(57)【要約】【課題】  画像の欠陥部の周囲における境界や模様等の存在する方向を検出し、その方向に沿って適切な補間処理を行うことを可能とするとともに、演算処理の回数を抑えて処理速度を高めることが可能な画像処理装置、方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】  画像処理装置、方法、及びプログラムは、正常画素の中から第１対象画素Ｐを順次選択し、選択された各第１対象画素Ｐを中心とする一定領域内に存在する欠陥画素を検出し、前記第１対象画素Ｐから前記欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素Ｑとし、第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの間に存在する各欠陥画素の補間値を演算し、第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの各組についての重み係数を演算し、前記補間値及び重み係数を記憶し、前記重み係数を用いて、各欠陥画素の補間値の重み付き平均値を演算し、この重み付き平均値を用いて各欠陥画素の修正を行う。【選択図】        図７
2005094315.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
正常画素の中から第１対象画素を順次選択する第１対象画素選択手段と、
前記第１対象画素選択手段により選択された各第１対象画素について、当該第１対象画素を中心とする一定領域内に存在する欠陥画素を検出し、検出された各欠陥画素について、前記第１対象画素から前記欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素とする第２対象画素検出手段と、
前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて演算する補間値演算手段と、
前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数を演算する重み係数演算手段と、
前記第１対象画素選択手段により第１対象画素を順次選択して演算した際に、前記補間値演算手段により演算される各欠陥画素についての複数の補間値と、前記重み係数演算手段により演算される第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とをそれぞれ記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された、前記各欠陥画素についての複数の補間値と、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とを用いて、各欠陥画素の補間値の重み付き平均値を演算する重み付き平均値演算手段と、
前記重み付き平均値演算手段により演算された重み付き平均値を用いて各欠陥画素の修正を行う修正手段と、
を有する画像処理装置。
【請求項２】
前記重み係数演算手段は、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値のいずれか大きい方の値を分母とし、小さい方の値を分子とする比のｎ乗（ｎは任意の自然数）を前記重み係数として演算する請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記重み係数演算手段は、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値との差分の絶対値の所定値に対する補数のｎ乗（ｎは任意の自然数）、又は前記補数を前記所定値で除した値のｎ乗（ｎは任意の自然数）を前記重み係数として演算する請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記補間値演算手段は、前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値との間の線形補間により演算する請求項１から３の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
正常画素の中から順次第１対象画素を選択し、選択された各第１対象画素について、当該第１対象画素を中心とする一定領域内に存在する欠陥画素を検出し、検出された各欠陥画素について、前記第１対象画素から前記欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素とし、前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて演算し、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数を演算し、前記第１対象画素選択手段により第１対象画素を順次選択して演算した際に演算される前記各欠陥画素についての複数の補間値と、第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とをそれぞれ記憶し、記憶された前記各欠陥画素についての複数の補間値と、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とを用いて、各欠陥画素の補間値の重み付き平均値を演算し、演算された重み付き平均値を用いて各欠陥画素の修正を行う画像処理方法。
【請求項６】
正常画素の中から順次第１対象画素を選択し、選択された各第１対象画素について、当該第１対象画素を中心とする一定領域内に存在する欠陥画素を検出し、検出された各欠陥画素について、前記第１対象画素から前記欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素とし、前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて演算し、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数を演算し、前記第１対象画素選択手段により第１対象画素を順次選択して演算した際に演算される前記各欠陥画素についての複数の補間値と、第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とをそれぞれ記憶し、記憶された前記各欠陥画素についての複数の補間値と、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とを用いて、各欠陥画素の補間値の重み付き平均値を演算し、演算された重み付き平均値を用いて各欠陥画素の修正を行う処理をコンピュータに実行させるための画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像データの欠陥部分を修正するための画像処理装置、方法、及びプログラムに関し、特に、画像データの欠陥部分に模様や境界等が存在する場合であってもそれらを反映して好適に修正することが可能な補間処理を行う画像処理装置、方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
