(57)【要約】【課題】画像位置または画像距離の測定精度を向上できる画像測定装置および画像測定方法を提供する。【解決手段】  画像測定装置は、測定用原稿画像を読み取る読み取り手段と、読み取り手段により読み取った画像データに基づいて、画像間の距離を算出する画像測定手段とを備え、画像間の距離を測定する際に、予め用意された斜めに描かれた少なくとも２つの平行細線またはエッジ画像からなる測定用原稿を用い、読み取り手段により測定用原稿を読み込み、画像測定手段により２つの細線画像に対して主走査方向もしくは副走査方向の１０ライン分の画像データを用い、該２つの細線画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置を求め、得られたピーク位置に基づいて２つの細線画像間の距離を算出する。これにより、測定用原稿画像の細線のプロファイルをより正確に検出することができるため、画像距離の測定精度を向上することができる。【選択図】        図６
2005100058.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定用原稿の画像データに基づいて、該測定用原稿上の所定画像間の距離を測定する画像測定装置において、
前記測定用原稿を読み取る読み取り手段と、
前記読み取り手段により得られた画像データに基づいて、所定画像間の距離を測定する画像測定手段とを備え、
前記所定画像間の距離を測定する際に、
前記読み取り手段により、予め用意された斜めに描かれた少なくとも２つの被測定画像からなる前記測定用原稿を読み込み、
前記画像測定手段により前記２つの被測定画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分の画像データを用いて、該２つの被測定画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置または立ち上がり位置を求め、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいて前記２つの被測定画像間の距離を算出する
ことを特徴とする画像測定装置。
【請求項２】
前記２つの被測定画像は、２つの平行細線またはエッジ画像であり、
前記平行細線またはエッジは、主走査方向もしくは副走査方向に１ライン分ずれる毎に、該細線またはエッジが斜めに描かれた分だけ、細線またはエッジに対する視点のずれた画像を得る
ことを特徴とする請求項１に記載の画像測定装置。
【請求項３】
前記平行細線またはエッジは、前記測定用原稿に対する主走査方向もしくは副走査方向と一致しないように所定の角度で描かれている
ことを特徴とする請求項２に記載の画像測定装置。
【請求項４】
測定用原稿の画像データに基づいて、該測定用原稿上の所定画像間の距離を測定する画像測定方法において、
予め用意された斜めに描かれた少なくとも２つの被測定画像からなる測定用原稿を用い、
前記測定用原稿を読み込み、
前記２つの被測定画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分の画像データを用いて、該２つの被測定画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置または立ち上がり位置を求め、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいて前記２つの被測定画像間の距離を算出する
ことを特徴とする画像測定方法。
【請求項５】
前記２つの被測定画像は、２つの平行細線またはエッジ画像であり、
前記細線またはエッジは、主走査方向もしくは副走査方向に１ライン分ずれる毎に、該細線またはエッジが斜めに描かれた分だけ、細線またはエッジに対する視点のずれた画像を得る
ことを特徴とする請求項４に記載の画像測定方法。
【請求項６】
前記平行細線またはエッジは、前記測定用原稿に対する主走査方向もしくは副走査方向と一致しないように所定の角度で描かれている
ことを特徴とする請求項５に記載の画像測定方法。
【請求項７】
各細線またはエッジ画像に対するプロファイルを複数回分測定し、各プロファイルの平均プロファイルを算出し、該平均プロファイルのピーク位置またはエッジの立ち上がり位置を求める
ことを特徴とする請求項４または請求項５のいずれかに記載の画像測定方法。
【請求項８】
各細線またはエッジ画像に対するプロファイルを複数回分測定し、各プロファイルより各々のピーク位置または立ち上がり位置を求め、これら複数回分のピーク位置または立ち上がり位置の平均値を細線のピーク位置またはエッジの立ち上がり位置としてを求める
