Podtech/llm-jp-corpus-v4-ja_patent huggingface dataset:
【手続補正書】
【提出日】平成22年2月1日(2010.2.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
脆性材料からなり、表面及び裏面と、表面と裏面との間に延びる側端面とを有する板状の被加工基板に対してレーザ光を照射して加工するレーザ加工装置において、
レーザ光を出射するレーザ発振器と、
レーザ発振器から出射されるレーザ光を被加工基板の側端面に集光又は結像させる光学系とを備え、
被加工基板の側端面の表面側から裏面側までの全域に沿って、光学系により集光又は結像されるレーザ光をスキャンさせるスキャナと、を備え、
前記スキャナによって、レーザ光がスキャンされながら照射されることによって、欠陥が発生した被加工基板の側端面を修復することを特徴とするレーザ加工装置。
【請求項２】
脆性材料からなり、表面及び裏面と、表面と裏面との間に延びる側端面とを有する板状の被加工基板に対してレーザ光を照射して加工するレーザ加工装置において、
レーザ光を出射するレーザ発振器と、
レーザ発振器から出射されるレーザ光を被加工基板の側端面に集光又は結像させる光学系と、
被加工基板の側端面に発生した欠陥を検出する欠陥検出部と、
欠陥検出部とレーザ発振器とに連結された制御部とを備え、
制御部により、欠陥検出部からの情報に基づいてレーザ発振器からレーザ光を出射し、光学系により集光又は結像されるレーザ光を側端面の欠陥に照射することによって、当該欠陥が発生した被加工基板の側端面を修復することを特徴とするレーザ加工装置。
【請求項３】
光学系により集光又は結像されるレーザ光は、被加工基板の側端面に照射されるレーザ光のスポットの位置が調整機構によって調整自在となっていることを特徴とする請求項１又は２のいずれかに記載のレーザ加工装置。
【請求項４】
光学系により集光又は結像されるレーザ光は、被加工基板の側端面に対する照射角度が調整機構によって調整自在となっていることを特徴とする請求項１又は２のいずれかに記載のレーザ加工装置。
【請求項５】
レーザ発振器及び光学系は各々、複数個設けられ、
各レーザ発振器及び各光学系は、被加工基板の側端面の異なる位置及び／又は方向にレーザ光を照射できるよう配置されていることを特徴とする請求項１又は２のいずれかに記載のレーザ加工装置。
【請求項６】
各レーザ発振器は、同時にレーザ光を出射できることを特徴とする請求項５記載のレーザ加工装置。
【請求項７】
被加工基板は円盤状をなすとともに、基板保持部により保持され、
当該基板保持部は、回転自在であることを特徴とする請求項１又は２のいずれかに記載のレーザ加工装置。
【請求項８】
制御部は、欠陥検出部からの情報に基づいて側端面が修復されたと判断するまで、繰り返し、欠陥検出部によって、被加工基板の側端面に発生した欠陥を検出させるとともに、レーザ発振器からレーザ光を出射させ、光学系により集光又は結像されるレーザ光を側端面の欠陥に照射させることを特徴とする請求項２記載のレーザ加工装置。
【請求項９】
欠陥検出部により被加工基板の側端面の全てを再度検出させる全体再検査モードと、欠陥検出部により被加工基板の側端面のうちクラックが検出された箇所を再度検出させる一部再検査モードとを選択可能な選択手段を、さらに備えたことを特徴とする請求項８記載のレーザ加工装置。
【請求項１０】
脆性材料からなり、表面及び裏面と、表面と裏面との間に延びる側端面とを有する板状の被加工基板に対してレーザ光を照射して加工するレーザ加工方法において、
欠陥検出部によって、被加工基板の側端面に発生した欠陥を検出する欠陥検出工程と、
欠陥検出部からの情報に基づいてレーザ発振器からレーザ光を出射させ、当該レーザ光を側端面の欠陥に照射することによって、当該側端面を修復する照射工程と、
を備えたことを特徴とするレーザ加工方法。
【請求項１１】
前記照射工程の後で行われ、欠陥検出部によって、被加工基板の側端面に発生した欠陥を再度検出する再欠陥検出工程を、さらに備え、
制御部は、欠陥検出部からの情報に基づいて、側端面が修復されたかを判断することを特徴とする請求項１０記載のレーザ加工方法。
【請求項１２】
制御部が欠陥検出部からの情報に基づいて側端面が修復されたと判断するまで、
欠陥検出部からの情報に基づいてレーザ発振器からレーザ光を出射させる照射工程と、
欠陥検出部によって、被加工基板の側端面に発生した欠陥を再度検出する再欠陥検出工程と、
を繰り返し行うことを特徴とする請求項１１記載のレーザ加工方法。
【請求項１３】
再欠陥検出工程において、欠陥検出部は、被加工基板の側端面のうち、前回の欠陥検出部による検出によって欠陥が検出された箇所を再度検出することを特徴とする請求項１１又は１２のいずれかに記載のレーザ加工方法。
【請求項１４】
前記照射工程において、欠陥検出部からの情報に基づいて、レーザ発振器を制御してレーザ発振器から出射されるレーザ光の発振形態、出力、周波数および波長に関する出力パラメータ、又は、光学系の位置を制御して被加工基板の側端面に照射されるレーザ光のスポットの径、位置および方向を変化させることを特徴とする請求項１０記載のレーザ加工方法。
【手続補正書】
【提出日】平成21年12月3日(2009.12.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ワークローラ間に多条に巻かれたワイヤと、前記ワイヤを正方向或いは正逆方向の繰返しでワイヤ供給リールからワイヤ巻取リールへ移動させることで、一対のワークローラ間を走行するワイヤ列にてワークを切断するマルチ式ワイヤソーであって、
前記ワイヤ列に対してＸＹＺθ方向に相対移動自在のワークテーブルを有し、該ワークテーブルは、前記一対のワークローラの直下であるワーク加工位置と、前記一対のワークローラの直下から外れた位置にあるワークセット位置を共に有することを特徴とするマルチ式ワイヤソー。
【請求項２】
前記ワークローラは略水平方向に揺動可能であり、且つ前記ワークセット位置に１つ以上の撮像装置を有することを特徴とする請求項１記載のマルチ式ワイヤソー。
【請求項３】
前記ワークは板状であり、前記ワークが前記ワークセット位置に移動したときに前記前記撮像装置によって撮像できる加工マークを有し、前記撮像装置で撮像した前記加工マークを画像処理することにより予定加工寸法を算出する演算機能を有することを特徴とする請求項２記載のマルチ式ワイヤソー。
【請求項４】
前記ワイヤ列による前記予定加工寸法に近似させた加工は、前記ワークテーブルのＹθの移動、及び前記ワークローラを揺動させて前記ワイヤ列を平行移動させることによるワイヤピッチの変化によって為されることを特徴とする請求項３記載のマルチ式ワイヤソー。
