(57)【要約】  プロセス制御装置内のシールの有用寿命を推定するための方法および機器が開示される。方法例は、プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することを含む。各移動範囲は、動作サイクル中に、プロセス制御装置のシールによって経験される応力に対応する異なる値に対応する。方法例は、各移動範囲に関連付けられた動作サイクルのカウントを判断すること、およびカウントに基づき消耗されたシールの有用寿命の総量を推定することをさらに含む。【選択図】  無し【特許請求の範囲】
【請求項１】
プロセス制御装置内のシールの有用寿命を推定する方法であって、
前記プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の動作サイクルを判断することと、
前記動作サイクルの各々に対して前記シールによって経験される応力に対応する値を判断することと、
前記値の各々に基づき、消耗された前記シールの有用寿命の総量を推定することと
を含む方法。
【請求項２】
消耗された前記シールの有用寿命の前記推定された総量に基づき、前記シールの残りの有用寿命を推定することをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記シールの前記残りの有用寿命を推定することが、前記動作サイクルの頻度を判断することと、消耗された前記シールの前記有用寿命の前記総量および前記動作サイクルの前記頻度に基づき前記シールの前記残りの有用寿命を計算することとを含む、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
消耗された前記シールの有用寿命の前記総量を推定することが、
前記ステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することであって、各移動範囲が前記シールによって経験される応力に対応する異なる値に対応する、前記ステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することと、
前記値の各々を前記移動範囲のうちの１つだけと関連付けることと、
前記移動範囲の各々に関連付けられた値のカウントを判断することと、
各カウントおよび関連付けられた移動範囲に対する割合を計算することと、
消耗された前記シールの有用寿命の前記総量を示す値を決定するために前記割合を合計することと
を含む、請求項１〜３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
前記割合を計算することが、各カウントを、前記カウントに関連付けられた前記移動範囲に対応する所定の推定サイクル寿命値で割ることを含む、請求項１〜４のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
前記所定の推定サイクル寿命値を、前記プロセス制御装置に類似しているかまたは同一の複数の他のプロセス制御装置を検査することにより判断することをさらに含む、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
前記シールによって経験される前記応力に対応する前記値が、前記ステムまたは軸によって移動される距離である、請求項１〜６のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
前記シールによって経験される前記応力に対応する前記値が、前記シールが約ゼロ応力を経験する前記ステムまたは軸の位置から最も離れた、前記各動作サイクル中の前記ステムまたは軸の位置である、請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法。
【請求項９】
消耗された前記シールの有用寿命の前記推定総量が１００パーセントになる前に、警告メッセージを送信することをさらに含む、請求項１〜８のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１０】
プロセス制御装置内のシールの有用寿命を推定する方法であって、
前記プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することであって、各移動範囲が、動作サイクル中に前記シールによって経験される応力に対応する異なる値に対応する、前記プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することと、
前記移動範囲の各々に関連付けられた動作サイクルのカウントを判断することと、
前記カウントに基づき消耗された前記シールの有用寿命の総量を推定することと
を含む方法。
【請求項１１】
前記移動範囲の各々に関連付けられた動作サイクルの前記カウントを判断することが、
複数の動作サイクルを判断することと、
