(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する工程と、
前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる工程と、
張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定する工程と
を有することを特徴とする光ファイバテープの製造方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光ファイバテープの製造方法であって、
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバにかかる前記張力の異常を検出することを特徴とする光ファイバテープの製造方法。
【請求項３】
請求項１に記載の光ファイバテープの製造方法であって、
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを構成する前記複数の光ファイバの線長差の異常を検出することを特徴とする光ファイバテープの製造方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の光ファイバテープの製造方法であって、
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを形成する工程を制御することを特徴とする光ファイバテープの製造方法。
【請求項５】
請求項４に記載の光ファイバテープの製造方法であって、
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを形成する工程を停止させることを特徴とする光ファイバテープの製造方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の光ファイバテープの製造方法であって、
前記光ファイバテープを形成するテープ形成部と前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる張力低減部との間に、前記テープ形成部から前記光ファイバテープを引き取る引き取り機が配置されており、
前記引き取り機よりも上流側の前記光ファイバテープの張力と、前記引き取り機よりも下流側の前記光ファイバテープの張力とを異ならせる
ことを特徴とする光ファイバテープの製造方法。
【請求項７】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する工程と、
前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる工程と、
張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定する工程と、
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバにかかる前記張力の異常を検出する工程と
を有することを特徴とする異常検出方法。
【請求項８】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する工程と、
前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる工程と、
張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定する工程と、
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを構成する前記複数の光ファイバの線長差の異常を検出する工程と
を有することを特徴とする異常検出方法。
【請求項９】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する形成部と、
前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる張力低減部と、
張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定するテープ厚測定部と
を有することを特徴とする光ファイバテープの製造システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバテープの製造方法、異常検出方法及び製造システム
に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープの連結部を検査する検査装置及び製造装置が記載されている。
特許文献１では、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープを製造する際に、複数の光ファイバをコーティングダイスに通し、隣接する光ファイバの間に連結部及び非連結部（分離部）を形成しながら接着剤（紫外線硬化樹脂）を塗布し、その接着剤に紫外線を照射することが記載されている。また、この検査装置では、段差部を有するガイドローラに光ファイバテープを支持させることによって、光ファイバの非連結部を分離させて、光ファイバテープのエッジ間隔やエッジ本数等を測定し、光ファイバの連結部の異常を検出している。