【請求項５】
前記ワークセット位置でワークの供給或いは排出を行う手段を有することを特徴とする、請求項１，２，３又は４記載のマルチ式ワイヤソー。
【請求項６】
前記ワークローラは２箇所の所定領域に所望の２つのピッチでワイヤが巻き付けられ、
前記ワークテーブルのＹ方向は前記２箇所の所定領域間を相対移動可能であり、
前記ワークテーブルのθ方向は、９０°以上の相対回転移動が可能であり、
前記ワークテーブルのＹ方向への相対移動と、前記ワークテーブルのθ方向の相対移動によって、前記２箇所の所定領域において、前記２つのピッチのうちの第１のピッチで前記ワークの横方向切断を、第２のピッチで前記ワークの縦方向切断をそれぞれ可能とすることを特徴とする、請求項１，２，３，４又は５記載のマルチ式ワイヤソー。
【請求項７】
一対のワークローラ間を走行するワイヤ列にて板状ワークを一度に複数箇所切断するワイヤソーによる加工方法であって、
ダミーワークを所定の状態で前記ワイヤ列によって加工し、撮像装置で撮像することで前記ワイヤ列の位置、角度、ワイヤピッチのデータを記憶し、
前記撮像装置によってワークの加工マークを撮像し、前記撮像装置で撮像した前記加工マークを画像処理することにより予定加工寸法を算出し、
記憶された前記ワイヤ列の位置、角度、ワイヤピッチのデータと前記予定加工寸法とが近似するよう演算処理を行い、ワーク配置、及び前記ワイヤ列のワイヤピッチを補正することを特徴とするワイヤソーによる加工方法。
【請求項８】
一対のワークローラ間を走行するワイヤ列にて板状ワークを一度に複数箇所切断するワイヤソーによる加工方法であって、
前記ワークローラの２箇所の所定領域に所望の２つのピッチの前記ワイヤ列を設け、さらに前記ワークは前記ワークローラの前記２箇所の所定領域間を前記ワークローラの軸方向に移動可能であり、且つ前記ワークは、９０°以上θ方向に回転可能であり、
前記ワークを前記２つのピッチのうちの第１のピッチのワイヤ列領域で切断処理した後、
前記ワークを前記２つのピッチのうちの第２のピッチのワイヤ列領域まで移動するとともに前記ワークを９０°回転し、
前記ワークを前記第２のピッチのワイヤ列領域で切断処理し、
前記ワークの横方向切断ライン及び縦方向切断ラインは、前記第１及び第２のピッチと対応することを特徴とするワイヤーソーによる加工方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
前記マルチ式ワイヤソーにおいて、前記ワークセット位置でワークの供給或いは排出を行う手段を有してもよい。
前記マルチ式ワイヤソーにおいて、前記ワークローラは２箇所の所定領域に所望の２つのピッチでワイヤが巻き付けられ、前記ワークテーブルのＹ方向は前記２箇所の所定領域間を相対移動可能であり、前記ワークテーブルのθ方向は、９０°以上の相対回転移動が可能であり、前記ワークテーブルのＹ方向への相対移動と、前記ワークテーブルのθ方向の相対移動によって、前記２箇所の所定領域において、前記２つのピッチのうちの第１のピッチで前記ワークの横方向切断を、第２のピッチで前記ワークの縦方向切断をそれぞれ可能としてもよい。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
本発明のワイヤソーによる加工方法は、一対のワークローラ間を走行するワイヤ列にて板状ワークを一度に複数箇所切断する方法であって、
ダミーワークを所定の状態で前記ワイヤ列によって加工し、撮像装置で撮像することで前記ワイヤ列の位置、角度、ワイヤピッチのデータを記憶し、
前記撮像装置によってワークの加工マークを撮像し、前記撮像装置で撮像した前記加工マークを画像処理することにより予定加工寸法を算出し、
記憶された前記ワイヤ列の位置、角度、ワイヤピッチのデータと前記予定加工寸法とが近似するよう演算処理を行い、ワーク配置、及び前記ワイヤ列のワイヤピッチを補正することを特徴としている。
もう一つのワイヤソーによる加工方法は、一対のワークローラ間を走行するワイヤ列にて板状ワークを一度に複数箇所切断する方法であって、
前記ワークローラの２箇所の所定領域に所望の２つのピッチの前記ワイヤ列を設け、さらに前記ワークは前記ワークローラの前記２箇所の所定領域間を前記ワークローラの軸方向に移動可能であり、且つ前記ワークは、９０°以上θ方向に回転可能であり、
前記ワークを前記２つのピッチのうちの第１のピッチのワイヤ列領域で切断処理した後、
前記ワークを前記２つのピッチのうちの第２のピッチのワイヤ列領域まで移動するとともに前記ワークを９０°回転し、
前記ワークを前記第２のピッチのワイヤ列領域で切断処理し、
前記ワークの横方向切断ライン及び縦方向切断ラインは、前記第１及び第２のピッチと対応することを特徴としている。
【手続補正書】
【提出日】平成21年12月21日(2009.12.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データに基づいて光変調される光束を放射する４以上の発光部を各々有する複数の光源手段と、前記複数の光源手段の各々から出射した複数の光束を偏向走査する偏向手段と、前記光源手段毎に設けた被走査面上に前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された複数の光束を結像させる結像光学系と、を備え、前記複数の被走査面の各々を同一の光源手段から出射した複数の光束で同時に走査し、前記複数の被走査面の各々に同時に複数の走査線を描く光走査装置であって、
前記同一の光源手段の４以上の発光部から出射した複数の光束は前記偏向手段の同一の偏向面で同時に偏向走査されており、
前記被走査面上の１ライン目の走査線を前記同一の光源手段の４以上の発光部から出射した複数の光束により形成される複数の走査線のうち前記被走査面が移動する方向において最も上流側の走査線と定義するとき、
前記偏向手段によるｋ回目の偏向動作において、全ての被走査面における１ライン目の走査線に対応した画像データを、互いに他の被走査面における１ライン目の走査線に対応した画像データに対して１ライン以上ずらしていることを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記複数の被走査面のうち隣接する２つの被走査面における１ライン目の結像点間の距離をＤ（ｍｍ）、前記光走査装置の解像度から決まる走査ラインの間隔をｐ（ｍｍ）、前記光源手段の発光部の数をｎ、ｍは正の整数、Ｌを１≦Ｌ≦ｎ−１を満たす整数とするとき、
Ｄ＝（ｎ×ｍ＋Ｌ）×ｐ
を満たすことを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記偏向手段を複数備えており、
