(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線源から照射されたX線を検知するセンサによって生成された画像を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記画像に基づいて前記画像の品質を評価するための評価値を生成する生成手段と、
前記生成手段により生成された前記評価値に基づいて、前記画像の品質に対する評価の結果を判定する判定手段と、
前記判定手段により判定された前記評価の結果を表示する表示手段と、
を有し、
前記センサに設定される前記X線の照射の開始を検知するための複数の異なる検知モードに対応して、前記生成手段または前記判定手段のそれぞれは異なる処理を行うことを特徴とするX線画像処理装置。
【請求項２】
前記複数の異なる検知モードは、前記センサからの信号に基づいてＸ線の照射開始を検知することにより撮像を行う第１の検知モードを含むことを特徴とする請求項１に記載のX線画像処理装置。
【請求項３】
前記センサが前記第１の検知モードに設定される場合、前記生成手段は前記画像内に現れるアーチファクトを補正し、補正後の画像に基づいて前記評価値を生成することを特徴とする請求項２に記載のX線画像処理装置。
【請求項４】
前記センサが前記第１の検知モードに設定される場合、前記取得手段により取得された画像に対して所定の画像処理を行う画像処理手段をさらに有し、前記生成手段は、前記画像処理が失敗していない場合に前記画像処理が行われた画像に基づいて前記評価値を生成することを特徴とする請求項２に記載のX線画像処理装置。
【請求項５】
前記所定の画像処理は、グリッド縞抑制処理であることを特徴とする請求項４に記載のX線画像処理装置。
【請求項６】
前記判定手段は、前記第１の検知モード用の閾値と前記評価値を比較して、前記評価の結果を判定することを特徴とする請求項３から５のいずれか１項に記載のX線画像処理装置。
【請求項７】
前記複数の異なる検知モードは、前記センサが前記放射線源から取得したタイミングで撮像を開始する第２の検知モードを含み、
前記判定手段は、前記第１の検知モード用の閾値を、前記第２の検知モード用の閾値から算出することを特徴とする請求項６に記載のX線画像処理装置。
【請求項８】
前記センサが前記第１の検知モードに設定される場合、前記生成手段は前記画像内に現れるアーチファクトの含有率が所定の閾値より小さい場合、前記アーチファクトが取り除かれた領域から前記評価値を生成することを特徴とする請求項２に記載のX線画像処理装置。
【請求項９】
前記画像内に現れるアーチファクトの含有率が所定の閾値より大きい場合、前記生成手段は前記評価値を生成せず、前記表示手段は再撮影を促すメッセージを表示することを特徴とする請求項８に記載のX線画像処理装置。
【請求項１０】
前記センサが前記第１の検知モードに設定される場合、前記生成手段は前記画像に現れるアーチファクトの領域を前回の撮影により得られた画像を用いて置換し、該置換後の画像に基づいて前記評価値を生成することを特徴とする請求項２に記載のX線画像処理装置。
【請求項１１】
前記置換後の画像にアーチファクトが現れる場合、前記表示手段は再撮影を促すメッセージを表示し、前記生成手段は、前記画像に現れるアーチファクトの領域を該再撮影により得られた画像を用いて置換し、該置換後の画像に基づいて前記評価値を生成することを特徴とする請求項１０に記載のX線画像処理装置。
【請求項１２】
前記複数の異なる検知モードは、前記センサが前記放射線源から取得したタイミングで撮像を開始する第２の検知モードを含み、
前記判定手段は、前記第２の検知モード用の閾値と前記評価値を比較して、前記評価の結果を判定することを特徴とする請求項８から１１のいずれか１項に記載のX線画像処理装置。
【請求項１３】
前記センサが前記第１の検知モードに設定される場合であって、前記判定手段により前記評価の結果が不合格と判定された場合、
前記生成手段は前記画像内に現れるアーチファクトが取り除かれた領域から第２の評価値を生成し、前記判定手段は前記第２の評価値に基づいて前記評価の結果を判定することを特徴とする請求項２に記載のX線画像処理装置。
【請求項１４】
前記センサが前記第１の検知モードに設定される場合であって、前記判定手段により前記評価の結果が不合格と判定された場合、
前記生成手段は前記画像内に現れるアーチファクトを補正し、補正後の画像に基づいて第２の評価値を生成し、前記判定手段は前記第２の評価値に基づいて前記評価の結果を判定することを特徴とする請求項２に記載のX線画像処理装置。
【請求項１５】
前記複数の異なる検知モードは、前記センサが前記放射線源から取得したタイミングで撮像を開始する第２の検知モードを含み、
前記判定手段は、前記第２の検知モード用の閾値と前記評価値を比較して、前記評価の結果を判定することを特徴とする請求項１３または１４に記載のX線画像処理装置。
【請求項１６】
放射線源から照射されたX線を検知するセンサによって生成された画像を取得する取得工程と、
前記取得工程において取得された前記画像に基づいて前記画像の品質を評価するための評価値を生成する生成工程と、
前記生成工程において生成された前記評価値に基づいて、前記画像の品質に対する評価の結果を判定する判定工程と、
前記判定工程において判定された前記評価の結果を表示する表示工程と、
を有し、
前記センサに設定される前記X線の照射の開始を検知するための複数の異なる検知モードに対応して、前記生成工程または前記判定工程のそれぞれは異なる処理を行うことを特徴とするX線画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、X線を検知するセンサに関する技術に関し、特に詳しくは、X線を自動検知する機能を有するセンサの不変性試験を行うための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
医療用X線画像装置では、出力する画像に基づいて診断行為が行われることから、装置が故障することなく常に安定した画質の画像を出力しつづけることが望ましい。そのため、装置全体を日常的に点検し、その品質を管理することが必要不可欠なこととなる。この品質管理をするための試験を不変性試験と呼ぶ。不変性試験では、X線画像装置における、X線発生装置、X線センサ、および両者の幾何学的な特性などを検査し、適用判定基準に合致しているかを確認することにより、画像性能が不変であるか否かが判断される。本明細書においては、X線センサに関する不変性試験、特にX線を照射した状態での不変性試験をスコープとし以下に述べる。
【０００３】
X線センサに関する不変性試験では、被写体がない状態でX線センサに対してX線を均一に照射した時に、センサからの出力に劣化が生じていないか、センサからの出力に面内ばらつきがないかなどを確認する。具体的には、センサからの出力から、劣化具合やバラつき具合を表す特定の評価指標を計算し、評価指標が閾値以内に収まっている場合に、センサの出力の画像の画像性能が不変であると判断する。
【０００４】
