(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピューティング装置上で、マークが本物であるか否かを判定する方法であって、
候補マークの取り込み画像を受信することと、
前記取り込み画像を使用して、複数の位置識別子に関連付けられた前記候補マークの内部の複数の位置で、前記候補マークの特性を測定し、前記特性に対するメトリクスの集合を生じさせることと、
メトリクスの前記集合に基づいて、前記候補マークに対する電子署名を生成することと、
前記複数の位置識別子の部分集合を使用して前記候補マークに対するハッシュ識別子を導出することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子と本物マークのハッシュ識別子との比較に基づいて、前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に厳密にマッチしているか否かを判定することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に厳密にマッチしていると判断された場合、
媒体記憶装置から、前記本物マークのアーティファクトに関するデータを含んでいる前記本物マークの電子署名を取り出すことと、
前記候補マークの前記電子署名と前記本物マークの前記取り出された電子署名との比較に基づいて、前記候補マークが本物であるか否かを判定することと、
前記候補マークが本物であると判断された場合、前記候補マークが本物であることを示すことと、
を含む方法。
【請求項２】
前記特性は、前記候補マークの第１の特性であり、メトリクスの前記集合は、メトリクスの第１の集合であり、前記複数の位置は、第１の複数の位置であり、前記複数の位置識別子は、第１の複数の位置識別子であり、前記方法は、
前記取り込み画像を使用して、前記候補マークの内部の第２の複数の位置で前記候補マークの第２の特性を測定し、前記第２の特性に対するメトリクスの第２の集合を生じさせることをさらに含み、
前記第２の複数の位置は、第２の複数の位置識別子に関連付けられ、
前記候補マークに対する前記電子署名を生成することは、メトリクスの前記第１の集合およびメトリクスの前記第２の集合に基づいて前記候補マークに対する前記電子署名を生成することを含み、
前記候補マークに対する前記ハッシュ識別子を導出することは、前記第１の複数の位置識別子の前記部分集合および前記第２の複数の位置識別子の部分集合から前記ハッシュ識別子を形成することを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記第１の複数の位置は、前記第２の複数の位置と同じである、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記第１の複数の位置のうちの少なくとも１つは、前記第２の複数の位置のうちの少なくとも１つとは異なる、請求項２に記載の方法。
【請求項５】
前記本物マークは、複数の本物マークのうちの１つであり、前記複数の本物マークのうちのそれぞれは、ハッシュ識別子に関連付けられ、前記方法は、前記複数の本物マークのうちのそれぞれに対して、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子と前記本物マークの前記ハッシュ識別子との比較に基づいて、前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に厳密にマッチしているか否かを判定することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に厳密にマッチしていると判断された場合、
前記媒体記憶装置から、前記本物マークのアーティファクトに関するデータを含んでいる前記本物マークの電子署名を取り出すことと、
前記候補マークの電子署名と前記取り出された電子署名との比較に基づいて、前記候補マークが本物であるか否かを判定することと、
前記候補マークが本物であると判定された場合、前記候補マークが本物であることを知らせることと、
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記複数の位置の前記部分集合を使用して前記ハッシュ識別子を導出することは、メトリクスの前記集合の最高マグニチュードメトリクスに関連付けられた前記複数の位置の前記部分集合に対応するインデックス値を使用して前記ハッシュ識別子を導出することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
メトリクスの前記集合の最高マグニチュードメトリクスに対応するインデックス値を使用して前記ハッシュ識別子を導出することは、前記測定された特性が所定の値を上回る前記候補マークのサブエリアの前記インデックス値から前記ハッシュ識別子を形成することを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項８】
前記取り込み画像を使用して前記候補マークの前記特性を測定することは、前記候補マークの一部または全部のサブエリアの平均着色を測定することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記取り込み画像を使用して前記候補マークの前記特性を測定することは、最良適合グリッドからの前記候補マークのサブエリアの位置の偏差を測定することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記取り込み画像を使用して前記候補マークの前記特性を測定することは、前記候補マーク上の外れたマーキングまたはボイドを測定することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
前記取り込み画像を使用して前記候補マークの前記特性を測定することは、前記候補マークのサブエリアの直線性を測定することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
前記候補マークの内部の複数の位置で前記候補マークの前記特性を測定することは、前記候補マークの複数のサブエリアのそれぞれの平均濃淡値の測定値を取得することを含み、前記方法は、
前記平均濃淡値の前記測定値を着色メトリクスのリストにまとめることと、
着色メトリクスの前記リストの部分集合が前記電子署名の一部であることを識別することと、
をさらに含み、
前記ハッシュ識別子を導出することは、着色メトリクスの前記リストの中の最高マグニチュードメトリクスに関連付けられた位置識別子から前記ハッシュ識別子のブロックを形成することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記候補マークの内部の複数の位置で前記候補マークの前記特性を測定することは、前記候補マークの複数のサブエリアのそれぞれの最良適合グリッドからの偏差の測定値を取得することを含み、前記方法は、
前記偏差の前記測定値を偏差メトリクスのリストにまとめることと、
偏差メトリクスの前記リストの部分集合が前記電子署名の一部であることを識別することと、
をさらに含み、
前記ハッシュ識別子を導出することは、偏差メトリクスの前記リストの中の最高マグニチュードメトリクスに関連付けられた位置識別子から前記ハッシュ識別子のブロックを形成することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
前記候補マークの内部の複数の位置で前記候補マークの前記特性を測定することは、前記候補マークの複数のサブエリアのそれぞれの異質なマーキングまたはボイドの測定値を取得することを含み、前記方法は、
前記異質なマーキングまたはボイドの前記測定値を異質なマーキングまたはボイドのメトリクスのリストにまとめることと、
異質なマーキングまたはボイドのメトリクスの前記リストの部分集合が前記電子署名の一部であることを識別することと、
をさらに含み、
前記ハッシュ識別子を導出することは、異質なマークまたはボイドのメトリクスの前記リストの中の最高マグニチュードメトリクスに関連付けられた位置識別子から前記ハッシュ識別子のブロックを形成することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１５】
前記候補マークの内部の複数の位置で前記候補マークの前記特性を測定することは、前記候補マークの複数のサブエリアのそれぞれの非直線性の測定値を取得することを含み、前記方法は、
前記非直線性の前記測定値を非直線性メトリクスのリストにまとめることと、
前記非直線性メトリクスの部分集合が前記電子署名の一部であることを識別することと、
をさらに含み、
前記ハッシュ識別子を導出することは、非直線性メトリクスの前記リストの中の最高マグニチュードメトリクスに関連付けられた位置識別子から前記ハッシュ識別子のブロックを形成することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１６】
コンピューティング装置上で、マークの電子署名の記憶および取り出しを最適化する方法であって、
前記マークの取り込み画像を受信することと、
前記取り込み画像を使用し、複数の位置のそれぞれが複数の位置識別子の中の位置識別子に関連付けられている前記マークの内部の複数の位置で、前記マークの１つ以上のアーティファクトに関連付けられている前記マークの特性を測定し、前記特性に対するメトリクスの集合を生じさせることと、
メトリクスの前記集合に基づいて、前記マークに対する電子署名を生成することと、
前記複数の位置識別子を使用して前記マークに対するハッシュ識別子を導出することと、
前記電子署名に関連して前記ハッシュ識別子を媒体記憶装置に記憶することと、
前記ハッシュ識別子を使用して前記電子署名を取り出すことと、
を含む方法。
【請求項１７】
前記ハッシュ識別子に関連して前記電子署名を記憶することは、前記電子署名をデータベースに記憶し、前記ハッシュ識別子を前記電子署名に対する検索キーとして設定することを含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
複数のマークに対して受信すること、測定すること、生成すること、導出すること、および記憶することを繰り返すことをさらに含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項１９】
前記マークは、本物マークであり、メトリクスの前記集合は、メトリクスの第１の集合であり、前記複数の位置は、第１の複数の位置であり、前記複数の位置識別子は、第１の複数の位置識別子であり、前記方法は、
候補マークの取り込み画像を受信することと、
前記取り込み画像を使用し、第２の複数の位置識別子に関連付けられた前記候補マークの内部の第２の複数の位置で前記候補マークの前記特性を測定し、前記特性に対するメトリクスの第２の集合を生じさせることと、
