(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも一つのチップをウェハ上に配置して集積化された製造物を形成する工程と、
該集積化された製造物上に膜を形成して該集積化された製造物を実質的に流体密封にする工程と、
前記膜に所定の陽圧を加えると共に、前記集積化された製造物の温度を調節して、前記少なくとも一つのチップを前記ウェハに永久的に接合する工程と、
前記少なくとも一つのチップを前記ウェハに永久的に接合した後で、前記集積化された製造物から前記膜を取り除く工程と
を含むチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項２】
前記少なくとも一つのチップを前記ウェハ上に配置する工程が、
前記少なくとも一つのチップを前記ウェハに対して位置合わせすることと、
前記少なくとも一つのチップを前記ウェハに仮接合して、前記集積化された製造物を形成することを含む前記請求項１に記載されたチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項３】
前記集積化された製造物上に膜を形成する工程が、
真空チャンバ内で前記集積化された製造物上に膜を皮膜することを含む前記請求項１に記載されたチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項４】
前記集積化された製造物上に膜を形成する工程が、
前記集積化された製造物上に前記膜を皮膜することと、
該膜と集積化された製造物の間に閉じこめられたガスを取り除くことを含む前記請求項１に記載されたチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項５】
前記集積化された製造物上に膜を形成する工程が、
前記集積化された製造物上に前記膜を堆積することと、
該膜と集積化された製造物の間に閉じこめられたガスを取り除くことを含む前記請求項１に記載されたチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項６】
前記膜に所定の圧力を加える工程が、
膜上のガス圧を所定の陽圧に昇圧することを含む前記請求項１に記載されたチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項７】
前記集積化された製造物から前記膜を取り除く工程が、
前記膜を有する集積化された製造物をスピニング部材に配置することと、
該膜上に化学溶剤を加えること
を含む前記請求項１に記載されたチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項８】
前記集積化された製造物の温度を調節する工程が、
前記集積化された製造物の周囲のガス温度を接合温度に昇温することを含む前記請求項２に記載されたチップをウェハに対し集積する方法。
【請求項９】
集積化された製造物上に膜を形成する塗布モジュールであって、該集積化された製造物が、少なくとも一つのチップをウェハ上に配置して、前記集積化された製造物を実質的に流体密封にするように、形成される塗布モジュールと、
前記膜に圧力を加えると共に、集積化された製造物の温度を調節して、前記少なくとも一つのチップを前記ウェハに永久的に接合する接合モジュールと、
前記集積化された製造物から前記膜を取り除く洗浄モジュールを含むチップをウェハに対し集積する装置。
【請求項１０】
更に、前記膜を硬化する膜ベーキングモジュールと、
前記集積化された製造物を移動する転送モジュールを含む、前記請求項９に記載のチップをウェハに対し集積する装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、２０１３年７月１６日に出願された、シンガポール特許出願第２０１３０５４３９−０に基づき優先権主張する。
【０００２】
本発明は、大略、チップをウェハに対し集積する方法に関する。
【背景技術】
【０００３】
基本的な金属対金属接合は、ソリッドステート拡散接合処理であり、高温で比較的に長時間を必要とする。例えば、Ｃｕ対Ｃｕ拡散接合処理は、３００℃を超える温度で約３０分かかる。チップオンウェファ接合は、チップとウェハの間の金属対金属拡散接合によって、実行されうる。時間のかかる接合方法を考慮して、フリップチップボンダーがチップをウェハに対し接合するためにうまく使用されて、関連するコストを最小にしている。
【０００４】
