(57)【要約】【課題】  添加物の粒子径が５μｍ未満のものであっても、その粒子の分布状態を検査することのできる、Ｘ線ＣＴ法によるゴム組成物の検査方法を提供する。【解決手段】  ゴム組成物のＣＴ断層画像を得るのに、焦点径が１μｍ以下のX線源を用いる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ゴムと添加剤とを含むゴム組成物をX線で照射して得られたＣＴ断層画像により、このゴム組成物における前記添加物の分散状態を検査するゴム組成物の検査方法において、
焦点径が１μｍ以下のX線源を用いて前記ＣＴ断層画像を得ることを特徴とするゴム組成物の検査方法。
【請求項２】
最大径が５μm未満の粒子を含む添加物の分散状態を検査する請求項１に記載のゴム組成物の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
ゴムと添加剤とを含むゴム組成物をX線で照射して得られたＣＴ断層画像により、このゴム組成物における前記添加物の分散状態を検査するゴム組成物の検査方法に関し、特に、小粒径の添加物の分散状態も検査できるものに関する。
【背景技術】
【０００２】
ゴムに粉末等の添加剤を混合分散させたゴム組成物を非破壊で検査する方法として、ゴム組成物サンプルに複数の角度からX線を照射し、それぞれの角度に対して得られた透過画像の情報を元に、サンプル中の添加剤の分散状態を、所望の断面で見たときの画像を計算で求め、計算されたこの画像を用いて添加物の分散状態を検査するゴム組成物の検査方法が知られていて（例えば、特許文献１参照）、この方法はＸ線ＣＴ法と呼ばれ、また、計算で求められた画像はＣＴ断層画像と呼ばれる。
【０００３】
このＸ線ＣＴ法によるゴム組成物の検査は、ゴム組成物を破壊したり変成させたりすることなく、分散状態の三次元情報が得られるという、他の非破壊検査方法、例えば、超音波等による方法にない特徴を有する。
【０００４】
しかしながら、Ｘ線ＣＴ法による従来のゴム組成物検査方法は、焦点径が大きなＸ線源を用いて検査するものであり、このようなＸ線源を用いて撮影された透過画像は、十分な分解能がないため、透過画像に基づいて計算されて求められるＣＴ断層画像も自ずと分解能が低いものになってしまい、添加物の粒子径が５μｍ未満であるとそれらの粒子の分散状態を検査することができず、このような添加物を含むゴム組成物の検査に用いることができなかった。
【特許文献１】特開２００１−１１７３５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、添加物の粒子径が５μｍ未満のものであっても、その粒子の分布状態を検査することのできる、Ｘ線ＣＴ法によるゴム組成物の検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）本発明は、ゴムと添加剤とを含むゴム組成物をX線で照射して得られたＣＴ断層画像により、このゴム組成物における前記添加物の分散状態を検査するゴム組成物の検査方法において、
焦点径が１μｍ以下のX線源を用いて前記ＣＴ断層画像を得ることを特徴とするゴム組成物の検査方法である。
【０００７】
（２）本発明は、（１）において、最大径が５μｍ未満の粒子を含む添加物の分散状態を検査するゴム組成物の検査方法である。
【発明の効果】
【０００８】
（１）の発明によれば、焦点径が１μｍm以下のX線源を用いてＣＴ断層画像を得るので、分解能の高いＸ線透過画像を得ることができ、種々の方向からサンプルを撮影し透過画像の数を増やすことにより、これらの透過画像に基づいて算出されるＣＴ断層画像も、Ｘ線透過画像の分解能に応じた高解像度のものとすることができ、したがって、ゴム組成物中の粒子径が５μｍ未満の添加物の分散状態も検査することができる。
【０００９】
（２）の発明によれば、最大径が５μｍ未満の粒子を含む添加物の分散状態を検査するので、好適に（１）の発明を適用することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明の実施形態について、図に基づいて説明する。図１は、本実施形態のゴム組成物の検査方法の概要を説明するための、ＣＴ検査装置の構成図である。ＣＴ検査装置１０は、サンプルＳに照射するＸ線を発生させるＸ線発生装置１、サンプルＳを載置するサンプル台３、サンプル台３を回転させるテーブル回転機構４、サンプルＳを透過したＸ線の強さの二次元的分布を検知する面状Ｘ線センサ５、および、面状Ｘ線センサ５が検出したＸ線強さの分布情報をメモリに格納するとともにこの情報をもとにＣＴ断層画像情報を算出するコンピュータ６とを具えて構成される。
