(57)【要約】方法、システム、及びプログラムプロダクトは、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３Ｄスキャンから除くために提供される。方法は、術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを特性化するステップと、術中に、ｘ線源及び検出器に対するＥＭ場発生器の位置を決定するステップと、ＥＭ場発生器の決定された相対位置について、術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除くステップとを有する。
2015503389.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除く方法であって、
術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、前記ＥＭ場発生器からの前記アーティファクトを特性化するステップと、
術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定するステップと、
前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除くステップと
を有する方法。
【請求項２】
前記アーティファクトを特性化するステップは、各回転位置での夫々のアーティファクトの夫々のボクセルについて減衰係数を決定することを含み、
前記術前に特性化されたアーティファクトを除くステップは、前記減衰係数を現在のｘ線画像から減じることを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示するステップ
を更に有する請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記アーティファクトを特性化するステップは、各アーティファクトの形状を決定することを更に含む、
請求項３に記載の方法。
【請求項５】
各アーティファクトの前記形状は、エッジ検出処理により前記アーティファクトを定義することによって決定される、
請求項４に記載の方法。
【請求項６】
ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除くシステムであって、
プロセッサと、
前記プロセッサへ動作上接続されるメモリと、
術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、前記ＥＭ場発生器からの前記アーティファクトを特性化し、
術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定し、
前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除く
よう前記メモリにおいて符号化されて前記プロセッサによって実行される命令のプログラムと
を有するシステム。
【請求項７】
前記アーティファクトを特性化することは、各回転位置での夫々のアーティファクトの夫々のボクセルについて減衰係数を決定することを含み、
前記術前に特性化されたアーティファクトを除くことは、前記減衰係数を現在のｘ線画像から減じることを含む、
請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
前記プロセッサへ動作上接続されるディスプレイを更に有し、
前記命令のプログラムは、前記プロセッサによって実行される場合に、前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示する、
請求項７に記載のシステム。
【請求項９】
前記プロセッサによって実行される前記命令のプログラムは更に、各アーティファクトの形状を決定する、
請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
各アーティファクトの前記形状は、エッジ検出処理により前記アーティファクトを定義することによって決定される、
請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
コンピュータにより実行可能な命令のプログラムが符号化されているコンピュータ可読記憶媒体を有するコンピュータプログラムプロダクトであって、
術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを特性化するプログラム命令と、
術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定するプログラム命令と、
前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除くプログラム命令と
を有するコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項１２】
前記アーティファクトを特性化するプログラム命令は、各回転位置での夫々のアーティファクトの夫々のボクセルについて減衰係数を決定するプログラム命令を含み、
前記術前に特性化されたアーティファクトを除くプログラム命令は、前記減衰係数を現在のｘ線画像から減じるプログラム命令を含む、
請求項１１に記載のコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項１３】
前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示するプログラム命令
