(57)【要約】【課題】  最適化されたＩＣテスタ用プログラムに、コメント化された命令が存在しなくても、テスト項目毎のデバッグが容易に行え、効率的にＩＣテスタ用プログラムのデバッグが実現できるＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置、デバッグ方法及びデバッグプログラムを提供する。【解決手段】  ＩＣの検査に用いるＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラム１から、テスト項目毎にプログラム記述を抽出するプログラム記述抽出手段２と、該プログラム記述抽出手段によりテスト項目毎に抽出されたプログラム記述から、省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出する省略情報抽出手段４と、前記テスト項目毎に抽出されたプログラム記述と、省略されているプログラム記述とを合成するプログラム記述合成手段７とでＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置を構成する。【選択図】        図  １
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＩＣの検査に用いるＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラムから、テスト項目毎にプログラム記述を抽出するプログラム記述抽出手段と、該プログラム記述抽出手段によりテスト項目毎に抽出されたプログラム記述から、省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出する省略情報抽出手段と、前記テスト項目毎に抽出されたプログラム記述と、省略されているプログラム記述とを合成するプログラム記述合成手段とを有するＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置。
【請求項２】
前記省略情報抽出手段は、前記プログラム記述抽出手段から出力されるｎ番目（ｎは２以上の整数）のテスト項目に対応するプログラム記述に設定されている項目の内、前記プログラム記述合成手段から出力される（ｎ−１）番目のテスト項目のプログラム記述に対応する完全な設定項目の情報から除外されているものを、ｎ番目のテスト項目の省略されているプログラム記述として抽出することを特徴とする請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置。
【請求項３】
前記プログラム記述合成手段により合成されたプログラム記述を、テスト仕様書等の表形式で表示することを特徴とする請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置。
【請求項４】
前記プログラム記述抽出手段及び省略情報抽出手段から出力されるプログラム記述のテスト項目を関連付け、グループ化して取り扱うことを特徴とする請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置。
【請求項５】
前記省略情報抽出手段から出力される情報の格納場所を、ポインタにより指し示すように構成したことを特徴とする請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置。
【請求項６】
ＩＣの検査に用いるＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラムから、テスト項目毎にプログラム記述を抽出するステップと、該プログラム記述抽出ステップによりテスト項目毎に抽出されたプログラム記述から、省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出する省略情報抽出ステップと、前記テスト項目毎に抽出されたプログラム記述と、省略されているプログラム記述とを合成するステップとを備えていることを特徴とするＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法。
【請求項７】
前記省略情報抽出ステップは、前記プログラム記述抽出ステップから出力されるｎ番目（ｎは２以上の整数）のテスト項目に対応するプログラム記述に設定されている項目の内、前記プログラム記述合成ステップから出力される（ｎ−１）番目のテスト項目のプログラム記述に対応する完全な設定項目の情報から除外されているものを、ｎ番目の省略されているプログラム記述として抽出することを特徴とする請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法。
【請求項８】
前記プログラム記述合成ステップにより合成されたプログラム記述を、テスト仕様書等の表形式で表示することを特徴とする請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法。
【請求項９】
前記プログラム記述抽出ステップ及び省略情報抽出ステップから出力されるプログラム記述のテスト項目を関連付け、グループ化して取り扱うことを特徴とする請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法。
