(57)【要約】【課題】効率よくテストパターンを生成する。【解決手段】情報処理装置が、マスクパターンに基づいて製造される集積回路の試験を所定の試験装置で行う場合に用いられるテストパターンを生成する方法であって、前記情報処理装置は、前記集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリストを予め生成しておき、前記ネットリストにおける前記回路部内の前記未配線な状態箇所を配線状態とすべく、前記ネットリストと、当該回路部内の配線情報を含んだマスクオプションデータより取得した前記配線情報と、に基づいて論理合成を実行し、前記論理合成後のネットリストに対して所定のシミュレーションを実行し、前記シミュレーションの実行結果に基づいて前記テストパターンを生成する。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報処理装置が、マスクパターンに基づいて製造される集積回路の試験を所定の試験装置で行う場合に用いられるテストパターンを生成する方法であって、
前記情報処理装置は、
前記集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリストを予め生成しておき、
前記ネットリストにおける前記回路部内の前記未配線な状態箇所を配線状態とすべく、前記ネットリストと、当該回路部内の配線情報を含んだマスクオプションデータより取得した前記配線情報と、に基づいて論理合成を実行し、
前記論理合成後のネットリストに対して所定のシミュレーションを実行し、
前記シミュレーションの実行結果に基づいて前記テストパターンを生成すること、
を特徴とするテストパターン生成方法。
【請求項２】
前記集積回路は、
セグメントデコーダより出力された表示装置への表示内容を示すセグメントデータを、ストローブデコーダより出力された前記セグメントデータの表示グループを示すストローブデータに基づいて保持回路に保持した後、前記表示装置を駆動する表示用駆動回路であり、
前記マスクオプション対象とする配線変更可能な回路部は、
前記セグメントデコーダと前記保持回路との間、且つ、前記ストロープデコーダと前記保持回路との間、を選択的に配線するセレクタ回路であること、
を特徴とする請求項１に記載のテストパターン生成方法。
【請求項３】
前記集積回路は、液晶表示用マイクロコンピュータであることを特徴とする請求項２に記載のテストパターン生成方法。
【請求項４】
マスクパターンに基づいて製造される集積回路の試験を所定の試験装置で行う場合に用いられるテストパターンを生成する情報処理装置であって、
前記集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリストを生成する手段と、
前記ネットリストにおける前記回路部内の前記未配線な状態箇所を配線状態とすべく、前記ネットリストと、当該回路部内の配線情報を含んだマスクオプションデータより取得した前記配線情報と、に基づいて論理合成を実行する手段と、
前記論理合成後のネットリストに対して所定のシミュレーションを実行した結果に基づいて、前記テストパターンを生成する手段と、
を有すること、を特徴とする情報処理装置。
【請求項５】
マスクパターンに基づいて製造される集積回路の試験を行う集積回路試験システムであって、
前記集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリストを生成する手段と、
前記ネットリストにおける前記回路部内の前記未配線な状態箇所を配線状態とすべく、前記ネットリストと、当該回路部内の配線情報を含んだマスクオプションデータより取得した前記配線情報と、に基づいて論理合成を実行する手段と、
前記論理合成後のネットリストに対して所定のシミュレーションを実行した結果に基づいてテストパターンを生成する手段と、
前記テストパターンに基づいて前記集積回路の試験を行う手段と、
を有すること、を特徴とする集積回路試験システム。
【請求項６】
マスクパターンに基づいて製造される集積回路の試験を所定の試験装置で行う場合に用いられるテストパターンの生成方法を、コンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリストを生成するステップと、
前記ネットリストにおける前記回路部内の前記未配線な状態箇所を配線状態とすべく、前記ネットリストと、当該回路部内の配線情報を含んだマスクオプションデータより取得した前記配線情報と、に基づいて論理合成を実行するステップと、
前記論理合成後のネットリストに対して所定のシミュレーションを実行するステップと、
前記シミュレーションの実行結果に基づいて前記テストパターンを生成するステップと、
