(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
通信デバイスを試験する方法であって、
被試験デバイス（ＤＵＴ）で、試験機からの同期開始メッセージをリッスンする工程と、
前記ＤＵＴが、同期開始時間間隔中に前記同期開始メッセージを受信することができない場合、前記ＤＵＴにより前記同期開始メッセージを再びリッスンする工程と、
前記ＤＵＴが、前記同期開始時間間隔内に前記同期開始メッセージを受け取る場合に、次に前記ＤＵＴにより同期応答メッセージを前記試験機に送信する工程と、その後続いて、
前記ＤＵＴにより前記試験機からの交換メッセージをリッスンする工程、及び
ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の、少なくとも一部を、前記ＤＵＴにより実行する工程の少なくとも１つの工程と、
前記ＤＵＴが、
前記ＤＵＴにより交換メッセージをリッスンする工程、及び
ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の、少なくとも一部を、前記ＤＵＴにより実行する工程の少なくとも１つを失敗した場合に、
前記同期開始時間間隔より長い前記試験機のタイムアウト期間経過後に、実行に失敗した前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスを再試行するために前記試験機により送信する前記同期開始メッセージをリッスンし、前記応答メッセージを送信する工程を繰り返す工程と、を含む方法。
【請求項２】
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上が、
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程と、
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程と、
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程及び前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程の両方を行う工程とのうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記同期開始メッセージ、前記同期応答メッセージ、前記交換メッセージ、及び前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスのうちの少なくとも１つが、第１の複数の信号特性を備えるデータパケット信号を含み、
更に、ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部を、前記ＤＵＴにより前記実行する工程の後に請求項１の前記リッスンする工程、送信する工程、及び実行する工程を繰り返す工程を含み、請求項１の前記繰り返されるリッスンする工程、送信する工程、及び実行する工程における前記同期開始メッセージ、前記同期応答メッセージ、前記交換メッセージ、及び前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスのうちの少なくとも１つが、第２の複数の信号特性を備えるデータパケット信号を含み、
前記第２の複数の信号特性の１つ以上が、前記第１の複数の信号特性の対応する１つ以上とは異なることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
請求項１の前記繰り返されるリッスンする工程、送信する工程、及び実行する工程における、交換時間間隔内の前記交換メッセージの、前記ＤＵＴによる受信、及び
請求項１の前記繰り返されるリッスンする工程、送信する工程、及び実行する工程における、前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部の前記ＤＵＴによる実行のうちの少なくとも一方に続いて、
更に、別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部を前記ＤＵＴにより実行する工程であって、
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程と、
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程と、
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程及び前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程の両方を行う工程とのうちの少なくとも１つを含む、実行する工程を含む請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスは、前記第２の複数の信号特性と同じ信号特性を備える対応するデータパケット信号を含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
請求項１の前記繰り返されるリッスンする工程及び送信する工程の、前記同期開始及び交換メッセージの少なくとも一方が、前記第２の信号特性を備えないとき、
前記第１の複数の信号特性と同じ信号特性、及び
第３の複数の信号特性の一方を備えるデータパケット信号を含み、
前記第３の複数の信号特性の１つ以上が、前記第１及び前記第２の複数の信号特性の各対応する１つ以上と異なる、請求項３に記載の方法。
【請求項７】
通信デバイスを試験する方法であって、
試験機により同期開始メッセージを同期開始時間間隔内で送信する工程と、