写真フィルムには、その表面に傷、埃、汚れ等の欠陥が存在する場合がある。そこで、そのような欠陥が存在する写真フィルムから画像を読み取って印画紙に記録し、或いはディスプレイに表示する等により出力する場合に、そのような欠陥部を輝度調整処理や補間処理等の画像処理により修正する技術が知られている。
【０００３】
このような技術として、例えば、赤外光は、可視光と異なり、写真フィルムに照射した場合にそこに写っている画像の影響をほとんど受けず、傷や埃等による影響のみを受けるという特性を利用して、輝度調整処理により修正を行う技術が知られている。これは、具体的には、写真フィルムに赤外光及び可視光を照射し、赤外光による画像データの画素値が一定の閾値以下である部分を欠陥部と認識し、当該欠陥部の各色成分（赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ））の画素値に対して、正常部に対する欠陥部の赤外光の減衰量分を上乗せして輝度を高めることにより、欠陥部の各色成分の画素値を正常部に合せて輝度調整する技術である（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
しかし、このような輝度調整処理は、欠陥部において各色成分の画素値が互いに同じ量だけ減衰していることを前提としているため、写真フィルムの乳剤面に傷が付いている場合のように、色成分毎の画素値の減衰の量が異なる場合には、適切に欠陥部を修正することができない。
【０００５】
そのような場合には、周囲の正常画素の画素値を用いて欠陥部の修正を行う補間処理の技術が用いられるが、単純に隣接する正常画素の画素値を欠陥部に適用するだけでは、欠陥部に模様や境界等が存在する場合に適切に修正することができない。そこで、画像の境界や模様等が存在する方向を検出し、その方向に沿った補間処理を行う技術が知られている。これは、具体的には、欠陥部から互いに異なる複数の方向に沿って、正常画素の画素値の差や正常画素間の距離等の画像特徴量を各々演算し、更に、前記欠陥部に対して画像上で所定の方向に存在する正常画素の情報から前記欠陥部を修正するための修正値を補間によって求めることを前記複数の方向について各々行い、前記画像特徴量と各方向毎に演算された修正値とから最終修正値を求め前記欠陥部の修正を行う技術である（例えば、特許文献２参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開平１１−９８３７０号公報（第１５−１６頁、第４図）
【特許文献２】特開２００１−７８０３８号公報（第７−８頁、第４−５図、第８図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記の特許文献２に記載されたような従来の補間処理による修正では、以下のような問題点があった。すなわち、画像の境界や模様の方向を検出するために、欠陥部に属する全ての欠陥画素について、その周囲の複数方向に沿って放射状に検索を行い、それらの全ての方向について画像特徴量や補間値の演算をそれぞれの欠陥画素について行う必要があり、全体としての演算量が多くなるという問題があった。また、画像の境界や模様の方向を正確に検出するためには、放射状の各方向の角度間隔を狭くする必要があることから演算量は更に多くなり、ＣＰＵ等の演算処理部の負荷が高くなっていた。そして、このような演算量の増大により、欠陥部の修正処理の処理速度を高くすることが困難になっているという問題があった。
【０００８】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、画像の欠陥部の周囲における境界や模様等の存在する方向を検出し、その方向に沿って適切な補間処理を行うことを可能とするとともに、欠陥部の全ての欠陥画素の修正を行うために必要な演算処理の回数を抑えて演算量を減らすことにより、処理速度を高めることが可能な画像処理装置、方法、及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するための本発明に係る画像処理装置の第１特徴構成は、正常画素の中から第１対象画素を順次選択する第１対象画素選択手段と、前記第１対象画素選択手段により選択された各第１対象画素について、当該第１対象画素を中心とする一定領域内に存在する欠陥画素を検出し、検出された各欠陥画素について、前記第１対象画素から前記欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素とする第２対象画素検出手段と、前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて演算する補間値演算手段と、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数を演算する重み係数演算手段と前記第１対象画素選択手段により第１対象画素を順次選択して演算した際に、前記補間値演算手段により演算される各欠陥画素についての複数の補間値と、前記重み係数演算手段により演算される第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とをそれぞれ記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された、前記各欠陥画素についての複数の補間値と、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とを用いて、各欠陥画素の補間値の重み付き平均値を演算する重み付き平均値演算手段と、前記重み付き平均値演算手段により演算された重み付き平均値を用いて各欠陥画素の修正を行う修正手段と、を有する点にある。
【００１０】
なお、補間値演算手段又は重み係数演算手段においては、その補間値又は重み係数の演算結果の信頼性を高めるため、第１対象画素の画素値又は第２対象画素の画素値として、それぞれ第１対象画素又は第２対象画素自体の画素値に、その周囲の１又は２以上の正常画素の画素値を加えた平均値を用いることも可能である。
【００１１】
この第１特徴構成によれば、各欠陥画素について複数方向に存在する正常画素の画素値に基づく補間値を求めることができ、更には、各欠陥画素の周囲の各方向に存在する正常画素の画素値に基づいて各方向の重み係数を求め、それを用いた重み付き平均値を演算して修正するので、欠陥画素の周囲の各方向に存在する画像の境界や模様等に応じた最終修正値を求めることが可能となり、欠陥画素の周囲に存在する画像の境界や模様等を反映した適切な補間処理を行うことが可能となる。また、一組の第１対象画素と第２対象画素との間に存在する１又は２以上の欠陥画素の全ての補間値を、１回の演算により求めることができるので、画像データに含まれる全ての欠陥画素の修正を行うために必要な演算処理の回数を抑えることができ、演算量を減らして処理速度を高めることが可能となる。
【００１２】