を有することを特徴とするプログラム。
【請求項７】
請求項６に記載のプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストパターン生成方法、情報処理装置、集積回路試験システム、プログラム、記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
集積回路の製造工程においては、集積回路のレイアウトパターンが設計された後、レイアウトパターンに基づいて座標データやマスクパターンなどのマスク（レチクル）仕様が決定する。そして、このマスク仕様に基づいてフォトマスクが製造された後、フォトマスクを用いた露光工程などを経て集積回路が製造される。
【０００３】
一方、集積回路の設計段階においては、ＩＰ（Intellectual Property）など過去の設計データを流用して効率よく設計を行う場合がある。この場合、集積回路を製造するためのフォトマスクについても過去のものを流用可能な場合が多い。
【０００４】
しかしながら、流用設計を検討している過去の集積回路は、同一の機能を有しながらも製品仕様に応じて頻繁に配線変更がなされる回路部や、製品に特化した特殊な回路部が含まれることが多いため、それらの製造に用いられた過去のフォトマスクを完全に流用することが困難であった。
【０００５】
そこで、流用を検討している過去のフォトマスクのマスク仕様において、前述した回路部についてのみマスクパターンを変更するようにマスクオプション（以下に示す特許文献１参照）を指定することで、効率よく且つ低コストにフォトマスクを製造することが行われていた。
【特許文献１】特開２０００−１１３０２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、マスクオプション対象とする回路部内の配線を変更した場合、半導体装置の試験工程で用いられるテストパターンを改めて用意する必要が生じることとなる。特に、マスクオプション対象外の回路部については過去のテストパターンを流用可能な場合も考えられるが、マスクオプション対象とする回路部については特殊なケースが多いため、所定の半導体試験装置（ＩＣテスタやＬＳＩテスタと通称される。）が認識可能なフォーマットに則したテストパターンを生成すべく、製品ごとに期待値作成プログラム（テストパターンを生成するためのプログラム）を一々作成しなければならなかった。  
したがって、マスクオプション対象とする回路部のテストパターンを生成する場合には、多大な時間と労力を要するという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前述した課題を解決するための主たる本発明は、情報処理装置が、マスクパターンに基づいて製造される集積回路の試験を所定の試験装置で行う場合に用いられるテストパターンを生成する方法であって、前記情報処理装置は、前記集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリストを予め生成しておき、前記ネットリストにおける前記回路部内の前記未配線な状態箇所を配線状態とすべく、前記ネットリストと、当該回路部内の配線情報を含んだマスクオプションデータより取得した前記配線情報と、に基づいて論理合成を実行し、前記論理合成後のネットリストに対して所定のシミュレーションを実行し、前記シミュレーションの実行結果に基づいて前記テストパターンを生成すること、とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、テストパターンを効率よく生成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
＜本発明の対象とする集積回路＞
＝＝＝  液晶表示用マイクロコンピュータ（セレクタ回路）＝＝＝
本発明の対象とする集積回路として、液晶表示用マイクロコンピュータを一例に挙げて説明する。なお、本発明では、液晶表示用マイクロコンピュータにのみ対象を限定するものでは勿論なく、液晶表示装置以外（蛍光表示装置など）の表示用マイクロコンピュータなどの他、マスクオプション対象となる回路部が含まれる全集積回路を対象とする。
【００１０】
図６に、液晶表示用マイクロコンピュータの一般的な構成を示す。  
液晶表示装置３００は、セグメント電極を駆動するためのセグメント駆動信号と、コモン電極を駆動するためのコモン駆動信号と、が供給され、それらの信号間において所定の電位差が生じたときに表示が行われる。なお、液晶表示装置３００が複数のコモン電極を有する場合、コモン駆動信号ごとに対応したセグメント駆動信号が必要となる。液晶表示用マイクロコンピュータ２００は、このようなセグメント駆動信号及びコモン駆動信号にを、液晶表示装置３００に供給するための集積回路といえる。