前記複数の偏向手段は、前記偏向手段によるｋ回目の偏向動作において、偏向位相が異なっていることを特徴とする請求項１又は２に記載の光走査装置。
【請求項４】
前記結像光学系を複数備えており、
前記複数の結像光学系の各々は、結像光学素子を備えており、
前記複数の結像光学系を構成する結像光学素子同士は、前記結像光学系の光軸に対する副走査方向のシフト量が異なることを特徴とする請求項２に記載の光走査装置。
【請求項５】
前記結像光学系を複数備えており、
前記複数の結像光学系の各々は、光学素子を備えており、
前記複数の結像光学系を構成する光学素子同士は、主走査方向に平行な軸を回転軸とするチルト量が異なることを特徴とする請求項２に記載の光走査装置。
【請求項６】
前記光源手段は、複数の発光部を有する面発光レーザーであることを特徴とする請求項１から５の何れか１項に記載の光走査装置。
【請求項７】
前記光源手段は、２次元状に配置された複数の発光部を有する面発光レーザーであることを特徴とする請求項６に記載の光走査装置。
【請求項８】
請求項１から７の何れか１項に記載の光走査装置と、前記被走査面に配置された複数の感光体と、前記光走査装置で走査された光ビームによって前記感光体の上に形成された静電潜像をトナー像として現像する複数の現像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転写器と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着器とを有することを特徴とするカラー画像形成装置。
【請求項９】
請求項１から７の何れか１項に記載の光走査装置と、外部機器から入力したコードデータを画像データに変換して前記光走査装置に入力せしめるプリンタコントローラーとを有していることを特徴とするカラー画像形成装置。
【請求項１０】
前記感光体の上に形成された静電潜像の電位を測定する電位センサーを有し、前記複数の走査線に対応する静電潜像の情報を前記電位センサーで読取り、前記読取り結果を用いて前記光走査装置の画像データのずらし量を決定することを特徴とする請求項９に記載のカラー画像形成装置。
【請求項１１】
現像されたトナー像の位置を測定する位置センサーを有し、前記複数の走査線の位置情報を前記位置センサーで読取り、前記読取り結果を用いて前記光走査装置の画像データのずらし量を決定することを特徴とする請求項９に記載のカラー画像形成装置。
【請求項１２】
現像された前記複数の走査線に対応するトナー像の濃度を測定する濃度センサーを有し、前記トナー像の濃度を前記濃度センサーで読取り、前記読取り結果を用いて前記光走査装置の画像データのずらし量を決定することを特徴とする請求項９に記載のカラー画像形成装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
請求項１の発明の光走査装置は、画像データに基づいて光変調される光束を放射する４以上の発光部を各々有する複数の光源手段と、前記複数の光源手段の各々から出射した複数の光束を偏向走査する偏向手段と、前記光源手段毎に設けた被走査面上に前記偏向手段の偏向面にて偏向走査された複数の光束を結像させる結像光学系と、を備え、前記複数の被走査面の各々を同一の光源手段から出射した複数の光束で同時に走査し、前記複数の被走査面の各々に同時に複数の走査線を描く光走査装置であって、
前記同一の光源手段の４以上の発光部から出射した複数の光束は前記偏向手段の同一の偏向面で同時に偏向走査されており、
前記被走査面上の１ライン目の走査線を前記同一の光源手段の４以上の発光部から出射した複数の光束により形成される複数の走査線のうち前記被走査面が移動する方向において最も上流側の走査線と定義するとき、
前記偏向手段によるｋ回目の偏向動作において、全ての被走査面における１ライン目の走査線に対応した画像データを、互いに他の被走査面における１ライン目の走査線に対応した画像データに対して１ライン以上ずらしていることを特徴とする。
【手続補正書】
【提出日】平成22年2月5日(2010.2.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光触媒層、中間層、及び樹脂基材層を含み、
前記中間層が、紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子を、Ｓｉ−Ｏ結合を有するマトリックス中に分散した層である樹脂積層体。
【請求項２】
前記中間層が、
下記（１）、（２）及び（３）を、
または（１）及び（２）を、
または（１）及び（３）を、
Ｓｉ−Ｏ結合を有するマトリックス中に分散した層である請求項１に記載の樹脂積層体。
（１）紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子
（２）平均粒子径が１〜２００ｎｍの無機系紫外線吸収性粒子
（３）平均粒子径が１〜２００ｎｍのコロイダルシリカ。
【請求項３】
樹脂基材層の上に、下記成分（１）〜（６）を含むコーティング組成物（Ｉ）を用いて中間層を形成し、
前記中間層の上に光触媒層を形成する樹脂積層体の製造方法。
（１）アルコキシシラン化合物
（２）紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子
（３）硬化触媒
（４）溶剤
（５）アミノシラン化合物
（６）エポキシシラン化合物
【請求項４】
樹脂基材層の上に、下記成分（２）〜（８）を含むコーティング組成物（II）を用いて中間層を形成し、
前記中間層の上に光触媒層を形成する樹脂積層体の製造方法。
（２）紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子
（３）硬化触媒
（４）溶剤
（５）アミノシラン化合物
（６）エポキシシラン化合物
（７）オルガノアルコキシシラン化合物又はポリオルガノアルコキシシラン化合物
（８）ブロック化イソシアネートシラン化合物
【請求項５】
樹脂基材層の上に、下記成分（２）〜（９）を含むコーティング組成物（III）を用いて中間層を形成し、
前記中間層の上に光触媒層を形成する樹脂積層体の製造方法。
（２）紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子
（３）硬化触媒
（４）溶剤
（５）アミノシラン化合物
（６）エポキシシラン化合物
（７）オルガノアルコキシシラン化合物又はポリオルガノアルコキシシラン化合物
（８）ブロック化イソシアネートシラン化合物
（９）無機系紫外線吸収性粒子及び／又はコロイダルシリカ
【請求項６】
下記化合物（１）〜（６）を用いてコーティング組成物を製造し、
