(57)【要約】【課題】  シェーディング量が変化しても補正できる構成にするとともに、多くのメモリを必要せず、安価にシェーディング補正を行うことができる、装置を提供する。【解決手段】  記録媒体が移動している際に複数回、もしくは前記記録媒体の異なる位置で複数回、補正用画像を撮影し、前記ディジタル情報から、補正用データを演算により求める補正用データ取得手段（演算部）と、前記補正用データを記録する記録手段（記録部）とを有し、前記記録媒体の表面性を読み取るための記録媒体表面画像を撮影し、前記補正用データにより前記記録表面画像を補正する映像読み取り装置において、前記補正用データ取得手段が、補正用画像データを取得ごとに逐一演算し、演算結果のみを前記記録手段に記録する。【選択図】        図１
2005039592.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体表面の所定領域内を映像として読み取り、ディジタル情報として出力する手段と、
前記記録媒体が移動している際に複数回、もしくは前記記録媒体の異なる位置で複数回、補正用画像を撮影し、前記ディジタル情報から、補正用データを演算により求める補正用データ取得手段と、
前記補正用データを記録する記録手段とを有し、
前記記録媒体の表面性を読み取るための記録媒体表面画像を撮影し、前記補正用データにより前記記録表面画像を補正する映像読み取り装置において、
前記補正用データ取得手段が、補正用画像データを取得ごとに逐一演算し、演算結果のみを前記記録手段に記録することを特徴とする映像読み取り装置。
【請求項２】
前記映像読み取り装置において、
前記記録媒体表面画像のデータを取得するごとに、逐一演算し、演算結果のみを記録することを特徴とする請求項１に記載の映像読み取り装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の映像読み取り装置を用いて、前記補正用データと前記記録媒体表面画像との比較により、記録媒体表面の平滑度を測定することを特徴とする平滑度測定装置。
【請求項４】
請求項１〜３に記載の映像読み取り装置または平滑度測定装置を有することを特徴とする前記記録媒体に画像を形成する画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザプリンタやインクジェットプリンタ等の画像形成装置に搭載される画像読み取り装置や平滑度測定装置に関するもので、より安価にシェーディング補正を行う手法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサなどのラインセンサやエリアセンサである撮像素子と、レンズを用いた構成において、撮影対象物より反射する光を結像レンズ等を介してセンサ等の撮像素子に入射させ、撮像素子から出力される信号をＡ／Ｄ変換することで、撮影対象物の画像データを得る映像読み取り装置が知られている。このような映像読み取り装置においては、光源やレンズに起因する光量ばらつきによる撮影画像の劣化があることがほとんどである。また、撮像素子の各光電変換セルにおける感度ばらつきも存在する。よって、対象物を精度良く読み取り、正確な撮像結果を得るのは大変困難である。
【０００３】
このため、従来から、この種の映像読み取り装置では、補正用の白フィルムなどを用いて、補正用チャートがセットされた状態で撮影を行い、その結果に基づいて補正値を求め、補正する手法が行われている。
【特許文献１】特開２００２−１８２５１８号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、前述した従来の技術では次のような問題点があった。
【０００５】
補正用チャートを用いた補正を行った場合、大量の画像データを保存しておく必要があるため、多くのメモリを必要とし、コストが増大する、といった問題がある。