一方、X線センサにてX線画像を取得するには、X線が照射開始されたことをセンサが知る必要がある。センサがX線照射開始を検知する方法（以下、検知モード）は複数存在する。例えば、X線センサが、X線発生装置からX線が照射開始されるタイミングを取得し、そのタイミングでセンサ内の電流取得を開始、すなわち撮像を開始する方法がある（以下、同期検知モード）。また、X線センサが、X線発生装置ではなく、X線画像装置のコントロールソフトからX線が照射開始するタイミングを取得する方法もある（以下、手動同期検知モード）。この方法では、ユーザはコントロールソフトで指定されたタイミングで照射開始のためのスイッチを押下することになる。また、X線センサが、X線発生装置もコントロールソフトも介すことなく、X線が照射開始されたことをセンサ自身が自動で検知し、センサ内の電流の取得を開始する方法もある（以下、自動検知モード）。
【０００５】
特許文献１、２には、自動でX線の照射開始を検知する方法として、放射線画像撮影装置が、センサの各走査線を順次選択してオン状態／オフ状態を切り換えながら照射を待ち、装置内に流れる電流の変化を検出したことをもってX線の照射開始の検知を行う方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開2011−247605号公報
【特許文献２】特開2011−249891号公報
【特許文献３】特許3445258号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
同期検知モードでは、X線発生装置から情報を取得するX線センサとX線発生装置とを予め連携させることが必要なため、ユーザの使い勝手は悪い。また、手動同期検知モードにおいても、ユーザが指定したタイミングでしかX線を照射することができず、同様にユーザの使い勝手が悪い。一方、自動検知モードでは、X線センサとX線発生装置やコントロールソフトとを連携させる必要がないため、ユーザの使い勝手は良い。しかし、X線センサがX線の照射を検知するまでの間、X線をロスすることとなり、このロス分がX線画像上にアーチファクトや欠陥となって発生してしまう。
【０００８】
不変性試験では、X線をX線センサに均一に照射することが前提とされているが、アーチファクトや欠陥が発生することで、その前提が成り立たなくなる。その結果、劣化具合やバラつきが具合を表す特定の評価指標はアーチファクトや欠陥が含まれた指標値となってしまい、指標値の信頼性が低下する。如いては不変性試験の信頼性が低下することになる。一方で、アーチファクトの影響を取り除く能力には限界があり、アーチファクトの発生量が所定の量を超えると、アーチファクトの影響を取り除くことができず、指標値の信頼性の低下につながる。
【０００９】
そこで本発明では、X線画像装置に対して信頼性の高い品質管理のための試験を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するための一手段として、本発明のX線画像処理装置は、以下の構成を有する。すなわち、放射線源から照射されたX線を検知するセンサによって生成された画像を取得する取得手段と、前記取得手段により取得された前記画像に基づいて前記画像の品質を評価するための評価値を生成する生成手段と、前記生成手段により生成された前記評価値に基づいて、前記画像の品質に対する評価の結果を判定する判定手段と、前記判定手段により判定された前記評価の結果を表示する表示手段と、を有し、前記センサに設定される前記X線の照射の開始を検知するための複数の異なる検知モードに対応して、前記生成手段または前記判定手段のそれぞれは異なる処理を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
X線画像装置に対して信頼性の高い品質管理のための試験を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】実施形態１によるX線画像処理装置の構成図。
【図２】実施形態１によるハードウェア構成図。
【図３】実施形態１−１によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図４】アーチファクト領域の推定を説明する図。
【図５】実施形態１−１における表示デバイスへの表示の例。
【図６】実施形態１−２によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図７】実施形態１−２における表示デバイスへの表示の例。
【図８】ROIとアーチファクト領域との関係を示す図。
【図９】実施形態１−３によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図１０】実施形態１−４によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図１１】実施形態１−６によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図１２】実施形態２によるX線画像処理装置の構成図（その１）。
【図１３】実施形態２−１によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図１４】実施形態２−２によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図１５】実施形態２によるX線画像処理装置の構成（その２）。
【図１６】実施形態２−４によるX線画像処理装置の処理のフローチャート。
【図１７】実施形態２−４における表示デバイスへの表示の例。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下では、図面を用いながら、本発明に係わる好適な実施の形態について詳細に説明する。まず、実施形態１として、自動検出モードの場合に、画像上のアーチファクトの影響を低減して品質管理評価を行う実施形態を説明する。また、実施形態２として、自動検出モードの場合に、画像上のアーチファクトの量に応じて品質管理評価を行う実施形態を説明する。
【００１４】
［実施形態１］
本実施形態によるX線画像処理装置の構成図を図１に示す。本実施形態によるX線画像処理装置は、画像取得部１０１、切り替え部１０２、画像解析部１０３、１０４、表示部１０５から構成される。画像取得部１０１は、X線センサにて取得されたX線画像を入力とし、所定の前処理を施した画像（以下、前処理済み画像）を生成し、出力する。切り替え部１０２は、X線の検知モードを入力とし、該検知モードに対応して、複数存在する画像解析部の中から１つの部を選択する。図１では、切り替え部１０２は、画像解析部１０３か画像解析部１０４のどちらかを選択する。
【００１５】
