(57)【要約】  スプリング接点アセンブリは、平坦接触面を有する後部部分を備えた第１のプランジャー、および平坦接触面を備えた後部部分を有する第２のプランジャーを有する。そして、スプリング接点アセンブリにおいて、複数の平坦接触面は、オーバーラップしており、外側圧縮スプリングに囲まれ、平坦面の摺動係合がスプリングの圧縮時に増加する。
2010539672.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スプリング接点アセンブリであって、
後部部分の長さに沿った平坦接触面を有する後部部分を有する第１接触部材と；
後部部分の長さに沿った平坦接触面を有する後部部分を有する第２接触部材と；
第１接触部材の後部部分と第２接触部材の後部部分に取付けられた圧縮スプリングであって、それにより第１接触部材の後部部分の平坦接触面は、第２接触部材の後部部分の平坦接触面と摺動可能に係合し、スプリングの圧縮時に平坦面の摺動係合を増加させて第１接触部材および第２接触部材のねじりスプリング力に打ち勝つ圧縮スプリングと；
を備えるスプリング接点アセンブリ。
【請求項２】
前記スプリングは、縮小された直径の座巻を含み、該座巻は後部部分と係合する請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項３】
前記スプリングは、縮小された直径のコイル部を含み、該コイル部は後部部分と係合する請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項４】
第１接触部材および第２接触部材の少なくとも１つは円筒状である請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項５】
第１接触部材および第２接触部材の両方が円筒状である請求項４に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項６】
第１接触部材および第２接触部材の少なくとも１つは、平坦な構造である請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項７】
第１接触部材および第２接触部材の両方が平坦な構造である請求項６に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項８】
第１接触部材および第２接触部材の後部部分の平坦面は、平行であり、円筒状の後部部分直径の中線より上にある請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項９】
第１接触部材および第２接触部材の後部部分の平坦面は、円筒状の後部部分直径の中線に対して角度を付けて形成される請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１０】
第１接触部材および第２接触部材の後部部分の平坦面は、円筒状の後部部分直径の中線の周りの螺旋状に形成される請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１１】
前記アセンブリが圧縮される時、第１の後部部分あるいは第２接触部材の端部は、圧縮スプリングの座巻を越えて伸びる請求項７に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１２】
後部部分の縁面が除去される請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１３】
第１接触部材あるいは第２接触部材の少なくとも１つは、後部部分に溝を含む請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１４】
第１接触部材の後部部分は平坦であり、第２接触部材の後部部分は第１プランジャーの後部部分を収容するために内部で対向した２つの平坦面を備える請求項１に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１５】
後部部分の長さに沿った接触面を有する後部部分を有する第１の平坦な接触部材と；
後部部分の長さに沿った接触面を有する後部部分を有する第２の平坦な接触部材と；
第１の平坦な接触部材の後部部分、および第２の平坦な接触部材の後部部分に取付けられた圧縮スプリングと；
を備えるスプリング接点アセンブリであって、
傾斜構造において、第１の平坦な接触部材の後部部分の接触面は、第２の平坦な接触部材の後部部分の平坦接触面と摺動可能に係合し、
傾斜構造は、スプリングにより摺動面に供給される軸方向力の移転により、スプリング圧縮時に平坦接触面の摺動係合を増加させる、スプリング接点アセンブリ。
【請求項１６】
