(57)【要約】【課題】  ホログラフィック記録を利用した光情報再生装置において、再生エラーを少なくする。【解決手段】  ディスクＤの記録層に干渉縞として記録された光情報を再生する光情報再生装置であって、光情報の再生に使用するレーザ光線Ｂ１を発するレーザ装置２１と、レーザ光線Ｂ１をディスクＤ上の干渉縞に集光するミラーＭ２，レンズＬ３と、ディスクＤにレーザ光線を照射して発生した回折光Ｂ６を受光して電気信号に変換する光検出器３１と、光検出器３１が出力した電気信号に基づき、情報をデコードする信号処理回路４０と、光検出器３１が出力した電気信号に基づき、レーザ装置２１が発するレーザ光線Ｂ１の波長を調整する波長調整回路であるコントローラ５０とを備えて構成する。【選択図】      図１
2005044448.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光情報記録媒体の記録層に干渉縞として記録された光情報を再生する光情報再生装置であって、
光情報の再生に使用するレーザ光線を発するレーザ装置と、
前記レーザ光線を光情報記録媒体上の干渉縞に集光する集光光学系と、
前記光情報記録媒体に前記レーザ光線を照射して発生した回折光を受光して電気信号に変換する光検出器と、
前記光検出器が出力した電気信号に基づき、情報をデコードする信号処理回路と、
前記光検出器が出力した電気信号に基づき、前記レーザ装置が発するレーザ光線の波長を調整する波長調整回路と
を備えることを特徴とする光情報再生装置。
【請求項２】
前記波長調整回路は、前記光検出器が検出した光の強度に基づき、その強度が大きくなるように前記レーザ光線の波長を調整するよう構成されたことを特徴とする請求項１に記載の光情報再生装置。
【請求項３】
前記波長調整回路は、前記信号処理回路がデコードした情報から、エラーレートを演算するエラーレート演算部を有し、このエラーレート演算部が演算したエラーレートが小さくなるように前記レーザ光線の波長を調整するよう構成されたことを特徴とする請求項１に記載の光情報再生装置。
【請求項４】
前記レーザ装置は、発信器としての半導体レーザ素子を有し、
この半導体レーザ素子には、温度制御手段が設けられ、
前記波長調整回路は、前記温度制御手段に加熱又は冷却の信号を付与することによりレーザ光線の波長を調整するよう構成されたことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の光情報再生装置。
【請求項５】
前記レーザ装置は、レーザ光線の波長を変換する波長変換デバイスと、この波長変換デバイスに設けられた温度制御手段を有し、
前記波長調整回路は、前記温度制御手段に加熱又は冷却の信号を付与することによりレーザ光線の波長を調整するよう構成されたことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の光情報再生装置。
【請求項６】
前記レーザ装置は、レーザ光線の波長を変換する波長変換デバイスと、この波長変換デバイスに掛かる圧力を変える圧力制御手段とを有し、
前記波長調整回路は、前記圧力制御手段に加圧又は減圧の信号を付与することによりレーザ光線の波長を調整するよう構成されたことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の光情報再生装置。
【請求項７】
前記温度制御手段は、ペルチエ素子であることを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の光情報再生装置。
【請求項８】
前記圧力制御手段は、ピエゾ素子であることを特徴とする請求項６に記載の光情報再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ホログラフィを利用して光情報記録媒体に情報を記録する光情報再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報を高密度に記録する技術として、ホログラフィを利用した情報記録装置（光情報再生装置）が開発されている。ホログラフィック記録は、一般的に、イメージ情報を持った光と参照光とを記録媒体の内部で重ね合わせ、そのときにできる干渉縞を記録媒体に記録することによって行われる。記録された情報を再生する時には、その記録媒体に参照光を照射して、干渉縞で光を回折させてイメージ情報を再生する。
