(57)【要約】【課題】  非接触ＩＣチップを真贋判別シールに利用する方法はあったが、読み込み機材・データ照合のためのネットワーク環境・データーベース照合部などシステムや導入する為の費用が肥大化するという問題点があった。【解決手段】  非接触ＩＣチップをシールに加工し、ＲＯＭの部分は、非接触ＩＣチップ製造時にユニークな連番番号を書込む。ＲＡＭの部分は、シール出荷時に貼付する対象物の識別番号を前記ＲＯＭに書き込まれている情報をキーにして暗号化した情報と非暗号化した情報を書込む。また、真贋判定を行う場合は、携帯端末等で非接触ＩＣチップに書かれた暗号部分の情報に対してＲＯＭの情報をキーにして複合化し、非暗号部分の情報と照合することによって携帯端末等のみで真贋判定を行う。さらに、リサイクルでのシール回収時は、通常の検査で使用する周波数帯とは違う周波数帯を使用することで真贋判断を行うことができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
真贋判断を行うにあたりＲＯＭ以外に一度だけ情報を書込める領域（Ｏｎｅ−Ｔｉｍｅ−ＲＡＭ）を設け、全周波数帯域に対応した特徴をもつ非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）を使用し、商品等の識別を行うことができる識別情報を暗号化し、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に記憶させる識別情報登録システム。
【請求項２】
前記非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれた情報を読み取ることができる携帯型検査装置であって、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれている情報を携帯型検査装置にて読み取らせ、読み取った暗号化情報を複合化する複合化手段を含む読み取り検査システム。
【請求項３】
前記読み取り検査システムと携帯型検査装置であって、情報管理センターに問い合わせることなく、携帯型検査装置で読み取った情報を複合化しその場で真贋判別することができる読み取り検査システム。
【請求項４】
前記非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）であって、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）をシール加工し、シールを剥がすとアンテナ部分が壊れ非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）の情報を読み込むことができないようにするシール加工手段。
【請求項５】
前記非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）であって、シールを剥がした後に非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）の情報を通常の検査とは違う周波数帯を使用して真贋判断することができる検査手段。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、商品等の真贋を行うために非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれる情報を暗号化し、登録を行う識別情報登録システム及び商品等の真贋判別する検査システム、携帯型検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】  近年、商品等の模倣品が増加しており、製造技術、複製技術が年々向上しており外観だけではなかなか判別のできないものが増えている。模倣品といっても外観の完成度は高く、素人には真製品か模倣品かの判別が難しい。【０００３】  これらの模倣品を防止、見抜くために各正規品メーカーは、模倣品を防ぐ対策を講じているが、模倣品問題は各社がアンダーグラウンドで行っている問題であるだけに、問題の規模や対策の効果ともなかなか見えにくい問題となっている。【０００４】  また、その解決方法も単純ではないため、なかなか簡単には解決しない。しかし現在、被害規模は予想をはるかに上回る勢いで拡大しており、各社とも何らかの打開策を検討する必要がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】  模倣品によっては、正規品メーカーの担当者でも、内容を分析しないと判別できないようなケースも増加している。例えば、ギャランティー（国際保証書）を商品につけることで正規品の証明を行っている。また、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）を商品に埋め込むことで正規品か模倣品かの真贋判別を行っている。【０００６】  しかし、ギャランティー（国際保証書）を商品につけることで正規品の証明を行った場合でも、ギャランティー（国際保証書）が模倣されるケースも少なくないという問題もあった。【０００７】  さらには、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）を用いた検査方法では、通常は書き込まれた情報は管理サーバーに登録されており、予め携帯型検査装置に情報を送信しておく必要があり、使用する側は情報を受け取るためにネットワーク等で接続できる環境が必要となり費用が肥大化するという問題点があった。【０００８】  また、ネットワークを使用しない検査方法では、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）を手に入れることさえできれば正確な真贋判断を行うことができないという問題があった。【０００９】  そこで本発明は、識別情報を暗号化し非接触ＩＣチップに保持させることで、正規品メーカーもしくは販売店が何時でもネットワーク等の環境を必要とすることなく携帯型検査装置のみで非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）の情報をもとに不正されたかどうかの検査を行うことができる、システム、ハードウェアを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】  まず、請求項１に係る発明は、商品等が製造段階で付けられる商品固有の識別ＩＤを暗号化し非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に登録を行う手段である。登録手段については専用の書き込み端末を用いて、携帯型端末もしくはパーソナルコンピュータ端末等より行う。【００１１】  また、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれる情報は、識別番号を読出し専用の領域（ＲＯＭ）に書き込まれている情報をキーにして暗号化した情報と非暗号化した情報を書込む。また、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込む情報は商品固有の識別番号としているが、製造日、書込み日等といった情報も書き込むことができる。