(57)【要約】  本発明は、チャネル測定部品（２、３、４）を同期させる方法及び測定装置に関する。基準信号は、基準信号源（５）により生成される。基準信号は測定装置（１）の個々のチャネル測定部品（２、３、４）に供給される。クロック生成器（１９）は、低周波数でクロック信号を生成するために用いられる。クロック信号生成器（１９）は、同一長の各接続線（１７、１８）により各チャネル測定部品（２、３、４）に接続される。クロック信号は、各チャネル測定部品（２、３、４）内の基準信号の位相を補正するための位相補正要素（１１）を通じて供給される。
2010534962.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つの測定装置の幾つかのチャネル測定部品を同期させる方法であって：
クロック信号を生成する段階；
該クロック信号の前記チャネル測定部品への遅延時間は同じ長さであり、該クロック信号を前記チャネル測定部品に供給する段階；
前記各チャネル測定部品内で部品クロック信号を生成する段階；及び
前記各チャネル測定部品内の部品クロック信号の位相位置を前記クロック信号の位相位置に補正する段階；
を有する方法。
【請求項２】
基準信号が生成され、
少なくとも一部の前記チャネル測定部品内で、前記部品クロック信号は前記基準信号から生成される、
ことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
少なくとも一部の前記チャネル測定部品内で、前記部品クロック信号は制御可能な発振器により生成される、
ことを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
【請求項４】
前記位相位置を補正するために、前記クロック信号及び各部品クロック信号、又は該部品クロック信号から生成される前記チャネル測定部品の出力クロック信号は、位相検出器に供給される、
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項記載の方法。
【請求項５】
制御可能な位相シフタを制御する制御信号は、前記位相検出器を通じて生成される、
ことを特徴とする請求項４記載の方法。
【請求項６】
前記基準信号は、チャネル測定部品の制御可能な位相シフタの入力に供給される、
ことを特徴とする請求項４又は５のいずれか一項記載の方法。
【請求項７】
前記部品クロック信号は、制御可能な発振器により生成され、
該制御可能な発振器に、前記位相検出器の制御信号が制御のために供給される、
ことを特徴とする請求項４記載の方法。
【請求項８】
マーキングが前記クロック信号に重畳される、
ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項記載の方法。
【請求項９】
前記クロック信号は、前記基準信号から生成される、
ことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか一項記載の方法。
【請求項１０】
それぞれ少なくとも１つのチャネル測定部品を有する幾つかの測定装置を同期する方法であって：
測定装置を通じてシステム同期信号を生成する段階；
該システム同期信号の全ての測定装置への遅延時間は同じであり、更なる測定装置のそれぞれに及び生成する測定装置自身に前記システム同期信号を供給する段階；
前記各測定装置内でクロック信号を生成する段階；及び
該各測定装置内のクロック信号の位相位置を前記システム同期信号の位相位置に補正する段階；
を有する方法。
【請求項１１】
前記各測定装置のクロック信号の位相位置は、前記システム同期信号の位相位置に補正される、
ことを特徴とする請求項１０記載の方法。
【請求項１２】
前記測定装置内の幾つかのチャネル測定部品の同期のために、請求項１乃至９のいずれか一項記載の方法が実施される、
ことを特徴とする請求項１０又は１１記載の方法。
【請求項１３】
少なくとも２つのチャネル測定部品；
同一の信号経路長の接続線を介して各チャネル測定部品に接続され、クロック信号を生成するクロック信号源；
を有し、
各チャネル測定部品は、
部品クロック信号を生成する部品信号源；及び
前記部品クロック信号の位相位置を前記クロック信号の位相位置に合わせる位相補正要素；
を設ける、
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１４】
各チャネル測定部品の位相補正要素は位相検出器を設ける、
ことを特徴とする請求項１３記載の測定装置。
【請求項１５】
前記位相補正要素は、前記位相検出器に接続された位相シフタ又は制御可能な発振器を設ける、
