(57)【要約】【課題】外部コネクタに外部機器が接続されていないときに発生した不具合を確実に再現することができる電子装置を提供する。【解決手段】ＣＰＵ２１は、電圧検出回路２６によって検出される外部コネクタ２５の所定の端子に生じる電圧に関する情報に基づいて、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されているか否かを判定する。この判定結果に基づいて、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されるときは、切換回路２７によって外部コネクタ２５をアクティブ状態に切換えられ、制御部２４から外部コネクタ２５への電子装置２０における所定の処理動作の良否の確認結果の伝送を許容するように制御され、外部コネクタ２５からデバッグ専用治具が離脱されるときは、切換回路２７によって外部コネクタ２５を非アクティブ状態に切換えられ、制御部２４から外部コネクタ２５への前記確認結果の伝送を停止するように制御される。【選択図】      図１
2005025360.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め定める処理動作を実行する動作手段と、
外部機器が着脱可能に接続される接続手段であって、外部機器への情報の送信が可能なアクティブ状態と、外部機器への情報の送信が不可能な非アクティブ状態とに切換え可能な接続手段と、
動作手段による処理動作の良否を確認するデバッグ処理を実行し、確認結果を接続手段に与えるデバッグ処理手段と、
接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定する判定手段と、
判定手段の判定結果に基づいて、接続手段に外部機器が接続されるとき、接続手段をアクティブ状態に切換え、接続手段から外部機器が離脱されるとき、接続手段を非アクティブ状態に切換える接続制御手段と、
デバッグ処理手段と接続手段との間に介在され、判定手段の判定結果に基づいて、接続手段に外部機器が接続されるとき、デバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を許容し、接続手段から外部機器が離脱されるとき、デバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を停止する情報出力制御手段とを含むことを特徴とする電子装置。
【請求項２】
接続手段を模擬する模擬手段をさらに含み、
情報出力制御手段は、接続手段から外部機器が離脱されるとき、デバッグ処理手段から接続手段への確認結果を模擬手段に伝送することを特徴とする請求項１記載の電子装置。
【請求項３】
前記判定手段は、ポーリング方式に基づいて、接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定することを特徴とする請求項１記載の電子装置。
【請求項４】
前記判定手段は、割込み方式に基づいて、接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定することを特徴とする請求項１記載の電子装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、外部機器が着脱可能に接続され、外部機器への情報の送信が可能なアクティブ状態と、外部機器への情報の送信が不可能な非アクティブ状態とに切換え可能な接続手段を備える電子装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、電子装置の外部コネクタに外部機器、たとえばデバッグ専用治具を接続して、コンピュータなどの外部制御装置によって電子装置のメモリの故障解析、プログラムの書換えおよびＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）チップの検査方式の一つであるバウンダリスキャンテスト（Ｂｏｕｎｄａｒｙ  Ｓｃａｎ  Ｔｅｓｔ）の標準方式であるＪＴＡＧ（Ｊｏｉｎｔ  Ｔｅｓｔ  Ａｃｔｉｏｎ  Ｇｒｏｕｐ）を用いたデバッグが行われている。
【０００３】
従来の技術の電子装置では、電子装置の故障時またはメモリに記憶されるプログラムやデータの書換えを行う場合に、外部コネクタに保守用治具を接続して、保守用治具からの入出力信号を、外部コネクタから切替回路を介してデバッグ回路に接続するとともに、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）の動作を停止して、メモリのプログラムやデータの書換えまたは制御部の故障解析を行っている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００４】
また、前述のメモリの故障解析、プログラムの書換えおよびＪＴＡＧを用いたデバッグなどの作業以外にも、開発段階の電子装置、たとえば携帯電話機などのソフトウェアの開発作業において、ソフトウェアに不具合が発生した場合に、外部コネクタから携帯電話機のログデータを取出すことによって、ソフトウェアに生じた不具合の解析を行っている。
【０００５】
図３は、従来の電子装置１０の電気的構成を簡略化して示すブロック図である。従来の電子装置１０は、図３に示すように、ＣＰＵ１１、メモリ１２、制御部１３、外部コネクタ１４およびバス１５を含んで構成される。ＣＰＵ１１は、制御部１３と接続され、さらにバス１５を介してメモリ１２と接続されている。ＣＰＵ１１は、後述するメモリ１２に記憶されているプログラムに基づいて動作する。メモリ１２は、ログデータ抽出機能を備えるデバッグプログラムが内蔵されるメインプログラムを記憶する。制御部１３は、ＣＰＵ１１の指示に基づいて、電子装置１０を構成する上記のメモリ１２、外部コネクタおよびバスを含むハードウェア資源を制御する。外部コネクタ４は、デバッグ専用治具を電子装置に接続する接続部である。外部コネクタ４からは、常時ログデータが送出される。従来の電子装置１０では、電子装置１０に専用治具を接続してログデータを取出し、コンピュータなどの外部制御装置によって、電子装置１０におけるソフトウェアの不具合の解析を行っている。
