(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光パルスが入射される光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布装置において、
前記光ファイバの近傍に設けられた基準温度測定手段と、
前記光パルスを前記光ファイバに入射させる接続部におけるアンチストークス光とストークス光の利得比変動値および前記基準温度測定手段から得られた温度測定データをパラメータとする補正式を用いて測定温度を校正する温度校正手段と、
を備えることを特徴とする光ファイバ温度分布装置。
【請求項２】
前記接続部の前後におけるアンチストークス光とストークス光の測定データから前記利得比変動値を決定する損失決定手段を備えることを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ温度分布装置。
【請求項３】
前記温度校正手段は、実際の前記接続部におけるアンチストークス光とストークス光の利得比変動値とは異なる値をパラメータとして使用することを特徴とする請求項１または２に記載の光ファイバ温度分布装置。
【請求項４】
前記パラメータとして、前記利得比変動値から得られる前記光ファイバのラマンシフト周波数、前記接続部より前側に設けられた温度基準部のラマンシフト周波数および前記基準温度測定手段で測定された真の温度値が含まれることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ファイバ温度分布装置。
【請求項５】
前記温度校正手段は、前記基準温度測定手段から得られた温度測定データをリアルタイムに使用して測定温度をリアルタイムに校正することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の光ファイバ温度分布装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光パルスが入射される光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバをセンサとして用いた分布型測定装置の一種に、光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布測定装置がある。この装置は光ファイバ内で発生する後方散乱光を利用している。
【０００３】
後方散乱光には、レイリー散乱光、ブリルアン散乱光、ラマン散乱光などがあるが、温度測定には温度依存性の高い後方ラマン散乱光が利用され、この後方ラマン散乱光を波長分波して測定を行う。後方ラマン散乱光には、入射光の波長に対して短い波長側に発生するアンチストークス光と、長い波長側に発生するストークス光がある。
【０００４】
光ファイバ温度分布測定装置は、これらアンチストークス光の強度Ｉａｓとストースク光の強度Ｉｓｔとを測定してその強度比から温度を算出し、光ファイバに沿った温度分布を表示するものであり、プラント設備の温度管理、防災関連の調査・研究、発電所や大型建設物の空調関連などの分野で利用されている。
【０００５】
また、特開２０１２−２７００１号公報には、光ファイバの近傍に配置した基準温度計を使って真の温度を測定しておき、基準温度計を配置した位置における計算値、と真の温度Ｔとの組み合わせを２組つくることにより、２点の温度により温度校正を行う技術が開示されている。このような温度校正により測定温度の誤差を効果的に抑制できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１２−２７００１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記の２点温度校正による方法は、測定温度誤差を減らすという点で技術的には優れている。しかし、実際の運用面においては光ファイバを敷設した現場に校正のための設備が必要になり、この設備に必要な電源が確保できないことがあるという問題がある。
【０００８】