本発明に係る画像処理装置の第２特徴構成は、上記第１特徴構成に加えて、前記重み係数演算手段が、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値のいずれか大きい方の値を分母とし、小さい方の値を分子とする比のｎ乗（ｎは任意の自然数）を前記重み係数として演算する点にある。また、本発明に係る画像処理装置の第３特徴構成は、上記第１特徴構成に加えて、前記重み係数演算手段は、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値との差分の絶対値の所定値に対する補数のｎ乗（ｎは任意の自然数）を前記重み係数として演算する点にある。
【００１３】
これらの第２特徴構成又は第３特徴構成によれば、欠陥画素を挟んで両側に位置する正常画素の画素値が近いほど重み係数が重くなり、なおかつ、この重み係数の値がｎ乗されることにより強調されているので、欠陥画素の周囲の画像の境界や模様等の存在する方向に沿って演算された欠陥画素の補間値が最終修正値に与える影響を大きくすることができ、画像の境界や模様等を反映した適切な欠陥画素の補間処理を行うことが可能となる。ここで、ｎの値は、修正すべき画像の状態によって適切な値が異なることから、各種の画像データの統計等から実験的に求めた値とするのが好適である。
【００１４】
本発明に係る画像処理装置の第４特徴構成は、上記第１から第３の何れかの特徴構成に加えて、前記補間値演算手段が、前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値との間の線形補間により演算する点にある。
【００１５】
この第４特徴構成によれば、第１対象画素と第２対象画素との間に存在する各欠陥画素の補間値を、その両側にある第１対象画素及び第２対象画素の画素値と、それらの第１対象画素及び第２対象画素との距離に基づいて、それぞれ適切な補間値を、全ての欠陥画素について同時に演算して求めることができる。したがって、演算処理の回数を抑えて処理速度を高めながら、適切な補間値を求めることができる。
【００１６】
本発明に係る画像処理方法の特徴構成は、正常画素の中から順次第１対象画素を選択し、選択された各第１対象画素について、当該第１対象画素を中心とする一定領域内に存在する欠陥画素を検出し、検出された各欠陥画素について、前記第１対象画素から前記欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素とし、前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて演算し、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数を演算し、前記第１対象画素選択手段により第１対象画素を順次選択して演算した際に演算される前記各欠陥画素についての複数の補間値と、第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とをそれぞれ記憶し、記憶された前記各欠陥画素についての複数の補間値と、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とを用いて、各欠陥画素の補間値の重み付き平均値を演算し、演算された重み付き平均値を用いて各欠陥画素の修正を行う点にある。
【００１７】
この特徴構成によれば、前記第１特徴構成による効果と同じく、欠陥画素の周囲に存在する画像の境界や模様等を反映した適切な補間処理を行うことができるとともに、演算処理の回数を抑えて処理速度を高めることができる。
【００１８】
本発明に係る画像処理プログラムの特徴構成は、正常画素の中から順次第１対象画素を選択し、選択された各第１対象画素について、当該第１対象画素を中心とする一定領域内に存在する欠陥画素を検出し、検出された各欠陥画素について、前記第１対象画素から前記欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素とし、前記第１対象画素と第２対象画素との間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値を、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて演算し、前記第１対象画素の画素値と第２対象画素の画素値とに基づいて、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数を演算し、前記第１対象画素選択手段により第１対象画素を順次選択して演算した際に演算される前記各欠陥画素についての複数の補間値と、第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とをそれぞれ記憶し、記憶された前記各欠陥画素についての複数の補間値と、前記第１対象画素と第２対象画素との各組についての重み係数とを用いて、各欠陥画素の補間値の重み付き平均値を演算し、演算された重み付き平均値を用いて各欠陥画素の修正を行う処理をコンピュータに実行させる点にある。
【００１９】
この特徴構成によれば、前記第１特徴構成による効果と同じく、欠陥画素の周囲に存在する画像の境界や模様等を反映した適切な補間処理を行うことができるとともに、演算処理の回数を抑えて処理速度を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施形態として、本発明に係る画像処理装置１を、写真フィルム２から画像を読み取って印画紙３に記録する画像プリントシステム４に適用した場合について図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係る画像プリントシステム４の外観を示す斜視図であり、図２は、本実施形態に係る画像プリントシステム４の概略構成を示す模式図であり、図３は、本実施形態に係る画像処理装置１の機能を示すブロック図である。
【００２１】
これらの図に示すように、この画像プリントシステム４は、図示しないフィルム現像機によって現像処理された写真フィルム２の撮影画像コマをデジタル画像データとして読み取る画像読取装置５、取得された画像データに画像処理を施してプリントデータを作成する画像処理装置１、及び画像処理装置１からのプリントデータに基づいて露光処理と現像処理とを行って印画紙３に画像を記録する画像記録装置６を備えて構成されている。
【００２２】
画像読取装置５は、いわゆるフィルムスキャナであり、主な構成要素としては、図２に示すように、照明光学系７、ズームレンズ等の撮像光学系８、入射してきた光を可視光と赤外光に分けるダイクロイックミラー９、可視光用センサユニット１０、赤外光用センサユニット１１を備えている。照明光学系７は、光源としてのハロゲンランプ又は発光ダイオードと、その光源からの光を調光するミラートンネルや拡散板などから構成されている。可視光用センサユニット１０は、写真フィルム２の３つの基本色成分、本実施形態においてはＲ（赤色）光、Ｇ（緑色）光、Ｂ（青色）光からなる可視光画像を検出するためにそれぞれ適合するカラーフィルタを装着した３つのＣＣＤアレイ１０ａと、これらのＣＣＤアレイ１０ａによって検出された可視光信号を処理して基本色成分で構成されたＲ光、Ｇ光、及びＢ光のそれぞれの画像データを生成して画像処理装置１へ転送する可視光用信号処理回路１０ｂを備えている。また、赤外光用センサユニット１１は、写真フィルム２に付いている傷の状態を赤外光画像として検出するために、ダイクロイックミラー９から分岐された赤外光のみを受けるように配置されたＣＣＤアレイ１１ａと、このＣＣＤアレイ１１ａによって検出された赤外光信号を処理して赤外光画像データを生成して画像処理装置１へ転送する赤外光用信号処理回路１１ｂを備えている。
