(57)【要約】【課題】  プラントに致命的な影響を与えることなく、プラントの検査の際に検査対象となる構成要素を必要最低限まで減らし、検査費用を削減する。【解決手段】  プラントを構成する複数の機器に対して、各機器を構成するキー部品が損傷した際にプラントが受ける影響度を数値化したリスクレベル値を付して予め記憶装置に記憶しておき、Ｓ１６０にてキー部品の使用状態を監視し、キー部品の寿命を予測する。そしてＳ１７０にて、予測されたキー部品の寿命が切れる日が、プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定し、キー部品の寿命が切れる日が次回の検査日よりも前である場合に、Ｓ１８０にて、キー部品が属する機器に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更する。そして、予め設定された閾値以上であると判定されたリスクレベル値を有する機器を、今回の検査日における検査対象として報知する。【選択図】  図６
2005174127.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラントを構成する複数の構成要素毎に、各構成要素の損傷確率と、該構成要素が損傷した際に前記プラントが受ける影響度とに基づいて数値化されたリスクレベル値を予め記憶しておき、前記プラントの検査を実施する際には、前記各リスクレベル値が、予め設定された閾値以上であるか否かを判定し、リスクレベル値が前記閾値以上と判定された構成要素を今回の検査日における検査対象として報知する検査対象報知方法であって、
前記構成要素または該構成要素を構成する部品の使用状態を監視し、該構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命を予測する寿命予測工程と、
該寿命予測工程にて予測された構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、前記プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定する寿命判定工程と、
該寿命判定工程にて、前記構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が前記プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合に、該構成要素に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更するリスクレベル値変更工程と、
を有することを特徴とする検査対象報知方法。
【請求項２】
請求項１に記載の検査対象報知方法をコンピュータにて実現するための検査対象報知プログラム。
【請求項３】
プラントを構成する複数の構成要素毎に、各構成要素の損傷確率と、該構成要素が損傷した際に前記プラントが受ける影響度とに基づいて数値化されたリスクレベル値が予め記憶された記憶手段と、
前記プラントの検査を実施する際に、前記各リスクレベル値が、予め設定された閾値以上であるか否かを判定し、リスクレベル値が前記閾値以上と判定された構成要素を今回の検査日における検査対象として報知する報知手段と、
を備えた検査対象報知装置において、
前記構成要素または該構成要素を構成する部品の使用状態を監視し、該構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命を予測する寿命予測手段と、
該寿命予測手段により予測された構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、前記プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定する寿命判定手段と、
該寿命判定手段により、前記構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が前記プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合に、該構成要素に付されたリスクレベル値を、予め定められた、より大きい値に変更するリスクレベル値変更手段と、
を備えたことを特徴とする検査対象報知装置。
【請求項４】
前記記憶手段は、
互いに交差する座標軸にて形成される仮想平面領域を各座標軸に沿って複数に分割することによりマトリクスを形成し、前記座標軸のうちの第１座標軸には前記構成要素における損傷の発生確率を表す第１パラメータを関連付けると共に、第２座標軸には前記構成要素が損傷した際に前記プラントに及ぼす影響を表す第２パラメータを関連付け、さらに、前記マトリクスを構成する各領域には、予め設定されたリスクレベル値を夫々付与することにより、前記各座標軸に関連付けた２種類のパラメータに基づき前記マトリクスを構成する任意の領域を特定して、該領域に付与されたリスクレベル値を検索できるように生成されたリスクマトリクス情報が記憶されると共に、
該リスクマトリクス情報を検索してリスクレベル値を決定するのに必要な２種類のパラメータが、前記各構成要素毎に記憶され、
前記報知手段は、検査対象を報知する際に、前記記憶手段から、各構成要素に対応した２種類のパラメータを読み取り、該読み取ったパラメータに基づき前記リスクマトリクス情報を検索することにより、各構成要素のリスクレベル値を決定するよう構成され、
前記リスクレベル値変更手段は、前記報知手段がリスクレベル値を決定するのに用いる２種類のパラメータのうち、前記構成要素における損傷の発生確率を表す第１パラメータを最大値に変更することにより、前記報知手段にて検索されるリスクレベル値を大きい値に変更すること
を特徴とする請求項３に記載の検査対象報知装置。
【請求項５】
前記記憶手段には、前回の検査の際に検査対象となった各構成要素の前回の検査時における損傷程度を評価した評価情報が予め記憶されており、
前記リスクレベル値変更手段は、前記寿命判定手段により、前記寿命が切れる日が前記プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された構成要素に加えて、前記記憶手段に記憶された評価情報に基づいて、損傷程度が予め設定されたレベルよりも高い構成要素に対応した第１パラメータを最大値に変更すること
を特徴とする請求項４に記載の検査対象報知装置。
【請求項６】
前記リスクマトリクス情報を構成する第１座標軸には、前記構成要素における損傷の発生確率を表す第１パラメータとして、前記構成要素における過去の損傷確率または前記構成要素に類似した機器における損傷の発生確率が関連付けられていることを特徴とする請求項３〜請求項５の何れかに記載の検査対象報知装置。
