(57)【要約】【課題】光ディスクの欠陥や外部からの振動によって生じる書き込みアクセスや読み出しアクセスの失敗を適切に処理することができる光ディスク装置と、そのような光ディスク装置をを有する撮影装置を提供する。  【解決手段】アクセスの再試行において、サーボ制御の不良やクロック信号再生処理の不良など、所定のアクセス失敗要因が光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生する場合、光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したとの判定がなされる。したがって、光ディスク２０の欠陥によって生じるアクセスの失敗を、他の原因によって生じるアクセスの失敗から明確に判別することができる。これにより、光ディスク２０の欠陥によって生じるアクセスの失敗に対して適切な処理を行うことが可能になる。【選択図】      図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクへのアクセスに失敗した場合、該失敗したアクセスを再び試みる光ディスク装置であって、
上記アクセスの再試行において、所定のアクセス失敗要因が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定するシステム制御部を有する、
光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスク装置に生じる振動を検出する振動検出部を有し、
上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、上記アクセス失敗要因が上記近傍範囲で繰り返し発生していない場合、アクセス失敗時に上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超えるならば、振動によってアクセスに失敗したと判定し、該振動が所定のしきい値を超えていないならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定する、
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記システム制御部は、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したとの判定が第１の時間または第１の回数を超えて繰り返された場合、上記アクセスの再試行を終了して第１のエラー処理を実行し、振動によってアクセスに失敗したとの判定が第２の時間または第２の回数を超えて繰り返された場合は、上記アクセスの再試行を終了して第２のエラー処理を実行する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
光学系を利用して上記光ディスクに光を照射し、上記光ディスクからの該光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、
上記記録トラックに対する上記光ピックアップの光の照射位置、ならびに上記光学系の焦点の位置を移動させる光ピックアップ駆動部と、
上記記録トラック上の指定された位置に、上記光学系の焦点が合った状態で光が照射されるように、上記光ピックアップの出力信号に応じて上記光ピックアップ駆動部をサーボ制御するサーボ制御部と、
を有し、
上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、上記サーボ制御部のサーボ制御の不良が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記光ディスクに光を照射し、上記光ディスクからの該光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、
上記光ピックアップの出力信号に基づいてクロック信号を再生する信号処理部と、
を有し、
上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、上記信号処理部のクロック信号再生処理の不良が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記光ディスクに光を照射し、上記光ディスクからの該光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、
上記光ピックアップの出力信号に基づいて上記光ディスク上のアドレスの情報を再生する信号処理部と、
を有し、
上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、上記信号処理部のアドレス情報再生処理の不良が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記光ディスクの回転速度を指定された速度に保つ回転制御部を有し、
上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、上記アクセス失敗要因が上記近傍範囲で繰り返し発生していない場合、アクセス失敗時に上記回転制御部で回転速度の制御に不良が起きたならば、振動によってアクセスに失敗したと判定する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
照射光に対する上記光ディスクの受光面の傾きを検出する傾き検出部を有し、
上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、上記アクセス失敗要因が上記近傍範囲で繰り返し発生していない場合、上記アクセス失敗時に上記傾き検出部で検出される傾きが所定のしきい値を超えるならば、振動によってアクセスに失敗したと判定する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
光ディスク上の指定されたアドレスにアクセスする光ディスク装置であって、
上記光ディスクの欠陥に起因して、上記光ディスク上の指定されたアドレスへのアクセスに失敗した場合、アドレスに関連する情報を上記光ディスクから読み出すことが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより第１のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更し、アドレスに関連する情報の読み出しが可能でなければ、上記光ディスクの所定の基準位置においてアクセスが可能であるか否かを調査し、該基準位置でのアクセスが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより上記第１のアドレス幅より長い第２のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更する、アクセス先変更処理を行うシステム制御部を有する、
光ディスク装置。
【請求項１０】
上記システム制御部は、アドレスに関連する情報の読み出しが可能でない場合、上記基準位置での上記調査を行う前に、上記アクセスに失敗したアドレスから所定のアドレス範囲内において読み出し可能なアドレスを検索し、該範囲内に読み出し可能なアドレスが存在するならば、アクセス先を該アドレスに変更し、該範囲内に読み出し可能なアドレスが存在しないならば、上記基準位置での上記調査を行う、
請求項９に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
上記システム制御部は、光ディスクへのアクセスに失敗した場合、該失敗したアクセスを再び試みる処理を行い、該アクセスの再試行において、所定のアクセス失敗要因が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定する際、該判定が所定の時間もしくは所定の回数を超えて繰り返されたときに、上記アクセス先変更処理を実行する、
請求項９に記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
光ディスク装置に生じる振動を検出する振動検出部を有し、
上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、所定のアクセス失敗要因が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生していない場合、アクセス失敗時に上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超えるならば、振動によってアクセスに失敗したと判定し、該振動が所定のしきい値を超えないならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定する、
請求項１１に記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
光ディスクに光を照射し、上記光ディスクからの該光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、上記光ピックアップからの出力信号に基づいて、上記光ディスクの記録トラックに対する上記光ピックアップの光の照射位置のずれを検出する信号処理部とを有する光ディスク装置であって、
光ディスク装置に生じる振動を検出する振動検出部と、
上記記録トラックに対する上記光の照射位置のずれが一定の限度を超えたか否かを、上記信号処理部における上記ずれの検出結果に応じて判定する際、該判定の基準として、上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超える場合と超えない場合とでそれぞれ異なる基準を用いるトラッキング誤差判定部と、
を有する光ディスク装置。
【請求項１４】
上記トラッキング誤差判定部は、上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値より小さい場合、上記信号処理部において検出される上記ずれの大きさが第１のしきい値を第１の時間にわたって超えるか否かに関連する第１の判定基準に従って上記判定を行い、上記振動検出部で検出される振動が上記所定のしきい値より大きい場合は、上記第１の判定基準に加えて、上記信号検出部において検出される上記ずれの大きさが上記第１のしきい値より大きい第２のしきい値を上記第１の時間より短い第２の時間にわたって超えるか否かに関連する第２の判定基準に従って上記判定を行う、
請求項１３に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
螺旋状に形成された記録トラックを有し、該記録トラックはそれぞれアドレスを割り当てられた複数の区画に区分されており、該区画内には、割り当てられたアドレスを再生するために必要な情報が上記記録トラックに沿って連続的に記録されている光ディスクにアクセスする場合、アクセス対象のアドレスの区画に光を照射し、該光の照射位置を上記光ディスクの周方向に移動させる場合は、上記記録トラックに沿う所定の一方の方向へ照射位置を移動させる光ディスク装置であって、
アクセス対象のアドレスに向かって上記光の照射位置を上記光ディスクの径方向に移動させる場合、移動後の上記光の照射位置が、上記一方の方向に向かう順序において上記アクセス対象の区画より少なくとも２つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越す上記記録トラックの周の数を決定するシステム制御部を有する、
