(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
接着性を有する試験サンプルの温度を制御する温度制御部と、
前記試験サンプルの第１接着面が接着される第１面を有する第１支持具と、
前記第１支持具の前記第１面に対向して配置され、前記試験サンプルの前記第１接着面と異なる第２接着面が接着される第２面を有する第２支持具と、
前記温度制御部による前記温度の変化によって生じる前記第１面から前記第２面への前記試験サンプルの厚みの変化に追従して前記第２支持具を移動自在にする摩擦低減部と、
前記第１面に沿った第１方向で前記第１支持具にせん断応力を加える制御部と、
を有するせん断試験装置。
【請求項２】
前記第１支持具の前記第１面は複数形成され、前記第２支持具は前記第１支持具の周囲に複数配置されることを特徴とする請求項１に記載のせん断試験装置。
【請求項３】
前記第２支持具に接し、前記試験サンプルの前記厚み方向への前記第２支持具の移動を補助する前記摩擦低減部はベアリングであることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のせん断試験装置。
【請求項４】
前記ベアリングは、前記第１方向と交差する方向に移動可能に配置されることを特徴とする請求項３に記載のせん断試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、せん断試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
タッチパネル、モバイル機器等において、薄型化、軽量化、構造簡素化等の観点から部品同士の接続のために両面テープのような粘着テープや接着剤の使用の機会が増加している。粘着テープや接着剤の使用にあたってはそれらの物性や挙動を理解しておくことが必要である。
【０００３】
粘着テープの接着層や接着剤が受ける応力の基本形は、例えば引張りせん断、割裂、剥離、接着強さに分けられる。そのうち、接着剤のせん断や接着強さの試験方法についてはＪＩＳのＫ６８５０、Ｋ６８５９などに示されている。せん断試験では、特に、せん断強度やせん断クリープ特性、せん断粘弾性等のせん断特性は重要な物性値の一つである。
【０００４】
せん断特性の測定のために次のような構造を有する試験装置が知られている。
例えば、シート状の試験片の表裏面のそれぞれに接着される第１の保持部材と第２の保持部材を有するせん断試験装置が知られている。そして、第１、第２の保持部材により試験片に圧力を加えながら、第１の保持部材と第２の保持部材を試験片の平面方向に沿って相対的に逆方向の平行力を作用させ、試験片の厚さ方向のせん断特性を試験する。この試験装置を使用して粘着テープや接着剤の剪断特性を試験することも可能である。
【０００５】
また、上記のような粘着テープ、接着剤、試験片ではなく、防振ゴムをせん断対象とし、防振ゴムの左右の両端に接着される第１取付片及び第２取付片を有するせん断試験機が知られている。第１取付片は、試験対象の接着面とは反対側の面で第１把持具に固着され、また、第２取付片は、試験対象の接着面とは反対側の面で第２把持具に固着される。第１の把持具の下端には複数枚の板バネとベースプレートを順に介してアクチュエータの出力端に連結される。また、第２把持具の上端は、ボルトにより固定ロッドに固着されている。そのような状態で、アクチュエータの出力端は、試験対象である防振ゴムに対する第１取付片と第２取付片の各接着面に平行な方向に荷重を板バネに付与し、これにより防振ゴムにせん断力を加える。また、バネ体により第１把持具及び第１取付片を介して防振ゴムに所定の圧縮荷重を付与し、第２取付片に押し付ける。
【０００６】
この装置の試験対象として粘着テープや接着剤を使用してもよく、これにより、試験対象にせん断荷重またはせん断歪を発生させ、その応答を測定することも可能である。
【０００７】
