(57)【要約】  本発明は、光通信システム（１０）のライン監視システム（ＬＭＳ）（１２）において、システムの変更の後に障害を識別するのに比較の対象とされる新たなライン監視システム・ベースライン・データを確立するための方法（５００）、および関連するシステム（１２）に関する。この新たなＬＭＳベースラインは、前の修復されていない障害に関連する障害シグネチャ・データをＬＭＳ最新測定ループ利得データに挿入することによって確立される。
2015500579.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光通信システム（１０）のライン監視システム（ＬＭＳ）（１２）において、前記システムの変更の後に障害を識別するのに比較の対象とされる新たなライン監視システム・ベースライン・データを確立する方法（５００）であって、
前記システムの複数のループバック・パス（４２−１、．．．４２−Ｎ）の各パス経由で試験信号（１８）にもたらされた利得を表すＬＭＳ最新測定ループ利得データを獲得し、前記ループバック・パスのそれぞれは、第１の方向で信号を伝送するための第１の光ファイバ・パス（２８）と、第１の方向とは逆の第２の方向で信号を伝送するための第２の光ファイバ・パス（２９）を結合するステップ（５０２）と、
前記ＬＭＳ最新測定ループ利得データを、前記変更に先立って前記システム（１２）において識別された前の障害に関連する障害シグネチャを表すデータ（２４）で変更して、前記新たなＬＭＳベースライン・データを確立するステップ（５０４）とを備える方法。
【請求項２】
前記ＬＭＳ最新測定ループ利得データは、前記ループバック・パス（４２−１、．．．４２−Ｎ）の各１つのパスに関して、
前記ループバック・パス（４２−１、．．．４２−Ｎ）の前記各１つのパス経由で前記試験信号にもたらされたループ利得から、
前記ループバック・パスの前記各パスに先行する前記ループバック・パスのうちの１つのパスを経由して前記試験信号にもたらされた前のループバック・パス・ループ利得を引いたものを備える差分ループ利得データを備える請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記障害シグネチャを表す前記データは、前のＬＭＳベースライン・データと前のＬＭＳ最新測定ループ利得データの差を備える請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記変更するステップは、前記障害シグネチャを表す前記データを前記ＬＭＳ最新測定ループ利得データに正規化するステップを備える請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記変更するステップは、前記ＬＭＳ最新測定ループ利得データから前記障害シグネチャを表す前記データを引くステップを備える請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記新たなＬＭＳベースライン・データを後のＬＭＳ最新測定ループ利得データと前記比較するステップに応答して前記光通信システムにおける前記前の障害を識別するステップをさらに備える請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記識別するステップは、前記新たなＬＭＳベースライン・データと前記後のＬＭＳ最新測定ループ利得データの差を、前記前の障害に関連する所定の障害シグネチャと比較するステップを備える請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記所定の障害シグネチャは、前記変更より前に獲得された前のＬＭＳベースライン・データと、前記変更より前に獲得された前のＬＭＳ最新測定ループ利得データの差に応答して決定される請求項７に記載の方法。
【請求項９】
第１の方向で信号を伝送するための第１の光ファイバ・パス（２８）と、第１の方向とは逆の第２の方向で信号を伝送するための第２の光ファイバ・パス（２９）を結合する複数のループバック・パス（４２−１、．．．４２−Ｎ）を備える光通信システム（１０）を監視する方法であって、
前記第１の光ファイバ・パス上で第１の試験信号（１８）を送信するステップと、
前記代表の光ファイバ・パスから前記ループバック・パス（４２−１、．．．４２−Ｎ）のそれぞれからの関連する第１の戻された試験信号（５２）を受信するステップと、
前記戻された試験信号（５２）から前記ループバック・パスのそれぞれに関連するＬＭＳベースライン・ループ利得データを計算するステップと、
前記第１の光ファイバ・パス上で第２の試験信号を送信するステップと、
前記第２の光ファイバ・パスから前記ループバック・パスのそれぞれからの関連する第２の戻された試験信号を受信するステップと、
前記第２の戻された試験信号から前記ループバック・パスのそれぞれに関連するＬＭＳ最新測定ループ利得データを計算するステップと、
前記ＬＭＳベースライン・ループ利得データと前記ＬＭＳ最新測定ループ利得データの比較に応答して前記光通信システムにおける障害に対応する障害シグネチャを識別するステップと、
前記システムの変更の後、前記第１の光ファイバ・パス上で第３の試験信号を送信するステップと、
前記第２の光ファイバ・パスからの前記ループバック・パス４２−Ｎのそれぞれからの関連する第３の戻された試験信号を受信するステップと、
前記第３の戻された試験信号から前記ループバック・パスのそれぞれに関連する第２のＬＭＳ最新測定ループ利得データを計算するステップと、
前記第２のＬＭＳ最新測定を前記障害シグネチャを表すデータで変更して、前記システムに関する新たなＬＭＳベースライン・ループ利得データを確立するステップを備える方法。
【請求項１０】
前記変更するステップは、前記障害シグネチャを表す前記データを前記第２のＬＭＳ最新測定ループ利得データに正規化するステップを備える請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記変更するステップは、前記第２のＬＭＳ最新測定ループ利得データから前記障害シグネチャを表す前記データを引くステップを備える請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本出願は、光通信システムに関し、より詳細には、ライン監視システム・ベースラインへの障害挿入を使用するシステムおよび方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
