(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列（２１,２２,２３,２４）と、
複数の前記発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する駆動手段（４３）と、
複数の前記発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の前記発光素子列に定電流を供給する複数の電流源（６１,６２, ６３,６４）と、
複数の前記発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている前記電流源との接続点における電圧を検出する電圧検出手段（８１,８２,８３,８４）と、
複数の前記電流源で発生する損失の合計値である総損失を算出する損失算出手段（Ｓ１０）と、
前記損失算出手段により算出された前記総損失が予め設定された異常判定損失以上である場合に、複数の前記発光素子列のうち、前記接続点での電圧が最も大きい前記発光素子列の駆動を停止する第１駆動停止手段（Ｓ２０，Ｓ３０）とを備える
ことを特徴とする発光装置（３）。
【請求項２】
当該発光装置内の温度を検出する温度検出手段（９０）と、
前記温度検出手段により検出された前記温度に基づいて、前記異常判定損失を設定する第１設定手段（Ｓ１２０）とを備える
ことを特徴とする請求項１に記載の発光装置。
【請求項３】
検査モードであるか否かを判断する検査モード判断手段（Ｓ３１０）と、
前記検査モードであると前記検査モード判断手段が判断した場合に、複数の前記接続点のそれぞれについて、前記接続点の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する第１検査手段（Ｓ３２０）とを備える
ことを特徴とする請求項１に記載の発光装置。
【請求項４】
検査モードであるか否かを判断する検査モード判断手段（Ｓ４１０）と、
前記検査モードであると前記検査モード判断手段が判断した場合に、複数の前記接続点のそれぞれについて、前記接続点の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する第１検査手段（Ｓ４２０）と、
前記温度検出手段により検出された前記温度に基づいて、前記検査モード異常判定電圧を設定する第２設定手段（Ｓ４２０）とを備える
ことを特徴とする請求項２に記載の発光装置。
【請求項５】
前記損失算出手段は、
前記電流源が供給する電流に対して、対応する前記接続点での電圧を乗ずることにより、
前記電流源で発生する前記損失を算出する
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れか１項に記載の発光装置。
【請求項６】
複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列（２１,２２,２３,２４）を発光させる発光装置（３）であって、
複数の前記発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する駆動手段（４３）と、
複数の前記発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の前記発光素子列に定電流を供給する複数の電流源（６１,６２, ６３,６４）と、
複数の前記発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている前記電流源との接続点における電圧が、予め設定されたショート検出電圧以上であるか否かを判断するショート判断手段（１０１,１０２,１０３,１０４, １１０）と、
前記接続点での電圧が前記ショート検出電圧以上である前記発光素子列が存在すると前記ショート判断手段が判断した場合に、前記ショート検出電圧を増加させる増加手段と、
当該発光装置内の温度を検出する温度検出手段（９０）と、
前記温度検出手段により検出された前記温度が予め設定された異常判定温度以上である場合に、前記接続点での電圧が前記ショート検出電圧以上である前記発光素子列の駆動を停止する第２駆動停止手段（Ｓ２３０，Ｓ２６０）とを備える
ことを特徴とする発光装置。
【請求項７】
検査モードであるか否かを判断する検査モード判断手段（Ｓ５１０）と、
前記検査モードであると前記検査モード判断手段が判断した場合に、複数の前記接続点のそれぞれについて、前記接続点の電圧が予め設定された検査モード用ショート検出電圧以上であるか否かを判断する第２検査手段（Ｓ５２０）とを備える
ことを特徴とする請求項６に記載の発光装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の発光素子を発光させる発光装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列を発光させる発光装置において、発光素子列を構成する複数の発光素子のうち１個の発光素子でショートが発生しているか否かを判断する技術が知られている（例えば、特許文献１を参照）。発光素子列における１個の発光素子のショートを検出することにより、発光装置において輝度ムラが発生するのを抑制することが可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１１−１８１３７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
発光素子列でショートが発生すると回路損失が増加し、発光装置で熱異常となる可能性があるため、ショートが発生している発光素子列の駆動を停止させることにより、発光装置で熱異常となる可能性を低減することができる。しかし、発光素子列の駆動を停止させると発光装置の輝度の低下が懸念される。
【０００５】
本発明は、こうした問題に鑑みてなされたものであり、発光装置の輝度の低下と発光装置における熱異常の発生とを抑制する技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するためになされた第１発明の発光装置は、複数の発光素子列と、駆動手段と、複数の電流源と、電圧検出手段と、損失算出手段と、第１駆動停止手段とを備える。
【０００７】
複数の発光素子列は、複数の発光素子が直列に接続される。駆動手段は、複数の発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する。
複数の電流源は、複数の発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の発光素子列に定電流を供給する。
