(57)【要約】【課題】一定の法則性のもとで検査ポイントが設定されている検査対象基板を機種別に検査するに際しても柔軟に対応し得る汎用性を付与して検査コストを低減する。【解決手段】検査対象基板Ｐに設定されている検査ポイントへの個別接触を自在に植設されたプローブ４を有するピンブロック１に対応させるべく、適宜位置に開口部１３を設けた位置決め用枠体１２と、プローブ４の各別の挿通が自在な多数個のガイド孔２４を有して開口部１３に位置固定される支台部２２と、該支台部２２の面領域２５に交換自在に位置固定され、かつ、該面領域２５内に位置するガイド孔２４との関係でプローブ４の選別挿通を許すべく対面合致させた貫通孔３６を設けてなる少なくとも２種以上の同一サイズの基板対応アタッチメント３２とで構成され、これらの各基板対応アタッチメント３２には、サイズを異にする個々の検査対象基板Ｐの別に定置可能とした定置部３４を具備させた。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象基板に設定されている多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブを有して基板検査装置を構成しているピンブロックと前記検査対象基板との間に介在配置されるアタッチメント本体と、該アタッチメント本体の適宜位置への前記検査対象基板の定置と前記プローブのうちの所定のプローブの挿通とを自在に形成された定置部とからなり、
各アタッチメント本体は、同一の面サイズを付与して形成し、
各アタッチメント本体の前記定置部は、面サイズを異にする機種別の前記検査対象基板への対応が自在な面サイズ別に形成したことを特徴とする基板対応アタッチメント。
【請求項２】
検査対象基板に設定されている多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブを有して基板検査装置を構成しているピンブロックに対応させるべく、
適宜位置に所要サイズの開口部を設けた位置決め用枠体と、
前記プローブの各別の挿通が自在な多数個のガイド孔を有して前記開口部に位置固定される支台部と、
該支台部の所定の面領域に交換自在に位置固定され、かつ、該面領域内に位置する前記ガイド孔との関係で前記プローブの選別挿通を許すべく対面合致させた貫通孔を設けてなる基板対応アタッチメントとで構成され、
該基板対応アタッチメントは、面サイズを異にした機種別の前記検査対象基板の定置を可能とする定置部を各別に具備させた少なくとも２種以上とし、かつ、それぞれを同一の面サイズで形成したことを特徴とする基板固定ユニット。
【請求項３】
前記位置固定用枠体は、前記支台部の位置固定を自在とした受け棚部を前記開口部の内周縁部に備え、前記支台部は、前記基板対応アタッチメントの位置固定が自在な凹陥部により前記面領域を形成し、前記基板対応アタッチメントが備える定置部は、機種を異にする個々の検査対象基板のサイズに対応させての位置決めが自在な凹部として形成した請求項２に記載の基板固定ユニット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象基板に一定のピッチで格子状に設定するなど、一定の法則性を付与して設定されている多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブを有して基板検査装置を構成しているピンブロックとの関係で用いられる基板対応アタッチメントおよび基板固定ユニットに関する技術である。
【背景技術】
【０００２】
インサーキットテスタなどの基板検査装置は、定置された検査対象基板の各検査ポイントへの個々のプローブを介しての電気的な接触を自在に形成されたテストヘッドとしてのピンブロックを備えている。
【０００３】
この場合、ピンブロックは、検査しようとするある特定の検査対象基板の各検査ポイントの位置にそれぞれのプローブの位置が対応合致するように製作された専用タイプとして提供されているのが実情である。
【０００４】
しかし、このように汎用性のないピンブロックを用いる場合には、機種を異にする検査対象基板を検査しようとする都度、改めてその設計・製作を行う必要があり、納期に間に合わなかったり、コスト増を招いたりするなどの問題があった。
【０００５】
このため、機種を異にする検査対象基板に対しても柔軟に対応し得る汎用性のある基板検査治具の提案も従来からなされてきている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平５６−５４０９６号公報（第２頁、第２図）
