(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物を搬送する搬送部と、
Ｘ線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、
磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる金属を異物として検出する金属検出部と、
前記搬送部の少なくとも一部、前記Ｘ線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容し、前記搬送部による前記被検査物の搬入口、及び前記搬送部による前記被検査物の搬出口を有する筐体と、を備え、
前記搬送部は、
前記搬送部による前記被検査物の搬送領域の上流端に配置された第１送りローラと、
前記搬送領域の下流端に配置された第２送りローラと、
前記第１送りローラ及び前記第２送りローラに架けられた無端ベルトと、
非磁性の材料で形成され、前記搬送領域において前記無端ベルトを支持する支持プレートと、
前記搬入口及び前記搬出口のうち前記Ｘ線検査部に近い前記搬入口又は前記搬出口において前記Ｘ線を遮蔽するＸ線遮蔽プレートと、を有する、異物検査装置。
【請求項２】
前記Ｘ線遮蔽プレートは、前記支持プレートに取り付けられている、請求項１に記載の異物検査装置。
【請求項３】
前記Ｘ線遮蔽プレートは、金属で形成されており、
前記Ｘ線遮蔽プレートは、金属で形成された前記筐体と電気的に絶縁されている、請求項１又は２に記載の異物検査装置。
【請求項４】
前記第１送りローラ及び前記第２送りローラは、金属で形成されており、
前記第１送りローラ及び前記第２送りローラは、金属で形成された前記筐体と電気的に絶縁されている、請求項１〜３のいずれか一項に記載の異物検査装置。
【請求項５】
前記支持プレートを形成する前記材料は、非導電性の材料である、請求項１〜４のいずれか一項に記載の異物検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異物検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−２８４６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述したような異物検査装置では、Ｘ線検査部で発生するＸ線の外部漏洩を抑制するために、搬送部の少なくとも一部、Ｘ線検査部、及び金属検出部が筐体の内部に収容される場合がある。そのような場合に、Ｘ線の外部漏洩をより確実に抑制するためには、筐体以外の構成部材を金属で形成することが考えられる。しかし、筐体以外の構成部材を無為に金属で形成すると、金属検出部で発生する磁界に当該構成部材の影響が及んで、金属検出部の検出精度の低下に繋がるおそれがある。
【０００５】
そこで、本発明は、金属検出部の検出精度の低下の抑制、及びＸ線の外部漏洩の抑制の両立を図ることができる異物検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の異物検査装置は、被検査物を搬送する搬送部と、Ｘ線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するＸ線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる金属を異物として検出する金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、Ｘ線検査部、及び金属検出部を内部に収容し、搬送部による被検査物の搬入口、及び搬送部による被検査物の搬出口を有する筐体と、を備え、搬送部は、搬送部による被検査物の搬送領域の上流端に配置された第１送りローラと、搬送領域の下流端に配置された第２送りローラと、第１送りローラ及び第２送りローラに架けられた無端ベルトと、非磁性の材料で形成され、搬送領域において無端ベルトを支持する支持プレートと、搬入口及び搬出口のうちＸ線検査部に近い搬入口又は搬出口においてＸ線を遮蔽するＸ線遮蔽プレートと、を有する。
【０００７】
この異物検査装置では、搬送領域において無端ベルトを支持する支持プレートが非磁性の材料で形成されている。これにより、金属検出部で発生する磁界に支持プレートの影響が及ぶことが防止される。また、搬入口及び搬出口のうちＸ線検査部に近い搬入口又は搬出口において、Ｘ線遮蔽プレートによってＸ線が遮蔽される。これにより、金属検出部で発生する磁界にＸ線遮蔽プレートの影響が及ぶことが抑制されつつ、Ｘ線検査部に近い搬入口又は搬出口を介してＸ線が外部に漏洩することが抑制される。よって、この異物検査装置によれば、金属検出部の検出精度の低下の抑制、及びＸ線の外部漏洩の抑制の両立を図ることができる。
