(57)【要約】【課題】  同種の物品を連続的に搬送する場合に，搬送順序のずれなどを容易に検出できる手段を提供する。【解決手段】  連続的に搬送される同種の物品を所定の個数毎に着磁させ，搬送の下流において物品の磁気を検出して，物品の搬送順序がずれていないかどうかを検出することを特徴とする，物品の磁気マーキング方法である。また，連続的に搬送される同種の物品に対して所定の工程を行い，前記所定の工程で特定された物品を，搬送の下流において選別するにあたり，前記所定の工程で特定された物品を着磁させ，搬送の下流において磁気を検出して，前記所定の工程で特定された物品を選別することを特徴とする，物品の磁気マーキング方法である。【選択図】  図１
2005041676.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続的に搬送される物品を所定の個数毎に着磁させ，搬送の下流において物品の磁気を検出して，物品の搬送順序がずれていないかどうかを検出することを特徴とする，物品の磁気マーキング方法。
【請求項２】
連続的に搬送される物品に対して所定の工程を行い，前記所定の工程で特定された物品を，搬送の下流において選別するにあたり，
前記所定の工程で特定された物品を着磁させ，搬送の下流において磁気を検出して，前記所定の工程で特定された物品を選別することを特徴とする，物品の磁気マーキング方法。
【請求項３】
前記所定の工程は物品の検査工程であり，前記検査工程によって異常と判断された物品を着磁させることを特徴とする，請求項２に記載の物品の磁気マーキング方法。
【請求項４】
物品の外観を検査する検査システムであって，物品を搬送する搬送機構と，所定の物品を着磁させる着磁機構と，物品の磁気を検出する磁気検出機構とを備えることを特徴とする，検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，連続的に搬送される物品をマーキングする方法及び検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に，工業製品や部品などの物品（ワーク）をコンベアで搬送し，搬送中にＣＣＤカメラにより物品を撮影し，その画像を演算処理することによって物品の外観などを検査することが行われている。例えば特開平１１−３０４４４７号公報には，キャリアテープに載せられた多数のチップ部品を連続的に搬送しながら，カメラで撮影して外観を検査する装置が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−３０４４４７号公報
【０００４】
このような外観検査を行った結果，外観不良と判定された物品は，検査位置から離れた搬送の下流において取り除かれるのが一般的である。その場合，例えば外観検査が行われる位置と，搬送の下流において物品が取除かれる位置との距離や物品の搬送速度などから，取り除かれる位置に物品が到達するタイミングが演算され，その演算されたタイミングに従って物品を取除く工程が行われる。
【０００５】
しかし，そのためには物品が常に正しい速度で搬送され，搬送中に物品の順序がずれないことが前提となる。もしも搬送中に物品の順序がずれてしまった場合，どのタイミングで搬送されてきた物品を取除くかが判断できなくなってしまう。
【０００６】
そこで，特開平１１−３０４４４７号公報に示された外観検査機構では，搬送ベルト等の表面にキャビティと呼ばれる保持部を形成し，そこに物品を入れて搬送することにより，搬送中に物品の順序がずれてしまわないようにしている。しかし，そうすると搬送ベルト等を加工しなければならなくなる。また，保持部の大きさによって搬送できる物品が限られてしまうので好ましくない。
【０００７】
