(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
パチンコ遊技機の性能に関する試験を行うための検査用プログラムを搭載し、前記検査用プログラムにしたがって少なくとも試験の検査内容に関する信号、試験を開始する旨の信号を出力するコンピュータと、
前記パチンコ遊技機に設けられた発射レバーに装着される、前記発射レバーの位置を変更することにより遊技球の打ち出す強さを調整する発射レバー調整装置と、
前記発射レバー調整装置を制御する発射レバー制御手段と、
前記パチンコ遊技機内の複数の検査対象信号を抽出し、その抽出した前記複数の検査対象信号のうち前記コンピュータから送られた前記検査内容に定められた前記検査対象信号についてその状態が変化したときに当該検査対象信号の状態が変化した旨の信号を出力するデータ取得手段と、
前記コンピュータから試験を開始する旨の信号を受けたときに前記発射レバーの位置が遊技球を発射する所定の位置になり、前記データ取得手段から前記検査対象信号の状態が変化した旨の信号を受けたときに前記発射レバーの位置が前記コンピュータから送られた前記検査内容に定められた、当該検査対象信号の状態変化に応じた位置になるように前記発射レバー調整装置を制御するための発射レバー位置制御信号を前記発射レバー制御手段に送信すると共に、前記発射レバー調整装置の制御状況に基づいて前記発射レバーが遊技球を発射している状態にあるかどうかを示す発射レバー状態信号を生成して出力する制御手段と、
を備え、
前記データ取得手段は、前記複数の検査対象信号及び前記制御手段から送られる前記発射レバー状態信号を抽出し、その抽出した前記複数の検査対象信号及び前記発射レバー状態信号のうち少なくもいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに前記複数の検査対象信号の状態及び前記発射レバー状態信号の状態に時間データを付したものを当該変化の時点における検査データとして一時記憶し、
前記制御手段は、所定のタイミングで前記データ取得手段に一時記憶された前記検査データを前記コンピュータに送信することを特徴とするパチンコ遊技機用試験装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記発射レバー状態信号に加えて、前記発射レバー調整装置の制御状況に基づいて前記発射レバーの現在の位置を示す発射レバー位置信号を生成して前記データ取得手段に出力し、
前記データ取得手段は、前記複数の検査対象信号及び前記発射レバー状態信号のうち少なくもいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに前記複数の検査対象信号の状態、前記発射レバー状態信号の状態及び前記発射レバー位置信号の内容に時間データを付したものを前記検査データとして一時記憶することを特徴とする請求項１記載のパチンコ遊技機用試験装置。
【請求項３】
前記発射レバー制御手段は、前記制御手段から送られた前記発射レバー位置制御信号に基づいて前記発射レバー調整装置を制御することにより前記発射レバーの位置を変更したときに、前記発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を前記制御手段に送信し、
前記制御手段は、前記発射レバー制御手段から前記発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受けたときに、その変更後における前記発射レバー調整装置の制御状況に基づいて生成された前記発射レバー状態信号及び前記発射レバー位置信号を前記データ取得手段に出力することを特徴とする請求項２記載のパチンコ遊技機用試験装置。
【請求項４】
前記データ取得手段は、前記複数の検査対象信号及び前記制御手段から出力された信号を所定周期のサンプリングクロックが入力するタイミングで抽出すると共に、前記サンプリングクロックの入力数を計数することにより前記時間データを生成して所定のメモリに記憶しており、
前記制御手段は、前記データ取得手段が生成する前記時間データを参照し、その参照する前記時間データを用いて、試験が開始されてから前記発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計を管理しており、その管理する時間の合計が前記コンピュータから送られた前記検査内容に定められた試射時間に達したときに当該試験を終了することを特徴とする請求項１、２又は３記載のパチンコ遊技機用試験装置。
【請求項５】
前記サンプリングクロックの周期はマイクロ秒オーダーであることを特徴とする請求項４記載のパチンコ遊技機用試験装置。
【請求項６】
前記コンピュータは、前記パチンコ遊技機の性能に関する試験によって得られた前記検査データに基づいて、当該パチンコ遊技機の性能を解析する解析用プログラムを搭載していることを特徴とする請求項１、２、３、４又は５記載のパチンコ遊技機用試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パチンコ遊技機が所定の規格に適合するものであるか否かを試験するためのパチンコ遊技機用試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
パチンコ遊技機が有する機能は、「風俗営業等の規制及び業務の適正化等に関する法律」（以下、風営適正化法という。）に基づく「風俗営業等の規制及び業務の適正化等に関する法律施行規則」において、「著しく客の射幸心をそそるおそれのない遊技機を使用するものであること」と定められている。また、風営適正化法では、遊技機の型式に関して「遊技機の認定及び型式の検定等に関する規則」が定められており、これにより遊技機の技術上の規格統一が図られている。
【０００３】
具体的に、遊技球の獲得に係るパチンコ遊技機の性能に関する規格としては、例えば、「遊技球の試射試験を１０時間行った場合において、獲得する遊技球の総数が発射させた遊技球の総数の２分の１を超え、かつ、２倍に満たないものであること」、「遊技球の試射試験を１０時間行った場合において、獲得する遊技球の数のうち役物の作動によるものの割合が７割（役物が連続して作動する場合における当該役物の作動によるものの割合にあっては、６割）を超えるものでないこと」等が規定されている。また、遊技球の発射装置の性能に関する規格としては、「１分間に１００個を超える遊技球を発射することができるものでないこと」等が規定されている。更に、役物の性能に関する規格が多数定められている。
【０００４】
したがって、パチンコ遊技機を製造するメーカは、パチンコ遊技機を製造後、風営適正化法に定められる「指定試験機関」（以下、単に試験機関という。）において、パチンコ遊技機の型式が上記規則に定められている規格に適合しているか否かの検定を受け、当該パチンコ遊技機の認定を受ける必要がある。
【０００５】
近年、各メーカ自らがパチンコ遊技機の性能に関する試験を行うための試験装置として、パチンコ遊技機の各種の性能に係る試験を一度にまとめて自動で行うことができるパチンコ遊技機用試験装置が広く用いられている（特許文献１参照。）。このパチンコ遊技機用試験装置では、パチンコ遊技機内の複数の検査対象信号のうち少なくとも一つの信号の状態が変化したときに、全ての検査対象信号の状態に時間データを付加したものを検査データとして記憶する。こうして得られた検査データをコンピュータを用いて解析することにより、各種のパチンコ遊技機の性能試験を一度にまとめて行うことができ、性能試験のための労力及び時間を節減することがきる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−１４９６２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来のパチンコ遊技機用試験装置では、そのＣＰＵ基板が、コンピュータから測定開始信号を受けたときに内部タイマーを用いて計時し、所定の試射時間（例えば１０時間）経過した時点で試験を終了していた。このため、従来のパチンコ遊技機用試験装置では、測定開始信号を受けてから発射レバーが遊技球を発射するまでの間にタイムラグが生じていた。また、このタイムラグはパチンコ遊技機によって異なることが多い。このため、従来のパチンコ遊技機用試験装置では、正確に所定の試射時間に相当する分の検査データを取得することができず、近年、さらなる検査精度の向上が要望されている。
【０００８】
本発明は上記事情に基づいてなされたものであり、パチンコ遊技機が所定の規格に適合しているか否かを正確に判断することができるパチンコ遊技機用試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために本発明に係るパチンコ遊技機用試験装置は、パチンコ遊技機の性能に関する試験を行うための検査用プログラムを搭載し、検査用プログラムにしたがって少なくとも試験の検査内容に関する信号、試験を開始する旨の信号を出力するコンピュータと、パチンコ遊技機に設けられた発射レバーに装着される、発射レバーの位置を変更することにより遊技球の打ち出す強さを調整する発射レバー調整装置と、発射レバー調整装置を制御する発射レバー制御手段と、パチンコ遊技機内の複数の検査対象信号を抽出し、その抽出した複数の検査対象信号のうちコンピュータから送られた検査内容に定められた検査対象信号についてその状態が変化したときに当該検査対象信号の状態が変化した旨の信号を出力するデータ取得手段と、コンピュータから試験を開始する旨の信号を受けたときに発射レバーの位置が遊技球を発射する所定の位置になり、データ取得手段から検査対象信号の状態が変化した旨の信号を受けたときに発射レバーの位置がコンピュータから送られた検査内容に定められた、当該検査対象信号の状態変化に応じた位置になるように発射レバー調整装置を制御するための発射レバー位置制御信号を発射レバー制御手段に送信すると共に、発射レバー調整装置の制御状況に基づいて発射レバーが遊技球を発射している状態にあるかどうかを示す発射レバー状態信号を生成して出力する制御手段と、を備え、データ取得手段は、複数の検査対象信号及び制御手段から送られる発射レバー状態信号を抽出し、その抽出した複数の検査対象信号及び発射レバー状態信号のうち少なくもいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに複数の検査対象信号の状態及び発射レバー状態信号の状態に時間データを付したものを当該変化の時点における検査データとして一時記憶し、制御手段は、所定のタイミングでデータ取得手段に一時記憶された検査データをコンピュータに送信することを特徴とするものである。
