Podtech/llm-jp-corpus-v4-ja_patent huggingface dataset:
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月5日(2010.7.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに交差するデータ線及び走査線と、
前記交差に対応して画素毎に設けられた画素電極と、
前記画素の開口領域を互いに隔てる非開口領域に設けられ、一の方向に沿ったチャネル長を有するチャネル領域と、
前記データ線に電気的に接続されたデータ線側ソースドレイン領域と、前記画素電極に電気的に接続された画素電極側ソースドレイン領域と、前記チャネル領域及び前記データ線側ソースドレイン領域間に形成された第１の接合領域と、前記チャネル領域及び前記画素電極側ソースドレイン領域間に形成された第２の接合領域とを有する半導体層を含むトランジスタと、
前記半導体層よりも上層側に形成され、前記一の方向に沿って延びると共に、前記第１の接合領域を覆う第１部分と、前記第２の接合領域を覆うと共に前記第１部分より前記一の方向に交わる他の方向の幅が広い第２部分とを有する遮光部と、
前記画素に対応して設けられたマイクロレンズと
を備え、
前記画素の開口領域は、前記遮光部の存在によって、前記他の方向に沿う一の直線に関して非対称な平面形状を有しており、
前記マイクロレンズは、当該マイクロレンズの中心が、前記画素の開口領域の重心に一致するように設けられる
ことを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記第２の接合領域は、ＬＤＤ領域であることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記遮光部は、一対の容量電極及び該一対の容量電極間に挟持された誘電体膜を有する容量素子であり、
前記容量素子は、前記データ線を介して前記画素電極に画像信号が供給された際に、前記画素電極の電位を保持する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記一対の容量電極の少なくとも一方は、導電性遮光膜を含んでなることを特徴とする請求項３に記載の電気光学装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか一項に記載の電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子機器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の電気光学装置は上記課題を解決するために、互いに交差するデータ線及び走査線と、前記交差に対応して画素毎に設けられた画素電極と、前記画素の開口領域を互いに隔てる非開口領域に設けられ、一の方向に沿ったチャネル長を有するチャネル領域と、前記データ線に電気的に接続されたデータ線側ソースドレイン領域と、前記画素電極に電気的に接続された画素電極側ソースドレイン領域と、前記チャネル領域及び前記データ線側ソースドレイン領域間に形成された第１の接合領域と、前記チャネル領域及び前記画素電極側ソースドレイン領域間に形成された第２の接合領域とを有する半導体層を含むトランジスタと、前記半導体層よりも上層側に形成され、前記一の方向に沿って延びると共に、前記第１の接合領域を覆う第１部分と、前記第２の接合領域を覆うと共に前記第１部分より前記一の方向に交わる他の方向の幅が広い第２部分とを有する遮光部と、前記画素に対応して設けられたマイクロレンズとを備え、前記画素の開口領域は、前記遮光部の存在によって、前記他の方向に沿う一の直線に関して非対称な平面形状を有しており、前記マイクロレンズは、当該マイクロレンズの中心が、前記画素の開口領域の重心に一致するように設けられる。
【手続補正書】
【提出日】平成22年8月20日(2010.8.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学系によって結像された被写体像を撮像する撮像手段を有する撮像装置であって、
前記撮像装置に加わる振れを検出する振れ検出手段と、
前記振れ検出手段により検出された振れに基づいて得られた信号に基づいて補正量を算出する算出手段と、
前記撮像手段によって撮像された画像から動きベクトルを検出するベクトル検出手段と、
前記振れ検出手段により検出された振れに基づいて得られた信号と前記ベクトル検出手段により検出された動きベクトルに基づいた信号から、補正係数を演算する補正係数演算手段と、
前記補正係数に基づいて前記補正量を変更し、変更された補正量を出力する変更手段と、
前記変更された補正量に基づいて補正部材の位置を制御することで、前記振れによる像ぶれを光学的に補正する補正手段と、
パンニング動作が行われているか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって前記パンニング動作と判定された際は、前記補正係数による前記補正量の変更を停止するように切り換える切換手段を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記判定手段は、前記振れ検出手段により検出された振れに基づいて得られた信号が角速度判定用の所定値よりも大きい、若しくは前記補正値が補正位置判定用の所定値よりも大きい場合に、前記パンニング動作が行われていると判定することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記変更手段は、変更される直前の前記補正量を記憶し、
前記切換手段によって前記補正量の変更が停止された場合は、前記変更手段は、記憶された前記直前の補正量を出力することを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記撮像装置は動画像を撮影する動画撮影モードと静止画像を撮影する静止画撮影モードと有し、
前記補正係数は前記動画撮影モードと前記静止画撮影モードで異なることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
光学系によって結像された被写体像を撮像する撮像手段を有する撮像装置の制御方法であって、
