(57)【要約】【課題】少しの労力で電流や磁場を精密、迅速に測定可能な、ホールセンサを用いた測定方法・装置を提供する。【解決手段】本発明は、スピン流技術で作動する１以上のホールセンサを用いて電流や磁場を測定する方法・装置に関する。スピン流測定値（６）を算出するための第１のサンプル値に加え、本方法のホールセンサのデジタル的に変換されたセンサ信号（１）から第２のサンプル値を形成する。第２のサンプル値は、より短い期間（９）にわたり形成され、スピン流測定値（６）と第１のサンプル値から算出されるオフセットを用いて補正される。精密なスピン流測定値（６）に加え、磁場や電流のオフセット補正された高速測定値（１０）が、本方法とそれに伴う装置により、複雑なキャリブレーションや付加的なアナログ回路のコストを要することなく取得される。【選択図】図２
2015508168.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スピン流技術で作動する少なくとも１つのホールセンサを用いて電流または磁場を測定する方法において、
前記ホールセンサからのセンサ信号をアナログ−デジタルコンバータによってデジタル信号（１）に変換し、
アナログ−デジタルコンバータの前記デジタル信号（１）を読み出し、それらを第１のサンプルを取得するために第１の期間（４）にわたってスピン流位相それぞれについて合成し、
スピン流サイクルのスピン流位相の前記第１のサンプルを合算して、電流または磁場のスピン流測定値（６）を形成する方法であって、
スピン流位相それぞれについての前記アナログ−デジタルコンバータのデジタル信号（１）を、前記第１の期間（４）よりも短い第２の期間（９）それぞれにわたり複数回合成することにより、時系列に並ぶ複数の第２のサンプルを取得し、
スピン流位相それぞれについて、前記スピン流測定値（６）から前記第１のサンプルのオフセットを算出し、このオフセットに基づいて前記第２のサンプルを補正することにより、電流または磁場のオフセット補正された高速測定値（１０）を取得する
ことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記スピン流位相の切り替え（１３）の後、前記スピン流位相の切り替え（１３）と前記第１のサンプルを形成するための前記第１の期間（４）の開始との間に、第１の待ち時間（３）が挿入される
ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記スピン流位相の切り替え（１３）の後、前記スピン流位相の切り替え（１３）と前記第２のサンプルを形成するための前記第２の期間（９）の開始との間に、前記第１の待ち時間（３）と等しいかまたは前記第１の待ち時間（３）よりも短い第２の待ち時間（８）が挿入されることを特徴とする請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記ホールセンサからの前記センサ信号を１次デルタシグマ型コンバータによってデジタル信号（１）に変換することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
アナログ−デジタル変換の前に、前記ホールセンサからの前記センサ信号を増幅することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
前記デジタル信号（１）を第１デシメータ（２）により前記第１の期間（４）にわたって合成し、かつ、前記デジタル信号（１）を第２デシメータ（７）により前記第２の期間（９）にわたって合成することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
スピン流技術で作動する少なくとも１つのホールセンサを用いて電流または磁場を測定する装置において、
前記ホールセンサからのセンサ信号をデジタル信号（１）に変換するアナログ−デジタルコンバータと、
前記アナログ−デジタルコンバータから前記デジタル信号（１）を読み出し、それらを第１のサンプルを取得するために第１の期間（４）にわたりスピン流位相それぞれについて合成する第１のコンバイナ（２）と、
スピン流サイクルのスピン流位相の前記第１のサンプルを合算して、電流または磁場のスピン流測定値（６）を形成する加算器（５）と、
スピン流位相それぞれについての前記アナログ−デジタルコンバータからのデジタル信号（１）を、前記第１の期間（４）よりも短い第２の期間（９）それぞれにわたり複数回合成することにより、時系列に並ぶ複数の第２のサンプルを取得する第２のコンバイナ（７）と、
