(57)【要約】【課題】データの読取および検査を行う装置および方法を提供する。【解決手段】この方法では、読取または受信された信号を変換し検査して一時データおよびファジー示標データを得る。次いで、誤り検査および訂正処理を行う。誤り検査および訂正処理を行っても誤りのない結果が得られない場合には、ファジー示標データに基づいて一時データを置換える。その後、誤り検査および訂正処理を再実行する。本発明では、正しくないこともある一時データが個別に検査され、この処理が再実行される。したがって、データの受信および読取が成功する可能性が高まる。【選択図】図１
2005130435.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データの読取および検査を行う方法であって、
アナログ信号を変換し検査して一時データおよびファジー示標データを得ることと、
誤り検査および訂正処理を行うことと、
誤り検査および訂正処理を行っても誤りのない結果が得られない場合には、
ファジー示標データに基づいて一時データを置換えること、および
誤り検査および訂正処理を繰返すこと、を行うことと、
を備えている方法。
【請求項２】
アナログ信号を変換し検査するステップは、アナログ信号の電圧、電流、位相、タイミング、または、この４つの任意の組合せ、に基づくものである請求項１に記載のデータの読取および検査を行う方法。
【請求項３】
一時データに対してデータ処理を行って、誤り検査および訂正処理を行う前に試験されるべきデータを得るステップを更に備えており、試験されるべきデータに対して誤り検査および訂正処理を行うのである請求項１に記載のデータの読取および検査を行う方法。
【請求項４】
誤り検査および訂正処理を繰返し行っても誤りのない結果が得られず、ファジー示標データに基づいて一時データを置換えることができない場合には、アナログ信号を再読取するための失敗信号が出力される請求項１に記載のデータの読取および検査を行う方法。
【請求項５】
一時データおよびファジー示標データを一時的に記憶するステップを更に備えている請求項１に記載のデータの読取および検査を行う方法。
【請求項６】
データに対する誤り検査および訂正処理が成功した後に誤りのないデータを生成するステップを更に備えている請求項１に記載のデータの読取および検査を行う方法。
【請求項７】
データ読取および検査装置であって、
アナログ信号を変換し検査して一時データおよびファジー示標データを得るための信号変換および検査回路と、
信号変換および検査回路に結合されて一時データおよびファジー示標データを一時的に記憶するためのデータバッファリングおよび置換回路と、
データバッファリングおよび置換回路に結合されて誤り検査および訂正処理を行う誤り検査および訂正モジュールであって、誤り検査および訂正モジュールが誤りのない結果を得られない場合には、データバッファリングおよび置換回路がファジー示標データに基づいて一時データを置換えるのである誤り検査および訂正モジュールと、
を備えている装置。
【請求項８】
信号変換および検査回路が、アナログ信号の電圧、電流、位相、タイミング、または、この４つの任意の組合せ、に基づいてアナログ信号を変換および検査する請求項７に記載のデータ読取および検査装置。
【請求項９】
データバッファリングおよび置換回路と誤り検査および訂正モジュールとの間にあって一時データを試験されるべきデータに変換するデータ処理回路を更に備えており、誤り検査および訂正モジュールが、試験されるべきデータに対して誤り検査および訂正処理を行うのである請求項７に記載のデータ読取および検査装置。
【請求項１０】
データバッファリングおよび置換回路がファジー示標データに基づいて一時データを置換えることができない場合には、失敗信号が出力されてデータ読取および検査装置がアナログ信号を再読取するのである請求項７に記載のデータ読取および検査装置。
【請求項１１】
データに対する誤り検査および訂正処理が成功した後に誤りのないデータが生成される請求項７に記載のデータ読取および検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データの受信または読取を行う方法に関し、より詳しくは、データの読取および検査を行う方法であって、アナログ信号を変換して誤りのないデジタル信号を得る電子装置に適用できる方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタル信号処理技術の進歩やＣＰＵ速度の向上に伴って、我々の日常生活で普通に使用されている携帯電話、光ＤＶＤ装置、デジタルビデオカメラ等の電子装置の大部分では、マイクロプロセッサやデジタル信号プロセッサを用いて計算や制御の処理をデジタル的に行っている。しかし、電子機器が読取または受信する信号は、記憶／伝送媒体の特性や、センサの周波数応答や、データ符号化／復号化因子などに依存するアナログ信号である。したがって、アナログ信号は、引続いて行われる処理のために受信器や信号変換回路によってデジタル形式に変換される。
