(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
結像光学系と、
前記結像光学系の一部を構成する補正レンズを保持する可動部材と、
前記可動部材を光軸と垂直な平面上で移動可能に支持するベース部材と、
前記ベース部材に対して前記可動部材をそれぞれ異なる方向に駆動する複数の補正駆動手段と、
光軸と垂直な平面上での前記可動部材の位置を検出する位置検出手段と、を有するブレ補正装置と、
前記ベース部材に保持され、係止ピンと、前記係止ピンを前記可動部材に設けられた係止孔に緩挿する係止ピン駆動手段と、を有するロック機構と、
前記係止ピンによるロック動作を制御するロック制御回路と、
前記係止ピンを前記係止孔に緩挿し、前記可動部材を所定方向に駆動させて前記係止ピンと前記係止孔とを接触させることで検出される、光軸と垂直な平面上の前記係止ピンの接触座標と、
前記係止ピンの駆動バラツキと前記可動部材の検出精度から算出される最大相対誤差量、から求められる係止ピン緩挿座標を記録するメモリ手段と、を有し、
前記補正駆動手段は、前記ブレ補正装置内の光軸と垂直な平面上に３つ配置され、
前記ブレ補正装置は、前記可動部材の可動範囲を規制する３つの規制部を有し、
前記規制部のうち１つは、前記可動部材を光軸と垂直な平面上の、光軸を中心としたラジアル方向にのみ規制する支点規制部であり、
前記支点規制部は光軸を中心とした、光軸と垂直な平面上の前記ロック機構の略対向位置に配置されることを特徴とするレンズ鏡筒。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はデジタルスチルカメラなどに用いられるレンズ鏡筒に関し、特にレンズ鏡筒内に搭載される、被写体像のブレを補正するブレ補正装置のロック機構を正常に作動させるためのブレ補正光学系の位置調整に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、カメラの手持ち撮影の際には、特に焦点距離の長いレンズを使用した場合やシャッター速度を遅くした場合に手振れによる写真像ブレが生じやすく、写真の画質を損なってしまう。そこで、従来から撮影者の手振れによる画質の損失を防止する手段として各種のブレ補正装置が提案されている。
【０００３】
これらブレ補正装置の一般的な構成は、結像光学系の一部を構成する補正レンズと、補正レンズを駆動するブレ補正手段と、ブレ補正手段の動作を制御する制御手段からなり、手振れ等に起因するカメラの振動を打ち消す方向に補正レンズを駆動することで、ブレ補正を行うようになっている。
【０００４】
このようなブレ補正装置は、ブレ補正の非起動時において、補正光学手段を固定するためのロック機構を有しているものが公知である。ロック機能を設けることで、レンズ鏡筒の持ち運びの際にレンズ鏡筒と補正レンズとが衝突し、騒音、破損が発生する問題を解消することができる。ロック機構は、主に２種類の構成で設けられている。
【０００５】
一方は光軸を中心として、所定角度回動することによって、ロック機構の内周面に補正レンズを固定するリング状のロック機構である。この種のロック機構は、例えば特許文献１に開示されている。
【０００６】
他方は、補正光学手段に穿孔部を有し、ブレ補正装置内の自由移動をしない固定部材から、棒状のロック部材を緩挿することで固定を実現するロック機構である。この種のロック機構は、例えば特許文献２に開示されている。
【０００７】
ところでデジタルスチルカメラに用いられるレンズ鏡筒は、一般的に小型化、静音化が要求されている。前者のロック機構では部品数が増加し、また角度回転を行うために強力なアクチュエータを搭載する必要がある。このようなことは、レンズ鏡筒の大型化や騒音発生の原因となってしまい望ましくない。従って、昨今では後者のロック機能が採用されつつある。
【０００８】
