(57)【要約】【課題】異なる複数の深度において所望の硬化度を有する光ファイバ素線の効率よく製造できる光ファイバ素線の製造方法を提供する。【解決手段】  本発明は、光ファイバ素線２４の外周に紫外線硬化樹脂からなる最外層３を形成した光ファイバ素線２４の製造方法である。最外層３の表面からの深度が異なる複数の硬化度を測定し、複数の硬化度が所定の値となるように最外層を硬化させる条件を調整する。深度の異なる複数の硬化度を測定するには、まず、最外層３に透明基板２３を介して赤外線を照射して、最外層３の表面付近で反射した赤外線の吸収スペクトルを測定する。この吸収スペクトルの測定を材質の異なる複数の透明基板２３毎に繰り返すことにより、複数の硬化度を測定する。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバの外周に紫外線硬化樹脂からなる最外層を形成した光ファイバ素線の製造方法であって、前記最外層の表面からの深度が異なる複数の硬化度を測定し、前記複数の硬化度がそれぞれ所定の値となるように前記最外層を硬化させる条件を調整することを特徴とする光ファイバ素線の製造方法。
【請求項２】
前記最外層に透明基板を介して赤外線を照射して、前記最外層の表面付近で反射した赤外線の吸収スペクトルを測定する方法を用い、前記吸収スペクトルの測定を材質の異なる複数の透明基板毎に繰り返すことにより、前記複数の硬化度を測定することを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ素線の製造方法。
【請求項３】
前記複数の透明基板として、ＺｎＳｅからなる基板及びＧｅからなる基板を使用することを特徴とする請求項２に記載の光ファイバ素線の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ファイバ素線の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバ素線は、一般に、ガラスファイバの外周にプライマリ層及びセカンダリ層と称される２層の樹脂層が形成されたものである。光ファイバ素線の樹脂層の材料としては、紫外線硬化型樹脂（以下、ＵＶ樹脂ということもある）が用いられることが多く、線引き工程後のガラスファイバの外周に、液体状態のＵＶ樹脂組成物を塗布し、このＵＶ樹脂組成物が塗布されたガラスファイバに紫外線を照射して、ＵＶ樹脂を硬化させることによって製造される。
【０００３】
ＵＶ樹脂の硬化特性を評価する方法としては、例えば、ＦＴ−ＩＲ（Fourier Transform Infrared Spectrophotometer;  フーリエ変換赤外分光分析計）を用いた全反射吸収測定法（以下、ＡＴＲ（Attenuated Total Reflection）法ともいう。）によって行うことができる。ＡＴＲ法により樹脂硬化特性を評価する装置の一例を図６に示す（特許文献１参照。）。
【０００４】
図６に示す装置において、光源１０１から赤外線領域の２つの検査光が同条件で出射され、一方の検査光は測定用試料室１０２に導かれ、他方の検査光は参照用試料室１０３に導かれる。測定用試料室１０２内には、赤外線を反射する材料からなる基板１１１上に被測定物であるＵＶ樹脂１１２を薄膜状に形成してなるサンプル１１０が配されており、このサンプル１１０のＵＶ樹脂１１２を透過し基板１１１で反射された検査光の光強度が第１の光検出器１０４で測定される。
【０００５】
参照用試料室１０３内は、基板１１１上にＵＶ樹脂１１２の薄膜が形成されていない他は測定用試料室１０２内と同様の条件に設定されており、この参照用試料室１０３内の基板１１１で反射された検査光の光強度が第２の光検出器１０５で測定される。
コンピュータシステム１０６は、光源１０１を制御するとともに、第１および第２の光検出器１０４、１０５で測定された光強度のデータを、予め設定された所定の演算処理法によってデータ処理する。これにより、ＵＶ樹脂１１２による赤外吸収スペクトルを得ることができるようになっている。
