(57)【要約】【課題】  マニュアル操作を行った際のログデータに基づいて、試験時間の短縮を実現するテストベクタを自動生成すること。【解決手段】  ログファイル１１０からマニュアル操作した際のログデータを読み込み、入力信号値と出力信号値とが共に変化していない連続したログデータを識別して１個のテストベクタに統合する。テストベクタの実行時間があらかじめ設定された指定保持時間の値よりも大きい場合は、強制的に実行時間の値を指定保持時間の値に置き換えテストベクタとして出力する。【選択図】      図１
2005100006.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
手動操作により発生するマニュアル操作信号によって駆動するアクチュエータを有する電子装置に擬似入力信号を与えて試験する試験装置において、
前記擬似入力信号を出力する擬似入力信号出力手段と、
前記擬似入力信号と前記マニュアル操作信号を切り替えて前記電子装置へ入力する入力信号切り替え手段と、
前記切り替え手段がマニュアル信号を選択する位置に切り替えられたとき、前記マニュアル操作信号、および前記マニュアル操作信号によって前記アクチュエータを動作させる実機出力信号のログ情報を取得するログ情報取得手段と、
取得した前記ログ情報に基づいて、前記マニュアル操作信号とこのマニュアル操作信号に対応して取得した前記実機出力信号の対を、前記擬似入力信号とその擬似入力信号による試験結果として出力が期待される期待出力信号とを対とするテストベクタに変換して生成するテストベクタ生成手段とを備え、
前記擬似入力信号と期待出力信号の対のテストベクタは、それら信号の保持時間を含み、
前記テストベクタ生成手段は、
前記マニュアル操作信号と実機出力信号の対のログ情報を、あらかじめ定めた所定のサンプル時間間隔で読み取り、
連続する複数のサンプル時間間隔で読み取った前記対のログ情報が変化しない場合は、それら複数のログ情報をサンプルするに要する合計時間を算出して前記保持時間とし、
前記合計時間が所定時間を越える場合は、前記保持時間をあらかじめ定めた上限値で制限することを特徴とする試験装置。
【請求項２】
手動操作により発生するマニュアル操作信号によって駆動するアクチュエータを有する電子装置に擬似入力信号を与えて試験する試験装置において、
前記擬似入力信号を出力する擬似入力信号出力手段と、
前記擬似入力信号と前記マニュアル操作信号を切り替えて前記電子装置へ入力する入力信号切り替え手段と、
前記切り替え手段がマニュアル信号を選択する位置に切り替えられたとき、前記マニュアル操作信号、および前記マニュアル操作信号によって前記アクチュエータを動作させる実機出力信号のログ情報を取得するログ情報取得手段と、
取得した前記ログ情報に基づいて、前記マニュアル操作信号とこのマニュアル操作信号に対応して取得した前記実機出力信号の対を、前記擬似入力信号とその擬似入力信号による試験結果として出力が期待される期待出力信号とを対とするテストベクタに変換して生成するテストベクタ生成手段とを備え、
前記擬似入力信号を期待出力信号の対のテストベクタは、それら信号の保持時間を含み、
前記複数のマニュアル操作信号に基づいて生成される実機出力信号により駆動されるアクチュエータが２以上存在する場合、
前記テストベクタ生成手段は、
前記２以上のアクチュエータの複数のマニュアル操作信号に対応する複数の前記擬似入力信号を、それぞれのアクチュエータにグルーピングし、
前記グルーピングされた複数の擬似入力信号が並列して発生するように信号の保持時間を設定し、これにより、前記２以上のアクチュエータを並行して動作させるようにすることを特徴とする試験装置。
【請求項３】
請求項２に記載の試験装置において、
前記テストベクタ生成手段は、
前記マニュアル操作信号と実機出力信号の対のログ情報を、あらかじめ定めた所定のサンプル時間間隔で読み取り、
前記グルーピングされた複数の擬似入力信号と期待出力信号の対のグループごとに、連続する複数のサンプル時間間隔で読み取った前記対のログ情報が変化しない場合は、それら複数のログ情報をサンプルするに要する合計時間を算出して前記保持時間とし、
