(57)【要約】【課題】放射線検出器の短時間の温度変化に適切に追従して温度補償を、かつ経年変化に対して精度の高い補償を行う検出パルス波高値補償を行う環境放射線モニタを提供する。【解決手段】環境中の放射線を放射線検出器にて検出し、この放射線検出器から出力される検出パルスに基づいて環境放射線量を線量率として測定する環境放射線モニタにおいて、放射線検出器の温度を測定する温度測定手段と、上記測定温度に基づき検出パルスの温度補償係数を決定する温度補償係数決定手段と、上記検出パルスの波高値を分析して波高スペクトルを求める波高分析手段と、上記波高スペクトルにおける天然放射性核種Ｋ−４０の光電ピークに基づき検出器の経年変化補償係数を決定する経年変化補償係数決定手段と、温度補償係数と経年変化補償係数の積に基づき検出器パルスの波高値を安定化する補償制御手段と、を備えた。【選択図】図５
2005077230.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
環境中の放射線を放射線検出器にて検出し、この放射線検出器から出力される検出パルスに基づいて環境放射線量を線量率として測定する環境放射線モニタにおいて、
放射線検出器の温度を測定する温度測定手段と、
上記測定温度に基づき検出パルスの温度補償係数を決定する温度補償係数決定手段と、
上記検出パルスの波高値を分析して波高スペクトルを求める波高分析手段と、
上記波高スペクトルにおける天然放射性核種Ｋ−４０の光電ピークに基づき検出器の経年変化補償係数を決定する経年変化補償係数決定手段と、
温度補償係数と経年変化補償係数の積に基づき検出器パルスの波高値を安定化する補償制御手段と、
を備えたことを特徴とする環境放射線モニタ。
【請求項２】
環境放射線の測定結果に基づき環境放射線量が正常か異常かを判定する環境放射線異常判定手段と、
所定の波高値範囲の計数率が正常か異常かを判定する計数率異常判定手段と、
検出パルスの波形診断によりノイズ侵入を検知するノイズ侵入判定手段と、
を備え、
上記補償制御手段が、環境放射線量異常または計数率異常もしくはノイズ侵入のいずれかと判定された場合には、当該波高値データの波高スペクトルデータヘの取り込みをブロックするとともに経年変化補償係数の更新をスキップすることを特徴とする請求項１に記載の環境放射線モニタ。
【請求項３】
上記温度補償係数決定手段が、測定温度の直前値からの変化が所定の許容範囲を逸脱した場合に温度補償係数の更新をスキップすることを特徴とする請求項１または２に記載の環境放射線モニタ。
【請求項４】
ノイズ侵入と判定された場合に、当該波高値データを環境放射線量の算出演算から排除する手段を備えたことを特徴とする請求項２または３に記載の環境放射線モニタ。
【請求項５】
上記温度測定手段が熱容量調整手段を備えたことを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の環境放射線モニタ。
【請求項６】
上記放射線検出器を含む検出部に日射による輻射熱が侵入するのを緩和する熱遮蔽手段を備えたことを特徴とする請求項１ないし５のいずれか１項に記載の環境放射線モニタ。
【請求項７】
上記放射線検出器を含む検出部に日除けカバーを備えたことを特徴とする請求項１ないし６のいずれか１項に記載の環境放射線モニタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、原子力発電所周辺等で環境放射線の監視に用いられる環境放射線モニタにおいて、放射線検出器から出力される検出パルスの波高値を検出器の温度特性及び経年変化に対して安定に動作させる技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の環境放射線モニタとしては、従来、ＮａＩ(ＴＩ)シンチレーション検出器の検出パルスの波高値に基づき線量の重み付けを行い、それを積算した積算線量に対して時定数処理を行って線量率を求めて出力し、安定した波高値を得るために波高スペクトルにおける天然放射性核種Ｋ−４０のγ線１４６１ｋｅＶの光電ピークを指標として主増幅器のゲインを制御し、検出パルスの波高値の温度変化及び経年変化を同時に補償し、その補償機能が人工放射性核種の影響で誤動作することを防止するために、環境放射線量が所定の値を超えた場合は、人工放射性核種の影響とみなしてＫ−４０の光電ピークを指標としたゲイン補償から検出器温度の測定結果に基づくゲイン補償に切り替える方法が提案されている(例えば特許文献１参照)。
