(57)【要約】  試験ステーションを通る移動経路に沿って移送するための試験板上に支持される電子部品を試験するための装置は、板の表面と、試験のために板によってステーションに移送される少なくとも１つの電子部品とを接触させるため、ステーションにおいて電気接触器を含む。可変力式印加部は、広い動作移動範囲において実質的に一定の力を印加するように、接触圧を接触器に供給する。印加部は、接触器の動作点と枢動点との間の位置に力を印加する力印加ピンを有し、動作点とピン位置との間のレバー減少比の結果、印加される力の変動が低減される空気シリンダを含む。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験ステーションを通る移動経路に沿って輸送するための試験板上に支持される電子部品を試験するための装置であって、
前記試験板の表面と、試験のために前記試験板によって前記試験ステーションに移送される少なくとも１つの電子部品とを接触させるための、試験ステーションに位置する電気接触器と、
接触圧を前記接触器に供給するための可変力式印加部であって、広い動作移動範囲において実質的に一定の力を印加するために、前記接触器に連結される印加部と、
を特徴とする、装置。
【請求項２】
前記電気接触器は、摺動接触部、大半径接触部、小半径接触部、マイクロローラ、標準ローラ、摺動ブレード、ディスク、またはワイヤであること、
を特徴とする、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記可変力式印加部は、空気シリンダ、ブラダーシリンダ、空気圧ブラダー、電鋳ベローズ、音声コイルモータ、ソレノイド、圧電アクチュエータ、またはマッスルワイヤビームであること、
を特徴とする、請求項１または請求項２のいずれかに記載の装置。
【請求項４】
前記電気接触器を支持するためのブラケットであって、一方の端部に隣接する枢動点と、中央部分に隣接する信号コネクタと、反対側の端部に隣接する電気接触器マウントとを有するブラケット、
を特徴とする、先行する請求項のいずれかに記載の装置。
【請求項５】
先端ホルダハウジングと、
回転運動のために、前記ブラケットを前記先端ホルダハウジングに連結するための接触器枢動点と、
前記接触器の動作点と前記枢動点との間の位置に力を印加するように連結される力印加ピンを有し、前記接触器の前記動作点と前記力印加ピン位置との間のレバー減少比の結果、前記印加される力の変動が低減される空気シリンダを含む可変力式印加部と、
を特徴とする、請求項４に記載の装置。
【請求項６】
少なくとも２つのブラケット間に延出し、かつ前記関連の空気シリンダにより印加された力を少なくとも２つの接触器に分配するために、前記力印加ピンおよび前記ブラケット間に位置する連結ピン、
を特徴とする、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
少なくとも１つの位置決め開口部および少なくとも１つの取り付け留め具を有する取り付け棒と、
前記取り付け棒により支持される空気シリンダハウジングと、
前記空気シリンダハウジングにより支持される先端ホルダと、
共通の同軸Ｙ軸枢動部の周囲の運動を枢動するための、前記先端ホルダにより支持される複数の接触器先端と、
を特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の装置。
【請求項８】
前記Ｙ軸に対応する方向に、前記複数の接触器を配置するための少なくとも１つの調整点、
を特徴とする、請求項７に記載の装置。
【請求項９】
前記Ｙ軸に垂直であるＸ軸に対応する方向に、前記複数の接触器を配置するための少なくとも１つの調整点、
を特徴とする、請求項７または請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
前記ブラケットおよび前記取り付け棒間の前記空気シリンダハウジングの外部に延出する信号経路、
を特徴とする、請求項７〜９のいずれかに記載の装置。
【請求項１１】
前記試験板の前記表面から上に０．１２２５インチから０．０４２５インチ（これらの値をも含む）の間に位置する前記共通の同軸Ｙ軸枢動部、
を特徴とする、請求項７〜１０のいずれかに記載の装置。
【請求項１２】
前記共通の同軸Ｙ軸枢動部は、前記試験板の前記表面から上に最大０．０８２５インチに位置する、請求項７〜１０のいずれかに記載の装置。
【請求項１３】