ことを特徴とする請求項１４記載の測定装置。
【請求項１６】
基準信号源は、各チャネル測定部品の位相シフタの入力接続にそれぞれ接続される、
ことを特徴とする請求項１５記載の測定装置。
【請求項１７】
クロック信号を生成するクロック信号源；
少なくとも１つの測定装置出力と接続されるシステム同期信号源；及び
測定装置入力に接続され、前記クロック信号の位相位置を該測定装置入力を介して供給された信号の位相位置に合わせる更なる位相補正要素；
を有する測定装置。
【請求項１８】
基準信号源は、前記クロック信号源及び前記システム同期信号源にそれぞれ接続される、
ことを特徴とする請求項１７記載の測定装置。
【請求項１９】
当該測定装置は、少なくとも２つのチャネル測定部品を設け、
前記クロック信号源は、同一の信号経路長の接続線を介して各チャネル測定部品にそれぞれ接続され、
前記各チャネル測定部品は、
部品クロック信号を生成する部品信号源；及び
前記部品クロック信号の位相位置を前記クロック信号の位相位置に合わせる位相補正要素；
を設ける、
ことを特徴とする請求項１７又は１８記載の測定装置。
【請求項２０】
各チャネル測定部品の位相補正要素は位相検出器を設ける、
ことを特徴とする請求項１９記載の測定装置。
【請求項２１】
前記位相補正要素は、前記位相検出器に接続された位相シフタ又は制御可能な発振器を設ける、
ことを特徴とする請求項２０記載の測定装置。
【請求項２１】
基準信号源は、各チャネル測定部品の位相シフタの入力接続にそれぞれ接続される、
ことを特徴とする請求項２１記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、少なくとも１つの測定装置の幾つかのチャネル測定部品、幾つかの測定装置を同期させる方法並びに対応する測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
測定は、例えば現代の移動体無線システムでは、単一チャネル又は比較的不正確な同期を有する複数のチャネルの何れかで動作する移動体無線測定装置により実施されている。同期は、例えば約１０ＭＨｚの範囲内の同期信号を介して実施される。しかしながら、この種の同期は、現在の移動体無線方法における測定には十分ではない。この環境では、１０ナノ秒以下の精度の同期が要求される。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従って、本発明の目的は、測定装置の幾つかのチャネル測定部品、幾つかの測定装置を同期させる方法並びに関連する測定装置を提供する。ここで、同期は知られている測定装置との比較により向上される。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的は、請求項１３及び１９の特徴を有する本発明による測定装置並びに請求項１及び１０の特徴を有する方法により達成される。
【０００５】
本発明による測定装置は、幾つかのチャネル測定部品を同期させ、少なくとも２つのチャネル測定部品を有する。測定装置内で、クロック信号がクロック信号源により生成される。クロック信号を生成するクロック信号源は、クロック信号がチャネル測定部品に供給されるように、接続線を介してそれぞれ測定装置の各チャネル測定部品に接続される。ここで、クロック発生器とチャネル測定部品との間の接続線は、同一の遅延時間を提供する。これは、例えば、同一の長さの同軸ケーブルにより達成される。各チャネル測定部品は、部品クロック信号を生成する部品信号源及び位相補正要素を設ける。これらにより、部品クロック信号は、クロック信号に対して該部品クロック信号の位相位置を補正される。
【０００６】
本発明による方法は、幾つかのチャネル測定部品が同一の周波数で動作されるという利点を有する。測定装置の各チャネル測定部品内の相対位相は、位相基準の基礎としてクロック信号を用いることにより補正される。更なる測定タスクのために供給される位相補正された部品クロック信号は、測定装置の各チャネル測定部品内で同一の位相位置を有する。従って異なる測定タスクも、例えば現代の移動体無線システムも、この種のマルチチャネル測定システムを用いて実施されうる。
【０００７】
本発明による測定装置の更なる利点は従属請求項に定められる。
【０００８】
特に、有利なことに、各測定チャネルの位相補正要素は位相検出器を設ける。部品クロック信号の位相位置を補正するために、部品のクロック信号又は該クロック信号から生成された出力信号、及び測定装置のクロック信号は、位相検出器内で供給される。この場合の出力クロック信号は、例えば分周器により、各チャネル測定部品内の部品クロック信号から生成される。
【０００９】
