(57)【要約】  本発明は、Ｘ線照射源（１２）と、複数の検出器（７４）を有する検出部（１４）とを有するＸ線装置に関する。検出器（７４）は、検出器（７４）に衝突したＸ線の一部を吸収するのみであり、平行して間隔を空けて連続的に配置される。Ｘ線装置及び／又は検出部によって、照射が貫通した物体の複数の部分的な表示であって、間に間隔を空けた焦点面に対応する部分的な表示を単一の写真によって取得することが可能になる。
2010524603.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ａ）物体（８２）を貫通照射するＸ線照射源（１２）であって、第１の駆動手段（４８´）によってソース経路（８６）に沿って動くことができるＸ線照射源（１２）と、
ｂ）前記物体（８２）を貫通した後にＸ線照射が衝突する検出部（１４）であって、第２の駆動手段（４８）によって検出経路（８８）に沿って変位することができる検出部（１４）と、
を有し、
ｃ）前記検出部（１４）は、少なくとも２つの検出器（７４、７６）であって、
ｃａ）Ｘ線光に反応して、
ｃｂ）平行に間隔を空けて連続的に配置される、
検出器（７４、７６）を有し、これによって、
ｄ）前記検出器（７４、７６）はそれぞれ、場合によっては最後尾を除き、前記検出器（７４、７６）に衝突した前記Ｘ線照射の一部のみを吸収する、
ことを特徴とするＸ線装置。
【請求項２】
前記ビームの方向に垂直に向いている前記検出器（７４、７６）の第１の表面は、実質的に平面である、請求項１に記載のＸ線装置。
【請求項３】
前記検出器（７４）は、検出用箔（７４）、具体的には記憶用箔である、請求項１又は請求項２に記載のＸ線装置。
【請求項４】
前記検出器（７６）は、ＣＣＤ検出器、又はＣＭＯＳ検出器である、請求項１又は請求項２に記載のＸ線装置。
【請求項５】
３個〜１１個の間の検出器（７４、７６）が提供される、請求項１〜請求項４の何れか一項に記載のＸ線装置。
【請求項６】
３個の検出器（７４、７６）が提供される、請求項５に記載のＸ線装置。
【請求項７】
５個の検出器（７４、７６）が提供される、請求項５に記載のＸ線装置。
【請求項８】
７個の検出器（７４、７６）が提供される、請求項５に記載のＸ線装置。
【請求項９】
前記物体（８２）の外面形状の上の焦点面（９０）の位置及び数に対応する線模様を発出する発光部（９４）が提供される、請求項１〜請求項８の何れか一項に記載のＸ線装置。
【請求項１０】
前記発光部（９４）は、前記焦点面（９０）の数に対応する発光ダイオード（９６）アレイを有する、請求項９に記載のＸ線装置。
【請求項１１】
少なくとも２次元的に解像し、且つＸ線光感受性を有する少なくとも１つの検出器（７４、７６）であって、
ａ）平行に間隔を空けるように配置される少なくとも２つの検出器（７４、７６）が提供され、
ｂ）前記検出器（７４、７６）は、場合によっては最後尾を除き、部分的にのみＸ線照射を吸収する、
ことを特徴とする、請求項１〜請求項１０の何れか一項に記載のＸ線装置用検出部。
【請求項１２】
入射窓（８０）を除き、不透過性材料から製造される筐体（６２）が提供される、請求項１１に記載の検出部。
【請求項１３】
前記筐体（６２）の側壁（６６）に、前記検出器（７４、７６）を前記筐体（６２）に挿入できる隙間(６８)が形成される、請求項１１又は請求項１２に記載の検出部。
【請求項１４】
前記検出器（７４、７６）は、前記筐体（６２）内部のガイド溝（７２）に嵌り込む、請求項１１〜請求項１３の何れか一項に記載の検出部。
【請求項１５】
前記筐体（６２）の側壁（８０）は、プラスチックフィルム、具体的には、ポリエチレン・テレフタレートからなる黒く塗られた膜を有する、請求項１１〜請求項１４の何れか一項に記載の検出部。
【請求項１６】
前記筐体（６２）の側壁（８０）は、原子数が少ない金属からなり、低い程度のみでＸ線照射を吸収する、箔である、請求項１１〜請求項１４の何れか一項に記載の検出部。
【請求項１７】
検出用箔（７４）、具体的には記憶用箔は、検出器の手段として提供される、請求項１１〜請求項１６の何れか一項に記載の検出部。