【０００８】
電圧検出手段は、複数の発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点における電圧を検出する。
損失算出手段は、複数の電流源で発生する損失の合計値である総損失を算出する。
【０００９】
第１駆動停止手段は、損失算出手段により算出された総損失が予め設定された異常判定損失以上である場合に、複数の発光素子列のうち、接続点での電圧が最も大きい発光素子列の駆動を停止する。
【００１０】
このように構成された第１発明の発光装置は、総損失が異常判定損失以上である場合に、少なくとも１つの発光素子列の駆動を停止することにより、総損失が異常判定損失以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置における熱異常の発生を抑制することができる。
【００１１】
換言すると、総損失が異常判定損失以上になるまでは、発光素子列の駆動が停止されない。例えば、発光素子列を構成する複数の発光素子のうちの１個の発光素子でショートが発生したとしても、総損失が異常判定損失未満である場合には、ショートが発生している発光素子列の駆動が停止されない。このため、第１発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下を抑制することができる。
【００１２】
以上より、第１発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下と発光装置における熱異常の発生とを抑制することができる。
上記目的を達成するためになされた第２発明は、複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列を発光させる発光装置であって、駆動手段と、複数の電流源と、ショート判断手段と、増加手段と、温度検出手段と、第２駆動停止手段とを備える。
【００１３】
駆動手段は、複数の発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する。複数の電流源は、複数の発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の発光素子列に定電流を供給する。
【００１４】
ショート判断手段は、複数の発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点における電圧が、予め設定されたショート検出電圧以上であるか否かを判断する。
【００１５】
増加手段は、接続点での電圧がショート検出電圧以上である発光素子列が存在するとショート判断手段が判断した場合に、ショート検出電圧を増加させる。
温度検出手段は、当該発光装置内の温度を検出する。第２駆動停止手段は、温度検出手段により検出された温度が予め設定された異常判定温度以上である場合に、接続点での電圧がショート検出電圧以上である発光素子列の駆動を停止する。
【００１６】
このように構成された第２発明の発光装置は、当該発光装置内の温度が異常判定温度以上である場合に、少なくとも１つの発光素子列の駆動を停止することにより、当該発光装置内の温度が異常判定温度以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置における熱異常の発生を抑制することができる。
【００１７】
換言すると、当該発光装置内の温度が異常判定温度以上になるまでは、発光素子列の駆動が停止されない。発光素子列を構成する発光素子でショートが発生した（すなわち、接続点での電圧がショート検出電圧以上である）場合であっても、当該発光装置内の温度が異常判定温度未満である場合には、ショートが発生している発光素子列の駆動が停止されない。このため、第２発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下を抑制することができる。
【００１８】
以上より、第２発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下と発光装置における熱異常の発生とを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】第１実施形態の表示装置１の構成を示す回路図である。
【図２】第１実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。
【図３】異常ケースＣ１，Ｃ２，Ｃ３を説明する図である。
【図４】第２実施形態の表示装置１の構成を示す回路図である。
【図５】第２実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。
【図６】第３実施形態の表示装置１の構成を示す回路図である。
【図７】電圧設定回路１１０の構成を示す回路図である。
【図８】第３実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。
【図９】第４実施形態の表示装置１の構成を示す回路図である。
【図１０】第４実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。
【図１１】第５実施形態の表示装置１の構成を示す回路図である。
【図１２】第５実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。
【図１３】第６実施形態の表示装置１の構成を示す回路図である。
【図１４】第６実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
（第１実施形態）
以下に本発明の第１実施形態を図面とともに説明する。
本実施形態の表示装置１は、図１に示すように、表示装置１の表示画面を構成する液晶パネル２と、液晶パネル２の背面側から液晶パネル２に向けて光を照射する発光装置３とを備える。
【００２１】
液晶パネル２は、二次元格子状に配列された複数の液晶素子を備える。液晶パネル２は、複数の液晶素子を用いて、発光装置３から照射された光を部分的に遮ったり透過させたりすることによって画像を表示する。
【００２２】
発光装置３は、発光素子アレイ１１、昇圧回路１２および駆動部１３を備える。
発光素子アレイ１１は、複数（本実施形態では４つ）の発光素子列２１，２２，２３，２４を備える。発光素子列２１〜２４は、互いに直列に接続された複数（本実施形態では５つ）の発光素子を、予め設定された列方向Ｄ１に沿って予め設定された配置間隔毎に配置することにより構成されている。
