(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
メモリを動作させる様式を特定する、複数の、メモリ動作モードについての実行履歴を更新し、
前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定し、決定した前記メモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定する動作モード決定手段と、
外部からの電源供給が断たれている期間を含めて、前記実行履歴を保持する実行履歴記憶手段と、
前記メモリの試験を実行するメモリ試験手段と、を含む
情報処理装置。
【請求項２】
前記動作モード決定手段は、前記複数のメモリ動作モードのそれぞれが少なくとも１回の設定を実行されたことを、前記実行履歴が示す場合に、前記実行履歴を初期化する
ことを特徴とする請求項１記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定することの、要否を指示する決定指示手段と、
操作者の指示に基づいて前記メモリ動作モードを変更し、外部からの電源供給が断たれている期間を含めて、前記メモリ動作モードを保持する動作モード変更手段とを更に含み、
前記動作モード決定手段は、
前記決定指示手段の前記要否の指示が要である場合、前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定し、
前記決定指示手段の前記要否の指示が否である場合、前記実行履歴を初期化し、前記動作モード変更手段が更新する前記メモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定する
ことを特徴とする請求項１または２記載の情報処理装置。
【請求項４】
外部からの電源供給が断たれている期間を含めて、前記メモリ試験手段による試験結果を保持する結果記憶手段を更に含み、
前記メモリ試験手段は、前記結果記憶手段に前記試験結果を書き込む
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記動作モード決定手段は、前記メモリ試験手段がエラーを検出した場合に、前記エラーが検出された前記メモリ動作モードでの前記試験が実行されていないことを示すように、前記実行履歴を更新する
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項６】
不揮発性記憶手段を含むコンピュータが、
メモリを動作させる様式を特定する、複数の、メモリ動作モードについての実行履歴に基づいて、前記メモリ動作モードを決定し、
決定した前記メモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定し、
前記メモリの試験を実行し、
前記実行履歴を更新し、前記実行履歴を前記不揮発性記憶手段に記録する
メモリ検査方法。
【請求項７】
前記コンピュータが、
操作者の指示に基づいて前記メモリ動作モードを変更し、前記メモリ動作モードを前記不揮発性記憶手段に記録し、
前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定することの、要否の指示が要である場合、前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定し、
前記要否の指示が否である場合、前記実行履歴を初期化し、前記不揮発性記憶手段に記録されたメモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定する
ことを特徴とする請求項６記載のメモリ検査方法。
【請求項８】
不揮発性記憶手段を含むコンピュータに、
メモリを動作させる様式を特定する、複数の、メモリ動作モードについての実行履歴に基づいて、前記メモリ動作モードを決定し、
決定した前記メモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定し、
前記メモリの試験を実行し、
前記実行履歴を更新し、前記実行履歴を前記不揮発性記憶手段に記録する処理を実行させる
プログラム。
【請求項９】
前記コンピュータに、
操作者の指示に基づいて前記メモリ動作モードを変更し、前記メモリ動作モードを前記不揮発性記憶手段に記録し、
前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定することの、要否の指示が要である場合、前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定し、
前記要否の指示が否である場合、前記実行履歴を初期化し、前記不揮発性記憶手段に記録されたメモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定する処理を実行させる
ことを特徴とする請求項８記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置におけるメモリ検査の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報処理装置のメモリ検査についてさまざまな関連技術が知られている。
【０００３】
例えば、特許文献１は、メモリ試験装置の一例を開示する。特許文献１のメモリ試験装置は、エラー情報テーブルとエラー情報解析手段とメモリ試験実行手段とエラー情報記録手段とを備える。
【０００４】
そのエラー情報テーブルは、前回のシステム立ち上げ時及び運用時に発生したメモリエラーの種別とそのエラーアドレスを含むエラー情報が記録され、ローカルメモリ３０に保存されている。
【０００５】
そのエラー情報解析手段は、システム立ち上げ時に、そのエラー情報テーブルを参照し、メモリエラー多発領域を解析する。
【０００６】
そのメモリ試験実行手段は、そのメモリエラー多発領域及びオペレーティングシステムがロードされる領域のみに限定して、予め設定された試験パターンによりメモリ試験する。
【０００７】
そのエラー情報記録手段は、発生したエラー情報をそのエラー情報テーブルに記録する。
【０００８】
特許文献１は、上述の構成を備えるそのメモリ試験装置が、メモリ容量が大幅に増加した場合でも、短時間で実行可能な、システム立ち上げ時のメモリ試験方式を実現する、としている。