また、様々な圧力状況下での柔軟な布のラミネート用材料をテストする二軸負荷、せん断、浸透性、剥離テストのための装置が知られている。この装置は、留め具機構を介して四方からラミネート用材料に引っ張り力を加えた状態で、クランプ棒をラミネート材料に横方向で接触させて回転させる負荷発生機構を有している。これにより、負荷発生機構が変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で圧力状態をシミュレートするための負荷をラミネート材料に加える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００８−１１１７３９号公報
【特許文献２】実開平０５−４０８６６号公報
【特許文献３】特開２０１０−００２４１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
粘着テープや接着剤の実際の使用では、使用環境に温度変化が生じることがあるので、せん断試験の際に試験サンプルを温度制御可能な環境に置き、その環境の温度を制御して特定の温度環境下でのせん断測定や、環境温度を逐次変化させて昇温せん断測定又は降温せん断測定が行うことがある。
【００１０】
そのように環境温度を変化させると試験サンプルである粘着テープや接着剤は温度変化により膨張や収縮などが生じる。その試験の際に上記のせん断試験装置を使用すると、試験サンプルは第１、第２の保持部材の間に固定され、或いは、第１、第２取付片を介して厚さ方向にバネにより押され、或いは負荷発生機構により圧縮される。このため、試験サンプルには厚さ方向には熱変化によりさらに膨張や収縮のストレスが加わった状態になる。ここで試験対象の厚さというのは、第１、第２の保持部材や第１、第２取付片において、一方の面から他方の面への垂直方向で示される厚さである。
【００１１】
ところで、粘着テープや接着剤は、実際の使用において、厚さ方向に荷重がほぼ掛からない無負荷の状態で使用されることが多いため、実使用状態に則して厚み方向に無負荷状態でのせん断試験を行うことが要求されることがある。しかし、上記のような試験装置ではそのような温度変化による試験サンプルの厚み方向の膨張や収縮によるストレスの影響を避けることができない。
【００１２】
本発明の目的は、試験サンプルの厚み方向への加重負荷を解放して面方向のせん断試験を行うためのせん断試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本実施形態の１つの観点によれば、接着性を有する試験サンプルの温度を制御する温度制御部と、前記試験サンプルの第１接着面が接着される第１面を有する第１支持具と、前記第１支持具の前記第１面に対向して配置され、前記試験サンプルの前記第１接着面と異なる第２接着面が接着される第２面を有する第２支持具と、前記温度制御部による前記温度の変化によって生じる前記第１面から前記第２面への前記試験サンプルの厚みの変化に追従して前記第２支持具を移動自在にする摩擦低減部と、前記第１面に沿った第１方向で前記第１支持具にせん断応力を加える制御部と、を有するせん断試験装置が提供される。
発明の目的および利点は、請求の範囲に具体的に記載された構成要素および組み合わせによって実現され達成される。前述の一般的な説明および以下の詳細な説明は、典型例および説明のためのものであって、本発明を限定するためのものではない、と理解されるものである。
【発明の効果】
【００１４】
本実施形態によれば、試験サンプルの厚み方向への荷重負荷を解放して面方向のせん断試験を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】図１（ａ）は、実施形態に係るせん断試験装置の一例を示す側断面図、図１（ｂ）は、実施形態に係るせん断試験装置の部品の一部を示す断面図である。
【図２】図２（ａ）は、実施形態に係るせん断試験装置の一例を上から見た状態を示す平面図、図２（ｂ）は、実施形態に係るせん断試験装置の一例の上蓋を外した状態を示す平面図である。
