(57)【要約】【課題】  記録再生動作中に電気的オフセットを補正するにあたり、情報転送レートの低下を防止する光ディスク装置を提供する。【解決手段】  電気的オフセットの補正量を更新するに際し、光ディスク装置は、現在の電気的オフセットの検出値に基づいて更新を行うか、現在の電気的オフセットを検出せずに過去に検出した電気的オフセットの値に基づいて電気的オフセットを導出して、その値に基づいて更新を行う。これにより、光ディスク装置の記録再生動作を中断する頻度を下げることができる。【選択図】図１
2005122868.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
光を放射する光源と、
前記光を収束させるレンズと、
前記光ディスクで反射された前記光を検出して再生信号を出力する光検出器と、
前記再生信号および所定の基準信号の一方を出力する少なくとも１つの遮断部と、
前記遮断部の出力信号に基づいてサーボ信号を生成するサーボ信号生成部と、
前記サーボ信号生成部の電気回路に起因して発生する前記サーボ信号生成部の第１オフセットを検出するオフセット検出部であって、前記基準信号が出力されているときの前記サーボ信号生成部の出力値を前記第１オフセットの値として検出するオフセット検出部と、
検出された複数の第１オフセットの値を記憶する記憶部と、
現在の第１オフセットの値および第２オフセットの値の一方を補正値として出力する計算部であって、記憶された前記複数の第１オフセットの値の変化率に基づいて前記第２オフセットを導出する計算部と、
前記補正値に基づいて前記サーボ信号を補正する補正部と
を備えた光ディスク装置。
【請求項２】
前記サーボ信号生成部の温度を測定するセンサと、
測定された前記温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部と
をさらに備え、前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示し、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記オフセット検出部は現在の第１オフセットを検出し、前記補正部は前記現在の第１オフセットの値を補正値として出力する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記サーボ信号生成部の温度を測定するセンサと、
測定された前記温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部と
をさらに備え、前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示せず、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記計算部は前記第２オフセットを導出する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記サーボ信号生成部の温度を測定するセンサと、
測定された前記温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部と
をさらに備え、前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示せず、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示しないとき、前記補正部は現在の補正値に基づいて前記サーボ信号を補正する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記再生信号の遮断の要否を指示する前記遮断信号を生成する検出制御部をさらに備え、
前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示するとき、前記検出制御部は前記再生信号の遮断を指示する遮断信号を生成し、
前記遮断信号に基づいて、前記遮断部は前記再生信号を遮断して所定の基準信号を出力する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記再生信号の遮断の要否を指示する前記遮断信号を生成する検出制御部をさらに備え、
前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示するとき、前記検出制御部は前記再生信号の遮断を指示する遮断信号を生成し、
前記遮断信号に基づいて前記光源は発光を停止する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
制御信号に基づいて前記光ディスクの半径方向および前記光ディスクに垂直な方向の少なくとも一方に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、
前記検出信号に基づいて前記制御信号を生成する制御信号生成部と
をさらに備え、
前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示するとき、前記制御信号生成部は前記制御信号の値をホールドする、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記再生信号を増幅して出力する増幅部をさらに備え、
前記少なくとも１つの遮断部は、第１遮断部および第２遮断部を有しており、前記第１遮断部は、第１遮断信号に基づいて前記再生信号および所定の第１基準信号の一方を前記増幅部に出力し、第２遮断部は、第２遮断信号に基づいて前記増幅部の出力信号および所定の第２基準信号の一方を前記サーボ信号生成部に出力し、
前記オフセット検出部は、前記遮断部から前記第１基準信号が出力されているときの前記増幅部の出力値を、前記増幅部の電気回路に起因して発生する前記増幅部の第３オフセットの値としてさらに検出し、
前記記憶部は、検出された複数の第３オフセットの値をさらに記憶し、
前記計算部は、現在の第３オフセットの値および第４オフセットの値の一方を補正値として出力し、前記第４オフセットの値を出力するときは、記憶された前記複数の第３オフセットの値の変化率に基づいて前記第４オフセットの値を導出する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記増幅部の温度を測定する第１センサと、
前記サーボ信号生成部の温度を測定する第２センサと、
測定された前記増幅部の温度および前記サーボ信号生成部の温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて、前記第１オフセットおよび前記第３オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部と
をさらに備え、前記検出信号が前記第３オフセットの検出を指示し、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記オフセット検出部は現在の第３オフセットを検出し、前記補正部は前記現在の第３オフセットを補正値として出力する、請求項８に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記光ディスクへのデータの書き込み時、および、前記光ディスクからのデータの読み出し時のそれぞれにおいて、
前記オフセット検出部は第１オフセットを検出し、前記記憶部は前記複数の第１オフセットの値を記憶し、前記計算部は前記補正値を出力する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記サーボ信号は、トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号の少なくとも一方である、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記判断部は、測定された前記温度の変化量が所定の閾値を超えると、前記補正値の更新を指示する更新信号を生成する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記経過時間を測定する時間測定部をさらに備え、
前記判断部は、測定された前記時間が所定の閾値を超えると、前記補正値の更新を指示する更新信号を生成する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記データを記憶するバッファをさらに備え、
前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記判断部は、前記バッファ内の情報量に基づいて、前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
測定された前記温度の値を複数記憶する温度記憶部をさらに備え、
前記計算部は、前記温度記憶部に記憶された前記温度値、および、前記複数の第１オフセットの値に基づいて、前記第２オフセットの値を導出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記温度記憶部は、前記第１オフセットの各値が前記記憶部に記憶されるタイミングで前記温度値を記憶し、
前記計算部は、前記温度記憶部に記憶された前記温度値のうち現在の温度値に最も近い２つの温度値を特定して、特定された温度値と同じタイミングで前記記憶部に記憶された前記第１オフセットの値に基づいて、前記第２オフセットの値を導出する、請求項１５に記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置を制御する方法であって、
光を放射するステップと、
前記光を収束させるステップと、
前記光ディスクで反射された前記光を検出して再生信号を出力するステップと、
前記再生信号および所定の基準信号の一方を出力信号として出力するステップと、
前記出力信号に基づいてサーボ信号を生成するステップと、
前記サーボ信号に重畳された第１オフセットを検出するステップであって、前記基準信号に対して生成された前記サーボ信号を、前記第１オフセットとして検出するステップと、
検出された複数の第１オフセットの値を記憶するステップと、
現在の第１オフセットの値および第２オフセットの値の一方を補正値として出力するステップであって、記憶された前記複数の第１オフセットの値の変化率に基づいて前記第２オフセットの値を導出するステップと、
前記補正値に基づいて前記サーボ信号を補正するステップと
を包含する制御方法。
【請求項１８】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
光を放射する光源、前記光を収束させるレンズおよび光を検出して再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、
制御信号に基づいて前記情報記録層に実質的に垂直な方向に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、
前記制御信号を生成する制御信号生成部であって、前記光ディスクからの反射光を受光しない位置まで前記レンズを移動させる指示を含む前記制御信号を生成する制御信号生成部と、
前記再生信号に基づいて、第１トラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部と、
前記ＴＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、
前記電気的オフセットに基づいて、前記第１トラッキングエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２トラッキングエラー信号を生成するオフセット補正部と、
前記第２トラッキングエラー信号に基づいて前記光ヘッド内において乱反射した光に対応する迷光信号を検出して、前記再生信号から前記迷光信号を除去する迷光調整部と
を備えた光ディスク装置。
【請求項１９】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
光を放射する光源、前記光を前記光ディスク上に収束させるレンズおよび前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、
前記第１再生信号に基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するレベル調整部と、
前記第２再生信号に基づいて、第１トラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部であって、そのダイナミックレンジが前記所定範囲であるＴＥ信号生成部と、
前記ＴＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、
前記電気的オフセットに基づいて、前記第１トラッキングエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２トラッキングエラー信号を生成するオフセット補正部と、
前記第２トラッキングエラー信号に基づいて制御信号を生成する制御信号生成部と、
前記制御信号に基づいて前記トラックを横切る方向に前記レンズを駆動して、前記光が収束する位置を前記トラック上に位置させるレンズ駆動部と
を備えた光ディスク装置。
【請求項２０】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置を制御する方法であって、
光を放射するステップと、
前記光を前記光ディスク上に収束させるステップと、
前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力するステップと、
前記第１再生信号に基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するステップと、
前記第２再生信号に基づいて、第１トラッキングエラー信号を生成するステップと、
前記第１トラッキングエラー信号を生成する際に発生し、前記第１トラッキングエラー信号に重畳されている電気的オフセットの値を検出するステップと、
前記電気的オフセットの値に基づいて、前記第１トラッキングエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２トラッキングエラー信号を生成するステップと
前記第２トラッキングエラー信号に基づいて制御信号を生成するステップと、
前記制御信号に基づいて前記光が収束する位置を前記トラック上に位置させるステップと
を備えた光ディスク装置の制御方法。
【請求項２１】
前記電気的オフセットを検出するステップを所定の間隔で複数回行うステップと、
前記電気的オフセットの各値を記憶するステップと、
前記電気的オフセットの少なくとも２つの値に基づいて、前記電気的オフセットの検出後に前記第１トラッキングエラー信号に重畳される電気的オフセットの値を推定するステップとを包含し、
前記第２トラッキングエラー信号を生成するステップは、推定された前記電気的オフセットの値に基づいて、前記第２トラッキングエラー信号を生成する、請求項２０に記載の制御方法。
【請求項２２】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
光を放射する光源、前記光を収束させるレンズおよび光を検出して再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、
制御信号に基づいて前記情報記録層に実質的に垂直な方向に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、
前記制御信号を生成する制御信号生成部であって、前記光ディスクからの反射光を受光しない位置まで前記レンズを移動させる指示を含む前記制御信号を生成する制御信号生成部と、
前記再生信号に基づいて、第１フォーカスエラー信号を生成するＦＥ信号生成部と、
前記ＦＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、
前記電気的オフセットに基づいて、前記第１フォーカスエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２フォーカスエラー信号を生成するオフセット補正部と、
前記第２フォーカスエラー信号に基づいて前記光ヘッド内において乱反射した光に対応する迷光信号を検出して、前記再生信号から前記迷光信号を除去する迷光調整部と
を備えた光ディスク装置。
【請求項２３】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
光を放射する光源、前記光を前記光ディスク上に収束させるレンズおよび前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、
前記第１再生信号に基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するレベル調整部と、
前記第２再生信号に基づいて、前記光ディスクに垂直な方向における前記光の焦点位置と前記情報記録層との位置関係を示す第１フォーカスエラー信号を生成するＦＥ信号生成部であって、そのダイナミックレンジが前記所定範囲であるＦＥ信号生成部と、
前記ＦＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、
前記電気的オフセットに基づいて、前記第１フォーカスエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２フォーカスエラー信号を生成するオフセット補正部と、
前記第２フォーカスエラー信号に基づいて制御信号を生成する制御信号生成部と、
前記制御信号に基づいて前記光ディスクに垂直な方向に前記レンズを駆動して、前記光が収束する位置を前記情報記録層上に位置させるレンズ駆動部と
を備えた光ディスク装置。
【請求項２４】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置を制御する方法であって、
光を放射するステップと、
前記光を前記光ディスク上に収束させるステップと、
前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力するステップと、
前記第１再生信号のレベルに基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するステップと、