スピン流位相それぞれについて、前記スピン流測定値（６）から前記第１のサンプルのオフセットを算出し、このオフセットに基づいて前記第２のサンプルを補正することにより、電流または磁場のオフセット補正された高速測定値（１０）を取得する補正ユニットと
を備える装置。
【請求項８】
前記アナログ−デジタルコンバータは１次のデルタシグマ型コンバータであることを特徴とする請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記第１のコンバイナ（２）および前記第２のコンバイナ（７）のそれぞれはデシメータであることを特徴とする請求項７または８に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、少なくとも１つのホールセンサを用いて電流または磁場を測定する方法および装置に関し、これはスピン流技術により動作し、ホールセンサからのセンサ信号がアナログ−デジタルコンバータによりデジタル信号に変換され、デジタル信号がアナログ−デジタルコンバータから読み出されて、各スピン流位相について第１のサンプルを取得するために第１の期間にわたって合成され、スピン流サイクルのスピン流位相の当該第１のサンプルが合計されて電流または磁場のスピン流測定値を形成する。
【背景技術】
【０００２】
電気駆動における電流測定は、シャント抵抗器（分流器）によって長らく占められていた。これらは、使用性に優れ、小型であり、迅速な信号解析が可能である。しかし、たとえば、ガルバニック隔離された測定が行われる場合や、通電導体の接続を断ってはいけない場合若しくは断つことができない場合、またはシャントを破壊したり損傷したりするような大きい電流がシステム内に発生する可能性がある場合においては、シャント抵抗器を用いることができない。これらの場合において、ホールセンサに基づく磁気測定方法は、電流の測定に推奨されている。一般に使用されるホールセンサシステムは、磁束を強めるための着磁性コアを備えた電流コンバータモジュールである。フィードバックループシステムにおいては、かなりの高さの測定確度および測定バンド幅がそれゆえ獲得される。しかし、必要な寸法に応じた多量の磁気活性材料が必要であることから、この解決策を用いても、大きさやコストが相対的に高くなる。
【０００３】
大きさやコストを低減するには、磁気コアを伴わない磁場センサを用いることが望ましいであろう。しかし、磁気コアを有しないホールセンサを用いた電流測定における主たる問題は、信号の大きさに関連するセンサのオフセットの相対的な高さである。ほぼすべてのホールセンサシステムにおいて、このオフセットを抑制するために、いわゆるスピン流原理が実施される。それぞれの測定について、信号出力接続（ホールコンタクト）を伴うホール素子またはホールセンサにおける動作電流の方向は、１回以上切り替わる。（通常２または４の）異なるスピン流位相の個別の測定から累積値が形成され、そのオフセット成分は個々の位相におけるものよりも顕著に低い。しかし、個々の位相の間の切り替えの間に発生する過渡振動プロセスにより、そして、要求される測定値の確度により、スピン流原理は、達成可能な測定周波数を制限する。
【０００４】
現代の電気駆動においては、クロックトモードで動作する高精度な動的コンバータが電動モータの制御に用いられる。コンバータ電圧および電流の調整の精度のためには、これらパラメータの高確度で低ノイズの測定が要求される。このため、コンバータに同期して動作する場合、アナログ−デジタル変換のためのΔΣモジュレータ（ΔΣＭ）を用いた電流測定のためのホールセンサシステムが理想的に適合する。この場合、コンバータタイマの全期間が統合されて非常に精密な測定値が得られる。クロック周波数は通常、スピン流法のための可能な範囲に好適に含まれる数ｋＨｚ〜約２０ｋＨｚの範囲に設定される。A. Kerlainらによる”Hybrid Hall microsystem for high dynamic range/large bandwidth magnetometry applications”, IEEE SENSORS 2008 Conference, ページ1044〜1047には、そのようなホールセンサシステムの例が開示されている。
【０００５】