前記合計時間が所定時間を越える場合は、前記保持時間をあらかじめ定めた上限値で制限することを特徴とする試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストベクタを用いて電子装置を試験するための試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子装置の試験において、試験対象の電子装置に投入する擬似入力信号と、その結果として出力される出力信号の期待値とを定義したテストベクタによる試験方法が知られている。テストベクタを用いた試験では、次のようにして電子装置を自動で試験する。試験対象の電子装置に意図したタイミングで擬似入力信号を与え、その結果得られる電子装置からの出力値を観測する。予め用意しておいた期待値とその観測値とを特許文献１によって知られているログ情報解析装置により解析、照合する。
【０００３】
【特許文献１】特開平８−３１４７６３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、このようなテストベクタを用いた試験においては、テストベクタによる試験実行時には、テストベクタを自動生成するために行った手動操作と同じ試験時間が必要となっていた。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１の発明による試験装置は、手動操作により発生するマニュアル操作信号によって駆動するアクチュエータを有する電子装置に擬似入力信号を与えて試験する試験装置において、擬似入力信号を出力する擬似入力信号出力手段と、擬似入力信号とマニュアル操作信号を切り替えて電子装置へ入力する入力信号切り替え手段と、切り替え手段がマニュアル信号を選択する位置に切り替えられたとき、マニュアル操作信号、およびマニュアル操作信号によってアクチュエータを動作させる実機出力信号のログ情報を取得するログ情報取得手段と、取得したログ情報に基づいて、マニュアル操作信号とこのマニュアル操作信号に対応して取得した実機出力信号の対を、擬似入力信号とその擬似入力信号による試験結果として出力が期待される期待出力信号とを対とするテストベクタに変換して生成するテストベクタ生成手段とを備え、擬似入力信号と期待出力信号の対のテストベクタは、それら信号の保持時間を含み、テストベクタ生成手段は、マニュアル操作信号と実機出力信号の対のログ情報を、あらかじめ定めた所定のサンプル時間間隔で読み取り、連続する複数のサンプル時間間隔で読み取った対のログ情報が変化しない場合は、それら複数のログ情報をサンプルするに要する合計時間を算出して保持時間とし、合計時間が所定時間を越える場合は、保持時間をあらかじめ定めた上限値で制限することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明による試験装置によれば、マニュアル操作によって取得したマニュアル操作信号と実機出力信号の対から擬似入力信号と期待出力信号の対からなるテストベクタを自動生成する際に、準備時間や結果の確認時間などの待ち時間など、無駄な時間を省くことができ、テストベクタによる試験時に試験時間を短縮することができる。さらに試験装置に投入するテストベクタのデータ容量を小さくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
―第１の実施の形態
本実施の形態においては、試験装置および車両電子装置への入出力信号を次のように定義する。車両電子装置へマニュアル操作で入力する入力信号を「マニュアル操作信号」と呼ぶ。また、車両電子装置へ試験装置からテストベクタにより入力される試験信号を「擬似入力信号」と呼ぶ。マニュアル操作信号あるいは擬似入力信号を入力することにより、車両電子装置が駆動した結果出力される信号を「実機出力信号」と呼ぶ。また、テストベクタによる試験時に、擬似入力信号を入力することにより車両電子装置から試験結果として出力が期待される信号で、あらかじめテストベクタに定義されている信号を「期待出力信号」と呼ぶ。なお、マニュアル操作信号と擬似入力信号を総称して「入力信号」、実機出力信号と期待出力信号を総称して「出力信号」と呼ぶこととする。
【０００８】