他方，保持部のない表面が平坦な汎用の搬送ベルト等で複数の物品を連続して搬送すると，搬送中に物品の順番がずれる心配があることは前述の通りである。特に，同種の物品を連続的に搬送した場合，搬送中に生ずるずれを検出しようとしても，同種の物品ゆえずれが分らない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的は，物品を連続的に搬送する場合に，搬送順序のずれなどを容易に検出できる手段を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この目的を達成するために，本発明によれば，連続的に搬送される物品を所定の個数毎に着磁させ，搬送の下流において物品の磁気を検出して，物品の搬送順序がずれていないかどうかを検出することを特徴とする，物品の磁気マーキング方法が提供される。
【００１０】
また，本発明によれば，連続的に搬送される物品に対して所定の工程を行い，前記所定の工程で特定された物品を，搬送の下流において選別するにあたり，前記所定の工程で特定された物品を着磁させ，搬送の下流において磁気を検出して，前記所定の工程で特定された物品を選別することを特徴とする，物品の磁気マーキング方法が提供される。この場合，物品に対して行われる所定の工程とは，例えば物品の外観，特性などを検査する工程であり，例えばＣＣＤカメラによって物品を撮影し，その画像によって物品の外観などを検査する工程が例示される。そのような工程によって外観異常，特性異常などと判断された物品を，搬送の下流において例えば除去等して選別する際に，物品の磁気を検出する。
【００１１】
また，本発明によれば，物品の外観を検査する検査システムであって，物品を搬送する搬送機構と，所定の物品を着磁させる着磁機構と，物品の磁気を検出する磁気検出機構とを備えることを特徴とする，検査システムが提供される。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば，磁気を利用することにより，物品の外観に影響を与えることなくマーキングできる。本発明によれば，同種の物品を連続的に搬送する場合であっても，搬送順序のずれなどを容易に検出できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下，本発明の好ましい実施の形態を図面を参照にして説明する。この実施の形態では，物品の一例であるＮｄ−Ｆｅ−Ｂ−Ｃ系焼結磁石からなるワークＷの外観を連続的に検査する検査システム１をもとにして，ワークＷを磁気マーキングする方法について説明する。
【００１４】
この実施の形態で例示するワーク（希土類磁石）Ｗは，円盤形状をなしている。このような円盤形状をなすワークＷは，焼成によって得られた丸棒状の焼結品をスライスして切断することにより形成されており，例えば厚みが数ｍｍ程度で直径が１０ｍｍ程度である。このため，ワークＷの表面Ｗ１と裏面Ｗ２はいずれも切断面に形成されている。
【００１５】
図１に示す検査システム１において，ワークＷが，ホッパー１０から整列フィーダー１１及びリニアフィーダー１２を経て供給されて，切り出し機構１３によって一枚ずつ取り出され，第１のコンベア１４の始端部（図１では，第１の搬送コンベア１４の左端部）にワークＷが一枚ずつ連続的に供給される。整列フィーダー１１は，ホッパー１０から供給されたワークＷに振動を加えることにより，ワークＷの表面Ｗ１を上に向けた姿勢に揃えて，次のリニアフィーダー１２に受け渡すようになっている。切り出し機構１３は，図１において反時計回転方向に回転し，その搬送中においてワークＷの厚さを二つの厚さ検査機構１５，１６によって検査するようになっている。
【００１６】
第１のコンベア１４は，切り出し機構１３から受け渡されたワークＷの表面Ｗ１を上に向けた姿勢で，その始端部から終端部に向けて（図１中の右向きに）ワークＷを搬送していく。第１のコンベア１４の終端部（図１では，第１のコンベア１４の右端部）には，第２のコンベア２０の始端部（図１では，第２のコンベア２０の左端部）が接続されており，これら第１のコンベア１４と第２のコンベア２０によってワークＷを搬送する搬送機構を構成している。
