(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
シート状の電解質体を挟んで陽極用のシート体および陰極用のシート体を重ね合わせた状態で柱状に巻回した柱状体と、当該柱状体を覆うケースと、前記各シート体にそれぞれ接続されて前記ケースの外部に引き出された陽極用の端子および陰極用の端子とを有するコンデンサが、搭載対象における陽極用の被接続部および陰極用の被接続部に前記各端子がそれぞれ接続されて搭載された状態において、極性が反転した状態で前記各被接続部と前記各端子とが接続された誤接続の有無を検査可能に構成された検査装置であって、
前記各端子が接続された前記各被接続部を介して前記各シート体に供給する検査用信号を生成する信号生成部と、前記各シート体のシート面に対向する対向状態で配置可能な検査用電極と、前記検査用信号が供給されているときに前記各シート体のいずれか一方と前記検査用電極との間の静電容量を測定する測定部と、当該測定部によって測定された前記静電容量の測定値に基づいて前記誤接続の有無を検査する検査部とを備え、
前記検査部は、前記対向状態で配置された前記検査用電極が前記信号生成部の第１出力部および第２出力部のいずれか一方に接続されると共に、前記各被接続部のいずれか一方が前記第１出力部および前記第２出力部の他方に接続され、かつ前記各被接続部の他方が前記第１出力部と同電位のガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値と予め規定された規定値との比較結果に基づいて前記誤接続の有無を検査する検査処理を実行する検査装置。
【請求項２】
前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第１出力部に接続されると共に、前記陰極用の被接続部が前記第２出力部に接続され、かつ前記陽極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値以下のときに前記誤接続が生じていると判定する請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第１出力部に接続されると共に、前記陽極用の被接続部が前記第２出力部に接続され、かつ前記陰極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値を超えるときに前記誤接続が生じていると判定する請求項１記載の検査装置。
【請求項４】
前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第２出力部に接続されると共に、前記陰極用の被接続部が前記第１出力部に接続され、かつ前記陽極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値以下のときに前記誤接続が生じていると判定する請求項１記載の検査装置。
【請求項５】
前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第２出力部に接続されると共に、前記陽極用の被接続部が前記第１出力部に接続され、かつ前記陰極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値を超えるときに前記誤接続が生じていると判定する請求項１記載の検査装置。
【請求項６】
シート状の電解質体を挟んで陽極用のシート体および陰極用のシート体を重ね合わせた状態で柱状に巻回した柱状体と、当該柱状体を覆うケースと、前記各シート体にそれぞれ接続されて前記ケースの外部に引き出された陽極用の端子および陰極用の端子とを有するコンデンサが、搭載対象における陽極用の被接続部および陰極用の被接続部に前記各端子がそれぞれ接続されて搭載された状態において、極性が反転した状態で前記各被接続部と前記各端子とが接続された誤接続の有無を検査する検査方法であって、
前記各シート体のシート面に対向する対向状態で配置した検査用電極を前記信号生成部の第１出力部および第２出力部のいずれか一方に接続すると共に、前記各被接続部のいずれか一方を前記第１出力部および前記第２出力部の他方に接続し、かつ前記各被接続部の他方を前記第１出力部と同電位のガード電位に接続した状態で、前記各端子が接続された前記各被接続部を介して前記各シート体に検査用信号を供給して前記各シート体のいずれか一方と前記検査用電極との間の静電容量を測定し、当該測定した静電容量の測定値と予め規定された規定値との比較結果に基づいて前記誤接続の有無を検査する検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、搭載対象に搭載されたコンデンサにおける各端子の誤接続の有無を検査する検査装置および検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の検査装置として、下記特許文献１において出願人が開示した極性判別装置が知られている。この極性判別装置は、回路基板に搭載された電解コンデンサの２つのリード端子の極性（各リード端子が正しく接続されているか否か）を判別可能に構成されている。この極性判別装置では、各リード端子が接続されている回路基板の各パターン（導体パターン）に対して、各リード端子が正規の状態で接続されているときの極性に合致する極性で直流電圧を加え、その際に電解コンデンサの金属ケースに接触させているプローブを介して取り出した電流を測定する。