(57)【要約】  【課題】  チルト測定結果に応じて、柔軟かつ精密な制御を実行する光ディスク装置の制御方法を提供する。  【解決手段】  光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している閾値以上である場合に、記録速度を制限する。【選択図】  図３Ａ
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している閾値以上である場合に、記録速度を制限することを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項２】
光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は前記追加測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項３】
光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値の絶対値が予め記憶している第三の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上および前記第三の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項４】
光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果に、前記光ディスクから読み出したディスクＩＤに対応した調整をすることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項５】
光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクから読み出したディスクＩＤに対応した調整をするかどうかを判断し、調整をしない場合前記測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、調整をする場合は前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は前記追加測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項６】
光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクから読み出したディスクＩＤに対応した調整をするかどうかを判断し、調整をしない場合前記測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、調整をする場合は前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値の絶対値が予め記憶している第三の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上および前記第三の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射して情報信号を記録するとともに光ディスクからの反射光を検出して再生する光ディスク装置の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置においては、光ディスクの反りなどにより、光ディスクに対して光ピックアップ内の光ビームが垂直にならず、光ディスクと光ピックアップ内の光ビームが通過するレンズとの角度が傾角（Tilt：以下チルトという）になる現象が生ずる。
【０００３】
そうすると、情報信号の記録時に記録パワーが不足して正確に情報信号を記録することができず、また情報信号の再生時には読出パワーが不足して正確に情報信号を記録することができない。
【０００４】
そこで、上記チルトを測定し、測定した結果の値に応じて光ピックアップを傾ける傾角動作を実行させて上記チルトが小さくなるように調整する必要がある。
【０００５】
光ディスク装置として、光ディスクの特定のポイントでチルトを測定し、測定した結果の値が予め記憶している許容チルト以下であるかを判定し、許容チルト以下である場合は上記傾角動作を実行しないで記録動作を実行し、許容チルト以上である場合は上記傾角動作を実行して光ピックアップの姿勢を調整してから記録動作を実行することがすでに行われている（例えば特許文献１参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−２６０２６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、光ディスクの特定のポイントでチルトを測定し、測定した結果の値が許容チルト以上である場合に、すぐに、上記傾角動作を実行して光ピックアップの姿勢を調整するのでは、近年の光ディスクの高速記録におけるディスク反りの大きい光ディスクに対しては対応できず、記録後の再生のとき、再生できなかったり、読みにくいという現象が生じる。
【０００８】
本発明の目的は、チルト測定結果に応じて、柔軟かつ精密な制御を実行する光ディスク装置の制御方法を提供することにある。
【０００９】
本発明の他の目的は、チルト測定結果を、供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに対応して調整することにより、より柔軟かつ精密な制御を実行する光ディスク装置の制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明による請求項１記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している閾値以上である場合に、記録速度を制限することを特徴とする。