光ディスク装置。
【請求項１６】
上記光ディスクからの上記光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、
上記光ピックアップの出力信号に基づいて上記光ディスク上の上記アドレスの情報を再生する信号処理部と、
を有し、
上記システム制御部は、アクセス対象のアドレスに向かって上記光の照射位置を上記光ディスクの径方向に移動させる場合、移動後の上記光の照射位置が、上記一方の方向に向かう順序において上記アクセス対象の区画より少なくとも３つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越す上記記録トラックの周の数を決定し、該決定した数に従って上記光の照射位置を移動させた後、上記一方の方向に上記光の照射位置を移動させて、上記記録トラック上で隣接する２つの区画のアドレス情報を上記信号処理部から取得し、該取得した２つのアドレス情報に応じて、アドレス情報の読み出しエラーを検出する、
請求項１５に記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、
上記光ディスク装置は、
光ディスクへのアクセスに失敗した場合、該失敗したアクセスを再び試み、該アクセスの再試行において、所定のアクセス失敗要因が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定するシステム制御部を有する、
撮影装置。
【請求項１８】
撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、
上記光ディスクの欠陥に起因して、上記光ディスク上の指定されたアドレスへのアクセスに失敗した場合、アドレスに関連する情報を上記光ディスクから読み出すことが可能であれば、上記書き込みアクセスに失敗したアドレスより第１のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更し、アドレスに関連する情報の読み出しが可能でなければ、上記光ディスクの所定の基準位置においてアクセスが可能であるか否かを調査し、該基準位置でのアクセスが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより上記第１のアドレス幅より長い第２のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更する、アクセス先変更処理を行うシステム制御部を有する、
撮影装置。
【請求項１９】
撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、
上記光ディスク装置は、
上記光ディスクに光を照射し、上記光ディスクからの該光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、
上記光ピックアップからの出力信号に基づいて、上記光ディスクの記録トラックに対する上記光ピックアップの光の照射位置のずれを検出する信号処理部と、
光ディスク装置に生じる振動を検出する振動検出部と、
上記記録トラックに対する上記光の照射位置のずれが一定の限度を超えたか否かを、上記信号処理部における上記ずれの検出結果に応じて判定する際、該判定の基準として、上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超える場合と超えない場合とでそれぞれ異なる基準を用いるトラッキング誤差判定部と、を有する、
撮影装置。
【請求項２０】
撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、
上記光ディスクは、螺旋状に形成された記録トラックを有し、該記録トラックはそれぞれアドレスを割り当てられた複数の区画に区分されており、該区画内には、割り当てられたアドレスを再生するために必要な情報が上記記録トラックに沿って連続的に記録された光ディスクであり、
上記光ディスク装置は、
光ディスクにアクセスする場合、アクセス対象のアドレスの区画に光を照射する制御を行い、該光の照射位置を上記光ディスクの周方向に移動させる場合は、上記記録トラックに沿う所定の一方の方向へ照射位置を移動させる制御を行い、アクセス対象のアドレスに向かって上記光の照射位置を上記光ディスクの径方向に移動させる場合は、移動後の上記光の照射位置が、上記一方の方向に向かう順序において上記アクセス対象の区画より少なくとも２つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越す上記記録トラックの周の数を決定するシステム制御部を有する、
撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置および光ディスク装置に撮影した画像のデータを記録する撮影装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、大容量のデータの記録用途には、磁気テープや光磁気テープなどのテープ型の記録メディアが主に用いられていたが、近年、ＤＶＤ（digital versatile disc）を始めとする光ディスクにおいて、テープ型記録メディアに比肩するような大容量データを扱うことが可能になってきている。そのため、これらの用途に光ディスクが用いるケースが増えている。
【０００３】
光ディスクでは、テープ型記録メディアのような巻き取り、送り出し操作を行うことなく、目的のアドレスへ高速にアクセスすることができるため、特にランダムなアクセスを行う場合、光ディスクはテープ型記録メディアに比べて桁違いに高速なアクセスが可能である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このように、光ディスクのデータ容量が大きくなり、データの記録構造が非常に高密度になった結果、大容量の光ディスクでは、製造時の微妙な条件によって欠陥が生じ易くなっている。そのため、光ディスク装置には、光ディスクの欠陥によって生じるアクセスの失敗を適切に処理することが求められている。
【０００５】
一方、光ディスクは、例えば撮影装置などのように、移動環境において使用される機器の大容量記録メディアとしても期待されている。そのため、光ディスク装置には、外部からの衝撃によって生じるアクセスの失敗を適切に処理することも求められている。
【０００６】
例えば、振動によって生じたアクセスの失敗を、光ディスクの欠陥によって生じたアクセスの失敗として誤って判断し、欠陥のないアドレスを欠陥のあるアドレスとしてスキップしてしまうと、実際は使用可能な記憶領域を無駄にしてしまうことになる。
【０００７】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、光ディスクの欠陥や外部からの振動によって生じるアクセスの失敗を適切に処理することができる光ディスク装置と、そのような光ディスク装置を有する撮影装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の発明は、光ディスクへのアクセスに失敗した場合、該失敗したアクセスを再び試みる光ディスク装置であって、上記アクセスの再試行において、所定のアクセス失敗要因が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定するシステム制御部を有する。
【０００９】
上記第１の発明によれば、アクセスの再試行において、所定のアクセス失敗要因が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したとの判定がなされる。これにより、上記光ディスクの欠陥によって生じるアクセスの失敗を、他の原因によって生じるアクセスの失敗から判別することが可能になる。
【００１０】
好適には、上記第１の発明は、光ディスク装置に生じる振動を検出する振動検出部を有し、上記システム制御部は、上記アクセスの再試行において、上記アクセス失敗要因が上記近傍範囲で繰り返し発生していない場合、アクセス失敗時に上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超えるならば、振動によってアクセスに失敗したと判定し、該振動が所定のしきい値を超えていないならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定する。
これにより、上記光ディスクの欠陥によって生じるアクセスの失敗と、振動によって生じるアクセスの失敗とを判別することが可能になる。
【００１１】
また、上記システム制御部は、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したとの判定が第１の時間または第１の回数を超えて繰り返された場合、上記アクセスの再試行を終了して第１のエラー処理を実行し、振動によってアクセスに失敗したとの判定が第２の時間または第２の回数を超えて繰り返された場合は、上記アクセスの再試行を終了して第２のエラー処理を実行しても良い。
これにより、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗する場合と、振動によってアクセスに失敗する場合とで、エラー処理に移行する条件が別々に設定される。
【００１２】
本発明の第２の発明は、光ディスク上の指定されたアドレスにアクセスする光ディスク装置であって、上記光ディスクの欠陥に起因して、上記光ディスク上の指定されたアドレスへのアクセスに失敗した場合、アドレスに関連する情報を上記光ディスクから読み出すことが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより第１のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更し、アドレスに関連する情報の読み出しが可能でなければ、上記光ディスクの所定の基準位置においてアクセスが可能であるか否かを調査し、該基準位置でのアクセスが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより上記第１のアドレス幅より長い第２のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更する、アクセス先変更処理を行うシステム制御部を有する。
【００１３】
上記第２の発明によれば、上記光ディスクの欠陥に起因して、上記光ディスク上の指定されたアドレスへのアクセスに失敗した場合、アドレスに関連する情報を上記光ディスクから読み出すことが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより第１のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先が変更される。一方、アドレスに関連する情報の読み出しが可能でなければ、上記光ディスクの所定の基準位置においてアクセスが可能であるか否かの調査が行われ、該基準位置でのアクセスが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより上記第１のアドレス幅より長い第２のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先が変更される。
これにより、上記光ディスクの欠陥の状態に応じた適切なアドレス幅だけ離れた位置に、アクセス先が変更される。
【００１４】
