(57)【要約】      （修正有）【課題】良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法の提供。【解決手段】熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを、低い記録パワーから高い記録パワーに段階的に変化させて記録する。評価パターンは最短マーク及び数種の長さのスペースの組み合わせを用いる。次に試し書きした評価パターンを再生し、各記録パワーにおける熱干渉の発生度合いを数値化する。数値化法としては、再生信号における最短マークのローレベルの変化量を検出し、数値化した値が所定のスライスレベルより小さい値となるように記録パワーを決定する。検出された変化量が所定のスライスレベル以下となる記録パワーをもって本番の記録を実施する。スライスレベルは、良好な記録を行えるＰＩエラー（訂正可能なエラー）を測定し、該ＰＩエラーの測定値に対応する変化量を求めることで決定する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御方法であって、
記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録ステップと、
前記記録ステップによって試し書きした前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して変化量を検出する検出ステップと、
予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出ステップによって検出した変化量に基づいて記録パワーを決定する決定ステップと、
を含むことを特徴とする光記録媒体の記録制御方法。
【請求項２】
前記決定ステップは、決定した記録パワーよりも前記光記録媒体に予め記録された目標記録パワーの方が大きい記録パワーの場合には、前記目標記録パワーを記録パワーとして決定することを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の記録制御方法。
【請求項３】
少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御装置であって、
記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録手段と、
前記記録手段によって試し書きされた前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して変化量を検出する検出手段と、
予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出手段によって検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出手段によって検出された変化量に基づいて記録パワーを決定する決定手段と、
を備えることを特徴とする光記録媒体の記録制御装置。
【請求項４】
前記決定手段は、決定した記録パワーよりも前記光記録媒体に予め記録された目標記録パワーの方が大きい記録パワーの場合には、前記目標記録パワーを記録パワーとして決定することを特徴とする請求項３に記載の光記録媒体の記録制御装置。
【請求項５】
少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の検査方法であって、
記録パワーを段階的に変化させて、もしくは、特定の記録パワーで、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを光記録媒体に記録する記録ステップと、
前記記録ステップによって記録した前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の度合いを数値化して変化量を検出する検出ステップと、
予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出ステップによって検出した変化量に基づいて高速記録に適した媒体か否かを判定する判定ステップと、
