(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のデータパケット信号送受信機を同時に試験するための試験システムを含む装置であって、
複数のデータパケット信号送受信機からの複数のデータパケット信号に対して、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の、少なくともそれぞれのスカラー信号特性を示す１つ又は２つ以上の第１の分析信号を提供することにより応答する第１の信号分析回路と、ここで、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号は、複数のデータパケットのシーケンスを含み、前記シーケンスのそれぞれの部分は、互いに別々の信号特性を有し、
前記第１の信号分析回路に結合され、かつ、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号のそれぞれの部分のシーケンスを含むルーティングされた信号を提供することにより、前記複数のデータパケット信号と１つ又は２つ以上の制御信号とに対して応答する信号ルーティング回路と、
前記信号ルーティング回路に結合され、かつ、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の前記それぞれの部分のそれぞれの、少なくともそれぞれのベクトル信号特性を示す１つ又は２つ以上の第２の分析信号を提供することにより、前記ルーティングされた信号に対して応答する第２の信号分析回路と、を備える装置。
【請求項２】
前記それぞれのスカラー信号特性はそれぞれの信号パワーレベルを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記それぞれのベクトル信号特性はそれぞれのエラーベクトル振幅（ＥＶＭ）を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記それぞれのベクトル信号特性はそれぞれのスペクトルマスクを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項５】
前記第１の信号分析回路は信号パワー測定回路を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項６】
前記第１の信号分析回路は、複数の検出されたパワー信号を提供することにより、前記複数のデータパケット信号に対して応答するパワー検出回路を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項７】
前記第１の信号分析回路は、
複数の検出されたパワー信号を提供することにより、前記複数のデータパケット信号に対して応答する、パワー検出回路と、
前記パワー検出回路に結合され、かつ、複数の検出されたパワーデータを提供することにより、前記複数の検出されたパワー信号に対して応答する、アナログ・デジタル変換（ＡＤＣ）回路と、を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項８】
前記信号ルーティング回路は、信号分割回路、信号パワー分割回路、信号多重化回路、信号切替回路、及び信号選択回路のうち少なくとも１つを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項９】
前記第２の信号分析回路はベクトル信号分析器（ＶＳＡ）を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項１０】
複数のデータパケット信号送受信機を同時に試験する方法であって、
複数のデータパケット信号送受信機から複数のデータパケット信号を受信することと、ここで、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号が複数のデータパケットのシーケンスを含み、前記シーケンスのそれぞれの部分が互いに別々の信号特性を有し、
前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の、少なくともそれぞれのスカラー信号特性を測定し、それを示す１つ又は２つ以上の第１の分析信号を提供することと、
前記複数のデータパケット信号をルーティングし、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の、それぞれの部分のシーケンスを含むルーティングされた信号を提供することと、
前記ルーティングされた信号を分析し、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の前記それぞれの部分のそれぞれの、少なくともそれぞれのベクトル信号特性を示す、１つ又は２つ以上の第２の分析信号を提供することと、を含む、方法。
【請求項１１】
前記それぞれのスカラー信号特性はそれぞれの信号パワーレベルを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記それぞれのベクトル信号特性はそれぞれのエラーベクトル振幅（ＥＶＭ）を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
前記それぞれのベクトル信号特性はそれぞれのスペクトルマスクを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１４】
