(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段とを備えた電磁流量計の変換器のテストを行うテスト方法において、
テストモード時に疑似流量信号を生成して、前記検出器からの流量信号の代わりに前記疑似流量信号を前記増幅回路に入力する疑似流量信号生成ステップと、
前記ＡＤコンバータの出力値を前記制御手段で流量値に変換する流量演算ステップと、
前記テストモード時に前記流量演算ステップで演算した流量値と予め記憶されている期待値とを比較する比較ステップとを含み、
前記疑似流量信号生成ステップは、前記疑似流量信号にノイズを印加するステップを含み、
前記比較ステップは、前記ノイズを印加した疑似流量信号に応じて行われた前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと予め記憶されている期待値とを比較するステップを含むことを特徴とする電磁流量計のテスト方法。
【請求項２】
請求項１記載の電磁流量計のテスト方法において、
前記疑似流量信号生成ステップは、
前記疑似流量信号のデジタル値を出力する疑似流量信号出力ステップと、
この疑似流量信号のデジタル値をＤＡコンバータでアナログ信号に変換するＤＡ変換ステップと、
前記ＤＡコンバータの出力信号を降圧回路で降圧する降圧ステップとを含むことを特徴とする電磁流量計のテスト方法。
【請求項３】
電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段と、電磁流量計の機能設定のためのデジタル入力回路と、流量値出力、状態情報出力または警報出力のためのデジタル出力回路とを備えた電磁流量計の変換器のテストを行うテスト方法において、
テストモード時に、外部からの機能設定のためのデジタル入力信号に相当する疑似デジタル入力信号を前記デジタル出力回路に出力して、外部からのデジタル入力信号の代わりに前記疑似デジタル入力信号を前記デジタル入力回路に入力する疑似デジタル入力信号生成ステップと、
前記デジタル入力回路を介して入力された疑似デジタル入力信号に応じた処理を前記制御手段で実行する実行ステップと、
前記テストモード時に前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと予め記憶されている期待値とを比較する比較ステップとを含むことを特徴とする電磁流量計のテスト方法。
【請求項４】
電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、
この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、
このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段と、
テストモード時に疑似流量信号を生成する疑似流量信号生成手段と、
通常モード時に前記検出器からの流量信号を前記増幅回路に入力し、前記テストモード時に前記疑似流量信号を前記増幅回路に入力する選択手段と、
前記テストモード時に前記制御手段が演算した流量値と予め記憶されている期待値とを比較する比較手段とを備え、
前記疑似流量信号生成手段は、前記疑似流量信号にノイズを印加し、
前記比較手段は、前記ノイズが印加された疑似流量信号に応じて行われた前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと予め記憶されている期待値とを比較することを特徴とする電磁流量計の変換器。
【請求項５】
請求項４記載の電磁流量計の変換器において、
前記疑似流量信号生成手段は、
前記疑似流量信号のデジタル値を出力する疑似流量信号出力手段と、
この疑似流量信号のデジタル値をアナログ信号に変換するＤＡコンバータと、
このＤＡコンバータの出力信号を降圧する降圧回路とから構成されることを特徴とする電磁流量計の変換器。
【請求項６】
電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、
この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、
このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段と、
電磁流量計の機能設定のためのデジタル入力回路と、
流量値出力、状態情報出力または警報出力のためのデジタル出力回路と、
