(57)【要約】      （修正有）【課題】短絡棒測定と全接点測定とを同時に適用可能とする。【解決手段】表示器は、測定装置１１０とゲート駆動回路１５０と複数の第一駆動線１２２と複数のゲート駆動線１５２とからなる表示ユニットを含み、この表示ユニットの各単位は、トランジスタ１５４と保存用コンデンサ１５６と画素ユニット１５８とを含んでいる。測定装置１１０が電気的に第一駆動線１１２、映像信号源、および短絡棒信号源に接続されている。そして、この測定装置１１０は、第一接続部１２０と、ｎ個探測端Ｐ１〜Ｐｎと、およびｎ個スイッチ素子Ｓ１〜Ｓｎとを含んでいる。ここで、ｎは１より大きい整数である。短絡棒信号源から供給された電位によって、平面表示器に対する短絡棒測定または全部接点測定を分別する。【選択図】図１−１
2005099543.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第一駆動線と映像信号源と短絡棒信号源とに電気的に接続されている測定装置において、第一駆動線に電気的に接続されている第一接続部と、第一接続部に電気的に接続されている探測端と、ゲート端と第一端と第二端とを有するスイッチ素子とを備え、前記スイッチ素子のゲート端は、電気的に前記短絡棒信号源に接続され、該スイッチ素子の第一端は電気的に映像信号源に接続され、該スイッチ素子の第二端は、対応の複数個探測端のうちの一つに電気的に接続されており、短絡棒信号源から供給された電位によって、この測定装置による短絡棒（shorting bar）測定または全部接点（full contact）測定が制御されることを特徴とする平面表示器の測定装置。
【請求項２】
短絡棒信号源から高電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオンとなって使用者がこの探測端に対し短絡棒測定を行い、逆に、短絡棒信号源から低電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオフとなって使用者がこの探測端に対し全部接点測定を行い、或いは、短絡棒信号源から低電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオンとなって使用者がこの探測端に対し短絡棒測定を行い、逆に、短絡棒信号源から高電位が供給されたとき、前記スイッチ素子がオフとなって使用者がこの探測端に対し全部接点測定を行うことを特徴とする請求項１に記載の平面表示器の測定装置。
【請求項３】
更に、第二接続部を有し、前記第二接続部がｍ個の探測端に電気的に接続され、前記探測端によって使用者が全部接点測定を行え、ｍは１以上の整数であり、第三接続部を有し、前期第三接続部がｓ個の探測端に電気的に接続され、前記探測端によって使用者が全部接点測定を行え、ｓは１以上の整数であることを特徴とする請求項１又は２に記載の平面表示器の測定装置。
【請求項４】
前記駆動回路は、信号駆動回路またはゲート駆動回路であることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の平面表示器の測定装置。
【請求項５】
前記平面表示器は、液晶表示器または有機発光ダイオード表示器（OLED）であることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の平面表示器の測定装置。
【請求項６】
短絡棒信号源を提供することと、前記短絡棒信号源から提供された電位に基づいて、スイッチ素子がオンであるかどうかを判断することと、前記スイッチ素子がオンであるかどうかによって、前記探測端に対し映像信号を測定するかどうかを決めることを特徴とする平面表示器の測定装置の操作方法。
【請求項７】
前記スイッチ素子がオフであるとき、前記探測端に対して全部接点測定を行うことを特徴とする請求項６に記載の平面表示器の測定装置の操作方法。
【請求項８】
前記測定装置の第二接続部および第三接続部に対して全部接点測定を行うことを特徴とする請求項７に記載の平面表示器の測定装置の操作方法。
【請求項９】