スプリングは、後部部分と係合する縮小された直径の座巻を含む請求項１５に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１７】
スプリングは、後部部分と係合する縮小された直径の中心コイルを含む請求項１５に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１８】
前記後部部分は拡大された端部を有し、該拡大された端部は縮小された直径の中心コイルを通過する請求項１７に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項１９】
前記後部部分は連結するタブを有する請求項１６に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項２０】
第１接触部材は３次元の接触チップを有する請求項１５に記載のスプリング接点アセンブリ。
【請求項２１】
スプリング接点アセンブリであって、
後部部分の長さに沿った接触面を有する後部部分を有する第１の平坦な接触部材と；
後部部分の長さに沿った接触面を有する後部部分を有する第２の平坦な接触部材であり、第２の平坦な接触部材の後部部分の接触面は、摺動自在に第１の平坦な接触部材の後部部分の接触面と係合する第２の平坦な接触部材と；
後部部分の長さに沿った接触面を有する後部部分を有する第３の平坦な接触部材と；
後部部分の長さに沿った接触面を有する後部部分を有する第４の平坦な接触部材であり、第４の平坦な接触部材の後部部分の接触面は、摺動自在に第３の平坦な接触部材の後部部分の接触面と係合する第４の平坦な接触部材と；
第１、第２、第３、および第４の平坦な接触部材の後部部分に取付けられている一つの圧縮スプリングと；
を備え、
第１の平坦な接触部材および第２の平坦な接触部材は、第３の平坦な接触部材および第４の平坦な接触部材から電気的に分離されて、前記アセンブリ内に２つの独立した電気の通路がある、スプリング接点アセンブリ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気の相互接続を形成する電気接触プローブに関し、特に、移動可能でオーバーラップする２つのプランジャーを有し、該プランジャーが外側スプリングに囲まれた平坦な接触面を有する、スプリング接点アセンブリに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のスプリングにより負荷された接触プローブは、一般的に、可動プランジャー、およびプランジャーの拡大された直径部分を収納するための開放端、およびバレルの中にプランジャーの移動を付勢させるためのスプリングを有するバレルを含む。プランジャー・ベアリングは、摺動可能にバレルの内面と係合する。拡大されたベアリング部分は、バレル開放端の近くのひだによりバレルの中に保持される。プランジャーは、スプリングにより一般に外に向かって（選択された距離）付勢される。そして、それは、スプリングに反抗して向けられた力の下で、バレルの内へ（選択された距離）付勢されてもよいし押圧されてもよい。軸、そして、バレルに対するプランジャーを付勢させる側は、プランジャーとバレルの間の接触のない誤り（偽）の開路または断続的な点を防ぐ。バレルに対してプランジャーを軸方向と側面方向に付勢させることは、誤りの開路またはプランジャーとバレルの間の接触のない断続点を防ぐ。プランジャーは一般的に堅固で、電気の被測定物と接続するために頭またはチップ（先端）を含む。バレルは、またバレルの開放端の反対のチップ（先端）を含んでもよい。
【０００３】
バレル、プランジャーおよび先端は、電気的な被測定物および試験装置の間の電気的な相互接続を形成し、そのため導電性材料から製造される。典型的に、プローブは、試験板またはソケットの厚さ方向を通過して形成されたキャビティに挿入される。一般的に、集積回路のようなテストされる電気デバイスの接触側は、電気デバイスに対するスプリング圧力をつくるために試験板またはテスト・ソケットの１つの側を通過して突出するプランジャーの先端により圧力接触を受ける。試験装置に接続された接触板は、試験板またはテスト・ソケットの反対側から出るプランジャーの先端と一緒に接触するようにされる。試験装置は接触板に信号を伝達する。それら（信号）は、テストプローブ相互接続体を通過して接触板からテストされているデバイスへ伝達される。電気デバイスがテストされた後、スプリング・プローブによりかけられた圧力は解放され、デバイスは各プローブの接触先端から移動させられる。
【０００４】
従来のスプリング・プローブを作る工程は圧縮スプリング、バレルおよびプランジャーを別々に製造することを必要とする。圧縮スプリングは正確なサイズ、および管理されたスプリング力のスプリングを製造するために巻かれ熱処理される。プランジャーは、典型的に旋盤で回され熱処理される。バレルも時々熱処理される。バレルは旋盤で、あるいは深いドロー加工により形成できる。構成要素はすべて伝導性を高めるためにめっき加工されてもよい。スプリング・プローブ構成要素は、手動であるいは自動プロセスにより組み立てられる。
