(57)【要約】    【課題】  フォーカスの調整を短時間で精度良く実施して、光ディスクの光ディスクの読み出し性能および書込み性能を高める光ディスク装置を提供する。    【解決手段】  フォーカスサーボループを閉じた状態でフォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路１２で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、フォーカス系可変アンプ６の増幅率Ｋ１を変えて補正する補正コントローラ１０を備えたことを特徴とする。【選択図】  図１
2005085397.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、
前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にするアンプと、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する演算アンプと、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、
測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記アンプでの前記増幅率を変える補正コントローラとを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、
前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にするアンプと、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する演算アンプと、
前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅を取得するＳ字振幅取得回路と、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、
測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定レベルを超えていたら測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記アンプでの前記増幅率を変える補正コントローラとを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号と、前記メインスポットに対するメイントラッキングエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブトラッキングエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、
前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にする第１アンプと、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する第１演算アンプと、
前記サブトラッキングエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にする第２アンプと、
前記実質同じ振幅の前記サブトラッキングエラー信号と前記メイントラッキングエラー信号から前記光ディスクに対するトラッキングエラー信号を出力する第２演算アンプと、
前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅を取得するＳ字振幅取得回路と、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記第２アンプでの前記増幅率を変える補正コントローラと、
前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、
測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定レベルを超えていたら測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記第１アンプでの前記増幅率を変える前記補正コントローラとを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項３記載において、前記補正コントローラは、前記第１アンプでの前記増幅率を変えた後、再度前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記第２アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１から４のうちいずれかの一つの項記載において、前記光ピックアップの近傍に温度センサを設けて動作中の温度をモニタし、前記動作中の温度の変化が所定値を超えたら、再度前記漏れ込み成分を前記漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記補正コントローラは前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して、光ピックアップより出力し、
前記サブフォーカスエラー信号をアンプで所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から演算アンプで前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、
測定した前記漏れ込み成分を減らすように、補正コントローラで前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項７】
光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して、光ピックアップより出力し、
前記サブフォーカスエラー信号をアンプで所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から演算アンプで前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、
前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅をＳ字振幅取得回路で取得し、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、
測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定振幅を超えていたら前記漏れ込み成分を減らすように、補正コントローラで前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項８】
