(57)【要約】【課題】光ディスクの再生および記録の高倍速化において、フォーカス制御やトラッキング制御の制御帯域を高くする必要があるが、従来のＤＳＰの演算処理では制御サイクルにおけるステップ数が足らず、高周波数で動作する高性能のＤＳＰを用いる必要があり、コストアップや消費電力の増大につながっていた。【解決手段】制御状態に応じて必要でなくなるサブフォーカスエラー信号およびサブトラッキングエラー信号の演算処理をせずに、フォーカス制御およびトラッキング制御構成を行う構成として、従来のＤＳＰによる高倍速における高い制御帯域の処理を可能とした。【選択図】図１
2005122835.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
グルーブ部及びランド部を有する光ディスク記録媒体への記録に用いるレーザー光の最適なパワーを出力するための駆動電流を算出する方法であり、
レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを前記光ディスクのランド部へ移動させる工程と、
任意のテスト期間前記レーザーダイオードを駆動する電流を変化させて、前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のパワーを変化させる工程と、
前光受光素子にて前記テスト期間に受光される前記レーザー光の前光のピークパワー及びボトムパワーを検知する工程と、
前記ピークパワーと前記ボトムパワー、及び前記前光を前記ピークパワーとせしめる前記レーザーダイオードの駆動電流値と前記前光を前記ボトムパワーとせしめる前記レーザーダイオードの駆動電流値に基づいて前記レーザーダイオードの特性を検知する工程を備え、
前記レーザーダイオードが最適なレーザーパワーを出力するための駆動電流値を求めることを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項２】
グルーブ部及びランド部を有する光ディスク記録媒体への記録に用いるレーザー光の最適なパワーを算出する方法であり、
レーザーダイオードから出力するレーザー光のスポットを前記光ディスクのランド部へ移動させる工程と、
前記レーザー光の前記光ディスクからの反射光のレーザーパワーを基に前記光ディスクのアシンメトリを算出する工程とを備え、
前記光ディスクにデータを記録するために最適なレーザーパワーを求めることを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項３】
前記レーザー光の前記光ディスクからの反射光のレーザーパワーを基に前記光ディスクのアシンメトリを算出する工程をさらに備え、前記光ディスクにデータを記録するために最適な駆動電流を求めることを特徴とする請求項１記載の光ディスク記録制御方法。
【請求項４】
前記レーザー光の前記光ディスクからの反射光を基に生成される信号からトラッキングエラー信号を生成する工程と、
前記トラッキングエラー信号を基にトラッキング制御を行う工程とをさらに備えることを特徴とする請求項１若しくは２若しくは３記載の光ディスク制御方法。
【請求項５】
前記レーザー光の前記光ディスクからの反射光を基に生成される信号からフォーカスエラー信号を生成する工程と、
前記フォーカスエラー信号を基にフォーカス制御を行う工程とをさらに備えることを特徴とする請求項１若しくは２若しくは３記載の光ディスク制御方法。
【請求項６】
前記レーザー光を前記光ディスクのランド部に出力している間、前記レーザー光の前記光ディスクへのスポットのフォーカスを外すことを特徴とする請求項１若しくは３記載の光ディスク記録制御方法。
【請求項７】
前記レーザー光を前記光ディスクのランド部に出力している間、前記レーザー光の前記光ディスクへのスポットをデフォーカス状態にすることを特徴とする請求項１若しくは３記載光ディスク記録制御方法。
【請求項８】
前記レーザーダイオードの特性及び前記アシンメトリを取得した後、前記ランド部へ前記レーザー光を出力したことで記録されたデータを消去する工程をさらに備えることを特徴とする請求項１若しくは３若しくは５記載の光ディスク制御方法。
【請求項９】
グルーブ部及びランド部を有する光ディスク記録媒体への記録を行う記録制御方法であり、
前記光ディスクへの記録が不可能になり中断すると、レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを記録を中断した位置の近辺のランド部へ移動させる工程と、
再び記録可能になると前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを前記記録を中断した位置へ戻す工程とを備えることを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項１０】
グルーブ部及びランド部を有する光ディスク記録媒体への記録を行う記録制御方法であり、
前記光ディスクへの記録が不可能になり中断すると、レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを記録を中断した位置の近辺のランド部へ移動させる工程と、
任意のテスト期間前記レーザーダイオードを駆動する電流を変化させて、前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のパワーを変化させる工程と、
前光受光素子にて前記テスト期間に受光される前記レーザー光の前光のピークパワー及びボトムパワーを検知する工程と、
前記ピークパワーと前記ボトムパワー、及び前記前光を前記ピークパワーとせしめる前記レーザーダイオードの駆動電流値と前記前光を前記ボトムパワーとせしめる前記レーザーダイオードの駆動電流値に基づいて前記レーザーダイオードの特性を検知する工程と、
再び記録可能になると前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを前記記録を中断した位置へ戻す工程とを備えることを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項１１】
記録を中断し、前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを前記光ディスクのランド部へ移動させてから、前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを前記記録を中断した位置へ戻すまでの間、前記光ディスクの基材の表面に対してフォーカスONにしておくことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク制御方法。
