(57)【要約】【要  約】【課  題】  導電性繊維を含んで構成された電磁波シールド被服のシールド状態を検査する新しい原理に基づく装置を提供することを目的とする。          【解決手段】  筐体と、電磁波シールド被服に近接して対向できるように前記筐体に検出コイルを設けるとともに、この検出コイルに導電体が近接することにより出力が変化するよう構成された近接センサと、この近接センサの出力によりオン・オフが制御されて、電磁波シールド被服の着用者に電磁波シールド被服のシールド状態を知らせる伝達手段と、前記検出コイルを収納している検出コイル収納部と、前記筐体の壁面から前記検出コイル収納部を出没自在とする手段と、前記検出コイル収納部が前記壁面と実質的に面一になった状態で、前記検出コイル収納部が前記壁面から突出する方向に所定の圧力をかける弾性体とを備える。【選択図】          図３
2005114619.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性繊維を含んで構成された電磁波シールド被服のシールド性能を検査する装置であって、
筐体と、
電磁波シールド被服に近接して対向できるように前記筐体に検出コイルを設けるとともに、この検出コイルに導電体が近接することにより出力が変化するよう構成された近接センサと、
この近接センサの出力によりオン・オフが制御されて、電磁波シールド被服の着用者に電磁波シールド被服のシールド状態を知らせる伝達手段と、
前記検出コイルを収納している検出コイル収納部と、
前記筐体の壁面から前記検出コイル収納部を出没自在とする手段と、
前記検出コイル収納部が前記壁面と実質的に面一になった状態で、前記検出コイル収納部が前記壁面から突出する方向に所定の圧力をかける弾性体と、
を備えたことを特徴とする電磁波シールド被服検査装置。
【請求項２】
前記所定の圧力を調整する手段を備えたことを特徴とする請求項１記載の電磁波シールド被服検査装置。
【請求項３】
前記近接センサは、前記検出コイルを発振の１素子として有する発振回路と、この発振回路の出力を積分する積分回路と、この積分回路の出力電圧と基準電圧とを比較する比較回路とを備えることを特徴とする請求項１記載の電磁波シールド被服検査装置。
【請求項４】
前記伝達手段として発光素子と、前記近接センサの出力によってスイッチング制御されるスイッチング素子とを設け、このスイッチング素子のオン・オフにより前記発光素子の点灯、消滅を制御することを特徴とする請求項１記載の電磁波シールド被服検査装置。
【請求項５】
導電性繊維を含んで構成された電磁波シールド被服のシールド性能を検査する方法であって、
導電体が近接することにより出力が変化するよう構成された近接センサの検出コイル収納部を、台上に置かれた電磁波シールド被服上に載せ、前記検出コイル収納部を前記電磁波シールド被服に所定の圧力で押し付けた状態で、前記近接センサによって電磁波シールド性能を検査することを特徴とする電磁波シールド被服検査方法。
【請求項６】
前記近接センサに設けた発振回路の出力を前記検出コイル収納部から磁界として出力して前記電磁波シールド被服に与え、これによって、前記電磁波シールド被服に渦電流を発生させ、この渦電流によって、前記磁界を打ち消す方向に磁界を発生させて、前記発振回路の発振出力を低下又は発振停止させることを特徴とする請求項５記載の電磁波シールド被服検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導電性繊維を含んで個性された被服のシールド性能を検査することにより当該被服の電磁波シールド性能の劣化を判別する装置及びその方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、特に携帯電話が送受する電波による人体への影響が問題になっており、特に心臓ペースメーカーを付けている人が混んだ電車内にいる時に、携帯電話が送受する電波が心臓ペースメーカーに悪影響を及ぼすことがある。この他にも、コンピュータなどの電子機器による人体への悪影響も無視できない状況にある。
そこで、この悪影響を除去する１つの手段として、導電性繊維を含んで構成された被服が開発され、これを着用することにより、電磁波から人体を保護することが実用化されている。当該被服は、例えば、ポリアミド系繊維を銀でメッキした繊維で作られている。この被服を洗濯機で何度も洗濯すると、銀が変質したり、剥がれ落ちたりして、シールド性能が劣化してくる。
【０００３】
そこで、この被服のシールド性能を検査するものとして、特許第３３０８９０９号公報に示されるように、当該被服に測定端子より電流を流し、測定端子間の抵抗値を測定し、測定値が所定の値より小さい場合、発光ダイオードを点灯して、当該被服のシール性能が良好であることを示し、前記測定値が所定値より大きい場合には発光ダイオードを点灯させずにおいて、被服のシールド性能が劣化していることを示すものが知られている。