しかし、実際には、短絡電流による熱的な過負荷が半導体スイッチに与えられて損傷や破壊が起こらないように、非常に短い時間における短絡電流の検知が依然として必要である。これを達成するためには、最大１０μｓの持続時間を伴う測定サイクルが要求される。スピン流原理にしたがって作動する現在知られているホールセンサシステムについては、調整のために精密な測定の提供が同時に要求される場合、そのような測定時間の短さは実用的ではない。その場合、実際の信号検知時間に関連するスピン流位相の切り替えの後の整定時間の割合があまりに大きくなり、ノイズによって信号品質が顕著に低減する。したがって、同時的で迅速な測定を得るためには、並行かつ重複したシステムが現在では必要であるが、これは、電流測定の労力およびコストを顕著に増加させる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
この発明の目的は、少しの労力で電流または磁場の精密かつ迅速な測定が可能な、少なくとも１つのホールセンサを用いて電流または磁場を測定する方法および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この目的は、請求項１および７にしたがう方法および装置により達成される。この方法および装置の有利な構成は、従属請求項の主題により形成され、または、典型的な実施形態を伴う以下の記述から推論される。
【０００８】
提案される方法において、ホール効果センサは、たとえば２または４つの位相を用いたスピン流技術によって作動される。原理的には、Ｎ個の位相を用いてホールセンサを作動することができる（ここで、Ｎ≧２）。この方法において、ホールセンサからのセンサ信号が、アナログ−デジタルコンバータによってデジタル信号に変換され、デジタル信号が、アナログ−デジタルコンバータから読み出され、第１のサンプルを取得するためにスピン流位相それぞれについて、第１の期間にわたって合成される。スピン流サイクルのスピン流位相の第１のサンプルが合算され、電流または磁場のスピン流測定値を形成する。ホール効果センサからのセンサ信号または出力信号は、事前の増幅を伴いまたは伴わずに、アナログ−デジタルコンバータに供給される。この方法は、次の事項によって特徴付けられる：アナログ−デジタルコンバータからのデジタル信号を、第１の期間よりも短い第２の期間にわたりスピン流位相それぞれについて複数回合成することで、時系列に並ぶ複数の第２のサンプルを取得し、スピン流位相それぞれについてのスピン流測定値から第１のサンプルのオフセットを算出し、このオフセットに基づいて第２のサンプルを補正し、それにより、電流または磁場のオフセット補正された測定値を得る。
【０００９】
それにより、提案された方法においては、電流または磁場の精密で迅速な測定がスピン流プロセスに統合される。これは、まず、当該温度を超えるホール素子のオフセットの熱ドリフトが、複雑なキャリブレーションを要することなく系統的に除去されることを意味し、さらに、第２に、渦電流状態を十分な確度で迅速に検知できることを意味する。よって、スピン流原理を利用する従来の測定と比較しても、回路の複雑性が実質的に増大することはない。特に、アナログ信号経路が不変であることが必要であり、これは測定確度にとって重要である。
【００１０】
スピン流技術を用いたホールセンサにより電流または磁場を測定する既存の方法とは対照的に、ここに提案された方法によれば、単相測定値（第１のサンプル）は、スピン流測定値を形成するためにそれらが加算の後にも破棄されず、第１のサンプルのオフセットをスピン流測定から算出するために格納される。さらに、このオフセットに基づいて第２のサンプルを補正することにより、電流または磁場の高速測定値（fast measurement value）に相当するオフセット補正された第２のサンプルが取得される。このことは、第１および第２のサンプルが異なる期間にわたり合成されるため、オフセットの適切なスケーリングが一般的に依然として必要であることを意味する。使用される倍率（scale factor）は、第１の期間に対する第２の期間の比に相当する。そして、この倍率調整されたオフセットが、第２のサンプルから直接に減算される（これは、各々対応するスピン流位相についてそれぞれ実行される）。
【００１１】
以下において説明される提案に係る方法および装置によれば、スピン流測定値の確度は、スピン流原理に純粋にしたがって作動する以前の方法と比較して不変であり、また、影響を受けない。同時に、この方法および装置は、オフセット補正の対象とされた電流または磁場の高速測定値も提供する。高速測定値のオフセット補正は、温度の範囲または他の動作条件にわたって計画的に更新される。非常に精密で非常に高速測定値は、同一のセンサおよびアナログのフロントエンドにより同時に取得される。さらなるアナログ部品は必要とされない。センサの複雑なキャリブレーションも不要である。
【００１２】