前記試験板の前記表面から上に少なくとも０．０２２インチから０．０６２インチ （これらの値をも含む）の間の隙間を可能にするように位置する前記先端ホルダ、
を特徴とする、請求項７〜１２のいずれかに記載の装置。
【請求項１４】
前記電気接触器は、
先端収容開口部を有するブラケットと、
先端取り替えが必要になる前に、相互に対して４つの別々の直交位置に前記先端を再配置することを可能にするＸ字形構成を有する可転位接触先端と、
前記ブラケットに対し、固定位置において、前記可転位接触先端を解放可能に保持するための留め具と、
を含むこと、
を特徴とする、請求項１〜３のいずれかに記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
関連出願の参照
本出願は、参照によりその全体が本明細書に組み込まれる２００７年１月２９日に出願された米国仮出願第６０／８８７，０７６号の米国法典第３５編第１１９条（ｅ）に基づく利益を主張し、参照によりその全体が本明細書に組み込まれる２００６年１１月３０日に出願された米国特許出願第１１／５６５，４０６号に関連する。
【０００２】
本発明は、電子部品用の試験装置の分野に関し、より具体的には、被試験機器の終端表面またはある部分に係合するとともに、その間の電気接触を行なう電気接触器の分野に関する。
【背景技術】
【０００３】
小型電子機器の分野において、電子能力の品質を確認するために試験を必要とする伝導性終端を有する小型部品が存在する。電気計測の目的で、電子機器の伝導性端部に一時的に連結するために使用される型の接触器の１つとして、標準サイズまたはマイクロサイズの接触ローラが挙げられる。他の型の接触器は、ブレード、ディスク、またはワイヤ先端と呼ばれることがある、摺動接触先端を含む。種々の接触器モジュール型は、特定の電子部品の試験のために使用可能であり、高接触圧−高電力測定、高接触圧−低電力測定、低接触圧−高電力測定、または低接触圧−低電力測定等の動作条件に依存して選択される。
【０００４】
種々の接触モジュール型は、導電性の金属材料から作製可能である。接触ローラ型は、バネ支持部を介して試験機の基板または骨格に固定される軸上を回転可能である。バネ支持部は、異なる長さを有し、支持部を最大長さに連続的に偏向または付勢するバネを含み得る。現在、接触ローラには、一定バネ力まで事前に負荷が加えられる。試験板が移動すると、バネ支持部は、経路表面側にローラを付勢し、それによって、試験パッドの表面上をローラが回転し、または同時にその表面上を押圧する。電気部品が、試験板を介して試験範囲に移動すると、ローラは、経路表面から離れて、被検電子部品の端部上に回転する。ローラが完全に部品に押圧されると、部品の試験をすることができる。試験中、部品上にローラが及ぼす下方力は、試験板が移動する際に試験経路の表面上に及ぼされるのと同一の所定の力である。電子部品に関して適切な試験測定を行なうのに必要な接触力は、約５０グラムである。しかしながら、処理対象の部品が小さくなればなるほど、部品の金属終端の弾性は、許容接触負荷が、安定試験に必要な負荷以下に降下する点まで減少する。動作中の小型電子部品の最大許容力は、約２０グラムほどである。ゆえに、移動する電子部品に対する追加の力によって、部品に損傷がもたらされる可能性がある。
【０００５】
電子部品に対する損傷を排除する別の手順は、試験板が移動中に、ローラが試験板の表面または電子部品に触れないように、接触ローラを作動するステップを含む。本手順は、接触ローラが、試験板の移動中に、試験板および部品から引き込まれ、次に、試験板が停止して部品が所定の試験位置に存在する際に延出されることを必要とする。本手順において、接触ローラは、ソレノイドコイルによって作動される。ソレノイドコイルが非励起する場合、接触ローラは、試験板の上の上昇位置に存在する。試験板が停止し、かつ電子部品が試験のために試験ステーションに存在する場合、ソレノイドコイルは、励起され、接触ローラを降下させる。安定試験環境を可能にするために、接触ローラには、電子部品に対して５０グラムの垂直方向力まで事前に負荷が加えられる。本手順の欠点は、接触ローラの昇降によって、試験システムの生産性が５％から１３％低下することである。
【０００６】
