(57)【要約】【課題】複数の層を有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において、温度変化に応じて各層のレーザパワーを調整する場合に、層数の分の調整時間が必要であり、一定の転送速度の記録を行う場合には記録中断する必要があった。【解決手段】  レーザパワー制御装置１００は、レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子１２を制御するパワー制御部３２と、光ディスク１０１に対する記録条件が変動したことを検出する変動検出部１７と、変動検出部１７からの出力に応じて、第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するパワー調整部１４３とを備えている。パワー調整部１４３は、第１の層１０１ａの記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、第２の層１０１ｂの記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する。【選択図】図１
2005100610.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において用いられるレーザパワー制御装置であって、
レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するパワー制御部と、
前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出する変動検出部と、
前記変動検出部からの出力に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するパワー調整部と
を備え、
前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する、レーザパワー制御装置。
【請求項２】
前記光ディスク装置は、前記光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップと、前記光ピックアップを駆動する駆動回路とを含み、
前記光ピックアップは、前記レーザ素子と、前記レーザ素子から出射された前記レーザ光を検出する出射光検出器とを含み、
前記パワー制御部は、前記出射光検出器によって検出されたレーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ駆動値を生成し、前記レーザ駆動値に応じて前記レーザ素子を制御し、
前記パワー調整部は、前記変動検出部からの出力に応じて、前記出射光検出器によって検出されたレーザ光のレベルと前記制御目標レベルと前記レーザ駆動値のレベルとのうちの少なくとも１つを調整することにより、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する、請求項１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項３】
前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対する前記制御目標レベルの関数として、前記第２の層の記録膜に対する前記制御目標レベルを決定する、請求項１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項４】
前記関数は、前記第１の層の記録膜に対する前記制御目標レベルに対する、前記第２の層の記録膜に対する前記制御目標レベルの比である、請求項３に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項５】
前記関数は、１次関数もしくは２次関数である、請求項３に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項６】
前記関数は、前記光ディスクの所定の領域に記録されている、請求項３に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項７】
前記光ディスクは、第３の層をさらに含み、
前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対する前記制御目標レベルの関数として、前記第３の層の記録膜に対する前記制御目標レベルをさらに決定し、
前記第２の層の記録膜に対する前記制御目標レベルを決定する際に用いられる関数は、前記第３の層の記録膜に対する前記制御目標レベルを決定する際に用いられる関数とは互いに異なっている、請求項１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項８】
前記変動検出部は、温度を検出する温度検出部と、前記光ディスクの情報面の法線方向と前記光ディスクに照射される前記レーザ光の光軸方向との間のチルトを検出するチルト検出部と、前記光ディスクの基材厚による前記レーザ光の球面収差を検出する球面収差検出部とのうちの少なくとも１つを含み、
前記パワー調整部は、前記温度検出部からの出力と前記チルト検出部からの出力と前記球面収差検出部からの出力とのうちの少なくとも１つに基づいて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する、請求項１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項９】
前記レーザパワー制御装置は、前記光ディスクからの反射光の非対称性を検出する非対称検出部をさらに備え、
前記パワー調整部は、前記非対称検出部からの出力が所望の値となるように、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する、請求項１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項１０】
前記レーザパワー制御装置は、前記光ディスクからの反射光の変調度を検出する変調度検出部をさらに備え、
前記パワー調整部は、前記変調度検出部からの出力が所望の値となるように、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する、請求項１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項１１】
前記パワー制御部は、前記レーザ光のパワーの初期調整において、前記レーザ光のパワーが前記第２の層の記録膜に対して予め設定された制御目標レベルＰｗ２’に近づくように前記レーザ素子を制御し、
前記制御目標レベルＰｗ２’は、前記第１の層の記録膜に対して調整された制御目標レベルＰｗ１と、前記第１の層の記録膜に対する基準パワーＰｗ１”のレベルと、前記第２の層の記録膜に対する基準パワーＰｗ２”のレベルとに基づいて定義されており、前記基準パワーＰｗ１”は前記光ディスクの所定の領域に記録されており、前記基準パワーＰｗ２”は前記光ディスクの所定の領域に記録されている、請求項１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項１２】
前記制御目標レベルＰｗ２’は、Ｐｗ２’＝Ｐｗ１×Ｐｗ２”／Ｐｗ１”という式によって定義されている、請求項１１に記載のレーザパワー制御装置。
【請求項１３】
第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において用いられるレーザパワー制御方法であって、
レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するステップと、
前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出するステップと、
前記記録条件の変動に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するステップと、
前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定するステップと
を包含する、レーザパワー制御方法。
【請求項１４】
第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置であって、
前記光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップと、
前記光ピックアップを駆動する駆動回路と、
前記レーザ光のパワーを制御するレーザパワー制御装置と
を備え、
前記レーザパワー制御装置は、
前記レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するパワー制御部と、
前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出する変動検出部と、
前記変動検出部からの出力に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するパワー調整部と
を備え、
前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する、光ディスク装置。
【請求項１５】
第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する記録方法であって、
前記光ディスクにレーザ光を照射するステップと、
前記レーザ光のパワーを制御するステップと
を包含し、
前記レーザ光のパワーを制御するステップは、
前記レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するステップと、
前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出するステップと、
前記記録条件の変動に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するステップと、
