(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
巻取りリールに巻回される長尺のシートに、電子部品を収納する収納エンボスを設けた電子部品用キャリアテープであって、
電子部品を、パッケージ本体の周面の二方向あるいは四方向から複数本のリードが突出する厚さ３ｍｍ以下の半導体パッケージとし、
収納エンボスは、シートに設けられる開口と、この開口の周縁部からシートの裏面方向に伸びて半導体パッケージを包囲する周壁と、この周壁よりもシートの開口の中心部方向側に設けられて半導体パッケージのパッケージ本体を部分的に搭載する台座板と、この台座板に支持されて半導体パッケージのパッケージ本体に対向する底板とを含み、
収納エンボスの周壁を断面略Ｌ字形に屈曲形成し、この周壁の開口の中心部方向に指向する底部と台座板との間に、半導体パッケージの複数本のリードに非接触で跨がれる平面略枠形の位置規制突起を立て設けてシートの開口方向に向け、台座板を位置規制突起に包囲される平面略枠形に形成し、台座板の四隅部付近のうち、少なくとも二隅部付近を半導体パッケージのパッケージ本体を支持する平面Ｌ字形の複数の台座部とするとともに、この複数の台座部以外の部分を半導体パッケージに接触しないよう凹ませて複数の陥没部とし、各陥没部の低さを、シート厚みの１／３＜台座板の陥没部の低さ＜台座板の台座部高さに基づいて設定し、底板を、半導体パッケージのパッケージ本体との間に僅かな隙間を区画する断面略皿形に形成し、底板の底部の高さを周壁の底部の高さに揃えて整合し、位置規制リブの高さを各台座部付近において最も高くするとともに、各陥没部付近において最も低くし、位置規制突起の最大高さと最小高さとの差を、シート厚みの１／３＜位置規制突起の最大高さと最小高さとの差＜台座部の表面から突出する位置規制突起の高さに基づいて設定したことを特徴とする電子部品用キャリアテープ。
【請求項２】
台座板の高さを、台座部から陥没部に向けて徐々に低くした請求項１記載の電子部品用キャリアテープ。
【請求項３】
位置規制突起の高さを、台座板の台座部付近から陥没部付近に向けて徐々に低くした請求項１又は２記載の電子部品用キャリアテープ。
【請求項４】
請求項１、２、又は３に記載した電子部品用キャリアテープの製造方法であって、
長尺のシートを上流側から一定の長さで順次繰り出すとともに、シートの一定の長さ部分を加熱して金型にセットし、この金型により、シートの一定の長さ部分に複数の収納エンボスを所定の間隔で成形して収納エンボスに台座板と位置規制突起とを一体的に形成し、台座板の四隅部付近のうち、少なくとも二隅部付近を平面Ｌ字形の複数の台座部とし、この複数の台座部以外の部分を凹ませて台座部よりも低い複数の陥没部とし、位置規制リブを平面略枠形としてその高さを各台座部付近において最も高くするとともに、各陥没部付近において最も低くし、その後、シートの一定の長さ部分を金型から取り出して下流側に移動させることを特徴とする電子部品用キャリアテープの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体パッケージ等からなる電子部品の収納、供給、保管、在庫管理、輸送等に用いられる電子部品用キャリアテープ及びその製造方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来における電子部品用キャリアテープは、図１６に部分的に示すように、巻取りリールに巻回される可撓性のシート２と、このシート２に並設される電子部品１０用の収納エンボス２０Ａとを備え、製造メーカで製造された後、製造メーカから部品メーカに輸送されたり、あるいは部品メーカからアッセンブリメーカに輸送される。
【０００３】
シート２は、図１６に部分的に示すように、長尺に形成されてその長手方向に複数の収納エンボス２０Ａが一定の間隔で並設され、表面には、電子部品１０を封止するカバーテープが後から貼着される。各収納エンボス２０Ａは、同図に示すように、所定の深さのポケット形に形成され、開口２１Ａから周壁２２Ａ内に電子部品１０を収納する。この収納エンボス２０Ａの底部３３は、例えば中央が電子部品１０を搭載する平面矩形の台座として上げ底に形成され、少なくとも中央以外の周縁が巻取りリールにシート２が巻回される際、巻取りリールの周面に接触する。
【０００４】
このような電子部品用キャリアテープを製造メーカが製造する場合には、先ず、用意した長尺のシート２を予熱して金型にセットし、この金型によりシート２に複数の収納エンボス２０Ａを一定の間隔で成形した後、シート２を巻取りリールに巻き取れば、電子部品用キャリアテープを製造することができる。
なお、巻取りリールに電子部品用キャリアテープを巻回すると、電子部品用キャリアテープに巻き癖が付き、シート２や収納エンボス２０Ａが円弧形に湾曲変形し、収納エンボス２０Ａの最も変形しやすい中央部付近が開口２１Ａ方向に膨出することがある。
【０００５】
次に、製造された電子部品用キャリアテープに電子部品１０を部品メーカが収納する場合には、先ず、巻取りリールに巻回された電子部品用キャリアテープを繰り出し、シート２の複数の収納エンボス２０Ａに電子部品１０を順次収納し、シート２の表面にカバーテープを加熱融着した後、巻取りリールに所定の長さの電子部品用キャリアテープを巻き取れば、電子部品用キャリアテープに電子部品１０を収納することができる。
【０００６】
なお、巻取りリールに電子部品用キャリアテープを巻き始める際、収納エンボス２０Ａは、巻取りリールの周面に沿って円弧形に湾曲変形し、最も変形しやすい中央部付近が開口２１Ａ方向に膨出する。また、電子部品用キャリアテープを巻き取る際、応力が発生して収納エンボス２０Ａに作用するので、収納エンボス２０Ａが変形し、この収納エンボス２０Ａに収納された電子部品１０が移動して位置ずれすることがある。また、電子部品用キャリアテープをハンドリングする際、衝撃や振動により、収納エンボス２０Ａに収納された電子部品１０が移動して位置ずれすることもある。
【０００７】
次に、電子部品用キャリアテープに収納された電子部品１０をアッセンブリメーカが回路基板に実装する場合には、表面実装機等の自動組立装置に電子部品用キャリアテープを巻取りリール毎セットし、この巻取りリールに巻回された電子部品用キャリアテープを繰り出し、シート２の表面からカバーテープを徐々に剥離し、その後、シート２の収納エンボス２０Ａから電子部品１０を吸着して取り出せば、回路基板に電子部品１０をハンダにより表面実装することができる。
【０００８】
なお、電子部品用キャリアテープを部品メーカからアッセンブリメーカに輸送したり、ハンドリングする際、衝撃や振動により、収納エンボス２０Ａ内の電子部品１０が移動して位置ずれすることがある。
