(57)【要約】【課題】  寿命２５年以上を保証するテルライトファイバ及び該テルライトファイバを用いる光ファイバ増幅器を提供する。【解決手段】  ファイバの線径がｒ（ｍｍ）、平均強度がσｉ（ＭＰａ）のテルライトファイバを、巻き径がＤ（ｍｍ）のボビンに巻くに際し、機械的破断許容故障率が１０−４である場合はｒ＝１．９３０×１０−５（−０．２０６３８＋０．２２３２４σｉ）Ｄ、機械的破断許容故障率が１０−５である場合はｒ＝１．９３０×１０−５（０．２２５３０＋０．１７５５８σｉ）Ｄ、機械的破断許容故障率が１０−６である場合はｒ＝１．９３０×１０−５（−０．２０６３８＋０．１３８８３σｉ）Ｄの関係をそれぞれ満たすようにファイバの線径、平均強度およびボビンの巻き径を定める。また、このような関係を満たすテルライトファイバおよびボビンを光ファイバ増幅器に適用する。【選択図】  図７
2005086183.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ファイバの線径がｒ（ｍｍ）、平均強度がσｉ（ＭＰａ）のテルライトファイバを、巻き径がＤ（ｍｍ）のボビンに巻くに際し、機械的破断許容故障率が１０−４であるとすると、
ｒ＝１．９３０×１０−５（−０．２０６３８＋０．２２３２４σｉ）Ｄ
の関係を満たすことを特徴とする機械的破断寿命が２５年以上のテルライトファイバ。
【請求項２】
ファイバの線径がｒ（ｍｍ）、平均強度がσｉ（ＭＰａ）のテルライトファイバを、巻き径がＤ（ｍｍ）のボビンに巻くに際し、機械的破断許容故障率が１０−５であるとすると、
ｒ＝１．９３０×１０−５（０．２２５３０＋０．１７５５８σｉ）Ｄ
の関係を満たすことを特徴とする機械的破断寿命が２５年以上のテルライトファイバ。
【請求項３】
ファイバの線径がｒ（ｍｍ）、平均強度がσｉ（ＭＰａ）のテルライトファイバを、巻き径がＤ（ｍｍ）のボビンに巻くに際し、機械的破断許容故障率が１０−６であるとすると、
ｒ＝１．９３０×１０−５（−０．２０６３８＋０．１３８８３σｉ）Ｄ
の関係を満たすことを特徴とする機械的破断寿命が２５年以上のテルライトファイバ。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれかに記載されるテルライトファイバを用いることを特徴とする光増幅装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光通信の分野において必要となる光ファイバ増幅器に使用される高信頼性テルライトファイバおよび該テルライトファイバを用いる光ファイバ増幅装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
コア部にプラセオジム（Ｐｒ）やエルビウム（Ｅｒ）などの希土類を添加した希土類添加光ファイバ増幅器ならびに誘導ラマン散乱現象を用いて光増幅を行うラマン光ファイバ増幅器において、光ファイバは、ファイバボビンに巻かれて使用される。このため、使用される光ファイバは、曲げ強度に対する高い機械的信頼性を有することが重要である。光ファイバの機械的信頼性については、ファイバ自体の機械的強度に依存しており、静疲労試験、動疲労試験などの結果から寿命を推定できる。既に、実用化されている光ファイバ増幅器の増幅媒体として使用されている石英ファイバ及びフッ化物ファイバについては、信頼性の検討結果が報告されている。このうち、フッ化物ファイバについては、直径が７５ｍｍのボビンにファイバを巻くことを想定した場合、ファイバの平均強度が３５０ＭＰａ以上であれば破断に至る寿命として２５年以上保証できることが明らかにされている（非特許文献１、２参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−２３６２４０号公報
【非特許文献１】K.Fujiura, K.Hoshino, T.Kanamori, Y.Nishida, Y.Ohishi, S.Sudo, Proc. Optical Amplifiers and their Applications, 1995 OSA Tech. Dig. Ser., Davos, Switzerland, 1995, vol. 18 pp. 104-107