この方法の好適な構成において、切り替えの間に行われる整定プロセスがスピン流測定の確度に影響することを回避するために、スピン流位相のそれぞれの切り替えの後、既知の方法で、スピン流位相の切り替えと第１のサンプルが形成される期間の開始との間に待ち時間（第１の待ち時間）が挿入される。同様に、スピン流位相の切り替えと、第２のサンプルを形成するためのそれぞれの位相の第２の期間の最初の開始との間にも、待ち時間が挿入される。この第２の待ち時間は、第１の待ち時間と等しくなるように選択することができる。しかしながら、第２の待ち時間は第１の待ち時間よりも短いことが好適であり、それにより、第１のサンプルのような高レベルの確度を有する必要がなり第２のサンプルを、スピン流位相の切り替えにしたがってより高速に取得できる。スピン流位相の長さに和が精密に一致するように適切に選択された各スピン流位相の（第２の）待ち時間と第２の期間によって、第２の待ち時間が、連続する２つの期間のそれぞれの間の時間に適切に対応する。これは、第２のサンプルを形成するためのクロッキングが、ホールセンサのスピン流動作のクロッキングに同期していることを意味する。
【００１３】
好ましくは、ホールセンサからのセンサ信号が、１次ΔΣコンバータによってデジタル信号に変換され、そのアナログ積分器が、スピン流位相のそれぞれの新たな測定の前にクリアされる。第１の期間にわたるデジタル信号の合成は、好ましくは、第１のデシメータの作用を受け、第２の期間にわたるデジタル信号の合成は、第２のデシメータの作用を受ける。この発明における合成は、一般に総和を含み、平均値の算出などの他の処理を伴ってもよい。
【００１４】
したがって、本方法を実行するために実現された装置は、スピン流技術で作動するホールセンサに加えて、アナログ−デジタルコンバータと、アナログ−デジタルコンバータからデジタル信号を読み出し、それらを第１のサンプルを取得するためにスピン流位相それぞれについて第１の期間にわたり合成する第１のコンバイナと、スピン流サイクルのスピン流位相の第１のサンプル値を合算して、電流または磁場のスピン流測定値を形成する加算器とを備える。第２のコンバイナは、スピン流位相それぞれについてのアナログ−デジタルコンバータのデジタル信号を、第１の期間よりも短い第２の期間わたり複数回合成することにより、時系列に並ぶ複数の第２のサンプルを取得する。スピン流測定値に基づいて、補正ユニットは、スピン流位相それぞれについて、第１のサンプルのオフセットを算出し、さらに、このオフセットに基づいて第２のサンプルを補正することにより、電流または磁場のオフセット補正された高速測定値を取得する。
【００１５】
提案された方法およびそれに関連する装置は、たとえば、本明細書の導入部にて簡単に述べたような電気駆動における高速測定のために特に有利に適用可能である。しかしながら、本方法および本装置は、たとえばホール効果センサを用いた非接触位置測定における、より一般的な高速磁場測定に用いることも当然に可能である。
【００１６】
提案された方法およびそれに関連する装置は、図面を伴う典型的な実施形態に基づいて、以下において再度より詳細に説明される。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】スピン流技術で作動するホールセンサを用いた、従来の磁場測定の評価の例を示す。
【図２】提案された方法にしたがう評価の例を示す。
【図３】提案された方法にしたがう評価の第２の例を示す。
【図４】提案された方法にしたがう高速かつ精密な測定の同期の例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
図１は、４位相を用いたスピン流技術の既知の手法で作動するホールセンサを用いた磁場測定の評価の例を示す。個々の位相の間の切り替えを行うためのホール効果センサの配線や、ホール効果センサの出力信号を増幅するために一般に使用されるプリアンプや必要なアナログ−デジタルコンバータ（本例ではΔΣモジュレータ）などの任意の他のアナログ部品は、同図および以下の図には示されていない。しかしながら、これら部品は、ホールセンサを用いた電流または磁場の測定の従来技術から十分よく知られている（たとえば、導入部にて引用されたA. Kerlainらの文献を参照）。
【００１９】
この装置におけるホール素子の出力信号は、プリアンプを用いて或いは用いずに、信号をデジタル化する１次ΔΣモジュレータに供給される。ΔΣモジュレータのアナログ積分器は、スピン流位相の新たな測定それぞれの前にクリアされる。ΔΣモジュレータのデジタル信号列１が、デシメーションフィルタ２（シンプルデジタルアキュムレータ）に供給される。従来技術の方法においては、先の測定結果がシステムにより受け付けられた後、スピン流（SC）サイクルの最初に、デシメーションフィルタ２（SC-Dec）がクリアされる。