従来、チップオンウェハ接合は、はんだ補助接合を含んでいる。はんだ補助接合は、比較的短時間、例えば、約２０秒で実行される。はんだがまず位置合わせされて、その溶融温度に加熱され、その後接合処理に続く。フリップチップボンダー単独での金属対金属接合は、金属対金属接合が拡散優位の接合処理であり、比較的に長い時間、通常は３０分以上かかるので、現実的ではない。ここで、２段階の接合方法がふさわしいと思える。特に、チップがまず位置合わせされてフリップチップボンダーを用いてウェハに仮接合され、その後従来のボンダーにより実施される永久接合方法が続く。チップとウェハは接着剤又はサーモソニックボンディング（超音波接合）を用いて仮接合されうる。接着剤は永久接合後にチップとウェハの間に残ることがあり、また、永久接合中に蒸発することもある。仮接合方法は通常１００℃以下で行われる。再度、チップ毎の接合時間がチップをウェハに対して押圧することのみ含んでいるので、それは永久接合に対して比較的に短い。必要な位置合わせの精度に応じて、仮接合のための必要な時間は変化する。例えば、目標の位置合わせ精度が３μｍ（３σ）である場合、全接合時間は３秒以内にすることができる。
【０００５】
ウェハ上のすべてのチップの仮接合処理の完了時点で、仮接合処理の製造物が従来のボンダーのボトムステージに配設される。次いで、トップステージが各チップに押圧をかけて、圧力を加える。そして、ボトムステージとトップステージは永久接合にとって適切な温度に加熱される。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記の永久接合処理中にチップが位置ずれを起こしてしまう傾向があることが注意されるべきである。例えば、トップステージとその表面が、ウェハのそれとは異なる温度膨張係数（ＣＴＥ）を有する材料、例えば、ステンレススチール製であることがある。トップステージとウェハの不均一な膨張が結果的に各チップに対して水平方向の力が加わることとなる。
【０００７】
更に、仮にウェハに接合された各チップが多少異なる厚みを有することがある。図１に示すように、トップステージ１０２が各チップ１０４に押圧をかけて、圧力をチップ１０４に加えると、おそらくより厚いチップが力を受けるが、一方、より薄いチップは十分な接合力を受けずに、結果的に不均一な接合力となり、いくつかのチップとウェハの間が不十分な接合となるでしょう。
【０００８】
図２に関連して、不均一な接合力と不十分な接合の問題を解決するために、可撓性の材料から作られたソフトプレート２０２が、一般的に、各チップ２０４とトップサイドステージ２０６の間に配設される。しかるがゆえに、異なる高さを有する各チップが、依然として、永久接合の間に十分な力を受けることがあるかもしれない。しかしながら、各チップの周囲のソフトプレートの撓みは、隣接するチップに対して水平方向の力の成分を生成し、チップがウェハに対し位置ずれとなることもある。
【０００９】
そのために、上記の問題のうちの少なくともいくつかを解決するために、若しくは、有用な代替を提供するために探し求める、チップをウェハに対し集積する方法を提供する必要性が存在する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
詳細な説明に関連して、チップをウェハに対し集積する方法が提供される。この方法は、少なくとも一つのチップをウェハ上に配置して集積化された製造物を形成する工程と、集積化された製造物上に膜を形成してその集積化された製造物を実質的に流体密封にする工程と、前記少なくとも一つのチップをウェハに永久的に接合する間前記膜に所定の陽圧を加える工程を含んでいる。この方法は、更に、前記少なくとも一つのチップをウェハに永久的に接合した後で、集積化された製造物から前記膜を取り除く工程を含んでいる。
【００１１】
更なる実施の形態に関連して、チップをウェハに対し集積する装置が提供される。この装置は、塗布モジュールと接合モジュールと洗浄モジュールを含んでいる。塗布モジュールは、集積化された製造物上に膜を形成するが、該集積化された製造物が少なくとも一つのチップをウェハ上に配置して、集積化された製造物を実質的に流体密封にするように形成される。接合モジュールは、少なくとも一つのチップをウェハに永久に接合する間前記膜に圧力を加える。そして、洗浄モジュールは、集積化された製造物から前記膜を取り除く。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
本発明の実施の形態は、図面に関連して、例示のみによる以下の記載から所謂当業者によって良く理解され且つ容易に明らかである。
【００１３】
