(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を発生させるための光源と、
前記光源からの光を、参照光と測定光とに分岐するための光分岐手段と、
前記測定光のフォーカス位置を調整するための調整手段と、
前記参照光を遮光するための遮光手段と、
前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度、及び、前記遮光手段で前記参照光を遮光していない状態で前記戻り光と前記参照光との干渉光の強度を検出するための検出手段と、
前記検出手段が検出した前記干渉光の強度に基づいて断層画像を生成する生成手段とを備え、
前記調整手段は、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記フォーカス位置を調整することを特徴とする断層画像撮像装置。
【請求項２】
前記調整手段でフォーカス位置を移動させながら前記検出手段が前記戻り光を検出し、前記戻り光がピークとなる位置に前記フォーカス位置を調整することを特徴とする請求項１に記載の断層画像撮像装置。
【請求項３】
前記検出手段は、前記戻り光の強度を検出するとき、前記干渉光を検出するときよりも遅いフレームレートで動作することを特徴とする請求項１又は２に記載の断層画像撮像装置。
【請求項４】
前記調整手段が前記フォーカス位置を調整するとき、前記測定光はフォーカス位置の移動に同期して、前記被検査物を前記測定光でサークル状にスキャンする走査手段を更に備えることを特徴とする請求項２又は３に記載の断層画像撮像装置。
【請求項５】
前記フォーカス位置の調整を行った後に、前記遮光手段で前記参照光を遮光していない状態で、前記検出手段により前記干渉光を検出することで前記被検査物の断層画像を生成することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の断層画像撮像装置。
【請求項６】
前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との何れかの光路長を調整する光路長調整手段を更に備え、
前記光路長調整手段で光路長を変化させながら前記断層画像の輝度を検出し、前記断層画像が表示領域の所定の位置になるように前記光路長調整手段で光路長を調整することを特徴とする請求項５に記載の断層画像撮像装置。
【請求項７】
前記光路長の調整を行った後に、さらに前記調整手段でフォーカス位置を変化させながら前記断層画像の輝度を検出し、輝度がピークになる位置に前記調整手段で前記フォーカス位置の調整をすることを特徴とする請求項６に記載の断層画像撮像装置。
【請求項８】
光源からの光を参照光と測定光とに分岐し、前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光と前記参照光との干渉光の強度を検出手段により検出し、前記検出手段により検出された干渉光の強度に基づき断層画像を生成する断層画像撮像装置の制御方法であって、
前記参照光を遮光手段により遮光し、
前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を前記被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度を前記検出手段により検出し、
前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記測定光のフォーカス位置を調整手段により調整することを特徴とする断層画像撮像装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、断層画像撮像装置及びその制御方法に関し、特に、眼底などの観察に用いられる断層画像撮像装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、低コヒーレント光による干渉を利用した光干渉断層法（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）を用いる撮像装置（以下、ＯＣＴ装置とも呼ぶ。）が実用化されている。これは、被検査物の断層画像を高解像度に撮像することができる装置である。
【０００３】
ＯＣＴ装置において、光源からの光は、ビームスプリッタなどにより、測定光と参照光とに分けられる。測定光は、測定光路を介して眼などの被検査物に照射される。そして、被検査物からの戻り光は参照光と合波され、干渉光として検出光路を介して検出器に導かれる。ここで、戻り光とは、被検査物に対する光の照射方向における界面に関する情報等が含まれる反射光や散乱光のことである。戻り光と参照光との干渉光を検出器で検出し、解析することによって被検査物の断層画像を得ることができる。
【０００４】