前記撮像装置に加わる振れを検出する振れ検出ステップと、
前記振れ検出ステップにより検出された振れに基づいて得られた信号に基づいて補正量を算出する算出ステップと、
前記撮像手段によって撮像された画像から動きベクトルを検出するベクトル検出ステップと、
前記振れ検出ステップにより検出された振れに基づいて得られた信号と、前記ベクトル検出ステップにより検出された動きベクトルに基づいた信号から補正係数を演算する補正係数演算ステップと、
前記補正係数に基づいて前記補正量を変更し、変更された補正量を出力する変更ステップと、
前記変更された補正量に基づいて補正部材の位置を制御することで、前記振れによる像ぶれを光学的に補正する補正ステップと、
パンニング動作が行われているか否かを判定する判定ステップと、
前記判定ステップによって前記パンニング動作と判定された際は、前記補正係数による前記補正量の変更を停止するように切り換える切換ステップを有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】撮像装置およびその制御方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、像振れ補正機能を有するデジタルカメラやビデオカメラ等の撮像装置およびその制御方法に関するものである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
（発明の目的）
本発明の目的は、撮像装置の使用状態によらず、常に最適な像振れ補正効果を与えることのできる撮像装置およびその制御方法を提供しようとするものである。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明は、光学系によって結像された被写体像を撮像する撮像手段を有する撮像装置であって、前記撮像装置に加わる振れを検出する振れ検出手段と、前記振れ検出手段により検出された振れに基づいて得られた信号に基づいて補正量を算出する算出手段と、前記撮像手段によって撮像された画像から動きベクトルを検出するベクトル検出手段と、前記振れ検出手段により検出された振れに基づいて得られた信号と前記ベクトル検出手段により検出された動きベクトルに基づいた信号から、補正係数を演算する補正係数演算手段と、前記補正係数に基づいて前記補正量を変更し、変更された補正量を出力する変更手段と、前記変更された補正量に基づいて補正部材の位置を制御することで、前記振れによる像ぶれを光学的に補正する補正手段と、パンニング動作が行われているか否かを判定する判定手段と、前記判定手段によって前記パンニング動作と判定された際は、前記補正係数による前記補正量の変更を停止するように切り換える切換手段を有することを特徴とする撮像装置とするものである。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
本発明によれば、撮像装置の使用状態によらず、常に最適な像振れ補正効果を与えることができる撮像装置およびその制御方法を提供できるものである。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月8日(2010.7.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
表面に絶縁層を有し且つ該絶縁層の下層に外部に導通する導体層を有する電気回路基板上に光導波路を形成する光導波路搭載基板の製造方法であって、
前記表面絶縁層に少なくとも１つの開口部を設けて、前記導体層を露出させ、
該表面絶縁層上に、前記開口部に対応する位置の開口部を有する下クラッド層を形成する工程と、
該下クラッド層を含む前記表面絶縁層上にめっきレジスト層を形成し、該めっきレジスト層の前記開口部に対応する位置に開口部を形成する工程と、
前記開口部に露出している前記導体層を電極として、電解めっきを施し、前記表面絶縁層、前記下クラッド層及び前記めっきレジスト層を貫通する前記開口部を第１の金属で充填する工程と、
前記めっきレジスト層を除去し、前記第１の金属による突起部を形成する工程と、
該突起部を傾斜面に加工する工程と、
該傾斜面上に第２の金属からなる反射面を形成する工程と、
該反射面を含む前記下クラッド層上にコア層を積層する工程と、
該コア層上に上クラッド層を積層する工程と、
を含むことを特徴とする光導波路搭載基板の製造方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
上記の課題を達成するために、本発明によれば、表面に絶縁層を有し且つ該絶縁層の下層に外部に導通する導体層を有する電気回路基板上に光導波路を形成する光導波路搭載基板の製造方法であって、前記表面絶縁層に少なくとも１つの開口部を設けて、前記導体層を露出させ、該表面絶縁層上に、前記開口部に対応する位置の開口部を有する下クラッド層を形成する工程と、該下クラッド層を含む前記表面絶縁層上にめっきレジスト層を形成し、該めっきレジスト層の前記開口部に対応する位置に開口部を形成する工程と、前記開口部に露出している外部に導通する前記導体層を電極として、電解めっきを施し、前記表面絶縁層、前記下クラッド層及び前記めっきレジスト層を貫通する前記開口部を第１の金属で充填する工程と、前記めっきレジスト層を除去し、前記第１の金属による突起部を形成する工程と、該突起部を傾斜面に加工する工程と、該傾斜面上に第２の金属からなる反射面を形成する工程と、該反射面を含む前記下クラッド層上にコア層を積層する工程と、該コア層上に上クラッド層を積層する工程と、を含むことを特徴とする光導波路搭載基板の製造方法が提供される。
【手続補正書】
【提出日】平成22年6月8日(2010.6.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のレーザビームを使用して画像形成を行う画像形成装置であって、
感光体ドラムへの静電潜像形成を制御するための制御装置と、
前記静電潜像形成のため前記レーザビームの出力を制御する設定値を生成し、前記レーザビームを照射するためのレーザ素子の点灯時間を設定期間の間積算し、前記設定期間内の積算点灯時間をモニタして保存回路に保存するレーザ動作モニタを含む、レーザ出力設定回路と、
前記レーザ出力設定回路の前記設定値を使用して前記レーザ素子を、それぞれ点灯させるための制御信号を生成する出力レベル制御回路と、