【０００６】
【特許文献１】
特開２００２−５５９６３号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
前述の従来の技術では、外部コネクタに外部機器、たとえばデバッグ専用治具を接続して、電子装置におけるＣＰＵの動作を停止させ、コンピュータなどの外部制御装置によって、ユーザが電子装置を使用していない状態で、メモリのプログラムやデータの書換えまたは制御部の故障解析などを行っている。電子装置のソフトウェアが複雑になるにつれて、電子装置におけるソフトウェアの不具合の解析作業では、ユーザが電子装置を使用している状態で不具合が発生したときのログデータを取出し、このログデータに基づいてデバッグを行う必要がある。
【０００８】
そのため、最近の電子装置は、メインプログラムにログデータ抽出機能を備えるプログラムを内蔵させ、常時、外部コネクタからログデータの抽出ができる構成になっている。しかし、常に外部コネクタのデバッグインターフェイスを、外部機器への情報の送信が可能なアクティブ状態にすると、外部コネクタから外来ノイズが入り、この外来ノイズによって電子装置が誤動作したり、ユーザによる外部機器の外部コネクタへの接続の誤りによって電子装置が誤動作する場合がある。
【０００９】
前述の問題を回避するために、外部コネクタにデバッグ専用治具を接続したときにのみ、電子装置のメモリに記憶されるデバッグプログラムを動作可能なアクティブ状態にすることも可能である。しかし、この場合、外部コネクタにデバッグ専用治具を接続していない状態、つまりデバッグプログラムが動作していない状態と、外部コネクタにデバッグ専用治具を接続した状態、つまりデバッグプログラムが動作している状態とでは、プログラムの動作条件が異なる。したがって、デバッグ専用治具が外部コネクタに接続されていないときに発生した不具合を確実に再現することができないので、デバッグ専用治具が外部コネクタに接続されていないときに発生した不具合の解析を行うことができないという問題がある。
【００１０】
本発明の目的は、外部コネクタに外部機器が接続されていないときに発生した不具合を確実に再現することができる電子装置を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明は、予め定める処理動作を実行する動作手段と、
外部機器が着脱可能に接続される接続手段であって、外部機器への情報の送信が可能なアクティブ状態と、外部機器への情報の送信が不可能な非アクティブ状態とに切換え可能な接続手段と、
動作手段による処理動作の良否を確認するデバッグ処理を実行し、確認結果を接続手段に与えるデバッグ処理手段と、
接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定する判定手段と、
判定手段の判定結果に基づいて、接続手段に外部機器が接続されるとき、接続手段をアクティブ状態に切換え、接続手段から外部機器が離脱されるとき、接続手段を非アクティブ状態に切換える接続制御手段と、
デバッグ処理手段と接続手段との間に介在され、判定手段の判定結果に基づいて、接続手段に外部機器が接続されるとき、デバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を許容し、接続手段から外部機器が離脱されるとき、デバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を停止する情報出力制御手段とを含むことを特徴とする電子装置である。
【００１２】
本発明に従えば、動作手段によって予め定める処理動作が実行される。デバッグ処理手段によって、動作手段による処理動作の良否を確認するデバッグ処理が実行される。デバッグ処理が実行された後に、動作手段による処理動作の良否の確認結果が、接続手段に与えられる。
【００１３】
電子装置では、接続手段に外部機器が接続されているか否かが、判定手段によって判定される。判定手段によって接続手段に外部機器が接続されていると判定されると、接続手段は、接続制御手段によって外部機器への情報の送信が可能なアクティブ状態に切換えられる。また、判定手段によって接続手段に外部機器が接続されていないと判定されると、接続手段は、接続制御手段によって外部機器への情報の送信が不可能な非アクティブ状態に切換えられる。
【００１４】
判定手段の判定結果に基づいて、接続手段に外部機器が接続されるときは、デバッグ処理手段と接続手段との間に介在される情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送が許容され、接続手段から外部機器が離脱されるときは、前記情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送が停止される。
【００１５】
前述のように、デバッグ処理手段によって、動作手段による処理動作の良否を確認するデバッグ処理を実行している状態で、接続手段に外部機器が接続されるときは、情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を許容するように制御され、接続手段から外部機器が離脱されるときは、情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を停止するように制御される。
【００１６】
電子装置では、接続手段に外部機器が接続されているときと接続されていないときのいずれの場合も、デバッグ処理手段によって同様にデバッグ処理が実行される。すなわち、接続手段への外部機器の接続の有無に拘わらず、電子装置におけるデバッグ処理の動作条件が同一である。したがって、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた電子装置の不具合も確実に再現することができる。これによって、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた不具合の解析を行うことができ、電子装置のソフトウェアの開発効率を向上することができる。