【０００６】
また、キャリブレーション後に、レンズや照明系の経時劣化や温度変化などの要因によるシェーディング量の変化、レンズや撮像素子へゴミなどが付着した場合のシェーディング量の変化、さらに、レンズ交換などを行った場合のシェーディング量の変化などを補正する手段はなかった。
【０００７】
本発明は、このような状況のもとでなされたもので、シェーディング量が変化しても補正できる構成にするとともに、多くのメモリを必要せず、安価にシェーディング補正を行うことができる、装置を提供することを課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記課題を解決するため、本出願に係る第１の発明は、記録媒体表面の所定領域内を映像として読み取り、ディジタル情報として出力する手段と、前記記録媒体が移動している際に複数回、もしくは前記記録媒体の異なる位置で複数回、補正用画像を撮影し、前記ディジタル情報から、補正用データを演算により求める補正用データ取得手段と、前記補正用データを記録する記録手段とを有し、前記記録媒体の表面性を読み取るための記録媒体表面画像を撮影し、前記補正用データにより前記記録表面画像を補正する映像読み取り装置において、前記補正用データ取得手段が、補正用画像データを取得ごとに逐一演算し、演算結果のみを前記記録手段に記録することを特徴とする。補正用の映像から逐一演算することで補正用データを求めることから、補正用の映像はすぐに捨てられる。このため、補正用の映像を記録するメモリが不要になる。
【０００９】
本出願に係る第２の発明は、前記映像読み取り装置において、前記記録媒体表面画像のデータを取得するごとに、逐一演算し、演算結果のみを記録することを特徴とする。記録媒体表面画像のデータから逐一演算することで表面性の情報を取得することが可能となり、記録媒体表面画像を記録するメモリが不要となる。
【００１０】
本出願に係る第３の発明は、第１または第２の発明において、前記補正用データと前記記録媒体表面画像との比較により、記録媒体表面の平滑度を測定することを特徴とする、平滑度測定装置である。
【００１１】
本出願に係る第４の発明は、第１〜第３の発明の映像読み取り装置または平滑度測定装置を有する画像形成装置である。画像形成前に映像読み取り装置や平滑度測定装置により記録媒体の判別ができるため、記録媒体に適した画像形成が可能となる。
【発明の効果】
【００１２】
以上に説明したように、本発明によれば、メディアを判別する装置を構成する際にデータを記録するメモリを大幅に減らすことができ、メディア判別装置を搭載する画像形成装置を安価にすることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下本発明を実施するための最良の実施の形態を、実施例により詳しく説明する。
【実施例１】
【００１４】
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。
【００１５】
第１の実施例では、シェーディング測定のデータ量よりも少ないＲＡＭでシェーディング補正する構成について説明する。
【００１６】
図１に、受光素子を備えた映像読み取りセンサのシステムの説明図を示す。ブロックは、映像を撮像するセンサ部、撮影した画像を処理する演算部、補正用に画像データを蓄える記録部からなる。撮影を行うと、センサは受光した光量を光電変換し、ディジタル値として演算部に送信する。演算部が受信した画像データは、演算をしながら、記録部に記録される。その後、目的の画像撮影を行うと、演算部において、センサから出力された画像は先ほど記録した補正用画像と比較され、鮮明な画像を得ることができる。
【００１７】