本発明の第３の発明は、光ディスクに光を照射し、上記光ディスクからの該光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、上記光ピックアップからの出力信号に基づいて、上記光ディスクの記録トラックに対する上記光ピックアップの光の照射位置のずれを検出する信号処理部とを有する光ディスク装置であって、光ディスク装置に生じる振動を検出する振動検出部と、上記記録トラックに対する上記光の照射位置のずれが一定の限度を超えたか否かを、上記信号処理部における上記ずれの検出結果に応じて判定する際、該判定の基準として、上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超える場合と超えない場合とでそれぞれ異なる基準を用いるトラッキング誤差判定部とを有する。
【００１５】
上記第３の発明によれば、上記トラッキング誤差判定部において、上記記録トラックに対する上記光の照射位置のずれが一定の限度を超えたか否かを、上記信号処理部における上記ずれの検出結果に応じて判定する際に、その判定の基準として、上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超える場合と超えない場合とで、それぞれ異なる基準が用いられる。
これにより、外部より与えられる振動に応じて、上記記録トラックに対する上記光の照射位置のずれが一定の限度を超えたか否かの判定の基準を適切に設定することが可能になり、判定の精度が向上する。
【００１６】
本発明の第４の発明は、螺旋状に形成された記録トラックを有し、該記録トラックはそれぞれアドレスを割り当てられた複数の区画に区分されており、該区画内には、割り当てられたアドレスを再生するために必要な情報が上記記録トラックに沿って連続的に記録されている光ディスクにアクセスする場合、アクセス対象のアドレスの区画に光を照射し、該光の照射位置を上記光ディスクの周方向に移動させる場合は、上記記録トラックに沿う所定の一方の方向へ照射位置を移動させる光ディスク装置であって、アクセス対象のアドレスに向かって上記光の照射位置を上記光ディスクの径方向に移動させる場合、移動後の上記光の照射位置が、上記一方の方向に向かう順序において上記アクセス対象の区画より少なくとも２つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越す上記記録トラックの周の数を決定するシステム制御部を有する。
【００１７】
上記第４の発明によれば、アクセス対象のアドレスに向かって上記光の照射位置を上記光ディスクの径方向に移動させる場合、移動後の上記光の照射位置が、上記一方の方向に向かう順序において上記アクセス対象の区画より少なくとも２つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越す上記記録トラックの周の数が決定される。
【００１８】
本発明の第５の発明は、撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、上記光ディスク装置は、光ディスクへのアクセスに失敗した場合、該失敗したアクセスを再び試み、該アクセスの再試行において、所定のアクセス失敗要因が上記光ディスク上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、上記光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したと判定するシステム制御部を有する。
【００１９】
本発明の第６の発明は、撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、上記光ディスクの欠陥に起因して、上記光ディスク上の指定されたアドレスへのアクセスに失敗した場合、アドレスに関連する情報を上記光ディスクから読み出すことが可能であれば、上記書き込みアクセスに失敗したアドレスより第１のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更し、アドレスに関連する情報の読み出しが可能でなければ、上記光ディスクの所定の基準位置においてアクセスが可能であるか否かを調査し、該基準位置でのアクセスが可能であれば、上記アクセスに失敗したアドレスより上記第１のアドレス幅より長い第２のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更する、アクセス先変更処理を行うシステム制御部を有する。
【００２０】
本発明の第７の発明は、撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、上記光ディスク装置は、上記光ディスクに光を照射し、上記光ディスクからの該光の反射光を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、上記光ピックアップからの出力信号に基づいて、上記光ディスクの記録トラックに対する上記光ピックアップの光の照射位置のずれを検出する信号処理部と、光ディスク装置に生じる振動を検出する振動検出部と、上記記録トラックに対する上記光の照射位置のずれが一定の限度を超えたか否かを、上記信号処理部における上記ずれの検出結果に応じて判定する際、該判定の基準として、上記振動検出部で検出される振動が所定のしきい値を超える場合と超えない場合とでそれぞれ異なる基準を用いるトラッキング誤差判定部とを有する。
【００２１】
本発明の第８の発明は、撮影した画像データを光ディスクに記録する光ディスク装置を有した撮影装置であって、上記光ディスクは、螺旋状に形成された記録トラックを有し、該記録トラックはそれぞれアドレスを割り当てられた複数の区画に区分されており、該区画内には、割り当てられたアドレスを再生するために必要な情報が上記記録トラックに沿って連続的に記録された光ディスクであり、上記光ディスク装置は、光ディスクにアクセスする場合、アクセス対象のアドレスの区画に光を照射する制御を行い、該光の照射位置を上記光ディスクの周方向に移動させる場合は、上記記録トラックに沿う所定の一方の方向へ照射位置を移動させる制御を行い、アクセス対象のアドレスに向かって上記光の照射位置を上記光ディスクの径方向に移動させる場合は、移動後の上記光の照射位置が、上記一方の方向に向かう順序において上記アクセス対象の区画より少なくとも２つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越す上記記録トラックの周の数を決定するシステム制御部を有する。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、第１に、光ディスクの欠陥により発生したアクセスの失敗と、外部から加えられる振動等により発生したアクセスの失敗とを判別することが可能になる。
第２に、光ディスクの欠陥に起因してアクセスに失敗した場合、欠陥の状態に応じた適切なアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先を変更することにより、アクセスの失敗による処理の遅延を小さくすることができる。
第３に、外部より与えられる振動に応じて、光ディスクの記録トラックに対する光の照射位置のずれが一定の限度を超えたか否かの判定の基準を適切に設定することにより、該判定の精度を高めることができる。
第４に、シーク動作後のアドレス情報の読み出しによってレーザー光の照射位置がアクセス対象のアドレスを通過してしまう不具合を防ぐことにより、無駄なシーク動作の繰り返しをなくして、シーク動作を高速化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の６つの実施形態について、図面を参照して説明する。
【００２４】
＜第１の実施形態＞
ランダムアクセス可能な光ディスクを、磁気テープに代えて、映像信号の再生用、例えば、ＣＡＭコーダ、ビデオ信号記録再生デッキなどに用いることが試みられている。
特に、光ディスクの小型化、記憶容量の大容量化が達成されつつあり、上記の目的に叶うようになってきた。
ところで、光ディスクには、線速度一定で駆動するＣＬＶ（constant linear velocity）方式と、角速度一定で駆動するＣＡＶ（constant angular velocity）とが知られており、両者とも一長一短がある。
例えば、ＣＡＭコーダのような小型の映像機器に光ディスクを使用する場合、光ディスクを駆動するスピンドルモータなどにも制約がおこる。
すなわち、線速度一定で駆動するようにフォーマットされた光ディスクをＣＡＭコーダの記録媒体に適用した場合、小型のスピンドルモータの性能の限界によって、光ディスクの全ての領域を線速度一定で使用できない場合がおこる。
そこで、本願発明者らは、後述の図１１に示すように、ＣＬＶでフォーマットされた光ディスクについて、中央部分から一定のトラックまでは、スピンドルモータの回転数を一定で駆動するＣＡＶ方式で駆動し、そのトラックから光ディスクの周縁部までの領域については、スピンドルモータの回転数をトラックの位置に応じて変化させるＣＬＶ方式で駆動することを提案する。
このような駆動方式を、リミテッドＣＬＶ（ＬＣＬＶ）方式と呼ぶ。
【００２５】
なお、ＣＡＭコーダには各種の光ディスクが交換されて搭載されることがある。したがって、本発明の実施形態に係る光ディスク装置においては、ＬＣＬＶ方式のみならず、ＣＬＶ方式で駆動する場合や、ＣＡＶ方式で駆動する場合にも対応可能として良い。
＜第２の実施形態＞
【００２６】
図１は、本発明の実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示す図である。
図１に示す光ディスク装置は、インターフェース部１と、ＦＩＦＯ部２と、データ処理部３と、書き込み処理部４と、光ピックアップ５と、ＲＦ信号処理部１０と、読み出し処理部１１と、スキュー検出部１２と、振動検出部１３と、光ピックアップ駆動部１４と、モータ制御部１５と、スピンドルモータ１６と、サーボ制御部１７と、システム制御部１８とを有する。
また、図１の例において、光ピックアップ５は、パワー制御部６と、レーザーダイオード７と、光学系８と、光検出部９とを有する。
【００２７】
上述の構成において、システム制御部１７は、本発明のシステム制御部の一実施形態である。
振動検出部１３は、本発明の振動検出部の一実施形態である。
光ピックアップ５は、本発明の光ピックアップの一実施形態である。
光ピックアップ駆動部１４は、本発明の光ピックアップ駆動部の一実施形態である。
サーボ制御部１７は、本発明のサーボ制御部１７の一実施形態である。
ＲＦ信号処理部１０および読み出し処理部１１を含むユニットは、本発明の信号処理部の一実施形態である。
モータ制御部１５は、本発明の回転制御部の一実施形態である。
スキュー検出部１２は、本発明の傾き検出部の一実施形態である。
【００２８】
以下では、図１に示す光ディスク装置のこれらの構成要素についてそれぞれ説明する。
【００２９】
インターフェース部１は、光ディスク２０への書き込みデータを図示しない外部装置から入力する処理や、光ディスク２０からの読み出しデータを外部装置へ出力する処理を行う。また、外部装置から入力される各種の命令をシステム制御部１８に渡す処理や、システム制御部１８より発せられる応答メッセージを外部装置に渡す処理を行う。
インターフェース部１は、例えばＡＴＡ（AT Attachment）等の汎用のインターフェース規格に従って、上述したような外部装置とのインターフェース処理を行う。
【００３０】