【００１１】
本発明による請求項２記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は前記追加測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする。
【００１２】
本発明による請求項３記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値の絶対値が予め記憶している第三の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上および前記第三の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする。
【００１３】
本発明による請求項４記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果に、前記光ディスクから読み出したディスクＩＤに対応した調整をすることを特徴とする。
【００１４】
本発明による請求項５記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクから読み出したディスクＩＤに対応した調整をするかどうかを判断し、調整をしない場合前記測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、調整をする場合は前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は前記追加測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【００１５】
本発明による請求項６記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクの特定のポイントでチルト測定し、測定した結果の値が予め記憶している第一の閾値以上である場合に、前記光ディスクから読み出したディスクＩＤに対応した調整をするかどうかを判断し、調整をしない場合前記測定した結果の値を記録のときのチルト値とし、調整をする場合は前記光ディスクの他の半径位置でのチルト測定を追加し、追加測定した結果の値が予め記憶している第二の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値の絶対値が予め記憶している第三の閾値より小さいかどうかを判断し、小さい場合は、前記測定した結果の値から前記追加測定した結果の値を引いた値を記録のときのチルト値とし、前記第二の閾値以上および前記第三の閾値以上の場合は前記光ディスクのさらに他の半径位置でのチルト測定をさらに追加し、さらに追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返すことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、チルト測定結果に応じて、柔軟かつ精密な制御を実行する光ディスク装置の制御方法を得ることができる。また本発明によれば、チルト測定結果を、供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに対応して調整することにより、より柔軟かつ精密な制御を実行する光ディスク装置の制御方法を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明に係る実施の形態について、以下、図を用いて説明する。
【００１８】
図１は、本発明に係る光ディスク装置の実施の形態の構成図である。図１において、１は光ディスク、２はディスクモータ、３はディスクモータドライバ、４はＣＰＵである。ＣＰＵ４からの指令によりディスクモータドライバ３はディスクモータ２を駆動し、それにより光ディスク１を所定の速度で回転させる。
【００１９】
５は光ピックアップで、光ディスク１のチルト方向とトラッキング（光ディスク半径）方向およびフォーカス（光ディスク垂直）方向に移動可能で、且つレーザ源と該レーザ源からの光ビームが通過するレンズと受光素子とを搭載し、該光ビームを光ディスク１に照射して情報信号を記録するとともに、光ディスク１にて反射された光ビームを受光して電気信号に変換して再生信号を得る。
【００２０】
６はプリアンプで、光ピックアップ５で得た再生信号を増幅し、且つ増幅した再生信号より光ディスク１のフォーカスずれを示すフォーカスエラー信号と光ディスク１のトラッキングずれを示すトラッキングエラー信号を検出する。
【００２１】
７はフォーカス制御部で、プリアンプ６で得たフォーカスエラー信号からフォーカス駆動信号を生成してフォーカス駆動部８を駆動し、光ピックアップ５を光ディスク１のフォーカス方向に移動させる。
【００２２】
９はトラッキング制御部で、プリアンプ６で得たトラッキング信号からトラッキング駆動信号を生成してトラッキング駆動部１０を駆動し、光ピックアップ５を光ディスク１のトラッキング方向に移動させる。
【００２３】
１１はチルト駆動部で、光ピックアップ５で得てプリアンプ６で増幅した再生信号から、ＣＰＵ４で測定したチルト測定結果に基づき、光ピックアップ５を光ディスク１のチルト方向に移動させる。
【００２４】
