(57)【要約】【課題】  ハードディスクドライブのスクリーニング方法を提供する。【解決手段】  ハードディスクドライブ工程中に少なくとも２回以上，記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータを測定する段階（Ｓ２００）と，測定された少なくとも一つのパラメータの変化量を取合わせて計算し（Ｓ１５０），その計算値を基準にヘッドデグラデーション如何を判定する段階（Ｓ１５５）と，を具備するハードディスクドライブのスクリーニング方法が提供される。これにより，最終ハードディスクドライブ工程が終わる直前のヘッドデグラデーション潜在性を持つハードディスクドライブまでも効果的に判断して選別できる。【選択図】    図４
2005085463.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ハードディスクドライブ工程中に，記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータを少なくとも２回以上測定する段階と；
前記測定された少なくとも一つのパラメータの変化量を計算し，その計算値を基準にヘッドデグラデーションの如何を判定する段階と；
を含むことを特徴とする，ハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項２】
前記記録／再生ヘッドの性能を表す少なくとも一つのパラメータ測定は，
ハードディスクドライブ工程の開始段階，ハードディスクドライブ工程中，ハードディスクドライブ工程の最後の段階において，それぞれ少なくとも１回以上行われることを特徴とする，請求項１に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項３】
前記ハードディスクドライブ工程は，
ハードディスクドライブの動作実行のための最適化工程段階および記録／再生性能検証段階を含むことを特徴とする，請求項１に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項４】
前記ハードディスクドライブの動作実行のための最適化工程は，
サーボ較正，チャンネル最適化，および印刷回路基板アセンブリチェックのうち少なくともいずれか一つを含むことを特徴とする，請求項３に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項５】
前記記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータ測定は，前記ハードディスクドライブの動作実行のための最適化工程中に少なくとも１回以上行われることを特徴とする，請求項３に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項６】
前記記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータ測定は，記録／再生性能検証中に少なくとも１回以上行われることを特徴とする，請求項３に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項７】
前記記録／再生ヘッド性能を表すパラメータは，適したゲインコントロールおよび非対称性コントロールを含むことを特徴とする，請求項１から６のうちいずれか１項に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項８】
前記ヘッドデグラデーションは，前記適応的ゲインコントロールおよび非対称性コントロールの変化量に基づいて判断することを特徴とする，請求項７に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項９】
ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階と；
前記測定されたヘッド性能パラメータを収集する段階と；
前記測定されたヘッド性能パラメータ毎の変化量を判断し，前記変化量を利用して，デグラデーションおよびデグラデーションの可能性が高いハードディスクドライブのヘッドを判断する段階と；
を含むことを特徴とする，ハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１０】
前記ヘッド性能パラメータは，適したゲインコントロールおよび非対称性コントロールを含むことを特徴とする，請求項９に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１１】
前記ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，
ハードディスクドライブ工程の開始段階において，ヘッド性能パラメータを測定することを特徴とする，請求項９に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１２】