【０００３】
なお、特許文献１記載の検査装置では、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープの連結部を検査するために、光ファイバテープの経路（ライン）において、テープ面に垂直な方向から、光ファイバテープを測定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−４２３５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
複数の光ファイバをコーティングダイスの光ファイバ挿通穴に通す際に、光ファイバに抵抗がかかり、光ファイバにかかる張力に異常が生じることがある。光ファイバにかかる張力に異常が生じると、光ファイバテープを構成する複数の光ファイバに線長差が生じてしまう。複数の光ファイバに線長差が生じると、信号遅延差が生じてしまうため、線長差は抑制することが望ましい。また、光ファイバにかかる張力に異常が生じたまま（複数の光ファイバに線長差が生じたまま）光ファイバテープの製造を続けると、コーティングダイスにおける光ファイバに過度な抵抗がかかり、光ファイバが損傷したり、光ファイバが断線したりするおそれもある。
【０００６】
このため、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープを製造する際に、光ファイバにかかる張力に異常が生じたときには、その異常を速やかに検出できることが望ましい。但し、特許文献１記載の検査装置では、光ファイバにかかる張力に異常が生じても、その異常を検出できない。
【０００７】
本発明は、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープに特有の現象を利用して、光ファイバの異常を検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するための主たる発明は、並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する工程と、前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる工程と、張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定する工程とを有することを特徴とする光ファイバテープの製造方法である。
【０００９】
本発明の他の特徴については、後述する明細書及び図面の記載により明らかにする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープを製造する際に、光ファイバにかかる張力の異常に起因するテープ厚の変化を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、間欠固定型の光ファイバテープ１の製造システム１０の説明図である。
【図２】図２は、間欠固定型の光ファイバテープ１の一例の説明図である。
【図３】図３Ａは、接着剤塗布部２４のコーティングダイス２４１の説明図である。図３Ｂは、接着剤塗布後の光ファイバ３の集線の説明図である。
【図４】図４は、別のコーティングダイス２４１の説明図である。
【図５】図５は、線長差のある間欠固定型光ファイバテープ１の厚さ変化の説明図である。上図は、張力を低減させる前の状態での間欠固定型の光ファイバテープ１の説明図である。下図は、張力を低減させた状態での間欠固定型の光ファイバテープ１の説明図である。
【図６】図６Ａ及び図６Ｂは、光ファイバテープ１の経路とテープ厚測定部４０の位置関係の説明図である。
【図７】図７Ａは、線長差の無い間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さを測定している様子の説明図である。図７Ｂは、線長差のある間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さを測定している様子の説明図である。
【図８】図８は、光ファイバテープ１の製造処理のフロー図である。
【図９】図９は、光ファイバテープ１の製造処理の変形例のフロー図である。
【図１０】図１０は、追加荷重に対するテープ厚及び線長差のグラフである。
【図１１】図１１は、別のテープ厚測定部４０の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
後述する明細書及び図面の記載から、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