【００１７】
また、判定手段によって接続手段に外部機器が接続されていないと判定されるときは、接続制御手段によって、接続手段を、外部機器への情報の送信が不可能な非アクティブ状態に切換えるように制御しているので、接続手段から入る外来ノイズによる電子装置の誤動作およびユーザによる外部機器の接続手段への接続の誤りに起因する電子装置の誤動作を防止することができる。
【００１８】
さらに、接続手段に外部機器を接続するだけで、接続制御手段によって接続手段をアクティブ状態に切換えることができるので、動作手段による処理動作の良否の確認結果を電子装置から容易に取出すことができ、電子装置の不具合の解析を行うことができる。
【００１９】
また本発明は、接続手段を模擬する模擬手段をさらに含み、
情報出力制御手段は、接続手段から外部機器が離脱されるとき、デバッグ処理手段から接続手段への確認結果を模擬手段に伝送することを特徴とする。
【００２０】
本発明に従えば、判定手段の判定結果に基づいて、接続手段に外部機器が接続されるときは、情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段に確認結果が伝送され、接続手段から外部機器が離脱されるときは、情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段への確認結果が、接続手段を模擬する模擬手段に伝送される。
【００２１】
電子装置では、接続手段に外部機器が接続されているときと接続されていないときとでは、動作手段による処理動作の良否の確認結果の伝送先が異なるだけで、いずれの場合もデバッグ処理手段によって同様にデバッグ処理が実行される。すなわち、接続手段への外部機器の接続の有無に拘わらず、電子装置におけるデバッグ処理の動作条件が同一である。
【００２２】
したがって、接続手段から外部機器が離脱されるときに、情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を停止するように制御する場合に比べて、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた電子装置の不具合を、より確実に再現することができる。
【００２３】
前述のように、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた電子装置の不具合を確実に再現することができるので、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた不具合の解析を行うことができ、電子装置のソフトウェアの開発効率を向上することができる。
【００２４】
また本発明は、前記判定手段は、ポーリング方式に基づいて、接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定することを特徴とする。
【００２５】
本発明に従えば、判定手段は、たとえば接続手段に電圧の変化が生じたか否かを、ポーリング方式に基づいて周期的に確認し、この確認結果に基づいて接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定する。前述のように、判定手段は、ポーリング方式に基づいて、たとえば接続手段に電圧の変化が生じたか否かを周期的に確認するので、この確認結果に基づいて接続手段に外部機器が接続されているか否かを容易かつ即座に判定することができる。
【００２６】
また本発明は、前記判定手段は、割込み方式に基づいて、接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定することを特徴とする。
【００２７】
本発明に従えば、判定手段は、たとえば接続手段に電圧の変化が生じたか否かを、割込み方式に基づいて非周期的に確認し、この確認結果に基づいて接続手段に外部機器が接続されているか否かを判定する。前述のように、判定手段は、割込み方式に基づいて、たとえば接続手段に電圧の変化が生じたか否かを非周期的に確認するので、接続手段に外部機器が接続されているか否かを、ユーザが所望するタイミングで判定させることができ、利便性が向上する。
【００２８】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の第１の実施形態である電子装置２０の電気的構成を簡略化して示すブロック図である。電子装置２０は、たとえば個人用の携帯情報端末であるＰＤＡ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｓｓｉｓｔａｎｃｅ）によって実現される。
【００２９】
電子装置２０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）２１、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ
Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２２、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２３、制御部２４、外部コネクタ２５、電圧検出回路２６、切換回路２７、温度検出部２８、電池電圧検出部２９およびバス３０を含んで構成される。ＣＰＵ２１は、制御部２４および切換回路２７と接続され、さらにバス３０を介してＲＯＭ２２およびＲＡＭ２３と接続される。切換回路２７は、外部コネクタ２５と接続される。電圧検出回路２６は、制御部２４および外部コネクタ２５と接続される。外部コネクタ２５は、電圧検出回路２６および切換回路２７と接続される。
【００３０】
ＣＰＵ２１は、後述するＲＯＭ２２に記憶しているプログラムに基づいて動作する。ＲＯＭ２２は、たとえば不揮発性メモリであるフラッシュメモリによって実現される。ＲＯＭ２２は、電子装置２０が動作するために必要な動作プログラムおよびログデータ抽出機能を備えるデバッグプログラムが内蔵されるメインプログラムを記憶する。
【００３１】
