(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
受光量に応じた信号を出力する受光部と、
前記信号を、第１の閾値及び前記第１の閾値より大きく前記信号の飽和状態を判定する第２の閾値と比較し、
前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第１の閾値を下回るまでの間に、前記信号が前記第２の閾値を超えない場合、前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第１の閾値を下回るまでの時間を出力し、
前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第１の閾値を下回るまでの間に、前記信号が前記第２の閾値を超える場合、前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第２の閾値を下回るまでの時間を出力する制御部と、
前記制御部が出力した時間に基づき検出対象物の有無を判定する判定部とを備えることを特徴とする光電センサ。
【請求項２】
受光量に応じた信号を出力する受光部と、
前記信号を、第１の閾値、前記第１の閾値より大きく前記信号の飽和状態を判定する第２の閾値、及び、前記第１の閾値より大きく前記第２の閾値より小さい第３の閾値と比較し、
前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第１の閾値を下回るまでの間に、前記信号が前記第２の閾値を超えない場合、前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第１の閾値を下回るまでの時間を出力し、
前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第１の閾値を下回るまでの間に、前記信号が前記第２の閾値を超える場合、前記信号が前記第１の閾値を超えてから前記第３の閾値を下回るまでの時間を出力する制御部と、
前記制御部が出力した時間に基づき検出対象物の有無を判定する判定部とを備えることを特徴とする光電センサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、受光量の変化を用いて検出対象物を検出する光電センサに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光電センサは、投光部と受光部とを有し、例えば特許文献１のように投光部から一定周期のパルス光が出力される。受光部は、このパルス光を受光して光電変換を行い、電圧信号を出力する。そして、受光部が出力した電圧信号は、その信号レベルが閾値と比較される。検出対象物が有ると当該検出対象物でパルス光が遮蔽されることを利用して、当該検出対象物の有無つまりＯＮＯＦＦ判定を行うタイプの光電センサの場合、受光部からの信号レベルが閾値以下であれば、ＯＮ判定となる。このとき、判定の方法には以下の２通りがある。
【０００３】
１つは、所定のタイミングで、信号レベルが閾値以下であることを検出する方法であり、閾値以下の場合にＯＮ判定となる。これは、パルス光の投光タイミングが受光部側でも予め分かっている場合に有用な方法である。
そしてもう１つは、上記のようには所定のタイミングが分からない場合に有用な方法であり、予め設定した時間幅に基づき、当該時間幅の間に受光部が出力する信号のみを対象として閾値と比較するものである。当該時間幅の間に出力される受光部からの信号レベルが閾値以下であると、ＯＮ判定となる。当該時間幅は、パルス光のパルス幅に相当するものとして算出され、設定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１４−２０７５６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
設定した時間幅の間での受光部からの信号を基に判定を行う上記の方法では、まずその時間幅を設定する必要がある。例えば、検出対象物が無いときに、閾値を超えているとして検出された時間幅が、設定される。このとき、閾値を超えているとして検出される時間幅は、閾値が固定の場合、閾値付近の信号レベルから、閾値よりも十分に高い信号レベルまでの信号出力範囲に亘る。
受光部に過大な光が入ると、受光部が出力する信号は飽和レベルに達する。飽和レベルは、受光部内部で信号振幅を制限することで与えられる。この飽和状態では、受光部の出力信号の振幅は制限されているが、信号レベルが閾値以上になっているとして検出される時間幅は、振幅飽和している状態でも、受光部に入った光量によって変化してしまう。