【００２３】
このように構成された画像読取装置５では、写真フィルム２の撮影画像コマが所定の読取位置に位置決めされると、撮影画像コマの読取処理が開始されるが、その際撮影画像コマの投影光像は、フィルム搬送機構１２による写真フィルム２の副走査方向への送り操作により、複数のスリット画像に分割された形で順次可視光用センサユニット１０及び赤外光用センサユニット１１によって読み取られ、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色成分の画像信号並びに赤外成分の画像信号に光電変換され、デジタル画像データとして画像処理装置１に送られる。このような、照明光学系７、撮像光学系８、可視光用センサユニット１０及び赤外光用センサユニット１１の各制御は画像処理装置１によって行われており、本実施形態では、画像処理装置１の一部の機能部分が画像読取装置５の構成要素となっている。
【００２４】
画像処理装置１は、ここでは基本的には汎用パソコンから構成されており、更に、この画像プリントシステム４の操作画面を表示するモニタ１３、デジタルカメラ等のメモリカード等から画像を読み込むメディアリーダ１４、オペレータによる操作入力に用いられるキーボード１５及びマウス１６等が付属して構成されている。
【００２５】
画像処理装置１は、ＣＰＵ１７を中核部材として、入力されたデータに対して種々の処理を行うための機能部がハードウエア又はソフトウエア或いはその両方で実装されているが、本発明に特に関係する機能部としては、図３に示すように、可視光画像データ及び赤外光画像データを各種処理のために一時的に格納するメモリ１８、メモリ１８に格納されている可視光画像データ及び赤外光画像データを用いて欠陥画素の修正を行う欠陥画素修正部１９と、メモリ１８に展開されている可視光画像データに対して色調補正やフィルタリング（ぼかしやシャープネスなど）やトリミング等の欠陥画素修正以外の各種画像処理を施す画像調整部２０、画像データやその他の表示アイテムをビデオメモリに取り込むとともにこのビデオメモリに展開されたイメージをビデオコントローラによってビデオ信号に変換してモニタ１３に送るビデオ制御部２１、欠陥画素修正部１９及び画像調整部２０で処理された最終的な画像データをプリントデータに変換して画像記録装置６の露光プリント部２２に転送するプリントデータ生成部２３、グラフィカルユーザーインターフェイス（ＧＵＩ）を用いて作り出された操作画面の下でキーボード１５及びマウス１６等を通じて入力された操作指令や予めプログラム化された操作指令に基づいて各機能部を制御するプリント管理部２４が挙げられる。
【００２６】
欠陥画素修正部１９は、メモリ１８に格納された赤外光画像データを用いて、可視光画像データに含まれる各画素が正常画素か欠陥画素かの判定を行い、正常画素及び欠陥画素の各座標を登録した正常／欠陥マップを作成する正常／欠陥判定部２５と、この正常／欠陥判定部２５において正常画素と判定された画素の中から第１対象画素Ｐを順次選択する第１対象画素選択部２６と、この第１対象画素選択部２６により選択された各第１対象画素について、当該第１対象画素Ｐを中心とする一定領域Ｅ内に存在する欠陥画素を検出し、検出された各欠陥画素について、第１対象画素Ｐから欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素を検出して第２対象画素Ｑとする第２対象画素検出部２７と、第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値Ｈを、第１対象画素Ｐの画素値と第２対象画素Ｑの画素値とに基づいて演算する補間値演算部２８と、第１対象画素Ｐの画素値と第２対象画素Ｑの画素値とに基づいて、第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの各組についての重み係数Ｗを演算する重み係数演算部２９と、前記第１対象画素選択手段により第１対象画素を順次選択して演算した際に、補間値演算部２８により演算される各欠陥画素についての複数の補間値Ｈと、重み係数演算部２９により演算される第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの各組についての重み係数Ｗとをそれぞれ記憶する演算結果記憶部３０と、この演算結果記憶部３０に記憶された、各欠陥画素についての複数の補間値Ｈと、第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの各組についての重み係数Ｗとを用いて、各欠陥画素の補間値Ｈの重み付き平均値Ａを演算する重み付き平均値演算部３１と、この重み付き平均値演算部３１により演算された重み付き平均値Ａを用いて各欠陥画素の修正を行う修正部３２と、を備えている。なお、「Ｐ」、「Ｑ」、「Ｅ」、「Ｈ」、「Ｗ」、「Ａ」は、それぞれ複数存在する第１対象画素、第２対象画素、一定領域、補間値、重み係数、重み付き平均値を代表する符号であって、後の説明においては、複数存在する内の特定のものを指す場合にのみ、「Ｐ○」や「Ｑ○○」等のように、数字又は英文字の添字を付して表す。
【００２７】
ここで、本実施形態における第１対象画素選択部２６、第２対象画素検出部２７、補間値演算部２８、重み係数演算部２９、演算結果記憶部３０、重み付き平均値演算部３１、及び修正部３２は、それぞれ特許請求の範囲における第１対象画素選択手段、第２対象画素検出手段、補間値演算手段、重み係数演算手段、記憶手段、重み付き平均値演算手段、及び修正手段に相当する。なお、この欠陥画素修正部１９における対象画素の欠陥の修正処理については、後に詳細に説明する。
【００２８】
画像記録装置６は、図２に示されているように、２つの印画紙マガジン３３に納められたロール状の印画紙３を引き出してシートカッター３４でプリントサイズに切断すると共に、このように切断された印画紙３に対し、バックプリント部３５で色補正情報やコマ番号などのプリント処理情報を印画紙３の裏面に印字するとともに、露光プリント部２２で印画紙３の表面に撮影画像の露光を行い、この露光後の印画紙３を複数の現像処理槽を有した処理槽ユニット３６に送り込んで現像処理する。乾燥の後に装置上部の横送りコンベア３７からソータ３８に送られた印画紙３は、このソータ３８の複数のトレイ３９にオーダ単位で仕分けられた状態で集積される（図１参照）。
【００２９】
また、画像記録装置６には、印画紙３に対する各種処理に合わせた搬送速度で印画紙３を搬送するために印画紙搬送機構４０が敷設されている。印画紙搬送機構４０は、印画紙搬送方向に関して露光プリント部２２の前後に配置されたチャッカー式印画紙搬送ユニット４０ａを含む複数の挟持搬送ローラ対から構成されている。露光プリント部２２には、副走査方向に搬送される印画紙３に対して、主走査方向に沿って画像記録装置６からのプリントデータに基づいてＲ、Ｇ、Ｂの３原色のレーザ光線の照射を行うライン露光ヘッドが設けられている。処理槽ユニット３６は、発色現像処理液を貯留する発色現像槽３６ａと、漂白定着処理液を貯留する漂白定着槽３６ｂと、安定処理液を貯留する安定槽３６ｃとを備えている。