前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定するステップと
を包含する、記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の層を有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において用いられるレーザパワー制御装置および方法、その光ディスクに情報を記録する光ディスク装置ならびにその光ディスクに情報を記録する記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク装置のレーザ光のパワーの調整方法としては、温度および光ディスクの半径方向に沿った位置に応じてレーザ光のパワーを調整し、レーザ光のパワーのデータテーブルを作成する方法があった。例えば、特許文献１では、そのデータテーブルを用いてレーザ光のパワーを決定する方法が記載されている。この従来技術を図１２を参照して説明する。
【０００３】
図１２は、光ディスク１に情報を記録する従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【０００４】
光ディスク１は、単一の層１ａを含む。層１ａには記録膜が設けられている。
【０００５】
光ピックアップ１０は、層１ａの記録膜にレーザ光を収束させる。レーザ素子１２から出射されたレーザ光の一部は、反射板１５を通過し、出射光検出器１３によって検出される。また、レーザ素子１２から出射されたレーザ光は、反射板１５によって反射され、偏向ホログラム１６を透過し、収束レンズ１１によって光ディスク１の記録膜に収束される。光ディスク１の記録膜によって反射されたレーザ光（反射光）は、収束レンズ１１を通過し、偏向ホログラム１６によって偏向され、反射板１５を通過し、反射光検出器１４によって検出される。
【０００６】
出射光検出器１３によって検出されたレーザ光は、ＤＳＰ３０（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）に内蔵されるＡＤ変換部３１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部３１からの出力は、ＤＳＰ３０に内臓されたパワー制御部３２に供給される。パワー制御部３２は、出射光検出器１３によって検出されたレーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ駆動値を生成し、そのレーザ駆動値に応じてレーザ素子１２を制御する。このような制御は、例えば、パワー制御部３２によって生成されたレーザ駆動値をＤＳＰ３０に内臓されるＤＡ変換部３３によってＤＡ変換し、ＤＡ変換部３３からの出力を駆動回路２に供給することによって達成される。制御目標レベルは、パワー調整部４３によって決定され、パワー制御部３２に設定される。駆動回路２は、ＤＡ変換部３３からの出力に応じて、レーザ素子１２を駆動する。
【０００７】
また、反射光検出器１４によって検出されたレーザ光（反射光）は、ＤＳＰ３０に内蔵されるＡＤ変換部４１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部４１からの出力は、ＤＳＰ３０に内臓される非対称性検出部４２に供給される。非対称性検出部４２は、反射光のピークレベルＩｐｋ、ボトムレベルＩｂｍ、平均レベルＩａｖｇから反射光の非対称性（Ｉｐｋ＋Ｉｂｍ−２Ｉａｖｇ）／（Ｉｐｋ−Ｉｂｍ）を検出し、反射光の非対称性を示す信号をパワー調整部４３に出力する。
【０００８】
パワー調整部４３は、反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）になるように、レーザ光のパワーの最適値を探索する。
【０００９】
次に、図１３を参照して、レーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。
【００１０】
光ディスク１の記録膜に対するパワー調整が行われる（Ｓ１）。このようなパワー調整は、例えば、パワー制御部３２が、予め定められた制御目標レベルに従ったパワーを有するレーザ光を光ディスク１に照射するようにレーザ素子１２を制御し、パワー調整部４３が、光ディスク１からの反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように制御目標レベルを調整することによって達成される。このようにしてパワー調整部４３によって調整された制御目標レベルがパワー制御部３２に設定される。
【００１１】
パワー調整部４３は、現在の温度に対応するテーブル値をパワー調整部４３によって調整された制御目標レベルに更新する（Ｓ２）。
【００１２】
温度が変動したか否かが判定される（Ｓ３）。温度検出器１７の出力は、ＤＳＰ３０に内蔵されるＡＤ変換器４５によってＡＤ変換され、ＡＤ変換器４５の出力がパワー調整部４３に供給される。パワー調整部４３は、例えば、ＡＤ変換器４５の出力を監視することにより、温度が変動したか否かを判定する。
【００１３】
温度が変動したと判定された場合には、現在の温度に対して制御目標レベルが調整済みであるか否かが判定される（Ｓ４）。パワー調整部４３は、例えば、ＲＡＭ４４を検索することにより、制御目標レベルが調整済みであるか否かを判定する。
【００１４】
制御目標レベルが調整済みであると判定された場合には、パワー調整部４３は、ＲＡＭ４４に格納されたテーブルから現在の温度に対応する制御目標レベルを読み出し（Ｓ５）、読み出された制御目標レベルをパワー制御部３２に設定する（Ｓ６）。
【００１５】
制御目標レベルが調整済みでないと判定された場合には、処理はステップＳ１に戻る。
【００１６】
上述したレーザ光のパワーの調整方法によれば、光ディスク装置の使用環境温度や、装置の動作に伴う発熱による温度変動の影響によって、レーザ素子から出射されるレーザ光のパワーが変動しても、反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるような再生信号が得られる記録ができる。
【特許文献１】特開平１−１１２５５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかしながら、従来の記録方法では、光ディスクの情報記録膜が例えば２層になっていた場合に、環境温度が変化した後に他層の記録を行うと最適なレーザパワーで記録することができない。これを詳述すると、１つの層で、温度変化に応じて、データテーブルを作成して保存しても、他層のデータテーブルを作成することができない。他層のデータテーブルを作成するためには、温度変化に応じて、１つの層でパワー調整した後に、他層に移動し記録および再生を行うパワー調整をする必要がある。このとき他層に移動して戻る時間、および他層で記録および再生してパワー調整する時間がかかることになり、パワー調整の時間が２倍以上になる。ここで光ディスクに連続して動画を記録するには所定の転送速度で記録する必要があるが、一時的に記録を中断してパワー調整を行う間は、動画のデータをＤＲＡＭに保存する。パワー調整の時間は２倍以上になるということはＤＲＡＭの記憶容量を２倍にしなければならず、装置のコストアップにつながっていた。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明のレーザパワー制御装置は、第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において用いられるレーザパワー制御装置であって、レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するパワー制御部と、前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出する変動検出部と、前記変動検出部からの出力に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するパワー調整部とを備え、前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する。
【００１９】
前記光ディスク装置は、前記光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップと、前記光ピックアップを駆動する駆動回路とを含み、前記光ピックアップは、前記レーザ素子と、前記レーザ素子から出射された前記レーザ光を検出する出射光検出器とを含み、前記パワー制御部は、前記出射光検出器によって検出されたレーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ駆動値を生成し、前記レーザ駆動値に応じて前記レーザ素子を制御し、前記パワー調整部は、前記変動検出部からの出力に応じて、前記出射光検出器によって検出されたレーザ光のレベルと前記制御目標レベルと前記レーザ駆動値のレベルとのうちの少なくとも１つを調整することにより、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整してもよい。
【００２０】
前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対する前記制御目標レベルの関数として、前記第２の層の記録膜に対する前記制御目標レベルを決定してもよい。
【００２１】
前記関数は、前記第１の層の記録膜に対する前記制御目標レベルに対する、前記第２の層の記録膜に対する前記制御目標レベルの比であってもよい。
【００２２】
前記関数は、１次関数もしくは２次関数であってもよい。
【００２３】
前記関数は、前記光ディスクの所定の領域に記録されていてもよい。
【００２４】
前記光ディスクは、第３の層をさらに含み、前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対する前記制御目標レベルの関数として、前記第３の層の記録膜に対する前記制御目標レベルをさらに決定し、前記第２の層の記録膜に対する前記制御目標レベルを決定する際に用いられる関数は、前記第３の層の記録膜に対する前記制御目標レベルを決定する際に用いられる関数とは互いに異なっていてもよい。