を含むことを特徴とする光記録媒体の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査装置にかかり、特に、光記録媒体の高速記録に好適な有機色素を用いた光記録媒体への記録制御方法、記録制御装置、及び検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光により追記型などの情報記録が可能な光記録媒体（光ディスク）が知られている。この光ディスクには、フレキシブルディスクに比較して大容量の光ディスク（所謂ＣＤ−Ｒ）が知られており、その情報記録は、近赤外域（例えば７８０ｎｍ近傍の波長）のレーザ光をＣＤ−Ｒに照射することにより行われる。記録層の照射部分はレーザ光を吸収して局所的に温度上昇し、物理的または化学的変化（例えば、ピットの生成）による光学的特性の変化により、情報記録がなされる。
【０００３】
近年、情報化社会の進展に伴って流通する情報量は増大傾向にあり、より大容量の光記録媒体の要望に対して、さらに大容量の光ディスク（追記型デジタル・ヴァサタイル・ディスク、所謂ＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷ）が流通されるようになってきている。このＤＶＤ−Ｒ等は、照射されるレーザ光のトラッキングのための案内溝（プレグルーブ）がＣＤ−Ｒに比べて半分以下（０．７４〜０．８μｍ）と狭く形成された透明な円盤状基板上に、色素からなる記録層、光反射層、そして必要に応じて保護層を順に設けて形成される。ＤＶＤ−Ｒへの情報記録再生は、ＣＤ−Ｒより短い波長（例えば、６３０ｎｍ〜６８０ｎｍ波長）のレーザ光の照射によってＣＤ−Ｒより高密度記録ができる。
【０００４】
ところで、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷでは、ディスクの最内周、もしくは最外周の特定位置に記録レーザパワーの校正を行うためのＰＣＡ（Power Calibration Area）領域が設けられている。このＰＣＡ領域はブロック単位が規定されており、このブロック単位を複数個使用して、各社記録機固有の記録方式、記録信号を書き込み、再生して、記録を行うディスクの最適記録パワーを決定している。
【０００５】
例えば、ＤＶＤ−Ｒを例に説明すると、これまでは、記録パワーを段階的に変化させて特定のパターン（例えば、３Ｔと１４Ｔマークの繰り返しパターン等）を試し書きし、ＤＶＤ−Ｒの基板ＬＰＰに予め記録されている目標β値が得られた記録パワーで本記録を行うようにしていた。
【０００６】
一方、特許文献１に記載の技術では、ディスク出荷あるいは記録する直前に、変調された２値化信号の記録データとして、注目するデータの“１”に対して周りのデータの“１”もしくは“０”が記録再生過程を通じて影響を及ぼす範囲である熱的・光学的干渉領域を少なくとも含む評価パターンを光記録媒体に記録し、その評価パターンから得られた再生データの２値化信号について、基準位置に対するデータ“１”もしくは“０”の位置を求めて、基準位置に対するデータの“１”もしくは“０”の位置とそれらに対応する再生データの“１”もしくは“０”の位置との位置ずれを検出し、その位置ずれを分析することで記録再生過程で生じる２値化信号の変動を検出することが提案されている。
【０００７】
また、特許文献２に記載の技術では、光ビームにより情報が記録される光磁気ディスクから繰り返しパターンｙに対応する再生信号の部分のレベルと、孤立マークパターンｘに対応する再生信号の部分のレベルを検出し、各レベルを比較することにより、記録条件を決定することが提案されている。具体的には、繰り返しパターンｙに対応する再生信号のハイレベル（あるいはローレベル）と、孤立マークパターンｘに対応する再生信号の部分のハイレベル（あるはローレベル）を比較して、同一レベルとなるように記録パワーを決定している。このように記録パワーを決定することで、異なるマークパターンに対応した記録マーク間の熱干渉を同じにすることができる。
【特許文献１】特開平６−２３６５５３号公報
【特許文献２】特開２００２−２３７０４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、光記録媒体の高速記録においては、熱干渉の影響が更に顕著となる。具体的には高パワー側（アシンメトリ増加側）のパワーマージンが減少し、少しの記録パワーの上昇が、ジッタ及びエラーの急増を招く。従って、メディア側としては、高い記録パワーで記録されることは望ましくない。一方でドライブ側では、再生時のマージン確保のため、少しでもアシンメトリの増加（記録パワー増加）となる記録パワーで記録することが望まれる。
【０００９】