【非特許文献２】K.Fujiura, Y.Nishida, T.Kanamori, Y.Terunuma, K.Hoshino, K.Nakagawa, Y.Ohishi, S.Sudo, IEEE Photon. Technol. Lett., vol. 10 pp. 946-948, July 1998
【非特許文献３】F.P.Kapron, H.H.Yuce, Opt. Eng., vol. 30, pp.700-708, 1991
【非特許文献４】P.W.France, W.J.Duncan, D.J.Smith, K.J.Beals, J.Mat.Sci., vol. 18, pp. 785-792, 1983
【非特許文献５】P.Haslov, K.B.Jensen, N.H.Skovgaard, J.Am.Ceram.Soc., vol.18, pp. 785-792, 1983
【非特許文献６】P.W.France, M.J.Paradine, M.H.Reeve, G.R.Mewn, J.Mat.Sci., vol. 15, pp. 825-830, 1980
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、石英系光ファイバ増幅器やフッ化物系光ファイバ増幅器の増幅帯域より２倍以上広い波長帯域での一括増幅が可能なテルライト光ファイバ増幅器に使用される増幅媒体としての、近年注目されているテルライトファイバについては、上記機械的信頼性については何等報告がなされていない。したがって、テルライトファイバを増幅媒体とする光ファイバ増幅器の実用化に向けた機械的信頼性に関する設計が不可能であった。
【０００５】
本発明の目的は、テルライトファイバの破断寿命を推定することにより、ファイバの線径、平均強度、ボビンの巻き径および機械的破断許容故障率の関係を規定し、種々の巻き径のボビンに巻いた寿命２５年以上を保証するテルライトファイバ及び該テルライトファイバを用いる光ファイバ増幅装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明に係るテルライトファイバは、ファイバの線径がｒ（ｍｍ）、平均強度がσｉ（ＭＰａ）のテルライトファイバを、巻き径がＤ（ｍｍ）のボビンに巻くに際し、機械的破断許容故障率が１０−４である場合はｒ＝１．９３０×１０−５（−０．２０６３８＋０．２２３２４σｉ）Ｄ、機械的破断許容故障率が１０−５である場合はｒ＝１．９３０×１０−５（０．２２５３０＋０．１７５５８σｉ）Ｄ、機械的破断許容故障率が１０−６である場合はｒ＝１．９３０×１０−５（−０．２０６３８＋０．１３８８３σｉ）Ｄの関係をそれぞれ満たすようにファイバの線径、平均強度およびボビンの巻き径を定めることを特徴とする。
【０００７】
また、本件発明に係る光増幅装置は、上記本発明に係るテルライトファイバを用いることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明は、テルライトファイバのゼロストレス試験、静疲労試験を実施し、破断寿命推定のためのパラメータを明らかにするとともに、破断寿命２５年を満たすテルライトファイバの必要最低平均強度を明らかにすることにより、テルライトファイバを増幅媒体とする高信頼性光ファイバ増幅装置を実現することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
テルライトファイバの寿命を推定するには、ゼロストレス試験（Zero-stress aging testing）、静疲労試験（Static fatigue testing）を行う必要がある。
【００１０】
静疲労試験において、破断寿命（ｔｆ）と応力（σａ）の関係は、次式で表される（非特許文献３参照）。
ｔｆ＝ＢＳｎ−２σａ−ｎ                                ・・・（１）
ここで、Ｂは、材料とプロセスのパラメータを含む定数、Ｓは、不活性強度（不活性雰囲気下での試験の結果として得られる強度）、ｎは、指数である。
【００１１】
また、ゼロストレス試験における強度比（σｆ／σｆ０）と放置時間（ｔ）の関係は、次式で表される（非特許文献４参照）。
σｆ／σｆ０＝１／（１＋ｔ／τ）ｐ                      ・・・（２）
