(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力電源（２２）の電圧から電源回路（２１）が生成した複数の電源電圧を常時監視対象とするもので、
前記複数の電源電圧に対応して設けられ、各電源電圧をそれぞれに対応した基準電圧と比較する複数の電源監視用のコンパレータ（１１）と、
これら複数のコンパレータの機能を検査するための検査電圧を発生する検査電圧発生手段（４）と、
前記複数のコンパレータの入力端子に、対応する電源電圧と、対応する検査電圧とを切替えて入力するための複数のマルチプレクサ（１２）と、
これら複数のマルチプレクサの入力切替えを制御すると共に、前記複数のコンパレータの出力信号が入力される電源検査制御部（４，５，３５，３６）とを備え、
前記電源検査制御部は、起動した後に、全てのコンパレータの入力端子に対応する検査電圧が入力されるように各マルチプレクサの入力切替えを制御して、対応する検査電圧が入力されたコンパレータの出力信号が適切なレベルを示すか否かを判定する検査を実行する際に、
前記複数のマルチプレクサのうち少なくとも１つの入力を対応する電源電圧側にし、その他のマルチプレクサの入力を対応する検査電圧側にした状態を切替えて前記検査を実行することを特徴とする電源監視回路。
【請求項２】
前記電源検査制御部は、起動した後に、前記複数のマルチプレクサのうち１つの入力だけを対応する検査電圧側にし、その他のマルチプレクサの入力を対応する電源電圧側にして、
以降は、異なるマルチプレクサの１つの入力だけを検査電圧側にし、その他のマルチプレクサの入力を対応する電源電圧側にする状態を順次切替えて前記検査を実行することを特徴とする請求項１記載の電源監視回路。
【請求項３】
前記複数のコンパレータの出力信号がそれぞれ入力されて、所定の論理演算を行った結果を出力するロジック回路部（３）と、
前記ロジック回路部の機能を検査するための検査信号を発生する検査信号発生手段（６）と、
前記複数のコンパレータと前記ロジック回路部との間に配置され、前記ロジック回路部の入力端子に、前記複数のコンパレータの出力信号と、対応する検査信号とを切替えて入力するための複数のマルチプレクサ（１３）と、
これら複数のマルチプレクサの入力切替えを制御すると共に、前記ロジック回路部の出力信号が入力されるロジック検査制御部（４，６）とを備えることを特徴とする請求項１又は２記載の電源監視回路。
【請求項４】
前記電源検査制御部には、前記複数のマルチプレクサを介して前記複数のコンパレータの出力信号が入力されることを特徴とする請求項３記載の電源監視回路。
【請求項５】
前記ロジック検査制御部は、起動した後に、前記電源検査制御部による検査が終了すると、前記ロジック回路部の各入力端子に対応する検査信号が入力されるように各マルチプレクサの入力切替えを制御して、対応する検査信号が入力されたロジック回路部の出力信号が適切な結果を示すか否かを判定する検査を実行することを特徴とする請求項３又は４記載の電源監視回路。
【請求項６】
前記複数の電源電圧と前記複数のコンパレータにおけるそれぞれの基準電圧とを、それぞれ切替えて入力可能に構成され、出力信号が前記電源検査制御部に直接入力される補助監視用コンパレータ（３３）を備え、
前記電源検査制御部（３５，３６）は、前記検査を実行している電源電圧と、その電源電圧に対応するコンパレータの基準電圧とを前記補助監視用コンパレータに入力して監視を行うことを特徴とする請求項１から５の何れか一項に記載の電源監視回路。
【請求項７】
前記入力電源が複数ある際に、
前記電源検査制御部は、自身に動作用電源を供給する入力電源が立上った後に検査を開始することを特徴とする請求項１から６の何れか一項に記載の電源監視回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電源回路が、入力電源の電圧から生成した複数の電源電圧を常時監視対象とする電源監視回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