【０００６】
ところで、特許文献１に開示されているプリント基板検査装置によれば、被検査基板の検査ポイントとの間に導電弾性体と位置変換体とを介在させ、該位置変換体の所定位置にプローブを接触させることにより、位置変換体→導電弾性体→被検査基板の検査ポイントへと導通路を形成することができるので、プリントパターンの違う被検査基板に対しても同じプローブ（基板検査治具）を用いて検査できる汎用性を得ることができるとされている。
【０００７】
一方、図５は、同一のピンブロックを用いて機種を異にする検査対象基板にも対応させることができる基板固定ユニットの一例を示すものであり、そのうちの（ａ）は、非接触状態（非検査時）での配置関係を、（ｂ）は、接触状態（検査時）での配置関係をそれぞれ示す。また、図６は、図５（ｂ）の一点鎖線による円形囲繞部位を拡大して示す説明図である。
【０００８】
これらの図によれば、基板固定ユニット１０１は、検査対象基板Ｐに一定のピッチで設けられている多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブ４を基台２の上面３に有して図示しない基板検査装置を構成しているピンブロック１に対応させるべく、適宜位置に所要サイズの開口部１０３を設けた位置決め用枠体１０２と、プローブ４の各別の挿通が自在な多数個のガイド孔１１３を有して開口部１０３に位置固定させるべく複数種用意される同一の面サイズの支台部１１２とで構成されている。なお、図中の符号７は、プローブの振れを抑えたり、プローブストロークの基準高さを規制するために用いられるガイドボードを示す。
【０００９】
この場合、位置決め用枠体１０２は、支台部１１２の位置固定が自在な受け棚部１０５を開口部１０３の内周縁部１０４に設けて形成されている。また、支台部１１２は、機種を異にする個々の検査対象基板Ｐの面サイズの別に位置固定できる凹陥部１１４が形成されており、面サイズを異にする検査対象基板Ｐの機種別に交換して使用できるようになっている。このため、基板固定ユニット１０１は、ピンブロック１の側を交換することなく、検査対象基板Ｐの面サイズの別にこれと対応する凹陥部１１４を備える支台部１１２を選択使用することにより、検査対象基板Ｐの機種の別に柔軟に対応し得る汎用性を有して使用することができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、特許文献１に開示されているプリント基板検査装置による場合には、検査対象基板の検査ポイントとの間に特注品として別途用意される導電弾性体と位置変換体とを介在させる必要があり、これら導電弾性体と位置変換体とを組み込むことにより全体の装置構成が複雑になるばかりでなく、特に位置変換体の製作に必要以上の時間とコストとがかかってしまう不都合があった。
【００１１】
また、図５に示す基板固定ユニット１０１による場合には、検査対象基板Ｐの機種の別に合致させた専用治具として支台部１１２を個別に製作し、その都度交換して使用する必要があり、検査コストがそれだけ嵩むほか、事前の段取りが煩雑になる不具合もあった。
【００１２】
本発明は、従来手法にみられた上記課題に鑑み、一定の法則性のもとで検査ポイントが設定されている機種別の検査対象基板を検査するに際して、さしてコストのかからない一部の部品を交換するだけで検査対象基板の機種の別に柔軟に対応し得る汎用性を付与して検査コストの低減を図ることができるピンブロック用の基板対応アタッチメントおよび基板固定ユニットを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、そのうちの第１の発明（基板対応アタッチメント）は、検査対象基板に設定されている多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブを有して基板検査装置を構成しているピンブロックと前記検査対象基板との間に介在配置されるアタッチメント本体と、該アタッチメント本体の適宜位置への前記検査対象基板の定置と前記プローブのうちの所定のプローブの挿通とを自在に形成された定置部とからなり、各アタッチメント本体は、同一の面サイズを付与して形成し、各アタッチメント本体の前記定置部は、面サイズを異にする機種別の前記検査対象基板への対応が自在な面サイズ別に形成したことに特徴がある。
【００１４】
