(57)【要約】【課題】  電子デバイス及びＣＰＵが実装された基板の異常の有無を検出することを可能にした基板異常検出システムを提供する。【解決手段】  半導体回路を含んだ電子デバイス２２〜２４とＣＰＵ２１とを少なくとも備えた電子基板２０を起動させるとともに、その電子基板２０の駆動が正常になされているかどうかの検査情報をＣＰＵ２１から採取する検査用パソコン１０と、検査用パソコン１０により採取された検査情報が当該電子基板及び前記電子デバイスと関連付けて格納される管理データベース４１とを備えたものである。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体回路を含んだ電子デバイスとＣＰＵとを少なくとも備えた電子基板を起動させるとともに、その電子基板の駆動が正常になされているかどうかの検査情報を前記ＣＰＵから採取する検査用情報処理装置と、
前記検査用情報処理装置により採取された検査情報が当該電子基板及び前記電子デバイスと関連付けて格納される管理データベースと
を備えた基板異常検出システム。
【請求項２】
前記検査用情報処理装置は、前記ＣＰＵに対して前記電子デバイスで用いられているコマンドで当該電子デバイスを駆動させて、駆動が正常になされているかどうかの検査情報を前記ＣＰＵから採取することを特徴とする請求項１記載の基板異常検出システム。
【請求項３】
前記管理データベースには、正常に駆動されていないと判断された前記電子デバイスが修理されたときに、当該電子デバイスの修理情報が格納されることを特徴とする請求項１又は２記載の基板異常検出システム。
【請求項４】
前記管理データベースには、少なくとも、製品の番号と、当該製品に含まれる前記電子基板の番号とが関連づけられて格納され、各電子基板の情報として検査情報及び修理されたときの修理情報が格納されることを特徴とする請求項３記載の基板異常検出システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プロジェクタ等の電子機器に搭載される電子基板の異常の有無を検出する基板異常検出システムに関し、特に、ＣＰＵ及び半導体装置を含んだ電子デバイスが実装された基板の異常検出に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、プロジェクタ、リアプロジェクタ等に搭載される基板には各種の電子デバイスが実装されているが、その電子デバイスが正常に機能しているかどうかについては製造の段階では把握しがたく、例えばランプの点灯動作をさせてみて初めて電子デバイスが異常であることが分かるというのが現状であった。或いは、制御装置から見た通信の種類（２線シリアルや３線シリアルなど等）のみの異常を通信コマンドで返したり、或いは少ないＬＥＤ点灯の組み合わせにより異常を検知していた。一方、電子機器の異常を検出するものとして、例えば機器のエラーの内容を個別に詳しく検出して表示して迅速に対処できるようにしたものがある（例えば特許文献１）。
【特許文献１】特開２０００−２６２７２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
プロジェクタ、リアプロジェクタ等の製造において、例えばランプの点灯動作をさせてみて初めて電子デバイスが異常であることが分かるという状態や、制御装置から見た通信の種類のみの異常を通信コマンドで返したり、或いは少ないＬＥＤ点灯の組み合わせにより異常を検知したのでは、どの電子デバイスに異常があったのか分からず、異常があった電子デバイスを特定するのに時間がかかるという問題点があった。また、電子機器のエラーの内容を個別に詳しく検出して表示して迅速に対処できるようにしたもの（例えば特許文献１）については、製品が完成した使用状態おけるエラーを対象としており、製造過程にある電子デバイスを対象としていないので、上記のプロジェクタ等の電子機器の製造過程においては適用することができない。
【０００４】
