(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像パラメータ値を含む情報の入力および情報の出力を行う入出力装置と、
被検体が載置される検査空間にパルスシーケンスに基づいて磁場を発生する磁場発生装置と、
前記パルスシーケンスに基づいて高周波磁場パルスを前記被検体に印加する高周波磁場パルス発生装置と、
前記被検体から生じるＮＭＲ信号を検出し、検出したＮＭＲ信号に基づいて前記被検体に関する画像を生成する画像生成装置と、
入力された撮像パラメータ値の撮像可能条件との適合の可否を判断すると共に入力された撮像パラメータ値に従って撮像動作を制御する制御装置と、を備え、
撮像パラメータは、磁気共鳴イメージング装置の前記高周波磁場パルスや前記パルスシーケンスを制御するハードウエア項目に関する撮像パラメータと前記被検体に与える負担に関わる被検体負担項目に関する撮像パラメータとを少なくとも有し、
前記制御装置は、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を求める演算を行って、求めた解を前記入出力装置に出力し、
前記制御装置は、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足した状態において、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を求める演算を行って、求めた解を前記入出力装置に出力し、
前記制御装置は、前記ハードウエア項目に関する適合可と判断された前記撮像パラメータと、前記被検体負担項目に関する適合可と判断された前記撮像パラメータ、に従って、前記撮像動作を制御し、
撮像パラメータ値が変更された場合に、前記制御装置は、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するかどうか、さらに前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するかどうか、を判断し、
前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータと前記被検体負担項目に関する撮像パラメータがそれぞれの前記撮像可能条件を満足しない場合に、前記制御装置は、前記撮像可能条件を満足しない前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を演算して、求めた解を前記入出力装置に表示し、前記ハードウエア項目に関する前記撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足した状態において、前記撮像可能条件を満足しない前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を演算して、求めた解を前記入出力装置に表示する、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項２】
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
撮像パラメータ値が変更された場合に、前記制御装置は、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足するかどうかを判断し、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、満足しない前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を演算して、求めた解を前記入出力装置に表示し、
前記ハードウエア項目に関する前記撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足した状態において、前記制御装置は、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足するかどうかを判断し、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、満足しない前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を演算して、求めた解を前記入出力装置に表示する、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項３】
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータと前記被検体負担項目に関する撮像パラメータがそれぞれの前記撮像可能条件を満足しない場合に、前記制御装置は、前記撮像可能条件を満足しない前記被検体負担項目に関する撮像パラメータの処理に優先して前記撮像可能条件を満足しない前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータの処理を行い、前記優先処理により、前記撮像可能条件を満足しない前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を優先して演算する、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３の何れか１項に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータは、撮像パラメータＢＷや撮像パラメータＦＯＶや撮像パラメータＴＲや撮像パラメータＴＥを含んでおり、
前記被検体負担項目に関する撮像パラメータは、撮像パラメータｄＢ／ｄｔや撮像パラメータＳＡＲを含んでいる、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項５】
請求項４に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
撮像パラメータ値の変更により、撮像パラメータＴＲと撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足しない場合に、前記制御装置は、撮像パラメータＴＲが撮像パラメータＴＲに対応する前記撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行って撮像パラメータＴＲが撮像パラメータＴＲに対応する前記撮像可能条件を満足しないことを判断し、
前記制御装置は、前記撮像パラメータＴＲが撮像パラメータＴＲに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力し、
前記撮像パラメータＴＲが前記撮像可能条件を満足する状態となった後に、前記制御装置は、前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行って前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足しないことを判断し、
さらに前記制御装置は、前記撮像パラメータパラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力する、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項６】
請求項４に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
撮像パラメータ値の変更により、撮像パラメータＴＲと撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足しない場合に、前記制御装置は、前記撮像パラメータＴＲと前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行って、前記撮像パラメータＴＲと前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足しないことを判断し、
前記制御装置は、前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔの処理に優先して、前記撮像パラメータＴＲが撮像パラメータＴＲに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力し、