【請求項１２】
記録を中断し、前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを前記光ディスクのランド部へ移動させてから、前記レーザーダイオードから出力されるレーザー光のスポットを前記記録を中断した位置へ戻すまでの間、トラッキング制御をホールド状態にしておくことを特徴とする請求項１０記載の光ディスク制御方法。
【請求項１３】
記録速度に応じて、前記前光受光素子にて受光される前記レーザー光の前光のピークパワー及びボトムパワーを検知する工程の実行期間を長くすることを特徴とする請求項１記載の光ディスク制御方法。
【請求項１４】
記録速度に応じて、前記レーザー光の前記光ディスクからの反射光のレーザーパワーを基に前記光ディスクのアシンメトリを算出する工程の実行期間を長くすることを特徴とする請求項１記載の光ディスク制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、グルーブ記録可能なＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ等に代表される光ディスクへの書き込み制御に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
今日、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）等の光ディスクが、映像情報や音声情報、その他様々な形式の情報を保存する記録媒体として主流となっている。その理由として、高密度な記録が可能であり、又所望のデータを高速にアクセスできることなどが挙げられる。
【０００３】
再生専用の光ディスクには、ピットといわれる凹凸が、光ディスク基板上に形成される螺旋状又は同心円状のトラック上に形成されており、そのトラック上に沿ってレーザーダイオードから発光されるレーザー光を追従させていき、ピット部分からの反射光をフォトダイオードにて検出し、その反射光の強度に応じて光ディスク上に記録される情報を読み取っている。この再生専用の光ディスクに対して、記録型の光ディスクでは反射層の上に記録層を構成している。
【０００４】
以下、図１０を用いて、記録型光ディスク基盤の構造及び記録／読取方法の説明をする。図１０は光ディスク基板の反射層及び記録層の一部を表している。９１は記録なしの記録層部分であり、９２は記録ありの記録層の部分であり、９３は反射層であり、９４は光ディスクへ発光されるレーザー光の入射光であり、９５は記録なしの記録層９３に発光されたレーザー光の反射光であり、９６は記録ありの記録層９２に発光されたレーザー光の反射光である。この場合、記録なしの記録層９１を通過した反射光９５よりも記録ありの記録層９２を通過した反射光９６のほうが高い反射率で反射されている。以下、その理由を説明する。
【０００５】
記録型光ディスクでは、反射層の上に記録層を形成しているが、この記録層はレーザーによって性質が変化する性質を持っており、この性質を利用してディスクへの情報書き込みを行う。具体的には、記録層の性質の変化とは、レーザーの吸収率若しくは屈折率の変化をいう。記録部分のレーザー吸収率が減少すれば、再生時に光ディスクの反射率は高くなる。また、記録層の屈折率が変化すると、再生時に記録部分を透過するレーザーの波長（位相）が変わり、見かけ上は反射膜に凹凸ができたものと同等になる。これら見かけ上の反射膜からの反射率を変化させることで、情報の書き込みを行っている。なお、再生時におけるレーザーは、記録時時とまったく同じ出力では読み出しのたびに記録内容が損なわれる可能性があるため、再生時には記録時よりも低い出力のレーザーを用いるようになっている。
【０００６】
また、記録型光ディスクには一度だけ記録可能なものと書き換え可能なものとがある。一度だけ記録可能な光ディスクでは、記録層にアゾ・シアニン敬の有機色素が使われる。この色素に赤色の可視光であるレーザーを照射すると、色素がこのレーザー光をよく吸収する。そのため見かけ上反射膜からの反射率が変化し、情報が書き込まれたことになる。なお、この色素系の材料は化学的に変化して色が変化し、元の状態に戻すことができないため、一度だけの記録が可能となる。一方、書き換え可能な光ディスクには、相変化記録という技術が使われている。これは、アンチモンとテルルの合金の、光がある程度透過するほど薄い膜に、短時間で強いパワーのレーザーを当てて、合金が融ける温度まで熱して急冷すると、アモルファス状態になり、これを弱いパワーで加熱すると基の結晶状態に戻るという性質を利用したもので、この合金にゲルマニウムを混ぜえることで、アモルファス状態と結晶状態とでレーザーの吸収率に差を生じさせ、また、銀とインジウムを混ぜることで屈折率に差を生じさせるものである。すなわち、融点加熱で記録ピットを作ることが情報記録となり、これを再結晶させることが消去となる。なお、このような変化は何回でも繰り返すことが可能であるので、この記録膜を有した記録型光ディスクは書き換え可能な光ディスクとなる。
【０００７】
以上のようなレーザー光を用いた光ディスクへの記録制御においては、正確な情報の書き込みを実現するために最適なレーザーパワーを出力する必要がある。しかしながら、種々の要因により、正確な記録を実行するための記録レーザーパワーが一定になるとは限らない。その要因の一つとして、駆動電流に応じてレーザーを発光するレーザーダイオードの特性がある。すなわち、レーザーダイオードにおける駆動電流と発光されるレーザーのパワーの関係は温度特性の影響を受けるため、この駆動電流とレーザーパワーの関係が必ずしも一定にならず、所望のレーザーパワーを得るためには、適宜実際に発光されるレーザーのパワーを検査し、レーザーダイオードのレーザー特性を更新していかなければならない。
【０００８】
更に、レーザーダイオードの特性以外にも、光ディスク記録媒体自体におけるレーザー光に対する感度のばらつきが存在するという要因があり、ディスクごとに最適な記録用のレーザーパワーが異なるということにつながっている。また、この感度は記録時の温度の影響も受けるため、やはり適宜実際にレーザー記録を実行して、最適なレーザーパワーの情報を取得しなければならない。
【０００９】
また、今日の取り扱う情報量の肥大化に伴って、記録媒体は従来よりも一層の高密度化が要求されるようになった。この要求を満たすため、光ディスク記録媒体においても、記録形式において種々の改善策が講じられている。その一例として、光ディスク基板上におけるトラックの幅を狭めることや、トラックピッチなどを狭めるなどによって、情報を高密度に記録する方法が採られている。この記録方法では、従来よりも正確にアドレス情報を読み取ることやディスクの回転制御等を行うことが難しくなるため、光ディスク基板上に形成されるトラックを、ウォブルしたグルーブ部と、グルーブ部同士の間に形成されるウォブルしたランドとを対にして、最内周から最外周に向かって螺旋状に又は同心円状に形成している。なお、グルーブ部及びランド部を用いた記録方法については、例えば特許文献１（特開平１０−２９３９２６号公報）で開示されている。以下、その記録方法について説明する。