本発明は、このような問題点を解決するためになされたものであり、電子デバイスが実装された基板の異常の有無を検出することを可能にした基板異常検出システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る基板異常検出システムは、半導体回路を含んだ電子デバイスとＣＰＵとを少なくとも備えた電子基板を起動させるとともに、その電子基板の駆動が正常になされているかどうかの検査情報を前記ＣＰＵから採取する検査用情報処理装置と、前記検査用情報処理装置により採取された検査情報が当該電子基板及び前記電子デバイスと関連付けて格納される管理データベースとを備えたものである。本発明においては、前記検査用情報処理装置により採取された検査情報が、管理データベースに、当該電子基板及び前記電子デバイスと関連付けて格納されるので、製造段階の電子デバイスの検査情報の詳細を把握することができ、異常があった場合には電子デバイス単位で対処することが可能になっており、迅速な対応が可能になっている。また、電子デバイス単位での検査情報が管理データベースに格納されるので、電子デバイス単位で検査履歴を把握することができる。
【０００６】
本発明に係る基板異常検出システムにおいて、前記検査用情報処理装置は、前記ＣＰＵに対して前記電子デバイスで用いられているコマンドで当該電子デバイスを駆動させて、駆動が正常になされているかどうかの検査情報を前記ＣＰＵから採取する。本発明においては、前記検査用情報処理装置が、前記ＣＰＵに対して前記電子デバイスで用いられているコマンドで当該電子デバイスを駆動させており、実際の駆動に近い状態が得られるので、駆動が正常になされているかどうかの検査情報が高精度に得られる。
【０００７】
本発明に係る基板異常検出システムにおいて、前記管理データベースには、正常に駆動されていないと判断された前記電子デバイスが修理されたときに、当該電子デバイスの修理情報が格納される。本発明においては、電子デバイス単位の修理情報が前記管理データベースに格納されるので、電子デバイスの修理履歴を把握することができる。
【０００８】
本発明に係る基板異常検出システムにおいて、前記管理データベースには、少なくとも、製品の番号と、当該製品に含まれる前記電子基板の番号とが関連づけられて格納され、各電子基板の情報として検査情報及び修理されたときの修理情報が格納される。本発明においては、製造後の製品に故障等の不具合があった場合には、管理データベースのデータを検索することにより、製造段階での履歴が得られ、迅速な対応が可能になっている。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
実施形態１．
図１は本発明の実施形態１に係る基板異常検出装置及びその関連の機器のシステム構成図である。検査用ＰＣ（検査用情報処理装置）１０は検査対象となっている基板２０と接続される。基板２０には、例えばＣＰＵ２１、電子デバイス２２〜２４及び入出力ポート（シリアルインターフェース）２５が実装されている。また、基板２０には更にＬＥＤ等の表示装置２６が搭載さされており、ＣＰＵ２１による検査結果が表示されるように構成されている。検査用ＰＣ１０は入出力ポート２５を介して基板２０のＣＰＵ２１とシリアルデータの授受を行う。なお、ＣＰＵ２１には検査用のプログラムが予め組み込まれているものとする。検査用ＰＣ１０はＬＡＮ３０を介してサーバ４０と接続されており、サーバ４０は管理データベース４１が接続されており、サーバ４０を介して管理データベース４１にアクセスすることができるようになっている。また、このサーバ４０にはＬＡＮ３０を介して、例えば製造工程の全体を管理する管理コンピュータ５０が接続されており、管理コンピュータ５０はサーバ４０を介して管理データベース４１に、製造工程の全体を管理する上で必要なデータを書き込む。例えば管理データベース４１には、製造開始前に搭載主要部品のロット番号・数量等が格納される。また、製造オペレータは、現在製造されている製品のシリアル番号をサーバ４０に格納しておくものとし、検査用ＰＣ１０からの検査情報が送信してきたときに、シリアル番号と検査情報とをリンクして管理データベース４１に格納する。
【００１０】
図２は管理データベース４１のデータの一例を示した図であり、検査対象の基板２０のシリアル番号や、その基板に実装された電子デバイスについての検査結果が格納されるように構成されている。
【００１１】
図３は検査用ＰＣ１０により基板２０を検査するときの処理過程を示したフローチャートである。
