(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
内周に外側軌道面を有する外輪と、
前記外輪と同軸に配置されて、外周に前記外側軌道面と対向する内側軌道面を有する内輪と、
前記外側軌道面と前記内側軌道面との間に転動自在に配置された複数の転動体と、
を有する転がり軸受のアキシャルすきま測定装置であって、
基準台に載置されて、前記内輪を略水平に支持する支持部材と、
複数箇所に設置された脚部を介して、前記基準台に対して略水平に載置されていて、前記外輪を支持した状態で、前記脚部の長さに応じて略鉛直方向に変位する可動部材と、
前記内輪と前記外輪との軸方向の相対的な変位を計測する計測手段と、を有し、
前記可動部材は、前記外輪に沿って少なくとも円周方向に連続した一体物であり、前記外輪を全周にわたり支持した状態で変位することを特徴とする転がり軸受のアキシャルすきま測定装置。
【請求項２】
内周に外側軌道面を有する外輪と、
前記外輪と同軸に配置されて、外周に前記外側軌道面と対向する内側軌道面を有する内輪と、
前記外側軌道面と前記内側軌道面との間に転動自在に配置された複数の転動体と、
を有する転がり軸受のアキシャルすきま測定装置であって、
基準台に載置されて、前記外輪を略水平に支持する支持部材と、
複数箇所に設置された脚部を介して、前記基準台に対して略水平に載置されていて、前記内輪を支持した状態で、前記脚部の長さに応じて略鉛直方向に変位する可動部材と、
前記内輪と前記外輪との軸方向の相対的な変位を計測する計測手段と、を有し、
前記可動部材は、前記内輪に沿って少なくとも円周方向に連続した一体物であり、前記内輪を全周にわたり支持した状態で変位することを特徴とする転がり軸受のアキシャルすきま測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載する転がり軸受のアキシャルすきま測定装置を用いた転がり軸受のアキシャルすきま測定方法であって、
前記支持部材に前記内輪を載置し、前記外輪が前記可動部材と接触しない状態で、前記外輪に対する前記内輪の鉛直方向の高さＸ１を測定する第１ステップと、
前記可動部材を、前記脚部の長さを変えて略鉛直方向に変位させることによって、前記可動部材に外輪の全体が載置されるとともに前記内輪が前記支持部材から離れた状態になるまで、前記外輪を略鉛直方向に変位させる第２ステップと、
前記内輪が前記支持部材から離れた状態で、前記外輪に対する前記内輪の鉛直方向の高さＸ２を測定する第３ステップと、
高さＸ１と高さＸ２の差ΔＸからアキシャルすきまを求める第４ステップと、
からなる転がり軸受のアキシャルすきま測定方法。
【請求項４】
請求項２に記載する転がり軸受のアキシャルすきま測定装置を用いた転がり軸受のアキシャルすきま測定方法であって、
前記支持部材に前記外輪を載置し、前記内輪が前記可動部材と接触しない状態で前記内輪に対する前記外輪の鉛直方向の高さＸ１を測定する第１ステップと、
前記可動部材を、前記脚部の長さを変えて略鉛直方向に変位させることによって、前記可動部材に内輪の全体が載置されるとともに前記外輪が前記支持部材から離れた状態になるまで、前記内輪を略鉛直方向に変位させる第２ステップと、
前記外輪が前記支持部材から離れた状態で、前記内輪に対する前記外輪の鉛直方向の高さＸ２を測定する第３ステップと、
高さＸ１と高さＸ２の差ΔＸからアキシャルすきまを求める第４ステップと、
からなる転がり軸受のアキシャルすきま測定方法。
【請求項５】
前記第２ステップは、前記脚部を同時に同じ長さだけ変化させることによって、前記可動部材を、前記支持部材に対して平行な状態で鉛直方向に変位させることを特徴とする請求項３または請求項４に記載する転がり軸受のアキシャルすきま測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
転がり軸受、特にＣＴスキャナ装置などに使用される、大型で薄肉の転がり軸受のアキシャルすきまを測定するための測定装置及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