前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の少なくともそれぞれのスカラー信号特性を前記測定することは、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の信号パワーを測定することを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１５】
前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の、少なくともそれぞれのスカラー信号特性を前記測定することは、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の信号パワーを検出し、複数のアナログ検出パワー信号を提供することを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１６】
前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の少なくともそれぞれのスカラー信号特性を前記測定することは、
前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の信号パワーを検出し、複数のアナログ検出パワー信号を提供することと、
前記複数のアナログ検出パワー信号を、複数のデジタル検出パワー信号に変換することと、を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１７】
前記複数のデータパケット信号を前記ルーティングし、前記複数のデータパケット信号のそれぞれの信号のそれぞれの部分のシーケンスを含むルーティングされた信号を提供することは、前記複数のデータパケット信号間で、分割すること、パワー分割すること、多重化すること、切り替えること、及び選択することのうち少なくとも１つを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１８】
前記ルーティングされた信号を前記分析することは、ベクトル信号分析器（ＶＳＡ）を用いて、前記ルーティングされた信号を処理することを含む、請求項１０に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数のデータパケット信号送受信機を同時に試験するためのシステム及び方法に関し、特に、最小の試験設備で、かつ、短縮された試験時間で、被試験装置（ＤＵＴ）を試験することに関する。
【背景技術】
【０００２】
現代の電子装置の多くは、接続性と通信の両方の目的のために、無線技術を用いている。無線装置は電磁エネルギーを送受信し、かつ２つ以上の無線装置はそれらの信号周波数及びパワースペクトル密度によって互いの動作に干渉する可能性があることから、これらの無線装置及びその無線技術は、様々な無線技術規格仕様に準拠しなくてはならない。
【０００３】
そのような装置を設計する際、技術者は、そのような装置が、装置に含まれる無線技術を規定した規格に基づく仕様群のそれぞれの仕様を確実に満し、又は超越するように特別に取り計らう。更に、これらの装置が後に大量に製造されるとき、含まれる無線技術の規格に基づく仕様にそれらの装置が準拠していることと共に、製造欠陥により不適切な動作を引き起こさないことを確実にするために、これらの装置は試験される。
【０００４】
これらの装置をその製造及び組立て後に試験するための、現行の無線装置試験システムは、各装置から受信した信号を分析するサブシステムを採用している。そのようなサブシステムは、典型的には、少なくとも、装置によって生成された信号を分析するベクトル信号分析器（ＶＳＡ）と、装置によって受信されるべき信号を生成するベクトル信号発生器（ＶＳＧ）とを備える。ＶＳＡによって行われる分析と、ＶＳＧによって生成される信号は、一般的には、それぞれが、様々な周波数範囲、帯域幅、及び信号変調特性で、様々な装置を、様々な無線技術の標準への準拠に関して試験するために使用されるようにプログラム可能である。
【０００５】
無線通信装置の製造の一部として、製品コストの一つの重要な構成要素は、製造試験コストである。典型的には、試験のコストと、そのような試験を行うために要する時間との間には、直接的な相関関係がある。したがって、試験精度を損なうことなく、又は資本設備コストを増加させる（例えば、試験設備、又は試験器の精巧さを増加させるためにコストを増加させる）ことなく、試験時間を短縮することができるイノベーションは重要であり、特に、そのような装置が多数製造され試験されるときには、かなりのコスト削減をもたらすことができる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明に従い、スカラー信号試験及びベクトル信号試験が分離されている、複数のデータパケット信号送受信機を同時に試験するためのシステム及び方法が提供される。データパケット信号送受信機からの複数のデータパケット信号のスカラー信号特性の同時試験を実施しながら、該複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の部分のベクトル信号特性の試験も実施することができ、それによって、全ての所望の信号試験を実施するための所要時間が短縮される。