長距離光通信システムにおいて、システムの健全性を監視することが重要であり得る。例えば、光伝送ケーブルの障害もしくは断線、障害のある中継器もしくは増幅器、またはシステムの抱える他の問題を検出するのに監視が使用されることが可能である。
【０００３】
知られている監視技法には、システム増幅器／中継器内、および／または他のネットワーク機器内でループバック・パスの、例えば、高損失ループバック（ＨＬＬＢ）パスのネットワークを含むライン監視システムを使用すること、ならびに疑似ランダム・ビット・シーケンスを表す試験信号を生成するライン監視機器（ＬＭＥ）を使用することが含まれる。ＬＭＥは、例えば、波長分割多重化システムにおいて、情報信号と一緒に試験信号を送信することが可能である。この試験信号が、ＨＬＬＢパス経由でＬＭＥに戻されることが可能である。ＬＭＥは、戻された試験信号をデータ信号から分離し、戻された試験信号を処理して、ライン監視機器からＨＬＬＢパスおよび任意の介在する光パスおよび光増幅器を経由してＬＭＥに戻る伝播の際に試験信号にもたらされたＨＬＬＢループ利得を表すデータを獲得するハードウェア構成要素およびソフトウェア構成要素を含むことが可能である。ＨＬＬＢループ利得の有意な偏りは、システムにおける障害を示す可能性がある。
【０００４】
例えば、光ファイバ、中継器、分岐装置などにおいてシステム障害が生じているかどうかを判定するのにＬＭＳによって使用される基本的なデータ・セットは、ＬＭＳベースラインである。特に、ＬＭＳベースラインは、システムに新たな障害もしくは劣化が生じているかどうかを判定するように最新測定を比較する対象とされる、システムが運用される前、またはシステムに障害もしくは劣化が生じる前に行われたループバック・パスのそれぞれからの利得データの管理測定である。
【０００５】
障害は、自動シグネチャ解析（ＡＳＡ）アルゴリズムを使用してＬＭＳによって検出されることが可能である。一般に、ＡＳＡアルゴリズムは、どのような障害が存在する可能性があるかを特定するようにセットの格納された利得シグネチャに照らして比較される、ＬＭＳベースラインの利得データ（例えば、差分利得データ）対最新測定の利得データを使用する。ＡＳＡを組み込んだシステムの一例が、参照により教示が本明細書に組み込まれている、本明細書と所有者が同一である米国特許第７，８０９，２７９号において説明される。
【０００６】
システム修復後などのいくつかの条件下で、または終端ライン特性を変更するシステム・アップグレードが行われた場合、ＬＭＳベースラインは、新たなＬＭＳベースライン測定に再設定されなければならない、すなわち、システムは、「再ベースライン設定され（ｒｅ−ｂａｓｅｌｉｎｅｄ）」なければならない。将来の測定は、この新たなＬＭＳベースラインと比較される。あいにく、新たなＬＭＳベースラインが確立されると、古いＬＭＳベースラインとの比較で報告されてきた可能性がある何らかの障害または劣化は、この新たなＬＭＳベースラインとの比較では見えなくなるので、消え去る。この新たなＬＭＳベースラインが設定された後に生じた新たな障害だけが、ＬＭＳのＡＳＡアルゴリズムによって検出される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国特許第７，８０９，２７９号
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００８】
次に、本発明が、例として、添付の図面を参照して説明される。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本開示と合致するシステムの１つの例示的な実施形態を示す簡略化されたブロック図である。
【図２】本開示と合致する例示的なシステムにおける特別のポンプ損失に関連する差分ループ利得対ループバック・パス数の変化を示すグラフである。
【図３】本開示と合致する、ＬＭＳ最新測定に関連するループ利得対中継器ループバック数、および前の障害に関連する障害シグネチャでＬＭＳ最新測定を変更することによって確立された新しいＬＭＳベースラインを示すグラフである。
【図４】本開示と合致する、新たなＬＭＳベースラインを使用し、さらに前の特別のポンプ損失障害を識別して計算された差分ループ利得対ループバック・パス数の変化を示すグラフである。
【図５】本開示と合致するプロセスの一例を示すブロック流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明は、光通信システムのライン監視システム（ＬＭＳ）において、システムの変更の後に障害を識別するのに比較の対象とされる新たなライン監視システム・ベースライン・データを確立するための方法、および関連するシステムに関する。この新たなＬＭＳベースラインは、前の修復されていない障害に関連する障害シグネチャ・データをＬＭＳ最新測定ループ利得データに挿入することによって確立される。この方法は、システムの複数のループバック・パスの各パス経由で試験信号にもたらされた利得を表すＬＭＳ最新測定ループ利得データを獲得する第１のステップを含み、前記ループバック・パスのそれぞれは、第１の方向で信号を伝送するための第１の光ファイバ・パスと、第１の方向とは逆の第２の方向で信号を伝送するための第２の光ファイバ・パスを結合する。また、この方法は、ＬＭＳ最新測定ループ利得データを、変更に先立って前記システムにおいて識別された前の障害に関連する障害シグネチャを表すデータで変更して、新たなＬＭＳベースライン・データを確立する第２のステップも含む。
【００１１】
本開示と合致するシステムおよび方法が、前のＬＭＳベースラインを基準として識別された前の障害を新たなＬＭＳに挿入して、その結果それらの前の障害がその新たなＬＭＳベースラインを基準として識別され得るようにすることを含む。一実施形態において、新たなベースラインを用いた障害検出が、前のベースラインに関連する障害シグネチャ・セットと同一の障害シグネチャを使用して達せられ得るように、知られている最終のシグネチャ・セットの逆（ｉｎｖｅｒｓｅ）が最新のベースラインに挿入されることが可能である。このため、そのような実施形態における前の障害および新たな障害の検出は、前の障害に関連する障害シグネチャ・セットの変更なしに、新たなベースラインを基準として実現され得る。
【００１２】