【請求項１０】
前記省略情報抽出ステップから出力される情報の格納場所を、ポインタにより指し示すようにしたことを特徴とする請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法。
【請求項１１】
ＩＣの検査に用いるＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラムから、テスト項目毎にプログラム記述を抽出する手順と、該プログラム記述抽出手順によりテスト項目毎に抽出されたプログラム記述から、省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出する省略情報抽出手順と、前記テスト項目毎に抽出されたプログラム記述と省略されているプログラム記述とを合成するプログラム記述合成手順とを、コンピュータに実行させることを特徴とするＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラム。
【請求項１２】
前記省略情報抽出手順は、前記プログラム記述抽出手順から出力されるｎ番目（ｎは２以上の整数）のテスト項目に対応するプログラム記述に設定されている項目の内、前記プログラム記述合成手順から出力される（ｎ−１）番目のテスト項目のプログラム記述に対応する完全な設定項目の情報から除外されているものを、ｎ番目の省略されているプログラム記述として抽出させることを特徴とする請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラム。
【請求項１３】
前記プログラム記述合成手順により合成されたプログラム記述を、テスト仕様書等の表形式で表示させることを特徴とする請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラム。
【請求項１４】
前記プログラム記述抽出手順及び省略情報抽出手順から出力されるプログラム記述のテスト項目を関連付け、グループ化して取り扱わせることを特徴とする請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラム。
【請求項１５】
前記省略情報抽出手順から出力される情報の格納場所を、ポインタにより指し示すようにしたことを特徴とする請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置、デバッグ方法及びデバッグプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＩＣ検査には、図６に示すように、検査対象となる被検査ＩＣ101 ，検査装置であるＩＣテスタ102 ，被検査ＩＣ101 を装着するパフォーマンスボード103 ，ＩＣテスタ102 を制御するＩＣテスタ用プログラム104 が必要である。このＩＣテスタ用プログラム104 のデバッグ作業とは、被検査ＩＣ101 とパフォーマンスボード103 が作製された後、被検査ＩＣ101 を装着したパフォーマンスボード103 をＩＣテスタ102 と接続し、ＩＣテスタ102 上でＩＣテスタ用プログラム104 を実行して、不具合点の発見とその対応を行うことである。そして、ＩＣテスタ用プログラム中の各テスト項目で重複した命令を削除し、ＩＣ検査時間を短縮することを目的としてプログラムを最適化することが一般的に行われている。
【０００３】
このため、最適化されたＩＣテスタ用プログラムをデバッグする際、デバッグの対象とするテスト項目のプログラム記述部分を取り出す場合、デバッグ対象以前のテスト項目とデバッグ対象のテスト項目とで命令が最適化された部分を含んでいると、ＩＣテスタを正常に動作させるための命令が欠如していることとなり、デバッグ作業を行うことが困難となる。そこで、ＩＣテスタ用プログラムを最適化する際、重複した命令をコメント化してその命令を無効としたり、個別のテスト項目のデバッグの際には、コメント化した命令を通常の命令に戻す手法が、例えば、特開平６−２８２４６２号公報に提案されている。
【特許文献１】特開平６−２８２４６２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の手法では、最適化されたＩＣテスタ用テストプログラムを使用してデバッグを行なうため、各テスト項目で設定されているＩＣテスタの設定条件がわかりにくく、デバッグ作業の効率低下をもたらしていた。また、上記特開平６−２８２４６２号公報に開示されているような重複した命令をコメント化する方法では、最適化されたＩＣテスタ用プログラム中に重複した命令がコメント化されて存在していなければならず、コメント化された命令の一部あるいは全部が存在しない最適化されたＩＣテスタ用プログラムでは、上記手法は実施できないという問題があった。
