(57)【要約】  多数の無線周波（ＲＦ）信号試験機で、多入力多出力（ＭＩＭＯ）の被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するための、システム及び方法。各試験機は、１つ以上のＤＵＴから１つ以上のＲＦ信号を受信し、試験機は、連続する１つ１つが、上流の試験機からトリガ入力信号を受信し、下流の試験機にトリガ出力信号を供給するように、環状に相互連結されている。各試験機は、その入力トリガ信号、及びその１つ以上のＲＦ信号に反応して、その出力トリガ信号を供給し、その出力トリガ信号は、その入力トリガ信号及び１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つが既定の振幅を超えたことのアサーションに反応して、アサート状態に入る。
2015523759.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の多入力多出力（ＭＩＭＯ）の被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するための、複数の無線周波（ＲＦ）信号試験機を含むシステムであって、
１つ以上の下流ＲＦ信号試験機の１つとしての、第１  ＲＦ信号試験機と、
１つ以上の上流ＲＦ信号試験機の１つとしての、最後のＲＦ信号試験機と、を含み、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つが、
前記複数のＤＵＴの１つ以上から１つ以上のＲＦ信号を受信するための、１つ以上のＲＦ信号ポートを含む、ＲＦ信号試験機と、
前記１つ以上の上流ＲＦ信号試験機の１つ、及び前記最後のＲＦ信号試験機の一方から入力トリガ信号を受信するためのトリガ入力ポートと、
前記１つ以上の下流ＲＦ信号試験機の１つ、及び前記第１  ＲＦ信号試験機の一方に、出力トリガ信号を供給するためのトリガ出力ポートと、
前記１つ以上のＲＦ信号ポートの少なくとも１つと、前記トリガ入力ポートと、前記トリガ出力ポートとの間で結合され、前記入力トリガ信号、及び前記１つ以上のＲＦ信号に反応して、前記出力トリガ信号、及び前記出力トリガ信号に一時的に関連する少なくとも１つのタイミング信号を供給する、トリガ信号回路と、を含み、
ここで、前記出力トリガ信号は、前記入力トリガ信号及び前記１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つが既定の振幅を超えたことの少なくとも１つのアサーションに反応して、アサート状態に入る、システム。
【請求項２】
前記トリガ信号回路は、
前記１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つに応答して、前記１つ以上のＲＦ信号の前記少なくとも一方が、既定の振幅を超えた後に、検出信号を供給する信号検出回路と、
前記信号検出回路と連結され、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号の少なくとも一方に応答して、前記出力トリガ信号を供給する信号結合回路とを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つが、基準信号を受信するための基準信号ポートを更に含む、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記トリガ信号回路は、
前記１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つに応答して、前記１つ以上のＲＦ信号の前記少なくとも一方が、既定の振幅を超えた後に、検出信号を供給する信号検出回路と、
前記信号検出回路と連結され、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号の少なくとも一方に応答して、前記出力トリガ信号を供給する信号結合回路と、
前記基準信号ポート、前記トリガ入力ポート、及び前記信号検出回路と連結され、前記基準信号、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号に応答して、前記少なくとも１つのタイミング信号を供給するタイミング回路と、を含み、
ここで前記少なくとも１つのタイミング信号が更に、前記基準信号、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号の少なくとも１つと一時的に関連する、請求項３に記載の装置。
