(57)【要約】  データの量子化に起因するひずみを推計するための技術が記述される。複数のビンを備えたヒストグラムは、量子化されるべき係数のセットのために取得され得る。係数のセットの量子化に起因するひずみは、ヒストグラムおよびヒストグラム・ビンについての平均ひずみに基づいて推計され得る。それぞれのビンの中の係数の数は、ビンごとのひずみを取得するために、ビンについての平均ひずみで乗算され得る。ビンのすべてについてのビンごとのひずみは、推計されたひずみを取得するために、積算され、補正係数で計測され得る。本技術は、符号化する要素のセットについてのひずみを推計するために使用され得る。ひずみおよびレートは、複数の量子化ステップのそれぞれについてそれぞれの符号化する要素について推計され得る。量子化ステップのセットは、異なる量子化ステップについて符号化する要素のセットについての推計されたひずみおよび推計されたレートに基づき、符号化する要素のセットのために選択され得る。
2010519795.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
量子化されるべき係数のセットのために複数のビンを備えるヒストグラムを取得し、前記ヒストグラムおよび前記複数のビンについての平均ひずみに基づき、前記係数のセットの量子化に起因するひずみを推計するように構成されるプロセッサと、
前記プロセッサに接続されるメモリと、
を具備する装置。
【請求項２】
前記プロセッサは、ビンごとのひずみを取得するために、前記ヒストグラムのそれぞれのビンの中の係数の数を前記ビンについての平均ひずみで乗算し、積算されたひずみを取得するために、前記複数のビンについてビンごとのひずみを積算し、前記積算されたひずみに基づき、前記係数のセットについて推計されたひずみを導き出すように構成される請求項１記載の装置。
【請求項３】
前記プロセッサは、前記係数のセットについて推計されたひずみを取得するために、前記積算されたひずみを補正係数で計測するように構成された請求項２記載の装置。
【請求項４】
前記プロセッサは、前記係数のセットの量子化のために用いられる量子化ステップに基づいて前記補正係数を決定するように構成される請求項３記載の装置。
【請求項５】
複数の量子化ステップのそれぞれについて、前記プロセッサは、その量子化ステップのための前記ヒストグラムおよび前記複数のビンについての平均ひずみに基づき、その量子化ステップでの前記係数のセットの量子化に起因するひずみを推計するように構成される請求項１記載の装置。
【請求項６】
前記プロセッサは、量子化ステップの関数である補正係数に基づき、前記複数の量子化ステップのそれぞれについてのひずみを推計するように構成される請求項５記載の装置。
【請求項７】
前記複数の量子化ステップは、Ｈ．２６４における複数の量子化パラメータ（ＱＰ）値に相当する請求項５記載の装置。
【請求項８】
前記ヒストグラムのためのビンの数は、前記係数のセットの量子化に使用可能な量子化ステップの数に基づいて決定される請求項１記載の装置。
【請求項９】
前記複数のビンについての開始および終了の値は、前記係数のセットの量子化に使用可能な複数の量子化ステップに基づいて決定される請求項１記載の装置。
【請求項１０】
前記ヒストグラムを取得するために、前記プロセッサは、前記係数の値およびそれぞれのビンの開始および終了の値に基づき、前記セットの中のそれぞれの係数を前記複数のビンの１つにマップするように構成される請求項１記載の装置。
【請求項１１】
前記プロセッサは、セットの中のそれぞれの係数について、０でない量子化された係数に帰着する最大の量子化ステップに対応するしきい値量子化パラメータ（ＱＰ）値を決定し、前記セットの中の前記係数についてのしきい値ＱＰ値に基づき、前記ヒストグラムを取得するように構成される請求項１記載の装置。
【請求項１２】
前記メモリは、前記係数のセットの量子化に使用可能な複数の量子化ステップについての平均ひずみ対ビンのテーブルを格納するように構成される請求項１記載の装置。
【請求項１３】
個々の量子化ステップに対する前記ヒストグラムのそれぞれのビンについての平均ひずみは、前記個々の量子化ステップでの前記ビンの中の係数の量子化によって取得された量子化された係数の誤差の平均エネルギーを示す請求項１記載の装置。
【請求項１４】
前記係数のセットは、マクロブロックまたは係数のフレームに相当する請求項１記載の装置。
【請求項１５】
量子化されるべき係数のセットのために複数のビンを備えるヒストグラムを取得することと、
前記ヒストグラムおよび前記複数のビンについての平均ひずみに基づき、前記係数のセットの量子化に起因するひずみを推計することと、
を具備する方法。
【請求項１６】
前記量子化に起因するひずみを推計することは、
ビンごとのひずみを取得するために、前記ヒストグラムのそれぞれのビンの中の係数の数を前記ビンについての平均ひずみで乗算することと、
積算されたひずみを取得するために、前記複数のビンについてビンごとのひずみを積算することと、
前記積算されたひずみに基づき、前記係数のセットについて推計されたひずみを導き出すことと、
を具備する請求項１５記載の方法。
【請求項１７】
前記推計されたひずみを導き出すことは、前記係数のセットについて前記推計されたひずみを取得するために、前記積算されたひずみを補正係数で計測することを具備する請求項１６記載の方法。
【請求項１８】
前記量子化に起因するひずみを推計することは、複数の量子化ステップのそれぞれについて、その量子化ステップのための前記ヒストグラムおよび前記複数のビンについての平均ひずみに基づき、その量子化ステップでの前記係数のセットの量子化に起因するひずみを推計することを具備する請求項１５記載の方法。
【請求項１９】
量子化されるべき係数のセットのために複数のビンを備えるヒストグラムを取得する手段と、
前記ヒストグラムおよび前記複数のビンについての平均ひずみに基づき、前記係数のセットの量子化に起因するひずみを推計する手段と、
を具備する装置。
【請求項２０】
前記量子化に起因するひずみを推計する手段は、
ビンごとのひずみを取得するために、前記ヒストグラムのそれぞれのビンの中の係数の数を前記ビンについての平均ひずみで乗算する手段と、
積算されたひずみを取得するために、前記複数のビンについてビンごとのひずみを積算する手段と、
前記積算されたひずみに基づき、前記係数のセットについて推計されたひずみを導き出す手段と、
を具備する請求項１９記載の装置。
【請求項２１】
前記推計されたひずみを導き出す手段は、前記係数のセットについて前記推計されたひずみを取得するために、前記積算されたひずみを補正係数で計測する手段を具備する請求項２０記載の装置。
【請求項２２】
前記量子化に起因するひずみを推計する手段は、複数の量子化ステップのそれぞれについて、その量子化ステップのための前記ヒストグラムおよび前記複数のビンについての平均ひずみに基づき、その量子化ステップでの前記係数のセットの量子化に起因するひずみを推計する手段を具備する請求項１９記載の装置。
【請求項２３】
量子化されるべき係数のセットのために複数のビンを備えるヒストグラムを取得し、
前記ヒストグラムおよび前記複数のビンについての平均ひずみに基づき、前記係数のセットの量子化に起因するひずみを推計する、
