(57)【要約】 【課題】  簡素な仕組みで発光素子に係る温度を安定化させる。【解決手段】  発光素子から光ディスクへ出射するレーザー光のパワー値を設定して前記発光素子を駆動し、前記光ディスクへの記録及び／又は再生の処理を行う光ディスク装置であって、前記発光素子に係る温度を検出する手段と、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する前に前記発光素子のテスト駆動を開始し、前記テスト駆動を開始したときから、所定時間を経過する度に、前記手段において検出された前記温度を取得し、前記取得された温度と、当該温度が取得されたときより前記所定時間前に取得された温度と、の差が所定範囲内となったとき前記テスト駆動を終了し、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する制御手段と、を有する。【選択図】    図１
2005122798.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光素子から光ディスクへ出射するレーザー光のパワー値を設定して前記発光素子を駆動し、前記光ディスクへの記録及び／又は再生の処理を行う光ディスク装置であって、
前記発光素子に係る温度を検出する手段と、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する前に前記発光素子のテスト駆動を開始し、
前記テスト駆動を開始したときから、所定時間を経過する度に、前記手段において検出された前記温度を取得し、
前記取得された温度と、当該温度が取得されたときより前記所定時間前に取得された温度と、の差が所定範囲内となったとき前記テスト駆動を終了し、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する制御手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記温度を検出する手段は、前記発光素子自体の温度を検出すること、を特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記温度を検出する手段は、前記発光素子の周囲の温度を検出すること、を特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
前記テスト駆動を実行している間、前記光ディスクへの記録又は再生を行うパワー値よりも大きいテスト用パワー値を有した前記レーザー光にて前記発光素子を駆動すること、
を特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御手段は、
前記テスト駆動を開始した時点より、前記テスト用パワー値を有した前記レーザー光にて前記発光素子を駆動すること、
を特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記制御手段は、
前記テスト駆動を開始したときから、予め定めておいた最大所用時間を経過したとき、前記テスト駆動を終了する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
発光素子から光ディスクへ出射するレーザー光のパワー値を設定して前記発光素子を駆動し、前記光ディスクへの記録及び／又は再生の処理を行う光ディスク装置の制御方法であって、
前記発光素子に係る温度を検出し、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する前に前記発光素子のテスト駆動を開始し、
前記テスト駆動を開始したときから、所定時間を経過する度に、前記手段において検出された前記温度を取得し、
前記取得された温度と、当該温度が取得されたときより前記所定時間前に取得された温度と、の差が所定範囲内となったとき前記テスト駆動を終了し、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する、
ことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置およびその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに対してレーザーダイオード（以下、ＬＤ（Laser Diode）と称する。）から出射するレーザー光を利用して記録又は再生の処理を行う光ディスク装置では、ＬＤの正面側のフロントモニタダイオード（以下、ＦＭＤ（Front Monitor Diode）と称する。）において検出されたＬＤ出力に基づいて、再生時のＬＤ出力のパワー値（リードパワー値）や記録時のＬＤ出力のパワー値（ライトパワー値）が一定となるように、ＡＰＣ（Automatic Power Control）によるサーボ制御を実行する。