現在、小型電子部品の電気測定のための上側電気接触部は、片持バネアームの偏向が増加する際に、部品に対する接触力を増加させる片持アームを含む。多数の接触部が、各試験ステーションにおいて使用され、接触部は、所定の偏向設定においてほぼ同一の接触力を生成するために共平坦化される。代替的に、接触または下方力を提供するために、場合により圧縮バネが使用される。さらに、必要な力を生成するために、平坦バネ指が使用される場合がある。公称力値の変更を所望する場合、力出力を増加または減少させるために、バネ力源の圧縮を増加または減少させるためにバネ力源を変更しなければならず、または被試験機器に対する接触器の位置を変更しなければならない。また、バネ力源は、経時的に疲労し、取り替えを必要とする。
【発明の概要】
【０００７】
従来の既知の機器において接触器を共平坦化するのに必要な時間を削減または排除することが望ましい。特有の接触の偏向を一致させ、接触力が同一であることを期待することのみではなく、実際の接触力を正確に制御することが望ましい。任意のハードウェアの変更を必要とせずに、接触力を動的に変更することが望ましい。 被試験機器 の種々のロットの試験結果に基づいてリアルタイムに接触力調整を自動化することが望ましい。被試験機器に対する接触または頂点の側方変更を削減または排除することが望ましい。消耗品の通常の摩耗による接触高さの再較正を簡略化または排除することが望ましい。より低い耐性の部品をシステム内で動作可能にすることによって、接触部品の費用を削減することが望ましい。
【０００８】
試験ステーションを通る移動経路に沿って移送するための試験板上に支持される電子部品を試験するための装置は、試験板の表面と、試験のために試験板によって試験ステーションに移送される少なくとも１つの部品とを接触させるための、試験ステーションに位置する電気接触器と、接触圧を接触アームに供給するための可変力式印加部とを含む。印加部は、広い動作移動範囲において実質的に一定の力を印加するために、接触器に連結される。本発明の一実施形態において、電気接触器は、摺動接触部、大半径接触部、小半径接触部、マイクロローラ、標準ローラ、摺動ブレード、ディスク、およびワイヤから成る接触器先端の群から選択可能である。本発明の別の実施形態において、可変力式印加部は、空気シリンダ、ブラダーシリンダ、空気圧ブラダー、電鋳ベローズ、音声コイルモータ、ソレノイド、圧電アクチュエータ、およびマッスルワイヤビームから成る力印加部の群から選択可能である。
【０００９】
本発明の他の用途は、以下の本発明の実施に想定される最良の形態に関する説明を添付の図面と併用して熟読する際に、当業者に明白になるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
本明細書の説明は、添付の図面を参照し、いくつかの図面において、同一参照番号は、同一部分を指す。
【図１】本発明の一実施形態に従う可変力式電気接触器の簡略化斜視図である。
【図２】図１に示す可変力式電気接触器の断面斜視図である。
【図３】図１に示す可変力式電気接触器の断面斜視図である。
【図４】図１の可変力式電気接触器の分解斜視図である。
【図５】本発明の一実施形態に従う複数の可変力式印加部および接触器を含む試験ステーションアセンブリの底面斜視図である。
【図６】図５の複数の可変力式印加部および接触器を含む試験ステーションアセンブリの上面斜視図であり、上側板が除去される。
【図７】新しい状態および摩耗状態における標準的なローラ直径と、新しい状態および摩耗状態におけるマイクロローラ直径と、ブラケットの枢動軸の周囲の接触器の動作点の運動を示す円弧とともに、試験板の表面を示す略図である。
【図８】本発明の一実施形態に従うブラケットの略図であり、標準的ローラおよびマイクロローラならびにブラケットの枢動軸に対するローラの動作接触点を示す。
【図９】標準ローラ型接触器の斜視図である。
【図１０Ａ】マイクロローラ型接触器の斜視図である。
【図１０Ｂ】マイクロローラ型接触器の斜視図である。
【図１１Ａ】可転位Ｘ字形先端型接触器の斜視図であり、ブラケットは、補完的先端収容開口部と、ブラケットに対して固定位置にある 可転位先端を解放可能に保持するための留め具とを有する。
【図１１Ｂ】可転位Ｘ字形先端型接触器の斜視図であり、ブラケットは、補完的先端収容開口部と、ブラケットに対して固定位置にある 可転位先端を解放可能に保持するための留め具とを有する。
【図１２】本発明のある実施形態に従う可変力式電気接触器の簡略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