を更に有する請求項１２に記載のコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項１４】
前記アーティファクトを特性化するプログラム命令は、各アーティファクトの形状を決定するプログラム命令を更に含む、
請求項１３に記載のコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項１５】
各アーティファクトの前記形状を決定するプログラム命令は、エッジ検出処理により前記アーティファクトを定義することによって各アーティファクトの前記形状を決定する、
請求項１４に記載のコンピュータプログラムプロダクト。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、医用画像の分野に関し、特に、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３Ｄスキャンから除く方法、システム、及びコンピュータプログラムプロダクトに関する。
【背景技術】
【０００２】
電磁気（electro-magnetic；ＥＭ）トラッキングの背後にある原理は、電磁場発生器が空間的に変化する磁場を生成して、センサコイルにおいて電流を生じさせることである。その場合に、測定システムは、センサにおける測定電圧に基づき、センサの位置及び向きを計算するために使用される。ＥＭトラッキング技術は、３Ｄ空間における実時間の位置及び向きの情報を提供する。この情報は、インターベンショナルプロシージャを支援するために使用されてよい。それらのセンサコイルのサイズは非常に小さいので、それらはカテーテル又は他の手術道具に埋め込まれ、ガイド付きナビゲーションのために使用され得る。結果として、ＥＭトラッキングシステムは、体内インターベンションに極めて適する。
【０００３】
電磁気トラッキングがｘ線イメージングとともに、例えば、カテラボにおいて、使用される場合に、電磁気（ＥＭ）トラッキング場発生器は、ｘ線画像、特に、円錐ビームＣＴスキャンからの回転画像を改悪することがあり得る。たとえ、ｘ線画像において如何なる大きな電子部品も示さないｘ線適合電磁場発生器を設計するよう努めたとしても、ｘ線画像において可視的であるアーティファクトを作り出すことがあり得るフィーチャーが依然として存在する。それらのフィーチャーは、電磁場発生器の上から下に走る配線と、電磁場発生器の外側及び内側のケーシングの鋭角とを含む。それらのフィーチャーは、通常、ｘ線画像において、線の形をしたアーティファクトを引き起こす。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
方法、システム及びプログラムプロダクトは、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３Ｄスキャンから除くために提供される。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一態様に従って、方法は、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除くために提供される。方法は、術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、前記ＥＭ場発生器からの前記アーティファクトを特性化するステップと、術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定するステップと、前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除くステップとを有する。
【０００６】
一実施形態に従って、前記アーティファクトを特性化するステップは、各回転位置での夫々のアーティファクトの夫々のボクセルについて減衰係数を決定することを含み、前記術前に特性化されたアーティファクトを除くステップは、前記減衰係数を現在のｘ線画像から減じることを含む。
【０００７】
一実施形態に従って、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除く当該方法は、前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示するステップを更に有する。
【０００８】
一実施形態に従って、前記アーティファクトを特性化するステップは、各アーティファクトの形状を決定することを更に含む。
【０００９】
一実施形態に従って、各アーティファクトの前記形状は、エッジ検出処理により前記アーティファクトを定義することによって決定される。
【００１０】
本発明の他の態様に従って、システムは、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除くために提供される。システムは、プロセッサと、前記プロセッサへ動作上接続されるメモリと、前記メモリにおいて符号化されて前記プロセッサによって実行される命令のプログラムとを有する。実行される場合に、前記命令のプログラムは、術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、前記ＥＭ場発生器からの前記アーティファクトを特性化し、術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定し、前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除く。
【００１１】