【００２５】
前記変動検出部は、温度を検出する温度検出部と、前記光ディスクの情報面の法線方向と前記光ディスクに照射される前記レーザ光の光軸方向との間のチルトを検出するチルト検出部と、前記光ディスクの基材厚による前記レーザ光の球面収差を検出する球面収差検出部とのうちの少なくとも１つを含み、前記パワー調整部は、前記温度検出部からの出力と前記チルト検出部からの出力と前記球面収差検出部からの出力とのうちの少なくとも１つに基づいて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整してもよい。
【００２６】
前記レーザパワー制御装置は、前記光ディスクからの反射光の非対称性を検出する非対称検出部をさらに備え、前記パワー調整部は、前記非対称検出部からの出力が所望の値となるように、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整してもよい。
【００２７】
前記レーザパワー制御装置は、前記光ディスクからの反射光の変調度を検出する変調度検出部をさらに備え、前記パワー調整部は、前記変調度検出部からの出力が所望の値となるように、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整してもよい。
【００２８】
前記パワー制御部は、前記レーザ光のパワーの初期調整において、前記レーザ光のパワーが前記第２の層の記録膜に対して予め設定された制御目標レベルＰｗ２’に近づくように前記レーザ素子を制御し、前記制御目標レベルＰｗ２’は、前記第１の層の記録膜に対して調整された制御目標レベルＰｗ１と、前記第１の層の記録膜に対する基準パワーＰｗ１”のレベルと、前記第２の層の記録膜に対する基準パワーＰｗ２”のレベルとに基づいて定義されており、前記基準パワーＰｗ１”は前記光ディスクの所定の領域に記録されており、前記基準パワーＰｗ２”は前記光ディスクの所定の領域に記録されていてもよい。
【００２９】
前記制御目標レベルＰｗ２’は、Ｐｗ２’＝Ｐｗ１×Ｐｗ２”／Ｐｗ１”という式によって定義されていてもよい。
【００３０】
本発明のレーザパワー制御方法は、第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において用いられるレーザパワー制御方法であって、レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するステップと、前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出するステップと、前記記録条件の変動に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するステップと、前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定するステップとを包含する。
【００３１】
本発明の光ディスク装置は、第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置であって、前記光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップと、前記光ピックアップを駆動する駆動回路と、前記レーザ光のパワーを制御するレーザパワー制御装置とを備え、前記レーザパワー制御装置は、前記レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するパワー制御部と、前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出する変動検出部と、前記変動検出部からの出力に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するパワー調整部とを備え、前記パワー調整部は、前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する。
【００３２】
本発明の記録方法は、第１の層と第２の層とを少なくとも有する光ディスクに情報を記録する記録方法であって、前記光ディスクにレーザ光を照射するステップと、前記レーザ光のパワーを制御するステップとを包含し、前記レーザ光のパワーを制御するステップは、前記レーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ素子を制御するステップと、前記光ディスクに対する記録条件が変動したことを検出するステップと、前記記録条件の変動に応じて、前記第１の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整するステップと、前記第１の層の記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、前記第２の層の記録膜に対するレーザ光のパワーを決定するステップとを包含する。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によるレーザ光のパワーの調整方法によれば、複数の記録層を有する光ディスクであっても、温度変化に伴うパワー調整の時間を増やすことなく、パワー調整できる。連続して動画を記録する場合にも、記録を中断するための動画データを保存するＤＲＡＭの記憶容量を増やしてコストアップすることなく装置を構成できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
【００３５】
（実施の形態１）
図１は、光ディスク１０１に情報を記録する光ディスク装置１００の構成を示すブロック図である。
【００３６】
光ディスク装置１００は、レーザ光を光ディスク１０１に照射する光ピックアップ１０と、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）１３０とを含む。ＤＳＰ１３０は、レーザ光のパワーを制御するレーザパワー制御装置として機能する。
【００３７】
光ディスク１０１は、第１の層１０１ａと第２の層１０１ｂとを含んでいる。第１の層１０１ａ、第２の層１０１ｂのそれぞれには記録膜が設けられている。なお、光ディスク１０１は、３層以上の複数の層を含んでいてもよい。複数の層のうちの１つが基準層として使用される。
【００３８】
以下、光ディスク装置１００の動作を説明する。
【００３９】
光ピックアップ１０は、第１の層１０１ａの記録膜にレーザ光を収束させ、もしくは、第２の層１０１ｂの記録膜にレーザ光を収束させる。レーザ素子１２から出射されたレーザ光の一部は、反射板１５を通過し、出射光検出器１３によって検出される。また、レーザ素子１２から出射されたレーザ光は、反射板１５によって反射され、偏向ホログラム１６を透過し、収束レンズ１１によって光ディスク１０１の記録膜（第１の層１０１ａの記録膜もしくは第２の層１０１ｂの記録膜）に収束される。光ディスク１０１の記録膜によって反射されたレーザ光（反射光）は、収束レンズ１１を通過し、偏向ホログラム１６によって偏向され、反射板１５を通過し、反射光検出器１４によって検出される。
【００４０】
出射光検出器１３によって検出されたレーザ光は、ＤＳＰ１３０に内蔵されるＡＤ変換部３１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部３１からの出力は、ＤＳＰ１３０に内臓されるパワー制御部３２に供給される。パワー制御部３２は、出射光検出器１３によって検出されたレーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ駆動値を生成し、そのレーザ駆動値に応じてレーザ素子１２を制御する。このような制御は、例えば、パワー制御部３２によって生成されたレーザ駆動値をＤＳＰ１３０に内臓されるＤＡ変換部３３によってＤＡ変換し、ＤＡ変換部３３からの出力を駆動回路２に供給することによって達成される。制御目標レベルは、パワー調整部１４３によって決定され、パワー制御部３２に設定される。駆動回路２は、ＤＡ変換部３３からの出力に応じて、レーザ素子１２を駆動する。
【００４１】
また、反射光検出器１４によって検出されたレーザ光（反射光）は、ＤＳＰ１３０に内蔵されるＡＤ変換部４１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部４１からの出力は、ＤＳＰ１３０に内臓される非対称性検出部４２に供給される。非対称性検出部４２は、反射光のピークレベルＩｐｋ、ボトムレベルＩｂｍ、平均レベルＩａｖｇから反射光の非対称性（Ｉｐｋ＋Ｉｂｍ−２Ｉａｖｇ）／（Ｉｐｋ−Ｉｂｍ）を検出し、反射光の非対称性を示す信号をパワー調整部１４３に出力する。
【００４２】
図２は、レーザ光のパワーと反射光の非対称性との関係を示す特性図である。図２において、横軸がレーザ光のパワーを示し、縦軸が反射光の非対称性を示す。
【００４３】
パワー調整部１４３は、図２に示されるＡ点のように反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように、レーザ光のパワーの最適値を探索する。このような探索は、例えば、適当な２つのパワーを有するレーザ光を光ディスク１０１に照射して、その光ディスク１０１からの反射光からその反射光の非対称性を検出し、その反射光の非対称性を線形近似して、その反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるレーザ光のパワーを求めることによって達成される。パワー調整部１４３は、レーザ光のパワーの最適値を制御目標レベルとしてパワー制御部３２に出力する。
【００４４】
さらに、パワー調整部１４３は、温度検出器１７からの出力に応じて、第１の層１０１ａ（基準層）の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する。
【００４５】
以下、レーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。この方法は、例えば、光ディスク装置１００を動作させることによって実行される。
