(57)【要約】【課題】  実装部材を液晶パネルに実装した後にも検査を可能とする。【解決手段】  液晶パネルＡＡは、フレキシブル基板Ｂ等の実装部材と接続可能な端子群１０、ＹエンドパルスＹＥＰを出力する走査線駆動回路１００、ＸエンドパルスＸＥＰを出力するデータ線駆動回路２００を備える。端子群１０は、液晶パネルの端部に形成され、複数の端子２０を備える。複数の端子２０のち端子２０Ａ及び端子２０Ｂは、ＹエンドパルスＹＥＰ及びＸエンドパルスＸＥＰが供給される検査端子と兼用される。【選択図】      図３
2005062353.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のデータ線、複数の走査線、及び前記データ線と前記走査線との交差に対応して設けられた複数の画素と、入力信号に基づいて前記画素の階調を制御する駆動回路と、実装部材と接続可能な端子群とを備えた電気光学パネルであって、
前記駆動回路は、前記電気光学パネルの良否を検査するために用いる検査信号を出力し、
前記端子群は、前記電気光学パネルの端部に形成される複数の端子を備え、
前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用される、
ことを特徴とする電気光学パネル。
【請求項２】
前記端子群は、前記電気光学パネルに複数形成されており、前記複数の端子群のうち少なくとも一つの端子群において、前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用されることを特徴とする請求項１に記載の電気光学パネル。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の電気光学パネルと、
前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、
前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルを含み、
前記複数の配線のうち、前記検査端子と接続される配線に前記検査信号を出力する信号確認部位を設けた
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の電気光学パネルと、
前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、
前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルと、前記接続ケーブルに接続される外部基板とを含む
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項５】
前記外部基板に、前記検査端子から前記接続ケーブルを介して供給される前記検査信号を出力する信号確認部位を設けた
ことを特徴とする請求項４に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記外部基板に設けられた光源と、
前記外部基板に設けられ、前記検査信号に基づいて前記光源の点灯及び非点灯を制御する制御回路と
を備えたことを特徴とする請求項４又は５に記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記制御回路は、前記検査信号を分周する分周回路を備え、分周回路の出力信号を用いて前記光源の前記光源の点灯及び非点灯を制御することを特徴とする請求項６に記載の電気光学装置。
【請求項８】
前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、スタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、
前記外部基板は、
前記画像信号を供給する画像処理回路と、
前記スタート信号を供給するタイミング発生回路と、
前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記画像処理回路における前記画像信号の供給タイミングを調整する調整回路と、
を備えたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項９】
前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、クロック信号に基づいてスタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、
前記外部基板は、
前記画像信号を供給する画像処理回路と、
前記スタート信号及び前記クロック信号を供給するタイミング発生回路と、
前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記クロック信号の供給タイミングを調整する調整回路と、
を備えたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項１０】
