(57)【要約】【課題】  本発明は、光ピックアップの個々に異なる特性に応じてフォーカシングの精度を一段と向上させる。【解決手段】  本発明は、発射光ビームＬ１の焦点から信号記録面８Ａまでの距離である焦点ずれ量Ｄに応じて変化するフォーカスエラー信号ＳＦを、発射光ビームＬ１が信号記録面８Ａで反射された反射光ビームＬ２の光量の変化に基づいて生成する制御部３１と、フォーカスエラー信号ＳＦと焦点ずれ量Ｄとの関係を示す特性データを記憶する不揮発メモリ３２Ｂと、フォーカスエラー信号ＳＦ及び特性データに基づいてフォーカスサーボを行う際の焦点ずれ量を算出し、当該焦点ずれ量に基づいて対物レンズ７を移動させて、フォーカスサーボを行う制御部３１とを設けるようにしたことにより、予め測定された特性に基づいて最適にフォーカシングを行い得る光ディスクドライブを実現することができる。【選択図】        図１
2005063581.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを出射する光源と、
上記光ビームを集光して光ディスクの記録面に照射する対物レンズと、
上記光ビームの焦点から上記記録面までの距離である焦点ずれ量に応じて変化するフォーカスエラー信号を、上記光ビームが上記記録面で反射された反射光ビームの光量の変化に基づいて生成する信号生成手段と、
上記フォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との関係を示す特性データを記憶する特性データ記憶手段と、
上記フォーカスエラー信号及び上記特性データに基づいてフォーカスサーボを行う際の焦点ずれ量を算出し、当該焦点ずれ量に基づいて上記対物レンズを移動させて、フォーカスサーボを行う制御手段と
を具えることを特徴とする光ディスクドライブ。
【請求項２】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の和信号を生成する和信号生成手段を具え、
上記特性データは、上記和信号を用いて自動利得制御処理を行ったフォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との実際の関係でなり、
上記制御手段は、上記和信号を用いて自動利得制御処理を行ったフォーカスエラー信号及び上記特性データに基づいて焦点ずれ量を算出し、当該焦点ずれ量に基づいて上記対物レンズを移動させる
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項３】
上記特性データは、上記フォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との実際の関係を近似した多項式の係数でなり、
上記制御手段は、上記特性データ記憶手段に記憶された上記係数を上記多項式に適用して上記焦点ずれ量を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項４】
上記特性データは、離散的な複数の値であって、
上記特性データ記憶手段は、上記離散的な複数の値を記憶し、
上記制御手段は、上記焦点ずれ量を算出する際に、上記記憶された上記離散的な複数の値に基づいて線形近似を行う
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項５】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の和信号を生成する和信号生成手段を具え、
上記特性データ記憶手段は、上記和信号が所定の閾値を超え、かつ上記フォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との関係が単調増加あるいは単調減少となるときの上記特性データのみを記憶する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項６】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の和信号を生成する和信号生成手段を具え、
上記特性データは、上記光ビームの焦点が上記記録面に合致するときを上記焦点ずれ量の原点に設定される
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項７】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の再生信号を生成する再生信号生成手段を具え、
上記特性データは、トラッキングエラーを検出するためのプッシュプル信号又は上記再生信号の振幅が最大となるときを上記対物レンズの焦点が上記光ディスクの記録面に合致するときとして設定される
ことを特徴とする請求項６に記載の光ディスクドライブ。
【請求項８】
上記特性データは、上記光源が上記光ビームの出力を常に一定とするように自動光量制御されると共に、上記反射光ビームが当該光源に入射するようになされた状態において、上記反射光ビームがレーザでなる上記光源に戻ることによって上記光源の駆動電流が一時的に変動するときを、上記対物レンズの焦点が上記光ディスクの記録面に合致するときとして設定される
ことを特徴とする請求項６に記載の光ディスクドライブ。
【請求項９】
上記特性データは、上記反射光ビームが透過する１／４波長板を最適な取付角度に対して所定角度だけずらした状態で測定される
ことを特徴とする請求項８に記載の光ディスクドライブ。
【請求項１０】
上記特性データは、上記対物レンズの代わりに当該対物レンズよりも開口数が小さい測定用対物レンズを使用して測定される
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項１１】
上記特性データが測定されたときの上記フォーカスエラー信号の最大値及び最小値に対して組立後のフォーカスエラー信号の最大値及び最小値とがそれぞれ一致するように予め調整された
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項１２】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の和信号を生成する和信号生成手段を具え、
上記フォーカス調整手段によって上記光ビームの焦点を上記記録面に合致させる前に、粗調整として上記和信号及びフォーカスエラー信号をそのまま用いて上記記録面に上記光ビームの焦点をおおよそ合致させる