眼の断層画像を取得するＯＣＴ装置として、ＯＣＴ装置に眼底カメラを複合させた眼科撮影装置が知られている（特許文献１）。また、ＯＣＴ装置に走査レーザ検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）を複合させた眼科撮影装置が知られている（特許文献２）。
【０００５】
このような複合装置においては、眼底カメラ光学系又はＳＬＯ光学系によって得られる眼底正面画像のフォーカス状態又は眼底に投影されたフォーカス指標の位置関係を、表示モニター上で確認しながらフォーカス位置を調整し、眼底正面画像及び眼底断層画像のフォーカス合わせを行っている。すなわち、眼底正面画像のフォーカス調整で得られたフォーカス位置をＯＣＴ光学系に適用している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１２−２２３４２８号公報
【特許文献２】特開２００９−２９１２５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、このような複合装置では、ＯＣＴ光学系とは別に眼底カメラ光学系又はＳＬＯ光学系が必要になるため、装置の構成が複雑になり、装置が高価格化する。また、眼底正面画像の合焦位置とＯＣＴ光学系によって得られる眼底断層画像の合焦位置は必ずしも一致しないため、眼底断層画像に対するフォーカス調整の精度は十分とはいえなかった。
【０００８】
本発明は、断層画像撮像時のフォーカス調整の精度を向上させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するため、本発明の断層画像撮像装置は、光を発生させるための光源と、
前記光源からの光を、参照光と測定光とに分岐するための光分岐手段と、前記測定光のフォーカス位置を調整するための調整手段と、前記参照光を遮光するための遮光手段と、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度、及び、前記遮光手段で前記参照光を遮光していない状態で前記戻り光と前記参照光との干渉光の強度を検出するための検出手段と、前記検出手段が検出した前記干渉光の強度に基づいて断層画像を生成する生成手段とを備え、前記調整手段は、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記フォーカス位置を調整することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明にかかる断層画像撮像装置の制御方法は、光源からの光を参照光と測定光とに分岐し、前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光と前記参照光との干渉光の強度を検出手段により検出し、前記検出手段により検出された干渉光の強度に基づき断層画像を生成する断層画像撮像装置の制御方法であって、前記参照光を遮光手段により遮光し、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を前記被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度を前記検出手段により検出し、前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記測定光のフォーカス位置を調整手段により調整することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、ＯＣＴ光学系でフォーカス位置の検出を行うため、断層画像撮像時のフォーカス調整の精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１の実施形態におけるＯＣＴ装置の概略を示す模式図である。
【図２】本発明の第１の実施形態におけるフォーカス位置と光強度積算値の関係を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施形態における信号の形状を示す図である。
【図４】本発明の第１の実施形態における出力信号を示す図である。
【図５】本発明の第１の実施形態の断層画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
［第１の実施形態］
本発明の実施形態について図面を参照しながら、以下に詳細に説明する。本実施形態の装置により撮像できるものは、例えば、人間の網膜、前眼部等の断層画像である。
【００１４】
（装置構成）
本実施形態に係るフーリエドメイン方式の光干渉断層法を眼底断層画像撮像装置に応用した例について、図１を用いて説明する。
【００１５】
