(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生装置（１）であって、
操作入力を行うための操作部（１２）と、
各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域（１１ａ）と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域（１１ｂ）とを表示部（１３）に表示させる制御を行う表示制御部（１１）と、
前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部（１６）と、を備え、
前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示し、
さらに、前記表示制御部は、前記複数のステートに属する前記複数のサブステートの設定項目を前記表示部の所定領域に全て表示するための表示切替ボタン（１１ｈ）を前記サブステート表示領域に表示することを特徴とするシーケンス発生装置。
【請求項２】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生装置（１）であって、
操作入力を行うための操作部（１２）と、
各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域（１１ａ）と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域（１１ｂ）とを表示部（１３）に表示させる制御を行う表示制御部（１１）と、
前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部（１６）と、を備え、
前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示し、
前記設定項目のパラメータは、次のステート又はサブステートに遷移するまでの待機時間、前記トレーニングシーケンスの種別、前記トレーニングシーケンスの送受信回数を含むことを特徴とするシーケンス発生装置。
【請求項３】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生装置（１）であって、
操作入力を行うための操作部（１２）と、
各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域（１１ａ）と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域（１１ｂ）とを表示部（１３）に表示させる制御を行う表示制御部（１１）と、
前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部（１６）と、を備え、
前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示し、
前記設定項目のパラメータの推奨値は、前記操作部により前記設定項目のパラメータが設定又は変更されるまで、初期値として前記サブステート表示領域に表示されることを特徴とするシーケンス発生装置。
【請求項４】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生装置（１）であって、
操作入力を行うための操作部（１２）と、
各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域（１１ａ）と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域（１１ｂ）とを表示部（１３）に表示させる制御を行う表示制御部（１１）と、
前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部（１６）と、を備え、
前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示し、
さらに、前記表示制御部は、前記複数のステートに属する前記複数のサブステートの設定項目を前記表示部の所定領域に全て表示するための表示切替ボタン（１１ｈ）を前記サブステート表示領域に表示し、
前記設定項目のパラメータは、次のステート又はサブステートに遷移するまでの待機時間、前記トレーニングシーケンスの種別、前記トレーニングシーケンスの送受信回数を含み、
前記設定項目のパラメータの推奨値は、前記操作部により前記設定項目のパラメータが設定又は変更されるまで、初期値として前記サブステート表示領域に表示されることを特徴とするシーケンス発生装置。
【請求項５】
前記複数のステートは、前記被試験対象に対してループバックテストを実行するためのループバックステートを含んでおり、
前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載のシーケンス発生装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のシーケンス発生装置と、被試験対象（１００）に対して誤り率測定を行う誤り率測定部（２１）とを備える誤り率測定装置（２）であって、
前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信し、
前記誤り率測定部は、前記パルスパターンの受信に伴う前記被試験対象からの被測定信号と前記パルスパターンとを比較して、前記被測定信号の誤り率を測定することを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項７】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生方法であって、
表示制御部（１１）により、前記複数のステートのステート名を操作部（１２）により選択可能にステート表示領域（１１ａ）に表示する第１の表示ステップ（Ｓ１）と、
前記第１の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から１つのステートを前記操作部により選択する選択ステップ（Ｓ２）と、
前記表示制御部により、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能にサブステート表示領域（１１ｂ）に表示する第２の表示ステップ（Ｓ３）と、
前記第２の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップ（Ｓ４）と、
前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップ（Ｓ５）と、を含み、