転がり軸受として、外輪及び内輪のいずれか一方の軌道輪を、軸方向中央部で２分割した複列アンギュラ玉軸受がある（例えば特許文献１参照）。この複列アンギュラ玉軸受は、ＣＴスキャナ装置に使用される大型の転がり軸受である。図６に、複列アンギュラ玉軸受１０の軸方向断面における要部拡大図を示す。複列アンギュラ玉軸受１０は、内周に２列の外側軌道面１ａ，１ｂを有する外輪１と、外周に前記外側軌道面１ａ，１ｂに対向する２列の内側軌道面２１，３１を有する内輪２，３と、を同軸に設け、前記外側軌道面１ａ，１ｂと内側軌道面２１，３１との間に、保持器５，５によって保持された複数の玉４，４を介在させている。
【０００３】
一般的に、転がり軸受は、組み立てた状態で軌道面と玉との間に形成されるすきまが大き過ぎるときは、回転精度が悪くなったり回転中に異音が生じたりする。一方、そのすきまが小さ過ぎるときは、すなわち、軌道面と玉との間に予圧が過大に付与されたときは、回転トルクが大きくなって異常に昇温したり、寿命が低下したりして問題となる。そこで、上記の複列アンギュラ玉軸受においても、適正なアキシャルすきまが付与されているかどうかを確認するために、アキシャルすきまを正確に測定する必要がある。
【０００４】
複列アンギュラ玉軸受のアキシャルすきまを測定するときは、外輪及び内輪のいずれか一方を固定して、他方を軸方向に動かしたときの、その他方の軸方向変位から求める。大型の転がり軸受はサイズが大きく取り扱いが困難なため、専用の精密測定装置はほとんど使用されず、定盤などの上に置いたままの状態で、簡易な測定装置を用いて測定することが多い。
【０００５】
上記のように、定盤の上に置いた状態で測定するときは、円周方向数箇所（一般的は３箇所）で内輪および外輪と定盤との間に直方体のブロックを挿入して、外輪に対する内輪の軸方向変位を測定している。具体的には、以下のステップで測定が行われる。
第１ステップ：定盤の上にブロックＡをおいて、その上に内輪を載置する。外輪は浮いた状態である。
第２ステップ：外輪を持ち上げる。同時に内輪が持ち上がる。外輪を持ち上げるときはジャッキや梃子が用いられる。
第３ステップ：外輪の下方にブロックＢ（ブロックＢの高さはブロックＡの高さより高い）を配置して、ブロックＢの上に外輪を載置する。内輪が浮いた状態になる。
第４ステップ：第１ステップと第３ステップにおける、外輪に対する内輪の軸方向位置の変化量を算出して、アキシャルすきまを求める。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１２−６７８５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
直径が１ｍ程度の大型の転がり軸受では、その重量が１００ｋｇを超えるものがある。このため、転がり軸受全体を持ち上げることが難しいので、第２ステップでは、外輪の円周上の一箇所だけを持ち上げ、その持ち上げた場所でブロックＢを配置し、外輪を載置する。この作業を順次円周方向に実施する。こうして、ブロックＢに外輪を載置する作業が円周方向の全周で完了した時に、第３ステップが完了する。
【０００８】
ここで、外輪の円周上の最初の一箇所を持ち上げたときは、径方向の反対側で内輪がブロックＡで支持されている。大型の転がり軸受では、直径の大きさに比べて内輪や外輪が肉薄に製作されているので、径方向の両側で支持すると、支持されていない円周上の部分で外輪や内輪が自重により撓んで変形する。
測定すべきアキシャルすきまの大きさは０．１ｍｍ程度である。これに対して、上記の撓み量は、最も大きく変位した個所では最大で数ｍｍに達する場合がある。このような撓みが生じると、転がり軸受を支持している箇所が互いに径方向に引き寄せられるので、上記の第３ステップでブロックＢの上に外輪を載置した時に、転がり軸受が真円の状態を保つことが出来なくなる。このため、正確なアキシャルすきま測定が困難になるという問題があった。
【０００９】
