(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも一の動作状態において実質的に静的な磁場強度および該磁場強度の時間的ドリフトを有する主磁石、及び、磁気共鳴測定信号帯域幅を有する磁気共鳴検査システムの少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給する電源ユニットであって：
第1基本切り換え周波数にて伝導状態の構成と本質的に非伝導状態の構成との間で切り換えるように供される少なくとも1つの切り換え部材を備える、前記少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給するスイッチング電力変換器；
前記少なくとも1つの切り換え部材の切り換えを制御するため、前記第1基本切り換え周波数にて切り換えパルスを供するように設計されるパルス制御ユニット；
前記時間的ドリフトのある前記磁場強度に応じて決定された前記磁気共鳴測定信号帯域幅の範囲内の前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅に対応する入力信号を受信するように供され、かつ、前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合にトリガ信号を生成して前記トリガ信号を前記パルス制御ユニットへ供するように設計される干渉示唆ユニット；
を有し、
前記トリガ信号によるトリガリングの際、前記パルス制御ユニットは、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させることを、該第2基本切り換え周波数が前記磁気共鳴測定信号帯域幅にはいらなくなるまで行なうように供され、
前記パルス制御ユニットは、前記第1基本切り換え周波数が変化させられる量を、検査中の核の種類、前記主磁石の静的磁場強度、及び、前記第1基本切り換え周波数から決定するように供される、
電源ユニット。
【請求項２】
前記パルス制御ユニットが、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも2回、所定量だけ変化させるように供される、請求項1に記載の電源ユニット。
【請求項３】
請求項1または2に記載の電源ユニット、及び、少なくとも1つの勾配コイルを有する磁気共鳴検査システムの磁気勾配システム。
【請求項４】
少なくとも一の動作状態において実質的に静的な磁場強度および該磁場強度の時間的ドリフトを有する主磁石、及び、磁気共鳴測定信号帯域幅を有する磁気共鳴検査システムの少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給する電源ユニットの動作方法であって、当該電源ユニットは：
−  第1基本切り換え周波数にて伝導状態の構成と本質的に非伝導状態の構成との間で切り換えるように供される少なくとも1つの切り換え部材を備える、前記少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給するスイッチング電力変換器；
−  前記少なくとも1つの切り換え部材の切り換えを制御するため、前記第1基本切り換え周波数にて切り換えパルスを供するように設計されるパルス制御ユニット；
を有し、
トリガ信号によるトリガリングの際、前記パルス制御ユニットは、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させるように供され、
当該方法は：
−  前記時間的ドリフトのある前記磁場強度に応じて決定された前記磁気共鳴測定信号帯域幅の範囲内で前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅を決定する段階；
−  前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合に前記パルス制御ユニットへトリガ信号を供する段階；
−  前記トリガ信号によるトリガリングの際に、前記パルス制御ユニットに、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させることを、該第2基本切り換え周波数が前記磁気共鳴測定信号帯域幅にはいらなくなるまで行なう段階であって、前記第1基本切り換え周波数が変化させられる量は、検査中の核の種類、前記主磁石の静的磁場強度、及び、前記第1基本切り換え周波数から決定される、段階；
を有する、方法。
【請求項５】
電源ユニット、特に少なくとも一の動作状態において実質的に静的な磁場強度および該磁場強度の時間的ドリフトを有する主磁石、及び、磁気共鳴測定信号帯域幅を有する磁気共鳴検査システムの少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給する電源ユニット、を動作させるソフトウエアモジュールであって、