例えば、図６に示すように、受光部の一部で信号の振り戻し等がある場合は、その影響を受けて、閾値以上になっているとして検出される時間幅Ｓ６１が広がってしまう。
【０００６】
上記のような事態に対しては、時間幅Ｓ６１を、ＯＮＯＦＦ判定に用いる時間幅として設定することが考えられる。しかし、複数の光電センサを同時に利用する場合、他の光電センサが異なる時間幅を予め設定してＯＮＯＦＦ判定をしている際は誤作動する可能性があるので、飽和状態の影響をできるだけ除去した時間幅を、ＯＮＯＦＦ判定に用いる時間幅として設定するのが望ましい。
【０００７】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、受光により得られる信号が飽和状態にある場合に、検出対象物の有無判定に用いる時間の調節を行うことが可能な光電センサを得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明に係る光電センサは、受光量に応じた信号を出力する受光部と、信号を、第１の閾値及び第１の閾値より大きく信号の飽和状態を判定する第２の閾値と比較し、信号が第１の閾値を超えてから第１の閾値を下回るまでの間に、信号が第２の閾値を超えない場合、信号が第１の閾値を超えてから第１の閾値を下回るまでの時間を出力し、信号が第１の閾値を超えてから第１の閾値を下回るまでの間に、信号が第２の閾値を超える場合、信号が第１の閾値を超えてから第２の閾値を下回るまでの時間を出力する制御部と、制御部が出力した時間に基づき検出対象物の有無を判定する判定部とを備えることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によれば、受光により得られる信号が飽和状態にある場合に、検出対象物の有無判定に用いる時間の調節を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】この発明の実施の形態１に係る光電センサの構成図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係る光電センサの制御部の構成例を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態１に係る光電センサの制御部の処理を示すタイミングチャートである。
【図４】この発明の実施の形態２に係る光電センサの制御部の構成例を示す図である。
【図５】この発明の実施の形態２に係る光電センサの制御部の処理を示すタイミングチャートである。
【図６】信号の振り戻しの影響を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
実施の形態１．
図１に、この発明の実施の形態１に係る光電センサの構成図を示す。ここでは、投光部１と受光部２との間を検出対象物が通過し、検出対象物の通過によって、投光部１から受光部２へ向かう光が遮蔽されることを用いて物体検出を行ういわゆる透過形の光電センサを例に説明する。
光電センサは、投光部１と、受光部２と、制御部３と、判定部４とを有する。
投光部１は、一定周期のパルス光を投光する。投光部１は、例えば発光ダイオード、レンズ等で構成される。
受光部２は、投光部１が投光したパルス光を受光し、光電変換により受光量に応じた信号を出力する。この信号は、例えば電圧信号である。受光部２は、例えばフォトダイオード、レンズ等で構成される。
【００１２】
制御部３は、受光部２からの出力信号と予め設定された複数の閾値とを用いて、判定部４が検出対象物の有無を判定する際に用いる時間を求め、出力する。
判定部４は、制御部３が出力した時間に基づき、検出対象物の有無を判定する。
【００１３】
図２は、制御部３をロジック回路で実現した場合の構成図である。
第１の比較器１１は、受光部２からの出力信号と第１の閾値とを比較し、受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えているときにＨレベルの信号を出力し、受光部２からの出力信号が第１の閾値を下回るときにＬレベルの信号を出力する。
第２の比較器１２は、受光部２からの出力信号と第２の閾値とを比較し、受光部２からの出力信号が第２の閾値を超えているときにＨレベルの信号を出力し、受光部２からの出力信号が第２の閾値を下回るときにＬレベルの信号を出力する。
【００１４】