【図３】図３（ａ）、（ｂ）は、従来のせん断試験装置における試験サンプルの応力を示す側面図、図３（ｃ）は、実施形態に係るせん断試験装置における試験サンプルの応力を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下に、図面を参照して実施形態を説明する。図面において、同様の構成要素には同じ参照番号が付されている。
【００１７】
図１（ａ）は、本実施形態に係るせん断試験装置の一例を示す側断面図である。図１（ｂ）は、図１（ａ）に示したせん断試験装置に設けられる部品の一部を示す断面図である。また、図２（ａ）は、実施形態に係るせん断試験装置の平面図であり、図２（ｂ）は、図２（ａ）に示したせん断試験装置の蓋を外した状態を示す平面図である。図１（ａ）は、図２（ａ）のＩ−Ｉ線断面図である。
【００１８】
図１（ａ）において、基板１は第１面１ａの周囲に壁１ｗが形成された形状を有し、第１面１ａの中央とその付近の上の試料設置領域αには第１試料支持具２が配置されている。第１試料支持具２は、その上端に接続される支持ロッド３により少なくともＡ方向、例えば上下方向に移動可能に吊り下げられている。なお、基板１における第１面１ａから第２面１ｂへの方向を下方向、その逆方向を上方向としている。
【００１９】
支持ロッド３のうち第１試料支持具２から離れた端部は、アクチュエータ、荷重発生部、変位センサー、荷重センサーなどを有する制御部４に接続され、制御部４により基板１の上面１ａに対して上下方向の荷重や移動が制御される。
【００２０】
第１試料支持具２の両端には、第１試料接着面２ａと第２試料接着面２ｂが反対向きで平行になるように形成されている。第１試料接着面２ａと第２試料接着面２ｂのそれぞれは、試験サンプルである接着部材、例えば両面粘着テープ、接着剤等が接着される面であり、ほぼ平坦に形成され、基板１の第１面１ａに対して略垂直に配置される。
【００２１】
基板１上の第１面１ａ上における第１試料支持具２の周囲において、第１試料接着面２ａが向く方向には第２試料支持具５が配置され、また、第２試料接着面２ｂが向く方向には第３試料支持具６が配置される。第２試料支持具５と第３試料支持具６は例えば同じ構造に形成され、逆向きに配置される。
【００２２】
第２試料支持具５は、第１試料支持具２の第１試料接着面２ａに対向させる第３試料接着面５ａを有し、その反対側には基板１の壁部１ｗの第１端に形成された第１凹部１ｕ内を通して外方に突出する長さの突起５ｂが形成されている。突起５ｂは、第１凹部１ｕの内面との間に隙間が生じる大きさとする。また、突起５ｂのうち基板１から突出した部分には第１凹部１ｕより幅の広いつまみ部５ｃが形成されている。
【００２３】
第３試料支持具６は、第１試料支持具２の第２試料接着面２ｂに対向させる第４試料接着面６ａを有し、その反対側には基板１の壁部１ｗの第２端に形成された第２凹部１ｖ内を通して外方に突出する長さの突起６ｂが形成されている。突起６ｂは、第２凹部１ｖの内面との間に隙間が生じる大きさとする。また、突起６ｂのうち基板１から突出した部分には第２凹部１ｖより幅の広いつまみ部６ｃが形成されている。
【００２４】
基板１の第１面１ａと第２試料支持具５の間には第１フラットベアリング（フラットボール軸受け）１１が移動自在に挟まれ、また、基板１の第１面１ａと第３試料支持具６の間には第２フラットベアリング１２が移動自在に挟まれている。
【００２５】
第１、第２フラットベアリング１１、１２のそれぞれは、図１（ｂ）に例示するように、薄い板１０ａに形成された複数の孔１０ｂのそれぞれに球体１０ｃが回転容易に嵌め込まれた構造を有している。孔１０ｂの内面は、球体１０ｃが抜けない構造、例えば、球体１０ｃの球面を受ける湾曲したテーパー１０ｄが形成された形状を有している。テーパー１０ｄは、例えば重力方向が広くなるように配置される。
【００２６】
基板１の上には、第２試料支持具５、第３試料支持具６等を覆う蓋体７が重ねて取り付けられ、蓋体７のうち基板１と対向して配置される下面７ｂの周縁部には壁部７ｗが突出して形成されている。また、蓋体７には、基板１の試料設置領域αを露出する開口７ａが形成され、開口７ａは、第１試料支持具２をその中に通して試料設置領域α内に設置できる大きさを有している。蓋体７の壁部７ｗと基板１の壁部１ｗは、互いに重なり合って取り付けられる平面形状を有している。
