(57)【要約】  赤外線照射素子・受光素子の数を増加することなしに物体の座標をより微細に測定するタッチパネル用絞り込み座標検出方法と、外部環境又はその本来の特性に起因して受光量によって生じる位置検出誤差を最小限に抑える誤差補正方法とが提供される。前記検出方法では、物体の左端部及び右端部に対応する赤外線照射素子・受光素子の受光量が測定かつ格納され、その光量と最大受光量とが比較されてその絞り込み座標が算出される。前記補正方法では、赤外線受光が物体によって最も著しく阻害されている位置における下限値が、最大受光量と最小受光量の比較計算を介して算出され、その位置における下限値が前記算出値を超えないときのみに物体が或る位置に存在してことが検出される。
2010511207.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のＸ軸赤外線照射素子と受光素子及び複数のＹ軸赤外線照射素子と受光素子を含むタッチパネル用絞り込み座標検出方法であって、以下をさらに特徴とするタッチパネル用絞り込み座標検出方法。その赤外線照射と受光が物体によって阻害されていない赤外線照射素子・受光素子対の最大受光量と、その赤外線照射と受光が物体によって完全に阻害されている赤外線照射素子・受光素子対の最小受光量とを測定かつ格納することと、 前記物体の中心軸に載置された赤外線照射素子・受光素子対の受光量と、前記物体の左端部に対応する赤外線照射素子・受光素子対の受光量と、前記物体の右端部に対応する赤外線照射素子・受光素子対の受光量とを測定かつ格納することと、 前記物体の中心軸に載置された前記赤外線照射素子・受光素子対の受光量に基づいて前記物体の基本座標を算出することと、 最大受光量と、前記物体の左端部及び右端部に対応する２対の赤外線照射素子・受光素子の受光量とを比較することによって前記物質の絞り込み座標を算出すること。
【請求項２】
最大受光量と、前記２対の赤外線照射素子・受光素子の受光量とを比較することによる前記物質の絞り込み座標の算出が次に挙げる方程式に基づくことを特徴とする請求項１に記載の絞り込み座標検出方法。
2010511207.tif 000008
さらに、
2010511207.tif 000009
上式では、「Ｒｍａｘ（ｋ−ｌ）」及び「Ｒｍａｘ（ｋ＋ｊ）」は、ｋ-ｌｔｈ及びｋ+ｊｔｈ赤外線受光素子に対応する位置においてその赤外線照射と受光が物体によって阻害されていない赤外線照射素子と受光素子の最大受光量を示し、「Ｒｃｕｒ（ｋ-ｌ）」は、前記物体の左端部に対応するｋ-ｌｔｈ対の赤外線照射素子・受光素子「Ｘ（ｋ-ｌ）」の受光量を示し、「Ｒｃｕｒ（ｋ＋ｊ）」は、前記物体の右端部に対応するｋ+ｊｔｈ対の赤外線照射素子・受光素子「Ｘ（ｋ+ｊ）」の受光量を示し、さらに「Ａ」は、絞り込み座標の解像度を示す。
【請求項３】
複数のＸ軸赤外線照射素子と受光素子及び複数のＹ軸赤外線照射素子と受光素子を含むタッチパネル用絞り込み座標検出方法であって、以下をさらに特徴とするタッチパネル用誤差補正方法。複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線照射及び受光を介して赤外線受光素子から読み込まれる最大光量を測定かつ格納することと、 赤外線受光が物体によって最も著しく阻害されている位置に対応する赤外線受光素子から読み込まれる最小光量を測定かつ格納することと、 最大光量と最小光量の比較計算を介して、赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている位置における下限値を計算することと、 さらに、所与の位置における下限値が、赤外線受光の最も著しく阻害されている位置における下限値以下であるときのみに物体が所与の位置に存在することを検出すること。
【請求項４】
最大光量と最小光量の比較計算を介して、前記赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている位置における下限値の算出が次に挙げる方程式に基づくことを特徴とする請求項３に記載の誤差補正方法。
2010511207.tif 000010
