(57)【要約】【課題】  記録速度を高速化しても良好な記録特性が得られ、更に１回または複数回のオーバライト記録特性を良好に維持することができる相変化型光記録媒体を提供する。【解決手段】  相変化型光記録媒体Ａは基板１、１１と記録層３、１３とからなる。記録層３、１３は、情報が一度も記録されていない未記録部の反射率をＲ０、そこにランダムパターンが１回記録された後の反射率をＲ１、更にランダムパターンが９回記録された後の反射率をＲ９とした場合、下記（１）、（２）式が成立する。  １．００＜（Ｒ１／Ｒ０）＜１．１５  …（１）  １．０５＜（Ｒ９／Ｒ０）＜１．２０  …（２）【選択図】      図１
2005243218.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
相変化型光記録媒体において、
基板と、
消去パワーから立ち上がり前記消去パワーより大なる記録パワーと前記消去パワーより小なるボトムパワーとの間で形成される記録パルスと、前記ボトムパワーから前記消去パワーへと立ち上がる消去パルスとよりなる記録パルスパターンに応じて記録光を照射することにより記録情報を示す記録マークを記録する記録層を有し、
前記記録層は、前記記録層における情報が一度も記録されていない未記録部に再生光を照射したときの前記未記録部の反射率をＲ０、前記記録パルスパターンに応じた前記記録光を前記未記録部に１回照射した後に前記再生光を照射したときの前記未記録部の反射率をＲ１、前記記録パルスパターンに応じた前記記録光を前記未記録部に９回照射した後に前記再生光を照射したときの前記未記録部の反射率をＲ９とした場合、
下記（１）、（２）式
１．００＜（Ｒ１／Ｒ０）＜１．１５  …（１）
１．０５＜（Ｒ９／Ｒ０）＜１．２０  …（２）
が成り立つことを特徴とする光記録媒体。
【請求項２】
前記光記録媒体は前記記録層を複数有することを特徴とする請求項１記載の光記録媒体。
【請求項３】
前記記録パワーをＰｗ、前記消去パワーをＰｅとし、前記記録パワーＰｗに対する前記消去パワーＰｅのパワー比ε（ε＝Ｐｅ／Ｐｗ）としたとき、所定の領域に、
０．２０≦ε≦０．４０
とするための情報が書き込まれていることを特徴とする請求項１または２記載の光記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光（例えばレーザ光）の照射によって情報の記録、消去、再生を行う光記録媒体に関するものである。特に本発明は、光ディスク、光カードなどの書き換え可能な相変化型光記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
相変化型光記録媒体とは、例えば近年のＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭであり、情報を書換えることを可能とする媒体である。なかでもＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭは主に映像情報のような情報量が大きいものの記録、書換えに使用される。相変化型光記録媒体には、優れた記録特性に加えて優れたオーバライト特性も要求されている。更には、記録容量を増大させる記録方法も要求されている。
【０００３】
光記録媒体の記録容量を増大させる方法の一つに、記録再生装置のレーザ光源から光記録媒体の記録層に照射されるレーザ光のスポット径を小さくして、記録信号を高密度化する方法がある。この方法を実現するため例えば、使用するレーザ光の波長を青色領域まで短波長化する手段や、記録再生装置の光ピックアップにある対物レンズの開口率（ＮＡ）を大きくしてレーザ光を更に絞込む手段が検討されている。しかしこの方法では、現在用いられているデジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）記録再生装置（または再生専用装置）との再生互換性をとることが困難である。
そこで近年では再生互換性を維持しつつ記録容量を増大させる方法として、１枚の光記録媒体に複数の記録層を重ねて設ける方法、例えば、光記録媒体の２層構造が提案されている。
【０００４】
２層の相変化型光記録媒体は、例えば第１の記録層を有する第１層と、第２の記録層を有する第２層とを紫外線硬化型樹脂等で貼り合わせた構造からなる。第１層は記録・再生または消去用の各パワーを有するレーザ光が照射される面を底面とする基板上に、少なくとも誘電体膜、記録層、誘電体膜、反射層を順次積層した構成、第２層は基板上に、少なくとも誘電体膜、記録層、誘電体膜、反射層を順次積層した構成である。記録層はスパッタ法などで成膜された直後は反射率の低いアモルファス状態になっている。そのため製品出荷時には、反射率の高い結晶化状態にするためにレーザ光照射等を行い初期化している。また、第１層及び第２層いずれにおいても、誘電体膜は光吸収効果を小さくして、光透過性を上げる必要がある。
従来の書換え可能な相変化型光記録媒体の記録方法は以下の通りである。上記のように構成される相変化型光記録媒体において、記録時に記録パワーのレーザ光で記録パルスを記録層に印加（照射）して記録層を溶融し、急冷することにより、非結晶の記録マークを形成する。この記録マークの反射率は結晶状態の記録層の反射率より低いので、この記録マークを光学的に記録情報として読み取ることが可能である。この記録マークを消去する場合、記録パワーより小さなパワー（消去パワー）のレーザ光を照射することにより、記録層を結晶化温度以上の温度にし、非結晶状態から結晶状態にすることによって記録マークを消去し、オーバライト可能としている。
【０００５】
特許第２９６２０５２号公報（特許文献１）で記録密度の向上と繰り返し特性の向上を目的とし、未記録部の反射率を記録部の反射率より高くするといった方法が提案されているが、高速記録媒体対応への記述が無く、またこの条件だけでは、近年の高記録密度での高速記録速度でのオーバライト特性（特にオーバライト１回目）は十分でないことが、本発明者で確認されていた。
特開２００２−２３７０８９号公報（特許文献２）や特開２００３−２００６６５号公報（特許文献３）では、高速記録での優れたジッタ特性やオーバライト特性を目的に、未記録部の反射率を記録部の反射率より低くするといった光記録方法や光記録媒体が提案されている。しかしながら、提案された光記録方法や光記録媒体だけでは高線速度（例えばＤＶＤ２倍速以上）で十分なオーバライト特性（特にオーバライト１回目）が得られないことが、本発明者の検討により判明した。
【０００６】
ところで２層の光記録媒体においては、第２層の記録層に記録するために記録用レーザ光が第１層を通過する必要がある。そして第２層の記録層に十分な記録がされるためには第１層を構成する膜全体でのレーザ光の透過率が５０％程度あることが必要である。そのため第１層は、反射膜を十分な冷却効果を持つ厚さで形成できず、その結果十分な記録特性及びオーバライト特性が得られないことが発明者の検討で判明した。
特開２００３−２４２６７６号公報（特許文献４）では、第１層に用いる半透明反射膜は、透過率と記録層の急冷効果の両立が難しく良好な記録再生特性を得られないという問題を解決するために、第１層の記録層を構成する元素の比率（Ｓｂ／Ｔｅ）を下げ、その結晶化速度を第２層の記録層の結晶化速度に比べ遅くするという方法が提案されている。この方法であれば急冷効果を出しにくい第１層においても記録層が十分に結晶化され、良好な記録再生特性が得られるというものである。しかしながらこの方法では結晶化速度を低下させているために、高線速度記録への対応は困難である。つまり、高線速度記録を視野に入れた１または複数層の光記録媒体には、特許文献１〜４に記載の方法に代わる手法が必要である。
【特許文献１】特許第２９６２０５２号公報
【特許文献２】特開２００２−２３７０８９号公報
【特許文献３】特開２００３−２００６６５号公報
【特許文献４】特開２００３−２４２６７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
前述したように従来の光記録媒体では、１または複数層の相変化型光記録媒体における１回または複数回オーバーライト（特にオーバライト１回）した際のジッタが大きく悪化するという問題があり、高線速度記録でのオーバライト特性を十分に確保することが難しかった。
【０００８】
そこで本発明は、前記した問題を解決するために創案されたものであり、記録速度を高速化（例えばＤＶＤ２倍速（線速度：７ｍ／ｓ）以上の高線速度記録）しても良好な記録特性が得られ、更に１回または複数回のオーバライト記録特性（特にオーバライト１回）を良好に維持することができる相変化型光記録媒体を提供することを目的とする。また、複数層の記録層における一部の層の結晶化速度を遅くさせなくても、良好な記録及びオーバライト特性を有する相変化型光記録媒体を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述した課題を解決するために、本発明は、次の（ａ）〜（ｃ）の光記録媒体を提供するものである。
（ａ）相変化型光記録媒体（Ａ）において、基板（１、１１）と、消去パワー（Ｐｅ）から立ち上がり前記消去パワーより大なる記録パワー（Ｐｗ）と前記消去パワーより小なるボトムパワー（Ｐｂ）との間で形成される記録パルス（Ｔtop、Ｔmp）と、前記ボトムパワーから前記消去パワーへと立ち上がる消去パルス（Ｔcl）とよりなる記録パルスパターンに応じて記録光を照射することにより記録情報を示す記録マークを記録する記録層（３、１３）を有し、前記記録層は、前記記録層における情報が一度も記録されていない未記録部に再生光を照射したときの前記未記録部の反射率をＲ０、前記記録パルスパターンに応じた前記記録光を前記未記録部に１回照射した後に前記再生光を照射したときの前記未記録部の反射率をＲ１、前記記録パルスパターンに応じた前記記録光を前記未記録部に９回照射した後に前記再生光を照射したときの前記未記録部の反射率をＲ９とした場合、下記（１）、（２）式
１．００＜（Ｒ１／Ｒ０）＜１．１５  …（１）
１．０５＜（Ｒ９／Ｒ０）＜１．２０  …（２）