次いで、測定した電流の電流値に基づいて、電解コンデンサの各リード端子の極性（各リード端子が正しく接続されているか否か）を判別する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特公平４−８０５２９号公報（第３−４頁、第１−３図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、上記の極性判別装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、この極性判別装置では、電解コンデンサの金属ケースに接触させているプローブを介して取り出した電流を測定し、その電流値に基づいて、電解コンデンサの各リード端子の極性を判別している。しかしながら、近年、基板に実装される電解コンデンサの多くは、金属ケースの表面が絶縁性を有している（絶縁性材料によって表面がコーティングされている）ため、金属ケースに対してプローブを電気的に接続させることができないことがある。このため、上記の極性判別装置では、このような電解コンデンサの極性の判別が困難となっており、その改善が望まれている。
【０００５】
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、ケースの表面が絶縁性を有しているコンデンサについても、そのコンデンサにおける各端子の誤接続の有無を検査し得る検査装置および検査方法を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく請求項１記載の検査装置は、シート状の電解質体を挟んで陽極用のシート体および陰極用のシート体を重ね合わせた状態で柱状に巻回した柱状体と、当該柱状体を覆うケースと、前記各シート体にそれぞれ接続されて前記ケースの外部に引き出された陽極用の端子および陰極用の端子とを有するコンデンサが、搭載対象における陽極用の被接続部および陰極用の被接続部に前記各端子がそれぞれ接続されて搭載された状態において、極性が反転した状態で前記各被接続部と前記各端子とが接続された誤接続の有無を検査可能に構成された検査装置であって、前記各端子が接続された前記各被接続部を介して前記各シート体に供給する検査用信号を生成する信号生成部と、前記各シート体のシート面に対向する対向状態で配置可能な検査用電極と、前記検査用信号が供給されているときに前記各シート体のいずれか一方と前記検査用電極との間の静電容量を測定する測定部と、当該測定部によって測定された前記静電容量の測定値に基づいて前記誤接続の有無を検査する検査部とを備え、前記検査部は、前記対向状態で配置された前記検査用電極が前記信号生成部の第１出力部および第２出力部のいずれか一方に接続されると共に、前記各被接続部のいずれか一方が前記第１出力部および前記第２出力部の他方に接続され、かつ前記各被接続部の他方が前記第１出力部と同電位のガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値と予め規定された規定値との比較結果に基づいて前記誤接続の有無を検査する検査処理を実行する。
【０００７】
また、請求項２記載の検査装置は、請求項１記載の検査装置において、前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第１出力部に接続されると共に、前記陰極用の被接続部が前記第２出力部に接続され、かつ前記陽極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値以下のときに前記誤接続が生じていると判定する。
【０００８】
また、請求項３記載の検査装置は、請求項１記載の検査装置において、前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第１出力部に接続されると共に、前記陽極用の被接続部が前記第２出力部に接続され、かつ前記陰極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値を超えるときに前記誤接続が生じていると判定する。
【０００９】
また、請求項４記載の検査装置は、請求項１記載の検査装置において、前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第２出力部に接続されると共に、前記陰極用の被接続部が前記第１出力部に接続され、かつ前記陽極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値以下のときに前記誤接続が生じていると判定する。
【００１０】
また、請求項５記載の検査装置は、請求項１記載の検査装置において、前記検査部は、前記検査処理において、前記検査用電極が前記第２出力部に接続されると共に、前記陽極用の被接続部が前記第１出力部に接続され、かつ前記陰極用の被接続部が前記ガード電位に接続されている状態において測定された前記測定値が前記規定値を超えるときに前記誤接続が生じていると判定する。
【００１１】