前記撮像パラメータＴＲが前記撮像可能条件を満足する状態となった後に、前記制御装置は、前記撮像パラメータパラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力する、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項７】
請求項４に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
撮像パラメータ値の変更により、撮像パラメータＴＥと撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足しない場合に、前記制御装置は、撮像パラメータＴＥが撮像パラメータＴＥに対応する前記撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行って撮像パラメータＴＥが撮像パラメータＴＥに対応する前記撮像可能条件を満足しないことを判断し、
前記制御装置は、前記撮像パラメータＴＥが撮像パラメータＴＥに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力し、
前記撮像パラメータＴＥが前記撮像可能条件を満足する状態となった後に、前記制御装置は、前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行って前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足しないことを判断し、
さらに前記制御装置は、前記撮像パラメータパラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力する、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項８】
請求項４に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
撮像パラメータ値の変更により、撮像パラメータＴＥと撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足しない場合に、前記制御装置は、前記撮像パラメータＴＥと前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行って、前記撮像パラメータＴＲと前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔがそれぞれ前記撮像可能条件を満足しないことを判断し、
前記制御装置は、前記撮像パラメータｄＢ／ｄｔの処理に優先して、前記撮像パラメータＴＥが撮像パラメータＴＥに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力し、
前記撮像パラメータＴＥが前記撮像可能条件を満足する状態となった後に、前記制御装置は、前記撮像パラメータパラメータｄＢ／ｄｔが撮像パラメータｄＢ／ｄｔに対応する前記撮像可能条件を満足するための解を演算し、演算した解を前記入出力装置に出力する、ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項９】
撮像パラメータ値を含む情報の入力および情報の出力を行う入出力装置と、被検体が載置される検査空間に撮像パラメータ値に基づいて磁場を発生する磁場発生装置と、撮像パラメータ値に基づく高周波磁場パルスを前記被検体に印加する高周波磁場パルス発生装置と、前記被検体から生じるＮＭＲ信号を検出し、検出したＮＭＲ信号に基づいて前記被検体に関する画像を生成する画像生成装置と、入力された撮像パラメータ値の撮像可能条件との適合の可否を判断すると共に入力された撮像パラメータ値に従って撮像動作を制御する制御装置と、を備える磁気共鳴イメージング装置の制御方法であって、
撮像パラメータは、磁気共鳴イメージング装置のハードウエアの動作を制御するハードウエア項目に関する撮像パラメータと前記被検体に与える負担の規制に関わる被検体負担項目に関する撮像パラメータとを少なくとも有し、
前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を求める演算を行って、求めた解を前記入出力装置に出力するステップと、
前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足した状態において、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を求める演算を行って、求めた解を前記入出力装置に出力するステップと、
前記ハードウエア項目に関する適合可と判断された前記撮像パラメータ、と前記被検体負担項目に関する適合可と判断された前記撮像パラメータ、に従って、前記撮像動作を制御するステップと、
撮像パラメータ値が変更された場合に、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するかどうか、さらに前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するかどうか、を判断するステップと、
前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータと前記被検体負担項目に関する撮像パラメータがそれぞれの前記撮像可能条件を満足しない場合に、前記撮像可能条件を満足しない前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を演算して、求めた解を前記入出力装置に表示し、前記ハードウエア項目に関する前記撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足した状態において、前記撮像可能条件を満足しない前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を演算して、求めた解を前記入出力装置に表示するステップと、を備えることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気共鳴イメージング（以下ＭＲＩと記す）装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＭＲＩ装置は、例えば被検体の撮像対象組織を構成する原子核に撮像パラメータに基づいて発生した傾斜磁場や高周波磁場パルス（以下ＲＦパルスと記す）を印加することにより、原子核スピンによる核磁気共鳴（以下ＮＭＲと記す）信号を発生させ、このＮＭＲ信号を検出して被検体の撮像部の形状や機能を二次元的にあるいは三次元的に画像化する装置である。撮像対象組織画像を所望の画質あるいはコントラスト、分解能とするために、操作者は種々の撮像パラメータの値を入力し、あるいは必要に応じてより望ましい値に変更する。
【０００３】
しかし多くの撮像パラメータは他の撮影パラメータとの間で複雑な相関関係を有しており、ある撮像パラメータの値を変更すると、上記相関関係による制約のために他の撮像パラメータにおける撮像パラメータ値の許容範囲である撮像可能条件が変化し、結果として他の撮像パラメータの値を自由に設定することができない状態となる。
【０００４】
ユーザーである操作者が変更しようとして入力したパラメータ値が撮像可能な値であるかどうかが、ＭＲＩ装置のチェック機能によりチェックされる。入力された撮像パラメータ値が撮像可能条件を満たしていない場合には、入力された撮像パラメータ値が撮像可能条件を満たすためには、どの撮像パラメータをどのように変更したらよいかが演算され、演算された設定可能範囲が、ＭＲＩ装置の入出力装置に表示される。操作者が表示された設定可能範囲においてパラメータ値を入力することにより、撮像可能なパラメータ値が設定される。このような技術の一例が特許文献１や特許文献２に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第３３３５３８１号公報
