(57)【要約】【課題】光スポットが磁界の有効範囲内に存在するか否かの判断を行うことができず、光スポットが磁界の有効範囲外に出てしまうと満足な信号品位が得られないため、磁界の有効範囲は最大のチルトによる最大のオフセット量を含めて設定する必要がある。【解決手段】対物レンズ６のチルトサーボに働きによる傾きに伴うディスク半径方向の変位量を検出し、得られた変位量及びチルトセンサ９によるチルト量に基づいてディスク半径方向の光スポット位置を算出する。そして、算出したスポット位置に基づいて光磁気ディスク８上の光スポットが、磁気ヘッド２１の有効磁界範囲内に入るようにシークモータ５を制御することにより、光スポットの磁界有効範囲からの外れを確実に防止する。【選択図】        図１
2005011436.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光磁気ディスクに磁界を印加する磁気ヘッドと、対物レンズを有し前記光磁気ディスクに光ビームを照射する光ピックアップと、前記光ピックアップを光磁気ディスクの半径方向に移送する手段と、前記光磁気ディスクのチルト量を検出するチルト検出手段と、検出されたチルト量に基づいて前記対物レンズの光軸が光磁気ディスク面に対して垂直となるようにチルトサーボを行う手段とを有する光磁気ディスク装置において、前記対物レンズの傾きに伴うディスク半径方向の変位量を検出する手段と、得られた変位量及び前記チルト検出手段によるチルト量に基づいてディスク半径方向の光スポット位置を算出する手段と、算出されたスポット位置に基づいて光磁気ディスク上の光スポットが前記磁気ヘッドの有効磁界範囲内に入るように前記移送手段を制御する手段とを備えたことを特徴とする光磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記変位量は、対物レンズのディスク半径方向の位置を検出するレンズ位置検出手段のレンズ位置信号に基づいて検出することを特徴とする請求項１に記載の光磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光磁気ディスクに情報を記録又は記録情報を再生する光磁気ディスク装置、特に、対物レンズのレンズチルト手段を有する光磁気ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図９は従来例の光磁気ディスク装置を示す図である。図９（ａ）は平面図、図９（ｂ）は側断面図である。図中３５は装置の構造上のベースとなるシャーシ、３６は情報記録媒体である光磁気ディスクである。また、３１は光磁気ディスク３６を回転駆動するスピンドルモータ、２１は光ピックアップ、２２は光ピックアップ２１を光磁気ディスク３６の半径方向に移送するリードスクリュー、２３はシークモータ、２４は光ピックアップ２１のガイドシャフトである。
【０００３】
また、３４は磁界発生部である磁極を有する磁気ヘッド、２８は磁気ヘッド３４を支持する磁気ヘッドユニットである。従来例においては、スピンドルモータ３１上に光磁気ディスク３６をチャッキングさせ、光磁気ディスク３６を回転させながら、光ピックアップ２１の対物レンズ３２からレーザ光を照射することで情報の記録及び再生を行う。なお、この光ピックアップ２１の駆動はシャーシ３５上に配置されたシークモータ２３（主にステッピングモータ）を駆動源としており、シークモータ２３のシャフトはそのまま一体となってリードスクリュー２２が形成されている。
【０００４】
次に、リードスクリュー２２の回転運動は光ピックアップ２１に設けられたラック（図示せず）によって直線運動に変換される。これにより、駆動源であるシークモータ２３の回転によるリードスクリュー２２の回転角に応じて光ピックアップ２１を半径方向に所定の距離だけ移動させる。例えば、ディスク再生時はディスク３６をスピンドルモータ３１によって所定の回転数に回転させ、ディスク３６のトラック上に書き込まれた情報を光ピックアップ２１で読み取りながら、ディスク３６の内周から外周まで自在に移動追従できるように、光ピックアップ２１をディスク３６の半径方向にシークモータ２３で間欠的に移送する。
