(57)【要約】  ヒゲ剃り時の人被験者の皮膚表面上のひずみを測定する、非接触の光学的方法。デジタルカメラが、皮膚に適用されたパターンのたわみを、一連のデジタル画像として記録する。適用される力の下でたわんだ皮膚の位置をたわんでいない標準状態と比較することにより、皮膚におけるひずみを計算することができる。皮膚におけるひずみを、ストローク時のカミソリブレードユニットのいくつかの位置において平均する。ひずみデータを基に、カミソリ間の客観的比較を行うことができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
皮膚表面に作用させる力によって生じた、生きた人間の前記皮膚表面の変形を示すパラメータを測定する方法であって、
第１デジタルカメラ（１０）と第２デジタルカメラ（２０）とを準備する工程と、
人の前記皮膚表面上にパターン（４５）を提供して、パターン形成された皮膚表面を作り出す工程と、
前記パターン形成された皮膚表面の参照位置を示す前記第１及び第２デジタルカメラからの第１データ出力を捕捉する工程と、
前記第１データを参照位置データとして保存する工程と、
前記パターン形成された皮膚表面に力を作用させる工程と、
前記パターン形成された皮膚表面に力を作用させる間に、前記パターン形成された皮膚表面を示す前記第１及び第２デジタルカメラからの第２データ出力を捕捉する工程と、
前記第２データを、作用させた力の位置データとして保存する工程と、
前記作用させた力の位置データと前記参照位置データとを処理して、前記参照位置に対する前記パターン形成された皮膚表面の運動を求める工程と、
を含む、方法。
【請求項２】
前記パターン形成された皮膚に力を作用させる工程が、前記パターン形成された皮膚表面のヒゲ剃り工程を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記ヒゲ剃り工程が、１つ以上の鋭利なブレードを有する安全カミソリによるヒゲ剃り工程を含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記パターン形成された皮膚表面を湿らせる工程を更に含み、前記力を作用させる工程が、前記湿らせたパターン形成された皮膚表面に力を作用させる工程を含む、請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記参照位置に対する前記パターン形成された皮膚表面の運動を求める前記処理工程が、定量的パラメータを決定する工程を含む、請求項１〜４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
前記処理工程が、前記パターン形成された皮膚表面におけるひずみ、又は複数の皮膚の領域に対応する複数のひずみデータを決定する、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記皮膚表面におけるひずみを決定する工程が、前記複数のひずみデータを平均する工程を含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記参照位置に対する前記パターン形成された皮膚表面の運動を検出する工程が、第１ヒゲ剃り用具を使用時の前記皮膚表面における定量的なパラメータデータの第１群を決定する工程を含み、
前記ヒゲ剃り工程が、第２ヒゲ剃り用具で繰り返され、その後、前記参照位置に対する前記パターン形成された皮膚表面の運動を検出する工程が、前記第２ヒゲ剃り用具を使用時の前記皮膚表面における定量的なパラメータデータの第２群を決定する工程を含み、
前記定量的なパラメータデータの第１群と前記定量的なパラメータデータの第２群とを比較する更なる工程を含む、請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
前記第１及び第２の定量的なパラメーターデータがひずみデータである、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記パターンを提供する工程が、前記皮膚表面上に不規則的なパターン（４５）又は規則的なパターンを提供する工程を含む、請求項１〜９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１１】
前記第１及び第２デジタルカメラのうち少なくとも一方又は両方が、ＣＣＤカメラ又はＣＭＯＳカメラである、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１２】
前記パターン形成された皮膚に力を作用させる工程が、前記パターン形成された皮膚表面にわたって指又はプローブ（９０）でなぞる工程、又は前記パターン形成された皮膚表面を変形させるために前記人が筋肉を収縮させる工程を含む、請求項１〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ヒゲ剃りなどの皮膚に対する動作を人が行っている間の、人の外側の皮膚表面上のひずみを測定する非接触方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
３次元（３Ｄ）画像相関写真測量法を、機械部品及び解剖組織標本におけるひずみを解析するためのフルフィールド非接触式光学検査法として用いることが知られている。こうした方法は、例えば、タイソン、Ｊ．（Tyson, J.）、シュミット、Ｔ．（Schmidt, T.）、ガラヌリス、Ｋ．（Galanulis, K.）著、「バイオメカニクスにおける光学変形及びひずみ測定（Optical Deformation & Strain Measurement in Biomechanics）」、Ｂｉｏｐｈｏｔｏｎｉｃｓ誌、２００３年９月号、１〜７頁、及び、タイソン、Ｊ．（Tyson, J.）、シュミット、Ｔ．（Schmidt, T.）、ガラヌリス、Ｋ．（Galanulis, K.）著、「３Ｄ画像相関写真測量法によるバイオメカニクス変形及びひずみ測定（Biomechanics Deformation and Strain measurements with 3D Image Correlation Photogrammetry）」、Ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔａｌ  Ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ誌、２６巻、５号、３９〜４２頁、２００２年９／１０月号（プロクエスト・サイエンス・ジャーナルズ（ProQuest Science Journals））といった文献に記載されている。この文献では、死体から取り出して引張り試験下で断裂した解剖骨、膝の腱及び靭帯、生体解剖したカエルの心臓、並びに収縮した人工筋肉標本のひずみ試験について述べている。この測定システムの既知の産業上の用途は、航空宇宙及び機械部品におけるものである。これらの生物学的標本及び産業上の用途では、試験の際に固定具に保持される物体を伴う。この種の測定システムは、航空機産業及び公立大学（メーン州立大学、カンザス州のウィチタ州立大学、オハイオ州のアクロン大学など）において広く用いられており、少なくとも３００がヨーロッパで、４０が米国で使用されている。例えば、米国航空宇宙局ＮＡＳＡはこの技術を用いて完全なスペースシャトルの主翼前縁部（ＮＡＳＡジョンソン宇宙センター及びサウスウェスト研究所）並びに外部燃料タンク（ＥＴ）の断熱材の衝突（ロッキード・マーチン（Lockheed Martin）有人宇宙システム）の測定を行った。この技術によって、３次元座標及び３次元変位、３次元の速さ及び加速度、並びに平面ひずみテンソル及び平面ひずみ速度を非接触的に決定することが可能である。
【０００３】
広く市販されている３次元画像相関写真測量法に基づいたデジタルカメラシステムの一例として、ＧＯＭ社（GOM mbh）によって製造され、ＡＲＡＭＩＳシステムの商品名で販売されているシステムがある。
【０００４】
パターンを有する標本の調製については、上記の「バイオメカニクス変形」及び「光学変形」の文献、あるいはＧＯＭ社により公開される「ＡＲＡＭＩＳユーザーマニュアル」（２００５年）の２６〜２７頁に、例えば、市販のスプレー塗料の缶のスプレーボタンを軽く押すことによって、スプレー塗布した染料浸透現像剤（例えば、白色）に黒色のスプレー（例えば、つや消し黒色スプレー又はグラファイトスプレー）をスプレー塗布により重ね塗りした、高コントラストの確率的（ランダム）パターンとして記載されている。ペン又はステンシル／スプレー法によってパターンを適用することも知られている。滑らかな標本面が好ましいことが知られている。パターンは規則的又はランダムなパターンであってよい。こうしたパターンでは、幅広の線のような一定の輝度の大きな面積を避けることが好ましいことが知られている。光沢のあるパターンは避け、つや消し又は光沢が鈍い表面のパターンが好ましいことが知られている。
【０００５】
食品又は化粧品での使用が認められている染料又はインクから作られる一時的な入れ墨は、身体の装飾や、入場料を支払ったことを示すために人の手に印をつけるためなどの、新規の目的で知られている。これらの入れ墨は、例えば米国特許第５，５７８，３５３号（ドルー三世（Drew, III））、米国特許第７，０１１，４０１号（マーキー三世（Markey, III））、米国特許第６，１６１，５５４号（ダンラップ−ハリス（Dunlap-Harris））、及び米国特許第６，４５７，５８５号（ハッファー（Huffer）ら）において知られるような、図形要素又は文章の、認識される整った配列を含んでいる。こうした入れ墨は、感圧性接着剤層を有することによって人に転写される。他のこうした入れ墨は、水溶性インクで紙の基材に印刷し、この紙を水分の存在下で皮膚と接触させるとインクが皮膚に転写される。