このような事情にかんがみ、本発明の目的は、特に大型で薄肉の転がり軸受について、構成が簡易な測定装置を用いて、アキシャルすきまを正確に測定することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明による転がり軸受のアキシャルすきま測定装置の１形態は、内周に外側軌道面を有する外輪と、前記外輪と同軸に配置されて、外周に前記外側軌道面と対向する内側軌道面を有する内輪と、前記外側軌道面と前記内側軌道面との間に転動自在に配置された複数の転動体と、を有する転がり軸受のアキシャルすきま測定装置であって、基準台に載置されて、前記内輪を略水平に支持する支持部材と、複数箇所に設置された脚部を介して、前記基準台に対して略水平に載置されていて、前記外輪を支持した状態で、前記脚部の長さに応じて略鉛直方向に変位する可動部材と、前記内輪と前記外輪との軸方向の相対的な変位を計測する計測手段と、を有し、前記可動部材は、前記外輪に沿って少なくとも円周方向に連続した一体物であり、前記外輪を全周にわたり支持した状態で変位する。
【００１１】
本発明による転がり軸受のアキシャルすきま測定装置の他の形態は、内周に外側軌道面を有する外輪と、前記外輪と同軸に配置されて、外周に前記外側軌道面と対向する内側軌道面を有する内輪と、前記外側軌道面と前記内側軌道面との間に転動自在に配置された複数の転動体と、を有する転がり軸受のアキシャルすきま測定装置であって、基準台に載置されて、前記外輪を略水平に支持する支持部材と、複数箇所に設置された脚部を介して、前記基準台に対して略水平に載置されていて、前記内輪を支持した状態で、前記脚部の長さに応じて略鉛直方向に変位する可動部材と、前記内輪と前記外輪との軸方向の相対的な変位を計測する計測手段と、を有し、前記可動部材は、前記内輪に沿って少なくとも円周方向に連続した一体物であり、前記内輪を全周にわたり支持した状態で変位する。
【００１２】
本発明による転がり軸受のアキシャルすきま測定方法の１形態は、転がり軸受のアキシャルすきま測定装置の前記１形態を用いた転がり軸受のアキシャルすきま測定方法であって、前記支持部材に前記内輪を載置し、前記外輪が前記可動部材と接触しない状態で、前記外輪に対する前記内輪の鉛直方向の高さＸ１を測定する第１ステップと、前記可動部材を、前記脚部の長さを変えて略鉛直方向に変位させることによって、前記可動部材に外輪の全体が載置されるとともに前記内輪が前記支持部材から離れた状態になるまで、前記外輪を略鉛直方向に変位させる第２ステップと、前記内輪が前記支持部材から離れた状態で、前記外輪に対する前記内輪の鉛直方向の高さＸ２を測定する第３ステップと、高さＸ１と高さＸ２の差ΔＸからアキシャルすきまを求める第４ステップと、からなる。
【００１３】
本発明による転がり軸受のアキシャルすきま測定方法の他の形態は、転がり軸受のアキシャルすきま測定装置の前記他の形態を用いた転がり軸受のアキシャルすきま測定方法であって、前記支持部材に前記外輪を載置し、前記内輪が前記可動部材と接触しない状態で前記内輪に対する前記外輪の鉛直方向の高さＸ１を測定する第１ステップと、前記可動部材を、前記脚部の長さを変えて略鉛直方向に変位させることによって、前記可動部材に内輪の全体が載置されるとともに前記外輪が前記支持部材から離れた状態になるまで、前記内輪を略鉛直方向に変位させる第２ステップと、前記外輪が前記支持部材から離れた状態で、前記内輪に対する前記外輪の鉛直方向の高さＸ２を測定する第３ステップと、高さＸ１と高さＸ２の差ΔＸからアキシャルすきまを求める第４ステップと、からなる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によると、特に大型で薄肉の転がり軸受について、構成が簡易な測定装置を用いて、アキシャルすきまを正確に測定することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明のアキシャルすきまを測定する装置の構成を説明する図である。
【図２】本発明のアキシャルすきまを測定する手順を説明する図である。
