(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
埋設金属体の近くに設置されこの埋設金属体に電気的に接続されたクーポンのクーポン電流を、商用周波数の１周期に当たる単位計測時間で設定サンプリング間隔毎に計測し、
前記単位計測時間内での前記クーポン電流の計測値がアノード側である時間の前記単位計測時間に対する割合をアノード電流比率として求め、
当該アノード電流比率によって埋設金属体の交流腐食リスクを評価することを特徴とする埋設金属体の交流腐食リスク計測評価方法。
【請求項２】
埋設金属体の近くに設置されこの埋設金属体に電気的に接続されたクーポンのクーポン電流を計測し、
商用周波数の１周期に当たる単位計測時間で設定サンプリング間隔毎に計測された前記クーポン電流の計測値が、
ｉ）前記単位計測時間内での前記クーポン電流の計測値の最大値出現時刻と最小値出現時刻の時間差が前記単位計測時間の１／２であること、
ii）前記単位計測時間内での前記クーポン電流の計測値の最大値と最小値の極性が反転していること、
を共に充たす場合に、
前記単位計測時間内での前記クーポン電流の計測値がアノード側である時間の前記単位計測時間に対する割合をアノード電流比率として求め、
当該アノード電流比率によって埋設金属体の交流腐食リスクを評価することを特徴とする埋設金属体の交流腐食リスク計測評価方法。
【請求項３】
上記ｉ）ii）に加えて、下記条件iii）を充たす場合に、前記アノード電流比率を求めることを特徴とする請求項２記載の交流腐食リスク計測評価方法。
iii）前記単位計測時間内での前記クーポン電流の計測値から下記式で求められるひずみ率εが閾値以下の場合、
ε＝|Ｉave−|Ｉp||／|Ｉp|
但し、Ｉave：前記単位計測時間における前記計測値の平均値、Ｉp：前記単位計測時間における前記計測値の最大値と最小値の中間値
【請求項４】
前記単位計測時間に計測された前記クーポン電流の計測値からクーポン交流電流密度Ｉa.c.を求め、
前記単位計測時間が複数連続する計測区分毎に前記クーポン交流電流密度Ｉa.c.の最大値Ｉa.c.maxを抽出し、
この最大値Ｉa.c.maxを構成する前記クーポン電流の計測値から前記アノード電流比率を求めることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の交流腐食リスク計測評価方法。
【請求項５】
前記計測区分が複数連続する計測時間内で、
前記最大値Ｉa.c.maxを複数抽出し、
個々の前記最大値Ｉa.c.max毎に求められる前記アノード電流比率を設定された閾値と比較し、
前記閾値より大きい又は前記閾値以上の前記アノード電流比率を有する前記最大値Ｉa.c.maxの数によって、交流腐食に対する優先的な予防保全を行うか否かを判断することを特徴とする請求項４記載の交流腐食リスク計測評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、埋設金属体の交流腐食リスク計測評価方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
カソード防食された埋設金属パイプラインなどの埋設金属体のカソード防食状況や腐食リスクを計測評価する方法として、クーポン電流密度の計測値に基づく評価方法が一般に知られている。これは、埋設金属体のコーティング欠陥部を模擬したクーポンと呼ばれる埋設金属体と同材料の金属片を用い、これをコーティングが施された埋設金属体に電気的に接続して埋設金属体の近傍に埋設し、クーポンと埋設金属体とを接続する電線を流れる電流（クーポン電流）を計測することでクーポン直流電流密度Id.c.とクーポン交流電流密度Ia.c.を求め、その計測時間平均値（Id.c.ave，Ia.c.ave）を、クーポン電流密度を指標としたカソード防食基準と照査している。
