(57)【要約】【課題】正確且つ迅速な印刷物の真偽鑑定方法を提供する。【解決手段】Ｘ線検査装置１のＸ線発生器２により０．１〜２ｋｅＶ程度の軟Ｘ線を発生させて、試料台３上の紙幣に当該軟Ｘ線を照射し、フラットパネルＸ線センサ等を用いたＸ線検出器４により紙幣１０の表裏両面のインキ印刷部と透かし部とを同一のＸ線透視像に同時に撮像し、コンピュータ５により当該Ｘ線透視像とテンプレートとを照合することにより、紙幣１０の真偽鑑定を行い、当該鑑定結果と紙幣１０のＸ線透視画像をモニタ６に表示する。【選択図】図１
2005085163.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表面及び／又は裏面が印刷された印刷物に対してＸ線を照射して、前記印刷物のＸ線透視像を撮像し、前記Ｘ線透視像に基づいて前記印刷物の真偽を鑑定する印刷物の真偽鑑定方法。
【請求項２】
前記印刷物は、透かし部が形成されている請求項１記載の印刷物の真偽鑑定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、紙幣、金券類又は有価証券類等の印刷物の真偽の鑑定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在の紙幣には、偽造や改竄を防止するために、磁性インキ印刷部や透かし部（透かし模様、識別マーク）等が設けられている。
【０００３】
このような紙幣の真偽鑑定方法として、紙幣の裏面又は表面の全面に対して発光ダイオードの光源により光を当て、当該紙幣の表面又は裏面のインキ印刷部全体を把握すると共に、透かし部の位置及び形を確認して、これらの鑑定要素をマスタープレートと照合することにより紙幣の真偽鑑定を行う方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００１−３２５６３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述の真偽鑑定方法により、紙幣の表面及び裏面の両面のインキ印刷部に基づいて真偽鑑定を行う場合には、表面又は裏面の一方の面の鑑定が終了した後に、当該紙幣を裏返すと共に適切なマスタープレートに交換する必要があり、その交換作業に手間と時間を要し、迅速な真偽鑑定の妨げとなる。
【０００５】
これに対し、上述の真偽鑑定方法により、紙幣の表面又は裏面の一方の面のみに基づいて真偽鑑定をすると、少ない鑑定要素に基づいて紙幣を真偽鑑定することとなるため、必然的に真偽鑑定の精度が劣るものとなり、正確な真偽鑑定を達成することは出来ない。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、紙幣、金券類又は有価証券類等の印刷物の真偽の鑑定方法に関し、特に、正確且つ迅速に印刷物の真偽を鑑定することが可能な印刷物の真偽鑑定方法を提供することを目的とする。
【０００７】
上記目的を達成するために本発明によれば、表面及び／又は裏面が印刷された印刷物に対してＸ線を照射して、前記印刷物のＸ線透視像を撮像し、前記Ｘ線透視像に基づいて前記印刷物の真偽を鑑定する印刷物の真偽鑑定方法が提供される。
【０００８】
上記発明においては特に限定されないが、前記印刷物は、透かし部が形成されていることが好ましい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、Ｘ線透過法を用いて印刷物のＸ線透視像を撮像することにより、当該印刷物の表裏両面に印刷された印刷部を同一のＸ線透視像に同時に撮像することが出来るので、印刷物の表面の印刷部と、当該印刷物の裏面の印刷部とを同時に真偽鑑定することが可能となり、正確且つ迅速な印刷物の真偽鑑定が可能となる。
【００１０】
また、印刷物の表裏両面の印刷部が同一のＸ線透視像に撮像されることにより、当該表裏面の印刷部同士の相対的位置関係をも鑑定要素に加えることが出来るので、より正確な印刷物の真偽鑑定を行うことが可能となる。
【００１１】
さらに、印刷物に透かし部が形成されている場合には、Ｘ線透過法により、表裏両面の印刷部に加えて当該透かし部をも同一のＸ線透視像に撮像することが可能になると共に、当該透かし部と表裏両面の印刷部との相対的位置関係をも鑑定要素に加えることが出来るので、印刷物のより正確且つ迅速な真偽鑑定を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１３】
