【手続補正書】
【提出日】平成22年8月19日(2010.8.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
培養システムの試験環境パラメータに作用する制御モジュールであって、
バスに接続され、制御コマンドを受信するインターフェイス・ユニットと、
前記インターフェイス・ユニットに接続され、前記制御コマンドに応じて前記試験環境パラメータに作用するよう構成される制御装置と、
前記インターフェイス・ユニットに接続され、前記受信された制御コマンドを再び更なる制御コマンドに出力する更なるインターフェイス・ユニットと、を備え、
前記バスの一部分は前記インターフェイス・ユニットから、前記制御モジュールを通って、前記更なるインターフェイス・ユニットまで案内され、
前記制御装置は、前記制御コマンドを評価し、前記制御コマンドが前記制御モジュール向けか否かを確認するよう構成される、制御モジュール。
【請求項２】
請求項１に記載の制御モジュールにおいて、
前記制御装置は、前記試験環境パラメータに対する設定値を確認するために前記制御コマンドを評価するよう構成され、前記設定値を記憶するメモリを含む、制御モジュール。
【請求項３】
請求項２に記載の制御モジュールにおいて、
センサから前記試験環境パラメータの実際値を受信するセンサ・ポートを更に有し、
前記制御装置は前記メモリに前記実際値を記憶するよう構成される、制御モジュール。
【請求項４】
請求項３に記載の制御モジュールにおいて、
前記制御装置は、前記インターフェイス・ユニットを介して前記実際値を出力するよう構成される、制御モジュール。
【請求項５】
請求項１に記載の制御モジュールにおいて、
試験環境に導かれるべき空気を放出する空気出口を更に有し、前記空気に作用することで前記試験環境パラメータに作用するよう構成される、制御モジュール。
【請求項６】
請求項５に記載の制御モジュールにおいて、
前記試験環境に導かれるべき前記空気を受ける空気入口と、
前記空気入口から前記空気出口への空気用の配管と、を更に備える制御モジュール。
【請求項７】
請求項６に記載の制御モジュールにおいて、
筐体を更に備え、
前記空気入口および前記出口は、前記筐体の反対側に形成される、制御モジュール。
【請求項８】
請求項７に記載の制御モジュールにおいて、
前記空気入口および前記出口はそれぞれ接続部分を含み、
前記接続部分は補完的に構成され、前記空気入口の前記接続部分は同一の制御モジュールの前記空気出口の前記接続部分と接続される、制御モジュール。
【請求項９】
請求項７に記載の制御モジュールにおいて、
前記インターフェイス・ユニットが前記筐体の一方の側に配置され、前記更なるインターフェイス・ユニットが他方の側に配置され、前記空気入口および前記空気出口がそれぞれ対応する側に配置される、制御モジュール。
【請求項１０】
請求項１に記載の制御モジュールにおいて、
前記インターフェイス・ユニットが接続部分を含み、前記更なるインターフェイス・ユニットが更なる接続部分を含み、前記接続部分と前記更なる接続部分は補完的に構成され、
前記インターフェイス・ユニットの前記接続部分は、前記制御モジュールの前記更なる接続部分と同一となるよう構成される別の制御モジュールの前記更なるインターフェイス・ユニットの前記更なる接続部分と接続される、制御モジュール。
【請求項１１】
請求項１に記載の制御モジュールにおいて、
前記試験環境パラメータは、試料ホルダの温度、空気温度、空気湿度、空気の二酸化炭素含有量、および、空気の酸素含有量よりなる群から選択される、制御モジュール。
【請求項１２】
培養システムの複数の試験環境パラメータに作用する制御システムであって、
制御コマンドを送信するバスと、
前記バスに接続される、前記制御コマンドを受信するインターフェイス・ユニットをそれぞれ有する複数の制御モジュールであって、前記複数の制御モジュールの各制御モジュールは対応するインターフェイス・ユニットに接続される制御装置を含み、前記制御コマンドに基づいて前記複数の試験環境パラメータの試験環境パラメータに作用するよう構成される、複数の制御モジュールと、を備え、