メトリクスの前記第２の集合に基づいて、前記候補マークに対する電子署名を生成することと、
前記第２の複数の位置識別子の部分集合を使用して前記候補マークに対するハッシュ識別子を導出することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子と前記本物マークの前記ハッシュ識別子との比較に基づいて、前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に緊密にマッチしているか否かを判定することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に厳密に一致していると判断された場合、
前記媒体記憶装置から、前記本物マークの前記電子署名を取り出すことと、
前記候補マークの前記電子署名と前記本物マークの前記取り出された電子署名との比較に基づいて、前記候補マークが本物であるか否かを判定し、
前記候補マークが本物であると判断された場合、前記候補マークが本物であるという指示を生成することと、
をさらに含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項２０】
論理回路と媒体記憶装置とを備えるコンピューティング装置であって、前記論理回路は、
候補マークの取り込み画像を受信することと、
前記取り込み画像を使用して、複数の位置識別子に関連付けられた前記候補マークの内部の複数の位置で、前記候補マークの特性を測定し、前記特性に対するメトリクスの集合を生じさせることと、
メトリクスの前記集合に基づいて、前記候補マークに対する電子署名を生成することと、
前記複数の位置識別子の部分集合を使用して前記候補マークに対するハッシュ識別子を導出することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子と本物マークのハッシュ識別子との比較に基づいて、前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に厳密にマッチしているか否かを判定することと、
前記候補マークの前記ハッシュ識別子が前記本物マークの前記ハッシュ識別子に厳密にマッチしていると判断された場合、
媒体記憶装置から、前記本物マークのアーティファクトに関するデータを含んでいる前記本物マークの電子署名を取り出すことと、
前記候補マークの前記電子署名と前記本物マークの前記取り出された電子署名との比較に基づいて、前記候補マークが本物であるか否かを判定することと、
前記候補マークが本物であると判断された場合、前記候補マークが本物であることを示すことと、
を含むプロセスを実行する、コンピューティング装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
［0001］  本発明は、概して、偽造防止技術に関し、より詳しくは、マークが本物であるか否かを判定する方法およびコンピューティング装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
［0002］  偽物は、残念ながら、流布し、多くの場合に見分けるのが難しい。偽造者が模倣品を製造するとき、偽造者は、典型的に、実際の製品に加えてラベルおよびバーコードを複製する。表面的には、ラベルおよびバーコードは、本物のように見え、スキャンされたときに有効データを生じさせる（たとえば、適切な万国製品コードにデコードする）ことがある。このような複製に対抗するために多数の技術が現在のところ利用できるが、これらの解決策のほとんどは、偽造を妨害するのに役立てるために様々な種類のコード、パターン、マイクロファイバ、マイクロドットおよびその他の印の挿入を必要とする。これらの手法は、製造者に追加的な設備および素材を使用し、複雑性の層を製造プロセスに追加することを要求する。
【図面の簡単な説明】
【０００３】
［0003］  特許請求の範囲は、緻密さをもって本手法の特徴を規定するが、これらの手法は、その目的および利点と共に、添付図面と併せて以下の詳細な説明によって最も良く理解されることがある。
【０００４】
【図１】［0004］本開示の様々な実施形態が実装されることがあるシステムの例を示す図である。
【図２Ａ】［0005］実施形態による１台以上のコンピューティング装置によって行われるプロセスのフローチャートである。
【図２Ｂ】［0005］実施形態による１台以上のコンピューティング装置によって行われるプロセスのフローチャートである。
【図２Ｃ】［0005］実施形態による１台以上のコンピューティング装置によって行われるプロセスのフローチャートである。
【図３】［0006］本開示の様々な実施形態が実装されることがあるシステムの別の例を示す図である。
【図４Ａ】［0007］実施形態による１台以上のコンピューティング装置によって行われるプロセスのフローチャートである。
【図４Ｂ】［0007］実施形態による１台以上のコンピューティング装置によって行われるプロセスのフローチャートである。
【図４Ｃ】［0007］実施形態による１台以上のコンピューティング装置によって行われるプロセスのフローチャートである。
【図５】［0008］実施形態によるコンピューティング装置のアーキテクチャを示す図である。
【図６】［0009］実施形態によるマークの例を示す図である。
【図７】［0010］別の実施形態によるマークの例を示す図である。
【図８】［0011］実施形態に従ってコンピューティング装置がメトリクスの集合をソートし、メトリクスの部分集合の位置識別子を選択する方法の例を示す図である。
【図９】［0012］実施形態に従ってコンピューティング装置がメトリクスの複数の部分集合に対応する位置識別子からハッシュ識別子ブロックを形成する方法の例を示す図である。
【図１０】［0013］実施形態においてコンピューティング装置が２つのハッシュ識別子ブロックを比較し、比較の結果を採点する方法の例を示す図である。
【図１１】［0014］実施形態においてコンピューティング装置が複数のハッシュ識別子ブロックを全体的なハッシュ識別子にまとめる方法の例を示す図である。
【図１２】［0015］実施形態においてコンピューティング装置が所与の特性（またはある特性に関する所与のメトリクスの集合）に対する自己相関値の２つの集合の間の相関度を変換し、この特性またはメトリクスの集合に対するスコアをマッチさせるために行うプロセスを例として説明する図である。
【図１３】［0015］実施形態においてコンピューティング装置が所与の特性（またはある特性に関する所与のメトリクスの集合）に対する自己相関値の２つの集合の間の相関度を変換し、この特性またはメトリクスの集合に対するスコアをマッチさせるために行うプロセスを例として説明する図である。
【図１４】［0016］実施形態においてコンピューティング装置によって生成された冪級数の例を示す図である。
【図１５】［0016］実施形態においてコンピューティング装置によって生成された冪級数の例を示す図である。
【図１６】［0016］実施形態においてコンピューティング装置によって生成された冪級数の例を示す図である。
【図１７】［0017］実施形態においてコンピューティング装置がマークに対する電子署名を生成する方法の例を示す図である。
【発明の概要】
【０００５】
［0018］  本開示は、概して、マークが本物であるか否かを判定する方法およびコンピューティング装置を対象にする。様々な実施形態によれば、コンピューティング装置（またはその論理回路）は、識別可能な電子署名（「署名」）を定義するために本物のマークの範囲内に非意図的に生成されたアーティファクトを使用し、多数の本物の署名を検索し、候補マークの署名と比較することができる署名の特定の特徴を抽出して、容易さおよび速さを向上させる。
【発明を実施するための形態】
【０００６】
［0019］  本開示は、頻繁に「マーク」に言及する。本明細書において用いられる通り、「マーク」は、物理的対象物に意図的に置かれた可視インジケータである。マークは、ブランド（たとえば、ロゴ）を識別するもの、たとえば、バーコード（たとえば、国際標準化機構（「ＩＳＯ」）および国際電気標準会議（「ＩＥＣ」）標準ＩＳＯ／ＩＥＣ  １６０２２）に明記された２次元（「２Ｄ」）バーコード）、有効期限、もしくは通し番号のような追跡情報などの情報を持つもの、または、装飾でもよい。マークは、必ずしも肉眼ではないが、電磁スペクトルの一部分において可視である。
【０００７】
［0020］  本明細書において用いられる通り用語「アーティファクト」は、マークを作成した機械もしくはプロセスによって、設計的にでもなく意図的にでもなく、作り出されたマークの特徴（すなわち、不規則性）である。アーティファクトの例は、（ａ）マークの範囲内から得られた平均（同一の予定通りの（nominal）色の近傍セルに対する平均であってよい）からのサブエリア（たとえば、２Ｄバーコードのセル）の平均色の偏差と、（ｂ）近傍サブエリアの最良適合グリッドと相対的なサブエリアの位置のバイアスと、（ｃ）セルの予定通りの色とは異なる少なくとも２つの色のうちの１つのエリアと、（ｄ）マークの範囲内の連続的なエッジの予定通りの形状からの偏差と、（ｅ）印刷されたマークから生じる不完全性またはその他の変動とを含む。一部の実施形態では、アーティファクトは、制御可能に再現することはできない。
【０００８】
［0021］  本明細書において用いられる通り用語「厳密にマッチ」、「厳密にマッチしている」、および「厳密にマッチした」は、所定の閾値以上に達した値の間に類似性を生じさせる値（たとえば、２つのハッシュ識別子）の間の比較に基づいて行われた判定の結果のことを指す。たとえば、所定の閾値が２０パーセントであるとき、２つのハッシュ識別子は、一方のハッシュ識別子のうちの構成要素の２０パーセント以上（たとえば、構成ハッシュ識別子ブロックの２０パーセント以上）がもう一方のハッシュ識別子の構成要素の２０パーセント以上と値が等しい場合、「厳密にマッチする」、「厳密にマッチしている」、または「厳密にマッチした」と言われ得る。
【０００９】
［0022］  本明細書において用いられる通り用語「位置識別子」は、マーク内の位置にマップする数値を指す。位置識別子とマークの範囲内の位置との間のマッピング関係は、１対１でもよい。マーク内の位置と１対１のマッピング関係をもつ位置識別子の例は、ラスターインデックスである。
【００１０】
［0023］  本明細書において用いられる通り用語「論理回路」は、数学論理の観点から定義された複雑な機能を実行するように設計された回路（電子ハードウェアの一種）を意味する。論理回路の例は、マイクロプロセッサ、コントローラ、または、特定用途向け集積回路を含む。本開示が動作を行うコンピューティング装置に言及するとき、このコンピュータ装置と一体化された論理回路は、実は、この動作を実行していることも理解されるべきである。
【００１１】