ことを特徴とする請求項４または請求項５のいずれかに記載の画像測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、画像読取手段で読み取った原稿画像の位置検出や距離測定を行う機能を有する複写機、複合機、スキャナ等に適用して好適な画像測定装置および画像測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、スキャナを用いた画像距離等の測定は、スキャナで  予め用意された測定用原稿画像を読み込み、得られた画像データに基づいて画像位置を検出して、検出された画像位置で画像の距離を求める。
【０００３】
このような画像距離等の測定は、スキャナの解像度に依存している。例えば、６００dpiのスキャナを用いて、図８に示すようなチャートの十字印（とんぼ印）間距離Ａを求める場合、図８に示すチャートをスキャナにより読み込み、得られた画像データに基づいて２つの十字印画像の位置を検出して、検出された画像位置で画像上の所定２点間の距離を算出する。
【０００４】
この場合、スキャナにて取り込んだ十字印は、図９のようになる。ここで、１ラインは３〜５画素程度であり、その中心位置を求めるには輝度値のもっとも低いところを選ぶか、重心を検出して２つの十字印間の距離Ａを求めている。よって、その測定精度はおおよそ１画素程度の精度であった。
【０００５】
また、画像読取装置において、固体走査素子の位置を調整する際に、予め用意した複数種のパターンを読み込み、線パターンを走査してダイオードアレーの傾き量を算出し、該傾き量をゼロになるように調整する（例えば、特許文献１参照）。この場合、線パターンの位置を測定することが必要である。
【０００６】
【特許文献１】特公平０１−２６５８７号公報（第３，４頁、第７図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述したように、スキャナを用いて画像位置または画像距離の測定を行う際に、スキャンした画像からの位置の検出は、１画素単位での測定を行うものであり、それ以上の精度での測定は困難であった。
【０００８】
しかし、複写機、複合機などの画像形成装置の設計製造現場では、装置性能の測定および調整のために、より高い精度で画像距離の測定を行うことが要求されている。
【０００９】
そこで、この発明は、画像位置または画像距離の測定精度を向上することができるようにした画像測定装置および画像測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
この発明に係る画像測定装置は、測定用原稿の画像データに基づいて、該測定用原稿上の所定画像間の距離を測定する画像測定装置において、測定用原稿を読み取る読み取り手段と、読み取り手段により得られた画像データに基づいて、所定画像間の距離を測定する画像測定手段とを備え、所定画像間の距離を測定する際に、読み取り手段により、予め用意された斜めに描かれた少なくとも２つの被測定画像からなる測定用原稿を読み込み、画像測定手段により２つの被測定画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分の画像データを用いて、該２つの被測定画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置または立ち上がり位置を求め、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいて２つの被測定画像間の距離を算出するものである。
【００１１】
この発明においては、測定用原稿上の画像距離を測定する際に、予め用意された斜めに描かれた少なくとも２つの被測定画像、例えば２つの平行細線またはエッジ画像からなる測定用原稿が用いられ、読み取り手段により測定用原稿画像が読み込まれる。そして、画像測定手段により２つの平行細線またはエッジ画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分のデータを用いて、該２つの平行細線またはエッジ画像のプロファイルが算出され、それらのピーク位置または立ち上がり位置が求められ、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいてこの２つの平行細線またはエッジ画像間の距離が算出される。
【００１２】
例えば、各細線またはエッジ画像に対するプロファイルを複数回分測定し、各プロファイルの平均プロファイルを算出し、該平均プロファイルのピーク位置またはエッジの立ち上がり位置を求める。
【００１３】
また例えば、各細線またはエッジ画像に対するプロファイルを複数回分測定し、各プロファイルより各々のピーク位置または立ち上がり位置を求め、これら複数回分のピーク位置または立ち上がり位置の平均値を細線のピーク位置またはエッジの立ち上がり位置としてを求める。
【００１４】
これにより、複数ライン分の画像データで細線またはエッジ画像のプロファイルを作成するため、画像距離を１画素以下単位で測定することが可能となり、測定用原稿画像の細線またはエッジ画像のプロファイルをより正確に検出することができ、画像位置または画像距離の測定精度を向上することが可能となる。