【０００３】
その際、クーポン交流電流密度Ia.c.による交流腐食リスクの評価では、クーポン電流の計測値が商用周波数（例えば、50Hz）の正弦波に該当するか否かの判別がなされており、以下の(i)，(ii)が共に成立するときに商用周波数の正弦波に該当するとの判別がなされている（下記特許文献１参照）。(i)単位計測時間（20ms）内で計測された計測値の最大値と最小値の出現時刻の時差が１／２・単位計測時間（10ms）である。(ii)単位計測時間（20ms）内で計測された計測値において、（最大値）−（平均値）＝（平均値）−（最小値）となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１９０６５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
クーポン電流の極性は、電解質からクーポンの向きに流れる電流（カソード電流）をプラスとし、クーポンから電解質の方向に流れる電流（アノード電流）をマイナスとしている。クーポン電流密度により交流腐食リスクを評価する場合に、クーポン電流の計測値波形（計測値の時系列変化）が商用周波数の正弦波に該当するか否かの判別は必要であるが、更に重要な判別要素として、計測値波形の極性が反転していること（最大値がプラス値であり最小値がマイナス値であること）を必須要件とすべきである。これは、交流腐食の発生メカニズムを考えた場合に、埋設金属体の局所的な表面でのアノード電流とカソード電流の繰り返しにより表面粗さが増して金属（鉄）の面が露出し、アノード電流に伴って金属が金属イオンになる（鉄が鉄イオンになる）アノード反応の蓄積こそが交流腐食であると考えられるからである。
【０００６】
一方、従来のクーポン電流密度による交流腐食リスクの評価は、一定の計測区分（例えば、10s）毎にクーポン交流電流密度Ia.c.の最大値Ia.c.maxを求め、その最大値の計測時間（例えば、１時間）平均値を求めて、その平均値を基準値（ISO 15589-1であれば30A/m2）と比較することで、交流腐食リスクの有無を評価していた。
【０００７】
しかしながら、前述した平均値が基準値以内に収まっていたとしても、交流電気鉄道車両の運行の影響などのように、クーポン交流電流密度の変動が大きい現象が影響しているような場合には、短時間のクーポン電流密度の変動の中に交流腐食に影響するアノード電流が多く含まれている懸念があり、平均値と基準値との比較だけでは、リスク管理が十分であるとは言えない。特に、交流腐食発生の基になる金属が金属イオンになる（鉄が鉄イオンになる）アノード反応は不可逆反応であるから、アノード反応の蓄積を定量的に把握することが交流腐食リスクをより精緻に評価する上で重要になる。
【０００８】
本発明は、このような新たな知見の基に提案されたものであり、アノード反応の蓄積を定量的に把握することで、より精緻に交流腐食リスクを評価することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
このような目的を達成するために、本発明による交流腐食リスク計測評価方法は、以下の構成を具備するものである。
埋設金属体の近くに設置されこの埋設金属体に電気的に接続されたクーポンのクーポン電流を、商用周波数の１周期に当たる単位計測時間で設定サンプリング間隔毎に計測し、前記単位計測時間内での前記クーポン電流の計測値がアノード側である時間の前記単位計測時間に対する割合をアノード電流比率として求め、当該アノード電流比率によって埋設金属体の交流腐食リスクを評価することを特徴とする埋設金属体の交流腐食リスク計測評価方法。
【発明の効果】
【００１０】