また、請求項６記載の検査方法は、シート状の電解質体を挟んで陽極用のシート体および陰極用のシート体を重ね合わせた状態で柱状に巻回した柱状体と、当該柱状体を覆うケースと、前記各シート体にそれぞれ接続されて前記ケースの外部に引き出された陽極用の端子および陰極用の端子とを有するコンデンサが、搭載対象における陽極用の被接続部および陰極用の被接続部に前記各端子がそれぞれ接続されて搭載された状態において、極性が反転した状態で前記各被接続部と前記各端子とが接続された誤接続の有無を検査する検査方法であって、前記各シート体のシート面に対向する対向状態で配置した検査用電極を前記信号生成部の第１出力部および第２出力部のいずれか一方に接続すると共に、前記各被接続部のいずれか一方を前記第１出力部および前記第２出力部の他方に接続し、かつ前記各被接続部の他方を前記第１出力部と同電位のガード電位に接続した状態で、前記各端子が接続された前記各被接続部を介して前記各シート体に検査用信号を供給して前記各シート体のいずれか一方と前記検査用電極との間の静電容量を測定し、当該測定した静電容量の測定値と予め規定された規定値との比較結果に基づいて前記誤接続の有無を検査する。
【発明の効果】
【００１２】
請求項１記載の検査装置、および請求項６記載の検査方法では、各シート体のシート面に対向するように配置した検査用電極を信号生成部の第１出力部および第２出力部のいずれか一方に接続すると共に、各被接続部のいずれか一方を第１出力部および第２出力部の他方に接続し、かつ各被接続部の他方を第１出力部と同電位のガード電位に接続した状態で検査用信号を供給して各シート体のいずれか一方と検査用電極との間の静電容量を測定し、静電容量の測定値と規定値との比較結果に基づいてコンデンサの各端子と各被接続部との誤接続の有無を検査する。このため、この検査装置および検査方法によれば、コンデンサのケースにプローブを接触させることなく誤接続の有無を検査することができる。したがって、この検査装置および検査方法によれば、ケースの表面が絶縁性を有しているコンデンサについても、コンデンサにおける各端子と各被接続部との誤接続の有無を確実に検査することができる。
【００１３】
また、請求項２記載の検査装置では、検査処理において、検査用電極が第１出力部に接続されると共に、陰極用の被接続部が第２出力部に接続され、かつ陽極用の被接続部がガード電位に接続されている状態において測定された測定値が規定値以下のときに誤接続が生じていると判定する。このため、この検査装置によれば、測定値と規定値との比較が簡潔で、明確な比較結果を得ることができるため、誤接続が生じているか否かを正確かつ容易に確実に明確に判定することができる。
【００１４】
また、請求項３記載の検査装置では、検査処理において、検査用電極が第１出力部に接続されると共に、陽極用の被接続部が第２出力部に接続され、かつ陰極用の被接続部がガード電位に接続されている状態において測定された測定値が規定値を超えるときに誤接続が生じていると判定する。このため、この検査装置によれば、測定値と規定値との比較が簡潔で、明確な比較結果を得ることができるため、誤接続が生じているか否かを正確かつ容易に確実に明確に判定することができる。
【００１５】
また、請求項４記載の検査装置では、検査処理において、検査用電極が第２出力部に接続されると共に、陰極用の被接続部が第１出力部に接続され、かつ陽極用の被接続部がガード電位に接続されている状態において測定された測定値が規定値以下のときに誤接続が生じていると判定する。このため、この検査装置によれば、測定値と規定値との比較が簡潔で、明確な比較結果を得ることができるため、誤接続が生じているか否かを正確かつ容易に確実に明確に判定することができる。
【００１６】
また、請求項５記載の検査装置では、検査処理において、検査用電極が第２出力部に接続されると共に、陽極用の被接続部が第１出力部に接続され、かつ陰極用の被接続部がガード電位に接続されている状態において測定された測定値が規定値を超えるときに誤接続が生じていると判定する。このため、この検査装置によれば、測定値と規定値との比較が簡潔で、明確な比較結果を得ることができるため、誤接続が生じているか否かを正確かつ容易に確実に明確に判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】検査装置１の構成を示す構成図である。
【図２】回路基板１００およびコンデンサ２００の構成を示す断面図である。
【図３】コンデンサ２００を筒体２２１側から見た斜視図である。
【図４】コンデンサ２００を板体２２２側から見た斜視図である。
【図５】コンデンサ２００の分解斜視図である。
【図６】検査用電極１２を回路基板１００に配置した状態の斜視図である。
【図７】検査方法を説明する第１の説明図である。
【図８】検査方法を説明する第２の説明図である。
【図９】第２の構成および方法を説明する第１の説明図である。
【図１０】第２の構成および方法を説明する第２の説明図である。
【図１１】第３の構成および方法を説明する第１の説明図である。
【図１２】第３の構成および方法を説明する第２の説明図である。
【図１３】第４の構成および方法を説明する第１の説明図である。
【図１４】第４の構成および方法を説明する第２の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、検査装置および検査方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
最初に、検査装置１の構成について説明する。図１に示す検査装置１は、検査装置の一例であって、後述する検査方法に従い、例えば、図２に示す回路基板１００（搭載対象）に搭載されたコンデンサ２００（図３，４も参照）における陽極端子２１３ａ（陽極用の端子）および陰極端子２１３ｂ（陰極用の端子：以下、陽極端子２１３ａと陰極端子２１３ｂとを区別しないときには「端子２１３」ともいう）と、回路基板１００における陽極用ランド１０１ａ（陽極用の被接続部の一例）および陰極用ランド１０１ｂ（陰極用の被接続部の一例：以下、陽極用ランド１０１ａと陰極用ランド１０１ｂとを区別しないときには「ランド１０１」ともいう）とが極性が反転した状態で接続された「誤接続」の有無を検査可能に構成されている。