ように機能する命令群を格納するためのプロセッサ読取可能な記憶媒体。
【請求項２４】
ビンごとのひずみを取得するために、前記ヒストグラムのそれぞれのビンの中の係数の数を前記ビンについての平均ひずみで乗算し、
積算されたひずみを取得するために、前記複数のビンについてビンごとのひずみを積算し、
前記積算されたひずみに基づき、前記係数のセットについて推計されたひずみを導き出す、
ように機能する命令群をさらに格納するための請求項２３記載のプロセッサ読取可能な記憶媒体。
【請求項２５】
前記係数のセットについて前記推計されたひずみを取得するために、前記積算されたひずみを補正係数で計測するように機能する命令群をさらに格納するための請求項２４記載のプロセッサ読取可能な記憶媒体。
【請求項２６】
符号化する要素のセットのための少なくとも１つのヒストグラムおよび平均ひずみ対ヒストグラム・ビンのテーブルに基づき、複数の量子化ステップについて符号化する要素のセットの量子化に起因するひずみを推計し、前記複数の量子化ステップについて符号化する要素のセットについてのレートを推計し、複数の量子化ステップについて前記符号化する要素のセットについての前記推計したひずみおよび前記推計したレートに基づき、前記符号化する要素のセットの量子化のための量子化ステップのセットを選択するように構成されるプロセッサと、
前記プロセッサに接続されるメモリと、
を具備する装置。
【請求項２７】
前記プロセッサは、前記符号化する要素のセットの中のそれぞれの符号化する要素のためにヒストグラムを取得し、前記符号化する要素のための前記ヒストグラムに基づき、前記複数の量子化ステップのそれぞれについてそれぞれの符号化する要素についてのひずみおよびレートを推計するように構成される請求項２６記載の装置。
【請求項２８】
前記プロセッサは、前記複数の量子化ステップのそれぞれについて０でない量子化された係数の数を備えたテーブルに基づき、前記複数の量子化ステップについて前記レートを推計するように構成される請求項２６記載の装置。
【請求項２９】
前記プロセッサは、個々の全体的なレートに対して前記符号化する要素のセットについての最小の全体的なひずみを達成するために、前記符号化する要素のセットのための前記量子化ステップのセット、それぞれの符号化する要素のための１つの量子化ステップを選択するように構成される請求項２６記載の装置。
【請求項３０】
前記プロセッサは、前記推計したひずみに基づき、前記複数の量子化ステップについて前記符号化する要素のセットの信号対雑音比（ＳＮＲｓ：signal-to-noise ratios）を推計し、前記符号化する要素のセットについてほぼ一定のＳＮＲｓを達成するように、前記符号化する要素のセットのための前記量子化ステップのセット、それぞれの符号化する要素のための１つの量子化ステップを選択するように構成される請求項２６記載の装置。
【請求項３１】
前記プロセッサは、前記推計したひずみに基づき、前記複数の量子化ステップについて前記符号化する要素のセットについての知覚品質を推計し、前記符号化する要素のセットについてほぼ一定の知覚品質を達成するように、前記符号化する要素のセットのための前記量子化ステップのセット、それぞれの符号化する要素のための１つの量子化ステップを選択するように構成される請求項２６記載の装置。
【請求項３２】
符号化する要素のセットのための少なくとも１つのヒストグラムおよび平均ひずみ対ヒストグラム・ビンのテーブルに基づき、複数の量子化ステップについて符号化する要素のセットの量子化に起因するひずみを推計することと、
前記複数の量子化ステップについて前記符号化する要素のセットについてのレートを推計することと、
前記複数の量子化ステップについて前記符号化する要素のセットについての前記推計したひずみおよび前記推計したレートに基づき、前記符号化する要素のセットの量子化のための量子化ステップのセットを選択することと、
を具備する方法。
【請求項３３】
前記量子化ステップのセットを選択することは、個々の全体的なレートに対して前記符号化する要素のセットについての最小の全体的なひずみを達成するために、前記符号化する要素のセットのための前記量子化ステップのセット、それぞれの符号化する要素のための１つの量子化ステップを選択することを具備する請求項３２記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、データ処理、より具体的には、データの量子化に起因するひずみを推計するための技術に概して関する。
【背景技術】
【０００２】
符号化システムは、送信または格納に先立ってデータを処理するために広く使用されている。符号化システムは、量子化されたデータを取得するために、入力データを量子化し得るし、送信または格納のための出力データを生成するために、量子化されたデータをさらに処理し得る。量子化されたデータは、離散値のセットで表わされ得るし、連続する離散値の間のステップは、選択可能なパラメータであり得る。大きな量子化ステップは、より粗雑に表わされた量子化されたデータに帰着し得るし、入力データと量子化されたデータとの間のより大きな誤差またはより多くのひずみに帰着し得る。しかしながら、大きな量子化ステップは、より少数のビットで表されるべき量子化されたデータを可能にし得るし、および／または、より多くのゼロを含む量子化されたデータに帰着し得るし、これらの両方は、より低いレートで送信されるべき、および／または、より少ないメモリに格納されるべき出力データを可能にし得る。反対に、小さな量子化ステップは、より精細に表わされた量子化されたデータに帰着し得るし、入力データと量子化されたデータとの間のより小さな誤差またはより少ないひずみに帰着し得る。しかしながら、小さな量子化ステップは、また、より多くのビットで表され、および／または、より少数のゼロを含む量子化されたデータに帰着し得るし、これらの両方は、高いレートで送信されるべき、および／または、より多くのメモリに格納されるべき出力データを招き得る。
【０００３】
量子化されたデータに関しては、レートとひずみとの間のトレードオフが典型的に存在する。このレート−ひずみのトレードオフの中で適切な量子化ステップが選択され得るように、ひずみを効率的に推計することが望まれ得る。
【発明の概要】
【０００４】
データの量子化に起因するひずみを効率的に推計するための技術がここに記述される。ある態様では、複数のビンを備えたヒストグラムは、マクロブロック、フレームなどに対応し得る、量子化されるべき係数のセットのために取得され得る。ヒストグラムのためのビンの数は、係数のセットの量子化のために使用可能な量子化ステップの数に基づいて決定され得る。ヒストグラムのビンのための開始および終了の値は、量子化ステップに基づいて決定され得るし、Ｈ．２６４その他における異なる量子化パラメータ（ＱＰ）に対応し得る。
【０００５】
