(57)【要約】【課題】波形検出の精度の向上が図られた光ディスク装置、光ディスク再生方法、および光ディスクを提供する。【解決手段】光ディスクから再生されるＲＦ信号をＡ／Ｄ変換したディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する。検出された波形の波長を計測し、この波長に基づいてＡ／Ｄ変換が制御される。ディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、精度の良い波形検出が行える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクから再生されるＲＦ信号をアナログ値からディジタル値へと変換するＡＤ変換器と、
前記ＡＤ変換器から出力されるディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する波形検出部と、
前記波形検出部で検出された波形の波長を計測する波長計測部と、
前記波長計測部で計測された波長に基づいて、前記ＡＤ変換器でのＡＤ変換を制御する制御信号を生成する制御信号発生器と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記波形検出部が、前記複数の設定値それぞれに近接する前記ディジタルＲＦ信号が時間に対して増加、減少のいずれかを行うかに基づいて、前記所定の波形を検出する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記波形検出部が、前記ディジタルＲＦ信号中に含まれる複数の波長成分に基づいて、前記所定の波形を検出する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記波形検出部が、前記複数の波長成分の波長の比率に基づいて、前記所定の波形を検出する
ことを特徴とする請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記波形検出部が、前記ディジタルＲＦ信号を３以上の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクから再生されるＲＦ信号をアナログ値からディジタル値へと変換するＡＤ変換ステップと、
前記ＡＤ変換ステップで出力されるディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する波形検出ステップと、
前記波形検出ステップで検出される波形の波長を計測する波長計測ステップと、
前記波長計測ステップで計測される波長に基づいて、ＡＤ変換を制御する制御信号を生成する制御信号発生ステップと、
を具備することを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項７】
再生されるＲＦ信号をアナログ値からディジタル値へと変換するＡＤ変換ステップと、前記ＡＤ変換ステップで出力されるディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する波形検出ステップと、前記波形検出ステップで検出される波形の波長を計測する波長計測ステップと、前記波長計測ステップで計測される波長に基づいて、ＡＤ変換を制御する制御信号を生成する制御信号発生ステップとを具備する再生方法により再生される
ことを特徴とする光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクでの記録内容に対応するＲＦ信号をアナログ値からディジタル値へと変換して再生する光ディスク装置、光ディスク再生方法、および光ディスクに関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置を用いてＣＤ（Compact Disk）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）等の光ディスクの再生が行われる。この再生は光ディスクを回転させ、光を照射することで行われる。このとき、光ディスクから読み出されるＲＦ信号に含まれるシンクパターン（同期信号）に基づく周期で、ＲＦ信号のアナログ・ディジタル変換が行われる。
