(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料に対して放射線を透過させて行う測定に供される測定用治具を複数有する測定用治具セットであって、
互いに異なる深さであって前記試料に応じて設定された一定の深さを有する試料収容用の開口が、複数の前記測定用治具の各々に形成された、測定用治具セット。
【請求項２】
前記測定用治具の各々が、
前記開口が形成された収容部材と、
前記開口を覆って前記試料を保持自在であって放射線を透過可能な覆い部材と、
を備えた、請求項１に記載の測定用治具セット。
【請求項３】
前記測定用治具の各々の前記開口は貫通孔である、請求項２に記載の測定用治具セット。
【請求項４】
前記測定用治具の各々が、
前記覆い部材を前記収容部材に押さえつけることが可能であって前記開口に対向する部分は開放されている押さえ部材と、
を更に備えた、請求項２または３に記載の測定用治具セット。
【請求項５】
前記測定用治具の各々が、
前記測定用治具を測定装置のホルダーにフィッティングさせるスペーサーと、
を更に備えた、請求項１〜４のいずれかに記載の測定用治具セット。
【請求項６】
前記測定用治具の各々が、
測定装置のホルダーに対して嵌め込み自在な外装と、
を更に備えた、請求項１〜５のいずれかに記載の測定用治具セット。
【請求項７】
前記試料は粉末試料であり、
前記測定はＸ線吸光測定である、請求項１〜６のいずれかに記載の測定用治具セット。
【請求項８】
試料に対して放射線を透過させて当該試料を測定する方法であって、
互いに異なる深さであって前記試料に応じて設定された一定の深さを有する試料収容用の開口が形成された複数の測定用治具からなる測定用治具セットにおいて、前記測定用治具の各々の開口内に前記試料を収める収容工程と、
前記測定用治具の各々の開口内に収められて設定された一定の厚さとなった各々の前記試料に対して放射線を透過させて測定を行う測定工程と、
を有する、試料の測定方法。
【請求項９】
前記試料は粉末試料であり、
前記測定はＸ線吸光測定である、請求項８に記載の試料の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定用治具、試料の測定方法、および測定用治具セットに属する。
【背景技術】
【０００２】
材料開発において、材料の物性を詳細に解析することは特性発現メカニズムを理解する上で重要である。物性の解析に用いられる手法としては多くのものが知られている。その中でも、試料に対して放射線を透過させることによる物性の解析が知られている。放射線としては、イオン、電子、中性子、陽子、中間子などの粒子放射線や、ガンマ線、Ｘ線などの電磁放射線が知られているが、本明細書においてはＸ線を例示する。
【０００３】
試料に対してＸ線を透過させ、Ｘ線の吸収度合い（吸収スペクトル）により物性を解析する手法が、Ｘ線吸収微細構造（Ｘ−ｒａｙ  Ａｂｓｏｒｐｔｉｏｎ  Ｆｉｎｅ  Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ：ＸＡＦＳ）分析として知られている。当該分析は、材料中の注目する元素の価数や局所構造（配位数、原子間距離）の情報が得られ、試料の形態（固体、液体、気体）を選ばないため、多くの材料の解析に対して有効である。
【０００４】
ＸＡＦＳ分析は、実験室レベルで得られるＸ線や放射光施設で得られる輝度の高いＸ線を物質に照射して、Ｘ線の一部が物質に吸収された量を入射Ｘ線のエネルギーに対する吸収率として測定する手法である。実際には、入射エネルギーを変化させながら測定し、元素特有のエネルギーで吸収率が急激に変化する部分（吸収端）を計測する。なお、測定法としては、試料にＸ線を照射し、試料の前後に設置されたイオンチェンバー検出器でＸ線の変化を測定する透過法や、試料に照射した際に発生する蛍光Ｘ線を測定する蛍光法などが挙げられるが、一般には透過法が多く用いられている。
【０００５】
