(57)【要約】【課題】  サンプルの単位面積当りに流れる電流の増加等による、安定かつ一層の加速した劣化加速試験方法の提供すること。【解決手段】  電子写真用感光体に静電気帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返しかけて電子写真用感光体の劣化を加速させる試験方法であって、該静電気帯電工程に用いられる帯電装置が、高電圧が印可される複数のワイヤを有しワイヤが１方向のみに張架されており、かつワイヤを囲むケーシングの形状は、かつ該ワイヤを囲むケーシングの形状が該電子写真用感光体面に対して平行な面には全てケーシングされていないものであることを特徴とする感光体劣化加速試験方法。【選択図】        図１
2005099111.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子写真用感光体に静電気帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返しかけて電子写真用感光体の劣化を加速させる試験方法であって、該静電気帯電工程に用いられる帯電装置が、高電圧が印可される複数のワイヤを有しワイヤが１方向のみに張架されており、かつワイヤを囲むケーシングの形状は、かつ該ワイヤを囲むケーシングの形状が該電子写真用感光体面に対して平行な面には全てケーシングされていないものであることを特徴とする感光体劣化加速試験方法。
【請求項２】
電子写真用感光体面と帯電装置のワイヤとの距離を２ｍｍ以上にすることを特徴とする請求項１に記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項３】
帯電装置のワイヤに印可する高電圧がＤＣ電圧にＡＣ電圧を重畳させることを特徴とする請求項１又は２に記載の感光体劣化加速試験方法。
【請求項４】
該静電気帯電工程と該露光工程とを同時に行なうことを特徴とする請求項１乃至３の何れかに記載の感光体劣化加速試験方法。
【請求項５】
電子写真用感光体に静電気帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返しかけて電子写真用感光体の劣化を加速させる試験方法の該静電気帯電工程に用いられる帯電装置であって、高電圧が印可される複数のワイヤを有しワイヤが１方向のみに張架されており、かつ該ワイヤを囲むケーシングの形状が該電子写真用感光体面に対して平行な面には全てケーシングされていないものであることを特徴とする帯電装置。
【請求項６】
ケーシング部分の表面が絶縁性部材によって形成されていることを特徴とする請求項５に記載の帯電装置。
【請求項７】
複数のワイヤの間隔が２ｍｍ以上であることを特徴とする請求項５又は６に記載の帯電装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真用感光体の特性を評価するための劣化加速試験方法とそれに用いられる帯電装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光導電性層が設けられた電子写真用感光体の特性の１つである寿命を評価する方法が提案されている。
像形成サイクルのサイクル操作寿命が確認されてある少なくとも１つの電子写真用感光体を用意し、該電子写真用感光体を静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルに繰り返しかけて、サイクル中に発生する光導電性層の暗減衰を、暗減衰量が最高値に達するまで測定し、該最高値を基にして暗減衰最高値対像形成サイクルの標準データを確立した後、新らたに作製された電子写真用感光体について同様にして、静電気帯電工程と光放電工程を含む上記サイクルに、更にサイクル操作にかけても実質的に一定のままである最高値に暗減衰量が達するまで繰り返しかけ、上記新鮮な電子写真像形成部材の暗減衰最高値を上記参照データと比較して、該新らたに作製された電子写真用感光体の推定サイクル寿命を確認する方法がある（例えば、特許文献１参照。）。
この方法は、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルに繰り返しかけて、新らたに作製された電子写真用感光体と、劣化した電子写真用感光体の暗減衰とを比較して、前者の推定サイクル寿命を確認することを特徴とするものであるが、具体的には透明ガラスを圧着させてバイアス印可と光を照射させ、実際の電子写真プロセスで適用されるコロナ帯電・ローラ帯電というとは異なる方法で行なう劣化試験である。