【０００６】
ドットパターンは、中央に色で区別された認識可能な規則的パターンが、通常アラビア数字又は英語のアルファベットの形状で配されたドットの背景を有する、着色されたプレートを用いた石原式色覚異常検査表（１９１７年に検査法を発表した、設計者である東京大学教授の石原忍博士に因んで命名）のような眼の色覚異常検査において知られている（米国特許第２，９３７，５６７号（ハーディ（Hardy）及び米国特許出願第２００５／０２１３０３９号）（オオハシ（Ohashi））も参照のこと）。これらの視力検査表は通常厚い印刷用紙に印刷され、アイケアの専門家によって患者の診断目的で使用されるよう、汚れないように入念に保存されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国特許第５，５７８，３５３号
【特許文献２】米国特許第７，０１１，４０１号
【特許文献３】米国特許第６，１６１，５５４号
【特許文献４】米国特許第６，４５７，５８５号
【特許文献５】米国特許第２，９３７，５６７号
【特許文献６】米国特許出願第２００５／０２１３０３９号
【非特許文献】
【０００８】
【非特許文献１】タイソン、Ｊ．（Tyson, J.）、シュミット、Ｔ．（Schmidt, T.）、ガラヌリス、Ｋ．（Galanulis, K.）著、「バイオメカニクスにおける光学変形及びひずみ測定（Optical Deformation & Strain Measurement in Biomechanics）」、Ｂｉｏｐｈｏｔｏｎｉｃｓ誌、２００３年９月号、１〜７頁
【非特許文献２】タイソン、Ｊ．（Tyson, J.）、シュミット、Ｔ．（Schmidt, T.）、ガラヌリス、Ｋ．（Galanulis, K.）著、「３Ｄ画像相関写真測量法によるバイオメカニクス変形及びひずみ測定（Biomechanics Deformation and Strain measurements with 3D Image Correlation Photogrammetry）」、Ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔａｌ  Ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ誌、２６巻、５号、３９〜４２頁、２００２年９／１０月号（プロクエスト・サイエンス・ジャーナルズ（ProQuest Science Journals））
【非特許文献３】ＧＯＭ社により公開される「ＡＲＡＭＩＳユーザーマニュアル」（２００５年）の２６〜２７頁
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
皮膚に使用される製品と相互作用する生きた人間の皮膚表面のひずみ場を被験者にとって快適な方法で決定することが未だに求められている。
【００１０】
人間の被験者に除去可能なパターンを迅速かつ／又は便宜よく適用するという更なる必要性が残っている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の目的は、生きた人間が電気カミソリや湿式カミソリなどのヒゲ剃り装置を用いて皮膚の毛髪を剃る際の皮膚のひずみを測定する方法を提供することにある。安全カミソリとも呼ばれる湿式カミソリは、ハンドル上に配置されたカートリッジでのような鋭利なカミソリ刃を有し、通常、シェービングクリーム、ジェル、又はローションと共に皮膚に適用される水などの、ヒゲ剃り用調合製品と共に用いられて皮膚の毛髪を剃る器具である。
【００１２】
本発明の更なる目的は、ローション、クリーム、又は皮膚軟化剤などの美容医薬製品が塗布された皮膚の部分を指又は先が丸いプローブ体などでなぞることによって人間の外側の皮膚に力を適用しながら皮膚のひずみを測定する方法を提供することにある。
【００１３】
一態様において、本発明は、試験の際に生きた人間の皮膚表面に適用される力によって生ずる、皮膚表面の変形量を示すパラメータを測定する方法を提供する。試験される人間の皮膚に先ずパターンが供給され、次いで２台のデジタルカメラで撮像する。すると、これらのカメラはパターン形成された皮膚表面の非変形位置、すなわち参照位置の参照画像データを捕捉する。皮膚に力を適用し、パターン形成された皮膚表面の変形位置を示す第２の画像データをこれらのカメラにより捕捉する。参照データ、及び応力が作用した、すなわち変形した条件におけるデータを保存及び処理することで、参照位置に対するパターン形成された皮膚表面の運動を求める。パターン形成された皮膚表面の参照位置（非変形状態）に対するこうした運動（変形状態）を示す、少なくとも１つのパラメータが決定される。このパラメータは、数値的に定量可能なパラメータであることが好ましい。より好ましくは、このパラメータはひずみである。決定されるパラメータは、ひずみテンソル又はひずみ速度であってよい。決定されるパラメータは、大ひずみ又は小ひずみであってよい。あるいは、決定されるパラメータは、皮膚の位置座標、変位、速さ、又は加速度であってもよい。
【００１４】
本方法の特定の実施態様では、皮膚に適用される力は、ヒゲ剃りによるものでもよく、指又は先が丸いプローブによって皮膚をなぞることによるものでもよい。使用時に皮膚表面に生ずるひずみなどのカミソリの性能特性を定量化することが可能である。異なるカミソリ間で比較を行ったり、開発時にプロトタイプの評価を行うことが可能である。皮膚に塗布されるクリーム又はローションの有効性の評価を行うことが可能である。
【００１５】
本方法の特定の実施態様では、カミソリによるヒゲ剃り時のひずみの量などの運動の量を複数の異なるヒゲ剃りストロークの測定領域にわたって求めることが可能であることが有利である。各測定領域について、平均のひずみを決定することができる。これにより、カミソリの性能を代表的なその目的用途の範囲において定量化することができることが有利である。複数の測定領域から全体の平均ひずみ量を決定することができる。
【００１６】
本発明の利点としては、光学測定システムが使用者に対して侵襲性でない点、すなわち、光学測定システムが被験者の皮膚と接触することがなく皮膚に力を適用する製品を用いた通常の動作と干渉しない点が挙げられる。本発明の方法の別の利点は、被験者が自由に身体を動かし、通常の拘束されていない方法で動作することが可能であり、並進運動すなわちいわゆる剛体運動が相殺され測定を歪めないことから、通常の使用状態をより忠実に再現できる点である。被験者は自分でヒゲ剃りを行ってもよく、皮膚を指（又は先が丸いプローブ）でなぞってもよく、別の試験者が被験者に力を適用してもよい。
【００１７】
皮膚に適用されるパターンは規則的なパターンであってもランダムなパターンであってもよい。ランダムなパターンは確率的パターンとも呼ばれる。このパターンは多数の「ドット」として被験者の皮膚に適用することができる。
【００１８】
本発明は別の態様において、本発明は、被験者の皮膚に容易に適用できるとともに光学測定の後で除去することが可能な所定のパターンを特徴とする。除去可能な入れ墨は、基材、及びランダムに配置されて約４０％〜約６０％のパターン密度をなす複数のしるしを有するパターンを有する。有利な実施形態では、しるしはドットの形態である。
【００１９】
別の態様では、基材、及び複数のドットを有するランダムパターン（４５）を有する、光学測定用に皮膚にパターン形成するための入れ墨が提供される。ドットは、水には実質上不溶性であるがアルコールには実質上可溶性であるインク又は染料で作られる。基材は、例えばアルコールに対して透湿性であってよい。
【００２０】
有利な実施形態では、しるし又はドットを形成する個々の要素は２つの異なるサイズを有する。更なる実施形態では、パターン内に３つ以上の異なるサイズが存在する。
【００２１】
更なる有利な実施形態では、除去可能な入れ墨は約５０％のパターン密度を有する。現時点で更に好ましい他の実施形態では、パターン密度は約４２．５％である。
【００２２】
更なる実施形態では、入れ墨はアルコールで濡らすことによって皮膚に転写することができる。基材は、吸い取り紙又はシガレットペーパーと一般に呼ばれる紙などの紙であることができる。入れ墨は、油性インク又は染料で印刷することができる。
【００２３】
入れ墨は、入れ墨のパターンの上に形成されるカバー層を設けないことで、入れ墨を皮膚に適用するのに先立ってこうした層を剥離する必要をなくすことによって利便性があることが好ましい。入れ墨はまた、接着層を設けないことによって製造の際の利便性を高め、製造コストを低減することができる。
【００２４】
更なる実施形態は、本明細書に添付される従属請求項において開示される。
【００２５】
本発明及びその利点は、以下の詳細な説明及び添付の図面を例として参照することによってより深い理解がなされるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】従来の画像分析システムの概略図。
【図２】本発明の一実施形態に基づいた皮膚の測定方法において用いられる、図１の画像システムの概略図。
【図３】図１の画像システムの斜視図。
【図４】非変形状態におけるピクセル及びファセットを示すデジタル光学画像の概略図。
【図５】変形状態におけるピクセル及びファセットを示すデジタル光学画像の概略図。
【図６】光学画像の分析工程のフローチャート。
【図７】図２で用いた方法で使用される、皮膚に転写可能な好ましい確率的パターンを示す図。
【図８】本発明の一実施形態に基づいた皮膚の測定方法において用いられる、皮膚上の参照パターンの光学画像。
【図９】ストロークの中間点となるヒゲ剃り位置における皮膚ひずみをグレースケールで示した概略図。
【図１０】ストロークの終点となるヒゲ剃り位置における皮膚ひずみをグレースケールで示した概略図。