【００２３】
昇圧回路１２は、インダクタ３１、ダイオード３２およびコンデンサ３３を備える。インダクタ３１は、一端に入力電圧Ｖｉが印加されるとともに、他端が駆動部１３のスイッチ素子７５（後述）に接続される。ダイオード３２は、カソードがコンデンサ３３の一端に接続されるとともに、アノードがインダクタ３１の他端に接続される。コンデンサ３３は、一端が上述のようにダイオード３２のカソードに接続されるとともに、他端が接地される。
【００２４】
このように構成された昇圧回路１２では、スイッチ素子７５がオフ状態であれば、ダイオード３２とコンデンサ３３との接続点Ｔｏ（以下、電圧出力部Ｔｏという）に、ダイオード３２を介して入力電圧Ｖｉが印加されており、電圧出力部の電圧は入力電圧Ｖｉと等しくなっている。そしてスイッチ素子７５がオン状態になると、インダクタ３１へ通電が行われ、インダクタ３１にエネルギーが蓄積される。その後、スイッチ素子７５がオフ状態になると、インダクタ３１に蓄積されたエネルギーがダイオード３２を介して電圧出力部Ｔｏ側に放出されることにより、電圧出力部Ｔｏに入力電圧Ｖｉより高い電圧Ｖｏを発生させることができる。
【００２５】
つまり昇圧回路１２は、駆動部１３から出力されるＰＷＭ信号に従ってスイッチ素子７５がオン状態／オフ状態を繰り返すことにより、入力電圧Ｖｉの昇圧を行う。
そして、電圧出力部Ｔｏは、発光素子列２１，２２，２３，２４におけるアノード側の端部に接続される。
【００２６】
駆動部１３は、接続端子群４１、電流源群４２、電圧制御部４３および異常検出部４４を備える。
接続端子群４１は、接続端子５１，５２，５３，５４，５５を備える。接続端子５１，５２，５３，５４はそれぞれ、発光素子列２１，２２，２３，２４におけるカソード側の端部に接続される。接続端子５５は、インダクタ３１の他端に接続される。
【００２７】
電流源群４２は、電流源６１，６２，６３，６４を備える。電流源６１，６２，６３，６４はそれぞれ、一端が接続端子５１，５２，５３，５４に接続されるとともに、他端が接地される。
【００２８】
電圧制御部４３は、誤差増幅器７１、発振器７２、ＰＷＭコンパレータ７３、駆動回路７４およびスイッチ素子７５を備える。
誤差増幅器７１は、４つの反転入力端子（−端子）と、１つの非反転入力端子（＋端子）と、１つの出力端子とを備える。４つの反転入力端子はそれぞれ、接続端子５１，５２，５３，５４に接続される。非反転入力端子には基準電圧Ｖｘが入力される。
【００２９】
誤差増幅器７１は、４つの反転入力端子に印加された電圧のうち、最も低い電圧と基準電圧Ｖｘとの差に応じた誤差電圧Ｖｅを生成して、出力端子から誤差電圧Ｖｅを出力する。
【００３０】
発振器７２は、一定周期の鋸波を出力する。
ＰＷＭコンパレータ７３は、誤差増幅器７１からの誤差電圧Ｖｅと、発振器７２からの鋸波とが入力される。そしてＰＷＭコンパレータ７３は、誤差電圧Ｖｅと鋸波の振幅を比較することにより、誤差電圧Ｖｅに応じたデューティ比のＰＷＭ信号を出力する。
【００３１】
駆動回路７４は、ＰＷＭコンパレータ７３出力されたＰＷＭ信号に従って、スイッチ素子７５をスイッチング駆動する。
スイッチ素子７５は、一端が接続端子５５に接続されるとともに、他端が接地される。そしてスイッチ素子７５は、駆動回路７４から入力される駆動信号に基づいて、一端と他端とが電気的に導通した導通状態と、一端と他端とが電気的に導通していない非導通状態との何れかの状態になるように駆動される。
【００３２】
異常検出部４４は、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４と、制御部８５とを備える。
ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４はそれぞれ、接続端子５１，５２，５３，５４に接続されている。そしてＡＤ変換器８１，８２，８３，８４は、入力されるアナログの信号をデジタルデータに変換して、制御部８５へ出力する。
【００３３】
制御部８５は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、Ｉ／Ｏ及びこれらの構成を接続するバスラインなどを備える周知のマイクロコンピュータを中心に構成されており、電流源群４２を制御する。そして制御部８５は、ＲＯＭが記憶するプログラムに基づく処理をＣＰＵが実行することにより、異常検出処理（後述）を実行する。
【００３４】
次に、制御部８５のＣＰＵが実行する異常検出処理の手順を説明する。異常検出処理は、制御部８５が起動した直後に開始される処理である。
この異常検出処理が実行されると、制御部８５は、図２に示すように、まずＳ１０にて、損失計算を行う。具体的には、損失Ｗを下式（１）により算出する。なお、下式（１）において、Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４はそれぞれ、発光素子列２１，２２，２３，２４に流れる電流の値であり、電流源６１，６２，６３，６４の回路定数で決まる値である。また、Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４はそれぞれ、接続端子５１，５２，５３，５４における電圧の値である。
【００３５】
Ｗ  ＝  Ｉ１×Ｖ１＋Ｉ２×Ｖ２＋Ｉ３×Ｖ３＋Ｉ４×Ｖ４    ・・・（１）
但し、式（１）による計算は、発光素子列２１，２２，２３，２４のうち駆動している発光素子列に対して行う。すなわち、式（１）による計算は、後述のＳ３０で行われる異常処理において駆動を停止させられた発光素子列を除外して行われる。
【００３６】
そしてＳ２０にて、Ｓ１０で算出した損失Ｗが、予め設定された異常判定損失Ｗ０より小さいか否かを判断する。ここで、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０より小さい場合には（Ｓ２０：ＹＥＳ）、Ｓ１０に移行する。
【００３７】
一方、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０以上である場合には（Ｓ２０：ＮＯ）、Ｓ３０にて異常処理を行う。具体的には、発光素子列２１，２２，２３，２４のうち、接続端子の電圧値が最も大きいものの駆動を停止する。例えば、接続端子５１，５２，５３，５４のうち接続端子５４の電圧値が最大である場合には、電流源６４による電流供給を停止することにより、発光素子列２４の駆動を停止する。
【００３８】
そして、Ｓ３０の処理が終了すると、Ｓ１０に移行する。
