(57)【要約】      （修正有）【課題】分光測光法により一定のサンプル中の一定の分析物の存在または濃度を測定するための方法を提供する。【解決手段】（ｉ）サンプルを有するキュベットの異なる場所に対して光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、（ｉｉ）前記少なくとも２本の光線を前記キュベットのそれぞれの場所において通過させる処理、および（ｉｉｉ）前記検出器により少なくとも２本のそれぞれの光線を測定する処理を含み、さらに、少なくとも２本の発生した光線を比較して、全ての発生した光線を無視するべきか、これらの発生した光線の内の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらの発生した光線を平均化するべきかを決定する処理を含む。好ましい実施形態において上記方法は少なくとも３回の測定を行なう処理を含む。また、別の好ましい実施形態において上記分光測光法は吸収分光測光法であり、上記方法は一定の診断用の分析器において行われる。【選択図】図１
2005249783.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分光測光法により一定のサンプル中の一定の分析物の存在または濃度を測定するための方法において、
測定するための一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定の開口した上部のキュベットを供給する処理、
一定の光源および発生した光を検出するための一定の検出器を供給する処理、
少なくとも２回の測定を行なう処理を含み、この処理が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所に対して前記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも２本の光線を前記キュベットのそれぞれの場所においてその中に、さらに前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により少なくとも２本のそれぞれの発生した光線を測定する処理を含み、さらに
前記少なくとも２本の発生した光線を比較して、全ての発生した光線を無視するべきか、これらの発生した光線の内の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらの発生した光線を平均化するべきかを決定する処理を含む方法。
【請求項２】
さらに、少なくとも３回の測定を行なう処理、および少なくとも３本の発生した光線を比較して、全ての発生した光線を無視するべきか、これらの発生した光線の内の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらの発生した光線を平均化するべきかを決定する処理を含む請求項１に記載の測定方法。
【請求項３】
前記分光測光法が蛍光分光測光法である請求項１に記載の測定方法。
【請求項４】
前記分光測光法が吸収分光測光法であり、前記少なくとも２回の測定を行なう工程が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所に対して前記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも２本の光線を前記キュベットのそれぞれの場所においてその中に、さらに前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記少なくとも２本の光線に対応して発生した光により少なくとも２個のそれぞれのサンプルの吸光度を測定する処理を含み、さらに
前記少なくとも２個のサンプルの吸光度を比較して、全てのサンプルの吸光度を無視するべきか、これらのサンプルの吸光度の内の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらのサンプルの吸光度を平均化するべきかを決定する処理を含む請求項１に記載の測定方法。
【請求項５】
単一の光源および単一の検出器が供給されて、前記キュベットが前記少なくとも２本の光線を生じるためにこれらの光源および検出器に対して移動する請求項１に記載の測定方法。
【請求項６】
前記少なくとも２本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれの異なる場所に前記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記サンプルが試薬と反応する前に前記少なくとも２本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記少なくとも２本の光線に対応して発生した光により少なくとも２個のそれぞれのブランクの吸光度を測定する処理を含み、さらに
少なくとも１個のブランクの吸光度を選択する処理、および
前記少なくとも１個のブランクの吸光度を前記少なくとも２個のサンプルの吸光度から差し引くことにより補正したサンプルの吸光度を生じる処理を含む請求項４に記載の測定方法。
【請求項７】
単一の光源および単一の検出器が供給されて、前記キュベットが前記少なくとも２本の光線を生じるためにこれらの光源および検出器に対して移動する請求項６に記載の測定方法。
【請求項８】
全てのブランクの吸光度が選択されて、それぞれのブランクの吸光度が同一の場所におけるその対応しているサンプルの吸光度から差し引かれる請求項６に記載の測定方法。
【請求項９】
最低のブランクの吸光度が選択されて、その最低のブランクの吸光度がそれぞれのサンプルの吸光度から差し引かれる請求項６に記載の測定方法。
【請求項１０】
前記少なくとも２回の測定の後の一定時間の期間の経過後に、前記方法がさらに
前記少なくとも２回の測定と同一の場所において少なくとも２回の第２の測定を行なうことにより少なくとも２個の第２のサンプルの吸光度を生じる処理、および
前記少なくとも２個のサンプルの吸光度を前記第２のサンプルの吸光度から差し引くことにより一定速度のサンプルの吸光度を生じる処理を含む請求項４に記載の測定方法。
【請求項１１】
前記比較が前記サンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、いずれか２個の吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全てのサンプルの吸光度を無視する請求項４に記載の測定方法。
【請求項１２】
前記比較が前記サンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、
全ての吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全てのサンプルを無視し、
前記吸光度の全数よりも少ない所定数の吸光度の間における差が前記所定の吸光度の範囲内である場合に、その残りの吸光度を無視してその所定数の吸光度の吸光度を平均化する請求項４に記載の測定方法。
【請求項１３】
前記比較が前記補正したサンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、
全ての吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全てのサンプルを無視し、
前記吸光度の全数よりも少ない所定数の吸光度の間における差が前記所定の吸光度の範囲内である場合に、その残りの吸光度を無視してその所定数の吸光度の吸光度を平均化する請求項６に記載の測定方法。
【請求項１４】
前記比較が前記補正したサンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、いずれか２個の補正したサンプルの吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全ての補正したサンプルの吸光度を無視する請求項６に記載の測定方法。
【請求項１５】
前記比較が１種類以上の干渉性の状況により生じる誤差を検出する請求項１に記載の測定方法。
【請求項１６】
前記干渉性の状況が気泡、指紋、キュベット内のよごれまたは欠損部を含む請求項１５に記載の測定方法。
【請求項１７】
前記分析が一定の診断用の分析器において行なわれる請求項２に記載の測定方法。
【請求項１８】
前記光が３００乃至１１００ｎｍの範囲内の一定の波長を有する請求項１に記載の測定方法。
【請求項１９】
吸収分光測光法により一定のサンプル中の一定の分析物の存在または濃度を測定するための方法において、
測定するための一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定のキュベットを供給する処理、
一定の光源および光を検出するための一定の検出器を供給する処理、
少なくとも３回の測定を行なう処理を含み、この処理が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所に対して少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも３本の光線を前記キュベットのそれぞれの場所においてその中に、さらに前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのサンプルの吸光度を測定する処理を含み、さらに
前記少なくとも３個のサンプルの吸光度を比較して、全てのサンプルの吸光度を無視するべきか、これらのサンプルの吸光度の内の１個以上を無視してその残りの吸光度を保持するべきか、あるいは、これらのサンプルの吸光度を平均化するべきかを決定する処理を含み、
少なくとも２個のサンプルの吸光度が保持されて、一定の平均の保持された吸光度が第１の選択された吸光度よりも小さければ、その最低の吸光度が前記分析物の存在または濃度の決定において用いられ、少なくとも２個のサンプルの吸光度が保持されて、一定の平均の保持された吸光度が第２の選択された吸光度よりも大きければ、その最高の吸光度が前記分析物の存在または濃度の決定において用いられる方法。
【請求項２０】
単一の光源および単一の検出器が供給されて、前記キュベットが前記少なくとも２本の光線を生じるためにこれらの光源および検出器に対して移動する請求項１９に記載の測定方法。
【請求項２１】
前記第１および第２の選択された吸光度が共に一つの吸光度の単位である請求項１９に記載の測定方法。
【請求項２２】
前記平均の保持された吸光度が全てのサンプルの吸光度に基づいている請求項１９に記載の測定方法。
【請求項２３】
前記少なくとも３本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれの異なる場所に少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記サンプルが試薬と反応する前に前記少なくとも３本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのブランクの吸光度を測定する処理を含み、さらに
少なくとも１個のブランクの吸光度を選択する処理、および
前記少なくとも１個のブランクの吸光度を前記少なくとも３個のサンプルの吸光度から差し引くことにより補正したサンプルの吸光度を生じる処理を含む請求項１９に記載の測定方法。
【請求項２４】
吸収分光測光法により一定のサンプル中の分析物の存在または濃度を測定するための方法において、
（Ａ）測定するための一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定のキュベットを供給する処理、
（Ｂ）一定の光源および光を検出するための一定の検出器を供給する処理、
（Ｃ）少なくとも３回の測定を行なう処理を含み、処理が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所ａ，ｂおよびｃに少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも３本の光線を前記それぞれの場所ａ，ｂおよびｃにおけるキュベットの中に、および前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのサンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを測定する処理を含み、さらに
（Ｄ）それぞれの対の吸光度の間の差の絶対値が｜Ａａ−Ａｂ｜，｜Ａｃ−Ａｂ｜および｜Ａｃ−Ａａ｜になることを決定する処理、
（Ｅ）それぞれの対の吸光度の間の差の絶対値を所定の限界値に対して比較する処理、