このような特徴を有する本発明の交流腐食リスク計測評価方法は、アノード電流比率という新たな評価指標を導入することで、アノード反応の蓄積を定量的に把握して、より精緻に交流腐食リスクを評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】単位計測時間内で計測されたクーポン電流の計測値（計測値波形）の一例を示した説明図である。
【図２】本発明の実施形態に係る交流腐食リスク計測評価方法を具体的に示した説明図である。
【図３】本発明の実施形態に係る交流腐食リスク計測評価方法を実施するためのシステム構成を示した説明図である。
【図４】本発明の実施形態に係る交流腐食リスク計測評価方法のフローを示した説明図である。
【図５】本発明の実施形態に係る交流腐食リスク計測評価方法を示した説明図（アノード電流比率とクーポン交流電流密度の最大値の組み合わせを表すグラフ）である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。交流腐食リスクの計測評価においては、商用周波数の１周期に当たる単位計測時間Tsを設定して、その単位計測時間Ts内で設定サンプリング間隔毎にクーポン電流を計測する。クーポン電流の計測は、周知のように、計測評価対象となる埋設金属体の近くにクーポンを設置して、このクーポンと埋設金属体とを電気的に接続することで計測することができる。
【００１３】
単位計測時間Tsは、商用周波数が50Hzの場合には20msであり、商用周波数が60Hzの場合は16.7msであり、商用周波数が16-2/3Hzの場合には60msである。設定されるサンプリング間隔は、交流電気鉄道車両の運行などの高速現象の影響を把握するためには、0.1ms程度にすることが好ましい。計測されるクーポン電流の極性は、電解質からクーポンの向きに流れる電流（カソード電流）をプラスとし、クーポンから電解質の向きに流れる電流（アノード電流）をマイナスとする。
【００１４】
図１は、前述した単位計測時間Ts内で計測されたクーポン電流の計測値（計測値波形）I(t)の一例を示している。この例では、単位計測時間Ts内の出現時刻tmaxで最大計測値I(tmax)となり、出現時刻tminで最小計測値I(tmin)となっている。このような計測値I(t)が、交流腐食リスクに影響を及ぼすか否かは、以下のｉ）ii）或いはｉ）〜iii）の条件をＡＮＤ条件で充たすか否かで判断される。
【００１５】
ｉ）最大計測値I(tmax)の出現時刻tmaxと最小計測値I(tmin)の出現時刻tminの時間差Δtが単位計測時間Tsの約１／２である。例えば、単位計測時間Tsが20msの場合にはΔtが約10msである。
【００１６】
ii）最大計測値I(tmax)と最小計測値I(tmin)の極性が反転している。すなわち、I(tmax)＞０，I(tmin)＜０である。
【００１７】
iii）下記式（１）によりひずみ率εを求め、このひずみ率εが設定された閾値以下である。このひずみ率εは、計測値I(t)の波形が商用周波数の正弦波からどれだけひずんでいるのかを定量的に示す値である。ひずみ率εが低いほど、商用周波数の正弦波に近い。下記式（１）におけるIaveは、計測値I(t)の単位計測時間Ts内での平均値（Tは、単位計測時間のサンプル数）であり、Ipは最大計測値I(tmax)と最小計測値I(tmin)の中点値である。
【００１８】
【数１】
0006403618.tif 000002
【００１９】
そして、前述したｉ）ii）の条件又はｉ）〜iii）の条件をＡＮＤ条件で充たしている場合で、計測値I(t)がアノード側（I(t)＜０或いはI(t)≦０）である時間Tanを求める。時間Tanは、t=0からt=TsでのI(t)を正，負，０に振り分けて、負（或いは負又は０）となる計測値I(t)のサンプル数とサンプリング間隔から算出することができる。そして、単位計測時間Tsに対する時間Tanの比率、α＝Tan／Tsでアノード電流比率αを求める。