図１は、第１の先行技術に従い、トップステージがチップに対して押圧された時のチップオンウェハの断面図を示した略図を示す。
【００１４】
図２は、第２の先行技術に従い、トップステージがチップに対して押圧された時のチップオンウェハの断面図を示した略図を示す。
【００１５】
図３は、実施の形態の例に従ったチップをウェハに対し集積する方法を示したフローチャートを示す。
【００１６】
図４Ａは、実施の形態に従い、図３の工程３０４から得られた少なくとも一つのチップとウェハの断面を示した略図を示す。
【００１７】
図４Ｂは、実施の形態に従い、図３の工程３０６から得られた少なくとも一つのチップとウェハの断面を示した略図を示す。
【００１８】
図４Ｃは、実施の形態に従い、図３の工程３０８から得られた少なくとも一つのチップとウェハの断面を示した略図を示す。
【００１９】
図５は、少なくとも一つのチップとウェハを内部に有する図３の工程３１０で使用されるギャング接合システムの断面を示した略図を示す。
【００２０】
図６は、図３の工程３１０で使用される他のギャング接合システムの断面を示した略図を示す。
【００２１】
図７は、実施の形態の例に従ったチップをウェハに対し集積する装置を示した略図を示す。
【００２２】
図８は、少なくとも一つのチップとウェハを内部に有する図３の工程３０８，３１０、３１２で使用される接合システムの断面を示した略図を示す。
【００２３】
図９は、本実施の形態に従ったチップをウェハに対し集積する方法を示したフローチャートを示す。
【発明の詳細な説明】
【００２４】
図１は、第１の先行技術に従い、トップステージ１０２がチップ１０４に対して押圧された時のチップオンウェハ１００の断面図を示した略図を示している。
【００２５】
図２は、第２の先行技術に従い、トップステージ２０６がチップ２０４に対して押圧された時のチップオンウェハの断面図を示した略図を示している。
【００２６】
図３は、実施の形態の例に従ったチップをウェハに対し集積する方法を示したフローチャートを示している。工程３０２において、ウェハと少なくとも一つのチップが準備される。工程３０４において、ウェハと少なくとも一つのチップが洗浄される。工程３０６において、その少なくとも一つのチップがウェハ上に配置され、その少なくとも一つのチップとウェハが集積化された製造物を形成する。工程３０８において、膜が集積化された製造物上に形成され、その集積化された製造物が流体密封となる。工程３１０において、膜に所定の陽圧をかけると共に、集積化された製造物の温度を調節することによって、永久接合が実施される。工程３１２において、その膜が集積化された製造物から取り除かれる。
【００２７】
図４Ａは、実施の形態に従い、図３の工程３０４から得られた少なくとも一つのチップとウェハの断面を示した略図を示している。図３に関連して上述されたように、工程３０２において、ウェハ４０２とチップ４０４、４０６、４０８として示された少なくとも一つのチップが準備される。ウェハ４０２とチップ４０４、４０６、４０８の準備は、まず、例えば、Ｃｕ配線である、金属配線４１０として略式に示されている複数の金属配線を半導体基板４１２上に形成することで実施される。金属配線４１０は、例えば、電気メッキ法により半導体基板４１２上に形成されてもよい。引き続き、アンダーフィル４１４が、半導体基板４１２の表面４１６上に、例えば、スピン塗布又は真空ラミネートにより、塗布される。次いで、アンダーフィル４１４がプリベークされて、アンダーフィル４１４が部分的に硬化される。プリベーク方法は、アンダーフィル内の気化する化学物質を除去してもよい。好適には、アンダーフィル４１４は、プリベーク処理中に完全に硬化されることはなく、アンダーフィル４１４はウェハ４０２をチップ４０４、４０６、４０８に仮接合するために必要なその接着特性を維持することができる。一般的に、プリベーク方法は、表面平坦化工程以前に実施される。ウェハ４０２は、化学機械研磨やドライ研磨やビットグラインディングを含む（但しそれに限定されることはない）適切な技術によって、表面４１６に隣接して平坦化される。結果として、アンダーフィル４１４は金属配線４１０と同一平面となり、平坦面４１８を形成してチップ４０４、４０６、４０８を受ける。
【００２８】
チップ４０４、４０６、４０８がウェハ上に形成される。そのウェハが平坦化された後で、ウェハがダイスされて個々のチップに４０４、４０６、４０８に切り分けられるように、チップ４０４、４０６、４０８が別のダイシング工程で準備される。
【００２９】