【０００５】
集積回路をテストする重要な形態は、それらが高周波の下でテストされることである。インピーダンス・マッチングは、高周波信号の減衰を回避するように試験装置と集積回路の間で必要である。テスト・ソケット内の空間が最小であるとして、高周波信号の減衰を回避するために、プローブにより形成された電気の相互接続体の長さを最小限に抑えなければならない。この問題に取り組むために、外部スプリング式プローブは従来のプローブより短い長さを有して開発されている。外部スプリング式プローブは、各々先端とフランジを有する、２つの別個の部分から成る。接触構成要素は、先端の反対側の各プローブ部分から伸びる。２つの接触構成要素は互いに接触する。また、スプリングは、接触構成要素を囲む２つのフランジの間にはさまれる。典型的に、第１接触構成要素はバレルである。その一方で第２接触構成要素は軸受面である。軸受面は、バレルの内面に摺動可能に係合される。これらのプローブは試験時に使用されるテスト・ソケットの中に形成されたキャビティに挿入される。これらの型式の外部スプリング式プローブに関連する問題は、高価な機械加工による製造費用である。
【０００６】
その対応策として、外部スプリング式プローブは、プレス加工によりそれほど高価に製造できない平坦な構成要素を有してデザインされた。典型的に、これらのデザインは、直角に接続される２つの構成要素を組込む。また、２つの構成要素間の電気通路は、突出する端部表面を通過する。このデザインに関する問題は、構成要素がやや速くすり減り、短縮寿命であり一定の交換が必要であることである。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従って、製造コストの低い新しいデザインのスプリング接点アセンブリの必要が存在する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（発明の概要）
本発明は、外側スプリングに囲まれ、移動可能でオーバーラップする２つの接触部材あるいはプランジャーを有するスプリング接点アセンブリに関する。プランジャーはそれぞれ接触部および後部部分を有する。後部部分は平坦面を有する。それ（平坦面）は通り過ぎて、組み立てられた時、それはスプリング内の対向するプランジャー後部部分と接触する。スプリングは、座巻を有して、座巻は対向するプランジャーの各々を押してプランジャーがスプリングから分離するのを防ぐ。それはスプリングの各端部に関してプランジャー接触部および後部部分を固定する。プランジャー後部部分の平坦面は、圧縮されながら、スプリングの自然なねじれの移動を利用して、接触アセンブリの圧縮行程の全体にわたって接触を維持する。対向する平坦区間の間の接触は、スプリングのねじれ又はねじれの移動が接触部の先端へ並進するのを防ぐ。自然なねじれへの抵抗は、構成要素の電気伝導率を高める。それは、次にスプリング接点アセンブリの性能を改善する。スプリングは、スプリングの長さに沿った直径コイル部を縮小でき、さらにプランジャー後部を束縛し、かつ２つのプランジャー間の相互作用を高める。あるいは、さらなる付勢効果は、スプリングにオフセットされたコイル部を加えることによりつくることができる。
【０００９】
プランジャーの後部部分の平坦面は、各プランジャーの円筒状の後部部分直径の中線に通常平行に形成される。他の実施形態において、平坦面は、円筒状の後部直径の中線より上に平行に形成され、２つのプランジャー間の追加の相互作用を創り、アセンブリの最終的な結合厚さを増加させてもよい。別の実施形態において、後部部分上の平坦面は、角度を付けて、あるいは円筒状の後部部分直径の中線周りの螺旋に形成されてもよい。
【００１０】
まだ別の実施形態では、１つのプランジャーは構成要素の軸に沿って中心に位置されて、実質的に平坦な後部部分を含む。また、対向するプランジャーは、対向するプランジャーの平坦後部部分を収容する、対になる溝を有する。このデザインは、２つの端部が摺動可能な当接係合となり、それにより、抵抗性能を高めることを可能にする。
【００１１】
プランジャーの各々は、旋盤、ねじ切り盤あるいは他の同様の製造装置に適する略円筒状に形成されてもよい。あるいは、プランジャーは、２次元の幾何学的形状を実質的に創造するためのプレス加工、エッチング、写真平版あるいは他の同様の製造技術に適する、略平坦形状に形成されてもよい。
【００１２】