【００２０】
このアノード電流比率αは、交流腐食の基になるアノード反応の蓄積を定量的に表すものであり、アノード電流比率αが高い状態が計測時間内でどの程度発現しているかを把握することで、交流腐食リスクの優先的な予防保全を行うか否かを定量的に判断することができる。
【００２１】
以下、このアノード電流比率αに基づく具体的な計測評価方法を説明する。ここでは、単位計測時間Tsに計測されたクーポン電流の計測値I(t)からクーポン交流電流密度Ｉa.c.を求め、単位計測時間Tsが複数連続する計測区分毎にクーポン交流電流密度Ｉa.c.の最大値Ｉa.c.maxを抽出し、この最大値Ｉa.c.maxを構成するクーポン電流の計測値I(t)からアノード電流比率αを求める。
【００２２】
図２によって、より具体的に説明する。図２においては、商用周波数の１周期に当たる単位計測時間Tsを20msとし、単位計測時間Ts内でのサンプリング間隔を0.1ms（サンプル数200個）としており、単位計測時間Tsがｎ１個連続する計測区分を設定し、計測区分がｎ個連続した計測時間Tmを設定している。
【００２３】
設定例として、計測時間Tmを１時間とすると、計測時間Tmを３６０等分した10secの計測区分を設定し、10secの計測区分内に４００個（8sec）の連続した単位計測時間Ts（20msec）を設定することができる。
【００２４】
単位計測時間Ts毎に求められるクーポン交流電流密度Ia.c.は、下記（２），（３）式によって求められる。（２）式でクーポン直流電流密度Id.c.を求め、このクーポン直流電流密度Id.c.を用いた（３）式でクーポン交流電流密度Ia.c.が求められる。
【００２５】
下記（２），（３）式において、Aはクーポン表面積、I(t)は時刻tにおけるクーポン電流の計測値、Tは単位計測時間Ｔｓ内で計測されたクーポン電流の計測値I(t)のサンプル数である。
【００２６】
【数２】
0006403618.tif 000003
【００２７】
そして、設定された計測区分毎にクーポン交流電流密度Ia.c.の区毎の最大値Ia.c.maxを抽出する。図示の例では、計測区分内でｎ１個のクーポン交流電流密度Ia.c.が求められ、そのうちのｍ１番目の値が区分毎の最大値Ia.c.maxとして抽出されている。ここで、この区分毎の最大値Ia.c.maxを構成する計測値I(t)の計測値波形から、前述したように、アノード電流比率αを求める。このアノード電流比率αは、区分毎の最大値Ia.c.maxと同じ時刻のカソード防食状況を表した評価値になる。そして、アノード電流比率αと区分毎の最大値Ia.c.maxとの組み合わせ（α，Ia.c.max）を計測区分毎に求める。
【００２８】
図３は、本発明の実施形態に係る交流腐食リスク計測評価方法を実行するためのシステム構成を示した説明図である。以下の説明では、埋設金属体としてプラスチックコーティングが被覆された埋設金属製パイプライン（以下、単にパイプラインという）を例にして説明するが、本発明の実施形態は特にこれに限定されるものではない。また、ここでの埋設金属体は、外部電源方式或いは流電陽極方式などのカソード防食が施されていることを前提とする。
【００２９】
交流腐食リスクの評価対象となるパイプライン１は、プラスチックコーティング１Ｃを備えており、電解質（土壌）Ｓ中に埋設されている。また、電解質Ｓ中におけるパイプライン１の近傍には、プラスチックコーティング１Ｃの欠陥部を模擬したクーポン２が埋設されている。クーポン２は、パイプライン１と同じ材質の金属片であってその表面積Aが既知のものである。パイプライン１とクーポン２とは電線Ｌで電気的に接続されている。図３では、パイプライン１やクーポン２の周辺電解質に防食電流Ｉｃや交流成分を含む迷走電流Ｉｓが流れている状況を示している。