【０００８】
本発明の異物検査装置では、Ｘ線遮蔽プレートは、支持プレートに取り付けられていてもよい。これにより、簡易な構成で、Ｘ線の外部漏洩を効果的に抑制し得る位置にＸ線遮蔽プレートを配置することができる。
【０００９】
本発明の異物検査装置では、Ｘ線遮蔽プレートは、金属で形成されており、Ｘ線遮蔽プレートは、金属で形成された筐体と電気的に絶縁されていてもよい。Ｘ線遮蔽プレートが金属で形成されていることにより、Ｘ線検査部に近い搬入口又は搬出口を介したＸ線の外部漏洩をより確実に抑制することができる。また、Ｘ線遮蔽プレートが筐体と電気的に絶縁されていることにより、金属検出部で発生する磁界の影響でＸ線遮蔽プレートと筐体との間で電流が流れることが防止されるため、金属検出部の検出精度の低下をより確実に抑制することができる。
【００１０】
本発明の異物検査装置では、第１送りローラ及び第２送りローラは、金属で形成されており、第１送りローラ及び第２送りローラは、金属で形成された筐体と電気的に絶縁されていてもよい。各送りローラが金属で形成されていることにより、搬入口及び搬出口を介したＸ線の外部漏洩をより確実に抑制することができる。また、各送りローラが筐体と電気的に絶縁されていることにより、金属検出部で発生する磁界の影響で各送りローラと筐体との間で電流が流れることが防止されるため、金属検出部の検出精度の低下をより確実に抑制することができる。
【００１１】
本発明の異物検査装置では、支持プレートを形成する材料は、非導電性の材料であってもよい。これにより、金属検出部で発生する磁界の影響で支持プレートにおいて電流が流れることが防止されるため、金属検出部の検出精度の低下をより確実に抑制することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、金属検出部の検出精度の低下の抑制、及びＸ線の外部漏洩の抑制の両立を図ることができる異物検査装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施形態に係る異物検査装置の正面図である。
【図２】図１の異物検査装置の内部構成及び制御系を示す概念図である。
【図３】図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の正面図である。
【図４】図２のＸ線検査部及び金属検出部の主要構成の斜視図である。
【図５】図２のＸ線検査部、金属検出部及び搬送部の主要構成の正面図である。
【図６】図５の搬送部の一部の平面図である。
【図７】図５の搬送部の一部の正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の説明において、同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１５】
図１に示される異物検査装置１は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置１は、その内部において被検査物を搬送しつつＸ線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。Ｘ線検査は、Ｘ線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、Ｘ線検査部２（図２参照）によって実現される。Ｘ線検査では、被検査物とは異なるＸ線透過性を有する異物を検出することができる。金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる金属を異物として検出する手法であり、金属検出部３（図２参照）によって実現される。金属検出では金属を異物として検出することができる。
【００１６】
異物検査装置１は、その内部に空間が形成された筐体４を有している。筐体４は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３（図２参照）を内部に収容している。筐体４は、Ｘ線検査部２により発生されるＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。筐体４は、例えばステンレス等の金属で形成されている。
【００１７】
筐体４は、例えば直方体箱状を呈している。筐体４の一方の側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ａが形成されている。筐体４の他方の側面には、筐体４の内部に連通する開口部４ｂが形成されている。異物検査装置１では、被検査物は、開口部４ａから筐体４の内部に搬入され、筐体４の内部において検査が行われ、開口部４ｂから筐体４の外部に搬出される。つまり、開口部４ａが被検査物の搬入口であり、開口部４ｂが被検査物の搬出口である。
