(57)【要約】【課題】大型化及び高コスト化を招くことなく、複数の記録層を有する光ディスクへのアクセスを精度良く行う。【解決手段】上位装置から記録要求コマンドを受信すると、記録要求コマンドに含まれる要求アドレスに基づいて、ユーザデータが記録される記録層を特定して対象記録層とし（ステップ４２１）、該対象記録層を示す信号をサーボ制御回路に出力する（ステップ４２３）。これにより、対象記録層に対応するチルトパラメータの最適値及びフォーカスパラメータの最適値がメモリから抽出され、対物レンズの位置及び姿勢が調整されることとなり、結果として大型化及び高コスト化を招くことなく、複数の記録層を有する光ディスクへのアクセスを精度良く行うことが可能となる。【選択図】図５
2005243201.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録層を有する光ディスクに対応可能な光ディスク装置であって、
光源と；
前記光源から出射された光束を光ディスクの複数の記録層のうちアクセス対象の記録層に集光する対物レンズを含み、前記光ディスクで反射された戻り光束を所定の受光位置まで導く光学系と；
前記受光位置に配置され、前記戻り光束を受光する光検出器と；
前記光検出器の出力信号に基づいて、前記アクセス対象の記録層に応じた前記光学系の制御情報を取得する制御情報取得手段と；
前記アクセス対象の記録層に応じて、既知の複数の調整情報のうちのいずれかを選択し、その選択結果に基づいて前記制御情報を調整する調整手段と；
前記アクセス対象の記録層への情報の記録、再生、及び消去のうち少なくとも記録を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置。
【請求項２】
前記調整情報は、前記対物レンズのフォーカス方向の位置に関する調整情報、及び前記光ディスクに対する前記対物レンズのチルトに関する調整情報の少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記複数の調整情報を取得する調整情報取得手段を、更に備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記調整情報取得手段は、前記光ディスクの記録層毎に調整情報を取得することを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記調整情報取得手段は、前記光学系の制御情報に付加する付加情報を変動させつつ所定のテスト領域に試し書きした後、前記テスト領域を再生し、所定の記録品質に対応する付加情報を調整情報とすることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記調整情報取得手段は、前記光学系の制御情報に付加する付加情報を変動させつつ所定の既記録領域を再生し、所定の記録品質に対応する付加情報を調整情報とすることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記調整情報取得手段は、装置の製造工程、検査工程及び調整工程の少なくともいずれかにおいて前記調整情報を取得することを特徴とする請求項４〜６のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記調整情報取得手段は、前記光ディスクがセットされたときに前記調整情報を取得することを特徴とする請求項４〜６のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記調整情報取得手段は、前記光ディスクへの記録の際に、前記調整情報を取得することを特徴とする請求項４〜６のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に係り、さらに詳しくは、複数の記録層を有する光ディスクに対応可能な光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル技術の進歩及びデータ圧縮技術の向上に伴い、音楽、映画、写真及びコンピュータソフトなどの情報（以下「コンテンツ」ともいう）を記録するための媒体として、ＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置が普及するようになった。
【０００３】
この光ディスク装置では、光源からレーザ光を出射し、対物レンズを介してスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録層に微小スポットを形成して情報の記録及び消去を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生、対物レンズの位置制御などを行っている。特に、対物レンズの光軸方向に関する対物レンズの位置制御はフォーカス制御と呼ばれている（例えば、特許文献１〜特許文献３参照）。