【００１３】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する工程と、前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる工程と、張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定する工程とを有することを特徴とする光ファイバテープの製造方法が明らかとなる。
このような製造方法によれば、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープに特有の現象を利用して、光ファイバの異常を検出できる。
【００１４】
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバにかかる前記張力の異常を検出することが望ましい。これにより、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープに特有の現象を利用して、張力の異常を検出できる。
【００１５】
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを構成する前記複数の光ファイバの線長差の異常を検出することが望ましい。これにより、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープに特有の現象を利用して、光ファイバの線長差の異常を検出できる。
【００１６】
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを形成する工程を制御することが望ましい。これにより、異常のある光ファイバテープの製造を抑制できる。
【００１７】
測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを形成する工程を停止させることが望ましい。これにより、光ファイバの損傷を抑制できる。
【００１８】
前記光ファイバテープを形成するテープ形成部と前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる張力低減部との間に、前記テープ形成部から前記光ファイバテープを引き取る引き取り機が配置されており、前記引き取り機よりも上流側の前記光ファイバテープの張力と、前記引き取り機よりも下流側の前記光ファイバテープの張力とを異ならせることが望ましい。これにより、張力低減部で光ファイバテープの張力を低減させても、テープ形成部における光ファイバテープの張力を保つことができる。
【００１９】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する工程と、前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる工程と、張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定する工程と、測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバにかかる前記張力の異常を検出する工程とを有することを特徴とする異常検出方法が明らかとなる。
このような異常検出方法によれば、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープに特有の現象を利用して、光ファイバにかかる張力の異常を検出できる。
【００２０】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する工程と、前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる工程と、張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定する工程と、測定された前記光ファイバテープの厚さに基づいて、前記光ファイバテープを構成する前記複数の光ファイバの線長差の異常を検出する工程とを有することを特徴とする異常検出方法が明らかとなる。
このような異常検出方法によれば、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープに特有の現象を利用して、光ファイバの線長差の異常を検出できる。
【００２１】
並列に並ぶ複数の光ファイバに張力をかけつつ、隣接する前記光ファイバを連結する連結部を形成することによって、前記連結部が間欠的に配置された光ファイバテープを形成する形成部と、前記光ファイバテープにかかる張力を低減させる張力低減部と、張力を低減させた前記光ファイバテープの厚さを、前記光ファイバテープの経路におけるテープ面に平行な方向から測定するテープ厚測定部とを有することを特徴とする光ファイバテープの製造システムが明らかとなる。
このような製造システムによれば、複数の光ファイバを並列させて間欠的に連結した光ファイバテープに特有の現象を利用して、光ファイバの異常を検出できる。