【０００９】
特許文献２は、検査装置の一例を開示する。特許文献２の検査装置は、制御部、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  ｄｉｓｋ  ｄｒｉｖｅ）及びＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）インタフェースなどを備える。
【００１０】
その制御部は、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）検査装置の各機能を制御する。具体的には、その制御部は、パソコンの通信手段とそのＬＡＮインタフェースとの接続が検知されると、複数の検査工程からなる検査プログラムをそのパソコン上で実行させる。更に、その制御部は、その検査プログラムの実行による検査結果を、そのＬＡＮインタフェースを経由して取り込んでＨＤＤに保存する。
【００１１】
特許文献２は、上述の構成を備えるそのメモリ試験装置が、検査者の負担を減らし、検査作業時間の短縮、検査結果の誤判断を防止することができる、としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開平１１−２５９３７４号公報
【特許文献２】特開２００２−２６８９１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、上述した先行技術文献に記載された技術においては、情報処理装置の複数のメモリ動作モードについて動作を確認する場合の、作業効率が低いという問題点がある。
【００１４】
その理由は、以下の通りである。
【００１５】
近年、メモリモジュール（例えば、ＤＩＭＭ（Ｄｕａｌ  Ｉｎｌｉｎｅ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ｍｏｄｕｌｅ）の単体の容量が、増加している。そのため、そのメモリモジュールを搭載した情報処理装置の初期化に必要な時間が増加している。また、メモリの動作モードの種類が増加している。
【００１６】
一方、メモリの動作モードの変更は、例えば、ＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ  Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ  Ｓｙｓｔｅｍ）  Ｓｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕにおいて、操作者より実施される。従って、操作者は、メモリ動作モードの変更作業のために拘束される時間が長くなる。また、人手が介入することは、一般的に、ミスが発生したり操作に時間が掛かったりするという、効率の悪化を招く可能性が高くなる。
【００１７】
しかしながら、上述した特許文献１及び特許文献２に記載された技術のいずれも、複数のメモリ動作モードについての情報処理装置の動作確認に係る効率を向上する（動作確認時間を短縮する）という課題を解決することができない。
【００１８】
即ち、特許文献１が開示する技術は、試験を実施するメモリ領域を限定することで、試験時間を短縮する技術である。
【００１９】
また、特許文献２が開示する技術は、ＬＡＮインタフェースを介して、パソコンの検査を実行する技術である。
【００２０】
即ち、特許文献１及び特許文献２のいずれも、人手を介することなくメモリ動作モードを変更する技術を開示しない。
【００２１】
本発明の目的は、上述した問題点を解決できる情報処理装置、メモリ検査方法及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本発明の一様態における情報処理装置は、メモリを動作させる様式を特定する、複数の、メモリ動作モードについての実行履歴を更新し、前記実行履歴に基づいて前記メモリ動作モードを決定し、決定した前記メモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定する動作モード決定手段と、外部からの電源供給が断たれている期間を含めて、前記実行履歴を保持する実行履歴記憶手段と、前記メモリの試験を実行するメモリ試験手段と、を含む。
【００２３】
本発明の一様態におけるメモリ検査方法は、不揮発性記憶手段を含むコンピュータが、メモリを動作させる様式を特定する、複数の、メモリ動作モードについての実行履歴に基づいて、前記メモリ動作モードを決定し、決定した前記メモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定し、前記メモリの試験を実行し、前記実行履歴を更新し、前記実行履歴を前記不揮発性記憶手段に記録する。
【００２４】
本発明の一様態におけるプログラムは、不揮発性記憶手段を含むコンピュータに、メモリを動作させる様式を特定する、複数の、メモリ動作モードについての実行履歴に基づいて、前記メモリ動作モードを決定し、決定した前記メモリ動作モードで特定される前記様式を、前記メモリを動作させるための手段に設定し、前記メモリの試験を実行し、前記実行履歴を更新し、前記実行履歴を前記不揮発性記憶手段に記録する処理を実行させる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明は、情報処理装置の複数のメモリ動作モードについての、動作確認の効率を向上することが可能になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】図１は、本発明の第１の実施形態に係るメモリ試験装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、第１の実施形態におけるメモリ動作モードテーブルの一例を示す図である。
【図３】図３は、第１の実施形態におけるカウンタの一例を示す図である。
【図４】図４は、第１の実施形態に係るメモリ試験装置を含む情報処理装置の構成を示すブロック図である。
【図５】図５は、第１の実施形態におけるメモリ試験装置の動作を示すフローチャートである。
【図６】図６は、関連技術の情報処理装置の動作を示すフローチャートである。
【図７】図７は、本発明の第２の実施形態に係るメモリ試験装置の構成を示すブロック図である。
【図８】図８は、第２の実施形態に係るメモリ試験装置を含む情報処理装置の構成を示すブロック図である。