（Ｆ）前記差のそれぞれの絶対値の１個以上が前記所定の限界値に等しいかこれよりも大きければ、それぞれの吸光度を所定の吸光度に対して比較して、
（ｉ）１個以上の吸光度が前記所定の吸光度よりも高ければ、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進み、あるいは
（ｉｉ）全ての吸光度が前記所定の吸光度よりも低ければ、
（Ｇ）それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値を決定し、
（Ｈ）前記差の最小の絶対値が前記所定の限界値の所定の部分よりも小さいか否かを決定する処理を含み、
（ｉ）前記差の最小の絶対値が前記限界値の所定の部分よりも小さくなければ工程（Ｋ）に進み、あるいは
（ｉｉ）前記差の最小の絶対値が前記限界値の所定の部分よりも小さければ、
（Ｉ）前記それぞれの対の吸光度の間の差のどの絶対値が前記差の最小の絶対値であるかを決定し、
（Ｊ）前記最小の絶対値の中のどの吸光度を選択すべきか、あるいは、これらの結果を無視するべきかを決定し、さらに
（Ｋ）前記工程（Ｆ），（Ｈ）または（Ｊ）においてそれぞれの結果を無視するべきである場合にその分析を再評価するか、あるいは、前記選択した吸光度を用いることにより前記サンプル中の分析物の存在または濃度を計算するいずれかの処理を含む方法。
【請求項２５】
前記少なくとも３本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれ異なる場所ａ，ｂおよびｃにおいて少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）サンプルが試薬に対して反応する前に前記少なくとも３本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃを測定する処理、
（ｉｖ）測定したサンプルの吸光度Ａ２ａ，Ａ２ｂおよびＡ２ｃから前記ブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃをそれぞれ差し引くことにより前記サンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを決定する処理を含み、
この場合に、前記それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値においてどの吸光度を選択すべきか、あるいは、これらの結果を無視すべきであるかを決定する工程（Ｊ）が
（Ｊ１）それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ａ−Ａ１ａ）−（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）｜であり、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃがＡ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂのそれぞれよりも大きければ、Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂを比較して、Ａ１ａ＋Ａ２ａ＜Ａ１ｂ＋Ａ２ｂであれば吸光度Ａａが前記選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａｂが前記選択される吸光度になり、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ≦Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理、
（Ｊ２）前記それぞれ対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）−（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）｜であり、Ａ１ａ＋Ａ２ａがＡ１ｂ＋Ａ２ｂおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃのそれぞれよりも大きい場合に、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂを比較して、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ＜Ａ１ｂ＋Ａ２ｂであれば、吸光度Ａｃが前記選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａｂが前記選択される吸光度になり、Ａ１ａ＋Ａ２ａ≦Ａ１ｂ＋Ａ２ｂおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理、あるいは
（Ｊ３）前記それぞれ対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）−（Ａ２ａ−Ａ１ａ）｜であり、Ａ１ｂ＋Ａ２ｂがＡ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃのそれぞれよりも大きい場合に、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃおよびＡ１ａ＋Ａ２ａを比較して、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ＜Ａ１ａ＋Ａ２ａであれば吸光度Ａｃが前記選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａａが前記選択される吸光度になり、Ａ１ｂ＋Ａ２ｂ≦Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理を含む請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
前記限界値の所定の部分がこの所定の限界値の０．７５倍である請求項２４に記載の方法。
【請求項２７】
前記場所ａ，ｂおよびｃが前記キュベットにおける左側Ｌ、中央Ｍおよび右側Ｒに対応している請求項２４に記載の方法。
【請求項２８】
前記少なくとも３本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれ異なる場所ａ，ｂおよびｃにおいて少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）サンプルが試薬に対して反応する前に前記少なくとも３本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃを測定する処理、
（ｉｖ）測定したサンプルの吸光度Ａ２ａ，Ａ２ｂおよびＡ２ｃから前記ブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃをそれぞれ差し引くことにより前記サンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを決定する処理を含む請求項２４に記載の方法。
【請求項２９】
前記所定の限界値が切片＋傾き* （（Ａ２ａ−Ａ１ａ），（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）または（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）の最小値）であり、前記切片および傾きが測定している分析物により決定される請求項２５に記載の方法。
【請求項３０】
前記所定の吸光度が１．０である請求項２５に記載の方法。
【請求項３１】
一定のコンピュータに対してインターフェースを介して接続している一定のコンピュータ・プログラムにより実行される請求項１に記載の方法。
【請求項３２】
請求項１に記載の方法を行なうように構成されているコンピュータ読取可能なプログラム・コードを有する一定のコンピュータ使用可能な媒体を含む製造物品。
【発明の詳細な説明】
【関連出願に対するクロス・リファレンス】
【０００１】
本特許出願は２００４年、２月２３日に出願されている米国特許出願第１０／７８４，５０５号に対する一部継続出願として優先権を主張しており、この米国特許出願の内容はその全体において本明細書に参考文献として含まれる。
【技術分野】
【０００２】
本発明は、特に一定の診断用の分析装置における分光測光法により、一定のサンプル中における一定の分析物の存在または濃度を測定することに関連している。特に、本発明はサンプルおよび試薬を含有している一定のキュベットを通して多数の測定を行なうことにより一定のサンプル中における一定の分析物の濃度の測定における除外結果または再実行の数を減少することに関連している。
【背景技術】
【０００３】
測定を行なうための反応チャンバーまたは容器としてキュベットを用いる既知の診断アッセイおよびその他の分析は測定経路内の物体に干渉することにより影響を受ける吸光度測定等のような、発光する光の測定に伴う不正確な結果による不都合を有する場合が多い。これらの一時的である場合もあり一時的でない場合も有り得る干渉性の物体はキュベット内の汚れまたはほこり、キュベットの窓の外部における汚れや塵埃、キュベットの表面における指紋および流体内の気泡による多数の物質を含む可能性がある。これらの干渉性の物体に加えて、測定誤差すなわち一定のキュベット内において行なわれる診断アッセイの不正確さは、例えば、均質に混合されていないサンプルを測定することにより（化学的にまたは熱的に）影響を受ける可能性がある。上記の物体に干渉すると言う不都合は開口した上部のキュベットにより増大する可能性があり、この部分は一定の配給用または吸引用のピペットまたはプロボスシス（proboscis）から種々の流体（例えば、サンプルおよび／または試薬）を受容するために開口しており、それゆえ、周囲環境からのほこりの導入およびキュベット内への流体の分配による付加的な気泡に対しても開口している。本発明者はこのような一次的な状況がアッセイの結果を除外に導き、それゆえ、時間を要して費用のかかる種々のサンプルの再分析（再実行）を生じる場合の多いアッセイの不正確さの実質的な原因になり得ることを見出している。これらの要因の一部は分析方法を調整することにより減少できる。例えば、キュベット内における混合は「インプルーブド・フルイド・ミキシング（Improved Fluid Mixing）」を発明の名称とする２００３年、７月１８日に出願されている係属中の特許出願第１０／６２２，２５８号において開示されているように改善可能である。また、キュベットの装填は「パッケージング・オブ・マルチプル・フルイド・レセプタクルズ（Packaging Of Multiple Fluid Receptacles）」を発明の名称とする２００３年、１０月１４日に出願されている係属中の特許出願第１０／６８４，５３６号において開示されているようにほこりや指紋を減少するために改善できる。
【０００４】
さらに、排除および減少するために困難な問題点は流体中の気泡の形成である。これらの気泡はサンプルまたは試薬の分配中に混合する空気により混入する可能性がある。あるいは、流体が温かい時よりも冷たい時に存在する比較的に多量の溶解状態の空気を有し、冷温時に保管されている種々の試薬がキュベット内において加温されるので、流体の中に気泡が形成される可能性もある。この結果として、試薬が加温される時に気泡がキュベットの表面において形成される傾向がある。従って、これらの気泡がキュベットの測定用の窓の部分に存在していれば、これらの気泡はその測定および最終的にそのアッセイの濃度の決定において実質的な誤差を生じる可能性がある。
【０００５】
米国特許第４，１２３，１７３号は一定の回転可能で柔軟なキュベットのアレイを開示している。また、米国特許第４，６４８，７１２号はウエブの多数の領域の読み取り処理を含む一定の布製のウエブの基本重量を決定するための方法を開示している。また、米国特許第４，５４９，８０９号は湾曲状のキュベットおよびキュベットの位置を決定するための多数の読み取り処理および分析のための１回の測定の使用を開示している。また、米国特許第５，４０２，２４０号は複数のサンプルの透過率の測定を行ないこれら複数の測定に基づいて一定の平均値を計算する一定の精子密度計を開示している。また、米国特許第５，５３５，７４４号は一定の最終的な結果を決定するために平均化されるそれぞれのキュベットに対する多数回の読み取り処理を含む一定の分析方法を開示している。また、米国特許第５，２５５，５１４号は一定のスライド上の異なる位置における読み取り処理を含む一定の乾燥したスライド試験要素における洗浄効果を決定するための方法を開示している。さらに、米国特許第５，８５３，６６６号は蛍光により分析するサンプルを収容している複数のウェルを有する一定の密封状態の試験カードを開示している。この場合に、測定は何らかの空気の穴または破片を検出して異常な透過率の測定結果を検出および除外するためにウェルを横切る多数個の位置において行なわれている。