当該電源ユニットは：
第1基本切り換え周波数にて伝導状態の構成と本質的に非伝導状態の構成との間で切り換えるように供される少なくとも1つの切り換え部材を有する、前記少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給するスイッチング電力変換器；
前記少なくとも1つの切り換え部材の切り換えを制御するため、前記第1基本切り換え周波数にて切り換えパルスを供するように設計されるパルス制御ユニット；
前記時間的ドリフトのある前記磁場強度に応じて決定された前記磁気共鳴測定信号帯域幅の範囲内の前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅に対応する入力信号を受信するように供され、かつ、前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合にトリガ信号を生成して前記トリガ信号を前記パルス制御ユニットへ供するように設計される干渉示唆ユニット；
を有し、
前記トリガ信号によるトリガリングの際、前記パルス制御ユニットは、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させるように供されることで：
−  前記磁気共鳴測定信号帯域幅の範囲内で前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅を決定する段階；
−  前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合に前記パルス制御ユニットへトリガ信号を供する段階；
−  前記トリガ信号によるトリガリングの際に、前記パルス制御ユニットに、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させることを、該第2基本切り換え周波数が前記磁気共鳴測定信号帯域幅にはいらなくなるまで行なう段階であって、前記第1基本切り換え周波数が変化させられる量は、検査中の核の種類、前記主磁石の静的磁場強度、及び、前記第1基本切り換え周波数から決定される、段階；
を実行し、
これらの段階は、前記電源ユニットの前記パルス制御ユニット内に実装可能で、かつ、前記電源ユニットの前記パルス制御ユニットによって実行可能なプログラムコードに変換される、
ソフトウエアモジュール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気共鳴(MR)検査システムの勾配コイルに電力を供給する電源ユニット、及び、切り換え周波数を制御することによって電源ユニットを動作させる方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気共鳴撮像(MRI)の分野において、MR検査システムの勾配コイルに電力を供給するのにスイッチング電力変換器を用いることが知られている。スイッチング電力変換器は、一定の実効基本切り換え周波数−たとえば20〜100kHzの範囲内−でのパルス幅変調を利用する。一定の実効基本切り換え周波数の高調波は、陽子（水素原子核）又は他の核子についてのMR撮像及び/又は分光の測定信号帯域幅の範囲内のMR測定信号と干渉することで、MR測定信号の品質が劣化する恐れがある。スイッチング電力変換器には、各勾配コイル軸での高調波の十分な減衰を実現させる出力フィルタが備えられる。
【０００３】
多核子MR走査では、MR測定信号周波数は、たとえば1.5TのMR検査システムの主磁石の磁場強度での14Nでは4.6MHz程度の低さであって良い。このような場合、高調波の十分な減衰を実現することは難しくなる。フィルタリングをし過ぎると、勾配コイル電力の振幅が大きく失われてしまう恐れがある。これは不利益である。なぜなら電源ユニットの目的は、可能な限り大きな電力を（複数の）勾配コイルへ供給することだからである。別な課題として、電力損失の結果、フィルタ内での電力散逸が生じ、そのためそのフィルタは冷却されなければならなくなる。結果として追加のハードウエアが必要となってしまうことで、さらなるコストがかかってしまう。
【０００４】
問題は特に、MR測定信号が相対的に狭い帯域幅のMR測定信号周波数範囲−たとえば数百Hz−内に存在する多核種MR測定において顕著となる。主磁石の磁場強度の不可避な時間的ドリフトは、MR測定信号周波数を変化させる。その結果、基本切り換え周波数周波数の高調波のうちの1つが、MR測定信号周波数範囲内に属してしまう恐れがある。
【０００５】
従ってMR検査システムでのこの種の干渉を回避することが望ましい。
