(57)【要約】  本発明は、試験接触接続箇所（８）と、該試験接触接続箇所を手動で接触接続するための、試験装置に属する接触接続エレメント（１３）とを備える形式の電気接触接続装置（１８）に関する。本発明においては、試験接触接続箇所（８）が凹部（９）として形成されており、接触接続エレメント（１３）は接触接続領域（１７）を有し、この接触接続エレメント（１３）の接触接続領域（１７）は、前記凹部（９）とともに、少なくとも１つの線状接触接続を形成する。
2010508647.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験接触接続箇所と、試験装置に属する接触接続エレメントとを備える電気接触接続装置であって、
前記接触接続エレメントは、前記試験接触接続箇所に手動で接触接続するために使用される
形式の電気接触接続装置において、
前記試験接触接続箇所（８）は、凹部（９）として形成されており、
前記接触接続エレメント（１３）は、接触接続領域を有し、
該接触接続領域は、前記凹部（９）とともに少なくとも１つの面状接触接続を形成する、
ことを特徴とする電気接触接続装置。
【請求項２】
試験接触接続箇所と、試験装置に属する接触接続エレメントとを備える電気接触接続装置であって、
前記接触接続エレメントは、前記試験接触接続箇所に手動で接触接続するために使用される
形式の電気接触接続装置において、
前記試験接触接続箇所（８）は、凹部（９）として形成されており、
前記接触接続エレメント（１３）は、接触接続領域を有し、
該接触接続領域は、前記凹部（９）とともに少なくとも１つの線状接触接続を形成する、
ことを特徴とする電気接触接続装置。
【請求項３】
前記接触接続エレメント（１３）および／または凹部（９）は、円形の断面を有する、
ことを特徴とする請求項１記載の電気接触接続装置。
【請求項４】
前記接触接続エレメント（１３）の直径は、前記凹部（９）の直径よりも小さい、
ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項５】
前記接触接続エレメント（１３）は、接触接続先端部（１４）を有し、
該接触接続先端部の少なくとも一部の領域は、円錐セグメント形状または球セグメント形状に形成されている、
ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項６】
前記接触接続先端部（１４）は、接触接続領域（１７）を有する、
ことを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項７】
前記接触接続先端部（１４）の最大直径は、前記凹部（９）の最大直径よりも大きい、
ことを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項８】
前記凹部（９）の少なくとも一部の領域は、円錐セグメント形状または球セグメント形状に形成されている、
ことを特徴とする請求項１〜７のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項９】
前記接触接続先端部（１４）と前記凹部（９）は、互いに形状適合されている、
ことを特徴とする請求項１〜８のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項１０】
前記凹部（９）は、溝状に形成されている、
ことを特徴とする請求項１〜９のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項１１】
前記接触接続先端部（１４）は多面体である、
ことを特徴とする請求項１〜１０のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項１２】
前記凹部（９）は、スルーホールとして形成されている、
ことを特徴とする請求項１〜１１のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【請求項１３】
前記凹部（９）は、スルーコンタクトとして形成されている、
ことを特徴とする請求項１〜１２のいずれか一項記載の電気接触接続装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験接触接続箇所と、前記試験接触接続箇所を手動で接触接続するための、試験装置に属する接触接続エレメントとを備える形式の電気接触接続装置に関する。
【０００２】
冒頭に述べたような電気接触接続装置は、非常によく知られている。例えば、１つまたは複数の試験針を有する試験装置が存在し、これらの試験針は、ユーザの手によって、試験すべき電気／電子装置の接触接続プレートの上に押圧される。その後、試験電流によって、装置が正常に動作するか否かが試験される。接触接続プレートに押圧された試験針によって、電気接続を形成する点状接触接続が生じる。このような接触接続の場合、点状接触接続であるから、最大でも１アンペアまでの非常に小さい電流しか不可能である。より大きな試験針を使用しても、このことは実質的には改善されない。
【０００３】
