(57)【要約】【課題】本発明は、接触抵抗増加の抑制と、測定接点の交換頻度の低減が図れる電子部品の特性測定装置およびその方法を提供することを目的とするものである。【解決手段】複数の端子１を有する電子部品２を搬送する搬送ベルト１８と、電子部品２の端子１に当接する複数の接触体２１ｂ〜２４ｂと、接触体２１ｂ〜２４ｂを嵌め込み電子部品２の端子１に当接する際には接触体２１ｂ〜２４ｂを回転せずに摺動しながら当接させ、端子１から離脱する際には回転させる一方向回転機構２１ａ〜２４ａと、一方向回転機構２１ａ〜２４ａと接続かつ移動自在に保持するレバー２１ｃ〜２４ｃと、レバー２１ｃ〜２４ｃと測定機器を接続する接続機構により構成する。【選択図】図１
2005077261.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の端子を有する電子部品の搬送機構と、電子部品の端子に当接する複数の接触体と、前記接触体を嵌め込み電子部品の端子に当接する際には接触体を回転せずに摺動しながら当接させ、前記端子から離脱する際には回転させる一方向回転機構と、前記一方向回転機構と接続かつ移動自在に保持するレバーと、前記レバーと測定機器を接続する接続機構により構成してなる電子部品の特性測定装置。
【請求項２】
電子部品の複数の端子に一対以上の対向した接触体を、同時に当接および同時に前記接触体を離脱する構成としてなる請求項１に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項３】
一方向回転機構をラチェットにより形成してなる請求項１または２のいずれか一つに記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項４】
一方向回転機構をワンウェイクラッチにより形成してなる請求項１または２のいずれか一つに記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項５】
接触体と一方向回転機構を、ロータリーアクチュエータを介して接続する構成を使用してなる請求項１または２のいずれか一つに記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項６】
接触体の一面に導電材でなる摩擦板を押圧し、前記摩擦板から接続機構あるいは測定機器に別途電気的接続を行う構成を使用してなる請求項１または２のいずれか一つに記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項７】
複数の端子を有する電子部品を所定箇所に載置した後、前記端子に対応する測定接点の接触体を回転させずに移動させ、前記端子の表面に前記接触体の外周面を摺動させて端子の表面をクリーニングして当接した後、電子部品の電気的特性を測定し、電気的特性の測定終了後、前記接触体を回転させながら移動させ、前記電極から離脱させることにより、次の被測定電子部品の端子に当接する接触体の外周面を新規としてなる電子部品の特性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種電子部品のインピーダンスなどの特性を測定する電子部品の特性測定装置およびその方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来における電子部品のインピーダンスなどの特性測定装置およびその方法として、例えば、電子部品に設けた複数の端子に当接させる複数の測定接点と、その測定接点と測定機器とを接続する接続体とを設け、前記測定接点を可動自在とし、電子部品の複数の端子に測定接点を当接かつ稼動させ、その電子部品の諸特性を測定する構成のものであった（特許文献１参照）。
【０００３】
図３は、特許文献１に記載された従来における電子部品の特性測定装置の要部構成斜視図であり、導電材でなり各種の電子機器に対する組立あるいは接続用など複数の端子１を、一面あるいは端部に配設した電子部品２と、電子部品２の端子１に当接させるため可動自在とした複数の測定接点３〜６と、測定接点３〜６とインピーダンスなどを計測する測定機器とを接続する接続体８〜１１を設けてなり、電子部品２の端子１に測定接点３〜６を当接かつ可動させる構成であった。
【特許文献１】特公開２０００−２３０９４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、前記従来の特性測定装置およびその方法では、電子部品における端子の表面と測定接点の接触表面に汚れや不純物などがあった場合、それらが接触抵抗増加の一因となり、特性すなわち電気的特性値の真値に対する誤差の要因となった。
