【手続補正書】
【提出日】平成22年2月24日(2010.2.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、分割した前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波し、前記反射光と前記参照光とが合波したときの干渉光を干渉信号としてサンプリングし、サンプリングした前記干渉信号を補償するための補償テーブルを生成する補償テーブル生成方法であって、
前記測定光の光軸方向に反射体が配置されているときにサンプリングされた干渉信号を反射体干渉信号として取得し、
取得した前記反射体干渉信号を下記式（１）により変換されるサンプリング空間において再サンプリングすることにより評価用出力信号を算出し、
算出した前記評価用出力信号を用いて下記式（１）のＮ次多項式として設定された補償テーブルのモデル係数を最適化する
ことを特徴とする補償テーブル生成方法。
【数１】
2008275528.tif 000001
【請求項２】
光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、分割した前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波し、前記反射光と前記参照光とが合波したときの干渉光を干渉信号としてサンプリングし、サンプリングした前記干渉信号を補償するための補償テーブルを生成する補償テーブル生成装置であって、
前記測定光の光軸方向に反射体が配置されているときにサンプリングされた干渉信号を反射体干渉信号として取得する干渉信号取得手段と、
前記干渉信号取得手段において取得された前記反射体干渉信号を下記式（１）により変換されるサンプリング空間において再サンプリングすることにより評価用出力信号を算出する評価信号算出手段と、
該評価信号算出手段により算出された前記評価用出力信号を用いて、下記式（１）のＮ次多項式として設定された補償テーブルのモデル係数を最適化する最適化手段と
を備えたことを特徴とする補償テーブル生成装置。
【数２】
2008275528.tif 000002
【請求項３】
前記最適化手段が、
該評価信号算出手段において取得された前記評価用出力信号のスペクトルを算出するスペクトル算出手段と、
該スペクトル算出手段において算出されたスペクトルを用いて、下記式（２）により前記補償テーブルに対する評価値を算出する評価値算出手段と、
該評価値算出手段により算出された前記評価値が小さくなるように前記モデル係数を更新する係数更新手段と
を有するものであることを特徴とする請求項２記載の補償テーブル生成装置。
【数３】
2008275528.tif 000003
【請求項４】
前記設定ノルムが１以上２未満であることを特徴とする請求項３記載の補償テーブル生成装置。
【請求項５】
前記最適化手段が、シンプレックス法により前記モデル係数の最適化を行うものであることを特徴とする請求項２から４のいずれか１項に記載の補償テーブル生成装置。
【請求項６】
前記信号取得手段が、サンプリング空間が前記干渉光の波長である前記反射体干渉信号を取得するものであり、
前記評価信号算出手段が、前記反射体干渉信号を前記式（１）により変換されるサンプリング空間において再サンプリングすることにより、サンプリング空間が前記干渉光の波数である評価用出力信号を算出するものであることを特徴とする請求項２から５のいずれか１項記載の補償テーブル生成装置。
【請求項７】
前記信号取得手段が、前記干渉光の波長に対する干渉強度を示す前記反射体干渉信号を波数に対する干渉強度を示す前記反射体干渉信号に変換する機能を有し、
前記評価信号算出手段が、該信号取得手段により取得された波数に対する干渉強度を示す前記反射体干渉信号を前記式（１）により変換されるサンプリング空間において再サンプリングすることにより評価用出力信号を算出するものであることを特徴とする請求項２から５のいずれか１項記載の補償テーブル生成装置。
【請求項８】
前記測定光がシースに被覆された光ファイバを有する光プローブ内を導波し該シースを透過して前記測定対象に照射されるものであり、前記反射体がシースであることを特徴とする請求項２から７のいずれか１項記載の補償テーブル生成装置。
【請求項９】
光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、分割した前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波し、前記反射光と前記参照光とが合波したときの干渉光を干渉信号としてサンプリングした際に、コンピュータに、サンプリングした前記干渉信号を補償するための補償テーブルを生成することを実行させるための補償テーブル生成プログラムであって、
前記測定光の光軸方向に反射体が配置されているときにサンプリングされた干渉信号を反射体干渉信号として取得し、
取得した前記反射体干渉信号を下記式（１）により変換されるサンプリング空間において再サンプリングすることにより評価用出力信号を算出し、
算出した前記評価用出力信号を用いて下記式（１）のＮ次多項式として設定された補償テーブルのモデル係数を最適化する
ことを実行させるための補償テーブル生成プログラム。
【数４】
2008275528.tif 000004
【請求項１０】
光を射出し、射出した光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波し、前記反射光と前記参照光とが合波したときの干渉光を干渉信号としてサンプリングし、サンプリングした前記干渉信号を用いて前記測定対象の断層情報を取得し断層画像を生成する断層画像処理装置において、
前記干渉信号を取得する干渉信号取得手段と、
前記干渉信号取得手段において取得される干渉信号のうち、前記測定光の光軸方向に反射体が配置されているときにサンプリングされた反射体干渉信号を下記式（１）により変換されるサンプリング空間において再サンプリングすることにより評価用出力信号を算出する評価信号算出手段と、
該評価信号算出手段により算出された前記評価用出力信号を用いて、下記式（１）のＮ次多項式として設定された補償テーブルの設定しモデル係数を最適化する最適化手段と、
該最適化手段により最適化された前記補償テーブルを用いて、前記干渉信号取得手段において取得された前記干渉信号を補償する信号補償手段と、
該信号補償手段により補償された前記干渉信号を用いて前記測定対象の断層情報を取得する断層情報取得手段と、
該断層情報取得手段により取得された前記断層情報を用いて断層画像を生成する断層画像生成手段と
を備えたことを特徴とする断層画像処理装置。
【数５】
2008275528.tif 000005
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６３】
まず、干渉信号取得手段５１において干渉信号ＩＳが取得されたとき、最適化手段７２において、干渉信号ＩＳが初期の補償テーブルＲＴ（式（１’））により補償され、評価用出力信号ＲＩＳ１０が取得される。次に、スペクトル算出手段７１ａにおいて、評価用出力信号ＲＩＳ１０のスペクトルＹ（ｔ）が算出され、評価値算出手段７１ｂによりスペクトルＹ（ｔ）の評価値Ｅ（Ｃｉ）が算出される（ステップＳＴ５）。そして、係数更新手段７１ｃにより、評価値Ｅ（Ｃｉ）が小さくなるようにモデル係数Ｃｉが更新される（ステップＳＴ６）。この作業が設定ループ回数ｋだけ繰り返される（ステップＳＴ３〜ＳＴ７）。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図７】
2008275528.tif 000006