樹脂基材層の上に前記コーティング組成物を用いて中間層を形成し、
前記中間層の上に光触媒層を形成する樹脂積層体の製造方法。
（１）アルコキシシラン化合物
（２）紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子
（３）硬化触媒
（４）溶剤
（５）アミノシラン化合物
（６）エポキシシラン化合物
【請求項７】
下記化合物（２）〜（８）を用いてコーティング組成物を製造し、
樹脂基材層の上に前記コーティング組成物を用いて中間層を形成し、
前記中間層の上に光触媒層を形成する樹脂積層体の製造方法。
（２）紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子
（３）硬化触媒
（４）溶剤
（５）アミノシラン化合物
（６）エポキシシラン化合物
（７）オルガノアルコキシシラン化合物又はポリオルガノアルコキシシラン化合物
（８）ブロック化イソシアネートシラン化合物
【請求項８】
下記化合物（２）〜（９）を用いてコーティング組成物を製造し、
樹脂基材層の上に前記コーティング組成物を用いて中間層を形成し、
前記中間層の上に光触媒層を形成する樹脂積層体の製造方法。
（２）紫外線吸収基を含有する平均粒子径が１〜２００ｎｍの有機高分子型微粒子
（３）硬化触媒
（４）溶剤
（５）アミノシラン化合物
（６）エポキシシラン化合物
（７）オルガノアルコキシシラン化合物又はポリオルガノアルコキシシラン化合物
（８）ブロック化イソシアネートシラン化合物
（９）無機系紫外線吸収性粒子及び／又はコロイダルシリカ
【請求項９】
前記有機高分子型微粒子がアクリル系樹脂及び／又はスチレン系樹脂を含有してなるものである請求項３〜８のいずれか一項記載の樹脂積層体の製造方法。
【請求項１０】
前記有機高分子型微粒子がアクリル系樹脂及び／又はスチレン系樹脂を含有してなるものである請求項１又は２に記載の樹脂積層体。
【請求項１１】
請求項３〜９のいずれか１項に記載の製造方法により製造された樹脂積層体。
【請求項１２】
樹脂積層体の可視光線透過率が８０％以上である請求項１、２、１０及び１１のいずれか一項記載の樹脂積層体。
【手続補正書】
【提出日】平成22年2月4日(2010.2.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
次に、図１４（ａ）に示す状態から、右手でビデオカメラを把持して使用する状態に移行する場合は、ビデオカメラを天地逆転させて図１４（ｂ）に示す状態にする。これにより、グリップ部１０２がカメラ筐体１０１の右側に位置する状態になる。また、レンズ鏡筒１０６を、光軸を中心に回転させてＣＣＤを天地逆転させることで、画像の天地反転を解消している。この状態で、使用者は右手をグリップ部１０２に通してビデオカメラを保持し、操作部の後壁の中央部に備えるシャッターボタン１０３や操作部の上面（左手把持状態では操作部の下面）に備える第２のズームスイッチ１０４ｂ等を操作して、撮影等を行う。
【特許文献１】特開平３−１３５１７２号公報
【特許文献２】特開平１０−２００７９９号公報
【手続補正書】
【提出日】平成22年4月28日(2010.4.28)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００４】
以上のＩＲカットフィルタの挿脱を被写体照度に応じて自動的に行う技術（以下、オートデイナイトという）も知られている。すなわち、被写体照度が低下したときに自動的に白黒モードへ切り換え、被写体照度が上昇したときに自動的にカラーモードへ切り換える。被写体照度の検出は、例えば撮像素子の画像信号出力に基づいて行う。また、特許文献１は、撮影光学系とは別に明るさセンサを設け、この明るさセンサにより被写体の明るさを検出して前記カラーモードと白黒モードの切り換えを自動的に行うオートデイナイトを開示している。
【特許文献１】特開２０００−０６９４６３号公報
【手続補正書】
【提出日】平成22年4月21日(2010.4.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００２】
従来より、撮影レンズ等の撮影光学系により結像される被写体像を、撮像素子によって光電変換し、これにより得られた画像信号に基づいて液晶モニタ等の画像表示装置に表示するカメラが一般的に知られている（例えば、特許文献１参照）。
また、複数の撮像素子を有する電子カメラ装置において、一方の撮像素子を静止画像の記録用として用い、他方の撮像素子を上述した液晶モニタ等への表示用として用いるようにしたものも知られている（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００３−３３００８２号公報
【特許文献２】特開２００１−１１１８８０号公報
【手続補正書】
【提出日】平成22年2月5日(2010.2.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００４】
さらに長時間の監視を行うには、動きのない（平常）シーンでは画像を記録せず、一方で、動きのある（異常）シーンでは画像の記録を行えばよい。これにより、記録媒体の節約が可能になる。なお、赤外線除去フィルタの挿入・除去を可能にした撮像装置が提案されている（特許文献２）。
【特許文献１】特開２００２−０１６８７７号公報
【特許文献２】特開２００３−０５７５３２号公報
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月9日(2010.7.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
平面表示パネルを複数回撮像して複数枚の撮像画像を取得し、前記複数枚の撮像画像を加算して平均画像を作成する工程と、
前記平均画像を縮小した後拡大することにより、前記平均画像から背景画像を作成し、前記平均画像と前記背景画像との差画像を作成する工程と、
前記差画像からムラ欠陥を抽出する工程と、
前記抽出されたムラ欠陥をその形状及び大きさに基づいて分類する工程と、
を備えたことを特徴とする平面表示パネルの検査方法。
【請求項２】
平面表示パネルを撮像して撮像画像を取得する撮像手段と、
複数枚の前記撮像画像を加算して平均画像を作成し、前記平均画像を縮小した後拡大することにより前記平均画像から背景画像を作成し、前記平均画像と前記背景画像との差画像を作成し、前記差画像からムラ欠陥を抽出し、前記抽出されたムラ欠陥をその形状及び大きさに基づいて分類する演算手段と、
を備えたことを特徴とする平面表示パネルの検査装置。
【請求項３】
コンピューターに、
