(57)【要約】【課題】  受光手段として低価格の受光センサを用いて装置全体がコスト高になる不利を回避させるようにしながらも、選別対象物が穀粒に近い乳白色を有する異物等の不良物であるか否かを的確に判別することが可能となる選別装置を提供する。【解決手段】  穀粒群を選別対象物としてその選別対象物に光を投射する選別用投光手段２４と、選別対象物からの光を受光する選別用受光手段２５と、その選別用受光手段２５にて検出された受光情報に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別する選別用判別手段とが備えられ、選別用受光手段２５が、選別対象物からの光を分光して１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長の光の光量を受光するように構成され、選別用判別手段が、不良物判別用の波長の光の光量に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別する。【選択図】        図２
2005180958.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
穀粒群を選別対象物としてその選別対象物に光を投射する選別用投光手段と、選別対象物からの光を受光する選別用受光手段と、その選別用受光手段にて検出された受光情報に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別する選別用判別手段とが備えられている選別装置であって、
前記選別用受光手段が、選別対象物からの光を分光して１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長の光の光量を受光するように構成され、
前記選別用判別手段が、前記選別用受光手段にて検出された前記不良物判別用の波長の光の光量に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別するように構成されている選別装置。
【請求項２】
前記選別用受光手段が、前記不良物判別用の波長の光の光量として、１１００ナノメータより短い波長領域における複数の不良物判別用の波長の光の光量を検出可能に構成され、
前記選別用判別手段が、前記選別用受光手段にて検出される複数の不良物判別用の波長の光の光量に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別するように構成されている請求項１記載の選別装置。
【請求項３】
前記選別用受光手段が、前記不良物判別用の波長としての、不良物判別用の短波長、不良物判別用の中間波長、及び、不良物判別用の長波長の光について光量を検出可能に構成され、
前記選別用判別手段が、前記不良物判別用の短波長と前記不良物判別用の中間波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と、前記不良物判別用の中間波長と前記不良物判別用の長波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率とを求め、それらの比率の差の情報に基づいて選別対象物が前記選別不良物であるか否かを判別するように構成されている請求項２記載の選別装置。
【請求項４】
前記選別対象物を予定移送経路に沿って移送する移送手段が設けられ、
前記選別用投光手段が前記予定移送経路中における選別用計測位置に位置する選別対象物に光を投射するように構成され、前記選別用受光手段が前記選別用計測位置に位置する選別対象物からの光を受光するように構成され、
前記選別用判別手段の判別情報に基づいて、前記選別用計測位置にて選別された前記選別対象物を前記選別不良物と他の選別対象物とに分離する選別用分離手段が設けられている請求項１〜３のうちのいずれか１項に記載の選別装置。
【請求項５】
前記予定移送経路中における検査用計測位置に位置する選別対象物に光を投射する検査用投光手段と、
前記検査用計測位置に位置する選別対象物からの光を分光しない非分光状態で受光してその光量を検出する検査用受光手段と、
前記検査用受光手段にて検出された選別対象物からの光の光量が適正光量範囲を外れるか否かにより選別対象物が検査不良物であるか否かを判別する検査用判別手段と、
前記検査用判別手段の判別情報に基づいて、前記検査用計測位置にて検査された前記選別対象物を前記検査不良物と他の選別対象物とに分離する検査用分離手段とを備えて構成され、
前記選別用受光位置と前記検査用受光位置とを同じ位置に設定して、前記検査用投光手段を前記選別用投光手段に兼用する構成としている請求項１〜４のうちのいずれか１項に記載の選別装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、穀粒群を選別対象物としてその選別対象物に光を投射する選別用投光手段と、選別対象物からの光を受光する選別用受光手段と、その受光手段にて検出された受光情報に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別する選別用判別手段とが備えられている選別装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
上記構成の選別装置において、従来では、穀粒群に含まれる前記選別不良物、特に、外観上、穀粒と同じような乳白色を有する樹脂材等の選別不良物を穀粒と区別するために選別する装置として、次のように構成されたものがあった。
【０００３】
すなわち、前記投光手段として近赤外光を発する光源を備えて、その光源により選別対象物に近赤外光を投射する構成とし、前記受光手段として、選別対象物を透過した光のうち特定波長の２種の光すなわち１３００ナノメータ（以下、ｎｍと略称する）及び１４６０ｎｍの波長の光の光量を各別に検出する２つの受光センサを備える構成とし、更に、前記判別手段が、前記２つの受光センサにて検出された光の光量の検出結果に基づいて選別対象物が前記選別不良物であるか否かを判別して、その判別結果に基づいて選別対象物が選別不良物であると判別されるとその不良物を穀粒群から排除させるように構成したものがあった（例えば、特許文献１参照。）。ちなみに、穀粒と同じような乳白色を有する樹脂材としては例えばＰＥ（ポリエチレン）等からなる乳白色の樹脂ペレットがある。
【０００４】
【特許文献１】特開平５−２００３６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来構成は、１３００ｎｍ付近の波長の光に対する光の透過率は、選別対象物が穀粒であっても乳白色の樹脂材であっても大きく変わらないが、１４６０ｎｍ付近の波長の光に対する光の透過率は、穀粒と乳白色の樹脂材とでは大きく異なることを利用して、選別対象物が穀粒であるか乳白色の樹脂材であるかを判別するように構成したものであるが、上述したような１３００ｎｍ付近の波長の光や１４６０ｎｍ付近の波長の光の光量を検出するためには、ＩｎＧａＡｓ（インジウム・ガリウム・砒素）センサ等のような特殊な受光センサを用いて計測することになる。
【０００６】