所定の動作を実行する回路には、その動作を自己診断する機能（以下、自己診断機能をＢＩＳＴ（Built In Self Test）と称する場合がある）を備えているものがある。例えば特許文献１には、Ａ／Ｄ変換器及びＤ／Ａ変換器を搭載した半導体集積回路において、Ａ／Ｄ変換器の機能を自己診断するため、Ｄ／Ａ変換器をテスト信号生成器として用いることを可能にしたものが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１５１６６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ここで、１つ以上の入力電源から複数の電源電圧を生成する電源回路について、各電源電圧が正常に出力されているか否かを監視する電源監視回路にＢＩＳＴ機能を搭載することを想定する。電源監視回路には、各電源電圧の監視を極力継続することが望まれていることから、その監視機能に対してＢＩＳＴをどのようなタイミングで実施するかが問題となる。
【０００５】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、各電源電圧の監視を極力継続しつつ自己診断を行うことが可能な電源監視回路を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１記載の電源監視回路によれば、入力電源の電圧から電源回路が生成した複数の電源電圧に対応して、各電源電圧をそれぞれに対応した基準電圧と比較する複数の電源監視用のコンパレータを備え、検査電圧発生手段は、前記コンパレータの機能を検査するための検査電圧を発生する。前記コンパレータの入力端子には、複数のマルチプレクサを介して、対応する電源電圧及び検査電圧とが切替えられて入力され、電源検査制御部は前記マルチプレクサの入力切替えを制御し、その電源検査制御部には前記コンパレータの出力信号が入力される。
【０００７】
そして、電源検査制御部は、起動した後に、全てのコンパレータの入力端子に対応する検査電圧が入力されるように各マルチプレクサの入力切替えを制御して、対応する検査電圧が入力されたコンパレータの出力信号が適切なレベルを示すか否かを判定する。その判定（検査）を実行する際に、前記マルチプレクサのうち少なくとも１つの入力を対応する電源電圧側にし、その他のマルチプレクサの入力を対応する検査電圧側にした状態を切替える。このように構成すれば、複数の電源電圧の全てを同時に検査対象とすることなく、それらのうち１つ以上の電源電圧を監視対象にすることができる。
【０００８】
請求項２記載の電源監視回路によれば、電源検査制御部は、起動した後に、複数のマルチプレクサのうち１つの入力だけを対応する検査電圧側にし、その他のマルチプレクサの入力を対応する電源電圧側にする。それ以降は、異なるマルチプレクサの１つの入力だけを検査電圧側にし、その他のマルチプレクサの入力を対応する電源電圧側にする状態を順次切替えて前記検査を実行する。このように構成すれば、常に１つの電源電圧だけを検査対象とし、その他の電源電圧は全て監視対象となるので、極力多くの電源電圧を同時に監視することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１実施形態であり、電源監視回路の構成を示す機能ブロック図
【図２】動作全体のタイミングチャート
【図３】ＡＢＩＳＴ動作の詳細を示すタイミングチャート
【図４】第２実施形態であり、電源監視回路を含むシステム全体の構成を示す機能ブロック図
【図５】ＡＢＩＳＴ動作を示すタイミングチャート（正常時）