【図１１】図９に相当する皮膚ひずみをクロスハッチスケールで示した概略図。
【図１２】図１０に対応する皮膚ひずみをクロスハッチスケールで示した概略図。
【図１３】ストロークの始点付近のひずみ測定領域の概略図。
【図１４】ストロークの中間点付近のひずみ測定領域の概略図。
【図１５】ストロークの終点付近のひずみ測定領域の概略図。
【図１６】本発明の別の実施形態に基づいた皮膚の測定方法において用いられる、先が丸いプローブ。
【図１７】線素の並進運動及びひずみを示す参照図。
【図１８】中央投射の幾何学モデルを示す参照図。
【図１９】変形勾配テンソルの分析的計算を示す参照図。
【図２０】ひずみ計算のための３×３の近傍領域を示す参照図。
【図２１】４辺を有するファセットの近傍領域を示す参照図。
【図２２】隣接した点を有する４辺を有するファセットを示す参照図。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
画像システム
図１〜３を参照する。
【００２８】
３次元の変形及びひずみの測定のため、力が適用される試料３５（図１に概略的に示す）（本発明では図２に示されるように、例えばヒゲ剃り時の生きた人間４０の外側の皮膚表面である）を、試料の３次元座標及び３次元変形を測定する２台の高解像度のデジタルＣＣＤカメラ１０、２０によって観測する。このカメラのペアは、試験する物体の前方の作動距離３０の位置に単純に配置される。典型的な作動距離は１ｍ〜２ｍである。３次元画像相関写真測量法は２台のカメラを同期させた画像相関法と写真測量法との組み合わせである。高いコントラストの規則的パターン又はランダムパターン４５を、試験の際に変形する皮膚の表面などの試験物体の表面に適用する。繰り返される列及び行で整列されたドットの配列（例えば、長方形の格子）のような規則的なパターンを使用することが可能であるが、変形がパターンの整数量で生ずることにより、カメラがこうした変形を塊状又は剛体並進運動と取り違える可能性があるという、周期的に繰り返す、すなわち規則的なパターンで理論的に生じうる状況を避けるには、ランダムなパターンが好ましい。ランダムなパターンは、乱数生成器で得られるような、厳密又は数学的な意味で完全にランダムなものである必要はなく、目立つほど周期的に繰り返すパターンでなければ充分である。負荷が適用される条件下（本発明の一実施形態ではヒゲ剃り動作である）で、このパターンの変形をＣＣＤカメラによって記録し、評価する。最初の画像処理によって、通常５〜２５平方ピクセルのマクロ画像ファセットとして知られる固有の相関領域を、パターン形成された画像領域にわたって画定する。各ファセットの中心は、伸び計点及びひずみロゼットとみなされる計測点である。これらのファセットをサブピクセル精度（ピクセルの１００分の１まで）で各連続画像において追跡する。次いで、従来の写真測量法の原理（ミカエル、Ｅ．（Mikhail, E.）、ベテル、Ｊ．（Betel, J.）、及びマグローン、Ｊ．（McGlone, J.）、「最新写真測量法入門」（Introduction to Modern Photogrammetry）（ジョンワイリーアンドサンズ）（John Wiley and Sons）、この全容を本明細書に援用する）を用いて、パターン形成された試料の表面の３次元座標を計算する。この結果が、パターン形成された物体の表面の各点の要素の３次元形状（輪郭）、３次元変位、及び平面ひずみテンソルである。
【００２９】
３次元画像相関法は、投射されたパターンではなく、適用された微小パターン（確率的パターン）の変化を追跡するものであり、コヒーレントなレーザー光ではなく、通常の白色光を使用する。このシステムは、測定表面に適用されたパターンをサブピクセル精度で追跡するものである。これは、物体がカメラの視野内にあるかぎり、すべての局所的変形を追跡可能であることを意味する。したがって、大きな変形を１回の測定で分析することができる。剛体運動によって測定が影響されることはなく、最初のピクセル位置合わせから剛体運動を計算することも可能である。実際、調べる物体を取り除き、処理し、カメラによる視認領域内で交換した後に、測定を継続することができる。
【００３０】
３次元画像相関法による感度は、視野の１／３０，０００である。例えば、３ｃｍの視野では感度は１マイクロメートルであり、３０ｃｍの視野では感度は１０マイクロメートルである。数平方メートルの視野も、数十マイクロメートルの変形が存在するかぎりにおいて問題とならない。このシステムは、本来的に３次元形状を測定するものであり、したがって３次元の変形は連続的にではなく同時に測定される。
【００３１】
上記のような結果を得るための広く市販されている３次元画像相関写真測量法に基づくデジタルカメラシステムの一例としては、ＧＯＭ社（GOM mbh）（「ゲゼルシャフト・フューア・オプティッシェ・メステヒニーク」）（Gesellschaft fuer Optische Messtechnik）（ドイツ、ブラウンシュバイク、ミッテルヴェーク７−８、Ｄ−３８１０６所在）（Mittelweg 7-8, D-38106 Braunschweig, Germany）（ウェブサイト：ｗｗｗ．ｇｏｍ．ｃｏｍ）によって製造され、ＡＲＡＭＩＳシステムの商標表記にて販売され、同社の刊行物である「ＡＲＡＭＩＳユーザーマニュアルｖ５．４．１（２００５年版）」（その全容を本明細書に援用する）に記載のシステムがある。このＡＲＡＭＩＳシステムは米国内においてはトリリオン・クオリティー・システムズ（Trilion Quality Systems）社（１９４２８  ペンシルベニア州、ウェスト・コンショホッケン、バー・ハーバー・ドライブ  ２００、フォー・タワー・ブリッジ、スイート４００号室所在）（Four Tower Bridge, 200 Barr Harbor Drive, Suite 400, West Conshohocken, Pennsylvania 19428）（ウェブサイト：ｗｗｗ．ｔｒｉｌｉｏｎ．ｃｏｍ）などによって広く販売されている。当該システムは前述の「背景技術」の項において、例えば宇宙航空産業、大学及びＮＡＳＡでの使用について述べたものであり、「背景技術」の項に示した技術文献においても述べられている。このシステムによれば、同じセンサーで、例えば１ｍｍ〜２ｍのサイズのものなどの小さな物体及び大きな物体のいずれをも測定することが可能であることから大きな測定面積が可能であり、０．０５％〜最大数百％までの範囲のひずみを測定することが可能である。図１は、こうしたシステムを概略的に示したものである。
【００３２】
左カメラ１０は左カメラレンズ１１を有し、右カメラ２０は右カメラレンズ２１を有する。カメラはそれぞれカメラアダプタープレート１３に連結され、カメラ三脚１６によって支持されたレールなどのカメラ支持部１５に据え付けられている。調節のため、カメラはベース距離２５だけ互いから離間したカメラ回転軸１２を回転させることが可能である。カメラ１０、２０は、レーザーポインター２８によって生成され、測定される試料（３５、４０）に対してカメラが向けられるカメラ角度α（アルファ）を二分する角度２等分線２４の左右にそれぞれ配置される。レーザーポインター２８は、カメラ１０、２０を整列するための較正を行う目的でのみ用いられ、被験者がヒゲ剃りを行う場合などにおけるひずみの測定時には使用されない。
【００３３】
測定する物体３５は、幅Ｗ、高さＨ、長さＬによって画定される測定容積内のおおよその中心３４に位置する。
【００３４】
動作時には、システムは、図１又は図２に示されるような、非接触式の光学的３次元変形測定システムである。システムは、皮膚表面の変形を分析、計算及び記録する。測定結果のグラフ表示によって、測定される皮膚表面の挙動が理解される。システムは、デジタルカメラ画像において測定される物体の表面構造を認識し、座標を画像ピクセルに割り当てる。最初の座標は、皮膚表面の非変形（例えば、ヒゲ剃り動作の前の応力が作用していない皮膚状態）状態を表す標準状態を記録する際に、既に収集される。測定される皮膚表面の変形の後又は変形時に、更なる画像が記録される。次いで、システムはデジタル画像を比較し、参照画像に対する皮膚表面の特徴の変位及び変形を計算する。このシステムは、実際の要素の変形及びひずみを分析するための静的及び動的負荷における３次元の変形の測定に適している。
【００３５】
ハードウェア要素の典型的な設置が、図３に示されている。測定システムを動作させるハードウェア及びソフトウェア要素の好適な構成には以下のものが含まれる。すなわち、「ファイアワイア」（Firewire）接続（アップルコンピュータ社（Apple Computer, Inc.）が広く販売するコンピュータ及びデジタルビデオシリアルバスインターフェース規格である、ＩＥＥＥ−１３９４インターフェースの商標表記）を介してコンピュータに接続された、５０ｍｍレンズ（１１、２１）を備えた２台の１．３Ｍカメラ（１０、２０）、並びにリナックス（Linux）オペレーティングシステム及びアラミス（Aramis）アプリケーションソフトウェア・バージョン６．０．０−４（ソフトウェアは製造業者であるＧＯＭ社によって定期的に更新される）を備えた６４ビットデュアルプロセッサーコンピュータ（１８）である。カメラはシュナイダー（ドイツ、バートクロイツナッハ（Bad Kreuznach）所在のヨス・シュナイダー・オプティッシェ・ベルケ・ＧｍＢＨ（Jos. Schneider Optische Werke GmbH））社より市販される５０ｍｍレンズを用い、ＧＯＭ社によって組立て及び販売されているが、他の５０ｍｍレンズを使用することも可能である。「１．３Ｍ」という表記は、公称１．３メガピクセルであることを示す（例えば、各画像で１２８０×１０２４ピクセルのカメラ解像度）。
【００３６】