【特許文献１】特開２０００−５５８０６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、光ファイバ素線を製造する際、製造装置内に酸素が入り込むことによって、光ファイバ素線の最外層（セカンダリ層）の硬化が不十分となることがある。例えば、光ファイバ素線のＵＶ硬化炉の酸素濃度が高くなると、最外層の紫外線硬化樹脂の硬化度は小さくなってしまう。光ファイバ素線の最外層の硬化が不十分状態であると、ボビン等に巻き取られた時に光ファイバ素線同士が融着したり、光ファイバ素線の表面が白く変色するといった品質問題が生じたり、光ファイバの伝送特性が低下するといった問題が予想される。一方、光ファイバ素線の最外層の硬化が大きくなりすぎても、最外層上に別途着色層を設けた場合、着色層が剥離しやすくなったり、光ファイバの伝送特性が低下するといった問題が予想される。
【０００７】
この問題に対して、光ファイバ素線の製造に先立って、上記特許文献１に記載のＵＶ樹脂の硬化特性評価方法を用いて最外層に用いるＵＶ樹脂の硬化特性を測定し、測定したＵＶ樹脂の硬化特性をもとに実際の光ファイバ素線の最外層の硬化度を予測して、光ファイバ素線の製造条件を調整することも可能ではある。しかしながら、このように前もって光ファイバ素線の樹脂層の硬化度を予測しても、実際に製造された光ファイバ素線表面の硬化度は予測された値とは異なる場合があり、光ファイバ素線の製造条件を正確に設定することは困難である。
【０００８】
また、最外層のＵＶ樹脂の硬化特性として、表面からの特定の深度の硬化度が予測された値と同じ値であっても、他の深度では予測された値と一致しないことがある。すなわち、ある特定の深度の硬化度が予測された値と一致していて問題ないとしても、異なる深度では硬化不十分あるいは硬化過剰という事態が生じ、前述のような問題が発生してしまうことがある。
【０００９】
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであって、所望の硬化度を有する光ファイバ素線を効率よく製造できる光ファイバ素線の製造方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る光ファイバ素線の製造方法は、光ファイバの外周に紫外線硬化樹脂からなる最外層を形成した光ファイバ素線の製造方法であって、前記最外層の表面からの深度が異なる複数の硬化度を測定し、前記複数の硬化度がそれぞれ所定の値となるように前記最外層を硬化させる条件を調整することを特徴としている。
【００１１】
本発明に係る光ファイバ素線の製造方法は、前記最外層に透明基板を介して赤外線を照射して、前記最外層の表面付近で反射した赤外線の吸収スペクトルを測定する方法を用い、前記吸収スペクトルの測定を材質の異なる複数の透明基板毎に繰り返すことにより、前記複数の硬化度を測定することが好ましい。
【００１２】
本発明に係る光ファイバ素線の製造方法は、前記複数の透明基板として、ＺｎＳｅからなる基板及びＧｅからなる基板を使用することが好ましい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係る光ファイバ素線の製造方法によれば、光ファイバ素線の最外層の表面からの深度の異なる複数の硬化度を測定し、前記複数の硬化度がそれぞれ所定の値となるように前記最外層の硬化条件を調整することにより、光ファイバ素線の製造における製造条件の最適化の処置を正確に行なうことができ、異なる複数の深度においてそれぞれ所望の硬化度を有する光ファイバ素線を効率よく製造することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明に係る光ファイバ素線の製造方法の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