【図６】ＡＢＩＳＴ動作を示すタイミングチャート（異常発生時）
【図７】第３実施形態であり、電源監視回路の構成を示す機能ブロック図
【図８】ＡＢＩＳＴ動作を示すタイミングチャート
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（第１実施形態）
図１に示すように、本実施形態の電源監視回路１は、電源監視部２，ロジック回路部３，ＢＩＳＴ制御部４（電源検査制御部，ロジック検査制御部），ＡＢＩＳＴ制御部５（検査電圧発生手段，電源検査制御部），ＬＢＳＩＴ制御部６（検査信号発生手段，ロジック検査制御部）及び出力スイッチ部７を備えている。電源監視部２は、図示しない電源回路により生成されたＮ個の電源（１，２，…，Ｎ）の電圧を監視するためのＮ個の電源監視コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）と、この電源監視コンパレータ１１への入力電圧をそれぞれ切り換えるためのＮ個の入力スイッチ（マルチプレクサ）１２（１，２，…，Ｎ）とを備えている。尚、Ｎ個の電源（１，２，…，Ｎ）は、前記電源回路において１つの入力電源（例えば、車両に搭載されているバッテリ）より生成されたものである。
【００１１】
入力スイッチ１２の切り換え制御はＡＢＩＳＴ制御部５により行われ（ＡＢＩＳＴ入力切替ＳＷ信号）、各電源（１，２，…，Ｎ）の電圧の入力（‘０’側）と、ＡＢＩＳＴ制御部５が各電源監視コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）に対して共通に出力するＡＢＩＳＴ検査入力電圧の入力（‘１’側）とを切替える。尚、電源監視コンパレータ１１はヒステリシス付きであり、各電源監視コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）に設定される閾値電圧は、入力される各電源（１，２，…，Ｎ）の電圧に応じて異なる値に設定されている。
【００１２】
各コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）の出力端子は、それぞれロジック回路部３の入力段に配置されているＮ個の入力スイッチ（マルチプレクサ）１３（１，２，…，Ｎ）の‘０’側入力端子に接続されていると共に、ＢＩＳＴ制御部４の各入力端子に接続されている。入力スイッチ１３の切り換え制御はＬＢＩＳＴ制御部６により一括して行われ（ＬＢＩＳＴ入力切替ＳＷ信号）、各コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）の出力信号と、ＬＢＩＳＴ制御部６が出力するＬＢＩＳＴ検査入力電圧の入力（‘１’側）とを切替える。
【００１３】
入力スイッチ１３（１，２，…，Ｎ）の各出力端子は、それぞれ次段のＤフリップフロップ１４（１，２，…，Ｎ）の入力端子Ｄに接続されている。Ｄフリップフロップ１４は図示の都合上１つだけ示しているが、実際には２個のＤフリップフロップが直列に接続されている（2bit）。これは、電源監視コンパレータ１１の出力信号の変化が、Ｄフリップフロップ１４に供給されるクロック信号と非同期で変化するので、メタステーブル対策を目的としたものである。
【００１４】
Ｄフリップフロップ１４（１，２，…，Ｎ）の出力端子Ｑは、それぞれ検出フィルタ１５（１，２，…，Ｎ）の入力端子に接続されていると共に、ＡＢＩＳＴ制御部５の各入力端子に接続されている。検出フィルタ１５は、Ｄフリップフロップ１４の出力信号が所定時間の間変化しない場合に、その信号レベルを確定させる機能を有している。検出フィルタ１５（１，２，…，Ｎ）の出力端子は、デジタル回路１６の各入力端子に接続されていると共に、ＬＢＩＳＴ制御部６の各入力端子に接続されている。デジタル回路１６は、電源監視部２より入力される各信号に応じてそれぞれ所定の論理演算を行い、その演算結果（ＬＢＩＳＴ検査出力）をそれぞれ出力スイッチ部７（１，２，…，Ｎ）に出力する。