すなわち、２点温度校正を行うためには、温度をＴ1、Ｔ2と２箇所測定する必要があるため、仮に片方のＴ1をファイバ周囲温度である気温としても、もう一方のＴ2はヒーターによる加熱やクーラーによる冷却で所定の温度環境をつくる必要がある。特に、校正に使用する２点の温度はセンサ用の光ファイバ３で測定する対象の温度に近い温度としなければ、測定値の誤差が小さくならない。例えば、測定対象が２００℃近辺なら、一方のＴ1を室温としても、他方のＴ2を２００℃近辺にして校正することが望ましい。
【０００９】
しかしながら、光ファイバの敷設場所が、砂漠であったり、辺鄙な極地であったりして、ヒーターやクーラーに必要な電源が確保できないことは珍しくない。あるいは、装置本体の設置場所には電源があっても、センサとなる光ファイバは装置本体から離れた場所にあって電源が確保できないことも珍しくない。このため、実際の運用面で２点温度校正による方法が有効に利用できない場合がある。
【００１０】
本発明の目的は、実用的で効果的な温度校正を行うことができる光ファイバ温度分布測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の光ファイバ温度分布装置は、光パルスが入射される光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布装置において、前記光ファイバの近傍に設けられた基準温度測定手段と、前記光パルスを前記光ファイバに入射させる接続部におけるアンチストークス光とストークス光の利得比変動値および前記基準温度測定手段から得られた温度測定データをパラメータとする補正式を用いて測定温度を校正する温度校正手段と、を備えることを特徴とする。
この光ファイバ温度分布装置によれば、接続部におけるアンチストークス光とストークス光の利得比変動値をパラメータとする補正式を用いて測定温度を校正するので、２点温度校正を用いることなく、効果的な温度校正を行うことができる。
【００１２】
前記接続部の前後におけるアンチストークス光とストークス光の測定データから前記利得比変動値を決定する損失決定手段を備えてもよい。
【００１３】
前記温度校正手段は、実際の前記接続部におけるアンチストークス光とストークス光の利得比変動値とは異なる値をパラメータとして使用してもよい。
【００１４】
前記パラメータとして、前記利得比変動値から得られる前記光ファイバのラマンシフト周波数、前記接続部より前側に設けられた温度基準部のラマンシフト周波数および前記基準温度測定手段で測定された真の温度値が含まれてもよい。
【００１５】
前記温度校正手段は、前記基準温度測定手段から得られた温度測定データをリアルタイムに使用して測定温度をリアルタイムに校正してもよい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の光ファイバ温度分布装置によれば、接続部におけるアンチストークス光とストークス光の利得比変動値をパラメータとする補正式を用いて測定温度を校正するので、２点温度校正を用いることなく、効果的な温度校正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】光ファイバ温度分布測定装置の構成を示すブロック図。
【図２】距離ｘとアンチストークス光強度Ｉａｓおよびストークス光強度Ｉｓｔの関係を示す図。
【図３】本発明の光ファイバ温度分布測定装置における温度校正の効果例を示す図。
【図４】ΔＧc＝−０．００２とΔＧc＝＋０．０６２で校正した後の測定温度誤差を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明による光ファイバ温度分布測定装置の実施形態について説明する。
【００１９】
図１は、本実施形態の光ファイバ温度分布測定装置の構成を示すブロック図である。
【００２０】