図１は、本発明による車両電子装置の試験装置の一実施の形態を示すブロック図である。車両電子装置１００の動作が正常か否かは試験装置１０５から入力されるテストベクタによって判定される。車両電子装置１００は、入力側ユーザーインターフェースである入力スイッチ１０１と、装置内のエンジンコントロールユニット（以下、ＥＣＵ）１０２、１０３と、入力スイッチ１０１からの信号に基づいてＥＵＣ１０２からの駆動信号で駆動される出力側ユーザーインターフェースであるランプなどのアクチュエータ１０４から構成される。入力スイッチ１０１はセンサーでもよく、アクチュエータ１０４はランプ以外の各種アクチュエータでもよい。また、ＥＣＵは１つでもまたは３つ以上でも良い。そしてＥＵＣを直列接続せず、その他の接続形態でも良い。
【０００９】
試験装置１０５は、テストベクタを記憶するテストベクタ記憶部１０７と、テストベクタ記憶部１０７に格納されている擬似入力信号を擬似入力信号線１０８を介して車両電子装置１００へ入力する擬似入力信号入力部１１５と、入力スイッチ１０１からの信号と擬似入力信号入力部１１５からの信号を切り替える入力信号切り替えスイッチ１０６とを有する。入力信号切り替えスイッチ１０６は、車両電子装置１００側に操作すると入力スイッチ１０１からのマニュアル操作信号を車両電子装置１００へ入力可能とし、試験装置１０５側に操作すると擬似入力信号入力部１１５からの擬似入力信号を車両電子装置１００へ入力可能とする。
【００１０】
試験装置１０５はまた、入力スイッチ１０１からのマニュアル操作信号あるいは擬似入力信号線１０８からの擬似入力信号を試験装置１０５へ出力するモニタ線１１３と、入力信号により駆動する車両電子装置１００から出力される実機出力信号を試験装置１０５へ出力するモニタ線１０９とを有する。また、試験装置１０５は、モニタ線１０９、１１３を通して試験装置１０５へ出力される入出力信号を一定の集録間隔（例えば１０ｍｓ単位）でロギングするロギング部１１４と、ロギング部１１４により取得されたログデータを記憶するログファイル１１０と、各テストベクタに対してあらかじめ定義してテストベクタ記憶部１０７に記憶してある期待出力信号と、ログファイル１１０に格納された実機出力信号とを比較する比較部１１１と、比較結果を記憶する比較結果記憶部１１２とを有する。さらに試験装置１０５は、ログファイル１１０に格納されたマニュアル操作によるマニュアル操作信号と実機出力信号のログデータを読み込んでテストベクタを自動生成するテストベクタ自動生成装置１１６を有する。
【００１１】
なお、試験装置１０５は、試験時にワイヤーハーネス等により車両電子装置１００に接続され、マニュアル操作によるログの取得、およびテストベクタによる試験が行われる。
【００１２】
図２（ａ）は取得したログデータを変換し、テストベクタを生成する装置を示す図である。テストベクタ自動生成装置１１６は、ログファイル１１０から読み込んだログデータに基づいてテストベクタを生成し、テストベクタ記憶部１０７に格納する。
【００１３】
図２（ｂ）は、ログファイル１１０の構造を示す図である。試験における入出力データは、一定のログデータ取得周期でロギングされ、ログファイル１１０に格納される。この取得周期は一連の試験が終了するまで一定で変更されることはない。本実施の形態においては、ログデータの取得周期は１０ｍｓとする。なお、マニュアル操作によるログデータは、入力信号切り替えスイッチ１０６を車両電子装置１００側に操作し、マニュアル操作を実行することにより取得することが可能である。ログファイル１１０は、一般にシーケンス番号２０４および、ログデータ取得周期単位のマニュアル操作信号２０５とそれに対する実機出力信号２０６を列要素として持つ。
【００１４】
テストベクタ自動生成装置１１６は、ログファイル１１０から読み込んだ図２（ａ）に示す構造のログデータに基づいて、図２（ｃ）に示すテストベクタを生成し、テストベクタ記憶部１０７へ格納する。
【００１５】
