(57)【要約】【課題】  光ピックアップのグレーティングを回転させて３つの光ビーム位置を調整する際に利用する光ピックアップの検査装置において、受光信号の基準側の強度レベルに脈動が存在する場合でも、３つの光スポットの位置を正規の位置に調整できるようにする。【解決手段】  光ピックアップの検査装置は、３つの光ビームによる光ディスクからの反射光を受光する３つの受光素子３９ａ〜３９ｃのうちで２つの受光素子３９ａ，３９ｃからの受光信号を入力する再生信号観測装置を有する。再生信号観測装置は、入力した２信号における基準レベル側の脈動を除去するノイズ除去回路５２，６３と、脈動を除去した２信号をローパスフィルタ処理するローパスフィルタ５３，６４と、ローパスフィルタ処理された２信号の位相差を測定する位相計とを備えている。【選択図】  図５
2005085394.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つの光ビームによる光ディスクからの反射光を受光する３つの受光素子を有する光ピックアップの検査装置であって、
前記３つの受光素子のうちのいずれか２つの受光素子にて受光した反射光をそれぞれ表す第１および第２の受光信号を入力してそれぞれローパスフィルタ処理する第１および第２ローパスフィルタ手段と、
前記第１および第２ローパスフィルタ手段からの信号の位相差を検出する位相差検出手段とを備えた光ピックアップの検査装置において、
前記第１および第２のローパスフィルタ手段に入力される受光信号における基準側の強度レベルの脈動を除去する脈動除去手段とを設けたことを特徴とする光ピックアップの検査装置。
【請求項２】
グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つの光ビームによる光ディスクからの反射光を受光する３つの受光素子を有する光ピックアップの検査方法であって、
前記３つの受光素子のうちのいずれか２つの受光素子にて受光した反射光をそれぞれ表す第１および第２の受光信号を入力してそれぞれローパスフィルタ処理し、かつ
前記ローパスフィルタ処理された第１および第２の受光信号の位相差を検出する光ピックアップの検査方法において、
前記ローパスフィルタ処理される第１および第２の受光信号における基準側の強度レベルの脈動を除去するようにしたことを特徴とする光ピックアップの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、グレーティング(回析格子)により３つの光スポットを光ディスク上に形成し、同光ディスクからの反射光に基づいて光ピックアップを調整する際に利用される光ピックアップの検査装置および検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに光ビームを照射して、光ディスクに情報を記録しまたは同光ディスクから情報を再生する際には、光ディスク上に形成される光スポットが光ディスクのトラックを追従するように制御する必要がある。この制御のためには、光ディスクからの反射光の光量を検出して、光スポットのトラックからのずれ量をトラッキングエラー信号として検出することが行われている。このトラッキングエラー信号の検出方法としては、たとえば差動プッシュプル方式(ＤＰＰ方式)がある。この方式は光ピックアップにおいて、レーザ光源と対物レンズの間にグレーティング(回析格子)を設置し、同グレーティングによる回析によりレーザ光を３つに分けて光ディスク上に光スポットを形成し、各光スポットからの反射光の光量に相当する信号によりトラッキングエラー信号を生成する方式である。
【０００３】
この方式において、グレーティングをレーザ光の軸線回りに回転させることにより、図１に示すように２つのサブスポットＳＰ２，ＳＰ３をメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対方向にずらすように位置させるように角度調整する必要がある。なお、図１において光ディスクのトラック部分には模様を施し、各トラックの間のランド部分は白地のままに残して示している。この調整は通常、回転しているディスク上に光スポットを形成し、トラッキング制御を解除した状態で光スポット毎の反射光量に相当する信号を検出し、同信号から周波数の高い成分を除去した信号の位相を位相計などで計測しながらグレーティングのレーザ光軸回りの角度を調整し位相差が適切な値になるように行われる。具体的には図１において、メインスポットＳＰ１とサブスポットＳＰ２またはメインスポットＳＰ１とサブスポットＳＰ３に相当する信号の位相が図２(Ａ)(Ｂ)に示すように１８０度ずれた位相関係になるように調整される。
