(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
太陽電池セルの電極に接続されたプローブピンを介して、前記太陽電池セルの特性を測定するステップと、
前記測定するステップにおいて使用されるプローブピンの使用回数をもとに、補正値を取得するステップと、
前記取得するステップにおいて取得した補正値によって、前記測定するステップにおいて測定した特性を補正するステップとを備え、
前記取得するステップは、使用回数と補正値との対応関係を予め保持し、前記対応関係から補正値を抽出することを特徴とする評価方法。
【請求項２】
前記測定するステップにおいて測定した特性は、曲線因子であり、
前記取得するステップは、使用回数と、曲線因子に対する補正値との対応関係を予め保持しており、前記対応関係から、曲線因子に対する補正値を抽出し、
前記補正するステップは、曲線因子に対する補正値によって曲線因子を補正することを特徴とする請求項１に記載の評価方法。
【請求項３】
前記測定するステップにおいて測定した特性は、Ｉ−Ｖ特性であり、
前記取得するステップは、使用回数と、前記プローブピンの抵抗値との対応関係を予め保持しており、前記対応関係から、抵抗値を抽出し、
前記補正するステップは、抵抗値によってＩ−Ｖ特性を補正することを特徴とする請求項１に記載の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、評価技術、特に太陽電池の特性を測定する評価方法およびそれを利用した太陽電池モジュールの製造方法、太陽電池モジュールの製造装置、太陽電池モジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
複数の太陽電池セルが接続されることによって、太陽電池モジュールが形成される。太陽電池モジュールの出力を均一化するために、各太陽電池セルを出力に応じてランク分けし、さまざまなランクの太陽電池セルが含まれるように選択がなされる（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】国際公開第１４／０４９９７２号パンフレット
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
太陽電池セルのランク分けの精度を向上するために、太陽電池セルの出力の測定精度の向上が望まれる。測定系が経年劣化すると、測定精度が悪化する。そのため、測定系が経年劣化しても、測定精度の劣化を抑制することが望まれる。
【０００５】
本発明はこうした状況に鑑みなされたものであり、その目的は、測定系が経年劣化した場合でも、測定精度の劣化を抑制する技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明のある態様の評価方法は、太陽電池セルの電極に接続されたプローブピンを介して、太陽電池セルの特性を測定するステップと、測定するステップにおいて使用されるプローブピンの使用回数をもとに、補正値を取得するステップと、取得するステップにおいて取得した補正値によって、測定するステップにおいて測定した特性を補正するステップとを備える。取得するステップは、使用回数と補正値との対応関係を予め保持し、対応関係から補正値を抽出する。
【０００７】
本発明の別の態様もまた、評価方法である。この方法は、太陽電池セルの電極に接続されたプローブピンを介して、太陽電池セルのＩ−Ｖ特性を測定するステップと、測定するステップにおいて使用されるプローブピンの抵抗値を取得するステップと、取得するステップにおいて取得した抵抗値によって、測定するステップにおいて測定したＩ−Ｖ特性を補正するステップと、を備える。
【０００８】
本発明のさらに別の態様もまた、評価方法である。この方法は、押し込み量に応じて抵抗値ならびに接触抵抗値が変化するプローブピンに対して、抵抗値ならびに接触抵抗値が一定値に近くなる押し込み量を実現するための荷重を設定するステップと、設定するステップにおいて設定した荷重を加えて、太陽電池セルの電極にプローブピンを接続するステップと、接続するステップにおいて接続したプローブピンを介して、太陽電池セルの特性を測定するステップと、を備える。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、測定系が経年劣化した場合でも、測定精度の劣化を抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１（ａ）−（ｂ）は、本発明の実施例１において評価対象となる太陽電池セルの構成を示す図である。
【図２】図１の太陽電池セルを評価するための評価装置の構成を示す図である。
【図３】図２の測定部において太陽電池セルを測定する際の構成を示す図である。
【図４】図２の測定部の回路構成を示す図である。
【図５】図３におけるプローブピンの構成を示す図である。
【図６】図２の測定部において測定したＦＦの使用回数変化を示す図である。
【図７】図２の評価装置による評価手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の実施例２において測定したＩ−Ｖ特性の使用回数変化を示す図である。
【図９】本発明の実施例２における記憶部に記憶されたテーブルのデータ構造を示す図である。