図２は、本発明に係る光ディスク装置の実施の形態の動作を示すフローチャートである。本ステップは記録動作に先立って実行する。ステップ２０１にて、ＣＰＵ４は、光ディスク１が挿入されたことを検出器（図示していない）で検出した結果を受け取り、光ディスク１を認識する。次にステップ２０２にて、ＣＰＵ４は、ホスト（図示していない）から記録命令を受け取る。次にステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、光ピックアップ５で得てプリアンプ６で増幅した再生信号から、チルト測定をする。
【００２５】
次にステップ２０４にて、ＣＰＵ４は、チルト測定結果に基づき記録速度制限又は測定拡張を行うようディスクモータドライバ３に指示し、指示に基づきディスクモータドライバ３はディスクモータ２を駆動して記録速度制限又は測定拡張を行う。次にステップ２０５にて、ＣＰＵ４はチルト測定結果を記憶する（記憶したチルト測定結果はあとの記録動作において用いる）。次にステップ２０６にて、ＣＰＵ４は記録動作を指示する。
【００２６】
このように本発明の実施の形態は、チルト測定結果に基づき記録速度制限又は測定拡張を行うことを特徴とする。
【００２７】
図３Ａは、本発明に係る光ディスク装置の第一の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図３Ａは、図２のステップ２０４にて、チルト測定結果に基づき記録速度制限を行う動作を示すフローチャートである。また図３Ｂは、図３Ａの動作における説明用の、光ディスクの半径位置とディスクチルト測定値との関係を示す図である。
【００２８】
図３Ａにおいて、図２と同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０３にて、ＣＰＵ４は光ディスク１の半径位置ｎでの光ピックアップ５で得てプリアンプ６で増幅した再生信号から、チルト測定をし、測定した結果の値ＴをＴ１とする。次のステップ３０１にて、測定した結果の値Ｔ１の絶対値が予め記憶している閾値（以下スレッシュ値という）aより小さいかどうかを判断する。図３Ａにおいては、測定した結果の値Ｔ１が閾値aより小さい場合を示し、この場合はＹｅｓなので、ステップ２０５に進む。もし測定した結果の値Ｔ１が閾値aより小さくない場合はＮｏなので、ステップ３０２に進み、記録速度を制限する（例えば図３Ｂではスレッシュ値a以下に制限する）。そしてステップ２０５に進む。
【００２９】
図４は、図３Ａのステップ３０２における記録速度制限の一例を示す図である。図４はゾーンＣＬＶにおける記録速度制限例を示す図である。（Ａ）は通常の動作を示すのに対し、（Ｂ）の制限例１は、予め設定した制限記録速度に達したら以後その速度を保つ例であり、（Ｃ）の制限例２は、データ記録開始位置での最低速度を保つ例である。
【００３０】
図５は、図３Ａのステップ３０２における記録速度制限の他の例を示す図である。図５はＣＡＶにおける記録速度制限例を示す図である。（Ａ）は通常の動作を示すのに対し、（Ｂ）の制限例１は、予め設定した制限記録速度に達したら以後その速度を保つ例であり、（Ｃ）の制限例２は、データ記録開始位置での予定速度より低い最低速度を保つ例である。
【００３１】
図６は、図２の記録動作に先立って実行したチルト測定を用いて、記録動作中における光ピックアップ５のチルト方向移動を説明する図である。
【００３２】
図２のステップ２０３におけるチルト測定は、光ピックアップ５をディスク半径方向に移動させて複数のポイントで測定する。またステップ２０４ではさらに測定ポイントが増える場合がある。
【００３３】
図６は一例としてｎ０，ｎ１，ｎ２，ｎ３の４箇所で測定した場合を示している。そしてディスク半径方向のチルト測定位置ｎ０，ｎ１，ｎ２，ｎ３とその位置でのチルト値Ｔ０，Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３を、図２のステップ２０５において、ＣＰＵ４はチルト測定結果として記憶する。
【００３４】
記録動作中は光ピックアップ５がディスク半径方向に移動するが、光ピックアップ５の位置と、記録に先立って記憶してあるチルト測定結果を照合して、非測定位置でのチルト値補間計算をＣＰＵ４が行い、計算値を非測定位置でのチルト値としてセット（設定）する。このことで、記録時のディスクの記録開始位置からディスク最外周位置までのチルト駆動を、柔軟かつ精密な制御を実行することができる。
【００３５】
図７は、図２のステップ２０６における記録動作の例のフローチャートである。
【００３６】
まずステップ７０１にて記録開始位置を計算する。次にステップ７０２にてチルトの初期値をセット（設定）する。次にステップ７０３にて記録を開始する。次にステップ７０４にて光ピックアップ５の位置を検出する。次にステップ７０５にて、光ピックアップ５の位置と、記録に先立って記憶してあるチルト測定結果を照合して、非チルト測定位置でのチルト値補間計算をＣＰＵ４が行う。次にステップ７０６にて、ＣＰＵ４はチルト値補間計算をした値をみて、速度制限又は減速するかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合はステップ７０７にて速度制限又は減速処理を行う。ステップ７０６にてＮｏの場合はステップ７０８にてチルト値をセット（設定）する。
【００３７】
次にステップ７０９にて記録終了かどうかを判断する。Ｎｏの場合はステップ７０４に戻り、Ｙｅｓの場合はステップ７１０にて記録を終了する。
【００３８】