【０００３】
従来のホログラフィック記録の方法として、２枚の透明基板の間に光情報を記録する光情報記録層を介設してなる記録媒体を用いる方法が知られている。この方法では、記録媒体に参照光及び情報を担持させた情報光を所定の角度で照射して、光情報記録層中に参照光と情報光の干渉によって干渉縞を生じさせる。そして、この干渉縞を、光情報記録層の構成成分の物理的または化学的な変化として記録する。光情報記録層に記録された情報の再生は、参照光を記録媒体に照射して、光情報記録層の干渉縞で参照光を回折、干渉させ、記録時と同様の情報を有する再生光を生成し、これを読み取ることにより行われる。
【０００４】
また、ＣＤ(Compact Disc)やＤＶＤ(Digital Video Disk)のように、２枚の透明基板の間に光情報を記録する光情報記録層を介設し、さらに、片側の透明基板の外側に反射層を設けた記録媒体を用いる方法も用いられてきた。この方法では、反射層とは反対側から参照光と情報を担持させた情報光を照射して、光情報記録層中に参照光と情報光の干渉によって干渉縞を生じさせる。情報の再生は、上述と同様の方法によって行われるが、再生光の読み取りも反射層の反対側で行われる。
【０００５】
ところで、ホログラフィック記録では、使用するレーザ光線の波長が、記録時と再生時でずれることで、再生出力が急激に悪化する。図１３は、波長のずれによる再生出力の変化を示すグラフであり、横軸に波長のずれを対数で示し、縦軸に信号レベルを相対強度で示している。図１３に示すように、反射型の場合には、波長のずれが０．１ｎｍ付近で信号レベルが急激に悪化し、透過型の場合でも、波長のずれが１ｎｍ付近で信号レベルが急激に悪化する。
【０００６】
一方、レーザ光線の波長は、発信器の温度などにより、必ずしも一定にならない。そのため、一つの光情報再生装置でも、記録時と再生時でレーザ光線の波長にずれが生じる可能性がある。また、記録時の光情報再生装置と再生時の装置とが別な場合には、波長にずれが生じる可能性はさらに大きくなる。
したがって、従来の光情報再生装置では、記録時と再生時の波長のずれにより、信号レベル（出力）が低くなり、情報の再生エラーが発生する可能性が高くなるおそれがあった。
【０００７】
このようなことから、ホログラム記録再生装置において、半導体レーザの温度と注入電流を安定化する方法が発明されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平８−２０２２４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、前記した半導体レーザの制御では、記録時と再生時の波長のずれが考慮されていないため、信号レベル（出力）が低下し、情報の再生エラーが発生する可能性があるという問題が残されていた。
このような背景から、本発明がなされたものであって、本発明は、情報の再生エラーを低減することができる光情報再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記した課題を解決するため本発明は、光情報記録媒体の記録層に干渉縞として記録された光情報を再生する光情報再生装置であって、光情報の再生に使用するレーザ光線を発するレーザ装置と、前記レーザ光線を光情報記録媒体上の干渉縞に集光する集光光学系と、前記光情報記録媒体に前記レーザ光線を照射して発生した回折光を受光して電気信号に変換する光検出器と、前記光検出器が出力した電気信号に基づき、情報をデコードする信号処理回路と、前記光検出器が出力した電気信号に基づき、前記レーザ装置が発するレーザ光線の波長を調整する波長調整回路とを備えることを特徴とする。
【００１０】