上式では、「閾値（ｋ）」は下限値を示し、「Ｒｍａｘ（ｋ）」は、赤外線受光素子から複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線順次照射及び受光を介して読み込まれる最大光量を示し、「Ｒｍｉｎ（ｋ）」は、赤外線受光が物体によって最も著しく阻害されている位置「Ｘ（ｋ）」に対応する赤外線受光素子から読み込まれる最小光量を示す。
【請求項５】
以下を特徴とする請求項３又は請求項４に記載の誤差補正方法。複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線照射及び受光を介して赤外線受光素子から読み込まれる絶対最小光量を事前設定することと、 赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている位置に対応する赤外線受光素子から読み込まれた最小光量が前記絶対最小光量を超える場合、その格納最大光量を零（ゼロ）として検出し、前記複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線照射及び受光を繰り返して、前記赤外線受光素子から読み込まれた最大光量を測定かつ格納することである。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネル用絞り込み座標検出方法及び誤差補正方法に関するものであり、特に、赤外線タッチパネル上のオブジェクトの絞り込み座標を検出するための方法において、赤外線照射素子と受光素子の数を増加することなしに前記オブジェクトの座標をより微細に測定できることを特徴とする方法と、外部環境の変化又は前記赤外線受光素子の本来の特性に起因する赤外線受光素子の受光量における誤差によって生じる位置検出誤差を最小限に抑えることができる赤外線タッチパネルの誤差を補正するための方法とに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
前記タッチパネルは、ユーザーと情報と通信装置間のインターフェースを提供するための各種ディスプレイを使用する各種装置の１つである。具体的には、前記タッチパネルとは、ユーザーが指又はペンでその画面に直接タッチすることによって情報や通信装置とインターフェースをとることができる入力ユニットのことである。
【０００３】
前記タッチパネルは、ユーザーがそのディスプレイに表示されたボタンを指でタッチするだけで対話的かつ直観的にコンピュータなどを操作することを可能にするので、男性、女性、そして子供でも入力装置として容易に使用できるものである。かくして、タッチパネルは、ＰＤＡ、ＬＣＤ、ＣＲＴ、銀行又は公官庁向けの設備機器、さまざまな医療機器、トラベルガイド、及び主要施設用の誘導装置、及び交通案内などの多種多様な領域に応用されている。
【０００４】
前記タッチパネルの操作方式又は実施方式には、抵抗膜（又は容量結合）方式、ＳＡＷ（弾性表面波）方式、及び赤外線マトリックス方式が含まれる。前記抵抗膜方式タッチパネルは、ガラスと薄膜の間に塗布された化学薬品と、前記パネルのＸ軸側及びＹ軸側に取り付けられた薄金属板とを備えるパネル構造を有する。この方式のパネルに電力が供給されると、前記パネルに比抵抗が生じる。次いで、指又は他の物体が前記パネル上の位置に触れると、前記化学薬品は反応してその位置の抵抗値は即座に変化する。その抵抗変化は、前記パネル側面上の前記金属板にて検出され、前記タッチされた位置の座標がその検出された抵抗変化から判定される。
【０００５】
前記赤外線マトリックス方式パネルは、前記パネルの４面上に配設されて前記パネル上に非常に緊密に交差する格子形状で赤外線を発生させる水平・垂直の赤外線照射検出アレイを有する。物体がこのパネル上の位置に触れると、前記物体はその位置を介して伝播する赤外線を遮断し、前記遮断が検出されてその接触物体の位置情報を取得される。
【０００６】