しかし、後者のロック機構は、穿孔部と棒状のロック部材とが少しのずれを起こしただけで緩挿が失敗し、ロック動作が実現できない恐れがある。従って確実なロック動作を行うために、穿孔部と棒状のロック部材の位置関係について、調整を行う必要がある。このような位置調整は、一般的に製品を製造する際の一工程として行われる。
【０００９】
後者のロック機構におけるブレ補正光学系の位置調整工程について開示されているものとして、例えば特許文献３がある。特許文献３に開示された発明によれば、移動することによりブレを補正するブレ補正光学系と、前記ブレ補正光学系を駆動するブレ補正アクチュエータと、前記ブレ補正光学系と一体に設けられた第１の係止部と、前記第１の係止部と可動代をもつ係合可能範囲内で係合し、前記ブレ補正光学系を固定又は前記ブレ補正光学系の移動を制限する第２の係止部と、前記第１の係止部と前記第２の係止部とが係合可能な前記係合可能範囲の略中心位置を記憶する記憶部と、前記第１の係止部と前記第２の係止部とが係合するときに、前記記憶部に記憶されている位置に基づいて、前記ブレ補正アクチュエータの駆動を制御する制御部と、を含む構成としている。
【００１０】
また特許文献３によれば、穿孔部と棒状のロック部材とを一端において接触させその位置を第一位置として記憶し、また他端において接触をさせその位置を第二位置として記憶させる。記憶された第一位置と第二位置をもとに穿孔部の中心位置を演算する。
【００１１】
上記位置調整工程によれば、ブレ補正光学系を所望位置にロックするときに、また、ロック解除するときに、大型の専用アクチュエータを必要とせず、小スペース、省電力で、しかも、短い時間で確実なロック動作及びロック解除動作を行なうことができる、としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開平１０−２６７８２号公報
【特許文献２】特開平６−６７２７４号公報
【特許文献３】特開２００２−０９９０１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、特許文献３に示すような構成の位置調整工程では、穿孔部と棒状のロック部材との接触を２点で行わなければならず、位置調整工程に要する時間の増加の原因となっていた。
【００１４】
また、特許文献３に示すような構成の位置調整工程では、第一位置と第二位置から中心位置を計算する必要がある。従って中心位置を計算する工程を製造工程に追加する必要があり、製造工程が煩雑化する原因となっていた。
【００１５】
本発明は、係止ピン緩挿位置を求める工程を少なくし、処理を単純化することで、製造工程の高速化を可能とした上、ブレ補正装置の確実なロック動作を行うことのできるレンズ鏡筒を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
請求項１に示す発明は、結像光学系と、前記結像光学系の一部を構成する補正レンズを保持する可動部材と、前記可動部材を光軸と垂直な平面上で移動可能に支持するベース部材と、前記ベース部材に対して前記可動部材をそれぞれ異なる方向に駆動する複数の補正駆動手段と、光軸と垂直な平面上での前記可動部材の位置を検出する位置検出手段と、を有するブレ補正装置と、前記ベース部材に保持され、係止ピンと、前記係止ピンを前記可動部材に設けられた係止孔に緩挿する係止ピン駆動手段と、を有するロック機構と、前記係止ピンによるロック動作を制御するロック制御回路と、前記係止ピンを前記係止孔に緩挿し、前記可動部材を所定方向に駆動させて前記係止ピンと前記係止孔とを接触させることで検出される、光軸と垂直な平面上の前記係止ピンの接触座標と、前記係止ピンの駆動バラツキと前記可動部材の検出精度から算出される最大相対誤差量、から求められる係止ピン緩挿座標を記録するメモリ手段と、を有し、前記補正駆動手段は、前記ブレ補正装置内の光軸と垂直な平面上に３つ配置され、前記ブレ補正装置は、前記可動部材の可動範囲を規制する３つの規制部を有し、前記規制部のうち１つは、前記可動部材を光軸と垂直な平面上の、光軸を中心としたラジアル方向にのみ規制する支点規制部であり、前記支点規制部は光軸を中心とした、光軸と垂直な平面上の前記ロック機構の略対向位置に配置されることを特徴とするレンズ鏡筒である。