このような光情報再生装置によれば、光検出器が出力した電気信号に基づいて、レーザ装置が発するレーザ光線の波長が調整される。つまり、記録された情報を再生し、再生された情報の信号に応じて波長を合わせるので、光情報記録媒体に記録したときの波長に合った良好な条件で情報を再生することができる。
【００１１】
なお、記録時は、レーザ光線の波長を調整する必要はなく、レーザ装置のレーザの波長を一定に制御するように構成しても良い。例えば、レーザ装置の発信器の温度を測定する温度センサと、温度センサが測定した温度に応じて、発信器を加熱・冷却する温度制御装置を設けるように構成することができる。
【００１２】
また、前記波長調整回路は、前記光検出器が検出した光の強度に基づき、その強度が大きくなるように前記レーザ光線の波長を調整するように構成するのが望ましい。
【００１３】
ホログラフィック記録では、記録時と再生時の波長にずれが生じると、受光器で受光する光量が低下する。しかし、本発明の光情報再生装置では、光検出器で検出する光量が大きくなるようにレーザ光線の波長が制御される。そのため、ＳＮ比が向上する結果、信号再生のエラーレートを小さくすることができる。
【００１４】
若しくは、前記波長調整回路は、前記信号処理回路がデコードした情報から、エラーレートを演算するエラーレート演算部を有し、このエラーレート演算部が演算したエラーレートが小さくなるように前記レーザ光線の波長を調整するように構成することもできる。
【００１５】
このような光情報再生装置では、最終的なエラーレートを監視して、エラーレートが小さくなるように波長を調整するので、光情報再生装置の信頼性をさらに向上させることができる。
【００１６】
また、前記した光情報再生装置において、前記レーザ装置は、発信器としての半導体レーザ素子を有し、この半導体レーザ素子には、温度制御手段が設けられ、前記波長調整回路は、前記温度制御手段に加熱又は冷却の信号を付与することによりレーザ光線の波長を調整するように構成する。
【００１７】
このようにレーザ装置の発信器として半導体レーザ素子を用いた場合には、発信器の温度によって、レーザ光線の波長が変化することから、温度制御装置で半導体レーザ素子の温度を調整することで、レーザ光線の波長を調整することができる。
【００１８】
また、前記した測定器において、前記レーザ装置は、レーザ光線の波長を変換する波長変換デバイスと、この波長変換デバイスに設けられた温度制御手段を有し、前記波長調整回路は、前記温度制御手段に加熱又は冷却の信号を付与することによりレーザ光線の波長を調整するように構成する。
【００１９】
このように、波長変換デバイスの温度を温度制御手段で調整することで、波長変換デバイスから出力されたレーザ光線の波長を調整することができる。
【００２０】
さらに、前記レーザ装置は、レーザ光線の波長を変換する波長変換デバイスと、この波長変換デバイスに掛かる圧力を変える圧力制御手段とを有し、
前記波長調整回路は、前記圧力制御手段に加圧又は減圧の信号を付与することによりレーザ光線の波長を調整するように構成する。
【００２１】
また、前記温度制御手段としては、ペルチエ素子を利用でき、前記圧力制御手段としては、ピエゾ素子を利用することができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、データの再生エラーを少なくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
次に、適宜図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
［第１実施形態］
参照する図において、図１は、本発明の光情報再生装置の一例である、透過型ホログラフィック情報記録再生装置の斜視図であり、図２は、透過型ホログラフィック情報記録再生装置の模式図である。
図１に示すように、透過型ホログラフィック情報記録再生装置（以下、単に「情報記録再生装置」という。）１は、光情報記録ディスク（光情報記録媒体）Ｄ（以下、単に「ディスクＤ」という。）を回転駆動させるモータ１０と、レーザ光線をディスクＤへ照射する照射部２０と、ディスクＤを透過した光を受光する受光部３０と、信号処理回路４０と、コントローラ５０とを備えて構成されている。