【特許文献２】特開２００６−２８０８２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来行われている方法では、撮像パラメータが変更されるとその変更に伴う新たな設定可能範囲がそれぞれ演算され、撮像パラメータ項目の全項目に関して撮像可能条件を満足しているかどうかの判断を行い、撮像条件の全ての項目において、どれか一項目でも満足できない項目がある場合に、その撮像パラメータに関して、撮像条件の全ての項目について満足できる範囲あるいは満足できる具体的な数値を演算により求め、表示することか行われる。例えば撮像可能条件を満足しない撮像パラメータ項目が複数存在すると、これら複数の撮像パラメータ項目が同時に満足される解を求める演算が行われ、求められた解を表示していた。表示されたこの解を入力することにより、撮像パラメータがそれぞれ撮像可能条件を満足し、撮像パラメータの変更が終了する。
【０００７】
このように従来行われている方法では、撮像可能条件を満足しない全ての項目を同時に満足する撮像パラメータ値を求め演算を行うため、満足する撮像パラメータ値が求められない状態が生じ易い問題があることが分かった。満足する撮像パラメータ値が求められない場合に、操作者が意図した入力撮像パラメータの値が利用できなくなる。ＭＲＩ装置の入出力装置には標準値の利用を進める表示が為され、操作者は意図した撮像パラメータの変更を断念することになる。このことはユーザービリティの低下につながり、しいては操作性の低下につながる。
【０００８】
本発明の目的は、操作性の優れたＭＲＩ装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決する磁気共鳴イメージング装置は、撮像パラメータ値を含む情報の入力および情報の出力を行う入出力装置と、被検体が載置される検査空間にパルスシーケンスに基づいて磁場を発生する磁場発生装置と、前記パルスシーケンスに基づいて高周波磁場パルスを前記被検体に印加する高周波磁場パルス発生装置と、前記被検体から生じるＮＭＲ信号を検出し、検出したＮＭＲ信号に基づいて前記被検体に関する画像を生成する画像生成装置と、入力された撮像パラメータ値の撮像可能条件との適合の可否を判断すると共に入力された撮像パラメータ値に従って撮像動作を制御する制御装置と、を備え、撮像パラメータは、磁気共鳴イメージング装置の前記高周波磁場パルスや前記パルスシーケンスを制御するハードウエア項目に関する撮像パラメータと前記被検体に与える負担に関わる被検体負担項目に関する撮像パラメータとを少なくとも有し、前記制御装置は、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を求める演算を行って、求めた解を前記入出力装置に出力し、前記制御装置は、前記前記ハードウエア項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足した状態において、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合に、前記被検体負担項目に関する撮像パラメータが前記撮像可能条件を満足するための解を求める演算を行って、求めた解を前記入出力装置に出力し、前記制御装置は、前記ハードウエア項目に関する適合可と判断された前記撮像パラメータと、前記被検体負担項目に関する適合可と判断された前記撮像パラメータ、に従って、前記撮像動作を制御する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、操作性の優れたＭＲＩ装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明に係るＭＲＩ装置の一例を示すブロック図である。
【図２】撮像パラメータ項目の設定可能範囲および設定値を示す撮像パラメータ画面の一例を説明する説明図である。
【図３】撮像パラメータ値を変更する状態を説明する説明図である。
【図４】本発明の概要を説明するフローチャートである。
【図５】本発明の一実施例を説明するフローチャートである。
【図６】示唆画面の一例を説明する説明図である。
【図７】図５の記載のフローチャートの具体例を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
１．はじめに
以下図面を用いて本発明に係る一実施形態（以下実施例と記す）について説明する。なお実施例を説明するための全図において、略同一機能を有し略同一作用をなす構成には同一符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。同一符号を付した構成は略同様の効果を奏する。本明細書において用語「演算」は代数計算だけでなく、テーブル検索などの方法を用いて解を得る方法や、既に求められているデータを読み出して望ましい情報を得る方法などを含む広い意味で使用する。
【００１３】
２．本発明に係るＭＲＩ装置の全体構成の説明
図１は、本発明に係るＭＲＩ装置１００の全体構成を示すブロック図である。ＭＲＩ装置１００は、被検体１１の撮像対象組織を構成する原子核に撮像パラメータ値に基づいて発生した傾斜磁場や高周波磁場パルスを印加することにより、前記撮像対象組織を構成する原子核においてＮＭＲ現象を生じさせ、ＮＭＲ現象に基づいて発生したＮＭＲ信号を検出して二次元的なあるいは三次元的な画像を生成する撮像動作を行う装置である。ＭＲＩ装置１００は、撮像動作を含む全体的な制御を行う制御装置６０や、シーケンサ２０や、静磁場および傾斜磁場パルスを発生する磁場発生装置３０、高周波磁場パルス(以下ＲＦパルスと記す)を発生するＲＦパルス発生装置４０や、ＮＭＲ信号を検出するＮＭＲ信号検出装置５０や、被検体１１を載置する天板８２を有する寝台８０、を備え、制御装置６０はＮＭＲ信号検出装置５０で検出したＮＭＲ信号に基づいて二次元的なあるいは三次元的な画像を生成する機能を有している。
【００１４】
磁場発生装置３０は、静止磁場発生装置３２と傾斜磁場発生装置３４を有している。静止磁場発生装置３２は、垂直磁場方式であれば、被検体１１の周りの空間に被検体１１の体軸と直交する方向に、水平磁場方式であれば、体軸方向に均一な静磁場を発生させるもので、被検体１１の周りに永久磁石方式、常電導方式あるいは超電導方式の静磁場発生源が配置される。
【００１５】
傾斜磁場発生装置３４は、撮像パラメータに基づいてシーケンサ２０が出力する制御信号に従い、例えばＭＲＩ装置の座標軸方向であるＸ軸やＹ軸やＺ軸の３軸方向にパルス状の傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイルや前記傾斜磁場コイルを駆動する傾斜磁場電源を有している。なお前記傾斜磁場コイルや前記傾斜磁場電源は図示を省略する。シーケンサ２０が出力する制御信号に従い、撮像時には例えばＸ軸やＹ軸やＺ軸の３軸方向にパルス状の傾斜磁場を発生し、被検体１１が載置される検査空間の静止磁場に重畳してパルス状の傾斜磁場を印加する。例えば撮像時に撮像断面であるスライス面に直交する方向にスライス方向傾斜磁場Ｇｓを印加して被検体１１に対するスライス面を設定し、該スライス面に直交して且つ互いに直交する残りの２軸方向に位相エンコード方向傾斜磁場Ｇｐと周波数エンコード方向傾斜磁場Ｇｆを印加して、被検体１１が発生するエコー信号であるＮＭＲ信号にそれぞれの方向の位置情報をエンコードする。
【００１６】
シーケンサ２０は、撮像動作を制御する制御装置６０の制御部として動作するＣＰＵ６２の指令に従って動作し、ＲＦパルス発生装置４０や磁場発生装置３０、ＮＭＲ信号検出装置５０に、設定された撮像パラメータに基づくパルスシーケンスに従い繰り返し制御信号であるシーケンスパルスを印加し、撮像パラメータに基づいてＲＦパルス発生装置４０や磁場発生装置３０、ＮＭＲ信号検出装置５０を動作させる。
【００１７】
ＲＦパルス発生装置４０は、被検体１１の生体組織を構成する原子の原子核スピンに核磁気共鳴を起こさせるために、被検体１１にＲＦパルスを照射する作用を為し、高周波発振器４２と変調器４４と高周波増幅器４６とＲＦパルスを照射する照射コイル４８、を備えている。高周波発振器４２から出力されたＲＦパルスは、シーケンサ２０からの指令であるシーケンスパルスのタイミングで変調器４４により振幅変調され、該振幅変調されたＲＦパルスは高周波増幅器４６により増幅されて被検体１１に近接して配置された照射コイル４８に供給され、照射コイル４８から被検体１１へＲＦパルスが照射される。