第１の閾値は、検出対象物の有無を判定可能な値である。例えば、検出対象物が有るときと無いときそれぞれでの受光部２からの出力信号を予め計測して、その２つの出力信号の中間値を第１の閾値とすることが考えられる。
第２の閾値は、受光部２からの出力信号が飽和状態にあるかを判定可能な値である。例えば、飽和状態での出力信号よりも設定した割合だけ低い値を第２の閾値とすることが考えられる。いずれにせよ、第２の閾値は、第１の閾値より大きく、飽和状態又は飽和状態に近いときの出力信号を検出できる値に設定される。従って、第２の比較器１２の出力信号がＨレベルの時間幅は、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルの時間幅より短い。
【００１５】
ＤＦＦ（Ｄｅｌａｙ  Ｆｌｉｐ−Ｆｌｏｐ）１３は、入力端子Ｄに第１の比較器１１からの出力信号が入力される。また、クロック入力端子に第２の比較器１２からの出力信号がインバータ回路１４を介して入力される。反転出力端子ＱＮは、ＡＮＤ回路１５に接続している。ＤＦＦ１３がこのように接続されることにより、第２の比較器１２が受光部２からの出力信号の飽和状態を検出してＨレベルの出力信号を出力した場合、当該出力信号の立下りで、ＤＦＦ１３は、入力端子Ｄに接続された第１の比較器１１からの出力信号を出力端子Ｑに与え、出力端子Ｑの反転信号が反転出力端子ＱＮからＡＮＤ回路１５に出力される。
更に、ＤＦＦ１３はＡＮＤ回路１６に接続している。ＡＮＤ回路１６には、第１の比較器１１からの出力信号と、リセット制御回路１７からの出力信号とが入力される。リセット制御回路１７からはＨレベルの出力信号が入力されており、第１の比較器１１からの出力信号がＬレベルになると、ＤＦＦ１３の出力端子Ｑの出力信号はＬレベルにリセットされる。
【００１６】
ＡＮＤ回路１５には、第１の比較器１１からの出力信号と、ＤＦＦ１３の反転出力端子ＱＮからの出力信号とが入力される。ＡＮＤ回路１５はこの２つの信号の論理積をとり、判定部４に出力する。
【００１７】
図３は、制御部３の処理を示したタイミングチャートである。受光部２からの出力信号が異なる３パターンのものを、図３（ａ）〜（ｃ）にそれぞれ示している。
まず、図３（ａ）に示すパターンの場合について説明する。
タイミングＴ１で受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えると、第１の比較器１１の出力信号はＨレベルとなる。このとき、タイミングＴ１以前でのリセット処理により、出力端子Ｑの出力信号はＬレベルになっており、その反転出力端子ＱＮの出力信号はＨレベルとなっている。従って、ＡＮＤ回路１５の出力信号はＨレベルとなる。
【００１８】
続いて、タイミングＴ２で受光部２からの出力信号が第２の閾値を超えると、第２の比較器１２の出力信号はＨレベルとなる。
続いて、タイミングＴ３で受光部２からの出力信号が第２の閾値を下回ると、第２の比較器１２の出力信号はＬレベルとなる。この第２の比較器１２の出力信号の立下りで、ＤＦＦ１３の出力端子Ｑが第１の比較器１１からの出力信号と同じＨレベルとなり、反転出力端子ＱＮの出力信号はＬレベルとなる。このとき第１の比較器１１の出力信号はＨレベルであるので、ＡＮＤ回路１５の出力信号はＬレベルとなる。
【００１９】
続いて、タイミングＴ４で受光部２からの出力信号が第１の閾値を下回ると、第１の比較器１１の出力信号はＬレベルとなる。すると、ＡＮＤ回路１６によりＤＦＦ１３の出力端子Ｑの出力信号がＬレベルにリセットされ、反転出力端子ＱＮの出力信号はＨレベルとなる。
【００２０】
このように、受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えてから第１の閾値を下回るまでの間に、受光部２からの出力信号が飽和状態にあると判定された場合、第２の比較器１２の出力信号の立下りから第１の比較器１１の出力信号の立下りまでの間、ＤＦＦ１３の反転出力端子ＱＮの出力信号は、Ｌレベルになる。そしてＡＮＤ回路１５で第１の比較器１１の出力信号と反転出力端子ＱＮの出力信号との論理積をとることで、ＡＮＤ回路１５の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ１は、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ２よりも短くなる。具体的には、時間幅Ｓ１は、受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えてから第２の閾値を下回るまでの時間を示す。
【００２１】