【００３０】
次に、本実施形態における欠陥画素の修正処理について、図４に示すフローチャートに従って詳細に説明する。
【００３１】
まず、画像読取装置５の可視光用センサユニット１０及び赤外光用センサユニット１１によって取得された可視光画像データ及び赤外光画像データをメモリ１８に取り込む（＃０１）。そして、正常／欠陥判定部２５において、＃０１の処理でメモリ１８に格納された赤外光画像データを用いて、可視光画像データに含まれる各画素が正常画素か欠陥画素かの判定を行い、正常画素及び欠陥画素の各座標を登録した正常／欠陥マップを作成する（＃０２）。この処理は、赤外光画像データに含まれる各画素の画素値が、予め設定した一定の閾値以上である場合には正常画素と判定し、当該一定の閾値以下である場合には欠陥画素と判定して、正常／欠陥マップにそれらの各画素の座標に対応させて正常又は欠陥を表す情報を登録することにより行うことができる。ここで用いる一定の閾値としては、赤外光画像データに含まれる全画素の画素値の平均値に基づいて設定すると好適である。
【００３２】
次に、第１対象画素選択部２６において、正常／欠陥判定部２５において正常画素と判定された画素の中から一の第１対象画素Ｐを選択する（＃０３）。この第１対象画素Ｐとしては、正常／欠陥マップに正常画素として登録されている画素であって、未だ第１対象画素Ｐとして選択されていない画素の中から選択する。この際、未だ第１対象画素Ｐとして選択されていない正常画素の中から任意の画素を選択することが可能であるが、最終的には、可視光画像データに含まれる全ての正常画素が第１対象画素Ｐとして選択されるので、この第１対象画素Ｐの選択は、画像データのいずれかの隅角部から順に１画素ずつ隣に移動するように行うと好適である。
【００３３】
次に、第２対象画素検出部２７において、第１対象画素選択部２６により選択された第１対象画素Ｐを中心とする一定領域Ｅ内に存在する欠陥画素を検出する（＃０４）。そして、その一定領域Ｅ内に欠陥画素が存在するか否かについて判断する（＃０５）。その一定領域Ｅ内に欠陥画素が存在しない場合には（＃０５：ＮＯ）、その第１対象画素Ｐについての演算はそこで終了し、処理は＃０３へ戻って次の正常画素を第１対象画素Ｐとして選択する。一方、その一定領域Ｅ内に欠陥画素が存在する場合には（＃０５：ＹＥＳ）、処理は後述する＃０６へ進む。図５は、一の第１対象画素Ｐ１についての＃０３から＃０８の処理の説明図である。以下、これらの＃０３から＃０８の処理の説明において、各画素等の符号は、この図５に付したものを用いる。この図に示すように、本実施形態では一定領域Ｅ１は、５×５画素の正方形領域としている。
【００３４】
一般に、一定領域Ｅは、その大きさによって第１対象画素Ｐを中心とする周囲の欠陥画素を検出する範囲が定まり、この一定領域Ｅが大きいほどその中に多数の欠陥画素が含まれることになる。したがって、この一定領域Ｅを大きくするほど、第１対象画素Ｐを中心として第２対象画素Ｑを検出する方向、すなわち、補間値演算部２８において欠陥画素の補間値Ｈを演算する方向が増加することになり、各欠陥画素について見れば演算される補間値Ｈの数が増加することになるので、最終的に演算される修正値、すなわち後述する＃１０の処理において演算される各欠陥画素についての補間値Ｈの重み付き平均値Ａの信頼性が高くなる。ただし、この一定領域Ｅを大きくするほど演算処理の量は増加し、処理速度が低くなるので、一定領域Ｅの大きさは、これらの点を考慮して定める。なお、一定領域Ｅがこのように５×５画素の正方形領域の場合には、各欠陥画素について演算される補間値Ｈの数は８個となり、３×３画素の正方形領域の場合には４個、７×７画素の正方形領域の場合には１２個となる。一定領域Ｅの形状については、特に制約はなく、任意の形状とすることが可能である。そして、図５示す例では、一定領域Ｅ１内には６個の欠陥画素Ｂ１１〜Ｂ１６が存在している。
【００３５】
そして、第２対象画素検出部２７において、検出された各欠陥画素Ｂ１１〜Ｂ１６について、第１対象画素Ｐ１から欠陥画素Ｂ１１〜Ｂ１６を結ぶ延長線Ｌ１１〜Ｌ１５上に存在する正常画素を検出して第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５とする（＃０６）。具体的には、第１対象画素Ｐ１から欠陥画素Ｂ１２を結ぶ延長線Ｌ１１上に存在する正常画素を第２対象画素Ｑ１１とする。また、第１対象画素Ｐ１から欠陥画素Ｂ１１を結ぶ延長線Ｌ１２上に存在する正常画素を第２対象画素Ｑ１２とする。この際、欠陥画素Ｂ１３は、第１対象画素Ｐ１から一の欠陥画素Ｂ１１を結ぶ延長線Ｌ１２上に存在するので、第１対象画素Ｐ１から欠陥画素Ｂ１３を結ぶ延長線上に存在する正常画素は検出する必要はない。同様に、第１対象画素Ｐ１から欠陥画素Ｂ１４〜Ｂ１６を結ぶ延長線Ｌ１３〜Ｌ１５についても、その延長線Ｌ１３〜Ｌ１５上に存在する正常画素を検出して第２対象画素Ｑ１３〜Ｑ１５とする。
【００３６】
次に、補間値演算部２８において、第１対象画素Ｐ１と各第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５との間に存在する１又は２以上の欠陥画素について、各欠陥画素の補間値Ｈを、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値とに基づいてそれぞれ演算する（＃０７）。この欠陥画素の補間値Ｈの演算方法としては、欠陥画素の欠陥がない場合にその値であったと予想される画素値を推定的に求める方法が用いられ、例えば、線形補間を適用することができる。具体的には、例えば、第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１２との間に存在する３個の欠陥画素の補間値Ｈ１１〜Ｈ１３の演算は、図６のグラフに示すように、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１２の画素値とを直線で結び、各欠陥画素の第１対象画素Ｐ１及び第２対象画素Ｑ１２からの距離の比に応じた前記直線上の中間値を各欠陥画素の補間値Ｈ１１〜Ｈ１３とすることにより行う。なお、欠陥画素の補間値Ｈの演算方法は、線形補間に限定されるものではなく、第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５との間の各欠陥画素の欠陥がない場合の画素値を推定して求めることができる補間方法であれば用いることが可能である。そして、この処理＃７で演算された各欠陥画素の補間値Ｈは、各欠陥画素の座標に対応付けられた状態で演算結果記憶部３０に記憶される。
【００３７】