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブ。
【請求項１３】
光ビームを出射する光源と、
上記光ビームを集光して光ディスクの記録面に照射する対物レンズと、
上記光ビームの焦点から上記記録面までの距離である焦点ずれ量に応じて変化するフォーカスエラー信号を、上記光ビームが上記記録面で反射された反射光ビームの光量の変化に基づいて生成する信号生成手段と、
上記フォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との関係を示す特性データを記憶する特性データ記憶手段と
を具えることを特徴とする光ヘッド装置。
【請求項１４】
上記特性データは、上記フォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との実際の関係を近似した多項式の係数でなる
ことを特徴とする請求項１３に記載の光ヘッド装置。
【請求項１５】
上記特性データは、離散的な複数の値であって、
上記特性データ記憶手段は、上記離散的な複数の値を記憶する
ことを特徴とする請求項１３に記載の光ヘッド装置。
【請求項１６】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の和信号を生成する和信号生成手段を具え、
上記特性データ記憶手段は、上記和信号が所定の閾値を超え、かつ上記フォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との関係が単調増加あるいは単調減少となるときの上記特性データのみを記憶する
ことを特徴とする請求項１３に記載の光ヘッド装置。
【請求項１７】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の和信号を生成する和信号生成手段を具え、
上記特性データは、上記対物レンズの焦点が上記光ディスクの記録面に合致するときを上記焦点ずれ量の原点に設定される
ことを特徴とする請求項１３に記載の光ヘッド装置。
【請求項１８】
上記反射光ビームの光量に基づいた所定の再生信号を生成する再生信号生成手段を具え、
上記特性データは、上記再生信号又はトラッキングエラーを検出するためのプッシュプル信号が最大となるときを上記対物レンズの焦点が上記光ディスクの記録面に合致するときとして設定される
ことを特徴とする請求項１７に記載の光ヘッド装置。
【請求項１９】
上記特性データは、上記光源が上記光ビームの出力を常に一定とするように自動光量制御されると共に、上記反射光ビームが当該光源に入射するようになされた状態において、上記反射光ビームがレーザでなる上記光源に戻ることによって上記光源の駆動電流が一時的に変動するときを、上記対物レンズの焦点が上記光ディスクの記録面に合致するときとして設定される
ことを特徴とする請求項１７に記載の光ヘッド装置。
【請求項２０】
上記特性データは、上記反射光ビームが透過する１／４波長板を最適な取付角度に対して所定角度だけずらした状態で測定される
ことを特徴とする請求項１９に記載の光ヘッド装置。
【請求項２１】
上記特性データは、上記対物レンズの代わりに当該対物レンズよりも開口数が小さい測定用対物レンズを使用して測定される
ことを特徴とする請求項１３に記載の光ヘッド装置。
【請求項２２】
上記特性データが測定されたときの上記フォーカスエラー信号の最大値及び最小値に対して組立後のフォーカスエラー信号の最大値及び最小値とがそれぞれ一致するように予め調整された
ことを特徴とする請求項１３に記載の光ヘッド装置。
【請求項２３】
光源から出射されて対物レンズにより集光される光ビームの焦点から光ディスクの記録面までの距離である焦点ずれ量に応じて変化するフォーカスエラー信号を、上記光ビームが上記記録面で反射された反射光ビームの光量の変化に基づいて生成する信号生成ステップと、
上記フォーカスエラー信号と上記焦点ずれ量との関係を、予め記憶された特性データとして読み出す特性データ読出ステップと、
上記フォーカスエラー信号及び上記特性データに基づいてフォーカスサーボを行う際の焦点ずれ量を算出する焦点ずれ量算出ステップと、
上記算出した実際の焦点ずれ量に基づいて上記対物レンズを移動させることによりフォーカスサーボを行う制御ステップと
を具えることを特徴とするフォーカス調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクドライブに関し、例えば光ディスク再生機に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク再生機に搭載されて用いられる光ディスクドライブにおいては、光ピックアップの対物レンズを光軸方向に移動させることによって、光ディスクの信号記録面に当該対物レンズの焦点（フォーカス）を正確に合わせ（以下このことをフォーカシングと呼ぶ）、さらに当該光ピックアップを移動させることによって、当該光ディスクの信号記録面上の所望のトラックに対する光ピックアップの位置を正確に合わせて（以下このことをトラッキングと呼ぶ）、上記信号記録面から読み出す再生信号のレベルを最大にするようになされている。
【０００３】
例えば図１５に示すように、光ディスクドライブ１は、光ピックアップ２の光集積素子３内の図示しないレーザダイオードから発射光ビームＬ１を出射し、コリメータレンズ４、立ち上げミラー５、１／４波長板６、対物レンズ７を順次介して、当該発射光ビームＬ１を光ディスク８の信号記録面８Ａに照射する。
【０００４】
続いて光ディスクドライブ１は、発射光ビームＬ１が光ディスク８の信号記録面８Ａで反射されてなる反射光ビームＬ２を、光ピックアップ２の対物レンズ７、１／４波長板６、立ち上げミラー５、コリメータレンズ４を順次介して、当該反射光ビームＬ２を光集積素子３内の図示しないフォトディテクタによって検出する。
【０００５】
ここで光ピックアップ２は、フォーカシングを行うために、当該対物レンズ７の焦点と光ディスク８の信号記録面８Ａとの実際のずれ量（以下これを焦点ずれ量と呼ぶ）を正確に認識した上で、当該ずれ量を打ち消すように当該対物レンズ７をアクチュエータ７Ａによって移動させる必要があり、このとき例えばスポットサイズディテクティング法を用いるようになされている。
【０００６】
