(57)【要約】【課題】  倍速値及びドライブの高速記録性能に応じて、テスト記録による光ビームの適正な記録パワーを高精度で求めて、本番の記録を高品位に行う。【解決手段】  光ディスク１０はデータ領域１８より内周側に設けられ、テスト記録を行うための内周側ＰＣＡ１２ａと、データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための外周側ＰＣＡ２２と、ＰＣＡ１２ａ、２２にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有するＲＭＤ領域１２ｂとを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ領域より内周側に設けられ、テスト記録を行うための第１の記録テスト領域と、
前記データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための第２の記録テスト領域と、
前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有する記録情報管理領域とを、
備えた光ディスク。
【請求項２】
前記記録情報管理領域は更に、前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した記録条件情報を記録する記録条件情報領域を有することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク。
【請求項３】
データ領域より内周側に設けられ、テスト記録を行うための第１の記録テスト領域と、前記データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための第２の記録テスト領域と、前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有する記録情報管理領域とを備えた光ディスクの記録方法であって、
テスト記録を行う線速度を倍速値に応じて決定する第１のステップと、
前記第１又は第２の記録テスト領域を倍速値に応じてテスト記録する領域として選択する第２のステップと、
前記第１のステップで決定された線速度に基づくストラテジーを設定する第３のステップと、
記録パワーを順次変化させて行うテスト記録を行い、前記第１、第２の記録テスト領域でのテスト記録の再生信号に基づき、前記第１のステップで決定された線速度における適正な記録パワー値を決定する第４のステップと、
前記第２のステップで選択された前記第１又は第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を前記記録情報管理領域に記録する第５のステップとを、
備えた光ディスク記録方法。
【請求項４】
前記第５のステップは更に、前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した記録条件情報を前記記録情報管理領域に記録することを特徴とする請求項３に記載の光ディスク記録方法。
【請求項５】
データ領域より内周側に設けられ、テスト記録を行うための第１の記録テスト領域と、前記データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための第２の記録テスト領域と、前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有する記録情報管理領域とを備えた光ディスクの記録装置であって、
テスト記録を行う線速度を倍速値に応じて決定する第１の手段と、
前記第１又は第２の記録テスト領域を倍速値に応じてテスト記録する領域として選択する第２の手段と、
前記第１の手段で決定された線速度に基づくストラテジーを設定する第３の手段と、
記録パワーを順次変化させて行うテスト記録を行い、前記第１、第２の記録テスト領域でのテスト記録の再生信号に基づき、前記第１の手段で決定された線速度における適正な記録パワー値を決定する第４の手段と、
前記第２の手段で選択された前記第１又は第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を前記記録情報管理領域に記録する第５の手段とを、