図２にセンサ部の概略図を示す。センサは光源４１、レンズ４２、ＣＭＯＳエリアセンサ４３、絞りより構成される。ＣＭＯＳエリアセンサの代わりにラインセンサを使うこともできる。また、絞りはなくてもよい。センサは、メディア種類の検出対象である記録媒体４５表面の画像をレンズ４２を介して検出できる位置に配置する。記録媒体４５は搬送ローラ４６で搬送できる構成となっている。このとき搬送方式は搬送ローラ４６を用いなくともよく、例えば、ベルトで搬送する方式も考えられる。
【００１８】
動作は次の通りである。まず、搬送部を駆動させ、記録媒体４５を搬送させる。記録媒体４５は搬送され、トップセンサ４７により、被写体である記録媒体が検出できる位置まで搬送されるタイミングが検出される。
【００１９】
検出できる位置まで記録媒体４５が搬送されたタイミングで、記録媒体４５が動いている間にシェーディング測定を行う。シェーディング測定とは、シェーディング補正するためのデータを取得する測定で、複数のフレーム、例えば４フレーム、の画像を撮影する。後述の演算により、複数のフレームを平均化し、シェーディング補正を行うためのシェーディング補正データを取得する。シェーディング補正データは、ＲＡＭなどのメモリに保持される。記録媒体４５の移動時に撮影することにより、記録媒体４５表面のごみや汚れの影響を小さくすることができる。複数フレームを平均化することにより、さらに表面のごみや汚れの影響小さくし、光学系などに起因するシェーディング成分のみからなるシェーディング補正データを取得することが可能となる。
【００２０】
次に、搬送を止め、記録媒体４５が止まった状態で、メディアを検知するための測定、本測定を行う。本測定は、１フレームの画像の撮影である。最後に、本測定データからシェーディング補正データを引くことで、シェーディング補正を行った画像あるいはデータを得る。
【００２１】
図３は、シェーディング補正演算の概念を説明する図である。６１は本測定を行った際の１ライン分の本測定データである。６２は同じラインのシェーディング補正データ１ライン分である。グラフの横軸はライン方向の位置であり、縦軸は画像のデータ値である。シェーディング補正データ６２はノイズ成分を補正するための基準となる。本測定データ６１からシェーディング補正データ６２を引くことで、補正が行われる。このとき、演算のためオフセットを足したり引いたりしてもよい。
【００２２】
本測定データを補正したデータ１ライン分を波形６３に示す。１ラインの最大値と最小値の差分６４により表面平滑度を測定することができ、メディアの判別が可能となる。実際の計算では、６４を求めるには１ラインの値を記録しておく必要はなく、最小値と最大値さえ記録しておけばよい。
【００２３】
次に図４を用いてＣＭＯＳエリアセンサの回路ブロック図について説明する。
【００２４】
図は、ＣＭＯＳエリアセンサの回路ブロックを示した図である。図中、２０１はＣＭＯＳセンサ部分であり、例えば６４×６４画素分や８×８画素のセンサがエリア状に配置される。２０２および２０３は垂直方向シフトレジスタ、２０４は出力バッファ、２０５は水平方向シフトレジスタ、２０６はシステムクロック、２０７はタイミングジェネレータである。
【００２５】
次に動作について説明する。
【００２６】
Ｓｌ＿ｓｅｌｅｃｔ信号２１３がアクティブになると、ＣＭＯＳセンサ部２０１は受光した光に基づく電荷の蓄積を開始する。蓄積される電荷は、光量と時間にほぼ比例する。次に、システムクロック２０６を与えると、タイミングジェネレータ２０７によって、垂直方向シフトレジスタ２０２および２０３は読みだす画素の列を順次選択し、出力バッファ２０４にデータを順次セットする。
【００２７】
出力バッファ２０４にセットされたデータは、水平方向シフトレジスタ２０５によって、Ａ／Ｄコンバータ２０８ヘと転送される。Ａ／Ｄコンバータ２０８でディジタル変換された画素データは、出力インターフェース回路２０９によって所定のタイミングで制御されて、Ｓｌ＿ｓｅｌｅｃｔ信号２１３がアクティブの期間、２１０のＳｌ＿ｏｕｔ信号に出力される。