【０００３】
【特許文献１】特許第３１５３４８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら上記従来方法は、天然放射性核種Ｋ−４０の光電ピークに基づく補償を「主」とし、検出器温度に基づく補償を「従」とし、通常は「主」補償のみとし、人工放射性核種の影響がある時のみ「従」に切り換わるようにしているため、検出器温度が短時間に急激に変化する例えば夏場の雷雨のような場合に補償応答が追従できず、安定した補償精度が確保できないという問題があった。
【０００５】
また、より高感度の測定のために自己汚染の少ない低濃度Ｋ−４０検出器が要求される場合、環境放射線モニタを設置する周辺地質が低濃度Ｋ−４０環境である場合、環境放射線モニタを設置する局舎がＫ−４０を多く含むコンクリート製からより低コストのプレハブ鉄製に変更されるようになってきた状況において、指標ピークの測定精度を維持するために波高スペクトルの測定時間を十数時間と長くせざるを得ない状況が発生しており、こうした状況が益々温度変化の追従性を悪くしている。
【０００６】
また、降雨により環境中のＲｎ及びＴｎが増加すると、その娘核種のγ線の散乱スペクトルが光電ピークに混入するため、指標ピークの測定精度を悪化させる。また、侵入したノイズが光電ピークを変動させかつ線量率が補償切換の許容値以内の場合は、同様に指標ピークの測定精度を悪化させる。また、波高スペクトルの測定時間が長いためにノイズの影響が長時間残るという問題があった。また、ノイズで線量率が上昇した場合、補償の切換により補償の誤動作は防止できるが、線量率測定の誤動作は避けられなかった。
【０００７】
この発明は上記のような課題を解決するためになされたものであり、放射線検出器の短時間の温度変化に適切に追従して温度補償を行い、かつ、経年変化に対して精度の高い補償を行う検出パルスの波高値補償を、更にノイズに対して影響されない線量率測定を行う環境放射線モニタを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の目的に鑑み、この発明は、環境中の放射線を放射線検出器にて検出し、この放射線検出器から出力される検出パルスに基づいて環境放射線量を線量率として測定する環境放射線モニタにおいて、放射線検出器の温度を測定する温度測定手段と、上記測定温度に基づき検出パルスの温度補償係数を決定する温度補償係数決定手段と、上記検出パルスの波高値を分析して波高スペクトルを求める波高分析手段と、上記波高スペクトルにおける天然放射性核種Ｋ−４０の光電ピークに基づき検出器の経年変化補償係数を決定する経年変化補償係数決定手段と、温度補償係数と経年変化補償係数の積に基づき検出器パルスの波高値を安定化する補償制御手段と、を備えたことを特徴とする環境放射線モニタにある。
【発明の効果】
【０００９】
検出器パルスの波高値変化に対して、速い応答性が要求される温度変化については温度補償処理を行い、スパンの長い検出器の経年変化に対しては経年変化補償処理を行い、両方の補償処理を同時に進行させることにより精度の高い補償を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１を図１〜５に基づいて説明する。
図１はこの発明の実施の形態１に係わる環境放射線モニタの構成を示すブロック図である。図１において、ＮａＩ(ＴＩ)シンチレータ１はγ線が入射すると蛍光を発する。光電子増倍管２は上記蛍光を電子に変換して増倍させ、電流パルスを生成する。前置増幅器３は発生した電流パルスを電圧パルスに変換する。検出器ハウジング４は上記１〜３を収納する。放射線検出器５は上記１〜４で構成される。温度センサ６は放射線検出器５の温度を検出する。検出器収納ケース７は上記放射線検出器５と温度センサ６を収納して雨雪風から保護する。放射線検出器５、温度センサ６、およびこれらを収納する検出器収納ケース７を含む部分が放射線検出部となる。