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、係止ピン緩挿位置を求める工程を少なくし、処理を単純化することで、製造工程の高速化を可能とした上、ブレ補正装置の確実なロック動作を行うことのできるレンズ鏡筒を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の一実施形態であるところのレンズ鏡筒を示したブロック図である。
【図２】像面側から見たブレ補正装置の斜視図である。
【図３】ブレ補正装置の展開斜視図である。
【図４】像面側から見たブレ補正装置の概略図である。
【図５】可動部材のロック時の可動範囲の概略図である。（i）係止ピンによって規制される係止孔を示した概略図である。（ii）ブレ補正装置がロックされた際の、可動部材の中心点の可動範囲を示した概略図である。（iii）支点とそれを規制する支点規制部について示した概略図である。
【図６】像面側から見た、可動部材のロック時の可動範囲の概略図である。
【図７】緩挿座標を求める際の概略図である。
【図８】駆動バラツキについての概略図である。
【図９】最大相対誤差量を示した概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
本発明のレンズ鏡筒３００について、図を用いて説明する。図１は本発明のレンズ鏡筒３００の一実施形態を示したブロック図である。
【００２１】
レンズ鏡筒３００は概ね円筒形状であり、内部にブレ補正装置１００を備えている。このブレ補正装置１００はレンズ鏡筒３００の結像光学系の一部を構成している。また、ブレ補正装置のベース部材１２１は、ロック状態にあるブレ補正装置１００の補正レンズ１１１の光軸が結像光学系の光軸と一致するように、レンズ鏡筒３００内に固定されている。
【００２２】
また、レンズ鏡筒３００は、ブレ補正装置１００及びレンズＣＰＵ３０１と接続されたロック制御回路３１１が備えられている。レンズＣＰＵにはメモリ手段３１２が備えられ、ブレ補正装置１００のロック動作時には、このメモリ手段３１２から予め記録された情報が読み出される。
【００２３】
図２は像面側から見たブレ補正装置１００の斜視図であり、図３はブレ補正装置１００の展開斜視図である。ブレ補正装置１００は概ね円盤形状の外径を有していて、装置に加わる振動に起因する像ぶれを補正する補正レンズ１１１と、補正レンズを保持する可動部材１１２と、ブレ補正装置１００のベースとなるベース部材１２１と、補正レンズ１１１の光軸と直交する平面において光軸を中心とする円周上に１２０°間隔で設けられた補正駆動手段１６１と、ベース部材１２１に固定される回路基板１３１等を備えている。
【００２４】
可動部材１１２は、補正レンズ１１１、永久磁石１１３、バックヨーク１１４から構成されており、係止孔２０１が備えられている。また、可動部材１１２には可動ヨーク１１５が設けられ、ベース部材１２１には回路基板１３１が設けられる。回路基板１３１に実装される各コイル１３２の裏面側には、不図示のホール素子がそれぞれ実装されている。ホール素子は可動部材１１２の移動によって発生する磁束密度の変化を検知することで、可動部材１１２の位置検出を行う。また、可動部材１１２はベース部材１２１に対し緩挿される２つの突起部１１６と１つの突起部を持ち、１つの突起部はラジアル方向にのみ規制される支点１１７としての機能を持つ。
【００２５】
回路基板１３１を介してベース部材１２１側に固定されるコイル１３２は、可動部材１１２を介して光軸と直交する方向に移動可能な可動ヨーク１１５と永久磁石１１３とに挟まれるような構成となっている。これにより、可動部材１１２を光軸と垂直な平面上で駆動するための駆動力を発生する補正駆動手段１６１が構成される。この補正駆動手段１６１は、補正レンズ１１１の光軸を中心とする円周上に１２０°間隔で設けられる。可動部材１１２は３つの補正駆動手段１６１により発生する力の向きによって、ベース部材１２１に対して並進移動する。それら３つの補正駆動手段１６１による駆動を適切に組み合わせることによって、任意の位置に可動部材１１２を移動させることが可能である。