【００１７】
第１のコンベア１４の終端部と第２のコンベア２０の始端部の接続箇所には，ワークＷを裏返しに反転させる反転機構２１が配置されている。反転機構２１は，第１のコンベア１４から受け渡されたワークＷを反転させ，ワークＷの裏面Ｗ２を上に向けた姿勢にさせるようになっている。第２のコンベア２０は，こうして反転機構２１によって裏面Ｗ２を上に向けた姿勢にさせられたワークＷを，その始端部から終端部に向けて（図１中の右向きに）搬送していく。
【００１８】
第１のコンベア１４の搬送方向に沿って，分別機構２５と，着磁機構２６と，ワークＷの表面Ｗ１側の外観を撮影する表面撮影機構２７が順に並べて配置されている。分別機構２５は，厚さ検査機構１５，１６によって検査されたことにより，厚さが所定範囲にあると判定されたワークＷはそのまま第１のコンベア１４によって図１中の右向きに搬送させるが，厚さが所定範囲を越えていると判定されたワークＷは領域３０に排出させ，厚さが所定範囲未満と判定されたワークＷは領域３１に排出させる。これにより，厚さが所定範囲にあるワークＷだけが，コンベア１４によって着磁機構２６，表面撮影機構２７の順に搬送されるようになっている。
【００１９】
図２に示すように，着磁機構２６は，上プレート３０，支柱部３１及び下プレート３２からなるヨーク３３を備えており，平行に配置されている上プレート３０及び下プレート３２の間を，第１のコンベア１４に載せられたワークＷが表面Ｗ１を上に向けた姿勢で移動していくようになっている。上プレート３０の先端下面には上鉄心３５が取付けてあり，この上鉄心３５には，上コイル３６が巻き付けてある。また，上鉄心３５の下面には，上ポールピース３７が取付けてある。
【００２０】
下プレート３１の先端下面には，上鉄心３５と対向するように配置される下鉄心４０が取付けてあり，この下鉄心４０には，下コイル４１が巻き付けてある。また，下鉄心４０の上面には，上ポールピース３７と対向するように配置される下ポールピース４２が取付けてある。そして，第１のコンベア１４に載せられて移動するワークＷが，これら上ポールピース３７と下ポールピース４２の間を通過する際に，制御部４３の制御に従って，上コイル３６と下コイル４１に電流を流すことにより，上ポールピース３７と下ポールピース４２の間に磁界を形成し，任意のタイミングでワークＷを着磁させることができるように構成されている。
【００２１】
表面撮影機構２７は，表面Ｗ１を上に向けた姿勢で第１のコンベア１４によって搬送されるワークＷの上方から照明する光源を有し，その光源から照射され，ワークＷの表面Ｗ１で反射した光を撮影するＣＣＤカメラを備えている。この表面撮影機構２７で撮影されたワークＷの表面Ｗ１の画像は，制御部４３に入力されるようになっている。制御部４３は，こうして入力された画像によってワークＷの表面Ｗ１の外観を検査するようになっている。
【００２２】
一方，第２のコンベア２０の搬送方向に沿って，ワークＷの裏面Ｗ２側の外観を撮影する裏面撮影機構４５と，磁気検出機構４６と，選別機構４７が順に並べて配置されている。裏面撮影機構４５は，裏面Ｗ２を上に向けた姿勢で第２のコンベア２０によって搬送されるワークＷの上方から照明する光源を有し，その光源から照射され，ワークＷの裏面Ｗ２で反射した光を撮影するＣＣＤカメラを備えている。この裏面撮影機構４５で撮影されたワークＷの裏面Ｗ２の画像は，制御部４３に入力されるようになっている。制御部４３は，こうして入力された画像によってワークＷの裏面Ｗ２の外観を検査するようになっている。
【００２３】
