(57)【要約】【課題】維持放電させなくてはならないサブフィールドで維持放電できないセルを有するＰＤＰの検査を効果的に行えるようにする。【解決手段】行方向に形成された電極と列方向に形成された電極との立体交差部に複数のセルが形成され、１フィールドを複数のサブフィールドで構成し、点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法において、所定のサブフィールドで検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加せずに検査対象のセルに隣接したセルのうち少なくとも１つのセルである特定セルに書込みパルス電圧を印加し、次のサブフィールドで検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加する。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
行方向に形成された電極と列方向に形成された電極との立体交差部に複数のセルが形成され、初期化放電を発生させる初期化期間、書込みパルス電圧を印加してアドレス放電を発生させるアドレス期間および維持放電を発生させてセルを点灯させる放電維持期間を有するサブフィールドを複数用いて１フィールドを構成し、セルを点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法において、
所定のサブフィールドで、検査対象のセルに前記書込みパルス電圧を印加せずに、前記検査対象のセルに隣接したセルのうち少なくとも１つのセルである特定セルに前記書込みパルス電圧を印加し、
次のサブフィールドで、前記検査対象のセルに前記書込みパルス電圧を印加することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項２】
特定セルは、検査対象のセルに対して行方向に隣接したセルであることを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項３】
特定セルは、検査対象のセルに対して列方向に隣接したセルであることを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項４】
特定セルは、検査対象のセルに対して対角方向に隣接したセルであることを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項５】
特定セルは、検査対象のセルに対して、行方向、列方向および対角方向のうち少なくとも２つの方向に隣接したセルであることを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルに駆動回路を実装する前に、プラズマディスプレイパネルのセルを点灯させるプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、薄くて大画面の平面型表示デバイスとしてプラズマディスプレイパネル（以下、「ＰＤＰ」と略記する）が注目されており、３電極を備えた面放電形式のＡＣ型ＰＤＰがその代表的な構造である。ＡＣ型ＰＤＰは、行方向に伸びた走査電極および維持電極を複数対配列された前面板と、列方向に伸びた複数のアドレス電極を配列された背面板とが隔壁を介して対向配置され、その間に放電空間を形成するように構成されている。そして、１対の走査電極および維持電極と１つのアドレス電極とが立体交差した部分に、隔壁で仕切られたセルが形成されている。
【０００３】
ＰＤＰを駆動する方法としてはサブフィールド法、すなわち、映像信号の１フィールド期間を輝度の重み付けを有する複数のサブフィールドに分割し、放電を起こすサブフィールドを組み合わせることで映像信号の階調を表示する方法が一般的である。ここで、サブフィールドは、セル内に所定の壁電荷を形成するための初期化放電を発生させる初期化期間、点灯させるべきセルを選択するアドレス放電を発生させるアドレス期間、および選択したセルにおいて維持放電を発生させる放電維持期間を有する。そして維持放電に伴う発光により画像を表示する。
【０００４】
また、初期化放電による発光を極力減らすことにより、コントラスト比を向上させたＰＤＰの駆動方法も提案されている（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−２４２２２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、セルに書込みパルス電圧を印加しても、アドレス放電が発生しない、またはアドレス放電が発生しても維持放電が発生しないという不具合が発生するＰＤＰが製造される場合があった。製造工程においては、ＰＤＰに駆動回路を実装する前にＰＤＰの点灯検査を行っているが、上記のような不具合の有無を検査する効果的な方法がなかった。
【０００６】