前記第２再生信号に基づいて、第１フォーカスエラー信号を生成するステップと、
前記第１フォーカスエラー信号を生成する際に発生し、前記第１フォーカスエラー信号に重畳されている電気的オフセットの値を検出するステップと、
前記電気的オフセットの値に基づいて、前記第１フォーカスエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２フォーカスエラー信号を生成するステップと
前記第２フォーカスエラー信号に基づいて制御信号を生成するステップと、
前記制御信号に基づいて前記光が収束する位置を前記情報記録層上に位置させるステップと
を備えた光ディスク装置の制御方法。
【請求項２５】
前記電気的オフセットを検出するステップを所定の間隔で複数回行うステップと、
前記電気的オフセットの各値を記憶するステップと、
前記電気的オフセットの少なくとも２つの値に基づいて、前記電気的オフセットの検出後に前記第１フォーカスエラー信号に重畳される電気的オフセットの値を推定するステップとを包含し、
前記第２フォーカスエラー信号を生成するステップは、推定された前記電気的オフセットの値に基づいて前記第２フォーカスエラー信号を生成する、請求項２４に記載の制御方法。
【請求項２６】
情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
光を放射する光源、前記光を収束させるレンズおよび光を検出して第１再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、
制御信号に基づいて前記情報記録層に実質的に垂直な方向に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、
前記制御信号を生成する制御信号生成部であって、前記光ディスクからの反射光を受光しない位置まで前記レンズを移動させる指示を含む第１制御信号、および、前記光ディスクからの反射光を受光する位置まで前記レンズを移動させる指示を含む第２制御信号を生成する制御信号生成部と、
前記第１制御信号に基づいて前記レンズ駆動部が動作している間に、前記第１再生信号に基づいて前記光ヘッド内において乱反射した光に対応する迷光信号を検出して、検出された前記迷光信号のレベルに対応する補正値を保持する迷光調整部と、
前記第２制御信号に基づいて前記レンズ駆動部が動作している間に、前記第１再生信号のレベルに基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するレベル調整部と、
前記第２再生信号に基づいて、前記光の焦点位置と前記光ディスクとの位置関係を示す第１サーボ信号を生成する信号生成部であって、そのダイナミックレンジが前記所定範囲である信号生成部と、
前記信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、
前記電気的オフセットに基づいて、前記第１サーボ信号から前記電気的オフセットを除去した第２サーボ信号を生成するオフセット補正部と
を備え、前記迷光調整部は前記補正値に基づいて前記第２サーボ信号を補正する、光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置の電気回路中に発生する電気的オフセット等を補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置がデータの書き込みおよび／または読み出しを行う際、光ディスク装置は光ディスクのトラックにレーザ光を照射してレーザスポットを形成し、その反射光をフォトディテクタで受光して電気信号に変換している。レーザ光の照射位置を光ディスクの情報記録層および層上のトラックに正確に追従させるため、光ディスク装置は、その電気信号に基づいて追従残差を示すサーボ信号（トラッキングエラー信号またはフォーカスエラー信号等）を生成し、照射位置のフィードバック制御を行っている。
【０００３】
サーボ信号の生成回路には多数の増幅器（アンプ）が含まれている。アンプには完全に防ぐことが困難な電気的オフセットが存在するため、生成されるサーボ信号にはこのような電気的オフセットが重畳される。このようなサーボ信号を用いてレーザ光の照射位置を制御すると、追従残差が発生して記録再生性能が悪化する。よって、従来の光ディスク装置は、データの書き込みおよび／または読み出しを行う前に電気的オフセットを予め補正するという対策を採用している。
【０００４】
さらに、特許文献１に記載の光ディスク装置は、データの書き込みおよび／または読み出し中にも電気的オフセットを補正している。その理由は、電気的オフセットは回路の周囲温度によって変化する特性を持っており、その変化に応じて適切な補正を行う必要があるためである。
【０００５】
図２５は、従来の光ディスク装置２５０の機能ブロックの構成を示す。光ディスク装置２５０は以下のように動作する。すなわち、レーザダイオード２００２がレーザ発光を行ってレーザ光を放射すると、レーザ光はコリメートレンズ２００３において平行光に変換され、ビームスプリッタ２００４を通過して対物レンズ２００５に至る。対物レンズ２００５は、平行光を集光して光ディスク２００１の情報記録層上にレーザスポットを形成するとともに、情報記録層において反射された光（反射光）を平行光に変換する。ビームスプリッタ２００４は、対物レンズ２００５からの反射光を、受光量検出部２００６に方向付ける。受光量検出部２００６は、その平行光を受けとり、受光量に比例した光量信号を生成して出力する。ＴＥ信号生成部２００７は、その光量信号に基づいて、レーザ光の照射位置と光ディスク２００１の記録トラック中心とのずれを示すトラッキングエラー（Tracking Error；ＴＥ）信号を生成して出力する。
【０００６】
一方、ヘッダ検出部２０１３が、光量信号に基づいて、プリピットとして光ディスク２００１のセクタごとに予め記録されたヘッダを検出し、ヘッダ再生信号を生成すると、検出制御部２００８は、トラッキング信号のホールド、レーザの非発光制御およびＴＥ信号のオフセット検出を行い、その後、レーザ発光およびトラッキング信号のホールド解除を行う。検出制御部２００８は、これらの制御を行うための各種の制御信号を生成する。具体的には、検出制御部２００８はそのヘッダ再生信号に基づいて、制御信号生成部２００９を制御するホールド信号、およびレーザダイオード２００２のレーザ発光を制御する遮断信号、およびオフセット検出部２０１０を制御する検出制御信号を出力する。検出制御部２００８が出力するホールド信号がホールドを指示するとき、制御信号生成部２００９はトラッキング制御信号をホールドする。遮断信号がレーザ発光停止を指示するときは、レーザダイオード２００２はレーザを非発光状態にする。検出制御信号がオフセット検出を指示するときは、オフセット検出部２０１０はＴＥ信号のオフセットを検出する。
【０００７】
オフセット検出部２０１０は、検出制御信号がオフセット検出を指示に基づいて、ＴＥ信号に重畳された電気的オフセットのオフセット量を検出し、オフセット補正部２０１１はそのオフセット量に基づいて、補正量を表すオフセット補正信号を生成する。トラッキング制御部２００９は計算された補正信号によってＴＥ信号のオフセットを補正する。
【０００８】
制御信号生成部２００９は、オフセット補正信号に基づいてＴＥ信号を補正するとともに、そのＴＥ信号に応じてレーザ光の照射位置を光ディスク２００１の記録トラックに追従させるためのトラッキング制御信号を出力する。レンズ駆動回路２０１２は、トラッキング制御信号に応じて、対物レンズ２００５の位置を変化させる。
【０００９】
光ディスク装置２５０は、データの読み出し動作中、ヘッダが検出されるごとにＴＥ信号の電気的オフセットを補正している。これは、書き込み動作中でも同様である。
【特許文献１】特開平５−６２２２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従来の光ディスク装置では、データの読み出しおよび書き込み動作中であっても、一旦レーザを非発光状態にして電気的オフセットを補正するため、その間は光ディスクに対するデータの書き込みおよび読み出しを中断しなければならない。これでは、再生時には光ディスク装置からホストコンピュータ等への転送レートが低下し、記録時にはホストコンピュータ等から光ディスク装置への転送レートが低下して、必要な転送レートの確保が困難になる。特に、光ディスクにテレビ番組等を録画し、同時に再生することも可能な光ディスク装置では、データの書き込みおよび読み出しを交互にかつ途切れることなく行う必要があるため、従来よりも高い転送レートを確保しなければならない。
【００１１】
さらに、近年の光ディスクの大容量化に伴って光ディスクの記録密度は高くなっており、より高いサーボ精度が要求されている。その結果、光ディスク装置は頻繁に電気的オフセットの補正を行う必要がある。これでは、データの書き込みおよび読み出しを中断する時間はさらに長くなってしまい、高い転送レートを確保することがより困難になる。
【００１２】
なお、光ディスク装置のバッファメモリの容量を増大すると、上述の問題は緩和され得るが、光ディスク装置のコストアップをもたらすため得策ではない。
【００１３】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、転送レートを落とすことなく電気的オフセットを補正する技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明による光ディスク装置は、情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う。光ディスク装置は、光を放射する光源と、前記光を収束させるレンズと、前記光ディスクで反射された前記光を検出して再生信号を出力する光検出器と、前記再生信号および所定の基準信号の一方を出力する少なくとも１つの遮断部と、前記遮断部の出力信号に基づいてサーボ信号を生成するサーボ信号生成部と、前記サーボ信号生成部の電気回路に起因して発生する前記サーボ信号生成部の第１オフセットを検出するオフセット検出部であって、前記基準信号が出力されているときの前記サーボ信号生成部の出力値を前記第１オフセットの値として検出するオフセット検出部と、検出された複数の第１オフセットの値を記憶する記憶部と、現在の第１オフセットの値および第２オフセットの値の一方を補正値として出力する計算部であって、記憶された前記複数の第１オフセットの値の変化率に基づいて前記第２オフセットを導出する計算部と、前記補正値に基づいて前記サーボ信号を補正する補正部とを備えている。
【００１５】
光ディスク装置は、前記サーボ信号生成部の温度を測定するセンサと、測定された前記温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部とをさらに備えていてもよい。前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示し、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記オフセット検出部は現在の第１オフセットを検出し、前記補正部は前記現在の第１オフセットの値を補正値として出力する。
【００１６】
光ディスク装置は、前記サーボ信号生成部の温度を測定するセンサと、測定された前記温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部とをさらに備えている。前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示せず、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記計算部は前記第２オフセットを導出してもよい。
【００１７】
光ディスク装置は、前記サーボ信号生成部の温度を測定するセンサと、測定された前記温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部とをさらに備えている。前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示せず、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示しないとき、前記補正部は現在の補正値に基づいて前記第１サーボ信号を補正してもよい。
【００１８】
光ディスク装置は、前記再生信号の遮断の要否を指示する前記遮断信号を生成する検出制御部をさらに備えている。前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示するとき、前記検出制御部は前記再生信号の遮断を指示する遮断信号を生成し、前記遮断信号に基づいて、前記遮断部は前記再生信号を遮断して所定の基準信号を出力してもよい。
【００１９】
光ディスク装置は、前記再生信号の遮断の要否を指示する前記遮断信号を生成する検出制御部をさらに備えている。前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示するとき、前記検出制御部は前記再生信号の遮断を指示する遮断信号を生成し、前記遮断信号に基づいて前記光源は発光を停止してもよい。
【００２０】
光ディスク装置は、制御信号に基づいて前記光ディスクの半径方向および前記光ディスクに垂直な方向の少なくとも一方に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、前記検出信号に基づいて前記制御信号を生成する制御信号生成部とをさらに備えている。前記検出信号が前記第１オフセットの検出を指示するとき、前記制御信号生成部は前記制御信号の値をホールドしてもよい。
【００２１】
光ディスク装置は、前記再生信号を増幅して出力する増幅部をさらに備えている。前記少なくとも１つの遮断部は、第１遮断部および第２遮断部を有しており、前記第１遮断部は、第１遮断信号に基づいて前記再生信号および所定の第１基準信号の一方を前記増幅部に出力し、第２遮断部は、第２遮断信号に基づいて前記増幅部の出力信号および所定の第２基準信号の一方を前記サーボ信号生成部に出力し、前記オフセット検出部は、前記遮断部から前記第１基準信号が出力されているときの前記増幅部の出力値を、前記増幅部の電気回路に起因して発生する前記増幅部の第３オフセットの値としてさらに検出し、前記記憶部は、検出された複数の第３オフセットの値をさらに記憶し、前記計算部は、現在の第３オフセットの値および第４オフセットの値の一方を補正値として出力し、前記第４オフセットの値を出力するときは、記憶された前記複数の第３オフセットの値の変化率に基づいて前記第４オフセットの値を導出してもよい。
【００２２】
光ディスク装置は、前記増幅部の温度を測定する第１センサと、前記サーボ信号生成部の温度を測定する第２センサと、測定された前記増幅部の温度および前記サーボ信号生成部の温度に基づいて前記補正値の更新の要否を指示する更新信号を生成し、かつ、前記補正値の最後の更新時からの経過時間に基づいて、前記第１オフセットおよび前記第３オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成する判断部とをさらに備えている。前記検出信号が前記第３オフセットの検出を指示し、かつ、前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記オフセット検出部は現在の第３オフセットを検出し、前記補正部は前記現在の第３オフセットを補正値として出力してもよい。
【００２３】
前記光ディスクへのデータの書き込み時、および、前記光ディスクからのデータの読み出し時のそれぞれにおいて、前記オフセット検出部は第１オフセットを検出し、前記記憶部は前記複数の第１オフセットの値を記憶し、前記計算部は前記補正値を出力してもよい。
【００２４】
前記サーボ信号は、トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号の少なくとも一方であってよい。
【００２５】
前記判断部は、測定された前記温度の変化量が所定の閾値を超えると、前記補正値の更新を指示する更新信号を生成してもよい。
【００２６】
光ディスク装置は、前記経過時間を測定する時間測定部をさらに備え、前記判断部は、測定された前記時間が所定の閾値を超えると、前記補正値の更新を指示する更新信号を生成してもよい。
【００２７】
光ディスク装置は前記データを記憶するバッファをさらに備えている。前記更新信号が前記補正値の更新を指示するとき、前記判断部は、前記バッファ内の情報量に基づいて、前記第１オフセットの検出の要否を示す検出信号を生成してもよい。
【００２８】
光ディスク装置は、測定された前記温度の値を複数記憶する温度記憶部をさらに備えている。前記計算部は、前記温度記憶部に記憶された前記温度値、および、前記複数の第１オフセットの値に基づいて、前記第２オフセットの値を導出してもよい。
【００２９】
前記温度記憶部は、前記第１オフセットの各値が前記記憶部に記憶されるタイミングで前記温度値を記憶し、前記計算部は、前記温度記憶部に記憶された前記温度値のうち現在の温度値に最も近い２つの温度値を特定して、特定された温度値と同じタイミングで前記記憶部に記憶された前記第１オフセットの値に基づいて、前記第２オフセットの値を導出してもよい。
【００３０】
本発明による光ディスク装置の制御方法は、光を放射するステップと、前記光を収束させるステップと、前記光ディスクで反射された前記光を検出して再生信号を出力するステップと、前記再生信号および所定の基準信号の一方を出力信号として出力するステップと、前記出力信号に基づいてサーボ信号を生成するステップと、前記サーボ信号に重畳された第１オフセットを検出するステップであって、前記基準信号に対して生成された前記サーボ信号を、前記第１オフセットとして検出するステップと、検出された複数の第１オフセットの値を記憶するステップと、現在の第１オフセットの値および第２オフセットの値の一方を補正値として出力するステップであって、記憶された前記複数の第１オフセットの値の変化率に基づいて前記第２オフセットの値を導出するステップと、前記補正値に基づいて前記第１サーボ信号を補正するステップとを包含する。
【００３１】