判定部４は、ＡＮＤ回路１５の出力信号を用いて、検出対象物の有無を判定するのに用いる時間幅を設定する。つまり、ＡＮＤ回路１５の出力信号がＨレベルを示した時間幅Ｓ１を、予め設定された時間幅とし、その後、この予め設定された時間幅の間にＡＮＤ回路１５から入力される信号を用いて検出対象物の有無を判定する。判定に用いる時間幅を設定する際、受光部２からの出力信号が飽和状態にある場合は、時間幅Ｓ１が時間幅Ｓ２より短く、つまり、飽和状態による信号の振り戻し等の影響が和らぐ方向に調節されるので、検出対象物の有無をより適切な時間幅の間で正確に判定できるようになる。
【００２２】
図３（ｂ）に示すパターンでは、タイミングＴ１１で受光部２からの出力信号が第１の閾値を超え、タイミングＴ１２で当該出力信号が第２の閾値を超え、タイミングＴ１３で当該出力信号が第２の閾値を下回り、タイミングＴ１４で当該出力信号が第１の閾値を下回る。この場合も、図３（ａ）を用いて説明したのと同様に、判定部４での判定に用いられるＡＮＤ回路１５の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ１１は、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ１２よりも短く調節されている。
【００２３】
また、図３（ｃ）に示すパターンでは、タイミングＴ２１で受光部２からの出力信号が第１の閾値を超え、タイミングＴ２２で当該出力信号が第１の閾値を下回る。つまり、図３（ｃ）は、受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えてから第１の閾値を下回るまでの間に、受光部２からの出力信号が飽和状態にならない場合のタイミングチャートである。この場合は、判定部４で用いられるＡＮＤ回路１５の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ２１は特に調節されず、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ２２と同じになる。
【００２４】
なお、図３では、ヒステリシスの幅を加味して設定された第１の閾値及び第２の閾値を示した。つまり、受光部２からの出力信号が大きい側から小さい側へ変化するときの閾値を、受光部２からの出力信号が小さい側から大きい側へ変化するときの閾値よりも小さく設定した。このヒステリシスはチャタリング防止のために設けられるものであり、本発明の本質とは関係ない。
【００２５】
以上のように、この発明の実施の形態１に係る光電センサによれば、受光部２からの出力信号が飽和状態にある場合、当該出力信号が第１の閾値を超えている時間幅よりも短く調節された時間幅で示される時間が、判定部４にて検出対象物の有無判定に用いられる。従って、飽和状態によって受光部２からの出力信号に振り戻し等が発生しても、検出対象物の有無をより適切な時間幅の間で正確に判定できるようになる。
【００２６】
実施の形態２．
実施の形態１では、受光部２からの出力信号を制御部３で２つの閾値と比較して、検出対象物の有無判定に使う時間を求める処理について示した。実施の形態２では、上記した第１の閾値及び第２の閾値に加え、第３の閾値を含む３つの閾値を用いる場合について説明する。
実施の形態２に係る光電センサの構成は、図１と同様であり、図１を援用する。図４は、実施の形態２に係る光電センサの制御部３を、ロジック回路で実現した場合の構成図である。図４において図２と同一または相当の部分については、同一の符号を付してその説明を省略又は簡略化する。
【００２７】
第３の比較器１８は、受光部２からの出力信号と第３の閾値とを比較し、受光部２からの出力信号が第３の閾値を超えているときにＨレベルの信号を出力し、受光部２からの出力信号が第３の閾値を下回るときにＬレベルの信号を出力する。
第３の閾値は、第１の閾値より大きく、かつ、第２の閾値より小さい値に設定される。従って、第３の比較器１８の出力信号がＨレベルの時間幅は、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルの時間幅より短く、かつ、第２の比較器１２の出力信号がＨレベルの時間幅より長い。なお、第３の閾値は、信号の振り戻し等の影響が無いような値に設定される。
【００２８】