【０００５】
光磁気ディスク記録媒体では、対物レンズから光ビームを集光照射し、記録媒体上に光スポットを形成し情報の記録再生を行う。よって、光スポットをディスク面上の所定の位置に保つことが必要である。そのため、アクチュエータ部（図示せず）に設けた対物レンズを光軸方向に移動させ、焦点合わせをするためのフォーカス制御（駆動方向をフォーカス方向とする）及び対物レンズの光軸と直交する方向（ディスク半径方向）にアクチュエータ部を移動させ、信号溝に追従させるためのトラッキング制御を行う。
【０００６】
しかしながら、対物レンズの光軸が記録媒体の情報記録面に対して適正な入射角で照射されないと、コマ収差の影響により光スポットの品位が劣化し、その結果として、再生時にはクロストークの増大、トラックオフセットの発生、信号品位の劣化といった問題が発生する。
【０００７】
このような問題の解決方法としては、対物レンズを主にディスク半径方向にチルトさせることで、入射角を調整するチルトサーボが一般的に用いられている。しかし、対物レンズをチルトさせると、チルトさせた方向において入射光の位置に対し、光スポットの位置がオフセットするという問題がある。
【０００８】
詳述すると、図１０に示すように入射光に対し対物レンズを角度θ傾けた場合、光軸は対物レンズの入射側の節点Ｋ１と、出射側（ディスク側）の節点Ｋ２を通るため、最終的に光スポットは距離αだけ節点Ｋ１からチルトさせた方向（仮にディスク半径方向とする）にオフセットすることになる。このため、仮にレンズ位置検出手段によって節点Ｋ１のディスク半径方向の位置を検出している場合には、光スポットと検出位置に相違が生じるのである。なお、節点Ｋ１とＫ２の距離をｈとすると、光スポットのオフセットαは式（１）の通りとなる。
【０００９】
α＝ｈ・ｓｉｎθ  …（１）
上記問題に対し、例えば、特開平１０−１６２３９４号公報（第一の従来技術）には、対物レンズのみを傾けた場合の光スポットのオフセットを除去する方法として、対物レンズの節点と回転中心を一致させる構成が提案されている（特許文献１参照）。また、特開平７−２０１０５６号公報（第二の従来技術）には、対物レンズと平行に対物レンズに入射する入射光も回転させた場合の光スポットのオフセットについての解決方法が示されている（特許文献２参照）。
【００１０】
第二の従来技術の概略を説明すると、ディスク半径方向の傾き制御信号を、トラッキング制御信号に加算した信号によりトラッキングを制御し、対物レンズをディスク半径方向に傾き制御した時に、傾き制御の回転中心がディスク焦点面になるようにトラッキング方向に対物レンズを移動させて、安定した再生信号を得るものである。
【００１１】
【特許文献１】
特開平１０−１６２３９４号公報
【特許文献２】
特開平７−２０１０５６号公報
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、第一の従来技術のように節点と回転中心を一致させる方法では、ディスク半径方向に駆動しつつ同方向にチルトさせる場合、複雑な構造になり装置が大型化してしまう。また、第二の従来技術のように入射光もチルトさせ、対物レンズに対しては一定の入射角で入射するように構成することで、図１０中の光スポットのオフセットは除去可能であるが、実際の構成上、光ピックアップ全体をチルトさせる必要があるため、装置の大型化、複雑化の問題が生じる。
【００１３】