備えた光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＤＶＤ−Ｒディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスクなどの記録可能型光ディスク及びその記録方法並びに記録装置に関し、記録すべきデータを記録する前のテスト記録で光ビームの適正な記録パワーを高精度で求めて、記録すべきデータの記録を高品位に行う光ディスク及びその記録方法並びに記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来例として、下記の特許文献１には、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなどの線速度一定（ＣＬＶ）記録型光ディスクに、標準の線速度（１倍速）よりも高い線速度で記録する技術が開示されている。しかしながら、特許文献１にも記載されているように、線速度一定記録においては、光ディスクの内周側ほどスピンドル回転数が高くなり、例えば１６倍速では８０００ｒｐｍ以上にもなり、このため、ドライブの自励振動が大きくなる（特に、偏重心ディスクの場合）。光ディスクの記録に際しては、あらかじめテスト記録によるＯＰＣ（Optimum Power Control ：記録ビームの最適記録パワー調整）が行われるが、従来のテスト記録はディスク最内周のＰＣＡ（Power Calibration Area ：パワー較正領域）で行われていたため、高速記録の場合、テスト記録時のスピンドル回転数が非常に高くなる。このため、ドライブの自励振動によりテスト記録が不安定になって、ＯＰＣを高精度に行うことができなくなり、この結果本番の記録を高品位に行えなくなる。
【０００３】
また、高速記録においては、本番の記録時に、ディスク内周側ほどスピンドル回転数が高くなり、自励振動によってピット形成が不安定になる。また、ハードディスクにいったんイメージファイルを作成することなく別のＣＤ−ＲＯＭドライブからＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ドライブに書き込みを行ういわゆるオンザフライ書き込みを高速で行う場合、ＣＤ−ＲＯＭドライブを回転速度一定（ＣＡＶ）で高速再生させ、ＣＤ−Ｒ（ＲＷ）ドライブを線速度一定で高速記録させて記録を行う方法があるが、このときＣＡＶ再生されているＣＤ−ＲＯＭドライブの線速度は、外周側では３２倍速位あっても内周側では１６倍速位しかなく、内周側の再生時にデータ転送が間に合わなくなり、いわゆるバッファアンダーランが生じて書き込みが失敗することがある。
【０００４】
上述した本番の記録時の問題を解決する方法として、ＣＤ−Ｒ（ＲＷ）の記録を、内周側はＣＡＶで行い、外周側はＣＬＶで行う方法が考えられる。すなわち、プログラム領域の最内周位置で線速度が、例えば１２倍速に相当する回転数でＣＡＶ記録を開始し、この回転数で線速度が、例えば１６倍速に達したら、以後１６倍速でＣＬＶ記録を行う。このようにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り換えることにより、最大回転数が抑えられて自励振動が抑制され、かつオンザフライ書き込みの失敗が防止される。
【０００５】
このようにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り換えて記録を行う方法では、ＣＡＶ記録時に線速度が変化するため、記録レーザ光の最適記録パワーが順次変化する。このため、本番の記録に先立ってテスト記録で行われるＯＰＣを、例えばＣＡＶ記録の線速度初期値（最低線速度）と線速度最終値（最高線速度）についてそれぞれ行って、これらの両線速度における最適記録パワーを求める。本番の記録時には、ＣＡＶ記録を行う領域では、各位置の記録パワーを、各位置の線速度に応じて、前記線速度初期値及び線速度最終値について求められた最適記録パワーを内挿して求めてその値に制御し、ＣＬＶ記録を行う領域では、ＣＡＶ記録の線速度最終値における最適記録パワーを維持して記録を行う。このようにＣＡＶ記録とＣＬＶ記録を切り換えて記録を行う方法では、ＯＰＣをディスク最内周のＰＣＡ領域で行うと、線速度最終値でのＯＰＣを高い回転数で行わなければならなくなり、内周側をＣＡＶ記録にして最大回転数を抑えるようにした意味が失われる。
【０００６】
そこで、特許文献１においては、内周側の回転数が高くなると内周側ＰＣＡではテスト記録ができないため、外周側ＰＣＡにテスト記録をすることが開示されている。