【００１８】
筐体４の前面には、筐体４を開閉する上部扉４０及び下部扉４１が設けられている。上部扉４０及び下部扉４１は、例えば開き戸構造である。上部扉４０又は下部扉４１が開放されることで、後述するＸ線検査部２及び金属検出部３の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉４０及び下部扉４１は、例えばステンレス等の金属で形成されている。
【００１９】
上部扉４０の前面には、ディスプレイ５及び操作スイッチ６が設けられている。ディスプレイ５は、表示機能と入力機能とを兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ５は、Ｘ線検査及び金属検出の結果等を表示すると共に、金属検出及びＸ線検査に関する各種パラメータを設定するための操作画面を表示する。操作スイッチ６は、Ｘ線検査部２及び金属検出部３の電源スイッチ等である。
【００２０】
筐体４は、支持脚７によって支持されている。筐体４の上面には、報知部８及びクーラー９が設けられている。報知部８は、異物の混入及び機器の作動状態を報知する。報知部８は、Ｘ線検査部２に対応する第１報知器８１、及び金属検出部３に対応する第２報知器８２を有している。クーラー９は、筐体４の内部に冷気を送り、筐体４の内部に配置された機器の温度を調整する。
【００２１】
図２に示されるように、筐体４の内部は、後述するＸ線発生器２１の一部、及び各種の制御基板等が配置される基板室Ｔ１と、被検査物Ｓが搬入されて検査が行われる検査室Ｔ２とに区画されている。基板室Ｔ１は、検査室Ｔの上側に位置しており、クーラー９によって温度調整されている。
【００２２】
検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを搬送する搬送部１０が配置されている。搬送部１０は、ローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部４ａに位置し且つ他端部が開口部４ｂに位置した状態で、筐体４の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体４は、搬送部１０のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。搬送部１０は、開口部４ａを介して被検査物Ｓを筐体４の内部に搬入し、開口部４ｂを介して被検査物Ｓを筐体４の外部に搬出する。
【００２３】
なお、被検査物Ｓの搬入及び搬出を自動化すべく、搬送部１０の一方の側には搬入用コンベヤ１０１が配置されており、搬送部１０の他方の側には搬出用コンベヤ１０２が配置されている。搬出用コンベヤ１０２には、被検査物Ｓの振分機構が設けられる場合がある。
【００２４】
開口部４ａには、Ｘ線遮蔽カーテン４２が配置されている。開口部４ｂには、Ｘ線遮蔽カーテン４３が配置されている。各Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３の上端は筐体４に対する固定端であり、各Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３の下端は自由端である。各Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、Ｘ線検査部２が発生したＸ線を遮蔽し、Ｘ線の外部漏洩を抑制する。各Ｘ線遮蔽カーテン４２，４３は、例えば金属材料（タングステン等）を含有する可撓性材料等で形成されている。
【００２５】
検査室Ｔ２には、被検査物Ｓを通過させるための貫通穴３１ａが形成された筒状のケース３１が配置されている。搬送部１０は、貫通穴３１ａを介してケース３１を貫通している。被検査物Ｓは、搬送部１０によってケース３１の貫通穴３１ａを通過し、ケース３１においてＸ線検査及び金属検出が順次実行される。ケース３１は、例えばステンレス等の金属で形成されている。
【００２６】
Ｘ線検査部２は、Ｘ線検査制御部２０、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２を有している。Ｘ線発生器２１は、搬送部１０及びケース３１の上側に配置されている。Ｘ線発生器２１は、搬送部１０で搬送されている被検査物ＳにＸ線を照射する。Ｘ線発生器２１のうちＸ線を発生するＸ線源等は、基板室Ｔ１に配置されている。Ｘ線発生器２１のうちＸ線を照射する機構は、検査室Ｔ２に配置されている。