【００２８】
一方、制御回路２１１によって、Ｓｌ＿ｉｎ信号２１２よりＡ／Ｄ変換ゲインが可変制御できる。例えば、撮像した画像のコントラストが得られない場合に、不図示のＣＰＵはゲインを変更することで、常に最良なコントラストで撮像することができる。
【００２９】
ＣＭＯＳエリアセンサ１３から、プリンタの制御部へのデータ転送は、シリアル通信またはパラレル通信で行われる。
【００３０】
次に、演算内容の概要を図で説明する。なお、説明を簡単にするために、１フレームが８画素×８画素＝６４画素のＣＭＯＳエリアセンサで撮影した場合を想定して説明する。
【００３１】
図５に、本実施例においてＣＭＯＳエリアセンサで撮影した画像を示す。
【００３２】
まず、用紙などの撮影対象が搬送されて移動中であるときに、シェーディング測定を行い、画像４枚を撮影する。このとき撮影した画像がシェーディング測定データであり、１０２、１０３、１０４、１０５に示す画像である。シェーディング測定データの画像には検出対象についているゴミや、目的としていない情報であるノイズ成分が含まれるため、平均化を行う必要がある。そこで次に、その４枚の撮影画像の平均化を行う。このとき、各補正用画像を２画素×２画素に区切り、それぞれの区切りの平均化後の画像データ、すなわちシェーディング補正データ１０６を得る。このシェーディング補正データ１０６は、撮影対象が変化したのにも関わらず、変化しない成分（シェーディング成分や画素感度ばらつきなど）を表している。以上のような動作を行った上で、撮影したい画像１０１を撮影する。この測定を本測定と呼び、その結果得られた画像１０１は、本測定データと呼ぶことにする。このとき、補正用の画像１０２〜１０５の撮影は、目的の本撮影を行った後でもよい。
【００３３】
本測定データ１０１には、目的の撮影画像のＡという文字と、光学系や照明系などによるシェーディング成分とが一緒に含まれている。本測定データ１０１から、シェーディング補正データ１０６で補正を行うことで、得たい撮影画像であるＡという文字をより鮮明に撮影することができる。画像１０７は補正後の画像である。補正後の画像は、本測定データ１０１からシェーディング補正データ１０６を引くことで得ることができる。
【００３４】
本説明では、分かりやすくするために、Ａという文字を使って説明した。しかし、用紙の種類を判別するときには、Ａという文字ではなく、用紙の表面の凹凸を撮影することになる。
【００３５】
以下、本実施例のシェーディング補正データの演算方法について詳細に説明する。
【００３６】
図６はＣＭＯＳエリアセンサから出力されるシェーディング測定データのアドレスを示す図である。シェーディング測定データは、８画素×８画素からなる。アドレスは２つの数値で（Ａ，Ｂ）のように表され、（Ａ，Ｂ）は、Ａ行Ｂ列の画素を示す。また、ＡとＢは０から７までの整数である。１画素のデータは８ビットのディジタルデータである。
【００３７】
図７は本実施例のＲＡＭのアドレスとシェーディング補正データの対応を示す図である。シェーディング補正データは、４画素×４画素の１６個のデータで構成される。シェーディング測定データの２画素×２画素の平均を演算するため、シェーディング測定データの４分の１の大きさのマトリクスになる。１画素のデータは１２ビットのディジタルデータである。ＲＡＭは、１６個のアドレス０〜Ｆがあり、１アドレス当たり１２ビットのデータである。
【００３８】
図８は、第１の実施例の演算方法を説明する図である。ＣＭＯＳエリアセンサ２０１から８画素×８画素から構成される１画素当たり８ビットのシェーディング測定データが、（０，０）、（０，１）、・・・、（０，７）、（１，１）、（１，２）、・・・、（７，７）の順で演算回路２０８に送信されてくる。すなわち、ｎ番目に送信されるデータは、（ｎ／８，ｎ％８）の画素のデータである。ここで、ｎ／８は、ｎを８で割ったときの商の整数部分を示す。ｎ％８は、ｎを８で割ったときの剰余を示す。演算回路は、各画素のデータを受信するたびに演算しＲＡＭ２１４にアクセスし、データを記録する。