前記制御信号に基づいて前記レーザ素子に点灯電流を供給するドライバ回路とを含み、
前記レーザ出力設定回路は、前記各レーザ素子の点灯時間がフィードバックされ、前記各レーザ素子のレーザ出力設定を行う、画像形成装置であって、
前記レーザ動作モニタは、前記積算点灯時間を登録し、前記レーザ出力設定回路は、直前の前記設定期間の前記積算点灯時間を使用して前記レーザ素子の前記点灯電流を制御する、画像形成装置。
【請求項２】
前記制御装置は、点灯するべきレーザ素子および前記点灯するべきレーザ素子に隣接する他の複数のレーザ素子についての前記積算点灯時間から前記点灯するべきレーザ素子の光量補正値を計算する請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御装置は、前記積算点灯時間を使用して移動平均値を計算し、前記移動平均値を直後に開始される前記設定期間の初期オフセット値として設定する、請求項１または２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記積算点灯時間は、前記設定期間の満了により前記制御装置に退避された後、クリアされる、請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記レーザ素子は、単一基板上に複数集積され、面発光レーザを構成する、請求項１〜４のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項６】
複数のレーザビームを使用して画像形成を行う画像形成方法であって、
画像形成期間内で複数の設定期間を割当て、直前の前記設定期間について、点灯するべきレーザの周りの複数のレーザ素子の積算点灯時間を取得するステップと、
前記複数のレーザ素子の前記積算点灯時間に基づいて点灯するべきレーザ素子の光量補正値を決定するステップと、
前記光量補正値を使用して前記点灯するべきレーザ素子に点灯電流を供給し、感光体ドラム上に静電潜像を形成するステップと
を含む、画像形成方法。
【請求項７】
さらに前記レーザ素子の点灯時間を取得して前記設定期間内で前記各レーザ素子ごとに積算し、前記積算点灯時間として登録するステップを含む、請求項６に記載の画像形成方法。
【請求項８】
前記積算点灯時間を、前記設定期間の満了により保存回路に保存し、以後に設定される前記設定期間での前記レーザ素子の点灯制御にフィードバックするステップを含む、請求項６または７に記載の画像形成方法。
【請求項９】
前記レーザ素子は、単一の基板上に集積され、面発光レーザを構成する、請求項６〜８のいずれか１項に記載の画像形成方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
すなわち、本発明によれば、
複数のレーザビームを使用して画像形成を行う画像形成装置であって、
感光体ドラムへの静電潜像形成を制御するための制御装置と、
前記静電潜像形成のため前記レーザビームの出力を制御する設定値を生成し、前記レーザビームを照射するためのレーザ素子の点灯時間を設定期間の間積算し、前記設定期間内の積算点灯時間をモニタして保存回路に保存するレーザ動作モニタを含む、レーザ出力設定回路と、
前記レーザ出力設定回路の前記設定値を使用して前記レーザ素子を、それぞれ点灯させるための制御信号を生成する出力レベル制御回路と、
前記制御信号に基づいて前記レーザ素子に点灯電流を供給するドライバ回路とを含み、
前記レーザ出力設定回路は、前記各レーザ素子の点灯時間がフィードバックされ、前記各レーザ素子のレーザ出力設定を行う、画像形成装置であって、
前記レーザ動作モニタは、前記積算点灯時間を登録し、前記レーザ出力設定回路は、直前の前記設定期間の前記積算点灯時間を使用して前記レーザ素子の前記点灯電流を制御する、画像形成装置が提供される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
前記制御装置は、点灯するべきレーザ素子および前記点灯するべきレーザ素子に隣接する他の複数のレーザ素子についての前記積算点灯時間から前記点灯するべきレーザ素子の光量補正値を計算することができる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
さらに、前記制御装置は、前記積算点灯時間を使用して移動平均値を計算し、前記移動平均値を直後に開始される前記設定期間の初期オフセット値として設定することができる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
また、前記積算点灯時間は、前記設定期間の満了により前記制御装置に退避された後、クリアすることができる。また、前記レーザ素子は、単一基板上に複数集積され、面発光レーザを構成することができる。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月9日(2010.7.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項３】
電気回路基板上に搭載された光導波路を有する光導波路搭載基板であって、
該基板の表面に形成された下クラッド層と、該下クラッド層上に積層されたコア層と、該コア層上に積層された上クラッド層とから成り、
該コア層には、紫外線硬化型樹脂から成る突起部の傾斜面に形成された、少なくとも１つの光反射ミラーを有することを特徴とする光導波路搭載基板。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
また、本発明によれば、電気回路基板上に搭載された光導波路を有する光導波路搭載基板であって、該基板の表面に形成された下クラッド層と、該下クラッド層上に積層されたコア層と、該コア層上に積層された上クラッド層とから成り、該コア層には、紫外線硬化型樹脂から成る突起部の傾斜面に形成された、少なくとも１つの光反射ミラーを有することを特徴とする光導波路搭載基板が提供される。この場合において、前記光反射ミラーは光導波路に対して４５度の角度に配置されていることを特徴とする。
【手続補正書】
【提出日】平成22年4月19日(2010.4.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７７】