工程３０４において、ウェハ４０２とチップ４０４、４０６、４０８は、金属表面洗浄工程を受ける。適切な洗浄技術は、Ｈ２プラズマ洗浄やＡｒプラズマ洗浄や湿式化学洗浄やガス化学洗浄を含むが、これらに限定されるものではない。一般的には、この洗浄工程は、Ｈ２プラズマ又はガス状の蟻酸を用いることにより実施される。洗浄工程中に、電極上の金属酸化物が取り除かれうる。
【００３０】
図４Ｂは、実施の形態に従い、図３の工程３０６から得られた少なくとも一つのチップとウェハの断面を示した略図ｗｐ示している。ここで、図３に関連して記載されたように、チップ４０４、４０６、４０８は、ウェハ４０２上に配置されて、集積化された製造物４２０を形成する。好適な実施の形態においては、工程３０６は、フリップチップボンダーによって実施される。工程３０６は、最初にウェハ４０２上にチップ４０４、４０６、４０８を位置合わせすることによって実施されるようにしてもよい。そして、チップ４０４、４０６、４０８はウェハ４０２に対して仮接合され、集積化された製造物４２０を形成する。一般的に、この仮接合方法は、ウェハ４０２上のアンダーフィル４１４がアンダーフィル４２２、４２４、４２６として略式に示されたチップ４０４、４０６、４０８上のアンダーフィル層に仮接合された状態で、１００℃以下の温度で実施される。結果として、ウェハ４０２の金属配線４１０が位置合わせされて、金属配線４２８として略式に示されたチップ４０４、４０６、４０８の対応する金属配線に物理的に接続される。所謂当業者によって理解されるように、チップ４０４、４０６、４０８をウェハ４０２に仮接合するために他の物質が使用されることもありうる。
【００３１】
図４Ｃは、実施の形態に従い、図３の工程３０８から得られた少なくとも一つのチップとウェハの断面を示した略図を示している。ここで、ダミー膜４３０形式で膜が集積化された製造物４２０上に形成され、集積化された製造物４２０が図３に関連して説明されたように実質的に流体密封となる。本発明の実施の形態において、ダミー膜４３０は、真空チャンバ内で集積化された製造物に皮膜され、それによって、集積化された製造物４２０を真空シール、すなわち、ダミー膜４３０と集積化された製造物４２０の間に空隙を設けないで実質的に流体密封にする。別の実施の形態においては、ダミー膜４３０がまず集積化された製造物に皮膜され、例えば、真空チャンバ内で閉じこめられたガスを取り除くことによって、ダミー膜４３０と集積化された製造物４２０の間で閉じこめられたガスを取り除く別の工程が続く。好適には、ダミー膜４３０は、集積化された製造物４２０にスプレイコートされる。次いで、ダミー膜４３０は、例えば、ＵＶ放射によって、硬化される。ダミー膜４３０は、できるだけ低い温度で熱的に硬化されるようにしてもよい。他の実施の形態において、当業者によって明らかなように、ダミー膜４３０が他の方法を用いて集積化された製造物４２０上に形成されることもある。例えば、ダミー膜４３０を集積化された製造物４２０上に堆積し、引き続き、ダミー膜４３０と集積化された製造物４２０の間に閉じこめられたガスを取り除く工程により、ダミー膜４３０が集積化された製造物４２０上に形成されるようにしてもよい。この実施の形態は、図７に関連して詳細に後述される。
【００３２】
ダミー膜４３０を集積化された製造物４２０上に皮膜するために他の技術も用いられ得ることも理解される。一般的に、ダミー膜４３０の厚みは１０ミクロンから１ｍｍの範囲である。ダミー膜４３０の特性は、５０℃以下の温度で硬化可能であること、または、可能であれば、加熱されることなく硬化後にも多孔性ではないことやウェハ４０２とチップ４０４、４０６、４０８の接合温度よりも高温の作業温度であることを含むが、それに限定されるものではない。ダミー膜４３０の適切な材料は、ダウコーニング（Ｄｏｗ  Ｃｏｒｎｉｎｇ）社製のＸ３−６２１１を含むが、それに限定されるものではない。当業者であれば理解されるように、ダミー膜４３０を形成するために他の材料も使用されうる。
【００３３】
図５は、少なくとも一つのチップとウェハを内部に有する図３の工程３１０で使用されるギャング接合システム５００の断面を示した略図を示している。図５に図示された例において、表面上にダミー膜５０４を有する集積化された製造物５０２が、ウェハ５１０に対するチップ５０８として略式に表された、複数のチップの永久接合処理のためのギャング接合システム５００の接合チャンバ５０６内に配置される。ギャング接合システム５００は、トップステージ５１２と、ボトムステージ５１４とその表面上のＯリング５１６と、ガス取り入れ口５１８と、真空システム５２０と、ピストン５２４を介してトップステージ５１２に接続された、トップステージ５１２を制御するための加力ユニット５２２からなる。永久接合処理中、トップステージ５１２が下降して力をボトムステージ５１４のＯリング５１６に加えて、接合チャンバ５０６が実質的に流体密封になるようにする。その後、真空チャンバ５２０は、接合チャンバ５０６内に閉じこめられたガスを取り除くように作動してもよい。