【００１８】
被検体１１の生体組織を構成する原子核スピンの核磁気共鳴により放出されたエコー信号であるＮＭＲ信号は、ＮＭＲ信号検出装置５０によって受信される。ＮＭＲ信号検出装置５０は、受信コイル５２と、信号増幅器５４と、直交位相検波器５６と、Ａ／Ｄ変換器５８、を有している。照射コイル４８から被検体１１へ照射されたＲＦパルスにより誘起された被検体１１の生体組織を構成する原子のＮＭＲ現象により発生したＮＭＲ信号は、被検体１１に近接して配置された受信コイル５２により受信される。受信されたＮＭＲ信号は、信号増幅器５４で増幅された後、シーケンサ２０からの指令によるタイミングで直交位相検波器５６に直交する二系統の信号に分割され、それぞれがＡ／Ｄ変換器５８によりディジタル量に変換されて制御装置６０へ送られる。制御装置６０は制御機能に加え画像の生成を含む色々な処理機能を有しており、制御装置６０により被検体１１の画像が生成され、ディスプレイなどを有する出力装置６８により表示される。
【００１９】
制御装置６０は、撮像動作を含むＭＲＩ装置１００の全体を総合的に制御する制御機能を有すると共に、ＮＭＲ信号検出装置５０からの出力に基づいて撮像した被検体１１の画像を生成する画像処理機能や、撮像動作に先立ち操作者により入力された撮像パラメータを処理する撮像パラメータ設定機能や、必要な情報を記憶装置６４に記憶するあるいは記憶装置６４に記憶された情報を読み出すなどの記憶処理機能を有している。制御装置６０は前記制御や前記処理を行うＣＰＵ６２や、光ディスクや磁気ディスク等の外部記憶装置（図示を省略）さらに内部記憶装置（図示を省略）などを有する記憶装置６４や、操作装置としての機能を有する入出力装置６６、を有している。また入出力装置６６は入力装置７２と出力装置６８を備えており、入力装置７２は、トラックボールやマウスなどを含むポインティングデバイス７４や、キーボード７６や、出力装置６８のディスプレイ７０の画面上に設けられたタッチパネル（図示を省略）などの入力装置７２を有する。出力装置６８はディスプレイ７０や図示を省略したプリンタなどを備え、必要な情報を表示あるいは印刷などの方法で操作者の操作に基づき出力する。
【００２０】
現在ＭＲＩ装置の撮像対象核種は、臨床で普及しているものとしては、被検体の主たる構成物質である水素原子核(プロトン)である。プロトン密度の空間分布や、励起状態の緩和時間の空間分布に関する情報を画像化することで、人体頭部、腹部、四肢、等撮像対象の形態または機能を、２次元もしくは３次元的に撮像し、得られた画像が表示あるいは記憶装置６４に保持される。
【００２１】
３．撮像パラメータの設定の概要
図１に例示したＭＲＩ装置１００の撮像は設定された撮像パラメータに基づいて行われる。これら撮像パラメータの設定の概要について次に説明する。撮像されて生成された画像の画質、あるいは撮像に要する時間は、撮像のために入力されて設定された撮像パラメータにより大きく変わる。磁場発生装置３０やＲＦパルス発生装置４０やＮＭＲ信号検出装置５０を制御するシーケンサ２０のパルスシーケンス自身が撮像パラメータに基づいて大きく変わる。このため操作者は被検体１１の症状に基づいて細かに撮像パラメータ値を設定することが必要となる。
【００２２】
撮像パラメータは独立して設定できるのではなく、互いに複雑に関係しあっている。このため入力された各撮影パラメータの値が撮像可能な値であるかどうか、すなわち撮像可能条件を満足するかどうかが、各撮影パラメータ間の相関関係による制約に基づいて定まる。入力された各撮影パラメータの値が使用可能かどうかの判断が、前記各撮影パラメータ間の相関関係による制約に従って判断される。また入力された撮像パラメータが撮像可能条件を満足しない場合には、ＭＲＩ装置１００の制御装置６０で撮像可能条件を満足する撮像パラメータの値や範囲が演算されるが、この場合にも各撮影パラメータ間の前記相関関係による制約に従って演算することが必要である。
【００２３】
以下に説明する実施例では、入力された撮影パラメータの値が撮像可能条件を満足するかどうかの判断や、入力された撮影パラメータの値が撮像可能条件を満足しない場合に行われる撮像可能条件を満足する撮像パラメータ値の演算処理が、従来の方法に対して非常に容易に行うことができる。また操作者の希望をより反映した値で撮像パラメータを設定することができる。
【００２４】
３．１  撮像パラメータ値の入力すなわち撮像パラメータ値の変更に伴う画面表示の説明
図２および図３は撮像パラメータ値の変更可能な範囲を表示する表示の一例である。図２および図３を用いて、撮像パラメータ値の変更可能な範囲が、各撮影パラメータ間の相関関係により定まると共に撮像パラメータ値の変更範囲が他の撮像パラメータ値により制約を受けることを具体例で説明する。
【００２５】
図２はディスプレイ７０に表示された撮像パラメータ画面１１０を示し、撮像パラメータ画面１１０は、記憶装置６４が有する外部記憶装置から読みだされた撮像パラメータの項目欄１２０と、各項目に対する設定値１４１〜１４５を表示する設定値欄１４０と、各撮像パラメータ項目１２１〜１２５毎に、各撮像パラメータ間の相関関係に基づいて演算された撮像パラメータ値の設定可能範囲１３１〜１３５を表示する撮像パラメータ値の許容欄１３０を有している。撮像パラメータの項目欄１２０に記載される撮像パラメータの項目は色々存在するがこれらの項目をすべて挙げることはたいへん煩雑となるので、一部のみを記載している。
【００２６】
図２に示す表示例では、撮像パラメータの項目欄１２０には撮像パラメータ項目が表示される。撮像パラメータの項目欄１２０に表示される撮像パラメータの一例として図２には、撮像視野(ＦＯＶ)１２１や、繰り返し時間(ＴＲ)１２２や、エコー遅延時間(ＴＥ)１２３や、スライス厚１２４や、マルチスライスの数(スライス数)１２５、が表示されている。撮像視野（ＦＯＶ）１２１は単位はｍｍである。繰り返し時間（ＴＲ）１２２は1つのスライスにおいて印加される2つの連続する９０度パルスの間の時間を言い、単位はｍｓｅｃである。エコー遅延時間（ＴＥ）１２３はＲＦパルス印加後に、エコー信号を受信するために少し待つための時間であり、単位はｍｓｅｃである。スライス厚１２４の単位はｍｍである。マルチスライスの数（スライス数）１２５はマルチスライス撮影をする際のマルチスライスの枚数を示している。撮像パラメータの項目欄１２０に記載される撮像パラメータ項目は色々存在するがこれらの項目をすべて挙げることはたいへん煩雑となるので、一部のみを記載している。なお図２で設定値欄１４０は各撮像パラメータ項目に対する設定値を表示する欄であり、１４１は撮像視野(ＦＯＶ)１２１の設定値、１４２は繰り返し時間(ＴＲ)１２２の設定値、１４３はエコー遅延時間(ＴＥ)１２３の設定値、１４４はスライス厚１２４の設定値、１４５はマルチスライスの数(スライス数)１２５の設定値である。
【００２７】
例えば操作者が所望するスライス数が１０枚の場合、撮像パラメータ値の許容欄１３０のスライス数の設定可能範囲１３５が１〜１２枚であるので、設定値欄１４０の設定値１４５の内容を３枚から１０枚に変更することができる。従って操作者は直ちにスライス数を所望する１０枚に変更して設定し、撮像を開始することができる。一方、操作者が所望するスライス数が１０枚ではなく１５枚である場合には、操作者がスライス数の設定可能範囲１３５を参照することにより、１５枚のスライス数設定が不可能であることを直ちに判断できる。この場合に操作者が、例えば繰り返し時間ＴＲの設定値を、撮像パラメータ値の許容欄１３０の設定可能範囲１３２内である値に変更することができる。例えば設定値欄１４０の設定値１４２を５００ｍｓｅｃから６１０ｍｓｅｃに増大する方向に変更すると、図３に記載のように、撮像パラメータ値の許容欄１３０の設定可能範囲１３５が１枚〜１５枚に変更される。図３に示すように、スライス数の設定可能範囲が１枚〜１５枚になったことを確認し、設定値欄１４０のスライス数の設定値１４３の値を３枚から１５枚に変更することができる。このようにスライス数の設定値１４３を１５枚に変更して撮像を開始することができる。
【００２８】