【０００４】
ところで、コンテンツの情報量は、年々増加する傾向にあり、光ディスクの記録容量の更なる増加が期待されている。そこで、光ディスクの記録容量を増加させる手段の一つとして、記録層の多層化が考えられ、複数の記録層を有する光ディスク（以下「多層ディスク」ともいう）及び該多層ディスクをアクセス対象とする光ディスク装置の開発が盛んに行われている。
【０００５】
この多層ディスクでは、ディスクの表面から各記録層までの距離がそれぞれ異なっているために、球面収差の影響により記録層に形成される光スポットの形状品質が劣化するおそれがあった。そこで、多層ディスクに対応し、球面収差を補正することが可能な装置が提案された（例えば、特許文献４参照）。
【０００６】
しかしながら、特許文献４に開示されている装置では、対物レンズと光ディスクとの間に収差を補正するための焦点調節レンズを配置し、その焦点調節レンズを記録層に応じて移動しているため、部品点数が増加するとともに、組立工程及び調整工程が複雑になり、今後の小型化及び低コスト化の要求に対応できないおそれがある。
【０００７】
【特許文献１】特開２００２−５００５６号公報
【特許文献２】特開２００２−２８８８５１号公報
【特許文献３】特開２００３−１３２５５８号公報
【特許文献４】特開２００１−１５５３７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その目的は、大型化及び高コスト化を招くことなく、複数の記録層を有する光ディスクへのアクセスを精度良く行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１に記載の発明は，複数の記録層を有する光ディスクに対応可能な光ディスク装置であって、光源と；前記光源から出射された光束を光ディスクの複数の記録層のうちアクセス対象の記録層に集光する対物レンズを含み、前記光ディスクで反射された戻り光束を所定の受光位置まで導く光学系と；前記受光位置に配置され、前記戻り光束を受光する光検出器と；前記光検出器の出力信号に基づいて、前記アクセス対象の記録層に応じた前記光学系の制御情報を取得する制御情報取得手段と；前記アクセス対象の記録層に応じて、既知の複数の調整情報のうちのいずれかを選択し、その選択結果に基づいて前記制御情報を補正する調整手段と；前記アクセス対象の記録層への情報の記録、再生、及び消去のうち少なくとも記録を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００１０】
これによれば、複数の記録層を有する光ディスクにアクセスする際、制御情報取得手段によってアクセス対象の記録層に応じた光学系の制御情報が取得され、調整手段によりアクセス対象の記録層に応じて、既知の複数の調整情報のうちのいずれかが選択され、その選択結果に基づいて制御情報が調整される。これにより、光学系に対して、対象記録層に応じた調整が可能となる。従って、複数の記録層のうちのいずれの記録層が対象記録層となっても、その記録層に形成される光スポットの形状品質を向上させることができ、結果として大型化及び高コスト化を招くことなく、複数の記録層を有する光ディスクへのアクセスを精度良く行うことが可能となる。
【００１１】
この場合において、請求項２に記載の光ディスク装置の如く、前記調整情報は、前記対物レンズのフォーカス方向の位置に関する調整情報、及び前記光ディスクに対する前記対物レンズのチルトに関する調整情報の少なくとも一方を含むこととすることができる。
【００１２】
上記請求項１及び２に記載の各光ディスク装置において、請求項３に記載の光ディスク装置の如く、前記複数の調整情報を取得する調整情報取得手段を、更に備えることとすることができる。
【００１３】
この場合において、請求項４に記載の光ディスク装置の如く、前記調整情報取得手段は、前記光ディスクの記録層毎に調整情報を取得することとすることができる。
【００１４】
この場合において、請求項５に記載の光ディスク装置の如く、前記調整情報取得手段は、前記光学系の制御情報に付加する付加情報を変動させつつ所定のテスト領域に試し書きした後、前記テスト領域を再生し、所定の記録品質に対応する付加情報を調整情報とすることとすることができる。
【００１５】
上記請求項４に記載の光ディスク装置において、請求項６に記載の光ディスク装置の如く、前記調整情報取得手段は、前記光学系の制御情報に付加する付加情報を変動させつつ所定の既記録領域を再生し、所定の記録品質に対応する付加情報を調整情報とすることとすることができる。
【００１６】
上記請求項４〜６に記載の各光ディスク装置において、請求項７に記載の光ディスク装置の如く、前記調整情報取得手段は、装置の製造工程、検査工程及び調整工程の少なくともいずれかにおいて前記調整情報を取得することとすることができる。
