(57)【要約】【課題】  校正用の基準体のデータの計測精度を向上することが可能となって、内部品質の計測精度を向上し得る内部品質計測装置を提供する。【解決手段】  被計測物Ｍを載置部７１に載置した状態で計測箇所を経由して搬送し且つ載置部７１が上下方向に光が通過可能に構成された搬送手段４が設けられ、校正用の基準体４９を計測箇所に位置させる状態と計測箇所から退避した退避箇所に位置させる状態とに切り換え自在な基準体位置変更手段４８が設けられ、計測箇所の下方に受光部Ｉを備えた受光手段２が、計測箇所に位置されて投光手段１から光が投射された基準体４９からの光を載置部７１を通して受光部Ｉにて受光して、その受光した光を分光して基準体４９のデータを計測するように構成され、制御手段３が、被計測物のデータと基準体のデータとに基づいて、被計測物Ｍの内部品質情報を求めるように構成されている。【選択図】        図３
2005106526.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被計測物を載置部に載置した状態で計測箇所を経由して搬送し且つ前記載置部が上下方向に光が通過可能に構成された搬送手段と、
前記計測箇所に位置する前記被計測物に光を投射する投光手段と、
前記投光手段から光が投射された前記被計測物からの光を前記載置部を通して受光する受光部を前記計測箇所の下方に備えて、その受光部にて受光された光を分光して前記被計測物のデータを計測する受光手段と、
その被計測物のデータに基づいて前記被計測物の内部品質情報を求める制御手段とが設けられた内部品質計測装置であって、
校正用の基準体を前記計測箇所に位置させる状態と前記計測箇所から退避した退避箇所に位置させる状態とに切り換え自在な基準体位置変更手段が設けられ、
前記受光手段が、前記計測箇所に位置されて前記投光手段から光が投射された前記基準体からの光を前記載置部を通して前記受光部にて受光して、その受光した光を分光して前記基準体のデータを計測するように構成され、
前記制御手段が、前記被計測物のデータと前記基準体のデータとに基づいて、前記被計測物の内部品質情報を求めるように構成されている内部品質計測装置。
【請求項２】
前記投光手段が、前記計測箇所の横側方から光を投射するように構成され、
前記投光手段における前記計測箇所に対する光の投射位置を上下方向に変更調節する上下調節手段が設けられている請求項１記載の内部品質計測装置。
【請求項３】
前記制御手段が、前記基準体が前記計測箇所に位置する状態において、前記投射位置を校正用の設定位置に調節すべく前記上下調節手段を制御するように構成されている請求項２記載の内部品質計測装置。
【請求項４】
前記投光手段が、前記計測箇所における前記搬送手段の搬送方向に交差する方向での両横側方から光を投射するように構成され、
前記基準体位置変更手段が、前記基準体を上下方向に移動させて、前記基準体を前記計測箇所に位置させる状態と前記計測箇所の上方の退避箇所に位置させる状態とに切り換わるように構成されている請求項２又は３記載の内部品質計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被計測物を載置部に載置した状態で計測箇所を経由して搬送し且つ前記載置部が上下方向に光が通過可能に構成された搬送手段と、
前記計測箇所に位置する前記被計測物に光を投射する投光手段と、
前記投光手段から光が投射された前記被計測物からの光を前記載置部を通して受光する受光部を前記計測箇所の下方に備えて、その受光部にて受光された光を分光して前記被計測物のデータを計測する受光手段と、
その被計測物のデータに基づいて前記被計測物の内部品質情報を求める制御手段とが設けられた内部品質計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
かかる内部品質計測装置は、例えば選果設備等に備えられて、被計測物としての果物等の農産物の糖度、酸度、食味、内部の密度等の内部品質情報を計測するために使用されるものである。
このような内部品質計測装置は、搬送手段にて、被計測物を上下方向に光が通過可能に構成された載置部に載置した状態で計測箇所を経由して搬送し、投光手段にて、計測箇所に位置する被計測物に光を投射し、計測箇所の下方に備えられた受光部にて、被計測物からの例えば透過光を載置部を通して受光し、受光手段にて、受光部により受光された光を分光して被計測物のデータを計測し、制御手段にて、受光手段により計測された被計測物のデータに基づいて被計測物の内部品質情報を求めるものであり、例えば、特許文献１に開示されている。
【０００３】
前記特許文献１には開示されていないが、このような内部品質計測装置において、内部品質情報を精度良く求めるために、前記受光手段にて校正用の基準体のデータを計測して、その基準体のデータに基づいて内部品質計測装置を校正することが行われている。つまり、投光手段にて前記基準体に光を投射し、受光部にて基準体からの光を受光し、受光手段にて、受光部により受光された光を分光して基準体のデータを計測し、制御手段にて、前記被計測物のデータと前記基準体のデータとに基づいて、被計測物の内部品質情報を求めることになる。
【０００４】
ちなみに、前記基準体として、例えば、投光手段から投射される光を反射又は透過させて所定の率で減衰させる、所謂リファレンスフィルターがある。前記基準体として、このようなリファレンスフィルターを用いる場合、前記被計測物のデータ及び前記基準体のデータとして、夫々、所定の波長における受光量に対応するデータを計測し、それら被計測物のデータ及び基準体のデータに基づいて吸光度を求め、その吸光度に基づいて内部品質情報を求めることになり、投光手段の投射光量の変化をキャンセルすることが可能になる。
【０００５】
前記基準体のデータを求める技術として、従来、例えば特許文献２に以下のような技術が開示されている。
即ち、基準体を計測箇所の上方に固定的に設置し、横方向に互いに対向する状態で間隔を隔てて並ぶ投光手段及び受光手段を計測箇所を挟む位置と基準体を挟む位置とに一体的に上下方向に移動させる投受光位置上下調節手段を設けて、被計測物のデータを計測するときは、投受光位置上下調節手段により、投光手段及び受光手段を計測箇所を挟む位置に位置させ、基準体のデータを計測するときは、投受光位置上下調節手段により、投光手段及び受光手段を基準体を挟む位置に位置させるようになっていた。
【０００６】
そして、前記特許文献１の内部品質計測装置に前記特許文献２に開示されている前記基準体のデータを計測する技術を採用して、以下のように構成することが考えられる。
即ち、計測箇所の下方に受光部を配置し、計測箇所の上方に基準体を固定的に設置し、計測箇所に位置する被計測物に光を投射する被計測物投射位置と計測箇所の上方の基準体に光を投射する基準体投射位置とに投光手段を上下方向に移動させる上下移動手段を設けて、被計測物のデータを計測するときは、前記上下移動手段により、投光手段を前記被計測物投射位置に位置させ、基準体のデータを計測するときは、前記上下移動手段により、投光手段を前記基準体投射位置に位置させる。
【０００７】
【特許文献１】特開２００３−２１５９８号公報