なお上述した図３は、図２において繰り返し時間（ＴＲ）１２２に関する設定値１４２を５００ｍｓｅｃから６１０ｍｓｅｃに変更した場合の撮像パラメータ画面１１０の内容を示す。図２と図３により説明する実施例では、設定値欄１４０の繰り返し時間（ＴＲ）１２２関する設定値１４２を６１０ｍｓｅｃに変更することにより、マルチスライスの数（スライス数）１２５の設定可能範囲１３５を１５枚まで増やすことができたが、仮に設定値欄１４０の繰り返し時間（ＴＲ）１２２関する設定値１４２を増加させても、マルチスライスの数（スライス数）１２５の設定可能範囲１３５の限界が１４枚で、これ以上増やすことができなかった場合には、操作者は所望する撮像パラメータ値の設定が不可能であることを判断することができる。従って図２や図３の表示を見て、操作者は所望する撮像パラメータ値を設定しようとする無駄な行動を止め、所望する撮像パラメータ値であるスライス数１５枚に近い条件であるスライス数１４枚を設定することができる。
【００２９】
３．２  撮像パラメータの変更方法についての考え方の説明
上述したように撮像パラメータの値を変更したい場合に、本実施例では、図４に記載の考え方に基づいて変更に関する処理がＣＰＵ６２によって行われ、またこの処理に伴い新たに入力された撮像パラメータ値が設定可能範囲の条件を満足するかどうかの判断がＣＰＵ６２によって図４に記載の考え方に沿って行われる。また新たに撮像パラメータ値が入力されると、入力された撮像パラメータに関係して変更される他の撮像パラメータの設定可能範囲が演算され、演算された撮像パラメータの設定可能範囲が満たされているかどうかの判断や、撮像パラメータ値が設定可能範囲から外れる場合の警告や、新たな入力可能範囲の示唆に関する処理も、図４に記載の考え方に沿って行われる。
【００３０】
このように図４に記載の考え方に沿ってＣＰＵ６２による処理が行われることにより、新たに入力された撮像パラメータの変更値が撮像可能条件を満足するかの演算処理を全ての項目に対して行っていた従来の処理内容に比べ、ＣＰＵ６２の処理に関わる負荷が大幅に低減される。また該負荷の低減に伴ってＣＰＵ６２の処理に要する時間が短縮される。さらに入力された撮像パラメータ値が設定可能範囲を外れる場合の対応策としての撮像パラメータの設定可能範囲を満足する解が求められない事態の発生を少なくできる。この結果として従来技術に比べ操作者の意図に沿う撮像パラメータ値の設定が容易となり、操作性が向上する。
【００３１】
従来の考え方に沿って処理を行った場合に、複数の撮像パラメータ項目において、撮像可能条件を満足しない状態が多々生じる。この場合に従来の方法では常に撮像可能条件を満足しない複数の撮像パラメータ項目の全てを同時に満足するための解を求めることとなる。しかし実際には、満足しない複数の撮像パラメータ項目の全てを同時に満足する解が必要ではなく、満足しない複数の撮像パラメータ項目について、順に撮像可能条件を満足する解を求めることにより、結果的に満足しない複数の撮像パラメータ項目について解決できる場合が多々ある。従来の方法のように、満足しない複数の撮像パラメータ項目の全てを同時に満足する解を求めようとすると、解が存在しないとの演算結果が導かれたり、あるいは操作者が意図した内容からかけ離れた解が求められたりする。
【００３２】
図４は、上記問題を解決する新たな考え方に沿った撮像パラメータ値の変更に係るＣＰＵ６２の処理概要を示す。便宜上この明細書では、ステップＳ２００に近い方の処理をステップＳ２５０に近い方の処理に対して上位の処理と記載し、逆にステップＳ２５０に近い方の処理対を下位の処理と記載する。またステップＳ２２２で処理する撮像パラメータ項目をステップＳ２４２で処理する撮像パラメータ項目に対して上位の項目と記載し、ステップＳ２４２で処理する撮像パラメータ項目とする。さらにステップＳ２２２やステップＳ２４２で処理する撮像パラメータ項目においても、最初に記載の撮像パラメータを上位の撮像パラメータ項目とする。例えば撮像パラメータＧＣは撮像パラメータＢＷや撮像パラメータＦＯＶに対して上位の項目とする。同様に撮像パラメータｄＢ/ｄｔは撮像パラメータＳＡＲや撮像パラメータＲＭＳに対して上位の項目とする。
【００３３】
例えば、新たな撮像パラメータ値の入力など、操作者が撮像パラメータ値の変更操作を行うと、制御装置６０のＣＰＵ６２は操作者の撮像パラメータ値の変更操作を検知して、図４に記載のステップＳ２００で始まるフローチャートの処理を開始する。従来技術では入力された撮像パラメータ値に関して全ての項目に対して撮像可能条件を満たしているかどうかを判断し、撮像可能条件を満たさない撮像パラメータ項目が複数個存在する場合に、撮像可能条件を満たさない撮像パラメータ項目をすべて解決する解を演算により求めようとする。
【００３４】
しかし図４に記載の方法では、撮像パラメータ値の設定手順を複数のグループに分け、グループ毎に順に処理を行う。例えば例えばＭＲＩ装置１００のハードウエアやパルスシーケンスに関わるハードウエアグループと、被検体１１に与える負担に関わる安全性グループとに分け、これらのグループ毎に撮像パラメータ値の設定処理を行い、変更された撮像パラメータ値が撮像可能条件を満たしているかどうかの判断をグループ毎に行う。またさらに各グループ内の撮像パラメータ項目においても例えば図４に記載の撮像パラメータの項目の順に行うことにより、効率的な処理が可能となる。ここで重要なことは、例えばハードウエアグループの撮像パラメータ項目と安全性グループの撮像パラメータ項目に撮像可能条件を満足しない項目が存在する場合に、従来のようにこれら撮像可能条件を満足しない項目が同時に撮像可能条件を満足する解を求めるのではなく、上位グループの撮像パラメータ項目から順に対応することである。
【００３５】
図４に記載のフローチャートでは、撮像パラメータ値が変更された場合に、その変更に伴って撮像可能条件が変わり、この撮像可能条件の変化により新たな撮像可能条件に対して撮像パラメータ値が条件を満足するかどうかの判断をグループ毎に行っている。このようにグループ毎に撮像パラメータ値が条件を満足するかどうかの判断を行っても良いし、従来のように撮像パラメータの全項目に関して撮像可能条件を満たすかどうかの判断を行っても良い。重要なことは、上述のように、仮にハードウエアグループに属する撮像パラメータ項目と安全性グループに属する撮像パラメータ項目において撮像可能条件を満たさない撮像パラメータ項目がそれぞれ存在しても、これらに対してグループ毎に対応することである。即ち先ずハードウエアグループに属する撮像パラメータ項目内での撮像可能条件を満たさない状態に対応する解の演算を行い。ハードウエアグループに属する撮像パラメータ項目が撮像可能条件を満たす状態になった後に、安全性グループに属する撮像パラメータ項目について、撮像可能条件を満たさない撮像パラメータ項目の対応を行うことである。このようにグループ毎に分けて撮像可能条件を満たさない状態への対応、すなわち撮像可能条件を満たすようにするための解の演算を行うことである。このようにすることにより、従来の方法では求められなかった解をこの実施例では演算により求めることが可能となるケースが大幅に増加する。その結果として操作者の希望に沿う方向での撮像パラメータの設定の可能性が、従来のやり方に比べると大きく改善される。
【００３６】
上述したハードウエアグループに含まれる撮像パラメータ項目としては例えば、ステップＳ２２０のステップＳ２２２に示すように、ＭＲＩ装置１００のハードウエアに依存する傾斜磁場強度（以下ＧＣ強度）や、ＲＦパルスの帯域周波数（ＢＷ）や、撮像視野（ＦＯＶ）や、繰り返し時間（ＴＲ）やエコー遅延時間（ＴＥ）やスライス厚やスライス数、がある。これらはＲＦパルスの制御やパルスシーケンスの制御に関係する。
【００３７】
ステップＳ２２２に関するある撮像パラメータ値の変更に伴い、ステップＳ２２０に関係する他の撮像パラメータ値の許容範囲が変化すると共に場合によっては他グループである安全性グループに属する撮像パラメータの項目の設定可能範囲が変化する。しかし図４に記載の処理では、
