(57)【要約】      （修正有）【課題】計測時間、マンパワーとコストを節約するオートサンプラ及びその応用の質量分析器を提供する。【解決手段】オートサンプラは、少なくともサンプル・プレート１０、サンプル・スタンド２０、復位部品３０及びリニアアクチュエータ４０を含む。サンプル・プレートは、少なくとも一納置孔１１を設置し、サンプル・スタンドは、それぞれサンプル・プレートの納置孔に可動設置する。サンプル・スタンドの最上端は表面２３を成形して分析待ちサンプルを載せるのに用い、復位部品はサンプル・プレート及びサンプル・スタンドの間に設置し、常態でサンプル・スタンドがサンプル・プレートへ移動する力量を提供する。リニアアクチュエータは、サンプル・プレートの一側に設置し、サンプル・スタンドが納置孔で移動する動力を提供し、自動で多種の分析待ちサンプルを順次分析位置に移動させる。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも一つの納置孔を設置する少なくとも一つのサンプル・プレートと、
それぞれ該サンプル・プレートの納置孔で可動設置し、最上端には表面を設置する少なくとも一つのサンプル・スタンドと、
該サンプル・プレート及該サンプル・スタンドの間に設置し、常態で該サンプル・スタンドが該サンプル・プレートへ移動する力を提供する復位部品と、
該サンプル・プレートの一側に設置し、該サンプル・スタンドが該納置孔で線性移動する動力を提供するリニアアクチュエータを含むことを特徴とするオートサンプラ。
【請求項２】
前記復位部品は、該納置孔と該サンプル・スタンドの間に設置することを特徴とする請求項１記載のオートサンプラ。
【請求項３】
前記復位部品はバネであることを特徴とする請求項１記載のオートサンプラ。
【請求項４】
前記リニアアクチュエータは、動力部品及び該動力部品と連接するプッシュロッドを設置することを特徴とする請求項１記載のオートサンプラ。
【請求項５】
前記リニアアクチュエータは、制御部品を設置し、該制御部品は該動力部品と連接することを特徴とする請求項４記載のオートサンプラ。
【請求項６】
前記オートサンプラは他に、固定組部品を設置し、該固定組部品は該サンプル・プレートの一側に設置し、該サンプル・スタンドを固定して該サンプル・プレートの位置から伸びだすことを特徴とする請求項１から５のうちいずれか一項記載のオートサンプラ。
【請求項７】
前記オートサンプラは他に移動組部品を設置し、該移動組部品は該サンプル・プレートと連接し、該サンプル・プレートを帯同して少なくとも一軸方向へ移動することを特徴とする請求項１から５のうちいずれか一項記載のオートサンプラ。
【請求項８】
前記オートサンプラは他に固定組部品を設置し、該固定組部品は該サンプル・プレートの一側に設置し、該サンプル・スタンドを固定して該サンプル・プレートの位置から伸び出し、他に移動組部品を設置し、該移動組部品は該サンプル・プレートと連接し、該サンプル・プレートを帯同して少なくとも一軸方向へ移動することを特徴とする請求項１から５のうちのいずれか一項記載のオートサンプラ。
【請求項９】
第一、第二ハット形電極及び環状電極を設置し、該第一、第二ハット形電極は相互に対応して設置し、該環状電極は該第一、第二ハット形電極の間に位置し、該第一、第二ハット形電極外を囲み、ホールを設置するイオントラップと、
該ホール外に設置する請求項１に示すオートサンプラと、
該イオントラップに入射するレーザー光源を含むことを特徴とする質量分析器。
【請求項１０】
前記ホールは該第一ハット形電極もしくは環状電極に位置することを特徴とする請求項９記載の質量分析器。
【請求項１１】
前記質量分析器は、他に、光学レンズを設置し、該光学レンズは該レーザー光源の進行ルート上に設置し、且つ該光学レンズは該レーザー光源の進行ルートに垂直で、且つ該光学レンズは移動組部品を通して横向移動を形成することを特徴とする請求項９または１０記載の質量分析器。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、オートサンプラ及びその応用の質量分析器に関するもので、特に計測時間、マンパワーとコストを節約するオートサンプラ及びその応用の質量分析器に係わる。
【背景技術】
【０００２】
質量スペクトルを分析する技術に拠って、人々は測定物(analytes)内の分子量を知ることができ、更に該測定物の真実を比較して確認することができる。２０世紀初期から発展し、該質量スペクトル分析技術を実施する質量分析器を用い、操作が簡単で且つ迅速に測定結果を得ることができることから、幅広い領域での鑑定工具となった。
【０００３】