【請求項５】
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つが、ベクトル信号分析器（ＶＳＡ）、及びベクトル信号発生器（ＶＳＧ）を更に含む、請求項１に記載の装置。
【請求項６】
複数の無線周波（ＲＦ）信号試験機で、複数の多入力多出力（ＭＩＭＯ）の被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する方法であって、
１つ以上の下流ＲＦ信号試験機の１つとしての、第１  ＲＦ信号試験機、及び
１つ以上の上流ＲＦ信号試験機の１つとしての、最後のＲＦ信号試験機を含む、前記複数のＲＦ信号試験機を提供する工程と、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つで、前記複数のＤＵＴの１つ以上から１つ以上のＲＦ信号を受信する工程と、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つで、
前記１つ以上の上流ＲＦ信号試験機の１つ、及び
前記最後のＲＦ信号試験機の一方から入力トリガ信号を受信する工程と、
前記複数のＲＦ信号試験機の１各１つで、
前記１つ以上の下流ＲＦ信号試験機の１つ、及び
前記第１  ＲＦ信号試験機の一方に、出力トリガ信号を供給する工程と、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つにより、前記入力トリガ信号及び前記１つ以上のＲＦ信号に応答して、前記出力トリガ信号、及び前記出力トリガ信号に一時的に関連する少なくとも１つのタイミング信号を供給する工程と、を含み、
ここで、前記出力トリガ信号は、
前記入力トリガ信号、及び
前記１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つが既定の振幅を超えることの、少なくとも１つのアサーションに反応してアサート状態に入る方法。
【請求項７】
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つにより、前記入力トリガ信号及び前記１つ以上のＲＦ信号に応答して、前記出力トリガ信号を供給する工程が、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つで、前記１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つに反応して、前記１つ以上のＲＦ信号の前記少なくとも１つが、既定の振幅を超えた後に、検出信号を供給する工程と、
前記複数のＲＦ信号試験機の各１つで、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号の少なくとも１つに反応して、前記出力トリガ信号を供給する工程とを含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つで、基準信号を受信する工程を更に含む、請求項６に記載の方法。
【請求項９】
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つにより、前記入力トリガ信号及び前記１つ以上のＲＦ信号に応答して、前記出力トリガ信号を供給する工程が、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つで、前記１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つに反応して、前記１つ以上のＲＦ信号の前記少なくとも一方が、既定の振幅を超えた後に、検出信号を供給する工程と、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つで、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号の少なくとも１つに反応して、前記出力トリガ信号を供給する工程と、
前記複数のＲＦ信号試験機の１つ１つで、前記基準信号、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号に応答して、前記少なくとも１つのタイミング信号を供給する工程と、を含み、