ＦＩＦＯ部２は、インターフェース部１からデータ処理部３へ入力される書き込みデータ、および、データ処理部３からインターフェース部１へ出力される読み出しデータを一時的に保持する。
【００３１】
データ処理部３は、光ディスク２０の書き込みデータ、読み出しデータに対する種々のデータ処理を行う。
例えば、インターフェース部１より入力される書き込みデータに対して、光ディスク２０の所定の記録フォーマットに従った所定の符号化処理（誤り訂正符号化処理など）を施して、光ディスク２０に書き込まれる形式のデータに変換する処理を行う。また、読み出し処理部１１から入力される読み出しデータに対して、上述した符号化処理とは逆の復号化処理を施して、書き込み前のデータを再生する処理を行う。
【００３２】
書き込み処理部４は、データ処理部３において処理された書き込みデータに基づいて、レーザーダイオード７の駆動に用いる書き込みパルス信号を生成する。書き込み処理部４は、書き込みパルス信号の振幅やパルス幅を、書き込み先の光ディスク２０の種類に応じて適切に設定する。
【００３３】
パワー制御部６は、光学系８よりフィードバックされるレーザーダイオード７の出力パワーを検出し、これと書き込みパルス信号において指示される出力パワーとが等しくなるように、レーザーダイオード７の発光光量を制御する。
【００３４】
レーザーダイオード７は、パワー制御部６の制御に応じたパワーを有するレーザー光を発生する。
【００３５】
光学系８は、レーザーダイオード７において発生したレーザ光を導いて、光ディスク２０の受光面に収束させる。また、レーザーダイオード７において発生したレーザー光の一部をパワー制御部６に戻すとともに、光ディスク２０からの反射光を光検出部９に導く。
なお、光ディスク２０に対する光学系８のフォーカスの位置は、光ピックアップ駆動部１４の駆動によって変化する。
【００３６】
光検出部９は、光ディスク２０からの反射光を電気信号に変換する。
光検出部９は、光ディスク２０に記録される情報の他にも、光ディスク２０の記録トラックとレーザー光の照射位置とのずれ（トラッキングエラー）や、光ディスク２０に対する光学系８のフォーカスのずれ（フォーカスエラー）などの情報が得られるように構成されている。
例えば、光ディスク２０からの反射光を受ける平面上の対称な複数の位置において反射光の強度を検出できるように配置された、複数の光検出素子を有している。
【００３７】
ＲＦ信号処理部１０は、光検出部９において変換された電気信号に対して、増幅や２値化等のＲＦ信号処理を施すことにより、光ディスク２０の記録データに応じた読み出しデータを生成する。
【００３８】
また、ＲＦ信号処理部１０は、光検出部９の出力信号に応じて、上述したトラッキングエラーやフォーカスエラーに関連する信号を生成し、サーボ制御部１７に出力する。例えば、光検出部９に含まれる上述した複数の光検出素子の検出結果に加算や減算等の処理を施して、トラッキングエラーやフォーカスエラーに関連する信号を生成する。これらの信号は、後述するサーボ制御部１７においてサーボ制御に用いられる。
【００３９】
また、本実施形態では、一例として、光ディスク２０の記録トラックにウォブルが形成されているものとする。ウォブルとは、記録トラックの側面に設けられた周期的な蛇行形状であり、書き込み等のアクセスを行う際に基準となるクロック信号の情報や、記録トラック上におけるアドレスの情報などが、ウォブルとして光ディスク２０に埋め込まれている。
ＲＦ信号処理部１０は、このウォブルに応じた周期的信号成分（ウォブル信号）を光検出部９の出力信号から抽出し、読み出し処理部１１に出力する。
【００４０】
読み出し処理部１１は、ＲＦ信号処理部１０から出力されるウォブル信号に基づいて基準クロック信号を再生する処理や、ウォブル信号を復調して記録トラック上におけるアドレス情報を再生する処理など、光ディスク２０から読み出される信号に対する種々の処理を行う。
【００４１】
スキュー検出部１２は、光ピックアップ５からの照射光に対する光ディスク２０の受光面の傾きを検出する。この光ディスク２０の傾きは、例えば、光ディスク２０の回転軸に対し水平な方向に加えられる衝撃で光ディスク２０の外周部がぶれることにより生じる。
【００４２】
振動検出部１３は、光ディスク装置に生じる振動を検出する。振動の検出には、例えば加速度センサーを用いる。
【００４３】
光ピックアップ駆動部１４は、サーボ制御部１７の制御に従って、記録トラックに対する光ピックアップのレーザ光の照射位置や、光学系８のフォーカスの位置を移動させる。例えば、光ピックアップ５を光ディスク２０の面に沿った方向や面に垂直な方向へスライドさせるアクチュエータを有する。
【００４４】
モータ制御部１５は、光ディスク２０の回転速度がシステム制御部１８によって指定された回転速度に保たれるように、スピンドルモータ１６を制御する。
【００４５】
スピンドルモータ１６は、モータ制御部１５の制御に従って、光ディスク２０を回転駆動する。
【００４６】
サーボ制御部１７は、光ディスク２０の記録トラック上の指定された位置に、光学系８のフォーカスが合った状態で光ピックアップ５のレーザー光が照射されるように、ＲＦ信号処理部１０で生成されるトラッキングエラーやフォーカスエラーの信号に応じて、光ピックアップ駆動部１４をサーボ制御する。
【００４７】
また、サーボ制御部１７は、スキュー検出部１２や振動検出部１３の検出結果に応じて、外部からの衝撃により振動が生じた場合でも上述したサーボ制御が働くように、光ピックアップ駆動部１４を制御する。光ピックアップ５と光ディスク２０との衝突の危険が生じた場合には、衝突が回避されるように光ピックアップ駆動部１４を制御する。
【００４８】
更に、サーボ制御部１７は、記録トラック上の指定された位置にレーザー光を照射させるサーボ制御（トラッキング制御）や、光学系８のフォーカスを記録トラック上に合わせるサーボ制御（フォーカス制御）のロックが外れた場合、これをシステム制御部１８に通知する。
【００４９】
システム制御部１８は、光ディスク装置の全体的な動作に関わる種々の処理を行う。
例えば、インターフェース部１を介して入力される外部装置からの命令の取得や外部装置へのメッセージの送出、ＦＩＦＯ部２に格納される書き込みデータや読み出しデータのデータ量の監視、読み出し処理部１１において再生される光ディスク２０のアドレス情報の取得、データ処理部３やサーボ制御部１７における処理の指示などを行う。
【００５０】
また、システム制御部１８は、光ディスク２０へのアクセスに失敗した場合に、失敗したアクセスを再び試みる処理を行う。そして、このアクセスの再試行において、サーボ制御の不良やアドレス情報の読み出し不良などのアクセス失敗要因が光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、光ディスク２０の欠陥によってアクセスに失敗したと判定する処理を行う。
【００５１】
また、システム制御部１８は、光ディスク２０の欠陥に起因して、光ディスク２０上の指定されたアドレスへのアクセスに失敗したと判定した場合、読み出し処理部１１においてアドレス情報を読み出すことが可能であれば、アクセスに失敗したアドレスより所定のアドレス幅（第１のアドレス幅）だけ離れたアドレスへアクセス先を変更する処理を行う。一方、読み出し処理部１１においてアドレス情報の読み出しが可能でない場合（例えばサーボ制御部１８によるトラッキング制御やフォーカス制御のロックが全く外れた場合）、光ディスク２０の所定の基準位置（例えば光ディスク２０の最内周）においてアクセスが可能であるか否かを調査し、この基準位置でのアクセスが可能であれば、アクセスに失敗したアドレスより所定のアドレス幅（第１のアドレス幅より長い第２のアドレス幅）だけ離れたアドレスへアクセス先を変更する処理を行う。
【００５２】
次に、上述した構成を有する図１に示す光ディスク装置において、読み出しアクセスもしくは書き込みのアクセス（以降、Ｒ／Ｗアクセスと略記する）を実行する場合の動作を説明する。
【００５３】
図２〜図４は、Ｒ／Ｗアクセス処理の一例を示すフローチャートである。
【００５４】
Ｒ／Ｗアクセスの実行にあたり、システム制御部は、次の定数を設定する。
【００５５】
（外的要因タイムアウト時間Ｔｓ）
外的要因タイムアウト時間Ｔｓは、振動などの外的要因によってアクセスに失敗した場合にアクセスの再試行を繰り返すことができる時間の上限を示す。ただし、上限時間の起点は、外部装置からシステム制御部１８に対して書き込みもしくは読み出しアクセスの実行を指示する命令が発行された時点である。
【００５６】
（欠陥時の再試行回数上限値Ｎｄ）
欠陥時の再試行回数上限値Ｎｄは、光ディスク２０の欠陥によって再試行を行う場合の再試行回数の上限値を示す。
【００５７】
（内部エラー時の再試行回数上限値Ｎｉ）
欠陥時の再試行回数上限値Ｎｄは、光ディスク装置の内部の要因によって再試行を行う場合の再試行回数の上限値を示す。
【００５８】
（シーク開始前タイムアウト時間Ｔｔ）
シーク処理を開始する前にアクセスの再試行を繰り返すことができる時間の上限を示す。上限時間の起点は外的要因タイムアウト時間Ｔｓと同じである。
【００５９】
（内部要因タイムアウト時間Ｔｉ）
光ディスク装置の内部の要因によってアクセスに失敗した場合に再試行を行うことができる時間の上限を示す。上限時間の起点は外的要因タイムアウト時間Ｔｓと同じである。
【００６０】
これらの定数は、例えば、外部装置からインターフェース部１を介してシステム制御部１８に与えられる。
【００６１】
外部装置においてＲ／Ｗアクセスの命令が発行されると、システム制御部１８は、命令発行の時点から、その内部のタイマーにおいて計時を開始する。
【００６２】
まずシステム制御部１８は、このタイマーの値と、外的要因タイムアウト時間Ｔｓとを比較し（ステップＳＴ１００）、タイマー値がこの上限を超えている場合、アクセスの再試行を終了して、所定のエラー処理を実行する（ステップＳＴ１０２）。例えば、衝撃等の外的要因によるエラーが生じたことを外部装置に通知する処理を行う。
【００６３】
タイマー値が外的要因タイムアウト時間Ｔｓを超えていない場合、システム制御部１８は、シーク動作が可能であるか否かを調べる（ステップＳＴ１０４）。
シーク動作が可能でない場合、その原因が、アドレスの読み出し不良によるものであるか否かを調べる（ステップＳＴ１０６）。例えば、サーボ制御部１７におけるトラッキング制御やフォーカス制御のロックが全く外れてしまうことにより、アドレス情報を読み出せなくなっているかを調べる。このようなエラーが生じておらず、光ディスク２０からアドレスを読み出すことが可能であれば、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。
【００６４】
一方、アドレス情報を読み出すことができない場合、システム制御部１８は、上述したタイマーの値とシーク開始前タイムアウト時間Ｔｔとを比較する（ステップＳＴ１０８）。タイマー値がこの上限を超えていない場合は、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。タイマー値がこの上限値を超えている場合は、光ディスク２０の基準位置においてアクセス可能か否かを調べる基準位置静止動作ＳＴ１１０を実行する。基準位置静止動作ＳＴ１１０については、後ほど図５および図６を参照して詳しく説明する。
【００６５】
ステップＳＴ１０４においてシーク動作が可能と判定された場合、システム制御部１８は、シーク動作を開始させる（ステップＳＴ１１２）。シーク動作では、光ディスク２０の径方向へ記録トラックを飛び越しながらレーザ光の照射位置を移動させることにより、Ｒ／Ｗアクセスの開始目標アドレスが含まれるトラック（１周分の記録トラック）に対して１つ手前のトラックに、アクセス対象のアドレスをジャンプさせる。