前記ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，さらに
ハードディスクドライブの動作実行のための最適化工程段階より後であって記録／再生性能検証段階より前にヘッド性能パラメータを測定し，
記録／再生性能検証段階より後にヘッド性能パラメータを測定することを特徴とする，請求項１１に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１３】
前記ハードディスクドライブ工程の最適化工程段階は，
サーボ較正，チャンネル最適化，および印刷回路基板アセンブリチェックを含むことを特徴とする，請求項１２に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１４】
前記サーボ較正は，記録／再生ヘッド位置をコントロールする電気的および機械的な最適化パラメータを含むことを特徴とする，請求項１３に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１５】
前記記録／再生ヘッド位置をコントロールする電気的および機械的なパラメータの最適化は，ＭＲヘッドのスキュー，ＫＴ値などの最適化を含み，前記ＫＴ値は，ＭＲヘッドの回転力によるＭＲヘッドの加速の大きさで表されることを特徴とする，請求項１４に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１６】
前記チャンネル最適化は，再生電流の最適化および記録電流の最適化を含むことを特徴とする，請求項１３に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１７】
前記印刷回路基板アセンブリチェックは，印刷回路基板アセンブリが機構／電気的動作を実行し得るかどうかを検出して，回路システムが正常に動作するかどうかを判断する工程を含むことを特徴とする，請求項１３に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１８】
前記ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，
サーボ較正の後と，チャンネル最適化の後にヘッド性能パラメータを測定することを特徴とする，請求項１３に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項１９】
前記記録／再生性能検証段階は，各磁気ヘッドの記録／再生性能の検証を含むことを特徴とする，請求項１２に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項２０】
前記ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，さらに
各磁気ヘッドの記録／再生性能の検証後にヘッド性能パラメータを測定することを特徴とする，請求項１９に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項２１】
前記適したゲインコントロールおよび非対称性コントロールの変化量は，それぞれ約２０％〜３０％の範囲であることを特徴とする，請求項１０に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項２２】
前記測定されたヘッド性能パラメータ毎の変化量を判断する工程は，ハードディスクドライブ工程の最後の段階で行われることを特徴とする，請求項９に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項２３】
前記ヘッド性能パラメータを測定する段階のみがハードディスクドライブ工程中に行われることを特徴とする，請求項９に記載のハードディスクドライブのスクリーニング方法。
【請求項２４】
コンピュータによって実行され，ハードディスクドライブのスクリーニング方法を行うための実行指令をエンコードした，コンピュータで読み込み可能な記憶媒体であって：
ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する指令の第１セットと；
前記測定されたヘッド性能パラメータを収集する指令の第２セットと；
前記測定されたヘッド性能パラメータ毎の変化量を判断し，前記変化量を利用して，デグラデーションおよびデグラデーションの可能性が高いハードディスクドライブのヘッドを判断する指令の第３セットと；