図６に示すような建造物の階段に本実施形態における画像表示装置１０を適用する場合、例えば階段の踏み面２０ａに、第１の投影面の投射画像を透過させた画像を表示するように第１のスクリーンＳＣＲ１が設けられ、踏み面２０ａが第１のスクリーンＳＣＲ１となる。図６では、階段の踏み面２０ｂ、２０ｃにも、踏み面２０ａと同様のスクリーンが設けられる。また、例えば階段の蹴込み面２２ａに、第２の投影面の投射画像を透過させた画像を表示するように第２のスクリーンＳＣＲ２が設けられ、蹴込み面２２ａが第２のスクリーンＳＣＲ２となる。図６では、階段の蹴込み面２２ｂ、２２ｃにも、蹴込み面２２ａと同様のスクリーンが設けられる。即ち、踏み面２０ａが図１の第１のスクリーンＳＣＲ１、蹴込み面２２ａが図１の第２のスクリーンＳＣＲ２、踏み面２０ｂが図１の第３のスクリーンＳＣＲ３として機能することができる。そして、階段の内側に、蹴込み面及び踏み面の投影面に投射画像を投射する投射手段としてのプロジェクタが配置される。この場合、プロジェクタは、複数の蹴込み面に投射画像を投射したり、複数の踏み面に投射画像を投射したり、複数の蹴込み面及び複数の踏み面に投射画像を投射したりする。このような階段に画像表示装置１０を適用することで、新しいサイネージ用途の画像表示装置を提供できるようになる。
【手続補正書】
【提出日】平成22年8月23日(2010.8.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基材と、
前記基材上に間隔をおいて配置された複数の金属細線を有する偏光層と、
前記偏光層上に設けられ、微粒子の集合体から構成される保護層と、を有し、
前記基材と、隣り合う一対の前記金属細線と、前記保護層と、によって囲まれた空間を有することを特徴とする偏光素子。
【請求項２】
前記微粒子の大きさが、隣り合う前記金属細線の配置間隔よりも大きいことを特徴とする請求項１記載の偏光素子。
【請求項３】
前記保護層が、前記複数の微粒子が凝集した凝集体の集合体から構成され、
前記凝集体の大きさが、隣り合う前記金属細線の配置間隔よりも大きいことを特徴とする請求項１記載の偏光素子。
【請求項４】
前記微粒子が、シリコン酸化物、酸化アルミニウム、酸化チタンのうちのいずれかからなることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の偏光素子。
【請求項５】
前記微粒子が、透明樹脂からなることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の偏光素子。
【請求項６】
基材上に形成した金属膜をパターニングすることにより複数の金属細線を形成し、偏光層を形成する工程と、
前記偏光層上に、微粒子と、前記微粒子を分散させる分散媒と、を含む溶液を塗布する工程と、
前記分散媒を除去して残存した前記微粒子の集合体により、前記偏光層上に保護層を形成する工程と、を有することを特徴とする偏光素子の製造方法。
【請求項７】
前記微粒子の大きさが、隣り合う前記金属細線の配置間隔よりも大きいことを特徴とする請求項６記載の偏光素子の製造方法。
【請求項８】
前記分散媒中に、前記複数の微粒子が凝集した凝集体が含まれており、
前記凝集体の大きさが、隣り合う前記金属細線の配置間隔よりも大きいことを特徴とする請求項６記載の偏光素子の製造方法。
【請求項９】
前記分散媒中の前記微粒子がコーティングされていることを特徴とする請求項６乃至８のいずれか一項に記載の偏光素子の製造方法。
【請求項１０】
請求項１から５のいずれか一項に記載の偏光素子を備えたことを特徴とする液晶装置。
【請求項１１】
一対の基材間に液晶層を挟持して構成され、前記一対の基材のうち少なくとも一方の基材の前記液晶層側に、前記偏光素子が形成されていることを特徴とする請求項１０に記載の液晶装置。
【請求項１２】
１つの画素で透過表示と反射表示とが可能な半透過反射型の液晶装置であって、前記偏光素子によって反射された光を用いて前記反射表示を行うことを特徴とする請求項１０に記載の液晶装置。
【請求項１３】
請求項１０から１２のいずれか一項に記載の液晶装置を備えたことを特徴とする電子機器。
【請求項１４】
請求項１から５のいずれか一項に記載の偏光素子を備えたことを特徴とする電子機器。
【請求項１５】
基材と、
互いに平行かつ所定の間隔で前記基材上に位置し、偏光選択を行う複数の金属細線と、
透明絶縁材料によって形成され、且つ前記金属細線の前記基材に当接する面と対向する面に接する複数の粒状体と、を有することを特徴とする偏光素子。
【手続補正書】
【提出日】平成22年9月14日(2010.9.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部より供給される歌唱音波形の波高値を時間順に順次入力する入力手段と、  この入力された歌唱音波形を時間軸及び波高値を有する２次元相空間上の原波形データとして記憶する原波形データ記憶手段と、  この原波形データ記憶手段に記憶された原波形データに対して、ターケンスの埋め込み定理によるｎ（ｎ>２）次元相空間への埋め込みを行うことによりアトラクタを生成するために、前記２次元相空間の原波形データの時間軸上に夫々プロットスケール値ｔの間隔をおいたｎ個のサンプリング位置を指定し、当該ｎ個のサンプリング位置の波高値夫々をｎ次元相空間上の各軸上の位置に対応させることによって最初の座標位置を決定し、その後前記ｎ個のサンプリング位置を同時にリサンプリング時間Δｔだけ時間軸上を順次シフトいくことにより前記ｎ次元相空間上のアトラクタの座標位置を順次決定するターケンス・プロット処理手段と、  基本アトラクタデータが記憶される基本アトラクタデータ記憶手段と、  前記ターケンス・プロット処理手段によって作成されたアトラクタデータと前記基本アトラクタデータ記憶手段に記憶される基本アトラクタデータとを比較し、この比較結果に基づいて前記原波形を診断する波形診断手段と  を具備することを特徴とする歌唱診断装置。  
【請求項２】