【００２６】
また、可動部材１１２とベース部材１２１の間には、補正レンズ１１１の光軸と直交する平面において光軸を中心とする円周上に１２０°間隔で設けられた３つの鋼球１４１と、その受け皿が存在する。この鋼球の存在によって可動部材１１２はベース部材１２１に対し、光軸と垂直な平面上を円滑に移動することができる。
【００２７】
図４は像面側から見たブレ補正装置１００の概略図である。ベース部材１２１は可動部材１１２の突起部１１６が挿入された状態であり、可動範囲を規制する３つの規制部を有する。内２つは略楕円状の規制部２１１であり、１つは長穴形状の支点規制部２１２である。長穴形状の支点規制部２１２は可動部材１１２を光軸と垂直な平面上の、光軸を中心としたラジアル方向の前後にのみ規制する。また、ブレ補正装置１００は３つの補正駆動手段１６１ｘ、１６１ｙ、１６１ｚを備え、それぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向へと可動部材１１２を並進移動させる。２つの規制部２１１と支点規制部２１２の計３つの規制部、３つの補正駆動手段１６１はそれぞれベース部材１２１上に１２０°間隔で設けられているが、互いに重なることなく配置されている。
【００２８】
またベース部材１２１はロック機構１５１を有し、ロック機構１５１は光軸を中心とした光軸と垂直な平面上の、支点規制部２１２から見て略対向位置に配置される。ロック機構１５１はロック制御回路３１１からの命令により、係止ピン２０２を光軸方向に係止孔２０１に緩挿することでロック動作を実現する。この際、係止ピン２０２は不図示の係止ピン駆動手段によって移動する。係止ピン駆動手段は一般的に小型のアクチュエータであるが、その種類は限定されない。
【００２９】
図５、図６、図７、図８及び図９は工場出荷時において、係止孔２０１内部の係止ピン緩挿座標を求める方法を示したものである。緩挿座標を求めるには、まず係止ピン２０２と係止孔２０１の接点座標を検出し、次いで接点座標から緩挿座標を求める。
【００３０】
まず係止ピン２０２と係止孔２０１の接点座標を検出する方法を示す。図５は可動部材１１２のロック時の可動範囲を図示した概略図である。ブレ補正装置１００のロック時において、可動部材１１２の可動範囲は係止ピン２０２によって規制される。図５（i）は、係止ピン２０２によって規制される係止孔２０１について示したものである。係止孔２０１の中心点の取り得る範囲の外形は円形状となる。係止孔２０１の可動範囲は前後方向に実線矢印で、左右方向に点線矢印で示されている。
【００３１】
図５（iii）は、支点１１７とそれを規制する支点規制部２１２について示したものである。支点１１７は支点規制部２１２によって規制されており、前後方向にのみ移動する。この際、支点１１７の前後への可動範囲は、係止孔２０１の前後方向への可動範囲と一致する。また、左右方向へは支点規制部２１２によって規制されることで移動することができない。
【００３２】
図５（ii）は、ブレ補正装置１００がロック時の、可動部材１１２の中心点２１３の可動範囲を示したものである。可動部材１１２の中心点２１３は、前後方向には係止ピン２０２によって規制され、係止孔２０１の前後方向への可動範囲と一致する。また、左右方向へは係止ピン２０２と支点規制部２１２によって規制され、その可動範囲は前後方向の略半分となる。従って、可動部材１１２の中心点２１３の可動範囲は略楕円形状となる。
【００３３】
可動部材１１２の中心点２１３の左右方向への可動範囲が略半分となるのは、左右方向への可動が支点１１７を軸としたスイング運動となるためである。ロック機構１５１と支点１１７の支点規制部２１２は光軸を中心とした光軸と垂直な平面上において略対向位置に配置される。支点１１７を軸としたとき、可動部材１１２の中心点２１３までの距離は、係止孔２０１までの距離の略半分となる。従って同様に、可動部材１１２の中心点２１３の左右への可動範囲は、係止孔の可動範囲の略半分となる。