【００１０】
図１１は従来のグルーブ部及びランド部への記録形式を表した図であり、図１２は実際の光ディスク基板上の構造を表した図である。光ディスクには、所定の周波数成分のウォブル信号でウォブルされて情報を記録するためのグルーブ部１１と、隣り合うグルーブ部１１間に位置するランド部１２とがディスク基板上に螺旋状又は同心円状に形成されている。また、ランド部上には、ウォブル信号に対して所定の位相関係を有し、かつデータを記録するためのアドレス情報などの補助情報を表すランドプリピット１３が形成されている。
【００１１】
図１１、図１２に示す記録形式を持つ光ディスクでは、データが記録されるグルーブ部１１が予め情報単位としてシンクフレームごとに分割されている。そして、シンクフレームにより一つのレコーディングセクタが構成され、更に、レコーディングセクタにより一つの誤り訂正コードが構成される。なお、データを記録する際の記録フォーマットにより規定されるピット間隔に対応する単位長さをＴとすると、一つのシンクフレームは１４８８Ｔの長さを有していることになり、また一つのシンクフレームの先頭の１４Ｔの長さの部分はシンクフレーム毎の同期をとるための同期情報１９として用いられる。
【００１２】
上述したランドプリピット１３は、シンクフレームごとに記録されている。各々のシンクフレームにおける同期情報が記録される領域に隣接するランド部上に、プリ情報における同期信号を示すランドプリピット１３が形成されており、また記録すべきプリ情報の内容を示すものとして一つ又は二つのランドプリピット１３が形成され場合がある。
【００１３】
以上の記録形式を有する光ディスクへの情報記録では、ウォブルしたグルーブ部から抽出したウォブル信号の位相を担う信号と、ランド部上のランドプリピットから検出したランドプリピット信号との位相を比較して位相差信号を出力し、この位相差信号に基づいてクロック信号の位相を調整している。すなわち、クロストークの影響を無視できないウォブル信号に基づいて生成されるクロック信号の調整軸上の変動を、クロストークの影響を受けないランドプリピットを用いて補正しているので、光ディスクの回転に高い精度で同期した記録用のクロック信号を生成することが可能であり、正確な情報記録を実現している。
【特許文献１】特開平１０−２９３９２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
ところで、上述したようなウォブルしたグルーブ部及びランド部で螺旋状又は同心円状に形成されたトラックを有する光ディスクにおいても、情報記録を実行するために、最適なレーザーパワーを取得する必要がある。従来、この最適なレーザーパワーを取得するために、実際の情報記録に先立ち、記録直前に光ディスク内のグルーブ部へのテスト発光を行うことで、レーザーダイオードのレーザー特性を取得している。また、ディスクの最内周（ＰＣＡ領域）にて記録ピークパワーを変化させて実際にディスクに試し書きを行い、ディスクごとに適したレーザーパワーを検出している。なお、このテストは１１Ｔ期間中にレーザーダイオードの駆動電流を変化させていき、変化させていく駆動電流に対してレーザーパワー出力のボトムパワーとピークパワーを検出して、その関係からレーザー特性を取得する。図１３はレーザーダイオードの駆動電流と、それに応じて発光されるレーザーパワーの関係を示している。図１３において、３４は記録用テストのために発光される時間軸に対する出力レーザーパワー波形であり、３５は発光されるレーザー光を前光フォトディテクタで検出した検出レーザーパワー波形である。出力レーザーパワー波形３４はレーザーダイオードの駆動電流がｘ〔Ａ〕の時ローレベルであり、駆動電流がＸ〔Ａ〕の時ハイレベルになっている。また、検出レーザーパワー波形３５はレーザーダイオードの駆動電流がｘ〔Ａ〕の時ボトムパワーサンプルｙ〔Ｗ〕として検出され、駆動電流がＸ〔Ａ〕の時ピークパワーサンプルＹ〔Ｗ〕として検出される。この検出されたボトムパワーサンプル及びピークパワーサンプルを基に、レーザーダイオードの駆動電流とレーザーパワーの関係に関するレーザー特性を算出する。
また最内周において記録ピークパワーを変化させて、実際にディスクに記録し（テスト記録）、光ディスクに記録したテスト信号を読み取って、読み取られたＲＦ信号のアシンメトリを測定することで、ディスクの感度、検査し、そのディスクに最適なレーザーパワーを決定する。具体的には、３Ｔ期間のテスト発光と、１１Ｔ期間のテスト発光を行い、それぞれのテスト発光にて書き込まれたデータから読み取られるＲＦ信号を元にディスクのアシンメトリを算出する。図１４は光ディスクから得られるアシンメトリから最適なレーザーパワーを決定するための方法を示す図である。光ディスクのアシンメトリは（ａ）の式により求めることができる。３Ｔ−ａｖｅは３Ｔ期間テスト発光によって書き込まれたデータから得られるＲＦ信号の平均値であり、１１Ｔ−ｐｋは１１Ｔ期間テスト発光によって書き込まれたデータから得られるＲＦ信号のピーク値であり、１１Ｔ−ｂｔｍは１１Ｔ期間テスト発光によって書き込まれたデータから得られるＲＦ信号のボトム値を示す。また、（ｂ）はレーザーパワーとアシンメトリの関係を示すグラフである。式（ａ）にて、いくつかのレーザーパワーのサンプルに対応するアシンメトリを算出していき、アシンメトリが０になる時のレーザーパワーを最適な記録パワーとして検出する。
以上のテスト発光によって得られたレーザーダイオードのレーザー特性とディスクのアシンメトリから、ディスクに対して最適なレーザーダイオードへの駆動電流値を求めることができる。
【００１５】
ところが、今日光ディスクの制御において、高倍速化が進んでおり、光ディスク記録の分野においても高倍速記録が主流となってきた。上述した１１Ｔ期間のレーザーパワー出力用のテストは、本来通常速度での記録においてなされるものであり、高倍速記録となった場合、この１１Ｔ期間が非常に短い時間でテストを行わなければならなくなる。例えば、通常速度における１１Ｔ期間は４２９ｎｓであるが、１６倍速においてはわずか２７ｎｓとなる。このように非常に短い時間のテストでは、レーザーダイオードの駆動電流のボトムパワー及びピークパワーに対するレーザーパワーのサンプリングが間に合わず、レーザー特性の取得ができないという課題が生じる。
【００１６】