図１は、ライン監視機器（ＬＭＥ）１２を含む、本開示と合致するライン監視システムと、ループバック・パス４１−１、４１−２．．．４１−Ｎとを含むＷＤＭ伝送システム１０の１つの例示的な実施形態の簡略化されたブロック図である。一般に、システム１０は、各中継器／ループバック・パスに関連するループ利得値を計算するように構成されることが可能である。ループ利得の変動が、システムにおける障害を示すシステム・アラームを生成するのに使用されることが可能である。自動シグネチャ解析（ＡＳＡ）アルゴリズムが、障害の性質を識別するようにループ利得に適用されることが可能である。
【００１３】
本明細書で使用されるようなループ利得という用語は、ＬＭＥから、関連するループバック・パス経由でＬＭＥに戻るパス上で、またはそのようなパスの任意の部分上でＬＭＥ試験信号にもたらされる利得を指す。隣接するループバック・パス間のパスの部分上のループ利得は、本明細書で差分ループ利得と呼ばれる。実施形態は、本明細書では、差分ループ利得を使用するものとして説明される。一般に、差分ループ利得は、ＬＭＥから第１のループバック・パス経由でＬＭＥに戻るパス上のＬＭＥ試験信号にもたらされた利得から、ＬＭＥから、第１のループバック・パスの１つ前のループバック・パス経由でＬＭＥに戻るパス上でＬＭＥ試験信号にもたらされた利得を引いたものとして計算されることが可能である。
【００１４】
システム１０は、説明を簡単にするため、非常に単純化されたポイント・ツー・ポイント・システムの形態で示されていることが当業者には認識されよう。本開示と合致するシステムおよび方法は、多種多様なネットワーク構成要素およびネットワーク構成に組み込まれることが可能であることを理解されたい。本明細書の図示される例示的な実施形態は、単に説明として、限定としてではなく与えられる。
【００１５】
図示される例示的な実施形態において、伝送システム１０は、光信号を伝送するための、レーザ送信機３０と、ファイバ２８および２９を含む光ファイバ・ペアとを含む。ファイバ２８および２９は、例えば、水中に、さらに／または水域を渡って敷設するための長距離光ファイバ線であり得る。水域、例えば、海洋に配置されたシステムの部分は、本明細書で「ウェット・プラント（ｗｅｔ  ｐｌａｎｔ）」と呼ばれ得る。
【００１６】
光ファイバ２８および２９は、単方向ファイバであることが可能であり、光ファイバ２８と光ファイバ２９は、逆の方向で信号を伝送することが可能である。ファイバ２８とファイバ２８は、信号を伝送するための双方向パスを一緒に確立する。図示される例示的な監視システムは、２つの単方向ファイバ２８および２９を含む伝送システムを監視するものとして説明され得るが、本開示と合致するシステムは、単一の双方向ファイバを用いる伝送システムを監視するのに使用されてもよい。
【００１７】
レーザ送信機３０は、ファイバ２９を介して複数のチャネル（または波長）上でＷＤＭ受信機６０に光データを送信するように構成された波長分割多重化（ＷＤＭ）送信機であり得る。この送信機および受信機は、もちろん、説明を簡単にするため、非常に単純化された形態で示されている。レーザ送信機３０は、それぞれが異なるチャネルまたは異なる波長を使用して光データ信号を送信する複数のレーザ送信機と、それらのデータ信号を組み合わせて、ファイバ２９を介して送信される総合信号（ａｇｇｒｅｇａｔｅ  ｓｉｇｎａｌ）にするためのマルチプレクサとを含み得る。受信機は、送信されたデータ信号を逆多重化して、検出することが可能である。同様に、ＷＤＭデータ信号が、ファイバ２８を介して送信機６２から受信機６４に、すなわち、ファイバ２９上の信号とは逆の方向で送信されることが可能である。代替として、データの単一のチャネルがファイバ２８および／またはファイバ２９上で伝送されてもよい。
【００１８】
ライン監視機器（ＬＭＥ）１２は、システム１０の健全性を監視するために構成されることが可能であり、様々な構成で提供されることが可能である。図示される例示的な実施形態において、ＬＭＥ１２は、コード・ジェネレータ１４と、レーザ送信機１６および偏光スクランブラ７０を含む試験信号送信機１５と、遅延システム２０と、ＡＳＡプロセッサ７２およびコンピュータ可読メモリを含む相関器システム２２と、フィルタ２６とを含む。ＬＭＥ１２は、システム１０において障害が検出されると、要素管理システム７４に出力２４、例えば、アラームを供給するように構成され得る。
【００１９】
コード・ジェネレータ１４は、コードの疑似ランダム・シーケンス（ＰＲＳ）などの試験コードを生成して、出力するために構成され得る。様々なコード・ジェネレータおよびコード構成が、当業者に知られている。コード・ジェネレータ１４の出力は、レーザ送信機１６に結合され得る。本明細書で使用される場合、「結合された」という用語は、１つのシステム要素によって伝送される信号が「結合された」要素に付与される任意の接続、結合、リンクなどを指す。そのような「結合された」デバイスは、必ずしも、互いに直接に接続されず、そのような信号を操作する、または変更する中間構成要素または中間デバイスによって隔てられていてもよい。
【００２０】
レーザ送信機１６は、知られている構成、例えば、分布フィードバック型レーザ（ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｅｄ  ｆｅｅｄｂａｃｋ  ｌａｓｅｒ）（ＤＦＢ）の構成をとることが可能であり、さらに伝送システム上で送信されるすべてのデータ・チャネルの波長と異なり得る搬送波波長λ０で光出力をもたらすように構成されることが可能である。搬送波波長λ０は、例えば、システムのスペクトル帯域幅の端近くにあることが可能であり、またはデータ・チャネルの中間にあることが可能である。一実施形態において、レーザ送信機は、異なる複数の搬送波波長で光出力をもたらすように構成され得る。例えば、レーザ送信機は、データ信号伝送帯域の短波長端（ｓｈｏｒｔ  ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  ｅｎｄ）の、すなわち、最短の波長データ・チャネルに隣接した短いＬＭＥ波長、およびデータ信号伝送帯域の長波長端（ｌｏｎｇ  ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  ｅｎｄ）の、すなわち、最長の波長データ・チャネルに隣接した長いＬＭＥ波長で出力をもたらすことが可能である。一実施形態において、短いＬＭＥ波長は、１５３７ナノメートルであることが可能であり、長いＬＭＥ波長は、１５６３ナノメートルであることが可能である。レーザ出力のパワーは、データ信号の障害を最小限に抑えるように、ファイバ２８および２９を介して通信されるデータ信号のパワー・レベル未満に設定されることが可能である。