【０００３】
ＬＤは、ＬＤドライバーから供給される電流によってレーザー光を出射するとき、熱を発生する。この熱によって、ＬＤ自体若しくはＬＤの周囲の温度が変化する。さらに、この温度変化によって、ＬＤにおける発振波長の温度依存性のため、ＬＤから出射するレーザー光の波長が変動する。ここで、ＦＭＤの受光側には、通常、所定の波長を有した光を通過させるべく波長依存性のある透過膜が設けられており、レーザー光の波長変動によって、光ディスクの特性（反射率や透過率）が変動するとともに、ＦＭＤにおいて検出されるＬＤ出力が変動することになる。
【０００４】
このように、ＬＤ自体若しくはＬＤの周囲の温度変化が原因となって、ＦＭＤにおいて検出されるＬＤ出力が変動した結果、ＡＰＣのサーボ制御が破綻するなど、光ディスク装置における記録又は再生の処理に多大な影響を与えることになる。そこで、例えば、以下に示す特許文献１に開示された技術のように、ＬＤの温度検出手段によって検出された温度に基づいてＬＤの駆動制御を行う光ディスク装置の仕組みが提案されている。
【特許文献１】特開２００１−２１６６７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、光ディスク装置全体の制御を司るシステムコントローラなどが、前述のＬＤの温度検出手段によって検出された温度をリアルタイムで取得して、さらには、ＬＤの温度を安定化させるべく温度に応じたＬＤの駆動制御をリアルタイムに実行しようとする場合、その一連の処理に多くの時間がかかってしまうので実現困難であった。
【０００６】
また、ＬＤ自体若しくはＬＤの周囲の温度は、電源投入時や処理待機中の状態よりＬＤドライバーからＬＤに電流の供給を開始したときから急激に変化し、その後、安定することが考えられる。ここで、前述の温度に応じたＬＤの駆動制御について、記録又は再生の処理中においてまでリアルタイムで実行した場合、前述のシステムコントローラなどにかなりの処理の負担を負わせた割には、ＬＤ自体若しくはＬＤの周囲の温度を安定化させる効果があまり得られない結果となりかねない。
【０００７】
このように、前述の温度に応じたＬＤの駆動制御を行う仕組みについては、光ディスク装置全体の性能を低下させずに済む簡素な仕組みが求められていた。
【０００８】
そこで、本発明は、装置全体の性能低下を抑えるとともに簡素な仕組みで、ＬＤに係る温度を安定化させることが可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前述した課題を解決するための主たる本発明は、発光素子から光ディスクへ出射するレーザー光のパワー値を設定して前記発光素子を駆動し、前記光ディスクへの記録及び／又は再生の処理を行う光ディスク装置であって、前記発光素子に係る温度を検出する手段と、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する前に前記発光素子のテスト駆動を開始し、前記テスト駆動を開始したときから、所定時間を経過する度に、前記手段において検出された前記温度を取得し、前記取得された温度と、当該温度が取得されたときより前記所定時間前に取得された温度と、の差が所定範囲内となったとき前記テスト駆動を終了し、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する制御手段と、を有することとする。
【００１０】
本発明に係る光ディスク装置は、前記発光素子を駆動する際の初期時において、前記発光素子より発生する熱で前記発光素子自体若しくはその周囲の温度が急激に変化することに着眼して、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を実際に開始する前に、前記発光素子自体の温度若しくはその周囲の温度を安定化させるべく、前記発光素子のテスト駆動を行う。なお、前記発光素子のテスト駆動については、前記光ディスクへの記録又は再生の処理中には実行しないように所定の条件で終了させる。さらに、前記発光素子のテスト駆動において、前記制御手段は、前記検出された温度をリアルタイムに取得するのではなく、前記所定時間ごとに取得するとともに、前記取得した温度に応じたレーザー光のパワー値の調整についてリアルタイムではなく前記所定時間ごとに行う。
【００１１】
本発明に係る光ディスク装置は、前記発光素子のテスト駆動を実行することで、前記制御手段などにおける性能低下を抑えつつ、前記発光素子自体若しくはその周囲の温度を安定化させることができる。また、前記光ディスクへの記録又は再生を行うときのレーザー光のパワー値を設定する際、ＡＰＣなどによるサーボ制御が、急激な温度変化によって破綻することがなくなる。この結果、前記光ディスクへの記録又は再生の処理が開始する前に、前記発光素子から出射するレーザー光のパワー値が安定することになり、ひいては、前記光ディスクへの記録又は再生品位が向上することになる。
