(57)【要約】【課題】デファレンシャルプッシュプル方式に用いられるメイントラッキングエラー信号ＭＴＥおよびサブトラッキングエラー信号ＳＴＥが、光ディスクの偏芯などにより飽和することを防止し、安定したトラッキングエラー信号ＴＥを生成することのできる光ディスク装置を提供する。【解決手段】デファレンシャルプッシュプル方式のトラッキングエラー信号生成回路を備えた光ディスク装置において、ＭＴＥおよびＳＴＥのゲインを制御可能なＡＧＣ３５および３６と、ＡＧＣ３５と３６の出力の差信号を増幅ないし減衰させる可変ゲイン減衰器ＡＴＴ３７を設け、ＡＴＴ３７の出力であるＴＥに基づき光ディスクの偏芯量を求め、偏芯量が大きいときはＡＧＣ３５，３６のゲインを下げ、またＡＴＴ３７のゲインは、ＡＧＣ３５，３６のゲインとの積が一定になるように制御する。【選択図】図１
2005085355.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに照射したメインビームと２つのサブビームの反射光をそれぞれ受光し、前記メインビームの受光スポットを４分割して得られたメイントラッキングエラー信号と、前記２つのサブビームの反射光を受光して得られた信号に基づいて得られたサブトラッキングエラー信号との差信号によりトラッキングエラー信号を生成し、光ディスクのトラッキング制御を行う光ディスク装置において、
前記メイントラッキングエラー信号および前記サブトラッキングエラー信号のゲインを制御可能な第１の自動ゲインコントローラおよび第２の自動ゲインコントローラと、
前記第１の自動ゲインコントローラの出力と前記第２の自動ゲインコントローラの出力の差信号を増幅すると共に、そのゲインを制御可能な出力増幅器と、
前記出力増幅器の出力であるトラッキングエラー信号に基づき光ディスクの偏芯量を求める手段と、
当該光ディスクの偏芯量が大きいときはゲインが小さくなるように、偏芯量が小さいときは所定のゲインになるように前記第１および第２のゲインコントローラのゲインを連動して制御する手段、および、前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインの積が一定になるように前記出力増幅器のゲインを制御する手段からなるゲイン制御手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光ディスクの偏芯量を求める手段は、トラッキングエラー信号の横断数を計数するカウント部と、その計数結果から偏芯量を求める偏芯測定部とで構成されていることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記ゲイン制御手段は、前記偏芯量を求める手段により得られた偏芯量がある閾値を超えたときに、予め設定された倍数で前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインを変化させることを特徴とする請求項１または２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記ゲイン制御手段は、前記偏芯量を求める手段により得られた偏芯量がある閾値を超えたときに、前記第１および第２のゲインコントローラのゲインの倍率を算出し、その倍数で前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインを変化させることを特徴とする請求項１または２記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記第１および第２のゲインコントローラの入力信号の最大値を検出する手段を設け、その最大値がある設定された飽和閾値を超えたときに前記偏芯量に応じた倍率で前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインを変化させる構成としたことを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録可能な光ディスクへの情報の記録や再生を行う光ディスク装置に関し、特に、光ディスクのトラッキング制御技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、オーディオ用ＣＤをはじめとして、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤなどがすでに実用化されており、各方面への応用と高性能化への開発が活発に行われている。特に最近では、パーソナルコンピュータの急速な市場拡大に伴い光ディスク装置のパーソナルコンピュータへの内蔵普及率も高くなっている。