【０００９】
ところで、電子部品１０が半導体部品の場合、具体的には、樹脂モールド製のパッケージ本体１２の周面二方向から複数本のリード１３が並んで突出するＳＯＰ（Ｓｍａｌｌ  Ｏｕｔｌｉｎｅ  Ｐａｃｋａｇｅ）タイプの半導体パッケージ１１、あるいはパッケージ本体１２の周面四方向から複数本のリード１３が並んで突出するＱＦＰ（Ｑｕａｄ  Ｆｌａｔ  Ｐａｃｋａｇｅ）タイプの半導体パッケージ１１の場合、収納エンボス２０Ａに収納された半導体パッケージ１１が移動して位置ずれすると、収納エンボス２０Ａの周壁２２Ａや底部３３に半導体パッケージ１１のリード１３が接触し、その結果、リード１３が変形するという問題が生じる（図１６参照）。
【００１０】
係る問題に対処するため、従来においては、図１７に示すように、シート２の収納エンボス２０Ａに、一定の高さで半導体パッケージ１１の外側に位置する位置規制リブ４０Ａを形成し、この位置規制リブ４０Ａを半導体パッケージ１１のリード１３に跨がせてその内側下方に位置させることにより、収納エンボス２０Ａの周壁２２Ａや底部３３に半導体パッケージ１１のリード１３が接触するのを防ぐ方法が提案されている（特許文献１参照）。また、収納エンボス２０Ａの底部３３から位置規制リブ４０Ａを突出させる方法も提案されている（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特許第４１２４５１６号
【特許文献２】特開２００３‐８１３３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、上記特許文献１、２の方法は、所定の効果が期待できるものの、近年の半導体パッケージ１１の構造の変化に必ずしも対応することができず、リード１３の変形を招くおそれが考えられる。この点について詳しく説明すると、近年の半導体パッケージ１１は、薄型化や小型化の観点から、パッケージ本体１２の面積に対して薄く、３ｍｍ以下、好ましくは２ｍｍ以下の厚さに構成されることがあり、しかも、リード１３が高密度実装の観点から細くなって来ている。
【００１３】
このような薄型の半導体パッケージ１１は、収納エンボス２０Ａに一定の高さの位置規制リブ４０Ａが単に形成されるだけでは、電子部品用キャリアテープの製造時に巻き癖が付いて収納エンボス２０Ａが変形したり、電子部品用キャリアテープの巻き取り時、ハンドリング時、輸送時に収納エンボス２０Ａが変形すると、位置規制リブ４０Ａにリード１３が乗り上げたり、収納エンボス２０Ａの周壁２２Ａにリード１３が接触して変形する事態が予想される（図１７、図１８参照）。
【００１４】
また、収納エンボス２０Ａが湾曲変形すると、収納エンボス２０Ａの中央部付近が最も変形するので、収納エンボス２０Ａの中央部付近に位置する位置規制リブ４０Ａが底部側から開口２１Ａ方向に大きく膨らんで半導体パッケージ１１のリード１３を下方から押し上げ、リード１３が大きく変形する事態が予想される（図１８、図１９参照）。リード１３は、外方向や上下方向に変形させる力が作用すると、特に変形しやすいからである。
【００１５】
リード１３が大きく変形すると、回路基板に半導体パッケージ１１を実装する際、変形したリード１３と隣接する他のリード１３とが接触してショートしたり、ハンダによる半導体パッケージ１１の接続に支障を来したりすることとなる。
【００１６】
本発明は上記に鑑みなされたもので、例え電子部品が薄型でも、収納エンボスに収納された電子部品が損傷するのを防ぐことのできる電子部品用キャリアテープ及びその製造方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明においては上記課題を解決するため、巻取りリールに巻回される長尺のシートに、電子部品を収納する収納エンボスを設けたものであって、
電子部品を、パッケージ本体の周面の二方向あるいは四方向から複数本のリードが突出する厚さ３ｍｍ以下の半導体パッケージとし、
収納エンボスは、シートに設けられる開口と、この開口の周縁部からシートの裏面方向に伸びて半導体パッケージを包囲する周壁と、この周壁よりもシートの開口の中心部方向側に設けられて半導体パッケージのパッケージ本体を部分的に搭載する台座板と、この台座板に支持されて半導体パッケージのパッケージ本体に対向する底板とを含み、
収納エンボスの周壁を断面略Ｌ字形に屈曲形成し、この周壁の開口の中心部方向に指向する底部と台座板との間に、半導体パッケージの複数本のリードに非接触で跨がれる平面略枠形の位置規制突起を立て設けてシートの開口方向に向け、台座板を位置規制突起に包囲される平面略枠形に形成し、台座板の四隅部付近のうち、少なくとも二隅部付近を半導体パッケージのパッケージ本体を支持する平面Ｌ字形の複数の台座部とするとともに、この複数の台座部以外の部分を半導体パッケージに接触しないよう凹ませて複数の陥没部とし、各陥没部の低さを、シート厚みの１／３＜台座板の陥没部の低さ＜台座板の台座部高さに基づいて設定し、底板を、半導体パッケージのパッケージ本体との間に僅かな隙間を区画する断面略皿形に形成し、底板の底部の高さを周壁の底部の高さに揃えて整合し、位置規制リブの高さを各台座部付近において最も高くするとともに、各陥没部付近において最も低くし、位置規制突起の最大高さと最小高さとの差を、シート厚みの１／３＜位置規制突起の最大高さと最小高さとの差＜台座部の表面から突出する位置規制突起の高さに基づいて設定したことを特徴としている。
【００１８】
なお、シートの長手方向に複数の収納エンボスを所定の間隔で並べ設け、このシートの表面に、半導体パッケージを覆うカバーテープを着脱自在に貼り着けることができる。
また、シートに導電性を付与し、このシートの長手方向における両側部のうち、少なくとも一側部に複数の送り孔を所定の間隔で穿孔することができる。
【００２０】
また、収納エンボスの周壁の屈曲した底部の端と台座板の外周縁部との間に位置規制突起を介在し、台座板の内周縁部に、半導体パッケージのパッケージ本体下面との間に僅かな隙間を区画する断面略皿形の底板を支持させ、この底板の底部に貫通底孔を設けることが可能である。
また、台座板の高さを、台座部から陥没部に向けて徐々に低くすることも可能である。
【００２１】
また、位置規制突起の高さを、台座板の台座部付近から陥没部付近に向けて徐々に低くすることができる。
【００２２】
また、本発明においては上記課題を解決するため、請求項１、２、又は３に記載した電子部品用キャリアテープの製造方法であって、