まず、本実施形態に係る製造方法によって製造される光ファイバ素線２４の断面図を図１（Ｃ）に示す。図１（Ｃ）に示すように、光ファイバ素線２４は、中心にガラスファイバ１を有し、ガラスファイバ１の外周にプライマリ層２が設けられ、このプライマリ層２の外周には、セカンダリ層（最外層）３が設けられている。プライマリ層２及びセカンダリ層３は、紫外線硬化型樹脂組成物をガラスファイバ１の外周に塗布して、紫外線を照射して硬化させることにより形成される。ここで、プライマリ層２及びセカンダリ層３に用いられる紫外線硬化型樹脂としては、ウレタンアクリレート系紫外線硬化型樹脂、シリコンアクリレート系樹脂、エポキシアクリレート系樹脂、ポリエステルアクリレート系樹脂等を用いることができる。
【００１５】
次に、本実施形態に係る光ファイバ素線２４の製造方法について、図３を参照して説明する。図３に示す製造装置３０は、図１（Ｃ）に示すプライマリ層２及びセカンダリ層３を備えた光ファイバ素線２４を製造できる装置である。この製造装置３０は、線引炉３２を有し、線引炉３２の下流に、冷却装置３３、塗布装置３４ａ、硬化装置３５ａ、塗布装置３４ｂ、硬化装置３５ｂ、及び巻取機３６を主な構成として備えている。
【００１６】
図３に示す製造装置３０を用いて光ファイバ素線を製造するには、光ファイバ母材３１を線引炉３２により加熱溶融し、加熱した光ファイバ母材３１の下端からキャプスタン（図示せず）等によって引張りながら、所定の外径まで細径化して光ファイバ３７を形成する。そして、光ファイバ３７を冷却装置３３で冷却した後、塗布装置３４ａにより光ファイバ３７に紫外線硬化型樹脂組成物を塗布し、硬化装置３５ａにより紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させ、光ファイバ３７にプライマリ層を形成する。さらに、プライマリ層２（図１）が形成された光ファイバ３８に塗布装置３４ｂにより紫外線硬化樹脂組成物を塗布し、硬化装置３５ｂにより紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させ、セカンダリ層３（図１）を形成する。最後に、この２層の紫外線硬化樹脂が被覆された光ファイバ素線２４を巻取機３６で巻き取る。
【００１７】
ここで、図４（Ａ）及び（Ｂ）を参照して硬化装置３５ｂ内部の構造について説明する。図４（Ａ）は、硬化装置３５ｂの縦断面図を、（Ｂ）は、硬化装置３５ｂの横断面図を示している。図４（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、硬化装置３５ｂの内部には、光ファイバが通過する石英管４２が設けられており、この石英管４２の長手方向と平行に紫外線を照射する円筒状の紫外線バルブ４４が配置されている。石英管４２と紫外線バルブ４４の周囲には、それらを取り囲むように反射ミラー４３（図４（Ｂ））が配置されている。反射ミラー４３は横断面が楕円形であり、石英管４２と紫外線バルブ４４とは反射ミラー４３の焦点に位置するように配置されている。紫外線バルブ４４から照射された紫外線は、反射ミラー４３で反射されて、効率よく石英管４２に照射される。
【００１８】
石英管４２の上端開口及び下端開口には、それぞれ入口カバー４５及び出口カバー４６が設けられており、光ファイバ３８は、入口カバー４５の入口４５ａから石英管４２内へ入り、石英管４２内部を通過した後、出口カバー４６の出口４６ａから硬化装置３５の外部へ出ていく。入口カバー４５及び出口カバー４６と石英管４２との間には、それぞれ気密用パッキン４８，４９が設けられており、気密用パッキン４８，４９により石英管４２内部の気密性が保たれている。
さらに、入口カバー４５の側面にはガス導入口４７が設けられており、石英管４２の上端開口の直ぐ上方にパージガスが吹き込んで、石英管４２の内部でパージガスを満たすようにしている。石英管４２に導入するパージガスの流入量は、流量計５０により検出され、流量調節器５１によりパージガスの流入量が調節される。なお、パージガスとしては、例えば窒素ガスを使用できる。
【００１９】
本実施形態に係る製造方法では、このように製造した光ファイバ素線２４を数本切り出して、光ファイバ素線２４の最外層３において、深度の異なる複数の硬化度を測定する。この最外層３の硬化度を測定する方法としては、ＡＴＲ法を用いるのが好ましい。すなわち、最外層に透明基板を介して赤外線を照射し、前記最外層表面で反射した赤外線吸光度を測定することにより、最外層の硬化度を測定することが好ましい。