【００１２】
このように、本発明によれば、発光素子自体若しくはその周囲の温度の変化について、装置全体の性能低下を抑えた簡素な仕組みでＬＤに係る温度を安定化させることができ、ひいては、光ディスクへの記録品位又は再生品位について向上させることができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、装置全体の性能低下を抑えるとともに簡素な仕組みで、ＬＤに係る温度を安定化させることが可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
＜システム構成＞
本発明に係る光ディスク装置１００は、レーザーダイオード（以下、ＬＤ（Laser Diode）と称する。）１１の駆動方式として、マルチパルス方式やノンマルチパルス方式を採用することができる。
【００１５】
光ディスク装置１００は、マルチパルス方式を採用した場合、記録マークを形成しないスペース区間ではリードパワー値Ｐｒでレーザー光を出射し、記録マークを形成するマーク区間ではリードパワー値Ｐｒとライトパワー値Ｐｍとを有する記録パルス列に応じたパワー値でレーザー光を出射する。マルチパルス方式によれば、マーク区間中においてリードパワー値Ｐｒとなる区間を冷却区間とすることができ、熱分布の均一化を図れる。
【００１６】
光ディスク装置１００は、ノンマルチパルス方式を採用した場合、スペース区間ではリードパワー値Ｐｒ、マーク区間ではライトパワー値Ｐｍとし、１つの記録マークを１つの記録パルスで形成する。なお、ノンマルチパルス方式単独では、記録マークにおける熱分布の均一化が図れず、記録マークが涙状に歪むことが知られている。
【００１７】
そこで、ノンマルチパルス方式の場合、マーク区間における先頭側の所定区間（以下、ＬＤＨ（LD High）区間と称する。）では、メーカーや記録速度などの光ディスク２００の種別に応じて定められたバイアス値Δ（ライトパワー値Ｐｍとリードパワー値Ｐｒの差分値の数％〜２０％程度）をライトパワー値に重畳させて、ＬＤ１１を駆動するよう構成する。なお、ＬＤＨ区間のピーク値であるＰｈとライトパワー値Ｐｍとの比は、通常、Ｐｈ／Ｐｍ比と呼ばれている。このような構成を採用することで、記録マークにおける熱分布の均一化が図れる。
【００１８】
図１に示した、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置１００は、ＬＤＨ区間においてバイアス値Δをライトパワー値に重畳させるノンマルチパルス方式を採用する。以下、図５のタイムチャートを適宜参照しつつ、光ディスク装置１００の構成を図１に基づいて説明する。
【００１９】
光ピックアップ１０は、ＬＤ１１、フロントモニタダイオード１２（以下、ＦＭＤ（Front Monitor Diode）と称する。）、透過膜１３、光検出器１４（以下、ＰＤ（Photo Detector）と称する。）、温度センサ１５、を備える。光ピックアップ１０は、さらに、前述した構成の他、光学レンズ、光ピックアップ１０のスレッド送り制御、トラッキング制御及びフォーカス制御などを実施するための各種アクチュエータなどを備えるが、それらの図示及び詳細な説明は省略する。
【００２０】
ＬＤ（『発光素子』）１１は、光ディスク２００に対して記録及び再生を行うためのレーザー光を出射する。なお、ＬＤ１１は、ＬＤドライバー１６から供給される電流によってレーザー光を出射するとき、熱を発生する。この熱によって、ＬＤ１１に係る温度が変化する。さらに、この温度変化によって、ＬＤ１１における発振波長の温度依存性のため、ＬＤ１１から出射するレーザー光の波長が変動する。
【００２１】
ＦＭＤ１２は、ＬＤ１１の正面側に配置されており、ＬＤ１１から光ディスク２００に対して出射されたレーザー光の一部を透過膜１３を介して受光する。ＦＭＤ１２は、この受光したレーザー光の光量に応じて電流が流れ、この電流に応じた信号（以下、パワーモニタ信号と称する。）を生成する。
【００２２】
透過膜１３は、ＦＭＤ１２の受光側に配置されており、所定の波長を有した光を通過させるべく波長依存性を有する。この透過膜１３は、例えば、ＣＤメディアとＤＶＤメディアをともに再生可能とする光ディスク装置１００の場合において、ＣＤメディア用の７８０ｎｍ帯の波長を有するレーザー光と、ＤＶＤメディア用の６３５ｎｍ帯や６５０ｎｍ帯の波長を有するレーザー光とを、メディアのタイプに応じて選択して透過させる用途で利用される。ＬＤ１１から出射するレーザー光の波長が変動した場合、透過膜１３の波長依存性のため、ＦＭＤ１２で受光するレーザー光の光量が変動する。