【００３４】
次いで、ガス取り入れ口５１８を介して適切な圧力を有するガスを接合チャンバ５０６内に導入することで、所定の陽圧がダミー膜５０４に加えられる。ある実施の形態においては、永久接合処理中に、接合チャンバ５０６内のガス圧は、大気圧の１０倍の高圧に加圧されうる。トップステージ５１２は、Ｏリング５１６に押圧するように構成されており、トップステージ５１２のＯリング５１６への接合が接合チャンバ５０６からのガス漏れを防ぐか又は実質的に軽減する。好適には、接合システム５００は、接合チャンバ５０６内部で蓄積された圧力に耐えることができる、例えば、ステンレススチールのような硬質材料製である。
【００３５】
同時に、集積化された製造物５０２の温度が接合温度に調節される。ある実施例において、集積化された製造物５０２の温度が、集積化された製造物５０２の周囲のガス温度を接合温度に昇温することで調節されることがある。例えば、集積化された製造物５０２の周囲のガス温度が、接合温度を有するガスを接合チャンバ５０６に導入してトップステージ５１２とボトムステージ５１４の温度を上昇するか、又は、接合チャンバ５０６内の（図示しない）ヒータを作動することで、上昇されるようにしてもよい。別の実施の形態において、トップステージ５１２とボトムステージ５１４の温度は、例えば、組み込まれた（図示しない）ヒータによって上昇するようにしてもよく、それによって、集積化された製造物５０２を接合温度に加熱する。集積化された製造物５０２の温度調節するための方法の異なる置換と組み合わせが可能であることは当業者によって理解されるが、上記の構成はいくつかの例示である。
【００３６】
接合チャンバ５０６の圧力と集積化された製造物５０２の温度は、永久接合処理が完了するまで、所定の時間維持される。一般的には、永久接合処理は３０分程度かかる。その後、接合チャンバ５０６の圧力と集積化された製造物５０２の温度は低下される。
【００３７】
図６は、図３の工程３１０で使用される他のギャング接合システム６００の断面を示した略図を示している。図６に示された例において、ギャング接合システム６００は、ヒータ６０４を内蔵したチャンバ壁６０２と、ガス取り入れ口６０６と、ガス排出口６０８と、ドアロック６１２を備えたドア６１０と、ステージ６１４として略式に示された複数のステージとからなる。
【００３８】
工程３１０において、少なくとも一つの集積化された製造物がステージ６１４上に配置され、ドア６１０に閉じられロックされて、流体密封の接合チャンバ６１６が構成される。そして、接合チャンバ６１６の圧力が、ガス取り入れ口６０６を介して適切な圧力を有するガスを導入することによって、所定の陽圧に昇圧される。同時に、接合チャンバ６１６の温度もヒータ６０４を用いて接合温度に昇温される。工程３１０においては、接合システム６００と集積化された製造物の条件は、永久接合処理が完了するまで、図５に関連して記載されたのと同じ条件となる。同様に、接合システム６００の構成部材は、接合チャンバ６１６内部で蓄積された圧力に耐えることができる、例えば、ステンレススチールのような硬質材料製である。なお、図５に図示された接合システム５００と対照的に、図６に図示された接合システム６００は、加力ユニットとピストンを有せず、それにより、比較的に単純な構成を有する。また、複数のステージ６１４を有する接合システム６００は、複数のウェハ処理を容易にする。
【００３９】
図５と６に関連した上記の永久接合処理の後で、ダミー膜５０４が集積化された製造物５０２から取り除かれる。一般的に、ダミー膜５０４を集積化された製造物５０２から取り除く方法は、まず、ダミー膜５０４を有する集積化された製造物５０２をスピニング部材に配置する工程と、引き続いての膜に化学溶剤を加える工程とからなる。ダミー膜５０４を取り除いた後で、集積化された製造物５０２は、乾燥されて、カセット内に置かれる。
【００４０】