【０００６】
特許文献1は、各々がPWM回路、電力スイッチ、及び切り換え回路を有するPWM型の勾配電源に切り換え信号を供給する切り換え信号発生装置を含んで、かつ、画像周波数帯の範囲内に属する切り換え周波数の高調波成分に起因して起こりうるノイズを適切に防止するように切り換え周波数を変化させるMRIシステムについて記載している。画像周波数帯の範囲内に属する切り換え周波数の高調波成分によって、「F1ノイズ」と呼ばれる線形アーティファクトが、MRI再構成画像中に生成される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国特許第5546001号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従って本発明の目的は、少なくとも一の動作状態において実質的に静的な磁場強度を有する主磁石、及び、MR測定信号帯域幅を有する磁気共鳴(MR)検査システムの少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給する電源ユニットであって、前記MR測定信号と基本切り換え周波数の高調波との間での上述の干渉を回避する電源ユニットを供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一の態様では、上記目的は電源ユニットによって実現される。当該電源ユニットは：
第1基本切り換え周波数にて伝導状態の構成と本質的に非伝導状態の構成との間で切り換えるように供される少なくとも1つの切り換え部材を備える、前記少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給するスイッチング電力変換器、
前記少なくとも1つの切り換え部材の切り換えを制御するため、前記第1基本切り換え周波数にて切り換えパルスを供するように設計されるパルス制御ユニット、
前記MR測定信号帯域幅の範囲内の前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅に対応する入力信号を受信するように供され、かつ、前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合にのみ、前記トリガ信号を生成して前記トリガ信号を前記パルス制御ユニットへ供するように設計される干渉示唆ユニットを有する電源ユニットを有し、トリガ信号によるトリガリングの際、前記パルス制御ユニットは、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させるように供される。
【００１０】
それにより、MR測定信号と前記基本切り換え周波数の高調波との間での干渉が回避され、かつ、MR測定信号の品質を改善させることができる。
【００１１】
前記干渉示唆ユニットによって受信される入力信号は好適には、前記MR検査システムの別な制御ユニットによって供されて良い。それにより、前記MR測定信号の品質の改善に必要な場合にのみ、前記第1基本切り換え周波数の変更を実行することが可能となる。さらに前記MR測定信号と前記基本切り換え周波数の高調波との間での干渉レベルは、前記主磁石の磁場強度のドリフトに起因するMR検査の途中での信号の品質の突然の劣化を防止するように連続的に制御されて良い。
【００１２】
本発明の他の態様では、前記パルス制御ユニットは、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも2回、所定量だけ変化させるように供される。それにより、干渉を回避することによって前記MR測定信号の品質を改善する容易かつ費用対効果の良い解決法が実現され得る。好適には3つ以上のとり得る基本切り換え周波数が準備される。前記MR信号の品質の改善は、その場条件下で試行錯誤によって実行されて良い。
【００１３】
本発明のさらに他の態様では、前記パルス制御ユニットは、変化する前記第1基本切り換え周波数の大きさを、検査中の核の種類、前記主磁石の静的磁場強度、及び、前記第1基本切り換え周波数から決定するように供される。それにより、周波数の変化の大きさを目的を持って、かつ、指示されたように決定することが可能となり、かつ、前記MR測定信号の品質を改善するための時間を短縮することが可能となる。
【００１４】
本発明の他の目的は、磁気共鳴(MR)検査システムの磁気勾配システムを供することである。当該磁気勾配システムは、電源ユニットの上述の実施例のうちの少なくとも1つ、及び、少なくとも1つの勾配コイルを有する。それにより、低信号対雑音比に起因する符号化エラーつまり画像アーティファクトを回避する磁気勾配システムが実現され得る。よって、前記MR検査システムの磁気共鳴信号の信頼性があり、かつ、誤りのない空間符号化が実現される。
