(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクが保持されるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転させるターンテーブル駆動部と、
前記ターンテーブル駆動部を制御するターンテーブル駆動回路部と、
前記ターンテーブル上に保持された前記光ディスクに対して接近する方向及び離隔する方向に駆動される対物レンズを有し、前記光ディスクと並行に、かつ、前記光ディスクの半径方向に沿って駆動される光ピックアップと、
前記光ピックアップの駆動を制御する光ピックアップ駆動回路部と、
異物を検出する異物検出部と、
前記ターンテーブル駆動回路部、前記光ピックアップ駆動回路部、及び、前記異物検出部を制御する制御部と、
を備え、
前記異物検出部は、
異物を検出するための検出光の光軸が、前記光ピックアップが駆動される方向と並行に、かつ、前記対物レンズと前記光ディスクとの間隙に位置するように射出する発光部と、
前記検出光を受光し、前記検出光の受光レベルを予め設定された閾値と比較し、比較結果に基づいて異物検出信号を第１のレベルから第２のレベルへ切り替える受光部と、
を有し、
前記制御部は、前記異物検出信号が第１のレベルであるか第２のレベルであるかを判定し、第２のレベルであると判定した場合に、前記対物レンズまたは前記光ディスクに異物が付着していると判断する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御部は、
前記対物レンズに異物が付着していないと判断した場合に、前記光ピックアップ駆動回路部によって、前記光ピックアップを、前記光ディスクが前記ターンテーブル上に保持された状態の前記光ディスクよりも外側に位置するように移動させ、かつ、前記対物レンズを前記光ディスクから離隔する方向に移動させるよう、前記光ピックアップ駆動回路部を制御し、
前記光ディスクが前記ターンテーブル上に保持された状態で、前記光ディスクを一回転以上回転させ、前記異物検出信号が第１のレベルであるか第２のレベルであるかを判定し、第２のレベルであると判定した場合に、前記光ディスクに異物が付着していると判断する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記発光部から射出された検出光は、前記ターンテーブルで反射されて前記受光部に入射することを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記光ピックアップ駆動回路部によって、前記対物レンズを前記検出光の光軸に接近する方向に移動させるよう、前記光ピックアップ駆動回路部を制御することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記対物レンズまたは前記光ディスクに異物が付着していることを通知する通知部をさらに備え、
前記制御部は、前記対物レンズに異物が付着していないと判断した場合に前記通知部によって前記光ディスクの装填の許可を通知させ、前記光ディスクに異物が付着していないと判断した場合に前記通知部によって前記光ディスクの再生または記録の許可を通知させることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
異物を検出するための検出光の光軸が、光ピックアップが駆動される方向と並行に、かつ、対物レンズと光ディスクとの間隙に位置するように射出させ、
前記検出光を受光し、前記検出光の受光レベルを予め設定された閾値と比較して、比較結果に基づいて、異物検出信号を第１のレベルから第２のレベルへ切り替え、
前記異物検出信号が第１のレベルであるか第２のレベルであるかを判定し、
前記異物検出信号が第２のレベルであると判定した場合に、前記対物レンズまたは前記光ディスクに異物が付着していると判断する
ことを特徴とする光ディスク装置の異物検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置及び光ディスク装置の異物検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに向けて照射する光ピックアップを備えている。光ピックアップは対物レンズを備えている。レーザ光は対物レンズによって光ディスクの記録面に集光される。これにより、光ディスクの記録面に所望の情報を記録したり、記録面に記録されている情報を再生したりすることができる。