【特許文献１】特開２００１−３３１９４０号公報（要約書）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
前述した背景技術において、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷなどのＣＬＶ記録型光ディスクの記録方法は、１倍速よりも高い線速度で記録する高速記録の場合に、これら光ディスク（媒体）内周側と外周側との両方にＰＣＡをそれぞれあらかじめ配置してあっても、内周側の回転数が高くなると内周側にあるＰＣＡではテスト記録ができないため、外周側にあるＰＣＡにのみテスト記録しなければならないという問題がある。
このＣＬＶ記録型光ディスクの記録方法を用いて作成した記録装置においては、前記媒体が１×（１倍速）、２×（２倍速）、４×（４倍速）、６×（６倍速）、８×（８倍速）の各高速速度に対応するものであっても、８×に対応するドライブ（レコーダ）では、８×対応の媒体を８×で高速記録する場合には、媒体内周側の回転数が高くなると内周側にあるＰＣＡではテスト記録ができないために媒体外周側にあるＰＣＡだけでテスト記録しなければならない。一方、２×に対応するレコーダでは、１×、２×、４×、６×、８×のいずれかに対応する媒体を２×で高速記録する場合には、媒体内周側の回転数は前記した８×の高速記録のときよりも回転数はそれほど高くないので、媒体内周側と外周側との両方の領域でテスト記録をする。このように高速記録対応のドライブの倍速値に対応して、同一の倍速対応の媒体を用いてもテスト記録を行う場所が異なってしまうという問題がある。
【０００８】
ただし、内周側と外周側の領域の大きさは有限であり、記録の状態によってはどちらかの領域はすべての領域にテスト記録されているために、これ以上テスト記録できないという問題も発生する。特に高倍速においてはストラテジー（記録発光波形）が複雑になったり、ジッタの余裕が少なくなるなどの問題から１回のテスト記録で使用する領域が大きくなるため、片方の領域（例えば外周側）のみが存在するという問題が発生する。
【０００９】
また、媒体の製造工程において、内周側と外周側の領域の記録特性を均一に製造することができない。ＤＶＤ−Ｒにおいては有機色素膜をスピンコートで作成すると、外周側領域では記録膜が厚く形成される。また、ポリカーボネイトなどの材料からなる機材の樹脂層は、形成する際に複屈折が発生するが、これも内周側のゲートからインジェクション成形する場合に複屈折特性が均一になるように製造することができない。また、物理的特性として外周側の方が面振れやチルト量が大きく、また、外周側の方が指紋や傷が付きやすい傾向もある。したがって、記録再生特性を検証するためのテスト領域として、厳密には内周側と外周側の領域の物理的特性が異なるために、同一の検証結果を得ることができない。
【００１０】
また、ドライブ又はレコーダによっては、本来は最高の倍速値（例えば８×）における線速度で記録すべきところ、媒体の面振れが大きく、スピンドルの制御が安定しない場合や、温度を検出して検出温度が所定の温度を超えている場合においては、最高の倍速値（例えば８×）における線速度ではなく、それより低い倍速値（例えば４×）における線速度で記録する場合がある。その場合、以降の処理で再度記録しようとした場合に、媒体の面振れが小さくなったり、検出した温度が所定の温度以下になれば、本来の最高の倍速値（例えば８×）における線速度で記録することが可能となる。
【００１１】
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、倍速値及びドライブの高速記録性能に応じて、テスト記録による光ビームの適正な記録パワーを高精度で求めて、本番の記録を高品位に行えるようにした光ディスク及びその記録方法並びに記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の光ディスクは上記目的を達成するために、データ領域より内周側に設けられ、テスト記録を行うための第１の記録テスト領域と、
前記データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための第２の記録テスト領域と、