通常モード時に外部からの機能設定のためのデジタル入力信号を前記デジタル入力回路に入力し、テストモード時に前記制御手段から前記デジタル出力回路に出力された疑似デジタル入力信号を前記デジタル入力回路に入力する選択手段と、
前記テストモード時に前記疑似デジタル入力信号に応じた前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと、予め記憶されている期待値とを比較する比較手段とを備え、
前記制御手段は、テストモード時に前記デジタル入力信号に相当する前記疑似デジタル入力信号を前記デジタル出力回路に出力することを特徴とする電磁流量計の変換器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁流量計の変換器のテストに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、電磁流量計のテストは、図６に示すように、電磁流量計の検出器１またはキャリブレータ３を電磁流量計の変換器２に接続して、変換器２から出力される励磁電流に同期した流量信号を検出器１またはキャリブレータ３から変換器２に入力し、変換器２のコンソールで各種設定を行って、変換器２に接続されるオシロスコープ、マルチメータ、パルスカウンタなどの測定器の測定結果や、変換器２のＬＣＤ表示器の内容を確認していた（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−１４６１６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来のテスト方法では、変換器２に流量信号を入力する必要があるテスト項目の場合、変換器２に検出器１を接続して、検出器１に実際に流体を流す必要があり、検出器１の代わりにキャリブレータ３を使用する場合には、高価なキャリブレータが必要になるため、コストがかかるという問題点があった。また、従来のテスト方法では、作業員が手動操作でテストを行うため、テストの網羅率が低いという問題点があった。
【０００５】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、テストに要する手間を低減し、検出器やキャリブレータがなくても電磁流量計のテストができるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段とを備えた電磁流量計の変換器のテストを行うテスト方法において、テストモード時に疑似流量信号を生成して、前記検出器からの流量信号の代わりに前記疑似流量信号を前記増幅回路に入力する疑似流量信号生成ステップと、前記ＡＤコンバータの出力値を前記制御手段で流量値に変換する流量演算ステップと、前記テストモード時に前記流量演算ステップで演算した流量値と予め記憶されている期待値とを比較する比較ステップとを含み、前記疑似流量信号生成ステップは、前記疑似流量信号にノイズを印加するステップを含み、前記比較ステップは、前記ノイズを印加した疑似流量信号に応じて行われた前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと予め記憶されている期待値とを比較するステップを含むことを特徴とするものである。
【０００７】
また、本発明の電磁流量計のテスト方法の１構成例において、前記疑似流量信号生成ステップは、前記疑似流量信号のデジタル値を出力する疑似流量信号出力ステップと、この疑似流量信号のデジタル値をＤＡコンバータでアナログ信号に変換するＤＡ変換ステップと、前記ＤＡコンバータの出力信号を降圧回路で降圧する降圧ステップとを含むことを特徴とするものである。
【０００８】
また、本発明は、電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段と、電磁流量計の機能設定のためのデジタル入力回路と、流量値出力、状態情報出力または警報出力のためのデジタル出力回路とを備えた電磁流量計の変換器のテストを行うテスト方法において、テストモード時に、外部からの機能設定のためのデジタル入力信号に相当する疑似デジタル入力信号を前記デジタル出力回路に出力して、外部からのデジタル入力信号の代わりに前記疑似デジタル入力信号を前記デジタル入力回路に入力する疑似デジタル入力信号生成ステップと、前記デジタル入力回路を介して入力された疑似デジタル入力信号に応じた処理を前記制御手段で実行する実行ステップと、前記テストモード時に前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと予め記憶されている期待値とを比較する比較ステップとを含むことを特徴とするものである。