各動作サイクル中に、前記プロセス制御装置の前記シールによって経験される応力に対応する値を判断することと、
前記値の各々を前記移動範囲のうちの１つだけと関連付けることと
を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
消耗された前記シールの有用寿命の前記総量を推定することが、
各カウントおよび関連付けられた移動範囲に対する割合を計算することと、
消耗された前記シールの有用寿命の前記総量を示す値を判断するために前記割合を合計することと
を含む、請求項１０〜１１のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１３】
前記割合を計算することが、各カウントを、前記カウントに関連付けられた前記移動範囲に対応する所定の推定サイクル寿命値で割ることを含む、請求項１０〜１２のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１４】
消耗された前記シールの有用寿命の前記推定された総量に基づき、前記シールの残りの有用寿命を推定することをさらに含む、請求項１０〜１３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１５】
前記シールの前記残りの有用寿命を推定することが、前記動作サイクルの頻度を判断することと、消耗された前記シールの前記有用寿命の前記総量および前記頻度に基づき前記シールの前記残りの有用寿命を計算することとを含む、請求項１０〜１４のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１６】
前記シールによって経験される前記応力に対応する前記値が、前記ステムまたは軸によって移動される距離である、請求項１０〜１５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１７】
前記シールによって経験される前記応力に対応する前記値が、前記シールが約ゼロ応力を経験する前記ステムまたは軸の位置から最も離れた、前記動作サイクル中の前記ステムまたは軸の位置である、請求項１０〜１６のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１８】
マシン可読命令を格納する製品であって、前記マシン可読命令が実行される場合に、マシンに、
プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の動作サイクルを判断することと、
前記動作サイクルの各々に対して前記プロセス制御装置のシールによって経験される応力に対応する値を判断することと、
前記値の各々に基づき、消耗された前記シールの有用寿命の総量を推定することと
を実行させる、マシン可読命令を格納する製品。
【請求項１９】
前記マシン可読命令が、実行される場合に、前記マシンに、
前記ステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することであって、各移動範囲が前記シールによって経験される応力に対応する異なる値に対応する、前記ステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することと、
前記値の各々を前記移動範囲のうちの１つだけと関連付けることと、
前記移動範囲の各々に関連付けられた値のカウントを判断することと、
各カウントおよび関連付けられた移動範囲に対する割合を計算することと、
消耗された前記シールの有用寿命の前記総量を示す値を決定するために前記割合を合計することと
を実行させる、請求項１８に記載の製品。
【請求項２０】
前記マシン可読命令が、実行される場合に、前記マシンに、各カウントを前記カウントに関連付けられた前記移動範囲に対応する所定の推定サイクル寿命値で割ることにより、前記割合を計算させる、請求項１８〜１９のいずれか１項に記載の製品。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、一般にシールに関し、より詳細には、シールの有用寿命を推定するための方法および機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
プロセス制御システムは、一般に、プロセスを制御するために様々なプロセス制御装置を使用する。プロセス制御装置は、しばしば、プロセスが制御されている間に、応力を受けるシール（例えば、ベローシール）を含む。時間とともに、応力は、シールに故障を引き起こさせ得る。応力振幅、シールの形状、環境条件（例えば、温度、圧力、腐食など）、および／または他の要因などの、多くの要因が、シールの有用寿命に影響を及ぼし得る。作動中、これらの要因は、しばしば変動し、結果として、シールの有用寿命が変動し得る。シールの予期しない故障を防ぐために、シールは、定期的に視覚的に検査され、かつ／または交換され得る。それにもかかわらず、シールは、しばしば、シールが交換される前に故障するか、またはシールは、シールの有用寿命が消耗される実質的に前に交換される。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００３】