請求項３乃至９のうちいずれか１項に記載した電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気光学パネル、電気光学装置及び電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置、例えば、電気光学材料として液晶を用いた液晶表示装置は、陰極線管（ＣＲＴ）に代わるディスプレイデバイスとして、各種情報処理機器の表示部や液晶テレビなどに広く用いられている。
【０００３】
ここで、従来の電気光学装置は、例えば、次のように構成されている。すなわち、従来の電気光学装置は、マトリクス状に配列した画素電極と、この画素電極に接続されたＴＦＴ（Thin Film Transistor：薄膜トランジスタ）のようなスイッチング素子などが設けられた素子基板と、画素電極に対向する対向電極が形成された対向基板と、これら両基板との間に充填された電気光学材料たる液晶とを備える。画素は、スイッチング素子、画素電極、電気光学材料及び対向電極によって構成され、マトリクス状に配置される。このような構成において、走査線を介してスイッチング素子に走査信号を印加すると、当該スイッチング素子が導通状態となる。この導通状態の際に、データ線を介して画素電極に、階調に応じた電圧の画像信号を印加すると、当該画素電極および対向電極の間の液晶層に画像信号の電圧に応じた電荷が蓄積される。電荷蓄積後、当該スイッチング素子をオフ状態としても、当該液晶層における電荷の蓄積は、液晶層自身の容量や蓄積容量などによって維持される。このように、各スイッチング素子を駆動させ、蓄積させる電荷量を階調に応じて制御すると、画素毎に液晶の配向状態が変化するので、画素毎に濃度が変化することになる。このため、階調表示することが可能となるのである。
【０００４】
このような電気光学装置は、上述した画素がマトリクス状に配置される電気光学パネルを備える。電気光学パネルには、走査線を駆動する走査線駆動回路、又はデータ線を駆動するデータ線駆動回路が形成されることもあれば、これらの少なくとも一方が外部回路として構成されることもある。これらの駆動回路を電気光学パネルに形成するか否かにかかわらず、電気光学パネルの製造においては、表示上の欠陥、例えば、点欠陥や線欠陥を検査するのが一般的である。
【０００５】
駆動回路を電気光学パネルに内蔵しない場合には、走査線及びデータ線に検査端子を設けて、それらをプローブして所定の信号を供給し、画素の欠陥を検査することができる。一方、駆動回路を内蔵する場合は、駆動回路自体の欠陥を検出する必要がある。
【０００６】
そこで、従来の電気光学パネルにおいて駆動回路を内蔵する場合、検査信号を出力する検査端子を入出力端子とは別途設ける技術が知られている（例えば、特許文献１）。
【０００７】
ところで、検査端子にプローブを当てるためには、電気光学パネルを精密に位置決めして、プローブを当てる必要がある。接続ケーブルは、一般に弾性力のあるフレキシブル基板で構成されることが多い。このため、接続ケーブルが接続された電気光学パネルは、大きさが大きくなり、さらに、接続ケーブルがそれ自体の弾性で形状が変わるため、簡易な位置決め装置では正確な位置決めが困難であり、あるいは、位置決め装置が大掛かりになりなる。従って、従来は入出力端子に接続ケーブルを接続する前に電気光学パネル単体として検査していた。
【０００８】
【特許文献１】特許第３２０３９７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、例えば、エージング試験などで、試験の前後で検査信号を確認したい場合、接続ケーブルを実装する工程で発生する不良を検出したい場合がある。これらの場合は、接続ケーブルを電気光学パネルに実装した後に、検査を行う必要があり、上述した従来の電気光学パネルでは、検査に手間がかかるといった問題があった。
【００１０】
そこで、本発明は、接続ケーブル等の実装部材を電気光学パネルに実装した後に、検査が可能な電気光学パネル及び電気光学装置を提供することを解決課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上述した課題を解決するため、本発明に係る電気光学パネルは、複数のデータ線、複数の走査線、及び前記データ線と前記走査線との交差に対応して設けられた複数の画素と、入力信号に基づいて前記画素の階調を制御する駆動回路と、実装部材と接続可能な端子群とを備えたものであって、前記駆動回路は、前記電気光学パネルの良否を検査するために用いる検査信号を出力し、前記端子群は、前記電気光学パネルの端部に形成される複数の端子を備え、前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用される、ことを特徴とする。
【００１２】
この発明によれば、実装部材と接続可能な端子群を構成する一部の端子は検査端子と兼用される。即ち、当該端子は出力端子としての機能と検査端子としての機能を兼ね備える。これにより、実装部材を電気光学パネルに実装する前には、当該端子をプロービングすることによって、電気光学パネル単体で良否を判定することができ、更に、実装部材を接続した後は、検査信号を実装部材を介して外部に出力することが可能となる。これによって、実装部材の実装の前後で、製品の良否を判定することが可能となる。