前記スイッチ素子がオンであるとき、前記探測端に対し前記映像信号を測定することを特徴とする請求項６ないし８のいずれかに記載の平面表示器の測定装置の操作方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示器の測定装置に関し、特に、短絡棒（shorting bar）の測定および全部接点（full contact）の測定に同時に適用可能な平面表示器の測定装置およびその操作方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶材料は、欧州で発見された後、その実用性が米国で研究開発された。そして、液晶材料の物性および各分野での応用は、更に日本で研究されたので、新世代の液晶平面表示器が開発されつつある。現在、各種液晶技術は広く表示器に用いられ、特に液晶平面表示器（LCD）に用いられている。各メーカーによって、ＴＮ−ＬＣＤ（Twisted Nematic-Liquid Crystal Display，ねじれネマチック液晶表示器）は、既にＳＴＮ−ＬＣＤ（Super Twisted Nematic-Liquid Crystal Display，超ねじれネマチック液晶表示器）に発展され、更に非晶質シリコンＴＦＴ−ＬＣＤ（Thin Film Transistor LCD，薄膜トランジスタ液晶平面表示器）まで発展され、その規模が益々大きくなってきている。なお、薄膜トランジスタ液晶平面表示器の製作時に、短絡棒（shorting bar）の測定および全部接点の測定（full contact）を実施しなければならず、これにより、製作された薄膜トランジスタ液晶平面表示器が正常に作動することを確保する。
【０００３】
図２は、従来技術に係る液晶表示器の短絡棒を測定する測定装置の回路図である。図２に示すように、表示器２００は、測定装置２１０とゲート駆動回路２５０とゲート駆動線２５２と信号駆動線２２２とからなる表示ユニットを含み、この表示ユニットの各単位は、トランジスタ２５４と保存用コンデンサ２５６と画素ユニット２５８とを含んでいる。
また、図２に示すように、測定装置２１０は、信号線接続部２２０と、ゲート接続部２３０と、他回路接続部２４０と、探測端Ｐ11、Ｐ20〜Ｐ29、Ｐ30〜Ｐ39およびＰ40とを含んでいる。各探測端Ｐ11、Ｐ20〜Ｐ29、Ｐ30〜Ｐ39およびＰ40は、全て電気的に抵抗２１２に接続されている。詳しくは、信号線接続部２２０は、探測端Ｐ11に電気的に接続され、ゲート接続部２３０は、探測端Ｐ20〜Ｐ29に電気的に接続され、他回路接続部２４０は、探測端Ｐ30〜Ｐ39に電気的に接続されている。
【０００４】
測定装置２１０を短絡棒の測定に用いるとき、全ての探測端を接地させ、且つ信号線接続部２２０を電気的に映像信号源に接続させ、信号線接続部２２０と映像信号源との間に抵抗２１６を電気的に接続させておく。このように、映像信号源から供給されてきた映像信号によって、表示器２００に対して短絡棒測定を行う。
【０００５】
次に、図３を参照する。この図は、従来技術に係る液晶表示器の全部接点を測定する測定装置の回路図である。この回路と図２の回路との相違点は、図３に示す信号線接続部２２０は、探測端Ｐ101〜Ｐ128に電気的に接続され、ゲート接続部２３０は探測部Ｐ20〜Ｐ29に電気的に接続されている。なお、図３は、映像信号源を示していない。
【０００６】
全部接点の測定時に、全ての探測端Ｐ101〜Ｐ128、Ｐ20〜Ｐ29、Ｐ30〜Ｐ39を接続して駆動する。この際、表示器３００に対して全部接点を測定することができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、表示器を測定する従来の測定装置は、次のような欠点を抱えている。
【０００８】
（１）従来技術により液晶表示器の短絡棒を測定する作業は、ガラス切断が完了しないとできない。また、短絡棒を測定する際、単一の映像信号（例えば赤色信号）が入力されるので、測定者は、表示器が正常かどうかを目視で判断するしかない。結局、どの信号駆動線に問題があるのか詳しく判断するができない。
【０００９】
（２）従来技術により液晶表示器の全部接点を測定する作業は、各信号駆動線が正常かどうかを詳しく判断することが可能ではあるが、このような測定を完成するには、非常に精密な探測針を必要とするので、コストが高くなり、大量生産に適用されていない。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そこで本発明は、平面表示器の測定装置およびその操作方法を提供している。本発明によれば、短絡棒信号源およびスイッチ素子が増設されており、短絡棒信号源から高電位が供給されたとき、スイッチ素子がオンとなって使用者が探測端に対し短絡棒測定を行え、短絡棒信号源から低電位が供給されたとき、スイッチ素子がオフとなって使用者がこの探測端に対し全部接点測定を行える。