本発明による光ディスク装置は、情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う。光ディスク装置は、光を放射する光源、前記光を収束させるレンズおよび光を検出して再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、制御信号に基づいて前記情報記録層に実質的に垂直な方向に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、前記制御信号を生成する制御信号生成部であって、前記光ディスクからの反射光を受光しない位置まで前記レンズを移動させる指示を含む前記制御信号を生成する制御信号生成部と、前記再生信号に基づいて、第１トラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部と、前記ＴＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、前記電気的オフセットに基づいて、前記第１トラッキングエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２トラッキングエラー信号を生成するオフセット補正部と、前記第２トラッキングエラー信号に基づいて前記光ヘッド内において乱反射した光に対応する迷光信号を検出して、前記再生信号から前記迷光信号を除去する迷光調整部とを備えている。
【００３２】
本発明による光ディスク装置は、情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う。光ディスク装置は、光を放射する光源、前記光を前記光ディスク上に収束させるレンズおよび前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、前記第１再生信号に基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するレベル調整部と、前記第２再生信号に基づいて、第１トラッキングエラー信号を生成するＴＥ信号生成部であって、そのダイナミックレンジが前記所定範囲であるＴＥ信号生成部と、前記ＴＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、前記電気的オフセットに基づいて、前記第１トラッキングエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２トラッキングエラー信号を生成するオフセット補正部と、前記第２トラッキングエラー信号に基づいて制御信号を生成する制御信号生成部と、前記制御信号に基づいて前記トラックを横切る方向に前記レンズを駆動して、前記光が収束する位置を前記トラック上に位置させるレンズ駆動部とを備えている。
【００３３】
本発明による光ディスク装置の制御方法は、光を放射するステップと、前記光を前記光ディスク上に収束させるステップと、前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力するステップと、前記第１再生信号に基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するステップと、前記第２再生信号に基づいて、第１トラッキングエラー信号を生成するステップと、前記第１トラッキングエラー信号を生成する際に発生し、前記第１トラッキングエラー信号に重畳されている電気的オフセットの値を検出するステップと、前記電気的オフセットの値に基づいて、前記第１トラッキングエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２トラッキングエラー信号を生成するステップと、前記第２トラッキングエラー信号に基づいて制御信号を生成するステップと、前記制御信号に基づいて前記光が収束する位置を前記トラック上に位置させるステップとを備えている。
【００３４】
制御方法は、前記電気的オフセットを検出するステップを所定の間隔で複数回行うステップと、前記電気的オフセットの各値を記憶するステップと、前記電気的オフセットの少なくとも２つの値に基づいて、前記電気的オフセットの検出後に前記第１トラッキングエラー信号に重畳される電気的オフセットの値を推定するステップとを包含する。前記第２トラッキングエラー信号を生成するステップは、推定された前記電気的オフセットの値に基づいて、前記第２トラッキングエラー信号を生成してもよい。
【００３５】
本発明による光ディスク装置は、情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う。光ディスク装置は、光を放射する光源、前記光を収束させるレンズおよび光を検出して再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、制御信号に基づいて前記情報記録層に実質的に垂直な方向に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、前記制御信号を生成する制御信号生成部であって、前記光ディスクからの反射光を受光しない位置まで前記レンズを移動させる指示を含む前記制御信号を生成する制御信号生成部と、前記再生信号に基づいて、第１フォーカスエラー信号を生成するＦＥ信号生成部と、前記ＦＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、前記電気的オフセットに基づいて、前記第１フォーカスエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２フォーカスエラー信号を生成するオフセット補正部と、前記第２フォーカスエラー信号に基づいて前記光ヘッド内において乱反射した光に対応する迷光信号を検出して、前記再生信号から前記迷光信号を除去する迷光調整部とを備えている。
【００３６】
本発明による光ディスク装置は、情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う。光ディスク装置は、光を放射する光源、前記光を前記光ディスク上に収束させるレンズおよび前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、前記第１再生信号に基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するレベル調整部と、前記第２再生信号に基づいて、前記光ディスクに垂直な方向における前記光の焦点位置と前記情報記録層との位置関係を示す第１フォーカスエラー信号を生成するＦＥ信号生成部であって、そのダイナミックレンジが前記所定範囲であるＦＥ信号生成部と、前記ＦＥ信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、前記電気的オフセットに基づいて、前記第１フォーカスエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２フォーカスエラー信号を生成するオフセット補正部と、前記第２フォーカスエラー信号に基づいて制御信号を生成する制御信号生成部と、前記制御信号に基づいて前記光ディスクに垂直な方向に前記レンズを駆動して、前記光が収束する位置を前記情報記録層上に位置させるレンズ駆動部とを備えている。
【００３７】
本発明による光ディスク装置の制御方法は、光を放射するステップと、前記光を前記光ディスク上に収束させるステップと、前記光ディスクからの反射光を検出して第１再生信号を出力するステップと、前記第１再生信号のレベルに基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するステップと、前記第２再生信号に基づいて、第１フォーカスエラー信号を生成するステップと、前記第１フォーカスエラー信号を生成する際に発生し、前記第１フォーカスエラー信号に重畳されている電気的オフセットの値を検出するステップと、前記電気的オフセットの値に基づいて、前記第１フォーカスエラー信号から前記電気的オフセットを除去した第２フォーカスエラー信号を生成するステップと前記第２フォーカスエラー信号に基づいて制御信号を生成するステップと、前記制御信号に基づいて前記光が収束する位置を前記情報記録層上に位置させるステップとを備えている。
【００３８】
制御方法は、前記電気的オフセットを検出するステップを所定の間隔で複数回行うステップと、前記電気的オフセットの各値を記憶するステップと、前記電気的オフセットの少なくとも２つの値に基づいて、前記電気的オフセットの検出後に前記第１フォーカスエラー信号に重畳される電気的オフセットの値を推定するステップとを包含する。前記第２フォーカスエラー信号を生成するステップは、推定された前記電気的オフセットの値に基づいて前記第２フォーカスエラー信号を生成してもよい。
【００３９】
本発明による光ディスク装置は、情報記録層を有する光ディスクに対してデータの書き込みおよび読み出しの少なくとも一方を行う。光ディスク装置は、光を放射する光源、前記光を収束させるレンズおよび光を検出して第１再生信号を出力する光検出器を有する光ヘッドと、制御信号に基づいて前記情報記録層に実質的に垂直な方向に前記レンズの位置を変化させるレンズ駆動部と、前記制御信号を生成する制御信号生成部であって、前記光ディスクからの反射光を受光しない位置まで前記レンズを移動させる指示を含む第１制御信号、および、前記光ディスクからの反射光を受光する位置まで前記レンズを移動させる指示を含む第２制御信号を生成する制御信号生成部と、前記第１制御信号に基づいて前記レンズ駆動部が動作している間に、前記第１再生信号に基づいて前記光ヘッド内において乱反射した光に対応する迷光信号を検出して、検出された前記迷光信号のレベルに対応する補正値を保持する迷光調整部と、前記第２制御信号に基づいて前記レンズ駆動部が動作している間に、前記第１再生信号のレベルに基づいて、所定範囲内のレベルを有する第２再生信号を生成するレベル調整部と、前記第２再生信号に基づいて、前記光の焦点位置と前記光ディスクとの位置関係を示す第１サーボ信号を生成する信号生成部であって、そのダイナミックレンジが前記所定範囲である信号生成部と、前記信号生成部において発生する電気的オフセットを検出するオフセット検出部と、前記電気的オフセットに基づいて、前記第１サーボ信号から前記電気的オフセットを除去した第２サーボ信号を生成するオフセット補正部とを備えている。前記迷光調整部は前記補正値に基づいて前記第２サーボ信号を補正する。
【発明の効果】
【００４０】
本発明の光ディスク装置は、サーボ制御中に、サーボ制御をホールドして電気的オフセットを検出することによって、または、ホールドしないで電気的オフセットを導出することによって補正値を更新し、電気的オフセットを補正する。これにより、光ディスク装置がデータの書き込みおよび読み出しを中断する時間を短くでき、光ディスク装置およびバッファメモリ間で、高レートの情報転送を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
（実施形態１）
図１は、本実施形態による光ディスク装置１９の機能ブロックの構成を示す。光ディスク装置１９は、レンズ駆動回路７と、光ヘッド１０と、ＴＥ生成チップ１１と、光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１２と、センサ部１３とを備えている。
【００４２】
光ディスク装置１９は、光ディスク１に対してレーザ光を用いてデータの書き込みおよび読み出しを行うことができる。それらの動作を行う際、光ディスク装置１９は、レーザ光の焦点が光ディスクの情報記録層上に位置し、かつ、レーザスポットが情報記録層上に設けられた記録トラックに追従するように制御を行う。この制御はサーボ制御と呼ばれている。図には、本実施形態によるサーボ制御を行うための構成要素が示されている。なお、サーボ制御の別の例は第２の実施形態として説明する。
【００４３】
光ディスク装置は、ＰＣ等のホストコンピュータ（図示せず）に接続され、その光ディスクドライブとして利用することができる。ユーザは、ホストコンピュータを操作して光ディスク装置を動作させる。記録情報および／または再生情報は光ディスク装置とホストコンピュータとの間で直接転送されず、ドライブ内に内蔵したバッファメモリ（図示せず）を介して転送される。例えば光ディスクにデータを書き込む際には、ホストコンピュータから送信される記録情報は一旦バッファメモリに記憶され、ドライブはバッファメモリに記憶されている情報を読み出して光ディスクに記録する。光ディスクから情報を再生する際にはドライブが光ディスクから再生した情報を一旦バッファメモリに記憶し、ホストコンピュータはバッファメモリに記憶されている情報を読み出す。なお、図１には書き込み処理および読み出し処理を行うための構成要素は示していないが、周知の部材および処理手順を用いることができるため、本実施形態では説明を省略する。
【００４４】
本明細書における光ディスク１は、例えばＣＤ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，＋ＲＷ，＋Ｒ、ＢＤ（Blu-Ray Disc）等の円盤状の記録媒体を想定している。以下、図示された光ディスク装置１９の各構成要素を説明する。
【００４５】
レンズ駆動回路７は、トラッキング制御信号に基づいて駆動信号を生成および出力し、後述する対物レンズ５の位置を光ディスク１の半径方向に変化させる。例えば、トラッキング制御信号がホールドされたときは、そのホールドされる直前の駆動信号の出力を継続し、ホールドが解除されているときはトラッキング制御信号に応じた駆動信号を出力する。なお、レンズ駆動回路７は、光ディスク１の半径方向のみならず、光ディスク１の情報記録層に垂直な方向にも対物レンズ５の位置を変化させることが可能であるが、本実施形態による制御では特に問題ではないので、説明は省略する。
【００４６】
光ヘッド１０は、レーザダイオード２と、コリメートレンズ３と、ビームスプリッタ４と、対物レンズ５と、受光量検出部６と、第１遮断部１００と、増幅部１０１とを有する。
【００４７】
レーザダイオード２は、レーザ光を放射する。レーザ光の波長は光ディスク１の種類に応じて異なる。例えば光ディスク１がＢＤのとき、レーザ光の波長は約４０５ｎｍである。コリメートレンズ３は、レーザダイオード２から放射されたレーザ光を平行光に変換する。ビームスプリッタ４は、コリメートレンズ３から出射された平行光を対物レンズ５へ向けて透過するとともに、対物レンズ５からの平行光（光ディスク１からの反射光）を受光量検出部６のある方向へ分離する。対物レンズ５は、コリメートレンズ３およびビームスプリッタ４を透過してきた平行光を集光して光ディスク１の情報記録層上にレーザスポットを形成する。また、対物レンズ５は情報記録層において反射された光を平行光に変換してビームスプリッタ４へ送る。受光量検出部６は、ビームスプリッタ４から出射された平行光を受け、その受光量に応じた光量信号を生成して出力する。例えば、受光量検出部６は、受光量に比例した光電流を出力するフォトディテクタである。この光電流信号は、光ディスク１上のデータを読み出した結果として得られる信号であり、本明細書では再生信号とも称する。
【００４８】
第一遮断部１００は、後述の検出制御部１０８から出力される第一遮断信号がハイレベルのときは基準電圧を出力し、ローレベルのときは受光量検出部６から出力される光量信号をそのまま出力する。増幅部１０１は第一遮断部１００が出力する信号を増幅して出力するアンプである。なお、第一遮断部１００から光量信号がそのまま出力されているときは、増幅された信号は実質的には再生信号である。
【００４９】
ＴＥ生成チップ１１は、第二遮断部１０２と、ＴＥ信号生成部１０３と、ローパスフィルタ１０９とを有している。ＴＥ生成チップ１１は、例えば半導体集積回路として実現することができる。
【００５０】
第二遮断部１０２は、後述の検出制御部１０８から出力される第二遮断信号がハイレベルのときは基準電圧を出力し、ローレベルのときは増幅部１０１から出力される信号をそのまま出力する。
【００５１】
ＴＥ信号生成部１０３は、第二遮断部１０２から出力された信号に基づいて、レーザ光の照射位置と光ディスク１の記録トラック中心とのずれを表すトラッキングエラー（Tracking Error；ＴＥ）信号を出力する。
【００５２】
ローパスフィルタ１０９は、ＴＥ信号生成部１０３が出力するＴＥ信号からトラッキング制御に必要な周波数帯域以上の成分を遮断して、その周波数（遮断周波数）以下の周波数成分を抽出する。例えば、光ディスク１がＢＤであり、通常速度（１倍速）で回転しているときは約１００ｋＨｚ以下の周波数成分が抽出される。また、ローパスフィルタ１０９は、後述する状況判断部１０７から出力される検出信号がハイレベルのときは遮断周波数を高くし（例えば、上述のＢＤの例では約５００ｋＨｚ）、ローレベルのときは低くすることができる（例えば、上述のＢＤの例では約１００ｋＨｚ）。
【００５３】
ローパスフィルタ１０９は、遮断周波数が可変であれば、アナログフィルタであってもよいしデジタルフィルタであってもよい。なお、ＴＥ生成チップ１１は、次に説明するＯＤＣ１２上にＤＳＰとして設けられていてもよく、そのときはＴＥ生成チップ１１とＯＤＣ１２とを特に分けて捉えなくてもよい。
【００５４】
センサ部１３は、第一温度検出部１０４および第二温度検出部１０５を有している。これらは具体的にはセンサである。第一温度検出部１０４は、増幅部１０１の内部または周辺の温度を検出して第一温度信号を出力する。第二温度検出部１０５は、ＴＥ信号生成部１０３の内部または周辺の温度を検出して第二温度信号を出力する。
【００５５】
光ディスクコントローラ（Optical Disc Controller；ＯＤＣ）１２は、温度記憶部１０６と、状況判断部１０７と、検出制御部１０８と、制御信号生成部１１０と、オフセット補正部１１１と、オフセット検出部１１２と、検出値記憶部１１３と、補正値計算部１１４とを有する。ＯＤＣ１２は、１以上のデジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）、および、揮発性または不揮発性メモリ等を有している。ＤＳＰはいわゆるコンピュータであり、メモリに格納されたコンピュータプログラムを実行することによって上述の各構成要素の機能を実現できる。なお、ＤＳＰに与えるコンピュータプログラムを変更すれば、本実施形態による光ディスク装置の他、第２〜第４の実施形態によるＯＤＣも実現される。このようなコンピュータプログラムは、後に各実施形態の説明において参照する図面のフローチャートに記載された処理に従って記述されている。以下、各要素の機能を説明する。
【００５６】