ところで、シリコンフォトダイオードを用いて光電変換してその電荷量を蓄積してその蓄積した電荷に基づいて光量を検出するようにしたＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサ等のいわゆるシリコン系の受光センサは、多量に生産されて低価格で販売されているものであるが、上記したようなＩｎＧａＡｓセンサは、このようなシリコン系の受光センサとは異なり、生産量が少ない特殊なものであり高価なセンサである。
【０００７】
説明を加えると、上記したようなシリコン系の受光センサにて検出が可能となるのは１１００ｎｍ以下の波長領域の光であるから、上述したような１３００ｎｍ付近の波長の光や１４６０ｎｍ付近の波長の光の光量を検出する場合、低価格のシリコン系の受光センサを用いることはできないので、ＩｎＧａＡｓセンサ等のような特殊な受光センサを用いて計測することになる。
【０００８】
その結果、従来の上記構成によれば、上記したようなシリコン系の受光センサに比べて高価なＩｎＧａＡｓセンサを受光手段として用いることから、選別装置全体がコスト高になる不利な面があった。
【０００９】
本発明はこの点に着目してなされたものであり、その目的は、受光手段として低価格の受光センサを用いて装置全体がコスト高になる不利を回避させるようにしながらも、選別対象物が穀粒に近い乳白色を有する異物等の不良物であるか否かを的確に判別することが可能となる選別装置を提供する点にある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の第１特徴構成は、穀粒群を選別対象物としてその選別対象物に光を投射する選別用投光手段と、選別対象物からの光を受光する選別用受光手段と、その受光手段にて検出された受光情報に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別する選別用判別手段とが備えられている選別装置であって、前記選別用受光手段が、選別対象物からの光を分光して１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長の光の光量を受光するように構成され、前記選別用判別手段が、前記選別用受光手段にて検出された前記不良物判別用の波長の光の光量に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別するように構成されている点にある。
【００１１】
第１特徴構成によれば、選別用投光手段によって選別対象物に光が投射され、選別用受光手段が、選別対象物からの光、すなわち投射された光が選別対象物を透過したりあるいは選別対象物を反射した光を受光する。そのとき、選別用受光手段は、選別対象物からの光を分光して１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長の光の光量を受光することになる。又、選別用判別手段は、その不良物判別用の波長の光の受光情報に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別することになる。
【００１２】
選別対象物が穀粒である場合と乳白色の樹脂等の選別不良物である場合において、投射される光が選別対象物を透過する場合の透過光量や選別対象物にて反射する場合の反射光量が同じ又は略同じ値になるものであっても、内部に含まれる成分あるいは物質としての性質が異なるものであるから１１００ナノメータより短い波長領域において上述したような不良物判別用の波長の光に対する光学特性の一部において異なる特徴を有することになる。そこで、この点に着目してその不良物判別用の波長の光の受光情報に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別するようにしているのである。
【００１３】
本出願人の実験データを例示しながら説明を加えると、図１０に、各種の計測対象について、１１００ｎｍ以下の波長の光を計測対象に投射してその計測対象を透過した光の光量を検出して、１１００ｎｍ以下の各波長についての透過光の強度つまり透過光についての分光特性を計測したものである。計測対象は、白米、玄米等の穀粒、ＰＥ（ポリエチレン）、ＰＰ（ポリプロピレン）、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）等からなる乳白色の樹脂ペレットである。この図から明らかなように、白米、玄米等の正常な穀粒の分光特性は、約５００ｎｍ〜約１１００ｎｍの波長領域の全域にわたって上向き凸形状で変曲点がなく滑らかに変化するものであるが、上記したようなＰＥ（ポリエチレン）やＰＰ（ポリプロピレン）等からなる乳白色の樹脂ペレットについては、１１００ｎｍよりも低い波長領域の特定の波長において下向きに突出する変曲点が存在する分光特性を有していることが判る。又、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）からなる乳白色の樹脂ペレットについては、上述したような変曲点はないが透過光強度の絶対値が大きい点で正常な米粒に比べて差異がある。
【００１４】
その結果、選別用受光手段として、１１００ｎｍ以下の波長領域の光を検出する構成の低価格のシリコン系の受光センサを用いて選別対象物からの光を受光して、選別対象物からの光を分光して１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長の光の光量を受光する構成として、上述したような光学特性の違いを利用して不良物判別用の波長の光の受光情報に基づいて、選別対象物が選別不良物であるか否かを判別することが可能となるのである。尚、前記選別不良物としては、上記したような乳白色の樹脂等の穀粒とは異なる異物に限るものではなく、カビ等によって成分が変化した不良穀粒等も含まれる。
【００１５】
従って、１１００ｎｍ以下の波長領域の光を検出する低価格のシリコン系の受光センサを用いて装置全体がコスト高になる不利を回避させるようにしながらも、選別対象物が穀粒に近い乳白色を有する異物等の不良物であるか否かを判別することが可能となる選別装置を提供できるに至った。
【００１６】
本発明の第２特徴構成は、第１特徴構成に加えて、前記選別用受光手段が、前記不良物判別用の波長の光の光量として、１１００ナノメータより短い波長領域における複数の不良物判別用の波長の光の光量を検出可能に構成され、前記選別用判別手段が、前記選別用受光手段にて検出される複数の不良物判別用の波長の光の光量に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別するように構成されている点にある。
【００１７】
第２特徴構成によれば、選別用受光手段により１１００ナノメータより短い波長領域における複数の不良物判別用の波長の光の光量を検出して、そのような複数の波長の光の光量の検出結果に基づいて選別対象物が不良物であるか否かを判別することになる。このように複数の不良物判別用の波長の光の光量の検出結果を用いることにより、例えば、複数の不良物判別用の波長のうちのいずれかの波長の光量を基準として、複数の波長の光の光量の検出値を正規化させて、その正規化した検出結果を対比させることにより、選別対象物の形状の違い等の個体差あるいは選別用投光手段による投光量の変動等に起因した光量のバラツキによる計測誤差を少なくさせた状態で、選別不良物であるか否かを精度よく判別することが可能となるのである。
