鑑照合プログラムは、高い照合精度が要求される印鑑の照合に適している。
【００９９】
（付記１）照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合装置であって、
前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出手段と、
前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出手段と、
前記特徴量算出手段が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする印鑑照合装置。
【０１００】
（付記２）前記特徴量算出手段は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における前記相違部分の画素数を算出し、前記画素数を前記領域に含まれる全画素数で除算した相違割合を順次算出し、該算出した相違割合を前記特徴量とすることを特徴とする付記１に記載の印鑑照合装置。
【０１０１】
（付記３）前記相違部分検出手段は、前記照合印影画像が前記登録印影画像に対して相違する部分である第１の相違箇所と、前記登録印影画像が前記照合印影画像に対して相違する部分である第２の相違箇所と、をそれぞれ検出し、前記相違算出手段は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における第１の相違箇所の画素数を示す第１の相違画素数と、第２の相違箇所の画素数を示す第２の相違画素数とを算出し、前記第１の相違画素数と前記第２の相違画素数との差分の絶対値を前記第１の相違画素数と前記第２の相違画素数との加算値で除算した相違比率を順次算出し、前記相違比率を前記特徴量とすることを特徴とする付記１に記載の印鑑照合装置。
【０１０２】
（付記４）前記特徴量算出手段は、前記相違部分から所定以上の面積を有する相違形状を抽出し、該相違形状の面積値を前記特徴量として出力することを特徴とする付記１に記載の印鑑照合装置。
【０１０３】
（付記５）前記相違部分検出手段は、前記照合印影画像と前記登録印影画像とが重なる一致部分をさらに検出し、前記特徴量算出手段は前記一致部分の画素数を示す一致画素数を算出し、前記判定手段は前記一致画素数が閾値以下である場合には前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致しないと判定することを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載の印鑑照合装置。
【０１０４】
（付記６）前記照合印影画像全体と前記登録印影画像全体との一致率を全体一致率として算出する全体一致率算出手段をさらに備え、前記判定手段は、前記特徴量算出手段が算出した特徴量と前記全体一致率とに基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定することを特徴とする付記１〜５のいずれか一つに記載の印鑑照合装置。
【０１０５】
（付記７）照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合方法であって、
前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出工程と、
前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出工程と、
前記特徴量算出工程が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定工程と、
を含んだことを特徴とする印鑑照合方法。
【０１０６】
（付記８）前記特徴量算出工程は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における前記相違部分の画素数を算出し、前記画素数を前記領域に含まれる全画素数で除算した相違割合を順次算出し、該算出した相違割合を前記特徴量とすることを特徴とする付記７に記載の印鑑照合方法。
【０１０７】
（付記９）前記相違部分検出工程は、前記照合印影画像が前記登録印影画像に対して相違する部分である第１の相違箇所と、前記登録印影画像が前記照合印影画像に対して相違する部分である第２の相違箇所と、をそれぞれ検出し、前記相違算出工程は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における第１の相違箇所の画素数を示す第１の相違画素数と、第２の相違箇所の画素数を示す第２の相違画素数とを算出し、前記第１の相違画素数と前記第２の相違画素数との差分の絶対値を前記第１の相違画素数と前記第２の相違画素数との加算値で除算した相違比率を順次算出し、前記相違比率を前記特徴量とすることを特徴とする付記７に記載の印鑑照合方法。
【０１０８】
（付記１０）前記特徴量算出工程は、前記相違部分から所定以上の面積を有する相違形状を抽出し、該相違形状の面積値を前記特徴量として出力することを特徴とする付記７に記載の印鑑照合方法。
【０１０９】
（付記１１）前記照合印影画像全体と前記登録印影画像全体との一致率を全体一致率として算出する全体一致率算出工程をさらに含み、前記判定工程は、前記特徴量算出工程が算出した特徴量と前記全体一致率とに基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定することを特徴とする付記７〜１０のいずれか一つに記載の印鑑照合方法。
【０１１０】