【０００３】
光ディスク装置においては、情報の記録または再生を正確に行うためには、光ディスクに照射されるレーザ光が、光ディスクのトラックに正確に追従することが必要となる。この制御は、トラッキングエラー信号を生成し、このトラッキングエラー信号に基づいてトラッキングアクチュエータを制御することによって行われる。
【０００４】
また、光ディスクに照射されるレーザ光が、光ディスクの反射面において適正に焦点を結ぶことが必要であり、そのためには、レーザ光を集光する対物レンズと光ディスクとの距離を制御する手段が重要となる。この制御は、フォーカスエラー信号を生成し、このフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスアクチュエータを制御することによって行われる。
【０００５】
ここで、トラッキングエラー信号とは、光スポットと光ディスクの情報トラックの光ディスク半径方向のずれを示す信号である。また、フォーカスエラー信号とは、光ピックアップに備えられた対物レンズより出射される光ビームスポットと光ディスクの記録面との焦点方向のずれを示す信号である。
【０００６】
光ディスク装置の構成を図７を用いて説明する。
【０００７】
図７において、光ディスク装置は、光ディスク１にレーザ光を照射すると共に光ディスク１で反射された光を受光する光ピックアップ２と、この光ピックアップ２で得た光ディスク１からの反射光を電流に変換し、光ディスク１からのデータ読出し用信号、フォーカスエラー検出用の出力信号、及びトラッキングエラー検出用の出力信号を出力するディテクタ３と、このディテクタ３から出力される出力信号から、トラッキングエラー信号（以下、「ＴＥ信号」と略記することがある）と、フォーカスエラー信号（以下、「ＦＥ信号」と略記することがある）を生成する信号演算部４を有する。
【０００８】
このＴＥ信号とＦＥ信号とは、信号演算部４から、ディジタルサーボプロセッサ（以下、「ＤＳＰ」と略称する）７へ入力される。ＤＳＰ７は、ＴＥ信号を基に、光ピックアップ２が光ディスク１のトラックに追従するよう光ピックアップ２を駆動するトラッキングアクチュエータ６を制御するとともに、光ピックアップ２内に設けられた対物レンズと光ディスク１との間の距離が適正となるように、フォーカスアクチュエータ５を制御する。
【０００９】
ＤＳＰ７の上記の処理は、ＣＰＵ８によって制御されることによって実行される。
【００１０】
ここで、図８と図９を用いて、ディテクタ３から出力される出力信号から、トラッキングエラー信号を生成する手段について説明する。
【００１１】
図８は、デファレンシャルプッシュプル（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｕｓｈ  Ｐｕｌｌ、以下ＤＰＰという）方式によるトラッキングエラー信号生成を行うための説明図、図９は従来のトラッキングエラー信号生成回路例を示している。
【００１２】
図８において、（ａ）は光ディスクに情報が記録されるべく、あるいは記録済みのトラック１１に対してメインビーム１４を照射し、トラック１１の両側のミラー領域１２，１３にそれぞれサブビーム１５，１６を照射する３ビーム方式を示している。これらのメインビーム１４，サブビーム１５，１６の反射光は、光ピックアップ２の対物レンズを介してディテクタ（図示せず）に入射させ、電気信号に変換する。
【００１３】
このとき、メインビーム１４の反射光は図８（ａ）に示すように１つのスポットを４つの領域に分割されたディテクタで受光し、各ディテクタにおける出力信号をＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄとする。サブビーム１５，１６の反射光はそれぞれ１つのディテクタで受光し、その出力信号をＥ，Ｆとする。
【００１４】
これらの信号により、光ピックアップ２がトラッキング方向に静止しているとき、次の式が得られる。
【００１５】
Ａ＋Ｄ＝αｓｉｎ（ωｔ）
Ｂ＋Ｃ＝αｃｏｓ（ωｔ）
Ｅ＝−αｃｏｓ（ωｔ）
Ｆ＝−αｓｉｎ（ωｔ）