ここで、ＲＦ信号中のシンクパターンを検出するために、ゼロクロス点（センタースライス）を基準としてＲＦ信号中の波形の波長を計測する手法が用いられる。
なお、被測定電圧波形が閾値レベルを横切るエッジタイミングを測定する技術が公開されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平６−２４２１８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ここで、光ディスクの記録密度を向上するためにパーシャルレスポンス技術を適用することが考えられる。パーシャルレスポンス（ＰＲ）は、符号間干渉(隣り合って記録されているビットに対応する再生信号同士の干渉)を積極的に利用して必要な信号帯域を圧縮しつつデータの再生を行う方法である。
この場合、センタースライス（スライスレベル）を用いて波形検出を行おうとすると、波長の短い波形は振幅が小さいためＤＣレベルの変動やノイズの影響によって検出できず、その前後の波形の波長が見かけ上大きく検出される可能性がある。例えば、次世代の光ディスク規格のＨＤ−ＤＶＤ（High-Definition DVD）で、１３Ｔ３Ｔのシンクパターンを検出対象とした場合、その前後に２Ｔの波形が出現する可能性がある。このとき、検出対象とこの２Ｔの波形の分離ができなければ、シンクパターンが１５Ｔ３Ｔや１３Ｔ５Ｔとして検出され、本来のシンクパターンを認識することが困難となる。
上記に鑑み、本発明は波形検出の精度向上を図れる光ディスク装置、光ディスク再生方法、および光ディスクを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
Ａ．上記目的を達成するために、本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクから再生されるＲＦ信号をアナログ値からディジタル値へと変換するＡＤ変換器と、前記ＡＤ変換器から出力されるディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する波形検出部と、前記波形検出部で検出された波形の波長を計測する波長計測部と、前記波長計測部で計測された波長に基づいて、前記ＡＤ変換器でのＡＤ変換を制御する制御信号を生成する制御信号発生器と、を具備することを特徴とする。
光ディスクから再生されるＲＦ信号をＡ／Ｄ変換したディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する。検出された波形の波長を計測し、この波長に基づいてＡ／Ｄ変換が制御される。ディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、精度の良い波形検出が行える。
【０００５】
（１）波形検出部が、前記複数の設定値それぞれに近接する前記ディジタルＲＦ信号が時間に対して増加、減少のいずれかを行うかに基づいて、前記所定の波形を検出してもよい。
複数の設定値それぞれに近接するディジタルＲＦ信号が増加、減少いずれに変化しているかに基づいて、精度の良い波形検出が行える。即ち、それぞれの設定値と信号強度の増減との対応関係に基づいて、波形を判別することができる。さらに、その出現順序によって波形を判別することも可能である。
【０００６】
（２）波形検出部が、前記ディジタルＲＦ信号中に含まれる複数の波長成分、例えば、波長の比率に基づいて、前記所定の波形を検出してもよい。
所定の波長が複数の波長成分を含むときには、例えば、その波長の比率に基づいて波形検出を行える。
このときの波長の計測はその信号波形が所定の基準値と交差する点の間隔に基づいて行える。基準値としてセンタースライス（スライスレベル）を用いると、交差点はゼロクロス点となる。
交差点はディジタルＲＦ信号を近似処理（内挿または外挿）することでより精密に算出することができる。この近似処理は、１次近似を用いることが可能である。また、これに換えて２次以上の近似を用いてもよい。
【０００７】