画像解析部１０３は、前処理済み画像（不変性試験画像）を入力とし、前処理済み画像を解析して不変性試験の評価指標を算出し、評価結果を出力する。画像解析部１０４も画像処理部１０３と同様に、前処理済み画像を入力とし、前処理済み画像を解析して不変性試験の評価指標を算出し、評価結果を出力する。しかし、画像解析部１０３と１０４では画像解析方法が異なる。また、図１では異なる画像解析手段として画像解析部１０３と１０４の二種類を用意したが、二種類に限ることなく、二つ以上であればいくつでもよい。表示部１０５は、画像解析部１０３または１０４により算出された評価結果を入力とし、評価結果をモニタなどの表示デバイスに出力する。
【００１６】
図１の構成を、ＰＣを使って実現する場合の構成例を図２を参照して説明する。図２は、本実施形態によるX線画像処理装置を含んだハードウェア構成図である。コントロールPC２０１とX線センサ２０２、X線発生装置（放射線源）２１０は、ギガビットイーサ２２２でつながっている。図２において、信号線はギガビットイーサ２２２としたが、CAN（Controller Area Network）や光ファイバーなどでもよい。ギガビットイーサ２２２には、表示部２０９、記憶部２１１、ネットワークインタフェース（I/F）部２１２が接続されている。コントロールPC２０１では、例えば、バス２２１に対して、ＣＰＵ（中央演算装置）２０３、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０４、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０５、入力部２０６、表示部２０７、記憶部２０８が接続される。このコントロールPC２０１から、X線センサ２０２や表示部２０９などにコマンドが送られる。
【００１７】
コントロールPC２０１では、撮影モードごとの処理内容がソフトウェアモジュールとして記憶部２０８に格納され、不図示の指示部によりＲＡＭ２０４に読み込まれ、実行される。図１に示した画像処理部１０１、切り替え部１０２、画像解析部１０３と１０４は、ソフトウェアモジュールとして記憶部２０８に格納されている。もちろん、図１に示した画像処理部１０１、切り替え部１０２、画像解析部１０３と１０４を、専用の画像処理ボードとして実装してもよい。すなわち、目的に応じて最適な実装を行うようにすればよい。図１に示した表示部１０５は、ギガビットイーサ２２２を介した表示部２０９に相当する。なお、図１に示した表示部１０５は、コントロールPC内の表示部２０７でもよい。
【００１８】
以下、本実施形態によるX線画像処理装置の処理の詳細に関して、６つの実施形態１−１〜１−６にそって説明する。不変性試験には、様々な評価指標が存在するが、以降に記される実施形態１−１〜１−６では、次の２つを例とする。１つめは、画像内の複数のROI（Region Of Interest）で算出された画素平均値である。この場合、画素平均値そのもののチェックと、画素平均値が画像内で一様であるかのチェックが行われる。２つめは、画像内の複数のROIで算出された分散値である。この場合、分散値そのもののチェックと、分散値が一様であるかのチェックが行われる。そのため、不変性試験の撮影条件としては、被写体無しの状態で、X線を曝射することとする。また、グリッドがある状態で撮影が行われると、グリッドの種類（素材、本数、格子比など）によって、算出する評価指標の値が変わってしまい、正しい評価を行うことができない。そこで、グリッドを外した状態で撮影が行われるものとする。また、X線自動検知の方法も数多く存在するが、本実施形態では、特許文献１や２のように走査線毎に検知する方法を採用する。
【００１９】
［実施形態１−１］
実施形態１−１について、図１の構成図と図３の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図３は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。画像取得部１０１は、X線センサ２０２によって画像を取得し、前処理を行う（ステップ３０１、３０２）。前処理とは、オフセット補正、ゲイン補正などのセンサの特性を補正する処理である。画像取得部１０１は、このような処理により、取得した画像を周辺画素との相関関係が保たれる状態にする。
【００２０】
次に、切り替え部１０２は、ユーザによって設定された情報等から、検知モードを取得する（ステップ３０３）。取得した検知モードが自動検知モードであれば、切り替え部１０２は画像解析部１０３を選択する（ステップ３０４）。取得した検知モードが自動検知モード以外であれば、画像解析部１０４を選択する（ステップ３０４）。
【００２１】
画像解析部１０３は、前処理済み画像から自動検知モードのアーチファクト補正をする（ステップ３０５）。ここで、図４を参照して、自動検知モードのアーチファクト補正について説明する。図４は、アーチファクト領域の推定を説明する図である。本実施形態ではX線照射開始を自動的に検知する方法として、撮影に用いるＸ線センサを用いる。そして特許文献１や２のように走査線毎に検知する方法としているため、アーチファクトは、図４に示すような領域に発生する。すなわち、X線を検知するまでに電荷を開放していた走査線が全てアーチファクトラインになる。したがって、走査線を連続して駆動する場合は図４（Ａ）のように1つの領域としてアーチファクト領域４１０が発生する。走査線をインタレースで駆動する場合は図４（Ｂ）のようにアーチファクトラインと正常ラインと交互に入り混じった領域としてアーチファクト領域４２０が発生する。
【００２２】
画像解析部１０３は、アーチファクトを補正するために、まずアーチファクトが発生している領域（アーチファクト領域）を抽出する。アーチファクト領域とは、X線の曝射が開始され、X線センサがX線の曝射を検知するまでの領域である。X線を検知した行（以下、ストップライン）は、X線センサから情報として取得することが可能であるが、X線の曝射が開始された行（スタートライン）はX線センサから情報として取得することができない。したがって、アーチファクト領域を抽出するにはまず、スタートラインを推定する必要がある。以下にスタートラインを推定する方法を示す。
【００２３】
まずアーチファクト画素を走査線方向（x方向）にプロジェクションをとると、アーチファクトラインPV（プロジェクションデータ４１１、４２１）の値は式１のようになる。ここでVDは残存暗電流成分、V’は正常に動作した場合の画素の値（以下、真値）、Rは電荷解放時間に比例した値とする。
（式１）
0006433220.tif 000002
【００２４】
本実施形態での不変性試験は、被写体がない状態で行われる。そのため、センサ出力は略一様となる。暗電流成分もほぼ略一様であるため、1次式に帰着して考えることができる。したがって、プロジェクションデータ（PV(y)）を1次式でフィテッィングする。そして1次式が、アーチファクトが発生していない行の平均をとるライン位置を、スタートライン（スタートライン推定４１２、４２２）として推定する。これによりアーチファクト領域を抽出することができる。
【００２５】
画像解析部１０３は、抽出されたアーチファクト領域に対し、アーチファクトの補正を行う。例えば、各ラインの真値平均になるように補正を行う。各ラインのアーチファクトが発生していない行の平均をVmとすると、補正後のアーチファクト画素の値V’’は式２のように求まる。wはライン方向の画素数とする。