【００２１】
レーザ送信機１６は、例えば、長いＬＭＥ波長上と短いＬＭＥ波長上の両方で、コード・ジェネレータ１４から受け取られたコードを表すＬＭＥ試験信号を生成することが可能である。ＬＭＥ試験信号は、試験信号送信機１５のＬＭＥ試験信号出力１８として供給され得る。一実施形態において、コード・ジェネレータの出力が、レーザ出力の振幅を直接に変調することが可能である。レーザ送信機からの出力光にコードを付与するための他の構成が知られている。例えば、コードは、レーザ送信機１６の出力に結合された振幅または他の変調器によって付与されてもよい。
【００２２】
図示される例示的な実施形態において、オプションの偏光スクランブラ７０が、ＬＭＥ試験信号の偏光をスクランブルするためにレーザ送信機１６に結合される。この偏光スクランブラは、知られている構成をとることが可能である。一実施形態において、偏光スクランブラ７０は、偏光変調期間にわたる偏光の状態の平均値が１から低減されるようにＬＭＥ試験信号の偏光の状態を変えることが可能である。したがって、試験信号送信機１５のＬＭＥ試験信号出力１８は、実質的に０である偏光度を有することが可能であり、スクランブルされた偏光とみなすことができる。
【００２３】
図示される例示的な実施形態において、カプラ３４が、送信機３０からのＷＤＭデータ３２とＬＭＥ試験信号１８を組み合わせて、この複合信号をファイバ２９上で送信するために出力することが可能である。複数の光中継器３６−１、３６−２、．．．３６−Ｎが、光ファイバ２８および２９に結合されることが可能である。各中継器は、ファイバ２９を介して受信機６０に伝送される光信号を増幅するための第１の増幅器４０−１、４０−２、．．．４０−Ｎをそれぞれ含むことが可能であり、さらにファイバ２８を介して受信機６４に伝送される光信号を増幅するための第２の増幅器３８−１、３８−２、．．．３８−Ｎをそれぞれ含むことが可能である。また、各中継器は、ファイバ２９上で伝送された信号の一部分をＬＭＥ１２に伝送するためにファイバ２８に戻す、関連するループバック・パス４２−１、４２−２、．．．４２−Ｎ、例えば高損失ループバック・パスをさらに含むことが可能である。
【００２４】
信号５２が、フィルタ２６に結合されることが可能であり、ファイバ２８を介してループバック・パス４２−１、４２−２、．．．４２−Ｎによって戻される、組み合わされたＷＤＭデータ３２とＬＭＥ試験信号１８を含む、ファイバ２８上に存在するすべての信号を伝送することが可能である。フィルタ２６は、波長選択的であり、戻されたＬＭＥ試験信号１８の波長だけを相関器２２に渡すことが可能である。
【００２５】
ファイバ２８を介して各中継器によってＬＭＥ１２に戻されるＬＭＥ試験信号は、各中継器に関する遅延パスの距離に比例した時間だけ元のＬＭＥ試験信号１８から遅延している。例えば、第１の中継器３６−１に関して、時間遅延ｔｓ１は、第１の中継器３６−１経由の遅延パスの距離に比例する。第１の中継器を通した遅延ｄ１は、コード・ジェネレータ１４から、送信機１６、偏光スクランブラ７０、カプラ３４、第１の中継器３６−１を通り、ループバック・パス４２−１経由で光ファイバ２６に至り、さらに相関器２２に至る距離として計算され得る。したがって、第１の中継器３６−１によって戻されるＬＭＥ試験信号に関する時間遅延ｔｓ１は、ｔｓ１＝ｄ１／ｃとして計算されることが可能であり、ただし、ｃは、光の速度である。同様に、第２の中継器３６−２によって戻されるＬＭＥ試験信号に関する時間遅延ｔｓ２が、第２の中継器３６−２に関する遅延パスの知られている距離ｄ２に基づいて計算されることが可能であり、ｔｓ２＝ｄ２／ｃとして計算されることが可能である。同様に、システムにおけるさらなる中継器に関する時間遅延が、それらの中継器の遅延パスの知られている距離に基づいて計算されることも可能である。
【００２６】
相関器２２による相互関連付け動作を円滑にするのに、遅延システム２０が、コード・ジェネレータ１４からの伝送されたコードを受け取り、複数の関連する遅延されたコードを相関器２２に出力することが可能である。遅延システム２０は、各コードを、各中継器に対応する時間遅延、すなわち、ｔｓ１（第１の中継器３６に関する時間遅延に対応する）、ｔｓ２（第２の中継器４４に関する時間遅延に対応する）などの後に出力することが可能である。言い換えると、遅延システム２０は、各中継器の位置に基づいてそれらのコードを遅延させることが可能である。
【００２７】
その後、相関器２２が、戻されたＬＭＥ試験信号を遅延システム２０からの遅延されたコードと互いに相関させることが可能である。相関器２２は、電気信号または光信号を互いに相関させることが可能である。相関器２２が電気信号を互いに相関させる場合、ＬＭＥ１２は、フィルタ２６によって出力された光信号を電気信号に変換するための、フィルタ２６と相関器２２の間に接続された光−電気変換器をさらに含むことが可能である。
【００２８】
この相互関連付け動作の際に、相関器２２は、各中継器３６−１、３６−２、．．．３６−Ｎ／ループバック・パス４２−１、４２−２、．．．４２−Ｎに関連するループ利得データを計算するように構成されることが可能である。図１に関連して説明することを容易にするため、本明細書では、各中継器に関連するループ利得について述べる。ループバック・パスは、システムに結合された任意の構成要素に、例えば、中継器、分岐装置などに設けられることが可能であり、ループ利得は、ループバック・パスを設ける構成要素にかかわらず、各ループバック・パスに関して計算されることが可能であることを理解されたい。
【００２９】
各中継器に関するループ利得データは、中継器から受信された、戻されたＬＭＥ試験信号を、関連する遅延された試験コードと比較することによって計算されることが可能である。図示される例示的な実施形態において、任意の中継器３６−ｉに関するループ利得は、コード・ジェネレータ１４から、送信機１６に、偏光スクランブラ７０に、カプラ３４に、中継器３６−ｉに、ループバック・パス４２−ｉ経由で光ファイバ２６に、さらに相関器２２に至る試験信号にもたらされた利得および損失を表すことが可能である。
【００３０】