【００１１】
本発明に係る平面表示器の測定装置は、第一駆動線と映像信号源と短絡棒信号源とに電気的に接続されており、この測定装置は、第一接続部とｎ個探測端とｎ個スイッチ素子とを備えている。この中、第一接続部は、第一駆動線に電気的に接続されている。
【００１２】
本発明の好ましい実施例によれば、上述したｎ個探測端は、第一接続部に電気的に接続され、ｎは１以上の整数である。これらの探測端は、短絡棒測定時または全部接点測定時の探測端点として用いられる。
【００１３】
また、本発明の好ましい実施例によれば、前記ｎ個スイッチ素子のうちの各スイッチ素子は、ゲート端と第一端と第二端とを有し、各スイッチ素子のゲート端は、電気的に前記短絡棒信号源に接続され、各スイッチ素子の第一端は電気的に映像信号源に接続され、各スイッチ素子の第二端は、対応のｎ個探測端のうちの一つに電気的に接続されている。
【００１４】
そして、本発明の好ましい実施例によれば、平面表示器の測定装置は、短絡棒信号源から供給される電位によって、短絡棒測定または全部接点測定を制御する。また、短絡棒信号源から高電位が供給されたとき、各スイッチ素子がオンとなって使用者が短絡棒測定を行え、逆に、短絡棒信号源から低電位が供給されたとき、各スイッチ素子がオフとなって使用者が全部接点測定を行える。
【００１５】
更に、本発明の好ましい実施例によれば、この平面表示器の測定装置は、第二接続部を有し、この第二接続部がｍ個の探測端に電気的に接続され、これらの探測端によって使用者が全部接点測定を行える。ここで、ｍは１以上の整数である。
【００１６】
また、本発明の好ましい実施例によれば、この平面表示器の測定装置は、第三接続部を有し、この第三接続部がｓ個の探測端に電気的に接続され、これらの探測端によって使用者が全部接点測定を行える。ここで、ｓは１以上の整数である。
【００１７】
そして、本発明は、平面表示器の測定装置の操作方法を提供している。この方法によれば、短絡棒信号源から提供された信号が測定装置のスイッチ素子のゲート端へ送られ、このスイッチ素子は、短絡棒信号源から提供された電位に基づいて、スイッチ素子がオンであるかどうかを判断する。スイッチ素子がオンであるとき、探測端に対して映像信号を測定する（短絡棒測定）。一方、スイッチ素子がオフであるとき、前記探測端に対して全部接点測定を行う。
【００１８】
また、本発明の好ましい実施例によれば、スイッチ素子がオフであるとき、この測定装置の第二接続部および第三接続部に対して全部接点測定を行う。
【００１９】
更に、本発明によれば、測定装置にスイッチ素子を設けているので、短絡棒信号源から高電位が供給されたとき、この表示器に対し短絡棒測定を行うことができ、短絡棒信号源から低電位が供給されたとき、この表示器に対し全部接点測定を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
上述した本発明の目的、特徴、利点をより明瞭に理解するために、次に図面を参照しながら、好ましい実施例を挙げて説明する。
【００２１】
図１Ａは、本発明の好ましい実施例に係る平面表示器の測定装置の回路図である。図１Ａにおいて、表示器１００は、測定装置１１０とゲート駆動回路１５０とゲート駆動線２５２と複数の第一駆動線１２２と複数のゲート駆動線１５２とからなる表示ユニット２２２を含み、この表示ユニットの各単位は、トランジスタ１５４と保存用コンデンサ１５６と画素ユニット１５８とを含んでいる。また、当業者であれば周知しているように、測定装置１１０は信号駆動回路であり、第一駆動線１２２は信号駆動線であり、画素ユニット１５８は、液晶コンデンサまたは有機発光（OLED）層である。平面表示器１００は、画素ユニット１５８によって異なり、液晶表示器または有機発光ダイオード表示器（OLED）である。なお、本発明はこれらに限られているわけではない。
【００２２】
更に図１Ａを参照して判るように、測定装置１１０が電気的に第一駆動線１１２、映像信号源、および短絡棒信号源に接続されている。そして、この測定装置１１０は、第一接続部１２０と、ｎ個探測端Ｐ1〜Ｐ5と、およびｎ個スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnとを含んでいる。ここで、ｎは１より大きい整数である。