本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、維持放電させなくてはならないサブフィールドで維持放電が発生しないセルを有するＰＤＰの検査を効果的に行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、行方向に形成された電極と列方向に形成された電極との立体交差部に複数のセルが形成され、初期化放電を発生させる初期化期間、書込みパルス電圧を印加してアドレス放電を発生させるアドレス期間および維持放電を発生させてセルを点灯させる放電維持期間を有するサブフィールドを複数用いて１フィールドを構成し、セルを点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法において、所定のサブフィールドで検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加せずに、検査対象のセルに隣接したセルのうち少なくとも１つのセルである特定セルに書込みパルス電圧を印加し、次のサブフィールドで検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法である。
【発明の効果】
【０００８】
本発明のＰＤＰの点灯検査方法によれば、維持放電させなくてはならないサブフィールドで維持放電が発生しないセルを有するＰＤＰの検査を効果的に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明の請求項１に記載の発明は、行方向に形成された電極と列方向に形成された電極との立体交差部に複数のセルが形成され、初期化放電を発生させる初期化期間、書込みパルス電圧を印加してアドレス放電を発生させるアドレス期間および維持放電を発生させてセルを点灯させる放電維持期間を有するサブフィールドを複数用いて１フィールドを構成し、セルを点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法において、所定のサブフィールドで、検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加せずに、検査対象のセルに隣接したセルのうち少なくとも１つのセルである特定セルに書込みパルス電圧を印加し、次のサブフィールドで、検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加することを特徴とする。
【００１０】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、特定セルは検査対象のセルに対して行方向に隣接したセルであることを特徴とする。
【００１１】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、特定セルは検査対象のセルに対して列方向に隣接したセルであることを特徴とする。
【００１２】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、特定セルは検査対象のセルに対して対角方向に隣接したセルであることを特徴とする。
【００１３】
また、請求項５に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、特定セルは検査対象のセルに対して、行方向、列方向および対角方向のうち少なくとも２つの方向に隣接したセルであることを特徴とする。
【００１４】
以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。
【００１５】
（実施の形態１）
まず、本発明の一実施の形態におけるＰＤＰの構造について説明する。図１は本発明の一実施の形態に用いられるＰＤＰの構造を示す断面図であり、図１（ａ）は行方向に切断した断面図、同図（ｂ）は列方向に切断した断面図である。前面板１上には、ストライプ状の走査電極２および維持電極３からなる表示電極４が行方向に平行に複数形成されており、表示電極４を覆うように誘電体層５が形成され、誘電体層５上に保護層６が形成されている。また、前面板１に対向して配置された背面板７上にはストライプ状のアドレス電極８が列方向に平行に複数形成されており、アドレス電極８を覆うように下地誘電体層９が形成されている。下地誘電体層９上にはアドレス電極８の間に位置しアドレス電極８に平行な列隔壁１０が形成され、さらに表示電極４の間に位置し表示電極４に平行な行隔壁１１が形成されている。そして、列隔壁１０および行隔壁１１で囲まれた空間には赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）に発光する蛍光体層１２が形成されている。表示の最小単位であるセルは、行方向に形成された表示電極４と列方向に形成されたアドレス電極８との立体交差部に形成される。そして各セルで放電により紫外線を発生させ、この紫外線で蛍光体層１２を発光させて画像表示を行う。
【００１６】