係数のセットの量子化に起因するひずみは、ヒストグラムおよび複数のビンについての平均ひずみに基づいて推計され得る。１つの案では、それぞれのビンの中の係数の数は、ビンあたりのひずみを取得するために、そのビンについての平均ひずみと乗算され得る。それぞれのビンについての平均ひずみは、ビンの中の係数の量子化から取得される量子化された係数の誤差の平均エネルギーを示し得る。ビンのすべてについてのビンあたりのひずみは、積算されたひずみを取得するために積算され得る。積算されたひずみは、係数のセットのための推計されたひずみとして直接的に提供され得る。量子化ステップに基づいて補正係数が決定され得る場合、積算されたひずみは、また、推計されたひずみを取得するために補正係数で計られ得る。
【０００６】
他の態様では、量子化ステップのセットは、レートひずみ分析に基づいて符号化する要素のセットのために選択される。符号化する要素は、マクロブロック、フレームなどに対応し得る。符号化する要素のセットの量子化に起因するひずみは、例えば、量子化のために使用可能な量子化ステップのそれぞれに対するそれぞれの符号化する要素のために推計され得る。符号化する要素のセットのために使用するレートも、例えば、使用可能な量子化ステップのそれぞれに対するそれぞれの符号化する要素のために推計され得る。量子化ステップのセットは、例えば、符号化する要素のセットについての全体のひずみが、ある全体的なレートに対して最小化されるように、推計されたひずみおよび使用可能な量子化ステップに対する符号化する要素のセットのために推計されたレートに基づき、符号化する要素のセットのために選択され得る。
【０００７】
本開示の様々な様態および特徴は、以下にさらに詳細に記載される。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、符号化システムのブロック図を示す。
【図２】図２は、本符号化システムのための量子化ステップのセットを示す。
【図３Ａ】図３Ａは、量子化されるべき係数のセットのためのヒストグラムテーブルを示す。
【図３Ｂ】図３Ｂは、平均ひずみ対ヒストグラムビンのひずみテーブルを示す。
【図４Ａ】図４Ａは、マクロブロックの３つのクラスのための推計されたひずみを示す。
【図４Ｂ】図４Ｂは、マクロブロックの３つのクラスのための推計されたひずみを示す。
【図５】図５は、補正係数対ＱＰ値のプロットを示す。
【図６】図６は、補正係数を適用した後の推計されたひずみについてのパーセント誤差対ＱＰ値のプロットを示す。
【図７】図７は、量子化に起因するひずみを推計する処理を示す。
【図８】図８は、量子化ステップを選択する処理を示す。
【図９】図９は、無線通信デバイスのブロック図を示す。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
ここに記載されたひずみ推計技術は、データを量子化することができる様々な符号化システムに使用され得る。この技術は、また、例えばビデオデータ、オーディオデータなどの様々なタイプのデータのために使用され得る。この技術は、さらに、例えばＪＰＥＧ、ＭＰＥＧ−１、ＭＰＥＧ２、ＭＰＥＧ−４（Ｐａｒｔ  ２）、Ｈ．２６１、Ｈ．２６３、Ｈ．２６４などの様々な符号化規格のために使用され得る。明確化のために、この技術のある様態は、「Advanced video coding for generic audiovisual services」と題名が付けられ、また、ＭＰＥＧ−４  Ｐａｒｔ１０と一般的に称される、Ｈ．２６４のために以下に記載される。
【００１０】
図１は、Ｈ．２６４および場合により他の規格のために使用され得る符号化システム１００のブロック図を示す。符号化システム１００は、符号化されるべき現在のフレームＦnを受信し、そのフレームのための符号化されたデータを生成する。一般に、フレームは、どのような高さおよび幅の範囲も持ち得るし、また、マクロブロックに分割され得る。Ｈ．２６４においては、それぞれのマクロブロックは、１６×１６画素（ピクセル）を含み得るし、１６の４×４のブロックにさらに分割され得る。マクロブロックは、輝度（Ｙ）のための１６×１６画素、赤クロミナンス（Ｃｒ）のための２×８画素および青クロミナンス（Ｃｂ）のための２×８画素を含み得る。
【００１１】
符号化システム１００は、マクロブロックの主成分によってマクロブロック上の現在のフレームを処理し得る。符号化システム１００は、また、インターモードまたはイントラモードのいずれかで各々のマクロブロックを符号化し得る。現在のフレーム中のマクロブロックまたは現在のマクロブロックは、両方のモードで推計され得るし、よい結果を持つモードが選択され得る。インターモードにおいては、動き予測ユニット１１０は、現在のマクロブロックを受け取り、現在のマクロブロックと厳密に一致する１つ以上の参照フレーム中のマクロブロックＦ´n-1を識別し、予測マクロブロックとして識別されたマクロブロックを現在のマクロブロックのために供給する。参照フレームは、符号化されて再構築された１つまたは２つの過去または将来のフレームを備え得る。イントラモードにおいては、イントラ予測ユニット１１２は、符号化されて再構築された現在のフレーム中のサンプルに基づき、現在のマクロブロックのために予測マクロブロックを形成する。モードセレクタ１１４は、現在のマクロブロックのために、予測マクロブロックＰnとして、選択されたモードに依存して、ユニット１１０または１１２のいずれかの出力を供給する。
【００１２】
加算器１１６は、現在のマクロブロックから予測マクロブロックを減算し、残余または相違マクロブロックＤnを供給する。変換ユニット１１８は、整数変換によってブロック毎の成分上において余剰マクロブロックを変換し、変換された係数のマクロブロックを供給する。量子化器１２０は、変換されたマクロブロックの中の係数を量子化し、量子化された係数のマクロブロックＸnを供給する。量子化された係数は、符号化されたデータを得るために、エンコーダ１２２によってリオーダ（reorder）およびエントロピー符号化される。
【００１３】
再構築パスでは、逆量子化器１３０が、量子化器１２０による量子化に対していわば相補的にマクロブロックＸnの中の量子化された係数を再計測する。逆変換ユニット１３２は、係数ブロック毎の成分上において再計測された係数上での逆変換を実行し、再構築された異なるマクロブロックＤ´nを供給する。量子化器１２０による量子化は、誤差またはひずみを招く。従って、マクロブロックＤ´nは典型的には異なるマクロブロックＤ´nとは同一ではないが、しかし、その代わりに、マクロブロックＤnのゆがんだバージョンである。加算器１３４は、予測マクロブロックＰnを再構築した異なるマクロブロックＤ´nと加算し、フィルタリングされていない再構築されたマクロブロックｕＦ´nを供給する。フィルタ１３６は、ブロック化の影響やひずみを減らすべく、現在のフレームのためにフィルタリングされていない再構築されたマクロブロックをフィルタリングし、他のフレームを符号化するために使用され得る再構築されたフレームＦ´nを供給する。
【００１４】
符号化システム１００は、Ｈ．２６４および場合によりその他の符号化規格および組織のために使用され得る。全般的な符号化処理は、多くの符号化規格および組織においては類似し得るが、しかし、符号化システム内の様々なユニットの詳細は、異なる符号化規格および組織において異なり得る。
【００１５】