ただし、αは定数、ωは光ディスクの角速度、ｔは時間を表す。
【００１６】
メインビーム１４の反射光から得られたＡ＋ＤおよびＢ＋Ｃは、図８（ｂ）に示す波形となる。サブビーム１５，１６の反射光から得られたＥおよびＦは、図８（ｃ）に示す波形となる。
【００１７】
これらの信号を用いて、図９の回路によりトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
【００１８】
図９において、２０はアナログ処理部、３０はデジタル処理部を示している。アナログ処理部２０は、各受光素子からの信号を増幅する増幅器２１〜２４と、ノイズ成分を除去するローパスフィルタ２５〜２８により構成される。
【００１９】
デジタル処理部３０は、前記アナログ部において、増幅処理、フィルタ処理された後の信号ＦとＥおよび（Ａ＋Ｄ）と（Ｂ＋Ｃ）をアナログ信号からデジタル信号に変換するためのＤ／Ａ変換器３１ａ〜３４ａと、前記Ｄ／Ａ変換器３１ａ〜３４ａ後の信号ＦとＥおよび（Ａ＋Ｄ）と（Ｂ＋Ｃ）とのバランスをとるための増幅器３１〜３４と、自動ゲインコントローラ（ＡＧＣ）３５，３６と、ゲイン減衰器（ＡＴＴ）３７と、ノイズ除去のためのローパスフィルタ３８により構成される。
【００２０】
デジタル処理部３０において、増幅器３１の出力と増幅器３２の出力は減算されてサブトラッキングエラー信号ＳＴＥが生成され、ＡＧＣ３５に出力される。増幅器３３の出力と増幅器３４の出力は減算されてメイントラッキングエラー信号ＭＴＥが生成され、ＡＧＣ３６に出力される。２つのＡＧＣ３５と３６の可変ゲインはＭＴＥ信号及び、ＳＴＥ信号の信号振幅が常に一定となるように、共通のメインビームの総和信号であるＡＳ信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）により制御される。なお、各増幅器３１〜３４を構成するチップの特性が相違するため、ＯＦＳＥＴを与えて特性を揃えている。
【００２１】
図１０はＤＰＰ方式によるトラッキングエラー信号を用いた制御の動作を示す説明図で
ある。
【００２２】
光ディスク１のトラックがスピンドル孔に対して偏芯していると、光ピックアップ２のレンズとトラックとの距離が変動し、レンズシフトによるオフセットが生じる。図１０は、レンズシフト量とＦまたは（Ａ＋Ｄ）信号およびＥまたは（Ｂ＋Ｃ）信号のオフセットとの関係を示している。
【００２３】
（Ａ＋Ｄ），（Ｂ＋Ｃ），Ｆ，Ｅの各信号のレンズシフト量に対するオフセット量は、次式のように表すことができる。
【００２４】
ΔＥ＝β×ｘ＋ｒ
ΔＦ＝−β×ｘ＋ｒ
Δ（Ａ＋Ｄ）＝−β×ｘ＋ｒ
Δ（Ｂ＋Ｃ）＝β×ｘ＋ｒ
ただし、βは定数、ｘはレンズシフト量、ｒはオフセット量である。
【００２５】
したがって、メイントラッキングエラー信号ＭＴＥおよびサブトラッキングエラー信号ＳＴＥは次のようになる。
【００２６】
ＭＴＥ＝｛（Ａ＋Ｄ）＋Δ（Ａ＋Ｄ）｝−｛（Ｂ＋Ｃ）＋Δ（Ｂ＋Ｃ）｝
＝｛αｓｉｎ（ωｔ）−β×ｘ＋ｒ｝−｛αｃｏｓ（ωｔ）＋β×ｘ＋ｒ｝
＝αｓｉｎ（ωｔ）−αｃｏｓ（ωｔ）−２β×ｘ
ＳＴＥ＝（Ｆ＋ΔＦ）−（Ｅ＋ΔＥ）
＝｛−αｓｉｎ（ωｔ）−β×ｘ＋ｒ｝−｛−αｃｏｓ（ωｔ）＋β×ｘ＋ｒ｝
＝−αｓｉｎ（ωｔ）＋αｃｏｓ（ωｔ）−２β×ｘ
このときのＭＴＥまたはＳＴＥの波形を図１１（ａ）に示す。ＭＴＥとＳＴＥとは、同じオフセット量で、位相は逆である。
【００２７】
そこでＤＰＰ方式では、トラッキングエラー信号ＴＥを次のように演算することにより、オフセット成分β×ｘを相殺している。
【００２８】
ＴＥ＝ＭＴＥ−ＳＴＥ＝２α｛ｓｉｎ（ωｔ）−ｃｏｓ（ωｔ）｝
このように、ＤＰＰ方式によるＴＥ信号は、レンズシフト特性、すなわち、対物レンズと受光素子との光学的位置ずれで発生するＤＣ的なオフセットに強く、生成されるＴＥ信号には、偏芯等によりオフセットが発生しにくい特徴をもつ。
【００２９】
このようなトラッキングエラー信号を生成する技術としては、例えば特許文献１、２に提案されている。
【特許文献１】特開２０００−２９３８６８号公報
【特許文献２】特開２０００−１６３７６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３０】
上述したように、ＤＰＰ方式によるＴＥ信号の生成過程で使用されるメインＴＥ（ＭＴＥ）やサブＴＥ（ＳＴＥ）信号の段階では、光ディスクの偏芯によるオフセット成分を含んでいる。
