(57)【要約】【課題】異種部品が混入した場合の選別を容易にかつ確実に行なうことができるＰＴＣ素子の選別方法を提供する。【解決手段】異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別方法において、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度及び抵抗値を上昇させ、所定の温度Ｔに達した時の上記各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの抵抗値Ｒ１，Ｒ２を測定し、この抵抗値Ｒ１，Ｒ２の相違によって特性を選別する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法において、各ＰＴＣ素子の温度及び抵抗値を上昇させ、所定の温度又は抵抗値になった時の抵抗値又は温度の相違によって各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項２】
請求項１において、上記各ＰＴＣ素子を外部から加熱することにより温度及び抵抗値を上昇させることを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項３】
請求項１において、上記各ＰＴＣ素子に電圧を印加して自己発熱させることにより温度及び抵抗値を上昇させることを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項４】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法において、各ＰＴＣ素子に電圧を印加して、該各ＰＴＣ素子を自己発熱させ、もって温度及び抵抗値を上昇させるとともに、電圧印加後所定時間が経過した時の各ＰＴＣ素子の温度を測定し、該温度の相違によって各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項５】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法において、各ＰＴＣ素子に電圧を印加して、該各ＰＴＣ素子を自己発熱させ、もって温度及び抵抗値を上昇させるとともに、上記電圧印加量の増加による各ＰＴＣ素子の温度の増加量を測定し、該温度の増加量が所定範囲内になったときの温度の相違によって各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、正の抵抗温度特性を有するＰＴＣ素子は、キュリー温度（以下、適宜ＣＰと略する）を超えると、抵抗値が急激に増加する特性を有しており、例えば電子回路の過電流保護素子として、あるいは温度検出素子として使用されている。
【０００３】
このようなＰＴＣ素子では、例えば製造過程で不純物の混入などによって特性不良が発生する場合があり、このため製造されたＰＴＣ素子の良否を判定するようにしている。このような良否の判定方法として、例えばＰＴＣ素子のインピーダンスを測定し、その抵抗成分の値により良否を評価する方法がある（例えば、特許文献１参照）。また他の判定方法として、通電時の突入電流値，定常電流値を設定し、この設定値を超えない突入電流及び定常電流を有するＰＴＣ素子を選定する方法がある（例えば、特許文献２参照）。
【０００４】
一方、現在では市場要求に応えるために、様々な抵抗温度特性を持ったＰＴＣ素子が市販されており、ＰＴＣ素子自体の超小型化も進んでいる。最近では、例えば１．６×０．８ｍｍ、０．６×０．３ｍｍ程度の微小チップ部品も開発されている。
【特許文献１】特開平７−２９４５６８号公報
【特許文献２】特開平９−９２５０４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、ＰＴＣ素子の部品管理を行なう中で、管理中のＰＴＣ素子に何らかの原因で異種特性のＰＴＣ素子が誤って混入する場合が考えられる。このような場合には、混入した異種部品を選別する必要が生じるが、上記従来の何れの方法を採用しても、異なる抵抗温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するのは困難であり、部品管理の効率を高めるうえでの改善が望まれている。
【０００６】
また現在、異種部品が混入するのを防ぐために、ＰＴＣ素子に識別用のマーキングを施すことも行なわれているが、チップの小型化が進む中で、微小チップ部品にマーキングすることは困難であり、このため外観から抵抗温度特性の違いを判別することができない。また短時間で測定できる抵抗値や耐圧でもっても特性を判別することができないのが実情である。従って、混入したＰＴＣ素子を選別するには、全数チェックで各素子の抵抗温度特性を測定しなければならず、多大な時間と手間を要するという問題がある。
【０００７】
本発明は、上記従来の実情に鑑みてなされたもので、異種部品が混入した場合の選別を容易にかつ確実に行なうことができるＰＴＣ素子の選別方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法において、各ＰＴＣ素子の温度及び抵抗値を上昇させ、所定の温度又は抵抗値になった時の抵抗値又は温度の相違によって各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。
【０００９】
請求項２の発明は、請求項１において、上記各ＰＴＣ素子を外部から加熱することにより温度及び抵抗値を上昇させることを特徴としている。
【００１０】
