(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
定電圧定電流供給回路、及びこの定電圧定電流供給回路に接続される測定対象のコンデンサの一方の電極に接触する測定端子、この測定端子に接続されるコンデンサの他方の電極に接触するように配置された測定端子、この測定端子に接続された抵抗Ri、この抵抗Riに接続された、演算増幅器とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗とを含む電流電圧変換回路、そして、この電流電圧変換回路の出力側に接続された電圧測定具を含むコンデンサの絶縁抵抗測定装置であって、上記の電流電圧変換回路の演算増幅器の出力側配線部分に、直列かつ互いに逆向きに配列された一対のツェナーダイオードが接続され、この一対のツェナーダイオードにはさらにアースに接続された抵抗が接続されていて、かつ該一対のツェナーダイオードとアースに接続された抵抗との間の配線部分と上記演算増幅器の入力側配線部分とが、並列かつ互いに逆向きに配置された一対のダイオードにより接続されており、さらに上記の抵抗Riにダイオードが並列に接続されてなることを特徴とするコンデンサの絶縁抵抗測定装置。
【請求項２】
定電圧定電流供給回路が定電圧定電流電源と、該電源に接続された等価出力抵抗とを含む請求項１に記載のコンデンサの絶縁抵抗測定装置。
【請求項３】
コンデンサがチップコンデンサである請求項１もしくは２に記載のコンデンサの絶縁抵抗測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンデンサの絶縁抵抗測定装置に関し、特に大量の微小なコンデンサ（チップコンデンサ）の絶縁抵抗を高速に測定するために有効な絶縁抵抗測定装置に関する。本発明は特に、自動化されたチップコンデンサ検査選別装置に組み込んで、大量のチップコンデンサの絶縁抵抗を高精度かつ高速に測定するために有効に用いることのできる絶縁抵抗測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話、スマートフォン、液晶テレビ、電子ゲーム機などの小型電気製品の生産量の増加に伴い、このような電気製品に組み込まれる微小なチップ電子部品の生産量が著しく増加している。代表的なチップ電子部品としてはチップコンデンサ（チップキャパシタとも呼ぶ）があり、このチップコンデンサの殆どは、絶縁材料からなる本体部と、本体部の対向する両端面のそれぞれに備えられている電極から形成されている。
【０００３】
近年、チップ電子部品が組み込まれる電気製品のさらなる小型化そして電気製品に組み込まれるチップ電子部品の個数の増加に応じて、チップ電子部品は極度に小さくなってきている。例えば、チップコンデンサについては近年、極めて小さなサイズ（例、０４０２チップと呼ばれる、０．２ｍｍ×０．２ｍｍ×０．４ｍｍのサイズ）のチップコンデンサが用いられるようになっている。このような微小のチップコンデンサは、大量生産により、一ロットが数万〜数十万個という単位で生産されている。
【０００４】
電気製品に組み込まれるチップ電子部品については、そのチップ電子部品の欠陥に起因する電気製品の不良品率を下げるため、通常、大量に製造されるチップ電子部品の所要性能に関して予め全数検査が行なわれる。具体的には、チップコンデンサについては、その全数について、予め絶縁抵抗や静電容量等の電気特性の検査が行われる。
【０００５】
大量のチップコンデンサなどのチップ電子部品の電気特性の検査は高速に行なう必要があり、その高速の検査を自動的に行なうための装置として、近年では、多数の透孔が形成された搬送円盤（チップ電子部品仮保持板）を備えたチップ電子部品の電気特性の検査と選別のための自動化装置（すなわち、チップ電子部品検査選別装置）が一般的に用いられている。この搬送円盤には通常、検査対象のチップ電子部品を一時的に収容保持する多数の透孔が円周に沿って三列以上の複数列にて並べられた状態で形成されている。そして、このチップ電子部品検査選別装置の使用に際しては、間欠的な回転状態にある搬送円盤の透孔にチップ電子部品を一時的に収容保持させた後、その搬送円盤の透孔に保持されているチップ電子部品の各電極に、該搬送円盤の回転経路に沿って付設されている一対の電極端子（検査用接触子）を接触させて当該チップ電子部品の所定の電気特性を測定し、次いで、その測定結果に基づき、チップ電子部品を搬送円盤の透孔から所定の容器に収容されるように排出させて選別（あるいは分類）する作業が実施される。
【０００６】