（３）波形検出部が、前記ディジタルＲＦ信号を３以上の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出してもよい。
設定値を３つ以上用いることでより高精度な波長の検出を行える。
【０００８】
Ｂ．本発明に係る光ディスク再生方法は、光ディスクから再生されるＲＦ信号をアナログ値からディジタル値へと変換するＡＤ変換ステップと、前記ＡＤ変換ステップで出力されるディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する波形検出ステップと、前記波形検出ステップで検出される波形の波長を計測する波長計測ステップと、前記波長計測ステップで計測される波長に基づいて、ＡＤ変換を制御する制御信号を生成する制御信号発生ステップと、を具備することを特徴とする。
【０００９】
光ディスクから再生されるＲＦ信号をＡ／Ｄ変換したディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する。検出された波形の波長を計測し、この波長に基づいてＡ／Ｄ変換が制御される。ディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、精度の良い波形検出が行える。
【００１０】
Ｃ．本発明に係る光ディスクは、再生されるＲＦ信号をアナログ値からディジタル値へと変換するＡＤ変換ステップと、前記ＡＤ変換ステップで出力されるディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較して、前記ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する波形検出ステップと、前記波形検出ステップで検出される波形の波長を計測する波長計測ステップと、前記波長計測ステップで計測される波長に基づいて、ＡＤ変換を制御する制御信号を生成する制御信号発生ステップとを具備する再生方法により再生されることを特徴とする。
【００１１】
再生されるディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、ディジタルＲＦ信号中から所定の波形を検出する。検出された波形の波長を計測し、この波長に基づいてＡ／Ｄ変換が制御される。ディジタルＲＦ信号を複数の設定値と比較することで、精度の良い波形検出が可能となり、ひいては光ディスクからの信号再生の誤りを低減できる。
【発明の効果】
【００１２】
以上説明したように、本発明によれば波形検出の精度向上を図れる光ディスク装置、光ディスク再生方法、および光ディスクを提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図１は本発明の一実施形態に係る光ディスク装置１０を表すブロック図である。
光ディスク装置１０は、光ディスク媒体１００からの情報の読み取りを行う装置であり、ピックアップヘッド（ＰＵＨ）１０１、Ａ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）１０２、位相比較器１０３、周波数検出器１０４、ループフィルタ１０５、ＶＣＯ（Voltage Controlled Oscillator：電圧制御発振器）１０６、トランスバーサルフィルタ１０７、ビタビ復号器１０８を有する。
【００１４】
ピックアップヘッド１０１は、光ディスク媒体１００に記録された情報に対応する信号を再生するものであり、光ディスク媒体１００にレーザ光を照射するレーザ光源、光ディスク媒体１００から反射されたレーザ光を受光する受光器（図示せず）を備える。受光器から出力される再生信号は、再生アンプ（図示せず）によって増幅されて再生ＲＦ信号となる。
【００１５】
Ａ／Ｄコンバータ１０２は、入力された再生ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換してディジタルＲＦ信号（多値化ＲＦ信号）を出力する素子である。このディジタルＲＦ信号は、略一定時間間隔で出力される多値のディジタル値である。
Ａ／Ｄコンバータ１０２でのＡ／Ｄ変換はＶＣＯ１０６から出力される制御信号によって制御される。即ち、Ａ／Ｄ変換の周期（時間間隔）がＶＣＯ１０６の発振周波数に基づいて定まる。