更に、有利なことに、制御可能な位相シフタの制御のために、制御信号が位相検出器により生成される。位相シフタは、位相補正要素の構成要素であり、位相検出器に接続される。従って、部品クロック信号の位相位置の補正は、各チャネル測定部品内で実施される。従って、基準信号は、部品クロック信号としてチャネル測定部品に供給される。何故なら、例えば測定装置内のチャネル測定部品の構成の相違の結果として生じる遅延時間変位の独立性、必要な位相補正は、位相補正要素内の位相検出器により局所環境で決定されうる。部品クロック信号としての基準信号は、位相位置に関し、チャネル測定部品内の所謂現場で補正され、チャネル測定部品の測定タスクのために同期して利用可能である。
【００１０】
或いは、チャネル測定部品の内部で部品クロック信号を生成する制御可能な発振器を設けることも可能である。
【００１１】
更に、有利なことに、クロック信号にマーキングを重畳する。マーキングは、個々のチャネル測定部品に対して共通に、測定装置内で生成される。マーキングは、例えばクロック信号と比較して相対的に低い周波数を提供する。この低い周波数の結果として、異なる処理段階に対して共通の時間点に制御を同期することが可能である。マーキングによりクロック信号に与えられるか又は重畳されるこの種の相対的に遅いタイムスタンプにより、測定ソフトウェアは、例えば時間制御されうる。これは、測定タスクを実施するためにより遅いタイムスタンプの信号を読み出すか、又は該信号を制御命令に変換しうる。
【００１２】
望ましくは、クロック信号は基準信号から生成される。例えば、測定装置内で生成されるか測定装置に供給される高周波数の基準信号は、分周器を用いてより低い周波数に分周されうる。この方法で基準信号から生成された測定装置のクロック信号は、次に個々のチャネル測定部品の位相基準を形成する。この目的のため、クロック信号生成器は、測定装置のクロック信号源として基準信号源に接続される。
【００１３】
本発明によると、幾つかの測定装置は互いに同期してもよい。この目的のため、位相位置を含む１つの測定装置内の幾つかの測定チャネルを同期するだけでなく、測定装置に渡り幾つかの測定装置を同期することも可能である。ここで、各測定装置は、幾つかの測定チャネル又はチャネル測定部品を設けてよい。それぞれ１つのチャネル測定のみを有する幾つかの測定装置の同期も可能である。この目的のために、システム同期信号源により生成されたシステム同期信号は、１つの測定装置か測定システム全体の各更なる測定装置へ及び測定装置自身へ送信される。ここで、このシステム同期信号の遅延時間は同一である。各測定装置内で、クロック信号を生成するクロック信号源が利用可能である。クロック信号は、第２の位相補正要素により、各測定装置の測定装置入力を介して供給されるシステム同期信号の位相位置に補正される。
【００１４】
個々の測定装置を互いに同期するために、利用可能な又は各測定装置内で生成されたクロック信号は、位相位置に関し、供給されたシステム同期信号の位相位置に補正される。クロック信号の位相位置を補正するために、供給されたシステム同期信号及びクロック信号は、第２の位相補正要素内で、第２の位相補正要素の位相検出器に供給される。測定装置の基準信号からクロック信号を生成する場合には、クロック信号が基づく基準信号、従って該基準信号から得られた測定装置のクロック信号は、位相位置に関し補正される。
【００１５】
留意すべき点は、測定装置内のチャネル測定部品の同期の特徴及び幾つかの装置の互いに対する同期の特徴は、有利に結合されてもよいことである。装置の互いに対する同期及びチャネル測定部品の同期は、同一の原理に基づく。以下の説明は、システムの他の測定装置との同期及び幾つかの内部チャネル測定部品同士の同期の両方を可能にする測定装置に基づく。
【００１６】
本発明の好適な実施形態は図面に示され、以下の詳細な説明において詳細に説明される。図は、以下の通りである。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明による、幾つかのチャネル測定部品を有する測定装置及び幾つかの測定装置を互いに同期させる装置のブロック回路図を示す。
【図２】幾つかの測定装置の互いに対する同期を説明する図である。
【図３】同期のためのシステム内で用いられる信号の図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
