【手続補正書】
【提出日】平成22年8月6日(2010.8.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像装置であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する取得手段と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域における情報に基づいて該観察画像に関連付けられた前記断層画像の評価を行う評価手段と、
を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
【請求項２】
前記評価手段の評価結果に基づいて前記被検眼を再撮像するか否かを判断する手段を有することを特徴とする請求項１に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項３】
前記評価手段が、
前記被検眼の瞳孔以外への前記測定光の照射面積の大きさに基づいて前記評価を行う手段、
前記被検眼の瞳孔と前記測定光の照射位置との距離に基づいて前記評価を行う手段、
前記被検眼の瞳孔以外への前記測定光の照射形状に基づいて前記評価を行う手段、
のうちの少なくとも１つの手段を有することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項４】
前記評価手段の評価結果を通知する通知手段を有することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項５】
前記取得手段がカメラ、エリアセンサ、共焦点顕微鏡のうちの少なくとも１つで構成されていることを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項６】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像方法であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する工程と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて該観察画像に関連付けられた前記断層画像の評価を行う工程と、
を含むことを特徴とする光断層画像撮像方法。
【請求項７】
前記評価を行う工程の評価結果に基づいて、撮像を中止しあるいは再撮像を開始する工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の光断層画像撮像方法。
【請求項８】
請求項６あるいは７に記載の光断層画像撮像方法をコンピュータで実行することを特徴とするプログラム。
【請求項９】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像装置であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する取得手段と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて該観察画像に関連付けられた前記断層画像を表示手段に表示させるか否かを判断する手段と、
を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
【請求項１０】
測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像装置であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する取得手段と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて該観察画像と関連付けられた前記断層画像を記録手段に記録するか否かを判断する手段と、
を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
【請求項１１】
前記判断する手段が、前記情報に基づいて該観察画像に関連付けられた前記断層画像の評価を行う評価手段を有し、該評価手段の評価結果に基づいて前記被検眼を再撮像するか否かを判断し、該再撮像が否の場合には前記評価手段で評価した断層画像を前記表示手段に表示、あるいは該断層画像を前記記録手段に記録することを特徴とする請求項９あるいは１０に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１２】
前記取得手段が、前記被検眼の眼底の断層画像ごとに該断層画像に関連付けて前記観察画像を取得することを特徴とする請求項１乃至５、９乃至１１のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明は、つぎのように構成した光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供するものである。
本発明の光断層画像撮像装置は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像装置であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する取得手段と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域における情報に基づいて該観察画像に関連付けられた前記断層画像の評価を行う評価手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像方法であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する工程と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて該観察画像に関連付けられた前記断層画像の評価を行う工程と、
を含むことを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像装置であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する取得手段と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて該観察画像に関連付けられた前記断層画像を表示手段に表示させるか否かを判断する手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮る光断層画像撮像装置であって、
前記断層画像に関連付けて前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する取得手段と、
前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて該観察画像と関連付けられた前記断層画像を記録手段に記録するか否かを判断する手段と、
を有することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
つぎに、本発明の実施形態におけるＯＣＴ装置について説明する。
本実施形態のＯＣＴ装置において、測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光に基づいて該被検眼の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置が、次のような観察画像の取得手段を備える。
この観察手段は、前記被検眼の眼底の断層画像を取得する間に、前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得するように構成されている。