ＣＰＵ２１の指示に基づいて、デバッグプログラムを実行させると、前記動作プログラムに基づく予め定める処理動作の良否を確認する処理が実行される。ログデータは、デバッグプログラムによる前記処理動作の良否の確認結果である。ログデータは、たとえば電子装置２０の利用状況およびデータ通信の記録であり、操作およびデータの送受信が行われた日時、行われた操作の内容ならびに送受信されたデータの内容などである。ＲＡＭ２３は、デバッグプログラムによる前記処理動作の良否の確認結果であるログデータを記憶する。
【００３２】
制御部２４は、ＣＰＵ２１の指示に基づいて、電子装置２０を構成する上記のＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、外部コネクタ２５、電圧検出回路２６、切換回路２７、温度検出部２８、電池電圧検出部２９およびバス３０を含むハードウェア資源を制御する。
【００３３】
外部コネクタ２５は、電子装置２０のソフトウェアの開発などにおいて、デバッグを行うときに、たとえばパーソナルコンピュータ（略称：ＰＣ）と接続させるためのＲＳ２３２Ｃケーブルのコネクタ、ＰＣと接続される電子装置２０が送受信できる電圧レベルに変換可能なレベル変換機、電子装置２０と接続する接続ケーブルおよび電子装置２０に接続を検出させるために必要な電圧を発生させる装置を含んで構成されるデバッグ専用冶具を電子装置２０に接続する接続部である。ここで、本実施形態におけるデバッグとは、電子装置２０のソフトウェアにおける不具合を、電子装置２０からデバッグ専用治具を介してコンピュータなどの外部制御装置へ取出し、その取出した不具合を解析して修正することによって、前記ソフトウェアが正常に動作するようにする作業である。
【００３４】
電圧検出回路２６は、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されたときに、外部コネクタ２５の複数の端子のうち所定の端子に生じた電圧の変化を検出する。本実施形態において、前記電圧の変化は、たとえばポーリング方式に基づいて検出する。ポーリング方式は、外部コネクタ２４の複数の端子のうち所定の端子に電圧の変化が生じたか否かを周期的に確認することによって、所定の端子に生じる電圧の変化を検出する方式である。
【００３５】
前述のように、電圧検出回路２６は、ポーリング方式に基づいて、たとえば外部コネクタ２５に電圧の変化が生じたか否かを周期的に確認するので、この確認結果に基づいて外部コネクタ２５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されているか否かを容易かつ即座に判定することができる。
【００３６】
また、前記電圧の変化は、前述のポーリング方式以外に、たとえば割込み方式に基づいて検出してもよい。割込み方式は、ポーリング方式とは異なり、非周期的に外部コネクタ２４の複数の端子のうち所定の端子に電圧の変化が生じたか否かを確認することによって、所定の端子に生じる電圧の変化を検出する方式である。
【００３７】
前述のように、電圧検出回路２６は、割込み方式に基づいて、たとえば外部コネクタ２５に電圧の変化が生じたか否かを非周期的に確認するので、外部コネクタ２５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されているか否かを、ユーザが所望するタイミングで判定させることができ、利便性が向上する。
【００３８】
切換回路２７は、電圧検出回路２６の検出結果に基づいて、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されるとき、外部コネクタ２５のデバッグインターフェイスを、デバッグ専用治具への情報の送信が可能なアクティブ状態に切換え、外部コネクタ２５からデバッグ専用治具が離脱されるとき、外部コネクタ２５のデバッグインターフェイスを、デバッグ専用治具への情報の送信が不可能な非アクティブ状態に切換える。
【００３９】
温度検出部２８は、デバッグプログラムが実行されたときに、電子装置２０における電池、図示しない撮像部および表示部の周辺の温度を検出する。電池電圧検出部２９は、デバッグプログラムが実行されたときに、電子装置２０に内蔵される電池の電圧を検出する。
【００４０】
本実施形態において、ＣＰＵ２１、ＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３および制御部２４は、動作手段である。外部コネクタ２５は、接続手段であり、制御部２４はデバッグ処理手段である。ＣＰＵ２１および電圧検出回路２６は、判定手段である。切換回路２７は、接続制御手段および情報出力制御手段である。
【００４１】
電子装置２０において、メモリ２２に記憶されているメインプログラムに内蔵されるデバッグプログラムは、外部コネクタ２５へのデバッグ専用治具の接続の有無に拘わらず、常時ＣＰＵ２１の指示に基づいて動作する。電子装置２０の電池電圧や電池、撮像部および表示部の周辺の温度ならびにＣＰＵ２１の動作状況、たとえば特定レジスタの設定値、所定の動作を行った回数およびネットワークから受信して解読したデータなどのログデータは、随時更新され、ＲＡＭ２３に格納される。また、電圧検出回路２６によって電圧の変化が検出されて、ＣＰＵ２１によって外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されたと判定されない限り、前記ログデータは外部コネクタ２５から外部へ出力されないように構成される。
【００４２】
また、電子装置２０の動作に不具合が生じて、この不具合を解析するためには、不具合が生じたときのログデータを電子装置２０から取出す必要がある。このような場合には、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続される。外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されると、電圧検出回路２６によって、外部コネクタ２５の所定の端子に生じる電圧の変化が、前述のポーリング方式または割込み方式に基づいて検出される。
【００４３】