１は、光（低コヒーレンス光）を発生させるための光源である。本実施形態において光源１には、中心波長８５０ｎｍ、帯域５０ｎｍのＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）光源を用いる。なお、光源１には、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）光源も適用することができる。また、光源１には、チタンサファイアレーザなどの超短パルスレーザ光源も適用することができる。このように、光源１は、低コヒーレンス光を発生させることの出来るものなら何でも良い。さらに、光源１から発生する光の波長は、特に制限されるものではないが、被検査物に応じて４００ｎｍから２μｍの範囲で選択される。波長の帯域は広いほど縦分解能がよくなる。一般的に中心波長が８５０ｎｍの場合、５０ｎｍの帯域では６μｍの縦分解能、１００ｎｍの帯域では３μｍの縦分解能である。
【００１６】
２、４、１０、１４は、光ファイバー等で構成される導光部である。光源１を発した光は、導光部２により光分岐部３に導かれる。光分岐部３は、ファイバーカプラなどを適用することができる。なお、分岐の比率は被検査物に合わせて適切なものを選択する。
【００１７】
光分岐部３により導光部４側に分岐された光（測定光）の光路上には、コリメータレンズ５、光走査部６、フォーカスレンズ７、波長分岐ミラー８、対物レンズ９が配置され、サンプルアーム１００１を構成する。光走査部６は、光軸方向に隣接して配置（タンデム配置）された互いに直交するＸ、Ｙ方向に測定光をそれぞれ走査するガルバノミラー又は共振ミラー等が適用される。波長分岐ミラー８は、光源１を発した光（波長：λ＝８００〜９００ｎｍ）を透過し、前眼部照明の光（λ＝９４０ｎｍ）を反射する。導光部４に導かれた測定光は、サンプルアーム１００１を通り被検眼Ｅの眼底Ｅｆに達する。
【００１８】
光分岐部３により導光部１０側に分岐された光（参照光）の光路上にはコリメータレンズ１１、シャッター２６、参照ミラー１２が配置され参照アーム１００２を構成する。シャッター２６は、参照光路に挿脱可能に配置されている。また、参照ミラー１２は、直動ステージ１３上に配置され、直動ステージ１３を光軸方向に移動することにより、参照アーム１００２の光路長を調整する。
【００１９】
レンズ１５、回折格子であるグレーティングやプリズム等で構成される分光部１６、結像レンズ１７、ＣＭＯＳやＣＣＤ等の光電変換素子を有する撮像部１８は、分光器１００３を構成する。光分岐部３に接続された導光部１４により、光分岐部３からの光（干渉光）は分光器１００３に導かれる。
【００２０】
１９は制御部であり、光走査部６、直動ステージ１３、撮像部１８、シャッター２６等の制御を行う。また、制御部１９には表示部２０が接続されている。また、制御部１９には、メモリー２４、マウス等のポインティングデバイス２５が接続されている。
【００２１】
対物レンズ９の周りには前眼部照明光源２１ａ、２１ｂが配置され、これらの光源により照明された被検眼Ｅの前眼部の像は、対物レンズ９を通り、波長分岐ミラー８により反射され、レンズ２２により二次元の撮像部２３の撮像面に結像する。
【００２２】
本実施形態では干渉系としてマイケルソン干渉系を用いたが、マッハツェンダー干渉系を用いても良い。
【００２３】
（撮像方法）
次に、このような構成の装置を用いて、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの網膜の断層画像を撮像する方法を説明する。
【００２４】
被検眼Ｅを本装置の前に配置すると、被検眼Ｅの前眼部は光源２１ａ、２１ｂが発した光により照明される。このように照明された前眼部の像は、対物レンズ９を通り、波長分岐ミラー８により反射されて、レンズ２２により、撮像部２３の撮像面に結像する。撮像部２３からの映像信号は、制御部１９に入力されデジタルデータにリアルタイムに変換され、前眼部像が生成される。
【００２５】
制御部１９は、この被検眼Ｅの前眼部像のうちの特に虹彩の模様より、被検眼Ｅの偏心及びピントの状態を判定する。撮像面の中心とサンプルアーム１００１の光学系の光軸が一致するように調整されているため、撮像部２３で撮像された前眼部像の瞳孔中心と撮像中心の偏心量が被検眼Ｅとサンプルアーム１００１の光学系の偏心量に相当する。サンプルアーム１００１の光学系は、被検眼Ｅに対し、上下左右、さらに光軸方向に位置調整が可能なように不図示のステージ上に配置されている。したがって、前述の通り、瞳孔中心と光軸が一致するように、上下左右の位置を調整し、虹彩の模様のコントラストが最も高くなるように、光軸方向の位置調整を行う。
【００２６】
これにより、虹彩と同一面である被検眼Ｅの瞳孔とサンプルアーム１００１の光学系の対物レンズ９との距離（ワーキングディスタンス）は一定に保たれている。前眼部像は、表示部２０の表示領域２０ａに表示され、操作者は、この画像により光軸偏心を確認することができる。
【００２７】