プロセス制御装置内のシールの有用寿命を推定する方法例は、プロセス制御装置のステム（ｓｔｅｍ）または軸の複数の動作サイクルを判断すること、および各動作サイクルに対してシールによって経験される応力に対応する値を判断することを含む。方法例は、各値に基づき、消耗されたシールの有用寿命の総量を推定することをさらに含む。
【０００４】
プロセス制御装置内のシールの有用寿命を推定する別の方法例は、プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することを含む。各移動範囲は、動作サイクル中にシールによって経験される異なる応力に対応する。方法例は、各移動範囲に関連付けられた動作サイクルのカウントを判断すること、およびそのカウントに基づき消耗されたシールの有用寿命の総量を推定することをさらに含む。
【図面の簡単な説明】
【０００５】
【図１】本開示の教示がその中で実施され得るプロセス制御システム例を示す。
【図２Ａ】本明細書で開示される方法例を実施するために使用され得るプロセス制御装置例を示す。
【図２Ｂ】図２Ａのプロセス制御装置例の断面図である。
【図３】本明細書で開示される方法例を実施するために使用され得る所定の推定サイクル寿命値例を示す表について示している図である。
【図４】本明細書で開示される方法例を代表する流れ図である。
【図５】本明細書で開示される別の方法例を代表する流れ図である。
【図６】本明細書で開示される別の方法例を代表する流れ図である。
【図７】本明細書で開示される別の方法例を代表する流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【０００６】
以下の機器および方法例はベローシールと併せて説明されているが、機器および方法例は、応力を受ける任意の他のシールとも使用され得る。工業プロセス（例えば、石油およびガス供給システム、化学処理プラントなど）では、プロセスはしばしば、線形弁などの、様々なプロセス制御装置によって制御される。一般に、プロセス制御装置は、液漏れを防ぐためのシールを含む。例えば、線形弁は、しばしば、流体の流れを制御するためにスライディングステムに連結されたプラグ、および液漏れを防ぐためのベローシールを含む。作動中、ステムが移動して、通常、シールに負荷および、従って、応力をかける。一般に、応力は、シールに構造的な損傷（例えば、微細な亀裂）を生じさせ、時間とともに、シールの疲労および突然の故障という結果となり得る。シールの有用寿命は、例えば、応力振幅、負荷の数、シールの形状、シールの材料タイプ、シールの内部欠陥、環境条件（例えば、圧力、温度、腐食、エロージョンなど）、および／または他の要因などの、様々な要因によって、影響を及ぼされ得る。作動中、ステムの移動距離、ステム位置、環境条件、および／または他の条件は、プロセスが制御されている間に変動し得る。
【０００７】
本明細書で開示される機器および方法例は、プロセス制御装置内のシールの有用寿命を推定するために使用され得る。本明細書で開示される方法例は、プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の動作サイクルを判断すること、および各動作サイクルに対してシールによって経験される応力に対応する値を判断することを含む。方法例は、各値に基づき、消耗されたシールの有用寿命の総量を推定することをさらに含む。いくつかの例では、消耗されたシールの有用寿命の推定された総量に基づき、シールの残りの有用寿命が推定される。
【０００８】
シールの有用寿命の総量を推定することは、プロセス制御装置のステムまたは軸の複数の移動範囲を確立することを含み得る。各移動範囲は、シールによって経験される応力に対応する異なる値に対応し得る。各値は、移動範囲のうちの１つだけに関連付けられ得、移動範囲の各々に関連付けられた値のカウントが判断され得る。各カウントおよび関連付けられた移動範囲の割合が計算され得る。いくつかの例では、割合は、各カウントを、カウントに関連付けられた移動範囲に対応する所定の推定サイクル寿命値で割ることによって計算される。割合は、次いで、消耗されたシールの有用寿命の総量を示す値を判断するために合計され得る。
【０００９】