【図１０】本発明の実施例２における評価装置による評価手順を示すフローチャートである。
【図１１】実施例３に係る評価装置の構成を示す図である。
【図１２】図１１の評価装置による評価手順を示すフローチャートである。
【図１３】実施例４に係る評価装置の構成を示す図である。
【図１４】図１３の測定部において使用されるバネ部の特性を示す図である。
【図１５】図１３の記憶部に記憶されたテーブルのデータ構造を示す図である。
【図１６】図１３の評価装置による評価手順を示すフローチャートである。
【図１７】実施例５に係る評価装置の構成を示す図である。
【図１８】図１７の評価装置による評価手順を示すフローチャートである。
【図１９】実施例６に係る製造装置の構成を示す図である。
【図２０】図１９の組立て部において製造される太陽電池モジュールの構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
（実施例１）
本発明の実施例１を具体的に説明する前に、概要を述べる。実施例１は、太陽電池セルの特性を評価するための評価装置に関する。評価装置は、太陽電池セルの特性として、例えば、曲線因子（Ｆｉｌｌ  Ｆａｃｔｏｒ、以下、「ＦＦ」という）を評価する。ＦＦは、Ｉ−Ｖ特性曲線から導出される。Ｉ−Ｖ特性曲線において、太陽電池セルからの出力を最大にするための動作点は、電圧と電流の積が最大になる場合であるが、その動作点は「最大出力動作点」とよばれる。また、最大出力動作点において、電圧は最大出力電圧(Ｖｐｍ)とよばれ、電流は最大出力電流(Ｉｐｍ)とよばれ、電力が最大出力電力(Ｐｍ)とよばれる。また、電流が「０」である場合の電圧が開放電圧(Ｖｏｃ)とよばれ、電圧が「０」である場合の電流が短絡電流(Ｉｓｃ)とよばれる。ＦＦは、Ｐｍ／（Ｖｏｃ＊Ｉｓｃ）で示される。ＦＦが１に近いほど、太陽電池セルの性能が高いといえる。
【００１２】
太陽電池セルのＩ−Ｖ特性曲線を取得するために、太陽電池セルの電極にプローブピンを接続して、電圧と電流とが測定される。プローブピンの使用回数が増加すると、プローブピンの抵抗値が変化するために、測定精度が劣化する。プローブピンの使用回数が増加した場合であっても、測定精度の劣化を抑制するために、実施例１に係る評価装置は、次の処理を実行する。本実施例１では、プローブピンの使用回数とＦＦとの対応関係をもとに、使用回数に応じて変化する補正値を導出し、評価装置は、導出された補正値を予め記憶する。評価装置は、プローブピンを使用して、太陽電池セルのＦＦを取得する。また、評価装置は、プローブピンの使用回数に応じた補正値によって、ＦＦを補正する。
【００１３】
図１（ａ）−（ｂ）は、本発明の実施例１において評価対象となる太陽電池セル７０の構成を示す。図１（ａ）は、太陽電池セル７０の受光面側の平面図を示す。受光面とは、太陽電池セル７０を構成している面のうち、太陽光を主として受ける面である。複数のフィンガー電極２２は、太陽電池セル７０の受光面側において、平行に配置される。図１（ａ）において、ひとつのフィンガー電極２２は、横方向に延びる。フィンガー電極２２は、受光により発電された電力を収集する電極である。フィンガー電極２２は、受光面上に形成される電極であるので、入射される光を遮らないように細く形成することが望ましい。また、発電した電力を効率的に集電できるよう所定の間隔で配置することが望ましい。
【００１４】
複数のバスバー電極２４も、太陽電池セル７０の受光面側において、平行に配置される。各バスバー電極２４は、フィンガー電極２２と交差、例えば、直交するように配置されることによって、複数のフィンガー電極２２を互いに接続する。図１（ａ）では、複数のバスバー電極２４として、第１バスバー電極２４ａと第２バスバー電極２４ｂとが示される。
【００１５】
複数のタブ線４０のそれぞれは、バスバー電極２４と電気的に導通するように受光面上に接着される。図１（ａ）では、第１タブ線４０ａが第１バスバー電極２４ａに接続され、第２タブ線４０ｂが第２バスバー電極２４ｂに接続される。さらに、各タブ線４０は、隣接した太陽電池セル７０（図示せず）にも接続される。このようにタブ線４０は、バスバー電極２４と同一の方向に配置される。
【００１６】
図１（ｂ）は、太陽電池セル７０の裏面側の平面図を示す。裏面とは、太陽電池セル７０を構成している面のうち、受光面とは反対側の面である。複数のフィンガー電極３２は、太陽電池セル７０の裏面側において、平行に配置される。図１（ｂ）において、ひとつのフィンガー電極３２は、フィンガー電極２２と同様に、横方向に延びる。このような構成によって、集電効率が高められる。複数のバスバー電極３４は、図１（ａ）の複数のバスバー電極２４と同様であり、第３タブ線４０ｃ、第４タブ線４０ｄは、図１（ｂ）の第１タブ線４０ａ、第２タブ線４０ｂと同様であるので、ここでは説明を省略する。
【００１７】
図２は、太陽電池セル７０を評価するための評価装置２００の構成を示す。評価装置２００は、測定部２０２、取得部２０４、記憶部２０６、補正部２０８、出力部２１０を含む。測定部２０２は、太陽電池セル７０のバスバー電極２４、バスバー電極３４に接続されたプローブピンを介して、太陽電池セル７０のＩ−Ｖ特性を測定する。また、測定部２０２は、Ｉ−Ｖ特性曲線からＦＦを導出する。ここでは、図１（ａ）−（ｂ）のように製造された太陽電池セル７０に対するＩ−Ｖ特性を測定するための手段として、「２端子測定法」を説明する。