外部より供給される歌唱音波形の波高値を時間順に順次入力する入力手段と、基本アトラクタデータが記憶される基本アトラクタデータ記憶手段とを有するコンピュータに、  入力された歌唱音波形を時間軸及び波高値を有する２次元相空間上の原波形データとして原波形データ記憶手段に記憶させるステップと、  この記憶された原波形データに対して、ターケンスの埋め込み定理によるｎ（ｎ>２）次元相空間への埋め込みを行うことによりアトラクタを生成するために、前記２次元相空間の原波形データの時間軸上に夫々プロットスケール値ｔの間隔をおいたｎ個のサンプリング位置を指定し、当該ｎ個のサンプリング位置の波高値夫々をｎ次元相空間上の各軸上の位置に対応させることによって最初の座標位置を決定し、その後前記ｎ個のサンプリング位置を同時にリサンプリング時間Δｔだけ時間軸上を順次シフトいくことにより前記ｎ次元相空間上のアトラクタの座標位置を順次決定するターケンス・プロット処理ステップと、  この作成されたアトラクタデータと前記記憶手段に記憶される基本アトラクタデータとを比較し、この比較結果に基づいて前記原波形を診断する波形診断ステップと、 を実行させる歌唱診断装置のプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、外部より供給される歌唱音波形の波高値を時間順に順次入力する入力手段と、この入力された歌唱音波形を時間軸及び波高値を有する２次元相空間上の原波形データとして記憶する原波形データ記憶手段と、この原波形データ記憶手段に記憶された原波形データに対して、ターケンスの埋め込み定理によるｎ（ｎ>２）次元相空間への埋め込みを行うことによりアトラクタを生成するために、前記２次元相空間の原波形データの時間軸上に夫々プロットスケール値ｔの間隔をおいたｎ個のサンプリング位置を指定し、当該ｎ個のサンプリング位置の波高値夫々をｎ次元相空間上の各軸上の位置に対応させることによって最初の座標位置を決定し、その後前記ｎ個のサンプリング位置を同時にリサンプリング時間Δｔだけ時間軸上を順次シフトいくことにより前記ｎ次元相空間上のアトラクタの座標位置を順次決定するターケンス・プロット処理手段と、 基本アトラクタデータが記憶される基本アトラクタデータ記憶手段と、前記ターケンス・プロット処理手段によって作成されたアトラクタデータと前記基本アトラクタデータ記憶手段に記憶される基本アトラクタデータとを比較し、この比較結果に基づいて前記原波形を診断する波形診断手段とを具備することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
請求項２に記載の発明では、外部より供給される歌唱音波形の波高値を時間順に順次入力する入力手段と、基本アトラクタデータが記憶される基本アトラクタデータ記憶手段とを有するコンピュータに、入力された歌唱音波形を時間軸及び波高値を有する２次元相空間上の原波形データとして原波形データ記憶手段に記憶させるステップと、この記憶された原波形データに対して、ターケンスの埋め込み定理によるｎ（ｎ>２）次元相空間への埋め込みを行うことによりアトラクタを生成するために、前記２次元相空間の原波形データの時間軸上に夫々プロットスケール値ｔの間隔をおいたｎ個のサンプリング位置を指定し、当該ｎ個のサンプリング位置の波高値夫々をｎ次元相空間上の各軸上の位置に対応させることによって最初の座標位置を決定し、その後前記ｎ個のサンプリング位置を同時にリサンプリング時間Δｔだけ時間軸上を順次シフトいくことにより前記ｎ次元相空間上のアトラクタの座標位置を順次決定するターケンス・プロット処理ステップと、この作成されたアトラクタデータと前記記憶手段に記憶される基本アトラクタデータとを比較し、この比較結果に基づいて前記原波形を診断する波形診断ステップと、を実行させることを特徴とする。
【手続補正書】
【提出日】平成22年9月16日(2010.9.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネルと、該表示パネルに光を照射するバックライトと、
上記バックライトに設けられた複数の発光素子と、
上記発光素子が配置される回路基板と、
上記発光素子の光が入射する導光板と、
上記導光板を収納する収納ケースとを有し、
上記収納ケースは金属により形成され、底面と該底面に交差するように折り曲げられた第１の側面と第２の側面とを有し、
上記第１の側面に上記回路基板を配置し、
上記第１の側面に交差する位置に形成された第２の側面に嵌め込んだ、上記導光板を固定する樹脂部材を取り付けたことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】
上記発光素子はＬＥＤであることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項３】
上記第２の側面に切り欠きを設け、該切り欠きに上記樹脂部材を嵌め込んだことを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項４】
上記回路基板は金属板にフレキシブル基板が設けられたことを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項５】
液晶パネルと、該液晶パネルに光を照射する面状光源装置と、
該面状光源装置内で線状に配置された発光ダイオードと、
該発光ダイオードを電気的に接続する回路基板と、
上記発光ダイオードの光が入射する入射面を有する導光板と、
上記導光板を収納する金属の収納部とを有し、
上記金属の収納部には上記入射面に対向する側面を設け、
上記入射面に対向する側面には上記回路基板が配置され、
上記金属の収納部には上記導光板と上記回路基板との間隔を保つ樹脂部材が嵌め込んで設けられたことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項６】
上記導光板の上には光学シートが積層され、上記樹脂部材は上記光学シートを保持するものであることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項７】
上記樹脂部材は上記金属の収納部の側面に嵌め込まれたことを特徴とする請求項５に記載の液晶表示装置。
【請求項８】
上記回路基板は金属板にフレキシブル基板が設けられたことを特徴とする請求項５に記載の液晶表示装置。
【手続補正書】
【提出日】平成22年4月19日(2010.4.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
本発明によるカメラモジュールは、本発明の撮像レンズと、この撮像レンズによって形成された光学像に応じた撮像信号を出力する撮像素子とを備えたものである。