を含むことを特徴とする，コンピュータで読み込み可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はハードディスクドライブ（以下，ＨＤＤという。）分野に係り，より詳細にはＨＤＤ工程中にヘッドデグラデーション（Ｈｅａｄ  Ｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎ）の可能性を持つＨＤＤをスクリーニングする方法およびコンピュータで読み込み可能な記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＨＤＤは，磁気ヘッドを使用してディスクにデータを記録またはディスクからデータを再生する装置である。ディスクはスピンドルモータに回転自在に搭載され，そのディスクに記憶された情報はボイスコイルモータにより回転されるアクチュエータアームに搭載された磁気ヘッド（記録／再生ヘッド）によりアクセスされる。ボイスコイルモータは電流により励磁され，アクチュエータを回転してヘッドを移動する。記録／再生ヘッドはディスクの表面から出る磁気の変化を感知してディスク表面に記録された情報を判読する。また，データトラックに情報を記録するためにヘッドに電流が供給され，この電流が磁界を発生し，ディスク表面を磁化させる。
【０００３】
近日では，ＨＤＤの容量も増え，ヘッドの記録／再生センサーのサイズは小さくなり，ヘッドの飛行高さも次第に低くなる傾向にある。このようなＨＤＤの設計傾向は，ＨＤＤ動作中のヘッドのデグラデーションの可能性を高める。このようなヘッドデグラデーションはＨＤＤの信頼性に直接的な影響を与える。
【０００４】
ＨＤＤを組立てた後には，各種パラメータの検証および最適化のための工程が進められ，このような工程をＨＤＤ工程という。
【０００５】
ヘッドデグラデーションはＨＤＤ検証工程のうち特定工程段階で判断される。例えば，上記工程段階のうち，初めに進まれる再生チャンネル最適化（Ａｄａｐｔｉｖｅ  Ｒｅａｄ  Ｃｈａｎｎｅｌ  Ｏｐｔｉｍｉｚａｔｉｏｎ：ＡＲＣＯ）段階においてヘッドの不安定性をチェックする。
【０００６】
従来にはヘッドの不安定性を，熱粗度検出（Ｔｈｅｒｍａｌ  Ａｓｐｅｒｉｔｙ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ：ＴＡＤ）機能を応用したり，記録以後の再生パラメータの変化をその段階内で確認したりしてチェックしていた。
【０００７】
しかし，ヘッドデグラデーション問題は，ＨＤＤ工程の途中において，電気的および／または機械的な応力によりいかなる段階でも発生しうる。そのため，特定段階でのみの検証では，最終工程が終わる時のヘッドデグラデーションの可能性を判断し難かった。
【０００８】
特に，工程途中においてヘッドの性能が変化したにも拘らず，工程基準をなんとか通過したＨＤＤセットの場合，販売後に不良が出る可能性が高くなっていた。
【０００９】
しかし，従来の方法によっては，ヘッドデグラデーションの可能性があるＨＤＤを工程中に確認することが難く，市場でのＨＤＤ不良を事前に防止することが困難になっていた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は，従来の方法が有する上記問題点に鑑みてなされたものであり，本発明の目的は，ＨＤＤ工程中にヘッドデグラデーションおよびその可能性を持つＨＤＤを効果的に選別可能な，新規かつ改良されたスクリーニング方法およびコンピュータで読み込み可能な記憶媒体を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するための本発明によるＨＤＤのスクリーニング方法は，ＨＤＤ工程中に記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータを少なくとも２回以上測定する段階と，上記測定された少なくとも一つのパラメータの変化量を計算し，その計算値を基準にヘッドデグラデーションの如何を判定する段階とを含むすることを特徴とする。上記ヘッドデグラデーションは，ヘッドの記録／再生性能が劣化することを意味する。
【００１２】
ここで，記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータの測定は，ＨＤＤ工程の開始段階，ＨＤＤ工程途中，ＨＤＤ工程の最後の段階でそれぞれ少なくとも１回以上行われうる。
【００１３】
上記ＨＤＤ工程は，ＨＤＤの動作実行のための最適化工程段階および記録／再生性能検証段階を含みうる。
【００１４】
上記ＨＤＤの動作実行のための最適化工程は，サーボ較正，チャンネル最適化，および印刷回路基板アセンブリ（ＰＣＢＡ：Ｐｒｉｎｔｅｄ
Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｂｏａｒｄ Ａｓｓｅｍｂｌｙ）チェックのうち少なくともいずれか一つを含みうる。
【００１５】
記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータ測定は，上記ＨＤＤの動作実行のための最適化工程中に少なくとも１回以上行われるとしても良い。
【００１６】
記録／再生ヘッド性能を表す少なくとも一つのパラメータ測定は，記録／再生性能検証中に少なくとも１回以上行われるとしても良い。