【特許文献２】特開２００２−１６８７７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述のように、前記計測箇所の上方に前記基準体を固定的に設置し、前記投光手段を前記被計測物投射位置と前記基準体投射位置とに上下方向に移動させる前記上下移動手段を設けた場合、前記基準体のデータを計測するに当たっては、以下に説明するような問題がある。
即ち、基準体のデータを計測するときは、上下移動手段により投光手段を前記基準体投射位置に位置させることになるが、計測箇所の上方の基準体と計測箇所の下方の受光部とは離れて位置しているので、受光部による基準体からの光の受光量が少なくなったり、受光部が基準体からの光以外の外乱光を受光し易くなるので、受光手段により基準体のデータを精度良く計測することができなくなり、延いては、内部品質を精度良く計測することができなくなる。
【０００９】
本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、校正用の基準体のデータの計測精度を向上することが可能となって、内部品質の計測精度を向上し得る内部品質計測装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の内部品質計測装置は、被計測物を載置部に載置した状態で計測箇所を経由して搬送し且つ前記載置部が上下方向に光が通過可能に構成された搬送手段と、
前記計測箇所に位置する前記被計測物に光を投射する投光手段と、
前記投光手段から光が投射された前記被計測物からの光を前記載置部を通して受光する受光部を前記計測箇所の下方に備えて、その受光部にて受光された光を分光して前記被計測物のデータを計測する受光手段と、
その被計測物のデータに基づいて前記被計測物の内部品質情報を求める制御手段とが設けられたものであって、
第１特徴構成は、校正用の基準体を前記計測箇所に位置させる状態と前記計測箇所から退避した退避箇所に位置させる状態とに切り換え自在な基準体位置変更手段が設けられ、
前記受光手段が、前記計測箇所に位置されて前記投光手段から光が投射された前記基準体からの光を前記載置部を通して前記受光部にて受光して、その受光した光を分光して前記基準体のデータを計測するように構成され、
前記制御手段が、前記被計測物のデータと前記基準体のデータとに基づいて、前記被計測物の内部品質情報を求めるように構成されている点を特徴とする。
【００１１】
即ち、基準体位置変更手段により基準体を退避箇所に位置させた状態で、搬送手段にて被計測物を載置部に載置した状態で計測箇所を経由して搬送し、受光部にて、投光手段から光が投射された被計測物からの光を載置部を通して受光し、その受光した光を受光手段にて分光して被計測物のデータを計測する。
又、基準体位置変更手段により基準体を計測箇所に位置させた状態で、受光部にて、投光手段から光が投射された基準体からの光を載置部を通して受光し、その受光された光を受光手段にて分光して基準体のデータを計測する。
そして、制御手段により、前記被計測物のデータと前記基準体のデータとに基づいて、被計測物の内部品質情報を求める。
【００１２】
つまり、計測箇所と受光部との配置形態は、計測箇所に位置する被計測物からの光を光量の減衰を抑制し且つ外乱光の受光を抑制する状態で載置部を通して適正に受光することが可能なように、互いに近づけた配置形態となっているものである。
そして、基準体のデータを計測するときは、基準体を計測箇所に位置させるので、受光部にて、基準体からの光を光量の減衰を抑制し且つ外乱光の受光を抑制する状態で適正に受光することが可能になり、受光手段により基準体のデータを精度良く計測することが可能になるのである。
従って、校正用の基準体のデータの計測精度を向上することが可能となって、内部品質の計測精度を向上し得る内部品質計測装置を提供することができるようになった。
【００１３】
第２特徴構成は、上記第１特徴構成に加えて、
前記投光手段が、前記計測箇所の横側方から光を投射するように構成され、
前記投光手段における前記計測箇所に対する光の投射位置を上下方向に変更調節する上下調節手段が設けられている点を特徴とする。
【００１４】
即ち、上下調節手段により、計測箇所に対する光の投射位置を、計測箇所に位置する被計測物の大きさに応じた適正な位置になるように、計測箇所に位置する被計測物の大きさに応じて上下方向に変更調節することが可能になる。
つまり、計測対象の品種が異なる等により、被計測物に位置する被計測物の大きさが異なる場合があるが、そのように被計測物に位置する被計測物の大きさが異なっても、上下調節手段により、計測箇所に対する光の投射位置を計測箇所に位置する被計測物の大きさに応じた適正な位置（例えば、被計測物の赤道付近）になるように調節することが可能になる。
そして、受光部にて、被計測物の大きさの違いに拘わらず投光手段から適正に光が投射された被計測物からの光を載置部を通して受光して、その受光された光を受光手段にて分光して被計測物のデータを計測するので、被計測物の大きさの違いに拘わらず、精度良く被計測物のデータを計測することが可能になる。
従って、被計測物の大きさに拘わらず、内部品質を精度良く計測することができるようになった。
【００１５】
第３特徴構成は、上記第２特徴構成に加えて、
前記制御手段が、前記基準体が前記計測箇所に位置する状態において、前記投射位置を校正用の設定位置に調節すべく前記上下調節手段を制御するように構成されている点を特徴とする。
【００１６】
即ち、制御手段により、基準体が計測箇所に位置する状態において、前記投射位置を校正用の設定位置に調節すべく上下調節手段が制御される。
つまり、前記校正用の設定位置として、計測箇所に位置する基準体に対して、例えば基準体の中央部に投射する等、基準体に適正に光を投射することができる位置に設定する。
そして、基準体のデータを計測するときは、基準体が計測箇所に位置する状態において、前記投射位置を校正用の設定位置に調節することにより、投光手段にて基準体に適正に光を照射し、受光部にて、投光手段から適正に光が投射された基準体からの光を載置部を通して受光して、その受光された光を受光手段にて分光して基準体のデータを計測するので、精度良く基準体のデータを計測することが可能になる。そして、そのように精度良く計測した基準体のデータに基づいて、制御手段により被計測物の内部品質情報を求めるので、内部品質情報を精度良く計測することができる。
要するに、前記投射位置を被計測物の大きさに適応した位置に調節して、被計測物のデータを計測しながら、基準体のデータを計測するときには、前記投射位置を基準体に適応した位置に調節するので、被計測物の大きさに拘わらず、内部品質を一段と精度良く計測することができるようになった。
【００１７】
第４特徴構成は、上記第２又は第３特徴構成のいずれかに加えて、
前記投光手段が、前記計測箇所における前記搬送手段の搬送方向に交差する方向での両横側方から光を投射するように構成され、
前記基準体位置変更手段が、前記基準体を上下方向に移動させて、前記基準体を前記計測箇所に位置させる状態と前記計測箇所の上方の退避箇所に位置させる状態とに切り換わるように構成されている点を特徴構成とする。
【００１８】