一実施形態において、相関器２２は、各中継器に関連するループ利得データを、各中継器３６−１、３６−２、．．．３６−Ｎに関連する差分ループ利得データに変換するように構成されることが可能である。各中継器３６−ｉに関する差分ループ利得は、各中継器３６−ｉに関連するループ利得から、中継器３６−ｉより１つ前の中継器３６−（ｉ−１）に関連するループ利得を引いたものとして計算されることが可能である。例えば、中継器３６−２に関連する差分ループ利得は、中継器３６−２に関するループ利得から中継器３６−１に関するループ利得を引いたものとして計算され得る。図示される例示的な実施形態において、連続する中継器のＨＬＬＢパスに関連する損失は、基本的に互いに相殺され得るので、中継器３６−２に関連する差分ループ利得は、基本的に、増幅器４０−１および３８−１によって試験信号にもたらされた利得から、パス３９上、およびパス３７上で試験信号にもたらされた損失を引いたものを表すことが可能である。
【００３１】
このため、差分ループ利得は、４つのランダムな変数、すなわち、２つの利得変数と２つの損失変数に依拠することが可能である。したがって、単純なループ利得と比べて、差分ループ利得は、通常のシステム変動に起因する比較的小さい最大／最小の偏りを示すことが可能であり、距離による影響を特に受けやすくはないことが可能である。これらの要因が、障害検出トリガが設定され得る信頼できる利得変動しきい値を設定することを可能にし得る。
【００３２】
図示される例示的な実施形態において、相関器２２は、ＡＳＡプロセッサ７２と、コンピュータ可読メモリ７１とを含む。ＡＳＡプロセッサ７２は、相関器２２によって計算された差分ループ利得データに１つまたは複数のＡＳＡアルゴリズムを適用して、伝送システム１０において生じている障害のタイプを特徴付けるように構成されることが可能である。一般に、ＡＳＡプロセスは、格納された（例えば、メモリ７１の中に）障害シグネチャのセットと比較した、ＬＭＳベースライン・データ対ループ利得データの最新測定を使用して、システムにどのような障害が存在する可能性があるかを特定する。ＡＳＡプロセスは、中継器における差分ループ利得が所定の差分ループ利得変動しきい値を超えると生成されるアラームによってトリガされることが可能である。ＡＳＡプロセスの結果、相関器は、障害のタイプを示す出力２４を要素管理システム７４に供給することが可能である。
【００３３】
ＡＳＡアルゴリズムは、様々な構成をとることが可能であり、例えば、ＡＳＡプロセッサ７２などのコンピュータ・システム上で実行される１つまたは複数のコンピュータ・プログラムまたはコンピュータ・アプリケーションとして実装されることが可能である。ＡＳＡアルゴリズムなどのコンピュータ・プログラムまたはコンピュータ・アプリケーションは、メモリ７１上、または他のマシン可読媒体（例えば、ハードディスク、ＣＤロム、システム・メモリ、光メモリなど）上に格納されることが可能であり、ＡＳＡプロセッサ７４などのプロセッサによって実行されて、プロセッサに、相関器２２によって実行されるものとして本明細書で説明される機能のすべて、または一部を実行させることが可能である。そのようなコンピュータ・プログラム製品は、取り外し可能な一時的でないマシン可読媒体（例えば、ディスケット、ＣＤ−ＲＯＭ）として配布されること、システムにあらかじめロードされること（例えば、オンシステムＲＯＭまたは固定ディスク）、またはネットワーク（例えば、インターネットまたはワールドワイドウェブ）を介してサーバまたは電子掲示板から配信されることが可能であるものと見込まれる。相関器機能は、そのような機能をもたらすハードウェア、ソフトウェア、および／またはファームウェアの任意の組み合わせを使用して実装され得ることが当業者には認識されよう。
【００３４】
一実施形態において、ＡＳＡプロセッサ７２は、最新の差分ループ利得データを、光通信システムにおける障害からもたらされる差分ループ利得に対応する所定の差分ループ利得障害シグネチャと比較するように構成されることが可能である。差分ループ利得データを所定の差分ループ利得障害シグネチャと比較することは、整合フィルタなどの知られている信号処理技法を使用して実行されることが可能である。所定の障害シグネチャは、特別のポンプ損失、および特別のファイバ損失などのシステム障害に関して確立されることが可能である。特別のポンプ損失は、中継器内の増幅器ポンプ・レーザの完全な障害または部分的障害を特徴とすることが可能である。特別のファイバ損失は、ファイバ・パス経由の、例えば、図１の増幅器４０−１と増幅器４０−２の間のパスにおける伝送のさらなる損失、または完全な損失によって生じることが可能であり、そのような損失を特徴とすることが可能である。特別のポンプ損失、および特別のファイバ損失に関連するシグネチャの例は、参照により本明細書に組み込まれている前述の米国特許第７，８０９，２７９号で見ることができる。もちろん、他の障害が検出されて、検査されることも可能である。
【００３５】
本開示と合致して、システム１０の相関器システム２２は、例えば、システムの変更の後、または要素管理システム７４に結合されたユーザ・インターフェースを介してユーザから要求が行われて、新たなＬＭＳベースラインが確立される際、前のＬＭＳベースラインを基準として識別された前の障害を新たなＬＭＳベースラインに挿入するように構成されることが可能である。図２〜図４および表１〜表２は、前の障害を新たなＬＭＳベースラインに挿入する、システム１０の、例えば、相関器システム２２の動作の一実施形態を示す。図２〜図４に示されるグラフ、および表１〜表２に与えられる値は、単に例として与えられる。いずれの所与のシステムに関するグラフおよび測定値も、システム構成に依存する。
【００３６】
後出の表１は、ＬＭＳベースラインで動作する、すなわち、システムの後の再ベースライン設定より前の、システムにおける１つまたは複数の初期の障害の検出に関連する例示的な測定を示す。表１は、異なる１２のループバック・パスのそれぞれに関連するＬＭＳベースライン測定（列Ａ）およびＬＭＳ最新測定（列Ｃ）を含み、すなわち、各測定は、ＬＭＥ、例えば、図１のＬＭＥ１２から、示されるループバック・パス経由でＬＭＥに戻るＬＭＥ試験信号の利得を表す。これらのループバック・パスには、表１〜表２で連続して番号が付けられ、すなわち、ループバック・パス１は、伝送方向における最初のループバック・パス、例えば、図１のループバック・パス４２−１であり、ループバック・パス２は、伝送方向における次のループバック・パス、例えば、図１のループバック・パス４２−２である。ＬＭＳベースライン測定は、システムに関する初期のベースライン、またはシステムの前の再ベースラインであることが可能であり、全く障害のないシステムの、またはＬＭＳベースラインがシステムの前の再ベースラインである場合、前に挿入された障害を伴うシステムのパフォーマンスを示す。表１のＬＭＳ最新測定は、ＬＭＳベースライン測定が確立された後に行われた測定であり、試験されているシステムにおける１つまたは複数の障害を示す。