【請求項７】
前記寿命予測手段は、前記構成要素の使用状態を複数の観点から監視し、該監視した複数の使用状態に基づいて、該使用状態毎に該構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命を予測し、
前記寿命判定手段は、前記寿命予測手段により構成要素の使用状態毎に予測された構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、それぞれ前記プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定し、
前記報知手段は、前記プラントの検査を実施する際に、前記構成要素毎に付されたリスクレベル値が、予め前記使用状態毎に設定された閾値以上であるか否かを、前記構成要素毎および前記使用状態毎に判定し、前記複数の使用状態のうち少なくとも１つ以上の使用状態において、リスクレベル値が前記閾値以上と判定された構成要素を、今回の検査日における検査対象として報知すること
を特徴とする請求項３〜請求項６の何れかに記載の検査対象報知装置。
【請求項８】
前記プラントは複数の装置により構成されており、
前記各構成要素は、前記複数の装置を構成する各機器であって、
前記構成要素を構成する部品は、前記各機器の寿命の指標となるキー部品であること
を特徴とする請求項３〜請求項７の何れかに記載の検査対象報知装置。
【請求項９】
前記記憶手段には、ある機器が検査対象となった際に、機器を構成する部品のうち、前記キー部品に関連付けて検査すべき部品を示す複数種類の情報が選択可能に記憶されており、
前記報知手段は、検査対象となる機器のリスクレベル値、および前記キー部品の使用状態のうちの少なくとも一方に応じて、前記記憶手段に記憶された検査すべき部品を示す情報を選択し、その情報の内容を今回の検査日における検査対象として報知すること
を特徴とする請求項８に記載の検査対象報知装置。
【請求項１０】
前記報知手段は、各検査対象により異なる検査手順も報知することを特徴とする請求項３〜請求項９の何れかに記載の検査対象報知装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラントを検査する際に、検査すべき検査対象を報知するための検査対象報知方法、検査対象報知プログラム、および検査対象報知装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、プラントを構成する構成要素のうち、今回の検査の際に何れの構成要素を検査すべきかを選択する装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
この装置では、構成要素における現時点での磨耗量と、各構成要素が損傷した際にプラントが受ける影響とに基づいて、各構成要素に対してリスクレベル値を設定し、このリスクレベル値が大きい構成要素から順に、優先的に検査対象として設定するようにしていた。
【特許文献１】特開２００２−２９７７０９公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記装置では、構成要素としての寿命がかなり残っていても、その構成要素が損傷した際にプラントが受ける影響が高ければ、リスクレベル値が高く設定されてしまい、その構成要素は検査対象になってしまうため、まだ損傷する虞がない構成要素を検査対象に含めてしまい、結果的に無駄な検査作業を行なっていた。
【０００４】
また、上記装置では、次回の検査の時期を考慮してリスクレベル値を設定していないため、今回の検査時には磨耗の程度が低く、検査対象に含まれなかった構成要素が、次回の検査時までの期間に損傷してしまう虞があり、実際にこのような構成要素が損傷した場合には、プラントに致命的な影響を与える虞があった。
【０００５】
このように、プラントに致命的な影響を与えることを防ぐためには、検査の度に、より多くの構成要素を点検するか、検査の周期を短くすることが考えられるが、何れにしても検査の必要がない構成要素の検査を行うことになるため、無駄な作業工数と検査費用とが掛かってしまう。
【０００６】
そこで、このような問題点を鑑み、プラントに致命的な影響を与えることなく、プラントの検査の際に検査対象となる構成要素を必要最低限まで減らし、検査費用を削減することを本発明の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる目的を達成するために成された請求項１に記載の検査対象報知方法は、プラントを構成する複数の構成要素毎に、各構成要素の損傷確率と、該構成要素が損傷した際に前記プラントが受ける影響度とに基づいて数値化されたリスクレベル値を予め記憶しておき、寿命予測工程にて、前記構成要素または該構成要素を構成する部品の使用状態を監視し、該構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命を予測する。そして、寿命判定工程にて、該寿命予測工程にて予測された構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、前記プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定し、リスクレベル値変更工程では、寿命判定工程にて、前記構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が前記プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合に、該構成要素に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更する。そして、前記プラントの検査を実施する際には、前記各リスクレベル値が、予め設定された閾値以上であるか否かを判定し、リスクレベル値が前記閾値以上と判定された構成要素を今回の検査日における検査対象として報知する。
【０００８】
つまり、プラントの検査の際に検査対象となる構成要素または構成要素を構成する部品を必要最低限まで減らしながら、寿命が近づいた構成要素または構成要素を構成する部品を優先的に検査対象とするために、構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合にのみ、この構成要素に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更するのである。
【０００９】
したがって、このような検査対象報知方法（請求項１）を用いれば、変更されたリスクレベル値に基づいて検査対象を決定するため、プラントに致命的な影響を与えることなく、プラントの検査の際に検査対象となる構成要素を必要最低限まで減らし、検査費用を削減することができる。