【００２０】
ＳＣ位相（SC-Phase）の切り替えの後、短い期間３の経過が許容され、プリアンプを整定する必要がある（SC-Wait：合算されないクロックパルスの数）。それから、ΔΣモジュレータが再度有効化され、定義された数のシステムクロックパルスに相当する期間４（SC-Dec-Len：デシメーション長、また、タップとも呼ばれる）にわたり、その出力信号列がデシメータ２において合算されて単相測定値を形成する。
【００２１】
それぞれの場合において、４つの単相測定値SCP0-SCP3が加算器５において合算されて、磁場に比例する実際の測定結果を表すＳＣ累積値（この発明応用においては、スピン流測定値とも呼ばれる）が形成される。それから、精密な測定システムにおいては、単相測定値SCP0-SCP3はもはや必要ではなく、最終的な値を形成するための再計算の後に破棄される。算出されたスピン流測定値６（Mag：磁場）が、最終結果として出力される。
【００２２】
これに対し、本方法の場合には、単相測定値SCP0-SCP3（４相スピン流動作の場合）は保存される。図２は、提案に係る方法の一の構成における処理の概略的表現を示す。同図の上部は、図１に示すＳＣ測定値６の算出に相当する。さらに、ここに提案される方法においては、同図に概略的に示すように、ＳＣ測定値６および単相測定値SCP0-SCP3（この発明応用では、第１のサンプルとも呼ばれる）から、これら第１のサンプルについてのそれぞれの場合においてオフセットが算出される。これは、以下の要領で実行される。
【００２３】
保存された単相測定値である
SCP0 = Magnetic Field + OffsetSCPhase0
SCP1 = Magnetic Field + OffsetSCPhase1
SCP2 = Magnetic Field + OffsetSCPhase2
SCP3 = Magnetic Field + OffsetSCPhase3
から、４相測定値またはスピン流測定値（Magnetic Field）が次のように算出される。
SCP0 + SCP1 + SCP2 + SCP3 = 4 * Magnetic Field + OffsetSCPhase0 + OffsetSCPhase1 + OffsetSCPhase2 + OffsetSCPhase3
【００２４】
センサの特性により次式が適用される。
OffsetSCPhase0 + OffsetSCPhase1 + OffsetSCPhase2 + OffsetSCPhase3 = 0
これにより次の関係が得られる。
SCP0 + SCP1 + SCP2 + SCP3 = 4 * Magnetic Field
【００２５】
以下の第１の数式群を適切に再整理する。
SCP0 = Magnetic Field + OffsetSCPhase0 => OffsetSCPhase0 = Magnetic Field - SCP0
SCP1 = Magnetic Field + OffsetSCPhase1 => OffsetSCPhase1 = Magnetic Field - SCP1
SCP2 = Magnetic Field + OffsetSCPhase2 => OffsetSCPhase2 = Magnetic Field - SCP2
SCP3 = Magnetic Field + OffsetSCPhase3 => OffsetSCPhase3 = Magnetic Field - SCP3
それにより、単相オフセット（OffsetSCPhaseX）のそれぞれが単相測定値から決定可能となる規則が得られる。
【００２６】
さらに、現に設定されているスピン流位相に依存する高速測定のサンプル値から、これら単相オフセットが導かれる。この処理は、明示的な減算による測定の後か、或いはデシメータフィルタの適切な事前設定を用いたデシメーションの開始の前に実行されてよい。
【００２７】
この場合、第２のデシメータ７（KS-Dec）に供給されるΔΣモジュレータのデジタル信号列１から高速測定値が得られる。この第２のデシメータ７において、第１のデシメータ２における第１のサンプルと同じ要領で、第２のサンプルが算出される。ＳＣ位相の切り替えの後の待ち時間８（KS-Wait：合算されないクロックパルスの数）は、好ましくは、第１のサンプルを形成するための第１の待ち時間３（SC-Wait）より短くなるように選択される。第２のサンプルを形成するためにΔΣモジュレータのデジタル信号が合算される第２の期間９（KS-Dec-Len：デシメーション長）は、第１のサンプルを形成するための第１の期間４より短くなるように選択される。電流または磁場の高速測定値１０を結果として出力できるように、ＳＣ測定値６から算出されたオフセットにしたがって第２のサンプルが補正される。