【００１８】
図３は、測定部２０２において太陽電池セル７０を測定する際の構成を示す。評価対象となる太陽電池セル７０は、受光面１２、発電層１０、裏面１４を含む。受光面１２は、図１（ａ）に相当し、裏面１４は、図１（ｂ）に相当する。発電層１０は、受光面１２と裏面１４との間に形成される。受光面１２には、第１バスバー電極２４ａ、第２バスバー電極２４ｂが、図１（ａ）と同様に配置される。なお、図面を明瞭にするために、複数のフィンガー電極２２の記載は省略される。また、裏面１４も、図１（ｂ）と同様に構成される。ここで、測定部２０２において太陽電池セル７０を測定する際、図示しない照射装置からの疑似太陽光が、太陽電池セル７０に照射される。照射装置の構成は公知の技術であるので、ここでは説明を省略する。
【００１９】
複数のプローブピン８０が、各バスバー電極２４に接続される。ここでは、一例として、第１１プローブピン８０ａａ、第１２プローブピン８０ａｂ、第１３プローブピン８０ａｃ、第１４プローブピン８０ａｄ、第１５プローブピン８０ａｅ、第１６プローブピン８０ａｆ、第１７プローブピン８０ａｇの７つのプローブピン８０が第１バスバー電極２４ａに接続される。これらのプローブピン８０は、第１計測用信号線８２ａに接続される。また、第２１プローブピン８０ｂａ、第２２プローブピン８０ｂｂ、第２３プローブピン８０ｂｃ、第２４プローブピン８０ｂｄ、第２５プローブピン８０ｂｅ、第２６プローブピン８０ｂｆ、第２７プローブピン８０ｂｇの７つのプローブピン８０が第２バスバー電極２４ｂに接続される。これらのプローブピン８０は、第２計測用信号線８２ｂに接続されている。なお、ひとつのバスバー電極２４に接続されるプローブピン８０は、７つに限定されない。
【００２０】
さらに、図示しない裏面１４の表面に配置された第１バスバー電極３４ａ、第２バスバー電極３４ｂのそれぞれにも、複数のプローブピン８０が接続される。第１バスバー電極３４ａに接続された複数のプローブピン８０は、第３計測用信号線８２ｃに接続され、第２バスバー電極３４ｂに接続された複数のプローブピン８０は、第４計測用信号線８２ｄに接続される。このような構成によって、計測用信号線８２は、プローブピン８０を介して、バスバー電極２４に電気的に接続される。
【００２１】
図４は、測定部２０２の回路構成を示す。第１計測用信号線８２ａから第４計測用信号線８２ｄは、図３にも示されている。測定部２０２は、電圧計測回路８８、電流計測回路９０、直流可変電源９２を含む。電流計測回路９０は、直流可変電源９２と太陽電池セル７０とを接続する電流経路に対して直列に接続され、電圧計測回路８８は、直流可変電源９２と太陽電池セル７０とを接続する電流経路における直流可変電源９２に対して並列に接続される。電流計測回路９０は、例えば、電流計であり、電圧計測回路８８は、例えば、電圧計である。
【００２２】
第１計測用信号線８２ａと第２計測用信号線８２ｂとが接続されるとともに、電圧計測回路８８を介して、第３計測用信号線８２ｃへ至るとともに、さらに第４計測用信号線８２ｄへ至る経路が形成される。この経路（以下、「電圧値計測用経路」という）は、図４において点線にて示される。また、第１計測用信号線８２ａと第２計測用信号線８２ｂとが接続されるとともに、電流計測回路９０、直流可変電源９２を介して、第４計測用信号線８２ｄへ至るとともに、さらに第３計測用信号線８２ｃへ至る経路が形成される。この経路（以下、「電流値計測用経路」という）は、図４において一点破線にて示される。
【００２３】
電圧計測回路８８は、電圧値測定用経路にて、ポイントＰ１とポイントＰ２との間の電圧値を測定する。この電圧値は、一般的に、第１バスバー電極２４ａと第２バスバー電極２４ｂとの組合せと、第１バスバー電極３４ａと第２バスバー電極３４ｂとの組合せとの間の電圧値よりも低くなる。電流計測回路９０は、電流値測定用経路にて、第１バスバー電極２４ａと第２バスバー電極２４ｂとの組合せと、第１バスバー電極３４ａと第２バスバー電極３４ｂとの組合せとの間の電流値を測定する。
【００２４】
図５は、プローブピン８０の構成を示す。プローブピン８０は、導電筒部１１０、導電棒部１１２、先端部１１４、バネ部１１６を含む。導電筒部１１０は、筒型形状を有し、導電性部材によって形成される。導電筒部１１０の一端部には、計測用信号線８２が接続される。導電筒部１１０の他端部には、穴部が形成されており、穴部から導電棒部１１２が挿入されている。導電棒部１１２は、棒型形状を有し、導電性部材によって形成される。また、導電筒部１１０のうちの他端部において、導電筒部１１０と導電棒部１１２とが接触することによって、両者が導通する。さらに、導電筒部１１０の内部には、バネ部１１６が備えられており、バネ部１１６は、導電筒部１１０の内部の一端部と、導電棒部１１２における先端部１１４側とは反対側の端部とを接続する。
導電棒部１１２には、先端部１１４が取り付けられる。先端部１１４も導電性部材によって形成される。先端部１１４は、図１（ａ）−（ｂ）のバスバー電極２４あるいはバスバー電極３４に接続可能である。
【００２５】