【００３４】
図６は、像面側から見た、可動部材のロック時の可動範囲の概略図である。各軸駆動時とは、各軸の補正駆動手段１６１ｘ、１６１ｙ、１６１ｚを動作させた際の、可動部材１１２の移動する軸を示している。係止ピン２０２と係止孔２０１の接点座標の検出は、略楕円の短辺方向における１点で行うことにより、可動部材１１２の中心点２１３を移動させる距離を最短とすることができる。 また、長辺方向への移動はＸ軸補正駆動手段１６１ｘ及びＺ軸補正駆動手段１６１ｚを駆動させる必要があるが、短辺方向へはＹ軸補正駆動手段１６１ｙのみの駆動でよい。
【００３５】
接点の検出は製造時の位置調整工程において行われる。係止孔２０１へ係止ピン２０２を緩挿し、補正駆動手段１６１によって略楕円の短辺へと移動させる。位置座標の検出はホール素子で行われ、位置座標に対応したホール素子出力がメモリ手段３１２へと保存される。
【００３６】
次いで接点座標から緩挿座標を求める方法を示す。図７は緩挿座標を求める際の概略図である。黒点で示されているのは可動部材の中心点２１３であり、その可動限界が可動部材の中心点の取り得る軌跡２１４として示されている。緩挿座標は、接点座標から最大相対誤差量分だけＹ軸に沿って中心方向へ係止孔２０１を含む可動部材１１２を移動させた座標となる。最大相対誤差量は、係止ピン２０２の駆動バラツキと可動部材１１２の検出精度から求められる。
【００３７】
ロック機構を駆動する際、ある位置に係止ピン２０２を緩挿しようとしても、想定された挙動から多少の誤差が発生する。つまり光軸と直交する平面においてズレが生じてしまう。最大相対誤差量とはロック機構の駆動において取りうる、最大の誤差量である。接触座標から最大相対誤差量だけ可動部材１１２を移動させれば、ロック動作の際にどのような誤差が発生しても、係止ピン２０２と係止孔２０１が接触することなく確実なロック動作を行うことができる。
【００３８】
図８は駆動バラツキについて図示した概略図である。駆動バラツキは機械的な構造から発生する誤差である。図８の実線で示されているのが理論的な係止ピンの緩挿状態であり、破線で示されているのが最大駆動バラツキ状態となる。
【００３９】
係止ピン２０２は理論的には光軸と平行に緩挿されるが、現実には多少のバラツキを持って緩挿される。これは部品設計時に摩擦力、製造誤差等を考慮し、パーツ間に予めある程度の隙間を持たせているからである。どの程度の傾斜が発生するかは、部品設計の情報から算出可能である。この最大駆動バラツキ状態の、光軸と垂直な平面上に投影した際の距離が、駆動バラツキである。
【００４０】
検出精度は検出上の構造から発生する誤差である。可動部材１１２の位置について、ホール素子によってアナログデータとして検出された位置座標は、Ａ／Ｄ変換によってデジタルデータへと変換される。しかし、Ａ／Ｄ変換の理論上、アナログデータを完璧な形でデジタルデータへと変換することは不可能である。従って、検出過程でＡ／Ｄ変換を行う以上、常に一定の誤差が発生する。この際の誤差が、可動部材１１２の検出精度である。
【００４１】
本実施例では係止ピン２０２の駆動バラツキと可動部材１１２の検出精度は、部品設計の段階で決定される数値である。また、それらから求められる最大相対誤差量も同様である。つまり、係止ピン２０２と係止孔２０１の接触する点が１点測定されれば、最大相対誤差量分だけ中心方向へ可動部材１１２を移動させることで緩挿座標を求めることが可能となる。ここで、係止ピン２０２が係止孔２０１へと接触する事態を発生させないために、適切な接触点を選択する必要がある。その最適な接触点は、略楕円の短辺方向における１点である。
【００４２】