Ａ／Ｄコンバータ１０２は、入力された再生ＲＦ信号のオフセット（ゼロレベル／スライスレベル）及び振幅を調整する調整機構（一種のアンプ）を有し、この調整機構で調整された再生ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換する。なお、この調整機構での再生ＲＦ信号の調整は、トランスバーサルフィルタ１０７からの信号調整情報に基づいて行われる。
【００１６】
位相比較器１０３は、Ａ／Ｄコンバータ１０２から出力される多値化ＲＦ信号とＶＣＯ１０６からの出力信号との位相を比較し、位相差を出力する回路である。
周波数検出器１０４は、Ａ／Ｄコンバータ１０２から入力される多値化ＲＦ信号の周波数を検出（測定）し、この周波数とＶＣＯ１０６からの出力信号の周波数の差を表す周波数誤差信号を出力する回路である。また周波数検出器１０４は、出力する周波数誤差信号をループフィルタ１０５で使用するか否かを制御する誤差情報制御信号として用いられる周波数誤差検出信号をも出力する。なお、周波数検出器１０４の内部構成の詳細は後述する。
【００１７】
ループフィルタ１０５は、位相比較器１０３から出力される位相誤差、及び周波数検出器１０５から出力される周波数誤差に基づいて、ＶＣＯ１０６を制御する電圧を発生する回路である。
ＶＣＯ１０６は、ループフィルタ１０５から出力された制御電圧に対応する周波数で発振する発振回路であり、制御信号発生器として機能する。
トランスバーサルフィルタ１０７は、多値化ＲＦ信号をＰＲ波形に等化するフィルタである。トランスバーサルフィルタ１０７は、波形等化器として機能し、再生歪みを修整すると共に、再生ＲＦ信号のオフセット（ゼロレベル／スライスレベル）及び振幅を調整するための信号調整情報をＡ／Ｄコンバータ１０２へと出力する。
ビタビ復号器１０８は、トランスバーサルフィルタ１０７で等化されたデータを復号する。
【００１８】
図２は、周波数検出器１０４の内部構成の詳細を表すブロック図である。
周波数検出器１０４は、波形検出部２０２、波長計測部２０３、パターン波長比率評価部２０４、ピークホールド部２０５、相対周波数誤差算出部２０６を備え、多値化ＲＦ信号を入力し、周波数誤差信号および周波数誤差検出信号を出力する。
【００１９】
波形検出部２０２は、Ａ／Ｄコンバータ１０２から出力される多値化ＲＦ信号を入力し、所定の波形が含まれるか否かを検出する。この波形の検出は、多値化ＲＦ信号からシンクパターン（同期信号波形）を取り出して、このシンクパターンに基づいてＡ／Ｄコンバータ１０２でのＡ／Ｄ変換の時間間隔を制御するために行われる。
なお、後述のように、波形検出部２０２は、第１、第２、第３の閾値Ｓｈ１、Ｓｈ２、Ｓｈ３と３つの閾値を記憶し、これら３つの閾値を用いて多値化ＲＦ信号中の第１、第２の波形Ｗ１、Ｗ２を検出する。
【００２０】
波長計測部２０３は、波形検出部２０２で検出された所定の波形の波長を計測する。このとき、所定の波形が複数の波長を含むときにはその比率を算出する。
ここでいう「波長」とは多値化ＲＦ信号がスライスレベルを横切るに要する時間間隔に対応する量であり、多値化ＲＦ信号がスライスレベル（ゼロ点）から山（正の極値）に達してスライスレベルに戻るか、またはスライスレベル（ゼロ点）から谷（負の極値）に達して再度スライスレベルに戻るまでの時間間隔に対応する。即ち、「波長」は山または谷が現れて消滅するのに要する時間である。
所定の波形が複数の波長を含む場合とは、例えば、シンクパターンが１３Ｔ、３Ｔの山谷の場合である。このとき、山の部分での波長（スライスレベルから出て戻るまでの時間間隔）１３Ｔと谷の部分の波長３Ｔとの比率１３／３（＝４．３３）が波長の比率である。
【００２１】
以上から判るように、「波長」は、時間、例えば、秒を単位として計測することが可能である。これに換えてその間に出力される多値化ＲＦ信号の個数（Ａ／Ｄコンバータ１０２でのＡ／Ｄ変換の回数）を単位として計測することができ、またこれで充分である。Ａ／Ｄ変換の時間間隔を制御するためには、絶対的な時間が判らなくても、変換の回数等で定まる相対的な時間が判れば足りるからである。
【００２２】