【００３１】
一方、回路上では、トラッキングエラー信号ＴＥをサーボ信号として用いるためには、できるだけ大きな信号として出力したいため、図９の回路において、減算前のＡＧＣ３５およびＡＧＣ３６のゲインもできるだけ上げるようにしている。
【００３２】
ＣＤ−ＲＯＭディスク自体が持つ偏芯量は、規格書であるＹｅｌｌｏｗ  Ｂｏｏｋにて、１４０μｍ以内に収めることが規定されている。
【００３３】
ところが、市場に出回っている光ディスクの中には、偏芯量がその規格を大きく上回っているものがある。そのような偏芯量が大きなディスクでは、図９のＡＧＣ３５，３６で出力されるＭＴＥやＳＴＥ信号が、図１１（ｂ）に示すように振幅の大きくなった部分が増幅器の動作可能電圧範囲を超え、飽和してしまう。そのため、飽和したＭＴＥとＳＴＥを減算しても、本来の横断成分であるＴＥ信号が一部あるいは、全面的に消失してしまい、トラッキング制御が不能になる場合が生ずる。
【００３４】
このような偏芯量が規格を大きく上回っている光ディスクに対しても、ユーザーからは使用可能であることが要請されている。
【００３５】
本発明は、差動プッシュプル方式に用いられるメイントラッキングエラー信号およびサブトラッキングエラー信号が、光ディスクの偏芯などにより飽和することを防止し、安定したトラッキングエラー信号を生成することのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００３６】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクの偏芯量が大きいときはゲインが小さくなるように、偏芯量が小さいときは所定のゲインになるように、メイントラッキングエラー信号およびサブトラッキングエラー信号を増幅する第１および第２のゲインコントローラのゲインを連動して増減して、メイントラッキングエラー信号およびサブトラッキングエラー信号が飽和しないようにし、その増減したゲインの分を後段の出力増幅器のゲインを増減することで、全体のゲインが一定になるようにすることを主要な特徴とする。
【発明の効果】
【００３７】
以上のように本発明の光ディスク装置は、光ディスクの偏芯量に応じてゲインコントローラのゲインを調整するようにしたことにより、差動プッシュプル方式に用いられるメイントラッキングエラー信号およびサブトラッキングエラー信号が、光ディスクの偏芯などにより飽和することを防止し、安定したトラッキングエラー信号を生成することのできる光ディスク装置を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
上記課題を解決するためになされた請求項１の発明は、光ディスクに照射したメインビームと２つのサブビームの反射光をそれぞれ受光し、前記メインビームの受光スポットを４分割して得られたメイントラッキングエラー信号と、前記２つのサブビームの反射光を受光して得られた信号に基づいて得られたサブトラッキングエラー信号との差信号によりトラッキングエラー信号を生成し、光ディスクのトラッキング制御を行う光ディスク装置において、前記メイントラッキングエラー信号および前記サブトラッキングエラー信号のゲインを制御可能な第１の自動ゲインコントローラおよび第２の自動ゲインコントローラと、前記第１の自動ゲインコントローラの出力と前記第２の自動ゲインコントローラの出力の差信号を増幅すると共に、そのゲインを制御可能な出力増幅器と、前記出力増幅器の出力であるトラッキングエラー信号に基づき光ディスクの偏芯量を求める手段と、当該光ディスクの偏芯量が大きいときはゲインが小さくなるように、偏芯量が小さいときは所定のゲインになるように前記第１および第２のゲインコントローラのゲインを連動して制御する手段、および、前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインの積が一定になるように前記出力増幅器のゲインを制御する手段からなるゲイン制御手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置としたものである。これにより、偏