図２はＰＤＰのセル配列を模式的に示した図であり、赤の蛍光体層を有するセル（以下、「Ｒセル」と略記する）１３と緑の蛍光体層を有するセル（以下、「Ｇセル」と略記する）１４と青の蛍光体層を有するセル（以下、「Ｂセル」と略記する）１５とからなる画素がｍ行ｎ列に配列されている。図２において、符号Ｘ１〜Ｘｍは１行〜ｍ行のセルの配列符号を示し、符号ＡＲ１〜ＡＲｎは１列〜ｎ列のＲセル１３の配列符号を示し、符号ＡＧ１〜ＡＧｎは１列〜ｎ列のＧセル１４の配列符号を示し、符号ＡＢ１〜ＡＢｎは１列〜ｎ列のＢセル１５の配列符号を示している。
【００１７】
図３は、本発明の一実施の形態におけるサブフィールド構成を示しており、映像信号の１フィールドを複数のサブフィールドで構成し、点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行っている。１フィールドは、例えば８つのサブフィールド１ＳＦ〜８ＳＦによって構成され、各サブフィールドは初期化期間、アドレス期間および放電維持期間を有している。各サブフィールドの放電維持期間はそれぞれのサブフィールド毎に設定された輝度に対応して重み付けされており、例えば、１ＳＦ〜８ＳＦの各サブフィールドの重み付けを１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８とすることにより、点灯させるサブフィールドの組み合わせによって２５６階調を表示することができる。
【００１８】
図４は、本発明の一実施の形態におけるＰＤＰの駆動方法を説明するための駆動波形図である。第１のサブフィールドの初期化期間では、全てのアドレス電極および全ての維持電極を０（Ｖ）に保持し、全ての走査電極に放電開始電圧以下となる電圧Ｖｐ（Ｖ）から、放電開始電圧を超える電圧Ｖｒ（Ｖ）に向かって緩やかに上昇するランプ電圧を印加することにより、全てのセルにおいて微弱放電を起こし、維持電極上およびアドレス電極上に正の壁電荷を蓄え、走査電極上に負の壁電荷を蓄える。その後、全ての維持電極を正電圧Ｖｈ（Ｖ）に保ち、全ての走査電極にＶｇ（Ｖ）からＶａ（Ｖ）に向かって緩やかに下降するランプ電圧を印加することにより、全てのセルにおいて微弱放電を起こし、各電極上に蓄えられた壁電荷を弱める。このような初期化放電を起こすことにより、セル内の電圧は放電開始電圧に近い電圧となる。
【００１９】
第１のサブフィールドのアドレス期間では、１行目から順に走査電極に走査パルス電圧Ｖｂ（Ｖ）を印加すると同時に、映像信号にしたがって所望のアドレス電極に書込みパルス電圧Ｖｗ（Ｖ）を印加することにより、点灯させたいセルにのみアドレス放電を起こす。これにより、映像信号に対応した壁電荷がセルに形成される。
【００２０】
第１のサブフィールドの放電維持期間では、全ての走査電極および全ての維持電極に維持パルス電圧Ｖｍ（Ｖ）を交互に印加することにより、アドレス放電を起こしたセルで維持放電を起こし点灯させる。この維持放電に伴う発光により画像表示が行われる。
【００２１】
第２のサブフィールドの初期化期間が始まる時点では、第１のサブフィールドで維持放電を行ったセルでは維持電極上およびアドレス電極上には正の壁電荷が存在し、走査電極上には負の壁電荷が存在している。第２のサブフィールドの初期化期間において、全ての維持電極をＶｈ（Ｖ）に保持し、全てのアドレス電極を０（Ｖ）に保持し、全ての走査電極にＶｍ（Ｖ）からＶａ（Ｖ）に向かって緩やかに下降するランプ電圧を印加する。このランプ電圧が下降する間に、直前のサブフィールド（第１のサブフィールド）で維持放電を行ったセルでは微弱放電が発生し、各電極上に形成された壁電荷が弱められ、セル内の電圧は放電開始電圧に近い電圧となる。一方、第１のサブフィールドでアドレス放電および維持放電を行わなかったセルについては、第２のサブフィールドの初期化期間において微弱放電することはなく、第１のサブフィールドの初期化期間終了時における壁電荷が保たれている。
【００２２】
第２のサブフィールドのアドレス期間および放電維持期間については、第１のサブフィールドの場合と同様の波形を印加することにより、映像信号に対応したセルにおいて維持放電を発生させる。また、第３のサブフィールドから第８のサブフィールドについては、第２のサブフィールドと同じ駆動波形を各電極に印加することにより、所望の画像表示が行われる。
【００２３】
このように、第１のサブフィールドでは全てのセルで初期化放電が発生する完全初期化動作が行われ、第２のサブフィールドから第８のサブフィールドでは直前のサブフィールドにおいて維持放電が発生したセルでのみ初期化放電が発生する選択初期化動作が行われる。したがって、表示発光に寄与しない第１のサブフィールドの完全初期化動作に伴う発光はランプ電圧による微弱発光であり、第２のサブフィールドから第８のサブフィールドでは選択初期化動作を行うためコントラストの高い映像表示が可能となる。
【００２４】