また、この方法は、寿命に到ったサンプルの暗減衰特性を予め確認しておく必要があり、そのために、一旦電子写真用感光体をマシンに搭載して通紙試験を行なわなければならず、多大な手間がかかってしまう問題があった。
【０００３】
そこで、通紙試験を行なわないで寿命を確認する方法として、電子写真用感光体を高速で回転させた状態（１，０００〜２，０００ｒ．ｐ．ｍ）で、その周囲に配置された帯電器、露光装置で帯電、露光を繰り返し、寿命を予測する方法がある。この方法は、さらに２つの試験方法に分かれる。
第一の方法は、帯電器の出力と露光装置の光量をあらかじめ決めた条件で固定し、決められた時間内で試験を行ない、その後電子写真用感光体の特性を評価する測定を行ない、劣化状態を判定する。
第二の方法は、試験中の電子写真用感光体の露光後電位Ｖと電子写真用感光体を通して流れる通過電流Ｉを計測し、この２つが常に決められたレベルにあるように帯電器の出力と露光装置の光量を調整しながら行なうことを特徴とするものである。
これらの２つの方法で重要な点は、試験中に電子写真用感光体に流れた通過電流を計測し、この値を変換して電荷量（単位面積当りの値）Ｑを求め、一方、Ａ４サイズ１枚を実機でプリントアウトする際の電子写真用感光体に流れる通過電流は、感光体の静電容量Ｃ（単位面積当りの値）と帯電電位Ｖから、感光体のサイズはＡ４紙１枚が感光体上をダブリなく印字されるサイズとすると、Ｃ・Ｖが求められ、その結果、Ｑ／（Ｃ・Ｖ）の値によって寿命試験時間を実機のプリント枚数に対応させることができることである。
さらに別の重要な点は、この試験が加速寿命試験になっていることである。
すなわち、具体的に示すと、電子写真用感光体に５μＡ／１０ｃｍ２の試料通過電流を流して２０時間の試験を行なうと（１日１０時間の試験とすると２日間）、５／１０×１０-6×２０×６０×６０＝０．０３６（Ｃ／ｃｍ２）の電荷が感光体を通過したことになる。そして、Ａ４用紙縦送りで印字する場合を想定すると、電子写真用感光体の静電容量を１００（ｐＦ／ｃｍ２)、帯電電位を−７００（Ｖ）、除電後も含めた露光後電位を０（Ｖ）とすると、１００×１０-12×７００＝７×１０-8（Ｃ／ｃｍ２）が、Ａ４−１枚をプリントアウトする際の感光体を通過する電荷になるので、０．０３６／（７×１０-8）≒５１４，０００（枚）のプリントアウトしたことになり、大幅な加速試験になる。
このため２つ目の方法で寿命試験が行なわれることが多いが、前述の具体的な計算で分かるように、試験中に感光体を通過する電流が一定であれば、プリントアウト何枚相当の試験を行なったのか、計算がしやすい。
そのため、一般的に、試験は通過電流を一定にするようにして実施される。その本質は通過電荷量を知ることにある。また、感光体によっては帯電電位がどのレベルにあるかによって寿命試験の結果が異なることがあり、帯電電位も一定にして試験を行なうことが要求される。
このように、帯電電位および通過電流を一定にするために、帯電器の高圧電源出力調整、および露光装置の光量調整を行なうシステムが必要となり、従来の寿命試験装置が構築された。
【０００４】
この従来のシステムにおける、２つの測定量、表面電位Ｘ，通過電流Ｙと、２つの操作量、帯電器高圧電源の出力制御値Ａ、除電露光ランプ光量の出力制御値Ｂの関係は、Ａを増加するとＸ，Ｙは増加し、Ａを減少させるとＸ，Ｙも減少し、Ｂを増加するとＸは減少、Ｙは増加し、Ｂを減少するとＸは増加し、Ｙは減少する関係があり、仮にＸが目標値からはずれ、これを目標範囲に入れようとＡまたはＢを操作すると、もう１つの測定量Ｙが変化してしまい、Ｙにとっては外乱が作用することになる。
これを目標範囲に維持しようとＡまたはＢを操作すると、今度はＸが変化するという状態になってしまい、複雑な制御を行なわなければならなかった。
また、劣化加速試験中に感光体表面電位・通過電流の瞬間的なバラツキがあった場合でも、それらが瞬間的な誤差として通過電荷量算出に反映されないシステムとなっており、正確な劣化加速試験を行なうことが出来なかった。
【０００５】
そこで、これらの問題を解決する方法が提案されている（例えば、特許文献２参照。）。
この特許文献２では、電子写真用感光体を高速回転させ、帯電装置による静電気帯電工程と光放電とを含むサイクルを繰り返し実行し、感光体の表面電位を一定条件に保つように制御され、計測された通過電流から通過電荷量を算出されることによって、単純で精度の良い電子写真感光体の劣化加速試験装置が考えられている。
この特許文献２に示されている劣化加速試験装置の概略を図１に示す。