図８Ａは、本発明に係る光ディスク装置の第二の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図８Ａは、図２のステップ２０４にて、チルト測定結果に基づき測定拡張を行うチルト動作を示すフローチャートである。図８Ｂは、図８Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図である。また図８Ｃは、図８Ａの動作における説明用の、光ディスクの半径とディスクチルト測定値との関係を示す図である。
【００３９】
図８Ａにおいて、図２と同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、光ピックアップ５で得てプリアンプ６で増幅した再生信号から、任意の点ｎにおいてチルト測定し、測定した結果の値をＴｎとする。次のステップ８０１にて、測定した結果の値Ｔｎの絶対値が予め記憶している閾値（以下スレッシュ値という）aｎより小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、測定した結果の値Ｔｎの絶対値が例えば図８ＣでＴ２値の場合は、Ｎｏとなり、ステップ８０２に進む。
【００４０】
ステップ８０２では、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋１でのチルト測定を追加する。次にステップ８０３では、追加測定した結果の値Ｔｎ＋１の絶対値が予め記憶している閾値（以下スレッシュ値という）aｎ＋１より小さいかどうかを判断する。追加測定した結果の値Ｔｎ＋１の絶対値が例えば図８ＣでＴ３値の場合にはＹｅｓとなり、ステップ２０５に進み、例えば図８ＣでＴ４値の場合にはＮｏとなり、次のステップに進み、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋２でのチルト測定を追加する。
【００４１】
図８Ｂは、図８Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図であり、図８Ａにおけるステップ８０２に相当するステップ８０２Ａと図８Ａにおけるステップ８０３に相当するステップ８０３Ａを基本単位とし、追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値（以下スレッシュ値という）より小さくなるまで繰り返す。
【００４２】
図９Ａは、本発明に係る光ディスク装置の第三の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図９Ａは、図２のステップ２０４にて、チルト測定結果に基づき測定拡張を行う他のチルト動作を示すフローチャートである。図９Ｂは、図９Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図である。また図９Ｃは、図９Ａの動作における説明用の、光ディスクの半径とディスクチルト測定値との関係を示す図である。
【００４３】
図９Ａにおいて、図２と同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、プリアンプ６で増幅した再生信号から、任意の点ｒｎにおいてチルト測定し、測定した結果の値をＴｎとする。次のステップ９０１にて、測定した結果の値Ｔｎの絶対値が予め記憶している閾値（以下スレッシュ値という）aｎより小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、測定した結果の値Ｔｎの絶対値が例えば図９ＣでＴ２値の場合にはＮｏとなり、ステップ９０２に進む。
【００４４】
ステップ９０２では、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋１でのチルト測定を追加する。次にステップ９０３では、追加測定した結果の値Ｔｎ＋１の絶対値が予め記憶している閾値（以下スレッシュ値という）aｎ＋１より小さいかどうかを判断する。追加測定した結果の値Ｔｎ＋１の絶対値が例えば図８ＣでＴ３値の場合にはＹｅｓとなり、次のステップ９０４に進む。
【００４５】
ステップ９０４では、上記測定した結果の値Ｔｎから上記追加測定した結果の値Ｔｎ＋１の絶対値を引いた値の絶対値が予め記憶している閾値（以下スレッシュ値という）ｂｎより小さいかどうかを判断する。例えば図８ＣでＴ５値の場合にはＹｅｓとなり、ステップ２０５に進み、Ｎｏの場合には次のステップに進み、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋２でのチルト測定を追加する。
【００４６】
図９Ｂは、図９Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図であり、図９Ａにおけるステップ９０２に相当するステップ９０２Ａと図９Ａにおけるステップ９０３に相当するステップ９０３Ａと図９Ａにおけるステップ９０４に相当するステップ９０４Ａを基本単位とし、追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値（以下スレッシュ値という）より小さくなるまで繰り返す。
【００４７】
図１０は、本発明に係る光ディスク装置の他の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図１０は、チルト測定結果に、光ディスクに記録されている供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに基づく調整をする動作を示すフローチャートである。