【００３０】
このようなパイプライン１における計測評価システムは、計測装置１０と外部演算処理装置２０によって構成することができる。ここでは、便宜上パイプライン１とクーポン２に対して、計測時間中に常時接続する計測装置１０と計測時間後に計測装置１０から情報を取得して演算処理する外部演算処理装置２０を分けて構成しているが、これらを一体の装置とすることもできる。
【００３１】
計測装置１０は、電線Ｌにシャント１１を設け、このシャント１１が検出するクーポン電流を計測するものであり、計測されたクーポン電流がローパスフィルタ１２やＡ−Ｄコンバータ１３を介して演算処理手段１４に入力される。演算処理手段１４は、サンプリングしたクーポン電流やこれを演算処理した結果を記憶するデータ記憶手段１５を備えると共に、クーポン電流計測手段１４Ａ，クーポン直流電流密度算出手段１４Ｂ，クーポン交流電流密度算出手段１４Ｃ，最大クーポン交流電流密度抽出手段１４Ｄなどの機能を備えている。
【００３２】
クーポン電流計測手段１４Ａは、商用周波数の１周期に当たる単位計測時間で設定サンプリング間隔毎にクーポン電流をサンプリングして計測する機能を有する。商用周波数が50Hzの場合には、単位計測時間は20msであり、サンプリング間隔を0.1msに設定すると、単位計測時間に200個のクーポン電流計測値がサンプリングされる。クーポン電流計測手段１４Ａは、この200個のクーポン電流計測値の時系列データ（時刻tとその時にサンプリングされた計測値を関連付けたデータ）である計測値I(t)の波形を逐次出力する。クーポン電流計測手段１４Ａが出力した計測値I(t)の波形は単位計測時間毎にデータ記憶手段１５に記憶される。
【００３３】
クーポン直流電流密度算出手段１４Ｂは、クーポン電流計測手段１４Ａが計測したクーポン電流の計測値I(t)の波形から上記（２）式によってクーポン直流電流密度Id.c.を算出する機能を有する。クーポン直流電流密度Id.c.は単位計測時間毎に１つ出力される。
【００３４】
クーポン交流電流密度算出手段１４Ｃは、クーポン電流計測手段１４Ａが計測したクーポン電流の計測値I(t)と、前述したクーポン直流電流密度算出手段１４Ｂが算出したクーポン直流電流密度Id.c.から、上記式（３）によってクーポン交流電流密度Ia.c.を算出する機能を有する。クーポン交流電流密度Ia.c.は単位計測時間毎に１つ出力され、データ記憶手段１５に記憶される。
【００３５】
最大クーポン交流電流密度抽出手段１４Ｄは、計測区分毎にクーポン交流電流密度Ia.c.の最大値Ia.c.maxを抽出する。計測区分を例えば10sとすると、その計測区分内での8sで20msの単位計測時間が400回連続することになるので、その間クーポン交流電流密度算出手段１４Ｃは400のクーポン交流電流密度Ia.c.を出力する。最大クーポン交流電流密度抽出手段１４Ｄは、クーポン交流電流密度算出手段１４Ｃが出力するクーポン交流電流密度Ia.c.を順次比較して、最終的に400のクーポン交流電流密度Ia.c.の中から最大値Ia.c.maxを抽出する。抽出されたクーポン交流電流密度の区分毎の最大値Ia.c.maxとその値Ia.c.maxを構成する計測値I(t)の波形がデータ記憶手段１５に記憶される。
【００３６】
外部演算処理装置２０は、極性判別手段２１Ａ，出現時刻差算出手段２１Ｂ，ひずみ率算出手段２１Ｃ，アノード電流比率算出手段２１Ｄ，交流腐食リスク評価手段２２などの機能を有する演算処理手段２１を備えている。
【００３７】