【図９】図９は、第２の実施形態におけるメモリ試験装置の動作を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、第２の実施形態におけるメモリ試験装置の動作を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、本発明の第３の実施形態に係るメモリ試験装置の構成を示すブロック図である。
【図１２】図１２は、第３の実施形態における結果テーブルの一例を示す図である。
【図１３】図１３は、第３の実施形態に係るメモリ試験装置を含む情報処理装置の構成を示すブロック図である。
【図１４】図１４は、第３の実施形態におけるメモリ試験装置の動作を示すフローチャートである。
【図１５】図１５は、本発明の第４の実施形態に係るメモリ試験装置の構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
本発明を実施するための形態について図面を参照して詳細に説明する。尚、各図面及び明細書記載の各実施形態において、同様の構成要素には同様の符号を付与し、適宜説明を省略する。
【００２８】
＜＜＜第１の実施形態＞＞＞
図１は、本発明の第１の実施形態に係るメモリ試験装置（情報処理装置とも呼ばれる）１００の構成を示すブロック図である。
【００２９】
図１に示すように、本実施形態に係るメモリ試験装置１００は、動作モード決定部１１０と、実行履歴記憶部１２０と、メモリ試験部１３０とを含む。
【００３０】
次に、第一の実施形態におけるメモリ試験装置１００が備える各構成要素について説明する。尚、図１に示す各構成要素は、ハードウエア単位の回路でも、マイクロチップに含まれるモジュールでも、コンピュータ装置の機能単位に分割された構成要素でもよい。ここでは、図１に示す構成要素は、コンピュータ装置の機能単位に分割された構成要素として説明する。
【００３１】
＝＝＝動作モード決定部１１０＝＝＝
動作モード決定部１１０は、メモリを動作させる様式を特定する、複数の、メモリ動作モードについての実行履歴を更新する。具体的には、動作モード決定部１１０は、後述するカウンタ８１０のカウント値（実行履歴とも呼ばれる）をカウントアップ（「１」を加算）する。
【００３２】
また、動作モード決定部１１０は、その実行履歴に基づいてメモリ動作モードを決定し、決定したそのメモリ動作モードで特定されるその様式を、そのメモリを動作させるための手段（不図示）に設定する。具体的には、動作モード決定部１１０は、後述するメモリ動作モードテーブル８２０に含まれる、カウント値をモード識別子とするレコード８２１の内容をそのメモリ動作モードとして決定する。ここで、そのカウント値は、実行履歴記憶部１２０に記憶される、後述するカウンタ８１０のカウント値である。続けて、動作モード決定部１１０は、そのメモリ動作モードで特定されるその様式を、そのメモリを動作させるための手段（不図示）に設定する。
【００３３】
尚、メモリを動作させる様式を、メモリを動作させるための手段に設定する技術は、周知の技術であるため、詳細な説明を省略する。
【００３４】
以後、そのメモリ動作モードで特定されるその様式を、そのメモリを動作させるための手段へ設定することを、「そのメモリ動作モードを設定する」や、「そのメモリ動作モードの設定」、「そのメモリ動作モードが設定される」などのように、省略して記載する。
【００３５】
＝＝＝メモリ動作モードテーブル８２０＝＝＝
図２は、メモリ動作モードテーブル８２０の一例を示す図である。図２に示すように、メモリ動作モードテーブル８２０は、モード識別子、電圧、周波数、モード１及びモード２を含む、複数のレコード８２１を含む。そのメモリ動作モードは、その電圧、その周波数、そのモード１及びそのモード２をその様式として含む。
【００３６】
モード識別子は、各レコード８２１に昇順で付与される、１６進数の数値である。
【００３７】
電圧は、そのメモリを動作させるための、そのメモリに供給される電源の電圧である。その電圧は、例えばそのメモリがＤＩＭＭ（Ｄｕａｌ  Ｉｎｌｉｎｅ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ｍｏｄｕｌｅ）である場合、ＤＩＭＭ電圧とも呼ばれる。
【００３８】
周波数は、そのメモリを動作させるための、そのメモリに供給されるクロックの周波数である。その周波数は、例えばそのメモリがＤＩＭＭである場合、ＤＩＭＭ周波数とも呼ばれる。
【００３９】
モード１及びモード２は、そのメモリを動作させる制御回路における、メモリの制御モードである。その制御モードは、例えば、ロックステップメモリモード、インデペンデントモード、パフォーマンスモード、ランクスペアリングモード及びミラードチャネルモードなどである。
【００４０】
上述の電圧、周波数及びメモリの制御モードについては、周知の技術であるため、詳細な説明を省略する。
【００４１】
尚、動作モード決定部１１０は、カウント値のビット位置にメモリ動作モードの各様式を割り当ててもよい。具体的には、ビット０は電圧モード（０の場合は１．５ボルト、１の場合は１．３５ボルト）を、Ｂｉｔ１は性能モード（０の場合はインデペンデントモード、１の場合はパフォーマンスモード）を割り当てられてよい。この場合、メモリ動作モードテーブル８２０は不要である。
【００４２】
＝＝＝カウンタ８１０＝＝＝
図３は、カウンタ８１０の構造の一例を示す図である。図３に示すように、カウンタ８１０は、例えば８ビットの１６進数のカウント値を含む。このカウンタ８１０に含まれるカウント値は、その実行履歴である。
【００４３】
具体的には、そのカウント値は、図２に示すメモリ動作モードテーブル８２０のモード識別子に対応する。そして、例えば、そのカウント値は、そのカウント値未満の値をモード識別子として含むレコード８２１のメモリ動作モードが、動作モード決定部１１０より設定をされたメモリ動作モードであることを示す。
【００４４】
ここで、その実行履歴は、例えば、メモリ動作モードテーブル８２０の各レコード８２１へのポインタであってもよい。この場合、その各レコード８２１は、モード識別子を含まなくてもよい。この場合、そのポインタは、そのポインタ未満のポインタに対応するそのレコード８２１のメモリ動作モードが、動作モード決定部１１０より設定をされたメモリ動作モードであることを示す。
【００４５】