本発明においては、試験接触接続箇所が凹部として形成されており、接触接続エレメントは接触接続領域を有し、この接触接続エレメントの接触接続領域は、この凹部とともに、少なくとも１つの線状接触接続を形成する。試験接触接続箇所が凹部として設けられているので、接触接続エレメントの先端部はこの試験接触接続箇所には接触しないか、もしくは、接触接続エレメントの先端部の先端部だけが試験接触接続箇所に接触するのではなく、この接触接続エレメントの側面の少なくとも一部分もまた、凹部によって形成される試験接触接続箇所の側面とともに線状接触接続を形成する。この線状接触接続によって、より大きな電流フローが可能となるので、１０アンペア以上の大電流領域における動作条件下での試験も可能となる。それだけではなく、接触接続エレメントが試験接触接続箇所から滑り落ちる危険が阻止される。
【０００４】
さらにこの電気接触接続装置には、試験接触接続箇所と、この試験接触接続箇所に手動で接触接続するための、試験装置に属する接触接続エレメントとが設けられており、試験接触接続箇所は凹部として形成されており、接触接続エレメントは接触接続領域を有し、この接触接続エレメントの接触接続領域は、この凹部とともに、少なくとも１つの面状接触接続を形成する。この面状接触接続によれば、線状接触接続と比べて一層大きな電流フローが可能となる。
【０００５】
有利には、接触接続エレメントおよび／または凹部は、円形の断面を有する。このように円筒状に形成された接触接続エレメントを凹部の中に挿入し、線状接触接続または面状接触接続を形成することができる。
【０００６】
有利には、接触接続エレメントの直径は、凹部の直径よりも小さい。したがってこの接触接続エレメントを、凹部の中に軸方向に挿入することが可能となる。このとき接触接続エレメントの外面領域が凹部の内面領域と接触接続されることによって、接触接続領域が形成される、ないしは生じるのである。接触接続エレメントが凹部の中に軸方向に挿入される場合には、面状接触接続を形成することができ、他方、接触接続エレメントが斜めに配置されることにより軸方向には挿入されない場合には、１つまたは２つの線状接触接続を形成することができる。
【０００７】
さらに本発明によれば、接触接続エレメントは接触接続先端部を有し、この接触接続先端部の少なくとも一部の領域は、円錐セグメント形状または球セグメント形状に形成されている。接触接続先端部をこのように形成することにより、接触接続エレメントを特に簡単に凹部に挿入することが可能となる。なぜなら接触接続エレメントは、接触接続先端部によって凹部に導かれ、場合によってはその中で中心軸に合わされるからである。接触接続先端部は、このような領域を１つまたは複数有することができる。
【０００８】
接触接続先端部は、有利には接触接続領域を有する。有利には、接触接続先端部の最大直径は、断面が円形である凹部の直径よりも大きい。ここで、接触接続エレメントないし接触接続先端部が凹部に挿入されると、接触接続先端部に設けられた接触領域が、凹部の周縁部とともに線状接触接続を形成する。この線状接触接続は、接触接続先端部ないし接触接続領域の全周囲に亘って、リング状接触接続として延在する。球セグメント形状の接触接続先端部によれば、接触接続エレメントは、軸方向の配向位置とは異なる位置から凹部に挿入することができるか、もしくは凹部の中で傾くことができる。このときリング状接触接続は常に維持される。
【０００９】
本発明の別の発展形態によれば、凹部の少なくとも一部の領域が、円錐セグメント形状または球セグメント形状に形成されている。同様に円錐セグメント形状または球セグメント形状に形成された接触接続先端部とともに、面状接触接続が形成される。接触接続先端部と凹部は、有利には互いに形状適合されている。もちろん凹部および接触接続先端部には、これらが互いに形状適合するような種々異なる構成が考えられる。このとき、接触接続先端部および凹部の輪郭、とりわけ各接触接続領域の輪郭が実質的に一致することが重要である。
【００１０】
本発明の発展形態によれば、凹部が溝状に形成されており、接触接続エレメントを、種々異なる位置において、凹部に挿入することができる。このことにより、実質的に以下の利点が得られる。すなわち、試験接触接続をより簡単に達成することができ、また、試験すべき電気装置を組み立てる際に、種々異なる構成部材の配置に関して自由度がより高くなるという利点が得られるのである。
【００１１】
本発明の発展形態によれば、接触接続先端部は多面体として形成されており、その断面は、エッジプロファイル（Kantenprofil）を有する。このことは例えば、溝状の凹部に挿入すべき接触接続エレメントにとって有利である。なぜならこれにより、有利な線状接触接続が形成されるからである。接触接続先端部ないし接触接続領域と溝状の凹部とが互いに形状適合する場合には、有利な面状接触接続が形成される。この溝状の凹部が、例えば溝の長手伸長方向から見て楔形の断面を有している場合、この凹部に形状適合する接触接続先端部ないし接触接続領域も、同様に楔形に形成されている。
【００１２】
さらに凹部は、スルーホールとして形成されている。有利には、このスルーホールは、スルーコンタクトとして形成されている。これにより、スルーコンタクトないしスルーホールのそれぞれの位置で、電気接触接続が形成可能であることが保証される。凹部を、プリント基板の試験接触接続箇所として構成すると有利である。このようにして、プリント基板の属する機械が正常に動作するか否かを簡単に試験することができる。