【００１８】
本発明の第３特徴構成は、第２特徴構成に加えて、前記選別用受光手段が、前記不良物判別用の波長としての、不良物判別用の短波長、不良物判別用の中間波長、及び、不良物判別用の長波長の光について光量を検出可能に構成され、前記選別用判別手段が、前記不良物判別用の短波長と前記不良物判別用の中間波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と、前記不良物判別用の中間波長と前記不良物判別用の長波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率とを求め、それらの比率の差の情報に基づいて選別対象物が前記選別不良物であるか否かを判別するように構成されている点にある。
【００１９】
第３特徴構成によれば、選別用受光手段が、不良物判別用の波長の光として、１１００ナノメータより短い波長領域において、不良物判別用の短波長、不良物判別用の中間波長、及び、不良物判別用の長波長の各波長について光量を検出することになる。
【００２０】
次に、図１０に示す本出願人による計測結果を基にして、不良物と穀粒の一例である米粒について分光特性を模式的に記載した図１３、図１４の記載を参照しながら説明を加える。
選別対象物がＰＥ（ポリエチレン）やＰＰ（ポリプロピレン）等からなる乳白色の樹脂ペレット等のように、１１００ｎｍよりも低い波長領域の特定の波長において下向きの変曲点が存在する光学特性を有するものであれば、前記３つの異なる波長として、下向きの変曲点を不良物判別用の中間波長（例えば、図１３のＸ２）として、それよりも短い波長を前記不良物判別用の短波長（例えば、図１３のＸ１）とし、不良物判別用の中間波長より長い波長を前記不良物判別用の長波長（例えば、図１３のＸ３）とするように設定しておくと、不良物判別用の短波長における光量と不良物判別用の中間波長における光量との間での変化状態（図１３に示す例では右下がり）と、不良物判別用の中間波長における光量と不良物判別用の長波長における光量との間での変化状態（図１３に示す例では右上がり）とが、波長の変化に対して逆向きの変化状態となる。その結果、前記不良物判別用の短波長と前記不良物判別用の中間波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と前記不良物判別用の中間波長と前記不良物判別用の長波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率の差は大きな値となる。
【００２１】
これに対して、選別対象物が穀粒であれば、不良物判別用の短波長（例えば、図１４のＸ１）における光量と不良物判別用の中間波長（例えば、図１４のＸ２）における光量との間での変化状態（図１４に示す例では右下がり）と、不良物判別用の中間波長（例えば、図１４のＸ２）における光量と不良物判別用の長波長（例えば、図１４のＸ３）における光量との間での変化状態（図１４に示す例では右下がり）とが同じであり、前記不良物判別用の短波長と前記不良物判別用の中間波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と前記不良物判別用の中間波長と前記不良物判別用の長波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率の差はほぼ零に近い小さい値になる。
【００２２】
従って、前記不良物判別用の短波長と前記不良物判別用の中間波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と前記不良物判別用の中間波長と前記不良物判別用の長波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率の差の情報に基づいて、選別対象物が上記したような不良物であるか否かを判別することが可能となるのである。
【００２３】
本発明の第４特徴構成は、請求項１〜３のうちのいずれか記載の特徴構成に加えて、前記選別対象物を予定移送経路に沿って移送する移送手段が設けられ、前記選別用投光手段が前記予定移送経路中における選別用計測位置に位置する選別対象物に光を投射するように構成され、前記選別用受光手段が前記選別用計測位置に位置する選別対象物からの光を受光するように構成され、前記選別用判別手段の判別情報に基づいて、前記選別用計測位置にて選別された前記選別対象物を前記選別不良物と他の選別対象物とに分離する選別用分離手段が設けられている点にある。
【００２４】
第４特徴構成によれば、移送手段によって選別対象物を予定移送経路に沿って移送しながら、選別用投光手段が予定移送経路中における選別用計測位置に位置する選別対象物に光を投射し、前記選別用受光手段が前記選別用計測位置に位置する選別対象物からの光を受光する。そして、選別用判別手段が選別用受光手段にて検出された不良物判別用の波長の光の光量に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別して、その判別結果に基づいて、移送手段にて選別用計測位置に移送されて選別用受光手段の受光情報に基づいて選別された選別対象物が選別用分離手段によって選別不良物と他の選別対象物とに分離されることになる。
【００２５】
すなわち、選別対象物を移送させる移送途中における選別用計測位置にて、選別用投光手段が選別対象物に光を投射し且つ選別用受光手段が選別用の受光情報を得ることができ、しかも、移送手段にて選別対象物を移送させながら選別用分離手段にて選別不良物と他の選別対象物とに分離させることができるので、選別対象物が選別不良物であるか否かを判別する処理、並びに、選別不良物と他の選別対象物とに分離させる処理とを、選別対象物を移送させながら順次行うことが可能であり、円滑な選別動作を実現することが可能となる。
【００２６】
本発明の第５特徴構成は、第１特徴構成〜第４特徴構成のうちのいずれかに加えて、前記予定移送経路中における検査用計測位置に位置する選別対象物に光を投射する検査用投光手段と、前記検査用計測位置に位置する選別対象物からの光を分光しない非分光状態で受光してその光量を検出する検査用受光手段と、前記検査用受光手段にて検出された選別対象物からの光の光量が適正光量範囲を外れるか否かにより選別対象物が検査不良物であるか否かを判別する検査用判別手段と、前記検査用判別手段の判別情報に基づいて、前記検査用計測位置にて検査された前記選別対象物を前記検査不良物と他の選別対象物とに分離する検査用分離手段とを備えて構成され、前記選別用受光位置と前記検査用受光位置とを同じ位置に設定して、前記検査用投光手段を前記選別用投光手段に兼用する構成としている点にある。
【００２７】
第５特徴構成によれば、検査用投光手段が予定移送経路中における検査用計測位置に位置する選別対象物に対して光を投射し、検査用受光手段が選別対象物からの光、すなわち投射された光が選別対象物を透過したりあるいは選別対象物を反射した光を受光する。そのとき、検査用受光手段は、選別対象物からの光を分光しない非分光状態で受光してその光量を検出することになる。検査用判別手段は、検査用受光手段にて検出された選別対象物からの光の光量が適正光量範囲を外れるか否かにより選別対象物が検査不良物であるか否かを判別することになる。