【００３７】
【表１】
2015500579.tif 000003
【００３８】
表１の列Ｂ、列Ｄ、および列Ｅの値は、例えば、図１の相関器システム２２において、列ＡのＬＭＳベースライン測定、および列ＣのＬＭＳ最新測定から計算される。特に、図示される実施形態において、２番目のデータ項目から開始して、各データ項目を、そのデータ項目の前のデータ項目から引くこと、すなわち、列Ｂ［Ｘ］＝列Ａ［Ｘ］−列Ａ［Ｘ−１］によって、列ＡのＬＭＳベースライン・データが列Ｂの差分ベースライン・データ・セットに変換され、ただし、Ｘは、ループバック・パス番号である。
【００３９】
列ＣのＬＭＳ最新測定に対して同一の演算が実行されて、列Ｄの差分最新測定データ・セットがもたらされ、すなわち、列Ｄ［Ｘ］＝列Ｃ［Ｘ］−列Ｃ［Ｘ−１］であり、ただし、Ｘは、ループバック・パス番号である。次に、差分ベースライン・データ・セットが、差分最新測定データ・セットから引かれて、列Ｅの差分デルタ・データ・セットがもたらされ、すなわち、列Ｅ［Ｘ］＝列Ｄ［Ｘ］−列Ｂ［Ｘ］であり、ただし、Ｘは、ループバック・パス番号である。ＡＳＡプロセスにおいて、この差分デルタ・データ・セットが、差分デルタ障害シグネチャの格納されたセットと比較されて、システムにおける障害が識別される。
【００４０】
一般に、表１に示される例において、列ＡのＬＭＳベースライン・データ・セットは、以下のとおり表現され得る。すなわち、
Ｂ＝｛ｂ１，ｂ２，．．．，ｂｎ｝、ただし、ｎは、ループバック・パス番号である。  式１
ＬＭＳベースラインと比較されると１つまたは複数の障害を含む列ＣのＬＭＳ最新測定データ・セットは、以下のとおり表現され得る。すなわち、
Ｍ＝｛ｍ１，ｍ２，．．．，ｍｎ｝  式２
列Ｂの差分ベースライン・データ・セットは、以下のとおり表現され得る。すなわち、
Ｄ（Ｂ）＝｛０，ｂ２−ｂ１，ｂ３−ｂ２，．．．，ｂｎ−ｂｎ−１｝  式３
列Ｄの差分最新測定データ・セットは、以下のとおり表現され得る。すなわち、
Ｄ（Ｍ）＝｛０，ｍ２−ｍ１，ｍ３−ｍ２，．．．，ｍｎ−ｍｎ−１｝  式４
列Ｅの差分デルタ・データ・セットは、以下のとおり表現され得る。すなわち、
Δ（Ｍ）＝Ｄ（Ｍ）−Ｄ（Ｂ）  式５
【００４１】
図２は、列Ｅの値によって示される障害シグネチャの視覚的指示をもたらす表１の列Ｅの差分デルタ・データ・セット対ループバック・パス番号のグラフ２００を含む。図２に示されるとおりシステムに１つまたは複数の障害が存在する場合、グラフ２００は、その障害の性質を特定するためにＡＳＡアルゴリズムにおいて格納された障害シグネチャと比較され得る、知られている予測可能な形状を表示する。例えば、図２に示される障害シグネチャは、光増幅器ポンプ障害、例えば、特別のポンプ損失を表すことが可能である。これに対して、システムに全く障害が存在しないＬＭＳ最新測定が得られていたとした場合、ＬＭＳ最新測定とＬＭＳベースライン測定は互いに非常に接近して推移するので、グラフ２００は、０ｄＢ値のあたりで比較的真っ直ぐな線となる。そのような事例で０ｄＢ値から逸れることは、雑音、およびデータの四捨五入に起因し得る。
【００４２】
修復やアップグレードなどの変更がシステムに行われると、そのような変更より前に使用されていたＬＭＳベースラインは、システムに新たな障害がない場合のシステムのループ利得をもはや表さない可能性がある。そのような変更を見込むように、変更が行われた後にシステムに関する新たなＬＭＳベースラインが確立されることが可能であり、すなわち、システムに「再ベースライン設定が行われる」ことが可能である。新たなＬＭＳベースラインを確立する１つの知られているアプローチは、既存のＬＭＳベースラインをＬＭＳ利得データの最新測定で単に置き換えることである。システム、例えば、システム１０が、ＬＭＳ利得データの最新測定を実行するのに先立つ前の未修復の障害を全く含まないとした場合、このアプローチは、システム変更を見込む新たな信頼できるＬＭＳベースラインを確立することになる。しかし、システムが、前の未修復の障害を含む場合、前の未修復の障害は、既存のＬＭＳベースラインをＬＭＳ利得データの最新測定で単に置き換えることによって確立された新たなＬＭＳベースラインを基準としては検出されない。
【００４３】
本開示と合致するシステムおよび方法において、前の未修復の障害に関連し、前のＬＭＳベースラインを基準として検出された障害シグネチャ・データ・セットをＬＭＳ利得データの最新測定に挿入することによって、システムに関する新たなＬＭＳベースラインが確立される。障害シグネチャ・データは、任意の決定論的な様態でＬＭＳ利得データの最新測定を障害シグネチャ・データで変更することによって、例えば、ＬＭＳ利得データの最新測定に障害シグネチャ・データを表す値を足すこと、またはＬＭＳ利得データの最新測定から障害シグネチャ・データを表す値を引くことによって、ＬＭＳ利得データの最新測定に挿入されることが可能である。
【００４４】
図３および表２は、前のＬＭＳベースラインを基準として検出された障害シグネチャ・データ・セットの逆を表す値がＬＭＳデータの最新測定に挿入されて、新たなＬＭＳベースラインが確立される、本開示と合致する一実施形態を示す。このアプローチでは、この新たなＬＭＳベースラインを基準とした障害検出が、前のＬＭＳベースラインに関連するのと同一の障害シグネチャ・セットを使用して行われることが可能である。このため、そのような実施形態における前の未修復の障害、および新たな障害の検出は、前の障害および前のＬＭＳベースラインに関連する障害シグネチャ・セットを変更することなしに、新たなＬＭＳベースラインを基準として実現されることが可能である。
【００４５】
例えば、表１を参照して前段で説明したシステムに、システムに変更が行われた後、ただし、表１の列Ｅの（さらに図２にグラフで表される）差分デルタ・データによって示される障害の修復より前に再ベースライン設定が行われる場合、列Ｅの差分デルタ・データによって示される障害が、システムに再ベースライン設定を行う際に新たなＬＭＳベースラインに挿入される前の未修復の障害である。もちろん、列Ｅの差分デルタ・データによって示される障害が、再ベースライン設定に先立って修復されたとした場合、そのような障害を新たなＬＭＳベースラインに挿入することは必要ない。