【００２０】
ここで、コンデンサ２００は、表面実装型（回路基板１００の表面に設けられているランド１０１に端子２１３を接続するタイプ）の電解コンデンサであって、図５に示すように、電解質シート２１２（シート状の電解質）を挟んで陽極アルミ箔２１１ａ（陽極用のシート体の一例）および陰極アルミ箔２１１ｂ（陰極用のシート体の一例：以下、陽極アルミ箔２１１ａと陰極アルミ箔２１１ｂとを区別しないときには「アルミ箔２１１」ともいう）を重ね合わせた状態で柱状に巻回した柱状体２１０と、柱状体２１０を覆うケース２２０と、陽極アルミ箔２１１ａに接続された陽極端子２１３ａと、陰極アルミ箔２１１ｂに接続された陰極端子２１３ｂとを備えて構成されている。また、ケース２２０は、上部が閉塞されて底部が開口されている金属製（一例として、アルミニウム製）の筒体２２１と、筒体２２１の底部に固定される非導電性を有する（例えば樹脂製の）板体２２２とを備えて構成されている。この場合、筒体２２１の表面は、絶縁性材料によって表面がコーティングされて、絶縁性を有している。また、各端子２１３は、ケース２２０の底部（板体２２２）を貫通してケース２２０の外部に引き出されて、板体２２２の下面で折り曲げられている（図４参照）。
【００２１】
また、このコンデンサ２００では、図５，７に示すように、陰極アルミ箔２１１ｂが陽極アルミ箔２１１ａよりも外周側に位置するように、柱状体２１０が構成されている。また、このコンデンサ２００は、図２に示すように、回路基板１００の表面に設けられている陽極用ランド１０１ａおよび陰極用ランド１０１ｂに、ケース２２０の底部（板体２２２の下面）に露出している各端子２１３をそれぞれ接続して例えば半田付けによって固定することで、回路基板１００に搭載される。
【００２２】
一方、検査装置１は、図１に示すように、信号生成部１１、検査用電極１２、移動機構１３、測定部１４、処理部１５およびプローブ１６を備えて構成されている。
【００２３】
信号生成部１１は、処理部１５の制御に従い、後述する検査処理において、コンデンサ２００の各端子２１３が接続されている各ランド１０１に接触している各プローブ１６および各ランド１０１を介して各アルミ箔２１１に供給する検査用信号Ｓとしての交流電圧を生成する。また、信号生成部１１には、図１に示すように、第１出力部Ｏｐ１、第２出力部Ｏｐ２および第３出力部Ｏｐ３が設けられている。この場合、第３出力部Ｏｐ３は、信号生成部１１の内部において、第１出力部Ｏｐ１と同電位（詳細には第１出力部Ｏｐ１の電位と同電位）のガード電位Ｇに設定されている（同図参照）。
【００２４】
検査用電極１２は、図６に示すように、一例として、円筒状に形成されて、コンデンサ２００を取り囲むように配置可能に構成されている。この場合、検査用電極１２がコンデンサ２００を取り囲んだ状態では、検査用電極１２の内面がコンデンサ２００の柱状体２１０を構成する各アルミ箔２１１のシート面（外面：図５において柱状体２１０の外側となる面）に対向する状態（以下、この状態を「対向状態」ともいう）となる。
【００２５】
移動機構１３は、処理部１５の制御に従って一対のプローブ１６を移動させることにより、各ランド１０１に各プローブ１６をそれぞれ接触させる。また、移動機構１３は、処理部１５の制御に従って検査用電極１２を移動させることにより、コンデンサ２００を取り囲むように検査用電極１２を配置する。
【００２６】
測定部１４は、処理部１５の制御に従い、検査用電極１２とコンデンサ２００における各アルミ箔２１１のいずれか一方との間の静電容量Ｃ（図７参照）を測定する測定処理を実行する。この場合、測定部１４は、測定処理において、アルミ箔２１１に検査用信号Ｓとしての交流電圧が供給されているときに、その交流電圧の供給によって信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１と第２出力部Ｏｐ２との間に流れる交流電流を検出し、その電流値と、交流電圧の電圧値と、交流電圧および交流電流の位相差に基づき、第１出力部Ｏｐ１に接続される検査用電極１２と、第１出力部Ｏｐ１とは異なる第２出力部Ｏｐ２に接続されるアルミ箔２１１（各アルミ箔２１１のいずれか一方）との間の静電容量Ｃを測定する。
【００２７】
処理部１５は、信号生成部１１、移動機構１３および測定部１４を制御する。また、処理部１５は、検査部として機能し、測定部１４によって測定された静電容量Ｃの測定値Ｃｍに基づき、回路基板１００に搭載されているコンデンサ２００における各端子２１３の誤接続の有無を検査する検査処理を実行する。
【００２８】
この場合、処理部１５は、検査処理において、対向状態で配置された検査用電極１２が信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１（第１出力部および第２出力部のいずれか一方の一例）に接続されると共に、陰極用ランド１０１ｂ（各ランド１０１のいずれか一方の一例）が信号生成部１１の第２出力部Ｏｐ２（第１出力部および第２出力部の他方）に接続され、かつ陽極用ランド１０１ａ（各ランド１０１の他方）が信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１と同電位に設定されたガード電位Ｇ（図１に示す第３出力部Ｏｐ３）に接続されている状態（図７参照）において測定された測定値Ｃｍが、予め規定された規定値Ｃｒ（例えば、０Ｆよりもやや大きい値）以下のときに誤接続が生じていると判定し、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒを超えているときには誤接続が生じていないと判定する。