（式２）
0006433220.tif 000003
【００２６】
図４（Ｂ）のようにインタレース駆動の場合は、式２のVmとして隣接する正常ラインの平均値を用いてもよい。もしくは、欠陥画素補正のようにアーチファクト画素毎に隣接する正常ラインの画素を用いて補正をしてもよい。この場合の補正後のアーチファクト画素の値V’’を式３に示す。
（式３）
0006433220.tif 000004
画像解析部１０３は、アーチファクト補正した画像から、不変性試験用の評価指標を算出する（ステップ３０６）。本実施形態による画像解析部１０３は、画像内に複数のROIを設定し、評価指標として、ROI毎に平均値や分散値を算出する。画像解析部１０３は、各ROIにおいて、平均値や分散値が所定の閾値範囲内であることを調べることで、出力値の不変性を確認することができる。また、画像解析部１０３は、ROI毎の平均値や分散値を比較し、それらが所定の閾値範囲内であることを調べることで、面内一様の不変性を確認することができる。
【００２７】
画像解析部１０３は、ステップ３０６で算出した評価値を閾値と比較し、不変性試験の結果を得る（ステップ３０７）。画像解析部１０３は、全ての評価項目が閾値内であれば不変性試験を合格とし、閾値外の項目があれば、不合格とする。このとき画像解析部１０３は、自動検知モード用の閾値を使用する。自動検知モードでは、アーチファクトを補正した画像を使用しているため、補正方法に合わせ、同期検知モード用の閾値とは異なる閾値を使用する。特に分散値に関しては次のように補正する。なお、同期検知モードは、上述したように、X線センサが、X線発生装置からX線が照射開始されるタイミングを取得し、そのタイミングで撮像を開始する検知モードである。
【００２８】
すなわち、式２のように、減衰分を増幅して補正した場合は、ノイズ分も合わせて増幅されてしまっているため、分散値の閾値を同期検知モードの閾値ThVarSよりも緩くする。例えば、式２において、ノイズは増幅率（Vm/PV）倍だけ大きくなっている。ROI内に含まれるアーチファクト画素の割合をｒ（０≦ｒ≦１）としたときに、分散値における閾値ThVarAは式４のようにする。
（式４）
0006433220.tif 000005
【００２９】
一方、式３のように平均値を使って補正した場合は、ノイズは逆に減衰されてしまっているため、分散値の閾値を同期検知モードの閾値ThVarSよりも厳しくする。例えば、式３において、隣接二画素からの補正の場合、ノイズは1/√2倍となっている。式４と同様にROI内に含まれるアーチファクト画素の割合がｒ（０≦ｒ≦１）としたときに、分散値における閾値ThVarAは式５のようにする。
（式５）
0006433220.tif 000006
【００３０】
このように、同期検知モード用の閾値ThVarSだけを用意し、式４や式５を用いて自動検知モード用の閾値をThVarA算出して使用してもよいし、予め、自動検知モード用の閾値も準備しておき、切り替える方法でもよい。また、使用したアーチファクト補正方法がノイズの大きさを変化させることのない補正方法であれば、同期検知モード用の閾値と同じものを使用しても問題ない。また、平均値に対する自動検知モード用の閾値についても、同期検知モード用の閾値から算出可能である。
【００３１】
最後に表示部１０５は、ステップ３０７にて得られた不変性試験結果を、モニタなどの表示デバイスへと表示する。図５に、本実施形態における表示デバイスへの表示の例を示す。不変性試験結果が不合格であれば、表示部１０５は、図５のように、再度不変性試験を行うことを促すメッセージや、サービスマン（修理人）への連絡を促すメッセージなどの警告メッセージを表示する。自動検知モードの場合は、アーチファクト補正に失敗し不変性試験が失敗をしている可能性もあるため、表示部１０５は、その可能性を示すメッセージや同期検知モードでの不変性試験を行うメッセージを表示する。また、表示部１０５は、アーチファクト補正画像を表示して、ユーザが画像を確認できるようにしてもよい。その際に、表示部１０５は、アーチファクト領域、ストップライン、スタートラインなどを示したり、画像拡大や階調調整できるように表示し、ユーザが画像を確認することができるようにしてもよい。
【００３２】
検知モードが自動検知モード以外であった場合、切り替え部１０２は画像解析部１０４を選択する（ステップ３０４）。画像解析部１０４は、前処理済み画像から、不変性試験用の評価指標を算出する（ステップ３０６）。算出する評価指標は前述した自動検知モードと同じでよい。画像解析部１０４は、算出した評価指標を閾値と比較することで、不変性試験の結果を判定する（ステップ３０７）。閾値には前述の同期検知モード用の閾値ThVarSが使用される。最後に表示部１０５は、不変性試験の結果を表示する。不変性試験結果が不合格であれば、表示部１０５は、再度不変性試験を行うことを促すメッセージや、サービスマンへの連絡を促すメッセージなどの警告メッセージを表示する。
【００３３】
［実施形態１−２］
実施形態１−２として、アーチファクトラインによる影響の回避方法に関する別の実施形態を、図１の構成図と図６の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図６は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。ステップ６０１から６０４までの処理は、実施形態１−１のステップ３０１から３０４の処理と同じになるため、説明を省略する。
【００３４】
画像解析部１０３は、前処理済み画像から特定のROI内に含まれるアーチファクト量を特定する（ステップ６０５）。アーチファクトラインの推定の方法は実施形態１−１に示した方法で行う。ここでROIとは、ステップ６０７で算出される評価指標を求める際の領域である。このとき、ROI内のアーチファクトラインの含有率が特定の閾値より大きい場合は評価指標としての精度が保てないため、表示部１０４は、再撮影を促すメッセージを表示デバイスに表示する（ステップ６０６でYes、ステップ６１０）。例えば、含有率の閾値を０％とすると、１ラインでもアーチファクトラインが存在すると再撮影を促すことになる。
【００３５】
再撮影によって、前回撮影でアーチファクト含んだROIでアーチファクトが含まれなくなった場合、ステップ６０７で評価指標を算出するためのROIとして、再撮影で得られた前処理済み画像から抽出したものを利用する。また、前回撮影、再撮影共にROIでアーチファクトが含まれなかった場合、ステップ６０７でどちらの前処理済み画像から抽出したROIを用いてもよい。このように、再撮影によりアーチファクトの影響を取り除いた画像に基づいて評価指標が算出される（ステップ６０７）。なお、再撮影をしても同じROIでアーチファクトラインの含有率が特定の閾値より大きくなってしまった場合は、表示部１０５を介して再々撮影を促すようにする。また、特定回数撮影を繰り返してしまうことになった場合は、自動検知モードでの不変性試験を中止し、表示部１０５を介して同期検知モードでの不変性試験を促すようにする。