【００１７】
上記請求項４〜６に記載の各光ディスク装置において、請求項８に記載の光ディスク装置の如く、前記調整情報取得手段は、前記光ディスクがセットされたときに前記調整情報を取得することとすることができる。
【００１８】
上記請求項４〜６に記載の各光ディスク装置において、請求項９に記載の光ディスク装置の如く、前記調整情報取得手段は、前記光ディスクへの記録の際に、前記調整情報を取得することとすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図７に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。
【００２０】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３をスレッジ方向に駆動するためのシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、モータドライバ２６、ＰＵドライバ２７、再生信号処理回路２８、モータ制御回路２９、サーボ制御回路３３、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、この光ディスク装置２０は、複数の記録層を有する光ディスク（多層ディスク）に対応可能であるものとする。
【００２１】
前記光ディスク１５は、一例として図２に示されるように、光ピックアップ装置２３に近いほうから順に、基板Ｌ0、記録層Ｍ0、中間層ＭＬ、記録層Ｍ1、基板Ｌ1などを有している。各記録層にはスパイラル状のトラックがそれぞれ形成されており、情報はトラック上に記録される。また、記録層Ｍ0と中間層ＭＬとの間にはシリコン、銀、アルミニウムなどで形成された半透過膜ＭＢ0があり、記録層Ｍ1と基板Ｌ1との間には銀、アルミニウムなどで形成された金属反射膜ＭＢ1がある。すなわち、光ディスク１５は、２つの記録層を有する光ディスク（２層ディスク）である。なお、光ディスク１５は記録可能な２層ディスクであり、市販されているＤＶＤと同様に、約６６０ｎｍの波長の光に対応しているものとする。
【００２２】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５の２つの記録層のうちアクセス対象の記録層（以下「対象記録層」と略述する）にレーザ光を集光するとともに、光ディスク１５からの反射光を戻り光束として受光する装置である。この光ピックアップ装置２３は、一例として図３に示されるように、光源ユニット５１、コリメートレンズ５２、対物レンズ６０、及び駆動系ＡＣＴなどを備えている。
【００２３】
前記光源ユニット５１は、波長が約６６０ｎｍの光束を出射する光源としての半導体レーザＬＤ、該半導体レーザＬＤの近傍に配置され、光ディスク１５からの戻り光束を受光する光検出器としての受光器ＰＤ、及び戻り光束を受光器ＰＤの受光面方向に分岐するためのホログラム５０を有している。この光源ユニット５１は光源ユニット５１から出射される光束の最大強度出射方向が＋Ｘ方向となるように配置されている。前記受光器ＰＤは受光した戻り光束を光電変換し、再生信号処理回路２８に出力する。この受光器ＰＤの出力信号は、ウォブル信号情報、ＲＦ信号情報及びサーボ信号情報など含んでいる。
【００２４】
前記コリメートレンズ５２は、光源ユニット５１の＋Ｘ側に配置され、光源ユニット５１から出射された光束を略平行光とする。
【００２５】
前記対物レンズ６０は、コリメートレンズ５２の＋Ｘ側に配置され、コリメートレンズ５２を透過した光束を対象記録層に集光する。
【００２６】
前記駆動系ＡＣＴは、対物レンズ６０の光軸方向であるフォーカス方向に対物レンズ６０を駆動するためのフォーカシングアクチュエータ、トラックの接線方向に直交する方向であるトラッキング方向に対物レンズ６０を駆動するためのトラッキングアクチュエータ、及びトラックの接線方向の軸を回転軸として対物レンズ６０を回動するためのチルトアクチュエータを有している。
【００２７】
図１に戻り、前記再生信号処理回路２８は、Ｉ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、デコーダ２８ｅ及びホールド回路２８ｆなどから構成されている。
【００２８】
前記Ｉ／Ｖアンプ２８ａは、受光器ＰＤの出力信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。
【００２９】
前記サーボ信号検出回路２８ｂは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラックエラー信号などのサーボ信号を検出する。ここで検出されたサーボ信号は前記サーボ制御回路３３に出力される。
【００３０】