【０００９】
また、本発明の電磁流量計の変換器は、電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段と、テストモード時に疑似流量信号を生成する疑似流量信号生成手段と、通常モード時に前記検出器からの流量信号を前記増幅回路に入力し、前記テストモード時に前記疑似流量信号を前記増幅回路に入力する選択手段と、前記テストモード時に前記制御手段が演算した流量値と予め記憶されている期待値とを比較する比較手段とを備え、前記疑似流量信号生成手段は、前記疑似流量信号にノイズを印加し、前記比較手段は、前記ノイズが印加された疑似流量信号に応じて行われた前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと予め記憶されている期待値とを比較することを特徴とするものである。
【００１０】
また、本発明の電磁流量計の変換器は、電磁流量計の検出器から入力される流量信号を増幅する増幅回路と、この増幅回路によって増幅された流量信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、このＡＤコンバータの出力値を流量値に変換する制御手段と、電磁流量計の機能設定のためのデジタル入力回路と、流量値出力、状態情報出力または警報出力のためのデジタル出力回路と、通常モード時に外部からの機能設定のためのデジタル入力信号を前記デジタル入力回路に入力し、テストモード時に前記制御手段から前記デジタル出力回路に出力された疑似デジタル入力信号を前記デジタル入力回路に入力する選択手段と、前記テストモード時に前記疑似デジタル入力信号に応じた前記制御手段の処理の結果を示すパラメータと、予め記憶されている期待値とを比較する比較手段とを備え、前記制御手段は、テストモード時に前記デジタル入力信号に相当する前記疑似デジタル入力信号を前記デジタル出力回路に出力することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、テストモード時に疑似流量信号を生成して、検出器からの流量信号の代わりに疑似流量信号を増幅回路に入力し、流量演算ステップで演算された流量値と期待値とを比較することにより、検出器やキャリブレータを使用することなく、変換器のみでテストを行うことができるので、テストに要するコストを低減することができる。また、本発明では、作業員の手動操作を大幅に減らすことができるので、多くのテストを手間をかけずに実施することができ、従来よりも網羅率の高いテストを実施することができる。また、本発明では、変換器単体で任意の疑似流量信号が生成できるので、ソフトウェアの動作テストだけでなく、電子回路（増幅回路とＡＤコンバータ）の動作テストを変換器単体で容易に行うことができる。
【００１２】
また、本発明では、テストモード時に外部からのデジタル入力信号に相当する疑似デジタル入力信号をデジタル出力回路に出力して、外部からのデジタル入力信号の代わりに疑似デジタル入力信号をデジタル入力回路に入力し、制御手段の処理の結果を示すパラメータと期待値とを比較することにより、検出器やキャリブレータを使用することなく、変換器のみでテストを行うことができるので、テストに要するコストを低減することができる。また、本発明では、作業員の手動操作を大幅に減らすことができるので、多くのテストを手間をかけずに実施することができ、従来よりも網羅率の高いテストを実施することができる。また、本発明では、変換器単体で任意の疑似デジタル入力信号が生成できるので、ソフトウェアの動作テストだけでなく、電子回路（デジタル入力回路とデジタル出力回路）の動作テストを変換器単体で容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施の形態に係る電磁流量計の構成を示すブロック図である。
【図２】電磁流量計の各部の信号波形を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態に係る電磁流量計の変換器のＣＰＵの機能ブロック図である。
【図４】本発明の実施の形態に係る電磁流量計のテスト方法を説明するフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態に係る電磁流量計のテスト方法を説明するフローチャートである。
【図６】電磁流量計の従来のテスト方法を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は本発明の実施の形態に係る電磁流量計の構成を示すブロック図である。電磁流量計は、検出器１と、変換器２ａとから構成される。