ターンテーブル（１）の開口部（３）に、電子写真用感光体の試料片の感光層面を下向きに装着して試料片押さえ板（２）によりセットした後、コロナ帯電器（４）で試料片の感光層面を帯電処理する。
帯電処理する間、ターンテーブル（１）は、電子写真用感光体試料片を前記コロナ帯電器（４）に対向静止させるような位置で停止することが出来、また、実機と同程度のスピードで回転させることが出来、また、試料片を帯電させて帯電の立ちあがりの様子を観察するため、高速で回転させて試料片を帯電器に何度も通過させることが出来る。
コロナ帯電器（４）から試料片に与えられ試料片を充電するパルス電流は、電流計（６）に送られその中の平滑化回路で平滑化等がされた後、Ａ／Ｄ変換器（８）で変換されコントローラー（９）に送られ演算処理される。
また、試料片の表面電位は、コロナ帯電器（４）と別の位置に配置された表面電位計（７）のモニタ部である表面電位計電極（５）でモニタされ、モニタされた信号は表面電位計（７）に送られその中の増幅器で増幅等がされた後、Ａ／Ｄ変換器（８）で変換され、コントローラー（９）に送られ演算処理される。劣化加速試験では、ターンテーブルを高速で回転させ、劣化試験用コロナ帯電器（４）で試料片の感光面を帯電処理し、その後露光装置（５）によって光放電処理をする。これを繰り返し行なうことによって、感光層中の電荷を強制的に通過させ、実機よりも早く寿命を判断することが出来るようになっている。
【０００６】
しかし、最近の電子写真用感光体は高寿命化されてきており、以上説明した劣化加速試験装置を用いると、寿命を判断するまで試験を行なうには多大な時間が必要となってきている。そこで、さらに劣化を加速し、短時間で寿命を判断可能な劣化加速試験方法が要望されるようになった。その実現のために、単位面積当りの電子写真用感光体面への電流量を増加することが重要であることが分かった。
【０００７】
【特許文献１】特開平５−１９７３号公報
【特許文献２】特開２００２−１４９００５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従って、本発明の目的は、上記従来技術に鑑みて、サンプルの単位面積当りに流れる電流の増加等による、安定かつ一層の加速した劣化加速試験方法の提供することを目的とする。
【０００９】
上記課題は、本発明の（１）「電子写真用感光体に静電気帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返しかけて電子写真用感光体の劣化を加速させる試験方法であって、該静電気帯電工程に用いられる帯電装置が、高電圧が印可される複数のワイヤを有しワイヤが１方向のみに張架されており、かつワイヤを囲むケーシングの形状は、かつ該ワイヤを囲むケーシングの形状が該電子写真用感光体面に対して平行な面には全てケーシングされていないものであることを特徴とする感光体劣化加速試験方法」、
（２）「電子写真用感光体面と帯電装置のワイヤとの距離を２ｍｍ以上にすることを特徴とする前記第（１）項に記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法」、
（３）「帯電装置のワイヤに印可する高電圧がＤＣ電圧にＡＣ電圧を重畳させることを特徴とする前記第（１）項又は第（２）項に記載の感光体劣化加速試験方法」、
（４）「該静電気帯電工程と該露光工程とを同時に行なうことを特徴とする前記第（１）項乃至第（３）項の何れかに記載の感光体劣化加速試験方法」により達成される。
【００１０】
また、上記課題は、本発明の（５）「電子写真用感光体に静電気帯電工程と露光工程とを含むサイクルを繰り返しかけて電子写真用感光体の劣化を加速させる試験方法の該静電気帯電工程に用いられる帯電装置であって、高電圧が印可される複数のワイヤを有しワイヤが１方向のみに張架されており、かつ該ワイヤを囲むケーシングの形状が該電子写真用感光体面に対して平行な面には全てケーシングされていないものであることを特徴とする帯電装置」、
（６）「ケーシング部分の表面が絶縁性部材によって形成されていることを特徴とする前記第（５）項に記載の帯電装置」、
（７）「複数のワイヤの間隔が２ｍｍ以上であることを特徴とする前記第（５）項又は第（６）項に記載の帯電装置」により達成される。
【００１１】
本発明の電子写真用感光体の劣化を加速させる試験方法においては、電子写真用感光体に静電気帯電工程と露光工程を含むサイクルを繰り返しかけ、静電気帯電工程における帯電装置として、高電圧が印可される複数のワイヤを有しワイヤが１方向のみに張架され、かつワイヤを囲むケーシングの形状が、感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていないものを用いて行なうと、感光体面に流れる単位面積当りの電流量を増加することができる。