このカメラシステムの一般的なフレームレートは１０ｆｐｓ（「frames per second」、１秒当りの静止フレーム数を指す）である。このフレームレートは、例外的な速さでヒゲ剃りを行う被験者を除けば、すべて又はほぼすべての被験者で適当であると判定された。一般的なビデオはフレームレートが約３０ｆｐｓであり、「高速」という表記は４８０ｆｐｓから８０，０００ｆｐｓの範囲であることができると理解されている。より高解像度（４Ｍ）であるが、よりフレームレートが低い（最大７ｆｐｓ）又はより高速（４８０ｆｐｓ）の他のカメラもこのシステムで利用可能である。「ｆｐｓ」として示されるフレームレートはＨｚに関しても表すことできる（例えば、１２ｆｐｓ＝１２Ｈｚ）。
【００３７】
測定を行うには測定容積を選択する。人間の顔４０又は脚の場合、ここで使用するカメラ及びレンズの構成に適した選択される容積は、約１３５ｍｍ×１０８ｍｍ×１０８ｍｍである。システムの較正には、選択容積に基づいた、保証された較正プレートを用いる。１０ｍｍ３〜１０００ｍｍ３の範囲の容積が可能であり、測定する皮膚領域のサイズに応じて選択される。
【００３８】
システムの構成要素の好適な組み合わせを下表に示す。
【表１】
2010517010.tif 000003
【００３９】
ＣＣＤカメラの代わりに同様のパラメータを有すると考えられる適当なＣＭＯＳカメラを使用することも可能である。
【００４０】
上記に述べた１０〜１２ｆｐｓの範囲のカメラ速度が好ましいが、カメラ速度は重要ではない。当業者であれば、毎分数千フレームのカメラ速度（例えば、７０，０００ｆｐｓ）を用いることが可能であり、充分なひずみ写真を捕捉するうえで充分な速度であればよい点が、認識されよう。当業者であれば、フレーム速度の実際の範囲は、コンピュータのメモリー（ＲＡＭ）及び「ファイアワイア」インターフェースによって決まり、フレーム速度が増加するに従ってピクセル数が減少し、存在するピクセル数が少ないほど解像度が低くなる可能性がある点が、認識されよう。
【００４１】
測定を行う一般的な手順は、以下の工程を伴う。
１．一時的な入れ墨デザイン（以下に詳述する）などによって、対象とする皮膚領域の表面に確率的パターンを適用する。
２．同期した立体デジタル画像の形態で参照画像を捕捉する。
３．対象とする領域にヒゲ剃り用調合製品（例えば、シェービングクリーム）を塗布する（ヒゲ剃りを行うため）。パターン形成されたドットの一部には、コンピュータが参照画像と関連付けできるようにヒゲ剃り用調合製品を塗らない。
４．カミソリのストローク動作を含む同期した立体デジタル画像の形態の一連のフレームを捕捉する。
５．Ａｒａｍｉｓシステムソフトウェアの評価モードを用いて一連の捕捉された画像の分析を行い、これは、参照画像の適用パターン及び後続のひずみ画像を認識する。写真測量評価を用いて３次元座標、３次元変位及び平面ひずみテンソルを計算し、結果をグラフで表示する。
【００４２】
画像の分析を行うには、操作者は画像において始点を特定する。評価する領域（計算マスク）及び始点をカメラ画像中で直接規定する。すると、ソフトウェアはパターン形成された領域にわたって、ファセットと呼ばれる正方形又は長方形の画像小片又はボックスを計算する。観察される表面に適用されるパターンは、ファセットのサイズよりも小さいことが好ましい。各ファセットは、例えば約１５ピクセル×１５ピクセルから構成されるように選択することができる。解像度を改善するために、ファセットは重複領域を有してもよく、例えば固定された物体などの静止物体では２ピクセルの重複領域が適している場合がある。ヒゲ剃り動作を分析するには、２５平方ピクセル（２５×２５ピクセル）のファセットを選択するのが適当であることがわかっている。このサイズのファセットでは、ファセットサイズのおよそ半分の重複領域、すなわち１３ピクセルの重複領域を用いることが好ましい。これにより、被験者が動いているような場合のヒゲ剃り時の精度が向上し、より多くの点がファセットによってカバーされる。図６の要約フローチャートで、これらの工程を操作ブロック１及び２に示す。
【００４３】
ファセットを図４及び５を参照して説明する。図４は、矩形のファセットを形成するピクセル５０の一例を示したものであり、各ピクセル５０は最小の単位であり正方形すなわちボックスとして示されている。これらのピクセルは個別のグレーレベルを有している。図４は、左カメラ１０及び右カメラ２０のファセット（１５×１５ピクセル）の代表的なペアを示したものである。図４は、応力の作用していない状態の適用パターンを反映したものであり、変形のない標準状態の画像を形成している。図５は、パターン形成された物体が連続した中間的変形段階（図示せず）を経て最終的な変形状態（段階Ｆ）に到った、図４に示すファセットの一例を示したものである。図４及び図５でピクセル５０に重ね合わされた黒い四辺形は、非変形状態のファセットを示している。図４の非変形状態に見られるように、左カメラ１０はファセット５２Ｌが形成された左側の画像を与え、右カメラ２０はファセット５２Ｒが形成された右側の画像を与える。左カメラ１０に対して右カメラ２０は物体（例えば、顔４０）の同じ領域に焦点を合わせているが、左カメラ１０に対して角度αで撮影しているために、左カメラ１０からのファセットが正方形に見えるのに対して、右カメラ２０からのファセットは台形に似て傾いて見える。
【００４４】
これと比較して、図５に見られるように、変形後のパターン形成された物体上では、ファセット５２Ｌ、５２Ｒが変形し、それぞれ変形後のセット５４Ｌ、５４Ｒとして破線で示されている。比較の便宜上、非変形ファセット５２Ｌ、５２Ｒも図５に示してある。
【００４５】
大ひずみ及び小ひずみを計算するために画像処理で行われる工程を、図６のフローチャートにまとめて示す。
【００４６】
標準状態が一連の変形状態と比較される。Ａｒａｍｉｓシステムソフトウェアによって、ファセットの隅の点及びこれから得られる各ファセットの中心からファセットの２次元座標が決定される。写真測量法を用い、左カメラ１０から観測されるファセットの２次元座標と、右カメラ２０から観測される同じファセットの２次元座標とから、各ファセットの各隅及び中心の共通の３次元座標が得られる。（これを図６のフローチャートの操作ブロック３に示す。）表面にひずみが加えられる際のこれらの座標の変化を後続の画像の各ペア（左右）について測定し、参照画像に対する変形を計算する。これらの値は、異なる変位及びひずみ値として報告される。ヒゲ剃りの測定の目的では、変化率（％）として「大ひずみ」を報告することが好ましい。大ひずみの方向は、カミソリが皮膚上を通過する際にカミソリに追従することから、これはヒゲ剃りを研究するうえで最も関連性の高いパラメータであると考えられる。
【００４７】
ファセットは実質上のひずみゲージとして機能する。各ファセットを実質上の３次元伸び計とみなすことができる。ファセットの配列は、実質上のひずみロゼットとして機能する。ひずみロゼットが通常２次元と考えられるのに対してファセットは３次元であることから、これはおおよその例示である。非変形状態及び変形状態におけるファセットに関し、テンソル長の差は、変形状態と標準状態との間の脚の長さの変化を観察することで計算され、変化率（％）として表される。決定される座標は曲面からの３次元で与えられることから、座標は先ず変換（図６のフローチャートの操作ブロック４に示されるようなスプラインモデルなど）を用い、次いで工学的なひずみ計算を行うことによって、２次元に変換される。再び図６のフローチャートを参照すると、操作ブロック５に示されるように、変形勾配テンソルが以下の既知の関係式に基づいて計算される。
ｐＶ＝ｕ＋Ｆ・ｐｕ、
ただし、ｐｕ＝参照点の座標
ｐＶ＝変形点の座標
ｕは剛体並進運動を示す。
【００４８】
操作ブロック６に示すように、大ひずみ及び小ひずみは、変形勾配テンソルから導出される。主方向は大ひずみである。背景的情報として、基本的なひずみの関係式を本願明細書の末尾の付属書において考察した。
【００４９】
双方のカメラによって観測される剛体運動は上記の関係式に基づいて相殺されることから、例えばカメラの視野内で頭又は身体を動かす（又は更には視野の内側を歩く）といった、ヒゲ剃り時の被験者の不用意な運動が、カミソリのヒゲ剃り動作による皮膚のひずみのイメージングを妨げることがない。こうした分析法は、被験者を不自然に拘束することなく通常の使用でヒゲを剃る際に生ずる皮膚のひずみを測定するうえで非常に適している。
【００５０】
人が非常に荒いヒゲを有している場合、これもパターンとして画像システムによって認識され得るが、ヒゲの毛髪は不規則なパターンで生えることから不利にはならない。
【００５１】
ヒゲ剃り特性の比較
図８は参照画像を示したものであり、ヒゲ剃りの前のパターン４５のデジタル画像を示している（パターン４５の境界をなす暗くぎざぎざした実線は、視認性を高める目的で画像を切り取るために付け加えたものである）。画像は、ヒゲ剃り表面のほぼひずみのない無負荷の状態を示している。
【００５２】
ヒゲが剃られる皮膚のひずみパターンを図９〜１２に概略的に示す。図１１は、図９のグレースケール画像をクロスハッチで表したものである。図１２は、図１０のグレースケール画像をクロスハッチで表したものである。カミソリの後ろの領域のひずみは、濃淡が同じ領域によって示される、ひずみの大きさが同じバンド又は領域によって表され、「大ひずみ率（％）」のスケールは濃淡領域の対応する尺度を示している。Ａｒａｍｉｓ画像システムはこれらのバンドをカラーで提供するものであり、バンドは図８に示される参照画像の黒いドット上に重ねて示されるが、この場合ひずみバンドは、写真再生及び紙への印刷の便宜上、図９及び図１０ではグレースケール（黒い参照ドットは取り除いてある）で、図１１及び図１２では概略的にクロスハッチにレンダリングされている。対応する色は図９〜１２の凡例にも示した。