【００２７】
Ｘ線検出器２２は、搬送部１０及びケース３１の下側に配置されており、Ｘ線発生器２１と対向している。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線発生器２１で発生されて被検査物Ｓを透過したＸ線を検出する。Ｘ線検出器２２としては、例えば複数のＸ線検出センサが前後方向（搬送部１０による被検査物Ｓの搬送方向と直交する水平方向）に沿って並設されることで構成されたラインセンサが用いられる。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線漏洩を低減させるために、基板ケース２３に収容されている。基板ケース２３には、Ｘ線検出器２２に入射するＸ線を通過させるスリット２３ａ（図４参照）が形成されている。
【００２８】
Ｘ線検査制御部２０は、外部との信号の入出力等を行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラム及び情報等が記憶されたＲＯＭ（Read  Only  Memory）、データを一時的に記憶するＲＡＭ（Random  Access  Memory）、ＨＤＤ（Hard  Disk  Drive）等の記憶媒体、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、並びに通信回路等を有している。Ｘ線検査制御部２０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
【００２９】
Ｘ線検査制御部２０は、基板室Ｔ１に配置されており、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２と電気的に接続されている。Ｘ線検査制御部２０は、ディスプレイ５と電気的に接続されており、ディスプレイ５の操作画面を介して、作業員から操作情報を受け付ける。Ｘ線検査制御部２０は、当該操作情報に基づいてＸ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作プロファイルを設定すると共に、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２の動作を制御する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２よりも上流側に配置されたレーザセンサ２４を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの検査を開始する。Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１を制御して、搬送部１０で搬送されている被検査物ＳにＸ線を照射させる。Ｘ線検出器２２は、被検査物Ｓを透過したＸ線のＸ線透過量を計測し、計測したＸ線透過量をＸ線検査制御部２０に出力する。
【００３０】
Ｘ線検査制御部２０は、時系列で取得したＸ線透過量を画素値に反映させたＸ線透過画像を生成する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、画像処理技術によりＸ線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、Ｘ線検査制御部２０は、被検査物Ｓの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。
【００３１】
Ｘ線検査制御部２０は、作業員からの要求に応じて、Ｘ線検査の結果データをディスプレイ５に表示させたり、Ｘ線検査の結果データを記憶部に記憶させたりする。また、Ｘ線検査制御部２０は、Ｘ線発生器２１及びＸ線検出器２２が正常に作動している場合、第１報知器８１を用いてＸ線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。更に、Ｘ線検査制御部２０は、異物を検出したと判定した場合、第１報知器８１を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。
【００３２】
図３及び図４に示されるように、ケース３１は、本体部３２、第１フード部３３及び第２フード部３４を有している。第１フード部３３は、本体部３２に対して開口部４ａ側（搬入口側）に設けられている。第２フード部３４は、本体部３２に対して開口部４ｂ側（搬出口側）に設けられている。ケース３１の貫通穴３１ａは、本体部３２、第１フード部３３及び第２フード部３４のそれぞれの内壁によって画定されている。なお、ケース３１は、耐振特性を向上させるために、防振台３９（防振台３９ａ，３９ｂ）によって支持されている。