【０００４】
この場合、前記反射光量に相当する信号の強度の最大値は、下記特許文献１に示されるように、ある限られた範囲において一定と考えられているが、本発明者が調査した結果、多くの光ピックアップにおいて信号の基準側の強度レベルは図３(Ａ)(Ｂ)に示すように脈動していることが判明した。これを下記特許文献２を参考に説明すると、多くの光ピックアップにおいては、出射するレーザ光の光量を一定にするためにビームスプリッタにより光ディスクに向かうレーザ光の一部を取り出し、その光の強度を光検出部で検出して、この数値が一定になるようレーザ光の出力を制御している。
【特許文献１】特公平７−７００７４
【特許文献２】特開平８−２８７５０５
【０００５】
しかしながら、光検出部に入る光には僅かながら光ディスクから反射した反射光が含まれることがあるため、光ディスクでの反射光量が大きいと、同光検出部に入るレーザ光の光量が僅かではあるが増大するため、出射するレーザ光の光量が減少するように制御されることになる。逆に、光ディスクでの反射光量が小さいと光検出部に入るレーザ光の光量が僅かに減少するため、出射するレーザ光の光量は増加するように制御されることになる。したがって、ＤＰＰ方式によるメインスポットＳＰ１に相当する信号は図３(Ａ)に示すようになり、サブスポットＳＰ２、ＳＰ３に相当する信号は図３(Ｂ)に示されるように各信号の基準側の強度レベルに脈動が現れることになる。そして調整時には、これらの信号をローパスフィルタに通すことにより信号の周波数の高い成分を除去することが一般的に行われているが、前記脈動によりメインスポットＳＰ１およびサブスポットＳＰ２、ＳＰ３に相当する信号は図３(Ａ)(Ｂ)の破線に示すように位相が元の信号の包絡線に対して僅かながらずれる。
【発明の開示】
【０００６】
しかしながら、図３(Ａ)(Ｂ)の破線に示した位相のずれ量には、それぞれの脈動の生じ方の相違によって差が生じる。このため、従来の装置では２つの信号の位相差が１８０度ずれるようにグレーティングを調整しても、実際には３つの光スポットは正規の位置より僅かにずれた位置に調整されることになり、各光スポットを適切な位置に調整できないという問題があった。
【０００７】
本発明は前記問題に対処するためになされたもので、その目的は、信号の基準側の強度レベルに脈動が存在する光ピックアップにおいても、３つの光スポットの位置を正規の位置に調整することを可能とする光ピックアップの検査装置および検査方法を提供することにある。
【０００８】
前記目的を達成するために、本発明の特徴は、グレーティングにより形成されるメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームからなる３つの光ビームによる光ディスクからの反射光を受光する３つの受光素子を有する光ピックアップの検査装置であって、３つの受光素子のうちのいずれか２つの受光素子にて受光した反射光をそれぞれ表す第１および第２の受光信号を入力してそれぞれローパスフィルタ処理する第１および第２ローパスフィルタ手段と、第１および第２ローパスフィルタ手段からの信号の位相差を検出する位相差検出手段とを備えた光ピックアップの検査装置において、第１および第２のローパスフィルタ手段に入力される受光信号における基準側の強度レベルの脈動を除去する脈動除去手段とを設けたことにある。
【０００９】
このように構成した本発明による光ピックアップの検査装置においては、光ディスクからの反射光量に相当する受光信号の基準側の強度レベルに脈動が生じている場合であっても、第１および第２ローパスフィルタ手段によるローパスフィルタ処理を行う前に脈動除去手段により同脈動を除去しているため、この後、ローパスフィルタ処理を行っても、それらの出力信号に位相のずれを生じさせることはない。したがって、同出力信号に基づいてグレーティングを調整することにより、メインビーム、先行サブビーム、後行サブビームを光ディスク上の適切な位置に調整することが可能となる。
【００１０】
また、前記光ピックアップの検査装置の発明の特徴は光ピックアップの検査方法の発明にも適用できるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の一実施形態について図面を用いて説明すると、図４は、同実施形態に係る光ピックアップの検査装置の全体を示す概略ブロック図である。