また、本発明の試験方法に用いられる帯電装置が、そのケーシング部分の表面が絶縁性部材によって形成されたものであると、ケーシング部分へ電流が流れるのを防ぐことができ、感光体面に流れる単位面積当りの電流量をさらに増加させることができる。
また、本発明の試験方法に用いられる帯電装置として、帯電装置のワイヤ間隔が２ｍｍより大きいものを用いると、感光体面への火花放電を防ぐことができる。
また、本発明の試験方法において、感光体面と帯電装置のワイヤとの距離を２ｍｍ以上にすると、感光体面への火花放電を防ぐのに有効である。
また、本発明の試験方法において、帯電装置に印可する高電圧がＤＣ電圧にＡＣを重畳させると、感光体へ流れる電流の調整幅が広がり扱いやすくなるので、好ましい。
また、本発明の試験方法において、静電気帯電工程と露光工程を同時に行なうと、感光体劣化を加速させ、劣化加速試験時間を短縮させることができる。
【発明の効果】
【００１２】
以上及び以下の詳細かつ具体的な説明から明らかなように、電子写真用感光体を静電気帯電工程と露光工程を含むサイクルを繰り返しかけて電子写真用感光体の劣化を加速させる試験方法において、静電気帯電工程に用いられる帯電装置は、高電圧が印可される複数のワイヤを有しワイヤが１方向のみに張架され、かつワイヤを囲むケーシングの形状は、感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていない帯電装置であるため、感光体面に流れる単位面積当りの電流量を増加させることが出来、劣化加速試験での試験時間を短縮することが出来る。
また、帯電装置のケーシング部分は表面が絶縁性部材によって形成されているため、ケーシング部分へ電流を流すのを防ぎ、感光体面へ流れる単位面積当りの電流量を増加させることが出来るため、劣化加速試験での試験時間を短縮するのにより効果的である。
また、帯電装置のワイヤ間隔を２ｍｍより大きくすると、感光体面への火花放電を防ぐことが出来、正確な劣化加速試験を行なうことが出来る。
また、感光体面と帯電装置のワイヤとの距離を2mm以上にすると、感光体面への火花放電を防ぐことが出来、正確な劣化加速試験を行なうことが出来る。
また、帯電装置に印可する高電圧がＤＣ電圧にＡＣを重畳させると、感光体へ流れる電流の調整幅が広がり、扱いやすくなる。
また、静電気帯電工程と露光工程を同時に行なうと、感光体劣化を加速させ劣化加速試験時間を短縮させることが出来る。
【実施例】
【００１３】
以下に、本発明の実施例により具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
〔実施例１（請求項１に対応）〕
帯電装置として、サンプルに平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔で１方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤ、ワイヤ径：６０μｍ）を張り、帯電装置の枠に絶縁性部材（材質：ポリテトラフロロエチレン系フッ素樹脂）を使用した帯電装置（帯電装置概略図を図２−１と図２−２に示す。）を使用し、サンプルとワイヤの距離を５ｍｍとしたときに、アルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定した結果を図６に示す。（実験装置概略図を図３に示す。）
一方、該実施例１に対応する比較例１として、サンプル対向面のみに開口部をもったケーシングを有し、ケーシング内部には1方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤ、ワイヤ径：６０μｍ）を１０ｍｍ間隔で２本張り、ワイヤとサンプル面との間隔を５ｍｍとしたときに、アルミ板へコロナ放電させた時のコロナ電流を測定し、その結果についても図６に示す。（帯電装置概略図を図３、実験装置概略図を図４に示す。）
図６の結果から、帯電装置は複数本のワイヤを有し、ワイヤは１方向にのみ張架されており、かつワイヤを囲むケーシングの形状は、感光体面に対して平行な面は全てケーシングされていないことにより、感光体対向面のみに開口部を持ったケーシングを有し、ケーシング内部には１方向のみワイヤで張架された帯電装置よりも同じ印加電圧で電流量を大きくすることが出来ることがわかる。