前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有する記録情報管理領域とを、
備えたものである。
【００１３】
また、本発明の光ディスクの記録方法は、データ領域より内周側に設けられ、テスト記録を行うための第１の記録テスト領域と、前記データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための第２の記録テスト領域と、前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有する記録情報管理領域とを備えた光ディスクの記録方法であって、
テスト記録を行う線速度を倍速値に応じて決定する第１のステップと、
前記第１又は第２の記録テスト領域を倍速値に応じてテスト記録する領域として選択する第２のステップと、
前記第１のステップで決定された線速度に基づくストラテジーを設定する第３のステップと、
記録パワーを順次変化させて行うテスト記録を行い、前記第１、第２の記録テスト領域でのテスト記録の再生信号に基づき、前記第１のステップで決定された線速度における適正な記録パワー値を決定する第４のステップと、
前記第２のステップで選択された前記第１又は第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を前記記録情報管理領域に記録する第５のステップとを、
備えたものである。
【００１４】
また、本発明の光ディスクの記録装置は、データ領域より内周側に設けられ、テスト記録を行うための第１の記録テスト領域と、前記データ領域より外周側に設けられ、テスト記録を行うための第２の記録テスト領域と、前記第１、第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を記録するアドレス情報領域を有する記録情報管理領域とを備えた光ディスクの記録装置であって、
テスト記録を行う線速度を倍速値に応じて決定する第１の手段と、
前記第１又は第２の記録テスト領域を倍速値に応じてテスト記録する領域として選択する第２の手段と、
前記第１の手段で決定された線速度に基づくストラテジーを設定する第３の手段と、
記録パワーを順次変化させて行うテスト記録を行い、前記第１、第２の記録テスト領域でのテスト記録の再生信号に基づき、前記第１の手段で決定された線速度における適正な記録パワー値を決定する第４の手段と、
前記第２の手段で選択された前記第１又は第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレス情報を前記記録情報管理領域に記録する第５の手段とを、
備えたものである。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、データ領域よりも内周側の第１の記録テスト領域と、データ領域よりも外周側の第２の記録テスト領域にテスト記録した領域のアドレスをドライブが管理することができるので、倍速値及びドライブの高速記録性能に応じて、テスト記録による光ビームの適正な記録パワーを高精度で求めて、本番の記録を高品位に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明に係る光ディスクの一実施の形態を示す構成図である。図１に示す線速度一定記録型光ディスク１０は、ＤＶＤ−Ｒ（ＲＷ）規格のディスクのインフォメーション領域１６の内周側と外周側の部分にＰＣＡ（パワーキャリブレーション領域：テスト記録を行うためのテスト記録領域とも言う）１２ａ、２２を設定したものである。光ディスク１０の直径４４〜４８ｍｍの区間がリードイン領域１２として用意され、リードイン領域１２は、内周側ＰＣＡ１２ａとＲＭＤ（Recording Ｍanagement Ｄata）領域１２ｂで構成されている。
【００１７】
内周側ＰＣＡ１２ａにはＯＰＣのテスト記録が行われる。このテスト記録は、例えば１回のテスト記録を記録パワーを２６段階に変化させて行い、１つの記録パワーにつき１フレーム分（これに限らない）の８−１６変調信号を記録し、合計２６フレーム分の８−１６変調信号を記録して行われる。内周側ＰＣＡ１２ａには、このテスト記録を、例えば１００回分（１回のＯＰＣでテスト記録を１回行うので、ＯＰＣ１００回分）行う容量（例えば２，６００フレーム）が割り当てられている。ＯＰＣを行う際には、以前にテスト記録が行われている場合、あらかじめＲＭＤ領域１２ｂに記載されている内周側又は外周側のＰＣＡ１２ａ、２２の記録アドレスの情報から、ＰＣＡ１２ａ又は２２がどこまで記録されているかを検出して、今回のテスト記録を内周側ＰＣＡ１２ａ内のどこから行うべきかが判断される。