Ｈ．２６４では、量子化器１２０は、そのマクロブロックのために選ばれた量子化パラメータ（ＱＰ）値に基づき、係数のそれぞれのマクロブロックを量子化し得る。０から５１までの範囲の５２の適用可能なＱＰ値がある。それぞれのＱＰ値は、そのＱＰ値のための量子化ステップに対応する異なる除数に関連している。ＱＰ値と量子化ステップとの間には１対１のマッピングが存在し、この２つの項目は入れ替えて替えて使用され得る。
【００１６】
係数のマクロブロックは、マクロブロックの中のそれぞれの係数を関連する除数で割ることにより、個々のＱＰ値に従って量子化され得る。それぞれの係数については、結果の商または整数部分は、量子化された係数として供給され得るし、結果の余りまたは小数部分は、破棄され得る。この余りは、量子化に起因する誤差またはひずみを表す。
【００１７】
あるマクロブロックのセットの全体のひずみは、次のように表現され得る。
【数１】
2010519795.tif 000003
【００１８】
ここで、Ｄiはマクロブロックｉのひずみ、Ｍはマクロブロックのセットの中のマクロブロックの数であり、Ｄはマクロブロックのセットの全体のひずみである。Ｄiは、例えば、マクロブロックｉの中の量子化された係数についての余りの２乗を合計することによって計算され得る。
【００１９】
図２は、Ｈ．２６４における０から１１のＱＰ値に対する量子化ステップのプロットを示す。Ｈ．２６４においては、量子化ステップは、ＱＰ値の中のそれぞれ１つの増加で約１２％増加し、ＱＰ値の中のそれぞれ６つの増加で倍増するように定義される。それぞれのＱＰ値については、もし、その値がそのＱＰ値に対する量子化ステップより小さい場合、その係数は０に量子化され得る。従って、それぞれのＱＰ値についての平均または予期されたひずみは、関連する量子化ステップと関係し、ひずみは、次第に大きいＱＰ値に対して次第に大きい。
【００２０】
マクロブロックについての全体のひずみは、より小さな量子化ステップに関連したより小さなＱＰ値を用いることで縮小され得る。しかしながら、より小さなＱＰ値は、送信のためのより高いレート、および／または、格納のためのより多くのメモリを要求し得るより多く符号化されたデータに帰着し得る。
【００２１】
あるマクロブロックのセットについてのレートは次のように表現され得る。
【数２】
2010519795.tif 000004
【００２２】
ここで、Ｒiはマクロブロックｉのレートであり、Ｒはマクロブロックのセットのレートであり、Ｒbはレート割当量である。レート割当量は、通信システム、符号化の目標レートなどに用いるために割り当てられるレートであり得る。マクロブロックのセットのレートは、このレート割当量以下であるべきである。
【００２３】
式（２）中のレート制限の下で式（１）中の全体のひずみを最小化することが望ましい。これは、下記の最小化と同等であり得る。
【数３】
2010519795.tif 000005
【００２４】
ここで、ＱＰiはマクロブロックｉについてのＱＰ値であり、λは重み係数である。
【００２５】
式（３）においては、異なるＱＰ値は、ＱＰi∈｛０，…，５１｝となるようにマクロブロックのセットの中のそれぞれのマクロブロックのために選択され得る。式（３）中のレートひずみ機能は、マクロブロックのセットをマクロブロックのセットについて測定されたレートに加えた全体のひずみができるだけ小さくなるように、マクロブロックのセットの中のそれぞれのマクロブロックのために適切なＱＰ値を選択する。レートひずみ分析については、異なる適用可能なＱＰ値を正確に、また、できるだけ効率的なように、ひずみと同様にレートも推計することが望ましい。
【００２６】
レートは、ρ―ドメイン・モデルに基づき、以下のように効率的に表現され得る。
【数４】
2010519795.tif 000006
【００２７】
ここで、ρ（ＱＰq）はＱＰqのＱＰ値で量子化した後の０でない係数の数であり、ＡおよびＢはρ−ドメイン・モデルのための２つの定数であり、Ｒi（ＱＰq）はＱＰqのＱＰ値を備えたマクロブロックｉについてのレートである。
【００２８】
式（４）は、ＱＰqのＱＰ値で量子化されたときの、量子化後の０でない係数の数を数えることによって推計され得るマクロブロックｉについてのレートを示す。定数ＡおよびＢは、例えば量子化器の後のエントロピー符号化器などの様々な係数を説明し得るし、ある符号化システムのために予め定められ得る。ρ（ＱＰq）値のテーブル対ＱＰ値は、様々なＱＰ値で実際にデータを量子化したり、０の数を数えたりすることなく、効率的な方法で生成され得る。ρ（ＱＰq）値のテーブルは、それから、式（４）に基づいた異なるＱＰ値のレートを推計するために使用され得る。
【００２９】
式（４）は、マクロブロックのセットに対するレートひずみ分析を示す。一般に、レートひずみ分析は、例えば、マクロブロックのセット、フレームのセットなどの任意のサイズを持ち得る符号化する要素のセットのために実行され得る。インデックスｉは、従って、マクロブロック、フレームなどのインデックスであり得る。
【００３０】
ある態様では、量子化に起因するひずみは、量子化されるべき係数のセットのためのヒストグラムを得て、平均ひずみをヒストグラムのそれぞれのビンに適用することによって効率的に推計され得る。係数のセットは、マクロブロック、複数のマクロブロック、フレームなどのためのものであり得る。異なるヒストグラム・ビンのための平均ひずみは、予め計算され、例えばルックアップテーブルなどのデータ構造体に格納され得る。明確化のために、ひずみ推計の詳細な案が下記に述べられる。
【００３１】
量子化されるべき係数のセットのためのヒストグラムは、Ｌ（Ｌは量子化ステップの数またはＱＰ値に基づいて選択され得る）ビンを持つように定義され得る。さらに、Ｌビンのそれぞれの開始および終了は、量子化ステップに基づいて選択され得る。１つの案では、５３のビンが、Ｈ．２６４における５２のＱＰ値をカバーするようにヒストグラムのために使用される。テーブル１は、５２のＱＰ値およびそれぞれのＱＰ値に対する量子化ステップを掲載する。テーブル１は、また、ヒストグラムの５３のビンおよびそれぞれのビンの開始および終了を掲載する。テーブル１中で示される案では、ビンｂの開始は、ｂ−１のＱＰ値に対する量子化ステップの２分の１と等しく、また、ビンｂの終了は、ｂのＱＰ値に対する量子化ステップの２分の１と等しい。その他の低いまたは高い値もまたそれぞれのビンに使用され得る。
【表１】
2010519795.tif 000007
【００３２】
テーブル１中のビン・パラメータは、量子化が以下のように実行されるときに使用され得る。
【数５】
2010519795.tif 000008
【００３３】
ここで、Ｃinは量子化されるべき係数であり、ＣQは量子化された係数であり、Ｑstepは量子化に使用された量子化ステップであり、
【数６】
2010519795.tif 000009
【００３４】
はフロアオペレータ（floor operator）である。
【００３５】