【００１４】
〔実施例２〕
帯電装置として、サンプルに平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔で１方向にのみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤー、ワイヤ径：６０μｍ）を張り、帯電装置の枠に絶縁性部材（材質：ポリテトラフロロエチレン系フッ素樹脂）を使用した帯電装置を使用し、サンプルとワイヤの距離を５ｍｍとしたときに、アルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定した結果を図７に示す。（帯電装置概略図は実施例１同様、図２−１と図２−２、実験装置概略図は図３に示す。）
一方、該実施例２に対応する比較例２として、帯電装置がサンプルに平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に５ｍｍ間隔で１方向にのみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤー、ワイヤ径：６０μｍ）を張り、帯電装置の枠は導電性部材（材質：アルミ）を使用した帯電装置を使用し、サンプルとワイヤの距離を５ｍｍとしたときに、アルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定し、その結果についても図７に示す。（帯電装置概略図は実施例２同様、図２−１と図２−２、実験装置概略図を図４に示す。）
図７の結果から、帯電装置の表面を絶縁性部材にすると、サンプルへ流れる電流量が増加することがわかる。
【００１５】
〔実施例３〕
帯電装置として、サンプルに平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤー、ワイヤ径：６０μｍ）が張られ、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：ポリテトラフロロエチレン系フッ素樹脂）を使用した帯電装置を使用し、サンプルとワイヤの距離を５ｍｍとした。
ワイヤ間隔の水準を振ったときに、アルミ板へコロナ放電させたときの放電開始電圧の結果を表１に示す。（帯電装置概略図は実施例１、２同様、図２−１と図２−２、実験装置概略図は図３に示す。）
【００１６】
【表１】
2005099111.tif 000003
表１の結果から、ワイヤ間隔が２ｍｍ以下であると、火花放電が発生していることがわかる。このことから、ワイヤ間隔が２ｍｍ以上でなければ、サンプル面に均一にコロナ放電がされず、正確な劣化加速試験を行なうことが出来ないことがわかる。
【００１７】
〔実施例４〕
帯電装置として、サンプルに平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔でメッシュ状にワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤー、ワイヤ径：６０μｍ）を張り、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：ポリテトラフロロエチレン系フッ素樹脂）を使用した帯電装置を使用し、サンプルとワイヤ間の距離の水準を振ったときに、アルミ板へコロナ放電させたときの放電開始電圧の結果を表２に示す。（帯電装置概略図は実施例１〜３同様、図２−１と図２−２、実験装置概略図は図３に示す。）
【００１８】
【表２】
2005099111.tif 000004
表２の結果から、サンプルとワイヤ間の距離は２ｍｍ以上ないと、火花放電が発生していることがわかる。このことから、サンプルとワイヤ間の距離は２ｍｍ以上でなければ、サンプル面へ均一にコロナ放電がされず、正確な劣化加速試験を行なうことが出来ないことがわかる。
【００１９】
〔実施例５〕
帯電装置として、サンプルに平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔で１方向のみにワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤー、ワイヤ径：６０μｍ）を張り、帯電装置の枠に絶縁性部材（材質：ポリテトラフロロエチレン系フッ素樹脂）を使用した帯電装置を使用し、帯電装置への印加電圧はＤＣにＡＣを重畳させ（ＡＣ重畳条件：Ｖｐｐ＝２０００Ｖ，ｆ＝５００Ｈｚ）、サンプルとワイヤ間の距離の水準を振ったときに、アルミ板へコロナ放電させたときの０〜−２０（μＡ／ｃｍ２）に調整するときの高圧電源調整幅の結果を表２に示す。