すなわち図１６（Ａ）に示すように、光ピックアップ２は、光集積素子３の内部において、反射光ビームＬ２をホログラム１６によってそれぞれ焦点距離が異なる＋１次光Ｌ２Ａ、０次光Ｌ２Ｃ、−１次光Ｌ２Ｂに分光し、これらをフォトディテクタモジュール１７に形成されたフォーカシング用フォトディテクタ１８、１９及びトラッキングサーボ用と信号検出用とを兼ねたフォトディテクタ２０にそれぞれ照射する。
【０００７】
そして光ピックアップ２は、フォーカシング用フォトディテクタ１８及び１９上に形成される＋１次光Ｌ２Ａ及び−１次光Ｌ２Ｂのスポット２３Ａ及び２３Ｂのスポットサイズに基づいてフォーカシングを行う。
【０００８】
すなわち図１６（Ｂ）に示すように、フォーカシング用フォトディテクタ１８は、両端フォトダイオード１８Ａ及び１８Ｂ、並びに中央ダイオード１８Ｃの３個のフォトダイオードを有しており、当該フォトダイオード１８Ａ〜１８Ｃによって＋１次光Ｌ２Ａのスポット２３Ａを光電変換し、検出信号Ｓ１Ａ〜Ｓ１Ｃを生成する。
【０００９】
同様にフォーカシング用フォトディテクタ１９は、両端フォトダイオード１９Ａ及び１９Ｂ、並びに中央ダイオード１９Ｃの３個のフォトダイオードを有しており、当該フォトダイオード１９Ａ〜１９Ｃによって−１次光Ｌ２Ｂのスポット２３Ｂを光電変換し、検出信号Ｓ２Ａ〜Ｓ２Ｃを生成する。
【００１０】
そして光ピックアップ２は、検出信号Ｓ１Ａ〜Ｓ１Ｃ及びＳ２Ａ〜Ｓ２Ｃを用いて、フォーカスエラー信号ＳＦを次式
【００１１】
【数１】
2005063581.tif 000003
【００１２】
によって生成するようになされている。
【００１３】
ここで光ピックアップ２は、図１６（Ｂ）に示すように、対物レンズ７の焦点が光ディスク８の信号記録面８Ａにちょうど合致しているとき、すなわち焦点ずれ量が０であるとき（以下この状態をジャストフォーカスと呼ぶ）に、フォトディテクタ１８及び１９上にそれぞれ照射された±１次光のスポット２３Ａ及び２３Ｂの大きさが等しくなっており、フォーカスエラー信号ＳＦは０となる。
【００１４】
これに対して光ピックアップ２は、図１７に示すように、対物レンズ７の焦点が光ディスク８の信号記録面８Ａよりも遠くなって焦点ずれ量が負となる場合、０次光Ｌ２Ｃがフォトディテクタ２０上に焦点を結ばず、フォトディテクタ１８に照射されたスポット２３Ａはフォトディテクタ１９上に照射されたスポット２３Ｂよりも大きくなり、フォーカスエラー信号ＳＦは負の値となる。
【００１５】
また光ピックアップ２１は、図１８に示すように、対物レンズ７の焦点が光ディスク８の信号記録面８Ａよりも近くなって焦点ずれ量が正となる場合、０次光Ｌ２Ｃがフォトディテクタ２０上に焦点を結ばず、フォトディテクタ１８に照射されたスポット２３Ａはフォトディテクタ１９上に照射されたスポット２３Ｂよりも小さくなり、フォーカスエラー信号ＳＦは正の値となる。
【００１６】
このとき図１９（Ａ）に示すように、光ピックアップ２は、フォーカスエラー信号ＳＦと焦点ずれ量との関係をＳ字状の特性曲線として有することになり、特に当該特性曲線のうち図中に太線で示した原点付近について、原点を通過し一定の傾きを持つ直線と見なすことができるため、フォーカスエラー信号ＳＦと焦点ずれ量との関係に線形性を持つことになる。すなわち光ピックアップ２は、フォーカスエラー信号ＳＦを０とするときに、焦点ずれ量も０となり、ジャストフォーカスの状態になる。
【００１７】
そこで光ピックアップ２は、フォーカスエラー信号ＳＦと焦点ずれ量との特性曲線の線形性を利用して、フォーカスエラー信号ＳＦの値に基づいて焦点ずれ量を認識し、当該焦点ずれ量に応じて対物レンズ７を移動することによって、当該対物レンズ７の焦点を光ディスク８の信号記録面８Ａに合わせるようになされている（例えば、特許文献１参照）。
【００１８】
また光ピックアップ２は、正確にトラッキングを行うために、図１６〜図１８に示すように、０次光Ｌ２Ｃを主ビームとしてフォトディテクタ２０に照射してメインスポット２３Ｃを形成し、さらにグレーティング（図示せず）によって生成された副ビームをトラッキング用フォトディテクタ２１及び２２に照射して、サイドスポット２３Ｄ、２３Ｅを形成する。
【００１９】
フォトディテクタ２０〜２２は、それぞれフォトダイオード２０Ａ及び２０Ｂ、２１Ａ及び２１Ｂ、２２Ａ及び２２Ｂを有しており、それぞれメインスポット２３Ｃ、サイドスポット２３Ｄ、２３Ｅを光電変換して、検出信号Ｓ３Ａ及びＳ３Ｂ、Ｓ４Ａ及びＳ４Ｂ、Ｓ５Ａ及びＳ５Ｂを生成する。
【００２０】
ここで光ピックアップ２は、メインスポット２３Ｃの検出信号Ｓ３Ａ及びＳ３Ｂから次式
【００２１】
【数２】
2005063581.tif 000004
【００２２】
を用いて再生信号ＳＲＦを生成し、さらにメインスポット２３Ｃ及びサイドスポット２３Ｄ、２３Ｅの検出信号Ｓ３Ａ及びＳ３Ｂ、Ｓ４Ａ及びＳ４Ｂ、Ｓ５Ａ及びＳ５Ｂと、所定の定数ｋとから、いわゆる差動プッシュプル法によって次式
【００２３】
【数３】
2005063581.tif 000005
【００２４】
を用いてトラッキングエラー信号ＳＴを生成するようになされている。
【特許文献１】特開２００２−９２９１４公報（第６頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２５】
ところでかかる構成の光ディスクドライブにおいては、実際に光ピックアップ２を組み立てる工程で、取付誤差等によって光集積素子３を光ピックアップ２内の所定位置からずらしたり傾けたりしたまま取り付けてしまう場合があった。
【００２６】
すると光ピックアップ２は、光集積素子３と他の光学素子との相対位置関係が変化してしまい、これに応じて反射光ビームＬ２の光路も変化してしまうことにより、例えば図１９（Ｂ）及び（Ｃ）に示すようにフォーカスエラー信号ＳＦの特性が原点付近で非直線となったり原点を通過しなくなってしまう。
【００２７】
このため光ピックアップ２は、例えば再生信号を最適化するためにフォーカスバイアスを変更した場合にフォーカスサーボゲインが変動してしまったり、外乱が発生して焦点ずれ量が一時的に大きくなった際にフォーカシングの過渡応答が悪化してしまうという問題があった。
【００２８】
また、このような場合、光ピックアップ２は、光集積素子３の取付位置や傾きが個体毎に異なって特性曲線も個体毎に異なってしまうため、対物レンズ７の焦点が光ディスク８の信号記録面８Ａに合致するときのフォーカスエラー信号ＳＦの値もそれぞれ異なってしまい、光ピックアップ２の個体毎の特性に合わせた調整が必要となってしまうという問題もあった。