【図３】本発明のアキシャルすきま測定装置に使用する可動ベースの斜視図である。
【図４】可動ベースの正面図である。
【図５】図４のＡ−Ａにおける、可動ベースの軸線方向の断面図である。
【図６】転がり軸受の構造を説明する軸方向断面の要部拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
図６によって、アキシャルすきまを測定する対象である複列アンギュラ玉軸受１０の構造を詳細に説明する。複列アンギュラ玉軸受１０（以下、単に「軸受」という）は、外輪１と、一対の内輪２，３と、外輪１と各内輪２，３との間に転動自在に挿入された転動体である複数の玉４，４と、玉４，４を円周方向に等しい間隔で配置する保持器５，５とで構成されている。
この軸受１０は、ＣＴスキャナ装置などに組み込まれる軸受である。軸受１０の大きさは概ね、外径が１２００ｍｍ、内径が１０００ｍｍ、幅が６０ｍｍ程度であって、直径の大きさに対して、外輪１や内輪２，３の軸方向断面の断面積が小さい。このため、軸受１０の軌道輪は、円周上の一か所だけで持ち上げたり、支持したりする場合には、自重によって容易に変形する。
【００１７】
外輪１は、軸受鋼で製作されている。内周に２列の外側軌道面１ａ，１ｂが形成されている。軸方向断面における外側軌道面１ａ，１ｂの形状は、円弧で、その曲率半径は玉４の半径よりわずかに大きい。玉４と外側軌道面１ａ，１ｂとは、径方向に対して所定の角度をもって傾いた方向で接触する（この角度を「接触角」という）。２列の外側軌道面１ａ，１ｂの接触角の向きは、互いに反対向きとなっている。外輪１の軸方向両端には、回転軸と直交する面からなる端面６ａ，６ｂが形成されている。
【００１８】
内輪２，３は、軸受鋼で製作されている。内輪２，３は互いに同一形状であるので、片方についてのみ説明する。内輪２（３）の外周に、１列の内側軌道面２１（３１）が形成されている。軸方向断面での内側軌道面２１（３１）の形状は、円弧で、その曲率半径は玉４の半径よりわずかに大きい。玉４と内側軌道面２１（３１）とは、所定の接触角をもって接触している。
内側軌道面２１（３１）の軸方向一方側に、内側軌道面２１（３１）の最小径とほぼ等しい外径寸法で、円筒形状の肩２２（３２）が形成されていろ。肩２２（３２）は、小端面２４（３４）とつながっている。内側軌道面２１（３１）の軸方向他方側に、肩２２（３２）より大径の肩２３（３３）が形成されている。肩２３（３３）は、大端面２５（３５）とつながっている。小端面２４（３４）と大端面２５（３５）は、互いに平行でいずれも軸と直交する面である。
【００１９】
軸受１０のアキシャルすきまについて説明する。
軸受１０は、外輪１の軸方向両側から、互いに小端面２４，３４が向き合う方向に内輪２，３が組み立てられる。このとき、外側軌道面１ａ，１ｂと内側軌道面２１，３１の間に、それぞれ所定の数の玉４，４が配置されている。外側軌道面１ａ，１ｂと、内側軌道面２１，３１とが、玉４を挟んで互いに接触角の方向で対向している。
軸受１０の各部の寸法は、玉４が外側軌道面１ａ，１ｂおよび内側軌道面２１，３１と接触した状態で、小端面２４，３４の間に所定の大きさＳのすきまが出来るような寸法で製作されている。軸受１０をＣＴスキャナ装置などに組み込むときは、小端面２４、３４を互いに接触させて、玉４に予圧が負荷される。この時のアキシャルすきまは「負のアキシャルすきま」（大きさがマイナスＳ）である。
【００２０】
次に、本発明の第１実施形態の測定装置７の構成を、図１によって説明する。アキシャルすきまの測定は、定盤５０の上に軸受１０を、回転軸が鉛直方向となる向きに載置して行う。
測定装置７は、基準台である定盤５０と、内輪２，３を鉛直方向に支持するための複数の内側ブロック７０（支持部材）と、外輪１を鉛直方向に支持するための可動ベース８０（可動部材）と、計測手段であるダイヤルゲージ６０とで構成されている。
【００２１】