前記ウォブル信号検出回路２８ｃは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。前記ＲＦ信号検出回路２８ｄは、Ｉ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。
【００３１】
前記デコーダ２８ｅは、前記ウォブル信号からアドレス情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたアドレス情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５及びモータ制御回路２９に出力される。また、デコーダ２８ｅは前記ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ３７を介して前記バッファＲＡＭ３４に格納する。なお、復号処理に際して発生したブロックエラー（Ｃ１エラー）情報はデコーダ２８ｅからＣＰＵ４０に通知される。
【００３２】
前記ホールド回路２８ｆは、ＲＦ信号の上側包絡線レベルと下側包絡線レベルとを検出する。ここで検出された上側包絡線レベル（Ｌpとする）及び下側包絡線レベル（Ｌbとする）は、それぞれＣＰＵ４０に出力される。そして、ＣＰＵ４０では、次の（１）式に基づいて、いわゆるβ値を算出する。このβ値は記録品質を評価する指標として用いられる。
β＝（Ｌｐ−Ｌｂ）÷（Ｌｐ＋Ｌｂ）  …（１）
また、ＣＰＵ４０では、ホールド回路２８ｆの出力信号に基づいて、ＲＦ信号の振幅を求める。
【００３３】
前記サーボ制御回路３３は、図４に示されるように、トラッキング制御信号生成回路３３ａ、フォーカス制御信号生成回路３３ｂ、フォーカス制御信号調整回路３３ｃ、チルト制御信号生成回路３３ｄ、及び２つのメモリ（３３ｅ、３３ｆ）などを含んで構成されている。
【００３４】
トラッキング制御信号生成回路３３ａは、サーボ信号検出回路２８ｂからのトラックエラー信号に基づいて、トラックずれを補正するためのトラッキング制御信号を生成する。ここで生成されたトラッキング制御信号はＰＵドライバ２７に出力される。
【００３５】
フォーカス制御信号生成回路３３ｂは、サーボ信号検出回路２８ｂからのフォーカスエラー信号に基づいてフォーカスずれを補正するためのフォーカス制御信号を生成する。ここで生成されたフォーカス制御信号は、フォーカス制御信号調整回路３３ｃに出力される。
【００３６】
メモリ３３ｅには、記録層毎のフォーカスパラメータの最適値（調整情報）が格納される。なお、フォーカスパラメータの最適値については後述する。
【００３７】
フォーカス制御信号調整回路３３ｃは、ＣＰＵ４０からの対象記録層を示す記録層信号Ｓselに基づいてメモリ３３ｅから対応するフォーカスパラメータの最適値を抽出し、フォーカス制御信号を調整する。ここで調整されたフォーカス制御信号はＰＵドライバ２７に出力される。
【００３８】
メモリ３３ｆには、記録層毎のチルトパラメータの最適値（調整情報）が格納される。なお、チルトパラメータの最適値については後述する。
【００３９】
チルト制御信号生成回路３３ｄは、ＣＰＵ４０からの対象記録層を示す記録層信号Ｓselに基づいてメモリ３３ｆから対応するチルトパラメータの最適値を抽出し、チルト制御信号を生成する。ここで生成されたチルト制御信号はＰＵドライバ２７に出力される。
【００４０】
前記ＰＵドライバ２７は、前記調整されたフォーカス制御信号に対応した前記フォーカシングアクチュエータの駆動信号を生成する。また、ＰＵドライバ２７は、前記トラッキング制御信号に対応したトラッキングアクチュエータの駆動信号を生成する。さらに、ＰＵドライバ２７は、前記チルト制御信号に対応した前記チルトアクチュエータの駆動信号を生成する。ここで生成された各駆動信号は、光ピックアップ装置２３に出力される。
【００４１】
図１に戻り、前記モータ制御回路２９は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための回転制御信号を生成する。また、モータ制御回路２９は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてシークモータ２１を制御するシーク制御信号を生成する。ここで生成された各制御信号はモータドライバ２６に出力される。
【００４２】
前記モータドライバ２６は、前記回転制御信号に対応した駆動信号を生成し、スピンドルモータ２２に出力する。また、モータドライバ２６は、前記シーク制御信号に対応した駆動信号を生成し、シークモータ２１に出力する。
【００４３】
前記バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ３７によって管理されている。
【００４４】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてバッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。ここで生成された書き込み信号はレーザ制御回路２４に出力される。