【００５３】
図９は、ストロークの中間点付近に配置されたブレードユニット７７によってパターン４５が形成された皮膚上のヒゲを剃られている顔の画像を示したものである。図９は、ヒゲが剃られた皮膚表面部分のそれぞれのバンド（１００、１０１、１０２、１０３、１０４）における最大のひずみを示している。図１１では、ひずみバンド（１００、１０１、１０２、１０３、１０４）は、いくつかのひずみレベルを示すために異なるクロスハッチを用いて示されている。例えば、交差する縦線と横線で形成される網目模様は、バンド１０１における約６％〜８％のひずみレベルを示しており、Ａｒａｍｉｓシステムで得られるカラー画像では、このバンドは例えば黄色味がかった色で示される。ひずみバンド１０４に示されるように、カミソリの後ろにより近い部分ではひずみレベルがより高いことが分かる。市販のＡｒａｍｉｓシステムは、例えば、ひずみが若干高い領域は例えば明るい緑色で示され、黄色味がかったひずみがより低い領域が、幾分拡散した境界によってひずみがより高い隣の領域と混ざり合うといったように、カラーバンド又は領域同士が互いに混じり合う傾向にあるカラー画像を生成するものであることが認識されよう。図８に示される黒い参照ドットも存在する。図１１では、ひずみがより高いこのような明るい緑色の領域は、約８〜１０％のひずみバンド１０２を示すのに用いられる、下向きに傾斜した実線と破線が交互に配されたクロスハッチに対応している。図９〜１２において、グレースケール又はクロスハッチによる描写は、異なるひずみ領域が互いに隣り合って存在する様子を概略的に示すものであり、上述したように、図８の黒い参照ドットは、分かりやすくするためにやはり取り除いてある。図９（又は図１１）に見られるように、ひずみの大きさが異なる、容易に識別可能な約５つのバンド（１００、１０１、１０２、１０３、１０４）が存在する。図９及び図１１のそれぞれでは、大ひずみが約１２％〜１４％未満であるひずみレベルが、この画像上で最大のひずみのバンド１０４としてカミソリのすぐ後方の領域に示されており、図１１では、上向きに傾斜した実線と破線が交互に配されたクロスハッチによって示されている（凡例に示されるようにＡｒａｍｉｓシステムからの画像では青緑色を示す）。
【００５４】
図１０は、ストロークの終点付近に配置されたブレードユニット７７によってパターン４５が形成された皮膚上のヒゲを剃られている顔の画像を示したものである。図１０に示されるタイプの画像は、図９の画像から約１０画像後のものである。図１０に示されるように、画像捕捉は動的であることから、図９に示される領域に先に存在したひずみは減少している。これは、カミソリが顎の方向に顔面を下方に移動したためにこの領域（図１０において括弧６０でおおよそ示した「ストローク中間点」）がこの時点でカミソリの更に後方となっていることから、カミソリが図９の領域から更に遠ざかってこの領域をそれほど引張っていないためである。図１０に見られるように、ひずみの大きさが異なる容易に識別可能な８つのバンド（１００、１０１、１０２、１０３、１０４、１０５、１０６、１０７）が存在する。図１０は、大ひずみが１８．５％より大きい、ブレードユニット７７のすぐ後方の領域をバンド１０７で示している。図１０では、これは図９で見られるよりも濃いグレーの濃淡のバンドで示されている。図１２では、図１０に見られる最もひずみが大きいバンド（１８．５％よりも大きい）に相当するひずみバンド１０７が、縦方向の破線（Ａｒａｍｉｓシステムからの画像上で紫色を表す）によって示されている。
【００５５】
画像分析について、図１３〜１５を参照して説明する。図１３〜１５に対して述べられる分析は、例えばヒゲ剃りのストロークの完了時の図１０又は図１２に同様に示される画像について行われることが理解される。代表的な空間的領域を画定する方法を示す便宜上、図１３〜１５では、ひずみのバンド及び参照ドットパターン４５の描写を省略している。画像を分析するため、ヒゲ剃りストロークの開始直後に始まり、唇から後方に延びる線の概ね近くで終了する一群の画像を選択する（顔をヒゲ剃りする際に収集される画像に関して）。左右のカメラ１０、２０からの２つの画像は、左右のカメラの個別のデジタル写真から計算される３次元レンダリングを反映していることから「ステージ」又は「レンダリング画像」と呼ばれる場合もあるが、簡素化のために各「ステージ」を「画像」と呼ぶ。その画像群内で、カミソリの直ぐ後方の領域を選択し、その領域の平均のひずみを記録する。「カミソリの後方の領域」とは、その領域のヒゲが丁度剃られ、カミソリがその領域を通過して撮像用に領域が露出しているという点で、カミソリの後に続く領域という意味である。
【００５６】
図１３に示されるように、仮想始線７５を鼻から耳にかけて描く。図１３は、おおよそのヒゲ剃り開始位置を示している。仮想終線７６を始線７５にほぼ平行に唇から後方に延びるように描く。カミソリブレードユニット７７が始線７５を通過して引かれる際、第１の測定領域８０を図１２に見られる画像上で選択する。測定領域８０は概ねブレードユニット７７のサイズとなるように選択され、ブレードユニットの直ぐ後方に位置する（ヒゲ剃りのストローク時にカミソリの移動方向の反対側となるという意味での「後方」）。仮想線７５、７６及び参照測定領域８０は、例えば図１１又は図１２に対して得られるひずみバンド画像上に描かれるが、描写を分かりやすくするためにここでは省略してある点が理解される。測定領域８０は、例えば図１１のひずみバンド上に描かれるため、Ａｒａｍｉｓシステムのソフトウェアは、境界を有する測定領域８０内のひずみを選択及び平均化し、その測定領域８０の平均の大ひずみを報告する。測定領域内において、平均のひずみの代わりに、ヒゲ剃り性能を示す他のパラメータを選択することも可能である点が理解されよう。例えば、最小ひずみ又は最大ひずみ及び標準偏差を代わりに計算することが可能である。
【００５７】
図１４に示されるように、使用者がカミソリを顎の方向へと更に下方に引いており、ブレードユニット７７はストロークの中間位置に概ね位置している。説明目的のため、図１３における前の始点位置を想像線のブレードユニット７７’で示してある。図１４は、ブレードユニット７７の後方となるこの位置において、平均ひずみが計算される第２の測定領域８１がどのようにして選択されるかを示したものである。
【００５８】
図１５に示されるように、使用者がカミソリを更に下方に引いており、ブレードユニット７７は、使用者がブレードユニットを皮膚から離して持ち上げはじめる前のストロークの終点位置に概ね位置している。ブレードユニット７７の後方となるこの位置において、平均ひずみが計算される第３の測定領域８２を選択する。ストロークの始点とストロークの終点との間に任意の所望の数の測定領域を設けることができるが、この場合、４つのこうした測定領域を用いることが好ましい。選択される測定領域は互いに隣接していてもよく、わずかに重なり合っていてもよい。
【００５９】
例示した測定領域８０、８１、８２と同様、ヒゲ剃りストローク全体の距離の相応部分にわたって分配されるように一連の画像から４つの測定領域を選択し、それらの個別の平均値の平均を求めた。この４つの測定領域は、使用者が皮膚から離してブレードユニット７７を持ち上げ始める前に、ストロークの始点からストロークの終点までの距離をストロークの相応の長さにわたってカバーするように分配されることが好ましい。例えば、ヒゲ剃りの始点と終点の間のヒゲ剃りストローク全体にわたって８〜２０の画像があってもよく、１２の画像であることが一般的であるが、これはストロークの速度に応じて変わる。領域全体にわたって、カミソリの直ぐ後方のひずみを含む４つの画像を、全体で１２の画像のうち、約３つ又は４つ毎の画像を選択することによって選択し、対応する測定領域を選択してそれらの平均ひずみを計算した。例えば４つよりも多い、別の数の測定領域をヒゲ剃りストロークの始点と終点との間で選択することもできた点が理解される。
【００６０】
比較カミソリ試験：これらの画像は、異なるカミソリの性能特性を比較するための定量化手段を与えるものである。カミソリを比較するとき、ストローク領域にわたる平均の大ひずみ率（％）の差に着目する。測定領域８０、８１において大ひずみの代わりに最大ひずみ若しくは最小ひずみ又は標準偏差を評価した場合には、最大ひずみ若しくは最小ひずみ又は標準偏差の差に着目するであろう点も理解される。このようにして、２つの異なるカミソリブレードユニットによって生まれる皮膚に加えられるひずみの比較を行うことができる。異なるガードなどのブレードユニットにおける異なる特徴を有する試験ブレードユニットと対照ブレードユニットとの間の差を評価したり、更にはハンドルの人間工学に基づいて可能な性能の差を試験するために異なるハンドルに取り付けられた同じブレードユニットの評価を行うことも可能である。こうした試験によって、既存のカミソリ間の差の評価を行ったり、プロトタイプのカミソリの開発時の試験を容易に行うことが可能である。
【００６１】
本願の譲受人であるジレット社（The Gillette Company）（米国、マサチューセッツ州、ボストン所在）が製造する２種類のカミソリ、すなわち、男性消費者向けに「Ｆｕｓｉｏｎ」及び「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」の商標表記で販売され、それぞれ２００５年後半から米国市場で、また他の市場において広く市販されているカミソリについて比較を行った。「Ｆｕｓｉｏｎ」及び「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」カミソリはいずれも、カートリッジが前部のガードと後部のキャップとの間に位置する主ヒゲ剃り面上に５枚のブレードを有する安全カミソリである。このカミソリ用カートリッジは、本願譲受人の米国特許第７，１３１，２０２号（ペネル（Pennell）ら）に示されており、当該特許の特に図１〜３を本明細書に援用するものである。