請求項３の発明は、請求項１において、上記各ＰＴＣ素子に電圧を印加して自己発熱させることにより温度及び抵抗値を上昇させることを特徴としている。
【００１１】
請求項４の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法において、各ＰＴＣ素子に電圧を印加して、該各ＰＴＣ素子を自己発熱させ、もって温度及び抵抗値を上昇させるとともに、電圧印加後所定時間が経過した時の各ＰＴＣ素子の温度を測定し、該温度の相違によって各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。
【００１２】
請求項５の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法において、各ＰＴＣ素子に電圧を印加して、該各ＰＴＣ素子を自己発熱させ、もって温度及び抵抗値を上昇させるとともに、上記電圧印加量の増加による各ＰＴＣ素子の温度の増加量を測定し、該温度の増加量が所定範囲内になったときの温度の相違によって各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１３】
請求項１の発明に係る選別方法では、各ＰＴＣ素子の温度及び抵抗値を、例えば外部からの加熱により（請求項２）、あるいは電圧印加による自己発熱により（請求項３）上昇させ、各ＰＴＣ素子が所定の温度又は抵抗値になったときの抵抗値又は温度の相違によって選別するようにしたので、各ＰＴＣ素子のキュリー温度，抵抗温度特性等の違いを利用して混入した異種部品を容易にかつ確実に見分けることができ、部品管理の効率を高めることができる。
【００１４】
請求項４の発明では、各ＰＴＣ素子に電圧を印加後、所定時間経過した時の各ＰＴＣ素子の温度の相違によって選別するようにしたので、請求項１と同様に混入した異種部品を容易にかつ確実に見分けることができ、部品管理の効率を高めることができる。
【００１５】
請求項５の発明では、各ＰＴＣ素子への電圧印加量の増加によるＰＴＣ素子の温度増加量が所定範囲内になった時の温度の相違によって選別するようにしたので、請求項１と同様に混入した異種部品を容易にかつ確実に見分けることができ、部品管理の効率を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
【００１７】
図１は、本発明の第１実施形態によるＰＴＣ素子の選別方法を説明するための抵抗温度特性図である。
【００１８】
本実施形態の選別方法は、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂをホットプレート等を使用して外部から加熱し、もって温度及び抵抗を上昇させ、あるいは各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに一定電圧を印加して各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂを自己発熱させ、もって温度及び抵抗を上昇させる。そして所定の温度Ｔに達したときの各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの抵抗値Ｒ１，Ｒ２を測定し、この抵抗値Ｒ１，Ｒ２の相違によって選別する。即ち、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂが上記温度Ｔに達した時の抵抗値Ｒ１，Ｒ２はその素子が持つキュリー温度や抵抗温度特性等で異なることから、この特性の違いを利用して選別を行なうのである。
【００１９】
図２は、本発明の第２実施形態による選別方法を説明するための抵抗温度特性図である。
【００２０】
本実施形態の選別方法は、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂをホットプレート等を使用して外部から加熱し、もって温度及び抵抗を上昇させ、あるいは各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに一定電圧を印加して各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂを自己発熱させ、もって温度及び抵抗値を上昇させる。そして所定の抵抗値Ｒに達したときの各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度Ｔ１，Ｔ２を測定し、この温度Ｔ１，Ｔ２の相違によって特性を選別する。
【００２１】
このように本第１，第２実施形態によれば、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂが所定温度又は所定抵抗値になったときの該各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの抵抗値又は温度の相違によって選別するようにしたので、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂが有するキュリー温度や抵抗温度特性の違いを利用して混入した異種部品を容易にかつ確実に見分けることができ、部品管理の効率を高めることができる。
【００２２】
なお、上記実施形態では、異種混入したＰＴＣ素子を選別するようにしたが、本発明の選別方法によって、ＰＴＣ素子の良否の判定を行なうことも可能である。
【実施例１】
【００２３】
図３，図４及び表１は、実施例１による選別方法を説明するための図であり、図３はＰＴＣ素子の斜視図、図４はＰＴＣ素子の抵抗温度特性図である。