先ずハードウエアグループ関係において、撮像可能条件が満たされるかが判断され、安全性グループに属する撮像パラメータの項目に関しては撮像可能条件が満たされるかどうかの判断は、この段階では行わない。今図２や図３に記載した撮像パラメータの項目欄１２０の撮像パラメータ項目は、ステップＳ２２２で設定処理が行われるハードウエアグループに含まれる撮像パラメータ項目である。撮像パラメータの項目欄１２０に表示の撮像視野（ＦＯＶ）１２１の項目からマルチスライスの数（スライス数）１２５の項目に対して演算された撮像可能条件の範囲が、撮像パラメータ値の許容欄１３０に、撮像パラメータ値の許容範囲である設定可能範囲１３１から設定可能範囲１３５として表示される。また撮像パラメータの項目欄１２０の項目ごとに入力された撮像パラメータ値が設定値欄１４０の設定値１４１から設定値１４５として表示される。なお、ハードウエアグループに含まれる撮像パラメータは色々あり、図２や図３の撮像パラメータの項目欄１２０にハードウエアグループに含まれる撮像パラメータを全て記載することは、たいへん煩雑となる。このため図２や図３は一部の撮像パラメータのみを例示している。図４の撮像パラメータＢＷなど、図２や図３に記載していない撮像パラメータは他にも色々ある。
【００３８】
先ず例えば撮像部位などの撮像の基本条件が入力されると撮像パラメータの項目欄１２０の各撮像パラメータ項目がＣＰＵ６２の処理により定まり撮像パラメータの項目欄１２０に表示される。撮像視野（ＦＯＶ）１２１項目などのハードウエア条件の項目に対して設定可能範囲１３１が表示され、操作者は設定値１４０に表示されているごとき撮像パラメータ値を入力する。これら入力に従って演算処理がなされ、撮像パラメータ値の許容欄１３０に記載の設定可能範囲がそれぞれ表示され。このようにしてハードウエアやパルスシーケンスに関する項目の撮像パラメータ値の許容欄１３０の各設定可能範囲の表示や入力された撮像パラメータ値が設定値欄１４０に表示される。なお図２に記載の表示内容は撮像パラメータの項目ごとに入力しても良いが、既に称された過去の情報を読み出して使用しても良いし、標準値を使用しても良い。
【００３９】
図２に記載の繰り返し時間（ＴＲ）１２２の設定値１４２の内容５００ｍｓｅｃを、図３に示す繰り返し時間（ＴＲ）１２２の撮像パラメータ値の設定値欄１４０の設定値１４２として示す如く６１０ｍｓｅｃに変更した場合、この新たな入力値に基づき撮像パラメータの項目欄１２０に表示の項目について設定可能範囲の演算が行われ、その結果、マルチスライスの数（スライス数）１２５の設定可能範囲１３５が、１枚〜１２枚、から１枚〜１５枚に変化する。次にマルチスライスの数（スライス数）１２５の設定値１４５を、１５に代えると、この変更された設定値１４５に対して、先ずハードウエアグループの内撮像パラメータについて撮像可能条件が満たされるかどうかが、ＣＰＵ６２によって判断される。
【００４０】
ハードウエアグループにおける撮像可能条件が満足されると、次にステップＳ２４０で、ハードウエアグループの設定値に基づいて、さらに必要な情報に基づいて安全性グループに関する撮像パラメータ項目の撮像パラメータ値の許容範囲である撮像可能条件が、各撮像パラメータ項目に関して演算され、表示される。安全性グループに関する各撮像パラメータ項目の入力撮像パラメータ値が、撮像可能条件を満たすかどうかが判断される。各撮像パラメータ項目において各撮像可能条件が満たされる場合に、ステップＳ２５０においてステップＳ２００からのフローチャートを終了する。この後設定された撮像パラメータ値に従って、撮像動作などの次の動作が開始される。
【００４１】
安全性グループに属する撮像パラメータ項目は、被検体１１の負担に関わる項目であり、法規制に関係する撮像パラメータ項目を含んでいる。安全性グループに関する撮像パラメータ項目としては、例えば、傾斜磁場の時間変化率（以下ｄＢ／ｄｔと記す）や、ＳＡＲ（Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ａｂｓｏｒｐｔｉｏｎ Ｒａｔｉｏ；高周波磁場印加に伴い人体に吸収される単位質量当たりの発熱量）や、体内に生じる電流に関係するＲＭＳ、などがある。これらの撮像パラメータに関する撮像可能条件は上述したように、先に設定されたハードウエアグループに属する撮像パラメータ値に基づくだけでなく、被検体１１の個人に関わる状態、例えば体重などにも関係する。
【００４２】
３．３  本発明に係る処理と従来技術に係る処理との関係の説明
図４に記載技術は、従来技術に係る処理に代わる処理であり従来技術では得られない効果を奏する。しかしＭＲＩ装置１００のハードウエアは図４および以下に説明の実施例に沿った処理が可能であると共に、従来技術に基づく処理も可能である。さらに従来技術に基づく処理にも色々な効果がある。従って全ての撮像作業において本発明に係る処理のみを行うのではなく、本発明に係る処理と従来技術に係る処理のどちらの処理を行うか、操作者が選択可能とするようにしても良い。さらに本発明に係る処理と従来技術に係る処理とを組み合わせた処理も可能であり、例えば本発明に係る処理で撮像可能条件を満足するとして決定した撮像パラメータ値について、場合によっては従来技術に係る処理で再度撮像可能条件を満たしているかの再確認を行っても良い。このように本発明に係る処理は従来技術に係る処理を否定するものではなく、従来技術に係る処理との組み合わせや併用を妨げるものではない。
【００４３】
４．撮像パラメータ値の変更に関する具体的な処理内容の説明
図５に記載のフローチャートを用いて、図４に記載の処理の具体的な内容を説明する。ステップＳ３００で始まるフローチャートは、例えばＣＰＵ６２により短い周期で繰り返し実行される。この繰り返し周期が操作者の操作時間に対して短い時間であるため、操作者にとってはあたかも常に実行されているように、処理がなされる。ステップＳ３１０で操作者による入力の有無が検知され、撮像パラメータ値が入力されると、ステップＳ３１０からＣＰＵ６２の実行がステップＳ３１２へ移る。図６に図２で説明した撮像パラメータ画面１１０を記載する。撮像パラメータ画面１１０の設定値欄１４０のスライス数の設定値１４５の値を例えば３枚から１５枚に変更すると、ＣＰＵ６２の実行がステップＳ３１０からステップＳ３１２へ移る。
【００４４】
ステップＳ３１２で、変更された撮像パラメータ項目がどのグループに属するか、また何番目の項目かが検知される。変更された項目がハードウエアグループに属し、マルチスライスの数（スライス数）１２５の項目であることが検知される。次にステップＳ３１４で、設定可能範囲１３５の範囲内かどうかが判断される。この場合スライス数１枚から１２枚が範囲内であり、１５枚は範囲外であることが判断される。従ってＣＰＵ６２の実行がステップＳ３１４からステップＳ３１６へ移動する。入力された撮像パラメータ値（枚数１５）が設定可能範囲を外れている旨の表示、および撮像パラメータ値が設定可能範囲を外れ項目に関し、前記入力された撮像パラメータ値（枚数１５）が設定可能範囲内となるために、新たに変更すべき撮像パラメータの値あるいは範囲の示唆に関する表示、がステップＳ３１６やステップＳ３１８において行われる。
【００４５】
前記動作および操作者の操作を、再度図５と図６を用いて説明する。図６に記載のステップＳ４０２により行われた撮像パラメータ画面１１０の表示において、操作者が撮像パラメータ画面１１０に表示されたスライス数の設定値１４５の値を３枚から１５枚にステップＳ４０４で変更する。この撮像パラメータ値の変更に基づいてＣＰＵ６２の実行が、ステップＳ３１０からステップＳ３１２を介してステップＳ３１４へ遷移する。ステップＳ３１４で入力されたスライス数１５枚が設定可能範囲１３５の範囲を外れているので、ＣＰＵ６２の実行がステップＳ３１６やステップＳ３１８に遷移する。図６に示す示唆画面２１０が、ステップＳ４０４において行われる。示唆画面２１０には、注意情報２２２や示唆項目が表示されている。示唆項目には、繰り返し時間（ＴＲ）１２２の設定値変更に関する示唆項目２２４や、前記変更である３枚から１５枚への変更の取り消し項目２２６や、基本条件にリセットする条件リセット項目２２８、がある。示唆画面２１０は一例であるが、図５に記載のステップＳ３１６やステップＳ３１８において、示唆画面２１０がディスプレイ７０に表示される。
【００４６】