【００１２】  ここでの「非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）」とは、電波を使ってデータの読み書きを行う自動認識技術の総称である。ＲＦＩＤタグにデータを記憶し、電波や電磁波で読み取り機と交信し、アンテナ側からの電波によりＲＦＩＤタグ自身が起電するため、電池を持たず半永久的に利用出来るのが大きな特徴としているものである。本発明で使用する非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）には読み出し専用の領域（ＲＯＭ）と書き換え可能な領域（ＲＡＭ）が用意されている。【００１３】  さらに、本発明では利用される場所によって周波数帯を替えることができる（全周波数帯域対応）特徴をもつ非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）を使用する。全周波数帯域対応の非接触ＩＣタグ（ＲＦＩＤ）を使用することで、１枚のチップで利便性をあげることができる。例えば、製造業者、販売業者、は短波帯（１３．５６ＭＨｚ）を使用し、リサイクル業者等はマイクロ波帯（２．４５ＧＨｚ）といったように利用される場所により周波数帯を使い分けることができる。【００１４】  また、請求項２に係る発明は、請求項１に記載した非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれている暗号化された情報を読み取る手段であって、専用の携帯型検査装置により非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれている情報を読み取り、暗号化された情報を複合化する機能をもった検査システムである。【００１５】  ここでの「暗号化」、「複合化」とは、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれた情報が第三者に漏洩しないようにするために、ある一定の規則に従ってデータを交換することである。データを解読可能なデータに変換することを暗号化、暗号化されたデータをもとのデータに変換することを複合化という。暗号化・複合化には鍵と呼ばれるビット列が用いられ、大きく共通鍵暗号と公開鍵暗号の２つに分けられる。本発明においては共通鍵暗号を使用する。【００１６】  また、請求項３に係る発明は、請求項２に記載した携帯型検査装置と検査システムであって、事前に真贋判別するための基本情報を携帯型検査装置に記憶させることなく読み取った情報から正常か異常かを判断することができる検査システムである。【００１７】  また、請求項４に係る発明は、前記請求項１に記載した非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）であって、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）をシール加工し、一度でもシールを剥がそうとするとアンテナ部分が破損し非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）の内容を読み込むことができなくなるシール加工方法である。【００１８】  さらに、請求項５にかかわる発明は、前記請求項１に記載した全周波数帯域対応の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）及び前記請求項４に記載したシール加工した非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）であって、商品をリサイクル等にかける場合、業者等がシールを剥がした場合でも違う周波数帯を使用することで、アンテナ部分が壊れた状態の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）の真贋判別を行うことを可能にした検査システムである。
【発明の効果】
【００１９】  本発明による効果は、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込んだ情報を暗号化することで、商品の模倣品を迅速に検知することができる効果がある。【００２０】  また、ネットワーク等への接続が必要ないため、利用者は余分な設備投資をする必要がなく安価で検査システムを導入することができる。【００２１】  さらに、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に書き込まれた情報は様々な用途で使用することができるが、全周波数帯域対応の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）を使用することで、１枚のチップで複数の用途条件を満たすことができるので、必要以上の投資が必要なく費用の削減につながる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】まず図１は、本発明に係る商品を識別するための商品固有の識別情報を非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）に登録する場合の処理フローである。出荷が決定した商品もしくは製造工場にて検査を合格した商品に対して、商品を識別することができる情報を図４に示す非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に対して情報登録を行う。情報登録１０は、商品固有の識別情報を非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に書き込む処理を示している。未使用の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０をコンピュータ端末等に接続されている専用の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）リードライターにセットする。この場合、コンピュータと専用の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）リードライターはＵＳＢもしくはＲＳ−２３２Ｃで接続されているのが望ましいが、データの書き込みを行うことができれば接続方法は限定するものではない。【００２３】  前記未使用の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０を専用の書込み装置にセットした後、専用の書込み装置が接続されているコンピュータ端末等に対して情報登録１０を行う。登録する内容は商品固有の識別番号等の情報を入力する。非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に登録される情報はユニーク（同じものが存在しない）である必要があるため、情報のユニーク化を行うために商品固有の識別情報以外の情報を付加することも可能である。【００２４】  前記未使用の非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に登録する情報が入力されたら、入力された情報をもとに暗号化の処理を行う。