ＤＦＦ１９は、入力端子Ｄに第１の比較器１１からの出力信号が入力される。また、クロック入力端子に第２の比較器１２からの出力信号がインバータ回路１４を介して入力される。出力端子Ｑは、スイッチに接続している。このスイッチは、後述するＡＮＤ回路２０への入力を、出力端子Ｑからの出力信号に基づき電源電圧と第３の比較器１８からの出力信号との間で切り替える。なお、電源電圧は、Ｈレベルに相当する。ＤＦＦ１９がこのように接続されることにより、第２の比較器１２が受光部２からの出力信号の飽和状態を検出してＨレベルの出力信号を出力した場合、当該出力信号の立下りで、ＤＦＦ１９は、入力端子Ｄに接続された第１の比較器１１からの出力信号を出力端子Ｑから出力する。
更に、ＤＦＦ１９はＡＮＤ回路１６に接続しており、第１の比較器１１からの出力信号がＬレベルになると、ＤＦＦ１９の出力端子Ｑの出力信号はＬレベルにリセットされる。
【００２９】
ＡＮＤ回路２０には、第１の比較器１１からの出力信号と、第３の比較器１８からの出力信号又は電源電圧とが入力される。上記したスイッチの働きにより、ＤＦＦ１９の出力端子Ｑの出力信号がＨレベルの場合に第３の比較器１８からの出力信号が入力され、出力端子Ｑの出力信号がＬレベルの場合に電源電圧が入力される。ＡＮＤ回路２０は、入力された２つの信号の論理積をとり、判定部４に出力する。
【００３０】
図５は、実施の形態２に係る光電センサの制御部３の処理を示したタイミングチャートである。受光部２からの出力信号が異なる３パターンのものを、図５（ａ）〜（ｃ）にそれぞれ示している。
まず、図５（ａ）に示すパターンの場合について説明する。
タイミングＴ３１で受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えると、第１の比較器１１の出力信号はＨレベルとなる。このとき、タイミングＴ３１以前でのリセット処理により、出力端子Ｑの出力信号はＬレベルになっており、ＡＮＤ回路２０への入力は、第１の比較器１１からの出力信号と、Ｈレベルの電源電圧となっている。従って、このときのＡＮＤ回路２０の出力信号は、Ｈレベルとなる。
【００３１】
続いて、タイミングＴ３２で受光部２からの出力信号が第３の閾値を超えると、第３の比較器１８の出力信号はＨレベルとなる。
続いて、タイミングＴ３３で受光部２からの出力信号が第２の閾値を超えると、第２の比較器１２の出力信号はＨレベルとなる。
【００３２】
続いて、タイミングＴ３４で受光部２からの出力信号が第２の閾値を下回ると、第２の比較器１２の出力信号はＬレベルとなる。この第２の比較器１２の出力信号の立下りで、ＤＦＦ１９の出力端子Ｑが第１の比較器１１からの出力信号と同じＨレベルとなる。これにより、ＡＮＤ回路２０への入力は、第１の比較器１１からのＨレベルの出力信号と、電源電圧から切り替わった第３の比較器１８からのＨレベルの出力信号となる。従って、ＡＮＤ回路２０の出力は引き続きＨレベルとなる。
【００３３】
続いて、タイミングＴ３５で受光部２からの出力信号が第３の閾値を下回ると、第３の比較器１８の出力はＬレベルとなる。従って、ＡＮＤ回路２０の出力はＬレベルとなる。
続いて、タイミングＴ３６で受光部２からの出力信号が第１の閾値を下回ると、第１の比較器１１の出力信号はＬレベルとなる。すると、ＡＮＤ回路１６によりＤＦＦ１９の出力端子Ｑの出力信号がリセットされＬレベルとなる。これにより、ＡＮＤ回路２０への入力は、第３の比較器１８から切り替わったＨレベルの電源電圧と、第１の比較器１１からのＬレベルの出力信号となる。従って、ＡＮＤ回路２０の出力はＬレベルとなる。
【００３４】
このように、受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えてから第１の閾値を下回るまでの間に、受光部２からの出力信号が飽和状態にあると判定された場合、第２の比較器１２の出力信号の立下りから第１の比較器１１の出力信号の立下りまでの間、ＤＦＦ１９の出力端子Ｑは、Ｈレベルになる。ＡＮＤ回路２０で第１の比較器１１の出力信号と、第３の比較器１８からの出力信号又は電源電圧との論理積をとるが、出力端子ＱがＨレベルにあるときは第３の比較器１８からの出力信号が選択される。このため、第２の比較器１２の出力信号の立下りから第１の比較器１１の出力信号の立下りまでの間は、第１の比較器１１と第３の比較器１８の出力信号の論理積がとられ、ＡＮＤ回路２０の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ３１は、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ３２よりも短くなる。具体的には、時間幅Ｓ３１は、受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えてから第３の閾値を下回るまでの時間を示す。
【００３５】