【００１７】
上記記録／再生ヘッド性能を表す（示す）パラメータは，適したゲインコントロール（Ａｄａｐｔｉｖｅ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ：ＡＧＣ）および非対称性コントロール（ＡＳｙｍｍｅｔｒｙ  Ｃｏｎｔｒｏｌ：ＡＳＣ）を含みうる。
【００１８】
上記ヘッドデグラデーションは，上記ＡＧＣおよびＡＳＣの変化量に基づいて判断できる。
【００１９】
また，上記目的を達成するため，本発明の別の観点によれば，ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階と；上記測定されたヘッド性能パラメータを収集する段階と；上記測定されたヘッド性能パラメータ毎の変化量を判断し，上記変化量を利用して，デグラデーションおよびデグラデーションの可能性が高いハードディスクドライブのヘッドを判断する段階と；を含むことを特徴とする，ハードディスクドライブのスクリーニング方法が提供される。
【００２０】
上記ヘッド性能パラメータは，適したゲインコントロール（ＡＧＣ）および非対称性コントロール（ＡＳＣ）を含むとしても良い。
【００２１】
ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，ハードディスクドライブ工程の開始段階において，ヘッド性能パラメータを測定するとしても良い。
【００２２】
ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，さらにハードディスクドライブの動作実行のための最適化工程段階より後であって記録／再生性能検証段階より前にヘッド性能パラメータを測定し，記録／再生性能検証段階より後にヘッド性能パラメータを測定するとしても良い。
【００２３】
ハードディスクドライブ工程の最適化工程段階は，サーボ較正，チャンネル最適化，および印刷回路基板アセンブリ（ＰＣＢＡ）チェックを含むとしても良い。
【００２４】
上記サーボ較正は，記録／再生ヘッド位置をコントロールする電気的および機械的な最適化パラメータを含むとしても良い。
【００２５】
上記記録／再生ヘッド位置をコントロールする電気的および機械的なパラメータの最適化は，ＭＲヘッドのスキュー，ＫＴ値などの最適化を含むとしても良く，上記ＫＴ値は，ＭＲヘッドの回転力によるＭＲヘッドの加速の大きさで表されるとしても良い。
【００２６】
上記チャンネル最適化は，再生電流の最適化および記録電流の最適化を含むとしても良い。
【００２７】
上記印刷回路基板アセンブリチェックは，印刷回路基板アセンブリが機構／電気的動作を実行し得るかどうかを検出して，回路システムが正常に動作するかどうかを判断する工程を含むとしても良い。
【００２８】
ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，サーボ較正の後と，チャンネル最適化の後にヘッド性能パラメータを測定することもできる。
【００２９】
記録／再生性能検証段階は，各磁気ヘッドの記録／再生性能の検証を含むとしても良い。
【００３０】
ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する段階は，各磁気ヘッドの記録／再生性能の検証後にヘッド性能パラメータを測定するとしても良い。
【００３１】
上記適したゲインコントロールおよび非対称性コントロールの変化量は，それぞれ約２０％〜３０％の範囲であるとしても良い。
【００３２】
上記測定されたヘッド性能パラメータ毎の変化量を判断する工程は，ハードディスクドライブ工程の最後の段階で行われるとしても良い。
【００３３】
上記ヘッド性能パラメータを測定する段階のみがハードディスクドライブ工程中に行われるとしても良い。
【００３４】
また，本発明のさらに他の観点によれば，コンピュータによって実行され，ハードディスクドライブのスクリーニング方法を行うための実行指令をエンコードした，コンピュータで読み込み可能な記憶媒体であって：ハードディスクドライブ工程中に，ヘッド性能パラメータを少なくとも２回以上測定する指令の第１セットと；上記測定されたヘッド性能パラメータを収集する指令の第２セットと；上記測定されたヘッド性能パラメータ毎の変化量を判断し，上記変化量を利用して，デグラデーションおよびデグラデーションの可能性が高いハードディスクドライブのヘッドを判断する指令の第３セットと；を含むことを特徴とする，コンピュータで読み込み可能な記憶媒体が提供される。
【発明の効果】
【００３５】