また第２の発明（基板固定ユニット）は、検査対象基板に設定されている多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブを有して基板検査装置を構成しているピンブロックに対応させるべく、適宜位置に所要サイズの開口部を設けた位置決め用枠体と、前記プローブの各別の挿通が自在な多数個のガイド孔を有して前記開口部に位置固定される支台部と、該支台部の所定の面領域に交換自在に位置固定され、かつ、該面領域内に位置する前記ガイド孔との関係で前記プローブの選別挿通を許すべく対面合致させた貫通孔を設けてなる基板対応アタッチメントとで構成され、該基板対応アタッチメントは、面サイズを異にした機種別の前記検査対象基板の定置を可能とする定置部を各別に具備させた少なくとも２種以上とし、かつ、それぞれを同一の面サイズで形成したことに特徴がある。
【００１５】
この場合、前記位置決め用枠体は、前記支台部の位置固定を自在とした受け棚部を前記開口部の内周縁部に備え、前記支台部は、前記基板対応アタッチメントの位置固定が自在な凹陥部により前記面領域を形成し、前記基板対応アタッチメントが備える定置部は、機種を異にする個々の検査対象基板のサイズに対応させての位置決めが自在な凹部として形成するのが好ましい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、一定の法則性のもとで検査ポイントが設定されている機種別の検査対象基板を検査するに際して、多数本のプローブを有するテストヘッドとしてのピンブロックの側を交換せずに、基板固定ユニットを構成している基板対応アタッチメントのみを交換することで必要な検査を行うことができる汎用性を付与することにより、検査コストの低減と事前の段取りの簡素化とを図って作業効率を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
図１は、本発明のうちの第１の発明である基板対応アタッチメントを組み込んで構成される第２の発明に係る基板固定ユニットの一例を示す要部説明図であり、そのうちの（ａ）は、非接触状態（非検査時）でのピンブロックの側との配置関係を、（ｂ）は、接触状態（検査時）でのピンブロックの側との配置関係をそれぞれ示す。図２は、図１（ｂ）の一点鎖線による円形囲繞部位を拡大して示す説明図である。また、本発明が適用される検査対象基板Ｐには、通常のプリント回路基板のほか、ＢＧＡ（Ｂａｌｌ  Ｇｒｉｄ  Ａｒｒａｙ）タイプやＰＧＡ（Ｐｉｎ  Ｇｒｉｄ  Ａｒｒａｙ）タイプなどのＩＣパッケージも含まれる。なお、テストヘッドとして用いられる図示のピンブロック１は、絶縁材からなる基台２と、該基台２の上面３にその面方向と直交する配置関係で植設されたスプリングプローブなどからなる多数本のプローブ４とを少なくとも備え、水平方向を面方向として下向きに定置される検査対象基板Ｐの各検査ポイントに対する個々のプローブ４を介しての電気的な接触を自在にして形成されている。なお、図中の符号４０は、プローブ４の振れを抑えたり、プローブ４のストロークの基準高さを規制するために用いられるガイドボードを示す。
【００１８】
図１と図２とによれば、基板固定ユニット１１は、図５におけると同様に検査対象基板Ｐに所要のピッチで例えば格子状に設定された多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブ４を有して図示しない基板検査装置を構成しているピンブロック１との関係で用いられるものである。
【００１９】
合成樹脂等の絶縁材で構成される基板固定ユニット１１は、ピンブロック１に対応させるべく、適宜位置に所要サイズの開口部１３を設けた位置決め用枠体１２と、プローブ４の各別の挿通が自在な多数個のガイド孔２４を有して開口部１３側に位置固定される支台部２２と、該支台部２２の所定の面領域２５に交換自在に位置固定され、かつ、該面領域２５内に位置するガイド孔２４との関係でプローブ４の選別挿通を許すべく対面合致させた貫通孔３６を設けてなる基板対応アタッチメント３２とを少なくとも備えて形成されている。
【００２０】
このうち、位置決め用枠体１２は、図示しない基板検査装置の側に位置固定されて配置されるものであり、開口部１３の内周縁部１４には、支台部２２をその外周縁部２３側を介して載置できるように凹設された庇状の受け棚部１５が形成されている。該受け棚部１５は、支台部２２の外周形状と略合致する状態のもとで面一となって安定的に収容しておくことができる深さが付与されて形成されている。
【００２１】