［0024］  本明細書において用いられる通り用語「移動体通信装置」は、たとえば、セルラーネットワークまたはＷｉＦｉ（登録商標）ネットワークなどの無線ネットワーク上で情報を送受信する能力がある通信装置である。移動体通信装置の例は、携帯電話機（たとえば、スマートフォン）、タブレットコンピュータ、および無線通信機能を有する携帯型スキャナを含む。
【００１２】
［0025］  本開示は、概して、マークが本物であるか否かを判定する方法およびコンピューティング装置を対象にする。実施形態によれば、コンピューティング装置は、候補マークの取り込み画像を受信し、取り込み画像を使用して候補マークの複数の位置において候補マークの特性を測定し、その特性に対するメトリクスの集合（場合によっては、メトリクスの複数の集合）を生じさせる。コンピューティング装置は、メトリクスの集合に基づいて候補マークに対する署名を生成する。コンピューティング装置は、コンピューティング装置が特性（たとえば、最高マグニチュードの測定値を生じさせた位置のラスターインデックス）を測定した位置の部分集合に対応する位置識別子を使用してハッシュ識別子（「ＨＩＤ」）を導出する。コンピューティング装置は、候補マークのＨＩＤと事前に導出され記憶された本物マークのＨＩＤとの比較に基づいて、それぞれのＨＩＤが互いに厳密にマッチしているか否かを判定する。コンピューティング装置が候補マークのＨＩＤが本物マークのＨＩＤに（所定の閾値に従って）厳密にマッチすると判定した場合、コンピューティング装置は、媒体記憶装置から本物マークの署名を取り出し（本物マークの署名は本物マークのアーティファクトに関するデータを含んでいる）、候補マークの署名を本物マークの受信された署名と比較する。
【００１３】
［0026］  別の実施形態では、コンピューティング装置（またはその論理回路）は、本物マークの取り込み画像を受信し、取り込み画像を使用して候補マークの特性を測定し、この特性に対するメトリクスの集合（場合によっては、メトリクスの複数の集合）を生じさせる。コンピューティング装置は、メトリクスの集合に基づいて本物マークに対する署名を生成する。コンピューティング装置は、コンピューティング装置が特性（たとえば、最高マグニチュードの測定値を生じさせた位置のラスターインデックス）を測定した位置の部分集合に対応する位置識別子を使用して署名からＨＩＤを導出し、署名に関連してＨＩＤを媒体記憶装置に記憶する。一実施形態では、コンピューティング装置は、コンピューティング装置がＨＩＤを使用して（すなわちは本物マークの署名のＨＩＤに厳密にマッチする可能性がある未知ＨＩＤを使用して）データベースに引き続いてクエリを行うことができるような方法で、ＨＩＤおよび署名をデータベースに記憶する。
【００１４】
［0027］  様々な実施形態によれば、候補マークのＨＩＤは、複数の本物マークのＨＩＤに厳密にマッチすることがある。候補マークのＨＩＤを本物マークのＨＩＤと比較することは、しかしながら、実際の署名を比較することと比べるとそれ程計算集約的ではなく、少ないメモリしか使用しない。このようにして、本物マークの既知の署名の集合を通る最初のパスにおいてＨＩＤを使用することにより、コンピューティング装置または論理回路は、比較される必要がある実際の署名の個数を著しく削減することができる。
【００１５】
［0028］  図１を参照すると、本開示の様々な実施形態が実装されることがあるシステムの例が表されている。このシステムの内部で実行される手順は、図２Ａ、図２Ｂ、および図２Ｃのフローチャートに表されている。図１は、ここで、図２Ａ、図２Ｂ、および図２Ｃと並行して説明される。
【００１６】
［0029］  マーク貼付装置１００は、本物マーク１０２（「マーク１０２」）を正規の物理的対象物１０４（「対象物１０４」）に貼り付ける（図２Ａのブロック２０２）。一部の実施形態では、対象物１０４は、たとえば、衣類、ハンドバッグ、またはファッション装飾品などの製品である。他の実施形態では、対象物１０４は、たとえば、他の何らかの物理的対象物に対するバーコードラベルまたは包装などのラベルである。マーク１０２は、ブランド（たとえば、ロゴ）、情報を持つもの（たとえば、バーコード）、または装飾を識別するものでもよい。マーク貼付装置１００の考えられる実施形態は、プリンタ（たとえば、レーザーもしくはサーマルプリンタ）、エッチング装置、彫刻装置、モールド塗布装置、焼印装置、縫製装置、および熱転写装置を含む。マーク貼付装置１００は、たとえば、マーク１０２を対象物１０４に印刷、エッチング、彫刻、成形、焼印、縫製、または熱転写することによりマーク１０２を貼り付ける。マーク１０２は、１つ以上のアーティファクトを含む。一部の実施形態では、マーク１０２は、意図的に作られた、たとえば、微視的なパターンなどの偽造防止特徴も含む。
【００１７】
［0030］  第１の画像取り込み装置１０６（たとえば、カメラ、マシンビジョン装置、またはスキャナ）は、マーク１０２が貼付された後にマーク１０２の画像を取り込む（ブロック２０４）。第１の画像取り込み装置１０６がマーク１０２の画像を取り込む状況は、画像が実際には本物マーク１０２の画像であることに合理的な保証が存在するように制御される。たとえば、マーク貼付装置１００がマーク１０２を貼付してから第１の画像取り込み装置１０６がマーク１０２の画像を取得するまでの時間間隔は僅かであることがあり、第１の画像取り込み装置１０６は、包装ラインに沿ってマーク貼付装置１００の隣に物理的に位置していることがある。このように、用語「本物マーク」が用いられるとき、この用語は、正規の供給元でマーク貼付装置によって貼付された（すなわち、違法にまたは不正に複製されていない）マークのことを指す。
【００１８】
［0031］  第１の画像取り込み装置１０６は、取り込み画像を第１のコンピューティング装置１０８に送信する。第１のコンピューティング装置１０８の考えられる実施形態は、デスクトップコンピュータ、ラックマウント式サーバ、ラップトップコンピュータ、タブレットコンピュータ、および携帯電話機を含む。一部の実施形態では、第１の画像取り込み装置１０６は、第１のコンピューティング装置１０８と一体化され、この場合、第１の画像取り込み装置１０６は、取り込み画像を第１のコンピューティング装置１０８の論理回路に送信する。第１のコンピューティング装置１０８またはその中の論理回路は、取り込み画像を受信し、取り込み画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。第２のコンピューティング装置１１０の考えられる実装は、第１のコンピューティング装置１０８に対して列挙した、これらの装置のすべてを含む。
【００１９】
［0032］  第２のコンピューティング装置１１０は、取り込み画像を受信し、マーク１０２の様々な特性を測定するために取り込み画像を使用し、マーク１０２のアーティファクトに関するデータを含むメトリクスの集合を生じさせる（ブロック２０６）。後述する通り、メトリクスの集合は、第２のコンピューティング装置１１０がマーク１０２に関して生成するメトリクスのいくつかの集合のうちの１つでもよい。第２のコンピューティング装置１１０は、マーク１０２上の異なる位置で測定を実行することがある。その際に、第２のコンピューティング装置１１０は、（たとえば、業界標準に従って）マーク１０２を複数のサブエリアに分割することができる。ある実施形態では、マーク１０２が２Ｄバーコードである場合、第２のコンピューティング装置１１０は、マーク１０２のサブエリアの総数のうちの全部または一部（たとえば、セルの総数のうちの全部または一部）の測定を実行する。第２のコンピューティング装置１１０が測定することがあるマーク１０２の特性の例は、（ａ）特徴形状、（ｂ）特徴アスペクト比、（ｃ）特徴位置、（ｄ）特徴サイズ、（ｅ）特徴コントラスト、（ｆ）エッジ直線性、（ｇ）領域不連続性、（ｈ）異質なマーク、（ｉ）印刷欠陥、（ｊ）色（たとえば、明度、色彩、または両方）、（ｋ）着色、および（ｌ）コントラスト変動を含む。一部の実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、各特性に対してマークの間で同じ位置についての、しかし、異なる特性に対しては異なる位置についての測定値を取得する。たとえば、第２のコンピューティング装置１１０は、マークの第１の位置の集合上で、そして、後続のマークに対する同じ第１の位置の集合上で平均着色を測定するが、マークおよび後続のマークに関する第２の位置の集合上でエッジ線形性を測定してもよい。（異なる特性に対する）２つの位置の集合は、両方の集合に共通ではない少なくとも１つの位置が存在する場合、「異なる」と言うことができる。
【００２０】
［0033］  ある実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０による特性測定の結果は、メトリクスの集合を含む。測定された特性のそれぞれに対して１つ以上のメトリクスの集合が存在することがある。第２のコンピューティング装置１１０は、メトリクスの集合を解析し、この解析に基づいて、メトリクスの集合に基づいている署名を生成する（ブロック２０８）。メトリクスの集合は、マーク１０２のアーティファクト（または複数のアーティファクト）に関するデータを含むので、署名は、間接的にこのアーティファクトに基づき得る。マーク１０２が（２Ｄバーコードの場合と同様に）データを伝える場合、第２のコンピューティング装置１１０は、署名の一部のようなデータをさらに含むことがある。言い換えれば、一部の実施形態では、署名は、マーク１０２のアーティファクトとマーク１０２によって伝えられたデータとの両方に基づくことができる。
【００２１】
［0034］  ある実施形態では、署名を生成するために、マーク１０２の測定された特性毎に、第２のコンピューティング装置１１０は、マグニチュードを用いて特性に関連付けられたメトリクスにランクを付け、所定の閾値に達したメトリクスだけを署名の一部として使用する。たとえば、第２のコンピューティング装置１１０は、所定の閾値よりランク付けが低いメトリクスを避けるかもしれない。ある実施形態では、測定されている特性毎に異なる所定の閾値が存在する。所定の閾値のうちの１つ以上は、雑音閾値と第１の画像取り込み装置１０６の解像度とに基づくことができる。
【００２２】
［0035］  ある実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、特性毎に１００個のデータ点を取得し、測定値の６つのグループ：着色に対する測定値の１つの集合、最良適合グリッドからの偏差に対する測定値の１つの集合、異質なマーキングまたはボイドに対する測定値の１つの集合、および、エッジ直線性に対する測定値の３つの別個の集合を収集する。
【００２３】