また、ディスクの面内感度、面内幕膜厚、面内歪みが非常に大きい粗悪ディスクが増えてきている。つまり、ディスクの内周と外周で特性が大きく違う。このため最内周のみでテスト記録(試し書き)を行い、RF信号を検知し、最適記録パワーを決定してもディスクの外周に行くにつれて本当の最適パワーからずれてしまうといった課題が生じる。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
このような課題を解決するための手段として、光ディスクへのテスト記録を実行する期間を１１Ｔより長くすることが考えられる。例えば１６倍速記録においては、１１Ｔ×１６＝１７６Ｔ期間のテスト記録を実行することが望ましい。しかしながら、本来記録すべき情報のために用意されるグルーブ部に、このような長い期間のテストデータを書き込んでしまうと、当然光ディスク記録媒体としての記録容量を減らすことになってしまう。
【００１８】
本発明では、本来記録すべき情報のために用意されるグルーブ部ではなく、記録時において利用される、データを記録するためのアドレス情報などの補助情報を有するランド部へテスト発光を実行することで、グルーブ部における情報書き込み可能領域を削ることなく、ディスクの特性に応じた最適な記録用レーザーパワーを取得することができる。
【００１９】
また本発明では、テスト発光時においてディスクの基板表面に対してフォーカスをＯＮ状態にする。すなわち、テストのためのレーザー出力時にフォーカスエラー信号を検出して、フォーカス制御をかけておくことで、実際の情報の記録に移る時に、フォーカスをＯＮ状態にするまでの時間が短縮する。
【００２０】
また本発明では、上記のレーザーパワーテストで書き込まれたランド部のデータを、Ｉ−Ｌ特性及びアシンメトリ取得後に消去することを行う。
【００２１】
また本発明では、レーザーダイオードのレーザー特性を取得したい時には、ディスクへの書き込みを行う必要がないので、デフォーカス状態若しくはフォーカスを外した状態でテスト発光を行い、ディスクへの記録をせずにレーザーパワーを検出する。このとき、フォーカスがはずれているためディスクからの反射される信号を検出することができないためトラッキング制御は、ホールド（固定）状態にして、実際の情報の記録に移る時に、目的のグルーブ位置までのシーク時間を短縮する。
【００２２】
また本発明では、ディスクへの記録中に中断が起きた場合に、記録再開までのロスレスリンキング期間記録中断位置の近辺のランド部でテスト発光を行うことで、再度記録を開始する時に、同一のレーザーパワーで書き繋ぎを行う。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、光ディスクへの情報記録におけるレーザー特性の取得のために、実際に情報の記録を行うグルーブ部へのテスト発光を行わず、記録時において利用される、データを記録するためのアドレス情報などの補助情報を有するランド部でテスト発光を実行するため、光ディスクの記録媒体としての記録容量を削ることなく、高倍速記録時においても安定したレーザーパワー制御が可能である。
【００２４】
また、このときフォーカスを外す、もしくはデフォーカスさせることにより隣接するグルーブ領域へのクロストークを低減することができる。
【００２５】
またレーザーパワーのテスト時において、基板表面へのフォーカスＯＮ及びトラッキングのホールド制御を実行しておくことで、テスト後の情報記録への移行時間を短くすることができる。
【００２６】
また、光ディスク情報記録における最適レーザーパワー取得のために、実際にテスト記録を行う最内周（ＰＣＡ領域）のみならず、データを記録するディスク中周・外周のランド部でテスト記録を行うことにより、ディスク面内の感度・膜厚ばらつきによる最適パワーを補正し、粗悪ディスクに対しても品質の良い記録ができる。
【００２７】
またレーザーパワーのテスト時にランドに書き込まれたデータを、テスト終了後に消去することでクロストークを低減することができる。
【００２８】
またロスリンキング時にランド部にてテスト発光を行うことで、品質の良い書き繋ぎ記録が可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、本発明の第一の実施の形態を説明する。
【００３０】
図1は本実施の形態に係る光ディスク記録媒体の基板上の一部を示す構造図である。図１において、１１はディスク上に螺旋状又は同心円上に形成されたウォブルしたグルーブ部であり、１２は各ウォブル１１間に挟まれたランド部であり、１３はウォブル信号に対して所定の位相関係を有し、かつデータを記録するためのアドレス情報などの補助情報を表すランドピットであり、１４は記録用レーザーパワーを出力するレーザー光により光の吸収率又は屈折率が変化する記録層であり、１５は光ディスクへ発光されたレーザー光を反射する反射層であり、１６は耐熱及び耐擦傷のために設けられた保護層であり、１７はグルーブ部１１に記録実行時に書き込まれるデータを示すデータ記録ピットであり、１８はレーザーパワーテスト時に書き込まれるテストデータを示すテスト記録ピットである。保護層１６は主に耐熱性，耐擦傷性，密着性，強度等が要求されるため，熱硬化性樹脂，紫外線硬化型樹脂，電子線硬化型樹脂等の強度の高い樹脂を主体とし，滑材成分が併用されることが望ましい。
【００３１】
また、図２は本実施の形態に係る記録制御を実行する光ディスク装置の構成図である。２１は光ディスクにレーザー光を発光するレーザーダイオード、光ディスクから反射されるレーザー光を検出するフォトディテクタ及びレーザー光の前光を受光する前光フォトディテクタを有する光ピックアップであり、２２は光ピックアップ２１が受光したレーザー光の前光から前光レーザーパワーを検出する前光レーザーパワー検出部であり、２３は前光レーザーパワー検出部２２が検出した前光レーザーパワーのピーク値とボトム値を検知するピーク値・ボトム値検知部であり、２４はピーク値・ボトム値検知部２３が検知した値と、前光レーザーパワーがピーク値及びボトム値となる時のピックアップ２１のレーザーダイオードを駆動する駆動電流値との関係からレーザーダイオードの電流・レーザーパワー特性を算出するＩ−Ｌ特性取得部であり、２５はＩ−Ｌ特性演算部２４の演算結果を基に所望のピークレーザーパワー及びボトムレーザーパワーを出力するための駆動電流値を演算するピーク・ボトムパワー駆動値演算部であり、２６は光ピックアップ２１が受光した反射光から生成される信号からＲＦ信号成分を検出するＲＦ信号検出部であり、２７はレーザー光のパワーによる光ディスクに書き込まれたピットの深さの不均整を表すアシンメトリを算出するアシンメトリ演算部であり、２８はアシンメトリ演算部２７の演算結果を基に光ディスクの特性を基に最適なレーザーパワーを算出する最適パワー演算部であり、２９は最適パワー演算部２８の演算結果を基に光ピックアップ２１のレーザーダイオードが最適なレーザーパワーを出力するための駆動電流値を演算する最適ピークパワー駆動値演算部であり、３０はピーク・ボトムパワー駆動値演算部２５及び最適ピークパワー駆動値演算部２９の算出結果を基に光ピックアップ２１を駆動する電流を制御するレーザーダイオード・ドライバであり、３１は光ピックアップ２１のフォトディテクタが光ディスクからの反射光を検出して出力する信号からフォーカス信号、トラッキング信号を生成し、それらの信号を基に光ピックアップ２１を制御して、フォーカス制御及びトラッキング制御を実行するフォーカス・トラッキングサーボ部であり、３２は光ディスクの回転制御を行うスピンドルモータであり、３３は光ピックアップ２１のフォトディテクタが光ディスクからの反射光を検出して出力する信号のウォブル信号成分からスピンドルモータ３２を最適な回転速度に制御するスピンドルサーボ部である。