【００２３】
ＰＤ１４は、光ディスク２００からの反射光を透過膜１３を介して受光して、その受光した光量に応じて電流が流れ、この電流に応じた信号（以下、再生信号と称する。）を生成する。なお、ＰＤ１４は、ＦＭＤ１２と兼用することもできる。ＰＤ１４で生成された再生信号は、デコーダ１９に供給されて、光ディスク２００のメディアに応じた所定のデコード処理が施される。
【００２４】
また、ＰＤ１４で生成された再生信号は、サーボ回路３７に供給される。サーボ回路３７は、ＰＤ１４で生成された再生信号に基づいて、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、ＷＢＬ（Wobble）信号などを生成して、光ピックアップ１０のサーボ制御（トラッキング制御、フォーカス制御、スレッド送り制御など）や、光ディスク２００を回転駆動するスピンドルモーター３８のサーボ制御を行う。
【００２５】
温度センサ（『温度を検出する手段』）１５は、サーミスタ・熱電対・白金測温抵抗体などの接触式センサや、サーモパイルなどの非接触式センサを採用できる。温度センサ１５は、ＬＤ１１が取り付けられた基板上でＬＤ１１と接触若しくは近接するよう配置しておき、ＬＤ１１自体若しくはその周囲の温度を検出する。ここで、ＬＤ１１自体の温度を検出するようにした場合、より精度の高い温度が検出できる。一方、ＬＤ１１の周囲（例えば、ＬＤ１１の近傍）の温度を検出するようにした場合、ＬＤ１１自体の温度を検出する場合と比べて、光ピックアップ１０内に温度センサ１５を自由に取り付けることができて、光ピックアップ１０の小型化に貢献できる。
【００２６】
温度センサ１５において検出された温度（アナログ値）は、Ａ／Ｄコンバータ３６によってディジタル値に変換後、システムコントローラ１７に入力される。システムコントローラ１７は、Ａ／Ｄコンバータ３６から入力された温度（ディジタル値）の情報に基づいて、ＬＤ１１に係る温度を安定化させるべく、後述するＬＤ１１のテスト駆動を実行する。
【００２７】
システムコントローラ１７（『制御手段』）は、光ディスク２００の記録又は再生に係る光ディスク装置１００全般のシステム制御を司る。例えば、システムコントローラ１７は、光ディスク２００に対して記録又は再生を行う場合に、光ディスク２００に応じた復調又は変調処理を施すために、エンコーダ／デコーダ１９の起動を制御する。
【００２８】
システムコントローラ１７は、リードパワー値Ｐｒに関するＡＰＣ（Automatic Power Control）を実施するために、第１のＡＰＣ基準電圧信号（ディジタル値）をＤ／Ａコンバータ２１に供給する。同様に、ライトパワー値Ｐｍに関するＡＰＣ（Automatic Power Control）を実施するために、第２のＡＰＣ基準電圧信号（ディジタル値）をＤ／Ａコンバータ２８に対して供給する。
【００２９】
システムコントローラ１７は、記録開始から所定期間、ライトパワー値Ｐｍに関するＡＣＣ（Automatic Current Control）を実施するために、ＡＣＣ基準電圧信号（ディジタル値）をＤ／Ａコンバータ２５に対して供給する。なお、システムコントローラ１７は、スイッチ３０の導通／非導通を制御するので、その結果、ライトパワー信号発生回路３１から出力されるライトパワー信号ＶＷＤＣについて、ＡＣＣ回路２６出力又はＡＰＣ回路２９出力のいずれか一方が選択される。
【００３０】
さらに、システムコントローラ１７は、ＲＡＭ１８に記憶されたストラテジー情報から光ディスク２００の種別（メーカーや記録速度など）に応じたＡＴＴ設定値を読み出し、このＡＴＴ設定値に基づいてアッテネータ３３の減衰率ＡＴＴを設定する。なお、ストラテジー情報とは、例えば、製造メーカーや記録速度ごとに推奨されるＰｈ／Ｐｍ比やそのＰｈ／Ｐｍ比に対応するＡＴＴ設定値などを有している。このストラテジー情報は、光ディスク装置１００に予め記憶されていてもよいし、光ディスク２００の所定領域に予め記録されているものとして、この情報を光ディスク２００から逐次読み出してストラテジー情報の内容を更新してもよい。
【００３１】
ＲＡＭ１８は、システムコントローラ１７がアクセス可能なメモリであり、例えば、ＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリなどの不揮発性メモリや、ＳＲＡＭやＤＲＡＭなどの揮発性メモリを採用することができる。なお、ＲＡＭ１８は、エンコーダ／デコーダ１９において変調又は復調処理中にあるデータを一時記憶する場合に使用される。
【００３２】