図１は、本明細書で開示される機器および方法例を実施するために使用され得るプロセス制御システム例１００を示す。プロセス制御システム例１００は、入力装置および／または出力装置などの、任意の数のプロセス制御装置１０２を含む。いくつかの例では、入力装置は、弁、ポンプ、ファン、加熱器、冷却器、混合器、および／または他の装置を含み、出力装置は、温度計、圧力計、濃度計、流体レベル計、流量計、蒸気センサー、バルブポジショナ、および／または他の装置を含む。入力装置および出力装置は、データバス（例えば、Ｐｒｏｆｉｂｕｓ（商標））またはローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）１０６を介して、コントローラ１０４（例えば、ＤｅｌｔａＶ（商標）コントローラ）に通信的に結合される。コントローラ１０４は、命令を入力装置に伝送して、プロセスを制御し、出力装置によって送信された情報（例えば、測定されたプロセス情報、環境情報、および／または入力装置情報など）を受信および／または収集する。コントローラ１０４は、通知、警告メッセージ、および／または他の情報を生成し、入力装置および出力装置は、コントローラ１０４に無線で通信的に結合され得る。コントローラ１０４は、ワークステーション１０８にも通信的に結合され、それは、プロセス制御情報（例えば、測定されたプロセス制御情報、警告メッセージなど）を表示するインタフェース１１０を含む。図１には単一のコントローラ１０４が示されているが、１つまたは複数の追加のコントローラが、本開示の教示から逸脱することなく、システム例１００に含まれ得る。
【００１０】
図２Ａおよび図２Ｂは、本明細書で開示される方法例を実施するために使用され得るプロセス制御装置例２００を示す。図２Ａおよび図２Ｂに示されるプロセス制御装置例２００は、線形弁である。作動中に応力を受けるシールを有する他のプロセス制御装置（例えば、軸を含む回転弁）も、本明細書で開示される方法例を実施するために使用され得る。プロセス制御装置例２００は、スライディングステム２０２およびスライディングステム２０２を移動させるためのアクチュエータ２０４を含む。プロセス制御装置例２００は、例えば、ステム２０２の位置、ステム移動の方向、動作サイクルのカウント、および／または他の情報などの情報を収集および判断するために、デジタルバルブポジショナ２０６（「ＤＶＰ」）（例えば、Ｆｉｓｈｅｒ（登録商標）ＦＩＥＬＤＶＵＥ（商標）ＤＶＣ６２００ｐデジタルバルブコントローラ）も含む。作動中、ＤＶＰ  ２０６は、情報をコントローラ１０４に送信し、命令をコントローラ１０４から受信する。
【００１１】
図２Ｂは、図２Ａのプロセス制御装置２００の一部の部分的断面図である。プロセス制御装置２００は、流体シールを提供するためにベローシール２０８を含む。作動中、プロセス制御装置２００は、複数の動作サイクルを実行する。いくつかの動作サイクル例では、アクチュエータ２０４が、ステム２０２を第１の位置から第２の位置に、第１の方向に（例えば、図２Ａおよび図２Ｂの方向で上向きに）移動させ、ＤＶＰ  ２０６が、動作サイクルおよびその動作サイクルに対してシール２０８によって経験される応力に対応する値を判断する。
【００１２】
例えば、ステム２０２が第１の位置にある場合、ＤＶＰ  ２０６は、ステム２０２の位置を判断する。ステム２０２が、第１の位置から第１の方向に移動すると、ＤＶＰ  ２０６は、動作サイクルの開始を判断する。ステム２０２が第２の位置に到着すると、ＤＶＰ  ２０６は、再度、ステム２０２の位置を判断する。ステム２０２が、第２の位置から、第１の方向とは反対の第２の方向に移動する場合、ＤＶＰ  ２０６は、動作サイクルの終了および第２の位置での別の動作サイクルの開始を判断する。
【００１３】
ＤＶＰ  ２０６は、次いで、動作サイクルに対してシール２０８により経験される応力に対応する値を判断する。いくつかの例では、動作サイクルに対してシール２０８により経験される応力に対応する値は、動作サイクル中にステム２０２によって移動される距離である。ＤＶＰ  ２０６は、第１の位置と第２の位置との間の距離を判断することにより、動作サイクル中にステム２０２によって移動される距離を判断する。
【００１４】
他の例では、動作サイクルに対してシール２０８により経験される応力に対応する値は、シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置から最も離れた、動作サイクル中のステム２０２の位置である。かかる例では、ＤＶＰ  ２０６は、第１の位置が、シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置から、第２の位置よりも離れているかどうかを判断することにより、シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置から最も離れたステム２０２の位置を判断する。示された例では、シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置は、完全に閉鎖された位置（例えば、０インチ）である。第２の位置（例えば、０．２５インチ）は、完全に閉鎖された位置から、第１の位置（例えば、０．１インチ）よりも離れており、従って、第２の位置が、動作サイクルに対してシールにより経験される応力に対応する値である。
【００１５】