【０００３】
近年、光ディスク装置は、特許文献１に記載されているように、検体検出用の光ディスクの分析装置としても用いられている。
【０００４】
光ディスク装置では、光ピックアップの対物レンズや光ディスクにごみや埃等の異物が付着していると、レーザ光が異物によって吸収されたり拡散されたりしてしまう。これにより、レーザ光の光量が減衰してしまうため、再生エラーや記録エラー等の不具合が発生する。そのため、光ピックアップの対物レンズや光ディスクに異物が付着しているか否かを事前に検出することが望ましい。
【０００５】
特許文献２には、光ピックアップの対物レンズに付着している異物を検出する手段の一例が記載されている。特許文献３には、光ディスクに付着している異物を検出する手段の一例が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特表２００２−５３０７８６号公報
【特許文献２】特開平５−０８９４６２号公報
【特許文献３】特開平８−０２２６３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献２，３に記載されている従来の光ディスク装置及び光ディスク装置の異物検出方法は、光ディスクの再生動作を行いながら異物を検出する。即ち、光ディスクに対物レンズを接近させた状態で光ディスクを回転させながら異物を検出する。そのため、対物レンズや光ディスクに異物が付着している場合、異物を検出することはできるものの、異物によって光ディスクや対物レンズを傷つけてしまうという問題がある。例えば、再生時における光ディスクと対物レンズとの間隔は０．５ｍｍ程度と非常に狭い。
【０００８】
異物によって光ディスクや対物レンズが傷ついてしまうと、レーザ光が傷によって吸収されたり拡散されたりしてしまう。これにより、レーザ光の光量が減衰し、記録エラーや再生エラー等の不具合が発生する場合がある。
【０００９】
特に、検体検出用の光ディスクは、一般的な光ディスクと比較して記録層に相当する反射面を保護するための保護層がない。そのため、対物レンズに異物が付着していると、光ディスクの反射面を異物で直接傷つけてしまい、正確な分析ができなくなってしまう。
【００１０】
本発明はこのような問題点に鑑み、光ディスクや光ピックアップの対物レンズを傷つけることなく、再生動作や記録動作を行う前に、対物レンズまたは光ディスクに付着している異物を検出することができる光ディスク装置及び光ディスク装置の異物検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、光ディスクが保持されるターンテーブルと、前記ターンテーブルを回転させるターンテーブル駆動部と、前記ターンテーブル駆動部を制御するターンテーブル駆動回路部と、前記ターンテーブル上に保持された前記光ディスクに対して接近する方向及び離隔する方向に駆動される対物レンズを有し、前記光ディスクと並行に、かつ、前記光ディスクの半径方向に沿って駆動される光ピックアップと、前記光ピックアップの駆動を制御する光ピックアップ駆動回路部と、異物を検出する異物検出部と、前記ターンテーブル駆動回路部、前記光ピックアップ駆動回路部、及び、前記異物検出部を制御する制御部と、を備え、前記異物検出部は、異物を検出するための検出光の光軸が、前記光ピックアップが駆動される方向と並行に、かつ、前記対物レンズと前記光ディスクとの間隙に位置するように射出する発光部と、前記検出光を受光し、前記検出光の受光レベルを予め設定された閾値と比較し、比較結果に基づいて異物検出信号を第１のレベルから第２のレベルへ切り替える受光部と、を有し、前記制御部は、前記異物検出信号が第１のレベルであるか第２のレベルであるかを判定し、第２のレベルであると判定した場合に、前記対物レンズまたは前記光ディスクに異物が付着していると判断することを特徴とする光ディスク装置を提供する。
【００１２】
