(57)【要約】【課題】メモリカードの製品について、人的な製品関連情報の表示ミスが発生することなく、人件費と作業時間とを節減し、かつ製品関連情報を正確に表示でき、表示内容の意図的な変更を防止する。【解決手段】載置テーブル１と、テストテーブル２と、表示作業テーブル３と、取り出しテーブル４とによって装置を構成し、メモリカードの半製品５ａを載置テーブル１に載置し、テストテーブル２に送ってテストし、良品５ｂを表示作業テーブル３に送るとともに、不良品５ｃをテストテーブル２から取り出し、テストテーブル２から送られたメモリカード半製品の良品５ｂに、製品関連情報を表示するとともに、かつ取り出しテーブル４に送り後続の包装作業に供する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストを行う前のメモリカードの半製品を、載置テーブルに載置し、かつ該載置テーブルに載置したメモリカード半製品を、テストテーブルに送るステップと、
前記載置テーブルから送られたメモリカード半製品をテストテーブルにおいてテストし、良品を表示作業テーブルに送るとともに、不良品を該テストテーブルから取り出すステップと、
前記テストテーブルから送られたメモリカード半製品の良品を表示作業テーブルにおいて製品関連情報を表示し、かつ取り出しテーブルに送るステップと、
前記表示作業テーブルから取り出した製品関連情報を表示した良品であるメモリカードを、後続の包装作業に供するステップと、を含むことを特徴とするメモリカードのテスト工程。
【請求項２】
前記表示作業テーブルが、刻印作業テーブルである請求項１に記載のメモリカードのテスト工程。
【請求項３】
前記刻印作業テーブルが、レーザ刻印を行う刻印作業テーブルである請求項２に記載のメモリカードのテスト工程。
【請求項４】
前記刻印作業テーブルに設定される刻印の表示内容が、メモリカードの容量と、ロット番号と、製造期日と、名称などの該メモリカードに関連する情報であることを特徴とする請求項２もしくは請求項３に記載のメモリカードのテスト工程。
【請求項５】
前記載置テーブルと、テストテーブルと、表示作業テーブルと、取り出しテーブルとが同一のベースに設けられ、連携して連続作業を行うことを特徴とする請求項１，２，３もしくは請求項４に記載のメモリカードのテスト工程。
【請求項６】
メモリカードの半製品が載置されるとともに該メモリカードの半製品をテストテーブルに送る載置テーブルと、前記メモリカードの半製品をテストし、かつテストの結果に基づき良品を表示作業テーブルに送るとともに、不良品を該テストテーブルから取り出すテストテーブルと、メモリカードの良品に表示を行う表示作業テーブルと、前記表示作業テーブルによって表示を行ったメモリカード製品を取り出しテーブルに送る取り出しテーブルとを具えていることを特徴とするメモリカードテスト装置。
【請求項７】
前記載置テーブルと、テストテーブルと、表示作業テーブルと、取り出しテーブルとが同一のベースに設けられている請求項６記載のメモリカードテスト装置。
【請求項８】
前記表示作業テーブルが、刻印作業テーブルである請求項６もしくは請求項７に記載のメモリカードテスト装置。
【請求項９】
前記刻印作業テーブルが、レーザ刻印を行う刻印作業テーブルである請求項８に記載のメモリカードテスト装置。
【請求項１０】
前記刻印作業テーブルに設定される刻印の表示内容が、メモリカードの容量と、ロット番号と、製造期日と、名称などの該メモリカードに関連する情報である請求項８もしくは請求項９に記載のメモリカードテスト装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明はメモリカードのテスト公法と、テスト装置に関し、特にメモリカードの製造工程において、製造されたメモリカードをテストし、良品を選別して製品関連情報を表示して包装に供するメモリカードのテスト工程と、及びそのテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
情報産業の発展にともない、電子データを随時伝送することの必要性が日増しに高まっている。電子データを保存して、読み取り装置電子に提供するメモリカードは、新しい世代の記憶媒体とされている。その特性は、体積が縮小化されているとともに、大保存量と、高速伝送能力を具え、特にマルチメディア・データの保存、伝送に適する。
【０００３】
メモリカードには、メーカー、もしくは容量などを表示する。即ち、メモリカードの容量、ロット番号、メーカーの社名、もしくは製品関連情報などを表示しなければならず、この場合印刷するか、もしくはラベルを貼着するなどの方法が採用されている。但し、このような従来の表示方法は、次に掲げる欠点を有する。
１、印刷、もしくはラベルの品質が不良である場合、表示した文字が容易に見えなくなり、製品に関連する情報をはっきり表示できなくなる。
２、ラベルに水分が付着した場合、もしくは多湿の環境に製品が存在した場合、ラベルが容易に剥離して、製品に関連する情報を表示できなくなる。
３、ラベルを貼る作業において、不注意からラベルを貼り間違えた場合、該ラベルの表示と製品の仕様が一致しなくなる。係る事態の発生は消費者、販売業者、もしくは製造業者にとって潜在的な問題となる。
４、ラベルを貼る作業は、人件費と作業のための時間を必要とし、これが製造コストに反映する。
５、ラベルを貼着する方式は、ラベルを意図的に張り替えることができる。例えば低容量の製品に高容量を表示するラベルを貼ったり、異なるメーカーのラベルを貼ったりして、消費者を欺瞞する行為が可能である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
この発明は、検品のためのテストの過程において、メモリカードの容量、ロット番号、製造期日、名称などをメモリカードのハウジングに刻印する工程を含むメモリカードのテスト工程及びテスト装置を提供することを課題とする。