【００２４】
ディスクＤは、２枚の透明基板の間に、ホログラム情報を記録する光情報記録層（以下、単に「記録層」という。）が介設されて構成されている（図示せず）。
【００２５】
モータ１０は、回転するスピンドル１１を有し、スピンドル１１の先端には、ディスクＤを、ディスクＤの中央に形成された孔Ｄ１で係止するチャック１２が設けられている。
【００２６】
照射部２０は、主として、レーザ装置２１と、ビームスプリッタ２２と、空間光変調器２３とを備えて構成される。
レーザ装置２１は、図１において、ディスクＤの下方に、かつスピンドル１１の中心軸（ディスクＤの中心）から所定距離オフセットして、ディスクＤの半径方向と平行にレーザ光線を発するように配置されている。レーザ装置２１は、図３に示すような半導体レーザ２１０を内部に有している。そして、半導体レーザ２１０は、発信器として半導体レーザ素子２１１を有している。半導体レーザ素子２１１には、温度制御手段としてのペルチエ素子２１２が、半導体レーザ素子２１１に密着して設けられている。また、半導体レーザ２１０には、温度センサ２１３が密着して設けられている。温度センサ２１３は、コントローラ５０と接続され、検出した温度信号をコントローラ５０へ出力している。
【００２７】
レーザ装置２１が発したレーザ光線（以下、単に「光線」ともいう。）Ｂ１の光路上には、光線Ｂ１を平行光線にするコリメータレンズＬ１、波長板(wave plate)２４、ミラーＭ１が設置されている。
ミラーＭ１は、光線Ｂ１をディスクＤと平行に、かつ垂直に光線Ｂ１を反射して光線Ｂ２を発するように配置されている。
【００２８】
ビームスプリッタ２２は、光線Ｂ２の光路上に設置され、図１に示すように、光線Ｂ２を、直進する参照光Ｂ３と、ビームスプリッタ２２内で反射して角度を変えられた情報光Ｂ４とに分ける。ビームスプリッタ２２は、例えば２つのプリズムを僅かな間隔で向き合わせて構成されている。
【００２９】
空間光変調器（ＳＬＭ：Spatial Light Modulator）２３は、図４に示すように、入力されたデジタルデータを、２次元の格子状のパターンとして表示する素子であり、例えば、光を通す格子点２３ａを「１」、光を通す格子点２３ｂを「０」といったオン・オフの情報を格子状に配列する。空間光変調器２３は、ビームスプリッタ２２で分離された情報光Ｂ４の光路上に配設され、前記した格子状のパターンにより、情報光Ｂ４の断面にパターンとして情報を表現する。
また、情報光Ｂ４の光路上で、空間光変調器２３の次には、ディスクＤの記録層に情報光Ｂ４を集光するレンズＬ２が配設されている。
【００３０】
情報光Ｂ４がディスクＤの記録層上で集光した位置と同じ位置で参照光Ｂ３（Ｂ５）を集光させるため、参照光Ｂ３の光路上には、ミラーＭ２と、レンズＬ３が配設されている。レンズＬ３は、参照光Ｂ３がミラーＭ２で反射された後の参照光Ｂ５の光路上に設けられている。
そして、前記信号光Ｂ４と参照光Ｂ５が、ディスクＤの記録層上で干渉して、スポット状の干渉縞Ｓとして光情報が記録される。
なお、ミラーＭ２及びレンズＬ３が特許請求の範囲にいう集光光学系に相当する。
【００３１】
前記したミラーＭ１，ビームスプリッタ２２、ミラーＭ２、空間光変調器２３、及びレンズＬ２，Ｌ３は、スライダ２５に固定されている。そして、スライダ２５は、ディスクＤの半径方向と平行なスライダレール２６に対しスライド可能に係合されている。照射部２０には、スライダ２５を移動させるアクチュエータ２７（図２参照）が設けられ、アクチュエータ２７によりスライダ２５をスライドレール２６に沿って移動することで、ディスクＤの半径方向の干渉縞Ｓの記録位置が変化できるようになっている。なお、アクチュエータ２７は、コントローラ５０により制御される。
【００３２】
受光部３０は、ディスクＤを透過して出てきた回折光Ｂ６の光路上に配設されたレンズＬ４と、その後に配設された光検出器３１とを備えて構成されている。
レンズＬ４は、ディスクＤを透過した回折光Ｂ６を平行にするコリメータレンズである。