図１に示すように、本実施形態の光ファイバ温度分布測定装置は、例えばレーザダイオードを用いて構成され、パルス光を出射する光源１と、後方ラマン散乱光をストークス光とアンチストークス光に波長分離する光分波器２と、現場に敷設される光ファイバ３と、光分波器２から出射したストークス光を受けるＯ／Ｅ変換部４ｓｔと、光分波器２から出射したアンチストークス光を受けるＯ／Ｅ変換部４ａｓと、Ｏ／Ｅ変換部４ｓｔの出力信号を増幅する増幅器５ｓｔと、Ｏ／Ｅ変換部４ａｓの出力信号を増幅する増幅器５ａｓと、増幅器５ｓｔの出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器６ｓｔと、増幅器５ａｓの出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器６ａｓと、Ａ／Ｄ変換器６ｓｔおよびＡ／Ｄ変換器６ａｓからのデジタル信号に基づく演算や装置各部の制御等を実行する演算制御部７と、光源１に接続されて演算制御部７により制御されるパルス発生部８と、数十メートルから数百メートル程度巻き回された光ファイバ９Ａおよび例えば白金測温抵抗体よりなり光ファイバ９Ａの実際の温度を計測する温度計９Ｂを具備する温度基準部９と、光ファイバ３の近傍に設けられた例えば白金測温抵抗体よりなり、光ファイバ３の近傍の実際の温度を計測する基準温度計１１と、演算制御部７に接続された損失決定部１２と、温度校正を行う温度補正部１３と、を備える。Ｏ／Ｅ変換部４ｓｔおよびＯ／Ｅ変換部４ａｓは、たとえばフォトダイオードを用いて構成される。
【００２１】
図１に示すように、光ファイバ９Ａの一端は光分波器２の入出射端に接続され、光ファイバ９Ａの他端は接続部ＣＮを介して光ファイバ３に接続されている。温度基準部９の光ファイバ９Ａと光ファイバ３を接続する接続部ＣＮは、光コネクタを用いて、あるいは、融着接続により構成することができる。
【００２２】
図１に示すように、温度計９Ｂおよび基準温度計１１の出力信号は、それぞれ演算制御部７に入力されている。また、光パルスのタイミングを規定するタイミング信号が演算制御部７からパルス発生部８に向けて出力される。
【００２３】
次に、本実施形態の光ファイバ温度分布測定装置の動作について説明する。
【００２４】
演算制御部７からのタイミング信号に対応したパルス信号がパルス発生部８から出力され、光源１に与えられる。光源１からは当該パルス信号に対応したパルス光が出射される。そのパルス光は光分波器２の入射端に入射され、光分波器２の入出射端から出射されたパルス光は温度基準部９の光ファイバ９Ａに出射され、さらに接続部ＣＮを介して光ファイバ３に出射される。
【００２５】
一方、光ファイバ３内で発生した後方ラマン散乱光は、接続部ＣＮおよび温度基準部９の光ファイバ９Ａを経由して光分波器２の入出射端から入射し、光分波器２においてストークス光とアンチストークス光に波長分離される。
【００２６】
Ｏ／Ｅ変換器４ｓｔには光分波器２の一方の出射端から出射されたストークス光が入射され、Ｏ／Ｅ変換器４ａｓには光分波器２の他方の出射端から出射されたアンチストークス光が入射されて、Ｏ／Ｅ変換器４ｓｔおよびＯ／Ｅ変換器４ａｓは、それぞれ入射光に対応する電気信号を出力する。
【００２７】
増幅器５ｓｔおよび増幅器５ａｓは、Ｏ／Ｅ変換器４ｓｔおよびＯ／Ｅ変換器４ａｓから出力された電気信号をそれぞれ増幅する。Ａ／Ｄ変換器６ｓｔおよび６ａｓは、アンプ５ｓｔおよび５ａｓから出力された信号をそれぞれディジタル信号に変換する。
【００２８】
演算制御部７は、Ａ／Ｄ変換器６ｓｔおよび６ａｓから出力されたディジタル信号に基づいて後方散乱光の２成分、すなわち、ストークス光とアンチストークス光の強度比から温度を演算し、その時系列に基づいて光ファイバ３に沿った温度分布を表示手段（図示せず）に表示する。なお、演算制御部７にはあらかじめ、強度比と温度の関係がテーブルや式の形で記憶されている。
【００２９】
損失決定部１２は、本発明の光ファイバ温度分布測定装置の特徴的な構成要素であり、接続部ＣＮの利得比変動値（損失変動）を算出する。損失決定部１２の動作については後述する。
【００３０】
温度補正部１３は、温度センサとして用いる光ファイバ３の近傍に設けられた基準温度計１１の温度測定データと校正式を用いて、演算制御部７で演算された温度値に対する校正を行い高精度の温度測定結果を出力する。なお、上記校正式は、例えば演算制御部７または温度補正部１３に格納することができる。上記校正式の詳細については後述する。
【００３１】
次に、従来の２点温度校正の原理と対比しつつ、本発明の光ファイバ温度分布測定装置の動作について説明する。
【００３２】