又、前記検査用投光手段を兼用する前記選別用投光手段が前記選別用受光位置に光を投射し、その選別用受光位置に位置する選別対象物からの光は、選別用受光手段にて受光される一方、検査用受光手段にも受光される。そして、前記選別用判別手段が選別用受光手段の検出情報に基づいて選別対象物が選別不良物であるか否かを判別し、前記検査用判別手段が検査用受光手段の検出情報に基づいて選別対象物が検査不良物であるか否かを判別する。
【００２８】
例えば、選別対象物を透過した光を受光する場合について説明すると、選別対象物が穀粒よりも透過率が小さい異物（例えば、小石や金属粒等）であれば、透過光の光量は穀粒に対して設定された適正光量範囲よりも小さい値になる。又、これに対して、透明なガラス片であれば透過光の光量は穀粒に対して設定された適正光量範囲よりも大きい値になる。つまり、光の光量が適正光量範囲を外れるか否かにより不良物であるか否かを判別することが可能な対象物であれば、検査用判別手段は検査用受光手段の検出情報に基づいて選別対象物が検査不良物であるか否かを判別することが可能となる。尚、選別対象物からの光としては透過光に限らず反射光を用いてもよい。
【００２９】
上記構成によれば、選別用受光手段にて不良物判別用の波長の光の光量を検出して、その検出情報に基づいて選別用判別手段が選別不良物であるか否かを判別する構成と、検査用受光手段にて光分光状態で光の光量を検出して、その検出情報に基づいて検査用判別手段が選別不良物であるか否かを判別する構成とを併用するようにしている。このようにすることで、光の光量が適正光量範囲を外れるか否かにより不良物であるか否かを判別することが可能な対象物に対しては検査用受光手段や検査用判別手段を用い、穀粒と同じような乳白色を有する樹脂材等のような光量の検出情報では適正に判別することができない対象物に対しては選別用受光手段や選別用判別手段を用いるようにしている。
【００３０】
従って、光の光量が適正光量範囲を外れるか否かにより不良物であるか否かを判別することが可能な対象物と、穀粒と同じような乳白色を有する樹脂材等のような光量の検出情報では適正に判別することができない対象物の夫々を不良物として適正に判別することが可能なものとなり、しかも、検査用投光手段を選別用投光手段に兼用する構成とすることで構成の簡素化を図ることが可能なものとなった。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
〔第１実施形態〕
以下、本発明の選別装置の第１実施形態を図面に基づいて説明する。
図１に、穀粒群の一例である玄米や精米等の米粒群を選別対象物として、その選別対象物を予定移送経路に沿って移送しながら不良物の検出及び除去を行う選別装置が示されている。この選別装置は、幅方向全幅に亘って平坦な案内面が形成された板状のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば６０度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部側に設けた貯留タンク７からフィーダ９によって搬送・供給された米粒群ｋが、シュータ１の上面を一層状態で横方向に広がった状態で流下案内される構成となっている。つまり、上記シュータ１の上面及びその下端からの流下経路が予定移送経路を形成しており、このシュータ１が、穀粒群を選別対象物としてその選別対象物を予定移送経路に沿って存在予定箇所とその存在予定箇所の位置よりも経路下手側の分離箇所とに移送する移送手段を構成する。尚、ここでは、一層状態で移送させることを目的としているので、流れ状態により部分的に粒が重なっても、一層状態の概念に含まれる。
【００３２】
貯留タンク７には、外部の精米機等から供給される米粒群や、その外部からの米粒群を１次選別処理した後再選別される米粒群が貯留される。貯留タンク７は下端側ほど先細筒状に形成され、貯留タンク７からフィーダ９上に落下した米粒群ｋのシュータ１への供給量は、フィーダ９の振動による米粒群ｋの搬送速度を変化させて調節される。
【００３３】
図２、図３に示すように、シュータ１の下端部から流下する米粒群ｋが広幅状態で存在する計測位置Ｊが米粒群ｋの流下経路中に設定され、その計測位置Ｊにおける米粒群ｋの横幅方向の全幅を照明する蛍光灯にて構成される光源４と、その光源４からの照明光が上記計測位置Ｊの米粒群ｋで反射した反射光を受光してその受光量を検出する反射用ラインセンサ５Ｂとが設けられている。一方、上記計測位置Ｊを挟んで、光源４の設置位置とは反対側（図の右側）に、光源４からの照明光が計測位置Ｊの米粒群ｋを透過した透過光を受光してその受光量を検出する透過用ラインセンサ５Ａが設けられている。これらの透過用ラインセンサ５Ａと反射用ラインセンサ５Ｂとにより検査用受光手段５が構成される。
【００３４】
光源４を設けた側と同じ側に、正常な穀粒の一例である米粒群ｋにおける正常な米粒ｋからの透過光と同一又は略同一の明るさの光を透過用ラインセンサ５Ａに向けて反射する透過光用反射板８Ａが設けられ、光源４が、この透過光用反射板８Ａを照明するように配置されている。尚、透過用光反射板８Ａはその表面を印刷等にて白色に形成した白色板からなる。
【００３５】
又、光源４を設けた側と同じ側には、計測位置Ｊに位置する選別対象物としての米粒群ｋに光を投射する選別用投光手段としてのハロゲンランプ２４と、表面を黒色に形成した黒色板からなる受光ユニット用反射板８Ｃが設けられている。ハロゲンランプ２４は、計測位置に移送された米粒群の横幅方向の全幅にわたって光を投射するように構成されている。そして、光源４、反射用ラインセンサ５Ｂ、透過光用反射板８Ａ、受光ユニット用の反射板８Ｃ、及び、ハロゲンランプ２４の夫々が、一方の収納部１３Ｂに収納されている。
【００３６】
透過用ラインセンサ５Ａを設けた側と同じ側に、米粒群ｋにおける正常な米粒ｋからの反射光と同一又は略同一の明るさの光を反射用ラインセンサ５Ｂに向けて反射する反射光用反射板８Ｂが設けられている。又、透過用ラインセンサ５Ａを設けた側と同じ側には、計測位置Ｊに位置する選別対象物としての米粒群ｋからの光を受光する受光ユニット２５が設けられている。そして、透過用ラインセンサ５Ａ、反射光用反射板８Ｂ、及び、受光ユニット２５の夫々が、他方の収納部１３Ａに収納されている。尚、前記各収納部１３Ａ，１３Ｂは側板が共通である一体のケーシング１３として構成されている。従って、選別用投光手段としてのハロゲンランプ２４、検査用投光手段としての光源４、選別用受光手段としての受光ユニット２５、及び、検査用受光手段としての透過用ラインセンサ５Ａと反射用ラインセンサ５Ｂの夫々が同一のケーシング１３内に収納される状態で設けられている。
【００３７】
両収納部１３Ａ，１３Ｂ夫々は、計測位置Ｊに面する側に板状の透明なガラスからなる光透過用の窓部１４Ａ，１４Ｂを備えている。そして、上記反射用反射板８Ｂは、米粒と同じ反射率の領域８ａを光源４にて照明された米粒群ｋの全幅に対応して長手状に形成し、且つその長手状の領域８ａの両側に黒色の領域８ｂを形成するように、窓部１４Ａの内面に印刷等による塗膜として形成されている。
【００３８】