【００４６】
本開示の一実施形態と合致して、システムに再ベースライン設定を行うのに、ＬＭＥは、前に修復されていない障害に関連する差分デルタ・データ、例えば、この例では、表１の列Ｅのデータを取り込み、そのデータを、ＬＭＳ最新測定を基準とした等価なの利得変化にマップすることが可能である。次に、システムが、それらの利得変化をＬＭＥ最新測定に挿入し、その結果その後の差分デルタ計算が、予期されるＬＭＥ測定−測定利得変動の範囲内で前の未修復の障害に関連する予期される障害シグネチャをもたらすようにすることが可能である。ＬＭＥハードウェアが、システムにおける利得変化を測定する。ＬＭＥによって測定された利得変化は、本明細書で「生の」利得変換と呼ばれ得る。
【００４７】
例えば、表２が、以下のとおり本開示と合致する障害挿入計算の一例を示す。
【表２】
2015500579.tif 000004
【００４８】
表２の列Ｄは、この例では、前の未修復の障害に関連する差分デルタ・データ・セット、すなわち、表１の列Ｅからの差分デルタ・データ・セットである。前の未修復の各障害に関して、新たなベースラインに挿入するための障害パターンが、この差分デルタ・データ・セットの中で識別される。ベースラインに挿入すべき差分デルタ障害パターン（表２の列Ｅ）は、例えば、差分デルタ・データが０値を何らかの所定のしきい値量だけ超えている、差分デルタ・データにおける或る範囲の位置であることが可能である。例えば、新たなベースラインに挿入されるべき差分デルタ障害パターンは、インデックス（ループバック・パス）３〜９からの表２の列Ｄのデータ値であることが可能である。差分デルタ障害パターンは、いずれの側でも少なくとも１つの公称データ・ポイント、例えば、値＜＝０．１ｄＢを含むように選択されることが可能である。列Ｅの他のすべてのインデックスにおけるデータ値は、０に設定される（インデックス１、２、１０、１１、および１２）。
【００４９】
ＬＭＳ最新測定（表２の列Ｂ）が確立され、差分デルタ障害パターンが挿入されるべきＬＭＳ最新測定におけるインデックス（ループバック・パス）（インデックス３〜９）が格納される。挿入されるべき各差分デルタ障害パターン（列Ｅ）に関して、正規化された障害データ・セット（表２の列Ｆ）が、差分デルタ障害パターンをＬＭＳ最新測定の（例えば、列Ｂの）「生の」利得値に正規化することによって作成されることが可能である。差分デルタ障害パターン・データをＬＭＳ最新測定の利得値に正規化することは、様々な方法によって達せられることが可能である。
【００５０】
表２の例において、正規化は、差分デルタ障害パターン（列Ｅ）を次々に足して、累算された値のそれぞれを正規化された障害データ・セット（列Ｆ）として格納することによって実行される。このことは、ＬＭＳ最新測定に組み込むための特定の正規化された障害挿入シグネチャをもたらす。正規化された障害データ・セット、Ｄ（Ｎ）は、以下のとおり表現され得る。すなわち、
【数１】
2015500579.tif 000005
ただし、ｉは、データ・インデックス／ループバック・パス番号であり、Ｕは、差分デルタ障害パターン（列Ｅ）である。
【００５１】
正規化された障害データは、システムに関する新たなＬＭＳベースラインを確立するようにＬＭＳ最新測定に挿入されることが可能である。正規化された障害データ・セットをＬＭＳ最新測定に挿入することは、任意の決定論的な態様でＬＭＳ最新測定を正規化された障害データ・セットで変更することによって達せられることが可能である。表２に示される例において、差分デルタ障害パターンの各インデックス（ループバック・パス）（すなわち、表２のインデックス１〜１２）に関連する正規化された障害データの値が、対応するインデックスにおけるＬＭＳ最新測定から引かれて、表２の列Ｃに示されるとおり、挿入された障害を有する新たなＬＭＳベースライン・データ・セットが確立される。このことは、後のＬＭＳ測定とともに新たな差分デルタ・データ・セットを生成するのに使用されると、前のベースラインが、障害を含む最新測定とともに使用されているかのように、後のＬＭＳ測定に障害を事実上、挿入する、差分デルタ障害パターンの正規化された鏡像を含む新たなＬＭＳベースラインを事実上、もたらす。正規化された障害パターン（表２の列Ｆ）、Ｄ（Ｎ）を現在のＬＭＳ最新測定（表２の列Ｂ）、Ｂ（Ｖ）に挿入して、挿入された障害を有する新たなＬＭＳベースライン（表４の列Ｃ）、Ｃ（Ｖ）を実現することは、以下のとおり表現され得る。すなわち、
Ｃ（Ｖ）ｉ＝Ｂ（Ｖ）ｉ−Ｄ（Ｖ）ｉ  式７
ただし、ｉは、１から、正規化された障害パターンの終わりのインデックスまでに及ぶ（例えば、表２の１から１２までのインデックス）。
【００５２】
図３は、表１の列ＣのＬＭＳ最新測定データ・セットのグラフ３００、および表２の列Ｃの挿入された障害を有する新たなＬＭＳベースライン対ループバック・パス番号のグラフ３０２を含む。図示されるとおり、ＬＭＳ最新測定は、ＬＭＳ最新測定に前の未修復の障害を挿入して、システムに関する新たなＬＭＳベースラインを確立するように、正規化された障害パターンによって変更される。図４は、新たなＬＭＳベースラインに関連して、システムに任意の新たな障害が導入されるのに先立って、表１に関連して説明したとおり計算された差分デルタ・データのグラフ４００を含む。示されるとおり、新たなＬＭＳベースラインから計算された差分デルタ・データは、元のＬＭＳベースラインから計算された元の差分デルタ・データにおいて示される障害パターン（図２に示される）と実質的に同一の障害パターンを示す。
【００５３】
したがって、有利なことに、本開示と合致するシステムおよび方法は、システムの変更または変形の後にシステムに再ベースライン設定を行う際に、新たなＬＭＳベースラインに前の未修復の障害を挿入することを伴う。任意の数の前の未修復の障害が新たなＬＭＳベースラインに挿入されることが可能であり、これらの障害は、前のシステム構成、および前のベースラインに関連する以前に格納されたＡＳＡ障害シグネチャの使用を可能にするように挿入されることが可能である。本開示と合致する、障害挿入を伴う再ベースライン設定を含む事例のいくつかの限定的でなく、排他的でない例には、以下が含まれる。すなわち、