ストークス光およびアンチストークス光の信号強度を光源１における発光タイミングを基準にした時間の関数として表すと、光ファイバ３中の光速が既知であるので、光源１を基準にして光ファイバ３に沿った距離の関数に置き換えることができる。すなわち、横軸を距離とし、縦軸を光ファイバの各距離地点で発生したストークス光およびアンチストークス光の強度とした、光強度の距離分布とみなすことができる。
【００３３】
アンチストークス光強度Ｉａｓとストークス光強度Ｉｓｔはいずれも光ファイバ３の温度に依存し、両光の強度比Ｉａｓ／Ｉｓｔも光ファイバ３の温度に依存するため、強度比Ｉａｓ／Ｉｓｔが分かればラマン散乱光が発生した箇所の温度を知ることができる。ここで、強度比Ｉａｓ／Ｉｓｔは距離ｘの関数Ｉａｓ（ｘ）／Ｉｓｔ（ｘ）であり、この強度比Ｉａｓ（ｘ）／Ｉｓｔ（ｘ）の距離分布から光ファイバ３に沿った温度分布Ｔ（ｘ）を求めることができる。
【００３４】
図１に示す構成において、温度基準部９の温度がＴ0（Ｋ）の時、アンチストークス光（ＡＳ）とストークス光（ＳＴ）との強度比Ｒr（Ｔ0）は、（１）式で求められる。
【００３５】
【数１】
0006314678.tif 000002
【００３６】
ここで、Ｌrを以下のように定義する。
【００３７】
【数２】
0006314678.tif 000003
【００３８】
光ファイバ３の温度がＴ（Ｋ）の時、アンチストークス光（ＡＳ）とストークス光（ＳＴ）との強度比Ｒ（Ｔ）は、（３）式で求められる。
【００３９】
【数３】
0006314678.tif 000004
【００４０】
ここで、Ｌ1を以下のように定義する。
【００４１】
【数４】
0006314678.tif 000005
【００４２】
光ファイバ３のラマンシフト周波数ω1がわからない段階で、既知のラマンシフト周波数ωrを用いた演算により得られるファイバ温度の計算値Ｔ’は、（３）式においてω１をωrにＴをＴ’に置き換えて解いた（５）式により求められる。
【００４３】
【数５】
0006314678.tif 000006
【００４４】
（５）式をファイバ温度の真値Ｔについて解くと（６）式を得るので、演算により得られた計算値Ｔ’から真の温度Ｔを得ることができる。この（６）式には未知数として接続部ＣＮにおける損失変動ΔＧc、光ファイバ３のラマンシフト周波数ω1が含まれている。
【００４５】
【数６】
0006314678.tif 000007
【００４６】
特開２０１２−２７００１号公報に開示されている２点温度校正では、光ファイバ３の近傍に配置した基準温度計１１を使って真の温度を測定しておき、基準温度計１１を配置した位置における計算値Ｔ’と真の温度Ｔとの組み合わせを２組つくる。これを例えば、計算値Ｔ1’と真値Ｔ1、計算値Ｔ2’と真値Ｔ2とする。これらの組み合わせを（６）式に代入することで損失変動ΔＧcをキャンセルし、ラマンシフト周波数ω1を（７）式で得ることができる。
【００４７】
【数７】
0006314678.tif 000008
【００４８】
２点温度校正の結果、（８）式により正確な温度を計算することができる。
【００４９】
【数８】
0006314678.tif 000009
【００５０】
このように、従来の２点温度校正では、（６）式には未知数として接続部ＣＮにおける利得比変動値（損失変動ΔＧc）、光ファイバ３のラマンシフト周波数ω1が含まれている。これに対し、本発明の光ファイバ温度分布測定装置における損失決定部１２では、接続部ＣＮにおける損失変動ΔＧcを測定データから演算することにより求める。これによって未知数がひとつ減り、温度校正は２点ではなく１点で済むようになる。
【００５１】
次に、損失決定部１２により実行される接続部ＣＮの利得比変動値（損失変動ΔＧc）の決定方法および温度補正部１３における温度校正の方法について説明する。
【００５２】
図２は、横軸をファイバ方向の光源１からの距離ｘとして、縦軸にファイバ損失を調節したアンチストークス光強度Ｉａｓとストークス光強度Ｉｓｔを対数表示したグラフを示している。
【００５３】
まず、従来技術と同様に、アンチストークス光強度Ｉａｓとストークス光強度Ｉｓｔを測定する。アンチストークス光とストークス光は光波長が異なるためファイバ損失が異なるのだが、従来通り、例えばアンチストークス光のファイバ損失に適切な係数をかけて、アンチストークス光とストークス光のファイバ損失が同じになるよう調節する。