【００２０】
以下、一例としてＡＴＲ法を用いて最外層の硬化度を測定する方法を、図１（Ａ）及び（Ｂ）に基づいて説明する。図１（Ａ）は、ＡＴＲ法による赤外分光分析装置２０の一例を示した概略構成図である。図１（Ａ）に示すように、赤外分光分析装置２０は、光源２１と測定用試料室２２とを備えている。光源２１は、赤外線領域の検査光２８を出射する装置であり、光源２１により出射された検査光２８が測定用試料室２２に向けて出射するように配置されている。
【００２１】
測定用試料室２２の内部には、サンプル２６が配置されており、サンプル２６は透明基板２３と光ファイバ素線２４とからなる。また、赤外分光分析装置２０は、赤外線を検知して赤外線吸光度を測定する検出器２７を備えており、検出器２７は、測定試料室２２内で反射された反射光２９を検出できるように配置されている。さらに、検出器２７にはデータ解析部２５が接続されている。
図１（Ｂ）に示すように、サンプル２６は、所定長さに切断された複数本の光ファイバ素線２４が、透明基板２３の下面に配置されてなる。複数本の光ファイバ素線２４は、光ファイバ素線２４同士が密着するように並列に配置されている。
【００２２】
上記の赤外分光分析装置２０を用いて光ファイバ素線の最外層（セカンダリ層）の赤外線吸収スペクトルを得るには、まず、光源２１から測定用試料室２２に検査光２８を入射させる。このとき、サンプル２６の透明基板２３と光ファイバ素線２４の最外層との境界面で全反射が起こるように入射角を調整しておく。検査光２８は、光ファイバ素線２４の最外層の内部に僅かに所定深さだけ入り込んでから全反射し（以下、検査光２８が最外層内部に入り込む深さを「浸透深さ」という。）、全反射した反射光２９を検出器２７で検出して、反射光２９の赤外線吸光度を検出器２７で測定する。検出器２７から赤外線吸光度データをデータ解析部２５に送信して、データ解析部２５において、フーリエ変換法により光ファイバ素線２４の最外層表面の赤外線吸収スペクトルを得る。
【００２３】
さらに、同じ光ファイバ素線２４に対して透明基板２３として複数の結晶基板を使用して、上記操作を繰り返し行い、複数の結晶基板のそれぞれについて赤外線吸収スペクトルを得る。
複数の結晶基板としては、屈折率が大きい基板を用いることが好ましく、ＺｎＳｅ（セレン化亜鉛）からなる基板及びＧｅ（ゲルマニウム）からなる基板を用いることがより好ましい。ＺｎＳｅからなる基板は、浸透深さが５μｍであり、最外層の比較的内側の硬化度を測定することができる。Ｇｅからなる基板は、浸透深さが０．３〜１．８μｍであり、極表層の硬化度を測定できる。
【００２４】
このように、光ファイバ素線の最外層の硬化度を測定することができ、複数の結晶基板を使用することで、最外層表面からの浸透深さが異なる部分の硬化度を測定することができるので、最外層表面から所望の深さまでの硬化度を測定することができる。よって、光ファイバ素線の最外層表面の硬化特性を詳細に測定することができる。
【００２５】
上記赤外線分光分析装置２０によって測定された光ファイバ素線の最外層の赤外線吸収スペクトルから、さらに最外層の硬化特性を定量的に評価することができる。この最外層の硬化特性を定量的に評価する方法を図２（Ａ）及び（Ｂ）に基づいて説明する。図２（Ａ）及び（Ｂ）は、赤外線分光分析装置２０（図１）によって得られた赤外線吸収スペクトルの模式的に示した図であり、横軸は波数、縦軸は赤外線吸光度を示している。
一般に、紫外線硬化型樹脂の硬化前後で赤外線吸収スペクトルを比較すると、図２（Ａ）に示すように、硬化前後でピーク強度が変化しないピーク（Ｐｃ）と、硬化によってピーク強度が変化するピーク（Ｐｄ）とが現れる。ピーク（Ｐｄ）における硬化によるピーク強度の変化は、重合反応、架橋反応等の硬化反応によって分子構造が変化する（例えば、樹脂中の炭素間２重結合の減少等）ために起こると考えられる。本実施形態に係る硬化度測定方法では、この分子構造の変化による赤外線吸収スペクトルの変化を利用して、Ｐｃを基準ピークとして、Ｐｃにおけるピーク強度（ｐｃ）に対するＰｄにおけるピーク強度（ｐｄ）の比、すなわち、ピーク強度比（ｐｄ／ｐｃ）を求めることにより、光ファイバ素線の最外層の硬化度を定量的に測定することができる。