更に、光磁気ディスク装置においては磁界発生部から磁界を印加し、発生した磁界の有効範囲内でレーザ光を照射することで、記録媒体に対し情報の記録を行う。よって、対物レンズのチルトによる光スポットのオフセット量を、トラッキング制御信号を用いて制御を行う場合には、光スポットが磁界の有効範囲内に存在するか否かの判断を行うことは出来ない。
【００１４】
このため、光スポットが磁界の有効範囲外に出てしまうと、満足な信号品位が得られないという問題が生じ、磁界の有効範囲は最大のチルトによる最大のオフセット量を含めて設定する必要があった。
【００１５】
しかし、近年においては記録情報の高密度化が要求されており、磁界変調の光磁気記録においては磁界を高速で反転させることが要求され、磁界発生部のインダクタンスの低下が必要不可欠である。このため、光スポットのディスク半径方向の位置を把握し、磁界の有効範囲内に配置するように動作させることで、先述したオフセット量を磁界発生部のディスクチルト方向の長さから除去でき、磁界発生部の面積を低減することが可能となり、磁界発生部のインダクタンスを低下することが可能であるが、先述のように磁界の有効範囲は最大チルトによる最大オフセット量を含めて設定しており、磁界発生部のインダクタンスを低下するには至っていなかった。
【００１６】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたもので、その目的は、確実に光スポットの磁界有効範囲からの外れを防止でき、磁界発生部のインダクタンスの低下を実現可能な光磁気ディスク装置を提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため、光磁気ディスクに磁界を印加する磁気ヘッドと、対物レンズを有し前記光磁気ディスクに光ビームを照射する光ピックアップと、前記光ピックアップを光磁気ディスクの半径方向に移送する手段と、前記光磁気ディスクのチルト量を検出するチルト検出手段と、検出されたチルト量に基づいて前記対物レンズの光軸が光磁気ディスク面に対して垂直となるようにチルトサーボを行う手段とを有する光磁気ディスク装置において、前記対物レンズの傾きに伴うディスク半径方向の変位量を検出する手段と、得られた変位量及び前記チルト検出手段によるチルト量に基づいてディスク半径方向の光スポット位置を算出する手段と、算出されたスポット位置に基づいて光磁気ディスク上の光スポットが前記磁気ヘッドの有効磁界範囲内に入るように前記移送手段を制御する手段とを備えたことを特徴とする。
【００１８】
本発明においては、光スポットの磁界有効範囲からの外れを確実に防止することが可能となり、オフセット分を含んだ場合と比較し、磁界発生部の面積を低減することが可能となる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。
【００２０】
（第１の実施形態）
図１は本発明による光磁気ディスク装置の第１の実施形態を示すブロック図である。図中１は装置を統括制御するコントローラであり、ＣＰＵ、メモリ等から構成され、各シーケンス制御の中枢を担っている。３は情報記録媒体である光磁気ディスク８に光ビームを照射し、光磁気ディスク８上に情報の記録或いは記録情報の再生を行う光ピックアップである。
【００２１】
２１は光磁気ディスク８を挟んで光ピックアップ３と対向配置された磁気ヘッドであり、光磁気ディスク８に記録磁界を印加する。磁気ヘッド２１は図示しない磁気ヘッド駆動回路により駆動され、光磁気ディスク８の光ビーム照射部位に記録信号に応じて変調された磁界を印加する。光磁気ディスク８はスピンドルモータ４の駆動により回転する。光ピックアップ３と磁気ヘッド２１はシークモータ５の駆動により光磁気ディスク２０の半径方向に移動する。
【００２２】