前記複数の制御モジュールの第１の制御モジュールが更なるインターフェイス・ユニットを有し、前記バスの一部分は前記第１の制御モジュールの前記インターフェイス・ユニットから、前記第１の制御モジュールを通って、前記第１の制御モジュールの前記更なるインターフェイス・ユニットまで案内されて、前記受信された制御コマンドを更なる制御モジュールに出力する、制御システム。
【請求項１３】
請求項１２に記載の制御システムにおいて、
前記複数の制御モジュールの各制御モジュールの前記制御装置は、前記制御コマンドを評価し、前記制御コマンドが前記関連する制御モジュール向けか否かを確認するよう構成される、制御システム。
【請求項１４】
請求項１に記載の制御システムにおいて、
前記第１の制御モジュールの前記更なるインターフェイス・ユニットは、第２の制御モジュールの前記インターフェイス・ユニットと電気的に結合される、制御システム。
【請求項１５】
請求項１４に記載の制御システムにおいて、
前記第１の制御モジュールおよび前記第２の制御モジュールは、前記第１の制御モジュールの第１の側面が前記第２の制御モジュールの第２の側面と接触したときに、前記第１の制御モジュールの前記更なるインターフェイス・ユニットと前記第２の制御モジュールの前記インターフェイス・ユニットとが電気的に結合されるよう構成される、制御システム。
【請求項１６】
請求項１４に記載の制御システムにおいて、
前記第１の制御モジュールおよび前記第２の制御モジュールそれぞれは、空気を試験環境に導くためのポートをそれぞれ有し、前記ポートは、前記試験環境に導かれるべき前記空気が前記第１の制御モジュールと前記第２の制御モジュールとの間で交換されるよう接続される、制御システム。
【請求項１７】
請求項１２に記載の制御システムにおいて、
前記複数の制御モジュールに関連する制御変数が一組において異なる、制御システム。
【請求項１８】
請求項１２に記載の制御システムにおいて、
前記バスはシリアルバスである、制御システム。
【請求項１９】
請求項１２に記載の制御システムにおいて、
前記バスのバス・プロトコルは、ＣＡＮプロトコル、ＲＳ２３２プロトコル、および、ＵＳＢプロトコルよりなる群から選択される、制御システム。
【請求項２０】
請求項１２に記載の制御システムにおいて、
前記複数の制御モジュールの各制御モジュールは、
バスに接続され、制御コマンドを受信するインターフェイス・ユニットと、
前記インターフェイス・ユニットに接続され、前記制御コマンドに応じて前記試験環境パラメータに作用するよう構成される制御装置と、
前記インターフェイス・ユニットに接続され、前記受信された制御コマンドを再び出力する更なるインターフェイス・ユニットとを備えるよう構成される、制御システム。
【請求項２１】
顕微鏡装置であって、
試験室における試料を観察する顕微鏡システムと、
前記試験室における複数の試験環境パラメータに作用する制御システムであって、
制御コマンドを送信するバスと、
前記バスに接続される、前記制御コマンドを受信するインターフェイス・ユニットをそれぞれ有する複数の制御モジュールであって、前記複数の制御モジュールの各制御モジュールは対応するインターフェイス・ユニットに接続される制御装置を含み、前記制御コマンドに基づいて前記複数の試験環境パラメータの試験環境パラメータに作用するよう構成される、複数の制御モジュールとを有する、制御システムと、を備え、
前記複数の制御モジュールの第１の制御モジュールが更なるインターフェイス・ユニットを有し、前記バスの一部分は前記第１の制御モジュールの前記インターフェイス・ユニットから、前記第１の制御モジュールを通って、前記第１の制御モジュールの前記更なるインターフェイス・ユニットまで案内されて、前記受信された制御コマンドを更なる制御モジュールに出力する、顕微鏡装置。
【請求項２２】
請求項２１に記載の顕微鏡装置において、
前記顕微鏡システムは、制御コマンドを受信するようインターフェイス・ユニットを介して前記バスで接続され、かつ前記制御コマンドに基づいて作動されるよう構成される、少なくとも一つのアドレス指定可能な構成要素を含む、顕微鏡装置。
【請求項２３】
請求項２２に記載の顕微鏡装置において、
前記アドレス指定可能な構成要素は、前記制御コマンドが前記アドレス指定可能な構成要素向けか否かを確認するよう構成される、顕微鏡装置。
【請求項２４】
請求項２１に記載の顕微鏡装置において、