【００１０】
上記の構成により、本発明に係るパチンコ遊技機用試験装置では、制御手段が発射レバー状態信号をデータ取得手段に出力し、データ取得手段が複数の検査対象信号及び発射レバー状態信号のうち少なくもいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに複数の検査対象信号の状態及び発射レバー状態信号の状態に時間データを付したものを当該変化の時点における検査データとして一時記憶し、この一時記憶された検査データが所定のタイミングでコンピュータに送信されて記憶される。このように、検査データとして、複数の検査対象信号の状態及び発射レバー状態信号の状態に時間データを付したものを取得することにより、発射レバー状態信号の状態と時間データとに基づいて、その取得した検査データの中から所定の規格に定められた試射時間に相当する分の検査データを抽出することができるので、かかる抽出した検査データを解析することによりパチンコ遊技機が当該規格に適合するか否かを正確に判断することができる。
【００１１】
また、本発明のパチンコ遊技機用試験装置において、制御手段は、発射レバー状態信号に加えて、発射レバー調整装置の制御状況に基づいて発射レバーの現在の位置を示す発射レバー位置信号を生成してデータ取得手段に出力し、データ取得手段は、複数の検査対象信号及び発射レバー状態信号のうち少なくもいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容に時間データを付したものを検査データとして一時記憶するようにしてもよい。これにより、検査データとして、発射レバー状態信号に加えて発射レバー位置信号を含むものを得ることができるので、かかる検査データを解析して、例えば発射レバーの位置と出球率との関係等、当該パチンコ遊技機の性能をより詳細に調べることが可能になる。
【００１２】
この場合、発射レバー制御手段は、制御手段から送られた発射レバー位置制御信号に基づいて発射レバー調整装置を制御することにより発射レバーの位置を変更したときに、発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を制御手段に送信し、制御手段は、発射レバー制御手段から発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受けたときに、その変更後における発射レバー調整装置の制御状況に基づいて生成された発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号をデータ取得手段に出力することが望ましい。これにより、データ取得手段は、発射レバー状態信号の状態の変化をパチンコ遊技機における実際の操作と同じタイミングで検知することができるので、当該発射レバー状態信号の状態及び当該発射レバー位置信号の内容に正しい時間データを付与することができる。
【００１３】
また、本発明のパチンコ遊技機用試験装置において、データ取得手段は、複数の検査対象信号及び制御手段から出力された信号を所定周期のサンプリングクロックが入力するタイミングで抽出すると共に、サンプリングクロックの入力数を計数することにより時間データを生成して所定のメモリに記憶しており、制御手段は、データ取得手段が生成する時間データを参照し、その参照する時間データを用いて、試験が開始されてから発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計を管理しており、その管理する時間の合計がコンピュータから送られた検査内容に定められた試射時間に達したときに当該試験を終了することが望ましい。このように、制御手段が、データ取得手段が生成する時間データを用いて遊技球が発射されている時間を管理することにより、たとえ試験を途中で中断した場合であっても、検査内容に定められた試射時間が経過したときに当該試験を自動的に終了して、その検査内容に定められた試験時間分の検査データを確実に取得することができる。特に、この場合、サンプリングクロックの周期はマイクロ秒オーダーであることが望ましい。これにより、制御手段は、検査内容に定められた試射時間を正確に計測することができる。
【００１４】
更に、本発明のパチンコ遊技機用試験装置において、コンピュータは、パチンコ遊技機の性能に関する試験によって得られた検査データに基づいて、当該パチンコ遊技機の性能を解析する解析用プログラムを搭載していることが望ましい。これにより、当該コンピュータを、検査データを集計して記憶するだけでなく、検査データを解析するためにも使用することができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明のパチンコ遊技機用試験装置では、検査データとして、複数の検査対象信号の状態及び発射レバー状態信号の状態に時間データを付したものを取得することにより、発射レバー状態信号の状態と時間データとに基づいて、その取得した検査データの中から所定の規格に定められた試射時間に相当する分の検査データを抽出することができるので、かかる抽出した検査データを解析することによりパチンコ遊技機が当該規格に適合するか否かを正確に判断することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】図１は本発明の一実施形態であるパチンコ遊技機用試験装置の概略構成図である。
【図２】図２は本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置の概略ブロック図である。
【図３】図３は本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置におけるバッファ基板の概略ブロック図である。
【図４】図４は本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置における試験装置本体のＣＰＵ基板の概略ブロック図である。
【図５】図５は本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置における試験装置本体の入力基板の概略ブロック図である。
【図６】図６は試験が開始された後における入力基板のサンプリング制御回路の処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】図７は入力基板に入力する複数の検査対象信号、発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号のタイミングチャートの一例である。
【図８】図８は試験が開始された後におけるＣＰＵ基板のＣＰＵの処理を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下に、図面を参照して、本願に係る発明を実施するための形態について説明する。図１は本発明の一実施形態であるパチンコ遊技機用試験装置の概略構成図、図２はそのパチンコ遊技機用試験装置の概略ブロック図である。
【００１８】
本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置は、パチンコ遊技機の性能に関する試験を行うためのものであり、図１及び図２に示すように、パーソナルコンピュータ１０と、スイッチングハブ２０と、試験装置本体３０と、バッファ基板４０と、発射レバー調整装置５０と、発射レバー制御装置６０と、発射レバー操作装置７０とを備える。
【００１９】
パーソナルコンピュータ１０は、パチンコ遊技機の性能に関する試験を行うための検査用プログラムと、その試験によって得られた検査データに基づいて当該パチンコ遊技機の性能を解析する解析用プログラムとを搭載している。このパーソナルコンピュータ１０は、スイッチングハブ２０を介して試験装置本体３０と接続されている。パーソナルコンピュータ１０と試験装置本体３０との間では、ＬＡＮ通信方式により信号やデータの送受信が行われる。例えば、パーソナルコンピュータ１０から試験装置本体３０に対しては、検査用プログラムにしたがって試験の検査内容に関する信号、試験を開始する旨の信号、試験を中断する旨の信号等が出力される。一方、試験装置本体３０からパーソナルコンピュータ１０に対しては、試験によって得られた検査データが送信される。このとき、パーソナルコンピュータ１０は、試験装置本体３０から送られる大量の検査データを例えばＨＤＤやＳＳＤ等の記録装置に記憶する。
【００２０】