光ピックアップ３は記録／再生光源であるレーザ光源（図示せず）、レーザ光源からのレーザビームを集光して光磁気ディスク８上に照射する対物レンズ６、光磁気ディスク８からの反射光を検出する光検出器（図示せず）を含んでいる。また、光ピックアップ３には、対物レンズ６をディスク面に対し垂直方向（フォーカス方向）と、フォーカス方向と直交するディスク面と平行な半径方向（ディスク半径方向＝トラッキング方向）に駆動する駆動手段及び対物レンズ６をチルトするレンズチルト手段とを具備するアクチュエータ７を備えている。
【００２３】
更に、光ピックアップ３には、光磁気ディスク８のチルト（光磁気ディスク８面の対物レンズ６の光軸に対する傾き）を検出するチルトセンサ９、対物レンズ６のディスク半径方向の位置を検出するレンズ位置センサ１０が配設されている。レンズ位置センサ１０の構成については後述する。
【００２４】
サーボ／ＲＦ処理部２は光ピックアップ３に設けられた光検出器の出力信号の処理等を行い、フォーカス制御信号やトラッキング制御信号に基づいてフォーカス制御やトラッキング制御を行う。また、サーボ／ＲＦ処理部２はチルトセンサ９の出力信号に基づいて対物レンズ６の光軸がディスク面と垂直となるように対物レンズ６を傾けるチルトサーボを行う。
【００２５】
また、サーボ／ＲＦ処理部２はスピンドルモータドライバー２２、シークモータドライバー２３を制御し、スピンドルモータ４の回転制御、シークモータ５による光ピックアップ３と磁気ヘッド２１のシーク制御を行う。更に、光ピックアップドライバー２４は光ピックアップ３内のレーザ光源の駆動回路、アクチュエータ７の駆動回路等を含んでいるが、コントローラ１はサーボ／ＲＦ処理部２を介して光ピックアップドライバー２４の制御を行う。
【００２６】
次に、レンズ位置センサ１０の概略を図２を用いて詳述する。図２（ａ）は対物レンズ６付近のレンズ位置センサ１０を示す正面図、図２（ｂ）はその側面図、図２（ｃ）、（ｄ）は後述するフォトディテクター１４の受光面を示す。フォトディテクター１４は対物レンズ６の位置検出用である。なお、図２（ｃ）は対物レンズ６が可動範囲の中心に位置する状態を、図２（ｄ）は対物レンズ６が中心よりオフセットした状態を示す。
【００２７】
まず、図２（ａ）、（ｂ）に示すように対物レンズ６は対物レンズホルダ１１に固定されており、アクチュエータ７（図２には図示せず）の駆動によってディスク半径方向（矢印ａのトラッキング方向）と、フォーカス方向に移動可能である。
【００２８】
また、対物レンズホルダ１１のディスク半径方向の一側面には凸部１２が形成されている。凸部１２の側面には、図２（ｂ）に示すように四角形の光量制限用の窓部１２ａが形成されている。一方、光ピックアップ３のベース部（アクチュエータ７によって駆動されない部分）には、レーザダイオード（又は発光ダイオード等）１３と２分割のフォトディテクター１４が配置されている。レーザダイオード１３からの光ビームは窓部１２ａを通ってフォトディテクター１４に入射する。レーザダイオード１３も対物レンズ６の位置検出用である。
【００２９】
ここで、図２（ｃ）、（ｄ）に示すようにフォトディテクター１４の片側のディテクター部を１４ａ、他方を１４ｂとし、レーザダイオード１３から窓部１２ａを通過したフォトディテクター１４上の光ビームの光強度分布を１５として示す。この場合、ディテクター部１４ａ、１４ｂによって検出される光強度分布を各々１５ａ，１５ｂとすると、図２（ｃ）に示すように対物レンズ６が可動範囲の中心に位置する状態では、１５ａ＝１５ｂとなるように構成されている。
【００３０】
以上から、対物レンズ６がアクチュエータ７によってディスク半径方向に移動すると、凸部１２も同様にディスク半径方向に移動し、窓部１２ａも移動するため、図２（ｄ）に示すように光強度分布１５も移動し、ディテクター部１４ａと１４ｂによって検出される光強度分布１５ａと１５ｂの量に相違が現れる。よって、１５ａ−１５ｂを求めることで対物レンズ６のディスク半径方向の位置を示すレンズ位置信号を得ることが可能となる。
【００３１】
