【手続補正書】
【提出日】平成22年5月21日(2010.5.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイド孔に、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置のメンテナンス方法であって、
前記ガイド孔の内周面には電気抵抗膜が形成されており、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿しているときの、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする位置決め装置のメンテナンス方法。
【請求項２】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置のメンテナンス方法であって、
前記ガイド孔の内周面には電気抵抗膜が形成されており、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿しているときの、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする位置決め装置のメンテナンス方法。
【請求項３】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイド孔に、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置のメンテナンス方法であって、
前記ガイドピンの外周面には電気抵抗膜が形成されており、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿しているときの、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする位置決め装置のメンテナンス方法。
【請求項４】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置のメンテナンス方法であって、
前記ガイドピンの外周面には電気抵抗膜が形成されており、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿しているときの、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする位置決め装置のメンテナンス方法。
【請求項５】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイド孔に、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置であって、
前記ガイド孔の内周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を設けたことを特徴とする位置決め装置。
【請求項６】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置であって、
前記ガイド孔の内周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を設けたことを特徴とする位置決め装置。
【請求項７】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイド孔に、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置であって、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を設けたことを特徴とする位置決め装置。
【請求項８】
電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けれらたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置であって、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を設けたことを特徴とする位置決め装置。
【請求項９】
請求項５〜８のいずれかに記載の位置決め装置であって、
前記電気抵抗膜は、電気的絶縁体であることを特徴とする位置決め装置。
【請求項１０】
電子部品を把持および搬送する把持部材と、
前記電子部品が収容され、前記電子部品の端子が接触して電気的検査を行うための検査ソケットと、
前記検査ソケットを備えた受け部材と、
前記把持部材に設けられたガイド孔と、
前記受け部材に設けられたガイドピンと、
前記ガイド孔の内周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿摺接された際に、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を備えたことを特徴とするＩＣハンドラ。
【請求項１１】
電子部品を把持および搬送する把持部材と、
前記電子部品が収容され、前記電子部品の端子が接触して電気的検査を行うための検査ソケットと、
前記検査ソケットを備えた受け部材と、
前記把持部材に設けられたガイドピンと、
前記受け部材に設けられたガイド孔と、
前記ガイド孔の内周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿摺接された際に、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を備えたことを特徴とするＩＣハンドラ。
【請求項１２】
電子部品を把持および搬送する把持部材と、
前記電子部品が収容され、前記電子部品の端子が接触して電気的検査を行うための検査ソケットと、
前記検査ソケットを備えた受け部材と、
前記把持部材に設けられたガイド孔と、
前記受け部材に設けられたガイドピンと、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿摺接された際に、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を備えたことを特徴とするＩＣハンドラ。
【請求項１３】
電子部品を把持および搬送する把持部材と、
前記電子部品が収容され、前記電子部品の端子が接触して電気的検査を行うための検査ソケットと、
前記検査ソケットを備えた受け部材と、
前記把持部材に設けられたガイドピンと、
前記受け部材に設けられたガイド孔と、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿摺接された際に、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を備えたことを特徴とするＩＣハンドラ。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】位置決め装置のメンテナンス方法、位置決め装置及びＩＣハンドラ