【００２９】
次に、検査装置１を用いて、図２に示すように回路基板１００に搭載されているコンデンサ２００における各端子２１３の誤接続の有無を検査する検査方法について説明する。
【００３０】
まず、検査対象のコンデンサ２００が装着された回路基板１００を図外の保持具に保持させる。次いで、図外の操作部を操作して、検査の開始を指示する。これに応じて、処理部１５が、移動機構１３を制御して、陽極用ランド１０１ａおよび陰極用ランド１０１ｂに一対のプローブ１６をそれぞれ接触させる。この場合、陽極用ランド１０１ａに接触させるプローブ１６は、信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１と同電位に設定されたガード電位Ｇに接続され、陰極用ランド１０１ｂに接触させるプローブ１６は、信号生成部１１の第２出力部Ｏｐ２に接続されているものとする。
【００３１】
また、処理部１５は、移動機構１３を制御して、検査用電極１２を移動させ、図６に示すように、コンデンサ２００を取り囲むように検査用電極１２を配置させる。この場合、検査用電極１２は、信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１に接続されているものとする。
【００３２】
続いて、処理部１５は、信号生成部１１を制御して検査用信号Ｓとしての交流電圧を生成させる。この際に、各プローブ１６および各ランド１０１を介してコンデンサ２００のアルミ箔２１１に交流電圧が供給される。次いで、処理部１５は、測定部１４を制御して、測定処理を実行させる。
【００３３】
この測定処理では、測定部１４は、アルミ箔２１１に対する交流電圧の供給によって信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１と第２出力部Ｏｐ２との間に流れる交流電流を検出し、その電流値と、交流電圧の電圧値と、交流電圧および交流電流の位相差に基づき、第１出力部Ｏｐ１に接続される検査用電極１２と、第１出力部Ｏｐ１とは異なる第２出力部Ｏｐ２に接続されるアルミ箔２１１（各アルミ箔２１１のいずれか一方）との間の静電容量Ｃを測定する。
【００３４】
続いて、処理部１５は、検査処理を実行する。この検査処理では、処理部１５は、測定部１４によって測定された静電容量Ｃの測定値Ｃｍと予め規定された規定値Ｃｒ（例えば、０Ｆよりもやや大きい値）とを比較して、その比較結果（測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ以上か否か）に基づいてコンデンサ２００における各端子２１３の誤接続の有無を検査する。
【００３５】
ここで、図７に示すように、コンデンサ２００の陽極端子２１３ａが回路基板１００の陽極用ランド１０１ａに接続され、コンデンサ２００の陰極端子２１３ｂが回路基板１００の陰極用ランド１０１ｂに接続されている、つまり、コンデンサ２００の各端子２１３が正しい極性で各ランド１０１にそれぞれ接続されているとする（以下、この接続状態を「正接続状態」ともいう）。このときには、同図に示すように、陰極用ランド１０１ｂに接続された陰極端子２１３ｂを介して、陰極アルミ箔２１１ｂが信号生成部１１の第２出力部Ｏｐ２に接続されて、陽極用ランド１０１ａに接続された陽極端子２１３ａを介して、陽極アルミ箔２１１ａが信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１と同電位のガード電位Ｇに接続されることとなる。また、コンデンサ２００を取り囲むように配置されている検査用電極１２は、信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１に接続されている。なお、図７および後述する図８〜図１４では、各アルミ箔２１１を概略的に図示し、ケース２２０（筒体２２１）の図示を省略している。
【００３６】
また、図７に示すように、このコンデンサ２００では、陰極アルミ箔２１１ｂが最外周に位置している。このため、第２出力部Ｏｐ２に接続された陰極アルミ箔２１１ｂと第１出力部Ｏｐ１に接続された検査用電極１２とが、ガード電位Ｇに接続された陽極アルミ箔２１１ａを介することなく対向している。この結果、正接続状態で検査用信号Ｓが供給されたときには、同図に示すように、陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間の静電容量Ｃによって第２出力部Ｏｐ２に接続された陰極アルミ箔２１１ｂと第１出力部Ｏｐ１に接続された検査用電極１２との間に電流Ｉが流れ、測定部１４によって陰極アルミ箔２１１ｂ（各アルミ箔２１１のいずれか一方であって、検査用電極１２に接続されている第１出力部Ｏｐ１とは異なる第２出力部Ｏｐ２に接続されるアルミ箔２１１）と第１出力部Ｏｐ１に接続された検査用電極１２との間の静電容量Ｃが測定される。
【００３７】