まず、製造オペレータの操作により又は自動的に基板２０のシリアル番号を検査用ＰＣ１０に入力すると（Ｓ１）、検査用ＰＣ１０は製造工程用モード（検査モード）で基板２０を起動させる（Ｓ２）。なお、ここでは製品（基板）の起動時間が長くならないように、製造工程用モード（又は制御装置のポートチェック）で基板２０（ＣＰＵ２１）を起動させるようにする。基板２０のＣＰＵ２１は入出力ポート２５を介して製造工程用モード用の起動信号を受信すると起動し、予め設定されている検査用のプログラムに従って演算処理を開始する。ここで、検査用ＰＣ１０は電子デバイス２２〜２４を特定するための計数としてｎ＝１と設定し（Ｓ３）、ＣＰＵ２１は計数ｎ（＝１）に相当する電子デバイス１（２２）の検査をする（Ｓ４）。この検査においては、例えば電子デバイス１（２２）で使用されているコマンドを供給して正常に動作しているかどうかを確認する。ＣＰＵ２１はこの検査情報を入出力ポート２５を介して送信し、検査用ＰＣ１０はその検査情報を採取し（Ｓ５）、更に、サーバ４０に送信して管理データベース４１に格納させる（Ｓ６）。検査用ＰＣ１０はこの検査結果について異常が無ければ、上記のシリアル番号の基板２０の電子デバイスが全て検査されたかどうかを判断し（Ｓ８）、電子デバイスが全て検査されていない場合には、次に検査する電子デバイス２（２３）を特定するための計数をインクリメントし（ｎ＝ｎ＋１）（Ｓ９）、上記の処理（Ｓ４）〜（Ｓ８）を繰り返す。
【００１２】
ＣＰＵ２１は上記の処理において異常があると判断したときには表示装置２６に表示する。例えば表示装置２６にはエラーとなった機能のデバイスアドレス、デバイスサブアドレスを表示する。これにより例えば製造ラインの製造オペレータがどの電子デバイス２２〜２４に異常があったかを把握することができる。また、検査用ＰＣ１０においても検査結果に異常あるとその旨を表示する（Ｓ１０）。製造オペレータは、検査結果が異常であることを把握すると、検査用ＰＣ１０を操作して管理データベース４１を検索し、該当する電子デバイスの検査結果を分析し、例えばその異常が検査部品由来か製造由来かを判定し、修正する（Ｓ１１）。そして、作業者は検査用ＰＣ１０を操作してその修理情報を管理データベース４１に送り出す。これによって、管理データベース４１には電子デバイスに毎に、検査結果やそれに対応する修理内容が格納されることになる。例えば図２に示されるように、電子デバイス１（２３）について「アドレス×××の書き込みＮＧ」、電子デバイス２（２３）について「アドレス×××の読み込みＮＧ」という具合に検査情報を格納していく。また、その異常を是正するために行った処理を修理内容（図示せず）を同様にして格納させる。異常があると判断された電子デバイスについての修理が終わると、その電子デバイスの検査を再び行うことになる（Ｓ４〜Ｓ８）。
【００１３】
以上のように本実施形態１においては、製造段階で電子デバイスの単位で検査を行い、且つその異常内容を把握するようにしたので、電子デバイスに異常があった場合には適切に且つ迅速に対応することができ、結果として製品の完成に要する時間を短縮させることができる。特に、プロジェクタ、リアプロジェクタ等のようにランプが点灯動作をさせてみて初めて電子デバイスが異常であることが分かるというものに、本実施形態が適用されると、その効果には顕著なものがある。また、プロジェクタ、リアプロジェクタ等の電子デバイスのように、電子デバイス相互に依存性がなく、電子デバイスがシリーズに配置されて機能するものについても、本実施形態が適用されると、その効果には顕著なものがある。
【００１４】
また、管理データベース４１には電子デバイスの検査結果やそれに対応する修理内容が製造過程おいて蓄積されるので、現在製造ロットで流れている製品又は部品コードのロット番号と上記の検査情報とを使うことにより、納入部品品質、基板製造品質を管理し、不具合が発生した場合には当該部品又は基板をトレースすることが可能になっている。
【００１５】
なお、上述の実施形態１においては、基板２０にＬＥＤ等の表示装置２６が搭載されている例について説明したが、本発明においては表示装置２６の搭載を省略してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施形態１に係る基板異常検出装置及びその関連の機器のシステム構成図。
【図２】管理データベースのデータの一例を示した図。
【図３】基板を検査するときの処理過程を示したフローチャート。
【符号の説明】
【００１７】
２０ 基板、２２〜２４ 電子デバイス、２５ 入出力ポート、２６ 表示装置、４０ サーバ、４１ 管理データベース、５０ 管理コンピュータ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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