次に、重み係数演算部２９において、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値とに基づいて、第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５との各組、すなわちＰ１−Ｑ１１の組、Ｐ１−Ｑ１２の組、Ｐ１−Ｑ１３の組、Ｐ１−Ｑ１４の組、及びＰ１−Ｑ１５の組のそれぞれについての重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５を演算する（＃０８）。この重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５は、第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５との各組についての処理＃０７で演算した各欠陥画素の補間値Ｈを、後述するように他の第１対象画素Ｐについて演算した各欠陥画素の補間値Ｈとの関係で、どの程度の割合（重み）で最終修正値（重み付き平均値Ａ）に対して用いるか、すなわち第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５との各組についての各欠陥画素の補間値Ｈがどの程度適正な値であるかという信頼性を定める係数である。
【００３８】
一般的に、第１対象画素Ｐの画素値と第２対象画素Ｑの画素値との値が離れている場合には第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの間に画像の境界や模様等が存在する可能性が高く、逆に、第１対象画素Ｐの画素値と第２対象画素Ｑの画素値との値が近い場合には第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの間に画像の境界や模様等が存在しない可能性が高い。このような場合において、画像の境界や模様等を跨ぐ方向に補間した欠陥画素の補間値Ｈよりも、画像の境界や模様等に沿う方向に補間した欠陥画素の補間値Ｈの方が適正な値である可能性が高いと考えられる。これは、画素値の変化が大きい方向に沿って正常画素の間に存在する欠陥画素の画素値を線形補間等によって適正に推定することが困難であるのに対して、画素値の変化が少ない方向に沿った補間では欠陥画素の適正な補間値を容易に推定することが可能であることによる。
【００３９】
そこで、本実施形態においては、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値のいずれか大きい方の値を分母とし、小さい方の値を分子とする比のｎ乗（ｎは任意の自然数）を重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５として演算することとしている。これにより、重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５は、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値とが近い組ほど重みが重くなるような係数としてそれぞれ演算される。
【００４０】
この重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５は、具体的には、以下の式（１）から（５）に従って演算する。
Ｗ１１＝{ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１１）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１１）}ｎ  ・・・（１）
Ｗ１２＝{ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１２）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１２）}ｎ  ・・・（２）
Ｗ１３＝{ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１３）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１３）}ｎ  ・・・（３）
Ｗ１４＝{ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１４）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１４）}ｎ  ・・・（４）
Ｗ１５＝{ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１５）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１５）}ｎ  ・・・（５）
【００４１】
ここで、「ｍｉｎ」は、最小値演算関数であり、「ｍａｘ」最大値演算関数である。したがって、式（１）を例として説明すると、「ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１１）」は、Ｐ１の画素値とＱ１１の画素値とのいずれか小さい方の値となり、「ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１１）」は、Ｐ１の画素値とＱ１１の画素値とのいずれか大きい方の値となる。そして、「ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１１）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１１）」の演算を行うことにより、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１の画素値とが近いほど重みが重くなるような重み係数Ｗ１１を演算することができる。また、「ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１１）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１１）」は「０」以上「１」以下の値であって、かつｎは自然数であるので、これをｎ乗することによって重み係数Ｗ１１の値は小さくなるが、この際、「ｍｉｎ（Ｐ１，Ｑ１１）／ｍａｘ（Ｐ１，Ｑ１１）」の値が「１」に近い大きい値の場合にはｎ乗してもあまり小さくならず、この値が「０」に近い小さい値の場合にはｎ乗することによって大幅に小さくなることになり、重み係数Ｗ１１の値をより強調したものとすることができる。
【００４２】
このように、重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５の値をｎ乗して強調することにより、欠陥画素の周囲の画像の境界や模様等の存在する方向に沿って演算された欠陥画素の補間値が最終修正値に与える影響を大きくすることができ、画像の境界や模様等を反映した適切な欠陥画素の補間処理を行うことが可能となる。ここで、ｎの値は、修正すべき画像の状態によって適切な値が異なることから、各種の画像データの統計等から実験的に求めた値とするのが好適であるが、一般的には、このｎの値が小さすぎれば、修正後の画像は、境界や模様がぼやけた状態となり、このｎの値が大きすぎれば、修正後の画像は、境界や模様がはっきりしすぎた状態となる。具体的には、通常の写真であれば、ｎの値は１５〜３０程度が適している場合が多く、更には、肌色と黒色との境界が適切に修正されるようなｎの値としては２０程度が適している場合が多い。