【００１５】
また、各細線またはエッジ画像に対するプロファイルを複数回分測定し、その平均値で細線のピーク位置またはエッジの立ち上がり位置を求めるため、より誤差の少ない距離を算出することが可能となる。
【００１６】
この発明に係る画像測定方法は、測定用原稿の画像データに基づいて、該測定用原稿上の所定画像間の距離を測定する画像測定方法において、予め用意された斜めに描かれた少なくとも２つの被測定画像からなる測定用原稿を用い、測定用原稿を読み込み、２つの被測定画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分の画像データを用いて、該２つの被測定画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置または立ち上がり位置を求め、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいて２つの被測定画像間の距離を算出するものである。
【００１７】
本発明に係る画像測定方法によれば、複数ライン分の画像データで２つの被測定画像、例えば２つの平行細線またはエッジ画像のプロファイルを算出するため、測定用原稿上の２つの平行細線またはエッジ画像の距離を１画素以下の単位で測定することが可能となり、測定用原稿画像の細線またはエッジのプロファイルをより正確に検出することができるため、画像位置または画像距離の測定精度を向上することが可能となる。
【発明の効果】
【００１８】
以上説明したように、本発明に係る画像測定装置および画像測定方法によれば、画像距離を測定する際に、予め用意された斜めに描かれた少なくとも２つの被測定画像からなる測定用原稿を用い、読み取り手段によりこの測定用原稿を読み込み、画像測定手段により２つの被測定画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分の画像データを用いて、該２つの被測定画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置または立ち上がり位置を求め、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいて２つの被測定画像間の距離を算出するものである。
【００１９】
この構成によって、測定用原稿上の２つの被測定画像、例えば２つの平行細線またはエッジ画像の距離を１画素以下の単位で測定することができ、測定用原稿画像の細線またはエッジのプロファイルをより正確に検出することができるため、画像位置または画像距離の測定精度を向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、図面を参照しながら、この発明の実施の形態の画像測定装置および画像測定方法について説明する。
この発明の実施の形態の画像測定装置および画像測定方法は、画像の距離を測定する際に、予め用意された斜めに描かれた２つの平行細線またはエッジ画像からなる測定用原稿を用い、読み取り手段により測定用原稿を読み込み、そして、画像測定手段により２つの平行細線またはエッジ画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分の画像データを用いて、該２つの平行細線またはエッジ画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置または立ち上がり位置を求め、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいて２つの平行細線またはエッジ画像間の距離を算出することで、画像位置または画像距離の測定精度を向上することができるようにしたものである。
【００２１】
図１は、本発明の実施の形態の画像測定装置１００の構成を示すブロック図である。図１に示す画像測定装置１００はスキャナで読み取った画像の位置または距離の測定を行うものであり、電子写真方式を用いたスキャナ、複写機、複合機等に適用して好適である。
【００２２】
図１に示すように、画像測定装置１００は、制御部１０、原稿供給部１１、読み取り部１２、画像処理部１３、表示部１４、操作部１５、出力部１６を備えている。
【００２３】
制御部１０は、例えばＣＰＵ１０ａ、ＲＯＭ１０ｂ、ＲＡＭ１０ｃ、画像メモリ１０ｄ、タイマ１０ｅを備えている。ＣＰＵ１０ａはＲＯＭ１０ｂに格納された制御プログラムに従って、ＲＡＭ１０ｃをワークエリアとして使用しながら、画像測定装置１００の全体の動作を制御する。また、画像メモリ１０ｄは読み取り部１２から読み込んだ原稿の情報を処理する場合の一時メモリ等として利用される。
【００２４】
この制御部１０は、画像データに基づいて画像距離を測定する画像測定手段としても機能する。この場合、ＲＯＭ１０ｂに格納された画像距離測定用プログラムに従って、画像処理部１３を制御して読み取った画像データを処理し、画像距離を測定するようになされている。