定盤５０は、鋳物で製作されたベースであって上面が平坦に機械加工されて、基準面５１になっている。基準面５１の大きさは、軸受１０を載置したときに、その軸受１０の全体を基準面５１上に載置できる程度の大きさである。
【００２２】
可動ベース８０の詳細形状を、図３〜図５で説明する。図３は、可動ベース８０の斜視図であり、図４は、その正面図であり、図５はその軸線方向の断面図である。
可動ベース８０は、鋼材で製作されていて、一定の厚さを持った平板で略円環状に形成されている。その外周と内周は、互いに同心の略円形状である。以下の説明では、円の中心を通って平板に直交する線を「軸」として、この「軸」に平行な方向を「軸方向」といい、「軸」に直交する方向を「径方向」という。
【００２３】
図３に示すように、可動ベース８０の軸方向の一方の側に、外輪１を載置する外輪支持面８１が形成されている。外輪支持面８１の反対側で、軸方向の他方側にはベース端面８２が形成されている。可動ベース８０の外周には、径方向外方に突出した脚部８３が、円周方向に等しい間隔で３箇所に設けられている。
【００２４】
外輪支持面８１は、平面状に機械加工が施されていて、その面には、数本の異物排出溝８４が径方向に形成されている。外輪支持面８１の内周面８の内径寸法は、内輪２の大端面２５の外周の直径より大きく、かつ、外輪１の端面６ａの内周の直径より小さい。外輪支持面８１の外周の直径寸法が、外輪１の外径寸法より大きいので、外輪支持面８１が、外輪１の端面６ａを全周にわたって支持することができる。
【００２５】
図４、図５に示すように、ベース端面８２は機械加工が施されて、外輪支持面８１と平行な平面に仕上げられている。ベース端面８２には、円周方向に断続的に肉抜き部８５が形成されている。こうして、可動ベース８０は、軸方向の片側が外周壁８６と内周壁８７をリブ８８で連結する構造となっているので、可動ベース８０の剛性を確保しつつ、重量を低減することが出来る。
【００２６】
脚部８３には、ベース端面８２に対して垂直方向に伸縮することが出来る脚８９が、組み込まれている。可動ベース８０は外輪支持面８１を鉛直方向上側にして基準面５１に載置される。可動ベース８０が、３本の脚８９で支持されていて、脚８９を伸縮することによって可動ベース８０を鉛直方向に上下させることが出来る。
【００２７】
脚部８３の構造は、本実施形態の本質的な構成ではないので、構造についての詳細な説明は省略するが、下記のような構造を使用することが出来る。たとえば、脚部８３に雌ねじを加工して、脚８９には、前記雌ねじに螺合する雄ねじを形成した構造がある。雄ねじを回転することによって脚８９を伸縮させることが出来る。
【００２８】
なお、可動ベース８０と定盤５０との間に種々の高さのブロックを挿入して、定盤５０に対する可動ベース８０の鉛直方向の高さを変える構成も、上記の脚部８３に相当するものとする。
【００２９】
可動ベース８０の剛性について説明する。剛性は、可動ベース８０の径方向の両端を支持したときに、その支持点の間にあって支持されていない部分に生じる軸方向の撓み量で表される。この実施形態における可動ベース８０の剛性は、前記支持されていない部分に軸受１０の重量と同等の大きさの荷重を負荷したときに、前記支持されていない部分に生じる撓みの大きさが１０μｍ以下となる程度の大きさである。これに対して、アキシャルすきまの大きさは１００μｍ以上である。
したがって、可動ベース８０の剛性が十分に大きいので、可動ベース８０の撓みはアキシャルすきまの測定に対してほとんど影響を及ぼさない。
【００３０】
こうして、可動ベース８０は、外輪１に沿って円周方向に連続した一体物として形成されていて、外輪１の重量に耐えられる剛性を有している。
【００３１】
再び図１に戻って説明する。可動ベース８０の内周側には、軸受１０の内輪２を載置するために、３個の内側ブロック７０が配置される。内側ブロック７０は、可動ベース８０の内周面９０から径方向内方にわずかに離れた位置で、内周面９０に沿って円周方向にほぼ均等な間隔で配置される。
内側ブロック７０は、鋼材で製作されていて、その形状は、縦、横、高さが５ｃｍ程度の大きさを持つ直方体である。定盤５０の上に載置したときの上面の高さＨ１は、可動ベース８０の外輪支持面８１の高さＨ２よりわずかに大きい。また、各内側ブロック７０の寸法Ｈ１は互いに等しい。