【００３３】
第１フード部３３の上面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ａがＸ線発生器２１の下側に位置するように形成されている。第１フード部３３の下面には、Ｘ線を通過させるＸ線通過スリット３３ｂがＸ線通過スリット３３ａと対向するように形成されている。Ｘ線通過スリット３３ｂの下側には、Ｘ線検出器２２が配置されている。このように構成することで、Ｘ線発生器２１が発生したＸ線は、各Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂを通過し、ケース３１の内部を搬送されている被検査物Ｓに照射される。
【００３４】
なお、第１フード部３３の側面において、各Ｘ線通過スリット３３ａ，３３ｂよりも下流側（本体部３２側）にはスリット３３ｃが形成されている。スリット３３ｃには、レーザセンサ３８が配置されている。レーザセンサ３８は、スリット３３ｃを介して搬送部１０上の被検査物Ｓにレーザを照射する。
【００３５】
図２に示されるように、金属検出部３は、金属検出制御部３０、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７を有している。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、金属等の導電性材料で形成されたサーチコイルである。送信コイル３５及び受信コイル３６，３７は、搬送部１０のうち貫通穴３１ａを通過している部分を囲むように、ケース３１の内部（より具体的には、図３及び図４に示されるように、ケース３１の本体部３２の内部）に配置されている。つまり、金属検出部３は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７が内部に配置され且つ搬送部１０が内部を通過しているケース３１を有している。これにより、被検査物Ｓは、搬送部１０によって送信コイル３５及び受信コイル３６，３７の内側を通過させられる。
【００３６】
図３及び図４に示されるように、送信コイル３５は、受信コイル３６，３７間に配置されている。受信コイル３６，３７は、互いに差動接続されると共に、送信コイル３５に対して対称に配置されている。２つの受信コイル３６，３７は、同一の鎖交磁束を有している。送信コイル３５は、通電可能に構成されており、磁束を発生する。各受信コイル３６，３７では、送信コイル３５が発生した磁界の電磁誘導によって電圧が励起する。なお、第１フード部３３及び第２フード部３４は、送信コイル３５が発生した磁界の外部漏洩、及び外来磁界の進入を抑制する。
【００３７】
図２に示されるように、金属検出制御部３０は、外部との信号の入出力等を行う入出力インターフェースＩ／Ｏ、処理を行うためのプログラム及び情報等が記憶されたＲＯＭ、データを一時的に記憶するＲＡＭ、ＨＤＤ等の記憶媒体、ＣＰＵ、並びに通信回路等を有している。金属検出制御部３０は、ＣＰＵが出力する信号に基づいて、入力データをＲＡＭに記憶し、ＲＯＭに記憶されているプログラムをＲＡＭにロードし、ＲＡＭにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
【００３８】
金属検出制御部３０は、基板室Ｔ１に配置されており、Ｘ線検査制御部２０と電気的に接続されている。金属検出制御部３０は、Ｘ線検査制御部２０を介して電気的に接続されたディスプレイ５の操作画面を介して、作業員から操作情報を受け付ける。金属検出制御部３０は、当該操作情報に基づいて送信コイル３５及び受信コイル３６，３７の動作プロファイルを設定する。金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７よりも上流側に配置されたレーザセンサ３８を用いて被検査物Ｓを検出した場合、当該被検査物Ｓの金属検出を開始する。
【００３９】
金属検出制御部３０は、送信コイル３５に交番励磁電流を供給し、磁束を発生させる。送信コイル３５によって発生された磁束は、２つの受信コイル３６，３７を貫通し、電磁誘導によって各受信コイル３６，３７にて電圧が励起される。金属検出制御部３０は、受信コイル３６，３７の差動接続の出力電圧を取得して、金属検出の判定を行う。例えば、金属検出制御部３０は、差動接続の出力電圧が０のときは、金属異物を検出していないと判定し、差動接続の出力電圧が０でないときは、金属異物を検出したと判定する。
【００４０】