エンコーダ／デコーダ１９は、光ディスク２００のメディアに応じた変調又は復調処理を行う。例えば、光ディスク２００がＣＤ−Ｒメディアの場合、変調方式としてＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）、誤り訂正方式としてＣＩＲＣ（Cross Interleave Reed-Solomon Code）を採用しているため、これらの変調方式及び誤り訂正方式に基づいた変調又は復調処理を行う。
【００３３】
エンコーダ／デコーダ１９は、スペース区間に対応したリードパワー値Ｐｒを示すパワーモニタ信号に関して、所定のサンプリング期間分サンプリングを行った後に前値保持を行うためのサンプルホールド信号ＲＡＰＣ（図５（ｄ）参照）を、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ：Sample Hold）回路２０に供給する。同様に、マーク区間に対応したライトパワー値Ｐｍを示すパワーモニタ信号に関して、所定のサンプリング期間分サンプリングを行った後に前値保持を行うためのサンプルホールド信号ＷＡＰＣ（図５（ｇ）参照）を、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ：Sample Hold）回路２７に供給する。
【００３４】
エンコーダ／デコーダ１９は、ノンマルチパルス方式においてバイアス値Δを重畳させた記録パルス（図５（ａ）参照）を形成すべく、スイッチ２４の導通／非導通を設定するためのＬＤＯＮ信号（図５（ｃ）参照）、スイッチ３２の導通／非導通を設定するためのＰＥＯ信号（図５（ｆ）参照）、スイッチ３５の導通／非導通を設定するためのＬＤＨ信号（図５（ｈ）参照）を、それぞれのスイッチ（２２、３０、３５）に対して供給する。なお、ＬＤＯＮ信号は、スペース区間及びマーク区間ともにスイッチ２４を導通させるレベル（Ｈレベル）とする。また、ＰＥＯ信号は、スペース区間ではスイッチ３２を非導通とさせるレベル（Ｌレベル）とし、マーク区間ではスイッチ３２を導通させるレベル（Ｈレベル）とする。さらに、ＬＤＨ信号は、マーク区間の先頭となる所定区間（３Ｔ〜１１Ｔ）ではスイッチ３５を導通させるレベル（Ｈレベル）とし、それ以外の区間ではスイッチ３５を非導通とさせるレベル（Ｌレベル）とする。
【００３５】
サンプルホールド（Ｓ／Ｈ：Sample Hold）回路（２０、２７）は、ＦＭＤ１２で検出されたパワーモニタ信号について、エンコーダ／デコーダ１９から供給されるサンプルホールド信号ＲＡＰＣ／ＷＡＰＣに基づいたタイミングでサンプルホールド処理を実行する。具体的には、サンプルホールド回路１８は、サンプルホールド信号ＲＡＰＣがＨレベルとなる期間（サンプリング期間）、ＦＭＤ１２より供給されたパワーモニタ信号からリードパワー値Ｐｒを取り出す。一方、サンプルホールド回路２５は、サンプルホールド信号ＷＡＰＣがＨレベルとなる期間（サンプリング期間）、ＦＭＤ１２より供給されたパワーモニタ信号からライトパワー値Ｐｍを取り出す。
【００３６】
ＡＰＣ回路２２は、サンプルホールド回路１８によって取り出されたリードパワー値Ｐｒと、Ｄ／Ａコンバータ２１によってディジタル値からアナログ値に変換された第１のＡＰＣ基準電圧信号のレベルとを比較する。そして、この比較結果に基づいて、リードパワー値Ｐｒが一定（第１のＡＰＣ基準電圧信号のレベル）となるようにＡＰＣを行う。
【００３７】
ＡＰＣ回路２９もまた同様に、サンプルホールド回路２５によって取り出されたライトパワー値Ｐｍと、Ｄ／Ａコンバータ２８によってディジタル値からアナログ値に変換された第２のＡＰＣ基準電圧信号のレベルとを比較する。そして、この比較結果に基づいて、ライトパワー値Ｐｍが一定（第２のＡＰＣ基準電圧信号のレベル）となるようにＡＰＣを行う。
【００３８】
リードパワー信号発生回路２３は、ＡＰＣ回路２２からのＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ１２で検出されたリードパワー値Ｐｒが一定となるようなリードパワー信号ＶＲＤＣ（図５（ｂ）参照）を生成する。なお、このリードパワー信号ＶＲＤＣは、ＬＤＯＮ信号によってスイッチ２４が導通した場合に、ＬＤドライバー１６に供給される。
【００３９】
ライトパワー信号発生回路３１は、スイッチ３０の切り替えによって、ＡＣＣ回路２６からのＡＣＣ出力又はＡＰＣ回路２９からのＡＰＣ出力のいずれか一方が供給される。そして、ライトパワー信号発生回路３１は、ＡＣＣ出力又はＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ１２で検出されたライトパワー値Ｐｍが一定となるようなライトパワー信号ＶＲＤＣ（図５（ｂ）参照）を生成する。なお、ライトパワー信号ＶＲＤＣは、ＰＥＯ信号によってスイッチ３２が導通した場合に、ＬＤドライバー１６に供給される。