【００１３】
ここで、前記端子群は、前記電気光学パネルに複数形成されており、前記複数の端子群のうち少なくとも一つの端子群において、前記複数の端子の一部の端子は、前記検査信号が供給される検査端子と兼用されるものであってもよい。例えば、電気光学パネルに走査線駆動回路とデータ線駆動回路を形成する場合において、走査線駆動回路に関する端子とデータ線駆動回路に関する端子を別の端子群として構成することがある。このような場合に、いずれか一方のエンドパルスを検査信号として用いる場合には、複数の端子群の一部の端子群を構成する端子が検査端子と兼用されることになる。
【００１４】
次に、本発明に係る電気光学装置は、上述した電気光学パネルと、前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルを含み、前記複数の配線のうち、前記検査端子と接続される配線に前記検査信号を出力する信号確認部位を設けたことを特徴とする。この電気光学装置によれば、電気光学パネルに実装部材たる接続ケーブルを接続した後であっても、接続ケーブルに形成された信号確認部位によって検査信号を取得することができるので、実装部材の実装後に電気光学パネルの良否を判定することが可能となる。
【００１５】
また、本発明に係る電気光学装置は、上述した電気光学パネルと、前記端子群に接続される前記実装部材とを備え、前記実装部材は、前記複数の端子と各々接続される複数の配線を備えた接続ケーブルと、前記接続ケーブルに接続される外部基板とを含むことを特徴とする。この発明によれば、外部基板に検査信号を送るので、当該基板で電気光学パネルの良否を判定することが可能となる。より具体的には、前記外部基板に、前記検査端子から前記接続ケーブルを介して供給される前記検査信号を出力する信号確認部位を設けることが好ましい。
【００１６】
さらに、前記外部基板に設けられた光源と、前記外部基板に設けられ、前記検査信号に基づいて前記光源の点灯及び非点灯を制御する制御回路とを備えることが好ましい。この場合には、検査者は光源の光によって電気光学パネルの良否を実装部材を実装した後に、確認できる。なお、前記制御回路は、前記検査信号を分周する分周回路を備え、分周回路の出力信号を用いて前記光源の前記光源の点灯及び非点灯を制御することが好ましい。人が視覚によって認識できるように分周比を設定することによって、良否の判定が一層容易となる。
【００１７】
加えて、前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、スタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、前記外部基板は、前記画像信号を供給する画像処理回路と、前記スタート信号を供給するタイミング発生回路と、前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記画像処理回路における前記画像信号の供給タイミングを調整する調整回路と、を備えることが好ましい。この発明によれば、フレキシブル基板を接続する前に電気光学パネルの良否を単体で判定することができ、実装部材を実装した後は、検査信号を用いて画像信号の供給タイミングをフィードバック制御するから、表示画像の品質を向上させることができる。
【００１８】
前記駆動回路は、画像信号をサンプリングして前記複数のデータ線に順次供給するサンプリング回路と、クロック信号に基づいてスタート信号を順次転送しサンプリング信号を生成して前記サンプリング回路へ供給するシフトレジスタとを含み、前記シフトレジスタの最終段から出力されるエンド信号を前記検査信号として出力し、前記外部基板は、前記画像信号を供給する画像処理回路と、前記スタート信号及び前記クロック信号を供給するタイミング発生回路と、前記スタート信号と前記エンド信号との時間差に基づいて、前記クロック信号の供給タイミングを調整する調整回路と、を備えることが好ましい。この発明によれば、フレキシブル基板を接続する前に電気光学パネルの良否を単体で判定することができ、実装部材を実装した後は、検査信号を用いて画像信号の供給タイミングをフィードバック制御するから、表示画像の品質を向上させることができる。
【００１９】
次に、本発明に係る電子機器は、上述した電気光学装置えたことを特徴とする。このような電子機器としては、液晶プロジェクタ、パーソナルコンピュータ、携帯電話、電子カメラ、ＰＤＡ等が該当する。
【００２０】
このように、本発明によれば、接続ケーブル等の実装部材を電気光学パネルに実装する前後で、電気光学パネルの良否を検査することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、図面を参照して、本発明に係わる実施形態を説明する。なお、本実施形態では、電気光学材料として液晶を用いた液晶パネルを電気光学パネルの一例とし、液晶パネルを用いた液晶表示装置を電気光学装置の一例として説明する。
【００２２】
＜１．第１実施形態＞