平面表示パネルの複数枚の撮像画像を加算して平均画像を作成する手順と、
前記平均画像を縮小した後拡大することにより、前記平均画像から背景画像を作成し、前記平均画像と前記背景画像との差画像を作成する手順と、
前記差画像からムラ欠陥を抽出する手順と、
前記抽出されたムラ欠陥をその形状及び大きさに基づいて分類する手順と、
を実行させることを特徴とする平面表示パネルの検査プログラム。
【請求項４】
複数色の発光素子が一の方向に配列された絵素がマトリクス状に配列された平面表示パネルの検査方法であって、
前記平面表示パネルを撮像して画像を取得する工程と、
前記画像において、前記平面表示パネルの一の前記発光素子に対応する領域における輝度値の平均値と、前記一の発光素子から前記一の方向に前記一絵素分離隔した他の前記発光素子に対応する領域における輝度値の平均値との差の値を求める工程と、
を備えたことを特徴とする平面表示パネルの検査方法。
【請求項５】
複数色の発光素子が一の方向に配列された絵素がマトリクス状に配列された平面表示パネルの検査装置であって、
前記平面表示パネルを撮像して画像を取得する撮像手段と、
前記画像において、前記平面表示パネルの一の前記発光素子に対応する領域における輝度値の平均値と、前記一の発光素子から前記一の方向に前記一絵素分離隔した他の前記発光素子に対応する領域における輝度値の平均値との差の値を求める演算手段と、
を備えたことを特徴とする平面表示パネルの検査装置。
【請求項６】
複数色の発光素子が一の方向に配列された絵素がマトリクス状に配列された平面表示パネルの検査プログラムであって、
コンピューターに、
前記平面表示パネルの画像において、前記平面表示パネルの一の前記発光素子に対応する領域における輝度値の平均値と、前記一の発光素子から前記一の方向に前記一絵素分離隔した他の前記発光素子に対応する領域における輝度値の平均値との差の値を求める手順を実行させることを特徴とする平面表示パネルの検査プログラム。
【請求項７】
平面表示パネルを撮像して画像を取得する工程と、
前記画像における前記平面表示パネルの一の発光素子に相当する一の領域から、他の発光素子に相当する他の領域を、前記一の領域と前記他の領域との位置関係を前記画像の画素の大きさ未満の距離だけずらした上で減算して、複数枚の差画像を作成する工程と、
前記複数枚の差画像における相互に対応する画素について、輝度値が最も小さい画素を選択することにより、前記複数枚の差画像を組み合わせた合成差画像を作成する工程と、
を備えたことを特徴とする平面表示パネルの検査方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月21日(2010.7.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
位置情報衛星から送信される衛星時刻情報を含む衛星信号を受信する衛星信号受信部と、
時刻情報を生成する時刻情報生成部と、
前記衛星信号受信部が受信した衛星時刻情報に基づいて前記時刻情報を修正する時刻情報修正部と、
装置の環境情報の相違に基づいて、前記位置情報衛星を受信すべき受信範囲を定める受信範囲情報を格納する受信範囲情報格納部と、
を有し、
前記衛星信号受信部が前記衛星時刻情報を受信すべき前記位置情報衛星を選択する位置情報衛星選択部を備え、
前記位置情報衛星選択部は、前記位置情報衛星から発信される前記衛星信号の送信周波数の変動情報と前記受信範囲情報に基づいて
前記位置情報衛星を選択する構成となっていることを特徴とする時刻修正装置。
【請求項２】
前記送信周波数の変動情報が、前記送信周波数の理論値との誤差情報であり、
前記位置情報衛星選択部は、前記送信周波数の理論値との誤差情報が小さい前記位置情報衛星を優先的に選択する構成となっていることを特徴とする請求項１に記載の時刻修正装置。
【請求項３】
前記送信周波数の理論値との誤差情報は、前記位置情報衛星が近接方向に移動している近接周波数誤差情報と、前記位置情報衛星が遠ざかる方向に移動する情報である遠隔周波数誤差情報と、を有し、
前記位置情報衛星選択部は、前記近接周波数誤差情報と前記遠隔周波数誤差情報とを交互に、及び／又は前記近接周波数誤差情報を前記遠隔周波数誤差情報に優先して周波数走査をする構成となっていることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の時刻修正装置。
【請求項４】
前記送信周波数の変動情報が、周波数変化量の大小情報であり、前記位置情報衛星選択部は、この周波数変化量が大きい前記位置情報衛星を優先的に選択する構成となっていることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の時刻修正装置。
【請求項５】
前記受信範囲情報が、前記時刻修正装置が屋内に配置されるときに周波数走査すべき屋内受信範囲情報と、前記時刻修正装置が屋外に配置されるときに周波数走査すべき屋外受信範囲情報と、を有すると共に、前記時刻修正装置が屋内又は屋外のいずれに配置されているかを判断する屋内外判断部を有することを特徴とする請求項４に記載の時刻修正装置。
【請求項６】
前記屋内外判断部が、光発電による発電量に基づいて屋内外を判断することを特徴とする請求項５に記載の時刻修正装置。
【請求項７】
位置情報衛星から送信される衛星時刻情報を含む衛星信号を受信する衛星信号受信部と、
時刻情報を生成する時刻情報生成部と、
前記衛星信号受信部が受信した衛星時刻情報に基づいて前記時刻情報を修正する時刻情報修正部と、
装置の環境情報の相違に基づいて、前記位置情報衛星を受信すべき受信範囲を定める受信範囲情報を格納する受信範囲情報格納部と、
を有し、
前記衛星信号受信部が前記衛星時刻情報を受信すべき前記位置情報衛星を選択する位置情報衛星選択部を備え、
前記位置情報衛星選択部は、前記位置情報衛星から発信される前記衛星信号の送信周波数の変動情報と前記受信範囲情報に基づいて
前記位置情報衛星を選択する構成となっていることを特徴とする時刻修正装置付き計時装置。
【請求項８】
衛星信号受信部が、位置情報衛星から送信される衛星時刻情報を含む衛星信号を受信する衛星信号受信工程と、
時刻情報修正部が、前記衛星信号受信部が受信した衛星時刻情報に基づいて時刻情報生成部の時刻情報を修正する時刻情報修正工程と、を有し、
位置情報衛星選択部は、前記衛星信号受信部が前記衛星時刻情報を受信すべき前記位置情報衛星を選択すると共に、前記位置情報衛星から発信される前記衛星信号の送信周波数の変動情報と装置の環境情報の相違に基づいて、前記位置情報衛星を受信すべき受信範囲を定める受信範囲情報に基づいて前記位置情報衛星を選択する構成となっていることを特徴とする時刻修正方法。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月6日(2010.7.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