電圧検出回路２６において、ポーリング方式または割込み方式に基づいて検出された電圧に関する情報は、電圧検出回路２６から制御部２４へ送信される。制御部２４は、電圧検出回路２６から送信された前記電圧に関する情報を受信するとともに、ＣＰＵ２１へ送信する。ＣＰＵ２１は、制御部２４から送信された前記電圧に関する情報を受信し、この受信した電圧に関する情報に基づいて、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されているか否かを判定する。
【００４４】
ＣＰＵ２１によって、外部コネクタ２５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されていると判定されると、この判定結果に基づいて、切換回路２７によって外部コネクタ２５のデバッグインターフェイスがアクティブ状態に切換えられ、制御部２４から外部コネクタ２５へのデバッグプログラムによる処理動作の良否の確認結果の伝送を許容するように制御される。これによって、ＲＡＭ２３に格納されているログデータを外部コネクタ２５から出力することが可能になる。また、ＣＰＵ２１によって、外部コネクタ２５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されていないと判定されると、この判定結果に基づいて、切換回路２７によって外部コネクタ２５のデバッグインターフェイスが非アクティブ状態に切換えられ、制御部２４から外部コネクタ２５への前記確認結果の伝送を停止するように制御される。
【００４５】
前述のような処理を行った後に、解析したい不具合現象を再現させ、そのときのログデータを電子装置２０のＲＡＭ２３から抽出して、電子装置２０におけるソフトウェアの不具合の解析、つまりデバッグを行うことができる。
【００４６】
前述のように、電子装置２０では、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されているときおよび接続されていないときのいずれの場合も、ＣＰＵ２１の指示に基づいてデバッグプログラムが実行される。すなわち、外部コネクタ２５へのデバッグ専用治具の接続の有無に拘わらず、電子装置２０におけるデバッグプログラムの動作条件が同一である。
【００４７】
したがって、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されていないときに生じた電子装置２０の不具合を確実に再現することができる。これによって、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されていないときに生じた不具合の解析を行うことができ、電子装置２０のソフトウェアの開発効率を向上することができる。
【００４８】
また、ＣＰＵ２１によって外部コネクタ２５にデバッグ専用治具が接続されていないと判定されるときは、切換回路２７によって、外部コネクタ２５のデバッグインターフェイスを、デバッグ専用治具への情報の送信が不可能な非アクティブ状態に切換えるように制御しているので、外部コネクタ２５から外来ノイズが入ることを防ぎ、電子装置２０の誤動作を防止することができるとともに、ユーザによるデバッグ専用治具の外部コネクタ２５への接続の誤りに起因する電子装置２０の誤動作を防止することができる。
【００４９】
さらに、外部コネクタ２５にデバッグ専用治具を接続するだけで、切換回路２７によって外部コネクタ２５のデバッグインターフェイスをアクティブ状態に切換えることができるので、デバッグプログラムによる電子装置２０の処理動作の良否の確認結果を、電子装置２０から容易に取出すことができ、電子装置２０の不具合の解析を行うことができる。
【００５０】
図２は、本発明の第２の実施形態である電子装置４０の電気的構成を簡略化して示すブロック図である。電子装置４０は、たとえば携帯電話機によって実現される。
【００５１】
電子装置４０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）４１、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ
Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）４２、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）４３、制御部４４、外部コネクタ４５、電圧検出回路４６、切換回路４７、内部デバッグインターフェイス部４８、無線部４９、アンテナ５０、操作部５１、表示部５２、音声部５３、スピーカ５４、マイクロフォン５５、温度検出部５６、電池電圧検出部５７およびバス５８を含んで構成される。
【００５２】
ＣＰＵ４１は、制御部４４および切換回路４７と接続され、さらにバス５８を介してＲＯＭ４２、ＲＡＭ４３および表示部５２と接続される。制御部４４は、ＣＰＵ４１、電圧検出回路４６、無線部４９、操作部５１および音声部５３と接続される。また、制御部４４は、バス５８を介してＲＯＭ４２、ＲＡＭ４３および表示部５２と接続される。切換回路４７は、外部コネクタ４５および内部デバッグインターフェイス部４８と接続される。電圧検出回路４６は、制御部４４および外部コネクタ４５と接続される。外部コネクタ４５は、電圧検出回路４６および切換回路４７と接続される。
【００５３】
ＣＰＵ４１は、後述するＲＯＭ４２に記憶しているプログラムに基づいて動作する。ＲＯＭ４２は、たとえば不揮発性メモリであるフラッシュメモリによって実現される。ＲＯＭ４２は、電子装置４０が動作するために必要な動作プログラムおよびログデータ抽出機能を備えるデバッグプログラムが内蔵されるメインプログラムを記憶する。
【００５４】
ＣＰＵ４１の指示に基づいて、デバッグプログラムを実行させると、前記動作プログラムに基づく予め定める処理動作の良否を確認する処理が実行される。ログデータは、デバッグプログラムによる前記処理動作の良否の確認結果である。ログデータは、たとえば電子装置４０の利用状況およびデータ通信の記録であり、操作およびデータの送受信が行われた日時、行われた操作の内容ならびに送受信されたデータの内容などである。ＲＡＭ４３は、デバッグプログラムによる前記処理動作の良否の確認結果であるログデータを記憶する。