以上のように、メディア側とドライブ側の事情を踏まえると、高速記録を行う際には、少しでも高めの記録パワーを設定し、実際に良好な記録を行えるかの確認を行う手法が必要である。
【００１０】
ところが、特許文献１に記載の技術では、再生信号の変動を検出するまでは提案されているものの、実際にどのように記録パワーを決定するかまでは言及していない。
【００１１】
一方、特許文献２に記載の技術では、繰り返しパターンに対応する再生信号のハイレベル（あるいはローレベル）と、孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のハイレベル（あるはローレベル）を比較して、同一レベルとなるように記録パワーを決定しているものの、少しでも高めの記録パワーで記録することの思想がない。すなわち、高速記録を踏まえた記録パワーの決定方法までは提案されていない。
【００１２】
そこで、本発明は、上記事実を考慮して成されたもので、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために請求項１に記載の発明は、少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御方法であって、記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録ステップと、前記記録ステップによって試し書きした前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して変化量を検出する検出ステップと、予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出ステップによって検出した変化量に基づいて記録パワーを決定する決定ステップと、を含むことを特徴としている。
【００１４】
請求項１に記載の発明によれば、記録ステップでは、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを、記録パワーを段階的変化させて（例えば、低い記録パワーから高い記録パワーとなるように段階的に変化させて）光記録媒体に試し書きを行う。
【００１５】
検出ステップでは、光記録媒体に試し書きされた評価パターンを再生し、熱干渉の度合いを数値化して変化量を検出する。
【００１６】
そして、決定ステップでは、予め定めた訂正可能な測定値（例えば、良好な記録が可能なＰＩエラーの測定値）に対応する変化量を求めて、検出ステップで検出した変化量の閾値として、当該閾値と検出ステップによって検出した変化量に基づいて記録パワーを決定する。すなわち、良好な記録が可能なＰＩエラー（例えば、ＰＩエラー＜２８０）に対応する変化量を求めてこれを検出ステップで検出した変化量の閾値として、閾値より小さくかつ少しでも大きい変化量となる記録パワーを本番の記録を行う際の記録パワーとして決定する。
【００１７】
このように決定した記録パワーで記録を行うと、ＰＩエラーが良好な記録が可能な範囲で記録パワーを決定しているので、良好な記録が可能となる。また、予め定めたＰＩエラーの測定値から求めた閾値に、より近い変化量となる記録パワーを本番の記録時の記録パワーとすることで、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる。
【００１８】
なお、決定ステップは、請求項２に記載の発明のように、光記録媒体に予め記録された目標記録パワー（所謂目標β値）の方が小さい記録パワーの場合には、目標記録パワーを記録パワーとして決定するようにしてもよい。これによって、良好な記録を行うことができる。
【００１９】
請求項３に記載の発明は、少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の記録制御装置であって、記録パワーを段階的に変化させて、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを光記録媒体に試し書きする記録手段と、前記記録手段によって試し書きされた前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の発生度合いを数値化して変化量を検出する検出手段と、予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を予め求めて前記検出手段によって検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出手段によって検出された変化量に基づいて記録パワーを決定する決定手段と、を備えることを特徴としている。