すなわち、自動化された最近のチップ電子部品の検査選別装置は、基台、基台に回転可能に軸支されたチップ電子部品搬送円盤（但し、該チップ電子部品搬送円盤には、対向する端面のそれぞれに電極を有するチップ電子部品を一時的に収容することのできる透孔の列が円周に沿って三列以上形成されている）、そして該搬送円盤の回転経路に沿って順に設けられた、該搬送円盤の透孔にチップ電子部品を供給収容させるチップ電子部品供給収容部（供給収容域）、チップ電子部品の電気特性の検査を行うチップ電子部品電気特性検査部（検査域）、そして検査済みのチップ電子部品を検査結果に基づいて分類するチップ電子部品分類部（分類域）を含むチップ電子部品検査選別装置と云うことができる。
【０００７】
チップ電子部品検査選別装置の例としては、特許文献１に記載されている装置を挙げることができる。すなわち、特許文献１には、上述の構成のチップ電子部品検査選別装置を用いて、検査対象のチップ電子部品を互いに近接配置した状態で搬送円盤の透孔に収容保持させ、次いでチップ電子部品のそれぞれに検査器を接触子を介して電気的に接続させ、そして該検査器からそれぞれのチップ電子部品に検査用電圧を印加し、この検査用電圧の印加により各チップ電子部品にて発生する電流値を検査器により検出する工程を含むチップ電子部品の電気特性を連続的に検査する方法の改良方法が記載されている。
【０００８】
一方、コンデンサの絶縁抵抗測定装置の例としては、特許文献２に記載の測定装置が知られている。すなわち、特許文献２には、電源とこの電源に接続された電流制限回路、及びこの電流制限回路に接続される測定対象のコンデンサ（DUT）の一方の電極に接触する測定端子、この測定端子に接続されるコンデンサ（DUT)の他方の電極に接触するように配置された測定端子、この測定端子に接続された抵抗Ri、この抵抗Riに接続された、演算増幅器とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗とを含む電流電圧変換回路、そして、この電流電圧変換回路の出力側に接続された電圧測定具を含む絶縁抵抗測定装置を用いて漏れ電流を測定することによって、コンデンサ（DUT)の絶縁抵抗を測定する装置が開示されている。
【０００９】
特許文献２に記載されたコンデンサの絶縁抵抗測定装置（すなわち、コンデンサの漏れ電流を測定することにより、コンデンサの絶縁抵抗を測定検査する装置）の基本構成を、その装置に組み込まれている漏れ電流測定回路と共に、添付図面の図１に示す。
図１において、コンデンサの絶縁抵抗測定装置は、電源（接地されたＶ1）とこの電源に接続された電流制限回路（抵抗Ｒ1）、及びこの電流制限回路に接続される測定対象のコンデンサ（DUT）の一方の電極に接触する測定端子（Ｔ1）、この測定端子に接続されるコンデンサ（DUT)の他方の電極に接触するように配置された測定端子（Ｔ2）、この測定端子に接続された抵抗Ri、この抵抗Riに接続された、演算増幅器１１とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗１２とを含む電流電圧変換回路（IV amp）、そして、この電流電圧変換回路の出力側に接続された電圧測定具（Ｖ）を含む装置である。
【００１０】
すなわち、コンデンサの絶縁抵抗は、例えば添付図面の図１に示した回路を含む装置を用い、先ずコンデンサ（DUT)の充電を行い、次いでコンデンサの充電が完了した後に流れる電流（コンデンサの漏れ電流）を検知することで測定することができる。なお、このコンデンサの漏れ電流を測定するためには、漏れ電流の電流値を電圧値に変換する必要があるので、この電流値から電圧値に変換するための電流電圧変換回路を含む、一般にＩＶアンプと呼ばれる回路が用いられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】ＷＯ２０１４／０１０６２３Ａ１
【特許文献２】特開平８−２６２０７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ＩＶアンプは、図１に示されているように、演算増幅器とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗とを含む電流電圧変換回路を含む増幅装置である。なお、ＩＶアンプは、その入力側に配置される抵抗Riをも含む電流電圧変換回路と理解することもある。
【００１３】