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の例示的な実施形態に従い、複数のデータパケット信号送受信機を同時に試験するための試験システムは、複数のデータパケット信号送受信機からの複数のデータパケット信号に対して、複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の、少なくともそれぞれのスカラー信号特性を示す１つ又は２つ以上の第１の分析信号を提供することにより応答する第１の信号分析回路（ここで、複数のデータパケット信号のそれぞれの信号が、複数のデータパケットのシーケンスを含み、シーケンスのそれぞれの部分が互いに別々の信号特性を有する）と、第１の信号分析回路に結合され、かつ複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の、それぞれの部分のシーケンスを含むルーティングされた信号を提供することにより、複数のデータパケット信号と１つ又は２つ以上の制御信号とに対して応答する信号ルーティング回路と、信号ルーティング回路に結合され、かつ複数のデータパケット信号のそれぞれの信号のそれぞれの部分の各部分の少なくともそれぞれのベクトル信号特性を示す１つ又は２つ以上の第２の分析信号を提供することにより、ルーティングされた信号に対して応答する第２の信号分析回路と、を含む。
【０００８】
本発明の別の例示的な実施形態に従い、複数のデータパケット信号送受信機を同時に試験する方法は、複数のデータパケット信号送受信機から複数のデータパケット信号を受信すること（ここで、複数のデータパケット信号のそれぞれの信号が複数のデータパケットのシーケンスを含み、シーケンスのそれぞれの部分が互いに別々の信号特性を有する）と、複数のデータパケット信号のそれぞれの信号の、少なくともそれぞれのスカラー信号特性を測定し、それを示す１つ又は２つ以上の第１の分析信号を提供することと、複数のデータパケット信号をルーティングし、複数のデータパケット信号のそれぞれの信号のそれぞれの部分のシーケンスを含むルーティングされた信号を提供することと、ルーティングされた信号を分析し、複数のデータパケット信号のそれぞれの信号のそれぞれの部分の各部分の少なくともそれぞれのベクトル信号特性を示す、１つ又は２つ以上の第２の分析信号を提供することと、を含む。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、複数のデータパケット信号送受信機を試験するための試験環境を示す図である。
【図２】図２は、図１の試験環境のためのデータパケット信号のフローを示す図である。
【図３】図３は、本発明の例示的な実施形態に従って、複数のデータパケット信号送受信機を同時に試験するための試験環境を示す図である。
【図４】図４は、図３の試験環境のためのデータパケット信号のフローを示す図である。
【図５】図５は、図３の試験環境のための、別のデータパケット信号のフローを示す図である。
【図６】図６は、図３の試験環境を用いてパワースペクトルの試験を行う際に、試験時間がどのように短縮され得るかを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下の詳細な説明は、添付の図面を参照した、本発明の例示的な実施形態に関する。このような説明は、例証となることを意図しており、本発明の範囲について限定するものではない。このような実施形態は、当業者が対象となる発明を実施することが可能になるように、十分詳細に記載されており、また、他の実施形態が、対象となる発明の思想又は範囲から逸脱することなく、何らかの変形例を伴って実施され得ることが、理解されるであろう。
【００１１】
本開示を通じて、文脈からの矛盾に対する明示がない限り、記載されるところの個々の回路素子の数は、単数でも又は複数でもよいことが理解されるであろう。例えば、「回路（circuit）」という用語及び「回路（circuitry）」という用語は、単一の構成要素又は複数の構成要素のどちらかを含んでもよく、これらは能動型及び／又は受動型のどちらかであってもよく、記載した機能を提供するために、互いに接続、又はそうでなければ（例えば、１つ又は２つ以上の集積回路チップとして）結合されている。加えて、「信号」という用語は、１つ又は２つ以上の電流、１つ又は２つ以上の電圧、又はデータ信号を指すことができる。図面内で、同様の、又は関連する要素は、同様の、又は関連するアルファベット、数字、又は英数字の識別子を有することとなる。更に、本発明を、（好ましくは１つ又は２つ以上の集積回路チップの形態における）別々の電子回路を用いた実装という文脈の中で論じられているが、そのような回路の任意の部分の機能は、処理すべき信号周波数又はデータレートに応じて、１つ又は２つ以上の適切にプログラムされた処理装置を用いて、代替的に実装されてもよい。更に、図面が様々な実施形態の機能ブロックの図を示す範囲において、この機能ブロックは、必ずしもハードウェア回路同士の区分を示すものではない。
【００１２】
以下の検討は、４つのＤＵＴの同時試験に関する。しかしながら、容易に理解されるように、本発明の例示的な実施形態に従い、複数のＤＵＴを同時に試験するための、以下で論じるシステム、手法、及び原理は、他の複数のＤＵＴのために規模拡大又は規模縮小されてもよい。換言すると、本発明に従い、２つ又は３つ以上のＤＵＴを同時に試験することができる。
【００１３】