【００２０】
請求項３に記載の発明によれば、記録手段では、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンが、記録パワーを段階的に変換させて光記録媒体に試し書きされる。例えば、低い記録パワーから高い記録パワーとなるように段階的に記録パワーを変化させて評価パターンを光記録媒体に記録する。
【００２１】
検出手段では、光記録媒体に試し書きされた評価パターンを再生し、評価パターンにおける熱干渉の度合いが数値化され、変化量が検出される。
【００２２】
そして、決定手段では、予め定めた訂正可能な測定値（例えば、良好な記録が可能なＰＩエラーの測定値）に対応する変化量を予め求めて、検出手段によって検出された変化量の閾値とし、当該閾値と検出手段によって検出された変化量に基づいて記録パワーが決定される。すなわち、良好な記録が可能なＰＩエラー（例えば、ＰＩエラー＜２８０）に対応する変化量を求めてこれを検出手段で検出された変化量の閾値として、閾値より小さくかつ少しでも大きい変化量となる記録パワーを本番の記録を行う際の記録パワーとして決定する。
【００２３】
このように決定手段によって決定された記録パワーで記録を行うことで、ＰＩエラーが良好記録が可能な範囲で記録パワーが決定されているので、良好な記録が可能となる。また、予め定めたＰＩエラーの測定値から求めた閾値に、より近い変化量となる記録パワーを本番の記録時の記録パワーとすることで、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる。
【００２４】
なお、決定手段は、請求項４に記載の発明のように、光記録媒体に予め記録された目標記録パワー（所謂目標β値）の方が大きい記録パワーの場合には、目標記録パワーを記録パワーとして決定するようにしてもよい。これによって、光記録媒体が許容する範囲で更に高めの記録パワーを決定することができる。
【００２５】
請求項５に記載の発明は、少なくともレーザ光を照射することで情報記録が可能な光記録媒体の検査方法であって、記録パワーを段階的に変化させて、もしくは、特定の記録パワーで、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを光記録媒体に記録する記録ステップと、前記記録ステップによって試し書きした前記評価パターンを再生し、前記評価パターンにおける熱干渉の度合いを数値化して変化量を検出する検出ステップと、予め定めた訂正可能なエラーの測定値に対応する前記変化量を求めて前記検出ステップで検出した変化量の閾値とし、当該閾値と前記検出ステップによって検出した変化量に基づいて高速記録に適した媒体か否かを判定する判定ステップと、を含むことを特徴としている。
【００２６】
請求項５に記載の発明によれば、記録ステップでは、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを、記録パワーを段階的変化させて（例えば、低い記録パワーから高い記録パワーとなるように段階的に変化させて）もしくは、特定の記録パワーで光記録媒体に記録を行う。
【００２７】
検出ステップでは、光記録媒体に試し書きされた評価パターンを再生し、熱干渉の度合いを数値化して変化量を検出する。
【００２８】
そして、判定ステップでは、予め定めた訂正可能な測定値（例えば、良好な記録が可能なＰＩエラーの測定値）に対応する変化量を求めて、検出ステップで検出した変化量の閾値として、当該閾値と検出ステップによって検出した変化量に基づいて高速記録に適した媒体か否かを判定する
請求項５に記載の発明では、これらのステップを、例えば、光記録媒体を製造する工程の検査工程で光記録媒体への検査に用いる。
【発明の効果】
【００２９】
以上説明したように本発明によれば、良好な記録が可能な範囲で少しでも高い記録パワーを決定することができる、という効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態の一例を詳細に説明する。
【００３１】
まず、本発明の光記録媒体が適用可能な光ディスク１０について説明する。光ディスク１０は、ＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷなどの追加記録が可能に構成されており、波長が６７０ｎｍ以下の波長のレーザ光に対しても高い反射率などを与える良好な記録再生特性を備えている。