【００１８】
リードイン領域１２の外周側にはデータ領域１８が用意され、データ領域の最大可能外周位置１８ｅに隣接してその外周側に残余領域２０が用意されている。インフォメーション領域１６全体のトラック（プリグルーブ）のウォブルには、ＬＰＰ（ランド・プリピット）情報としてアドレス情報が記録されている。ＬＰＰ情報は、データ領域１８の開始位置を基点として、その外周側ではインフォメーション領域１６の外周側端部まで連続した（単純に増加又は減少する）値が記録され、内周側ではインフォメーション領域１６の内周側端部まで連続した（単純に減少する）値が記録されている。
【００１９】
リードアウト領域２２ａはデータ領域１８の終端部（記録を閉じた位置）の直後に形成される。データ領域１８がその最大可能外周位置１８ｅ付近まで形成（記録）された場合には、リードアウト領域２２ａはその外側の残余領域２０まで入り込んで形成されることになる。リードアウト領域２２ａは最低１．５フレーム分の容量を確保する必要があり、残余領域２０からこのリードアウト領域２２ａ分を除いた残りの領域を外周側ＰＣＡ２２として利用する。既存のＤＶＤ−Ｒ（ＲＷ）ディスクにおいて、残余領域２０は物理的な幅として０．２ｍｍ程度存在するので、外周側ＰＣＡ２２を確保することができる。なお、既存のＤＶＤ−Ｒ(ＲＷ)ディスクを用いるほか、リードイン領域１２及び外周側ＰＣＡ２２を形成した光ディスクとして構成したものを用いることもできる。
【００２０】
外周側ＰＣＡ２２でも内周側ＰＣＡ１２ａと同様にＯＰＣのテスト記録が行われる。このテスト記録は、例えば１回のテスト記録を記録パワーを２６段階に変化させて行い、１つの記録パワーにつき１フレーム分の８−１６変調信号を記録し、合計２６フレーム分の８−１６変調信号を記録して行われる。外周側ＰＣＡ２２には、例えばＯＰＣを１００回分とし、１回のＯＰＣでテスト記録を４回繰り返し行う場合には、合計でテスト記録を４００回行う容量（例えば１０，４００フレーム）が割り当られている。
【００２１】
ＯＰＣを行う際には、あらかじめＲＭＤ領域１２ｂを再生し、ＰＣＡ１２ａ又は２２をどこまで使用しているかを示すＰＣＡ使用アドレス情報を再生して、どこまで記録されているかを検出して、今回のテスト記録を外周側ＰＣＡ２２内のどこから行うべきかが判断される。
【００２２】
ＲＭＤ領域１２ｂには、
（ａ）  内周側及び外周側のＰＣＡ１２ａ、２２の使用した領域のアドレス情報
（ｂ）  テスト記録した倍速数とその結果
（ｃ）  ２つのＰＣＡ１２ａ、２２のどちらを使用したかの情報
（ｄ）  最適記録パワー、最適消去パワー、記録ストラテジーの方式、記録ストラテジーの最適パラメータなどの記録条件、温度、振動、面振れなどの環境条件
（ｅ）  記録装置の情報として、製造者名、記録装置番号、ロット番号、シリアル番号
のいずれか又はそれぞれの組み合わせ、又はすべてを記録できるようにＲＭＤ領域１２ｂの中に管理領域が確保されており、記録装置はこの領域に対して、上記の情報のいずれか又はそれぞれの組合せ、又はすべての情報を記録する。
【００２３】
本発明に係る光ディスク記録装置の一実施の形態のブロック図を図２に示す。光ディスク１０はスピンドルモータ２４で回転駆動され、スピンドルモータ２４の回転数は周波数発生器２６で検出される。光ピックアップ２８は、光ディスク１０にレーザ光を照射して、情報の記録及び再生を行う。光ピックアップ２８の戻り光受光信号（８−１６変調信号）は、ＲＦアンプ３０に供給される。アドレス検出回路３２は戻り光受光信号（８−１６変調信号）からウォブル信号成分を抽出し、更にこのウォブル信号成分に重畳するＬＰＰ情報を復号する。ＬＰＰ情報には、各位置のアドレス情報及び記録制御情報が含まれている。
【００２４】
記録制御情報としては、ＬＰＰに記録されている情報又はリードイン領域１２の中に、その媒体として記録可能なそれぞれの倍速値、最適記録パワー、最適消去パワー、ストラテジーの方式、ストラテジーの最適パラメータと、媒体の製造者名、記録装置番号、ロット番号、シリアル番号のいずれか又はそれぞれの組み合わせ又はすべてがピットによりあらかじめ記録されている。
【００２５】