式（５）中のＱstep／２の合計は、ラウンディング（切り捨ての代わりに）を達成する。例えば、もし、Ｑstepが１００であり、その次に高い量子化ステップが１１０である場合、その結果、もし、９５０≦Ｃin＜１０５０ならばＣQは１０と等しく、もし、１０５０≦Ｃin＜１１５０ならばＣQは１１と等しく、もし、１１５０≦Ｃin＜１２５０ならばＣQは１２と等しく、などとなるであろう。Ｑstepに対応するビンは、もし、１１０の量子化ステップの次に高いものが使用されたらちょうど０になる量子化されていない値によって定義され得る。ビンの開始および終了は、それから、５０および５５にそれぞれ等しくなり得る。従って、式（５）中で示されるようなラウンディングと共に量子化が実行された場合、ビンの開始は、そのビンに対する量子化ステップの２分の１と等しいはずであり、また、ビンの終了は、次に高い量子化ステップの２分の１と等しいはずである。それぞれのビンの開始および終了は、他の手法において実行される量子化のために他の手法で定義され得る。
【００３６】
量子化されるべき係数のセットのためのヒストグラムは、テーブル１中で与えられたビン・パラメータに基づいて生成され得る。１つの案では、ヒストグラムは、セットの中のそれぞれの係数を５３のビンのうちの１つに配置することによって生成され得る。ｘの値を持つ係数は、もし、ｘが０から０．３１２５の間にあるときビン０に置かれ、もし、ｘが０．３１２５から０．３４３８の間にあるときビン１に置かれ、ｘが０．３４３８から０．４０６３の間にあるときビン２に置かれ、その他、もし、ｘが１０４から１１２の間にあるときビン５１に置かれ、もし、ｘが１１２よりも大きいときビン５２に置かれる、となり得る。セットの中のそれぞれの係数は、その値と、ヒストブラムのそれぞれのビンについての低および高値に基づいて５３のビンのうちの１つに置かれ得る。セットの中のすべての係数が配置された後、それぞれのビンｂ（ｂ＝０，…，５２）は、そのビンの低および高値の間の値を持つ係数の数の総数を含む。
【００３７】
他の案では、ヒストグラムは、セットの中の係数のためのしきいＱＰ値を決定することによって生成される。ある係数のためのしきいＱＰ値ＱＰtは、０でない量子化された係数の結果となる最大のＱＰ値である。セットの中のそれぞれの係数については、しきいＱＰ値は、その係数のために決定され得るし、また、そのＱＰ値に対応するビンは１つ増加され得る。しきいＱＰテーブルは、それらのしきいＱＰ値として０のＱＰ値を持つ係数の数、それらのしきいＱＰ値として１のＱＰ値を持つ係数の数、などを合計することによって取得され得る。しきいＱＰテーブルは、係数のセットのためのヒストグラムとして使用され得る。しきいＱＰテーブルは、レート推計のために生成され得るし、また、ヒストグラムを取得するためのどのような追加的な処理も招かないひずみ推計のためのヒストグラムとしても使用され得る。
【００３８】
図３Ａは、係数のセットのためのヒストグラム・テーブルを示す。ビン０の中の係数の数はＴ0として表示され、ビン１の中の係数の数はＴ1として表示され、その他、ビン５２の中の係数の数はＴ52として表示される。
【００３９】
ヒストグラムの５３のビンのそれぞれについて、平均ひずみは、５２のＱＰ値のそれぞれのために計算され、ルックアップテーブルに格納され得る。平均ひずみは、また、予期されたひずみ、平均誤差などとして参照され得る。あるビンｂおよびＱＰqのＱＰ値について、平均ひずみは、ＱＰqのＱＰ値で量子化されているビンｂの中のすべての適用可能な値で計算され得る。ビンｂの中のそれぞれの適用可能な値について、ＱＰqのＱＰ値を備えた値の量子化は、量子化された係数として提供され得る商と、平均ひずみの計算に使用され得る余りとに帰着する。平均ひずみは、ビンｂの中のすべての適用可能な値についての残りの平均のエネルギーであり得るし、次のように表現され得る。
【数７】
2010519795.tif 000010
【００４０】
ここで、ＥbQPq,KはＱＰqのＱＰ値による量子化の後のビンｂの中のｋ番目の値のための残りであり、Ｋはビンｂの中の値の数であり、Ｄb,QPqはＱＰqのＱＰ値を備えたビンｂのための平均ひずみである。
【００４１】
式（６）中で示されるように、平均ひずみは、ビンｂの中のそれぞれの適用可能な値についての残りの２乗を計算し、ビンｂの中のすべての適用可能な値についての残りの２乗を累計し、この累計した結果をビンｂの中の適用可能な値の数で割ることによって取得され得る。平均ひずみは、また、他の方法で決定され得る。
【００４２】
ビン０については、平均ひずみは、０（または０．６２５の量子化ステップ）のＱＰ値でそれらの値が量子化されたビン０（０から０．３１２５の間）の中のすべての適用可能な値のために計算され得る。平均ひずみは、また、１のＱＰ値でそれらの値が量子化され、次に、２のＱＰ値でそれらの値が量子化され、その他、次に、５１のＱＰ値でそれらの値が量子化されることによっても計算され得る。それぞれの残るビンについては、平均ひずみは、５２のＱＰ値のそれぞれについて、そのビンの中のすべての適用可能な値のために計算され得る。
【００４３】
図３Ｂは、予め計算された平均ひずみ対Ｈ．２６４における５２のＱＰ値のためのヒストグラム・ビンのひずみテーブルの一案を示す。ひずみテーブルは、５３のヒストグラム・ビンのための５３の行、ビンにつき１つの行、および、５２のＱＰ値のための５２の列、ＱＰ値につき１つの列、を含んでいる。ビンｂ（ｂ＝０，…，５２）のための列は、０，１，２，…，５１のＱＰ値で量子化されたビンｂの中の値についての平均ひずみを含んでいる。
【００４４】
ビン０については、そのビンの中の値は０から０．３１２５まで及び、０のＱＰ値に対する０．６２５の量子化ステップによって０に量子化される。ビン０の中の値のすべては、また、より大きなＱＰのために０に量子化される。ビン０についての平均ひずみは、ビン０中の値に基づいて計算され、Ｄ0,0として表示され得る。
【００４５】
そのビンの中の値が０．３１２５から０．３４３８まで及ぶビン１については、０のＱＰ値に対する０．６２５の量子化ステップによって１に量子化され、１のＱＰ値に対する０．６８７５の量子化ステップによって０に量子化される。その値が０のＱＰ値で１に量子化された場合のビン１についての平均ひずみは、Ｄ1,0として計算されて表示され得る。その値が１のＱＰ値で０に量子化された場合のビン１についての平均ひずみは、Ｄ1,1として計算されて表示され得る。ビン１の中の値は、また、１よりも大きいＱＰ値でも０に量子化されるので、Ｄ1,1は残るＱＰ値のそれぞれについての平均ひずみとして使用され得る。
【００４６】
そのビン中の値が０．３４３８から０．４０６３まで及ぶビン２については、０のＱＰ値に対する０．６２５の量子化ステップによって２に量子化され、１のＱＰ値に対する０．６８７５の量子化ステップによって１に量子化され、２のＱＰ値に対する０．８１２５の量子化ステップによって０に量子化される。その値が０のＱＰ値で２に量子化された場合のビン２についての平均ひずみは、Ｄ2,0として計算されて表示され得る。その値が１のＱＰ値で１に量子化された場合のビン２についての平均ひずみは、Ｄ2,1として計算されて表示され得る。その値が２のＱＰ値で０に量子化された場合のビン２についての平均ひずみは、Ｄ2,2として計算されて表示され得る。ビン２中の値は、また、２よりも大きいＱＰ値でも０に量子化されるので、Ｄ2,2は残るＱＰ値のそれぞれについての平均ひずみとして使用され得る。
【００４７】