このため、各端子２１３が正しい極性で各ランド１０１に接続された正接続状態のときには、測定部１４によって測定される静電容量Ｃの測定値Ｃｍが、陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間の静電容量Ｃに応じた値（０Ｆよりも大きな値）となる。したがって、処理部１５は、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ（例えば、０Ｆよりもやや大きい値）を超えているときには、誤接続が生じていないと判定する。
【００３８】
一方、図８に示すように、コンデンサ２００の陽極端子２１３ａが回路基板１００の陰極用ランド１０１ｂに接続され、コンデンサ２００の陰極端子２１３ｂが回路基板１００の陽極用ランド１０１ａに接続されている、つまり、コンデンサ２００の各端子２１３が逆極性（極性が反転した状態）で各ランド１０１に接続されているとする（以下、この接続状態を「誤接続状態」ともいう）。このときには、同図に示すように、陰極用ランド１０１ｂに接続された陽極端子２１３ａを介して、陽極アルミ箔２１１ａが信号生成部１１の第２出力部Ｏｐ２に接続されて、陽極用ランド１０１ａに接続された陰極端子２１３ｂを介して、陰極アルミ箔２１１ｂがガード電位Ｇに接続されることとなる。また、検査用電極１２は、信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１に接続されている。
【００３９】
この場合、この誤接続状態では、上記した正接続状態とは異なり、図８に示すように、第２出力部Ｏｐ２に接続された陽極アルミ箔２１１ａと第１出力部Ｏｐ１に接続された検査用電極１２との間に、第１出力部Ｏｐ１と同電位のガード電位Ｇに接続された陰極アルミ箔２１１ｂが存在している（陽極アルミ箔２１１ａと検査用電極１２とが直接対向してはいない）。この結果、誤接続状態で検査用信号Ｓが供給されたときには、陽極アルミ箔２１１ａと陰極アルミ箔２１１ｂとの間の静電容量により、第２出力部Ｏｐ２に接続された陽極アルミ箔２１１ａとガード電位Ｇに接続された陰極アルミ箔２１１ｂとの間に電流が流れ、陽極アルミ箔２１１ａと検査用電極１２との間（信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１と第２出力部Ｏｐ２との間）には電流が流れない（または、ほとんど流れない）状態となり、測定部１４によって測定される陽極アルミ箔２１１ａ（各アルミ箔２１１のいずれか一方であって、検査用電極１２に接続されている第１出力部Ｏｐ１とは異なる第２出力部Ｏｐ２に接続されるアルミ箔２１１）と検査用電極１２との間の静電容量Ｃの測定値Ｃｍが０Ｆ（または、ほぼ０Ｆ）となる。
【００４０】
このため、各端子２１３が逆極性（極性が反転した状態）で各ランド１０１に接続されている誤接続状態のときには、測定部１４によって測定される静電容量Ｃの測定値Ｃｍが、上記した規定値Ｃｒ以下となる。したがって、処理部１５は、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ以下のときには、誤接続が生じていると判定する。
【００４１】
この場合、この検査装置１および検査方法では、コンデンサ２００のケース２２０にプローブを接触させることなく、誤接続の有無を検査することが可能となっている。このため、この検査装置１および検査方法によれば、ケース２２０の表面が絶縁性を有しているコンデンサ２００についても、コンデンサ２００における各端子２１３と回路基板１００（搭載対象）のランド１０１（被接続部）との誤接続の有無を確実に検査することが可能となっている。
【００４２】
次いで、処理部１５は、結果を図外の表示部に表示させて検査処理を終了する。
【００４３】
このように、この検査装置１および検査方法では、各アルミ箔２１１のシート面に対向するように配置した検査用電極１２を信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１（第１出力部および第２出力部のいずれか一方）に接続すると共に、陰極用ランド１０１ｂ（各ランド１０１のいずれか一方）を信号生成部１１の第２出力部Ｏｐ２（第１出力部および第２出力部の他方）に接続し、かつ陽極用ランド１０１ａ（各ランド１０１の他方）を第１出力部Ｏｐ１と同電位のガード電位Ｇに接続した状態で検査用信号Ｓを供給して各アルミ箔２１１のいずれか一方と検査用電極１２との間の静電容量Ｃを測定し、その測定値Ｃｍと規定値Ｃｒとの比較結果に基づいてコンデンサ２００の各端子２１３と回路基板１００の各ランド１０１との誤接続の有無を検査する。このため、この検査装置１および検査方法によれば、コンデンサ２００のケース２２０にプローブを接触させることなく誤接続の有無を検査することができる。したがって、この検査装置１および検査方法によれば、ケース２２０の表面が絶縁性を有しているコンデンサ２００についても、コンデンサ２００における各端子２１３と回路基板１００のランド１０１との誤接続の有無を確実に検査することができる。
【００４４】
また、この検査装置１および検査方法では、検査処理において、検査用電極１２を第１出力部Ｏｐ１に接続すると共に、陰極用ランド１０１ｂを第２出力部Ｏｐ２に接続し、かつ陽極用ランド１０１ａをガード電位Ｇに接続している状態において測定した測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ以下のときに誤接続が生じていると判定する。このため、この検査装置１および検査方法によれば、測定値Ｃｍと規定値Ｃｒとの比較が簡潔で明確な比較結果を得ることができるため、誤接続が生じているか否かを正確かつ容易に確実に明確に判定することができる。