繰り返し時間（ＴＲ）１２２の設定値変更に関する示唆項目２２４では、繰り返し時間（ＴＲ）１２２の設定値を５００ｍｓｅｃから６１０ｍｓｅｃに変更することにより、マルチスライスの数（スライス数）１２５を１５枚に変更することが可能となる旨の示唆が表示されている。この値はＣＰＵ６２による演算処理により求められた値である。このように撮像パラメータ値が示唆されることにより、この示唆に基づいて、撮像パラメータ値を変更することにより、意図した撮像条件の設定が可能となる。なお示唆項目２２４が選択された場合に、信号対雑音比（ＳＮＲ）や、コントラスト対雑音比（ＣＮＲ）や、スキャン時間(Ｓｃａｎ  Ｔｉｍｅ)がどのようになるかが、共に表示されるので、選択の参考とすることができる。
【００４７】
操作者は、繰り返し時間（ＴＲ）１２２の設定値変更に関する示唆項目２２４や、変更を取り消す取り消し項目２２６、あるいは基本条件をリセットするリセット項目２２８、の内の１つを選択し、操作マーク２３２を選択すると、ＴＲの撮像パラメータ値が変更される。例えばキャンセル表示２４２を選択すると、一連の撮像パラメータ値の変更操作が終了し、マルチスライスの数（スライス数）１２５の設定値１４５の値が元の３枚の状態に戻る。取り消し項目２２６を選択して操作マーク２３２を選択した状態と同じとなる。リセット項目２２８を選択すると予めＭＲＩ装置１００に記憶されていた標準値に戻る。図６のステップＳ４０４で選択項目が選択され、例えば繰り返し時間（ＴＲ）１２２の撮像パラメータ値が６１０ｍｓｅｃに変更されると、ＣＰＵ６２の実行はステップＳ３１０からステップＳ３１２を介してステップＳ３１４へ遷移する。
【００４８】
ステップＳ３１８では、下位グループの状態は判断しない。即ち図４に記載のステップＳ２２０におけるハードウエアグループに関係する項目の設定処理を行っている状態では、図５に記載のステップＳ３１８の演算処理では、安全性グループに関係する撮像パラメータ項目の値が撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行わない。このように所定の順序に沿って撮像パラメータ値の設定を行うことで、図６に記載の示唆項目２２４のように、操作者の意図に沿うことができる撮像パラメータ値を演算で求めることができる。従来の如く全ての条件を満足する撮像パラメータ値を演算で求めようとすると、満足する撮像パラメータ値が存在しないとの結果に至ることが多い。このような場合には、変更を取り消す項目２２６やリセット項目２２８のみを図５のステップＳ３１８で、あるいはこのステップに相当する図６のステップＳ４０４で表示することとなる。これらは操作者の意図とはかけ離れた内容であり、操作者の意図に沿うことができなくなる。
【００４９】
説明を図５のステップＳ３１４に戻し、ステップＳ３１４入力値が撮像可能条件を満足すると判断された場合に、ステップＳ３３０で入力された項目が属するグルーブの撮像可能条件の演算が、新たに入力された撮像パラメータ値に基づいて行われる。例えば図３に示す繰り返し時間（ＴＲ）１２２の設定値１４２の値が６１０ｍｓｅｃに変更されると、ステップＳ３３０で図３の撮像パラメータの項目欄１２０の各項目について設定可能範囲の演算が行われ、マルチスライスの数（スライス数）１２５の項目の設定可能範囲１３５の値が、１枚から１５枚に変更される。次にステップＳ３３０で変更された設定可能範囲に従って、ステップＳ３３４で各項目の設定値が、新たな設定可能範囲を満足するかが判断される。図３に記載の設定可能範囲１３５の値が１枚から１５枚に変更されるので、設定値１４５の値が１５枚であっても、条件を満たすことになり、ステップＳ３３４からＣＰＵ６２の実行がステップＳ３４４へ移る。
【００５０】
ステップＳ３４４の処理では、図４に記載のステップＳ２２０とステップＳ２４０の両方の処理が完了したかどうかの判断がなされる。図２や図３に係る撮像パラメータの設定である、ハードウエアグループの撮像パラメータの設定が行われた場合には、さらにその後安全性グループに関わる撮像パラメータの設定が行われる。このため、ステップＳ３４４からＣＰＵ６２の実行が、ステップＳ３１０へ移る。なおこの実施例では、ステップＳ３１２おいて、どのグループの処理がなされているのか、さらにどの項目の処理がなされているのかが検知され、保持されているので、常に最も上位のグループからあるいは最も上位の項目から順に設定が行われる。
【００５１】
５．本実施例の具体的な効果の説明
例えば操作者が撮像パラメータとしてＲＦパルスの帯域周波数であるＢＷを変更し、その結果ＴＥとｄＢ／ｄｔの２つの撮像パラメータの項目で撮像可能条件の条件が満足されない場合を具体例として説明する。従来の処理方法では、ＴＥの項目で撮像可能条件が満足できないと、ＴＥやＢＷやＦｒｅｑの項目に関して撮像可能範囲を求める演算が行われる。しかしｄＢ／ｄｔの項目でも撮像可能条件が満足されないため、２つの項目について撮像可能条件を満足する解を求めることが必要である。異なる２つの項目において撮像可能条件を満足する解が線形的な値を持っているとは限らない。このため、従来の処理方法では、撮像可能条件を満足する解を求めることができず、撮像可能範囲を表示できない場合がある。この場合には、図６に記載の示唆画面２１０において、リセット項目２２８である「基本条件にリセットする。」の項目のみが表示される場合が生じる。この場合には、操作者の意図に沿うことができず、結果として操作者を満足させることができない。操作性が悪いと考えることができる。図４を用いて説明した本発明に係る実施例では、先ずハードウエアグループであるＴＥの撮像可能条件を満足する設定を行い、次に安全性グループの設定において、ｄＢ／ｄｔを満足する設定を行う。図５の実施例で、ステップＳ３１８は先ずＴＥに関して撮像可能条件を満足する範囲をステップＳ３１８で演算し、図６の示唆画面２１０においてＴＥに関して撮像可能条件を満足する範囲を演算して表示する。
【００５２】
次に、ｄＢ／ｄｔの項目を満足する演算を、ｄＢ／ｄｔの項目の上位側のグループあるいは項目に関して行う。このように複数回に分けて、撮像可能条件を満足する撮像パラメータ値の設定を行う。このようにすることで、撮像可能条件を満足する範囲の演算が単純化され、解が求めやすくなる。この結果、撮像可能条件を満足する解を求めることができず、撮像可能範囲を表示できない場合を大幅に減らすことができる。ユーザービリティの低下を防止でき、操作性の低下を防ぐことができる。
【００５３】
６．撮像可能条件から外れた撮像パラメータ項目が複数存在する場合の実施例の説明
図５に記載の実施例を用いて先に変更された撮像パラメータ値が、撮像可能条件である設定可能範囲から外れている場合の対応について説明した。操作者が撮像パラメータ値を変更することにより、上述したように変更した撮像パラメータ値自身が設定可能範囲から外れる場合がある。しかしそれだけではなく、撮像パラメータ値の変更により、関連する他の撮像パラメータの設定可能範囲が変化する。操作者が変更した撮像パラメータ値自身が設定可能範囲を満足していても、上記変更に伴う他の撮像パラメータの設定可能範囲の変化より、撮像パラメータ値が設定可能範囲から外れる場合が生じる。
【００５４】
上述したように図５に記載のフローチャートでは、変更された撮像パラメータ値自身が設定可能範囲から外れている場合に、ステップＳ３１４でこの観点を判断し、撮像パラメータ値自身が設定可能範囲から外れている場合に、ステップＳ３１４からステップＳ３１８へＣＰＵ６２の実行が遷移する。ステップＳ３１８において変更された撮像パラメータ値自身が設定可能範囲を満足するための解を求める演算を行い、求めた解をさらにステップＳ３１８で図６に記載の示唆画面２１０のようにして表示する。操作者は示唆画面２１０に表示された演算により求められた解に従ってあらたな撮像パラメータ値を入力し、これにより上述の設定可能範囲から外れていた撮像パラメータ値が設定可能範囲を満足する状態となる。なお示唆画面２１０に表示された解を求める演算は、この撮像パラメータが属するグループに含まれる撮像パラメータに関して、あるいはこの撮像パラメータが属するグループより上位のグループに含まれる撮像パラメータに関して設定可能範囲を満足するようにして演算する。例えば図４に記載のハードウエアグループに属する撮像パラメータに対する解の演算では、安全性グループに属する撮像パラメータ値の設定可能範囲を満足するかどうかは演算内容に含めない。従来方法では、ハードウエアグループに属する撮像パラメータに対する解の演算において、ハードウエアグループに属する撮像パラメータだけでなく安全性グループに属する撮像パラメータに対しても全て演算内容に含め、全ての撮像パラメータ項目で設定可能範囲が満足される解を求めようとした。このため解が求められないことがより高い確率で存在した。