【００２４】
本実施例１のＰＴＣ素子１は、図３に示すように、直方体状の半導体磁器１ａ内に内部電極（不図示）を埋設し、各内部電極を半導体磁器１ａの両端部に形成された外部電極２，２に接続した構造のものであり、素子サイズはＬ×Ｗ×Ｔがそれぞれ１．６×０．８×０．８ｍｍで、両外部電極幅が０．４ｍｍからなるものである。
【００２５】
本実施例１では、上記ＰＴＣ素子１と同じ構造のＣＰ＝１００±５℃のＰＴＣ素子（図４の破線参照）Ａと、ＣＰ＝１２０±５℃のＰＴＣ素子（図４の実線参照）Ｂとの選別を行なった。
【００２６】
温度調整が可能なホットプレート上に各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂを載置し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度上昇させ、該温度が１２０℃に達した時の抵抗値を測定した。その結果、１２０℃に達した時の抵抗値はＰＴＣ素子Ａが４．７ｋΩ〜２７ｋΩで、ＰＴＣ素子Ｂが３００Ω〜２ｋΩであった。
【００２７】
そして本実施例１では、上記ＰＴＣ素子Ｂを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ａを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂを加熱し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度が１２０℃に達した時の抵抗値を全数測定し、測定した抵抗値が３００Ω〜２ｋΩの範囲から外れる素子を選別した。
【００２８】
その結果、抵抗値が３００Ω〜２ｋΩの範囲から外れた素子が５個存在した。表１から分かるように、試料番号１〜５の各素子は何れもＣＰが１００±５℃内のＰＴＣ素子Ａであった。本実施例１によれば、異種部品を容易にかつ確実に見分けることができる。
【００２９】
【表１】
2005243827.tif 000003
【実施例２】
【００３０】
図５は実施例２による選別方法を説明するための抵抗温度特性図である。
【００３１】
本実施例２では、上述のＰＴＣ素子Ａ，ＢにＣＰ＝８０±５℃のＰＴＣ素子Ｃを加え、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。
【００３２】
温度調整が可能なホットプレート上に各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃを載置し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの温度上昇させ、該温度が１２０℃に達した時の抵抗値を測定した。その結果、１２０℃に達した時の抵抗値はそれぞれＰＴＣ素子Ａが４．７ｋΩ〜２７ｋΩ、ＰＴＣ素子Ｂが３００Ω〜２ｋΩ、ＰＴＣ素子Ｃが１００ｋΩ〜４００ｋΩであった。
【００３３】
そしてＰＴＣ素子Ｂを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子ＡとＣをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃを加熱し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの温度が１２０℃に達した時の抵抗値を全数測定し、測定した抵抗値が３００Ω〜２ｋΩの範囲から外れる素子を選別した。
【００３４】
その結果、抵抗値が３００Ω〜２ｋΩの範囲から外れた素子が１０個存在した。表２から分かるように、試料番号１１〜２０の各素子は何れもＣＰが１００±５℃内のＰＴＣ素子ＡとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。本実施例２によれば、異種部品を容易にかつ確実に見分けることができる。
【００３５】
【表２】
2005243827.tif 000004
【実施例３】
【００３６】
図６〜図８は、実施例３による選別方法を説明するための図であり、図６（ａ），（ｂ）はＰＴＣ素子の測定回路図、図７は電圧印加後のＰＴＣ素子の時間と抵抗値との関係を示す特性図、図８は電圧印加後のＰＴＣ素子の時間と温度との関係を示す特性図である。
【００３７】
本実施例３では図３に示すＰＴＣ素子１と同じ構造のＣＰ＝１００±５℃のＰＴＣ素子Ａと、ＣＰ＝１２０±５℃のＰＴＣ素子Ｂとの選別を行なった。
【００３８】
各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、その時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流値の時間変化をオシロスコープ３で測定し、この電流値を用いて各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの抵抗値を算出し、この抵抗値が４．７ｋΩに達した時の温度を非接触式の赤外線検出式温度計４で測定した。その結果、４．７ｋΩに達した時のＰＴＣ素子Ｂの温度は１１０〜１２０℃で、ＰＴＣ素子Ａは１３０〜１４０℃であった。
【００３９】
そして本実施例３では、上記ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの抵抗値が４．７ｋΩになる温度を赤外線検出式温度計４で全数測定し、測定した温度が１３０〜１４０℃の範囲から外れる素子を選別した。
【００４０】