一般サンプルの各測定物は、游離裝置の游離化によって電荷を獲得する。その後質量分析器内に引き入れ、各自のm/z値(即ち『質量電荷比』であり、そのうちmは質量であり、zは総合価電子数である)によって分類区によって分けられ、最後に各情報を総合し、図式によって統計結果をシリーズ化し、ソフトを用いて測定物の分子量を算出する。
【０００４】
一般質量分析器は主に5つの部分に分けられる。サンプリング・システム、イオン源(Ion Source)、質量分析器(Mass Analyzer)、検出器(Detector)及びデータシステム(Data System)であり、そのうち、該サンプリング・システムの主な機能は、測定物(例としてタンパク質)を機器の中に送る。機器に送る前、これらのタンパク質サンプルは先ず、純化、分離、もしくはタンパク質水によってリパーゼ水をペプチド化する。サンプリング・システムはサンプルをイオン源へ送ることを引き受け、また異なる状態のサンプル(気体、液体もしくは個体)は異なるサンプリング・システムを必要とする。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
解決しようとする問題点は、測量分析時間を節約し、マンパワーを下げる自動サンプリング・システムを如何にして生み出すかという点である。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本考案は、少なくともサンプル・プレート、サンプル・スタンド、復位部品及びリニアアクチュエータを含む。該サンプル・プレートは、少なくとも一納置孔を設置し、該サンプル・スタンドは、それぞれ該サンプル・プレートの納置孔に可動設置する。該サンプル・スタンドの最上端は表面を成形して分析待ちサンプルを載せるのに用い、該復位部品は該サンプル・プレート及び該サンプル・スタンドの間に設置し、常態で該サンプル・スタンドが該サンプル・プレートへ移動する力量を提供する。該リニアアクチュエータは、該サンプル・プレートの一側に設置し、該サンプル・スタンドが該納置孔で線性移動する動力を提供し、該オートサンプラが自動で多種の分析待ちサンプルを順に分析するのを提供することを最も主要な特徴とする。
【考案の効果】
【０００７】
本考案のオートサンプラ及びその応用の質量分析器は、計測時間、マンパワーとコストを節約するという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本考案のオートサンプラの構造指示図である。
【図２】本考案の質量分析器の構造指示図である。
【図３】本考案のオートサンプラの動作指示図である。
【図４】本考案の質量分析器の別の構造指示図である。
【考案を実施するための形態】
【０００９】
本考案は、オートサンプラ及びその応用の質量分析器であり、特に計測時間、マンパワーとコストを節約するオートサンプラ及びその応用の質量分析器を提供することを主な目的とする。
【００１０】
上述の目的を達成するため、本考案のオートサンプラは、少なくともサンプル・プレート、サンプル・スタンド、復位部品及びリニアアクチュエータを含む。該サンプル・プレートは、少なくとも一納置孔を設置し、該サンプル・スタンドは、それぞれ該サンプル・プレートの納置孔に可動設置する。該サンプル・スタンドの最上端には、表面を成形し、そこに分析待ちサンプルを置く。該復位部品は該サンプル・プレート及び該サンプル・スタンドの間に設置し、常態で該サンプル・スタンドが該サンプル・プレートへ移動する力を提供する，該リニアアクチュエータは該サンプル・プレートの一側に設置し、該サンプル・スタンドが該納置孔で線性移動する動力を提供し、該オートサンプラが自動で多種の分析待ちサンプルを順に分析する事を提供する。
【００１１】
本考案は、他に質量分析器を提供し、少なくともイオントラップ、オートサンプラ及びレーザー光源を含む。該イオントラップは、第一、第二ハット形電極及び環状電極を設置し、該第一、第二ハット形電極は相互に対応して設置する。該環状電極は、該第一、第二ハット形電極の間に位置し、該第一、第二ハット形電極の外側で囲み、該イオントラップはホールを設置し、該オートサンプラは該ホール外に設置し、該レーザー光源は該イオントラップに入射する。
【実施例】
【００１２】
本考案の特徴を、図式と共に実施例を挙げて詳細に説明する。
【００１３】
図１に示すのは、本考案のオートサンプラの構造指示図であり、本考案のオートサンプラは、少なくとも一サンプル・プレート１０、少なくとも一サンプル・スタンド２０、復位部品３０及びリニアアクチュエータ４０を含む。
【００１４】
該サンプル・プレート１０は、少なくとも一納置孔１１を設置してサンプル・スタンド２０を納置する。該サンプル・スタンド２０は、それぞれ該サンプル・プレートの納置孔１１に可動設置し、図に示す実施例に於いて、該サンプル・スタンド２０は桿体２１及び該桿体２１末端に位置する拡大部２２を設置し、該サンプル・スタンドの桿体２１の最上端には表面２３を成形して、そこに分析待ちサンプルを置く。他に、移動組部品５０を設置してもよく、該移動組部品５０は該サンプル・プレート１０と連接し、該サンプル・プレート１０を帯同して少なくとも一軸方向に移動する。