【００３９】
図９に演算のフローチャートを示す。
【００４０】
シェーディング測定が開始（Ｓ１００）されると、演算回路２０２はＲＡＭ２０３をクリアする（Ｓ１０１）。ＲＡＭをクリアすることで、前回の演算の結果を消去できる。次に変数ＦＲＡＭＥに０を代入する（Ｓ１０２）。ＦＲＡＭＥは、シェーディング測定データが何フレーム目かを数える変数である。本実施例では４フレームのシェーディング測定データからシェーディング補正データを演算で取得することになる。次に、演算回路がセンサから１フレームのデータを受信すると、後述する演算を行う（Ｓ１０３）。演算が終わったら、変数ＦＲＡＭＥに１を足し（Ｓ１０４）、変数ＦＲＡＭＥが４になったらシェーディング測定を終了（Ｓ１０６）し、そうでなかったらＳ１０３に戻り、さらに１フレームのシェーディングデータを受信する（Ｓ１０５）。
【００４１】
Ｓ１０３では、前述のようにシェーディング測定データが１画素ごとに順次センサから送信されてくる。
【００４２】
図１０は、１画素のデータを受信したときの演算のフローチャートである。シェーディング測定でセンサが取得した１画素のデータを演算回路が受信を開始し（Ｓ２００）、１画素のデータＰＸを取得する（Ｓ２０１）。次に、取得した画素に相当するＲＡＭアドレスＡＤＲを計算する。取得した画素が（Ａ，Ｂ）の場合、ＡＤＲ＝（Ａ／２）×４＋（Ｂ／２）となる。ここで、「／」は整数の除算を示しており、Ａ／２はＡを２で割ったときの商の整数部分である。Ｂ／２も同様である。ＡＤＲが求まったら、ＲＡＭのアドレスＡＤＲからデータＤＴを読み出す（Ｓ２０３）。ＤＴにＰＸを足した値をＲＡＭのアドレスＡＤＲに書き込む（Ｓ２０４）。以上で、１画素のシェーディングデータの演算が終了する。
【００４３】
前記演算により、ＲＡＭの１つのアドレスに対し、シェーディング測定データ１フレーム当たり４画素の値が足される。例えば、アドレス０には、シェーディング測定データの（０，０）、（０，１）、（１，０）、（１，１）の画素の値が足されることになる。シェーディング測定４フレームでは４画素×４＝１６画素のデータが足される。１画素のデータは８ビットであるので、ＲＡＭのデータ幅（ワード）は１６倍の値が格納できる１２ビット幅である必要がある。
【００４４】
本測定データは、８ビット幅の画像であるため、本測定データからシェーディング補正データを引くときには、ＲＡＭのデータ１の１２ビットのうち、上位の８ビットをシェーディング補正データとする。これは、１６で割ることと等価であり、１６画素の平均と考えることができる。ただし、剰余は切り捨てになる。さらに正確なシェーディング補正データとするには、ＲＡＭのデータに８を足してから上位の８ビットをシェーディング補正データとすればよい。これは７捨８入を意味している。
【００４５】
以上の構成により、センサから送信された１画素ごとのデータをメモリに蓄える必要がなくなる。そのため、４フレームのシェーディング測定のデータからシェーディング補正データを作る場合であっても、４フレーム分のメモリを必要としないため、低コストで構成できる。また、シェーディング補正データは、２画素×２画素ごとの平均となるため、１画素ごとの平均する場合に比べて、メモリ容量を小さくすることができ、コストを下げることができる。
【実施例２】
【００４６】
第２の実施例では、シェーディング補正データのＲＡＭとは別のＲＡＭを持つことで、シェーディング補正データのＲＡＭ容量を小さくする構成について説明する。
【００４７】