図６に示すように、上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例えば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象範囲として各別に受光情報を取出し可能な複数個の受光部５ａを、前記計測位置Ｊの長手方向に沿って並置させて、米粒群ｋの横幅方向の全幅を受光範囲とするように構成されている。具体的には、複数個の受光部５ａとしての受光素子が直線状に並置されたモノクロタイプのＣＣＤセンサ５０と、計測位置Ｊでの米粒群ｋの像を上記ＣＣＤセンサの各受光素子上に結像させる光学系５１とから構成されている。そして、両ラインセンサ５Ａ，５Ｂは前記計測位置Ｊを一層状態で移送される米粒群の一端側から他端側に向けて、例えば図５において左端側から右端側に向けて各受光部５ａから各受光情報が順次取り出される構成となっている。
【００３９】
前記受光ユニット２５は、ハロゲンランプ２４にて投射されて選別対象物を透過した光を分光して１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長の光の光量を受光するように構成されている。すなわち、前記不良物判別用の波長の光の光量として、１１００ナノメータより短い波長領域における複数の不良物判別用の波長、つまり、不良物判別用の短波長、不良物判別用の中間波長、及び、不良物判別用の長波長の光について光量を検出可能に構成されている。
【００４０】
説明を加えると、受光ユニット２５は、図４に示すように、米粒群ｋの横幅方向の全幅を受光範囲とするように構成された３個の受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃ、３個の受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃに対応させて設けられて不良物判別用の短波長（８４０ｎｍ）、不良物判別用の中間波長（９４０ｎｍ）、及び、不良物判別用の長波長（９７０ｎｍ）の光だけを各別に通過させる３個の光学フィルター２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃ、計測位置Ｊでの米粒群ｋからの光のうち前記各波長を含む特定の波長領域だけの光を反射させて３個の受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃに各別に導く３個のダイクロイックミラー２８Ａ，２８Ｂ，２８Ｃ、及び、計測位置Ｊでの米粒群ｋの光を上記受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃにて受光可能なように導く光学系２９の夫々が備えられている。
【００４１】
前記各受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃは、図７に示すように、前記ラインセンサ５Ａ，５Ｂと同様に、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｑ（例えば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象範囲として各別に受光情報を取出し可能な複数個の受光部２６ａを前記計測位置Ｊの長手方向に沿って並置して構成されている。具体的には、前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂと同様に、複数個の受光部２６ａとしての受光素子が直線状に並置されたモノクロタイプのＣＣＤセンサを用いて構成されている。このＣＣＤセンサは、シリコンフォトダイオードを用いて光電変換してその電荷量を蓄積してその蓄積した電荷に基づいて光量を検出するようにした所謂、シリコン系の受光センサである。
【００４２】
次に、１１００ｎｍより短い波長領域における前記３つの波長、８４０ｎｍ、９４０ｎｍ、９７０ｎｍが、正常な米粒についての波長の変化に対する受光量の変化状態と正常な米粒以外の不良物についての波長の変化に対する受光量の変化状態とが異なる光学的な特徴部分を有する複数の波長であることについて、本出願人による計測データに基づいて説明する。
【００４３】
図１０に、各種の計測対象について、１１００ｎｍ以下の波長の光を計測対象に投射してその計測対象を透過した光の光量を検出して、１１００ｎｍ以下の各波長についての透過光の強度の変化つまり分光特性を計測したものである。計測対象は、白米、玄米等の正常な穀粒、ＰＥ（ポリエチレン）、ＰＰ（ポリプロピレン）、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）、ＰＡ（ポリアミド）、スチレンゴム等からなる乳白色の樹脂ペレットである。そして、図１０に示す計測データをピーク波長（８４０ｎｍ）の透過光強度を基に正規化したもの、言い換えると、ピーク波長の透過光強度を１としてそれを基準に分光特性を比率の変化として表したものが図１１に示されている。
【００４４】
図１０及び図１１から明らかなように、白米、玄米等の正常な穀粒の分光特性は、約５００ｎｍ〜約１１００ｎｍの波長領域の全域にわたって約８４０ｎｍをピークとして全体として上向きに突出して変曲点がなく滑らかに変化するものであるが、上記したようなＰＥやＰＰ等からなる乳白色の樹脂ペレットについては、９４０ｎｍ付近及び９７０ｎｍ付近に光学的な特徴としての変曲点が存在する分光特性を有していることが判る。又、ＰＥＴからなる乳白色の樹脂ペレットについては、上述したような変曲点はないがピーク波長（８４０ｎｍ）における透過光強度が大きい点で米粒に比べて差異がある。尚、このときに計測に用いた受光センサは８４０ｎｍ付近に検出感度のピークを有する受光センサを用いているので、検出感度のピークが８４０ｎｍとは異なる受光センサを用いて計測した場合には、計測対象物が同じであっても図１０に示すデータとは異なるものとなる。
【００４５】
そこで、この選別装置においては、上述したような分光特性の違いを利用して、受光ユニット２５にて計測された計測結果に基づいて、選別対象物が米粒であるか乳白色の樹脂ペレットであるかを判別する構成としている。すなわち、受光ユニット２５にて検出された前記波長の光の受光情報に基づいて選別対象物が正常な穀粒であるか不良物としての乳白色の樹脂ペレットであるかを判別する選別用判別手段１００が備えられて、その選別用判別手段１００が、前記不良物判別用の短波長（８４０ｎｍ）と前記不良物判別用の中間波長（９４０ｎｍ）との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と、前記不良物判別用の中間波長（９４０ｎｍ）と前記不良物判別用の長波長（９７０ｎｍ）との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率とを求め、それらの比率の差の情報に基づいて選別対象物が前記選別不良物、具体的には、ＰＥやＰＰ等からなる乳白色の樹脂ペレットであるか否かを判別するように構成されている。ちなみに、この選別用判別手段１００は、後述するように制御装置１０を利用して構成されることになる。又、前記選別用判別手段１００は、ピーク波長（約８４０ｎｍ）における透過光強度の絶対値の大きさの情報に基づいて、選別対象物が選別不良物としてのＰＥＴからなる乳白色の樹脂ペレットであるか否かを判別する構成となっている。