【００５５】
制御部４４は、ＣＰＵ４１の指示に基づいて、電子装置４０を構成する上記のＲＯＭ４２、ＲＡＭ４３、外部コネクタ４５、電圧検出回路４６、切換回路４７、内部デバッグインターフェイス部４８、無線部４９、操作部５１、表示部５２、音声部５３、温度検出部５６、電池電圧検出部５７およびバス５８を含むハードウェア資源を制御する。
【００５６】
外部コネクタ４５は、電子装置４０のソフトウェアの開発などで、デバッグを行うときに、たとえばパーソナルコンピュータ（略称：ＰＣ）と接続させるためのＲＳ２３２Ｃケーブルのコネクタ、ＰＣと接続される電子装置２０が送受信できる電圧レベルに変換可能なレベル変換機、電子装置２０と接続する接続ケーブルおよび電子装置２０に接続を検出させるために必要な電圧を発生させる装置を含んで構成されるデバッグ専用冶具を電子装置４０に接続する接続部である。ここで、本実施形態におけるデバッグとは、電子装置４０のソフトウェアにおける不具合を、電子装置４０からデバッグ専用治具を介してコンピュータなどの外部制御装置へ取出し、その取出した不具合を解析して修正することによって、前記ソフトウェアが正常に動作するようにする作業である。
【００５７】
電圧検出回路４６は、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されたときに、外部コネクタ４５の複数の端子のうち所定の端子に生じた電圧の変化を検出する。本実施形態において、前記電圧の変化は、たとえばポーリング方式に基づいて検出する。
【００５８】
前述のように、電圧検出回路４６は、ポーリング方式に基づいて、たとえば外部コネクタ４５に電圧の変化が生じたか否かを周期的に確認するので、この確認結果に基づいて外部コネクタ４５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されているか否かを容易かつ即座に判定することができる。
【００５９】
また、前記電圧の変化は、前記ポーリング方式以外に、割込み方式に基づいて検出することができる。電圧検出回路４６は、割込み方式に基づいて、たとえば外部コネクタ４５に電圧の変化が生じたか否かを非周期的に確認するので、外部コネクタ４５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されているか否かを、ユーザが所望するタイミングで判定させることができ、利便性が向上する。
【００６０】
切換回路４７は、電圧検出回路４６の検出結果に基づいて、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されるとき、外部コネクタ４５のデバッグインターフェイスを、デバッグ専用治具への情報の送信が可能なアクティブ状態に切換え、外部コネクタ４５からデバッグ専用治具が離脱されるとき、外部コネクタ４５のデバッグインターフェイスを、デバッグ専用治具への情報の送信が不可能な非アクティブ状態に切換える。
【００６１】
内部デバッグインターフェイス部４８は、たとえばテストランド、テストピンおよびテスト用コネクタなどによって実現される。
【００６２】
アンテナ５０は、無線電波を介して基地局と無線通信を行うときに、信号の送受信を行う。無線部４９は、アンテナ５０を介して受信した基地局からの信号を復調し、受信信号に変換して制御部４４に伝送する。また無線部４９は、制御部４４から送られてくる音声信号および画像信号などを変調および増幅することによって送信信号に変換し、アンテナ５０を介して基地局に送信する。
【００６３】
操作部５１は、たとえばダイヤル発信、電子メールの送受信、インターネット接続などの種々の設定を行うための入力キーを備えて構成される。ユーザによって操作部５１の所定の入力キーが押下されると、押下された入力キーに基づく操作信号が制御部４４へ伝送される。
【００６４】
表示部５２は、たとえば液晶ディスプレイおよびエレクトロルミネッセンスディスプレイなどによって実現され、制御部４４から送られてくる文字、静止画像および動画像などの画像をそれぞれ表示する。
【００６５】
音声部５３は、無線部４９から制御部４４を介して伝送されるデジタル音声信号をアナログ音声信号に変換し、スピーカ５４などを介して外部に出力する。また、音声部５３は、マイクロフォン５５から出力されるアナログ音声信号をデジタル音声信号に変換して、制御部４４を介して無線部４９へ伝送する。スピーカ５４は、音声部５３からのアナログ音声信号を受取り、音響化して音声を出力する。マイクロフォン５５は、外部から入力される音声をアナログ音声信号に変換して音声部５３に出力する。
【００６６】
電子装置４０で通話を行うときに、ユーザが、電子装置４０の操作部５１の所定の入力キー、たとえば通話キーを押下すると、ユーザによって押下された通話キーに基づく操作信号が制御部４４を介してＣＰＵ４１へ伝送される。ＣＰＵ４１は、操作部５１から伝送されてきた操作信号を受信して、ユーザによって通話キーが押下され、発信動作が指示されたことを認識する。そして、ＣＰＵ４１は、ＲＯＭ４２に記憶している動作プログラムに従って、所定の発信処理を行うとともに、たとえば「発信動作中です」などの発信動作中であることを示すメッセージを表示部５２に表示させる。
【００６７】
またＣＰＵ４１は、制御部４４を介して、無線部４９を動作させて、アンテナ５０を介して無線電波の送受信を行い、基地局と電子装置４０との間で発信に必要な処理を行う。これによって基地局と電子装置４０との通話経路が確立すると、音声部５３ではマイクロフォン５５から出力されるアナログ音声信号を符号化してデジタル音声信号に変換し、このデジタル音声信号を、制御部４４を介して無線部４９へ伝送する。無線部４９では、音声部５３から伝送されてきたデジタル音声信号を変調および増幅することによって送信信号に変換し、アンテナ５０を介して基地局に送信する。
【００６８】