１．システムが、障害（ポンプ障害、ポンプ損失など）を含み、さらに別の断線（ｂｒｅａｋ）が生じ、または、場合により、それらの障害が修復される前に、中継器が完全に故障する。その断線または中継器が、修復されて、ライン特性の対応する変化をもたらすことが可能である。このシステムが、断線または中継器障害より前に存在していた障害が正しい位置で、さらに、例えば、それらの断線または障害の知られていた最後の大きさおよび形状で保たれるように、新たなベースラインにそれらの障害が挿入されて、再ベースライン設定される。
２．システム終端負荷が変化した、例えば、システムが新たな光学機器でアップグレードされ、増幅器パワーが大きく変わったなど。システムは、それまでに存在していたすべての障害が新たなベースラインに挿入されて、再ベースライン設定されることが可能である。この事例において、終端負荷変化より前の最後の計算からの差分デルタ・データ・セット全体が、新たなベースラインに挿入されることが可能である。
３．システム終端パワーが変化して、エンドポイントに障害シグネチャを生成させた。システムは、それまでに存在していたすべての障害が新たなベースラインに挿入されて再ベースライン設定されることが可能である。
４．分岐装置が追加され、または新たなファイバ・ペアが接合され、もしくはオンラインにされて、ファイバ・ペアの、例えば、ファイバ・ペアの長さの変化をもたらした。システムは、それまでに存在していたすべての障害が新たなベースラインに挿入されて再ベースライン設定されることが可能である。
【００５４】
図５は、本開示と合致する１つの例示的なプロセス５００のブロック流れ図である。図示されるブロック流れ図は、特定の順序のステップを含む。しかし、ステップのこの順序は、本明細書で説明される一般的な機能がどのように実装され得るかの例を与えるに過ぎないことが理解され得る。さらに、ステップの各順序は、特に明記しない限り、提示される順序で実行されなくてもよい。
【００５５】
図５に示される例示的な実施形態において、システムの複数のループバック・パスの各パス経由で試験信号にもたらされた利得を表すＬＭＳ最新測定ループ利得データが獲得されることが可能である（５０２）。これらのループバック・パスのそれぞれは、第１の方向で信号を伝送するための第１の光ファイバ・パスと、第１の方向とは逆の第２の方向で信号を伝送するための第２の光ファイバ・パスを結合する。ＬＭＳ最新測定ループ利得データが、変更に先立ってシステムにおいて識別された前の障害に関連する障害シグネチャを表すデータで変更されて（５０４）、新たなＬＭＳベースライン・データが確立されることが可能である。
【００５６】
このようにして、システムに再ベースライン設定を行う際に前の障害を新たなＬＭＳベースラインに挿入することを伴うシステムおよび方法が提供される。本開示の一態様によれば、光通信システムのライン監視システム（ＬＭＳ）において、システムに変更が行われた後に障害を識別するのに比較の対象とされる新たなライン監視システム・ベースライン・データを確立する方法が提供される。この方法は、システムの複数のループバック・パスの各パス経由で試験信号にもたらされた利得を表すＬＭＳ最新測定ループ利得データを獲得し、これらのループバック・パスのそれぞれは、第１の方向で信号を伝送するための第１の光ファイバ・パスと、第１の方向とは逆の第２の方向で信号を伝送するための第２の光ファイバ・パスを結合すること、およびＬＭＳ最新測定ループ利得データを、変更に先立って前記システムにおいて識別された前の障害に関連する障害シグネチャを表すデータで変更して、新たなＬＭＳベースライン・データを確立することを含む。
【００５７】
本開示の別の態様によれば、第１の方向で信号を伝送するための第１の光ファイバ・パスを、第１の方向とは逆の第２の方向で信号を伝送するための第２の光ファイバ・パスと結合する複数のループバック・パスを備える光通信システムを監視する方法が提供される。この方法は、第１の光ファイバ・パス上で第１の試験信号を送信すること、第２の光ファイバ・パスからそれらのループバック・パスのそれぞれから関連する第１の戻された試験信号を受信すること、それらの戻された試験信号からそれらのループバック・パスのそれぞれに関連するＬＭＳベースライン・ループ利得データを計算すること、第１の光ファイバ・パス上で第２の試験信号を送信すること、第２の光ファイバ・パスからそれらのループバック・パスのそれぞれからの関連する第２の戻された試験信号を受信すること、第２の戻された試験信号からそれらのループバック・パスのそれぞれに関連するＬＭＳ最新測定ループ利得データを計算すること、ＬＭＳ最新測定ループ利得データとＬＭＳベースライン・ループ利得データの比較に応答して光通信システムにおける障害に対応する障害シグネチャを識別すること、システムの変更の後に第１の光ファイバ・パス上で第３の試験信号を送信すること、第２の光ファイバ・パスからそれらのループバック・パスのそれぞれからの関連する第３の戻された試験信号を受信すること、第３の戻された試験信号からそれらのループバック・パスのそれぞれに関連する第２のＬＭＳ最新測定ループ利得データを計算すること、および第２のＬＭＳ最新測定を障害シグネチャを表すデータで変更して、システムに関する新たなＬＭＳベースライン・ループ利得データを確立することを含む。
【００５８】
本開示のさらに別の態様によれば、光通信システム上で送信するための試験信号をもたらすように構成された試験信号送信機を含む光通信システムのためのライン監視システムが提供される。光通信システムは、試験信号を受信するため、および第１の方向で試験信号を伝送するための第１の光ファイバ・パスと、第１の方向とは逆の第２の方向で信号を伝送するための第２の光ファイバ・パスと、システムの第１の光ファイバ・パスからの試験信号を、関連する戻される試験信号としてシステムの第２の光ファイバ・パスにそれぞれが結合する複数のループバック・パスとを含む。相関器が、それらの複数のループバック・パスの各パス経由で試験信号にもたらされた利得を表すＬＭＳ最新測定ループ利得データを、システムの変更に先立ってシステムにおいて識別された前の障害に関連する障害シグネチャを表すデータで変更して、システムに関する新たなＬＭＳベースライン・データを確立するように構成される。
【図１】
2015500579.tif 000006
【図２】
2015500579.tif 000007
【図３】
2015500579.tif 000008
【図４】
2015500579.tif 000009
【図５】
2015500579.tif 000010
【国際調査報告】
2015500579.tif 000011
2015500579.tif 000012
2015500579.tif 000013