図１は、測定装置１の構造を概略的に示す。測定装置１は、第１のチャネル測定部品２及び第２のチャネル測定部品３を有する。更なるチャネル測定部品４により示されるように、追加のチャネル測定部品が測定装置１内に配置されてもよい。チャネル測定部品２、３、．．．は、チャネル測定部品を互いに同期させるための構成に関して同様に構成されてよい。図１に示される部品又は構成要素を介して、チャネル測定部品２、３、４、．．．は、それら個々の測定タスクに対応する追加の装置を設けてもよい。例えば、送信又は受信装置は、図示されない移動体無線装置と通信するために各チャネル測定部品内に存在してもよい。例えば、測定装置１と接続された移動体無線装置との間のデータ送信におけるブロック誤り率又はビット誤り率を決定する評価装置は、各チャネル測定部品内に又は個々のチャネル測定部品内に存在してもよい。
【００１９】
不要な重複を避けるため、チャネル測定部品２、３、．．．内の同期のためにそれぞれ存在する構成要素は、チャネル測定部品２のみを参照して説明される。他のチャネル測定部品３に関しては、第１のチャネル測定部品２との相違のみが説明される。
【００２０】
基準信号源５は、測定装置１内に設けられる。基準信号源５は、基準信号を出力する。基準信号は、チャネル測定部品２、３、４及び幾つかの測定装置の互いに対する同期の基礎として用いられる。チャネル測定部品２、３、．．．の同期のために、基準信号は分配器６に供給される。分配器６は、個々のチャネル測定部品２、４、．．．に部分的に接続され、基準信号をこれらのチャネル測定部品２、４、．．．に供給する。この場合には、個々のチャネル測定部品２、４、．．．への基準信号の遅延時間は異なってよい。
【００２１】
基準信号源５は、例えば内部信号生成器７により装置内で内部的に生成され供給された信号に基づき基準信号を生成する。例えば、該供給された信号は選択スイッチ９を介して基準信号源５に供給され、基準信号は該供給された信号に基づき８００ＭＨｚで生成される。この高周波数の基準信号は、良好なスペクトル純度を提供する。これは、更なる適用のために及び特に基準信号からの更なる周波数若しくは信号の生成のために有利である。本発明による測定装置１の場合の基準信号はチャネル測定部品２、４、．．．に同期して供給される必要がないので、測定装置内のチャネル測定部品２、４、．．．の配置は可変である。従って、測定装置の回路基板上の配置は、経済上の基準に従って実装されうる。何故なら、第１の分配器６とチャネル測定部品２、４、．．．との間の基準信号の遅延が同一である必要がないからである。
【００２２】
図１に示されるように信号生成器７の信号が選択スイッチ９を介して基準信号源５に供給される一方で、測定装置１内に信号入力８が更に設けられる。信号入力８を介し、信号は選択スイッチ９を介して基準信号源５に供給されてもよい。これは、図２を参照し以下に更に議論される。信号生成器７は、望ましくは安定した周波数の信号生成器、例えばＯＸＣＯ（「oven  controlled  oscillator」）である。
【００２３】
基準信号が基づく信号がこの種の測定装置１のＯＸＣＯ内で生成される場合、信号は測定装置１に接続された更なる測定装置に同時に供給されうる。この目的のため、信号は、選択スイッチ９と基準信号源５との間で拾われ、測定装置１の信号出力１０に供給される。この信号出力の使用は、幾つかの測定装置１の互いに対する同期に関する説明において以下に更に詳細に説明される。
【００２４】
幾つかのチャネル測定部品２、３、．．．の互いに対する同期のために、第１の位相補正要素１１は、各チャネル測定部品２、３、．．．内に配置される。位相補正要素１１は、位相シフタ１２を設ける。位相シフタ１２の入力には、分配器６を介して供給される基準信号が接続される。基準信号が供給される場合、部品クロック信号は基準信号により形成される。入来する基準信号は、チャネル測定部品２、４、．．．内で更に処理される前に、位相シフタ１２内で位相をずらされる。位相補正された基準信号は、図１に例として示されるように、位相シフタ１２を通じて出力された後に、更なるタスクのために直接に用いられるか分周器１３に供給されるかの何れかである。
【００２５】
しかしながら、チャネル測定部品２について示されるように、部品クロック信号は、制御可能な発振器１２’によりチャネル測定部品内で生成されてもよい。図示された例である実施形態では、分周器を通じて、チャネル測定部品２、３の部品クロック信号から共に低周波数出力クロック信号が生成される。
【００２６】