【００２９】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、個々の特性のばらつきに依存しない高精度なフォーカシング制御を行い得る光ピックアップを提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００３０】
かかる課題を解決するため本発明においては、光ビームを出射する光源と、光ビームを集光して光ディスクの記録面に照射する対物レンズと、光ビームの焦点から記録面までの距離である焦点ずれ量に応じて変化するフォーカスエラー信号を、光ビームが記録面で反射された反射光ビームの光量の変化に基づいて生成する信号生成手段と、フォーカスエラー信号と焦点ずれ量との関係示す特性データを記憶する特性データ記憶手段と、フォーカスエラー信号及び特性データに基づいてフォーカスサーボを行う際の焦点ずれ量を算出し、当該焦点ずれ量に基づいて対物レンズを移動させて、フォーカスサーボを行う制御手段とを設けるようにしたことにより、予め測定された特性に基づいてゲイン変動などが発生しない最適なフォーカシングを行い得る光ディスクドライブを実現することができる。
【発明の効果】
【００３１】
本発明によれば、予め測定された特性に基づいて最適にフォーカシングを行うことができ、個々の特性のばらつきに依存しない高精度なフォーカシング制御を行い得る光ディスクドライブを実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【実施例】
【００３３】
（１）光ピックアップ及び光集積素子の構成
図１５との対応部分に同一符号を付して示す図１において、光ディスクドライブ３０はＣＰＵ（Central Processing Unit）構成でなる制御部３１が全体を統括制御するようになされており、駆動制御部３２のコントローラ３２Ａによって光ピックアップ２、当該光ピックアップ２のアクチュエータ７Ａ及びモータ９をそれぞれ制御し、光ディスク８から読み取った再生信号ＳＲＦに基づいて再生処理部３３により所定の再生処理を行うようになされている。ちなみに光ピックアップ２と駆動制御部３２とを合わせて光ヘッド装置と呼ぶ。
【００３４】
光ピックアップ２は、発射光ビームＬ１の照射及び反射光ビームＬ２の検出を行う光集積素子３を有しており、当該光集積素子３から発射光ビームＬ１を照射し、コリメータレンズ４、立ち上げミラー５及び１／４波長板６を順次介して、対物レンズ７で集光し光ディスク８の信号記録面８Ａに照射する。
【００３５】
このとき光ピックアップ２は、コントローラ３２Ａからアクチュエータ７Ａを制御して対物レンズ７を矢印ｚ１方向又はその反対方向（すなわち光軸方向）に移動することによって当該対物レンズ７の焦点を光ディスク８の信号記録面８Ａに一致させ、発射光ビームＬ１が当該信号記録面８Ａで反射されてなる反射光ビームＬ２を、対物レンズ７、１／４波長板６、立ち上げミラー５及びコリメータレンズ４を順次介して、光集積素子３へ入射させるようになされている。
【００３６】
ここで図１６（Ａ）との対応部分に同一符号を付した図２に示すように、光集積素子３は、平面状のベース部材１０の下面にレーザダイオード１１及びミラー１２が取り付けられると共に当該ベース部材１０の上面にモールド複合素子１３及びフォトディテクタモジュール１７が取り付けられており、さらに当該モールド複合素子１３の上面に積層プリズム１５が取り付けられている。
【００３７】
そして光集積素子３は、レーザダイオード１１から発射した発射光ビームＬ１をミラー１２で反射し、モールド複合素子１３及び当該モールド複合素子１３の上面に形成されたグレーティング１４並びに積層プリズム１５を順次介して、当該発射光ビームＬ１をコリメータレンズ４（図１）へ入射させる。
【００３８】
また光集積素子３は、光ディスク８（図１）で反射されてコリメータレンズ４（図１）から入射される反射光ビームＬ２を、積層プリズム１５の偏光ビームスプリッタ面１５Ａ及び反射ミラー１５Ｂによって順次反射してホログラム１６に導き、さらに当該反射光ビームＬ２を当該ホログラム１６よって＋１次光、０次光及び−１次光に分光し、モールド複合素子１３を介してフォトディテクタモジュール１７へそれぞれ照射する。
【００３９】
ここで図１６（Ｂ）との対応部分に同一符号を付した図３に示すように、フォトディテクタモジュール１７は反射光ビームＬ２の照射面上にフォーカシング用フォトディテクタ１８及び１９と、トラッキングサーボ用と信号検出用とを兼ねたフォトディテクタ２０〜２２とを形成している。
【００４０】
フォーカシング用フォトディテクタ１８は、両端フォトダイオード１８Ａ及び１８Ｂ、並びに中央ダイオード１８Ｃの３個のフォトダイオードを有しており、当該フォトダイオード１８Ａ〜１８Ｃによって＋１次光Ｌ２Ａのスポット２３Ａを光電変換し、検出信号Ｓ１Ａ〜Ｓ１Ｃを生成してコントローラ３２Ａ（図１）へ出力する。
【００４１】
同様にフォーカシング用フォトディテクタ１９は、両端フォトダイオード１９Ａ及び１９Ｂ、並びに中央ダイオード１９Ｃの３個のフォトダイオードを有しており、当該フォトダイオード１９Ａ〜１９Ｃによって−１次光Ｌ２Ｂのスポット２３Ｂを光電変換し、検出信号Ｓ２Ａ〜Ｓ２Ｃを生成してコントローラ３２Ａ（図１）へ出力する。
【００４２】
このように光ディスクドライブ３０の光ピックアップ２は、光集積素子３のレーザダイオード１１から照射した発射光ビームＬ１を光ピックアップ２の各光学素子を介して光ディスク８の信号記録面８Ａに入射させ、当該光ピックアップ２の各光学素子を介して反射光ビームＬ２を当該光集積素子３のフォトディテクタモジュール１７によって検出するようになされている。
【００４３】
（２）光ピックアップ特性測定装置の構成
ところで光ピックアップ２は、光ディスクドライブ３０（図１）に実装される前に、図４に示す光ピックアップ特性測定装置４０によって、当該光ピックアップ２の個々に異なる特性（詳しくは後述する）をそれぞれ測定されるようになされている。
【００４４】
すなわち光ピックアップ特性測定装置４０（図４）は、ＣＰＵ構成でなる測定制御部４１が全体を統括制御するようになされており、測定対象として所定の位置にセットされた光ピックアップ２を制御することにより光集積素子３から発射光ビームＬ１を照射し、コリメータレンズ４、立ち上げミラー５、１／４波長板６を順次介して、当該発射光ビームＬ１を対物レンズ７に通して集光し測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａに入射する。