その結果、温度が１３０〜１４０℃の範囲から外れた素子が５個存在した。表３から分かるように、試料番号２１〜２５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。
【００４１】
このように本実施例３によれば、異種部品を１個当たり数十ｍｓの速さで容易にかつ確実に選別でき、選別作業を効率良く行なうことができる。
【００４２】
【表３】
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【００４３】
なお、上記実施例３では、非接触式の赤外線検出式温度計４でＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度を測定したが、本発明では、図６（ｂ）に示すように、接触式の熱電対５によりＰＴＣ素子の温度を測定してもよい。このようにした場合にも上記同様の効果が得られる。
【実施例４】
【００４４】
図９及び図１０は、実施例４による選別方法を説明するための図であり、図９は電圧印加後のＰＴＣ素子の時間と抵抗値との関係を示す特性図、図１０は電圧印加後のＰＴＣ素子の時間と温度との関係を示す特性図である。
【００４５】
本実施例４では、上述のＣＰ＝１００±５℃のＰＴＣ素子Ａ及びＣＰ＝１２０±５℃のＰＴＣ素子ＢにＣＰ＝８０±５℃のＰＴＣ素子Ｃを加え、異なる特性を有する３つのＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。
【００４６】
各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、その時の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに流れる電流値の時間変化をオシロスコープで測定し、この電流値を用いて各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの抵抗値を算出し、この抵抗値が４．７ｋΩに達した時の温度を測定した。その結果、４．７ｋΩに達した時の温度はそれぞれＰＴＣ素子Ａが１１０〜１２０℃、ＰＴＣ素子Ｂが１３０〜１４０℃、ＰＴＣ素子Ｃが９０〜１００℃であった。
【００４７】
そして本実施例４では、上記ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子ＢとＣをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの抵抗値が４．７ｋΩになる温度を全数測定し、測定した温度が１１０〜１２０℃の範囲から外れる素子を選別した。
【００４８】
その結果、温度が１１０〜１２０℃の範囲から外れた素子が１０個存在した。表４から分かるように、試料番号３１〜４０の各素子は何れもＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子ＣとＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。
【００４９】
このように本実施例４によれば、３つの異種部品を短時間で容易にかつ確実に見分けることができ、選別作業を効率良く行なうことができる。
【００５０】
【表４】
2005243827.tif 000006
【００５１】
図１１は、本発明の第３実施形態によるＰＴＣ素子の選別方法を説明するための定電圧印加時の素子温度の時間変化を示す特性図である。
【００５２】
本実施形態の選別方法は、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに一定電圧を印加し、該各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの自己発熱によって温度を上昇させる。そして上記定電圧印加から所定の時間ｔ１が経過した時点での各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度Ｔ１，Ｔ２を測定し、この各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度Ｔ１，Ｔ２の相違によって選別する。即ち、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂが上記所定時間ｔ１に達した時の温度Ｔ１，Ｔ２はその素子が持つキュリー温度や抵抗温度特性等で異なることから、この特性の違いを利用して選別を行なうのである。
【００５３】
図１２は、本発明の第４実施形態による選別方法を説明するための印加電圧により素子が安定する温度の変化を示す特性図である。
【００５４】
本実施形態の選別方法は、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに印加する電圧を変化させ、該各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの自己発熱によって温度を上昇させる。そして印加電圧の増加による温度上昇量が所定範囲内となった時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度Ｔ１，Ｔ２を測定し、この各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度Ｔ１，Ｔ２の相違によって選別する。即ち、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの自己発熱によって温度及び抵抗値は上昇するものの、一定時間が経過すると各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度（抵抗値）は安定する。この安定した時の温度Ｔ１，Ｔ２は各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂのキュリー温度，抵抗温度特性等によって異なることから、この特性を利用して選別を行なうこととなる。