【０００５】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、最適化されたＩＣテスタ用プログラムに、コメント化された命令が存在しなくても、テスト項目毎のデバッグが容易に行なえ、効率的にＩＣテスタ用プログラムのデバッグが実現できるＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置、デバッグ方法及びデバッグプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、請求項１に係る発明のＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置は、ＩＣの検査に用いるＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラムから、テスト項目毎にプログラム記述を抽出するプログラム記述抽出手段と、該プログラム記述抽出手段によりテスト項目毎に抽出されたプログラム記述から、省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出する省略情報抽出手段と、前記テスト項目毎に抽出されたプログラム記述と、省略されているプログラム記述とを合成するプログラム記述合成手段とを有することを特徴とするものである。
【０００７】
このように構成されたＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置においては、省略された命令文をコメント化したＩＣテスタ用プログラムに対しても、テスト項目毎に必要な情報を再現することができる。
【０００８】
また、請求項２に係る発明は、請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置において、前記省略情報抽出手段は、前記プログラム記述抽出手段から出力されるｎ番目（ｎは２以上の整数）のテスト項目に対応するプログラム記述に設定されている項目の内、前記プログラム記述合成手段から出力される（ｎ−１）番目のテスト項目のプログラム記述に対応する完全な設定項目の情報から除外されているものを、ｎ番目のテスト項目の省略されているプログラム記述として抽出することを特徴とするものである。
【０００９】
このように構成することにより、ＩＣテスタ用プログラムで省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出することができる。
【００１０】
また、請求項３に係る発明は、請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置において、前記プログラム記述合成手段により合成されたプログラム記述を、テスト仕様書等の表形式で表示させることを特徴とするものである。
【００１１】
このように構成することにより、ＩＣテスタ用プログラムに記述されているＩＣテスタの設定状態が容易に確認することができる。
【００１２】
また、請求項４に係る発明は、請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置において、上記プログラム記述抽出手段及び省略情報抽出手段から出力されるプログラム記述のテスト項目を関連付け、グループ化して取り扱うことを特徴とするものである。
【００１３】
このように構成することにより、テストの実行順序を変更できないテスト項目に対して、各テスト項目の前後の位置関係を保ち、関連性を損なうことなしにＩＣテスタ用プログラムの修正をすることができる。
【００１４】
また、請求項５に係る発明は、請求項１に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置において、前記省略情報抽出手段から出力される情報の格納場所を、ポインタにより指し示すように構成することを特徴とするものである。
【００１５】
このように構成することにより、コンピュータ等で使用するメモリー容量を低減することができる。
【００１６】
また、請求項６に係る発明のＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法は、ＩＣの検査に用いるＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラムから、テスト項目毎にプログラム記述を抽出するステップと、該プログラム記述抽出ステップによりテスト項目毎に抽出されたプログラム記述から、省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出する省略情報抽出ステップと、前記テスト項目毎に抽出されたプログラム記述と、省略されているプログラム記述とを合成するステップとを備えていることを特徴とするものである。
【００１７】
このように構成されたＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法においては、省略された命令文をコメント化したＩＣテスタ用プログラムに対しても、テスト項目毎に必要な情報を再現することができる。
【００１８】
また、請求項７に係る発明は、請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法において、前記省略情報抽出ステップは、前記プログラム記述抽出ステップから出力されるｎ番目（ｎは２以上の整数）のテスト項目に対応するプログラム記述に設定されている項目の内、前記プログラム記述合成ステップから出力される（ｎ−１）番目のテスト項目のプログラム記述に対応する完全な設定項目の情報から除外されているものを、ｎ番目の省略されているプログラム記述として抽出することを特徴とするものである。