【００４６】
はじめに、図３Ａを参照して、光ディスク１０１へのデータの記録を開始する前にレーザ光のパワーを調整する場合（すなわち、初期調整の場合）におけるレーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。
【００４７】
光ディスク１０１の第１の層１０１ａに対するパワー調整が行われる（Ｓ１０１）。このようなパワー調整は、例えば、パワー制御部３２が、第１の層１０１ａの記録膜に対して予め定められた制御目標レベルＰｗ１’に従ったパワーを有するレーザ光を光ディスク１０１に照射するようにレーザ素子１２を制御し、パワー調整部１４３が、光ディスク１０１からの反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルを調整することによって達成される。このようにしてパワー調整部１４３によって調整された制御目標レベルが第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１としてパワー制御部３２に設定される。
【００４８】
第１の層１０１ａの記録膜に対して予め設定された制御目標レベルＰｗ１’は、ＤＳＰ１３０によって実行されるファームウェアに設定された第１の層１０１ａの記録膜に対する基準パワーのレベルＰｗ１”であってもよいし、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域内の所定の領域）に記録された第１の層１０１ａの記録膜に対する基準パワーのレベルＰｗ１”であってもよい。
【００４９】
データが記録されるべき記録膜が第１の層１０１ａの記録膜から第２の層１０１ｂの記録膜に移動される（Ｓ１０２）。
【００５０】
光ディスク１０１の第２の層１０１ｂに対するパワー調整が行われる（Ｓ１０３）。このようなパワー調整は、例えば、パワー制御部３２が、第２の層１０１ｂの記録膜に対して予め定められた制御目標レベルＰｗ２’に従ったパワーを有するレーザ光を光ディスク１０１に照射するようにレーザ素子１２を制御し、パワー調整部１４３が、光ディスク１０１からの反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように第２の層１０１ｂの記録膜に対する制御目標レベルを調整することによって達成される。このようにしてパワー調整部１４３によって調整された制御目標レベルが第２の層１０１ｂの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ２としてパワー制御部３２に設定される。
【００５１】
第２の層１０１ｂの記録膜に対して予め設定された制御目標レベルＰｗ２’は、ステップＳ１０１において調整済みの制御目標レベルＰｗ１であってもよいし、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域内の所定の領域）に記録された第２の層１０１ｂの記録膜に対する基準パワーのレベルＰｗ２”であってもよい。あるいは、Ｐｗ２’＝Ｐｗ１×Ｐｗ２”／Ｐｗ１”であってもよい。比Ｐｗ２”／Ｐｗ１”が光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域内の所定の領域）に記録されていてれもよい。
【００５２】
あるいは、パワー調整部１４３による第２の層１０１ｂの記録膜に対する制御目標レベルの調整を行うことなく、Ｐｗ２’（＝Ｐｗ１×Ｐｗ２”／Ｐｗ１”）をＰｗ２としてパワー制御部３２に設定するようにしてもよい。
【００５３】
ＲＡＭ４４内に格納されている情報（例えば、テーブル）が更新される（Ｓ１０４）。このような更新は、例えば、第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１と、第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１に対する第２の層１０１ｂの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ２の比（すなわち、Ｐｗ２／Ｐｗ１）とをＲＡＭ４４に書き込むことによって達成される。なお、ＲＡＭ４４の代わりに任意の書き換え型メモリを使用することができる。
【００５４】
なお、比Ｐｗ２／Ｐｗ１をＲＡＭ４４に書き込む代わりに、Ｐｗ１の関数をＲＡＭ４４に書き込むようにしてもよい。Ｐｗ１の関数としては、例えば、Ｐｗ１の１次関数、もしくは、Ｐｗ１の２次関数を用いることができる。パワー調整部１４３は、第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１の関数として、第２の層１０１ｂの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ２を決定してもよい。Ｐｗ１の関数は、例えば、ＲＡＭ４４の層間補正テーブルに格納され得る。
【００５５】
図３Ｂは、層間補正テーブルの一例を示す。この例では、第２の層の記録膜に対する制御目標レベルＰｗ２を決定する際に関数Ｆ２（Ｐｗ１）が用いられ、第３の層の記録膜に対する制御目標レベルＰｗ３を決定する際に関数Ｆ３（Ｐｗ１）が用いられることを示す。関数Ｆ２（Ｐｗ１）と関数Ｆ３（Ｐｗ１）とは、同一の関数であってもよいし、異なる関数であってもよい。
【００５６】
次に、図４Ａを参照して、初期調整の後、温度変動などの要因により光ディスク１０１へのデータの記録中にレーザ光のパワーを調整する場合（すなわち、再調整の場合）におけるレーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。
【００５７】
データが記録されるべき記録膜が第１の層１０１ａ（基準層）の記録膜から第２の層１０１ｂ（基準層以外の層）の記録膜に移動したか否かが判定される（Ｓ１１１）。
【００５８】
データが記録されるべき記録膜が第１の層１０１ａの記録膜から第２層１０１ｂの記録膜に移動したと判定された場合には、パワー調整部１４３は、ＲＡＭ４４に格納されたテーブルから制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１と第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとを読み出し（Ｓ１２１）、第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをＰｗ２ｔ＝Ｐｗ１ｔ×Ｐｗ２／Ｐｗ１という式に従って算出し（Ｓ１２２）、このようにして算出された第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをパワー制御部３２に設定する（Ｓ１２３）。
【００５９】
なお、比Ｐｗ２／Ｐｗ１の代わりにＰｗ１の関数（例えば、Ｆ２（Ｐｗ１））がＲＡＭ４４に格納されている場合には、パワー調整部１４３は、ＲＡＭ４４から関数Ｆ２（Ｐｗ１）と第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとを読み出し（Ｓ１２１）、第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをＰｗ２ｔ＝Ｆ２（Ｐｗ１ｔ）という式に従って算出するようにすればよい（Ｓ１２２）。
【００６０】
ここで、第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとは、温度変動による制御目標レベルＰｗ１の変動を補償することを目的としたものである。例えば、制御目標レベルＰｗ１が基準温度Ｘ０℃での制御目標レベルであり、温度がＸ０℃からＸ１℃に変化し、現在の温度Ｘ１℃に対する温度補正係数ＫＴ（Ｘ１℃）が１．０１（１０１％）であると仮定する。この場合、現在の制御目標レベルＰｗ１ｔは、Ｐｗ１ｔ＝Ｐｗ１×ＫＴ（Ｘ１℃）＝１．０１・Ｐｗ１という式に従って算出される。温度補正係数ＫＴは、例えば、基準層の基準温度に対するパワー率としてＲＡＭ４４の温度補正テーブルに格納され得る。
【００６１】
図４Ｂは、温度補正テーブルの一例を示す。この例では、基準温度Ｘ０℃に対して、ＫＴ（Ｘ１℃）＝１．０１（１０１％）、ＫＴ（Ｘ２℃）＝０．９７（９７％）となっている。
【００６２】
なお、パワー調整部１４３は、制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１をＲＡＭ４４に格納されたテーブルから読み出す代わりに、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域）に記録された制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１を読み出すようにしてもよい。あるいは、パワー調整部１４３は、Ｐｗ１の関数（例えば、Ｆ２（Ｐｗ１））をＲＡＭ４４に格納されたテーブルから読み出す代わりに、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域）に記録されたＰｗ１の関数を読み出すようにしてもよい。
【００６３】
このようにして、パワー調整部１４３は、第１の層１０１ａの記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、第２の層１０１ｂの記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する。
【００６４】
温度が変動したか否かが判定される（Ｓ１１２）。温度検出器１７の出力は、ＤＳＰ１３０に内蔵されるＡＤ変換器４５によってＡＤ変換され、ＡＤ変換器４５の出力がパワー調整部１４３に供給される。パワー調整部１４３は、例えば、ＡＤ変換器４５の出力を監視することにより、温度が変動したか否かを判定する。
【００６５】