図１は本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法に用いられるＸ線検査装置の全体システムの概略構成図、図２（Ａ）は本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法の被検物である千円紙幣の全体図、図２（Ｂ）は図２（Ａ）のIIB部の要部Ｘ線透視像（写真）、図２（Ｃ）は図２（Ａ）のIIC部の要部Ｘ線透視像（写真）、図３は本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法に用いられるテンプレートであり、図３（Ａ）は図２（Ｂ）に相当する部分、図３（Ｂ）は図２（Ｃ）に相当する部分である。なお、本実施形態では、図２（Ａ）に示されている面を紙幣１０の表面と称し、その反対側の面を紙幣１０の裏面と称する。
【００１４】
先ず、本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法に用いられるＸ線検査装置１の全体構成について説明すると、図１に示すように、試料台３に載置された紙幣１０に対してＸ線を照射するＸ線発生器２と、紙幣１０をＸ線透視したＸ線透視像を撮像するＸ線検出器４と、当該撮像されたＸ線透視像に基づいて紙幣１０の真偽鑑定を行うコンピュータ５と、紙幣１０のＸ線透視画像等を表示するモニタ６と、を備えており、Ｘ線透過法を用いて、図２（Ａ）に示すような紙幣１０の真偽を鑑定することが可能となっている。
【００１５】
以下に、このＸ線検査装置１の詳細な構成と共に、本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法について説明する。
【００１６】
本実施形態に係る真偽鑑定方法では、Ｘ線検査装置１の試料台３の上の所定の位置に被検物である紙幣１０を載置した後に、先ず、Ｘ線発生器２に管電圧０．１〜３０ｋＶを印加してＸ線を発生させ、当該Ｘ線を紙幣１０に対して照射する。このＸ線発生器２により発生されるＸ線としては、０．１〜２ｋｅＶ程度の軟Ｘ線が好ましい。当該Ｘ線発生器２のＸ線管焦点寸法としては、マイクロ・フォーカス（μｍ）やナノ・フォーカス（ｎｍ）級の超高解像度用のものは必要なく、０．１〜１．０ｍｍ程度のミリ・フォーカス級が具備されていれば足りる。
【００１７】
本実施形態に係る真偽鑑定方法では、このようなエネルギーが低く透過性の弱い軟Ｘ線を照射することにより、紙幣のような紙等に印刷された極めて薄い磁性インキ印刷部のＸ線透視像を鮮明に撮像することが可能となっている。
【００１８】
これに対し、例えば、２〜２０ｋｅＶ程度の典型的なＸ線を照射した場合には、Ｘ線が薄い磁性インキ印刷部をも透過してしまい、真偽鑑定に際して十分に鮮明なＸ線透視像を撮像することが出来ない。
【００１９】
また、特に図示しないが、本実施形態でＸ線検査装置１では、Ｘ線発生器２と、紙幣１０を載置する試料台３との間に、例えば、厚さ０．２ｍｍ程度のアルミニウム箔を介在させて、Ｘ線発生器２から照射されるＸ線に対してフィルタリングを行い、連続Ｘ線スペクトルの中でも物質透過能力の比較的強い短波長成分の照射を抑制し、薄い磁性インキ印刷部のより鮮明なＸ線透視像を撮像可能にしている。
【００２０】
次に、上記のようにＸ線発生器２から照射されたＸ線が、試料台３上に載置された紙幣１０を透過し、そのＸ線透視像をＸ線検出器４が検出して、紙幣１０のＸ線透視像を撮像する。
【００２１】
本実施形態で用いられるＸ線検査装置１のＸ線検出器４は、例えば、沃化セシウム（ＣｓＩ）やカドミウム・テルライド（ＣｄＴｅ）等のＸ線を可視光に変換するシンチレータの下に、ＭＯＳやフォトダイオード等の光電変換素子を二次元に多数配列させたフラットパネルＸ線センサであり、１２ｂｉｔｓ（４０９６階調）の高い階調表現力（ダイナミック・レンジ）でデジタルＸ線透視画像を撮像することが可能となっている。
【００２２】
本実施形態に係る真偽鑑定方法では、紙幣のような薄い紙等を撮像するため、エネルギーの絶対値が低いＸ線を検出する必要がある上に、さらに、紙幣１０のインキ印刷部や透かし部のＸ線吸収により生じた透過Ｘ線の微弱な差異をも検出する必要があるが、上記のようなフラットパネルＸ線センサをＸ線検出器４として用いることにより、当該フラットパネルＸ線センサの細かな階調特性により、低エネルギーの透過Ｘ線における微弱な差異をも精度良く検出することが可能となっている。
【００２３】
因みに、従来から利用されているＸ線Ｉ．Ｉ．管（Ｘ線イメージインテンシファイア）を用いた場合には、８ｂｉｔｓ（２５６階調）程度の低階調のアナログＸ線透視画像しか得られないため、紙幣１０のＸ線透視画像において生じた微弱な差異を十分に検出することが出来ず、本実施形態に係る真偽鑑定方法に適用可能なＸ線透視画像を撮像することが出来ない。