【００４６】
上記計測位置Ｊよりも移送方向の下流側には、検査不良物や選別不良物と正常な米粒ｋとを異なる経路に分離させるためのエアー噴出し式の分離装置６が設けられている。この分離装置６は、エアータンク１５から供給されるエアーを電磁弁１１によって断続する状態で供給されてエアーを噴出する複数の噴出ノズル６ａが前記予定移送経路の幅方向に沿って並置されて構成されている。
【００４７】
そして、シュータ１の下端部から流下する米粒群ｋのうちで、前記噴出ノズル６ａからのエアーの吹き付けを受けずにそのまま進行してくる正常な米粒ｋを回収する良米用の受口部２Ｂと、エアーの吹き付けを受けて正常な米粒ｋの流れから横方向に分離した不良物を回収する不良物用の受口部３Ｂとが設けられ、良米用の受口部２Ｂが横幅方向に細長い筒状に形成され、その良米用の受口部２Ｂの周囲を囲むように、不良物用の受口部３Ｂが形成されている。尚、良米用の受口部２Ｂにて回収された米粒ｋ、及び、不良物用の受口部３Ｂにて回収された不良物は、再選別等のために、本装置の貯留タンク７又は他の装置に搬送される。
【００４８】
図１に示すように、脚部Ｆ０を備えた底板Ｆ１上に立設された縦枠Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４が、横枠Ｆ５，Ｆ６，Ｆ７によって連結されて機枠が構成されている。表側の縦枠Ｆ４の上部斜め部分に、情報の表示及び入力用の操作卓２１が設置され、前記フィーダ９に対する振動発生器９Ａが横枠Ｆ５上に設置されている。又、箱状の収納部１３Ａ，１３Ｂが前部側で縦枠Ｆ４に後部側で縦枠Ｆ３に支持され、シュート１が上部側で横枠Ｆ６に下部側で収納部１３Ｂに支持されている。装置外面を覆うカバー１２が機枠に取り付けられている。
【００４９】
次に制御構成を説明すると、図５に示すように、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けられ、この制御装置１０に、両ラインセンサ５Ａ，５Ｂからの検出信号と、前記受光ユニット２５における各受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃからの検出信号と、操作卓２１からの操作情報とが入力されている。一方、制御装置１０からは、光源４の点灯回路１９に対する駆動信号と、エアータンク１５から各噴出ノズル６ａへの各エアの供給を断続する各制御弁１１を駆動する電磁弁駆動回路１１Ａに対する駆動信号と、フィーダ用振動発生器９Ａに対する駆動信号と、ハロゲンランプ２４に対する点灯回路２４Ａに対する駆動信号とが出力されている。
【００５０】
そして、上記制御装置１０を利用して、前記選別用判別手段１００が構成される一方、この制御装置１０を利用して、前記光源４により照射されて検査用受光手段５としての両ラインセンサ５Ａ，５Ｂにて検出された選別対象物からの光の光量が適正光量範囲を外れるか否かにより、選別対象物が検査不良物、つまり小石や不透明なプラスチック片等の異物、あるいは、一部が変色したり、黒点等の異常がある不良米等の検査不良物であるか否かを判別する検査用判別手段１０１が構成されている。
【００５１】
先ず、制御装置１０における検査用判別手段１０１の判別処理について説明する。
光源４にて前記計測位置に位置する米粒群が照射されてその米粒群を透過した透過光及び透過光用反射板８Ａからの反射光を受光する透過用ラインセンサ５Ａの受光情報に基づいて、その受光量が米粒群における正常な米粒ｋからの透過光に対する適正光量範囲から外れた位置に検査不良物が存在していることを検出し、又、光源４にて前記計測位置に位置する米粒群が照射されてその米粒群を反射した米粒群ｋからの反射光及び反射光用反射板８Ｂからの反射光を受光する反射用ラインセンサ５Ｂの受光情報に基づいて、その受光量が米粒群における正常な米粒ｋからの反射光に対する適正光量範囲から外れた位置に、検査不良物が存在していることを検出する。従って、前記計測位置Ｊが検査用計測位置として設定されることになる。
【００５２】
透過光の場合は、図８の透過光用ラインセンサ５Ａの出力波形に示すように、各受光部５ａの受光量に対応する出力電圧が米粒群ｋに対する適正光量範囲ΔＥｔ内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定適正範囲ΔＥｔを外れた場合に米粒の不良又は異物の存在を判別する。ここで、透過光用の適正光量範囲ΔＥｔは、正常米粒からの標準的な透過光に対する出力電圧レベルｅ０を挟んで上下所定幅の範囲に設定される。
【００５３】
そして、適正光量範囲ΔＥｔよりも小さい場合に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物等（例えば、黒色の石粒）の存在を判別し、適正光量範囲ΔＥｔよりも大きい場合に、正常な米粒ｋよりも透過率が大きい明側の不良の米粒ｋ又は異物の存在を判別する。この明側の不良の米粒ｋ又は異物の例としては、薄い色付の透明なガラス片等が正常な米粒ｋよりも透過率が大きい異物になり、又、正常な米粒ｋを「もち米」としたときの「うるち米」が正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米粒ｋになる。
【００５４】
図８には、受光部５ａの出力電圧（受光量）が、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置や黒色の石等の位置（ｅ１で示す）、及び、胴割れ部分が存在する位置（ｅ２で示す）では、上記適正光量範囲ΔＥｔよりも下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異物等が存在する場合には、位置ｅ４に示すように適正光量範囲ΔＥｔよりも上側に位置している状態を例示している。
【００５５】
一方、反射光の場合には、図９の反射光用のラインセンサ５Ｂの出力波形に示すように、各受光部５ａの受光量に対応する出力電圧が適正光量範囲ΔＥｈ内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、適正光量範囲ΔＥｈを外れた場合に米粒の不良又は異物の存在を判別する。ここで、反射光用の適正光量範囲ΔＥｈは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力電圧レベルｅ０'を挟んで上下所定幅の範囲に設定される。
【００５６】
図９には、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置（ｅ１'で示す）や胴割れ部分が存在する位置（ｅ２'で示す）では、上記適正光量範囲ΔＥｈから下側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって位置ｅ３'に示すように適正光量範囲ΔＥｈから上側に外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形において適正光量範囲ΔＥｈから下側に大きく外れることになる。
【００５７】
次に、制御装置１０における選別用判別手段１００の判別処理について説明する。