【００１０】
なお、本明細書（特許請求の範囲を含む）において、「寿命」とは、一般的いう、破断等により実際に機器が機能しなくなる極限値としての寿命であってもよいし、その極限値よりは余裕を見た値である健全限界値としての寿命であってもよい。
【００１１】
次に、請求項２に記載の検査対象報知プログラムは、請求項１に記載の検査対処報知方法をコンピュータにて実現することを特徴としている。
このように、この検査対象報知プログラム（請求項２）を用いて、一連の工程（検査対象報知方法）をコンピュータにより実現すれば、手間を掛けることなく、より効率的に検査対象を報知することができる。
【００１２】
次に、請求項１に記載の検査対象報知方法、および請求項２に記載の検査対象報知プログラムを具体的な装置にて実現するためには、請求項３に記載の検査対象報知装置のように、プラントを構成する複数の構成要素毎に、各構成要素の損傷確率と、該構成要素が損傷した際に前記プラントが受ける影響度とに基づいて数値化されたリスクレベル値が予め記憶された記憶手段と、前記プラントの検査を実施する際に、前記各リスクレベル値が、予め設定された閾値以上であるか否かを判定し、リスクレベル値が前記閾値以上と判定された構成要素を今回の検査日における検査対象として報知する報知手段とを備え、さらに、前記構成要素または該構成要素を構成する部品の使用状態を監視し、該構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命を予測する寿命予測手段と、該寿命予測手段により予測された構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、前記プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定する寿命判定手段と、該寿命判定手段により、前記構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が前記プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合に、該構成要素に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更するリスクレベル値変更手段と、を備えていればよい。
【００１３】
つまり、請求項１における説明と同様に、プラントの検査の際に検査対象となる構成要素または構成要素を構成する部品を必要最低限まで減らしつつも、寿命が近づいた構成要素を優先的に検査対象とするために、構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合にのみ、この構成要素に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更するのである。
【００１４】
したがって、このような検査対象報知装置（請求項３）であれば、変更されたリスクレベル値に基づいて検査対象を決定するため、プラントに致命的な影響を与えることなく、プラントの検査の際に検査対象となる構成要素を必要最低限まで減らし、検査費用を削減することができる。
【００１５】
また、請求項３に記載の検査対象報知装置において、請求項４に記載のように、記憶手段は、互いに交差する座標軸にて形成される仮想平面領域を各座標軸に沿って複数に分割することによりマトリクスを形成し、座標軸のうちの第１座標軸には構成要素における損傷の発生確率を表す第１パラメータを関連付けると共に、第２座標軸には構成要素が損傷した際にプラントに及ぼす影響を表す第２パラメータを関連付け、さらに、マトリクスを構成する各領域には、予め設定されたリスクレベル値を夫々付与することにより、各座標軸に関連付けた２種類のパラメータに基づきマトリクスを構成する任意の領域を特定して、この領域に付与されたリスクレベル値を検索できるように生成されたリスクマトリクス情報が記憶されると共に、リスクマトリクス情報を検索してリスクレベル値を決定するのに必要な２種類のパラメータが、各構成要素毎に記憶され、報知手段は、検査対象を報知する際に、記憶手段から、各構成要素に対応した２種類のパラメータを読み取り、読み取ったパラメータに基づきリスクマトリクス情報を検索することにより、各構成要素のリスクレベル値を決定するよう構成され、リスクレベル値変更手段は、報知手段がリスクレベル値を決定するのに用いる２種類のパラメータのうち、構成要素における損傷の発生確率を表す第１パラメータを最大値に変更することにより、報知手段にて検索されるリスクレベル値を大きい値に変更することが好ましい。
【００１６】
つまり、リスクレベル値変更手段が構成要素と関連付けられたリスクレベル値を変更する際には、既に該当構成要素の損傷時期が迫っているとして、リスクレベルをより大きい値に変更するが、変更後のリスクレベル値は、キー部品が損傷した際にプラントに与える影響度により異なる値に設定することが望ましいため、本発明（請求項４）では、リスクレベル値を検索する際に使用する２種類のパラメータのうち、構成要素における損傷の発生確率を表す第１パラメータを最大値に変更するよう構成しているのである。
【００１７】
したがって、このような検査対象報知装置（請求項４）であれば、リスクマトリクスを用いて、構成要素が損傷した際にプラントに与える影響度により、的確なリスクレベル値を設定することができるので、今回の検査対象に含める構成要素を的確に選択することができる。
【００１８】
さらに、請求項４に記載の検査対象報知装置において、請求項５に記載のように、記憶手段には、前回の検査の際に検査対象となった各構成要素の前回の検査時における損傷程度を評価した評価情報が予め記憶されており、リスクレベル値変更手段は、記憶手段に記憶された評価情報に基づいて、損傷程度が予め設定されたレベルよりも高い構成要素に対応した第１パラメータについても、この値を最大値に変更することが望ましい。
【００１９】
このような検査対象報知装置（請求項５）であれば、前回の検査結果を反映し、損傷程度が予め設定されたレベルよりも高い構成要素を検査対象として選択し易くすることができるので、検査すべき構成要素の検査もれを防止することができる。
【００２０】
加えて、請求項３〜請求項５の何れかに記載の検査対象報知装置において、リスクマトリクス情報を構成する第１座標軸には、構成要素における損傷の発生確率を表す第１パラメータが関連付けられていればよいが、特に請求項６に記載のように、第１座標軸には、構成要素における過去の損傷確率または前記構成要素に類似した機器における損傷の発生確率が関連付けられていることが好ましい。