【０００３】
従来の電子装置では、周囲ノイズや基準電圧レベル変動などの様々な外部／内部要因によって、受信または読取されたデジタルデータに誤りが発生する。誤り検査および訂正（ＥＣＣ：ｅｒｒｏｒ  ｃｈｅｃｋ  ａｎｄ  ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ）処理を行っても正しいデータに訂正できない場合があり、その場合には、電子装置が同じデータの読出や受信を繰返したり、データを読取ることができなかったり、（このような処理のために）周波数帯域の大部分が占有されたりする。これによって、音楽ディスクにアクセスできなくなったり、異常アクセスとなったり、また、無線通信の断続が繰返されたりする。
【０００４】
図１は、従来の電子装置用のデータ受信または読取回路を示す概略ブロック図である。図１を参照すれば、従来のデータ受信または読取回路の構成において、アナログ信号をデジタルデータＴｅｍｐ  Ｄａｔａ（一時データ）に変換する信号変換器１０が設けてあるが、これは、必ずしも信号入力の直後の段位置になくても良い。デジタルデータＴｅｍｐ  Ｄａｔａは、次いで、処理（図示しない）されてＥＣＣモジュール１２に伝送されるか、または、処理されずに（伝送されて）、誤りが存在するかが判定され、誤り訂正が行われて正しいデータが得られる。
【０００５】
正しくないデータが検出され、誤りのないデータを得ることが不可能である場合には、ＥＣＣモジュール１２が信号Ｆａｉｌ（失敗）によって失敗を明示し、次いで、電子装置を制御して同じアナログ信号の読取または受信を再実行させる。悪い外部環境またはその他の要因によってデータ誤り率が著しく上昇した場合にはＥＣＣ回路がデータを訂正できない。つまり、同じデータの読取または受信を繰返し行うことが必要となり、誤りの多いデータ読取によって再伝送のための帯域占有の問題が発生する。
【０００６】
例えば光ディスクに関しては、一般に、信号を受信して受信ビットが論理０であるか論理１であるかを判定するための比較器が設けてある。比較器の２つの入力端子にはアナログ信号としきい値電圧とがそれぞれ入力される。アナログ信号がしきい値電圧より高い場合には論理１（または、論理０）と判定され、そうでない場合には論理０（または、論理１）と判定される。比較器から出力されたビットデータはＥＦＭ（８ビット−１６ビット）復号化や反交錯化（ａｎｔｉ−ｉｎｔｅｒｌｅａｖｉｎｇ）などの回路を通過し、更にＥＣＣが行われて、光ディスクに記憶されていた誤りのないデータが得られる。ＥＣＣによって誤りのないデータが生成できない場合には、光ディスク装置は光ディスク上の同じ領域を繰返し読取らねばならず、多数回の読取動作で問題が残れば、そのディスクは損傷したもの、ないし、アクセスできないものと判定される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
以上の状況を考慮して、本発明の基本的な目的は、電子装置においてデータの受信または読取が成功する可能性を高める、データの読取および検査を行う方法を提供すると共に、記憶媒体と電子装置との間の不整合や帯域占有の問題を回避することにある。
【０００８】
本発明の別の目的は、同じデータを繰返して読取または受信するアクセスの可能性を低減するだけでなく電子装置の安定性や互換性を向上させるデータ読取および検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の目的およびその他の目的を達成するために、本発明では、データの読取および検査を行う方法を提供する。この方法では、読取または受信されたアナログ信号を変換し検査して一時データおよびファジー示標データを得る。次いで、誤り検査および訂正（ＥＣＣ）処理を行う。ＥＣＣを行っても誤りのない結果が得られない場合には、一時データをファジー示標データで置換える。次いでＥＣＣを再実行する。
【００１０】
本発明の好適な実施例によれば、上述のデータの読取および検査を行う方法では、アナログ信号（例えば、デューティサイクル）の電圧、電流、位相、およびタイミングの１つに基づいて、またはこれらの任意の組合せに基づいて、変換および分類を行う。本実施例の方法は、一時データに対してデータ処理を行って、ＥＣＣを受ける前に「試験されるべきデータ」を得るステップを更に備えている。更に、ＥＣＣを繰返し行っても誤りのない結果が得られず、ファジー示標データに基づいて一時データを置換えることができない場合には、アナログ信号を再読取するための失敗信号が生成される。