前記受光ユニット２５において、ハロゲンランプ２４にて前記計測位置Ｊに位置する選別対象物に投射されたその選別対象物を透過した透過光を分光して、３個の受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃのうちの１つの受光センサ２６Ａにて不良物判別用の短波長（８４０ｎｍ）の光の光量が検出され、他の１つの受光センサ２６Ｂにて不良物判別用の中間波長（９４０ｎｍ）の光の光量が検出され、残りの受光センサ２６Ｃにて不良物判別用の長波長（９７０ｎｍ）の光の光量が検出される。従って、前記計測位置Ｊが検査用計測位置として設定されることになる。
【００５８】
それらの各受光情報が制御装置１０に入力され、制御装置１０は、前記各受光センサ２６Ａ，２６Ｂ，２６Ｃにおける各受光部２６ａにおける計測対象領域の夫々について、前記不良物判別用の短波長（８４０ｎｍ）と前記不良物判別用の中間波長（９４０ｎｍ）との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と、前記不良物判別用の中間波長（９４０ｎｍ）と前記不良物判別用の長波長（９７０ｎｍ）との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率とを求め、それらの比率の差の情報を求める。一方、不良物判別用の短波長（８４０ｎｍ）における光量の情報を求める。
【００５９】
説明を加えると、透過光の分光特性が例えば図１３、図１４に示すようになっていたとする。ここで、不良物判別用の短波長をＸ１、不良物判別用の中間波長をＸ２、不良物判別用の長波長をＸ３とし、それらの各波長における透過光の検出値を夫々、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３とすると、下記数１により前記比率の差の値Ｙを求める。
【００６０】
［数１］
Y＝（R３―R２)／(X３-X２)―（R2―R1)／(X2-X1)
【００６１】
図１３、図１４に示すように、米粒の場合と不良物の場合とでは、その前記比率の差の値Ｙは異なる値になる。つまり、米粒の場合には前記比率の差の値Ｙは略零に近い小さい値になるが、ＰＥやＰＰ等からなる乳白色の樹脂ペレット等の不良物では、前記比率の差の値Ｙは大きな値になる。
【００６２】
そして、制御装置１０は、前記比率の差Ｙの情報及びピーク波長（８４０ｎｍ）における透過光の光強度の情報から選別対象物が不良物であるか否かを判別する。図１２には、縦軸に前記比率の差Ｙを示し、横軸にピーク波長における透過光の光強度を示す状態で、複数の材質についての計測結果をプロットしたものが示されている。そして、この図１２における境界線Ｌに対応する演算式を設定しておき、判別対象となる選別対象物についての前記比率の差Ｙ及びピーク波長における透過光の光強度の検出データが境界線Ｌよりも上側（大側）であればＰＥ、ＰＰ、エチレンゴム等からなる乳白色の樹脂ペレット等やＰＥＴからなる乳白色の樹脂ペレット等の不良物であると判別し、その境界線よりも下側（小側）であれば穀粒であると判別する。ここで、受光ユニット２５による計測位置の背景は黒色であるから、背景に対応する光量の計測結果によれば、前記比率の差及び光量ともいずれも略零となるから、背景は米粒として判別されることになる。
【００６３】
そして、前記制御装置１０は、検査用判別手段１０１の判別処理にて米粒の不良又は異物の存在が判別された場合、及び、選別用判別手段１００の判別処理にて不良物が判別された場合には、計測位置Ｊから前記エアー噴出し式の分離装置６によるエアー噴出位置までの移送時間が経過するに伴って、流下している不良の米粒、異物、不良物等に対して、その位置に対応するエアー噴出し式の分離装置６における各噴出ノズル６ａからエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させる。従って、この分離装置６により、選別不良物と他の選別対象物とに分離する選別用分離手段が構成されている。そして、上記構成では、分離装置６は、検査不良物と他の選別対象物とに分離する検査用分離手段を兼用する構成となっている。
【００６４】
又、上記構成によれば、前記計測位置Ｊが、前記選別用受光位置及び前記検査用受光位置として設定されることになり、前記選別用受光位置と前記検査用受光位置とが夫々同じ位置に設定される構成となっている。
【００６５】
〔第２実施形態〕
以下、本発明の選別装置の第２実施形態を図面に基づいて説明する。
この第２実施形態では、選別対象物に対して光を投射する構成が異なる他は、第１実施形態と同じであるから、異なる構成についてのみ説明し、同じ構成については説明は省略する。
【００６６】
すなわち、上記第１実施形態では、選別用投光手段としてのハロゲンランプ２４と検査用投光手段としての蛍光灯からなる光源４とが夫々各別に設けられる構成としたが、このような構成に代えて、この第２実施形態では、図１５、図１６に示すように、光源４として、１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長の光を含む光源、例えば蛍光灯等を用いることにより、前記選別用投光手段と前記検査用投光手段とを兼用する構成とするものである。そして、制御装置１０を利用して検査用判別手段１０１及び選別用判別手段１００が構成されており、制御装置１０による制御動作は、第１実施形態の場合と同様にして実行されることになる。
【００６７】
〔別実施形態〕
以下、別実施形態を列記する。
【００６８】
（１）上記実施形態では、前記選別用受光位置と前記検査用受光位置とが夫々同じ位置に設定される構成を例示したが、このような構成に代えて、前記選別用受光位置と前記検査用受光位置とを夫々移送手段としてのシュータによる予定移送経路の途中に夫々各別に位置させて設定する構成としてもよい。
【００６９】
（２）上記実施形態では、前記選別用投光手段、前記選別用受光手段、前記検査用投光手段及び前記検査用受光手段の夫々が同一のケーシング内に収納される状態で設けられる構成としたが、このような構成に限らず、夫々各別のケーシングに収納する構成としてもよい。
【００７０】
（３）上記実施形態では、前記選別用受光手段として、選別対象物からの光をダイクロイックミラー及び光学フィルターにて分光して、複数の各波長毎に設けられた受光センサにて受光する構成としたが、このような構成に代えて、選別対象物からの光を回折格子を用いて分光して複数の各波長毎に分光された光を受光センサにて受光する構成としてもよい。
【００７１】
すなわち、図１７（イ）に示すように、選別対象物からの光を反射型の回折格子３０にて受光可能なように光学系３１にて導く構成とする。この光は一層状態で横幅方向に広がった選別対象物の流下幅の全幅にわたる多数の計測対象領域の光を含む広い範囲の帯状の光である。導かれた光は夫々の計測対象領域毎に回折格子３０にて反射して各波長毎に分光される。そして、図１７（ロ）に示すように、不良物判別用の短波長（８４０ｎｍ）、不良物判別用の中間波長（９４０ｎｍ）、及び、不良物判別用の長波長（９７０ｎｍ）の光を上記実施形態と同様なラインセンサ形式の受光センサ３２にて受光する構成としてもよい。
【００７２】