【０００５】
また、電子部品の端子に測定接点の同じ位置（接触点）が測定毎に接触することで、測定接点の接触点に汚れや不純物などが堆積し、その結果、接触抵抗が増加したり、また逆に、測定接点が摩耗することで形状が変化して接触抵抗が変化することがあり、それらは測定値に対してバラツキの要因となるため、一定期間での測定接点の交換が必要であった。
【０００６】
本発明は、前記従来の課題を解決しようとするものであり、測定接点の当接（接触）部を１方向に回転自在で、かつ移動自在とする構成とし、測定接点の当接（接触）点を特定箇所に限定せず変化させることにより、汚れや不純物などの除去による接触抵抗増加の抑制と、測定接点の交換頻度の低減が図れる電子部品の特性測定装置およびその方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記従来の課題を解決するために、本発明は以下の構成を有するものである。
【０００８】
本発明の請求項１に記載の発明は、特に、複数の端子を有する電子部品の搬送機構と、電子部品の端子に当接する複数の接触体と、前記接触体を嵌め込み電子部品の端子に当接する際には接触体を回転せずに摺動しながら当接させ、前記端子から離脱する際には回転させる一方向回転機構と、前記一方向回転機構と接続かつ移動自在に保持するレバーと、前記レバーと測定機器を接続する接続機構でなる構成としたものであり、これにより、接触体の外周面が端子の表面を摺動あるいは回転移動し、電子部品の端子の表面と接触体の外周面における汚れや不純物などを除去でき、確実に当接し、精度良く測定できるという作用効果が得られる。
【０００９】
本発明の請求項２に記載の発明は、特に、電子部品の複数の端子に一対以上の対向した接触体を、同時に当接および同時に前記接触体を離脱する構成としたものであり、これにより、請求項１に記載の作用効果に加えて、摩擦による互いに逆方向の接触力が相殺され、電子部品への不要な作用力を軽減することができるという作用効果が得られる。
【００１０】
本発明の請求項３に記載の発明は、特に、一方向回転機構をラチェットにより形成してなるものであり、これにより、安価で確実に接触体を一方向のみ回転させることができるという作用効果が得られる。
【００１１】
本発明の請求項４に記載の発明は、特に、一方向回転機構をワンウェイクラッチにより形成してなるものであり、これにより、確実に接触体を一方向のみに回転させ、かつ精度良く制御できるという作用効果が得られる。
【００１２】
本発明の請求項５に記載の発明は、特に、接触体と一方向回転機構を、ロータリーアクチュエータを介して接続する構成を使用してなるものであり、これにより、接触体の回転あるいは移動に際しても安定で、測定機器への接続が確実にできるという作用効果が得られる。
【００１３】
本発明の請求項６に記載の発明は、特に、接触体の一面に導電材でなる摩擦板を押圧し、前記摩擦板から接続機構あるいは測定機器に別途電気的接続を行う構成を使用してなるものであり、これにより、接触体の回転あるいは移動に際しても安定で、測定機器への接続が確実にできるという作用効果が得られる。
【００１４】
本発明の請求項７に記載の発明は、特に、複数の端子を有する電子部品を所定箇所に載置した後、前記端子に対応する測定接点の接触体を回転させずに移動させ、前記端子の表面に前記接触体の外周面を摺動させて端子の表面をクリーニングして当接した後、電子部品の電気的特性を測定し、電気的特性の測定終了後、前記接触体を回転させながら移動させ、前記電極から離脱させることにより、次の被測定電子部品の端子に当接する接触体の外周面を新規としてなる電子部品の特性測定方法であり、接触体の外周面が端子の表面を摺動あるいは回転移動し、端子の表面と接触体の外周面における汚れや不純物などを除去でき、また常に新規外周面より当接でき、確実かつ精度良く測定できるという作用効果が得られる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明による電子部品の特性測定装置およびその方法によれば、電子部品における端子の表面と測定接点における接触体の外周面の汚れや不純物などを除去して、接触抵抗の増加を抑制でき、また、測定接点における接触体の接触点を特定箇所に限定せずに変化（移動）させることにより、汚れや不純物などの堆積集中や摩耗集中を防止し、確実かつ精度良く測定できるとともに、測定接点の交換頻度を低減させることができるという効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態を用いて、請求項１〜７に記載の発明について図面を参照しながら説明する。