長尺のシートを上流側から一定の長さで順次繰り出すとともに、シートの一定の長さ部分を加熱して金型にセットし、この金型により、シートの一定の長さ部分に複数の収納エンボスを所定の間隔で成形して収納エンボスに台座板と位置規制突起とを一体的に形成し、台座板の四隅部付近のうち、少なくとも二隅部付近を平面Ｌ字形の複数の台座部とし、この複数の台座部以外の部分を凹ませて台座部よりも低い複数の陥没部とし、位置規制リブを平面略枠形としてその高さを各台座部付近において最も高くするとともに、各陥没部付近において最も低くし、その後、シートの一定の長さ部分を金型から取り出して下流側に移動させることを特徴としている。
【００２３】
ここで、特許請求の範囲におけるシートは、透明、不透明、半透明のいずれでも良い。また、導電性の有無を特に問うものではない。台座板の四隅部付近には、少なくとも台座板の四隅部とその近傍が含まれる。
【００２４】
台座板の二隅部付近には、少なくとも台座板の二隅部とその近傍が含まれる。また、位置規制突起は、収納エンボスの剛性を確保する観点から、平面略枠形に形成することができる。この位置規制突起の高さは、台座板の台座部付近において最も高いことが好ましい。
【００２５】
本発明によれば、電子部品用キャリアテープの製造時、巻き始め時、巻き取り時等に、収納エンボスが湾曲変形すると、台座板の変形しやすい箇所がシートの開口方向に膨らむが、台座板の変形しやすい箇所と、台座板の変形しやすい箇所における位置規制突起とは、それぞれ低く形成され、シートの開口方向に対する膨らみ量が小さいので、シートの開口方向に大きく膨らんで厚さ３ｍｍ以下の半導体パッケージのリード等に接触することが少ない。
【００２６】
また、電子部品用キャリアテープの巻き取り時、ハンドリング時、輸送時等に衝撃や振動が作用すると、シートの収納エンボスに収納された厚さ３ｍｍ以下の半導体パッケージが移動して位置ずれしようとすることがあるが、台座板の変形しにくい箇所と、台座板の変形しにくい箇所における位置規制突起とは、それぞれ相対的に高く形成され、変形量が少ないので、厚さ３ｍｍ以下の半導体パッケージに対向接触して位置ずれを有効に防止する。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、台座板と位置規制突起の高さをそれぞれ部分的に異ならせ、台座板と位置規制突起の高さを台座板の変形しやすい箇所でそれぞれ低くするので、例え電子部品が厚さ３ｍｍ以下の薄い半導体パッケージでも、収納エンボスに収納された薄い半導体パッケージが損傷するのを防ぐことができるという効果がある。
【００２８】
また、例え電子部品用キャリアテープの製造時、巻き取り時、ハンドリング時、輸送時等に収納エンボスが変形しても、位置規制突起に厚さ３ｍｍ以下の薄い半導体パッケージのリードが乗り上げたり、収納エンボスの周壁にリードが接触したりして変形する事態を防ぐことができる。また、台座板の変形しやすい箇所が変形して膨らんでも、台座板の変形しやすい箇所の位置規制突起が低いので、薄い半導体パッケージのリードに干渉し、リードが変形する事態を排除することができる。
【００２９】
また、変形しやすい台座板の陥没部がシートの開口方向に膨らんで湾曲しても、陥没部付近における位置規制突起が陥没部付近の変形量を考慮して最も低位に位置するので、厚さ３ｍｍ以下の薄い半導体パッケージのリードに下方から干渉し、薄い半導体パッケージのリードが大きく変形する事態を排除することができる。また、変形による応力の緩和効果が低下することがなく、位置規制突起に厚さ３ｍｍ以下の薄い半導体パッケージのリードが接触しやすくなる事態を抑制することが可能となる。また、台座板の陥没部の低さが台座部高さ未満なので、収納エンボス全体が深くなり、巻取りリールにシートを巻き取ることが困難な事態を防ぐことが可能になる。また、変形による応力の緩和効果が低下することが少なく、位置規制突起に厚さ３ｍｍ以下の薄い半導体パッケージのリードが接触しやすくなる事態を抑制することができる。さらに、位置規制突起により、収納エンボスの強度を維持することができるので、厚さ３ｍｍ以下の薄い半導体パッケージの容易な保持が期待できる。
【００３０】
請求項２記載の発明によれば、台座板の高さが台座部から陥没部に向け、急激に変化するのではなく、滑らかに徐々に変化するので、台座板の強度を増大させて変形や破損を防止することが可能になる。
【００３１】
請求項３記載の発明によれば、位置規制突起の高さが台座板の台座部付近から陥没部付近に向け、急激に変化するのではなく、滑らかに徐々に変化するので、位置規制突起の強度を増大させて変形や破損を防止することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明に係る電子部品用キャリアテープの実施形態における巻取りリールに電子部品用キャリアテープを巻回した状態を模式的に示す説明図である。
【図２】本発明に係る電子部品用キャリアテープの実施形態を模式的に示す平面説明図である。
【図３】本発明に係る電子部品用キャリアテープの実施形態における収納エンボスを模式的に示す平面説明図である。
【図４】本発明に係る電子部品用キャリアテープの実施形態における収納エンボスを模式的に示す断面説明図である。
【図５】本発明に係る電子部品用キャリアテープの実施形態における収納エンボスに半導体パッケージを収納した状態を模式的に示す平面説明図である。
【図６】本発明に係る電子部品用キャリアテープの実施形態における収納エンボスに半導体パッケージを収納した状態を模式的に示す断面説明図である。
【図７】本発明に係る電子部品用キャリアテープの実施形態における収納エンボスの変形状態を模式的に示す断面説明図である。
【図８】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第２の実施形態における収納エンボスを模式的に示す平面説明図である。
【図９】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第２の実施形態における収納エンボスを模式的に示す断面説明図である。
【図１０】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第２の実施形態における収納エンボスに半導体パッケージを収納した状態を模式的に示す平面説明図である。
【図１１】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第２の実施形態における収納エンボスに半導体パッケージを収納した状態を模式的に示す断面説明図である。
【図１２】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第３の実施形態における収納エンボスを模式的に示す平面説明図である。