この出力クロック信号は第２の分配器１４に供給される。第２の分配器１４内では、特に出力クロック信号を時間の基礎として第２の分配器１４から他の構成要素へ出て行くとき、第２の分配器１４を介して分配される出力クロック信号が測定に関連する全てのユニットで同相で到来するように、同一の信号経路長が必要とされる。第２の分配器１４のブランチは、接続線１６を介して位相補正要素１１の位相検出器１５に供給される。従って、未知の位相位置を有する基準信号から最初に生成された出力信号は、位相補正要素１１に供給される。測定装置１のクロック信号は、全てのチャネル測定部品２、３、４、．．．に供給される。これは、第１のチャネル測定部品２及び第２のチャネル測定部品３を例として、同一の信号経路長を有する線１７及び１８をそれぞれ介して示される。従って、このクロック信号は、チャネル測定部品２、３、．．．に同一の位相位置で到達する信号を全てのチャネル測定部品２、３、４、．．．に供給する。このクロック信号は、線１７を介して位相検出器１５にも供給される。従って、位相検出器１５は、線１７を介して供給されるクロック信号の接続線１６を介して供給される出力クロック信号からの位相差を生成する。この位相差に基づき、位相検出器１５により制御信号が生成され、該制御信号により制御可能な位相シフタ１２が制御される。この制御信号に基づき、チャネル測定部品２、４の場合には、部品クロック信号、従って最終的には出力クロック信号及び測定装置１のクロック信号が位相のずれを提供しないように、入来する基準信号は位相シフタ１２によりずらされる。この場合には、クロック信号及び出力クロック信号は、同一の周波数を提供する必要はない。例えば、信号は互いに対して整数比でずらされてもよい。
【００２７】
制御可能な発振器１２’によりチャネル測定部品３内で部品クロック信号を生成する場合には、制御可能な発振器１２’は位相検出器１５により制御される。ここでまた、分周器による分周が提供されてよい。留意すべき点は、分周が提供されてもよいが、部品クロック信号自体は位相検出器１５に供給されてもよいことである。
【００２８】
更に、例えば、個々のチャネル測定部品２、３、４、．．．内のクロック信号が位相検出器１５へ向かう信号経路長が異なる場合、信号経路長の比較は、接続線１６を通じて実施されてよい。
【００２９】
基準信号源５により生成された基準信号は、提示された例である実施形態において、クロック信号の生成の基礎として用いられてもよい。この目的のため、クロック信号生成器１９は、クロック信号源として線２０を介して基準信号源５に接続される。クロック信号源１９では、クロック信号は基準信号から生成され、第２の分配器２３に供給される。この場合の第２の分配器２３は、クロック信号生成器１９内で生成されたクロック信号が第２の分配器２３の出力で同一の遅延時間を有して出力されるように構成される。更に、線１７、１８、．．．は同じ長さであり、従ってクロック信号は個々のチャネル測定部品２、３、．．．に同一の位相位置で供給される。例えば同軸ケーブルが、線１７、１８として測定装置１内に敷設されてよい。
【００３０】
接続線２０内に、第２の分周器２２が設けられる。第２の分周器２２は、高周波数の基準信号から相対的に低い周波数を生成する。該低い周波数は、クロック信号生成器１９により更に処理され、相対的に低周波数のクロック信号が生成される。この種の分周は任意である。相対的に低周波数、例えば１００ＭＨｚのクロック信号の使用を通じて、測定装置内の遅延時間長を制御することが容易になる。従って、基準信号から生成された低周波数のクロック信号は、チャネル測定部品２、３、．．．に共通の時間的基礎を提供する可能性を提供する。しかしながら、各チャネル測定部品２、３、．．．の測定タスクの実施のために、高周波数の基準信号が個々に供給されるか又は新たな部品クロック信号が生成される。
【００３１】
マーキングは、クロック信号生成器１９によりクロック信号に任意的に重畳されてよい。この種のマーキングは、タイムスタンプ信号を用いて実施されてよい。タイムスタンプ信号の重畳は、例えば、方形波信号として設計されたクロック信号内に供給されたブランキング間隔であってよい。これは、図３を参照し以下に更に議論される。この種のタイムスタンプ信号は、クロック信号に対して周波数をもう一度低減される。従って、タイムスタンプ信号は、測定ソフトウェアにより処理されうる周波数でチャネル測定部品２、３、．．．に供給される。タイムスタンプを各チャネル測定部品２、３、．．．内に登録するために、タイムスタンプ検出器２４が設けられる。タイムスタンプ検出器２４は、ブランキング間隔を認識し、該ブランキング間隔を中央プロセッサのような更なる構成要素２５に供給する。
【００３２】
マーキングは、プロトコルによって送信されてもよい。例えば、マーキングは、パルス符号変調を通じて実施されてもよい。
【００３３】