が成り立つことを特徴とする光記録媒体。
（ｂ）前記光記録媒体は前記記録層を複数有することを特徴とする（ａ）記載の光記録媒体。
（ｃ）前記記録パワーをＰｗ、前記消去パワーをＰｅとし、前記記録パワーＰｗに対する前記消去パワーＰｅのパワー比ε（ε＝Ｐｅ／Ｐｗ）としたとき、所定の領域に、
０．２０≦ε≦０．４０
とするための情報が書き込まれていることを特徴とする（ａ）または（ｂ）記載の光記録媒体。
【発明の効果】
【００１０】
記録速度を高速化しても良好な記録特性が得られ、更に１回または複数回のオーバライト記録特性を良好に維持することができる。また、複数層の記録層における一部の層の結晶化速度を変更する必要もない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
図１は相変化型光記録媒体を製造するための製造設備３００または製造設備３００にて行われる製造・初期化工程を示す図である。製造装置１００（製造工程）において相変化型光記録媒体を製造し、初期化装置２００（初期化行程）において相変化型光記録媒体を初期化する。初期化工程を経た相変化型光記録媒体は光記録媒体Ａとして出荷される。
相変化型光記録媒体としては、ＤＶＤ−ＲＷなどの相変化型光ディスク、光カードなどの情報を繰り返しオーバライト可能な媒体が挙げられる。なお以下の説明においては相変化型光記録媒体の一実施形態として、相変化型光ディスク（光記録媒体Ａ）を用いるが、これ以外の光カード等の同様な構成を有する相変化型光記録媒体についても本発明を適用可能であることは言うまでもない。
【００１２】
≪光記録媒体の構成≫
図２は、本発明の一実施形態である光記録媒体Ａを示す拡大断面図である。光記録媒体Ａは、その基本的な構成として、記録・再生または消去用レーザ光が入射する入射面１ａを底面とする第１層（Ｌ０層）と、第２層（Ｌ１層）とを透明層２０で貼り合わせたものである。
Ｌ０層は、記録・再生または消去用レーザ光が入射する入射面１ａを底面とする基板１上に、第１誘電体膜２、記録層３、第２誘電体膜４、半透明反射層５（以下、反射層５）を順次積層したものである。反射層５上には保護層６が形成されている。
Ｌ１層は、基板１１上に、反射層１５、第３誘電体膜１２、記録層１３、第４誘電体膜１４を順次積層したものである。
【００１３】
Ｌ０層とＬ１層を構成するそれぞれの層及び膜の材料は、以下に述べるとおりである。
基板１の材料としては、各種透明な合成樹脂、透明ガラスなどが使用できる。埃の付着や基板１の傷などの影響を避けるために、透明な基板１を用い、集光したレーザ光で基板１の入射面１ａ側から記録層３に情報を記録する。このような基板１の材料として例えば、ガラス、ポリカーボネイト、ポリメチル・メタクリレート、ポリオレフィン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂などが挙げられる。特に、光学的複屈折及び吸湿性が小さく、成形が容易であることからポリカーボネイト樹脂が好ましい。
基板１１の材料には、基板１に求められるような透明性、埃の付着や傷の影響を考慮する必要は特にないが、生産性等に配慮した場合基板１と同じ材料を用いるのが好ましい。
【００１４】
基板１、基板１１の厚さは、特に限定するものではないが、ＤＶＤとの互換性を考慮すると０．０１ｍｍ〜０．６ｍｍが好ましく、なかでも０．６ｍｍが最も好ましい（ＤＶＤの全厚は１．２ｍｍ）。これは基板１の厚さが０．０１ｍｍ未満であれば、基板１の入射面１ａ側から収束したレーザ光で記録する場合でも、ごみの影響を受け易くなるからである。また、光記録媒体の全厚に制限がないのであれば、実用的には０．０１ｍｍ〜５ｍｍの範囲内であればよい。５ｍｍ以上であれば対物レンズの開口数を大きくすることが困難になり、照射レーザ光のスポットサイズが大きくなるため、記録密度をあげることが困難になるからである。
【００１５】
基板１、基板１１はフレキシブルなものでも良いし、リジッドなものであっても良い。フレキシブルな基板１は、テープ状、シート状、カード状の光記録媒体で使用する。リジッドな基板１は、カード状、あるいはディスク状の光記録媒体で使用する。
【００１６】
第１誘電体膜２及び第２誘電体膜４は、記録時に基板１、記録層３などが熱によって変形して記録特性が劣化することを防止するなど、基板１、記録層３を熱から保護する効果を奏したり、光学的な干渉効果により再生時の信号コントラストを改善する効果を奏する。第３誘電体膜１２及び第４誘電体膜１４も、基板１１、記録層１３に対して、第１誘電体膜２及び第２誘電体膜４と同様の効果を奏する。
【００１７】
第１誘電体膜２、第２誘電体膜４、第３誘電体膜１２及び第４誘電体膜１４（第１〜第４誘電体膜）はそれぞれ、記録・再生または消去用のレーザ光に対して透明であって屈折率ｎが１．９≦ｎ≦２．３の範囲にあることが望ましい。さらに、第１〜第４誘電体膜の材料は熱特性の点から、ＳｉＯ2、ＳｉＯ、ＺｎＯ、ＴｉＯ2、Ｔａ2Ｏ5、Ｎｂ2Ｏ5、ＺｒＯ2、ＭｇＯなどの酸化物、ＺｎＳ、Ｉｎ2Ｓ3、ＴａＳ4などの硫化物、ＳｉＣ、ＴａＣ、ＷＣ、ＴｉＣなどの炭化物の単体及び混合物が好ましい。なかでも、ＺｎＳとＳｉＯ2の混合膜は、記録、消去の繰り返しによっても、記録感度、Ｃ／Ｎ、消去率などの劣化が起こりにくいことから特に好ましい。
また第１〜第４誘電体膜は、いずれも同一の材料、組成でなくとも良く、異種の材料から構成されていてもかまわない。
【００１８】
第１誘電体膜２の厚さは、およそ５ｎｍ〜５００ｎｍの範囲である。さらには、第１誘電体膜２の厚さは、基板１や記録層３から剥離し難く、クラックなどの欠陥が生じ難いことから、４０ｎｍ〜３００ｎｍの範囲が好ましい。４０ｎｍより薄いと、ディスクの光学特性を確保しにくく、３００ｎｍより厚いと生産性に劣る。なお、より好ましくは５０ｎｍ〜８０ｎｍの範囲である。
【００１９】
第２誘電体膜４の厚さは、Ｃ／Ｎ、消去率などの記録特性が良く、安定に多数回の書き換えが可能なことから、５ｎｍ〜４０ｎｍの範囲が好ましい。５ｎｍより薄いと記録層３の熱確保が難しくなるため最適記録パワーが上昇し、４０ｎｍより厚いとオーバライト特性が悪化する。より好ましくは、５ｎｍ〜２０ｎｍの範囲である。
【００２０】
第３誘電体膜１２の厚さは、およそ５〜５００ｎｍの範囲である。
第４誘電体膜１４の厚さは、Ｃ／Ｎ、消去率などの記録特性が良く、安定に多数回の書き換えが可能なことから、５ｎｍ〜４０ｎｍの範囲が好ましい。５ｎｍより薄いと記録層１３の熱確保が難しくなるため最適記録パワーが上昇し、４０ｎｍより厚いとオーバライト特性が悪化する。より好ましくは、１０ｎｍ〜２０ｎｍの範囲である。
【００２１】
記録層３、記録層１３は、Ａｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅ合金やＧｅ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅ合金、またはＧｅ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅ合金にＡｇまたはＳｉ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｂｉ、Ｇａのいずれかを少なくとも１種類含んでいる合金層である。また記録層３の層厚は、１０ｎｍ以下が好ましく、記録層１３の層厚は１０ｎｍ〜２５ｎｍが好ましい。
ところでＬ０層は、既述したようにレーザ光の透過率５０％程度を満たす必要がある。Ｌ０層を構成する層及び膜のうち、透過率に影響をあたえるものは光の吸収が大きい記録層３及び反射層５であり、記録層３の厚さは、再生信号（ＲＦ信号）の変調度が少なくとも５０％以上取れること、ＤＯＷジッタ特性が良好であること、かつ十分な透過率を得られることを考慮すると、１０ｎｍ以下であることが好ましい。１０ｎｍを超えるとＬ０層の透過率５０％程度を実現することが難しい。なおより好ましくは、５ｎｍ〜１０ｎｍである。
ここで透過率とは、図２の基板１側を下、基板１１側を上としたとき、基板１の入射面１ａから反射層５の上面（保護層６との境界面）に至るまでの範囲を構成する層の光透過率を指す。すなわち透過率Ｔは、入射面１ａから反射層５の上面に至るまでの範囲に含まれる全ての物質（層）によって決まる光透過率である。
【００２２】
記録層３の片面、もしくは両面に接する界面層を設けても良い。界面層の材料としては、硫黄物を含まないことが重要である。硫黄物を含む材料を界面層として用いると、オーバライトの繰り返しにより界面層に含まれる硫黄が記録層３中に拡散し、記録特性が劣化することがあるので好ましくない。また、消去特性が優れないという点からも好ましくない。
界面層の材料としては、窒化物、酸化物、炭化物のうち少なくとも１種類を含む材料が好ましく、具体的には窒化ゲルマニウム、窒化シリコン、窒化アルミニウム、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化クロム、炭化シリコン、炭素のうち少なくとも１種類を含む材料が好ましい。また、これらの材料に酸素、窒素、水素などを含有させても良い。前述の窒化物、酸化物、炭化物は化学量論組成でなくても良く、窒素、酸素、炭素が過剰あるいは不足していても良い。このことで界面層が剥離しにくくなり、保存耐久性等が向上するなど、界面層の特性が向上する場合がある。
なお、記録層１３も記録層３同様に界面層を設けても良い。
【００２３】
反射層５、反射層１５の材料としては、光反射性を有するＡｌ、Ａｕ、Ａｇなどの金属、これらの金属を主成分とし、１種類以上の金属または半導体からなる添加元素を含む合金、及びこれらの金属にＡｌ、Ｓｉなどの金属窒化物、金属酸化物、金属カルコゲン化物などの金属化合物を混合したものなどが挙げられる。
なかでもＡｌ、Ａｕ、Ａｇなどの金属、及びこれらの金属を主成分とする合金は、光反射性が高く、かつ熱伝導度を高くできることから好ましい。合金の例としては、ＡｌにＳｉ、Ｍｇ、Ｃｕ、Ｐｄ、Ｔｉ、Ｃｒ、Ｈｆ、Ｔａ、Ｎｂ、Ｍｎ、Ｚｒなどの少なくとも１種類の元素を混合したもの、あるいは、ＡｕまたはＡｇにＣｒ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｐｄ、Ｐｔ、Ｎｉ、Ｎｄ、Ｉｎ、Ｃａなどの少なくとも１種類の元素を混合したものなどが一般的である。しかし高線速度記録を考慮した場合には、とりわけ熱伝導率の高いＡｇを主成分とする金属または合金が、記録特性の点から好ましい。