【図１３】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第３の実施形態における収納エンボスを模式的に示す断面説明図である。
【図１４】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第３の実施形態における収納エンボスに半導体パッケージを収納した状態を模式的に示す平面説明図である。
【図１５】本発明に係る電子部品用キャリアテープの第３の実施形態における収納エンボスに半導体パッケージを収納した状態を模式的に示す断面説明図である。
【図１６】従来における電子部品用キャリアテープの収納エンボスと位置ずれした電子部品である半導体パッケージとを示す断面説明図である。
【図１７】従来における電子部品用キャリアテープの位置規制リブ付き収納エンボスと位置ずれした半導体パッケージとを示す平面説明図である。
【図１８】従来における電子部品用キャリアテープの位置規制リブ付き収納エンボスと位置ずれした半導体パッケージとを示す断面説明図である。
【図１９】従来における電子部品用キャリアテープの位置規制リブと位置ずれした半導体パッケージのリードとの関係を示す部分拡大断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
以下、図面を参照して本発明の好ましい実施の形態を説明すると、本実施形態における電子部品用キャリアテープは、図１ないし図７に示すように、巻取りリール１に巻回される長尺の薄いシート２に、電子部品１０である薄型の半導体パッケージ１１を収納する複数の収納エンボス２０を配設し、各収納エンボス２０の周壁２２と台座板２５との間に、半導体パッケージ１１用の位置規制リブ４０を形成しており、台座板２５と位置規制リブ４０の高さをそれぞれ部分的に異ならせ、これら２５・４０を台座板２５の変形しやすい箇所で低くするようにしている。
【００３４】
巻取りリール１は、図１に示すように、用途に応じた所定の大きさに規格化され、シート２が一列にレコード巻きされたり、あるいは複数列にトラバース巻きされたりして、検査装置や自動組立装置（例えば、表面実装機）等にセットされる。この巻取りリール１には、汎用性に優れる汎用樹脂製のノーマル巻取りリール、カーボン等が配合された導電巻取りリール、ノーマル巻取りリールに帯電防止効果が施された帯電防止巻取りリール、軽量の発泡芯巻取りリール等の種類があるが、検査装置や自動組立装置等にセット可能であれば、特に限定されるものではない。
【００３５】
シート２は、図２に部分的に示すように、例えば長い帯形に形成され、長手方向に複数の収納エンボス２０が一定の間隔で並設されるとともに、長手方向の両側部に複数の送り孔３がそれぞれ一定の間隔で並べて穿孔されており、表面に、収納エンボス２０に収納された半導体パッケージ１１を被覆保護するカバーテープが後から剥離可能に貼着される。
【００３６】
シート２の材質としては、特に限定されるものではないが、汎用性に優れる透明のポリスチレン、Ａ‐ＰＥＴ、強度に優れるポリエチレンテレフタレート、耐薬品性に優れるポリプロピレン、機械的性質や成形性に優れるＡＢＳ樹脂、耐衝撃性や寸法安定性に優れるポリカーボネート等があげられる。空気中に放電して静電気を帯びないようにする場合には、ポリスチレン等に帯電防止効果が施された帯電防止タイプが使用される。また、静電気の発生を防止したい場合には、ポリスチレンやＡ‐ＰＥＴ等にカーボン等が配合された導電タイプが使用される。
【００３７】
シート２の幅は、例えば規格化された１２、１６、２４、３２、４４、５６、７２ｍｍ等の長さに調整される。このシート２の厚さは、特に限定されるものではないが、可撓性と強度とを両立させる観点から、０．１７〜０．５０ｍｍ、好ましくは０．２５〜０．４０ｍｍ、より好ましくは０．３０ｍｍ前後の薄さが良い。また、カバーテープは、特に限定されるものではないが、例えばポリエステルフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンフィルム等の基材に、常温接着性の感圧式粘着層や熱融着性の感圧式粘着層が積層されたタイプが用いられる。このカバーテープには、導電タイプ、帯電防止タイプ、透明タイプ等がある。
【００３８】
薄型の半導体パッケージ１１は、図５や図６等に示すように、厚さが３ｍｍ以下のＱＦＰ、ＬＱＦＰ、ＴＱＦＰの表面実装型タイプからなり、平面矩形のパッケージ本体１２の前後左右の周面四方向から収納エンボス２０の位置規制リブ４０を跨ぐ複数本のリード１３が外部に並んで突出しており、各リード１３がガルウイング形（Ｌ字形）に細く屈曲形成される。この半導体パッケージ１１は、電子部品用キャリアテープが巻取りリール１と共に自動組立装置にセットされた後、この自動組立装置により、収納エンボス２０から取り出され、回路基板に表面実装される。
【００３９】
各収納エンボス２０は、図３や図４等に示すように、シート２に穿孔される開口２１と、この開口２１の周縁部からシート２の裏面方向に伸びる周壁２２と、この周壁２２よりもシート２の開口２１の中心部方向側に設けられて半導体パッケージ１１を搭載する平面枠形の台座板２５と、この台座板２５に支持されて巻取りリール１の周面に接触する底板３１とを備え、周壁２２の底部２４と台座板２５との間に、半導体パッケージ１１に対向する平面枠形の位置規制リブ４０が介在して形成されており、所定の深さのポケット形に一体形成される。
【００４０】
シート２の開口２１と底板３１とは、共に平面矩形（具体的には、正方形）に形成され、開口２１が半導体パッケージ１１の大きさに対応する大きさに形成される。これに対し、底板３１は、開口２１とは異なり、半導体パッケージ１１のパッケージ本体よりも小さく形成される。
【００４１】
周壁２２は、半導体パッケージ１１の厚みよりも長い（高い）角筒形に形成されるとともに、断面略Ｌ字形に屈曲形成され、シート２の裏面方向（図４や図６の下方向）に向かうにしたがい、シート２の開口２１の中心部方向に徐々に僅かに傾斜しており、半導体パッケージ１１を包囲する。この周壁２２の壁部２３の下端から屈曲した底部２４は、平坦化されてシート２の開口２１の中心部方向に指向し、巻取りリール１の周面に接触する。底部２４の先端には、シート２の開口２１方向に起立する位置規制リブ４０が一体的に立設される。
【００４２】
台座板２５は、直線形の複数の区画辺２６が縦横に組み合わされることにより、位置規制リブ４０に包囲される平面枠形に形成され、シート２の開口２１と周壁２２の底部２４との間に位置して底板３１を包囲しており、半導体パッケージ１１におけるパッケージ本体１２の下面を部分的に搭載する。この台座板２５は、半導体パッケージ１１のリード１３を保護する観点から、四隅部付近２７と各区画辺２６の中央部付近２９とで高さが相違して不揃いになるよう形成される。