【特許文献１】米国特許出願第１０／６２２，２５８号明細書
【特許文献２】米国特許出願第１０／６８４，５３６号明細書
【特許文献３】米国特許第４，１２３，１７３号明細書
【特許文献４】米国特許第４，６４８，７１２号明細書
【特許文献５】米国特許第４，５４９，８０９号明細書
【特許文献６】米国特許第５，４０２，２４０号明細書
【特許文献７】米国特許第５，５３５，７４４号明細書
【特許文献８】米国特許第５，２５５，５１４号明細書
【特許文献９】米国特許第５，８５３，６６６号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述した既知の技術のいずれもが、特に一定のキュベットの中を通る読み取り処理における誤差を検出および減少または排除することにより、特に一定のサンプルについて行なう必要のある再実行の数を減少または排除するために一定のキュベットの中を通る測定の精度を改善すると言う上記の問題を解消するために適当に対処していない。このような理由により、精度を改善し、特に分光測光法による一定の分析物の測定中における誤差を検出および減少または排除する一定の方法に対する要望が存在している。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は精度を改善し、特に再実行する必要のあるサンプルの数を減少し、それゆえ、分析の時間および費用を削減するために誤差を検出および排除または減少すると言う上記の問題を解消する一定の方法に関連している。一部の実施形態において、本発明はまた結果の精度において改善を生じている。本発明の一例の態様は分光測光法による一定のサンプル中の分析物の存在または濃度を測定するための方法に関連しており、この方法は測定する一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定の開口した上部のキュベットを供給する処理、一定の光源および発光した光を検出するための一定の検出器を供給する処理、少なくとも２回の測定を行なう処理を含み、この少なくとも２回の測定を行なう処理が（ｉ）上記キュベットの異なる場所に上記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、（ｉｉ）上記少なくとも２本の光線を上記それぞれの場所におけるキュベットの中を通してさらに測定するサンプルの中を通して通過させる処理、および（ｉｉｉ）上記少なくとも２本のそれぞれの発光した光線を検出器により測定する処理を含み、さらに上記方法は上記少なくとも２本の発光した光線を比較して、全ての発光した光線を無視するべきか、これらの発光した光線の１個以上を無視するべきか、あるいは、上記サンプルの吸光度を平均化するべきかを決定する処理を含む。一定の好ましい実施形態において、上記方法は少なくとも３回の測定を行なう処理、およびこれら少なくとも３本の発光した光線を比較して、全ての発光した光線を無視するべきか、これらの発光した光線の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらの発光した光線を平均化するべきかを決定する処理を含む。また、別の好ましい実施形態において、上記の分光測光法は吸収分光測光法である。
【０００８】
一定の好ましい実施形態において、上記少なくとも２本の光線を当てる工程の前に、上記方法はさらに（ｉ）上記キュベットのそれぞれの異なる場所に上記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、（ｉｉ）上記キュベットの単独または上記キュベットおよびサンプルが試薬と反応する前のサンプルの中を通して少なくとも２本の光線を通過させる処理、および（ｉｉｉ）上記検出器により上記少なくとも２本の光線に対応して発光した光により少なくとも２個のそれぞれのブランクの吸光度を測定する処理、および少なくとも１個のブランクの吸光度を選択する処理、およびこの少なくとも１個のブランクの吸光度を上記少なくとも２個のサンプルの吸光度から差し引いて補正したサンプルの吸光度をそれぞれ得る処理を含む。一定の好ましい実施形態において、上記分析は一定の診断用の分析器において行なわれ、上記光は３００乃至１１００ｎｍの範囲内の一定の波長を有している。
【０００９】
本発明の別の態様によれば、吸収分光測光法により一定のサンプル中の分析物の存在または濃度を測定するための一定の方法が提供されており、この方法は測定する一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定のキュベットを供給する処理、一定の光源および光を検出するための一定の検出器を供給する処理、少なくとも３回の測定を行なう処理を含み、この少なくとも３回の測定を行なう処理が（ｉ）上記キュベットの異なる場所に少なくとも３本の光線を当てる処理、（ｉｉ）上記少なくとも３本の光線を上記それぞれの場所におけるキュベットの中を通してさらに測定するサンプルの中を通して通過させる処理、および（ｉｉｉ）上記検出器により上記の透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのサンプルの吸光度を測定する処理を含み、さらに上記方法は上記少なくとも３個のサンプルの吸光度を比較して、全てのサンプルの吸光度を無視するべきか、これらのサンプルの吸光度の１個以上を無視して残りの吸光度を保持するべきか、あるいは、全てのサンプルの吸光度を平均化するべきかを決定する処理を含み、この場合に、少なくとも２個のサンプルの吸光度が保持されて一定の平均の保持された吸光度が第１の選択された吸光度よりも小さい場合にその最低の吸光度が上記分析物の存在または濃度の決定において用いられ、あるいは、少なくとも２個のサンプルの吸光度が保持されて一定の平均の保持された吸光度が第２の選択された吸光度よりも大きいかこれに等しい場合にその最高の吸光度が上記分析物の存在または濃度の決定において用いられる。
【００１０】
本発明のさらに別の態様によれば、吸収分光測光法により一定のサンプル中の分析物の存在または濃度を測定するための一定の方法が提供されている。この方法は（Ａ）測定する一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定のキュベットを供給する処理、（Ｂ）一定の光源および光を検出するための一定の検出器を供給する処理、（Ｃ）少なくとも３回の測定を行なう処理を含み、この少なくとも３回の測定を行なう処理が（ｉ）上記キュベットの異なる場所ａ，ｂおよびｃに少なくとも３本の光線を当てる処理、（ｉｉ）上記少なくとも３本の光線を上記それぞれの場所ａ，ｂおよびｃにおけるキュベットの中に、さらに測定するサンプルの中に通過させる処理、および（ｉｉｉ）上記検出器により上記の透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのサンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを測定する処理を含み、さらに上記方法が（Ｄ）それぞれの対の吸光度の間の差の絶対値が｜Ａａ−Ａｂ｜，｜Ａｃ−Ａｂ｜および｜Ａｃ−Ａａ｜になることを決定する処理、（Ｅ）それぞれの対の吸光度の間の差の絶対値を所定の限界値に対して比較する処理、（Ｆ）上記差のそれぞれの絶対値の１個以上が上記所定の限界値に等しいかこれよりも大きければ（≧所定の限界値）、それぞれの吸光度を所定の吸光度に対して比較して、（ｉ）１個以上の吸光度がその所定の吸光度よりも高ければ、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進み、あるいは、（ｉｉ）全ての吸光度が上記所定の吸光度よりも低ければ、（Ｇ）それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値を決定し、さらに（Ｈ）この差の最小の絶対値が上記所定の限界値の所定の部分よりも小さい（＜当該所定の部分）かを決定する処理を含み、（ｉ）この差の最小の絶対値が上記限界値の所定の部分よりも小さくなければ工程（Ｋ）に進み、あるいは、（ｉｉ）上記差の最小の絶対値が上記限界値の所定の部分よりも小さければ、（Ｉ）上記それぞれの対の吸光度の間の差のどの絶対値が上記差の最小の絶対値であるかを決定し、（Ｊ）その最小の絶対値の中のどの吸光度を選択すべきか、あるいは、これらの結果を無視するべきかを決定し、さらに（Ｋ）上記工程（Ｆ），（Ｈ）または（Ｊ）においてそれぞれの結果を無視するべきである場合にその分析を再評価するか、上記の選択した吸光度を用いることにより上記サンプル中の分析物の存在または濃度を計算するいずれかの処理を含む。
【００１１】
一定の好ましい実施形態において、上記方法において、少なくとも３本の光線を当てる前に、上記方法はさらに（ｉ）上記キュベットのそれぞれ異なる場所ａ，ｂおよびｃにおいて少なくとも３本の光線を当てる処理、（ｉｉ）サンプルが試薬に対して反応する前に上記少なくとも３本の光線を上記キュベットの単独または上記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、（ｉｉｉ）上記検出器により上記の透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃを測定する処理、（ｉｖ）測定したサンプルの吸光度Ａ２ａ，Ａ２ｂおよびＡ２ｃから上記ブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃをそれぞれ差し引くことにより上記サンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを決定する処理を含み、この場合に、上記それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値におけるどの読取値を選択すべきか、あるいは、これらの結果を無視すべきであるかを決定する工程（Ｊ）は（Ｊ１）それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ａ−Ａ１ａ）−（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）｜であり、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃがＡ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂのそれぞれよりも大きければ、Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂを比較して、Ａ１ａ＋Ａ２ａ＜Ａ１ｂ＋Ａ２ｂであれば吸光度Ａａが上記の選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａｂが上記の選択される吸光度になり、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ≦Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理、（Ｊ２）上記それぞれ対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）−（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）｜であり、Ａ１ａ＋Ａ２ａがＡ１ｂ＋Ａ２ｂおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃのそれぞれよりも大きい場合に、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂを比較して、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ＜Ａ１ｂ＋Ａ２ｂであれば、吸光度Ａｃが上記の選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａｂが上記の選択される吸光度になり、Ａ１ａ＋Ａ２ａ≦Ａ１ｂ＋Ａ２ｂおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理、あるいは（Ｊ３）上記それぞれ対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）−（Ａ２ａ−Ａ１ａ）｜であり、Ａ１ｂ＋Ａ２ｂがＡ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃのそれぞれよりも大きい場合に、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃおよびＡ１ａ＋Ａ２ａを比較して、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ＜Ａ１ａ＋Ａ２ａであれば吸光度Ａｃが上記の選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａａが上記の選択される吸光度になり、Ａ１ｂ＋Ａ２ｂ≦Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理を含む。