【００６２】
手動式の「Ｆｕｓｉｏｎ」カミソリは、例えば本明細書に援用する本願譲受人の米国意匠特許第Ｄ５３４，３１３号（プロボスト（Provost）ら）に、また、米国特許第７，１３１，２０２号の図１〜２に記載され、更に本願の図９〜１５においても示されている（測定法の一般性をいかなる意味でも限定するものではない）。この型の「Ｆｕｓｉｏｎ」カミソリは、カミソリを皮膚上にわたって手で引くことで動作し、カミソリが更なるブレードの運動を引き起こすモーターを有さないという意味で「手動式」と呼ばれる。
【００６３】
「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」カミソリは、例えばいずれも本明細書に援用する米国意匠特許第Ｄ５３４，３１５号（プロボスト（Provost）ら）、及び２００５年９月６日に出願された係属中の米国特許出願第１１／２２０，００８号（シュナック（Schnak）ら）（米国特許出願公報第２００７／＿＿＿＿＿＿Ａ１号として公開）に記載されている。この「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」カミソリは、ハンドル内に配置されて、ヒゲ剃り使用時に電圧が印加されるとハンドルに連結されたカミソリカートリッジを小刻みに振動させる偏心重り（フライウェイトとも呼ばれる）を駆動する電源（例えば、電池）並びにモーターを有することから、「Ｐｏｗｅｒ」型のカミソリと呼ばれる。
【００６４】
ヒゲ剃り使用時において「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」カミソリが「手動式Ｆｕｓｉｏｎ」カミソリよりも抵抗が小さいか否かを判断するために、比較を行った。カミソリはそれぞれ、通常の意図された操作方法で使用された。すなわち、「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」カミソリはヒゲ剃り時に振動するように電圧が加えられた。皮膚の大ひずみをＸ、Ｙ及びＺ軸上で測定した。２５人の被験者に２４時間ヒゲを伸ばしてもらった後にヒゲ剃りをしてもらい、ヒゲ剃りの際のストロークを測定した。上記の２種類のカミソリ間で大ひずみの差を測定した。手動式の「Ｆｕｓｉｏｎ」カミソリでは、測定された平均の大ひずみは約１４．３％であった。「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」カミソリでは、測定された平均の大ひずみは約１３％であった。これは、「Ｆｕｓｉｏｎ  Ｐｏｗｅｒ」カミソリを用いた場合には、差としてひずみが少なくとも９％低くなることを示している。
【００６５】
皮膚での他の用途
上記に述べた分析法は、皮膚に適用される応力の他の用途に用いて皮膚の応答特性を判断できることが理解される。例えば、脱毛製品を試験するための例として、例えば接着テープリフティング又はワックスの脱毛ストリップを用いて毛髪が引き抜かれる際の皮膚上のひずみを測定することが可能である。
【００６６】
皮膚に適用されるクレンザー剤は皮膚を乾燥させ、これにより皮膚がこわばり、しなやかさを失った状態となるものと考えられている。したがって、クレンザーで処理された皮膚にクレンザーで処理していない皮膚と同じ力が存在する場合、クレンザー処理した皮膚では皮膚がこわばっていることからひずみが小さくなると仮定される。皮膚をより柔らかく、又はよりしなやかにするために保湿剤が適用された場合、同じ力が存在すると、そのような保湿剤処理された皮膚はより大きく撓み、ひずみが大きくなる。
【００６７】
皮膚に適用されたローション、クリーム又は皮膚軟化剤などの保湿製品の皮膚に対する効果について光学画像試験を行う場合、試験の際に人の指又は図１６に示されるような先が丸いプローブ体９０（指を模したもの）で皮膚の一部をなぞることによって皮膚に力を伝達させることが提案されている。プローブ９０は、皮膚を概ね滑らかになぞることができるように先端部が適当な径を有している。適用される力は、指又はプローブ９０などの外部から適用される力だけではなく、内部に起因する力によっても生じうる。例えば、皮膚に力を適用するために、被験者に、笑顔を作る、眉間に皺を寄せる、又は顔の表情を作るなど、筋肉を収縮させてもらい、皮膚の変形を測定することができる。
【００６８】
一時的入れ墨パターン
当業者であれば、ヒゲ剃り時の皮膚をイメージングする際、水、及び石鹸、シェービングクリーム又はジェルなどのヒゲ剃り用調合製品を通常伴うヒゲ剃り環境に曝されることでパターンが破損しないことが望ましく、また、パターンは永久的なものではなく、試験の終了時には皮膚から概ね容易に取り除けるものであることが望ましい点が認識されよう。また一般に、皮膚が試験及びイメージングの一部として保湿剤などのローションに曝される場合、試験を行う材料によって容易に滲まないようなパターンを適用する必要がある。
【００６９】
参照画像及び変形画像を生成するための適当な標的を有するように皮膚表面にパターン形成するため、細い絵筆で頬に塗料で点描して被験者の皮膚に手描きすることによって「ドット」を形成した。例えば、「Ｒｕｓｔｏｌｅｕｍ」の商標表記で米国内で販売されている黒色の油性エナメル塗料などの、ホームセンターで市販されている塗料のような非水溶性塗料を選択した。この塗料を先細の絵筆の先端で皮膚に叩いて付けることで、イメージング及び分析において好適な結果をもたらす高コントラストのランダムなドットのパターンを得た。しかしながら、この塗料による皮膚パターンの適用法には、強い匂いがある、汚れる、人が多量の塗料に触れる、時間のかかる入念な準備が必要である、及び皮膚から取り除くのに不便である、といった問題点があった。缶のボタンを断続的に押したり、エアブラシ法を用いることなどによる、缶入りスプレー塗料缶などのスプレー塗装法を用いて適当なランダムパターンをより速やかに得ることも可能であるが、こうした適用時に人の眼、鼻、耳、毛髪、及び衣服を適切に保護するには、これらの部分を念入りにマスキングする必要があり、それでも人が多量の塗料スプレー又は蒸気に曝される可能性があることから、やはり不便である。
【００７０】
ヒゲ剃り及びイメージングを行う顔又は身体の表面に速やかに適用可能なパターン４５を提供するため、図７に示されるような転写パターンが開発された。パターン４５は、図７に示されるように、ＦＤＡに認可された標準的なインクによって印刷され、皮膚表面に容易に転写される、一時的な身体用入れ墨として製造することができる。入れ墨パターン４５は、アルコールによって、又は水及び従来の石鹸、メーキャップ若しくは化粧落とし組成物（石油系ローションなど）で勢いよく通常の洗浄を行うことなどによって、入れ墨パターン４５が適用された皮膚から拭き取るか、除去することができるという本明細書で用いる意味において、除去可能又は一時的なものである。本発明の一時的入れ墨は石鹸と水で繰り返し洗うことによって除去できるが、アルコールの使用により、より速やかに除去することができる。本発明の一時的入れ墨は、拭き取ったり洗浄によって除去したりすることが不可能な、レーザー又は外科的手段などの医学的介入などによってのみ除去することができる永久入れ墨とは大きく異なるものである。
【００７１】
最初に皮膚を例えば７０％イソプロピルアルコールで清拭し、パターン形成する皮膚領域に転写紙７３を適用する。転写紙７３をアルコールで濡らしてインクパターン４５を転写する。使用されるインクは水によって落ちず、使用されるヒゲ剃り用調合製品（例えば、シェービングソープ、フォーム、又はジェル）によって落ちず、更にヒゲ剃り動作自体（例えば、皮膚にカートリッジを擦りつける動作、又は皮膚に沿って動くブレード）によっても落ちることがないが、転写されたパターンは試験の終了時にアルコールで容易に除去できることが有利であることがわかっている。
【００７２】
アドビ（Adobe）社のフォトショップ（Photoshop）などの市販のＤＴＰソフトウェアを使用して図７に示されるようなパターン４５をコンピュータのデータファイルとして形成することが便利であることが分かっている。パターン４５は、ランダムなパターンで配置されるしるしを有する。しるしは概ねランダムな分布の３つの異なるサイズのドットであることが好ましい。それぞれのドットの直径は以下の通りである。すなわち、小径のドット７０は１．６ｍｍ（０．０６３インチ）、中間径のドット７１は２．１ｍｍ（０．０８３インチ）、及び大径のドット７２は２．６ｍｍ（０．１０３インチ）である。ドットは数学的に真の直径を有する正確な円である必要はなく、小さい卵形若しくは楕円形、又は更には矩形などの小さい多角形のような非円形又は任意の形状であってよい。パターン全体におけるドットのサイズの分布は、各サイズとも約１／３である。パターン４５は２つの異なるドットサイズのみで構成することもできるが、３つの異なるドットサイズが好ましい。パターン４５は３つよりも多い異なるドットサイズを含んでもよい。このようなサイズ分布を有するパターン４５は、評価の際に計算ファセットの良好なラスターを可能とするだけ充分に小さく、カメラによって解像されるだけ充分に大きい。（図７の画像は、１２．７ｃｍ×１２．７ｃｍ（５インチ×５インチ）の正方形として印刷してある。）