【００２４】
本実施形態に係る真偽鑑定方法に用いられるＸ線検査装置１では、これらＸ線発生器２、試料台３、及び、Ｘ線検出器４が、被検物１０のＸ線透視像の幾何学的拡大率Ｍが１０倍程度になるように配置されている。この幾何学的拡大率は、図１に示すように、Ｘ線発生器２からＸ線検出器４の検出面までのＦＤＤ距離と、Ｘ線発生器２から被検物１０までのＦＯＤ距離の比により規定される（Ｍ＝ＦＤＤ／ＦＯＤ）。
【００２５】
このようなＸ線検出器４により紙幣１０が撮像されると、同一のＸ線透視像に当該紙幣１０の表面印刷部１１、裏面印刷部１２、及び、透かし部１３が同時に撮像される。
【００２６】
より具体的に、Ｘ線検出器４により撮像された紙幣１０のＸ線透視像を部分的に説明すると、例えば、図２（Ａ）の紙幣１０のIIB部については、図２（Ｂ）に示すように、紙幣１０の表面に磁性インキ（金属成分含有インキ）により印刷された「千円」及び「日本銀行」の文字等の表面印刷部１１と、当該紙幣１０の裏面に磁性インキにより印刷された丹頂鶴の図形等の裏面印刷部１２とが、同一のＸ線透視像に同時に撮像される。なお、図２（Ｂ）は、Ｘ線を紙幣１０の裏面から照射した場合のＸ線透視像である。
【００２７】
また、例えば、Ｘ線を紙幣１０の表面から照射した場合に、図２（Ａ）の紙幣１０のIIC部については、図２（Ｃ）に示すように、紙幣１０の表面に磁性インキにより印刷された模様等の表面印刷部１１、及び、当該紙幣１０の裏面に磁性インキにより印刷された丹頂鶴の図形等の裏面印刷部１２に加えて、当該紙幣１０の略中央部にすき入れされた文豪夏目漱石の肖像画の透かし部１３が、同一のＸ線透視像に同時に撮像される。
【００２８】
なお、図２（Ｂ）及び図２（Ｃ）は、Ｘ線検出器４により撮像された紙幣１０のＸ線透視像の一部しか示していないが、本実施形態に係る真偽鑑定方法では、Ｘ線発生器２により紙幣１０全体に対して軟Ｘ線を照射し、Ｘ線検出器４により当該紙幣１０全体のＸ線透視像を撮像する。
【００２９】
このように、本実施形態に係る真偽鑑定方法では、Ｘ線透過法を用いて紙幣のＸ線透視像を撮像することにより、当該紙幣の表裏両面に印刷された磁性インキ印刷部と、当該紙幣に形成された透かし部と、を同一のＸ線透視像に同時に撮像することが出来るので、紙幣の表面の印刷部、裏面の印刷部、及び、透かし部を同時に真偽鑑定することが可能となり、正確且つ迅速な紙幣の真偽鑑定が可能となる。
【００３０】
次に、コンピュータ５がＸ線検出器４により撮像された紙幣１０のＸ線透視像に基づいて、当該紙幣１０の真偽鑑定を行う。
【００３１】
本実施形態に係る真偽鑑定方法に用いられるコンピュータ５には、図３（Ａ）及び図３（Ｂ）に示すような、紙幣１０のＸ線透視像に対してパターンマッチング処理を行うためのテンプレート２０が予め記憶されており、Ｘ線検出器４により撮像されたＸ線透視像に対して当該各テンプレート２０を用いてパターンマッチング処理を行い、紙幣１０の真偽鑑定を行う。
【００３２】
このコンピュータ５に予め記憶されたテンプレート２０は、真券千円紙幣の表面印刷部、裏面印刷部及び透かし部の輪郭線が一体で形成されていると共に、当該表面印刷部、裏面印刷部及び透かし部の相対的位置関係が規定されている。
【００３３】
より具体的に、このテンプレート２０について部分的に説明すると、図３（Ａ）は、図２（Ｂ）に示す紙幣１０のIIB部に対応する当該テンプレート２０の部分であり、真券千円紙幣の表面に印刷された「千円」及び「日本銀行」の文字等の表面印刷部に対応する表面図形２１と、当該真券紙幣の裏面に印刷された丹頂鶴の図形などの裏面印刷部に対応する裏面図形２２とが一体で形成されていると共に、当該テンプレート２０において、表面図形２１と裏面図形２２との相対的位置関係が規定されている。
【００３４】
また、図３（Ｂ）は、図２（Ｃ）に示す紙幣１０のIIC部に対応するテンプレート２０の部分であり、真券千円紙幣の表面に印刷された模様等の表面印刷部に対応する表面図形２１、及び、当該真券紙幣の裏面に印刷された丹頂鶴の図形等の裏面印刷部に対応する裏面図形２２に加えて、当該真券紙幣の略中央部にすき入れされた文豪夏目漱石の肖像画の透かし部に対応する透かし図形２３とが一体で形成されていると共に、当該テンプレート２０において、表面図形２１、裏面図形２２及び透かし図形２３との相対的位置関係が規定されている。
【００３５】
なお、図３（Ａ）及び図３（Ｂ）は、コンピュータ５に予め記憶されたテンプレート２０の一部しか示していないが、本実施形態に係る真偽鑑定方法では、真券千円紙幣全体の表面印刷部、裏面印刷部及び透かし部の輪郭線が一体で形成されている。