このように構成された発光装置３は、４個の発光素子列２１，２２，２３，２４と、電圧制御部４３と、４個の電流源６１，６２，６３，６４と、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４と、制御部８５とを備える。
【００３９】
４個の発光素子列２１〜２４は、複数の発光素子が直列に接続される。
電圧制御部４３は、４個の発光素子列２１〜２４のそれぞれに対して同一の電圧Ｖｏを印加する。
【００４０】
４個の電流源６１〜６４は、４個の発光素子列２１〜２４のそれぞれに直列に接続されて、４個の発光素子列２１〜２４に定電流を供給する。
ＡＤ変換器８１〜８４は、４個の発光素子列２１，２２，２３，２４のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点である接続端子５１，５２，５３，５４における電圧を検出する。
【００４１】
制御部８５は、４個の電流源６１〜６４で発生する損失の合計値である損失Ｗを算出する（Ｓ１０）。
制御部８５は、算出された損失Ｗが予め設定された異常判定損失Ｗ０以上である場合に、４個の発光素子列２１〜２４のうち、接続端子での電圧が最も大きい発光素子列の駆動を停止する（Ｓ２０，Ｓ３０）。
【００４２】
このように構成された発光装置３は、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０以上である場合に、少なくとも１つの発光素子列の駆動を停止することにより、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置３における熱異常の発生を抑制することができる。
【００４３】
換言すると、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０以上になるまでは、発光素子列２１〜２４の駆動が停止されない。
例えば、発光素子列２１〜２４を構成する複数の発光素子のうちの１個の発光素子でショートが発生したとしても、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０未満である場合には、ショートが発生している発光素子列２１〜２４の駆動が停止されない。
【００４４】
ここで、発光素子列２１〜２４について、接続端子５１〜５４の電圧とショート検出電圧とを比較することにより、熱異常を抑制する方法を説明する。
例えば、ショートが発生した発光素子の個数が３個の場合には熱異常とならないとする。この場合には、図３に示すように、３個の発光素子列でそれぞれ１個の発光素子でショートが発生する状況（図３の異常ケースＣ１を参照）を考慮し、ショート検出電圧は、１つの発光素子列における１個の発光素子でショートが発生したときの電圧よりも高く、２個の発光素子でショートが発生したときの電圧よりも低くなるように設定される。
【００４５】
このため、１つの発光素子列における２個の発光素子でショートが発生する状況（図３の異常ケースＣ２を参照）では、この発光素子列（図３では発光素子列２４）に対応する接続端子の電圧がショート検出電圧を超えるために、この発光素子列（図３では発光素子列２４）の駆動が停止される。これにより、熱異常が発生しない状況であるにも関わらず、１個の発光素子列分の発光が行われなくなり、発光装置の輝度が低下してしまう。
【００４６】
これに対して、本実施形態の発光装置３は、１つの発光素子列における２個の発光素子でショートが発生する状況であっても、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０未満である場合には、ショートが発生している発光素子列２１〜２４の駆動が停止されない。このため、発光装置３は、発光装置３の輝度の低下を抑制することができる。
【００４７】
以上より、発光装置３は、発光装置３の輝度の低下と発光装置３における熱異常の発生とを抑制することができる。
以上説明した実施形態において、電圧制御部４３は本発明における駆動手段、ＡＤ変換器８１〜８４は本発明における電圧検出手段、Ｓ１０の処理は本発明における損失算出手段、Ｓ２０，Ｓ３０の処理は本発明における第１駆動停止手段である。
【００４８】
（第２実施形態）
以下に本発明の第２実施形態を図面とともに説明する。なお第２実施形態では、第１実施形態と異なる部分を説明する。
【００４９】
第２実施形態の表示装置１は、図４に示すように、温度検出回路９０が追加された点が第１実施形態と異なる。
温度検出回路９０は、駆動部１３の温度を検出し、その検出結果を示す温度検出信号を制御部８５へ出力する。
【００５０】
また、第２実施形態の表示装置１は、異常検出処理が変更された点が第１実施形態と異なる。
第２実施形態の異常検出処理が実行されると、制御部８５は、図５に示すように、まずＳ１１０にて、温度検出回路９０から入力された温度検出信号に基づいて、駆動部１３の温度を算出する。
【００５１】
そしてＳ１２０にて、Ｓ１１０で算出された温度に基づいて、異常判定損失Ｗ０を設定する。具体的には、温度と異常判定損失Ｗ０との間の対応関係が予め設定された設定テーブルを参照して、異常判定損失Ｗ０を設定する。なお、設定テーブルは、制御部８５に予め記憶されている。
【００５２】
次にＳ１３０にて、Ｓ１０と同様にして、損失Ｗを算出する。そしてＳ１４０にて、Ｓ１３０で算出した損失Ｗが、Ｓ１２０で設定された異常判定損失Ｗ０より小さいか否かを判断する。ここで、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０より小さい場合には（Ｓ１４０：ＹＥＳ）、Ｓ１１０に移行する。
【００５３】
一方、損失Ｗが異常判定損失Ｗ０以上である場合には（Ｓ１４０：ＮＯ）、Ｓ１５０にて、Ｓ３０と同様にして、異常処理を行い、Ｓ１１０に移行する。
このように構成された発光装置３は、発光装置３内の温度を検出する温度検出回路９０を備える。そして、発光装置３の制御部８５は、温度検出回路９０より検出された温度に基づいて、異常判定損失Ｗ０を設定する（Ｓ１２０）。
【００５４】
これにより、第２実施形態の発光装置３は、発光装置３内の温度に応じて、熱異常にならない適切な異常判定損失Ｗ０を設定することができる。
例えば、発光装置３内の温度Ｔｄ１では、ショートが発生した発光素子の個数が３個の場合には熱異常とならないとする。この場合には、図３に示すように、１つの発光素子列における４個の発光素子でショートが発生する状況（図３の異常ケースＣ３を参照）で、この発光素子列（図３では発光素子列２４）の駆動が停止される。