一実施形態に従って、当該システムは、前記プロセッサへ動作上接続されるディスプレイを更に有し、前記命令のプログラムは、前記プロセッサによって実行される場合に、前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示する。
【００１２】
本発明の他の態様に従って、コンピュータプログラムプロダクトは、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除くためのコンピュータにより実行可能な命令のプログラムが符号化されているコンピュータ可読記憶媒体を有して提供される。前記命令のプログラムは、術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを特性化するプログラム命令と、術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定するプログラム命令と、前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除くプログラム命令とを含む。
【００１３】
本発明の特徴及び利点は、好ましい実施形態の以下の詳細な説明から、添付の図面に関連して読まれる場合に、より明りょうに理解されるであろう。図面には、次の図が含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施形態に従う、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３次元スキャンから除くシステムの等軸測視図である。
【図２】本発明の実施形態に従う、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３次元スキャンから除くシステムのブロック図である。
【図３】本発明の実施形態に従う、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３次元スキャンから除く方法のフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明は、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３Ｄスキャンから除去する方法、システム及びコンピュータプログラムプロダクトを提供する。本発明の実施形態に従って、ＥＭ場発生器からのアーティファクトは、術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって特性化される。次いで、ｘ線源及び検出器に対するＥＭ場発生器の位置が術中に決定され、ＥＭ場発生器の決定された相対位置についての術前に特性化されたアーティファクトが現在の画像から除かれる。
【００１６】
図１は、本発明の実施形態に従う、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３Ｄスキャンから除くシステムを示す。システムは、ＥＭトラッキングシステム１００と、ｘ線システム２００とを有する。それらのシステム１００及び２００は同時に作動してよい。ＥＭトラッキングシステム１００は、外科的処置の間のツール、通常、カテーテルインターベンションの間のカテーテル、の位置をトラッキングするために使用される。ｘ線システム２００は、外科的処置の間、内部構造、流体運動、組織運動、及び同様のものを視覚化するために使用される。ＥＭトラッキングシステム１００は、特に、ｘ線画像が円錐ビームＣＴのような回転スキャンである場合に、Ｘ線画像においてアーティファクトを引き起こすことがあり得る場発生器１２０を含む。
【００１７】
ｘ線システム２００は、台１０の上の患者のｘ線画像を撮影するよう配置されたｘ線機械２２０を有する。一実施形態に従って、ｘ線機械はＣアームスキャナである。
【００１８】
汎用コンピュータのようなプロセッシングユニット２１０は、ｘ線機械へ動作上接続され、ｘ線機械２２０からのｘ線画像を処理する。処理された画像はディスプレイ２１４で提示されてよい。
【００１９】
システムは、外科的処置の間、実時間において手術道具をトラッキングする電磁気（ＥＭ）トラッキングシステム１００を更に有する。ＥＭトラッキングシステム１００は、電磁気トラッキングデータを処理するプロセッシングユニット１１０と、電磁場を検知する導電コイルを備えるセンサ１３２と、電磁場を発生させる場発生器１２０とを有する。センサ１３２は、カテーテルのような手術道具１３０へ接続されている。
【００２０】
ＥＭトラッキングシステムのプロセッシングユニット１１０は、場発生器１２０によって発生した磁場に起因してセンサ１３２において生成された電圧を用いて、３Ｄ空間における道具１３０の位置を計算する。ＥＭトラッキングシステム１００は、例えば、構成プロシージャによって、ｘ線システム２００に位置合わせされる。道具１３０の描写は、トラッキングされた位置を用いてｘ線システムのプロセッシングユニット２１０によってｘ線システムから生成されたｘ線画像又はモデルにオーバーレイされ得る。道具をオーバーレイされた状態のｘ線画像は、ディスプレイ２４０に提示されてよい。
【００２１】
図２は、本発明の実施形態に従う、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３Ｄスキャンから除くシステムのブロック図である。ＥＭトラッキングシステム１００は、プロセッシングユニット１１０（図１）と、場発生器１２０と、センサ１３２とを有する。プロセッシングユニット１１０は、プロセッサ１１１と、メモリ１１３とを有する。プロセッサ１１１は、メモリ１１３へ動作上接続されている。一実施形態に従って、それらはバス１１２を通じて接続される。プロセッサ１１１は、１又はそれ以上のマイクロプロセッサのような、プログラム命令を実行可能な何らかの装置であってよい。更に、プロセッサ１１１は、汎用コンピュータにおいて具現されてよい。