【００３２】
図１に示すように、光ディスク１０は、各種情報を記録するため、リードイン領域１２、データ領域１４、及び必要に応じて形成されるリードアウト領域１６の順に、光ディスク１０の内周から外周へ向けて構成されたインフォメーションエリア１８を備えている。データ領域１４は、ゾーンとも呼ばれ、また、インフォメーションエリア１８はセクタ単位でデータ記録再生可能に領域分割される。
【００３３】
また、インフォメーションエリア１８の更に内周側には、Ｒインフォメーションエリア２０が設けられている。Ｒインフォメーションエリア２０は、ＰＣＡ（Power Calibration Area）領域とＲＭＡ（Recording Management Area）領域で構成されており、記録レーザパワーの校正（ＰＣＡ領域）や記録機にとって必要な記録管理情報（ＲＭＡ領域）のために設けられている。例えば、ＲＭＡ領域には、記録管理情報（記録条件：Drive ID、Recording power、Power Caribration address等）が記録される。なお、光記録媒体１０の内周から外周に向かって、ＰＣＡ領域、ＲＭＡ領域の順に配置される。
【００３４】
光ディスク１０は、グルーブと呼ばれるレーザ光の案内溝が形成されており、ここにデータが記録される。この案内溝は、所定の振幅や周期でうねらせたウォブリングとして形成される。このウォブリングにより、モータの制御用信号を形成したり、孤立ピットを検出するためのゲート信号を生成したりする。また、案内溝と隣り合う案内溝との間の領域であるランドには、予め定めた規則に従って形成された孤立ピット（以下、ランドプリピットという）が形成されている。このランドプリピットは、データ記録時の高精度位置決めに用いられ、また記録アドレスやその他の記録に必要な情報を得るために用いられる。
【００３５】
ＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷディスクなどの光ディスク１０に記録されるプリフォーマットによる信号はトラッキング時に光ディスク１０から反射されるレーザ光を差動検出により検出する。
【００３６】
次に、上記光ディスク１０への情報書き込み及び読み取りが可能な記録再生装置２２を説明する。
【００３７】
図２に示すように、記録再生装置２２は、光ディスク１０に対して再生及び記録のためにレーザ光を照射するピックアップ２４を備えている。ピックアップ２４は、再生信号検出器２６及び半導体レーザ２８などの光源を備えており、再生信号検出器２６は光ディスク１０からの反射光を４分割されたフォトディテクタで検出すべく構成されている。再生信号検出器２８にはマトリクスアンプ３０が接続されており、再生信号検出器２８の検出信号がマトリクスアンプへ入力される。マトリクスアンプ３０は、再生信号検出器２８の４つの検出信号を信号処理して、再生信号（ＲＦ信号）、位相差信号（ＤＰＤ信号、図示省略）、プッシュプル信号（ＰＰ信号）を生成して出力する。
【００３８】
マトリクスアンプ３０の出力側は２値化回路３２に接続されている。２値化回路３２は、入力された再生信号を２値化するためのものである。すなわち、２値化回路３２は、アナログ信号である再生信号をデジタル信号に変換する回路であり、所定のサンプリング周期で所定値を越えるレベルのハイレベルの再生信号を所定のデジタル値（例えば、「１」）に設定し、それ以外のローレベルの再生信号を所定のデジタル値（例えば、「０」）に設定することによる２値化を行い、これを２値化データとして出力する。
【００３９】
２値化回路３２の出力側は、再生用デコーダ３４に入力される。
【００４０】
なお、マトリクスアンプ３０の出力側（ＰＰ信号の出力側）は、サーボ回路４４にも接続されている。サーボ回路４４は、ピックアップ２４を制御して、所定のフォーカス位置、トラッキング位置にレーザースポットを追従させる処理部であり、マトリクスアンプ３０からの出力信号からフォーカスサーボ、トラッキングサーボを作用させる。
【００４１】
一方、ピックアップ２４に設けられた半導体レーザ２８にはレーザドライバ回路４６を介して記録信号発生回路４８に接続されている。記録信号発生回路４８では、光ディスク１０へ記録するための半導体レーザ２８を駆動するためのパルス数、パルス幅、周期などを設定する。
【００４２】
レーザドライバ回路４６は、半導体レーザ２８を駆動するための駆動回路であり、入力された記録信号発生回路４８からのパルス信号によるオンオフが半導体レーザ２８で実施されるように半導体レーザ２８を駆動する。