【００２２】
＝＝＝本実施形態＝＝＝
＜構成＞
図１は、間欠固定型の光ファイバテープ１の製造システム１０の説明図である。図２は、間欠固定型の光ファイバテープ１の一例の説明図である。
【００２３】
以下の説明では、図２に示す通り、各方向を定義する。すなわち、光ファイバテープ１を構成する光ファイバ３に平行な方向を「ファイバ方向」と呼び、光ファイバテープ１を構成する複数の光ファイバ３の並ぶ方向を「テープ幅方向」と呼び、光ファイバテープ１のテープ面に平行な方向を「厚さ方向」と呼ぶことがある。図１の光ファイバテープ１の送り方向は、ファイバ方向と平行な方向である。
【００２４】
間欠固定型の光ファイバテープ１とは、複数の光ファイバ３を並列させて間欠的に連結した光ファイバテープである。隣接する２心の光ファイバ３は、連結部５によって連結されている。隣接する２心の光ファイバ３を連結する複数の連結部５は、ファイバ方向に間欠的に配置されている。また、光ファイバテープ１の複数の連結部５は、ファイバ方向及びテープ幅方向に２次元的に間欠的に配置されている。連結部５は、接着剤となる紫外線硬化樹脂を塗布した後に紫外線を照射して固化することによって、形成されている。なお、連結部５を熱可塑性樹脂で構成することも可能である。隣接する２心の光ファイバ３間の連結部５以外の領域は、非連結部７（分離部）になっている。非連結部７では、隣接する２心の光ファイバ３同士は拘束されていない。これにより、光ファイバテープ１を丸めて筒状（束状）にしたり、折りたたんだりすることが可能になり、多数の光ファイバ３を高密度に収容することが可能になる。
【００２５】
間欠固定型の光ファイバテープ１は、図２に示すものに限られるものではない。例えば、光ファイバ３を構成する光ファイバ３を他の数（例えば１２心）にしても良い。また、間欠的に配置されている複数の連結部５の配置を変更しても良い。
【００２６】
図１に示すように、製造システム１０は、テープ形成部２０と、張力低減部３０と、テープ厚測定部４０とを有する。制御部５０は、製造システム１０の制御を司り、テープ形成部２０、張力低減部３０及びテープ厚測定部４０の制御を行う。なお、制御システム１０は、テープ形成部２０から光ファイバテープ１を引き取る引き取り機６１（引き取りローラ）と、光ファイバテープ１を巻き取るための巻き取り機６２（巻き取りドラム）とを有しており、制御部５０は引き取り機６１及び巻き取り機６２の制御も行っている。
【００２７】
テープ形成部２０は、間欠固定型の光ファイバテープ１を形成する装置である。テープ形成部２０は、複数の光ファイバ供給部２２と、接着剤塗布部２４と、光源２６とを有する。光ファイバ供給部２２は、光ファイバ３を接着剤塗布部２４に供給する供給装置（供給源）である。接着剤塗布部２４は、光ファイバ３の間に接着剤を塗布する装置であり、コーティングダイス２４１（後述）を有する。光源２６は、紫外線を照射する照射装置である。光源２６は、仮硬化用光源２６Ａと本硬化用光源２６Ｂの２種類から構成される。
【００２８】
図３Ａは、接着剤塗布部２４のコーティングダイス２４１の説明図である。コーティングダイス２４１は、光ファイバ３の間に接着剤（ここでは紫外線硬化樹脂）を塗布する部材であり、複数の光ファイバ挿通穴２４２を有する。コーティングダイス２４１の内部空間には接着剤が充填されており、この内部空間で光ファイバ３の間に接着剤が塗布される。コーティングダイス２４１の光ファイバ挿通穴２４２の出口近傍には、間欠塗布部２４４として接着剤除去部２４４Ａが設けられている。接着剤除去部２４４Ａは、光ファイバ３の間に塗布された接着剤の一部を残しつつ、一部を除去する。これにより、コーティングダイス２４１の光ファイバ挿通穴２４２から出た直後（間欠塗布部２４４である接着剤除去部２４４Ａを経た直後）には、光ファイバ３間に間欠的に接着剤が塗布された状態になる。
図３Ｂは、接着剤塗布後の光ファイバ３の集線の説明図である。図３Ｂでは、光ファイバ３の間隔や接着剤の除去部分の形状などを誇張して表示している。コーティングダイス２４１の光ファイバ挿通穴２４２から出た直後には、光ファイバ３同士の間隔が空いており、接着剤の除去部分が空いており、この状態で仮硬化用光源２６Ａが接着剤に紫外線を照射し、接着剤である紫外線硬化樹脂を仮硬化させる。
【００２９】
図４は、別のコーティングダイス２４１の説明図である。このコーティングダイス２４１の光ファイバ挿通穴２４２の出口近傍には、間欠塗布部２４４としてシャッター２４４Ｂが設けられている。シャッター２４４Ｂは、接着剤を塗布と遮断を切り替える部材である。シャッター２４４Ｂが間欠的に光ファイバ３の間に接着剤を塗布することによって、光ファイバ３間に間欠的に接着剤が塗布された状態になる。なお、この場合においても、コーティングダイス２４１の光ファイバ挿通穴２４２から出た直後には、光ファイバ３同士の間隔が空いており、この状態で仮硬化用光源２６Ａが接着剤に紫外線を照射し、接着剤である紫外線硬化樹脂を仮硬化させる。