【００１５】
他の態様では、本発明は、特に少なくとも一の動作状態において実質的に静的な磁場強度を有する主磁石、及び、磁気共鳴(MR)測定帯域幅を有するMR検査システムの少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給する電源ユニットの動作方法に関する。当該電源ユニットは：
−  第1基本切り換え周波数にて伝導状態の構成と本質的に非伝導状態の構成との間で切り換えるように供される少なくとも1つの切り換え部材を備える、前記少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給するスイッチング電力変換器；
−  前記少なくとも1つの切り換え部材の切り換えを制御するため、前記第1基本切り換え周波数にて切り換えパルスを供するように設計されるパルス制御ユニットを有する電源ユニット；
を有する。
【００１６】
トリガ信号によるトリガリングの際、前記パルス制御ユニットは、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させるように供される。
【００１７】
当該方法は：
−  前記MR測定信号帯域幅の範囲内で前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅で決定する段階；
−  前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合に前記パルス制御ユニットへトリガ信号を供する段階；
−  前記トリガ信号によるトリガリングの際に、前記パルス制御ユニットに、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させる段階；
を有する。
【００１８】
さらに他の態様では、電源ユニット−特に少なくとも一の動作状態において実質的に静的な磁場強度を有する主磁石、及び、磁気共鳴(MR)測定帯域幅を有するMR検査システムの少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給する電源ユニット−を動作させるソフトウエアモジュールに関する。当該電源ユニットは、第1基本切り換え周波数にて伝導状態の構成と本質的に非伝導状態の構成との間で切り換えるように供される少なくとも1つの切り換え部材を有する、前記少なくとも1つの勾配コイルに電力を供給するスイッチング電力変換器、前記少なくとも1つの切り換え部材の切り換えを制御するため、前記第1基本切り換え周波数にて切り換えパルスを供するように設計されるパルス制御ユニット及び、前記MR測定信号帯域幅の範囲内の前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅に対応する入力信号を受信するように供され、かつ、前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合にのみ、前記トリガ信号を生成して前記トリガ信号を前記パルス制御ユニットへ供するように設計される干渉示唆ユニットを有する。トリガ信号によるトリガリングの際、前記パルス制御ユニットは、以下の段階を実行するように、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させるように供される。前記以下の段階は：
−  前記MR測定信号帯域幅の範囲内で前記第1基本切り換え周波数の高調波の振幅で決定する段階；
−  前記高調波の振幅が所定閾値を超えた場合に前記パルス制御ユニットへトリガ信号を供する段階；
−  前記トリガ信号によるトリガリングの際に、前記パルス制御ユニットに、前記第1基本切り換え周波数を少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させる段階；
である。
【００１９】
当該方法の段階は、前記電源ユニットのパルス制御ユニット内に実装可能で、かつ、前記電源ユニットのパルス制御ユニットによって実行可能なプログラムコードに変換される。
【００２０】
本発明の上記及び他の態様は、以降で説明する実施例を参照することで明らかとなる。係る実施例は必ずしも、本発明の技術的範囲すべてを表している訳ではない。本発明の技術的範囲を解釈する際には請求項を参照して欲しい。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明による電源ユニットを備える磁気勾配システムを有する磁気共鳴(MR)検査システムのブロック図を示している。
【図２】図1に準じた電源ユニットの詳細の概略図を表している。
【図３】図1,2に準じた電源ユニットの一定の実効基本切り換え周波数の高調波とMR測定信号との干渉条件を表している。