【０００４】
このような、検査装置で被服のシールド性能を検査することにより、シールド効果の良好な被服を着用することができる。
【特許文献１】特許第３３０８９０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、上記特許に示される検査装置とは、全く原理の異なる電磁波シールド被服検査装置及びその検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明の電磁波シールド被服検査装置は、導電性繊維を含んで構成された電磁波シールド被服のシールド性能を検査する装置であって、筐体と、電磁波シールド被服に近接して対向できるように前記筐体に検出コイルを設けるとともに、この検出コイルに導電体が近接することにより出力が変化するよう構成された近接センサと、この近接センサの出力によりオン・オフが制御されて、電磁波シールド被服の着用者に電磁波シールド被服のシールド状態を知らせる伝達手段と、前記検出コイルを収納している検出コイル収納部と、前記筐体の壁面から前記検出コイル収納部を出没自在とする手段と、前記検出コイル収納部が前記壁面と実質的に面一になった状態で、前記検出コイル収納部が前記壁面から突出する方向に所定の圧力をかける弾性体と、
を備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、前記所定の圧力を調整する手段を備えたことを特徴とする。
また、前記近接センサは、前記検出コイルを発振の１素子として有する発振回路と、この発振回路の出力を積分する積分回路と、この積分回路の出力電圧と基準電圧とを比較する比較回路とを備えることを特徴とする。
また、前記伝達手段として発光素子と、前記近接センサの出力によってスイッチング制御されるスイッチング素子とを設け、このスイッチング素子のオン・オフにより前記発光素子の点灯、消滅を制御することを特徴とする。
【０００８】
また、導電性繊維を含んで構成された電磁波シールド被服のシールド性能を検査する方法であって、導電体が近接することにより出力が変化するよう構成された近接センサの検出コイル収納部を、台上に置かれた電磁波シールド被服上に載せ、前記検出コイル収納部を前記電磁波シールド被服に所定の圧力で押し付けた状態で、前記近接センサによって電磁波シールド性能を検査することを特徴とする。
【０００９】
さらに、前記近接センサに設けた発振回路の出力を前記検出コイル収納部から磁界として出力して前記電磁波シールド被服に与え、これによって、前記電磁波シールド被服に渦電流を発生させ、この渦電流によって、前記磁界を打ち消す方向に磁界を発生させて、前記発振回路の発振出力を低下又は発振停止させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の電磁波シールド被服検査装置は、近接センサを用いることにより、従来には無い新しい原理の検査装置及び検査方法を提供することができる。電磁波シールド被服の生地表面が非導電もしくは低導電性皮膜で覆われたものの場合であっても、近接センサを用いているので検査が可能であり、その実用的価値は大きい。
また、電磁波シールド被服に所定の圧力を加えた状態で検査を行えるようにしたので、何回も使用した電磁波シールド被服のシールド性能を正しく検査することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
第１図において、１は近接センサであり、検出コイル２とコンデンサ３からなる共振回路を持つ発振回路４と、この発振回路４の出力を積分する積分回路５と、積分回路５の出力を所定値と比較する比較回路６と、比較回路６の出力を処理する処理回路７と、これらの回路に定電圧を与える定電圧源８とより構成されている。なお、検出コイル２とコンデンサ３は発振回路４の一構成要素である。
【００１２】
処理回路７は、比較回路６の出力電圧の振幅、極性などを調整して、表示回路９に制御信号として加えるものである。表示回路９はトランジスタなどのスイッチング素子によって構成され、これに発光ダイオード等の発光素子１０が直列に接続されている。
表示回路９と発光素子１０との直列回路には電源スイッチ１１を介して直流電源プラグ１２より、直流電圧が印加されている。この直流電圧は定電圧源８に供給され、定電圧源８で直流定電圧となる。電源スイッチ１１とプラグ１２の直列回路には発光ダイオード等からなる発光素子１３と抵抗１４の直列回路が接続されている。
【００１３】
図１に示す回路は図２ａ，ｂに示す筐体１５に収納されている。筐体１５の天板１６に電源スイッチ１１、２個の発光素子１０，１３の一部が露出して設けられ、側板に電源プラグ１２の一部が露出して設けられている。また、筐体１５の底板１７には発振回路４の検出コイル２を前面に配置した近接センサ１のブロックが前面部を露出して設けられている。