【００１５】
Ｎ個のマルチプレクサからなる出力スイッチ部７（１，２，…，Ｎ）の切り換え制御はＢＩＳＴ制御部４により行われ（ＢＩＳＴモード切替信号）、デジタル回路１６の演算結果の入力（‘０’側）と、ＢＩＳＴ制御部４が各出力スイッチ部７（１，２，…，Ｎ）に対して出力する初期値（１，２，…，Ｎ）の入力（‘１’側）とを切替える。出力スイッチ部７（１，２，…，Ｎ）の出力端子は、ＢＩＳＴ制御部４の各入力端子に接続されている。
【００１６】
ＢＩＳＴ制御部４は、ＡＢＩＳＴ制御部５に対してＡＢＩＳＴ開始信号を出力し、ＢＩＳＴ制御部４には、ＡＢＩＳＴ制御部５よりＡＢＩＳＴ完了信号及びＡＢＩＳＴ結果が入力される。また、ＢＩＳＴ制御部４は、ＬＢＩＳＴ制御部６に対してＬＢＩＳＴ開始信号を出力し、ＢＩＳＴ制御部４には、ＬＢＩＳＴ制御部６よりＬＢＩＳＴ完了信号及びＬＢＩＳＴ結果が入力される。
【００１７】
尚、ロジック回路部３におけるＤフリップフロップ１４及びフィルタ１５を併せたものを信号処理部１７Ｌとすると、ＢＩＳＴ制御部４の内部には、信号処理部１７Ｌと同じ構成の信号処理部１７Ａと、信号処理部１７Ａより出力される各信号の論理積をとるＡＮＤゲート１８との組が複数配置されている。そして、各ＡＮＤゲート１８の出力信号が出力スイッチ部７の入力端子に与えられている。
【００１８】
次に、本実施形態の作用について説明する。図２に示すように、初期状態では、入力スイッチ１２（１，２，…，Ｎ）は全て‘０’側（電源監視側）となっている。また、入力スイッチ１３（１，２，…，Ｎ）も全て‘０’側（電源監視コンパレータ１１側）となっている。電源回路が起動すると、各電源は（１，２，…，Ｎ）の順で立上る。また、各電源電圧の大小関係は（１＞２＞…＞Ｎ）になっているものとする。各電源の立上りに応じて、電源監視コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）の出力信号は順次ハイレベルに変化する。
【００１９】
ＢＩＳＴ制御部４は、ＢＩＳＴモード切替信号を‘１’（ハイレベル）にすることで、出力１〜Ｎが自身が出力した初期値となるようにし、同時にＡＢＩＳＴ開始信号を‘１’にする。すると、ＡＢＩＳＴ制御部５がＡ（アナログ）ＢＩＳＴ動作を開始し、図３に示すように、ＡＢＩＳＴ入力ＳＷ切替信号１，２，…，Ｎを一定時間だけ‘１’にするように順次切替える。
【００２０】
ＡＢＩＳＴ制御部５は、ＡＢＩＳＴ入力ＳＷ切替信号を‘１’にしている時間内に、ＡＢＩＳＴ検査入力電圧をハイレベル（ABIST＿VIH）とローレベル（ABIST＿VIL）とに変化させる。尚、前記ハイレベル及びローレベルは、検査対象とする電源毎に異なる設定であり、本実施形態では、
ABIST＿VIH1＞ABIST＿VIH2＞…＞ABIST＿VIHN
ABIST＿VIL1＞ABIST＿VIL2＞…＞ABIST＿VILN
に設定されている。また、図３中に示すＶＲＨ，ＶＲＬは、それぞれ電源監視コンパレータ１１におけるハイレベル側閾値と、ローレベル側閾値である。
【００２１】
例えば電源監視コンパレータ１１（１）の出力信号が、ＡＢＩＳＴ検査入力電圧の変化に応じて適切に変化すると、Ｄフリップフロップ１４（１）より出力されるＡＢＩＳＴ検査出力１は、遅くともその２クロック後の立上りエッジに同期してハイ，ローレベルに変化する。この時、電源１以外の電源２〜Ｎについては、対応する電源監視コンパレータ１１（２）〜１１（Ｎ）により電圧が監視されている。
【００２２】