また、支台部２２は、基板対応アタッチメント３２の位置固定が自在な凹陥部２６を面領域２５として設けることにより形成されている。この場合、凹陥部２６は、基板対応アタッチメント３２におけるアタッチメント本体３３の外周形状と略合致して面一となって安定的に収容しておくことができる深さと平坦な内底面とを備えて形成されている。
【００２２】
この場合、第１の発明に係る各基板対応アタッチメント３２は、検査対象基板Ｐに設定されている多数の検査ポイントへの個別接触を自在に植設された多数本のプローブ４を有して図示しない基板検査装置を構成しているピンブロック１と検査対象基板Ｐとの間に介在配置されるアタッチメント本体３３と、該アタッチメント本体３３の適宜位置への検査対象基板Ｐの定置とプローブ４のうちの選別された所定のプローブ４の挿通とを自在に形成された定置部３４とで構成されている。このうち、各アタッチメント本体３３は、同一の面サイズが付与されて形成されており、各アタッチメント本体３３の定置部３４は、面サイズを異にする機種別の検査対象基板Ｐへの対応が自在な面サイズ別に形成されている。
【００２３】
すなわち、各基板対応アタッチメント３２は、そのいずれもが支台部２２の凹陥部２６を共用して位置固定しておくことができるように外周形状を同じくして、つまり同一の面サイズが付与されて形成されているアタッチメント本体３３と、該アタッチメント本体３３の適宜位置への検査対象基板Ｐの定置を自在とした定置部３４とで形成されている。また、基板対応アタッチメント３２は、機種を異にする検査対象基板Ｐの面サイズ別に用意されるものであり、例えば面サイズの大きな検査対象基板Ｐとしての第１の検査対象基板Ｐ１に対応させるべく、これを面一に定置することができる内周形状と深さとが付与された凹部３５を定置部３４とすることで形成されている。
【００２４】
一方、図３は、本発明に係る基板固定ユニットの他例を示す要部説明図であり、そのうちの（ａ）は、非接触状態（非検査時）でのピンブロックの側との配置関係を、（ｂ）は、接触状態（検査時）でのピンブロックの側との配置関係をそれぞれ示す。また、図４は、図３（ｂ）の一点鎖線による円形囲繞部位を拡大して示す説明図である。
【００２５】
図３と図４とに示されているように、基板固定ユニット１１は、図１に示す例と同様に位置決め用枠体１２と支台部２２と基板対応アタッチメント３２とで構成されており、このうちの基板対応アタッチメント３２のみが面サイズの小さい検査対象基板Ｐである第２の検査対象基板Ｐ２に対応させるべく、該検査対象基板Ｐ２を定置することができる面サイズの凹部３５を備えたものが用いられている。つまり、基板対応アタッチメント３２は、その外周形状を同じくするなかで、機種を異にする検査対象基板Ｐとの関係で形成された凹部３５を定置部３４として備える少なくとも２種類以上のものが用意されることになる。
【００２６】
次に、上記構成からなる本発明（基板対応アタッチメントおよび基板固定ユニット）につき、その作用・効果を説明すれば、図１（ａ）に示すようにピンブロック１の側を待避状態とした上で、今回検査分の第１の検査対象基板Ｐ１との関係で予め用意されている基板対応アタッチメント３２を選択し、これを支台部２２の凹陥部２６に正しく位置決めして配置する。しかる後、基板対応アタッチメント３２の凹部３５内に第１の検査対象基板Ｐ１を定置させた上でその全体を位置固定する。
【００２７】
このようにして位置固定ユニット１１側への第１の検査対象基板Ｐ１のセットを終了した後は、ピンブロック１の側を上昇させるなど、両者を相対方向に位置移動させることにより、プローブ４の側を第１の検査対象基板Ｐ１の検査ポイント側へと接近させる。
【００２８】
このとき、支台部２２の凹陥部２６にはガイド孔２４が、基板対応アタッチメント３２の凹部３５には貫通孔３６が相互に連通する位置関係のもとでそれぞれ形成されているので、これらと対面する位置関係にある各プローブ４はその挿通が許されて第１の検査対象基板Ｐ１における所定の検査ポイントへとそれぞれの接触ピン部５を正確に接触させることができる。
【００２９】
しかし、第１の検査対象基板Ｐ１との関係で必要がないプローブ４は、支台部２２のガイド孔２４には挿通されるものの、基板対応アタッチメント３２の側には貫通孔３６が設けられていないので、その下底面３７に接触ピン部５が当接してその動きを強制的に阻止される。つまり、第１の検査対象基板Ｐ１の検査ポイントとの関係で必要なプローブ４のみが対応する各検査ポイントに接触できることになる。
【００３０】