ここで、前記少なくとも１つのタイミング信号が、前記基準信号、前記入力トリガ信号、及び前記検出信号の少なくとも１つと一時的に更に関連する、請求項８に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、電子機器を試験するためのシステム及び方法に関する。より詳細には、本発明は、ハードウェア構成要素、ファームウェア構成要素、及び／又はソフトウェア構成要素からなる試験プラットフォームを使用して、無線デバイスを試験するための、システム及び方法の改善に関する。
【背景技術】
【０００２】
今日の携帯用デバイスの多くは、電話、デジタルデータ転送、地理的位置決め等に無線「接続」を利用している。周波数スペクトル、変調方法、及び電力スペクトル密度における差異にもかかわらず、無線接続性の規格は、データを伝送し、かつ受信するために、同期させたデータパケットを使用する。一般的に、これらの無線機能は全て、これらの機能を有するデバイスが従うべきパラメータ及び限界を指定する、業界で認可された規格（例えば、ＩＥＥＥ  ８０２．１１及び３ＧＰＰ  ＬＴＥ）によって規定される。
【０００３】
一連のデバイス開発に沿ったいずれかの時点において、デバイスがその規格の仕様内で動作するということを試験し、かつ検証する必要な場合ある。そのようなデバイスの殆どは、送受信機であり、すなわち、無線ＲＦ信号を送受信するものである。このようなデバイスを試験するように設計された専用システムは、典型的には、デバイスがその規格に従って無線信号を受信及び処理しているかどうかを判定するために、デバイスが送信する信号（例えば、ベクトル信号分析器、又はＶＳＡ）を受信及び分析し、業界に認定された規格に従う信号（例えば、ベクトル信号生成器又はＶＳＧ）を送信するように設計された、サブシステムを含む。
【０００４】
多数の入力／多数の出力（ＭＩＭＯ）技術を利用する、無線デバイスの試験において、最も正確な試験は、実世界の環境をシミュレーションするものである。したがって、ＭＩＭＯデバイスが、２つのアンテナ、２つの送信機、及び２つの受信機を有する場合（例えば、２×２ＭＩＭＯデバイス）、最も正確な試験は、２つのＶＳＧを使用して、受信信号（ＲＸ）試験を受信すること、２つのＶＳＡを使用して送信信号（ＴＸ）を送信すること、更にＶＳＡ動作及びＶＳＧ動作を同期する何らかの手段を含む。
【０００５】
被試験デバイス（ＤＵＴ）のＴＸ機能を試験するために、このような信号ＶＳＡ／ＶＳＧ試験機が使用されるとき、ＴＸ信号は、多重化方式又は切替方式を使用して、ＶＳＡにより一度に１つ、サンプリングされる。したがって、多数のＴＸ信号が同時に送信されるとき、環境を完全にシミュレーションすることはできない。
【０００６】
実際に、多数のＶＳＡ及びＶＳＧを備えた試験機、並びに同期を使用して、実世界の環境をシミュレーションすることができる。そして、Ｎ×Ｎ  ＭＩＭＯ試験機能（Ｎ≧２）を形成するために、２つ以上の信号ＶＳＡ／ＶＳＧ試験機を使用して、このような試験機能を形成することが可能である。しかしながら、このような試験機の結み合わせは容易ではない。この組み合わせが実世界ＭＩＭＯ条件をシミュレーションするために、解決されるべき、トリガの問題が存在する。例えば、各試験機は、ＤＵＴが、利用可能な全ての送信機を使用しないことがあるため、他の試験機をトリガする能力を有さなくてはならない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
したがって、拡張可能なトリガ能力をもたらす、単一のＶＳＡ／ＶＳＧ試験システムのルーチン結合を支援するように設計されたシステム及び方法はこのような試験機を組み合わせるための、より早く、単純な手段をもたらす一方で、実世界ＭＩＭＯ環境、及び条件のより正確なシミュレーションを提供する。更に、ＭＩＭＯは４×４に限定されないため、各試験のための専用トリガラインを有することは、ＮレベルのＮ×Ｎ  ＭＩＭＯ増加として、新しい試験機の追加を可能にする、拡張可能なソリューションを有することほど望ましくない。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本システム及び方法は、多数の無線周波（ＲＦ）信号試験機で、多入力多出力（ＭＩＭＯ）の被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する。各試験機は、１つ以上のＤＵＴから１つ以上のＲＦ信号を受信し、試験機は、連続する１つ１つが、上流の試験機からトリガ入力信号を受信し、下流の試験機にトリガ出力信号を供給するように、環状に相互連結されている。各試験機は、その入力トリガ信号、及びその１つ以上のＲＦ信号に反応して、その出力トリガ信号を供給し、その出力トリガ信号は、その入力トリガ信号及び１つ以上のＲＦ信号の少なくとも１つが既定の振幅を超えたことのアサーションに反応して、アサート状態に入る。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、請求される本発明の一実施形態に従った、多数のＲＦ信号試験機で、ＭＩＭＯ信号受信機を試験するためのシステムの、機能的ブロック図である。