【００４３】
また、記録信号発生回路４８は、光ディスク１０への記録に先だって光ディスク１０のＰＣＡ領域に試し書きを行うが、この時の半導体レーザ２８を駆動するための評価パルス（評価パターン）を設定する。
【００４４】
また、本実施形態の記録再生装置２２は、記録パワー決定回路５０を備えており、記録パワー決定回路５０によって光ディスク１０へ記録を行う際のレーザパワーが決定される。
【００４５】
記録パワー決定回路５０は、マトリクスアンプ３０に接続された変化量検出回路５２とレーザパワー決定回路５４で構成されている。
【００４６】
変化量検出回路５２は、マトリクスアンプ３０から出力される再生信号（ＲＦ信号）において、最短マーク（例えば、３Ｔマークなど）のローレベルの変化量を検出し、レーザパワー決定回路５４は、変化量検出回路５２で検出された変化量が予め定めたスライスレベル以下となる記録パワーをもって光ディスク１０へ記録する際の記録パワーを決定する。なお、スライスレベルは、記録再生装置２２のエラー補正能力、記録ストラテジのマッチングに依存する量である。
【００４７】
また、変化量検出回路５２は、２値化回路３２からの出力から、基準信号（クロック）に対する位置の変化量を検出するようにしてもよい。
【００４８】
続いて、上述のように構成された記録再生装置２２で行われるレーザパワーの決定方法について説明する。
【００４９】
熱干渉によるピット長のばらちきが生じない（エラーが致命的な値とならない）記録パワーを決定するために、本実施の形態では図３に示すような手順で記録パワーを決定する。
【００５０】
まず、熱干渉の発生度合いを評価するための評価パターンを、記録パワーを低い記録パワーから高い記録パワーに段階的に変化させて記録する（ステップ１００）。すなわち、予め定めた評価パターンが記録されるように記録信号発生回路４８ではパルスが設定され、レーザドライバ回路４６に設定されたパルスが入力されることで光ディスク１０のＰＣＡ領域にレーザ光が照射されて評価パターンが記録（試し書き）される。
【００５１】
一般に熱干渉は最も短いマークにおいて顕著となり、前後のスペースの長さに依存して、その最短マークの長さが変動する現象として現れる。従って、評価パターンとしては、最短マーク及び数種の長さのスペースの組み合わせであればよい。
【００５２】
次に、試し書きした評価パターンを再生し、記録した各記録パワーにおける熱干渉の発生度合いを数値化する（ステップ１０２）。熱干渉の度合いを数値化する方法としては、再生信号を２値化して、基準クロックに対する位置の変化量を検出する方法と、再生信号において、最短マークのローレベルの変化量を検出する方法によって熱干渉の度合いを数値化することが可能である。本実施の形態では、変化量検出回路５２によって、再生信号における最短マークのローレベルの変化量を検出する。
【００５３】
そして、数値化した値が予め定めたスライスレベルより小さい値となるように記録パワーを決定する（ステップ１０４）。本実施の形態では、検出された変化量が、予め定めたスライスレベル以下となる記録パワーをもって本番の記録を実施する。すなわち、本実施形態では、レーザパワー決定回路５４によって、変化量が予め定めたスライスレベル以下となる記録パワーとなるように設定される。これによって、最適な記録パワーを設定することが可能となる。
【００５４】
本実施の形態では、スライスレベルは、良好な記録を行えるＰＩエラー（訂正可能なエラー）の測定値を求め、該ＰＩエラーの測定値に対応する変化量を求めることでスライスレベルを決定する。すなわち、最短マークのローレベルの変化量が良好な記録を行うことができるＰＩエラーの測定値から求めたスライスレベルをもって記録パワーを決定することで、ＰＩエラーの発生を抑制することができ、良好な記録を行うことができる。
【００５５】
なお、上述の熱干渉発生度合いを数値化する方法を、光ディスク１０の製造時の検査工程で実施するようにしてもよい。この場合には、上述のスライスレベルで、ＯＫ／ＮＧの判定を行うことで、高速記録適正のない（熱干渉に弱い）ディスクを検出することが可能となる。
【００５６】
ここで、一例として記録再生装置２２としてパルステック社製ＤＤＵ−１０００を使用して上述の方法を適用して記録パワーの決定をした場合の例を説明する。
【００５７】
使用した評価パターンは、３Ｔと１１Ｔマークの繰り返しパターンを使用して記録パワーの決定を行う。