【００１１】
液晶表示用マイクロコンピュータ２００は、液晶表示装置３００への表示内容を示すセグメントデータを生成するためのセグメントデコーダ２１０と、セグメントデータの表示グループ（表示ユニット）を示すストロープデータを生成するためのストローブデコーダ２２０と、コモン端子２８０を介して出力するコモン駆動信号を生成するためのコモンドライバ２７０と、を備える。さらに、セグメント駆動信号を外部出力するセグメント端子２６０ごとに、セレクタ回路２３０と、ラッチ回路２４０と、ＬＣＤドライバ２５０が設けられる。なお、コモン駆動信号が複数となる場合、セレクタ回路２３０、ラッチ回路２４０、ＬＣＤドライバ２５０は、各セグメント端子２６０において、さらにコモン駆動信号の数分、設けられる場合もある。
【００１２】
セレクタ回路２３０は、セグメントデコーダ２１０の各出力とラッチ回路２４０の一方の入力端子（Ｌ）との間、且つ、ストローブデコーダ２２０の各出力とラッチ回路２４０の他方の入力端子（Ｃ）との間を、製品仕様に応じて選択的に配線したものである。すなわち、セレクタ回路２３０は、マスクオプション対象とする回路である。なお、セレクタ回路２３０は、例えば、制御電極に印加する電圧を電源電圧若しくは接地に固定したスイッチング素子や、マスクＰＬＡ（Programmable Logic Array）などによって構成される。なお、マスクＰＬＡとは、フォトマスクからのマスクパターンの転写により、ＡＮＤアレイ及びＯＲアレイの各交点において、設計仕様に応じてダイオードやトランジスタを選択的に配置するものである。
【００１３】
ラッチ回路２４０は、セレクタ回路２３０を介して選択されたセグメントデコーダ２１０の出力を、同様にセレクタ回路２３０を介して選択されたストローブデコーダ２２０の出力に基づいて、保持するものである。ＬＣＤドライバ２５０は、ラッチ回路２４０にて保持されたセグメントデータの電圧レベルについて、液晶表示装置３００のセグメント電極を駆動可能な電圧レベルにレベル調整し、セグメント駆動信号としてセグメント端子２６０を介して出力するものである。
【００１４】
＝＝＝  マスクオプションデータ  ＝＝＝
前述したように、液晶表示用マイクロコンピュータ２００において、セレクタ回路２３０は、マスクオプション対象とする回路である。ここで、セレクタ回路２３０に関するマスクオプションデータの一例を、図７に示す。
【００１５】
マスクオプションデータ４００は、コモン数を示すデータ、セグメントデータを転送するデータバス（以下、接続データバスと称する。）を示すデータ、ストローブデータを転送するストローブバス（以下、接続ストローブバスと称する。）を示すデータ、を含む。例えば、図７において、セグメント１についてのセレクタ回路２３０のデータとして、コモン数はｎ個あるため、セグメント１に対応したコモン１〜ｎごとに、接続データバスを示すデータ（Ｃ１Ｄ（１）〜ＣｎＤ（１））や、接続ストローブバスを示すデータ（Ｃ１ＳＰ（１）〜ＣｎＳＰ（１））を有することとなる。
【００１６】
以下、セグメント及びコモンに対応した接続データバス及び接続ストローブバスを示すデータなどを、セレクタ回路２３０に関する配線データ４１０と総称する。
【００１７】
＜本発明に係るテストパターン生成方法＞
＝＝＝  設計工程、製造工程〜試験工程  ＝＝＝
図１は、本発明の実施形態に係る集積回路の設計工程、製造工程から試験工程に至るまでの流れを説明する図である。
【００１８】
＜＜設計工程＞＞
液晶表示用マイクロコンピュータ２００など、本発明の対象とする集積回路では、設計・開発工程としてコンピュータを援用した設計支援手法（所謂、ＣＡＤ（Computer Aided Design））を採用する。なお、ＣＡＤによる集積回路の開発環境は、一般に、ＥＤＡ(Electronic Design Automation)環境と称される。
【００１９】
情報処理装置１０は、ＥＤＡ環境を構築したパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータである。情報処理装置１０は、ＥＤＡ環境として、論理合成ツール１１、シミュレーションツール１２、テストパターン変換ツール１３といったソフトウェアを備える。なお、これらのツール１１乃至１３を統合したＥＤＡ環境としても勿論よい。
【００２０】
論理合成ツール１１は、機能設計段階においてＨＤＬ（Hardware Description Language）やＲＴＬ（Register Transfer Level）で記述された機能モジュールを、論理回路に変換するためのソフトウェアである。なお、論理合成ツール１１による論理合成の結果を示す情報媒体としては、回路素子の電気的特性値や接続関係を記述したファイルであるネットリストが主に用いられる。