図１１は、第２の実施例の演算方法を説明する図である。ＣＭＯＳエリアセンサ３０１から８画素×８画素から構成される１画素当たり８ビットのシェーディング測定データが、（０，０）、（０，１）、・・・、（０，７）、（１，１）、（１，２）、・・・、（７，７）の順で演算回路３０２に送信されてくる。これは第１の実施例と同じである。演算回路３０２は、各画素のデータを受信するたびに演算し、ＲＡＭ３０３とＲＡＭ３０４にアクセスし、データを記録する。ＲＡＭ３０３は、第１の実施例で図７を用いて説明したものと同様の構成をしている。ただし、１画素あたりのビット幅は１０ビットと、第１の実施例よりも２ビット小さくなっている。ＲＡＭ３０４は、計算用の一時保存ＲＡＭであり、１０ビット×４の容量である。アドレスは０〜３である。
【００４８】
４フレームのシェーディング測定データの流れは、第１の実施例で図９のフローチャートを用いて説明した内容と同じである。
【００４９】
図１２は、画素データ演算のフローチャートである。シェーディング測定でセンサが取得した１画素のデータは演算回路に送信され、演算回路が１画素の受信を開始し（Ｓ３０１）、１画素のデータＰＸを取得する（Ｓ３０２）。
【００５０】
次に、取得した画素に相当するＲＡＭ３０３のアドレスＡＤＲ１とＲＡＭ３０４のアドレスＡＤＲ２を演算により求める（Ｓ３０３）。取得した画素が（Ａ，Ｂ）の場合、ＡＤＲ１＝（Ａ／２）×４＋（Ｂ／２）となる。ここで、「／」の意味は、第１の実施例と同じである。また、ＡＤＲ２＝Ｂ％４となる。
【００５１】
ＡＤＲ１とＡＤＲ２が求まったら、変数ｐｌｉｎｅとｐｃｏｌを計算する（Ｓ３０４）。図１３はｐｌｉｎｅとｐｃｏｌを説明する図である。図は、シェーディング測定データをシェーディング補正データの画素で区切って表している。シェーディング測定データの２画素×２画素の太線で区切られた画素が、シェーディング補正データの１画素に相当する。シェーディング補正データの各画素に示されている数値は、（ｐｌｉｎｅ，ｐｃｏｌ）を表している。図を見て分かるように、シェーディング補正データで１画素となる２画素×２画素の中を（行、列）で表したものである。ｐｌｉｎｅ＝Ａ％２であり、ｐｃｏｌ＝Ｂ％２である。
【００５２】
次に、ｐｌｉｎｅ＝０かつｐｃｏｌ＝０であればＳ３０８に進み、そうでなければＳ３０７に進む（Ｓ３０５）。Ｓ３０８では、ＲＡＭ３０４にＰＸを上書きし、終了する。上書きする理由は、このときの画素データは２画素×２画素の最初に送信されてくる画素データであり、４画素の合計を求める演算を行う前に以前のデータを消すためである。
【００５３】
Ｓ３０７では、ＲＡＭ３０４のＡＤＲ２から読み出し、ＤＴに記録する。次に、ｐｌｉｎｅ＝１かつｐｃｏｌ＝１であれば、Ｓ３１１に進み、そうでなければＳ３１０に進む（Ｓ３０９）。
【００５４】
Ｓ３１０では、２画素×２画素の２番目と３番目の画素であるので、２×２画素の合計を計算するために、ＡＤＲ２にＤＴ＋ＰＸを書き込み、演算を終了する。
【００５５】
Ｓ３１１では、２画素×２画素の最後に送信されてくる画素であるので、２画素×２画素の平均として、ＰＸ＋ＤＴを４で割った値をＲＡＭ３０３のアドレスＡＤＲ１の値に足し、演算を終了する。さらに精度を上げるには、（ＰＸ＋ＤＴ＋２）／４の値をＲＡＭ３０３に足してもよい。この場合、１捨２入になり、計算精度が上がる。
【００５６】
本測定データは、８ビット幅の画像であるため、本測定データからＲＡＭ３０３に記録されているシェーディング補正データを引くときには、ＲＡＭのデータ１の１０ビットのうち、上位の８ビットをシェーディング補正データとする。これは、４で割ることと等価であり、４フレームの平均と考えることができる。ただし、剰余は切り捨てになる。さらに正確なシェーディング補正データとするには、ＲＡＭのデータに２を足してから上位の８ビットをシェーディング補正データとすればよい。これは１捨２入を意味している。
【００５７】