【００４５】
ここで光ピックアップ特性測定装置４０は、対物レンズ７を図示しない治具によって光ピックアップ２に固定するようになされている。
【００４６】
続いて光ピックアップ特性測定装置４０は、発射光ビームＬ１を測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａで反射されてなる反射光ビームＬ２を、対物レンズ７、１／４波長板６、立ち上げミラー５及びコリメータレンズ４を順次介して、当該反射光ビームＬ２を光集積素子３のフォトディテクタモジュール１７へ照射し、検出した光量に応じた再生信号ＳＲＦと検出信号Ｓ１Ａ〜Ｓ１Ｃ及びＳ２Ａ〜Ｓ２Ｃとを測定制御部４１へ送出する。
【００４７】
ここで測定用光ディスク４３は、意図的に５０［μｍ］程度の反りを有するように製造されており、測定制御部４１から制御されるモータ４４によって回転する際に矢印ｚ２方向又はその反対方向に面振れを生じる。
【００４８】
レーザドップラー速度計４５は、この面振れの量を正確に測定しており、当該測定結果を面振れ量信号Ｓ４５として測定処理部４６へ送出する。
【００４９】
測定処理部４６は、取得した面振れ量信号Ｓ４５を基に対物レンズ７から測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａまでの距離ＺＤを算出し、当該距離ＺＤを測定制御部４１へ送出する。
【００５０】
このように光ピックアップ特性測定装置４０は、測定用ディスク４３を回転させながら再生信号ＳＲＦと検出信号Ｓ１Ａ〜Ｓ１Ｃ及びＳ２Ａ〜Ｓ２Ｃとを取得すると共に、光ピックアップ２に対物レンズ７を固定して測定用光ディスク４３の矢印ｚ２方向又はその反対方向の面振れを測定することによって、当該対物レンズ７から測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａまでの距離ＺＤを算出するようになされている。
【００５１】
（３）光ピックアップ特性測定処理手順
次に、光ピックアップ特性測定装置４０によって光ピックアップ２の特性を測定する際の光ピックアップ特性測定処理手順について、図５のフローチャートを用いて詳細に説明する。
【００５２】
すなわち光ピックアップ特性測定装置４０の測定制御部４１は、ルーチンＲＴ１の開始ステップから入ってステップＳＰ１へ移る。ステップＳＰ１において測定制御部４１は、図６に示すように、光集積素子３からの再生信号ＳＲＦの交流波成分の振幅ＲＡを取得し、さらに検出信号Ｓ１Ａ〜Ｓ１Ｃ及びＳ２Ａ〜Ｓ２Ｃに基づいて、フォーカスエラー信号ＳＦを上述した（１）式によって生成し、また各フォトダイオードからの検出信号Ｓ１Ａ〜Ｓ１Ｃ及びＳ２Ａ〜Ｓ２Ｃの合計でなる和信号ＳＳを次式
【００５３】
【数４】
2005063581.tif 000006
【００５４】
によって生成する。
【００５５】
そして測定制御部４１は、フォーカスエラー信号ＳＦを和信号ＳＳで割った次式
【００５６】
【数５】
2005063581.tif 000007
【００５７】
を用いて相対フォーカスエラー信号Ｅを生成し、これを振幅ＲＡ及び和信号ＳＳと共に測定制御部４１内のメモリ（図示せず）に一時的に記憶する。
【００５８】
ここで測定制御部４１は、相対フォーカスエラー信号Ｅに基づいて光ピックアップ２の特性を測定することにより、光ディスク毎の反射率の違い等によって変化するフォーカスエラー信号ＳＦの最大振幅（最大値から最小値まで変化する幅）を一定に揃えて処理するようになされている。
【００５９】
同時に測定制御部４１は、レーザドップラー速度計４５の測定結果に基づいた対物レンズ７から測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａまでの距離ＺＤを、測定処理部４６から取得して測定制御部４１内のメモリ（図示せず）に一時的に記憶し、次のステップＳＰ２へ移る。
【００６０】
ステップＳＰ２において測定制御部４１は、メモリに一時的に記憶した距離ＺＤについて、図７（Ａ）に示すように当該距離ＺＤが所定の距離範囲ＺＤＡを単調増加する区間ＴＡを選択して抽出する。
【００６１】
さらに測定制御部４１は、図７（Ｂ）〜（Ｄ）に示すように、区間ＴＡにおける相対フォーカスエラー信号Ｅ及び和信号ＳＳをそれぞれ抽出し、次のステップＳＰ４へ移る。
【００６２】
ステップＳＰ３において測定制御部４１は、相対フォーカスエラー信号Ｅの最大値Ｅ５及び最小値Ｅ１を検出し、さらに和信号ＳＳが所定の閾値ＴＨを超える区間ＴＢ内でフォーカスエラー信号と焦点ずれ量との関係が単調増加あるいは単調減少となる区間ＴＣ内における相対フォーカスエラー信号Ｅの最大値Ｅ４及び最小値Ｅ２を決定して、次のステップＳＰ４へ移る。
【００６３】
ところで光ディスクドライブ３０は、和信号ＳＳが所定の閾値ＴＨを超える区間ＴＢ内のみでフォーカシング動作を行うようになされている。そこで測定制御部４１は、以降の手順において各値の当該区間ＴＢ内に対応する部分のみを取り扱うことにより、必要な範囲のみを効率よく処理するようになされている。
【００６４】
次にステップＳＰ４においてフォーカスサーボを開始させた後、測定制御部４１は、図７（Ｄ）に示すように再生信号ＳＲＦの振幅ＲＡの値が最大となるタイミングＴｍａｘを、対物レンズ７の焦点が測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａに最も良く合致している（すなわちジャストフォーカスである）と判断し、このときの焦点ずれ量Ｄを０と設定し（図７（Ａ））、次のステップＳＰ５へ移る。
【００６５】
ちなみに光ピックアップ２は、振幅ＲＡが最大となるタイミングＴｍａｘにおいて、本来ならば相対フォーカスエラー信号Ｅが０となるはずであるが、光ピックアップ２に対する光集積素子３の位置や傾きが所定位置からずれて取り付けられていることにより、図７（Ｂ）及び（Ｄ）に示すように相対フォーカスエラー信号Ｅが０でない値Ｅ３となっている。
【００６６】
なお測定制御部４１は、再生信号ＳＲＦの信号波形における交流波成分の振幅ＲＡ（図６）の代わりに、図８に示すようなトラッキングエラー信号ＳＴの振幅ＲＢを用いて、当該振幅ＲＢの値が最大となるときをジャストフォーカスであると判断するようにしても良い。
【００６７】
ステップＳＰ５において測定制御部４１は、まず区間ＴＡについて焦点ずれ量Ｄと相対フォーカスエラー信号Ｅとを対応させる。