＜１−１：液晶パネルの全体構成＞            
まず、第１実施形態に係わる液晶パネルＡＡの全体構成について図１及び図２を参照して説明する。ここで、図１は、液晶パネルＡＡの構成を示す斜視図であり、図２は、図１におけるＺ−Ｚ’線断面図である。
【００２３】
これらの図に示されるように、液晶パネルＡＡは、画素電極６等が形成されたガラスや半導体等の素子基板１５１と、共通電極１５８等が形成されたガラス等の透明な対向基板１５２とを、スペーサ１５３が混入されたシール材１５４によって一定の間隙を保って、互いに電極形成面が対向するように貼り合わせるとともに、この間隙に電気光学材料としての液晶１５５を封入した構造となっている。なお、シール材１５４は、対向基板１５２の基板周辺に沿って形成されるが、液晶１５５を封入するために一部が開口している。このため、液晶１５５の封入後に、その開口部分が封止材１５６によって封止されている。
【００２４】
ここで、素子基板１５１の対向面であって、シール材１５４の外側一辺においては、データ線駆動回路２００が形成されて、Ｙ方向に延在するデータ線３を駆動する構成となっている。さらに、この一辺には端子群１０Ａが形成されている。また、この一辺に隣接する一辺には、走査線駆動回路１００が形成されて、Ｘ方向に延在する走査線２をそれぞれ両側から駆動する構成となっている。
【００２５】
端子群１０は複数の端子２０を備える。複数の端子２０は電気的に導通を取ることができる電極で各々構成される。複数の端子２０のうち左端に配置される端子２０Ａには、走査線駆動回路１００からＹエンドパルスＹＥＰが供給され、右端に配置される端子２０Ｂには、データ線駆動回路２００からＸエンドパルスＸＥＰが供給される。ＹエンドパルスＹＥＰ及びＸエンドパルスＸＥＰは、液晶パネルＡＡを検査するための検査信号として機能する。
【００２６】
端子群１０は、異方性導電フィルムを介して電気的および機械的に実装部材と接続される。この例の実装部材は、接続ケーブルとしてのフレキシブル基板と外部基板とを含む。これらの点については後述する。端子群１０を構成する端子２０Ａと端子２０Ｂとは、まず、フレキシブル基板が接続される前においては、検査端子として機能する。この場合には、液晶パネルＡＡの端部に形成された端子群１０をプロービングすれば、端子２０Ａ及び端子２０Ｂから検査信号を読み取ることが可能である。一方、フレキシブル基板を接続した後は、端子２０Ａ及び端子２０Ｂは、液晶パネルＡＡから検査信号を出力する出力端子として機能する。従って、端子２０Ａ及び端子２０Ｂは、検査端子と出力端子とを兼用した端子である。このように兼用することによって、検査信号を液晶パネルＡＡから外部に出力することができ、且つ、検査端子を別途設けなくても、フレキシブル基板を接続する前に液晶パネルＡＡを検査することが可能となる。
【００２７】
対向基板１５２の共通電極１５８は、素子基板１５１との貼合部分における４隅のうち、少なくとも１箇所において設けられた導通材によって、素子基板１５１との電気的導通が図られている。ほかに、対向基板１５２には、液晶パネルＡＡの用途に応じて、例えば、第１に、ストライプ状や、モザイク状、トライアングル状等に配列したカラーフィルタが設けられ、第２に、例えば、クロムやニッケルなどの金属材料や、カーボンやチタンなどをフォトレジストに分散した樹脂ブラックなどのブラックマトリクスが設けられ、第３に、液晶パネルＡＡに光を照射するバックライトが設けられる。特に色光変調の用途の場合には、カラーフィルタは形成されずにブラックマトリクスが対向基板１５２に設けられる。
【００２８】
加えて、素子基板１５１および対向基板１５２の対向面には、それぞれ所定の方向にラビング処理された配向膜などが設けられる一方、その各背面側には配向方向に応じた偏光板（図示省略）がそれぞれ設けられる。ただし、液晶１５５として、高分子中に微小粒として分散させた高分子分散型液晶を用いれば、前述の配向膜、偏光板等が不要となる結果、光利用効率が高まるので、高輝度化や低消費電力化などの点において有利である。
【００２９】
なお、データ線駆動回路２００、走査線駆動回路１００等の周辺回路の一部または全部を、素子基板１５１に形成する替わりに、例えば、ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）技術を用いてフィルムに実装された駆動用ＩＣチップを、素子基板１５１の所定位置に設けられる異方性導電フィルムを介して電気的および機械的に接続する構成としても良いし、駆動用ＩＣチップ自体を、ＣＯＧ（Chip On Grass）技術を用いて、素子基板１５１の所定位置に異方性導電フィルムを介して電気的および機械的に接続する構成としても良い。
【００３０】
＜１−２：電気光学装置の電気的構成＞