一般に、ビンｂについては、そのビンの中の値は、０からｂ−１のＱＰ値のために０でない値に量子化され、ｂから５１のＱＰ値のために０に量子化される。平均ひずみは、０からｂのＱＰ値のそれぞれについて、ビンｂの中の値のために計算され得る。ｂのＱＰ値についての平均ひずみは、また、ｂ＋１から５１のＱＰ値のために使用され得る。ＱＰqのＱＰ値で量子化された場合のビンｂの中の値のための平均ひずみは、ＤbQPq、ｂ＝０，…，５２およびＱＰq＝０，…，５１で表される。量子化ステップがビンｂの中の値を越えて増加すると、ひずみは、ビンｂの中の値のエネルギーによって制限される。従って、ＤbQPq＝Ｄb,b for ＱＰq＞ｂとなる。
【００４８】
テーブル１の中で与えられたビン・パラメータについては、１４３０の平均ひずみの合計が、ビン０から５２について、および、ビンｂそれぞれに対する０からｂのＱＰ値について計算され得る。これら１４３０の平均ひずみは、図３Ｂに示されるひずみテーブルの中に格納され得る。ビン・インデックスよりも大きな（即ちＱＰq＞ｂ）ＱＰ値のためのひずみテーブルの中の残りの１３２６のエントリーは、繰り返された値であり得る。
【００４９】
係数のセットについてのひずみは、ヒストグラムおよびひずみテーブルに基づき、それぞれのあり得るＱＰ値のために推計し得る。それぞれのＱＰ値についての推計されたひずみは、次のように表現され得る。
【数８】
2010519795.tif 000011
【００５０】
ここで、Ｔbはビンｂの中の係数の数であり、Ｅ（ＱＰq）はＱＰqのＱＰ値のための補正係数であり、Ｄ（ＱＰq）はＱＰqのＱＰ値で量子化されたときの係数のセットのための推計されたひずみ（即ち、ひずみ推計）である。
【００５１】
式（７）では、推計されたひずみは、（ａ）ビンごとのひずみを取得するために、それぞれのビンＴbの中の係数の数をそのビンＤb,QPqについての平均ひずみに乗じ、（ｂ）５３ビンのすべてについてビンごとのひずみを合計し、（ｃ）補正係数Ｅ（ＱＰq）を適用する、ことによって取得される。下記に述べられるように、補正係数は、異なるＱＰ値について推計されたひずみの中の体系的な誤差または偏りを説明し得る。
【００５２】
推計されたひずみは、式（７）に基づき、５２のあり得るＱＰ値のそれぞれについて決定され得る。５２のＱＰ値のすべてについて推計されたひずみＤ（ＱＰ0）〜Ｄ（ＱＰ51）は、レートひずみ分析のような様々な目的のために使用され得る。
【００５３】
図４Ａは、マクロブロックの３つのクラスの実および推計されたひずみを示す。それぞれのクラスは、現在のマクロブロックと予測されたマクロブロックとの間の絶対差の合計であるＳＡＤに基づいて選択されたマクロブロックの数を含む。ＳＡＤ値は、動作予測中のマクロブロックそれぞれについて計算され得る。大きなＳＡＤ値は、マクロブロックとその予測マクロブロックとの間の大きな誤差を示し、多くの０でない係数に帰着し得る。３つのクラスは、ＳＡＤ値の３つの異なる範囲の中のマクロブロックを含む。それぞれのマクロブロックは、５２のＱＰ値のそれぞれで量子化される。それぞれのＱＰ値について、実際のひずみは計算され、推計されたひずみも式（７）で示されるように計算される。それぞれのクラスの中のすべてのマクロブロックについての実際のひずみは、それぞれのＱＰ値について平均されて、図４Ａの中にプロットされる。同様に、それぞれのクラスの中のすべてのマクロブロックについて推計されたひずみは、それぞれのＱＰ値について平均されて、図４Ａの中にプロットされる。図４Ａの中のプロットは、推計されたひずみが、３つのすべてのクラスについておよびすべてのＱＰ値にわたって実値と密接に一致していることを示唆する。
【００５４】
図４Ｂは、１から１０の低いＱＰ値についてのマクロブロックの３つのクラスのための実および推計されたひずみを示す。図４Ｂは、図４Ａの左下隅のクローズ・アップまたはズーム・インである。図４Ｂは、推計されたひずみのためのプロットが低いＱＰ値についての実際のひずみのためのプロットから外れることを示す。低いＱＰ値について推計されたひずみは、高いＱＰ値について推計されたひずみよりも大きな誤差（パーセンテージで言えば）を持っている。
【００５５】
低いＱＰ値について、係数値が量子化ステップと大きく関係するという小さな量子化ステップの仮定は、通常有効である。従って、ひずみは、より多くの量子化ステップの働きであり、データ分布の働きと同等ではない。大きなＱＰ値について、小さな量子化ステップの仮定は十分有効ではない。従って、ひずみは、量子化ステップと同様にデータ分布の働きである。
【００５６】
式（７）では、補正係数Ｅ（ＱＰq）は低いＱＰ値についての実際のひずみと推計されたひずみとの間の体系的な誤差または偏りを説明するために使用され得る。体系的な誤差は、逆量子化の固定小数点の実施誤りを低減するために導入された量子化除数の変更に起因するものであり得る。補正係数は、データに基づいた推計、経験的な計算、コンピューター・シミュレーションを経た決定、などであり得る。例えば、実際のひずみは、実際のデータまたはテストデータ基づく異なるＱＰ値について決定され得るし、推計されたひずみも、同じデータに基づく異なるＱＰ値について決定され得るし、補正係数は、これらのＱＰ値についての実値および推計ひずみに基づく異なるＱＰ値について決定され得る。
【００５７】
図５は、異なるＱＰ値についての補正係数Ｅ（ＱＰq）のプロット例を示す。プロットは、データに基づく異なるＱＰ値についての実および推計ひずみを計算し、それぞれのＱＰ値についての実値と推計ひずみとの間のパーセント誤差を計算することによって取得される。図４Ｂおよび５に示されるように、ひずみは、５よりも小さいＱＰ値について過度に推計され、５と２０との間のＱＰ値について過小に推計される。推計されたひずみにおける誤差は、１５よりも大きいＱＰ値について１０パーセント未満であり、２０よりも大きいＱＰ値について５％未満である。
【００５８】
推計されたひずみの誤差は、低いＱＰ値について比較的高い（パーセンテージで言えば）ものであり得る。しかしながら、この誤差はデータへの依存は小さく、ＱＰ値により多く依存する。従って、この誤差は、補正係数の適用によって比較的容易にまた正確に修正され得る。
【００５９】
一般に、補正係数は以下のように定義され得る。
【００６０】
Ｅ（ＱＰq）＝１．０  推計されたひずみの中に体系的な誤差が無いことを意味し、
Ｅ（ＱＰq）＞１．０  ひずみの体系的な過小な推計を意味し、
Ｅ（ＱＰq）＜１．０  ひずみの体系的な過大な推計を意味する。
【００６１】
図６は、図５に示される補正係数の使用を伴った異なるＱＰ値についての推計されたおよび実際のひずみの間のパーセント誤差のプロット例を示す。図６に示されるように、データの独立したセットの補正係数の適用後、推計されたひずみの中の誤差は本質的に低減され得る。この例では、最大の誤差は４％未満であり、平均誤差はおよそ０．５％である。ここに記述された技術は、従って、量子化に起因するひずみの比較的正確な推計を提供することができ得る。
【００６２】
ここに記述された技術は、例えばＨ．２６４などの複数の量子化ステップでデータを量子化することができる符号化システムに使用され得る。この技術は、また、単一の固定の量子化ステップでデータを量子化する符号化システムにも使用され得る。