発射レバー調整装置５０は、試験対象となるパチンコ遊技機に設けられた発射レバーに装着される。この発射レバー調整装置５０は、発射レバーの位置（回転量）を変更することにより遊技球の打ち出す強さ（又は発射速度）を調整するものである。通常、パチンコ遊技機では、発射レバーを０度から２７０度まで回転することが可能である。ここで、回転角が０度である発射レバーの位置は、遊技球を発射しないホームポジションである。回転角が０度以外の角度である場合、発射レバーはその角度に応じた強さで遊技球を打ち出す。また、発射レバー制御装置（発射レバー制御手段）６０は、試験装置本体３０から送られる発射レバー位置制御信号に基づいて発射レバー調整装置５０を制御するものである。発射レバー制御装置６０と試験装置本体３０との間では、パラレル通信方式により信号の双方向通信が行われる。
【００２１】
発射レバー操作装置７０は、発射レバー制御装置６０に対して各種の設定を行うためのものであり、テンキーや各種のボタンが設けられている。本実施形態では、使用者が、この発射レバー操作装置７０を用いて、発射レバーの回転角を最大６３段階まで登録することができる。例えば、使用者は、登録番号「１」に９０度を、登録番号「２」に１８０度を、設定することができる。但し、登録番号「０」には予め０度が設定されており、使用者は登録番号「０」の内容を変更することができない。試験装置本体３０は、発射レバー位置制御信号として、この登録番号を表す信号を発射レバー制御装置６０に送信する。発射レバー制御装置６０は、その発射レバー位置制御信号を受け取ると、それが表す登録番号に対応する回転角だけ発射レバーを回転するように発射レバー調整装置５０を制御する。また、発射レバー制御装置６０は、試験装置本体３０から送られた発射レバー位置制御信号に基づいて発射レバー調整装置５０を制御することにより発射レバーの位置を変更したときに、発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を試験装置本体３０に送信する。
【００２２】
バッファ基板４０は、試験対象となるパチンコ遊技機と試験装置本体３０との間に設けられている。このバッファ基板４０は、パチンコ遊技機の性能を調べるのに必要な信号である検査対象信号をパチンコ遊技機から取り込み、それらの検査対象信号の減衰を最小限に抑えて、試験装置本体３０に伝送するためのものである。ここで、複数の検査対象信号は一方向パラレル通信方式によりパチンコ遊技機からバッファ基板４０を介して試験装置本体３０に送られる。
【００２３】
いま、パチンコ遊技機の性能を調べるのに用いられる検査対象信号の例について説明する。検査対象信号としては、遊技球に関する信号である遊技球信号、役物やチューリップ等が開いたり閉じたりするときに発せられる作動信号、図柄の表示に関する信号である図柄信号、パチンコ遊技機に発生したエラーに関するエラー状態信号等がある。遊技球信号、作動信号、及び一部のエラー状態信号はパチンコ遊技機の主基板から出力される。一方、図柄信号及び一部のエラー状態信号はパチンコ遊技機の図柄制御基板から出力される。
【００２４】
具体的に、遊技球信号としては、例えば発射球信号、入賞口入賞球信号、チューリップ式役物入賞球信号、電動役物入賞球信号（普通、特別）、始動口入賞球信号、特定領域通過球信号、ゲート通過球信号、及び賞球信号等がある。作動信号としては、例えばチューリップ式役物拡大信号、連動役物開放信号、電動役物作動中信号（普通、特別）、役物連続作動装置作動信号、大当り信号、小当り信号、当り信号、高確率状態信号（普通図柄、特別図柄）、変動時間短縮状態信号（普通図柄、特別図柄）、普通電動役物開放延長状態信号、及び特別装置作動判定図柄高確率状態信号等がある。図柄信号としては、例えば図柄変動中信号（普通図柄、特別図柄）、１桁目図柄データビット０〜ビット８、・・・、ｎ桁目図柄データビット０〜ビット８等がある。そして、エラー状態信号としては、例えば主基板から出力される遊技機エラー状態信号等がある。
【００２５】
本実施形態では、パチンコ遊技機が検査対象信号を外部に出力するための出力端子を備えている場合には、その出力端子とバッファ基板４０のコネクタとを接続して、当該検査対象信号をバッファ基板４０に取り込む。一方、パチンコ遊技機に検査対象信号を外部に出力する端子が設けられていない場合には、パチンコ遊技機の所定の基板を開けてその基板上の回路から直接、クリップを用いて当該検査対象信号をバッファ基板４０に取り込んだり、遊技球の通路に近接センサを配置して、その近接センサを用いて検査対象信号をバッファ基板４０に取り込んだりする。ここで、パチンコ遊技機の出力端子から送られてくる検査対象信号や基板上の回路から直接送られてくる検査対象信号は、ＴＴＬレベルの信号であり、オンの状態とオフの状態とがある。これに対し、近接センサは漏れ電流で遊技球を検出するので、近接センサからはＴＴＬレベルの信号が出力されるわけではない。
【００２６】
図３は本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置におけるバッファ基板４０の概略ブロック図である。バッファ基板４０は、図３に示すように、コネクタ４１１と、コネクタ４１２と、コネクタ４１３と、コネクタ基板４２０と、近接センサ検出回路４３０と、第一切替器４４０と、第二切替器４５０と、ＴＴＬバッファ回路４６０と、出力ドライブ回路４７０とを備えている。
【００２７】
コネクタ４１１は、３２点のパラレル信号入力コネクタであり、パチンコ遊技機において検査対象信号を出力するための出力端子と接続される。コネクタ４１２は、３２点のパラレル信号出力コネクタであり、試験装置本体３０のコネクタと接続される。コネクタ基板４２０は、パチンコ遊技機の出力端子と接続するために用いられるだけでなく、パチンコ遊技機に検査対象信号を外部に出力する端子が設けられていない場合にも使用される。このコネクタ基板４２０には、パチンコ遊技機の所定の基板上の回路に取り付けられるクリップに繋がれたケーブルや遊技球の通路に設けられる近接センサに繋がれたケーブルが接続されている。また、コネクタ基板４２０はコネクタ４１３と接続されている。このコネクタ４１３は、ＴＴＬ入力と近接センサ入力とを切り替えて使用することができる。
【００２８】
近接センサ検出回路４３０は、近接センサからの出力をＴＴＬレベルの信号に変換するための専用の回路である。近接センサからは直接、ＴＴＬレベルの信号が出力されるわけではないので、近接センサからの出力をＴＴＬレベルの信号に変換する必要があるからである。第一切替器４４０及び第二切替器４５０は、コネクタ基板４２０を使用する場合に、コネクタ４１３から入力された信号が近接センサからの信号であるかＴＴＬレベルの信号であるかに応じて１入力単位で、そのコネクタ４１３から入力された信号をＴＴＬバッファ回路４６０に取り込む動作を切り替えるものである。具体的に、コネクタ４１３に入力される信号は、それがＴＴＬレベルの信号であれば、第一切替器４４０及び第二切替器４５０を介してＴＴＬバッファ回路４６０に取り込まれ、一方、それが近接センサからの信号であれば、近接センサ検出回路４３０でＴＴＬレベルの信号に変換された後、第二切替器４５０を介してＴＴＬバッファ回路４６０に取り込まれる。特に、パチンコ遊技機に正規の検査用の出力端子が設けられている場合には、バッファ基板４０に入力する信号はすべてＴＴＬレベルの信号であるので、近接センサ検出回路４３０を介することなく、ＴＴＬバッファ回路４６０に取り込まれる。このように、バッファ基板４０に、コネクタ４１３、コネクタ基板４２０及び近接センサ検出回路４３０等を設けたことにより、各種の信号を出力する端子を設けていない旧型のパチンコ遊技機でも、本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置を用いて検査を行うことができる。
【００２９】
ＴＴＬバッファ回路４６０は、パチンコ遊技機から出力された検査対象信号をバッファするものである。出力ドライブ回路４７０は、ＴＴＬバッファ回路４６０にバッファされた検査対象信号を、試験装置本体３０にオープンコレクタ出力で伝送するものである。また、この出力ドライブ回路４７０は、検査対象信号を試験装置本体３０に出力する際に、その検査対象信号のＴＴＬレベルを補償する役割をも果たしている。
【００３０】
次に、試験装置本体３０について説明する。かかる試験装置本体３０は、図２に示すように、ＣＰＵ基板（制御手段）３１０と、入力基板（データ取得手段）３２０とを備える。本実施形態では、ＣＰＵ基板３１０と入力基板３２０との間で信号やデータを送受するためのバスとして独自のオリジナルバスを用いている。具体的に、試験装置本体３０は、例えばオリジナルバス拡張ユニットにＣＰＵ基板３１０及び入力基板３２０を実装すること等により構成される。尚、検査対象信号の数が多い場合には、オリジナルバス拡張ユニットを増設し、入力基板３２０の数を増やすことができる。実際、風営適正化法では図柄の数に制限がないので、試験において大多数の検査対象信号を試験装置本体３０に取り込む必要が生じることも起こり得る。このため、余裕を見て、予め入力基板３２０を多めに搭載しておくことが望ましい。また、一般に、ＣＰＵ基板３１０と入力基板３２０との間で信号やデータを送受するためのバスとしては、上記のオリジナルバスに限らず、さまざまな規格のものが使用可能である。
【００３１】