【００２６】
例えば、最外層を形成する紫外線硬化型樹脂として、ウレタンアクリレート系紫外線硬化型樹脂を用いた場合、上記赤外線分光分析装置２０によって得られる赤外吸収スペクトルにおいて、波数７７５ｃｍ-1付近に硬化度に関与しないピーク（Ｐｃ）が現れる。また、波数８１０ｃｍ-1付近に、硬化度に関与する、アクリル二重結合によるピーク（Ｐｄ）が現れる。この７７５ｃｍ-1付近の硬化に関与しないピークの強度（ｐｃ）と、８１０ｃｍ-1付近のアクリル二重結合によるピークの強度（ｐｄ）とから、両波数におけるピーク強度の比（ｐｄ／ｐｃ）を算出することができる。
また、このウレタンアクリレート系紫外線硬化型樹脂の場合、紫外線照射による硬化反応によってアクリル二重結合が減少するため、これに応じて８１０ｃｍ-1付近のアクリル二重結合によるピークの強度は減少する。従って、この８１０ｃｍ-1付近のアクリル二重結合によるピークの強度（ｐｄ）と、７７５ｃｍ-1付近に硬化反応に関与しないピークの強度（ｐｃ）との比（ｐｄ／ｐｃ）は、樹脂の硬化が進むとともに値は小さくなる。
【００２７】
上記のように定量的に硬化度を測定する場合、上記ピーク強度比（ｐｄ／ｐｃ）の替わりに、赤外線吸収スペクトルからピーク面積を求めて、ピーク面積比を求めてもよい。すなわち、図２（Ｂ）に示すように、硬化前後で強度が変化しないピーク（Ｐｃ）のピーク面積（Ａｃ）と、硬化によって強度が変化するピーク（Ｐｄ）のピーク面積（Ａｄ）とを求め、同様に、Ｐｃを基準ピークとして、Ｐｃにおけるピーク面積（Ａｃ）に対するＰｄにおけるピーク強度（Ａｄ）の比、すなわち、ピーク面積比（Ａｄ／Ａｃ）を求めることによっても、定量的に硬化度を評価することができる。
【００２８】
透明基板の浸透深さに応じて異なる赤外線吸収スペクトルが得られ、異なる吸収スペクトルからそれぞれピーク強度比又はピーク面積比を算出することができるので、最外層表面からの異なる深さについて定量的に硬化度を測定することができる。
以上のようにして、光ファイバ素線の最外層の赤外線吸収スペクトルから、最外層の硬化度を定量的に求めることができる。本実施形態に係る製造方法では、この最外層の硬化度のデータに応じて、製造条件を調整する。
【００２９】
より具体的には、最外層の硬化度から過硬化又は硬化が不十分と判断された場合、図３に示す製造装置３０における製造条件を調整する。製造条件を調整する具体的手段としては、特に、硬化装置３５ｂにおける石英管４２内の酸素濃度が光ファイバ素線の硬化度に大きく影響することから、硬化装置３５ｂにおけるパージガスの流入量を調整することにより石英管４２内の酸素濃度を調整することが挙げられる。
【００３０】
例えば、上記の光ファイバ素線の硬化度測定方法による測定の結果、最外層表面が硬化が不十分であると判断された場合、硬化装置３５ｂの石英管４２内へのパージガス流入量を増大させて酸素濃度を減少させ、最外層表面の硬化度を増加させることができる。一方、最外層表面が過硬化と判断された場合、硬化装置３５ｂの石英管４２内へのパージガス流入量を減少させて酸素濃度を増加させ、最外層表面の硬化度を減少させることができる。このように、最外層表面を硬化装置３５ｂの石英管４２内の酸素濃度を調整することによって、製造条件の最適化の処置を正確に行なうことができる。
他に、光ファイバ素線の最外層の硬化度を所望範囲とするための製造条件を調整する手段としては、気密用パッキン４８，４９、紫外線バルブ、反射ミラー板等の硬化装置３５ｂ内の部材を交換する、紫外線バルブ４４による紫外線照射時間を変更する、紫外線強度のパワーボリュームを調整する、等の手段を用いることができる。
【００３１】
以上のとおり、本発明の製造方法によれば、最外層の深度が異なる複数の硬化度を測定し、この複数の硬化度がそれぞれ所定の値となるように最外層の硬化条件を調整することにより、それぞれ深度毎に硬化度が異なっている場合でも、それぞれの硬化度について測定結果を実際に光ファイバ素線を製造する時にフィードバックすることができるので、製造条件の最適化の処置を正確に行なうことができ、異なる複数の深度においてそれぞれ所望の硬化度を有する光ファイバ素線を効率よく製造できる。