温度記憶部１０６は、後述の検出信号および更新信号に応じて、第一温度検出部１０４から出力される第一温度信号および第二温度検出部１０５から出力される第二温度信号の各々の値を記憶する。
【００５７】
状況判断部１０７は、第一温度信号の値、第二温度信号の値および温度記憶部１０６に記憶された値に応じて更新信号および検出信号を出力する。状況判断部１０７のより詳細な構成、および、更新信号および検出信号の詳細な説明は後述する。
【００５８】
検出制御部１０８は、検出信号に応じて２値で示される第一遮断信号、第二遮断信号および検出制御信号を出力する。
【００５９】
制御信号生成部１１０は、検出信号がローレベルのときはオフセット補正部１１１の出力信号に応じてレーザ光の照射位置を光ディスク１の記録トラックに追従させるためのトラッキング制御信号を出力する。一方、検出信号がハイレベルのときはトラッキング制御信号の値をホールド（固定）する。オフセット補正部１１１は、ローパスフィルタ１０９の出力信号に含まれる電気的オフセットを補正する。具体的には、オフセット補正部１１１は、ローパスフィルタ１０９の出力信号の値から補正値計算部１１４の出力信号の値を減算して出力する。
【００６０】
オフセット検出部１１２は、検出制御部１０８からハイレベルの検出制御信号を受け取ると、電気的オフセットを検出してオフセット信号を出力する。
【００６１】
検出値記憶部１１３は、オフセット検出部１１２から出力されるオフセット信号の値を、検出信号および検出制御部１０８からの検出制御信号に応じて記憶する。
【００６２】
補正値計算部１１４は、更新信号および検出信号に応じて、検出値記憶部１１３および温度記憶部１０６から、記憶された値を読み出して電気的オフセットの補正値を計算し、補正信号を出力する。また、補正値計算部１１４は、更新信号に応じて補正信号の値を保持する。
【００６３】
次に、ＯＤＣ１２の各構成要素をより詳しく説明する。
【００６４】
図２は、状況判断部１０７の機能ブロックの構成を示す。状況判断部１０７は、温度変化検出部２００と、判断部２０１と、経過時間測定部２０２とを含む。
【００６５】
温度変化検出部２００は、温度記憶部１０６から値を読み出し、第一温度検出部１０４から出力される第一温度信号の値と温度記憶部１０６に格納されている値の差を計算し、第一温度変化信号を出力する。第一温度変化信号の値は、その差の絶対値を示す。温度変化検出部２００は、第二温度検出部１０５から出力される第二温度信号の値と温度記憶部１０６のアドレス２（後述）に格納されている値の差を計算し、その絶対値を示す第二温度変化信号を出力する。なお、温度記憶部１０６は複数の情報格納領域を有している。温度変化検出部２００がどの領域の値を読み出すかについては後述する。
【００６６】
判断部２０１は、通常ローレベルの更新信号を出力し、第一温度変化信号または第二温度変化信号の値が所定の閾値を超えると、更新信号のレベルを一定時間ハイレベルにする。また、判断部２０１は、更新信号および経過時間測定部２０２から出力される経過時間信号に応じて検出信号を出力する。更新信号および検出信号は２値のパルス信号である。
【００６７】
経過時間測定部２０２は、検出信号のパルスの立ち上がりからの経過時間を測定してその値を示す経過時間信号を出力する。なお、検出信号のパルスが立ち上がるごとに経過時間信号の値をゼロにリセットする。
【００６８】
次に、温度記憶部１０６の情報格納領域を説明し、その後、温度記憶部１０６を利用した状況判断部１０７の動作を説明する。
【００６９】
温度記憶部１０６は６つの情報格納領域を有している。仮に各情報格納領域の位置を特定するためのアドレスをそれぞれアドレス１、アドレス２、アドレス３、アドレス４、アドレス５、アドレス６と記載する。各領域に格納される情報は予め定められている。具体的には、アドレス１の領域には第一温度信号の値が格納され、アドレス２の領域には第二温度信号の値、アドレス３およびアドレス４の領域には第一温度信号の値、アドレス５およびアドレス６の領域には第二温度信号の値が格納される。
【００７０】
第一温度信号および第二温度信号のそれぞれが、３つの異なる領域に格納されている理由は、格納した値を異なるタイミングで更新するためである。具体的には、アドレス１の領域の格納値は更新信号によって制御され、アドレス２の領域の格納値は更新信号によって、アドレス３および４の領域の格納値は検出信号によって、アドレス５および６の領域の格納値は検出信号によって制御される。
【００７１】
次に、図３を参照しながら、温度記憶部１０６および状況判断部１０７の動作タイミングを説明する。
【００７２】
図３は、状況判断部１０７に関連する信号のタイミングチャートを示す。
【００７３】
第一温度信号は、更新信号のパルスが立ち上がるタイミング（図中の時間軸に垂直な方向の破線）でサンプリングされ、その値は温度記憶部１０６のアドレス１の領域に格納される。参考のため、格納される第一温度信号の値を黒点（●）で示す。
【００７４】
第一温度変化信号は、第一温度信号の値から、温度記憶部１０６のアドレス１の領域に格納された値を減算した値の絶対値を示す信号である。なお、更新信号のパルスの立ち上がり時点では第一温度信号の値とアドレス１の領域に格納された値は常に等しいので、第一温度変化信号の値はゼロとなる。
【００７５】
第二温度信号は、更新信号のパルスが立ち上がるタイミングでサンプリングされ、その値は温度記憶部１０６のアドレス２の領域に格納される。参考のため、格納される第二温度信号の値を黒点（●）で示す。
【００７６】
第二温度変化信号は、第二温度信号の値から、温度記憶部１０６のアドレス２の領域に格納された値を減算した値の絶対値を示す信号である。なお、更新信号のパルスの立ち上がり時点では第二温度信号の値とアドレス２の領域に格納された値は常に等しいので、第二温度変化信号の値はゼロとなる。
【００７７】
なお、温度記憶部１０６は、検出信号のパルスが立ち上がり時にアドレス３の領域に格納されている値をアドレス４の領域に格納し、その後、第一温度信号の値をアドレス３の領域に格納する。そして、アドレス５の領域に格納されている値をアドレス６の領域に格納した後、第二温度信号の値をアドレス５の領域に格納する。
【００７８】
更新信号は、通常ローレベルであり、第一温度変化信号または第二温度変化信号のいずれかの値が所定の閾値を超えたときに一定時間ハイレベルにされる。更新信号は、ハイレベルのときは温度記憶部１０６の値の更新を指示し、ローレベルのときは温度記憶部１０６の値の保持（すなわち更新なし）を指示する。
【００７９】
検出信号もまた、通常ローレベルであり、更新信号のパルスが立ち上がるタイミングにおいて経過時間信号の値が所定の閾値を超えていると一定時間ハイレベルにされる。すなわち、検出信号は、前にリセットされた時間からの経過時間が所定の閾値を超えているか否かの検出結果を示す信号である。ハイレベルの検出信号は検出ありを示し、ローレベルの検出信号は検出なしを示している。なお、検出信号のパルスの立ち下がりは更新信号のパルスの立ち下がりと同時である。
【００８０】
経過時間信号は、検出信号のパルスが立ち上がりに対応してゼロにリセットされ、その後の経過時間に比例して値が変化する。図には、経過時間に比例して増大する経過時間信号を示す。経過時間信号の値に基づいて、リセットされた時からの経過時間を特定することができる。
【００８１】
引き続き図３を参照して、各信号の関係を説明する。増幅部１０１の内部または周辺の温度、および、ＴＥ信号生成部１０３の内部または周辺の温度の一方が、更新信号の立ち上がり時から所定以上変化するごとに、更新信号は一定時間ハイレベルとなる。またこの時に検出信号の立ち上がり時から所定時間が経過している時は、検出信号は一定時間ハイレベルとなる。
【００８２】
図３に示す時刻ｔ１、ｔ２およびｔ３に注目する。時刻ｔ３は現在時刻を示し、時刻ｔ２は検出信号のパルスの立ち上がり時のうち、時刻ｔ３から見て最も近い過去の時刻を示し、時刻ｔ１は時刻ｔ２の次に近い過去の時刻を示す。
【００８３】
温度記憶部１０６のアドレス１の領域には、時刻ｔ２における第一温度信号の値が格納されている。同様に、アドレス２の領域には時刻ｔ２における第二温度信号の値が、アドレス３の領域には時刻ｔ２における第一温度信号の値が、アドレス４の領域には時刻ｔ１における第一温度信号の値が、アドレス５の領域には時刻ｔ２における第二温度信号の値が、そして、アドレス６の領域には時刻ｔ１における第二温度信号の値が格納されている。すなわち、アドレス１およびアドレス２の各領域には、検出信号の値にかかわらず最後に更新信号がハイレベルになったときの第一温度信号および第二温度信号の値が格納されており、アドレス３およびアドレス５の各領域には、それぞれ最後に更新信号および検出信号がともにハイレベルになったときの第一温度信号および第二温度信号の値が格納されており、アドレス４およびアドレス６の領域にはそれぞれ２回前に更新信号および検出信号がともにハイレベルになったときの第一温度信号および第二温度信号の値が格納されている。
【００８４】
次に、ＯＤＣ１２の検出制御部１０８を詳細に説明する。図４は、検出制御部１０８の機能ブロックの構成を示す。検出制御部１０８は、第一遮断制御部４００と、第二遮断制御部４０１と、オフセット検出制御部４０２とを有する。これらは、いずれも、状況判断部１０７からの検出信号の立ち上がり時点からの経過時間に応じて動作する。
【００８５】
第一遮断制御部４００は第一遮断信号を生成して第一遮断部１００に出力する。第二遮断制御部４０１は第二遮断信号を生成して第二遮断部１０２に出力する。オフセット検出制御部４０２は検出制御信号を生成して、オフセット検出部１１２および検出値記憶部１１３に出力する。以下、図５を参照しながら、これらの信号の詳細を説明する。
【００８６】
図５は検出制御部１０８に関連する信号のタイミングチャートを示す。検出信号は、先に図３を参照しながら説明したとおり判断部２０１から出力される。第一遮断信号は、検出信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、検出信号のパルスの立ち下がりよりも前に立ち下がる。第二遮断信号は、第一遮断信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、第一遮断信号のパルスの立ち下がりと同時に立ち下がる。検出制御信号は、第一遮断信号がハイレベルである間に、２回のパルス波形を含む。１回目のパルスは、第一遮断信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、第二遮断信号のパルスの立ち上がりと同時に立ち下がる。２回目のパルスは、第二遮断信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、第一遮断信号および第二遮断信号のパルスの立ち下がりと同時に立ち下がる。
【００８７】
次に、オフセット検出部１１２を詳細に説明する。オフセット検出部１１２は、検出制御部１０８からハイレベルの検出制御信号を受け取ると、ローパスフィルタ１０９の出力信号の値を検出する。後述するように、この時はローパスフィルタ１０９から出力される信号には電気的オフセットに起因する信号成分が含まれている。オフセット検出部１１２はその値を検出する機能を有する。
【００８８】
次に、検出値記憶部１１３を詳細に説明する。検出値記憶部１１３は５つの情報格納領域を有する。各情報格納領域のアドレスをそれぞれアドレス７、アドレス８、アドレス９、アドレス１０、アドレス１１と記載する。検出値記憶部１１３は検出制御信号の各パルスが、検出信号のパルスが立ち上がった後の何回目のパルスであるかを検出し、各パルスに応じて検出制御部１０８からの検出制御信号のパルスが立ち下がる時のオフセット検出部１１２が出力するオフセット信号の値を記憶する。検出制御信号のパルスが１回目のパルスである時はその立ち下がる時のオフセット信号の値をアドレス１１の情報格納領域に格納する。２回目のパルスである時はその立ち下がる時のオフセット信号の値をアドレス８の情報格納領域に格納する。検出値記憶部１１３はさらに、アドレス１１に格納された値からアドレス８に格納された値を減算し、その結果をアドレス７に格納する。この動作により、アドレス７の領域には検出信号がハイレベルである時の増幅部１０１で発生している電気的オフセットを総合した値が格納され、アドレス８の領域には検出信号がハイレベルである時のＴＥ信号生成部１０３およびローパスフィルタ１０９で発生している電気的オフセットの値が格納される。
【００８９】
また、検出値記憶部１１３は検出信号のパルスが立ち上がる時にアドレス７に格納された値をアドレス９に、アドレス８に格納された値をアドレス１０に格納する。
【００９０】
以上の動作により、検出値記憶部１１３のアドレス７およびアドレス８には、それぞれ最後に更新ありかつ検出ありであった時の、増幅部１０１において発生している電気的オフセットを含む値、およびＴＥ信号生成部１０３とローパスフィルタ１０９で発生している電気的オフセットを含む値が格納される。またアドレス９およびアドレス１０には、それぞれ２回前に更新ありかつ検出ありであった時の、増幅部１０１で発生している電気的オフセットを含む値、およびＴＥ信号生成部１０３とローパスフィルタ１０９で発生している電気的オフセットを含む値が格納される。またアドレス１１には、最後に更新ありかつ検出ありであった時の増幅部１０１、ＴＥ信号生成部１０３およびローパスフィルタ１０９で発生している電気的オフセットを含む値が格納される。
【００９１】
次に、補正値計算部１１４を詳細に説明する。
【００９２】
図６は、温度記憶部１０６に記憶される値および検出値記憶部１１３に記憶される値と、検出信号および更新信号との関係を示す。補正値計算部１１４は、補正値の計算に際して、第一温度信号の値と、第二温度信号の値と、増幅部１０１で発生する電気的オフセットの値と、ＴＥ信号生成部１０３およびローパスフィルタ１０９において発生する電気的オフセットの値とを必要とする。
【００９３】
いま、時刻ｔ６は現在時刻を示し、検出信号の立ち上がり時のうち、時刻ｔ３は時刻ｔ６から見て最も近い過去の時刻を示し、時刻ｔ１は時刻ｔ３の次に近い過去の時刻を示す。また、検出信号の立ち下がり時のうち、時刻ｔ４は時刻ｔ６から見て最も近い過去の時刻を示し、時刻ｔ２は時刻ｔ４の次に近い過去の時刻を示す。さらに、時刻ｔ５は、更新信号の立ち上がり時のうち、時刻ｔ６から見て最も近い過去の時刻を示す。
【００９４】
温度記憶部１０６のアドレス４の領域には、時刻ｔ１における第一温度信号の値（Ｔ１０）が格納されている。また、アドレス３の領域には、時刻ｔ３における第一温度信号の値（Ｔ１１）が格納されている。さらに、アドレス１の領域には、時刻ｔ５における第一温度信号の値（Ｔ１２）が格納されている。
【００９５】
一方、温度記憶部１０６のアドレス６の領域には、時刻ｔ１における第二温度信号の値（Ｔ２０）が格納されている。アドレス５の領域には、時刻ｔ３における第二温度信号の値（Ｔ２１）が格納されている。アドレス２の領域には、時刻ｔ５における第二温度信号の値（Ｔ２２）が格納されている。
【００９６】
検出値記憶部１１３のアドレス９の領域には、時刻ｔ２付近の増幅部１０１の電気的オフセット値（Ｏｓ１０）が格納されている。アドレス７の領域には、時刻ｔ４付近の増幅部１０１の電気的オフセット値（Ｏｓ１１）が格納されている。
【００９７】
検出値記憶部１１３のアドレス１０の領域には、時刻ｔ２付近のＴＥ信号生成部１０３およびローパスフィルタ１０９の電気的オフセットの総合値（Ｏｓ２０）が格納されている。アドレス８の領域には、時刻ｔ４付近のＴＥ信号生成部１０３およびローパスフィルタ１０９の電気的オフセットの総合値（Ｏｓ２１）が格納されている。
【００９８】
次に、補正値計算部１１４において行われる補正値の計算手順を説明する。補正値計算部１１４は増幅部１０１の電気的オフセットに対する補正値と、ＴＥ信号生成部１０３およびローパスフィルタ１０９の総合的な電気的オフセットに対する補正値を別々に計算し、最終的に両者を加算して総合的な補正値とする。補正値計算部１１４は状況判断部１０７からの検出信号および更新信号のパルスが立ち下がった後に補正値を計算する。
【００９９】
ここで、補正値計算部１１４が増幅部１０１に関して新たに計算した補正値をＣ１とする。また、ＴＥ信号生成部１０３とローパスフィルタ１０９に関して新たに計算した補正値をＣ２とする。また最終的に出力する補正値をＣとする。
【０１００】
まず、更新信号がハイレベルで、かつ、検出信号もハイレベルであるとき、補正値Ｃ１はＯｓ１１になり、補正値Ｃ２はＯｓ２１になる。また、最終的に出力する補正値Ｃは（Ｃ１＋Ｃ２）である。すなわち、そのときの電気的オフセットはオフセット検出部１１２によって検出されており、補正値計算部１１４は、その値をそのまま補正値とする。
【０１０１】
また、更新信号がハイレベルで、かつ、検出信号がローレベルであるとき、補正値計算部１１４は、補正値Ｃ１を（式１）によって計算し、補正値Ｃ２を（式２）によって計算する。
【０１０２】
（式１）  Ｃ１＝（Ｏｓ１１−Ｏｓ１０）×（Ｔ１２−Ｔ１１）／（Ｔ１１−Ｔ１０）＋Ｏｓ１１
【０１０３】
（式２）  Ｃ２＝（Ｏｓ２１−Ｏｓ２０）×（Ｔ２２−Ｔ２１）／（Ｔ２１−Ｔ２０）＋Ｏｓ２１
【０１０４】
最終的に出力する補正値Ｃは（Ｃ１＋Ｃ２）である。すなわち、そのときの電気的オフセットは検出されていないので、補正値計算部１１４は、現在の電気的オフセットの値を過去の値から推定し、その値をもって補正値としている。推定は温度変化に対する電気的オフセットの変化を線形であるとして、その変化率に基づいて計算する。使用する電気的オフセットは、最後および２回前に検出した値が採用され、かつ、その検出時の温度も利用される。
【０１０５】
続いて、図７を参照しながら、光ディスク装置１９の動作を説明する。
【０１０６】
図７は、光ディスク装置１９の動作の手順を示す。まず、ステップＳ１００において、第一温度検出部１０４および第二温度検出部１０５が増幅部１０１およびＴＥ信号生成部１０３の温度を検出する。次のステップＳ１０１において、状況判断部１０７は、前回のオフセット補正値の更新時から増幅部１０１またはＴＥ信号生成部１０３のいずれかの温度が所定値以上変化したか否かを判断する。温度が所定値以上変化していない場合には処理はステップＳ１００に戻り、変化した場合には処理はステップＳ１０２に進む。ステップＳ１０２では、状況判断部１０７はさらに前回の電気的オフセットの検出時から所定時間以上が経過しているか否かを判断する。所定以上の時間が経過している場合はステップＳ１０３に進み、所定以上の時間が経過していない場合はステップＳ１０４に進む。