前記赤外線方式タッチパネルは一般に以下のとおりに構築される。コントローラがＰＣＢ板部分に設けられ、ディスプレイユニットは前記パネル部分に設けられる。無反射性アクリル板は前記ディスプレイユニットの前表面に設けられる。複数対の水平赤外線照射素子と受光素子は前記パネルの上縁部及び下縁部に設けられ、複数対の垂直赤外線照射素子と受光素子は前記パネルの左縁部及び右縁部に設けられて赤外線マトリックスを作り出す。画面は前記ディスプレイユニットの後表面に設けられる。ユーザーが前記赤外線照射素子と受光素子によって作り出された前記赤外線マトリックスに指で触れると、その部分で赤外線が遮断されて前記部分の位置が検出される。前記赤外線マトリックスは、前記ＰＣＢ板部分に形成された前記コントローラによって制御される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、ユーザーが常に、水平赤外線照射素子と受光素子との対や垂直赤外線照射素子と受光素子との対に対応するセルの中心をタッチするとは限らない。ユーザーは時として、前記セルの中心から逸脱した位置、たとえば前記セルのコーナー又は周辺部をタッチする可能性もある。従来のタッチパネルでは、その解像度が赤外線照射素子と受光素子の数によって限定されるため、物体の座標の検出はその限られた解像度のみでしか行うことができない。よって、従来のタッチパネルでは、前記パネル上で物体がセルの中心から逸脱した位置に触れる際には正確な物体の座標を検出することが困難である。
【０００８】
前記パネルに触れる物体の正確な座標を検出するには、解像度を高めること、すなわち赤外線照射素子数と受光素子数を増やすことが必要である。しかしながら、これは前記製造コストの上昇をもたらす。
【０００９】
さらに、従来のタッチパネルを含むオートメーション機器が外部環境によって大きく影響される場合、たとえば強烈な光に突如暴露される場合には、赤外線受光素子を含む赤外線受光器の最大検出レベルは極端に高く設定されてしまう。この場合、物体なしでの前記赤外線受光器の検出レベルは、過剰に高い最大検出レベルよりも著しく小さいので、ユーザーが前記パネルに触れないときでさえも、前記パネル上に物体が存在しているかのように誤って検出される可能性もある。
【００１０】
さらに、前記タッチパネルの素子は温度の影響を受けやすいので、前記タッチパネルの赤外線受光素子が不正確又は誤りを含む検出結果を提供する可能性もある。
【００１１】
したがって、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、タッチパネル用絞り込み座標検出方法において、複数対の赤外線照射素子・受光素子中でその赤外線照射と受光が前記物体によって阻害された中心部の赤外線照射素子・受光素子対の受光量と、前記複数対の赤外線照射素子・受光素子中で最外部の赤外線照射素子・受光素子対の受光量との比較計算を介して赤外線照射素子と受光素子の数を増加することなしに、物体の座標をより微細に測定することができることを特徴とするタッチパネル用絞り込み座標検出方法を提供することが本発明の目的である。
【００１２】
また、タッチパネル用の相対誤差補正方法において、特定位置における赤外線照射素子及び受光素子の最大受光量及び最小受光量の比較計算を介して得られる下限値が事前設定されており、次いで、その赤外線照射と受光が前記物体によって阻害された赤外線照射素子・受光素子対の受光量が事前設定された下限値以下の場合のみに物質の存在が検出されることを特徴とするタッチパネル用の相対誤差補正方法と、タッチパネル用の絶対誤差補正方法において、赤外線受光素子の絶対受光量が事前設定され、特定位置に対応する赤外線受光素子の最小レベルが事前設定された絶対レベルを超える場合、前記特定位置に対応する前記赤外線受光素子の最大レベルが「０（ゼロ）」として格納され、その最大レベルが再度測定及び算出され、それによって、外部環境のために過剰に増大されている赤外線受光素子の最大赤外線受光量の誤差が補正されることを特徴とするタッチパネル用の絶対誤差補正方法とを提供することも本発明の別の目的である。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の態様によれば、上記目的及び他の目的は、複数のＸ軸赤外線照射素子と受光素子及び複数のＹ軸赤外線照射素子と受光素子を含むタッチパネル用絞り込み座標検出方法において、以下をさらに特徴とするタッチパネル用絞り込み座標検出方法を提供することによって達成することが可能である。