光検出器３１は、例えば、格子状の受光画素を有するＣＣＤ(Charge-Coupled Device)などにより構成される。光検出器３１は、各受光画素で受光した光の強さを電気信号に変換して信号処理回路４０へ出力する。図２に示すように、受光部３０には、光検出器３１及びレンズＬ４を動かすアクチュエータ３２が設けられている。アクチュエータ３２は、アクチュエータ２７と同様に、コントローラ５０により制御される。光検出器３１が回折光Ｂ６を確実に受光できるように、スライダ２５と受光部３０とは、アクチュエータ２７，３２により一体に移動される。
【００３３】
信号処理回路４０は、光検出器３１が検出した出力データをデコードし、ディスクＤの干渉縞Ｓに記録された情報を再生する回路である。
信号処理回路４０は、再生された情報を出力するためコントローラ５０と接続され、また、情報を出力するため外部の機器（図示せず）と接続されている。
【００３４】
図５は、コントローラ５０のブロック図である。
コントローラ５０は、図５に示すように、アクチュエータ駆動部５１と、レーザ装置駆動部５２と、エラーレート演算部５３と、注入電流制御部５４とを有する。なお、コントローラ５０は、特許請求の範囲にいう波長調整回路に相当する。
【００３５】
アクチュエータ駆動部５１は、ディスクＤ上の記録、再生のアドレスに応じて、アクチュエータ２７，３２を駆動する信号を出力する部分である。
【００３６】
レーザ装置駆動部５２は、アクチュエータ駆動部５１の動作と同期して、レーザ装置５２からレーザ光線Ｂ１を照射させるため、所定のタイミングでパルス信号を発生する部分である。
【００３７】
エラーレート演算部５３は、信号処理回路４０から入力されたデータの信号に基づき、再生信号中のエラーレートを公知の方法で演算し、注入電流制御部５４へ出力する部分である。
【００３８】
注入電流制御部５４は、エラーレート演算部５３から入力されたエラーレートに基づき、このエラーレートが小さくなるように、ペルチエ素子２１２に電流を注入する部分である。エラーレートを小さくするため、注入電流制御部５４は、過去の注入電流とエラーレートの関係を記憶しており、この履歴を参照して次の注入電流を決定する。
また、注入電流制御部５４は、情報記録時にレーザ装置２１が発するレーザ光線の波長を一定にするため、半導体レーザ素子２１１の温度を一定にするよう、ペルチエ素子２１２に注入する電流を制御する。すなわち、注入電流制御部５４は、温度センサ２１３が検出した温度信号が入力されて、この温度が予め決められた一定の温度より高ければ、吸熱するように、低ければ発熱するようにペルチエ素子２１２に注入する電流値を決定する。
【００３９】
以上のような構成の情報記録再生装置１は、次のように動作する。
まず、情報をディスクＤに記録するときには、空間光変調器２３にデータ（情報）を入力して、空間光変調器２３上に２次元パターンに変調したデータが表示される。同時に、アクチュエータ駆動部５１は、ディスクＤ上の書き込むべきアドレスに応じてアクチュエータ２７，３２を駆動して、照射部２０及び受光部３０の位置を制御する。そして、レーザ装置駆動部５２によりレーザ装置２１からレーザ光線を発するパルスを発生し、レーザ装置２１からレーザ光線Ｂ１が照射される。
レーザ光線Ｂ１は、ミラーＭ１により反射した後（光線Ｂ２）、ビームスプリッタ２２により情報光Ｂ４と参照光Ｂ３に分けられる。情報光Ｂ４は、空間光変調器２３を通過して、前記した２次元パターンに応じた断面の光束となり、レンズＬ２で集束されて、ディスクＤの記録層でほぼ一点に集光される。
【００４０】
一方、参照光Ｂ３は、ミラーＭ２で反射した後（参照光Ｂ５）、レンズＬ３で集束されてディスクＤの記録層でほぼ一点に集光される。
そして、図６に示すように、ディスクＤの記録層上で情報光Ｂ４と参照光（Ｂ５）とが干渉して干渉縞を形成し、記録層内に干渉縞を記録する。
【００４１】
この際、温度センサ２１３は、半導体レーザ素子２１１の温度を測定し、コントローラ５０の注入電流制御部５４に出力する。そして、注入電流制御部５４が、予め設定された一定の温度になるように、ペルチエ素子２１２に注入する電流値を決定して流す。
そのため、半導体レーザ素子２１１の温度は、常に決められた一定の温度に維持され、半導体レーザ素子２１１から照射されるレーザ光線Ｂ１は一定の波長に維持される。