【００４８】
記録可能な光ディスクの物理的特性、特に反り量は管理や加工技術によって大きく異なる。よって市場には大きく反った光ディスクから殆ど反りのない光ディスクまでが多く存在する。記録可能な光ディスクには、供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤが刻まれている。したがってそのディスクＩＤをみれば品質の良い光ディスクか悪い光ディスクかを見分けることが可能である。
【００４９】
一方光ディスク装置において、挿入された光ディスク全てに対してディスク半径方向に多くの測定ポイントを持つようにすれば、全ての光ディスクに対してチルト調整が可能であるが、逆に調整時間がかかるという課題が生じる。
【００５０】
そこで、基本的な調整結果に、ディスクＩＤに対応した調整をすることにより、品質の良い光ディスクの場合は基本的な調整結果のみとし、悪い光ディスクの場合は記録速度制限又は測定拡張を行うことで、時間効率の良い調整を行うことができる。
【００５１】
光ディスクに記録されているディスクＩＤに基づく調整をするため、ディスクＩＤと各ディスクＩＤに対する調整の仕方（記録速度制限も測定拡張もしない、記録速度制限、測定拡張、記録速度制限および測定拡張の両方のいずれか）とを示すディスクＩＤテーブルを、ＣＰＵ４の中に予め用意しておく。
【００５２】
図１０において、図２と同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０１にて、ＣＰＵ４は、光ディスク１が挿入されたことを検出器（図示していない）で検出した結果を受け取り、光ディスク１を認識する。次にステップ１００１にて、ＣＰＵ４は、光ディスクに記録されている供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤを光ピックアップ５でリード（読み出し）するよう指示し、プリアンプ６で抽出して受け取り記憶する。
【００５３】
次にステップ２０２にて、ＣＰＵ４は、ホスト（図示していない）から記録命令を受け取る。次にステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、光ピックアップ５より得てプリアンプ６で増幅した再生信号から、チルト測定をする。
【００５４】
次にステップ１００２にて、ＣＰＵ４は、ステップ２０１でリードしたディスクＩＤと、内部に予め用意しておいたところの、ディスクＩＤと各ディスクＩＤに対応する調整の仕方（記録速度制限も測定拡張もしない、記録速度制限、測定拡張、記録速度制限および測定拡張の両方のいずれか）とを示すディスクＩＤテーブルとを照合し、チルト測定結果を調整するかを判断する。Ｎｏの場合にはステップ２０５に進み、Ｙｅｓの場合にはステップ１００３に進む。
【００５５】
ステップ１００３では、ＣＰＵ４は、ディスクＩＤに対する調整の仕方に基づき記録速度制限、測定拡張、記録速度制限および測定拡張の両方のいずれかを行う。次にステップ２０５にて、ＣＰＵ４は、チルト測定結果または調整結果を記憶する。次にステップ２０６にて、ＣＰＵ４は、記録動作を指示する。
【００５６】
このように本発明の実施の形態は、チルト測定結果に、光ディスクに記録されている供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに対応した調整をすることで、時間効率の良い調整を行うことができる。
【００５７】
図１１は、本発明に係る光ディスク装置の第四の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図１１は、図３Ａの動作フローに、光ディスクに記録されている供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに対応する調整をするフローチャートである。
【００５８】
図１１において、図３Ａと同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、光ピックアップ５で得てプリアンプ６で増幅した再生信号から、チルト測定をし、測定した結果の値をＴとする。次のステップ３０１にて、測定した結果の値Ｔの絶対値が予め記憶している閾値aより小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、Ｎｏの場合にはステップ１１０１に進む。
【００５９】
ステップ１１０１では、ＣＰＵ４は、内部に予め用意しておいたところの、ディスクＩＤと各ディスクＩＤに対応する調整の仕方とを示すディスクＩＤテーブルとを照合し、チルト測定結果を調整するかを判断する。Ｎｏの場合にはステップ２０５に進み、Ｙｅｓの場合にはステップ３０２に進み、記録速度を制限する。そしてステップ２０５に進む。
【００６０】
図１２Ａは、本発明に係る光ディスク装置の第五の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図１２Ａは、図８Ａの動作フローに、光ディスクに記録されている供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに対応する調整をするフローチャートである。
【００６１】
図１２Ａにおいて、図８Ａと同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、プリアンプ６で増幅した再生信号から、任意の点ｎにおいてチルト測定し、チルト測定した結果をＴｎとする。次のステップ８０１にて、測定した結果のＴｎの絶対値が予め記憶している閾値aｎより小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、Ｎｏの場合にはステップ１２０１に進む。