前記方法が、その赤外線照射と受光が物体によって阻害されていない赤外線照射素子・受光素子対の最大受光量と、その赤外線照射と受光が物体によって完全に阻害されている赤外線照射素子・受光素子対の最小受光量とを測定かつ格納することと、  前記物体の中心軸に載置された赤外線照射素子・受光素子対の受光量と、前記物体の左端部に対応する赤外線照射素子・受光素子対の受光量と、前記物体の右端部に対応する赤外線照射素子・受光素子対の受光量とを測定かつ格納することと、  前記物体の中心軸に載置された前記赤外線照射素子・受光素子対の受光量に基づいて前記物体の基本座標を算出することと、  最大受光量と、前記物体の左端部及び右端部に対応する２対の赤外線照射素子・受光素子の受光量とを比較することによって前記物質の絞り込み座標を算出すること。
【００１４】
本発明の別の態様によれば、複数のＸ軸赤外線照射素子と受光素子及び複数のＹ軸赤外線照射素子と受光素子を含むタッチパネル用の誤差補正方法において、以下をさらに特徴とするタッチパネル用の誤差補正方法が提供される。前記方法が、複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線照射及び受光を介して赤外線受光素子から読み込まれる最大光量を測定かつ格納することと、  赤外線受光が物体によって最も著しく阻害されている位置に対応する赤外線受光素子から読み込まれる最小光量を測定かつ格納することと、  最大光量と最小光量の比較計算を介して、赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている位置における下限値を計算することと、  さらに、所与の位置における下限値が、赤外線受光の最も著しく阻害されている位置における下限値以下であるときのみに物体が所与の位置に存在することを検出すること。
【００１５】
好ましくは、本発明に係る誤差補正方法にさらに含まれるのは、複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線照射及び受光を介して赤外線受光素子から読み込まれる絶対最小光量を事前設定することと、  赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている位置に対応する赤外線受光素子から読み込まれた最小光量が前記絶対最小光量を超える場合、その格納最大光量を零（ゼロ）として検出し、前記複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線照射及び受光を繰り返して、前記赤外線受光素子から読み込まれた最大光量を測定かつ格納することである。
【発明の効果】
【００１６】
赤外線照射素子と受光素子の数を増加することなしに、複数対の赤外線照射素子・受光素子中でその赤外線照射と受光が前記物体によって阻害された中心部の赤外線照射素子・受光素子対の受光量と、前記複数対の赤外線照射素子・受光素子中で最外部の赤外線照射素子・受光素子対の受光量との比較計算を介して物体の座標をより微細に測定することが可能である。これは、低製造コストにて高解像度の実現を可能にする。
【００１７】
さらに、本発明は、物体が存在しないときでさえも、赤外線照射素子と受光素子の固有誤差のため、又は外部環境によって生じる誤差に起因して、あたかも物体が存在しているかのように検出されてしまうという問題も克服する。これにより、さらに正確な物体の検出が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
ここで、本発明に係るタッチパネル用絞り込み座標検出方法と誤差補正方法を添付図面を参照して説明する。
【００１９】
図５に示すように、本発明に係るタッチパネル１には、ディスプレイユニット１０、ＸＹ座標デコーダ２０、及びインターフェースユニット３０が含まれる。
【００２０】