パターン波長比率評価部２０４は、波長計測部２０３で算出された波長比率に基づき、検出された波形がシンクパターンである可能性の有無を判定する。例えば、シンクパターンが１３Ｔ、３Ｔの山谷の場合には、検出された波長の比率が４．３３に近ければその波形はシンクパターンである可能性がある。
【００２３】
ピークホールド部２０５は、パターン波長比率評価部２０４でシンクパターンの可能性があると判定された波形での波長の最大値を保持する（ピークホールド）。これはシンクパターンが多値化ＲＦ信号中で最長の波長（最長波長）となるように設定されていることと対応し、シンクパターンの検出をより確実に行うためである。
ピークホールド部２０５でのピークホールドはある一定周期で行われ、周期の終わり毎に周波数誤差が検出されたか否かを通知する周波数誤差検出信号を出力する。
【００２４】
このとき、ピークホールドされる波長は、最長波長期待値に対応して定まる波長の範囲に制限される。例えば、最長波長期待値の±１０％の範囲の波長がピークホールド部２０５に入力されたときに、そのときの波長がピークホールド部２０５で保持される。この上限、下限の範囲（例えば、最長波長期待値の±１０％の範囲）内において保持された波長の値よりも大きな値の波長が入力されたときに、保持された波長の値が更新される。もしこの範囲外の値の波長が入力されたときには、保持された波長の値が入力された値に最も近い範囲内の値（上限値または下限値）が入力されたかのように処理が行われる。
なお、最長波長期待値は、システムで発生しうる最長波長であり、記憶部（例えば、メモリ、レジスタ）に記憶されているものとする。これは、既述のように、シンクパターンが多値化ＲＦ信号中で最長の波長（最長波長）となるように設定されていることと対応する。例えば、シンクパターンが１３Ｔ、３Ｔの場合には、最長波長期待値は１６Ｔとなる。
相対周波数誤差算出部２０６は、ピークホールド部２０５で求められた最長波長からシステムで発生しうる最長波長である最長波長期待値を減算し、算出された波長差に基づく周波数誤差を出力する。
【００２５】
図３は、Ａ／Ｄコンバータ１０２から出力される多値化ＲＦ信号を表すグラフである。このグラフは縦軸が信号の振幅（強度）、横軸が時間である。縦軸の基準となるゼロレベル（原点Ｏ）はスライスレベル（センタスライス）と一致する。これは、既述のように、トランスバーサルフィルタ１０７から出力される信号調整情報によって、再生ＲＦ信号のオフセット（ゼロレベル／スライスレベル）及び振幅が調整された後にＡ／Ｄ変換されることに基づく。
図３に示すように、多値化ＲＦ信号はほぼ一定時間間隔で出力され、その値が時刻ｔに対してＳ（ｔ）で変化するディジタル値で表される。図３の黒丸Ｓ１０，Ｓ１１、Ｓ１２、…、Ｓ２０，Ｓ２１、Ｓ２２、…が多値化ＲＦ信号Ｓ（ｔ）を示す。
なお、多値化ＲＦ信号Ｓ（ｔ）は一定時間間隔で出力される信号であるが、図３ではその一部のみを表している。
【００２６】
以下、図３を用いて周波数検出器１０４の動作を詳細に説明する。
前述のように、波形検出部２０２は第１〜第３の閾値Ｓｈ１〜Ｓｈ３と３つの閾値を記憶しており、入力信号から第１、第２の波形Ｗ１、Ｗ２を検出する。
第１〜第３の閾値Ｓｈ１〜Ｓｈ３は、順に大、中、小となり、それぞれスライスレベルより大、スライスレベル近傍、スライスレベルより小となるように設定される。なお、第２の閾値Ｓｈ２は、スライスレベルの値そのものであっても差し支えない。
また、第１〜第３の閾値Ｓｈ１〜Ｓｈ３は、検出対象の波形が複数の極値を有するときには、幅の狭い範囲になるように設定される。例えば、図３では検出対象の第１、第２の波形Ｗ１、Ｗ２が極値Ｐ１〜Ｐ４を有している。このとき、第１〜第３の閾値Ｓｈ１〜Ｓｈ３は、スライスレベルに最も近い極値Ｐ２，Ｐ３に対して、Ｐ２＞Ｓｈ１、Ｓｈ２、Ｓｈ３＞Ｐ３となるように設定される。
【００２７】
第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２の検出条件は以下の通りである。即ち、次の条件が満たされたときに、第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２それぞれが検出されたと判定される。