また、反射率や熱伝導率等を考慮して、反射層５と反射層１５とを異なる材料を用いて形成しても良い。
【００２４】
上述したように、反射層５もＬ０層の透過率に影響を及ぼす。そのためＬ１層の記録層１３への光の透過を考慮すると、（半透明）反射層５の厚さは１０ｎｍ以下であることが好ましい。３００ｎｍ以上の厚さを形成する場合には、製造上時間を要するため熱伝導率の高い材料を用いて、層厚を制御しながら形成することが好ましい。
反射層１５の厚さは、反射層１５を形成する材料の熱伝導率の大きさによって変化するが、５０ｎｍ以上３００ｎｍ以下であることが好ましい。反射層１５の厚みが５０ｎｍ以上であれば、反射層１５は光学的には変化せず反射率の値に影響を与えないが、反射層１５の厚みが増すと冷却速度への影響が大きくなる。また、３００ｎｍを超える厚さを形成するのは製造上時間を要する。従って熱伝導率の高い材料を用いることにより、反射層１５の層厚をなるべく最適範囲に制御する。
【００２５】
透明層２０には紫外線（ＵＶ）硬化型樹脂、両面粘着型シート等を用いることが好ましい。
【００２６】
≪光記録媒体の製造方法≫
次に、製造装置１００における光記録媒体の製造方法について説明する。Ｌ０層の基板１上にＬ０層を構成する各層を積層する方法を述べる。なおＬ１層の基板１１上にＬ１層を構成する各層を積層する方法も同じである。Ｌ０層を構成する第１誘電体膜２と第２誘電体膜４とが、Ｌ１層を構成する第３誘電体膜１２、第４誘電体膜１４にそれぞれ対応し、Ｌ０層を構成する記録層３がＬ１層を構成する記録層１３に、Ｌ０層を構成する反射層５がＬ１層を構成する反射層１５に対応する。
【００２７】
第１誘電体膜２、記録層３、第２誘電体膜４、反射層５などを基板１上に積層する方法としては、公知の真空中での薄膜形成法が挙げられる。例えば、真空蒸着法（抵抗加熱型や電子ビーム型）、イオンプレーティング法、スパッタリング法（直流や交流スパッタリング、反応性スパッタリング）であり、特に、組成、層厚のコントロールが容易であることから、スパッタリング法が好ましい。
【００２８】
また、真空漕内で複数の基板１を同時に成膜するバッチ法や、基板１を１枚ずつ処理する枚葉式成膜装置を使用することが好ましい。形成する第１誘電体膜２、記録層３、第２誘電体膜４、反射層５などの層厚の制御は、スパッタ電源の投入パワーと時間を制御したり、水晶振動型膜厚計で堆積状態をモニタリングしたりすることで容易に行える。
【００２９】
また、第１誘電体膜２、記録層３、第２誘電体膜４、反射層５などの形成は、基板１を固定した状態、あるいは移動、回転した状態のどちらで行っても良い。層厚の面内の均一性に優れることから、基板１を自転させることが好ましく、さらに公転を組み合わせることがより好ましい。必要に応じて基板１の冷却を行うと、基板１の反り量を減少させることができる。
【００３０】
また本発明の効果を著しく損なわない範囲において、反射層５などを形成した後、すでに形成した各層の変形防止等のため、ＺｎＳ、ＳｉＯ2等を用いた誘電体層あるいは紫外線硬化樹脂等を用いた樹脂保護層を保護層６として必要に応じて設けても良い。
【００３１】
以上の方法で形成したＬ０層とＬ１層とを、保護層６と第４誘電体膜１４とが基板１と基板１１とに挟まれるように透明層２０で貼り合わせる。すなわち基板１、１１が外側を向くよう、保護層６と第４誘電体膜１４とを対向させて貼り合わせる。
なお、２層の光記録媒体は次のような方法で形成してもよい。少なくとも記録・再生または消去用レーザ光が入射する入射面２１ａを底面とする基板２１上に第１誘電体膜２２、第１記録層２３、第２誘電体膜２４、第１反射膜２５を順次積層し、第１反射膜２５上に紫外線硬化樹脂を塗布する。記録溝を転写するための透明スタンパを押し当てた状態で紫外線を照射し、紫外線硬化膜２６を形成して透明スタンパを剥離する。続けて紫外線硬化膜上に、第３誘電体膜２７、第２記録層２８、第４誘電体膜２９，第２反射膜３０を順次積層し、２層の光記録媒体を形成する。
【００３２】
続いて光記録媒体は初期化装置２００における初期化工程を経て、光記録媒体Ａとされて出荷される。初期化は記録層３及び記録層１３にレーザ光、キセノンフラッシュランプ等の光を照射して加熱し、記録層３及び記録層１３の構成材料を結晶化させることである。再生ノイズが少ないことから、レーザ光による初期化が好ましく、初期化レーザ光は記録層３、記録層１３に順次フォーカスを合わせて照射される。
【００３３】
図３に光記録媒体Ａの平面図を示す。光記録媒体Ａはセンターホール５１と、その外周にクランプエリア５２を有する。クランプエリア５２の外周には情報エリア（リードインエリア）５３が同心円上に設けられていて、さらにその外周領域は映像情報や音声情報等の実データを記録するための記録エリア５４となっている。ここで、リードインエリア５３は、ＲＯＭ状態またはＲＡＭ状態のどちらであっても良い。その他に、トラッキング信号を得るためのレーザガイド溝に高周波ウォブルやピットを形成することにより、再生専用の記録情報として格納する方法もある。
【００３４】
≪光記録媒体の記録方法≫
図４に、光記録媒体Ａに情報を記録するときに使用する記録パルスパターンを示す。記録パルスパターンに基づいてレーザ光を３値（記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、ボトムパワーＰｂ）のレーザ強度で変調して、記録信号のマーク長に対応してパルス数を増減させ、所望のマーク長の記録マークを記録層３、記録層１３に形成する。レーザ強度は記録パワーＰｗが一番大きく、消去パワーＰｅ、ボトムパワーＰｂの順に小さい。
記録パルスパターンは図４に示すように、消去パワーＰｅから立ち上がって最初に記録層３、記録層１３にレーザ光を記録パワーＰｗで印加する先頭パルスＴtopと、先頭パルスＴtopに続くパルスであり、記録パワーＰｗとボトムパワーＰｂとを交互に印加するマルチパルスＴmpと、レーザ光をボトムパワーＰｂから立ち上がって、消去パワーＰｅを印加する終端に位置する消去パルスＴclからなる。先頭パルスＴtopとマルチパルスＴmpとは記録層３、記録層１３に対して記録マークを形成するための記録パルスとなっている。なお、マルチパルスＴmpがなく先頭パルスＴtopのみで記録パルスが形成される場合もある。
【００３５】
例えばＤＶＤ−ＲＷでは、マーク長は３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、７Ｔ、８Ｔ、９Ｔ、１０Ｔ、１１Ｔ、１４Ｔの１０種類ある。マーク長をｎＴとした場合、マルチパルスＴmpの数は一般的に（ｎ−１）または（ｎ−２）である。図４では（ｎ−２）の場合を示した。ここで、Ｔとは単位クロックであり、ＤＶＤ−ＲＷでは、ＤＶＤ１倍速時（記録線速度：３．５ｍ／ｓ）で１Ｔ＝３８．２ｎｓ、ＤＶＤ４倍速時（記録線速度：１４．０ｍ／ｓ）で１Ｔ＝９．６ｎｓである。
また、近年の高速化記録に伴い単位クロックＴが数ｎｓオーダーと短くなるため、レーザパルスの立ち上がり・立ち下り応答限界を考慮して、図５に示すような、２Ｔを基準とした記録パルスパターンを用いても良い。図５において記録パルスＡは３Ｔ、記録パルスＢは１１Ｔ、記録パルスＣは１４Ｔのマーク長を有する記録マークを形成するための記録パルスパターンを示す。
【００３６】
≪光記録装置≫
図６に、所望の記録パルスパターンをもったレーザ光を光記録媒体Ａに照射するための本発明の一実施形態である光記録装置を示す。
【００３７】
まず、スピンドルモータ３１は光記録媒体Ａを回転させる。スピンドルモータ３１の回転数が目的の記録速度に対応する記録線速度となるよう回転制御部３２が制御する。また光記録媒体Ａの記録・再生または消去に用いる半導体レーザ（ＬＤ）３３や、ＬＤ３３のレーザ光を集光照射させる対物レンズ（図示せず）及び４分割受光素子（図示せず）を備えた光ヘッド３４が、光記録媒体Ａの半径方向に移動自在に設けられている。
なお、本実施形態の光記録装置に用いる記録用の光源としては、レーザ光、ストロボ光のように高強度の光源が好ましい。なかでも半導体レーザ光は光源が小型化できること、消費電力が小さいこと、変調が容易であることから好ましい。
【００３８】
ドライブコントローラ４４は、供給されたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいてアクチュエータ制御部３５を制御する。アクチュエータ制御部３５は光ヘッド３４の光記録媒体Ａへのフォーカス及びトラッキングを制御する。反射率検出部４６は、供給された再生信号に基づいて反射率を検出し、検出結果をシステムコントローラ４５に出力する。
【００３９】
ウォブル検出部３６はプログラマブルバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）３６１を備え、検出したウォブル信号をアドレス復調回路３７に出力する。アドレス復調回路３７は検出されたウォブル信号からアドレスを復調して出力する。復調されたアドレスが入力される記録クロック生成部３８はＰＬＬシンセサイザ回路３８１を有し、記録チャネルクロックを生成して記録パルス生成部３９及びパルス数制御部４０に出力する。
記録クロック生成部３８はドライブコントローラ４４によって制御される。ドライブコントローラ４４は回転制御部３２、アクチュエータ制御部３５、ウォブル検出部３６、アドレス復調回路３７及びシステムコントローラ４５も制御する。
【００４０】
ドライブコントローラ４４はウォブル検出部３６より供給されたウォブル信号を、記録クロック生成部３８に出力する。また、アドレス復調回路３７より供給されたアドレス情報をシステムコントローラ４５に出力する。