以上の構成により、センサから送信された１画素ごとのデータをメモリに蓄える必要がなくなる。そのため、４フレームのシェーディング測定のデータからシェーディング補正データを作る場合であっても、４フレーム分のメモリを必要としないため、低コストで構成できる。また、シェーディング補正データは、２画素×２画素ごとの平均となるため、１画素ごとの平均する場合に比べて、メモリ容量を小さくすることができ、コストを下げることができる。また、第１の実施例に比べてＲＡＭのビット幅を小さくできるため、ＲＡＭ容量を小さくすることができる。
【実施例３】
【００５８】
第３の実施例では、シェーディング補正用データのＲＡＭと演算用にレジスタを持つことで、シェーディング補正用データのＲＡＭ容量を小さくするとともに、演算速度を速める構成について説明する。
【００５９】
図１４は、本実施例の演算方法を説明する図である。ＣＭＯＳエリアセンサ４０１から８画素×８画素から構成される１画素当たり８ビットのシェーディング測定データが、（０，０）、（０，１）、・・・、（０，７）、（１，１）、（１，２）、・・・、（７，７）の順で演算回路３０２に送信されてくる。これは第２の実施例と同じである。演算回路４０２には演算部とレジスタが含まれている。演算回路４０２は、各画素のデータを受信するたびに演算しＲＡＭ４０３にアクセスし、データを記録する。ＲＡＭ４０３は、第２の実施例と同様の構成であり、１画素あたりのビット幅は１０ビットである。
【００６０】
図１５は、本実施例の画素データ演算のフローチャートである。
【００６１】
シェーディング測定でセンサが取得した１画素のデータを演算回路が受信を開始し（Ｓ４０１）、１画素のデータＰＸを取得する（Ｓ４０２）。次に、取得した画素に相当するＲＡＭのアドレスＡＤＲとレジスタの番号を演算により求める（Ｓ４０３）。取得した画素が（Ａ，Ｂ）の場合、ＡＤＲ＝（Ａ／２）×４＋（Ｂ／２）となる。また、レジスタの番号Ｒ＝Ｂ％４となる。
【００６２】
ＡＤＲとＲが求まったら、変数ｐｌｉｎｅとｐｃｏｌを計算する（Ｓ４０４）。ｐｌｉｎｅとｐｃｏｌは、第２の実施例と同様であるので、説明を省く。
【００６３】
次に、ｐｌｉｎｅ＝０かつｐｃｏｌ＝０であればＳ４０６に進み、そうでなければＳ４０７に進む（Ｓ４０５）。Ｓ４０６では、２画素×２画素の最初にデータが送信されてくる画素であるため、レジスタをクリアする意味も含めてレジスタＲにＰＸを上書きし、終了する（Ｓ４１０）。Ｓ４０７では、ｐｌｉｎｅとｐｃｏｌがともに１であればＳ４０８に進み、そうでなければＳ４０９に進む。
【００６４】
Ｓ４０９では、既にレジスタにデータが記録されているため、このデータの値にＤＴを加算し、終了する（Ｓ４１０）。
【００６５】
Ｓ４０８では、レジスタＲには、シェーディング測定データのうち、次の３つのデータの和が記録されている。（ｐｌｉｎｅ＝０、ｐｃｏｌ＝０）、（ｐｌｉｎｅ＝０、ｐｃｏｌ＝１）、（ｐｌｉｎｅ＝１、ｐｃｏｌ＝０）。また、Ｓ４０８では（ｐｌｉｎｅ＝１、ｐｃｏｌ＝１）のデータがＤＴに記録されている。すなわち、レジスタＲの値とＤＴを足した値が、４画素の合計となる。そこで、レジスタＲの値＋ＤＴを４で割った値を４画素の平均値としてＲＡＭアドレスＡＤＲに加算し終了する（Ｓ４１０）。
【００６６】
本測定データは、８ビット幅の画像であるため、本測定データからＲＡＭ４０３に記録されているシェーディング補正データを引くときには、ＲＡＭのデータ１の１０ビットのうち、上位の８ビットをシェーディング補正データとする。これは、４で割ることと等価であり、４フレームの平均と考えることができる。
【００６７】
次に、本測定データから、記録媒体（メディア）の判別をする方法を述べる。
【００６８】
紙などの記録媒体の表面の凹凸が大きい場合は、凸凹が小さい場合と比べて、画像のコントラストが高くなる。コントラストは検出結果の最大値と最小値の差を演算することにより算出することが出来る。よって最大値と最小値の差を算出することにより、表面の凹凸の大きさを検出することが出来る。これには、本測定データからシェーディング補正データを引いた値の最大値と最小値を記録しておくことで最大値と最小値を求めることができる。