また、本発明は、異物を検出するための検出光の光軸が、光ピックアップが駆動される方向と並行に、かつ、対物レンズと光ディスクとの間隙に位置するように射出させ、前記検出光を受光し、前記検出光の受光レベルを予め設定された閾値と比較して、比較結果に基づいて、異物検出信号を第１のレベルから第２のレベルへ切り替え、前記異物検出信号が第１のレベルであるか第２のレベルであるかを判定し、前記異物検出信号が第２のレベルであると判定した場合に、前記対物レンズまたは前記光ディスクに異物が付着していると判断することを特徴とする光ディスク装置の異物検出方法を提供する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の光ディスク装置及び光ディスク装置の異物検出方法によれば、光ディスクや光ピックアップの対物レンズを傷つけることなく、再生動作や記録動作を行う前に、対物レンズまたは光ディスクに付着している異物を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施形態の光ディスク装置を示す構成図である。
【図２】対物レンズに対する異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【図３】対物レンズの上下方向の位置と受光レベルと異物検出信号との関係を説明するための概念図である。
【図４】対物レンズの上下方向の位置と受光レベルと異物検出信号との関係を説明するための概念図である。
【図５】光ディスクに対する異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【図６】実施形態の光ディスク装置が光ディスクに付着している異物を検出している状態を示す構成図である。
【図７】光ディスクに付着している異物の回転方向の位置と受光レベルと異物検出信号との関係を説明するための概念図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
図１に示すように、光ディスク装置１は、ターンテーブル２、クランパ３、ターンテーブル駆動部４、ターンテーブル駆動回路部５、光ピックアップ２０、ガイド軸６、光ピックアップ駆動回路部７、異物検出部３０、制御部８、及び、通知部９を備えている。
【００１６】
ターンテーブル２上には、光ディスク４０が、その記録面が下向きになるように載置される。
【００１７】
光ディスク４０は円板形状を有する。光ディスク４０として、ブルーレイディスク（ＢＤ）、ＤＶＤ、コンパクトディスク（ＣＤ）や、特許文献１に記載されているような検体検出用の光ディスクを用いることができる。なお、光ディスク４０は、上記の光ディスクに限定されるものではなく、他の形態や規格に準拠した光ディスクを用いることもできる。
【００１８】
クランパ３は、ターンテーブル２に対して離隔する方向及び接近する方向、即ち、図１の上方向及び下方向に駆動される。光ディスク４０は、クランパ３が下方向に駆動されると、クランパ３とターンテーブル２とによって、ターンテーブル２上に保持される。
【００１９】
ターンテーブル駆動部４は、ターンテーブル２を光ディスク４０及びクランパ３と共に回転駆動させる。ターンテーブル駆動部４として、例えばスピンドルモータを用いることができる。
【００２０】
ターンテーブル駆動回路部５はターンテーブル駆動部４を制御する。
【００２１】
ガイド軸６は、光ディスク４０と並行に配置され、かつ、光ディスク４０の半径方向に沿って配置されている。
【００２２】
光ピックアップ２０はガイド軸６に支持されている。光ピックアップ２０は、ガイド軸６に沿って光ディスク４０の半径方向に、かつ、光ディスク４０と並行に駆動される。
【００２３】
光ピックアップ２０は対物レンズ２１を備えている。対物レンズ２１はサスペンションワイヤ２２に支持されている。対物レンズ２１は、光ディスク４０に対して接近する方向及び離隔する方向、即ち、図１の上方向及び下方向に駆動される。
【００２４】
光ピックアップ２０は光ディスク４０に向けてレーザ光を照射する。レーザ光は対物レンズ２１によって光ディスク４０の記録面に集光される。レーザ光を光ディスク４０の記録面に集光させることにより、光ディスク４０の記録面に情報を記録したり、光ディスク４０の記録面に記録されている情報を再生したりすることができる。また、光ディスクから被検体を検出することもできる。
【００２５】
光ピックアップ駆動回路部７は光ピックアップ２０の駆動を制御する。例えば光ピックアップ駆動回路部７は、光ピックアップ２０をガイド軸６に沿って移動させたり、光ピックアップ２０の対物レンズ２１を上下方向に移動させたりする。
【００２６】
異物検出部３０は、光ピックアップ２０の対物レンズ２１に付着している異物、及び、光ディスク４０に付着している異物を、例えば透過方式によって検出する機能を有している。
【００２７】
異物検出部３０は、発光部３１及び受光部３２を備えている。
【００２８】