【請求項１８】
ＣＣＤ検出器（７６）又はＣＭＯＳ検出器（７６）は、検出器の手段として提供される、請求項１１〜請求項１７の何れか一項に記載の検出部。
【請求項１９】
前記検出部（１４）のために、前記検出経路（８８）に沿って動くときに前記検出部（１４）を前記検出経路（８８）に平行に向かせ続けるサーボ駆動（４４）が提供される、請求項１１〜請求項１８の何れか一項に記載の検出部。
【請求項２０】
前記検出部（１４）のために、前記検出経路（８８）に沿って動くときに前記検出部（１４）を前記ビームの方向に垂直に向かせ続けるサーボ駆動（４４）が提供される、請求項１１〜請求項１７の何れか一項に記載の検出部。
【請求項２１】
前記検出部（１４）は、以下に挙げられる検出器型の少なくとも２つを含む：ハロゲン化銀フィルム、記憶用箔、及び画像変換器ベース検出器、請求項１１〜請求項２０の何れか一項に記載の検出部。
【請求項２２】
前記検出部（１４）は、前記Ｘ線照射源（１２）から照射される前記Ｘ線照射への応答が異なる、少なくとも２つの検出器（７４、７６）を有する、請求項１１〜請求項２１の何れか一項に記載の検出部。
【請求項２３】
前記検出器（７４、７６）の実効的なＸ線横断面がビームの方向に増加する、請求項２２に記載の検出部。
【請求項２４】
前記検出器（７４、７６）に吸収されるＸ線光の量が実質的には同一なように、前記実効的な横断面の増加が選択される、請求項２３に記載の検出部。
【請求項２５】
前記検出部（１４）の前記検出器（７４、７６）の少なくとも１つに、前記検出経路（８８）に沿って動くときに、前記検出器平面に平行に、又は後者に平行でなく前記検出器（７４、７６）を付加的に動かすサーボ駆動が提供される、請求項１１〜請求項２４の何れか一項に記載の検出部。
【請求項２６】
前記付加的な動きは、前記検出部（１４）の運動に比例する、請求項２５に記載の検出部。
【請求項２７】
前記追加的な動きは、考慮される前記検出器（７４、７６）とビーム方向から見る前記検出部（１４）の中心との間隔に比例する、請求項２５又は請求項２６に記載の検出部。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、
ａ）物体を貫通照射するＸ線照射源であって、第１の駆動手段によって変位経路に沿って変位することができるＸ線照射源と、
ｂ）物体を貫通した後にＸ線照射が衝突する検出部であって、第２の駆動手段によって検出変位経路に沿って動くことができる検出部と、
を有するＸ線装置に関する。
【０００２】
さらに、本発明は、照射線感受面を有し、少なくとも２次元的に解像する（resolving）少なくとも１つの検出器を有する、Ｘ線装置用検出部に関する。
【背景技術】
【０００３】
上記の型のＸ線装置において、検出部は、平面な照射線感受面を有する一体化された２次元解像検出器を従来から有する。これに関して、ＣＣＤセンサ、ＣＭＯＳセンサなどデジタル処理で読み出し可能な記憶用箔（foil、はく）が問題になる可能性がある。
【０００４】
Ｘ線照射の間、Ｘ線照射源と検出部とは、共通する回転の中心（centre  of  rotation）の周りを動く。このため、検出器と回転の中心との空間の割合と、Ｘ線照射源と回転の中心との空間の割合とは、同一を維持する。
【０００５】
回転では、Ｘ線照射源と検出部とは、平行な直線経路を反対方向に動く。回転の中心は、Ｘ線照射源及び検出部の経路に平行な経路を変位する。
【０００６】
検出器は、照射線源に向かう検出器の平面が検出部の経路と平行に広がるように配置される。そして、Ｘ線照射源は、Ｘ線照射が検出部に衝突するように、すなわちより正確には、貫通照射するために物体を貫通した後に検出器にＸ線照射が衝突するように、検出部の位置に従って回転する。
【０００７】
物体の場合、Ｘ線装置の医療用途の場合は、患者の身体の一部が重要である。特に、Ｘ線装置の歯科用途の場合は、患者の顎弓、又は歯列弓が重要である。
【０００８】
経路に沿ったＸ線照射源及び検出部の変位の間、複数の信号照射が発出される。これらが組み合わされ、全体の画像となる。
【０００９】