【００２７】
基板１の第１面１ａのうち試料設置領域αを囲む部分には、第１、第２フラットベアリング１１、１２が試料設置領域αに移動することを防止するための規制突起１ｃが形成されている。規制突起１ｃは、第１、第２フラットベアリング１１、１２と同じかそれより低い高さに形成される。これにより、第１フラットベアリング１１上において第２試料支持具５の変動が自在となり、第２のフラットベアリング１２上において第３試料支持具６の変動が自在となる。
【００２８】
また、基板１の第２面１ｂのほぼ中央には、基板１を固定する棒状の固定部品９の一端が取り付けられる。固定部品９の他端は、固定台（不図示）に固定される。
【００２９】
第２試料支持具５と蓋体７の下面７ｂの間には、第３フラットベアリング１３が容易に移動できるように挟まれている。同様に、第３試料支持具６と蓋体７の下面７ｂの間には、第４フラットベアリング１４が容易に移動できるように挟まれている。また、蓋体７の下面７ｂのうち試料設置領域αの周囲には、第３、第４フラットベアリング１３、１４が開口部７ａから露出しないようにするための規制突起７ｃが形成されている。規制突起７ｃは、第３、第４フラットベアリング１３、１４と同じかそれより低い高さに形成される。
【００３０】
基板１と蓋体７の間の空間のうち一端から試料設置領域αまでは、第２試料支持具５と第１フラットベアリング１１と第３フラットベアリング１３が円滑に移動できる大きさの第１移動空間（スペース）１５となっている。また、基板１の壁部１ｗと蓋体７の壁部７ｗの間の空間のうち他端から試料設置領域αまでは、第３試料支持具６と第２フラットベアリング１２と第４フラットベアリング１４が円滑に移動できる第２移動空間（スペース）１６となっている。これにより、基板１と蓋体７は、第１〜第３試料支持具２、５、６を収納する筐体となり、例えば、制御部４により温度が調整される温度調整室１９内に置かれる。
【００３１】
基板１の壁部１ｗの上部の複数箇所にネジ孔１ｎが形成され、また、蓋体７の壁部７ｗにはネジ孔１ｎに重ねられてネジ８を通すネジ通孔７ｎが形成されている。また、ネジ通孔７ｎを通してネジ孔１ｎにネジ止めされるネジ８により、蓋体７が基板１に固定される。蓋体７と基板１の間には、ネジ８が通されるリングワッシャー１８が挟まれ、ネジ８の締め付けの調整により基板１と蓋体７の間隔が調整される。なお、リングワッシャー１８の替わりに、スプリング押バネ（不図示）のようなバネ部材を使用して基板１と蓋体７の隙間を調整してもよい。
【００３２】
これにより、基板１の第１面１ａと第２、第３試料支持具５、６の下面に接触する第１、第２フラットベアリング１１、１２が円滑に移動可能となる。同様に、蓋体７の下面７ｂと第２、第３試料支持具５、６の上面に接触する第３、第４フラットベアリング１３、１４が円滑に移動可能となる。
【００３３】
なお、上記の接着部材用せん断試験装置は、図２（ａ）、（ｂ）に示したように、試料設置領域αの中央を中心にして左右対称の構造に記載されているが、非対称の構造であってもよい。
【００３４】
次に、上記のせん断試験装置を使用して試料サンプルＳ１、Ｓ２のせん断試験方法を説明する。
【００３５】
まず、第１移動空間１５の基板１の第１面１ａ上に第１フラットベアリング１１を置き、また、第２移動空間１６の基板１の第１面１ａ上に第２フラットベアリング１２を置く。さらに、第１フラットベアリング１１の上に第２試料支持具５を搭載し、第２フラットベアリング１２の上に第３試料支持具６を搭載する。
【００３６】
この場合、基板１の第１凹部１ｕ内に第２試料支持具５の突起５ｂを入れ、第２凹部１ｖに第３試料支持具６の突起６ｂを入れる。突起５ｂ、６ｂは第１、第２凹部１ｕ、１ｖの周囲と蓋体７から離れた状態が可能な形状と大きさを有している。さらに、第２試料支持具５の第３試料接着面５ａと第３試料支持具６の第４試料接着面６ａを対向させるとともに、それらのつまみ部５ｃ、６ｃを基板１の外に位置させる。
【００３７】