発光部３１は、ターンテーブル２の回転軸Ｃ２に対して、ターンテーブル２よりも外側に位置し、かつ、ターンテーブル２上に光ディスク４０が保持された場合に光ディスク４０よりも外側に位置するように配置されている。
【００２９】
発光部３１は、光ピックアップ２０の対物レンズ２１に付着している異物、及び、光ディスク４０に付着している異物を検出するための検出光３１ａをビーム状に射出する。発光部３１として、例えばＬＥＤを光源とする光ファイバセンサを用いることができる。
【００３０】
発光部３１は、検出光３１ａの光軸がガイド軸６及び光ディスク４０と並行になるように配置されている。
【００３１】
発光部３１は、光ピックアップ２０の対物レンズ２１を光ディスク４０に最も接近させた状態において、検出光３１ａの光軸が対物レンズ２１と光ディスク４０との間隙に位置するように配置されている。
【００３２】
対物レンズ２１を光ディスク４０に最も接近させた状態では、対物レンズ２１と光ディスク４０との間隙は例えば０．５ｍｍ程度である。発光部３１から射出される検出光３１ａのビーム径は例えば０．１ｍｍ〜０．３ｍｍ程度である。
【００３３】
従って、発光部３１は、異物を検出するための検出光３１ａを、光ピックアップ２０のガイド軸６上の位置に限定されることなく、検出光３１ａの光軸が対物レンズ２１の上方近傍に位置し、かつ、光ピックアップ２０が駆動される方向と並行になるように射出する。
【００３４】
また、発光部３１は、光ディスク４０がターンテーブル２上に保持されている状態で、検出光３１ａを、検出光３１ａの光軸が光ディスク４０の下面近傍に位置し、かつ、対物レンズ２１と光ディスク４０との間隙に位置するように、光ディスク４０の半径方向に沿って射出する。
【００３５】
発光部３１から射出された検出光３１ａは、ターンテーブル２の側面２ａで反射される。ターンテーブル２の側面２ａは、検出光３１ａの光軸に対して例えば４５°傾斜した傾斜面となっている。
【００３６】
ターンテーブル２は、少なくとも側面２ａが検出光３１ａを高反射率で反射させる材料で形成されている。検出光３１ａを高反射率で反射させる材料として、金属や樹脂等を用いることができる。また、ターンテーブル２の側面２ａは、ターンテーブル２が回転している状態において検出光３１ａを一定の反射率で反射させるために、鏡面になっていることが好ましい。
【００３７】
受光部３２は、ターンテーブル２の側面２ａの下方に位置し、かつ、ターンテーブル２の側面２ａで反射された検出光３１ｂの光軸上に位置するように配置されている。
【００３８】
受光部３２は入射した検出光３１ｂを受光して、検出光３１ｂの光量を受光レベルとして検出する。
【００３９】
受光部３２は、光ピックアップ２０の対物レンズ２１に異物が付着しているか否か、及び、光ディスク４０に異物が付着しているか否かを判定するための異物検出信号を、制御部８へ出力する。
【００４０】
受光部３２は、受光レベルと、予め設定されている閾値とを比較し、比較結果に基づいて異物検出信号をローレベル（第１のレベル）からハイレベル（第２のレベル）へ切り替えたり、ハイレベルからローレベルへ切り替えたりする。例えば、受光部３２は、受光レベルが閾値よりも低くなるとローレベルからハイレベルへ切り替え、受光レベルが閾値よりも高くなるとハイレベルからローレベルへ切り替える。
【００４１】
制御部８は、ターンテーブル駆動回路部５、光ピックアップ駆動回路部７、異物検出部３０、及び、通知部９を制御する。制御部８として、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いることができる。
【００４２】
制御部８は、受光部３２から入力された異物検出信号がハイレベルかローレベルかを判定する。制御部８は、判定結果に基づき、光ピックアップ２０の対物レンズ２１に異物が付着していること、または、光ディスク４０に異物が付着していることを使用者に通知するように、通知部９を制御する。
【００４３】
通知部９は、光ピックアップ２０の対物レンズ２１に異物が付着していること、または、光ディスク４０に異物が付着していることを、例えば画像や音声によって使用者に通知する。
【００４４】
図２〜図７を用いて、光ディスク装置１の異物検出方法を説明する。
【００４５】
［対物レンズに対する異物検出］
図２〜図４を用いて、光ピックアップ２０の対物レンズ２１に対する異物検出方法を説明する。
【００４６】