【００１５】
検出器１は、磁界を発生する励磁コイル１０と、励磁コイル１０から発生する磁界中に配置され、測定対象の流体がこの磁界中を流れることにより発生する起電力を検出してその流速に比例した流量信号を出力する測定管１１とから構成される。
【００１６】
通常の計測時には、変換器２ａは、検出器１の励磁コイル１０に図２（Ａ）に示すような励磁電流を供給し、検出器１から入力される図２（Ｂ）のような流量信号を流量値に変換する。本実施の形態の変換器２ａは、励磁電流を出力する励磁回路２０と、入力された流量信号を増幅する増幅回路２１と、増幅された流量信号を流量値に変換するＣＰＵ（Central Processing Unit）２２と、変換器２ａの設定や電磁流量計のユーザへの情報表示のための設定・表示器２３と、ＣＰＵ２２から出力される疑似流量信号を降圧する降圧回路２４−１，２４−２と、検出器１からの流量信号と降圧回路２４−１，２４−２からの疑似流量信号のうちいずれか一方を選択する選択回路２５−１，２５−２と、例えば流量レンジ切り換えやゼロ調整、流量積算値のセット／リセットなどの電磁流量計の機能設定のためのデジタル入力回路２６−１，２６−２と、流量値出力、状態情報出力または警報出力のためのデジタル出力回路２７−１，２７−２と、外部からのデジタル入力信号とデジタル出力回路２７−１，２７−２からのデジタル出力信号のうちいずれか一方を選択する選択回路２８−１，２８−２とから構成される。
【００１７】
励磁回路２０と増幅回路２１と設定・表示器２３とデジタル入力回路２６−１，２６−２とデジタル出力回路２７−１，２７−２とは、従来の変換器と同様の構成であるが、本実施の形態では、従来の変換器に降圧回路２４−１，２４−２と選択回路２５−１，２５−２，２８−１，２８−２とを追加し、またＣＰＵ２２のプログラムを変更している。
【００１８】
ＣＰＵ２２は、図３に示すように、ＤＡ（Digital-to-Analog）コンバータ２２０，２２１と、ＡＤ（Analog-to-Digital）コンバータ２２２と、記憶手段２２３とを有すると共に、疑似流量信号出力手段２２４と、制御手段２２５と、比較手段２２６とを構成している。疑似流量信号出力手段２２４とＤＡコンバータ２２０，２２１と降圧回路２４−１，２４−２とは、疑似流量信号生成手段を構成している。
【００１９】
以下、本実施の形態の動作について説明する。変換器２ａのＣＰＵ２２は、ＣＰＵ２２の内部に配置される記憶手段２２３に格納されたプログラムまたは外部に配置される記憶装置（不図示）に格納されたプログラムに従って疑似流量信号出力手段２２４、制御手段２２５、比較手段２２６として機能し、以下の処理を実行する。
【００２０】
通常の計測モード時には、変換器２ａの制御手段２２５は、選択回路２５−１，２５−２を制御して検出器１の出力を選択させる。これにより、検出器１からの流量信号が増幅回路２１に入力される。検出器１から変換器２ａに入力される流量信号はμＶオーダーの微小信号のため、増幅回路２１によって十分な電圧レベルまで増幅される。増幅された流量信号は、ＣＰＵ２２内のＡＤコンバータ２２２によってデジタル信号に変換される。制御手段２２５は、ＡＤコンバータ２２２の出力値を流量値や流速値に変換する。
【００２１】
また、通常の計測モード時には、制御手段２２５は、選択回路２８−１，２８−２を制御して外部からのデジタル入力信号ＤＩ１，ＤＩ２をデジタル入力回路２６−１，２６−２に入力させる。制御手段２２５は、デジタル入力回路２６−１，２６−２を介して入力されたデジタル入力信号ＤＩ１，ＤＩ２に応じた所定の処理を行う。デジタル入力信号ＤＩ１，ＤＩ２に応じた処理としては、例えば流量レンジ切り換えやゼロ調整、流量積算値のセット／リセットなどがある。また、制御手段２２５は、流量値や、電磁流量計の状態、異常発生時の警報などを示すデジタル出力信号ＤＯ１，ＤＯ２をデジタル出力回路２７−１，２７−２を介して外部に出力する。
【００２２】
次に本実施の形態のテスト方法を図４、図５のフローチャートを用いて説明する。図４は検出器１からの流量信号（起電力）に相当する疑似流量信号を与えてテストを行うＡＩテストモード時の動作を説明するフローチャート、図５は外部からのデジタル入力信号ＤＩ１，ＤＩ２に相当する疑似デジタル入力信号を与えてテストを行うＤＩテストモード時の動作を説明するフローチャートである。
【００２３】