【００４５】
前記レーザ制御回路２４は、半導体レーザＬＤから出射されるレーザ光のパワーを制御する。例えば記録の際には、レーザ制御回路２４は、前記書き込み信号、記録条件、及び半導体レーザＬＤの発光特性などに基づいて、半導体レーザＬＤの駆動信号を生成する。なお、記録の際に半導体レーザＬＤから出射されるレーザ光のピークパワーは記録パワーとも呼ばれている。
【００４６】
前記インターフェース３８は、上位装置（例えば、パソコン）９０との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）及びＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）などの標準インターフェースに準拠している。再生時には、バッファＲＡＭ３４に格納されている再生データは、セクタ毎にインターフェース３８を介して上位装置９０に出力される。また、記録時には、上位装置９０からユーザデータがインターフェース３８を介して入力され、記録用データとしてバッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に蓄積される。
【００４７】
前記フラッシュメモリ３９は、プログラム領域及びデータ領域を含んで構成されている。フラッシュメモリ３９のプログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述されたプログラムが格納されている。また、フラッシュメモリ３９のデータ領域には、記録条件及び半導体レーザＬＤの発光特性などが格納されている。
【００４８】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されているプログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをメモリ３３ｅ、３３ｆ、ＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【００４９】
次に、上位装置９０から記録要求コマンドを受信したときの光ディスク装置２０における処理動作について図５〜図７を用いて説明する。図５〜図７のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応し、記録要求コマンドを受信すると、図５に対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録処理が開始される。
【００５０】
最初のステップ４０１では、メモリ３３ｅ、３３ｆを参照し、記録層毎のチルトパラメータの最適値及び記録層毎のフォーカスパラメータの最適値がすでに取得されているか否かを判断する。各最適値が取得されていなければ、ここでの判断は否定され、ステップ４０３に移行する。
【００５１】
このステップ４０３では、記録層Ｍ0を対象記録層に設定する。
【００５２】
次のステップ４０５では、チルトパラメータの最適値を計測する。ここでの処理の詳細は後述する。
【００５３】
次のステップ４０７では、チルトパラメータの最適値を対象記録層に対応付けてメモリ３３ｆに格納する。
【００５４】
次のステップ４０９では、フォーカスパラメータの最適値を計測する。ここでの処理の詳細は後述する。
【００５５】
次のステップ４１１では、フォーカスパラメータの最適値を対象記録層に対応付けてメモリ３３ｅに格納する。
【００５６】
次のステップ４１３では、対象記録層が記録層Ｍ1であるか否かを判断する。ここでは、対象記録層は記録層Ｍ0であるため、ここでの判断は否定され、ステップ４１５に移行する。
【００５７】
このステップ４１５では、記録層Ｍ1を対象記録層に設定する。すなわち、フォーカスジャンプを行なう。そして、前記ステップ４０５に戻る。
【００５８】
以下、前記ステップ４０５〜４１１の処理を繰り返し行う。そして、ここでは、対象記録層が記録層Ｍ1であるため、次のステップ４１３での判断は肯定され、ステップ４２１に移行する。
【００５９】
このステップ４２１では、記録要求コマンドに含まれる要求アドレスに基づいて、ユーザデータが記録される記録層を特定し、その記録層を対象記録層とする。
【００６０】
次のステップ４２３では、対象記録層を示す記録層信号Ｓselをフォーカス制御信号調整回路３３ｃ、チルト制御信号生成回路３３ｄなどに出力する。これにより、対物レンズ６０の位置及び姿勢に対して、対象記録層に応じた調整が行なわれる。
【００６１】