【００１１】
本発明の別の観点によれば、データ読取および検査装置を提供する。この装置は、信号変換および検査回路と、データバッファリングおよび置換回路と、ＥＣＣモジュールと、を備えている。信号変換および検査回路は、読取または受信されたアナログ信号を変換し検査して一時データおよびファジー示標データを得る。データバッファリングおよび置換回路は、一時データおよびファジー示標データを一時的に記憶する。ＥＣＣモジュールはＥＣＣ処理を行う。誤り検査および訂正（ＥＣＣ）モジュールが誤りのない結果を得られない場合には、データバッファリングおよび置換回路がファジー示標データに基づいて一時データを置換え、この処理を再実行する。
【００１２】
本発明の一実施例によれば、データ読取および検査装置の信号変換および分類器が、アナログ信号の電圧、電流、位相、およびタイミングの１つに基づいて、またはこれらの任意の組合せに基づいて、動作し検査を行う。本実施例では、データ処理回路がデータバッファリングおよび置換回路とＥＣＣモジュールとの間に更に設けてあり、これが一時データを「試験されるべきデータ」に変換し、ＥＣＣモジュールが「試験されるべきデータ」に対して処理を行う。更に、データバッファリングおよび置換回路がファジー示標データに基づいて一時データを置換えることができない場合には、データ読取および検査装置が失敗信号を出力して再読取が行われる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、アナログ信号を変換してデータを得る際に、正しくないこともあるこれらの一時データはその変換後に個別に検査され、ファジー示標データが得られる。ＥＣＣを行っても誤りのない結果が得られない場合には、ファジー示標データに基づいて一時データを置換える。次いでＥＣＣを再実行する。したがって、電子装置においてデータの受信および読取が成功する可能性が高まり、データの読取または受信を繰返す可能性が低くなり、記憶媒体と電子装置との間の不整合や帯域占有の問題が回避される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
読取および受信中のデータ誤りは、通常、特定ビットのデータ変換で発生するが、例えばごく普通のＥＣＣ回路、ではこのような誤りの可能性の高い部位を無視しており、したがって、データ訂正の成功率が低い。したがって、データ受信側に高性能のマイクロプロセッサを使用し、データ読取および受信に誤りが起り易い特定点で誤データを的確に除去することにより、データの読取および受信の成功の可能性を高め、データの読取および受信の繰返しを減らすことができる。
【００１５】
図２は、本発明の好適な実施例に係るデータ読取および検査装置を示す概略ブロック図である。図２を参照すれば、本発明におけるデータ読取および検査装置は、信号変換および検査回路２０と、データバッファリングおよび置換回路２２と、誤り検査および訂正モジュール１２と、を備えている。
【００１６】
本実施例では、信号変換および検査回路２０は、読取または受信されたアナログ信号を変換し検査する。これはアナログ信号をデジタルの一時データＴｅｍｐ  Ｄａｔａに変換するだけでなく、ファジー示標データＦｕｚｚｙを生成する。すなわち、信号変換および検査回路２０は、データの読取および受信に誤りが起り易い場所でデータを検査する。信号変換および検査回路２０が、アナログ信号（例えば、デューティサイクル）の電圧、電流、位相、およびタイミングの１つに基づいて、またはこれらの任意の組合せに基づいて、変換および検査を行うことは、当業者には明らかであろう。
【００１７】
次いで、本発明のデータバッファリングおよび置換回路２２は、一時データＴｅｍｐ  Ｄａｔａとファジー示標データＦｕｚｚｙに対応する対応データ（これはファジー示標データ自身であっても良い）とを一時的に記憶する。データバッファリングおよび置換回路２２とＥＣＣモジュール１２との間にデータ処理回路（図示しない）を更に設けて、これがＴｅｍｐ  ＤａｔａをＥＣＣに関して「試験されるべきデータ」に変換することは、当業者には明らかであろう。換言すれば、一時データＴｅｍｐ  Ｄａｔａは、様々な種類のデータ処理の後にＥＣＣモジュール１２に供給されるか、または、前処理されずに、直接、ＥＣＣモジュール１２に供給される。
【００１８】
ＥＣＣモジュール１２は供給されたデータに対してＥＣＣを行う。ＥＣＣモジュール１２がデータの処理に成功した場合には、誤りのないデータＤａｔａが生成される。逆に、ＥＣＣモジュール１２が誤りのない結果を得られない場合には、一時誤り信号Ｔｅｍｐ  Ｅｒｒｏｒがデータバッファリングおよび置換回路２０に対してトリガーをかけることにより、データバッファリングおよび検査回路２０が一時データＴｅｍｐ  Ｄａｔａを示標データＦｕｚｚｙまたはその対応データで置換える。換言すれば、この回路は、データの読取または受信に誤りが起り易い場所でデータを的確に除去し置換える。