【００６９】
また、記録媒体の表面の凹凸の幅は、画像を２値化し、そのエッジの数を数えることにより、算出することができる。２値化の閾値はシェーディング補正データとすることができる。
【００７０】
以上のように、コントラストと凹凸の幅を求め、その値から表面状態が分かり、その結果メディアを判別できる。その際に使う数値は、センサから送信される１画素のデータとシェーディング補正データを比較することで得ることができる。メディアにより、画像形成条件を変えることにより、より高品質の画像を得ることが可能となる。
【００７１】
コントラストは、本測定の１画素のデータからシェーディング補正データを引き、それまでに記録されている最大値よりも大きければ最大値を更新し、それまでに記録されている最小値よりも小さければ最小値を更新することで、本測定データを保持する必要はなく、１画素の演算が終わるごとに本測定データを捨てることができる。
【００７２】
凹凸の幅は、本測定の１画素のデータからシェーディング補正データを引き、その値が負から正に変わる回数を数えればよい。この場合、本測定データを保持しておく必要はなく、１画素の演算が終わるごとに本測定データを捨てることができる。すなわち、本測定データ保持用には１画素分のメモリさえ持てばよく、１フレーム分のメモリを持つ場合に比べて大幅な低コスト化が可能である。
【００７３】
以上の構成により、センサから送信された１画素ごとのデータをメモリに蓄える必要がなくなる。そのため、４フレームのシェーディング測定のデータからシェーディング補正データを作る場合であっても、４フレーム分のメモリを必要としないため、低コストで構成できる。また、本測定データも１フレーム分のメモリを持つ必要がないため、低コストで構成できる。また、第２の実施例に比べて、ＲＡＭのアクセスが減るため、高速に演算できる。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】第１の実施例における映像読み取り装置の概略構成図
【図２】センサ部の概略構成図
【図３】シェーディング補正の演算概念を説明する図
【図４】第１の実施例におけるＣＭＯＳエリアセンサの回路ブロック図
【図５】第１の実施例のＣＭＯＳエリアセンサで撮影した画像および演算結果を示す図
【図６】ＣＭＯＳエリアセンサから出力されるシェーディング測定データのアドレスを示す図
【図７】第１の実施例のＲＡＭのアドレスとシェーディング補正データの対応を示す図
【図８】第１の実施例の演算方法を説明する図
【図９】第１の実施例のシェーディング測定時の演算のフローチャート
【図１０】第１の実施例のシェーディング測定時の画素データ演算のフローチャート
【図１１】第２の実施例の演算方法を説明する図
【図１２】第２の実施例の画素データ演算のフローチャート
【図１３】ｐｌｉｎｅとｐｃｏｌを説明する図
【図１４】第３の実施例の演算方法を説明する図
【図１５】第３の実施例の画素データ演算のフローチャート
【符号の説明】
【００７５】
４１  光源
４２  レンズ
４３  ＣＭＯＳエリアセンサ
４５  記録媒体
１０１  本測定で撮影した画像
１０２〜１０５  シェーディング測定で撮影した画像
１０６  シェーディング補正データ
１０７  シェーディング補正を行った画像
２０１、３０１、４０１  エリアセンサ
２０８、３０２、４０２  演算回路
２１４、３０３、３０４、４０３  ＲＡＭ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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