【００１５】
該復位部品３０は、該サンプル・プレート１０及び該サンプル・スタンド２０の間に設置する。図に示す実施例において，該復位部品３０はバネであり、且つ該納置孔１１と該サンプル・スタンド２０の間に設置し、更に該桿体２１外に嵌め、且つ該拡大部２２上で相対して押圧し、該サンプル・スタンド２０が状態に於いて該サンプル・プレート１０へ移動する力を提供する。
【００１６】
該リニアアクチュエータ４０は、該サンプル・プレート１０の一側に設置し、該サンプル・スタンド２０が該納置孔１１で線性移動する動力を提供する。そのうち、該リニアアクチュエータ４０は、動力部品４１、制御部品４２及び該動力部品４１と連接するプッシュロッド４３を設置する。該制御部品４２は該動力部品４１と連接し、該動力部品４１によって該プッシュロッド４３を帯同して線性移動し、該制御部品４２は該動力部品４１の動作を制御する。
【００１７】
使用時、図２に示すとおり、本考案のオートサンプラは質量分析器に於いて応用する。そのうち該質量分析器は少なくともイオントラップ６０、オートサンプラ及びレーザー光源７０を含む。該イオントラップ６０は例として四極イオントラップとし、第一、第二ハット形電極６１、６２及び環状電極６３を設置する。該第一、第二ハット形電極６１、６２は相互に対応設置し、該環状電極６３は該第一、第二ハット形電極６１、６２の間に位置し、該第一、第二ハット形電極６１、６２外で取り囲む。該イオントラップはホール６４を設置し、図に示す実施例において、該ホール６４は該第一ハット形電極６１もしくは環状電極６３に位置して該レーザー光源７０は該イオントラップ６０に入射する。
【００１８】
そのうち該オートサンプラは、該第一ハット形電極６１のホール６４外に設置し、該リニアアクチュエータ４０のプッシュロッド４３によって該サンプル・プレート１０へ移動する。図３に示すとおり、分析待ちサンプルを置く場所を備えたサンプル・スタンド２０は納置孔１１外から押して該サンプル・スタンドの表面２３を該第一ハット形電極６１のホール６４に伸び入れて後続の分析を行う。また該環状電極のホールから伸び入れて後続の分析を行う。当然、該リニアアクチュエータが下向きに移動して不施以推抵力量於該サンプル・スタンド時，該サンプル・スタンドは復位部品の作用によって該納置孔内の原始位置へ回復する。
【００１９】
更に、固定組部品(図未提示)を設置する。該固定組部品は、該サンプル・プレートの一側に設置し、たとえ該リニアアクチュエータが下向きに移動したとしても、該サンプル・スタンド２０を固定して該サンプル・プレート１０の位置から伸び出る。図４に示すとおり、更に該移動組部品５０で該サンプル・プレート１０を帯同して横向きにスキャン移動する。その他、更に光学レンズ７１を設置する。該光学レンズ７１は該レーザー光源７０の進行ルートＬ上に設置し、且つ該光学レンズ７１は該レーザー光源７０の進行ルートＬに垂直で、且つ該光学レンズ７１は移動組部品(図示せず)によって横向移動を形成し、レーザー光源７０の光点位置が横向き移動を形成することによって、スキャンの目的を達成する。
【００２０】
本考案は実行可能なオートサンプラ及びその応用の質量分析器を提供して実用新案登録を申請する。本考案の技術内容及び技術特徴は上述のとおりであるが当領域に習熟した者が、本考案の精神から乖離しない入替え及び修飾を実施することがあるかもしれない。拠って、本考案の請求範囲は、実施例に制限されず、各種本考案から乖離しない入替え及び修飾も含み、以下の請求範囲とする。
【符号の説明】
【００２１】
１０      サンプル・プレート
１１      納置孔
２０      サンプル・スタンド
２１      桿体
２２      拡大部
２３      表面
３０      復位部品
４０      リニアアクチュエータ
４１      動力部品
４２      制御部品
４３      プッシュロッド
５０      移動組部品
６０      イオントラップ
６１      第一ハット形電極
６２      第二ハット形電極
６３      環状電極
６４      ホール
７０      レーザー光源
７１      光学レンズ
【図１】
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【図２】
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【図３】
0003192031.tif 000005
【図４】
0003192031.tif 000006