【００２１】
このような検査対象報知装置（請求項６）であれば、構成要素における過去の使用実績に基づいてリスクレベル値を設定することができるので、検査対象を選択するのにより適切なリスクレベル値を設定することができる。
【００２２】
また、請求項３〜請求項６の何れかに記載の検査対象報知装置において、請求項７に記載のように、寿命予測手段は、構成要素の使用状態を複数の観点から監視し、監視した複数の使用状態に基づいて、使用状態毎に構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命を予測し、寿命判定手段は、寿命予測手段により構成要素または構成要素を構成する部品の使用状態毎に予測された構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、それぞれプラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定し、報知手段は、プラントの検査を実施する際に、構成要素毎に付されたリスクレベル値が、予め使用状態毎に設定された閾値以上であるか否かを、構成要素毎および使用状態毎に判定し、複数の使用状態のうち少なくとも１つ以上の使用状態において、リスクレベル値が前記閾値以上と判定された構成要素を、今回の検査日における検査対象として報知することが望ましい。
【００２３】
つまり、寿命予測手段は、ある１つの使用状態を監視するよう構成していればよいが、寿命予測の信頼性をより向上させるために、本発明（請求項７）では複数の使用状態を監視し、監視する使用状態の重要度に応じて、各構成要素を検査対象に含めるか否かを判定するための閾値を、それぞれ設定可能に構成しているのである。
【００２４】
したがって、このような検査対象報知装置（請求項７）であれば、監視する使用状態毎に重要度の差を明確化することができるので、監視する使用状態の重要度に応じて検査対象に含める構成要素をより厳選することができる。
【００２５】
さらに、請求項３〜請求項７の何れかに記載の検査対象報知装置において、請求項８に記載のように、プラントは複数の装置により構成されており、各構成要素は複数の装置を構成する各機器であって、構成要素を構成する部品は、各機器の寿命の指標となるキー部品であることが望ましい。
【００２６】
つまり、寿命予測手段が監視する監視対象が、プラントを構成する装置単位である場合には、ある装置が検査対象になれば、その装置全体を検査する必要があるため、本発明（請求項８）では、寿命予測手段が監視する監視対象を、装置を構成する機器単位まで細分化しているのである。
【００２７】
したがって、このような検査対象報知装置（請求項８）であれば、監視対象となる部品を機器の寿命の指標となるキー部品に設定することにより、キー部品を監視するだけで、その装置全体の寿命を予測することができる。
【００２８】
さらに、請求項８に記載の検査対象報知装置において、請求項９に記載のように、記憶手段には、ある機器が検査対象となった際に、機器を構成する部品のうち、キー部品に関連付けて検査すべき部品を示す複数種類の情報が選択可能に記憶されており、報知手段は、検査対象となる機器のリスクレベル値、およびキー部品の使用状態のうちの少なくとも一方に応じて、記憶手段に記憶された検査すべき部品を示す情報を選択し、その情報の内容を今回の検査日における検査対象として報知することが望ましい。
【００２９】
つまり、報知手段は、検査対象として選択されたキー部品だけではなく、キー部品が含まれる機器を構成する部品のうち、検査の必要があるものを報知する。また、この際、例えば、機器がおかれた環境や検査時期等により、検査対象に含めることが望ましい部品が異なる場合があるため、報知手段は、機器のリスクレベル値、およびキー部品の使用状態のうちの少なくとも一方に応じて、検査すべき部品を示す情報を選択できるよう構成している。
【００３０】
したがって、このような検査対象報知装置（請求項９）であれば、機器にキー部品を１つ設定するだけで、その使用状態等に応じて適切な検査対象を選択することができ、検査効率を向上させることができる。
【００３１】
加えて、請求項３〜請求項９の何れかに記載の検査対象報知装置において、報知手段は、請求項１０に記載のように、各検査対象により異なる検査手順も報知することが好ましい。
【００３２】
このような検査対象報知装置（請求項１０）であれば、検査対象となった部品を検査する際の作業手順まで分かり易く報知することができ、延いては、作業表等を探す手間を省くことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
以下に本発明にかかる実施の形態を図面と共に説明する。
図１は、本発明が適用された検査対象報知装置１の構成を示すブロック図（Ａ）、および検査対象報知装置１を構成する記憶装置１７に格納されたデータ構成を示すブロック図（Ｂ）である。
【００３４】
図１に示すように、検査対象報知装置１は、内部バス２１に接続されたＣＰＵ１１と、ＲＯＭ１３と、ＲＡＭ１５と、記憶装置１７（本発明でいう記憶手段）と、を備えている。また、内部バス２１には入出力インターフェイス２３が接続されており、この入出力インターフェイス２３には、例えば、キーボードやマウス等からなる入力装置２５と、ディスプレイ２７（本発明でいう報知手段）とが接続されている。
【００３５】
また、ＣＰＵ１１と、ＲＯＭ１３と、ＲＡＭ１５とは、公知のマイクロコンピュータを形成しており、ＣＰＵ１１はＲＯＭ１３に格納されたプログラムに基づいて、後述する検査対象報知処理等の各種演算や、入出力インターフェイス２３を介して接続されたディスプレイ２７に画像を表示させるための制御等を実行する。また、ＲＡＭ１５は、ＣＰＵ１１が各種演算等の処理を実行する際の作業領域として機能する。
【００３６】
そして、記憶装置１７は、図１（Ｂ）に示すように、所定の記憶領域にリスクマトリクス３１、部品情報３３、作業手順書３５等を記憶している。これらについては後に詳述するためここでの説明は省略する。
【００３７】
次に、検査対象報知装置１が状態監視するシステムについて、図２を用いて説明する。図２（Ａ）は検査対象報知装置１の監視対象システムの構成の一例を示す説明図、図２（Ｂ）は、このシステム内における例示の電動弁５の概略構成を示すブロック図である。
【００３８】
検査対象報知装置１が状態監視する施設には、例えば、図２（Ａ）に示すように、プラントＡ、プラントＢ等の複数のプラントを備えており、プラントＡは、例えば、電動弁５やタービン等の装置を備えている。
【００３９】