現在位置を検出する現在位置検出手段と、指定された出発地から目的地までの案内経路を探索する経路探索手段と、地図画像を表示する表示手段と、該表示手段に表示された地図画像上に探索された前記案内経路および検出された前記現在位置を示す現在位置マークを表示する表示制御手段と、を備えたナビゲーション装置において、
前記ナビゲーション装置は、操作手段と、該操作手段を介した操作に基づき、前記現在位置マークを所望の道路上に移動させ現在位置を修正する位置マーク修正手段と、修正された該現在位置に基づいて案内経路を再探索するか否かを判定する再探索条件判定手段と、再探索処理手段と、を備え、
前記表示手段に表示された現在位置マークが前記位置マーク修正手段により移動され、他の道路上に現在位置が修正された場合、前記再探索条件判定手段は修正された現在位置と案内経路に基づいて案内経路の再探索が必要か否かを判定し、案内経路の再探索が必要である場合、前記再探索処理手段は前記経路探索手段に前記修正された現在位置に基づいて案内経路を再探索させることを特徴とするナビゲーション装置。
【請求項２】
前記再探索条件判定手段は、前記修正された現在位置が案内経路上にない場合案内経路の再探索が必要と判定し、前記再探索処理手段は、前記経路探索手段に前記修正された現在位置から目的地までの案内経路を再探索させることを特徴とする請求項１に記載のナビゲーション装置。
【請求項３】
前記再探索条件判定手段は、前記表示手段に表示された現在位置マークが高速道路上にあるときに現在位置を一般道路上に修正し、且つ、該修正された現在位置が案内経路上にない場合、案内経路の再探索が必要と判定し、前記再探索処理手段は、前記経路探索手段に前記修正された現在位置から進行方向前方に位置する高速道路のインターチェンジまでの案内経路を再探索させることを特徴とする請求項１に記載のナビゲーション装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
現在位置を検出する現在位置検出手段と、指定された出発地から目的地までの案内経路を探索する経路探索手段と、地図画像を表示する表示手段と、該表示手段に表示された地図画像上に探索された前記案内経路および検出された前記現在位置を示す現在位置マークを表示する表示制御手段と、を備えたナビゲーション装置において、前記ナビゲーション装置は、操作手段と、該操作手段を介した操作に基づき、前記現在位置マークを所望の道路上に移動させ現在位置を修正する位置マーク修正手段と、修正された該現在位置に基づいて案内経路を再探索するか否かを判定する再探索条件判定手段と、再探索処理手段と、を備え、前記表示手段に表示された現在位置マークが前記位置マーク修正手段により移動され、他の道路上に現在位置が修正された場合、前記再探索条件判定手段は修正された現在位置と案内経路に基づいて案内経路の再探索が必要か否かを判定し、案内経路の再探索が必要である場合、前記再探索処理手段は前記経路探索手段に前記修正された現在位置に基づいて案内経路を再探索させることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
請求項１にかかる発明においては、ナビゲーション装置は、操作手段と、該操作手段を介した操作に基づき、前記現在位置マークを所望の道路上に移動させ現在位置を修正する位置マーク修正手段と、修正された該現在位置に基づいて案内経路を再探索するか否かを判定する再探索条件判定手段と、再探索処理手段と、を備え、前記表示手段に表示された現在位置マークが前記位置マーク修正手段により移動され、他の道路上に現在位置が修正された場合、前記再探索条件判定手段は修正された現在位置と案内経路に基づいて案内経路の再探索が必要か否かを判定し、案内経路の再探索が必要である場合、前記再探索処理手段は前記経路探索手段に前記修正された現在位置に基づいて案内経路を再探索させる。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月14日(2010.7.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
交流電力の伝送経路として用いる電力伝送用導電体に流れる交流電流と前記電力伝送用導電体に生じる交流電圧とを検出する電流・電圧検出器において、
基板を貫通する第１貫通穴が設けられ、前記第１貫通穴の周囲に沿って基板の最上層と最下層との間を貫通しながら基板の最上層と最下層とを交互に接続することによって両端部を有するコイル状の第１配線が少なくとも１つ形成され、又は／及び前記第１貫通穴の周囲に沿って一部分の層間を貫通しながら貫通した部分の最上層と最下層とを交互に接続することによって両端部を有するコイル状の第１配線が少なくとも１つ形成され、かつ前記第１配線の両端部の全て又は一部に接続される出力用の第２配線が形成され、かつ交流電流が流れる電力伝送用導電体が前記第１貫通穴の内側を通るように配置された場合に、電磁誘導によって前記第１配線に流れる電流を出力する機能を有する電流検出用プリント基板と、
基板を貫通する第２貫通穴が設けられ、前記第２貫通穴の周囲に沿って第３配線が形成され、かつ前記第３配線の一部に接続される出力用の第４配線が形成され、かつ交流電圧が生じている電力伝送用導電体が前記第２貫通穴の内側を通るように配置された場合に、前記第３配線が、前記電力伝送用導電体の内、前記第３配線と対向する箇所と対となるコンデンサの電極として機能し、前記第３配線に生じる電圧を前記第４配線から出力する機能を有する電圧検出用プリント基板と、
前記電流検出用プリント基板と前記電圧検出用プリント基板とを内部に固定するとともに、前記電流検出用プリント基板に設けられた第１貫通穴と前記電圧検出用プリント基板に設けられた第２貫通穴とを通る軸上に前記電力伝送用導電体を通過させるための貫通穴を設け、かつ前記第１配線に作用する磁束を通過させるための開口部を設けて、前記電流検出用プリント基板および前記電圧検出用プリント基板を覆うように構成された導電体製の筐体とを備え、
前記電流検出用プリント基板が、前記電力伝送用導電体の軸方向に対して、前記電圧検出用プリント基板と略同じ位置または予め定めた距離だけずらした位置で、かつ、前記電力伝送用導電体の径方向に対して、前記電圧検出用プリント基板の外側に配置されているとともに、
前記筐体の一部が、前記電流検出用プリント基板と前記電圧検出用プリント基板との間を通過するように形成した電流・電圧検出器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