第１波形Ｗ１の検出条件：条件１１が一回満たされ、その後に条件１１，１３が満たされる前に条件１２が一回満たされ、さらに条件１１，１２が満たされる前に条件１３が満たされる場合
第２波形Ｗ２の検出条件：条件２１が一回満たされ、その後に条件２１，２３が満たされる前に条件２２が一回満たされ、さらに条件２１，２２が満たされる前に条件２３が満たされる場合
【００２８】
ここで、条件１１〜１３，２１〜２３は以下のように定められる。
条件１１：Ｓ（ｔ）が第１閾値未満で、Ｓ（ｔ＋１）が第１閾値以上
条件１２：Ｓ（ｔ）が第２閾値より大きく、Ｓ（ｔ＋１）が第２閾値以下
条件１３：Ｓ（ｔ）が第３閾値以下で、Ｓ（ｔ＋１）が第３閾値より大きい
条件２１：Ｓ（ｔ）が第３閾値より大きく、Ｓ（ｔ＋１）が第３閾値以下
条件２２：Ｓ（ｔ）が第２閾値未満で、Ｓ（ｔ＋１）が第２閾値以上
条件２３：Ｓ（ｔ）が第１閾値以上で、Ｓ（ｔ＋１）が第１閾値未満
【００２９】
以上から判るように、山、その後の谷、これらの中間領域が存在する場合に第１の波形Ｗ１が検出される。また、谷、その後の山、これらの中間領域が存在する場合に第２の波形Ｗ２が検出される。簡略化していえば、第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２はそれぞれ、山谷の組み合わせ、谷山の組み合わせに対応する。
第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２以外の波形を除外することで、山と山、谷と谷等の本来の信号、特にシンクパターンとは異なるノイズ成分の波形を除外している。また、位相が互いに逆（位相差が１８０°等）の第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２を互いに区別している。
【００３０】
以上の検出対象となる第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２およびその検出条件は必ずしも絶対的な条件ではない。例えば、条件１１の後に条件１３を満たしたことのみで第１の波形を検出することも可能である（条件１２のチェックを省略）。また条件１１，２１，１２，２３，１３が連続的に満たされた場合に、第１の波形が検出されたとすることも可能である（条件２１，２３の追加チェック）。
チェックする条件を少なくすればより検出に要する処理の簡略化が図れ、チェックする条件を多くすればより正確な波形の検出が行えるようになる。即ち、検出条件は処理内容、検出精度を勘案して適宜に設定することができる。
【００３１】
波長計測部２０３では、第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２のいずれかが検出されたときに、ゼロクロス点Ｚ１０〜Ｚ１２、Ｚ２０〜Ｚ２２（スライスレベルと一致するＲＦ信号上の点）を推測して３つの連続するゼロクロス点Ｚ１０〜Ｚ１２、Ｚ２０〜Ｚ２２間の波長τ１，τ２の算出を行う。
既述のように、波長τ１，τ２は相対的な時間、例えば、Ａ／Ｄコンバータ１０２から出力されるディジタル信号の個数（Ａ／Ｄ変換の回数）で規定することができる。
【００３２】
即ち、この波長τ１，τ２は、検出される波形に含まれる評価点の個数によって概略的に表すことができる。また、ゼロクロス点Ｚ１０〜Ｚ１２、Ｚ２０〜Ｚ２２の算出精度を向上するために、多値化ＲＦ信号の評価点Ｓ１０〜Ｓ１５、Ｓ２０〜Ｓ２５からの内挿、外挿等の補間手法を利用することが好ましい。
【００３３】
以上から、波長計測部２０３での処理は次のようにして行われる。
波長計測部２０３は、第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２が検出されたという情報、波形検出時の条件でのＳ（ｔ）及びＳ（ｔ＋１）の値と、検出された波形に含まれる評価点の数を波形検出部２０２から受け取る。