ここで図１−図４を参照すると、試験ステーション１６を通る経路移動に沿って移送するための試験板１４（図８において最も良く示される）上で支持される電気部品１２を試験するための装置１０（図８に概略的に示される）が示される。可変力式電気接触器装置１０は、試験板１４の表面１８と、試験のために試験板１４によって試験ステーション１６に移送される少なくとも１つの電気部品１２とを接触させるための、試験ステーション１６に位置する電気接触器２０を含む。可変力式印加部２２は、接触圧を接触器２０に供給する。印加部２２は、広い動作移動領域において実質的に一定の力を供給するために、恊働し得るように接触器２０に連結される。電気接触器２０が、摺動接触部、大半径接触部、小半径接触部、マイクロローラ、標準ローラ、摺動ブレード、ディスク、またはワイヤから成る接触器チップ型の群から選択可能であることを認識されたい。また、可変力式印加部が、空気シリンダ、ブラダーシリンダ、空気圧シリンダ、電鋳ベローズ、音声コイルモータ、ソレノイド、圧電アクチュエータ、マッスルビームワイヤから成る印加部型の群から選択可能であることも認識されたい。接触器型は、被試験機器および試験の動作条件に依存して選択される。印加部型は、利用可能な電源、つまり空気圧力および／または電力の利用可能性に依存して、可変力式源を提供するように選択され、結果として、力は、前述のようなバネ負荷型構成で可能であるものより大幅に正確に調整可能になる。
【００１２】
図９−図１１Ｂを簡潔に参照すると、電気接触器２０を支持するための種々型のブラケット２８が示される。ブラケット２８は、一方の端部３２に隣接する枢動点または枢動軸３０と、中央部分３６に隣接する信号コネクタ３４と、反対の端部４０に隣接する電気接触器マウント３８とを有することが可能である。再び図１を参照すると、先端ホルダハウジング４４は、枢動軸３０によってブラケット２８を支持する。開口部４２を収容する枢動点または枢動ピンは、回転運動のために、ブラケット２８を先端ホルダハウジング４４に連結する。
【００１３】
限定ではなく一例として、図１−図４に図示される構成について、空気シリンダ形式の可変力式印加部２２に関連して説明する。図示するように、先端ホルダハウジング４４は、空気シリンダハウジング４６から支持され、空気シリンダハウジング４６は、取り付け棒４８から支持される。力印加ピン５０は、恊働し得るように可変力式印加部２２に関連付けられ、接触器２０の動作点５４（図８において最も良く示される）と、枢動ピン３０または開口部４２との間のブラケット２８上に位置する位置５２（図１２において最も良く示される）に力を印加するようにする。本構成によって、印加された力の変動が、図３、図８、および図１２に最も良く示されるように、接触器２０の動作点５４と、力印加位置５２との間のレバー減少比の結果として減少可能になる。
【００１４】
図２、図３、および図１２において最も良く示される連結ピン５６は、少なくとも２つの隣接ブラケットまたはアーム２８間に延出することが可能であり、および、関連の空気シリンダの力印加部２２によって印加される力を、少なくとも２つの隣接接触器２０に分配するために、力印加ピン５０およびブラケット２８間に位置することが可能である。これにより、必要とされる空気シリンダの数を減少させることが可能になるとともに、依然として、印加される力の変動を少なくして、正確な可変力式印加が可能になる。
【００１５】
図１−図４に示されるような取り付け棒４８は、少なくとも１つの位置決め開口部５８と、支持板（図５において最も良く示される）と係合するための少なくとも１つの取り付け留め具６０を含む。図示するように、複数の接触器２０は、共通の同軸Ｙ軸枢動ピン３０の周囲の運動を枢動し、ブラケット２８の開口部４２を収容するために、先端ホルダハウジング４４から支持される。信号経路６２は、ブラケット２８および取り付け棒４８間の空気シリンダハウジング４６の外部に延出可能である。図示される信号経路６２は、交換可能ワイヤ６４を含む。
【００１６】