このように、オートアライメントにより偏心量が所定の値以下になると、制御部１９は、光源１を点灯し、シャッター２６を参照光路に挿入して参照光を遮光する。さらに撮像部１８の光電変換素子を所定のフレームレートで動作させ、フォーカス調整用の信号検出を開始する。光源１からの光は、導光部２により光分岐部３に導かれ、導光部４と導光部１０に導かれる光量の比が、例えば１：９になるように分岐される。導光部４側に導かれた測定光は、ファイバー端４ａに達する。ファイバー端４ａを点光源として発した測定光は、コリメータレンズ５により平行光に変換され、光走査部６、フォーカスレンズ７、波長分岐ミラー８を透過し対物レンズ９により被検眼Ｅの瞳孔より眼底Ｅｆに照射される。
【００２８】
眼底Ｅｆの網膜を構成する複数の層で反射・散乱された戻り光は、照射時と同一の光路を戻り、コリメータレンズ５を経てファイバー端４ａより導光部４に入り、光分岐部３に導かれる。光分岐部３では、導光部２と導光部１４に導かれる光量の比が１：９になるように分岐される。導光部１４を経てファイバー端１４ａを出射した光は、コリメータレンズ１５により平行光に変換され、分光部１６に入射する。分光部１６には、光の波長に近い寸法の回折格子が等間隔に複数形成されており、入射した光を回折により分光する。回折角度は波長により異なるため、回折された光は、結像レンズ１７により線像として撮像部１８のライン状の撮像領域に結像する。すなわちファイバー端１４ａを出射した光は、分光されたスリット像として結像する。したがって撮像部１８からは、波長毎の強度に対応した信号が出力される。
【００２９】
ここで、フォーカスレンズ７を光軸方向に移動させることによりフォーカス位置を変化させながら、撮像部１８の出力をフォーカス位置と対応させてメモリー２４に記憶する。フォーカスレンズ７は、例えば眼のディオプタで−１５Ｄ〜＋１５Ｄに相当する範囲を０．２５Ｄステップで移動させる。このとき、参照光はシャッター２６により遮光されているため、撮像部１８では眼底Ｅｆからの戻り光の強度のみが検出される。
【００３０】
また、撮像部１８の光電変換素子は、眼底Ｅｆからの微弱な戻り光の強度を検出できるよう、例えば７０Ｈｚ程度の所定のフレームレートで動作する。ここで、よりフレームレートを遅くすると露光蓄積時間が増えるため、より微弱な光の強度を検出するのに有利になる。制御部１９は、メモリー２４に記憶された各フォーカス位置における撮像部１８の出力データから、受光する全波長の光の強度の積算値を算出する。
【００３１】
図２は、フォーカス位置に対する戻り光の強度の積算値の出力を示す図である。戻り光の強度の積算値はフォーカス位置が眼底Ｅｆと一致したときにピークになるため、そのピーク位置にフォーカスレンズ７を移動させることにより、眼底Ｅｆにフォーカスを合わせる。
【００３２】
制御部１９は、フォーカス調整の完了を検知すると、シャッター２６を参照光路から脱離し、撮像部１８の光電変換素子を所定のフレームレートで動作させる。光分岐部３より導光部１０に導かれた光は、ファイバー端１０ａから出射されレンズ１１により平行光に変換され参照ミラー１２に向かう。参照ミラー１２は、平行光と垂直に、また、光軸方向に移動可能に直動ステージ１３上に配置されている。これにより異なる眼軸長の被検眼Ｅに対しても、参照光路と測定光路の光路長を合わせることができる。
【００３３】
参照ミラー１２で反射された参照光は、レンズ１１により導光部１０のファイバー端１０ａに集光され、導光部１０により光分岐部３に導かれ導光部２と導光部１４に分岐される。このときの分岐比は、被検眼Ｅからの戻り光とは逆であり、９：１である。そして、導光部１４に導かれた光は、眼底Ｅｆからの戻り光との合波により干渉光となり、分光器１００３に入り、分光部１６により分光され、前述の様に、撮像部１８の光電変換素子がライン上に配列する受光領域に結像する。
【００３４】
ここで、撮像部１８の光電変換素子は、フォーカス調整時よりも速い、例えば７０ｋＨｚ程度の所定のフレームレートで動作する。参照光と戻り光の干渉光の強度は干渉により、戻り光のみの光強度よりも大きくなるため、その分フレームレートを速くしても信号検出時のノイズの影響が抑えられる。
【００３５】
また、フレームレートを速くすることで、短時間に眼底上のより広い領域の信号を得ることができる。撮像部１８からの信号は、制御部１９に入力され、断層画像が生成され表示部２０の表示領域２０ｂに表示される。制御部１９は、断層画像の輝度を検知し、表示領域２０ｂの所定の位置に関心部位の断層画像が位置するように参照ミラー１２の位置調整（コヒーレンスゲート調整）を行う。制御部１９は、直動ステージ１３の位置を指示された方向に移動させるとともに、メモリー２４に記憶している直動ステージ１３の制御位置情報を移動量に応じて変更する。直動ステージは、不図示のステッピングモータにより駆動制御されており、直動ステージ１３の位置は、ステッピングモータに指示するステップ数と対応している。例えば、６０ｍｍのストロークを６００００ステップで駆動する場合１ステップあたりの移動量は１μｍになる。０〜６００００までのステップ数が、直動ステージの０〜６０ｍｍの位置に対応する。
【００３６】