暗号化１１は、識別番号を読出し専用の領域（ＲＯＭ）に書き込まれている情報をキーにして暗号化を行う。データの暗号化が完了した後、暗号化したデータと非暗号化した情報を非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に対して書き込みを行う。【００２５】  また、作成した非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０はシール加工されており、商品に貼り付けることができる。商品への貼付け位置は限定するものではなく任意の場所に貼り付けることができる。また、ギャランティー（国際保証書）カードの中に埋め込んで使用してもよい。非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０のシール加工は、一度でも剥がすとアンテナ部分４１が破損し読み込むことができないようになっている。【００２６】  次に図２は、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０の内容を図４に示す携帯型検査装置５０により情報を読み取り、検査システム２０の処理を表す処理フローである。販売店等に納品された商品を販売担当者、営業担当者等が携帯型検査装置５０と検査システム２０を使用して商品の真贋を検査することができる。検査を行う携帯型検査装置５０は、予めインストールされている検査システム２０のみで検査を行うことができ、事前に読み取るために必要な商品等の情報をダウンロードする必要なない。検査方法は携帯型検査装置５０を非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に近づけると内部のプログラムで非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０の情報を解析し正規品か模倣品かを使用者に伝える。【００２７】  前記検査システムでは、携帯型検査装置５０を対象となる非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に対して近づけるとデータの読み込みを行う。ここで、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０の情報を読み込むことができない��合は、検査システム２０が異常と判断しエラー処理を行う。ここで使用する周波数帯域は短波帯での読み取りを行うことを想定としているが使用状況に応じて周波数帯を変更しても構わない。【００２８】  次に、読み取ったデータの複合化処理を行う。データの複合化２１は、携帯端末等で非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０のＲＡＭ部分に書かれた暗号部分の情報に対してＲＯＭの情報をキーにして複合化を行う。複合化した情報と非暗号部分の情報と照合した結果データに不正が見られた場合は、検査システム２０が異常と判断しエラー処理を行う。問題がない場合は、携帯型検査装置５０に問題なしといった表示を画面５１に対して行う。【００２９】  前記携帯型検査装置は検査を行うにあたり、検査を行う商品の情報を事前に携帯型検査装置５０に記憶させる必要はなく、複合化２１を含む検査システム２０により正常か異常かを判断することができる。使用者は検査システム２０を含む携帯型検査装置５０があれば何時でも真贋判別を行うことができる。【００３０】  前記検査システムで異常として判断する条件は、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０の情報を読み込むことができない場合、読み取ったデータを複合化し異常と判断した場合であるが、読み込みができない原因として非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０の不良もしくは強制的にシールを剥がしたため破損しているためと考えられる。また、読取った結果異常と判断した場合については偽造された可能性が高いと考えられる。【００３１】  前記検査システムはいつでも行うことができる。例えば販売店への商品納入時や開店前や閉店後に検査を行い、商品に対して不正が行われていないかを確認することができる。検査は携帯型検査装置５０を非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０に対してかざすだけなので、目視による確認と比べて早く検査を行うことができる。【００３２】  さらに、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０は全周波数帯域対応という特徴をもっているため、製造工場、販売店では短波帯で検査システム２０を使用し、商品を回収するリサイクルセンター等ではマイクロ波帯を使用し商品の真贋判断を行うことができる。通常は、シール化した非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）４０は一度でもシールを剥がすとアンテナ部分４１が壊れるようになっており通常の検査装置では読み込むことができないが、マイクロ波帯を利用した携帯型検査装置５０を使用することで情報を読み込むことを可能としている。【００３３】  次に図３は、非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）の内部を表している図である。非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）３０には読出し専用の領域（ＲＯＭ）と情報を読み書きができる領域（ＲＡＭ）を有している。基本的に、読み書きできる領域（ＲＡＭ）は何度でも利用することができるが、本発明で使用するＲＡＭ領域は、一度、情報を書き込むと書き換え不可になる領域（Ｏｎｅ−Ｔｉｍｅ−ＲＡＭ）として使用する。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】  非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）への情報登録処理を示すフローチャート
【図２】  検査から正常か異常かを判断する処理を示すフローチャート
【図３】  非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）の内部を表す図
【図４】  非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）及び携帯型検査装置
【符号の説明】
３０・・・非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）
４０・・・非接触ＩＣチップ（ＲＦＩＤ）を加工したシール
５０・・・携帯型検査装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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