次に、問題となる光スポットのオフセットについて詳述する。図３（ａ）はチルト無しの状態の対物レンズ６付近を示す断面図、図３（ｂ）は光磁気ディスク８が角度θチルトした場合の断面図である。本実施形態では、図３（ａ）に示すようにレンズ位置センサ１０のレンズ位置信号を用いることで点Ａ（窓部１２ａの中心）の位置を測定している。
【００３２】
また、図３（ａ）の状態では、点Ａはアクチュエータ７のディスク半径方向の可動範囲中心線Ｏ上に位置しており、点Ａを通りディスク面と平行な線が対物レンズ６の中心線と交差する点をＢ、ディスク側の節点をＫ、線分ＡＢの距離をＭ、線分ＢＫの距離をｔとする。これは、実際に対物レンズ６の中心線上にレンズ位置検出手段を配設することが困難であり、測定点である点Ａと対物レンズの中心線上の点Ｂの間には一定距離Ｍを有することが一般的であるためである。
【００３３】
ここで、図３（ｂ）に示すようにレンズ位置信号によって検出された点Ａのディスク半径方向の変位をＬ（即ち、対物レンズ６が図３（ａ）に示すチルト無しの状態から図３（ｂ）に示すように傾いた場合の可動範囲中心Ｏからの変位量）とすると、光スポットのディスク半径方向の距離ｘ、即ち、図３（ｂ）に示すように可動範囲中心から光スポットまでの距離（Ｏ点からＫ点）Ｍと、図３（ａ）の可動範囲中心から光スポットまでの距離（Ｏ点からＫ点）Ｍ′の差は式（２）の通りとなる。これは、図３（ａ）の位置における光スポットの位置を零とし、図３（ｂ）の状態に変化した場合のディスク半径方向の光スポット位置を表す。θはチルトセンサ９によって検出されたチルト角度である。
【００３４】
ｘ＝ｔ・ｓｉｎθ＋Ｍ（ｃｏｓθ−１）＋Ｌ  …（２）
図４は本実施形態の動作を示すフローチャートである。まず、コントローラ１はサーボ／ＲＦ処理部２を制御し、フォーカスサーボ、トラッキングサーボを順次オンする（Ｓ４０１）。次いで、チルトセンサ９によって光磁気ディスク８のチルト量が検出され（Ｓ４０２）、サーボ／ＲＦ処理部２によるチルトサーボをオンし（Ｓ４０３）、チルト量θに基づいて対物レンズ６の光軸がディスク面に対して垂直となるようにチルトサーボを行う。
【００３５】
次に、レンズ位置センサ１０のレンズ位置信号から上述の変位量Ｌを求める（Ｓ４０４）。これは、図２（ｃ）、（ｄ）で説明したように１５ａ−１５ｂ＝０の場合が可動範囲中心であり、変位量Ｌは１５ａ−１５ｂに応じて変化するのであるから、その値によって変位量Ｌが分かる。
【００３６】
次いで、得られた変位量Ｌとチルトセンサ９によって検出されたチルト量θを用いて式（２）により光スポット位置ｘを算出する（Ｓ４０５）。また、光スポット位置ｘと磁界の有効範囲ｙ（磁気ヘッド２１のディスク半径方向における有効磁界範囲）を比較する（Ｓ４０６）。即ち、光スポット位置が磁気ヘッド２１の有効磁界範囲内に入っているかどうかを判断し、｜ｙ｜＜｜ｘ｜となった場合（光スポット位置が磁界有効範囲から外れた場合）には、｜ｙ｜＞｜ｘ｜となるようにシークモータ５を駆動する（Ｓ４０７）。そして、Ｓ４０６で｜ｙ｜＞｜ｘ｜になると、記録（再生）を開始する（Ｓ４０８）。このように対物レンズ６のチルトによる光スポットの磁界有効範囲外への外れを防止することが可能となる。
【００３７】
（第２の実施形態）
図５は本発明の第２の実施形態を示すブロック図である。図５では図１と同一部分は同一符号を付している。第２の実施形態では、第１の実施形態とは対物レンズの位置を検出する構成が異なっており、図５ではレンズ位置センサ１０が配置されていない点以外は図１と同様である。図５の構成はレンズ位置検出の方法が異なるだけであるので、詳しい説明は省略する。
【００３８】
次に、本実施形態のレンズ位置検出手段の概略を詳述する。本実施形態では、第１の実施形態のように特別なレンズ位置検出センサを設けることなく、光磁気ディスク８に設けられたミラー部分からの反射光を利用してレンズ位置信号を得ている。
【００３９】