【００１１】
高圧電源８は光電子増倍管２に高電圧を供給する。主増幅器９は前置増幅器３から出力された電圧パルスの波高値を増幅する。Ａ／Ｄ変換器１０は主増幅器９で増幅された電圧パルスの波高をデジタル値に変換する。温度測定部１１は温度センサ６の出力を温度に対応した電圧の温度信号に変換する。演算部１２はＡ／Ｄ変換器１０の出力のデジタル値と温度測定部１１の出力の温度測定値を入力し、上記デジタル値に重み付けを行い、線量率を演算して出力するとともに主増幅器９のゲインを制御する。メモリ１３は演算部１２の演算プログラム、演算結果としてのデータ、温度補償係数テーブル、主増幅器９のゲイン初期値、判定基準値、検出器パルスの波高値スペクトル(波高値スペクトル以外はそれぞれ特に図示せず)を記憶する。波高値スペクトルエリア１３１はメモリ１３の中で検出器パルスの波高値スペクトルを記憶する。出力部１４は演算結果としての線量率を表示するとともに環境放射線モニタの外部に演算結果を出力する。なお、演算結果の線量率は環境放射線量の一例であり、当然のことであるが線量当量率としてもよい。
【００１２】
演算部１２は温度測定値と温度補償係数テーブルを照合して対応する温度補償係数を決定する。温度補償係数テーブル中のポイント間は、内挿法で温度補償係数を決定する。次に、検出パルスの波高のデジタル値に基づき作成された波高スペクトル(横軸が波高値で縦軸がカウント値)において、例えば１３００〜１６００ｋｅＶ相当の波高値から、最大カウントを示す天然放射性核種Ｋ−４０の光電ピーク(１４６１ｋｅＶ相当)位置を求め、メモリに記憶されているその初期値との比の逆数をもって検出器の経年変化補償係数を決定し、温度補償係数に経年変化補償係数を掛け算してその結果に基づき主増幅器のゲインを制御する。この時、Ｋ−４０の光電ピーク位置を正確に求めるためにサンプリング時間を例えば１０００分以上とすれば、ピークカウントは通常１００００カウント以上となり、ピーク波高値の測定誤差は１％未満(信頼度は９９％以上)となる。
【００１３】
サンプリング時間を短くするとＫ−４０の光電ピーク位置の測定精度が低くなり、結果として線量率の測定値に補償段差を生じる原因になる。温度センサは検出器の環境温度変化に対する応答と整合のとれたものが選択され、上記サンプリング時間に比べて１０倍以上速い応答性である。このようにしてゲイン制御に対する応答性に差を持たせることにより、検出器温度に起因する短時間で現れる波高値変化に対しては、温度センサで検出した温度に基づく温度補償係数で補償し、長時間の時間経過において現れる主に光電子増倍管のゲイン変化に起因する波高値変化に対しては、Ｋ−４０の光電ピークから求めた経年変化補償係数で補償し、応答性の差に適合させるようにゲイン制御の役割に違いを持たせている。なお、線量率測定における測定対象のγ線エネルギーは、一般に５０〜３０００ｋｅＶである。
【００１４】
図２はこの発明の実施の形態１に係わる検出パルスの波高値の温度補償動作を示す図である。同図において、ａは温度補償前(温度補償なし)のＫ−４０光電ピーク位置の変動率、ｂは温度補償係数、ｃは温度補償後(温度補償あり)のＫ−４０光電ピーク位置の変動率を模式的に表したものである。ａは、例えば出荷時の温度試験において、５℃間隔で温度に対するＫ−４０の光電ピークを測定し、基準温度に対する変動率として求めることができる。温度試験は塩化カリ中の天然のＫ−４０を照射することにより精度の高いデータが得られる。ｂはａの逆数で、温度補償係数テーブルはｂに基づいて作成する。
【００１５】
図３の(ａ)(ｂ)はこの発明の実施の形態１に係わるＫ−４０の光電ピークと測定時間の関係を示す図である。図３の(ａ)において、ｄは検出パルスの波高スペクトル、図３の(ｂ)において、ｅはＫ−４０光電ピークの１０分測定結果を、ｆはＫ−４０光電ピークの１０００分測定結果を模式的に表したものである。ｅはカウント数が少ないため光電ピーク測定のばらつきが大きい。それに対してｆは長時間測定でカウントが多いため光電ピークの測定精度が高くなる。