電動弁５は、例えば、発電所等のプラントにおいて、導水路を流れる水の流量を調節するために使用されるものであり、特に、ここで説明する電動弁５は、図示しない制御用コンピュータからの制御指令を受けて、バルブの開閉を自動的に行なうものである。また、電動弁５は、さらに細かな機器を組み合わせて構成されており、具体的には図２（Ｂ）に示すように、バルブ本体４７と、減速器４１と、リミットスイッチ４３と、ポジショナー４５と、図示しないその他の機器とから構成されている。
【００４０】
このような電動弁５を構成する機器のうち、減速器４１は、公知の減速器４１であって、キー部品としてのステムナット４１Ａと、雄ネジが形成されたロッド（弁棒：図示省略）と、このロッドを上下に移動させて弁の開閉を行なうためのモータ４１Ｂとを備えている。ステムナット４１Ａは、雌ネジ部分にて、ロッドにおける雄ネジ部分と係合されており、モータ４１Ｂの駆動力で回転させられるが、この際、ロッドと摺動するため、減速器４１を構成する部品の中で最も早く磨耗する部品である。また、このステムナット４１Ａが損傷すると、減速器４１全体が機能しなくなるため、ステムナット４１Ａは、減速器４１の検査をするか否かの判定するためのキー部品に設定されている。
【００４１】
次に、リミットスイッチ４３は、主に、この電動弁５と他の弁との動作の整合性を持たせるための制御を行う機械式スイッチであって、スイッチの接点を構成する接点部品をキー部品に設定している。
【００４２】
また、ポジショナー４５は、実際に、このバルブ本体４７を流れる水の流量等を制御するための信号を減速器４１に送信する装置である。つまり、バルブ本体４７を流れる水の流量はポジショナーにより、フィードバック制御がかけられ調節されている。
【００４３】
さらに詳しく述べると、ポジショナー４５は、バルブ本体４７を流れる水の流量等を計測するためのセンサ類からの信号を受け取る。このポジショナー４５の中には、流路内の圧力を所定の値に保つよう制御するためのパイロット弁４５Ａが備えられている。このパイロット弁４５Ａには常に空気が流れており、比較的劣化し易く、このパイロット弁４５Ａが劣化すると水の流量のフィードバック制御に悪影響を与えるため、このパイロット弁４５Ａをポジショナー４５のキー部品に設定している。
【００４４】
このように、検査対象報知装置１は、監視対象とする設備を、プラント、装置、機器、部品というように階層化（細分化）して監視し、必要最低限の単位での検査（点検や交換等）を実施できるようにしている。また、監視対象となる部品が多くなり過ぎると管理が大変になるため、各装置を構成する部品のうち、キー部品のみを監視対象としている。この結果、検査対象報知装置１に過度の負荷を与えることを防止している。
【００４５】
次に、記憶装置１７に記憶されているリスクマトリクス３１、部品情報３３、および作業手順書３５について順次説明する。まず、図３を用いてリスクマトリクス３１について説明する。図３は、リスクマトリクス３１の一例を示す説明図である。
【００４６】
リスクマトリクス３１は、図３に示すように、縦軸には、ある機器における損傷の起こり易さ、横軸には、その機器が損傷した際にプラントへ与える影響の大きさを取り、縦軸および横軸をそれぞれ複数の段階に区分し、マトリクス状に配置したものである。
【００４７】
なお、本実施形態におけるリスクマトリクス３１においては、ある機器における損傷の起こり易さはＡ〜Ｅの５段階に区分しており、一方、プラントへの影響度（横軸）はａ〜ｄの４段階に区分している。
【００４８】
そして、さらに具体的に述べると、ある機器における損傷の起こり易さ（縦軸）におけるＡには機器の損傷確率が２０年に１度未満のものが該当し、Ｂには機器の損傷確率が１０年〜２０年に１度のものが該当する。また、同様にＣには、機器の損傷確率が５年〜１０年に１度のものが該当し、Ｄには機器の損傷確率が２年〜５年に１度のものが該当し、さらにＥには機器の損傷確率が２年に１度以上のものが該当するよう設定されている。
【００４９】
一方、プラントへの影響度（横軸）におけるａには、あるキー部分が損傷した際に停止する必要がある機器が、そのキー部品が搭載された機器のみであるものが該当し、ｂにはその周辺の機器にも影響し、その機器が属する系統を隔離する必要があるものが該当する。また、ｃにはキー部品が損傷した際にプラントの機能が半分にまで低下してしまうものが該当し、ｄには完全にプラントの機能が停止してしまうものが該当する。
【００５０】
そして、このリスクマトリクス３１において、ある機器における損傷の起こり易さ（縦軸）とプラントへの影響度（横軸）とにより決定される各領域には、リスクレベル値が割り当てられている。このリスクレベル値は、オペレータが任意に設定できるよう構成されており、例えば、ある企業内において、重要度が高いプラントには全体的にリスクレベル値を高めに設定し、代替プラントがある場合等、重要度が低いプラントには、比較的リスクレベル値を低く設定しておけばよい。
【００５１】
なお、このリスクマトリクス３１において、リスクレベル値は１〜５の５段階にて表示されており、オペレータがある領域のリスクレベル値を設定する際には、必ず左側（プラントへの影響度が低い側）および下側（損傷の起こり易さの度合いが低い側）に位置する領域のリスクレベル値以上の数値を設定し、この作業を繰り返すことにより、リスクマトリクス内のすべてのリスクレベル値が設定される。
【００５２】
したがって、このリスクマトリクス３１においては、最も左下の領域（プラントへの影響度および損傷の起こり易さの度合いが共に最も低いもの）のリスクレベル値が最小値となり、最も右上の領域（プラントへの影響度および損傷の起こり易さの度合いが共に最も高いもの）のリスクレベル値が最大値となる。
【００５３】
次に、部品情報３３について、図４を用いて説明する。図４は記憶装置１７に記憶された部品情報３３の内容の一例を示す説明図である。
部品情報３３は、各機器や各機器におけるキー部品について、様々な数値が関連付けられて記憶されたものである。つまり、図４に示すように、例えば、減速器４１のキー部品であるステムナット４１Ａには、先に示したリスクマトリクス３１におけるリスクレベル値を決定するための座標値（ｃ−Ｃ）と、前回の部品の交換日と、前回の検査時における損傷程度の評価値（損傷レベル）とが関連付けられている。また、後述するように検査メニューは３種類設定されているため、部品情報３３には、この３種類の検査が、前回それぞれいつ実施されたかを示す前回の検査日情報（図示は省略）を記憶させている。
【００５４】
なお、前回の検査時における損傷程度の評価値は、その損傷の度合いにより、例えば、Ａ〜Ｃの３段階にて評価されており、ここでは、損傷程度が大きいものをＡ、損傷程度が小さいものをＣ、それらの中間のものをＢに、それぞれ評価している。
【００５５】
次に、作業手順書３５について、図５を用いて説明する。図５は記憶装置１７に記憶された作業手順書３５の内容の一例を示す説明図である。