【００５８】
図４は、８倍速で光ディスク１０に記録を行い、熱干渉が顕著となっているときのＲＦ信号を示す図である。３Ｔｌレベル（３Ｔ信号のローレベル）が３Ｔｌｈから３ＴｌＬまで変動しているのがわかる。なお、１１Ｔｈは１１Ｔマークのハイレベルを示し、１１Ｔｌは１１Ｔマークのハイレベルを示し、同様に、３Ｔｈは３Ｔマークのハイレベルを示す。
【００５９】
また、図５は、記録パワーを変化させた時の３Ｔ及び１１Ｔからなる評価パターンの再生信号を示す図であり、図５（Ａ）は記録パワー２８．２ｍＷのときの評価パターンの再生信号を示し、図５（Ｂ）は記録パワー２９．０ｍＷのときの評価パターンの再生信号を示し、図５（Ｃ）は記録パワー２９．８ｍＷのときの評価パターンの再生信号を示し、図５（Ｄ）は記録パワー３０．６ｍＷのときの評価パターンの再生信号を示し、図５（Ｅ）は記録パワー３１．４ｍＷのときの評価パターンを示す。
【００６０】
ここで、３Ｔｌの変化量（Δ３Ｔｌ）を３Ｔ信号で規格化したΔ３Ｔｌ／３Ｔを、記録パワーに対してプロットすると図６に示すようになる。
【００６１】
図６に示すように、記録パワーの上昇に伴い、Δ３Ｔ／３Ｔも増加する。ここで、通常の記録パターンを使用して記録パワーを低い記録パワーから高い記録パワーに段階的に変化させて記録したときのＰＩエラー測定値を測定すると、良好な記録が行えるのは、ＰＩエラーが２８０個より小さい時（ＰＩエラー＜２８０）である。
【００６２】
そこで、本実施形態では、ＰＩエラーの測定値とΔ３Ｔｌ／３Ｔの値とを対応させてスライスレベルを決定している。すなわち、Δ３Ｔｌ／３Ｔの値にＰＩエラー＜２８０を対応させると、Δ３Ｔｌ／３Ｔ＜０．３のときＰＩエラーが２８０より小さくなり、Δ３Ｔｌ／３Ｔのスライスレベルを０．３に設定する。
【００６３】
本実施形態の記録再生装置（ＤＤＵ−１０００）では、図６から記録パワーは３１ｍＷ以下として記録すべきであると判断できるので、この値（３１ｍＷ）をスライスレベルとしてレーザパワー決定回路５４に記憶する。これによってレーザパワー決定回路５４で最適な記録パワーを決定することができる。
【００６４】
なお、評価パターンの記録は、記録パワーを段階的に変化させて記録するが、この時の記録パワーは０．５ｍＷステップであることが好ましく、０．３ｍＷステップである方が更に好ましい。さらには０．１ｍＷステップであることが最も好ましい。
【００６５】
また、本実施の形態では、上述のように決定した記録パワーが光ディスク１０に予め記録された目標β値から得られる記録パワーよりも大きい場合には、上述のように決定した記録パワーではなく、目標β値を記録パワーとして設定するようにしてもよい。すなわち、レーザパワー決定回路５４では、上述のスライスレベルを用いて決定した記録パワーと光ディスク１０から読み取った目標β値から得られる記録パワーとが比較され、目標β値から得られる記録パワーの方が小さい記録パワーである場合には、目標β値となる記録パワーを本番の記録用の記録パワーとして設定する。これによって、良好な記録を行うことができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】本発明の実施の形態に係わる光記録媒体が適用可能な光ディスクを示す図である。
【図２】本発明の実施の形態に係わる記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態に係わるレーザパワーの決定方法の手順を示すフローチャートである。
【図４】８倍速で光ディスクに記録を行い、熱干渉が顕著となっているときの再生信号を示す図である。
【図５】記録パワーを変化させた時の３Ｔ及び１１Ｔからなる評価パターンの再生信号を示す図である。
【図６】記録パワーの変化に対するΔ３Ｔ／３Ｔの特性を示すグラフである。
【符号の説明】
【００６７】
１０    光ディスク
２４    ピックアップ
２６    再生信号検出器
２８    半導体レーザ
３０    マトリクスアンプ
４６    レーザドライバ回路
５０    記録パワー決定回路
５２    変化量検出回路
５４    レーザパワー決定回路
【図１】
2005243180.tif 000003
【図２】
2005243180.tif 000004
【図３】
2005243180.tif 000005
【図４】
2005243180.tif 000006
【図５】
2005243180.tif 000007
【図６】
2005243180.tif 000008