図３に示すように，磁気検出機構４６は，上プレート５０，支柱部５１及び下プレート５２からなるヨーク５３を備えており，平行に配置されている上プレート５０及び下プレート５２の間を，第２のコンベア２０に載せられたワークＷが裏面Ｗ２を上に向けた姿勢で移動していくようになっている。上プレート５０の先端下面には上磁極５５が取付けてあり，この上磁極５５の下面には，ホールプローブ５６が取付けてある。
【００２４】
下プレート５１の先端下面には，上磁極５５と対向するように配置される下磁極５７が取付けてある。そして，第２のコンベア２０に載せられて移動するワークＷが，これら上磁極５５と下磁極５７の間を通過する際に，ホールプローブ５６によってワークＷの磁気が検出されるように構成されている。磁気検出機構４６において検出された磁気の有無は，制御部４３に入力されるようになっている。
【００２５】
第２のコンベア２０の終端部に配置される選別機構４７は，制御部４３によって制御されることにより，ワークＷをシュート６０を経て領域６１に搬出させる状態と，ワークＷをシュート６２を経て領域６３に搬出させる状態と，ワークＷをシュート６４を経て領域６５に搬出させる状態とに切変るようになっている。
【００２６】
さて，以上のように構成された検査システム１において，表面Ｗ１を上に向けた姿勢にされたワークＷが，切り出し機構１３により第１のコンベア１４の始端部にほぼ一定の等間隔で一枚ずつ連続的に供給される。そして分別装置２５で分別されることにより，厚さが所定範囲にあるワークＷのみがそのまま第１のコンベア１４によって図１中の右向きに連続的に搬送され，着磁機構２６，表面撮影機構２７の順に通過していく。
【００２７】
着磁機構２６は，このように第１のコンベア１４によって連続的に搬送されていくワークＷを，制御部４３の制御によって，例えば１０個毎，５個毎といった所定の個数毎に着磁させる。この場合，いくつ毎にワークＷを着磁させるかは，制御部４３において任意に設定することが可能である。
【００２８】
次に，表面撮影機構２７は，第１のコンベア１４によって連続的に搬送されていくワークＷの表面Ｗ１側の外観を，各ワークＷ毎に撮影する。そして，表面撮影機構２７によって撮影された各ワークＷの表面Ｗ１側の画像が，制御部４３に入力される。
【００２９】
そして，制御部４３では，表面撮影機構２７から入力された画像に基いて，各ワークＷの表面Ｗ１に，色むら，シミ，膨れ，ヘアクラック，欠けなどといった異常があるかどうかを検査する。
【００３０】
こうして，第１のコンベア１４による搬送中において，着磁機構２６によってワークＷは所定の個数毎に着磁され，表面撮影機構２７によって撮影された画像によって各ワークＷの表面Ｗ１側の外観がそれぞれ検査される。そして，ワークＷは第１のコンベア１４の終端部まで搬送された後，反転機構２１にて順次裏返しに反転させられる。こうして，裏面Ｗ２を上に向けた姿勢にされたワークＷが第２のコンベア２０の始端部に連続的に供給される。そして，各ワークＷは，裏面Ｗ２を上に向けた姿勢で，第２のコンベア２０によって図１中の右向きに連続的に搬送されて，裏面撮影機構４５，磁気検出機構４６，選別機構４７の順に通過していく。
【００３１】
裏面撮影機構４５は，第２のコンベア２０によって連続的に搬送されていくワークＷの裏面Ｗ２側の外観を，各ワークＷ毎に撮影する。そして，裏面撮影機構４５によって撮影された各ワークＷの裏面Ｗ２側の画像が，制御部４３に入力される。
【００３２】
そして，制御部４３では，裏面撮影機構４５から入力された画像に基いて，各ワークＷの裏面Ｗ２に，色むら，シミ，膨れ，ヘアクラック，欠けなどといった異常があるかどうかを検査する。
【００３３】
次に，磁気検出機構４６は，第２のコンベア２０によって連続的に搬送されていくワークＷ毎に磁気の有無を検出する。そして，磁気検出機構４６において検出された磁気の有無は，制御部４３に入力される。
【００３４】