光ディスク装置１は、最初に対物レンズ２１に対して異物検出を行う。なお、対物レンズ２１に対する異物検出は、光ディスク装置１に光ディスク４０が装填されていない状態、即ち光ディスク４０がターンテーブル２上に保持されていない状態で行われる。
【００４７】
図２は、対物レンズに対する異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【００４８】
制御部８は、ステップＳ１にて、異物検出部３０を起動させる。具体的には、制御部８は、発光部３１から例えば所定の光量を有する検出光３１ａを射出させる。受光部３２は、ターンテーブル２の側面２ａで反射した検出光３１ｂの光量を受光レベルとして検出する。
【００４９】
ステップＳ１では、光ピックアップ２０の対物レンズ２１は、検出光３１ａの光軸に最も接近する位置（以下、上限位置と称す）と検出光３１ａの光軸から最も離隔する位置（以下、下限位置と称す）とのほぼ中間位置である初期位置に配置されている。なお、ステップＳ１では、対物レンズ２１は下限位置に配置されていてもよい。
【００５０】
制御部８は、ステップＳ２にて、対物レンズ２１が上限位置に移動するように、光ピックアップ駆動回路部７に光ピックアップ２０の駆動を制御させる。対物レンズ２１を上限位置へ移動させることで、発光部３１から射出された検出光３１ａは、対物レンズ２１の直上を通過する。
【００５１】
ここで、対物レンズ２１を上限位置へ移動させて異物検出を行う理由を、図３及び図４を用いて説明する。
【００５２】
図３は、対物レンズ２１に付着している異物２４が小さく、対物レンズ２１が上限位置に移動した状態のみに異物２４が検出光３１ａの光軸上に位置する場合を説明するための図である。
【００５３】
図３（ａ）は、対物レンズ２１を中間位置から上限位置へ移動させ、さらに下限位置へ移動させた状態を左から右へ模式的に示している。
【００５４】
図３（ｂ）は、検出光３１ｂの光量に対応する、受光部３２の受光レベルを示している。縦軸は受光レベルを示している。横軸は時間を示し、図３（ａ）の対物レンズ２１の上下位置に対応している。
【００５５】
図３（ｃ）は、受光部３２から出力される異物検出信号を示している。縦軸は異物検出信号のレベルを示している。横軸は時間を示し、図３（ｂ）の時間軸に対応している。
【００５６】
対物レンズ２１に付着している異物２４が小さいので、中間位置では異物２４は検出光３１ａの光軸上に位置していない。そのため、受光部３２に入射する検出光３１ｂは、発光部３１から射出される検出光３１ａとほぼ同じ光量を有する。
【００５７】
中間位置では受光レベルが閾値３３よりも高いので、異物検出信号３４はローレベルになる。
【００５８】
対物レンズ２１を上限位置へ移動させると、異物２４は検出光３１ａの光軸上に位置する。そのため、検出光３１ａは異物２４によって吸収されたり拡散されたりしてしまい、検出光３１ａの光量が減衰する。
【００５９】
上限位置では受光レベルが閾値３３よりも低くなるので、異物検出信号３４はハイレベルになる。
【００６０】
対物レンズ２１を上限位置から下限位置へ移動させると、異物２４は検出光３１ａの光軸上から外れる。そのため、受光部３２に入射する検出光３１ｂは、発光部３１から射出される検出光３１ａとほぼ同じ光量を有する。
【００６１】
下限位置では受光レベルが閾値３３よりも高いので、異物検出信号３４はローレベルになる。
【００６２】
図４は、対物レンズ２１に付着している異物２５が大きく、対物レンズ２１の下限位置でも異物２５が検出光３１ａの光軸上に位置する場合を説明するための図である。
【００６３】
図４（ａ）、図４（ｂ）、及び図４（ｃ）は、図３（ａ）、図３（ｂ）、及び図３（ｃ）にそれぞれ対応する。
【００６４】
対物レンズ２１に付着している異物２５が大きいので、中間位置、上限位置、及び下限位置のいずれの位置においても、異物２５は検出光３１ａの光軸上に位置する。そのため、検出光３１ａは異物２５によって吸収されたり拡散されたりしてしまい、検出光３１ａの光量が減衰する。
【００６５】
従って、対物レンズ２１に付着している異物２５が大きい場合は、中間位置、上限位置、及び下限位置のいずれの位置においても、受光レベルが閾値３３よりも低くなるため、異物検出信号３４’はハイレベルになる。
【００６６】
即ち、対物レンズ２１を上限位置へ移動させることで、異物の大小に係わらず、異物検出信号をハイレベルにすることができる。異物検出信号がハイレベルかローレベルかを判定することで、対物レンズ２１に付着している異物を検出することができる。