前記ディスプレイユニット１０には、Ｘ軸赤外線照射器１０１、Ｘ軸赤外線受光器１０２、Ｙ軸赤外線照射器１０３、及びＹ軸赤外線受光器１０４が含まれる。前記Ｘ軸赤外線照射器１０１には、Ｘ軸方向に順次配設された複数の赤外線照射素子が含まれる。前記Ｘ軸赤外線受光器１０２は、前記Ｘ軸赤外線照射器１０１の反対側に配設され、前記Ｘ軸赤外線照射器１０１の複数赤外線照射素子から照射される赤外線を受光する複数の赤外線受光素子を含む。前記Ｙ軸赤外線照射器１０３には、Ｙ軸方向に順次配設された複数の赤外線照射素子が含まれる。前記Ｙ軸赤外線受光器１０４は、前記Ｙ軸赤外線照射器１０３の反対側に配設され、前記Ｙ軸赤外線照射器１０３の複数赤外線照射素子から照射される赤外線を受光する複数の赤外線受光素子を含む。
【００２１】
前記ＸＹ座標デコーダ２０は、前記Ｘ軸及びＹ軸の赤外線照射器及び受光器１０１、１０２、１０３及び１０４から信号を受信し、物体１０５の座標を数値的に算出する。
【００２２】
前記インターフェースユニット３０は、前記物体１０５の計算された座標データを前記デコーダ２０からコンピュータなどのオートメーション装置のコントローラ（図示せず）に伝送する。
【００２３】
具体的には、ｎ個の赤外線照射素子ＸＡ（１）、ＸＡ（２）．．．及びＸＡ（ｎ）が前記Ｘ軸赤外線照射器１０１に配設され、ｎ個の赤外線受光素子ＸＲ（１）、ＸＲ（２）．．．及びＸＲ（ｎ）が前記Ｘ軸赤外線受光器１０２に配設される。さらに、ｎ個の赤外線照射素子ＹＡ（１）、ＹＡ（２）．．．及びＹＡ（ｎ）が前記Ｙ軸赤外線照射器１０３に配設され、ｎ個の赤外線受光素子ＹＲ（１）、ＹＲ（２）．．．及びＹＲ（ｎ）が前記Ｙ軸赤外線受光器１０４に配設される。
【００２４】
これから、上記のように構築された前記タッチパネルを用いた座標検出方法を図３を参照して説明する。
【００２５】
本発明に係るタッチパネル１では、まず、前記Ｘ軸赤外線照射器１０１に配設された前記赤外線照射素子が赤外線を順次に照射する。たとえば前記Ｘ軸赤外線照射器１０１は、前記赤外線照射素子ＸＡ（１）が先ず赤外線を照射するが残りの赤外線照射素子ＸＡ（２）、ＸＡ（３）．．．及びＸＡ（ｎ）は赤外線を照射せず、次いで残りの赤外線照射素子ＸＡ（２）、ＸＡ（３）．．．及びＸＡ（ｎ）のそれぞれがＸＡ（２）、ＸＡ（３）．．．及びＸＡ（ｎ）の順序で同じように赤外線を照射するが、その他の赤外線照射素子は赤外線を照射しないように構築される。
【００２６】
図３に示すように、前記Ｘ軸赤外線照射器１０１に配設された前記赤外線照射素子は順次に赤外線を照射し、前記Ｘ軸赤外線受光器１０２に配設され、前記赤外線照射素子と対の前記赤外線受光素子は照射される赤外線を順次に受光する。Ｉｔｈ赤外線照射素子と対になる前記Ｘ軸赤外線受光器１０２のＩｔｈ赤外線受光素子から読み込まれた光信号に対応する電気信号レベルはデジタル値に変換され、前記デジタル値は次いでＸ（Ｉ）として格納される。次いで、Ｘ（Ｉ）が所定の下限値未満であるかどうかが判定される。ユーザーが前記タッチパネル１上の位置に触れると、その接触がその位置に対応する赤外線照射素子からの赤外線照射を阻害するので、その位置に対応する赤外線受光素子から読み込まれる光信号レベルは前記下限値未満となるようになる。よって、Ｘ（Ｉ）が前記下限値未満である場合、前記物体１０５は一対の前記Ｉｔｈ赤外線照射素子と受光素子間に位置決めされていることが判定され、その座標が算出される。
【００２７】
物体の基本Ｘ座標及びＹ座標は、次に挙げる方程式によって算出される。
【００２８】
Ｘ（ｎ）=ＣＡ  Ａｉ／Ｊｉ、及びＹ（ｎ）=ＣＡ  Ａｉ／Ｊｉ、
【００２９】
上式でＡｉ=Ａｉ−１+Ｉｉ、Ｊｉ=Ｊｉ−１+１、Ｊ０=０、Ａ０=０、Ｉ０=０、ｉ=１、２、３．．．ｎ、及びＣＡ=１０００／ｎ（計算の論理解像度が「１０００」であり、赤外線照射素子又は受光素子の数が「ｎ」である場合）。
【００３０】
次いで、前記物質の絞り込み座標が算出される。図１及び図２に示すように、前記物体１０５は、素子Ｘ（ｋ-ｌ）、Ｘ（ｋ）、及びＸ（ｋ+ｊ）によって赤外線照射及び受光を阻害する。図１は、前記物体１０５が赤外線照射素子・受光素子対Ｘ（ｋ）の中心軸のやや右側に配置される際に前記物質１０５の絞り込み座標がどのように算出されるかを図解し、図２は、前記物体１０５が前記素子Ｘ（ｋ）の中心軸のやや左側に配置される際に前記物質１０５の絞り込み座標がどのように算出されるかを図解する。
【００３１】