【０１０７】
ステップＳ１０３では、オフセット検出部１１２によってオフセットが検出される。ここで、図１および図５を参照しながら、オフセットの検出処理を説明する。まず、状況判断部１０７が検出信号をハイレベルにすると、制御信号生成部１１０はその直前またはそのときのトラッキング制御信号の値をホールドする。ホールド期間中、レンズ駆動回路７は対物レンズ５の位置を固定する駆動信号を出力する。対物レンズ５の位置が光ディスク１に対して固定されることにより、レーザスポットは光ディスク１の半径方向に関してホールド直前の位置に固定される。
【０１０８】
検出信号がハイレベルになると同時に、ローパスフィルタ１０９は遮断周波数をより高い値に切り替える。このとき、制御信号生成部１１０は検出信号のパルスの立ち上がりから第一遮断信号のパルスの立ち上がりまでの間、トラッキング制御信号をホールドする。なお、このホールド期間は、ローパスフィルタ１０９の周波数の切り替えに要する時間を含む。
【０１０９】
ローパスフィルタ１０９が遮断周波数を切り替えた後、検出制御部１０８が第一遮断信号をハイレベルにすると、第一遮断部１００は、その出力信号を、所定の基準電圧を有する基準信号に切り換える。換言すれば、再生信号を基準電圧に短絡して出力する。この時点でローパスフィルタ１０９が出力する信号の値は、増幅部１０１の入力からローパスフィルタ１０９の出力までの間の回路で発生する電気的オフセットの値となる。例えば、基準電圧をＶｒ１、ローパスフィルタ１０９の出力をＶｏ１とすると、後述するタイミングにおいて、オフセット検出部１１２は（Ｖｏ１−Ｖｒ１）を電気的オフセットとして検出する。Ｖｒ１は予め設定された値である。例えば、Ｖｒ１＝０とするとＶｏ１自体が電気的オフセットとして検出できる。
【０１１０】
なおローパスフィルタ１０９の出力信号が電気的オフセットの値に整定するまでに要する時間は、ローパスフィルタ１０９の高い方の遮断周波数に依存する。第一遮断信号のパルスの立ち上がりから検出制御信号の１回目のパルスの立ち上がりまでの時間はこの整定時間を含むように設計される。
【０１１１】
ローパスフィルタ１０９から出力される信号値が電気的オフセットの値に整定すると、その後、検出制御信号がハイレベルになり、オフセット検出部１１２は電気的オフセットの値を検出する。検出値は検出値記憶部１１３に記憶される。検出制御信号の１回目のパルスの幅はオフセット検出部１１２が検出に要する時間をカバーするように設計される。
【０１１２】
電気的オフセットの検出が終わると第二遮断信号がハイレベルになり、第二遮断部１０２は、その出力信号を、所定の基準電圧を有する基準信号に切り換える。この時点でローパスフィルタ１０９が出力する信号の値は、ＴＥ信号生成部１０３の入力からローパスフィルタ１０９の出力までの間の回路で発生する電気的オフセットの値となる。例えば、基準電圧をＶｒ２、ローパスフィルタ１０９の出力をＶｏ２とすると、後述するタイミングにおいて、オフセット検出部１１２は、（Ｖｏ２−Ｖｒ２）を電気的オフセットとして検出する。ここでもＶｒ２は予め設定された値であるが、例えばＶｒ２＝０とするとＶｏ２自体が電気的オフセットとして検出できる。第二遮断信号のパルスの立ち上がりから検出制御信号の２回目のパルスの立ち上がりまでの時間はローパスフィルタ１０９が出力する信号の整定時間を含むように設計され、第一遮断信号のパルスの立ち上がりから検出制御信号の１回目のパルスの立ち上がりまでの時間と等しい。
【０１１３】
ローパスフィルタ１０９の出力信号の値が整定すると、その後、検出制御信号が再びハイレベルになり、オフセット検出部１１２は電気的オフセットの値を検出する。検出値は検出値記憶部１１３に記憶される。検出制御信号の２回目のパルスの幅はオフセット検出部１１２が検出に要する時間をカバーするように設計され、１回目のパルスの幅と等しい。
【０１１４】
電気的オフセットの検出が終わると検出制御信号および第一遮断信号および第二遮断信号がローレベルになり、第一遮断部１００および第二遮断部１０２はそれぞれ出力する信号を受光量検出部６が出力する光量信号および増幅部１０１が出力する信号に切り換える。するとローパスフィルタ１０９が出力する信号の値は光量信号に応じた値に復帰する。復帰に要する時間はローパスフィルタ１０９の高い方の遮断周波数に依存する。第一遮断信号および第二遮断信号のパルスの立ち下がりから検出信号パルスの立ち下がりまでの時間はこの復帰時間をカバーするように設計される。
【０１１５】
ローパスフィルタ１０９の出力信号が光量信号に応じた値に復帰すると、検出信号がローレベルになりローパスフィルタ１０９の遮断周波数帯域が低い方に切り替わる。また、ホールド信号がローレベルになり、トラッキング制御信号のホールドが解除される。その結果、光ディスク１の半径方向に関して、レーザの照射位置に形成されるレーザスポットは、光ディスク１の記録トラックの中心に追従する。以上のように電気的オフセットが検出される。
【０１１６】
次に、再び図７を参照しながら、ステップＳ１０４の処理を説明する。ステップＳ１０４では、補正値計算部１１４は、線形計算によって、温度記憶部１０６および検出値記憶部１１３に記憶された過去の温度および電気的オフセットの値に基づいて、現在の温度における電気的オフセットの値を導き出す。
【０１１７】
最後に、ステップＳ１０５において、ステップＳ１０３において検出された電気的オフセットの値、またはステップＳ１０４において導出された電気的オフセットの値を用いて補正値が更新される。その後、処理はステップＳ１００に戻る。
【０１１８】
本実施形態の光ディスク装置１９は、トラッキング制御中に、トラッキング制御をホールドして電気的オフセットを検出することによって、または、トラッキング制御をホールドしないで電気的オフセットを導出することによって補正値を更新し、電気的オフセットを補正する。これにより、光ディスク装置１９の記録再生動作を中断する頻度を下げ、光ディスク装置１９およびバッファメモリ間で、高レートの情報転送を実現できる。
【０１１９】
また、電気的オフセットを検出する際にはローパスフィルタ１０９をそれまでよりも高い遮断周波数に切り換えるので、信号の整定時間をより短くできる。したがってトラッキング制御のホールドを行う時間も短時間化することができる。ホールドの解除時には追従ずれを起こさず確実に追従動作に復帰することができ、短時間でオフセットを補正できる。
【０１２０】
補正値は回路の温度変化に応じて更新されるため、温度変化に追従しつつ、電気的オフセットを高い精度で補正することができる。特に、過去に検出した温度および電気的オフセットの値から現在の電気的オフセットの値を計算する際には、時間的に現在に最も近い過去の温度および過去の電気的オフセットの変化に基づいて計算が行われる。これにより、高い精度の補正ができる。
【０１２１】
また、前回の検出時から所定時間以上が経過したときにのみ電気的オフセットを検出することにより、光ディスク装置１９の転送レート（例えば光ディスク装置１９とバッファメモリとの間の転送レート）をデータの記録および／または再生を阻害しないレートに保持できる。
【０１２２】
光ディスク装置１９は、装置内部の信号経路を構成する一連の電気回路の電気的オフセットを検出し、または、電気的オフセットの検出を行わずに、そのまとまりを単位として、過去に検出した温度および電気的オフセットの値から現在の電気的オフセットの値を導出する。よって、電気回路の各部で温度が異なる場合でも各部ごとの電気的オフセットを精度良く計算することができ、高い精度で電気的オフセットを補正できる。具体的には、受光量を検出した直後の信号を基準電圧に短絡し、電気回路に対する外部入力を遮断するため、光量信号の処理に関連する回路の電気的オフセットのみを選択的に補正できる。この補正によれば、他の信号系の処理に対して大きな影響を与えることはない。またサーボ信号をホールドするので、電気的オフセットの検出後に高速にサーボ動作に復帰することができる。これにより、光ディスク装置１９がデータの書き込みおよび読み出しを中断する時間を短くでき、光ディスク装置１９およびバッファメモリ間で、高レートの情報転送を実現できる。
【０１２３】
本実施形態では、増幅部１０１の入力から出力までの信号経路を構成する電気回路、および、ＴＥ信号生成部１０３の入力からローパスフィルタ１０９の出力までの間の信号経路を構成する電気回路に区分して電気的オフセットを補正するとした。しかし、信号経路をより細かく区分して、その区分内の電気回路の電気的オフセットを補正することもできる。これにより、さらに高い精度の補正を実現できる。逆に、第二遮断部１０２を設けずに、増幅部１０１の入力からローパスフィルタ１０９の出力までの信号経路を構成する電気回路のオフセットのみを補正してもよい。これにより、回路の数を減らすことができるとともに、電気的オフセットの検出に要する時間も短くできる。なお、ローパスフィルタ１０９を迂回するように回路を切り換えて電気的オフセットを検出してもよい。これにより、整定時間がより短縮され、確実に追従動作に復帰することができる。
【０１２４】
（実施形態２）
図８は、本実施形態による光ディスク装置２９の機能ブロックの構成を示す。光ディスク装置２９の用途は、第１の実施形態による光ディスク装置１９と同じである。
【０１２５】
光ディスク装置２９は、レンズ駆動回路７と、光ヘッドと、温度検出部７０７と、再生制御部７０５と、再生バッファ７０６と、ＦＥ生成チップ２１と、光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）２２と、を備えている。図面の記載の簡略化のため、光ヘッドへの参照符号は省略している。
【０１２６】
以下、各機能ブロックを説明する。なお、各機能ブロックを構成する要素のうち、第１の実施形態による光ディスク装置１９（図１）と同じ機能を有する構成要素の説明は省略する。
【０１２７】
レンズ駆動回路７は、制御信号生成部７０４からのフォーカス制御信号に応じて、光ディスク１の情報記録層に対して垂直な方向に対物レンズ５を移動させる。レンズ駆動回路７は、光ディスク１の情報記録層に垂直な方向のみならず、光ディスク１の半径方向にも対物レンズ５の位置を変化させることが可能であるが、本実施形態による制御では特に問題ではないので、説明は省略する。
【０１２８】
光ヘッドは、光ヘッド１０（図１）の第１遮断部１００および増幅部１０１に代えて増幅部７００が設けられている。レーザダイオード２は、検出制御部７１０から出力される遮断信号がローレベルのときにレーザ発光を行い、ハイレベルのときにレーザ発光を停止する。なお、図８では、レーザダイオード２は検出制御部７１０から遮断信号を直接受け取るための構成を示している。しかし、例えば、後述する図１５のレーザ駆動回路１３０５のようなレーザ駆動回路を設け、遮断信号に基づいてレーザダイオード２への電流の制御を行ってもよい。具体的には、レーザ駆動回路は、遮断信号がローレベルであればレーザ発光を行うに足りる電流をレーザダイオード２に流し、ハイレベルであれば電流を流さないように動作する。さらに、遮断信号は、後述する制御信号生成部７０４によって生成されてもよい。
【０１２９】
増幅部７００は、増幅率を２つの値で切り換える。値の１つは記録時のレーザパワーに対応した値であり、もう１つは再生時のレーザパワーに対応した値である。増幅部７００は、後述する設定制御部７１５からの設定信号および検出制御部７１０からの増幅制御信号に応じて、光量信号の増幅率を切り換えることにより、記録時と再生時とでレーザパワーが異なった場合であってもＦＥ信号の振幅を一定に保つことができる。増幅制御信号は、ハイレベル、中央レベル、ローレベルの３値をとる。増幅部７００は、増幅制御信号が中央レベルであれば設定信号にしたがって、または、中央レベル以外のレベルであれば増幅制御信号にしたがって増幅率を設定する。増幅部７００は、設定信号がハイレベルであれば記録時に対応した増幅率に切り換え、ローレベルであれば再生時に対応した増幅率に切り換える。このように動作することにより、後述のように、受光量検出部６から出力される光量信号の変動範囲が異なっても、ＦＥ信号生成部７０１に入力する信号の変動範囲を不変にすることができる。
【０１３０】
再生制御部７０５は、光量信号に基づいて、光ディスク１に記録されたデータを読み出して出力する。
【０１３１】
再生バッファ７０６は再生制御部７０５によって読み出されたデータを蓄積する。各データが集合して１以上の情報となる。ホストコンピュータ（図示せず）は、再生バッファ７０６に記憶された情報を読み出して、その後の再生処理を行う。再生情報量信号は、再生バッファ７０６に記憶されている情報量を示す。
【０１３２】
温度検出部７０７は、光ディスク装置２９の内部温度を検出して温度信号を出力する。
【０１３３】
ＦＥ生成チップ２１のＦＥ信号生成部７０１は、増幅部７００からの出力信号に基づいて、レーザ光の照射位置の光ディスク１の情報記録層からのずれを検出してフォーカスエラー（Focusing Error；ＦＥ）信号を出力する。
【０１３４】
ローパスフィルタ７０２は、ＦＥ信号の中からフォーカス制御に必要な周波数帯域以上の成分を遮断して出力する。また、ローパスフィルタ７０２は、検出信号がハイレベルのときは遮断周波数を高くし、ローレベルのときは低くする。
【０１３５】
次に、ＯＤＣ２２の各構成要素を説明する。
【０１３６】
オフセット補正部７０３は、ローパスフィルタ７０２の出力信号の値から補正値記憶部７１１の出力信号の値を減算して出力する。
【０１３７】
検出信号がローレベルのとき、制御信号生成部７０４は、オフセット補正部７０３の出力信号に応じてフォーカス制御信号を出力する。フォーカス制御信号は、レーザ光の照射位置を光ディスク１の情報記録層に追従させるために利用される。また、検出信号がハイレベルのとき、制御信号生成部７０４は、フォーカス制御信号の値を固定する。
【０１３８】
温度記憶部７０８は、検出信号および更新信号に応じて温度信号の値を記憶する。
【０１３９】
状況判断部７０９は、温度信号および温度記憶部７０８が記憶する値に応じて２値で示される更新信号を出力する。また、状況判断部７０９は、再生情報量信号の値に応じて２値で示される検出信号を出力する。
【０１４０】
検出制御部７１０は検出信号に応じて２値で示される遮断信号、増幅制御信号および検出制御信号を出力する。
【０１４１】
設定制御部７１５は、設定信号を出力する。設定信号は、記録時はハイレベルであり、再生時はローレベルの２値をとる。
【０１４２】
増幅部７００は光量信号を増幅して出力し、設定信号および増幅制御信号に応じて増幅率を切り換える。
【０１４３】
オフセット検出部７１２は、ハイレベルの検出制御信号を受け取るとローパスフィルタ７０２の出力信号中の電気的オフセットを検出し、オフセット信号を出力する。
【０１４４】
検出値記憶部７１３は、オフセット信号の値を検出制御信号および検出信号に基づいて記憶する。
【０１４５】
補正値計算部７１４は、更新信号および検出信号に応じて、検出値記憶部７１３が記憶する値、および温度記憶部７０８が記憶する値を読み出して電気的オフセットの補正値を計算し、補正信号を出力する。
【０１４６】
補正値記憶部７１１は、補正信号の値を記憶し、その値を出力する。また、設定制御部７１５からの設定信号に応じて出力する値を切り換える。
【０１４７】
温度記憶部７０８は、３つの情報格納領域を有しており、温度検出部７０７からの温度信号の値を記憶する。各情報格納領域のアドレスをそれぞれアドレス１、アドレス２、アドレス３と記載する。アドレス１の領域に格納された値の更新は状況判断部７０９が出力する更新信号によって制御される。アドレス２およびアドレス３の領域に格納された値の更新は状況判断部７０９が出力する検出信号によって制御される。
【０１４８】
次に、図９を参照しながら、上述の状況判断部７０９を詳細に説明する。図９は状況判断部７０９の機能ブロックの構成を示す。状況判断部７０９は、温度変化検出部８００と、判断部８０１とを含む。温度変化検出部８００は、温度記憶部７０８が記憶する値を読み出し、温度検出部７０７が出力する温度信号の値と温度記憶部７０８のアドレス１の領域に格納されている値の差を計算しその絶対値を示す温度変化信号を出力する。判断部８０１は温度変化検出部８００が出力する温度変化信号に応じて２値で示される更新信号を出力する。また、更新信号および再生バッファ７０６が出力する再生情報量信号に応じて２値で示される検出信号出力する。
【０１４９】
続いて、図１０を参照しながら、状況判断部７０９から出力される更新信号と検出信号とを詳細に説明する。ここでは、温度記憶部７０８と状況判断部７０９の各構成要素の動作も併せて説明する。
【０１５０】
図１０は、状況判断部７０９に関連する信号のタイミングチャートを示す。判断部８０１は、温度変化信号の値が所定の閾値を超えると更新信号のレベルを一定時間ハイレベルにする。ハイレベルの更新信号は更新ありを示し、ローレベルの更新信号は更新なしを示す。
【０１５１】
温度記憶部７０８は更新信号のパルスが立ち上がるときの温度信号の値をアドレス１の領域に格納する。なお図１０では、格納する値を黒点（●）で示している。温度変化信号は、温度信号の値から温度記憶部７０８のアドレス１の領域に格納された値を減算し、その絶対値を取ることにより得られる。更新信号の立ち上がりときは温度信号の値とアドレス１の領域に格納された値は等しいので、温度変化信号の値はゼロとなる。
【０１５２】
検出信号は判断部８０１が出力する２値信号であり、更新信号のパルスが立ち上がるタイミングで再生情報量信号の値が所定の閾値以上のときは一定時間ハイレベルになり、所定の閾値以下のときはローレベルになる。なお、検出信号のパルスの立ち下がりは更新信号のパルスの立ち下がりと同時である。またハイレベルの検出信号は検出ありを示し、ローレベルの検出信号は検出なしを示す。
【０１５３】
図１０に示すように、更新信号の立ち上がりから光ディスク装置２９内部の温度が所定以上変化すると、更新信号は一定時間ハイレベルとなる。またこの時、再生バッファ７０６に所定以上の情報量が記憶されている場合には、検出信号は一定時間ハイレベルとなる。
【０１５４】
温度記憶部７０８は、検出信号がハイレベルに立ち上がるとき、アドレス２の領域に格納されている値をアドレス３の領域に格納し、その後、温度信号の値をアドレス２の領域に格納する。
【０１５５】
次に、図１０に示す時刻ｔ１、ｔ２およびｔ３に注目する。時刻ｔ３は現在時刻を示し、時刻ｔ２は検出信号のパルスの立ち上がり時のうち、時刻ｔ３から見て最も近い過去の時刻を示し、時刻ｔ１は時刻ｔ２の次に近い過去の時刻を示す。