ＣＰＵ基板３１０は、発射レバー調整装置５０を制御するための発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信すると共に、発射レバー調整装置５０の制御状況に基づいて発射レバーが遊技球を発射している状態にあるかどうかを示す発射レバー状態信号と発射レバーの現在の位置を示す発射レバー位置信号とを生成して入力基板３２０に出力する。また、このＣＰＵ基板３１０は、試験装置本体３０に収容した入力基板３２０を制御する。入力基板３２０は、パチンコ遊技機内の複数の検査対象信号を抽出し、その抽出した複数の検査対象信号のうちパーソナルコンピュータ１０から送られた検査内容に定められた検査対象信号についてその状態が変化したときに当該検査対象信号の状態が変化した旨の信号をＣＰＵ基板３１０に出力する。また、この入力基板３２０は、バッファ基板４０を介してパチンコ遊技機から送られる複数の検査対象信号と、ＣＰＵ基板３１０から送られる発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号とを抽出し、その抽出した複数の検査対象信号及び発射レバー状態信号のうち少なくもいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに、複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容に時間データを付したものを当該変化の時点における検査データとして一時記憶する。ＣＰＵ基板３１０は、所定のタイミングで入力基板３２０に一時記憶された検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信する。以下、ＣＰＵ基板３１０及び入力基板３２０についてさらに詳しく説明する。
【００３２】
図４は本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置における試験装置本体３０のＣＰＵ基板３１０の概略ブロック図である。ＣＰＵ基板３１０は、例えばオリジナルバス準拠方式の外部バスを有する制御基板である。具体的に、このＣＰＵ基板３１０は、図４に示すように、オリジナルバス３１１と、バスドライバ３１２と、コネクタ３１３，３１４と、ＬＡＮインタフェース３１５と、入力絶縁回路３１６ａと、出力絶縁回路３１６ｂと、試験装置本体３０の全体の制御を司るＣＰＵ３１７と、ＲＯＭ３１８と、ＲＡＭ３１９とを備えている。
【００３３】
オリジナルバス３１１は、入力基板３２０との間で信号やデータを送受するためのものである。バスドライバ３１２は、オリジナルバス３１１を制御するものである。また、コネクタ３１３はスイッチングハブ２０のコネクタと接続される。コネクタ３１３及びＬＡＮインタフェース３１５は、ＣＰＵ３１７とパーソナルコンピュータ１０との間で信号やデータの送受信を行うためのものである。一方、コネクタ３１４は発射レバー制御装置６０のコネクタと接続される。ＣＰＵ３１７と発射レバー制御装置６０との間ではコネクタ３１４を介して信号の送受信が行われる。また、入力絶縁回路３１６ａ及び出力絶縁回路３１６ｂは、発射レバー制御装置６０とＣＰＵ基板３１０との電気的絶縁を図るためのものである。
【００３４】
ＲＯＭ３１８は、制御用のプログラム及び各種データを不揮発的に格納するものである。ＲＡＭ３１９は、ＣＰＵ３１７の処理に利用される作業領域やデータの一時記憶領域として利用される。ＣＰＵ３１７は、パーソナルコンピュータ１０からの各種の信号を受信して処理する機能、発射レバー調整装置５０を制御して発射レバー調整装置５０の制御状況を管理する機能、入力基板３２０を制御してその入力基板３２０に一時記憶された検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信する機能、試験が開始されてから発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計を管理する機能等を有している。
【００３５】
具体的に、ＣＰＵ３１７は、パーソナルコンピュータ１０から試験の検査内容に関する信号が送られたときに、その検査内容をＲＡＭ３１９に記憶する。ＣＰＵ３１７はこの検査内容にしたがってパチンコ遊技機の性能に関する試験を行う。例えば、パーソナルコンピュータ１０から送られた検査内容に関する信号には、パチンコ遊技機の試射時間（パチンコ遊技機を遊技球が発射している状態にして検査データを取得する時間（例えば１０時間））を特定する信号や、どの検査対象信号の状態が変化したときに発射レバーの回転角を何度に変更するかという発射レバーの制御内容を特定する信号等が含まれている。一例として、この発射レバーの制御内容には、大当り信号がオフ状態からオン状態に変化したときに発射レバーの回転角を登録番号「２」に対応する角度（１８０度）に変更すべきことが記載されている。
【００３６】
ＣＰＵ３１７は、パーソナルコンピュータ１０から試験を開始する旨の信号を受けたときに発射レバーの位置が遊技球を発射する所定の位置になることを示す発射レバー位置制御信号を出力絶縁回路３１６ｂ及びコネクタ３１４を介して発射レバー制御装置６０に送信する。これにより、試験が開始される。また、ＣＰＵ３１７は、パーソナルコンピュータ１０から試験を中断する旨の信号を受けたときに発射レバーの位置が遊技球を発射しないホームポジションになることを示す発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信する。これにより、遊技球は発射されず、試験は一時中断される。更に、ＣＰＵ３１７は、入力基板３２０からオリジナルバス３１１を介して検査対象信号の状態が変化した旨の信号を受けたときに、発射レバーの位置がパーソナルコンピュータ１０から送られた検査内容に定められた位置であって当該検査対象信号の状態変化に応じた位置になることを示す発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信する。これにより、遊技球を打ち出す強さが変更になる。このように、ＣＰＵ３１７は発射レバー制御装置６０を制御し、発射レバー制御装置６０の制御状況を管理している。この発射レバー制御装置６０の制御状況に関する情報はＲＡＭ３１９に記憶されている。例えば、発射レバー制御装置６０の制御状況に関する情報には、現在、発射レバーが遊技球を発射している状態にあるか否か、発射レバーの現在の位置（回転角）がどこであるかについての情報が含まれる。
【００３７】
また、ＣＰＵ３１７は、発射レバー制御装置６０からコネクタ３１４及び入力絶縁回路３１６ａを介して発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受けたときに、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況に基づいて生成された発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号をオリジナルバス３１１を介して入力基板３２０に出力する。すなわち、ＣＰＵ３１７は、発射レバー制御装置６０からの信号に基づいて発射レバーの位置の変更が実際に行われたことを確認した後、その変更後における内容の発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号を入力基板３２０に出力する。
【００３８】
また、ＣＰＵ３１７は、オリジナルバス３１１を介して検査データのステータスを確認する旨の指示を入力基板３２０に送る。入力基板３２０は、その指示を受けると、検査データのステータスを確認し、その確認して得られた検査データのステータスに関するデータをオリジナルバス３１１を介してＣＰＵ３１７に送信する。後述するように、ＣＰＵ３１７は、その送られた検査データのステータスに関するデータに基づいて検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信するかどうかを判断する。更に、ＣＰＵ３１７は、パチンコ遊技機の試験の終了を判断する。具体的に、ＣＰＵ３１７は、入力基板３２０が生成する時間データを参照し、その時間データを用いて、試験が開始されてから発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計を管理している。そして、ＣＰＵ３１７は、その管理する時間の合計がパーソナルコンピュータ１０から送られた検査内容に定められた試射時間に達したときに、当該試験を終了する。ＣＰＵ３１７は、試験を終了する場合、発射レバーの位置をホームポジションにする旨の発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送る。
【００３９】
図５は本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置における試験装置本体３０の入力基板３２０の概略ブロック図である。入力基板３２０は、パチンコ遊技機専用の基板であり、図５に示すように、コネクタ３２１と、入力絶縁回路３２２と、オリジナルバス３２３と、バスドライバ３２４ａ，３２４ｂと、ＣＰＵインタフェース回路３２５と、サンプリング制御回路３２６と、メモリコントロール回路３２７と、メモリ回路３２８と、クロック生成回路３２９とを備えている。
【００４０】
コネクタ３２１はバッファ基板４０のコネクタ４１２と接続される。このコネクタ３２１は、パチンコ遊技機からバッファ基板４０を介して伝送される複数の検査対象信号を入力するためのパラレル信号入力コネクタである。また、入力絶縁回路３２２は、パチンコ遊技機と入力基板３２０との電気的絶縁を図るためのものである。この入力絶縁回路３２２としては、例えばフォトＩＣカプラが用いられる。一方、オリジナルバス３２３は、ＣＰＵ基板３１０との間で信号やデータを送受するためのものである。バスドライバ３２４ａ，３２４ｂは、オリジナルバス３２３を制御するものである。ここで、バスドライバ３２４ａは、オリジナルバス３２３とＣＰＵインタフェース回路３２５との間に設けられ、バスドライバ３２４ｂは、オリジナルバス３２３とメモリ回路３３１との間に設けられている。
【００４１】