【００３０】
なお、図３Ａ及び図４のいずれのコーティングダイス２４１を用いた場合においても、接着剤の仮硬化後に、光ファイバ３同士の間隔を徐々に狭めて、複数の光ファイバ３を並列に並べてテープ状に集線する。本硬化前に複数の光ファイバ３を集線しても、接着剤が仮硬化しているため、接着剤除去部分では接着剤同士が付着しないで済む。本硬化用光源２６Ｂが紫外線を照射して接着剤が硬化すれば、図２に示す間欠固定型の光ファイバテープ１が形成される。
【００３１】
上記のテープ形成部２０では、並列に並ぶ複数の光ファイバ３に張力をかけつつ、隣接する光ファイバ３を連結する連結部５を形成することによって、間欠固定型の光ファイバテープ１（連結部５が間欠的に配置された光ファイバテープ１）が形成されている。但し、複数の光ファイバ３をコーティングダイス２４１の光ファイバ挿通穴２４２に通す際に、光ファイバ３に抵抗がかかり、光ファイバ３にかかる張力に異常が生じることがある。光ファイバ３に抵抗がかかる原因としては、例えば、光ファイバ３とコーティングダイス２４１との異常接触や、光ファイバ３の表面の滑り性が悪いことや、コーティングダイス２４１の内部にゴミが溜まること等が挙げられる。なお、光ファイバ３とコーティングダイス２４１との異常接触の原因としては、光ファイバ３の線ぶれや、光ファイバ挿通穴２４２に対して光ファイバ３の径が太いことや、静電気によって光ファイバ３が光ファイバ挿通穴２４２に対して斜めになること等が挙げられる。
【００３２】
光ファイバ３にかかる張力に異常が生じると、光ファイバテープ１を構成する複数の光ファイバ３に線長差が生じてしまう。複数の光ファイバ３に線長差が生じると、信号遅延差が生じてしまうため、線長差は抑制することが望ましい。また、光ファイバ３にかかる張力に異常が生じたまま（複数の光ファイバ３に線長差が生じたまま）光ファイバテープ１の製造を続けると、コーティングダイス２４１で光ファイバ３に過度な抵抗がかかり、光ファイバ３が損傷したり、光ファイバ３が断線したりするおそれもある。このため、光ファイバ３の張力に異常が生じたときには、速やかに異常を検出できることが望ましい。
【００３３】
そこで、本実施形態では、間欠固定型の光ファイバテープ１にかかる張力を低減させた後、間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さを測定することによって、異常（光ファイバ３にかかる張力の異常や、線長差が生じていること）を検出している。ここで、張力を低減させた間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さから異常を検出できる理由について説明する。
【００３４】
図５は、線長差のある間欠固定型光ファイバテープ１の厚さ変化の説明図である。上図は、張力を低減させる前の状態（比較的強い張力がかかった状態）での間欠固定型の光ファイバテープ１の説明図である。下図は、張力を低減させた状態（比較的弱い張力がかかった状態）での間欠固定型の光ファイバテープ１の説明図である。なお、両図とも、テープ幅方向（光ファイバテープ１のテープ面に平行な方向）から光ファイバテープ１を見た図である。
【００３５】
図５の上図に示すように、間欠固定型の光ファイバテープ１を構成する光ファイバ３に線長差が生じている場合であっても、光ファイバテープ１に比較的強い張力がかかっていれば、各光ファイバ３が引っ張られて真っ直ぐの状態になる。この状態では、張力の異常な光ファイバ３も正常な光ファイバ３も真っ直ぐの状態であるため、光ファイバ３間には隙間が形成されていない。このため、この状態では光ファイバ３の線長差を観察することは困難である。
【００３６】
光ファイバテープ１の張力を低減させると、光ファイバ３が収縮する。このとき、異常な張力がかかっていた光ファイバ３は、正常な光ファイバ３よりも、多く収縮する。この結果、光ファイバテープ１の張力を低減させると、図５の下図に示すように、正常な光ファイバ３が厚さ方向に撓み変形する。このように、間欠固定型の光ファイバテープ１の光ファイバ３に線長差がある場合には、光ファイバテープ１の張力を低減させると、テープ幅方向（光ファイバテープ１のテープ面に平行な方向）から見た間欠固定型の光ファイバテープ１が厚く見えることになる。この現象は、連結部５が間欠的に配置された間欠固定型の光ファイバテープ１に特有の現象である（つまり、非連結部７の無い通常の光ファイバテープでは生じない現象である）。
【００３７】
本実施形態では、間欠固定型の光ファイバテープ１に特有の上記の現象を利用して、光ファイバ３の異常を顕在化させて、異常を検出する。本実施形態の製造システム１０は、間欠固定型の光ファイバテープ１にかかる張力を低減させた後、間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さを測定するために、図１に示すように、張力低減部３０及びテープ厚測定部４０を備えている。