図１及び図２に示すように、その赤外線照射と受光が前記物体１０５によって阻害されていない赤外線照射素子と受光素子の最大受光量Ｒｍａｘと、その赤外線照射と受光が前記物体１０５によって完全に阻害されている赤外線照射素子と受光素子の最小受光量Ｒｍｉｎとが測定かつ格納される。次いで、前記物体１０５の中心軸に載置される赤外線照射素子・受光素子対Ｘ（ｋ）の受光量Ｒｃｕｒ（ｋ）と、前記物体１０５の前記左側端部（又は最左部分）に対応する赤外線照射素子・受光素子対Ｘ（ｋ-ｌ）の受光量Ｒｃｕｒ（ｋ-ｌ）と、前記物体１０５の右端部（又は最右部分）に対応する赤外線照射素子・受光素子対Ｘ（ｋ＋ｊ）の受光量Ｒｃｕｒ（ｋ＋ｊ）とが測定かつ格納される。
【００３２】
前記物質１０５の絞り込み座標は、上記のように、前記物体１０５の右端部及び左端部に対応する赤外線受光素子の受光量間の差異を測定することによって算出可能である。たとえば、Ｘ軸赤外線受光素子数が「１０」であり、前記論理解像度の値が「１０００」である場合、座標誤差は「１００」である。この誤差を低減するため、絞り込み座標解像度が「１００」の絞り込み座標において、前記物体１０５の中心からの偏差を示す０〜±５０の範囲の変動は、その赤外線照射と受光が前記物体１０５の最外部分（たとえば右端部及び左端部）によって阻害されている赤外線受光素子の受光量間の差異を測定することによって算出可能である。
【００３３】
前記物体１０５の絞り込み座標（Ｆｘ、Ｆｙ）は、最大受光量と、前記物体１０５の右端部及び左端部に対応する前記赤外線受光素子の受光量と、を比較することによって次に挙げる方程式を用いて算出される。
【００３４】
【数１】
2010511207.tif 000003
【００３５】
さらに、
【００３６】
2010511207.tif 000004
【００３７】
上式で「Ａ」は絞り込み座標解像度を示し、前記絞り込み座標解像度「Ａ」が１００に設定されている場合、Ｆｘ及びＦｙは０〜１００範囲の値として算出できる。
【００３８】
前記物体１０５の正確な最終座標（Ｘ（ｘ）、Ｙ（ｙ））は、前記数式１の方程式によって得られた値を次に挙げる方程式に代入することによって得ることができる。
【００３９】
【数２】
2010511207.tif 000005
さらに、
【００４０】
2010511207.tif 000006
【００４１】
上式でＣＡ=「論理解像度「/」数の素子」であり、（ＣＡＸ Ｘ（ｋ）、ＣＡＹ×Ｙ（ｋ））は前記物体の基本座標である。
【００４２】
前記論理解像度が１０００及び素子の数が１０の場合、「ＣＡ」は１００である。
【００４３】
一方、前記タッチパネルに搭載された前記赤外線照射素子と受光素子には、それら本来の特性のために誤差がある可能性もあり、また、温度などによって誤差が生じる可能性もある。前記素子のかかる固有誤差は、図４に示すように前記赤外線受光素子から読み込まれた最大光量と最小光量の比較計算を介して補正可能である。
【００４４】
図４では、「Ｘ（ｋ）」は、赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている前記ｎ個の赤外線受光素子ＸＲ（ｎ）のうちの１つに対応する位置を示し、「Ｙ（ｋ）」は、赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている前記ｎ個の赤外線受光素子ＹＲ（ｎ）のうちの１つに対応する位置を示す。
【００４５】
前記複数の赤外線照射素子と受光素子は順次に走査されて、前記赤外線受光素子から読み込まれた最大光量Ｒｍａｘ（ｋ）を測定かつ格納し、赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている位置Ｘ（ｋ）に対応する前記赤外線受光素子から読み込まれた最小光量Ｒｍｉｎ（ｋ）を測定かつ格納する。次いで、赤外線受光が前記物体によって最も著しく阻害されている位置における下限値である「閾値（ｋ）」は、最大レベルＲｍａｘ（ｋ）及び最小レベルＲｍｉｎ（ｋ）を次に挙げる方程式に代入することによって算出される。
【００４６】
【数３】
2010511207.tif 000007
【００４７】
前記下限値である「閾値（ｋ）」は０〜１００%のパーセントで算出される。