【００１２】
この検査装置は、エンコーダ２１ａを内蔵したスピンドルモータ２１を備えている。スピンドルモータ２１は、スピンドルモータ制御回路２２によって駆動制御されて、光ディスクＤＫが組み付けられる支持テーブル２３を回転駆動する。エンコーダ２１ａは、スピンドルモータ２１の回転すなわち支持テーブル２３（光ディスクＤＫ）の回転を検出して、同スピンドルモータ２１の回転を表す回転検出信号をスピンドルモータ制御回路２２に供給する。回転検出信号は、支持テーブル２３（光ディスクＤＫ）の回転位置が基準回転位置に来るごとに発生されるインデックス信号INDEXと、互いにπ／２だけ位相がずれていて所定の微小な回転角度ずつハイレベルとローレベルとを繰返すパルス列信号φA，φBとからなる。
【００１３】
また、このスピンドルモータ２１は、エンコーダ２１ａ及び支持テーブル２３と共に、フィードモータ２４、スクリューロッド２５および支持部材２６からなるフィード機構により光ディスクＤＫの径方向に駆動される。フィードモータ２４は、フィードモータ制御回路２７によって回転制御されて、スクリューロッド２５を回転させる。スクリューロッド２５は、支持部材２６に固着されているナット（図示しない）に螺合されている。これらスクリューロッド２５、支持部材２６およびナットは、ねじ機構を構成するものである。フィードモータ２４の回転により、支持部材２６は、スピンドルモータ２１などと共にスクリューロッド２５の軸線方向すなわち光ディスクＤＫの径方向に変位する。
【００１４】
フィードモータ２４にも、前述したエンコーダ２１ａと同様なエンコーダ２４ａが内蔵されている。このエンコーダ２４ａも、フィードモータ２４の回転を表す回転検出信号を同モータ２４の回転を制御するためのフィードモータ制御回路２７に供給する。この回転検出信号も、前記エンコーダ２１ａの回転検出信号と同様に、インデックス信号INDEXおよびパルス列信号φA，φBからなる。
【００１５】
ここで、この検査装置に組み付けられる検査対象となる光ピックアップ３０について説明しておく。光ピックアップ３０は、ＣＤ，ＤＶＤなどの記録可能な光ディスクＤＫにデータを記録するとともに、同光ディスクＤＫに記録されたデータを再生するものである。光ピックアップ３０は、レーザ光源３１、コリメートレンズ３２、グレーティング（回折格子）３３、偏光ビームスプリッタ３４、１／４波長板３５、対物レンズ３６、集光レンズ３７、シリンドリカルレンズ３８及びフォトディテクタ３９を備えている。そして、この光ピックアップ３０においては、レーザ光源３１からのレーザ光を、コリメートレンズ３２、グレーティング３３、偏光ビームスプリッタ３４、１／４波長板３５及び対物レンズ３６を介して光ディスクＤＫに照射し、同光ディスクＤＫからの反射光を、対物レンズ３６、１／４波長板３５、偏光ビームスプリッタ３４、集光レンズ３７及びシリンドリカルレンズ３８を介してフォトディテクタ３９で受光して、光ディスクＤＫの信号記録状態を表す受光信号を出力するようになっている。
【００１６】
この場合、グレーティング３３は、レーザ光源３１から放射されてコリメートレンズ３２によって平行光に変換された１つの光ビームを入射して回折により３つの光ビームを出射する。これらの３つの光ビームは光ディスクＤＫのトラック方向に一列に配置されるもので、以降、光ディスクＤＫの回転方向に沿って順に、先行サブビーム、メインビームおよび後行サブビームとそれぞれいう。フォトディテクタ３９は、メインビーム用受光素子３９ａ、先行サブビーム用受光素子３９ｂおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃからなり、各受光素子３９ａ，３９ｂ，３９ｃはメインビーム、先行サブビームおよび後行サブビームによる光ディスクＤＫからの反射光をそれぞれ受光して、受光量に比例した大きさの電圧信号を出力する。メインビーム用受光素子３９ａはトラック方向およびラジアル方向に沿った２本の分割線によって４分割されていて、同４分割された各受光素子は各受光量に比例した電圧信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄをそれぞれ出力する。先行サブビーム用受光素子３９ｂおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃはトラック方向に沿った１本の分割線によって２分割されていて、同２分割された各受光素子は各受光量に比例した電圧信号Ｅ１，Ｅ２およびＦ１，Ｆ２をそれぞれ出力する。