【００６７】
受光部３２は、図２のステップＳ３にて、受光レベルと予め設定されている閾値とを比較し、比較結果に基づいて異物検出信号をローレベルからハイレベルへ切り替えたり、ハイレベルからローレベルへ切り替えたりする。例えば、受光部３２は、受光レベルが閾値よりも低くなると異物検出信号をローレベルからハイレベルへ切り替え、高くなるとハイレベルからローレベルへ切り替える。
【００６８】
制御部８は、ステップＳ４にて、受光部３２から入力された異物検出信号がハイレベルかローレベルかを判定する。
【００６９】
ステップＳ４で異物検出信号がハイレベルである（ＹＥＳ）と判定された場合、制御部８は、ステップＳ５にて、対物レンズ２１に異物が付着していると判断する。
【００７０】
制御部８は、ステップＳ６にて、対物レンズ２１に異物が付着していることを使用者に通知するように、通知部９を制御する。通知部９は、光ピックアップ２０の対物レンズ２１に異物が付着していることを、例えば画像や音声によって使用者に通知する。
【００７１】
ステップＳ４で異物検出信号がローレベルである（ＮＯ）と判定された場合、制御部８は、ステップＳ７にて、対物レンズ２１に異物が付着していないと判断する。
【００７２】
制御部８は、ステップＳ８にて、光ディスク装置１への光ディスク４０の装填の許可を使用者に通知するように、通知部９を制御する。通知部９は、光ディスク装置１への光ディスク４０の装填の許可を、例えば画像や音声によって使用者に通知する。
【００７３】
制御部８は、ステップＳ９にて、異物検出部３０の動作を停止させる。具体的には、制御部８は、発光部３１の検出光３１ａの射出を停止させる。
【００７４】
制御部８は、ステップＳ１０にて、光ピックアップ２０の対物レンズ２１が上限位置から初期位置である中間位置へ移動するように、光ピックアップ駆動回路部７に光ピックアップ２０の駆動を制御させる。
【００７５】
従って、光ディスク装置１に光ディスク４０が装填される前に、対物レンズ２１に付着した異物を除去することができる。対物レンズ２１に付着した異物の除去方法は特に限定されるものではなく、周知の除去方法を用いることができる。
【００７６】
［光ディスクに対する異物検出］
図５〜図７を用いて、光ディスク４０に対する異物検出方法を説明する。
【００７７】
光ディスク装置１は、対物レンズ２１の異物検出を行った後に、光ディスク４０に対して異物検出を行う。図２のステップＳ７で対物レンズ２１に異物が付着していないと判断された場合、使用者は光ディスク装置１への光ディスク４０の装填を許可される。
【００７８】
図５は、光ディスクに対する異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【００７９】
制御部８は、ステップＳ２１にて、光ピックアップ駆動回路部７に光ピックアップ２０の駆動を制御させる。具体的には、光ピックアップ駆動回路部７は、光ピックアップ２０を光ディスク４０よりも外側の位置へ移動させる。
これにより、図６に示すように、光ピックアップ２０は、光ディスク４０がターンテーブル２上に保持された場合に光ディスク４０よりも外側に位置するように、ターンテーブル２の回転軸Ｃ２から離隔する方向にガイド軸６に沿って移動する。
【００８０】
制御部８は、ステップＳ２２にて、光ピックアップ２０の対物レンズ２１が下限位置に移動するように、光ピックアップ駆動回路部７に光ピックアップ２０の駆動を制御させる。
【００８１】
光ピックアップ２０を光ディスク４０よりも外側の位置まで移動させ、さらに対物レンズ２１を下限位置に移動させることにより、対物レンズ２１を光ディスク４０から遠ざけることができる。これにより、光ディスク４０に異物が付着していた場合に、光ディスク４０の異物が、対物レンズ２１に付着したり、対物レンズ２１を傷つけたりすることを回避することができる。
【００８２】
なお、ステップＳ２２の後にステップＳ２１を実施してもよいし、ステップＳ２１とステップＳ２２を並行して実施してもよい。
【００８３】
光ディスク４０は、ステップＳ２３にて、光ディスク装置１へ装填され、クランパ３とターンテーブル２とによって、ターンテーブル２上に保持される。
【００８４】
制御部８は、ステップＳ２４にて、異物検出部３０を起動させる。具体的には、制御部８は、発光部３１から例えば所定の光量を有する検出光３１ｃを射出させる。受光部３２は、ターンテーブル２の側面２ａで反射した検出光３１ｄの光量を受光レベルとして検出する。
