(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）のデータリンクの試験を可能にするシステムを含む装置であって、
基準装置からのＲＸデータパケット信号をＤＵＴによる受信のために搬送するとともに、前記ＤＵＴからのＴＸデータパケット信号を前記基準装置による受信のために搬送するための基準装置信号経路と、
前記基準装置からの前記ＲＸデータパケット信号を前記ＤＵＴによる受信のために搬送するとともに、前記ＤＵＴからの前記ＴＸデータパケット信号を前記基準装置による受信のために搬送するためのＤＵＴ信号経路と、
前記基準装置信号経路と前記ＤＵＴ信号経路の間に結合する信号減衰回路構成であって、ＲＸ信号減衰を伴う前記ＲＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送するとともに、ＴＸ信号減衰を伴う前記ＴＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送することにより、１つ以上の制御信号に応答する信号減衰回路構成とを含み、前記ＲＸ信号減衰と前記ＴＸ信号減衰は等しくない、装置。
【請求項２】
前記ＴＸ信号減衰は前記ＲＸ信号減衰より大きい、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記ＲＸ信号減衰は前記ＴＸ信号減衰より大きい、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記ＲＸデータパケット信号と前記ＴＸデータパケット信号は互いに排他的な期間中に搬送される、請求項１に記載の装置。
【請求項５】
前記信号減衰回路構成は、ＲＸ期間の少なくとも一部期間中に前記ＲＸ信号減衰により前記ＲＸデータパケット信号を減衰し、ＴＸ期間の少なくとも一部期間中に前記ＴＸ信号減衰により前記ＴＸデータパケット信号を減衰することにより、前記１つ以上の制御信号に応答する、請求項１に記載の装置。
【請求項６】
前記基準装置信号経路と前記ＤＵＴ信号経路は、前記ＲＸデータパケット信号の少なくとも電力レベルと前記ＴＸデータパケット信号の少なくとも電力レベルとを示す少なくとも第１および第２の測定信号を提供することにより、前記ＲＸデータパケット信号と前記ＴＸデータパケット信号とに応答する第１および第２の測定回路をそれぞれ含む、請求項１に記載の装置。
【請求項７】
前記第１と第２の測定回路は第１と第２の信号電力センサを含む、請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記第１と第２の測定回路は第１と第２の信号電力計を含む、請求項６に記載の装置。
【請求項９】
前記基準装置信号経路と前記ＤＵＴ信号経路へ結合された制御回路であって、前記１つ以上の制御信号を提供することにより、前記ＲＸデータパケット信号と前記ＴＸデータパケット信号のそれぞれの電力レベルを示す１つ以上の電力信号に応答する、制御回路をさらに含む請求項１に記載の装置。
【請求項１０】
前記１つ以上の制御信号を提供することにより、前記ＲＸデータパケット信号と前記ＴＸデータパケット信号の前記搬送を示す１つ以上のデータパケットフロー信号に応答する制御回路をさらに含む請求項１に記載の装置。
【請求項１１】
前記１つ以上のデータパケットフロー信号は前記基準装置からのものである、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）のデータリンクの試験を可能にする方法であって、
基準装置からのＲＸデータパケット信号をＤＵＴによる受信のために搬送する工程と、
前記ＤＵＴからのＴＸデータパケット信号を前記基準装置による受信のために搬送する工程と、
１つ以上の制御信号を受信し、この受信に応答して、ＲＸ信号減衰を伴う前記ＲＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送するとともに、ＴＸ信号減衰を伴う前記ＴＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送する工程とを含み、前記ＲＸ信号減衰と前記ＴＸ信号減衰は等しくない、方法。