図３に、電気光学装置のブロック図を示す。この図に示すように電気光学装置は、液晶パネルＡＡ、フレキシブル基板Ｂ、及び外部基板Ｃを備える。外部基板Ｃは、タイミング発生回路３００、画像処理回路４００、及び電源回路５００を備える。この液晶表示装置に供給される入力画像データＤは、例えば、３ビットパラレルの形式である。タイミング発生回路３００は、入力画像データＤに同期してＹクロック信号ＹＣＫ、反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢ、Ｘクロック信号ＸＣＫ、反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢ、Ｙ転送開始パルスＤＹおよびＸ転送開始パルスＤＸを生成する。また、タイミング発生回路３００は、画像処理回路４００を制御する各種のタイミング信号を生成し、これを出力する。
【００３１】
Ｙクロック信号ＹＣＫは、走査線２を選択する期間を特定し、反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢはＹクロック信号ＹＣＫの論理レベルを反転したものである。Ｘクロック信号ＸＣＫは、データ線３を選択する期間を特定し、反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢはＸクロック信号ＸＣＫの論理レベルを反転したものである。
【００３２】
画像処理回路４００は、入力画像データＤに、液晶パネルＡＡの光透過特性を考慮したガンマ補正等を施した後、ＲＧＢ各色の画像データをＤ／Ａ変換して、画像信号４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂを生成する。
【００３３】
電源回路５００は、タイミング発生回路３００および画像処理回路４００に電位電源を供給する他、走査線駆動回路１００及びデータ線駆動回路２００の電源電圧を生成する。
【００３４】
このように生成された各種の制御信号及び電源電圧は、フレキシブル基板Ｂを介して液晶パネルＡＡに供給される。
【００３５】
次に、液晶パネルＡＡは、その素子基板上に、端子群１０、画像表示領域Ａ、走査線駆動回路１００およびデータ線駆動回路２００を備える。走査線駆動回路１００は、Ｙシフトレジスタ及びレベルシフタ等を備える。Ｙ転送開始パルスＤＹ、Ｙクロック信号ＹＣＫおよび反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢはＹシフトレジスタに供給される。Ｙシフトレジスタは、Ｙクロック信号ＹＣＫおよび反転Ｙクロック信号ＹＣＫＢに同期して、Ｙ転送開始パルスＤＹを順次転送して信号を順次出力する。レベルシフタは、信号振幅を大振幅に変換し、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍとして各走査線２に出力する。また、Ｙシフトレジスタの最終段からＹ転送開始パルスＤＹがＹエンドパルスＹＥＰとして出力する。ＹエンドパルスＹＥＰは、Ｙシフトレジスタの検査のために用いられる。
【００３６】
データ線駆動回路２００は、画像信号４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂを所定のタイミングでサンプリングしてデータ線信号Ｘ１〜Ｘｎを生成し各データ線３に供給する。データ線駆動回路２００は、Ｘシフトレジスタ、レベルシフタ、及びサンプリング回路を備える。Ｘシフトレジスタは、Ｘ転送開始パルスＤＸをＸクロック信号ＸＣＫおよび反転Ｘクロック信号ＸＣＫＢに同期して順次転送して各出力信号を生成する。レベルシフタは、Ｘシフトレジスタの各出力信号のレベルを変換して、各サンプリング信号ＳＲ１〜ＳＲｎを順次生成する。サンプリング回路は、ｎ個のスイッチＳＷ１〜ＳＷｎを備える。各スイッチＳＷ１〜ＳＷｎは、ＴＦＴによって構成されている。そして、ゲートに供給される各サンプリング信号ＳＲ１〜ＳＲｎが順次アクティブになると、各スイッチＳＷ１〜ＳＷｎが順次オン状態となる。すると、画像信号供給線Ｌ１〜Ｌ３を介して供給される画像信号４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂがサンプリングされる。そして、サンプリング結果であるデータ線信号Ｘ１〜Ｘｎがデータ線３に順次供給される。なお、シフトレジスタの最終段からはＸ転送開始パルスＤＸがＸエンドパルスＸＥＰとして出力される。ＸエンドパルスＸＥＰは、Ｘシフトレジスタの検査のために用いられる。
【００３７】
次に、画像表示領域Ａには、図３に示されるように、ｍ（ｍは２以上の自然数）本の走査線２が、Ｘ方向に沿って平行に配列して形成される一方、ｎ（ｎは２以上の自然数）本のデータ線３が、Ｙ方向に沿って平行に配列して形成されている。そして、走査線２とデータ線３との交差付近においては、ＴＦＴ５０のゲートが走査線２に接続される一方、ＴＦＴ５０のソースがデータ線３に接続されるとともに、ＴＦＴ５０のドレインが画素電極６に接続される。そして、各画素は、画素電極６と、対向基板に形成される対向電極（後述する）と、これら両電極間に挟持された液晶とによって構成される。この結果、走査線２とデータ線３との各交差に対応して、画素はマトリクス状に配列されることとなる。
【００３８】