このような構成において、プローブピン８０に荷重を加えた場合に生じるバネ部１１６の力によって、図示しないバスバー電極２４あるいはバスバー電極３４に先端部１１４が押しつけられる。バネ部１１６の力は、バネ部１１６の種類、バネ部１１６を押し込んだ量に依存する。なお、バネ部１１６を押し込んだ量は、導電筒部１１０の計測用信号線８２の方向へ導電棒部１１２が進んだ量に相当する。ここで、バスバー電極２４あるいはバスバー電極３４に先端部１１４を押しつける力によって、バスバー電極２４あるいはバスバー電極３４に対する先端部１１４の接触抵抗値が定まる。例えば、押しつける力が弱くなれば、接触抵抗値が大きくなる。さらに、接触抵抗値は、先端部１１４の形状の劣化によっても変化する。また、押し込み量が少なくなれば、実質的にプローブピン８０の長さが長くなるので、プローブピン８０の抵抗値が大きくなる。以下では、説明を簡易にするために、接触抵抗値も抵抗値に含めて説明する。
【００２６】
プローブピン８０の使用回数が増加すると、バネ部１１６の弾性が劣化する。バネ部１１６の弾性が劣化すると、同じ荷重をプローブピン８０に加えた場合であっても、バスバー電極２４あるいはバスバー電極３４に先端部１１４を押しつける力、バネ部１１６の押し込み量が変化する。その結果、プローブピン８０の抵抗値が変化し、プローブピン８０を使用して測定されるＦＦが、プローブピン８０の使用回数に応じて変化する。このことを図６を使用して説明する。図６は、測定部２０２において測定したＦＦの使用回数変化を示す。横軸が、プローブピン８０の使用回数を示し、縦軸が、プローブピン８０を使用した場合に測定したＦＦの値を示す。図示のごとく、使用回数が増加するほど、ＦＦの値が小さくなる。図２に戻る。
【００２７】
記憶部２０６は、使用回数と、ＦＦに対する補正値との対応関係を予め保持する。ＦＦに対する補正値とは、図６に示された使用回数「０」のときのＦＦに戻すための値である。例えば、使用回数「０」のときのＦＦがＦＦ（０）であるとし、使用回数「ｘ」のときのＦＦがＦＦ（ｘ）であるとした場合、使用回数「ｘ」における補正値は、「ＦＦ（０）−ＦＦ（ｘ）」であるとされる。記憶部２０６は、さまざまな使用回数についての補正値を記憶する。なお、記憶部２０６は、図６に示された傾きを記憶しており、傾きをもとに補正値が計算されてもよい。
【００２８】
取得部２０４は、図示しない操作部を介してユーザから、プローブピン８０の使用回数に関する情報を受けつける。なお、プローブピン８０の使用回数に関する情報は、評価装置２００に記憶されており、評価装置２００からフィードバックされてもよい。取得部２０４は、受けつけた使用回数の情報をもとに、記憶部２０６から、ＦＦに対する補正値を抽出する。取得部２０４は、ＦＦに対する補正値を補正部２０８へ出力する。補正部２０８は、測定部２０２からＦＦを受けつけ、取得部２０４から、ＦＦに対する補正値を受けつける。補正部２０８は、ＦＦに対する補正値によってＦＦを補正する。例えば、ＦＦに補正値を加算する。出力部２１０は、補正部２０８において補正したＦＦを出力する。
【００２９】
以上の構成による評価装置２００の動作を説明する。図７は、評価装置２００による評価手順を示すフローチャートである。測定部２０２は、ＦＦを測定する（Ｓ１０）。取得部２０４は、補正値を取得する（Ｓ１２）。補正部２０８は、補正値によってＦＦを補正する（Ｓ１４）。
【００３０】
実施例１によれば、プローブピンの使用回数と補正値との対応関係を予め保持し、使用回数に応じた補正値にて特性を補正するので、測定系が経年劣化した場合でも、測定精度の劣化を抑制できる。また、予め保持した対応関係を使用して補正するので、処理を簡易にできる。また、ＦＦに対する補正値をもとに、測定したＦＦを補正するので、使用回数が増加してもＦＦの測定精度の劣化を抑制できる。
【００３１】
本実施例は、次の項目によって特定されてもよい。
（項目１）
太陽電池セル７０のバスバー電極２４、バスバー電極３４に接続されたプローブピン８０を介して、太陽電池セル７０の特性を測定するステップと、
測定するステップにおいて使用されるプローブピン８０の使用回数をもとに、補正値を取得するステップと、
取得するステップにおいて取得した補正値によって、測定するステップにおいて測定した特性を補正するステップとを備え、
取得するステップは、使用回数と補正値との対応関係を予め保持し、対応関係から補正値を抽出することを特徴とする評価方法。
【００３２】
（項目２）
測定するステップにおいて測定した特性は、曲線因子であり、
取得するステップは、使用回数と、曲線因子に対する補正値との対応関係を予め保持しており、対応関係から、曲線因子に対する補正値を抽出し、
補正するステップは、曲線因子に対する補正値によって曲線因子を補正することを特徴とする項目１に記載の評価方法。
【００３３】
（実施例２）
本発明の実施例２は、実施例１と同様に、太陽電池セルの特性を評価するための評価装置に関する。実施例１では、プローブピンの劣化についての補正をＦＦに対して行っているが、実施例２では、プローブピンの劣化についての補正をＩ−Ｖ特性に対して行う。実施例２に係る評価装置２００は図２と同様であるが、ここでは差異を中心に説明する。
【００３４】
図２における測定部２０２は、実施例１と同様に、太陽電池セル７０のバスバー電極２４、バスバー電極３４に接続されたプローブピン８０を介して、太陽電池セル７０のＩ−Ｖ特性を測定する。プローブピン８０の使用回数が増加すると、プローブピン８０の抵抗値が変化する。このことを図８を使用して説明する。