【００６６】
このようなシーク動作が終了するまでの間、システム制御部１８は、上述したタイマー値が外的要因タイムアウト時間Ｔｓを超えるか否か監視する（ステップＳＴ１１４，ＳＴ１１８）。衝撃等によりシーク動作が終了せず、タイマー値が外的要因タイムアウト時間Ｔｓを超えてしまう場合は、アクセスの再試行を終了して、ステップＳＴ１０２と同様なエラー処理を実行する（ステップＳＴ１１６）。
【００６７】
シーク動作が終了すると、システム制御部１８は、シーク動作に失敗したか否かを判定する（ステップＳＴ１２０）。
【００６８】
シーク動作に失敗した場合、システム制御部１８は、この失敗が小欠陥エラーによるものであるか否かを判定する（ステップＳＴ１２２）。ここで、小欠陥エラーは、光ディスクの比較的小範囲の欠陥によって生じるアクセスエラーを意味する。サーボ制御部１７におけるフォーカス制御やトラッキング制御のロックが外れてしまう等により、アドレス情報を全く読み出すことができなくなるような深刻な状態でない場合が、小欠陥エラーに含まれる。
【００６９】
システム制御部１８は、所定のアクセス失敗要因が光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生する場合、この近傍範囲に光ディスクの欠陥が生じていると判定する。そして、このアクセス失敗要因が、アドレス情報を読み出せなくなる程に深刻な失敗要因でない場合、光ディスク２０に小欠陥が生じていると判定する。例えば、サーボ制御部１７において一時的にフォーカス制御やトラッキング制御のロックが外れてしまうエラーや、読み出し処理部１１におけるクロック信号再生処理が一時的に不良になるエラーなどが、光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生する場合、光ディスク２０上の小欠陥によってアクセス（このステップではシーク動作）に失敗したと判定する。
【００７０】
光ディスク２０上の小欠陥によってシーク動作に失敗したと判定した場合、システム制御部１８は、所定のエラー処理を実行する。例えば、Ｒ／Ｗアクセスの開始目標アドレスを、アクセスに失敗した当初のアドレスより所定のアドレス幅（第１のアドレス幅）だけ離れた位置に変更して、再びＲ／Ｗアクセスを実行する。
【００７１】
小欠陥によってシーク動作に失敗したのではないと判定した場合、システム制御部１８は、光ディスク２０からのアドレス情報の読み出しが可能であるか否かを判定する（ステップＳＴ１２６）。例えば、サーボ制御部１７においてサーボ制御のロックが完全に外れてしまう等のエラーが生じているか否かを判定する。このようなエラーによってアドレス情報の読み出しができない場合、システム制御部１８は、後述する基準位置静止動作を実行する（ステップＳＴ１２８）。
一方、アドレス情報の読み出しが可能である場合は、振動によるエラーと推定されるため、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。
【００７２】
ステップＳＴ１２０において、シーク動作が正常に終了したと判定された場合、システム制御部１８は、シーク動作後のアドレスからＲ／Ｗアクセスの開始目標アドレスに向かって、レーザ光の照射位置を進める制御を行う。そして、Ｒ／Ｗアクセスの開始目標アドレスに到達するまでの間に、サーボ制御部１７においてフォーカス制御やトラッキング制御のロックが外れてしまったり、レーザ光の照射位置が開始目標アドレスの１つ手前のトラックより外れてしまう等のエラーが発生していないか監視する（ステップＳＴ１３０，ＳＴ１３２，ＳＴ１３４）。
【００７３】
このようなエラーが発生した場合、システム制御部１８は、衝撃等の外部要因で発生したエラーであるか否かを判定する（ステップＳＴ１３６）。この判定の詳細については、後ほど図７を参照して詳しく説明する。衝撃等の外部要因によって生じたエラーと判定した場合は、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。
【００７４】
一方、光ディスク２０の欠陥によってエラーが生じたと判定した場合、システム制御部１８は、これまでのアクセスの再試行において、光ディスク２０の欠陥によりアクセス失敗したとの判定を下した通算回数（Ｄ＿Ｒｅｔｒｙ）が、上述した再試行回数上限値Ｎｄを超えているか否か判定する（ステップＳＴ１３８）。この上限値を超えていない場合は、通算回数Ｄ＿Ｒｅｔｒｙに１を加えた後、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。通算回数Ｄ＿Ｒｅｔｒｙが上限値を超えている場合は、アクセスの再試行動作を終了して、後述の欠陥エラー処理（図８参照）を行う（ステップＳＴ１４０）。
【００７５】
ステップＳＴ１３４においてレーザ光の照射位置がＲ／Ｗアクセスの開始目標アドレスに到達したと判定した場合、システム制御部１８は、Ｒ／Ｗアクセスを開始可能であるか否か判定する（ステップＳＴ１４２）。例えば、ＦＩＦＯ部２に十分な空き領域が存在するか否かを調べる。
【００７６】
Ｒ／Ｗアクセスを開始できないと判定した場合、システム制御部１８は、上述したタイマーの値と内部要因タイムアウト時間Ｔｉとを比較する（ステップＳＴ１４４）。タイマー値が内部要因タイムアウト時間Ｔｉを超えていない場合は、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行し、超えている場合は、所定のエラー処理を実行する（ステップＳＴ１４６）。例えば、ＦＩＦＯ部２等の内部要因によってＲ／Ｗアクセスの開始に失敗したことを外部装置に通知する処理を行う。
【００７７】
ステップＳＴ１４２においてＲ／Ｗアクセスを開始できると判定した場合、システム制御部１８は、Ｒ／Ｗアクセスを開始する（ステップＳＴ１４８）。そして、アクセス中にエラーが発生しなければ、Ｒ／Ｗアクセス処理を終了する。
【００７８】
一方、アクセス中にエラーが発生した場合、システム制御部１８は、そのエラーがレーザーダイオード７の発光不良やパワー制御部６の制御不良によるものか否かを判定する（ステップＳＴ１５２）。
【００７９】
このような内部要因のエラーが発生したと判定した場合、システム制御部１８は、内部要因のエラーによりアクセス失敗したとの判定を下した通算回数（Ｉ＿Ｒｅｔｒｙ）が、上述した再試行回数上限値Ｎｉを超えているか否か判定する。この上限値を超えていない場合は、通算回数Ｉ＿Ｒｅｔｒｙに１を加えた後、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。通算回数Ｉ＿Ｒｅｔｒｙが上限値を超えている場合は、所定の内部エラー処理を実行する（ステップＳＴ１５６）。例えば、レーザーダイオード７等の内部要因によってＲ／Ｗアクセスの失敗したことを外部装置に通知する処理を行う。
【００８０】
ステップＳＴ１５２において、レーザーダイオード７等の内部要因によりエラーが発生したものでないと判定した場合、システム制御部１８は、そのエラーが光ディスク２０の欠陥によるものであるか否かの判定を行う（ステップＳＴ１５８）。この判定の詳細については、ステップＳＴ１３６と同様に、後ほど説明する。
【００８１】
ステップＳＴ１５８において、光ディスク２０の欠陥によるエラーでないと判定した場合、システム制御部１８は、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。
【００８２】
一方、光ディスク２０の欠陥によってエラーが生じたと判定した場合、システム制御部１８は、欠陥判定の通算回数Ｄ＿Ｒｅｔｒｙが、上述した再試行回数上限値Ｎｄを超えているか否か判定する（ステップＳＴ１６０）。この上限値を超えていない場合は、通算回数Ｄ＿Ｒｅｔｒｙに１を加えた後、ステップＳＴ１００に戻って、Ｒ／Ｗアクセス処理を再び実行する。通算回数Ｄ＿Ｒｅｔｒｙが上限値を超えている場合は、アクセスの再試行動作を終了して、後述の欠陥エラー処理（図８参照）を行う（ステップＳＴ１６２）。
【００８３】
以上が、図２〜図４に示すＲ／Ｗアクセス処理の説明である。
【００８４】
次に、図２のステップＳＴ１１０、ＳＴ１２８における基準位置静止動作の詳細を説明する。
図５および図６は、基準位置静止動作を実行する際の処理の一例を示すフローチャートである。
【００８５】
まずシステム制御部１８は、Ｒ／Ｗアクセスに関わる動作を停止させる処理を行い（ステップＳＴ２００）、レーザーダイオード７の発光等が停止していることを確認する（ステップＳＴ２０２）。
【００８６】
Ｒ／Ｗアクセスに関わる動作の停止を確認した後、システム制御部１８は、光ディスク２０の所定の基準位置（例えば、光ディスク２０の最も内周の領域）にレーザー光の照射位置を移動させて静止する処理を実行する（ステップＳＴ２０４）。
【００８７】
図６は、このステップＳＴ２０４における処理の一例を示すフローチャートである。
システム制御部１８は、レーザー光の照射位置を光ディスク２０の所定の基準位置に移動させる命令を実行した後（ステップＳＴ３００）、移動が終わったことを示す信号が光ピックアップ部５から入力されることを確認する（ステップＳＴ３０２）。
【００８８】
レーザー光の照射位置の移動を確認すると、システム制御部１８は、この基準位置において光ディスク２０へのアクセスが可能であるか否かを調べる（ステップＳＴ２０６）。例えば、基準位置においてアドレス情報を読み出すことが可能であるか否か調べる。基準位置において光ディスク２０にアクセスできない場合や、レーザー光の照射位置の移動に失敗したことを示す信号が光ピックアップ部５から出力される場合、システム制御部１８は、所定の内部エラー処理（例えば、内部要因によって基準位置静止動作に失敗したことを外部装置に通知する処理等）を実行して、基準位置静止動作を終了する（ステップＳＴ２０８）。
【００８９】
基準位置においてアドレス情報を読み出すことが可能である場合、システム制御部１８は、この基準位置静止動作を呼び出す前にエラーを生じた位置へ、再びシーク動作を実行する（ステップＳＴ２１０）。そして、シークした位置においてアドレス情報を読み出す等の処理を実行して、シーク動作が正常に終了したか否かを確認する（ステップＳＴ２１２）。確認の結果、シーク動作を正常に行うことができた場合には、Ｒ／Ｗアクセス動作に復帰するための処理を実行して、基準位置静止動作を終了する（テップＳＴ２１４）。
【００９０】
ステップＳＴ２１２において、再びシーク動作に失敗したと判定した場合、システム制御部１８は、図６に示す基準位置へのレーザー光照射位置の移動を再び実行し（ステップＳＴ２１６）、基準位置において光ディスク２０へのアクセスが可能であるか否かを調べる（ステップＳＴ２１８）。基準位置において光ディスク２０にアクセスできない場合、システム制御部１８は、所定の内部エラー処理を実行して、基準位置静止動作を終了する（ステップＳＴ２２２）。
【００９１】
一方、基準位置においてアドレス情報を読み出すことが可能である場合、システム制御部１８は、ステップＳＴ２１２においてシーク動作に失敗したと判定された位置に大欠陥エラーが生じていると判定し、所定のエラー処理を実行する（ステップＳＴ２２０）。
【００９２】
ここで、大欠陥エラーは、光ディスクの比較的広い範囲の欠陥によって生じるアクセスエラーを意味する。例えば、周方向に伸びる大きな欠陥によって、サーボ制御部１７においてサーボ制御のロックが完全に外れてしまったり、読み出し処理部１１においてウォブル信号からクロック信号を全く再生できなくなることにより、アドレス情報を読み出すことができなくなるような場合が、大欠陥エラーに含まれる。