システムコントローラ４５はメモリ４５１を有し、ＥＦＭ＋エンコーダ４２、マーク長カウンタ４１、パルス数制御部４０及びＬＤドライバ部４３を制御する。ＥＦＭ＋エンコーダ４２は入力された記録情報を８−１６変調して変調データとし、記録パルス生成部３９とマーク長カウンタ４１に出力する。マーク長カウンタ４１は変調データに基づいて変調データの反転間隔をカウントして、マーク長データを生成するマーク長生成部として動作し、そのカウント値を記録パルス生成部３９とパルス数制御部４０に出力する。パルス数制御部４０は、供給されたカウント値と記録チャネルクロックに基づいて記録パルスが所定のパルスとなるように記録パルス生成部３９を制御する。
【００４１】
記録パルス生成部３９は先頭パルス制御信号生成部３９ｔとマルチパルス制御信号生成部３９ｍと消去パルス制御信号生成部３９ｃとを備える。先頭パルス制御信号生成部３９ｔは先頭パルス制御信号を、マルチパルス制御信号生成部３９ｍはマルチパルス制御信号を、消去パルス制御信号生成部３９ｃは消去パルス制御信号をそれぞれ生成する。それぞれの制御信号はＬＤドライバ部４３に供給され、スイッチング部４３１は記録パワーＰｗの駆動電流源４３１ｗ、消去パワーＰｅの駆動電流源４３１ｅ、ボトムパワーＰｂの駆動電流源４３１ｂを供給された制御信号に基づいてスイッチングすることで記録パルスパターンを生成する。
Ｐｗ駆動電流源４３１ｗ、Ｐｅ駆動電流源４３１ｅ及びＰｂ駆動電流源４３１ｂは、システムコントローラ４５のメモリ４５１に記憶されている記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ及びボトムパワーＰｂに基づいて光ヘッド３４に電流を供給する。これら３値は光記録媒体Ａの記録特性を良好にするための最適な値であり、この最適な値を示す識別情報は予めメモリ４５１に格納されているか、アップデートにより格納されるか、あるいは反射率検出部４６を利用して求めて格納することもできる。なお、メモリ４５１は例えばＲＯＭ（Read Only Memory）または、記録可能なＲＡＭ（Random Access Memory）である。
ところで、本実施形態の光記録装置は、光記録媒体の高線速度（高倍速）化に対応して複数の記録線速度のうちから選択した記録線速度を設定できる用にしている。システムコントローラ４５は記録線速度（倍速モード）を選択するための指示信号が入力されると、メモリ４５１に記憶されている指示された記録線速度における識別情報に基づいてＰｗ駆動電流源４３１ｗ、Ｐｅ駆動電流源４３１ｅ及びＰｂ駆動電流源４３１ｂを上記同様に制御する。メモリ４５１には複数の記録線速度における識別情報が上述したように格納されている。
【００４２】
生成された記録パルスパターンは光ヘッド３４に入力される。光ヘッド３４はＬＤ３３が所望の記録パルスパターン及びパワー比ε（Ｐｗ／Ｐｅ）のＬＤ発光波形を出力するよう制御することにより、記録情報を光記録媒体Ａに記録する。
記録パルス生成部３９とＬＤドライバ部４３と光ヘッド３４とは、マーク長カウンタ４１で生成されたマーク長に基づいて、消去パワーＰｅから立ち上がり、消去パワーＰｅより大なる記録パワーＰｗと消去パワーＰｅより小なるボトムパワーＰｂとの間で形成される記録パルスと、ボトムパワーＰｂから消去パワーＰｅへと立ち上がる消去パルスとよりなる記録パルスパターンを生成し、記録層３に対してＬＤ３３より記録光を記録パルスパターンに応じて照射して記録情報を示す記録マークを記録する記録部４００として動作している。
【００４３】
≪最適な反射率比の検討≫
本発明者は光記録媒体Ａの記録層３及び記録層１３の、未記録部における反射率と未記録部に記録パルスパターンに応じた記録光を照射した後の反射率との関係（反射率比）が光記録媒体の記録及びオーバライト特性に影響を与えるのではないかと推定し、下記の実施例Ａ−１〜Ａ−６及び比較例Ａ−７〜Ａ−１３に基づいてその推定が正しく、記録及びオーバライト特性が最良となる反射率比を有することを見出した。
【００４４】
まず、初期化レーザパワー密度Ｄｉと光記録媒体Ａの反射率Ｒ０との関係について説明する。図７に初期化レーザパワー密度Ｄｉに対する反射率Ｒ０の関係を示す。初期化レーザパワー密度Ｄｉとは、初期化に用いたレーザ光のレーザパワーを初期化用レーザの照射面積で除し、更に初期化用レーザの走査速度で除した値である。反射率Ｒ０とは、後述するように、光記録媒体Ａの記録エリア５４において一度も情報が記録されていない未記録部に、ＬＤ３３からレーザパワーＰｒを有する再生光（０．７ｍＷ）を照射したときの未記録部の反射率である。本実施形態では記録トラック１周分の平均反射率とした。
【００４５】
領域Ａは初期化レーザパワー密度Ｄｉが低く、スパッタ後のアモルファス部（Ａｓ−ｄｅｐｏ）が残るために、ＤＯＷ０のジッタ特性などが非常に悪く、好ましくない。
領域Ａより初期化レーザパワー密度Ｄｉを上げると、アモルファス部がなくなり、比較的反射率変化の少ない領域Ｂとなる。この初期化レーザパワー密度Ｄｉの増加に伴い反射率Ｒ０がなだらかに増加する領域Ｂにおける前半１／２の低反射率側の領域をＢＬ、後半１／２の高反射率側の領域をＢＨとする。更に初期化レーザパワー密度Ｄｉを上げると、反射率変化が大きい領域Ｃ、反射率変化が少ない領域Ｄ、そして、ディスク破壊領域へと変化していく。ディスク破壊領域では、初期化時に投入するレーザパワーが大きすぎるために、熱による物理的破壊が記録層３及び記録層１３を中心とした層に起こる。
なお、Ｌ０層とＬ１層とではそれぞれを構成する記録層３、記録層１３及び反射層５、反射層１５の厚みが異なるため、それぞれの領域の境界での初期化レーザパワー密度Ｄｉの絶対値が異なる場合もある。しかしながらＬ０層、Ｌ１層いずれにおいても図７に示すような関係となる。また、以下で求める第１の反射率比（Ｒ１／Ｒ０）及び第２の反射率比（Ｒ９／Ｒ０）はいずれも反射率Ｒ０に依存するため、領域が同じであればＬ０層、Ｌ１層共に同じ値を示す。
【００４６】
以下の実施例Ａ−１〜Ａ−６及び比較例Ａ−７〜Ａ−１３では、波長が６５８ｎｍのレーザダイオード、ＮＡ＝０．６０の光学レンズを搭載したパルステック社製光ディスクドライブテスタ（ＤＤＵ１０００）を用いて記録（１ビーム・オーバライト）と再生を行った。記録層３、記録層１３それぞれにフォーカスを合わせ、各記録層について評価を行った。
記録線速度は７ｍ／ｓ（ＤＶＤ規格２倍速相当）で、８−１６（ＥＦＭ＋）変調ランダムパターンによる記録再生評価を行った。単位クロックＴは１９．２ｎｓ（ＤＶＤ２倍速）で、ビット長は０．２６７μｍ／ビットである。このようにして光記録媒体に対してＤＶＤ−ＲＯＭと同密度の記録を行った。この場合の光記録媒体の容量は４．７Ｇバイトである。なお、光記録媒体に対する最適条件で隣接トラックも含め１０回オーバライトした後、その再生信号の振幅の中心でスライスし、クロック・トゥー・データ・ジッタを測定した。なお再生光のレーザパワー（再生パワー）Ｐｒは、Ｌ０層の記録層３の再生には０．７ｍＷを、Ｌ１層の記録層１３の再生には１．２ｍＷを用いた。
また、記録ストラテジは、図４に示すようなDVD-RW Version1.1の規定に従った分割パルス系列を用いた。
【００４７】
（実施例Ａ−１）
はじめに、Ｌ０層の形成について詳細に述べる。Ｌ０層は、直径が１２０ｍｍ、板厚が０．６ｍｍのポリカーボネイト樹脂製の基板１上に、後述する各層を形成した。基板１にはトラックピッチが０．７４μｍで空溝が形成されている。この溝深さは２５ｎｍであり、グルーブ幅とランド幅の比は、およそ４０：６０であった。なお、グルーブは記録・再生または消去用レーザ光の入射方向から見て凸状になっている。
【００４８】
まず、真空容器内を３×１０-4Ｐａまで排気した後、２×１０-1ＰａのＡｒガス雰囲気中でＳｉＯ2を２０ｍｏｌ％添加したＺｎＳターゲットを用い高周波マグネトロンスパッタ法により、基板１上に厚さ７０ｎｍの第１誘電体膜２を形成した。
続いて、記録層３をＧｅ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅの４元素単一合金ターゲットで層厚６ｎｍ、続いて第２誘電体膜４を第１誘電体膜２と同じ材料で膜厚１０ｎｍ、反射層５をＡｇ−Ｐｄ−Ｃｕターゲットで層厚１０ｎｍとして、順次積層した。
基板１を真空容器内より取り出した後、この反射層５上にアクリル系紫外線硬化樹脂（ソニーケミカル製ＳＫ５１１０）をスピンコートし、紫外線照射により硬化させて厚さが３μｍの保護層６を形成した。
【００４９】
続いて、Ｌ１層を形成した。各層の形成方法は、既述のＬ０層を構成する対応する層及び膜と同様の方法である。基板１１上に、反射層１５をＡｇ−Ｐｄ−Ｃｕターゲットで層厚１２０ｎｍ、第３誘電体膜１２を第１誘電体膜２と同じ材料で膜厚１６ｎｍ、記録層１３をＧｅ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅの４元素単一合金ターゲットで層厚１６ｎｍ、第４誘電体膜１４をＺｎＳ・ＳｉＯ2で膜厚７０ｎｍとして順次積層した。記録層１３のＳｂ／Ｔｅは記録層３のＳｂ／Ｔｅと同じとした。
【００５０】
未初期化の光記録媒体の記録層３及び記録層１３に対して、初期化装置２００として日立コンピュータ機器製ＰＯＰ１２０を使用して、ラジアル方向レーザ光幅９４μｍ、走査方向レーザ光幅１．０μｍのレーザを用いて、走査線速度２ｍ／ｓ、レーザパワー７２０ｍＷ、送りピッチ１５μｍの初期化条件（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝３．８３［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）で初期化を行った。
Ｌ０層及びＬ１層の初期化をすませた後、基板１、１１が外側を向くよう、保護層６と第４誘電体膜１４とを対向させて透明層２０で貼り合わせ、図２に示す光記録媒体Ａを得た。透明層２０には両面粘着型シートを用いた。なお、本実施形態においてはＬ０層及びＬ１層それぞれの層を初期化した後貼り合わせたが、貼り合わせた後に初期化を行っても構わない。
【００５１】