【０１５６】
温度記憶部７０８のアドレス１およびアドレス２の各領域には時刻ｔ２における温度信号の値が格納されており、アドレス３の領域には時刻ｔ１における温度信号の値が格納されていることになる。すなわち、アドレス１の領域には検出信号の値に関わらず最後に更新信号がハイレベルになったときの温度信号の値が格納され、アドレス２の領域には最後に更新信号および検出信号がともにハイレベルになったときの温度信号の値が格納され、アドレス３の領域には２回前に更新信号および検出信号がともにハイレベルになったときの温度信号の値が格納されていることになる。
【０１５７】
次に、検出制御部７１０を説明する。図１１は検出制御部７１０の機能ブロックの構成を示す。検出制御部７１０は、増幅制御部９００と、遮断制御部９０１と、オフセット検出制御部９０２とを有する。増幅制御部９００は、状況判断部７０９からの検出信号がハイレベルに立ち上がった時からの経過時間に応じて３値の増幅制御信号を生成し、増幅部７００に出力する。遮断制御部９０１は遮断信号を生成してレーザダイオード２に出力する。オフセット検出制御部９０２は検出制御信号を生成してオフセット検出部７１２および検出値記憶部７１３に出力する。
【０１５８】
ここで図１２を参照しながら、これらの信号のタイミングを説明する。図１２は検出制御部７１０に関連する信号のタイミングチャートを示す。遮断信号は、検出信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、検出信号のパルスの立ち下がりよりも前に立ち下がる。増幅制御信号は、遮断信号がハイレベルの間に正のパルスと負のパルスを各１回含む。正のパルスの立ち上がりは遮断信号のパルスの立ち上がりと同時である。また正のパルスの立ち下がりと負のパルスの立ち下がりは同時である。負のパルスの立ち上がりは遮断信号のパルスの立ち下がりと同時である。検出制御信号は、遮断信号がハイレベルの間に２回パルスを含む。１回目のパルスは、遮断信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、増幅制御信号の正のパルスの立ち下がりおよび負のパルスの立ち下がりと同時に立ち下がる。２回目のパルスは、増幅制御信号の正のパルスの立ち下がりおよび負のパルスの立ち下がりよりも後に立ち上がり、遮断信号のパルスの立ち下がりと同時に立ち下がる。
【０１５９】
次に、オフセット検出部７１２を詳細に説明する。オフセット検出部７１２は、検出制御部７１０が出力する検出制御信号がハイレベルの時のローパスフィルタ７０２からの信号値を検出する。後述するように、検出制御信号の１回目のパルスの間、ローパスフィルタ７０２が出力する信号の値は、増幅部７００の増幅率が記録時に対応した方に切り替わっている時の増幅部７００の入力からローパスフィルタ７０２の出力までの間の回路で発生する電気的オフセットの値となる。一方、２回目のパルスの間、ローパスフィルタ７０２が出力する信号の値は、増幅部７００の増幅率が再生時に対応した方に切り替わっている時の増幅部７００の入力からローパスフィルタ７０２の出力までの間の回路で発生する電気的オフセットの値となる。オフセット検出部７１２はその値を検出する機能を有する。
【０１６０】
次に、検出値記憶部７１３を詳細に説明する。検出値記憶部７１３は４つの情報格納領域を有する。各情報格納領域のアドレスをそれぞれアドレス７、アドレス８、アドレス９、アドレス１０と記載する。検出値記憶部７１３は検出制御信号の各パルスが検出信号のパルスが立ち上がった後の何回目のパルスであるかを検出し、各パルスに応じて検出制御部７１０からの検出制御信号のパルスが立ち下がる時のオフセット検出部７１２が出力するオフセット信号の値を記憶する。検出制御信号のパルスが１回目のパルスである時はその立ち下がる時のオフセット信号の値をアドレス７の情報格納領域に格納する。２回目のパルスである時はその立ち下がる時のオフセット信号の値をアドレス８の情報格納領域に格納する。この動作により、アドレス７の領域には記録時の増幅率における電気的オフセットの値が格納され、アドレス８の領域には再生時の増幅率における電気的オフセットの値が格納される。
【０１６１】
また、検出値記憶部７１３は検出信号がローレベルからハイレベルに立ち上がる時にアドレス７に格納された値をアドレス９に、アドレス８に格納された値をアドレス１０に格納する。
【０１６２】
以上の動作により、検出値記憶部７１３のアドレス７およびアドレス８にはそれぞれ最後に更新ありかつ検出ありであった時の、記録時の増幅率および再生時の増幅率に対する電気的オフセットの値が格納されており、アドレス９およびアドレス１０にはそれぞれ２回前に更新ありかつ検出ありであった時の記録時の増幅率および再生時の増幅率に対する電気的オフセットの値が格納されていることになる。
【０１６３】
次に、補正値計算部７１４を詳細に説明する。
【０１６４】
図１３は、温度記憶部７０８に記憶される値および検出値記憶部７１３に記憶される値と、検出信号および更新信号との関係を示す。補正値計算部７１４は、補正値の計算に際して、温度信号の値と、記録時の増幅率に対する電気的オフセットの値および再生時の増幅率に対する電気的オフセットの値を必要とする。
【０１６５】
いま、時刻ｔ６は現在時刻を示し、検出信号の立ち上がり時のうち、時刻ｔ３は時刻ｔ６から見て最も近い過去の時刻を示し、時刻ｔ１は時刻ｔ３の次に近い過去の時刻を示す。また、検出信号の立ち下がり時のうち、時刻ｔ４は時刻ｔ６から見て最も近い過去の時刻を示し、時刻ｔ２は時刻ｔ４の次に近い過去の時刻を示す。さらに、時刻ｔ５は、更新信号の立ち上がり時のうち、時刻ｔ６から見て最も近い過去の時刻を示す。
【０１６６】
温度記憶部７０８のアドレス３の領域には、時刻ｔ１における温度信号の値（Ｔ０）が格納されている。また、アドレス２の領域には、時刻ｔ３における温度信号の値（Ｔ１）が格納されている。さらに、アドレス１の領域には、時刻ｔ５における第一温度信号の値（Ｔ２）が格納されている。
【０１６７】
一方、検出値記憶部７１３のアドレス９の領域には、時刻ｔ２付近における記録時の増幅率に対する電気的オフセットの値（Ｏｓ１０）が格納されている。アドレス７の領域には、時刻ｔ４付近における記録時の増幅率に対する電気的オフセットの値（Ｏｓ１１）が格納されている。
【０１６８】
また、検出値記憶部７１３のアドレス１０の領域には、時刻ｔ２付近における再生時の増幅率に対する電気的オフセットの値（Ｏｓ２０）が格納されている。アドレス８の領域には、時刻ｔ４付近における再生時の増幅率に対する電気的オフセットの値（Ｏｓ２１）が格納されている。
【０１６９】
次に、補正値計算部７１４において行われる補正値の計算手順を説明する。
【０１７０】
補正値計算部７１４は記録時の増幅率に対する電気的オフセットの補正値、および、再生時の増幅率に対する電気的オフセットの補正値を別々に計算する。補正値計算部７１４は状況判断部７０９からの検出信号および更新信号のパルスが立ち下がった後に補正値を計算する。
【０１７１】
ここで、記録時の増幅率が採用されている時に新たに計算した補正値をＣ１とする。また、再生時の増幅率が採用されている時に新たに計算した補正値をＣ２とする。
【０１７２】
まず更新信号がハイレベルで、かつ、検出信号もハイレベルであるとき、補正値Ｃ１はＯｓ１１になり、補正値Ｃ２はＯｓ２１になる。すなわち、現在の電気的オフセットはオフセット検出部７１２によって検出されており、補正値計算部７１４は、その値をそのまま補正値とする。
【０１７３】
また、更新信号がハイレベルで、かつ、検出信号がローレベルであるとき、補正値計算部７１４は、補正値Ｃ１を（式３）によって計算し、補正値Ｃ２を（式４）によって計算する。
【０１７４】
（式３）  Ｃ１＝（Ｏｓ１１−Ｏｓ１０）×（Ｔ１２−Ｔ１１）/（Ｔ１１−Ｔ１０）＋Ｏｓ１１
【０１７５】
（式４）  Ｃ２＝（Ｏｓ２１−Ｏｓ２０）×（Ｔ２２−Ｔ２１）/（Ｔ２１−Ｔ２０）＋Ｏｓ２１
【０１７６】
このとき、現在の電気的オフセットは検出されておらず、補正値計算部７１４は、現在の電気的オフセットの値を過去の値から推定し、その値をもって補正値とする。推定については温度変化に対する電気的オフセットの変化を線形であるとして、最後および２回前に検出した電気的オフセットとその時の温度から計算する。
【０１７７】
補正値計算部７１４は、増幅部７００の増幅率が記録時に対応した方に切り替わっている場合と再生時に対応した方に切り替わっている場合とを区別して、計算した補正値の値を補正信号として出力する。また、補正値記憶部７１１も同様に区別して、補正信号の値を記憶する。
【０１７８】
続いて、図１４を参照しながら、光ディスク装置２９の動作を説明する。図１４は、光ディスク装置２９の動作の手順を示す。
【０１７９】
まず、ステップＳ２００において、温度検出部７０７は光ディスク装置内部の温度を検出する。次のステップＳ２０１において、状況判断部７０９は、前回のオフセット補正値の更新時から光ディスク装置内部の温度が所定値以上変化したか否かを判断する。温度が所定値以上変化していない場合には処理はステップＳ２００に戻り、変化した場合には処理はステップＳ２０２に進む。ステップＳ２０２では、状況判断部７０９はさらに再生バッファ７０６に所定以上の情報量が記憶されているか否かを判断する。記憶されていると判断した場合はステップＳ２０３に進み、記憶されていないと判断した場合はステップＳ２０４に進む。
【０１８０】
ステップＳ２０３では、オフセット検出部７１２によってオフセットが検出される。ここで、図８および図１２を参照しながら、オフセットの検出処理を説明する。状況判断部７０９が検出信号をハイレベルにすると、制御信号生成部７０４は、その直前またはそのときのフォーカス制御信号の値をホールドする。ホールド期間中、レンズ駆動回路７は対物レンズ５の位置を固定する駆動信号を出力する。対物レンズ５の位置が光ディスク１に対して固定されることにより、レーザスポットは光ディスク１の情報記録層に垂直な方向の照射位置に関してホールド直前の位置に固定される。
【０１８１】
検出信号がハイレベルになると同時に、ローパスフィルタ７０２はより高い遮断周波数に切り替える。このとき、制御信号生成部７０４は検出信号のパルスの立ち上がりから増幅制御信号の正のパルスおよび遮断信号のパルスの立ち上がりまでの間、フォーカス制御信号をホールドする。なお、このホールド期間は、ローパスフィルタ７０２の遮断周波数の切り替えに要する時間を含む。
【０１８２】
ローパスフィルタ７０２が遮断周波数を切り替えた後、検出制御部７１０が増幅制御信号をハイレベルにすると、増幅部７００は増幅率を記録時に対応した方に切り換える。また、検出制御部７１０は遮断信号をハイレベルにして、レーザダイオード２のレーザ発光を停止する。この時点でローパスフィルタ７０２が出力する信号の値は、記録時の増幅率に応じた電気的オフセットの値となる。検出する原理は、第１の実施形態で説明したと同様である。
【０１８３】
なおローパスフィルタ７０２の出力信号が電気的オフセットの値に整定するまでに要する時間は、ローパスフィルタ７０２の高い方の遮断周波数に依存する。増幅制御信号の正のパルスおよび遮断信号のパルスの立ち上がりから検出制御信号の１回目のパルスの立ち上がりまでの時間はこの整定時間を含むように設計される。
【０１８４】
ローパスフィルタ７０２の出力信号の値が整定すると、検出制御信号がハイレベルになり、オフセット検出部７１２は電気的オフセットの値を検出する。検出値は検出値記憶部７１３に記憶される。検出制御信号の１回目のパルスの幅はオフセット検出部７１２が検出に要する時間をカバーするように設計される。
【０１８５】
電気的オフセットの検出が終わると増幅制御信号がローレベルになり、増幅部７００は増幅率を再生時に対応した方に切り換える。この時点でローパスフィルタ７０２が出力する信号の値は、再生時の増幅率に応じた電気的オフセットの値となる。この電気的オフセットの値の検出原理も、第１の実施形態で説明したと同様である。増幅制御信号の負のパルスの立ち下がりから検出制御信号の２回目のパルスの立ち上がりまでの時間はローパスフィルタ７０２が出力する信号の整定時間を含むように設計され、増幅制御信号の正のパルスおよび遮断信号のパルスの立ち上がりから検出制御信号の１回目のパルスの立ち上がりまでの時間と等しい。
【０１８６】
ローパスフィルタ７０２が出力する信号の値が整定すると、その後、検出制御信号が再びハイレベルになり、オフセット検出部７１２は電気的オフセットの値を検出する。検出制御信号の２回目のパルスの幅はオフセット検出部７１２が検出に要する時間をカバーするように設計され、１回目のパルスの幅と等しい。
【０１８７】
電気的オフセットの検出が終了すると、検出制御信号および遮断信号がローレベルになり、レーザダイオード２はレーザ光を放射する。また、これと同時に、増幅制御信号は中央レベルになる。するとローパスフィルタ７０２の出力信号の値は光量信号に応じた値に復帰する。復帰に要する時間はローパスフィルタ７０２の高い方の遮断周波数に依存する。遮断信号のパルスおよび検出制御信号の２回目のパルスの立ち下がりおよび増幅制御信号の負のパルスの立ち上がりから検出信号のパルスの立ち下がりまでの時間は、この復帰時間をカバーするように設計される。
【０１８８】
ローパスフィルタ７０２の出力信号が光量信号に応じた値に復帰すると、検出信号がローレベルになりローパスフィルタ７０２の遮断周波数帯域が低い方に切り替わる。また、ホールド信号がローレベルになり、フォーカス制御信号のホールドが解除される。その結果、光ディスク１の情報記録層に垂直な方向に関して、レーザの焦点位置は光ディスク１の情報記録層上に追従する。以上のように電気的オフセットが検出される。
【０１８９】
次に、再び図１４を参照しながら、ステップＳ２０４の処理を説明する。ステップＳ２０４では、補正値計算部７１４は、温度記憶部７０８および検出値記憶部７１３に記憶された過去の温度および電気的オフセットの値に基づいて、線形計算により現在の温度における電気的オフセットの値を導き出す。
【０１９０】
最後に、ステップＳ２０５において、ステップＳ２０３において検出された電気的オフセットの値、またはステップＳ２０４において導出された電気的オフセットの値を用いて補正値が更新される。その後、処理はステップＳ２００に戻る。
【０１９１】
本実施形態の光ディスク装置２９は、フォーカス制御中に、フォーカス制御をホールドして電気的オフセットを検出することによって、または、フォーカス制御をホールドしないで電気的オフセットを導出することによって補正値を更新し、電気的オフセットを補正する。これにより、光ディスク装置２９の記録再生動作を中断する頻度を下げ、光ディスク装置２９およびバッファメモリ間で、高レートの情報転送を実現できる。
【０１９２】
さらに、本実施形態によれば、記録時および再生時のそれぞれに対応した回路設定の電気的オフセットの補正値を計算し、補正の際に各回路設定に対応して補正値を切り換えるため、高精度な補正が実現される。
【０１９３】
（実施形態３）
図１５は、本実施形態による光ディスク装置３９の機能ブロックの構成を示す。光ディスク装置３９の用途は、第１の実施形態による光ディスク装置１９と同じである。
【０１９４】
光ディスク装置３９は、レンズ駆動回路７と、レーザ駆動回路１３０５と、光ヘッドと、温度検出部１３０７と、記録制御部１３１４と、記録バッファ１３１５と、ＴＥ生成チップ３１と、光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）３２とを備えている。図面の記載の簡略化のため、光ヘッドへの参照符号は省略している。
【０１９５】
以下、各機能ブロックを説明する。なお、各機能ブロックを構成する要素のうち、第１の実施形態による光ディスク装置１９（図１）と同じ機能を有する構成要素の説明は省略する。
【０１９６】
レーザ駆動回路１３０５は、制御信号生成部１３０４から出力される遮断信号、および、記録信号に応じたタイミングおよび強度で、所定の期間、レーザパワーを制御する信号（例えば電流信号）を出力する。なお遮断信号がハイレベルである時はレーザ発光を停止するように信号を出力する。
【０１９７】
光ヘッドは、光ヘッド１０（図１）の第１遮断部１００および増幅部１０１に代えて増幅部１３００が設けられている。レーザダイオード２はレーザ駆動回路１３０５の出力信号にしたがってレーザ光を放射する。ただし、第２の実施形態において図８を参照しながら説明したと同様、検出制御部１３１０が遮断信号を生成および出力して、遮断信号によってレーザダイオード２の動作を制御してもよい。すなわち、レーザダイオード２は遮断信号に基づいて制御され、レーザ光の発光および停止が行われる。
【０１９８】
増幅部１３００は、受光量検出部６が出力する光量信号を増幅して出力する。
【０１９９】
記録バッファ１３１５は、ホストコンピュータ（図示せず）から光ディスク１に記録する情報を取得し、記憶する。記録情報量信号は、記録バッファ１３１５に記憶されている情報量を示す。
【０２００】
記録制御部１３１４は記録バッファ１３１５に記憶された情報を読み出して光ディスク１に記録するための記録指示信号に変換して出力する。
【０２０１】
温度検出部１３０７は、光ディスク装置３９の内部温度を検出して温度信号を出力する。
【０２０２】
ＴＥ生成チップ３１のＴＥ信号生成部１３０１は、増幅部１３００が出力する信号からレーザ光の照射位置の光ディスク１の記録トラック中心からのずれを検出してＴＥ（Ｔｒａｃｋｉｎｇ  Ｅｒｒｏｒ）信号を生成して出力する。
【０２０３】
ローパスフィルタ１３０２は、ＴＥ信号生成部１３０１が出力するＴＥ信号からトラッキング制御に必要な周波数帯域以上の成分を遮断して出力する。また状況判断部１３０９が出力する検出信号がハイレベルのときは遮断周波数を高くし、ローレベルである時は低くする。
【０２０４】
次に、ＯＤＣ３２の各構成要素を説明する。
【０２０５】
オフセット補正部１３０３は、ローパスフィルタ１３０２が出力する信号の値から補正値計算部１３１３が出力する補正信号の値を引いて出力する。
【０２０６】
制御信号生成部１３０４は、検出信号がローレベルのとき、オフセット補正部１３０３が出力する信号に応じて、レーザ光の照射位置を光ディスク１の記録トラックに追従させるためのトラッキング制御信号を出力する。また、制御信号生成部１３０４は、検出信号がハイレベルのとき、トラッキング制御信号の値を固定する。また制御信号生成部１３０４は、検出制御部１３１０から２値で示される遮断制御信号を受け取り、２値で示される遮断信号を生成する。なお、遮断信号の２値のレベルは、遮断信号を受け取るレーザ駆動回路１３０５の動作特性に応じて決定される。遮断制御信号および遮断信号の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングは同じである。