したがって、ディスクＤの記録層上に、規定の条件で正確に干渉縞を記録することができる。
【００４２】
次に、ディスクＤに記録された情報を再生する場合について説明する。
情報を再生する場合には、空間光変調器２３に、光を通さなくする信号を入力して、情報光Ｂ４を遮断する。もしくは、機械的なシャッターにより、情報光Ｂ４を遮断してもよい。
【００４３】
そして、情報を記録するときと同様に、アクチュエータ２７，３２を駆動して、ディスクＤ上の再生位置のアドレスに照射部２０及び受光部３０を位置合わせするとともに、レーザ装置２１からレーザ光線Ｂ１を照射させる。レーザ光線Ｂ１は、ミラーＭ１で反射して（光線Ｂ２）、ビームスプリッタ２２を通過し（参照光Ｂ３）、さらに、ミラーＭ２で反射して（参照光Ｂ５）、レンズＬ３で集束されて、干渉縞Ｓでほぼ一点に集光される。
【００４４】
干渉縞Ｓに参照光Ｂ５が照射されると、図７に示すように、干渉縞Ｓで参照光Ｂ５が回折し、記録時と同様の状態で、ディスクＤの反対側（図１における上側）に透過する（回折光Ｂ６）。つまり、回折光Ｂ６は、記録時の情報光Ｂ４と同じ断面のパターンを有している。透過した回折光Ｂ６は、レンズＬ４により平行光になった後、光検出器３１に入る。
光検出器３１では、回折光Ｂ６の断面のパターンを受光して、そのパターンの各画素の光強度を電気信号にして信号処理回路４０へ出力する。
信号処理回路４０では、光検出器３１から入力された電気信号をデコードして、外部機器へ再生された信号として出力するとともに、コントローラ５０のエラーレート演算部５３へ、レーザ装置２１の制御用の信号として出力する。
【００４５】
エラーレート演算部５３は、信号処理回路４０から入力された信号から、公知の方法でエラーレートを演算し、注入電流制御部５４へ出力する。
注入電流制御部５４は、エラーレート演算部５３から入力されたエラーレート、及び蓄積している過去のエラーレートと注入電流の関係から、エラーレートが小さくなるように、次の注入電流値を決定した上、その電流値でペルチエ素子へ電流を供給する。
ペルチエ素子２１２は、注入された電流に応じて発熱又は吸熱して、半導体レーザ素子２１１の温度を制御する。
【００４６】
このようにして、本実施形態の情報記録再生装置１は、ディスクＤに記録された情報を再生するときのエラーレートに応じて、エラーレートが小さくなるように半導体レーザ素子２１１の温度を制御する。したがって、ディスクＤに記録したときのレーザ光線の波長に関わらず、最適な波長の条件で情報を再生することができる。例えば、他の情報記録再生装置でディスクＤに情報を記録した場合には、微妙に異なる波長のレーザ光線で情報が記録される可能性があるが、本実施形態の情報記録再生装置１で再生することにより、再生エラーを少なくすることができる。
【００４７】
［第２実施形態］
次に、本発明の第２実施形態について説明する。
本実施形態では、第１実施形態と同様の部分については、同じ符合を付して詳細な説明を省略する。
図８に示す情報記録再生装置１Ａは、第１実施形態と異なり、再生時に半導体レーザ素子２１１の温度を制御するのではなく、圧力を制御することにより、レーザ光線Ｂ１の波長を制御する。また、情報の再生時にエラーレートを小さくするように制御するのではなく、光検出器３１で検出する信号の強度を大きくするように波長を制御する。
【００４８】
図９に示すように、半導体レーザ２１０Ａは、半導体レーザ２１０と同様に、半導体レーザ素子２１１と、ペルチエ素子２１２と、温度センサ２１３を有するとともに、ピエゾ素子２１５を有する。ピエゾ素子２１５は、印加電圧に応じて厚みが変わる素子である。ピエゾ素子２１５は、半導体レーザ２１０Ａのフレーム２１７との間で、半導体レーザ素子２１１を挟み込み、圧力をかけられる状態で設けられている。
【００４９】
また、コントローラ５０Ａは、図１０に示すように、エラーレート演算部５３に代えて、印加電圧制御部５５を有する。また、注入電流制御部５４Ａは、情報記録時に半導体レーザ素子２１１の温度を一定にする制御をするのみで、再生時には、温度制御を行わない。