次のステップ４２５では、ＯＰＣ（Optimum Power Control）を実施する。すなわち、記録パワーを段階的に変化させつつ、ＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる試し書き領域に所定のデータを試し書きした後、それらのデータを順次再生し、前記β値が予め実験等で求めた目標値とほぼ一致する場合を最も高い記録品質であると判断し、そのときの記録パワーを最適な記録パワーとする。
【００６２】
次のステップ４２７では、エンコーダ２５に対して書込みを許可する。これにより、記録用データは、エンコーダ２５、レーザコントロール回路２４及び光ピックアップ装置２３を介して光ディスク１５に書き込まれる。
【００６３】
次のステップ４２９では、記録が完了したか否かを判断する。記録が完了していなければ、ここでの判断は否定され、記録が完了するまで待機する。記録用データがすべて書き込まれると、ここでの判断は肯定され、ステップ４３１に移行する。
【００６４】
このステップ４３１では、上位装置に記録が完了したことを通知する。そして、所定の終了処理を行った後、記録処理を終了する。
【００６５】
なお、前記ステップ４０１において、各最適値がすでに取得されていれば、ステップ４０１での判断は肯定され、前記ステップ４２１に移行する。
【００６６】
《チルトパラメータの最適値計測》
ここで、前記ステップ４０５での処理（以下「チルトパラメータの最適値計測処理」という）の詳細を図６のフローチャートを用いて説明する。ここでは、一例としてチルトパラメータ（ＴＰとする）をＴＰ1からΔｔ刻みでＴＰnまで変化させるものとする。
【００６７】
最初のステップ５０１では、チルトパラメータＴＰに初期値ＴＰ1をセットする。
【００６８】
次のステップ５０３では、所定のテストデータを試し書き領域（テスト領域）に試し書きする。
【００６９】
次のステップ５０５では、チルトパラメータＴＰがＴＰnであるか否かを判断する。ここでは、チルトパラメータＴＰはＴＰ1であるため、ここでの判断は否定され、ステップ５０７に移行する。
【００７０】
このステップ５０７では、チルトパラメータＴＰにΔｔを加算し、前記ステップ５０３に戻る。
【００７１】
以下、ステップ５０５での判断が肯定されるまで、ステップ５０３→５０５→５０７の処理、判断を繰り返す。
【００７２】
チルトパラメータＴＰがＴＰnになると、ステップ５０５での判断は肯定され、ステップ５０９に移行する。
【００７３】
このステップ５０９では、試し書き領域を再生し、ホールド回路２８ｆの出力信号に基づいてＲＦ信号の振幅を求める。
【００７４】
次のステップ５１１では、ＲＦ信号の振幅とチルトパラメータとの関係を示す近似式を求める。
【００７５】
次のステップ５１３では、前記近似式からＲＦ信号の振幅の最大値に対応するチルトパラメータを取得する。これが、チルトパラメータの最適値となる。そして、チルトパラメータの最適値計測処理を終了し、前記ステップ４０７に移行する。
【００７６】
《フォーカスパラメータの最適値計測》
次に、前記ステップ４０９での処理（以下「フォーカスパラメータの最適値計測処理」という）の詳細を図７のフローチャートを用いて説明する。ここでは、一例としてフォーカスパラメータ（ＦＰとする）をＦＰ1からΔｆ刻みでＦＰmまで変化させるものとする。
【００７７】
最初のステップ５５１では、フォーカスパラメータＦＰに初期値ＦＰ1をセットする。
【００７８】
次のステップ５５３では、所定のテストデータを試し書き領域（テスト領域）に試し書きする。
【００７９】
次のステップ５５５では、フォーカスパラメータＦＰがＦＰmであるか否かを判断する。ここでは、フォーカスパラメータＦＰはＦＰ1であるため、ここでの判断は否定され、ステップ５５７に移行する。
【００８０】
このステップ５５７では、フォーカスパラメータＦＰにΔｆを加算し、前記ステップ５５３に戻る。
【００８１】
以下、ステップ５５５での判断が肯定されるまで、ステップ５５３→５５５→５５７の処理、判断を繰り返す。
【００８２】
フォーカスパラメータＦＰがＦＰmになると、ステップ５５５での判断は肯定され、ステップ５５９に移行する。
【００８３】
このステップ５５９では、試し書き領域を再生し、ホールド回路２８ｆの出力信号に基づいてＲＦ信号の振幅を求める。
【００８４】
次のステップ５６１では、ＲＦ信号の振幅とフォーカスパラメータとの関係を示す近似式を求める。
【００８５】
次のステップ５６３では、前記近似式からＲＦ信号の振幅の最大値に対応するフォーカスパラメータを取得する。これが、フォーカスパラメータの最適値となる。そして、フォーカスパラメータの最適値計測処理を終了し、前記ステップ４１１に移行する。
【００８６】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、サーボ信号検出回路２８ｂによって制御情報取得手段が構成され、サーボ制御回路３３によって調整手段が構成されている。また、光ピックアップ装置２３とレーザ制御回路２４とエンコーダ２５とによって処理装置が構成されている。
【００８７】