ここで、σｆ０は、試験開始前（ｔ＝０）の曲げ強度、τおよびｐは、定数である。
【００１２】
静疲労における破断寿命は、次式に示すゼロストレス試験と静疲労試験を組み合わせた微分方程式で表すことができる（非特許文献５参照）。
ｄ（σ／σｉ）／ｄｔ＝（ｘ／ｔ）（σ／σｉ）（ｘ−１）／ｘ                                  −｛１／［Ｂσｉｎ−２（ｎ−２）］｝σａｎ（σ／σｉ）３−ｎ  ・・・（３）
ここで、σｉは、初期平均強度、Ｂおよびｎは、式（１）で示す定数と指数であり、ｘは、
ｘ＝−ｐ（ｎ＋１）／（ｎ−２）                          ・・・（４）
で与えられる。
【００１３】
一方、実際のファイバ強度は、長手方向に分布するので破断確率のワイブル分布は、
Ｐ（Ｓ，Ｌ）＝ｅｘｐ［−（Ｓ／Ｓ０）ｍ（Ｌ／Ｌ０）］    ・・・（５）
で表される。ここで、Ｐ（Ｓ，Ｌ）は、長さＬのファイバが応力Ｓまでに切断しない確率を表し、Ｓ０は、ゲージ長Ｌ０で測定した確率ｅ−１における応力を示す。このワイブル分布は、静疲労に対する次式に変換できる（非特許文献３参照）。
Ｐ（ｔｆ，σａ，Ｌ）＝ｅｘｐ［−（ｔｆ／ｔ０）ｂ］      ・・・（６）
但し、ｔ０＝ｔｆ０（ｌｎ２）−１／ｂ
ここで、ｂは、ばらつきを表すワイブルパラメータ、ｔｆ０は、平均寿命（mean life time）である。式（６）を用いて、ある許容故障率（Ｆ）に対する破断寿命推定をすることができる。Ｐ＝１−Ｆであるので、式（６）は、次式のように表すことができる。
ｔｆ＝ｔ０［ｌｎ（１−Ｆ）］１／ｂ                      ・・・（７）
なお、ワイブルパラメータｂには、実験で得られた中で最小値（最も悪いデータ）が用いられる。
【００１４】
ここで、出願人は、テルライトファイバの寿命を推定するために、機械的強度の測定、ゼロストレス試験、静疲労試験を行った。
【００１５】
ファイバの機械的平均強度は、ゲージ長を３５０ｍｍとし、ファイバを１０ｍｍ／ｍｉｎの速度で引っ張り、破断するときの応力を測定することにより得られる。図１は、代表的なテルライトファイバの機械的強度の測定結果をワイブルプロットしたものである。ファイバの線径は、０．１２ｍｍのとき、最小強度は、３６３ＭＰａ、最大強度は、６０３ＭＰａ、平均強度（mean strength）は、４６９ＭＰａである。このファイバを用いて、静疲労試験、ゼロストレス試験を行った。
【００１６】
静疲労試験は、一定応力をかけたテルライトファイバを温度８０℃、相対湿度５０％の恒温槽内に放置し、破断するまでの時間を測定することにより行われる。１つの応力に対し、測定値を１０点以上測定し、破断寿命に対し、ワイブルプロットし、平均破断寿命を求める。図２は、図１で平均強度が４６９ＭＰａであったテルライトファイバの静疲労試験の結果である。テルライトファイバにかけられる応力の増加に対し、寿命は、指数関数的に減少する。
【００１７】
ゼロストレス試験は、前述した静疲労試験と同様に、温度８０℃、相対湿度５０％の恒温槽内に、長さ１００ｍｍに切りそろえた図１で平均強度が４６９ＭＰａであったテルライトファイバを放置し、一定時間毎に取り出し、室温において曲げ強度を測定し、強度のワイブルプロットから得られる平均曲げ強度の、試験前に測定した曲げ強度に対する変化を測定するものである。１回の測定点は、最低１０点となるように測定した。図３に、試験前の曲げ強度に対する試験後（一定時間放置後）の曲げ強度の比と放置時間の関係を示す。放置時間とともに強度比が減少する。また、図３には、同じテルライトファイバの、温度８０℃、相対湿度８０％における試験結果も示されている。温度８０℃、相対湿度５０％の試験結果に比べ、強度比の減少率が大きいことがわかる。
【００１８】
平均破断寿命と応力との関係は、上記式（３）を数値解析することにより得られる。まず、図２、図３から、式（１）、（２）の定数を求めると以下の通りである。
ＢＳｎ−２＝１．２６×１０５９
ｎ＝２３．９３
τ＝０．２１６年
ｐ＝０．４１７
σｉ＝４６９ＭＰａ              
【００１９】