サンプリング制御回路３２６は、１００μｓ毎に、コネクタ３２１から入力される複数の検査対象信号と、オリジナルバス３２３から送信される発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号とを抽出している。そして、サンプリング制御回路３２６は、その抽出した複数の検査対象信号及び発射レバー状態信号のうち少なくともいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに、複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容をメモリ回路３２８に一時記憶する。ここで、複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容には時間データが付される。かかる複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容に時間データが付されたものが、その変化の時点における検査データである。尚、信号の変化を判断する対象に、発射レバー位置信号を含めていない。これは、発射レバー位置信号の内容は、検査対象信号の状態の変化又は発射レバー状態信号の状態の変化に基づいて変化するからである。もちろん、信号の変化を判断する対象に、発射レバー位置信号を含めるようにしてもよい。
【００４２】
具体的に、サンプリング制御回路３２６は、図５に示すように、入力サンプリング部３２６ａと、発射レバー関連信号サンプリング部３２６ｂと、タイムスタンプ部３２６ｃとを含んで構成されている。入力サンプリング部３２６ａは、コネクタ３２１から入力される複数の検査対象信号を抽出する役割を果たし、発射レバー関連信号サンプリング部３２６ｂは、オリジナルバス３２３及びＣＰＵインタフェース回路３２５を介して送信される発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号を抽出する役割を果たしている。タイムスタンプ部３２６ｃは、メモリ回路３２８に一時記憶された複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容に時間データを付する役割を果たす。
【００４３】
また、サンプリング制御回路３２６は、信号を抽出する際に用いる周期１００μｓのサンプリングクロックをクロック生成回路３２９から得ている。このクロック生成回路３２９は、ＣＰＵ基板３１０から送られる基準クロックを分周することにより周期１００μｓのサンプリングクロックを生成するものである。ここで、サンプリングレート（サンプリングクロックの周期の逆数）を１００μｓ分の１としているのは、通常のパチンコ遊技機のサンプリングレートが２ｍｓ分の１であるので、これより速いサンプリングレートとする必要があるからである。一般に、サンプリング制御回路３２６が信号を抽出する際に用いるサンプリングレートは、１００μｓ分の１に限定されるものではなく、パチンコ遊技機のサンプリングレートより速ければ、どのようなサンプリングレートであってもよい。また、タイムスタンプ部３２６ｃは、サンプリングクロックの入力数を計数することにより時間データを生成している。そして、この時間データを逐次、メモリ回路３２８の所定のアドレスに書き込んでいる。ＣＰＵ３１７はこのメモリ回路３２８に書き込まれた時間データを常に参照している。
【００４４】
ところで、複数の入力基板３２０が試験装置本体３０に搭載されている場合、例えば複数の入力基板３２０が一又は複数のオリジナルバス拡張ユニットに実装されている場合には、複数の入力基板３２０間をオリジナルバス拡張ユニット上のスイッチの設定でループ接続し、一つの入力基板３２０が信号の状態変化を検出したときにこの入力基板３２０から他の入力基板３２０に信号の状態が変化した旨の信号を出力するようにすればよい。このとき、他の入力基板３２０は、信号の状態変化を検出した旨の信号を受けると、コネクタ３２１から入力される複数の検査対象信号と、オリジナルバス３２３から送信される発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号とをメモリ回路３２８に記憶する。具体的に、例えば３枚の入力基板３２０を試験装置本体３０に搭載する場合、オリジナルバス拡張ユニット上のスイッチを用いて、１枚目の入力基板と２枚目の入力基板と３枚目の入力基板とを同一のグループに属するように設定を行う。このように、複数の入力基板３２０が試験装置本体３０に搭載されている場合、同一グループに設定された複数の入力基板３２０が本発明における一つのデータ取得手段となる。
【００４５】
本実施形態では、サンプリング制御回路３２６及びクロック生成回路３２９としては、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）を用いている。このように、サンプリング制御回路３２６にＦＰＧＡを用いたことにより、パチンコ遊技機から送られる複数の検査対象信号、ＣＰＵ基板３１０から送られる発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号について、その信号の変化を高速で判断することが可能となる。ＣＰＵ３１７で信号の状態が変化したかどうかを判断すると、時間がかかるからである。
【００４６】
また、サンプリング制御回路３２６は、上述のように、１００μｓ毎に、コネクタ３２１から入力される複数の検査対象信号と、オリジナルバス３２３から送信される発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号とを抽出するが、その抽出した複数の検査対象信号のうちパーソナルコンピュータ１０から送られた検査内容に定められた検査対象信号についてその状態が変化したときに、当該検査対象信号の状態が変化した旨の信号をＣＰＵインタフェース回路３２５及びオリジナルバス３２３を介してＣＰＵ基板３１０のＣＰＵ３１７に出力する。ここで、パーソナルコンピュータ１０から送られた検査内容に定められた検査対象信号とは、その状態が変化したときに発射レバーの位置を変更する必要がある検査対象信号のことである。ＣＰＵ３１７は、入力基板３２０から検査対象信号の状態が変化した旨の信号を受けると、発射レバーの位置が当該検査内容に定められた、当該検査対象信号の状態変化に応じた位置になるように発射レバー調整装置５０を制御するための発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信する。例えば、ＣＰＵ３１７は、大当り信号がオフ状態からオン状態に変化した旨の信号を受けると、発射レバーの回転角を登録番号「２」に対応する角度（１８０度）に変更すべきことを示す発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信する。これにより、遊技状態の変化に合わせて発射レバーを操作することができる。
【００４７】
メモリコントロール回路３２７は、ＣＰＵ３１７からの指示に基づいてメモリ回路３２８を制御するものである。ＣＰＵインタフェース回路３２５は、オリジナルバスインタフェースとしての役割を果たす。すなわち、このＣＰＵインタフェース回路３２５は、ＣＰＵ３１７とサンプリング制御回路３２６及びメモリコントロール回路３２７との間で各種の設定を行ったり、メモリ回路３２８に記憶された検査データを読み込んだりするためのインタフェース回路である。メモリコントロール回路３２７及びＣＰＵインタフェース回路３２５としても、ＦＰＧＡを用いている。尚、図５に示していないが、メモリコントロール回路３２７及びＣＰＵインタフェース回路３２５にも、ＣＰＵ基板３１０から送られる基準クロックが入力する。
【００４８】
具体的に、メモリコントロール回路３２７は、ＣＰＵ３１７からオリジナルバス３２３を介して検査データのステータスを確認する旨の指示を受けると、メモリ回路３２８に記憶された検査データのステータスを確認する。ここで、ステータスの確認というのは、メモリ回路３２８に現在蓄積されている検査データの個数を確認することをいう。メモリコントロール回路３２７は、検査データの蓄積個数を認識すると、その認識した検査データの蓄積個数に関するデータをオリジナルバス３２３を介してＣＰＵ３１７に送信する。ＣＰＵ３１７は入力基板３２０から検査データの蓄積個数に関するデータが送られると、その検査データの蓄積個数に関するデータに基づいて、予め設定した個数分の検査データ、例えば１００個分の検査データがメモリ回路３２８に蓄積されたかどうかを判断する。そして、ＣＰＵ３１７は、１００個分の検査データがメモリ回路３２８に蓄積されたことを認識すると、その検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信することになる。このように、予め設定した個数分の検査データがメモリ回路３２８に溜め込まれたときに、検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信するのは、入力基板３２０で検査データが取得される毎にその検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信したのでは、処理が煩雑だからである。尚、メモリ回路３２８に溜め込んでおく検査データの量は、パーソナルコンピュータ１０から設定することができる。
【００４９】
尚、入力基板３２０は、信号が接続されない入力端子をマスクする機能を有している。これにより、マスクした入力端子からのデータはオフに固定した状態となり、ノイズ等の影響を受けることはない。
【００５０】
次に、本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置の動作について説明する。