図２（ｃ）は、図２（ｂ）に示すログデータに基づいて、マニュアル操作を忠実に再現して生成されたテストベクタを示す図であり、図２（ｄ）は後に詳細に説明するように保持時間を指定保持時間により置き換えることによって試験時間の短縮を行ったテストベクタを示す図である。テストベクタは、シーケンス番号２０７、保持時間２０８、擬似入力信号２０９、期待出力信号２１０を列要素として持つ試験データである。ログデータのマニュアル操作信号２０５と実機出力信号２０６の値に変化が無い期間のデータをまとめ、その間のログデータの実行時間を保持時間２０８とする。そして、その間のマニュアル操作信号２０５を擬似入力信号２０９、実機出力信号２０６を期待出力信号２１０と定義し、シーケンス番号２０７を付与することにより、テストベクタが生成される。図２（ｂ）においては、シーケンス番号２０４の１から３までが入力信号値２０５＝０、出力信号値２０６＝０で値が変化していない。よって、この間のログデータに基づいてテストベクタを作成する場合は、図２（ｃ）に示すとおりシーケンス番号２０７＝１、保持時間２０８＝３０ｍｓ、擬似入力信号２０９＝０、期待出力信号２１０＝０と設定される。
【００１６】
テストベクタは、保持時間２０８の間、車両電子装置１００に対して擬似入力信号２０９に定義される信号を出力し、その結果、車両電子装置１００から出力される実機出力信号と期待出力信号２１０とが比較部１１１で比較され、車両電子装置１００の動作が正常か否かが判定される。なお、図２（ｃ）は一例であり、上記で説明した列要素以外に試験を行うに当たって必要な要素がある場合は、同様にテストベクタ内に定義される。
【００１７】
ここで、図２（ｃ）に示すテストベクタは、マニュアル操作を忠実に再現しているため、このテストベクタを用いて試験を実行した場合には試験完了までにログデータの実行時間と同じ時間、すなわち８０ｍｓを要する。しかし、このログデータには操作の準備時間や結果の確認時間などのデータも含まれている。図２（ｂ）の例では、たとえばシーケンス１から３までが信号１＝０、信号２＝０で値が変化していないため、この期間には試験の準備期間が含まれていると考えられる。ログデータにより操作を再現する際には、これらの準備時間や結果の確認時間などを最小限にして再現することにより、試験時間を短縮することができる。
【００１８】
そこで、本実施の形態においては、テストベクタ自動生成装置１１６によりテストベクタを生成する際に、ログデータに含まれる試験の準備期間や結果の確認時間など、試験の再現に不要な時間を排除し、試験時間の短縮を実現する図２（ｄ）に示すテストベクタの生成を行う。
【００１９】
図３は、マニュアル操作により取得されたログデータに含まれる操作の準備時間や結果の確認時間などの待ち時間を短縮し、試験時間を短縮するためのテストベクタ生成を実現する処理フローチャートである。
【００２０】
ステップＳ１０において、指定保持時間の読み込みを行う。指定保持時間とは、所定の時間以上ログデータの全信号が変化していない場合には、準備時間や結果の確認時間などの待ち時間のような何らかの不要時間が含まれているものと判断し、強制的にテストベクタの保持時間２０８を指定保持時間に置き換えてテストベクタを生成するための時間である。この指定保持時間はあらかじめ設定し、不図示の指定保持時間格納ファイルに格納しておく。なお、本実施の形態においては、指定保持時間は２０ｍｓであるものとし、以下の説明を行う。
【００２１】
ステップＳ２０において、ログファイル１１０からマニュアル操作のログデータを読み込む。テストベクタ生成の際にはマニュアル操作による試験のログデータのみを使用するため、ログファイル１１０にはテストベクタの生成に必要なマニュアル操作による試験のログデータのみが格納されている必要がある。しかし、ログの取得はマニュアル操作時、テストベクタによる試験時の両方の場合で行っているため、通常はログファイル１１０にはマニュアル操作による試験のログデータとテストベクタによる試験のログデータが混在することになる。このため、テストベクタ生成を行う際には、事前準備として、あらかじめ一旦ログをクリアし、ログファイルが空の状態でマニュアル操作を実行することによりマニュアル操作のログデータのみが格納された状態にしておく。
【００２２】
ステップＳ３０において、シーケンス番号２０４が連続しており、入力信号値２０５と出力信号値２０６とが共に変化していないログデータを識別して１個のテストベクタに統合する。本実施の形態においては、上述したように、図２（ｂ）におけるシーケンス番号２０４が１から３までの入力信号値２０５と出力信号値２０６は共に変化していないので、図２（ｃ）におけるシーケンス番号２０７＝１、保持時間２０８＝３０ｍｓ、擬似入力信号２０９＝０、期待出力信号２１０＝０となる１個のテストベクタに統合する。