芯が大きいときはメイントラッキングエラー信号とサブトラッキングエラー信号が飽和しないように第１および第２のゲインコントローラのゲインを下げ、その下げたゲイン分を後段の出力増幅器のゲインを上げることで、トラッキングエラー信号の振幅を一定に保つことが可能となり、安定したトラッキングエラー信号を生成することができる。
【００３９】
上記課題を解決するためになされた請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記光ディスクの偏芯量を求める手段は、トラッキングエラー信号の横断数を計数するカウント部と、その計数結果から偏芯量を求める偏芯測定部とで構成されていることを特徴とする光ディスク装置であり、偏芯量はトラッキングエラー信号の横断数と相関があることを利用して、正確に偏芯量を求めることができる。
【００４０】
上記課題を解決するためになされた請求項３の発明は、請求項１または請求項２の発明において、前記ゲイン制御手段は、前記偏芯量を求める手段により得られた偏芯量がある閾値を超えたときに、予め設定された倍数で前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインを変化させる構成としたものであり、１つまたは複数の閾値を超えたときに、ゲインをステップ的に変化させることで、ゲインの調整を行うことができる。閾値は１つでもいいが、複数設定することもできる。
【００４１】
上記課題を解決するためになされた請求項４の発明は、請求項１または請求項２の発明において、前記ゲイン制御手段は、前記偏芯量を求める手段により得られた偏芯量がある閾値を超えたときに、前記第１および第２のゲインコントローラのゲインの倍率を算出し、その倍数で前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインを変化させる構成としたものであり、偏芯量に対応した第１および第２のゲインコントローラのゲインを算出してそのゲインを用いることで、飽和のないゲインを一度で決めることができる。
【００４２】
上記課題を解決するためになされた請求項５の発明は、請求項４の発明において、前記第１および第２のゲインコントローラの入力信号の最大値を検出する手段を設け、その最大値がある設定された飽和閾値を超えたときに前記偏芯量に応じた倍率で前記第１および第２のゲインコントローラのゲインと前記出力増幅器のゲインを変化させる構成としたものであり、規定値を超えた偏芯量を有する光ディスクかどうかを判定して、規定値を超えた光ディスクに対してのみ、ゲインの調整をするような動作をさせることができる。
【実施例１】
【００４３】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１について、図１から図３に基づいて説明する。
【００４４】
図１は本発明の実施の形態１におけるトラッキングエラー信号生成回路の構成図、図２は本発明の実施の形態１における偏芯検出部の詳細ブロック図、図３は本発明の実施の形態１におけるトラッキングエラー信号生成フローチャートである。
【００４５】
図１において、２０はアナログ処理部、３０はデジタル処理部を示している。アナログ処理部２０は、各ディテクタからの信号を増幅する増幅器２１〜２４と、ノイズ成分を除去するローパスフィルタ２５〜２８により構成される。デジタル処理部３０は、前記アナログ部において、増幅処理、フィルタ処理された後の信号ＦとＥおよび（Ａ＋Ｄ）と（Ｂ＋Ｃ）をアナログ信号からデジタル信号に変換するためのＤ／Ａ変換器３１ａ〜３４ａと、前記Ｄ／Ａ変換器３１ａ〜３４ａ後の信号ＦとＥおよび（Ａ＋Ｄ）と（Ｂ＋Ｃ）とのバランスをとるための増幅器３１〜３４と、自動ゲインコントローラ（ＡＧＣ）３５，３６と、出力増幅器の一例としての可変ゲイン減衰器（ＡＴＴ）３７と、ノイズ除去のためのローパスフィルタ３８により構成される。ここまでは、従来の図９の構成と同様である。
本実施の形態１では、ローパスフィルタ３８の出力であるトラッキングエラー信号ＴＥから光ディスクの偏芯量を検出する偏芯検出部３９と、この偏芯検出部３９で求められた偏芯量に基づいてＡＧＣ３５，３６のゲインとＡＴＴ３７の減衰率を調整する。
【００４６】
偏芯検出部３９の詳細を図２に示す。図２において、偏芯検出部３９は、トラッキングエラー信号ＴＥのトラック横断数を計数するためのトラッククロスカウンタ部（ＴＫＣ）４１と、閾値とＴＫＣ４１の出力とを比較するコンパレータ４２と、光ディスクの偏芯量の度合いを設定する閾値設定部４３と、当該光ディスクが規定以上の偏芯を有する偏芯ディスクであるか否かをコンパレータ４２の出力から判断する偏芯判定部４４と、ＡＧＣ３５，３６のゲインを１／ｘ倍するＡＧＣゲイン１／ｘ部４５と、ＡＴＴ３７の減衰率を基準の減衰率のｘ倍するＡＴＴゲインｘ倍部４６とから構成されている。