【００１２】
本発明の別の態様によれば、上記方法は一定のコンピュータに対するコンピュータ・プログラムのインターフェース処理により実施される。本発明の別の態様は上記方法を処理するように構成されているコンピュータ読取可能なプログラム・コードを有する一定のコンピュータ使用可能な媒体を含む一定の製品を提供している。
【００１３】
本発明のさらに別の目的、特徴および利点が以下の好ましい実施形態の詳細な考察により当該技術分野における熟練者において明らかになる。
【発明の効果】
【００１４】
従って、本発明によれば、精度を改善し、特に分光測光法による一定の分析物の測定中における誤差を検出および減少または排除する一定の方法が提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明は一定のサンプルの測定中に１種類以上の誤差を検出した後に一定の誤差が検出される場合に一定の適当な補正を加えるための方法を含む光度測光法により一定のサンプル中の一定の分析物を測定するための方法を含む。一般に、上記方法は一定の光源を供給する処理を含みこの光源はサンプルを収容しているキュベット内の少なくとも２個の異なる場所において測定するサンプルの中に当該光源から一定の光線を通過させ、さらに上記方法は上記キュベットおよびサンプルから発する光の量を測定する処理を含む。その後、これらの測定結果が互いに比較される。さらに、この比較に基づいて、特に上記サンプルから発する光の測定値における差に基づいて、これらの測定値の１個以上の中に一定の誤差があったことを決定して、一定の大きく外れた値としてこれらの測定値の１個以上を廃棄または無視するか、全ての測定値を無視して同一のキュベット内のサンプルを再測定するか測定のために新しいサンプルを調整する等のような適当な動作を行なうか、あるいは、全ての測定値が許容可能と考えられる程度に有意義な誤差が無いことを決定し、この場合に、全ての測定値が使用可能になり、さらに好ましくはこれらの測定値の内の１個、例えば、その最高値または最低値が、行なわれている分析の種類に応じて、使用可能になることが可能になる。
【００１６】
従って、本発明は干渉を与える種々の情況を検出することおよび行なう必要のあるサンプルの再実行の数を減少するために全ての測定からのデータをどの程度処理する必要があるかを決定することの両方により一定のキュベットの中を通る一定のサンプルの測定に影響を与える光学的に干渉する種々の状況の問題を解消している。本明細書において用いられているように、一定の「干渉性の状況（interfering condition(s)）」はキュベット内の一定の均一な誤差（すなわち、経路長の誤差）またはキュベットの測定領域内に発する光に一定の増減を生じるサンプル以外のあらゆる状況であり、この状況はキュベットの全体の読取領域にわたり延在しない。また、干渉性の状況はキュベット内の一定の立体的な欠損部およびキュベットの表面上の指紋等のような永久的な干渉物、またはキュベット内の汚れやほこり、キュベットの窓の外部における汚れやほこり、均質に混合されていない（化学的にまたは熱的に）流体またはサンプル中の気泡等のような一時的な干渉物を含むことができる。
【００１７】
本発明の重要な利点は気泡等のような不正確さの原因になる種々の要因を必ずしも排除せずに分析の精度が改善できることである。さらに重要なことは、本発明の利点は外れた読取値を生じる要因が存在する可能性があるにもかかわらず比較的に多数のサンプルの分析が使用可能になることである（すなわち、再実行するサンプルに対する必要性およびこれに伴う時間および費用が少なくなる）。本発明はまたそれぞれの結果が無視すべきである程度にそれぞれの結果の質の不確実さが十分に高いか否か、従って、使用者が新しいサンプルの一定の分量を用いて分析を再実行する必要があるか否かをその使用者が決定することも可能にしている。
【００１８】
本発明の方法は測定する一定のサンプルからの光を検出する処理を含み分光測光法として本明細書において広く呼ばれているあらゆる分析方法および分析装置において使用可能である。さらに、一部の例は終了点（または最終点）の反応分析および反応速度の分析等のような吸収分光測光アッセイ、濁度測定アッセイ、比濁分析アッセイ、放射エネルギー減衰アッセイ（米国特許第４，４９６，２９３号および４，７４３，５６１号において記載されていて本明細書に参考文献として含まれるアッセイ等）、イオン捕捉アッセイ、比色定量アッセイ、および蛍光分光測光アッセイ、および免疫アッセイを含み、これらの全ては当業界において周知である。さらに、好ましい分析技法は終了点反応分析および反応速度分析等のような吸収分光測光法である。なお、本発明の好ましい幾つかの実施形態が吸収分光測光法に基づいて説明されているが、本発明の広い態様はこれに限定されない。
【００１９】
上記サンプルは一般に好ましくは一定の診断アッセイにおいて測定する一定の分析物を含有している。この例はＨＤＬ（高密度リポタンパク質）を含み、このアッセイは一般に一定の二点速度アッセイ（two point rate assay）である。別の例は高密度ＣＲＰ（Ｃ反応性タンパク質）であり、このアッセイは一般にブランク型終了点アッセイ（blanked endpoint assay）である。さらに別の例はゲンタマイシンであり、このアッセイは一般に一終了点アッセイ、二点速度アッセイまたは多点速度アッセイとして行なうことができる。しかしながら、例えば、一定の品質管理研究室または一定の環境分析等のような、一定の産業設備における一定の有機または無機の媒体中の一定の化学的な分析物等のような、別の分析物も測定可能である。
【００２０】
一定のキュベットがサンプルを収容するために供給される。一定の好ましい実施形態において、このキュベットは、例えば、米国特許出願公開第２００３／０００３５９１Ａ１号、意匠第２９０，１７０号（Des. 290,170）および米国特許第４，６３９，１３５号において記載されているキュベット等のような、キュベットの中にサンプルおよび／または種々の試薬を分配または吸引する一定のピペットまたはプロボスシスの先端部分を受容することに適合している一定の開口した上部のキュベットであり、上記文献は全てそれぞれの内容全体において本明細書に参考文献として含まれる。特に好ましい物は一定の間隔で横並びに複数の垂直方向に配置されている反応チャンバーを有するキュベットであり、これらの反応チャンバーのそれぞれは開口した上部を有しており、上記‘５９１号の公開特許出願において記載されているように一定容量のサンプルまたは試薬を保持するように寸法付けられている。
【００２１】
一定の光源および一定の検出器も備えられている。また、使用する光の波長は好ましくは行なう分析に応じて中赤外（約１１００ｎｍ）乃至紫外（約３００ｎｍ）の範囲である。光源は一定の光ダイオード等のような任意の周知の光源とすることができる。また、検出器は上記のような分析の特定の用法において良く知られている検出器とすることができる。例えば、光度測光法において、上記検出器は一定の光ダイオードか２乃至５メガ画素型検出器等のような一定の電荷結合素子（ＣＣＤ）とすることができる。
【００２２】
上述したように、少なくとも２回の測定が異なる空間の位置においてサンプルおよびキュベットを通して行なわれる。これらの測定の数は２回から一定のメガ画素型ＣＣＤの場合における数百万回の範囲が可能である。この測定の数における唯一の制限は測定するサンプルおよびキュベットに対する一定の適当な位置に必要数の光源および検出器を配置することに関する物理的な制限である。好ましい実施形態において、３乃至５回の測定がサンプルを通して行なわれ、この内の３回の測定が最も好ましく、例えば、キュベットにおける場所ａ，ｂおよびｃにおいてであり、これらの位置は好ましくは左（Ｌ）、右（Ｒ）および中央（Ｍ）の各位置にそれぞれ対応している。なお、それぞれの測定は全て同一の測定場所における同一の干渉性の状況（例えば、一定の気泡）を測定することを避けるために異なる空間の位置において行なう必要があることが重要である。キュベットの全体にわたり異なる位置において測定を達成するために、単一の光源が好ましくは固定して保持されていて、キュベットがこの光源に対して移動する。もちろん、単一の光源が可動でもよく、多数の光源を用いることも可能である。
【００２３】
図１において示されているように、一定の好ましい実施形態において、多数の測定がキュベット（１０）の全体にわたり三次元的に行なわれる。上述したように、これらの三次元的な測定はキュベットからの結果を廃棄する理由があるか否か、あるいは、一定の比較的に一貫している結果を生じるための一定の様式において各データを結合する理由があるか否かの両方を決定することを目的としている。図１において示されている実施形態において、各測定は一定の０．０５９インチ（１．５０ｍｍ）の測定窓（ウインドウ）において（３個の測定の周辺において）合計で０．０４８インチ（１．２２ｍｍ）の距離になるようにそれぞれ０．０２４インチ（０．６１ｍｍ）ずつ離れている。このことはキュベットの特定の領域に対して特異的である干渉性の状況の検出を可能にしている。
【００２４】
それぞれの光線はキュベットの中を透過してサンプル内の分析物の濃度および干渉性の状況による散乱および吸光度等のような別の要因に応じて空間的に吸収される。さらに、これらの光線の透過した部分が検出器により測定され、この検出器は吸収光度測光法の場合に一般に一定のサンプルの吸光度Ａを得るためにサンプルおよびキュベットの中に光線が入る場所と反対側に配置されている。
【００２５】
本発明の一定の重要な態様は既知の技術において行なわれているような多数の測定に基づいて一定の平均のサンプルの吸光度を単純に計算するのではなく、これらの測定値またはサンプルの吸光度を互いに比較してこれらの測定値の内の少なくとも１個が一定の干渉性の状況または汚染物質により影響を受けているか否かを決定することである。さらに、このようなサンプルの吸光度の比較に基づいて、そのサンプルは行なっている分析に応じて以下の様式で取り扱うことが可能に成る。（ｉ）全てのサンプルの吸光度を平均することが可能になる。（ｉｉ）サンプルの吸光度の内の少なくとも１個を無視することが可能になり、その他のサンプルの吸光度の内の少なくとも１個を単独で使用するか別の許容可能なサンプルの吸光度と共に平均化することができる。さらに、（ｉｉｉ）全てのサンプルの吸光度を無視すべきであり、そのサンプルの特定のサンプル分量を再測定するか廃棄して一定の新しいサンプル分量を再実行する。
【００２６】
一定の好ましい実施形態において、上記サンプルの吸光度の比較は比較したそれぞれの吸光度の間の差を決定することにより行なわれる。その後、この差が一定の選択した吸光度の差に対して比較される。この結果、測定値の任意の１個との間の吸光度の差が上記の選択した吸光度の差を超える場合には、上述したように、また、以下の好ましい各実施形態に関連して説明されているように、さらに別の動作が行なわれる。
【００２７】