【００４８】
次いで、所与の位置における下限値が赤外線受光の最も著しく阻害されている位置における下限値以下のときのみに、その所与の位置に物体があたかも存在しているかのように検出される。
【００４９】
上記の方式では、物体を用いて検出された絶対光量に拘わらず、同一物体の検出条件をあらゆる「ｋ」に適用することができる。具体的には、「閾値（ｋ）」<５０という条件は、任意位置において光量が前記物体によって減少される変化分が５０%未満のときに物体がその位置に存在していることを検出することが可能であるように物体検出が可能な条件として提供することが可能である。
【００５０】
その一方、前記タッチパネルの素子に特有の相対誤差が上記のように補正されるときのみ、外部環境に起因する赤外線受光素子からの過剰に高い光量を読み込んでから格納することも可能であるので、物体検出誤差が生じる。たとえば、強烈な光が突如として外部から受光されると、非常に大きな最大レベルＲｍａｘ（ｋ）が格納されるので、物体が存在しないときでさえも、前記条件「閾値（ｋ）」<５０が満たされることも可能であり、物体があたかも存在しているように誤って検出される可能性もある。
【００５１】
よって、前記複数の赤外線照射素子と受光素子の赤外線照射及び受光を介して前記赤外線受光素子から読み込まれる絶対最小光量Ｒａｂｓは、図４に示すように事前設定される。次いで、赤外線照射及び受光が最も著しく阻害されている前記位置Ｘ（ｋ）に対応する前記赤外線受光素子から読み込まれた最小光量Ｒｍｉｎ（ｋ）が前記絶対最小レベルＲａｂｓを超える場合、その格納最大レベルは「零（ゼロ）」として検出され、前記複数の赤外線照射素子と受光素子は再走査されて、前記赤外線受光素子から読み込まれた補正最大光量を測定かつ格納する。
【００５２】
外部環境のために過剰に増大された前記最大レベルＲｍａｘ（ｋ）によって生じた誤差は上記方式で補正される。
【００５３】
本発明は、さまざまな利点を有するタッチパネル用絞り込み座標検出方法及び誤差補正方法を提供するものである。
【００５４】
たとえば、赤外線照射素子と受光素子の数を増加することなしに、複数対の赤外線照射素子・受光素子中でその赤外線照射と受光が前記物体によって阻害された中心部の赤外線照射素子・受光素子対の受光量と、前記複数対の赤外線照射素子・受光素子中で最外部の赤外線照射素子・受光素子対の受光量との比較計算を介して物体の座標をより微細に測定することが可能である。これは、低製造コストにて高解像度の実現を可能にする。
【００５５】
さらに、本発明は、物体が存在しないときでさえも、赤外線照射素子と受光素子の固有誤差のため、又は外部環境によって生じる誤差に起因して、あたかも物体が存在しているかのように検出されてしまうという問題も克服する。これにより、さらに正確な物体の検出が可能となる。
【００５６】
当業者であれば本発明の趣旨または範囲から逸脱することなく本発明の種々変更形態および変更を行い得ることは明らかであろう。よって、特許請求の範囲およびその同等物の範囲から逸脱することがない限り、本発明には本発明の変更形態および改造形態が含まれることを意図するものである。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
本発明の前述及び他の目的、特徴及び利点は、以下の添付図面を併用して、以下の詳細説明からより明確に理解されるであろう。
【００５８】
【図１】本発明に係る絞り込み座標検出方法を図解説明する図面であり、物体が右に偏った際の赤外線照射及び受光を示すものである。
【図２】本発明に係る絞り込み座標検出方法を図解説明する図面であり、物体が左に偏った際の赤外線照射及び受光を示すものである。
【図３】本発明に従って物体の基本座標がどのように測定されるかを図解説明するフローチャートである。
【図４】本発明に係る相対誤差補正方法を図解説明する概略図である。
【図５】タッチパネルシステムの構造を図解説明する概略図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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