図９は最大相対誤差量を示した概略図であり、略楕円の短辺方向における１点が、長辺方向における１点より、接点として適していることを説明するための図である。内側の略楕円は、可動部材の中心点２１３が取り得る軌跡(以下、外側軌跡とする)２１４から、略楕円の接線垂直内側方向へ最大相対誤差量分だけ移動させた際の可動部材の中心点２１３の取り得る軌跡（以下、内側軌跡とする）２１５である。従って、可動部材の中心点２１３が内側軌跡２１５の内部に存在する限り、ロック動作は確実に行われる。
【００４３】
斜線部分は外側軌跡２１４と内側軌跡２１５に挟まれた領域２１６を示している。この領域２１６内に可動部材の中心点２１３が存在するということは、実際のロック動作時に、最大相対誤差が発生することで可動部材の中心点２１３が外側軌跡２１４以内の領域から逸脱しうるということである。つまり、ロック動作が行えない可能性があることを意味する。
【００４４】
ここで、係止ピン２０２と係止孔２０１を１点で接触を行う際には、接触位置のバラツキを考慮する必要がある。例えば楕円の短辺方向における接触点２１７での位置検出を行おうとしたとき、接触位置のバラツキが発生すると可動部材の中心点２１３は短辺方向における接触点２１７を外れ、外側軌跡２１４上のいずれかの位置を取る。このような接触位置のバラツキによって、ロック動作は不安定なものとなる。これは長辺方向の１点で接触を行った場合でも同様である。このとき、略楕円の短辺方向における接触点２１７での位置検出と、略楕円の長辺方向における接触点２１８での位置検出では、接触位置のバラツキ発生時の状況に違いが表れる。
【００４５】
略楕円の短辺方向における接触点２１７においての接触位置のバラツキでは、可動部材の中心点２１３を最大相対誤差量分だけ移動させたとき、極めて重大な接触位置のバラツキが発生しない限り、ほぼ内側軌跡２１５上に乗る。しかし、略楕円の長辺方向における接触点２１８においての接触位置のバラツキでは、可動部材の中心点２１３を最大相対誤差量分だけ移動させたとき、少しの接触位置のバラツキで領域２１６に移動してしまう。
【００４６】
これは、略楕円の短辺方向における接触点２１７と略楕円の長辺方向における接触点２１８では、その点における内側軌跡の曲率が違うことに起因する。
【００４７】
接触位置のバラツキが起きた場合の、可動部材の中心点２１３の移動方向について説明する。略楕円の短辺方向における接触点２１７で、接触位置のバラツキが発生せず正確な可動部材の中心点２１３の移動が行われたとき、その方向はＹ軸内側方向となる。同様に、略楕円の長辺方向における接触点２１８での移動方向は、Ｙ軸直交内側方向となる。接触位置のバラツキは意図しないものであり、それによって移動方向が変わることはない。従って接触位置のバラツキが発生をしても、可動部材の中心点２１３は予め定められた方向であるＹ軸内側方向、あるいはＹ軸直交内側方向へ移動する。
【００４８】
略楕円の短辺方向における接触点２１７での接触位置のバラツキが発生する場合、バラツキ位置からＹ軸内側方向への移動が行われる。この場合では、略楕円の短辺方向における接触点２１７での曲率が小さいため、可動部材の中心点２１３はほぼ内側軌跡２１５上に乗る。
【００４９】
一方、略楕円の長辺方向における接触点２１８で接触位置のバラツキが発生する場合、同様にバラツキ位置からＹ軸直交内側方向への移動が行われる。その結果、楕円の長辺方向における接触点２１８での曲率が大きいため、可動部材の中心点２１３は接触位置のバラツキによって、領域２１６に大きく移動してしまう。
【００５０】
つまり、楕円の短辺方向における１点での接触は、その長辺方向における１点での接触に比べ、接触位置のバラツキに強く、安定したロックを行うことが可能である。
【００５１】
緩挿座標が求められるのは製造時の位置調整工程においてである。製造時の位置調整工程において、略楕円形状の可動範囲における短辺方向の１点にて接触座標を検出する。そして接触座標と最大相対誤差量から緩挿座標を求め、メモリ手段３１２に記録をする。実際にロック動作を行う際には、予め記録された緩挿座標に可動部材１１２を移動させ、ロック制御回路３１１の命令によりロック機構１５１がロック動作を行う。