【００３８】
張力低減部３０は、間欠固定型の光ファイバテープ１にかかる張力を低減させる装置である。張力低減部３０は、ダンサーローラー３１を備えている。光ファイバテープ１の張力を低減させる方法は、ダンサーローラー３１を用いたものに限られず、他の方法でも良い。張力低減部３０は、テープ厚測定部４０の上流側に配置されており、張力低減部３０によって張力の低減された光ファイバテープ１は、テープ厚測定部４０に供給されることになる。
【００３９】
なお、張力低減部３０とテープ形成部２０との間には、テープ形成部２０から光ファイバテープ１を引き取る引き取り機６１（引き取りローラ）が配置されている。引き取り機６１がテープ形成部２０から光ファイバテープ１を引き取ることによって、引き取り機６１よりも上流側の光ファイバテープ１の張力と、引き取り機６１よりも下流側の光ファイバテープ１の張力とを異ならせることができる。このため、張力低減部３０が光ファイバテープ１の張力を低減させても、引き取り機６１より上流側の光ファイバテープ１の張力は保持されるので、テープ形成部２０における光ファイバテープ１（又は光ファイバ３）の張力が低減しない。仮にテープ形成部２０における光ファイバテープ１の張力が低減してしまうと、光ファイバ３とコーティングダイス２４１との異常接触等の不具合を招くおそれがあるが、本実施形態では、このような不具合が生じずに済む。本実施形態では、引き取り機６１（引き取りローラ）があるため、張力低減部３０は、張力低減部３０から下流側の光ファイバテープ１の張力を低減させる装置となる。言い換えると、張力低減部３０は、張力低減部３０から巻き取り機６２（巻き取りドラム）までの間の光ファイバテープ１の張力を低減させる装置となる。
【００４０】
テープ厚測定部４０は、光ファイバテープ１の厚さを測定する装置である。テープ厚測定部４０は、例えばＣＣＤセンサ４２と照明装置４４とを備えるが、照明装置４４は無くても良い。ＣＣＤセンサ４２は、１次元センサ（ラインセンサ）でも良いし、２次元センサ（エリアセンサ）でも良い。また、テープの厚さを測定する機能の一部を制御部５０が果たしても良く、例えば制御部５０が、ＣＣＤセンサ４２の撮影画像における光ファイバテープ１のエッジ（光ファイバテープ１の上縁と下縁）を抽出することによって、光ファイバテープ１の厚さを測定しても良い。
【００４１】
図６Ａ及び図６Ｂは、光ファイバテープ１の経路とテープ厚測定部４０の位置関係の説明図である。図中には、正常な光ファイバテープ１が経路に正常にある状態を示している。
テープ厚測定部４０は、光ファイバテープ１の経路におけるテープ面に平行な方向から、光ファイバ３の厚さを測定する。ここで、「光ファイバテープ１の経路におけるテープ面」とは、正常な光ファイバテープ１が経路に正常にある状態での光ファイバテープ１のテープ面を意味する。このため、例えば光ファイバテープ１が経路に対して斜めの場合、「光ファイバテープ１の経路におけるテープ面」は変化せずに同じ面（同じ位置）であるが、「光ファイバテープ１の経路におけるテープ面」と実際のテープ面とは異なることになる。
【００４２】
テープ厚測定部４０は、張力低減部３０の下流側に配置されている。このため、テープ厚測定部４０は、張力の低減された光ファイバテープ１の厚さを測定することになる。
【００４３】
図７Ａは、線長差の無い間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さを測定している様子の説明図である。図７Ｂは、線長差のある間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さを測定している様子の説明図である。既に説明したように、間欠固定型の光ファイバテープ１の光ファイバ３に線長差がある場合には、光ファイバテープ１の張力を低減させると、テープ幅方向（光ファイバテープ１のテープ面に平行な方向）から見た間欠固定型の光ファイバテープ１が厚くなる。図７Ａに示すテープ厚をＤ１、図７Ｂに示すテープ厚をＤ２とし、閾値ＤｔｈをＤ１より大きくＤ２より小さく設定すれば（Ｄ１＜Ｄｔｈ＜Ｄ２）、テープ厚測定部４０の測定結果と閾値Ｄｔｈとを比較することによって、異常（光ファイバ３にかかる張力の異常や、線長差が生じていること）の有無を検出できることになる。
【００４４】
図７Ｃは、光ファイバテープ１が経路に対して斜めになった場合の説明図である。張力を低減させた線長差のある光ファイバテープ１（図５の下図参照）を送り方向に送ると、蛇行する光ファイバ３の影響等によって光ファイバテープ１が経路から跳ね上がる現象（線ぶれ）が生じ、図７Ｃに示すように光ファイバテープ１が経路に対して斜めになることがある。この結果、仮に光ファイバテープ１の厚さが変化していなくても、テープ厚測定部４０の測定するテープ厚Ｄ３が厚くなる。したがって、光ファイバ３の線長差に起因する線ぶれが生じた場合にも、テープ厚測定部４０の測定結果と閾値Ｄｔｈとを比較することによって、光ファイバの異常（光ファイバ３にかかる張力の異常や、線長差が生じていること）の有無を検出できることになる。