また、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムによって、調整情報取得手段が実現されている。すなわち、図５のステップ４０５及びステップ４０９によって調整情報取得手段が実現されている。なお、ＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した調整情報取得手段の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【００８８】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、上位装置９０から記録要求コマンドを受信すると、記録要求コマンドに含まれる要求アドレスに基づいて、ユーザデータが記録される記録層を特定して対象記録層とし、該対象記録層に対応するフォーカスパラメータの最適値に基づいて、フォーカスエラー信号から得られたフォーカス制御信号を調整している。また、対象記録層に対応するチルトパラメータの最適値に基づいて、チルト制御信号を生成している。これにより、対物レンズ６０の位置及び姿勢に対して対象記録層に応じた調整が行なわれ、対象記録層がいずれの記録層であっても記録層に形成される光スポットの形状品質を向上させることができる。従って、大型化及び高コスト化を招くことなく、複数の記録層を有する光ディスクへのアクセスを精度良く行うことが可能となる。
【００８９】
また、本実施形態によると、記録層毎のチルトパラメータの最適値及びフォーカスパラメータの最適値が取得されていない場合には、記録の際に、記録層毎に各パラメータの最適値を計測している。これにより、各パラメータの最適値を確実に取得することができる。
【００９０】
なお、上記実施形態では、各パラメータの最適値が、記録要求コマンドを受信したときに計測される場合について説明したが、これに限らず、例えば光ディスク装置２０の製造工程、検査工程及び調整工程のうちの少なくともいずれかの工程において、各パラメータの最適値を記録層毎に計測し、メモリに格納しても良い。また、光ディスクが光ディスク装置にセットされたときに、各パラメータの最適値を記録層毎に計測し、メモリに格納しても良い。
【００９１】
また、上記実施形態では、各パラメータの最適値を計測する際に、テストデータの記録品質の評価にＲＦ信号の振幅を用いているが、これに限らず、例えば、ジッタやブロックエラーレート（以下「ＢＬＥＲ」という）などを用いても良い。
【００９２】
また、上記実施形態では、チルトパラメータの最適値を計測する際に、テストデータを試し書き領域に試し書きする場合について説明したが、これに限らず、既記録領域を利用してチルトパラメータの最適値を計測しても良い。この場合について、図８のフローチャートを用いて説明する。
【００９３】
最初のステップ８０１では、チルトパラメータＴＰにＴＰ1をセットする。
【００９４】
次のステップ８０３では、所定の既記録領域を再生し、デコーダ２８ｅからのブロックエラー情報に基づいてＢＬＥＲを取得する。
【００９５】
次のステップ８０５では、チルトパラメータＴＰがＴＰnであるか否かを判断する。ここでは、チルトパラメータＴＰはＴＰ1であるため、ここでの判断は否定され、ステップ８０７に移行する。
【００９６】
このステップ８０７では、チルトパラメータＴＰにΔｔを加算し、前記ステップ８０３に戻る。
【００９７】
以下、ステップ８０５での判断が肯定されるまで、ステップ８０３→８０５→８０７の処理、判断を繰り返す。
【００９８】
ステップ８０５では、チルトパラメータＴＰがＴＰnであれば、ステップ８０５での判断は肯定され、ステップ８０９に移行する。
【００９９】
このステップ８０９では、ＢＬＥＲとチルトパラメータとの関係を示す近似式を求める。
【０１００】
次のステップ８１１では、前記近似式からＢＬＥＲの最小値に対応するチルトパラメータを取得する。これが、チルトパラメータの最適値となる。そして、チルトパラメータの最適値計測処理を終了する。
【０１０１】
この場合において、ＢＬＥＲに代えて、ＲＦ信号のジッタを用いても良い。
【０１０２】
また、上記実施形態では、フォーカスパラメータの最適値を計測する際に、テストデータを試し書き領域に試し書きする場合について説明したが、これに限らず、既記録領域を利用してフォーカスパラメータの最適値を計測しても良い。この場合について、図９のフローチャートを用いて説明する。
【０１０３】
最初のステップ８５１では、フォーカスパラメータＦＰにＦＰ1をセットする。
【０１０４】
次のステップ８５３では、所定の既記録領域を再生し、デコーダ２８ｅからのブロックエラー情報に基づいてＢＬＥＲを取得する。
【０１０５】
次のステップ８５５では、フォーカスパラメータＦＰがＦＰmであるか否かを判断する。ここでは、フォーカスパラメータＦＰはＦＰ1であるため、ここでの判断は否定され、ステップ８５７に移行する。