【００１６】
図４は、この発明の実施の形態１に係わる検出パルスの波高値の経年変化補償動作を示す図である。図４において、ｇは経年変化補償前(経年変化補償なし)のＫ−４０光電ピーク、ｈは経年変化補償量、ｉは経年変化補償後(経年変化補償あり)のＫ−４０光電ピークを模式的に表したものである。Ｋ−４０光電ピークの経年変化はゆっくりしたものであり、経年変化補償を行うことによりＫ−４０光電ピークは安定化されて、その結果として検出パルスの波高値が安定化される。
【００１７】
図５はこの発明の実施の形態１に係わる検出パルスの波高値の補償処理手順を示すフローチャートである。図５に従って動作を説明すると、まず、検出パルスの波高値データを入力する(ステップＳ０１)。次に５０ｋｅＶ≦波高値≦３０００ｋｅＶの条件を満たしていない場合には(ステップＳ０２)ステップＳ０１に戻り、満たしていれば、波高値データをスペクトルデータとしてメモリ１３の波高値スペクトルエリア１３１に格納する(ステップＳ０３)。
【００１８】
次に波高値データを線量に変換してメモリに格納する。この時、所定の個数を越える古いデータは廃棄する(ステップＳ０４)。次に線量率測定時間≧線量率演算周期の条件を満たしていない場合は(ステップＳ０５)ステップＳ０１に戻り、満たしていれば、線量を積算して積算線量と線量率測定時間に基づき線量率Ｒを演算する(ステップＳ０６)。
【００１９】
次に測定温度を入力し(ステップＳ０７)、温度補償係数δ１を決定して前回値に上書きする(ステップＳ０８)。次にＲ１＝Ｒ×δ１を計算し(ステップＳ０９)、メモリ１３の波高値スペクトルエリア１３１に基づきＫ−４０光電ピーク面積を計算する(ステップＳ１０)。次にＫ−４０光電ピーク面積≧所定のカウントの条件を満たしていない場合は(ステップＳ１１)ステップＳ１４に進み、満たしている場合はＫ−４０光電ピーク位置を分析してメモリ１３１をリセットする(ステップＳ１２)。
【００２０】
次に経年変化補償係数δ２を決定して前回値に上書きする(ステップＳ１３)。そしてＲ２＝Ｒ１×δ２を計算し(ステップＳ１４)、線量率Ｒ２を出力して線量率測定時間をリセットし、ステップＳ０１に戻る(ステップＳ１５)。
【００２１】
温度センサ６、温度測定部１１が温度測定手段を、ステップＳ０７、Ｓ０８が温度補償係数決定手段と処理手順を、ステップＳ０３、Ｓ１０〜Ｓ１２が波高分析手段と処理手順を、ステップＳ１３が経年変化補償係数決定手段と処理手順を、ステップＳ０９、Ｓ０１４が補償制御手段と処理手順を示すものである。
【００２２】
なお、図５は検出パルスデータを１個ずつ処理しているが、複数個のデータ、例えばデータが１６個溜まったらまとめて処理するようにしてもよい。
【００２３】
以上のように、検出器パルスの波高値変化に対して、速い応答性が要求される温度変化については温度補償処理を行い、スパンの長い検出器の経年変化に対しては経年変化補償処理を行い、両方の補償処理を同時に進行させることにより精度の高い補償を行うことができる。
【００２４】
実施の形態２．
この発明の実施の形態２を図６および図７に基づいて説明する。
図６はこの発明の実施の形態２に係わる環境放射線モニタの構成を示すブロック図である。図６において、上記実施の形態１と同一もしくは相当部分は同一符号で示し説明を省略する。パルス幅診断部１７は主増幅器９で増幅された電圧パルスのパルス幅が所定の許容範囲を逸脱している場合にパルス幅異常信号を出力する。パルス極性診断部１８は上記増幅された電圧パルスが正常極性に対して逆極性方向に所定の電圧を超えた場合にパルス極性異常信号を出力する。上記パルス幅異常信号及び上記パルス極性異常信号は、演算器１２に入力される。
【００２５】