図６は光ピックアップ３内の光学系を示す図である。記録再生用のレーザ光源１６から照射されたレーザ光はコリメータ１７によって平行光とされた後、偏光ビームスプリッタ１８を透過し、対物レンズ６によって光磁気ディスク８上に微小光スポットに集光される。光磁気ディスク８からの反射光は再度対物レンズ６を通り、偏光ビームスプリッタ１８で反射され、ニ分割フォトディテクター１９に入射する。フォトディテクター１９は再生用やサーボ用である。
【００４０】
図７は対物レンズ６、光磁気ディスク８、フォトディテクター１９を模式的に示す図である。図７（ａ）、（ｂ）は光磁気ディスク８が光ピックアップ３に対して平行な状態を、図７（ｃ）は対物レンズ６を入射側節点Ｋ１を中心に回転させた状態を示しており、点Ｋ１は入射側の節点、点Ｋ２は出射側（ディスク側）の節点、２０はフォトディテクター１９によって検出される反射光の光強度分布を示す。
【００４１】
このように光学系を配置することで、図７（ａ）に示すように反射光の光強度分布２０ａを得ることが可能となる。ここで、対物レンズ６が図７（ｂ）に示すように移動すると、光強度分布は２０ｂの様にピークが移動する。このため、ニ分割フォトディテクター１９のディテクター部１９ａと１９ｂの信号の差動を検出することでレンズ位置信号を得ることが可能となる。なお、このレンズ位置検出の詳細な方法は特許登録公報第０２６９８１０９号に準じている。
【００４２】
ここで、対物レンズ６を角度θチルトさせた場合の光スポットの入射側の節点Ｋ１に対するオフセットαは図１０及び式（１）を用いて先述した通りである。更に、本発明の様に対物レンズ６を光磁気ディスク８と平行にチルトさせる場合には、先述した光スポットのオフセットによる問題のみならず、以下に詳述する問題も発生する。
【００４３】
即ち、対物レンズ６がフォトディテクター１９に対してチルトすることで、光束の最外に位置する光は図７（ｃ）中の矢印ｂ、ｃのようにディスク面から反射する。これにより、矢印ｂの光はフォトディテクター１９の検出範囲外に入射してしまい、矢印ｃの光は光軸側に寄ることになる。このため、光強度分布２０ｃは図中に示す様に矢印ｃ側の光強度分布が図中のγ分光軸側に寄ってしまい、それに伴いピークも移動してしまう。
【００４４】
よって、図７（ａ）と比較した場合には、節点Ｋ１は移動していないにも拘わらず、フォトディテクター１９上の光強度分布２０ｃは図７（ｂ）の光強度分布２０ｂのように検出される。そのため、予めチルトに対するレンズ位置信号の補正値Ｌｃを制御パラメータとして設定しておき、測定されたチルトに応じて補正値Ｌｃを選択することで、先述した問題点を回避することが可能となる。
【００４５】
ここで、角度θチルトした場合のレンズ位置検出手段によって得られたアクチュエータ７のディスク半径方向の可動範囲中心から、入射側の節点Ｋ１までのディスク半径方向の変位量をＬ、即ち、第１の実施形態と同様に対物レンズ８の傾きに伴うディスク半径方向の変位量をＬとする。そして、式（１）を用いて光スポットのディスク半径方向の距離ｘ（可動範囲中心から光スポットまでの距離）を演算すると式（３）の通りとなる。このｘは第１の実施形態と同様に光スポットのディスク半径方向の位置を表す。なお、補正値Ｌｃは先述のように光磁気ディスクのチルト量に応じて設定されている。ｈは図１０で説明したように節点Ｋ１から節点Ｋ２までの距離である。
【００４６】
ｘ＝ｈ・ｓｉｎθ＋Ｌ＋Ｌｃ  …（３）
次に、本実施形態の動作を図８に示すフローチャートを用いて詳述する。まず、図４と同様にフォーカスサーボ、トラッキングサーボを順次オンし（Ｓ８０１）、チルトセンサ９で光磁気ディスク８のチルトを検出し（Ｓ８０２）、チルトサーボをオンする（Ｓ８０３）。
【００４７】