即ち、被計測物のデータを計測するときには、基準体位置変更手段により基準体を計測箇所の上方の退避箇所に位置させた状態で、投光手段により、計測箇所における前記搬送方向に交差する方向での両横側方から光を被計測物に投射し、基準体のデータを計測するときには、基準体位置変更手段により基準体を下方に移動させて計測箇所に位置させて、投光手段により、計測箇所における前記搬送方向に交差する方向での両横側方から光を基準体に投射する。
つまり、投光手段にて、計測箇所に位置する被計測物に対して両横側方から光を投射して、受光部にて被計測物からの光を受光するので、被計測物における広い領域での内部品質が反映された光を受光することが可能になり、被計測物の計測データの精度を一段と向上することが可能になる。
又、投光手段を、計測箇所における前記搬送方向に交差する方向での両横側方から光を投射するように構成することにより、計測箇所の上方に空きスペースが形成されることになり、その空きスペースを利用して、基準体を上下方向に移動させて基準体を計測箇所に位置させる状態と計測箇所の上方の退避箇所に位置させる状態とに切り換わるように、基準体位置変更手段を構成することにより、空きスペースを有効利用して、コンパクト化を図ることが可能になる。
従って、コンパクト化を図りながら、内部品質の計測精度を一段と向上するようにすることができるようになった。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明に係る内部品質計測装置の実施形態を図面に基づいて説明する。
本発明に係る前記内部品質計測装置は、被計測物として例えば蜜柑等の果菜類の品質としての糖度や酸度を計測するものであり、この実施形態においては、光ファイバー受光形式の内部品質計測装置、及び、直接受光形式の内部品質計測装置の２種のものがあり、図１に前記光ファイバー受光形式の内部品質計測装置Ｈ１を示しており、図４に直接受光形式の内部品質計測装置Ｈ２を示している。
【００２０】
図１及び図４に示すように、前記光ファイバー受光形式の内部品質計測装置Ｈ１及び直接受光形式の内部品質計測装置Ｈ２のいずれも、被計測物Ｍを載置部としての受皿７１に載置した状態で計測箇所を経由して搬送し且つ前記受皿７１が上下方向に光が通過可能に構成された搬送手段としての搬送コンベア４と、前記計測箇所に位置する被計測物Ｍに光を投射する投光手段１と、その投光手段１から光が投射された被計測物Ｍからの光を前記受皿７１を通して受光する受光部Ｉを前記計測箇所の下方に備えて、その受光部Ｉにて受光された光を分光して被計測物Ｍのデータを計測する受光手段２と、その被計測物のデータに基づいて被計測物Ｍの内部品質情報を求める制御手段としての制御部３等を備えて構成してある。
【００２１】
図６ないし図９に示すように、前記受光手段２は、前記受光部Ｉとして、被計測物Ｍからの光を受光する形態が異なる複数の受光部Ｉが付け換え可能に構成してあり、本実施形態では、複数種の受光部Ｉとして、被計測物Ｍからの光を光ファイバー７２を通して受光する光ファイバー式受光部Ｉｆと、被計測物Ｍからの光を直接受光する直接受光部Ｉｄとを備えてある。
つまり、前記受光手段２に前記光ファイバー式受光部Ｉｆを取り付けることにより、前記光ファイバー受光形式の内部品質計測装置Ｈ１となり、前記受光手段２に直接受光部Ｉｄを取り付けることにより、前記直接受光形式の内部品質計測装置Ｈ２となる。
【００２２】
先ず、前記光ファイバー受光形式の内部品質計測装置Ｈ１及び直接受光形式の内部品質計測装置Ｈ２に共通する構成について、説明を加える。
【００２３】
図１及び図４に示すように、搬送コンベア４は、無端回動チェーン（図示省略）に設定間隔をあけて被計測物Ｍ載置用の前記受皿７１を取り付けて回動駆動する構成となっており、被計測物Ｍをそれら複数の受皿７１に載置した状態で、計測箇所を順次通過していくように一列で縦列状に搬送するように構成してある。
前記受皿７１の中央には、光通過孔７１ａを形成してあり、受皿７１に載置された被計測物Ｍからの光が前記光通過孔７１ａを通して下方側に通過するように構成してある。
【００２４】
一対の前記投光手段１を、計測箇所の左右両側に振り分けて配置して、計測箇所における前記搬送コンベア４の搬送方向に交差する方向での両横側方から光を投射するように構成してある。
【００２５】
次に、前記投光手段１の構成について詳細に説明する。
図２及び図１０に示すように、この投光手段１は、２個の光源を備えるとともに、その２個の光源５からの光を互いに異なる照射用の光軸にて計測箇所に位置する被計測物に照射するように構成されている。又、各光源５による２本の照射用の光軸が計測箇所に位置する被計測物の表面部又はその近傍にて交差するように構成されている。
すなわち、搬送コンベア４による搬送方向に沿って離間させた２個のハロゲンランプからなる光源５が設けられ、これら２個の光源５の夫々に対応させて次のような光学系が備えられている。つまり、光源５が発光する光を反射させて被計測物Ｍの表面に焦点を合わせるための凹面形状の光反射板６が備えられ、この光反射板６にて集光される光の焦点位置近くに対応するように位置させて、大きめの絞り孔７ａを通過させることで集光された後の光の径方向外方側への広がりを抑制する絞り板７、絞り板７を通過した光を通過させる状態、小さめの絞り孔８ａを通して通過させる状態、及び、光を遮断する状態の夫々に切り換え自在な光量調節板８、集光された光源５からの光を平行光に変更させるコリメータレンズ９、平行光に変化した光を反射して屈曲させる反射板１０、この反射板１０にて反射された光を集光させる集光レンズ１１の夫々が１個の光源５に対する光学系として備えられている。前記各光量調節板８は、電動モータ１２によって一体的に揺動操作され、前記各状態に切り換え自在に構成されている。
そして、この投光手段１は上記したような各部材がケーシング１３に内装されてユニット状に組み立てられた構成となっている。
【００２６】
次に、受光手段２の構成について説明する。
図６ないし図９に示すように、この受光手段２は、被計測物からの光を内部品質評価用の情報として受光する光情報取得手段２Ａと、前記被計測物からの光を前記光情報取得手段２Ａに導く光導入部２Ｂとを備えて構成されていて、前記光ファイバー式受光部Ｉｆ及び前記直接受光部Ｉｄが、前記光導入部２Ｂに付け換え可能に構成されている。
【００２７】
受光手段２の構成について詳述すると、この受光手段２は、図６ないし図９に示すように、被計測物Ｍを透過した光を受け入れて平行光にさせるように集光する上記の受光部Ｉ、平行光に変化した光のうち後述するような計測対象の波長領域（６００ｎｍ〜１０００ｎｍ）の範囲の光だけを反射し、それ以外の波長の光をそのまま通過させるバンドパスミラー１５、バンドパスミラー１５により反射された計測対象光を集光させる集光レンズ１６、集光レンズ１６を通過した光をそのまま通過させる開放状態と、前記計測対象光の通過を阻止する遮蔽状態とに切り換え自在なシャッター機構１７、開放状態のシャッター機構１７を通過した光が入射されると、その光を分光して前記分光スペクトルデータを計測する分光器１８、バンドパスミラー１５をそのまま直進状態で通過した光の光量を検出する光量検出センサ１９等を備えて構成されている。尚、図中、Ｅは波長校正用のフィルターの切り換えを行うフィルター切り換え機構である。
【００２８】