【０００５】
また、この発明は人的な製品関連情報の表示ミスが発生することなく、作業にかかる人件費と作業時間とを節減し、かつ製品関連情報を正確に表示できる製品関連情報の表示工程を含むメモリカードのテスト工程及びテスト装置を提供することを課題とする。
【０００６】
更に、この発明は表示内容を意図的に変更することができない製品関連情報の表示工程を含むメモリカードのテスト工程及びテスト装置を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明者は、従来の技術に見られる欠点に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、載置テーブルと、テストテーブルと、表示作業テーブルと、取り出しテーブルとを具えてなるメモリカードのテスト装置を利用して、テストを行う前のメモリカードの半製品を、載置テーブルに載置し、かつ該載置テーブルに載置したメモリカード半製品を、テストテーブルに送るステップと、
前記載置テーブルから送られたメモリカード半製品をテストテーブルにおいてテストし、良品を表示作業テーブルに送るとともに、不良品を該テストテーブルから取り出すステップと、
前記テストテーブルから送られたメモリカード半製品の良品を表示作業テーブルにおいて製品関連情報を表示し、かつ取り出しテーブルに送るステップと、
前記表示作業テーブルから取り出した製品関連情報を表示した良品であるメモリカードを、後続の包装作業に供するステップと、を含むメモリカードのテスト工程によって課題を解決できる点に着眼し、かかる知見に基づいて本発明を完成させた。
【０００８】
載置テーブルと、テストテーブルと、表示作業テーブルと、取り出しテーブルとが同一のベースに設けられ、連携して連続作業を行うこと、表示作業テーブルが、刻印作業テーブル、殊に、レーザ刻印を行う刻印作業テーブルであることが好ましく、また、刻印作業テーブルに設定される刻印の表示内容が、メモリカードの容量と、ロット番号と、製造期日と、名称などの該メモリカードに関連する情報であることが好ましい。
【０００９】
【発明の実施の形態】
図１及び図２は本発明の好ましい実施の形態の概略を示すものであり、この発明によるメモリカードテスト装置は、載置テーブル１と、テストテーブル２と、表示作業テーブル３と、取り出しテーブル４とを有し、それぞれのテーブルが連携して作業を行うように、載置テーブル１と、テストテーブル２と、表示作業テーブル３と、取り出しテーブル４とを同一のベース上に設けか、もしくはそれぞれを独立させて設置してもよい。但し、作業時間と作業の手間を考慮した場合、好ましくは同一ベース上に設けて連携した作業を行うようにする。
【００１０】
載置テーブル１は、テストを行う前のメモリカード半製品５ａを載置するテーブルであって、テストテーブル２はメモリカード半製品５ａに対してテストを行うテーブルである。テストに合格した良品５ｂは表示テー物３に送られ、不合格の不良品５ｃは、テストテーブル２の不良品領域２１に集めて、調整を行うか、もしくは廃棄する。
【００１１】
表示作業テーブル３はレーザ刻印を行うテーブルであって、メモリカードの容量、ロット番号、製造期日、名称などの関連情報をメモリカード製品の良品５ｂのハウジング上に刻印する。
【００１２】
取り出しテーブル４は、刻印が完成した良品５ｂを受け取り、後続の包装の作業に供するために送り出すのである。
【００１３】
この発明によるメモリカードのテスト工程は、図１、２に開示するように、ステップａにおいてテストを行う前のメモリカードの半製品５ａを載置テーブル１に載置し、かつテストテーブル２に送り、ステップｂにおいて前記載置テーブル１から送られたメモリカード半製品５ａをテストテーブル２においてテストし、良品５ｂを表示作業テーブル３に送るとともに、不良品５ｃをテストテーブル２から取り出し、ステップｃにおいてテストテーブル２から送られたメモリカード半製品５ａの良品５ｂを表示作業テーブル３において製品関連情報を表示し、かつステップｄにおいて、表示作業テーブルから取り出した製品関連情報を表示した良品であるメモリカード５ｄを、後続の包装作業に供する。
【００１４】
以上は、この発明の好ましい実施の形態であって、この発明の実施の形態の範囲を限定するものではない。よって、当業者のなし得る修正、もしくは変更であって、この発明の精神の下においてなされ、この発明に対して均等の効果を有するものは、いずれもこの発明の特許請求の範囲に属するものとする。
【００１５】
【発明の効果】
この発明によれば、メモリカードの容量、ロット番号、製造期日、名称などの製品関連情報をメモリカードに刻印することができるため、人的作業でラベルを貼る従来の方法に比して、作業の時間と人件費を節減することができるのみならず、ラベルの貼り間違いを防ぐことができる。また、ラベルが剥離したり、磨耗して製品関連情報が表示できなくなったりすることを防ぎ、意図的にラベルを貼り替えられることを防ぐ効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明によるメモリカードテスト装置の好ましい実施の形態の概略を表わす説明図である。
【図２】この発明によるメモリカードテスト工程の好ましい実施の形態の概略を表わす説明図である。
【符号の説明】
１            載置テーブル
２            テストテーブル
２１          不良品領域
３            表示作業テーブル
４            取り出しテーブル
５ａ          メモリカード半製品
５ｂ、５ｄ    良品
５ｃ          不良品
【図１】
2005011020.tif 000003
【図２】
2005011020.tif 000004