また、ＴＦＴ５０のゲートが接続される各走査線２には、走査信号Ｙ１、Ｙ２、…、Ｙｍが、パルス的に線順次で印加されるようになっている。このため、ある走査線２に走査信号が供給されると、当該走査線に接続されるＴＦＴ５０がオンするので、データ線３から所定のタイミングで供給されるデータ線信号Ｘ１、Ｘ２、…、Ｘｎは、対応する画素に順番に書き込まれた後、所定の期間保持されることとなる。
【００３９】
各画素に印加される電位レベルに応じて液晶分子の配向や秩序が変化するので、光変調による階調表示が可能となる。例えば、液晶を通過する光量は、ノーマリーホワイトモードであれば、印加電位が高くなるにつれて制限される一方、ノーマリーブラックモードであれば、印加電位が高くなるにつれて緩和されるので、液晶表示装置全体では、画像信号に応じたコントラストを持つ光が各画素毎に出射される。このため、所定の表示が可能となる。
【００４０】
＜１−３：フレキシブル基板の構成＞
次に、フレキシブル基板Ｂの詳細な構成について説明する。図４は、フレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図である。図５は、図４に示す端子２０Ｂ及び配線Ｌの一部断面図である。これらの図に示すようにフレキシブル基板Ｂは、基材２１０の下に配線Ｌが形成されている。基材２１０は、例えば、ポリイミド等の弾力性に富む材料で構成することができる。配線Ｌ２の下面はレジスト等で覆われており、短絡が防止されるようになっている。また、配線Ｌ２の端部では、異方性導電膜（ＡＣＦ：anisotropic conductive film）２１１を介して端子２０Ｂとの導通が取られている。
【００４１】
また、端子２０Ａ及び端子２０Ｂを外部基板Ｃに接続する配線Ｌ１及びＬ２には、信号確認部位としてテストポイント２０１及び２０２が設けられている。テストポイント２０１及び２０２においては、基材２１０に円形の孔が形成されており、配線Ｌ１及びＬ２と導通が取れるようになっている。従って、テストポイント２０１及び２０２をプロービングすることによって、ＹエンドパルスＹＥＰ及びＸエンドパルスＸＥＰを確認することができる。即ち、テストポイント２０１及び２０２は、検査信号を確認可能な信号確認部位として機能する。
【００４２】
このように本実施形態においては、フレキシブル基板Ｂに信号確認部位を設けたので、液晶パネルＡＡとフレキシブル基板Ｂを接続した後にも、検査信号を確認することが可能となる。なお、この例では、基材２１０に孔を設けることによって信号確認部位をフレキシブル基板Ｂに設けたが、信号確認部位は配線Ｌ１及びＬ２と電気的に導通がとれる構成であればいかなる形態であってもよい。
【００４３】
＜２．第２実施形態＞
次に、第２実施形態に係る液晶表示装置は、テストポイント２０１及び２０２を外部基板Ｃに設けた点を除いて、第１実施形態の液晶表示装置と同様である。図６は、第２実施形態におけるフレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図である。この例では、外部回路が形成される外部基板Ｃにテストポイント２０１及び２０２が配置される。従って、液晶パネルＡＡと外部基板Ｃとをフレキシブル基板Ｂで接続した後にも検査信号を確認することが可能となる。
【００４４】
＜３．第３実施形態＞
次に、第３実施形態に係る液晶表示装置は、テストポイント２０１及び２０２の替わりに光源２０３及び２０４を外部基板Ｃに設けた点を除いて、第１実施形態と同様である。図７は、第３実施形態におけるフレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図である。この例では、外部基板Ｃに制御回路６００と光源２０３及び２０４が設けられている。光源２０３及び２０４は例えばＬＥＤによって構成することができる。
【００４５】
制御回路６００は、２個の分周回路を内蔵する。第１分周回路は、端子２０Ａから出力されるＹエンドパルスＹＥＰを分周して第１分周信号を出力する一方、第２分周回路は端子２０Ｂから出力されるＸエンドパルスＸＥＰを分周して第２分周信号を出力する。制御回路６００は、第１分周信号に基づいて光源２０３の点灯・非点灯を制御する第１制御信号を生成し、第２分周信号に基づいて光源２０４の点灯・非点灯を制御する第２制御信号を生成する。第１及び第２制御信号は光源２０３及び２０４に供給される。これによって、光源２０３及び２０４の点灯・非点灯が制御される。
【００４６】
ＸエンドパルスＸＥＰ、ＹエンドパルスＹＥＰは所定の周期を有するが、その周期は短い。第１及び第２分周回路を設けたのは、人の視覚によって点滅を検知できるようにするためである。仮に、走査線駆動回路１００において、シフトレジスタが動作しなかったり、何らかの異常があると、光源２０３が非点灯、あるいは、常時、点灯となる。従って、検査工程において、光源２０３の状態を検査者が見ることによって、液晶パネルＡＡの良否を判定することが可能である。また、データ線駆動回路２００の良否を光源２０４の状態から判定できる点も同様である。
【００４７】