【請求項１３】
前記ＴＸ信号減衰は前記ＲＸ信号減衰より大きい、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記ＲＸ信号減衰は前記ＴＸ信号減衰より大きい、請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
前記ＲＸデータパケット信号と前記ＴＸデータパケット信号は互いに排他的な期間中に搬送される、請求項１２に記載の方法。
【請求項１６】
１つ以上の制御信号を受信し、この受信に応答して、ＲＸ信号減衰を伴う前記ＲＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送するとともに、ＴＸ減衰を伴う前記ＴＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送する工程は、ＲＸ期間の少なくとも一部期間中に前記ＲＸ信号減衰により前記ＲＸデータパケット信号を減衰し、ＴＸ期間の少なくとも一部期間中に前記ＴＸ信号減衰により前記ＴＸデータパケット信号を減衰する工程を含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１７】
前記ＲＸデータパケット信号の少なくとも電力レベルと前記ＴＸデータパケット信号の少なくとも電力レベルとを測定し、前記ＲＸおよびＴＸデータパケット信号の少なくとも前記電力レベルを示す１つ以上の電力信号を提供する工程をさらに含む請求項１２に記載の方法。
【請求項１８】
前記１つ以上の電力信号を受信し、この受信に応答して前記１つ以上の制御信号を提供する工程をさらに含む請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記ＲＸデータパケット信号と前記ＴＸデータパケット信号の前記搬送を示す１つ以上のデータパケットフロー信号を受信し、この受信に応答して前記１つ以上の制御信号を提供する工程をさらに含む請求項１２に記載の方法。
【請求項２０】
前記１つ以上のデータパケットフロー信号は前記基準装置からのものである、請求項１９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データパケット信号送受信器を試験することに関し、特に、データパケット信号送受信器のデータリンクを試験することに関する。
【背景技術】
【０００２】
今日の電子装置の多くは、接続目的と通信目的の両方のために無線信号技術を使用する。無線装置は電磁エネルギーを送受信するので、そして２つ以上の無線装置はそれらの信号周波数およびスペクトル密度により互いの動作と干渉する可能性を有するので、これらの装置およびそれらの無線信号技術は様々な無線信号技術標準規格に従わねばならない。
【０００３】
このような無線装置を設計する際、技術者は、「このような装置が装置に含まれる無線信号技術規定標準規格のそれぞれを満足するまたは越える」ことを保証するために特別の注意を払う。さらに、これらの装置が後で量産される際、これらの装置は、含まれる無線信号技術標準規格に従うことを保証することを含み製造欠陥が不適切な動作を引き起こさないということを保証するために試験される。
【０００４】
これらの装置の製造および組み立てに続きこれらの装置を試験するために、現在の無線装置試験システムは通常、各被試験装置（ＤＵＴ：ｄｅｖｉｃｅ  ｕｎｄｅｒ  ｔｅｓｔ）へ試験信号を提供するとともに各ＤＵＴから受信された信号を解析するためのサブシステムを採用する。いくつかのサブシステムは、ＤＵＴへ送信されるソース信号を提供するための少なくとも１つのベクトル信号発生器（ＶＳＧ：ｖｅｃｔｏｒ  ｓｉｇｎａｌ  ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）と、ＤＵＴにより生成される信号を解析するためのベクトル信号解析器（ＶＳＡ：ｖｅｃｔｏｒ  ｓｉｇｎａｌ  ａｎａｌｙｚｅｒ）とを含む。ＶＳＧによる試験信号の生成とＶＳＡにより行われる信号解析は通常、それぞれが、異なる周波数範囲、帯域幅および信号変調特性を有する多種多様な無線信号技術標準に多種多様な装置が準拠するかを試験するために使用され得るように、（例えば、パーソナルコンピュータなどの内部プログラム可能コントローラまたは外部プログラム可能コントローラの使用により）プログラム可能である。