本発明によるカメラモジュールでは、本発明の撮像レンズによる高解像の光学像に基づいて高解像の撮像信号が得られる。また、本発明による撮像レンズは全長短縮化が図られているので、撮像レンズと組み合わせたカメラモジュール全体として小型化が図られる。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
条件式（２）は、各レンズの分散を規定するものであり、この数値範囲を満足して第１レンズＬ１のアッベ数ν１を相対的に大きくすることで、軸上色収差の低減を図ることができる。条件式（２）の下限を下回ると軸上色収差の補正に不利となる。
より良好に色収差を補正するために、さらに以下の条件を適宜満足することが好ましい。
ν１−（ν３＋ν４）／２≧５            ……（２’）
ν１−ν４≧５                          ……（２''）
条件式（２’）を満足して例えば第３レンズＬ３および第４レンズＬ４のいずれか一方に、比較的分散の大きい材料を用いることで、倍率の色収差の補正に有利となる。また、条件式（２''）を満足して第４レンズＬ４に対して第１レンズＬ１のアッベ数ν１を相対的に大きくすることで軸上色収差の低減を図ることができる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６１】
図２０（Ａ）〜図２０（Ｃ）はそれぞれ、実施例１の撮像レンズにおける球面収差、非点収差、およびディストーション（歪曲収差）を示している。各収差図には、ｅ線（５４６．０７ｎｍ）を基準波長とした収差を示す。球面収差図および非点収差図には、Ｆ線（波長４８６．１３ｎｍ），Ｃ線（波長６５６．２７ｎｍ）についての収差も示す。非点収差図において、実線はサジタル方向（Ｓ）、破線はタンジェンシャル方向（Ｔ）の収差を示す。ＦＮｏ．はＦ値、Ｙは像高を示す。
【手続補正書】
【提出日】平成22年4月19日(2010.4.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
本発明によるカメラモジュールは、本発明の撮像レンズと、この撮像レンズによって形成された光学像に応じた撮像信号を出力する撮像素子とを備えたものである。
本発明によるカメラモジュールでは、本発明の撮像レンズによる高解像の光学像に基づいて高解像の撮像信号が得られる。また、本発明による撮像レンズは全長短縮化が図られているので、撮像レンズと組み合わせたカメラモジュール全体として小型化が図られる。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
また、以下の条件式を満足することが好ましい。
ν１−（ν２＋ν３＋ν４）／３≧０      ……（８）
ただし、
ν１：第１レンズＬ１のアッベ数
ν２：第２レンズＬ２のアッベ数
ν３：第３レンズＬ３のアッベ数
ν４：第４レンズＬ４のアッベ数
とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６２】
図１７（Ａ）〜図１７（Ｃ）はそれぞれ、実施例１の撮像レンズにおける球面収差、非点収差、およびディストーション（歪曲収差）を示している。各収差図には、ｅ線（５４６．０７ｎｍ）を基準波長とした収差を示す。球面収差図および非点収差図には、Ｆ線（波長４８６．１３ｎｍ），Ｃ線（波長６５６．２７ｎｍ）についての収差も示す。非点収差図において、実線はサジタル方向（Ｓ）、破線はタンジェンシャル方向（Ｔ）の収差を示す。ＦＮｏ．はＦ値、Ｙは像高を示す。
【手続補正書】
【提出日】平成22年4月30日(2010.4.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
本発明によるカメラモジュールは、本発明の撮像レンズと、この撮像レンズによって形成された光学像に応じた撮像信号を出力する撮像素子とを備えたものである。
本発明によるカメラモジュールでは、本発明の撮像レンズによる高解像の光学像に基づいて高解像の撮像信号が得られる。また、本発明による撮像レンズは全長短縮化が図られているので、撮像レンズと組み合わせたカメラモジュール全体として小型化が図られる。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
一般に、撮像レンズ系では、テレセントリック性、すなわち、撮像素子への主光線の入射角度が光軸に対して平行に近く（撮像面における入射角度が撮像面の法線に対してゼロに近く）なることが好ましい。このテレセントリック性を確保するためには、絞りＳｔはできるだけ物体側に配置されることが好ましい。一方で、絞りＳｔが第１レンズＬ１の物体側のレンズ面からさらに物体側方向に離れた位置に配置されると、その分（絞りＳｔと最も物体側のレンズ面との距離）が光路長として加算されてしまうため、全体構成のコンパクト化の面で不利となる。従って、絞りＳｔを、光軸Ｚ１上において第１レンズＬ１の物体側のレンズ面頂点位置と同じ位置に配置するか、または第１レンズＬ１の物体側の面頂点位置と像側の面頂点位置との間に配置することにより、全長の短縮化を図りつつ、テレセントリック性を確保することができる。テレセントリック性の確保をより重視する場合には、光軸上において、第１レンズＬ１における物体側の面頂点位置と、第１レンズＬ１における物体側の面の端縁位置Ｅ（図１参照）との間に絞りＳｔを配置すれば良い。
以下、各条件式の具体的意義について説明する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６３】
図２０（Ａ）〜図２０（Ｃ）はそれぞれ、実施例１の撮像レンズにおける球面収差、非点収差、およびディストーション（歪曲収差）を示している。各収差図には、ｅ線（５４６．０７ｎｍ）を基準波長とした収差を示す。球面収差図および非点収差図には、Ｆ線（波長４８６．１３ｎｍ），Ｃ線（波長６５６．２７ｎｍ）についての収差も示す。非点収差図において、実線はサジタル方向（Ｓ）、破線はタンジェンシャル方向（Ｔ）の収差を示す。ＦＮｏ．はＦ値、Ｙは像高を示す。
【手続補正書】
【提出日】平成22年6月3日(2010.6.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電波信号を受信するためのアンテナと、
該電波信号を同調させる同調部、