図１に示されているように、複数のＤＵＴ２０を試験するための試験環境１０は、信号源４４（例えば、ベクトル信号発生器（ＶＳＧ））及び受信信号分析器４２（例えば、ベクトル信号分析器（ＶＳＡ））を含む試験器４０と、（第１の信号ルーティング回路３０及び第２の信号ルーティング回路３２を含むことができる）信号ルーティング回路３０、３２とを備える。例えば、以下で更に詳細に論じるように、第１の信号ルーティング回路３０は、１つ又は２つ以上の多重化回路、切替回路、分割回路、及び／若しくは結合回路、又はそれらの組み合わせとして実装することができ、第２の信号ルーティング回路３２は、信号切替回路として実装することができる。（あるいは、第２の信号ルーティング回路３２は、第１の信号ルーティング回路３０の一部として備えられてもよい。また、ＤＵＴ側において、第１の信号ルーティング回路３０は、それぞれのＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄが並行して、すなわち同時に動作する間、それらを単離させるために、信号切替回路を含むことが好ましい。）
【００１４】
容易に理解されるように、ＤＵＴ２０は、典型的には無線信号送受信機であるが、ＤＵＴ２０と信号ルーティング回路３０、３２との間の様々な信号経路２２は、信頼でき、かつ実質的に損失のない信号接続を保証するために、典型的にはケーブル接続された信号経路である。
【００１５】
この例でここに示すように、試験器４０は信号源４４及び信号分析器４２を備え、外部回路は、信号ルーティング回路３０、３２及び任意の必要な信号接続部（例えば、ケーブル及びコネクター）を備える。したがって、完全な試験システムは、試験器４０及びルーティング回路３０、３２、並びに所望又は必要に応じて、外部コントローラ５０を備える。しかしながら、容易に理解されるように、所望に応じて、試験器４０はまた、信号ルーティング回路３０、３２及びコントローラ５０の機能及び回路のいずれか又は両方を備えてもよい。
【００１６】
ＤＵＴ２０の送信（ＴＸ）試験を行うとき、試験データパケットの信号フロー２１は、ＤＵＴ２０から第１のルーティング回路３０までであり、その際個々のＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄのそれぞれが、それ自体のケーブル接続されたそれぞれの試験接続部２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄを介して、それ自体のそれぞれの試験データパケット信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄを提供する。この前方への信号フローのために、第１の信号ルーティング回路３０は、これらの信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄを多重化して（又は切り替えて）多重化信号３１を提供し、この信号３１は、スイッチ３２及びスイッチ接続部３３を介して、試験器４０内の受信信号試験器４２へルーティングされる。
【００１７】
図２に示されているように、ＤＵＴ２０についての典型的なＴＸ試験は、それぞれのＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄによる、３つの信号パワーレベルＰＬ１、ＰＬ２、ＰＬ３のそれぞれにおける、３つの試験データパケット信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄのシーケンスの送信を含む。信号ルーティング回路３０は、これらを単一の信号シーケンスに多重化し、これには、図示するように合計で３６個の試験データパケットが含まれる。したがって、これら４つのＤＵＴ２０を同時に接続することができる一方で、受信信号分析器４２による分析のために、４つの試験信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄの全てを、単一の多重化試験信号３１に多重化する必要があるために、それらＤＵＴのそれぞれの信号特性を同時に試験することはできない。
【００１８】
ＤＵＴ２０の受信（ＲＸ）信号試験を行う場合、そのような試験を同時に行うことができる。試験器信号源４４は、スイッチ３２を介して第１の信号ルーティング回路３０へとルーティングされる、試験信号３５を提供する。第１の信号ルーティング回路３０は、（例えば、公知の技術に従い、信号３５を分割、又はパワー分割することによって）この信号３５を複製する。結果として、この試験信号３５は、ＤＵＴ２０のための４つの対応する受信試験信号として複製され、ＤＵＴ２０は、これらの複製された試験信号を受信し、所望のＲＸ試験を同時に行う。したがって、複数のＤＵＴ２０のＲＸ試験は、単一のＤＵＴ２０の試験と実質的に同じ時間で成し遂げることができる。
【００１９】
以下で更に詳細に論じるように、また上述したように、試験設備費用を最小化する１つの方法は、複数のＤＵＴの試験用に適合させた単一の信号源（ＶＳＧ）を有する試験器を用いることである。上述したように、これは、複製された試験信号を複数のＤＵＴに一度に適用することができるように、源信号を信号複製器に適用することによってなされ、それによって、複数のＤＵＴのＲＸ試験を並列に、例えば同時に、実施できるようになる。複数のＤＵＴのＴＸ試験に関して、エラーベクトル振幅（ＥＶＭ）などのいくつかのＴＸ信号分析は、ＶＳＡの機能性と性能を必要とする一方で、他のＴＸ信号分析は、より簡易な試験設備を用いて行うことができる。例えば、信号パワーなどの、スカラー信号特性についての試験は、より簡易でより安価な信号測定サブシステムを用いて行うことができるが、ベクトル信号特性についての試験はＶＳＡによって実施される。（本検討のため、「スカラー」信号特性とは、例えば、信号パワーなどの振幅のみのパラメータのような、測定すべき単一の信号パラメータを有するそれらの信号特性を指し、「ベクトル」信号特性とは、例えば、信号の振幅及び位相が測定されることになるＥＶＭ、及び／又は、選択された帯域幅にわたってパワーが測定されるスペクトルマスクなど、測定すべき複数の信号パラメータを有するそれらの信号特性を指す。）