また、その実行履歴は、メモリ動作モードテーブル８２０の各レコード８２１に対応する、そのレコード８２１のメモリ動作モードが動作モード決定部１１０より設定をされたか否かを示すフラグであってもよい。この場合、その各レコード８２１は、モード識別子を含まなくてもよい。そして、その各レコード８２１は、そのフラグを含んでよい。
【００４６】
上述の例に係わらず、その実行履歴は、各メモリ動作モードが動作モード決定部１１０より設定をされたか否かを示す、任意の形式の情報であってよい。
【００４７】
＝＝＝実行履歴記憶部１２０＝＝＝
実行履歴記憶部１２０は、図２に示すような、カウンタ８１０を記憶する。実行履歴記憶部１２０は、外部からの電源供給が断たれている期間を含めて、その実行履歴（図２に示すカウンタ８１０のカウント値）を保持する。具体的には、実行履歴記憶部１２０は、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）や、フラッシュメモリであってよい。また、実行履歴記憶部１２０は、バッテリでバックアップされたＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）や、磁気記憶媒体などであってもよい。
【００４８】
上述の例に係わらず、実行履歴記憶部１２０は、任意の不揮発性記憶手段であってよい。
【００４９】
＝＝＝メモリ試験部１３０＝＝＝
メモリ試験部１３０は、そのメモリの試験を実行する。ここで、そのメモリは、例えば、ＤＩＭＭやＳＤＲＡＭ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）などからなる。
【００５０】
その試験は、以下の動作を含む。第１の動作は、そのメモリの、全てのアドレスに対して、「０（ゼロ）」のデータを書き込む。第２の動作は、そのメモリの、各アドレスに対して、ある特定の値を書き込む。第３の動作は、その書き込んだ値を読み出して期待値であるか否かをチェックする。第３の動作は、試験の時間短縮のために省略されてもよい。尚、メモリの試験は、周知の技術であるため、詳細な説明を省略する。
【００５１】
以上が、メモリ試験装置１００の機能単位の各構成要素についての説明である。
【００５２】
次に、メモリ試験装置１００のハードウエア単位の構成要素について説明する。
【００５３】
図４は、本実施形態におけるメモリ試験装置１００を含む情報処理装置１０１のハードウエア構成を示す図である。
【００５４】
図４に示すように、情報処理装置１０１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）７１０、制御ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）７３０、Ｂｍｃｈｗ（Ｂａｓｅｂｏａｒｄ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ  Ｈａｒｄｗａｒｅ）７４０、不揮発性記憶部７７０、メモリコントローラ７８１及びメモリ７８２を含む。
【００５５】
ＣＰＵ７１０は、情報処理装置１０１の中央処理装置である。ＣＰＵ７１０は、ＢＩＯＳ７２０を動作させて、情報処理装置１０１の全体の動作を制御する。ここで、ＢＩＯＳ７２０は、例えば、後述の図５に示すフローチャートの動作を情報処理装置１０１に実行させるためのプログラムである。
【００５６】
そして、ＣＰＵ７１０は、ＢＩＯＳ７２０に従って、図１に示す動作モード決定部１１０及びメモリ試験部１３０として各種の処理を実行する。
【００５７】
制御ＬＳＩ７３０は、ＣＰＵ７１０による、Ｂｍｃｈｗ７４０及び不揮発性記憶部７７０のアクセスを制御する。
【００５８】
Ｂｍｃｈｗ７４０は、情報処理装置１０１を管理するためのハードウエアである。Ｂｍｃｈｗ７４０はプロセッサを有する。このプロセッサ上でＢｍｃｆｗ（Ｂａｓｅｂｏａｒｄ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ  Ｆｉｒｍｗａｒｅ）７５０が動作することで、ＢＭＣ（Ｂａｓｅｂｏａｒｄ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）としての機能が実現される。尚、Ｂｍｃｈｗ及びＢｍｃｆｗのそれぞれは、サービスプロセッサ及びサービスファームウエアと称されることもある。
【００５９】
尚、Ｂｍｃｈｗ７４０は、図示しない不揮発性記憶手段を含み、その不揮発性記憶手段に実行履歴記憶部１２０を含むようにしてもよい。この場合、不揮発性記憶部７７０は、不要である。
【００６０】
不揮発性記憶部７７０は、カウンタ８１０を記憶する実行履歴記憶部１２０を含む。
【００６１】
メモリコントローラ７８１は、ＣＰＵ７１０による、メモリ７８２のアクセスを制御する。
【００６２】
メモリ７８２は、メモリ試験装置１００の制御の対象となる上述のメモリを含む。
【００６３】
尚、情報処理装置１０１は、図示しない、記憶装置（例えば、ハードディスク）、入力部（例えば、キーボードやマウス）、出力部（例えば、ディスプレイ）、通信部（例えば、ネットワークコントローラ）などを含んでよい。
【００６４】
即ち、情報処理装置１０１は、サーバや、コンピュータ、通信制御装置などであってよい。このような情報処理装置１０１における一般的な構造及び機能は、周知の技術であるため、詳細な説明を省略する。
【００６５】
以上が、本実施形態におけるメモリ試験装置１００を含む情報処理装置１０１の、ハードウエア単位の各構成要素についての説明である。
【００６６】
次に本実施形態の動作について、図面を参照して詳細に説明する。
【００６７】
図５は、本実施形態のメモリ試験装置１００の動作を示すフローチャートである。尚、このフローチャートによる処理は、前述したＣＰＵ７１０によるＢＩＯＳ７２０の制御に基づいて、実行されてよい。また、処理のステップ名については、Ｓ６０１のように、記号で記載する。
【００６８】
図５は、メモリ試験装置１００が情報処理装置１０１の一部として動作する場合のフローチャートを示す。ここで、メモリ試験装置１００に係る動作以外の、情報処理装置１０１の動作（例えば、制御ＬＳＩ７３０やＢｍｃｈｗ７４０の初期化など）については、周知技術であるため、記載及び説明を省略する。
【００６９】
メモリ試験装置１００は、電源が供給されたこと（電源オン）を契機に、図５に示すフローチャートの動作を開始する。
【００７０】