以下同様にして、ＡＢＩＳＴ制御部５は、電源２〜Ｎについても順次ＡＢＩＳＴ入力ＳＷ切替信号を‘１’にしてＡＢＩＳＴ検査入力電圧をハイレベル（ABIST＿VIH）とローレベル（ABIST＿VIL）とに変化させる。尚、図２に示す例では、ＡＢＩＳＴ動作中に監視されていた電源Ｎの電圧が何らかの原因により一時的に低下して、電源監視コンパレータ１１（Ｎ）の出力信号がローレベルに変化している。この場合、ＢＩＳＴ制御部４は、ＡＢＩＳＴ開始信号を一旦‘０’に戻してＡＢＩＳＴ動作を停止させ、ＡＢＩＳＴ開始信号を再度‘１’にしてＡＢＩＳＴ制御部５にＡＢＩＳＴ動作を再実行させる。
【００２３】
全ての電源監視コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）の出力信号がＡＢＩＳＴ検査入力電圧に応じて適切に変化したことで「正常」と判定すると、ＡＢＩＳＴ制御部５は、ＡＢＩＳＴ完了信号を‘１’にすると共に、ＡＢＩＳＴ結果を「初期値」から「正常」を示す所定の値に変化させる。この時点以降、全ての入力スイッチ１２（１，２，…，Ｎ）は電源監視側となる。
【００２４】
次に、ＢＳＩＴ制御部４は、ＬＢＩＳＴ開始信号を‘１’にする。すると、ＬＢＩＳＴ制御部６がＬ（ロジック）ＢＩＳＴ動作を開始し、ＬＢＩＳＴ入力ＳＷ切替信号を一定時間だけ‘１’にする。そして、ＬＢＩＳＴ制御部６は、ＬＢＩＳＴ検査入力１〜Ｎを所定のテストパターンで変化させてパラレルに出力する。尚、図２に示す例では、ＬＢＩＳＴ動作中に監視されていた電源２の電圧が何らかの原因により一時的に低下して、電源監視コンパレータ１１（２）の出力信号がローレベルに変化している。この場合、ＢＩＳＴ制御部４は、ＬＢＩＳＴ開始信号を一旦‘０’に戻してＬＢＩＳＴ動作を停止させ、ＬＢＩＳＴ開始信号を再度‘１’にしてＬＢＩＳＴ制御部６にＬＢＩＳＴ動作を再実行させる。尚、この時点でＡＢＩＳＴ動作は正常に終了しているので、ＡＢＩＳＴ動作について再実行はしない。
【００２５】
ＬＢＩＳＴ制御部６は、ロジック回路部３にＬＢＩＳＴ検査入力１〜Ｎを入力し、その結果がデジタル回路１６より得られると、ＬＢＩＳＴ開始信号及びＬＢＩＳＴ入力ＳＷ切替信号を‘０’にし、ＬＢＩＳＴ完了信号を‘１’にすると共にＬＢＩＳＴ結果を「初期値」から所定の値に変化させる。ここでは、ＢＩＳＴ制御部４に「異常」を示す値が入力されたため、ＢＩＳＴ制御部４は、ＬＢＩＳＴ開始信号を‘１’にして、ＬＢＩＳＴ制御部６にＬＢＩＳＴ動作を再実行させる。
【００２６】
そして、２回目のＬＢＩＳＴ動作の結果が「正常」であれば、ＢＩＳＴ制御部４は、ＢＩＳＴモード切替信号を‘０’にする。以降の出力１〜Ｎには、ロジック回路部３が実際に動作した結果が反映される。上述したように、ＢＩＳＴ制御部４は、１回だけ「異常」の結果が得られても直ちに異常対応処理は行わず、上述のようなＢＩＳＴ動作の再実行を複数回実行する事象が発生した場合に初めて異常対応処理を行う。
【００２７】
以上のように本実施形態によれば、電源監視回路１に、入力電源の電圧から電源回路が生成した複数の電源電圧に対応し、各電源電圧をそれぞれに対応した基準電圧と比較する複数の電源監視コンパレータ１１（１，２，…，Ｎ）を備え、ＡＢＩＳＴ制御部５は、電源監視コンパレータ１１の機能を検査するための検査電圧を発生する。電源監視コンパレータ１１の入力端子には、マルチプレクサ１２（１，２，…，Ｎ）を介して、対応する電源電圧及び検査電圧とが切替えられて入力され、ＡＢＩＳＴ制御部５はマルチプレクサ１２の入力切替えを制御し、ＡＢＩＳＴ制御部５には電源監視コンパレータ１１の出力信号が入力される。
【００２８】
そして、ＡＢＩＳＴ制御部５は、起動した後、電源監視コンパレータ１１の検査を実行する際に、マルチプレクサ１２のうち少なくとも１つの入力を対応する電源電圧側にし、その他のマルチプレクサ１２の入力を対応する検査電圧側にした状態を切替えて検査を実行する。具体的には、マルチプレクサ１２のうち１つの入力だけを対応する検査電圧側にし、その他のマルチプレクサ１２の入力を対応する電源電圧側にして、以降は、異なるマルチプレクサ１２の１つの入力だけを検査電圧側にし、その他のマルチプレクサ１２の入力を対応する電源電圧側にする状態を順次切替えて検査を実行する。したがって、常に１つの電源電圧だけを検査対象とし、その他の電源電圧は全て監視対象となるので、極力多くの電源電圧を同時に監視することができる。