ピン３０のＹ軸方向に対応する方向に接触器２０を配置するために、少なくとも１つの調整点６６が提供される。図１に最も良く示される図示する構成において、調整点６６は、支持される接触器２０のＹ軸位置の調整のため、支持される先端ホルダハウジング４４をＹ軸に沿って移動するために、取り付け棒４８と空気シリンダハウジング４６との間に係合される止めネジ６８を含む。Ｙ軸に垂直であるＸ軸に対応する方向に接触器２０を配置するための、少なくとも１つの調整点７０が提供可能である。図１に最も良く示されるように、調整点７０は、取り付け棒４８から空気シリンダハウジング４６を支持する１つ以上のネジ山付き留め具７２を含むことが可能である。接触器２０が、先端ホルダハウジング４４および空気シリンダハウジング４６を介して取り付け棒４８に対して支持されるので、接触器２０のＸ軸調整を可能にする空気シリンダハウジング４６におけるスロット（図示せず）が提供可能である。Ｘ軸およびＹ軸に垂直であるＺ軸に対応する方向に、接触器２０を配置するための少なくとも１つの調整点７４が提供され得る。図示される調整点７４は、Ｚ軸に沿って取り付け棒４８に対して空気シリンダハウジング４６を調整するように係合可能である止めネジ７６を含む。また、Ｚ軸調整は、調整点７４によっても入手可能であり、調整点７４は、力印加ピン５０をブラケット２８に対して押圧または配置するためのベベル先端を有し、それによって、Ｚ軸方向に自転してブラケット２８および支持される接触器２０を回転させる調整ネジ７８を含む。
【００１７】
次に、図７および図８を参照すると、共通の同軸Ｙ軸４２は、試験板１４の表面１８から上に０．１２２５インチから０．０４２５インチの間（それらの値を含む）で、中央に位置することが可能である。共通の同軸Ｙ軸枢動部は、好ましくは、試験板１４の表面１８から上に最大０．０８２５インチの所に位置する。共通の同軸Ｙ軸枢動部は、より好ましくは、試験板１４の表面１８から上に０．０８２５インチから０．０４２５インチ間（それらの値を含む）で、中央に位置する。先端ホルダハウジング３３は、試験板１４の表面１８から上に少なくとも０．０２２インチから０．０６２インチ、および好ましくは、約０．０６２インチの隙間を提供する位置に配置される。
【００１８】
次に、図１１Ａおよび図１１Ｂを参照すると、接触器２０は、先端収容開口部８０を有するブラケット２８を含むことが可能である。可転位先端接触８２は、Ｘ字形構成を有することが可能であり、この構成によって、先端の取り替えが必要になる前に、相互に対して４つの別々の直交位置に先端８２を再配置することが可能になる。留め具８４は、ブラケット２８に対する固定位置において、可転位接触先端８２を解放可能に保持する。指標化可能接触先端８２は、必要に応じて、炭化銅タングステン材料から有利に形成可能である。
【００１９】
次に、図１２を参照すると、発明の一実施形態に従う電気接触器２０は、接触圧を供給するために可変力式印加部２２を使用する。可変力式印加部２２は、力を各接触器２０に個々に印加することが可能であるか、または力を多数の接触器２０に供給することが可能である。力は、試験ステーションにおいて準備の整った位置にある時の、特定の被試験機器の必要に応じて正確に調整可能であり、また、力は、試験板の動作中に、より低い設定にまで低下させて、被試験電子部品に対する損傷を防止することが可能である。適切な可変力式印加部機器には、ダッシュポット空気シリンダ、ブラダーシリンダ、空気圧ブラダー、電鋳ベローズ、音声コイルモータ、ソレノイド、圧電アクチュエータ、マッスルワイヤビームが含まれる。公称接触力（圧力）を設定するために、力出力は、空気圧源型に供給される空気圧によって決定され、一方、電源機器の場合、電圧レベルおよび／または電流レベルが選択される。可変力式印加部２０が接触器先端および信号経路から分離されることから、多種多様の電気試験用途に対応するのに必要とされる全接触型の数が少なくてよいこととなる。限定ではなく一例として、３つの互換性のある接触先端のうちの１つを選択および導入することによって、高接触圧と高電力測定と摺動接触先端、高接触圧と低電力測定と摺動接触先端、低接触圧と高電力測定と摺動接触先端、低接触圧と低電力測定と摺動接触先端、高接触圧と高電力測定と大半径回転接触先端、高接触圧と低電力測定と大半径回転接触先端、低接触圧と高電力測定と大半径回転接触先端、低接触圧と低電力測定と大半径回転接触先端、高接触圧と高電力測定と小半径接触先端、高接触圧と低電力測定と小半径接触先端、低接触圧と高電力測定と小半径接触先端、低接触圧と低電力測定と小半径接触先端の典型的な試験パラメータの全てに関し、必要とされる接触モジュール型は１つのみとなる。３つの互換性のある接触先端のうちの１つの選択および導入を可能にすることによって、生産コスト、動作コスト、および試験装置の複雑性が減少する。接触力は、試験システムのリアルタイムの測定結果データに基づいて測定を最適化するように自動的に調整可能である。力変動の減少は、接触器２０の動作点５４と、可変力式印加部２２の力印加位置５２との間のレバー減少比を使用して達成可能である。限定ではなく一例として、接触器支持ブラケットまたはアーム２８の枢軸点３０、４２から可変力式印加点５２までの距離Ａが０．１００インチであり、枢軸点３０、４２から接触先端２０の動作点５４までの距離Bが１．０００インチである場合、減少比は１：１０である。接触先端２０の力は、可変力式印加部出力の１０分の１であるが、レバー減少の利点は、接触力変動も、可変力式印加部源の変動の１０分の１のみになり、さらにより正確な接触力制御が可能になることである。