β検出回路３４は、８−１６変調信号波形から再生信号品位に関するパラメータとしてβ（アシンメトリ）値を算出する。このβ（アシンメトリ）値は、８−１６変調信号波形の全体振幅の中の最短マークに相当する３Ｔ信号の位置として表されるが、８−１６変調信号の中で３Ｔと１１Ｔの信号を記録することにより、それぞれを検出しても同じ効果が得られる。エンベロープ検出回路３６は８−１６変調信号のエンベロープを検出する。このエンベロープ検出は、ＯＰＣを行う際にあらかじめＰＣＡ１２ａ、２２のどこまで８−１６変調信号が記録されているかを検出するのに用いられる。デコーダ３８は８−１６変調信号を８−１６変調復調して再生データを得る。
【００２６】
サーボ回路４０はスピンドルモータ２４の回転制御及び光ピックアップ２８のフォーカス、トラッキング、送りの各制御を行う。スピンドルモータ２４の制御は、径方向位置に応じてＣＡＶ制御とＣＬＶ制御を切り換えて行う。ＣＡＶ制御は、周波数発生器２６で検出される回転数が、設定された回転数に一致するようにスピンドルモータ２４を制御することにより行われる。ＣＬＶ制御は、８−１６変調信号から検出されるウォブル信号が、設定された線速度倍率になるようにスピンドルモータ２４を制御することにより行われる。
【００２７】
レーザドライバ４２は光ピックアップ２８内のレーザを駆動する。光パワー制御回路４４はレーザドライバ４２を制御して、記録時（テスト記録時及び本番の記録時）及び再生時のレーザパワーを制御する。記録データはエンコーダ４６で８−１６変調され、ストラテジー回路４８で時間軸が補正処理されて、レーザドライバ４２のレーザ駆動信号を変調する。この変調されたレーザ駆動信号で光ピックアップ２８のレーザを駆動することにより、情報の記録が行われる。再生時は、レーザドライバ４２は光ピックアップ２８のレーザを所定の再生パワーで駆動する。システム制御回路５０（ＣＰＵ）は、この光ディスク記録装置全体を制御する。
【００２８】
図２の光ディスク記録装置による記録時（テスト記録時及び本番の記録時）の制御について説明する。図３（ａ）は光ディスク１０のデータ領域１８（図１）に本番の記録をする際の線速度（倍率）の変化を示し、図３（ｂ）はそのときのスピンドルモータ２４の回転数の変化を示す。ここでは、光ディスク１０の内周側では、データ領域１８の最内周位置での線速度倍率が６倍速に相当する回転数でＣＬＶ記録し、所定の外周側のアドレスになったら、それ以降リードアウト領域２２ａの最外周位置まで８倍速でＣＬＶ記録をするものとする。このとき、あらかじめ記録された記録パワーなどの情報も基にして、記録パワーなどは各線速度における最適記録パワーに制御される。また、据え置きの記録装置ではこのように制御されるが、ポータブルなどの薄型の記録装置では、スピンドルモータ２４の大きさや発熱の問題から最高回転数が制限されるため、内周側から外周側まで４倍速のＣＬＶ記録をする例も併せて示す。
【００２９】
すなわち、本実施の形態では、内周側と外周側に２つのＰＣＡ１２ａ、２２を持ち、据え置き記録装置で８倍速でＣＬＶ記録をする場合に、内周側ＰＣＡ１２ａは回転数が１００００回転（ｒｐｍ）を超え、８倍速でＣＬＶ記録ができないので、８倍速で外周側ＰＣＡ２２を用いてテスト記録を行い、内周側の６倍速でＣＬＶ記録をする場合に、６倍速で内周側ＰＣＡ１２ａ又は外周側ＰＣＡ２２を用いてテスト記録を行い、最適パワーを求める。ただし、上述したように、外周側ＰＣＡ２２は信頼性が低いので、内周側ＰＣＡ１２ａを用いることが好ましい。
【００３０】
一方で、ポータブルなどの用途の４倍速でＣＬＶ記録をする場合には、回転数の制限を受けることはないので、内周側ＰＣＡ１２ａ又は外周側ＰＣＡ２２を用いてテスト記録を行い最適パワーを求める。上述したように、外周側ＰＣＡ２２は信頼性が低いので、内周側ＰＣＡ１２ａを用いることが好ましいが、内周側ＰＣＡ１２ａも記録領域が限られているため回数が限定されており、記録領域が無くなった場合は、外周側ＰＣＡ２２を用いてテスト記録を行い最適パワーを求める。
【００３１】