前記分光器１８は、図１１に示すように、受光位置である入光口２０から入射した計測対象光を反射する反射鏡２１と、反射された計測対象光を複数の波長の光に分光する凹面回折格子２２と、凹面回折格子２２によって分光された計測対象光における各波長毎の光量を検出することにより分光スペクトルデータを計測する受光センサ２３とが、外部からの光を遮光する遮光性材料からなる暗箱２４内に配置される構成となっている。前記受光センサ２３は、凹面回折格子２２にて分光反射された光を同時に各波長毎に受光するとともに波長毎の信号に変換して出力する、１０２４ビットの電荷蓄積型のＣＣＤラインセンサにて構成されている。このラインセンサは、詳述はしないが、各単位画素毎に光量を電気信号（電荷）に変換する光電変換部と、その光電変換部にて得られた電荷を蓄積する電荷蓄積部、及び、その蓄積電荷を外部に出力させるための駆動回路等を備えている。尚、電荷蓄積時間は、外部から駆動回路を介して変更させることができるようになっている。
【００２９】
又、前記シャッター機構１７は、図１１、図１２に示すように、放射状に複数のスリット２５が形成された円板１７Ａを、パルスモータ１７Ｂによって縦軸芯周りで回転操作される状態で備えて構成され、前記暗箱２４の入光口２０には前記各スリット２５が上下に重なると光を通過させる開放状態となり、スリット２５の位置がずれると光を遮断する遮断状態となるように、スリット２５とほぼ同じ形状の透過孔２７が形成されており、光の漏洩がないように暗箱の入光口２０に対して円板１７Ａを密接状態で摺動する状態で配備して構成されている。すなわち、このシャッター機構１７は凹面回折格子２２に対する入光口２０に近接する状態で設けられている。
【００３０】
従って、図６ないし図９に示すように、上記分光器１８により前記光情報取得手段２Ａが構成され、前記受光部Ｉにて受け入れられた被計測物Ｍからの光を前記分光器１８に導くための各装置、つまり、バンドパスミラー１５、集光レンズ１６、シャッター機構１７、フィルター切り換え機構Ｅ、及び、それらを支持するケーシング２８等により前記光導入部２Ｂが構成されている。
尚、詳述はしないが、受光手段２には、ペルチェ素子等を用いた温度調節装置が備えられ、前記受光センサ２３が設けられる箇所の雰囲気温度が設定温度に維持されるように温度管理される構成となっている。
【００３１】
そして、図１及び図４に示すように、前記受光手段２は、前記受光部Ｉを除いた上記したような各部材が投光手段１と同様にして、ケーシング２８に内装されてユニット状に組み立てられた構成となっており、前記光ファイバー式受光部Ｉｆ及び直接受光部Ｉｄ等の複数種の形態の受光部Ｉは、前記ケーシング２８に対して付け換え可能に構成されることにより、光導入部２Ｂに付け換え可能に構成されている。
【００３２】
以下、前記複数種の形態の受光部Ｉを前記ケーシング２８に付け換え可能なようにするための構成について説明を加える。
図６ないし図９に示すように、前記ケーシング２８における前記光導入部２Ｂに被計測物Ｍからの光を入射させるべき位置に円状の光入射口２８ｗが形成されると共に、その光入射口２８ｗの内周面に雌ネジ部２８ｓが形成され、円孔を備え且つその円孔の内面に段状の支持部７４ａを備えた支持部材７４が、その開口部を前記光入射口２８ｗに臨ませた状態で、前記ケーシング２８の内周面に密接させて配設され、前記支持部７４ａ及び前記雌ネジ部２８ｓを用いて、前記複数種の形態の光学的入射手段Ｉが付け換え可能なように構成されている。
【００３３】
そして、図１及び図４に示すように、装置枠体Ｆが、計測箇所における搬送コンベア４の左右両側に相当する箇所を夫々投光用箇所とするように、前記一対の投光手段１に対する一対の取付部を備える状態で設けられている。各取付部は、ユニット状に構成された投光手段１が着脱自在に取付けられる構成となっている。
【００３４】
更に、前記装置枠体Ｆには、一対の投光手段１を一体的に上下方向に位置調節自在な上下位置調節手段としての上下位置調節機構２９、及び、一対の投光手段１の夫々を各別に装置枠体Ｆに対して計測箇所に位置する被計測物に接近並びに離間する方向、すなわち、水平方向であって搬送コンベア４の搬送方向と直交する方向に沿って位置調節自在な水平位置調節機構３０が備えられている。
【００３５】
次に、前記上下位置調節機構２９について説明する。図１、図４及び図１３に示すように、内部品質計測装置Ｈ１，Ｈ２の外周部を囲うように矩形枠状に組み付けられた装置枠体Ｆが備えられ、その装置枠体Ｆの上部側箇所から位置固定状態で４本の固定支持棒３１が垂下される状態で設けられ、これら４本の固定支持棒３１の下端部には支持台３２が取り付けられている。そして、この４本の固定支持棒３１に対して４箇所の摺動支持部３３により上下方向にスライド移動自在に昇降台３４が支持されている。又、装置枠体Ｆの上部側箇所から垂下状態に支持された送りネジ３５が電動モータ３６にて回動自在に設けられ、昇降台３４に備えられた雌ネジ部材３７がこの送りネジ３５に螺合しており、送りネジ３５を電動モータ３６にて回動操作することで昇降台３４が任意の位置に上下移動調節可能な構成となっている。尚、送りネジ３５は手動操作ハンドル３８でも回動自在に構成されている。
【００３６】
次に、水平位置調節機構３０について説明する。
前記昇降台３４には、図１３に示すように、一対の投光手段１の並び方向に沿って延びる２本のガイド棒３９が設けられており、ユニット状に組み付けられた一対の投光手段１の夫々が着脱自在に取付けられる前記一対の取付部としての支持部材４０、４１が各ガイド棒３９にスライド移動自在に支持される構成となっている。前記各ガイド棒３９は長手方向両端側で連結具３９ａにて連結されている。又、前記昇降台３４には、一対の投光手段１の並び方向に沿って延びる２本の送りネジ４２、４３が夫々水平位置調整用電動モータ４４、４５によって回動操作可能に設けられ、各支持部材４０、４１に備えられた雌ネジ部４６、４７が各送りネジ４２、４３に螺合しており、電動モータ４４、４５にて前記各送りネジ４２、４３を各別に正逆回動させることで、前記各支持部材４０、４１が各別に搬送コンベア４の搬送方向と直交する水平方向に沿って位置調節可能な構成となっている。従って、各支持部材４０、４１に夫々各別に取付けられる投光手段１は電動モータ４４、４５にて前記各送りネジ４２、４３を各別に正逆回動させることで前記水平方向、すなわち、計測箇所に対して接近並びに離間する方向での相対位置を変更調節することが可能となる。
【００３７】
従って、上下位置調整用電動モータ３６にて送りネジ３５を回動操作させると昇降台３４が上下移動調節されるが、それに伴って昇降台３４に支持されている一対の投光手段１を一体的に上下移動調節することができ、前記各水平位置調整用電動モータ４４、４５を回動操作させることで一対の投光手段１が各別に搬送コンベア４の搬送方向と直交する水平方向に沿って位置調節することができる。つまり、前記上下位置調節機構２９は、前記投光手段１を上下方向に移動させることにより、投光手段１における前記計測箇所に対する光の投射位置を上下方向に変更調節する構成となっている。
【００３８】