前記複数の制御モジュールのうちの一つの制御モジュールは、新鮮な空気用または前記試験室からの空気用の吸込開口部を含む、顕微鏡装置。
【請求項２５】
請求項２１に記載の顕微鏡装置において、
前記複数の制御モジュールのうちの一つの制御モジュールは、試験環境に空気を導くために、送気管を介して前記試験室に接続される、顕微鏡装置。
【請求項２６】
請求項２１に記載の顕微鏡装置において、
前記バスに接続され、前記バスを介して前記制御コマンドを出力する電子コンピュータ・システムを更に備える、顕微鏡装置。
【請求項２７】
顕微鏡装置を電子コンピュータ・システムで制御する方法であって、顕微鏡装置はアドレス指定可能な構成要素を有する顕微鏡システムと、前記顕微鏡システムの試験室の試験環境パラメータに作用する制御モジュールとを備える、方法において、
前記アドレス指定可能な構成要素を制御するための顕微鏡制御コマンドを生成するステップであって、前記顕微鏡制御コマンドは、前記アドレス指定可能な構成要素に対するアドレス情報を含む、顕微鏡制御コマンド生成ステップと、
前記制御モジュールを制御するためのモジュール制御コマンドを生成するステップであって、前記モジュール制御コマンドは前記制御モジュールに対するアドレス情報を含む、モジュール制御コマンド生成ステップと、
前記アドレス指定可能な構成要素および記制御モジュールを制御するために、前記顕微鏡制御コマンドと前記モジュール制御コマンドを出力するステップと、を備える方法。
【請求項２８】
請求項２７に記載の方法において、
前記顕微鏡制御コマンドおよび前記モジュール制御コマンドは、前記電子コンピュータ・システムの同じインターフェイスを介して出力される、方法。
【請求項２９】
請求項２７に記載の方法において、
前記モジュール制御コマンドは前記試験環境パラメータに対する設定値を含む、方法。
【請求項３０】
請求項２７に記載の方法において、
時相スケジュールを読み出すステップと、
経過時間をモニタリングするステップと、を更に備え、
前記モジュール制御コマンドは、前記時相スケジュールおよび前記経過時間に応じて生成される、方法。
【請求項３１】
請求項３０に記載の方法において、
前記顕微鏡制御コマンドは、前記時相スケジュールおよび前記経過時間に基づいて生成される、方法。
【請求項３２】
請求項２７に記載の方法において、
前記制御モジュールから前記試験環境パラメータの実際値を受信するステップを更に備える、方法。
【請求項３３】
請求項３２に記載の方法において、
前記実際値は、前記電子コンピュータ・システムにより記憶される、方法。
【請求項３４】
請求項２７に記載の方法において、
前記顕微鏡システムから画像データを受信するステップを更に備える、方法。
【請求項３５】
電子コンピュータ・システムにより実行されると、アドレス指定可能な構成要素を有する顕微鏡システムと前記顕微鏡システムの試験室の試験環境パラメータに作用する制御モジュールとを有する顕微鏡装置を前記電子コンピュータ・システムで制御する方法を前記電子コンピュータ・システムに実行させる命令が記憶されたコンピュータ・プログラムであって、前記方法が
前記アドレス指定可能な構成要素を制御するための顕微鏡制御コマンドを生成するステップであって、前記顕微鏡制御コマンドは、前記アドレス指定可能な構成要素に対するアドレス情報を含む、顕微鏡制御コマンド生成ステップと、
前記制御モジュールを制御するためのモジュール制御コマンドを生成するステップであって、前記モジュール制御コマンドは前記制御モジュールに対するアドレス情報を含む、モジュール制御コマンド生成ステップと、
前記アドレス指定可能な構成要素および前記制御モジュールを制御するために、前記顕微鏡制御コマンドと前記モジュール制御コマンドを出力するステップとを備える、コンピュータ・プログラム。
【請求項３６】
請求項３５に記載のコンピュータ・プログラムにおいて、
前記命令は、前記電子コンピュータ・システムによって実行されたときに、ユーザが前記アドレス指定可能な構成要素を有する前記顕微鏡システムと前記顕微鏡システムの前記試験室の試験環境パラメータに作用する制御モジュールとの両方を統合されたオペレータ・インターフェイスで制御することが可能となるよう構成される、コンピュータ・プログラム。