【００３２】
次に、図1に示す構造を有する光ディスクに対し、図２の構成からなる光ディスク記録装置を用いた本実施の形態に係る記録方法について、図４のフローチャート図に沿って説明する。
【００３３】
光ディスクへのデータの記録に先立ち、記録用の最適なレーザーパワーを算出するためのテストを開始する（Ｓ４０１）。まず、光ピックアップ２１が有するレーザーダイオードを駆動して、レーザー光を発光する（Ｓ４０２）。次に、光ピックアップ２１を制御してレーザー光のスポットを光ディスクのランド部１２に移動する（Ｓ４０３）。レーザー光のスポットをランド部１２に移動すると、レーザー光が光ディスクへの記録に必要なおおよそのレーザーパワーになるようにレーザーダイオードに駆動電流を変化させながら加えて制御する。また、前光パワー検出部２２が検知したレーザー光の前光を基に、ピーク値・ボトム値検知部２３が、ピークのレーザーパワー出力中の前光のパワーが一定に落ち着いた値をピークレーザーパワーとして検出する（Ｓ４０４）。次に、Ｉ−Ｌ特性演算部２４は、この検出したボトムレーザーパワーの値をｙ〔Ｗ〕とし、ピークレーザーパワーの値をＹ〔Ｗ〕として、またボトムレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をｘ〔Ａ〕とし、ピークレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をＸ〔Ａ〕として、図１２に示すようにレーザーダイオード駆動電流とレーザーダイオードのレーザーパワーとの関係を算出する（Ｓ４０５）。一方、光ピックアップ２１のレーザーダイオードから発光されて光ディスクから反射されたレーザー光をフォトディテクタにて受光する（Ｓ４０６）。受光された反射光は信号に変換され、ＲＦ信号検出部２６にてＲＦ成分が抽出される。抽出されたＲＦ成分を基にアシンメトリ演算部にて、光ディスクに書き込まれたピット１８の深さ等を検出し、レーザーパワーと光ディスク媒体の特性との関係を算出する（Ｓ４０７）。最適パワー演算部２８は、アシンメトリ演算部にて算出された関係を基にこのテスト中の光ディスクの記録に適したレーザーパワーを算出する。以上の工程により、ピーク・ボトムパワー駆動値演算部２５と最適ピークパワー駆動値演算部２９はレーザーダイオードが最適なレーザーパワーを出力するのに、適した駆動電流を算出し、レーザーダイオード・ドライバ３０はそれらの演算結果から求まる最適駆動電流を決定する（Ｓ４０８）。最適なレーザーパワーが検出されると、ピックアップ２１を制御して、レーザー光のスポットをグルーブ部１１に移動して、記録を開始する（Ｓ４０９、Ｓ４１０）。
【００３４】
なお、図４に示すフローチャート図におけるＩ−Ｌ特性取得工程Ｓ４０５とアシンメトリ取得工程Ｓ４０７の処理手順は、必ずしもこの通りでなく、アシンメトリ取得工程Ｓ４０７がＩ−Ｌ特性取得工程Ｓ４０５より先に実行されても、同様に本実施の形態は成り立つし、これらの処理は同時に実行することも可能であるし、どちらか一方の工程を実行するだけでもよく、Ｉ−Ｌ特性のみを取得した場合にはレーザーダイオードの特性が得られるし、またアシンメトリを取得した場合にはディスクの特性が得られる。
【００３５】
また、本実施の形態を実施するにあたり、ランド部１２へのテスト用の記録期間は、通常速度の記録時には、１１Ｔで充分であるが、倍速記録になる場合、その倍速に対応した期間書き込みを実施することが好ましい。例えば図３に示すように、（ａ）は従来どおりの１１Ｔ期間テスト書き込みを実行する例であるが、１６倍速記録の場合には、（ｂ）に示すように１１Ｔ×１６の１７６Ｔ期間テスト書き込みを実施するように変更することで、安定したレーザー特性が得られる。また、それ以下の期間であっても、安定してレーザー特性が得ることができれば、テスト書き込み期間はそれ以下であっても構わない。安定してレーザー特性を得ることができる期間は、実験的に求めることができる。
【００３６】
以上の動作により、光ディスクへの記録に先立ち、実際にデータを記録するグルーブ部にレーザーパワーテスト用の記録を行わずに、最適なレーザーパワー及びレーザーダイオードへの駆動電流を求めることができる。
【００３７】
次に、本発明の第二の実施の形態を説明する。本実施の形態は、第一の実施の形態にて用いた、図１に示した構造を有する光ディスク及び図２に示した構成からなる光ディスク装置を用いて実施することが可能である。
【００３８】
本実施の形態は、第一の実施の形態におけるテスト記録による記録用レーザーパワーを算出するまでの動作に加え、テスト記録中にディスク基板にフォーカスＯＮ制御動作を行うものである。以下本実施の形態を、図５に示すフローチャート図に沿って説明する。
【００３９】
光ディスクへのデータの記録に先立ち、記録用の最適なレーザーパワーを算出するためのテストを開始する（Ｓ５０１）。まず、光ピックアップ２１が有するレーザーダイオードを駆動して、レーザー光を発光する（Ｓ５０２）。次に、光ピックアップ２１を制御してレーザー光のスポットを光ディスクのランド部１２に移動する（Ｓ５０３）。レーザー光のスポットをランド部１２に移動すると、レーザー光が光ディスクへの記録に必要なおおよそのレーザーパワーになるようにレーザーダイオードに駆動電流を変化させながら加えて制御する。また、前光パワー検出部２２が検知したレーザー光の前光を基に、ピーク値・ボトム値検知部２３が、ピークのレーザーパワー出力中の前光のパワーが一定に落ち着いた値をピークレーザーパワーとして検出する（Ｓ５０４）。