【００９３】
光ディスク２０上に大欠陥が生じていると判定した場合、システム制御部１８は、例えば、Ｒ／Ｗアクセスの開始目標アドレスを、アクセスに失敗した当初のアドレスより所定のアドレス幅（第２のアドレス幅）だけ離れた位置に変更して、再びＲ／Ｗアクセスを実行する。この場合の第２のアドレス幅は、小欠陥が生じていると判定した場合における第１のアドレス幅に比べて長く設定する。すなわち、予測される欠陥の大きさに応じて、変更するアドレスの幅を適切に設定する。
【００９４】
以上が、図５および図６に示す基準位置静止動作の説明である。
【００９５】
次に、図３のステップＳＴ１３６や図４のステップＳＴ１５８における、エラー要因の判別処理を説明する。
図７は、アクセスエラーが光ディスクの欠陥または振動の何れによって生じたかを判別する、エラー原因判別処理の一例を示すフローチャートである。
【００９６】
まず、システム制御部１８は、アクセスの再試行において、サーボ制御部１７のサーボ制御の不良（サーボ制御のロックが一時的に外れる等）が光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生しているか否かを判定する（ステップＳＴ４００）。
例えば、前回のアクセスエラーにおいてサーボ制御不良を生じた光ディスク２０上の位置と、今回のアクセスエラーにおいてサーボ制御不良を生じた光ディスク２０上の位置との間隔が、所定の距離より短いか否かを判定する。
サーボ制御の不良が近傍範囲で繰り返し発生していると判定した場合、システム制御部１８は、光ディスクの欠陥によってアクセスエラーが生じたとの判定を下し、エラー原因判別処理を終了する（ステップＳＴ４１２）。
【００９７】
ステップＳＴ４００において、サーボ制御の不良が近傍範囲で繰り返し発生していないと判定した場合、次にシステム制御部１８は、アクセス失敗時にモータ制御部１５で回転速度の制御不良が起きたか否かを判定する（ステップＳＴ４０２）。
回転速度の制御の不良は光ディスク２０の欠陥によっては起こり得ないため、アクセス失敗時にモータ制御部１５で回転速度の制御に不良が起きていた場合、システム制御部１８は、振動によってアクセスエラーが生じたとの判定を下し、エラー原因判別処理を終了する（ステップＳＴ４１４）。
【００９８】
ステップＳＴ４０２において、アクセス失敗時に回転速度の制御不良が起きていないと判定した場合、次にシステム制御部１８は、アクセスの再試行において、読み出し処理部１１のクロック信号再生処理の不良（クロック信号の再生に用いるＰＬＬ回路のロックが外れる等）が光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生しているか否かを判定する（ステップＳＴ４０４）。
クロック信号再生処理の不良が近傍範囲で繰り返し発生していると判定した場合、システム制御部１８は、光ディスクの欠陥によってアクセスエラーが生じたとの判定を下し、エラー原因判別処理を終了する（ステップＳＴ４１２）。
【００９９】
ステップＳＴ４０４において、クロック信号再生処理の不良が近傍範囲で繰り返し発生していないと判定した場合、次にシステム制御部１８は、アクセス失敗時にスキュー検出部１２で検出される光ディスク２０の傾きが所定のしきい値を超えているか否か判定する（ステップＳＴ４０６）。
光ディスク２０の傾きは光ディスク２０の欠陥によっては起こり得ないため、アクセス失敗時にしきい値を超える傾きが検出された場合、システム制御部１８は、振動によってアクセスエラーが生じたとの判定を下し、エラー原因判別処理を終了する（ステップＳＴ４１４）。
【０１００】
ステップＳＴ４０６において、アクセス失敗時にしきい値を超える傾きが検出されていないと判定した場合、次にシステム制御部１８は、アクセスの再試行において、読み出し処理部１１のアドレス情報再生処理の不良が光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するか否かを判定する（ステップＳＴ４０８）。
アドレス情報再生処理の不良が近傍範囲で繰り返し発生していると判定した場合、システム制御部１８は、光ディスクの欠陥によってアクセスエラーが生じたとの判定を下し、エラー原因判別処理を終了する（ステップＳＴ４１２）。
【０１０１】
ステップＳＴ４０８において、アドレス情報再生処理の不良が近傍範囲で繰り返し発生していないと判定した場合、次にシステム制御部１８は、アクセス失敗時に振動検出部１３で検出される振動が所定のしきい値を超えているか否か判定する（ステップＳＴ４１０）。
振動は光ディスク２０の欠陥によっては起こり得ないため、アクセス失敗時にしきい値を超える振動が検出された場合、システム制御部１８は、振動によってアクセスエラーが生じたとの判定を下し、エラー原因判別処理を終了する（ステップＳＴ４１４）。
【０１０２】
一方、ステップＳＴ４１０において、アクセス失敗時にしきい値を超える振動が検出されていないと判定した場合、システム制御部１８は、光ディスクの欠陥によってアクセスエラーが生じたとの判定を下し、エラー原因判別処理を終了する（ステップＳＴ４１２）。
【０１０３】
以上が、図７に示すエラー原因判別処理の説明である。
【０１０４】
次に、図３のステップＳＴ１４０や図４のステップＳＴ１６２における欠陥エラー処理について説明する。
図８は、光ディスク２０の欠陥によってアクセスに失敗したとの判定が上限回数を超えて繰り返された場合に実行される、欠陥エラー処理の一例を示すフローチャートである。
【０１０５】
まずシステム制御部１８は、光ディスク２０からのアドレス情報の読み出しが可能であるか否かを判定する（ステップＳＴ５００）。例えば、サーボ制御部１７においてサーボ制御のロックが完全に外れてしまう等のエラーが生じているか否かを判定する。このようなエラーが生じておらず、アドレス情報の読み出しが可能である場合、システム制御部１８は、アクセス先を第１のアドレス幅だけ離れたアドレスに変更して再びＲ／Ｗアクセスを実行することを決定し、欠陥エラー処理を終了する（ステップＳＴ５０２）。この場合、システム制御部１８は、光ディスク２０の欠陥を上述した小欠陥と推定して、アドレスの変更幅を設定する。
【０１０６】
ステップＳＴ５００においてアドレス情報の読み出しができないと判定した場合、システム制御部１８は、アクセスに失敗したアドレスから所定のアドレス範囲内において読み出し可能なアドレスを検索する（ステップＳＴ５０４）。そして、このアドレス範囲内に読み出し可能なアドレスが存在する場合は、アクセス先をこのアドレスに変更して再びＲ／Ｗアクセスを実行することを決定し、欠陥エラー処理を終了する（ステップＳＴ５０６）。
【０１０７】
ステップＳＴ５０４において所定アドレス範囲内に読み出し可能なアドレスが存在しないと判定した場合、システム制御部１８は、光ディスク２０の基準位置においてアクセスが可能であるか否かを調査するために、レーザー光の照射位置を基準位置へ移動させる処理を行う（ステップＳＴ５０８，ＳＴ５１０，ＳＴ５１２，ＳＴ５１４）。この処理は、既に述べたステップＳＴ２００，ＳＴ２０２，ＳＴ３００，ＳＴ３０２と同じである。
【０１０８】
レーザー光の照射位置の移動を確認すると、システム制御部１８は、この基準位置において光ディスク２０へのアクセスが可能であるか否かを調べる（ステップＳＴ５１６）。例えば、基準位置においてアドレス情報を読み出すことが可能であるか否か調べる。基準位置において光ディスク２０にアクセスできない場合や、レーザー光の照射位置の移動に失敗したことを示す信号が光ピックアップ部５から出力される場合、システム制御部１８は、所定の内部エラー処理を実行して、欠陥エラー処理を終了する（ステップＳＴ５１８）。
【０１０９】
基準位置においてアドレス情報を読み出すことが可能である場合、システム制御部１８は、アクセス先を第２のアドレス幅だけ離れたアドレスに変更して再びＲ／Ｗアクセスを実行することを決定し、欠陥エラー処理を終了する（ステップＳＴ５２０）。この場合、システム制御部１８は、光ディスク２０の欠陥を上述した大欠陥と推定して、アドレスの変更幅を設定する。
【０１１０】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置によれば、アクセスの再試行において、サーボ制御の不良やクロック信号再生処理の不良など、所定のアクセス失敗要因が光ディスク２０上の所定の近傍範囲で繰り返し発生するならば、光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したとの判定がなされる。
したがって、光ディスク２０の欠陥によって生じるアクセスの失敗を、他の原因によって生じるアクセスの失敗から明確に判別することができる。これにより、光ディスク２０の欠陥によって生じるアクセスの失敗に対して適切な処理を行うことが可能になる。
【０１１１】
また、本実施形態に係る光ディスク装置では、アクセスの再試行において、サーボ制御の不良やクロック信号再生処理の不良などのアクセス失敗要因が光ディスク２０の近傍範囲で繰り返し発生していない場合、アクセス失敗時に振動検出部１３で検出される振動が所定のしきい値を超えるならば、振動によってアクセスに失敗したとの判定がなされ、検出された振動が所定のしきい値を超えていないならば、光ディスク２０の欠陥によってアクセスに失敗したとの判定がなされる。
したがって、光ディスクの欠陥によって生じるアクセスの失敗と、外部から加えられる振動によって生じるアクセスの失敗とを明確に判別することが可能になる。これにより、欠陥によるアクセスの失敗と振動によるアクセスの失敗とを誤って判断することが少なくなり、それぞれの失敗原因に応じた適切なエラー処理を行うことができる。
【０１１２】
更に、本実施形態に係る光ディスク装置では、光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗したとの判定が再試行回数上限値Ｎｄを超えて繰り返された場合、アクセスの再試行が終了されて欠陥エラー処理が実行される。振動によってアクセスに失敗したとの判定が外的要因タイムアウト時間Ｔｓを超えて繰り返された場合は、アクセスの再試行が終了されて外部要因による所定のエラー処理が実行される。
これにより、光ディスクの欠陥によってアクセスに失敗する場合と、振動によってアクセスに失敗する場合とで、エラー処理に移行する条件を別々に設定することが可能になる。
【０１１３】
通常、光ディスクの欠陥でアクセスに失敗する場合は、アクセスの再試行を繰り返してもアクセスに成功しないことが多いため、この場合に再試行回数をあまり多くすると、無駄な処理時間が長くなってしまう。これに対し、振動でアクセスに失敗する場合は、一定時間後にアクセス可能になる可能性が高いため、再試行回数を多く設定する必要がある。本実施形態によれば、光ディスクの欠陥によるアクセス失敗と振動によるアクセス失敗とを明確に判別し、判別した失敗原因に応じてアクセスの再試行時間や再試行回数の上限を適切に設定することができるため、再試行による無駄な処理時間を抑えつつ、失敗原因に応じた適切なエラー処理を行うことができる。
【０１１４】
また、本実施形態に係る光ディスク装置によれば、光ディスク２０の欠陥に起因して、光ディスク２０上の指定されたアドレスへのアクセスに失敗した場合、アドレス情報を光ディスク２０から読み出すことが可能であれば、アクセスに失敗したアドレスより第１のアドレス幅だけ離れたアドレスへアクセス先が変更される。一方、アドレス情報の読み出しが可能でなければ、光ディスク２０の所定の基準位置においてアクセスが可能であるか否かの調査が行われ、この基準位置でのアクセスが可能であれば、アクセスに失敗したアドレスより第１のアドレス幅より長い第２のアドレス幅だけ離れたアドレスへ、アクセス先が変更される。