作業手順書３５は、目次データ３５Ａと本データ３５Ｂとから構成されている。目次データ３５Ａは、図５（Ａ）に示すように、装置名および適用機器が関連付けられており、各適用機器について、３種類ずつ（（Ａ）〜（Ｃ））の本データ３５Ｂのリンク先が記憶されている。そして、その本データ３５Ｂの内容は、図５（Ｂ）に示すように、点検機器、および点検ランク毎に、細目が設定されており、各細目に対応した点検内容（手順）が記憶されている。なお、図５（Ｂ）に示す点検ランクには（Ａ）〜（Ｃ）が設定されており、それぞれ順に２年、４年、６年の点検間隔が設定されている。
【００５６】
次に、電動弁５において、検査の際に検査対象とすべき機器を報知する処理について図６および図７を用いて説明する。図６は検査対象報知装置１のＣＰＵ１１が実行する検査対象報知処理を示すフローチャート、図７は検査対象報知処理のうち作業内容選択処理を示すフローチャートである。なお、検査対象報知処理において、Ｓ１６０の処理は、本発明でいう寿命予測工程および寿命予測手段に該当し、Ｓ１７０の処理は、寿命判定工程および寿命判定手段に該当する。また、Ｓ１７５およびＳ１８０の処理は、本発明でいうリスクレベル値変更工程およびリスクレベル値変更手段に該当する。さらに、Ｓ１９０〜Ｓ２１０の処理およびＳ２４０の処理は、本発明でいう報知手段に該当する。
【００５７】
図６に示す検査対象報知処理において、Ｓ１１０では今回の検査対象とするリスクレベルの閾値を入力するための画像をディスプレイ２７に表示する。ここで、リスクレベルの閾値とは、例えば、検査のための予算や工期に応じてオペレータが任意に設定できる値であって、この閾値を低めに設定すると検査対象となる機器は多くなり、一方この閾値を高めに設定すると検査対象となる機器は少なくなる。
【００５８】
次に、Ｓ１２０に移行し、オペレータにより入力装置２５を介してリスクレベルの閾値が入力されたか否かを判定する。リスクレベルの閾値が入力されていないと判定すれば、Ｓ１２０を繰り返し、リスクレベルの閾値が入力されたと判定すれば、入力された値に閾値を設定し、Ｓ１３０に移行する。
【００５９】
Ｓ１３０では、例えば２年後に実施される次回の検査日を入力するための画像をディスプレイ２７に表示する。
次に、Ｓ１４０に移行し、オペレータにより入力装置２５を介して次回の検査日が入力されたか否かを判定する。次回の検査日が入力されていないと判定すれば、Ｓ１４０を繰り返し、次回の検査日が入力されたと判定すれば、入力された日に次回の検査日を設定し、Ｓ１５０に移行する。
【００６０】
Ｓ１５０では、電動弁５を構成する機器に含まれるキー部品の何れかを選択し、Ｓ１６０に移行する。ここで、例えば、部品情報３３としての記憶順序が最も早いものを選択する。なお、後述するＳ２２０の処理にて、部品情報３３としての記憶順序にしたがって、全てのキー部品が順次選択される。
【００６１】
そして、Ｓ１６０では、選択したキー部品における前回の交換日と、そのキー部品の定格寿命とから寿命に至る日を算出する。ここで、キー部品の寿命とは、部品によってその定義が異なり、例えば、ある部品では破断に至るときをその寿命とし、またある部品では、正常に動作しなくなったときをその寿命とする。
【００６２】
次に、Ｓ１７０に移行し、Ｓ１７０では、Ｓ１６０にて算出したキー部品が寿命に至る日が、次回の検査日よりも前か否かを判定する。キー部品が寿命に至る日が、次回の検査日よりも前であると判定すると、Ｓ１８０に移行し、次回の検査日よりも後であると判定すると、Ｓ１７５に移行する。
【００６３】
Ｓ１７５では、部品情報３３を参照し、選択中のキー部品が属する機器についての前回の検査時における損傷程度の評価値（損傷レベル）がＡであるか否かを判定する。つまりここでは、損傷レベルが予め設定されたレベル（ここでは「Ａ」）以上であるか否かを判定する。前回の検査時における損傷程度の評価値がＡである判定すれば、Ｓ１８０に移行し、前回の検査時における損傷程度の評価値がＢまたはＣであると判定すれば、Ｓ１９０に移行する。
【００６４】
そして、Ｓ１８０では、キー部品が属する機器に関連付けられたリスクレベル値をリスクマトリクス３１に基づいて変更し、Ｓ１９０に移行する。
次に、Ｓ１９０では、選択されているキー部品が属する機器のリスクレベル値が閾値以上であるか否かを判定する。リスクレベル値が閾値以上であると判定すれば、Ｓ２００に移行し、今回の検査対象に含める旨のデータをＲＡＭ１３に書き込み、Ｓ２１０に移行する。一方、Ｓ１９０にて、選択されているキー部品が属する機器のリスクレベル値が閾値よりも小さな値であると判定すれば、そのままＳ２１０に移行する。
【００６５】
なお、Ｓ１９０における処理では、部品情報３３として記憶された座標値を読み取り、この座標値に基づき、リスクマトリクス３１を検索することにより、リスクレベル値が認識される。
【００６６】
次に、Ｓ２１０では、後述する作業内容選択処理を実行し、Ｓ２２０に移行する。
そして、Ｓ２２０では、全てのキー部品を既に選択したか否かを判定する。未選択のキー部品があると判定すると、Ｓ２３０に移行し、選択中のキー部品の次に部品情報３３へ記憶されたキー部品を選択し、Ｓ１６０からの処理を繰り返す。
【００６７】
また、Ｓ２２０にて、全てのキー部品を既に選択したと判定すれば、Ｓ２４０に移行し、検査部品と作業手順書とをディスプレイ２７に表示し、検査対象報知処理を終了する。なお、Ｓ２４０の処理にてディスプレイ２７には、例えば、図５（Ｂ）に示すような内容の表が表示される。
【００６８】
ところで、Ｓ１８０にてリスクレベル値を変更しても、変更後のリスクレベル値や、Ｓ１２０にて設定された閾値によっては、リスクレベル値が変更された機器が、Ｓ１９０にて検査対象に選択されるとは限らない。この場合、キー部品が損傷してから修理するか、次回の検査日まで損傷しなければ、次回の検査の際に交換するか否かを再判定するようにすればよい。
【００６９】
このようにするのは、リスクレベル値が変更されたにもかかわらず検査対象に選択されなかったキー部品は、損傷してもプラント全体に与えるダメージ（影響度）は小さいものと考えられるからである。
【００７０】
次に、Ｓ２１０における作業内容選択処理について説明する。作業内容選択処理は、定期検査による検査対象の抽出方法であって、Ｓ３１０にて、図５（Ａ）に示す点検ランク（Ａ）の検査について、前回の検査から次回の検査までの期間が２年以上であるか否かを判定する。つまり、先に述べたように、例えば、（Ａ）検査は検査期間が２年に設定されているので、Ｓ１９０およびＳ２００にて検査対象に選択された場合には、近日中に実施される今回の検査日で２年を超えていなくても、（Ａ）検査を検査実施項目に設定するのである。