【００６２】
ステップ１２０１では、ＣＰＵ４は、内部に予め用意しておいたところの、ディスクＩＤと各ディスクＩＤに対応する調整の仕方とを示すディスクＩＤテーブルとを照合し、チルト測定結果を調整するかを判断する。Ｎｏの場合にはステップ２０５に進み、Ｙｅｓの場合にはステップ８０２に進む。
【００６３】
ステップ８０２では、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋１でのチルト測定を追加する。次にステップ８０３では、追加測定した結果のＴｎ＋１の絶対値が予め記憶している閾値aｎ＋１より小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、Ｎｏの場合に次のステップに進み、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋２でのチルト測定を追加する。
【００６４】
図１２Ｂは、図１２Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図であり、図１２Ａにおけるステップ１２０１に相当するステップ１２０１Ａと図１２Ａにおけるステップ８０２に相当するステップ８０２Ａと図１２Ａにおけるステップ８０３に相当するステップ８０３Ａとを基本単位とし、追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返す。
【００６５】
図１３Ａは、本発明に係る光ディスク装置の第六の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図１３Ａは、図９Ａの動作フローに、光ディスクに記録されている供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに対応する調整をするフローチャートである。
【００６６】
図１３Ａにおいて、図９Ａと同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、光ピックアップ５で得てプリアンプ６で増幅した再生信号から、任意の点ｎにおいてチルト測定し、チルト測定した結果をＴｎとする。次のステップ９０１にて、測定した結果のＴｎの絶対値が予め記憶している閾値aｎより小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、Ｎｏの場合にはステップ１３０１に進む。
【００６７】
ステップ１３０１では、ＣＰＵ４は、内部に予め用意しておいたところの、ディスクＩＤと各ディスクＩＤに対応する調整の仕方とを示すディスクＩＤテーブルとを照合し、チルト測定結果を調整するかを判断する。Ｎｏの場合にはステップ２０５に進み、Ｙｅｓの場合にはステップ９０２に進む。
【００６８】
ステップ９０２では、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋１でのチルト測定を追加する。次にステップ９０３では、追加測定した結果のＴｎ＋１の絶対値が予め記憶している閾値aｎ＋１より小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合には次のステップ９０４に進む。
【００６９】
ステップ９０４では、上記測定した結果のＴｎから上記追加測定した結果のＴｎ＋１の絶対値を引いた絶対値が予め記憶している閾値ｂｎより小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、Ｎｏの場合には次のステップに進み、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋２でのチルト測定を追加する。
【００７０】
図１３Ｂは、図１３Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図であり、図１３Ａにおけるステップ１３０１に相当するステップ１３０１Ａと図１３Ａにおけるステップ９０２に相当するステップ９０２Ａと図９Ａにおけるステップ９０３に相当するステップ９０３Ａと図９Ａにおけるステップ９０４に相当するステップ９０４Ａを基本単位とし、追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返す。
【００７１】
図１４Ａは、本発明に係る光ディスク装置の第七の実施の形態の動作を示すフローチャートである。図１４Ａにおいて、図８Ａと同一箇所に同一符号を付けた。ステップ２０３にて、ＣＰＵ４は、プリアンプ６で増幅した再生信号から、任意の点ｎにおいてチルト測定をし、チルト測定した結果をＴｎとする。次のステップ８０１にて、測定した結果のＴｎの絶対値が予め記憶している閾値aｎより小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、Ｎｏの場合にはステップ１４０１に進む。
【００７２】
ステップ１４０１では、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋１で、チルト測定、および他測定即ちデフォーカス測定，トラッキングオフセット測定等チルト測定以外の測定を追加する。
【００７３】