以上説明したように，本発明によれば，最終ＨＤＤ工程が終わる直前のヘッドデグラデーション潜在性を持つＨＤＤまでも効果的に判断して選別できる。したがって，本発明のスクリーニング方法を適用すれば，ヘッドデグラデーション可能性を持つＨＤＤまでも事前にスクリーニングすることができ，市場での不良率を大きく減らすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下に添付図面を参照しながら，本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお，本明細書および図面において，実質的に同一の機能構成を有する構成要素については，同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００３７】
ＨＤＤは回転するディスクの記録／再生面に組合わされる少なくとも一つ以上の磁気ヘッドを具備する。磁気ヘッドは，ディスク面の磁気領域を磁化および／または検出することにより情報を記録／再生する。
【００３８】
ＨＤＤでの記録／再生は，ベース上に回動自在に設置された磁気ヘッド組立体の回動を利用して，その終端部に設置された磁気ヘッドを回転ディスク上の適切な位置に移送させるスイングアーム駆動方式により行われる。
【００３９】
図１は，ＨＤＤ構造の一例を概略的に示す平面図である。図１を参照すれば，ＨＤＤ１０は，所定情報が記録されるハードディスク２０と，情報の記録および再生のために，磁気ヘッドスライダー５０をハードディスク２０上の所望のトラック位置に移動させる磁気ヘッド移送装置とを具備する。ここで，ハードディスク２０は，情報が記録される記録領域２２と，このハードディスク２０の回転を停止する際に磁気ヘッドスライダー５０をパーキングするために設けられたパーキング領域２１とに区分できる。
【００４０】
上記ディスク２０は，ベース１１上に回転自在に設置されてスピンドルモータ（図示せず）により回転される。
【００４１】
上記磁気ヘッド移送装置は，磁気ヘッドスライダー５０が搭載され，ベース１１上に設けられた回動軸３４を中心に回動自在に設けられた磁気ヘッド組立て体３０と，磁気ヘッド組立て体３０を電磁気力により回動させるアクチュエータ４０とを具備する。
【００４２】
磁気ヘッド組立て体３０は，回動軸３４に回転自在に結合されるアクチュエータアーム３２の端部にさらに結合されるサスペンション３１と，ハードディスク２０に／から情報を記録／再生するための磁気ヘッド（図２の７０）を具備し，サスペンション３１に設けられた磁気ヘッドスライダー５０とを含んで構成される。
【００４３】
磁気ヘッドスライダー５０は，サスペンション３１によってハードディスク２０側にバイアスされており，ハードディスク２０が回転し始めるとハードディスク２０の回転によって発生する空気動圧を受けて，ハードディスク２０に対して浮上した状態で飛行する。この時，磁気ヘッドスライダー５０が浮上したままで飛行する高さはサスペンション３１のグラム荷重と，ハードディスク２０の回転によるエアフローによる揚力などにより決定される。
【００４４】
ここで，飛行高さは，ハードディスク２０の回転中に，磁気ヘッドスライダー５０がハードディスク２０に対して浮上した状態で飛行するときの，磁気ヘッドスライダー５０の先端側に設けられた再生センサー，すなわち磁気抵抗（Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ：ＭＲ）ヘッドとハードディスク２０表面との間の距離である。上記グラム荷重は，サスペンション３１により発揮された力をいう。
【００４５】
図２は，図１のＨＤＤに使われうる磁気ヘッド７０の一例を示す。図示されたように，磁気ヘッド７０は，再生のためのＭＲヘッド７４と，記録のための誘導記録ヘッドとを含んでいる。上記ＭＲヘッド７４は，ハードディスク２０に記録された磁気信号を感知して読込む役割を行う。誘導記録ヘッドは，ハードディスク２０への漏れ磁石を形成するためのトップポール７１と，ボトムポール７２と，電流が供給されるにつれて磁界が発生する記録用コイル７３とを具備して，所望の磁気信号をハードディスク２０に記録する役割を行う。
【００４６】
再び図１を参照すれば，上記アクチュエータ４０は公知のように，磁石（図示せず）およびボイスコイル４１を含む。ボイスコイル４１に電流を印加して，磁気ヘッド５０をハードディスク２０上の所望のトラック位置に移動させる。
【００４７】
上記スピンドルモータ，ボイスコイル４１，磁気ヘッド７０はＰＣＢＡ
１５の電子回路と電気的に接続される。
【００４８】
上記のような構成を持つＨＤＤの組立て後，ＨＤＤを検証して最適化するための工程が続いて行われる。
【００４９】
本実施形態によるＨＤＤのスクリーニング方法は，ＨＤＤ工程にその全部を含んで行われたり，一部はＨＤＤ工程中に，残りはＨＤＤ工程が終わった後に実行されとりすることもある。
【００５０】
図３は，本実施形態によるＨＤＤのスクリーニング方法が適用されたＨＤＤ工程の一実施例を示し，図４は，本実施形態によるＨＤＤのスクリーニング方法の一実施例を示す。
【００５１】