本発明の発明者の検討によると、図１に示された一般的な構成の絶縁抵抗測定装置を用いてコンデンサの絶縁抵抗測定を行った場合には、ＩＶアンプが飽和するという問題があり、このＩＶアンプの飽和により、測定に要する時間が長くなることが判明した。すなわち、コンデンサの充電を行うためにの電源装置として定電流回路を備えた電源装置を用いることによって、本来は定電流での充電がコンデンサの満充電まで行われるはずであるが、実際には、コンデンサがショートしていた場合など、想定より大きい電流がＩＶアンプに流れ込んだ場合、ＩＶアンプのイマジナリーショートが崩れ、それ以上定電流の充電ができなくなるとの現象が発生する。このイマジナリーショートの崩れにより、ＩＶアンプが飽和し、その結果、コンデンサの満充電に至るまでの所要時間が長くなりやすくなる。その満充電までの所要時間が長くなると云う問題は、特に大量のコンデンサの絶縁抵抗を高速にて測定する必要がある場合、すなわち、先に述べたチップ電子部品検査選別装置を用いて多量のチップコンデンサの絶縁抵抗の測定を行うことを意図している場合などでは、測定効率（単位時間当たりで電気特性を測定できるチップコンデンサの個数）の低下に結びつくため、実際のチップコンデンサの電気特性の測定作業において重大な問題となる。
【００１４】
従って、本発明は、コンデンサ、特に多量の微小サイズのコンデンサであるチップコンデンサの絶縁抵抗を高速かつ高精度にて測定することを可能にする絶縁抵抗測定装置を提供することを主たる課題（目的）とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記の目的を達成するために、本発明者は、先ず、図１に示された構成の絶縁抵抗測定装置を用いてコンデンサの絶縁抵抗測定を行った場合に発生するＩＶアンプが飽和現象を回避するために、満充電の手前でのＩＶアンプのイマジナリーショートの発生を防ぐ手段を検討した。そして、その検討の結果、ＩＶアンプに組み込まれている電流電圧変換回路（すなわち、演算増幅器とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗とを含む電流電圧変換回路）の演算増幅器の出力側配線部分に、一対のツェナーダイオードを直列かつ互いに逆向きに配列して接続し、ついで、この一対のツェナーダイオードに、さらにアースに接続された抵抗を接続し、さらに、その一対のツェナーダイオードとアースに接続された抵抗との間の配線部分と上記演算増幅器の入力側配線部分とを、並列かつ互いに逆向きに配置された一対のダイオードで接続することによって、満充電の手前でのＩＶアンプの電流電圧回路のイマジナリーショートの発生が回避できることを見いだした。
【００１６】
本発明者は、さらに検討を続けた結果、上記の条件にて一対のツェナーダイオードを組み込むことによりイマジナリーショートの発生の回避が可能となった電流電圧回路を利用し、この電流電圧回路の入力側の抵抗Riにダイオードを並列に配置接続することにより、ＩＶアンプの満充電手前での飽和現象の発生の抑制が可能になって、充電開始から満充電までの継続的な定電流での充電操作が実現し、また、充電開始から満充電までの所要時間を短縮することが可能となることを見いだし、本発明に到達した。
【００１７】
従って、本発明は先ず、定電圧定電流供給回路、及びこの定電圧定電流供給回路に接続される測定対象のコンデンサの一方の電極に接触する測定端子、この測定端子に接続されるコンデンサの他方の電極に接触するように配置された測定端子、この測定端子に接続された抵抗Ri、この抵抗Riに接続された、演算増幅器とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗とを含む電流電圧変換回路、そして、この電流電圧変換回路の出力側に接続された電圧測定具を含むコンデンサの絶縁抵抗測定装置であって、上記の電流電圧変換回路の演算増幅器の出力側配線部分に、直列かつ互いに逆向きに配列された一対のツェナーダイオードが接続され、この一対のツェナーダイオードにはさらにアースに接続された抵抗が接続されていて、かつ該一対のツェナーダイオードとアースに接続された抵抗との間の配線部分と上記演算増幅器の入力側配線部分とが、並列かつ互いに逆向きに配置された一対のダイオードにより接続されており、さらに上記の抵抗Riにダイオードが並列に接続されてなることを特徴とするコンデンサの絶縁抵抗測定装置にある。
【００１８】