前記各支持部材４０、４１に対する投光手段１の取付けの構成について説明を加えると、図１、図４及び図１４に示すように、前記各支持部材４０、４１の下端部における取付け用の台座部分４０ａ，４１ａには、水平方向に適宜間隔をあけて横向きに突出する複数の位置決め用突起４０ｂ，４１ｂが形成され、ユニット状に設けられた投光手段１に夫々、それらの位置決め用突起４０ｂ，４１ｂに対応する位置決め孔が設けられ、各支持部材４０、４１に対して投光手段１を取付けるときは、図１４に示すように、位置決め用突起４０ｂ，４１ｂを位置決め孔に嵌め合わせて位置決めした状態でその近くの適宜箇所をボルト止めすることで投光手段１を取り付ける構成となっている。
このように投光手段１を各支持部材４０、４１に取り付けた状態では、各投光手段１の光の照射方向がほぼ水平方向となるようになっている。
【００３９】
そして、このように投光手段１をユニット状に構成して各支持部材４０、４１に着脱自在に構成することにより、投光手段１のメンテナンスを行うときには、投光手段１を支持部材４０、４１から取り外して行うことができ、メンテナンス作業が簡略化されることになる。
【００４０】
図１ないし図５に示すように、計測箇所の上方側に位置させて、前記基準体位置変更手段としての基準体昇降用空圧シリンダ４８が、そのシリンダロッド４８ａの先端を下向きにした姿勢で、シリンダチューブの基端にて前記支持台３２に支持される状態で設けられ、前記シリンダロッド４８ａの先端に、校正用の基準体としてのリファレンスフィルター４９が取り付けられている。このリファレンスフィルター４９は、所定の吸光度特性を有する光学フィルターで構成され、具体的には、一対のオパールガラスを備えて構成されている。
【００４１】
そして、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８を伸張させる状態と収縮させる状態とに切り換える制御弁５１（図１７参照）を設けてあり、その制御弁５１にて、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８を伸張させると、図３及び図５に示すように、前記リファレンスフィルター４９を計測箇所に位置させる状態となり、前記制御弁５１にて、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８を収縮させると、図１、図２及び図４に示すように前記リファレンスフィルター４９を前記計測箇所から上方側に退避した退避箇所に位置させる状態となる。
つまり、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８は、前記リファレンスフィルター４９を上下方向に移動させて、リファレンスフィルター４９を計測箇所に位置させる状態と計測箇所の上方の退避箇所に位置させる状態とに切り換わるように構成されている。
【００４２】
搬送コンベア４にて被計測物Ｍを搬送しているときは、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８により前記リファレンスフィルター４９を退避箇所に位置させ、搬送コンベア４を停止させて、被計測物Ｍを載置していない受皿７１が計測箇所に位置するときに、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８により前記リファレンスフィルター４９を計測箇所に位置させるようになっている。
そして、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８の設置高さ及び伸縮量は、下記の条件を満たすように設定してある。
つまり、前記リファレンスフィルター４９を計測箇所に位置させた状態では、リファレンスフィルター４９の下端が、受皿７１の移動に障害とならない状態で、受皿７１の上面に極力近接し、且つ、前記リファレンスフィルター４９を退避箇所に位置させた状態では、リファレンスフィルター４９の下端が計測対象の被計測物のうち最も大きい被計測物よりも上に位置する条件である。
【００４３】
尚、詳述はしないが、この内部品質計測装置Ｈ１の外周部は、被計測物の搬送に伴う通過箇所を除いて装置枠体Ｆに備えられた壁体によって囲われて外部から光が入り込まないようになっている。
【００４４】
次に、前記光ファイバー式受光部Ｉｆ及び前記直接受光部Ｉｄについて説明を加える。
図６及び図７に示すように、前記光ファイバー式受光部Ｉｆは、間接受光用集光レンズ７６、円筒状のスリーブ７７、鍔部７８ｆを備えると共にその鍔部７８ｆの側周面に前記ケーシング２８の前記雌ネジ部２８ｓに螺合可能な雄ネジ部７８ｓを備えた円筒状のファイバー支持筒７８、そのファイバー支持筒７８に光出射側端部が挿通される光ファイバー７２、及び、前記ファイバー支持筒７８の周壁に形成されたネジ孔７８ｎに螺挿されて前記ファイバー支持筒７８に挿通された前記光ファイバー７２を押圧して固定する押さえネジ７９等を備えて構成されている。
【００４５】
そして、前記間接受光用集光レンズ７６を前記支持部７４ａに嵌め込み支持させ、その間接受光用集光レンズ７６に前記スリーブ７７を当て付けた状態で、前記ファイバー支持筒７８を前記光入射口２８ｗに螺合することにより、前記光ファイバー式受光部Ｉｆが前記光導入部２Ｂに着脱自在な状態で取り付けられるように構成されている。
【００４６】
そして、図７において一点鎖線にて示すように、前記間接受光用集光レンズ７６の焦点位置が前記光ファイバー７２の光出射端面又はその近傍に位置するように構成されて、光ファイバー７２を通して受け入れられる被計測物Ｍからの光が前記間接受光用集光レンズ７２により平行光になるように集光されて、前記光導入部２Ｂに入射する、具体的には、前記バンドパスミラー１５に対して入射するように構成されている。
つまり、光ファイバー式受光部Ｉｆが、焦点位置が光ファイバー７２の光出射端面又はその近傍に位置する状態で被計測物Ｍからの光を光ファイバー７２を通して受け入れるための間接受光用集光レンズ７６が装着されるように構成されている。
【００４７】
図１に示すように、上述のように光ファイバー式受光部Ｉｆを取り付けた受光手段２が、前記搬送コンベア４の下方に配置され、前記光ファイバー７２の受光側端部が、前記投光手段１から照射されて被計測物を透過して受皿７１の光通過孔７１ａを通して下方側に透過する光を受光するように、計測箇所の下方側に配置されている。
【００４８】
つまり、受光手段２に受光部Ｉとして光ファイバー式受光部Ｉｆを取り付けた光ファイバー受光形式の内部品質計測装置Ｈ１は、計測箇所に位置する被計測物に対して、その左右両側部に位置する各投光手段１から光がほぼ水平方向に対向するように投射され、被計測物内部で散乱して下方側に透過して出て来た光を前記受皿７１を通して光ファイバー７２にて受光して受光手段２に導く構成となっている。
【００４９】
図８及び図９に示すように、前記直接受光部Ｉｄは、出射側の端部の外周面に前記ケーシング２８の前記雌ネジ部２８ｓに螺合可能な雄ネジ部８０ｓを備え且つ受入側の端部の内周面に端から順に雌ネジ部８０ｎ、段状のレンズ支持部８０ａを備えた導光筒８０、前記レンズ支持部８０ａに嵌め込み支持される直接受光用集光レンズ８１、及び、外周面に前記導光筒８０の雌ネジ部８０ｎに螺合可能な雄ネジ部８２ｓを備えたレンズ押さえリング８２を備えて構成されている。
【００５０】