以上の説明は１つの測定装置内の幾つかのチャネル測定部品２、３、．．．の同期が説明されたが、各測定装置１は、幾つかの測定装置１が共通の時間的基礎に基づき互いに同期されうるように構成される。この目的のため、第２の位相補正要素２１が接続線２０内に設けられる。第２の位相補正要素２１を用い、各測定装置１内でクロック信号の生成に用いられた基準信号は、クロック信号の生成の前に同一の位相位置で接続線２０に導入される。この目的のため、第２の位相補正要素２１は、再び位相検出器２７を有する。位相検出器２７の制御接続は、制御可能な位相シフタ２８に接続される。接続線２０は、基準信号がこのように分岐され分周器２２に又はクロック信号生成器１９にそれぞれ供給される前に、基準信号を制御可能な位相シフタ２８へ導く。制御可能な位相シフタ２８のために制御信号を生成するために、第２の分配器２３は、クロック信号帰還線２９を介し第２の位相補正要素２１の位相検出器２７に接続される。クロック信号帰還線２９は、線１７、１８と長さが同じである。
【００３４】
システム同期信号生成器３０を介して生成されたシステム同期信号は、位相検出器２７により比較のための基礎として用いられる。システム同期信号はまた、基準信号源５により生成された基準信号に基づき生成される。この目的のため、接続線２０は分岐し、基準信号源５により直接生成された基準信号を第２の分周器３１を介してシステム信号生成器３０に導く。この場合、更なる分周器３１は、望ましくは、基準信号から低周波数のシステム同期信号を生成するために設けられる。システム同期信号生成器３０により生成されたシステム同期信号は、第３の分分配器３２に供給される。システム同期信号生成器３０からのシステム同期信号の遅延時間は、再び同一である。最初に、第３の分配器３２のブランチ毎に、第３の分配器３２から測定装置出力接続３３への接続が設けられる。測定装置出力接続３３の数は、ここでは、帰還線３４を介して互いに結合される測定装置１の最大数に対応する。また、システム同期信号は、測定装置入力３５に外部から供給される。幾つかの測定装置１の互いに対する同期では、これは、図２に関して以下に説明されるように、互いに結合される各測定装置にとって重要である。この帰還システムの同期信号は、測定装置１のクロック信号に対する位相位置の決定の基礎を提供する。
【００３５】
ある例では、装置内部の第３の分配器が設けられる。しかしながら、システム同期信号源が単一の測定装置出力に接続されること、及び更なる外部分配器が設けられてよいことは明らかである。決定的要因は、システム同期信号が、システム同期信号源から接続された測定装置の測定装置入力まで又は個々の位相検出器まで同一の信号経路長を伝達することである。
【００３６】
この目的のため、帰還されたシステム同期信号及び内部で帰還されたクロック信号は、位相検出器２７内で互いに比較される。これら２つの信号の位相位置に相対的な変位が生じた場合、第１の位相検出器１５の場合のように、制御信号が位相検出器２７により出力される。制御信号は、第２の位相補正要素２１の位相シフタ２８に供給される。結果として、位相シフタ２８に供給される基準信号は、帰還されたクロック信号及び帰還されたシステム同期信号が無視できる位相差を提供するまで、位相をずらされる。
【００３７】
同一の位相位置のシステム同期信号が各場合にシステム同期信号帰還線３４を介して互いに同期されるべき測定装置１に供給されるので、個々の装置内部の、システム同期信号に対するクロック信号の位相位置に関する較正は、同期した測定装置を生成する。更に、このように位相位置に関して同期された個々の測定装置のクロック信号に基づき、測定装置１の個々のチャネル測定部品２、３、．．．内の基準信号の位相補正が実施される。従って、最終的に互いに結合された測定装置１の全てのチャネル測定部品２、３、．．．の位相位置が同じになる。従って、測定は同一の時間スキームで実施されてよい。この例では、複雑な測定タスクの制御のために、特に、ブランキング間隔が個々のクロック信号に供給されるので有利である。再び、測定装置に渡りこれを実施するために、望ましくは、ブランキング・パルスはシステム同期信号生成器３０によりシステム同期信に付加される。これは、対応する装置３６により読み出され、その結果はクロック信号生成器１９に供給される。これは、システム同期信号のブランキング・パルスに基づき各測定装置１のクロック信号内にブランキング・パルスを生成する。従って、各測定装置１内では、個々のチャネル測定部品２、３、．．．により評価されうるブランキング・パルス波、同一の時点に存在する。
【００３８】
測定装置接続３３は、更に破線の測定装置により示されたような幾つかの測定装置１’、１’’、１’’’に接続されてよい。図２は、測定装置１’、１’’、１’’’の互いの接続を説明のために示す。
【００３９】