【００２３】
本実施例では、測定装置１１０における電気的接続関係は、次の通りである。即ち、第一接続部１２０は、第一駆動線１２２とｎ個探測端Ｐ1〜Ｐnに接続されている。ｎ個スイッチ素子のうちの各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnは、ゲート端１２６、第一端１２４（ソース端またはドレーン端）、および第二端１２８（ドレーン端またはソース端）を有する。この中、各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnのゲート端１２６は、電気的に短絡棒信号源に接続され、各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnの第一端１２４は、電気的に映像信号源に接続され、各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnの第二端１２８は、ｎ個探測端Ｐ1〜Ｐnのうちの対応の１個に電気的に接続されている。
【００２４】
本実施例では、測定装置１１０は、短絡棒信号源から供給された電位によって短絡棒測定または全部接点測定を分別する。短絡棒信号源から高い電位（ＶDD）が供給されると、各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnはオンとなり、この際、使用者が探測端１１４を使って短絡棒測定を行うことができる。逆に、短絡棒信号源から低い電位（ＶEE）が供給されると、各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnはオフとなり、この際、使用者が各探測端Ｐ1〜Ｐnを使って全部接点測定を行える。また、各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnは、短絡棒信号源から低い電位（ＶEE）が供給されたときオンとなり短絡棒測定が行われ、そして短絡棒信号源から高い電位（ＶDD）が供給されたときオフとなり全部接点測定を行うことも可能である。
【００２５】
また、本実施例では、短絡棒信号源と第一スイッチ素子Ｓ1のゲート端１２６との間に抵抗１１６が電気的に接続され、映像信号源と第一スイッチ素子Ｓ1の第一端１２４との間にも抵抗１１６が電気的に接続されている。この抵抗１１６は、入力信号または電位の電圧値が高すぎるとき電圧値を下げるので、測定装置の内部回路への損傷が回避できる。
【００２６】
そして、本実施例の測定装置１１０は、第二接続部１３０と第三接続部１４０とを含んでいる。第二接続部１３０は、ゲート駆動回路１５０とＭ個探測端Ｆ101〜Ｆ1mとに電気的に接続され、第三接続部１４０は、他の制御回路（図示せず）とｓ個探測端Ｆ201〜Ｆ2sに接続されている。ここで、ｍおよびｓは何れも１以上の整数である。
【００２７】
更に、本実施例では、Ｍ個探測端の各探測端Ｆ101〜Ｆ1mおよびｓ個探測端の各探測端Ｆ201〜Ｆ2sは、それぞれ抵抗１３４および１４４に電気的に接続されており、その作用は抵抗１１６と同様である。
【００２８】
更に、図１Ａを参照する。表示器１００の短絡棒測定時の操作は、探測端Ｆ101〜Ｆ1mとＦ201〜Ｆ2sとを浮接（floating）させる。そして、短絡棒信号探測端１１２を高電位（ＶDD）に接続すると共に、映像信号探測端１１４を映像信号源に接続する。この際、短絡棒信号源から供給された高電位によって、各スイッチ素子Ｓ1〜Ｓnがオンとなる。これにより、使用者が探測端１１４にて、映像信号源から供給された信号を測定することができるので、回路の運転が正常かどうかを判断する。
【００２９】
表示器１００に対して全部接点測定を行う操作は、短絡棒信号探測端１１２を低電位（ＶEE）に接続すると共に、映像信号探測端１１４を浮接する。このとき、探測端Ｐ1〜Ｐn、Ｆ101〜Ｆ1m、及びＦ201〜Ｆ2sを測定することによって、回路の運転が正常かどうかを判断する。
【００３０】
なお、本発明の好ましい実施例では、映像信号を入力することによって、グレイレベルを制御することができる。
【００３１】