各動作サイクル中、ベローシール２０８は、負荷および、従って、応力を受ける。結果として、シール２０８の有用寿命の一部が、各動作サイクル中に消耗される。動作サイクルの１つの間に消耗される有用寿命の量は、動作サイクル中にステム２０２によって移動される距離；シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置に対する、動作サイクル中のステム２０２の位置；ステム２０２の直径；温度および圧力などのプロセス条件；ならびに／または他の要因によって影響を及ぼされる。
【００１６】
図３は、ベローシールに対する所定の推定サイクル寿命値例を示す表３００である。所定の推定サイクル寿命値例は、プロセス制御システム例１００のプロセス制御装置に類似しているかまたは同一の複数の他のプロセス制御装置を検査することにより決定される。各検査中、類似または同一のプロセス制御装置のうちの１つのステムは、プロセス制御装置のシールが故障するまで、各動作サイクルに対して所定の距離を移動する。ステムは、シールが約ゼロ応力を経験する位置から、シールが約ゼロ応力を経験するステムの位置から所定の距離だけ離れた第２の位置までを、往復移動する。温度および／または圧力（例えば、１００°Ｆおよび１５０Ｐｓｉｇ）が、各検査を通して、実質的に一定のままであり得る。例えば、類似または同一のプロセス制御装置のうちの１つのステムは、各動作サイクルに対して０．２１インチ移動し、８，０００，０００動作サイクルの後、プロセス制御装置のシールが故障する。従って、所定の推定サイクル寿命値は、８，０００，０００動作サイクルである。他の類似または同一のプロセス制御装置が、複数の所定の推定サイクル寿命値を判断するために検査される。実験的に判断された推定サイクル寿命値のグラフ（図示せず）に基づき、既知の曲線適合法が、他の所定の推定サイクル寿命値を判断するために使用され得る。以下でさらに詳細に説明するように、所定の推定サイクル寿命値は、プロセス制御システム１００におけるプロセス制御装置２００内のシール２０８の有用寿命を推定するために使用される。
【００１７】
図４、図５、図６、および図７は、本明細書で開示される方法例を代表する流れ図である。図４、図５、図６、および図７の方法例の一部または全部は、プロセッサ、コントローラ１０４および／または任意の他の適切な処理装置によって実行され得る。いくつかの例では、図４、図５、図６、および図７の方法例の一部または全部は、プロセッサに関連付けられたフラッシュメモリ、ＲＯＭおよび／またはランダムアクセスメモリＲＡＭなどの、有形的マシンアクセス可能または可読媒体上に格納されたコード化命令で具現化される。あるいは、図４、図５、図６、および図７の方法例の一部または全部は、特定用途向け集積回路（複数可）（ＡＳＩＣ（複数可））、プログラム可能論理回路（複数可）（ＰＬＤ（複数可））、フィールドプログラム可能論理回路（複数可）（ＦＰＬＤ（複数可））、個別論理、ハードウェア、ファームウェアなどの任意の組合せ（複数可）を使用して実装され得る。また、図４、図５、図６、および図７に示される操作の１つもしくは複数は、手動で、または、前述した技術のいずれかの任意の組合せ、例えば、ファームウェア、ソフトウェア、個別論理および／もしくはハードウェアの任意の組合せとして実装され得る。さらに、方法例は、図４、図５、図６、および図７に示される流れ図を参照して説明されるが、方法例を実装する多数の他の方法が採用され得る。例えば、ブロックの実行順が変更され得、かつ／または説明されるブロックのいくつかが変更、除外、細分、もしくは結合され得る。加えて、図４、図５、図６、および図７の方法例の一部または全部は、連続して実行され得る、かつ／または、例えば、別個の処理スレッド、プロセッサ、装置、個別論理、回路などにより、並行して実行され得る。
【００１８】
図１〜図３に関連して、図４の方法またはプロセス例４００は、複数の動作サイクルを判断すること（ブロック４０２）により開始する。いくつかの例では、動作サイクルは、ステム２０２の第１の位置から第２の位置への一方向での移動である。動作中、ステム２０２は、複数の動作サイクルを実行している間、様々な距離を移動する。ＤＶＰ  ２０６は、ステム２０２の第１の位置から第２の位置への一方向への移動を判断することにより、動作サイクルのうちの１つを決定する。ブロック４０４で、各動作サイクルに対してシール２０８により経験される応力に対応する値が判断される。いくつかの例では、各動作サイクルに対してシール２０８により経験される応力に対応する値は、各動作サイクル中にステム２０２によって移動される距離である。例えば、ＤＶＰ  ２０６は、第１の位置でのステム２０２の位置、第２の位置でのステム２０２の位置を判断し、次いで、第１の位置と第２の位置との間の距離を判断する。
【００１９】