極性判別手段２１Ａは、計測装置１０のデータ記憶手段１５に記憶された最大値Ia.c.maxを構成するクーポン電流の計測値I(t)を取り込み、その計測値I(t)における最大計測値I(tmax)と最小計測値I(tmin)の極性が異なる極性であるか否かを判別する。ここでは、I(tmax)×I(tmin)がマイナスの値であるか否かを判別する。I(tmax)×I(tmin)がマイナスの値である場合は、I(tmax)とI(tmin)が異なる極性であり、そのことは即ち、最大計測値I(tmax)がプラス値であり最小計測値I(tmin)がマイナス値であることを指している。
【００３８】
出現時刻差算出手段２１Ｂは、計測装置１０のデータ記憶手段１５に記憶された最大値Ia.c.maxを構成する計測値I(t)を取り込み、最大計測値I(tmax)の出現時刻tmaxと最小計測値I(tmin)の出現時刻tminの時間差Δtを算出する機能を有している。また、ひずみ率算出手段２１Ｃは、計測装置１０のデータ記憶手段１５に記憶された最大値Ia.c.maxを構成する計測値波形を取り込み、上記（３）式によってひずみ率εを算出する機能を有している。
【００３９】
アノード電流比率算出手段２１Ｄは、計測装置１０のデータ記憶手段１５に記憶された最大値Ia.c.maxを構成する計測値I(t)を取り込み、t=0からt=TsでのI(t)を正，負，０に振り分けて、負（或いは負又は０）となる計測値I(t)のサンプル数とサンプリング間隔から時間Tanを求め、単位計測時間Tsに対する時間Tanの比率、α＝Tan／Tsによりアノード電流比率αを算出する。
【００４０】
交流腐食リスク評価手段２２は、極性判別手段２１Ａ，出現時刻差算出手段２１Ｂ，ひずみ率算出手段２１Ｃ，アノード電流比率算出手段２１Ｄの出力に基づいて、交流腐食リスクを評価する機能を有する。
【００４１】
図４は、この場合の交流腐食リスク評価手段２２の評価フローの一例を示している。ステップＳ１は計測区分の区分数nの初期値を1としている。ステップＳ２は、複数に区分された計測区分に対して処理対象の計測区分（n）を特定するものであり、計測区分（1）から順次処理が行われる。
【００４２】
ステップＳ３では、計測装置１０において各計測区分（ｎ）で計測したクーポン交流電流密度の区分毎の最大値Ｉa.c.max（ｎ）を取り込む。ステップＳ４は、極性判別手段２１Ａの出力に対する判断処理であり、I(tmax)×I(tmin)がマイナスの値である場合（「ＹＥＳ」）、即ち、最大計測値I(tmax)がプラス値であり最小計測値I(tmin)がマイナス値である場合は、ステップＳ５に移行し、I(tmax)×I(tmin)がマイナスの値でない場合（「ＮＯ」）はステップＳ７に移行する。
【００４３】
ステップＳ５は、出現時刻差算出手段２１Ｂの出力に対する判断処理であり、最大計測値I(tmax)の出現時刻tmaxと最小計測値I(tmin)の出現時刻tminの時間差Δtが単位計測時間Tsの約１／２であるか否かが判断され、時間差Δtが単位計測時間Tsの約１／２である場合（「ＹＥＳ」）はステップＳ６に移行し、時間差Δtが単位計測時間Tsの１／２でない場合（「ＮＯ」）はステップＳ７に移行する。
【００４４】
ステップＳ６は、ひずみ率算出手段２１Ｃの出力に対する判断処理であり、ひずみ率εが閾値Etより小さい場合（「ＹＥＳ」）はステップＳ８に移行し、ひずみ率εが閾値Et以上の場合（「ＮＯ」）はステップＳ７に移行する。ここでの閾値Etは例えば0.01などに設定することができる。
【００４５】
ステップＳ４，Ｓ５，Ｓ６を経て、各回の計測区分において計測されたクーポン電流の計測値I(t)の波形が商用周波数の正弦波と同定されない場合がステップＳ７に移行することになり、このステップＳ７では、その回の計測区分において求められたクーポン交流電流密度の区分内最大値Ia.c.maxには交流腐食リスクがないと判断してステップＳ１０に移行する。
【００４６】