【００２０】
時折、試験トラックが、汚染、摩耗、または破損した接触先端により不完全に動作し始める一方で、他の試験トラックは、継続して正確に動作することがある。この場合、スループット対歩留まり率の観点から、機能不全のトラックを無効にすることが有利であり得る。本発明の一実施形態では、任意の継続部品の摩耗を引き起こさないように、個々のまたは機能不全の接触先端を単に減圧または引き込む任意の動作モードを可能にする。選択的試験トラック装填と組み合わせる場合、システム歩留まりは、機能不全の１つまたは複数の試験トラックを修理するために停止可能になるまで、大幅に最適化可能である。
【００２１】
次に、図７、図８、および図１２を参照すると、本発明の一実施形態に従う可変力式印加部源および接触先端間の連結アセンブリ５０、５６、２８が、被試験機器に対する接触先端２０の動作点５４の位置の任意の変化を最小化または排除するように設計される。連結部は、接触先端表面の動作位置の通常の摩耗を補償するために、さまざまな移動を提供する。本発明の一実施形態において、接触先端２０を支持するブラケット２８の枢動位置３０、４２は、被試験電子部品の移動経路に沿った接触先端位置における長手方向偏位を最小化するために寸法Ｃに位置している。寸法Ｃは、試験板１４の表面１８から上に約０．１２２５インチから約０．０４２５インチ（これらの値をも含む）の間であることが可能である。寸法Ｃは、好ましくは、試験板１４の表面１８から上に最大約０．０８２５インチに位置する。寸法Ｃは、より好ましくは、試験板１４の表面１８から上に約０．０８２５インチから約０．０４２５インチ（これらの値をも含む）の間に位置する。これは、軸偏位制御と呼ばれることがある。この接触設計は、部品の通常の摩耗などによる小さい寸法変動により大きく影響を受けない。通常の摩耗によって、接触力は変化せず、接触先端位置は変化せず、または非常にわずかに変化するだけである。本構成により、装置の構築および動作は、接触マウントおよび真空リング間の共平面性誤差、真空リングの平坦度誤差、ならびに／あるいはローラの外径、ローラの内径、または軸直径の初期サイズ変動による接触先端形状の変動に対して大きく影響を受けなくなる。本特徴により、接触先端寸法または高さ共平面性を達成するのに必要な努力が大幅に減少するので、システムのセットアップおよび試験の時間を減少させることが可能になる。また、システムの周期的な再較正の必要性が軽減または排除されるため、通常の動作セットアップ時間の減少も実現可能である。先端ホルダハウジング４４の底面と、試験板１４の表面１８との間の寸法Ｄは、約０．０２２インチから約０．０６２インチ（これらの値をも含む）の間であることが可能である。寸法Ｄは、好ましくは、試験板１４の表面１８から上に最大約０．０６２インチである。
【００２２】
本発明について、現在最も実用的かつ好適な実施形態と考えられるものに関連して説明したが、本発明が開示された実施形態に限定されず、むしろ、付随の請求項の精神および範囲内に含まれる種々の修正および同等の配置を対象とするように意図されることを理解されたく、請求項の範囲は、法の下で許可されるこのような修正および同等の構造の全てを包含するように、最も広義に解釈される。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
2010517058.tif 000013
【図１１Ａ】
2010517058.tif 000014
【図１１Ｂ】
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【図１２】
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【国際調査報告】
2010517058.tif 000017
2010517058.tif 000018
2010517058.tif 000019