【００４３】
なお、重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５の演算方法は、上記の方法に限定されるものではなく、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値との関係性に基づいて、各欠陥画素の補間値Ｈがどの程度適正な値であるかという信頼性を表す重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５を演算することができる方法であればよい、したがって、例えば、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値との差分の絶対値の所定値αに対する補数を所定値αで除した値のｎ乗（ｎは任意の自然数）を重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５として演算することも可能である。
【００４４】
この場合、重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５は、具体的には、以下の式（６）から（１０）に従って演算する。
Ｗ１１＝｛（α−｜Ｐ１−Ｑ１１｜）／α｝ｎ  ・・・（６）
Ｗ１２＝｛（α−｜Ｐ１−Ｑ１２｜）／α｝ｎ  ・・・（７）
Ｗ１３＝｛（α−｜Ｐ１−Ｑ１３｜）／α｝ｎ  ・・・（８）
Ｗ１４＝｛（α−｜Ｐ１−Ｑ１４｜）／α｝ｎ  ・・・（９）
Ｗ１５＝｛（α−｜Ｐ１−Ｑ１５｜）／α｝ｎ  ・・・（１０）
【００４５】
ここで、所定値αは、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値との差分の絶対値がとり得る最大値に設定すると好適である。これにより、第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５との画素値が近いほど重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５が重くなるようにできる。なお、所定値αの値はこれに限定されるものではなく、第１対象画素Ｐ１の画素値と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５の画素値との差分の絶対値がとり得る最大値以下の値に設定することも可能である。ただし、その場合には、前記補数が負の値になる場合が生じ得るので、前記補数が「０」以下となる場合には、重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５を「０」とする等の条件が必要となる。また、ここでは、上記の重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５の演算方法に合せて、重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５が「０」以上「１」以下の値となるようにするため、前記補数を所定値αにより除算することとしているが、前記補数を所定値αにより除算することなく、前記補数のｎ乗を重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５とすることも可能である。このような重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５の演算方法においても、ｎの値は、上記のとおり、各種の画像データの統計等から実験的に求めた値とするのが好適である。
【００４６】
以上のようにして処理＃０８で演算された第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１１〜Ｑ１５との各組についての重み係数Ｗ１１〜Ｗ１５は、前記各組に対応付けられた状態で演算結果記憶部３０に記憶される。
【００４７】
次に、正常／欠陥マップに登録されている全ての正常画素について、＃０３から＃０８の処理に係る演算を終了したか否かについて判断する（＃０９）。この判断は、正常／欠陥マップに正常画素として登録されている全ての正常画素を第１対象画素Ｐとして＃０３から＃０８の処理を行ったか否かにより行うことができる。この際、未だ第１対象画素Ｐとして選択されていない正常画素であっても、他の正常画素が第１対象画素Ｐとして選択された場合における第２対象画素Ｑとされることにより、当該他の正常画素との間で欠陥画素の補間値Ｈ及び重み係数Ｗの演算の対象とされている場合がある。この場合には、その正常画素が第１対象画素Ｐとして選択された際の＃０７及び＃０８の演算処理において、すでに演算が終了している他の正常画素（第２対象画素Ｑ）との間での欠陥画素の補間値Ｈ及び重み係数Ｗの演算を行わないこととすると好適である。このようにすることにより、＃０７及び＃０８における欠陥画素の補間値Ｈ及び重み係数Ｗの演算処理の重複を回避することができ、演算量を抑えることが可能となる。
【００４８】
そして、正常／欠陥マップに登録されている全ての正常画素について、＃０３から＃０８の処理に係る演算を終了していない場合には（＃０９：ＮＯ）、処理は＃０３に戻り、次の正常画素を第１対象画素Ｐとして選択し（＃０３）、その第１対象画素Ｐについて＃０４から＃０８の処理を行う。図７は、上記第１対象画素Ｐ１についての＃０３から＃０８の処理に加えて、他の正常画素をそれぞれ第１対象画素Ｐ２、Ｐ３として行った＃０３から＃０８の処理の説明図である。なお、実際には、第１対象画素Ｐの選択は、隅角部から順に１画素ずつ隣に移動するように選択するのが好適であるが、ここでは説明の便宜のため、それぞれ離れた位置に第１対象画素Ｐ２、Ｐ３を選択している。
【００４９】
そして、第１対象画素Ｐ２、及び第１対象画素Ｐ３についても、それぞれ上記第１対象画素Ｐ１の場合と同様に、＃０４から＃０８の処理を行う。この際、第１対象画素Ｐ２については、一定領域Ｅ２内に３個の欠陥画素が存在しており、第１対象画素Ｐ２からこれらの欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素は第２対象画素Ｑ２１〜Ｑ２３とする。そして、第１対象画素Ｐ２と各第２対象画素Ｑ２１〜Ｑ２３との間に存在する各欠陥画素の補間値Ｈを演算するとともに、第１対象画素Ｐ２と各第２対象画素Ｑ２１〜Ｑ２３との各組の重み係数Ｗ２１〜Ｗ２３を演算してそれぞれ演算結果記憶部３０に記憶する。また、第１対象画素Ｐ３については、一定領域Ｅ３に３個の欠陥画素が存在しており、第１対象画素Ｐ３からこれらの欠陥画素を結ぶ延長線上に存在する正常画素は第２対象画素Ｑ３１〜Ｑ３３とする。そして、第１対象画素Ｐ３と各第２対象画素Ｑ３１〜Ｑ３３との間に存在する各欠陥画素の補間値Ｈを演算するとともに、第１対象画素Ｐ３と各第２対象画素Ｑ３１〜Ｑ３３との各組の重み係数Ｗ３１〜Ｗ３３を演算してそれぞれ演算結果記憶部３０に記憶する。このように、複数の第１対象画素Ｐ１〜Ｐ３について＃０４から＃０８の処理を行うことにより、一の欠陥画素について複数の補間値Ｈが演算されることになる。以上のようにして、最終的には、正常／欠陥マップに正常画素として登録されている全ての正常画素について演算を終了するまで、＃０３から＃０８の処理が繰り返し行われる。それにより、本実施形態のように一定領域Ｅが５×５画素の正方形領域の場合には、正常／欠陥マップに登録されている全ての欠陥画素について、一の欠陥画素につき８個の補間値Ｈが演算され、演算結果記憶部３０に記憶される。また、＃０３から＃０８の処理により演算された第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの全ての組についての重み係数Ｗも演算結果記憶部３０に記憶される。