【０２０７】
時間測定部１３０６は状況判断部１３０９が出力する２値で示される更新信号のパルスの立ち下がりからの時間を測定して時間信号を出力する。
【０２０８】
温度記憶部１３０８は、状況判断部１３０９が出力する２値で示される検出信号のパルスが立ち下がる時の温度検出部１３０７が出力する温度信号の値を記憶する。
【０２０９】
状況判断部１３０９は、時間測定部１３０６が出力する時間信号に応じて２値で示される更新信号を出力する。また記録バッファ１３１５が出力する記録情報量信号および温度検出部１３０７が出力する温度信号に応じて２値で示される検出信号を出力する。
【０２１０】
検出制御部１３１０は状況判断部１３０９が出力する検出信号に応じて２値で示される遮断制御信号、および、検出制御信号を出力する。さらに、検出制御部１３１０は、記録制御部１３１４からの記録指示信号に基づいて、記録信号を生成する。
【０２１１】
オフセット検出部１３１１は、検出制御部１３１０が出力する検出制御信号がハイレベルである時にローパスフィルタ１３０２からの信号に含まれる電気的オフセットを検出してオフセット信号を出力する。
【０２１２】
検出値記憶部１３１２は、検出制御部１３１０が出力する検出制御信号のパルスが立ち下がる時のオフセット検出部１３１１が出力するオフセット信号の値を記憶する。
【０２１３】
補正値計算部１３１３は、状況判断部１３０９からの更新信号および検出信号に応じて、検出値記憶部１３１２が記憶する値、および温度記憶部１３０８が記憶する値を読み出して電気的オフセットの補正値を計算して補正信号を出力する。
【０２１４】
次に、図１６を参照しながら、上述の状況判断部１３０９を詳細に説明する。図１６は、状況判断部１３０９の機能ブロックの構成を示す。状況判断部１３０９は、更新判断部１４００と、温度比較部１４０１と、検出判断部１４０２とを含む。更新判断部１４００は、時間測定部１３０６が出力する時間信号に応じて２値で示される更新信号を出力する。なお、更新信号はハイレベルである時は更新ありを示し、ローレベルである時は更新なしを示す。
【０２１５】
温度比較部１４０１は、更新判断部１４００が出力する更新信号のパルスが立ち上がった時に、温度記憶部１３０８が記憶する温度の値の中で現在温度検出部１３０７が出力する温度信号の値との差が所定値以内である２つの値があるかどうかを検出し、ない場合はハイレベルであり、ある場合はローレベルである温度比較信号を出力する。検出判断部１４０２は、更新判断部１４００が出力する更新信号、記録バッファ１３１５が出力する記録情報量信号および温度比較部１４０１が出力する温度比較信号に応じて２値で示される検出信号を出力する。ハイレベルの検出信号は検出ありを示し、ローレベルの検出信号は検出なしを示す。
【０２１６】
続いて、図１７を参照しながら、状況判断部１３０９から出力される更新信号と検出信号とを詳細に説明する。ここでは時間測定部１３０６と状況判断部１３０９との各構成要素の動作も併せて説明する。
【０２１７】
図１７は、状況判断部１３０９に関連する信号のタイミングチャートを示す。
【０２１８】
時間信号は、更新信号のパルスが立ち下がる時にゼロにリセットされ、その後の経過時間を示す。更新判断部１４００は、時間信号の値が所定の閾値を超えた時に、更新信号を一定時間ハイレベルにする。更新信号は、ハイレベルの時は更新ありを示し、ローレベルの時は更新なしを示す。
【０２１９】
温度比較信号は温度比較部１４０１が出力する信号であり、温度記憶部１３０８が記憶する温度の値のうち、現在の温度の値との差が所定値以内である値の有無を示す。なお温度比較信号のパルスの立ち下がりは更新信号のパルスの立ち下がりと同時である。
【０２２０】
検出信号は検出判断部１４０２が出力する２値信号であり、更新信号のパルスが立ち上がるタイミングの近傍において、記録情報量信号の値が所定値以下で、かつ、温度比較信号がハイレベルである時はハイレベルになる。これ以外の時はローレベルである。なお検出信号のパルスの立ち下がりは更新信号のパルスの立ち下がりと同時である。また検出信号はハイレベルの時は検出ありを示し、ローレベルの時は検出なしを示す。
【０２２１】
図１７に示すように、更新信号は一定時間ごとにパルスを有する。更新信号は、記録バッファ１３１５が記憶する情報量が所定以下であり、かつ、温度記憶部１３０８が記憶する温度値の中で、現在温度検出部１３０７から出力されている温度信号の値との差が所定値以内の２つの値が存在する場合は一定時間ハイレベルとなる。
【０２２２】
次に、検出制御部１３１０を説明する。図１８は検出制御部１３１０の機能ブロックの構成を示す。検出制御部１３１０は、遮断制御部１６００とオフセット検出制御部１６０１とを有する。遮断制御部１６００は、状況判断部１３０９から出力された検出信号がハイレベルに立ち上がった時からの経過時間に応じて遮断制御信号を生成し、制御信号生成部１３０４に出力する。オフセット検出制御部１６０１は、検出制御信号を生成してオフセット検出部１３１１および検出値記憶部１３１２に出力する。ここで、図１９を参照しながら、これらの信号のタイミングを説明する。
【０２２３】
図１９は検出制御部１３１０に関連する信号のタイミングチャートを示す。検出信号は、先に図１７を参照しながら説明したとおり状況判断部１３０９から出力される。遮断信号は、検出信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、検出信号のパルスの立ち下がりよりも前に立ち下がる。検出制御信号は、遮断信号のパルスの立ち上がりよりも後に立ち上がり、遮断信号のパルスと同時に立ち下がる。
【０２２４】
次に、温度記憶部１３０８および検出値記憶部１３１２を詳細に説明する。
【０２２５】
温度記憶部１３０８は、検出信号のパルスが立ち下がりに応じて、その都度、温度検出部１３０７から出力される温度信号の値を情報格納領域に順次格納する。一方、検出値記憶部１３１２は、検出制御信号のパルスが立ち下がりに応じて、その都度、オフセット検出部１３１１から出力されるオフセット信号の値を情報格納領域に順次格納する。
【０２２６】
図１９では、検出信号のパルスの立ち下りのタイミングおよび検出制御信号のパルスの立ち下りのタイミングは、明確に異なっているように記載されている。しかし、このタイミングのずれは電気的オフセットの補正開始から終了までの時間間隔と比較すると十分短く、ほぼ同時刻であると近似できる。すなわち、温度記憶部１３０８に記憶される温度信号の値および検出値記憶部１３１２に記憶されるオフセット信号の値は、ほぼ同時刻のサンプリング値とみなすことができる。その結果、温度記憶部１３０８および検出値記憶部１３１２に記憶されている値を順次たどることにより、同時刻の温度信号の値およびオフセット信号の値を参照することができる。
【０２２７】
次に、図１５および１７を参照しながら、補正値計算部１３１３を詳細に説明する。補正値計算部１３１３は、更新信号のパルスが立ち下がった後に補正値を計算する。
【０２２８】
更新信号がハイレベルである時に検出信号もハイレベルである場合は、最後に検出制御信号のパルスが立ち下がった後に検出値記憶部１３１２に記憶された電気的オフセットすなわち現在検出された電気的オフセットの値をそのまま補正値として採用する。
【０２２９】
更新信号がハイレベルで、かつ、検出信号がローレベルであるとき、温度記憶部１３０８は記憶している温度の値から、更新信号のパルス立ち下がり時において温度検出部１３０７から出力される温度信号の値に近い２つの値を検索して読み出す。次に、読み出した温度の値が温度記憶部１３０８に記憶された時と同時に検出値記憶部１３１２に記憶された電気的オフセットの値を検索して読み出す。いま、読み出した温度の値をＴ０およびＴ１とし、またこれらの温度の値に対応する電気的オフセットの値をＯｓ０およびＯｓ１とする。また、現在の温度信号の値をＴ２とし、新たに計算した補正値をＣとする。
【０２３０】
補正値計算部１３１３は、補正値Ｃを（式５）によって計算する。
【０２３１】
（式５）
Ｃ＝（Ｏｓ１−Ｏｓ０）×（Ｔ２−Ｔ１）/（Ｔ１−Ｔ０）＋Ｏｓ１
【０２３２】
このとき、現在の電気的オフセットは検出されておらず、現在の電気的オフセットの値を過去の値から推定し、その値をもって補正値とする。推定については過去に電気的オフセットの検出を行った時の温度のうち、現在の温度に最も近い２つの時の温度および電気的オフセットの値から、温度変化に対する電気的オフセットの変化を線形であるとして計算する。
【０２３３】
続いて、図２０を参照しながら、光ディスク装置３９の動作を説明する。図２０は、光ディスク装置３９の動作の手順を示す。
【０２３４】
まず、ステップＳ３００において、状況判断部１３０９は前回のオフセット補正値の更新時から所定時間が経過したか否かを判断する。ステップＳ３００は、所定時間が経過するまで継続して行われる。所定時間が経過したと判断すると、処理はステップＳ３０１に進む。ステップＳ３０１では、状況判断部１３０９はさらに記録バッファ１３１５に記憶されている情報量が所定値以下であるか否かを判断する。所定値以下のときはステップＳ３０２に進み、所定値以上のときはステップＳ３０３に進む。
【０２３５】
ステップＳ３０２では、オフセット検出部１３１１によってオフセットが検出される。ここで、図１５および図１９を参照しながら、オフセットの検出処理を説明する。状況判断部１３０９が検出信号をハイレベルにすると、制御信号生成部１３０４はその直前またはそのときのトラッキング制御信号の値をホールドする。ホールド期間中、レンズ駆動回路７は対物レンズ５の位置を固定する駆動信号を出力する。対物レンズ５の位置が光ディスク１に対して固定されることにより、レーザスポットは光ディスク１の半径方向に関してホールド直前の位置に固定される。
【０２３６】
検出信号がハイレベルになると同時に、ローパスフィルタ１３０２は遮断周波数をより高い値に切り替える。このとき、制御信号生成部１３０４は検出信号のパルスの立ち上がりから遮断信号のパルスの立ち上がりまで間、トラッキング制御信号をホールドする。なお、このホールド期間は、ローパスフィルタ１３０２の周波数の切り替えに要する時間を含む。
【０２３７】
ローパスフィルタ１３０２が遮断周波数を切り替えた後、検出制御部１３１０は遮断信号をハイレベルにして、レーザダイオード２のレーザ発光を停止する。この時点でローパスフィルタ１３０２が出力する信号の値は電気的オフセットの値となる。検出する原理は、第１の実施形態で説明した原理と同様である。
【０２３８】
なおローパスフィルタ１３０２の出力信号が電気的オフセットの値に整定するまでに要する時間はローパスフィルタ１３０２の高い方の遮断周波数に依存する。遮断信号のパルスの立ち上がりから検出制御信号のパルスの立ち上がりまでの時間はこの整定時間を含むように設計される。
【０２３９】
ローパスフィルタ１３０２の出力信号の値が電気的オフセットの値に整定すると、検出制御信号がハイレベルになり、オフセット検出部１３１１は電気的オフセットの値を検出する。検出制御信号のパルスの幅はオフセット検出部１３１１が検出に要する時間をカバーするように設計される。
【０２４０】
電気的オフセットの検出が終わると検出制御信号および遮断信号がローレベルになり、レーザダイオード２はレーザ光を放射する。するとローパスフィルタ１３０２が出力する信号の値は光量信号に応じた値に復帰する。復帰に要する時間はローパスフィルタ１３０２の高い方の遮断周波数に依存する。遮断信号および検出制御信号のパルスの立ち下がりから検出信号のパルスの立ち下がりまでの時間はこの復帰時間をカバーするように設計される。
【０２４１】
ローパスフィルタ１３０２の出力信号が光量信号に応じた値に復帰すると、検出信号がローレベルになりローパスフィルタ１３０２の遮断周波数が低い方に切り替わる。また、ホールド信号がローレベルになり、トラッキング制御信号のホールドが解除される。その結果、光ディスク１の半径方向の照射位置は光ディスク１の記録トラックに追従する。以上のように電気的オフセットが検出される。
【０２４２】
次に、再び図２０を参照しながら、ステップＳ３０３の処理を説明する。ステップＳ３０３では、温度記憶部１３１８に記憶された過去の温度および検出値記憶部１３１２に記憶された過去の電気的オフセットの値に基づいて、線形計算により現在の温度における電気的オフセットの値を線形計算で導き出す。
【０２４３】
最後に、ステップＳ３０４において、ステップＳ３０２において検出された電気的オフセットの値、またはステップＳ３０３において導き出された電気的オフセットの値を用いて補正値が更新される。その後、処理はステップＳ３００に戻る。
【０２４４】
本実施形態の光ディスク装置３９は、電気的オフセットを検出することによって、または、過去の温度および電気的オフセットの値に基づいて現在の電気的オフセットの値を導出することによって補正値を更新し、電気的オフセットを補正する。これにより、光ディスク装置３９の記録再生動作を中断する頻度を下げ、高いレートで光ディスク装置３９およびバッファメモリ間で、高レートの情報転送を実現できる。
【０２４５】
また、光ディスク装置３９は補正値の更新を一定時間ごとに行うので、ドライブとバッファメモリの間の転送レートを一定以上に保つことができる。
【０２４６】
電気的オフセットの検出は、記録バッファに所定以下の情報量が記憶されている場合にのみ行うため、ホストコンピュータとバッファメモリの間の転送レートは一定以上に保つことができる。このときは、記録時にドライブとバッファメモリの間の転送レートが低下しても問題は生じない。なお、同様に再生バッファに記録されている情報量を検出し、その情報量が所定値以下である場合は電気的オフセットの検出を禁止してもよい。この場合は、再生時の転送レートを一定以上に保つことができる。
【０２４７】
また、過去に検出した温度および電気的オフセットの値から現在の電気的オフセットの値を計算する際には、過去の検出によって蓄積記憶している電気的オフセットおよび温度の値の中から現在の電気的オフセットおよび温度の値に近い値を探し出すため、電気的オフセットの検出を充分な回数行った後は、もはや電気的オフセットを検出する必要がなくなる。よって、ドライブおよびバッファメモリ間で、高レートな情報転送を実現できる。
【０２４８】
また、温度比較部１４０１が出力する温度比較信号によって、現在の温度との差が所定以内である温度の値が記憶されていない場合には電気的オフセットの検出を促すため、温度に対する電気的オフセットの特性が線形ではない場合においても高い精度の補正を実現できる。
【０２４９】
また、本実施形態による光ディスク装置は、第２の実施形態で説明したように記録時および再生時のそれぞれに対応した回路設定の場合に対して補正値を計算し、補正を行う際に各回路設定に対応して補正値を切り換えてもよい。この場合さらに高い精度の補正が実現できる。
【０２５０】
上述した第２および３の実施形態によれば、電気的オフセットを検出する際にはレーザ発光を停止して回路に対する外部入力を遮断するため、回路規模の拡大の必要なく電気的オフセットの値を高い精度で検出することができる。またサーボ信号に対してホールドを行うことで電気的オフセットの検出後に高速にサーボ動作に復帰することができ、ドライブの記録再生動作を中断する時間を短くし、ドライブおよびバッファメモリ間で、高レートの情報転送を実現できる。
【０２５１】
また、電気的オフセットの検出は、再生バッファに所定以上の情報量が記憶されている場合のみ行うため、ホストコンピュータとバッファメモリの間の転送レートは一定以上に保つことができる。このときは、再生時にドライブとバッファメモリの間の転送レートが低下しても問題は生じない。なお、記録バッファに記憶されている情報量を検出し、その情報量が所定以上である場合に電気的オフセットの検出を禁止してもよい。このときも、記録時の転送レートも一定以上に保つことができる。
【０２５２】
なお、実施形態１と同様に、ローパスフィルタを迂回するように回路を切り換えて電気的オフセットを検出してもよいし、信号経路を構成する電気回路に区分して電気的オフセットを補正してもよい。
【０２５３】
また、電気回路に対する外部入力を遮断する際、第１の実施形態で説明したように受光量を検出した直後の信号を基準電圧に短絡してもよい。この場合電気的オフセットに対する補正を必要とする信号の回路のみにおいて外部入力を遮断でき、他の信号系の処理に対して大きな影響を与えることなく電気的オフセットの値を高い精度で検出できる。
【０２５４】
上述した実施形態では、サーボ信号に関して電気的オフセットを補正するための光ディスク装置の構成および動作を説明した。しかし、光ディスク装置は、それらの信号に限らず、光量信号に基づいて生成されるあらゆる信号に対して同じ処理を適用することができる。
【０２５５】
（実施形態４）
図２１は本実施形態による光ディスク装置の構成を示す。本実施形態による光ディスク装置はレベル調整部４３および迷光調整部４６を有しており、その各々はＴＥ信号生成部１３０１に入力される信号および制御信号生成部４７に入力される信号のレベルをより適切に調整する。その結果、光ディスク装置はより精度の高いサーボ制御を行うことができる。
【０２５６】
以下、光ディスク装置の構成を説明する。光ディスク装置は、光ヘッド４０と、ＴＥ生成チップ４１と、光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）４２と、レンズ駆動回路７とを備えている。
【０２５７】
光ヘッド４０は、レーザダイオード２と、コリメートレンズ３と、ビームスプリッタ４と、対物レンズ５と、受光量検出部６と、増幅部１３００とを有する。各構成要素の機能および動作はすでに説明しているので、その説明は省略する。
【０２５８】
光ヘッド４０に関して留意すべきは、光ヘッド４０から出力される信号には迷光に起因する信号が含まれていることである。「迷光」とは、光ヘッド４０のコリメートレンズ３、ビームスプリッタ４および対物レンズ５間の光学経路におけるレーザ光の乱反射成分のことをいう。例えば、コリメートレンズ３から光ディスク１へ向けて放射されたレーザ光の一部は、対物レンズ５において反射され、再びコリメートレンズ３の方向へ戻ることが知られている。このコリメートレンズ３の方向へ戻る光を迷光という。迷光は、ディスク１からの反射光とともに受光量検出部６において検出され、その検出信号は増幅部１３００において増幅される。以下、本明細書では、迷光に起因する信号を「迷光信号」と称し、その信号のレベルを「迷光オフセット」と称する。本実施形態の光ディスク装置は、後述する迷光調整部４６によって迷光信号を除去することができる。
