(57)【要約】【課題】  光ディスクに書き込むための最適パワーを求める方法を提供する。【解決手段】  光ディスク（４０）に書き込むための最適パワー(電力)を求める方法（１０）であって、前記光ディスク（４０）上のユーザデータエリア（２５）にテストデータ（３０）を書き込むこと、および前記テストデータ（３０）を読み取ることを含むパワー校正テストを実施することを含む方法。【選択図】        図４
2005100614.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに書き込むための最適パワーを求める方法であって、
前記光ディスク上のユーザデータエリアにテストデータを書き込むこと、および
前記テストデータを読み取ることを含むパワー校正テストを実施することを含む方法。
【請求項２】
最適パワーを求める方法であって、現在の最適パワー設定に及ぶパワーテスト範囲を求めることをさらに含む請求項１に記載の方法。
【請求項３】
最適パワーを求める方法であって、前記現在の最適パワー設定を求めることをさらに含む請求項２に記載の方法。
【請求項４】
最適パワーを求める方法であって、前記現在の最適パワー設定を求めることは、初期のパワーテスト範囲を用いて初期のパワー校正テストを実施することを含む請求項３に記載の方法。
【請求項５】
最適パワーを求める方法であって、前記テストデータを前記ユーザデータエリアに書き込むことは、求めたパワーテスト範囲に応答して前記テストデータを書き込むことを含む請求項１に記載の方法。
【請求項６】
最適パワーを求める方法であって、前記テストデータの読み取りに応答して、新しい最適パワー設定を求めることをさらに含む請求項１に記載の方法。
【請求項７】
最適パワーを求める方法であって、パワーテスト範囲を求めることは、
下限パワーテスト値を前記現在の最適パワー設定よりも所定パーセント下に設定すること、および
上限パワーテスト値を前記現在の最適パワー設定よりも所定パーセント上に設定することを含む請求項２に記載の方法。
【請求項８】
最適パワーを求める方法であって、前記テストデータをユーザデータエリアに書き込むことは、前記次の書き込み動作の位置にテストデータを書き込むことを含む請求項１に記載の方法。
【請求項９】
最適パワーを求める方法であって、前記テストデータをユーザデータエリアに書き込むことは、前記次の書き込み動作に近接した位置にテストデータを書き込むことを含む請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
最適パワーを求める方法であって、前記パワー校正テストは、前記光ディスクの温度の上昇の検出に応答して繰り返される請求項１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、包括的に、光ディスク記録の分野に関し、特に、光ディスクに書き込むための最適パワーを求める方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクは、コンピュータ用の好ましいデータ記憶媒体として用いられている。光ディスクの中には、ＣＤ−ＲＯＭ（コンパクトディスク読出し専用メモリ）およびＤＶＤ（デジタル多用途ディスク）などの読出し専用のものがあるが、ＣＤ−Ｒ（記録可能なコンパクトディスク）およびＣＤ−ＲＷ（書き換え可能なコンパクトディスク）、ＤＶＤ＋ＲＷ（書き換え可能なＤＶＤディスク）、およびＤＶＤ−ＲＡＭ（デジタル多用途ディスク−ランダムアクセスメモリ）は、データを記録するためにコンピュータユーザによって用いられることができる。
【０００３】
一般に、光ディスクに書き込むために用いられるレーザダイオードの最適パワー(電力、電源)は、可変であり、多くの要因によって決まる。たとえば、ディスクごとに、および各ディスクの端から端、すなわち半径にわたって変わる場合がある光ディスクの特性は、ディスクに書き込むための最適なレーザパワーに影響を与える。さらに、レーザダイオードの特性およびその動作温度もまた、レーザパワーの校正を必要とさせる。さらに、光学部品または媒体上の廃物、熱あるいは機械的応力は、レーザビームに収差を生ずる場合がある。既存のシステムは、データを記録するために用いられていない光ディスク上のエリアに書き込むことによって、最適パワー校正（ＯＰＣ）を行っている。このテストエリアは、一般に、パワー校正エリア（ＰＣＡ）またはＯＰＣエリアと名付けられ、ディスクの半径の内側（inner radius）付近の領域を占有する。後に、光ディスクの特性が表面にわたって不均一である場合があることが認識されたことにより、最適パワー校正は、リードアウトエリア内の光ディスクの外側縁部付近でも行われるようになった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、これらの２つのテスト領域は、データが記録される光ディスクのエリア(領域)からは離れており、記録特性を有する場合がある。さらに、最適パワー校正は周期的に実施されるため、レーザをパワー校正エリアまたはリードアウトエリアに位置決めするために必要な長いシークタイム(探索時間)により、ディスクの書き込み時間が長くなり、システムの動作全体が遅くなる。