【００１１】
コンピュータ６は、Ｘ線発生装置１、テーブル回転機構４、および、面状Ｘ線センサ５のそれぞれに、所定の作動を開始させ、もしくは停止させる指令を出力するよう構成されていて、コンピュータ６ははこのように、ＣＴ検査装置１０の全体を制御する機能をも具える。また、図中、２は、Ｘ線源の焦点、７はＣＴ断層画像を検査するためのモニタ、８は、ＣＴ断層画像を印刷するプリンタである。
【００１２】
このような装置を用いて、ＣＴ断層画像を得る手順は次の通りである。まず、サンプルＳを載置するサンプル台３の回転位置を初期状態にし、サンプルＳにＸ線を照射する。このとき、面状Ｘ線センサ５には、サンプルＳを通過したＸ線の透過画像が得られる。そして、この画像情報を、Ｘ線の照射と同期して、コンピュータ６のメモリに取り込む。続いて、サンプル台３を所定角度回転し、同様にして、サンプルＳにＸ線を照射、得られた透過画像をコンピュータ６のメモリに取り込む。このようにして、サンプルＳを所定角度ずつ回転して得られたｎ個の透過画像情報をコンピュータ６に取り込む。
【００１３】
ここで、Ｘ線の照射タイミング、サンプルの回転タイミング、および、透過画像の取り込みタイミングは、コンピュータ６から、Ｘ線発生装置１、テーブル回転機構４、および、面状Ｘ線センサ５への指令によって司られる。なお、面状Ｘ線センサ５はＸ線によって蛍光を発する蛍光体センサを用いるのがよい。
【００１４】
そして、コンピュータ６は、ｎ個の透過画像情報から、サンプル中のＸ線透過度の三次元分布情報を作成しこれをそのメモリに保存する。そして、観察したい所望の断面をコンピュータ６に入力することにより、コンピュータ６は、メモリから前記Ｘ線透過度三次元分布情報呼び出して、その所望断面におけるＣＴ断層画像を計算し、これをモニタ７に表示したり、プリンタ８に印刷出力したりするよう構成される。ここで、サンプル中の添加物は、周囲のゴムに対比して透過度が低いので、ＣＴ断層画像の情報を、各断層における添加物の分散状態を示すものとして解釈することにより、添加物の分散状態を検査する、ゴム組成物の非破壊検査に用いることができ、これが本発明の検査原理ある。
【００１５】
ここで、Ｘ線源の焦点２の径は、１μｍ以下であり、このような焦点径を有するＸ線発生装置１を用いることにより、解像度の高い透過画像をえることができ、透過画像の解像度が高ければ、透過画像の数を増やすことにより、透過画像の解像度に応じた解像度のＣＴ断層画像を得ることができ、このことにより、５μｍ未満の粒子でもその分散状態を検査することができる。
【実施例】
【００１６】
上述の方法により得たＣＴ断層画像の例を、実施例１および実施例２として、図２および図３にそれぞれ示す。実施例１および実施例２は、ガスホースの最内側のゴム層から切り取ったサンプルのものであり、図中、１ｍｍのスケールで示した円形部分が撮像範囲であり、その中で、白い部分が充填剤の分散している部分に対応する。１ｍｍのスケールから分かるように、白い点で表わされる充填剤のそれぞれの粒子は、大きいもので２０μｍ程度であり、一方、小さいものは、５μｍ未満のものも目視で確認することができ、本発明のゴム組成物の検査方法によって、５μｍ未満の粒子も検出できることがわかる。
【産業上の利用可能性】
【００１７】
この発明は、ゴム組成物中の添加物や空隙部分などの分布を、非破壊で分析・検査するのに用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の概要を説明するための、ＣＴ検査装置の構成図である。
【図２】実施例１のＣＴ断層画像である。
【図３】実施例２のＣＴ断層画像である。
【符号の説明】
【００１９】
１    Ｘ線発生装置
２    Ｘ線源の焦点
３    サンプル台
４    テーブル回転機構
５    面状Ｘ線センサ
６    コンピュータ
７    モニタ
８    プリンタ
１０    ＣＴ検査装置
Ｓ    サンプル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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