【００８５】
制御部８は、ステップＳ２５にて、光ディスク４０が角速度一定で回転するように、ターンテーブル駆動回路部５にターンテーブル駆動部４を制御させる。角速度は光ディスク４０に付着している異物を検出可能な値に設定されている。
【００８６】
なお、ステップＳ２５の後にステップＳ２４を行ってもよい。
【００８７】
図７は、光ディスクの回転方向における異物の位置と受光レベルと異物検出信号との関係を説明するための図である。
【００８８】
図７（ａ）は、光ディスク４０の回転方向における異物４１と、発光部３１から射出された検出光３１ｃとの位置関係を概念的に示している。図７（ａ）は、図６の光ディスク４０及びターンテーブル２を下側から見た状態を模式的に示している。なお、図７（ａ）中の円弧状の矢印は光ディスク４０の回転方向を示している。
【００８９】
図７（ａ）では、光ディスク４０の回転方向における異物４１と検出光３１ｃとの位置関係をわかりやすくするために、１つの異物４１を回転方向に時系列に複数示している。
【００９０】
図７（ｂ）は、検出光３１ｄの光量に対応する、受光部３２の受光レベルを示している。縦軸は受光レベルを示している。横軸は時間を示し、図７（ａ）の光ディスク４０の回転方向に対応している。
【００９１】
図７（ｃ）は、受光部３２から出力される異物検出信号を示している。縦軸は異物検出信号のレベルを示している。横軸は時間を示し、図７（ｂ）の時間軸に対応している。
【００９２】
図７（ａ）に示すように、光ディスク４０に付着している異物４１は、光ディスク４０の回転方向に沿って、４２ａ、４２ｂ、４２ｃ、４２ｄ、及び４２ｅの位置に順次移動する。
【００９３】
異物４１は、位置４２ａでは検出光３１ｃの光軸上から外れている。そのため、受光部３２に入射する検出光３１ｄは、発光部３１から射出される検出光３１ｃとほぼ同じ光量を有する。位置４２ａでは受光レベルが閾値３５よりも高いので、異物検出信号３６はローレベルになる。
【００９４】
異物４１は、位置４２ｂでは一部が検出光３１ｃの光軸上に位置する。そのため、検出光３１ｄは検出光３１ｃよりも光量が減衰する。位置４２ｂでは受光レベルが閾値３５よりも高いので、異物検出信号３６はローレベルになっている。
【００９５】
異物４１は、位置４２ｂから位置４２ｃへ移動していくと、検出光３１ｃの光軸上に位置する部分が増加するため、受光レベルが低くなる。受光レベルが閾値３５よりも低くなると、異物検出信号３６はローレベルからハイレベルへ切り替えられる。
【００９６】
異物４１は、位置４２ｃでは中心部が光軸上に位置する。そのため、検出光３１ｄの光量は最も低くなる。位置４２ｃでは受光レベルが閾値３５よりも低いので、異物検出信号３６はハイレベルに維持される。
【００９７】
異物４１は、位置４２ｃから位置４２ｄへ移動していくと、検出光３１ｃの光軸上に位置する部分が減少するため、受光レベルは高くなる。受光レベルが閾値３５よりも高くなると、異物検出信号３６はハイレベルからローレベルへ切り替えられる。
【００９８】
異物４１は、位置４２ｅでは検出光３１ｃの光軸上から外れる。そのため、受光部３２に入射する検出光３１ｄは、発光部３１から射出される検出光３１ｃとほぼ同じ光量を有する。位置４２ｅでは受光レベルが閾値３５よりも高いので、異物検出信号３６はローレベルに維持される。
【００９９】
受光部３２は、図５のステップＳ２６にて、受光レベルが予め設定されている閾値よりも低くなると異物検出信号をローレベルからハイレベルへ切り替え、高くなるとハイレベルからローレベルへ切り替える。
【０１００】
制御部８は、ステップＳ２７にて、受光部３２から入力された異物検出信号がハイレベルかローレベルかを判定する。
【０１０１】
ステップＳ２７で異物検出信号がハイレベルである（ＹＥＳ）と判定された場合、制御部８は、ステップＳ２８にて、光ディスク４０に異物が付着していると判断する。
【０１０２】
制御部８は、ステップＳ２９にて、光ディスク４０に異物が付着していることを使用者に通知するように、通知部９を制御する。通知部９は、光ディスク４０に異物が付着していることを、例えば画像や音声によって使用者に通知する。
【０１０３】
ステップＳ２７で異物検出信号がローレベルである（ＮＯ）と判定された場合、制御部８は、ステップＳ３０にて、光ディスク４０が一回転以上、回転したか否かを判定する。光ディスク４０が一回転以上、回転していない（ＮＯ）と判定された場合はステップＳ２７へ戻る。