それぞれの信号照射が狭いため、平面投射領域を配置する必要がある。この領域の中で、Ｘ線照射が貫通した患者の組織が鮮明に画像化される。簡単にいうと、それぞれの場合で、垂直の狭い領域である単一画像が適当に組み合わされる。
【００１０】
検出部とＸ線照射源とが運動面を同時に動くために、鮮明な画像は、焦点面と称される１つの平面のみで取得される。焦点面は、Ｘ線照射源と検出部との運動面と平行に配置され、回転の中心を含む。この焦点面に平行な平面は、焦点面からの距離及び、旋回角の増加につれて、ピントがずれた、すなわち不鮮明な形で画像化される。
【００１１】
上述の標準的な方法の不利な点は、物体のＸ線密度を正確に捕捉できる面が、１つの焦点面のみであることである。このため、しばしば適切な診察が十分に行えないことになる。
【００１２】
この対応として、コンピュータ断層撮影法が開発された。この方法では、Ｘ線照射源と検出部とが物体の周りを約１８０度回転し、Ｘ線画像は、回転のそれぞれのステップ幅（angular  step）で捕捉される。このように記録された複数の２次元Ｘ線画像から、Ｘ線密度の３次元データは、数値解析方法により解明できる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
コンピュータ断層撮影法の不利な点は、複数のＸ線画像を記録するために照射の間に患者が受けるＸ線線量が非常に多いことである。さらに、所望の３次元画像を取得するためには、集中的な計算量が必要である。
【００１４】
さらにまた、個別の特別な解析のために必要なデータ以上のデータ量がしばしば計算される。同様に、これが、必要以上に大きいＸ線線量に関連する。
【００１５】
本発明の目的は、高分解能であるいくつかの部分画像を比較的低いＸ線線量で生成でき、これによって計算量を非常に少なく維持するＸ線装置及びＸ線装置用検出部を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上述のＸ線装置に関して、この目的は、
ｃ）検出部は、少なくとも２つの検出器であって、
ｃａ）Ｘ線光に反応して、
ｃｂ）平行に間隔を空けて連続的に配置される検出器、
を有し、これによって、
ｄ）検出器はそれぞれ、検出器に衝突したＸ線照射のわずかのみ吸収する、
ことによって、実現される。
【００１７】
上述の検出部に関して、この目的は、
ａ）検出器の表面が互いに平行に広がるようで配置された少なくとも２つの検出器を提供し、
ｂ）その検出器は、部分的にのみＸ線照射を吸収する、
ことによって実現される。
【００１８】
言い換えると、検出器の照射線感受面は、照射線方向に対して連続的に配置される。鮮明な画像を取得する焦点面の位置は、照射線源と検出器との間隔に依存する（特に、管電圧、照射時間、ビーム電流、及びビーム横断面を含む所定の照射パラメータが与えられる）。
【００１９】
ビーム方向に間隔を空ける少なくとも２つの検出器では、Ｘ線照射源と検出器との２つ間隔も異なるので、それぞれの検出器で、他の焦点面と間隔を空けて焦点面がそれぞれ割り当てられることになる。
【００２０】
このように、検出器の数に対応するいくつかの断層画像が単一の照射で形成できる。
【００２１】
本発明の有利な構造は、従属クレームによって特定される。
【００２２】
本発明の典型的な実施形態は、添付した図面に基づいてより以下に詳細に説明されることになる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】Ｘ線装置の上面を概略的に示した図である。
【図２】図１に係るＸ線装置の斜視図である。
【図３】センサ部の第１の典型的な実施形態である。
【図４】センサ部の第２の典型的な実施形態である。
【図５】３つの検出器を有する検出部が示される、図１及び図２に係るＸ線装置の可能な動作の原理を概略的に説明した図である。
【図６】５つの検出器を有する検出部が示される、図５に対応する図である。
【図７】Ｘ線照射がすでに貫通した検出器の数に依存する、Ｘ線照射の減少を定性的に示す図である。