さらに、前記表示制御部は、前記複数のステートに属する前記複数のサブステートの設定項目を前記表示部の所定領域に全て表示するための表示切替ボタン（１１ｈ）を前記サブステート表示領域に表示することを特徴とするシーケンス発生方法。
【請求項８】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生方法であって、
表示制御部（１１）により、前記複数のステートのステート名を操作部（１２）により選択可能にステート表示領域（１１ａ）に表示する第１の表示ステップ（Ｓ１）と、
前記第１の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から１つのステートを前記操作部により選択する選択ステップ（Ｓ２）と、
前記表示制御部により、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能にサブステート表示領域（１１ｂ）に表示する第２の表示ステップ（Ｓ３）と、
前記第２の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップ（Ｓ４）と、
前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップ（Ｓ５）と、を含み、
前記設定項目のパラメータは、次のステート又はサブステートに遷移するまでの待機時間、前記トレーニングシーケンスの種別、前記トレーニングシーケンスの送受信回数を含むことを特徴とするシーケンス発生方法。
【請求項９】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生方法であって、
表示制御部（１１）により、前記複数のステートのステート名を操作部（１２）により選択可能にステート表示領域（１１ａ）に表示する第１の表示ステップ（Ｓ１）と、
前記第１の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から１つのステートを前記操作部により選択する選択ステップ（Ｓ２）と、
前記表示制御部により、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能にサブステート表示領域（１１ｂ）に表示する第２の表示ステップ（Ｓ３）と、
前記第２の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップ（Ｓ４）と、
前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップ（Ｓ５）と、を含み、
前記設定項目のパラメータの推奨値は、前記操作部により前記設定項目のパラメータが設定又は変更されるまで、初期値として前記サブステート表示領域に表示されることを特徴とするシーケンス発生方法。
【請求項１０】
複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを誤り率測定を行うために被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生方法であって、
表示制御部（１１）により、前記複数のステートのステート名を操作部（１２）により選択可能にステート表示領域（１１ａ）に表示する第１の表示ステップ（Ｓ１）と、
前記第１の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から１つのステートを前記操作部により選択する選択ステップ（Ｓ２）と、
前記表示制御部により、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能にサブステート表示領域（１１ｂ）に表示する第２の表示ステップ（Ｓ３）と、
前記第２の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップ（Ｓ４）と、
前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップ（Ｓ５）と、を含み、
さらに、前記表示制御部は、前記複数のステートに属する前記複数のサブステートの設定項目を前記表示部の所定領域に全て表示するための表示切替ボタン（１１ｈ）を前記サブステート表示領域に表示し、
前記設定項目のパラメータは、次のステート又はサブステートに遷移するまでの待機時間、前記トレーニングシーケンスの種別、前記トレーニングシーケンスの送受信回数を含み、
前記設定項目のパラメータの推奨値は、前記操作部により前記設定項目のパラメータが設定又は変更されるまで、初期値として前記サブステート表示領域に表示されることを特徴とするシーケンス発生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、シリアル通信規格であるＰＣＩｅ（登録商標）（Peripheral Component Interconnect Express）やＵＳＢ（登録商標）（Universal Serial Bus）のデータ転送速度が向上している。これらの規格においては、ＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine）と呼ばれるステートマシンで物理層での通信状態が制御される。
【０００３】
例えば、ＰＣＩｅ（登録商標）では、ＬＴＳＳＭの状態遷移図は図９に示すようなものであり、遷移状態（ステート）として、L0、L0s、L1、L2、Detect、Polling、Configuration、Disabled、Hot Reset、Loopback（ループバックステート）、Recoveryが定義されている。
【０００４】
ここで、Detectは通信対象のレシーバの検出を、PollingはＴＳ（Training Sequence）を送受信することによりシンボル同期の確立やレーン極性の検出を、ConfigurationはＴＳを送受信することによりリンクのレーン構成の確立を、Recoveryはリンクの再トレーニングを、L0は通常動作を、Loopbackはテストや不具合切り分けのための動作のように、それぞれのステートはデバイスの通信状態を管理する役割を持つ。
【０００５】
さらに、ＬＴＳＳＭの上記の各ステートにはサブステートがあり、各サブステートではOrdered Set（ＯＳ）と呼ばれる物理層で使用されるパケットの一種を送受信する。このＯＳは、トレーニングシーケンスＴＳ１又はＴＳ２などが定義されており、これらをデバイス間で送受信し合うことにより、デバイス間で互いのステートの状態遷移を制御する。
【０００６】