【０００５】
他のサブシステムは、現在のＤＵＴと同じであり現在のＤＵＴに対し行われる試験の目的のために試験され当該性能および動作特性に適合すると証明された基準装置を含み得る。この基準装置は、基準装置が設計された無線信号技術標準への準拠または非準拠を判断するために現在のＤＵＴを試験するやり方で制御され作動される。
【０００６】
無線通信装置の製造の一部として、製造費用の１つの重要な要素はこれらの製造試験に関連する費用である。通常、試験の費用と試験を行うために必要とされる試験装置の高性能化との間に直接的相関がある。したがって、装置費用（例えば、必要な試験装置またはテスターの高性能化を増すための費用の増加）を最小化する一方で試験精度を維持し得る技術革新が、重要であり、特に製造および試験される多数のこのような装置を考慮すると著しい費用節約をもたらし得る。
【０００７】
したがって、ますます多様化した性能特性と必要要件とを有するますます高性能化したＤＵＴを、同様にますます多様化した試験特性および必要要件を有するますます高性能化したテスターを必要とすること無しに試験するための技術を有することが望ましいだろう。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に従って、被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）のデータリンクの試験を可能にするシステムと方法が提供される。基準装置からのＲＸデータパケット信号がＤＵＴによる受信のために搬送され、ＤＵＴからのＴＸデータパケット信号が基準装置による受信のために搬送される。ＲＸデータパケット信号の少なくとも一部は信号減衰を伴って搬送される。ＴＸデータパケット信号の少なくとも一部は異なる信号減衰を伴って搬送される。
【０００９】
本発明の一実施形態に従って、被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）のデータリンクの試験を可能にするシステムは、基準装置からのＲＸデータパケット信号をＤＵＴによる受信のために搬送するとともにＤＵＴからのＴＸデータパケット信号を基準装置による受信のために搬送するための基準装置信号経路と、基準装置からのＲＸデータパケット信号をＤＵＴによる受信のために搬送するとともにＤＵＴからのＴＸデータパケット信号を基準装置による受信のために搬送するためのＤＵＴ信号経路と、基準装置信号経路とＤＵＴ信号経路間に結合する信号減衰回路構成であって、ＲＸ信号減衰を伴うＲＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送するとともにＴＸ信号減衰を伴うＴＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送することにより１つ以上の制御信号に応答する信号減衰回路構成とを含み、ＲＸ信号減衰とＴＸ信号減衰は等しくない。
【００１０】
本発明の別の実施形態に従って、被試験データパケット信号送受信器装置（ＤＵＴ）のデータリンクの試験を可能にする方法は、基準装置からのＲＸデータパケット信号をＤＵＴによる受信のために搬送する工程と、ＤＵＴからのＴＸデータパケット信号を基準装置による受信のために搬送する工程と、１つ以上の制御信号を受信し、この受信に応答して、ＲＸ信号減衰を伴うＲＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送するとともにＴＸ減衰を伴うＴＸデータパケット信号の少なくとも一部を搬送する工程とを含み、ＲＸ信号減衰とＴＸ信号減衰は等しくない。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、データパケット信号送受信器ＤＵＴのデータリンクを試験するための従来の試験環境の例示的実施形態を描写する。