【００３５】
図８は、本発明の実施例２において測定したＩ−Ｖ特性の使用回数変化を示す。横軸が、電圧を示し、縦軸が、電流を示す。ここで、曲線Ｃ１が使用回数「０」の場合に相当する。また、曲線Ｃ２、Ｃ３、Ｃ４になるにつれて、使用回数が増加している。使用回数が増加すると、曲線が内側になる。例えば、電流が「Ｉ’」である場合、使用回数が「０」であれば、電圧は「Ｖ’」になるべきであるが、使用回数が「Ｃ４」であれば、電圧は「Ｖ’’」になり、電圧が低下する。これらの電圧の関係は、次のように示される。
Ｖ’＝Ｖ’’＋Ｒ＊Ｉ’  ・・・（１）
式（１）において、Ｒは、プローブピン８０の使用回数に応じて変化する抵抗値である。図２に戻る。
【００３６】
記憶部２０６は、使用回数と、プローブピン８０の抵抗値との対応関係を予め保持する。プローブピン８０の抵抗値は、前述のごとく、使用回数に応じて変化するので、さまざまな使用回数に対する抵抗値が予め測定されている。図９は、本発明の実施例２における記憶部２０６に記憶されたテーブルのデータ構造を示す。図示のごとく、使用回数ごとに抵抗値が示されている。図２に戻る。
【００３７】
取得部２０４は、図示しない操作部を介してユーザから、プローブピン８０の使用回数に関する情報を受けつける。なお、プローブピン８０の使用回数に関する情報は、評価装置２００に記憶されており、評価装置２００からフィードバックされてもよい。取得部２０４は、受けつけた使用回数の情報をもとに、記憶部２０６から、抵抗値を抽出する。なお、受けつけた使用回数が、図９のテーブルに示されていない場合、取得部２０４は、内挿補間あるいは外挿補間によって抵抗値を導出する。取得部２０４は、抵抗値を補正部２０８へ出力する。補正部２０８は、測定部２０２からＩ−Ｖ特性を受けつけ、取得部２０４から、抵抗値を受けつける。補正部２０８は、式（１）のように、電流値と抵抗値を乗算し、乗算結果を電圧値に加算することによって、Ｉ−Ｖ特性を補正する。出力部２１０は、補正部２０８において補正したＩ−Ｖ特性を出力する。
【００３８】
図１０は、本発明の実施例２における評価装置２００による評価手順を示すフローチャートである。測定部２０２は、Ｉ−Ｖ特性を測定する（Ｓ３０）。取得部２０４は、抵抗値Ｒを取得する（Ｓ３２）。補正部２０８は、抵抗値Ｒ＊電流値Ｉより補正値を導出し（Ｓ３４）、補正値によってＩ−Ｖ特性を補正する（Ｓ３６）。
【００３９】
実施例２によれば、プローブピンの使用回数と抵抗値との対応関係を予め保持し、使用回数に応じた抵抗値にてＩ−Ｖ特性を補正するので、測定系が経年劣化した場合でも、測定精度の劣化を抑制できる。また、予め保持した対応関係を使用して補正するので、処理を簡易にできる。
【００４０】
本実施例は、次の項目によって特定されてもよい。
（項目３）
測定するステップにおいて測定した特性は、Ｉ−Ｖ特性であり、
取得するステップは、使用回数と、プローブピン８０の抵抗値との対応関係を予め保持しており、対応関係から、抵抗値を抽出し、
補正するステップは、抵抗値によってＩ−Ｖ特性を補正することを特徴とする項目１に記載の評価方法。
【００４１】
（実施例３）
本発明の実施例３は、これまでと同様に、太陽電池セルの特性を評価するための評価装置に関する。実施例３では、実施例２と同様に、プローブピンの劣化についての補正をＩ−Ｖ特性に対して行う。実施例２では、使用回数と抵抗値との対応関係を予め保持しているが、実施例３では、測定に合わせて抵抗値も取得する。ここでは差異を中心に説明する。
【００４２】
図１１は、実施例３に係る評価装置２００の構成を示す。評価装置２００は、測定部２０２、取得部２０４、補正部２０８、出力部２１０を含む。測定部２０２は、太陽電池セル７０のバスバー電極２４、バスバー電極３４に接続されたプローブピン８０を介して、太陽電池セル７０のＩ−Ｖ特性を測定する。取得部２０４は、測定部２０２の測定において使用されるプローブピン８０の抵抗値を取得する。抵抗値の取得には、公知の技術が使用されればよいので、ここでは説明を省略する。補正部２０８は、測定部２０２からＩ−Ｖ特性を受けつけ、取得部２０４から、抵抗値を受けつける。補正部２０８は、実施例２と同様に、抵抗値によってＩ−Ｖ特性を補正する。出力部２１０は、補正部２０８において補正したＩ−Ｖ特性を出力する。
【００４３】
図１２は、評価装置２００による評価手順を示すフローチャートである。取得部２０４は、抵抗値Ｒを取得する（Ｓ５０）。測定部２０２は、Ｉ−Ｖ特性を測定する（Ｓ５２）。補正部２０８は、抵抗値Ｒ＊電流値Ｉより補正値を導出し（Ｓ５４）、補正値によってＩ−Ｖ特性を補正する（Ｓ５６）。
【００４４】
実施例３によれば、プローブピンの抵抗値を取得し、取得した抵抗値にてＩ−Ｖ特性を補正するので、測定系が経年劣化した場合でも、測定精度の劣化を抑制できる。また、測定のタイミングに抵抗値を取得するので、補正に使用するための抵抗値の精度を向上できる。
【００４５】
本実施例は、次の項目によって特定されてもよい。
（項目４）
太陽電池セル７０のバスバー電極２４、バスバー電極３４に接続されたプローブピン８０を介して、太陽電池セル７０のＩ−Ｖ特性を測定するステップと、
測定するステップにおいて使用されるプローブピン８０の抵抗値を取得するステップと、