【００４３】
すなわち、台座板２５は、その四隅部付近２７、換言すれば、複数の区画辺２６の交差部が平面Ｌ字形の台座部２８とされ、この複数の台座部２８が半導体パッケージ１１におけるパッケージ本体１２の下面四隅部を接触支持する。この複数の台座部２８は、必要に応じ、台座板２５の四隅部付近２７がシート２の開口２１方向にそれぞれ平面Ｌ字形に隆起することで形成される。
【００４４】
これに対し、複数の台座部２８以外の部分、換言すれば、各区画辺２６の中央部付近２９は、半導体パッケージ１１の下面周縁部に接触しないよう底板３１方向に凹み、台座部２８よりも低い低位の陥没部３０とされる。この複数の陥没部３０は、凹んで複数の台座部２８よりも低い箇所に位置することで、各台座部２８を相対的に高位に位置させる。これら複数の台座部２８と陥没部３０とは、相対的に高位の台座部２８方向から低位の陥没部３０方向に向け、低くなる関係に形成される。
【００４５】
台座板２５の陥没部３０の低さ（凹み量）は、以下の式に基づいて設定される。すなわち、
シート厚みの１／３＜台座板の陥没部の低さ＜台座板の台座部高さ        …（式１）
に基づいて設定される。
【００４６】
ここで、シート２の厚みが１／３なのは、厚みが１／３以下の場合、変形による応力の緩和効果が低下し、位置規制リブ４０に半導体パッケージ１１のリード１３が接触しやすくなるからである。また、台座板２５の陥没部３０の低さとは、陥没部３０の陥没開始位置から陥没終了位置までの低さ（高さ）である。また、台座板２５の陥没部３０の低さが台座部２８の高さ未満なのは、台座板２５の陥没部３０低さが台座部２８の高さ以上の場合、収納エンボス２０全体が深くなり、巻取りリール１にシート２を巻き取ることができなくなるからである。
【００４７】
このような台座板２５は、各台座部２８が複数の区画辺２６の交差する箇所なので、電子部品用キャリアテープの巻き取り時、ハンドリング時、輸送時等に最も変形しにくいという特質を有する。これに対し、台座板２５の複数の陥没部３０のうち、少なくとも左右一対の区画辺２６の陥没部３０、換言すれば、シート２の長手方向（図２の左右方向）における左右一対の区画辺２６の中央部付近２９は、シート２が長手方向に湾曲して反る関係上、シート２の開口２１方向に最も変形して弓なりに湾曲するという特質を有する。
【００４８】
底板３１は、断面略皿形に形成されてその上向きに傾斜した周縁部が台座板２５の内周縁部に接続され、平坦な底部が周壁２２の底部２４の高さに揃えて整合されており、半導体パッケージ１１のパッケージ本体１２下面の周縁部を除く中央部付近に対向してその間に僅かな隙間を区画形成するとともに、巻取りリール１の周面に接触する。
【００４９】
底板３１の底部中心には図２に示すように、必要に応じて丸い貫通底孔３２が任意に穿孔され、この貫通底孔３２が半導体パッケージ１１の収納エンボス２０からの取り出し、半導体パッケージ１１の有無の確認、バキュームを用いた半導体パッケージ１１の姿勢制御等に利用される。このような底板３１は、台座板２５表面の平坦化に寄与し、嵌入収納された半導体パッケージ１１の姿勢を安定させるよう機能する。
【００５０】
位置規制リブ４０は、図３や図４等に示すように、台座板２５を包囲する幅狭の平面枠形に形成されて周壁２２底部２４の端と台座板２５の外周縁部との間に介在され、収納エンボス２０の開口２１よりも低位に位置し、半導体パッケージ１１の複数本のリード１３に跨がれるとともに、各リード１３と接触せずに離隔する。
【００５１】
係る位置規制リブ４０は、周壁２２の高さよりも低く短く形成されて壁部２３の内面の略下半分に対向し、壁部２３との間の隙間に半導体パッケージ１１の複数本のリード１３を収容する。この位置規制リブ４０、具体的には台座板２５と接続された位置規制リブ４０の上端部の高さは、半導体パッケージ１１のリード１３を保護する観点から、従来例とは異なり、台座板２５の台座部２８付近と陥没部３０付近とで高さが相違して不揃いになるよう形成される。
【００５２】
すなわち、位置規制リブ４０は、図３や図４に示すように、台座板２５の変形しにくい各台座部２８付近においては、平面略Ｌ字形に屈曲形成され、台座板２５の変形しやすい各陥没部３０付近においては、平面略Ｉ字形に最も低く形成されており、これら台座板２５の各台座部２８付近と各陥没部３０付近との間が急激、かつ直線的に傾斜して低くなる。このような位置規制リブ４０は、各陥没部３０付近において最も低く形成されることにより、各台座部２８において相対的に最も高く形成されることとなる。
【００５３】
係る位置規制リブ４０の最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、以下の式に基づいて設定される。すなわち、
シート厚みの１／３＜位置規制リブの最大高さと最小高さとの差＜台座部の表面から突出する位置規制リブの高さ                                              …（式２）
に基づいて設定される。
【００５４】
ここで、シート２の厚みが１／３なのは、厚みが１／３以下の場合、変形による応力の緩和効果が低下し、位置規制リブ４０に半導体パッケージ１１のリード１３が接触しやすくなるからである。また、位置規制リブ４０の最大高さは、台座板２５の台座部２８表面から突出する位置規制リブ４０の最大の高さである。これに対し、位置規制リブ４０の最小高さは、台座部２８表面から突出する位置規制リブ４０の最小の高さである。
【００５５】
係る最大高さと最小高さとの差は、台座部２８表面から突出する位置規制リブ４０の最大の高さから最小の高さを減算した値である。また、位置規制リブ４０の最大高さと最小高さとの差が台座部２８表面から突出する位置規制リブ４０の高さ未満なのは、最大高さと最小高さとの差が台座部２８表面から突出する位置規制リブ４０の高さ以上の場合、位置規制リブ４０が収納エンボス２０の強度を維持できなくなり、半導体パッケージ１１の保持が困難になるという理由に基づく。
【００５６】
位置規制リブ４０の最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、半導体パッケージ１１の種類や大きさにもよるが、例えば０．１０〜０．４０ｍｍ、好ましくは０．１０〜０．３８ｍｍ、より好ましくは０．１０〜０．３５ｍｍの範囲内に設定される。
【００５７】