【００４７】
この実施の形態１の動作を、図３のフローチャートにしたがって説明する。
【００４８】
ただし、閾値１＞閾値２＞閾値３、ｘ１＞ｘ２＞ｘ３とする。
【００４９】
まず、光ディスク装置に光ディスクをセットすると、光ディスクが回転する。光ピックアップをフォーカシングオン、トラッキングオフ状態で駆動し、ＴＫＣ４１の出力により、トラック横断数すなわち光ディスクの偏芯量を計測する（Ｓ１）。コンパレータ４２において、偏芯量と閾値１とを比較する（Ｓ２）。偏芯量が閾値１以上であれば、ＡＧＣ３５，３６のゲインを１／ｘ１とし、ＡＴＴ４７の減衰率をｘ１倍とする（Ｓ３，Ｓ４）。
【００５０】
Ｓ２で偏芯量が閾値１を超えていなければ、第２の閾値２と比較し（Ｓ５）、閾値２以上であればＡＧＣ３５，３６のゲインを現在のゲインの１／ｘ２倍とし（Ｓ６）、ＡＴＴ４７の減衰率をｘ２倍とする（Ｓ７）。
【００５１】
Ｓ５で偏芯量が閾値２を超えていなければ、第３の閾値３と比較し（Ｓ８）、閾値３以上であればＡＧＣ３５，３６のゲインを現在のゲインの１／ｘ３倍とし（Ｓ９）、ＡＴＴ４７の減衰率をｘ３倍とする（Ｓ１０）。
【００５２】
Ｓ８で偏芯量が閾値３を超えていなければ、ＡＧＣ３５，３６のゲインおよびＡＴＴ４７の減衰率は現状のままとする。
【００５３】
なお、ｘ１，ｘ２，ｘ３としては、例えば１８ｄＢ，１２ｄＢ，６ｄＢのような値とする。
【００５４】
以上の図３のフローチャートでは、閾値１，閾値２，閾値３を降順として偏芯量と比較したが、比較方法としては、このほかに降順、範囲比較などがあり、降順に限らない。また、閾値の数も、３つに限らず、他の数でもよい。
【００５５】
このように、偏芯量に応じてＡＧＣ３５，３６のゲインを制御して、光ディスクの偏芯量が大きいときは飽和が生じない程度にゲインを小さくする。回路の総合ゲインを一定にするために、ゲインを小さくした分、ＡＴＴ４７の減衰率を自動調整する。
【００５６】
このようにして、ＭＴＥとＳＴＥの増幅時に、光ディスクの過大な偏芯による飽和を防止し、トラッキングエラー信号の出力に誤差が生じないようにする。
【００５７】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２について、図４から図６に基づいて説明する。図４は本発明の実施の形態２におけるトラッキングエラー信号生成回路の構成図、図５は本発明の実
施の形態２における偏芯検出部の詳細ブロック図、図６は本発明の実施の形態２におけるトラッキングエラー信号生成フローチャートである。
【００５８】
図４に示す本実施の形態２において、構成要素２１〜３８は実施の形態１と同様の構成であるので説明を省略する。本実施の形態２では、トラッキングエラー信号から偏芯量を検出する偏芯検出部５０と、ゲイン演算部５１と、メイントラッキングエラー信号ＭＴＥとサブトラッキングエラー信号ＳＴＥの最大値を検出する最大値検出部５２と、演算処理を行うＣＰＵ５３と、ＡＧＣ３５，３６のゲインとＡＴＴ４７の減衰率を制御するバランス制御部５４とを備えているところが特徴である。
【００５９】
偏芯検出部５０の詳細を図５に示している。図５において、偏芯検出部５０は、トラッキングエラー信号ＴＥのトラック横断数を計数するためのトラッククロスカウンタ部（ＴＫＣ）６１と、閾値とＴＫＣ６１の出力とを比較するコンパレータ６２と、光ディスクが偏芯ディスクかどうかを判定するための値を設定する閾値設定部６３と、当該光ディスクが偏芯ディスクかどうかをコンパレータ６２の出力から判断する偏芯判定部６４と、ＡＧＣ３５，３６のゲインを１／ｘ倍するＡＧＣゲイン１／ｘ部６５と、ＡＴＴ３７の減衰率を基準の減衰率のｘ倍するＡＴＴゲインｘ倍部６６と、ＭＴＥとＳＴＥが飽和レベルにあるか否かを区別する飽和閾値設定部６７と、ＭＴＥとＳＴＥの最大値を検出する最大値検出部６８と、ＡＧＣ３５，３６のゲインの倍率を演算すると共に、オフセットの異常を検出する演算ブロック６９とから構成されている。
【００６０】
この実施の形態２の動作を、図６のフローチャートにしたがって説明する。
【００６１】