本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置を用いて検査を行うときには、使用者は、まず、パーソナルコンピュータ１０を用いて、パチンコ遊技機のメーカ名や種別や検査内容等を入力する。その後、試験を開始する指示を入力する。これにより、パーソナルコンピュータ１０は、ＣＰＵ３１７に対して試験の検査内容に関する信号、試験を開始する旨の信号を送信する。ＣＰＵ３１７は、試験の検査内容に関する信号を受けると、その検査内容をＲＡＭ３１９に記憶する。そして、試験を開始する旨の信号を受けると、発射レバーの位置が遊技球を発射する所定の位置になることを示す発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信する。例えば、この試験開始時に送信する発射レバー位置制御信号としては、遊技球が盤面の中央部に発射されるような発射レバーの位置を指示するものが用いられる。その後、ＣＰＵ３１７は、発射レバー制御装置６０から発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受信すると、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況をＲＡＭ３１９に記憶すると共に、入力基板３２０のメモリ回路３２８に書き込まれた時間データを参照し、その時間データを試験開始時刻としてＲＡＭ３１９に記憶する。また、ＣＰＵ３１７は、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況に基づいて生成した発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号を入力基板３２０に送信する。こうして、発射レバーは遊技球を発射する状態になり、試験が開始される。
【００５１】
こうして試験が開始されると、ＣＰＵ基板３１０のＣＰＵ３１７は割り込み信号が一定の周期で送られる度に所定の処理を実行する。また、入力基板３２０のサンプリング制御回路３２６も周期１００μｓのサンプリングクロックが送られる度に所定の処理を実行する。
【００５２】
最初に、入力基板３２０のサンプリング制御回路３２６の処理について説明する。図６は試験が開始された後における入力基板３２０のサンプリング制御回路３２６の処理を説明するためのフローチャートである。サンプリング制御回路３２６はサンプリングクロックが入力する度に図６の処理フローに示す処理を行う。まず、サンプリング制御回路３２６は、パチンコ遊技機から送られる複数の検査対象信号、ＣＰＵ基板３１０から送られる発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号を抽出する（Ｓ１１）。そして、その抽出した複数の検査対象信号及び発射レバー状態信号のうち少なくともいずれか一つの信号についてその状態が変化したかどうかを判断する（Ｓ１２）。状態が変化した信号がないと判断すると、図６の処理フローに示す処理が終了する。一方、状態が変化した信号があると判断すると、サンプリング制御回路３２６は、その時点における複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容を取得する。ここで、検査対象信号又は発射レバー状態信号の状態とは、その時点における信号のレベル（“オン”又は“オフ”）のことである。また、発射レバー位置信号の内容とは、発射レバーの位置に関する情報（登録番号）のことである。そして、その取得した複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容にその時点における時間データを付して、検査データとしてメモリ回路３２８に一時記憶する（Ｓ１３）。
【００５３】
次に、サンプリング制御回路３２６は、ステップＳ１１の処理で抽出した複数の検査対象信号のうち検査内容に定められた検査対象信号についてその状態が変化しているかどうかを判断する（Ｓ１４）。検査内容に定められた検査対象信号の状態が変化していないと判断すると、図６の処理フローに示す処理が終了する。一方、検査内容に定められた検査対象信号の状態が変化していると判断すると、サンプリング制御回路３２６は、当該検査対象信号の状態が変化した旨の信号をオリジナルバス３２３を介してＣＰＵ基板３１０に送信する（Ｓ１５）。こうして、図６に示すサンプリング制御回路３２６の処理が終了する。サンプリング制御回路３２６は、ＣＰＵ基板３１０から試験終了の指示がない限り、サンプリングクロックが送られる度に図６に示す処理を繰り返し実行する。
【００５４】
また、入力基板３２０のメモリコントロール回路３２７は、試験が開始された後、ＣＰＵ３１７から検査データのステータスを確認する旨の指示を受けたときに、メモリ回路３２８に現在蓄積されている検査データの個数を確認する。そして、メモリコントロール回路３２７は、検査データの蓄積個数を認識すると、その認識した検査データの蓄積個数に関するデータをオリジナルバス３２３を介してＣＰＵ基板３１０に送信する。
【００５５】
いま、サンプリング制御回路３２３が検査データを取得する処理を具体的に説明する。図７は入力基板３２０に入力する複数の検査対象信号、発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号のタイミングチャートの一例である。この図７の例では、説明を簡単にするため、三つの検査対象信号と、発射レバー状態信号と、発射レバー位置信号とが入力基板３２０に入力する場合を示している。ここで、三つの検査対象信号としては、発射球信号、入賞口入賞信号、大当り信号が用いられている。また、図７には、サンプリングクロックの入力タイミングと、各サンプリングクロックが入力するときの時間データｔｎ（１≦ｎ≦２３）とが示されている。
【００５６】
パチンコ遊技機から送られてくる検査対象信号及びＣＰＵ基板３１０から送られてくる発射レバー状態信号は、ＴＴＬレベルの信号であり、図７に示すようにオンの状態とオフの状態とがある。サンプリング制御回路３２６は、三つの検査対象信号及び発射レバー状態信号のうちいずれか一つの信号の状態がオンからオフ又はオフからオンに変化したとき、三つの検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態、発射レバー位置信号の内容を取得し、メモリ回路３２８に記憶する。
【００５７】
図７において、時間データｔ１に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでは、発射レバー状態信号がオフからオンに変化している。これは試験が開始されたためである。このとき、サンプリング制御回路３２６は、発射レバー状態信号の状態が変化したことを認識し、三つの検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態、発射レバー位置信号の内容に時間データｔ１を付したものを検査データとしてメモリ回路３２８に記憶する。具体的に、時間データｔ１に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでの検査データは、
“０”＋“０”＋“０”＋“１”＋“登録番号「１」”＋“ｔ１”
である。ここで、この検査データの例では、左から順に、発射球信号の状態、入賞口入賞信号の状態、大当り信号の状態、発射レバー状態信号の状態、発射レバー位置信号の内容、時間データを表す。このとき、発射レバー位置信号の内容は登録番号「０」から「１」に変化している。これは、ＣＰＵ基板３１０が遊技球を発射するように発射レバーの位置を変更したことによるものである。また、時間データｔ２に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでは、発射球信号がオフからオンに変化しているので、サンプリング制御回路３２６は、三つの検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態、発射レバー位置信号の内容に時間データｔ２を付したものを検査データとしてメモリ回路３２８に記憶する。具体的に、時間データｔ２に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでの検査データは、
“１”＋“０”＋“０”＋“１”＋“登録番号「１」”＋“ｔ２”
である。同様に、時間データｔ３、ｔ４に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでも、サンプリング制御回路３２６は、検査データをメモリ回路３２８に記憶する。
【００５８】
また、時間データｔ５に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでは、入賞口入賞信号がオフからオンに変化し、大当り信号がオフからオンに変化しているので、サンプリング制御回路３２６は、三つの検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態、発射レバー位置信号の内容に時間データｔ５を付したものを検査データとしてメモリ回路３２８に記憶する。具体的に、時間データｔ５に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでの検査データは、
“０”＋“１”＋“１”＋“１”＋“登録番号「２」”＋“ｔ５”
である。このとき、発射レバー位置信号の内容も登録番号「１」から「２」に変化している。これは、パチンコ遊技機が大当り状態になったため、ＣＰＵ基板３１０が発射レバーの位置を変更したことによるものである。同様に、時間データｔ６〜ｔ１１に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでも、サンプリング制御回路３２６は、検査データをメモリ回路３２８に記憶する。