【００４０】
アッテネータ３３は、例えば、多接点スイッチと抵抗器の組み合わせなどで構成され、システムコントローラ１７から供給されるＡＴＴ設定値に基づいて、減衰率ＡＴＴが設定される。この結果、増幅器３４では、アッテネータ３３で設定された減衰率ＡＴＴに基づいてゲインが設定される。そして、増幅器３４は、設定されたゲインに基づいて、ＬＤ１１より出力される記録パルスが指定されたＰｈ／Ｐｍ比を満足するように、バイアス値Δに対応した制御信号ΔＬＤＨ（図５（ｇ）参照）を生成する。なお、制御信号ΔＬＤＨは、ＬＤＨ信号によってスイッチ３５が導通した場合にＬＤドライバー１６に供給される。
【００４１】
ＬＤドライバー１６は、リードパワー信号発生回路２３から供給されるリードパワー信号ＶＲＤＣと、ライトパワー信号発生回路３１から供給されるライトパワー信号ＶＷＤＣと、増幅器３４から供給される制御信号ΔＬＤＨと、に基づいてＬＤ１１を駆動する。この結果、ＬＤＨ区間では所定のバイアス値Δが重畳されたノンマルチパルス方式の記録パルスがＬＤ１１から出力される。なお、ＬＤドライバー１６は、ノンマルチパルス方式に限定されないのは勿論であり、マルチパルス方式を採用してもよい。また、光ディスク２００の再生時では、ＬＤドライバー１６は、リードパワー信号発生回路２３からリードパワー信号ＶＲＤＣのみが供給されてＬＤ１１を駆動することになる。
【００４２】
＜光ディスク装置の動作＞
まず、図２に示すフローチャートに基づいて、ＬＤ１１のテスト駆動の実行を開始する際に、その前段階において必要となる光ディスク装置１００の動作（以下、「テスト準備処理」と称する。）について説明する。つぎに、図３に示すフローチャートに基づいて、ＬＤ１１のテスト駆動に係る光ディスク装置１００の動作について説明する。
【００４３】
＝＝＝  テスト準備処理  ＝＝＝
図２のフローチャートに基づいて、本発明に係るテスト準備処理の動作フローを説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ１７が動作の主体とする。
【００４４】
まず、システムコントローラ１７は、ディスク収納部（不図示）に収納された状態にある光ディスク１００が回転中の状態である否かを判定する（Ｓ２００）。このとき、光ディスク１００から再生された情報に基づいて、光ピックアップ１０やスピンドルモータ３８のサーボ制御が起動するようにスタンバイ状態となる。ここで、光ディスク１００が回転中の状態にあれば（Ｓ２００：ＹＥＳ）、光ピックアップ１０のスレッド送りやトラッキングのサーボ制御を無効とする（Ｓ２０１）。
【００４５】
つぎに、システムコントローラ１７は、光ディスク１００から再生された情報に基づいて、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity）やＣＡＶ（Constant Angular Velocity）などの光ディスク１００の動作方式を予め識別している。そこで、システムコントローラ１７は、光ディスク１００の動作方式がＣＬＶ（Constant Linear Velocity）方式を採用しているか否かを判定する（Ｓ２０２）。ＣＬＶ方式を採用している場合（Ｓ２０２：ＹＥＳ）、スレッド送りやトラッキングのサーボ制御が無効となったことを受けて、ＣＬＶ方式で動作するのに必要な制御情報が、光ディスク２００から再生できない状態となる。
【００４６】
そこで、光ディスク２００の速度の情報と、スレッド送りやトラッキングのサーボ制御が無効としたときの光ディスク１００の絶対時間の情報と、に基づいて、以降の光ディスク２００の回転数を算定する。この算定した回転数によって、ＣＬＶ方式の動作からＣＡＶ方式の動作へと移行させる（Ｓ２０３）。
【００４７】
つぎに、光ディスク２００が回転停止の状態であった場合（Ｓ２００：ＮＯ）や元々ＣＡＶ方式で動作していた場合（Ｓ２０２：ＮＯ）を含めて、システムコントローラ１７は、フォーカスのサーボ制御を無効として、ＬＤ１１のテスト駆動をするとき光ディスク２００上でレーザー光の焦点が合わないようにする。具体的には、光ピックアップ１０が備える光学レンズ（不図示）の位置を光ディスク２００から離れる方向へ調整するとともに、フォーカスのサーボ制御を無効とする（Ｓ２０４）。
【００４８】
このように、システムコントローラ１７は、ＬＤ１１のテスト駆動によって、光ディスク２００上に無意味な記録マークを形成させないように、テスト準備処理を行う。この後、温度センサ１５で検出された温度に応じたＬＤ１１のテスト駆動を行い、ＬＤ１１に係る温度を安定化させる（Ｓ２０５）。なお、このＬＤ１１のテスト駆動の詳細な内容については後述する。
【００４９】