次に、光記録媒体Ａの記録エリア５４において一度も情報が記録されていない未記録部に、ＬＤ３３からレーザパワーＰｒを有する再生光（０．７ｍＷ）を照射したときの未記録部の反射率をＲ０、この未記録部に記録パルスパターンのレーザ光を１トラック照射した後に、ＬＤ３３から再生用のレーザ光を照射したときの未記録部の反射率をＲ１として、Ｒ０及びＲ１を求めた。なおここで、本実施形態では記録パルスパターンとして、記録マークを３Ｔ〜１４Ｔの間でランダムに形成するような記録パルスパターン（ランダムパターン）を用いた。レーザ光の３値は、ジッタが最も少なくなる最適値を用いた。反射率Ｒ１はこのランダムパターンに基づくレーザ光を１トラックに照射したときの反射率（１トラックでの平均値）である。また、未記録部にランダムパターンに応じたレーザ光を１トラックに９回照射した後に、ＬＤ３３から再生用のレーザ光を照射したときの未記録部の反射率をＲ９として求めた。
【００５２】
続いて、光記録媒体Ａの記録層３および記録層１３のグルーブに記録を行った。
記録の条件である記録パルスパターンは、線速度７ｍ／ｓ（ＤＶＤ２倍速）において、Ｔtop＝０．６［Ｔ］、Ｔmp＝０．５［Ｔ］、Ｔcl＝０．０［Ｔ］とした。また、レーザ光のレーザ強度は記録パワーＰｗ＝１７．０［ｍＷ］、消去パワーＰｅ＝４．６［ｍＷ］、ボトムパワーＰｂ＝０．５［ｍＷ］の３値を用いた（パワー比ε＝Ｐｅ／Ｐｗ＝０．２７）。
本実施例Ａ−１で用いた光記録媒体ＡのＬ０層の記録層３における未記録部の反射率Ｒ０は５．９％であり、記録パルスパターンに応じた記録光を１回照射後における反射率Ｒ１は６．２％、記録パルスパターンに応じた記録光を９回照射後における反射率Ｒ９＝６．５％であった。なお、第１の反射率比（Ｒ１／Ｒ０）は１．０５１、第２の反射率比（Ｒ９／Ｒ０）は１．１０２である。また、同様に求めたＬ１層の記録層１３のＲ０は６．１％であり、Ｒ１＝６．３％、Ｒ９＝６．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０３３、Ｒ９／Ｒ０＝１．０８２）。実施例Ａ−１で測定した値をＬ０層については表１に、Ｌ１層については表２にまとめて示す。
【００５３】
【表１】
2005243218.tif 000003
【００５４】
【表２】
2005243218.tif 000004
【００５５】
ところでＬ０層とＬ１層とでは、それぞれを構成している層の厚みが異なるために、初期化レーザパワー密度Ｄｉと反射率領域との関係がＬ０層とＬ１層とでは同一でない場合もある。従って、未記録部に印加する初期化レーザパワーを変更させ、初期化レーザパワー密度Ｄｉと反射率領域との関係を、Ｌ０層及びＬ１層それぞれについて予め求めておき、初期化レーザパワー密度ＤｉよりＬ０層及びＬ１層の反射率領域を判断できるように検討を行った。
【００５６】
初期特性及びオーバライト記録特性は表１に示すとおり、Ｌ０層の初回記録（ＤＯＷ０）ジッタが７．３％、オーバライト１回（ＤＯＷ１）ジッタが８．８％、オーバライト９回（ＤＯＷ９）ジッタが８．３％であった。さらに記載はしていないが約１万回オーバライト（ＤＯＷ１００００）でのジッタが９．５％と、オーバライトしても特性が常に安定して、記録特性が良好であった。また、表２に示すようにＬ１層のＤＯＷ０ジッタが７．１％、ＤＯＷ１ジッタが８．６％、ＤＯＷ１０ジッタが８．２％であり、ＤＯＷ１００００ジッタが９．２％と、Ｌ０層同様に記録特性が良好であった。
ここで述べるオーバライトはワンビームオーバライトのことであり、１回のレーザ走査で以前に形成された記録マークを消し、新たに記録マークを形成することをいう。そしてＤＯＷ０（Direct Over Write：オーバライト）は初期化した光記録媒体Ａの未記録部へ記録マークを形成する初回記録、ＤＯＷ１は更にそこへ記録マークを形成するオーバライト１回目である。概ね１０％以下のジッタはエラーレートに与える悪影響が少ないとされている。そこで、ＤＯＷ０ジッタは１０％以下、ＤＯＷ１ジッタは１１％以下、ＤＯＷ９ジッタは９％以下の値を良好な値と定義する。
【００５７】
（実施例Ａ−２）
未初期化の光記録媒体をレーザパワー７４０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝３．９４［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。パワー比εを０．２３に変更し、実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．１％、Ｒ１＝６．４％、Ｒ９＝６．７％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０４９、Ｒ９／Ｒ０＝１．０９８）。表１に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。また、Ｌ１層のＲ０＝６．２％、Ｒ１＝６．５％、Ｒ９＝６．８％（Ｒ１／Ｒ０＝１．０４８、Ｒ９／Ｒ０＝１．０９７）であり、表２に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００５８】
（実施例Ａ−３）
未初期化の光記録媒体をレーザパワー７００ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝３．７２［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。パワー比εを０．３８に変更し、実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝５．７％、Ｒ１＝６．３％、Ｒ９＝６．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１０５、Ｒ９／Ｒ０＝１．１５８）。表１に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。また、Ｌ１層のＲ０＝５．８％、Ｒ１＝６．５％、Ｒ９＝６．７％（Ｒ１／Ｒ０＝１．１２１、Ｒ９／Ｒ０＝１．１５５）であり、表２に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００５９】
（実施例Ａ−４）
未初期化の光記録媒体をレーザパワー７８０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝４．１５［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。パワー比εを０．２１に変更し、実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．３％、Ｒ１＝６．３３％、Ｒ９＝６．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．００５、Ｒ９／Ｒ０＝１．０４８）。表１に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。また、Ｌ１層のＲ０＝６．４％、Ｒ１＝６．４５％、Ｒ９＝６．８％（Ｒ１／Ｒ０＝１．００８、Ｒ９／Ｒ０＝１．０５５）であり、表２に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００６０】
（実施例Ａ−５）
未初期化の光記録媒体をレーザパワー６１０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝３．２４［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。このとき反射率領域は、ＢＬに近いＢＨであった。パワー比εを０．３８に変更し、実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝５．４％、Ｒ１＝６．２％、Ｒ９＝６．４％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１４１、Ｒ９／Ｒ０＝１．１８５）。表１に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。また、Ｌ１層のＲ０＝５．５％、Ｒ１＝６．３％、Ｒ９＝６．５％（Ｒ１／Ｒ０＝１．１４５、Ｒ９／Ｒ０＝１．１８２）であり、表２に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００６１】
（実施例Ａ−６）
未初期化の光記録媒体をレーザパワー６９５ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝３．７０［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝５．７％、Ｒ１＝６．４％、Ｒ９＝６．８％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１２３、Ｒ９／Ｒ０＝１．１９３）。表１に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。また、Ｌ１層のＲ０＝５．８％、Ｒ１＝６．４％、Ｒ９＝６．９％（Ｒ１／Ｒ０＝１．１０３、Ｒ９／Ｒ０＝１．１９０）であり、表２に示すように、実施例Ａ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００６２】
（比較例Ａ−７）
未初期化の光記録媒体をレーザパワー５８０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝３．０９［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＬ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝５．３％、Ｒ１＝６．１％、Ｒ９＝６．３％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１５１、Ｒ９／Ｒ０＝１．１８９）。表１に示すように、ＤＯＷ１ジッタが１１．９％と１１％以上の値を取り、ＤＯＷ９ジッタが１０．６％と９％以上の値を取り、良好なＤＯＷジッタ特性が得られなかった。また、Ｌ１層のＲ０＝５．４％、Ｒ１＝６．３％、Ｒ９＝６．４％（Ｒ１／Ｒ０＝１．１６７、Ｒ９／Ｒ０＝１．１８５）であり、表２に示すように、Ｌ０層同様ＤＯＷ１ジッタ及びＤＯＷ９ジッタが悪く、良好なＤＯＷジッタ特性が得られなかった。