【図２】図２は、請求される本発明の一実施形態に従った、図１のシステムにおいて使用される、同期したトリガ信号を供給するための、トリガ信号回路の機能的ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明が、ここで図面を参照して説明されるが、全体を通して、同様の参照数字は、同様の要素を指す。以下の「発明を実施するための形態」は、特許請求される本発明の、添付図面を参照とする、例示的実施形態のものである。そのような説明は、例示的なものであって、本発明の範囲に関して限定するものではない。そのような実施形態は、主題となる発明を当業者が実践することを可能にするために、十分詳細に説明されるものであり、主題となる発明の思想又は範囲から逸脱することなく、何らかの変型を行って、他の実施形態を実践することができる点が理解されるであろう。
【００１１】
本開示を通じ、文脈からそうでないことが明示される場合を除き、用語「信号」とは、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指すことがあると理解される。
【００１２】
図１に示されているように、多数のＲＦ信号試験機で多数のＭＩＭＯデバイスを試験するためのシステム１００は、信号試験機１０２（例えば、Ｎ信号試験機、１０２ａ、１０２ｂ、．．．、１０２ｎ）、及びＲＦ信号ケーブル１１１を通じて、ＤＵＴ  １１０のＮ個の信号ポート１１０ｐに連結するための、対応する数の信号経路付け回路又はデバイス１０８（例えば、各ＲＦ信号に関して単極１０８ｄ及び双投１０８ｇ、１０８ａを有する信号スイッチ）を含む。以下でより詳細に記載されるように、試験機１０２に供給される基準信号１１５（例えば、試験機１０２内、及びこれに沿った周波数同期のため）の、基準信号源１１４がまた含まれ得る。
【００１３】
当該技術分野において既知であるように、各試験機１０２は典型的には、ベクトル信号発生器（ＶＳＧ）１０４の形態の信号源、及びベクトル信号分析器（ＶＳＡ）１０６の形態の信号分析器を含み、これらは両方とも、内部制御回路（図示されない）、多くの場合において、パーソナルコンピュータなどの外部コントローラー（図示されない）によって提供される外部制御信号１１７ａにより、制御される。同様に、スイッチ制御信号１１７ｂは、試験シーケンスにとって適切であるように、ＶＳＧ  １０４からＤＵＴ  １１０への信号１０５、及びＤＵＴ  １１０からＶＳＡ  １０６への信号を経路付けするために、信号スイッチ１０８に供給される。これらの制御信号は、外部コントローラー、又は代替的に、試験機１０２内の制御回路（図示されない）によって、供給され得る。
【００１４】
試験機１０２はまた、ＲＦ信号ポート１０４ｇ、１０４ａを含み、これを介してＶＳＧ信号１０５が供給され、ＶＳＡ  １０６に入力されるＤＵＴ信号１０９が受信される。ＶＳＡ  １０６はまた、トリガ信号入力ポート１０６ｔｉ、及びトリガ信号出力ポート１０６ｔｏを含む（以下でより詳細に記載される）。第１  ＶＳＡ  １０６ａは、最後のＶＳＡ  １０６ｎからそのトリガ入力信号１０７ｎを受信し、次の下流のＶＳＡ  １０６ｂに、そのトリガ出力信号１０７ａを供給する。他端において、最後の試験機１０２ｎは、最後の上流の試験機からそのトリガ入力信号を受信し、その出力トリガ信号１０７ｎを、第１試験機１０２ａへと返す。したがって、トリガ信号１０７は、連続的ループの形で上流試験機から下流試験機まで、そしてまた戻るようにして、結合される。
【００１５】