前記試験機により、前記通信デバイスからの同期応答メッセージをリッスンする工程と、
前記試験機が同期応答時間間隔内に前記同期応答メッセージを受信するのに失敗すると、前記試験機により同期開始メッセージを前記通信デバイスに再び送信する工程と、
前記試験機が前記同期応答時間間隔内に前記同期応答メッセージを受信すると、
交換メッセージを前記試験機により前記通信デバイスに送信する工程、及び
ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部を、前記試験機により実行する工程の、少なくとも１つを行う工程と、
前記試験機が、前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部を実行する工程を失敗すると、
前記同期開始期間間隔より長い前記試験機のタイムアウト期間経過後に、失敗した前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスを再試行するために前記試験機により前記同期開始メッセージを送信する工程及びリッスンする工程を繰り返す工程を含む、方法。
【請求項８】
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上が、
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程と、
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程と、
前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程及び前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程の両方を行う工程とのうちの少なくとも１つを含む請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記同期開始メッセージ、同期応答メッセージ、交換メッセージ、及びブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも１つが、第１の複数の信号特性を備えるデータパケット信号を含み、
更に、ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部を、前記試験機により前記実行する工程の後に、請求項７の前記送信する工程、リッスンする工程、及び実行する工程を繰り返す工程を含み、請求項７の前記繰り返される送信する工程、リッスンする工程、及び実行する工程における、前記同期開始メッセージ、前記同期応答メッセージ、前記交換メッセージ、及び前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも１つが、第２の複数の信号特性を備えるデータパケット信号を含み、
前記第２の複数の信号特性の１つ以上が、前記第１の複数の信号特性の対応する１つ以上とは異なる、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
請求項７の前記繰り返される送信する工程、リッスンする工程、及び実行する工程の、前記ブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部を、前記試験機により前記実行する工程に続いて、更に、別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの複数の通信の１つ以上の少なくとも一部を、前記試験機により実行する工程を含み、該実行する工程が、
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程と、
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程と、
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を受信する工程及び前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスの少なくとも一部を送信する工程の両方を行う工程とのうちの少なくとも１つを含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記別のブロック分けしたデータパケットシーケンスは、前記第２の複数の信号特性と同じ信号特性を備える、それぞれのデータパケット信号を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
請求項７の前記繰り返される送信する工程、リッスンする工程、及び実行する工程の、前記同期開始、及び交換メッセージの少なくとも一方が、前記第２の信号特性を備えないとき、
前記第１の複数の信号特性と同じ信号特性、
前記第１の複数の信号特性と同じ信号特性、及び
第３の複数の信号特性のうちの一方を備えるデータパケット信号を含み、
前記第３の複数の信号特性の１つ以上が、前記第１及び第２の複数の信号特性の各対応する１つ以上と異なる、請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、電子機器を試験する方法に関する。より詳細には、本発明は、デバイスからの最小限のフィードバックを必要とする、ハードウェア構成要素、ファームウェア構成要素、及び／又はソフトウェア構成要素からなる試験プラットフォームを使用して、無線デバイスを試験するための方法の改善に関する。
【背景技術】
【０００２】
今日の携帯用デバイスの多くは、電話、デジタルデータ転送、地理的位置決め等に無線「接続」を利用している。周波数スペクトル、変調方法、及び電力スペクトル密度における差異にもかかわらず、無線接続性の規格は、同期させたデータパケットを使用してデータを伝送し、かつ受信する。