概略的に平坦に形成されたプランジャーについては、プランジャー後部部分は、スプリングのコイルの両端を越えて伸びる部分を有してもよい。これは電気接触を促進し、対向するプランジャチップまたは接触部への支持性を向上する。スプリングの両端を過ぎて伸びるプランジャー後部部分は、材料利用を最大にするために縮小された一方の端を有することができる。溝が、コンプライアンス（変形し易さ）を追加するためにプランジャーの平面パターン形式のスプリング干渉区域に提供されてもよい。それは信頼できる圧入を提供するとともに許容差を吸収する。平らなプランジャーデザインは、また傾けられた構造において一緒に滑るプランジャーを有することから利益を得ることができる。それにより、外部のコイルばねによって供給された軸方向力のうちのいくつかを垂直の方向に移転することができる。それ（垂直の方向）は対になったプランジャー表面に垂直である。この直交する表面の力は、構成要素間の密接な電気接触を高める。プローブを維持する方法は、拡大された後部部分が縮小された直径の中心コイルを過ぎて伸びることと、接触部上でタブを連結することとを一緒に含む。また、単一のプローブ内に互いに分離された２つの別個の電気通路を有するケルヴィン構造は可能である。
【００１３】
平らな幾何学によって提供されるさらなる利点は、多数のプランジャーが、大量にめっきされ組み立てれれることを容易にして、リードフレーム組立体の一部として容易に作り上げられることを可能にする。完成されたアセンブリもリードフレームに取付けられて供給できる。これは、エンドユーザが、完成した試験装置あるいはソケットにプローブアセンブリを設置することを簡単にする。先端の形状は、単一の点、複数の点、あるいは３次元にすることができる。
【００１４】
本発明は、また平坦なプランジャーと組み合わせた円筒状のプランジャーを有するスプリング接点アセンブリを提供する。このハイブリッド組み合わせは、円筒状チップ形状を提供でき、ハンダボールあるいは他の形状の十分な試験をすることができる。また、対向するプランジャーとして平坦なプランジャーを組込むことにより完全円筒状の接触アセンブリの製造原価を下げる。これらおよび本発明の他の形態は、図面とともに詳細な説明を参照してより完全に理解される。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】図１は、本発明のスプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００１６】
【図２】図２は、図１のスプリング接点アセンブリの第１のプランジャーの側面図である。
【００１７】
【図３】図３は、本発明の代替プランジャーのデザインの側面図である。
【００１８】
【図４】図４は、図１のスプリング接点アセンブリの第２のプランジャーの側面図である。
【００１９】
【図５】図５は、図１のスプリング接点アセンブリのスプリングの側面図である。
【００２０】
【図６】図６は、図１のスプリング接点アセンブリの断面図である。
【００２１】
【図７】図７は、本発明の代替プランジャーのデザインの側面図である。
【００２２】
【図８】図８は、本発明の代替プランジャーのデザインの側面図である。
【００２３】
【図９】図９は、テスト・ソケットに挿入された図１のスプリング接点アセンブリの軸の断面図である。
【００２４】
【図１０】図１０は、本発明の他の実施形態スプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００２５】
【図１１】図１１は、図１０のスプリング接点アセンブリの１つのプランジャーの側面図である。
【００２６】
【図１２】図１２は、図１１のプランジャーのプレス加工工程の概要の実例である。
【００２７】
【図１３】図１３は、図１０のスプリング接点アセンブリの第２のプランジャーの側面図である。
【００２８】
【図１４】図１４は、図１０のスプリング接点アセンブリの断面図である。
【００２９】
【図１５】図１５は、図１０の代替スプリング接点アセンブリの軸の断面図である。
【００３０】
【図１６】図１６は、本発明の代替スプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００３１】
【図１７】図１７は、本発明の別の他の実施形態のスプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００３２】
【図１８】図１８は、本発明の別の他の実施形態のスプリング接点アセンブリの側面図である。
【００３３】
【図１９】図１９は、本発明の別の他の実施形態のスプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００３４】
【図２０】図２０は、本発明の別の他の実施形態のスプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００３５】
【図２１】図２１は、本発明の別の他の実施形態のケルヴィン測定スプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００３６】