（付記１２）照合対象となる印影を照合印影画像として入力し、予め登録しておいた登録印影画像と前記照合印影画像とを重ね合わせた重複画像を作成し、該重複画像に基づいて照合を行う印鑑照合方法をコンピュータに実行させる印鑑照合プログラムであって、
前記重複画像における前記照合印影画像と前記登録印影画像との相違部分を検出する相違部分検出手順と、
前記相違部分の局所的な特徴を示す特徴量を算出する特徴量算出手順と、
前記特徴量算出手順が算出した特徴量に基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定する判定手順と、
を含んだことを特徴とする印鑑照合プログラム。
【０１１１】
（付記１３）前記特徴量算出手順は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における前記相違部分の画素数を算出し、前記画素数を前記領域に含まれる全画素数で除算した相違割合を順次算出し、該算出した相違割合を前記特徴量とすることを特徴とする付記１２に記載の印鑑照合プログラム。
【０１１２】
（付記１４）
前記相違部分検出手順は、前記照合印影画像が前記登録印影画像に対して相違する部分である第１の相違箇所と、前記登録印影画像が前記照合印影画像に対して相違する部分である第２の相違箇所と、をそれぞれ検出し、前記相違算出手順は、前記重複画像を複数の領域に分割し、各領域における第１の相違箇所の画素数を示す第１の相違画素数と、第２の相違箇所の画素数を示す第２の相違画素数とを算出し、前記第１の相違画素数と前記第２の相違画素数との差分の絶対値を前記第１の相違画素数と前記第２の相違画素数との加算値で除算した相違比率を順次算出し、前記相違比率を前記特徴量とすることを特徴とする付記１２に記載の印鑑照合プログラム。
【０１１３】
（付記１５）前記特徴量算出手順は、前記相違部分から所定以上の面積を有する相違形状を抽出し、該相違形状の面積値を前記特徴量として出力することを特徴とする付記１２に記載の印鑑照合プログラム。
【０１１４】
（付記１６）前記照合印影画像全体と前記登録印影画像全体との一致率を全体一致率として算出する全体一致率算出手順をさらに含み、前記判定手順は、前記特徴量算出手順が算出した特徴量と前記全体一致率とに基づいて前記照合印影画像と前記登録印影画像とが一致するか否かを判定することを特徴とする付記１２〜１５のいずれか一つに記載の印鑑照合プログラム。
【図面の簡単な説明】
【０１１５】
【図１】本実施例１にかかる印鑑照合装置の概要構成を示す概要構成図である。
【図２】印鑑照合に使用する画像の具体例を説明する図である。
【図３】図１に示したマスク内不一致箇所検出部の処理を説明する説明図である。
【図４】図１に示した相違割合算出部の処理を説明する説明図である。
【図５】図１に示した印鑑照合装置の処理動作を説明するフローチャートである。
【図６】相違割合が所定値以上になる回数を計数し、その計数結果に基づいて印鑑照合を行う場合の処理動作を説明するフローチャートである。
【図７】本発明の実施例２にかかる印鑑照合装置の概要構成を説明する概要構成図である。
【図８】図７に示した相違検出部による処理を説明する説明図である。
【図９】マスク内に含まれる照合印不一致部分および登録印不一致部分の具体例を示す図である。
【図１０】図７に示した印鑑照合装置２０の処理動作を説明するフローチャートである。
【図１１】本発明の実施例３にかかる印鑑照合装置７０の概要構成を説明する説明図である。
【図１２】平滑化を用いた照合処理の概念について説明する説明図である。
【図１３】図１１に示した印鑑照合装置の処理動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【０１１６】
１，２０，７０  印鑑照合装置
２    スキャナ
３    入力部
４    前処理部
５    重ね合わせ処理部
６    登録画像記憶部
７，２１    相違検出部
７ａ，２１ａ  一致箇所検出部
７ｂ  不一致箇所検出部
８，７１    判定部
８ａ，７１ａ  一致率算出部
８ｂ，７１ｂ  一致箇所除去部
９，２３    マスクパターン処理部
９ａ  マスク内不一致箇所検出部
９ｂ  相違割合算出部
１０，１４    出力部
１５    ディスプレイ
２１ｂ  照合印不一致箇所検出部
２１ｃ  登録印不一致箇所検出部
２３ａ  マスク内照合印不一致箇所検出部
２３ｂ  マスク内登録印不一致箇所検出部
２３ｃ    比率割合算出部
５０，８０    照合印影画像
５１，８１    登録印影画像
５２，６０，８２    重複画像
５３，６１，８３    一致部分
５４，８４    不一致部分
５５，８５    不一致画像
６２    照合印不一致部分
６２ａ  照合印不一致画素数
６３    登録印不一致部分
６３ａ  登録印不一致画素数
６４，６６    マスク
６７    不一致画素
７１ｃ  平滑化処理部
８６    平滑化不一致部分
【図１】
2005165383.tif 000003
【図２】
2005165383.tif 000004
【図３】
2005165383.tif 000005
【図４】
2005165383.tif 000006
【図５】
2005165383.tif 000007
【図６】
2005165383.tif 000008
【図７】
2005165383.tif 000009
【図８】
2005165383.tif 000010
【図９】
2005165383.tif 000011
【図１０】
2005165383.tif 000012
【図１１】
2005165383.tif 000013
【図１２】
2005165383.tif 000014
【図１３】
2005165383.tif 000015