また、上記ＯＣＴ装置は、前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて、該観察画像に関連付けられた、光断層画像撮像装置により撮像される断層画像の評価を行う評価手段と、を備える。
これにより、上記観察手段によって測定光の被検査物に対する入射状態を把握し、前記観察画像と関連付けられた断層画像の信頼性を検討することが可能となる。
その際、前記評価手段の評価に基づいて、前記断層画像の撮像を中止し、または再撮像の開始を行うことができるように構成することで、断層画像の信頼性を確保することが可能になる。
また、上記ＯＣＴ装置は、前記評価手段として、つぎのうちの少なくとも１つの手段を有する構成とすることができる。
すなわち、前記被検眼の瞳孔以外への前記測定光の照射面積の大きさに基づいて前記評価を行う手段、
あるいは、前記被検眼の瞳孔と前記測定光の照射位置との距離に基づいて前記評価を行う手段、
あるいは、前記被検眼の瞳孔以外への前記測定光の照射形状に基づいて前記評価を行う手段、
のうちの少なくとも１つの手段を有する構成とすることができる。
これらにより、測定光が瞳孔以外の部分に照射されている程度を定量的に把握することが可能になる。
また、上記ＯＣＴ装置は、前記評価手段の評価結果を通知する通知手段を有する構成とすることができる。
前記評価を行う手段を用いて取得したランクが、所望のランクであった場合に、このような通知する手段を有することで、撮像終了或いは再撮像等の次の作業に迅速に移ることが可能となる。
また、上記ＯＣＴ装置は、前記観察手段をカメラ、エリアセンサ、共焦点顕微鏡のうちの少なくとも１つで構成することができる。
これらにより、測定光が瞳孔に入射する様子を容易に観察することができる。
また、本実施形態においては、上記ＯＣＴ装置を用いて光断層画像の撮像方法を実施するに際し、つぎのような工程により、光断層画像を撮像することができる。
まず、観察画像を取得する工程において、前記被検眼の眼底の断層画像を取得する間に、前記測定光による被検眼の前眼部の照射領域における観察画像を取得する。
次に、断層画像の評価を行う工程において、前記観察画像から得た前記前眼部の照射領域の情報に基づいて、該観察画像に関連付けられた前記光断層画像撮像装置により撮像される断層画像の評価を行う。
更に、前記評価を行う工程の評価結果に基づいて、撮像を中止しあるいは再撮像を開始する
これにより、断層画像の信頼性を確保することが可能になる。
その際、前記第１の工程から前記第３の工程のうち、少なくとも一つの工程について、制御ソフトウェアとしてコンピュータで実行するプログラム等を用いて自動的に行うように構成することで、断層画像の信頼性の確保が可能となる効率的な断層画像の撮像システムを実現することができる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
本実施例のＯＣＴ装置１００は、図１に示されるように、全体としてマッハツェンダー干渉系を構成している。
図中、光源１０１から出射した光がビームスプリッタ１０３−１によって参照光１０５と測定光１０６とに分割される。
測定光１０６は、観察対象である眼１０７によって反射あるいは散乱された戻り光１０８となって戻され、ビームスプリッタ１０３−３によって戻り光（第１の戻り光）１０８−１と戻り光１０８−２（第２の戻り光）に分割される。そして、これらの戻り光のうち戻り光１０８−２はビームスプリッタ１０３−２によって、参照光１０５と合波される。
参照光１０５と戻り光１０８−２とは合波により合成した合成光とされた後、ビームスプリッタ１０３−２によって分割され、バランスドディテクタ１２２に入射される。
バランスドディテクタ１２２は光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、眼１０７の断層像が構成される。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
次に、取得手段により被検眼における前眼部の瞳孔と虹彩による観察画像の具体例として、観察カメラ１３９を用いて取得される観察像１４２について説明する。図２に、本実施例における観察カメラを用いて取得されるＯＣＴ装置の測定光の観察像について説明する図を示す。
図２には、図１に示した構成と同一または対応する構成には同一の符号が付されているから、重複する構成についての説明は省略する。
図２において、１４０は瞳孔、１４１は虹彩である。
図２（ａ）、図２（ｂ）は共に、左側が観察カメラ１３９を用いて取得された観察像１４２、右側が観察対象である眼１０７の断面を模式的に表す模式図１４３である。
また、図２（ａ）、（ｂ）それぞれの、測定光１０６は同一径、同一エネルギーである。
また、測定光１０６が複数描かれているのは、ＸＹスキャナ１１９によって、測定光１０６が網膜１２７を走査している様子を示している。
ここで、一般に測定光１０６は瞳孔１４０を透過しやすいが、それに対して虹彩１４１を透過しにくい。
図２（ａ）は測定光１０６が虹彩１４１に照射されることなく、瞳孔１４０を透過し、網膜１２７に照射されている。
この状態は、測定光１０６が網膜１２７に結像し、撮像に適した状態である。
これに対して、図２（ｂ）は測定光１０６の一部が虹彩１４１に照射され、測定光１０６が適切には網膜１２７に照射されてない状態が示されている。
図２（ｂ）の状態は図２（ａ）の状態に比べて、網膜１２７に照射される測定光１０６のエネルギーが小さくなる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
本評価方法は以下の各工程を、例えば連続して行う。
或いは、適宜工程を戻って行うこともでき、また制御ソフトウェアとしてコンピュータで実行するプログラム等を用いて、以下の工程を自動的に行うように構成してもよい。
また、以下の工程はパソコンを用いた画像処理を行うことを前提に記載したが、作業者が観察像１４２を目視して、同様の作業を手動で行ってもよい。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
まず、第１の工程において、観察カメラ１３９を用いて、測定光による被検眼の前眼部である瞳孔と虹彩の照射領域における観察像１４２を取得する（図４（ｂ））。
次に、第２の工程において、取得した観察像１４２をパソコン１２５に取り込み、表示や保存を行う。
そして、以下の各工程により、上記観察画像から得られた前眼部の照射領域における情報に基づいて該観察画像に関連付けられた、光断層画像撮像装置により撮像される断層画像の評価を行う。
すなわち、まず第３の工程において、パソコン１２５を用いて観察像１４２のセグメンテーションを行い、瞳孔１４０と虹彩１４１と測定光１０６とを画像認識する（図４（ｃ））。
次に、第４の工程において、画像認識された測定光１０６と虹彩１４１との論理積をとり、その面積Ｓを計算する（図４（ｄ））。
次に、第５の工程において、その面積Ｓの値の大小によって評価し、ランク付けを行い、該断層像と観察像１４２とランクとを関連付けて、表示或いは保存する。ランク付けは、例えば、以下のように設定する。
Ａ：Ｓ＝０ｍｍ2、Ｂ：０＜Ｓ≦１ｍｍ2、Ｃ：１＜Ｓ≦２ｍｍ2、Ｄ：Ｓ＞２ｍｍ2
次に、第６の工程において、上記第５の工程において得られたランクがＣあるいはＤであった場合には、断層像の撮像の中止あるいは再撮像（再測定）を行う。上記第４〜５の工程において、評価の指標として、上記説明した面積Ｓとしたが、他の指標を用いてもよい。
例えば、測定光１０６と虹彩１４１との中心間距離や、測定光１０６と虹彩１４１との論理積の形状を用いることができる。
また、同様に、測定光１０６と瞳孔１４０との論理積の面積、形状や中心間距離を用いることもできる。その場合には、適宜ランク付けを設定する。