判定部４は、ＡＮＤ回路２０の出力信号を用いて、検出対象物の有無を判定するのに用いる時間幅を設定する。つまり、ＡＮＤ回路２０の出力信号がＨレベルを示した時間幅Ｓ３１を、予め設定された時間幅とし、その後、この予め設定された時間幅の間にＡＮＤ回路２０から入力される信号を用いて検出対象物の有無を判定する。判定に用いる時間幅を設定する際、受光部２からの出力信号が飽和状態にある場合は、時間幅Ｓ３１が時間幅Ｓ３２より短く、つまり、飽和状態による信号の振り戻し等の影響が和らぐ方向に調節されるので、検出対象物の有無をより適切な時間幅の間で正確に判定できるようになる。また、時間幅Ｓ３１は第３の閾値に依存するので、第３の閾値を第１の閾値と第２の閾値との間でさまざまに設定することにより、時間幅Ｓ３１の調節度合いを変えることが可能である。
【００３６】
図５（ｂ）に示すパターンの場合では、タイミングＴ４１で受光部２からの出力信号が第１の閾値を超え、タイミングＴ４２で当該出力信号が第３の閾値を超え、タイミングＴ４３で当該出力信号が第２の閾値を超え、タイミングＴ４４で当該出力信号が第２の閾値を下回り、タイミングＴ４５で当該出力信号が第３の閾値を下回り、タイミングＴ４６で当該出力信号が第１の閾値を下回る。この場合も、図５（ａ）を用いて説明したのと同様に、判定部４での判定に用いられるＡＮＤ回路２０の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ４１は、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ４２よりも短く調節されている。
【００３７】
また、図５（ｃ）に示すパターンでは、タイミングＴ５１で受光部２からの出力信号が第１の閾値を超え、タイミングＴ５２で当該出力信号が第３の閾値を超え、タイミングＴ５３で当該出力信号が第３の閾値を下回り、タイミングＴ５４で当該出力信号が第１の閾値を下回る。つまり、図５（ｃ）は、受光部２からの出力信号が第１の閾値を超えてから第１の閾値を下回るまでの間に、受光部２からの出力信号が飽和状態にならない場合のタイミングチャートである。この場合は、判定部４で用いられるＡＮＤ回路２０の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ５１は特に調節されず、第１の比較器１１の出力信号がＨレベルである時間幅Ｓ５２と同じになる。
【００３８】
以上のように、この発明の実施の形態２に係る光電センサによれば、実施の形態１と同様の効果が得られる。
また、第３の閾値を用いることで、判定部４にて検出対象物の有無判定に用いる時間の調節度合いを変えることが可能である。
【００３９】
なお、上記では、制御部３を図２及び図４に示すようなロジック回路で実現した場合を例に説明した。しかしながら、制御部３は、上記で説明した処理内容を記述したプログラムを、プロセッサが実行することにより実現してもよい。つまり、制御部３は、ロジック回路等のハードウェアで実現することも、プログラム等のソフトウェアを用いて実現することも可能である。
また、制御部３をロジック回路で実現する場合、その回路構成は図示したものに限らない。要は、制御部３の上記した処理を行える回路構成であればよい。
【００４０】
また、上記では、第１の閾値、第２の閾値、第３の閾値ごとにそれぞれ比較器を設けた場合を例に説明した。しかしながら、比較器を共有し、各閾値を切り替えながら比較を行うように構成してもよい。この場合、十分に早いクロックを用いて高速に各閾値を切り替える。
【００４１】
また、上記では、透過形の光電センサを例として説明したが、それ以外の例えば反射形の光電センサ、リフレクタ形の光電センサであってもよい。
【００４２】
また、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。
【符号の説明】
【００４３】
１  投光部
２  受光部
３  制御部
４  判定部
１１  第１の比較器
１２  第２の比較器
１３  ＤＦＦ
１４  インバータ回路
１５  ＡＮＤ回路
１６  ＡＮＤ回路
１７  リセット制御回路
１８  第３の比較器
１９  ＤＦＦ
２０  ＡＮＤ回路
【図１】
0006289409.tif 000002
【図２】
0006289409.tif 000003
【図３】
0006289409.tif 000004
【図４】
0006289409.tif 000005
【図５】
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【図６】
0006289409.tif 000007