【実施例５】
【００５５】
図１３及び図１４は、実施例５による選別方法を説明するための図であり、図１３は電圧印加後のＰＴＣ素子の温度変化を示す特性図、図１４はＰＴＣ素子の測定回路図である。
【００５６】
図１４に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、該電圧印加１００ｍｓ後の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度を非接触式の赤外線検出式温度計４で測定した。その結果、ＰＴＣ素子Ａの温度は１１０〜１２０℃で、ＰＴＣ素子Ｂは１３０〜１４０℃であった。
【００５７】
そして本実施例５では、上記ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加１００ｓ後の各素子温度を全数測定し、測定した温度が１１０〜１２０℃の範囲から外れる素子を選別した。
【００５８】
その結果、温度が１１０〜１２０℃の範囲から外れた素子が５個存在した。表５から分かるように、試料番号４１〜４５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。本実施例５によれば、異種部品を短時間で容易にかつ確実に見分けることができる。
【００５９】
【表５】
2005243827.tif 000007
【実施例６】
【００６０】
図１５及び図１６は、実施例６による選別方法を説明するための図であり、図１５はＰＴＣ素子の抵抗温度特性図、図１６は電圧印加後のＰＴＣ素子の抵抗値の変化を示す特性図である。
【００６１】
本実施例６では、上述のＰＴＣ素子Ａ及びＢにＣＰ＝８０±５℃のＰＴＣ素子Ｃを加え、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。
【００６２】
各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加１００ｍｓ後の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの温度を測定した。その結果、１００ｍｓ後の温度はそれぞれＰＴＣ素子Ａが１１０〜１２０℃、ＰＴＣ素子Ｂが１３０〜１４０℃、ＰＴＣ素子Ｃが９０〜１００℃であった。
【００６３】
そして本実施例６では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ，Ｃをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、１００ｍｓ後の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの温度を全数測定し、測定した温度が１１０〜１２０℃の範囲から外れる素子を選別した。
【００６４】
その結果、温度が１１０〜１２０℃の範囲から外れた素子が１０個存在した。表６から分かるように、試料番号５１〜６０の各素子は何れもＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子ＣとＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。このように本実施例６によれば、異種部品を短時間で容易にかつ確実に見分けることができる。
【００６５】
【表６】
2005243827.tif 000008
【実施例７】
【００６６】
本実施例７では、各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧１０〜７０Ｖを１０Ｖ間隔で印加し、１００ｍｓ後の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの温度をそれぞれ電圧値で測定した。その結果、印加電圧を１０Ｖから６０Ｖにした時のＰＴＣ素子Ａの温度の増加量は４０〜５０℃で、ＰＴＣ素子Ｂの温度増加量は５５〜６０℃であった。
【００６７】
そしてＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。ＤＣ電圧１０Ｖ，６０Ｖを印加した時に、この印加電圧に対する素子温度の増加量を全数測定し、測定された温度の増加量が４０〜５０℃の範囲から外れる素子を選別した。
【００６８】
その結果、温度増加量が４０〜５０℃の範囲から外れた素子が５個存在した。表７から分かるように、試料番号６１〜６５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。このように実施例７によれば、異種部品を短時間で容易にかつ確実に見分けることができる。
【００６９】
【表７】
2005243827.tif 000009
【実施例８】
【００７０】