光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号と、前記メインスポットに対するメイントラッキングエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブトラッキングエラー信号とを生成して、光ピックアップより出力し、
前記サブフォーカスエラー信号を第１アンプで所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、
前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から第１演算アンプで前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、
前記サブトラッキングエラー信号を第２アンプで所定の増幅率で増幅して前記メイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にし、
前記実質同じ振幅の前記サブトラッキングエラー信号と前記メイントラッキングエラー信号から第２演算アンプで前記光ディスクに対するトラッキングエラー信号を出力し、
前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅をＳ字振幅取得回路で取得し、
前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、補正コントローラで前記第２アンプでの前記増幅率を変え、
前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、
測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定レベルを超えていたら前記漏れ込み成分を減らすように、前記補正コントローラで前記第１アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項９】
請求項８記載において、前記第１アンプでの前記増幅率を変えた後、再度前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記補正コントローラで前記第２アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項１０】
請求項６から９のうちいずれかの一つの項記載において、前記光ピックアップの近傍に温度センサを設けて動作中の温度をモニタし、前記動作中の温度の変化が所定値を超えたら、再度前記漏れ込み成分を前記漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記補正コントローラで前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録されたデータ信号を読み取り再生したり光ディスクにデータ信号を書き込んだりするために、光ディスクに対してフォーカス調整とトラッキング調整を行う光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録系メディアの普及に伴って、フォーカス調整を行うためのフォーカスエラー信号の検出としては差動非点収差方式、トラッキング調整を行うためのトラッキングエラー信号の検出としては差動プッシュプル方式が主流になりつつある。
【０００３】
そのために、光ディスクに対向する光ピックアップとしては、光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、光ディスクから反射したメインスポットおよび２つのサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、３つの光検出器より、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号と、前記メインスポットに対するメイントラッキングエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブトラッキングエラー信号とを生成して出力するようにする。
【０００４】
そして、フォーカスエラー信号は、サブフォーカスエラー信号を第１アンプにおいて所定の増幅率Ｋ１で増幅してメインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、実質同じ振幅のサブフォーカスエラー信号とメインフォーカスエラー信号とから第１演算アンプにおいて光ピックアップに対するフォーカスエラー信号を出力するようにしている。
【０００５】
また、トラッキングエラー信号は、サブトラッキングエラー信号を第２アンプにおいて所定の増幅率Ｋ２で増幅してメイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にし、実質同じ振幅のサブトラッキングエラー信号とメイントラッキングエラー信号とから第２演算アンプにおいて光ピックアップに対するトラッキングエラー信号を出力するようにしている。
【０００６】
このようなフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の検出については、例えば、特許文献１に記載されている。
【０００７】
【特許文献１】特開２０００−８２２２６号公報（図５、Ｐ５−６）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記特許文献１において、フォーカス系の第１アンプにおける所定の増幅率Ｋ１およびトラッキング系の第２アンプにおける所定の増幅率Ｋ２は、予め決めた固定値であるが、実際の光ディスク装置にあっては、主に光ピックアップの光検出器の検出感度ばらつきを抑えるため、トラッキング系の第２アンプにおける所定の増幅率Ｋ２を可変にして最適値を取るよう補正を行っている。そして、このトラッキング系の補正に連動して、フォーカス系の第１アンプにおける所定の増幅率Ｋ１を自動的に決めるようにしている。
【０００９】
しかしながら、高速で光ディスクをWRITE（書き込み）する光ディスク装置が、今後、安価で加速的に普及し、また粗悪な光メディアが増えていくとすると、光ディスク装置（ドライブ）側での更なる読み出し性能および書込み性能が要求される。
【００１０】
したがって、フォーカス系の第１アンプにおける所定の増幅率Ｋ１に関しても単独で光ピックアップのばらつきを抑え且つ粗悪な光メディアにも対応できるようにする必要が出てくる。
【００１１】