【００４５】
図８は、光ファイバテープ１の製造処理のフロー図である。
まず、制御部５０は、間欠固定型の光ファイバテープ１の製造を開始させる（Ｓ１０１）。このとき、制御部５０は、並列に並ぶ複数の光ファイバ３に張力をかけつつ間欠固定型の光ファイバテープ１をテープ形成部２０に形成させる。
【００４６】
次に、制御部５０は、間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さを測定する（Ｓ１０２）。このとき、制御部５０は、張力低減部３０によって間欠固定型の光ファイバテープ１の張力を低減させるとともに、張力を低減させた光ファイバテープ１の厚さをテープ厚測定部４０に測定させる。
【００４７】
次に、制御部５０は、測定された光ファイバテープ１の厚さ（テープ厚）と閾値Ｄｔｈとを比較する（Ｓ１０３）。テープ厚が閾値Ｄｔｈより小さければ（Ｓ１０３でＮＯ）、制御部５０は光ファイバテープ１の製造を継続する。
一方、テープ厚が閾値Ｄｔｈよりも大きければ（Ｓ１０３でＹＥＳ）、制御部５０は製造システム１０の動作を停止させる（Ｓ１０４）。テープ厚が閾値Ｄｔｈよりも大きい場合、光ファイバ３にかかる張力に異常があり、光ファイバテープ１を構成する光ファイバ３に線長差が生じていると考えられるため、製造システム１０の動作を停止させることによって、線長差のある光ファイバテープ１の製造を抑制できるとともに、光ファイバ３の損傷や断線を抑制できる。また、製造システム１０の動作を停止させることによって、コーティングダイス２４１の損傷も抑制できる。
【００４８】
製造停止後、作業者は、製造システム１０の点検や補修を行う（Ｓ１０５）。特に、光ファイバ３にかかる張力に異常があると考えられるため、作業者は、コーティングダイス２４１に供給される光ファイバ３の張力や、コーティングダイス２４１と光ファイバ３との位置関係などを点検し、補修する。他にも、作業者は、コーティングダイス２４１や光ファイバ３の静電気の除電や、コーティングダイス２４１における接着剤の供給圧などの調整などを行っても良い。
【００４９】
Ｓ１０５の製造システム１０の点検・補修の後、制御部５０は、間欠固定型の光ファイバテープ１の製造を再開させる（Ｓ１０６）。再開後においても、制御部５０は、間欠固定型の光ファイバテープ１のテープ厚測定と（Ｓ１０２）、テープ厚の異常検出と（Ｓ１０３）を継続する。
【００５０】
なお、上記の製造処理では、テープ厚の異常を検出したとき（Ｓ１０３でＹＥＳ）、制御部５０が製造システム１０の動作を停止させ（Ｓ１０４）、作業者が製造システム１０の点検・補修を行っていた（Ｓ１０５）。但し、テープ厚の異常を検出したときに（Ｓ１０３でＹＥＳ）、制御部５０が、製造システム１０の動作を停止させる代わりに、光ファイバ３の線速を下げたり、コーティングダイス２４１に供給される光ファイバ３の張力を調節したり、コーティングダイス２４１や光ファイバ３の静電気の除電をしたり、コーティングダイス２４１における接着剤の供給圧を調節したりする等して、製造システム１０（主にテープ形成部２０）の自動調整を行っても良い。
【００５１】
図９は、光ファイバテープ１の製造処理の変形例のフロー図である。変形例では、テープ厚の異常を検出したときに（Ｓ１０３でＹＥＳ）、制御部５０が、直ちに製造システム１０の動作を停止させるのではなく、光ファイバ３の線速を一旦下げて（Ｓ２０１）、線速を下げてもテープ厚が第２の閾値Ｄｔｈ２よりも大きかった場合に（Ｓ２０２でＹＥＳ）、製造システム１０の動作を停止させる（Ｓ１０４）。この変形例によれば、光ファイバ３の線速を下げたときに（Ｓ２０１）、テープ厚の異常が解消されれば（Ｓ２０２でＮＯ）、製造システム１０の動作を継続することができる。
【００５２】
・実施例１（線長差の無い間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さの測定）
図１に示す製造システム１０を用いて、並列に並ぶ１２本の光ファイバ３に張力をかけつつ、線長差の無い１２心の間欠固定型の光ファイバテープ１を形成し、テープ厚測定部４０により光ファイバテープ１の厚さを測定した。使用した光ファイバ３の直径は約２５０μｍであり、連結部５の長さ（図２の長さＬ１に相当）は１５ｍｍであり、非連結部７の長さ（図２の長さＬ２に相当）は１７ｍｍとした。なお、テープ厚測定部４０における光ファイバテープ１の張力を３通り（３００ｇｆ／１２心、２００ｇｆ／１２心、１００ｇｆ／１２心）に設定し、それぞれの張力でのテープ厚を測定した。
３通りの張力でのテープ厚の測定結果は、０．３ｍｍ〜０．５ｍｍの範囲内であった。
【００５３】
・実施例２（線長差のある間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さの測定）