【００１３】
以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の試験接触接続箇所を備える電気・電子装置の平面図である。
【図２】試験接触接続箇所の詳細図である。
【図３】本発明の接触接続装置を示す図である。
【図４】本発明の接触接続装置の詳細図である。
【図５】本発明の接触接続装置の許容差補償を示す。
【００１５】
図１の平面図は、１つの実施例において、電気・電子装置１として電気モータ２を示す。電気モータ２はケーシング３を有し、このケーシング３にはケーシング蓋部４が設けられている。ケーシング蓋部４は３つの開口部５を有する。このケーシング蓋部４の下にはプリント基板７が配置されており、これらの開口部５は、このプリント基板７の差込接触接続装置６の上に配置されている。各差込接触接続装置６に隣接して、それぞれ試験接触接続箇所８が設けられており、この試験接触接続箇所は、凹部９として形成されている。これらの凹部９は、円形の断面を有する。図２における試験接触接続箇所８の詳細図にも図示されているように、開口部５は、試験接触接箇所８が自由に出入り可能となるように形成されている。
【００１６】
図３は、図２の断面Ａ−Ａに沿った、試験接触接続箇所８の断面図を示す。ここでは、接触接続先端部１４を備える接触接続エレメント１３が、凹部９に挿入されている。図４は、接触接続エレメント１３の接触接続先端部１４の詳細図を示す。さらに図４は、プリント基板７の凹部９を示し、この凹部９は円錐セグメント形状に形成されている。この凹部は、周縁領域１０において、例えばプリント基板７の導体路の導体エレメント１１を有する。したがって導体エレメント１１は、凹部９の、電気的に接触接続可能な領域を形成する。有利には導体エレメント１１は、円錐形に形成された試験接触接続面１２を有しており、したがってこの試験接触接続面１２は、凹部９の円錐セグメント形状の一部分を形成する。
【００１７】
接触接続エレメント１３の接触接続先端部１４は、円錐セグメント形状に形成されており、凹部９に向かって突出している。接触接続先端部１４は、円錐セグメント形状の第1接触接続先端領域１５と、同じく円錐セグメント形状の第２接触接続先端領域１６とを有する。第２接触接続先端領域１６の最小直径は、第1接触接続先端領域１５の最大直径よりも大きくなっている。これら２つの領域の直径は、接触接続エレメント１３の凹部への挿入方向とは逆向きに増加する。接触接続先端領域１６によって、接触接続エレメント１３の接触接続領域１７が形成され、この接触接続領域１７は、凹部９ないしは凹部９の導体エレメント１１とともに、有利な面状接触接続を形成する。このとき接触接続先端領域１５は、接触接続エレメント１３を凹部９へ挿入するための補助として機能する。
【００１８】
接触接続エレメント１３と凹部９とによって形成される電気的接触接続装置１８によれば、面状接触接続によって、１０アンペア以上の試験電流を、すなわち大電流領域にて、装置１の試験のために使用することが可能となる。
【００１９】
それだけでなく図３は、接触接続エレメントの有利な実施形態を、試験針１９として示している。接触接続エレメント１３ないし試験針１９は、針の形状をしていることによって、特に簡単に、奥深い位置にある試験接触接続箇所８に到達することが可能となる。接触接続先端部１４の有利な実施形態によって、試験針１９は自動的に試験接触接続箇所８ないし凹部９に配向され、有利な面状接触接続が形成される。
【００２０】
図５は、図３および４による接触接続装置１８を示し、ここでは接触接続エレメント１３は、２つの異なる位置１３’および１３’’において図示されている。このような凹部９ないし試験接触接続面１２の円錐セグメント形状の構成、および接触接続領域１７によれば、許容差補償が可能となる。ここでは接触接続エレメント１３ないし試験針１９が、凹部９の中へ傾いて挿入されているが、それにもかかわらず少なくとも一部の領域にて面状接触接続が形成されるのである。
【００２１】
接触接続領域１７および試験接触接続面１２が、有利にも球セグメント形状に形成されている場合には、形成される接触接続面、ないしは形成される面状接触接続は、接触接続エレメント１３ないし試験針１９が位置１３’または１３’’の一方に傾いている場合でも、常に同じである。
【００２２】
凹部９ないし導体エレメント１１が、実施例に図示するような、円錐セグメント形状に形成されており、かつ形状の適合する試験接触接続面を有しない場合でも、従来技術に比べてより大きな電流フローを可能にする線状接触接続が形成される。
【００２３】
接触接続装置１８の別の実施形態では、有利には、凹部はスルーホールとして、特にプリント基板７のスルーコンタクトとして形成されている。
【図１】
2010508647.tif 000003
【図２】
2010508647.tif 000004
【図３】
2010508647.tif 000005
【図４】
2010508647.tif 000006
【図５】
2010508647.tif 000007
【国際調査報告】
2010508647.tif 000008
2010508647.tif 000009
2010508647.tif 000010
2010508647.tif 000011