【００５０】
信号処理回路４０Ａは、光検出器３１から入力された各画素での受光強度から、デコードしたデータを生成して外部機器へ出力するとともに、受光器の画素が検出した光の強度分布から、受光状態の評価用の信号（受光評価用信号）を印加電圧制御部５５へ出力する。受光評価用信号は、たとえば、光検出器３１の各画素が受光した光の強度を順に並べた信号とすることができる。
【００５１】
印加電圧制御部５５は、信号処理回路４０Ａから、受光評価用信号を入力される。そして、この信号の強度の強弱の差が大きくなるようにピエゾ素子２１５への印加電圧を決定し、ピエゾ素子２１５に電圧を印加する。なお、印加電圧の決定のため、印加電圧制御部５５は、過去の印加電圧と、受光評価用信号との関係を記憶している。
【００５２】
このような情報記録再生装置１Ａは、次のように動作する。
まず、データを記録するときには、情報記録再生装置１と同様に、温度センサ２１３で温度を測定しながら、半導体レーザ素子２１１を一定の温度に制御しつつ、レーザ装置２１からレーザ光線Ｂ１を発してデータをディスクＤに記録する。
【００５３】
そして、ディスクＤに記録されたデータを再生するときには、信号処理回路４０Ａが、光検出器３１の受光画素が受光した光の強度分布から、受光強度を順に並べて受光評価用信号をコントローラ５０Ａの印加電圧制御部５５へ出力する。
印加電圧制御部５５は、入力された受光評価用信号に基づき、記憶している過去の受光評価用信号と印加電圧との関係を参照して、受光した光強度の強弱の差が大きくなるように、つまり受光評価用信号の強弱が大きくなるように、次の印加電圧を決定し、ピエゾ素子２１５に電圧を印加する。
ピエゾ素子２１５は、印加された電圧に基づき厚みが変化し、半導体レーザ素子２１１にかける圧力を高くし、又は低くする。
半導体レーザ素子２１１は、圧力の変化に応じ、発信波長が変化する。
ディスクＤに干渉縞Ｓを記録したときのレーザ光線Ｂ１の波長と、再生時のレーザ光線Ｂ１の波長がずれているときには、干渉縞Ｓによる回折が記録時と異なる状態で起こり、正確に再生されないが、このように、半導体レーザ素子２１１にかける圧力を制御することで、記録された干渉縞に応じた適切な波長でレーザ光線Ｂ１が照射され、データの再生エラーを少なくすることができる。
【００５４】
［第３実施形態］
次に、本発明の第３実施形態について説明する。
参照する図において、図１１は、第３実施形態に係る情報記録再生装置１Ｂの模式図であり、図１２は、第３実施形態のレーザ装置に使用される半導体レーザの破断斜視図である。なお、本実施形態において、第１実施形態と同じ部分は同じ符合を付して詳細な説明を省略する。
図１１に示すように、第３実施形態の情報記録再生装置１Ｂは、第１実施形態の情報記録再生装置１に対し、レーザ装置２１がレーザ装置２１Ｂに置き換わっている点が異なる。
【００５５】
レーザ装置２１Ｂは、図１２に示すような半導体レーザ２１０Ｂを有する。半導体レーザ２１０Ｂは、半導体レーザ素子２１１と、半導体レーザ素子２１１が発する光路上に設けられた波長変換デバイス２１６とを有する。
【００５６】
波長変換デバイス２１６は、半導体レーザ素子２１１が発したレーザ光線Ｂ１の波長を短く変える素子で、第２高調波発生（ＳＨＧ：Second Harmonic Generation）や第３高調波発生（ＴＨＧ：Third Harmonic Generation）を生ずるデバイスを使用することができる。二次の非線形光学効果（ＳＨＧ）を有する材料としては、例えば、ＬｉＮｂＯ３、ＫＮｂＯ３、ＫＴｉＯＰＯ４、Ｂａ２ＮａＮｂ５Ｏ１５、ＫＨ２ＰＯ４、及びＫＤ２ＰＯ４などがある。
【００５７】
波長変換デバイス２１６には、温度センサ２１３とペルチエ素子２１２が密着して設けられている。温度センサ２１３が検出した温度は、コントローラ５０に出力するようコントローラ５０と温度センサ２１３が接続されている。なお、コントローラ５０は、第１実施形態と同じものである。ペルチエ素子２１２は、コントローラ５０の注入電流制御部５４により制御される。
【００５８】