まず、光ディスク装置に光ディスクをセットすると、光ディスクが回転する。光ピックアップをフォーカシングオン、トラッキングオフ状態で駆動し、ＴＫＣ６１の出力により、トラック横断数とトラックピッチ長から光ディスクの偏芯量を計測し、また最大値検出部６８によりＭＴＥとＳＴＥの最大値を検出する（Ｓ２１）。コンパレータ６２において、ＭＴＥとＳＴＥの最大値と飽和閾値とを比較する（Ｓ２２）。最大値が飽和閾値以下であれば、ＡＧＣ３５，３６のゲインおよびＡＴＴ４７の減衰率は現状のままとする。
【００６２】
Ｓ２２でＭＴＥとＳＴＥの最大値が飽和閾値を超えておれば、偏芯量と閾値とを比較し（Ｓ２３）、閾値未満であれば、演算ブロック６９により、飽和を生じない適正なＡＧＣ３５，３６のゲイン倍率１／ｘを算出し（Ｓ２４）、ＡＧＣ３５，３６の現在のゲインの１／ｘ倍とし（Ｓ２５）、ＡＴＴ４７の減衰率をｘ倍とする（Ｓ２６）。ここで、前記適正なＡＧＣ３５、３６のゲイン倍率は、ＡＧＣ３５，３６の電気的特性で決定する、増幅可能な最大レベルと、前記ＭＴＥとＳＴＥとの最大値値から容易に求めることができる。
【００６３】
Ｓ２３で偏芯量が閾値を超えておれば、オフセット異常として警報を表示器に表示したり、音で報知する。
【００６４】
このようにして、ＭＴＥとＳＴＥの増幅時に、光ディスクの過大な偏芯による飽和を防止し、トラッキングエラー信号の出力に誤差が生じないようにする。
【００６５】
なお、以上の実施の形態１および２においては、出力増幅器として可変ゲインＡＴＴを用いた例を示したが、ゲインを減衰させるだけでなく、増幅する可変ゲイン増幅器を用いることもできる。
【産業上の利用可能性】
【００６６】
本発明は、偏芯量が大きな光ディスクに対しても、安定したトラッキングを行うことのできる光ディスク装置に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の実施の形態１におけるトラッキングエラー信号生成回路の構成図
【図２】本発明の実施の形態１における偏芯検出部の詳細ブロック図
【図３】本発明の実施の形態１におけるトラッキングエラー信号生成フローチャート
【図４】本発明の実施の形態２におけるトラッキングエラー信号生成回路の構成図
【図５】本発明の実施の形態２における偏芯検出部の詳細ブロック図
【図６】本発明の実施の形態２におけるトラッキングエラー信号生成フローチャート
【図７】光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図８】デファレンシャルプッシュプル方式によるトラッキングエラー信号生成を行うための説明図
【図９】従来のトラッキングエラー信号生成回路例を示す回路図
【図１０】ＤＰＰ方式によるトラッキングエラー信号を用いた制御の動作を示す説明図
【図１１】ＭＴＥまたはＳＴＥの波形図
【符号の説明】
【００６８】
２０    アナログ処理部
２１〜２４    増幅器
２５〜２８    ローパスフィルタ
３０    デジタル処理部
３１〜３４    増幅器
３５，３６    自動ゲインコントローラ（ＡＧＣ）
３８    ローパスフィルタ
３９    偏芯検出部
４１    トラッククロスカウンタ部（ＴＫＣ）
４２    コンパレータ
４３    閾値設定部
４４    偏芯判定部
４５    ＡＧＣゲイン１／ｘ部
４６    ＡＴＴゲインｘ倍部
５０    偏芯検出部
５１    ゲイン演算部
５２    最大値検出部
５３    ＣＰＵ
５４    バランス制御部
６１    トラッククロスカウンタ部（ＴＫＣ）
６２    コンパレータ
６３    閾値設定部
６４    偏芯判定部
６５    ＡＧＣゲイン１／ｘ部
６６    ＡＴＴゲインｘ倍部
６７    飽和閾値設定部
６８    最大値検出部
６９    演算ブロック
【図１】
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【図２】
2005085355.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2005085355.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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