【００５５】
一方、発光装置３内の温度Ｔｄ２では、ショートが発生した発光素子の個数が４個の場合には熱異常とならないとする。この場合には、温度Ｔｄ２に応じて適切な異常判定損失Ｗ０が設定される。このため、１つの発光素子列における４個の発光素子でショートが発生しても、この発光素子列（図３では発光素子列２４）の駆動が継続される。
【００５６】
このため、第２実施形態の発光装置３は、発光装置３の輝度の低下と発光装置３における熱異常の発生とを更に抑制することができる。
以上説明した実施形態において、温度検出回路９０は本発明における温度検出手段、Ｓ１２０の処理は本発明における第１設定手段である。
【００５７】
（第３実施形態）
以下に本発明の第３実施形態を図面とともに説明する。なお第２実施形態では、第１実施形態と異なる部分を説明する。
【００５８】
第３実施形態の表示装置１は、図６に示すように、異常検出部４４の構成が変更された点と、温度検出回路９０および電圧設定回路１１０が追加された点が第１実施形態と異なる。
【００５９】
異常検出部４４は、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４の代わりに、コンパレータ１０１，１０２，１０３，１０４を備える。
コンパレータ１０１，１０２，１０３，１０４はそれぞれ、非反転入力端子（＋端子）に接続端子５１，５２，５３，５４が接続され、反転入力端子（−端子）にショート検出電圧Ｖｓが印加される。
【００６０】
そして、コンパレータ１０１，１０２，１０３，１０４は、非反転入力端子の電圧が反転入力端子の電圧未満である場合には、ローレベルの信号を制御部８５へ出力し、非反転入力端子の電圧が反転入力端子の電圧以上である場合に、ハイレベルの信号を制御部８５へ出力する。
【００６１】
温度検出回路９０は、駆動部１３の温度を検出し、その検出結果を示す温度検出信号を制御部８５へ出力する。
電圧設定回路１１０は、図７に示すように、トランジスタ１１１，１１２と抵抗１１３，１１４，１１５とを備える。
【００６２】
トランジスタ１１１，１１２は、ＮＰＮ型のトランジスタであり、エミッタ、ベースおよびコレクタを有する。
トランジスタ１１１，１１２のエミッタは、接地される。トランジスタ１１１，１１２のコレクタはそれぞれ、抵抗１１４，１１５の一端に接続される。トランジスタ１１１，１１２のベースはそれぞれ制御部８５に接続される。抵抗１１３は、一端に電圧Ｖｃｃが印加されるとともに、他端が抵抗１１４，１１５の他端に接続される。
【００６３】
制御部８５は、トランジスタ１１１，１１２のそれぞれに対して、トランジスタ１１１，１１２のオン・オフを制御するトランジスタ制御信号を出力する。具体的には、トランジスタ制御信号をローレベルにすると、トランジスタ１１１，１１２がオフ状態となり、トランジスタ制御信号をハイレベルにすると、トランジスタ１１１，１１２がオン状態となる。
【００６４】
このため、制御部８５が、トランジスタ１１１とトランジスタ１１２に対してそれぞれハイレベルとローレベルのトランジスタ制御信号を出力した場合には、抵抗１１３と抵抗１１４とトランジスタ１１１に電流が流れる一方、抵抗１１５とトランジスタ１１２には電流が流れない。これにより、抵抗１１３と抵抗１１４，１１５との接続点Ｐｃにおけるショート検出電圧Ｖｓは、下式（２）に示す値となる。なお、下式（２）において、Ｒ０，Ｒ１はそれぞれ、抵抗１１３，１１４の抵抗値である。
【００６５】
Ｖｓ  ＝  Ｖｃｃ×Ｒ０／（Ｒ０＋Ｒ１）    ・・・（２）
式（２）で算出されるショート検出電圧Ｖｓの値は、発光素子列２１〜２４を構成する５個の発光素子でショートが発生していないときにおける接続端子５１〜５４の電圧よりも高くなるように設定される。さらに、式（２）で算出されるショート検出電圧Ｖｓの値は、発光素子列２１〜２４を構成する５個の発光素子のうち１個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子５１〜５４の電圧よりも低くなるように設定される。
【００６６】
また制御部８５が、トランジスタ１１１とトランジスタ１１２に対してハイレベルのトランジスタ制御信号を出力した場合には、抵抗１１３と抵抗１１４とトランジスタ１１１に電流が流れ、抵抗１１３と抵抗１１５とトランジスタ１１２に電流が流れる。これにより、接続点Ｐｃにおけるショート検出電圧Ｖｓは、下式（３）に示す値となる。なお、下式（３）において、Ｒ２は、抵抗１１５の抵抗値である。
【００６７】
Ｖｓ  ＝  Ｖｃｃ×Ｒ０／｛Ｒ０＋Ｒ１×Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）｝    ・・・（３）
式（３）で算出されるショート検出電圧Ｖｓの値は、発光素子列２１〜２４を構成する５個の発光素子のうち１個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子５１〜５４の電圧よりも高くなるように設定される。さらに、式（３）で算出されるショート検出電圧Ｖｓの値は、発光素子列２１〜２４を構成する５個の発光素子のうち２個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子５１〜５４の電圧よりも低くなるように設定される。
【００６８】
また、第３実施形態の表示装置１は、異常検出処理が変更された点が第１実施形態と異なる。
第３実施形態の異常検出処理が実行されると、制御部８５は、図８に示すように、まずＳ２１０にて、ショート検出電圧Ｖｓを初期値に設定する。具体的には、トランジスタ１１１に対するトランジスタ制御信号をハイレベルにするとともに、トランジスタ１１２に対するトランジスタ制御信号をローレベルにする。
【００６９】
次にＳ２２０にて、Ｓ１１０と同様にして、温度検出回路９０から入力された温度検出信号に基づいて、駆動部１３の温度Ｔを算出する。
そしてＳ２３０にて、Ｓ２２０で算出された温度Ｔが予め設定された異常判定温度Ｔｍａｘより小さいか否かを判断する。ここで、温度Ｔが異常判定温度Ｔｍａｘより小さい場合には（Ｓ２３０：ＹＥＳ）、Ｓ２４０にて、ショートを検出したか否かを判断する。具体的には、コンパレータ１０１〜１０４から出力された信号の少なくとも１つがハイレベルである場合に、ショートを検出したと判断し、コンパレータ１０１〜１０４から出力された信号が全てローレベルである場合に、ショートを検出していないと判断する。
【００７０】