取得するステップにおいて取得した抵抗値によって、測定するステップにおいて測定したＩ−Ｖ特性を補正するステップと、
を備えることを特徴とする評価方法。
【００４６】
（実施例４）
本発明の実施例４は、これまでと同様に、太陽電池セルの特性を評価するための評価装置に関する。これまでは、太陽電池セルの特性を測定した後に、測定値を補正している。一方、実施例４では、プローブピンの押し込み量を調節してから、測定を実行することによって、プローブピンの使用回数による劣化を抑制する。
【００４７】
図１３は、実施例４に係る評価装置２００の構成を示す。評価装置２００は、設定部２２０、取得部２２２、記憶部２２４、測定部２０２、出力部２１０を含む。測定部２０２において使用されるプローブピン８０に含まれたバネ部１１６の弾性は、前述のごとく、プローブピン８０の使用回数の増加に応じて劣化する。このことを説明するために、図１４を説明する。図１４は、測定部２０２において使用されるバネ部の特性を示す。縦軸が、プローブピン８０に加える荷重を示し、横軸が、バネ部１１６の押し込み量を示す。劣化前１４０は、初期の状態に相当し、劣化後１４２は、バネ部１１６が劣化した後の状態に相当する。このように、同一の荷重をプローブピン８０に加えても、劣化前１４０と劣化後１４２とでは押し込み量が異なっている。押し込み量が異なると、プローブピン８０の抵抗値ならびに接触抵抗値も異なる。具体的に説明すると、バネ部１１６が劣化することによって、押し込み量に対して荷重が小さくなる。そのため、プローブピン８０がバスバー電極等を押し込む力が弱くなり、接触抵抗値が大きくなる。図１３に戻る。
【００４８】
記憶部２２４は、測定部２０２において使用されるプローブピン８０の使用回数と、荷重との対応関係を予め保持する。ここでの荷重は、プローブピン８０の抵抗値が一定値に近くなる押し込み量を実現するための荷重である。これは、プローブピン８０の使用回数にかかわらず、押し込み量がほぼ一定になるような荷重である。図１５は、記憶部２２４に記憶されたテーブルのデータ構造を示す。図示のごとく、さまざまな使用回数に応じた荷重が示されている。図１３に戻る。
【００４９】
取得部２２２は、図示しない操作部を介してユーザから、プローブピン８０の使用回数に関する情報を受けつける。なお、プローブピン８０の使用回数に関する情報は、評価装置２００に記憶されており、評価装置２００からフィードバックされてもよい。取得部２２２は、受けつけた使用回数の情報をもとに、記憶部２２４から、荷重を抽出する。なお、受けつけた使用回数が、図９のテーブルに示されていない場合、取得部２２２は、内挿補間あるいは外挿補間によって荷重を導出する。取得部２２２は、荷重を設定部２２０へ出力する。
【００５０】
設定部２２０は、取得部２２２からの荷重を受けつける。設定部２２０は、押し込み量に応じて抵抗値が変化するプローブピン８０に対して、荷重を設定する。これは、プローブピン８０の抵抗値が一定値に近くなるよう押し込み量を実現するための荷重を設定することに相当する。測定部２０２は、設定部２２０に設定した荷重を加えて、太陽電池セル７０のバスバー電極２４、バスバー電極３４にプローブピン８０を接続する。また、測定部２０２は、接続したプローブピン８０を介して、太陽電池セル７０の特性を測定する。特性は、例えば、ＦＦ、Ｉ−Ｖ特性である。
【００５１】
図１６は、評価装置２００による評価手順を示すフローチャートである。取得部２２２は、記憶部２２４から荷重を取得する（Ｓ７０）。設定部２２０は、取得部２２２において取得した荷重を設定する（Ｓ７２）。測定部２０２は、設定された荷重にてプローブピン８０を太陽電池セル７０に接続して、特性を測定する（Ｓ７４）。
【００５２】
実施例４によれば、プローブピンに対して、抵抗値が一定値に近くなる押し込み量を実現するための荷重を設定してから、太陽電池セルの特性を測定するので、測定系が経年劣化した場合でも、測定精度の劣化を抑制できる。また、荷重を調節するので、経年劣化に影響を低減できる。また、プローブピンの使用回数と荷重との対応関係を予め保持するので、処理を簡易にできる。
【００５３】
本実施例は、次の項目によって特定されてもよい。
（項目５）
押し込み量に応じて抵抗値が変化するプローブピン８０に対して、抵抗値が一定値に近くなる押し込み量を実現するための荷重を設定するステップと、
設定するステップにおいて設定した荷重を加えて、太陽電池セル７０のバスバー電極２４、バスバー電極３４にプローブピン８０を接続するステップと、
接続するステップにおいて接続したプローブピン８０を介して、太陽電池セル７０の特性を測定するステップと、
を備えることを特徴とする評価方法。
【００５４】
（項目６）
設定するステップは、測定するステップにおいて使用されるプローブピン８０の使用回数と荷重との対応関係を予め保持し、対応関係から荷重を抽出することを特徴とする項目５に記載の評価方法。
【００５５】
（実施例５）
本発明の実施例５は、これまでと同様に、太陽電池セルの特性を評価するための評価装置に関する。実施例５は、実施例４と同様に、プローブピンの押し込み量を調節してから、測定を実行することによって、プローブピンの使用回数による劣化を抑制する。実施例４では、使用回数と荷重との対応関係を予め保持しているが、実施例３では、測定に合わせて荷重も取得する。ここでは差異を中心に説明する。