【００６８】
この焦点ずれ量Ｄと相対フォーカスエラー信号Ｅとの対応関係は、図９に示す波線及び実線のような曲線となる。
【００６９】
続いて測定制御部４１は、区間ＴＣに対応する（すなわち区間最大値Ｅ４及び区間最小値Ｅ２の間に対応する）部分の曲線（図９の実線部分）を、次式
【００７０】
【数６】
2005063581.tif 000008
【００７１】
で与えられる３次多項式を用いて近似し、当該（４）式の係数ａ〜ｄを取得して次のステップＳＰ６へ移る。
【００７２】
このように測定制御部４１は、焦点ずれ量Ｄと相対フォーカスエラー信号Ｅとの関係を（４）式のように多項式で表すようにしたことによって、当該多項式をその係数ａ〜ｄのみによって正確に再現することができるうえ、相対フォーカスエラー信号Ｅを基に焦点ずれ量Ｄを容易かつ正確に算出できるようになされている。
【００７３】
なお近似に用いる多項式については、（４）式の３次に限らず他の奇数次の多項式を用いるようにしても良い。
【００７４】
ステップＳＰ６において測定制御部４１は、後の調整処理で使用する相対フォーカスエラー信号Ｅの最大値Ｅ５及び最小値Ｅ１と、特性データとしての（４）式の係数ａ〜ｄとを、光ピックアップ２の製造番号に対応付けた上でデータ蓄積部４７（図４）に蓄積し、次のステップＳＰ７へ移って当該光ピックアップ特性測定処理手順を終了する。
【００７５】
このように光ピックアップ特性測定装置４０は、個々の光ピックアップ２について、対物レンズ７から測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａまでの距離ＺＤと相対フォーカスエラー信号Ｅと再生信号ＳＲＦとに基づき、焦点ずれ量Ｄと相対フォーカスエラー信号Ｅとの関係を（４）式で表される３次多項式によって近似して、その係数ａ〜ｄを特性データとして蓄積するようになされている。
【００７６】
（４）光ディスクドライブ組立調整処理手順
ところで光ディスクドライブ３０（図１）は、上述した光ピックアップ特性測定処理手順（図５）によって光ピックアップ２の特性を測定した後に、組立及び調整が行われるようになされており、そのときの光ディスクドライブ組立調整処理手順について、図１０に示すフローチャートを用いて詳細に説明する。
【００７７】
光ディスクドライブ３０は、上述した光ピックアップ特性測定手順によって特性を測定された光ピックアップ２や他の種々の部品を組み込まれた状態で、ルーチンＲＴ２の開始ステップから入ってステップＳＰ１１へ移る。
【００７８】
ステップＳＰ１１において光ディスクドライブ３０は、測定装置２０のデータ蓄積部４７から読み出される光ピックアップ２の製造番号に対応した近似多項式の係数ａ〜ｄを、駆動制御部３２の不揮発メモリ３２Ｂ（図１）に特性データとして記憶する。
【００７９】
そして光ディスクドライブ３０は、電源の投入に応じて動作を開始し、さらに測定用光ディスク４３がセットされたことを検出すると、次のステップＳＰ１２へ移る。
【００８０】
ここで光ディスクドライブ３０は、光ディスクがセットされると、光集積素子３から発射光ビームＬ１を照射しながらアクチュエータ７Ａによって対物レンズ７を当該光ディスクとの最遠点から最近点へ動かすようになされており、このとき反射光ビームＬ２に基づいた和信号ＳＳが所定の閾値ＴＨを超える範囲を監視することによって、光ディスク毎に応じた対物レンズ７のおおよそ適切な位置を認識する、いわゆる引き込み動作を行うようになされている。
【００８１】
ステップＳＰ１２において光ディスクドライブ３０は、引き込み動作によって対物レンズ７を矢印ｚ１方向又はその反対方向に移動させ、このときの相対フォーカスエラー信号Ｅを取得してその最大値Ｅ５Ｂ及び最小値Ｅ１Ｂを検出し、次のステップＳＰ１３へ移る。
【００８２】
ステップＳＰ１３において光ディスクドライブ３０は、フォーカスエラー信号ＳＦのゲイン及びオフセット等を制御することによって、このとき検出した相対フォーカスエラー信号Ｅの最大値Ｅ５Ｂ及び最小値Ｅ１Ｂが、光ピックアップ特性測定装置４０のデータ蓄積部４７から読み出される光ピックアップ２の製造番号に対応した最大値Ｅ５及び最小値Ｅ１と同じ値になるように調整して、次のステップＳＰ１４へ移る。
【００８３】
ここで光ディスクドライブ３０は、相対フォーカスエラー信号Ｅの最大値Ｅ５Ｂ及び最小値Ｅ１Ｂを、光ピックアップ２の特性を測定したときの最大値Ｅ５及び最小値Ｅ１と同一に揃えることにより、相対フォーカスエラー信号Ｅの変化する範囲を測定時と同一にすることができるので、当該光ピックアップ２の特性を測定したときの相対フォーカスエラー信号Ｅと焦点ずれ量Ｄとの関係（すなわち図９の曲線）を再現することができる。
【００８４】
ステップＳＰ１４において光ディスクドライブ３０は、光ピックアップ２のフォーカシングやトラッキング（光ディスクの半径方向の移動）に関して所定の微調整を行った後、ステップＳＰ１５へ移って当該光ディスクドライブ組立調整処理手順を終了する。
【００８５】
（５）フォーカシング処理手順
かくして光ディスクドライブ組立調整処理手順（図１０）によって組立及び調整を完了した光ディスクドライブ３０（図１）は、セットされた光ディスク８の再生処理を行う際に特性データ（すなわち係数ａ〜ｄ）を用いてフォーカシングを行うようになされており、このときのフォーカシング処理手順について、図１１のフローチャートを用いて詳細に説明する。
【００８６】
すなわち光ディスクドライブ３０の制御部３１は、ルーチンＲＴ３の開始ステップから入ってステップＳＰ２１へ移る。ステップＳＰ２１において制御部３１は、セットされている光ディスク８に対して引き込み動作を行って、対物レンズ７をおおよそ適切な（すなわちジャストフォーカスとなるすぐ近傍の）位置に移動し、次のステップＳＰ２２へ移る。
【００８７】
ステップＳＰ２２において制御部３１は、光集積素子３のレーザダイオード１１から発射した発射光ビームＬ１を光ディスク８の信号記録面８Ａに照射し、反射した反射光ビームＬ２を当該光集積素子３のフォトディテクタモジュール１７によって検出し、この時点での相対フォーカスエラー信号Ｅ１１を生成して次のステップＳＰ２３へ移る。
【００８８】
ステップＳＰ２３において制御部３１は、不揮発メモリ３２Ｂから上述の（４）式の係数ａ〜ｄを読み出し、この係数ａ〜ｄと相対フォーカスエラー信号Ｅ１１とを当該（４）式に適用して演算を行うことによって、焦点ずれ量Ｄ１１を取得し（図９）、次のステップＳＰ２４へ移る。