【図２】図２は、本発明によるデータパケット信号送受信器ＤＵＴのデータリンクを試験するための試験環境の例示的実施形態を描写する。
【図３】図３は、本発明によるデータパケット信号送受信器ＤＵＴのデータリンクを試験するための試験環境の別の例示的実施形態を描写する。
【図４】図４は、本発明によるデータパケット信号送受信器ＤＵＴのデータリンクを試験する際の高いデータパケット信号減衰レベルと低いデータパケット信号減衰レベルとの例示的タイミング関係を描写する。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下の詳細な説明は、添付図面を参照した本発明の例示的実施形態である。このような説明は、本発明の範囲に対する制限ではなく例示的となるように意図されている。このような実施形態は、当業者に本発明を実施できるようにするのに十分に詳細に説明され、本発明の思想または範囲から逸脱することなくいくつかの変形と共に他の実施形態が実施され得るということが理解されよう。
【００１３】
本開示全体にわたって、別途明示しない限り、説明される個別回路要素は単数または複数であり得るということが理解されよう。例えば、用語「回路」、「回路構成」は、単一部品、または能動および／または受動のいずれかであり、説明される機能を提供するために接続されるまたはそうでなければ連結される（例えば、１つ以上の集積回路チップとして）複数の部品のうちのいずれかを含み得る。加えて、用語「信号」は１つ以上の電流、１つ以上の電圧またはデータ信号を指し得る。添付図面内では、同様なまたは関連要素は同様なまたは関連する英数字表記を有する。さらに、本発明は個別電子回路構成（好適には１つ以上の集積回路チップ）を使用する実施形態の文脈で論述されたが、このような回路構成の任意の部品の機能は代替的に、処理される信号周波数またはデータ速度に依存して、１つ以上の適切にプログラムされたプロセッサを使用することにより実現され得る。さらに、添付図面が様々な実施形態の機能ブロックの線図を示す限りでは、機能ブロックはハードウェア回路間の分割を必ずしも示さない。
【００１４】
図１に示されているように、ＤＵＴが較正され、機能的に試験された後に、データリンク試験を行うことが一般的である。典型的な試験環境１０は、周知の原理に従って導電性ＲＦ信号接続１３、１５（例えば、同軸ケーブルとコネクタ）により基準装置１２とＤＵＴ１４との間に接続された減衰器１６を含む導電性無線周波（ＲＦ）信号経路経由で試験信号ＲＸをＤＵＴ１４へ提供するとともに、ＤＵＴ１４から応答および／またはデータ信号ＴＸを受信するための基準装置１２を含む。減衰器１６の目的は、ＤＵＴ１４が動作するように設計されたものと同様な無線放射信号環境において経験されるであろう信号経路損失に見合った信号経路損失を与えることである。
【００１５】
しかし、減衰器１６のこのようなやり方の配置と使用は、両方向に伝搬する信号（例えば、基準装置１２からＤＵＴ１４へ搬送される受信（ＲＸ）信号とＤＵＴ１４から基準装置１２へ搬送される送信（ＴＸ）信号）に対して同じ信号経路損失を与える。したがって、データリンク試験の結果はＤＵＴ１４と基準装置１２との両方から影響を受け得る。例えば、基準装置１２がＤＵＴ１４から信号を受信していると考えられる場合（例えば、ＴＸ試験中）、ＤＵＴから送信信号ＴＸを検知することのといかなる失敗も、ＤＵＴ１４内の受信器回路構成（図示せず）の感度に関する問題（したがって、基準装置１２から信号ＲＸを検出しそれに応答するＤＵＴ１４の能力）よりもむしろ基準装置１２へ搬送される信号の減衰電力レベルに起因し得る。これは、信号電力レベルの差を相殺するために符号化利得をほとんどまたは全く利用できないため送信データ速度が応答信号（例えば、確認応答（ＡＣＫ）信号）データ速度に近い場合には低データ速度において特に問題になり得る。