したがって、最終的に求められたパワーは、内周側ＰＣＡ１２ａ又は外周側ＰＣＡ２２のどちらを用いてテスト記録を行い求めた最適パワーであるのかを、そのＰＣＡ１２ａ、２２の記録アドレス、記録装置のメーカー、記録装置番号、シリアル番号と、記録した倍速値と共に、ＲＭＤ領域１２ｂに記録する必要がある。実際には、据え置き記録装置において、本番の記録に先立ち行われるＯＰＣでは、ＲＭＤ情報を再生し、ＰＣＡ１２ａ、２２に記録可能な領域が内外周共に存在する場合、リードイン領域１２（図１）で線速度初期値（６倍速）での最適記録パワー値Ｐ６×が求められ、次いで外周側ＰＣＡ２２で線速度最終値（８倍速）での最適記録パワー値Ｐ８×が求められる（最適記録パワー値Ｐ６×、Ｐ８×を求める順序は逆であってもよい）。
【００３２】
記録装置の基本的な動作を以下に示す。
記録装置はＲＭＤ領域１２ｂからＰＣＡ１２ａ、２２のアドレス管理領域の情報信号を再生し、内周側及び外周側のどちらのＰＣＡ１２ａ、２２が使用されているかを知る。
（ａ）  ＲＭＤ領域１２ｂにＰＣＡ１２ａ、２２のアドレス管理領域の情報が無い場合は望ましいどちらかのＰＣＡ１２ａ又は２２にテスト記録をし、その後、ＲＭＤ領域１２ｂに上記情報を記録する。
（ｂ）  ＲＭＤ領域１２ｂにＰＣＡ１２ａ、２２のアドレス管理領域の情報がある場合で、ＲＭＤ領域１２ｂの情報は外周側ＰＣＡ２２の高倍速での記録の情報のみであり、記録装置としては内周側ＰＣＡ１２ａに低倍速テスト記録を要すると判断した場合、内周側ＰＣＡ１２ａにテスト記録を行い、その結果をＲＭＤ領域１２ｂの内周側ＰＣＡ１２ａのアドレス管理領域に記録する。
又は、
ＲＭＤ領域１２ｂにＰＣＡ１２ａ、２２のアドレス管理領域の情報がある場合で、ＲＭＤ領域１２ｂの情報は内周側ＰＣＡ１２ａの低倍速の情報であり、記録装置としては外周側ＰＣＡ２２の高倍速の情報のためのテスト記録を要すると判断した場合、外周側ＰＣＡ２２にテスト記録を行い、その結果をＲＭＤ領域１２ｂの外周側ＰＣＡ２２のアドレス管理領域に記録する。
又は、
ＲＭＤ領域１２ｂにＰＣＡ１２ａ、２２のアドレス管理領域の情報がある場合で、ＲＭＤ領域１２ｂの情報は記録装置として必要な倍速値ではない場合、内周側ＰＣＡ１２ａ、又は外周側ＰＣＡ２２に必要な倍速値でテスト記録を行い、その結果をＲＭＤ領域１２ｂのＰＣＡ１２ａ、２２のアドレス管理領域に記録する。
又は、
記録を希望する内周側のＰＣＡ１２ａに記録領域一杯に記録してしまい（ＲＭＤ領域１２ｂのアドレス情報から）記録できないと判断された場合、望ましくないが、記録を希望しない外周側のＰＣＡ２２に記録条件を変更して記録し、その結果をＲＭＤ領域１２ｂのＰＣＡ２２のアドレス管理領域に記録する。
（ｃ）  有効なデータがある場合、装置の必要なパワーなどの記録結果と記録条件を知る。
以上のＲＭＤ領域１２ｂの情報を使用する方法によって２つのＰＣＡの領域１２ａ、２２を適応的、かつ選択的に用いて最適なパワーを決定することができる。
【００３３】
据え置きの記録装置の場合の例として、図３のように本番の記録を行う場合のシステム制御回路５０によるＯＰＣの制御フローの一例を図４に示す。線速度倍率初期値として６倍速、線速度倍率最終値として８倍速をそれぞれ設定する（ステップＳ１）。ＯＰＣが開始されると、光ピックアップ２８はリードイン領域１２の内周側ＰＣＡ１２ａに移動する（ステップＳ２）。ここでは、まずＲＭＤ領域１２ｂをトレースし、エンベロープ検出回路３６の検出波形に基づきＲＭＤ領域１２ｂ内のＰＣＡ管理情報を再生し、記録可能なＯＰＣ領域情報と記録可能開始位置をチェックする。そして、検出された位置情報などに基づき、内周側ＰＣＡ１２ａにおける今回のテスト記録の開始位置を指定し、その位置に光ビームを位置決めする。その位置でウォブル信号に基づき、線速度倍率を初期値（６倍速)に制御し、記録パワーを、例えば図５に示すように１フレームごとに２６段階に変化させて（図５の例では記録パワーを最高値から徐々に低下させているが、逆に最低値から徐々に増大させることもできる）８−１６変調信号のテスト記録を１回行う（ステップＳ３）。
【００３４】
テスト記録後これを再生して、β検出回路３４で各記録パワーにおける前述した内容のアシンメトリ値βを算出する。アシンメトリ値βは再生８−１６変調信号波形のピークレベル（符号は＋）をａ、ボトムレベルをｂ（符号は−）とすると、
β＝（ａ＋ｂ）／（ａ−ｂ）
で求まる。そして、最適とされるアシンメトリ値βに最も近いアシンメトリ値βが得られる記録パワーを選択して（又は、各段階の記録パワーにおけるアシンメトリ値βから、最適とされるアシンメトリ値βにおける記録パワーを補間により求めて）、それを線速度倍率初期値における最適記録パワー値Ｐ６×とする（ステップＳ４）。最適記録パワー値Ｐ６×が求まったら、指定のＲＭＤ領域１２ｂのＰＣＡ１２ａのアドレス管理領域に、前記の記録情報を記録する。