【００６３】
（比較例Ａ−８）
未初期化の光記録媒体を走査線速度１．７ｍ／ｓ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝４．５１［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝Ｃ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．４％、Ｒ１＝６．５％、Ｒ９＝６．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０１６、Ｒ９／Ｒ０＝１．０３１）。表１に示すように、ＤＯＷ０ジッタが１１．８％と特に初回記録特性が悪く、良好なＤＯＷジッタ特性が得られなかった。また、Ｌ１層のＲ０＝６．５％、Ｒ１＝６．６％、Ｒ９＝６．７％（Ｒ１／Ｒ０＝１．０１５、Ｒ９／Ｒ０＝１．０３１）であり、表２に示すように、Ｌ０層同様、ＤＯＷ０ジッタが１１．５％と初回記録特性が悪かった。
【００６４】
（比較例Ａ−９）
未初期化の光記録媒体を走査線速度１．７ｍ／ｓ、初期化レーザパワー７６０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝４．７６［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝Ｄ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．７％、Ｒ１＝６．７％、Ｒ９＝６．８％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０００、Ｒ９／Ｒ０＝１．０１５）。表１に示すように、ＤＯＷ１ジッタが１４．９％であり、良好なＤＯＷジッタ特性が得られなかった。また、Ｌ１層のＲ０＝６．８％、Ｒ１＝６．８％、Ｒ９＝６．９％（Ｒ１／Ｒ０＝１．０００、Ｒ９／Ｒ０＝１．０１５）であり、表２に示すように、ＤＯＷ１ジッタが１４．７％であり、Ｌ０層同様良好なＤＯＷジッタ特性が得られなかった。
【００６５】
（比較例Ａ−１０）
未初期化の光記録媒体を走査線速度１．８ｍ／ｓ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝４．２６［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝Ｃ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．４％、Ｒ１＝６．５％、Ｒ９＝６．７％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０１６、Ｒ９／Ｒ０＝１．０４２）。表１に示すように、ＤＯＷ９ジッタが１０％となり、良好なジッタ特性が得られなかった。また、Ｌ１層のＲ０＝６．５％、Ｒ１＝６．６％、Ｒ９＝６．８％（Ｒ１／Ｒ０＝１．０１４、Ｒ９／Ｒ０＝１．０４５）であり、表２に示すようにＤＯＷ９ジッタが１０％となり、Ｌ０層同様良好なジッタ特性が得られなかった。
【００６６】
（比較例Ａ−１１）
未初期化の光記録媒体を走査線速度２．１ｍ／ｓ、初期化レーザパワー５８０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．９４［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＬ）とした以外は実施例Ａ−１と同じ初期化条件で記録層を初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝５．３％、Ｒ１＝６．１％、Ｒ９＝６．４％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１５１、Ｒ９／Ｒ０＝１．２０８）。表１に示すように、ＤＯＷ１ジッタが１２．１％、ＤＯＷ９ジッタが１０．８％となり、良好なジッタ特性が得られなかった。また、Ｌ１層のＲ０＝５．４％、Ｒ１＝６．１％、Ｒ９＝６．５％（Ｒ１／Ｒ０＝１．１４０、Ｒ９／Ｒ０＝１．２１５）であり、表２に示すようにＤＯＷ１ジッタが１２．１％となり、良好なジッタ特性が得られなかった。
【００６７】
以上の実施例Ａ−１〜Ａ−６及び比較例Ａ−７〜Ａ−１１から、第１の反射率比（Ｒ１／Ｒ０）が１．００より大きく１．１５より小さい範囲では、ＤＯＷ１ジッタを１１．０％以下に抑え、かつ、ＤＯＷ９を９．０％以下に抑えることが可能であることが判明した。さらに、このとき第２の反射率比（Ｒ９／Ｒ０）が１．０５より大きく１．２０より小さい範囲にあることも判明した。
また、Ｒ１／Ｒ０やＲ９／Ｒ０が上記した範囲外の場合には、ジッタが望ましくない値となることが判明した。
【００６８】
（比較例Ａ−１２）
実施例Ａ−１と同じ光記録媒体Ａを作成し、パワー比εを０．１８に変更した以外は実施例Ａ−１と同じ記録条件で記録し、測定した。Ｌ０層のＲ０＝６．１％、Ｒ１＝６．２％、Ｒ９＝６．３％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０１６、Ｒ９／Ｒ０＝１．０３３）。表１に示すようにＤＯＷ１ジッタが１９．８％、ＤＯＷ９ジッタが１３．１％と良好なジッタ特性が得られなかった。また、Ｌ１層のＲ０＝６．１％、Ｒ１＝６．１％、Ｒ９＝６．３％（Ｒ１／Ｒ０＝１．０００、Ｒ９／Ｒ０＝１．０３３）であり、表２に示すようにＤＯＷ１ジッタが１９．５％、ＤＯＷ９ジッタが１２．９％と、Ｌ０層同様に良好なジッタ特性が得られなかった。
【００６９】
（比較例Ａ−１３）
実施例Ａ−１と同じ光記録媒体Ａを作成し、パワー比εを０．５０に変更した以外は実施例Ａ−１と同じ記録条件で記録し、測定した。Ｌ０層のＲ０＝６．０％、Ｒ１＝６．２％、Ｒ９＝６．５％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０３３、Ｒ９／Ｒ０＝１．０８３）。表１に示すようにＤＯＷ１ジッタが１３．６％と良好なジッタ特性が得られなかった。また、Ｌ１層のＲ０＝５．９％、Ｒ１＝６．８％、Ｒ９＝６．８％（Ｒ１／Ｒ０＝１．１５３、Ｒ９／Ｒ０＝１．１５３）であり、表２に示すようにＤＯＷ１ジッタが１３．５％とＬ０層同様に良好なジッタ特性が得られなかった。
【００７０】
以上から、光記録媒体Ａにおける既述したように定義した反射率比Ｒ０、Ｒ１及びＲ９、これに基づいた第1の反射率比（Ｒ１／Ｒ０）が（１）式の関係を満たすことが好ましいことが判明した。更に、第２の反射率比（Ｒ９／Ｒ０）が、（２）式の関係を満たすことが好ましいことも判明した。（１）式、（２）式の関係を満たすよう、例えば初期化レーザパワー密度Ｄｉを設定することが挙げられる。（１）式、（２）式の関係を満たすことで１回または複数回のオーバライトを行っても、光記録媒体Ａは良好な記録及びオーバライト特性を保つことができる。
【００７１】
１．００＜（Ｒ１／Ｒ０）＜１．１５  ・・・（１）
１．０５＜（Ｒ９／Ｒ０）＜１．２０  ・・・（２）
【００７２】
第1の反射率比（Ｒ１／Ｒ０）が１．１５より大きいと、初期化された未記録部はアモルファス部分を多く含むこととなり、再生信号の変調度が十分に得られない等の問題がある。また、２層の光記録媒体は十分な反射率が得られず、ドライブでの認識ができなくなるなどの問題が発生する可能性もある。
また、反射率Ｒ０を低めに設定することは、オーバライトを繰り返すことで反射率が大きくなりやすいことにつながる。従って第２の反射率比（Ｒ９／Ｒ０）が（２）式の関係を満たすよう初期化条件を設定すると、オーバライトの繰り返しによる結晶状態の変化も大きくなく、ＤＯＷ９ジッタをＤＶＤ−ＲＷの規格で設定されている値とすることも可能である。
【００７３】
図８は反射率領域Ｂ〜Ｄにおける上書き回数（オーバライト：ＤＯＷ）とジッタ値との関係を示すＤＯＷジッタ特性図である。
領域Ｄ（◆）の初期化レーザパワー密度Ｄｉ、すなわち初期化用レーザのレーザパワーと走査速度に基づく初期化条件では、ＤＯＷ０のジッタは良いが、ＤＯＷ１ジッタが非常に悪くなるので、好ましくない。領域Ｄにおいて第２の反射率比（Ｒ９／Ｒ０）は１．０５を下回り、（２）式を満足しない。
領域Ｃ（●）の初期化条件では、領域Ｄと領域ＢＨの両方が入り混じるために初期特性が安定せず、図８に示すように特にＤＯＷ０のジッタが良くない。オーバライトを少数回繰り返すとジッタは良くなるが、ＤＯＷ９（オーバライト９回目）でも良好なジッタが得られないので、好ましくない。領域Ｃにおいても領域Ｄと同様にＲ９／Ｒ０は１．０５を下回り、（２）式を満足しない。
【００７４】
領域ＢＬ（□）でのＤＯＷジッタ特性は図８に示すようにＤＯＷ０のジッタは良いが、ＤＯＷ１ジッタが非常に悪くなるので、好ましくない。領域ＢＬにおいて第１の反射率比（Ｒ１／Ｒ０）は１．１５を超え、（１）式を満足しない。
一方、領域ＢＨ（△）では図８に示すような良好なＤＯＷジッタ特性を得ることができるので、もっとも望ましい初期化条件である。更に領域ＢＨでは上記（１）式及び（２）式の関係を満足する。
【００７５】
図９に、実施例Ａ−１〜Ａ−６及び比較例Ａ−７〜Ａ−１３に基づいた、光記録媒体ＡのＬ０層におけるジッタとパワー比εとの関係を示す。図９からパワー比εが０．２０以上０．４０以下の範囲内にあると良好なＤＯＷ１ジッタが得られることが分かる。図９には、Ｌ１層における同様の関係も示したが、Ｌ１層においてもパワー比εが０．２０以上０．４０以下の範囲内にあると良好なＤＯＷ１ジッタが得られることが分かる。
【００７６】