一方、該実施例５に対応する比較例４として、感光体面に平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔でメッシュ状にワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤー、ワイヤ径：６０μｍ）を張り、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：ポリテトラフロロエチレン系フッ素樹脂）を使用した帯電装置を使用し、帯電装置への印加電圧はＤＣのみであり、サンプルとワイヤ間の距離の水準を振ったときに、アルミ板へコロナ放電させたときの０〜−２０（μＡ／ｃｍ２）に調整するときの高圧電源調整幅の結果（０〜−２０（μＡ／ｃｍ２）調整時）を表３に示す。（帯電装置概略図は実施例１〜４同様、図２−１と図２−２、実験装置は図３に示す。）
【００２０】
【表３】
2005099111.tif 000005
表３の結果から帯電装置への印加電圧にＡＣを重畳することにより、サンプルに流れる電流の調整幅が広がり、劣化加速試験時に電流調整がし易くなることがわかる。
【００２１】
〔実施例６〕
帯電装置として、サンプルに平行な面にケーシングはなく５０×５０（ｍｍ）の開口枠を有し、その枠内に１０ｍｍ間隔で１方向にのみにワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤー、ワイヤ径：６０μｍ）を張り、帯電装置の枠は絶縁性部材（材質：ポリテトラフロロエチレン系フッ素樹脂）を使用した帯電装置を使用し、サンプルとワイヤの距離を５ｍｍとしたときに、アルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定した結果を図８に示す。（帯電装置概略図は実施例１〜５同様、図２−１と図２−２、実験装置概略図は図３に示す。）
一方、該実施例６に対応する比較例４として、図１に示す従来の劣化加速試験装置を使用し、かつ帯電器には、サンプル対向面のみに開口部をもったケーシングを有し、ケーシング内部には１方向のみワイヤ（材質：金メッキタングステンワイヤ、ワイヤ径：６０μｍ）が１０ｍｍ間隔で２本張られ、ワイヤとサンプルとの間隔が５ｍｍとした帯電器を利用し、劣化加速試験と同様に回転（１１００ｒｐｍ）させたときに、アルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定した結果も図８に示す。（帯電装置概略図を図３に示す。また比較例６では、回転中にコロナ電流は平滑化回路によって平滑化されるため、回転中に電流値は変動せず一定である。）
図８の結果から、感光体面に平行な面にケーシングがない帯電器を使用し、更に感光体面に平行な面はケーシングされていないことにより、帯電工程と同時に露光工程を実施できるため、従来の劣化加速試験と比較し非常に大きな電流を得ることができ、劣化加速試験時間の短縮につながることがわかる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】従来の劣化加速試験装置の概略図である。
【図２】本発明で用いた帯電装置概略図を示した図である。
【図３】本発明で用いた実験装置概略図を示した図である。
【図４】本発明で用いた実験装置概略図を示した別の図である。
【図５】本発明で用いた実験装置概略図を示した更に別の図である。
【図６】実施例１においてアルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定した結果を示した図である。
【図７】実施例２においてアルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定した結果を示した図である。
【図８】実施例６においてアルミ板へコロナ放電させたときのコロナ電流を測定した結果を示した図である。
【符号の説明】
【００２３】
１  ターンテーブル
２  試料片押え板
３  開口部
４  コロナ帯電器
５  表面電位計電極部・露光装置
６  電流計
７  表面電位計
８  インターフェース（Ａ／Ｄ変換）
９  コントローラー
１０  ケーシング
１１  ワイヤ
１２  アルミ板
１３  サンプル台
１４  高圧電源
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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