ところで、近年、ＰＣＩｅ（登録商標）やＵＳＢ（登録商標）の規格に適合していることを確認する測定が求められており、その測定の実施にはデバイスをループバックステートに遷移させる必要があるため、ＬＴＳＳＭに対応したステートマシンを利用してシリアル通信を行う誤り率測定装置が求められている。
【０００７】
誤り率測定装置は、パルスパターンを通信機器などの被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）に送信し、送信したパルスパターンとＤＵＴから返送されたパルスパターンとを比較してビットの誤りを検出する装置である（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００７−２７４４７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、ＰＣＩｅ（登録商標）やＵＳＢ（登録商標）などのシリアル通信規格については、規格のバージョンが進むほど、所望のステートに到達するまで経由するサブステートの数が増加し、遷移手順が複雑化してきている。
【００１０】
例えばＰＣＩｅ（登録商標）では、ＤＵＴをループバックステートに設定する場合、Ｇｅｎ１では数個のサブステートを経由することでループバックステートに到達できたが、Ｇｅｎ４では数十個のサブステートを経由しなければ、ループバックステートに到達できない。
【００１１】
しかしながら、特許文献１に開示されたような従来の誤り率測定装置の設定画面では、それぞれのサブステートと送信すべきトレーニングシーケンス（ＴＳ）の回数や待機時間との対応が不明確で分かりにくいという問題があった。
【００１２】
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができるシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するために、本発明に係るシーケンス発生装置は、複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを被試験対象に送信するシーケンス発生装置であって、操作入力を行うための操作部と、各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域とを表示部に表示させる制御を行う表示制御部と、前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部と、を備え、前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示するように構成されている。
【００１４】
この構成により、状態遷移を制御するためのサブステートごとの設定項目が明確になることで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。
【００１５】
また、本発明に係るシーケンス発生装置においては、前記複数のステートは、前記被試験対象に対してループバックテストを実行するためのループバックステートを含んでおり、前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信するように構成されている。
【００１６】
この構成により、ステートマシンで状態遷移が管理される被試験対象とのシリアル通信を行う誤り率測定装置に適用できるシーケンス発生装置を実現することができる。
【００１７】
また、本発明に係る誤り率測定装置は、上記のシーケンス発生装置と、被試験対象に対して誤り率測定を行う誤り率測定部とを備える誤り率測定装置であって、前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信し、前記誤り率測定部は、前記パルスパターンの受信に伴う前記被試験対象からの被測定信号と前記パルスパターンとを比較して、前記被測定信号の誤り率を測定するように構成されている。
【００１８】
この構成により、ステートマシンで状態遷移が管理される被試験対象とのシリアル通信を行う誤り率測定装置において、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。
【００１９】
また、本発明に係る上記のシーケンス発生装置を用いるシーケンス発生方法であって、前記ステート表示領域に、前記複数のステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示する第１の表示ステップと、前記第１の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から１つのステートを前記操作部により選択する選択ステップと、前記サブステート表示領域に、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能に表示する第２の表示ステップと、前記第２の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップと、前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップと、を含む構成である。
【００２０】
この構成により、状態遷移を制御するためのサブステートごとの設定項目が明確になることで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明は、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができるシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】第１の実施形態に係るシーケンス発生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その１）。
【図３】第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その２）。
【図４】第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その３）。
【図５】第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その４）。
【図６】第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その５）。
【図７】第１の実施形態に係るシーケンス発生装置によるシーケンス発生方法の処理を示すフローチャートである。
【図８】第２の実施形態に係る誤り率測定装置の構成を示すブロック図である。
【図９】ＬＴＳＳＭの状態遷移を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明に係るシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法の実施形態について図面を用いて説明する。