パターン４５の密度は、約４０％〜約６０％の範囲であることが好ましい。約「４０％の低密度」とは、例えば、与えられたパターン４５の正方形の領域において、約４０％が濃い画像（例えば、集団的なドット）によって、６０％が背景スペースによって占められていることを意味する。充分なコントラストを得るには、背景は中間色又はいわゆる「白抜き」のスペースである。約「６０％の高密度」とは、例えば、与えられたパターン４５の正方形の領域において、約６０％が濃い画像（例えば、集団的なドット）によって、４０％が無色（白抜き）スペースによって占められていることを意味する。範囲のおおよその中間の値である約５０％のパターン密度が、良好な結果をもたらすものと考えられる。好ましい実施形態では、図７に示されるパターン４５は、約４２．５％のパターン密度（したがって残りの「白抜き」スペースは約５７．５％を占める）を有すると実用上好適であった。パターン４５はその広がり全体にわたって一様なパターン密度を有することが好ましく、これによりパターンを頬又は脚などの皮膚表面に適用することが容易になる。
【００７３】
パターン４５は基材７３に印刷される。転写入れ墨の技術分野では印刷パターン４５がウェブから剥離されて皮膚に転写されることが知られており、このため基材７３はウェブ又は剥離ウェブとも呼ばれる。基材７３は、透湿性（アルコールを吸収するなどの吸湿性）であることが好ましい。これにより、基材が皮膚に配され、アルコール（例えば、イソプロピルアルコール又は変性アルコール）で濡らされた際に印刷パターンが剥離しやすくなる。基材７３は、紙又はセルロース材料から作られることが好ましい。基材７３として、紙の技術分野において「吸い取り紙」と呼ばれるもの、又は一般に自分でタバコを巻くために市販されているシガレットペーパーを用いると便利であることが分かっている。他の基材としては、クラフト紙等の紙、プラスチック又はこれらの複合材料が挙げられる。パターン４５は壁紙又はギフト包装紙に似た長いロールとして基材７３上に形成することができ、好ましくは、パターン４５は少なくとも頬の大きさの長さ寸法にわたって均一なパターン密度（約１０ｃｍ（少なくとも約４インチ））を有し、これにより頬への適用が容易となる。
【００７４】
パターン４５のドットはインクで印刷される。使用されるインクは皮膚との接触に適したものであり、米国内において食品、薬品及び／又は化粧品への使用が認可されたもの（ＦＤ＆Ｃ又はＤ＆Ｃグレード）などのように無毒性である点が認識されよう。こうしたインクは、米国連邦規則集２１巻７３及び７４条に記載されている。これらのインクは一般に食品グレード及び又は化粧品グレードのインクであり、ＦＤＡ規制化粧品に従って製造されるものと同じ着色剤である。好適なインクは、着色され溶媒ベースである。好ましいインクは非水溶性である。有用な黒色インクは、顔料である酸化鉄を含有したものである。Ｄ＆ＣブラックＮｏ．２と呼ばれる黒色インクなどの暗色インクが好ましい。こうしたインクは広く市販されている。こうした供給元の１つとして、１００１１  ニューヨーク州、ニューヨーク、２６ウェストセブンティーンス・ストリート（26 West Seventeenth Street, New York, NY 10011）所在のテンプツ（Temptu）社（ウェブサイト：www.temptu.com）がある。有毒物質を含まないものとして認定されたことを意味する「認定」付きのインクを使用することが好ましい。青色インクを使用することもできる。他の暗色又はインクの混合物を使用することもできる。インクは担体中の油性染料又は顔料から形成され、低級アルコールに可溶であるが水溶性は非常に低いものである。インク又は染料は、水に実質的に不溶性であるがアルコールに可溶性のものであることが好ましい。こうした油性インクは一時的入れ墨の基準を満たす一方で、充分な耐水性を有することでヒゲ剃り動作に耐えつつ皮膚にパターンを提供するという上記の目的を満たすものである。医薬及び化粧品の分野において、人の皮膚との接触に適した多くのこうしたインクが知られている。多くのこうした染料が、米国特許第４，１６９，１６９号（キタバタケ（Kitabatake））に開示されており、コラム３、３６〜６８行を含め、その教示を本明細書に援用する。油性染料がインク組成物に配合される。染料以外にインクは通常、結合剤、溶媒、可塑剤、及び場合により他の添加剤を含有する。ドット７０、７１、７２のインク層の厚さは通常、約１０マイクロメートル以下である。皮膚に堆積されるパターン４５のインク層は極めて薄く、皮膚の特性、ヒゲ剃り性能又はヒゲ剃り動作に影響を及ぼさず、測定を行う妨げにもならない点が認識されよう。
【００７５】
広く商業的に行われていることとして、例えばテンプツ（Temptu）社（１００１１  ニューヨーク州、ニューヨーク、２６ウェストセブンティーンス・ストリート（26 West Seventeenth Street, New York, NY 10011）所在）から入手可能であるような、従来のコンピュータ用プリンターを用いて、パターン４５を含む電子データファイルを印刷することができる。オフセット、シルクスクリーン、又はグラビア印刷などの公知の印刷法のいずれかによって、パターン４５を基材７３の紙に印刷して、一時的入れ墨を形成することができる。また、入れ墨を印刷するには、パターン４５を含むデジタル化画像又は電子ファイルをコンピュータから、インクカートリッジにＤ＆Ｃ又はＦＤＡに認可されたインクを充填した従来のインクジェットプリンター又はレーザージェットプリンターに出力し、当該技術分野で知られるような紙基材に印刷することもできる。こうした好都合な印刷形態は、米国特許第６，０４２，８８１号（エワン（Ewan））に述べられる、基材への印刷に関する教示部分により概ね述べられており、その全容を本明細書に援用する。基材に入れ墨を印刷する他の方法が、その教示を本明細書に援用する米国特許第６，５９６，１１８号（ベイリー（Bailey））など、当該技術分野において知られている。
【００７６】
接着剤を使用していないことから、完成した入れ墨を覆うための保護剥離シートを必要としない。したがって、パターン４５のしるしは保存時に空気に曝されてもよく、これにより、剥離して廃棄しなければならない保護又は被覆層が設けられないことから、被験者が皮膚にパターン形成する際の利便性、容易性、及び速さが更に向上する。更に、使用されるインクは非水溶性であり、これは保護剥離シートが必要とされない更なる理由となっている。
【００７７】
上記明細書では、本発明を具体化する広範な可能な構成及び方法を示す多くの実施形態及び変形例を記載した。上記の開示に基づいて、更なる変形例及び実施形態が当業者には容易に想到されるであろう。これらの実施形態及び変形例はすべて、特許請求の範囲で規定される発明の範囲に包含されるものとみなされるべきである。
【００７８】
付属書：ひずみの基礎的理解
この項では、ひずみ及びひずみの計算の基礎について、ヒビット（Hibbitt）ら、ベッカー（Becker）ら、ハーン（Hahn）及びコップ（Kopp）らによる著書（下記引用文献に列記する）に基づいたＡｒａｍｉｓユーザーガイド（ｖ５．４．１）を詳しく参照しながら説明する。
【００７９】
Ａ．１．用語「ひずみ」について
ひずみとは、線素の変形の尺度であり、以下のように定義することができる。
【数１】
2010517010.tif 000004
【００８０】
ストレッチ比λは、無限小線素の相対的な伸びである。ひずみ値εは、ストレッチ比λの関数として定義することができる。
【００８１】
以下の既知の関数は、よく用いられるひずみの尺度である。
【００８２】
・単純ひずみ：
【数２】
2010517010.tif 000005
【００８３】
・対数又は自然ひずみ：
【数３】
2010517010.tif 000006
【００８４】
・グリーンのひずみ：
【数４】
2010517010.tif 000007
【００８５】
Ａ．２  変形勾配テンソル
上記の項では、１次元の場合におけるストレッチ比を定義し、ひずみの尺度を一般的に定義した。これを２次元の場合に拡大して考える。
【００８６】
Ａ．２．１  変形勾配テンソルの定義
表面要素の変形を定量的に示すため、変形勾配テンソルＦを導入する。変形勾配テンソルは、線素ｄＸを線素ｄｘに変換する。いずれの場合も、線素は同じ材料の座標を連結する。理論的には、これは無限小線素である。図１７はこの場合を示す。
【００８７】
したがって、変形勾配テンソルは下記のように定義される。
ｄｘ＝Ｆ・ｄＸ
【００８８】
Ａ．２．２  変形勾配テンソルの極座標への分解
変形勾配テンソルの問題点として、回転及びストレッチが１つの行列のみを用いてモデリングされる点がある。これは、変形勾配を純粋な回転行列と純粋なストレッチテンソルとの２つのテンソルに分けることによって補償することができる。この行列は、以下の２つの異なる方法で分解することができる。
【００８９】
・回転及び右ストレッチテンソルへの分解。数学的には、変形勾配テンソルは以下のように分解される。
Ｆ＝Ｒ・Ｕ
【００９０】
図１８は、このモデリングを示す。
【００９１】
・左ストレッチテンソルと回転への分解。数学的には、変形勾配テンソルは以下のように分解される。
Ｆ＝Ｖ・Ｒ
【００９２】
Ａ．２．３  変形勾配テンソルから導出される大ひずみ及び小ひずみ
値εｘ、εｙ、及びεｘｙ＝１／２γｘｙは、ストレッチテンソルＵから直接読み取ることができる。これは以下の形を有する。
【数５】
2010517010.tif 000008
【００９３】
ひずみの尺度εｘ及びεｙは、座標系に依存したものとして定義されるという問題がある。この問題は、大ひずみ及び小ひずみを計算することによって解消されることができる。対称行列Ｕは、主対角の形に変換することが可能である。２つの固有値λ１及びλ２を以下のように計算することができる。
【数６】
2010517010.tif 000009
【００９４】
選択されるひずみの尺度に応じて、ストレッチ比λ１及びλ２を対応するひずみ値に変換することができる。大きい方の固有値は大ひずみ１ε１と呼ばれ、小さい方の固有値は小ひずみ２ε２と呼ばれる。対応する固有ベクトルによって大ひずみ及び小ひずみの２方向が決定される。このように決定されたひずみ値は座標系とは独立しており、普遍的に適用することができる。
【００９５】