金属検出制御部３０は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ５に表示させたり、金属検出の結果データを記憶部に記憶させたりする。また、金属検出制御部３０は、送信コイル３５及び受信コイル３６，３７が正常に作動している場合、第２報知器８２を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。更に、金属検出制御部３０は、異物を検出したと判定した場合、第２報知器８２を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。
【００４１】
上述したＸ線検査部２及び金属検出部３は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置１は、Ｘ線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、Ｘ線検査及び金属検出のいずれか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、Ｘ線検査部２がディスプレイ５の表示制御を行うため、Ｘ線検査部２が停止している場合には、ディスプレイ５に金属検出部３の操作画面が表示されない。このため、筐体４の内部には、金属検出部３に接続されたサブディスプレイ（不図示）が配置されている。金属検出部３は、Ｘ線検査部２が停止している場合には、サブディスプレイを介して、作業員から操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データ等を表示する。
【００４２】
搬送部１０の構成について、より詳細に説明する。図５に示されるように、搬送部１０は、第１支持フレーム１１、第２支持フレーム１２、第１送りローラ１３、第２送りローラ１４、無端ベルト１５、支持プレート１６及びＸ線遮蔽プレート１００を有している。支持プレート１６は、第１支持部分１６ａ及び第２支持部分１６ｂを含んでいる。第１支持部分１６ａ及び第２支持部分１６ｂは、搬送部１０による被検査物Ｓの搬送方向Ｄに沿って並設され且つ互いに分離されている。
【００４３】
第１支持フレーム１１には、第１送りローラ１３及び第１支持部分１６ａが取り付けられている。より具体的には、第１送りローラ１３は、第１支持フレーム１１に回転可能に支持されている。第１支持部分１６ａは、第１支持フレーム１１にネジ止め等によって固定されている。第１支持フレーム１１は、第１送りローラ１３及び第１支持部分１６ａが取り付けられた状態で、筐体４に設けられた支持体４５に取り付けられている。より具体的には、第１支持フレーム１１は、支持体４５に設けられた絶縁部材４５ａ上に載置された状態で、支持体４５に設けられた留め具４５ｂによって固定されている。留め具４５ｂは、いわゆるパッチン錠（draw  latch）と称されるものであり、第１支持部分１６ａに設けられた爪部１７ａに係合している。なお、留め具４５ｂ及び爪部１７ａの組は、前後方向（搬送部１０による被検査物Ｓの搬送方向と直交する水平方向）における第１支持部分１６ａの両側に設けられている。
【００４４】
第１支持フレーム１１及び第１送りローラ１３は、例えばステンレス等の金属で形成されている。金属で形成された第１支持フレーム１１及び第１送りローラ１３は、第１支持フレーム１１が絶縁部材４５ａ上に載置されることで、金属で形成された筐体４と電気的に絶縁されている。
【００４５】
第２支持フレーム１２には、第２送りローラ１４及び第２支持部分１６ｂが取り付けられている。より具体的には、第２送りローラ１４は、第２支持フレーム１２に回転可能に支持されている。第２支持部分１６ｂは、第２支持フレーム１２にネジ止め等によって固定されている。第２支持フレーム１２は、第２送りローラ１４及び第２支持部分１６ｂが取り付けられた状態で、筐体４に設けられた支持体４６に取り付けられている。より具体的には、第２支持フレーム１２は、支持体４６に設けられた絶縁部材４６ａ上に載置された状態で、支持体４６に設けられた留め具４６ｂによって固定されている。留め具４６ｂは、いわゆるパッチン錠と称されるものであり、第２支持部分１６ｂに設けられた爪部１７ｂに係合している。なお、留め具４６ｂ及び爪部１７ｂの組は、前後方向における第２支持部分１６ｂの両側に設けられている。
【００４６】
第２支持フレーム１２及び第２送りローラ１４は、例えばステンレス等の金属で形成されている。金属で形成された第２支持フレーム１２及び第２送りローラ１４は、第２支持フレーム１２が絶縁部材４６ａ上に載置されることで、金属で形成された筐体４と電気的に絶縁されている。
【００４７】