これらの数値を、式（３）に代入して数値解析した結果、図４が得られた。図４は、平均強度４６９ＭＰａのテルライトファイバにおける平均破断寿命と応力との関係を示す。図中、破線は、ゼロストレスを無視できるほど小さいとした場合の破断寿命と応力の関係曲線である。前述したように、光ファイバをボビンに巻いて使用する場合、ファイバには曲げ応力がかかり、これが機械的信頼性に影響する。曲げ応力（σｂ）とボビン径（Ｄ）の間には、以下の関係式が成り立つ（非特許文献６参照）。
σｂ＝Ｅ・ｒ／（０．４２Ｄ）                          ・・・（８）
ここで、Ｅは、テルライトファイバのヤング率、ｒは、ファイバの線径である。ヤング率Ｅは、図２の引っ張り試験で応力と切断までの伸び率から算出できる。ファイバの線径を０．１２ｍｍ、ボビン径を、フッ化物と同様に、７５ｍｍとすると、σｂは、８３ＭＰａとなり、実用的には、１００ＭＰａ以下の領域における破断寿命推定が重要となる。
【００２０】
図２の静疲労試験におけるそれぞれの応力に対する破断時間のワイブル分布から得られたパラメータｂの最小値は、０．３７３であった。
【００２１】
図５は、図４に示される平均強度４６９ＭＰａの代表的なテルライトファイバにおいて、ゼロストレスが無視できるほど小さいとして、許容故障率Ｆが１０−４、１０−５、１０−６における外部応力すなわち曲げ応力に対する破断寿命を推定した結果である。例えば、Ｆ＝１０−６では、約６５ＭＰａ以下の外部応力に対し、寿命２５年が保証できることが算出される。この場合のボビンの巻き径は、約９６ｍｍとなる。同様にして、平均強度の異なるテルライトファイバの許容故障率Ｆが１０−４、１０−５、１０−６における外部応力すなわち曲げ応力に対する破断寿命を推定する。
【００２２】
ファイバモジュールの小型化には、いかに小さいボビンに巻けるかが課題となる。このため、破断寿命２５年を保障できるテルライトファイバの平均強度、ファイバの線径、ボビン径がどの程度になるか算出した。計算に当たり、静疲労試験のパラメータは、平均強度に関わりなく一定であると仮定し、また、前述したとおりゼロストレスの影響は無視できるほど小さいとした。
【００２３】
図６に、破断寿命２５年を保証できる曲げ応力とファイバの平均強度の関係を示す。図６に示されるように、曲げ応力と平均強度は、ほぼ原点を通る直線関係（σｂ＝Ｍ０＋Ｍ１σｉ、Ｍ０、Ｍ１は、定数）にあり、許容故障率Ｆが小さいほど、直線の傾きが小さいことが分かる。したがって、式（８）から許容故障率Ｆが決まれば、以下の関係式が得られ、破断寿命２５年を保証する平均強度、ファイバ線径、ボビン巻き径の関係が求められる。
ｒ＝Ｒ（Ｍ０＋Ｍ１σｉ）Ｄ                              ・・・（９）
但し、Ｒ＝０．４２／Ｅ
【００２４】
ここで、Ｒ、Ｍ０、Ｍ１は、定数であり、ｒ、σｉ、Ｄは、変数であることからいずれかの変数を固定した場合の関係が得られる。すなわち、ある線径のテルライトファイバの平均強度がわかれば、破断寿命２５年を保障できるボビンの最小巻き径が得られ、ボビンの巻き径が決まれば、破断寿命２５年以上を保証するに必要な最大線径と最小平均強度が得られる。
【００２５】
なお、図６から最小二乗法で算出された定数Ｍ０、Ｍ１は、それぞれ、
許容故障率１０−４で、０．１９５９３、０．２２３２４、
許容故障率１０−５で、０．２２５３０、０．１７５５８、
許容故障率１０−６で、−０．２０６３８、０．１３８８３
であった。
【００２６】
よって、式（９）は、
許容故障率１０−４のとき、
ｒ＝１．９３０×１０−５（０．１９５９３＋０．２２３２４σｉ）Ｄ
許容故障率１０−５のとき、
ｒ＝１．９３０×１０−５（０．２２５３０＋０．１７５５８σｉ）Ｄ
許容故障率１０−６のとき、
ｒ＝１．９３０×１０−５（−０．２０６３８＋０．１３８８３σｉ）Ｄ
となる。
【００２７】
これらテルライトファイバを構成単位として、公知の構成技術を適用すれば、図７に示されるような各種の光増幅装置が実現できる（例えば、特許文献１など参照）。
【００２８】
図７（Ａ）には、光増幅器が示される。信号光源１および励起光源２は、光カップラ３を介して希土類添加テルライトファイバ４の一端に接続され、希土類添加テルライトファイバの他端には、光アイソレータ５が接続される。光増幅器の機能は、信号光を希土類添加テルライトファイバ４において増幅し、出力ファイバ６ｄから出力するものである。なお、６ａ〜６ｃは、各部品を接続するファイバ、６ｄは、出力用のファイバである。