ＬＤ１１のテスト駆動が終了した後は、ＬＤ１１に係る温度が安定化した状態になるとともに、ＬＤ１１出力の波長変動が抑えられてＦＭＤ１２で受光するレーザー光の光量の変動が抑えられた状態で、光ディスク２００への記録又は再生の処理を開始できる。なお、光ディスク２００への記録又は再生の処理を行う前に、光ピックアップ１０が備える光学レンズ（不図示）の位置を正常な位置に戻すとともに、光ピックアップ１０のスレッド送り、トラッキング、フォーカスのサーボ制御を有効にすることは、勿論のことである（Ｓ２０６）。
【００５０】
＝＝＝  ＬＤのテスト駆動  ＝＝＝
図３のフローチャートに基づいて、本発明に係るＬＤ１１のテスト駆動の動作フローを説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ１７が動作の主体とする。
【００５１】
まず、ＬＤ１１のテスト駆動が開始されるとき、システムコントローラ１７が備えるシステムタイマー（不図示）などにおいて、時間の計測が開始される。ここで、システムコントローラ１７は、計測された時間の情報を格納するパラメータｔをＲＡＭ１８等に格納しておく。パラメータｔの内容については、時間の経過とともに順次更新される（Ｓ３００）。
【００５２】
システムコントローラ１７は、時間の計測を開始したとき（ｔ＝０）、Ａ／Ｄコンバータ３６の出力 x を用いた演算によって温度センサ１１で検出された温度ｙを求める。この演算を行うための演算式Ｚとしては、例えば、"ｙ＝０．００００７×（x の２乗） − ０．１８７３ x ＋ １００．４"とする。ここで、この演算式Ｚによって求めた温度ｙをパラメータy_saveに保持しておく（Ｓ３０１）。
【００５３】
システムコントローラ１７は、ＬＤ１１のテスト駆動を開始した時点で、リードパワー値Ｐｒやライトパワー値Ｐｍよりも大きいテスト用パワー値にＬＤ１１の出力が設定されるように、リードパワー信号発生回路２３やライトパワー信号発生回路３１などを制御する（Ｓ３０２）。なお、テスト用パワー値とは、例えば、ＬＤ１１の出力の最大定格の約８０％とする。
【００５４】
このように、光ディスク２００へ実際に記録又は再生の処理を行う前に、ＬＤ１１のテスト駆動を実行している間にＬＤ１１をウォームアップする。とくに、ＬＤ１１のテスト駆動を開始した時点より、リードパワー値Ｐｒやライトパワー値Ｐｍよりも大きいテスト用パワー値に設定することで、ＬＤ１１に係る温度変化を一気に加速させ、光ディスク２００への記録又は再生の処理が行われる状態へと速やかに近づける。この結果、ＬＤ１１のテスト駆動が短時間に終了することが可能となり、光ディスク２００への記録又は再生の処理を速やかに開始できる。
【００５５】
ＬＤ１１のテスト駆動の開始から"１０"秒経過するまで（Ｓ３０３：ＮＯ）、ＬＤ１１の出力のウォームアップを継続して行う。その後、"１０秒"を経過したときは（Ｓ３０３：ＹＥＳ）、パラメータｔの内容が"６０秒"以内か否かを判定する（Ｓ３０４）。なお、"６０秒"とは、ＬＤ１１のテスト駆動が無限ループに陥って一向に終了しない事態を回避するために設定した、ＬＤ１１のテスト駆動に係る最大所用時間とする。よって、この最大所用時間を経過したときは（Ｓ３０４：ＮＯ）、タイムアウトとしてＬＤ１１のテスト駆動を強制的に終了させる。なお、最大所用時間は、勿論"６０秒"に限定されるものではない。
【００５６】
ＬＤ１１のテスト駆動の開始から"１０秒"が経過し（Ｓ３０３：ＹＥＳ）且つ"６０秒"を経過していない場合（Ｓ３０４：ＹＥＳ）、システムコントローラ１７は、Ａ／Ｄコンバータ３６の出力 x を読み出し、温度センサ１１で検出された温度ｙを前述した演算式Ｚによって求める（Ｓ３０５）。そして、この求めた温度ｙと、ｔ＝０のとき若しくは１０秒前に求めた温度ｙを保持してあるパラメータy_saveとの差が、ＬＤ１１に係る温度が安定化したことを示す所定範囲内（例えば、２℃以下）に収まっているか否かが判定される（Ｓ３０６）。
【００５７】
温度ｙとパラメータy_saveとの差が所定範囲内に収まっていない場合（Ｓ３０６：ＮＯ）、パラメータy_saveの内容を温度ｙに更新して（Ｓ３０７）、引き続き、Ｓ３０２以降の処理を行う。すなわち、システムコントローラ１７は、温度ｙとパラメータy_saveとの差が所定範囲内に収まるまで、"１０秒"を経過する度に（なお、"６０秒"以内に限る。）、Ａ／Ｄコンバータ３６の出力 x を読み出して温度ｙを算定するとともに、この算定した温度ｙに応じたＬＤ１１出力のパワー値の調整を行う。
【００５８】
温度ｙとパラメータy_saveとの差が所定範囲内に収まった場合（Ｓ３０６：ＹＥＳ）若しくは"６０秒"を経過した場合（Ｓ３０４：ＮＯ）、システムコントローラ１７は、ＬＤ１１に係る温度が安定した状態になったと見なしてＬＤ１１のテスト駆動を終了する。そして、光ディスク２００への記録又は再生の処理を開始する（Ｓ３０８）。