図１０はＤＯＷ回数に対するジッタの関係を示すＤＯＷジッタ特性図である。図１０においてはパワー比εが０．３（△）と、０．２より小さい０．１５（◇）と、０．４より大きい０．４５（○）を示している。パワー比εが０．２０より小さい場合、記録パワーＰｗに対して消去パワーＰｅが過剰に小さくなるので前に描いたマークを十分に消去することができない。そのため図１０の（◇）で示すようにＤＯＷ１以降のジッタ特性が良くないので好ましくない。一方パワー比εが０．４０より大きい場合には、記録パワーＰｗに対して消去パワーＰｅが過剰に大きくなるので結晶状態が安定せず、図１０の（○）で示すようにＤＯＷ１のジッタ特性が良くないので好ましくない。
図１０に示すパワー比εが０．３０である場合（△）、ジッタがいずれのＤＯＷ回数においても１０％以下の値を取ることがわかる。以上のことより、１０％以下のジッタを得るために０．２０≦ε≦０．４０の範囲にあるパワー比εが好ましい。
【００７７】
なお、パワー比εを０．２０≦ε≦０．４０と設定することで、消去パワーＰｅが記録層の融点を超えるエネルギーを与えることがなくなる。加えて、結晶化に利用できる時間が長くなる。そのため、記録層を形成する材料のＳｂ/Ｔｅが低くても高い結晶化速度を得ることができる。このことより、Ｌ０層の記録層３とＬ１層の記録層１３とでＳｂ/Ｔｅを変えるという煩雑な設定をしなくても、記録層３と記録層１３とが高速記録可能で、かつ良好な記録特性を得ることができる。
図１１にＳｂＴｅ系の材料で形成した記録層の結晶化速度とパワー比εとの関係を示す。Ｓｂ/Ｔｅ比が３．２の場合を直線で、３．０の場合を破線で、２．３の場合を一点鎖線で表した。ここから、本発明のようにパワー比εが０．２０≦ε≦０．４０であれば、Ｓｂ/Ｔｅが３．０と低い場合でも、ＤＶＤ４倍速に相当する結晶化速度が得られることがわかる。
【００７８】
≪透過率の検討≫
続いて、本発明者はＬ０層を構成する記録層３の透過率を上げるために膜の厚みを小さくすることが光記録媒体の記録及びオーバライト特性に影響を与えるのではないかと推定し、下記の実施例Ｂ−１〜Ｂ−５及び比較例Ｂ−６〜Ｂ−１２に基づいてその推定が正しく、記録及びオーバライト特性が最良となるＬ０層の構成を見出した。
従って、以下では記録層３の透過率を向上させるため、Ｌ０層の構成とＬ０層の初期化条件とが実施例Ａ−１とは異なる光記録媒体Ａを作成し検討した。Ｌ０層に関する他の条件は実施例Ａ−1と同様のものとした。
また、組み合わせるＬ１層の記録層１３については、実施例Ｂ−１〜Ｂ−５は実施例Ａ−１〜Ａ−５と、比較例Ｂ−６〜Ｂ−１２は比較例Ａ−７〜Ａ−１３と同一のものを用いたため、Ｌ１層に関する記載は省略する。Ｌ０層の記録層３についてのみ下記に詳述し、表３にまとめる。
【００７９】
（実施例Ｂ−１）
実施例Ａ−１と同様に真空容器内で基板１上にＺｎＳとＳｉＯ2よりなる層厚７０ｎｍの第１誘電体膜２を形成し、記録層３をＧｅ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅの４元素単一合金ターゲットで層厚５ｎｍ、続いて第２誘電体膜４を第１誘電体膜２と同じ材料で８ｎｍ、反射層５をＡｇ−Ｐｄ−Ｃｕターゲットで層厚７ｎｍとして順次積層した。
この基板１を真空容器内より取り出した後、反射層５上にアクリル系紫外線硬化樹脂（ソニーケミカル製ＳＫ５１１０）をスピンコートし、紫外線照射により硬化させて膜厚が３μｍの保護膜６を形成し、Ｌ０層を完成させた。
【００８０】
未初期化の光記録媒体の記録層３に対して、実施例Ａ−１で用いた初期化装置２００にてラジアル方向レーザ光幅９４μｍ、走査方向レーザ光幅１．０μｍのレーザを用いて、走査線速度３ｍ／ｓ、レーザパワー６２０ｍＷ、送りピッチ１５μｍの条件（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．２［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）で初期化を行った。
なお、Ｌ１層は実施例Ａ−１と同じ構成のものを用いて、実施例Ａ−１と同じ初期化条件で初期化をし、最後にＬ０層とＬ１層とを透明層２０である両面粘着型シートで貼り合わせて光記録媒体Ａを形成した。
この光記録媒体ＡのＬ０層は記録層３の厚みが薄いため、透過率は高いものの非常に徐冷的である。また記録層３の初期化条件が、Ｌ１層の記録層１３と異なる。以下の実施例Ｂ−２〜Ｂ−５及び比較例Ｂ−６〜Ｂ−１２においても同様の構成の光記録媒体Ａを用いて検討する。
【００８１】
実施例Ａ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．９％、Ｒ１＝７．３％、Ｒ９＝７．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０５８、Ｒ９／Ｒ０＝１．１０１）。以上の値を表３にまとめて示す。
初期特性及びオーバライト記録特性は、表３に示すとおり、ＤＯＷ０ジッタが７．４％、ＤＯＷ１ジッタが９．０％、ＤＯＷ９ジッタが８．３％であり、さらに表２には示していないがＤＯＷ１００００ジッタが９．６％とオーバライト特性が非常に安定して、記録特性が良好であった。
【００８２】
【表３】
2005243218.tif 000005
【００８３】
（実施例Ｂ−２）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー６４０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．２７［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。パワー比εを０．２３に変更し、実施例Ｂ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝７．１％、Ｒ１＝７．４％、Ｒ９＝７．８％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０４２、Ｒ９／Ｒ０＝１．０９９）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、実施例Ｂ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００８４】
（実施例Ｂ−３）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー６００ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．１３［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。パワー比εを０．３８に変更し、実施例Ｂ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．７％、Ｒ１＝７．４％、Ｒ９＝７．７％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１０４、Ｒ９／Ｒ０＝１．１４９）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、実施例Ｂ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００８５】
（実施例Ｂ−４）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー６８０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．４１［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＨ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。パワー比εを０．２１にし、実施例Ｂ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝７．２％、Ｒ１＝７．２４％、Ｒ９＝７．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．００６、Ｒ９／Ｒ０＝１．０５６）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、実施例Ｂ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００８６】
（実施例Ｂ−５）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー５１０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝１．８１［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＬに近いＢＨ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。パワー比εを０．３８に変更し、実施例Ｂ−１と同様に測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．４％、Ｒ１＝７．３％、Ｒ９＝７．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１４１、Ｒ９／Ｒ０＝１．１８８）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、実施例Ｂ−１と同様に良好なＤＯＷジッタ特性が得られた。
【００８７】
（比較例Ｂ−６）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー４８０ｍＷ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝１．７０［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＬ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ｂ−１と同じ条件で測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．３％、Ｒ１＝７．３％、Ｒ９＝７．５％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１５１、Ｒ９／Ｒ０＝１．１８８）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、ＤＯＷ１ジッタ特性がわずかに悪かった。