なお、突起５ｂ、６ｂの長さは、つまみ部５ｃ、６ｃを基板１の壁部１ｗの外周面に当てた状態で第３試料接着面５ａと第４試料接着面６ａが離れるように形成しておけば後の作業が容易になる。
【００３８】
また、第２試料支持具５の上に第３フラットベアリング１３を搭載し、さらに、第３試料支持具６の上に第４フラットベアリング１４を搭載する。そして、基板１上に蓋体７を重ねた後に、ネジ８を使用して蓋体７を基板１にネジ止めする。この場合、基板１の第１面１ａと蓋体７の下面７ａに接触する第１〜第４フラットベアリング１１〜１４の移動が自在になるように、蓋体７と基板１の互いの壁部７ｗ、１ｗの上下の間隔を調整する。さらに、第１試料支持具２が支持ロッド３の一端に取り付けられ、その他端が制御部４に接続されていることを確認する。
【００３９】
このような状態において、第１試料支持具２の第１、第２試料接着面２ａ、２ｂのそれぞれに、試験サンプル、例えば接着剤や両面粘着テープを接着する。なお、両面粘着テープの場合にはその両面に露出する接着層が接着面となる。また、接着剤の場合には第１〜第３試料支持具２、５、６の第１〜第４試料接着面２ａ、２ｂ、５ａ、６ａに接触する部分が接着面となる。
【００４０】
また、第１試料接着面２ａに接着する試験サンプルを第１サンプルＳ１とし、第２試料接着面２ｂに接着する試験サンプルを第２サンプルＳ２とし、それらは同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。第１試料支持具２の第１試料接着面２ａには第１サンプルＳ１の第１接着面が接着され、第１試料支持具２の第２試料接着面２ｂには第２サンプルＳ２の第１接着面が接着される。
【００４１】
また、基板１の第２面１ｂに取り付けた固定部品９を介して基板１を固定する。そのような状態で、支持ロッド３の一端の第１試料支持具２を蓋体７の開口７ａに通して基板１上の第１面１ａ上の試料設置領域αに挿入する。
【００４２】
さらに、制御部４により支持ロッド３の位置を調整し、第１試料支持具２の第１試料接着面２ａに接着された第１サンプルＳ１の高さと第２試料支持具５の第３試料接着面５ａの高さを揃えて互いを離して対向させる。同様に、第１試料支持具２の第２試料接着面２ｂに接着された第２サンプルＳ２の高さと第３試料支持具６の第４試料接着面６ａの高さを揃えて互いを離して対向させる。そのような位置となるように、支持ロッド３は制御部４により停止される。
【００４３】
この状態から第２試料支持具５のつまみ部５ａを操作し、第２試料支持具５を第１サンプルＳ１に近づけ、最終的に第３試料接着面５ａを第１サンプルＳ１の第２接着面に接着し、第１試料支持具２と第２試料支持具５により第１サンプルＳ１を挟む。これと同様な操作により、第３試料支持具６を第２サンプルＳ２に近づけ、最終的に第４試料接着面６ａを第２サンプルＳ２の第２接着面に接着し、第１試料支持具２と第３試料支持具６により第２サンプルＳ２を挟む。
【００４４】
これにより、第１サンプルＳ１の第１接着面は第１試料支持具２の第１試料接着面１ａに接着し、その反対の第２接着面は第２試料支持具５の第３試料接着面５ａに接着する。同様に、第２サンプルＳ２の第１接着面は第１試料支持具２の第２試料接着面１ｂに接着し、その反対の第２接着面は第３試料支持具６の第４試料接着面６ａに接着する。
【００４５】
その後に、第２、第３試料支持具５、６のそれぞれのつまみ部５ｃ、６ｃの拘束を解くと、第１試料支持具２から第２、第３試料支持具５、６へのＢ方向、即ち第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２の厚み方向に加わる力がほぼなくなる。これは、第１〜第４フラットベアリング１１〜１４によって基板１と蓋体７に対する第２、第３試料支持具５、６の摩擦が大幅に低減され、第２、第３試料支持具５、６へのＢ方向の変動が円滑になるからである。なお、第１サンプルＳ１の厚みは、第１試料支持具２の第１試料接着面２ａから第２試料支持具５の第３試料接着面５ａへの方向の厚みである。また、第２サンプルＳ２の厚みは、第１試料支持具２の第２試料接着面２ｂから第３試料支持具６の第４試料接着面６ａへの方向の厚みである。さらに、Ｂ方向は、基板１の第１面１ａに沿った二次元の方向である。