他の例では、各動作サイクルに対してシール２０８により経験される応力に対応する値は、シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置から最も離れた、各動作サイクル中のステム２０２の位置である。各動作サイクルに対する各値に基づき、消耗されたシール２０８の有用寿命の総量が推定される（ブロック４０６）。いくつかの例では、消耗された有用寿命の推定総量は、分数および／または百分率である。
【００２０】
ブロック４０８で、消耗された有用寿命の推定総量が１００パーセント未満であるかどうかが判断される。消耗された有用寿命の推定総量が１００パーセント以上の場合、警告メッセージが送信される（ブロック４１０）。例えば、ＤＶＰ  ２０６および／またはコントローラ１０４は、警告メッセージを生成してワークステーション１０８に送信し、それは、警告メッセージをインタフェース１１０を介して表示する。消耗された有用寿命の推定総量が１００パーセント未満の場合、消耗された有用寿命の総量が所定の百分率以上かどうかが判断される（ブロック４１２）。消耗された有用寿命の総量が所定の百分率以上の場合、警告メッセージが送信される（ブロック４１０）。例えば、ＤＶＰ  ２０６および／またはコントローラ１０４は、消耗された有用寿命の推定総量が８０パーセントの場合、警告メッセージを生成してワークステーション１０８に送信するように設定され得る。消耗された有用寿命の推定総量が１００パーセント未満であり、かつ所定の百分率未満である場合、方法例４００はブロック４０２に戻る。
【００２１】
図５は、各値に基づき、消耗されたシール２０８の有用寿命の総量を推定するプロセス（ブロック４０６）または方法例５００を代表する流れ図である。ブロック５０２で、複数の移動範囲が確立される。各移動範囲は、シールによって経験される応力に対応する異なる値に対応する。例えば、１つの移動範囲は、０インチ〜０．２１インチであり得、別の移動範囲は、０．２２インチ〜０．２８インチであり得る。ブロック５０４で、各値は、移動範囲のうちの１つだけに関連付けられる。例えば、ＤＶＰ  ２０６が、シール２０８によって経験される応力に対応する値が０．２０インチであると判断する場合、０．２０インチの値は、０インチ〜０．２１インチの移動範囲に関連付けられる。いくつかの例では、値は、各動作サイクル中にステム２０２によって移動される距離を判断することによって判断される。他の例では、値は、シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置（例えば、完全に閉鎖された位置）から最も離れた、各動作サイクル中のステム２０２の位置を判断することによって判断される。ブロック５０６で、各移動範囲に関連付けられた値のカウントが判断される。例えば、ＤＶＰ  ２０６が、０．２０インチの値を０インチ〜０．２１インチの移動範囲と関連付ける場合、ＤＶＰ  ２０６は、０インチ〜０．２１インチの移動範囲と関連付けられた値のカウントが１だけ増加されると判断する。
【００２２】
ブロック５０８で、各カウントおよび関連付けられた移動範囲に対する割合が計算される。いくつかの例では、割合は、各カウントを、そのカウントに関連付けられた移動範囲に対応する所定の推定サイクル寿命値で割ることを含む。所定の推定サイクル寿命値は、プロセス制御システム例１００のプロセス制御装置２００に類似しているかまたは同一の複数の他のプロセス制御装置を検査することにより決定される。例えば、類似または同一のプロセス制御装置は、動作サイクルにつきシールが約ゼロ応力を経験する（図３）位置へ、またはその位置から０．２１インチの移動距離を有するステムおよびベローシールで検査され得る。類似または同一のプロセス制御装置のベローシールは、８，０００，０００動作サイクルの後に故障する。従って、所定の推定サイクル寿命値は８，０００，０００であり、０インチ〜０．２１インチの移動範囲に対応する。作動中、ＤＶＰ  ２０６が、プロセス制御システム例１００のプロセス制御装置２００に対して、０インチ〜０．２１インチの移動範囲に関連付けられた３，０００，０００値のカウントを判断する場合、割合は３，０００，０００／８，０００，０００すなわち、３／８に等しい。ブロック５１０で、割合が、消耗されたシール２０８の有用寿命の総量を示す値（例えば、９／１０、９０％など）を決定するために合計される。
【００２３】
いくつかの例では、推定サイクル寿命値は、温度および／または圧力などの、プロセス制御装置２００に関連付けられたプロセス条件に少なくとも一部基づく。例えば、類似または同一のプロセス制御装置は、プロセス制御システム例１００のプロセス制御装置２００が作動中に受ける圧力および／または温度に実質的に等しい圧力および／または温度で検査され得る。
【００２４】
図６は、シール２０８の残りの有用寿命を推定するプロセスまたは方法例６００を代表する流れ図である。プロセスまたは方法例６００は、プロセス制御装置２００のステム２０２の複数の動作サイクルを判断することにより開始する（ブロック６０２）。ブロック６０４で、各動作サイクルに対してシール２０８により経験される応力に対応する値が判断される。ブロック６０６で、各値に基づき、消耗されたシール２０８の有用寿命の総量が推定される。シール２０８の残りの有用寿命が、次いで、消耗されたシール２０８の有用寿命の推定総量に基づき推定される（ブロック６０８）。