以下において説明されている終了点および速度の両方のアッセイを含む一部の実施形態において、一定のブランクの測定Ａ１をサンプルの測定Ａ２の前に行なうことができる。すなわち、何らかのサンプルがキュベットに加えられる前に、あるいは、キュベット内に既に存在しているサンプルに試薬が加えられる前に、一定のブランクの測定を行なうことができる。また、速度の遅い反応の場合には、各試薬をサンプルに加えた後に何らかの有意義な反応が生じる前にブランクの吸光度を測定することも可能である。次に、このブランクの測定値を得た後に、サンプルおよび／または試薬を加えて混合および反応のための十分な時間をかけた後にサンプルの測定が行なわれる。その後、上記ブランクの吸光度がこのサンプルの吸光度から差し引かれて一定の補正された吸光度Ａが得られる。このブランクの測定値はキュベットにおける種々の痕跡（例えば、指紋のしみ等）またはキュベット内の欠陥部等のような分析中において継続的に存在する誤差を相殺して除去することにより一部の誤差における一定の削減に一般に寄与する。例えば、上記の三次元的な測定の内の一つの領域内におけるキュベット内の一定の痕跡は吸光度を０．０３だけ高める原因になり、この上昇はブランクおよびサンプルの両方の測定において存在することになる。従って、このようなブランクの吸光度をサンプルの吸光度から差し引くことにより上記０．０３の上昇分が相殺される。一方、ブランクの測定を全く行なわない場合には、本発明の方法は上記のような１個の測定値を一定の範囲外の値として標識して適宜に別の動作を行なう（例えば、その領域外の値またはそのサンプルについての全体の測定を廃棄する）。さらに、上記ブランク測定の実施形態は本発明の別の実施形態と共に使用することが可能である。
【００２８】
本発明は終了点または速度の両方のアッセイにおいて使用可能である。これらのアッセイは共に光度測光法の分野において良く知られている。例えば、「モダン・オプチカル・メソッド・オブ・アナリシス（Modern Optical Methods of Analysis）」，オイゲン・Ｄ・エルソン（Eugene D Elson），１９７５年を参照されたく、この文献はその内容全体において本明細書に参考文献として含まれる。要するに、一定の終了点のアッセイはサンプルと各試薬との間の反応後、すなわち、サンプルを透過している光を吸収する発色団の発生後に１回の測定（一定のブランクの測定を含まない）を行なう。このような終了点のアッセイ技法において本発明を用いることはサンプルの測定が、一般に上記発色団の完全な発生後において、キュベットの異なる三次元的な位置において１回だけ行なわれることを必要とするだけである。その後、これらの測定値が本発明に従って互いに比較される。
【００２９】
一方、一定の速度アッセイは試薬が加えられた後の異なる時間においてそれぞれの三次元的な位置について少なくとも２回の測定を行なう。速度アッセイははるかに多くのデータおよび柔軟性を提供する。また、試験により、キュベットの表面における欠陥部または痕跡等のような考えられる種々の干渉性の状況が、一定のブランクの測定が誤差の一定の削減を生じると言う同一の理由により、これらの差が大きい場合であっても、計算される速度に影響を与えないことが示されている。すなわち、ブランクの測定および速度アッセイを含む上記の両方のアッセイにおいて、一定の吸光度における差が測定されており、この差は、上記の光度測光計のノイズが一定の問題になるレベルまで干渉性の状況が光を遮断しない限りにおいて、種々の干渉性の状況による上昇した吸光度（または、高い吸光度の場合における減少した吸光度）を相殺して除去する。この結果、異なる時間における異なる測定値に基づいて、キュベットにおけるそれぞれの三次元的な測定場所についての一定の速度が決定できる。さらに、誤差を決定するために、それぞれの速度における差が種々の測定場所について比較される。
【００３０】
上述したように、本発明の一定の重要な特徴は一定の誤差が存在しているか否かを決定または検出するためにキュベットの全体にわたるそれぞれの異なる三次元的な場所における測定値の一定の比較にある。すなわち、これらの比較に基づいて、多くの異なる動作経路が以下の好ましい各実施形態に関連して説明されているように利用可能になる。
【００３１】
一例の実施形態において、それぞれのサンプルの吸光度が別のサンプルの吸光度に対して比較される。この結果、これらの吸光度のいずれかの間の差が吸光度において選択されている一定の差を超える場合に、これらの測定値の全てが廃棄されて、同一のサンプル／キュベットが再測定される。あるいは、一定の新しいサンプルの分量または一定の新しいキュベットが用いられて測定される。ただし、この処理は他の実施形態よりも好ましさに劣り、その理由は、さらに付加的な時間および費用において一定の新しいサンプルの分量を再実行すると言う必要性を必然的に伴うと考えられるからである。
【００３２】
上記の吸光度における選択された差は行なっている特定の分析および精度および感度に対する必要条件に基づいて予め決定できる。例えば、一定の急な傾斜（すなわち、一定の強い信号対雑音比）を伴う一定の較正曲線を有するアッセイにおいて、吸光度の一定の小さい変化がアッセイされている分析物の予測された濃度における一定の小さな変化を生じることになる。従って、比較的に低い精度が必要になる。これに対して、一定の浅い傾斜（すなわち、一定の弱い信号対雑音比）を伴う一定の較正曲線を有するアッセイにおいては、吸光度における一定の小さな変化が予測される濃度における一定の相当な変化を生じることになる。従って、比較的に高い精度が必要になり、比較的に小さい吸光度の差のみが一般的に許容可能になる。
【００３３】
あるいは、上記の選択された差はサンプルの測定中に分析装置を制御するＣＰＵにより決定できる。このようなＣＰＵによる選択はオペレータにより入力される仕様またはＣＰＵを制御しているソフトウェア、および／または、多数のサンプルの測定中にＣＰＵにより観察される傾向に基づくことができる。例えば、上記ＣＰＵはアッセイの較正曲線の傾斜の予備知識に基づいて一定の比較的に大きな程度の不正確さが特定のアッセイにおいて許容されることを決定できる。すなわち、上述したように、一定の大きな信号（すなわち、一定の急な較正曲線）を伴うアッセイは一定の比較的に大きな程度の不正確さを許容し、それゆえ、上記の選択された差は比較的に大きくすることができるが、比較的に小さい信号（すなわち、一定の浅い較正曲線）を伴うアッセイは比較的に高い精度を必要とし、それゆえ、上記の選択された差は小さくなる。
【００３４】
上記の吸光度において選択される差が上記の選択された差の範囲内であれば、全ての吸光度の測定値は平均化することが可能になり、その平均の吸光度がサンプル内において測定される物質の濃度の計算において用いられる。あるいは、以下において説明されているように、上記吸光度の内の１個（一般に、最高または最低の吸光度）が好ましくは濃度を決定するために選択できる。このような実施形態において、その分析は上述したような一定のブランクの測定の有無にかかわらず行なうことができる。
【００３５】
別の好ましい実施形態において、吸光度における一定の差を決定するために、それぞれのサンプルの吸光度が同様に別のサンプルの吸光度、好ましくは別のサンプルの吸光度の全てに対して比較される。この結果、吸光度の全ての間における差が吸光度において一定の選択された差を超える場合には、これら全ての測定値が廃棄されて同一のサンプル／キュベットが再測定される。あるいは、一定のサンプルの新しい分量または一定の新しいキュベットが測定される。
【００３６】
また、上記吸光度の少なくとも２個が上記の選択された差よりも小さい場合には、これらの吸光度は測定する物質の濃度の計算に用いられる。上記の実施形態において述べられているように、これらの吸光度の測定値は平均化することができ、この平均の吸光度がサンプル中の測定する物質の濃度の計算に用いられる。あるいは、以下において説明されているように、上記吸光度の１個（一般に、最高または最低の吸光度）が濃度を決定するために選択できる。また、この実施形態において、分析は上述したような一定のブランクの測定の有無にかかわらず行なうことができる。
【００３７】
上記の吸光度において選択された差は上述したようにＣＰＵにより分析の前またはその途中において決定できる。また、この実施形態は一定のブランクの測定の有無にかかわらず使用できる。
【００３８】
別の好ましい実施形態において、ブランクの測定がキュベットの全体にわたり少なくとも２個の異なる三次元的な場所、好ましくは１個以上のサンプルの測定が行なわれるそれぞれ同一の場所において行なわれる。その後、これらのブランクの測定により得られたブランクの吸光度が一定の選択された閾値のブランクの吸光度に対して比較される。この結果、これらのブランクの吸光度の測定値が上記の選択された閾値のブランクの吸光度の値よりも低ければ、これらのブランクの測定値の１個または全てがその後の分析において使用可能になる。例えば、各ブランクの測定値はその対応しているサンプルの測定値から差し引くことができる。あるいは、最低のブランクの吸光度または一定の平均のブランクの吸光度を全てのサンプルの測定値から差し引くことができる。また、１個以上のブランクの吸光度、特に１個のブランクの吸光度が上記閾値の吸光度よりも高ければ、このことは一定の気泡またはその他の干渉性の状況が存在していることの証拠になり、これらのブランクの吸光度は廃棄する必要がある。また、上記の選択された閾値の吸光度は測定する特定のサンプルまたは物質に対する前の経験に基づいて予め決定できる。あるいは、この選択された閾値の吸光度はサンプルの状態、各サンプルの前の分析等に基づいてサンプルが処理されている間に分析装置により決定することも可能である。
【００３９】
本発明の一定の特に有利な態様において、本発明者は低い吸光度（例えば、１の吸光度単位よりも低い一定の吸光度）のアッセイの実施形態において、一定の速度または終了点の計算において少なくとも３個のサンプルの吸光度（随意的に一定のブランクの測定値により補正されている）の内の最低の値を用いる場合に最も正確な結果が一般に生じることを見出している。この最低の吸光度の測定値は好ましくは、終了点のアッセイにおいて、上記３個の測定値が一定の許容可能な閾値の範囲内にある場合、あるいは、速度のアッセイにおいて、測定位置から測定位置までの計算した速度の差が上記の技法を用いて一定の許容可能な範囲内にある場合にのみ選択される。すなわち、上記と同一の様式において、上記少なくとも３個のサンプルの吸光度が、全てのサンプルの吸光度を廃棄すべきか、これらのサンプルの吸光度の１個以上を無視して残りの吸光度を保持するべきか、あるいは、全てのサンプルの吸光度を平均化するべきかを決定するために比較される。さらに、少なくとも２個の吸光度が保持されて一定の平均の保持された吸光度が一定の選択された吸光度よりも低ければ、その最低の吸光度が分析物の存在または濃度の決定において用いられる。
【００４０】
理論に結び付けられてはいないが、本発明者は比較的に低い吸光度のアッセイにおいて最低の吸光度の測定値を選択するための理由が干渉性の状況が吸光度を高めることのみにおいて示されていることであると考えている。すなわち、比較的に低い吸光度のサンプルに対して干渉性の状況により生じる吸光度は高くなる。従って、吸光度の測定値が高くなるほど、誤差が大きくなりやすく、この理由は、干渉性の状況による傾向が高くなるほど正確な結果が比較的に低い吸光度の測定値を用いて得られるようになるからである。逆に、日常的な実験を通して当業者により決定可能である、吸光度の一定の閾値において、干渉性の状況は測定される吸光度を低下する傾向がある。この結果として、高い吸光度の測定において、高い吸光度の測定値ほど、真の濃度を示す傾向があり、この理由は、低い吸光度の測定値ほど一時的な欠陥による傾向が高いからである。すなわち、上記と同一の様式において、少なくとも３個のサンプルの吸光度が比較される。この結果、少なくとも２個の吸光度が保持されて一定の平均の保持された吸光度が一定の選択された吸光度よりも大きいかこれと同等である場合には、最高の吸光度がその分析物の存在または濃度の決定において用いられる。
【００４１】
一定の好ましい実施形態において、上記の閾値またはカットオフの吸光度は１の吸光度単位（ＡＵ）である。すなわち、１よりも小さい吸光度に対して、最低の吸光度が上記の決定において用いられ、１の吸光度単位（ＡＵ）よりも高いかこれと同等である吸光度に対しては最高の吸光度が上記の決定において用いられる。
【００４２】
上述したように、特定の実施形態において、少なくとも２個の吸光度が一定の選択された差よりも小さい吸光度における一定の差を有する場合に、これら少なくとも２個の吸光度の一方または一定の平均値は測定している分析物または物質の濃度の計算において用いることができる。以下において説明されている実施形態において、本発明は実行している試験またはアッセイにより決まる所定の限界値よりも小さい差を上記少なくとも２個の吸光度が有する場合に、仮に存在する場合に、どの吸光度が使用可能であるかを決定可能にする一定の方法を提供している。この好ましい実施形態の方法は一定のアルゴリズムを用いており、このアルゴリズムは３個の吸光度（これらの分析においては３個の吸光度が用いられている）の内のいずれか１個がその他の２個（すなわち、吸光度において上記の選択された差の外にある）と十分に異なっている場合に種々の用途において使用可能であり、結果が報告可能であるか「取り上げる（salvaged）」ことができる（すなわち、上記の分析を再実行する必要がない）と考えられるかどうかを決定するために一致している（すなわち、吸光度において上記の選択された差の範囲内にある）２個の吸光度が存在しているか否かについてそれぞれの結果を精査する。