表面全体に対して材料の厚さが小さい場合には、残りの材料の厚さを表面の変形から推測する必要がしばしばある。使用される光学測定法では、この次元におけるデータを得ることはできないため、容積一定と仮定して、大ひずみε１及び小ひずみε２から第３の主ひずみε３を計算することができる。ひずみ値を決定せずに、ストレッチ比の間の関係をより一般的に表すことも可能である。容積の一定性は、以下のように定義することができる。
λ１・λ２・λ３＝１
【００９６】
有効ひずみが必要とされることが多い。フォン・ミーゼス（von Mises）及びフォン・トレスカ（von Tresca）に基づく有効ひずみが利用可能である。フォン・ミーゼスに基づく有効ひずみは、下式から得られる。
【数７】
2010517010.tif 000010
【００９７】
フォン・トレスカに基づく有効ひずみは、下式から得られる。
【数８】
2010517010.tif 000011
【００９８】
Ａ．３  ２次元変位場からの変形勾配テンソルの計算
所与の点の２次元変位場から変形勾配テンソルＦを計算する。そのためには、各点の２次元座標が非変形状態及び変形状態の両方でわかっていなければならない。変形勾配テンソルＦの定義は、非変形線素を変形線素に変換する方法を説明するものである。ある点の変形勾配テンソルを計算するには、観察される点の近傍の多数の点が必要である。この計算モデルでは、この隣接した点の集合について均質なひずみ状態を仮定する。
【００９９】
変形勾配テンソルは、変形点Ｐｖ，ｉの座標と非変形点Ｐｕ，ｉの座標（ｉは異なる点を示す番号である）との関数的関係を作る。この関数的関係は、以下のようなものである。
【０１００】
ｐｖ＝ｕ＋Ｆ・ｐｕ
ただし、
ｐｕ＝非変形点の座標
ｐｖ＝変形点の座標
ｕ＝剛体並進運動を示す。
図１９を参照する。
【０１０１】
この式は、未知数が変形勾配テンソルＦの４つのパラメータである線形等式システムを記述するものである。変形勾配テンソルＦは、単位正方形を平行四辺形に変換するアフィン変換として解釈することができる。この等式システムは、３つの点について分析的な計算を行うことができる。３つよりも多い点が選択される場合、結果は、通常矛盾する過剰決定された等式システムである。この場合、３つよりも多い点について計算を行える方法を用いなければならない。そこで、ガウス最小２乗調整法を用いる。
【０１０２】
近傍点の数を調整して１点について変形勾配テンソルを計算することができる。これにより、微分を行う長さが設定される。所定の点の近傍領域を正方形状に配置する。最小の近傍領域は３×３の環境であり、これを２ずつの増分で増加させることができる。図２０は、３×３の近傍領域を示す。
【０１０３】
更に高い解像度に関して、４辺を有するファセットについて変形勾配テンソルを計算することができる。ファセットは４つの点からなる。計算された変形勾配テンソルを実質上の重心Ｓについて計算する。図２１は、４辺を有するファセットを概略的に示す。
【０１０４】
この計算モデルでは、個々の線素がその変形以外に受けた純粋な剛体変位もやはり変形勾配テンソルＦによってモデリングできないことを仮定している。このことは、変形勾配テンソルＦの計算を行うためには近傍領域のすべての点が並進運動しうることを意味している。この並進運動は、非変形状態と変形状態とで異なってもよい。並進運動は、変形勾配テンソルが計算されている点が原点へと移動するように選択される。
【０１０５】
Ａ．４  ３次元変位場からの変形勾配テンソルの計算
ここまでの説明では、２次元におけるひずみの計算を詳細に扱った。しかしながら、測定データは、試料の表面の３次元のデカルト座標からなっている。上記の計算モデルが使用できるためには、３次元データを２次元空間に変換しなければならない。
【０１０６】
Ａ．４．１  接線モデル
第１のモデルは、ある点の局所近傍領域が接平面によってよく概算できるということを仮定している。表面の任意の変形のために、接平面は変形状態と非変形状態とで別々に計算する必要がある。次いで、局所近傍領域内の点を接平面上に垂直に投射する。この結果、２次元空間内で変形状態と非変形状態に対して点の２つの集合が得られ、この空間内のひずみを計算することが可能となる。要約すると、この方法は以下の過程からなる。
【０１０７】
・接平面の計算
・３次元近傍領域の接平面への変換
・接平面の２次元空間への座標変換
・２次元の点の集合からの変形勾配テンソルの計算
【０１０８】
Ａ．４．２  スプラインモデル
上記に述べた接線モデルは、点の局所近傍領域の線形化の仮定が有効であるかぎり良好な結果をもたらす。深絞りにおいては、変形された材料は多くの場合、連続的な曲面である。その場合の問題点は、局所線形性の仮定が依然成り立つ頻度で、測定する特性をそれぞれの物体に作用させることにある。しかしながら、この特性は現実では得難いものである。したがって、表面の真の形状のモデリングにおいて、より正確な他のモデルを使用するほうがよい。スプラインは、連続した曲線の優れたモデルである。
【０１０９】
線形モデルのみによらずに辺の長さを計算するには、ある辺上で２点よりも多くの情報を有する必要がある。このことは、４辺を有するファセットの隣接した点が計算に含まれなければならないことを意味する。図２２は、クロスハッチで示された４辺を有するファセットの隣接した点を示したものである。
【０１１０】
このファセットでは、辺の長さは形成されたスプラインを用いて計算される。得られた長さを用いて、２次元空間で四辺形を構築することができる。これにより、上記に述べたひずみ計算を用いることができる。
【０１１１】
Ａ．５  ひずみ理論の引用文献
１）Ａｒａｍｉｓユーザーマニュアルｖ５．４．１（ＧＯＭ社）１２９〜１３５頁
２）ヒビット・カールソン・アンド・ロレンセン社（Hibbitt, Karlsson and Lorensen, Inc.）、ＡＢＡＱＵＳ理論マニュアル、５．７版
３）ベッカー（Becker）及びバーガー（Burger）、連続体力学（Kontinuumsmechanik）（Continuum Mechanics）、チューブナー・バーラグ（Teubner-Verlag）、１９７５
４）マルバーン（Malvern）、連続媒体の力学入門（Introduction to the Mechanics of a Continuous Medium）、プレンティス・ホール（Prentice-Hall）、１９６９
５）ハーン（Hahn）、弾性理論（Elastizitatstheorie）チューブナー・バーラグ（Teubner-Verlag）、１９８４
６）コップ（Kopp）及びウィーゲルス（Wiegels）、変換法入門（Einfuhrung in die Umformtechnik）（Introduction to Transformation Technique）、Ｖｅｒｌａｇ  ｄｅｒ  Ａｕｇｕｓｔｉｎｕｓ  Ｂｕｃｈｈａｎｄｌｕｎｇ、１９９８
【０１１２】
明細書中、以下に列記する参照符号を用いる。
【表２】
2010517010.tif 000012
【０１１３】
本明細書に開示される寸法及び値は、記載される正確な数値に厳密に限定されるものとして理解するべきではない。むしろ、特に断らない限り、こうした寸法はそれぞれ、記載される値及びその値周辺の機能的に同等の範囲の双方を意味するものとする。例えば、「４０ミリメートル」として開示される寸法は、「約４０ミリメートル」を意味するものである。
【０１１４】
本発明の「発明を実施するための形態」で引用したすべての文献は、関連部分において、本明細書に援用するものであるが、いずれの文献の引用も、それが本発明に対する先行技術であることを容認するものとして解釈されるべきではない。本書における用語のいずれかの意味又は定義が、援用された文献における用語のいずれかの意味又は定義と相反する範囲では、本書においてその用語に与えられた意味又は定義が優先するものとする。
【０１１５】
本発明の特定の諸実施形態を図示し、記載したが、本発明の趣旨及び範囲から逸脱することなく他の様々な変更及び改変を実施できることは当業者には自明であろう。したがって、本発明の範囲内にあるこのようなすべての変更及び改変は、添付の特許請求の範囲において網羅されるものとする。
【図１】
2010517010.tif 000013
【図２】
2010517010.tif 000014
【図３】
2010517010.tif 000015
【図４】
2010517010.tif 000016
【図５】
2010517010.tif 000017
【図６】
2010517010.tif 000018
【図７】
2010517010.tif 000019
【図８】
2010517010.tif 000020
【図９】
2010517010.tif 000021
【図１０】
2010517010.tif 000022
【図１１】
2010517010.tif 000023
【図１２】
2010517010.tif 000024
【図１３】
2010517010.tif 000025
【図１４】
2010517010.tif 000026
【図１５】
2010517010.tif 000027
【図１６】
2010517010.tif 000028
【図１７】
2010517010.tif 000029
【図１８】
2010517010.tif 000030
【図１９】
2010517010.tif 000031
【図２０】
2010517010.tif 000032
【図２１】
2010517010.tif 000033
【図２２】
2010517010.tif 000034
【国際調査報告】
2010517010.tif 000035
2010517010.tif 000036
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