次にステップ８０３では、追加測定した結果のＴｎ＋１の絶対値が予め記憶している閾値aｎ＋１より小さいかどうかを判断する。Ｙｅｓの場合にはステップ２０５に進み、Ｎｏの場合には次のステップに進み、光ディスク１の他の半径位置ｎ＋２でのチルト測定を追加する。
【００７４】
図１４Ｂは、図１４Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図であり、図１４Ａにおけるステップ１４０１に相当するステップ１４０１Ａと図１４Ａにおけるステップ８０３に相当するステップ８０３Ａを基本単位とし、追加測定した結果の絶対値が予め記憶している対応閾値より小さくなるまで繰り返す。
【００７５】
以上説明したように、本実施の形態によれば、チルト測定結果に応じて、柔軟かつ精密な制御を実行する光ディスク装置の制御方法を得ることができる。また本発明の形態によれば、チルト測定結果と、供給元メーカと型番と光ディスクの種別とがわかるディスクＩＤに応じて、柔軟かつ精密な制御を実行する光ディスク装置の制御方法を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の実施の形態の構成図である。
【図２】本発明に係る光ディスク装置の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図３Ａ】本発明に係る光ディスク装置の第一の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図３Ｂ】図３Ａの動作における説明用の、光ディスクの径とディスクチルト測定値との関係を示す図である。
【図４】図３Ａのステップ３０２における記録速度制限の一例を示す図である。
【図５】図３Ａのステップ３０２における記録速度制限の他の例を示す図である。
【図６】図２の記録動作に先立って実行したチルト測定を用いて、記録動作中における光ピックアップ５のチルト方向移動を説明する図である。
【図７】図２のステップ２０６における記録動作の例のフローチャートである。
【図８Ａ】本発明に係る光ディスク装置の第二の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図８Ｂ】図８Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図である。
【図８Ｃ】図８Ａの動作における説明用の、光ディスクの半径とディスクチルト測定値との関係を示す図である。
【図９Ａ】本発明に係る光ディスク装置の第三の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図９Ｂ】図９Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図である。
【図９Ｃ】図９Ａの動作における説明用の、光ディスクの半径とディスクチルト測定値との関係を示す図である。
【図１０】本発明に係る光ディスク装置の他の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、本発明に係る光ディスク装置の第四の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図１２Ａ】本発明に係る光ディスク装置の第五の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図１２Ｂ】図１２Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図である。
【図１３Ａ】本発明に係る光ディスク装置の第六の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図１３Ｂ】図１３Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図である。
【図１４Ａ】本発明に係る光ディスク装置の第七の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図１４Ｂ】図１４Ａにおける動作繰り返しの基本単位を示す図である。
【符号の説明】
【００７７】
１…光ディスク、２…ディスクモータ、３…ディスクモータドライバ、４…ＣＰＵ、５…光ピックアップ、６…プリアンプ、７…フォーカス制御部、８…フォーカス駆動部、９…トラッキング制御部、１０…トラッキング駆動部、１１…チルト駆動部。
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図８Ｃ】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図９Ｃ】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２Ａ】
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【図１２Ｂ】
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【図１３Ａ】
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【図１３Ｂ】
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【図１４Ａ】
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【図１４Ｂ】
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