【０００３】
一般的にこれらの無線接続性能の全て（例えば、ＷｉＦｉ，ＷｉＭＡＸ，Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈなど）は、これらの接続性能を有するデバイスが従わなくてはならない、パラメーター及び制限を規定する、業界により認定された規格（例えば、ＩＥＥＥ  ８０２．１１及びＩＥＥＥ  ８０２．１６）によって画定される。
【０００４】
一連のデバイス開発に沿ったいずれかの時点において、デバイスがその規格の仕様内で動作するということを試験し、かつ検証する必要があり得る。そのようなデバイスの殆どは、送受信機であり、すなわち、無線ＲＦ信号を送受信するものである。そのようなデバイスを試験するために設計される専用のシステムは、典型的には、デバイスの送信信号を受信及び分析するように設計され、かつ、業界承認の規格に従った信号を送ることにより、デバイスがその規格に従って無線信号を受信及び処理しているか否かを判定するように設計される、サブシステムを含む。
【０００５】
いくつかの場合において、被試験デバイス（ＤＵＴ）は、試験の実行を加速させるために、予め定めた試験シーケンスに供されてもよい。これは、ＤＵＴに適用されるか、又はその中に直接保存される、試験シーケンスを含み得る。ＤＵＴの構成はまた、試験シーケンスを実行する手段も含み得る。典型的に、試験シーケンスは、ブロックにグループ分けされてもよい。連続的なＴＸ（例えば、試験機にパケットを送信するＤＵＴ）、ＲＸ（例えば、ＤＵＴにパケットを送信する試験機）、又はＴＸ及びＲＸ（両方向に送信されるパケット）測定値が、その後エンティティとして実行され得る。
【０００６】
一般的に、従来的な電子システムを試験するシーケンスにおいて、全体的な試験シーケンスが実行される。試験シーケンスは、１つ以上の試験ブロック障害の発生を含むことも、含まないこともある。１つ以上の試験ブロック障害が生じるとき、ＤＵＴへの直接的なアクセスが可能である場合を除き、従来のシステムにおいて、「再試行」を行う明確な方法は存在しない。しかしながら、多くの最新のデバイスにおいてこのような直接制御を行うことは難しく、時間がかかることが多い。したがって、直接制御なしに、全体的な試験シーケンスが典型的に再実行される。この動作は全体的な試験時間を増加させ、試験効率を低下させる一方でコストを高騰させる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
したがって、試験システムが、時間効率的な方法で、試験シーケンスにおいてエラーが生じるときを判定できるようにすることが必要である。直接制御の不在下において、更に、試験の終了時に試験シーケンス全体を再実行させることを必要とせず、障害点に近い期間において、試験システムが、障害を生じたブロックを自動的に「再試行」できるようにする必要がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
したがって、本発明の目的は、ＤＵＴを再試行プロトコルに従って動作させ、試験機にこのプロトコルを利用してこの再試行を開始させることによって、試験システムが失敗したブロックの再試験を開始することを可能にするための方法を含み、先行技術の欠点を克服することである。この場合におけるシステムは、規定のシーケンスを実行し、再試行プロトコルと一致する方法で挙動するように構成されたＤＵＴと、規定のシーケンスの実行においてＤＵＴと相互作用することができ、ＤＵＴの再試行プロトコルを利用して、失敗したいずれかのブロックの再試行を開始することができる、試験機とから構成される。
【０００９】
１つの開示される代表的な実施形態により、開示される発明は、試験機の分析サブシステムがデータパケットの前のブロックが１つ以上の規定の試験基準を満たしたことを判定した後に試験シーケンスの各ブロックが送信されるような試験環境において、ブロック試験「再試行」を実行する。被試験デバイスによって送信されるブロック又はその一部が、規定の試験基準を満たしていないものと判断されるとき、再試行シーケンスが開始されてブロックの再試験を可能にする。
【００１０】
別の代表的な実施形態により、開示される発明は、前のブロックの分析が後のブロックの実行中に行われる試験環境において、ブロック試験再試行を実行する。ＤＵＴによって送信されるブロック又はその一部が、規定の試験基準を満たしていないと判断され、その判断が後のシーケンスの実行中に行われる場合、失敗したものと判断されるブロックへと数ブロック戻ることによって、再試行シーケンスが開始される。本発明はまた、シーケンス内の次の未試験ブロックにおいて試験が再開することを可能にする。
【００１１】
本明細書の「発明を実施するための形態」をより良好に理解することができるように、また、当該技術への本発明の貢献をより良好に認識することができるように、本発明の特定の実施形態をこのようにやや広範に概説してきた。当然ながら、以下に説明され、本明細書に添付される特許請求の範囲の主題を形成する、本発明の更なる実施形態が存在する。
【００１２】
この点で、本発明の少なくとも１つの実施形態を詳細に説明する前に、本発明は、以下の説明に記載されるか又は図面に示される構成の詳細並びに構成要素の配列にその用途が限定されないことを理解されたい。本発明は、説明される実施形態以外の実施形態が可能であり、様々な方法で実践及び実施することが可能である。また、本明細書並びに要約書で使用される表現及び用語は、説明を目的とするものであって、限定として見なすべきではないことも理解されたい。
【００１３】