【図８】顎の円弧形状部の画像化の場合の画像化条件を概略的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
図１及び図２において、符号１０によってＸ線装置が全体的に示される。
【００２５】
Ｘ線装置１０は、Ｘ線照射源１２と、検出部１４とを有する。これらは、関節を有する運動可能なバーリンク機構（movable  articulated  bar  linkage）１６によって運搬される。後者は、ピストンロッド２０を有する油圧シリンダ１８によってＺ方向に変位可能である。油圧リシンダ１８は、ここでは図示されない構築物の壁面、又は適切な枠組みに固定される。
【００２６】
図１及び図２に示すＸＹＺ座標システムの場合には、Ｚ軸は、ピストンロッド２０の軸と一致する。Ｘ軸とＹ軸とはそれぞれ、空間に固定される。
【００２７】
ピストンロッド２０は、二重ジョイント（double  joint）２２を自由端に有する。二重ジョイント２２の第１のジョイント部２４は、電気モータ２６によってＺ軸の周囲を回転でき、アームジョイント３２の第１のジョイント部３０に内部支持バー２８を介して堅固に接続される。
【００２８】
アームジョイント３２の第２のジョイント部３４は、電気モータ３６によって、Ｚ軸の周囲を回転でき、終端ジョイント４２の第１のジョイント部４０に外部支持バー３８を介して堅固に接続される。
【００２９】
終端ジョイント４２の第２のジョイント部４６は、電気モータ４４によってＺ軸の周囲を回転でき、検出部１４を有する。
【００３０】
上述の構成素子２４〜４６は、関節を有するバーリンク機構１６の第１の主要アーム４８を形成する。第２の主要アーム４８´は、主要アーム４８と同一の構成素子を有し、図１及び図２において、対応する参照符号に「´」を付した符号が付される。
【００３１】
終端ジョイント４２´の第２のジョイント部４６´は、Ｘ線照射源１２を有する。
【００３２】
Ｘ線照射源１２と検出部１４とは、共通のＸＹ平面内において実質的に同一の高さに配置される。このため、主要アーム４８´の構成素子２４´〜４６´の場合、最上部と最下部とで同一の垂直寸法を有する主要アーム４８の対応する構成要素に関して反転している。
【００３３】
図１で理解できるように、電気モータ２６、３６、４４及び２６´、３６´、４４´はそれぞれ、配線５０、５２、５４及び５０´、５２´、５４´を介して制御／計算部５６に接続される。
【００３４】
Ｘ線照射源１２は、管電圧、露出時間、ビーム電流、ビーン横断面などＸ線照射源を選択する露出パラメータを調整できるように、配線５８を介して制御／計算部５６と通信する。
【００３５】
対応するパラメータは、キーボード５５の手段で制御／計算部５６に入力できる。
【００３６】
さらに、制御／計算部５６は、ここでは図示されていない制御バルブに配線６０を介して接続される。これによって、圧力手段のポンプは、油圧シリンダ１８に接続できる。シリンダロッド２０の位置を調整することにより、関節を有するバーリンク機構１６のＺ軸上の位置を調整できる。
【００３７】
さらに、Ｘ線装置１０は、発光部（luminous  unit）９４を有する。これは、後により正確に説明されることになる。
【００３８】
図３は、センサ部１４の典型的な実施形態を示す図である。後者は、可視光を透過せずにＸ線を透過する材料からなる筐体６２を有する。上部壁６４は、部分切り欠きで示される。
【００３９】
上部壁６４に対して垂直に立っている側壁６６は、光の入射に対して保護され、互いに均等の間隔を有し、上部壁に対して垂直に伸びる５つのスロット６８を有する。筐体の内部には、側壁６６に平行するガイド溝７２が側壁面７０に提供される。上部壁及び側壁にも平行するが、図３では確認できない。またこれに関係して、明瞭化のために、上部壁の内部に配置されたガイド溝は、示されていない。
【００４０】
ガイド溝７２には、デジタル処理で読み取り可能な検出用箔（detector  foils）が嵌り込むが、検出用箔は、スロット６８を介して筐体６２のガイド溝７２に挿入される。
【００４１】