演算器１２は、測定結果としての環境放射線量が所定範囲を逸脱した場合、またはＫ−４０の１４６１ｋｅＶピークスペクトルの計数率が所定範囲を逸脱した場合に、降雨もしくは人工放射性核種検出とみなして放射線異常と判定し、経年変化補償係数の更新をスキップするとともに当該波高スペクトルデータのメモリ１３１への入力を停止する。また、演算器１２はパルス幅異常信号またはパルス極性異常が入力された場合に、ノイズ侵入とみなして同様に経年変化補償係数の更新をスキップするとともに当該波高スペクトルデータのメモリ１３１への入力を停止する。従って、上記異常状態の間は温度補償係数と異常直前の経年変化補償係数に基づき検出パルスの波高値補償が行われ、正常状態に復帰すれば経年変化補償係数の更新が行われる。
【００２６】
図７の(ａ)(ｂ)はこの発明の実施の形態２に係わる検出パルスの波高値の補償処理手順を示すフローチャートである。図７の(ａ)(ｂ)に従って動作を説明すると、まず、検出パルスの波高値データを入力する(ステップＳ０１)。次に５０ｋｅＶ≦波高値≦３０００ｋｅＶの条件を満たしていない場合には(ステップＳ０２)ステップＳ０１に戻り、満たしていれば、パルス幅異常信号より検出パルスのパルス幅診断結果(許容値下限≦パルス幅≦許容値上限の時：正常＝１)を入力する(ステップＳ０２−１)。
【００２７】
次にパルス幅が正常の条件を満たしていない場合には(ステップＳ０２−２)ステップＳ０４へ、条件を満たしている場合にはパルス極性異常信号より検出パルスの極性診断結果(逆極性波高値≦許容上限の時：正常＝１)を入力する(ステップＳ０２−３)。次に極性が正常の条件を満たしていない場合には(ステップＳ０２−４)ステップＳ０４へ、正常の条件を満たしている場合は、波高値データをスペクトルデータとしてメモリ１３の波高値スペクトルエリア１３１に格納する(ステップＳ０３)。
【００２８】
次に波高値データを線量に変換してメモリに格納する。この時、所定の個数を越える古いデータは廃棄する(ステップＳ０４)。次に線量率測定時間≧線量率演算周期の条件を満たしていない場合は(ステップＳ０５)ステップＳ０１に戻り、満たしていれば、線量を積算して積算線量と線量率測定時間に基づき線量率Ｒを演算する(ステップＳ０６)。
【００２９】
次に測定温度を入力し(ステップＳ０７)、温度補償係数δ１を決定して前回値に上書きする(ステップＳ０８)。次にＲ１＝Ｒ×δ１を計算し(ステップＳ０９)、これが許容値下限≦線量率≦許容値上限の条件を満たしていない場合には(ステップＳ０９−１)ステップＳ０９−３へ、満たしている場合にはステップＳ０９−２へ進み、さらに許容値下限≦計数率≦許容値上限の条件を満たしていない場合には(ステップＳ０９−２)ステップＳ０９−３へ、満たしている場合は、ステップＳ１０に進む。ステップＳ０９−３ではメモリ１３の波高値スペクトルエリア１３１をリセットし、ステップＳ１４に進む。
【００３０】
次にメモリ１３の波高値スペクトルエリア１３１に基づきＫ−４０光電ピーク面積を計算する(ステップＳ１０)。次にＫ−４０光電ピーク面積≧所定のカウントの条件を満たしていない場合は(ステップＳ１１)ステップＳ１４に進み、満たしている場合はＫ−４０光電ピーク位置を分析して波高値スペクトルエリア１３１をリセットする(ステップＳ１２)。次に経年変化補償係数δ２を決定して前回値に上書きする(ステップＳ１３)。そしてＲ２＝Ｒ１×δ２を計算し(ステップＳ１４)、線量率Ｒ２を出力して線量率測定時間をリセットし、ステップＳ０１に戻る(ステップＳ１５)。
【００３１】
ステップＳ０２−１〜Ｓ０２−４の処理手順により、スペクトルデータヘのノイズデータの混入をブロックする。また、ステップＳ０９−１〜Ｓ０９−３の処理手順により降雨、降雪、人工放射能による環境放射線の変化がスペクトルデータに混入するのをブロックするとともに、波高値の小さいノイズが環境放射線の波高値にパイルアップしてスペクトルが変動することを防止する。
【００３２】
ステップＳ０９−１、Ｓ０９−３が環境放射線異常判定手段と処理手順を、ステップＳ０９−２、Ｓ０９−３が計数率異常判定手段と処理手順を、パルス幅診断部１７、パルス極性診断部１８、ステップＳ０２−１〜Ｓ０２−４がノイズ侵入判定手段と処理手順を示すものである。
【００３３】