［0036］  ランク付けプロセスの一部として、第２のコンピューティング装置１１０は、メトリクスのそれぞれの位置とは無関係に（たとえば、マーク１０２上のメトリクスの位置とは無関係に）所定の閾値を下回るメトリクスをグループにまとめることがある。同様に、第２のコンピューティング装置１１０は、ランク付けプロセスの一部として各特性カテゴリー内のメトリクスを（たとえば、マグニチュードを用いて）順序付けることがある。同様に、第２のコンピューティング装置１１０は、所定の閾値を下回るメトリクスを単に無視することがある。さらに、ランク付けのプロセスは、閾値を下回るメトリクスから閾値を上回るメトリクスを分離することに相当する。
【００２４】
［0037］  ある実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、特性が画像解像度問題に対してどの程度敏感であるかに応じて、測定された特性を順序付ける。たとえば、第１の画像取り込み装置１０６が画像を高解像度で取り込む能力を持っていない場合、第２のコンピューティング装置１１０がエッジの非直線性を識別することは困難であるかもしれない。しかしながら、第２のコンピューティング装置１１０は、着色の偏差を識別することに問題がないことがある。このようにして、第２のコンピューティング装置１１０は、これに基づいて、エッジ非直線性より着色を優先してもよい。ある実施形態によれば、第２のコンピューティング装置１１０は、解像度依存性の逆順に、以下の通り、サブエリア着色、サブエリア位置バイアス、ボイドまたは異質なマーキングの位置、およびエッジ非直線性の順に、測定された特性を順序付ける。
【００２５】
［0038］  ある実施形態によれば、第２のコンピューティング装置１１０は、第１の画像取り込み装置１０６の解像度およびマーク１０２の取り込み画像の解像度のうちの１つ以上に基づいてマーク１０２の測定された特性に重み付けする。たとえば、第１の画像取り込み装置１０６の解像度が低い場合、第２のコンピューティング装置１１０は、マーク１０２の様々なサブエリアの平均着色により重みを与えてもよい。第１の画像取り込み装置１０６の解像度が高い場合、第２のコンピューティング装置１１０は、様々なサブエリアのエッジ不規則性の測定値に、他の特性より高い重みを与えてもよい。
【００２６】
［0039］  マーク１０２が、たとえば、ＩＳＯ／ＩＥＣ  １６０２２によって規定されるような誤り訂正情報を含む場合、第２のコンピューティング装置１１０は、測定された特性に重み付けするために誤り訂正情報を使用することがある。たとえば、第２のコンピューティング装置１１０は、誤り訂正情報を読み取り、マーク１０２の中のどのサブエリアに誤りがあるかを判定するために誤り訂正情報を使用し、このようなサブエリアの測定された特性を軽視することができる。
【００２７】
［0040］  ある実施形態によれば、署名を生成する際に、第２のコンピューティング装置１１０は、マーク貼付装置１００に基づいてマーク１０２の特性の１つ以上に対する測定値に重み付けする。たとえば、マーク貼付装置１００は、熱転写プリンタであると仮定する。さらに、マーク貼付装置１００によって貼り付けられたマークに対して、基板材料運動方向と平行であるエッジ投影は、エッジ直線性特性の最小閾値に到達するために十分なマグニチュードをもつエッジ直線性測定値を生じさせる可能性が低いことが既知である、と仮定する。第２のコンピューティング装置１１０は、このマーク貼付装置１００の既知の特異性に基づいて、マーク１０２に対するエッジ直線性特性測定値を軽視することができる。
【００２８】
［0041］  図１を続けると、第２のコンピューティング装置１１０は、ＨＩＤを導出するために署名のメトリクスの部分集合に対応する位置識別子を使用する（ブロック２１０）。一実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、ＨＩＤを導出するために署名の最高マグニチュードメトリクスの部分集合に対応するインデックス番号を使用する。さらに詳細に後述する通り、第２のコンピューティング装置１１０は、ＨＩＤを導出する際に、全体的なＨＩＤの範囲内のブロックとしてメトリクスの各集合の部分集合に対応するインデックス番号を使用する。第２のコンピューティング装置１１０は、ＨＩＤが署名に関連付けられるように、（たとえば、データベースプログラムを使用して）署名およびＨＩＤを媒体記憶装置１１２（たとえば、独立ディスクの冗長アレイ）に記憶する（ブロック２１２）。一部の実施形態では、ＨＩＤは、署名を検索するためにも使用され得る（たとえば、第２のコンピューティング装置１１０は、署名に対するインデックスキーとしてＨＩＤを設定するためにデータベースプログラムを使用する）。一部の実施形態では、媒体記憶装置１１２は、クラウド・ストレージ・サービスの場合と同様に、地理的および時間的に分散した複数の装置で構成されている。一部の実施形態では、特性測定と、メトリクスの様々な集合の解析と、署名の生成と、ＨＩＤの導出と、署名およびＨＩＤの記憶とのうちの１つ以上は、第１のコンピューティング装置１０８によって行われる。他の実施形態では、これらのステップの全部が第１のコンピューティング装置１０８によって実行され、媒体記憶装置１１２は、第１のコンピューティング装置１０８によって直接的にアクセスされる。後者の実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、使用されない。さらに他の実施形態では、第２のコンピューティング装置１１０は、署名およびＨＩＤを別個のデータベースサーバ（すなわち、別のコンピューティング装置）に送信し、このデータベースサーバが署名およびＨＤＤを媒体記憶装置１１２に記憶する。
【００２９】
［0042］  図１を続けると、正規の物理的対象物１０４であるかどうか分からない未確認物理的対象物１１４（「未確認対象物１１４」）は、偽造ではない、あるいは違法ではないことを確認するためにテストされる必要がある。未確認対象物１１４の考えられる実施形態は、正規の物理的対象物１０４の実施形態と同じである。未確認対象物１１４には候補マーク１１６がある。候補マーク１１６の考えられる実施形態は、本物マーク１０２の実施形態と同じである。第２の画像取り込み装置１１８（たとえば、カメラ、マシンビジョン装置、またはスキャナ）は、候補マーク１１６の画像を取り込み（図２Ｂのブロック２５０）、画像を第３のコンピューティング装置１２０に送信する。第１の画像取り込み装置１０６および第１のコンピューティング装置１０８と同様に、第２の画像取り込み装置１１８は、第３のコンピューティング装置１２０の一部でもよく、候補マーク１１６の取り込み画像の送信は、内部的（すなわち、第２の画像取り込み装置１１８から第３のコンピューティング装置１２０の論理回路まで）でもよい。第３のコンピューティング装置１２０（またはその内部の論理回路）は、取り込み画像を受信し、取り込み画像を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。第２のコンピューティング装置１１０は、第２のコンピューティング装置１１０が本物マーク１０２に関して測定した同じ特性を含む、候補マーク１１６の様々な特性を測定するために取り込み画像を使用する。この測定の結果は、特性に対するメトリクスの集合である（ブロック２５２）。連続的な測定を通じて、結果は、測定された特性のそれぞれに対するメトリクスの１つ以上の集合を含むことがある。第２のコンピューティング装置１１０は、次に、本物マーク１０２に対する署名を生成するために使用した手法と同じ手法を使用して、メトリクスの集合（または集合群）に基づいている署名を生成する（ブロック２５４）。候補マーク１１６が実際に本物マーク１０２である（または本物マーク１０２と同じプロセスによって生成された）場合、第２のコンピューティング装置１１０が作成する署名は、本物マーク１０２の取り込み画像から生成された署名のように、本物マーク１０２のアーティファクトに基づくであろう。その一方で、候補マーク１１６が本物マーク１０２ではない（すなわち、偽物である）場合、この最新の画像によって生成された署名は、候補マーク１１６が示す−偽造プロセスのアーティファクト、マーク貼付装置１００からのアーティファクトの欠如など、他の特性に基づくであろう。第２のコンピューティング装置１１０は、（ブロック２１０に関連して前述されたのと同じ方法で）候補マーク１１６に対するＨＩＤを導出するために候補マーク１１６の署名のメトリクスの部分集合に対応している位置識別子（たとえば、最高マグニチュードメトリクスの部分集合のインデックス番号）を使用し（ブロック２５６）、（たとえば、データベースにクエリを行うことを通じて）候補マーク１１６のＨＩＤを媒体記憶装置１１２に記憶された本物マークのＨＩＤと比較する（ブロック２５８）。比較の結果として、第２のコンピューティング装置１１０は、厳密にマッチする結果（所定の閾値に合格する結果）を受信しないか、または、媒体記憶装置１１４から１つ以上の厳密にマッチするＨＩＤを受信する（ブロック２６０）。第２のコンピューティング装置１１０が厳密にマッチする結果を受信しない場合、第２のコンピューティング装置１１０は、（たとえば、メッセージを送信することによって）候補マーク１１６が確認できないことを第３のコンピューティング装置１２０に示す（たとえば、候補マーク１１６が本物ではないことを示すメッセージを送信する）（ブロック２６２）。第３のコンピューティング装置１２０は、メッセージを受信し、ユーザインターフェース上に、候補マーク１１６が確認され得ないこと（または候補マーク１１６が偽物であること）を示す。一部の実施形態では、第３のコンピューティング装置１１８は、測定ステップ、生成ステップ、および導出ステップのうちの１つ以上を行い、署名（または、第３のコンピューティング装置１１８がＨＩＤを導出した場合、ＨＩＤ）を第２のコンピューティング装置１１０に送信する。
【００３０】
［0043］  他方で、第２のコンピューティング装置１１０が候補マーク１１６のＨＩＤに厳密にマッチする１つ以上のＨＩＤを見つけた場合、第２のコンピューティング装置１１０は、媒体記憶装置１１２から、厳密にマッチするＨＩＤに関連付けられた署名を取り出すことにより応答することができる（ブロック２６４）。第２のコンピューティング装置１１０は、次に、候補マーク１１６に対して生成した実際の署名を、受信された本物署名と比較する（図２Ｃのブロック２６６）。第２のコンピューティング装置１１０は、厳密にマッチしているＨＩＤが関連付けられている各署名に対してこのプロセスを繰り返す。第２のコンピューティング装置１１０が候補マーク１１６の署名を受信された署名のいずれとも厳密にマッチさせることができない場合（ブロック２６８）、第２のコンピューティング装置１１０は、（たとえば、メッセージを送信することによって）候補マーク１１６が確認できないことを第３のコンピューティング装置１２０に示す（ブロック２７０）。第３のコンピューティング装置１２０は、メッセージを受信し、ユーザインターフェース上に、候補マーク１１６が確認され得ないことを示す。その一方で、第２のコンピューティング装置１１０が候補マーク１１６の署名を取り出された署名と厳密にマッチさせることができる場合、第２のコンピューティング装置１１０は、（たとえば、メッセージを送信することによって）候補マーク１１６が本物であることを第３のコンピューティング装置１２０に示す（ブロック２７２）。