そして，制御部４３では，第２のコンベア２０によって連続的に搬送されていくワークＷが，例えば１０個毎，５個毎といった所定の個数毎に着磁されているかどうかを確認する。ここで，着磁機構２６においてｎ個毎にワークＷを着磁させたにも関らず，磁気検出機構４６においてｎ個毎にワークＷから磁気が検出できなかった場合は，着磁機構２６から磁気検出機構４６まで搬送される間にワークＷの搬送順序が乱れたことになる。そのような場合は，次の選別機構４７における選別を正しく行うことができない。そこで，このようにワークＷの搬送順序の乱れが検出された場合は，ワークＷの搬送順序の乱れが検出されなくなるまで，制御部４３は，第２のコンベア２０の終端部に配置される選別機構４７において，ワークＷをシュート６０を経て領域６１に搬出させる状態にする。なお，このようにワークＷの搬送順序の乱れが検出された場合，切り出し機構１３と第１のコンベア１４及び第２のコンベア２０で構成される搬送機構を停止あるいは逆転させ，ワークＷを回収しても良い。
【００３５】
一方，制御部４３において，ワークＷが所定の個数毎に着磁されていることを確認し，着磁機構２６から磁気検出機構４６まで搬送される間にワークＷの搬送順序が乱れていないと判断した場合，あるいは，搬送順序の乱れが解消されたと判断した場合は，制御部４３は，第２のコンベア２０の終端部に配置される選別機構４７において，次のように選別を行う。即ち，表面撮影機構２７によって撮影されて制御部４３に入力された画像により，ワークＷの表面Ｗ１に外観異常があると判断された場合，もしくは裏面撮影機構４５によって撮影されて制御部４３に入力された画像により，ワークＷの裏面Ｗ２に外観異常があると判断された場合は，制御部４３は，第２のコンベア２０の終端部に配置される選別機構４７において，そのワークＷ（ワークＷの表面Ｗ１もしくは裏面Ｗ２に外観異常ありと判断されたワークＷ）をシュート６４を経て領域６５に搬出させる状態にする。
【００３６】
また一方，制御部４３において，ワークＷが所定の個数毎に着磁されていることを確認し，着磁機構２６から磁気検出機構４６まで搬送される間にワークＷの搬送順序が乱れていないと判断した場合，あるいは，搬送順序の乱れが解消されたと判断した場合において，表面撮影機構２７によって撮影されて制御部４３に入力された画像により，ワークＷの表面Ｗ１に外観異常がないと判断され，かつ，裏面撮影機構４５によって撮影されて制御部４３に入力された画像により，ワークＷの裏面Ｗ２にも外観異常がないと判断された場合は，制御部４３は，第２のコンベア２０の終端部に配置される選別機構４７において，そのワークＷ（ワークＷの表面Ｗ１と裏面Ｗ２のいずれにも外観異常なしと判断されたワークＷ）をシュート６２を経て領域６３に搬出させる状態にする。
【００３７】
こうして，ワークＷの搬送順序の乱れを検出しながら第２のコンベア２０の終端部でワークＷが選別されることにより，表面Ｗ１と裏面Ｗ２の外観が正常なワークＷのみが領域６３に正しく搬出されることとなる。
【００３８】
次に，本発明の別の好ましい実施の形態を図面を参照にして説明する。なお，次に説明する実施の形態でも，先と同様のワークＷの外観を連続的に検査する検査システム２をもとにして，ワークＷを磁気マーキングする方法について説明する。なお，次に説明する実施の形態において，先に図１で説明した実施の形態と共通する構成要素については，同じ符合を付すことにより，重複する説明をなるべく省略する。
【００３９】
図４に示す検査システム２においても，ワークＷが，ホッパー１０から整列フィーダー１１及びリニアフィーダー１２を経て供給されて，切り出し機構１３によって一枚ずつ取り出され，第１のコンベア１４の始端部（図４では，第１の搬送コンベア１４の左端部）にワークＷがほぼ一定の等間隔で一枚ずつ連続的に連続的に供給される。整列フィーダー１１は，ホッパー１０から供給されたワークＷに振動を加えることにより，ワークＷの表面Ｗ１を上に向けた姿勢に揃えて，次のリニアフィーダー１２に受け渡すようになっている。切り出し機構１３は，図４において反時計回転方向に回転し，その搬送中においてワークＷの厚さを二つの厚さ検査機構１５，１６によって検査するようになっている。