【００２３】
ステップＳ４０において、ステップＳ１０で読み込んだ指定保持時間と、ステップＳ３０で統合したテストベクタの保持時間２０８との比較を行う。ここで、指定保持時間がテストベクタの保持時間２０８よりも大きいと判断された場合には、テストベクタの保持時間２０８はそのまま使用される。逆に指定保持時間がテストベクタの保持時間２０８よりも小さいと判断された場合には、ステップＳ５０へ進み、保持時間２０８を強制的に指定保持時間に置き換える。本実施の形態においては、指定保持時間が２０ｍｓであるのに対して、図２（ｃ）におけるシーケンス番号２０７が１のときに、保持時間２０８は３０ｍｓとなっており、指定保持時間が保持時間２０８よりも小さいため、保持時間２０８は指定保持時間である２０ｍｓに置き換えられる。
【００２４】
ステップＳ６０において、ステップＳ２０で読み込んだログデータの最後まで処理を行ったかの判断を行い、最後まで処理が完了していない場合は、ステップＳ３０へ戻りログデータの最後まで処理を繰り返す。そしてログデータの最後まで処理が完了したと判断された場合には、処理を終了する。
【００２５】
図２（ｄ）は、図２（ｂ）のログデータに対して、以上の処理を行った結果生成されるテストベクタを表す図である。図２（ｃ）の指定保持時間による保持時間２０８の置き換えを行わずにマニュアル操作を忠実に再現したテストベクタでは８０ｍｓかかっていた試験時間が、本実施例によって作成したテストベクタを使用することによって６０ｍｓで完了しており、試験時間の短縮がされたことが明らかである。
【００２６】
また、試験時間の短縮に伴い、車両電子装置１００に投入されるテストベクタの容量を小さくすることができる。これは、車両電子装置１００に対して、試験装置１０５から仮に１ｍｓ毎に擬似入力信号の投入がなされるとすると、図２（ｃ）に示すテストベクタの場合は、擬似入力信号２０９は８０回投入されることになる。これに対し、図２（ｄ）に示すテストベクタの場合は６０回の投入で済み、全体として投入されるテストベクタの容量を小さくすることができる。
【００２７】
以上により、第１の実施の形態によれば、保持時間２０８を強制的に指定保持時間で置き換えることにより、準備時間や結果の確認時間などの待ち時間など、無駄な時間を省くことができ、マニュアル操作を忠実に再現したテストベクタよりも、高速に試験を完了することができるテストベクタを生成することができる。また、試験装置にテストベクタを投入する回数が減るため、投入するテストベクタのデータ容量を小さくすることができる。
【００２８】
―第２の実施の形態
第２の実施の形態においては、独立した２つ以上の操作において、それぞれの操作が複数の信号からなる場合の試験を想定する。このような場合に、マニュアル操作に基づいてテストベクタを生成する際に、第１の実施の形態と同様に、マニュアル操作を忠実に再現した場合よりも試験時間を短縮できるテストベクタの生成方法について説明する。なお、本実施の形態に直接関わりのない実機出力信号および期待出力信号については、図示および説明を省略する。
【００２９】
図１の車両電子装置１００においては、ＥＣＵが直列に接続されており、かつアクチュエータが１つしか示されていないが、本実施の形態においては、ＥＣＵ１０２、１０３およびアクチュエータ１０４と並列に不図示のＥＣＵ、およびアクチュエータが接続されているものとする。また、上記並列に接続されたＥＣＵ、およびアクチュエータに対しては、不図示のスイッチが接続されているものとする。
【００３０】
図４（ａ）は、ログファイル１１０に格納されている入力信号Ａ１と入力信号Ａ２からなる操作Ａと、入力信号Ｂ１と入力信号Ｂ２からなる操作Ｂのマニュアル操作によるログデータを示している。なお、ログ取得周期は１０ｍｓとし、操作Ａと操作Ｂは互いに独立しているものとする。また、図４（ｂ）は、図４（ａ）に示したマニュアル操作を忠実に再現して生成したテストベクタを表す図である。図５（ａ）は、図４（ａ）に示したマニュアル操作における操作Ａと操作Ｂのタイムチャートを示す図である。
【００３１】