したがって、推定される欠陥の大きさが比較的大きいと推定される場合には、これより小さいと推定される場合に比べて遠く離れた位置にアクセス先を変更するため、アクセスがスキップされる無駄な記憶領域を抑えつつ、アクセスの成功を図ることができる。
【０１１５】
特に、リアルタイムで伝送されるデータを光ディスクに書き込む場合などでは、アクセスの失敗による書き込み処理の遅れが長引くと、ＦＩＦＯ部２においてオーバーフローが生じる恐れがあるため、できるだけ早く書き込みを再開することが望ましい。その点、予め設定したアドレス幅だけ離れた位置にアクセス先を飛ばす上述の方法によれば、アクセス可能なアドレスを延々と検索する方法に比べて高速に書き込みを再開することができるため、ＦＩＦＯ部２のオーバーフローを有効に回避することができる。
【０１１６】
＜第３の実施形態＞
次に、本発明の第３の実施形態を述べる。
第３の実施形態は、トラッキングエラーが一定の限度を越えて大きくなったか否かの判定に関連する実施形態である。
【０１１７】
図９は、本実施形態に係る光ディスク装置において、トラッキングエラーの判定に係る部分の構成例を示す図である。図９と図１の同一符号は同一の構成要素を示す。なお、図９に示す部分以外の光ディスク装置の構成については、図１に示す光ディスク装置と同じである。
【０１１８】
図９の例において、光検出部９は、光検出素子９１および９２を有する。ＲＦ信号処理部１０は、差動増幅部１０１を有する。サーボ制御部１６は、判定部１６１、１６２および１６３を有する。
なお、判定部１６１，１６２および１６３を含むユニットは、本発明のトラッキング誤差判定部の一実施形態である。
【０１１９】
光検出素子９１および９２は、光学系８より出射される光ディスク２０からの反射光を電気信号に変換する。図９に示すように、光検出素子９１および９２は、平面上に対称に並んで配置されている。記録トラックの中央部分にレーザー光が照射される場合、光検出素子９１および９２の出力信号レベルはほぼ等しくなる。
【０１２０】
差動増幅部１０１は、光検出素子９１および９２の出力信号レベルの差を増幅して出力する。差動増幅器１０１の出力信号ＴＥは、記録トラックに対するレーザー光の照射位置のずれ（トラッキングエラー）の検出値に相当する。
【０１２１】
判定部１６１は、差動増幅部１０１の出力信号ＴＥの大きさ、すなわち、差動増幅部１０１において検出されるトラッキングエラーの大きさが、しきい値ＴＨＡを時間ＴＡにわたって超える場合、トラッキングエラーの大きさが第１のエラー判定基準に達したと判定する。
【０１２２】
判定部１６２は、振動検出部１３で検出される振動が所定のしきい値より大きくなる場合において、信号ＴＥの大きさがしきい値ＴＨＢを時間ＴＢにわたって超える場合、トラッキングエラーの大きさが第２のエラー判定基準に達したと判定する。ただし、しきい値ＴＨＢはしきい値ＴＨＡより大きく、時間ＴＢは時間ＴＡより短い。
【０１２３】
判定部１６３は、判定部１６１または１６２においてトラッキングエラーの大きさが第１のエラー判定基準または第２のエラー判定基準に達した場合、トラッキングエラーが一定の限度を越えて大きくなっていること、すなわち、トラッキング制御に不良が生じていることを示す信号ＥＲＲ＿Ｔを出力する。
【０１２４】
上述した構成によると、振動検出部１３で検出される振動が所定のしきい値より小さい場合、第１のエラー判定基準に達しているか否かの判定が行われる。振動検出部１３で検出される振動が所定のしきい値より大きい場合は、この第１のエラー判定基準に加えて、第２のエラー判定基準に達しているか否かの判定が行われる。
【０１２５】
図１０は、種々の条件における差動増幅器１０１の出力信号ＴＥの波形例を示す図である。
図１０（Ａ）は、光ディスク装置に強い衝撃が加わった場合における信号ＴＥの波形例を示す。この場合、信号ＴＥは、比較的短い時間幅で大きなピークを生じる。
図１０（Ｂ）は、光ディスク２０に欠陥が生じている場合における信号ＴＥの波形例を示す。この場合、信号ＴＥは、衝撃時に比べて低いピークを長時間持続する。
図１０（Ｃ）は、光ディスク２０に微細な欠陥が生じている場合における信号ＴＥの波形例を示す。この場合、信号ＴＥは、衝撃時に比べて低いピークを短い時間持続する。
【０１２６】
この波形例に示すケースの中で、トラッキングエラーが一定限度を越えたとして判定する必要があるのは、図１０（Ａ）および図１０（Ｂ）の場合である。図１０（Ｃ）の場合、すなわち光ディスク２０に微細な欠陥が生じている場合は、そのままアクセスを続行しても問題を生じないことが多いため、むしろトラッキングエラーが一定限度を越えたとして判定しない方が望ましい。
【０１２７】
しかしながら、従来の光ディスク装置では、一般に１つの判定基準でトラッキングエラーの判定を行うため、強い衝撃が加えられている場合と微細欠陥が生じている場合とを混同し易くなる問題がある。例えば、図１０の波形例において第１の判定基準（しきい値ＴＨＡ，時間ＴＡ）のみで判定を行うものとすると、図１０（Ａ）と図１０（Ｃ）のケースにおける信号のパルス幅ｔ２，ｔ４が近いため、両者の判別は困難である。近年、光ディスクの高密度化に伴って、微細欠陥のパルス幅が小さくなり、強い衝撃時のパルス幅に近づいているため、両者の判別は益々困難になっている。
【０１２８】
仮に、微細欠陥が生じている場合をエラーとして判定しないようにエラー判定基準を緩くすると、強い衝撃により図１０（Ａ）に示すような高速な信号ＴＥが検出された場合、エラー判定の検出に遅れが生じて、記録内容の上書き等の不具合を起こす恐れがある。逆に、エラー判定基準を厳しくすると、本来は記録・再生を続行可能な微細欠陥の場合にもエラー判定による動作の中断が生じてしまう。
【０１２９】
これに対し、上述した本実施形態に係る光ディスク装置の判定方法によれば、振動検出部１３で検出される振動が所定のしきい値を超える場合と超えない場合とでそれぞれ異なる判断基準を用いる。
すなわち、振動検出部１３において一定以上の振動が検出された場合は、第１の判定基準（しきい値ＴＡ，時間ＴＡ）および第２の判定基準（しきい値ＴＢ，時間ＴＢ）がともに有効になるため、光ディスクの欠陥によるエラー（図１０（Ａ））に加えて、強い衝撃によるエラー（図１０（Ｂ））を確実に判別することが可能になる。
一方、振動検出部１３において一定以上の振動が検出されない場合は、第１の判定基準（しきい値ＴＡ，時間ＴＡ）のみが有効になるため、微細欠陥が生じている場合（図１０（Ｃ））を誤ってエラーとして判定することを防ぐことができる。
【０１３０】
したがって、強い衝撃によって生じるエラーを確実に判定できるため信頼性を向上させることができる。また、光ディスク２０に微細欠陥が生じている場合をエラーとして誤判定するケースが減るため、記録・再生動作の無駄な中断が少なくなるとともに、誤判定によって未使用になる記憶領域が少なくなるため、記憶領域の無駄を減らすことができる。
【０１３１】
＜第４の実施形態＞
次に、本発明の第４の実施形態を述べる。
第４の実施形態は、光ディスクの回転速度の制御に関連する実施形態である。
【０１３２】
第４の実施形態に係る光ディスク装置は、例えば図１に示す光ディスク装置と同様な構成を有する。ただし、光ディスク２０の回転速度の制御に関連して、システム制御部１８は、次に述べるような制御を行う。
【０１３３】
すなわち、システム制御部１８は、光ディスク２０の円盤の中心から光ピックアップ５のレーザ−光の照射位置までの距離が所定の距離より短い場合、光ディスク２０の回転速度が一定となるように、モータ制御部１５に対して回転速度を指示する。一方、この円盤の中心からの距離が所定の距離より長い場合、システム制御部１８は、記録トラックとレーザー光の照射位置との相対速度が一定となるように、モータ制御部１５に対して回転速度を指示する。
【０１３４】
図１１は、光ディスク２０の中心からの距離と光ディスク２０の回転速度との関係の一例を示す図である。
図１１に示すように、システム制御部１８は、レーザー光の照射位置が光ディスク２０の中心に対して距離Ｒまでの範囲にある場合、回転速度を一定に保つＣＡＶモードで光ディスク２０にアクセスする処理を行う。また、レーザー光の照射位置が光ディスク２０の中心に対して距離Ｒより離れた位置では、記録トラックとレーザー光の照射位置との相対速度（線速度）を一定に保つＣＬＶモードで光ディスク２０にアクセスする処理を行う。
【０１３５】
また、システム制御部１８は、ＣＡＶモードとＣＬＶモードとを切り替える上述の動作を行う場合に、ＣＡＶモードにおける回転速度や、ＣＬＶモードにおける線速度を、次に述べるように制御する。
すなわち、光ディスクの回転速度を一定に制御するＣＡＶモードで動作する場合、スピンドルモータ１６の回転速度が、スピンドルモータ１６において駆動可能な所定の上限の回転速度となるように、モータ制御部１５に対して回転速度を指示する。
線速度を一定に制御するＣＬＶモードで動作する場合、光ピックアップ５の出力信号の周波数がＲＦ信号処理部１０において処理可能な所定の上限の周波数となるように、モータ制御部１５に対して回転速度を指示する。
【０１３６】
通常、ＣＬＶモードは、記録トラックに沿う連続的な領域をアクセスする際の速度がＣＡＶモードに比べて高速である。そのため、連続的な領域を高速にアクセスする場合にはＣＬＶモードが有利である。しかしながら、従来の光ディスク装置では、ＣＬＶモードまたはＣＡＶモードの何れか一方のみで動作するため、スピンドルモータの回転速度の性能限界によって、アクセス速度を犠牲にする必要があった。
【０１３７】
すなわち、ＣＬＶモードでは、光ディスクの内側に向かうほど高速に光ディスクを回転させる必要があるため、スピンドルモータの性能における回転速度の限界により、線速度が制限されてしまう。仮に、この制限された線速度において光ピックアップからのＲＦ信号の周波数が、ＲＦ信号処理回路において処理可能な上限の周波数より低い場合は、本来有しているアクセス速度の性能を十分に発揮できていないことになる。
【０１３８】
一方、上述した本実施形態に係る光ディスク装置によれば、スピンドルモータの回転速度が限界に達する光ディスク２０の内側の領域においてはＣＡＶモードでアクセスを行い、ＲＦ信号処理部１０の周波数帯域が限界に達する光ディスク２０の外側の領域においてはＣＬＶモードでアクセスを行うことにより、スピンドルモータ１６とＲＦ信号処理部１０の性能限界の範囲で可能な限り高速なアクセスを実現することができる。
これにより、スピンドルモータ１６およびＲＦ信号処理部１０の最大限の性能を発揮することができるため、これらの性能を無駄に高めることなく、アクセス性能を大幅に向上させることができる。
【０１３９】
＜第５の実施形態＞
次に、本発明の第５の実施形態を述べる。
第５の実施形態は、シーク速度の高速化に関する実施形態である。
【０１４０】
本実施形態に係る光ディスク装置は、例えば図１に示す光ディスク装置と同様な構成を有しており、次に述べるような光ディスクに対してアクセスを行う。
【０１４１】
すなわち、本実施形態においてアクセス対象となる光ディスクは、螺旋状に形成された記録トラックを有しており、この記録トラックは、それぞれアドレスを割り当てられた複数の区画に区分されている。そして、それぞれの区画内には、割り当てられたアドレスを再生するために必要な情報が記録トラックに沿って連続的に記録されている。