本発明は、上記課題を解決し、光ディスクに書き込むための最適パワーを求める方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一実施形態によると、光ディスクに書き込むための最適パワーを求める方法は、パワー校正テストを行うことを含む。パワー校正テストは、光ディスク上のユーザデータエリアにテストデータを書き込むこと、および光ディスク上のユーザデータエリアに書き込まれたテストデータを読み取ることを含む。
【０００６】
本発明のさらに他の実施形態によると、光ディスクに書き込むための最適パワーを求めるためのシステムは、光ディスク上のユーザデータエリアにテストデータを書き込むようにレーザに指示し、かつ光ディスク上のユーザデータエリアに書き込まれたテストデータを読み取るようにセンサに指示するように動作可能なプロセッサを備える。
【０００７】
本発明の他の実施形態によると、製造品は、パワー校正テストを実行するように動作可能なプロセスを組み込んだ（符号化した）コンピュータ読出し可能媒体を備える。プロセスは、光ディスク上のユーザデータエリアにテストデータを書き込むこと、およびテストデータを読み取ることを含む。
【０００８】
本発明、その目的および利点をさらに完全に理解するために、添付の図面を参照しながら、以下の記載を参照する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明の好ましい実施形態およびその利点は、図１から図４を参照することによって最良に理解される。各種図面において、同様の参照符号は、同様のおよび対応する部分を指すために用いられる。
【００１０】
図１は、本発明の教示による最適パワー校正テストプロセス１０の実施形態の簡略フローチャートである。最適パワー校正テスト（optimum power calibration test）プロセス１０は、ブロック１２に示されるように、初期の校正テストを行う。初期のパワー校正テストは、通常、図２に示されるように、この目的のために脇に配置してある光ディスク４０上のパワー校正エリア（ＰＣＡ）４２に書き込むことによって通常行われる従来の校正テストと同じかまたは同様であってよい。パワー校正エリア（power calibration area）４２は、光ディスク４０の半径の内側付近にある。光ディスク４０の中心から外側に進むと、次の領域は、ディスク情報を含むリードインエリア４６である。光学形式によっては、ＰＣＡ４２は、リードインエリアの一部であると見なされる。リードインエリア４６に続く次のエリアは、ユーザが書き込んだデータトラックを有するプログラムエリア、すなわちユーザデータエリア（ユーザデータ領域）４８である。光ディスク４０の外側縁部に隣接するリードアウトエリア(読み出し領域)５０は、リードアウト情報を保持し、通常のまたは高速パワー校正を行うための二次的なパワー校正エリアを含むか、または、これが後に続くことができる。
【００１１】
最適パワー校正システム６０の簡略ブロック図を示す図３も参照すると、初期の校正テストは、通常、最初の書き込み動作の前に、光ディスク４０上で行われる。初期の校正テスト中、初期推奨最適記録パワー（ＲＯＲＰ）の推定値は、光ディスク４０のリードインエリア４６に符号化された予備溝（pregroove）の絶対時間（ＡＴＩＰ）情報または予備溝のアドレス（ＡＤＩＰ）情報から読み取られる。この推定値を用いて、プロセッサ６６は、推定値を含むレーザパワーテスト範囲を求める。いくつかの実施形態では、パワーテスト範囲は、３〜４ミリワット以上に及ぶ場合がある。テスト中、レーザ６２は、テストデータをパワー校正エリア４２またはリードアウトエリア５０に書き込み、一方、コントローラ６４は、パワーテスト範囲にわたってレーザ６２の電力（パワー）を段階的に上げる。次に、光ディスクリーダ６８が、テストデータを読み取る。通常、テストデータは、その値がプロセッサ６６に知られている所定のテストパターンである。光ディスクリーダ６８は、レーザビームを光ディスクの記録面上に形成されたマークおよびスペースに集光させる低パワーレーザまたは光源を含んでもよい。マークおよびスペースから反射された光は、光ディスクリーダ６８の光検出器および関連の電子回路によって解読され、異なるパワー値に関する情報を提供するデータに変換される。プロセッサ６６は、光ディスク４０の記録面上にレーザ６２によって形成されたマークおよびスペースのサイズおよび光学的性質から、光ディスク４０にデータを書き込むために設定される最適パワーを求める。プロセス１０のブロック１４に示されるように、次に、求めた最適パワー設定は、次の書き込み動作において、光ディスク４０に書き込むために用いられる。
【００１２】
プロセス１０のブロック１６では、再校正のための１つまたは複数の所定の基準に合致しているかどうかが判断される。たとえば、レーザパワー最適設定の再校正は、システム６０（図３）が、ある期間にわたって、多くの書き込み動作を行っていた場合に望まれる場合がある。書き込み動作を多く行うことによって、レーザ６２の動作温度は、レーザ６２の動作波長を変更するのに十分に増加する場合がある。他の例示的な基準は、次の書き込み動作の位置であってよい。光ディスク４０の物理的構成は、その表面にわたって均一ではないため、光ディスクの内側縁部または外側縁部付近で求めた最適パワー設定は、同じディスク上のユーザデータエリアに書き込む際に、最適ではなくなる可能性がある。したがって、ブロック１６における意志決定（decision-making）プロセスは、レーザ６２の最適パワー設定を変更する可能性がある複数の要因に基づいて、再キャリブレートするかどうかを判断することができる。「いいえ」と判断された場合には、実行はブロック１４に戻り、動作を続行する。しかし、再校正に対して「はい」と判断された場合には、実行はブロック１８に進む。ブロック１８における再校正プロセスは、図４にさらに詳細に記載されている。