図２の下に示された測定装置１は、図１に詳細に記載された構成と同様の構成を有し、他の測定装置１’、１’’も同様である。本例では、測定装置１は、「マスタ」として動作し、他の測定装置１’及び１’’は所謂「スレーブ」測定装置として動作する。
【００４０】
一方で、基準信号源５が基準とする信号は、測定装置１により幾つかの測定装置の組み合わせ内で信号生成器７により生成される。従って、測定装置１の基準信号源５は、選択スイッチ９を介して信号源７に接続される。信号生成器７により生成された信号は、信号出力１０を介して測定装置１’の信号入力８に、及び信号出力１０を介して測定装置１’’の信号入力８に供給される。従って、測定装置１’、１’’の選択スイッチ９は、それぞれ他の位置に配置される。信号生成器７の信号から開始し、測定装置１、１’、１’’の全ての基準信号源５は、同一の周波数、例えば８００ＭＨｚの基準信号を生成する。
【００４１】
各測定装置１、１’、１’’の各チャネル測定部品２、３、．．．の同期のため、クロック信号は、測定装置１を参照して詳細に記載されたように、個々の測定装置１、１’、１’’内で生成される。このクロック信号は、装置内部で生成され、各測定装置の全てのチャネル測定部品２、３、．．．の内部同期を可能にする。
【００４２】
対照的に、幾つかの測定装置１、１’、１’’の同期は、「マスタ」測定装置１により更に生成されたシステム同期信号を通じて実施される。このシステム同期信号は、測定装置１を参照して既に説明された方法で生成され、第３の分配器３２を介して幾つかの出力接続３３に供給される。各場合で、これらの出力接続３３のうちの１つが、システム同期信号帰還ケーブル３４を介して測定装置１の測定装置入力３５に、測定装置１’の測定装置入力３５に、及び測定装置１’’の測定装置入力３５に接続される。本例において出力接続３３の測定装置入力３５への接続のために使用されるケーブルは、同一の長さである。従って、システム同期信号の個々の測定装置までの遅延時間は同一である。従って、対応する第２の位相補正要素２１による測定装置内のクロック信号の位相位置の較正は、システム同期信号を介して可能になる。基準信号の位相補正、従って測定装置１、１’、１’’のチャネル測定部品２、３、．．．の内部同期は、個々の位相補正されたクロック信号に基づき内部で実施されるので、全ての測定装置１、１’、１’’の全てのチャネル測定部品２、３、．．．は、最終的に互いに同期される。
【００４３】
測定装置の同期が測定装置のチャネル測定部品の図示された数にも測定装置の図示された数にも限定されないことは明らかである。
【００４４】
図３は、例として、複数の装置又はチャネル測定部品２、３、．．．のそれぞれを互いに同期するために必要な信号が、共通の基準信号からどのように生成されるかを示す。始点は、例えば８００ＭＨｚの基準信号Ｆｒｅｆである。この信号は、高いスペクトル純度であり、チャネル測定部品２、３、．．．及びクロック信号Ｆｓｙｓの選択可能な時間ラスタを生成するための基礎として用いられる。クロック信号Ｆｓｙｓは、分周された基準信号Ｆｒｅｆに基づきクロック信号生成器１９により生成され、例えば１００ＭＨｚの周波数を有する。タイムスタンプ信号Ｆｔｓは、クロック信号Ｆｓｙｓに重畳され、例えば１ｋＨｚだけの周波数を提供する。タイムスタンプ信号が発生すると、変更されたクロック信号Ｆｓｙｓ  ＣＬＫがクロック信号生成器１９により最終的に出力される前に、クロック信号内のブランキング・パルスがクロック信号生成器１９により生成される。
【００４５】
同様の方法で、システム同期信号も基準信号から開始して生成される。本例では、タイムスタンプ信号はシステム同期信号に重畳されてもよい。この重畳されたタイムスタンプ信号に基づき、個々の測定装置１、１’、１’’内の全てのタイムスタンプを同一の時間に位置付けることが可能である。
【００４６】
システム同期信号への装置に渡るシステム同期を通じ、各測定装置の内部遅延時間差が、同相システム同期信号の配信により補償される。これは、チャネル測定部品２、４、．．．へ向かう基準信号の異なる内部遅延時間に対して実施されてもよいので、全てのチャネル測定部品２、３、４、．．．の装置に渡るシステム同期が達成される。
【００４７】
本発明は、例示された実施例に限定されない。特に、示された例の各特徴を互いに有利な方法で結合することが可能である。
【図１】
2010534962.tif 000003
【図２】
2010534962.tif 000004
【図３】
2010534962.tif 000005
【手続補正書】
【提出日】平成21年6月4日(2009.6.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれ少なくとも１つのチャネル測定部品を有する幾つかの測定装置を同期する方法であって：