次に、Ｉ−Ｌ特性演算部２４は、この検出したボトムレーザーパワーの値をｙ〔Ｗ〕とし、ピークレーザーパワーの値をＹ〔Ｗ〕として、またボトムレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をｘ〔Ａ〕とし、ピークレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をＸ〔Ａ〕として、図１３に示すようにレーザーダイオード駆動電流とレーザーダイオードのレーザーパワーとの関係を算出する（Ｓ５０５）。一方、光ピックアップ２１のレーザーダイオードから発光されて光ディスクから反射されたレーザー光をフォトディテクタにて受光する（Ｓ５０６）。受光された反射光は信号に変換され、ＲＦ信号検出部２６にてＲＦ成分が抽出される。抽出されたＲＦ成分を基にアシンメトリ演算部にて、光ディスクに書き込まれたピット１８の深さ等を検出し、レーザーパワーと光ディスク媒体の特性との関係を算出する（Ｓ５０７）。最適パワー演算部２８は、アシンメトリ演算部にて算出された関係を基にこのテスト中の光ディスクの記録に適したレーザーパワーを算出する。また、Ｓ５０６工程で受光した反射光を基に、フォーカス・トラッキングサーボ部３１においてフォーカスエラー信号を生成し、それらのエラー信号を基に光ピックアップ２１を制御して、フォーカス制御を実行する。以上の工程により、ピーク・ボトムパワー駆動値演算部２５と最適ピークパワー駆動値演算部２９はレーザーダイオードが最適なレーザーパワーを出力するのに、適した駆動電流を算出し、レーザーダイオード・ドライバ３０はそれらの演算結果から求まる最適駆動電流を決定する（Ｓ５１０）。最適なレーザーパワーが検出されると、ピックアップ２１を制御して、レーザー光のスポットをグルーブ部１１に移動して、記録を開始する（Ｓ５１１、Ｓ５１２）。
【００４０】
なお、図５に示すフローチャート図におけるＩ−Ｌ特性取得工程Ｓ５０５とアシンメトリ取得工程Ｓ５０７とフォーカスＯＮ状態に制御する工程Ｓ５０８及びトラッキングＯＮ状態に制御する工程Ｓ５０９の処理手順は、必ずしもこの通りでなく、順不同で同様に本実施の形態は成り立つし、これらの処理を同時に実行することも可能である。
【００４１】
また、第一の実施の形態同様に本実施の形態を実施するにあたり、ランド部１２へのテスト用の記録期間は、通常速度の記録時には、１１Ｔで充分であるが、倍速記録になる場合、その倍速に対応した期間書き込みを実施することが好ましい。例えば図３に示すように、（ａ）は従来どおりの１１Ｔ期間テスト書き込みを実行する例であるが、１６倍速記録の場合には、（ｂ）に示すように１１Ｔ×１６の１７６Ｔ期間テスト書き込みを実施するように変更することで、安定したレーザー特性が得られる。また、それ以下の期間であっても、安定してレーザー特性が得ることができれば、テスト書き込み期間はそれ以下であっても構わない。安定してレーザー特性を得ることができる期間は、実験的に求めることができる。
【００４２】
また、レーザーパワーテスト時にフォーカス制御を実行しておくことで、テスト終了後のデータ記録に移行した後、すぐにフォーカス制御に入ることができ、レーザーパワーテスト時にトラッキング制御を実行しておくことで、テスト終了後近くのグルーブ部でのデータ記録への移行がすぐに行うことができるので、レーザーパワーテスト時のフォーカス制御とトラッキング制御はどちらかのみを実行するだけでも、優れた効果を奏し、また当然両方の制御を行うことで、さらに優れた効果を奏する。
【００４３】
次に、本発明の第三の実施の形態を説明する。本実施の形態は、第一の実施の形態にて用いた、図１に示した構造を有する光ディスク及び図２に示した構成からなる光ディスク装置を用いて実施することが可能である。
【００４４】
本実施の形態は、第一の実施の形態におけるテスト記録による記録用レーザーパワーを算出するまでの動作において、フォーカスを外す、もしくはデフォーカス状態にすることを行い、また光ディスクからの反射光を受光して、アシンメトリの検出するという動作を省いたものである。以下本実施の形態を、図６に示すフローチャート図に沿って説明する。
【００４５】
光ディスクへのデータの記録に先立ち、記録用の最適なレーザーパワーを算出するためのテストを開始する（Ｓ６０１）。まず、光ピックアップ２１が有するレーザーダイオードを駆動して、レーザー光を発光する（Ｓ６０２）。次に、光ピックアップ２１を制御してレーザー光のスポットを光ディスクのランド部１２に移動する（Ｓ６０３）。ここで、光ディスクに対してレーザー光のスポットのフォーカスが合わないように、光ピックアップ２１を制御して、デフォーカス状態もしくはフォーカスを外した状態にしておく（Ｓ６０４）。レーザー光のスポットをランド部１２に移動すると、レーザー光が光ディスクへの記録に必要なおおよそのレーザーパワーになるようにレーザーダイオードに駆動電流を変化させながら加えて制御する。また、前光パワー検出部２２が検知したレーザー光の前光を基に、ピーク値・ボトム値検知部２３が、記録前のある任意のレーザーパワー出力中のレーザー光の前光のパワーをボトムレーザーパワーとして検出し、ピークのレーザーパワー出力中の前光のパワーが一定に落ち着いた値をピークレーザーパワーとして検出する（Ｓ６０５）。次に、Ｉ−Ｌ特性演算部２４は、この検出したボトムレーザーパワーの値をｙ〔Ｗ〕とし、ピークレーザーパワーの値をＹ〔Ｗ〕として、またボトムレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をｘ〔Ａ〕とし、ピークレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をＸ〔Ａ〕として、図１２に示すようにレーザーダイオード駆動電流とレーザーダイオードのレーザーパワーとの関係を算出する（Ｓ６０６）。そしてその結果を基に、ピーク・ボトムパワー駆動値演算部２５はレーザーダイオードが最適なレーザーパワーを出力するのに、適した駆動電流を算出し、レーザーダイオード・ドライバ３０はそれらの演算結果から求まる最適駆動電流を決定する（Ｓ６０７）。最適なレーザーパワーが検出されると、ピックアップ２１を制御して、レーザー光のスポットをグルーブ部１１に移動して、記録を開始する（Ｓ６０８、Ｓ６０９）。
【００４６】
なお、第一の実施の形態同様に本実施の形態を実施するにあたり、ランド部１２へのテスト用の記録期間は、通常速度の記録時には、１１Ｔで充分であるが、倍速記録になる場合、その倍速に対応した期間書き込みを実施することが好ましい。例えば図３に示すように、（ａ）は従来どおりの１１Ｔ期間テスト書き込みを実行する例であるが、１６倍速記録の場合には、（ｂ）に示すように１１Ｔ×１６の１７６Ｔ期間テスト書き込みを実施するように変更することで、安定したレーザー特性が得られる。また、それ以下の期間であっても、安定してレーザー特性が得ることができれば、テスト書き込み期間はそれ以下であっても構わない。安定してレーザー特性を得ることができる期間は、実験的に求めることができる。