波長計測部２０３は、受け取った情報に基づき、第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２の波長を算出する。このとき、第１、第２の波形Ｗ１，Ｗ２は、その前半（条件１１から条件１２、条件２１から条件２２に対応）、後半（条件１２から条件１３、条件２２から条件２３に対応）に区分してその波長（ゼロクロス点間の時間差）τ１１，τ１２およびτ２１，τ２２を算出し、これらをそれぞれ加算することで全体の波長τ１，τ２を算出する。これは波長比率評価部２０４で波長τ１１，τ１２の比率を利用することに基づく。
【００３４】
図３の評価点Ｓ１０，Ｓ１１はそれぞれ、第１波形Ｗ１での条件１１のＳ（ｔ）とＳ（ｔ＋１）に対応する。評価点Ｓ１２とＳ１３はそれぞれ条件１２のＳ（ｔ）とＳ（ｔ＋１）に、評価点Ｓ４とＳ５はそれぞれ条件１３のＳ（ｔ）とＳ（ｔ＋１）に対応する。
前半側のゼロクロス２点間Ｚ１０，Ｚ１１間の波長τ１１は、次式の様に表せる。
τ１１  ＝  Ｎ（Ｓ１０，Ｓ１３）＋Ｓ１０／（Ｓ１１−Ｓ１０）
＋Ｓ１２／（Ｓ１２−Ｓ１３）                    ……式（１）
Ｎ（Ｓ１０，Ｓ１３）：評価点Ｓ１０、Ｓ１３間の評価点数（両端Ｓ１０、Ｓ１３を除く）
ここで、Ｓ１０／（Ｓ１１−Ｓ１０）は評価点Ｓ１１とＳ１０とを結ぶ直線（評価点Ｓ１０，Ｓ１１の外挿線）とスライスレベルの交点（ゼロクロス点Ｚ１０）に対応し、Ｓ１２／（Ｓ１２−Ｓ１３）は評価点Ｓ１２とＳ１３とを結ぶ直線（評価点Ｓ１２とＳ１３の内挿線）とスライスレベルの交点（ゼロクロス点Ｚ１１）に対応する。
即ち、ここでは１次近似を用いて２つの評価点を補間している。補間に用いる評価点の個数を増やせば、１次近似に換えて、２次以上の近似を採用することも可能である。
【００３５】
後側のゼロクロス２点間Ｚ１１，Ｚ１２間の波長τ１２は、次式の様に表せる。
τ１２  ＝  Ｎ（Ｓ１２，Ｓ１５）＋Ｓ１３／（Ｓ１３−Ｓ１２）
＋Ｓ１５／（Ｓ１４−Ｓ１５）                    ……式（２）
Ｎ（Ｓ１２，Ｓ１５）：評価点Ｓ１２、Ｓ１５間の評価点数（両端Ｓ１２、Ｓ１５を除く）
ここで、Ｓ１３／（Ｓ１３−Ｓ１２）は評価点Ｓ１２とＳ１３とを結ぶ直線（評価点Ｓ１２，Ｓ１３の内挿線）とスライスレベルの（ゼロクロス点Ｚ１１）に対応し、Ｓ１５／（Ｓ１４−Ｓ１５）は評価点Ｓ１４とＳ１５とを結ぶ直線（評価点Ｓ１４とＳ１５の外挿線）とスライスレベルの交点（ゼロクロス点Ｚ１２）に対応する。
【００３６】
以上から、３つの連続するゼロクロス点Ｚ１０，Ｚ１１，Ｚ１２での波長τ１は、次の式（３）で表される。
τ１  ＝  τ１１  ＋  τ１２                              ……式（３）
【００３７】
図３の評価点Ｓ２０，Ｓ２１はそれぞれ、第２波形Ｗ２での条件２１のＳ（ｔ）とＳ（ｔ＋１）に対応する。評価点Ｓ２２とＳ２３はそれぞれ条件２２のＳ（ｔ）とＳ（ｔ＋１）に、評価点Ｓ２４とＳ２５はそれぞれ条件２３のＳ（ｔ）とＳ（ｔ＋１）に対応する。
第２の波形Ｗ２の波長τ２は、波長τ１とほぼ同様の式（４）〜（６）に基づき算出される。
τ２１  ＝  Ｎ（Ｓ２０，Ｓ２３）＋Ｓ２０／（Ｓ２１−Ｓ２０）
＋Ｓ２２／（Ｓ２２−Ｓ２３）                    ……式（４）
τ２２  ＝  Ｎ（Ｓ２２，Ｓ２５）＋Ｓ２３／（Ｓ２３−Ｓ２２）
＋Ｓ２５／（Ｓ２４−Ｓ２５）                    ……式（５）
τ２  ＝  τ２１  ＋  τ２２                              ……式（６）
【００３８】
波長比率評価部２０４では波長計測部２０３で算出されたτｉ１とτｉ２から波長比率（τｉ１：τｉ２）を計算する（ｉ：１、２）。この波長比率が検出対象波形での波長比率に対応するか否かの判定を行い、検出対象波形の可能性のあるものを峻別する。
シンクパターン１３Ｔ３Ｔが検出対象の場合には、その比率（波長比率）は１３：３となる。この場合には、τｉ１：τｉ２がこの比率に近い波形が検出対象波形を含む可能性があると判定される。算出された波長比率が４．３（＝１３／３）に対して例えば±５％の範囲内であるとき、その波形が検出対象である可能性を有すると判定される。
【００３９】
ピークホールド部２０５では検出対象波形を含む可能性のある波長のピークホールドを行う。これは、シンクパターンが検出される最長波長となるように設定されている場合（例えば、ＨＤ−ＤＶＤ）に、検出対象波形以外の波長を篩い落とすために行われる。