【００２９】
図７（Ｂ）には、レーザ装置が示される。該レーザ装置においては、信号光源の代わりに、光アイソレータ５の出力側を光カップラ３に接続してリング状の光共振器を形成し、このリング状光共振器の途中に狭帯域バンドパスフィルタ７を挿入する。レーザ装置の機能は、希土類添加テルライトファイバ４で増幅される光のうち、狭帯域バンドパスフィルタ７の透過域において、レーザ発振をさせるものである。
【００３０】
図７（Ｃ）には、ＡＳＥ（Amplifier Spontaneous Emission）光源装置が示される。符号４で示される希土類添加テルライトファイバで自然放出光（ＡＳＥ）を反射体８で反射されて、再度希土類添加テルライトファイバ４中を通過して増幅され、光カップラ３の一端６ｄから出射されるものである。ＡＳＥ光源装置は、広波長域の光源として機能するものである。
【００３１】
以下に、本発明を実施例によりさらに具体的に説明するが、本発明は、これら実施例に限定されるものではない。
【００３２】
表１に、許容故障率を１０−４、１０−５、１０−６とし、ファイバの線径が０．１２ｍｍ、０．０８ｍｍ、０．０４ｍｍ、０．０２ｍｍのテルライトファイバを、巻き径が８０ｍｍ、６０ｍｍ、４０ｍｍ、３０ｍｍであるボビンに巻いて、破断寿命２５年を保証するテルライトファイバの最低平均強度を示す。
【００３３】
【表１】
2005086183.tif 000003
【実施例１】
【００３４】
機械的許容故障率を１０−４とした場合には、
（ｉ）ファイバの直径が０．１２ｍｍでかつ平均機械的強度が３４７ＭＰａ以上、４６３ＭＰａ以上、６９６ＭＰａ以上および９２８ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｉ）ファイバの直径が０．０８ｍｍでかつ平均機械的強度が２３１ＭＰａ以上、３０８ＭＰａ以上、４６３ＭＰａ以上および６１８ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｉｉ）ファイバの直径が０．０４ｍｍでかつ平均機械的強度が１１５ＭＰａ以上、１５４ＭＰａ以上、２３１ＭＰａ以上および３０８ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｖ）ファイバの直径が０．０２ｍｍでかつ平均機械的強度が５８ＭＰａ以上、７７ＭＰａ以上、１１５ＭＰａ以上および１５４ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
直径が８０ｍｍ、６０ｍｍ、４０ｍｍおよび３０ｍｍのボビンに、それぞれ巻くことにより、機械的破断寿命が２５年以上を満たすテルライトファイバを提供することが可能となる。
【実施例２】
【００３５】
機械的許容故障率を１０−５とした場合には、
（ｉ）ファイバの直径が０．１２ｍｍで、かつ平均機械的強度が４４１ＭＰａ以上、５８９ＭＰａ以上、８８５ＭＰａ以上および１１８０ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｉ）ファイバの直径が０．０８ｍｍで、かつ平均機械的強度が２９４ＭＰａ以上、３９２ＭＰａ以上、５８９ＭＰａ以上および７８６ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｉｉ）ファイバの直径が０．０４ｍｍで、かつ平均機械的強度が１４７ＭＰａ以上、１９６ＭＰａ以上、２９４ＭＰａ以上および３９２ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｖ）ファイバの直径が０．０２ｍｍで、かつ平均機械的強度が７３ＭＰａ以上、９８ＭＰａ以上、１４７ＭＰａ以上および１９６ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
直径が８０ｍｍ、６０ｍｍ、４０ｍｍおよび３０ｍｍのボビンに、それぞれ巻くことにより、機械的破断寿命が２５年以上を満たすテルライトファイバを提供することが可能となる。
【実施例３】
【００３６】
機械的許容故障率を１０−６とした場合には、