【００６３】
この技術は、また、様々な目的に使用され得る。１つの案では、この技術は一定のレート・ビット・アロケーションに使用され得る。ひずみは、異なるＱＰ値について、コード化する要素のセットのために推計され得る。レートも、異なるＱＰ値について、コード化する要素のセットのために推計され得る。例えば、ひずみおよびレートは、５２のＱＰ値のそれぞれについて、符号化する要素のそれぞれのために推計され得る。異なるＱＰ値について、符号化する要素のセットのために推計されたひずみおよび推計されたレートは、レートひずみ分析が、符号化する要素のセットのためのＱＰ値のセット、それぞれの符号化する要素のための１つのＱＰ値を、ある全体的なレートのための符号化する要素のセットのための全体のひずみが最も小さくなるように選択するために使用され得る。
【００６４】
他の案では、この技術は、一定のピーク信号対雑音比（ＰＳＮＲ）のビット・アロケーションに使用され得る。符号化する要素のセットのＰＳＮＲは、これらのＱＰ値について、符号化する要素のセットのために推計されたひずみに基づき、異なるＱＰ値について予測され得る。例えば、それぞれの符号化する要素のＰＳＮＲは、そのＱＰ値について、その符号化する要素のために推計されたひずみに基づき、５２のＱＰ値のそれぞれについて予測され得る。ＱＰ値のセットは、それから、例えば、セットの中の符号化する要素のすべてにわたって、例えば、全体のフレーム、クリップなどにわたって、一定のＰＳＮＲを達成するために選択され得る。変動レートは特定の一定のＰＳＮＲを達成するために使用され得る。その代わりに、最も高い可能な一定のＰＳＮＲは、符号化する要素のセットについてのある全体的なレートのために達成され得る。
【００６５】
また他の案では、この技術は、一定の知覚品質のビット・アロケーションのために使用され得る。知覚のひずみまたは品質は、様々な方法で推計され得る。知覚の重み付けとして言及される、１つの案では、符号化する要素の中の異なる係数は、符号化する要素の推計されたひずみを取得するために、これらの係数の寄与を組み合わせることに先立って異なる重みを与えられ得る。例えば、重要度の低い周波数成分を表わす係数は、より少ない重みを与えられ得る。他の案では、符号化する要素の全面的な質感および明暗特性は、知覚されたひずみを推計するために使用され得る。例えば、超低周波成分（平面）における符号化する要素の中の小さなひずみは、高いひずみと読み取られ得る。分散は、符号化する要素の中の高周波数成分の基準として使用され得る。
【００６６】
符号化する要素のひずみは、知覚のひずみを得るために、（Ｖａｒ＿ｔ／Ｖａｒ＿ｉ）として重み付けられ得るものであり、ここで、Ｖａｒ＿ｔは符号化する要素のセットの全体的な分布であり、Ｖａｒ＿ｉは符号化する要素の分散である。知覚品質測定基準値は、知覚される品質（空間のアクティビティや一時的なアクティビティのような）に影響を及ぼす重みまたは係数に基づき、異なるＱＰ値について、それぞれの符号化する要素のために取得され得る。これらの測定基準値は、一定の知覚品質に帰着することができる符号化する要素のセットのためのＱＰ値のセットを選択するために使用され得る。変動レートは、特定の一定の知覚品質を達成するために使用され得る。代案として、最良のあり得る知覚品質は、符号化する要素のセットのある全体的なレートのために達成され得る。推計されたひずみは、また、他の方法、および／または、他の目的のために使用され得る。
【００６７】
図７は、量子化に起因するひずみを推計する処理７００を示す。複数のビンを備えたヒストグラムは、量子化されるべき係数のセットのために取得され得る（ブロック７１０）。係数のセットは、マクロブロック、フレームなどに相当し得る。ヒストグラムのためのビンの数は、係数のセットの量子化のために使用可能な量子化ステップの数に基づいて決定され得る。ヒストグラム・ビンについての開始と終了の値は、量子化ステップに基づいて決定され得る。ヒストグラムは、係数の値およびそれぞれのビンの開始および終了の値に基づき、セットの中のそれぞれの係数を、ビンの１つにマッピングすることにより取得され得る。ヒストグラムは、また、それぞれの係数、０でない量子化された係数に帰着する最大の量子化ステップに対応するしきい値ＱＰ値について決定することにより取得され得る。ヒストグラムは、それから、セットの中の係数のすべてについてのしきい値ＱＰ値に基づいて取得され得る。
【００６８】
係数のセットの量子化に起因するひずみは、ヒストグラムおよび複数のビンについての平均ひずみに基づいて推計され得る（ブロック７２０）。ブロック７２０において、それぞれのビンの中の係数の数は、ビンごとのひずみを取得するために、ビンについての平均ひずみで乗算され得る。ビンのすべてについてのビンごとのひずみは、積算されたひずみを取得するために積算され得る。積算されたひずみは、係数のセットについて推計されたひずみとして直接的に提供され得る。量子化ステップに基づいて補正係数が決定され得る場合、積算されたひずみは、また、推計されたひずみを取得するために、補正係数で計測され得る。
【００６９】
量子化に起因するひずみは、それぞれの量子化ステップのためのヒストグラムおよび複数のビンについての平均ひずみに基づき、複数の量子化ステップのそれぞれについて推計され得る。それぞれの量子化ステップについてのひずみは、さらに、量子化ステップの関数であり得る、補正係数に基づいて推計され得る。複数の量子化ステップは、Ｈ．２６４における５２のＱＰ値またはある他の符号化システムまたは規格のためのある他の量子化ステップのセットに相当し得る。
【００７０】
図８は、量子化ステップを選択する処理８００を示す。符号化する要素のセットの量子化に起因するひずみは、例えば、符号化する要素のセットのための少なくとも１つのヒストグラムおよび複数の量子化ステップについての平均ひずみ対ヒストグラム・ビンのテーブルに基づき、複数の量子化ステップについて推計され得る（ブロック８１０）。ヒストグラムは、１または複数の符号化する要素のために取得され得る。例えば、ヒストグラムは、それぞれの符号化する要素のために取得され得るし、ひずみは、そのヒストグラムに基づき、それぞれの量子化ステップについて、それぞれの符号化する要素について推計され得る。符号化する要素のセットについてのレートも、また、例えば、前述したρ（ＱＰq）テーブルに基づき、複数の量子化ステップについて推計され得る（ブロック８２０）。例えば、レートは、それぞれの量子化ステップについて、それぞれの符号化する要素について推計され得る。量子化ステップのセットは、複数の量子化ステップについて、符号化する要素のセットについて推計されたひずみおよび推計されたレートに基づき、符号化する要素のセットの量子化のために選択され得る（ブロック８３０）。例えば、１つの量子化ステップは、全体のひずみ（または、セットの中の個々の符号化する要素の推計されたひずみの合計）がある全体的なレートに対して最小となるように、それぞれの符号化する要素について選択され得る。量子化ステップのセットは、また、一定のＰＳＮＲ、一定の知覚品質などのような他の基準に基づいて選択され得る。
【００７１】