【００７１】
したがって、Ｓ３１０にて、点検ランク（Ａ）の検査について、前回の検査から次回の検査までの期間が２年以上であると判定すれば、Ｓ３２０に移行し、（Ａ）検査を検査実施項目に設定し、Ｓ３３０に移行する。また、点検ランク（Ａ）の検査について、前回の検査から次回の検査までの期間が２年未満であると判定すれば、そのままＳ３３０に移行する。
【００７２】
Ｓ３３０では、点検ランク（Ｂ）の検査について、前回の検査から次回の検査までの期間が４年以上であるか否かを判定する。前回の検査から次回の検査までの期間が４年以上であると判定すれば、Ｓ３４０に移行し、（Ｂ）検査を検査実施項目に設定し、Ｓ３５０に移行する。また、点検ランク（Ｂ）の検査について、前回の検査から次回の検査までの期間が４年未満であると判定すれば、そのままＳ３５０に移行する。
【００７３】
そして、Ｓ３５０およびＳ３６０の処理においても同様に、Ｓ３５０では、点検ランク（Ｃ）の検査について、前回の検査から次回の検査までの期間が６年以上であるか否かを判定する。前回の検査から次回の検査までの期間が６年以上であると判定すれば、Ｓ３６０に移行し、（Ｂ）検査を検査実施項目に設定し、Ｓ３７０に移行する。また、点検ランク（Ｂ）の検査について、前回の検査から次回の検査までの期間が６年未満であると判定すれば、そのままＳ３７０に移行する。
【００７４】
次に、Ｓ３７０では、選択中のキー部品が属する機器について、Ｓ１８０にてリスクレベル値が変更されたか否かを判定する。リスクレベル値が変更されたと判定すれば、Ｓ３８０に移行し、このキー部品におけるオプション検査を検査実施項目に追加し、作業内容選択処理を終了する。また、リスクレベル値が変更されていないと判定すれば、そのまま作業内容選択処理を終了する。
【００７５】
次に、検査対象報知処理（図６参照）のＳ１８０におけるリスクレベル値を変更する処理について、図８および図９を用いて説明する。図８および図９は、リスクレベル値を変更する処理の具体例を示す説明図である。
【００７６】
例えば、損傷の起こり易さがＡ、損傷した際にプラントに与える影響がａである機器のリスクレベル値は、図８（Ａ）に示すように、予め１に設定されているが、この機器に対して、Ｓ１８０におけるリスクレベル値を変更する処理が実行されると、損傷の起こり易さの値が、最大値であるＥに変更される。ここで、この機器におけるプラントに与える影響度は変更されないため、変更後のリスクレベル値は、損傷の起こり易さＥと、プラントへの影響度ａとに基づいて、３に設定される。同様にして、損傷の起こり易さＢ、プラントへの影響度ｂの機器については、図８（Ｂ）に示すように、変更前のリスクレベル値は２であるが、損傷の起こり易さがＥに変更されることにより、リスクレベル値は４に変更される。また、損傷の起こり易さＢ、プラントへの影響度ｃの機器については、図９に示すように、変更前のリスクレベル値は２であるが、損傷の起こり易さがＥに変更されることにより、リスクレベル値は５に変更される。このように、リスクマトリクス３１に記憶されたリスクマトリクス３１に基づいて、リスクレベル値は変更される。
【００７７】
以上のように詳述した検査対象報知装置１においては、プラントを構成する複数の機器毎に、各機器を構成するキー部品が損傷した際にプラントが受ける影響度を数値化したリスクレベル値が予め記憶装置１７（記憶手段）に記憶されており、検査対象報知処理（図６参照）におけるＳ１６０にて、キー部品の使用状態を監視し、キー部品の寿命を予測する（寿命予測工程・手段）。そして、Ｓ１７０にて、予測されたキー部品の寿命が切れる日が、プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定し（寿命判定工程・手段）、キー部品の寿命が切れる日がプラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合、あるいはＳ１７５にて、前回の検査時における損傷程度の評価値（損傷レベル）が予め設定されたレベル（本実施形態においてはＡ）以上であると判定された場合に、Ｓ１８０にて、機器に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更する（リスクレベル値変更工程・手段）。そしてＳ１９０にて、リスクレベル値が、予め設定された閾値以上であるか否かを判定し、閾値以上である場合には、Ｓ２４０にて、閾値以上と判定された機器および作業手順書３５により定められた機器並びに部品を、今回の検査日における検査対象として報知する（報知手段）。
【００７８】
したがって、変更されたリスクレベル値に基づいて検査対象を決定するため、プラントに致命的な影響を与えることなく、プラントの検査の際に検査対象となる機器を必要最低限まで減らし、検査費用を削減することができる。
【００７９】
また、検査対象報知処理（図６および図７参照）は、ＲＯＭ１３に格納されたプログラムとしてＣＰＵ１１により実行されるよう構成されているので、検査対象報知処理に手間を掛けることなく、より効率的に検査対象を報知することができる。
【００８０】
さらに、記憶装置１７には、機器における損傷の発生確率と、機器が損傷した際にプラントに及ぼす影響とをパラメータとする平面領域をマトリクス状に区分し、このマトリクス状に区分された各領域に、予め定められたリスクレベル値を割り当てることにより生成されたリスクマトリクス３１の情報と、機器毎に、リスクマトリクス３１上の位置からリスクレベル値を決定するための座標情報（部品情報３３）と、を記憶しており、検査対象報知処理におけるＳ１８０では、記憶手段に記憶された座標情報を読み取り、機器における損傷の発生確率についての座標を最大座標に設定することにより、リスクレベル値を変更し、Ｓ１９０では、検査対象を報知する際に、部品情報３３として記憶された座標値を読み取り、この座標値に基づき、リスクマトリクス３１を検索することにより、リスクレベル値を認識するよう構成されている。
【００８１】
したがって、リスクマトリクス３１を用いて、キー部品が損傷した際にプラントに与える影響度により、的確なリスクレベル値を設定することができるので、今回の検査対象に含める機器を的確に選択することができる。
【００８２】
さらに、プラントは複数の装置により構成されており、各構成要素は複数の装置を構成する各機器であって、構成要素を構成する部品には、各機器の寿命の指標となるキー部品が設定されているので、監視対象となるキー部品を増やすことなく、監視可能な機器の数を増やすことができる。
【００８３】