ここで、ショートを検出していない場合には（Ｓ２４０：ＮＯ）、Ｓ２２０に移行する。一方、ショートを検出した場合には（Ｓ２４０：ＹＥＳ）、Ｓ２５０にて、ショート検出電圧Ｖｓを変更し、Ｓ２２０に移行する。具体的には、トランジスタ１１１，１１２に対するトランジスタ制御信号をハイレベルにする。但し、トランジスタ１１１，１１２に対するトランジスタ制御信号が既にハイレベルである場合には、トランジスタ制御信号に関する処理を行わずに、Ｓ２２０に移行する。
【００７１】
またＳ２３０にて、温度Ｔが異常判定温度Ｔｍａｘ以上である場合には（Ｓ２３０：ＮＯ）、Ｓ２６０にて、異常処理を行う。具体的には、発光素子列２１，２２，２３，２４のうち、コンパレータから出力される信号がハイレベルであるものの駆動を停止する。例えば、コンパレータ１０１，１０２，１０３，１０４のうちコンパレータ１０３から出力される信号がハイレベルである場合には、電流源６３による電流供給を停止することにより、発光素子列２３の駆動を停止する。
【００７２】
そして、Ｓ２６０の処理が終了すると、Ｓ２２０に移行する。
このように構成された発光装置３は、複数の発光素子が直列に接続された４個の発光素子列２１，２２，２３，２４を発光させる。そして発光装置３は、電圧制御部４３と、４個の電流源６１，６２，６３，６４と、コンパレータ１０１，１０２，１０３，１０４および電圧設定回路１１０と、温度検出回路９０と、制御部８５とを備える。
【００７３】
電圧制御部４３は、４個の発光素子列２１〜２４のそれぞれに対して同一の電圧Ｖｏを印加する。
４個の電流源６１〜６４は、４個の発光素子列２１〜２４のそれぞれに直列に接続されて、４個の発光素子列２１〜２４に定電流を供給する。
【００７４】
コンパレータ１０１〜１０４および電圧設定回路１１０は、４個の発光素子列２１〜２４のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点である接続端子５１〜５４における電圧が、予め設定されたショート検出電圧Ｖｓ以上であるか否かを判断する。
【００７５】
制御部８５は、接続端子５１〜５４での電圧がショート検出電圧Ｖｓ以上である発光素子列が存在すると判断した場合に、ショート検出電圧Ｖｓを増加させる（Ｓ２５０）。
温度検出回路９０は、発光装置３内の温度を検出する。
【００７６】
制御部８５は、温度検出回路９０により検出された温度Ｔが予め設定された異常判定温度Ｔｍａｘ以上である場合に、接続端子での電圧がショート検出電圧Ｖｓ以上である発光素子列の駆動を停止する（Ｓ２３０，Ｓ２６０）。
【００７７】
このように構成された発光装置３は、発光装置３内の温度Ｔが異常判定温度Ｔｍａｘ以上である場合に、少なくとも１つの発光素子列の駆動を停止することにより、発光装置３内の温度Ｔが異常判定温度Ｔｍａｘ以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置３における熱異常の発生を抑制することができる。
【００７８】
換言すると、発光装置３内の温度Ｔが異常判定温度Ｔｍａｘ以上になるまでは、発光素子列２１〜２４の駆動が停止されない。発光素子列２１〜２４を構成する発光素子でショートが発生した（すなわち、接続端子５１〜５４での電圧がショート検出電圧Ｖｓ以上である）場合であっても、発光装置３内の温度Ｔが異常判定温度Ｔｍａｘ未満である場合には、ショートが発生している発光素子列の駆動が停止されない。このため、発光装置３は、発光装置３の輝度の低下を抑制することができる。
【００７９】
以上より、発光装置３は、発光装置３の輝度の低下と発光装置３における熱異常の発生とを抑制することができる。
以上説明した実施形態において、コンパレータ１０１〜１０４および電圧設定回路１１０は本発明におけるショート判断手段、Ｓ２５０の処理は本発明における増加手段、温度検出回路９０は本発明における温度検出手段、Ｓ２３０，Ｓ２６０の処理は本発明における第２駆動停止手段である。
【００８０】
（第４実施形態）
以下に本発明の第４実施形態を図面とともに説明する。なお第４実施形態では、第１実施形態と異なる部分を説明する。
【００８１】
第４実施形態の表示装置１は、図９に示すように、表示装置１の外部から制御部８５へイベント信号が入力可能に構成されている点が第１実施形態と異なる。
また、第４実施形態の表示装置１は、異常検出処理が変更された点が第１実施形態と異なる。そして、第４実施形態の表示装置１は、図１０に示すように、Ｓ３１０，Ｓ３２０の処理が追加された点が第１実施形態と異なる。
【００８２】
すなわち、Ｓ１０の処理が終了すると、Ｓ３１０にて、検査モードであるか否かを判断する。具体的には、イベント信号が入力された場合には、検査モードであると判断し、イベント信号が入力されていない場合には、通常モードであると判断する。
【００８３】
ここで、検査モードでない場合には（Ｓ３１０：ＮＯ）、Ｓ２０に移行する。一方、検査モードである場合には（Ｓ３１０：ＹＥＳ）、Ｓ３２０にて、ショート判定処理を実行し、Ｓ２０に移行する。
【００８４】
Ｓ３２０では、具体的には、まず、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４から入力されるデジタルデータの値（すなわち、接続端子５１，５２，５３，５４の電圧値）が、予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する。検査モード異常判定電圧は、発光素子列２１〜２４を構成する５個の発光素子のうち１個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子５１〜５４の電圧よりも低くなるように設定される。
【００８５】
なお、表示装置１を製造する製造工場において、表示装置１を検査する検査工程などで検査するときの検査温度は一定であることが多い。そして、検査温度が特定できれば、１個の発光素子の順方向電圧Ｖｆのバラツキも特定することが可能である。このため、検査モード異常判定電圧は、検査温度における順方向電圧Ｖｆのバラツキを考慮して、順方向電圧Ｖｆがばらついても１個の発光素子のショートを検出することができる値に設定される。
【００８６】
そしてＳ３２０では、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４から入力されるデジタルデータの値の全てが検査モード異常判定電圧未満である場合に、ショート異常が発生していないと判断する。一方、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４から入力されるデジタルデータの値のうち少なくとも１つが検査モード異常判定電圧以上である場合に、ショート異常が発生したと判断する。