以上のような構成の情報記録再生装置１Ｂは、第１実施形態の場合と同様にして、温度センサ２１３が検出した温度が一定になるようにペルチエ素子２１２に注入する電流が注入電流制御部５４により制御される。そのため、一定の割合で波長の変換が行われつつ、干渉縞Ｓが記録される。
【００５９】
そして、記録されたデータを再生するときには、注入電流制御部５４が、エラーレート演算部５３が演算したエラーレートに基づいて、エラーレートが小さくなるように、次の注入電流値を決定し、ペルチエ素子２１２に電流を注入する。
ペルチエ素子２１２は、注入された電流に応じて発熱又は吸熱して、波長変換デバイス２１６の温度を調整する。そして、波長変換デバイス２１６の温度が調整されることで、波長変換デバイス２１６での波長の変換割合が変化し、エラーレートが小さくなるようにレーザ光線Ｂ１の波長が調整される。
【００６０】
したがって、ディスクＤに干渉縞Ｓを記録したときのレーザ光線Ｂ１の波長と、再生時のレーザ光線Ｂ１の波長がずれているときには、干渉縞Ｓによる回折が記録時と異なる状態で起こり、正確に再生されないが、本実施形態のように、波長変換デバイス２１６の温度を制御することで、レーザ光線Ｂ１の波長を調整し、記録された干渉縞に応じた適切な波長でレーザ光線Ｂ１が照射され、データの再生エラーを少なくすることができる。
【００６１】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず適宜変更して実施することが可能である。例えば、実施形態では、透過型のホログラフィック記録方法を例にして説明したが、反射型のホログラフィック記録方法でも同様に適用することができる。また、レーザ装置２１に半導体レーザ２１０を使用するものを例にしたが、半導体レーザではなく、他の方式のレーザに波長変換器２１６を設け、波長変換器２１６の温度を制御することでレーザ光線Ｂ１の波長を調整するように構成しても良い。
【００６２】
また、実施形態では、波長を常に調整する場合で説明したが、必ずしもその必要はなく、例えば、記録媒体（ディスクＤ）を交換する度や、記録媒体上の書込ブロックが新しくなる度に行うように構成することもできる。また、回折光量やエラーレートが所定の値より悪化した場合にのみ、波長の調整を行うように構成することもできる。このように、波長を調整する制御を行う回数を適宜減らすことで、処理速度が上がり、データアクセス速度を高くすることができる。
【００６３】
さらに、実施形態では、ディスク型の記録媒体を例にしたが、テープ型の光情報記録媒体を用いることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】透過型ホログラフィック情報記録再生装置の斜視図である。
【図２】透過型ホログラフィック情報記録再生装置の模式図である。
【図３】半導体レーザの破断斜視図である。
【図４】空間光変調器に表示されたデータの一例を示す図である。
【図５】コントローラのブロック図である。
【図６】データの記録を説明する、ディスクＤ近傍の拡大図である。
【図７】データの再生を説明する、ディスクＤ近傍の拡大図である。
【図８】第２実施形態に係る情報記録再生装置の模式図である。
【図９】第２実施形態に係る半導体レーザの破断斜視図である。
【図１０】第２実施形態に係るコントローラのブロック図である。
【図１１】第３実施形態に係る情報記録再生装置の模式図である。
【図１２】第３実施形態に係る半導体レーザの破断斜視図である。
【図１３】波長のずれと、信号レベルの関係を示すグラフである。
【符号の説明】
【００６５】
１  透過型ホログラフィック情報記録再生装置（光情報再生装置）
２１  レーザ装置
２２  ビームスプリッタ
２３  空間光変調器
３１  光検出器
４０  信号処理回路
５０  コントローラ（波長調整回路）
Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４  レンズ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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