またこの直動ステージ１３の基準位置からレンズ１１までの距離は設計的に精度よく配置されておりこの基準位置と前記ステージ位置の関係も設計的に明らかであるため、このステップ数より参照光路長を計算することができる。このように参照ミラー１２の位置の変化とともに、参照光路の光路長が変化する。これにより表示領域２０ｂ内の断層画像の表示位置が変化する。このように、参照ミラー１２の位置は常にメモリー２４に記憶されている。以上の撮像準備の後、撮像ボタン２０ｅが指示されると、断層画像の静止画撮像を行う。これにより、撮像された断層画像は、メモリー２４に記憶される。
【００３７】
（断層画像生成）
次に断層画像の生成について説明する。
【００３８】
断層画像撮像時には、導光部１４には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの戻り光と、参照ミラー１２から反射された参照光との干渉光が導かれる。光分岐部３から眼底Ｅｆまでの光路長と、光分岐部３から参照ミラー１２までの光路長の差により、光分岐部３で合波されるとき戻り光と参照光は、位相差を有する。この位相差は波長により異なるため、撮像部１８の受光領域上に現れる分光強度分布には干渉縞が生じる。また、網膜には複数の層があり、それぞれの層境界からの戻り光はそれぞれ異なる光路長を有するため、干渉縞には、異なる周波数の干渉縞が含まれる。この強度分布に含まれる干渉縞の周波数とその強度より、反射物体の位置とその位置からの反射・散乱に対応した明るさを求めることができる。
【００３９】
眼底上の１ラインをスキャンするＢスキャンモードにおいては、制御部１９は、光走査部６のＸ、Ｙのスキャンミラーの一つ、例えば、Ｘスキャンミラーだけを駆動しながら、撮像部１８からの出力を読み出す。光走査部６からは、スキャンミラーの角度を示すデータが出力されており、読み出された信号はスキャンミラーの角度と共にデジタルデータに変換され、さらに光が被検眼に照射する角度θｉに変換されてメモリー２４に記憶される。スキャンミラーの角度と光線の照射角θｉは、対応しており、光学系の設計値より求める。
【００４０】
図３は、スキャンミラーの角度θｉにおける撮像部１８上の光の強度分布を示す。横軸は、撮像部１８上のセンサー位置であり、波長に対応する。縦軸は、信号強度である。ここでは、中心波長λ０、半値幅δλの強度分布に対して、干渉縞による波形が重なっている。
【００４１】
この波形の強度情報を読み出し、不図示のＡ／Ｄ変換器によりデジタルデータに変換し、メモリー２４に記憶する。このデータを波数変換し、周波数変換すると図４に示すような強度分布が得られる。これはｈ１、ｈ２、ｈ３の距離（コヒーレンスゲートからの距離）のところの干渉強度がＩ１、Ｉ２、Ｉ３であることを示す。したがって、スキャンミラーの角度θｉを、θｓからθｅまで変化させながら、干渉強度を測定する。このように取得した干渉強度Ｉ（θｉ，ｈｊ）を、θを横軸、ｈを縦軸にして表示することにより図５に示すように眼底のＢスキャン画像（光学的な距離に基づく画像）を表示することができる。
【００４２】
このように本実施形態によれば、測定光の眼底からの戻り光の強度に基づいてフォーカス位置の調整を行うことにより、ＯＣＴ光学系とは別に眼底カメラ光学系又はＳＬＯ光学系を設けることなく、簡素な装置構成でフォーカスが合った眼底断層画像を得ることができる。さらに、ＯＣＴ光学系でフォーカス位置の検知を行うため、眼底断層画像のフォーカス精度を向上させることができる。
【００４３】
［第２の実施形態］
第１の実施形態では、フォーカス調整時に測定光をスキャンさせていないが、スキャンさせてもよい。戻り光の強度を検出する撮像部１８の出力は、眼底の反射率にも依存する。眼底の反射率は眼底上の位置によって異なるため、フォーカス調整中に眼が動いてしまうと、フォーカス位置の変化の影響だけではなく、眼底の反射率変化の影響でも撮像部１８の出力が変化してしまう。出力が変化すると、戻り光の強度の積算値のピーク位置の検出に誤差が生じ、フォーカス位置の検出に誤差が生じる。そこで、例えば、フォーカス位置の移動ステップに同期して測定光をサークル状にスキャンさせてもよい。これにより、測定光を照射する眼底の反射率の影響がサークル上で平均化されるため、眼が動くことで測定光が照射される眼底上の位置が変化しても、フォーカス位置の検出への影響が小さくなる。
【００４４】
ここで、眼底の反射率は視神経乳頭でとくに高いため、フォーカス位置の移動ステップ毎にスキャン範囲に視神経乳頭が含まれるステップと含まれないステップがあると、それにより撮像部１８の出力の変化が大きくなり、フォーカス位置の検出への影響が大きくなる。その影響を抑えるためには、スキャン範囲に視神経乳頭が含まれないよう、例えば、測定光は黄斑と視神経乳頭の間におさまる大きさのサークルスキャンとしてもよい。さらに、測定光をスキャンさせた場合、スキャンさせない場合に比べてレーザ安全上制約される照射限界光量が緩和される。これにより測定光の照射光の強度を大きくすることができ、それに応じて戻り光の強度も大きくできるため、戻り光の強度を検出するときのノイズの影響を低減することができる。