【図２２】図２２は、本発明の３次元の接触チップの実施形態の斜視図である。
【００３７】
【図２３】図２３は、図２２の先端構造を備えたスプリング接点アセンブリの斜視図である。
【００３８】
【図２４】図２４は、本発明の代替接触チップ・デザインの斜視図である。
【００３９】
【図２５】図２５は、３次元の接触チップを図示する図２４の斜視図である。
【００４０】
【図２６】図２６は代替接触チップデザインの斜視図である。
【００４１】
【図２７】図２７は、３次元の接触チップを示す図２６の斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００４２】
（発明の詳細な説明）
図１−１１は、本発明の第１の実施形態のスプリング接点アセンブリ１０を示す。スプリング接点アセンブリ１０は、第１接触部材またはプランジャー１２、第２接触部材またはプランジャー１４、およびスプリング１６を含む。図２に示すように、プランジャー１２は接触部１８および後部部分２０を含む。接触チップ２２は接触部１８の端部に位置し、また図３および図４に示されるような多数の接触形状を有することができる。フランジ２４は、接触部あるいは部分１８と後部部分あるいは部分２０の間に位置する。フランジ２４は、組立時にプローブを整列させるために使用される平坦面２６を有する。プランジャー後部部分２０は、その長さに沿って伸びる円筒状の表面２８および平坦面３０を有する。
【００４３】
図４に示すようにプランジャー１４はまた、接触部または部分３２、および後部部分または部分３４を含む。フランジ３６は接触部分３２と後部部分３４の間に位置し、組立時にプランジャー１４の位置を決めるために平坦面３８をまた含む。後部部分３４は、その長さに沿って伸びる円筒状の表面４０および平坦面４２を有する。また図９に示すように、平坦面３０および４２は互いに通り過ぎて、組み立てられた時スプリング１６の内部で接触をする。平坦面３０、４２は、アセンブリ圧縮時にますます相互に係合する。
【００４４】
図５に示すように、スプリング１６は、スプリングの対向端部の座巻４４および４６を有し、円筒状部４８、５０でプランジャー後部部分２０、３４に隣接したフランジ２４、３６を押す。座巻４４および４６はわずかに小さな直径を有し、したがって、プランジャーがスプリングから分離するのを防ぐために堅く円筒状部４８および５０をつかみ、それにより、各スプリング端に対してプランジャチップ２２、５２、平坦面３０、４２を固定する。スプリング１６の圧縮時の自然なねじれの移動を利用して、プランジャーの平面部分３０および４２は、また図６に示されるようなプローブの全ストロークの全体にわたって接触を維持する。対向する平坦区間の間の接触は、ねじれることあるいはねじれの移動がそれ（ねじれることあるいはねじれの移動）をスプリング接点先端２２、５２へ並進させることを防ぐ。自然なねじれに対する抵抗は、構成要素の電気伝導率を高める。それは、次に接触性能を改善する。
【００４５】
図２および３に示すように平坦区間３０は、各プランジャーの円筒状の後部部分直径の中線において平行に形成できる。あるいは図４に示すように、平坦区間４２は、各プランジャーの円筒状の後部直径の中線５４の上に平行に形成され、アセンブリの組み合わせ厚さを増加させ、アセンブリにおいて２つのプランジャー間の追加の相互作用を創造してもよい。図１−４は３つの異なるプランジャチップデザインを示すが、その特定用途に基づいて、いかなるプランジャチップデザインも利用することができることが理解されねばならない。さらに後部部分２０、３４を束縛し、かつ２つのプランジャー間の相互作用を高めるために、スプリング１６は、図５に示すように縮小されたコイル部５６を使用できる。さらなる付勢効果もコイル部５６のオフセットにより創造できる。
【００４６】
プランジャー後部部分のデザイン代案は、図７に示すように円筒状の後部直径の中線の周りに螺旋状に形成された平坦面５８を含むことができる。あるいは図８に示すように、平坦区間６０は、円筒状の後部直径の中線に対して角度を付けて形成されてもよい。様々なプランジャーデザインのすべてと一緒に、後部部分が縮小された一端部６２を有してもよく、一端部６２は、フランジに隣接している縮小された直径部分に圧入する前に、後部部分へスプリングが通されることを可能にする。縮小された部分６２は、組立工程を容易にして、プランジャーがスプリングの中へ案内されることを可能にする。以前に示されたように、プランジャー後部の円筒状部４８および５０は、スプリングの座巻と締まりばめ状態を創る。そして、円筒状部と座巻の間で発生する把持力は、正常な搬送時及び使用時に、アセンブリがばらけ無いように保持するのに十分であり、平坦面との組み合わせにより、スプリングにより加えられた正常なねじりの力に抵抗する。図１−９の概略円筒状のプランジャー・デザインは、旋盤、ねじ切り盤あるいは他の同様の製造装置の機械加工により製造される。