【００４６】
次に、制御部４のアクチュエータ（不図示）や荷重発生装置（不図示）により支持ロッド３を介して第１試料支持具２にＡ方向の変位または荷重を発生させる。これにより、第１サンプルＳ１と第２サンプルＳ２にせん断方向の歪や応力を負荷することができ、制御部４の変位センサー（不図示）や荷重センサー（不図示）により測定されたデータを用いて例えばせん断強度やせん断クリープ特性、せん断粘弾性等のせん断特性が求められる。
【００４７】
支持ロッド３を介して第１試料支持具２をＡ方向の一方に荷重をかける場合、第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２を介して第２、第３試料支持具５、６がＡ方向の一方に引かれる。しかし、第２、第３試料支持具５、６は第３、第４フラットベアリング１３、１４を介して蓋体７に押し付けられるので、Ａ方向の移動は規制されるが、第１〜第４フラットベアリング１１〜１４のＢ方向への移動自在な状態は保持される。
【００４８】
ところで、試験によっては、温度調整室１９内で第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２の環境温度を変化させて、高温環境や低温環境、または環境温度を逐次変化させながら試験を行う昇温測定や降温測定を行うことがある。この際、環境温度の変化により、第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２が熱膨張、熱収縮、冷収縮等を起こすが、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２の膨張や収縮を試料支持具２５、２６で押さえると、図３（ａ）に示す膨張、或いは図３（ｂ）に示す収縮によってＢ方向に生じた応力がＡ方向の荷重に影響を与えるので、せん断試験の精度に悪影響を及ぼす。
【００４９】
これに対し、本実施形態では、図３（ｃ）に示すように第１〜第４フラットベアリング１１〜１４の摩擦低減効果により、第２、第３試料支持具５、６は第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２の厚みの変化に追従してＢ方向に移動自在となる。このため、第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２に厚み方向の応力を付加させることなくせん断試験を行うことができる。
【００５０】
換言すれば、第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２の厚み方向で、第１試料支持具２に対する第２、第３試料支持具５、６の間隔が第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２の変形に追従して変化する。この結果、第１、第２サンプルＳ１、Ｓ２の厚みのＢ方向に対して荷重負荷を与えずに無負荷状態でせん断試験を行うことができることになる。
【００５１】
従って、昇温又は降温し、或いは加湿又は乾燥することによる測定環境の変化に伴う試験サンプルの膨張、収縮などの変位を可動治具である第２、第３試料支持具５、６が吸収することで、試験サンプルに厚み方向の荷重負荷を与えずにせん断試験を行うことができる。なお、試験サンプルは、上記のような両面粘着テープや接着剤に限られるものではなく、接着性のある試料、例えば、接着剤で貼り付けられる樹脂、金属などの部材や粘着性を有するゴム、樹脂等であってもよい。
【００５２】