なお、一般に、ＸエンドパルスＸＥＰの周波数はＹエンドパルスＹＥＰの周波数よりも高いので、第２分周回路の分周比は第１分周回路の分周比よりも大きいことが好ましい。さらに、第１制御信号と第２制御信号との論理積をＡＮＤ回路によって求め、この出力信号を光源２０３に供給することによって、光源２０４を省略してもよい。この場合には、ＸエンドパルスＸＥＰ又はＹエンドパルスＹＥＰのうち少なくとも一方が非アクティブとなれば、光源２０３は点灯しないので、液晶パネルＡＡの良否を表示することができる。
【００４８】
＜４．第４実施形態＞
次に、第４実施形態に係る液晶表示装置は、外部基板Ｃに調整回路７００を備える点を除いて、第１実施形態と同様である。図８は、第４実施形態におけるフレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図であり、図９はＸクロック信号ＸＣＫ、Ｘ転送開始パルスＸＳＰ及びＸエンドパルスＸＥＰのタイミングチャートである。
【００４９】
図９に示すように、この例では、Ｘクロック信号ＸＣＫの立ち上がりエッジとＸ転送開始パルスＸＳＰの立ち上がりエッジが同期しているものとする。この場合、Ｘ転送開始パルスＸＳＰはＸシフトレジスタによって転送され、その最終段からＸエンドパルスＸＥＰとして出力される。このシフト動作の過程で遅延が発生する。Ｘクロック信号ＸＣＫは画像信号を供給するタイミングの基準にもなるので、Ｘクロック信号ＸＣＫに対するＸエンドパルスＸＥＰの遅延時間Δｔは、画像信号に対するサンプリング信号の遅延を示している。また、遅延時間Δｔは、Ｘ転送開始パルスＸＳＰとＸエンドパルスＸＥＰとの時間差に相当する。
【００５０】
そこで、調整回路７００は基準時間（基準タイミング）であるＸクロック信号ＸＣＫに対するＸエンドパルスＸＥＰの遅延時間Δｔを検知して、この遅延時間Δｔに応じて、画像信号の供給タイミングをサンプリング信号に合わせるように画像処理回路４００を調整する。
【００５１】
このように、画像信号の供給タイミングをフィードバック制御することによって、画像信号とサンプリング信号との位相を適切に調整することができ、ゴーストを防止して表示品質を向上させることができる。なお、画像信号の供給タイミングを基準としてＸクロック信号ＸＣＫの供給タイミングを調整してもよい。
【００５２】
＜５．応用例＞
＜５−１：検査信号の他の例＞
上述した各実施形態においては、検査信号としてＸエンドパルスＸＥＰ及びＹエンドパルスＹＥＰを一例として説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、電気光学パネルの良否を判定するために用いる信号はどのようなものであっても検査信号に含まれる。例えば、走査線２やデータ線３の断線を検出するための信号が含まれる。
【００５３】
また、上述した各実施形態においては、画素の表示を制御する駆動回路として、走査線駆動回路１００とデータ線駆動回路２００の双方を液晶パネルＡＡに形成したが、いずれか一方が形成されるものであってもよい。
【００５４】
＜５−２：電気光学装置の他の例＞
また、上述した実施の形態にあっては、画素のスイッチング素子を、ＴＦＴで代表される３端子素子として説明したが、ダイオード等の２端子素子で構成しても良い。ただし、画素のスイッチング素子として２端子素子を用いる場合には、走査線２を一方の基板に形成し、データ線３を他方の基板に形成するとともに、２端子素子を、走査線２またはデータ線３のいずれか一方と、画素電極との間に形成する必要がある。この場合、画素は、走査線２とデータ線３との間に直列接続された二端子素子と、液晶とから構成されることとなる。
【００５５】
また、本発明は、アクティブマトリクス型液晶表示装置として説明したが、これに限られず、ＳＴＮ（Super Twisted Nematic）液晶などを用いたパッシィブ型にも適用可能である。さらに、電気光学材料としては、液晶のほかに、エレクトロルミネッセンス素子などを用いて、その電気光学効果により表示を行う表示装置にも適用可能である。すなわち、本発明は、上述した液晶装置と類似の構成を有するすべての電気光学装置に適用可能である。
【００５６】
＜５−３：電子機器＞
次に、上述した液晶表示装置を各種の電子機器に適用される場合について説明する。
＜５−３−１：プロジェクタ＞
まず、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図１０は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。
【００５７】
この図に示されるように、プロジェクタ１１００内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット１１０２が設けられている。このランプユニット１１０２から射出された投射光は、ライトガイド１１０４内に配置された４枚のミラー１１０６および２枚のダイクロイックミラー１１０８によってＲＧＢの３原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇに入射される。
【００５８】