【０１０６】
このステップ８５７では、フォーカスパラメータＦＰにΔｆを加算し、前記ステップ８５３に戻る。
【０１０７】
以下、ステップ８５５での判断が肯定されるまで、ステップ８５３→８５５→８５７の処理、判断を繰り返す。
【０１０８】
ステップ８５５では、フォーカスパラメータＦＰがＦＰmであれば、ステップ８５５での判断は肯定され、ステップ８５９に移行する。
【０１０９】
このステップ８５９では、ＢＬＥＲとフォーカスパラメータとの関係を示す近似式を求める。
【０１１０】
次のステップ８６１では、前記近似式からＢＬＥＲの最小値に対応するフォーカスパラメータを取得する。これが、フォーカスパラメータの最適値となる。そして、フォーカスパラメータの最適値計測処理を終了する。
【０１１１】
この場合において、ＢＬＥＲに代えて、ＲＦ信号のジッタを用いても良い。
【０１１２】
また、上記実施形態では、受光器ＰＤと半導体レーザＬＤとホログラム５０とが、同一の筐体内に収納され、パッケージ化されている場合について説明したが、これに限らず、それぞれが個別に配置されていても良い。この場合に、ホログラム５０に代えて、ビームスプリッタを用いても良い。
【０１１３】
また、上記実施形態では、光ディスクが２つの記録層を有する場合について説明したが、これに限らず、３つ以上の記録層を有する光ディスクであっても良い。
【０１１４】
また、上記実施形態では、光ディスクがＤＶＤの規格に準拠した情報記録媒体の場合について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、ＣＤ及び約４０５ｎｍの波長の光に対応する次世代の情報記録媒体であっても良い。但し、この場合には、波長に対応した光ディスク装置が用いられる。
【０１１５】
また、上記実施形態では、光ディスク装置が多層ディスクに対応可能である場合について説明したが、更に１つの記録層を有する光ディスク（単層ディスク）にも対応可能であっても良い。そして、単層ディスクがセットされたときに、その記録層に対応するフォーカスパラメータの最適値及びチルトパラメータの最適値の少なくとも一方を計測し、対物レンズのサーボ信号を調整しても良い。
【０１１６】
また、上記実施形態では、対象記録層に応じて対物レンズのフォーカス位置とチルトとを調整する場合について説明したが、これに限らず、例えばフォーカス位置のみを調整しても良い。この場合には前記チルトアクチュエータは不要である。
【０１１７】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長のレーザ光を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約４０５ｎｍのレーザ光を発光する半導体レーザ、波長が約６６０ｎｍのレーザ光を発光する半導体レーザ及び波長が約７８０ｎｍのレーザ光を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。このときには、複数種類の光ディスクのうち少なくとも１種類の光ディスクが多層ディスクであれば良い。
【図面の簡単な説明】
【０１１８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の光ディスクを説明するための図である。
【図３】図１の光ピックアップ装置を説明するための図である。
【図４】図１のサーボ制御回路を説明するための図である。
【図５】図１の光ディスク装置における記録処理を説明するためのフローチャートである。
【図６】図５の記録処理におけるチルトパラメータの最適値計測処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】図５の記録処理におけるフォーカスパラメータの最適値計測処理を説明するためのフローチャートである。
【図８】図６のチルトパラメータの最適値計測処理の変形例を説明するためのフローチャートである。
【図９】図７フォーカスパラメータの最適値計測処理の変形例を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【０１１９】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置（処理装置の一部）、２４…レーザ制御回路（処理装置の一部）、２５…エンコーダ（処理装置の一部）、３３…サーボ制御回路（調整手段）、２８ｂ…サーボ信号検出回路（制御情報取得手段）、４０…ＣＰＵ（調整情報取得手段）、ＬＤ…光源、ＰＤ…受光器（光検出器）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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