【０１０４】
ステップＳ３０で光ディスク４０が一回転以上、回転した（ＹＥＳ）と判定された場合、制御部８は、ステップＳ３１にて、光ディスク４０に異物が付着していないと判断する。
【０１０５】
制御部８は、ステップＳ３２にて、光ディスク４０の再生や記録の許可を使用者に通知するように、通知部９を制御する。通知部９は、光ディスク４０の再生や記録の許可を、例えば画像や音声によって使用者に通知する。
【０１０６】
制御部８は、ステップＳ３３にて、光ピックアップ２０がガイド軸６上の初期位置（例えば最内周位置）へ移動するように、光ピックアップ駆動回路部７に光ピックアップ２０の駆動を制御させる。
【０１０７】
制御部８は、ステップＳ３４にて、光ピックアップ２０の対物レンズ２１が初期位置である中間位置に移動するように、光ピックアップ駆動回路部７に光ピックアップ２０の駆動を制御させる。
【０１０８】
制御部８は、ステップＳ３５にて、異物検出部３０の動作を停止させる。具体的には、制御部８は、発光部３１の検出光３１ｃの射出を停止させる。
【０１０９】
従って、対物レンズ２１を光ディスク４０から遠ざけた状態で、光ディスク４０の異物検出を行うことができる。光ディスク４０に付着した異物の除去方法は特に限定されるものではなく、周知の除去方法を用いることができる。
【０１１０】
光ディスク４０を一回転、回転させた期間に異物検出信号がローレベルからハイレベルに切り替わった回数を計測することにより、光ディスク４０に付着している異物の数を計測することができる。
【０１１１】
光ディスク４０を複数回、回転させ、受光部３２の受光レベルと閾値とを、光ディスク４０の回転周期に同期させて複数回、比較するようにしてもよい。複数回の比較を行うことにより、異物の検出精度を向上させることができる。
【０１１２】
また、光ディスク４０を複数回、回転させ、受光部３２の受光レベルを、光ディスク４０の回転周期に同期させて積算し、受光レベルの積算値を閾値と比較するようにしてもよい。受光レベルを積算することによってＳＮ比が大きくなり、異物の検出精度を向上させることができる。
【０１１３】
本実施形態の光ディスク装置では、光ディスク装置１に光ディスク４０が装填されていない状態で対物レンズ２１の異物検出を行った後、対物レンズ２１を光ディスク４０から遠ざけた状態で、光ディスク４０の異物検出を行う。そうすることで、光ディスク４０に付着した異物が対物レンズ２１に付着するのを避けることができる。従って、本実施形態の光ディスク装置１によれば、光ディスク４０や対物レンズ２１を傷つけることなく、光ディスク４０及び対物レンズ２１の異物検出を再生または記録前に行うことができる。
【０１１４】
本実施形態の光ディスク装置１によれば、対物レンズ２１に付着している異物と光ディスク４０に付着している異物の両方の異物を区別して検出することができる。
【０１１５】
なお、本発明に係る実施形態は、上述した構成に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。
【０１１６】
例えば、受光部３２が受光レベルと閾値とを比較し、比較結果に基づいて、異物検出信号をローレベルまたはハイレベルに切り替えるのではなく、制御部８が、受光部３２の受光レベルと閾値とを比較し、異物の有無を判定するようにしてもよい。
【０１１７】
また、本実施形態では、異物検出信号を、受光レベルが閾値よりも低い場合にハイレベルに切り替え、高い場合にローレベルに切り替えたが、これに限定されるものではない。
【０１１８】
例えば、変形例として、受光レベルが閾値よりも低い場合にローレベルに切り替え、高い場合にハイレベルに切り替えるようにしてもよい。この場合、制御部８は、異物検出信号がローレベルであると判定された場合に、異物が付着していると判断する。
【符号の説明】
【０１１９】
１  光ディスク装置
２  ターンテーブル
４  ターンテーブル駆動部
５  ターンテーブル駆動回路部
７  光ピックアップ駆動回路部
８  制御部
２０  光ピックアップ
２１  対物レンズ
３０  異物検出部
３１  発光部
３１ａ，３１ｂ  検出光
３２  受光部
４０  光ディスク
Ｃ２  回転軸
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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