【００２１】
シミュレーションツール１２は、機能モジュールについての機能検証や、ネットリストについての論理検証やタイミング検証などを、情報処理装置１０上で行うためのソフトウェアである。例えば、Verilog-HDLシミュレータツールや、VHDLシミュレータツールのことを指す。
【００２２】
なお、シミュレーションツール１２は、通常、テストベンチと呼ばれるシミュレーションプログラムが用いられる。シミュレーションツール１２は、テストベンチを介して、機能モジュールやネットリストなどに試験のためのデータを模擬的に入力し、それらの応答を模擬的に試験する。このようなシミュレーションを実行した結果、集積回路の入出力間の関係を示すデータファイルが得られる。このようなデータファイルは、通常、ダンプファイルと呼ばれる。ダンプファイルの一例としては、Verilog-HDLシミュレータツールのＶＣＤ（Value Change Dump）ファイルがある。
【００２３】
ここで、集積回路のトータルな生産効率を高めるために、集積回路の機能検証や論理検証などで用いたテストデータを、製造後の集積回路の試験に用いて、設計・開発段階で得られたデータ資産を有効活用することとする。そのため、テストパターン変換ツール１３が用いられる。
【００２４】
テストパターン変換ツール１３は、シミュレーション実行結果としてのダンプファイルを、試験装置５０が認識可能なフォーマットに則したテストパターン２０に変換するソフトウェアである。ダンプファイルは、通常、イベント形式で記述される。ここで、イベント形式とは、観測ノードの変化点（イベント）を、時系列に表現したものである。一方、試験装置５０が認識可能なフォーマットは、通常、サイクル形式である。サイクル形式とは、テストパターン２０の各変数の入出力が、試験装置５０の試験サイクル（テスタレート）に基づいて表現されたものである。一般に、サイクル形式のテストパターン２０は、テスタレート、波形種別、テストベクタなどのデータによって構成される。
【００２５】
よって、テストパターン変換ツール１３は、例えば、イベント形式のダンプファイルからイベントデータとタイミングデータを取得し、これらのイベントデータ及びタイミングデータから、テスタレート、波形種別、テストベクタを生成して、サイクル形式のテストパターン２０に変換するものとする。
【００２６】
＜＜製造工程＞＞
前述した集積回路の設計工程のうち、実配線の遅延などを考慮したシミュレーション（実配線シミュレーション）を実行すべく、シミュレーションを実行する前工程として、集積回路のレイアウト設計が行われる。このレイアウト設計によってレイアウトパターンが得られ、このレイアウトパターンに基づいてマスクパターンなどのマスク仕様が決定し、フォトマスク３０の製造が行われる。ここで、本発明の対象とする集積回路は、セレクタ回路２３０などマスクオプション対象とする回路部が含まれるので、マスク仕様においてマスクオプションを指定することとなる。
【００２７】
集積回路の製造工程では、マスクオプションを反映したフォトマスク３０を用いて、ウェハー上へのパターン転写を行う露光工程、ダイボンディング工程、ダイシング工程などを経た後に、試験装置５０における被試験デバイスＤＵＴ（Device Under Test）４０が製造される。
【００２８】
＜＜試験工程＞＞
半導集積回路の試験工程では、ＩＣテスタやＬＳＩテスタなどと呼ばれる試験装置５０を用いて行われる。試験装置５０は、被試験デバイスＤＵＴ４０に対して、設計工程で得られたテストパターン２０を与える。そして、その結果として得られた被試験デバイスＤＵＴ４０の出力と、テストパターン２０に含まれる期待値データとを、順次比較していくことで、被試験デバイスＤＵＴ４０の試験を行うのである。
【００２９】
＝＝＝  テストパターン生成方法の具体例  ＝＝＝
図２に基づいて、液晶表示用マイクロコンピュータ２００のセレクタ回路２３０についてのテストパターン生成方法について説明する。なお、以下の説明では、図３乃至５に示す内容を適宜引用して説明することとする。また、以下の説明では、特に断らない限り、情報処理装置１０が主体とする。
【００３０】
情報処理装置１０は、セレクタ回路２３０内の配線を除いて、ネットリスト１２０を予め生成しているものとする。  
ここで、セレクタ回路２３０に関するマスクオプションデータ４００は、通常、そのままのフォーマットでは、論理合成ツール１１などで使用することが困難な場合が多いので、情報処理装置１０は、マスクオプションデータ４００を、論理合成ツール１１に対応したハードウェア記述言語ＨＤＬのフォーマットへと変換を行う（Ｓ１００）。このとき、情報処理装置１０は、マスクオプションデータ４００から配線データ４１０を取得することとなる。