ところで、上記のせん断試験装置では、同時に２つの試験サンプルを試験できること、第１試料支持具２の両端のバランスが良くなることなどから、第１試料支持具２の両端に対向させて第２、第３試料支持具５、６を配置している。しかし、第２、第３試料支持具５、６の一方だけを配置してもよい。また、上記のせん断装置では、第１試料支持具２の両端の面に試料サンプルを貼り付ける構造にしているが、複数の面、例えば立方体の４つの側面に試料サンプルを貼り付け、それらの面に対向する複数の第２、第３試料支持具５、６を配置してもよい。また、上記のフラットベアリング１１〜１４は、第２、第３試料支持具のうち少なくともＡ方向の面に接して配置されているが、それらの両側面と壁部１ｗ、７ｗの間に配置してもよい。また、試験サンプルの環境温度を制御する温度制御部として、上記のような温度調整室１９の他、熱風、冷風の吹き付け部を配置してもよい。
【００５３】
ここで挙げた全ての例および条件的表現は、発明者が技術促進に貢献した発明および概念を読者が理解するのを助けるためのものであり、ここで具体的に挙げたそのような例および条件に限定することなく解釈され、また、明細書におけるそのような例の編成は本発明の優劣を示すこととは関係ない。本発明の実施形態を詳細に説明したが、本発明の精神および範囲から逸脱することなく、それに対して種々の変更、置換および変形を施すことができると理解される。
【００５４】
次に、本発明の実施形態について特徴を付記する。
（付記１）接着性を有する試験サンプルの温度を制御する温度制御部と、前記試験サンプルの第１接着面が接着される第１面を有する第１支持具と、前記第１支持具の前記第１面に対向して配置され、前記試験サンプルの前記第１接着面と異なる第２接着面が接着される第２面を有し、前記温度制御部による前記温度の変化によって生じる前記第１面から前記第２面への前記試験サンプルの厚みの変化に追従する移動自在な第２支持具と、前記第１面に沿った第１方向で前記第１支持具にせん断応力を加える制御部と、を有するせん断試験装置。
（付記２）前記第１面は前記第１支持部に複数形成され、前記第２支持部は前記第１支持部の周囲に複数配置されることを特徴とする請求項１に記載のせん断試験装置。
（付記３）前記第２支持具に接し、前記試験サンプルの前記厚み方向への前記第２支持具の移動を補助するベアリングを有することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のせん断試験装置。
（付記４）前記ベアリングは、前記第１方向と交差する方向に移動可能に配置されることを特徴とする付記１乃至付記３のいずれか１つに記載のせん断試験装置。
（付記５）前記第２支持具は、基板と蓋体の間に置かれ、前記ベアリングは、前記第２支持具と前記基板の間と、前記第２支持具と前記蓋体の間にそれぞれ置かれることを特徴とする付記４に記載のせん断試験装置。
（付記６）前記基板と前記蓋体の間において前記ベアリグの滑る方向には、前記ベアリングと前記第２支持具の移動スペースが確保されていることを特徴とする付記５に記載のせん断試験装置。
（付記７）前記第２支持具には、前記試験サンプルを支持する面とは異なる位置に位置調整用突起が取り付けられていることを特徴とする付記１乃至６のいずれか１つに記載のせん断試験装置。
（付記８）前記基板と前記蓋体の少なくとも一方において、前記第１支持具の周囲には、前記ベアリングの前記試験サンプルへの接触を規制する突起が設けられていることを特徴とする付記５乃至付記７のいずれか１つに記載のせん断試験装置。
（付記９）前記蓋体は、前記基板に向けて前記第１支持具を挿入する開口部を備えていることをと特徴とする付記５乃至付記８のいずれか１つに記載のせん断試験装置。
【符号の説明】
【００５５】
１  基板
１ｗ  壁部
２  第１試料支持具
３  支持ロッド
４  制御部
５  第２試料支持具
６  第３試料支持具
７  蓋体
７ａ  開口部
７ｗ  壁部
８  ネジ
１１〜１４  フラットベアリング
１５、１６  移動空間
【図１】
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【図２】
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【図３】
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