図３を参照すれば，ＨＤＤ工程段階は，組立てられたＨＤＤに対してそれぞれＨＤＤの動作実行のための最適化工程段階（Ｓ１１０）と，および記録／再生性能検証段階（Ｓ１３０）とを含む。図３ではＨＤＤ工程の主要段階を示しているが，これ以外にも，ＨＤＤ工程に様々な段階を含むことができ，図３に図示された主要段階もそれぞれさらに細分化された段階を持つことができる。
【００５２】
ＨＤＤの動作実行を最適化する工程（Ｓ１１０）には例えば，サーボ較正（Ｓ１１１），チャンネル最適化（Ｓ１１３），ＰＣＢＡチェック工程（Ｓ１１５）のうち少なくとも一つを含む多様な較正工程およびパラメータ最適化工程が含まれる。
【００５３】
上記サーボ較正段階（Ｓ１１１）は，記録／再生ヘッドすなわち，ＭＲヘッド７４の機構的／電気的な位置制御のためのパラメータの最適化工程を含む。ここで，最適化すべきパラメータはＭＲヘッドのスキュー，ＫＴ値などを含む。このＫＴ値は，ＭＲヘッド７４が動く時にどれほどの回転力でどれほど加速されるかを表す値である。
【００５４】
上記チャンネル最適化（Ｓ１１３）は，ＭＲヘッドで正常な記録／再生を行うための記録／再生関連パラメータの最適化工程を含む。記録／再生関連パラメータには例えば，再生電流および記録電流がある。
【００５５】
印刷回路基板アセンブリ（ＰＣＢＡ）チェック（Ｓ１１５）は，印刷回路基板アセンブリ１５が機構／電気的動作を実行し得るかどうかを検出して，回路システムが正常に動作するかどうかを検査する工程をいう。印刷回路基板アセンブリ１５の印刷回路基板には，記録／再生機能を行うための回路（ＲＷ  ＩＣ），コントローラ，モータを制御するコンボ回路などを含む多数の回路が設けられる。
【００５６】
ＨＤＤの動作実行のための最適化工程（Ｓ１１０）は，上記のようにＨＤＤを構成する多様な部品の機構的／電気的較正工程および各種パラメータ最適化工程を含む。
【００５７】
ＨＤＤ内にはハードディスクの記録／再生面と組合わされた複数個の記録／再生ヘッドが設けられている。上記記録／再生性能検証工程（Ｓ１３０）は各記録／再生ヘッドに対して行われる。例えば，ＨＤＤ内にＮ個の記録／再生ヘッドが設けられているとしたら，最初の記録／再生ヘッドに対する性能テスト工程（Ｓ１３１）からＮ番目の記録／再生ヘッドに対する性能テスト工程（Ｓ１３５）までが行われる。記録／再生性能テストにより記録／再生を検証する。
【００５８】
記録／再生性能検証はオフトラックの再生，多様な記録パターン変更などを通じて行われる。
【００５９】
ヘッドデグラデーションは上記のようなＨＤＤ工程のうち任意の段階で発生しうる。
【００６０】
したがって，本実施形態によるＨＤＤのスクリーニング方法は図３および図４に図示されたように，まず，工程開始段階（Ｓ１００）と，他のＨＤＤ工程中に少なくとも２回以上，および，工程最後の段階（Ｓ１６０）直前とにヘッド性能を表すパラメータを測定し（Ｓ１０２，Ｓ１１２，Ｓ１１４，Ｓ１２２，Ｓ１３２，Ｓ１４２），このパラメータ測定値を基準にヘッドデグラデーションが発生したかどうかを判断する。
【００６１】
この時，ＨＤＤ工程中に少なくとも２回以上，ヘッド性能を表す主要パラメータ測定を行う（Ｓ２００）。
【００６２】
本実施形態において，ヘッドデグラデーションの発生の有無を判断するために，測定されるパラメータはＡＧＣ（Ａｄａｐｔｉｖｅ  ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ），ＡＳＣ（Ａｓｙｍｍｅｔｒｙ  Ｃｏｎｔｒｏｌ），チャンネル統計測定（ＣＳＭ：Ｃｈａｎｎｅｌ
Ｓｔａｔｉｓｔｉｃｓ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ），磁気抵抗ヘッドの抵抗（ＭＲＲ：ＭＲ Ｒｅｓｉｓｔａｎｃｅ）値のうち少なくとも一部を含んでいる。
【００６３】
ここで，ＡＧＣは振幅を調節するパラメータであり，チャンネルアウト時のゲイン値を意味する。ＡＧＣ段階でヘッド毎にの感度差を考慮し，ヘッドに関係なく，あらゆるヘッドが同一出力を出すようにゲインを調整する。
【００６４】
上記ＡＳＣは非対称性を調節するパラメータであって，ヘッドの非対称性変化を確認できる。ＡＳＣはゼロベースラインに対するオフセットを調整するためのものである。
【００６５】
上記ＣＳＭは，記録以後の再生時に読取られる崩れたビット（ｂｒｏｋｅｎ
ｂｉｔｓ）の個数を表すものであり，ビットエラー率（ＢＥＲ：Ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）を間接的に確認できる。
【００６６】
上記のようなヘッド性能を表すいろいろなパラメータのうちＡＧＣおよびＡＳＣ値の変化量を，ヘッドデグラデーションの如何を判断するのに主要な判断基準として使用することができる。
【００６７】
図３では，ＡＧＣ，ＡＳＣ，ＣＳＭ，ＭＲヘッドの抵抗値をいずれも測定すると図示されているが，このうちの選択された一部，例えば，ＡＧＣおよびＡＳＣ値だけを測定することもある。
【００６８】