無端ベルト１５は、第１送りローラ１３及び第２送りローラ１４に架けられている。搬送部１０では、無端ベルト１５のうち第１送りローラ１３から第２送りローラ１４に至る上側の部分１５ａの上面が、搬送部１０による被検査物Ｓの搬送領域Ｒである。つまり、第１送りローラ１３は、搬送領域Ｒの上流端に配置されており、第２送りローラ１４は、搬送領域Ｒの下流端に配置されている。
【００４８】
支持体４５には、無端ベルト１５のうち第２送りローラ１４から第１送りローラ１３に至る下側の部分１５ｂを押圧する押圧ローラ４５ｃが設けられている。同様に、支持体４６には、無端ベルト１５のうち第２送りローラ１４から第１送りローラ１３に至る下側の部分１５ｂを押圧する押圧ローラ４６ｃが設けられている。これらの押圧ローラ４５ｃ，４６ｃによって、無端ベルト１５のテンションが適切に調整される。なお、第１支持フレーム１１には、第１送りローラ１３の回転軸の両端部を外側に押圧することで無端ベルト１５のテンションを微調整するためのテンション調整ボルト機構１８が設けられている。
【００４９】
支持体４６には、駆動モータ（不図示）に接続されたタイミングプーリ４７が設けられている。タイミングプーリ４７は、タイミングベルト４８を介して、第２送りローラ１４に設けられたタイミングプーリ１９に接続されている。これにより、搬送部１０は、駆動される。なお、タイミングプーリ１９，４７及びタイミングベルト４８は、下部扉４１側に配置されている。これにより、下部扉４１が開放されることで、タイミングプーリ１９，４７及びタイミングベルト４８が外部に露出される。
【００５０】
支持プレート１６は、搬送領域Ｒにおいて無端ベルト１５を支持している。より具体的には、支持プレート１６は、無端ベルト１５のうち第１送りローラ１３から第２送りローラ１４に至る上側の部分１５ａを下側から支持している。支持プレート１６では、第１支持部分１６ａ及び第２支持部分１６ｂは、金属検出部３が有するケース３１の外側で互いに分離されている。本実施形態では、第１支持部分１６ａ及び第２支持部分１６ｂは、搬送方向Ｄにおけるケース３１の上流側の位置で互いに分離されている。第１支持部分１６ａ及び第２支持部分１６ｂは、非磁性且つ非導電性の材料（例えば、ベークライト、木材、樹脂等）で形成されている。つまり、支持プレート１６は、非磁性且つ非導電性の材料で形成されている。
【００５１】
第２支持部分１６ｂは、ケース３１の貫通穴３１ａを通過している。第２支持部分１６ｂのうち貫通穴３１ａを通過している部分には、Ｘ線検査部２のＸ線が通過するスリット１６ｃが形成されている。スリット１６ｃは、ケース３１の第１フード部３３に形成されたＸ線通過スリット３３ａ，３３ｂ間に位置している。
【００５２】
Ｘ線遮蔽プレート１００は、開口部４ａ，４ｂのうちＸ線検査部２に近い（Ｘ線検査部２の検査領域に近い）開口部４ａにおいてＸ線検査部２のＸ線を遮蔽する。Ｘ線遮蔽プレート１００は、例えばステンレス等の金属で形成されている。Ｘ線遮蔽プレート１００は、Ｘ線検査部２の検査領域と開口部４ａとの間において支持プレート１６に取り付けられている。より具体的には、図６に示されるように、Ｘ線遮蔽プレート１００は、支持プレート１６における第１支持部分１６ａの下面にネジ止め等によって固定されている。Ｘ線遮蔽プレート１００の主面に垂直な方向から見た場合に、Ｘ線遮蔽プレート１００の外縁は、第１支持部分１６ａの外縁の内側に位置している。上述したように、第１支持部分１６ａは、非導電性の材料で形成されているため、Ｘ線遮蔽プレート１００は、筐体４と電気的に絶縁されている。
【００５３】
以上説明したように、異物検査装置１では、搬送領域Ｒにおいて無端ベルト１５を支持する支持プレート１６が非磁性の材料で形成されている。これにより、金属検出部３で発生する磁界に支持プレート１６の影響が及ぶことが防止される。また、開口部４ａ，４ｂのうちＸ線検査部２に近い開口部４ａにおいて、Ｘ線遮蔽プレート１００によってＸ線検査部２のＸ線が遮蔽される。これにより、金属検出部３で発生する磁界にＸ線遮蔽プレート１００の影響が及ぶことが抑制されつつ、Ｘ線検査部２に近い開口部４ａを介してＸ線が外部に漏洩することが抑制される。よって、異物検査装置１によれば、金属検出部３の検出精度の低下の抑制、及びＸ線の外部漏洩の抑制の両立を図ることができる。
【００５４】
また、異物検査装置１では、Ｘ線遮蔽プレート１００が支持プレート１６に取り付けられている。これにより、簡易な構成で、Ｘ線の外部漏洩を効果的に抑制し得る位置にＸ線遮蔽プレート１００を配置することができる。
【００５５】
また、異物検査装置１では、金属で形成されたＸ線遮蔽プレート１００が、金属で形成された筐体４と電気的に絶縁されている。Ｘ線遮蔽プレート１００が金属で形成されていることにより、開口部４ａを介したＸ線の外部漏洩をより確実に抑制することができる。また、Ｘ線遮蔽プレート１００が筐体４と電気的に絶縁されていることにより、金属検出部３で発生する磁界の影響でＸ線遮蔽プレート１００と筐体４との間で電流が流れることが防止されるため、金属検出部３の検出精度の低下をより確実に抑制することができる。