【００１７】
レーザ光源３１には、レーザ光源３１の作動および停止を制御するためのレーザ駆動回路４１が接続されている。メインビーム用受光素子３９ａの４分割された各受光素子出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、フォーカスエラー信号生成回路４２に供給される。フォーカスエラー信号生成回路４２は、非点収差法などによりフォーカスエラー信号を生成して、同エラー信号をフォーカスサーボ回路４３に供給する。フォーカスサーボ回路４３は、このフォーカスエラー信号をドライブ回路４４に供給して、対物レンズ３６を光軸方向に駆動するためのフォーカスアクチュエータ３６ａをフォーカスサーボ制御する。これにより、レーザ光の焦点が光ディスクＤＫの記録層に追従するように制御される。
【００１８】
メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃは、再生信号観測装置５０に接続されている。再生信号観測装置５０は、図５に示すように、メインビーム用受光素子３９ａに接続された再生信号生成回路５１を備えている。再生信号生成回路５１は、メインビーム用受光素子３９ａからの受光信号を再生信号として増幅して出力する。ただし、再生信号生成回路５１は、メインビーム用受光素子３９ａの４分割された各受光素子の出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを全て加算して、同加算結果を再生信号（いわゆる、サム信号SUM）として出力する。  また、再生信号観測装置５０は、後行サブビーム用受光素子３９ｃに接続された再生信号生成回路６２を備えている。再生信号生成回路６２は、後行サブビーム用受光素子３９ｃの２分割された各受光素子出力Ｆ１，Ｆ２を増幅するとともに加算して出力する。
【００１９】
また、再生信号観測装置５０は、ノイズ除去回路５２，６３、ローパスフィルタ５３，６４および位相計７０も備えている。ノイズ除去回路５２，６３は、図６に示すようにコンデンサＣ１、オペアンプＯＰ１、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、ダイオードＤ１から構成されている。ここでコンデンサＣ１と抵抗Ｒ３はハイパスフィルタを構成し、オペアンプＯＰ１と抵抗Ｒ１，Ｒ２は増幅器を構成し、これらのハイパスフィルタおよび増幅器とダイオードＤ１によってクリッパ回路を構成している。この場合、ダイオードＤ１はアノードの電位が所定電位(０．６Ｖ)以上になることを禁止している。ローパスフィルタ５３，６４は、ノイズ除去回路５２，６３にそれぞれ接続されていて、両回路５２，６３からの各出力信号の周波数の高い成分を除去（ローパスフィルタ処理）して位相計７０に出力する。このローパスフィルタ５３，６４のカットオフ周波数は、例えば、８．２KHz程度に設定されている。位相計７０は、ローパスフィルタ５３，６４によってローパスフィルタ処理された２信号間の位相を計算して表示する。この位相計７０もコンピュータ装置８０に接続されていて、コンピュータ装置８０から指示信号を入力するとともに計算結果をコンピュータ装置８０に出力する。
【００２０】
コンピュータ装置８０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭなど、またはＦＰＧＡ，ＰＬＤなどのゲートアレイからなり、図示しないプログラムを実行することにより、光ピックアップ３０から光ディスクＤＫへ照射される３つの光ビームが光ディスクＤＫの所定位置を照射しているかの判定動作を制御する。また、コンピュータ装置８０は、前述したスピンドルモータ制御回路２２、フィードモータ制御回路２７およびレーザ駆動回路４１にも、それらの制御のために接続されている。このコンピュータ装置８０には、ユーザによって操作されて情報を入力するための入力装置８１が接続されるとともに、前記演算結果、判定結果などを表示するための表示装置８２も接続されている。
【００２１】