【００４３】
上記の実施形態の方法において用いるアルゴリズム（以下、「アルゴリズム（Algorithm）と呼ぶ」は吸光度を特定のパタンについて調べてその差のあるまたは範囲外の吸光度が実際にキュベットのセル内の一定の気泡または破片等のような一定の可能な干渉性の状況により影響を受けている値であるか否かを決定する。この場合に、特定の状況が一致すれば、その一致している２個の吸光度により一定の予測を行なうことができる。この場合に、上記アルゴリズムにより扱われる重要な状況は２個の吸光度が一致しているが、実際にはこれらの両方に同等に影響を及ぼす一定の様式で、例えば、気泡または破片等の一定の干渉性の状況によりこれらの両方が影響を受けている状況である（すなわち、一致していない吸光度または範囲外の値が実際にはこの場合の適正な吸光度である）。上記アルゴリズムのパタン分析ロジックがこれらの状況を認識する。さらに、このデータは一定の稀な状況であることを示すが、遭遇した場合に「結果無し（no result）」として検出および報告するために重要な状況であり、同一のサンプルの再実行または一定の新しいサンプルの分量の分析、またはオペレータによる特定の別の介入モードを必要とする。
【００４４】
図２は上記アルゴリズムのロジックを詳細に説明しているブロック図である。種々の定義が以下のように定められている（各図面および下記において、「読取値（read）および「吸光度（absorbance）は交換可能に用いられている」。
・Ａｘｙ＝読取値認識手段、ｘ＝１（第１の読取値、例えば、ブランク値）、２（第２の読取値）、ｙ＝ａ，ｂ，ｃ（読取位置、好ましくはＬ，Ｍ，Ｒ側、左、中央、または右側）。例：「Ａ１Ｍ」＝読取値１、中央の位置。「Ａ２ｃ」＝読取値２、位置ｃ
・左側の応答（Ｒｅｓｐ１）＝Ａ２Ｌ−Ａ１Ｌ。この数理モデルが一定の速度アッセイであれば、左側の応答（Ｒｅｓｐ１）＝（Ａ２Ｌ−Ａ１Ｌ）／（読取値２回目−読取値１回目）。
・中央の応答（Ｒｅｓｐ２）＝Ａ２Ｍ−Ａ１Ｍ。この数理モデルが一定の速度アッセイであれば、中央の応答（Ｒｅｓｐ２）＝（Ａ２Ｍ−Ａ１Ｍ）／（読取値２回目−読取値１回目）。
・右側の応答（Ｒｅｓｐ３）＝Ａ２Ｒ−Ａ１Ｒ。この数理モデルが一定の速度アッセイであれば、右側の応答（Ｒｅｓｐ３）＝（Ａ２Ｒ−Ａ１Ｒ）／（読取値２回目−読取値１回目）。
・限界値（上述した所定の限界値に相当する）＝切片＋傾き* （Ｒｅｓｐ１，Ｒｅｓｐ２またはＲｅｓｐ３の最小値）、上記の切片および傾きはアッセイにおいて特異的である。
・デルタ１＝Ｒｅｓｐ１−Ｒｅｓｐ２。あるいは、この「デルタ（Delta）」はそれぞれの対の吸光度の間の差として説明できる。
・デルタ２＝Ｒｅｓｐ２−Ｒｅｓｐ３。
・デルタ３＝Ｒｅｓｐ３−Ｒｅｓｐ１。
・最小のデルタ＝最小（絶対値（デルタ１），絶対値（デルタ２），絶対値（デルタ３））。あるいは、上記デルタの絶対値の最小値は、例えば、標準的な数学記号を用いて｜デルタ１｜または｜（Ａ２Ｌ−Ａ１Ｌ）−（Ａ２Ｍ−Ａ１Ｍ）｜により表現できる。
・最大のデルタ＝最大（絶対値（デルタ１），絶対値（デルタ２），絶対値（デルタ３））。
・不合格の応答＝３個の吸光度が上記アルゴリズムの許容検査を満たさない一定の状況。この状況において、一定の濃度の予測の代わりに「結果無し（no result）」がその試験に対して報告され、その分析は再評価することが必要になる。
【００４５】
図２のアルゴリズムのフローチャートにおける番号付けした円形の記号（例えば、マル１）は以下の各時点１乃至１１における説明にそれぞれ対応している。なお、以下の説明は左側、右側および中央のそれぞれの位置（Ｌ，Ｒ，Ｍ）に基づいているが、本発明はこの場合に限定されない。例えば、各位置を上部、中心および下部にすることも可能である。従って、記載の一定の代替的な指定を上述したように位置ａ，ｂおよびｃとすることも可能である。
【００４６】
１．符号１により指示されている第１の決定ブロックはデルタ１、デルタ２およびデルタ３が全て限界値よりも小さいか否かを調べるための一定のチェックである。仮に小さければ、その結果が一定の好ましい実施形態においてその中央の吸光度から予測される。また、上記の条件が満たされなければ、上記アルゴリズムが時点２に移り、さらにデータを評価（およびできるだけ結果を「取り上げる（salvaging）」）する。なお、この発明の前に、この分析器は単に不合格の応答を有していて、再評価を必要とする「結果無し（no result）」を発していたことにする。
【００４７】
２．決定ブロック２は全ての光学的な吸光度がこの特定の実施形態において１．０ＡＵ（光学吸光度の単位）よりも低いか否かを見るためにチェックしている。上述したように、比較的に低い範囲のＡＵの水準において（１．０は一定の控えめなカットオフ値である）、キュベットの光学経路内の気泡および粒状物は入射光の散乱、反射、または回折により吸光度のＡＵの水準を高める傾向がある。この検査はこの実施形態において説明されているデータ・パタンのチェックに対する一定の先駆けとしての重要なチェックである。すなわち、全ての吸光度が１．０ＡＵよりも低ければ、その評価のプロセスは継続する。一方、そうでなければ、その応答は不合格になり、「結果無し（no result）」が発せられる。
【００４８】
３．決定ブロック３は一致している２個の吸光度が例外的に十分に（この実施形態によれば上記限界値の７５％以内）実際に一致しているか否かを調べるための一定のチェックである。そうであれば、その後の評価のプロセスが継続する。そうでなければ、その応答は不合格になり、「結果無し（no result）」が発せられる。
【００４９】
４．決定ブロック４は３個の吸光度の内のどの対が例外的な一致を有する対であるかを決定するための幾つかのチェックの第１のものである。例えば、デルタ１が最小のデルタ値（すなわち、吸光度の各対の間の差の最小の絶対値）に相当していれば、パターン・チェックは左側の応答または右側の応答のいずれを一定の予測のために用いればよいかを決定することから開始される。一方、デルタ１が最小のデルタ値に相当していなければ、決定ブロック７がデルタ２について同様のチェックを行なう。
【００５０】
５．決定ブロック５は左側の応答または中央の応答のいずれを一定の予測のために用いればよいかを決定するために行なう一定のパタン・チェックである。このブロックにおける数理は右側の吸光度の合計が（ａ）中央の吸光度の合計よりも大きく、且つ（ｂ）左側の吸光度の合計よりも大きいか否かを決定する。この評価が真であれば、左側または中央の吸光度のいずれかを用いている適正な対の一定の予測が行なわれる（決定ブロック６）。図３は決定ブロック５の基準に合格すると考えられるそれぞれのパタンの例を示している（Ａ１Ｒおよび／またはＡ２Ｒが高められていてキュベット内の一定の気泡または破片等のような一定の干渉性の状況により影響を受けている可能性があると結論している）。さらに、図３乃至図８において、中実の円および正方形はそれぞれの第１の吸光度を示しており、輪郭だけの円および正方形はそれぞれの第２の吸光度を示している。さらに、それぞれの円は、例えば、気泡または破片等の干渉性の状況により影響を受けていない吸光度であり、それぞれの正方形は干渉性の状況により影響を受けている吸光度を示している。図４は決定ブロック５の基準に不合格になると考えられるパタンの例を示している（左側および中央の吸光度が実際にキュベット内の気泡または破片により影響を受けている吸光度であり、偶然に互いに一致していると結論している）。この決定ブロックにおける不合格は一定の「不合格になった応答（failed response）」（すなわち、結果無し）を生じる。
【００５１】
６．決定ブロック６は上記応答の対として作用して最終的に一定の結果の予測を作成するための吸光度の組（この実施形態における左側または中央のいずれか）の最終的な選択を行なう。すなわち、この決定ブロックは最低の数値の合計を有する吸光度の対を選択しており、この考え方はこの対が「もっとも清浄な（cleanest）」吸光度の組である（すなわち、気泡および破片等のような干渉性の状況がこの実施形態において記載されているそれぞれの範囲内においてのみＡＵの水準を高めるように作用している）と言うことである。
【００５２】
７．決定ブロック７は上記の決定ブロック４に類似している。すなわち、このブロック７はデルタ２が最小のデルタ値であるか否かを調べるためにチェックする。そうであれば、次の決定ブロック８の中においてパタン検査が行なわれ、このブロック８は左側の吸光度の性質を調べる（中央および右側の吸光度は最良値に一定しているから）。一方、そうでなければ、このアルゴリズムは決定ブロック１０に移り、このブロック１０が中央の吸光度の性質を調べる（左側および右側の吸光度は最良値に一致しているから）。
【００５３】
８．決定ブロック８は上記の決定ブロック５に類似している。すなわち、この決定ブロック８は中央の応答または右側の応答のいずれを一定の予測のために用いればよいかを決定するために行なう一定のパタン・チェックである。このブロックにおける数理は左側の吸光度の合計が（ａ）中央の吸光度の合計よりも大きく、且つ（ｂ）右側の吸光度の合計よりも大きいか否かを決定する。この評価が真であれば、中央または右側の吸光度のいずれかを用いている一定の予測が行なわれる（決定ブロック９）。図５は決定ブロック８の基準に合格すると考えられるそれぞれのパタンの例を示している（Ａ１Ｌおよび／またはＡ２Ｌが高められていてキュベット内の一定の気泡または破片等により影響を受けている可能性があると結論している）。さらに、図６は決定ブロック８の基準に不合格になると考えられるパタンの例を示している（中央および右側の吸光度が実際にキュベット内の気泡または破片により影響を受けている吸光度であり、偶然に互いに一致していると結論している）。この決定ブロックにおける不合格は一定の「不合格になった応答（failed response）」（すなわち、結果無し）を生じる。
【００５４】
９．決定ブロック９は上記の決定ブロック６に類似している。すなわち、この決定ブロック９は上記応答の対として作用して最終的に一定の結果の予測を作成するための吸光度の組（中央または右側のいずれか）の最終的な選択を行なう。すなわち、この決定ブロックは最低の数値の合計を有する吸光度の対を選択しており、この考え方はこの対が「もっとも清浄な（cleanest）」吸光度の組である（すなわち、気泡および破片等がこの実施形態におけるそれぞれの範囲内においてのみＡＵの水準を高めるように作用している）と言うことである。
【００５５】
１０．決定ブロック１０は上記の決定ブロック５および８に類似している。すなわち、この決定ブロック１０は左側の応答または右側の応答のいずれを一定の予測のために使用できるかを決定するために行なう一定のパタン・チェックである。このブロックにおける数理は中央の吸光度の合計が（ａ）左側の吸光度の合計よりも大きく、且つ（ｂ）右側の吸光度の合計よりも大きいか否かを決定する。この評価が真であれば、左側または右側の吸光度のいずれかを用いている一定の予測が行なわれる（決定ブロック１１）。図７は決定ブロック１０の基準に合格すると考えられるそれぞれのパタンの例を示している（Ａ１Ｍおよび／またはＡ２Ｍが高められていてキュベット内の一定の気泡または破片等により影響を受けている可能性があると結論している）。さらに、図８は決定ブロック１０の基準に不合格になると考えられるパタンの例を示している（左側および右側の吸光度が実際にキュベット内の気泡または破片により影響を受けている吸光度であり、偶然に互いに一致していると結論している）。この決定ブロックにおける不合格は一定の「不合格になった応答（failed response）」（すなわち、結果無し）を生じる。
【００５６】
１１．決定ブロック１１は上記の決定ブロック６および９に類似している。すなわち、この決定ブロック１１は上記応答の対として作用して最終的に一定の結果の予測を作成するための吸光度の組（左側または右側のいずれか）の最終的な選択を行なう。すなわち、この決定ブロックは最低の数値の合計を有する吸光度の対を選択しており、この考え方はこの対が「もっとも清浄な（cleanest）」吸光度の組である（すなわち、気泡および破片等がこの実施形態におけるそれぞれの範囲内においてのみＡＵの水準を高めるように作用している）と言うことである。