また無線部４９は、アンテナ５０を介して受信した基地局からの信号を復調し、受信信号に変換する。無線部４９は、この受信信号をデジタル音声信号として、制御部３３を介して音声部４２へ伝送する。音声部５３では、無線部４９から伝送されてきたデジタル音声信号を複合化してアナログ音声信号に変換し、このアナログ音声信号をスピーカ５４に伝送する。スピーカ５４は、アナログ音声信号を音響化して音声を出力する。
【００６９】
温度検出部５６は、デバッグプログラムが実行されたときに、電子装置４０における電池、表示部５２および図示しない撮像部の周辺の温度を検出する。電池電圧検出部５７は、デバッグプログラムが実行されたときに、電子装置４０に内蔵される電池の電圧を検出する。
【００７０】
本実施形態において、ＣＰＵ４１、ＲＯＭ４２、ＲＡＭ４３、制御部４４、無線部４９、操作部５１、表示部５２、音声部５３、温度検出部５６および電池電圧検出部５７は、動作手段である。外部コネクタ４５は、接続手段であり、制御部４４はデバッグ処理手段である。ＣＰＵ４１および電圧検出回路４６は、判定手段である。切換回路４７は、接続制御手段および情報出力制御手段である。内部デバッグインターフェイス部４８は、模擬手段である。
【００７１】
前述の電子装置４０の発振動作を行うための処理と並行して、ＲＯＭ４２に記憶しているメインプログラムに内蔵されるデバッグプログラムは、外部コネクタ４５へのデバッグ専用治具の接続の有無に拘わらず、常時ＣＰＵ４１の指示に基づいて動作する。電子装置４０の電池電圧や電池、表示部５２および図示しない撮像部などの周辺の温度、ＣＰＵ４１の動作状況、たとえば特定レジスタの設定値、所定の動作を行った回数およびネットワークから受信して解読したデータならびに基地局と電子装置４０との通信状態および通信情報などのログデータは、随時更新され、ＲＡＭ４３に格納される。
【００７２】
電子装置４０では、外部コネクタ４５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されているときは、切換回路４７によって制御部４４から外部コネクタ４５に、デバッグプログラムに基づく処理動作の良否の確認結果が伝送され、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されていないときは、切換回路４７によって制御部４４から外部コネクタ４５への前記確認結果が、外部コネクタ４５を模擬する内部デバッグインターフェイス部４８に伝送される。
【００７３】
電子装置４０の動作に不具合が生じて、この不具合を解析するためには、不具合が生じたときのログデータを電子装置４０から取出す必要がある。このような場合には、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続される。外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されると、電圧検出回路４６によって、外部コネクタ４５の所定の端子に生じる電圧の変化が、たとえばポーリング方式または割込み方式に基づいて検出される。
【００７４】
電圧検出回路４６において、ポーリング方式または割込み方式に基づいて検出された電圧に関する情報は、電圧検出回路４６から制御部４４へ伝送される。制御部４４は、電圧検出回路４６から伝送された前記電圧に関する情報を受信するとともに、ＣＰＵ４１へ伝送する。ＣＰＵ４１は、制御部４４から伝送された前記電圧に関する情報を受信し、この受信した電圧に関する情報に基づいて、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されているか否かを判定する。
【００７５】
ＣＰＵ４１によって、外部コネクタ４５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されていると判定されると、この判定結果に基づいて、切換回路４７によって外部コネクタ４５のデバッグインターフェイスがアクティブ状態に切換えられ、制御部４４から外部コネクタ４５へのデバッグプログラムによる処理動作の良否の確認結果の伝送を許容するように制御される。これによって、ログデータを外部コネクタ４５から出力することが可能になる。また、ＣＰＵ４１によって、外部コネクタ４５に外部機器、たとえばデバッグ専用治具が接続されていないと判定されると、この判定結果に基づいて、切換回路４７によって外部コネクタ４５のデバッグインターフェイスが非アクティブ状態に切換えられ、制御部４４から外部コネクタ４５への前記確認結果の伝送を停止するように制御される。
【００７６】
前述のような処理を行った後に、解析したい不具合現象を再現させ、そのときのログデータを電子装置４０のＲＡＭ４３から抽出することによって、電子装置４０におけるソフトウェアの不具合の解析、つまりデバッグを行うことができる。
【００７７】
前述のように、外部コネクタ４５からデバッグ専用治具が離脱されるときは、切換回路４７によって制御部４４から外部コネクタ４５への動作プログラムによる処理動作の良否の確認結果が、外部コネクタ４５を模擬する内部デバッグインターフェイス４８に伝送される。
【００７８】
したがって、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されているときおよび接続されていないときでは、前記動作プログラムによる処理動作の良否の確認結果の伝送先が異なるだけで、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されているときおよび接続されていないときのいずれの場合も、ＣＰＵ４１の指示に基づいてデバッグプログラムが動作し、電子装置４０の動作プログラムに基づく予め定める処理動作の良否を確認する処理が同様に実行される。すなわち、外部コネクタ４５へのデバッグ専用治具の接続の有無に拘わらず、電子装置４０におけるデバッグプログラムの動作条件が同一である。
【００７９】
したがって、外部コネクタ４５からデバッグ専用治具が離脱されるときに、第１の実施形態のような切換回路２７によって制御部２４から外部コネクタ２５への前記確認結果の伝送を停止するように制御する場合に比べて、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されていないときに生じた電子装置４０の不具合を、より確実に再現することができる。