【００３１】
［0044］  図３を参照して、別の実施形態で用いられることがあるシステムの例を説明する。本システムの内部で行われる手順は、図４Ａ、図４Ｂ、および図４Ｃのフローチャートに表されている。図３、図４Ａ、図４Ｂ、および図４Ｃは、ここで並行して説明される。
【００３２】
［0045］  包装設備３００に設置されているのは、ラベルプリンタ３０２と、ラベル貼付装置３０４と、包装ライン３０６と、画像取り込み装置３０８と、第１のコンピューティング装置３１０とである。ラベルプリンタ３０２は、本物マーク３１２（「マーク３１２」）などの本物マークをラベル巻き取り紙３１４上の多数のラベルに貼付する（図４Ａのブロック４０２）。本物マークの考えられる実施形態は、１次元（「１Ｄ」）バーコードおよび２Ｄバーコードを含む。ラベル貼付装置３０４は、（図３の個別に表されたラベル３１６および３１８などの）ラベルを正規の物理的対象物に貼付し（ブロック４０４）、正規の物理的対象物のうちの２つ（「第１の対象物３２０」および「第２の対象物３２２」）が図３に符号３２０および３２２を使って表されている。図３は、箱（たとえば、製品を収容している箱）であるとして物理的対象物を表しているが、箱または容器である必要はない。正規の物理的対象物の考えられる実施形態は、図１の対象物１０４に対して既に列挙した物理的対象物を含む。
【００３３】
［0046］  画像取り込み装置３０８は、マーク３１２の画像を取り込み（ブロック４０６）、取り込み画像を第１のコンピューティング装置３１０に送信する。第１のコンピューティング装置３１０は、取り込み画像を受信し、通信ネットワーク３２６（「ネットワーク３２６」）を介して取り込み画像を第２のコンピューティング装置３２４に送信する。ネットワーク３２６の考えられる実施形態は、ローカル・エリア・ネットワーク、ワイド・エリア・ネットワーク、公衆ネットワーク、私設ネットワーク、およびインターネットを含む。ネットワーク３２６は、有線、無線、またはこれらの組み合わせでもよい。第２のコンピューティング装置３２４は、取り込み画像を受信し、画像を使用してマーク３１２について（たとえば、ＩＳＯ  １５４１５に規定された通りの）品質測定を行う（ブロック４０８）。たとえば、第２のコンピューティング装置３２４は、マーク３１２の中に未使用誤り訂正および固定パターン破損が存在するか否かを判定することができる。第２のコンピューティング装置３２４は、次に、マーク３１２の特性を測定するために取り込み画像を使用し、マーク３１２のアーティファクトに関するデータを含むメトリクスの１つ以上の集合を生じさせる（ブロック４１０）。たとえば、第２の取り込み装置３２４は、（本物マーク３１２のサブエリアの全部または一部に対して）：（１）本物マーク３１２の一部または全部（たとえば、セルの全部または一部）の平均着色と、（２）最良適合グリッドからのサブエリアの位置の何らかの偏差と、（３）外れたマークまたはボイドの保有率と、（４）サブエリアの１つ以上のエッジの直線性とを測定することがある。メトリクスの各集合は、測定された特性に対応するが、単一の特性に対しメトリクスの複数の集合が存在することがある。たとえば、測定されているサブエリア毎に−たとえば、マーク３１２の合計１０００個のサブエリアの中の１００個のサブエリア−平均着色に対するメトリック、最良適合からの偏差に対するメトリック、外れたマークの保有率に対するメトリック、および、エッジ直線性に対する３つのメトリクスが存在することがある。このようにして、結果として得られるメトリクスの集合は、着色に対する１００個のメトリクス、最良適合からの偏差に対する１００個、外れたマークまたはボイドに対する１００個のメトリクス、およびエッジ直線性に対する３００個のメトリクス（各々が１００個のメトリクスからなる３つの集合）であり得る。ある実施形態では、メトリクスの各集合は、リストの形であり、リストの各エントリは、マーク３１２内の位置を識別する情報（たとえば、ラスターに基づくインデックス番号）を含み、この情報から、第２のコンピューティング装置３２４は、基本的な測定値と、測定値自体から導出されたデータ値（たとえば、マグニチュード）を取り出した。
【００３４】
［0047］  第２のコンピューティング装置３２４は、次に、マーク３１２に対する電子署名を生成するために使用されるものであるメトリクスを識別するためにメトリクスを解析し（ブロック４１２）、解析に基づいて署名を生成する（ブロック４１４）。第２のコンピューティング装置３２４は、署名の最高マグニチュードメトリクスの部分集合を識別し（ブロック４１６）、識別された部分集合に対応する位置識別子を使用してＨＩＤブロックを導出し（ブロック４１８）、ＨＩＤブロックに基づいてＨＩＤを作成し（図４Ａのブロック４２０）、署名に関連してＨＩＤを（考えられる実装が図１の媒体記憶装置１１２に関して説明された実装と同じである）媒体記憶装置３２８に記憶する（ブロック４２２）。一部の実施形態では、第２のコンピューティング装置３２４は、署名のメトリクスの集合毎に（たとえば、着色に関する測定値の集合に対して１回、最良適合グリッドからの偏差に関する測定値の集合に対して１回、異質なマークまたはボイドに関する測定値の集合に対して１回、およびエッジ直線性に関する測定値の３つの別個の集合のそれぞれに対して１回ずつ）ブロック４１６および４１８を繰り返す。一部の実施形態では、第１のコンピューティング装置３１０は、ブロック４０２から４２０のうちの１つ以上を実行し、署名またはＨＩＤを第２のコンピューティング装置３２４に送信する。
【００３５】
［0048］  図３を続けると、包装設備３００から物流管理地点（たとえば、店頭）までの物流チェーンにおけるある時点で、ユーザ３３０（たとえば、営業担当者または法執行機関担当者）は、候補マーク３３６が付いている未確認ラベル３３４を有する未確認物理的対象物３３２（「未確認対象物３３２」）を取り扱う。未確認対象物３３２上の印、または、候補マーク３３６内に符号化された情報は、未確認対象物３３２が、たとえば、包装設備３００（または包装設備３００が包装ライン３０６上の元の対象物を取り扱う対象となる企業）などの正規の供給源から生じたことを示唆するかもしれない。このコンテキストでは、ユーザ３３０は、未確認対象物３３２が偽造である、あるいは違法であるかどうかを判定することを望む。
【００３６】
［0049］  ユーザ３３０は、図３において、スマートフォンとして描かれた第３のコンピューティング装置３３８上でアプリケーションを起動する。第３のコンピューティング装置３３８は、アプリケーションの制御下で（および、場合によっては、ユーザ３３０からの付加的な入力に応答して）、（たとえば、図５に描かれたカメラ５１４を使用して）候補マーク３３６の画像を取り込む（図４Ｂのブロック４５０）。第３のコンピューティング装置３３８は、候補マーク３３６内の明示的なデータ（たとえば、バーコードが貼付された製品の正体を示すバーコード内のデータ）をデコードし（ブロック４５２）、ネットワーク３２６を介して取り込み画像を第２のコンピューティング装置３２４に送信する。第２のコンピューティング装置３２４は、次に、候補マーク３３６の特性を測定するために取り込み画像を使用し、メトリクスの１つ以上の集合を生じさせ（ブロック４５４）、測定された特性のそれぞれに対しメトリクスの１つ以上の集合を生じさせる。第２のコンピューティング装置３２４は、次に、マーク３３６に対する電子署名を生成するために使用されることになるメトリクスを識別するためにメトリクスを解析し（ブロック４５６）、解析に基づいて署名を生成する（ブロック４５８）。第２のコンピューティング装置３２４は、マークに対して測定されるべき各特性に対しブロック４５４および４５６を繰り返すことがあり、単一の特性に対してこれらのブロックを複数回繰り返すこともあり得る（各反復時にメトリクスの「署名に値する」集合を生じさせる）。第２のコンピューティング装置３２４は、署名の最高マグニチュードメトリクスの部分集合を識別し（ブロック４６０）、識別された部分集合に関連付けられた位置識別子を使用して（署名の）メトリクスの集合に対するＨＩＤブロックを導出する（ブロック４６２）。第２のコンピューティング装置３２４は、署名のメトリクスの各集合に対してブロック４５４および４５６を繰り返すことがあり、複数のＨＩＤブロック（本質的には、メトリクスの各集合に対して１つのＨＩＤブロック）を生じさせる。一部の実施形態では、第３のコンピューティング装置３３８は、ブロック４５４から４６２を実行し、署名またはＨＩＤを第２のコンピューティング装置３２４に送信する。第２のコンピューティング装置３２４は、次に、図４Ｂおよび図４Ｃにおいて再現された図２Ｂおよび図２Ｃに関連して前述された手順を実行する。換言すれば、第２のコンピューティング装置３２４は、図１の第２のコンピューティング装置１１０が図２Ｂおよび図２Ｃのブロック２５８、２６０、２６２、２６４、２６６、２６８、２７０、および２７２を実行したのと同じ方法で、図４Ｂおよび図４Ｃのブロック４６４、４６６、４６８、４７０、４７２、４７４、４７６、および４７８を実行する。
【００３７】
［0050］  ある実装では、図１のコンピューティング装置１０８、１１０、および１２０のうちの１台以上と、図３のコンピューティング装置３１０、３２４、および３３８のうちの１台以上とは、図５に表された汎用的なアーキテクチャを有する。図５に描かれた装置は、論理回路５０２と、１次メモリ５０４（たとえば、揮発性メモリ、ランダムアクセスメモリ）と、２次メモリ５０６（たとえば、不揮発性メモリ）と、ユーザ入力装置５０８（たとえば、キーボード、マウス、またはタッチスクリーン）と、ディスプレイ５１０（たとえば、有機発光ダイオードディスプレイ）と、（有線でも無線でもよい）ネットワークインターフェース５１２とを含む。メモリ５０４および５０６は、命令およびデータを記憶する。論理回路５０２は、一部の実施形態では、本明細書に記載された（たとえば、コンピューティング装置によって行われるべきであると言われている手順などの）方法を含んでいる様々な手順を行うために、命令を実行し、データを使用する。コンピューティング装置のうちの一部は、カメラ５１４（たとえば、特に、移動体装置として実装されている場合の第３のコンピューティング装置３３８）も含むことがある。
【００３８】