台座板２５の各台座部２８付近における位置規制リブ４０の内面は、収納エンボス２０に半導体パッケージ１１が嵌入収納されると、半導体パッケージ１１のパッケージ本体１２の周面側に位置して対向する。これに対し、各台座部２８付近における位置規制リブ４０の外面は、収納エンボス２０に半導体パッケージ１１が嵌入収納されると、パッケージ本体１２の周面から突出したリード１３の斜め下方に屈曲した屈曲部の内側にクリアランスを介して対向し、リード１３を非接触状態で保護する。
【００５８】
台座板２５の各陥没部３０付近における位置規制リブ４０は、収納エンボス２０に半導体パッケージ１１が嵌入収納されると、内面が半導体パッケージ１１のパッケージ本体１２の周面側下方に位置して僅かに対向し、外面がパッケージ本体１２の周面から突出したリード１３の斜め下方に屈曲した屈曲部の内側にクリアランスを介して対向する。陥没部３０付近における位置規制リブ４０は、０ではないが、最も低く短く形成されるので、半導体パッケージ１１のパッケージ本体１２の周面に対する対向範囲が狭くなる。このような陥没部３０付近における位置規制リブ４０は、収納エンボス２０の捩れや変形を防止し、収納エンボス２０の形態を維持するよう機能する。
【００５９】
上記構成において、電子部品用キャリアテープを製造する場合には、先ず、連続した長尺のシート２と所定の製造装置とを用意し、シート２を製造装置の上流側から一定の長さで順次繰り出し、このシート２の一定の長さ部分をヒータ等により加熱軟化させて図示しない専用の金型にセットする。
【００６０】
こうして金型にシート２の一定の長さ部分をセットしたら、金型を型締め等してシート２の一定の長さ部分に複数の収納エンボス２０を一定の間隔で凹み成形し、各収納エンボス２０に台座板２５と位置規制リブ４０とを一体成形し、これら台座板２５と位置規制リブ４０の高さをそれぞれ部分的に異ならせ、台座板２５の変形しやすい陥没部３０やその付近でそれぞれ低くするとともに、台座板２５の変形しにくい台座部２８やその付近でそれぞれ相対的に高くする。
【００６１】
成形法としては、（１）金型の凸型と凹型とに加熱軟化させたシート２を挟持させることにより、収納エンボス２０を成形するプレス成形法、（２）金型の凹型に加熱軟化させたシート２を圧縮空気で押し付けることにより、収納エンボス２０を成形する圧空成形法、（３）金型と加熱軟化したシート２との隙間を真空にし、金型にシート２を密着させて収納エンボス２０を成形する真空成形法、（４）金型の内部を真空状態にし、この金型を回転させながら金型の凸型又は凹型に加熱軟化させたシート２を吸着することにより、収納エンボス２０を成形する真空ロータリー成形法等があげられる。これらの成形方法は、特に限定されず、いずれでも良いが、収納エンボス２０の複雑な内部形状やＲにも正確、かつ容易に対処できる（１）のプレス成形法や（２）の圧空成形法が好適である。
【００６２】
各収納エンボス２０に台座板２５と位置規制リブ４０とを一体成形したら、シート２や収納エンボス２０の冷却後に金型を型開きし、金型から取り出したシート２の一定の長さ部分の両側に複数の送り孔３をそれぞれ一定の間隔で並べて穿孔し、その後、シート２の一定の長さ部分を製造装置の下流側に移動させ、空の巻取りリール１に巻き取れば、電子部品用キャリアテープを製造することができる。
【００６３】
この際、シート２の一定の長さ部分が所定の幅寸法ではない場合には、金型から取り出したシート２の一定の長さ部分を所定の幅寸法にスリット加工してサイズを整え、このシート２の一定の長さ部分の両側に複数の送り孔３をそれぞれ一定の間隔で並べて穿孔することができる。複数の送り孔３は、収納エンボス２０の成形前に穿孔しても良いし、収納エンボス２０の成形時に併せて穿孔しても良い。
【００６４】
次に、製造された電子部品用キャリアテープに半導体パッケージ１１を嵌入収納する場合は、従来例と同様、シート２の複数の収納エンボス２０に半導体パッケージ１１が順次嵌入して収納され、シート２の表面にカバーテープが加熱融着された後、巻取りリール１に所定の長さの電子部品用キャリアテープが巻き取られる。
【００６５】
巻取りリール１に電子部品用キャリアテープが巻き始められる際、図７に示すように、巻取りリール１の周面に収納エンボス２０の周壁底部２４と底板３１とが接触し、巻取りリール１の周面に沿って収納エンボス２０が底板３１側から開口２１方向に円弧形に湾曲変形し、台座板２５の最も変形しやすい陥没部３０が開口２１方向に膨出するが、各陥没部３０と陥没部３０付近における位置規制リブ４０は、最も低く形成され、開口２１方向に対する膨出量が少ないので、開口２１方向に大きく膨らんで半導体パッケージ１１のリード１３に圧接し、押し上げることがない。したがって、リード１３の大きな変形をきわめて有効に防止することができる。
【００６６】
また、電子部品用キャリアテープの巻き取りやハンドリングの際、応力が発生して収納エンボス２０を変形させ、収納エンボス２０内の半導体パッケージ１１が前後左右に位置ずれしようとすることがあるが、台座板２５の台座部２８付近における位置規制リブ４０は、台座部２８の強度が高く、変形量が少ないので、半導体パッケージ１１のパッケージ本体１２に接触して位置ずれを防止したり、脱落を規制したりする。したがって、半導体パッケージ１１の位置ずれに伴い、リード１３が変形したり、損傷したりすることがなく、半導体パッケージ１１の機能や性能を維持することができる。
【００６７】
次に、電子部品用キャリアテープに嵌入収納された半導体パッケージ１１を回路基板に実装する場合は、従来例と同様、自動組立装置の巻取りリール１に巻回された電子部品用キャリアテープが繰り出され、回路基板に半導体パッケージ１１がハンダにより表面実装される。
【００６８】
電子部品用キャリアテープが部品メーカからアッセンブリメーカに輸送されたり、ハンドリングされたりする際、収納エンボス２０内の半導体パッケージ１１が前後左右に位置ずれしようとすることがあるが、台座板２５の台座部２８付近における位置規制リブ４０が半導体パッケージ１１のパッケージ本体１２の周面に接触して位置規制する。この位置規制作用により、半導体パッケージ１１のリード１３が変形したり、損傷したりすることがないので、半導体パッケージ１１の機能や性能の維持が期待できる。
【００６９】
上記構成によれば、電子部品用キャリアテープに巻き癖がついて収納エンボス２０が変形したり、電子部品用キャリアテープの巻き取り時、ハンドリング時、輸送時等に収納エンボス２０が変形しても、位置規制リブ４０に薄型の半導体パッケージ１１の細いリード１３が乗り上げたり、収納エンボス２０の周壁２２に細いリード１３が接触して変形する事態を排除することができる。
【００７０】