【００２５】
例えば、予め用意された斜めに描かれた２つの平行細線またはエッジ画像からなる測定用原稿（後述する図２参照）を用い、読み取り部１２により測定用原稿を読み取った後に、２つの平行細線またはエッジ画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の複数ライン分の画像データを用いて、該２つの細線またはエッジ画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置または立ち上がり位置を求め、得られたピーク位置または立ち上がり位置に基づいて、周知の距離算出方法、例えば２点の座標から２つの平行細線またはエッジ画像間の距離を算出するようになされる。
【００２６】
また例えば、上述の方法で、各細線またはエッジ画像に対するプロファイルを複数回分測定し、各プロファイルの平均プロファイルを算出し、該平均プロファイルのピーク位置またはエッジの立ち上がり位置を求めるようになされる。
【００２７】
また例えば、上述の方法で、各細線またはエッジ画像に対するプロファイルを複数回分測定し、各プロファイルより各々のピーク位置または立ち上がり位置を求め、これら複数回分のピーク位置または立ち上がり位置の平均値を細線のピーク位置またはエッジの立ち上がり位置として求めるようになされる。
【００２８】
原稿供給部１１は、自動原稿供給手段と、原稿を配置するためのプラテン等の原稿保持手段とを有する。自動原稿供給手段は、給紙ローラ、給紙路、排紙路、排紙ローラ等（図示せず）を備える。この自動原稿供給手段は、給紙トレイから原稿を、一枚ずつ給紙路を介してスリットガラスが設けられている原稿読取位置に搬送し、原稿読取位置を通過すると同時に読み取り部１２により原稿の情報を読み取り、そして、原稿読取位置から排紙路を介して排紙ローラにより排紙トレイに排出する。
【００２９】
読み取り部１２は、原稿の情報を読み取る処理を行う装置である。例えば、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）を利用したイメージスキャナ等が利用されている。この読み取り部１２は、原稿供給部１１により搬送されてきた原稿、またはプラテン上に置かれている原稿に光源から光を照射して、その反射光を光学系を介してＣＣＤに入射することで原稿を走査し、原稿の画像を所定の解像度で読み取る。
【００３０】
画像処理部１３は、読み取り部１２により読み込んだ画像データを処理するものである。この画像処理部１３は、制御部１０により制御され、読み取り部１２により読み込んだ測定用原稿画像の所定位置の画像データの輝度値を検出するようになされている。
【００３１】
表示部１４は、画像読取などを行うときの設定内容および動作状態を表示するための手段であり、例えば、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）からなる。この表示部１４は、画像距離測定を行う際に、画像距離の測定結果などを表示するようになされる。
【００３２】
操作部１５は、画像読取時の設定および読み取り動作の開始／停止など指示を入力するものであり、例えばタッチパネルから構成される。また、出力部１６は、読み取り部１２により読み込んだ画像データを出力する回路である。
【００３３】
図２は、画像距離測定用原稿画像例を示す図である。この測定用原稿は、主走査方向の２点（２つの細線）間距離Ｂを測定するためのものである。図２に示すように、数画素程度の幅、例えば２画素幅を有するやや斜めの２つの細線が描かれている。即ち、この２つの細線は１０ライン分副走査方向に進むと、１画素ずれるように、原稿に対する主走査方向もしくは副走査方向と一致しないように所定の角度で描かれている。
【００３４】
図３は、２画素幅の細線画像の拡大図である。図３（ａ）は、原稿画像を示している。図３（ａ）に示すように、２画素幅の細線は、１０ライン分副走査方向に進むと、１画素ずれるようになされる。図３（ｂ）は、図３（ａ）に示す原稿画像のスキャン画像を示している。図中第１ラインから第１０ラインまでのいずれかの画像データでこの細線のプロファイルを算出することが可能である。
【００３５】
例えば、図３（ｂ）中の第１ラインの１ライン分のみの画像データでこの細線のプロファイルを作成する場合、図４に示すような細線のプロファイルが得られる。
【００３６】
図４は、１ライン分の細線のプロファイルを示す図である。図４に示すように、１ライン分のみの画像データでこの細線のプロファイルは、データが数点しかないため、その形状の把握が困難である。しかし、このように、複数ライン分の画像データでこの細線のプロファイルを算出すると、図５に示すようなプロファイルが得られる。
【００３７】