【００４７】
代替スプリング接点アセンブリ７０は、図１０−１５に示される。スプリング接点アセンブリ７０は、外側スプリング７６に囲まれた移動可能でオーバーラップする２つのプランジャー７２および７４を含む。プランジャー７２および７４は、概略平坦形状に形成され、平坦形状は、図１２に参照番号７８として示される実質的に二次元の形状を創造するためのプレス加工、エッチング、写真平版あるいは他の同様の製造技術に適している。平坦なプランジャー形状のさらなる利益は、多数のプランジャーが、リードフレームアセンブリの一部として容易に作られ、大量にめっきし組立てることを容易にする。リード・フレームに取付けられた完成アセンブリも、完成した試験装置またはソケット１１０（図９に示される）にエンドユーザがプローブアセンブリを設置することを簡単にして供給できる。
【００４８】
プランジャー７２は接触部または部分８０、および後部部分または部分８２を含む。接触部８０は、多くの形状のいずれかである接触チップ８４を含む。プランジャー全体が平坦な構造を有するのであれば、プランジャー後部部分８２は平坦面８６を含む。フランジ８８は接触部８０と後部部分８２の間に位置する。後部部分８２は、その組み立てられた構造でスプリング接点を保持するためにスプリング７６の座巻と締まりばめを創るために、拡大された部分９０を含む。対となるプランジャー７４は、接触部または部分９２、後部部分または部分９４、および接触部と後部部分の間に位置するフランジ９６を含む。後部部分９４は、拡大された部分９８を含み、スプリング７６の座巻と締まりばめを創る。
【００４９】
平坦な形状のスプリング接点アセンブリ７０では、プランジャー後部部分８２、９４は、図１０に示すようにスプリングの座巻を過ぎて伸びる端部１００を有してもよい。このデザインは、プランジャー間の電気接触を高めて、対向するプランジャチップを支持する機能を持つ。プランジャー後部の片側あるいは両方は、特定用途において座巻を越えて伸びることができる。図１１および図１４に示すように、スプリングの座巻を越えて伸びる端部８２は、最大の材料利用を考慮に入れて、角部１０２を除去してもよい。
【００５０】
図１３に示すように、プランジャー７４がプランジャーのスプリング嵌めあい区域に溝１０６を含んで、さらなる追従性を提供し、座巻に信頼できる圧入をするとき許容誤差を吸収してもよい。図１５に示すように、平坦なプランジャーデザインは、中線軸１０８に対して傾けられた構造において概略的に一緒に滑るプランジャー７２、７４を有する新しい結果から利益を得る。傾斜構造において一緒に滑るプランジャーは、外側コイルスプリング７６により供給された軸方向力の一部を垂直の方向に、あるいは通常は相手側の平坦なプランジャー表面に移転する。垂直力は、図１５に示すようにプランジャー間の密接な電気接触を高める。
【００５１】
別の他の実施形態のスプリング接点アセンブリ１１２は、図１６に示され、対となるプランジャー１１４、１１６、ならびに外側コイルスプリング１１８を備える。この構造では、プランジャー１１４は平坦後部部分１２０を有する。また、プランジャー１１６は、平らな後部１２０を収容するための内部で対向した平坦面１２４を備えた特徴部を有する後部部分１２２を有する。後部部分１２０は、プランジャー１１４の軸に沿って中心に位置される。また、特徴部１２４は、プランジャー１１６の軸に沿って中心に位置される。スプリング接点アセンブリ１１２は、２つの平坦な端部１２６、１２８が特徴部１２４内の平坦な端部と摺動可能に接触して収容されることを可能にする。このデザインは、バネ接点アセンブリの抵抗性能を高める。
【００５２】
図１７は、図１および１０のスプリング接点アセンブリのハイブリッド組み合わせである別の実施形態スプリング接点アセンブリ１３０をさらに示す。スプリング接点アセンブリ１３０は、外側コイルスプリング１３６内で摺動可能に接触する円筒状のプランジャー１３２および平坦なプランジャー１３４を有する。プランジャー１３２の後部部分１３８は平坦面１４０を有する。また、プランジャー１３４の後部部分１４２は、対になる平坦面１４４を有する。平坦面１４０および１４４は摺動可能に係合する。
【００５３】
図１８は、本発明の別の実施形態のスプリング接点アセンブリ１４６を図示する。スプリング接点アセンブリ１４６は、第１の接触部材１４８および第２接触部材１５０を有する平坦な構造体である。接触部材１４８および１５０の後部部分１５２および１５４の各々は、コイルスプリング１６２の縮小された直径の中心コイル部１６０を通過する拡大された後部部分１５６および１５８を含む。拡大された後部部分は、各接触部材の接触チップ１６４および１６６と反対側にある。拡大された後部部分は、縮小された直径コイルを通過する。また、接触部材がスプリングから外れないように、スプリングの力は十分に低い。