【００４０】
第１のコンベア１４は，切り出し機構１３から受け渡されたワークＷの表面Ｗ１を上に向けた姿勢で，その始端部から終端部に向けて（図４中の右向きに）ワークＷを搬送していく。第１のコンベア１４の終端部（図４では，第１のコンベア１４の右端部）には，第２のコンベア２０の始端部（図４では，第２のコンベア２０の左端部）が接続されており，これら第１のコンベア１４と第２のコンベア２０によってワークＷを搬送する搬送機構を構成している。
【００４１】
第１のコンベア１４の終端部と第２のコンベア２０の始端部の接続箇所には，ワークＷを裏返しに反転させる反転機構２１が配置されている。反転機構２１は，第１のコンベア１４から受け渡されたワークＷを反転させ，ワークＷの裏面Ｗ２を上に向けた姿勢にさせるようになっている。第２のコンベア２０は，こうして反転機構２１によって裏面Ｗ２を上に向けた姿勢にさせられたワークＷを，その始端部から終端部に向けて（図４中の右向きに）搬送していく。
【００４２】
第１のコンベア１４の搬送方向に沿って，第１の着磁機構７０と，ワークＷの表面Ｗ１側の外観を撮影する，先に図１で説明したものと同様の表面撮影機構２７と，第２の着磁機構７１が順に並べて配置されている。第１の着磁機構７０と第２の着磁機構７１は，いずれも先に図２で説明した着磁機構２６と同様の構成を有しており，制御部７５からの出力によって，第１のコンベア１４に載せられて搬送されるワークＷを任意のタイミングで着磁させることができるように構成されている。
【００４３】
表面撮影機構２７で撮影された各ワークＷの表面Ｗ１の画像は，制御部７５に入力されるようになっている。制御部７４は，こうして入力された画像によって各ワークＷの表面Ｗ１の外観を検査するようになっている。
【００４４】
一方，第２のコンベア２０の搬送方向に沿って，ワークＷの裏面Ｗ２側の外観を撮影する，先に図１で説明したものと同様の裏面撮影機構４５と，第３の着磁機構７６と，磁気検出機構４６と，選別機構４７が順に並べて配置されている。裏面撮影機構４５で撮影された各ワークＷの裏面Ｗ２の画像は，制御部７５に入力されるようになっている。制御部７５は，こうして入力された画像によって各ワークＷの裏面Ｗ２の外観を検査するようになっている。
【００４５】
第３の着磁機構７６は，先に図２で説明した着磁機構２６と同様の構成を有しており，制御部７５からの出力によって，第２のコンベア２０に載せられて搬送されるワークＷを任意のタイミングで着磁させることができるように構成されている。
【００４６】
磁気検出機構４６は，先に図３で説明したものと同様である。この磁気検出機構４６によって検出された各ワークＷについての磁気の有無は，制御部７５に入力されるようになっている。
【００４７】
第２のコンベア２０の終端部に配置される選別機構４７は，制御部７５によって制御されることにより，ワークＷをシュート６０を経て領域６１に搬出させる状態と，ワークＷをシュート６２を経て領域６３に搬出させる状態と，ワークＷをシュート６４を経て領域６５に搬出させる状態とに切変るようになっている。
【００４８】
さて，以上のように構成された検査システム２において，表面Ｗ１を上に向けた姿勢にされたワークＷが，切り出し機構１３により第１のコンベア１４の始端部に一枚ずつ連続的に供給され，第１のコンベア１４によって図１中の右向きに順次搬送されて，第１の着磁機構７０，表面撮影機構２７，第２の着磁機構７１の順に通過していく。
【００４９】