しかしながら、隔壁の一部に凹みまたは盛り上がりなどの微小欠陥が存在する場合、このような欠陥が存在するセルを点灯させず、そのセルに隣接したセルを点灯させるサブフィールドにおいて、隣接したセルの放電の影響によって欠陥が存在するセルの壁電荷が減少してしまうことがある。そしてこの場合、その後のサブフィールドにおいて欠陥の存在するセルに書込みパルス電圧を印加しても、アドレス放電が発生しない、またはアドレス放電が発生しても維持放電に必要な壁電荷に達せず維持放電が発生しないという不具合が発生することが分かった。
【００２５】
図５は、上述した不具合の発生するＰＤＰを検出するための、本発明の一実施の形態におけるＰＤＰの点灯検査装置の回路ブロックを示す図である。ＰＤＰの点灯検査装置は、ＰＤＰ１６の走査電極２を駆動させるための走査電極ドライバ１７と、維持電極３を駆動させるための維持電極ドライバ１８と、アドレス電極８を駆動させるためのアドレス電極ドライバ１９と、サブフィールド制御回路２０と、プログラマブルメモリ２１と、制御用パソコン２２とを備えている。制御用パソコン２２は、後述するサブフィールドの書込みパターンを作成し、作成されたサブフィールドの書込みパターンはプログラマブルメモリ２１に転送されて格納される。そしてプログラマブルメモリ２１に格納された書込みパターンをサブフィールド制御回路２０が読み出し、そのデータに基づいて走査電極ドライバ１７、維持電極ドライバ１８およびアドレス電極ドライバ１９はＰＤＰ１６の各電極を駆動する。
【００２６】
次に、このＰＤＰの点灯検査装置を用いてＰＤＰ１６を点灯検査する方法について説明する。点灯検査の際にＰＤＰ１６の各電極に印加する駆動波形は図４に示したものと同様である。図６は、実施の形態１において、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのサブフィールドの書込みパターンを示す図である。ここで、書込みパターンとは各サブフィールドのアドレス期間毎にアドレス放電を発生させるための書込みパルス電圧をセルに印加するかしないかを示したパターンである。図６に示すように、奇数行のＲセルおよび奇数行のＢセルには１ＳＦ〜３ＳＦにおいて連続して書込みパルス電圧を印加し、４ＳＦ〜８ＳＦでは印加しない。また、奇数行のＧセルには４ＳＦにおいてのみ書込みパルス電圧を印加し、１ＳＦ〜３ＳＦおよび５ＳＦ〜８ＳＦにおいては印加しない。一方、偶数行の全てのセルには１フィールドにわたって書込みパルス電圧を印加しない。
【００２７】
このとき、奇数行Ｇセルの列隔壁１０または行隔壁１１の一部に盛り上がりや欠損などの微小欠陥が存在すると、そのＧセル内の壁電荷は隣接したＲセルやＢセルの放電によって影響を受けやすくなる。具体的には、１ＳＦ〜３ＳＦにおいてＲセルやＢセルで発生した荷電粒子が隔壁の欠陥を通り抜け、Ｇセルの壁電荷を減少させてしまうことがある。奇数行のＧセルは１ＳＦ〜３ＳＦでは点灯しないので、選択初期化動作を行う４ＳＦの初期化期間には初期化放電が発生しない。そして、Ｇセル内の壁電荷が不足したまま、続くアドレス期間において書込みパルス電圧を印加しても十分な壁電荷が形成されず、続く放電維持期間において維持放電が発生せず不点灯となる。したがって、図６に示す書込みパターンを用いて点灯検査を行うことにより、検査対象のセルを奇数行のＧセルとして、行方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００２８】
次のフィールドにおいては、図６に示した書込みパターンの偶数行と奇数行とを入れ替えた書込みパターンを用いて点灯検査を行う。すなわち、奇数行の全てのセルには１フィールドにわたって書込みパルス電圧を印加せず、偶数行のＲセルおよび偶数行のＢセルには１ＳＦ〜３ＳＦにおいて連続して書込みパルス電圧を印加し、４ＳＦ〜８ＳＦでは印加しない。また、偶数行のＧセルには４ＳＦのみ書込みパルス電圧を印加し、１ＳＦ〜３ＳＦおよび５ＳＦ〜８ＳＦにおいて印加しない。このような書込みパターンで点灯検査を行うことにより、検査対象のセルを偶数行のＧセルとして、行方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００２９】
さらに、別のフィールドにおいて、前述した書込みパターンをＲセル、Ｇセル、Ｂセル間で入れ替えて点灯検査を行うことにより、奇数行のＲセル、偶数行のＲセル、奇数行のＢセル、偶数行のＢセルのそれぞれを検査対象のセルとして、行方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００３０】
上述した点灯検査においてこのような不点灯が検出されれば、行方向に隣接したセルの放電によって表示不良になるセルを持つＰＤＰを検出することができる。このようにして、点灯検査の精度を向上させることにより、後の製造工程への不良パネルの流出を防止でき、製造工程でのロスコストを大幅に低減することができる。