【００５６】
また、異物検査装置１では、金属で形成された第１送りローラ１３及び第２送りローラ１４が、金属で形成された筐体４と電気的に絶縁されている。各送りローラ１３，１４が金属で形成されていることにより、各開口部４ａ，４ｂを介したＸ線の外部漏洩をより確実に抑制することができる。また、各送りローラ１３，１４が筐体４と電気的に絶縁されていることにより、金属検出部３で発生する磁界の影響で各送りローラ１３，１４と筐体４との間で電流が流れることが防止されるため、金属検出部３の検出精度の低下をより確実に抑制することができる。
【００５７】
また、異物検査装置１では、支持プレート１６を形成する材料が非導電性の材料である。これにより、金属検出部３で発生する磁界の影響で支持プレート１６において電流が流れることが防止されるため、金属検出部３の検出精度の低下をより確実に抑制することができる。
【００５８】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。
【００５９】
例えば、図７に示されるように、第１送りローラ１３は、非導電性の材料（例えば、樹脂等）で形成された絶縁カラー１３ａを介して、第１支持フレーム１１に回転可能に支持されていてもよい。その場合には、支持体４５に設けられた絶縁部材４５ａを金属で形成しても、金属で形成された第１送りローラ１３が、金属で形成された筐体４と電気的に絶縁される。同様に、第２送りローラ１４は、非導電性の材料（例えば、樹脂等）で形成された絶縁カラー（不図示）を介して、第２支持フレーム１２に回転可能に支持されていてもよい。その場合には、支持体４６に設けられた絶縁部材４６ａを金属で形成しても、金属で形成された第２送りローラ１４が、金属で形成された筐体４と電気的に絶縁される。
【００６０】
また、開口部４ａ，４ｂのうちＸ線検査部２から遠い開口部４ｂにおいてＸ線を遮蔽するＸ線遮蔽プレートが、Ｘ線遮蔽プレート１００に加えて設けられていてもよい。一例として、そのようなＸ線遮蔽プレートは、金属検出部３の検査領域と開口部４ｂとの間において支持プレート１６に取り付けられていてもよい。その場合、Ｘ線の外部漏洩がより確実に抑制されると共に、金属検出部３で発生する磁界のバランスが向上して金属検出部３の検出精度の低下がより確実に抑制される。
【００６１】
また、支持プレート１６は、少なくとも非磁性の材料で形成されていればよい。支持プレート１６が少なくとも非磁性の材料で形成されていれば、金属検出部３で発生する磁界に支持プレート１６の影響が及ぶことが防止される。また、支持プレート１６は、複数の支持部分に分離されずに一体で形成されていてもよいし、或いは、３つ以上の支持部分に分離されていてもよい。ただし、支持プレート１６が複数の支持部分に分離されていると、搬送方向Ｄに沿ってケース３１から搬送部１０を一体として引き出す必要がないため、支持プレート１６が分離されていない場合に比べれば、搬送部１０のメンテナンスを容易に実施することができる。
【００６２】
また、Ｘ線遮蔽プレート１００は、Ｘ線を遮蔽することができる材料（支持プレート１６の材料に比べ、Ｘ線を減衰させることができる材料）で形成されていれば、金属で形成されていなくてもよい。Ｘ線遮蔽プレート１００の材料が非導電性の材料であれば、Ｘ線遮蔽プレート１００を筐体４と電気的に絶縁する必要はない。また、Ｘ線遮蔽プレート１００は、支持プレート１６に取り付けられていなくてもよい。一例として、Ｘ線遮蔽プレート１００は、第１支持フレーム１１に取り付けられていてもよい。
【００６３】
また、搬送部１０は、その全てが筐体４の内部に収容されていてもよい。また、被検査物Ｓは、開口部４ｂから筐体４の内部に搬入され、筐体４の内部において検査が行われ、開口部４ａから筐体４の外部に搬出されてもよい。つまり、開口部４ｂが被検査物Ｓの搬入口であり、開口部４ａが被検査物Ｓの搬出口であってもよい。
【符号の説明】
【００６４】
１…異物検査装置、２…Ｘ線検査部、３…金属検出部、４…筐体、４ａ…開口部（搬入口）、４ｂ…開口部（搬出口）、１０…搬送部、１３…第１送りローラ、１４…第２送りローラ、１５…無端ベルト、１６…支持プレート、１００…Ｘ線遮蔽プレート、Ｒ…搬送領域、Ｓ…被検査物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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