【００１９】
このように構成することにより、ＩＣテスタ用プログラムで省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出することができる。
【００２０】
また、請求項８に係る発明は、請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法において、前記プログラム記述合成ステップにより合成されたプログラム記述を、テスト仕様書等の表形式で表示させることを特徴とするものである。
【００２１】
このように構成することにより、ＩＣテスタ用プログラムに記述されているＩＣテスタの設定状態を容易に確認することができる。
【００２２】
また、請求項９に係る発明は、請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法において、前記プログラム記述抽出ステップ及び省略情報抽出ステップから出力されるプログラム記述のテスト項目を関連付け、グループ化して取り扱うことを特徴とするものである。
【００２３】
このように構成することにより、テストの実行順序を変更できないテスト項目に対して、各テスト項目の前後の位置関係を保ち、関連性を損なうことなしにＩＣテスタ用プログラムの修正をすることができる。
【００２４】
また、請求項10に係る発明は、請求項６に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ方法において、前記省略情報抽出ステップから出力される情報の格納場所を、ポインタにより指し示すようにしたことを特徴とするものである。
【００２５】
このように構成することにより、コンピュータ等で使用するメモリー容量を低減することができる。
【００２６】
また、請求項11に係る発明のＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラムは、ＩＣの検査に用いるＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラムから、テスト項目毎にプログラム記述を抽出する手順と、該プログラム記述抽出手順によりテスト項目毎に抽出されたプログラム記述から、省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出する省略情報抽出手順と、前記テスト項目毎に抽出されたプログラム記述と、省略されているプログラム記述とを合成するプログラム記述合成手順とを、コンピュータに実行させることを特徴とするものである。
【００２７】
このように構成されたＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラムにおいては、省略された命令文をコメント化したＩＣテスタ用プログラムに対しても、テスト項目毎に必要な情報を再現することができる。
【００２８】
また、請求項12に係る発明は、請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラムにおいて、前記省略情報抽出手順は、前記プログラム記述抽出手順から出力されるｎ番目（ｎは２以上の整数）のテスト項目に対応するプログラム記述に設定されている項目の内、前記プログラム記述合成手順から出力される（ｎ−１）番目のテスト項目のプログラム記述に対応する完全な設定項目の情報から除外されているものを、ｎ番目の省略されているプログラム記述として抽出させることを特徴とするものである。
【００２９】
このように構成することにより、ＩＣテスタ用プログラムで省略されているプログラム記述をテスト項目毎に抽出することができる。
【００３０】
また、請求項13に係る発明は、請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラムにおいて、前記プログラム記述合成手順により合成されたプログラム記述を、テスト仕様書等の表形式で表示させることを特徴とするものである。
【００３１】
このように構成することにより、ＩＣテスタ用プログラムに記述されているＩＣテスタの設定状態が容易に確認できる。
【００３２】
また、請求項14に係る発明は、請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラムにおいて、前記プログラム記述抽出手順及び省略情報抽出手順から出力されるプログラム記述のテスト項目を関連付け、グループ化して取り扱わせることを特徴とするものである。
【００３３】
このように構成することにより、テストの実行順序を変更できないテスト項目に対して、各テスト項目の前後の位置関係を保ち、関連性を損なうことなしにＩＣテスタ用プログラムの修正ができる。
【００３４】
また、請求項15に係る発明は、請求項11に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグプログラムにおいて、前記省略情報抽出手順から出力される情報の格納場所を、ポインタにより指し示すようにしたことを特徴とするものである。