図５は、ＬＳＦ（Line Spread Function）を用いた１０ライン分の細線のフロファイルを示す図である。図５に示すように、複数ライン分の画像データで細線のプロファイルを算出する場合、多数のデータが得られるため、細線のプロファイルの形状の把握が容易になる。
【００３８】
このように、ＬＳＦを用いた方法では、やや斜めの細線を用いることにより、第２のラインは第１のラインに対して１／１０画素ずれた視点から細線を検出したことに相当させることができる。同様に、第３ラインは第１のラインに対して２／１０画素ずれた視点から細線を検出したことに相当し、また、第４ラインは第１のラインに対して３／１０画素ずれた視点から細線を検出したことに相当し、第１０ラインは第１のラインに対して９／１０画素ずれた視点から細線を検出したことに相当することになる。これにより、１画素単位であるデジタル画像において、擬似的に分解能を１／１０画像単位として細線画像の輝度値を検出し、プロファイルを算出することが可能となる。
【００３９】
この方法を用いた場合のプロファイルは、１ラインのみのデータを用いた場合の１０倍のデータ量が確保できるため、細線のプロファイルをより正確に検出することができる。このプロファイルのピーク位置を、半値幅の中心位置等を使って算出することができる。得られたピーク位置に基づいて２点間の距離Ｂを求める。
【００４０】
続いて、本発明に係る画像測定方法について画像測定装置１００の動作例を説明する。図６は、画像測定装置１００における動作例を示すフローチャートである。
この実施の形態では、斜めに描かれた少なくとも２つの平行細線画像からなる測定用原稿を用い、この測定用原稿画像を読み取り、得られた画像の複数ライン分のデータに基づいて、細線のプロファイルを算出し、プロファイルのピーク位置を求め、このピーク位置に基づいて２つの細線間の距離Ｂを測定する場合を前提とする。
【００４１】
これを前提にして、まず、図６に示すフローチャートのステップＳ１１で、制御部１０が距離測定モードであるか否かを判断する。ここで、操作者により予め用意された測定用原稿が原稿供給部１１のプラテン上に置かれる。操作者により操作部１５で距離測定モードの設定が行われた場合、制御部１０が距離測定モードであると判断する。ここで、図２に示すような２画素幅を有するやや斜めの２つの平行細線が描かれている測定用原稿が用いられる。原稿画像の２つの細線は１０ライン分副走査方向に進むと、１画素ずれるように、原稿に対する主走査方向もしくは副走査方向と一致しないように所定の角度で描かれている。
【００４２】
ステップＳ１１で距離測定モードであると判断された場合、次のステップＳ１２で、制御部１０が原稿読取を開始する指示があったか否かを判断する。ここで、原稿読取を開始する指示があったと判断された場合、次のステップＳ１３で、上述した測定用原稿画像を読み取る。ここで、読み取り部１２のイメージスキャナが主走査方向に走査することで、測定用原稿画像が読み込まれる。
【００４３】
次に、ステップＳ１４で、ＬＳＦを用いて２つの細線の位置を検出する。ここで、ステップＳ１３で読み込んだ原稿画像中の２つの細線に対して、それぞれの位置を検出する。この場合、それぞれの細線に対して、１０ライン分の画像データで細線のプロファイル（図５参照）を算出する。このプロファイルのピーク位置を、半値幅の中心位置等を使って算出する。これにより、２つの細線の位置が検出される。
【００４４】
次に、ステップＳ１５で、２点間の距離Ｂを求める。ここで、ステップＳ１４で検出した２つの細線の位置に基づいて、制御部１０により、例えば、該２つの細線の指定された２点の座標から、該２点間の距離Ｂを算出する。距離を算出した後、表示部に表示して、測定動作を終了する。
【００４５】
なお、上述のステップＳ１４では、それぞれの細線に対して、１０ライン分の画像データで細線のプロファイルを算出して、ピーク位置を求めるようになされているが、これをさらに副走査方向に進めて行くことにより複数個のプロファイルを得ることができる。それらの平均を算出するようにしてもよい。例えば、上述した細線のプロファイルの作成過程を５回分の平均を取り、５倍のデータ数からピーク位置を求めることとなる。
【００４６】
また、細線の位置を検出する際に、１０ライン分のデータでプロファイルを算出し、この過程を５回行い、細線のプロファイルを５回算出し、それぞれのピーク位置を求め、得られた５個のピーク位置の平均値を算出するようにしてもよい。
【００４７】
上述したように２つの細線に対して複数個の解析結果の平均を取ることにより、より誤差の少ない距離を算出することができる。
【００４８】
このように本実施の形態においては、測定用原稿画像の２つの細線間の距離Ｂを測定する際に、読み取り部１２により予め用意された斜めに描かれた２つの平行細線からなる測定用原稿を読み込み、制御部１０により２つの平行細線画像に対し主走査方向もしくは副走査方向の１０ライン分の画像データを用いて、該２つの細線画像のプロファイルを算出し、それらのピーク位置を求め、得られたピーク位置に基づいてこの２つの細線画像間の距離Ｂを算出する。