第１の着磁機構７０は，このように第１のコンベア１４によって連続的に搬送されていくワークＷを，制御部７５の制御に従って，次のように着磁させる。即ち，切り出し機構１３に設けられた厚さ検査機構１５，１６において，厚さが所定範囲にあると判定されたワークＷである場合は，制御部７５の制御によって，第１の着磁機構７０は，そのワークＷ（厚さが所定範囲にあると判定されたワークＷ）については着磁を行わず，そのまま第１のコンベア１４によって図１中の右向きに搬送させる。一方，切り出し機構１３に設けられた厚さ検査機構１５，１６において，厚さが所定範囲を越えていると判定されたワークＷ，もしくは厚さが所定範囲未満と判定されたワークＷである場合は，制御部７５の制御によって，第１の着磁機構７０は，そのワークＷ（厚さが所定範囲にないと判定されたワークＷ）について着磁を行う。こうして，厚さが所定範囲にあるワークＷは着磁されない状態となり，厚さが所定範囲にないワークＷは着磁された状態となって，コンベア１４によって更に搬送されていく。
【００５０】
次に，表面撮影機構２７は，第１のコンベア１４によって連続的に搬送されていくワークＷの表面Ｗ１側の外観を，各ワークＷ毎に撮影する。そして，表面撮影機構２７によって撮影されたワークＷの表面Ｗ１側の画像が，制御部７５にそれぞれ入力される。
【００５１】
そして，制御部７５では，表面撮影機構２７から入力された画像に基いて，各ワークＷの表面Ｗ１に，色むら，シミ，膨れ，ヘアクラック，欠けなどといった異常があるかどうかを検査する。
【００５２】
次に，第２の着磁機構７１は，第１のコンベア１４によって連続的に搬送されていくワークＷを，制御部７５の制御に従って，次のように着磁させる。即ち，表面撮影機構２７によって撮影されて制御部７５に入力された画像により，ワークＷの表面Ｗ１に外観異常があると判断された場合は，制御部７５の制御によって，第２の着磁機構７１は，そのワークＷ（表面Ｗ１に外観異常があると判断されたワークＷ）について着磁を行う。
【００５３】
一方，表面撮影機構２７によって撮影されて制御部７５に入力された画像により，ワークＷの表面Ｗ１に外観異常がないと判断された場合は，制御部７５の制御によって，第２の着磁機構７１は，そのワークＷ（表面Ｗ１に外観なしと判断されたワークＷ）について着磁を行わない。
【００５４】
こうして，厚さが所定範囲にないと判定されたワークＷと，表面Ｗ１に外観異常があると判断されたワークＷはいずれも着磁された状態となり，厚さが所定範囲にあり，かつ表面Ｗ１に外観異常なしと判断されたワークＷのみが着磁されない状態となる。そして，各ワークＷは第１のコンベア１４の終端部まで搬送された後，反転機構２１にて順次裏返しに反転させられる。こうして，裏面Ｗ２を上に向けた姿勢にされたワークＷが第２のコンベア２０の始端部に供給される。そして，各ワークＷは，裏面Ｗ２を上に向けた姿勢で，第２のコンベア２０によって図１中の右向きに連続的に搬送されて，裏面撮影機構４５，第３の着磁機構７６，磁気検出機構４６，選別機構４７の順に通過していく。
【００５５】
裏面撮影機構４５は，第２のコンベア２０によって連続的に搬送されていくワークＷの裏面Ｗ２側の外観を，各ワークＷ毎に撮影する。そして，裏面撮影機構４５によって撮影された各ワークＷの裏面Ｗ２側の画像が，制御部７５にそれぞれ入力される。
【００５６】
そして，制御部７５では，裏面撮影機構４５から入力された画像に基いて，各ワークＷの裏面Ｗ２に，色むら，シミ，膨れ，ヘアクラック，欠けなどといった異常があるかどうかを検査する。
【００５７】
次に，第３の着磁機構７６は，第２のコンベア２０によって連続的に搬送されていくワークＷを，制御部７５の制御に従って，次のように着磁させる。即ち，裏面撮影機構４５によって撮影されて制御部７５に入力された画像により，ワークＷの裏面Ｗ２に外観異常があると判断された場合は，制御部７５の制御によって，第３の着磁機構７６は，そのワークＷ（裏面Ｗ２に外観異常があると判断されたワークＷ）について着磁を行う。
【００５８】