【００１７】
図１は本発明の実施の形態における、電子部品の特性測定装置における要部構成斜視図、図２は同測定接点の動作を説明する拡大側面図である。なお、従来の技術において説明した構成部材については、同じ符号を付与し詳細な説明は省略する。
【００１８】
図１、図２において、２は複数の端子１を有する電子部品であり、矢印方向に定間隔で移動する搬送ベルト１８の片面に定間隔で搭載されている。２１〜２４は複数の端子１に対応し、各々導電材による構成体でなる測定接点である。
【００１９】
測定接点２１〜２４は、図２（ｄ）に示す矢印方向だけ回転自在とする一方向回転機構２１ａ〜２４ａと、一方向回転機構２１ａ〜２４ａに各々嵌め込まれ、外周面が電子部品２の端子１の表面に当接する円盤状の接触体２１ｂ〜２４ｂ、およびアーム状の保持機構であるレバー２１ｃ〜２４ｃにより構成されている。
【００２０】
８〜１１は導電性の弾性材でなり、片端を測定接点２１〜２４のレバー２１ｃ〜２４ｃの突起部に接続ネジ１４により接続固着した接続体、１５は絶縁材でなるコ字状アーム形状の配線体、１６は固定ネジであり、接続体８〜１１の他端と、電子部品２のインピーダンスなどの特性を計測する測定機器（図示せず）への接続用のリード線１７との接続、および配線体１５の端部に固定するものであり、以上により接続機構を構成している。
【００２１】
１２および１３はレバー２１ｃ，２２ｃおよび２３ｃ，２４ｃを支持および回動自在とする軸、７は金属材あるいは硬質絶縁材でなり、矢印方向に移動自在で上部一端が開口したロ字状の測定ブロックであり、開口部の片上端部に軸１２，１３を保持している。
【００２２】
１９は測定ブロック７のロ字状内部に配設されたバネであり、片端を対の測定ブロック７におけるロ字状内部の底に、他端を一方向回転機構２１ａ〜２４ａおよび接触体２１ｂ〜２４ｂの設置されていないレバー２１ｃ〜２４ｃの他端に当接させており、レバー２１ｃ〜２４ｃの他端を上方向、すなわち接触体２１ｂ〜２４ｂを下方向（電子部品２の端子１における当接面である表面）に付勢している。
【００２３】
さて本発明は、電子部品２におけるインピーダンス（特に低インピーダンス）などの電気的特性を測定接点２１〜２４により測定する際に、レバー２１ｃ〜２４ｃの移動と、一方向回転機構２１ａ〜２４ａにより、接触体２１ｂ〜２４ｂが回転せずかつ摩擦によって、接触体２１ｂ〜２４ｂにおける外周面の汚れや不純物などを除去しながら電子部品２における複数の端子１に当接し、所定の電気的特性を測定する。
【００２４】
そして、所定の電気的特性の測定が終了し接触体２１ｂ〜２４ｂが端子１から離脱する際には、レバー２１ｃ〜２４ｃの移動と、一方向回転機構２１ａ〜２４ａにより、接触体２１ｂ〜２４ｂの外周面と端子１の表面との摩擦によって接触体２１ｂ〜２４ｂが回転して、次の測定における接触体２１ｂ〜２４ｂの接触点（位置）が変化する電子部品２のインピーダンスなど電気的特性を測定する測定装置およびその方法なのである。
【００２５】
すなわち、まず搬送ベルト１８の矢印方向の間欠移動により、搬送ベルト１８に搭載された電子部品２は、対に配設された測定接点２１〜２４の直線上位置に設定される。次に対の測定ブロック７が各々接近するように移動し、接触体２１ｂ〜２４ｂの外周面を電子部品２の端子１のエッジに当接させる。
【００２６】
さらに、測定ブロック７すなわちレバー２１ｃ〜２４ｃを移動（前進）させて、接触体２１ｂ〜２４ｂの外周面と電子部品２の端子１の表面すなわち平面部に当接させた後、測定機器により電子部品２のインピーダンスなどの電気的特性を計測し測定する。なおその際、バネ１９の弾性力と一方向回転機構２１ａ〜２４ａにより接触体２１ｂ〜２４ｂは回転せずに、摩擦により端子１の表面を摺動した後、押圧し当接する。
【００２７】
測定機器による電子部品２におけるインピーダンスなどの電気的特性の測定が終了すると、測定ブロック７すなわちレバー２１ｃ〜２４ｃを移動（後退）させ、元の位置に復帰させる。なおその際、ばね１９の弾性力と一方向回転機構２１ａ〜２４ａにより、接触体２１ｂ〜２４ｂは摺動することなく回転しながら端子１の表面から離脱することになる。
【００２８】
続いて、搬送ベルト１８を間欠移動させ、同じく前記の動作を行い、次の電子部品２におけるインピーダンスなどの電気的特性の測定を行うのである。
【００２９】