上記のように構成した実施形態の動作を説明する。まず、図示しない電源スイッチの投入により、コンピュータ装置８０を含む検査装置の各種回路の作動を開始させる。そして、調整および検査対象である光ピックアップ３０を検査装置に組み付ける。この光ピックアップ３０は、説明を省略する他の調整により、３つの光ビームが光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に位置するように、グレーティング３３の回転角が既に調整されたものである。なお、検査に利用されるＣＤ，ＤＶＤなどの予めデータの記録された光ディスクＤＫも支持テーブル２３にセットされる。次に、入力装置８１を操作することにより、この検査装置による光ピックアップ３０の調整および検査開始を指示する。この指示に応答して、コンピュータ装置８０は、この調整および検査のために光ビームが照射される光ディスクＤＫの径方向位置を表す情報をフィードモータ制御回路２７に出力する。フィードモータ制御回路２７は、エンコーダ２４ａから入力される回転検出信号を用いてフィードモータ２４の回転を制御して、光ビームが前記入力した径方向位置に照射されるように、光ディスクＤＫをその径方向に移動する。
【００２２】
次に、コンピュータ装置８０は、前記光ディスクＤＫの径方向位置において光スポットを予め決められた基準となる線速度で相対移動させるための光ディスクＤＫの回転速度を表す情報を、スピンドルモータ制御回路２２に出力する。スピンドルモータ制御回路２２は、エンコーダ２１ａから入力される回転検出信号を用いてスピンドルモータ２１の回転を制御して、光ディスクＤＫを前記回転速度で回転させる。
【００２３】
次に、コンピュータ装置８０は、レーザ駆動回路４１にレーザ光源３１の作動開始信号を出力する。レーザ駆動回路４１は、これに応答してレーザ光源３１を作動させるので、レーザ光源３１はレーザ光を放射し始める。このレーザ光の放射開始により、光ディスクＤＫ上には先行サブビーム、メインビームおよび後行サブビームからなる３つの光ビームが照射されて、３つの光スポットが形成される。この場合、３つの光スポットはほぼ同一トラックの中心線上に存在するように配置されている。これらの３つの光スポットからの反射光は、メインビーム用受光素子３９ａ、先行サブビーム用受光素子３９ｂおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃでそれぞれ受光される。
【００２４】
メインビーム用受光素子３９ａは４分割されており、フォーカスエラー信号生成回路４２はこの４分割された各受光素子による受光信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成し、フォーカスサーボ回路４３、ドライブ回路４４およびフォーカスアクチュエータ３６ａとの協働により対物レンズ３６をフォーカスサーボ制御する。なお、この場合、対物レンズ３６はトラッキングサーボ制御されない。
【００２５】
このトラッキングサーボ制御の省略のために、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３はトラックを横切りながら光ディスクＤＫ上を移動する。そして、この調整においては、この光スポットＳＰ１〜ＳＰ３がトラックを横切りながら光ディスクＤＫ上を移動する現象を積極的に利用している。すなわち、光スポットＳＰ１〜ＳＰ３がトラックを横切るために、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行ビーム用受光素子３９ｃによる受光信号の振幅は変化する。この場合、メインスポットＳＰ１と後行サブスポットＳＰ３がラジアル方向にトラックピッチの１／２だけずれていれば、図２(Ａ)(Ｂ)に示すように、両受光信号の振幅の変化は位相において１８０度だけずれるはずである。逆に言えば、両受光信号の振幅変化の位相ずれが１８０度であれば、メインスポットＳＰ１と後行サブスポットＳＰ３はラジアル方向にトラックピッチの１／２だけずれていることになる。
【００２６】
一方、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃによる受光信号は、再生信号観測装置５０に供給される。また、再生信号観測装置５０も、コンピュータ装置８０からの始動指示信号を受けて、作動を開始し始める。再生信号観測装置５０は各受光信号を再生信号生成回路５１，６２に入力し再生信号を生成し、ノイズ除去回路５２，６３に入力する。ノイズ除去回路５２，６３では再生信号の基準側の強度レベルの脈動を除去して一定にする。具体的には、コンデンサＣ１および抵抗Ｒ３より構成されるハイパスフィルタにより図７（Ａ）に示すように直流分を除去し、信号のグランドレベル（電位０レベル）を適当な位置にシフトさせた上で、オペアンプＯＰ１および抵抗Ｒ１，Ｒ２からなる増幅器により同信号を増幅する。増幅された同信号のうちの順方向の所定電圧（０．６Ｖ程度）以上、すなわちグランドレベルより前記所定電圧（図７（Ａ）の破線のライン）以上の信号がダイオードＤ１によりカットされて脈動のない一定の信号が出力される（図７（Ｂ）参照）。