【００１９】
ここで、変換された一時データは、様々な種類のデータ処理の後に誤り検査および訂正モジュール１２に供給されるか、または、データを検査し訂正する何らの処理も受けずに、直接、誤り検査および訂正モジュール１２に供給される。上述の操作を繰返して行うことにより誤りのないデータＤａｔａが得られる。更に、データバッファリングおよび置換回路２２がファジー示標データに基づいて一時データＴｅｍｐ  Ｄａｔａを置換えできない場合には、失敗信号Ｆａｉｌが出力されて、本発明のデータ読取および検査装置においてアナログ信号の再読取または再受信が行われる。
【００２０】
図３は、図２（の装置）の信号変換および検査回路の電圧型回路の図である。図３を参照してこの回路の動作を説明すれば、以下のようになる。比較器３２は、これに供給されたアナログ信号を比較するために用いられ、アナログ信号が２．５Ｖより高い場合には、例えば、得られる一時データＴｅｍｐ  Ｄａｔａが論理１となり、そうでない場合には論理０となる。このアナログ信号が２Ｖから３Ｖの範囲内にある場合に最もノイズの影響を受け易いことは当業者には明らかであろう。したがって、アナログ信号が２Ｖから３Ｖの範囲内にある場合には、デジタルデータが得られたとしてもデータの読取または受信に誤りが起き易いので、比較器３４、比較器３６、およびＮＯＲゲート３８がファジー示標データＦｕｚｚｙを生成する。上述の例は電圧型回路であるが、信号変換および検査回路２０は、電圧、電流、位相、タイミング、またはこれらの任意の組合せ、のどんな型式で実施しても良い。
【００２１】
１ビット出力の変換回路が図３に示してあるが、これに限らず、マルチビットのアナログ−デジタル変換も本発明の範囲内に含まれる。
【００２２】
上述の実施例を要約すれば、データの読取および検査を行う方法が得られるということである。図４は、本発明の好適な実施例に係るデータの読取および検査を行う方法を示すフロー図である。図４を参照すれば、ステップＳ４２において、読取または受信されたアナログ信号を変換し検査して一時データおよびファジー示標データを得る。ステップＳ４４で、一時データおよびファジー示標データを一時的に記憶する。ステップＳ４６で、一時データに対して引続くデータ処理を行い、「試験されるべきデータ」を得る。ステップＳ４８で、誤り検査および訂正（ＥＣＣ）処理を行う。ステップＳ５０で、ＥＣＣを行うことにより誤りのない結果が得られたかを判定する。誤りのない結果が得られたと判定した場合には、誤りのないデータを生成する。ＥＣＣを行っても誤りのない結果が得られなかったと判定した場合には、ステップＳ５２を実行して一時データをファジー示標データで置換え、処理をステップＳ４６に戻す。
【００２３】
上述のステップＳ４６が必須のステップではないこと、したがって、ＥＣＣを一時データに対して直接に行っても良いこと、は当業者には明らかであろう。更に、上述のＥＣＣを繰返し行っても誤りのない結果が得られず、ファジー示標データに基づいて一時データを置換えることができない場合には、アナログ信号を再読取するための失敗信号が生成される。
【００２４】
以上では特定の実施例に基づいて本発明を説明したが、本発明の精神から乖離することなく上述の実施例に対して修正を行い得ることは、当業者には明らかであろう。したがって、本発明の範囲は、上に詳述した説明によってではなく、添付の請求範囲によって規定される。
【００２５】
添付図面は、本発明をより深く理解させるために添付したのであり、本明細書に組込まれ、その一部分を構成する。図面は本発明の実施例を例示しており、記載と共に参照されて本発明の原理を説明するためのものである。図において、ある要素が別の要素に「接続」または「結合」されているという場合には、その要素に直接に接続または結合されていても良く、その間に何らかの要素が介在していても良い。これに対し、ある要素が別の要素に「直接に接続」または「直接に結合」されているという場合には、その間には他の要素が介在していない。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】従来の電子装置用のデータ受信または読取回路を示す概略ブロック図である。
【図２】本発明の好適な実施例に係るデータ読取および検査装置を示す概略ブロック図である。
【図３】本発明の好適な一実施例に係る図２装置の信号変換および検査回路の電圧型回路の図である。
【図４】本発明の好適な一実施例に係るデータの読取および検査を行う方法を示すフロー図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
2005130435.tif 000006