相対周波数誤差算出部２０６は、ピークホールド部２０５で求められた波長からシステムで発生しうる最長波長である最長波長期待値を減算し周波数誤差を算出する。
以上が、周波数検出器１０４の動作である。
【００４０】
上記実施形態では、波形検出部２０２が３つの閾値を用いて波形を検出し、波長比率評価部２０４が波長比率を用いて検出された波形を選別する。
このことから、以下のような利点が生じる。
例えば、ＨＤ−ＤＶＤでのマーク／スペース長は２Ｔ〜１１Ｔ及び１３Ｔであり、検出対象であるシンクパターンは最長パターンを含む１３Ｔ３Ｔとなっている。
しかし、光ディスク媒体１００に傷等の損傷があったり、ピックアップヘッド１０１がトラックジャンプを行ったりした場合、１３Ｔより長い波長が出現する可能性がある。また、ＲＦ信号にＤＣオフセットが生じた場合、１３Ｔが伸縮する可能性がある。そのため、最長波長１３Ｔの検出のみでは十分な信頼性が得られない可能性がある。
【００４１】
このような場合でも、波長比率評価部２０４で行っている様に、３つのゼロクロス点Ｚ０〜Ｚ２間での波長比率を用いることで波形検出の信頼性を向上することができる。
また、波形検出部２０２において、第1、第３閾値Ｓｈ１，Ｓｈ３を適宜に設定することで、波形検出の精度を向上することができる。例えば、検出対象に含まれる３Ｔの波形の振幅を検出可能で、検出対象に含まれない２Ｔの波形の振幅を検出しない値に設定する。波形の波長と振幅とが対応するように光ディスク媒体１００の規格が定められていることによる。このように設定することで、検出対象である１３Ｔ３Ｔのシンクパターンの比率に近い波形（１０Ｔ２Ｔ、９Ｔ２Ｔ、または８Ｔ２Ｔ等）をより確実に排除することが可能となる。
【００４２】
以上のように、複数の閾値を用いることで、波長比率評価部２０４での誤判定の可能性を下げ、信頼性をより向上することができる。スライスレベルのみを用いて波形を検出する場合には、検出対象の前後に波長の短い波形が存在するときに、検出対象の波長が見かけ上大きく計測される。
検出対象の前後に波長の短い波形が存在するときでも、複数の閾値を用いることで、検出対象波形の波長を精度良く検出できる。
また、連続する３点のゼロクロス点間の波長比率を用いて波形を検出することにより、検出対象の波形をより精度良く検出できる。
【００４３】
（その他の実施形態）
上記実施形態では、３つの閾値とこれらを跨ぐ評価点の情報を用いて３つの連続するゼロクロス点を算出することで、検出対象前後の波形に影響を受けにくい波形検出が可能となる。
本発明の実施形態は上記の実施形態に限られず拡張、変更可能であり、拡張、変更した実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
例えば、上記実施形態では３つの設定値を用いていたが、２つの設定値、または４つ以上の設定値を用いて波形を検出できる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置を表すブロック図である。
【図２】周波数検出器の内部構成の詳細を表すブロック図である。
【図３】Ａ／Ｄコンバータから出力される多値化ＲＦ信号を表すグラフである。
【符号の説明】
【００４５】
１００…光ディスク媒体、１０１…ピックアップヘッド（ＰＵＨ）、１０２…Ａ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）、１０３…位相比較器、１０４…周波数検出器、１０５…ループフィルタ、１０６…ＶＣＯ、１０７…トランスバーサルフィルタ、１０８…ビタビ復号器、２０２…波形検出部、２０３…波長計測部、２０４…波長比率評価部、２０５…ピークホールド部、２０６…相対周波数誤差算出部
【図１】
2005243087.tif 000003
【図２】
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【図３】
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