第１の発明によって提供される電流・電圧検出器は、
交流電力の伝送経路として用いる電力伝送用導電体に流れる交流電流と前記電力伝送用導電体に生じる交流電圧とを検出する電流・電圧検出器において、
基板を貫通する第１貫通穴が設けられ、前記第１貫通穴の周囲に沿って基板の最上層と最下層との間を貫通しながら基板の最上層と最下層とを交互に接続することによって両端部を有するコイル状の第１配線が少なくとも１つ形成され、又は／及び前記第１貫通穴の周囲に沿って一部分の層間を貫通しながら貫通した部分の最上層と最下層とを交互に接続することによって両端部を有するコイル状の第１配線が少なくとも１つ形成され、かつ前記第１配線の両端部の全て又は一部に接続される出力用の第２配線が形成され、かつ交流電流が流れる電力伝送用導電体が前記第１貫通穴の内側を通るように配置された場合に、電磁誘導によって前記第１配線に流れる電流を出力する機能を有する電流検出用プリント基板と、
基板を貫通する第２貫通穴が設けられ、前記第２貫通穴の周囲に沿って第３配線が形成され、かつ前記第３配線の一部に接続される出力用の第４配線が形成され、かつ交流電圧が生じている電力伝送用導電体が前記第２貫通穴の内側を通るように配置された場合に、前記第３配線が、前記電力伝送用導電体の内、前記第３配線と対向する箇所と対となるコンデンサの電極として機能し、前記第３配線に生じる電圧を前記第４配線から出力する機能を有する電圧検出用プリント基板と、
前記電流検出用プリント基板と前記電圧検出用プリント基板とを内部に固定するとともに、前記電流検出用プリント基板に設けられた第１貫通穴と前記電圧検出用プリント基板に設けられた第２貫通穴とを通る軸上に前記電力伝送用導電体を通過させるための貫通穴を設け、かつ前記第１配線に作用する磁束を通過させるための開口部を設けて、前記電流検出用プリント基板および前記電圧検出用プリント基板を覆うように構成された導電体製の筐体とを備え、
前記電流検出用プリント基板が、前記電力伝送用導電体の軸方向に対して、前記電圧検出用プリント基板と略同じ位置または予め定めた距離だけずらした位置で、かつ、前記電力伝送用導電体の径方向に対して、前記電圧検出用プリント基板の外側に配置されているとともに、
前記筐体の一部が、前記電流検出用プリント基板と前記電圧検出用プリント基板との間を通過するように形成している。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月9日(2010.7.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
しかし、特公平7-92513の技術を長期運転に適用すると可燃性毒物濃度差が大きくなり、サイクル初期の余剰反応度を高くするために、可燃性毒物濃度の高く、可燃性毒物入り燃料棒本数の少ない燃料集合体を増やすと、可燃性毒物の燃え残りのために、かえってサイクル初期の余剰反応度が低下することになる。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７２】
さらに本発明の一面によれば、燃料集合体群１，燃料集合体群２，・・・，燃料集合体群ｎ（ｎ≧３）の燃料集合体を有し、前記各燃料集合体群はその燃料集合体の可燃性毒物を含むペレットを装填されかつ該ペレットが燃料棒の全長の８５％以内の範囲にのみ装填された燃料棒を有し、可燃性毒物の濃度平均値が高い燃料集合体ほど前記燃料棒を多く含むことで、軸方向の出力分布を適切に調整できる。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月30日(2010.7.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属箔が接着された樹脂フィルムを使用し、前記金属箔をエッチング加工して樹脂フィルム上にプローブ機能を含む導電体から成る導電パターンを形成し、前記プローブ付樹脂フィルムを複数枚積層又は並列設置し半導体チップの電極パッドに前記プローブの先端部を一括接触させて半導体チップの回路検査を行うためのプローブ組立において、
前記プローブとの間を導体パターンにより接続するとともに、前記プローブと同一平面内でかつ第１の方向（ｚ方向）の反対側に回路基板の接続用ランドと接触する電気端子部を備え、
前記電気端子部の第１の方向（ｚ方向）における長さが前記回路基板の厚さと概略同一長であり、第２の方向（ｘ方向）幅は前記回路基板に設けられたスルーホールの内径より僅かに大きく設定されており、
前記プローブ付樹脂フィルムを積層又は並列設置した時にそれぞれの第２の方向（ｘ方向）における前記電気端子部の配置位置が、回路基板上の接続用ランドの一部又は全てと一致するべく配置されるように樹脂フィルムに各々独立の位置に形成されており、
前記プローブ付樹脂フィルムを積層した時の前記電気端子部の第３の方向（ｙ方向）におけるピッチが、１つの前記プローブ付樹脂フィルムの厚さの整数倍である、
ことを特徴とするプローブ組立。
【請求項２】
前記プローブ付樹脂フィルムを積層又は並列設置した時の前記電気端子部の第３の方向（ｙ方向）におけるピッチが、回路基板上の接続用ランドの一部又は全てと一致するべく配置されるように設置したことを特徴とする請求項１記載のプローブ組立。
【請求項３】
プローブのパッドとの接触部近傍における断面形状より僅かに大きく、隣接するパッド方向（ｙ方向）におけるパッド幅と少なくとも同一若しくは該パッド幅よりも小さい形状のスリットを有するプローブ配列用固定シートを設け、
前記プローブ配列用固定シートのスリットを被検査半導体チップの各々のパッドの一部又は全てに対応する位置に複数配置し、
前記プローブ配列用固定シートのスリットにあらかじめプローブ組立の各々のプローブ先端部を通過させて設置した、
ことを特徴とする請求項１又は請求項２記載のプローブ組立。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月30日(2010.7.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
銅箔が接着された樹脂フィルムを使用し、前記銅箔をエッチング加工して樹脂フィルム上にプローブ機能を含む導電体から成る導電パターンを形成し、前記樹脂フィルムの一辺から突き出した導電体をプローブ先端部とし、前記プローブの反対側の辺から突き出した導電体をテスタに電気的に接続される回路基板への出力端子とした樹脂フィルム型プローブを使用したプローブにおいて、
１つ又は複数の被検査半導体チップのパッドに対応する複数の前記樹脂フィルム型プローブを積層又は並列配置した状態で複数の支持棒により保持したプローブユニットと、