【００２２】
メモリ１１３は、リムーバブルディスク、ハードドライブ、ＣＤ、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、又は同様のもののような、データ及びプログラム命令を記憶するのに適した何らかの揮発性又は不揮発性メモリ装置であってよい。更に、メモリ１１３は、１又はそれ以上のメモリ装置を有してよい。
【００２３】
プロセッシングユニット１１０は、ｘ線又は他のデータを送信又は受信する１又はそれ以上のネットワークコネクタ１１６を更に有してよい。ネットワークコネクタ１１６は、直接に、又はイントラネット若しくはインターネットのようなネットワークを通じて、他の装置からデータを受信するのに適したユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）コネクタ、インターネットアダプタ、又は何らかの他のコネクタであってよい。
【００２４】
プロセッシングユニット１１０は、トラッキング画像、解剖学的モデル、及び同様のものを表示するモニタようなディスプレイ１１４を更に有してよい。１又はそれ以上のモニタは、ＥＭトラッキングシステム１００のための及びｘ線システム２００のための専用モニタに加えて、又はそれらに代えて、設けられてよい。
【００２５】
キーボード、マウス、又は同様のもののような付加的な入力及び／又は出力装置（Ｉ／Ｏ）１１５は、ディスプレイ１１４における画像内の点の選択及びナビゲーションのようなユーザからの指示を受け取るよう、ユーザインターフェースの部分として設けられてよい。
【００２６】
メモリ１１３は、その上で、ｘ線イメージングからの画像又はモデルにオーバーレイされた手術道具１３０におけるセンサの位置のようなＥＭトラッキングデータを処理し表示するようプロセッサ１１１によって実行可能な命令のプログラム１１９が符号化されている。
【００２７】
ｘ線システム２００は、プロセッシングユニット２１０を更に有する。プロセッシングユニット２１０は、例えば、ネットワークコネクタ２１６を通じて、ｘ線機械２２０へ動作上接続されている。
【００２８】
ｘ線システム２００のプロセッシングユニット２１０は、プロセッサ２１１と、メモリ２１３とを有する。プロセッサ２１１は、メモリ２１３へ動作上接続されている。一実施形態に従って、それらはバス２１２を通じて接続される。プロセッサ２１１は、１又はそれ以上のマイクロプロセッサのような、プログラム命令を実行可能な何らかの装置であってよい。更に、プロセッサ２１１は、汎用コンピュータにおいて具現されてよい。
【００２９】
メモリ２１３は、リムーバブルディスク、ハードドライブ、ＣＤ、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、又は同様のもののような、データ及びプログラム命令を記憶するのに適した何らかの揮発性又は不揮発性メモリ装置であってよい。更に、メモリ２１３は、１又はそれ以上のメモリ装置を有してよい。
【００３０】
プロセッシングユニット２１０は、ｘ線又は他のデータを送信又は受信する１又はそれ以上のネットワークコネクタ２１６を更に有してよい。ネットワークコネクタ２１６は、直接に、又はイントラネット若しくはインターネットのようなネットワークを通じて、他の装置からデータを受信するのに適したユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）コネクタ、インターネットアダプタ、又は何らかの他のコネクタであってよい。
【００３１】
プロセッシングユニット２１０は、ｘ線画像、解剖学的モデル、及び同様のものを表示するモニタようなディスプレイ２１４を更に有してよい。１又はそれ以上のモニタは、ＥＭトラッキングシステム１００のための及びｘ線システム２００のための専用モニタに加えて、又はそれらに代えて、設けられてよい。
【００３２】
キーボード、マウス、又は同様のもののような付加的な入力及び／又は出力装置（Ｉ／Ｏ）は、ディスプレイ２１４における画像内の点の選択及びナビゲーションのようなユーザからの指示を受け取るよう、ユーザインターフェースの部分として設けられてよい。
【００３３】
メモリ２１３は、その上で、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３Ｄｘ線スキャンから除くようプロセッサ２１１によって実行可能な命令のｘ線プログラム２１９が符号化されている。一実施形態に従って、ｘ線画像は、例えば、円錐ビームＣＴスキャンからの、回転スキャン画像である。
【００３４】
図３は、本発明の実施形態に従う、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを３Ｄスキャンから除く方法のフロー図である。術前に、ｘ線プロセッサ２１１によって実行される命令のｘ線プログラム２１９は、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを特性化する（ステップ３１０）。特性化は、ｘ線機械２２０の各回転位置でのｘ線画像の夫々のボクセルについて強度値又は減衰係数を記録することを含んでよい。減衰係数は、場発生器１２０に対するｘ線機械２２０の夫々の回転位置について、それらの夫々の位置とともに記録される。
【００３５】