本発明の目的は、光ディスクの読み出し性能および書込み性能を高める光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明による請求項１記載の光ディスク装置は、光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にするアンプと、前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する演算アンプと、前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記アンプでの前記増幅率を変える補正コントローラとを備えたことを特徴とする。
【００１３】
本発明による請求項２記載の光ディスク装置は、光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にするアンプと、前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する演算アンプと、前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅を取得するＳ字振幅取得回路と、前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定レベルを超えていたら測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記アンプでの前記増幅率を変える補正コントローラとを備えたことを特徴とする。
【００１４】
本発明による請求項３記載の光ピックアップ装置は、光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号と、前記メインスポットに対するメイントラッキングエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブトラッキングエラー信号とを生成して出力する光ピックアップと、前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にする第１アンプと、前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力する第１演算アンプと、前記サブトラッキングエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にする第２アンプと、前記実質同じ振幅の前記サブトラッキングエラー信号と前記メイントラッキングエラー信号から前記光ディスクに対するトラッキングエラー信号を出力する第２演算アンプと、前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅を取得するＳ字振幅取得回路と、前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記第２アンプでの前記増幅率を変える補正コントローラと、前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号から前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を測定する漏れ込み成分測定回路と、測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定レベルを超えていたら測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記第１アンプでの前記増幅率を変える前記補正コントローラとを備えたことを特徴とする。
【００１５】
本発明による請求項４記載のディスク装置は、請求項３記載において、前記補正コントローラは、前記第１アンプでの前記増幅率を調整して補正した後、再度前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記第２アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする。
【００１６】
本発明による請求項５記載の光ディスク装置は、請求項１から４のうちいずれかの一つの項記載において、前記光ピックアップの近傍に温度センサを設けて動作中の温度をモニタし、前記動作中の温度の変化が所定値を超えたら、再度前記漏れ込み成分を前記漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記補正コントローラは前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする。
【００１７】
本発明による請求項６記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して、光ピックアップより出力し、前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、補正コントローラで前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする。
【００１８】
本発明による請求項７記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、少なくとも、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号とを生成して光ピックアップより出力し、前記サブフォーカスエラー信号を所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅をＳ字振幅取得回路で取得し、前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定振幅を超えていたら前記漏れ込み成分を減らすように、補正コントローラで前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする。
【００１９】
本発明による請求項８記載の光ディスク装置の制御方法は、光ディスクに、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、前記光ディスクから反射したメインスポットおよびサブスポットを各々個別の３つの光検出器で検出し、該３つの光検出器より、前記メインスポットに対するメインフォーカスエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブフォーカスエラー信号と、前記メインスポットに対するメイントラッキングエラー信号と、前記左右のサブスポットに対するサブトラッキングエラー信号とを生成して、光ピックアップより出力し、前記サブフォーカスエラー信号を第１アンプで所定の増幅率で増幅して前記メインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にし、前記実質同じ振幅の前記サブフォーカスエラー信号と前記メインフォーカスエラー信号から第１演算アンプで前記光ディスクに対するフォーカスエラー信号を出力し、前記サブトラッキングエラー信号を第２アンプで所定の増幅率で増幅して前記メイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にし、前記実質同じ振幅の前記サブトラッキングエラー信号と前記メイントラッキングエラー信号から第２演算アンプで前記光ディスクに対するトラッキングエラー信号を出力し、前記フォーカスエラー信号のＳ字振幅をＳ字振幅取得回路で取得し、前記フォーカスエラー信号を前記光ピックアップに供給するフォーカスサーボループを閉じた状態で、前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、補正コントローラで前記第２アンプでの前記増幅率を変え、前記演算アンプから出力される前記フォーカスエラー信号から漏れ込み成分測定回路で前記フォーカスエラー信号に含まれる漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分が取得した前記Ｓ字振幅に対して所定レベルを超えていたら前記漏れ込み成分を減らすように、前記補正コントローラで前記第１アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする。
【００２０】
本発明による請求項９記載の光ディスク装置の制御方法は、請求項８記載において、前記第１アンプでの前記増幅率を変えた後、再度前記光ピックアップをトラッキング方向に変位させて前記トラッキングエラー信号の振幅の変動が少なくなるように、前記補正コントローラで前記第２アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする。
【００２１】
本発明による請求項１０記載の光ディスク装置の制御方法は、請求項６から９のうちいずれかの一つの項記載において、前記光ピックアップの近傍に温度センサを設けて動作中の温度をモニタし、前記動作中の温度の変化が所定値を超えたら、再度前記漏れ込み成分を前記漏れ込み成分測定回路で測定し、測定した前記漏れ込み成分を減らすように、前記補正コントローラで前記アンプでの前記増幅率を変えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、光ディスクの読み出し性能および書込み性能を高める光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
図1は、本発明による光ディスク装置の実施の形態の構成を示す図である。図１において、１は光ディスク、２は光ピックアップ、３はアクチュエータコイル、４はドライバーである。５は光ピックアップ２の近傍に設けた温度センサである。光ピックアップ２からは、メインフォーカスエラー信号、サブフォーカスエラー信号、メイントラッキングエラー信号、サブトラッキングエラー信号が出力される。
【００２４】
この４つの信号について、図２を用いて説明する。
【００２５】
図２は、図１の光ピックアップ２の内部構成である光検出器および信号処理回路を示す図である。
【００２６】
図２において、光検出器２１は、中央の受光領域からなるメイン検出器２１０と右側の受光領域からなるサブ検出器２１１と左側の受光領域からなるサブ検出器２１２とからなる３つの検出器から構成されている。
【００２７】
ここで、メイン検出器２１０の受光領域は、田の字型に４分割された記号ａ，ｂ，ｃ，ｄであらわされている４分割受光面で構成され、サブ検出器２１１の受光領域は、田の字型に４分割された記号ｅ，ｆ，ｇ，ｈであらわされている４分割受光面で構成され、サブ検出器２１２の受光領域は、田の字型に４分割された記号ｉ，ｊ，ｋ，ｌであらわされている４分割受光面で構成されている。
【００２８】
図示していないが、図１の光ディスク１に、光ピックアップ２に内蔵のレーザから、中央にメインスポットそしてその左右にサブスポットを有する３スポットを照射し、光ディスク１から反射したメインスポットおよびサブスポットを、図２に示す各々個別の３つの光検出器２１０，２１１，２１２で検出する。
【００２９】
メイン検出器２１０の受光領域には、上記メインスポット１１０が形成され、サブ検出器２１１の受光領域には、上記サブスポット１１１が形成され、もう一つのサブ検出器２１２の受光領域には、もう一つの上記サブスポット１１２が形成される。
【００３０】
メイン検出器２１０の受光面ａ，ｂ，ｃ，ｄの各々で光電変換された各検出電流は、電流―電圧変換増幅器４０，４１，４２，４３によって電圧に変換され、それぞれ出力端子に送られる。
【００３１】
サブ検出器２１１の受光面ｅとサブ検出器２１２の受光面ｉの各々で光電変換された各検出電流は、加算されたのち、電流―電圧変換増幅器４４によって電圧に変換され、それぞれ出力端子に送られる。
【００３２】
同様に、受光面ｆ，ｊのそれぞれで検出された検出電流、受光面ｇ，ｋのそれぞれで検出された検出電流、および受光面ｈ，ｌのそれぞれで検出された検出電流は、それぞれ加算されたのち、電流―電圧変換増幅器４５，４６，４７によって電圧に変換され、それぞれ出力端子に送られる（検出信号には受光面と同じ符号を付けた）。
【００３３】
次に、信号処理回路について説明する。光検出器の検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄは、加算器５０，５１，減算器７１によって、信号（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）が出力される。この信号は、非点収差方式によって検出された光ディスク上メインスポットのメインフォーカスエラー信号に相当する。
【００３４】
また、加算器４８，４９によって得られた信号（ａ＋ｂ），（ｃ＋ｄ）は、メインスポット１１０を光ディスクのトラッキング方向に分割した場合の各々の領域における検出光量に相当し、さらに、減算器７２によって得られた信号（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）は、プッシュプル方式によって検出された光ディスク上メインスポットのメイントラッキングエラー信号に相当する。
【００３５】
一方、検出信号ｅ＋ｉ，ｆ＋ｊ，ｇ＋ｋ．ｈ＋ｌは、加算器５３，５４，減算器７０によって、信号（ｅ＋ｉ＋ｇ＋ｋ）−（ｈ＋ｌ＋ｆ＋ｊ）となる。この信号は、非点収差方式によって検出された光ディスク上サブスポットのサブフォーカスエラー信号に相当する。
【００３６】
また、検出信号ｅ＋ｉ，ｆ＋ｊ，ｇ＋ｋ．ｈ＋ｌは、加算器５２，５５，減算器７３によって、信号（ｅ＋ｆ＋ｉ＋ｊ）−（ｈ＋ｇ＋ｌ＋ｋ）となる。この信号は、プッシュプル方式によって検出された光ディスク上サブスポットのサブトラッキングエラー信号に相当する。
【００３７】
なお、光ディスクに記録されている情報信号は、加算器５９によって検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄの和信号からなるメイン信号として検出され、周知のように信号再生回路に供給されて、情報信号が再生される。