放射線を透過させることによる物性の解析全般に言えることでもあるのだが、特にＸＡＦＳ分析を行う場合、Ｘ線透過による吸収が最適になるように、試料の厚さを一定かつ所定の値にする必要がある。試料（の種類等々）によってＸ線透過による吸収が最適となる厚さが異なることは、非特許文献１のｐ．９４〜９６に記載されている。
【０００６】
その一方、粉末状の試料に対して測定を行う場合、従来だと、当該試料を加工して厚さが均一の被測定物とする必要があった。被測定物の一例を挙げると、試料と窒化ホウ素粉とを用いて希釈・混合を行い、錠剤成型機を用い、試料の厚さが均一となったタブレットを作製し、当該タブレットに対してＸ線を透過させていた。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】Ｘ線吸収分光法 −ＸＡＦＳとその応用− 著：太田俊明他、出版：アイピーシー ＩＳＢＮ４−９０１４９３−２１−３ Ｃ３０５４
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
前述のようにＸＡＦＳ測定では均一な厚さにするため、試料を被測定物としてのタブレットへと成型する必要がある。しかしながら、試料によっては、成型後の試料自体の弾性変形や暴露環境（温度、湿度、雰囲気）の影響で試料変質が起こり、それに起因し、タブレットが膨張し、タブレットの形状が崩壊してしまう。そのため、試料によってはタブレットへと成型することが極めて困難となり、その場合、当該試料に対しては良好な測定が困難となってしまう。
【０００９】
また、そもそも、大量の試料を測定する場合、従来の手法だと、タブレットを大量に作製する必要に迫られる。そのため、実際に測定する時間に加え、準備においても、試料をタブレットへと成型するための膨大な時間を要することになってしまう。
【００１０】
本発明の主な目的は、試料に対して放射線を透過させて行う測定を試料によらず迅速かつ良好に行うことにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明者の知見により得られた上記の課題を解決すべく、本発明者は検討を重ねた。現状、試料を、所定の厚さを有する被測定物としてのタブレットへと成型し、測定前において被測定物の形状を固定している。そして測定者が錠剤成型機を用いて当該成型を行うため、測定の準備に際して膨大な時間を要することになる。
【００１２】
上記の内容を鑑み、本発明者は、測定者（ひいては錠剤成型機）が当該成型の役割を担うのではなく、試料に対して放射線を透過させて行う測定に供されていた測定用治具に対して当該成型の役割を分担させるという全く新しい知見を得た。
【００１３】
以上の知見に基づいて成された本発明の態様は、以下の通りである。
本発明の第１の態様は、
試料に対して放射線を透過させて行う測定に供される測定用治具であって、
試料に応じて設定された一定の深さを有する試料収容用の開口が形成された、測定用治具である。
【００１４】
本発明の第２の態様は、第１の態様に記載の発明において、
前記開口が形成された収容部材と、
前記開口を覆って前記試料を保持自在であって放射線を透過可能な覆い部材と、
を備える。
【００１５】
本発明の第３の態様は、第２の態様に記載の発明において、
前記開口は貫通孔である。
【００１６】
本発明の第４の態様は、第２または第３の態様に記載の発明において、
前記覆い部材を前記収容部材に押さえつけることが可能であって前記開口に対向する部分は開放されている押さえ部材と、
を更に備える。
【００１７】
本発明の第５の態様は、第１〜第４のいずれかの態様に記載の発明において、
前記測定用治具を測定装置のホルダーにフィッティングさせるスペーサーと、
を更に備える。
【００１８】
本発明の第６の態様は、第１〜第５のいずれかの態様に記載の発明において、
測定装置のホルダーに対して嵌め込み自在な外装と、
を更に備える。
【００１９】
本発明の第７の態様は、第１〜第６のいずれかの態様に記載の発明において、
前記試料は粉末試料であり、
前記測定はＸ線吸光測定である。
【００２０】
本発明の第８の態様は、
試料に対して放射線を透過させて当該試料を測定する方法であって、
前記測定に供される測定用治具に形成された試料収容用の開口であって、前記試料に応じて設定された一定の深さを有する当該開口内に前記試料を収める収容工程と、
前記開口内に収められて設定された一定の厚さとなった前記試料に対して放射線を透過させて測定を行う測定工程と、
を有する、試料の測定方法である。
【００２１】
本発明の第９の態様は、第８の態様に記載の発明において、
前記試料は粉末試料であり、
前記測定はＸ線吸光測定である。
【００２２】
本発明の第１０の態様は、
試料に対して放射線を透過させて行う測定に供される測定用治具を複数有する測定用治具セットであって、
互いに異なる深さであって前記試料に応じて設定された一定の深さを有する試料収容用の開口が、複数の前記測定用治具の各々に形成された、測定用治具セットである。
【００２３】
本発明の第１１の態様は、
試料に対して放射線を透過させて行う測定に供される測定用治具であって、
前記試料に応じて設定された一定の幅を有する試料収容用の開口が形成された、測定用治具である。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、試料に対して放射線を透過させて行う測定を試料によらず迅速かつ良好に行う手法を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本実施形態の測定用治具（試料入り）を示す概略断面図であり、固定部材としてネジを用いた場合の図である。
【図２】本実施形態の測定用治具（試料入り）を示す概略断面図であり、固定部材としてクリップを用いた場合の図である。
【図３】本実施形態の収容部材を示す概略斜視図であり、各収容部材の厚さが試料に応じて設定された値となっている様子を示す図である。
【図４】本実施形態の試料の測定方法のうち収容工程を示す概略斜視図である。
【図５】本実施形態の試料の測定方法のうち測定工程を示す概略斜視図である。
【図６】変形例（その１）の測定用治具（試料入り）を示す概略断面図である。
【図７】変形例（その２）の測定用治具（試料入り）を示す概略断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本発明の実施の形態について説明する。本実施形態においては、次の順序で説明を行う。
１．測定用治具
１−１．収容部材
１−２．覆い部材
１−３．押さえ部材
１−４．固定部材
１−５．スペーサー
１−６．外装
２．試料の測定方法
２−１．収容工程
２−２．固定工程
２−３．測定工程
３．測定用治具セット
４．実施の形態に係る効果
５．変形例等
なお、本明細書においては「〜」は所定の値以上かつ所定の値以下のことを指す。
【００２７】
＜１．測定用治具＞
まず、本実施形態における測定用治具（別の言い方をすると試料ホルダー）は、試料に対して放射線を透過させて行う測定に供される。つまり、測定装置に対し、当該測定用治具へと試料がセットされたものを取り付けた上で、試料に対して放射線を透過させる。本実施形態における測定用治具は、その際に用いられるものである。
【００２８】
なお、放射線の種類としては、透過型の測定に使用可能なものであれば特に限定は無く、イオン、電子、中性子、陽子、中間子などの粒子放射線や、ガンマ線、Ｘ線などの電磁放射線等、上記で列挙した各種のものを使用可能である。先に述べたように、本実施形態においては一例としてＸ線を用い、吸光測定を行う場合を例示する。
【００２９】
本実施形態における測定用治具１は、図１に示すように、以下の構成を備える。図１は、本実施形態の測定用治具１（試料Ｓ入り。以降、明細書中にて符号は省略。）を示す概略断面図であり、固定部材５１，５２としてネジを用いた場合の図である。
・試料に応じて設定された一定の深さを有する試料収容用の開口（本例では貫通孔）が形成された収容部材２
・開口を覆って前記試料を保持自在であって放射線を透過可能な覆い部材３１，３２
・覆い部材３１，３２を収容部材２に押さえつけることが可能であって開口に対向する部分は開放されている押さえ部材４１，４２