つまり、電子部品２のインピーダンスなどの電気的特性を測定するために、電子部品２の複数の端子１に、測定接点２１〜２４を移動（前進）させて接触体２１ｂ〜２４ｂを当接させる際に、一方向回転機構２１ａ〜２４ａを回転不可方向（図２（ｄ）の矢印方向とは逆）に設定しているものであり、図２（ａ）〜図２（ｃ）に示すように、接触点Ａ２５と接触点Ｂ２６において、端子１の表面と接触体２１ｂ〜２４ｂの外周面とが摩擦を受けかつ回転せずに摺動するのであり、端子１の表面と接触体２１ｂ〜２４ｂの外周面の汚れや不純物などを除去するのである。
【００３０】
さらに、図２（ｃ）に示すように測定接点２１〜２４の移動（前進）終了後、測定機器にて電子部品２におけるインピーダンスなどの電気的特性の測定を行い、図２（ｃ）〜図２（ｅ）に示すように、測定接点２１〜２４を元の位置に復帰させるため移動（後退）する際には、一方向回転機構２１ａ〜２４ａと接触体２１ｂ〜２４ｂの外周面と端子１の表面との摩擦によって、図２（ｄ）に示す矢印方向に回転することで、接触点Ａ２５と接触点Ｂ２６が接触点Ｃ２７と接触点Ｄ２８の箇所（位置）に変化（移動）する。
【００３１】
これにより、次の電子部品２におけるインピーダンスなどの電気的特性を測定する時に、新たな接触箇所（位置）である接触点Ｃ２７と接触点Ｄ２８でインピーダンスなどの電気的特性の測定を行うことができるのである。
【００３２】
なお、本実施の形態では、測定接点２１〜２４を前後すなわち水平直線に移動自在としているが、上下すなわち垂直に移動自在の機能を付加した構成として、水平移動の距離を短くしてもよい。
【００３３】
また、図１に示すように、一対以上の対向した測定接点２１〜２４を同時に当接および同時に離脱させるようにすれば、一方向からの移動による当接（接触）に比べて、摩擦による互いの逆方向の接触力が相殺されて、電子部品２への不要な作用力（例えば、電子部品２に対するずれや、接触不足あるいは不均一となる作用）を軽減することができる。
【００３４】
さらに、一方向回転機構２１ａ〜２４ａとしては、ラチェットあるいはワンウェイクラッチなどを使用すれば、確実に一方向のみに接触体２１ｂ〜２４ｂを回転させることができる。
【００３５】
さらにまた、測定接点２１〜２４と測定機器との接続構成における接触体２１ｂ〜２４ｂからリード線１７への接続において、接触体２１ｂ〜２４ｂと一方向回転機構２１ａ〜２４ａを、ロータリーアクチュエータ（水銀接点）を介して接続したり、あるいは接触体２１ｂ〜２４ｂの一面に導電材でなる摩擦板を押圧し、摩擦板からリード線１７あるいは測定機器に別途電気的接続を行う構成としてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３６】
本発明にかかる電子部品の特性測定装置およびその方法は、電子部品における端子の表面と測定接点における接触抵抗の増加を抑制でき、汚れや不純物などの堆積集中や摩耗集中を防止し、確実かつ精度良く測定できるとともに、測定接点の交換頻度を低減させることができるという効果を有し、各種電子部品のインピーダンスや化学的、物理的などの特性を測定する電子部品の特性測定装置およびその方法などの用途として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の電子部品の特性測定装置における要部構成斜視図
【図２】同測定接点の動作を説明する拡大側面図
【図３】従来における電子部品の特性測定装置の要部構成斜視図
【符号の説明】
【００３８】
１  端子
２  電子部品
７  測定ブロック
８  接続体
９  接続体
１０  接続体
１１  接続体
１２  軸
１３  軸
１４  接続ネジ
１５  配線体
１６  固定ネジ
１７  リード線
１８  搬送ベルト
１９  バネ
２１  測定接点
２１ａ  一方向回転機構
２１ｂ  接触体
２１ｃ  レバー
２２  測定接点
２２ａ  一方向回転機構
２２ｂ  接触体
２２ｃ  レバー
２３  測定接点
２３ａ  一方向回転機構
２３ｂ  接触体
２３ｃ  レバー
２４  測定接点
２４ａ  一方向回転機構
２４ｂ  接触体
２４ｃ  レバー
２５  接触点Ａ
２６  接触点Ｂ
２７  接触点Ｃ
２８  接触点Ｄ
【図１】
2005077261.tif 000003
【図２】
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【図３】
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