前記導光筒８０の前記出射側の端部の外周面は、端側ほど小径になる状態の３段状に形成され、最も端側の段部が前記支持部材７４に内嵌されるように構成され、中間の段部に前記雌ネジ部８０ｓが形成されている。
又、前記導光筒８０の前記受入側の端部の内周面は、端側ほど大径になる状態の３段状に形成され、最も内側の段部と中間の段部とにより、段状の前記レンズ支持部８０ａが形成され、最も端側の段部に前記雌ネジ部８０ｎが形成されている。
【００５１】
そして、前記直接受光用集光レンズ８１を前記導光筒８０の前記レンズ支持部８０ａに嵌め込み支持させた状態で、前記レンズ押さえリング８２を前記導光筒８０の受入側の端部に螺合することにより、前記直接受光用集光レンズ８１が前記導光筒８０の受入側の端部に支持される。
このように直接受光用集光レンズ８１が受入側の端部に支持された前記導光筒８０を、その出射側の端部を前記支持部材７４に内嵌する状態で前記光入射口２８ｗに螺合することにより、前記直接受光部Ｉｄが前記光導入部２Ｂに着脱自在な状態で取り付けられるように構成されている。
【００５２】
そして、図９において一点鎖線にて示すように、前記直接受光用集光レンズ８１の焦点位置が計測箇所に位置する被計測物Ｍの表面又はその近傍に位置するように構成されて、被計測物Ｍからの光が前記直接受光用集光レンズ８１にて平行光になるように集光されて、前記光導入部２Ｂに入射する、具体的には、前記バンドパスミラー１５に対して入射するように構成されている。
【００５３】
つまり、直接受光部Ｉｄは、焦点位置が被計測物Ｍの表面又はその近傍に位置する状態で被計測物Ｍから光を直接受け入れるための直接受光用集光レンズ８１が装着されるように構成されている。
又、前記導光筒８０の出射側の端部が前記光入射口２８ｗに螺合支持された状態で、その導光筒８０における前記直接受光用集光レンズ８１が配設された箇所が、被計測物Ｍからの光を受け入れる受入部位Ｐ１となり、前記導光筒８０における前記出射側の端部が、前記受入部位Ｐ１に受け入れた光を前記光導入部２Ｂに入射させる入射部位Ｐ２となる。
つまり、前記導光筒８０の長さが、受入部位Ｐ１と入射部位Ｐ２との距離に略相当するので、導光筒８０の長さを異ならせることにより、受入部位Ｐ１と入射部位Ｐ２との距離が異なる複数種の形態の直接受光部Ｉｄを作製することになる。
【００５４】
図４に示すように、上述のように直接受光部Ｉｄを取り付けた受光手段２が、前記導光筒８０の前記受入側の端部を計測箇所の下方側に配置した状態で、前記搬送コンベア４の下方に配置されて、前記投光手段１から照射されて被計測物を透過して受皿７１の光通過孔７１ａを通して下方側に透過する光を直接受光部Ｉｄにて受光するように構成されている。
前記導光筒８０の長さは、前記搬送コンベア４の下方の前記受光手段２を配置可能なスペースに前記受光手段２を配置した状態で、前記直接受光用集光レンズ８１を計測箇所に極力近づけることが可能な長さに設定する。
【００５５】
つまり、受光手段２に受光部Ｉとして直接受光部Ｉｄを取り付けた直接受光形式の内部品質計測装置Ｈ１は、計測箇所に位置する被計測物に対して、その左右両側部に位置する各投光手段１から光がほぼ水平方向に対向するように投射され、被計測物内部で散乱して下方側に透過して出て来た光を前記受皿７１を通して直接受光して受光手段２に導く構成となっている。
又、前記導光筒８０の長さを、前記受光手段２の設置箇所と計測箇所との距離に対応したものにすることにより、前記受光手段２の設置箇所と計測箇所との距離が異なる場合にも対応可能なようになっている。
【００５６】
上述のように受光手段２をユニット状に構成すると共に、被計測物からの光の受光形態が異なる複数の受光部Ｉを付け換え可能に構成することにより、被計測物からの光の受光形態が異なる複数種の内部品質計測装置を容易に構成することができるようになる。
【００５７】
図１５に示すように、前記搬送コンベア４の搬送方向における前記計測箇所よりも上手側の箇所に、被計測物Ｍを検出する通過検出センサ５０が設けられている。
【００５８】
前記制御部３は、マイクロコンピュータを利用して構成してあり、図１７に示すように、通過検出センサ５０、光量検出センサ１９、受光センサ２３の検出情報に基づいて被計測物の内部品質を解析する解析手段１００や、各部の動作を制御する動作制御手段１０１が夫々制御プログラム形式で備えられる構成となっている。つまり、後述するような公知技術である分光分析手法を用いて被計測物Ｍの内部品質を解析する演算処理を実行するとともに、シャッター機構１７、光量調整用モータ１２、上下位置調節用モータ３６、水平位置調節用モータ４４、４５、制御弁５１の動作の管理等の各部の動作を制御する構成となっている。
【００５９】
次に、動作制御手段１０１による制御動作について説明する。
動作制御手段１０１は、被計測物Ｍに対する通常の計測に先立って、投光手段１からの光を被計測物Ｍに代えて前記リファレンスフィルター４９に照射して、そのリファレンスフィルター４９からの透過光を、受光手段２にて分光してその分光した光を受光して得られた分光スペクトルデータを基準分光スペクトルデータ（前記基準体のデータに相当する）として求める基準データ計測モードと、搬送コンベア４により搬送される被計測物Ｍに対して、投光手段１から光を照射して計測分光スペクトルデータ（前記被計測物のデータに相当する）を得て、この計測分光スペクトルデータと前記基準分光スペクトルデータとに基づいて被計測物Ｍの内部品質を解析する通常データ計測モードとに切り換え自在に構成されている。
【００６０】
又、前記制御部３の記憶部（図示省略）には、被計測物Ｍの品種に応じた通常用計測条件、及び、前記基準データ計測モードにおける基準用計測条件を記憶させてある。そして、図１７に示すように、被計測物Ｍの品種の違いに応じて設定位置を人為的に切り換える切換操作具Ｃが設けられ、この切換操作具Ｃの設定情報が制御部３に入力され、入力された被計測物Ｍの品種に対応する通常用計測条件にて、通常データ計測モードが実行される構成となっている。
【００６１】
前記通常用計測条件及び基準用計測条件は、夫々、上下位置調整用電動モータ３６、水平位置調節用電動モータ４４、４５の制御情報から成り、下記のように設定される。
通常用計測条件における上下位置調整用電動モータ３６の制御情報は、投光手段１の上下方向の位置を、計測箇所に位置する被計測物Ｍに対する投光手段１の投射位置が被計測物Ｍの略赤道部分（略中央部分）となるような位置に調整するための制御情報であり、被計測物Ｍの品種に応じて、各品種の被計測物Ｍの大きさに合わせて設定してある。
【００６２】
通常用計測条件における水平位置調節用電動モータ４４、４５の制御情報は、投光手段１の水平方向での位置を、その投光手段１から照射される集束光の焦点位置が計測箇所に位置する被計測物Ｍの略表面と一致するような位置に調整するための制御情報であり、被計測物Ｍの品種に応じて、各品種の被計測物Ｍの大きさに合わせて設定してある。
【００６３】
つまり、投光手段１からの光が、被計測物Ｍの中央部分に照射されるように、投光手段１の上下方向の位置を調整するとともに、投光手段１から照射される光を集束する状態で的確に被計測物Ｍへ入射させるように、投光手段１の水平方向の位置を調整することによって、受光手段２にて設定適正量となる受光量が得られるように構成されているものである。
【００６４】