【００３２】
計測手段としてのダイヤルゲージ６０については図示を省略するが、計測する対象物に接触してその対象物の変位に応じて伸縮するロッド６１と、ロッド６１の伸縮量を表示する表示部と、を有している。
【００３３】
次に、上記の測定装置７を使用してアキシャルすきまを測定する方法を、図１、図２を用いて説明する。
軸受１０には予圧が付与されているので、あらかじめ厚さが既知のスペーサ９を内輪２，３の小端面２４，３４の間に挿入し、正すきまを付与した状態で測定する。スペーサ９の厚さＺは、１ｍｍ程度の大きさが適当である。スペーサ９は、炭素鋼で製作されていて、５０ＨＲＣ程度の硬さとなるように焼き入れ硬化処理が施されている。なお、アキシャルすきまが正すきまであって、内輪２，３の小端面２４，３４が互いに当接するように組み合わせた状態で、軌道面と玉との間にすきまが存在するような場合には、当該スペーサ９は不要である。
【００３４】
第１ステップとして、軸受１０を可動ベース８０の鉛直方向上方から、可動ベース８０の内周面９０とほぼ同軸となるように載置する（図１参照）。この時、内側ブロック７０の高さＨ１が、可動ベース８０の高さＨ２より大きいので、内輪２の大端面２５が、内側ブロック７０で支持される。
外輪１の端面６ａは浮いた状態であるため、外輪１が、自重によって内輪２，３に対して軸方向の一方（鉛直方向の下方）に変位して、複列の玉列のうち下方の玉列において、玉４が外側軌道面１ａと内側軌道面２１と接した状態で、外輪１が保持されている。
【００３５】
アキシャルすきまの測定にあたって、測定条件としての所定のアキシャル荷重を負荷する必要があるときは、外輪１の端面６ｂに重錘６５を載置する。
なお、玉４と各軌道面との接触部には摩擦があるので、外輪１の軸方向の位置を安定させるために、アキシャルすきまの測定を開始する前に、外輪１を内輪２，３の周りに数回回転させることが望ましい。
【００３６】
こうして、外輪１が、内輪２，３に対して、軸方向の一方に最も偏った状態で組み合わされる。
【００３７】
内輪２，３に対する外輪１の軸方向の変位を計測するために、マグネットスタンド等を使用して、ダイヤルゲージ６０を外輪１の端面６ｂに設置し、ロッド６１を内輪３の大端面３５に当接させる。このときのダイヤルゲージ６０の目盛Ｘ１を基準値として、アキシャルすきまを計測する。
【００３８】
第２ステップとして、３箇所の脚部８３のうち１箇所の脚部８３ａ（第１脚部）において、脚８９を軸方向に延伸させる（図２参照）。
可動ベース８０は、第２脚部８３ｂと第３脚部８３ｃを支点にして、第１脚部８３ａの位置が鉛直方向上方（以下単に「上方」という）に移動する。このとき、可動ベース８０は全体が一体として上方に移動するので、外輪支持面８１が、外輪１の端面６ａと全周にわたって当接し、外輪１の全周が外輪支持面８１に載置された状態で上方に移動する。
【００３９】
外輪１が上方に変位すると、複列の玉列のうち上方の玉列において、外側軌道面１ｂと内側軌道面３１が玉４を挟んで当接する。こうして、外輪１が上方に変位するのと同時に、内輪２，３が上方に変位して、内輪２，３が内側ブロック７０から浮き上がる。
この結果、軸受１０の内輪２，３と外輪１を含めた全体の重量が、可動ベース８０によって支持されることになる。本実施形態では、可動ベース８０が十分な剛性を有しているので、軸受１０の重量が負荷された場合であっても可動ベース８０の撓みが小さく抑えられている。この状態で、第１脚部の脚が伸縮しないように固定する。
【００４０】
次に、第２脚部８３ｂにおいて、脚８９を軸方向に延伸させる。この工程以降は、第１脚部と同様であるので図示を省略する。
可動ベース８０は、第１脚部８３ａと、第３脚部８３ｃを支点にして、第２脚部８３ｂの位置が上方に移動する。これにより、可動ベース８０に載置された外輪１が、さらに上方に移動する。この状態で、第２脚部の脚が伸縮しないように固定する。
【００４１】