【００２０】
本発明の例示的な実施形態に従い、複数のＤＵＴのＴＸ試験を行うためのパワー関連の測定及び分析は、共有のＶＳＡの試験機能とは別に実施されてもよく、それによって、より低コストのパワー測定サブシステムを使用し、そのようなパワー関連の測定及び分析を並列に行うことができるようになる。一実施形態に従い、複数のＤＵＴによって送信される試験信号は、減衰し、多重化され、かつＶＳＡサブシステムに運ばれると同時に、ＤＵＴのＴＸ信号のそれぞれのアナログ信号パワーレベルは、１つ又は２つ以上のパワー測定サブシステムによって検知、測定、及び分析される。これにより、試験環境は、ＥＶＭ分析などの、ＶＳＡによって実施される他の連続した（例えば、多重化信号）分析と並行して、パワー測定を実施できるようになる。結果として、試験所要時間が減少する。
【００２１】
別の実施形態に従い、試験データパケット信号の並列的な測定を様々なパワーレベルにおいて行うことができ、それによって、幾つかのパワーレベルに渡るパワーレベルの平均化及び分析が、ＥＶＭ分析などの、連続したＶＳＡ信号分析と同時に行い得るようになる。再度、これにより試験時間がより短縮される。
【００２２】
図３に示されているように、本発明の例示的な実施形態に従い、ＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄからのＴＸ信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄのパワー測定などの、１つ又は２つ以上のスカラー信号特性の分析を行うために、付加的な信号試験回路６２、６４、６６が試験環境６０に追加されている。そのような試験は、互いに同時に行うことができ、更には（更なる詳細が以下で論じるように）試験器４０による、ＥＶＭなどのベクトル信号特性の試験とも同時に行うことができる。
【００２３】
例えば、ある例示的な実施形態に従い、それぞれのＤＵＴ信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄのパワーレベルの測定は、それぞれのパワー検出器６２ａ、６２ｂ、６２ｃ、６２ｄによって行われ、このそれぞれの検出器は、アナログパワー検出信号６３ａ、６３ｂ、６３ｃ、６３ｄを生成する。これらの信号６３は、それぞれのアナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）６４ａ、６４ｂ、６４ｃ、６４ｄによって変換され、このそれぞれのＡＤＣは、対応するデジタルパワー検出信号６５ａ、６５ｂ、６５ｃ、６５ｄを生成する。これらの検出されたパワー検出信号６５に含まれるデータは、それぞれのパワーメータ論理回路６６ａ、６６ｂ、６６ｃ、６６ｄによって分析される。パワーメータ論理回路はまた、結果を格納するためのメモリ回路を備えてよい。例えば、当業者にとって明らかなように、パワーメータ論理回路６６ａ、６６ｂ、６６ｃ、６６ｄは、個々のデータパケット及びタイムスロットを特定するために、さらに特定のデータパケット及び／又はタイムスロット内の特定の時点における信号パワーを測定するために用いることができる。さらに、順番に並べる機能も、パワーメータ論理回路６６ａ、６６ｂ、６６ｃ、６６ｄの一部として組み込むことができる。加えて、結果として得られる測定されたパワーデータは、それぞれの測定されたパワーデータ信号６７ａ、６７ｂ、６７ｃ、６７ｄとして提供されてもよく、これら信号は、格納及び／又は更なる分析のために、試験器４０又は外部コントローラ５０に提供されてもよい。
【００２４】
図４に示されているように、ある例示的な実施形態に従い、それぞれのＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄは、複数のデータパケットサブシーケンス（例えば、３個のデータパケット）を有する、それぞれのＤＵＴのＴＸ試験信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄを送信し、その際、それらのサブシーケンスのそれぞれは、それ自体のそれぞれのパワーレベル２３ａ、２３ｂ、２３ｃで送信される。上で論じたように、これらの試験データパケットシーケンス２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄは、パワー測定回路６２、６４、６６のそれぞれの部分によって、信号パワーレベルに関して測定される。そのようなパワーレベル試験は、同時に行うことができ、それによって、より少ない試験データパケットサブシーケンスに相当する時間、例えば、この例では所要時間間隔は、わずか９個のデータパケットである。これは、そのようなパワーレベル測定を、試験器４０に提供された多重化信号３３を用いて行わなければならない場合の所要時間である、３６個のデータパケット（図２）とは対照的である。（当業者によって理解されるように、パワーメータ論理回路６６ａ，６６ｂ，６６ｃ，６６ｄは、測定したパワーデータのその後の分析に用いるために、例えば、タイムスタンプ測定の形式で、時間情報を記録する機能を備えることが好ましい。あるいは、測定データ及び／又は、例えば、平均、最小、最大などの各測定されたセグメントについてのレポートを分けるために、順序付け論理を含んでもよい。）