【００１４】
検出コイル２は例えば、図５に示すように、フェライトコア２ａにコイル２ｂを巻回し、これにカバー２ｃを被せたものが使用される。
検査の対象となる被服は、例えば、直径が１０〜２５ミクロンのポリエステルの糸の回りに銀メッキを施し、この上から撥水性の樹脂を全面ではなくまばらに塗布したものを３６本程度撚ったものを準備し、これを編んで図４に示すようにしたものである。
【００１５】
図３は装置の内部構成を示しており、この構成について説明する。筐体１５の底板１７上に基台１９が固定されており、この基台１９に一対の支柱２０ａ、
２０ｂが固着されている。近接センサブロック２１が取り付けられた支持板２２が設けられ、この支持板２２には支柱２０ａ、２０ｂが挿通する透孔（図示されていない）が設けられている。
【００１６】
一方、基台１９には前記近接センサブロック２１が挿通する透孔（図示されていない）が設けられている。支持板２２の透孔に支柱２０ａ、２０ｂを挿入するとともに、近接センサブロック２１を基台１９の透孔に挿入する。支柱２０ａ、２０ｂにはストッパ２３ａ、２３ｂが設けられており、これらのスットッパ２３ａ、２３ｂと支持板２２との間にコイルバネ２４ａ、２４ｂが設けられている。これらのバネ２４ａ，２４ｂによって支持板２２は常に下方に押し付けられている。
【００１７】
２５ａ、２５ｂはスペーサである。ストッパ２３ａ、２３ｂの支柱２０ａ、２０ｂへの固定位置を調整することにより、バネ２４ａ、２４ｂの力を調整することができる。ストッパ２３ａ、２３ｂは螺子２６ａ、２６ｂによって支柱２０ａ、２０ｂの任意の位置に固定することができる。なお、近接センサブロック２１の先端は底板１７に設けた透孔（図示されていない）を通って底板１７の下面より２〜３ｍｍ程度突出している。検出コイル２は近接センサブロック２１の最下端に配置されている。
【００１８】
図３は、台上に置かれた被服１８の上に装置を置いた状態を示している。筐体１５を手で持って下方に押し付けると、近接センサブロック２１が筐体１５内に入り、底板１７が被服１８の表面に当たる。近接センサブロック２１の部分の被服１８はバネ２４ａ、２４ｂによって強く押し付けられる。
電磁波シールド被服１８は、使用を重ねる毎に、銀メッキが剥がれたり、酸化して銀より導電性の劣る酸化銀となり導電性が劣化する。図４に示す上下繊維間で、新品では銀メッキ部分同士が接触して導通していたものが、徐々に銀メッキ部分同士の接触が減少して導通しなくなって、後述する渦電流が流れにくくなる。銀メッキ部分同士の十分な接触のないまま検査すると、本来シールド効果があるものが、シールド効果が落ちていると判断されることにもなる。
【００１９】
そこで、当該被服１８に適度な圧力を加えて、検査することが望ましい。あまり、過度な圧力を加えると、シールド効果が落ちているものを良品としてしまうことがある。
この検査装置を用いて、導電性繊維を含んで構成された被服のシールド性能がどのようにして検査されるかにつき説明する。まず、近接センサ１の検出コイル２の近くに導電物質が無い場合につき説明する。電源スイッチ１１を投入すると、発光素子１３が点灯する。発振回路４が発振を開始し、その出力は積分回路５で積分（平滑化）される。積分出力は比較回路６において可変抵抗器６ｂで設定された基準電圧と比較される。
【００２０】
この場合、積分出力の方が基準電圧より大きくなるように設定されているので、比較器６ａの出力を処理回路７に加えて処理を行い、オフの制御信号を表示回路９に加えて、表示回路を９を構成するスイッチング素子をオフ状態にする。この結果、発光素子１０は点灯しない。
図３に示すように、被服１８の上に近接センサブロック２１を当接して検出コイル２を近づける場合について説明する。筐体１５を手で押さえて、筐体１５の底面を被服１８に接触させる。電源スイッチ１１を投入すると、まず、発光素子１３が点灯する。発振回路４が発振を開始し、検出コイル２に電流がながれ、検出コイル２から磁界が発生する。
【００２１】
この磁界は前記被服１８に当たり、電磁誘導現象により被服１８に渦電流が発生する。この渦電流によって前記磁界と逆極性の磁界が発生し、この磁界が前記検出コイル２から発生した磁界を打ち消す方向に働く。別の言い方をすると、発振回路４としては等価的に負荷が増加したことになる。すると、発振回路４の出力が小さくなったり、発振が停止したりする。
【００２２】
このような状態になると、積分回路５の出力が低下し、比較回路６の基準電圧の方が積分出力より、大きくなって、比較回路６の電圧が反転し、結果、処理回路７からオン制御信号が出て、表示回路９のスイッチング素子を投入して発光素子１０を点灯する。この場合は、被服１８のシールド状態が良好であることを示している。
もし、被服１８の銀メッキが剥がれたり、酸化して導電性が劣化している場合、上記渦電流が十分発生せず、従って、発振回路４の出力が、あまり低下しない。この時、基準電圧の方が積分電圧より小さいと、表示回路９のスイッチング素子は投入されず、発光素子１０は点灯しない。この場合は被服１８のシールド状態が劣化していることを示している。