加えて、記憶装置１７には、ある機器が検査対象となった際に、キー部品が含まれる機器を構成する部品のうち、キー部品に関連付けて検査すべき部品を示す複数種類の情報が選択可能に記憶されており、作業内容選択処理（図７参照）では、検査対象となる機器のリスクレベル値、および機器の使用状態に応じて、記憶装置１７に記憶された検査すべき部品を示す情報を選択し、検査対象報知処理におけるＳ２４０では、その情報の内容を今回の検査日における検査対象として報知している。
【００８４】
したがって、機器にキー部品を１つ設定するだけで、その機器全体の状態を把握することができるので、使用状態を検知する必要があるキー部品の数を減らすことができる。
加えて、各検査対象により異なる検査手順も報知するので（図５（Ｂ）参照）、検査対象となった機器を検査する際の作業手順まで分かり易く報知することができ、延いては、作業表等を探す手間を省くことができる。
【００８５】
また、リスクマトリクス３１を用いてキー部品の使用状態に応じてリスクレベル値を設定するので、リスクレベル値をより明確に設定することができる。
さらに、記憶装置１７には、前回の検査の際に検査対象となった各構成要素の前回の検査時における損傷程度を評価した評価値（損傷レベル：評価情報）が予め記憶されており、Ｓ１８０では、記憶装置１７に記憶された評価値に基づいて、損傷程度が予め設定されたレベルよりも高い機器に対応した損傷の起こり易さの値についても、この値を最大値に変更するよう構成されているので、前回の検査結果を反映し、損傷程度が予め設定されたレベルよりも高い機器を検査対象として選択し易くすることができ、検査すべき機器の検査もれを防止することができる。
【００８６】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこうした実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施し得ることは勿論である。
【００８７】
例えば、本実施形態において、キー部品の寿命を予測する際には、キー部品の定格寿命を使用するよう構成したが、キー部品の使用状態に基づいて寿命を予測していれば、特にこのように構成する必要はなく、例えば、キー部品の運動量や磨耗量等を実際に計測し、その結果からキー部品の寿命を予測するよう構成してもよい。また、あるいは、前回の検査結果の際に得られた、機器または部品の損傷程度の評価値を用いてもよいし、同一機器や類似機器における故障（損傷）の発生確率のデータベースを用いてもよい。ここで、故障の発生確率には、例えば、過去１０年間における故障の発生件数や、機器１００台あたりの故障の発生頻度等が挙げられる。
【００８８】
また、本実施形態においては、キー部品の寿命を予測する際に、キー部品の使用状態を１つだけ監視する（つまり、キー部品の定格寿命を監視する）よう構成したが、特にこのように構成する必要はなく、キー部品の使用状態を複数監視するよう構成してもよい。
【００８９】
この場合、検査対象報知処理（図６）におけるＳ１６０の処理の際には、キー部品の使用状態毎に寿命に至る日を算出し、Ｓ１７０における処理の際には、キー部品の使用状態毎に予測されたキー部品の寿命が切れる日が、プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定し、何れかの使用状態において肯定判定されれば、Ｓ１８０に移行し、全ての使用状態において否定判定されれば、Ｓ１７５に移行するよう構成すればよい。
【００９０】
このようにすれば、監視する使用状態の重要度に応じて、各キー部品を検査対象に含めるか否かを判定するための閾値を、それぞれ設定することができ、監視する使用状態毎に重要度の差を明確化することができるので、監視する使用状態の重要度に応じて検査対象に含める機器をより厳選することができる。
【００９１】
また、リスクマトリクス情報を構成する損傷の起こり易さの値には、機器または類似した機器における損傷の発生確率が関連付けられていれば、機器における過去の使用実績に基づいてリスクレベル値を設定することができ、検査対象を選択するのにより適切なリスクレベル値を設定することができる。
【００９２】
また、本実施形態におけるリスクマトリクス３１では、損傷の発生確率やプラントに与える影響度を、それぞれ５段階、４段階に区分するよう構成したが、特に構成に限らず、何段階に区分してもよい。また、リスクレベル値についても同様である。
【００９３】
さらに、本実施形態におけるキー部品は、各機器につき１つずつ設定したが、特にこのようにする必要はなく、各機器につき複数のキー部品を設定してもよい。
また、本実施形態においては、リスクマトリクス３１を用いてリスクレベル値を変更するよう構成したが、特にこのような構成にする必要はなく、例えば、変更前および変更後のリスクレベル値を機器毎に予め記憶装置１７に記憶しておき、リスクレベル値を変更する際には、記憶装置１７に記憶された各リスクレベル値に基づいて、リスクレベル値を変更するよう構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９４】
【図１】検査対象報知装置の構成を示すブロック図（Ａ）、および検査対象報知装置を構成する記憶装置に格納されたデータ構成を示すブロック図（Ｂ）である。
【図２】電動弁の概略構成を示すブロック図である。
【図３】リスクマトリクスの一例を示す説明図である。
【図４】記憶装置に記憶された部品情報の内容の一例を示す説明図である。
【図５】記憶装置に記憶された作業手順書の内容の一例を示す説明図である。
【図６】検査対象報知処理を示すフローチャートである。
【図７】検査対象報知処理のうち作業内容選択処理を示すフローチャートである。
【図８】リスクレベル値を変更する処理の具体例を示す説明図である。
【図９】リスクレベル値を変更する処理の具体例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００９５】
１…検査対象報知装置、５…電動弁、１７…記憶装置、２７…ディスプレイ、３１…リスクマトリクス、３１…ＣＰＵ、３３…部品情報、３５…作業手順書、４１…減速器、４１Ａ…ステムナット、４１Ｂ…モータ、４３…リミットスイッチ、４５…ポジショナー、４５Ａ…パイロット弁、４７…バルブ本体。
【図１】
2005174127.tif 000003
【図２】
2005174127.tif 000004
【図３】
2005174127.tif 000005
【図４】
2005174127.tif 000006
【図５】
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【図６】
2005174127.tif 000008
【図７】
2005174127.tif 000009
【図８】
2005174127.tif 000010
【図９】
2005174127.tif 000011