【００３１】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２におけるＰＤＰの点灯検査方法について説明する。実施の形態２において実施の形態１と異なる点は、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのサブフィールドの書込みパターンである。
【００３２】
図７は、実施の形態２においてＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのサブフィールドの書込みパターンを示す図である。このように、全てのＲセルおよびＢセルには１フィールドにわたって書込みパルス電圧を印加せず、奇数行のＧセルには１ＳＦ〜３ＳＦにおいて連続して書込みパルス電圧を印加し、４ＳＦ〜８ＳＦでは印加しない。また、偶数行のＧセルには４ＳＦにおいてのみ書込みパルス電圧を印加し、１ＳＦ〜３ＳＦおよび５ＳＦ〜８ＳＦにおいて印加しない。
【００３３】
このとき、偶数行のＧセルの列隔壁１０または行隔壁１１の一部に盛り上がりや欠損などの微小欠陥が存在すると、そのＧセル内の壁電荷が、隣接したＧセルの放電によって影響を受けて減少することがある。偶数行のＧセルでは１ＳＦ〜３ＳＦにおいて点灯していないために、選択初期化動作を行う４ＳＦの初期化期間において初期化放電が発生しない。そして、そのＧセル内の壁電荷が減少したまま、続くアドレス期間において偶数行のＧセルに書込みパルス電圧を印加しても必要な壁電荷が形成されず、続く放電維持期間において維持放電が発生せず不点灯となってしまう。したがって、図７に示す書込みパターンを用いて点灯検査を行うことにより、検査対象のセルを偶数行のＧセルとして、列方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００３４】
次のフィールドにおいては、図７に示した書込みパターンの偶数行と奇数行とを入れ替えた書込みパターンを用いて点灯検査を行う。すなわち、全てのＲセルおよびＢセルには１フィールドにわたって書込みパルス電圧を印加せず、偶数行のＧセルには１ＳＦ〜３ＳＦにおいて書込みパルス電圧を印加し、４ＳＦ〜８ＳＦでは印加しない。また、奇数行のＧセルには４ＳＦにおいてのみ書込みパルス電圧を印加し、１ＳＦ〜３ＳＦおよび５ＳＦ〜８ＳＦでは印加しない。このような書込みパターンを用いて点灯検査を行うことにより、検査対象のセルを奇数行のＧセルとして、列方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００３５】
また、別のフィールドにおいては、前述した書込みパターンをＲセル、Ｇセル、Ｂセル間で入れ替えて点灯検査を行うことにより、奇数行のＲセル、偶数行のＲセル、奇数行のＢセル、偶数行のＢセルのそれぞれを検査対象のセルとして、列方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００３６】
上述した点灯検査において不点灯が検出されれば、列方向に隣接したセルの放電によって影響を受けて表示不良を発生させるセルを持つＰＤＰを検出することができる。このようにして、点灯検査の精度を向上し、後の製造工程に不良パネルが流れることを防ぐことができ、製造工程でのロスコストを大幅に低減することができる。
【００３７】
（実施の形態３）
次に、本発明の実施の形態３におけるＰＤＰの点灯検査方法について説明する。実施の形態３において実施の形態１、２と異なる点は、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのサブフィールドの書込みパターンであり、他の構成は実施の形態１、２と同様である。
【００３８】
図８は、実施の形態３においてＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのサブフィールドの書込みパターンを示す図である。このように、偶数行のＲセル、偶数行のＢセルおよび奇数行のＧセルの全てのセルには１フィールドにわたって書込みパルス電圧を印加せず、奇数行のＲセルおよび奇数行のＢセルには１ＳＦ〜３ＳＦにおいて書込みパルス電圧を印加し、４ＳＦ〜８ＳＦでは印加しない。また、偶数行のＧセルには４ＳＦにおいてのみ書込みパルス電圧を印加し、１ＳＦ〜３ＳＦおよび５ＳＦ〜８ＳＦにおいて印加しない。
【００３９】
このときも、列隔壁１０または行隔壁１１の一部に盛り上がりや欠損などの微小欠陥が存在すると、対角方向に隣接したＲセル、Ｂセルの放電によって影響を受け、Ｇセル内の壁電荷が減少する場合がある。そして、Ｇセル内の壁電荷が不足したまま、続くアドレス期間において書込みパルス電圧を印加しても維持放電するために必要な壁電荷が形成されず、続く放電維持期間において不点灯となる。したがって、図８に示す書込みパターンを用いて点灯検査を行うことにより、検査対象のセルを偶数行のＧセルとして、対角方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００４０】