温度が変動したと判定された場合には、現在の温度に対して第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みであるか否かが判定される（Ｓ１１４）。このような判定は、例えば、現在の温度に対して第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１が調整済みであるか否か（すなわち、現在の温度に対する現在の制御目標レベルＰｗｌｔもしくは現在の温度に対する温度補正係数ＫＴがＲＡＭ４４に格納されているか否か）を判定することによってなされる。パワー調整部１４３は、例えば、ＲＡＭ４４を検索することにより、制御目標レベルＰｗ１が調整済みであるか否かを判定する。
【００６６】
第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みであると判定された場合には、ステップＳ１２１、Ｓ１２２、Ｓ１２３が実行される。ステップＳ１２１、Ｓ１２２、Ｓ１２３については上述したとおりである。
【００６７】
第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みでないと判定された場合には、図３Ａに示されるステップＳ１０１と同様にして、第１の層１０１ａに対するパワー調整が行われる（Ｓ１３１）。このようなパワー調整は、例えば、パワー制御部３２が、第１の層１０１ａの記録膜に対して予め定められた制御目標レベルＰｗ１’に従ったパワーを有するレーザ光を光ディスク１０１に照射するようにレーザ素子１２を制御し、パワー調整部１４３が、光ディスク１０１からの反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルを調整することによって達成される。パワー調整部１４３は、ＲＡＭ４４のテーブルに格納すべき値を算出し（Ｓ１３２）、その算出された値を用いてＲＡＭ４４のテーブルを更新する（Ｓ１３３）。例えば、パワー調整部１４３は、現在の温度と、パワー調整部１４３によって調整された制御目標レベル（現在の温度に対する制御目標レベル）との組をＲＡＭ４４に格納するようにしてもよいし、基準温度での制御目標レベルとパワー調整部１４３によって調整された制御目標レベル（現在の温度に対する制御目標レベル）とから現在の温度に対する温度補正係数ＫＴを算出し、現在の温度と温度補正係数ＫＴとの組をＲＡＭ４４に格納するようにしてもよい。
【００６８】
上述したレーザ光のパワーの調整方法によれば、各温度に対して調整されたレーザ光のパワーを示すテーブルデータをＤＳＰ１３０に内蔵されるＲＡＭ４４に保存し、以後は温度変動があってもその温度に対する過去に保存したテーブルデータがある場合には、記録して再生することなしに、ＲＡＭ４４に保存したテーブルデータをもとにパワー制御部３２の制御目標レベルを設定できる。さらに、複数の層を含む光ディスクであっても、１つの基準層の記録膜に対する制御目標レベルと基準層以外の各層の記録膜に対する制御目標レベルとの比とから、基準層以外の各層の記録膜に対する制御目標レベルを設定できる。あるいは、その比の代わりに、基準層の記録膜に対する制御目標レベルの関数を用いてもよい。その関数は、例えば、１次関数であってもよいし、２次関数であってもよい。これにより、複数の層を有する光ディスクに対して、光ディスク装置の使用環境温度や、光ディスク装置の動作に伴う発熱による温度変動の影響によって、レーザ素子から出射されるレーザ光のパワーが変動しても、反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるような再生信号が得られる記録をするためのレーザ光のパワーの調整を単層の光ディスクとほぼ同じ時間で実現できる。
【００６９】
（実施の形態２）
図５は、光ディスク１０１に情報を記録する光ディスク装置２００の構成を示すブロック図である。
【００７０】
光ディスク装置２００は、レーザ光を光ディスク１０１に照射する光ピックアップ２１０と、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）２３０とを含む。ＤＳＰ２３０は、レーザ光のパワーを制御するレーザパワー制御装置として機能する。
【００７１】
光ディスク１０１は温度変化に伴いたわむように変形するため、光ディスク１０１の半径方向に沿った異なる位置では、光ディスク１０１の情報面の法線方向と光ディスク１０１に照射されるレーザ光の光軸方向との間のチルトが変動し、レーザ光の実効的なパワーが変動する。本実施の形態２は、このチルトの変動に対してレーザ光の実効的なパワーを調整するものである。
【００７２】
以下、光ディスク装置２００の動作を説明する。
【００７３】
光ピックアップ２１０は、第１の層１０１ａの記録膜にレーザ光を収束させ、もしくは、第２の層１０１ｂの記録膜にレーザ光を収束させる。レーザ素子１２から出射されたレーザ光の一部は、反射板１５を通過し、出射光検出器１３によって検出される。また、レーザ素子１２から出射されたレーザ光は、反射板１５によって反射され、偏向ホログラム１６を透過し、収束レンズ１１によって光ディスク１０１の記録膜（第１の層１０１ａの記録膜もしくは第２の層１０１ｂの記録膜）に収束される。光ディスク１０１の記録膜によって反射されたレーザ光（反射光）は、収束レンズ１１を通過し、偏向ホログラム１６によって偏向され、反射板１５を通過し、反射光検出器１４によって検出される。
【００７４】
さらに、光ピックアップ２１０は、反射光検出器１４によって検出される反射光の分布からチルトを検出するチルト検出器２１７を含む。
【００７５】
出射光検出器１３によって検出されたレーザ光は、ＤＳＰ２３０に内蔵されるＡＤ変換部３１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部３１からの出力は、ＤＳＰ２３０に内臓されるパワー制御部３２に供給される。パワー制御部３２は、出射光検出器１３によって検出されたレーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ駆動値を生成し、そのレーザ駆動値に応じてレーザ素子１２を制御する。このような制御は、例えば、パワー制御部３２によって生成されたレーザ駆動値をＤＳＰ２３０に内臓されるＤＡ変換部３３によってＤＡ変換し、ＤＡ変換部３３からの出力を駆動回路２に供給することによって達成される。制御目標レベルは、パワー調整部２４３によって決定され、パワー制御部３２に設定される。レーザ駆動回路２は、ＤＡ変換部３３からの出力に応じて、レーザ素子１２を駆動する。
【００７６】
また、反射光検出器１４によって検出されたレーザ光（反射光）は、ＤＳＰ２３０に内蔵されるＡＤ変換部４１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部４１からの出力は、ＤＳＰ２３０に内臓される非対称性検出部４２に供給される。非対称性検出部４２は、反射光のピークレベルＩｐｋ、ボトムレベルＩｂｍ、平均レベルＩａｖｇから反射光の非対称性（Ｉｐｋ＋Ｉｂｍ−２Ｉａｖｇ）／（Ｉｐｋ−Ｉｂｍ）を検出し、反射光の非対称性を示す信号をパワー調整部２４３に出力する。
【００７７】
パワー調整部２４３は、反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように、レーザ光のパワーの最適値を探索する。この探索方法の手順は、図２を参照して実施の形態１において既に説明したとおりである。従って、ここではその説明を省略する。パワー調整部２４３は、レーザ光のパワーの最適値を制御目標レベルとしてパワー制御部３２に出力する。
【００７８】
さらに、パワー調整部２４３は、チルト検出器２１７からの出力に応じて、第１の層１０１ａ（基準層）の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する。
【００７９】
図６は、チルトとレーザ光のパワーとの関係を示す特性図である。図６において、横軸がチルトを示し、縦軸がレーザ光のパワーを示す。図６に示されるようにチルトに応じてレーザ光の最適なパワーは変動する。パワー調整部２４３は、チルトに応じてレーザ光のパワーを調整する。例えば、図６に示されるＡ点、Ｂ点、Ｃ点、Ｄ点、Ｅ点の順にチルトが変動したことが検出された場合には、パワー調整部２４３は、図６に示される各点に対してレーザ光のパワーを調整する。その結果、パワー調整部２４３によって調整された制御目標レベルがＲＡＭ４４のテーブルに格納される。
【００８０】
以下、レーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。この方法は、例えば、光ディスク装置２００を動作させることによって実行される。
【００８１】
光ディスク１０１へのデータの記録を開始する前にレーザ光のパワーを調整する場合（すなわち、初期調整の場合）におけるレーザ光のパワーの調整方法の手順は、図３Ａを参照して実施の形態１において既に説明したとおりである。従って、ここではその説明を省略する。
【００８２】
図７Ａを参照して、初期調整の後、光ディスク１０１のチルトの変動などの要因により光ディスク１０１へのデータの記録中にレーザ光のパワーを調整する場合（すなわち、再調整の場合）におけるレーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。
【００８３】
データが記録されるべき記録膜が第１の層１０１ａ（基準層）の記録膜から第２の層１０１ｂ（基準層以外の層）の記録膜に移動したか否かが判定される（Ｓ２１１）。
【００８４】
データが記録されるべき記録膜が第１の層１０１ａの記録膜から第２層１０１ｂの記録膜に移動したと判定された場合には、パワー調整部２４３は、ＲＡＭ４４に格納されたテーブルから制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１と第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとを読み出し（Ｓ２２１）、第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをＰｗ２ｔ＝Ｐｗ１ｔ×Ｐｗ２／Ｐｗ１という式に従って算出し（Ｓ２２２）、このようにして算出された第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをパワー制御部３２に設定する（Ｓ２２３）。