本実施例８では、上記ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＣＰ＝８０±５℃のＰＴＣ素子Ｃを加え、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧１０〜７０Ｖを１０Ｖ間隔で印加し、１００ｍｓ後の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの温度をそれぞれ電圧値で測定した。その結果、印加電圧を１０Ｖから６０Ｖにした時の温度の増加量はそれぞれＰＴＣ素子Ａが４０〜５０℃、ＰＴＣ素子Ｂが５５〜６０℃、ＰＴＣ素子Ｃが３０〜３５℃であった。
【００７１】
そしてＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ，Ｃをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧１０Ｖ，６０Ｖを印加した時に、この印加電圧に対する素子温度の増加量を全数測定し、測定された温度の増加量が４０〜５０℃の範囲から外れる素子を選別した。
【００７２】
その結果、温度増加量が４０〜５０℃の範囲から外れた素子が１０個存在した。表８から分かるように、試料番号７１〜８０の各素子は何れもＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子ＣとＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。このように実施例８によれば、異種部品を短時間で容易にかつ確実に見分けることができる。
【００７３】
【表８】
2005243827.tif 000010
【００７４】
ここで、上記各実施形態では、ＰＴＣ素子自体のキュリー温度，抵抗温度特性等の特性を利用して選別を行なうようにしたが、本発明では、上述の特性を利用した選別方法に加えてＰＴＣ素子の静特性や動特性を利用した以下の選別方法を組み合わせることも可能である。
【００７５】
静特性による選別方法には、（１) 各ＰＴＣ素子に所定の電圧を印加し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子の電流値の相違によって特性を選別する。（２）各ＰＴＣ素子に所定の電流を流し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子の電圧値の相違によって特性を選別する。（３）各ＰＴＣ素子に所定の異なる値の電圧を印加し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子のそれぞれの電流値の相違によって特性を選別する。（４）各ＰＴＣ素子に所定の異なる値の電流を流し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子のそれぞれの電流値の相違によって特性を選別する、等の方法が採用できる。
【００７６】
また、動特性による選別方法には、（１）各ＰＴＣ素子に電流が十分減衰する所定の電圧を印加し、上記各ＰＴＣ素子が所定の電流値に至る時間の相違によって各ＰＴＣ素子の特性を選別する。（２）各ＰＴＣ素子に電流が十分減衰する所定の電圧を印加し、所定の時間を経過した時の電流値の相違によって上記各ＰＴＣ素子の特性を選別する。（３）各ＰＴＣ素子が複数の所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって上記各ＰＴＣ素子の特性を選別する。（４）各ＰＴＣ素子に電流が十分に減衰する所定の電圧を印加し、複数の所定の時間を経過した後のそれぞれの電流値の相違によって上記各ＰＴＣ素子の特性を選別する。（５）各ＰＴＣ素子に電流が十分に減衰する複数の所定の電圧を印加し、上記各ＰＴＣ素子が所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって各ＰＴＣ素子の特性を選別する。（６）各ＰＴＣ素子に電流が十分に減衰する複数の所定の電圧を印加し、所定の時間を経過した時のそれぞれの電流値の相違によって上記各ＰＴＣ素子の特性を選別する、等の方法が採用できる。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本発明の第１実施形態によるＰＴＣ素子の選別方法を説明するための抵抗温度特性図である。
【図２】本発明の第２実施形態による選別方法を説明するための抵抗温度特性図である。
【図３】ＰＴＣ素子の斜視図である。
【図４】ＰＴＣ素子の抵抗温度特性図である。
【図５】ＰＴＣ素子の抵抗温度特性図である。
【図６】ＰＴＣ素子の測定回路図である。
【図７】ＰＴＣ素子の時間と抵抗値の関係を示す特性図である。
【図８】ＰＴＣ素子の時間と温度との関係を示す特性図である。
【図９】ＰＴＣ素子の時間と抵抗値との関係を示す特性図である。
【図１０】ＰＴＣ素子の時間との温度との関係を示す特性図である。
【図１１】本発明の第３実施形態による選別方法を説明するための素子温度の時間変化を示す特性図である。
【図１２】本発明の第４実施形態による選別方法を説明するための特性図である。
【図１３】電圧印加後のＰＴＣ素子の温度変化を示す特性図である。
【図１４】ＰＴＣ素子の測定回路図である。
【図１５】ＰＴＣ素子の抵抗温度特性図である。
【図１６】電圧印加後のＰＴＣ素子の抵抗値変化を示す特性図である。
【符号の説明】
【００７８】
１      ＰＴＣ素子
Ａ      ＣＰ１００±５℃のＰＴＣ素子
Ｂ      ＣＰ１２０±５℃のＰＴＣ素子
Ｃ      ＣＰ８０±５℃のＰＴＣ素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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