【００１３】
図４は、本発明の教示によるパワー再校正テストプロセス１８の実施形態のフローチャートである。プロセス１８は、ハードウェアおよび／またはソフトウェアによって実行されることができる。特に、プロセス１８は、たとえば、プロセッサ６６および／またはコントローラ６４（図３）によって実行されるソフトウェアコードを含むことができる。パワー再校正プロセス１８は、初期のパワー校正プロセスの後に行われ、その後、光ディスクに書き込むための最適なレーザパワー設定を維持するためにプロセス１０で求められるように周期的に行われる。ブロック２０では、再校正中にテストされるパワー設定の範囲が求められる。新しい最適パワー設定は、初期のパワー校正プロセスまたは前回の再校正プロセスにおいて求めた現在の最適パワー設定とはそれほどはずれてはいないため、再校正テスト範囲は、現在の最適パワー設定を中心とするのが好ましい。したがって、再校正テスト範囲は、初期の校正プロセスにおいて用いられた範囲よりも大幅に狭い範囲となる場合がある。たとえば、最後の最適記録電力（パワー）値が２０ミリワットである場合、１８〜２２ミリワットの再校正パワー範囲を用いる代わりに、本発明の好ましい実施形態では、たとえば、現在の最適パワー設定の約５％下から現在の最適パワー設定の約５％上までに、再校正パワー(電力)テスト範囲を設定する。前の例を用いると、次に、再校正テスト範囲は、１８〜２２ミリワットではなく、１９〜２１ミリワットの所定の範囲に設定される。あるいは、レーザ効率は、温度が上昇するにつれて減少するため、テスト範囲の上限は、たとえば、現在の最適パワー設定よりも約７％上に設定されることができる。再校正のためのパワーテスト範囲もまた、センサ（図示せず）からの入力に応答して設定されることができる。たとえば、温度センサは、レーザおよび／または光ディスクの動作温度を求めるために用いられることができる。次に、この検知された温度は、パワーテスト範囲の上限値または下限値を変更するために用いられることができる。上記のパーセントおよび範囲は、例として提供され、用いられるレーザおよび光ディスク技術によって変わる場合があることに留意されたい。
【００１４】
ブロック２２では、レーザ６２の書き込みヘッドは、ユーザデータエリアにおいて、パワー再校正プロセスを行うための位置を探す（シークする）。従来の再校正プロセスでは、データを記録するために用いられない指定されたパワー校正エリアまたはリードアウトエリアに書き込むことによってテストを行うことが要求されていた。なぜなら、レーザパワーテスト範囲は、光ディスクトラックまたは隣接したトラックに記録されたデータを損傷させる設定範囲に及ぶ可能性があるからである。しかし、本発明のいくつかの実施形態の再校正プロセスは、現在の最適パワー設定を中心とした狭い再校正テスト範囲を用いるため、損傷の可能性が大幅に減少する。したがって、再校正は、データが記録されるユーザデータエリアで行われることができる。好ましくは、再校正は、次の書き込み動作のブロックまたはセクタ付近で行われ、最適パワー設定がその位置での光ディスクの構成に応じて求めることができるようにする。データを含まないセクタは、再校正データを書き込むために用いることができる。あるいは、データを含むセクタは、再校正後にデータをセクタに再び書き込むことによって再校正用に用いられることができる。より狭いテスト範囲から得られる時間の節約に加えて、このプロセスではまた、再校正テストを行うための光ディスクの内側縁部または外側縁部に対する長時間のシーク(探索)が避けられる。ブロック２４では、テストパワーは、所定の再校正パワー範囲の下限値に設定される。ブロック２５では、テストデータは、テストパワー設定を最初に用いるユーザデータエリアに書き込まれる。次に、ブロック２６において、テストパワー（テスト電力）設定がブロック２０において前に求めた上限値に到達したかどうかが判断される。テストパワーが上限値に到っていない場合には、テストパワーレベルは、ブロック２８において増大(インクリメント、increment）される。そうでない場合、再校正テストは、ブロック３０に示されるように、パワーテスト範囲全体にわたり、テストデータが読み取られることができる。次に、新しい最適パワー設定が、書き込みプロセス中に形成されたマークおよびスペースの反射率または位置および長さの検出に応答して、ブロック３２において求められる。次に、この新しいパワー設定は、次の再校正テストまで、続いて行われる書き込み動作において用いられる。
【００１５】