・覆い部材３１，３２を収容部材２に固定自在である固定部材５１，５２
・測定用治具１を測定装置のホルダーＨにフィッティングさせるスペーサー（不図示）
・測定装置のホルダーＨに対して嵌め込み自在な外装（不図示）
以下、各構成について説明する。
【００３０】
１−１．収容部材２
本実施形態における収容部材２には試料収容用の貫通孔（以降、「開口２ｈ」とも称する。）が形成されている。当該開口２ｈに試料を収容した上で当該試料に対して放射線を透過させることにより測定が行われる。
【００３１】
ここで、本実施形態においては、上記の開口２ｈは、試料に応じて設定された一定の深さを有する。特に、開口２ｈが貫通孔の場合、収容部材２の厚さを試料に応じて設定することにより、開口２ｈへと試料を収容することにより、試料を一定の厚さの形状へと容易に成型することが可能となる。つまり、図３（ａ）〜（ｃ）に示すように、試料に応じて設定された一定の厚さ（ｔ１〜ｔ３、以降、ｔは試料に応じて設定された値とする。）であって、互いに厚さが異なる収容部材２を各種取り揃えておくのが好ましい。図３は、本実施形態の収容部材２を示す概略斜視図であり、各収容部材２の厚さが試料に応じて設定された値となっている様子を示す図である。
【００３２】
本実施形態の場合、後述の覆い部材３１，３２で貫通孔である開口２ｈを両側から覆い、収容部材２内において試料を一定の厚さの形状に保持し、これを被測定物とすることが可能となる。
つまり、試料が非成型物（粉体、液体、気体等々、以降「粉体」を例示する。）であったとしても、試料をタブレットへとわざわざ成型する必要が無くなる。その結果、試料に対して放射線を透過させて行う測定に供されていた測定用治具１に対して当該成型の役割を分担させることにより、試料に対して放射線を透過させて行う測定を試料によらず迅速かつ良好に行うことが可能となる。
【００３３】
「試料に応じて設定された一定の深さ」の具体的な内容としては、先にも述べたように、非特許文献１のｐ．９４〜９６に記載されている。
上記深さの具体例として、ＢＮ粉（希釈用）に０．１ｍｏｌ／Ｌの銅粉（分析試料）を混合した場合を例示する。その場合の収容部材２の厚さは以下のように算出する。ただ、以下の例はあくまで一例であり、その他の具体的な手法で厚さを設定してももちろん構わない。
【００３４】
初めに各元素の質量吸収係数を求める。Ｘ線に対する質量吸収係数μＭはＶｉｃｔｏｒｅｅｎの式（式１）で表すことができる。
μＭ＝Ｃｉλ３−Ｄｉλ４  ・・・（式１）
Ｃｉ，Ｄｉ：Ｖｉｃｔｏｒｅｅｎ係数
λ：Ｘ線の波長（Å）
この時、銅  Ｋ吸収端の高エネルギー側のＶｉｃｔｏｒｅｅｎ係数をＣ１，Ｄ１、銅  Ｋ吸収端の低エネルギー側のＶｉｃｔｏｒｅｅｎ係数をＣ２，Ｄ２とした時の各元素のＶｉｃｔｏｒｅｅｎ係数は非特許文献１のｐ．２８０〜２８３に記載されている下表のようになる。
【表１】
0006372665.tif 000002
また、λは電磁波のエネルギーＥの式である下記の（式２）から下記の（式３）のように表すことができる。
Ｅ＝ｈν＝ｈｃ／λ  ・・・（式２）
ｈ：プランク定数  ６．６２６０７×１０−３４（Ｊｓ）  
ν：振動数  
ｃ：真空中の光速  ２．９９７９２４５８×１０８（ｍ／ｓ）  
λ：真空中の電磁波の波長（ｍ）
λ（ｎｍ）＝１２４０／Ｅ（ｅＶ）  ・・・（式３）
したがって銅の吸収端は８９８０ｅＶであるので式３から波長λは１．３８（Å）と計算される。
【００３５】
次に、Ｖｉｃｔｏｒｅｅｎ係数と波長を（式１）に代入して銅の質量吸収係数を求める。
銅の吸収端の低エネルギー側の質量吸収係数はμＭ（Ｃｕ，ｌｏｗＥ）＝Ｃ２λ３−Ｄ２λ４≒３８．２（ｃｍ２／ｇ）となり、銅の吸収端の高エネルギー側の質量吸収係数はμＭ（Ｃｕ，ｈｉｇｈＥ）＝Ｃ１λ３−Ｄ１λ４≒２８７（ｃｍ２／ｇ）となる。
【００３６】
同様に（式１）を用い、ＢＮに関しても質量吸収係数を求める。
ホウ素単独の場合μＭ（Ｂ）＝Ｃ１λ３−Ｄ１λ４≒１．６（ｃｍ２／ｇ）となり、窒素単独の場合μＭ（Ｎ）＝Ｃ１λ３−Ｄ１λ４≒５．３（ｃｍ２／ｇ）となる。そして、ＢＮの質量吸収係数は、上記ホウ素、窒素単独の算出結果から以下のようになる。