また、本発明は、演算増幅器とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗とを含む電流電圧変換回路であって、この演算増幅器の出力側配線部分に、直列かつ互いに逆向きに配列された一対のツェナーダイオードが接続され、この一対のツェナーダイオードにはさらにアースに接続された抵抗が接続されていて、かつ該一対のツェナーダイオードとアースに接続された抵抗との間の配線部分と上記演算増幅器の入力側配線部分とが、並列かつ互いに逆向きに配置された一対のダイオードにより接続されていることを特徴とする電流電圧変換回路にもある。
【発明の効果】
【００１９】
本発明のコンデンサの絶縁抵抗測定装置を用いることにより、コンデンサの絶縁抵抗の高精度かつ短縮された時間内での測定が可能となる。従って、本発明のコンデンサの絶縁抵抗測定装置は、特に、大量のチップコンデンサの絶縁抵抗を検査するために利用されるチップ電子部品検査選別装置に組み込むことにより、検査精度を低下させることなく、検査速度の向上、すなわち、検査作業に要する時間の短縮が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】従来のコンデンサの絶縁抵抗測定装置で用いられているコンデンサの漏れ電流計測回路の例を示す。
【図２】本発明に従うコンデンサの絶縁抵抗測定装置で用いられるコンデンサの漏れ電流計測回路の例を示す。
【図３】抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置をしていない漏れ電流計測回路を用いて、コンデンサの漏れ電流計測を行った場合（参考例）のコンデンサの充電電圧の変化を示すデータのグラフである。
【図４】抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置をした漏れ電流計測回路（本発明のコンデンサの絶縁抵抗測定装置の漏れ電流計測回路）を用いて、コンデンサの漏れ電流計測を行った場合（本発明の実施例）のコンデンサの充電電圧の変化を示すデータのグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
本発明に従うコンデンサの絶縁抵抗測定装置の構成を、添付した図２を参照しながら説明する。
図２に示したコンデンサの絶縁抵抗装置は、定電圧定電流電源（接地されたＶｃ）とこの電源に接続された等価出力抵抗（Ｒｏ）、及びこの等価出力抵抗に接続される測定対象のコンデンサ（DUT）の一方の電極に接触する測定端子（Ｔ1）、この測定端子に接続されるコンデンサ（DUT)の他方の電極に接触するように配置された測定端子（Ｔ2）、この測定端子に接続された抵抗Ri、この抵抗Riに並列に接続したダイオード（Ｄ）、抵抗Riに接続された、演算増幅器１１とこの演算増幅器の反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗１２とを含み、そして演算増幅器１１の出力側配線部分に、直列かつ互いに逆向きに配列された一対のツェナーダイオード１３を接続し、この一対のツェナーダイオード１３にさらにアースに接続された抵抗１４を接続し、さらに該一対のツェナーダイオード１３とアースに接続された抵抗１４との間の配線部分と演算増幅器１１の入力側配線部分とを、並列かつ互いに逆向きに配置された一対のダイオード１５により接続して構成した電流電圧変換回路（IV amp-1）、そして、この電流電圧変換回路（IV amp-1）の出力側に接続された電圧測定具（Ｖ）を含む装置である。なお、上記の定電圧定電流電源とこの電源に接続された等価出力抵抗とは、定電圧定電流供給回路を構成する。
【００２２】
図２から明らかなように、本発明に従うコンデンサの絶縁抵抗測定装置が図１の従来のコンデンサの絶縁抵抗測定装置と異なるのは、主として、IVアンプに組み込まれている電流電圧変換回路の演算増幅器１１の出力側配線部分に、直列かつ互いに逆向きに配列された一対のツェナーダイオード１３を接続し、この一対のツェナーダイオード１３にさらにアースに接続された抵抗１４を接続し、さらに該一対のツェナーダイオード１３とアースに接続された抵抗１４との間の配線部分と演算増幅器１１の入力側配線部分とを、並列かつ互いに逆向きに配置された一対のダイオード１５により接続した点、そして抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列に配置接続した点である。
【００２３】
本発明のコンデンサの絶縁抵抗測定装置において採用した新規な構成の電流電圧変換回路に挿入された一対のツェナーダイオード１３は、演算増幅器（オペアンプ１１）の出力が飽和することを防ぐことができる。すなわち、出力電圧がツェナーダイオード１３のブレークダウン電圧を超えると、そのツェナーダイオード１３が作動し（即ち、ＯＮとなり）、これによりオペアンプ１１のイマジナリーショートが崩れるのを防ぎ、これにより出力電圧がそれ以上高くなることを防ぐことができる。なお、一対のツェナーダイオードを互いに逆向きに配列した理由は、オペアンプがプラス方向に飽和しかかった場合とマイナス方向に飽和しかかった場合の両方に対応させるためである。