【００５７】
上記の好ましい実施形態によるアルゴリズムは、例えば、（デルタＸ（Ｘ＝１，２，３）＞限界値であれば、結果無し）等のように、これまでのアルゴリズムよりも５０％程度まで、例えば、三重の吸光度の不良（結果無し）等のような一定の多重の不良について標識される試験の数を減らすことができる。本発明者により行なわれている実験においては、分析はまったく無く、拒絶されていたかもしれない一定の結果が保存されている。
【００５８】
実施例
０．５８２ｍｇ／ｄｌの一定の既知の濃度を有するＣ反応性タンパク質（ＣＲＰ）についての一定のアッセイを調製して３６個の異なるキュベットにおいて分析した。それぞれのキュベットに対して、一定の吸光度の測定をそのキュベットの左側、中央および右側において行なった。それぞれのキュベットにおける各測定の結果が図９においてプロットされており、ダイアモンドの記号（◆）を伴って標識されている線は左側であり、正方形（■）は中央に対応しており、三角形（▲）は右側に対応している。この図９が示しているように、ｘ軸において示されているキュベット番号１，６および２８において相当な域外の値が存在している。これらはそれぞれのキュベット内における気泡の存在によると思われる。これらのキュベットにおいて相当な域外の値が存在しているが、それぞれの吸光度の間の一定の比較により一定の許容可能な閾値から外れた一定の差を生じると考えられるので、キュベット１の結果だけが一定の臨床環境において拒絶されることになると思われる。一方、域外の値を伴う残りの結果においては、その右側とそれ以外の読取値との間の吸光度の差が相当ではあるが、その中央と左側の読取値との間の吸光度の差は許容可能な閾値の範囲内である。従って、これらの結果はそれぞれのサンプルを再実行する必要を伴わずに一定の臨床環境内において使用可能になる。加えて、これらの結果の精度を改善するために、上記のサンプルにおける低い吸光度（＜１）の測定結果により、最低の吸光度の測定値がこのＣＲＰの濃度を決定するために使用できる。この結果、比較的に高い吸光度の読取値は（これらが吸光度の差の一定の許容可能な閾値の範囲内であっても）干渉性の状況の存在によると考えられる。
【００５９】
図１０は図９の実施例をわずかに異なって示している。具体的に言えば、図１０はセルの異なる場所および読取場所に無関係なそれぞれのセルの最小の吸光度における標準偏差を示している。この場合に、ダイアモンドの記号（◆）を伴って標識されている線は図９において示されているキュベット番号１，６および２８における相当な域外の値を含む全てのセルが含まれている場合の標準偏差である。この図１０において示されているように、全ての場所（左側、中央および右側）および最小値（それぞれのキュベットにおける）に対応する標準偏差は全てのキュベットに対応する吸光度が含まれている場合に最大である。また、三角形（▲）を伴って標識されている線はキュベット１のみが標準偏差の計算から除外されている場合の標準偏差である。図１０において示されているように、この場合の全ての場所および最小値に対応する標準偏差は全てのキュベットを含む標準偏差よりも小さい。さらに、正方形（■）を伴って標識されている線はキュベット１，６および２８が除外されている場合の標準偏差である。この図１０において示されているように、キュベット１，６および２８が除外されている場合に全ての場所および最小値に対応する標準偏差が最小になる。
【００６０】
本発明による測定方法はコンピュータ読取可能なプログラム・コードを有していて、当業界において知られている分析装置のコンピュータ・コントローラに対してインターフェースを介して接続している一定のコンピュータ・プログラムにより実施可能である。
【００６１】
当該技術分野における熟練者において種々の変更および変形が本発明の種々の配合物、組成物およびプロセスに対して行なえることが明らかになる。従って、上記のような変更および変形が添付の特許請求項およびこれらの等価物の範囲内にある限りにおいてこれらの変更および変形を含むことが考慮されている。
【００６２】
上記の全ての刊行物または公開物の開示はそれぞれが個別に参考文献として含まれているのと同じ程度にそれぞれの内容全体において本明細書に特別に参考文献として含まれている。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は一定のサンプル中の分析物の存在または濃度を測定するための方法に適用可能であり、この方法は精度を改善し、特に再実行する必要のあるサンプルの数を減少し、それゆえ、分析の時間および費用を削減するために誤差を検出および排除または減少すると言う従来の問題を解消し得る。
【００６４】
本発明の具体的な実施態様は以下のとおりである。
（１）分光測光法により一定のサンプル中の一定の分析物の存在または濃度を測定するための方法において、
測定するための一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定の開口した上部のキュベットを供給する処理、
一定の光源および発生した光を検出するための一定の検出器を供給する処理、
少なくとも２回の測定を行なう処理を含み、この処理が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所に対して前記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも２本の光線を前記キュベットのそれぞれの場所においてその中に、さらに前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により少なくとも２本のそれぞれの発生した光線を測定する処理を含み、さらに
前記少なくとも２本の発生した光線を比較して、全ての発生した光線を無視するべきか、これらの発生した光線の内の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらの発生した光線を平均化するべきかを決定する処理を含む方法。
（２）さらに、少なくとも３回の測定を行なう処理、および少なくとも３本の発生した光線を比較して、全ての発生した光線を無視するべきか、これらの発生した光線の内の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらの発生した光線を平均化するべきかを決定する処理を含む実施態様（１）に記載の測定方法。
（３）前記分光測光法が蛍光分光測光法である実施態様（１）に記載の測定方法。
（４）前記分光測光法が吸収分光測光法であり、前記少なくとも２回の測定を行なう工程が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所に対して前記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも２本の光線を前記キュベットのそれぞれの場所においてその中に、さらに前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記少なくとも２本の光線に対応して発生した光により少なくとも２個のそれぞれのサンプルの吸光度を測定する処理を含み、さらに
前記少なくとも２個のサンプルの吸光度を比較して、全てのサンプルの吸光度を無視するべきか、これらのサンプルの吸光度の内の１個以上を無視するべきか、あるいは、これらのサンプルの吸光度を平均化するべきかを決定する処理を含む実施態様（１）に記載の測定方法。
（５）単一の光源および単一の検出器が供給されて、前記キュベットが前記少なくとも２本の光線を生じるためにこれらの光源および検出器に対して移動する実施態様（１）に記載の測定方法。
（６）前記少なくとも２本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれの異なる場所に前記光源から少なくとも２本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記サンプルが試薬と反応する前に前記少なくとも２本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記少なくとも２本の光線に対応して発生した光により少なくとも２個のそれぞれのブランクの吸光度を測定する処理を含み、さらに
少なくとも１個のブランクの吸光度を選択する処理、および
前記少なくとも１個のブランクの吸光度を前記少なくとも２個のサンプルの吸光度から差し引くことにより補正したサンプルの吸光度を生じる処理を含む実施態様（４）に記載の測定方法。
（７）単一の光源および単一の検出器が供給されて、前記キュベットが前記少なくとも２本の光線を生じるためにこれらの光源および検出器に対して移動する実施態様（６）に記載の測定方法。
（８）全てのブランクの吸光度が選択されて、それぞれのブランクの吸光度が同一の場所におけるその対応しているサンプルの吸光度から差し引かれる実施態様（６）に記載の測定方法。
（９）最低のブランクの吸光度が選択されて、その最低のブランクの吸光度がそれぞれのサンプルの吸光度から差し引かれる実施態様（６）に記載の測定方法。
（１０）前記少なくとも２回の測定の後の一定時間の期間の経過後に、前記方法がさらに
前記少なくとも２回の測定と同一の場所において少なくとも２回の第２の測定を行なうことにより少なくとも２個の第２のサンプルの吸光度を生じる処理、および
前記少なくとも２個のサンプルの吸光度を前記第２のサンプルの吸光度から差し引くことにより一定速度のサンプルの吸光度を生じる処理を含む実施態様（４）に記載の測定方法。
（１１）前記比較が前記サンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、いずれか２個の吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全てのサンプルの吸光度を無視する実施態様（４）に記載の測定方法。
（１２）前記比較が前記サンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、
全ての吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全てのサンプルを無視し、
前記吸光度の全数よりも少ない所定数の吸光度の間における差が前記所定の吸光度の範囲内である場合に、その残りの吸光度を無視してその所定数の吸光度の吸光度を平均化する実施態様（４）に記載の測定方法。
（１３）前記比較が前記補正したサンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、
全ての吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全てのサンプルを無視し、
前記吸光度の全数よりも少ない所定数の吸光度の間における差が前記所定の吸光度の範囲内である場合に、その残りの吸光度を無視してその所定数の吸光度の吸光度を平均化する実施態様（６）に記載の測定方法。
（１４）前記比較が前記補正したサンプルの吸光度を互いに比較する処理を含み、いずれか２個の補正したサンプルの吸光度の間における一定の吸光度の差が所定の吸光度を超える場合に、全ての補正したサンプルの吸光度を無視する実施態様（６）に記載の測定方法。
（１５）前記比較が１種類以上の干渉性の状況により生じる誤差を検出する実施態様（１）に記載の測定方法。
（１６）前記干渉性の状況が気泡、指紋、キュベット内のよごれまたは欠損部を含む実施態様（１５）に記載の測定方法。
（１７）前記分析が一定の診断用の分析器において行なわれる実施態様（２）に記載の測定方法。
（１８）前記光が３００乃至１１００ｎｍの範囲内の一定の波長を有する実施態様（１）に記載の測定方法。
（１９）吸収分光測光法により一定のサンプル中の一定の分析物の存在または濃度を測定するための方法において、
測定するための一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定のキュベットを供給する処理、
一定の光源および光を検出するための一定の検出器を供給する処理、
少なくとも３回の測定を行なう処理を含み、この処理が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所に対して少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも３本の光線を前記キュベットのそれぞれの場所においてその中に、さらに前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのサンプルの吸光度を測定する処理を含み、さらに