【００５６】
図１７は、実施例５に係る評価装置２００の構成を示す。評価装置２００は、取得部２２２、設定部２２０、測定部２０２、出力部２１０を含む。取得部２２２は、荷重を変化させることによって押し込み量を変化させて、抵抗値を測定する。また、取得部２２２は、抵抗値が一定値に近くなる押し込み量を実現するための荷重を取得する。荷重の取得には、例えば、圧力センサが使用されればよく、圧力センサとして、シート型の圧力センサあるはロードセルが使用されればよい。抵抗値は、例えば、太陽電池セル７０を挟まずに、受光面１２側に接続すべきプローブピン８０と、裏面１４側に接続すべきプローブピン８０を直接接触させることによって測定されればよい。また、既知の抵抗を持つダミーセルを挟むことによって、抵抗値が測定されてもい。ダミーセルには、例えば、金属板に太陽電池セル７０と同様の集電極を作成したものを使用してもよい。
【００５７】
図１８は、評価装置２００による評価手順を示すフローチャートである。取得部２２２は、抵抗値が一定値となるような荷重を取得する（Ｓ９０）。設定部２２０は、取得部２２２において取得した荷重を設定する（Ｓ９２）。測定部２０２は、設定された荷重にてプローブピン８０を太陽電池セル７０に接続して、特性を測定する（Ｓ９４）。
【００５８】
実施例５によれば、抵抗値が一定値に近くなる押し込み量を実現するための荷重を取得し、取得した荷重を設定してから、太陽電池セルの特性を測定するので、測定系が経年劣化した場合でも、測定精度の劣化を抑制できる。また、測定のタイミングに荷重を取得するので、設定すべき荷重の精度を向上できる。
【００５９】
本実施例は、次の項目によって特定されてもよい。
（項目７）
設定するステップは、荷重を変化させながら抵抗値を測定することによって、抵抗値が一定値に近くなる押し込み量を実現するための荷重を取得することを特徴とする項目５に記載の評価方法。
【００６０】
（実施例６）
本発明の実施例６は、実施例１から５のいずれかにおいて説明した評価装置によって複数の太陽電池セルが評価され、複数の太陽電池セルが組み合わせて太陽電池モジュールを製造する製造装置に関する。本実施例における製造装置は、太陽電池セルの特性に応じて複数のランクを規定しており、評価装置における評価結果をもとに各太陽電池セルを複数のランクのいずれかに分類する。
【００６１】
図１９は、実施例６に係る製造装置３００の構成を示す。製造装置３００は、評価部２３０、制御部２３２、分類部２３４、組立て部２３６を含む。分類部２３４は、第１ランク２５０、第２ランク２５２、第３ランク２５４、第４ランク２５６を含む。
【００６２】
評価部２３０は、実施例１から５のいずれかの評価装置２００に相当し、複数の太陽電池セル７０のそれぞれの特性を取得する。ここでの特性は、例えば、最大出力電力(Ｐｍ)とする。そのため、前述の評価装置２００において取得した特性がＦＦである場合、評価部２３０は、ＦＦ、Ｖｏｃ、Ｉｓｃから、ＦＦ＝Ｐｍ／（Ｖｏｃ＊Ｉｓｃ）によってＰｍを導出する。また、前述の評価装置２００において取得したＩ−Ｖ特性である場合、評価部２３０は、Ｉ−Ｖ特性からＰｍを導出する。評価部２３０は、複数の太陽電池セル７０のそれぞれの評価結果、例えばＰｍを分類部２３４に出力する。
【００６３】
分類部２３４は、評価部２３０から取得した特性をもとに、複数の太陽電池セル７０のそれぞれを複数のランクに振り分ける。ここでは、一例として、ランク数が「４」であるとし、各ランクに振り分けられた太陽電池セル７０を一時的に確保するためのカセットを第１ランク２５０、第２ランク２５２、第３ランク２５４、第４ランク２５６と示す。例えば、ＦＦが最大となるランクに含まれる太陽電池セル７０は第１ランク２５０に入力され、ＦＦが最小となるランクに含まれる太陽電池セル７０は第４ランク２５６に入力される。
【００６４】
組立て部２３６は、第１ランク２５０から第４ランク２５６のそれぞれに確保された太陽電池セル７０を複数選択することによって、太陽電池モジュールを製造する。ここでは、太陽電池モジュールに対して要求されている特性を満たすように、第１ランク２５０から第４ランク２５６のそれぞれから、太陽電池セル７０が選択される。太陽電池モジュールの製造には公知の技術が使用されればよいので、ここでは説明を省略する。太陽電池モジュールの構成については後述する。制御部２３２は、評価部２３０、分類部２３４、組立て部２３６の動作を制御する。
【００６５】
図２０は、組立て部２３６において製造される太陽電池モジュール１００の構成を示す。太陽電池モジュール１００は、タブ線４０、渡り配線材４２、太陽電池セル７０、ストリング７２、フレーム７４、第１保護部材７６、第２保護部材７８を含む。図２０は、太陽電池モジュール１００の上面図である。
【００６６】
複数の太陽電池セル７０は、第１保護部材７６と第２保護部材７８とにより挟まれる。また、複数の太陽電池セル７０は、図示しない充填材により封止されている。第１保護部材７６は、太陽電池セル７０の受光面１２側に配置され、第２保護部材７８は、太陽電池セル７０の裏面１４側に配置される。第１保護部材７６、第２保護部材７８には、例えば、ガラス基板や樹脂基板、樹脂フィルム等の透光性を有する部材が使用される。第２保護部材７８には、透光性を有さない、例えば白色の部材が使用されてもよい。充填材には、例えば、エチレン酢酸ビニル共重合体（ＥＶＡ）等の樹脂が使用される。複数の太陽電池セル７０のそれぞれは、分類部２３４によって振り分けられ、かつ組立て部２３６において選択されている。