【００４９】
これにより、複数ライン分の画像データで細線またはエッジ画像のプロファイルを作成するため、測定用原稿画像の２つの細線間の距離を１／１０画素単位で測定することが可能となり、測定用原稿画像の細線のプロファイルをより正確に検出することができるため、画像位置または画像距離の測定精度を向上することができる。
【００５０】
また、各細線画像に対するプロファイルを複数回分測定し、その平均値で細線のピーク位置またはエッジの立ち上がり位置を求めるため、より誤差の少ない距離を算出することができる。
【００５１】
なお、この画像距離測定方法の分解能は原稿画像の細線の傾き量に依存する。上述の例では、細線の傾きは１０ライン進んで１画素ずれるため、分解能は１／１０である。細線の傾き角度を変えることにより、任意の分解能に変えることができる。逆に、画像を読み取る際に、原稿が斜めに置かれた場合がある。この場合、分解能に影響がある。例えば１／１０の分解能を得るように設計された原稿を読み取る際に、斜めに置かれて、結果的に１／５の分解能しか得られない。このような原稿読取時の影響を考えると、画像距離測定用原稿画像の細線の傾き角度を設計する際に、原稿が斜めに置かれても十分な分解能（１／１０の分解能）を得られるように細線の傾き量（例えば、１／２０の分解能が得られる傾き量）を設計すれば、原稿の置き方に影響を受けずに高精度の測定が可能となる。
【００５２】
また、上述した実施の形態においては、主走査方向の画像距離の測定について説明したが、副走査方向の画像距離の測定に関してもこの発明を適用できる。この場合、原稿画像として、図７に示すような主走査方向に伸びた斜めの細線を使用することで、同様に副走査方向の画像距離の測定が可能となる。
【００５３】
図７は、副走査方向の２つの細線間の距離Ｃを測定するための原稿画像を示す図である。図７に示すように、この原稿画像は、数画素程度の幅、例えば２画素幅を有するやや斜めの２つの細線が描かれている。即ち、この２つの細線は１０ライン分副走査方向に進むと、１画素ずれるように、原稿に対する主走査方向もしくは副走査方向と一致しないように所定の角度で描かれている。
【００５４】
また、上述した実施の形態においては、距離測定用原稿画像として斜めに描かれた２つの平行細線を用いたものであるが、これに限定されるものではない。例えば距離測定用原稿画像としてエッジ画像等を用いてもよい。
【００５５】
また、上述した実施の形態においては、原稿に対する主走査方向もしくは副走査方向の画像距離の測定について説明したが、これに限定されるものではない。他方向の画像距離の測定にもこの発明を適用できる。また、２つ以上の画像間の距離測定にもこの発明を適用できる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
この発明は、画像読取手段で読み取った原稿画像の画像位置検出や画像距離測定に適用して極めて好適である。例えば、プリンタ等の画像形成装置により印刷された測定用原稿の画像間の距離を測定することで、該画像形成装置の印刷特性（位置ずれ）を検出できる。また例えば、予め２つの被測定画像間の距離が所定値で設計された測定用原稿をスキャナで読み取り、２つの被測定画像間の距離を測定して、測定用原稿の所定値と比較することで、このスキャナの性能（位置ずれ）を検出できる。装置の検査、調整などに利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】実施の形態の画像測定装置１００の構成例を示すブロック図である。
【図２】画像距離測定用原稿画像例を示す図である。
【図３】画像距離測定用原稿画像の拡大図である。
【図４】１ライン分の細線のプロファイル例を示す図である。
【図５】ＬＳＦを用いた１０ライン分の細線のプロファイル例を示す図である。
【図６】距離測定の動作例を示す図である。
【図７】副走査方向の画像距離測定用原稿画像例を示す図である。
【図８】従来の画像距離測定用原稿画像例を示す図である。
【図９】十字印の拡大図である。
【符号の説明】
【００５８】
１０  制御部（画像測定手段）
１１  原稿供給部
１２  読み取り部（読み取り手段）
１３  画像処理部
１４  表示部
１５  操作部
１６  出力部
１００  画像測定装置
【図１】
2005100058.tif 000003
【図２】
2005100058.tif 000004
【図３】
2005100058.tif 000005
【図４】
2005100058.tif 000006
【図５】
2005100058.tif 000007
【図６】
2005100058.tif 000008
【図７】
2005100058.tif 000009
【図８】
2005100058.tif 000010
【図９】
2005100058.tif 000011