【００８０】
前述のように、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されていないときに生じた電子装置４０の不具合を、より確実に再現することができるので、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されていないときに生じた不具合の解析を行うことができ、電子装置４０のソフトウェアの開発効率を向上することができる。
【００８１】
また、ＣＰＵ４１によって外部コネクタ４５にデバッグ専用治具が接続されていないと判定されるときは、切換回路４７によって、外部コネクタ４５のデバッグインターフェイスを、デバッグ専用治具への情報の送信が不可能な非アクティブ状態に切換えるように制御しているので、外部コネクタ４５から外来ノイズが入ることを防ぎ、電子装置４０の誤動作を防止することができるとともに、ユーザによるデバッグ専用治具の外部コネクタ４５への接続の誤りに起因する電子装置４０の誤動作を防止することができる。
【００８２】
さらに、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具を接続するだけで、切換回路４７によって外部コネクタ４５のデバッグインターフェイスを、外部コネクタ４５への情報の送信が可能なアクティブ状態に切換えることができるので、デバッグプログラムによる電子装置４０の処理動作の良否の確認結果を、電子装置４０から容易に取出すことができ、電子装置４０の不具合の解析を行うことができる。
【００８３】
また、電子装置４０では、外部コネクタ４５にデバッグ専用治具を接続しなくても、電子装置４０の内部デバッグインターフェイス４８からログデータを取出すことができる。したがって、外部コネクタ４５にパーソナルコンピュータとの通信用ケーブル、プリンタ、ハンズフリーキットおよび充電器などが接続された状態であっても、容易に電子装置４０からログデータを抽出することができる。
【００８４】
前述の実施形態では、ＰＤＡおよび携帯電話機に適用した電子装置の構成について述べたが、本発明の他の実施形態では、前述のＰＤＡおよび携帯電話機に限らず、たとえばノートパソコンなどのコンピュータに対しても好適に実施することができる。
【００８５】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、接続手段への外部機器の接続の有無に拘わらず、電子装置におけるデバッグ処理の動作条件が同一である。したがって、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた電子装置の不具合も確実に再現することができる。これによって、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた不具合の解析を行うことができ、電子装置のソフトウェアの開発効率を向上することができる。また、接続手段から入る外来ノイズによる電子装置の誤動作を防止することができるとともに、ユーザによる外部機器の接続手段への接続の誤りに起因する誤動作を防止することができる。さらに、動作手段による処理動作の良否の確認結果を電子装置から容易に取出すことができ、電子装置の不具合の解析を行うことができる。
【００８６】
また本発明によれば、接続手段への外部機器の接続の有無に拘わらず、電子装置におけるデバッグ処理の動作条件が同一である。したがって、接続手段から外部機器が離脱されるときに、情報出力制御手段によってデバッグ処理手段から接続手段への確認結果の伝送を停止するように制御する場合に比べて、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた電子装置の不具合を、より確実に再現することができる。これによって、接続手段に外部機器が接続されていないときに生じた不具合の解析を行うことができ、電子装置のソフトウェアの開発効率を向上することができる。
【００８７】
また本発明によれば、判定手段は、ポーリング方式に基づいて、たとえば接続手段に電圧の変化が生じたか否かを周期的に確認するので、この確認結果に基づいて接続手段に外部機器が接続されているか否かを容易かつ即座に判定することができる。
【００８８】
また本発明によれば、判定手段は、割込み方式に基づいて、たとえば接続手段に電圧の変化が生じたか否かを非周期的に確認するので、接続手段に外部機器が接続されているか否かを、ユーザが所望するタイミングで判定させることができ、利便性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態である電子装置２０の電気的構成を簡略化して示すブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施形態である電子装置４０の電気的構成を簡略化して示すブロック図である。
【図３】従来の電子装置１０の電気的構成を簡略化して示すブロック図である。
【符号の説明】
２０，４０  電子装置
２１，４１  ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）
２２，４２  ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）
２３，４３  ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）
２４，４４  制御部
２５，４５  外部コネクタ
２６，４６  電圧検出回路
２７，４７  切換回路
２８，５６  温度検出部
２９，５７  電池電圧検出部
３０，５８  バス
４８  内部デバッグインターフェイス部
４９  無線部
５０  アンテナ
５１  操作部
５２  表示部
５３  音声部
５４  スピーカ
５５  マイクロフォン
【図１】
2005025360.tif 000003
【図２】
2005025360.tif 000004
【図３】
2005025360.tif 000005