測定装置によりシステム同期信号を生成する段階；
該システム同期信号の全ての測定装置への遅延時間は同じであり、更なる測定装置のそれぞれに及び生成する測定装置自身に前記システム同期信号を供給する段階；
前記各測定装置内で更なるクロック信号を生成する段階；及び
該各測定装置内のクロック信号の位相位置を前記システム同期信号の位相位置に補正する段階；
を有し、
前記システム同期信号は、測定装置出力を介し及び測定装置入力を介し、前記生成する測定装置に外部から帰還される、
ことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記各測定装置のクロック信号の位相位置は、前記システム同期信号の位相位置に補正される、
ことを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記測定装置内の幾つかのチャネル測定部品を同期させ、
当該方法は：
前記クロック信号の前記チャネル測定部品までの遅延時間は同じ長さであり、前記位相補正されたクロック信号を前記チャネル測定部品に供給する段階；
前記各チャネル測定部品内で部品クロック信号を生成する段階；及び
各チャネル測定部品内の部品クロック信号の位相位置を前記クロック信号の位相位置に補正する段階；
を更に有する請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
基準信号が生成され、
少なくとも一部の前記チャネル測定部品内で、前記部品クロック信号は前記基準信号から生成される、
ことを特徴とする請求項３記載の方法。
【請求項５】
少なくとも一部の前記チャネル測定部品内で、前記部品クロック信号は制御可能な発振器により生成される、
ことを特徴とする請求項３又は４記載の方法。
【請求項６】
前記位相位置を補正するために、前記クロック信号及び各部品クロック信号、又は該部品クロック信号から生成される前記チャネル測定部品の出力クロック信号は、位相検出器に供給される、
ことを特徴とする請求項３乃至５のいずれか一項記載の方法。
【請求項７】
制御可能な位相シフタを制御する制御信号は、前記位相検出器により生成される、
ことを特徴とする請求項６記載の方法。
【請求項８】
前記基準信号は、チャネル測定部品の制御可能な位相シフタの入力に供給される、
ことを特徴とする請求項６又は７のいずれか一項記載の方法。
【請求項９】
前記部品クロック信号は、制御可能な発振器により生成され、
該制御可能な発振器に、前記位相検出器の制御信号が制御のために供給される、
ことを特徴とする請求項６記載の方法。
【請求項１０】
マーキングが前記クロック信号に重畳される、
ことを特徴とする請求項３乃至９のいずれか一項記載の方法。
【請求項１１】
前記クロック信号は、前記基準信号から生成される、
ことを特徴とする請求項３乃至９のいずれか一項記載の方法。
【請求項１２】
クロック信号を生成するクロック信号源；
少なくとも１つの測定装置出力と接続されるシステム同期信号源；及び
前記クロック信号の位相位置を合わせる位相補正要素；
を有し、
該位相補正要素に接続された測定装置入力は、前記クロック信号の位相位置を該測定装置入力を介して外部から供給される信号の位相位置に合わせる、
ことを特徴とする測定装置。
【請求項１３】
基準信号源は、前記クロック信号源及び前記システム同期信号源にそれぞれ接続される、
ことを特徴とする請求項１２記載の測定装置。
【請求項１４】
当該測定装置は、少なくとも２つのチャネル測定部品を設け、
前記クロック信号源は、同一の信号経路長の接続線を介して各チャネル測定部品にそれぞれ接続され、
前記各チャネル測定部品は、
部品クロック信号を生成する部品信号源；及び
前記部品クロック信号の位相位置を前記クロック信号の位相位置に合わせる更なる位相補正要素；
を設ける、
ことを特徴とする請求項１２又は１３記載の測定装置。
【請求項１５】
各チャネル測定部品の位相補正要素は位相検出器を設ける、
ことを特徴とする請求項１４記載の測定装置。
【請求項１６】
前記位相補正要素は、前記位相検出器に接続された位相シフタ又は制御可能な発振器を設ける、
ことを特徴とする請求項１５記載の測定装置。
【請求項１７】
基準信号源は、各チャネル測定部品の位相シフタの入力接続にそれぞれ接続される、
ことを特徴とする請求項１６記載の測定装置。
【国際調査報告】
2010534962.tif 000006
2010534962.tif 000007
2010534962.tif 000008
2010534962.tif 000009