【００６７】
タブ線４０は、図中の縦方向に、複数の太陽電池セル７０を接続する。タブ線４０は、隣接する太陽電池セル７０同士の間で太陽電池モジュール１００の厚み方向に曲がり、各太陽電池セル７０を直列に接続する。また、渡り配線材４２は、タブ線４０同士を接続する。タブ線４０および渡り配線材４２により、複数の太陽電池セル７０が直列に接続されたストリング７２が形成される。フレーム７４は、第１保護部材７６および第２保護部材７８の周縁に取り付けられる。さらに、太陽電池モジュール１００には、図示しない端子ボックスも備えられる。
【００６８】
実施例６によれば、測定系が経年劣化した場合でも、太陽電池セルの測定精度の劣化が抑制されているので、太陽電池セルに対するランクの振り分け精度を向上できる。また、ランクの振り分け精度が向上するので、特性のばらつきが小さい太陽電池モジュールを製造できる。
【００６９】
本実施例は、次の項目によって特定されてもよい。
（項目８）
項目１から７のいずれか１項に記載の評価方法によって、複数の太陽電池セル７０の特性を取得するステップと、
取得した特性をもとに、複数の太陽電池セル７０のそれぞれを複数のランクに振り分けるステップと、
複数のランクに振り分けられた太陽電池セル７０を複数選択することによって、太陽電池モジュール１００を製造するステップと、
を備えることを特徴とする太陽電池モジュール１００の製造方法。
【００７０】
（項目９）
項目１から７のいずれか１項に記載の評価方法によって、複数の太陽電池セル７０の特性を取得する評価部２３０と、
評価部２３０において取得した特性をもとに、複数の太陽電池セル７０のそれぞれを複数のランクに振り分ける分類部２３４と、
分類部２３４において複数のランクに振り分けられた太陽電池セル７０を複数選択することによって、太陽電池モジュール１００を製造する組立て部２３６と、
を備えることを特徴とする太陽電池モジュール１００の製造装置３００。
【００７１】
（項目１０）
複数の太陽電池セル７０を備え、
複数の太陽電池セル７０のそれぞれは、項目１から７のいずれか１項に記載の評価方法によって取得された特性をもとに、複数のランクに振り分けられており、複数のランクから選択されていることを特徴とする太陽電池モジュール１００。
【００７２】
以上、本発明を実施例をもとに説明した。この実施例は例示であり、それらの各構成要素あるいは各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
【００７３】
本発明の実施例１から６において、プローブピン８０には、バネ部１１６が備えられている。しかしながらこれに限らず例えば、バネ部１１６の代わりに、ゴム等の弾性体が備えられていてもよい。本変形例によれば、構成の自由度を向上できる。
【００７４】
本発明の実施例１から６において、プローブピン８０は、バスバー電極２４、バスバー電極３４に接続される。しかしながらこれに限らず例えば、太陽電池セル７０がバスバー電極を備えない構成の場合、プローブピン８０は、フィンガー電極２２、フィンガー電極３２に接続されてもよい。本変形例によれば、測定可能な太陽電池セル７０のタイプを増加できる。
【００７５】
本発明の実施例１、２、４、６において、使用回数を変数とする対応関係が予め保持され、使用回数に応じた値が取得されている。しかしながらこれに限らず例えば、使用回数がしきい値よりも大きい場合、値が取得される代わりに、アラーム等の通知がなされてもよい。また、評価処理が停止されてもよい。本変形例によれば、使用回数が多くなりすぎて、正確な特性の出力が困難な場合にそのことをユーザに知らせることができる。
【符号の説明】
【００７６】
２００  評価装置、  ２０２  測定部、  ２０４  取得部、  ２０６  記憶部、  ２０８  補正部、  ２１０  出力部。
【図１】
0006406599.tif 000002
【図２】
0006406599.tif 000003
【図３】
0006406599.tif 000004
【図４】
0006406599.tif 000005
【図５】
0006406599.tif 000006
【図６】
0006406599.tif 000007
【図７】
0006406599.tif 000008
【図８】
0006406599.tif 000009
【図９】
0006406599.tif 000010
【図１０】
0006406599.tif 000011
【図１１】
0006406599.tif 000012
【図１２】
0006406599.tif 000013
【図１３】
0006406599.tif 000014
【図１４】
0006406599.tif 000015
【図１５】
0006406599.tif 000016
【図１６】
0006406599.tif 000017
【図１７】
0006406599.tif 000018
【図１８】
0006406599.tif 000019
【図１９】
0006406599.tif 000020
【図２０】
0006406599.tif 000021