該同調部の同調データを設定する選局命令信号を送る制御部、
前記電波信号から所定の信号通過帯域を抽出するフィルタ回路、
該フィルタ回路で抽出された信号を検波する検波回路、
からなる複数の標準電波を受信する受信回路と、
を有する電波修正時計において、
前記フィルタ回路は、Ｑ値の変更が可能であり、
前記制御部からの選択命令信号により、受信するタイムコードのパルス幅の種類に応じて、前記フィルタ回路のＱ値を変更することを特徴とする電波修正時計。
【請求項２】
前記受信回路は、スーパーヘテロダイン方式で構成されていることを特徴とする請求項１に記載の電波修正時計。
【請求項３】
前記フィルタ回路は、それぞれの信号通過帯域でも増幅率は、ほぼ等しいことを特徴とする請求項１または２に記載の電波修正時計。
【請求項４】
基準発振器と、
前記基準発振器の出力周波数を発振出力基準周波数として発振する局部発振回路と、
前記局部発振回路で作られた局発周波数と前記電波信号とをミキシングする混合回路と、
を有し、
前記フィルタ回路の信号通過帯域の中心周波数は、前記混合回路で作られた中間周波数とほぼ同一の周波数であることを特徴とする請求項１から３のいずれか１つに記載の電波修正時計。
【請求項５】
前記フィルタ回路が有する前記複数の信号通過帯域同士は、その中心周波数がほぼ等しいことを特徴とする請求項４に記載の電波修正時計。 
【請求項６】
外部入力手段を有し、
前記制御部は、前記外部入力手段からの情報に基づいて前記選局命令信号を出力するこ
とを特徴とする請求項１から５のいずれか１つに記載の電波修正時計。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
電波信号を受信するためのアンテナと、
電波信号を同調させる同調部、同調部の同調データを設定する選局命令信号を送る制御部、電波信号から所定の信号通過帯域を抽出するフィルタ回路、フィルタ回路で抽出された信号を検波する検波回路、からなる複数の標準電波を受信する受信回路と、
を有する電波修正時計において、
フィルタ回路は、Ｑ値の変更が可能であり、制御部からの選択命令信号により、受信するタイムコードのパルス幅の種類に応じて、フィルタ回路のＱ値を変更することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
受信回路は、スーパーヘテロダイン方式で構成されていることを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
フィルタ回路は、それぞれの信号通過帯域でも増幅率は、ほぼ等しいことを特徴とする。
【手続補正書】
【提出日】平成22年9月14日(2010.9.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の信号をトルク指令に重畳させて駆動トルクをモータに供給するステップと、
前記所定の信号を前記トルク指令に重畳させたときの前記駆動トルクと変位検出手段により検出された前記モータの角度との振幅スペクトル比を測定するステップと、
前記振幅スペクトル比を一定にするための補正データを生成するステップと、
前記補正データを用いて、前記変位検出手段により検出されたモータの角度が実際のモータの角度に等しくなるように、検出された前記モータの角度を補正するステップと、を有することを特徴とする変位検出方法。
【請求項２】
モータの変位量を検出する変位検出手段と、
駆動トルクを該モータに供給する駆動手段と、
所定の信号を生成して該所定の信号を前記駆動手段に供給する信号生成手段と、
前記所定の信号が前記駆動手段に供給されたときの前記駆動トルク及び前記変位検出手段により検出された前記モータの前記変位量から補正データを生成する補正データ生成手段と、
前記補正データ生成手段により生成された前記補正データを用いて、前記変位検出手段にて検出されたモータの変位量が実際のモータの変位量に等しくなるように、検出された該モータの変位量を補正する補正手段と、を有し、
前記駆動手段は、前記補正手段で補正された変位量を利用して前記モータを駆動制御することを特徴とするモータ制御装置。
【請求項３】
前記所定の信号は、正弦波信号であることを特徴とする請求項２記載のモータ制御装置。
【請求項４】
前記補正データ生成手段により生成される前記補正データは、前記駆動トルク及び前記変位検出手段により検出された前記モータの前記変位量から求められる振幅スペクトル比を一定にするための補正データであることを特徴とする請求項３記載のモータ制御装置。
【請求項５】
前記変位検出手段はエンコーダであることを特徴とする請求項２乃至４のいずれか一に記載のモータ制御装置。
【請求項６】
モータの変位量を検出する変位検出手段と、
駆動トルクを該モータに供給する駆動手段と、
所定の信号を生成して該所定の信号を前記駆動手段に供給する信号生成手段と、
前記所定の信号が前記駆動手段に供給されたときの前記駆動トルク及び前記変位検出手段により検出された前記モータの前記変位量から補正データを生成する補正データ生成手段と、
前記補正データ生成手段により生成された前記補正データを用いて、前記変位検出手段にて検出されたモータの変位量が実際のモータの変位量に等しくなるように、検出された該モータの変位量を補正する補正手段と、を有し、
前記駆動手段は、前記補正手段で補正された変位量を利用して前記モータを駆動制御し、
前記補正データ生成手段により生成される前記補正データは、前記駆動トルク及び前記変位検出手段により検出された前記モータの前記変位量から求められる振幅スペクトル比を一定にするための補正データであることを特徴とするモータ制御装置。
【請求項７】
請求項２乃至６のいずれか一に記載のモータ制御装置を有することを特徴とする工作機械装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
また、本発明のモータ制御装置のうち代表的な一つは、モータの変位量を検出する変位検出手段と、駆動トルクを該モータに供給する駆動手段と、所定の信号を生成して該所定の信号を前記駆動手段に供給する信号生成手段と、前記所定の信号が前記駆動手段に供給されたときの前記駆動トルク及び前記変位検出手段により検出された前記モータの前記変位量から補正データを生成する補正データ生成手段と、前記補正データ生成手段により生成された前記補正データを用いて、前記変位検出手段にて検出されたモータの変位量が実際のモータの変位量に等しくなるように、検出された該モータの変位量を補正する補正手段とを有し、前記駆動手段は、前記補正手段で補正された変位量を利用して前記モータを駆動制御する。