【００３５】
このように構成することにより、コンピュータ等で使用するメモリー容量を低減することができる。
【発明の効果】
【００３６】
本発明によれば、ＩＣ検査に用いるＩＣテスタのテストプログラムが最適化されていても、各テスト項目毎に独立して実行できるテストプログラムが得られ、テスト項目単位でテストプログラムのデバッグが実現できるＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置、デバッグ方法、及びデバッグプログラムを実現することができ、その結果、テストプログラムのテスト項目単位でのデバッグや、テスト項目の順序の入れ替え等の修正が容易に行なえることなどの利点を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
次に、発明を実施するための最良の形態について説明する。
【実施例】
【００３８】
本発明に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置の実施例の構成を図１に基づいて説明する。図１において、１はＩＣテスタの動作を制御するＩＣテスタ用プログラムであり、２はＩＣテスタ用プログラム１からテスト項目毎にプログラム記述データを抽出するプログラム記述抽出手段であり、３はプログラム記述抽出手段２から出力されるプログラム記述データを格納するプログラム記述格納手段であり、４はプログラム記述格納手段３からＩＣテスタ用プログラム１で省略されているプログラム記述データを抽出する省略情報抽出手段であり、５は省略情報抽出手段４から出力される省略プログラム記述データを格納する省略プログラム記述格納手段である。ここで、プログラム記述データとは、ＩＣに対して行うテスト情報を含むデータである。７はプログラム記述格納手段３と省略プログラム記述格納手段５にそれぞれ格納されているテスト項目毎のデータを合成するプログラム記述合成手段であり、８は全体の動作を制御するコントローラである。
【００３９】
９はプログラム記述合成手段７により合成されたプログラム記述を表示するプログラム記述表示手段であり、10はプログラム記述合成手段７で合成されたプログラム記述を修正するプログラム記述修正手段であり、11はプログラム記述合成手段７で合成されたプログラム記述をデバッグするデバッグ手段であり、12はプログラム記述合成手段７で合成されたプログラム記述を格納する合成プログラム記述格納手段である。なお、プログラム記述格納手段３に格納されているプログラム記述データと、省略プログラム記述格納手段５に格納されているプログラム記述データは、図３に模式的に示すように、テスト項目毎に関連付けられて記憶されている。
【００４０】
動作の手順を示す図２のフローチャートに基づいて、図１に示した実施例の動作について説明する。ここでは、プログラム記述格納手段３及び省略プログラム記述格納手段５には、各テスト項目全体で用いられる設定項目全てを記憶するための領域が予め確保されているものとして説明する。まず、動作を開始すると（ステップＳ20）、ＩＣテスタ用プログラム１をプログラム記述抽出手段２へ読み込み（ステップＳ21）、ＩＣテスタ用プログラム１をテスト項目毎に分離する（ステップＳ22）。そして、分離したプログラム記述データをテスト項目毎にプログラム記述格納手段３に格納する（ステップＳ23）。
【００４１】
ここで、テスト項目の数をカウントするための変数ＣＯＵＮＴを１に初期化する（ステップＳ24）。プログラム記述格納手段３に格納されているＣＯＵＮＴ番目のテスト項目のプログラム記述データを読み出す（ステップＳ25）。そして、ステップＳ25で読み出されたプログラム記述データが１番目のテスト項目か判断する（ステップＳ26）。もしステップＳ26の判断が真ならば、省略情報抽出手段４によって抽出され、省略プログラム記述格納手段５に確保されている全設定項目がリセット（初期化）され（ステップＳ27）、プログラム記述格納手段３に格納されているＣＯＵＮＴ番目のテスト項目の情報と、省略プログラム記述格納手段５に格納されているＣＯＵＮＴ番目のテスト項目の情報を、プログラム記述合成手段７によって合成し、合成プログラム記述格納手段12に格納する（ステップＳ30）。
【００４２】
もしステップＳ26の判断が偽ならば、省略情報抽出手段４によって抽出され、プログラム記述合成手段７で合成された（ＣＯＵＮＴ−１）番目のテスト項目のプログラム記述の情報と、プログラム記述格納手段３に格納されているＣＯＵＮＴ番目のテスト項目プログラム記述の情報と比較し、ＣＯＵＮＴ番目のテスト項目で省略されているプログラム記述の情報を抽出し（ステップＳ28）、省略プログラム記述格納手段５のＣＯＵＮＴ番目のテスト項目の領域へ格納し（ステップＳ29）、次いでステップＳ30の合成／格納動作を実行する。そして、ＣＯＵＮＴ番目のテスト項目が最後のテスト項目か判断する（ステップＳ31）。もしステップＳ31の判断が偽ならば、変数ＣＯＵＮＴの値を１増やし（ステップＳ32）、ステップＳ25の動作へ戻る。そして、これまでの動作を、ステップＳ31の判断が真になるまで繰り返し、終了する（ステップＳ33）。