また、最も変形しやすい台座板２５の陥没部３０が開口２１方向に膨らんで湾曲しても、陥没部３０付近における位置規制リブ４０が陥没部３０付近の変形量を考慮して最も低く位置するので、半導体パッケージ１１の細いリード１３に下方から干渉し、リード１３が大きく変形する事態を排除することができる。以上により、リード１３の大きな変形を抑制防止することができるので、回路基板に半導体パッケージ１１を実装する際、大きく変形したリード１３と隣接する他のリード１３とが接触してショートすることがない。また、ハンダによる半導体パッケージ１１の接続に支障を来すこともない。
【００７１】
次に、図８ないし図１１は本発明の第２の実施形態を示すもので、この場合には、台座板２５の高さを、各台座部２８から陥没部３０に向け、滑らかに傾斜させながら徐々に低くするとともに、位置規制リブ４０の高さを、台座板２５の各台座部２８付近から陥没部３０付近に向け、滑らかに傾斜させながら徐々に低くするようにしている。その他の部分については、上記実施形態と同様であるので説明を省略する。
【００７２】
本実施形態においても上記実施形態と同様の作用効果が期待でき、しかも、台座板２５と位置規制リブ４０の高さが急激、かつ直線的に変化するのではなく、比較的広い範囲で傾斜状に滑らかに変化するので、位置規制リブ４０の強度を増大させて変形や破損を防止することができるのは明らかである。
【００７３】
次に、図１２ないし図１５は本発明の第３の実施形態を示すもので、この場合には、台座板２５の高さを、各台座部２８から陥没部３０に向け、滑らかに連続して湾曲させながら徐々に低くするとともに、位置規制リブ４０の高さを、台座板２５の台座部２８付近から陥没部３０付近に向け、滑らかに連続して湾曲させながら徐々に低くするようにしている。その他の部分については、上記実施形態と同様であるので説明を省略する。
【００７４】
本実施形態においても上記実施形態と同様の作用効果が期待でき、しかも、台座板２５と位置規制リブ４０の高さが滑らかに連続して変化するので、応力の緩和に有効である。また、半導体パッケージ１１を高精度に位置決めすることができ、広範囲に亘って半導体パッケージ１１のリード１３に対する干渉を防止することもできる。
【００７５】
なお、上記実施形態ではシート２の長手方向における両側部に複数の送り孔３を所定の間隔でそれぞれ穿孔したが、シート２の長手方向における一側部のみに複数の送り孔３を所定の間隔で穿孔しても良い。また、半導体パッケージ１１は、厚さ３ｍｍ以下のＳＯＰ、ＳＳＯＰ、ＴＳＯＰタイプ等でも良いし、厚さ３ｍｍ以上のＱＦＰやＳＯＰタイプでも良い。半導体パッケージ１１がＳＯＰタイプの場合、収納エンボス２０は、平面正方形ではなく、平面長方形に成形される。
【００７６】
また、台座板２５の四隅の台座部２８付近のうち、三隅の台座部２８付近における位置規制リブ４０の高さを、他の箇所の位置規制リブ４０よりも高くしても良いし、対角線上の二隅の台座部２８付近における位置規制リブ４０の高さを、他の箇所の位置規制リブ４０よりも高くすることができる。さらに、各区画辺２６の陥没部３０付近における位置規制リブ４０の高さを最も低くしても良いが、半導体パッケージ１１がＳＯＰの表面実装型タイプの場合、パッケージ本体１２の周面二方向から複数本のリード１３が並んで突出するので、左右一対の区画辺２６の陥没部３０付近における位置規制リブ４０の高さのみを最も低くしても良い。
【００７７】
以下、本発明に係る電子部品用キャリアテープ及びその製造方法の実施例を比較例と共に説明する。
【実施例】
【００７８】
〔実施例１〕
先ず、連続した長尺のシートを用意し、このシートの一定の長さ部分をヒータにより加熱軟化させて専用の金型にセットし、この金型を型締めしてシートの一定の長さ部分に複数の収納エンボスを一定の間隔でプレス成形し、各収納エンボスに台座板と位置規制リブとを一体化した。
【００７９】
シートは、幅が４４ｍｍ、厚さが０．３ｍｍの市販されているポリスチレン製の導電タイプとした。また、各収納エンボスは、外形寸法が２４ｍｍ×２４ｍｍの表面実装型の半導体パッケージに対応する大きさにプレス成形した。また、位置規制リブは、第１の実施形態の形にプレス成形した。この位置規制リブの台座板の台座部付近における最大高さは０．３５ｍｍとした。また、台座板の台座部の最大高さと最小高さとの差（凹み量）、及び位置規制リブの最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、いずれも０．１０ｍｍとした。
【００８０】
シートに複数の収納エンボスをプレス成形したら、収納エンボスの冷却後に金型を型開きし、脱型して取り出したシートの一定の長さ部分の両側に複数の送り孔をそれぞれ一定の間隔で穿孔し、その後、シートの一定の長さ部分を下流側に移動させて空の巻取りリールに巻き取ることにより、図２の電子部品用キャリアテープを製造した。巻取りリールは、コア径がφ８０〜３２０ｍｍのタイプを選択し、２０ｍの電子部品用キャリアテープを巻き取った。
【００８１】
次いで、製造した電子部品用キャリアテープを４０℃×２４時間の環境下で保管し、電子部品用キャリアテープの湾曲した収納エンボスの湾曲値を焦点深度計〔ユニオン社製：非接触段差測定器〕により測定し、その測定結果を表１に記載した。測定の結果、収納エンボスの湾曲値は０．３５ｍｍであった。
【００８２】
次いで、巻取りリールから引き出した電子部品用キャリアテープの収納エンボスに上記大きさの半導体パッケージを嵌入収納するとともに、シートの表面にカバーテープを貼着し、巻取りリールに電子部品用キャリアテープを再度巻回した。半導体パッケージのリードと収納エンボスの位置規制リブとは、クリアランスを介して対向させた。
【００８３】
電子部品用キャリアテープを巻取りリールに巻回したら、この巻取りリールを梱包して梱包品とし、この梱包品を約１ｍの高さから落下させて落下試験を実施した。この落下試験は、梱包品の３面、１稜、１角の部位を下方に向けて実施した。落下試験の終了後、半導体パッケージのリードの変形の有無を目視により確認したり、測定したりして、その結果を表１に記載して検討・評価した。評価に際しては、半導体パッケージのリードと収納エンボスの位置規制リブとのクリアランスが０ｍｍを越えている場合には合格（ＯＫ）とし、０ｍｍ以下の場合には不合格（ＮＧ）とした。
【００８４】
〔実施例２〕
基本的には実施例１と同様としたが、台座板の台座部の最大高さと最小高さとの差（凹み量）、及び位置規制リブの最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、いずれも０．１５ｍｍに変更した。また、収納エンボスの湾曲値を０．３１ｍｍに変更した。