図５（ａ）においては、マニュアル操作では操作を１個ずつ逐次実行していくので、操作開始から８０ｍｓ経過後に操作Ａが完了した後、操作Ａの結果の確認と操作Ｂを実行する準備作業を経て、１００ｍｓ経過したタイミングで次の操作Ｂを開始することになる。最終的には１９０ｍｓ経過した時点で操作Ｂが完了し、結果の確認を行った後、２１０ｍｓ経過時に全操作が完了することになり、トータルとして２１０ｍｓの試験時間を要する。よってこのマニュアル操作で取得したログデータから忠実に生成したテストベクタを使用して試験を再現した場合も、図４（ｂ）示す保持時間の合計値である２１０ｍｓの試験時間を要することとなる。しかし、操作Ａと操作Ｂは互いに独立しているため、操作時間をずらして再現する必要はない。すなわち、テストベクタを用いた試験では、操作Ａと操作Ｂを同時に並行して実行しても問題はない。
【００３２】
そこで、本実施の形態においては、テストベクタ自動生成装置１１６によりテストベクタを生成する際に、第１の実施の形態における指定保持時間による保持時間２０８の短縮処理を行い、さらに互いに独立した操作を並行して実行することにより、試験時間の短縮を実現するテストベクタの生成を行う。
【００３３】
図６はマニュアル操作により取得されたログデータに基づいて、指定保持時間による保持時間２０８の短縮処理を行い、かつ互いに独立した操作を並行して実行するテストベクタの生成処理を示すフローチャートである。
【００３４】
ステップＳ１１０において、グルーピング情報と指定保持時間の読み込みを行う。グルーピング情報とは、たとえば入力信号Ａ１と入力信号Ａ２は操作Ａに属するというように、同じ操作グループに属する信号をグルーピングした情報である。同じ操作グループに属する入力信号は、入力する時間関係を保持する必要があり、互いに並行して実行することができない。これに対して、異なる操作グループに属する入力信号同士は、互いに独立しているため、入力する時間関係を保持する必要は無く、並行して実行することが可能である。
【００３５】
このグルーピング情報は、あらかじめ設定し、不図示のグルーピング情報格納ファイルに格納しておく。なお、本実施の形態においては、入力信号Ａ１と入力信号Ａ２は操作Ａに属し、入力信号Ｂ１と入力信号Ｂ２は操作Ｂに属すると定義されているものとし、以下の説明を行う。なお、指定保持時間については、第１の実施の形態と同様のため、説明を省略する。
【００３６】
ステップＳ１２０において、ログファイル１１０からマニュアル操作のログデータを読み込む。ログファイル１１０には、第１の実施の形態と同様に、あらかじめマニュアル操作のログデータのみが格納された状態にしておく。
【００３７】
ステップＳ１３０において、ステップＳ１１０で読み込んだグルーピング情報に基づいて、ログデータのグルーピングを行う。すなわち、入力信号Ａ１と入力信号Ａ２は操作Ａのグループというようにグループ分けされる。ステップＳ１４０にて、すべてのグループのグルーピングが完了したかを判断し、完了していない場合はステップＳ１３０へ戻り全グループのグルーピングが完了するまで処理を繰り返す。これにより本実施の形態においては、入力信号Ａ１と入力信号Ａ２は操作Ａのグループ、入力信号Ｂ１と入力信号Ｂ２は操作Ｂのグループというように２つのグループにグループ分けされる。全てのグループのグルーピングが完了したと判断されるとステップＳ１５０に進む。
【００３８】
ステップＳ１５０においては、上記で分けられたグループごとに、第１の実施の形態における図３のステップＳ３０〜ステップＳ５０の処理、すなわち指定保持時間による保持時間２０８の短縮処理を行う。ここで、指定保持時間による保持時間２０８の短縮処理を各グループごとに行うのは、同一グループに属する入力信号は、テストベクタによる試験において信号の入力を行う際に、信号Ａ１とＡ２の時間関係や、信号Ｂ１、Ｂ２の時間関係を保持する必要があるためである。なお、本実施の形態による指定保持時間は、第１の実施の形態同様、２０ｍｓとする。
【００３９】
ステップＳ１６０において、全グループに対して指定保持時間による保持時間２０８の短縮処理が完了したかの判断が行われ、完了していないと判断された場合は、ステップＳ１５０へ戻り、全グループについて処理が完了するまで処理を繰り返す。全グループに対する処理が完了したと判断されると、ステップＳ１７０へ進む。
【００４０】