【００８９】
このとき光ディスクドライブ３０は、不揮発メモリ３２Ｂに特性データとして記憶した係数ａ〜ｄだけを読み出して（４）式に適用することによって、焦点ずれ量Ｄに対して必ずしも線形な関係を持たない相対フォーカスエラー信号Ｅを用いるにもかかわらず、光ピックアップ２の個別の特性に基づいた正確な焦点ずれ量Ｄ１１を取得することができる。
【００９０】
ステップＳＰ２４において制御部３１は、対物レンズ７を焦点ずれ量Ｄ１１に応じて、所定の位相補償を加えて逆方向に動かすことによって焦点ずれ量を０に制御し、このとき当該対物レンズ７の焦点を光ディスク８の信号記録面８Ａに合致させて、次のステップＳＰ２５へ移る。
【００９１】
ステップＳＰ２５において制御部３１は、再生処理を終了する所定の指示等によって当該光ディスク８の再生処理を終了するか否かを判断する。ここで否定結果が得られると、このことはまだ光ディスク８の再生処理を続ける必要があることを表しており、このとき制御部３１は、ステップＳＰ２２へ戻ってステップＳＰ２２−ＳＰ２３−ＳＰ２４の一連の処理を繰り返す。
【００９２】
このように光ディスクドライブ３０は、光ディスク８の再生処理を行う間、取得した相対フォーカスエラー信号Ｅを近似多項式に適用することによって焦点ずれ量Ｄを認識し、当該焦点ずれ量Ｄを０にするように対物レンズ７を移動させるようになされており、その結果、回転することによって面振れを生じている光ディスク８の信号記録面８Ａに対して常に最適なフォーカシングを行い続けるようになされている。
【００９３】
一方ステップＳＰ２５において肯定結果が得られると、このことは光ディスク８の再生処理を終了する所定の指示等によって当該光ディスク８の再生処理を終了する必要があることを表しており、このとき制御部３１は次のステップＳＰ２６へ移って当該フォーカシング処理手順を終了する。
【００９４】
（６）動作及び効果
以上の構成において、光ディスクドライブ３０は、光ピックアップ２の相対フォーカスエラー信号Ｅと焦点ずれ量Ｄとの関係を予め測定しておき、これを特性データとして不揮発メモリ３２Ｂに記憶するようにしたことによって、フォーカシングを行う際に当該特性データと相対フォーカスエラー信号Ｅとに基づいて正確な焦点ずれ量を取得でき、当該焦点ずれ量を確実に０にするように対物レンズ７を動かすことができるので、その結果最適なフォーカシングを行うことができる。
【００９５】
このとき光ディスクドライブ３０は、光ピックアップ２の焦点ずれ量Ｄと相対フォーカスエラー信号Ｅとの関係を予め測定した際に、その関係を上述した（４）式の多項式に近似してその係数ａ〜ｄのみを記憶するようにしたことにより、当該関係をわずかな係数のみによって確実に記憶して容易に再現することができるうえ、当該相対フォーカスエラー信号Ｅを当該（４）式に適用して演算するだけで、焦点ずれ量Ｄに対して必ずしも線形な関係を持たない当該相対フォーカスエラー信号Ｅを用いるにもかかわらず、正確な焦点ずれ量Ｄを容易に取得することができる。
【００９６】
また光ディスクドライブ３０は、その組立誤差などにより個々に異なる光ピックアップ２のそれぞれの特性を予め光ピックアップ特性測定装置４０によって測定した上で、それぞれ近似多項式の係数として不揮発性メモリ３２Ｂに記憶するようにしたことにより、光ピックアップ２の個々に異なる特性に影響されることなく、常に正確な焦点ずれ量を取得することができる。
【００９７】
以上の構成によれば、光ディスクドライブ３０は、光ピックアップ２の特性を予め個別に測定して特性データとして記憶するようにしたことにより、当該特性データに基づいてフォーカシングを最適に行うことができ、当該光ピックアップ２の特性の個体差に影響されることなく光ディスク８の読み取り精度を向上させることができる。
【００９８】
（７）他の実施例
なお上述の実施の形態においては、意図的な反りを有する測定用光ディスク４３を用いた光ピックアップ特性測定装置４０によって光ピックアップ２の特性を測定する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、図４との対応部分に同一符号を付して図１２に示す光ピックアップ特性測定装置５０のように、測定用光ディスク４３に代えて移動装置５４に取り付けたミラー５３を使用するようにしても良い。
【００９９】
この場合光ピックアップ特性測定装置５０は、移動装置５４によってミラー５３を矢印ｚ３方向の所望する位置へ容易に移動することができるので、手間をかけず容易に光ピックアップ２の特性を測定することができる。
【０１００】
また上述の実施の形態においては、光ピックアップ２の特性を測定する際に（図４）、光ピックアップ２に固定した対物レンズ７を使用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、当該対物レンズ７に代えて開口率がより低い測定用対物レンズ５１（例えば対物レンズ７の開口率０．８５に対して開口率０．１）を使用するようにしても良い（図１２）。
【０１０１】
この場合光ピックアップ特性測定装置５０は、測定用対物レンズ５１の開口率が低いことによって、図１３（Ａ）〜（Ｃ）に示すように、移動装置５４によるミラー５３の矢印ｚ３方向の移動量に対するフォーカスエラー信号ＳＦの変化が緩やかになるために、相対フォーカスエラー信号Ｅと焦点ずれ量Ｄとの関係をより高精度に対応づけることができ、その結果一段と高精度な近似多項式を得ることができる。
【０１０２】
さらに上述の実施の形態においては、光ピックアップ２の特性を測定する際に（図４）、再生信号ＳＲＦの振幅ＲＡが最大となるタイミングＴｍａｘに基づいて光ピックアップ特性測定装置４０の測定制御部４１がジャストフォーカスを判断するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ピックアップ特性測定装置４０の１／４波長板６に代えて正常な状態からわずかに傾きを変化させた測定用１／４波長板５２を使用し（図１２）、光集積素子３のレーザダイオード１１を駆動するときのレーザ駆動電流Ｉを制御部３１が監視するようにした上で、当該レーザ駆動電流Ｉが変化するタイミングをジャストフォーカスであると判断するようにしても良い。
【０１０３】
この場合、光ピックアップ特性測定装置５０は、光集積素子３のレーザダイオード１１から発射光ビームＬ１を照射してミラー５３により反射したときに、正常な状態からわずかに傾きを変化させた測定用１／４波長板５２によって反射光ビームＬ２の一部がレーザダイオード１１へ戻るようになされている。