【００５９】
図４は、ＬＤ１１のテスト駆動を実行することによって、ＬＤ１１に係る温度が安定化していく様子を示した図である。なお、同図では、ＬＤ１１のテスト駆動を開始してから"４０秒"経過したときに、"４０秒"のときの温度ｙ（４０）と、"３０秒"のときの温度ｙ（３０）と、の差が２℃以内に収まり、ＬＤ１１のテスト駆動が終了した例を示してある。すなわち、同図に示す例では、システムコントローラ１７は、計５回、温度センサ１５で検出された温度ｙの読み出しを行う。また、システムコントローラ１７は、計３回、温度ｙに応じたＬＤ１１出力のパワー値調整を行う。
【００６０】
このように、光ディスク装置１００は、従来よりＬＤ１１を駆動する際の初期時においてＬＤ１１より発生する熱でＬＤ１１に係る温度が急激に変化することに着眼して、光ディスク２００への記録又は再生の処理を実際に開始する前にＬＤ１１に係る温度を安定化させるべく、ＬＤ１１のテスト駆動を行う。なお、ＬＤ１１のテスト駆動は、光ディスク２００への記録又は再生の処理が開始される前に必ず終了させる。また、システムコントローラ１７は、ＬＤ１１のテスト駆動において、温度センサ１５で検出された温度ｙをリアルタイムに取得するのではなく所定時間（例えば、"１０秒"）ごとに取得し、さらに、温度ｙに基づいたＬＤ１１出力のパワー値の調整をリアルタイムではなく所定時間ごとに行う。
【００６１】
光ディスク装置１００は、このようなＬＤ１１のテスト駆動を実行することで、システムコントローラ１７などの装置全体の性能低下を抑えつつ、ＬＤ１１に係る温度を安定化させることができる。また、リードパワー値Ｐｒやライトパワー値Ｐｍを設定する際、ＡＰＣなどによるサーボ制御が、急激な温度変化によって破綻することがなくなる。この結果、光ディスク２００への記録又は再生の処理時において、ＬＤ１１から出射するレーザー光のパワー値が安定することになり、光ディスク２００への記録又は再生品位が向上することになる。
【００６２】
すなわち、本発明によれば、システムコントローラ１７などの性能低下を抑えた簡素な仕組みでＬＤ１１に係る温度を安定化させることができ、ひいては、光ディスク２００への記録又は再生品位について向上させることができる。
【００６３】
以上、本発明の実施形態について具体的に説明したが、これに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク装置のシステム構成図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明するフローチャートである。
【図３】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明するフローチャートである。
【図４】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作によって、レーザーダイオードに係る温度が安定化していく様子を示す図である。
【図５】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明する波形図である。
【符号の説明】
【００６５】
１０  光ピックアップ              １１  レーザーダイオード
１２  フロントモニタダイオード    １３  透過膜
１４  光検出器                    １５  温度センサ
１６  ＬＤドライバー              １７  システムコントローラ
１８  ＲＡＭ                      １９  エンコーダ／デコーダ
２０  サンプルホールド回路        ２１  Ｄ／Ａコンバータ
２２  ＡＰＣ回路                  ２３  リードパワー信号発生回路
２４  スイッチ                    ２５  Ｄ／Ａコンバータ
２６  ＡＣＣ回路                  ２７  サンプルホールド回路
２８  Ｄ／Ａコンバータ            ２９  ＡＰＣ回路
３０  スイッチ                    ３１  ライトパワー信号発生回路
３２  スイッチ                    ３３  アッテネータ
３４  増幅器                      ３５  スイッチ
１００  光ディスク装置            ２００  光ディスク
【図１】
2005122798.tif 000003
【図２】
2005122798.tif 000004
【図３】
2005122798.tif 000005
【図４】
2005122798.tif 000006
【図５】
2005122798.tif 000007