【０２５９】
ＴＥ生成チップ４１は、レベル調整部４３と、ＴＥ信号生成部１３０１と、ローパスフィルタ１３０２とを有する。このうち、ＴＥ信号生成部１３０１およびローパスフィルタ１３０２は、すでに説明したとおりであるため、ここでは説明を省略する。レベル調整部４３が設けられたＴＥ生成チップ４１は、例えば、半導体集積回路（ＩＣ）として生産され、光ディスク装置に実装され得る。
【０２６０】
レベル調整部４３は、レベル検出部４３ａとレベル補正部４３ｂとを有しており、これらにより、増幅部１３００からの増幅信号のレベルを調整して出力する。以下、図２２（ａ）から（ｄ）を参照しながら、レベル調整部４３の構成および動作をより詳しく説明する。なお、レベル調整部４３の動作条件、すなわちレベル調整部４３がレベルを調整するときの条件は、レーザダイオード２が点灯しており、かつ、光ディスク装置がフォーカス制御動作およびトラッキング制御動作を行っていないことである。
【０２６１】
レベル調整部４３は、ＴＥ信号生成部１３０１の処理能力との関係を考慮してその仕様が決定されている。図２２（ａ）は、ＴＥ信号生成部１３０１内部のアンプ（図示せず）が処理可能なダイナミックレンジＤを示す。ダイナミックレンジＤは下限値Ｄｍｉｎおよび上限値Ｄｍａｘによって規定される範囲である。ＴＥ信号生成部１３０１は、ダイナミックレンジＤに収まる振幅を有する内部信号に対しては正常な処理を行ってＴＥ信号を生成することができる。一方、図２２（ｂ）に示すように、内部信号のレベルが上限値Ｄｍａｘを超えているときは、ＴＥ信号生成部１３０１は上限値Ｄｍａｘ以上の飽和部分を処理することができない。また、図２２（ｃ）に示すように、内部信号のレベルが下限値Ｄｍｉｎよりも小さいときも、ＴＥ信号生成部１３０１は下限値Ｄｍｉｎよりも小さい部分（いわゆる不感帯部分）を処理することができない。
【０２６２】
ＴＥ信号生成部１３０１内を伝送される内部信号のレベルは入力信号のレベルに応じて変化し、または、入力信号はそのままＴＥ信号生成部１３０１の内部信号として利用される。そこで、レベル調整部４３は、ＴＥ信号生成部１３０１の内部信号が図２２（ａ）に示すダイナミックレンジＤに入るように、ＴＥ信号生成部１３０１への入力信号のレベルを調整する。図２２（ｄ）は、ＴＥ信号生成部１３０１のダイナミックレンジＤに入る入力信号の範囲を示す。入力信号のレベル（入力電圧）が基準電圧Ｃ±Ａの範囲に入っているとき、ＴＥ信号生成部１３０１の内部信号は図２２（ａ）の範囲に入る。図２２（ｄ）には、基準電圧ＣからΔＣだけ高い電圧を振幅中心とする信号が示されている。なお、基準電圧Ｃおよび基準電圧Ｃからの幅（±Ａ）は、光ディスク装置の記録再生動作に関して既知の変動範囲の最大値および最小値から決定される。
【０２６３】
レベル調整部４３のレベル検出部４３ａは、増幅部１３００から入力された信号のレベルを一定の期間（例えば、信号の数周期）にわたって検出し、検出結果をレベル補正部４３ｂに送る。するとレベル補正部４３ｂは、基準電圧Ｃからのずれ（ΔＣ）を算出し、入力信号のレベルに（−ΔＣ）を加算して信号レベルを補正する。その結果、レベル補正部４３ｂは振幅中心が基準電圧Ｃに一致する信号を得て、その信号をＴＥ信号生成部１３０１に出力する。以上の処理の結果、ＴＥ信号生成部１３０１は正常に動作しかつ精度のよいＴＥ信号を得ることができる。なお、信号の振幅中心となる電圧を基準電圧Ｃに一致させてもその振幅が上述の振幅Ａよりも大きい場合がある。そのときは、レベル補正部４３ｂは、さらに信号を定数倍し、その振幅の最大値および最小値の絶対値がＣ±Ａに収まるように信号のレベルを補正すればよい。
【０２６４】
なお、入力信号のレベルを変更することは、入力信号のレベルに電気的なオフセット（−ΔＣ）を与えることを意味している。このオフセットは、任意の値で与えてもよいし、ステップ状の値（−１０ｍＶ、−２０ｍＶ等）のひとつとして与えてもよい。
【０２６５】
上述の処理によれば、ＴＥ信号生成部１３０１のダイナミックレンジを狭く設定しても正常にＴＥ信号生成部１３０１を動作させることができ、ＴＥ信号生成部１３０１の省電力化を実現できる。さらに、アナログ演算を行うＴＥ信号生成部１３０１のダイナミックレンジを狭くすることにより、ディジタル演算を行う制御信号生成部４７に信号を入力する際のＡ／Ｄ変換の分解能を向上させることができる。
【０２６６】
次に、ＯＤＣ４２を説明する。ＯＤＣ４２は、オフセット検出部４８と、検出値記憶部４４と、補正値計算部４５と、オフセット補正部１３０３と、迷光調整部４６と、制御信号生成部４７とを有する。
【０２６７】
オフセット検出部４８、検出値記憶部４４、補正値計算部４５およびオフセット補正部１３０３の各機能は、例えば図１に示す同じ名称の構成要素の機能と同様である。すなわち、オフセット検出部４８はローパスフィルタ１３０２から出力された信号に基づいてオフセットを検出し、検出値記憶部４４はオフセット検出部４８が出力するオフセット信号の値をすべて記憶する。また、補正値計算部４５は、検出値記憶部４４に記憶されたオフセット値を読み出して電気的オフセットの補正値を計算して補正信号を出力する。オフセット補正部１３０３は、補正値計算部４５から出力された補正値に基づいてローパスフィルタ１３０２の出力信号を補正する。なお、図には実施形態１から３による光ディスク装置に共通して設けられたオフセット検出部、検出値記憶部、補正値計算部およびオフセット補正部のみを示している。
【０２６８】
以上の処理により、光ディスク装置内のアンプ等に起因する電気的オフセットが補正される。さらに、この補正処理によれば、レベル調整部４３において意図的に信号に与えられた電気的オフセットをも補正できる。例えば、レベル補正部４３ｂがステップ状の値のうち“−１０ｍＶ”を与える場合を考える。“−１３ｍＶ”のオフセットによって完全な補正が可能であるとすると、−１０ｍＶと−１３ｍＶとの間の差（−３ｍＶ）は、信号に意図的に与えられた電気的オフセットになる。オフセット補正部１３０３は、この電気的オフセットを含めてそれまでに生じた電気的オフセットを補正することができる。
【０２６９】
次に、迷光調整部４６の構成および動作を説明する。迷光調整部４６は、迷光検出部４６ａおよび迷光補正部４６ｂを有し、光ヘッド４０内の光学経路に起因する迷光を除去する。所定の条件の下では、迷光に関する信号のみが迷光調整部４６に入力される。「所定の条件」とは、レーザダイオード２が点灯していること、フォーカス制御動作およびトラッキング制御動作が行われていないこと、および、光ディスク１からの反射光を受光量検出部６が受光しないこと（例えば対物レンズ５が光ディスク１から十分離れていること）である。本明細書では、この条件を迷光調整部４６が迷光を調整するときの条件としている。
【０２７０】
受光量検出部６が反射光を受光しないようにするために、レンズ駆動回路７はレンズ５に物理的に連結されたフォーカスアクチュエータ（図示せず）に予め規定された駆動信号を与え、フォーカスアクチュエータは駆動信号にしたがって対物レンズ５を光ディスク１に垂直な方向で、かつ光ディスク１から離れる方向に十分な距離だけ移動させる。このような動作は、制御信号生成部４７からの制御信号に基づいてレンズ駆動回路７によって行われる。また、光ディスク１の情報記録層にデータを書き込み、情報記録層からデータ読み出す際には、光ビームの焦点が情報記録層に位置するようにレンズ駆動回路７からフォーカスアクチュエータに駆動信号が出力される。
【０２７１】
レンズ駆動回路７は光ディスク１に垂直な方向のみならず、光ディスク１の半径方向にもレンズ５を駆動することができる。このとき、レンズ駆動回路７はレンズ５に物理的に連結されたトラッキングコイル（図示せず）に駆動信号を与え、トラッキングコイルは駆動信号にしたがってレンズ５を光ディスク１の半径方向に駆動する。これにより、光ビームの焦点位置が記録トラックを外れないように制御することができる。トラッキングコイルによって制御できないような光ヘッド４０の大きな半径方向の移動は、光ヘッド４０を移送する移送台（図示せず）を移動させることによって光ヘッドを所定の記録トラックまで移動させ、トラッキングコイルによってその記録トラックに追随するように制御が行われる。
【０２７２】
迷光検出部４６ａが迷光信号のレベルすなわち迷光オフセットを検出し保持することにより、迷光補正部４６ｂはオフセット補正部１３０３の出力信号からその迷光オフセットを減算して容易に迷光信号を除去できる。その結果、制御信号生成部４７は、迷光補正部４６ｂから出力された信号を受けて迷光の影響のない制御信号を生成することができ、これにより精度の高いトラッキング制御が実現される。
【０２７３】
次に、図２３を参照しながら、本実施形態による光ディスク装置のレベル補正動作および迷光補正動作の一連の処理手順を説明する。図２３は、本実施形態による光ディスク装置の補正処理の手順を示す。ステップＳ４０１において、レーザダイオード２が点灯してレーザ光が放射される。このとき、光ディスク装置はフォーカス制御動作およびトラッキング制御動作を行っておらず、かつ、受光量検出部６が光ディスク１からの反射光を受光しない位置まで対物レンズ５をフォーカス方向に移動させる。
【０２７４】
次にステップＳ４０２において、レベル調整部４３はレベル補正を行ってＴＥ信号生成部１３０１へ入力される信号のレベルを調整する。ステップＳ４０３では、オフセット補正部１３０３は電気的オフセット補正する。次のステップＳ４０４では、迷光調整部４６は迷光オフセットを検出するとともに迷光を補正する。
【０２７５】
ステップＳ４０４までの処理によって電気的オフセットおよび迷光オフセットが補正されると、次のステップＳ４０５において、光ディスク装置はフォーカス制御を行って光ビームを光ディスク１の情報記録層上に収束させ、ステップＳ４０６において、トラッキング制御を行って光ビームを光ディスク１の記録トラック上に正しく走査させる。その後、光ディスク１へのデータの記録動作または光ディスク１からのデータ読み出し動作が開始されると、所定の時間間隔で、ステップＳ４０７が実行される。
【０２７６】
ステップＳ４０７では、オフセット補正部１３０３は電気的オフセットを検出または推定して、必要に応じて電気的オフセットを補正する。なお、所定の時間間隔の他に、実施形態１による光ディスク装置のように温度検出部を設けて、所定の温度に到達したときにステップＳ４０７を実行してもよい。
【０２７７】
なお、ステップＳ４０４における迷光補正は、電気的オフセットの補正と異なり、光ディスク装置の起動時に一度だけ補正すればよい。動作開始後の温度変化が迷光の発生状態に対して与える影響は実質的に無視できるからである。迷光補正処理を行う際には、例えば実施形態２の光ディスク装置の動作と同様、光ディスク装置はデータの記録動作時と再生動作時とで設定を変更して迷光オフセット検出および補正を行ってもよい。このとき、例えば設定制御部７１５は、記録用発光パワーと再生用発光パワーとを切り替えてレーザダイオード２を発光させる。
【０２７８】
図２１の光ディスク装置はレベル調整部４３および迷光調整部４６の両方を備えているが、これらは一方のみが設けられてもよい。レベル調整部４３および迷光調整部４６の各動作は独立しているので、各々を上述した各条件の下で動作させることにより、上述の各目的を達成できる。
【０２７９】
レベル調整部４３および／または迷光調整部４６は、実施形態１から３による光ディスク装置に組み込まれてもよい。例えば、図２４は、実施形態１による光ディスク装置にレベル調整部４３および迷光調整部４６を設けた他の光ディスク装置の構成を示す。レベル調整部４３は、第２遮断部１０２とＴＥ信号生成部１０３に設けられ、ＴＥ信号生成部１０３へ入力される信号のレベルを調整する。また、迷光調整部４６は、オフセット補正部１１１と制御信号生成部１１０との間に設けられ、精度の高いトラッキング制御およびフォーカス制御が実現される。また、本発明の第２の実施形態による光ディスク装置にレベル調整部を設ける場合には、例えばレベル調整部を増幅部７００およびＦＥ信号生成部７０１の間に配置して、レベル調整部がＦＥ信号生成部７０１に入力される信号のレベルを調整してもよい。これにより、ＦＥ信号生成部７０１が正常に動作するとともに精度のよいＦＥ信号を得ることができる。さらにＦＥ信号生成部７０１のダイナミックレンジを小さくできることに伴う上述の利点も得ることができる。
【０２８０】
なお、１台のデータ処理装置において、第１〜第３の各実施形態の２以上を組み合わせて利用することも可能である。例えば第１および第２の実施形態による処理を組み合わせて、トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号の両方について、各信号に重畳された電気的オフセットを別個に補正することができる。
【０２８１】
以上、第１から第４の実施形態による光ディスク装置を説明した。各実施形態による光ディスク装置は、電気的オフセットを検出する際の外部入力の遮断の方法、回路の各部の電気的オフセットの切り分け、記録および再生にそれぞれ対応した設定、補正値の計算方法、補正値を更新する状況、および、電気的オフセットを検出する状況等において互いに異なっている場合がある。しかし、これらの方法、設定内容等の動作条件を互いに自由に組み合わせることにより、高レートの情報転送およびより高精度なオフセット補正、レベル補正、迷光補正を実現させることができる。その結果、サーボ信号の品質が高くなり、精度の高いサーボ制御を実現できる。
【０２８２】
なお、本明細書ではサーボ制御の例として、トラッキング制御およびフォーカスエラー制御のそれぞれを説明した。明細書および図面における、ＴＥ／ＦＥ信号、ＦＥ／ＴＥ生成チップ、ＴＥ／ＦＥ信号生成部は、それぞれサーボ信号、サーボ信号生成チップ、サーボ信号生成回路などと総括することができる。
【産業上の利用可能性】
【０２８３】
本発明によれば、電気的オフセットを補正する際に、電気的オフセットを検出する場合と、過去の温度および電気的オフセットの値から現在の電気的オフセットの値を計算する場合を設けるので、光ディスク装置の記録再生動作を中断する頻度を下げ、光ディスク装置およびバッファメモリ間で、高レートな情報転送を実現できる。このような光ディスク装置は、ＣＤ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，＋ＲＷ，＋Ｒ、ＢＤ等に対してデータの読み出しおよび／または書き込みを行うあらゆる光ディスク装置に対して適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【０２８４】
【図１】実施形態１による光ディスク装置のブロック図である。
【図２】状況判断部１０７のブロック図である。
【図３】状況判断部１０７に関連する信号のタイミングチャートである。
【図４】検出制御部１０８のブロック図である。
【図５】検出制御部１０８に関連する信号のタイミングチャートである。
【図６】温度記憶部１０６に記憶される値および検出値記憶部１１３に記憶される値と、検出信号および更新信号との関係を示す図である。
【図７】光ディスク装置１９の動作の手順を示すフローチャートである。
【図８】実施形態２による光ディスク装置のブロック図である。
【図９】状況判断部７０９のブロック図である。
【図１０】状況判断部７０９に関連する信号のタイミングチャートである。
【図１１】検出制御部７１０のブロック図である。
【図１２】検出制御部７１０に関連する信号のタイミングチャートである。
【図１３】温度記憶部７０８に記憶される値および検出値記憶部７１３に記憶される値と、検出信号および更新信号との関係を示す図である。
【図１４】光ディスク装置２９の動作の手順を示すフローチャートである。
【図１５】実施形態３による光ディスク装置のブロック図である。
【図１６】状況判断部１３０９のブロック図である。
【図１７】状況判断部１３０９に関連する信号のタイミングチャートである。
【図１８】検出制御部１３１０のブロック図である。
【図１９】検出制御部１３１０に関連する信号のタイミングチャートである。
【図２０】光ディスク装置３９の動作の手順を示すフローチャートである。
【図２１】実施形態４による光ディスク装置のブロック図である。
【図２２】（ａ）はＴＥ信号生成部１３０１内部のアンプが処理可能なダイナミックレンジＤを示す図であり、（ｂ）は内部信号のレベルが上限値Ｄｍａｘを超えている状態を示す図であり、（ｃ）は内部信号のレベルが下限値Ｄｍｉｎよりも小さい状態を示す図であり、（ｄ）は、ＴＥ信号生成部１３０１のダイナミックレンジＤに入る入力信号の範囲を示す図である。
【図２３】第４の実施形態による光ディスク装置の補正処理の手順を示すフローチャートである。
【図２４】第１の実施形態による光ディスク装置にレベル調整部４３および迷光調整部４６を設けた光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２５】従来の光ディスク装置のブロック図である。
【符号の説明】
【０２８５】
１  光ディスク
２  レーザダイオード
３  コリメートレンズ
４  ビームスプリッタ
５  対物レンズ
６  受光量検出部
７  レンズ駆動回路
１０  光ヘッド
１１  ＴＥ生成チップ
１２  光ディスクコントローラ
１３  センサ部
４０  光ヘッド
４１  ＴＥ生成チップ
４２  光ディスクコントローラ
４３  レベル調整部
４３ａ  レベル検出部
４３ｂ  レベル補正部
４４  検出値記憶部
４５  補正値計算部
４６  迷光調整部
４６ａ  迷光検出部
４６ｂ  迷光補正部
４７  制御信号生成部
１００  第一遮断部
１０１  増幅部
１０２  第二遮断部
１０３  ＴＥ信号生成部
１０４  第一温度検出部
１０５  第二温度検出部
１０６  温度記憶部
１０７  状況判断部
１０８  検出制御部
１０９  ローパスフィルタ
１１０  制御信号生成部
１１１  オフセット補正部
１１２  オフセット検出部
１１３  検出値記憶部
１１４  補正値計算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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