【００２５】
図５に示されているように、別の例示的な実施形態に従い、付加的なサブシーケンス時間間隔２５（例えば、１個の付加的なデータパケット時間間隔）を追加することで、（例えば、スカラー信号特性及びベクトル信号特性の両方について、）より精確にＤＵＴ２０の試験を達成することができる。これにより、上で論じたように、ＤＵＴのＴＸ信号シーケンス２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄのパワー測定ＰＭ１、ＰＭ２、ＰＭ３、ＰＭ４が、複数のパワーレベル２３ａ、２３ｂ、２３ｃで実施でき、同時にこれにより、多重化された試験データパケット信号３３を（そのような多重化されたデータパケット信号３３がそれぞれのＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄからの少なくとも１個のデータパケットサブシーケンス（例えば、１個のデータパケット）を含む状態で）、試験器４０内のＶＳＡ４２に提供するための時間もまた割り当てることができる。したがって、先の試験環境１０（図１）によって必要とされた３６個のデータパケットサブシーケンス（図２）と比較すると、わずか１個の付加的なデータパケットサブシーケンス（例えば、この例では合計１０個）のみが、完全なＴＸ信号試験を行うために必要とされる。
【００２６】
本例の目的のため、それぞれのＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄについてのＥＶＭの正確な検証を確実にすべきで第１のパワーレベル２３ａは、最も高いパワーレベルであることが好ましい。また、最後の試験データパケットシーケンス２１ｄ内の第１のパワーレベル２３ａにおける、最後の試験データパケットサブシーケンス３１ｄを、他の対応する試験データパケットサブシーケンス３１ａ、３１ｂ、３１ｃと多重化することができるように、第１のルーティング回路３０内のメモリ回路に、一時的に格納してもよい。
【００２７】
図６に示されているように、試験環境６０（図３）が、標準規定マスクに対する信号パワースペクトル密度の比較に用いられる場合には、単にＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄからＶＳＡ４２へ試験データパケット信号２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄを伝達することで十分である。しかし、広域のスペクトルマスクと同様に３個のデータパケットのパワーを測定するときには、（上で論じたように、）ＶＳＡ４２の使用には、パワーを測定するために３個のデータパケットが必要となるであろう。ＶＳＡ４２は、その試験帯域幅が制限されているために、単一の信号キャプチャでマスク７０の幅全体を測定することができない。したがって、合計３つの信号キャプチャ７１，７２，７３が、スペクトルマスク測定を行うために必要とされる。そのため、パワー測定キャプチャ７１（２３ａ）、７１（２３ｂ）、７１（２３ｃ）のために必要な３個と、マスク７０の縁部（又は「裾」）７２、７３を捕捉するために必要な２個とで、計５個のデータパケット信号サブシーケンスが必要となるであろう。（ＶＳＡ４２の帯域幅が制限されているので、実際には送信されたパワーのおよそ９９．９％を測定できるが、試験データパケット信号の全パワーは、測定することができない。そのため、捕捉されないパワーよりも、他の信号障害による誤差の方が、任意の変動に与える影響力が大きいこととなる。）
【００２８】
しかしながら、上で論じたように、本発明に従い、ＶＳＡ４２は、単に、スペクトルマスク７０を測定するために使用されればよい。というのも、専用のパワー測定回路６２、６４、６６を、任意の所望のパワー測定を行うために用いることができるためである。したがって、３個のデータパケットサブシーケンスのみが必要となる。１個は信号マスク７１（２３ａ）の中央部分のためであり、２つはマスクの縁部７２，７３のためである。（パワー測定回路６２、６４、６６は、ＶＳＡ４２と同一の帯域幅の制限を受けないため、好都合に、完全な送信信号パワーのより正確な測定を行うことができる。更に、４つのＤＵＴ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄを試験するこれらの例においては、これによって、必要なパケットの最小数がＶＳＡ４２の帯域幅制限によって決定される状態で、それぞれのＤＵＴ２０からの必要なデータパケットの数を、２０個（４つのＤＵＴ２０のそれぞれから５個のパケット）から１２個（４つのＤＵＴ２０のそれぞれから３個のパケット）に減らすことができる。
【００２９】
本発明の構造及び動作方法における、様々な他の変更例及び変形例が、本発明の範囲及び思想から逸脱することなく当業者には明らかとなるであろう。本発明は、特定の好ましい実施形態に関連して説明されたが、本発明は、そのような特定の実施形態に不当に限定されるべきではないことは、理解されるべきである。以下の特許請求の範囲が本発明の範囲を定義すること、さらに、これらの特許請求の範囲及びその均等物の範囲内の構造及び方法がそれによって包含されていることが意図されている。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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