【００４３】
そして、プログラム記述合成手段７により生成されたテスト項目毎のプログラム記述の情報を、プログラム記述表示手段９により、テスト仕様書のような表形式やプログラム記述形式等の形式で表示させ、プログラム記述修正手段10により、プログラム記述合成手段７により生成されたテスト項目毎のプログラム記述の情報を修正し、テスト項目毎のプログラム記述格納手段３及び省略プログラム記述格納手段５に格納する。また、プログラム記述合成手段７により生成されたテスト項目毎のプログラム記述の情報の修正に際し、各テスト項目の実行順序等、各テスト項目の前後の位置関係を保つため、複数のテスト項目をグループ化して関連付けておく。
【００４４】
次に、図４及び図５の（Ａ），（Ｂ）を用いて、本実施例の動作の内、省略情報抽出手段４とプログラム記述合成手段７の動作を説明する。なお、図４は、省略情報抽出手段とプログラム記述合成手段の動作説明図において、省略プログラム記述格納手段５に格納される情報及び合成プログラム記述格納手段12に格納される情報を概略的に示し、図５の（Ａ），（Ｂ）は、それらの内容を詳細に示している。１番目のテスト項目では、省略プログラム記述格納手段５の１番目の省略情報格納領域をリセット（初期化）する。そして、ＩＣテスタ用プログラム１に記述されている１番目のテスト項目の情報と、１番目の省略情報格納領域に格納されている情報（ここではデータはなし）とを合成し、合成プログラム記述格納手段12の１番目の領域に格納する。
【００４５】
２番目のテスト項目では、ＩＣテスタ用プログラム１に記述されている２番目のテスト項目の情報と、１番目の合成したテスト項目の情報とを比較して、ＩＣテスタ用プログラム１に記述されている２番目のテスト項目で設定している項目に対応する１番目の合成したテスト項目の情報を除外して、ＩＣテスタ用プログラム１で省略されている２番目の省略情報格納領域にコピーする。そして、ＩＣテスタ用プログラム１に記述されている２番目のテスト項目の情報と、２番目の省略情報格納領域に格納されている情報とを合成し、合成プログラム記述格納手段12の２番目の領域に格納する。以下、３番目以降の項目について、同様に行なう。そして、各テスト項目に対し、プログラム記述格納手段３で情報が空の格納領域（例えば、図４のテスト２の設定項目１）を、省略プログラム記述格納手段５に格納されている情報で補完する。
【００４６】
以上説明したように、本実施例では、ＩＣテスタ用プログラムを各テスト項目に分離し、ＩＣテスタ用プログラムに記述してあるプログラム記述と、省略されているプログラム記述とを抽出し、テスト項目毎に合成する。この結果、ＩＣテスタ用プログラムにコメント化された命令の有無に関わらず、テスト項目単位でプログラム記述の修正やデバッグが可能となる。
【００４７】
なお、この発明の実施例の各構成は、当然、各種の変形、変更が可能である。例えば、プログラム記述格納手段３に格納している情報を省略情報抽出手段４の入力とせずに、ＩＣテスタ用プログラム１を省略情報抽出手段４の入力としてもよい。また、各テスト項目の設定項目の格納領域は、ポインターを用いてアドレス指定してもよい。また、上述の実施例では、ハードウエア構成で説明したが、図２に示したフローチャートに基づき、プログラム化しソフトウエア処理とすることも、勿論、可能である。また、プログラム記述格納手段３及び省略プログラム記述格納手段５に関しては、予め全設定項目について、その格納領域が設定されているものとして説明したが、プログラム記述抽出手段２及び省略情報抽出手段４で随時項目を抽出し、領域をその度に確保するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明に係るＩＣテスタ用プログラムのデバッグ装置の実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した実施例の動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】図１に示した実施例において、プログラム記述格納手段に格納されているプログラム記述データが、テスト項目毎に関連付けられて記憶されている態様を模式的に示す図である。
【図４】図１に示した実施例における省略情報抽出手段とプログラム記述合成手段の動作を説明するための説明図である。
【図５】図４における省略プログラム記述格納手段に格納される情報、及び合成プログラム記述格納手段に格納される情報を詳細に示す図である。
【図６】従来のＩＣテスタ用プログラムののデバッグ装置を示すブロック構成図である。
【符号の説明】
【００４９】
１  ＩＣテスタ用プログラム
２  プログラム記述抽出手段
３  プログラム記述格納手段
４  省略情報抽出手段
５  省略プログラム記述格納手段
７  プログラム記述合成手段
８  コントローラ
９  プログラム記述表示手段
10  プログラム記述修正手段
11  デバッグ手段
12  合成プログラム記述格納手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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