【００８７】
このように構成された発光装置３では、制御部８５が、検査モードであるか否かを判断する（Ｓ３１０）。そして制御部８５が、検査モードであると判断した場合に、接続端子５１，５２，５３，５４の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する（Ｓ３２０）。これにより、発光装置３は、検査モードにすることにより、接続端子５１，５２，５３，５４の電圧と検査モード異常判定電圧とに基づいて発光素子列２１，２２，２３，２４のショート判定を行うことができる。
【００８８】
以上説明した実施形態において、Ｓ３１０の処理は本発明における検査モード判断手段、Ｓ３２０の処理は本発明における第１検査手段である。
（第５実施形態）
以下に本発明の第５実施形態を図面とともに説明する。なお第４実施形態では、第２実施形態と異なる部分を説明する。
【００８９】
第５実施形態の表示装置１は、図１１に示すように、表示装置１の外部から制御部８５へイベント信号が入力可能に構成されている点が第２実施形態と異なる。
また、第５実施形態の表示装置１は、異常検出処理が変更された点が第２実施形態と異なる。そして、第５実施形態の表示装置１は、図１２に示すように、Ｓ４１０，Ｓ４２０の処理が追加された点が第１実施形態と異なる。
【００９０】
すなわち、Ｓ１３０の処理が終了すると、Ｓ４１０にて、Ｓ３１０と同様にして、検査モードであるか否かを判断する。ここで、検査モードでない場合には（Ｓ４１０：ＮＯ）、Ｓ１４０に移行する。一方、検査モードである場合には（Ｓ４１０：ＹＥＳ）、Ｓ４２０にて、ショート判定処理を実行し、Ｓ１４０に移行する。
【００９１】
Ｓ４２０では、具体的には、まず、Ｓ１１０で算出された温度に基づいて、検査モード異常判定電圧を設定する。具体的には、温度と検査モード異常判定電圧との間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード異常判定電圧を設定する。なお、検査モード用設定テーブルは、制御部８５に予め記憶されている。
【００９２】
なお検査モード異常判定電圧は、Ｓ１１０で算出される温度（すなわち、駆動部１３の温度）における順方向電圧Ｖｆのバラツキを考慮して、順方向電圧Ｖｆがばらついても１個の発光素子のショートを検出することができる値に設定される。
【００９３】
そしてＳ４２０では、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４から入力されるデジタルデータの値の全てが検査モード異常判定電圧未満である場合に、ショート異常が発生していないと判断する。一方、ＡＤ変換器８１，８２，８３，８４から入力されるデジタルデータの値のうち少なくとも１つが検査モード異常判定電圧以上である場合に、ショート異常が発生したと判断する。
【００９４】
このように構成された発光装置３では、制御部８５が、検査モードであるか否かを判断する（Ｓ４１０）。そして制御部８５が、検査モードであると判断した場合に、接続端子５１，５２，５３，５４の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する（Ｓ４２０）。これにより、発光装置３は、検査モードにすることにより、接続端子５１，５２，５３，５４の電圧と検査モード異常判定電圧とに基づいて発光素子列２１，２２，２３，２４のショート判定を行うことができる。
【００９５】
また制御部８５は、温度検出回路９０より検出された温度に基づいて、検査モード異常判定電圧を設定する（Ｓ４２０）。これにより、発光装置３は、発光装置３内の温度に応じて適切な検査モード異常判定電圧を設定することができる。
【００９６】
以上説明した実施形態において、Ｓ４１０の処理は本発明における検査モード判断手段、Ｓ４２０の処理は本発明における第１検査手段および第２設定手段である。
（第６実施形態）
以下に本発明の第６実施形態を図面とともに説明する。なお第６実施形態では、第３実施形態と異なる部分を説明する。
【００９７】
第６実施形態の表示装置１は、図１３に示すように、表示装置１の外部から制御部８５へイベント信号が入力可能に構成されている点が第３実施形態と異なる。
また、第６実施形態の表示装置１は、電圧設定回路１１０の機能が変更された点が第３実施形態と異なる。
【００９８】
第６実施形態の電圧設定回路１１０は、制御部８５からショート検出電圧指示信号が入力されると、ショート検出電圧指示信号が示す値のショート検出電圧Ｖｓを出力する。
また、第６実施形態の表示装置１は、異常検出処理が変更された点が第３実施形態と異なる。そして、第６実施形態の表示装置１は、図１４に示すように、Ｓ５１０，Ｓ５２０の処理が追加された点が第１実施形態と異なる。
【００９９】
すなわち、Ｓ２３０の処理が終了すると、Ｓ５１０にて、Ｓ３１０と同様にして、検査モードであるか否かを判断する。ここで、検査モードでない場合には（Ｓ５１０：ＮＯ）、Ｓ２４０に移行する。一方、検査モードである場合には（Ｓ５１０：ＹＥＳ）、Ｓ５２０にて、ショート判定処理を実行し、Ｓ２２０に移行する。
【０１００】
Ｓ５２０では、具体的には、まず、Ｓ２２０で算出された温度に基づいて、検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔを設定する。具体的には、温度と検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔとの間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔを設定する。なお、検査モード用設定テーブルは、制御部８５に予め記憶されている。
【０１０１】
なお、検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔは、Ｓ２２０で算出される温度（すなわち、駆動部１３の温度）における順方向電圧Ｖｆのバラツキを考慮して、順方向電圧Ｖｆがばらついても１個の発光素子のショートを検出することができる値に設定される。
【０１０２】
次にＳ５２０では、設定された検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔの値を示すショート検出電圧指示信号を電圧設定回路１１０へ出力する。その後にＳ５２０では、コンパレータ１０１〜１０４から出力された信号が全てローレベルである場合に、ショート異常が発生していないと判断する。一方、コンパレータ１０１〜１０４から出力された信号の少なくとも１つがハイレベルである場合に、ショート異常が発生したと判断する。