この実施形態においては、受光センサとしては、上記構成に限らず、例えば図１７（ハ）に示すように、２次元のイメ−ジセンサ３３を用いて分光された光を全波長にわたって計測して分光スペクトルを計測してどのような種類の異物であっても対応できるような構成としてもよい。
【００７３】
又、前記選別用受光手段としては、上記構成に限らず、音響光学素子を用いて選別対象物からの光を分光させて受光センサにて受光する構成としてもよい。
【００７４】
（４）上記実施形態では、選別不良物として、穀粒と同じような乳白色を有する乳白色の樹脂ペレットを判別対象としたが、このようなものに限らず、カビ等によって成分が変化した不良穀粒等の不良物を判別することも可能である。例えば、穀粒の一例である小麦において、赤カビ病が発生して成分が変化しているようなものを不良物として判別することができる。
【００７５】
図１８には、上記実施形態に記載した選別用構成と同様な構成を用いて、正常な小麦と赤カビ病の小麦を計測対象として、前記不良物判別用の短波長と前記不良物判別用の中間波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と、前記不良物判別用の中間波長と前記不良物判別用の長波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率とを求め、それらの比率の差の情報を求めてその計測結果を示したものである。この場合の計測条件としては、不良物判別用の短波長として８９０ｎｍ、不良物判別用の中間波長として９３０ｎｍ、不良物判別用の長波長として９７０ｎｍの波長を用い、はだか麦を計測対象としている。そして、この計測結果から、図１８の境界線Ｌｋにて正常粒（良品）と不良粒（赤カビ品）とを判別することができる。このとき、透過光の光量データは必要ではなく、前記比率の差の情報のみに基づいて正常粒（良品）と不良粒（赤カビ品）とを判別することが可能である。
【００７６】
（５）上記実施形態では、１１００ナノメータより短い波長領域における前記不良物判別用の波長として、不良物判別用の短波長、不良物判別用の中間波長、及び、不良物判別用の長波長の光について光量を検出して、前記不良物判別用の短波長と前記不良物判別用の中間波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率と、前記不良物判別用の中間波長と前記不良物判別用の長波長との間での波長の変化量に対する光量の変化量の比率とを求め、それらの比率の差の情報に基づいて選別対象物が前記選別不良物であるか否かを判別するように構成したが、このような構成に代えて次のように構成するものでもよい。
【００７７】
例えば、１１００ナノメータより短い波長領域における２つの異なる波長の光、あるいは、４以上の異なる波長の光について光量を検出して、それらの検出情報に基づいて選別対象物が前記選別不良物であるか否かを判別するように構成してもよく、又、このように１１００ナノメータより短い波長領域における不良物判別用の波長として、複数の波長の光について光量を検出するものに限らず、１つの波長の光の光量に基づいて選別対象物が前記選別不良物であるか否かを判別するようにしてもよい。
【００７８】
（６）上記実施形態では、前記選別用投光手段、前記選別用受光手段、前記選別用判別手段以外に、前記検査用投光手段、前記検査用受光手手段、前記検査用判別手段が設けられて、選別対象物が選別不良物であるか否かを判別するとともに、選別対象物が検査不良物であるか否かを判別する構成としたが、このような構成に代えて、前記検査用投光手段、前記検査用受光手手段、前記検査用判別手段の夫々を設けない構成として、前記選別用投光手段、前記選別用受光手段、前記選別用判別手段を備えて、選別対象物が選別不良物であるか否かを判別する処理だけを行う専用の選別装置として構成してもよい。
【００７９】
（７）上記実施形態では、選別用分離手段が不良物に対してエアーを吹き付けて、正常物と異なる経路に分離させるようにしたが、これに限るものではなく、例えば不良物をエアーで吸引して分離させるようにしたり、接触片を出退移動させる構成として、接触片を米粒群の移送経路中に突出させて不良物を跳ね飛ばす接触式の分離装置としてもよい。又、移送手段による移送経路の左右両側に、互いに反対方向にエアーを吹き付ける一対の噴出ノズル群を設け、異なる種類の不良物を良品用回収部の左右両側に各別に設けた回収部に各別に回収させるように構成してもよい。異なる種類の不良物としては、不良の穀粒とそれ以外の異物に分けたり、あるいは、樹脂ペレットとそれ以外の異物や不良穀粒に分けるようにしてもよい。
【００８０】
（８）上記実施形態では、予定移送経路として、斜め姿勢の平面シュータとその下端部からの流下経路にて構成したが、これ以外に、例えば、複数の樋状の経路を横方向に並置したような経路でもよい。
【００８１】
（９）上記実施形態では、移送手段が、穀粒群を予定移送経路に沿って一層状態で横幅方向に広がった状態で移送するように構成したが、穀粒群を一列状態で移送させる構成としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】選別装置の全体側面図
【図２】同要部側面図
【図３】同要部斜視図
【図４】受光ユニットの概略構成図
【図５】制御構成のブロック図
【図６】ラインセンサの受光範囲を示す図
【図７】受光センサの受光範囲を示す図
【図８】透過光用ラインセンサの出力波形図
【図９】反射光用ラインセンサの出力波形図
【図１０】複数の対象物の分光特性を示す図
【図１１】正規化した分光特性を示す図
【図１２】判別用計測データ
【図１３】分光特性を用いた判別処理の説明図
【図１４】分光特性を用いた判別処理の説明図
【図１５】第２実施形態の選別装置の全体側面図
【図１６】第２実施形態の制御構成のブロック図
【図１７】別実施形態の分光ユニットの構成図
【図１８】別実施形態の判別用計測データ
【符号の説明】
【００８３】
１        移送手段
４        検査用投光手段
５        検査用受光手段
６        選別用分離手段
２４      選別用投光手段
２５      選別用受光手段
１００    選別用判別手段
１０１    検査用判別手段
【図１】
2005180958.tif 000003
【図２】
2005180958.tif 000004
【図３】
2005180958.tif 000005
【図４】
2005180958.tif 000006
【図５】
2005180958.tif 000007
【図６】
2005180958.tif 000008
【図７】
2005180958.tif 000009
【図８】
2005180958.tif 000010
【図９】
2005180958.tif 000011
【図１０】
2005180958.tif 000012
【図１１】
2005180958.tif 000013
【図１２】
2005180958.tif 000014
【図１３】
2005180958.tif 000015
【図１４】
2005180958.tif 000016
【図１５】
2005180958.tif 000017
【図１６】
2005180958.tif 000018
【図１７】
2005180958.tif 000019
【図１８】
2005180958.tif 000020