【００４７】
以上のように、本実施の形態によれば、レーザーダイオードのレーザー特性を得たい場合に、光ディスクへのフォーカスを外してレーザーのテスト発光を行うので、ディスクへの記録をせずにレーザーダイオードを駆動するのに最適な駆動電流を求めることができる。
【００４８】
次に、本発明の第四の実施の形態を説明する。本実施の形態は、第一の実施の形態にて用いた、図１に示した構造を有する光ディスク及び図２に示した構成からなる光ディスク装置を用いて実施することが可能である。
【００４９】
本実施の形態は、第一の実施の形態におけるテスト記録による記録用レーザーパワーを算出するまでの動作に加え、最適な記録用レーザーパワーを算出した後、テスト記録にて書き込まれたマークを消去する動作を行うものである。以下本実施の形態を、図７に示すフローチャート図に沿って説明する。
【００５０】
光ディスクへのデータの記録に先立ち、記録用の最適なレーザーパワーを算出するためのテストを開始する（Ｓ７０１）。まず、光ピックアップ２１が有するレーザーダイオードを駆動して、レーザー光を発光する（Ｓ７０２）。次に、光ピックアップ２１を制御してレーザー光のスポットを光ディスクのランド部１２に移動する（Ｓ７０３）。レーザー光のスポットをランド部１２に移動すると、レーザー光が光ディスクへの記録に必要なおおよそのレーザーパワーになるようにレーザーダイオードに駆動電流を変化させながら加えて制御する。また、前光パワー検出部２２が検知したレーザー光の前光を基に、ピーク値・ボトム値検知部２３が、記録前のある任意のレーザーパワー出力中のレーザー光の前光のパワーをボトムレーザーパワーとして検出し、ピークのレーザーパワー出力中の前光のパワーが一定に落ち着いた値をピークレーザーパワーとして検出する（Ｓ７０４）。次に、Ｉ−Ｌ特性演算部２４は、この検出したボトムレーザーパワーの値をｙ〔Ｗ〕とし、ピークレーザーパワーの値をＹ〔Ｗ〕として、またボトムレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をｘ〔Ａ〕とし、ピークレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をＸ〔Ａ〕として、図１２に示すようにレーザーダイオード駆動電流とレーザーダイオードのレーザーパワーとの関係を算出する（Ｓ７０５）。一方、光ピックアップ２１のレーザーダイオードから発光されて光ディスクから反射されたレーザー光をフォトディテクタにて受光する（Ｓ７０６）。受光された反射光は信号に変換され、ＲＦ信号検出部２６にてＲＦ成分が抽出される。抽出されたＲＦ成分を基にアシンメトリ演算部にて、光ディスクに書き込まれたマーク１８の深さ等を検出し、レーザーパワーと光ディスク媒体の特性との関係を算出する（Ｓ７０７）。最適パワー演算部２８は、アシンメトリ演算部にて算出された関係を基にこのテスト中の光ディスクの記録に適したレーザーパワーを算出する。以上の工程により、ピーク・ボトムパワー駆動値演算部２５と最適ピークパワー駆動値演算部２９はレーザーダイオードが最適なレーザーパワーを出力するのに、適した駆動電流を算出し、レーザーダイオード・ドライバ３０はそれらの演算結果から求まる最適駆動電流を決定する（Ｓ７０８）。最適な駆動電流が求まると、レーザーパワーテストのために記録されたピットを消去する（Ｓ７０９）。そしてピックアップ２１を制御して、レーザー光のスポットをグルーブ部１１に移動して、記録を開始する（Ｓ７１０、Ｓ７１１）。
【００５１】
なお、第一の実施の形態同様に本実施の形態を実施するにあたり、図７に示すフローチャート図におけるＩ−Ｌ特性取得工程Ｓ７０５とアシンメトリ取得工程Ｓ７０７の処理手順は、必ずしもこの通りでなく、アシンメトリ取得工程Ｓ７０７がＩ−Ｌ特性取得工程Ｓ７０５より先に実行されても、同様に本実施の形態は成り立つし、これらの処理は同時に実行することも可能であるし、どちらか一方の工程を実行するだけでもよく、Ｉ−Ｌ特性のみを取得した場合にはレーザーダイオードの特性が得られるし、またアシンメトリを取得した場合にはディスクの特性が得られる。
【００５２】
また、前記テスト記録をディスクの任意のランド部で行えるため、各トラックのディスクの特性を得ることができ、そのトラックごとの最適なパワー値を決定することができる。
【００５３】
また、第一の実施の形態同様に本実施の形態を実施するにあたり、ランド部１２へのテスト用の記録期間は、通常速度の記録時には、１１Ｔで充分であるが、倍速記録になる場合、その倍速に対応した期間書き込みを実施することが好ましい。例えば図３に示すように、（ａ）は従来どおりの１１Ｔ期間テスト書き込みを実行する例であるが、１６倍速記録の場合には、（ｂ）に示すように１１Ｔ×１６の１７６Ｔ期間テスト書き込みを実施するように変更することで、安定したレーザー特性が得られる。また、それ以下の期間であっても、安定してレーザー特性が得ることができれば、テスト書き込み期間はそれ以下であっても構わない。安定してレーザー特性を得ることができる期間は、実験的に求めることができる。
【００５４】
以上の動作により、光ディスクへの記録に先立ち、実際にデータを記録するグルーブ部にレーザーパワーテスト用の記録を行わずに、最適なレーザーパワー及びレーザーダイオードへの駆動電流を求めることができ、またレーザーパワーテスト用に記録されたランド部のピットを消去するため、グルーブ部へのクロストークを低減することができる。
【００５５】
次に、本発明の第五の実施の形態を説明する。本実施の形態は、第一の実施の形態にて用いた、図１に示した構造を有する光ディスク及び図２に示した構成からなる光ディスク装置を用いて実施することが可能である。
【００５６】
本実施の形態は光ディスクへのデータ記録中に記録中断となった場合に、再度記録中断位置から記録を開始するまでのロスリンキング期間、記録中断位置の近くのランド部で同一パワーを維持してレーザー発光を続けるというものである。また、ロスリンキング期間中フォーカス制御及びトラッキング制御をＯＮ状態に維持することも可能である。データ記録が中断される要因としては、記録すべきデータの供給が記録速度に間に合わない場合等が考えられる。以下本実施の形態を、図８に示すフローチャート図に沿って説明する。
【００５７】