【００２４】
（第１の実施形態）
第１の実施形態に係るシーケンス発生装置は、複数のステート、及び、複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンス（ＴＳ）を発生して、当該ＴＳをＤＵＴに送信する装置である。
【００２５】
本実施形態において、ＬＴＳＳＭに対応したＤＵＴのシリアル通信規格の例としては、ＰＣＩｅ（登録商標）、ＵＳＢ（登録商標）などが挙げられる。
【００２６】
図１に示すように、本実施形態に係るシーケンス発生装置１は、表示制御部１１と、操作部１２と、表示部１３と、パラメータ設定部１４と、記憶部１５と、シーケンス発生部１６と、制御部１７と、を備える。
【００２７】
図２等に示すように、表示制御部１１は、各ステートのステート名を操作部１２により選択可能に表示するステート表示領域１１ａと、各ステートに関連付けられた複数のサブステートに関する設定項目を操作部１２により設定可能に表示するサブステート表示領域１１ｂと、を表示部１３に表示させる制御を行うように構成されている。
【００２８】
例えば、表示制御部１１は、ＤＵＴ１００の規格がＰＣＩｅ（登録商標）である場合にはステート表示領域１１ａにおいて、Detectステートを選択するためのDetectボタン１１ｃ、Pollingステートを選択するためのPollingボタン１１ｄ、Configurationステートを選択するためのConfigurationボタン１１ｅ、Recoveryステートを選択するためのRecoveryボタン１１ｆ、Loopbackステート（ループバックステート）を選択するためのLoopbackボタン１１ｇを表示させる。上記の複数のステートのうち、ループバックステートは、ＤＵＴ１００に対してループバックテストを実行するためのステートである。
【００２９】
また、表示制御部１１は、複数のサブステートのうち、操作部１２により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみをサブステート表示領域１１ｂに表示させるようになっている。
【００３０】
また、表示制御部１１は、複数のステートに属する各サブステートの設定項目を表示部１３の所定領域に全て表示するための表示切替ボタン１１ｈをサブステート表示領域１１ｂに表示させてもよい。
【００３１】
表示部１３は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、表示制御部１１からの制御信号に応じて各種表示内容を表示するようになっている。さらに、表示部１３は、設定項目のパラメータなどを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象を表示するものであってもよい。
【００３２】
操作部１２は、ユーザによる操作入力を行うためのものであり、キーボード、タッチパネル、又はマウスのような入力デバイスを含んで構成される。あるいは前述のように、操作部１２は、ボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象が表示部１３に表示される構成であってもよい。
【００３３】
パラメータ設定部１４は、操作部１２により設定された設定項目のパラメータをシーケンス発生部１６に設定するようになっている。ここで、設定項目のパラメータとしては、次のステート又はサブステートに遷移するまでの待機時間、ＴＳの種別、ＴＳの送受信回数などが設定可能になっている。
【００３４】
記憶部１５は、表示制御部１１が表示部１３に対して表示制御を行うための情報、設定項目のパラメータの推奨値、操作部１２により設定された設定項目のパラメータなどを記憶するようになっている。ここで、設定項目のパラメータの推奨値は、操作部１２により設定項目のパラメータが設定・変更されるまで、初期値としてサブステート表示領域１１ｂに表示されていることが望ましい。
【００３５】
シーケンス発生部１６は、操作部１２により設定された設定項目のパラメータに応じたＴＳを現在の状態遷移に応じて発生するようになっている。ＰＣＩｅ（登録商標）の場合、例えばシーケンス発生部１６は、Detect→Polling→Configuration→Loopback、あるいは、Detect→Polling→Configuration→Recovery→Loopbackの順にステートを遷移させて、ループバックステートに到達する。
【００３６】
また、シーケンス発生部１６は、ステートをループバックステートに遷移させるＴＳをＤＵＴ１００に送信した後に、ＤＵＴ１００に誤り率測定のためのパルスパターンを送信する。シーケンス発生部１６が送信するパルスパターンは、例えば２ｎ−１のビット周期を有する擬似ランダムビット系列や、規格で定義されるCompliance Pattern（ＣＰ）、Modified Compliance Pattern（ＭＣＰ）である。
【００３７】
制御部１７は、例えばＣＰＵや、記憶部１５を構成するＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータで構成され、シーケンス発生装置１を構成する上記各部の動作を制御する。
【００３８】
図２〜図６は、ＤＵＴ１００の規格がＰＣＩｅ（登録商標）である場合の、表示部１３の表示内容の一例を示す図である。ここでは、ステート表示領域１１ａにおいて、ＰＣＩｅ（登録商標）のステートの一部が示されている。
【００３９】
図２は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりDetectボタン１１ｃ又はPollingボタン１１ｄが押下されてDetectステート又はPollingステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Detect.Quietでの待機時間が１００μｓ、Detect.Activeでの待機時間が１０００μｓ、Polling.ActiveでのＴＳの送信回数が１０２４、Polling.ConfigurationでのＴＳの送信回数が２０に設定されている例を示している。
【００４０】
図３は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりConfigurationボタン１１ｅが押下されてConfigurationステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Configuration.Linkwidth.Start、Configuration.Linkwidth.Accept、Configuration.Lanenum.Wait、Configuration.Lanenum.Accept、Configuration.CompleteでのＴＳの送信回数と、Configuration.Idleでの待機時間が設定されるようになっている。