図１に示す製造システム１０を用いて、並列に並ぶ１２本の光ファイバ３に張力をかけつつ、１２心の間欠固定型の光ファイバテープ１を形成し、テープ厚測定部４０により光ファイバテープ１の厚さを測定した。線長差をつけるために、間欠固定型の光ファイバテープ１を形成する際に１２本の光ファイバ３のうちの１番目の光ファイバ３にのみ追加荷重をかけることによって、１番目の光ファイバ３に他の光ファイバ３よりも高い張力をかけつつ、１２心の間欠固定型の光ファイバテープ１を形成した。この追加荷重は、５通り（０ｇｆ、５０ｇｆ、１００ｇｆ、１５０ｇｆ、２００ｇｆ）に設定した。追加荷重をかけつつ形成した間欠固定型の光ファイバテープ１の形成後、張力低減部３０において光ファイバテープ１の張力を１００ｇｆ／１２心に低減し、テープ厚測定部４０により光ファイバテープ１の厚さ（ｍｍ）を測定した。
また、線長差のある間欠固定型の光ファイバテープ１が形成されていることを確認するため、１番目の光ファイバ３に追加荷重をかけて形成した間欠固定型の光ファイバテープ１を１０ｍで切断し、切断された各光ファイバ３（１２本の光ファイバ３）の長さをそれぞれ測定した。測定した光ファイバ３の最大長と最短長との差を１０ｍで割った値を線長差（％）として評価した。なお、最短長の光ファイバ３は、追加荷重をかけた１番目の光ファイバ３であった。
【００５４】
図１０は、追加荷重に対するテープ厚及び線長差のグラフである。横軸は、１２本の光ファイバ３のうちの１番目の光ファイバ３のみにかけた追加荷重（ｇｆ）を示している。右側の縦軸は、テープ厚（ｍｍ）を示している。左側の縦軸は、線長差（％）を示している。
【００５５】
線長差のグラフの示す通り、追加荷重が増えるほど、線長差が大きくなることが確認された。これは、特定の光ファイバ３（ここでは１番目の光ファイバ３）に追加荷重をかけると、その光ファイバ３に他の光ファイバ３よりも高い張力がかかるため、線長差が生じたものと考えられる。
【００５６】
また、テープ厚のグラフの示す通り、追加荷重が増えるほど、間欠固定型の光ファイバテープ１が厚く測定されることが確認された。これにより、線長差が大きくなると、間欠固定型の光ファイバテープ１が厚く測定されることが確認された。
【００５７】
したがって、間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さの測定結果に基づいて、光ファイバ３にかかる張力に異常があることや、光ファイバテープ１を構成する光ファイバ３に線長差が生じていることを検出可能であることが確認された。なお、線長差の無い間欠固定型の光ファイバテープ１の厚さの測定結果は最大で０．５ｍｍであるため（実施例１）、図８のＳ１０３の閾値Ｄｔｈを０．５よりも大きい値（例えば０．５５程度）に設定すれば、測定されたテープ厚に基づいて、光ファイバ３にかかる張力に異常があることや、光ファイバテープ１を構成する光ファイバ３に線長差（例えば０．０５％以上の線長差）が生じていることを検出可能であることが確認された。
【００５８】
＝＝＝その他＝＝＝
上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更・改良され得ると共に、本発明には、その等価物が含まれることは言うまでもない。
【００５９】
前述の実施形態では、テープ厚測定部４０のＣＣＤセンサ４２及び照明装置４４が、テープ幅と平行な方向に配置されていた。但し、図１１に示すように、ＣＣＤセンサ４２及び照明装置４４が、テープ幅方向に対して斜めに配置されても良い。このようなテープ厚測定部４０であっても、経路におけるテープ面に平行な方向からテープ厚を測定できる。
【符号の説明】
【００６０】
１  光ファイバテープ、３  光ファイバ、
５  連結部、７  非連結部、１０  製造システム、
２０  テープ形成部、２２  光ファイバ供給部、２４  接着剤塗布部、
２４１  コーティングダイス、２４２  光ファイバ挿通穴、
２４４  間欠塗布部、２４４Ａ  接着剤除去部、２４４Ｂ  シャッター、
２６  光源、２６Ａ  仮硬化用光源、２６Ｂ  本硬化用光源、
３０  張力低減部、３１  ダンサーローラー、
４０  テープ厚測定部、４２  ＣＣＤカメラ、４４  照明装置、
５０  制御部、６１  引き取り機、６２  巻き取り機
【図１】
0006408389.tif 000002
【図２】
0006408389.tif 000003
【図３】
0006408389.tif 000004
【図４】
0006408389.tif 000005
【図５】
0006408389.tif 000006
【図６】
0006408389.tif 000007
【図７】
0006408389.tif 000008
【図８】
0006408389.tif 000009
【図９】
0006408389.tif 000010
【図１０】
0006408389.tif 000011
【図１１】
0006408389.tif 000012