【００４５】
なお、検査装置、検査方法および測定対象は、上記の構成、方法および測定対象に限定されない。例えば、検査用電極１２を信号生成部１１の第１出力部Ｏｐ１に接続すると共に、陰極用ランド１０１ｂを信号生成部１１の第２出力部Ｏｐ２に接続し、かつ陽極用ランド１０１ａをガード電位Ｇ（第１出力部Ｏｐ１と同電位）に接続して検査処理を実行する例について上記したが、検査用電極１２および各ランド１０１と各電位（第２出力部Ｏｐ２、第１出力部Ｏｐ１およびガード電位Ｇ）との接続形態を次のように規定する構成および方法を採用することもできる。
【００４６】
まず、図９に示すように、検査用電極１２を第１出力部Ｏｐ１に接続すると共に、陽極用ランド１０１ａを第２出力部Ｏｐ２に接続し、かつ陰極用ランド１０１ｂをガード電位Ｇに接続する構成および方法を採用することができる。この場合、同図に示すように、正接続状態のときには、第２出力部Ｏｐ２に接続された陽極アルミ箔２１１ａと第１出力部Ｏｐ１に接続された検査用電極１２との間に、ガード電位Ｇに接続された陰極アルミ箔２１１ｂが存在しているため、陽極アルミ箔２１１ａと陰極アルミ箔２１１ｂとの間の静電容量により、陽極アルミ箔２１１ａと陰極アルミ箔２１１ｂとの間に電流が流れ、陽極アルミ箔２１１ａ（第２出力部Ｏｐ２）と検査用電極１２（第１出力部Ｏｐ１）との間には電流が流れない状態となる。このため、測定部１４によって測定される第２出力部Ｏｐ２に接続された陽極アルミ箔２１１ａと第１出力部Ｏｐ１に接続された検査用電極１２との間の静電容量Ｃの測定値Ｃｍが０Ｆ（または、ほぼ０Ｆ）となる。
【００４７】
一方、図１０に示すように、誤接続状態のときには、第２出力部Ｏｐ２に接続された陰極アルミ箔２１１ｂと第１出力部Ｏｐ１に接続された検査用電極１２とが、ガード電位Ｇに接続された陽極アルミ箔２１１ａを介することなく対向しているため、陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間の静電容量Ｃによって陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間に電流Ｉが流れ、測定部１４によって測定される静電容量Ｃの測定値Ｃｍが、陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間の静電容量Ｃに応じた値となる。したがって、処理部１５は、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ以下のときには、誤接続が生じていない（正接続状態である）と判定し、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒを超えているときには、誤接続が生じていると判定する。
【００４８】
また、図１１に示すように、検査用電極１２を第２出力部Ｏｐ２に接続すると共に、陽極用ランド１０１ａをガード電位Ｇに接続し、かつ陰極用ランド１０１ｂを第１出力部Ｏｐ１に接続する構成および方法を採用することができる。この場合、同図に示すように、正接続状態のときには、第２出力部Ｏｐ２に接続された検査用電極１２と第１出力部Ｏｐ１に接続された陰極端子２１３ｂとが、ガード電位Ｇに接続された陽極アルミ箔２１１ａを介することなく対向しているため、陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間の静電容量Ｃによって検査用電極１２と陰極アルミ箔２１１ｂとの間に電流Ｉが流れ、測定部１４によって測定される静電容量Ｃの測定値Ｃｍが、陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間の静電容量Ｃに応じた値となる。
【００４９】
一方、図１２に示すように、誤接続状態のときには、第２出力部Ｏｐ２に接続された検査用電極１２と第１出力部Ｏｐ１に接続された陽極アルミ箔２１１ａとの間に、ガード電位Ｇに接続された陰極アルミ箔２１１ｂが存在しているため、検査用電極１２と陰極アルミ箔２１１ｂとの間の静電容量Ｃにより、検査用電極１２と陰極アルミ箔２１１ｂとの間に電流が流れ、検査用電極１２（第２出力部Ｏｐ２）と陽極アルミ箔２１１ａ（第１出力部Ｏｐ１）との間には電流が流れない状態となる。このため、測定部１４によって測定される第１出力部Ｏｐ１に接続された陽極アルミ箔２１１ａと第２出力部Ｏｐ２に接続された検査用電極１２との間の測定値Ｃｍが０Ｆ（または、ほぼ０Ｆ）となる。したがって、処理部１５は、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ以下のときには、誤接続が生じていると判定し、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒを超えているときには、誤接続が生じていない（正接続状態である）と判定する。
【００５０】
また、図１３に示すように、検査用電極１２を第２出力部Ｏｐ２に接続すると共に、陽極用ランド１０１ａを第１出力部Ｏｐ１に接続し、かつ陰極用ランド１０１ｂをガード電位Ｇに接続する構成および方法を採用することができる。この場合、同図に示すように、正接続状態のときには、第２出力部Ｏｐ２に接続された検査用電極１２と第１出力部Ｏｐ１に接続された陽極アルミ箔２１１ａとの間に、ガード電位Ｇに接続された陰極アルミ箔２１１ｂが存在しているため、検査用電極１２と陰極アルミ箔２１１ｂとの間の静電容量Ｃにより、検査用電極１２と陰極アルミ箔２１１ｂとの間に電流が流れ、検査用電極１２（第２出力部Ｏｐ２）と陽極アルミ箔２１１ａ（第１出力部Ｏｐ１）との間には電流が流れない状態となる。このため、測定部１４によって測定される第１出力部Ｏｐ１に接続された陽極アルミ箔２１１ａと第２出力部Ｏｐ２に接続された検査用電極１２との間の測定値Ｃｍが０Ｆ（または、ほぼ０Ｆ）となる。