【００３５】
光ピックアップ２８は外周側ＰＣＡ２２に移動する（ステップＳ５）。ここでは、ＲＭＤ領域１２ｂの情報から外周側ＰＣＡ２２の使用情報も得ているから、外周側ＰＣＡ２２の記録可能な位置情報などに基づき、外周側ＰＣＡ２２における今回のテスト記録の開始位置を指定し、その位置に光ビームを位置決めする。その位置でウォブル信号に基づき、線速度倍率を最終値（８倍速）に制御し、記録パワーを、例えば図５に示すように１フレームごとに２６段階に変化させて８−１６変調信号のテスト記録を行う（ステップＳ６）。このテスト記録は４回繰り返し行われる（つまり、図５の動作が４回繰り返される）。
【００３６】
４回のテスト記録が終了したらこれを再生して、β検出回路３４で各回ごとに各記録パワーにおけるアシンメトリ値βを算出する。そして、４回のテスト記録ごとに、最適とされるアシンメトリ値βに最も近いアシンメトリ値βが得られる記録パワーを選択して求め（又は、各段階の記録パワーにおけるアシンメトリ値βから、最適とされるアシンメトリ値βにおける記録パワーを補間して求め）、これら４回のテスト記録ごとに求められた記録パワー値に基づき、傷や指紋などの影響を排除して、線速度倍率最終値における最適記録パワー値Ｐ８×を求める（ステップＳ７）。
【００３７】
その方法としては、例えばこれら４つの記録パワー値のうち異常値（例えば期待値を大きく外れる値）を除外し、残りを平均した値を最適記録パワー値Ｐ８×としたり、あるいは４つの記録パワー値から異常値を除外し、その最小値を最適記録パワー値Ｐ８×とすることができる。最適記録パワー値Ｐ８×が求まったら、内周側の場合と同様にこの結果をＲＭＤ領域１２ｂのＰＣＡ１２ａ、２２のアドレス管理領域に記録する。このＲＭＤ領域１２ｂへの記録は内周側と外周側の記録の後にまとめて記録してもよい（ステップＳ８）。これで、ＯＰＣの全工程は終了し（ステップＳ９）、本番の記録が可能となる。
【００３８】
内周側の所定のアドレスの領域内にあるときは、ディスク回転を固定の線速度（データ領域１８の最内周位置での線速度が６倍速に相当する回転数）にＣＬＶ制御し、記録パワー及びストラテジーを６倍速に対応する最適値で制御して記録を行う。また、記録位置が外周側のＣＬＶ記録領域内にあるときは、ディスク回転を８倍速にＣＬＶ制御し、記録パワー及びストラテジーを８倍速の線速度に対応する最適値で制御して記録を行う。
【００３９】
本発明はＤＶＤ−Ｒ（ＲＷ）ディスクの記録に限らず、Blu-ray Disc(ブルーレイディスク)、 その他の規格の光ディスクの記録にも適用することができる。また、信号品位に関するパラメータは、アシンメトリ値βに限るものでなく、変調度や、変調度を微分係数処理したγ法に基づく値や、エラーレート、ジッタ、その他のパラメータを用いることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明に係る光ディスクの一実施の形態を示す構成図である。
【図２】本発明に係る光ディスク記録装置の一実施の形態を示すブロック図である。
【図３】本発明に係る光ディスクの線速度とモータ回転数の変化を示すグラフである。
【図４】本発明に係る光ディスクの記録方法を説明するためのフローチャートである。
【図５】本発明に係る光ディスクのテスト記録時の記録パワーを示すグラフである。
【符号の説明】
【００４１】
１０  光ディスク
１２  リードイン領域
１２ａ、２２  ＰＣＡ（パワーキャリブレーション領域：テスト記録を行うためのテスト記録領域）
１２ｂ  ＲＭＤ領域
１６  インフォメーション領域
１８  データ領域
１８ｅ  データ領域の最大可能外周位置
２０  残余領域
２２ａ  リードアウト領域
２４  スピンドルモータ
２６  周波数発生器
２８  光ピックアップ
３０  ＲＦアンプ
３２  アドレス検出回路
３４  β検出回路
３６  エンベロープ検出回路
３８  デコーダ
４０  サーボ回路
４２  レーザドライバ
４４  光パワー制御回路
４６  エンコーダ
４８  ストラテジー回路
５０  システム制御回路（ＣＰＵ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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