検出用箔７４は、照射源の方を向く平面７５を有し、衝突するＸ線照射を完全には吸収せず、部分的にのみ吸収するような材料から生成される。これは、以下に詳細に説明する。
【００４２】
標準的なハロゲン化銀のＸ線フィルムと、記憶用箔との双方、及びＸ線フィルムと記憶用箔との組合せなどにより、この特性を有する。記憶用箔は、透過性を有するプラスチック母材の中に、Ｘ線光によって励磁が安定状態になる色中心（color  center）を有するリンを含む粒子を包含する。読み出しレーザビームによってスキャンすることによって、励磁状態は、蛍光光源の照射にともなって、より高い状態に励磁され、すぐに安定する。後者を検出することによって、記憶用箔に潜在している画像を読み出すことができる。
【００４３】
図４に示す代替的な実施形態の方法によれば、図３に対応する検出部１４が示され、検出用箔７４の代わりにＣＣＤ検出器又はＣＭＯＳ検出器７６が取り入れられている。使用される検出器７６は、平面的且つ照射線感受性を有する表面７７を有し、表面７７はそれぞれ、動作状態ではＸ線源に向けられ、衝突するＸ線照射を部分的にのみ吸収する。
【００４４】
検出器７６は、可視光に反応する標準的なＣＣＤ検出器又はＣＭＯＳ検出器にできる。これらは、Ｘ線を（部分的に）吸収する発光性材料（luminescent  material)層とともに提供されるか、又は適当な蛍光性スクリーン（fluorescent  screen）の後方に配置される。
【００４５】
筐体６２の構成によって、検出用箔７４、又は検出器７６は、動作状態においてＸ線源に向けて位置するそれぞれの平面７５及び７７が互いに平行に配置されるように、検出部内で梯陣を形成して連続的に配置される。
【００４６】
ＣＣＤ検出器又はＣＭＯＳ検出器７６を使用するとき、複数の心線を有するデータラインケーブル７８を介して制御／計算部５６に接続される。データラインケーブル７８は、図１及び図２において点線で表される。制御／計算部５６がデータを受信するとき、制御／計算部５６は、データを直接評価してそれぞれの検出器７６の２次元画像をデータから生成するか、ここでは示されていない外部のコンピュータに制御／計算部５６から評価のためにデータを転送するかのいずれかを行う。
【００４７】
また、データラインケーブル７８は、赤外線データ伝送リンク、ブルートゥースデータ伝送リンクなどのような無線データ伝送リンクによって置換できる。
【００４８】
筐体６２の側壁は、上述のように、Ｘ線源１２の方に向けられ、図３及び図４において参照符号８０で示され、ポリエチレン・テレフタレートからなる黒く塗られた薄膜、又は原子数が少ない金属からなる金属薄膜などのような、低い程度のみでＸ線照射を吸収する材料からなる。
【００４９】
また、光を通さないシース（light-proof  sheaths）を有するＣＣＤ検出器又はＣＭＯＳ検出器７６が使用された場合、筐体６２の側壁８０は、全て除去することができる。そして、平行に間隔を空けて検出器７６を保持するために必要な筐体部分のみが必要になる。
【００５０】
可視光を透過しない保護シース内の検出用箔(Ｘ線フィルム又は記憶用箔）についても同様である。
【００５１】
図３及び図４にそれぞれ示す検出用箔７４又は検出器７６の数と異なり、筐体６２は、５よりも多い又は少ない数に調節して検出用箔７４又は検出器７６を構成することもできる。特に、３つの検出用箔７４又は検出器７６が考慮に入れられるが、中間の数と同様に、７、９又はそれ以上の検出用箔７４又は検出器７６を使用できる。
【００５２】
また、検出部において検出用箔と検出器とを組み合わせることにより、目で認識可能な画像を提供するスピードとともに、解像度及び感受性に関して、特別に有利な点からともに利益を得ることができる。
【００５３】
図５及び図６では、一方では、３つの検出器７４Ａ、Ｂ、Ｃ又は７６Ａ、Ｂ、Ｃを使用して（図５）、他方では、５つの検出器７４Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ又は７６Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅを使用する（図６）、Ｘ線装置１０の可能な動作モードが示される。