さらに、本発明のモータ制御装置のうち代表的な一つは、モータの変位量を検出する変位検出手段と、駆動トルクを該モータに供給する駆動手段と、所定の信号を生成して該所定の信号を前記駆動手段に供給する信号生成手段と、前記所定の信号が前記駆動手段に供給されたときの前記駆動トルク及び前記変位検出手段により検出された前記モータの前記変位量から補正データを生成する補正データ生成手段と、前記補正データ生成手段により生成された前記補正データを用いて、前記変位検出手段にて検出されたモータの変位量が実際のモータの変位量に等しくなるように、検出された該モータの変位量を補正する補正手段と、を有し、前記駆動手段は、前記補正手段で補正された変位量を利用して前記モータを駆動制御し、前記補正データ生成手段により生成される前記補正データは、前記駆動トルク及び前記変位検出手段により検出された前記モータの前記変位量から求められる振幅スペクトル比を一定にするための補正データである。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月30日(2010.7.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の紫外波長範囲を含む光を発生する光源と、
前記光源からの光を所定の偏光状態にした上で、被測定物に向けて照射する照射部と、
前記照射部からの入射光が前記被測定物で反射されて生じる反射光を分光し、分光された各光の強度を検出する分光部と、
前記被測定物から前記分光部までの前記反射光の光学搬経路上に配置された偏光素子を含んだ受光部と、
前記偏光素子の状態および前記分光部からの検出結果に基づいて、前記反射光の前記紫外波長範囲のうち特定波長の偏光状態を取得する偏光状態取得部と、
前記被測定物に対する前記入射光の入射回転角を変更可能な回転機構と、
前記回転機構による前記入射回転角の変化に伴う前記偏光状態の特性変化に基づいて、前記入射光の照射位置における前記被測定物の光学異方性を算出する光学異方性取得部とを備える、光学異方性測定装置。
【請求項２】
前記紫外波長範囲は、１８５ｎｍから４００ｎｍである、請求項１に記載の光学異方性測定装置。
【請求項３】
前記偏光状態取得部は、前記偏光状態として、Ｓ偏光成分とＰ偏光成分との位相差または振幅比を取得する、請求項１または２に記載の光学異方性測定装置。
【請求項４】
前記回転機構は、
前記照射部および前記受光部を所定の位置関係を保って保持する保持部と、
前記入射光の照射位置を通る回転軸を中心として前記保持部を回転させる回転駆動部とを含む、請求項１〜３のいずれか１項に記載の光学異方性測定装置。
【請求項５】
前記光学異方性取得部は、前記入射回転角の変化によって生じる前記偏光状態を示す値の最大値と最小値との差に基づいて、前記光学異方性を取得する、請求項１〜４のいずれか１項に記載の光学異方性測定装置。
【請求項６】
前記光学異方性取得部は、前記入射回転角の変化によって生じる前記偏光状態を示す値が最大値または最小値をとる入射回転角に基づいて、前記光学異方性を取得する、請求項１〜４のいずれか１項に記載の光学異方性測定装置。
【請求項７】
前記被測定物における前記入射光の照射位置を測定対象面に沿って移動させる移動機構と、
前記照射位置の変化に応じて、前記照射位置の各々における前記光学異方性を当該照射位置と対応付けて記憶する記憶部とをさらに備える、請求項１〜６のいずれか１項に記載の光学異方性測定装置。
【請求項８】
前記分光部によって分光された各光成分の前記偏光状態に基づいて、前記特定波長を決定する波長選択部をさらに備える、請求項１〜７のいずれか１項に記載の光学異方性測定装置。
【請求項９】
光学異方性測定装置を用いた被測定物の光学異方性測定方法であって、
前記光学異方性測定装置は、
所定の紫外波長範囲を含む光を発生する光源と、
前記光源からの光を所定の偏光状態にした上で、被測定物に向けて照射する照射部と、
前記照射部からの入射光が前記被測定物で反射されて生じる反射光を分光し、分光された各光の強度を検出する分光部と、
前記被測定物から前記分光部までの前記反射光の光学搬経路上に配置された偏光素子を含んだ受光部と、
前記被測定物に対する前記入射光の入射回転角を変更可能な回転機構とを備え、
前記光学異方性測定方法は、
前記照射部から前記被測定物へ前記入射光を照射するステップと、
前記偏光素子の状態および前記分光部からの検出結果に基づいて、前記反射光の前記紫外波長範囲のうち特定波長の偏光状態を取得するステップと、
前記被測定物に対する前記入射光の入射回転角を順次変化させるステップと、
前記入射回転角の変化に伴う前記偏光状態の特性変化に基づいて、前記入射光の照射位置における前記被測定物の光学異方性を算出するステップとを備える、光学異方性測定方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
好ましくは、光学異方性測定装置は、被測定物における入射光の照射位置を測定対象面に沿って移動させる移動機構と、照射位置の変化に応じて、照射位置の各々における光学異方性を当該照射位置と対応付けて記憶する記憶部とをさらに備える。
【手続補正書】
【提出日】平成22年9月9日(2010.9.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６３】
一方、界面から離れるに従って有効屈折率Ｎｓも低くなり、構造の上端では空気とほぼ同等の有効屈折率１になっている。そのため可視光（波長４００ｎｍ〜７００ｎｍ）に関しては、図１４に示す分光反射率のグラフのように良好な反射防止構造となっている。
【手続補正書】
【提出日】平成21年12月2日(2009.12.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項７】
検出光をコリメートするマイクロレンズと、視線方向検出センサと、当該視線方向検出センサに電気を供給する透明電極と、観察者と反対側の視線方向検出センサ部分に光を透過しない遮光部材とが、顔面部部材に配置されることを特徴とする請求項２〜６のいずれか１項に記載の頭部装着型表示装置。