ステップＳ４，Ｓ５，Ｓ６を経て、各回の計測区分において抽出された最大値Ia.c.maxを構成するクーポン電流の計測値I(t)が商用周波数の正弦波と同定される場合は、ステップＳ８にて、アノード電流比率算出手段２１Ｄによるアノード電流比率αの算出が行われる。ここで、ステップＳ４，Ｓ５，Ｓ６は何れかのステップを省略することができ、例えば、ステップＳ４とステップＳ５のみで、各回の計測区分において抽出された最大値Ia.c.maxを構成するクーポン電流の計測値I(t)が商用周波数の正弦波であると同定することができる。
【００４７】
ステップＳ８にて、アノード電流比率算出手段２１Ｄがアノード電流比率αを算出すると、そのアノード電流比率αと区分毎の最大値Ia.c.maxとの組み合わせ（α，Ia.c.max）をデータ記憶手段１５に記憶する。
【００４８】
そして、ステップＳ１０では、計測時間の当回nが最終であるか否かが判断され、最終で無い場合（「ＮＯ」）は次回（n+1回）に進み（ステップＳ１１）、その計測区分に対して、ステップＳ２〜ステップＳ９の処理を行う。当回nが最終である場合（「ＹＥＳ」）は、データ記憶手段１５に記憶した計測区分毎の（α，Ia.c.max）を出力する（ステップＳ１２）。
【００４９】
図５がその出力結果を示している。ここでは、横軸にアノード電流比率αをとり、縦軸に区分毎に抽出されたクーポン交流電流密度の最大値Ia.c.maxをとって、（α，Ia.c.max）の出力結果を示している。図から明らかなように、アノード電流比率αが高くなると、クーポン交流電流密度の区分毎の最大値Ia.c.maxは高くなっており、これはアノード電流比率αが交流腐食リスクを評価する指標として適正なものであることを示している。
【００５０】
図５に示されるように、アノード電流比率αが０．３以上になると、クーポン交流電流密度の区分毎の最大値Ia.c.maxは急峻に上昇しており、この０．３以上のアノード電流比率αを対象として、その出現が計測時間全体でどの程度の割合になるかを把握すれば、その計測結果から、交流腐食リスクに対する優先的な予防保全の必要性を定量的に把握することが可能になる。
【００５１】
図４に示したフローのステップＳ１３では、前述した知見に基づき、閾値αｔを設定して（例えば、αｔ＝０．３）、α＞αｔ（又はα≧αｔ）となるクーポン交流電流密度の最大値Ia.c.maxの数によって、交流腐食リスクに対する優先的な予防保全が必要であるか否かを評価する。
【００５２】
以上説明したように、本発明の実施形態によると、計測時間Tm内で求めたクーポン交流電流密度の最大値Ia.c.maxの計測時間内平均値が、基準値（ISO 15589-1であれば３０Ａ／ｍ2）より低い場合であっても、各々の最大値Ia.c.maxを構成するクーポン電流の計測値I(t)からアノード電流比率αを求めて、精緻な交流腐食リスクの評価が可能になる。その際、アノード電流比率αは、交流腐食を発生させる不可逆性のアノード反応の蓄積を如実に表している指標であると言えるので、交流腐食リスクに対する優先的な予防保全が必要であるか否かを定量的に把握することができる。
【符号の説明】
【００５３】
１０：計測装置，１１：シャント，
１２：ローパスフィルタ，１３：Ａ−Ｄコンバータ，１４：演算処理手段，
１４Ａ：クーポン電流計測手段，１４Ｂ：クーポン直流電流密度算出手段，
１４Ｃ：クーポン交流電流密度算出手段，
１４Ｄ：最大クーポン交流電流密度抽出手段，１５：データ記憶手段，
２０：外部演算処理装置，２１：演算処理手段，
２１Ａ：極性判別手段，２１Ｂ：出現時刻差算出手段，
２１Ｃ：ひずみ率算出手段，２１Ｄ：アノード電流比率算出手段，
２２：交流腐食リスク評価手段，Ｌ：電線
【図１】
0006403618.tif 000004
【図２】
0006403618.tif 000005
【図３】
0006403618.tif 000006
【図４】
0006403618.tif 000007
【図５】
0006403618.tif 000008