【００２７】
次に、同信号はローパスフィルタ５３，６４に入力され、周波数の高い成分が除去され周波数の低い成分のみの信号、すなわち入力信号の包絡線を表す信号となる。この場合、ローパスフィルタ５３，６４に入力される信号はノイズ除去回路５２，６３により信号の基準側の強度レベルに脈動のない一定の信号となることから、その出力には図３(Ａ)(Ｂ)の破線で示したような位相のずれは生じない。そして、同信号は位相計７０に入力され、位相計７０は２つの信号の位相を計測してその結果を表示する。
【００２８】
前記表示装置８２の表示に従って作業者は、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が光ディスクＤＫの同一トラックの中心線上に形成されている状態から、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図１に示す位置になるように、グレーティング３３を所定角度だけ所定方向に回転させる。すなわち、先行サブスポットＳＰ２がメインスポットＳＰ１に対して図示右側にトラックピッチの１／２だけずれ、かつメインスポットＳＰ１が後行サブスポットＳＰ３に対して図示右側にトラックピッチの１／２だけずれるようにする。
【００２９】
このような調整について具体的に説明すると、コンピュータ装置８０は、位相計７０に対して位相測定の指示を発し、位相計７０に両入力信号の位相差を表示させる。この場合、位相計７０には再生信号生成回路５１，６２にて再生され、ノイズ除去回路５２，６３にて信号の脈動を除去し、ローパスフィルタ５３，６４によってローパスフィルタ処理された信号が供給されている。すなわち、位相計７０には、図２(Ａ)(Ｂ)の振幅変化を表す２信号が供給されており、位相計７０はこれらの２信号の位相差を表示する。
【００３０】
なお、位相計７０にて前記２信号の位相差を表示するのに代えて、コンピュータ装置８０が位相計７０から前記２信号の位相差を入力して表示装置８２に表示させるようにしてもよい。また、コンピュータ装置８０に前記２信号自体を入力して、同２信号の位相差を計算して表示するようにしてもよい。さらに、前記位相差に代えて、前記２信号の位相差が許容範囲内にあるか、すなわちメインスポットＳＰ１と後行サブスポットＳＰ３がラジアル方向にトラックピッチの１／２だけずれているかを判定して、同判定結果を表示装置８２に表示させるようにしてもよい。
【００３１】
２信号の位相差が許容範囲内にあれば、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図１の正規の配列状態にあると判断でき作業者は調整作業を終了する。一方、２信号の位相差が許容範囲内になければ、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図１の正規の配列状態にないと判断でき、作業者はグレーティング３３の光軸回りの回転調整を再度行って調整作業を続行し、最終的には３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３が図１の正規の配列状態になるよう調整を行う。
【００３２】
前記作動説明からも理解できるように、前記実施形態によれば、光ディスクＤＫ上に３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３を形成する光ピックアップ３０において、各光スポットＳＰ１〜ＳＰ３の反射光量に相当する信号の基準側の強度レベルに脈動が生じている場合でも、ローパスフィルタ５３，６４によりローパスフィルタ処理を行う前にノイズ除去回路５２，６３によって信号の基準側の強度レベルを一定化しているため、位相計７０で計測される両信号の間に位相のずれは生じない。したがって、メインスポットＳＰ１と先行サブスポットＳＰ２またはメインスポットＳＰ１と後行サブスポットＳＰ３に相当する信号の位相が１８０度ずれた位相関係に正確に調整できるようになり、先行および後行サブスポットＳＰ２，ＳＰ３がメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／２だけ互いに反対側にずれた正規の位置に形成されるように調整することが可能となる。
【００３３】
さらに、本発明の実施にあたっては、前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００３４】
