(57)【要約】【課題】プリント基板の半田ブリッジ等の検査を簡便にする。【解決手段】検査対象の２値化画像（図６（ａ））と反転マスク画像（図６（ｂ））を第二マスク処理手段により、マスク処理（論理積演算）し、処理後画像（図６（ｃ））の白い部分６１が半田ブリッジであるか否かをブリッジ判定手段で白い部分６１の座標、面積等から判定する。【選択図】  図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象画像を２値化画像にする２値化処理手段と、
前記２値化画像とマスク画像とをマスク処理する第一マスク処理手段と、
前記２値化画像と前記マスク画像を反転した反転マスク画像とをマスク処理する第二マスク処理手段と、を備えることを特徴とする電子機器用検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の電子機器用検査装置において、第一マスク処理手段による処理後画像は判定手段により半田面積・半田ズレの判定、第二マスク処理手段による処理後画像は判定手段により半田部ブリッジの判定がなされることを特徴とする電子機器用検査装置。
【請求項３】
請求項１に記載の電子機器用検査装置において、検査対象がクリーム半田印刷基板であることを特徴とする電子機器用検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品印刷基板の検査に関し、特に基板の半田印刷の不良等の有無を検査する装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の電子機器用検査装置において、例えばクリーム半田印刷検査で特に半田ブリッジの有無を検査する方法について説明する。
【０００３】
従来例１として、図７に示すようにプリント基板７０のクリーム半田７１の間に複数のブリッジ検査範囲７２を設定し、２値化画像（２値化とは、RGB各色要素の特定範囲を限界値にして、白黒の２値に置き換える）を作成し基準画像とする。生産されたプリント基板７０の画像も２値化画像に処理され、基準画像と比較して半田印刷状態の良否判定を行なっている。
【０００４】
従来例２として、例えば、特許文献１が挙げられる。この従来技術は、一対の半田パターンの各々に窓枠を設定し、半田パターンの輪郭と窓枠が接触すると判断されると第一回目の半田ブリッジ検査でブリッジありと判定され、更に、両半田パターンの間に窓枠を設定して第二回目の半田ブリッジ検査をして、最終的に半田ブリッジの有無を判定する。
【特許文献１】特開平６−１８２３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来例１では、複数の検査範囲の設定が必要となり、検査プログラムの作成に費用と多くの時間を要するとの課題が一例として挙げられていた。従来例２では、検査が２回必要となる場合があり、検査工程に時間を要するとの課題が一例として挙げられていた。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、２値化された基準画像を検査のためのマスク画像として用い、検査対象となるクリーム半田処理がなされたプリント基板の２値化画像とマスク画像とをマスク処理、すなわち論理積演算を行ない、ブリッジ個所の座標、半田面積等を取得することにより、半田ブリッジの有無を判定することを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
まず、本発明の実施形態に使用されるクリーム半田印刷プリント基板の検査機の構成を説明する。図１で示される１０はパソコン本体、１１はモニター、１２はイメージスキャナでこれらにより、検査機が構成される。イメージスキャナ１２は、クリーム半田印刷されたプリント基板１３の画像を読み込みとり、パソコン１０に送信する。
【０００８】
パソコン１０の動作等については、図２に示すフローチャート、および図３、図４、図５、図６に示す各処理に従い説明する。
フローチャート図２のステップＳ１においては、イメージスキャナ１２によって検査対象基板の画像取り込みを行う。取り込みされた検査対象基板の画像を図３（ａ）に示す。
図３（ａ）の画像はステップＳ２において２値化処理が行われる。具体的には半田の色を境目にして、クリーム半田部分３１が白に非半田部分３２が黒に変換され図３bに示す２値化画像に処理される。
図３（ｂ）（図４（ａ））の２値化画像には、２値化された際に発生するノイズ３３が画像に白く点在する。そのためステップＳ３のフィルタ処理によって半田部分と誤認される白く点在するノイズ３３を除去する。ノイズ３３が除去された後の検査対象画像は図４（ｂ）（図５（ａ））に示すものとなる。
【０００９】
次にステップＳ４では、第一マスク処理手段（図示せず）により、図５（ａ）の検査対象画像と、プリント基板のランド径をひろげた図５（ｂ）に示す複数のマスクパターン５１を持つマスク画像とを、検査箇所の特定をするためマスク処理（論理積演算）を行う。
【００１０】
マスク処理された画像は図５（ｃ）に示されたものになり、検査対象画像の半田部分でマスクから外れた部分（ブリッジ可能性部分）５２は隠れる。マスク処理された画像（図５（ｃ））内の半田部分５３については、二つの判定手段によりプリント基板のクリーム半田印刷の面積、ズレの良否の判定がなされる。
【００１１】
まず、ステップＳ５では半田面積判定手段（図示せず）によって半田面積が計算され、半田の面積が所定以下の場合、プリント基板は不良品と判定される。
次に、ステップＳ６では半田ズレ判定手段（図示せず）で座標の比較がなされ、座標のズレが既定値以上になると、プリント基板は不良品と判定される。
【００１２】
半田面積、半田ズレで問題なく通過した検査対象基板については、ステップＳ８で半田ブリッジの検査が行われるが、その前に、ステップＳ７において第二のマスク処理が行われる。以下第二のマスク処理の内容を図６にもとづき説明する。
【００１３】
図６（ａ）で示される画像は検査対象画像で、図６（ｂ）のマスク画像は図５（ｂ）のマスク画像を反転したものである。これらの検査対象画像と反転されたマスク画像は、第二マスク処理手段（図示せず）によりマスク処理（論理積演算）され、マスク処理後の画像は図６（ｃ）に示される。
図６（ｃ）のマスク処理画像で白い部分６１がブリッジの存在する可能性がある半田部分となる。
【００１４】
次に、ステップＳ８において、ブリッジ判定手段（図示せず）により白い部分６１の座標および面積が計算され、所定座標から大きく離れていない場合、面積が所定面積以下であれば、ブリッジの可能性なしと判定される。その結果、検査対象のクリーム半田印刷基板は良品と総合的に判断されたことになる。
【００１５】
このような、画像を使用した外観検査機により、以下のような検査も容易にできる。
一例として、部品実装後のプリント基板のブリッジ有無の検査、また所定の部品がプリント基板に装着されているか否かの検査もできる。
【００１６】
その他の例として、製品のパネルに印刷された例えば機種名、ブランド名等の文字の印刷のズレ、カスレも目視検査によらず検査機による正確な検査もできる。
【００１７】
本発明によると、マスク画像、さらに前記マスク画像を反転した反転マスク画像を用いるので、検査プログラムの作成が短時間でかつ安価であり、検査も容易でかつ正確である。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施形態にかかるクリーム半田印刷検査機の一例を示す構成図である。
【図２】本発明の実施形態にかかるクリーム半田印刷の検査のフローチャートである。
【図３】本発明の実施形態にかかる検査対象プリント基板の画像及び２値化処理後の画像である。
【図４】本発明の実施形態にかかる２値化処理画像からノイズ除去後の画像である。
【図５】本発明の実施形態にかかる第一マスク処理に関する画像である。
【図６】本発明の実施形態にかかる第二マスク処理に関する画像である。
【図７】従来のクリーム半田印刷の検査方法を示す図である。
【符号の説明】
【００１９】
１０  パソコン
１１  モニタ
１２  イメージスキャナ
１３  プリント基板
３１  半田部分
３２  非半田部分
３３  ノイズ
５１  マスクパターン
６１  白い部分
７１  半田
７２  検査範囲
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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