一方、機種を異にする第２の検査対象基板Ｐ２を同じピンブロック１により検査する際には、第２の検査対象基板Ｐ２との関係で予め用意されている基板対応アタッチメント３２を選択し、これを図３（ａ）に示すように支台部２２の凹陥部２６に正しく位置決めして配置する。しかる後、基板対応アタッチメント３２の凹部３５内に第２の検査対象基板Ｐ１２定置させた上でその全体を位置固定する。
【００３１】
このようにして位置固定ユニット１１側への第２の検査対象基板Ｐ２のセットを終了した後は、図１におけると同様にしてプローブ４の側を第２の検査対象基板Ｐ２の検査ポイント側へと接近させる。
【００３２】
このとき、支台部２２の凹陥部２６にはガイド孔２４が、基板対応アタッチメント３２の凹部３５には貫通孔３６が相互に連通する位置関係のもとでそれぞれ形成されているので、これらと対面する位置関係にある各プローブ４はその挿通が許されて第２の検査対象基板Ｐ２における所定の検査ポイントへとそれぞれの接触ピン部５を正確に接触させることができる。
【００３３】
しかし、第２の検査対象基板Ｐ２との関係で必要がないプローブ４は、支台部２２のガイド孔２４には挿通されるものの、基板対応アタッチメント３２の側には貫通孔３６が設けられていないので、その下底面３７に接触ピン部５が当接してその動きを強制的に阻止される。つまり、第２の検査対象基板Ｐ２の検査ポイントとの関係で必要なスプリングプローブ４のみが対応する各検査ポイントに接触できることになる。
【００３４】
このため、本発明によれば、一定の法則性のもとで検査ポイントが設定されている機種別の検査対象基板Ｐ（Ｐ１，Ｐ２）を検査するに際して、多数本のプローブ４を有するテストヘッドとしてのピンブロック１の側を交換せずに、基板固定用ユニット１１側の基板対応アタッチメント３２のみを交換することにより、必要な検査を行うことができる汎用性を付与することにより、検査コストの低減と事前の段取りの簡素化とを図ることができることになる。
【００３５】
以上は、本発明の実施形態を図示例に即して説明したものであり、その具体的な実施の形態例はこれに限定されるものではない。例えば、位置決め用枠体１２に対する支台部２２の配置は、該支台部２２側に庇部を形成して位置決め用枠体１２の側に載置するようにしてもよい。また、基板対応アタッチメント３２は、検査対象基板Ｐの機種数に対応させて３種類以上を用意しておくことができる。さらに、ピンブロック１と基板固定ユニット１１との配置関係は、図示例のようにピンブロック１の上方に基板固定ユニット１１を対面配置させるほか、両者の上下関係を逆にしたり、ピンブロック１を横向きとし、基板固定ユニット１１の面方向を垂直にして位置させたりするものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】第１の発明に係る基板対応アタッチメンを組み込んで構成される第２の発明に係る基板固定用ユニットの一例をピンブロックとの関係で示す要部説明図であり、そのうちの（ａ）は、非接触状態（非検査時）での配置関係を、（ｂ）は、接触状態（検査時）での配置関係をそれぞれ示す。
【図２】図１（ｂ）の円形囲繞部位を拡大して示す説明図。
【図３】本発明に係る基板固定用ユニットの他例をピンブロックとの関係で示す要部説明図であり、そのうちの（ａ）は、非接触状態（非検査時）での配置関係を、（ｂ）は、接触状態（検査時）での配置関係をそれぞれ示す。
【図４】図３（ｂ）の円形囲繞部位を拡大して示す説明図。
【図５】基板固定用ユニットの従来例をピンブロックとの関係で示す要部説明図であり、そのうちの（ａ）は、非接触状態（非検査時）での配置関係を、（ｂ）は、接触状態（検査時）での配置関係をそれぞれ示す。
【図６】図５（ｂ）の円形囲繞部位を拡大して示す説明図。
【符号の説明】
【００３７】
１  ピンブロック
２  基台
３  上面
４  プローブ
５  接触ピン部
７  ガイドボード
１１  基板固定ユニット
１２  位置決め用枠体
１３  開口部
１４  内周縁部
１５  受け棚部
２２  支台部
２３  外周縁部
２４  ガイド孔
２５  面領域
２６  凹陥部
３２  基板対応アタッチメント
３３  アタッチメント本体
３４  定置部
３５  凹部
３６  貫通孔
３７  下底面
４０  ガイドボード
Ｐ  検査対象基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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