μＭ（ＢＮ）＝１０．８１／（１０．８１＋１４）×μＭ（Ｂ）＋１４／（１０．８１＋１４）×μＭ（Ｎ）≒３．７（ｃｍ２／ｇ）
【００３７】
最後に収容部材２の厚さを求める。Ｘ線の吸収は以下の式で表すことができる。
−Ｉｎ（Ｉ／Ｉ０）＝μＭρｘ＝μｘ  ・・・（式４）
Ｉ０：入射Ｘ線強度
Ｉ：透過Ｘ線強度
ρ：試料の密度（ｇ／ｃｍ３）
ｘ：試料の厚さ（ｃｍ）
μＭ：質量吸収係数（ｃｍ２／ｇ）
μ：線吸収係数（ｃｍ−１）
（式４）を変形すると以下のようになる。
μｘ＝μＭρｘ  ・・・（式５）
なお、混合物や化合物の場合、質量吸収係数μＭは以下のようになる。
【数１】
0006372665.tif 000003
別に測定した試料とＢＮの混合体の密度ρは１（ｇ／ｃｍ３）であり、銅の重量分率はｗ＝６３．５×０．１（ｍｏｌ）×１０−３（ｍ３）＝６．３５×１０−３であるので、銅吸収端直後の全吸収μｘ（ｈｉｇｈＥ）は（式５）から以下のようになる。
μｘ（ｈｉｇｈＥ）＝｛μＭ（ＢＮ）（１．０−ｗ）＋μＭ（Ｃｕ，ｈｉｇｔＥ）ｗ｝ρｘ≒５．５０ｘ
その結果、銅吸収端直後の全吸収を理想とされるμｘ＝４すなわちμｘ（ｈｉｇｈＥ）＝５．５０ｘ＝４とすると、ｘ＝４／５．５０≒０．７３（ｃｍ）＝７．３（ｍｍ）となる。したがって、この場合の収容部材２の最適な厚さは７．３（ｍｍ）と算出される。
【００３８】
なお、銅吸収端直前の全吸収μｘ（ｌｏｗＥ）としては以下のようになる。
μｘ（ｌｏｗＥ）＝｛μＭ（ＢＮ）（１．０−ｗ）＋μＭ（Ｃｕ，ｌｏｗＥ）ｗ｝ρｘ＝｛３．７×（１．０−０．００６３５）＋３８．２×０．００６３５｝×１×０．７３＝２．８６
その結果、吸収端の立ち上りΔμｔは以下のようになる。
Δμｔ＝μｘ（ｈｉｇｈＥ）−μｘ（ｌｏｗＥ）＝１．１４
つまり、収容部材２の厚さが上記の値を有する場合、Δμｔは理想値である１に近くなる。そのため、良好なＸ線吸光測定が行える。
【００３９】
ちなみに、上記の例においては、「試料に応じて設定された一定の深さ」の最適値が７．３（ｍｍ）なのであって、必ずこの値と寸分違わないようにしなければならないわけではない。例えば、上記のΔμｔで言うと、０．７〜１．３（好ましくは０．８〜１．２）の範囲に収まるのならば十分許容範囲である。また、厚さの値（ｍｍ）で言うと、最適値の±３０％内（好ましくは±２０％内、さらに好ましくは±１０％内）に収まる寸法が収容部材２の厚さに採用されていれば、本実施形態の効果を十分に奏する。
【００４０】
なお、開口２ｈ（貫通孔）の平面視の形状としては、円形でも矩形でも問わない。良好な放射線の透過測定が実施可能ならば特に制限は無い。また、径については、Ｘ線の径に応じて適宜設定すればよい。
【００４１】
また、上記の開口２ｈが形成されているのならば、収容部材２の形状や材質には限定は無い。例えば、金属、高分子材料（樹脂）、セラミックス等を採用しても構わない。なお、本実施形態においては、アルミ板に貫通孔が形成されたものを収容部材２として用いる。
【００４２】
１−２．覆い部材３１，３２
本実施形態における覆い部材３１，３２は、上記の開口２ｈを覆い、収容部材２内において試料を一定の厚さの形状に保持するものである。本実施形態においては開口２ｈは貫通孔であることから、収容部材２の両主面における開口部分を覆うことになる。そのため、本実施形態においては、２つの覆い部材３１，３２を用意するのが好ましい。
【００４３】
その上で、当該覆い部材３１，３２は、放射線を透過可能とする。試料に対して放射線を透過させる際に自ずと貫通孔の両側の覆い部材３１，３２を透過する必要があるためである。透過の度合いについては透過測定を正常に行うことができれば特に限定は無いが、例えば透過率が８０％以上であれば十分である。また、覆い部材３１，３２の厚さとしては、試料の形状を保持しやすくするため１０μｍ〜５００μｍが好ましい。
【００４４】