【００２９】
また、ロジック回路部３は、電源監視コンパレータ１１の出力信号がそれぞれ入力されて、所定の論理演算を行った結果を出力し、ＬＢＩＳＴ制御部６は、ロジック回路部３の機能を検査するための検査信号を発生する。そして、電源監視コンパレータ１１とロジック回路部３との間に、ロジック回路部３の入力端子に、電源監視コンパレータ１１の出力信号と対応する検査信号とを切替えて入力するためのマルチプレクサ１３（１，２，…，Ｎ）を備え、ＬＢＩＳＴ制御部６にはロジック回路部３の出力信号が入力される。これにより、ＬＢＩＳＴ制御部６はロジック回路部３の機能についても検査ができる。
【００３０】
また、ＡＢＩＳＴ制御部５に、マルチプレクサ１３及びＤフリップフロップ１４を介して電源監視コンパレータ１１の出力信号を入力するようにした。これにより、ＡＢＩＳＴ動作を実行する際に、マルチプレクサ１３の切替えが正常に行われているか否かについても併せて確認できる。
【００３１】
加えて、ＬＢＩＳＴ制御部６は、起動した後に、ＡＢＩＳＴ制御部５による検査が終了すると、ロジック回路部３の各入力端子に検査信号が入力されるようにマルチプレクサ１３の入力切替えを制御して、ロジック回路部３の出力信号が適切な結果を示すか否かを判定する検査を実行する。すなわち、先に各電源電圧が正常か否かを確認してからロジック回路部３の検査を行うので、後続のＬＢＳＴ動作時においても電源電圧の監視を並行して行うことができる。
【００３２】
（第２実施形態）
以下、第１実施形態と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、異なる部分について説明する。図４に示すように、電源監視回路１に入力されるＮ個の電源（１，２，…Ａ，Ｂ，Ｃ，…，Ｎ）は、Ｎ個の電源回路２１（１，２，…Ａ，Ｂ，Ｃ，…，Ｎ）により生成されている。これらのうち、電源回路２１（１，２，…Ａ）は入力電源２２（１）より電源電圧を生成し、電源回路２１（Ｂ，Ｃ，…Ａ）は入力電源２２（２）より電源電圧を生成する。そして、電源監視回路１に動作用電源として供給されているのは、電源Ｂであるとする。
【００３３】
電源監視回路１は、出力１をマイクロコンピュータ（マイコン）２３にリセット信号として与えており、出力２をその他の任意の機能に係る信号として与えている。また、電源監視回路１は、出力ｍをマイコン２３以外の周辺回路等に与えている。
【００３４】
次に、第２実施形態の作用について説明する。図５に示すように、システムの仕様として、最初に入力電源２２（１）が立ち上がり、若干遅れて入力電源２２（２）が立ち上がるものとする。電源監視回路１は電源Ｂが立ち上がると起動し、直ちに電源１より順に監視を開始し、最後の電源Ｎが立ち上がった時点以降にＢＩＳＴ動作を開始する。出力１は初期状態でローレベルであり、マイコン２３はリセット状態となっている。
【００３５】
図中に示す「ＢＩＳＴ判定期間」は、図２においてＢＩＳＴモード切替信号がハイレベルとなっている期間に相当し、電源監視回路１がＡＢＩＳＴ動作及びＬＢＩＳＴ動作を実行している期間である。これらのＢＩＳＴ動作において異常が検出されなければ、電源監視回路１は出力１をハイレベルにしてマイコン２３のリセットを解除する。
【００３６】
図６に示すように、例えば、ＡＢＩＳＴ動作時で電源２を検査している期間に、入力電源２２（１）が低下して電源１〜３が正常判定レベルを下回ったとする。この場合、検査対象の電源２に係る電源監視コンパレータ１１（２）ではその異常を検出できない。しかし、電源１，Ａに係る電源監視コンパレータ１１（２），１１（Ａ）では異常を検出できる。ＢＩＳＴ制御部４は異常の発生を認識すると、ＡＢＩＳＴ動作を最初（電源１）から再実行する。そして、ＢＩＳＴ制御部４は、第１実施形態と同様に、このような再実行を複数回繰り返す事象が発生した際に初めて異常対応処理を行う。