【００５４】
それぞれの場合において、検出部１４の動きについて２つの変形が示される。変位経路８８と平行に保持される検出用箔７４又は検出器７６の実線で示す動き、及びＸ線ビームと垂直になるように一緒に回転する検出用箔７４又は検出器７６の破線で示す動きである。
【００５５】
強い光線を透過させる物体として、例示的な方法で、患者の歯列弓８２の円弧形状部が示されるが、これは、図１にも示したものである。
【００５６】
図５では、Ｘ線照射源１２は、３つの異なる位置ＲＡ、ＲＢ、及びＲＣで示される。照射源の直線的な変位経路８６に沿ってＸ線照射源１２が動くように、関節を有するバーリンク機構１６の主要アーム４８´が電気モータ２６´及び３６´によって動くので、Ｘ線照射源１２は、照射の間にこれら３つの位置を横断する。
【００５７】
Ｘ線照射源１２が変位する間、後者は、Ｘ線照射源１２の照射線出力ポート８４が検出部１４の方向に常に向くように、電気モータ４４´によって、回転される。
【００５８】
さらに、照射の間、検出部１４は、電気モータ２６及び３６の適当な駆動を介して主要アーム４８によって、Ｘ線照射源１２の動きに対して反対に、検出部の直線的な変位経路８８に沿って変位する。図５及び図６に示すように、これは、Ｘ線照射源１２が位置ＲＡ、ＲＢ、及びＲＣに位置するときに、検出部１４は、位置ＳＡ、ＳＢ、及びＳＣにそれぞれ位置することを意味する。
【００５９】
電気モータ４４によって、検出部１４は、それぞれの場合にＸＺ平面に広がる検出用箔７４又は検出器７６の照射線感受面７５又は７７がそれぞれ常に変位経路８８に平行に向くように、変位経路８８に沿って動く間、Ｚ軸の周りを回転する。これは、図５及び図６において容易に識別される。
【００６０】
Ｘ線照射源１２及び検出部１４の位置が図５及び図６に示す以外である場合の状況は、同様に考えられる。
【００６１】
湾曲する焦点曲面に対応して別々に歯列弓の全体が捕捉する場合、図８に示すように、Ｘ線ビームに効果があり、常にＸ線照射が垂直に打つ縦の（Ｚ方向に広がる）スリット１００を検出部１４の手前に配置して、中央の焦点曲面９０Ｂの外側に回転の中心を配置すると良い。
【００６２】
図８において３つの照射位置で示すように、歯列弓８２の周りをＸ線照射源１２が動く間、後方に配置される３つの検出用箔７４Ａ、７４Ｂ、及び７４Ｃは、Ｘ線照射源１２の回転角により回転するとともに、Ｘ線スリット１００に対して直線的に変位する。
【００６３】
ここで、例として、歯列弓８２のほぼ円弧形状が仮定され、Ｘ線照射源１２は、常に焦点曲線と垂直であるように、歯列弓内部の円筒状の焦点曲面から固定された間隔を動く。
【００６４】
同様に、３つの検出用箔７４Ａ、７４Ｂ、及び７４Ｃ（又は３つの検出器７６）は、関連する焦点曲面９０Ａ、９０Ｂ、及び９０Ｃから固定された間隔でＸ線スリット１００と保持され、同一の角度で回転する。この場合、回転の中心９２は、中心に配置される。すなわち回転の中心９２は、検出用箔７４Ａ、７４Ｂ、及び７４Ｃに鮮明に画像化される焦点曲面９０Ａ、９０Ｂ、及び９０Ｃの曲率中心に配置される。
【００６５】
このように、記憶用箔７４は、ポイントＰ１がポイントＰ１´に変化し、ポイントＰ２がポイントＰ２´に変化するように、角度ｗで回転経路を変位する。
【００６６】
検出用箔の積層、スリット１００、及びＸ線照射源１２のこの形式の運動によって、他の記憶用箔７４Ａ、及び７４Ｃが同一の距離を変位した場合、焦点曲面９０Ａ、９０Ｂ、及び９０Ｃの部分画像に対応する画像が梯陣を形成して連続的に検出用箔７４Ａ、７４Ｂ、及び７４Ｃに記録する。
【００６７】
検出用箔の積層において、検出用箔の間隔を変更することによって、円形の焦点曲面９０Ａ、９０Ｂ、及び９０Ｃの間隔を操作することができる。
【００６８】
同様に、記憶用箔７４Ａ、及び７４Ｃの並進速度を異なるように選択することが可能である。また、焦点曲面の間隔は、この手段で操作される。例えば、変位経路８８の方向に記憶用箔７４Ｃがより速く変位する場合、関連する焦点曲面９０Ｃは、外側に動く。
【００６９】