【００２４】
一方、一対のツェナーダイオード１３とアースに接続された抵抗１４との間の配線部分と演算増幅器１１の入力側配線部分とを、並列かつ互いに逆向きに配置された一対のダイオード（並列ダイオード）１５により接続した回路は、ツェナーダイオード１３の漏れ電流をバイパスする機能を持つ。すなわち、新たに挿入したツェナーダイオードは微小ながら漏れ電流を発生するので、微小の電流を測定する場合、すなわち帰還抵抗が高い場合には、そのツェナーダイオードからの漏れ電流が帰還抵抗に流れる電流に対して無視できない値となることがあり、測定対象のコンデンサの漏れ電流の測定値の誤差原因となることがある。並列ダイオード１５を含む回路は、上記のツェナーダイオード１３をオペアンプの一端から切り離し、並列ダイオード１５からアースに接続された抵抗によって、このツェナーダイオード１３からの漏れ電流をアースに流し出す働きをする。なお、ツェナーダイオード１３の漏れ電流と「並列ダイオード１５からアースに接続された抵抗」の積の電圧が並列ダイオード１５のＯＮ電圧を上回るようになった場合、すなわち、ツェナーダイオード１３がブレークダウンした場合には、ツェナーダイオード１３は、オペアンプに接続された状態となり、ＩＶアンプにおけるイマジナリーショートを維持する働きをする。
【００２５】
次に、本発明のコンデンサの絶縁抵抗測定装置において、抵抗Riに対して並列に接続されるように組み込まれたダイオード（Ｄ）の作用を説明する。
コンデンサの絶縁抵抗測定装置に組み込まれているオペアンプ１１は、それが理想的な特性を示す素子であれば、理論上では、抵抗Riをオペアンプに接続する必要はない。しかしながら、オペアンプが理想的な特性を示すアンプでない場合には、抵抗Riに接続していない状態では、オペアンプの作動自体が不安定になり、その結果、発振を起こすことがあり、その場合には、正常なＩＶ変換（電流電圧変換）が行えなくなる。従って、実際に用いられているコンデンサの絶縁抵抗測定回路では、前述のように、コンデンサ（ＤＵＴ）とオペアンプ１１との間に抵抗Riが挿入されている。この抵抗Riとしては通常、数１００Ωから数ｋΩ程度の抵抗が用いられる。抵抗Riは、その抵抗値が大きいほど安定的になるが、この抵抗値が大きいと、コンデンサの静電容量Ｃとで時定数（Ｃ×Ri）を形成するので、その分だけ充電時間が余計にかかり、測定時間が延長されることになり、測定時間を短縮するための妨げとなる。本発明のコンデンサの絶縁抵抗測定装置では、この抵抗Riに並列にダイオード（Ｄ）を配置接続することによってダイオードで抵抗Riをバイパスさせ、これにより、コンデンサの充電時には、抵抗Riにコンデンサからの漏れ電流が流れるのを止め、そして充電完了時（すなわち、漏れ電流がＩＶアンプに流れている時）には、抵抗Riが作動するため、ＩＶアンプの発振を抑制することが可能となる。
上記の理由により、本発明のコンデンサの絶縁抵抗測定装置では、測定回路の不安定化を回避しつつ、測定時間の短縮化が可能となる。
【００２６】
なお、抵抗Riに並列に配置するダイオード（Ｄ）としては、抵抗Riの両端の電圧よりもＯＮ電圧が低いダイオード（Ｄ）が選ばれるが、通常のダイオードは０．６〜０．７ＶのＯＮ電圧を示すことから、そのような通常のダイオード（例、ＰＮ接合ダイオード）を、特に限定無く用いることができる。
次に本発明の実施例と参考例とを示す。
【実施例】
【００２７】
［参考例１］
添付図面の図２に示したコンデンサの絶縁抵抗測定装置であって、抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置させない場合において予想される「定電流によるコンデンサの充電操作における充電時の電圧」は下記のように表される。
【００２８】
定電流終了電圧（Ｖｅ）＝Ｖｃ−Ｉ・（Ri＋ Ro)
Ｖｃ：電源から供給される定電流の電圧
Ｉ：コンデンサ（ＤＵＴ）を流れる電流
Ri：入力抵抗Riの抵抗値
Ro：出力抵抗Roの抵抗値
【００２９】
すなわち、定電流充電は、入力抵抗Riと出力抵抗 Roの影響により、充電電圧が高くなればなるほど、充電電流は低くなると予想される。
次に上記の計算式を利用して、Ｖｃ＝５０Ｖ、Ro＝３５Ω、Ri＝１００Ω、Ｉ＝３０ｍＡの場合の充電電圧の変化を算出すると、下記のように計算される。