【００５４】
図２において接続部ＣＮの位置は、Ｌ２からＬ３の距離にある。接続部ＣＮは、温度基準部９を含む装置本体と、装置外の光ファイバ３とを接続しているため、光源１から接続部ＣＮまでの距離は装置設計者にとって既知である。測定データは電気的・光学的に帯域制限された信号が現れているため、Ｌ２からＬ３という若干の幅をもった位置が示されている。
【００５５】
この接続部ＣＮの位置よりも装置本体側のＬ１からＬ２の範囲におけるアンチストークス光とストークス光の比Ｉａｓ（ｘ）／Ｉｓｔ（ｘ）が利得比Ｇ１であり、接続部ＣＮの位置よりもセンサ用光ファイバ３側のＬ３からＬ４の範囲におけるアンチストークス光とストークス光の比Ｉａｓ（ｘ）／Ｉｓｔ（ｘ）が利得比Ｇ２であるとき、接続部ＣＮでの利得比変動値、すなわち損失変動ΔＧcは、Ｇ２−Ｇ１である。
【００５６】
接続部ＣＮの利得比変動値は微小であるが、接続部ＣＮは光源１からさほど距離がなく十分な信号振幅があるので、ノイズの影響は小さい。損失決定部１２は、さらにそのノイズの影響を減らすために、Ｌ１からＬ２の間でＩａｓ（ｘ）およびＩｓｔ（ｘ）の信号を移動平均するなどしてからＧ１を求めることができ、またＬ３からＬ４の間でＩａｓ（ｘ）およびＩｓｔ（ｘ）の信号を移動平均するなどしてからＧ２を求めることができる。
【００５７】
（６）式は、１点温度校正を行って計算値Ｔ1’と真値Ｔ1、が既知である場合に、以下の式に書き換えられる。
【００５８】
【数９】
0006314678.tif 000010
【００５９】
（９）式の左辺はω1に関する４次関数であるが、実際の値として光源の周波数ω0に対してラマンシフト周波数ω1は２桁小さいことから、見た目は直線状の単調増加関数になっている。一方、（９）式の右辺はω1に関する指数関数になっており、単調増加または単調減少の関数になっている。よって、左辺と右辺のグラフの交点を求めることは、計算機等を用いて比較的簡単な計算処理をすることにより求めることができる。例えば、変数ω1の初期値をω1＝ωrとして、左辺と右辺を比較しながら、順次変数ω1の値を微増または微減していく方法がある。あるいはまた、変数ω1の値を２箇所仮に選択し、それら２点における左辺および右辺の差が小さくなる方向へ次の点を選択していくという方法もある。これらのように、ごく一般的な数値解析手法によってω1を求めることができる。
【００６０】
以上のように、接続部ＣＮの位置の前後における測定データから利得比Ｉａｓ（ｘ）／Ｉｓｔ（ｘ）の変動値（損失変動ΔＧc）を求め、それをもとに１点温度校正から得られる（９）式を簡単な数値解析で解くことによりω1を求めると、従来の２点温度校正で用いていた（８）式の温度校正を行うことができるようになる。
【００６１】
図３は、本発明の光ファイバ温度分布測定装置における温度校正の効果例を示しており、横軸に測定対象部位の実際の温度を、縦軸に測定された温度の誤差を示している。
【００６２】
図３の例で使用したパラメータは、以下の通りである。
校正前の温度計算に用いたラマンシフト周波数ωr＝７４．１×１０12（ｒａｄ／Ｈｚ）
実温度Ｔ1＝３５２．１２（Ｋ）（７８．９７（℃））
校正前の温度計算値Ｔ１’＝３５６．９１（Ｋ）（８３．７６（℃））
【００６３】
図３に示すように、校正前の温度測定誤差は、実際の温度−１４０℃で約２℃、実際の温度＋１６０℃で約６℃と、大きくなっている。これは、装置本体と温度センサとして用いる光ファイバ３の接続損失による誤差および装置本体内部の温度基準部９に用いている光ファイバのラマンシフト周波数と温度センサとして用いる光ファイバ３のラマンシフト周波数との差によるものと考えられる。これに対し、本発明による校正を用いた校正後の温度測定誤差は、実際の温度−１４０℃で約０℃、実際の温度＋１６０℃で約２℃と小さくなっており、大幅に改善されている。
【００６４】
図３の例では１点温度校正を行った＋８０℃において誤差が０℃となるほかに、−１４０℃においても誤差が０℃となっており、これは−１４０℃と＋８０℃において２点温度校正を行ったのと同等の効果が得られている。
【００６５】