Ｘ線照射源１２及び検出部１４の全体的な動作シーケンスは、序論で述べたように、照射の間、検出器７４又は７６上の単一画像の垂直の狭い照射領域が全体の画像を形成するように組み合わされて画像化されるように、互いに調和する。
【００７０】
検出部１４において、衝突するＸ線照射の一部のみを吸収するいくつかの検出用箔７４又は検出器７６が提供されることから、それぞれの検出用箔７４又は検出器７６には、この場合、歯列弓８２の異なる部分の画像が生成される。
【００７１】
図５の検出部１４において、３つの検出用箔７４Ａ、７４Ｂ、及び７４Ｃが提供される。これらの検出用箔に画像化される部分的な平面は、それぞれの場合が実線で表された焦点曲面９０Ａ、９０Ｂ、及び９０Ｃに対応する。
【００７２】
図５で理解できるように、焦点面９０Ａ、９０Ｂ、及び９０Ｃは、検出部１４内部の検出用箔７４Ａ、７４Ｂ、及び７４Ｃの配置に対応して、梯陣を形成して連続的に配置される。
【００７３】
焦点面９０Ａと９０Ｂとの間、及び９０Ｂと９０Ｃとの間のそれぞれの間隔ｄは、Ｘ線照射源１２と検出部１４との双方の配置、及び検出部１４内で互いに関係する検出用箔７４の配置に依存する。
【００７４】
Ｘ線照射源１２の位置ＲＢと検出部１４の位置ＳＢの様に、Ｘ線照射源１２の位置と検出部１４の位置とが正反対であると仮定した場合、調整された焦点面９０の間の間隔ｄは、以下のように解明される。
【００７５】
中央の検出用箔７４Ｂと回転の中心９２との間の間隔をａとし、Ｘ線照射源１２と回転の中心９２との間の間隔をｂとし、調整された検出用箔７４Ａと７４Ｂとの間、及び７４Ｂと７４Ｃとの間の間隔をｃとした場合、調整された焦点面９４Ａと９４Ｂとの間、及び９４Ｂと９４Ｃ間の間隔をｄは、
ｄ＝ｂ×ｃ／（ａ＋ｂ）
にしたがって計算される。
【００７６】
それぞれの間隔は、対応する文字によって図５及び図６に示される。ここでは、図示される状況は、実際の状況とは定量的に対応していない。
【００７７】
３つの検出用箔７４Ａ〜７４Ｃを使用することにより、互いに間隔ｄを有してなる３つの焦点面９０Ａ〜９０Ｃを生じる。
【００７８】
この場合、焦点面９０の位置及び間隔ｄを計算するため、及び間隔ｂを決定するために利用されるＸ線照射源１２の位置は、平均化されたＸ線陰極の配置などの平均化されたＸ線照射が発生する場所であると理解される。
【００７９】
図において、Ｘ線照射源１２は、概略的に円柱で示される。平均化されたＸ線照射が発生する場所は、円柱の軸の中心にあると仮定される。
【００８０】
図６は、５つの検出用箔７４Ａ〜７４Ｅを使用する検出部１４を有する配置を示す。図５に係る典型的な実施形態と比較すると、検出部１４は、Ｘ線照射源１２の方向により近く配置される付加的な記憶用箔７４９２と、検出部１４の方反対向に提供される付加的な記憶用箔７４Ｅとを有する。
【００８１】
したがって、検出箔７４Ａ〜７４Ｅ上に、それぞれの場合、焦点面９０Ａ、９０Ｂ、９０Ｃ、９０９２、及び９０Ｅが鮮明に画像化される。その中で、それぞれの場合、２つの近接した焦点面は、互いに上述の式によって計算される間隔ｄを有する。
【００８２】
検出用箔７４で構成される例示に基づいて説明された間隔ｄの計算は、ＣＣＤ検出器又はＣＭＯＳ検出器７６の場合に、類似的に取り組まれる。この場合、間隔ａ及びｂを決定するために、照射線感受面部７７は、参照寸法（reference  quantity）として取り扱われる。
【００８３】
Ｘ線照射源１２と検出部１４とを互いに関連して配置し、そしてまた、いくつかの検出用箔７４又は検出器７６若しくはこれらの組合せを連続するように配置することによって、連続して配置されるいくつかの焦点面９０を１つの照射のみで有し、それぞれの検出用箔７４又は検出器７６に物体のＸ線密度を鮮明に画像化することが可能である。これに必要な照射線量（歯科の場合、ここでは歯列弓８２によって構成される例示に基づいて説明される口内のＸ線画像など）は、標準的な単一の口内露出の場合と同一のオーダの大きさである。
【００８４】