動作モード決定部１１０は、カウンタ８１０のカウント値とメモリ動作モードテーブル８２０とに基づいてメモリ動作モードを決定し、そのメモリ動作モードを設定する（ステップＳ６１１）。
【００７１】
次に、動作モード決定部１１０は、カウンタ８１０のカウント値に「１」加算する（ステップＳ６１２）。
【００７２】
次に、メモリ試験部１３０は、メモリ７８２のテストを実行する（ステップＳ６１３）。
【００７３】
次に、メモリ試験部１３０は、そのテストにおいて、エラーが検出されたか否かを判定する（ステップＳ６１４）。
【００７４】
エラーが検出された場合（ステップＳ６１４でＹＥＳ）、メモリ試験部１３０は、そのエラーの内容を示すエラー情報を出力する（ステップＳ６１５）。その後、処理は終了する。
【００７５】
エラーが検出されなかった場合（ステップＳ６１４でＮＯ）、処理は終了する。
【００７６】
図５に示すフローチャートの動作が終了した後、メモリ試験装置１００への電源がオフされ、再度その電源がオンされると、動作モード決定部１１０は、図５に示すフローチャートの処理を再度実行する。この時、動作モード決定部１１０は、前回の動作のステップＳ６１２において、更新された（「１」加算された）カウンタ８１０のカウント値に基づいて、ステップＳ６１１以下の処理を実行する。
【００７７】
換言すると、メモリ試験装置１００は、その電源がオンされるたびに、更新された実行履歴に対応するメモリ動作モードでの、メモリの試験を実行する。
【００７８】
尚、電源のオフ／オン制御は、外部の装置から情報処理装置１０１へ指示する。また、電源のオフ／オンは、操作者が実施してもよい。
【００７９】
また、情報処理装置１０１は、電源のオフ／オンに替えて、図５に示す処理が終了した後、リブートしてもよい。
【００８０】
以上が、本実施形態の動作の説明である。
【００８１】
本実施形態の動作と対比するために、本発明が適用されない、関連技術の情報処理装置の動作を説明する。
【００８２】
図６は、本発明が適用されない、関連技術の情報処理装置の動作を示すフローチャートである。
【００８３】
ＢＩＯＳ７２０は、Ｂｍｃｈｗ７４０の不揮発性記憶手段（不図示）に保持されているメモリ動作モードの設定値に基づいて、そのメモリ動作モードを設定する（ステップＳ６６１）。
【００８４】
次に、ＢＩＯＳ７２０は、メモリ７８２のテストを実行する（ステップＳ６１３）。
【００８５】
次に、ＢＩＯＳ７２０は、そのテストにおいて、エラーが検出されたか否かを判定する（ステップＳ６１４）。
【００８６】
エラーが検出された場合（ステップＳ６１４でＹＥＳ）、ＢＩＯＳ７２０は、そのエラーの内容を示すエラー情報を出力する（ステップＳ６１５）。
【００８７】
エラーが検出されなかった場合（ステップＳ６１４でＮＯ）、処理はステップＳ６６６へ進む。
【００８８】
次に、ＢＩＯＳ７２０は、操作者によるＳｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示があるか否かを判定する（ステップＳ６６６）。
【００８９】
Ｓｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示がある場合（ステップＳ６６６でＹＥＳ）、ＢＩＯＳ７２０は、操作者の指示に基づいて、上述のメモリ動作モードを変更する（ステップＳ６６７）。その後、処理は終了する。
【００９０】
Ｓｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示がない場合（ステップＳ６６６でＮＯ）、処理は終了する。
【００９１】
図６に示すフローチャートの動作が終了した後、関連する情報処理装置への電源がオフされ、再度その電源がオンされると、ＢＩＯＳ７２０は、図６に示すフローチャートの処理を再度実行する。この時、ＢＩＯＳ７２０は、前回の動作のステップＳ６６７において、変更されたメモリ動作モードに基づいて、ステップＳ６６１以下の処理を実行する。
【００９２】
以上説明したように、複数のメモリ動作モードについて動作確認をする場合、本発明が適用されない場合は、操作者による操作（Ｓｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示、及びメモリ動作モードの変更）が必要になる。特に、Ｓｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示は情報処理装置１０１の立ち上げ時にしか受け付けられないので、操作者はその動作確認のために長い時間を費やす必要がある。
【００９３】
また、図６に示すフローチャートの処理が終了した後、関連する情報処理装置のＯＳを立ち上げ、関連する情報処理装置に対する診断プログラムを実施する場合がある。この場合、メモリ動作モードを変更するためには、関連する情報処理装置の電源をオフ／オンし、図６に示すフローチャートの処理を実施させなければならない。
その後、関連する情報処理装置の再度電源をオフ／オンして、その変更したメモリ動作モードで立ち上げる必要がある。
【００９４】
以上が、本発明が適用されない、関連技術の情報処理装置の動作の説明である。
【００９５】
本実施形態は、例えば、以下のように適用する。複数のメモリ動作モードについて動作確認をする場合には、本実施形態の動作を実行するＢＩＯＳ７２０が、情報処理装置１０１にインプリメントされる。また、情報処理装置１０１を通常動作させる場合には、本実施形態を適用しないＢＩＯＳ７２０が、情報処理装置１０１にインプリメントされる。
【００９６】
上述した本実施形態における第１の効果は、情報処理装置１０１の複数のメモリ動作モードについての、動作確認の効率を向上することが可能になる点である。
【００９７】
その理由は、動作モード決定部１１０が、実行履歴記憶部１２０に記憶されるカウンタ８１０のカウント値に基づいてメモリ動作モードを決定し、そのメモリ動作モードを設定するからである。
【００９８】
従って、メモリ動作モードを変更するための、操作者による操作が不要である。また、関連技術の情報処理装置のように、メモリ動作モードを変更するために、関連する情報処理装置を立ち上げなおす必要がない。
【００９９】
＜＜＜第１の実施形態の変形例＞＞＞
動作モード決定部１１０は、ステップＳ６１４においてエラーが検出された場合、カウンタ８１０のカウント値を「１」減算する。即ち、動作モード決定部１１０は、実行履歴を１つ前の値に戻す。