【００３６】
表示部１０５は、再撮影した場合を含めて、取得した複数の前処理済み画像（不変性試験画像）が全て確認できるように表示を行う。図７に、本実施形態における表示デバイスへの表示の例を示す。表示部１０５は、図７（Ａ）のように画像を切り替えて表示をしたり、図７（Ｂ）のように画像の一覧表示をしたりする。一覧表示の場合は、選択したものを拡大表示することができるようにしてもよい。また、図７（Ｃ）のように表示部１０５が重複したアーチファクトラインの位置を表示することで、ユーザはどの部分のデータが足りなかったかを確認することもできる。
【００３７】
画像解析部１０３は、不変性試験用の評価指標を算出する（ステップ６０７）。本実施形態による画像解析部１０３は、画像内に複数のROIを設定し、評価指標として、ROI毎に平均値や分散値を算出する。図８に、ROIとアーチファクト領域との関係を示す。図８のように、ROI内にアーチファクトラインを含む場合は、画像解析部１０３は、アーチファクトラインを取り除いた領域を評価指標算出用のROIとし、アーチファクトが発生していない領域のみから、平均値や分散値を算出する。ステップ６０６でアーチファクトライン含有率の閾値を０％とした場合は、アーチファクトラインは含まれていないため、このような処理を特に考慮する必要はない。
【００３８】
画像解析部１０３は、ステップ６０７で算出した評価値を閾値と比較し、不変性試験の結果を得る（ステップ６０８）。アーチファクトの影響を取り除いた状態で評価値を算出しているため、画像解析部１０３は、実施形態１−１のように自動検知モード用に特に閾値を用意する必要はなく、同期検知モードでの閾値をそのまま利用し不変性試験の結果を得る。ステップ６０９の処理は実施形態１−１のステップ３０８の処理と同じであるため、説明を省略する。
【００３９】
［実施形態１−３］
実施形態１−３として、アーチファクトラインによる影響の回避方法に関する別の実施形態を、図１の構成図と図９の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図９は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。ステップ９０１から９０４までの処理は、実施形態１−１のステップ３０１から３０４の処理と同じになるため、説明を省略する。
【００４０】
画像解析部１０３は、前処理済み画像からアーチファクトラインを推定する（ステップ９０５）。アーチファクトラインの推定の方法は実施形態１−１に示した方法で行う。推定されたアーチファクトラインは、前回撮影の前処理済み画像の同じ位置のラインと置換をする（ステップ９０６）。置換によりアーチファクトの影響を取り除いた画像、すなわち置換後の画像に基づいて評価指標が算出される（ステップ９０８）。ただし、前回撮影画像でもアーチファクトラインがあった場合は、置換をせずに、表示部１０４が再撮影を促すように表示デバイスに表示する（ステップ９０７でNo、ステップ９１１）。また、特定回数撮影を繰り返してしまうことになった場合は、自動検知モードでの不変性試験を中止し、同期検知モードでの不変性試験を促すようにする。
【００４１】
画像解析部１０３は、不変性試験用の評価指標を算出する（ステップ９０８）。本実施形態による画像解析部１０３は、画像内に複数のROIを設定し、評価指標として、ROI毎に平均値や分散値を算出する。画像解析部１０３は、ステップ９０７で算出した評価値を閾値と比較し、不変性試験の結果を得る（ステップ９０９）。アーチファクトの影響を取り除いた状態で評価値を算出しているため、画像解析部１０３は、自動検知モード用に特に閾値を用意する必要はなく、同期検知モードでの閾値をそのまま利用し不変性試験の結果を得る。ステップ９１０の処理は実施形態１−１のステップ３０８の処理と同じであるため、説明を省略する。
【００４２】
［実施形態１−４］
実施形態１−４として、結果判定に関する別の実施形態を、図１の構成図と図１０の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図１０は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。ステップ１００１から１００４までの処理は、実施形態１−３のステップ９０１から９０４の処理と同じになるため、説明を省略する。
【００４３】
画像解析部１０３は、不変性試験用の評価指標を算出する（ステップ１００４）。本実施形態による画像解析部１０３は、画像内に複数のROIを設定し、評価指標として、ROI毎に平均値や分散値を算出する。画像解析部１０３は、ステップ１００４で算出した評価値を閾値と比較し、不変性試験の結果を得る（ステップ１００５）。前処理済み画像にて評価値を算出しているため、画像解析部１０３は、自動検知モード用に特に閾値を用意する必要はなく、同期検知モードでの閾値をそのまま利用し不変性試験の結果を得る。
【００４４】
不変性試験の結果が不合格であった場合、画像解析部１０３は、不変性試験を行っているモードが自動検知モードであるか否かを確認する（ステップ１００６でNo、ステップ１００７）。ステップ１００６にて不変性試験が合格である場合は、表示部１０４は、合格であることを示すメッセージを表示デバイスに表示する（ステップ１００６でYes、ステップ１０１１）。ステップ１００６にて不変性試験が不合格であり、ステップ１００７にて自動検知モードではない場合は、表示部１０４は、X線センサの不変性が損なわれているため、サービスマンへの連絡を促すメッセージを表示デバイスに表示する（ステップ１００６でNo、ステップ１００７でNo、ステップ１０１１）。
【００４５】
ステップ１００６にて不変性試験が不合格であり、ステップ１００７にて自動検知モードである場合、画像解析部１０３は、前処理済み画像からアーチファクトラインを推定する（ステップ１００６でNo、ステップ１００７でYes、ステップ１００８）。アーチファクトラインの推定の方法は実施形態１−１に示した方法で行う。画像解析部１０３は、評価指標を再度算出する（ステップ１００９）。画像解析部１０３は、ステップ１００４と同様のROIを画像内に設定し、ROI毎に平均値や分散値を再算出する。その際に、図８のように、ROI内にアーチファクトラインを含む場合は、画像解析部１０３は、アーチファクトラインを取り除いた領域を評価指標算出用のROIとし、アーチファクトが発生していない領域のみから、平均値や分散値を算出する。
【００４６】
画像解析部１０３は、ステップ１００９で再度算出した評価値を閾値と比較し、不変性試験の結果を得る（ステップ１０１０）。閾値は同期検知モードでの閾値をそのまま使用する。判定結果が合格となった場合、ステップ１００５での判定結果は、アーチファクトラインが原因である可能性が高い。そのため、表示部１０４は、自動検知モードでの不変性試験を中止して同期検知モードでの不変性試験を促すよう、表示デバイスに表示する。一方、判定結果が不合格となった場合、ステップ１００５での判定結果は、アーチファクトラインが原因ではなく、X線センサの不変性が損なわれている可能性が高い。そのため、表示部１０４は、サービスマンへの連絡を促すメッセージを表示する（ステップ１０１１）。