基準用計測条件における上下位置調整用電動モータ３６の制御情報は、投光手段１の上下方向の位置を、計測箇所に位置するリファレンスフィルター４９に対する投光手段１の投射位置がリファレンスフィルター４９の略中央部分となるような校正用の設定位置に調整するための制御情報である。
【００６５】
基準用計測条件における水平位置調節用電動モータ４４、４５の制御情報は、投光手段１の水平方向での位置を、その投光手段１から照射される集束光の焦点位置が計測箇所に位置するリファレンスフィルター４９の略表面と一致するような位置に調整するための制御情報である。
【００６６】
各計測モードについて詳述すると、前記基準データ計測モードにおいては、搬送コンベア４による被計測物Ｍの搬送を停止させている状態で、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８を伸張状態にすべく前記制御弁５１を作動させて、リファレンスフィルター４９を計測箇所に位置させ、且つ、上下位置調整用電動モータ３６及び水平位置調節用電動モータ４４、４５を基準用計測条件にて作動させる。そして、前記シャッター機構１７を開放状態に切り換えて、投光手段１からの光を被計測物Ｍに代えて前記リファレンスフィルター４９に照射して、そのリファレンスフィルター４９からの透過光を、受光手段２にて分光してその分光した光を受光して得られた分光スペクトルデータを基準分光スペクトルデータとして計測する。
つまり、前記受光手段２が、前記計測箇所に位置されて前記投光手段１から光が投射された前記基準体としてのリファレンスフィルター４９からの光を前記受皿７１を通して前記受光部Ｉにて受光して、その受光した光を分光して前記リファレンスフィルター４９のデータを計測するように構成されている。
【００６７】
そして、前記基準データ計測モードにおいては、受光手段２への光が遮断された無光状態での受光センサ１８の検出値（暗電流データ）も計測される。すなわち、前記受光手段２のシャッター機構１７を遮蔽状態に切り換えて、そのときの受光センサ１８の単位画素毎における検出値を暗電流データとして求めるようにしている。
【００６８】
次に、通常データ計測モードにおける制御動作について説明する。
この通常データ計測モードにおいては、前記基準体昇降用空圧シリンダ４８を収縮状態にすべく前記制御弁５１を作動させて、リファレンスフィルター４９を退避箇所に位置させ、且つ、上下位置調整用電動モータ３６及び水平位置調節用電動モータ４４、４５を被計測物Ｍの品種に応じた通常用計測条件にて作動させる。そして、図１６に示すように、通過検出センサ５０による検出情報に基づいて、被計測物Ｍが前記計測箇所を通過する周期を検出し、その周期に同期させる状態で、分光した光を受光して電荷蓄積動作を設定時間実行する電荷蓄積処理と、蓄積した電荷を送り出す送出処理とを設定周期で繰り返すように、受光センサ２３の動作を制御する。
つまり、各被計測物Ｍが計測箇所を通過すると予測される時間帯において、受光センサ２３が設定時間だけ電荷蓄積処理を実行し、被計測物Ｍが計測箇所に存在しないと予測される各被計測物Ｍ同士の中間位置付近が計測箇所に位置するようなタイミングで蓄積した電荷を送り出す送出処理を実行するように、受光センサ２３の動作を制御する。従って、この装置では、受光センサ２３による電荷蓄積時間は常に一定で動作する構成となっている。尚、１秒間に７個づつ被計測物が通過するような処理能力とした場合には、電荷蓄積処理を実行する設定時間は、約１４０ｍｓｅｃ程度になる。
【００６９】
そして、動作制御手段１０１は、受光センサ２３が前記電荷蓄積処理を行う状態において、遮蔽状態から開放状態に切り換えてその開放状態を開放維持時間Ｔｘが経過する間維持した後に遮蔽状態に戻すように、シャッター機構１７の動作を制御するよう構成され、変更指令情報に基づいて、前記開放維持時間Ｔｘを変更調整するように構成されている。
この開放維持時間Ｔｘは、被計測物の品種の違いに応じて変更させる構成となっている。説明を加えると、例えば、温州蜜柑であれば光が比較的透過しやすいので比較的短い時間（１０ｍｓｅｃ程度）に設定し、伊予柑であれば光が透過し難いので長めの時間（３０ｍｓｅｃ程度）に設定する。
このような品種の違いによる動作条件の設定は、作業員が切換操作具Ｃにて人為的に行う構成となっている。つまり、図１７に示すように、切換操作具Ｃの設定情報が制御部３に入力され、制御部３はその設定情報に従って開放維持時間Ｔｘを変更調整する構成となっている。
【００７０】
又、動作制御手段１０１は、前記光量検出センサ１９にて検出される受光量、すなわち、被計測物の光透過量の実測値の変化に基づいて、被計測物が計測箇所に到達したか否かを検出するようになっており、被計測物が到達したことを検出するとシャッター機構１７を開放状態に切り換え、前記開放維持時間Ｔｘだけ開放状態を維持した後に、シャッター機構１７を遮蔽状態に切り換えて計測処理を終了する構成となっている。
具体的に説明すると、図１８に前記光量検出センサ１９の検出値の時間経過に伴う変化状態を示している。被計測物が到達するまでは投光手段１から投射される光によってほぼ最大値が出力されているが、被計測物Ｍが計測箇所に至ると計測用光が遮られて光量検出センサの検出値（受光量）が減少し始めて検出値が予め設定した設定値以下にまで減少したとき（ｔ１）に、被計測物が計測箇所に到達したものと判断して、その時点から設定時間が経過したとき（ｔ２）に、シャッター機構１７を開放状態に切り換える。そして、前記開放維持時間Ｔｘだけ開放状態を維持した後に、シャッター機構１７を遮蔽状態に切り換えるのである。
【００７１】
尚、このような計測処理を実行しているときに、搬送コンベア４が異常停止したような場合には、投光手段１における光量調節板８を遮断状態に切り換えて移動停止している被計測物に長い間、光源からの強い光が照射されることを防止させるようにしている。
【００７２】
そして、前記解析手段１００は、このようにして得られた各種データに基づいて公知技術である分光分析手法を用いて被計測物Ｍの内部品質を解析する演算処理を実行するように構成されている。
つまり、上記したようにして得られた計測分光スペクトルデータを、前記基準データ計測モードにて求められた基準分光スペクトルデータ、及び、暗電流データを用いて正規化して、分光された各波長毎の吸光度スペクトルデータを得るとともに、その吸光度スペクトルデータの二次微分値を求める。そして、その二次微分値及び予め設定されている検量式により、被計測物Ｍに含まれる糖度に対応する成分量や酸度に対応する成分量を算出する解析演算処理を実行するように構成されている。つまり、前記制御部３の前記解析手段１００が、前記被計測物のデータと前記基準体としてのリファレンスフィルター４９のデータとに基づいて、被計測物の内部品質情報を求めるように構成されている。
【００７３】
吸光度スペクトルデータｄは、基準分光スペクトルデータをＲｄ、計測分光スペクトルデータをＳｄとし、暗電流データをＤａとすると、
【００７４】
〔数１〕
ｄ＝ｌｏｇ[（Ｒｄ−Ｄａ）／（Ｓｄ−Ｄａ）]
【００７５】
という演算式にて求められる。
そして、制御部３は、このようにして得られた吸光度スペクトルデータｄを二次微分した値のうち特定波長の値と、下記の数２に示されるような検量式とを用いて、被計測物Ｍに含まれる糖度や酸度に対応する成分量を算出するための検量値を求めるのである。