前述したように，本実施形態によれば，ＨＤＤ工程開始段階（Ｓ１００）後の測定（Ｓ１０２），および最終的に工程が終わる直前での測定（Ｓ１４２）を含む，ＨＤＤ工程中に少なくとも２回以上，ヘッド性能を表す（示す）主要パラメータを測定する（Ｓ２００）。
【００６９】
そして，主要パラメータの測定値データを収集し，その変化量を見て（Ｓ１５０），この値を基準にヘッドデグラデーションまたはその潜在性を持つＨＤＤを判定する。
【００７０】
図３ではヘッド性能を表す主要パラメータを工程開始段階（Ｓ１００）で測定（Ｓ１０２），サーボ較正段階（Ｓ１１１）で測定（Ｓ１１２），チャンネル最適化段階（Ｓ１１３）で測定（Ｓ１１４），ＰＣＢＡチェック工程（Ｓ１１５）で測定（１２２），記録／再生ヘッド検証段階で測定（Ｓ１３２），工程が終わる（Ｓ１６０）直前にさらに測定（Ｓ１４２）することを示す。かかる複数の工程に限定されず，上記は例示に過ぎない。
【００７１】
ヘッド性能を表す主要パラメータの測定回数および測定段階は図３の場合に限定されず，多様に変更できる。
【００７２】
図４を参照すれば，上記のようにＨＤＤ工程のいろいろな段階で測定されたヘッド性能を表す主要パラメータの測定データを取合わせて，この主要パラメータの変化が段階Ｓ１５０で計算される。段階Ｓ１５５で，主要パラメータの変化量が設定値を離脱するヘッドが存在するかどうかを判断する。特に，段階Ｓ１５６で，ＡＧＣおよびＡＳＣの変化量が設定値より大きいかどうかが決定される。もしそうであれば，段階Ｓ１５７でヘッドデグラデーションまたはその潜在性を持つＨＤＤであると判断される（Ｓ１５５）。
【００７３】
上記主要パラメータの測定データ変化量が設定値より小さな場合には，ヘッドにデグラデーションが存在していない，合格されたＨＤＤと判定され（Ｓ１５８），この合格したＨＤＤが発売される。上記方法は段階Ｓ１６１で終わる。
【００７４】
図３に例示したように，ヘッドデグラデーションまたはその潜在性を持つＨＤＤの判断はＨＤＤ工程が終わる直前にも実行することができる（１５５）。代案として，ＨＤＤ工程中にはヘッド性能を表す主要パラメータを測定する過程だけ進み，ＨＤＤ工程が終わった後にパラメータ測定値を取合わせて，これからヘッドデグラデーションまたはその潜在性を持つＨＤＤを判断することも可能である。
【００７５】
ここで，ＡＧＣの設定値は，再生性能が変化し始める直前段階の値をいう。ＡＧＣがこの設定値以上に変更された時からヘッドの再生性能が変化し始める。
【００７６】
ＡＳＣの場合には符号が逆に変更され，再生性能が変化し始める直前段階の値の絶対値が上記設定値に該当する。非対称コントロールの場合に符号が逆に変更され，絶対値が上記設定値以上に変更された時，再生性能が変化し始める。
【００７７】
ここで，ヘッドデグラデーションの判断の基準となるＡＧＣおよびＡＳＣの設定値は，約２０％〜３０％範囲内の所定値であるとしても良い。
【００７８】
本発明の実施例が，ここに説明された実施例のうちいずれか一つまたは全部を含む指示セットすなわち，ソフトウェアが保存された，機器で読取れる媒体により使用および／または制御できるということが理解できる。機械で読取れる媒体は，本発明の工程およびデータ構造を保存および分布することができる磁気および光ディスク，ＲＡＭ，ＲＯＭ，キャリアウェーブ媒体などのような永久的または除去可能な保存媒体を含みうる。このような作動は，例えば，インターネットのようなネットワークを介したダウンロードを通じて分配できる。
【００７９】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された範疇内において，各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【００８０】
本発明はＨＤＤ製造分野に使われうるものであり，ＨＤＤ工程中にヘッドデグラデーション可能性を持つＨＤＤをスクリーニングするのに適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】ＨＤＤの要部を概略的に示す図面である。
【図２】図１の磁気ヘッドを概略的に示す斜視図である。
【図３】本実施形態によるＨＤＤのスクリーニング方法が適用されたＨＤＤ工程の一実施例を示すフローチャートである。
【図４】本実施形態によるＨＤＤのスクリーニング方法の一実施例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８２】
１０  ＨＤＤ
１１  ベース
１５  ＰＣＢＡ
２０  ハードディスク
２１  パーキング領域
２２  記録領域
３０  磁気ヘッド組立て体
３１  サスペンション
３２  アクチュエータアーム
３４  回動軸
４０  アクチュエータ
４１  ボイスコイル
５０  磁気ヘッド
【図１】
2005085463.tif 000003
【図２】
2005085463.tif 000004
【図３】
2005085463.tif 000005
【図４】
2005085463.tif 000006