上記の機能を有するのならば、覆い部材３１，３２の形状や材質には限定は無い。例えば、覆い部材３１，３２としては、ポリエチレンやＰＥＴなどの高分子フィルム（樹脂フィルム）や、カーボン膜またはカーボン繊維を用いた炭素繊維強化プラスチック板や、それらの組み合わせ等を、覆い部材３１，３２として用いても構わない。本実施形態においてはＰＥＴフィルムを覆い部材３１，３２として用いる場合を例示する。
【００４５】
１−３．押さえ部材４１，４２
本実施形態における押さえ部材４１，４２は、覆い部材３１，３２を収容部材２に押さえつけることが可能なものである。押さえ部材４１，４２を設けることにより、覆い部材３１，３２がカーボン膜や樹脂フィルムである場合に生じやすい撓みを解消することが可能となる。
【００４６】
なお、押さえ部材４１，４２において、開口２ｈに対向する部分は開放されているのが好ましい。つまり図１に示すように、収容部材２と同様に、押さえ部材４１，４２においても貫通孔であるところの開口４１ｈ，４２ｈが形成されているのが好ましい。そして押さえ部材４１，４２の開口４１ｈ，４２ｈの位置は、収容部材２と重ね合わせたときに収容部材２の開口２ｈと重なる位置とするのが好ましい。こうすることにより、試料に対して放射線を透過させる際に、測定用治具１に起因する放射線の線量の減衰をもたらすおそれを低減できる。
【００４７】
押さえ部材４１，４２の形状や材質、更には押さえ部材４１，４２の開放部分の形状には限定は無いが、例えば、板状の樹脂であり且つ収容部材２と同様の形状とすることが挙げられる。もちろん、測定に支障がなければ、押さえ部材４１，４２の開口４１ｈ，４２ｈの大きさと収容部材２の開口２ｈの大きさを相違させても構わないし、図１に示すように押さえ部材４１，４２の開口４１ｈ，４２ｈの大きさの方を小さくしても構わない。ただ、本実施形態においては開口４１ｈ，４２ｈは貫通孔であることから、収容部材２の両主面における開口部分に覆い部材３１，３２が配される。そのため、本実施形態においては、２つの押さえ部材４１，４２を用意するのが好ましい。
【００４８】
１−４．固定部材５１，５２
本実施形態における固定部材５１，５２は、覆い部材３１，３２を収容部材２に固定自在である。固定部材５１，５２の形状や材質にも特に限定は無い。固定部材５１，５２としては例えばネジ（図１）やクリップ（図２）が挙げられる。もちろん、固定部材５１，５２として接着剤を使用しても構わない。
【００４９】
１−５．スペーサー
本実施形態におけるスペーサーは、測定用治具１を測定装置のホルダーＨにフィッティングさせるためのものである。本実施形態の測定用治具１は、先にも述べたように、貫通孔の深さ（ひいては収容部材２の厚さ）が試料に応じて設定されている。それ故、本実施形態の測定用治具１が、既存の測定装置のホルダーＨにそのまま嵌まるとは限らない。そこで、本実施形態においては、測定用治具１が上記のスペーサーを含むのが好ましい。当該スペーサーは、収容部材２の厚さが試料に応じて設定されているからこそ設けられるものである。
【００５０】
なお、当該スペーサーの形状や材質にも特に限定は無く、樹脂製のものを用いても構わない。また、上記の押さえ部材４１，４２が当該スペーサーの役割を担うようにしても構わない。
【００５１】
１−６．外装
本実施形態における外装は、測定装置のホルダーＨに対して嵌め込み自在なものである。当該外装の形状や材質にも特に限定は無く、アルミ製のものを用いても構わない。また、上記のスペーサー、押さえ部材４１，４２や固定部材５１，５２の役割を当該外装に担わせても構わない。
【００５２】
＜２．試料の測定方法＞
本実施形態における試料の測定方法は、以下の工程を有する。
・収容部材２の開口２ｈ内に試料を収める収容工程
・収容部材２に覆い部材３１，３２を固定する固定工程
・開口２ｈ内に収められて設定された一定の厚さとなった前記試料に対して放射線を透過させて測定を行う測定工程
なお、以下に特記の無い内容は＜１．測定用治具１＞と述べた内容と同様であるため説明を省略する。
【００５３】
２−１．収容工程
本工程においては、測定に供される測定用治具１（更に言うと収容部材２）に形成された試料収容用の開口２ｈであって、試料に応じて設定された一定の深さを有する当該開口２ｈ内に試料を収める。ちなみに本工程は、被測定物の作製工程という側面もある。