【０１４２】
このような構造の光ディスクは、例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙと称される規格に準拠した光ディスクに相当する。
Ｂｌｕ−ｒａｙディスクの記録トラックは、ＲＵＢと称される６４Ｋバイトの区画に区分されている。１つのＲＵＢは、更に３つの区画に区分されており、この３つの区画内に、それぞれ１つのアドレス情報が記録されている。
区画内のアドレスの情報は、ウォブルの周期的形状をアドレス情報に応じて変調させる方式により、記録トラックに沿って連続的に記録されている。そのため、１つのアドレス情報を再生するためには、１ＲＵＢの３分の１の区画をトレースする必要がある。
【０１４３】
一般の光ディスク装置は、このような光ディスクの周方向にレーザー光の照射位置を移動させる場合、その照射位置を記録トラックに沿う所定の一方の方向に移動させる。例えば、アクセスの途中でレーザー光の照射位置を逆方向に移動させることはない。そのため、レーザー光の照射位置を光ディスクの径方向に移動させるシーク動作を行った場合、次に述べるような問題が生じる。
【０１４４】
図１２は、一般の光ディスク装置におけるシーク動作の一例を示す図である。
図１２において、記号'Ｔ（ｎ−１）'，'Ｔ（ｎ）'，…はそれぞれトラックを示し、記号'Ｓ（ｉ）'，'Ｓ（ｉ＋１）'，…は記録トラックを区分する区画を示す。また、記号'Ａ１'〜'Ａ３'は記録トラック上のアドレスを示す。
光ディスク装置は、トラックＴ（ｎ−１），Ｔ（ｎ），Ｔ（ｎ＋１），…の順序で一方向にレーザー光の照射位置を移動させるものとする。
【０１４５】
図１２（Ａ）の例において、シーク動作前のアドレスＡ２は、トラックＴ（ｎ−１）に位置しており、アクセス対象のアドレスＡ１は、トラックＴ（ｎ＋１）に位置している。シーク動作が正常に実行されると、アクセス対象のアドレスＡ１のトラックＴ（ｎ＋１）に対して１つ手前のトラックＴ（ｎ）のアドレスＡ３に、レーザー光の照射位置が移動する。
【０１４６】
一般の光ディスク装置では、アクセス対象のアドレスが位置するトラックに対して１つ手前のトラックにアドレスをジャンプさせるため、例えば図１２（Ｂ）に示すように、ジャンプ後のアドレスＡ３が、アクセス対象のアドレスＡ１を含む区画Ｓ（ｉ＋１）に対して１つ手前の区画Ｓ（ｉ）に含まれる場合がある。上述したように、１つのアドレス情報を再生するためには１区画分のトレースを行う必要があるため、この場合、アドレスＡ３からアドレスＡ１の方向に向かってトレースを行ったときに最も始めに再生されるアドレス情報は、区画Ｓ（ｉ＋１）のアドレス情報になる。区画Ｓ（ｉ＋１）のアドレス情報を得た時点において、光ディスク装置は、シーク動作が正しく行えたか否かの判断を下すことが可能になるが、そのときには、既にアクセス対象のアドレスＡ１をレーザー光の照射位置が通り過ぎてしまっている。この位置から逆方向にトレースすることはできないため、この場合、光ディスク装置は、一旦トラックＴ（ｎ）に戻った上で、記録トラック上を再びトレースすることにより、アドレスＡ１へのアクセスを試みる。
すなわち、一般の光ディスク装置では、区画のアドレス情報を取得するためのトレース動作を行う際に、シーク目標のアドレスを通り過ぎてしまう場合があり、この場合、シーク動作とトレース動作を無駄に繰り返さなくてはならないという問題がある。
【０１４７】
これに対し、本実施形態に係る光ディスク装置のシステム制御部１８では、アクセス対象のアドレスに向かってレーザー光の照射位置を光ディスク２０の径方向に移動させるシーク動作を行う場合、シーク動作後のレーザー光の照射位置が、上述した一方向に向かう順序においてアクセス対象の区画より少なくとも２つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越す記録トラックの周の数（トラック数）を決定する。
【０１４８】
例えば図１３に示すように、シーク後のアドレスＡ３は、アクセス対象のアドレスＡ１を含む区画Ｓ（ｉ＋１）に対して２つ手前の区画Ｓ（ｉ−１）に含まれる。そのため、シーク後の位置からトレース動作を行った場合、最も始めに再生されるアドレス情報は、区画Ｓ（ｉ）のアドレス情報になる。このアドレス情報は、レーザー光の照射位置がアクセス対象のアドレスＡ１に到達する前に取得可能である。したがって、システム制御部１８は、取得したアドレス情報に基づいてシーク動作が正常に行われたことを確認した上で、後戻りすることなく、アドレスＡ１のアクセスを行うことが可能になる。
【０１４９】
なお、システム制御部１８は、シーク動作の後に、アドレス情報の読み出しエラーを検出する処理を行っても良い。すなわち、シーク動作が終わった後、トレース動作を行って、記録トラック上に隣接する２つの区画のアドレス情報を読み出し処理部１１から取得し、この取得した２つのアドレス情報に応じて、アドレス情報の読み出しエラーを検出しても良い。読み出しエラーの検出は、例えば、取得した２つのアドレス情報によって示されるアドレスが連続しているか否かを調べることにより行う。
【０１５０】
このようなアドレス情報の読み出しエラー検出を行う場合には、図１３に示す場合よりも更に１つ手前の区画に、シーク後のレーザー光の照射位置を設定する必要がある（図１４）。
すなわち、ステム制御部１８は、シーク動作を行う場合に、シーク後のレーザー光の照射位置がアクセス対象の区画より少なくとも３つ手前の区画に含まれるように、径方向に飛び越すトラック数を決定する。この決定に従って、レーザー光の照射位置を移動させた後、システム制御部１８は、上述したアドレス情報の読み出しエラーを検出する処理を行う。
【０１５１】
例えば図１４に示すように、シーク後のアドレスＡ３は、アクセス対象のアドレスＡ１を含む区画Ｓ（ｉ＋１）に対して３つ手前の区画Ｓ（ｉ−２）に含まれる。シーク後のアドレスＡ３からトレース動作を行うと、区画Ｓ（ｉ−１）およびＳ（ｉ）のアドレス情報をそれぞれ取得したところで、アドレスＡ１の区画Ｓ（ｉ＋１）に到達する。したがって、システム制御部１８は、取得した２つのアドレス情報に基づいてシーク動作が正常に行われたことや、アドレス情報の読み出しエラーが発生していないことを確認した上で、後戻りすることなく、アドレスＡ１のアクセスを行うことが可能になる。
【０１５２】
＜第６の実施形態＞
次に、本発明の第６の実施形態を述べる。
図１５は、本発明の第６の実施形態に係る撮影装置の構成の一例を示すブロック図である。
図１５に示す撮影装置は、撮像部１００と、画像データ処理部２００と、表示部３００と、光ディスク装置４００とを有する。
【０１５３】
撮像部１００は、動画像や静止画像を撮像し、その画像データを生成する。
【０１５４】
画像データ処理部２００は、撮像部１００より出力される画像データに符号化処理やフィルタ処理、画素数変換処理などの所定の画像処理を施して、光ディスク装置４００に記録する。
また、光ディスク装置４００から読み出した画像データに復号化処理やフィルタ処理、画素数変換処理などの所定の画像処理を施して、表示部３００に供給する画像信号を生成する。
【０１５５】
表示部３００は、画像データ処理部２００より供給される画像信号に応じた画像を表示する。
【０１５６】
光ディスク装置４００は、上述した第１乃至第５の実施形態の何れかの光ディスク装置であり、画像データ処理部２００の指示に従って、画像データの記録や再生を行う。
【０１５７】
上述した構成を有する撮影装置によれば、光ディスク装置４００において光ディスクの欠陥によって生じるアクセスの失敗と、外部から加えられる振動によって生じるアクセスの失敗とを明確に判別することが可能になり、失敗原因に応じた適切なエラー処理を行うことができるため、画像データの記録動作の信頼性を高めることができる。
また、振動等によってアクセスに失敗する場合でも、素早く記録動作に復帰できるため、リアルタイムで生成される画像データの損失を効果的に防止できる。
強い振動等によって生じるトラッキング制御の不良を確実に検出できるため、この点でも、画像データの損失を防止することができる。
光ディスク装置４００における光ディスクの回転制御のモードを適切が切り替えられるため、画像データの高速な記録や再生が可能になる。
光ディスク装置４００におけるシーク動作やトレース動作の無駄な繰り返しがなくなるため、この点でも、画像データの高速な記録や再生が可能になる。
【０１５８】
以上、本発明の幾つかの実施形態について述べたが、本発明はこれらにのみ限定されるものではなく、種々の改変が可能である。
例えば、上述した実施形態における処理は、その少なくとも一部を、コンピュータとプログラムによって実現することが可能である。例えば、サーボ制御部やシステム制御部は、それぞれ専用のコンピュータによって実現しても良いし、同一のコンピュータによって実現しても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１５９】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示す図である。
【図２】書き込みアクセスもしくは読み出しアクセスにおける処理の一例を示す第１のフローチャートである。
【図３】書き込みアクセスもしくは読み出しアクセスにおける処理の一例を示す第２のフローチャートである。
【図４】書き込みアクセスもしくは読み出しアクセスにおける処理の一例を示す第３のフローチャートである。
【図５】基準位置静止動作を実行する際の処理の一例を示す第１のフローチャートである。
【図６】基準位置静止動作を実行する際の処理の一例を示す第２のフローチャートである。
【図７】エラー原因判別処理の一例を示すフローチャートである。
【図８】欠陥エラー処理の一例を示すフローチャートである。
【図９】第３の実施形態に係る光ディスク装置において、トラッキングエラーの判定に係る部分の構成例を示す図である。、
【図１０】強い振動が加えられた場合や光ディスクに欠陥が生じている場合における、トラッキングエラーの検出信号の波形例を示す図である。
【図１１】第４の実施形態に係る光ディスク装置における、光ディスク中心からのレーザー光の照射位置と光ディスクの回転速度との関係の一例を示す図である。
【図１２】一般の光ディスク装置におけるシーク動作の一例を示す図である。
【図１３】第５の実施形態に係る光ディスク装置における、シーク動作の一例を示す第１の図である。
【図１４】第５の実施形態に係る光ディスク装置における、シーク動作の一例を示す第２の図である。
【図１５】第６の実施形態に係る撮影装置の構成の一例を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０１６０】
１…インターフェース部、２…ＦＩＦＯ部、３…データ処理部、４…書き込み処理部、５…光ピックアップ、６…パワー制御部、７…レーザーダイオード、８…光学系、９…光検出部、１０…ＲＦ信号処理部、１１…読み出し処理部、１２…スキュー検出部、１３…振動検出部、１４…光ピックアップ駆動部、１５…モータ制御部、１６…スピンドルモータ、１７…サーボ制御部、１８…システム制御部、９１，９２…光検出素子、１００…撮像部、１０１…差動増幅部、１６１〜１６３…判定部、２００…画像データ処理部、３００…表示部、４００…光ディスク装置。
【図１】
2005243096.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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