【００３６】
本実施形態で用いられるＸ線検査装置１のコンピュータ５による具体的な鑑定方法としては、上述のようにＸ線検出器４により撮像されたＸ線透視像に対して、テンプレート２０を照合させてマッチング処理を行い、紙幣１０のＸ線透視像が、テンプレート２０に一致した場合には、当該紙幣１０は真券と鑑定される。これに対して、紙幣１０のＸ線透視像の一部でもテンプレート２０と一致しない場合には、当該紙幣１０は偽造紙幣と鑑定される。
【００３７】
次に、このコンピュータ５による紙幣１０の鑑定結果と共に、紙幣１０のＸ線透視画像がモニタ６に表示される。この際、コンピュータ５により紙幣１０が偽造紙幣と鑑定された場合には、当該モニタ６に表示されるＸ線透視画像に、テンプレート２０との不一致箇所をマーキングして表示しても良い。また、当該モニタ５にＸ線透視画像に対してテンプレートを重畳させて表示し、当該Ｘ線透視画像とテンプレートとの一致性に基づいて鑑定者が目視により紙幣１０の真偽鑑定を行っても良い。
【００３８】
このように、本実施形態に係る真偽鑑定方法では、Ｘ線透過法を用いて、紙幣の表裏両面の磁性インキ印刷物及び透かし部が同一のＸ線透視像に撮像されると共に、真券紙幣の表裏面のインキ印刷部及び透かし部に対応する図形が一体で形成されたテンプレートを用いることにより、当該表裏面のインキ印刷部同士の相対的位置関係や表裏面の磁性インキ印刷部と透かし部との相対的位置関係をも鑑定要素に加えることが出来るので、より正確な紙幣の真偽鑑定を行うことが可能となる。
【００３９】
なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。
【００４０】
上述の実施形態では、紙幣を鑑定対象として説明したが、本発明に係る真偽鑑定方法では特にこれに限定されず、紙幣の他に、例えば、商品券若しくはチケット等の金券類、又は、国債証券、地方債証券、出資証券、株券若しくはトラベラーズチェック等の有価証券等の、所定の文字や図形等が所定の位置にインキで印刷されたり、所定の位置にすき入れ技法等により所定の図形等の透かし部が形成された印刷物を鑑定対象とすることが出来る。
【００４１】
また、上述の実施形態に係る真偽鑑定方法では、被検体を日本国千円紙幣とした場合について説明したが、本発明においては特にこれに限定されず、例えば、日本国の二千円、五千円、一万円紙幣を被検体としても良く、或いは、紙製やプラスティック製の外国紙幣を被検体としても良い。
【００４２】
さらに、上述の実施形態では、紙幣全体を撮像したＸ線透視像に基づいて紙幣の真偽鑑定を行うように説明したが、本発明においては特にこれに限定されず、紙幣の真偽鑑定要素と成り得る紙幣の要部を任意に設定し、当該要部のみのＸ線透視像に基づいて真偽鑑定を行っても良く、これにより、効率的に紙幣の真偽鑑定を行うことが可能となる。
【００４３】
また、上述の実施形態では、真券紙幣の表裏面の印刷部及び透かし部の輪郭線に対して照合可能なようなテンプレートを用いるように説明したが、本発明においては特にこれに限定されず、真偽鑑定に用いられるテンプレートに、真券紙幣の表裏面の印刷部及び透かし部が有する模様等に対応する模様等を形成しても良く、これにより、さらに正確な真偽鑑定を達成することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】図１は、本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法に用いられるＸ線検査装置の全体システムの概略構成図である。
【図２】図２（Ａ）は、本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法の被検物である千円紙幣の全体図であり、図２（Ｂ）は、図２（Ａ）のIIB部の要部Ｘ線透視像（写真）であり、図２（Ｃ）は、図２（Ａ）のIIC部の要部Ｘ線透視像（写真）である。
【図３】図３は、本発明の実施形態に係る真偽鑑定方法に用いられるテンプレートであり、図３（Ａ）は、図２（Ｂ）に相当する部分であり、図３（Ｂ）は、図２（Ｃ）に相当する部分である。
【符号の説明】
【００４５】
１…Ｘ線検査装置
２…Ｘ線発生器
３…試料台
４…Ｘ線検出器
５…コンピュータ
６…モニタ
１０…紙幣
１１…表面印刷部
１２…裏面印刷部
１３…透かし部
２０…テンプレート
２１…表面図形
２２…裏面図形
２３…透かし図形
【図１】
2005085163.tif 000003
【図２】
2005085163.tif 000004
【図３】
2005085163.tif 000005