【０１００】
換言すると、動作モード決定部１１０は、メモリ試験部１３０がエラーを検出した場合に、そのエラーが検出されたメモリ動作モードでの試験が実行されていないことを示すように、実行履歴を更新する。
【０１０１】
尚、メモリ試験装置１００は、そのカウント値を「１」減算する処理を、実行するかしないかを指示する手段を更に含んでもよい。
【０１０２】
上述した本実施形態の変形例における効果は、エラーの再現性を確認することが可能になる点である。
【０１０３】
その理由は、動作モード決定部１１０が、次回の立ち上げ時におけるメモリ動作モードを決定するカウント値を、今回の立ち上げ時と同じ値にするからである。
【０１０４】
＜＜＜第２の実施形態＞＞＞
次に、本発明の第２の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。以下、本実施形態の説明が不明確にならない範囲で、前述の説明と重複する内容については説明を省略する。
【０１０５】
図７は、本発明の第２の実施形態に係るメモリ試験装置２００の構成を示すブロック図である。
【０１０６】
図７に示すように、本実施形態におけるメモリ試験装置２００は、第１の実施形態のメモリ試験装置１００と比べて、決定指示部２４０及び動作モード変更部２５０を更に含む点が異なる。また、メモリ試験装置２００は、メモリ試験装置１００と比べて、動作モード決定部１１０の動作が異なる。
【０１０７】
＝＝＝決定指示部２４０＝＝＝
決定指示部２４０は、カウンタ８１０のカウント値に基づいてメモリ動作モードを決定することの、要否を指示する。
【０１０８】
換言すると、決定指示部２４０は、複数のメモリ動作モードについて動作確認をする場合（その指示が要）と、情報処理装置１０１を通常動作させる場合（その指示が否）との、いずれであるかを示す。
【０１０９】
＝＝＝動作モード変更部２５０＝＝＝
動作モード変更部２５０は、操作者の指示に基づいて、メモリ動作モードを変更する。
【０１１０】
動作モード変更部２５０は、外部からの電源供給が断たれている期間を含めて、そのメモリ動作モードを保持する。動作モード変更部２５０は、例えば、不揮発性記憶部７７０にそのメモリ動作モードを記録する。また、動作モード変更部２５０は、Ｂｍｃｈｗ７４０内の図示しない不揮発性記憶手段にそのメモリ動作モードを記録してよい。
【０１１１】
＝＝＝動作モード決定部１１０＝＝＝
動作モード決定部１１０は、決定指示部２４０の要否の指示が要である場合、カウンタ８１０のカウント値（実行履歴）に基づいてメモリ動作モードを決定する。
【０１１２】
動作モード決定部１１０は、決定指示部２４０の要否の指示が否である場合、カウンタ８１０のカウント値を初期化（「０」に設定）する。そして、動作モード決定部１１０は、動作モード変更部２５０が変更したメモリ動作モードで特定される様式を、メモリ７８２を動作させるための手段に設定する。
【０１１３】
以上が、メモリ試験装置２００の機能単位の各構成要素についての説明である。
【０１１４】
次に、メモリ試験装置２００のハードウエア単位の構成要素について説明する。
【０１１５】
図４は、本実施形態におけるメモリ試験装置２００を含む情報処理装置２０１のハードウエア構成を示す図である。
【０１１６】
図４に示すように、情報処理装置２０１は、図４に示す情報処理装置１０１と比べて、Ｓｗｉｃｈ７６０を更に含む点が異なる。
【０１１７】
＝＝＝Ｓｗｉｃｈ７６０＝＝＝
Ｓｗｉｃｈ７６０は、図７に示す決定指示部２４０を実現する。Ｓｗｉｃｈ７６０は、例えばＤＩＰ（Ｄｕａｌ  Ｉｎ‐ｌｉｎｅ  Ｐａｃｋａｇｅ）  Ｓｗｉｔｃｈである。Ｓｗｉｃｈ７６０は、ロータリースイッチでもよい。
【０１１８】
尚、決定指示部２４０は、例えば、Ｂｍｃｆｗ７５０により実現されてもよい。この場合、Ｂｍｃｆｗ７５０は、例えば、Ｂｍｃｈｗ７４０の図示しない不揮発性記憶手段に、上述の要否を記憶させてよい。
【０１１９】
本実施形態において、ＢＩＯＳ７２０は、例えば、後述の図９及び図１０に示すフローチャートの動作を情報処理装置２０１に実行させるためのプログラムである。
【０１２０】
そして、ＣＰＵ７１０は、ＢＩＯＳ７２０に従って、図７に示す動作モード決定部１１０及びメモリ試験部１３０として各種の処理を実行する。
【０１２１】
以上が、本実施形態におけるメモリ試験装置２００を含む情報処理装置２０１の、ハードウエア単位の各構成要素についての説明である。
【０１２２】
次に本実施形態の動作について、図面を参照して詳細に説明する。
【０１２３】
図９は、本実施形態のメモリ試験装置２００の動作を示すフローチャートである。
【０１２４】
図９は、メモリ試験装置２００が情報処理装置２０１の一部として動作する場合のフローチャートを示す。
【０１２５】
動作モード決定部１１０は、決定指示部２４０の指示を確認する（ステップＳ６２１）。
その指示が「要」である場合（ステップＳ６２１でＹＥＳ）、動作モード決定部１１０は、カウンタ８１０のカウント値とメモリ動作モードテーブル８２０とに基づいてメモリ動作モードを決定し、そのメモリ動作モードを設定する（ステップＳ６１１）。
【０１２６】
次に、動作モード決定部１１０は、カウンタ８１０のカウント値に「１」加算する（ステップＳ６１２）。その後、処理はステップＳ６１３へ進む。
【０１２７】
その指示が「否」である場合（ステップＳ６４１でＮＯ）、動作モード決定部１１０は、カウンタ８１０のカウント値を初期化する（ステップＳ６２２）。
【０１２８】
次に、動作モード決定部１１０は、動作モード変更部２５０により保持されているメモリ動作モードを設定する（ステップＳ６２３）。
【０１２９】
次に、メモリ試験部１３０は、メモリ７８２のテストを実行する（ステップＳ６１３）。
【０１３０】
次に、メモリ試験部１３０は、そのテストにおいて、エラーが検出されたか否かを判定する（ステップＳ６１４）。
【０１３１】
エラーが検出された場合（ステップＳ６１４でＹＥＳ）、メモリ試験部１３０は、そのエラーの内容を示すエラー情報を出力する（ステップＳ６１５）。
【０１３２】
エラーが検出されなかった場合（ステップＳ６１４でＮＯ）、処理はステップＳ６２４へ進む。
【０１３３】
次に、動作モード決定部１１０は、操作者によるＳｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示があるか否かを判定する（ステップＳ６２４）。