【００４５】
本実施形態によれば、測定光をスキャンさせることで、眼の動きの影響や検出器のノイズの影響を抑えてフォーカス調整を行うことができる。
【００４６】
［第３の実施形態］
第１の実施形態では、制御部１９により、フォーカス調整及び光路長調整を行ったが、その後、さらにフォーカス位置の微調整を行ってもよい。制御部１９は、光路長調整の完了を検知した後、フォーカスレンズ７を光軸方向に移動してフォーカス位置を微小に変化させながら、各フォーカス位置における断層画像の輝度値をメモリー２４へ記憶する。そして、輝度値がピークになるフォーカス位置にフォーカスレンズ７を調整する。例えば、第１の実施形態で行ったフォーカス調整後のフォーカス位置を原点として、フォーカスレンズ７を眼のディオプタで−１Ｄ〜＋１Ｄの範囲を０．１Ｄステップで移動させ、断層画像の輝度がピークになる位置にフォーカスレンズ７を移動させる。
【００４７】
本実施形態によれば、光路長調整後にさらにフォーカス位置の微調整を行うことで、所望のコヒーレンスゲート位置の画像に対して、より精度よくフォーカスを合わせることができる。
【００４８】
［第４の実施形態］
第１から第３の実施形態では、制御部１９により、オートフォーカス調整及びオート光路長調整を行ったが、その後、操作者が手動で微調整を行ってもよい。操作者は、表示部２０の表示領域２０ｂに表示される断層画像を観察し、断層画像が最も明るくなるようにポインティングデバイス２５を用いてカーソルで表示領域２０ｃのボタンを操作してフォーカス調整を行う。また、同様に、表示領域２０ｂの所望の領域内に関心部位の断層画像が全て入るように表示領域２０ｄのボタンを操作して参照ミラー１２の位置調整（コヒーレンスゲート調整）を行う。
【００４９】
本実施形態によれば、オートフォーカス調整及びオート光路長調整後に手動調整を行うことで、所望のフォーカス位置及び所望のコヒーレンスゲート位置の断層画像を得ることができる。
【００５０】
［第５の実施形態］
第１から第４の実施形態では、制御部１９によりオート調整しているが、操作者が手動でフォーカス調整及び光路長調整を行ってもよい。操作者は、表示切り替えスイッチ２０ｆを操作して、戻り光の強度の積算値を表示領域２０ｂに表示する。このとき、スイッチ操作により、制御部１９は、シャッター２６を参照光路に挿入して参照光を遮光し、微弱な戻り光の強度を検出するために撮像部１８の光電変換素子を、例えば７０Ｈｚ程度の所定のフレームレートで動作させる。操作者は、ポインティングデバイス２５を用いてカーソルで表示領域２０ｃのボタンを操作し、表示されている戻り光の強度の積算値がピークになるようにフォーカス調整を行う。フォーカス調整が完了したら、再び表示切り替えスイッチ２０ｆを操作する。このスイッチ操作により、制御部１９は、シャッター２６を参照光路から脱離し、断層画像を観察するために撮像部１８の光電変換素子を、例えば７０ｋＨｚ程度の所定のフレームレートに変更して動作させる。これにより、表示領域２０ｂに断層画像が表示される。操作者は、第４の実施形態と同様に、断層画像を観察しながら表示領域２０ｃ及び表示領域２０ｄのボタンを操作して、フォーカス調整とコヒーレンスゲート調整を行う。
【００５１】
本実施形態によれば、戻り光強度を観察しながら手動調整することで、制御部１９によるオート調整時にエラーが生じた場合でも、フォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を調整することができる。
【００５２】
［その他の実施形態］
本件は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、前述の実施形態では、被検査物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される断層画像撮像装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
【００５３】
またコンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、コンピュータ上で稼動しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００５４】
さらに記録媒体から読み出したプログラムコードが、コンピュータ付属の機能拡張カードや機能拡張ユニット内のメモリーに書込まれ、前記拡張カードや拡張ユニット内の演算装置が実際の処理の一部か全部を行い、前述の実施形態の機能が実現される場合も含む。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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