【００７６】
〔数２〕
Ｙ＝Ｋ０＋Ｋ１・Ａ（λ１）＋Ｋ２・Ａ（λ２）
【００７７】
但し、
Ｙ  ；成分量に対応する検量値
Ｋ０，Ｋ１，Ｋ２  ；係数
Ａ（λ1 ），Ａ（λ2 ）  ；特定波長λにおける吸光度スペクトルの二次微分値
【００７８】
尚、成分量を算出する成分毎に、特定の検量式、特定の係数Ｋ０，Ｋ１，Ｋ２、及び、波長λ１，λ２等が予め設定されて記憶されており、演算手段１００は、この成分毎に特定の検量式を用いて各成分の検量値（成分量）を算出する構成となっている。
【００７９】
上記したような検量式は、被計測物に対する計測処理に先立って、予め、計測対象である被計測物と同じようなサンプルを実測したデータに基づいて装置毎に個別に設定されることになる。
説明を加えると、前記サンプルとして数十個〜数百個の被計測物を用意して、各サンプルについて前記内部品質計測装置を用いて各波長毎の分光スペクトルデータを得る。更に、前記各サンプルについて、例えば破壊分析等に基づいて被計測物の化学成分を特別な検査装置によって精度よく検出する実成分量の検出処理を実行して、被計測物の実成分量を得る。そして、上記したようにして得られた各サンプル毎の分光スペクトルデータを用いて、前記実成分量の検出結果と対比させながら、重回帰分析の手法を用いて、スペクトルデータと特定の成分についての成分量との関係を示す前記検量式を求めるのである。
【００８０】
〔別実施形態〕
以下、別実施形態を列記する。
（１）前記基準体位置変更手段の具体構成としては、上記の実施形態において例示した基準体昇降用空圧シリンダ４８に限定されるものではない。
例えば、互いに噛み合わせたラック及びピニオンと、そのピニオンを回動駆動する電動モータとにより構成して、前記ラックの先端に前記基準体を取り付けても良い。
あるいは、アームとそのアームを揺動させる電動モータとにより構成して、前記アームの先端に前記基準体を取り付けて、前記アームを電動モータにて揺動させることにより、基準体を前記計測箇所に位置させる状態と前記退避箇所に位置させる状態とに切り換えるように構成しても良い。
【００８１】
前記基準体位置変更手段にて前記基準体を前記計測箇所に位置させる状態と前記退避箇所に位置させる状態とに切り換えるに当たって、その基準体を移動させる方向は、上記実施形態において例示した上下方向に限定されるものではなく、前記投光手段１の配置形態等により決まる空きスペースに応じて、横方向や斜め方向等、種々の方向に設定可能である。
【００８２】
（２）上記実施形態では、一対の投光手段１を計測箇所の左右両側に振り分けて配置して、計測箇所の左右両横側方から光を投射するように構成する場合について例示したが、投光手段１にて計測箇所に光を投射する形態は、種々に変更可能である。
例えば、上記の実施形態のように、被計測物からの透過光を前記受光手段２に受光させるように投光手段１にて計測箇所に光を投射する形態としては、光の投射方向は、横方向以外に、斜め下方向や真下方向でも良い。又、投光手段１の設置台数は、１台でも、３台以上でも良い。
又、前記投光手段１を計測箇所の下側に配置して、被計測物からの反射光を前記受光手段２にて受光するように構成しても良い。
【００８３】
（３）  前記投光手段１における前記計測箇所に対する光の投射位置を上下方向に変更調節する上下調節手段の具体構成としては、上記の実施形態において例示した構成、即ち、投光手段１を上下方向に移動させることにより前記光の投射位置を上下方向に変更調節する構成に限定されるものではない。
例えば、前記投光手段１を、光の投射方向を上下方向に変更調節自在に構成して、光の投射方向を変更調節することにより前記光の投射位置を上下方向に変更調節する構成としても良い。
【００８４】
（４）  上記実施形態では、前記投光手段１における前記計測箇所に対する光の投射位置を上下方向に変更調節する上下調節手段を設ける場合について例示したが、前記上下調節手段を省略して、前記光の投射位置を一定にするように構成しても良い。この場合、前記投光手段１の光の投射方向を下向きにすると、被計測物の大きさ違いに拘わらず、光を極力長い距離にわたって被計測物を透過させるように投射することが可能になるので、好ましい。
【００８５】
（５）  前記校正用の基準体としては、上記の実施形態において例示したリファレンスフィルター４９に限定されるものではない。
例えば、少なくとも２つの既知の波長に吸光度のピークを有する波長校正体（例えば、Ｖ１０フィルター）を用いても良い。
前記校正用の基準体としてこの波長校正体を用いると、受光センサ２３の受光波長の校正を行うことができる。
又、前記基準体位置変更手段を、前記リファレンスフィルター４及び前記波長校正体を含む複数種の基準体を各別に前記計測箇所に位置させる状態と前記退避箇所に位置させる状態とに切り換え自在なように構成しても良い。
【００８６】
（６）  前記搬送手段は、被計測物を前記載置部としてのベルトに載置して搬送する構成としても良い。この場合、前記ベルトにおける被計測物の載置箇所に、光通過孔を形成したり、光が透過可能な透明部を設けることになる。
【００８７】
（７）上記実施形態では、投光手段１の光源としてハロゲンランプを用いたが、これに限らず、水銀灯、Ｎｅ放電管等の各種の光源を用いてもよく、受光手段２における受光センサは、ＣＣＤ型ラインセンサに限らずＭＯＳ型ラインセンサ等の他の検出手段を用いるようにしてもよい。
【００８８】
（８）上記実施形態では、被計測物Ｍの内部品質として、糖度や酸度を例示したが、これに限らず、食味の情報、内部の密度等、それ以外の内部品質を計測してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】光ファイバー受光形式の内部品質計測装置の正面図
【図２】光ファイバー受光形式の内部品質計測装置の要部の正面図
【図３】光ファイバー受光形式の内部品質計測装置の正面図
【図４】直接受光形式の内部品質計測装置の正面図
【図５】直接受光形式の内部品質計測装置の正面図
【図６】光ファイバー式受光部の分解状態での一部切り欠き正面図
【図７】光ファイバー式受光部の一部切り欠き正面図
【図８】直接受光部の分解状態での一部切り欠き正面図
【図９】直接受光部の一部切り欠き正面図
【図１０】投光手段の切り欠き平面図
【図１１】分光器の断面図
【図１２】シャッター機構を示す図
【図１３】上下位置調節機構、水平位置調節機構を示す平面図
【図１４】投光手段の取付構成を示す斜視図
【図１５】概略設置状態を示す平面図
【図１６】計測作動のタイミングチャートを示す図
【図１７】制御ブロック図
【図１８】受光量の変化と計測タイミングを示す
【符号の説明】
【００９０】
１    投光手段
２    受光手段
３    制御手段
４    搬送手段
２９  上下調節手段
４８  基準体位置変更手段
４９  校正用の基準体
７１  載置部
Ｉ    受光部
Ｍ    被計測物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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