【図４】干渉を回避するように、本発明による図1,2に準じた電源ユニットの動作方法の効果を表している。
【図５】本発明による電源ユニットの別な実施例を示している。
【図６】本発明による電源ユニットのさらに別な実施例を示している。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
図1は、MRスキャナ112及び本発明の実施例による電源ユニット130と勾配コイル128を備える磁気勾配システム126を有する磁気共鳴(MR)検査システム110のブロック図を示している。MR検査システム110は、少なくとも一の動作状態において、持続モードで動作する周囲の主磁石における不可避な損失、及び、変化する環境条件に起因する時間的ドリフトを示す実質的に静的な磁場強度を有する主磁石114を有する。主磁石114は、対象物−通常は患者−用に準備される検査領域116を供するボアを有する。勾配コイル128は、主磁石114のボア内で同心円状に配置される。監視ユニット120を備えるMR検査システム110のMRシステム制御ユニット118が、当技術分野において広く知られているMRスキャナ112の機能を制御するように供される。
【００２３】
図2は、図1に準じた電源ユニット130の詳細を概略的に表している。電源ユニット130は、勾配コイル128に電力を供給するスイッチング電力変換器134を有する。スイッチング電力変換器134は、当技術分野において広く知られているように、Hブリッジとして設計される2対の基本的に同一の切り換え部材を有する。切り換え部材は、当業者に周知であるように、半導体スイッチによって構成され、かつ、パルス幅変調(PWM)制御に従って、第1基本切り換え周波数fSWで、かつ、互いが所定の時間的関係となるように、伝導状態の構成と基本的に非伝導状態の構成との間で切り換えるように供される。
【００２４】
電源ユニット130は、切り換え部材の切り換えを制御するため、第1基本切り換え周波数fSWにて切り換えパルスを供するように設計されるパルス制御ユニット132を有する。簡明を期すため、パルス制御ユニット132から半導体スイッチまで切り換えパルスを移送するのに必要な線は、図2では暗示されているに過ぎない。
【００２５】
半導体スイッチは、図2ではIGBTとして示されているが、MOSFET又は当業者にとって適切に見える任意の他の半導体スイッチとして設計されても良い。
【００２６】
勾配コイル128は、2つのノードによって構成される出力ポート136に電力を供給するように2つの端部の各々で接続される。それにより勾配コイル128を流れる電流は、Hブリッジの出力線の低パスフィルタ電流となる。
【００２７】
図3に表されているように、第1基本切り換え周波数fSWで動作するスイッチング電力変換器134の出力振幅はまた、第1基本切り換え周波数fSWの高調波38をも含む。高調波38の周波数は、第1基本切り換え周波数fSWの整数倍である。高調波38の振幅は、フーリエ解析に従って、スイッチング電源出力の厳密な波形に依存するが、ここでは詳細については検討しない。
【００２８】
図1に示されたMR検査システム110は、1H及び14Nの核子の多核種検査に用いられるように設計される。一般的には、他の選択された核種−たとえば13C又は31P−もさらに又は代わりに検査されて良い。MRスキャナ112によって取得され、かつ、MRシステム制御ユニット118によってサンプリング及び処理されるMR測定信号は、周波数4.6MHzで中心をとる1kHz帯域幅の多核種受信帯40内に含まれる（受信帯40の幅は図3では正確な縮尺ではない）。
【００２９】
磁場強度に比例する核子のLamor周波数fLによって、かつ、主磁石114の磁場強度の時間的ドリフトに起因して、受信帯40もまた、MRスキャナ112の動作時間中にドリフトする。よって第1基本切り換え周波数fSWの高調波38の一は、受信帯40の範囲内に属することで、MR測定信号と干渉する恐れがある。この条件は図3で示されている。
【００３０】
図1に図示されているように、MRシステム制御ユニット118は、MR測定信号の周波数スペクトルを解析し、かつ、MR測定受信帯40の範囲内の第1基本切り換え周波数fSWの高調波38の振幅を決定するFFT（高速フーリエ変換）解析ツール122を有する。解析ツール122は、MR測定受信帯40の範囲内の第1基本切り換え周波数fSWの高調波38のうちの一の振幅に対応する出力信号を伝送するように供される出力線124を有する。
【００３１】
出力線124は、電源ユニット130の干渉示唆ユニット144に接続される。干渉示唆ユニット144は、解析ツール122の出力信号を、出力線124を介した入力信号として受信するように供される。所定閾値は、干渉示唆ユニット144のメモリ内に格納される。干渉示唆ユニット144は、トリガ信号142を発生させ、かつ、MR測定受信帯40の範囲内に属する第1基本切り換え周波数fSWの高調波の振幅が所定閾値を超える場合に、トリガ信号142をパルス制御ユニット132へ供するように設計される。