【００１６】
以下にさらに詳細に論述されるように、本発明によると、データパケット信号フロー（例えば、基準装置１２からＤＵＴ１４へ、またはＤＵＴ１４から基準装置１２へ）の方向に依存して異なる信号減衰を与えるように非対称な信号経路損失が与えられる。この結果、測定されるデータリンクが、ＤＵＴ１４と基準装置１２の影響の組み合わせよりもＤＵＴ１４の性能によるということが保証され、これによりさらに、データリンク結果が基準装置１２の寄与の無いＤＵＴ１４のパターンを反映するということが保証される。
【００１７】
図２に示されているように、本発明の例示的実施形態に従って、試験環境１００は上述のようにＤＵＴ１４を試験するための基準装置１２を含む。本発明に従って、可変減衰器１１６が使用され、接続信号経路１３、１５は、図示のように、導電性ＲＦ信号経路１３ａ、１３ｂにより基準装置１２と減衰器１１６間に接続され導電性ＲＦ信号経路１５ａ、１５ｂにより減衰器１１６とＤＵＴ１４との間に接続された電力測定回路１１８ａ、１１８ｂを含む。これらの電力測定回路１１８ａ、１１８ｂは周知の電力センサまたは電力計の形式で実現することができ、電力測定信号またはデータは信号インタフェース１１９ａ、１１９ｂを経由して制御回路１２０へ提供される。この制御回路１２０は上述のように、このような電力測定信号またはデータに従って、受信信号ＲＸと送信信号ＴＸへ与えられるその信号減衰を調整するために１つ以上の制御信号１２１を可変減衰器１１６へ提供する。
【００１８】
所望にまたは必要に応じ、例えば周知の技術に従って直接導電性信号接続またはネットワーク信号接続の形式で実現することができる追加の信号インタフェース１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃ経由で制御回路１２０、基準装置１２およびＤＵＴ１４と命令とデータを交換するために追加の外部コントローラ１２２（例えば、パーソナルコンピュータ）が使用され得る。
【００１９】
当業者に容易に理解されるように、減衰器１１６が減衰を搬送信号へ与えているときに、電力測定回路１１８ａ、１１８ｂは電力測定信号または信号フローの方向を示すデータを提供する。例えば、受信信号ＲＸの搬送中（ＤＵＴ１４の観点からは「受信」）、基準装置側電力測定回路１１８ａからの電力測定データ１１９ａはＤＵＴ側電力測定回路１１８ｂからの電力測定データ１１９ｂより高い信号電力を示す。逆に、送信信号ＴＸの搬送中（ＤＵＴ１４の観点からは「送信中」）、ＤＵＴ側電力測定回路１１８ｂからの電力測定データ１１９ｂは基準装置側電力測定１１８ａからの電力測定データ１１９ａより高い信号電力を示す。
【００２０】
さらに、減衰器１１６が減衰を与えない（例えば、現実的減衰回路構成性能および公差によりほぼゼロ）ように制御回路１２０によりプログラムされた場合、電力測定回路１１８ａ、１１８ｂからの電力測定データ１１９ａ、１１９ｂはほぼ等しくなる（そうでなければ、例えば、電力測定回路１１８ａ、１１８ｂ間に接続された、使用不能にされまたはバイパスされる減衰回路構成１１６の存在により導入される最小限の量の信号減衰だけ異なる）。したがって、制御回路１２０は、電力測定回路１１８ａ、１１８ｂにより提供される電力測定データ１１９ａ、１１９ｂに従って反応するように設計またはプログラムされ得る。
【００２１】
例えば、これらの電力測定データ１１９ａ、１１９ｂが受信信号ＲＸの搬送を示す場合、制御回路１２０は、ＤＵＴ１４により実際に受信された受信信号ＲＸの大きさを所望の試験条件に必要なレベルまで低減させるように所望量の信号減衰を受信信号ＲＸへ与えるために適切な制御データ１２１を減衰器１１６へ提供する。逆に、ＤＵＴ側電力測定回路１１８ｂからの電力測定データ１１９ｂにより示されるように、送信信号ＴＸの搬送（例えば、ＤＵＴ１４によるＡＣＫ信号の送信）中、制御回路１２０は、基準装置１２が送信信号ＴＸを確実に受信することを保証するようにその信号減衰を（例えば、ほぼゼロまで）低下させるために適切な制御データ１２１を減衰器１１６へ提供し得る。