まず、光ディスクへのデータ記録中に、上記のようにデータの供給が間に合わない等の理由で記録動作を一時中断する（Ｓ８０１）。その場合、光ピックアップ２１を制御してレーザーダイオードが発光するレーザー光のスポットを、記録を中断した位置が属するグルーブ部１１の近辺のランド部１２に移動させる（Ｓ８０２）。グルーブ部の近辺のランド部としては、グルーブ部の一つ隣のランド部でも構わない。レーザーダイオードのレーザー光のスポットがランド部１２に移動してもレーザーパワーがグルーブ部１１への記録時と同一に保持されるように、レーザーダイオードを駆動しつづける。この時、ディスク基材の表面にフォーカス制御をＯＮ状態にしておく（Ｓ８０３）。また、トラッキング制御についてもホールド状態にしておく（Ｓ８０４）。再びディスクへの記録が可能になると、光ピックアップ２１を制御してレーザーダイオードが発光するレーザー光のスポットを、記録を中断した位置が属するグルーブ部１１へ移動させる（Ｓ８０５）。そして、記録を中断した位置を示すリンキングアドレスを検知し、記録中断位置の直後から記録を再開する（Ｓ８０６、Ｓ８０７）。
【００５８】
本実施の形態によれば、ディスクへの記録中断から再び記録を開始するまでのロスレスリンキング期間中、同一のレーザーパワーを保持できるため、品質の良い書き繋ぎ記録が可能となる。また、このロスレスリンキング期間中フォーカスをＯＮ制御しておくことで、記録の再開時に素早くフォーカス制御に入ることができ、ディスクの記録層にフォーカスが合っていないため、隣接するグルーブへのクロストークの影響を減少させる。また、このロスレスリンキング期間中トラッキングをホールド制御しておくことで、記録再開時に記録を中断した位置が属するグルーブ部へのジャンプを素早く実行することができる。また、フォーカス及びトラッキングをＯＮ状態に保持して記録を行う形態について説明したが、当然これらの制御はどちらかのみを実行するだけでも、もしくはこれらの制御をどちらも実行せずとも、優れた効果を奏する。
【００５９】
次に、本発明の第六の実施の形態を説明する。本実施の形態は、第一の実施の形態にて用いた、図１に示した構造を有する光ディスク及び図２に示した構成からなる光ディスク装置を用いて実施することが可能である。
【００６０】
本実施の形態は、第五の実施の形態における記録中断から記録再開までの間近傍のランドにてレーザー発光を続ける動作に加え、記録中断から記録再開までの間にレーザーダイオードのＩ−Ｌ特性を取得するためのテスト発光を行うことを特徴とする。以下本実施の形態を、図９に示すフローチャート図に沿って説明する。
【００６１】
まず、光ディスクへのデータ記録中に、上記のようにデータの供給が間に合わない等の理由で記録動作を一時中断する（Ｓ９０１）。その場合、光ピックアップ２１を制御してレーザーダイオードが発光するレーザー光のスポットを、記録を中断した位置が属するグルーブ部１１の近辺のランド部１２に移動させる（Ｓ９０２）。グルーブ部の近辺のランド部としては、グルーブ部の一つ隣のランド部でも構わない。まずディスク基材の表面にフォーカス制御をＯＮ状態にしておく（Ｓ９０３）。また、トラッキング制御についてもホールド状態にしておく（Ｓ９０４）。次に、新たにレーザーダイオードのレーザー特性を取得するために駆動電流を変化させていき、駆動電流変化中のレーザーダイオードから出力されるレーザー光の前光を前光受光素子にて受光する（Ｓ９０５）。また、前光パワー検出部２２がレーザー光の前光のパワーを検知し、ピーク値・ボトム値検知部２３が、ピークのレーザーパワー出力中の前光のパワーが一定に落ち着いた値をピークレーザーパワーとして検出する。次に、Ｉ−Ｌ特性演算部２４は、この検出したボトムレーザーパワーの値をｙ〔Ｗ〕とし、ピークレーザーパワーの値をＹ〔Ｗ〕として、またボトムレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をｘ〔Ａ〕とし、ピークレーザーパワーの値となる時のレーザーダイオード駆動電流をＸ〔Ａ〕として、図１２に示すようにレーザーダイオード駆動電流とレーザーダイオードのレーザーパワーとの関係を算出する（Ｓ９０６）。再びディスクへの記録が可能になると、光ピックアップ２１を制御してレーザーダイオードが発光するレーザー光のスポットを、記録を中断した位置が属するグルーブ部１１へ移動させる（Ｓ９０７）。そして、記録を中断した位置を示すリンキングアドレスを検知し、新たにＩ−Ｌ特性取得工程Ｓ９０４にて得られたレーザーダイオードのレーザー特性に基づき、レーザーダイオード・ドライバ３０は記録用の駆動電流を供給し、記録中断位置の直後から記録を再開する（Ｓ９０８、Ｓ９０９）。
【００６２】
本実施の形態によれば、ディスクへの記録中断から再び記録を開始するまでのロスレスリンキング期間中、新たにレーザーダイオードのレーザー特性を取得するので、温度変化等によって変化するレーザー特性の最新の情報を得ることができる。また、このロスレスリンキング期間中フォーカスをＯＮ制御しておくことで、記録の再開時に素早くフォーカス制御に入ることができ、ディスクの記録層にフォーカスが合っていないため、隣接するグルーブへのクロストークの影響を減少させる。また、このロスレスリンキング期間中トラッキングをホールド制御しておくことで、記録再開時に記録を中断した位置が属するグルーブ部へのジャンプを素早く実行することができる。また、フォーカス及びトラッキングをＯＮ状態に保持して記録を行う形態について説明したが、当然これらの制御はどちらかのみを実行するだけでも、もしくはこれらの制御をどちらも実行せずとも、優れた効果を奏する。
【００６３】
以上、各実施の形態では図２の構成からなる光ディスク装置を用いて本発明を説明したが、本発明を実施するにあたり必要なハードウェア構成は必ずしもこの構成に限定されるものではなく、本発明の機能を実現する上で必要な構成を有していれば構わない。
【産業上の利用可能性】
【００６４】
本発明は、高倍速対応の光ディスク装置において、レーザーダイオードの特性またはディスクの特性を取得することが必要とされる制御において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明に係る光ディスクの構造図
【図２】本発明に係る光ディスク装置の構成図
【図３】高倍速記録に対応したテスト記録期間の変更を表す図
【図４】本発明第一の実施の形態に係るフローチャート
【図５】本発明第二の実施の形態に係るフローチャート
【図６】本発明第三の実施の形態に係るフローチャート
【図７】本発明第四の実施の形態に係るフローチャート
【図８】本発明第五の実施の形態に係るフローチャート
【図９】本発明第六の実施の形態に係るフローチャート
【図１０】記録型光ディスクの表面図
【図１１】記録型光ディスクのデータ構造図
【図１２】従来の光ディスクの構造図
【図１３】レーザーダイオードのＩ−Ｌ特性算出図
【図１４】アシンメトリの算出図
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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