［0051］  ある実施形態では、本物マーク（たとえば、図３の本物マーク３１２など）は、本明細書では「サブエリア」と呼ばれる多数の位置で構成されている。サブエリアは、ＩＳＯ／ＩＥＣ  １５４１５では「セル」に対応することがあり、均一なサイズであることがある。本明細書において検討される概念の一部を例として説明するのに役立てるために、第１のサブエリア６５０、第２のサブエリア６５２、第３のサブエリア６５４、および第４のサブエリア６５６を有するマーク６００を例として説明する図６に注目する。第１のサブエリア６５０の特性は、このサブエリアの平均着色が他のサブエリアから著しく（たとえば、所定の閾値を上回る程度まで）逸れることである。第２のサブエリア６５２の特性は、最良適合グリッド６５８からのこのサブエリアのオフセットが他のサブエリアのオフセットより著しく高いということである。第３のサブエリア６５４の特性は、このサブエリアが他のサブエリアより著しく高いボイドの出現を含むことである。最後に、第４のサブエリア６５６の特性は、このサブエリアが他のサブエリアのエッジより直線性が著しく低いエッジ６６０を含むことである。
【００３９】
［0052］  ある実施形態では、（たとえば、図４Ａのブロック４１２および図４Ｂのブロック４５６の場合のように）マークの特性を測定することから取得されるメトリクスを解析するプロセスを実行するために、コンピューティング装置（たとえば、第２のコンピューティング装置３２４など）は、以下のタスクを行う。コンピューティング装置は、最良適合グリッド６５８を生成する。その際に、コンピューティング装置は、マークの様々なサブエリアの間の境界に対する理想的な位置を識別する。コンピューティング装置は、特性測定値がマークに対する署名を生成するため使用されるべきサブエリアを選択する。ある実施形態では、コンピューティング装置は、サブエリアの中で測定値が期待された通常または最適の測定値から最も逸れている（たとえば、所定の閾値を上回る）特性を有するサブエリアがどれであるかに基づいてこの選択を行う。コンピューティング装置がこのシナリオにおいて選択することになるサブエリアの種類の例は、以下を含む。
【００４０】
［0053］  （１）平均色、着色、または強度が２Ｄバーコード標準によって規定された通りの明るいセルから暗いセルを区別する大域的な平均閾値に最も近いサブエリア−すなわち、「最も明るい」暗セルおよび「最も暗い」明セル。第１のサブエリア６５０は、このカテゴリーの範囲に入る。ある実施形態では、コンピューティング装置が逸れた平均着色密度として所与のサブエリアを識別する場合、コンピューティング装置は、識別されたサブエリアが最近傍であったサブエリアを再評価する必要があるかもしれない。コンピューティング装置がこのような再評価を行うとき、コンピューティング装置は、参照用として識別されたサブエリアを無視することがある。
【００４１】
［0054］  （２）位置が最良適合グリッド６５８によって規定された通りの理想的な位置から最も（たとえば、所定の閾値を上回って）逸れているサブエリア。一部の実施形態では、コンピューティング装置は、サブエリアのエッジを識別し、エッジの位置を判定し、そして、エッジの位置を最良適合グリッド６５８によって規定されたこれらの期待位置と比較することにより、所与のサブエリアがこのカテゴリーの範囲に入るか否かを判定する。他の実施形態では、コンピューティング装置は、サンプル領域が最良適合グリッド６５８と相対的な各サブエリアの同じパーセンテージと重なり合う状態で、反対極性（たとえば、暗／明または明／暗）の２つの隣接するサブエリアの間の境界領域のヒストグラムを生成し、５０／５０の２峰性分布からのヒストグラムの偏差を評価する。第２のサブエリア６５２は、このカテゴリーの範囲に入る。
【００４２】
［0055］  （３）明るいまたは暗い異質なマーキングまたはボイドを含んでいるサブエリア。ある実施形態では、コンピューティング装置は、サブエリアに対する輝度ヒストグラムを生成することによりサブエリアがこのカテゴリーに入るか否かを判定し、ヒストグラムの最も外側の基本モードの間の距離が十分に（たとえば、所定の閾値を上回って）大きいか否かを判定する。第３のサブエリア６５４は、このカテゴリーの範囲に入る。
【００４３】
［0056］  （４）（ａ）所定の閾値を上回る長さ、（ｂ）所定の閾値を上回る（または下回る）長さの連続性、および（ｃ）所定の閾値を上回る（または下回る）直線性のうちの１つ以上を有する１つ以上のエッジを有するサブエリア。ある実施形態では、コンピューティング装置は、サブエリアの半分の長さで最良適合グリッド６５８からオフセットさせられ、最良適合グリッド６５８内でこのエッジに境界を付けるグリッド線と垂直に伸ばされた、１つのサブエリアの長さにわたって画素幅の輝度値を計算することにより、サブエリアがこのカテゴリーの範囲に入るか否かを判定する。第４のサブエリア６５６は、このカテゴリーの範囲に入る。
【００４４】
［0057］  コンピューティング装置がマーク（本物または候補）の特性を測定した後、コンピューティング装置は、測定されたマークの特性が（マーク内のサブエリア（たとえば、セル）によって関連付けられる）インデックス−配列に関連したリストとして利用できるようにする。
【００４５】
［0058］  図７を参照して、別の例において、解析されているマークは、１Ｄリニアバーコード７００であると仮定する。（たとえば、第２のコンピューティング装置３２４などの）コンピューティング装置が電子署名を形成するために使用することがある特徴は、バーの幅またはバーの間の間隔の変動７０２と、平均色の変動７０４と、着色または強度と、黒色バーの中のボイド７０６（または白色縞の中の黒色染み）と、バーのエッジの形状の中の不規則性７０８とを含む。
【００４６】
［0059］  図８および図９を参照すると、（たとえば、第２のコンピューティング装置３２４などの）コンピューティング装置が図４Ａのブロック４１６および図４Ｂのブロック４６０でマークに対する電子署名の最高マグニチュードメトリクスの部分集合を識別するために（および部分集合に関連付けられた位置識別子からＨＩＤを導出するために）実行するプロセスを以下に説明する。測定された特性毎に（および特性が複数回測定された場合に特性に対するメトリクスの集合毎に）コンピューティング装置は、電子署名の一部を構成するメトリクスの集合を選び、値によって集合をソートする。図８において、たとえば、（リストとして描かれた）メトリクスの第１の集合８０２は、各セルが関連したインデックス番号を有する２Ｄバーコードの様々なセルに対する着色を表現する。各セルに対するデータは、この時点で無次元であるが、コンピューティング装置が当初に着色測定値を取得したとき、濃淡値に関して測定値を取得した。第１の集合８０２は、２Ｄバーコードに対する電子署名を構成するメトリクスの複数の集合のうちの１つに過ぎない。コンピューティング装置は、データ値のマグニチュードによって第１の集合８０２をソートし、最高マグニチュードデータ値の部分集合８０６に対応するインデックス番号の部分集合８０４を抽出する。コンピューティング装置は、次に、インデックス値の部分集合８０４をメトリクスの第１の集合８０２に対するＨＩＤブロックにする。
【００４７】
［0060］  別の例では、図９において、メトリクスの第１の集合９０２は、マーク（たとえば、本物マーク３１２または候補マーク３３６）の第１の特性に対応し、メトリクスの第２の集合９０４は、マークの第２の特性に対応し、メトリクスの第３の集合９０６（「ｎ番目の集合」または最後の集合）は、マークの第３の特性に対応する。しかしながら、メトリクスの集合の個数は、いくつでもよい。本例においてメトリクスの各集合の各要素は、（１）特性の測定値が取得されたマークのサブエリアのラスター位置と相関関係があるインデックス値と、（２）測定値自体である、または、（たとえば、何らかの統計的処理および正規化後に）測定値から導出されたマグニチュートであるデータ値とを含む。コンピューティング装置は、データ値によってメトリクスの各集合をソートする。メトリクスの集合毎に、コンピューティング装置は、データ値の最高マグニチュード部分集合に対応するインデックス値を抽出する。本例では、各最高マグニチュード部分集合は、メトリクスの集合の中の上位２５個のデータ値である。コンピューティング装置は、メトリクスの第１の集合９０２の中の最高マグニチュード部分集合に対応するインデックス値から第１のＨＩＤブロック９０８を導出する。コンピューティング装置は、メトリクスの第２の集合９０４の中の最高マグニチュード部分集合に対応するインデックス値から第２のＨＩＤブロック９１０を同様に導出する。コンピューティング装置は、メトリクスの集合の各々に対してこのプロセスを実行するまで（すなわち、第３または「ｎ番目」のＨＩＤブロック９１２を導出するためにメトリクスのｎ番目の集合９０６を使って）このプロセスを継続し、ＨＩＤブロックの集合を生じさせる。コンピューティング装置は、ＨＩＤブロックを集めることによりＨＩＤを形成する。本例では、ＨＩＤブロックは、抽出されたインデックス値そのものを含んでいる。
【００４８】
［0061］  図１０を参照すると、ある実施形態に従って（たとえば、図４Ｂにおけるブロック４６４および４６６に関連して記載されている通り）コンピューティング装置（たとえば、第２のコンピューティング装置３２４）が候補マークに対して生成されたＨＩＤを本物マークのＨＩＤとどのように比較するかについての例が表されている。コンピューティング装置は、候補マークおよび本物マークのそれぞれのＨＩＤブロックを構成するインデックス値をマッチさせることを試み、同様のインデックス値の集合が「同一条件での」比較のため互いにマッチされている（たとえば、候補マークの着色に対するインデックス値の抽出された部分集合が本物マークの着色に対するインデックス値の抽出された部分集合と比較される）。コンピューティング装置は、マッチスコアに向かって各マッチをカウントする。このように、たとえば、本物マークのブロック１００２と候補マークのブロック１００４とは、２１というマッチスコアを有するが、候補マークのブロック１００６と本物マークのブロック１００８とは、４というマッチスコアを有する。
【００４９】