更に、本発明の好ましい実施例では、測定装置１１０は、第二接続部１３０と第一探測端Ｆ101との間に電気的に接続され二つのダイオード１３２から構成された静電放電の保護回路と、第三接続部１４０と第二探測端Ｆ201との間に電気的に接続され二つのダイオード１４２から構成された静電放電の保護回路とを含んでいる。なお、本発明は、これに限定されるわけではない。
【００３２】
そして、本発明の好ましい実施例では、測定装置１１０は、結晶片接続部１６０と、これに電気的に接続されている軟性印刷回路（Flexible Printed Circuit，略称：ＦＰＣ）接続部１６２とを有する。
【００３３】
また、図１Ｂを参照する。この図は、本発明の好ましい実施例に係る平面表示器の測定装置の操作方法を示すフローチャートである。本実施例の操作方法では、短絡棒信号源から測定装置のスイッチ素子のゲート端（ｓ１８０）まで信号が提供され、そしてスイッチ素子は、短絡棒信号源が提供した電位に基づいて、スイッチ素子（ｓ１８２）がオンであるかどうかを判断する。スイッチ素子がオンであったとき、探測端に対して映像信号を測定することができる（短絡棒測定）（ｓ１８４）。逆に、スイッチ素子がオフであったとき、探測端に対して全部接点測定（ｓ１８６）を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【００３４】
本発明の好ましい実施例では、操作方法として更に、スイッチ素子がオフであったとき、測定装置の第二接続部および第三接続部に対する全部接点測定を行う。
【００３５】
上述した平面表示器の測定装置およびその操作方法は、異なるモードの測定方式に任意に切り替えることが可能であり、これにより異なる要求を満たすことができる。
【００３６】
本発明は、上述した好ましい実施例によって説明されたが、この実施例によって限定されたわけではない。当業者でれば、本発明の精神および範囲から離脱しないまま若干の変更および修飾をすることが可能であるので、本発明の保護範囲は、特許請求の範囲で定めたものを基準とすべきである。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１−１】本発明の好ましい実施例に係る平面表示器の測定装置の回路図である。
【図１−２】本発明の好ましい実施例に係る平面表示器の測定装置の操作方法を示すフローチャートである。
【図２】従来の液晶表示器の短絡棒測定時に用いられる測定装置の回路図である。
【図３】従来の液晶表示器の全部接点測定時に用いられる測定装置の回路図である。
【符号の説明】
【００３８】
１００    平面表示器
１１０    測定装置
１１２    短絡棒信号探測端
１１４    映像信号探測端
１１６    抵抗
１２０    第一接続部
１２２    第一駆動線
１２４    第一端
１２６    ゲート端
１２８    第二端
１３０    第二接続部
１３２    ダイオード
１３４    抵抗
１４０    第三接続部
１４２    ダイオード
１４４    抵抗
１５０    ゲート駆動回路
１５２    ゲート駆動線
１５４    トランジスタ
１５６    保存用コンデンサ
１５８    画素ユニット
１６０    結晶片接続部
１６２    軟性印刷回路接続部
２００    液晶表示器
２１０    測定装置
２１２    抵抗
２１６    抵抗
２２０    信号線接続部
２２２    信号駆動線
２３０    ゲート接続部
２４０    他回路接続部
２５０    ゲート駆動回路
２５２    ゲート駆動線
２５４    トランジスタ
２５６    保存用コンデンサ
２５８    画素ユニット
３００    液晶表示器
３１０    測定装置
Ｐ        探測端
Ｆ        探測端
Ｓ        スイッチ素子
ｓ１８０  各ステップを含むフローチャート
ｓ１８１  各ステップを含むフローチャート
ｓ１８２  各ステップを含むフローチャート
ｓ１８３  各ステップを含むフローチャート
ｓ１８４  各ステップを含むフローチャート
ｓ１８５  各ステップを含むフローチャート
ｓ１８６  各ステップを含むフローチャート
【図１−１】
2005099543.tif 000003
【図１−２】
2005099543.tif 000004
【図２】
2005099543.tif 000005
【図３】
2005099543.tif 000006