【００８８】
（比較例Ｂ−７）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー６２０ｍＷ、線速度２．５ｍ／ｓ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．６４［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝Ｃ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ｂ−１と同じ条件で測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝７．４％、Ｒ１＝７．５％、Ｒ９＝７．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０１４、Ｒ９／Ｒ０＝１．０２７）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、ＤＯＷ０ジッタ及びＤＯＷ１ジッタがわずかに悪かった。
【００８９】
（比較例Ｂ−８）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー６６０ｍＷ、線速度２．５ｍ／ｓ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．８１［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝Ｄ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ｂ−１と同じ条件で測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝７．７％、Ｒ１＝７．７％、Ｒ９＝７．８％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０００、Ｒ９／Ｒ０＝１．０１３）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、ＤＯＷ１ジッタが悪かった。
【００９０】
（比較例Ｂ−９）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー６２０ｍＷ、線速度２．８ｍ／ｓ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝２．３６［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝Ｃ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ｂ−１と同じ条件で測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝７．４％、Ｒ１＝７．６％、Ｒ９＝７．７％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０２７、Ｒ９／Ｒ０＝１．０４１）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、ＤＯＷ９ジッタ特性がわずかに悪かった。
【００９１】
（比較例Ｂ−１０）
未初期化の光記録媒体の記録層３をレーザパワー４８０ｍＷ、線速度３．１ｍ／ｓ（初期化レーザパワー密度Ｄｉ＝１．６５［ｍＷ・ｓ／（μｍ2・ｍ）］、領域＝ＢＬ）とした以外は実施例Ｂ−１と同じ初期化条件で初期化した光記録媒体Ａを用意した。実施例Ｂ−１と同じ条件で測定したところ、Ｌ０層のＲ０＝６．４％、Ｒ１＝７．２％、Ｒ９＝７．８％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．１２５、Ｒ９／Ｒ０＝１．２１９）。実施例Ｂ−１と同様に測定をしたところ、表３に示すように、ＤＯＷ９ジッタ特性がわずかに悪かった。
【００９２】
（比較例Ｂ−１１）
実施例Ｂ−１と同じ光記録媒体Ａを作成し、パワー比εを０．１８に変更した以外は実施例Ｂ−１と同じ記録条件で記録し、測定した。反射率領域はＢＨであり、Ｌ０層のＲ０＝７．１％、Ｒ１＝７．２％、Ｒ９＝７．２％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０１４、Ｒ９／Ｒ０＝１．０２８）。表３に示すようにＤＯＷ１ジッタが２０％を超えた。
【００９３】
（比較例Ｂ−１２）
実施例Ｂ−１と同じ光記録媒体Ａを作成し、パワー比εを０．５に変更した以外は実施例Ｂ−１と同じ記録条件で記録し、測定した。反射率領域はＢＨであり、Ｌ０層のＲ０＝７．０％、Ｒ１＝７．２％、Ｒ９＝７．６％であった（Ｒ１／Ｒ０＝１．０２９、Ｒ９／Ｒ０＝１．０８６）。表３に示すようにＤＯＷ１ジッタが悪かった。
【００９４】
以上のように、Ｌ０層の記録層３の透過率を上げるために、記録層３、第２誘電体膜４や半透明膜５の膜厚を非常に薄くした場合において、記録層３の初期化に必要な初期化パワー密度Ｄｉが低くても、上述した（１）、（２）式が成り立つことが判明した。
なお、上述した実施例Ａ、Ｂにおいて光記録媒体の実施形態として２層の相変化型のものを用いて検討したが、本発明は記録層が１層の相変化型光記録媒体及び３層以上の複数の相変化型光記録媒体、いずれにおいても成り立つ。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】相変化型光記録媒体の製造設備３００または製造設備３００にて行われる製造・初期化工程を示す図である
【図２】本発明に係る光記録媒体の一実施形態を示す拡大断面図である。
【図３】本発明に係る光記録媒体の一実施形態を示す平面図である。
【図４】記録パルスパターンの第一例を示す図である。
【図５】記録パルスパターンの第二例を示す図である。
【図６】本発明に係る光記録装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図７】初期化レーザパワー密度Ｄｉと、初期化後の光記録媒体ＡのＲ０との関係を示す図である。
【図８】図７に示す反射率領域Ｂ〜ＤにおけるＤＯＷ回数とジッタとの関係を示すＤＯＷジッタ特性図である。
【図９】Ｌ０層及びＬ１層におけるジッタとパワー比εとの関係を示す図である。
【図１０】ＤＯＷ回数に対するジッタの関係を示すＤＯＷジッタ特性図である。
【図１１】記録線速度とパワー比εとの関係を示す図である。
【符号の説明】
【００９６】
Ａ  光記録媒体
Ｌ０  第１層
Ｌ１  第２層
１、１１  基板
２、４、１２、１４  誘電体膜
３、１３  記録層
５、１５  反射層
【図１】
2005243218.tif 000006
【図２】
2005243218.tif 000007
【図３】
2005243218.tif 000008
【図４】
2005243218.tif 000009
【図５】
2005243218.tif 000010
【図６】
2005243218.tif 000011
【図７】
2005243218.tif 000012
【図８】
2005243218.tif 000013
【図９】
2005243218.tif 000014
【図１０】
2005243218.tif 000015
【図１１】
2005243218.tif 000016
【手続補正書】
【提出日】平成17年1月25日(2005.1.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
上述したように、反射層５もＬ０層の透過率に影響を及ぼす。そのためＬ１層の記録層１３への光の透過を考慮すると、反射層５の厚さは１０ｎｍ以下であることが好ましい。３００ｎｍ以上の厚さを形成する場合には、製造上時間を要するため熱伝導率の高い材料を用いて、層厚を制御しながら形成することが好ましい。
反射層１５の厚さは、反射層１５を形成する材料の熱伝導率の大きさによって変化するが、５０ｎｍ以上３００ｎｍ以下であることが好ましい。反射層１５の厚みが５０ｎｍ以上であれば、反射層１５は光学的には変化せず反射率の値に影響を与えないが、反射層１５の厚みが増すと冷却速度への影響が大きくなる。また、３００ｎｍを超える厚さを形成するのは製造上時間を要する。従って熱伝導率の高い材料を用いることにより、反射層１５の層厚をなるべく最適範囲に制御する。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
以上の方法で形成したＬ０層とＬ１層とを、保護層６と第４誘電体膜１４とが基板１と基板１１とに挟まれるように透明層２０で貼り合わせる。すなわち基板１、１１が外側を向くよう、保護層６と第４誘電体膜１４とを対向させて貼り合わせる。
なお、２層の光記録媒体は次のような方法で形成してもよい。少なくとも記録・再生または消去用レーザ光が入射する入射面を底面とする基板上に第１誘電体膜、第１記録層、第２誘電体膜、第１反射膜を順次積層し、第１反射膜上に紫外線硬化樹脂を塗布する。記録溝を転写するための透明スタンパを押し当てた状態で紫外線を照射し、紫外線硬化膜を形成して透明スタンパを剥離する。続けて紫外線硬化膜上に、第３誘電体膜、第２記録層、第４誘電体膜、第２反射膜を順次積層し、２層の光記録媒体を形成する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９４】
以上のように、Ｌ０層の記録層３の透過率を上げるために、記録層３、第２誘電体膜４や反射層５の膜厚を非常に薄くした場合において、記録層３の初期化に必要な初期化パワー密度Ｄｉが低くても、上述した（１）、（２）式が成り立つことが判明した。
なお、上述した実施例Ａ、Ｂにおいて光記録媒体の実施形態として２層の相変化型のものを用いて検討したが、本発明は記録層が１層の相変化型光記録媒体及び３層以上の複数の相変化型光記録媒体、いずれにおいても成り立つ。