［0062］  図１１を参照すると、ある実施形態に従ってコンピューティング装置（たとえば、第２のコンピューティング装置３２４）が本物マークのＨＩＤ全体を候補マークのＨＩＤ全体とどのように比較するかについての例が記載されている。コンピューティング装置は、本物署名のＨＩＤ値１１００の個々のＨＩＤブロックを選び、これを候補署名のＨＩＤ値１１０２の対応するブロックと比較し、（図１０に関して前述された通り）マッチスコアを割り当てる。コンピューティング装置は、次に、スコアのそれぞれを組み合わせて全マッチスコアにまとめる。全マッチスコアが所定の閾値スコアを満たすまたは上回る場合、コンピューティング装置は、ＨＩＤ群が厳密にマッチしていると判断する。たとえば、コンピューティング装置は、１２０という所定の閾値スコアを使用することがあり、つまり、スコアが１２０以上である場合、コンピューティング装置は、２つのＨＩＤが厳密にマッチしていると判断することができる。この閾値は、零と同程度に低くなることがあり得る。一部の実施形態では、コンピューティング装置は、最小値を無視し、単に「上位ｎ個」のＨＩＤスコア（たとえば、上位１０個）を選ぶ。このような場合、コンピューティング装置は、一貫して上位１０個の最良ＨＩＤマッチをテストしているものである。このことは、不正確なＨＩＤカットオフを有する可能性に対処し、それによって、（実際には本物ではない候補についての不必要な計算を犠牲にして）フィルタリングステップの全体で偽陰性を生成する。コンピューティング装置は、次に、本物のＨＩＤ値１１００に関連付けられた署名を検索する。コンピューティング装置は、候補ＨＩＤ値１１０２を本物マーク署名のデータベースに記憶された多数（おそらく全部）のＨＩＤ値と比較し終えるまでこのプロセスを繰り返す。このプロセスの結果は、本物マーク署名の全体集合のうちの部分集合であり、コンピューティング装置は、次に、（「総当たり攻撃」方法によって）この部分集合のそれぞれを候補マークの署名と比較することができる。
【００５０】
［0063］  様々な実施形態によれば、コンピューティング装置は、以下の通り（たとえば、ブロック２６６および４７２で）（たとえば、候補マークの）１つの電子署名を（たとえば、本物マークの）別の電子署名と比較する。コンピューティング装置（たとえば、第２のコンピューティング装置３２４）は、各特性に対する２つのマークのメトリクスの原集合を配列インデックスに沿ってマッチさせる。コンピューティング装置は、本物マークの各原集合に対して候補マークからの同様の順序の抽出されたメトリック集合との正規化相関も行う。コンピューティング装置は、次に、マッチ／マッチなし判定（本物対偽物）に達するために相関結果を使用する。
【００５１】
［0064］  たとえば、コンピューティング装置は、候補マークのソートされたメトリクスの自己相関系列（autocorrelation series）を（ソートされた）本物署名の自己相関系列と比較することによって候補署名を本物署名と比較する。明確にするために、周知の統計的演算：
【数１】
0006383113.tif 000002
は、一般的な正規化相関式であり、式中、ｒは、相関結果であり、ｎは、メトリックデータリストの長さであり、ｘおよびｙは、それぞれ本物マークおよび候補マークに対するメトリクスデータ集合である。コンピューティング装置が自己相関関数を実行するとき、データ集合ｘおよびｙは同じである。
【００５２】
［0065］  ある実施形態に従って自己相関系列を作るために、コンピューティング装置は、（ｙがｘのコピーであることを思い出して）毎回系列ｘを系列ｙと相対的にインデックス位置の増分量１ずつオフセットさせて、正規化相関式に規定された演算を複数回実行する。オフセットが進むのにつれて、ｘインデックスのオフセットのためにｙデータ系列内の最後のインデックスを超えると、データ集合は、「一周して」先頭に戻る。ある実施形態によれば、コンピューティング装置は、ｙデータを２倍にして、自己相関系列を生成するためにオフセット０からオフセットｎまでｘデータを「スライド」することによってこれを達成する。
【００５３】
［0066］  一部の実施形態では、図２Ａにおけるブロック２１２および図４Ａにおけるブロック４２２で、署名全体を媒体記憶装置に記憶する代わりに、第２のコンピューティング装置は、自己相関結果の形状にマッチしている最良適合曲線を（所定の次数および精度で）記述する多項式係数の組を記憶する。これは、第２のコンピューティング装置がソートされたメトリクスデータについて署名を生成するプロセスを実行するので実現可能であり、その結果、特性データに対する自己相関系列（すなわち、本物マークの範囲内のアーティファクトを表現するのに役立つメトリクス）は、典型的に、単純な多項式曲線である。
【００５４】
［0067］  ある実施形態では、コンピューティング装置（たとえば、第２のコンピューティング装置１１０または第２のコンピューティング装置３２４）は、ｒｘｙを計算し、式中、各項ｘｉは、大きさおよび位置によって表現されたアーティファクトであり、各項ｙｉ＝ｘ（ｉ＋１）であり、式中、ｊは、ｊ＝０から（ｎ−１）に対して、２つのデータベースのオフセットである。ｘｉは、マグニチュードによってソートされ、マグニチュードは、ｘｉの最上位桁であるので、相関は、ｊ＝０またはその近くで非常に強く、ｊ＝ｎ／２に向かって急速に低下する。ｙは、ｘのコピーであるため、ｊとｎ−ｊとは置き換え可能であり、自己相関系列は、Ｕ字形の曲線を形成し、ｊ＝０およびｊ＝ｎ／２の周りで必ずしも対称的ではないその例が図１２に表されている。このようにして、本実施形態におけるコンピューティング装置は、曲線の半分を計算すればよいが、図１２では、ｊ＝０からｊ＝ｎまでの曲線全体が明確にするために表されている。
【００５５】
［0068］  ある実装では、（たとえば、第２コンピューティング装置１１０または第２コンピューティング装置３２４などの）コンピューティング装置は、実際の自己相関数（autocorrelation number）を使用して、図２Ｃのブロック２６６または図４Ｃのブロック４７２を実行し、次に、多項式でモデル化された曲線を使用して候補マークについてのプロセスを繰り返す。実際には、係数のため６バイト浮動小数点値を使用する６次方程式は、１パーセントの曲線当てはめ誤差または「認識忠実性」の範囲内で本物署名データにマッチする傾向があるものであると分かった。結果として得られたコンピューティング装置が取得するマッチスコアは、互いに１パーセントの範囲に入ることがある。このことは、（候補マークが本物であった場合に期待されることになる）高マッチスコアおよび（候補マークが本物ではない場合に期待されることがある）低マッチスコアの両方について当てはまることがある。
【００５６】
［0069］  ある実施形態では、（たとえば、図Ａのブロック４１２および図４Ｂのブロック４５６に記載された通り）電子署名を生成する目的のためマークのマトリックスを解析するコンピューティング装置は、署名を生成するために使用するメトリクスを制約し、正規化する。たとえば、コンピューティング装置は、固定精度で多項式係数を表現し、−１と＋１との間の値として自己相関データ自体を表現し、ソート順序リストとして、解析されたマーク（本物または候補）の範囲内で配列インデックス位置を使用することがある。解析されているマークが２Ｄデータマトリックスである場合、配列インデックスは、使用されるコード種類のための通常の原点データから順序付けられた、マーク内部のセル位置のラスター順序付きインデックスでもよい。１つの一般的な種類の２Ｄデータマトリックスでは、原点は、グリッドの左側および下側に境界を付ける２本の実線が合う点である。
【００５７】
［0070］  ある実施形態によれば、コンピューティング装置は、以下の通り（たとえば、図２Ｃのブロック２６６および図４Ｃのブロック４７２に記載された通り）本物署名を候補署名と比較する（マッチさせることを試みる）。コンピューティング装置は、記憶された多項式係数を使用して署名を再構成し、多項式係数を生成するために各リスト内の（すなわち、測定された特性毎に）メトリクスの自己相関を取り、多項式係数の２つの集合を比較する（２つの自己相関系列を比較する）。コンピューティング装置は、様々な方法でこの比較を行うことがある。たとえば、コンピューティング装置は、（再構成された）本物マークの署名の自己相関曲線に対して候補マークの自己相関系列の相関を取ることを試みる。代替的に、コンピューティング装置は、それぞれ（候補および本物）の自己相関系列に対する曲線を構成することがあり、曲線のペアに曲線当てはめ誤差を生じさせる。図１２および図１３は、このプロセスを例として説明する。所定の特性に対する（または特性のメトリクスの所定の集合に対する）２つの集合の自己相関値の間の相関度は、この特性またはメトリクスの集合に対するマッチスコアになる。コンピューティング装置は、次に、様々な特性に対するマッチスコアの全てに基づいて候補マークが本物であるか否かを判定する。
【００５８】
［0071］  ある実施形態では、（たとえば、図４Ａのブロック４１２および図４Ｂのブロック４５６に記載された通り）電子署名を生成する目的のためマークのメトリクスを解析するコンピューティング装置は、候補マークの自己相関データおよび本物マークの自己相関データに冪級数解析を適用する。コンピューティング装置は、離散フーリエ変換（「ＤＦＴ」）：
【数２】
0006383113.tif 000003
を使用してこのような冪級数解析を適用することができ、式中、Ｘｋは、ｋ番目の周波数成分であり、Ｎは、メトリクスのリストの長さであり、ｘは、メトリクスデータ集合である。コンピューティング装置は、ＤＦＴの冪級数を計算し、マグニチュードに関して（ＤＦＴ級数内の複素数によって表現された）各周波数成分を解析し、位相成分を無視する。結果として得られたデータは、低周波数から高周波数までのメトリックデータスペクトルエネルギーの分布を記述し、これは、さらなる解析のための基準になる。これらの冪級数の例は、図１４、図１５、および図１６に図示される。
【００５９】
［0072］  ある実施形態では、（たとえば、図４Ａのブロック４１２および図４Ｂのブロック４５６に記載された通り）電子署名を生成する目的のためマークのメトリクスを解析するコンピューティング装置は、２つの周波数領域解析：尖度（Kurtosis）および分布バイアス（Distribution Bias）を利用する。このコンテキストでは、分布バイアスは、スペクトル全体の中心帯域周波数の周りのエネルギー分布の尺度のことを指す。尖度解析を実行するために、コンピューティング装置は、以下の式：
【数３】
0006383113.tif 000004
を使用することができ、式中、
【数４】
0006383113.tif 000005
は、冪級数マグニチュードデータの平均であり、ｓは、マグニチュードの標準偏差であり、Ｎは、解析された離散スペクトル周波数の個数である。
【００６０】
［0073］  ある実施形態では、分布バイアスを計算するために、第２のコンピューティング装置は、以下の式：
【数５】
0006383113.tif 000006
を使用し、式中、Ｎは、解析された離離散スペクトル周波数の個数である。
【００６１】