そもそも２点温度校正の方法は、計算値Ｔ1’と計算値Ｔ2’の２点において誤差が０℃となるように、強制的にラマンシフト周波数ω1を決めているにすぎないのであって、そのラマンシフト周波数がセンサ用光ファイバの真のラマンシフト周波数というわけではない。それと同様の考え方でとらえるならば、計算値Ｔ1’と計算値Ｔ2’の２点において誤差が０℃となるように、接続部ＣＮにおけるアンチストークス光とストークス光の利得比変動値（損失変動ΔＧc）を損失決定部１２において任意の値に強制的に決めることも可能である。
【００６６】
図４は、ΔＧc＝−０．００２とΔＧc＝＋０．０６２のふたつのΔＧcで校正した後の測定温度誤差を描画したものである。図４では、図３と同様、横軸に測定対象部位の実際の温度を、縦軸に測定された温度の誤差を示している。
【００６７】
図４に示すように、ΔＧc＝−０．００２の場合は、図３で示した測定データをもとに損失変動ΔＧcを計算した結果に相当し、−１４０℃と＋８０℃において２点温度校正を行ったのと同等の効果がある。一方、測定データにおける接続部ＣＮの損失には関係なく損失変動ΔＧc＝＋０．０６２とおいた場合には、＋８０℃と＋１７６℃において２点温度校正を行ったのと同等の効果がある。
【００６８】
このように、損失変動ΔＧcの値と測定温度誤差のあいだには、ΔＧcの値が小さくなると低温側の温度測定誤差が小さくなり、ΔＧcの値が大きくなると高温側の温度測定誤差が小さくなるという傾向がある。光ファイバの種類はさまざまであるが、センサ用光ファイバとして敷設されるのは一般的にＧＩ型のマルチモードファイバ（ＭＭＦ）であって、その屈折率や損失係数などのパラメータはそれぞれに異なるものであるものの、測定前にある程度は予想しうるものである。したがって、代表的な値の光ファイバについて、損失変動ΔＧcの値と測定温度誤差をある程度推測することは可能であり、例えば温度＋３００℃近辺を正確に測定したい場合には損失変動ΔＧcの値はいくつくらいに設定しておけばよい、といった目安をつけることはできる。
【００６９】
そのような目安をもとにした損失変動ΔＧcの値で１点温度校正を行えば、２点温度校正ほどには正確ではないものの、単純な１点温度校正に比べればより２点温度校正に近い小さな測定温度誤差を実現することが可能である。図４において、高温でのアプリケーションにおけるひとつの目安としてΔＧc＝＋０．０６２に仮決めして１点温度校正を行ったとしても、＋２００℃以上の温度範囲においてその誤差を抑制する効果が大きいことは明らかである。
【００７０】
なお、上記実施例では、温度センサとして用いる光ファイバ３の近傍に基準温度計１１を配置し、その温度測定データをオフラインで取得する方法を示したが、基準温度計１１のデータをリアルタイムに取り込み、温度校正のパラメータをリアルタイムに変化させるようにしてもよい。
【００７１】
以上説明したように、本発明によれば、接続部前後のアンチストークス光とストークス光の測定データから利得比変動値を演算し、その利得比変動値と１点温度校正値を用いてセンサ用光ファイバのラマンシフト周波数を求めるため、２点温度校正に比べて校正作業が単純化され、校正現場における校正設備の制約をなくすことが可能である。
【００７２】
また、接続部前後のアンチストークス光とストークス光の測定データから利得比変動値を、測定データからの演算により得るのではなく、測定温度誤差を小さくしたいと所望する温度範囲において誤差が小さくなるようにあらかじめ推定された利得比変動値を用いることにより、当該温度範囲において２点温度校正ほどではないにしても大幅な温度誤差改善を行うことが可能である。
【００７３】
本発明の適用範囲は上記実施形態に限定されることはない。本発明は、光パルスが入射される光ファイバをセンサとして用い、ラマン後方散乱光を利用して前記光ファイバに沿った温度分布を測定するように構成された光ファイバ温度分布装置に対し、広く適用することができる。
【符号の説明】
【００７４】
３      光ファイバ
１１    基準温度計（基準温度測定手段）
１２    損失決定部（温度校正手段）
ＣＮ    接続部
【図１】
0006314678.tif 000011
【図２】
0006314678.tif 000012
【図３】
0006314678.tif 000013
【図４】
0006314678.tif 000014