【００５０】
そして、正常／欠陥マップに登録されている全ての正常画素について、＃０３から＃０８の処理に係る演算を終了した場合には（＃０９：ＹＥＳ）、次に、重み付き平均値演算部３１において、演算結果記憶部３０に記憶された、各欠陥画素についての複数の補間値Ｈと、第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの各組についての重み係数Ｗとを用いて、各欠陥画素の補間値Ｈの重み付き平均値Ａを演算する（＃１０）。この重み付き平均値Ａの演算は、各欠陥画素について見れば、当該一の欠陥画素についての各補間値Ｈとその補間値Ｈを演算する際に用いた第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの組の重み係数Ｗとを乗算した乗算値を、当該欠陥画素の複数の補間値Ｈの全てについて総和し、この総和を前記乗算値の演算に用いた全ての重み係数Ｗの和で除算することにより行う。本実施形態においては、一の欠陥画素につき８個の補間値Ｈが演算され、これら８個の補間値Ｈのそれぞれに対応する第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの組についての８個の重み係数Ｗが演算されているので、重み付き平均値Ａは、８組の補間値Ｈと重み係数Ｗの乗算値の和を、８個の重み係数Ｗの和で除算することにより演算される。
【００５１】
この重み付き平均値Ａの演算方法の具体例として、以下に、図７の一の欠陥画素Ｂｘについての重み付き平均値Ａを演算する場合について説明する。なお、実際には、上記のとおり一定領域Ｅが５×５画素の正方形領域である本実施形態の場合は、各欠陥画素について８個の補間値Ｈが演算されるはずであるが、ここでは、説明の便宜のため、図７に示されている３個の第１対象画素Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３についてそれぞれ演算された３個の補間値Ｈ１ｘ、Ｈ２ｘ、Ｈ３ｘについての重み付き平均値Ａｘの演算方法について説明する。
【００５２】
この場合、重み付き平均値Ａｘは、具体的には、以下の式（１１）に従って演算する。
Ａｘ＝（Ｈ１ｘ×Ｗ１３＋Ｈ２ｘ×Ｗ２１＋Ｈ３ｘ×Ｗ３１）／（Ｗ１３＋Ｗ２１＋Ｗ３１）  ・・・（１１）
【００５３】
ここで、欠陥画素Ｂｘは、図７に示すように、第１対象画素Ｐ１と第２対象画素Ｑ１３とを結ぶ直線と、第１対象画素Ｐ２と第２対象画素Ｑ２１とを結ぶ直線と、第１対象画素Ｐ３と第２対象画素Ｑ３１とを結ぶ直線との交点に位置する画素である。そして、補間値Ｈ１ｘに対応する（補間値Ｈ１ｘを演算する際に用いた）第１対象画素Ｐと第２対象画素Ｑとの組はＰ１−Ｑ１３であり、その組の重み係数はＷ１３である。同様に、補間値Ｈ２ｘに対応する組はＰ２−Ｑ２１、その重み係数はＷ２１であり、補間値Ｈ３ｘに対応する組はＰ３−Ｑ３１、その重み係数はＷ３１である。したがって、欠陥画素Ｂｘについての補間値Ｈ１ｘ〜Ｈ３ｘの重み付き平均値Ａｘは、上記式（１１）のとおりとなる。以上のようにして、全ての欠陥画素についての補間値Ｈの重み付き平均値Ａを演算する。
【００５４】
そして、＃１０の処理により演算された各欠陥画素の重み付き平均値Ａを、各欠陥画素の最終修正値とし、修正部３２において、各欠陥画素の画素値を修正する（＃１１）。具体的には、各欠陥画素の画素値を、各欠陥画素について演算された重み付き平均値Ａに置き換えることにより行う。なお、以上の説明においては特に触れなかったが、＃０７、＃８、＃１０、及び＃１１の処理における可視光画像データの正常画素又は欠陥画素の画素値を用いた演算は、可視光画像データのＲ、Ｇ、Ｂの色成分毎にそれぞれ行う。
【００５５】
なお、上記実施形態においては、写真フィルム２から画像を読み取って印画紙３に記録する画像プリントシステム４に適用した場合について説明したが、本発明を適用する対象はこれに限定されるものではなく、画像データの欠陥部を修正して出力するものであれば、他の画像処理装置等に適用することも可能である。また、上記実施形態においては、可視光画像データとしてＲ、Ｇ、Ｂの色成分を有するカラーの画像データを扱う場合について説明したが、可視光画像データとして他の色成分を有するカラー画像データや、可視光画像データが一の色成分のみを有するモノクロの画像データを扱う場合についても、同様に本発明を適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明は、画像データの欠陥部分の修正の際に、欠陥部内に複雑な境界や模様等が存在する場合であってもそれらを反映した正確な補間処理を高い処理速度で行うことを可能にするものであって、各種の画像処理装置やプログラム等に用いることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の実施形態に係る画像プリントシステムの外観を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施形態に係る画像プリントシステムの概略構成を示す模式図である。
【図３】本発明の実施形態に係る画像処理装置の機能を示すブロック図である。
【図４】本発明の実施形態に係る欠陥画素の修正処理のフローチャートである。
【図５】本発明の実施形態に係る欠陥画素の修正処理における、一の第１対象画素についての＃０３から＃０８の処理の一例を示す説明図である。
【図６】本発明の実施形態に係る欠陥画素の修正処理における、第１対象画素と第２対象画素との間に存在する欠陥画素の補間値の演算方法の一例を示すグラフである。
【図７】本発明の実施形態に係る欠陥画素の修正処理における、３個の第１対象画素についての＃０３から＃０８の処理の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００５８】
１  画像処理装置
４  画像プリントシステム
５  画像読取装置
６  画像記録装置
１７  ＣＰＵ
１８  メモリ
１９  欠陥画素修正部
２５  正常／欠陥判定部
２６  第１対象画素選択部
２７  第２対象画素検出部
２８  補間値演算部
２９  重み係数演算部
３０  演算結果記憶部
３１  重み付き平均値演算部
３２  修正部
Ｐ  第１対象画素
Ｑ  第２対象画素
Ｅ  一定領域
Ｈ  欠陥画素の補間値
Ｗ  重み係数
Ａ  重み付き平均値
【図１】
2005094315.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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