【００２２】
したがって、電力測定回路１１８ａ、１１８ｂからの電力測定データ１１９ａ、１１９ｂに従って、制御回路１２０は、データパケット信号フロー方向を判断し、これにより受信信号ＲＸが送信信号ＴＸより大きく減衰されることを保証することができ、これによりその送信信号ＴＸが基準装置１２により確実に受信されることを依然として保証する一方で適切に減衰された信号がデータリンク試験のためにＤＵＴ１４へ提供されることを保証することができる。
【００２３】
図３に示されているように、本発明の別の実施形態に従って、可変減衰器１１６は、基準装置１２とＤＵＴ１４の間でかつ直接接続され、制御回路２２０からの制御データ２２１により制御され得る。制御回路２２０は次に、いつ受信信号ＲＸと送信信号ＴＸが搬送されるかを通知する制御データ２１９を基準装置１２から受信する。換言すれば、受信ＲＸまたは送信ＴＸ信号が搬送されるかどうかを判断するために基準装置１２とＤＵＴ１４によりそれぞれ提供される受信ＲＸおよび送信ＴＸ信号の電力レベルを測定するのではなく、基準装置１２は、いつ受信信号ＲＸがＤＵＴ１４へ搬送されるかおよびいつ送信信号ＴＸがＤＵＴ１４から搬送されることが予想される（基準装置１２により）ことを制御回路２２０へ通知するデータ２１９を提供し得る。したがって、前と同様に、制御回路２２０は次に、受信信号ＲＸの搬送中により高い信号減衰を与え、そして送信信号ＴＸの搬送中に信号減衰を（例えば、ほぼゼロへ）低下させるために適切な制御データ２２１を減衰器１１６へ提供し得る。この実施形態の１つの利点は、制御回路２２０が差し迫った受信信号ＲＸを知り得るということである。これは、基準装置１２が受信信号ＲＸの実際の送信前に制御回路２２０に通知するデータ２１９を提供し、これにより減衰器１１６を制御するためのより多くの時間を提供するからである。
【００２４】
図４を参照すると、受信ＲＸおよび送信ＴＸ信号のそれぞれの搬送中および受信ＲＸおよび送信ＴＸ期間中に減衰器１１６により与えられる減衰をより良く理解し得る。例えば、上述のように、受信信号ＲＸ試験では、図示のように、信号減衰Ａ２は受信信号ＲＸ期間中より高く、信号減衰Ａ１は送信信号ＴＸ期間中により低い。これにより、応答ＤＵＴ信号（例えば、ＡＣＫ信号）が基準装置１２により正確に受信されるに十分な電力レベルであるということを保証する。逆に、試験パケットが反対方向に提供される基準装置１２の受信信号ＲＸ試験と考えられ得る送信信号ＴＸ試験では、信号減衰Ａ２は送信信号ＴＸ期間中により高く、信号減衰Ａ１は受信信号ＲＸ期間中より低い。
【００２５】
この減衰のパターンはまた、ＤＵＴ１４受信器回路構成の信号の圧縮性能を試験する場合（例えば、最大入力（受信）信号レベルにおけるパケット誤り率（ＰＥＲ）を試験する場合）、逆にされる。これは、基準装置１２により受信されるときＤＵＴ応答信号（ＡＣＫ）がその最大入力信号性能を試験するためにＤＵＴ１４へ送信される試験信号の上昇信号レベルより低いレベル（すなわち受信信号レベルの最適範囲内）にあるということを保証する。これにより、基準装置１２の受信器回路構成をオーバードライブする（場合によっては期待ＡＣＫ信号を圧縮させるとともにその正確な受信を妨げさせる）ことを回避する。
【００２６】
本発明の構造および動作方法における様々な他の変形および代替形態が本発明の範囲と思想から逸脱することなく当業者にとって明白となる。本発明は特定の好ましい実施形態に関連して説明されたが、本発明は特定の実施形態へ不当に限定されるべきでないということを理解すべきである。以下の特許請求の範囲は本発明の範囲を規定し、これらの特許請求の範囲に含まれる構造および方法とそれらの同等物はこれによりカバーされるように意図されている。
【図１】
0006442498.tif 000002
【図２】
0006442498.tif 000003
【図３】
0006442498.tif 000004
【図４】
0006442498.tif 000005