【００８５】
なお、比Ｐｗ２／Ｐｗ１の代わりにＰｗ１の関数（例えば、Ｆ２（Ｐｗ１））がＲＡＭ４４に格納されている場合には、パワー調整部２４３は、ＲＡＭ４４から関数Ｆ２（Ｐｗ１）と第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとを読み出し（Ｓ２２１）、第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをＰｗ２ｔ＝Ｆ２（Ｐｗ１ｔ）という式に従って算出するようにすればよい（Ｓ２２２）。
【００８６】
ここで、第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとは、チルト変動による制御目標レベルＰｗ１の変動を補償することを目的としたものである。例えば、制御目標レベルＰｗ１が基準チルトＹ０°での制御目標レベルであり、チルトがＹ０°からＹ１°に変化し、現在のチルトＹ１°に対するチルト補正係数ＫＣ（Ｙ１°）が１．０３（１０３％）であると仮定する。この場合、現在の制御目標レベルＰｗ１ｔは、Ｐｗ１ｔ＝Ｐｗ１×ＫＣ（Ｙ１°）＝１．０３・Ｐｗ１という式に従って算出される。チルト補正係数ＫＣは、例えば、基準層の基準チルトに対するパワー率としてＲＡＭ４４のチルト補正テーブルに格納され得る。
【００８７】
図７Ｂは、チルト補正テーブルの一例を示す。この例では、基準チルトＹ０°に対して、ＫＣ（Ｙ１°）＝１．０３（１０３％）、ＫＣ（Ｙ２°）＝０．９９（９９％）となっている。
【００８８】
なお、パワー調整部２４３は、制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１をＲＡＭ４４に格納されたテーブルから読み出す代わりに、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域）に記録された制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１を読み出すようにしてもよい。あるいは、パワー調整部２４３は、Ｐｗ１の関数（例えば、Ｆ２（Ｐｗ１））をＲＡＭ４４に格納されたテーブルから読み出す代わりに、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域）に記録されたＰｗ１の関数を読み出すようにしてもよい。
【００８９】
このようにして、パワー調整部２４３は、第１の層１０１ａの記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、第２の層１０１ｂの記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する。
【００９０】
チルトが変動したか否かが判定される（Ｓ２１２）。チルト検出器２１７の出力は、ＤＳＰ２３０に内蔵されるＡＤ変換器４５によってＡＤ変換され、ＡＤ変換器４５の出力がパワー調整部２４３に供給される。パワー調整部２４３は、例えば、ＡＤ変換器４５の出力を監視することにより、チルトが変動したか否かを判定する。
【００９１】
チルトが変動したと判定された場合には、現在のチルトに対して第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みであるか否かが判定される（Ｓ２１４）。このような判定は、例えば、現在のチルトに対して第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１が調整済みであるか否か（すなわち、現在のチルトに対する現在の制御目標レベルＰｗｌｔもしくは現在のチルトに対するチルト補正係数ＫＣがＲＡＭ４４に格納されているか否か）を判定することによってなされる。パワー調整部２４３は、例えば、ＲＡＭ４４を検索することにより、制御目標レベルＰｗ１が調整済みであるか否かを判定する。
【００９２】
第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みであると判定された場合には、ステップＳ２２１、Ｓ２２２、Ｓ２２３が実行される。ステップＳ２２１、Ｓ２２２、Ｓ２２３については上述したとおりである。
【００９３】
第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みでないと判定された場合には、図３Ａに示されるステップＳ１０１と同様にして、第１の層１０１ａに対するパワー調整が行われる（Ｓ２３１）。このようなパワー調整は、例えば、パワー制御部３２が、第１の層１０１ａの記録膜に対して予め定められた制御目標レベルＰｗ１’に従ったパワーを有するレーザ光を光ディスク１０１に照射するようにレーザ素子１２を制御し、パワー調整部２４３が、光ディスク１０１からの反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルを調整することによって達成される。パワー調整部２４３は、ＲＡＭ４４のテーブルに格納すべき値を算出し（Ｓ２３２）、その算出された値を用いてＲＡＭ４４のテーブルを更新する（Ｓ２３３）。例えば、パワー調整部２４３は、現在のチルトと、パワー調整部２４３によって調整された制御目標レベル（現在のチルトに対する制御目標レベル）との組をＲＡＭ４４に格納するようにしてもよいし、基準チルトでの制御目標レベルとパワー調整部２４３によって調整された制御目標レベル（現在のチルトに対する制御目標レベル）とから現在のチルトに対するチルト補正係数ＫＣを算出し、現在のチルトとチルト補正係数ＫＣとの組をＲＡＭ４４に格納するようにしてもよい。
【００９４】
上述したレーザ光のパワーの調整方法によれば、各チルトに対して調整されたレーザ光のパワーを示すテーブルデータをＤＳＰ２３０に内蔵されるＲＡＭ４４に保存し、以後はチルトの変動があってもそのチルトに対する過去に保存したテーブルデータがある場合には、記録して再生することなしに、ＲＡＭ４４に保存したテーブルデータをもとにパワー制御部３２の制御目標レベルを設定できる。さらに、複数の層を含む光ディスクであっても、１つの基準層の記録膜に対する制御目標レベルと基準層以外の各層の記録膜に対する制御目標レベルとの比とから、基準層以外の各層の記録膜に対する制御目標レベルを設定できる。あるいは、その比の代わりに、基準層の記録膜に対する制御目標レベルの関数を用いてもよい。その関数は、例えば、１次関数であってもよいし、２次関数であってもよい。これにより、複数の層を有する光ディスクに対して、光ディスク装置の使用環境温度の変動や光ディスク装置の発熱による温度変動によって光ディスクが変形しチルトが変動しても、反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるような再生信号が得られる記録をするためのレーザ光のパワーの調整を単層の光ディスクとほぼ同じ時間で実現できる。
【００９５】
（実施の形態３）
図８は、光ディスク１０１に情報を記録する光ディスク装置３００の構成を示すブロック図である。
【００９６】
光ディスク装置３００は、レーザ光を光ディスク１０１に照射する光ピックアップ３１０と、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）３３０とを含む。ＤＳＰ３３０は、レーザ光のパワーを制御するレーザパワー制御装置として機能する。
【００９７】
光ディスク１０１には基材の厚みむらなどにより球面収差が発生する。球面収差の影響によってレーザ光の実効的なパワーが変動する。本実施の形態３は、この基材の厚みむらに伴う球面収差の変動に対してレーザ光の実効的なパワーを調整するものである。
【００９８】
以下、光ディスク装置３００の動作を説明する。
【００９９】
光ピックアップ３１０は、第１の層１０１ａの記録膜にレーザ光を収束させ、もしくは、第２の層１０１ｂの記録膜にレーザ光を収束させる。レーザ素子１２から出射されたレーザ光の一部は、反射板１５を通過し、出射光検出器１３によって検出される。また、レーザ素子１２から出射されたレーザ光は、反射板１５によって反射され、偏向ホログラム１６を透過し、収束レンズ１１によって光ディスク１０１の記録膜（第１の層１０１ａの記録膜もしくは第２の層１０１ｂの記録膜）に収束される。光ディスク１０１の記録膜によって反射されたレーザ光（反射光）は、収束レンズ１１を通過し、偏向ホログラム１６によって偏向され、反射板１５を通過し、反射光検出器１４によって検出される。
【０１００】
さらに、光ピックアップ３１０は、反射光検出器１４によって検出される反射光の分布から球面収差を検出する球面収差検出器３１７を含む。
【０１０１】
出射光検出器１３によって検出されたレーザ光は、ＤＳＰ３３０に内蔵されるＡＤ変換部３１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部３１からの出力は、ＤＳＰ３３０に内臓されるパワー制御部３２に供給される。パワー制御部３２は、出射光検出器１３によって検出されたレーザ光のパワーが制御目標レベルに近づくようにレーザ駆動値を生成し、そのレーザ駆動値に応じてレーザ素子１２を制御する。このような制御は、例えば、パワー制御部３２によって生成されたレーザ駆動値をＤＳＰ３３０に内臓されるＤＡ変換部３３によってＤＡ変換し、ＤＡ変換部３３からの出力を駆動回路２に供給することによって達成される。制御目標レベルは、パワー調整部３４３によって決定され、パワー制御部３２に設定される。駆動回路２は、ＤＡ変換部３３からの出力に応じて、レーザ素子１２を駆動する。
【０１０２】
また、反射光検出器１４によって検出されたレーザ光（反射光）は、ＤＳＰ３３０に内蔵されるＡＤ変換部４１によってＡＤ変換される。ＡＤ変換部４１からの出力は、ＤＳＰ３３０に内臓される非対称性検出部４２に供給される。非対称性検出部４２は、反射光のピークレベルＩｐｋ、ボトムレベルＩｂｍ、平均レベルＩａｖｇから反射光の非対称性（Ｉｐｋ＋Ｉｂｍ−２Ｉａｖｇ）／（Ｉｐｋ−Ｉｂｍ）を検出し、反射光の非対称性を示す信号をパワー調整部３４３に出力する。