〔実施例３〕
基本的には実施例１と同様としたが、台座板の台座部の最大高さと最小高さとの差（凹み量）、及び位置規制リブの最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、いずれも０．２０ｍｍに変更した。また、収納エンボスの湾曲値を０．２６ｍｍに変更した。
【００８５】
〔実施例４〕
基本的には実施例１と同様としたが、台座板の台座部の最大高さと最小高さとの差（凹み量）、及び位置規制リブの最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、いずれも０．２５ｍｍに変更した。また、収納エンボスの湾曲値を０．１９ｍｍに変更した。
【００８６】
〔実施例５〕
基本的には実施例１と同様だが、台座板の台座部の最大高さと最小高さとの差（凹み量）、及び位置規制リブの最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、いずれも０．３０ｍｍに変更した。また、収納エンボスの湾曲値を０．１２ｍｍとした。
〔実施例６〕
基本的には実施例１と同様だが、台座板の台座部の最大高さと最小高さとの差（凹み量）、及び位置規制リブの最大高さと最小高さとの差（凹み量）は、いずれも０．３５ｍｍに変更した。また、収納エンボスの湾曲値を０．０４ｍｍとした。
【００８７】
〔実施例７〕
各収納エンボスの台座板と位置規制リブとを第２の実施形態の形に成形し、その他は実施例３と同様とした。
〔実施例８〕
各収納エンボスの台座板と位置規制リブとを第３の実施形態の形に成形し、その他は実施例３と同様とした。
【００８８】
【表１】
0006446262.tif 000002
【００８９】
〔比較例１〕
連続した長尺のシートを用意し、このシートをヒータにより予熱して専用の金型にセットし、この金型を型締めしてシートの長手方向に複数の収納エンボスを一定の間隔でプレス成形し、各収納エンボスに図１８や図１９に示す従来の位置規制リブを一体化した。シートや各収納エンボスの大きさについては、実施例と同様とした。位置規制リブは、高さが常に０．３５ｍｍで一定の従来タイプとし、最大高さと最小高さとの差（凹み量）を０．００ｍｍとした。
【００９０】
シートに複数の収納エンボスをプレス成形し、各収納エンボスに高さが一定の位置規制リブを一体化したら、実施例と同様の製造方法により、電子部品用キャリアテープを製造した。巻取りリールについても、実施例と同様とした。
【００９１】
次いで、製造した電子部品用キャリアテープを実施例と同様の環境下で保管し、電子部品用キャリアテープの湾曲した収納エンボスの湾曲値を焦点深度計〔ユニオン社製：非接触段差測定器〕により測定し、その測定結果を表２に記載した。測定の結果、収納エンボスの湾曲値は０．５４ｍｍであった。
【００９２】
次いで、巻取りリールから引き出した電子部品用キャリアテープの収納エンボスに上記大きさの半導体パッケージを嵌入収納するとともに、シートの表面にカバーテープを貼着し、巻取りリールに電子部品用キャリアテープを再度巻回した。半導体パッケージのリードと収納エンボスの位置規制リブとは、クリアランスを介して対向させた。
【００９３】
電子部品用キャリアテープを巻取りリールに巻回したら、この巻取りリールを梱包して梱包品とし、この梱包品を約１ｍの高さから落下させて落下試験を実施した。この落下試験は、実施例と同様の内容とし、試験の終了後、半導体パッケージのリードの変形の有無を目視により確認したり、測定したりして、その結果を表２に記載して検討・評価した。評価の基準は、実施例と同様とした。
【００９４】
〔比較例２〕
電子部品用キャリアテープを図１６に示す構成とし、シートの収納エンボスに位置規制リブを一体化せず、省略した。この位置規制リブ以外は比較例１と同様としたが、収納エンボスの湾曲値は０．４２ｍｍとした。
【００９５】
【表２】
0006446262.tif 000003
【００９６】
実施例１〜８の場合には、表１に示すように、半導体パッケージのリードと収納エンボスの位置規制リブとのクリアランスが０ｍｍを越え、半導体パッケージのリードに変形が見られず、実に良好な結果を得ることができた。これらの実施例１〜８から、位置規制リブの最大高さと最小高さとの差（凹み量）を０．１０ｍｍ以上に設定すれば、半導体パッケージのリードに変形が生じないのが判明した。
なお、位置規制リブを第２、第３の実施形態の形に変更してプレス成形しても、半導体パッケージのリードは変形せず、良好な結果を得ることができた。
【００９７】
これに対し、比較例１、２の場合には、半導体パッケージのリードが変形し、十分な結果を得ることができなかった。
【産業上の利用可能性】
【００９８】
本発明に係る電子部品用キャリアテープ及びその製造方法は、機械、電気、電子、半導体、液晶等の製造分野で使用される。
【符号の説明】
【００９９】
１        巻取りリール
２        シート
１０      電子部品
１１      半導体パッケージ
１２      パッケージ本体
１３      リード
２０      収納エンボス
２１      開口
２２      周壁
２３      壁部
２４      底部
２５      台座板
２６      区画辺
２７      四隅部付近
２８      台座板
２９      中央部付近
３０      陥没部
３１      底板
４０      位置規制リブ（位置規制突起）
【図１】
0006446262.tif 000004
【図２】
0006446262.tif 000005
【図３】
0006446262.tif 000006
【図４】
0006446262.tif 000007
【図５】
0006446262.tif 000008
【図６】
0006446262.tif 000009
【図７】
0006446262.tif 000010
【図８】
0006446262.tif 000011
【図９】
0006446262.tif 000012
【図１０】
0006446262.tif 000013
【図１１】
0006446262.tif 000014
【図１２】
0006446262.tif 000015
【図１３】
0006446262.tif 000016
【図１４】
0006446262.tif 000017
【図１５】
0006446262.tif 000018
【図１６】
0006446262.tif 000019
【図１７】
0006446262.tif 000020
【図１８】
0006446262.tif 000021
【図１９】
0006446262.tif 000022