【００３７】
以上のように第２実施形態によれば、２つの入力電源２２（１，２）がある場合に、電源監視回路１は、自身に動作用電源を供給する入力電源２２（Ｂ）が立上った後に検査を開始する。したがって、誤った検査結果が得られる機会を減少させることができる。
【００３８】
（第３実施形態）
図７に示すように、第３実施形態の電源監視回路３１は、電源監視部２に替わる電源監視部３２を備えている。電源監視部３２は、電源監視コンパレータ１１（１〜Ｎ）とは別個にマスタコンパレータ３３（補助監視用コンパレータ）を備えている。マスタコンパレータ３３の各入力端子側にはマルチプレクサ３４（１），３４（２）が配置されている。マルチプレクサ３４（１）の入力端子には電源１〜Ｎが与えられており、マルチプレクサ３４（２）の入力端子には、電源監視コンパレータ１１の閾値（基準電圧）１〜Ｎが与えられている。
【００３９】
これらのマルチプレクサ３４（１），３４（２）の入力切替え制御は、ＡＢＩＳＴ制御部３５によって行われ、ＡＢＩＳＴ制御部３５（電源検査制御部，検査電圧発生手段）は、電源１〜Ｎと、それらに対応する閾値１〜Ｎとがマスタコンパレータ３３に連動して入力されるように制御する。そして、マスタコンパレータ３３の出力信号はＢＩＳＴ制御部３６（電源検査制御部）に入力されている。
【００４０】
次に、第３実施形態の作用について説明する。図５相当図である図８に示すように、ＡＢＩＳＴ制御部３５は、ＡＢＩＳＴ動作において電源１を検査している期間は、マスタコンパレータ３３に電源１と対応する閾値１とを入力する。これにより、ＢＩＳＴ制御部３６はマスタコンパレータ３３によって電源１を監視する。同様に、電源２を検査している期間は、マスタコンパレータ３３に電源２と対応する閾値２とを入力し、ＢＩＳＴ制御部３６はマスタコンパレータ３３によって電源２を監視する。以下同様に、検査対象となっている電源をマスタコンパレータ３３によって監視する。
【００４１】
以上のように第３実施形態によれば、ＢＩＳＴ制御部３６は、検査を実行している電源の電圧と、その電源に対応する監視用コンパレータ１１の閾値とをマスタコンパレータ３３に入力して監視を行う。したがって、検査中の電源についても、マスタコンパレータ３３により並行して監視を行うことができる。
【００４２】
本発明は上記した、又は図面に記載した実施形態にのみ限定されるものではなく、以下のような変形又は拡張が可能である。
検査対象とする電源電圧は必ずしも１つのみとする必要はなく、少なくとも１つの電源電圧を監視状態にして、その他の電源電圧を検査対象としても良い。
ＬＢＩＳＴ動作を先に実行し、その後にＡＢＩＳＴ動作を行っても良い。
また、ＬＢＩＳＴ動作を実行せずに、ＡＢＩＳＴ動作のみを行っても良い。
Ｄフリップフロップ１４は、検査結果をクロック同期で得る必要がある場合に設ければ良い。
また、検出フィルタ１５も必要に応じて設ければ良い。
入力電源が３つ以上であっても良い。
【符号の説明】
【００４３】
図面中、１は電源監視回路、２は電源監視部、３はロジック回路部、４はＢＩＳＴ制御部（電源検査制御部，ロジック検査制御部）、５はＡＢＩＳＴ制御部（検査電圧発生手段，電源検査制御部）、６はＬＢＳＩＴ制御部（ロジック検査制御部）、１１は電源監視コンパレータ、１２及び１３は入力スイッチ（マルチプレクサ）を示す。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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