【０１０３】
パワー調整部３４３は、反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように、レーザ光のパワーの最適値を探索する。この探索方法の手順は、図２を参照して実施の形態１において既に説明したとおりである。従って、ここではその説明を省略する。パワー調整部３４３は、レーザ光のパワーの最適値を制御目標レベルとしてパワー制御部３２に出力する。
【０１０４】
さらに、パワー調整部３４３は、球面収差検出器３１７からの出力に応じて、第１の層１０１ａ（基準層）の記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する。
【０１０５】
図９は、球面収差とレーザ光のパワーとの関係を示す特性図である。図９において、横軸が球面収差を示し、縦軸がレーザ光のパワーを示す。図９に示されるように球面収差に応じてレーザ光の最適なパワーは変動する。パワー調整部３４３は、球面収差に応じてレーザ光のパワーを調整する。例えば、図９に示されるＡ点、Ｂ点、Ｃ点、Ｄ点、Ｅ点の順に球面収差が変動したことが検出された場合には、パワー調整部３４３は、図９に示される各点に対してレーザ光のパワーを調整する。その結果、パワー調整部３４３によって調整された制御目標レベルがＲＡＭ４４のテーブルに格納される。
【０１０６】
以下、レーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。この方法は、例えば、光ディスク装置３００を動作させることによって実行される。
【０１０７】
光ディスク１０１へのデータの記録を開始する前にレーザ光のパワーを調整する場合（すなわち、初期調整の場合）におけるレーザ光のパワーの調整方法の手順は、図３Ａを参照して実施の形態１において既に説明したとおりである。従って、ここではその説明を省略する。
【０１０８】
図１０Ａを参照して、初期調整の後、光ディスク１０１の球面収差の変動などの要因により光ディスク１０１へのデータの記録中にレーザ光のパワーを調整する場合（すなわち、再調整の場合）におけるレーザ光のパワーの調整方法の手順を説明する。
【０１０９】
データが記録されるべき記録膜が第１の層１０１ａ（基準層）の記録膜から第２の層１０１ｂ（基準層以外の層）の記録膜に移動したか否かが判定される（Ｓ３１１）。
【０１１０】
データが記録されるべき記録膜が第１の層１０１ａの記録膜から第２層１０１ｂの記録膜に移動したと判定された場合には、パワー調整部３４３は、ＲＡＭ４４に格納されたテーブルから制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１と第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとを読み出し（Ｓ３２１）、第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをＰｗ２ｔ＝Ｐｗ１ｔ×Ｐｗ２／Ｐｗ１という式に従って算出し（Ｓ３２２）、このようにして算出された第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをパワー制御部３２に設定する（Ｓ３２３）。
【０１１１】
なお、比Ｐｗ２／Ｐｗ１の代わりにＰｗ１の関数（例えば、Ｆ２（Ｐｗ１））がＲＡＭ４４に格納されている場合には、パワー調整部３４３は、ＲＡＭ４４から関数Ｆ２（Ｐｗ１）と第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとを読み出し（Ｓ３２１）、第２の層１０１ｂの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ２ｔをＰｗ２ｔ＝Ｆ２（Ｐｗ１ｔ）という式に従って算出するようにすればよい（Ｓ３２２）。
【０１１２】
ここで、第１の層１０１ａの記録膜に対する現在の制御目標レベルＰｗ１ｔとは、球面収差変動による制御目標レベルＰｗ１の変動を補償することを目的としたものである。例えば、制御目標レベルＰｗ１が基準球面収差Ｚ０μｍ（基材厚換算）での制御目標レベルであり、球面収差がＺ０μｍからＺ１μｍに変化し、現在の球面収差Ｚ１μｍに対する球面収差補正係数ＫＳ（Ｚ１μｍ）が１．０２（１０２％）であると仮定する。この場合、現在の制御目標レベルＰｗ１ｔは、Ｐｗ１ｔ＝Ｐｗ１×ＫＳ（Ｚ１μｍ）＝１．０２・Ｐｗ１という式に従って算出される。球面収差補正係数ＫＳは、例えば、基準層の基準球面収差に対するパワー率としてＲＡＭ４４の球面収差補正テーブルに格納され得る。
【０１１３】
図１０Ｂは、球面収差補正テーブルの一例を示す。この例では、基準球面収差Ｚ０μｍに対して、ＫＳ（Ｚ１μｍ）＝１．０２（１０２％）、ＫＳ（Ｚ２μｍ）＝０．９８（９８％）となっている。
【０１１４】
なお、パワー調整部３４３は、制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１をＲＡＭ４４に格納されたテーブルから読み出す代わりに、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域）に記録された制御目標レベルの比Ｐｗ２／Ｐｗ１を読み出すようにしてもよい。あるいは、パワー調整部３４３は、Ｐｗ１の関数（例えば、Ｆ２（Ｐｗ１））をＲＡＭ４４に格納されたテーブルから読み出す代わりに、光ディスク１０１の所定の領域（例えば、リードイン領域）に記録されたＰｗ１の関数を読み出すようにしてもよい。
【０１１５】
このようにして、パワー調整部３４３は、第１の層１０１ａの記録膜に対して調整されたレーザ光のパワーに基づいて、第２の層１０１ｂの記録膜に対するレーザ光のパワーを決定する。
【０１１６】
球面収差が変動したか否かが判定される（Ｓ３１２）。球面収差検出器３１７の出力は、ＤＳＰ３３０に内蔵されるＡＤ変換器４５によってＡＤ変換され、ＡＤ変換器４５の出力がパワー調整部３４３に供給される。パワー調整部３４３は、例えば、ＡＤ変換器４５の出力を監視することにより、球面収差が変動したか否かを判定する。
【０１１７】
球面収差が変動したと判定された場合には、現在の球面収差に対して第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みであるか否かが判定される（Ｓ３１４）。このような判定は、例えば、現在の球面収差に対して第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１が調整済みであるか否か（すなわち、現在の球面収差に対する現在の制御目標レベルＰｗｌｔもしくは現在の球面収差に対する球面収差補正係数ＫＳがＲＡＭ４４に格納されているか否か）を判定することによってなされる。パワー調整部３４３は、例えば、ＲＡＭ４４を検索することにより、制御目標レベルＰｗ１が調整済みであるか否かを判定する。
【０１１８】
第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みであると判定された場合には、ステップＳ３２１、Ｓ３２２、Ｓ３２３が実行される。ステップＳ３２１、Ｓ３２２、Ｓ３２３については上述したとおりである。
【０１１９】
第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーが調整済みでないと判定された場合には、図３Ａに示されるステップＳ１０１と同様にして、第１の層１０１ａに対するパワー調整が行われる（Ｓ３３１）。このようなパワー調整は、例えば、パワー制御部３２が、第１の層１０１ａの記録膜に対して予め定められた制御目標レベルＰｗ１’に従ったパワーを有するレーザ光を光ディスク１０１に照射するようにレーザ素子１２を制御し、パワー調整部３４３が、光ディスク１０１からの反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるように第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルを調整することによって達成される。パワー調整部３４３は、ＲＡＭ４４のテーブルに格納すべき値を算出し（Ｓ３３２）、その算出された値を用いてＲＡＭ４４のテーブルを更新する（Ｓ３３３）。例えば、パワー調整部３４３は、現在の球面収差と、パワー調整部３４３によって調整された制御目標レベル（現在の球面収差に対する制御目標レベル）との組をＲＡＭ４４に格納するようにしてもよいし、基準球面収差での制御目標レベルとパワー調整部３４３によって調整された制御目標レベル（現在の球面収差に対する制御目標レベル）とから現在の球面収差に対する球面収差補正係数ＫＳを算出し、現在の球面収差と球面収差補正係数ＫＳとの組をＲＡＭ４４に格納するようにしてもよい。
【０１２０】
上述したレーザ光のパワー調整方法によれば、各球面収差に対して調整されたレーザ光のパワーを示すテーブルデータをＤＳＰ３３０に内蔵されるＲＡＭ４４に保存し、以後は球面収差の変動があってもその球面収差に対する過去に保存したテーブルデータがある場合には、記録して再生することなしに、ＲＡＭ４４に保存したテーブルデータをもとにパワー制御部３２の制御目標レベルを設定できる。さらに、複数の層を含む光ディスクであっても、１つの基準層の記録膜に対する制御目標レベルと基準層以外の各層の記録膜に対する制御目標レベルとの比とから、基準層以外の各層の記録膜に対する制御目標レベルを設定できる。あるいは、その比の代わりに、基準層の記録膜に対する制御目標レベルの関数を用いてもよい。その関数は、例えば、１次関数であってもよいし、２次関数であってもよい。これにより、複数の層を有する光ディスクに対して、光ディスクの基材の厚みむらによって球面収差が変動しても、反射光の非対称性が所望の値（例えば、０）となるような再生信号が得られる記録をするためのレーザ光のパワーの調整を単層の光ディスクとほぼ同じ時間で実現できる。
【０１２１】