［0074］  ある実施形態では、周波数域解析を使用する（たとえば、ＤＦＴを使用する）とき、コンピューティング装置は、以下の基準を考慮する。（マグニチュードによるソーティングに起因する）本物マークの署名の滑らかな多項式曲線は、周波数域において解析されたときスペクトル署名の中に認識可能な特性を生じさせる。候補マークは、メトリクスデータが本物マークから抽出されたメトリクスデータと同じ順序で抽出される場合に、シンボルが本物であれば、類似したスペクトルエネルギー分布を示す。換言すれば、本物ソート順は、候補のメトリックマグニチュードに「一致する」。ソートされたマグニチュードにおける不一致、または（たとえば、写真複写アーティファクトなどの）他の重畳信号は、本物シンボルスペクトル内にそうでなければ見られない高周波数成分として現れる傾向があるので、マーク真正性の付加的な尺度をもたらす。これは、偽物自己相関系列が本物マークの最低限の統計的マッチ閾値を依然として満たし得る可能性に対処する。このような信号のＤＦＴ冪級数の分布特性は、候補系列の小さい振幅のマッチ誤差に存在する高周波数によって、質の悪いマッチを明らかにすることができる。このような条件は、本物マークの写真複写を示す可能性がある。具体的には、コンピューティング装置は、高尖度および高分布比が本物マークのスペクトルに存在すべきであると判断する。一部の実施形態では、コンピューティング装置は、候補マークの検証における確信度の尺度としてマッチスコアと併せてこの冪級数分布情報を使用する。
【００６２】
［0075］  図１７を参照すると、ある実施形態では、コンピューティング装置は、数値マグニチュードデータとしてではなく、情報交換用米国標準コード（「ＡＳＣＩＩ」）文字として表現されることがあるバイトの文字列として署名を符号化することにより（たとえば、図２Ａのブロック２０８、図２Ｂのブロック２５４、図４Ａのブロック４１４、および図４Ｂのブロック４５８に記載されている通り）マークに対する電子署名を生成する。この代替的なフォーマットは、コンピューティング装置が媒体記憶装置内のマークを検索するためのインデックスとして署名データを直接的に使用できるようにする。本実施形態では、本物マークのための各署名メトリックの位置およびマグニチュードを記憶するのではなく、コンピューティング装置は、本物マークの内部の有意な署名特徴の存在（または不存在）と評価された位置のそれぞれとを記憶する。たとえば、固有の識別子または通し番号を伝えることまたは符号化することがない２Ｄデータマトリックスシンボルの場合、コンピューティング装置は、各文字がサブエリア内の各特性に対する最大マグニチュード閾値を上回る特徴の存在または不存在を符号化するが、いずれか１つの特性における特徴のマグニチュードまたは個数に関するさらなるデータを符号化しない文字の文字列としてマークの署名データを記憶する。本例では、図１７のマーク１７００内の各サブエリアは、メトリクスの集合の１つずつに対して１ビットである４ビットのデータを有し、ここで、「１」は、特定のメトリックがそのサブエリアに有意な特徴を有することを示す。たとえば、００００（１６進数の０）は、４個のテストされた特性の中で、その特定のサブエリアにおいて閾値マグニチュードを越える程度であるものが１つも存在しないことを意味することができる。１１１１（１６進数のＦ）という値は、テストされた特性の４個全部が特定のサブエリアにおいて最小値を越える程度であることを意味することができる。
【００６３】
［0076］  マーク１７００の例では、第１の６個のサブエリアが以下の通りコード化される。（１）第１のサブエリア１７０２は、平均輝度に対するアーティファクトがなく、十分な黒色である。このサブエリアには、グリッドバイアスもない。このサブエリアは、大きい白色ボイドを有する。このサブエリアにはエッジ形状アーティファクトがなく、これのエッジは、直線的であり、かつ、一様である。したがって、コンピューティング装置は、このサブエリアを００１０としてコード化する。（２）第２のサブエリア１７０４は、ボイドとエッジ形状アーティファクトとを有する。したがって、コンピューティング装置は、このサブエリアを００１１としてコード化する。（３）第３のサブエリア１７０６は、黒色というよりは明らかに灰色であり、その他のアーティファクトはない。したがって、コンピューティング装置は、このサブエリアを１０００としてコード化する。（４）第４のサブエリア１７０８にはアーティファクトがない。したがって、コンピューティング装置は、このサブエリアを００００としてコード化する。（５）第５のサブエリア１７１０は、グリッドバイアスを有するが、その他のアーティファクトはない。したがって、コンピューティング装置は、このサブエリアを０１００としてコード化する。（６）第６のモジュール１７１２にはアーティファクトがない。したがって、コンピューティング装置は、これを００００としてコード化する。このようにして、最初の６個のモジュールは、２進数の００１０００１１１００００００００１００００００として、１６進数の２３８０４０として、１０進数の３５−１２８−６４として、またはＡＳＣＩＩ
【数６】
0006383113.tif 000007
としてコード化される。一例として、典型的なシンボルサイズが２２×２２個のサブエリアである２Ｄデータマトリックスを使用すると、固有の署名データを含んでいるＡＳＣＩＩ文字列部は、データが１文字（バイト）当たり２モジュールでパックされていると仮定すると、長さが２４２文字となる。コンピューティング装置は、本物マークの署名文字列をデータベース、フラットファイル、テキスト文書、または、区別できる文字列の集団を記憶するため適したその他の構成体に記憶する。
【００６４】
［0077］  ある実施形態によれば、コンピューティング装置（たとえば、第２のコンピューティング装置３２４）がＡＳＣＩＩ実装された実施形態においてマークが本物であるか否かを判定するために候補マークをテストするのに用いるプロセスは、以下の通りである。
【００６５】
［0078］  （１）コンピューティング装置は、候補マークを解析し、これのＡＳＣＩＩ文字列を抽出する。
【００６６】
［0079］  （２）コンピューティング装置は、ＡＳＣＩＩ文字列を使用してデータベースプログラムによって検索クエリを実行する。
【００６７】
［0080］  （３）コンピューティング装置は（データベースプログラムの制御下で）、媒体記憶装置に記憶された署名に、完全な候補検索文字列の厳密なマッチのテストを受けさせる。コンピューティング装置が厳密な文字列マッチを見つけられない場合、コンピューティング装置は、部分文字列を検索することによって、または、文字列全体についての「ファジーマッチ」検索によって近似的なマッチを探すことを試みることができる。
【００６８】
［0081］  （４）検索が少なくとも第１の最小限の信頼マッチ閾値についての１つの基準文字列へのマッチを返す場合、コンピューティング装置は、本物マークと候補マークとが同一であると判断する。換言すれば、コンピューティング装置は、候補マークが本物であると識別する。他方では、検索が第２のより低い閾値を上回るマッチパーセンテージをもつ文字列を返さない場合、コンピューティング装置は、偽物または無効であるとして、候補マークを拒絶する。
【００６９】
［0082］  （５）検索が第１の閾値と第２の閾値との間のマッチパーセントをもつ１つの基準文字列を返す場合、コンピューティング装置は、結果が不確定であると判断することがある。検索が第２の閾値を上回る２つ以上の基準文字列を返す場合、コンピューティング装置は、結果が不確定であると判断することがある。代替的に、コンピューティング装置は、候補マークの文字列を他の記憶された基準文字列のうちの１つとマッチさせるためにさらなる解析を実施することがある。
【００７０】
［0083］  （６）結果が不確定であるとき、コンピューティング装置は、結果が不確定であることを（たとえば、ユーザインターフェースに、またはメッセージを第３のコンピューティング装置２４０に送信することにより）示すことができる。コンピューティング装置は、テストのため候補マークの別の画像を提示するようにユーザに促すことがある。その代わりに、または、加えて、コンピューティング装置は、候補マークの取り込み画像内の個別の特徴を符号化するリトライ方法を利用することがある。コンピューティング装置は、このリトライ方法をサブエリアの候補マーク内の署名データがそのメトリックに対するマグニチュード最小閾値に近いあらゆるサブエリアに適用してもよい。テストされているマークが誤り訂正メカニズムを使用する場合、リトライ方法を、誤り訂正メカニズムにより破損または改変されているかもしれないことを示す候補マークのサブエリアまたは一部に適用してもよい。その代わりに、または加えて、コンピューティング装置は、たとえば、アサートされた（１がセットされた）ビットの存在を使い、次に、アサートされていない（０がセットされた）ビットを再度使って検索することによって、または、「ワイルドカード」文字を置換することによって、この最小マグニチュード閾値に近いマグニチュードをもつ署名データのいずれも重視しなくてもよい。代替的に、コンピューティング装置は、閾値に近い特徴を表現するビットを軽視する、または、無視することによってマッチパーセンテージクエリを再計算してもよい。
【００７１】
［0084］  本明細書に記載された例示的な実施形態は、説明的な意味だけで考慮されるべきであり、限定の目的のため考慮されるべきではないことが理解されるべきである。各実施形態の範囲内の特徴または態様の説明は、典型的に、他の実施形態におけるその他の同様の特徴または態様のため利用できるものとして考慮されるべきである。形および細部における様々な変更が特許請求の範囲によって規定された通りのこれらの趣旨および範囲から逸脱することなく行われることがあることは当業者によって理解されるであろう。たとえば、図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃ、図４Ａ、図４Ｂ、および図４Ｃのフローチャートのステップは、当業者にとって明白になる方法で並べ替えられ得る。さらに、これらのフローチャートのステップは、本明細書に記載された方法と共に全てが単一のコンピューティング装置で行われることがある。
【図１】
0006383113.tif 000008
【図２Ａ】
0006383113.tif 000009
【図２Ｂ】
0006383113.tif 000010
【図２Ｃ】
0006383113.tif 000011
【図３】
0006383113.tif 000012
【図４Ａ】
0006383113.tif 000013
【図４Ｂ】
0006383113.tif 000014
【図４Ｃ】
0006383113.tif 000015
【図５】
0006383113.tif 000016
【図６】
0006383113.tif 000017
【図７】
0006383113.tif 000018
【図８】
0006383113.tif 000019
【図９】
0006383113.tif 000020
【図１０】
0006383113.tif 000021
【図１１】
0006383113.tif 000022
【図１２】
0006383113.tif 000023
【図１３】
0006383113.tif 000024
【図１４】
0006383113.tif 000025
【図１５】
0006383113.tif 000026
【図１６】
0006383113.tif 000027
【図１７】
0006383113.tif 000028