次のフィールドにおいては、図８に示した書込みパターンの偶数行と奇数行とを入れ替えた書込みパターンとする。また、別のフィールドにおいては、図８に示した書込みパターンをＲセル、Ｇセル、Ｂセル間で入れ替えて点灯検査を行うことにより、奇数行のＲセル、偶数行のＲセル、奇数行のＢセル、偶数行のＢセルのそれぞれを検査対象のセルとして、対角方向に隣接したセルの放電による影響について検査することができる。
【００４１】
上述した点灯検査においてこのような不点灯が検出されれば、対角方向に隣接したセルの放電によって影響を受けて表示不良を発生するセルを持つＰＤＰを検出することができる。
【００４２】
なお、上述した実施の形態１〜３において、検査時間を短縮するために、偶数行と奇数行との入れ替え、Ｒセル、Ｇセル、Ｂセル間の入れ替えを含む各書込みパターンの点灯検査の検査期間をそれぞれ１フィールドと設定し、ＣＣＤカメラを使用した画像認識システムを使用して不点灯セルの有無を検出してもよい。もちろん、不点灯セルの有無を検査員が目視で判断することも可能であり、この場合には人が目視で判断できるように検査期間を複数フィールド連続させてもよい。
【００４３】
また、検査対象のセルに隣接したセルは１ＳＦ〜３ＳＦで点灯させ、検査対象のセルは４ＳＦのみ点灯させている。このとき、４ＳＦ〜８ＳＦの各サブフィールドにおける隣接セルを点灯および不点灯のいずれに設定しても検査することは可能である。しかし、隣接セルを４ＳＦ〜８ＳＦの少なくとも１つのサブフィールドで点灯させると、検査対象のセルが４ＳＦで点灯しているか否かの判定が難しくなる傾向にある。このため、上記各実施の形態のように隣接セルは４ＳＦ〜８ＳＦにおいて点灯させないのが好ましい。
【００４４】
また、上記の各実施の形態においては、検査対象のセルには１ＳＦ〜３ＳＦで書込みパルス電圧を印加せず４ＳＦで印加したが、書込みパルス電圧を印加するサブフィールドは４ＳＦに限定されるものではなく、選択初期化動作が行われるサブフィールドであればパネル特性にあわせて適宜設定すればよい。例えば、１ＳＦ〜５ＳＦにおいて印加せず、６ＳＦにおいて印加してもよい。
【００４５】
また、実施の形態１においては検査対象のセルに対して行方向に隣接したセルの影響について検査する方法、実施の形態２においては列方向に隣接したセルの影響について検査する方法、実施の形態３においては対角方向に隣接したセルの影響について検査する方法をそれぞれ説明したが、行方向、列方向および対角方向のうち少なくとも２つの方向に隣接したセルの放電による影響について検査するように書込みパターンを設定してもよい。また、検査対象のセルに隣接したセルのうち、どれか１つのセルの放電による影響について検査することも可能である。すなわち、所定のサブフィールドで、検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加せず、検査対象のセルに隣接したセルのうち少なくとも１つのセルである特定セルに書込みパルス電圧を印加し、次のサブフィールドで、検査対象のセルに書込みパルス電圧を印加して点灯検査を行うことにより、隣接セルの放電による影響について検査することができる。
【００４６】
なお、上記各実施の形態では、列隔壁１０および行隔壁１１を備えたＰＤＰを点灯検査する場合について説明したが、行隔壁１１を備えていないＰＤＰについても本発明を適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
以上のように本発明のＰＤＰの点灯検査方法によれば、維持放電させなくてはならないサブフィールドで維持放電ができないセルを有するＰＤＰの検査を効果的に行うことができるので、ＰＤＰに駆動回路を実装する前にＰＤＰのセルを点灯するプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】（ａ）、（ｂ）は本発明の一実施の形態におけるＰＤＰのセル構造を示す断面図
【図２】同ＰＤＰのセル配列を模式的に示す図
【図３】同ＰＤＰを駆動する際のサブフィールド構成を示す図
【図４】同ＰＤＰの駆動方法を示す駆動波形図
【図５】同ＰＤＰの点灯検査装置の回路ブロック図
【図６】本発明の実施の形態１におけるサブフィールドの書込みパターンを示す図
【図７】本発明の実施の形態２におけるサブフィールドの書込みパターンを示す図
【図８】本発明の実施の形態３におけるサブフィールドの書込みパターンを示す図
【符号の説明】
【００４９】
２    走査電極
３    維持電極
４    表示電極
８    アドレス電極
１３    Ｒセル
１４    Ｇセル
１５    Ｂセル
【図１】
2005183367.tif 000003
【図２】
2005183367.tif 000004
【図３】
2005183367.tif 000005
【図４】
2005183367.tif 000006
【図５】
2005183367.tif 000007
【図６】
2005183367.tif 000008
【図７】
2005183367.tif 000009
【図８】
2005183367.tif 000010