【００２５】
例えば、消耗されたシール２０８の有用寿命の推定総量が９０パーセントの場合、シール２０８の残りの有用寿命は１０％である。いくつかの例では、シール２０８の残りの有用寿命を推定することは、動作サイクルの頻度を判断すること、ならびに消耗されたシール２０８の有用寿命の総量および動作サイクルの頻度に基づきシール２０８の残りの有用寿命を計算することを含む。例えば、ＤＶＰ  ２０６が、動作サイクルの頻度が週あたり１００，０００であり、シール２０８の有用寿命の９０％が９週間後に消耗される場合、シール２０８の残りの有用寿命は１００，０００動作サイクルまたは決定された頻度で１週間である。いくつかの例では、シール２０８の残りの有用寿命は、時間、日、週、月、および／または任意の他の適切な単位（例えば、７日）の単位を有する。
【００２６】
ブロック６１０で、推定された残りの有用寿命が所定の量よりも多いかどうかが判断される。推定された残りの有用寿命が所定の量よりも多い場合、方法例６００はブロック６０２に戻る。推定された残りの有用寿命が所定の量よりも多くない場合、警告メッセージが送信される（ブロック６１２）。例えば、所定の量が推定された残りの有用寿命に等しい場合、警告メッセージが、ＤＶＰ  ２０６および／またはコントローラ１０４によってワークステーション１０８に送信される。
【００２７】
図７は、本明細書で開示される別のプロセスまたは方法例７００を代表する流れ図である。プロセスまたは方法例７００は、プロセス制御装置２００のステム２０２の複数の移動範囲を確立することにより開始する（ブロック７０２）。各移動範囲は、動作サイクル中に、プロセス制御装置２００のシール２０８により経験される応力に対応する異なる値に対応する。例えば、移動範囲は、０インチ〜０．２１インチおよび０．２２インチ〜０．２８インチであり得る。ブロック７０４で、各移動範囲に関連付けられた動作サイクルのカウントが判断される。例えば、ＤＶＰ  ２０６は、動作サイクルおよび動作サイクル中にシール２０８により経験される応力に対応する値を判断する。いくつかの例では、値は、動作サイクル中にステム２０２によって移動される距離を判断することによって判断される。他の例では、値は、シール２０８が約ゼロ応力を経験するステム２０２の位置（例えば、完全に閉鎖された位置）から最も離れた、動作サイクル中のステム２０２の位置を判断することによって判断される。動作サイクル中にシール２０８により経験される応力に対応する値が０．１５インチの場合、動作サイクルは、０インチ〜０．２１インチの移動範囲と関連付けられる。従って、０インチ〜０．２１インチの移動範囲と関連付けられた動作サイクルのカウントが１だけ増加される。ブロック７０６で、カウントに基づき、消耗されたシール２０８の有用寿命の総量が推定される。例えば、各カウントおよび関連付けられた移動範囲に対する割合が計算され得る。いくつかの例では、割合を計算することは、各カウントを、そのカウントに関連付けられた移動範囲に従って、所定の推定サイクル寿命値（例えば、図３に示された所定の推定サイクル寿命値）で割ることを含む。割合は、次いで、消耗されたシール２０８の有用寿命の総量を示す値（例えば、９０％）を判断するために合計される。
【００２８】
ブロック７０８で、消耗された有用寿命の推定総量が所定の百分率未満であるかどうかが判断される。所定の百分率は１００％未満であり得る。消耗された有用寿命の推定総量が所定の百分率未満でない場合、警告メッセージが送信される（ブロック７１０）。警告メッセージは、消耗されたシールの有用寿命の推定総量が１００パーセントになる前に送信される。例えば、ＤＶＰ  ２０６および／またはコントローラ１０４は、有用寿命の推定総量が９０パーセントの場合、警告メッセージを生成してワークステーション１０８に送信するように設定され得る。消耗された有用寿命の推定総量が所定の百分率未満である場合、方法例７００はブロック７０２に戻る。
【００２９】
特定の方法および機器例が本明細書で説明されているが、本特許の対象範囲はそれに限定されない。それとは逆に、本特許は、文字通りまたは均等の原則の下のいずれかで、添付の特許請求の範囲に適正に含まれる、全ての方法、機器および製品を包含する。
【００３０】
本開示の最後の要約は、米国特許法施行規則セクション１．７２（ｂ）に従うために提供されて、読者が技術開示の本質を素早く確認することを可能にする。それは、特許請求の範囲または意味を解釈または制限するために使用されないという理解で提示される。
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【国際調査報告】
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