【００５２】
上記の実施例によれば、接触座標の検出を２点で行うのではなく、１点のみで行うことによって、製造時間を短縮することができる。
【００５３】
また、係止ピン２０２と係止孔２０１を接触させる座標を略楕円形状の短辺における１点とすることで、長辺側に接触させるよりも移動距離が短く、かつ接触位置のバラツキと駆動バラツキにも強いため、短時間かつ安定して移動と接触を行わせることができる。
【００５４】
また可動部材の移動が、Ｙ軸補正駆動手段１６１ｙのみの駆動で可能なことから、複雑な処理をする必要がなく、容易な移動処理が可能となる。
【００５５】
また、２点で接触座標を検出する方法では必要となる係止孔２０１の中心を算出する工程が不必要なため、位置調整工程を単純化することができる。
【００５６】
即ち、本発明は、係止ピン緩挿位置を求める工程を少なくし、処理を単純化することで、製造工程の高速化を可能とした上、ブレ補正装置１００の確実なロック動作を行うことのできるレンズ鏡筒３００を提供するという目的を、特に、結像光学系と、結像光学系の一部を構成する補正レンズ１１１を保持する可動部材１１２と、可動部材１１２を光軸と垂直な平面上で移動可能に支持するベース部材１２１と、ベース部材１２１に対して可動部材１１２をそれぞれ異なる方向に駆動する複数の補正駆動手段１６１と、光軸と垂直な平面上での前記可動部材１１２の位置を検出する位置検出手段と、を有するブレ補正装置１００と、ベース部材１２１に保持され、係止ピン２０２と、係止ピン２０２を可動部材１１２に設けられた係止孔２０１に緩挿する係止ピン駆動手段と、を有するロック機構１５１と、係止ピン２０２によるロック動作を制御するロック制御回路３１１と、係止ピン２０２を係止孔２０１に緩挿し、可動部材１１２を所定方向に駆動させて係止ピン２０２と係止孔２０１とを接触させることで検出される、光軸と垂直な平面上の係止ピン２０２の接触座標と、係止ピン２０２の駆動バラツキと可動部材１１２の検出精度から算出される最大相対誤差量、から求められる係止ピン緩挿座標を記録するメモリ手段３１２と、を有することを特徴とする構成により実現した。
【００５７】
なお、本発明にかかるレンズ鏡筒は、本発明が適用される撮像装置に応じて適宜変形、及び拡大縮小される。また、必要に応じて、装置の外寸法の変更による外観の変化、部材間の結合位置など、種々の変形や変更が可能であるが、いずれも本発明の均等の範囲内である。
【符号の説明】
【００５８】
１００      ブレ補正装置
１１１      補正レンズ
１１２      可動部材
１１３      永久磁石
１１４      バックヨーク
１１５      可動ヨーク
１１６      突起部
１１７      支点
１２１      ベース部材
１３１      回路基板
１３２      コイル
１４１      鋼球
１５１      ロック機構
１６１      補正駆動手段
１６１ｘ    Ｘ軸補正駆動手段
１６１ｙ    Ｙ軸補正駆動手段
１６１ｚ    Ｚ軸補正駆動手段
２０１      係止孔
２０２      係止ピン
２１１      規制部
２１２      支点規制部
２１３      可動部材の中心点
２１４      可動部材の中心点の取り得る軌跡
２１５      略楕円の中心側へ最大相対誤差量分だけ移動させた際の可動部材の中心点の取り得る軌跡
２１６      外側軌跡と内側軌跡に挟まれた領域
２１７      略楕円の短辺方向における接触点
２１８      略楕円の長辺方向における接触点
３００      レンズ鏡筒
３０１      レンズCPU
３１１      ロック制御回路
３１２      メモリ手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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