【０１３４】
Ｓｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示がある場合（ステップＳ６２４でＹＥＳ）、動作モード決定部１１０は、操作者の指示に基づいて、上述のメモリ動作モードを変更する（ステップＳ６２５）。その後、処理は終了する。
【０１３５】
Ｓｅｔｕｐ  Ｍｅｎｕ起動の指示がない場合（ステップＳ６２４でＮＯ）、処理は終了する。
【０１３６】
以上が、本実施形態の動作の説明である。
【０１３７】
上述した本実施形態における第１の効果は、第１の実施形態の効果に加え、複数のメモリ動作モードについて動作確認をする場合と、情報処理装置１０１を通常動作させる場合とを、容易に切り替えることが可能になる点である。
【０１３８】
その理由は、決定指示部２４０が、カウンタ８１０のカウント値に基づいてメモリ動作モードを決定することの、要否を指示するからである。
【０１３９】
＜＜＜第３の実施形態＞＞＞
次に、本発明の第３の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。以下、本実施形態の説明が不明確にならない範囲で、前述の説明と重複する内容については説明を省略する。
【０１４０】
図１１は、本発明の第３の実施形態に係るメモリ試験装置３００の構成を示すブロック図である。
【０１４１】
図１１に示すように、本実施形態におけるメモリ試験装置３００は、第１の実施形態のメモリ試験装置１００と比べて、結果記憶部３６０を更に含む点が異なる。また、メモリ試験装置３００は、メモリ試験装置１００と比べて、動作モード決定部１１０及びメモリ試験部１３０の動作が異なる。
【０１４２】
＝＝＝結果記憶部３６０＝＝＝
結果記憶部３６０は、図１２に示すような、結果テーブル８３０を記憶する。結果記憶部３６０は、外部からの電源供給が断たれている期間を含めて、結果テーブル８３０を保持する。具体的には、結果記憶部３６０は、ＥＥＰＲＯＭや、フラッシュメモリ、バッテリでバックアップされたＤＲＡＭや、磁気記憶媒体などであってもよい。
【０１４３】
上述の例に係わらず、結果記憶部３６０は、任意の不揮発性記憶手段であってよい。
【０１４４】
＝＝＝結果テーブル８３０＝＝＝
図１２は、結果テーブル８３０の一例を示す図である。図１２に示すように、結果テーブル８３０は、レコード８３１を含む。レコード８３１は、開始時刻、終了時刻、エラー内容及びメモリ動作モードを含む。
【０１４５】
その開始時刻及びその終了時刻のそれぞれは、後述の図１４に示す処理の開始時刻及び終了時刻のそれぞれである。
【０１４６】
そのエラー内容は、メモリ試験の結果がエラーであった場合の、Ｓのエラーの内容を示す情報である。
【０１４７】
そのメモリ動作モードは、その開始時刻及びその終了時刻に対応する、メモリ動作モードである。尚、そのメモリ動作モードは、メモリ動作モード識別子や、メモリ動作モードテーブル８２０の対応するレコード８２１へのポインタなど、そのメモリ動作モードを特定する情報であってよい。
【０１４８】
上述の例に係わらず、尚、結果テーブル８３０は、少なくともエラー内容と、他の任意の情報を記憶してもよい。
【０１４９】
＝＝＝動作モード決定部１１０＝＝＝
動作モード決定部１１０は、その開始時刻及びその終了時刻を、結果記憶部３６０に記録してよい。更に、動作モード決定部１１０は、そのメモリ動作モードを特定する情報を、結果記憶部３６０に記録してよい。
【０１５０】
＝＝＝メモリ試験部１３０＝＝＝
メモリ試験部１３０は、少なくともそのエラー内容を、結果記憶部３６０に記録する。更に、メモリ試験部１３０は、メモリ試験の結果が正常であったという情報を、結果記憶部３６０に記録してよい。
【０１５１】
以上が、メモリ試験装置３００の機能単位の各構成要素についての説明である。
【０１５２】
次に、メモリ試験装置３００のハードウエア単位の構成要素について説明する。
【０１５３】
図１４は、本実施形態におけるメモリ試験装置３００を含む情報処理装置３０１のハードウエア構成を示す図である。
【０１５４】
図１４に示すように、情報処理装置３０１は、不揮発性記憶部７７０に、結果テーブル８３０を記憶する結果記憶部３６０を、更に含む。
【０１５５】
本実施形態において、ＢＩＯＳ７２０は、例えば、後述の図１４に示すフローチャートの動作を情報処理装置３０１に実行させるためのプログラムである。
【０１５６】
そして、ＣＰＵ７１０は、ＢＩＯＳ７２０に従って、図１１に示す動作モード決定部１１０及びメモリ試験部１３０として各種の処理を実行する。
【０１５７】
以上が、本実施形態におけるメモリ試験装置１００を含む情報処理装置１０１の、ハードウエア単位の各構成要素についての説明である。
【０１５８】
次に本実施形態の動作について、図面を参照して詳細に説明する。
【０１５９】
図１４は、本実施形態のメモリ試験装置３００の動作を示すフローチャートである。
【０１６０】
図１４は、メモリ試験装置３００が情報処理装置３０１の一部として動作する場合のフローチャートを示す。
【０１６１】
動作モード決定部１１０は、現在時刻を開始時刻として結果テーブル８３０に記録する（ステップＳ６３１）。ここで、動作モード決定部１１０は、例えばＢｍｃｈｗ７４０に搭載された図示しない時計手段から、現在時刻を取得してよい。
【０１６２】
ステップＳ６１１からステップＳ６１５の動作は、図５に示す動作と同じである。
【０１６３】
次に、メモリ試験部１３０は、メモリ試験の結果を結果テーブル８３０に記録する（ステップＳ６３２）。
【０１６４】
次に、動作モード決定部１１０は、カウンタ８１０のカウント値に「１」加算する（ステップＳ６１２）。
【０１６５】
次に、動作モード決定部１１０は、現在時刻を終了時刻として結果テーブル８３０に記録する（ステップＳ６３３）。その後、処理は終了する。
【０１６６】
以上が、本実施形態の動作の説明である。
尚、結果テーブル８３０は、情報処理装置３０１の図示しない出力手段（例えば、ディスプレイ）に表示されてよい。或いは、結果テーブル８３０は、Ｂｍｃｆｗ７５０によって読み出され、テキストデータまたはバイナリデータのファイルとして出力されてもよい。
【０１６７】
上述した本実施形態における第１の効果は、第１の実施形態の効果に加えて、情報処理装置３０１の複数のメモリ動作モードについての、動作確認における結果確認を容易にすることが可能になる点である。