【０１０３】
なお、第６実施形態の異常検出処理におけるＳ２１０では、初期値を示すショート検出電圧指示信号を出力する。またＳ２５０では、予め設定された電圧増加方法に基づいて決定されたショート検出電圧Ｖｓを示すショート検出電圧指示信号を出力することにより、ショート検出電圧Ｖｓを変更する。
【０１０４】
このように構成された発光装置３では、制御部８５が、検査モードであるか否かを判断する（Ｓ５１０）。そして制御部８５が、検査モードであると判断した場合に、接続端子５１，５２，５３，５４の電圧が予め設定された検査モード用ショート検出電圧以上であるか否かを判断する（Ｓ５２０）。これにより、発光装置３は、検査モードにすることにより、接続端子５１，５２，５３，５４の電圧と検査モード用ショート検出電圧とに基づいて発光素子列２１，２２，２３，２４のショート判定を行うことができる。
【０１０５】
以上説明した実施形態において、Ｓ５１０の処理は本発明における検査モード判断手段、Ｓ５２０の処理は本発明における第２検査手段である。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態を採ることができる。
【０１０６】
例えば上記第２実施形態では、温度検出回路９０により検出された温度情報を取得するものを示したが、表示装置１の外部から通信等により温度情報を取得するようにしてもよい。
【０１０７】
また上記第２実施形態では、温度と異常判定損失Ｗ０との間の対応関係が予め設定された設定テーブルを参照して異常判定損失Ｗ０を設定するものを示したが、例えば下式（４）, （５）, （６）に示すように、換算式を用いて異常判定損失Ｗ０を設定するようにしてもよい。なお、下式（４）, （５）, （６）は、駆動部１３がＩＣである場合に適用可能であり、ＴｊｍａｘはＩＣのジャンクション定格、Ｔａは周囲温度、θｊａはＩＣ熱抵抗である。
【０１０８】
Ｔｊｍａｘ  ＞  Ｔａ＋θｊａ×Ｗ０    ・・・（４）
Ｗ０  ＜  （Ｔｊｍａｘ−Ｔａ）／θｊａ    ・・・（５）
Ｗ０  ＝  安全率×（Ｔｊｍａｘ−Ｔａ）／θｊａ    ・・・（６）
また上記第３実施形態では、Ｓ２６０の処理が終了するとＳ２２０に移行するものを示した。しかし、Ｓ２６０の異常処理を行ってから、発光装置３内の温度Ｔが異常判定温度Ｔｍａｘ未満になるまでに時間がかかることが予想される場合は、Ｓ２６０の処理が終了した後に、予め設定された待機時間が経過した後にＳ２２０に移行するようにしてもよい。
【０１０９】
また上記第４実施形態では、検査モード異常判定電圧が予め設定されたものを示した。しかし、検査温度における順方向電圧Ｖｆの値、表示装置１の製造ラインにおける発光素子列２１〜２４の１列全体での順方向電圧Ｖｆのバラツキの保証値等を制御部８５に記憶させておき、これら記憶した値に基づいて検査モード異常判定電圧を計算するようにしてもよい。
【０１１０】
また上記第５実施形態では、温度と検査モード異常判定電圧との間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード異常判定電圧を設定するものを示した。しかし、温度に応じた順方向電圧Ｖｆの値、表示装置１の製造ラインにおける発光素子列２１〜２４の１列全体での順方向電圧Ｖｆのバラツキの保証値等を制御部８５に記憶させておき、これら記憶した値に基づいて検査モード異常判定電圧を計算するようにしてもよい。なお、順方向電圧Ｖｆの値と、１列全体での順方向電圧Ｖｆのバラツキの保証値等は、温度との関係が設定されたテーブルを用いて設定してもよいし、理論式を用いて設定してもよい。
【０１１１】
また上記第６実施形態では、温度と検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔとの間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔを設定するものを示した。しかし、温度に応じた順方向電圧Ｖｆの値、表示装置１の製造ラインにおける発光素子列２１〜２４の１列全体での順方向電圧Ｖｆのバラツキの保証値等を制御部８５に記憶させておき、これら記憶した値に基づいて検査モード用ショート検出電圧Ｖｓｔを計算するようにしてもよい。
【０１１２】
また上記実施形態では、発光素子アレイ１１に駆動電圧を印加するために昇圧回路１２を用いるものを示した。しかし、発光素子アレイ１１に駆動電圧を印加するために、昇圧回路１２のように昇圧タイプのＤＣ／ＤＣコンバータではなく、降圧タイプまたは昇降圧タイプのＤＣ／ＤＣコンバータを用いるようにしてもよい。
【０１１３】
また、上記実施形態における１つの構成要素が有する機能を複数の構成要素として分散させたり、複数の構成要素が有する機能を１つの構成要素に統合させたりしてもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、同様の機能を有する公知の構成に置き換えてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加または置換してもよい。なお、特許請求の範囲に記載した文言のみによって特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本発明の実施形態である。
【符号の説明】
【０１１４】
３…発光装置、２１,２２,２３,２４…発光素子列、４３…電圧制御部、４４…異常検出部、６１,６２, ６３,６４…電流源、８１,８２,８３,８４…ＡＤ変換器、８５…制御部、９０…温度検出回路、１０１,１０２,１０３,１０４…コンパレータ、１１０…電圧設定回路
【図１】
0006341139.tif 000002
【図２】
0006341139.tif 000003
【図３】
0006341139.tif 000004
【図４】
0006341139.tif 000005
【図５】
0006341139.tif 000006
【図６】
0006341139.tif 000007
【図７】
0006341139.tif 000008
【図８】
0006341139.tif 000009
【図９】
0006341139.tif 000010
【図１０】
0006341139.tif 000011
【図１１】
0006341139.tif 000012
【図１２】
0006341139.tif 000013
【図１３】
0006341139.tif 000014
【図１４】
0006341139.tif 000015