【００４７】
［実施形態１−５］
実施形態１−４では、図１０のステップ１００９において、画像解析部１０３は、自動検知モードであっても前処理済み画像に対して、評価指標を算出したが、アーチファクト補正をした画像に対して評価指標を算出してもよい。補正方法は実施形態１−１に示した方法を用いる。アーチファクト補正をしたのち、実施形態１−４と同じステップを踏む。アーチファクト補正をしていても、補正が不十分であるため、アーチファクトラインの影響で不変性試験の判定結果が不合格になる可能性があり、画像解析部１０３は、それを実施形態１−４と同様にステップ１００９、ステップ１０１０にて判断をする。
【００４８】
［実施形態１−６］
実施形態１−６として、前処理の後にグリッド抑制処理などの周辺画像を用いた画像処理が行われる場合の実施形態を、図１の構成図と図１１の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図１１は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。上述した実施形態１−１〜１−５における不変性試験は、被写体がない状態で、かつ、グリッドも外した状態で行うこととしていた。しかしながら、グリッドとX線センサが一体になっているユニットの場合、グリッドを取り外すことが困難である。その場合は、X線画像処理装置は、グリッドを取り付けたまま撮影を行い、グリッド縞抑制処理をかけてから、評価指標を算出する。ステップ１１０１から１１０２までの処理は、実施形態１−１のステップ３０１から３０２の処理と同じになるため、説明を省略する。
【００４９】
画像取得部１０１は、前処理済み画像に対してグリッド縞抑制処理を行う（ステップ１１０３）。画像取得部１０１は、グリッド縞抑制処理として、例えば、特許文献３に記載されている方法で行う。画像取得部１０１は、おおよそのグリッド縞成分を前処理済み画像から抽出し、グリッド縞成分からグリッド縞画像を生成し、前処理済み画像からグリッド縞画像を除去することで、グリッド縞を抑制する。ステップ１１０４からステップ１１０５の処理は、実施形態１−１のステップ３０３から３０４の処理と同じになるため、説明を省略する。
【００５０】
ステップ１１０４で取得した検知モードが自動検知モードである場合、画像解析部１０３は、グリッド抑制済み画像から、グリッド縞抑制処理がアーチファクトラインを原因として失敗をしていないかを確認する（ステップ１１０５でYes、ステップ１１０６）。グリッド縞抑制処理がアーチファクトラインを原因として失敗するときは、アーチファクトライン付近の正常領域にも新規にアーチファクトが発生している。したがって、画像解析部１０３は、画像内に複数のROIを設定し、ROI毎の平均値のばらつきを、グリッド縞抑制処理前後で比較を行う。
【００５１】
グリッド縞抑制処理前は、全てのROIにおいてグリッドが一様に入っているため、ROI毎の平均値のばらつきは小さい。グリッド縞抑制処理後、該処理に成功した場合も、全てのROIにおいてグリッドが除去されているため、ROI毎の平均値のばらつきは小さい。一方、グリッド縞抑制処理後、該処理に失敗した場合は、アーチファクトラインを含むROIにおいて、新規にアーチファクトが発生しているため、他のROIに対して平均値が大きく異なり、ROI毎の平均値のばらつきが大きくなる。画像解析部１０３は、グリッド縞抑制処理前後での比をとり、その比を閾値と比較することにより、グリッド縞抑制処理が失敗しているかどうかの判定をすることができる。グリッド縞抑制処理に失敗している場合は、表示部１０４が自動検知モードでの不変性試験を中止し、同期検知モードでの不変性試験を促すよう表示デバイスにメッセージを表示する（ステップ１１０７でYes、ステップ１１１１）。ステップ１１０８から１１１０までの処理は、実施形態１−１のステップ３０６から３０８の処理と同じになるため、説明を省略する。
【００５２】
なお、本実施形態ではグリッド縞抑制処理を評価指標算出前の画像処理としてとりあげたが、その他の画像処理でもよい、アーチファクトラインによって画像処理が失敗する可能性がある処理に関して、本実施形態を適用することが可能である。
【００５３】
このように実施形態１によれば、自動検知モードでX線照射検知を行い、前処理済み画像（不変性試験画像）にアーチファクトが発生していても、該アーチファクトの影響を抑制した後の画像を用いて、品質評価を行う。これにより、X線画像装置に対して品質管理のための試験を高い信頼性で行うことができる。
【００５４】
［実施形態２］
本実施形態によるX線画像処理装置の構成図を図１２に示す。本実施形態によるX線画像処理装置は、画像取得部１２０１、撮影条件判定部１２０２、品質管理部１２０３、表示部１２０４から構成される。画像取得部１２０１は、実施形態１において説明した図１の画像取得部１０１と同じであり、説明を省略する。撮影条件判定部１２０２は、画像取得部１０１から出力された前処理済み画像を入力とし、該前処理済み画像を解析し、撮影条件が適切であるかを判定して、判定結果を出力する。品質管理部１２０３は、画像取得部１０１から出力された前処理済み画像を入力とし、該前処理済み画像を解析して品質管理試験の評価指標を算出し、評価結果を出力する。表示部１２０４は、撮影条件判定部１２０２、品質管理部１２０３により評価結果および判定結果を入力とし、評価結果および判定結果をモニタなどの表示デバイスに出力する。
【００５５】
図１２の構成を、ＰＣを使って実現する場合の構成例は、実施形態１において説明した図２と同じである。図１２に示した画像処理部１２０１、撮影条件判定部１２０２、品質管理部１２０３は、ソフトウェアモジュールとして記憶部２０８に格納されている。以下、本実施形態によるX線画像処理装置の処理詳細に関して、４つの実施形態２−１〜２−４にそって説明する。本実施形態による処理の前提は、実施形態１と同様である。
【００５６】
［実施形態２−１］
実施形態２−１について、図１２の構成図と図１３の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図１３は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。画像取得部１２０１はX線センサによって画像を取得し、前処理を行う（ステップ１３０１、１３０２）。前処理とは、オフセット補正、ゲイン補正などのセンサの特性を補正する処理である。画像取得部１２０１は、このような処理により、取得した画像を周辺画素との相関関係が保たれている状態にする。
【００５７】
次に、撮影条件判定部１２０２は、前処理済み画像から自動検知モードのアーチファクトの量を算出する（ステップ１３０３）。本実施形態では、X線を自動検知する方法として、実施形態１と同様に、特許文献１や２のように走査線毎に検知する方法としているため、アーチファクトは、図４に示すような領域に発生する。撮影条件判定部１２０２は、アーチファクトの量を算出するために、まず、実施形態１において述べた方法と同様の方法により、式１を用いてアーチファクトラインPVの値を求める。