次に、第３脚部８３ｃにおいて、脚８９を軸方向に延伸させる。可動ベース８０は、第１脚部８３ａと、第２脚部８３ｂを支点にして、第３脚部８３ｃの位置が上方に移動する。この状態で、第３脚部の脚が伸縮しないように固定する。
こうして、可動ベース８０によって、外輪１が、第１ステップの位置に対して平行に持ち上げられた状態で支持される。
【００４２】
内輪２の大端面２５は、内側ブロック７０から浮き上がった状態であるため、内輪２，３が、自重によって軸方向の一方（鉛直方向の下方である）に変位する。この結果、複列の玉列のうち上方の玉列において、玉４が外側軌道面１ｂと内側軌道面３１と接した状態で内輪３が保持されている。
【００４３】
アキシャルすきまの測定条件としてのアキシャル荷重は、内輪３の大端面３５に載置した重錘６６によって負荷されている。なお、外輪１の場合と同様に、内輪２，３の軸方向の位置を安定させるために、内輪２，３を外輪１に対して数回回転させることが望ましい。
【００４４】
こうして、内輪２，３が、外輪１に対して、軸方向の一方に最も偏った状態で組み合わされる。これはすなわち、内輪２，３に対する外輪１の軸方向の位置が、第１ステップとは反対側の、他方側（鉛直方向上方）に最も偏った状態で組み合わされたことになる。
この状態で、第１ステップで設置したダイヤルゲージ６０の目盛Ｘ２を読み取って、内輪２，３に対する外輪１の軸方向の変位ΔＸを求める。あらかじめ挿入したスペーサ９の厚さＺを考慮して、Ｓ＝Ｚ−ΔＸによって、アキシャルすきまＳを求めることが出来る。
【００４５】
従来の方法では、外輪が円周方向に一体として支持されていないので、第２ステップにおいて外輪１の円周上の一部を持ち上げたときには、径方向反対側の他の支持部との間において、軸受１０が自重によって鉛直方向下方に撓んでいた。
この撓みによって、内輪２，３や外輪１の軌道面の真円度が悪化するので、第３ステップにおいては、玉４と内側軌道面３１並びに外側軌道面１ｂとが、接触角の方向で正しく接触しなかった。
【００４６】
本実施形態では、アキシャルすきまの測定の各工程を通じて、外輪１が、円周方向に連続した一体物として形成された可動ベース８０に載置されている。そして、この可動ベース８０が軸受１０の重量に耐えられる剛性を有しているので、軸受１０が自重によって変形することを防止できる。
こうして、本実施形態の測定装置７では、特に大型で薄肉の軸受１０において、軌道輪の変形を防止してアキシャルすきまを正確に測定することが出来る。
【００４７】
本実施形態は、アキシャルすきまを求めるために、内側ブロック７０に載置した内輪２，３を基準として、外輪１の軸方向の変位量を計測している。同様にして、外輪１を定盤５０上に載置して、外輪１に対する内輪２，３の軸方向の変位量を計測してもよい。
【００４８】
本実施形態では、可動ベース８０を支持する脚部８３を、それぞれ個別に操作する手順を説明したが、これに限定されない。例えば、各脚部８３の脚８９をボールねじで支持し、軸の回転をパルスモータで制御することによって、３箇所の脚部８３を同時に操作できる。３カ所の脚部８３を同時に操作することによって、外輪１を内輪２，３に対して同軸に変位させることが出来る。これによって、アキシャルすきまをさらに正確に測定することが出来る。
【符号の説明】
【００４９】
１：外輪、１ａ，１ｂ：外側軌道面、２，３：内輪、４：玉、５：保持器、６ａ，６ｂ：端面、７：測定装置、１０：複列アンギュラ玉軸受、２１，３１：内側軌道面、２２，３２：肩、２４，３４：小端面、２３，３３：肩、２５，３５：大端面、５０：定盤、５１：基準面、６０：ダイヤルゲージ、６５．６６：重錘、７０：内側ブロック（支持部材）、８０：可動ベース（可動部材）、８１：外輪支持面、８２：ベース端面、８４：異物排出溝、９０：内周面、８５：肉抜き部、８８：リブ、８９：脚
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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