参照信号源１１４により供給される参照信号１１５（例えば、温度補償水晶発振器）は、試験機１０２に、共通の周波数／タイミングの基準、及び全体的同期をもたらす。ＤＵＴ  １１０の信号ポート１１０ｐの１つから生じる入力信号１０９を受信する際、上記のように、試験機１０２により、隣接する下流試験機１０２へのトリガ入力信号として使用するために、トリガ出力信号１０７が生成される。結果として、個別の試験機１０２のＶＳＡ  １０６による、ＤＵＴ信号１０９の検出は、全ての試験機１０２に沿って、トリガ信号ループを通じて伝達される、トリガ信号が開始される。このトリガ信号は、各ＶＳＡ  １０６を促進して、そのＲＦ入力信号ポート１０６ａｒに存在する、いずれかのＤＵＴ信号１０９を捕捉する。どの試験機がそのＤＵＴ信号１０９を最初に受信するかによって、連結した試験機１０２のいずれかが、全ての試験機１０２に沿ってトリガ反応を開始する、ＶＳＡトリガマスターとして機能し得る。
【００１６】
容易に理解されるように、トリガ信号接続の連続的ループは、任意の数の試験機１０２に関してスケーリングするこができる。更に代表的な実施形態は、入力されるＲＦ信号１０９の立ち上がりエッジの検出による、このトリガ信号の開始を含む（例えば、信号電力検出器が、入力信号の振幅が既定の振幅の閾値を超えたことを示す場合）一方で、トリガ信号ループの開始トリガは、他の方法により（例えば、試験機１０２内のソフトウェアにより開始される自走トリガ信号により、ＷＣＤＭＡ（登録商標）、ＣＤＭＡ、ＥＶＤＯ、又はＬＥＴシステムの場合におけるダウンリンクにより、又は外部で生成される制御信号１１７ａに従って）開始され得る。
【００１７】
図２に示されているように、代表的な実施形態により、トリガ信号出力ポート１０６ｔｏで利用可能となる、トリガ出力信号を生成するトリガ信号回路は、ＲＦ信号検出回路１２０、及び信号結合（例えば、「ＯＲ」）回路１２４、並びにタイミング回路１２２を含む。ＲＦ信号入力信号ポート１０６ａｒを介して受信される入力ＲＦ信号１０９は、ＲＦ信号検出回路１２０によって検出される受信されたＲＦ信号１０７ａｒとして機能する。生じた出信号１２１（例えば、信号電圧規模、又は信号電力レベルの入力信号１０７ａｒ）が、結合回路１２４及びタイミング回路１２２ｂに供給される。同様に、トリガ信号入力ポート１０６ｔｉを介して受信される、ループトリガ信号１０７は、回路１２４及び別のタイミング回路１２２ａを結合する信号に提供される、内部トリガ入力信号１０７ｔｉとして機能する。
【００１８】
好ましい実施形態により、結合回路１２４は、２つの入力信号１０７ｔｉ、１２１の第１アサーションに応答して開始するトリガ出力信号１２５を供給し、これにより、上記のように、試験機１０２の同期したトリガを開始する。
【００１９】
タイミング回路１２２は、これらの内部トリガ信号１０７ｔｉ、１２１を、外部基準信号１１５と比較して、タイミング信号１２３を供給し、これは、ＶＳＡ  １０６により実施される、捕捉されたＲＦ信号１０９の後処理補償のために使用され得る。例えば、タイミング回路１２２は、２つのトリガ信号１０７ｔｉ、１２１を、基準信号１１５に対して比較する能力をもたらし、この共通の基準信号１１５に対する相対的なタイミング誤差を決定する。これは、後のデータ分析中におけるイベントを時間的に適切に合わせるための、データ捕捉の後処理補償を可能にする。例えば、タイミング信号１２３は、時間領域において、捕捉されたデータ信号の配置の補償のために、時間基準点をもたらし得る。換言すると、結果が捕捉された後、ループにおける遅延のために、捕捉された信号の相対的開始時点が、相対して並存するＭＩＭＯ信号が正確になるように、補償される必要があり得る。このような補償がないと、ループはトリガをもたらすが、この時間領域における同時捕捉点が歪む場合がある。
【００２０】
本発明の範囲及び思想から逸脱することなく、本発明の構造及び動作方法の様々な他の修正及び変更を行えることが当業者に明らかであろう。本発明は、特定の好ましい実施形態に関連して説明したが、特許請求の範囲に示す本発明は、このような特定的な実施形態に不当に限定されるべきではないことを理解すべきである。以下の「特許請求の範囲」が本発明の範囲を規定し、かつこれらの請求項及びその均等物の範囲内の構造及び方法がそれによって包含されることを意図している。
【図１】
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【図２】
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【国際調査報告】
2015523759.tif 000005
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