検出用箔７４又は検出器７６によって伝送されるＸ線照射は、使用する検出用箔７４又は検出器７６に対応する数の画像を同一の照射線負荷（radiation  burden）で生成できるように、その後方に位置する検出用箔７４又は検出器７６に伝送される。
【００８５】
図７は、平均Ｘ線エネルギが約３５ｋｅＶに相当する管電圧７０ｋＶの場合での、１０個の標準的な口内検出用箔の積層におけるＸ線光強度の減少を概略的に示す図である。
【００８６】
図７から定性的に理解できるように、Ｘ線照射は、いくつかの検出用箔を貫通した後もまた比較的高い強度を有している。これは、それぞれにおいて後続の検出用箔に画像を生成するのに十分である。
【００８７】
焦点面９０の外側に位置する平面は、検出器７４又は７６にピントがずれて表れる。
【００８８】
検出用箔７４を使用して、デジタルで読み出した後に、捕捉された部分画像は、対応する検出用箔７４に割り当てられる焦点面９０の外側に位置する画像面から中間のＸ線密度を除去する、従来の画像編集によって編集できる。
【００８９】
ＣＣＤ検出器７６又はＣＭＯＳ検出器７６を使用することによって、画像編集は、制御／計算部５６、又は上述の外部コンピュータによって自動的に達成される。
【００９０】
上述の発光部９４は、Ｘ線照射源１２及び検出部１４の高さで二重ジョイント２２に合わせられる。発光部９４は、使用する検出器７４及び７６の数に応じて、発光ダイオード９６アレイなどによって物体の方に向けて直線的な方法でＸＺ平面に光を投射する。
【００９１】
ビーム光に割り当てられるＸＺ平面の間の間隔と、その位置はそれぞれ、焦点面９０の間の間隔と、焦点面９０の位置とに対応する。
【００９２】
このようにして、物体８２の外面形状に基準線を投射して、焦点面９０の位置に従ってＸ線を照射する前に、物体８２を正しい位置の置くことができる。
【００９３】
発光ダイオード９６の個々のアレイは、電気モータ９８によってＹ軸上を変位できる。種々の検出部１４の応用において、検出器７４又は７６の間の間隔ｃが異なっていることが明らかになった場合、計算される間隔ｄに従って互いに関係して配置できる。
【００９４】
上述のいくつかの部分画像の生成の基本的な原理は、それぞれＸ線照射源１２と検出部１４との直線的な経路８６及び８８の場合のみに適用できるのではない。
【００９５】
Ｘ線照射源と検出部とが弓型の経路を動く場合など、パノラマＸ線撮影と称される場合での使用も考慮に入れることができる。
【００９６】
下記に示す、上述の典型的な実施形態のさらなる変形が可能である。
【００９７】
検出部１４は、以下に挙げられる検出器型の少なくとも２つを含む：ハロゲン化銀フィルム（silver-halide  films）、記憶用箔、及び画像変換器ベース検出器（image-converter-based  detector）。
【００９８】
検出部１４は、Ｘ線照射源１２から照射されるＸ線ビームへの応答が異なる、少なくとも２つの検出用箔７４及び／又は検出器７６を有する。
【００９９】
好適には、検出器の実効的なＸ線横断面がビームの方向に増加する。
【０１００】
検出器に吸収されるＸ線光の量が実質的には同一なように、検出器の実効的な横断面を増加することを選択した場合、検出器によって生成される画像は、実質的に同一の色調密度（tone  density）及びコントラストを有する。
【０１０１】
検出部の検出器の少なくとも１つに、検出経路に沿って動くときに、検出器平面に平行に、又は後者に平行でなく検出器を付加的に動くサーボ駆動が提供される場合は、焦点面の位置は、この手段によって操ることができる。
【０１０２】
これに関係して、好適には、付加的な動きは、検出部１４の運動に比例する。
【０１０３】
また好適には、追加的な動きは、考慮される検出器（detector  being  considered）とビーム方向から見る（view  in  the  beam  direction）検出部の中心との間隔に比例する。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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