次いで、チルトセンサ９のチルト量に応じた補正値Ｌｃを選択し（Ｓ８０４）、上述のレンズ位置センサのレンズ位置信号から対物レンズ６の傾きに伴うディスク半径方向の変位量Ｌを検出する（Ｓ８０５）。また、得られた変位量Ｌと補正値Ｌｃを加算して補正後の節点Ｋ１までの距離Ｌｅ（＝Ｌ＋Ｌｃ）を算出する（Ｓ８０６）。その後、得られた距離Ｌｅとチルトセンサ９のチルト量θを用いて式（３）により光スポットの位置ｘを算出する（Ｓ８０７）。
【００４８】
次いで、第１の実施形態と同様に光スポット位置ｘが磁気ヘッド２１の有効磁界範囲ｙ内に入っているかどうかを判断し（Ｓ８０８）、｜ｙ｜＜｜ｘ｜となった場合（光スポット位置が磁界有効範囲から外れた場合）には、｜ｙ｜＞｜ｘ｜となるようにシークモータ５を駆動する（Ｓ８０９）。そして、Ｓ８０８で｜ｙ｜＞｜ｘ｜になると、記録（再生）を開始する（Ｓ８１０）。このように対物レンズ６のチルトによる光スポットの磁界有効範囲外への外れを防止することが可能となる。
【００４９】
なお、本実施形態では、説明の簡略化のため、対物レンズ６の回転中心を入射光側の節点Ｋ１に一致させたが、特にその位置に限定するものではなく、チルトに対する補正値Ｌｃを設定することで、その他の回転中心における構造においても対応可能である。
【００５０】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、磁気ヘッドによって発生した磁界有効範囲内から光スポットの外れを確実に防止することが可能となり、磁界発生部の面積を低減することが可能となる。従って、磁気ヘッドのインダクタンスを低減できるので、磁気ヘッドの磁界を高速で反転することができ、情報の高密度化に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光磁気ディスク装置の第１の実施形態を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態のレンズ位置検出手段を示す図である。
【図３】第１の実施形態の対物レンズの概略断面図である．
【図４】第１の実施形態の動作を示すフローチャート図である。
【図５】本発明の第２の実施形態を示すブロック図である。
【図６】第２の実施形態の光学系を示す概略図である。
【図７】第２の実施形態のレンズ位置検出手段を示す概略図である。
【図８】第２の実施形態の動作を示すフローチャート図である。
【図９】従来例の光磁気ディスク装置を示す概略図である。
【図１０】従来の課題を説明するための対物レンズの概略断面図である。
【符号の説明】
１  コントローラ
２  サーボ／ＲＦ処理部
３  光ピックアップ
４  スピンドルモータ
５  シークモータ
６  対物レンズ
７  アクチュエータ
８  光磁気ディスク
９    チルトセンサ
１０  レンズ位置センサ
１１  対物レンズホルダ
１２  凸部
１２ａ  四角形の窓部
１３  レンズ位置検出用レーザダイオード
１４  レンズ位置検出用フォトディテクター
１５  レンズ位置検出用フォトディテクターによる光強度分布
１６  レーザ光源
１７  コリメータレンズ
１８  偏光ビームスプリッタ
１９  ニ分割フォトディテクター
２０  光強度分布
２１  磁気ヘッド
２２  スピンドルモータドライバー
２３  シークモータドライバー
２４  光ピックアップドライバー
【図１】
2005011436.tif 000003
【図２】
2005011436.tif 000004
【図３】
2005011436.tif 000005
【図４】
2005011436.tif 000006
【図５】
2005011436.tif 000007
【図６】
2005011436.tif 000008
【図７】
2005011436.tif 000009
【図８】
2005011436.tif 000010
【図９】
2005011436.tif 000011
【図１０】
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