上述した本実施形態における第２の効果は、情報処理装置３０１に存在する何らかのエラー特性（ＤＩＭＭ／ＳＤＲＡＭの電圧が１．５Ｖ時にエラー発生頻度が高いなど）を、検出及び分析（例えば、間欠故障か固定故障かの判断）することが可能になる点である。
【０１６８】
それらの効果がある理由は、結果記憶部３６０が結果テーブル８３０を記憶するからである。
【０１６９】
＜＜＜第４の実施形態＞＞＞
次に、本発明の第４の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。以下、本実施形態の説明が不明確にならない範囲で、前述の説明と重複する内容については説明を省略する。
【０１７０】
図１５は、本発明の第４の実施形態に係るメモリ試験装置４００の構成を示すブロック図である。
【０１７１】
図１５に示すように、本実施形態におけるメモリ試験装置４００は、第２の実施形態のメモリ試験装置２００と第３の実施形態のメモリ試験装置３００とを結合したものである。
【０１７２】
メモリ試験装置４００の動作モード決定部１１０は、決定指示部２４０の要否の指示が要である場合に、その開始時刻、その終了時刻及びそのメモリ動作モードを特定する情報を、結果記憶部３６０に記録してよい。
【０１７３】
メモリ試験装置４００のメモリ試験部１３０は、決定指示部２４０の要否の指示が要である場合に、少なくともそのエラー内容を、またメモリ試験の結果が正常であったという情報を任意に、結果記憶部３６０に記録する。
【０１７４】
上述した本実施形態における効果は、第２の実施形態及び第３の実施形態の効果を含む。
【０１７５】
尚、第２乃至４の実施形態のそれぞれは、第１の実施形態の変形例で示す変形を適用されてよい。
【０１７６】
以上の各実施形態で説明した各構成要素は、必ずしも個々に独立した存在である必要はない。例えば、複数個の任意のその構成要素が１個のモジュールとして実現されてよい。また、その構成要素の内の任意のひとつが複数のモジュールで実現されてもよい。また、その構成要素の内の任意のひとつがその構成要素の内の任意の他のひとつであってよい。また、その構成要素の内の任意のひとつの一部と、その構成要素の内の任意の他のひとつの一部とが重複してもよい。
【０１７７】
以上説明した各実施形態における各構成要素及び各構成要素を実現するモジュールは、必要に応じ、可能であれば、ハードウエア的に実現されてよい。また、各構成要素及び各構成要素を実現するモジュールは、コンピュータ及びプログラムで実現されてよい。また、各構成要素及び各構成要素を実現するモジュールは、ハードウエア的なモジュールとコンピュータ及びプログラムとの混在により実現されてもよい。
【０１７８】
そのプログラムは、例えば、磁気ディスクや半導体メモリなど、コンピュータが読み取り可能な非一時的記録媒体に記録され、コンピュータに提供される。そして、そのプログラムは、コンピュータの立ち上げ時などに、非一時的記録媒体からコンピュータに読み取られる。この読み取られたプログラムは、そのコンピュータの動作を制御することにより、そのコンピュータを前述した各実施形態における構成要素として機能させる。
【０１７９】
また、以上説明した各実施形態では、複数の動作をフローチャートの形式で順番に記載してあるが、その記載の順番は複数の動作を実行する順番を限定するものではない。このため、各実施形態を実施するときには、その複数の動作の順番は内容的に支障のない範囲で変更することができる。
【０１８０】
更に、以上説明した各実施形態では、複数の動作は個々に相違するタイミングで実行されることに限定されない。例えば、ある動作の実行中に他の動作が発生してよい。また、ある動作と他の動作との実行タイミングが部分的に乃至全部において重複してもよい。
【０１８１】
更に、以上説明した各実施形態では、ある動作が他の動作の契機になるように記載しているが、その記載はある動作と他の動作との関係を限定するものではない。このため、各実施形態を実施するときには、その複数の動作の関係は内容的に支障のない範囲で変更することができる。また各構成要素の各動作の具体的な記載は、各構成要素の各動作を限定するものではない。このため、各構成要素の具体的な各動作は、各実施形態を実施する上で機能的、性能的、その他の特性に対して支障を来さない範囲内で変更されてよい。
【０１８２】
以上、各実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明のスコープ内で当業者が理解し得るさまざまな変更をすることができる。
【符号の説明】
【０１８３】
１００    メモリ試験装置
１０１    情報処理装置
１１０    動作モード決定部
１２０    実行履歴記憶部
１３０    メモリ試験部
２００    メモリ試験装置
２０１    情報処理装置
２４０    決定指示部
２５０    動作モード変更部
３００    メモリ試験装置
３０１    情報処理装置
３６０    結果記憶部
４００    メモリ試験装置
７１０    ＣＰＵ
７２０    ＢＩＯＳ
７３０    制御ＬＳＩ
７４０    Ｂｍｃｈｗ
７５０    Ｂｍｃｆｗ
７６０    Ｓｗｉｃｈ
７７０    不揮発性記憶部
７８１    メモリコントローラ
７８２    メモリ
８１０    カウンタ
８２０    メモリ動作モードテーブル
８２１    レコード
８３０    結果テーブル
８３１    レコード
【図１】
0006356544.tif 000002
【図２】
0006356544.tif 000003
【図３】
0006356544.tif 000004
【図４】
0006356544.tif 000005
【図５】
0006356544.tif 000006
【図６】
0006356544.tif 000007
【図７】
0006356544.tif 000008
【図８】
0006356544.tif 000009
【図９】
0006356544.tif 000010
【図１０】
0006356544.tif 000011
【図１１】
0006356544.tif 000012
【図１２】
0006356544.tif 000013
【図１３】
0006356544.tif 000014
【図１４】
0006356544.tif 000015
【図１５】
0006356544.tif 000016