【００３１】
つぎに、情報処理装置１０は、論理合成ツール１１を用いて、予め生成しておいたネットリスト１２０と、配線データ４１０とを論理合成したネットリスト１３０を生成する（Ｓ１０１）。この論理合成後のセレクタ回路２３０に関するネットリスト１３０の例を図３及び図４に示す。
【００３２】
図３に示すモジュール（ＴＯＰ）は、セレクタ回路２３０の最上位階層のモジュールの一例である。当該モジュール（ＴＯＰ）において、まず、図３中（A）に示す記述により、ファイルの読み込みを行うシステム・タスク$readmemhを用いて、配線データ４１０は変数Ｘに格納される。そして、図３中（B）に示す記述により、図４に示す下位階層のモジュール（ＳＵＢ）を呼び出して、変数Ｘに格納された配線データ４１０から、セグメント１〜ｍごとに、接続データバスを示すデータ（Ｃ１Ｄ〜ＣｎＤ）、接続ストローブバスを示すデータ（Ｃ１ＳＰ〜ＣｎＳＰ）の読み出しを行っていく。
【００３３】
図４に示すモジュール（ＳＵＢ）は、図３に示したモジュールの下位階層のモジュールの一例である。当該モジュール（ＳＵＢ）において、図４中（Ａ）に示す記述により、図４中（Ｃ）に示すユーザー定義ファンクションfunction1を呼び出して、あるセグメントにおけるコモンごとの接続データバスを特定する。
【００３４】
なお、図４中（Ｃ）に示すユーザー定義ファンクションfunction1では、case文を用いて、接続データバスを示すデータ（Ｃ１Ｄ〜ＣｎＤ）をもとに接続データバスを特定するように記述してある。また、配線データ４１０を読み込み前、すなわち、論理合成前では、接続データバスを示すデータ（Ｃ１Ｄ〜ＣｎＤ）が存在しないので、セレクタ回路２３０内の接続データバスに関する配線は未配線な状態であり、default文を用いて、不定値Ｘを呼び出して元に返すように記述してある。
【００３５】
同様に、当該モジュール（ＳＵＢ）において、図４中（Ｂ）に示す記述により、図４中（Ｄ）に示すユーザー定義ファンクションfunction２を呼び出して、あるセグメントにおけるコモンごとの接続ストローブバスを特定する。
【００３６】
なお、図４中（Ｃ）に示すユーザー定義ファンクションfunction２では、case文を用いて、接続ストローブバスを示すデータ（Ｃ１ＳＰ〜ＣｎＳＰ）をもとに接続ストローブバスを特定するように記述してある。また、配線データ４１０を読み込み前、すなわち、論理合成前では、接続ストローブバスを示すデータ（Ｃ１ＳＰ〜ＣｎＳＰ）が存在しないので、セレクタ回路２３０内の接続ストローブバスに関する配線は未配線な状態であり、default文を用いて、不定値Ｘを呼び出して元に返すように記述してある。
【００３７】
以上のようにして、配線データ４１０に基づいてセレクタ回路２３０内の配線が未配線な状態箇所を配線状態にすべく、論理合成前のネットリスト１２０及び配線データ４１０に基づいて論理合成を行い、ネットリスト１３０を改めて生成するのである。
【００３８】
そして、情報処理装置１０は、シミュレーションツール１２を用いて、論理合成後のネットリスト１３０に対して、テストベンチ１４０によるシミュレーションを実行する（Ｓ１０２）。なお、テストベンチ１４０は、トータルの設計・開発時間を短縮するために、集積回路の設計段階の機能検証などに用いたテストベンチを流用することが好ましい。情報処理装置１０は、前述したシミュレーションを実行した結果、イベント形式のダンプファイル１５０を生成し（Ｓ１０３）、テストパターン変換ツール１３を用いて、ダンプファイル１５０から例えばサイクル形式のテストパターン２０を生成するのである（Ｓ１０４）。
【００３９】
図５には、本発明に係るテストパターン生成方法によって得られるテストパターン２０の一例を示す。  
テストパターン２０は、同図に示すように、ネットリスト１３０の入出力ピン名に対応したテストピン名、各ピンの種別（Ｉ：入力、Ｏ：出力，Ｂ：双方向）、各テストピンに割り当てられる試験装置５０のテスターチャネル番号、そして、テスト入力及び期待値データを含むテストベクタによって、構成される。
【００４０】
試験装置５０は、テストパターン２０に含まれるテスト入力を、製造後の集積回路に与えて、その応答としての出力と、テストパターン２０に含まれる期待値データと、の比較を行う。この比較結果に基づいて、製造後の集積回路は、ネットリスト１３０と同一機能を有し、且つ、同一タイミングで動作することが検証されるのである。
【００４１】