ステップＳ１７０では、テストベクタのマージ処理を行う。ここでは、ステップＳ１３０において行われたグルーピングにより複数グループに分割されている操作を、１つのテストベクタとして出力するためにグループを統合する。グループを統合する際には、各グループは互いに独立しており並列に実行することが可能なため、マニュアル操作による時間関係を排除する。すなわち、テスト開始と同時に全てのグループが一斉に開始されるよう、テストベクタをマージする。
【００４１】
図４（ｃ）は本実施の形態により生成されたテストベクタを示す図であり、図５（ｂ）は、生成されたテストベクタを実行した際のタイムチャートである。これら図より明らかなように、同一グループに属する信号同士は、入力する時間関係が保持されたまま指定保持時間による保持時間２０８の短縮がなされており、さらに互いに独立した操作は並列に実行されている。これにより、マニュアル操作を忠実に再現したテストベクタでは図４（ｂ）に示すとおり試験完了までに２１０ｍｓの時間を要していたが、本実施の形態による発明により生成されたテストベクタを使用することにより、試験開始から１００ｍｓで試験を完了することができる。
【００４２】
以上、第２の実施の形態により、独立した２つ以上の操作において、それぞれの操作が複数の信号からなる場合に、第１の実施の形態の指定保持時間による短縮処理を行い、さらに互いに独立した操作を並列に実行することにより、試験時間の大幅短縮が可能なテストベクタの生成を行うことが可能となる。
【００４３】
なお、本実施の形態においては、グルーピング処理と指定保持時間による保持時間の短縮処理の両方を行ったが、グルーピング処理のみを行って、互いに独立した操作は並列に実行するようにテストベクタの生成を行っても試験時間短縮の効果を得ることができる。
【００４４】
特許請求の範囲の構成要素と実施の形態との対応関係について説明する。入力スイッチ１０１から出力される信号がマニュアル操作信号であり、入力信号切り替えスイッチ１０６は、入力信号切り替え手段に相当する。ロギング部１１４はログ情報取得手段に、擬似入力信号入力部１１５は擬似試験信号入力手段に、テストベクタ自動生成装置１１６はテストベクタ生成手段に相当する。
【００４５】
上述の説明では、本発明による試験装置は車両電子装置の試験に用いるものとしたが、本発明はこれに限定されず、以下のように変形することもできる。たとえば、車両電子装置の試験装置の代わりに航空機電子装置の試験装置や家電製品の試験装置等に搭載しても良い。さらに、本発明の特徴的な機能を損なわない限り、本発明は、上述した実施の形態における構成に何ら限定されない。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明によるテストベクタ生成装置の一実施の形態を搭載する車両電子装置の試験装置を示すブロック図である。
【図２】テストベクタ生成部によるテストベクタ生成処理、およびログデータ、テストベクタを示す図である。
【図３】第１の実施の形態におけるテストベクタ生成処理を示すフローチャートである。
【図４】第２の実施の形態におけるログデータ、および生成されたテストベクタを示す図である。
【図５】第２の実施の形態における試験時間のタイムチャートを示す図である。
【図６】第２の実施の形態におけるテストベクタ生成処理を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４７】
１００  車両電子装置
１０１  入力スイッチ
１０２、１０３  ＥＣＵ
１０４  アクチュエーター
１０５  試験装置
１０６  入力信号切り替えスイッチ
１０７  テストベクタ記憶部
１０８  擬似入力信号線
１０９、１１３  モニタ線
１１０  ログファイル
１１１  比較部
１１２  比較結果記憶部
１１４  ロギング部
１１５  擬似入力信号入力部
１１６  テストベクタ生成装置
２０５  マニュアル操作信号
２０６  実機出力信号
２０７  シーケンス番号
２０８  保持時間
２０９  擬似入力信号
２１０  期待出力信号
【図１】
2005100006.tif 000003
【図２】
2005100006.tif 000004
【図３】
2005100006.tif 000005
【図４】
2005100006.tif 000006
【図５】
2005100006.tif 000007
【図６】
2005100006.tif 000008