以下、図４を用いて、本工程における具体的な手順の一例を示す。図４は、本実施形態の試料の測定方法のうち収容工程を示す概略斜視図である。
【００５４】
まず、２つ用意していたうちの一つである押さえ部材４１を作業台の上に載置する。押さえ部材４１の開口４１ｈ（貫通孔）の片側を覆うように、２つ用意していたうちの一つである覆い部材３１を配置する（図４（ａ））。その後、その上に収容部材２を載置する（図４（ｂ））。そして、載置された収容部材２における開口２ｈに、粉体の試料が開口２ｈからわずかにあふれる程度に試料を入れる（図４（ｃ））。そして、収容部材２の表面において、試料を擦り切る（図４（ｄ））。こうすることにより、粉体の試料からタブレットを形成しなくとも成型された被測定物を得ることができる。
【００５５】
その後、収容部材２の開口２ｈを覆うように別の覆い部材３２を配置する（図４（ｅ））。そして、別の押さえ部材４２をその上に配置する（図４（ｆ））。その際、覆い部材３２を挟んで、収容部材２の開口２ｈと押さえ部材４２の開口４２ｈとが対向するように押さえ部材４２を配置する。なお、本工程においては、押さえ部材４１，４２が上記のスペーサーの役割を兼ねる場合について例示する。
【００５６】
２−２．固定工程
その後、図１や図２に記載のような固定部材５１，５２を、貫通孔を挟んで各部材の両端に設置し、覆い部材３１，３２および押さえ部材４１，４２を収容部材２へと固定し、収容部材２の開口２ｈ内へと試料を保持する。
【００５７】
２−３．測定工程
図５は、本実施形態の試料の測定方法のうち測定工程を示す概略斜視図である。その後、図５（ａ）に示すように、固定部材５１，５２が設けられた状態で外装を装着する。なお、本例においては、外装が固定部材５１，５２の役割を兼ねる例を挙げている。
【００５８】
次に、図５（ｂ）に示すように、上記の外装を備えた測定用治具１をＸ線吸光測定装置のホルダーＨへと装着する。その後、測定を行う。その際、Ｘ線が測定用治具１の各部材における開口２ｈ，４１ｈ，４２ｈを通過するようにホルダーＨの位置を設定する。Ｘ線吸光測定を行う場合、被測定物である試料に照射されるＸ線のエネルギーを低エネルギー側から高エネルギー側へと変化させる。この時、試料の前に設置した検出器と透過してきたＸ線を捉える検出器とでＸ線強度比を測定し、Ｘ線吸光度を示す分析データ（測定データ）が得られる。
【００５９】
＜３．測定用治具セット＞
＜１．測定用治具１＞で述べたように、本実施形態における測定用治具１においては、試料に応じて設定された一定の深さを有する試料収容用の開口２ｈであるところの貫通孔が形成されている。つまり、本実施形態における測定用治具１（更に言うと収容部材２）は、図３に示すように、試料に応じて各種取り揃えられている。具体的に言うと、試料に対して放射線を透過させて行う測定に供される測定用治具１を複数有する測定用治具セットであって、互いに異なる深さであって試料に応じて設定された一定の深さを有する試料収容用の開口２ｈが、複数の前記測定用治具１の各々に形成されている。
【００６０】
そのため、試料に応じて各種の深さの開口２ｈが形成された収容部材２を各種取り揃えたセットにおいても、本発明の技術的思想が反映されており、測定用治具１と同様の、以下に述べる効果を奏する。
【００６１】
＜４．実施の形態による効果＞
本実施形態により、主に以下の効果を奏する。
まず、試料を予め成型しておく必要がなくなる。例えば、試料を被測定物としてのタブレットへと成型する必要がなくなる。そのため、成型後の弾性変形や試料変質に起因した形状の崩壊のおそれそのものを排することが可能となる。
【００６２】
また、そもそも、タブレットを大量に作製する必要もなく、試料を実際に測定する時間のみ要すれば測定データを取得することが可能となる。
【００６３】
以上の結果、本実施形態によれば、試料に対して放射線を透過させて行う測定を試料によらず迅速かつ良好に行う手法を提供することが可能となる。
【００６４】
＜５．変形例等＞