このように、本発明では、従来、フォトマスク３０を製造する際にのみ使用していたマスクオプションデータ４００を、積極的に、テストパターン２０の生成に活用するのである。このことによって、マスクオプション対象とする回路部を含む集積回路のテストパターン２０を生成するために、製品ごとに期待値作成プログラムを一々作成する必要がなくなる。また、マスクオプション対象とする回路部について、テストパターン２０をマスクオプションデータ４００に基づいて効率よく且つ低コストにて作成可能となる。
【００４２】
ところで、前述した実施形態において、テストパターン２０の生成方法を、情報処理装置１０に限らず、コンピュータ全般に実行させるためのプログラムとしてもよい。つまり、当該プログラムとしては、集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリスト１２０を生成するステップと、ネットリスト１２０における配線変更可能な回路部内の未配線な状態箇所を配線状態とすべく、ネットリスト１２０と、当該回路部内の配線データ４１０を含んだマスクオプションデータ４００より取得した配線データ４１０と、に基づいて論理合成を実行するステップと、論理合成後のネットリスト１３０に対して所定のシミュレーションを実行するステップと、シミュレーションの実行結果に基づいてテストパターン２０を生成するステップと、を有するのである。これにより、本発明に係るテストパターン生成方法をコンピュータ上で実行可能となる。
【００４３】
また、前述したプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体としてもよい。これにより、前述したプログラムをコンピュータに提供可能となる。
【００４４】
さらに、前述した実施形態において、マスクパターンに基づいて製造される集積回路の試験を行う集積回路試験システムであって、集積回路のうちマスクオプション対象とする配線変更可能な回路部内について、未配線な状態に設定したネットリスト１２０を生成する手段（情報処理装置１０の論理合成ツール１１など）と、ネットリスト１２０における配線変更可能な回路部内の未配線な状態箇所を配線状態とすべく、ネットリスト１２０と、当該回路部内の配線データ４１０を含んだマスクオプションデータ４００より取得した配線データ４１０と、に基づいて論理合成を実行する手段（情報処理装置１０の論理合成ツール１１など）と、論理合成後のネットリスト１３０に対して所定のシミュレーションを実行した結果に基づいてテストパターン２０を生成する手段（情報処理装置１０のシミュレーションツール１２、テストパターン変換ツール１３など）と、テストパターン２０に基づいて集積回路の試験を行う手段（試験装置５０など）と、を有することとする。これによれば、本発明に係るテストパターン生成方法に基づくテストパターン２０を用いて集積回路の試験を行う集積回路試験システムを構築することができる。
【００４５】
以上、本実施の形態について説明したが、前述した実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更／改良され得るととともに、本発明にはその等価物も含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の実施形態に係る設計・製造工程〜試験工程に至るまでを説明する図である。
【図２】本発明の実施形態に係るテストパターン生成のフローを示す図である。
【図３】本発明の実施形態に係るセレクタ回路部のネットリストを示す図である。
【図４】本発明の実施形態に係るセレクタ回路部のネットリストを示す図である。
【図５】本発明の実施形態に係るテストパターンのデータ構造を示す図である。
【図６】液晶表示用マイクロコンピュータの構成を示す図である。
【図７】マスクオプションデータのデータ構造を示す図である。
【符号の説明】
【００４７】
１０  情報処理装置
１１  論理合成ツール
１２  シミュレーションツール
１３  テストパターン変換ツール
２０  テストパターン
３０  マスク
４０  ＤＵＴ
５０  試験装置
１２０  ネットリスト（論理合成前）
１３０  ネットリスト（論理合成後）
１４０  テストベンチ
１５０  ダンプファイル
２００  液晶表示用マイクロコンピュータ
２１０  セグメントデコーダ
２２０  ストローブデコーダ
２３０  セレクタ回路
２４０  ラッチ回路
２５０  ＬＣＤドライバ
２６０  セグメント端子
２７０  コモンドライバ
２８０  コモン端子
３００  液晶表示装置
４００  マスクオプションデータ
４１０  配線データ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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