【００５８】
本実施形態での不変性試験は、被写体がない状態で行われる。そのため、センサ出力は略一様である。暗電流成分もほぼ略一様であるため、一次式に帰着して考えることができる。したがって、プロジェクションデータ（PV(y)）を1次式F(y)でフィテッィングする。そして1次式が、アーチファクトが発生していない行の平均をとるライン位置を、スタートラインとして推定する。これによりアーチファクト領域を抽出することができる。
【００５９】
次に、撮影条件判定部１２０２は、アーチファクトの量を表す指標として、アーチファクトが最大に発生するストップライン（ystop）における画素値の真値（ロスなく正常に動作した場合の画素の値）と実際の画素値との比として表される、アーチファクトの発生率を求める。例えば、インタレースで駆動している場合のアーチファクト発生率Sを式６に示す。wはライン方向の画素数とする。
（式６）
0006433220.tif 000007
なお、（式６）において、ストップラインにおける真値（右辺第２項の分母）はストップラインの隣接行から補間したものとしている。
【００６０】
本実施形態では、予め、ステップ１３０５のアーチファクト補正処理の補正限界となるアーチファクト発生率Smaxをが算出されているものとする。撮影条件判定部１２０２は、式６で求めた発生率Sが、補正限界の発生率Smaxを超えているかどうかを比較する（ステップ１３０４）。発生率Sが、補正限界の発生率Smaxを超えている場合、アーチファクト補正処理ではアーチファクトが補正できないため、品質管理部１２０３は品質管理評価は行わず、表示部１２０４が再撮影を促す表示を行う。表示部１２０４は、アーチファクトの発生率を抑えるため、現撮影よりも線量を多くなるような撮影条件に設定するように、モニタに表示する（ステップ１３０８）。
【００６１】
一方、ステップ１３０４で発生率Sが、補正限界の発生率Smaxより小さい場合、アーチファクト補正処理によって、アーチファクトの影響を抑えることができるため、品質管理評価部１０３はアーチファクト補正処理を行う（ステップ１３０４のYes、ステップ１３０５）。そして、品質管理評価部１０３は、アーチファクト補正済み画像に対して、品質管理評価を行う（ステップ１３０６）。品質管理方法として例えば不変性試験は、画像内に複数のROIを設定し、ROI毎に平均値や分散値を算出する。品質管理評価部１０３は、各ROIにおいて、平均値や分散値が所定の閾値範囲内であることを調べることで、出力値の不変性を確認することができる。表示部１２０４は、補正処理した画像に対して、品質管理評価結果を表示する（ステップ１３０７）。
【００６２】
［実施形態２−２］
実施形態２−２として、撮影条件の判定方法で、実施形態２−１とは異なる例を示す。図１２の構成図と図１４の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図１４は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。ステップ１４０１から１４０２の処理に関しては、実施形態２−１のステップ１３０１から１３０２の処理に相当するため、説明を省略する。
【００６３】
撮影条件判定部１０２は、前処理済み画像から特定の領域の平均値を算出する（ステップ１４０３）。平均値を算出する領域は、画像全範囲でもよいし、所定のROIであっても構わない。平均値は、自動検知によるアーチファクトの量を表す指標となる。アーチファクトの量は、電荷解放したことでロスした値VAであることから、電荷解放時間に比例した値Rにて表すことができる。
（式７）
0006433220.tif 000008
ここで、V’は画素値の真値、VDは残存している暗電流成分、Rは電荷解放時間に比例した値を表す。なお、V’は、インタレースで駆動している場合、隣接行の画素値から補間することによって求められる。また、Rは実測値から求めることができる。X線センサ２０２はVAを走査線と垂直方向に積分した値が検知判定閾値THXdを超えるとX線センサ２０２はX線が照射されていると判断し、照射を検知をする。すなわち、X線センサ２０２は、式８が真の場合に、照射を検知する。
（式８）
0006433220.tif 000009
【００６４】
照射の検知にかかる時間が多くなると、積分する走査線数が増えて式８の左辺は大きくなり検知が行いやすくなるが、時間に比例した値であるRの値も大きくなる。Rの値が大きくなるとアーチファクトの発生量が大きくなる。ステップ１４０５におけるアーチファクト補正処理にて補正することができる補正限界のアーチファクトの量がRmaxになるときのライン位置をyRmaxとする。このとき、ライン位置yRmaxにて検知される線量が、照射すべき最低線量となる。すなわち、照射すべき最低線量は式９のように表される。
（式９）
0006433220.tif 000010
【００６５】
品質管理試験として、不変性試験を行っている場合、画像全体の画素値は略一様になる。そのため、式９を、推定されたスタートラインystartから、yRmaxラインまでのライン数で割り、ライン内の平均値を計算すれば、照射すべき最低線量に対する画素値PxVmaxとなる。したがって、撮影条件判定部１０２は、特定の領域における画素の平均値を算出し、その値が、PxVmax以上であるか否かを調べることで、自動検知によるアーチファクトを補正するに十分な線量であるかを判断することができる。なお、式９の右辺において、第一項に比べ第二項は十分に小さな値であるため、撮影条件判定部１０２は第一項だけで計算してもよい。撮影条件判定部１０２は、前処理済み画像の平均値と閾値PxVmaxを比較する（ステップ１４０４）。
【００６６】
平均値が閾値PxVmaxを超えた場合、前処理済み画像に発生している自動検知によるアーチファクトは補正することが可能である。そのとき、品質管理評価部１２０３は、アーチファクト補正を行う（ステップ１４０５）。品質管理評価部１２０３は、アーチファクト補正を、実施形態１において述べた方法で行ってもよい。そして、品質管理評価部１２０３は、アーチファクト補正済み画像に対して、品質管理評価を行う（ステップ１４０６）。品質管理評価部１２０３は、品質管理評価として不変性試験を行う場合、画像内に複数のROIを設定し、ROI毎に平均値や分散値を算出する。表示部１２０４は、品質管理評価試験の結果をモニタなどの表示デバイスに表示する（ステップ１４０７）。
【００６７】
一方、閾値PxVmaxを超えなかった場合は、前処理済み画像に発生している自動検知によるアーチファクトは補正できない。そのとき、表示部１２０４は、線量をあげて再度撮影するようにメッセージをモニタなどの表示デバイスに表示する（ステップ１４０８）。その際に、表示部１２０４は閾値PxVmaxと平均値を合わせて表示することで、どの程度足りていないのかをユーザに伝えてもよい。
【００６８】