前記実施形態においては、メインビーム用受光素子３９ａおよび後行サブビーム用受光素子３９ｃによる両受光信号を用いて、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３の位置調整を検査するようにした。しかし、これに代えて、先行サブビーム用受光素子３９ｂおよびメインビーム用受光素子３９ａによる両受光信号を用いて、３つの光スポットＳＰ１〜ＳＰ３の位置調整を検査するようにしてもよい。この場合、先行サブビーム用受光素子３９ｂによる受光信号を再生信号生成回路５１に導くとともに、メインビーム用受光素子３９ａによる受光信号を再生信号生成回路６２にそれぞれ導くようにすればよい。そして、再生信号生成回路５１が先行サブビーム用受光素子３９ｂからの受光信号Ｅ１，Ｅ２を増幅するとともに加算して出力するようにし、再生信号生成回路６２がメインビーム用受光素子３９ａからの受光信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを増幅するとともに加算して出力するようにすればよい。
【００３５】
また、前記実施形態においては、トラッキングエラー検出方法としてＤＰＰ方式を採用した光ピックアップの調整に本発明を適用して説明してきたが、本発明の実施にあたってはこれに限定されるものではなく、たとえば本発明を３ビーム方式の光ピックアップの調整にも適用することが可能である。この場合、３ビーム方式において３つの光スポットは図８に示すように先行および後行サブスポットＳＰ２，ＳＰ３がメインスポットＳＰ１に対してトラックピッチの１／４だけ互いに反対側にずれた位置に形成されるように配置される。したがって、先行サブスポットＳＰ２と後行サブスポットＳＰ３に相当する信号の位相が図２（Ａ）（Ｂ）に示すように互いに１８０度ずれた関係になるようにグレーティング３３の回転位置を調整すれば、３つの光スポットを正規の位置に調整することが可能となる。また、さらに先行サブスポットＳＰ２または後行サブスポットＳＰ３とメインスポットＳＰ２に相当する信号の位相が互いに９０度ずれた関係になるようにグレーティング３３の回転位置を調整し、３つの光スポットを正規の位置に調整することも可能である。
【００３６】
また、前記実施形態においては、光ピックアップ３０と光ディスクＤＫとの径方向相対位置を変化させるために、フィードモータ２４、スクリューロッド２５、支持部材２６などからなるフィード機構を用いてスピンドルモータ２１及び支持テーブル２３を移動させるようにした。しかし、これに代えて、光ピックアップ３０全体をフィード機構により光ディスクＤＫの径方向に移動させるようにして、光ピックアップ３０と光ディスクＤＫとの径方向相対位置を変化させるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】ＤＰＰ方式による３つの光スポットの位置を説明するための説明図である。
【図２】(Ａ)，(Ｂ)は光スポットの調整時に利用される信号を概略的に示す波形図である。
【図３】(Ａ)，(Ｂ)は光スポットの調整時に利用される信号を厳密に示す波形図である。
【図４】本発明の一実施形態に係る光ピックアップの検査装置の全体を概略的に示すブロック図である。
【図５】図４の再生信号観測装置の詳細ブロック図である。
【図６】ノイズ除去回路の一例を示す詳細回路図である。
【図７】(Ａ)，(Ｂ)は光スポットの調整時に利用される信号波形図である。
【図８】３ビーム方式による３つの光スポットの位置を説明するための説明図である。
【符号の説明】
【００３８】
ＤＫ…光ディスク、２１…スピンドルモータ、２４…フィードモータ、３０…光ピックアップ、３１…レーザ光源、３３…グレーティング、３９…フォトディテクタ、５０…再生信号観測装置、５２，６３…ノイズ除去回路、７４…位相計、８０…コンピュータ装置。
【図１】
2005085394.tif 000003
【図２】
2005085394.tif 000004
【図３】
2005085394.tif 000005
【図４】
2005085394.tif 000006
【図５】
2005085394.tif 000007
【図６】
2005085394.tif 000008
【図７】
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【図８】
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