液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇの構成は、上述した液晶パネルＡＡと同等であり、画像信号処理回路（図示省略）から供給されるＲ、Ｇ、Ｂの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム１１１２に３方向から入射される。このダイクロイックプリズム１１１２においては、ＲおよびＢの光が９０度に屈折する一方、Ｇの光が直進する。したがって、各色の画像が合成される結果、投射レンズ１１１４を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。
【００５９】
ここで、各液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇによる表示像について着目すると、液晶パネル１１１０Ｇによる表示像は、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂによる表示像に対して左右反転することが必要となる。
【００６０】
なお、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂおよび１１１０Ｇには、ダイクロイックミラー１１０８によって、Ｒ、Ｇ、Ｂの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。
【００６１】
＜５−３−２：モバイル型コンピュータ＞
次に、この液晶パネルＡＡを、モバイル型のパーソナルコンピュータに適用した例について説明する。図１１は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。図において、コンピュータ１２００は、キーボード１２０２を備えた本体部１２０４と、液晶表示ユニット１２０６とから構成されている。この液晶表示ユニット１２０６は、先に述べた液晶パネル１００５の背面にバックライトを付加することにより構成されている。
【００６２】
＜５−３−３：携帯電話＞
さらに、この液晶パネルＡＡを、携帯電話に適用した例について説明する。図１２は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。図において、携帯電話１３００は、複数の操作ボタン１３０２とともに、反射型の液晶パネル１００５を備えるものである。この反射型の液晶パネル１００５にあっては、必要に応じてその前面にフロントライトが設けられる。
【００６３】
なお、図１０〜図１２を参照して説明した電子機器の他にも、液晶テレビや、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた装置等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。パネル板は、電気光学材料として液晶の替わりに有機ＬＥＤを用いたもの、プラズマを用いたもの、無機エレクトロルミネッセンス素子を用いたものであってもよい。さらに、電子ペーパー等の電気泳動パネルにも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明の第１実施形態に係る液晶パネルＡＡの構成を示す斜視図である。
【図２】図２は、図１におけるＺ−Ｚ’線断面図である。
【図３】第１実施形態の電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図４】フレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図である。
【図５】図５は、図４に示す端子２０他の保護回路とその周辺構成を示す回路図である。
【図６】第２実施形態におけるフレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図である。
【図７】第３実施形態におけるフレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図である。
【図８】第４実施形態におけるフレキシブル基板Ｂ及びその周辺構成を示す平面図である。
【図９】Ｘクロック信号ＸＣＫ、Ｘ転送開始パルスＸＳＰ及びＸエンドパルスＸＥＰのタイミングチャートである。
【図１０】同液晶表示装置を適用した電子機器の一例たるビデオプロジェクタの断面図である。
【図１１】同液晶表示装置を適用した電子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
【図１２】同液晶表示装置を適用した電子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００６５】
２…走査線、３…データ線、１００…走査線駆動回路、２００…データ線駆動回路、１０…端子群、２０３、２０４…光源、６００…制御回路、７００…調整回路、ＡＡ…電気光学パネル、Ｂ…フレキシブル基板（実装部材、接続ケーブル）、Ｃ…外部基板（実装部材）、ＸＥＰ…Ｘエンドパルス、ＹＥＰ…Ｙエンドパルス。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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