【００２３】
次に、近接センサブロック２１をどの程度の圧力で被服１８に押し付けるのが良いかについて説明する。図６は４種類の生地（電磁波シールド被服）を用いて実験した結果を示している。４種類の生地は元々同じものである。使用の頻度が多くなると、シールド効果が落ちるので、予めシールド性能を測定した４種類の生地を用意する。図６の生地Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄのシールド性能は夫々４５ｄｂ、３０ｄｂ、２７ｄｂ、１０ｄｂであった。この値は、社団法人関西電子工業振興センタが定めたＫＥＣ法という測定方法で測定したものである。
【００２４】
生地に本発明の検査装置を載せ、手で押さえて筐体１５の底板１７が生地に接するようにすると、バネ２４ａ、２４ｂによって近接センサブロック２１が生地にある荷重をかけることになる。図６は荷重無しから８４５ｇまで１０段階のテストを行った結果を示している。そして、（  ）内の０／９、２／９、９／９は生地に９箇所のテストポイントを設け、９回の測定結果の内、生地のシールド効果が良いと判断された（発光素子が１０が点灯）回数を示している。
【００２５】
そして、９／９に○印を０／９に×印をその他に△印を付している。ＫＥＣ法で測定した３０ｄｂ以上をシールド効果ありと設定すると、この結果から、荷重を６００ｇ、６２０ｇ、６４５ｇ、６６０ｇかけた場合がＫＥＣ法で測定したシールド性能と照らし合わせてみて、妥当な荷重であることが分かる。
５００ｇの荷重であると、３０ｄｂのシールド性能の場合△となり、また、７００ｇの荷重であると、２７ｄｂのシールド性能の場合△となってしまう。この△は検査装置の発光素子１０が点灯したり、点灯しなかったりする曖昧な領域であるので、この荷重は採用されない。
【００２６】
荷重の設定は、ストッパー２３ａ、２３ｂに位置を調整してバネ２４ａ、２４ｂの圧力を所定の値にして行う。
電磁シールド被服の着用者にシールド状態の検査結果を知らせる伝達手段として、発光素子を用いたが、検査結果を知らせることができるものであれば、例えばスピーカを備えて音で知らせるようにしても良い。
【００２７】
前記バネ２４ａ、２４ｂはコイルバネを用いたが、板バネで構成することも可能であり、近接センサブロック２１に圧力を与える手段であれば他の弾性体でも良い。
前記検出コイル２は近接センサブロック２１と一体に設けたが、検出コイルを別の検出コイル収納部に設け、他の回路部分と独立させてもよい。近接センサブロックと一体の場合は近接センサブロックが検出コイル収納部となる。
【００２８】
筐体１５の底板である壁面と近接センサブロックとの下面とが面一になるようにしているが、底板に複数の突片や突壁が設けられている場合は、前記突片、突壁を結ぶ面と近接センサブロックの下面とが面一になればよく、検出コイル収納部が前記壁面と実質的に面一になればよい。
また、電磁波シールド被服の生地として、劣化を防止するために非導電もしくは低導電性の皮膜で覆ったものを用いても良い。従来の抵抗測定法による検査装置では、このような生地の場合測定できないが、本発明の検査装置は近接センサを用いているので検査が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００２９】
本発明は導電性繊維を含んで構成された被服のシールド性能を検査する装置として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の一実施例における電磁波シールド被服検査装置のブロ              ック図である。
【図２】ａは同電磁波シールド被服検査装置の上面図である。            ｂは同電磁波シールド被服検査装置の底面図である。
【図３】同検査装置の検査状態及び内部構造を示す側面図である。
【図４】同検査装置の対象となる被服の一部拡大図である。
【図５】同検査装置の検出コイルの断側面図である。
【図６】同検査装置説明のための表である。
【符号の説明】
【００３１】
１：  近接センサ
２：  検出コイル
４：  発振回路
５：  積分回路
６：  比較回路
７：  処理回路
８：  定電圧源
９：  表示回路
１０：発光素子
１２：電源プラグ
１３：発光素子
１９：基台
２０ａ、２０ｂ：支柱
２１：近接センサブロック
２２：支持台
２３ａ、２３ｂ：ストッパ
２４ａ，２４ｂ：バネ
【図１】
2005114619.tif 000003
【図２】
2005114619.tif 000004
【図３】
2005114619.tif 000005
【図４】
2005114619.tif 000006
【図５】
2005114619.tif 000007
【図６】
2005114619.tif 000008