最初に、ＡＩテストモードについて説明する。例えば作業員が設定・表示器２３を用いてＡＩテストモードに設定すると、変換器２ａの制御手段２２５は、記憶手段２２３に予め格納されているＡＩテスト用プログラムに従って選択回路２５−１，２５−２を制御し、降圧回路２４−１，２４−２の出力を選択させる（図４ステップＳ１００）。これにより、降圧回路２４−１，２４−２の出力が増幅回路２１に入力される。
【００２４】
次に、変換器２ａの疑似流量信号出力手段２２４は、ＡＩテスト用プログラムに従って、疑似流量信号のデジタル値を出力する。この疑似流量信号のデジタル値は、ＣＰＵ２２内のＤＡコンバータ２２０によってアナログ電圧に変換され、さらに精密抵抗からなる降圧回路２４−１によって例えば１／６００分圧され、μＶオーダーの信号に降圧される。同時に、疑似流量信号出力手段２２４は、ＤＡコンバータ２２０に出力する疑似流量信号と絶対値が同じで極性が反転した疑似流量信号のデジタル値をＤＡコンバータ２２１に出力する。この疑似流量信号のデジタル値は、ＤＡコンバータ２２１によってアナログ電圧に変換され、降圧回路２４−１と同じ構成の降圧回路２４−２によって１／６００分圧され、μＶオーダーの信号に降圧される。そして、降圧回路２４−１，２４−２の出力は、選択回路２５−１，２５−２を介して増幅回路２１に入力される。増幅回路２１によって増幅された疑似流量信号は、ＡＤコンバータ２２２によってデジタル信号に変換される（図４ステップＳ１０１）。
【００２５】
なお、検出器１から入力される流量信号は差動信号であり、これに応じて増幅回路２１も差動信号に対応した増幅回路となっている。また、検出器１は、図２（Ａ）、図２（Ｂ）から明らかなように、励磁電流が正極性のときに正極性の流量信号を出力し、励磁電流が負極性のときに負極性の流量信号を出力する。したがって、増幅回路２１の構成に対応するため、疑似流量信号出力手段２２４が出力する疑似流量信号も極性が切り替わるようになっており、ＤＡコンバータ２２０，２２１と降圧回路２４−１，２４−２と選択回路２５−１，２５−２とは差動信号に対応した構成となっている。つまり、ＤＡコンバータ２２０から出力される疑似流量信号が正電圧の信号であれば、ＤＡコンバータ２２１から負電圧の信号が出力され、ＤＡコンバータ２２０から出力される疑似流量信号が負電圧の信号であれば、ＤＡコンバータ２２１から正電圧の信号が出力される。励磁電流の正極性／負極性の切り替えはＣＰＵ２２が行っているため疑似流量信号の極性切り替えも、このタイミングでＤＡのカウント値の符号を反転させて切り替える。
【００２６】
次に、変換器２ａの制御手段２２５は、通常の計測モードの流量信号入力時と同じ流量値演算処理を行い、ＡＤコンバータ２２２の出力値を流量値に変換する（図４ステップＳ１０２）。
【００２７】
変換器２ａの比較手段２２６は、ＡＩテスト用プログラムに従って動作し、制御手段２２５が演算した流量値と記憶手段２２３に予め記憶されている期待値とを比較する（図４ステップＳ１０３）。期待値は、ステップＳ１０１で生成した疑似流量信号に応じて制御手段２２５で演算される流量値の期待される値を示している。
【００２８】
比較手段２２６は、制御手段２２５が演算した流量値が、期待値を中心とする所定の誤差範囲内であれば、正常と判定し、制御手段２２５が演算した流量値が、期待値を中心とする所定の誤差範囲から外れているときに、異常（エラー）と判定する。比較手段２２６は、判定結果を設定・表示器２３のＬＣＤ表示器に表示させる。
【００２９】
なお、ＡＩテストモードにおいて、制御手段２２５が疑似流量信号に応じて行った処理の結果を示すパラメータ（例えば電磁流量計の状態を示すパラメータ、警報出力を示すパラメータなど）を読み出し、このパラメータが対応する期待値と一致するかどうかを比較手段２２６で比較するようにしてもよい。
【００３０】
次に、ＤＩテストモードについて説明する。例えば作業員が設定・表示器２３を用いてＤＩテストモードに設定すると、変換器２ａの制御手段２２５は、記憶手段２２３に予め格納されているＤＩテスト用プログラムに従って選択回路２８−１，２８−２を制御し、デジタル出力回路２７−１，２７−２からのデジタル出力信号ＤＯ１，ＤＯ２をデジタル入力回路２６−１，２６−２に入力させる（図５ステップＳ２００）。
【００３１】
続いて、制御手段２２５は、ＤＩテスト用プログラムに従って、デジタル入力信号ＤＩ１，ＤＩ２に相当する疑似デジタル入力信号をデジタル出力回路２７−１，２７−２に出力する。このデジタル出力回路２７−１，２７−２に出力された疑似デジタル入力信号は、デジタル入力回路２６−１，２６−２を介して制御手段２２５に入力される（図５ステップＳ２０１）。
【００３２】