以上のように、降雨または降雪もしくは人工放射性核種で環境放射線が変動した場合及び一過性ノイズの存在が確認された場合には、経年変化補償係数の更新をスキップさせることにより経年変化補償の誤動作を防止し、好適な波高スペクトルに基づき経年変化補償を行うことができる。またＫ−４０の光電ピークスペクトルデータから異常データを排除することにより、正常復帰と同時に通常補償に復帰できる。
【００３４】
実施の形態３．
この発明の実施の形態３を図８に基づいて説明する。
図８はこの発明の実施の形態３に係わる環境放射線モニタの検出パルスの波高値の補償処理手順を説明するためのフローチャートであり、図５および図７にそれぞれステップＳ０７−１が追加されている。すなわちこの実施の形態では、ステップＳ０７で測定温度が入力された後、許容下限≦温度変化(今回値−前回値)≦許容上限の条件を満たしていない場合には(ステップＳ０７−１)ステップＳ０９に進み、満たしている場合は、温度補償係数δ１を決定して前回値に上書きする(ステップＳ０８)。そしてＲ１＝Ｒ×δ１を計算する(ステップＳ０９)。
【００３５】
ステップＳ０７、Ｓ０７−１、Ｓ０８が温度補償係数決定手段と処理手順を示す。
【００３６】
ステップＳ０７−１の処理手順により、温度測定におけるノイズの影響を排除できる。
【００３７】
以上のように、測定温度の直前値からの変化が所定の許容範囲を逸脱した場合に温度補償係数の更新をスキップする補償制御により、温度測定に一過性ノイズがのった場合に温度補償誤動作を防止できる。
【００３８】
実施の形態４．
この発明の実施の形態４を図９に基づいて説明する。
図９はこの発明の実施の形態４に係わる環境放射線モニタの環境放射線量演算処理手順を説明するためのフローチャートであり、図５、図７および図８と異なる部分を示している。この実施の形態では実施の形態２と同様の検出パルスのパルス幅と極性の診断を行い、パルス幅診断結果および極性診断結果で正常でないと判断された場合にステップＳ０２−１、Ｓ０２−２に示されるようにそれぞれステップＳ０１に戻る。図９のステップＳ０２−１、Ｓ０２−２は図７のステップＳ０２−１とＳ０２−２、Ｓ０２−３とＳ０２−４をそれぞれ合体させたものであり、図７では異常の場合にそれぞれステップＳ０４に進むようにされている。
【００３９】
すなわちこの実施の形態では、ステップＳ０２で５０ｋｅＶ≦波高値≦３０００ｋｅＶの条件を満たした場合に次に、検出パルスのパルス幅診断結果(許容値下限≦パルス幅≦許容値上限の時：正常＝１、異常≡０)を入力し(ステップＳ０２−１)、パルス幅は正常の条件を満たしていない場合はステップＳ０１へ戻り、正常の場合にはさらに検出パルスの極性診断結果(逆極性波高値≦許容上限の時：正常＝１、異常＝０)を入力する(ステップＳ０２−２)。そして極性は正常の条件を満たしていない場合は、ステップＳ０１へ戻り、正常の条件を満たしている場合は、波高値データをスペクトルデータとしてメモリ１３の波高値スペクトルエリア(１)１３１に格納する(ステップＳ０３)。
【００４０】
ステップＳ０２−１、Ｓ０２−２がノイズ侵入時当該波高値データを環境放射線量の算出演算から排除する手段と処理手順を示す。
【００４１】
パルス幅診断結果および極性診断結果で正常でないと判断された場合にステップＳ０１に戻る処理手順により、線量率データのノイズデータの混入をブロックできる。
【００４２】
以上のように、ノイズ侵入と判定された場合に、当該波高値データを環境放射線量の算出演算から排除することにより、環境放射線量の一過性指示上昇を防止できる。
【００４３】
実施の形態５．
この発明の実施の形態５を図１０に基づいて説明する。
図１０はこの発明の実施の形態５に係わる環境放射線モニタの温度センサの熱容量を調整するための構造を示す図である。図１０において、熱容量調整手段としての自己融着テープ１９は温度センサ６の熱容量を調整するためのもので、巻き付ける量により温度センサ６の熱容量を容易に変えることができる。巻き付ける自己融着テープ１９の厚みを変えて、温度変化に対する応答性を測定し、放射線検出器５と同等の応答性を示す厚みを求めることにより、温度センサ６の熱容量を放射線検出器５の温度応答性に適合させることができ。自己融着テープ１９は発泡スチロールのような断熱材でもよい。