ｘ線機械は、台１０の上の患者なしで既知の回転位置に設定される。次いで、ｘ線画像が生成され、減衰係数又は強度値がボクセル毎に決定されて、メモリ２１３又は他のメモリに記憶される。
【００３６】
術中に、ｘ線プロセッサ２１１によって実行される命令のｘ線プログラム２１９は、ｘ線機械２２０の発生源及び検出器に対するＥＭ場発生器１２０の位置を決定する（ステップ３２０）。発生源及び検出器の位置は、通常、台１０に対して知られており、場発生器１２０は台１０に対して既知の位置にあるので、これは、当該技術で知られているような簡単な並進を必要とする。
【００３７】
次いで、ｘ線プロセッサ２１１によって実行される命令のｘ線プログラム２１９は、ＥＭ場発生器１２０の決定された相対位置について、術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除く（ステップ３３０）。アーティファクトを除くよう、ボクセル毎の記憶された強度値は、現在のｘ線画像における対応するボクセルから減じられる。
【００３８】
ｘ線プロセッサ２１１によって実行される命令のｘ線プログラム２１９は、アーティファクトが除かれた状態で、結果として得られる現在のｘ線画像をディスプレイに提示する。一実施形態に従って、ｘ線プロセッサ２１１によって実行される命令のｘ線プログラム２１９は、アーティファクトを見つけてそれらの形状を決定するために、エッジ検出処理を使用する。その場合に、減衰係数は、アーティファクトのボクセルについてのみ決定され記憶される。
【００３９】
本発明は、全体としてハードウェアの実施形態、又はハードウェア及びソフトウェアの両要素を含む実施形態の形をとることができる。例となる実施形態において、本発明はソフトウェアにおいて実施され、ファームウェア、常駐ソフトウェア、マイクロコード、等を含むがそれらに限られない。
【００４０】
更に、本発明は、コンピュータ又は何らかの命令実行システム若しくは装置による使用のために又はそれに関連してプログラムコードを提供するコンピュータにより使用可能な又はコンピュータにより読み取り可能な媒体からアクセス可能なコンピュータプログラムプロダクトの形をとってよい。この記載のために、コンピュータにより使用可能な又はコンピュータにより読み取り可能な媒体は、命令実行システム、機器、又は装置による使用のために又はそれに関連して、プログラムを収容又は記憶することができる。
【００４１】
前述の方法は、コンピュータのような機械によって実行される場合に方法のステップを実行する機械により実行可能な命令のプログラムを有する機械により読み取り可能な媒体を含むプログラムプロダクトによって実現されてよい。このプログラムプロダクトは、コンパクトディスク、フロッピー（登録商標）ディスク、ＵＳＢメモリ装置、及び同様のものを含むがそれらの限られない様々な既知の機械により読み取り可能な媒体のいずれかに記憶されてよい。
【００４２】
媒体は、電子、磁気、光、電磁気、赤外線、又は半導体システム（又は機器又は装置）であってよい。コンピュータにより読み取り可能な媒体の例は、半導体若しくは固体状態メモリ、磁気テープ、リムーバブルコンピュータディスケット、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、硬質磁気ディスク、又は光ディスクを含む。光ディスクの目下の例は、コンパクトディスク−読み出し専用メモリ（ＣＤ−ＲＯＭ）、コンパクトディスク−リード／ライト（ＣＤ−Ｒ／Ｗ）、及びＤＶＤを含む。
【００４３】
これまでの記載及び添付の特許請求の範囲は、本発明の限定でなく実例であるよう意図される。本発明の適用範囲は、続く特許請求の範囲の及ぶ限り、等価的変形物及び構成を包含するよう意図される。
【図１】
2015503389.tif 000003
【図２】
2015503389.tif 000004
【図３】
2015503389.tif 000005
【手続補正書】
【提出日】平成26年6月30日(2014.6.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除く方法であって、
術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、前記ＥＭ場発生器からの前記アーティファクトを特性化するステップと、
術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定するステップと、
前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除くステップと
を有する方法。
【請求項２】
前記アーティファクトを特性化するステップは、各回転位置での夫々のアーティファクトの夫々のボクセルについて減衰係数を決定することを含み、
前記術前に特性化されたアーティファクトを除くステップは、前記減衰係数を現在のｘ線画像から減じることを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示するステップ
を更に有する請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記アーティファクトを特性化するステップは、各アーティファクトの形状を決定することを更に含む、
請求項３に記載の方法。
【請求項５】
各アーティファクトの前記形状は、エッジ検出処理により前記アーティファクトを定義することによって決定される、
請求項４に記載の方法。
【請求項６】
ＥＭ場発生器からのアーティファクトを回転式３次元スキャンから除くシステムであって、
