【手続補正書】
【提出日】平成22年2月25日(2010.2.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定手段と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも１フレーム分記憶するエッジ強度記憶手段と、
前記エッジ強度記憶手段に記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記特定情報を少なくとも１フレーム分記憶する記憶手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ手段と、
前記記憶手段に記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定手段により算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ手段或は前記二次元フィルタ手段によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記算出手段は、前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して各ブロックのエッジ強度データを算出し、前記算出されたエッジ強度データが第１の閾値よりも大きいブロックと、当該ブロックに隣接し前記第１の閾値よりも小さい第２の閾値以下のエッジ強度データを有するブロックとを特定する前記特定情報を決定することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記フィルタ制御手段は、
前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して、前記直前フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する手段と、
前記エッジ強度測定手段により算出された前記現フレームの水平及び垂直エッジ強度データを、対応する各ブロックごとに加算して前記現フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する手段とを有し、
前記直前フレームと前記現フレームの各対応するブロックのエッジ強度データの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの前記垂直エッジ強度データと前記水平エッジ強度データとの差分値とから、前記水平フィルタ手段或は前記二次元フィルタ手段によりフィルタリング処理した対象ブロックを採用するか否かを決定することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記エッジ強度記憶手段及び前記記憶手段は、複数のメモリバンクで構成され、各フレームの画像処理ごとにメモリバンクが切り替えられることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項５】
画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定工程と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも１フレーム分第１メモリに記憶するエッジ強度記憶工程と、
前記第１メモリに記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出工程と、
前記算出工程により算出された前記特定情報を少なくとも１フレーム分第２メモリに記憶する記憶工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ工程と、
前記第２メモリに記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定工程で算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記第１メモリに記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ工程或は前記二次元フィルタ工程によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項６】
前記算出工程は、前記第１メモリに記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して各ブロックのエッジ強度データを算出し、前記算出されたエッジ強度データが第１の閾値よりも大きいブロックと、当該ブロックに隣接し前記第１の閾値よりも小さい第２の閾値以下のエッジ強度データを有するブロックとを特定する前記特定情報を決定することを特徴とする請求項５に記載の画像処理方法。
【請求項７】
前記フィルタ制御工程は、
前記第１メモリに記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して、前記直前フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する工程と、
前記エッジ強度測定工程で算出された前記現フレームの水平及び垂直エッジ強度データを、対応する各ブロックごとに加算して、前記現フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する工程とを有し、
前記直前フレームと前記現フレームの各対応するブロックのエッジ強度データの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの前記垂直エッジ強度データと前記水平エッジ強度データとの差分値とから、前記水平フィルタ工程或は前記二次元フィルタ工程によりフィルタリング処理した対象ブロックを採用するか否かを決定することを特徴とする請求項５に記載の画像処理方法。
【請求項８】
前記第１メモリ及び前記第２メモリは、複数のメモリバンクで構成され、各フレームの画像処理ごとにメモリバンクが切り替えられることを特徴とする請求項５乃至７のいずれか１項に記載の画像処理方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
上記目的を達成するために本発明の一態様に係る画像処理装置は以下のような構成を備える。即ち、
画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定手段と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも１フレーム分記憶するエッジ強度記憶手段と、
前記エッジ強度記憶手段に記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記特定情報を少なくとも１フレーム分記憶する記憶手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ手段と、
前記記憶手段に記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定手段により算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ手段或は前記二次元フィルタ手段によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御手段と、を有することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
上記目的を達成するために本発明の一態様に係る画像処理方法は以下のような工程を備える。即ち、
画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定工程と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも１フレーム分第１メモリに記憶するエッジ強度記憶工程と、
前記第１メモリに記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出工程と、
前記算出工程により算出された前記特定情報を少なくとも１フレーム分第２メモリに記憶する記憶工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ工程と、
前記第２メモリに記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定工程で算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記第１メモリに記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ工程或は前記二次元フィルタ工程によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御工程と、を有することを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５９】
このフィルタ処理では、中心画素の画素値ｆ(x,y)とその近傍画素の画素値ｆ(x+i,y+j)，（ｘ，ｙ＝−Ｍ，...，０，１，...，Ｍ）の差分値を計算する。そして、その差分値の絶対値がεよりも大きい場合は、その近傍の画素の画素値を中心画素の画素値に置き換えて平滑化処理を行う。その結果、図１３の数式で得られるｇ(x,y)では、エッジ成分を保護し、小振幅の高調波であるノイズを平滑化して抑制することができる。ここでＭは、εフィルタの画素の範囲を規定する値で、通常は「１」或は「２」（この実施の形態では「１」とする）である。またε0は、フィルタ値の範囲（平滑化対象レベル）を規定する値で、保存したエッジのレベル差よりも小さい値とし、通常は「１０」以下、本実施の形態では「５」とする。尚、このεフィルタ処理の詳細は下記文献１を参照されたい。（文献１．原島博ほか「ε−分離非線形ディジタルフィルタとその応用」電子情報通信学会、昭５７−論１４６〔Ａ−３６〕、昭和５７年４月）
セレクタ１０８は、フィルタ制御器１０５からの制御信号２１１により、εフィルタ２００からの出力、及びフィルタ無しの信号（入力したブロックの色差信号）を選択する。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６１】
図１２は、本実施の形態２に係る図３のフローチャートのステップＳ２０２のフィルタ制御処理（制御信号２１０，２１１の生成処理）を説明するフローチャートである。尚、この図１２において、前述の図５と共通するステップには同じ符号を付している。ここでの処理の対象は、前述したノイズ除去対象フラグがオンであるブロックである。