【００４４】
以上のように、放射線検出器の温度を測定する温度センサにテープを巻いて熱容量を調整することにより、過渡応答時も高精度の温度補償を行うことができる。
【００４５】
実施の形態６．
この発明の実施の形態６を図１１に基づいて説明する。
図１１はこの発明の実施の形態６に係わる環境放射線モニタの放射線検出部の断熱構造を示す図である。図１１において、熱遮蔽手段としての断熱材２０は検出器収納ケース７の内側に設けられている。断熱材２０としては、例えば発泡スチロールを用いることができる。断熱材２０より、放射線検出器５の温度勾配を緩やかにできる。
【００４６】
以上のように、放射線検出器保護ケースの内側に断熱材を設置することにより、検出器温度変化の勾配を抑制できる。
【００４７】
実施の形態７．
この発明の実施の形態７を図１２に基づいて説明する。
図１２はこの発明の実施の形態７に係わる環境放射線モニタの日除けカバーの構造を示す図である。図１２の(ａ)におい放射線検出器には日除けカバー２１が設けられている。日除けカバー２１は、検出器収納ケース７が直射日光に曝されるのを防止し、熱が籠もらないように下部が図１２の(ｂ)に示すように外気に開放２１ａされて、上部側面に図１２の(ｃ)に示すように通気孔２１ｂを設けた構造により、検出器収納ケース７が夏場の厳しい日差しに曝されている状態から、雷雨で急激に冷却される時に、放射線検出器５の温度勾配を緩和できる。
【００４８】
以上のように、検出部に日除けカバーを備えることにより、特に、夏場の直射日光が厳しい状況で急激な雷雨があった場合についても、検出器温度変化の勾配を抑制することができる。
【００４９】
なおこの発明は、上記各実施の形態に限定されるものではなく、これらの実施の形態の可能な組み合わせを全て含むことは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】この発明の実施の形態１に係わる環境放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係わる検出パルスの波高値の温度補償動作を説明するための図である。
【図３】この発明の実施の形態１に係わるＫ−４０の光電ピークと測定時間の関係を説明するための図である。
【図４】この発明の実施の形態１に係わる検出パルスの波高値の経年変化補償動作を説明するための図である。
【図５】この発明の実施の形態１に係わる検出パルスの波高値の補償処理手順を示すフローチャートである。
【図６】この発明の実施の形態２に係わる環境放射線モニタの構成を示すブロック図である。
【図７】この発明の実施の形態２に係わる検出パルスの波高値の補償処理手順を示すフローチャートである。
【図８】この発明の実施の形態３に係わる検出パルスの波高値の補償処理手順を示すフローチャートである。
【図９】この発明の実施の形態４に係わる環境放射線量演算処理手順を示すフローチャートある。
【図１０】この発明の実施の形態５に係わる温度センサの熱容量を調整するための構造の一例を示す図である。
【図１１】この発明の実施の形態６に係わる放射線検出部の断熱構造の一例を示す図である。
【図１２】この発明の実施の形態７に係わる日除けカバーの構造の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００５１】
１  ＮａＩ(Ｔｌ)シンチレータ、２  光電子増倍管、３  前置増幅器、４  検出器ハウジング、５  放射線検出器、６  温度センサ、７  検出器収納ケース、８  高圧電源、９  主増幅器、１０，１５  Ａ／Ｄ変換器、１１  温度測定部、１２  演算部、１３  メモリ、１３１  波高値スペクトルエリア、１４  出力部、１６  補償制御部、１７  パルス幅診断部、１８  パルス極性診断部、１９  自己融着テープ、２０  断熱材、２１  日除けカバー。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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