非対称性検出部４２は、レーザ光の最適なパワーを検出するために使用される。非対称性検出部４２をレーザ光の最適なパワーを検出する任意の検出部に置き換えてもよい。例えば、非対称性検出部４２は、光ディスクからの反射光の変調度を検出する変調度検出部に置き換えられ得る。変調度検出部は、例えば、反射光のピークレベルＩｐｋ、ボトムレベルＩｂｍから、反射光の変調度（Ｉｐｋ−Ｉｂｍ）／Ｉｐｋを検出し、反射光の変調度を示す信号をパワー調整部に出力する。パワー調整部は、反射光の変調度が所望の値となるようにレーザ光のパワーの制御目標レベルを調整する。
【０１２２】
光ディスクの角速度を一定にするＣＡＶ方式で情報を光ディスクに記録する場合には、光ディスクの線速度が光ディスクの半径方向に沿った位置に比例する。
【０１２３】
図１１は、光ディスクの半径方向に沿った位置とレーザ光のパワーとの関係を示す特性図である。図１１において、横軸が光ディスクの半径方向に沿った位置を示し、縦軸がレーザ光のパワーを示す。図１１に示されるように光ディスクの半径方向に沿った位置に応じてレーザ光の最適なパワーが異なるため、２つ以上の半径方向に沿った位置でレーザ光のパワーを調整し、その調整結果を半径方向の位置とともにＲＡＭに保存する必要がある。例えば、図１１に示されるＡ点、Ｂ点という２つの半径方向に沿った位置でレーザ光のパワーを調整し、その２点を線形近似した特性をＲＡＭに保存するようにしてもよい。２層の光ディスクの場合には、この半径方向に沿った位置に応じたレーザ光のパワーの最適値は１つの基準層についてのみ保存するようにし、基準層以外の層についてはレーザ光のパワー比などを用いて算出するように構成するようにしてもよい。光ディスクの半径方向に沿った各位置で行うレーザ光のパワーの調整を１つの基準層のみについて行うことにより、レーザ光のパワーを調整する時間を短縮できる。この場合、光ディスクの半径方向に沿った位置に対するレーザ光のパワー特性ではなく、線速度に対するレーザ光のパワー特性としてもかまわない。
【０１２４】
なお、上述した実施の形態１〜３において、温度の変動、チルトの変動および球面収差の変動のそれぞれに応じて、レーザ光のパワーの制御目標レベルを調整する例を説明した。温度の変動、チルトの変動および球面収差の変動のうちの少なくとも２つの組み合わせに応じて、レーザ光のパワーの制御目標レベルを調整することもまた本発明の範囲内である。
【０１２５】
例えば、温度検出器１７（図１）、チルト検出器２１７（図５）および球面収差検出器３１７（図８）のうちの少なくとも１つを含む変動検出部を備えているようにＤＳＰ１３０（もしくは、２３０、３３０）を構成してもよい。この場合、パワー調整部１４３（もしくは、２４３、３４３）は、温度検出部１７からの出力とチルト検出部２１７からの出力と球面収差検出器３１７からの出力とのうちの少なくとも１つに基づいて、基準層の記録膜に対する制御目標レベルを調整する。
【０１２６】
例えば、基準温度Ｘ０℃、基準チルトＹ０°、基準球面収差Ｚ０μｍでの基準層（例えば、第１の層１０１ａ）の記録膜に対する制御目標レベルをＰｗ１とし、現在の温度Ｘ１℃に対する温度補正係数ＫＴ（Ｘ１℃）を１．０１（１０１％）とし、現在のチルトＹ１℃に対するチルト補正係数ＫＣ（Ｙ１°）を１．０３（１０３％）とし、現在の球面収差Ｚ１μｍに対する球面収差補正係数ＫＳ（Ｚ１μｍ）を１．０２（１０２％）とする。この場合、現在の温度Ｘ１℃、現在のチルトＹ１°、現在の球面収差Ｚ１μｍでの基準層の記録膜に対する制御目標レベルＰｗ１ｔは、Ｐｗ１ｔ＝Ｐｗ１×ＫＴ（Ｘ１℃）×ＫＣ（Ｙ１°）×ＫＳ（Ｚ１μｍ）＝Ｐｗ１×１．０１×１．０３×１．０２という式に従って算出され得る。
【０１２７】
さらに、現在の温度Ｘ１℃、現在のチルトＹ１°、現在の球面収差Ｚ１μｍでの基準層以外の層（例えば、第２の層１０１ｂ）の記録膜に対する制御目標レベルＰｗ２ｔは、Ｐｗ２ｔ＝Ｆ２（Ｐｗ１）×ＫＴ（Ｘ１℃）×ＫＣ（Ｙ１°）×ＫＳ（Ｚ１μｍ）＝Ｆ２（Ｐｗ１）×１．０１×１．０３×１．０２という式に従って算出され得る。ここで、Ｆ２（Ｐｗ１）とは、基準層以外の層（例えば、第２の層１０１ｂ）の記録膜に対する制御目標レベルを決定するために用いられるＰｗ１の関数である。このように、基準層に対する少なくとも１つの補正係数（ＫＴ、ＫＣ、ＫＳなど）と、基準層と基準層以外の層との間の層間補正係数（Ｆ２（Ｐｗ１）など）とを組み合わせて用いることにより、基準層以外の層の記録膜に対する制御目標レベルを算出することができる。これらの補正係数は、例えば、テーブルの形式でＲＡＭなどのメモリに格納されている。
【０１２８】
なお、上述した実施の形態１〜３では、第１の層１０１ａの記録膜に対する制御目標レベルを調整することにより、第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーを調整する例を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、出射光検出器１３によって検出されたレーザ光のレベルを調整することによって第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーを調整してもよいし、レーザ駆動値のレベルを調整することによって第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーを調整してもよい。あるいは、出射光検出器１３によって検出されたレーザ光のレベルと制御目標レベルとレーザ駆動値のレベルのうちの少なくとも１つを調整することによって第１の層１０１ａの記録膜に対するレーザ光のパワーを調整してもよい。このような調整は、例えば、パワー調整部によってなされ、その調整結果がパワー制御部に設定される。
【０１２９】
なお、上述した実施の形態１〜３では、光ディスクの片側からレーザ光を照射するタイプの光ディスク装置を説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、光ディスクの両面からレーザ光を照射するタイプの光ディスク装置にも本発明を適用することができる。
【０１３０】
なお、上述した実施の形態１〜３では、複数の層を有する光ディスクを説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、複数枚の単層光ディスクのうち選択された１枚の単層光ディスクに対して記録または再生を行うディスクチェンジャーにも本発明を適用することができる。
【０１３１】
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０１３２】
本発明は、複数の層を有する光ディスクに情報を記録する光ディスク装置において用いられるレーザパワー制御装置および方法、その光ディスクに情報を記録する光ディスク装置ならびにその光ディスクに情報を記録する記録方法等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１３３】
【図１】実施の形態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】レーザ光のパワーと反射光の非対称性との関係を示す特性図
【図３Ａ】実施の形態１におけるレーザ光のパワーの初期調整方法の手順を示すフローチャート
【図３Ｂ】層間補正テーブルの一例を示す図
【図４Ａ】実施の形態１におけるレーザ光のパワーの再調整方法の手順を示すフローチャート
【図４Ｂ】温度補正テーブルの一例を示す図
【図５】実施の形態２における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図６】チルトとレーザ光のパワーとの関係を示す特性図
【図７Ａ】実施の形態２におけるレーザ光のパワーの再調整方法の手順を示すフローチャート
【図７Ｂ】チルト補正テーブルの一例を示す図
【図８】実施の形態３における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図９】球面収差とレーザ光のパワーとの関係を示す特性図
【図１０Ａ】実施の形態３におけるレーザ光のパワー再調整方法の手順を示すフローチャート
【図１０Ｂ】球面収差補正テーブルの一例を示す図
【図１１】光ディスクの半径方向に沿った位置とレーザ光のパワーとの関係を示す特性図
【図１２】従来技術における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図１３】従来技術におけるレーザ光のパワーの調整方法の手順を示すフローチャート
【符号の説明】
【０１３４】
１    光ディスク
２    駆動回路
１０    光ピックアップ
１１    収束レンズ
１２    レーザ素子
１３    出射光検出器
１４    反射光検出器
１５    反射板
１６    偏向ホログラム
１７    温度検出器
３０    ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）
３１    ＡＤ変換部
３２    パワー制御部
３３    ＤＡ変換部
４１    ＡＤ変換部
４２    非対称性検出部
４３    パワー調整部
４４    ＲＡＭ
４５    ＡＤ変換器
１０１    光ディスク
１３０    ＤＳＰ
１４３    パワー調整部
【図１】
2005100610.tif 000003
【図２】
2005100610.tif 000004
【図３Ａ】
2005100610.tif 000005
【図３Ｂ】
2005100610.tif 000006
【図４Ａ】
2005100610.tif 000007
【図４Ｂ】
2005100610.tif 000008
【図５】
2005100610.tif 000009
【図６】
2005100610.tif 000010
【図７Ａ】
2005100610.tif 000011
【図７Ｂ】
2005100610.tif 000012
【図８】
2005100610.tif 000013
【図９】
2005100610.tif 000014
【図１０Ａ】
2005100610.tif 000015
【図１０Ｂ】
2005100610.tif 000016
【図１１】
2005100610.tif 000017
【図１２】
2005100610.tif 000018
【図１３】
2005100610.tif 000019