前記少なくとも３個のサンプルの吸光度を比較して、全てのサンプルの吸光度を無視するべきか、これらのサンプルの吸光度の内の１個以上を無視してその残りの吸光度を保持するべきか、あるいは、これらのサンプルの吸光度を平均化するべきかを決定する処理を含み、
少なくとも２個のサンプルの吸光度が保持されて、一定の平均の保持された吸光度が第１の選択された吸光度よりも小さければ、その最低の吸光度が前記分析物の存在または濃度の決定において用いられ、少なくとも２個のサンプルの吸光度が保持されて、一定の平均の保持された吸光度が第２の選択された吸光度よりも大きければ、その最高の吸光度が前記分析物の存在または濃度の決定において用いられる方法。
（２０）単一の光源および単一の検出器が供給されて、前記キュベットが前記少なくとも２本の光線を生じるためにこれらの光源および検出器に対して移動する実施態様（１９）に記載の測定方法。
（２１）前記第１および第２の選択された吸光度が共に一つの吸光度の単位である実施態様（１９）に記載の測定方法。
（２２）前記平均の保持された吸光度が全てのサンプルの吸光度に基づいている実施態様（１９）に記載の測定方法。
（２３）前記少なくとも３本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれの異なる場所に少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記サンプルが試薬と反応する前に前記少なくとも３本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのブランクの吸光度を測定する処理を含み、さらに
少なくとも１個のブランクの吸光度を選択する処理、および
前記少なくとも１個のブランクの吸光度を前記少なくとも３個のサンプルの吸光度から差し引くことにより補正したサンプルの吸光度を生じる処理を含む実施態様（１９）に記載の測定方法。
（２４）吸収分光測光法により一定のサンプル中の分析物の存在または濃度を測定するための方法において、
（Ａ）測定するための一定の分析物と共に一定のサンプルを有する一定のキュベットを供給する処理、
（Ｂ）一定の光源および光を検出するための一定の検出器を供給する処理、
（Ｃ）少なくとも３回の測定を行なう処理を含み、処理が
（ｉ）前記キュベットの異なる場所ａ，ｂおよびｃに少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）前記少なくとも３本の光線を前記それぞれの場所ａ，ｂおよびｃにおけるキュベットの中に、および前記測定するサンプルの中に通過させる処理、および
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのサンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを測定する処理を含み、さらに
（Ｄ）それぞれの対の吸光度の間の差の絶対値が｜Ａａ−Ａｂ｜，｜Ａｃ−Ａｂ｜および｜Ａｃ−Ａａ｜になることを決定する処理、
（Ｅ）それぞれの対の吸光度の間の差の絶対値を所定の限界値に対して比較する処理、
（Ｆ）前記差のそれぞれの絶対値の１個以上が前記所定の限界値に等しいかこれよりも大きければ、それぞれの吸光度を所定の吸光度に対して比較して、
（ｉ）１個以上の吸光度が前記所定の吸光度よりも高ければ、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進み、あるいは
（ｉｉ）全ての吸光度が前記所定の吸光度よりも低ければ、
（Ｇ）それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値を決定し、
（Ｈ）前記差の最小の絶対値が前記所定の限界値の所定の部分よりも小さいか否かを決定する処理を含み、
（ｉ）前記差の最小の絶対値が前記限界値の所定の部分よりも小さくなければ工程（Ｋ）に進み、あるいは
（ｉｉ）前記差の最小の絶対値が前記限界値の所定の部分よりも小さければ、
（Ｉ）前記それぞれの対の吸光度の間の差のどの絶対値が前記差の最小の絶対値であるかを決定し、
（Ｊ）前記最小の絶対値の中のどの吸光度を選択すべきか、あるいは、これらの結果を無視するべきかを決定し、さらに
（Ｋ）前記工程（Ｆ），（Ｈ）または（Ｊ）においてそれぞれの結果を無視するべきである場合にその分析を再評価するか、あるいは、前記選択した吸光度を用いることにより前記サンプル中の分析物の存在または濃度を計算するいずれかの処理を含む方法。
（２５）前記少なくとも３本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれ異なる場所ａ，ｂおよびｃにおいて少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）サンプルが試薬に対して反応する前に前記少なくとも３本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃを測定する処理、
（ｉｖ）測定したサンプルの吸光度Ａ２ａ，Ａ２ｂおよびＡ２ｃから前記ブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃをそれぞれ差し引くことにより前記サンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを決定する処理を含み、
この場合に、前記それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値においてどの吸光度を選択すべきか、あるいは、これらの結果を無視すべきであるかを決定する工程（Ｊ）が
（Ｊ１）それぞれの対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ａ−Ａ１ａ）−（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）｜であり、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃがＡ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂのそれぞれよりも大きければ、Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂを比較して、Ａ１ａ＋Ａ２ａ＜Ａ１ｂ＋Ａ２ｂであれば吸光度Ａａが前記選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａｂが前記選択される吸光度になり、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ≦Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理、
（Ｊ２）前記それぞれ対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）−（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）｜であり、Ａ１ａ＋Ａ２ａがＡ１ｂ＋Ａ２ｂおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃのそれぞれよりも大きい場合に、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃおよびＡ１ｂ＋Ａ２ｂを比較して、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ＜Ａ１ｂ＋Ａ２ｂであれば、吸光度Ａｃが前記選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａｂが前記選択される吸光度になり、Ａ１ａ＋Ａ２ａ≦Ａ１ｂ＋Ａ２ｂおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理、あるいは
（Ｊ３）前記それぞれ対の吸光度の間の差の最小の絶対値が｜（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）−（Ａ２ａ−Ａ１ａ）｜であり、Ａ１ｂ＋Ａ２ｂがＡ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃのそれぞれよりも大きい場合に、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃおよびＡ１ａ＋Ａ２ａを比較して、Ａ１ｃ＋Ａ２ｃ＜Ａ１ａ＋Ａ２ａであれば吸光度Ａｃが前記選択される吸光度になり、他の場合には吸光度Ａａが前記選択される吸光度になり、Ａ１ｂ＋Ａ２ｂ≦Ａ１ａ＋Ａ２ａおよびＡ１ｃ＋Ａ２ｃの一方であれば、全ての読取値を無視して工程（Ｋ）に進む処理を含む実施態様（２４）に記載の方法。
（２６）前記限界値の所定の部分がこの所定の限界値の０．７５倍である実施態様（２４）に記載の方法。
（２７）前記場所ａ，ｂおよびｃが前記キュベットにおける左側Ｌ、中央Ｍおよび右側Ｒに対応している実施態様（２４）に記載の方法。
（２８）前記少なくとも３本の光線を当てる工程の前に、前記方法がさらに
（ｉ）前記キュベットのそれぞれ異なる場所ａ，ｂおよびｃにおいて少なくとも３本の光線を当てる処理、
（ｉｉ）サンプルが試薬に対して反応する前に前記少なくとも３本の光線を前記キュベットの単独または前記キュベットおよびサンプルの中に通過させる処理、
（ｉｉｉ）前記検出器により前記透過した光線の少なくとも３個のそれぞれのブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃを測定する処理、
（ｉｖ）測定したサンプルの吸光度Ａ２ａ，Ａ２ｂおよびＡ２ｃから前記ブランクの吸光度Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ１ｃをそれぞれ差し引くことにより前記サンプルの吸光度Ａａ，ＡｂおよびＡｃを決定する処理を含む実施態様（２４）に記載の方法。
（２９）前記所定の限界値が切片＋傾き* （（Ａ２ａ−Ａ１ａ），（Ａ２ｂ−Ａ１ｂ）または（Ａ２ｃ−Ａ１ｃ）の最小値）であり、前記切片および傾きが測定している分析物により決定される実施態様（２５）に記載の方法。
（３０）前記所定の吸光度が１．０である実施態様（２５）に記載の方法。
（３１）一定のコンピュータに対してインターフェースを介して接続している一定のコンピュータ・プログラムにより実行される実施態様（１）に記載の方法。
（３２）実施態様（１）に記載の方法を行なうように構成されているコンピュータ読取可能なプログラム・コードを有する一定のコンピュータ使用可能な媒体を含む製造物品。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】窓の異なる場所における３種類の測定値を伴う一定のキュベットの測定窓の一例の実施形態を示している概略図である。
【図２】本発明の一定の実施形態による１個以上の吸光度を保持すべきか分析を再評価すべきかを決定するための一定のアルゴリズムのロジックを示しているフロー図である。
【図３】図２の決定ブロック５の基準に合格すると考えられる吸光度または読取値のパタンのグラフ図である。
【図４】図２の決定ブロック５の基準に不合格になると考えられる吸光度または読取値のパタンのグラフ図である。
【図５】図２の決定ブロック８の基準に合格すると考えられる吸光度または読取値のパタンのグラフ図である。
【図６】図２の決定ブロック８の基準に不合格になると考えられる吸光度または読取値のパタンのグラフ図である。
【図７】図２の決定ブロック１０の基準に合格すると考えられる吸光度または読取値のパタンのグラフ図である。
【図８】図２の決定ブロック１０の基準に不合格になると考えられる吸光度または読取値のパタンのグラフ図である。
【図９】それぞれのキュベットにおいて３個の測定値を伴う３６個のキュベットにおけるＣ反応性タンパク質の濃度の測定結果を示しているグラフ図である。
【図１０】図９において示されている測定結果における３種類の異なる閾値の廃棄を含むそれぞれのキュベットの３個の異なる場所における吸光度およびそれぞれのキュベットにおける最小の吸光度の標準偏差を示しているグラフである。
【符号の説明】
【００６６】
１０  キュベット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【外国語明細書】
2005249783000001.pdf