【００５９】
時間データｔ１２に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでは、発射レバー状態信号がオンからオフに変化している。このため、サンプリング制御回路３２６は、三つの検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態、発射レバー位置信号の内容に時間データｔ１２を付したものを検査データとしてメモリ回路３２８に記憶する。具体的に、時間データｔ１２に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでの検査データは、
“０”＋“０”＋“１”＋“０”＋“登録番号「０」”＋“ｔ１２”
である。このとき、発射レバー位置信号の内容は登録番号「２」から「０」に変化している。これは、ＣＰＵ基板３１０が、パーソナルコンピュータ１０から試験を中断する旨の信号を受けたために、発射レバーの位置をホームポジションに変更したことによるものである。
【００６０】
時間データｔ１３に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでは、試験が再開されたことにより、発射レバー状態信号がオフからオンに変化している。このため、サンプリング制御回路３２６は、検査データをメモリ回路３２８に記憶する。具体的に、時間データｔ１３に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでの検査データは、
“０”＋“０”＋“０”＋“１”＋“登録番号「１」”＋“ｔ１３”
である。その後も、サンプリング制御回路３２６は、時間データｔ１４〜ｔ２２に対応するサンプリングクロックの各入力タイミングで、三つの検査対象信号及び発射レバー状態信号のうちいずれか一つの信号の状態がオンからオフ又はオフからオンに変化したかどうかを判断し、変化したと判断すると、検査データをメモリ回路３２８に記憶する。そして、時間データｔ２３に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでは、試験が終了したことにより、発射レバー状態信号がオンからオフに変化している。このため、サンプリング制御回路３２６は、三つの検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態、発射レバー位置信号の内容に時間データｔ２３を付したものを検査データとしてメモリ回路３２８に記憶する。具体的に、時間データｔ２３に対応するサンプリングクロックの入力タイミングでの検査データは、
“０”＋“０”＋“０”＋“０”＋“登録番号「０」”＋“ｔ２３”
である。このように、本実施形態では、試験期間中、検査データとして、複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容に時間データを付したものを多数得ることができる。
【００６１】
次に、ＣＰＵ基板３１０のＣＰＵ３１７の処理について説明する。図８は試験が開始された後におけるＣＰＵ基板３１０のＣＰＵ３１７の処理を説明するためのフローチャートである。ＣＰＵ３１７は割り込み信号が入力する度に図８の処理フローに示す処理を行う。まず、ＣＰＵ３１７は、入力基板３２０から検査内容に定められた検査対象信号の状態が変化した旨の信号が送られてきたかどうかを判断する（Ｓ２１）。かかる信号が送られてきていないと判断すると、ステップＳ２４の処理に移行する。一方、ＣＰＵ３１７は、かかる信号が送られてきたと判断すると、その信号の内容に応じて発射レバーの位置を制御する（Ｓ２２）。具体的に、ＣＰＵ３１７は、入力基板３２０から検査内容に定められた検査対象信号の状態が変化した旨の信号を受けると、発射レバーの位置が当該検査対象信号の状態変化に応じた位置になることを示す発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信する。このように、ＣＰＵ３１７は、検査対象信号の状態が変化すると、検査内容にしたがって、遊技者が実際に発射レバーを操作しているかのように発射レバーの位置を制御することができる。ＣＰＵ３１７は、こうして発射レバー制御装置６０に発射レバー位置制御信号を送信すると、発射レバー制御装置６０から発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号が送られてくるのを待つ。そして、発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受信すると、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況をＲＡＭ３１９に記憶すると共に、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況に基づいて生成した発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号をオリジナルバス３１１を介して入力基板３２０に送信する（Ｓ２３）。
【００６２】
次に、ＣＰＵ３１７は、パーソナルコンピュータ１０から信号が送られてきたかどうかを判断する（Ｓ２４）。かかる信号が送られてきていないと判断すると、ステップＳ２７の処理に移行する。一方、ＣＰＵ３１７は、かかる信号が送られてきたと判断すると、その信号の内容に応じて発射レバーの位置を制御する（Ｓ２５）。具体的に、ＣＰＵ３１７は、パーソナルコンピュータ１０から試験を中断する旨の信号を受けると、発射レバーの位置が遊技球を発射しないホームポジションになることを示す発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送信する。ＣＰＵ３１７は、こうして発射レバー制御装置６０に発射レバー位置制御信号を送信すると、発射レバー制御装置６０から発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号が送られてくるのを待つ。そして、発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受信すると、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況をＲＡＭ３１９に記憶すると共に、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況に基づいて生成した発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号をオリジナルバス３１１を介して入力基板３２０に送信する（Ｓ２６）。
【００６３】
その後、ＣＰＵ３１７は、検査データのステータス、すなわちメモリ回路３２８に現在蓄積されている検査データの個数を確認する旨の指示を入力基板３２０のメモリコントロール回路３２７に送信する（Ｓ２７）。ＣＰＵ３１７は、メモリコントロール回路３２７から、検査データの蓄積個数に関するデータが送られてくるのを待つ（Ｓ２８）。ＣＰＵ３１７は入力基板３２０から検査データの蓄積個数に関するデータが送られると、その検査データの蓄積個数に関するデータに基づいて、所定数個分の検査データがメモリ回路３２８に蓄積されているかどうかを判断する（Ｓ２９）。所定数個分の検査データが未だ蓄積されていない場合には、ステップＳ３２の処理に移行する。一方、所定数個分の検査データがメモリ回路３２８に蓄積されている場合には、ＣＰＵ３１７はその検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信する（Ｓ３１）。
【００６４】
次に、ＣＰＵ３１７は、入力基板３２０のメモリ回路３２８の所定のアドレスに書き込まれた時間データを参照し、試験が開始されてから発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計を算出する。この算出した時間の合計はＲＡＭ３１９に記憶される。ここで、ＣＰＵ３１７が、試験が開始されてから発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計をどのように算出するかについて説明する。例えば、ＣＰＵ３１７は、前回、時間データを参照した際に、前回算出した時間の合計に加えて、その参照した時間データと、そのときの発射レバーが遊技球を発射している状態にあるかどうかを示すデータとをＲＡＭ３１９に記憶しておくようにする。試験開始時刻がＲＡＭ３１９に記憶されて試験が開始された後、最初に割り込み信号が入力したときには、ＣＰＵ３１７は、今回参照した時間データから試験開始時刻を引くことにより、試験が開始されてから発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計を算出する。また、試験が開始された後に割り込み信号が何度か入力したときには、ＣＰＵ３１７は、前回の時点で発射レバーが遊技球を発射している状態にあれば、今回参照した時間データから前回参照した時間データを引いたものを、前回算出した時間の合計に加算することにより、今回の時間の合計を算出する。一方、前回の時点で発射レバーが遊技球を発射していない状態にあれば、前回算出した時間の合計をそのまま今回の時間の合計とする。
【００６５】