【実施例】
【００３２】
以下、本発明を実施例によって更に詳細に説明するが、本発明の範囲は以下の例に限定されるものではない。
１．光ファイバ素線の製造
図３に示した光ファイバ素線の製造装置を用いて、光ファイバ素線を製造した。セカンダリ層の紫外線硬化樹脂としては、ヤング率が７０ｋｇ／ｍｍ２程度の硬質のウレタンアクリレート系紫外線硬化型樹脂を用いた。
光ファイバ素線の製造時において、硬化装置３５ｂにおけるパージガスとして窒素ガスを用いて、硬化装置３５ｂ内に導入する窒素ガス量を調整し、石英管４２内の酸素濃度を０．０１〜５％の範囲で調整できるようにした。なお、巻き取り速度（線速）は５００〜１０００ｍ／分とした。
【００３３】
２．光ファイバ素線の硬化度の測定
上記のようにして製造した光ファイバ素線について、図１に示す赤外線分光分析装置２０においてＺｎＳｅ透明基板及びＧｅ透明基板を使用し、ピーク面積比（Ａｃ／Ａｄ）を測定した。この結果を図５に示す。図５に示すグラフは、ＺｎＳｅ透明基板を用いて測定したピーク面積比（Ａｄ／Ａｃ）を横軸に、Ｇｅ透明基板を用いて測定したピーク面積比（Ａｄ／Ａｃ）を縦軸にプロットした結果である。
【００３４】
図５に示すグラフから、表１に示すようにＡ〜Ｉのエリアを決定した。なお、表１において、ＺｎＳｅ基板で測定したピーク面積比（Ａｄ／Ａｃ）をＡＺｎＳｅとし、Ｇｅ基板で測定したピーク面積比（Ａｄ／Ａｃ）をＡＧｅとする。
【００３５】
【表１】
2005350310.tif 000003
【００３６】
３．光ファイバ素線の製造条件の調整
この結果を利用して、定期的に製造した光ファイバ素線の最外層の硬化度を測定して、上記Ａ〜Ｉのうちどのエリアに入るか検査した。そして、Ｂ〜Ｅ，Ｉのエリアに入った場合、その後の製造条件を以下のように変更した。
Ｂのエリアに入った場合：ＵＶ炉の光強度調整ボリュームを下げ、光強度を下げる。
Ｃのエリアに入った場合：ＵＶ炉の光強度調整ボリュームを下げ、光強度を下げる。かつ、ＵＶ炉に導入するＮ２ガスパージ量を上げて、Ｏ２濃度を１％から０．１％以下に下げる。
Ｄのエリアに入った場合：ＵＶ炉の光強度調整ボリュームを下げ、光強度を下げる。かつ、ＵＶ炉に導入するＮ２ガスパージ量を上げて、Ｏ２濃度を２％から０．１％以下に下げる。
Ｅのエリアに入った場合：ＵＶ炉に導入するＮ２ガスパージ量を上げて、Ｏ２濃度を１〜２％から０．１％以下に下げる。
Ｉのエリアに入った場合：ＵＶ炉の光強度調整ボリュームを上げ、光強度を上げる。
なお、Ｆ，Ｇ，Ｈのエリアに入った場合、樹脂の設計を変更する。
以上の操作を行いながら光ファイバ素線を製造することにより、上記範囲の硬化度を有する光ファイバ素線の良好品を効率よく製造することができた。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の製造方法に好適に用いられる赤外分光分析装置の一例を示す概略構成図である。
【図２】（Ａ）及び（Ｂ）は、図１に示す赤外線分光分析装置によって得られる赤外線吸収スペクトルを模式的に示した図である。
【図３】本発明に係る光ファイバ素線の製造方法に好適に用いられる製造装置の一例を示す概略構成図である。
【図４】図３に示す硬化装置３５ｂを示す概略構成図である。
【図５】ＺｎＳｅ基板を用いて測定したピーク面積比（Ａｄ／Ａｃ）とＧｅ基板を用いて測定したピーク面積比（Ａｄ／Ａｃ）との関係を示す図である。
【図６】従来のＡＴＲ法により樹脂硬化特性を評価する装置を示した概略構成図である。
【符号の説明】
【００３８】
３    セカンダリ層（最外層）
２３  透明基板
２４  光ファイバ素線
【図１】
2005350310.tif 000004
【図２】
2005350310.tif 000005
【図３】
2005350310.tif 000006
【図４】
2005350310.tif 000007
【図５】
2005350310.tif 000008
【図６】
2005350310.tif 000009