【００３８】
図１に戻り、サーボループを説明する。フォーカス系に関しては、光ピックアップ２からのサブフォーカスエラー信号を、可変アンプ６で、所定の増幅率Ｋ１で増幅して、光ピックアップ２からのメインフォーカスエラー信号と実質同じ振幅にしてから、サブフォーカスエラー信号とメインフォーカスエラー信号を演算アンプ７で演算して、光ディスク１に対する差動非点収差方式によるフォーカスエラー信号を出力し、ドライバー４に供給することで、フォーカスサーボループを構成する。
【００３９】
トラッキング系に関しては、光ピックアップ２からのサブトラッキングエラー信号を、可変アンプ８で、所定の増幅率Ｋ２で増幅して、光ピックアップ２からのメイントラッキングエラー信号と実質同じ振幅にしてから、サブトラッキングエラー信号とメイントラッキングエラー信号を演算アンプ９で演算して、光ディスク１に対する差動プッシュプル方式によるトラッキングエラー信号を出力し、ドライバー４に供給することで、トラッキングサーボループを構成する。
【００４０】
可変アンプ６の所定の増幅率Ｋ１の調整および可変アンプ８の所定の増幅率Ｋ２の調整は、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０（マイコン）により可変され補正される。
【００４１】
フォーカス系の演算アンプ７より出力されるフォーカスエラー信号のＳ字振幅をＳ字振幅取得回路１１で取得する。
【００４２】
また、フォーカス系の演算アンプ７より出力されるフォーカスエラー信号には漏れ込み成分、具体的にはトラッキング系の演算アンプ９より出力されるトラッキングエラー信号の変動分が含まれており、この漏れ込み成分（プッシュプル成分）の振幅レベルを漏れ込み成分測定回路１２で測定する。
【００４３】
Ｓ字振幅取得回路１１より出力されるＳ字振幅と漏れ込み成分測定回路１２より出力されるフォーカスエラー信号への漏れ込み成分は、Ｋ値補正コントローラ１０（マイコン）に入力され、Ｋ値補正コントローラ１０（マイコン）は、フォーカスエラー信号への漏れ込み成分がＳ字振幅に対して、所定レベルを超えていたら、漏れ込み量を減らすように、フォーカス系の可変アンプ６の増幅率を変える。
【００４４】
またこの際、光ピックアップ２の近傍に設けた温度センサ５による光ピックアップ２の温度も増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で加味されて補正される。
【００４５】
次に、図１のサーボ系可変アンプ６の所定の増幅率Ｋ１の調整およびトラッキング系可変アンプ８の所定の増幅率Ｋ２の調整などについて、図３の実施の形態のフローチャートを用いて説明する。
【００４６】
ステップ３０１にて、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、光ディスク１を回転する。
【００４７】
ステップ３０２にて、ドライバ−４から任意の電圧が出力されるように、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で制御し、光ピックアップ２を上下に移動して、対物レンズの焦点合せを行う。
【００４８】
ステップ３０３にて、フォーカスエラー信号のＳ字振幅をＳ字振幅取得回路１１で取得する。このとき、フォーカス系の可変アンプ６の設定は、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、増幅率Ｋ１を初期値の状態にしておく。
【００４９】
ステップ３０４にて、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、フォーカスサーボループを閉じてＯＮ状態とする。
【００５０】
ステップ３０５にて、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、トラッキング系の可変アンプ８の増幅率Ｋ２を初期値の状態にして、トラッキング方向に電圧を印加して対物レンズをシフトさせ、レンズシフトさせてもトラッキングエラー信号の振幅がリファレンス電圧に対して一番変動が少なくなるように増幅率Ｋ２の値を変化させ、一番変動が少ないときの増幅率に調整する。
【００５１】
ステップ３０６にて、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、トラッキングサーボループを開いてＯＦＦ状態とし、対物レンズをセンターに戻し、フォーカスエラー信号への漏れ込み成分（プッシュプル成分）を漏れ込み成分測定回路１２で測定し、最初に取ったフォーカスエラー信号のＳ字振幅に対して、所定レベルを超えていたら、漏れ込み量を減らすように、フォーカス系の増幅率Ｋ1を変えて、補正をかける。
【００５２】
ステップ３０７にて、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、最後に、再度トラッキング系の可変アンプ８の増幅率Ｋ２値を上記方法で微調補正する。
【００５３】
ステップ３０８にて、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、トラッキングサーボループを閉じてＯＮ状態とする。
【００５４】
ステップ３０９にて、増幅率Ｋ値補正コントローラ１０で、調整を終了させる。
【００５５】
なお、調整終了時（セットアップ完了時）の光ピックアップ２の温度Ｔ1を、温度センサ５を用いて初期値として取得しておき、動作中の温度Ｔ２をモニタし、動作中の温度の変化（Ｔ２−Ｔ１）が所定値ΔＴを超えたら、ステップ３０６に戻り、再度フォーカスエラー信号への漏れ込み成分を漏れ込み成分測定回路１２で測定し、測定した漏れ込み成分を減らすように、可変アンプ６での増幅率Ｋ１を変えて補正する。
なお、さらに時間短縮のため、ステップ３０５を省くことが可能である。またステップ３０３を省くことも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明による光ディスク装置の実施の形態の構成を示す図である。
【図２】図１の光ピックアップの内部構成である光検出器および信号処理回路を示す図である。
【図３】図１のサーボ系可変アンプの所定の増幅率の調整およびトラッキング系可変アンプの所定の増幅率の調整などを示す実施の形態のフローチャートである。
【符号の説明】
【００５７】
１：光ディスク、２：光ピックアップ、３：アクチュエータコイル、４：ドライバー：５：温度センサ、６：可変アンプ、７：演算アンプ、８：可変アンプ、９：演算アンプ、１０：増幅率Ｋ値補正コントローラ、１１：Ｓ字振幅取得回路、１２：漏れ込み成分測定回路。
【図１】
2005085397.tif 000003
【図２】
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【図３】
2005085397.tif 000005