（ｉ）ファイバの直径が０．１２ｍｍで、かつ平均機械的強度が５６１ＭＰａ以上、７４８ＭＰａ以上、１１２１ＭＰａ以上および１４９５ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｉ）ファイバの直径が０．０８ｍｍで、かつ平均機械的強度が３７４ＭＰａ以上、４９９ＭＰａ以上、７４８ＭＰａ以上および９９７ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｉｉ）ファイバの直径が０．０４ｍｍで、かつ平均機械的強度が１８７ＭＰａ以上、２５０ＭＰａ以上、３７４ＭＰａ以上および４９９ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
（ｉｖ）ファイバの直径が０．０２ｍｍで、かつ平均機械的強度が９４ＭＰａ以上、１２５ＭＰａ以上、１８７ＭＰａ以上および２５０ＭＰａ以上であるテルライトファイバを、
直径が８０ｍｍ、６０ｍｍ、４０ｍｍおよび３０ｍｍのボビンに、それぞれ巻くことにより、機械的破断寿命が２５年以上を満たすテルライトファイバを提供することが可能となる。
【実施例４】
【００３７】
機械的許容故障率を１０−６とした場合には、平均機械的強度が５００ＭＰａのテルライトファイバにおいて、ファイバの線径（直径）が０．１２ｍｍ、０．０８ｍｍ、０．０４ｍｍ、０．０２ｍｍのテルライトファイバを、ボビン巻き径（直径）が９０ｍｍ、６０ｍｍ、３０ｍｍおよび１５ｍｍのボビンに、それぞれ巻くことにより、機械的破断寿命が２５年以上を満たすテルライトファイバを提供することが可能となる。
【００３８】
以上、機械的平均寿命が２５年以上を満たすテルライトファイバについて説明してきたが、例えば、ファイバモジュールの小型化、テルライトファイバの故障率が低いことが望ましいことなどを考慮すると、上記した事からも理解されるように、テルライトファイバの平均的機械強度が高いこと、あるいは、該機械強度のばらつきが小さい（機械的強度が一定している、すなわち、図１においてワイブルプロットが略直線となる）ことが要求される。機械強度を高めるとともに一定にするためには、テルライトファイバを構成する成分内容の改良ももちろん考慮されるところであるが、その他に、テルライトファイバの製造において、例えば、テルライトファイバの表面の傷の発生を防止したり、テルライトファイバをジャケット線引き法により延伸する前にジャケットや母材の残留応力を消去したり、ジャケットや母材の表面研磨を精密に行うなどの改良が考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】テルライトファイバの機械的強度の測定結果のワイブルプロットである。
【図２】平均強度が４６９ＭＰａであるテルライトファイバの、温度８０℃、相対湿度５０％における、静疲労試験結果を示すグラフである。
【図３】平均強度が４６９ＭＰａであるテルライトファイバの、温度８０℃、相対湿度５０％ならびに８０％における、ゼロストレスエイジング（Zero-stress aging）試験結果を示すグラフである。
【図４】平均強度４６９ＭＰａであるテルライトファイバの、温度８０℃、相対湿度５０％における、静疲労に対する平均破断寿命およびゼロストレスがない場合の破断寿命を示すグラフである。
【図５】平均強度が４６９ＭＰａであるテルライトファイバの、温度８０℃、相対湿度５０％、許容故障率１０−４、１０−５、１０−６における、外部応力に対する破断寿命を示すグラフである。
【図６】破断寿命２５年を保証できる曲げ応力とテルライトファイバの平均強度の関係を示すグラフである。
【図７】光増幅装置の例を示し、（Ａ）は、光増幅器、（Ｂ）は、レーザ装置、（Ｃ）は、ＡＳＥ光源装置である。
【符号の説明】
【００４０】
１      信号光源
２      励起光源
３      光カップラ
４      希土類添加テルライトファイバ
５      光アイソレータ
６      光ファイバ
７      狭帯域バンドパスフィルタ
８      反射体
【図１】
2005086183.tif 000004
【図２】
2005086183.tif 000005
【図３】
2005086183.tif 000006
【図４】
2005086183.tif 000007
【図５】
2005086183.tif 000008
【図６】
2005086183.tif 000009
【図７】
2005086183.tif 000010