【００３２】
パルス制御ユニット132は、トリガ信号142によるトリガリングの際、第1基本切り換え周波数fSWを少なくとも第2基本切り換え周波数へ変化させるように供される。このため、パルス制御ユニット132には、ソフトウエアモジュール152（図1）が備えられる。
ソフトウエアモジュール152内では、電源ユニット130の動作方法の段階が、電源ユニット130のパルス制御ユニット132内において実装可能で、かつ、パルス制御ユニット132によって実行可能なプログラムコードに変換される。
【００３３】
パルス制御ユニット132は、変化する第1基本切り換え周波数fSWの量ΔfSWを、検査中の核子の種類、主磁石114の静的磁場強度の大きさ、及び、次式による第1基本切り換え周波数fSWから決定されるように供される。
ΔfSW=(fSW)2/(fL*N)
ここでNは、第1基本切り換え周波数fSWの2つの高調波38間での周波数間隔の一部の逆数を表す。核子の種類及び主磁石114の磁場強度は、前述したように、核子のLamor周波数fLに取り入れられる。
【００３４】
第1基本切り換え周波数fSWが100kHzで、Lamor周波数fLが4.6MHzで、かつ、Nを任意で6に選ぶと、変化する第1基本切り換え周波数fSWの量ΔfSWは、362Hzとなる。第1基本切り換え周波数fSWと比較すると、ΔfSWの量はかなり小さいので、さらなる要件−たとえば帯域幅−は、スイッチング電力変換器134のこの変化からは生じない。
【００３５】
よってトリガ信号142によるトリガリングの際、パルス制御ユニット132は、第1基本切り換え周波数fSWを、100kHzから100.362kHzの第2基本切り換え周波数fSW（図4）へ変化させるように供される。これは、受信帯40の範囲内に属する高調波38を、ΔfSW/N=16.7kHzだけシフトさせる。第1基本切り換え周波数fSWから第2基本切り換え周波数fSW’への変化の結果が図4に表されている。図3に示された変化しない第1基本切り換え周波数fSWの条件と比較して、効果が明確に視認できる。
【００３６】
高調波38のうちの一がいまだ受信帯40の範囲内に属する場合、トリガ信号142は、MRシステム制御ユニット118の解析ツール122によって維持される。この場合、パルス制御ユニット132は、第1基本切り換え周波数fSWを少なくとも2度目に所定量ΔfSWだけ変化させるように供される。それにより受信帯40の範囲内に属する高調波38はさらに16.7kHzだけシフトする。通常これは、干渉をなくすのに十分だが、選択されたNの値に依存して、パルス制御ユニット132は、解析ツール122によって供されるトリガ信号142によって制御されて、所望の結果が得られるまで、2度より多く第1基本切り換え周波数fSWをシフトさせるように供される。
【００３７】
本発明は図面と先の説明において詳細に図示され記載されているが、かかる図示と記載は例示若しくは説明であって限定ではないとみなされるものとする。本発明は開示の実施形態に限定されない。開示の実施形態への他の変更は図面、開示及び従属請求項の考察から、請求される発明を実施する上で当業者によって理解されもたらされることができる。単一のプロセッサ若しくは他のユニットは請求項に列挙される複数の項目の機能を満たし得る。特定の手段が相互に異なる従属請求項において列挙されるという単なる事実はこれら手段の組み合わせが有利に使用されることができないことを示さない。請求項における任意の参照符号は範囲を限定するものと解釈されてはならない。
【符号の説明】
【００３８】
10  磁気共鳴(MR)検査システム
12  MRスキャナ
14  主磁石
16  検査領域
18  MRシステム制御ユニット
20  監視ユニット
22  解析ツール
24  出力線
26  磁気勾配システム
28  勾配コイル
30  電源ユニット
32  パルス制御ユニット
34  スイッチング電力変換器
36  出力ポート
38  高調波
40  多核種受信帯
42  トリガ信号
44  干渉示唆ユニット
46  基本切り換え周波数選択ユニット
48  押しボタン
50  一時的押しボタン
52  ソフトウエアモジュール
fSW  基本切り換え周波数
fL  Lamor周波数
【図１】
0006357468.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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