Ｖｅ＝５０−０．０３×（３５＋１００）＝４５．９５（Ｖ）
従って、Ｖｅが約４６Ｖに至るまでは、３０ｍＡの定電流充電となるが、それ以降は、下記の式に従う充電電流となる。
【００３０】
【化１】
0006417137.tif 000002
【００３１】
上記の計算式から明らかなように、満充電に近づくほど充電電流は少なくなり、その結果、充電速度が低下することが予想される。
【００３２】
［参考例２］
添付図面の図２に示したコンデンサの絶縁抵抗測定装置であって、抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置させない場合において計測された「定電流によるコンデンサの充電操作における充電時の電圧変化」のグラフを図３に示す。
この電圧変化を計測した条件は、下記の通りである。
充電電圧：５０Ｖ、充電電流：３０ｍＡ、充電時間：１秒、入力抵抗：１ｋΩ、計測対象コンデンサ（ＤＵＴ）：１０μＦ
図３から、抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置させない場合には、定電流充電終了電圧が低く、かつ定電流充電終了後には、なだらかな充電が行われていることが確認できた。
【００３３】
［実施例１］
添付図面の図２に示したコンデンサの絶縁抵抗測定装置（抵抗Riにダイオード（Ｄ）が並列配置されている）において予想される「定電流によるコンデンサの充電操作における充電時の電圧」は下記のように計算される。
【００３４】
定電流終了電圧（Ｖｅ）＝Ｖｃ−（Ｉ×Ro＋Ｄ)
Ｖｃ：電源から供給される定電流の電圧
Ｉ：コンデンサ（ＤＵＴ）を流れる電流
Ro：出力抵抗Roの抵抗値
Ｄ：ダイオードの順方向の電圧
【００３５】
次に上記の計算式を利用して、Ｖｃ＝５０Ｖ、Ro＝３５Ω、Ｉ＝３０ｍＡ、Ｄ：１．５Ｖの場合の充電電圧の変化を算出すると、下記のように計算される。
Ｖｅ＝５０−（０．０３×３５＋１．５）＝４７．４５（Ｖ）
従って、Ｖｅは、ダイオードを配置しなかった場合に比べると、約１．５Ｖ高くなる。また、約４７．５Ｖに至るまで、３０ｍＡの定電流充電を行った後の充電電流も出力抵抗の影響が少なくなったことから、下記の計算式にて表されるように、改善されると予想される。
【００３６】
Ｉ＝（Ｖｃ−Ｖｄ−１．５）／Ro
【００３７】
以上の説明から明らかなように、抵抗Riにダイオード（Ｄ）が並列配置された場合には、ダイオードが並列配置されていない場合に比べて、充電時間（充電完了時間）が大幅に短縮することが可能になると予想される。
【００３８】
［実施例２］
添付図面の図２に示したコンデンサの絶縁抵抗測定装置（抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置させている場合）において計測された「定電流によるコンデンサの充電操作における充電時の電圧変化」のグラフを図４に示す。
この電圧変化を計測した条件は、図３のデータの測定条件と同じで、下記の通りである。
充電電圧：５０Ｖ、充電電流：３０ｍＡ、充電時間：１秒、入力抵抗：１ｋΩ、計測対象コンデンサ（ＤＵＴ）：１０μＦ
図４から、抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置させた場合には、定電流充電終了電圧が図３の場合に比べて高く、かつ定電流充電終了後の充電電圧も高く維持されることが確認できた。
従って、添付図面の図２に示したコンデンサの絶縁抵抗測定装置（抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置させた構成を持つ）では、抵抗Riにダイオード（Ｄ）を並列配置させていない場合に比べて、充電完了時間が短縮されることが確認できた。なお、図３と図４とを比較すると、充電完了時間は、後者の方が約１６ミリ秒短縮化されている。
【符号の説明】
【００３９】
Ｖ1  電源
Ｒ1  電流制限回路の抵抗
Ｖc  定電圧定電流電源
Ｒ0  等価出力抵抗
Ｔ1、Ｔ2  測定端子
ＤＵＴ  測定対象のコンデンサ
Ｉ  電流
Ｖｄ  ＤＵＴ両端にかかる電圧
Ｒｉ  抵抗
IV amp  IVアンプ（電流電圧増幅器）
１１  演算増幅器（オペアンプ）
１２  抵抗
１３  ツェナーダイオード
１４  抵抗
１５  並列ダイオード
Ｖ  電圧計
【図１】
0006417137.tif 000003
【図２】
0006417137.tif 000004
【図３】
0006417137.tif 000005
【図４】
0006417137.tif 000006