【００５４】
図１９は、接触部材１７０および１７２をコイルスプリング１７４へ保持するための別の方法を説明する別の実施形態スプリング接点アセンブリ１６８を示す。この実施形態において、後部部分１８０および１８２の中央部１７６および１７８は、それぞれ、タブ１８４、１８６を形成して貫通され、接触部材１７０および１７２がスプリング１７４内に組み立てられる時、タブは連結する。
【００５５】
図２０は、接触部材の接続のために別の選択肢を示す別のスプリング接点アセンブリ１８８を示す。アセンブリ１８８は、第１の接触部材１９０、およびコイルスプリング１９８内に位置する後部部分１９４および１９６を有する第２接触部材１９２を含む。後部部分の中央部２００および２０２は、組み立てられた時に連結する中心にないタブ２０４および２０６を有する。タブ２０４および２０６は成形加工または折曲げ加工により形成される。
【００５６】
図２１は、ケルヴィン測定構造体である別の実施形態のスプリング接点アセンブリ２０８を図示する。アセンブリ２０８は、単一のスプリング２１０内の２つの別個の電気通路を有する。これは、互いに隣接した２つの別個の接触部材２１２および２１４により遂行される。部材２１２および２１４は、隣接面に位置する非導電性のコーティングを有することにより、互いおよびスプリング２１０から電気的に分離される。接触部材２１２は第１接触セグメント２１６および第２接触セグメント２１８を有する。同様に、接触部材２１４は第１接触セグメント２２０および第２接触セグメント２２２を有する。セグメント２１６〜２２２は各々、後部部分２２４、２２６、２２８および２３０をそれぞれ有する。部分２２４と２２６だけが互いに電気的に接続し、部分２２８と２３０だけが互いに電気的に接続するように、後部部分２２４、２２６、２２８および２３０は導電面２３２を有する。後部部分２２４〜２３０はスプリング２１０内に位置する。アセンブリ２０８は、一つのスプリング内に２つの別個の電気通路を有し、接触通路はそれぞれ２つの摺動可能に係合する後部部分から成る。また、接触通路はそれぞれその近隣の接触通路から電気的に分離される。
【００５７】
図２２、２３は、第１接触部材２３６および第２接触部材２３８を有する別の実施形態スプリング接点アセンブリ２３４を示す。接触部材２３６は部分２４０および２４２を含み、部分２４０および２４２は互いを係合できて３次元の接触チップ２４６を創るように、各々溝２４４を有する。接触チップ２４６は４つの接触ポイント２４８を備える。部分２４０および２４２は垂直に接続されて図示される。しかし、垂直以外に角度を付けて２つの部分を組み立てることができるように、溝２４４を機械加工できることは理解される。接触部分２３６および接触部分２３８は、スプリング２５４内に位置する後部部分２５０および２５２を有する。
【００５８】
図２４、２５は、３次元の接触チップ構造体の他の実施形態を図示する。接触部材２５６は後部部分２５８および接触チップ部分２６０を含む。接触部材２５６は図２４に示すように平坦な構造体である。また、接触チップ２６０は、曲げまたは平面接触チップを３次元形状へ変形することにより、図２５に示すように３次元の構造体を有することができる。接触チップ構造体は、３つの接触ポイント２６２、２６４および２６６で図示されたが、特定用途に応じていかなる数の接触ポイントも有することができる。チップの幾何学的形状は、変形Ｖ字形、Ｕ字形あるいは２次元の接触チップを３次元の接触チップに変形した他の形状にすることができる。これは曲げあるいは他の成形加工により行うことができる。同様に、図２６、２７は、接触部材２６８の別の３次元の接触チップデザインをさらに示す。接触部材２６８は、図２６に示すように初めに平坦な２次元構造体に形成され、接触部材２６８は後部部分２７０および接触チップ部分２７２を含む。図２７に示すように、接触チップ部分２７２はそれ自体で折り重ねられ、３次元構造体を形成する。この実施形態では、４つの接触ポイント２７４、２７６、２７８および２８０が示される。
【００５９】
本発明は、理解のためにそのいくつかの実施形態に関して記述され図解されたが、本発明は、特許請求の範囲内での変形や改造が可能であることを理解すべきである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【手続補正書】
【提出日】平成22年5月13日(2010.5.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１７】
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【国際調査報告】
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