【００５５】
変更された撮像パラメータ値自身が設定可能範囲から外れている観点の判断をステップＳ３１４で行った。変更された撮像パラメータ値が設定可能範囲を満足していても、前記撮像パラメータ値の変更により、他の関連する撮像パラメータ値が設定可能範囲から外れる恐れがある。図５のフローチャートでは、変更された撮像パラメータ値が設定可能範囲を満足している場合に、ステップＳ３１４からステップＳ２３０に実行が移り、ステップＳ２３０において同じグループに属するさらに必要があれば上位グループに属する他の撮像パラメータに関して、前記変更された撮像パラメータ値に基づいて設定可能範囲の演算をそれぞれ行う。さらにステップＳ３３４において、各撮像パラメータ項目の撮像パラメータ値が、ステップＳ３３０において演算されたて設定可能範囲を満足するかどうか判断し、満足しない撮像パラメータ項目が存在する場合にステップＳ３１６や３１８が実行される。複数の撮像パラメータ項目において設定可能範囲が満足されなくなった場合に、複数の撮像パラメータ項目を同時に満足する解を求めようとすると、解が求まらない恐れがある。
【００５６】
図７に記載のフローチャートは、複数の撮像パラメータ項目において設定可能範囲が満足されなくなった場合の処理を説明するフローチャートである。図５に記載のフローチャートに対して同一符号のステップは、略同じ機能を有し略同じ作用をなす。さらに略同じ効果を奏する。図５と同一符号のステップについて説明を省略する。
【００５７】
６．１  第１方法に基づく処理の説明
一例を挙げて説明する。なおこの事例に限定するものではない。操作者が例えば撮像パラメータＢＷ（ＲＦパルスの帯域周波数）の値を変更し、その結果撮像パラメータＴＲと撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像可能条件を満足しなくなった状態を一例として以下説明する。図７のステップＳ３３０で変更された撮像パラメータＢＷ値に基づいてハードウエアグループに属する撮像パラメータＴＲの撮像可能条件と安全性グループに属する撮像パラメータｄＢ／ｄｔの撮像可能条件を含めた該当する撮像パラメータの撮像可能条件が演算される。演算結果に基づいてステップＳ３３４で撮像パラメータＴＲと撮像パラメータｄＢ／ｄｔの２つの撮像パラメータが撮像可能条件を満足しないことが判断される。
【００５８】
ＣＰＵ６２の実行がステップＳ３３４からステップＳ３３６に遷移し、ステップＳ３３６で撮像可能条件を満足しない撮像パラメータ項目が１つなのか複数なのかが判断され、満足しない撮像パラメータ項目が複数の場合にステップＳ３３８が実行される。ステップＳ３３８で撮像可能条件を満足しない複数撮像パラメータ項目の内、最も上位の撮像パラメータ項目が選択される。従ってこの場合は、撮像パラメータＴＲが選択され、ステップＳ３１６で設定可能範囲外に関する表示がなされると共に、ステップＳ３１８で撮像パラメータＴＲが撮像可能条件を満たすための演算が行われ、その解がステップＳ３１８で表示される。
【００５９】
操作者が表示された解に従って撮像パラメータＴＲの値を入力すると、ＣＰＵ６２の実行がステップＳ３１０からステップＳ３１２やステップＳ３１４、ステップＳ３３０を介して再びステップＳ３３４に移る。ステップＳ３３４で撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像可能条件を満足しないことが検知され、ＣＰＵ６２の実行がステップＳ３３４からステップＳ３３６やステップＳ３１６を介して、ステップＳ３１８へ移る。ステップＳ３１８で撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像可能条件を満足する解が演算されて、図６の示唆画面２１０に表示される。操作者が示唆画面２１０の表示に従って撮像パラメータ値の変更を行うと、撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像可能条件を満足する状態となる。このように処理することで、操作者の操作回数を低減でき、操作性が向上する。また解が求められない状態を非常に少なくすることができ、ユーザービリティが向上する。またＣＰＵ６２の演算負荷が減少する。
【００６０】
６．２  第２方法に基づく処理の説明
前記処理方法では、撮像パラメータＢＷ値の変更に従って、図７のステップＳ３３４の演算でハードウエアグループに属する撮像パラメータＴＲが撮像可能条件を満足するかどうかの判断だけでなく、安全性グループに属する撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像可能条件を満足するかどうかの判断も実行した。このように全ての撮像パラメータに関して撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行っても良いが、先ず上位のグループにおいてだけ撮像可能条件を満足するかどうかの判断を行い、撮像パラメータＴＲが撮像可能条件を満足しないことを検知し、ステップＳ３１８で撮像パラメータＴＲが撮像可能条件を満足する解を求める。上位グループであるハードウエアグループに属する撮像パラメータの対応が終わり、上位グループであるハードウエアグループに属する撮像パラメータがそれぞれ撮像可能条件を満足する状態となった後に、ステップＳ３４４からＣＰＵ６２の実行をステップＳ３１２に戻し、安全性グループに属する撮像パラメータがそれぞれ撮像可能条件を満足する状態どうかを判断し、撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像可能条件を満足しないことを見出すようにしても良い、この場合には図７に記載のステップＳ３３６や３３８は使われないかもしれない。しかし、同じグループに属する複数撮像パラメータにおいて、撮像可能条件を満足しないことが起こり得るので、この場合にステップＳ３３６やステップＳ３３８が使用される。上述のように撮像パラメータＴＲが撮像可能条件を満足した後に撮像パラメータｄＢ／ｄｔが撮像可能条件を満足するための演算が行われるので、この方法においても先の方法度同様の効果が得られる。
【符号の説明】
【００６１】
１１・・・被検体、２０・・・シーケンサ、３０・・・磁場発生装置、３２・・・静止磁場発生装置、３４・・・傾斜磁場発生装置、４０・・・ＲＦパルス発生装置、４２・・・高周波発振器、４４・・・変調器、高周波増幅器４６・・・高周波増幅器、４８・・・照射コイル、５０・・・ＮＭＲ信号検出装置、５２・・・受信コイル、５４・・・信号増幅器、５６・・・直交位相検波器、５８・・・Ａ／Ｄ変換器、６０・・・制御装置、６２・・・ＣＰＵ、６４・・・記憶装置、６６・・・入出力装置、６８・・・出力装置、７０・・・ディスプレイ、７２・・・入力装置、７４・・・ポインティングデバイス、７６・・・キーボード、８０・・・寝台、８２・・・天板、１００・・・ＭＲＩ装置、１１０・・・撮像パラメータ画面、１２０・・・撮像パラメータの項目欄、１２１・・・撮像視野（ＦＯＶ）、１２２・・・繰り返し時間（ＴＲ）、エコー遅延時間（ＴＥ）１２３・・・エコー遅延時間（ＴＥ）、１２４・・・スライス厚、１２５・・・マルチスライスの数（スライス数）、１３０・・・撮像パラメータ値の許容欄、１３１・・・設定可能範囲、１３２・・・設定可能範囲、１３３・・・設定可能範囲、１３４・・・設定可能範囲、１３５・・・設定可能範囲、１４０・・・設定値欄、１４１・・・撮像視野(ＦＯＶ)の設定値、１４２・・・繰り返し時間(ＴＲ)の設定値、１４３・・・エコー遅延時間(ＴＥ)の設定値、１４４・・・スライス厚の設定値、１４５・・・マルチスライスの数(スライス数)の設定値、２１０・・・示唆画面、注意情報２２２・・・注意情報、２２４・・・繰り返し時間(ＴＲ)の設定値変更に関する示唆項目、２２６・・・取り消し項目、２２８・・・リセット項目、２３２・・・操作マーク、２４２・・・キャンセル表示。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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