プロセッサと、
前記プロセッサへ動作上接続されるメモリと、
術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、前記ＥＭ場発生器からの前記アーティファクトを特性化し、
術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定し、
前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除く
よう前記メモリにおいて符号化されて前記プロセッサによって実行される命令のプログラムと
を有するシステム。
【請求項７】
前記アーティファクトを特性化することは、各回転位置での夫々のアーティファクトの夫々のボクセルについて減衰係数を決定することを含み、
前記術前に特性化されたアーティファクトを除くことは、前記減衰係数を現在のｘ線画像から減じることを含む、
請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
前記プロセッサへ動作上接続されるディスプレイを更に有し、
前記命令のプログラムは、前記プロセッサによって実行される場合に、前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示する、
請求項７に記載のシステム。
【請求項９】
前記プロセッサによって実行される前記命令のプログラムは更に、各アーティファクトの形状を決定する、
請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
各アーティファクトの前記形状は、エッジ検出処理により前記アーティファクトを定義することによって決定される、
請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
コンピュータにより実行可能な命令のプログラムを有するコンピュータプログラムであって、
術前に、ｘ線源及び検出器の回転位置の範囲にわたって、ＥＭ場発生器からのアーティファクトを特性化するプログラム命令と、
術中に、前記ｘ線源及び検出器に対する前記ＥＭ場発生器の位置を決定するプログラム命令と、
前記ＥＭ場発生器の前記決定された相対位置について、前記術前に特性化されたアーティファクトを現在のｘ線画像から除くプログラム命令と
を有するコンピュータプログラム。
【請求項１２】
前記アーティファクトを特性化するプログラム命令は、各回転位置での夫々のアーティファクトの夫々のボクセルについて減衰係数を決定するプログラム命令を含み、
前記術前に特性化されたアーティファクトを除くプログラム命令は、前記減衰係数を現在のｘ線画像から減じるプログラム命令を含む、
請求項１１に記載のコンピュータプログラム。
【請求項１３】
前記アーティファクトが除かれた状態で前記現在のｘ線画像をディスプレイに提示するプログラム命令
を更に有する請求項１２に記載のコンピュータプログラム。
【請求項１４】
前記アーティファクトを特性化するプログラム命令は、各アーティファクトの形状を決定するプログラム命令を更に含む、
請求項１３に記載のコンピュータプログラム。
【請求項１５】
各アーティファクトの前記形状を決定するプログラム命令は、エッジ検出処理により前記アーティファクトを定義することによって各アーティファクトの前記形状を決定する、
請求項１４に記載のコンピュータプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００３】
電磁気トラッキングがｘ線イメージングとともに、例えば、カテラボにおいて、使用される場合に、電磁気（ＥＭ）トラッキング場発生器は、ｘ線画像、特に、円錐ビームＣＴスキャンからの回転画像を改悪することがあり得る。たとえ、ｘ線画像において如何なる大きな電子部品も示さないｘ線適合電磁場発生器を設計するよう努めたとしても、ｘ線画像において可視的であるアーティファクトを作り出すことがあり得るフィーチャーが依然として存在する。それらのフィーチャーは、電磁場発生器の上から下に走る配線と、電磁場発生器の外側及び内側のケーシングの鋭角とを含む。それらのフィーチャーは、通常、ｘ線画像において、線の形をしたアーティファクトを引き起こす。
米国特許第８０２３７６７号明細書（特許文献１）は、円錐ビーム及び扇ビームＣＴ画像に対する３Ｄ金属及び高密度アーティファクト補正のためのシステムを対象とする。特許文献１は、サブオブジェクト（例えば、金属インプラント、同位体シード、又は同様のもの）を特性化する。サブ項目投影は、反復エラー低減処理において再構成の間にスケーリングのために使用される。
欧州特許第１６２７６０１号明細書（特許文献２）は、３Ｄ画像を較正し、その較正された画像を用いて受診者−送信器変換を計算することによって、画像再構成における金属アーティファクトを低減する方法を対象とする。インプラントの位置が決定され、フィルタリング、平均化及び平滑化の技術がストリークアーティファクトを除くために使用される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４３】
これまでの記載及び添付の特許請求の範囲は、本発明の限定でなく実例であるよう意図される。本発明の適用範囲は、続く特許請求の範囲の及ぶ限り、等価的変形物及び構成を包含するよう意図される。
【特許文献１】米国特許第８０２３７６７号明細書
【特許文献２】欧州特許第１６２７６０１号明細書
【国際調査報告】
2015503389.tif 000006
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