レーザパワー（レーザ電力）再校正プロセスは、現在の最適パワー設定について、狭い範囲内のパワー(電力)設定をテストするため、光ディスク記録層または隣接したデータトラックが損傷される可能性は低い。したがって、次の書き込み動作用のセクタ(部門)およびブロックに近接したユーザデータエリアにおけるデータトラックにテストデータを書き込むことによって、再校正テストを行うことができる。このようにして実施されるため、再校正は、パワー校正エリアまたはリードアウトエリアに対して長時間のシーク（探索）を行わずに実施され、これによって、システムの性能全体が向上する。再校正テストは、次の書き込み動作の位置付近のユーザデータエリアまたは次の書き込み動作の位置において行われるので、結果として得られる最適パワー設定は、光ディスクにわたる不均一さも考慮に入れているため、より正確である。
【００１６】
現在、一定の角速度の記録を用いるドライブでは、外挿計算が必要である。なぜなら、必要な速度でリードアウトエリアに書き込み動作を行うことはできないからである。本発明の実施形態による、ユーザデータエリアにおける再校正プロセスの使用によって、外挿計算を行う必要がなくなった。
【００１７】
最適パワー校正システム６０は、レーザ６２、コントローラ６４、および／または光ディスクリーダ６８から離れて配置されたプロセッサ６６を含むことができる。プロセッサ６６は、現在既知のまたは今後開発されるコンピュータ読み取り可能な媒体に符号化されるソフトウェアコード実行プロセス１０および１８を実行するために動作可能である。
【００１８】
以上本発明の各実施例について説明したが、実施例の理解を容易にするために、実施例ごとの要約を以下に列挙する。
〔１〕  光ディスク（４０）に書き込むための最適パワー(電力)を求める方法（１０）であって、
前記光ディスク（４０）上のユーザデータエリア（ユーザデータ領域）（２５）にテストデータ（３０）を書き込むこと、および
前記テストデータ（３０）を読み取ることを含むパワー校正（calibration）テストを実施することを含む方法。
〔２〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、現在の最適パワー(電力)設定（１２）に及ぶパワーテスト範囲を求めることをさらに含む〔１〕に記載の方法。
〔３〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、前記現在の最適パワー設定（１２）を求めることをさらに含む〔２〕に記載の方法。
〔４〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、前記現在の最適パワー設定（１２）を求めることは、初期のパワーテスト範囲を用いて初期のパワー校正テストを実施することを含む〔３〕に記載の方法。
〔５〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、前記テストデータを前記ユーザデータエリア（２５）に書き込むことは、求めたパワーテスト範囲に応答して前記テストデータを書き込むことを含む〔１〕に記載の方法。
〔６〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、前記テストデータの読み取りに応答して、新しい最適パワー設定（３２）を求めることをさらに含む〔１〕に記載の方法。
〔７〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、パワーテスト範囲（２０）を求めることは、
低いほうの（lower）パワー(電力)テスト値（２０）を前記現在の最適パワー設定よりも所定パーセント下に設定すること、および
高いほうの（upper）パワー(電力)テスト値（２２）を前記現在の最適パワー設定よりも所定パーセント上に設定することを含む〔２〕に記載の方法。
〔８〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、前記テストデータをユーザデータエリアに書き込むことは、前記次の書き込み動作の位置にテストデータを書き込むことを含む〔１〕に記載の方法。
〔９〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、前記テストデータをユーザデータエリアに書き込むことは、前記次の書き込み動作に近接した位置にテストデータを書き込むことを含む〔１〕に記載の方法。
〔１０〕  最適パワーを求める方法（１０）であって、前記パワー校正テストは、前記光ディスクの温度の上昇の検出に応答して繰り返される〔１〕に記載の方法。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の教示による最適パワー校正テストプロセスの実施形態の簡略フローチャートである。
【図２】光ディスク上の領域の概略図である。
【図３】本発明の教示による最適パワー校正テストのシステムの簡略ブロック図である。
【図４】本発明の教示によるパワー再校正テストプロセスの一実施形態のフローチャートである。
【符号の説明】
【００２０】
４０  光ディスク
４２  パワー校正エリア（ＰＣＡ）
４６  リードインエリア
４８  ユーザデータエリア
５０  リードアウトエリア
６２  レーザ
６４  コントローラ
６６  プロセッサ
６８  光ディスクリーダ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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