複数の開口部を設けた格子状支持体であって前記開口部ごとに前記プローブユニットを独立に配置固定した前記格子状支持体から成り、
前記格子状支持体の前記回路基板と接続する側に複数の突起状の固定具を設け、前記回路基板の相当する穴に嵌合することにより前記格子状支持体を前記回路基板に固定し、
前記固定具の挿入部外径と相当する前記回路基板の穴の内径との嵌合時における差異が前記回路基板の中心近傍においてはゼロ又は微小であり、前記中心近傍以外の位置においては前記中心近傍における差異より大きく、また、
前記中心近傍以外の位置における前記固定具の挿入部外径と相当する前記回路基板の穴の内径との嵌合時における差異が、前記回路基板の外周に位置するに従って連続的又は断続的に大きくなることを特徴とする電気信号接続装置。
【請求項２】
前記中心近傍以外の位置における前記固定具の作用が、前記回路基板面方向（ｘｙ方向）に拘束されず、
前記樹脂フィルム型プローブの前記出力端子が、前記格子状支持体を前記回路基板に固定した状態において前記出力端子が一定以上の押圧力にて前記回路基板端子と接触し、かつ前記回路基板面方向（ｘｙ方向）に拘束されていないことを特徴とする請求項１記載の電気信号接続装置。
【請求項３】
少なくとも前記格子状支持体の熱膨張係数が半導体ウエーハの熱膨張係数と近似である材料から形成され、
プローブのパッドとの接触部近傍における断面形状より僅かに大きく、接触するパッドの少なくとも１方向のパッド幅と同一若しくは該パッド幅よりも小さい形状のスリットを有するプローブ整列シートを設け、前記プローブ整列シートのスリットを被検査半導体チップの各々のパッドの一部又は全てに対応する位置に複数配置したことを特徴とする請求項１記載の電気信号接続装置。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月30日(2010.7.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
垂直方向に延びる垂直プローブと、垂直方向と交差する方向に延び直線又は曲線形状を有し一端が固定端と接続し他端は該垂直プローブと接続する複数の水平梁とから構成される、リンク機構から成る接触子において、
複数の水平梁の少なくとも１対の相対する水平梁間距離が、前記垂直方向と交差する方向に沿って変化するとともに、
該水平梁間距離が、固定端近傍で最大となり垂直プローブ近傍で最も小となるよう、垂直方向と交差する方向に沿って連続に又は不連続に変化し、また、
前記垂直プローブの先端に直列に回転変形部を有し、該回転変形部は１又は複数の回転中心によりオーバードライブ時に回転し、該回転変形部先端がパッド表面と１点又は限定された範囲内で接触することによりパッド表面と該回転変形部先端に相対的ずれを生じせしめ、スクラブ動作が実施されるべく曲面を有することを特徴とする複数梁合成型接触子。
【請求項２】
垂直方向に延びる垂直プローブと、垂直方向と交差する方向に延び直線又は曲線形状を有し一端が固定端と接続し他端は該垂直プローブと接続する複数の水平梁とから構成される、リンク機構から成る接触子において、
複数の水平梁の一部が、被検査半導体に接触する垂直プローブと導電可能に接続されて信号線導通部となり、他の水平梁は被検査半導体に接触する垂直プローブと電気的に絶縁され信号線非導通部となることを特徴とする複数梁合成型接触子。
【請求項３】
垂直方向に延びる垂直プローブと、垂直方向と交差して略水平方向に延び直線又は曲線形状を有し一端が固定端と接続し他端は該垂直プローブと接続する複数の水平梁から構成される、リンク構造を有するプローブにおいて、
前記垂直プローブの一部が電気的に絶縁され、被検査半導体と接触する側の垂直プローブは少なくとも１つ又は２つ以上の水平梁と電気的に接続されて信号線導通部となるリンク機構を有し、被検査半導体と接触する側の垂直プローブと電気的に絶縁される側の垂直プローブは他の複数の水平梁の接続部を含む非信号線導通部となるリンク機構を有し、
前記垂直プローブの絶縁部分は強固な剛性を有する材質から成り、かつ、前記非信号線導通部と強固に接続することを特徴とする複数梁合成型接触子。
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月13日(2010.7.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
冷凍サイクルの蒸発器（３）と庫内（６）との間を、ファン（５）により空気を循環させて上記庫内（６）を冷却する冷蔵庫の上記蒸発器（３）に付着した霜を除霜する除霜方法において、
上記蒸発器（３）の温度測定を行い、その測定温度が予め設定したしきい温度以下の場合、上記蒸発器（３）に霜が付着しているものと判断して除霜運転を行い、その除霜運転は、上記庫内（６）の設定温度が基準設定温度よりも高い時、上記冷凍サイクルの運転を停止するとともに、上記ファン（５）で庫内（６）の冷気を上記蒸発器（３）に循環送風してこの蒸発器（３）に付着した霜を融解して除去し、
庫内（６）の上記設定温度が上記基準設定温度よりも低い時には、上記冷凍サイクルの運転を停止するとともに、上記蒸発器（３）の除霜ヒータ（９）を通電加熱してこの蒸発器（３）に付着した霜を融解して除去するようにしたことを特徴とする除霜方法。
【請求項２】
上記除霜ヒータ（９）の通電時間を測定し、その通電時間が予め設定した所定時間に達したときに、上記除霜ヒータ（９）の通電加熱を停止するようにしたことを特徴とする除霜方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の除霜方法によって除霜運転を行うようにしたことを特徴とする冷蔵庫。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
この除霜運転は、庫内の設定温度が基準設定温度よりも高い場合は庫内の冷気を蒸発器に循環送風する方法によってなされる。この基準設定温度とは、ある温度の空気を霜が付着した蒸発器に送風した時に、その霜が融解し得る温度のことをいい、上記と同様にその温度は実験等によって決定される。理論上は０℃以上の送風により霜は融解し得るが、このように送風温度が氷点に近いと、この霜の融解に長時間を要する。そのため、通常は、基準設定温度は５℃程度に設定される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
この除霜方法では、冷蔵庫の冷気（通常、基準設定温度の５℃以上）の送風によって蒸発器に付着した霜が融解するとともに気化するので、次第に着霜が解消される。