【００４１】
図４は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりRecoveryボタン１１ｆが押下されてRecoveryステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Recovery.Rcvr.Lock、Recovery.Rcvr.Cfg、Recovery.Equalization、Recovery.IdleでのＴＳの送信回数と、Recovery.Speedでの所要時間が設定されるようになっている。
【００４２】
図５は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりLoopbackボタン１１ｇが押下されてLoopbackステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Loopback.EntryでのＴＳの送信回数が設定されるようになっている。
【００４３】
図６は、サブステート表示領域１１ｂにおいて操作部１２により表示切替ボタン１１ｈが押下された場合に、複数のステート（Detect、Polling、Configuration、Recovery、Loopback）に属する各サブステートの設定項目が表示部１３の所定領域に全て表示される様子を示している。
【００４４】
以下、本実施形態のシーケンス発生装置１を用いるシーケンス発生方法について、図７のフローチャートを参照しながら説明する。
【００４５】
まず、表示制御部１１は、表示部１３のステート表示領域１１ａに、複数のステートのステート名を操作部１２により選択可能に表示する（第１の表示ステップＳ１）。
【００４６】
次に、ユーザによる操作部１２の操作により、第１の表示ステップＳ１でステート表示領域１１ａに表示された複数のステートの中から１つのステートが選択される（選択ステップＳ２）。
【００４７】
次に、表示制御部１１は、サブステート表示領域１１ｂに、複数のサブステートのうち、選択ステップＳ２で選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを操作部１２により設定可能に表示する（第２の表示ステップＳ３）。
【００４８】
次に、ユーザによる操作部１２の操作により、第２の表示ステップＳ３でサブステート表示領域１１ｂに表示された設定項目のパラメータが設定される（設定ステップＳ４）。
【００４９】
次に、シーケンス発生部１６は、設定ステップＳ４で設定された設定項目のパラメータに応じたＴＳを現在の状態遷移に応じて発生する（シーケンス発生ステップＳ５）。
【００５０】
以上説明したように、本実施形態に係るシーケンス発生装置１は、状態遷移を制御するための設定項目をサブステートごとに明確に表示することで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のＴＳを発生させることができる。また、本実施形態に係るシーケンス発生装置１は、ステートマシンで状態遷移が管理されるＤＵＴ１００とのシリアル通信を行う誤り率測定装置に適用することができる。
【００５１】
（第２の実施形態）
図８は、第１の実施形態に係るシーケンス発生装置を備えた第２の実施形態に係る誤り率測定装置を示している。以下では、第１の実施形態に係るシーケンス発生装置の構成及び動作についての説明は省略する場合がある。
【００５２】
図８に示すように、本実施形態に係る誤り率測定装置２は、シーケンス発生装置１と、ＤＵＴ１００に対して誤り率測定を行う誤り率測定部２１と、表示部２２と、操作部２３と、制御部２４と、を備える。
【００５３】
シーケンス発生装置１のシーケンス発生部１６は、ステートをループバックステートに遷移させるＴＳをＤＵＴ１００に送信した後に、ＤＵＴ１００に誤り率測定のためのパルスパターンを送信する。
【００５４】
誤り率測定部２１は、シーケンス発生装置１から送信されたパルスパターンの受信に伴うＤＵＴ１００からの被測定信号とパルスパターンとを比較して、被測定信号のビット誤り率を測定するようになっている。
【００５５】
表示部２２は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、制御部２４からの制御信号に応じて各種表示内容を表示するようになっている。この表示内容には、被測定信号のビット誤り率の測定結果などが含まれる。さらに、表示部２２は、測定条件などを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象を表示するものであってもよい。なお、表示部２２はシーケンス発生装置１の表示部１３で代用してもよい。
【００５６】
操作部２３は、キーボード、タッチパネル、又はマウスのような入力デバイスを含んで構成される。あるいは前述のように、操作部２３は、ボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象が表示部２２に表示される構成であってもよい。なお、操作部２３はシーケンス発生装置１の操作部１２で代用してもよい。
【００５７】
制御部２４は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータで構成され、誤り率測定装置２を構成する上記各部の動作を制御するようになっている。
【００５８】
以上、説明したように、本実施形態に係る誤り率測定装置２は、ステートマシンで状態遷移が管理されるＤＵＴ１００とのシリアル通信を行う誤り率測定装置において、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のＴＳを発生させることができる。
【符号の説明】
【００５９】
１  シーケンス発生装置
２  誤り率測定装置
１１  表示制御部
１１ａ  ステート表示領域
１１ｂ  サブステート表示領域
１２  操作部
１３  表示部
１４  パラメータ設定部
１５  記憶部
１６  シーケンス発生部
１７  制御部
２１  誤り率測定部
２２  表示部
２３  操作部
２４  制御部
１００  ＤＵＴ（被試験対象）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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