ここに記述された技術は、通信、コンピューティング、ネットワーキング、パーソナル・エレクトロニクスなどに使用され得る。例えば、この技術は、無線通信デバイス、携帯デバイス、ゲームデバイス、コンピューティングデバイス、電化製品、コンピュータなどに使用され得る。無線通信デバイスのための本技術の使用例が以下に述べられる。
【００７２】
図９は、無線通信システムにおける無線通信デバイス９００の一案のブロック図を示す。
【００７３】
無線デバイス９００は、携帯電話機、端末、ハンドセット、携帯情報端末（ＰＤＡ）、無線モデムなどであり得る。無線通信システムは、符号分割多重アクセス（ＣＤＭＡ：code division multiple access）システム、グローバル移動体通信（ＧＳＭ：global system for mobile communications）システムなどであり得る。
【００７４】
無線デバイス９００は、受信パスおよび送信パスによる双方向通信を提供することができる。受信パスにおいては、基地局によって送信された信号が、アンテナ９１２によって受信され、受信機（ＲＣＶＲ）９１４に供給される。受信機９１４は、受信信号を調整およびディジタル化し、さらなる処理のためにディジタル部にサンプルを供給する。送信パスにおいては、送信機（ＴＭＴＲ）９１６が、ディジタル部９２０から送信されるべきデータを受け取り、データを処理および調整し、アンテナ９１２を介して基地局へ送信される調整された信号を生成する。
【００７５】
ディジタル部９２０は、例えば、モデムプロセッサ９２２、ＲＩＳＣ／ＤＳＰ（reduced instruction set computer/digital signal processor）９２４、コントローラ／プロセッサ９２６、内部メモリ９２８、グラフィックスプロセシングユニット（ＧＰＵ）９３２、ビデオ／カメラプロセッサ９３４、ディスプレイプロセッサ９３６および外部バスインタフェース（ＥＢＩ：external bus interface）９３８のような、様々な処理部、インタフェースおよびメモリユニットを含んでいる。モデムプロセッサ９２２は、例えば符号化、変調、復調、復号などのデータ送信および受信のための処理を実行し得る。ＲＩＳＣ／ＤＳＰ９２４は、無線デバイス９００のための一般的で特定化された処理を実行し得る。コントローラー／プロセッサ９２６は、ディジタル部９２０内の様々な処理部およびインタフェースユニットの動作を命令し得る。内部メモリ９２８は、データ、および／または、ディジタル部９２０内の様々なユニットのための命令を格納し得る。
【００７６】
ＧＰＵ９３２は、２次元、および／または、３次元グラフィックスのためのグラフィックス処理を実行し得る。ビデオ／カメラプロセッサ９３４は、カメラおよび例えばカムコーダ、ビデオ再生、ビデオ会議などのビデオアプリケーションのために、カメラ９４４から画像のためのデータを受信し得るし、静止画像、動画像、ムービングテキスト（moving text）などのためのデータ上の処理を実行し得る。ディスプレイプロセッサ９３６は、ディスプレイユニット９４６上へのビデオ、グラフィックス、画像およびテキストの表示を手助けする処理を実行し得る。ＥＢＩ９３８は、ディジタル部９２０と主メモリ９４８の間のデータの転送を手助けし得る。ここに記述された技術は、ＧＰＵ９３２におけるグラフィックス画像、ビデオ／カメラプロセッサ９３４におけるキャプチャーされた画像、ディスプレイ・プロセッサ９３６における出力画像について実現され得る。
【００７７】
ディジタル部９２０は、１以上のプロセッサ、ＤＳＰ、マイクロプロセッサ、ＲＩＳＣなどによって実現され得る。ディジタル部９２０は、また、１以上の特定用途向けＩＣ（ＡＳＩＣ）、および／または、ある他のタイプの集積回路（ＩＣ）によって作成され得る。
【００７８】
ここに記述されたひずみ推計技術は、様々な手段によって実現され得る。例えば、これらの技術は、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェアまたはそれらの組み合わせで実現され得る。ハードウェアでの実現については、この技術のための処理装置は、１以上のＡＳＩＣ、ＤＳＰ、ＤＳＰＤ（digital signal processing device）、ＰＬＤ（programmable logic device）、ＦＰＧＡ（field programmable gate array）、プロセッサ、コントローラ、マイクロ・コントローラ、マイクロプロセッサ、電子デバイス、ここに記述された機能を実行するために設計された他の電子ユニット、コンピュータまたはこれらの組み合わせによって実現され得る。
【００７９】
ファームウェア、および／または、ソフトウェアでの実現については、このひずみ推計技術は、ここに記述された機能を実行するモジュール（例えば手続き、関数など）で実現され得る。ファームウェア、および／または、ソフトウェアのコードは、メモリ（例えば図９の中のメモリ９２８、および／または、９４８）に格納されて、プロセッサ（例えばプロセッサ９２４，９２６，９３２，９３４、および／または、９３６）によって実行され得る。このメモリは、プロセッサ内またはプロセッサの外部に実装され得る。
【００８０】
ここに記述された技術を実現する装置は、スタンド・アロンのユニットであり得るし、またはデバイスの一部であり得る。このデバイスは、（ｉ）スタンド・アロンの集積回路（ＩＣ）、（ii）データ、および／または、命令を格納するためのメモリＩＣを含み得る１つ以上のＩＣのセット、（iii）移動局モデム（ＭＳＭ：mobile station modem）のようなＡＳＩＣ、（iv）他のデバイス内に組み込まれ得るモジュール、（ｖ）携帯電話機、無線デバイス、ハンドセットまたはモバイル・ユニット、（vi）その他、であり得る。
【００８１】
本開示における上記記載は、当業者をして、本開示の製造又は利用を可能とするために提供される。本開示への様々な変形例もまた、当業者には明らかであり、本明細書で定義された一般原理は、本発明の精神又は範囲から逸脱することなく他の実施形態にも適用されうる。従って本発明は、本明細書で説明された例に限定することは意図されておらず、本明細書に開示された原理及び新規特徴と整合が取れた最も広い範囲と一致するように意図されている。
【図１】
2010519795.tif 000012
【図２】
2010519795.tif 000013
【図３Ａ】
2010519795.tif 000014
【図３Ｂ】
2010519795.tif 000015
【図４Ａ】
2010519795.tif 000016
【図４Ｂ】
2010519795.tif 000017
【図５】
2010519795.tif 000018
【図６】
2010519795.tif 000019
【図７】
2010519795.tif 000020
【図８】
2010519795.tif 000021
【図９】
2010519795.tif 000022
【国際調査報告】
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2010519795.tif 000024
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