制御手段２２５は、通常の計測モードのデジタル入力信号ＤＩ１，ＤＩ２入力時と同様に、疑似デジタル入力信号に応じた所定の処理を行う（図５ステップＳ２０２）。
比較手段２２６は、ＤＩテスト用プログラムに従って動作し、制御手段２２５の処理の結果を示すパラメータと記憶手段２２３に予め記憶されている期待値とを比較する（図５ステップＳ２０３）。このときの期待値は、ステップＳ２０１で生成した疑似デジタル入力信号に応じて制御手段２２５が行う処理の結果を示すパラメータの期待される値を示している。制御手段２２５からどのパラメータを読み出すかは、ＤＩテスト用プログラムで予め定められている。
【００３３】
比較手段２２６は、パラメータと期待値とが一致する場合、正常と判定し、一致しない場合、異常（エラー）と判定する。比較手段２２６は、判定結果を設定・表示器２３のＬＣＤ表示器に表示させる。
【００３４】
なお、ＤＩテストモードにおいて、流量信号の入力が必要な場合には、ＡＩテストモードのときと同様に降圧回路２４−１，２４−２の出力を増幅回路２１に入力させ、疑似流量信号出力手段２２４が必要な疑似流量信号のデジタル値を出力すればよい。必要な疑似流量信号については、ＤＩテスト用プログラムで予め定められている。
また、本実施の形態では、デジタル入力回路２６−１，２６−２とデジタル出力回路２７−１，２７−２とが２チャンネルずつ用意されているが、１チャンネルずつでもよいことは言うまでもない。
【００３５】
以上のように、本実施の形態では、検出器１やキャリブレータを使用することなく、変換器２ａのみでテストを行うことができるので、テストに要するコストを低減することができる。また、本実施の形態では、作業員の手動操作を大幅に減らすことができるので、多くのテストを手間をかけずに実施することができ、従来よりも網羅率の高いテストを実施することができる。
【００３６】
また、本実施の形態では、変換器２ａ単体で任意の疑似流量信号や疑似デジタル入力信号が生成できるので、ソフトウェアの動作テストだけでなく、電子回路（増幅回路２１とＤＡコンバータ２２０，２２１とＡＤコンバータ２２２とデジタル入力回路２６−１，２６−２とデジタル出力回路２７−１，２７−２）の動作テストを変換器２ａ単体で容易に行うことができる。
【００３７】
なお、本実施の形態によれば、単純なテストでなく、より網羅率の高いテストを実施することが可能である。
（１）例えば、疑似流量信号出力手段２２４で疑似流量信号を生成する際に、疑似流量信号に、乱数により任意の振幅のノイズを印加することができる。これにより、制御手段２２５の機能をテストすることができる。具体的には、電磁流量計の検出器の測定管に異物が付着している場合現れる高周波ノイズで付着診断機能が正しく動作するかをテストしたり、流量信号のデジタル値のダンピング処理機能や移動平均算出機能の効果をテストしたりすることができる。
【００３８】
（２）また、疑似流量信号のデジタル値を、ゼロ点→指定時間任意の値→ゼロ点、というパターンで変化させることができる。このとき、制御手段２２５から予め決められた流量が積算される毎に出力される積算パルスの数を読み出すことにより、積算パルスの妥当性を確認することができる。
【００３９】
（３）また、疑似流量信号入力後の流量値の過渡状態を例えば最大１０００点（２０秒）にわたって読み出すことができる。これにより、流量信号のデジタル値のダンピング処理機能や移動平均算出機能などの時間の要素を含む機能をテストすることができる。
【００４０】
（４）また、正常範囲外のデジタル入力信号に相当する疑似デジタル入力信号を入力して、変換器２ａの状態を示すパラメータを読み出すことにより、変換器２ａの挙動をテストすることができる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明は、電磁流量計をテストする技術に適用することができる。
【符号の説明】
【００４２】
１…検出器、２ａ…変換器、２０…励磁回路、２１…増幅回路、２２…ＣＰＵ、２３…設定・表示器、２４−１，２４−２…降圧回路、２５−１，２５−２，２８−１，２８−２…選択回路、２６−１，２６−２…デジタル入力回路、２７−１，２７−２…デジタル出力回路、２２０，２２１…ＤＡコンバータ、２２２…ＡＤコンバータ、２２３…記憶手段、２２４…疑似流量信号出力手段、２２５…制御手段、２２６…比較手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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