本発明の技術的範囲は上述した実施の形態に限定されるものではなく、発明の構成要件やその組み合わせによって得られる特定の効果を導き出せる範囲において、種々の変更や改良を加えた形態も含む。
【００６５】
（収容部材２の開口２ｈが非貫通孔）
本実施形態においては開口２ｈが貫通孔である場合について例示した。その一方、開口２ｈが非貫通孔である場合であっても本発明の効果を奏する。その例を示したのが図６である。図６に示すように、本例では、収容部材２の開口２ｈの底をＸ線が透過した後、所定の一定の厚さとなった試料（被測定物）を透過する。収容部材２の開口２ｈの底はＸ線を透過可能（例えば透過率８０％以上）とする必要はあるが、こうすることにより試料をタブレットに成型せずとも厚さ一定の被測定物を形成することが可能となる。また、図６に示すように、天地方向の地の方向からＸ線を照射して天の方向で受光する構成を測定装置が採用する場合、自重により開口２ｈ内に試料が保持されることになり、覆い部材３１，３２が不要となる。用いるとしても、１つの覆い部材３１または３２を設ければよい。押さえ部材４１，４２についても同様である。なお、図６とは逆に、天地方向の天の方向からＸ線を照射して地の方向で受光する構成を測定装置が採用してももちろん構わない。
【００６６】
また、本実施形態においては開口２ｈが試料に応じて設定された一定の「深さ」を有する場合を例示した。その一方、開口２ｈが試料に応じて設定された一定の「幅」を有する場合であっても本発明の効果を奏する。その例を示したのが図７である。図７に示すように、本例では、収容部材２の側面に開口２ｈを形成している。収容部材２の両主面において試料が配される部分に対応する部分をＸ線が透過可能（例えば透過率８０％以上）とすべく例えば高分子材料から収容部材２を作製する必要はあるが、こうすることにより試料をタブレットに成型せずとも厚さ一定の被測定物を形成することが可能となる。また、本例の場合、図７に示すように、自重により開口２ｈ内に試料が保持されることになり、覆い部材３１，３２が不要となる。
【００６７】
なお、収容部材２の開口２ｈが非貫通孔である場合、覆い部材３は上記で列挙したフィルムではなく開口２ｈを塞ぐ詰め物を使用しても構わない。
【００６８】
（押さえ部材４１，４２・スペーサー・外装）
押さえ部材４１，４２・スペーサー・外装は、あくまで具備するのが好ましい部材であり、これらの部材を設けない場合であっても、収容部材２にこれらの機能を備えさせることによりこれらの部材は省略可能である。また、覆い部材３１，３２に関しても、図６や図７の例のように自重により試料を保持自在な構造を有するのならば省略可能である。
【００６９】
（試料）
本実施形態においては試料が粉体である場合を例示した。上記の＜２．試料の測定方法＞で示すように、試料が粉体である場合の方が作業し易い。その一方で、試料が粉体以外の例でも本発明の技術的思想を適用し得る。例えば、液体の試料やゲル状の試料を上記の開口に収容する場合が考えられる。
【００７０】
（測定）
本実施形態においてはＸ線吸光測定を例示したが、先に述べたように、試料に対して放射線を透過させることで行われる測定に対し、本発明の技術的思想を適用可能である。Ｘ線吸光測定以外の測定としては、Ｘ線回折測定が挙げられる。そのため、本発明はＸ線吸光測定に限定されることはない。
【符号の説明】
【００７１】
１………………測定用治具
２……………………収容部材
２ｈ…………………収容部材の開口（貫通孔）
３１，３２…………覆い部材
４１，４２…………押さえ部材
４１ｈ，４２ｈ……押さえ部材の開口（貫通孔）
５１，５２…………固定部材
Ｓ………………試料（被測定物）
Ｈ………………ホルダー
【図１】
0006372665.tif 000004
【図２】
0006372665.tif 000005
【図３】
0006372665.tif 000006
【図４】
0006372665.tif 000007
【図５】
0006372665.tif 000008
【図６】
0006372665.tif 000009
【図７】
0006372665.tif 000010