なお、設定したROI内にアーチファクトラインが存在すると、平均値が真値と大きく異なってしまう。そのため、アーチファクトラインを取り除いてから平均値を算出することが必要である。アーチファクトが発生する領域は、上述した方法などにより算出できる。
【００６９】
本実施形態では、撮影条件として、自動検知によって発生したアーチファクトを補正することが可能な範囲のアーチファクト量にするための条件とした。しかし、完全に補正できなくても、評価指標に影響がなければ問題がない。そのアーチファクト量をターゲットとした撮影条件としてもよい。
【００７０】
［実施形態２−３］
実施形態２−３として、実施形態２−２における閾値PxVmaxの別の算出方法を示す。図１４におけるステップ１４０５にて使用するアーチファクト補正処理にて補正することができる補正限界のアーチファクトの量を、画素値の真値に対する減衰率ではなく、幅（アーチファクトラインの行数）とする。例えば、インタレース駆動におけるアーチファクト補正処理において、隣接する行の値を使用し補正を行う場合は、隣接行は正常であることが前提となる。したがって、アーチファクトの幅が走査線数の半分を超えてしまうことになると、その関係が満たされず、補正ができなくなってしまう。そこで、アーチファクトの幅に関する最大許容幅をWmaxとすると、このときに検知する線量が、照射すべく最低線量となる。式９において、ライン位置yRmaxをWmaxと置き換えて計算することで、実施形態２−２と同様に閾値PxVmaxが求まる。
【００７１】
［実施形態２−４］
実施形態２−１では、品質管理試験の対象として、不変性試験などの被写体がない状態で取得した画像を対象としていたが、本実施形態では、被写体がある状態での実施形態を示す。図１５の構成図と図１６の全体フローを使い、処理の流れにそって説明する。図１６は、本実施形態によるX線画像処理装置の処理のフローチャートである。ステップ１６０１から１６０２の処理に関しては、実施形態２−１のステップ１３０１から１３０２の処理に相当するため、説明を省略する。
【００７２】
撮影条件判定部１５０２は、前処理済み画像から自動検知モードのアーチファクトの量を算出する（ステップ１６０３）。アーチファクトの量とは、ストップラインにおける真値からの減衰分を表すものとする。アーチファクトが発生している領域は上述した方法により算出する。しかし被写体がある場合は、図４のように走査線方向（ｘ方向）にプロジェクションをしても、アーチファクト領域がきれいに抽出されない。そこで被写体がある場合は、特定の類似する画素値をもつ領域でプロジェクションをとって算出し、各領域の結果から平均をとり、1次式F(y)のパラメータを算出する。
【００７３】
撮影条件判定部１５０２は、式６の発生率Sが、補正限界の発生率Smaxを超えているかどうかを比較する（ステップ１６０４）。補正限界の発生率Smaxは、アーチファクト補正処理の補正限界となるアーチファクト発生率Smaxであり、予め算出されているものとする。この値は、実施形態２−１の不変性試験などの被写体がない場合の閾値とは別に用意をする。また、診断上の誤診を防ぐ観点から、閾値は被写体がない場合よりも厳しくする。発生率Sが、補正限界の発生率Smaxを超えている場合、アーチファクト補正処理ではアーチファクトが消えないため、QA処理（高画質化処理）は行わず、アーチファクトが発生していることをユーザに伝える。表示部１５０４は、アーチファクトが発生している可能性を表示デバイスに表示する。そして、より高い線量にて撮影することを促すメッセージも表示する（ステップ１６０８）。
【００７４】
一方、ステップ１６０４で発生率Sが、補正限界の発生率Smaxより小さい場合、アーチファクト補正処理によって、アーチファクトの影響を抑えることができるため、画像処理部１５０３はアーチファクト補正処理を行う（ステップ１６０５）。画像処理部１５０３は、アーチファクト補正を、実施形態１において述べた方法で行ってもよい。そして、画像処理部１５０３は、アーチファクト補正済み画像に対して、QA処理（高画質化処理）を行い、診断品質に適した画像を出力する（ステップ１６０６）。QA処理としては、例えばノイズ抑制処理、強調処理などの周波数処理、診断に適した階調をつくる階調処理などである。
【００７５】
表示部１５０４は、補正処理した画像に対して、QA処理結果を表示する（ステップ１６０７）。ステップ１６０４で発生率Sが、補正限界の発生率Smaxより大きい場合に、アーチファクト補正処理もQA処理を行わなかったが、アーチファクト補正処理、QA処理共に行って、図１７のように表示デバイスに画像表示をしてもよい。画像表示をすることで、診断上問題のないレベルであるか、再撮影が必要であるべきかの判断を、ユーザがしやすくなる。
【００７６】
このように実施形態２によれば、自動検知モードでX線照射検知を行い、前処理済み画像（不変性試験画像）にアーチファクトが発生している場合に、該アーチファクトの量を撮影条件によって制御する。これにより、アーチファクトの影響が軽減され、X線画像装置に対して品質管理のための試験を高い信頼性で行うことができる。
【００７７】
［その他の実施形態］
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００７８】
１０１：画像取得部、１０２：切り替え部、１０３：画像解析部、１０４：画像解析部、１０５：表示部、１０６：階調処理部、４１０：アーチファクト領域、４１１：プロジェクションデータ、４１２：スタートライン推定、４２０：アーチファクト領域、４２１：プロジェクションデータ、４２２：スタートライン推定、８０１：ROI配置と自動検知アーチファクト、８０２：ROI内の自動検知アーチファクト、８０３：アーチファクトを除去した領域、１２０１：画像取得部、１２０２：撮影条件部、１２０３：品質管理部、１２０４：表示部、１５０１：画像取得部、１５０２：撮影条件部、１５０３：画像処理部、１５０４：表示部
【図１】
0006433220.tif 000011
【図２】
0006433220.tif 000012
【図３】
0006433220.tif 000013
【図４】
0006433220.tif 000014
【図５】
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【図６】
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【図７】
0006433220.tif 000017
【図８】
0006433220.tif 000018
【図９】
0006433220.tif 000019
【図１０】
0006433220.tif 000020
【図１１】
0006433220.tif 000021
【図１２】
0006433220.tif 000022
【図１３】
0006433220.tif 000023
【図１４】
0006433220.tif 000024
【図１５】
0006433220.tif 000025
【図１６】
0006433220.tif 000026
【図１７】
0006433220.tif 000027