一方，裏面撮影機構４５によって撮影されて制御部７５に入力された画像により，ワークＷの裏面Ｗ２に外観異常がないと判断された場合は，制御部７５の制御によって，第２の着磁機構７６は，そのワークＷ（裏面Ｗ２に外観なしと判断されたワークＷ）について着磁を行わない。こうして，厚さが所定範囲にないと判定されたワークＷと，表面Ｗ１あるいは裏面Ｗ２の少なくとも一方に外観異常があると判断されたワークＷはいずれも着磁された状態となり，厚さが所定範囲にあり，表面Ｗ１及び裏面Ｗ２の両方が外観異常なしと判断されたワークＷのみが着磁されない状態となる。
【００５９】
次に，磁気検出機構４６は，ワークＷの磁気の有無を検出する。そして，磁気検出機構４６において検出された磁気の有無は，制御部７５に入力される。
【００６０】
そして，制御部７５は，第２のコンベア２０の終端部に配置される選別機構４７を制御し，磁気が検出されたワークＷは，シュート６０を経て領域６１に搬出させるか，もしくはシュート６４を経て領域６５に搬出させる状態にする。また一方，磁気が検出されなかったワークＷは，シュート６２を経て領域６３に搬出させる状態にする。
【００６１】
こうして，磁気を検出しながら第２のコンベア２０の終端部でワークＷが選別されることにより，厚さが所定範囲にあり，かつ，表面Ｗ１と裏面Ｗ２の外観が正常なワークＷのみが領域６３に正しく搬出されることとなる。なお，この検査システム２においても，磁気検出機構４６によってワークＷの磁気の有無を検出しながら，制御部７５において，第１の着磁機構７０，第２の着磁機構７１及び第３の着磁機構７６で着磁したワークＷの順番と，磁気検出機構４６において磁気が検出されたワークＷの順番を比較することにより，ワークＷの搬送順序が乱れていないかどうかを確認することができる。
【００６２】
以上，本発明の好ましい実施の形態を例示して説明したが，本発明は以上に示した形態に限定されない。例えばワークＷの形状は，円盤形状に限られず，角形状の平板などでも良い。また，着磁によってマーキングの対象とされる物品は，希土類磁石等のワークＷに限らず，その他種々の物品の磁気マーキングについて本発明を適用できる。なお，例示した実施の形態のように希土類磁石等のワークＷを着磁させる場合，各着磁機構によって形成させる磁界の強さが弱すぎるとワークＷの着磁が不十分となって検出が困難となり，逆に強すぎるとワークＷの着磁が大きすぎてワークＷ同士が付着してしまう心配がある。希土類磁石等のワークＷを着磁させる場合，各着磁機構によって形成させる磁界の強さは，例えば５００Ｇ（ガウス）以上，２０００Ｇ以下が好ましい。また，本発明は，物品の特性などを検査する検査システムなどにも適用できる他，同種の物品を連続的に搬送する場合について広く適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の実施の形態を説明するための検査システムの説明図である。
【図２】着磁機構の詳細図である。
【図３】磁気検出機構の詳細図である。
【図４】本発明の別の実施の形態を説明するための検査システムの説明図である。
【符号の説明】
【００６４】
Ｗ    ワーク
１，２  検査システム
１０  ホッパー
１１  整列フィーダー
１２  リニアフィーダー
１３  切り出し機構
１４  第１のコンベア
１５，１６  検査機構
２０  第２のコンベア
２１  反転機構
２５  分別機構
２６  着磁機構
２７  表面撮影機構
４３，７５  制御部
４５  裏面撮影機構
４６  磁気検出機構
４７  選別機構
７０  第１の着磁機構
７１  第２の着磁機構
７６  第３の着磁機構
【図１】
2005041676.tif 000003
【図２】
2005041676.tif 000004
【図３】
2005041676.tif 000005
【図４】
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