図７は、実施の形態の例に従ったチップをウェハに対し集積する装置７００を示した略図を示している。この装置７００は、少なくとも一つのチップをウェハ上に配置することによって形成される集積化された製造物であって、実質的に流体密封である集積化された製造物に膜を形成するための塗布モジュール７０２を有する。この装置７００は、更に、膜を硬化するための膜ベーキングモジュール７０４を有する。この装置７００は、また、少なくとも一つのチップをウェハに永久接合する間膜に圧力を加えるための接合モジュール７０６を有する。この装置７００は、更に、集積化された製造物から膜を取り除くための洗浄モジュール７０８を有する。また、図７に示された例の装置７００は、集積化された製造物を移動するための転送モジュール７１０も有する。この装置７００は、更に、集積化された製造物の配置のためのウェハカセット７１２を有する。
【００４１】
図８は、少なくとも一つのチップとウェハを内部に有する図３の工程３０８，３１０、３１２で使用される接合システム８００の断面を示した略図を示している。図８に示す例において、集積化された製造物８０２が接合システム８００のボトムステージ８０４に配置される。接合システム８００は、トップステージ８０６と、ボトムステージの突出面８１０上のＯリング８０８と、ガス取り入れ口８１２と、真空システム８１４と、トップステージ８０６に取り付けられ、それによってトップステージ８０６と膜８１６の間に流体密封空隙８１８を形成する膜８１６とからなる。空隙８１８の高さは、一般的に、０．５ｍｍから１０ｍｍの範囲である。膜８１６は、通常は２００度を超える、永久接合処理が実行されるときの接合温度に耐えることが可能な材料でできている。適切な材料は、熱可塑性プラスティックＫａｐｔｏｎとシリコンゴムを含むが、これらに限定されるものではない。薄膜の厚みは、１０ミクロンから２ｍｍの範囲でありうる。
【００４２】
工程３０８において、トップステージ８０６が下降して圧力をＯリング８０８に加えて、実質的に流体密封である接合チャンバを形成する。その時点で、幕８１６が集積化された製造物８０２の上におろされる。その後、真空チャンバ８１４が作動されて、幕８１６と集積化された製造物８０２の間に閉じ込められたガスを取り除き、集積化された製造物が実質的に流体密封となる。
【００４３】
工程３１０において、ガス取り入れ口８１２を介して空隙８１８に適切な陽圧を有するガスを導入することによって、膜８１６に所定の陽圧がかけられる。更に、トップステージ８０６と（図示しない）埋め込まれたヒータを有するボトムステージ８０４は、接合温度に加熱される。接合システム８００と集積化された製造物８０２の条件は、永久接合処理が完了するまで、図５に関連して記載されたのと同じ条件となる。
【００４４】
図９は、更なる実施の形態に従ったチップをウェハに対し集積する方法を示したフローチャート９００を示している。工程９０２において、少なくとも一つのチップがウェハ上に配置され、集積化された製造物を形成する。工程９０４において、膜が集積化された製造物上に形成され、その集積化された製造物が流体密封になる。工程９０６において、膜に所定の陽圧をかけると共に、集積化された製造物の温度を調節することによって、永久接合が実施される。工程９０８において、少なくとも一つのチップのウェハへの永久接合後に、膜が集積化された製造物から取り除かれる。
【００４５】
本発明の各実施の形態は、媒体としてガスを用いてチップのウェハへの永久接合中に膜に圧力をかける、チップをウェハに対し集積する方法を提供する。結果として、各チップのそれぞれの高さにかかわらず、各チップが十分な接合圧力を受けることができる。更に、各チップはその表面上に均一な圧力を受けることも可能である。結果として、永久接合中にチップのウェハについての位置ずれを避けることができる。
【００４６】
広範に記載された発明の精神又は範囲から逸脱することがない限り、特定の実施の形態において示された本発明に対して数多くの変形や変更がなしうることは当業者によって明らかである、したがって、それぞれの本実施の形態は、すべて例示されたものと考えられるべきであり、制限的に解されるべきではない。
【図１】
0006446450.tif 000002
【図２】
0006446450.tif 000003
【図３】
0006446450.tif 000004
【図４Ａ】
0006446450.tif 000005
【図４Ｂ】
0006446450.tif 000006
【図４Ｃ】
0006446450.tif 000007
【図５】
0006446450.tif 000008
【図６】
0006446450.tif 000009
【図７】
0006446450.tif 000010
【図８】
0006446450.tif 000011
【図９】
0006446450.tif 000012