【００５１】
一方、図１４に示すように、誤接続状態のときには、第２出力部Ｏｐ２に接続された検査用電極１２と第１出力部Ｏｐ１に接続された陰極端子２１３ｂとが、ガード電位Ｇに接続された陽極アルミ箔２１１ａを介することなく対向しているため、検査用電極１２と陰極アルミ箔２１１ｂとの間の静電容量Ｃによって検査用電極１２（第２出力部Ｏｐ２）と陰極アルミ箔２１１ｂ（第１出力部Ｏｐ１）との間に電流Ｉが流れ、測定部１４によって測定される静電容量Ｃの測定値Ｃｍが、陰極アルミ箔２１１ｂと検査用電極１２との間の静電容量Ｃに応じた値となる。したがって、処理部１５は、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ以下のときには、誤接続が生じていない（正接続状態である）と判定し、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒを超えているときには、誤接続が生じていると判定する。
【００５２】
上記した各接続形態で検査用電極１２および各ランド１０１と各電位とを接続して検査処理を実行する各構成および方法においても、コンデンサ２００のケース２２０にプローブを接触させることなく誤接続の有無を検査することができるため、ケース２２０の表面が絶縁性を有しているコンデンサ２００についても、コンデンサ２００における各端子２１３と回路基板１００のランド１０１との誤接続の有無を確実に検査することができる。
【００５３】
また、筒状の検査用電極１２を用いる例について上記したが、検査用電極１２の形状は円筒状に限定されない。例えば、断面が多角形の筒状をなす検査用電極や、筒を縦割りにした形状（樋状）の検査用電極を用いる構成および方法を採用することもできる。また、板状の検査用電極を用いる構成および方法を採用することもできる。
【００５４】
また、測定値Ｃｍと規定値Ｃｒとの比較結果として、測定値Ｃｍが規定値Ｃｒ以下のとき（または、規定値Ｃｒを超えるとき）に誤接続が生じていると判定する例について上記したが、例えば、規定値Ｃｒに対する測定値Ｃｍの比率が予め決められた値以上（または、以下）のときに誤接続が生じていると判定する構成および方法を採用することもできる。
【００５５】
また、ケース２２０の表面が絶縁性を有しているコンデンサ２００を検査対象とした例について上記したが、ケース２２０の表面が絶縁性を有していないコンデンサ２００についても、上記した例と同様にして誤接続の有無を検査することができる。
【００５６】
また、交流電圧を検査用信号Ｓとして用いる例について上記したが、直流信号（例えば、直流定電流）を検査用信号Ｓとして用いる構成および方法を採用することもできる。この場合、直流定電流を用いる構成では、例えば、各アルミ箔２１１のいずれか一方および検査用電極１２に直流定電流を供給して、両者間（各アルミ箔２１１のいずれか一方と検査用電極１２との間）の電圧を測定し、直流定電流の供給開始からの時間経過に伴う電圧の変化に基づいて両者間の静電容量Ｃを測定することで（特開２０１０−５４２２９号公報参照）、上記した各効果を実現することができる。
【００５７】
また、一般的に、回路基板１００には、形状（外径や高さ）が互いに異なる複数種類のコンデンサ２００が搭載されている。このため、コンデンサ２００の形状に合わせた複数種類の検査用電極１２を備え、検査対象のコンデンサ２００の形状に応じて検査用電極１２を交換して使用する構成および方法を採用することもできる。また、形状（内径や高さ）を調整（変更）可能な構造の検査用電極１２を備え、検査対象のコンデンサ２００の形状に応じて検査用電極１２の形状を調整する構成および方法を採用することもできる。
【符号の説明】
【００５８】
１  検査装置
１１  信号生成部
１２  検査用電極
１４  測定部
１５  処理部
２００  コンデンサ
２１０  柱状体
２１１ａ  陽極アルミ箔
２１１ｂ  陰極アルミ箔
２１２  電解質シート
２１３ａ  陽極端子
２１３ｂ  陰極端子
２２０  ケース
２２１  筒体
２２２  板体
１００  回路基板
１０１ａ  陽極用ランド
１０１ｂ  陰極用ランド
Ｃｍ  測定値
Ｃｒ  規定値
Ｇ  ガード電位
Ｏｐ１  第１出力部
Ｏｐ２  第２出力部
Ｓ  検査用信号
【図１】
0006347702.tif 000002
【図２】
0006347702.tif 000003
【図３】
0006347702.tif 000004
【図４】
0006347702.tif 000005
【図５】
0006347702.tif 000006
【図６】
0006347702.tif 000007
【図７】
0006347702.tif 000008
【図８】
0006347702.tif 000009
【図９】
0006347702.tif 000010
【図１０】
0006347702.tif 000011
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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