【００２８】
精密かつ高速の測定のためのデシメーション長（第１および第２の期間）は、正にそれらの性質によって異なるため、値の付加的な補正は通常必要とされる。これは、測定値のスケーリングに影響を与える。これらスケールの比についても補正されなければならない。望ましいケースにおいて、測定装置のデジタル部分における単純なシフト動作によってこれを実現することが可能である。しかしながら、一般に、この値に次の分数を乗算しなければならない。
Offset Scaling factor = KSDecLen/SCDecLen
【００２９】
この値は動作の間不変であるから、KS-Den-LenおよびSC-Dec-Lenと同様に定数としてシステムに渡される。この点について、図３は、デシメーション長の比に応じたオフセットの測定値のスケーリングを用いた、高速測定値のオフセット補正を示す。これは、オフセットスケーリングファクタ１１（OS）を設定することにより実現され、それを用いて、ＳＣ測定値から算出されたオフセット値と単相測定値SCP0-SCP3が乗算される。そして、適切に補正されたオフセット１２が第２のサンプルから減算される。
【００３０】
付加的な磁場がシステムに導入される場合、第２の付加的な補正が必要である。これは、たとえば、統合された磁場コイルによる定電流を用いて測定システムの感度が測定される場合であってよい。適切な使用により、測定値を損失することなく、磁場または電流の測定を同時に用いてこれを実行することもできる。
【００３１】
しかしながら、この場合において、付加的に導入された磁場による磁場の増加をシステムは認識し、さらに、高速測定値から遡及的に求めることが可能である。双方のデジタル測定経路（高速および精密な測定）において達成可能な確度が最適な手法で利用できるように、双方の測定のための待ち期間（待ち時間）およびデシメーション長（第１および第２の期間）を、次式が適用されるように選択しなければならない。
SC-Wait + SC-Dec-Len = (KS-Wait + KS-Dec-Len)*Factor
ここで、Factor = 2, 3,・・・Nである。
【００３２】
たとえばドイツ国特許第１０２００６０５９４２１号（DE 10 2006 059 421 B4）に開示されているようなオフセット中心化処理を用いる場合、この文献で使用されるオフセット補正値のための制御ポイント（これは常に２つのSC-phaseに共に適用される）は、実行中の動作において補正される必要がある。これは、一定磁場の場合であっても単相測定値のそれぞれが変化するであろうことを意味する。しかしながら、この変化の大きさはシステムにおいて既知であるので、実行されている動作中に高速測定値において補正することも可能である。
【００３３】
提案された方法において、高速測定の待ち期間（第２の待ち時間）が低速測定の待ち期間（第１の待ち時間）と同時に開始されるように、双方の測定サイクルを同期して行うこともできる。このことは、これがスピン流位相の間に切り替えが発生するときであるからである。図４は、４位相動作のための当該処理を概略的に示す。同図は、切り替え処理１３と、第１および第２の待ち時間３および８と、高速および精密測定のための第１および第２期間４および９を示す。高速測定の待ち時間は、精密測定のそれよりもはるかに短い。この処理は許容可能であり、それは、高速測定値の確度の低減のみが予期されるからである。
【符号の説明】
【００３４】
１  ΔΣモジュレータのデジタル信号列
２  第１のデシメータ（SC-Dec）
３  第１の待ち時間（SC-Wait）
４  第１の期間（SC-Dec-Len）
５  加算器
６  ＳＣ測定値
７  第２のデシメータ（KS-Dec）
８  第２の待ち時間（KS-Wait）
９  第２の期間（KS-Dec-Len）
１０  高速測定値
１１  オフセットスケーリングファクタ（OS）
１２  補正されたオフセット
１３  位相間の切り替え
【図１】
2015508168.tif 000003
【図２】
2015508168.tif 000004
【図３】
2015508168.tif 000005
【図４】
2015508168.tif 000006
【国際調査報告】
2015508168.tif 000007
2015508168.tif 000008
2015508168.tif 000009
2015508168.tif 000010