【０１０４】
その結果、光ピックアップ特性測定装置５０は、レーザダイオード１１の出力が常時一定となるように自動調整されているために、ジャストフォーカス時のみ反射光ビームＬ２がいわゆる戻り光として作用し、図１３（Ｄ）に示すように、レーザ駆動電流Ｉが戻り光に相当する分だけ変化するため、ジャストフォーカスを容易に判定することができる。
【０１０５】
さらに上述の実施の形態においては、光ピックアップ２の特性を測定する際に（図４）、レーザドップラー速度計４５によって対物レンズ７と測定用光ディスク４３の信号記録面４３Ａとの距離ＺＤを計測するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、レーザ変位計５５及び測定処理部５６（図１１）などの他の種々の測定手段によって当該距離ＺＤを測定するようにしても良い。
【０１０６】
さらに上述の実施の形態においては、相対フォーカスエラー信号Ｅと焦点ずれ量Ｄとの関係を（４）式の多項式により近似した場合について述べたが（図９）、本発明はこれに限らず、図１４に示すように、当該特性を離散的な複数の点によって近似的に表し、線形近似を用いて相対フォーカスエラー信号Ｅから焦点ずれ量Ｄを求めるようにしても良い。
【０１０７】
すなわち相対フォーカスエラー信号Ｅ１２（図１４）を取得したときに、不揮発メモリ３２Ｂに記憶された離散的な値の中から当該相対フォーカスエラー信号Ｅ１２を間に挟む２つの値（Ｅ６及びＥ７）を選択し、それぞれに対応する焦点ずれ量Ｄの値（Ｄ６及びＤ７）と合わせて用いる次式
【０１０８】
【数７】
2005063581.tif 000009
【０１０９】
によって当該フォーカスエラー信号値Ｅ１２に対応する焦点ずれ量Ｄ１２を求めることができ、簡易な演算によって制御部３１に負荷をかけずに精度良く焦点ずれ量Ｄを取得することができる。
【０１１０】
さらに上述の実施の形態においては、スポットサイズディテクティング法を用いてフォーカシングを行うようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、他の種々の手法によってフォーカシングを行うようにしても良い。
【０１１１】
さらに上述の実施の形態においては、信号生成手段としての制御部３１と、特性データ記憶手段としての不揮発メモリ３２Ｂと、制御手段としての制御部３１とによって光ディスクドライブを構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、他の種々の回路構成でなる信号生成手段と、特性データ記憶手段と、制御手段とによって光ピックアップを構成するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【０１１２】
本発明は、光ピックアップを搭載するＤＶＤ（Digital  Versatile Disc）プレーヤやBlu-ray  Disc（商標）レコーダ等にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１１３】
【図１】光ディスクドライブの全体構成を示すブロック図である。
【図２】光集積素子の構成を示す略線的断面図である。
【図３】フォトディテクタの構成を示す略線図である。
【図４】実施の形態による光ピックアップ特性測定装置の全体構成を示すブロック図である。
【図５】光ピックアップの特性測定処理手順を示すフローチャートである。
【図６】再生信号の波形を示す略線図である。
【図７】実施の形態による各信号の出力波形を示す略線図である。
【図８】トラッキングエラー信号の波形を示す略線図である。
【図９】実施の形態による相対フォーカスエラー信号と焦点ずれ量との関係を示す略線図である。
【図１０】実施の形態による光ディスクドライブ組立調整処理手順を示すフローチャートである。
【図１１】実施の形態によるフォーカシング処理手順を示すフローチャートである。
【図１２】他の実施の形態による光ピックアップ特性測定装置の全体構成を示す略線図である。
【図１３】他の実施の形態による各信号の出力波形を示す略線図である。
【図１４】他の実施の形態によるフォーカスエラー信号と焦点ずれ量との関係を示す略線図である。
【図１５】従来の光ディスクドライブの構成を示す略線図である。
【図１６】従来の反射光ビーム検出の様子（１）を示す略線図である。
【図１７】従来の反射光ビーム検出の様子（２）を示す略線図である。
【図１８】従来の反射光ビーム検出の様子（３）を示す略線図である。
【図１９】従来のフォーカスエラー信号と焦点ずれ量との関係を示す略線図である。
【符号の説明】
【０１１４】
１……光ディスクドライブ、２……光ピックアップ、３……光集積素子、７……対物レンズ、８……光ディスク、８Ａ……信号記録面、１１……レーザダイオード、１７……フォトディテクタモジュール、３０……光ディスクドライブ、３１……制御部、３２Ｂ……不揮発メモリ、４０……光ピックアップ特性測定装置、４１……測定制御部、４３……測定用光ディスク、４３Ａ……信号記録面、４５……レーザドップラー速度計、４６……測定処理部、４７……データ蓄積部。
【図１】
2005063581.tif 000010
【図２】
2005063581.tif 000011
【図３】
2005063581.tif 000012
【図４】
2005063581.tif 000013
【図５】
2005063581.tif 000014
【図６】
2005063581.tif 000015
【図７】
2005063581.tif 000016
【図８】
2005063581.tif 000017
【図９】
2005063581.tif 000018
【図１０】
2005063581.tif 000019
【図１１】
2005063581.tif 000020
【図１２】
2005063581.tif 000021
【図１３】
2005063581.tif 000022
【図１４】
2005063581.tif 000023
【図１５】
2005063581.tif 000024
【図１６】
2005063581.tif 000025
【図１７】
2005063581.tif 000026
【図１８】
2005063581.tif 000027
【図１９】
2005063581.tif 000028