ＣＰＵ３１７は、上記のようにして時間の合計を算出した後、今回算出した時間の合計が検査内容に定められた試射時間（例えば１０時間）に達したかどうかを判断する（Ｓ３２）。今回算出した時間の合計が検査内容に定められた試射時間に達していなければ、図８の処理フローに示す処理が終了する。ＣＰＵ３１７は、試験が実行されている間、割り込み信号が送られる度に図８に示す処理を繰り返し実行する。一方、今回算出した時間の合計が検査内容に定められた試射時間に達したと判断すると、ＣＰＵ３１７は、試験の終了処理を行う（Ｓ３３）。この試験の終了処理では、ＣＰＵ３１７は、まず、発射レバーの位置をホームポジションにする旨の発射レバー位置制御信号を発射レバー制御装置６０に送る。次に、ＣＰＵ３１７は、発射レバー制御装置６０から発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受信すると、その変更後における発射レバー制御装置６０の制御状況に基づいて生成した発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号を入力基板３２０に送信する。その後、ＣＰＵ３１７は、メモリ回路３２８に記憶されている検査データをパーソナルコンピュータ１０に送信して、試験が終了する。
【００６６】
こうして、試験が終了すると、その試験で得られた全ての検査データはパーソナルコンピュータ１０に収集される。その後、パーソナルコンピュータ１０は、それらの検査データに対して各種の解析を行い、当該パチンコ遊技機が規則に定められている規格に適合しているか否かを調べる。ここで、この規則に定められている規格において、例えば「１０時間」とは、一切の延長のない１０時間をいうものであると解釈されている。本実施形態では、検査データとして、複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容に時間データを付したものを取得しているので、パーソナルコンピュータ１０は、発射レバー状態信号の状態と時間データとに基づいて、その取得した検査データの中から正確に当該規格に定められた試射時間に相当する分の検査データを抽出することができる。例えば、パーソナルコンピュータ１０は、当該パチンコ遊技機が「遊技球の試射試験を１０時間行った場合において、獲得する遊技球の総数が発射させた遊技球の総数の２分の１を超え、かつ、２倍に満たないものであること」という規格に適合しているかどうかを調べる場合には、正確に１０時間の試射時間に相当する分の検査データを抽出して解析することにより、パチンコ遊技機が上記規則に適合しているか否かを高い精度で判断することができる。これに対し、従来のパチンコ遊技機用試験装置では、発射レバーが遊技球を発射しているかどうかについての情報や発射レバーの位置（回転量）に関する情報はどこにも記憶されておらず、しかも、ＣＰＵ基板は、使用者が試験を開始する旨の指示を与えたときに、データの収集を開始し、使用者から試験を終了する旨の指示を受けたとき又は内部タイマーのカウント値（最小カウント単位は１００ｍｓ）が所定の値になったときに、データ収集を終了していた。したがって、本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置は、従来のパチンコ遊技機用試験装置に比べて、検査精度の更なる向上を図ることができる。
【００６７】
本実施形態のパチンコ遊技機用試験装置では、ＣＰＵ基板が、発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号を入力基板に出力し、入力基板が、複数の検査対象信号、発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号のうち少なくもいずれか一つの信号についてその状態が変化したときに複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の内容に時間データを付したものを当該変化の時点における検査データとして一時記憶する。このように、検査データとして、複数の検査対象信号の状態、発射レバー状態信号の状態及び発射レバー位置信号の状態に時間データを付したものを取得することにより、パーソナルコンピュータは、発射レバー状態信号の状態と時間データとに基づいて、その取得した検査データの中から所定の規格に定められた試射時間に相当する分の検査データを抽出することができるので、かかる抽出した検査データを解析することによりパチンコ遊技機が当該規格に適合するか否かを正確に判断することができる。また、検査データには、発射レバー状態信号に加えて発射レバー位置信号が含まれているので、パーソナルコンピュータは、かかる検査データを解析して、例えば発射レバーの位置と出球率との関係等、当該パチンコ遊技機の性能をより詳細に調べることができる。
【００６８】
また、本実施形態では、ＣＰＵ基板が、発射レバー制御装置から発射レバーの位置の変更が完了した旨の信号を受けたときに、その変更後における発射レバー調整装置の制御状況に基づいて生成された発射レバー状態信号及び発射レバー位置信号を入力基板に出力することにより、入力基板は、発射レバー状態信号又は発射レバー位置信号についてその状態変化を、パチンコ遊技機における実際の操作と略同じタイミングで検知することができるので、当該発射レバー状態信号の状態及び当該発射レバー位置信号の内容に正しい時間データを付与することができる。
【００６９】
更に、本実施形態では、ＣＰＵ基板が、入力基板が生成する時間データを参照し、その参照する時間データを用いて、試験が開始されてから発射レバーが遊技球を発射している状態にある時間の合計を管理し、その管理する時間の合計がコンピュータから送られた検査内容に定められた試射時間に達したときに当該試験を終了することにより、たとえ試験を途中で中断した場合であっても、検査内容に定められた試射時間が経過したときに当該試験を自動的に終了して、その検査内容に定められた試験時間分の検査データを確実に取得することができる。また、入力基板が時間データを生成するのに用いているサンプリングクロックとして周期がマイクロ秒オーダーであるものを用いているので、周期がミリ秒オーダーのクロックを用いて計時している従来の装置に比べて、本実施形態のＣＰＵ基板は、検査内容に定められた試射時間を正確に計測することができる。
【００７０】
本発明は、上記の実施形態に限定されるものではなく、その要旨の範囲内において種々の変形が可能である。
【００７１】
例えば、上記の実施形態では、パチンコ遊技機の性能を検査するのに用いられる検査対象信号の例として、遊技球信号、作動信号、図柄信号、エラー状態信号等を挙げているが、これら以外の信号を検査対象信号として用いてもよい。また、入力基板には、例示した全ての検査対象信号を入力させるのではなく、試験の内容に応じて必要な検査対象信号を入力させればよい。
【００７２】
また、上記の実施形態では、入力基板のメモリ回路に、ある程度の検査データを溜め込んでから、パーソナルコンピュータに送信する場合について説明したが、検査データが取得される毎に、その検査データをパーソナルコンピュータに送信するようにしてもよい。
【００７３】
更に、上記の実施形態では、パーソナルコンピュータが検査用プログラムと解析用プログラムとを搭載し、検査データを収集する役割と検査データを解析する役割とを兼ねている場合について説明したが、二台のパーソナルコンピュータを用い、一方のパーソナルコンピュータに検査データを収集する役割を担わせ、他方のパーソナルコンピュータに検査データを解析する役割を担わせるようにしてもよい。これにより、複数のパチンコ遊技機の試験を同時に行い、その試験の結果を高速で解析することができる。
【産業上の利用可能性】
【００７４】
以上説明したように本発明のパチンコ遊技機用試験装置では、検査データとして、複数の検査対象信号の状態及び発射レバー状態信号の状態に時間データを付したものを取得することにより、発射レバー状態信号の状態と時間データとに基づいて、その取得した検査データの中から所定の規格に定められた試射時間に相当する分の検査データを抽出することができるので、かかる抽出した検査データを解析することによりパチンコ遊技機が当該規格に適合するか否かを正確に判断することができる。したがって、本発明は、各メーカ自らがパチンコ遊技機の性能に関する試験を行うための試験装置として用いるのに好適である。
【符号の説明】
【００７５】
１０  パーソナルコンピュータ
２０  スイッチングハブ
３０  試験装置本体
３１０  ＣＰＵ基板（制御手段）
３１１  オリジナルバス
３１２  バスドライバ
３１３，３１４  コネクタ
３１５  ＬＡＮインタフェース
３１６ａ  入力絶縁回路
３１６ｂ  出力絶縁回路
３１７  ＣＰＵ
３１８  ＲＯＭ
３１９  ＲＡＭ
３２０  入力基板（データ取得手段）
３２１  コネクタ
３２２  入力絶縁回路
３２３  オリジナルバス
３２４ａ，３２４ｂ  バスドライバ
３２５  ＣＰＵインタフェース回路
３２６  サンプリング制御回路
３２６ａ  入力サンプリング部
３２６ｂ  発射レバー関連信号サンプリング部
３２６ｃ  タイムスタンプ部
３２７  メモリコントロール回路
３２８  メモリ回路
３２９  クロック生成回路
４０  バッファ基板
４１１,４１２,４１３  コネクタ
４２０  コネクタ基板
４３０  近接センサ検出回路
４４０  第一切替器
４５０  第二切替器
４６０  ＴＴＬバッファ回路
４７０  出力ドライブ回路
５０  発射レバー調整装置
６０  発射レバー制御装置
７０  発射レバー操作装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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