したがって、当業者であれば、本開示が基づくところの構想が、本発明の諸目的を実施するための他の構造、方法、及びシステムを設計するための基盤として容易に利用可能であることを、理解するであろう。したがって、そのような等価の構成が、本発明の趣旨及び範囲から逸脱しない限りにおいて、特許請求の範囲は、それらの等価の構成を含むものとして見なされることが重要である。
【００１４】
本発明の更なる他の態様、特徴、及び有利点は、本発明を実施するために想到される最良の形態を含めた、数々の例示的な実施形態及び実装を単に説明することによって、以下の「発明を実施するための形態」から容易に明らかとなる。本発明はまた、他の実施形態、及び異なる実施形態も可能であり、本発明の幾つかの詳細は、全て本発明の趣旨及び範囲から逸脱することなく、様々な点で修正することができる。したがって、図面及び説明は、制限としてではなく、本質的に例示として見なすべきである。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
本発明は、以下に記載される「発明を実施するための形態」、及び本発明の様々な実施形態の添付図面から、より完全に理解されるが、しかしながら、これらは、本発明を特定の実施形態に限定するように解釈されるべきではなく、単に説明及び理解のためのものである。
【図１】図１は、従来的なかつ先行技術による試験環境及び方法の図を示し、コントローラはＤＵＴ及び試験機と通信し、ＤＵＴと試験機との間のパケットの送信をオーケストレーションする。
【図２】図２は、より新しい従来技術を表す図であり、ＤＵＴは、試験機との同期を確立したあとに送信又は受信した予め定めたパケットのシーケンスを保存及び実行する。示されるように、ＤＵＴとコントローラとの間の通信経路は、もはや必要ではない。
【図３】図３は、第１の代表的な開示される実施形態による、ブロック試験「再試行」を実行するための方法を表す図である。
【図４】図４は、実施形態に開示される実施例による、図３の方法を支援する、ＤＵＴにおける論理フローを例示するフロー図である。
【図５】図５は、別の代表的な開示される実施形態による、ブロック試験「再試行」を実行するための方法を表す図である。
【図６】図６は、別の代表的な開示される実施形態による、図５の方法を支持するＤＵＴの論理フローを例示するフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明を、ここで図面を参照して説明するが、全体を通じて、同様の参照数字は、同様の部分を指す。以下の「発明を実施するための形態」は、特許請求される本発明の、添付図面を参照とする、例示的実施形態のものである。そのような説明は、例示的なものであって、本発明の範囲に関して限定するものではない。そのような実施形態は、主題となる発明を当業者が実践することを可能にするために、十分詳細に説明されるものであり、主題となる発明の趣旨又は範囲から逸脱することなく、何らかの変型を使用して、他の実施形態を実践することができる点が理解されるであろう。
【００１７】
本発明の開示を通じて、内容から反対であるという明確な指示がなければ、説明するような個々の回路要素は、数において単数の場合もあれば複数の場合もあることが理解されるであろう。例えば、「回路」及び「回路機構」という用語は、説明される機能を提供するための、単一の構成要素、あるいは、能動的及び／又は受動的のいずれかであって、一体的に接続されるか若しくは他の方法で結合される（例えば、１つ以上の集積回路チップとして）複数個の構成要素のいずれかを含み得る。更には、「信号」という用語は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指す場合がある。図面内では、同様の又は関連の要素は、同様の又は関連の英字、数字、又は英数字指定子を有する。更に、本発明は、個別の電子回路（好ましくは、１つ又はそれよりも多くの集積回路チップの形態）を使用する実施例という関連で説明されているが、このような回路のいかなる部分の機能も、代替的に、処理される信号周波数又はデータ転送速度により、１つ又はそれよりも多くの適切にプログラムされたプロセッサを使用して実施することができる。
【００１８】
図１を参照し、無線デバイスを試験するための従来的なシステムは、ＤＵＴ（１０１）、試験機（１０２）、コントローラ（１０３）、並びにＤＵＴとコントローラ（１０５）との間、試験機とコントローラ（１０４）との間、及びＤＵＴと試験機（１０６）との間の双方向通信経路を含む。これらの通信経路は、有線又は無線技術を使用して実装され得る。
【００１９】
図２を参照し、無線デバイスを試験するためのより新しいシステムは、所定のシーケンス（２０６）を保存及び実行するように構成されたＤＵＴ（２０１）と、ＤＵＴと同期したあとに、パケットの所定のシーケンスが、必要な制御変換が最小限であるか、又は必要とされずに、ＤＵＴへ送信される、又はＤＵＴから送信され得るような方法で、ＤＵＴと相互作用できる試験機（２０２）とを含む。図示されるように、ＤＵＴ（２０１）及び試験機（２０２）は、双方向通信経路（２０５）を通じて通信し、試験機は、双方向通信経路（２０４）を通じてコントローラ（２０３）と通信する。これらの通信経路は、有線又は無線技術を使用して実装され得る。
【００２０】
図３を参照し、一定期間にわたってシステムを試験するための実施形態が開示される。開示される発明の方法は、試験機の分析サブシステムが、データパケットの前のブロックが試験規格を満たしたことを判定した後に、試験シーケンスの各ブロックが送信される試験環境において、ブロック試験「再試行」を行う。ＤＵＴによって送信されるブロックが、試験機によって試験規格を満たしていないものと判定されると、試験機によって再試行シーケンスが開始されて、ブロックが再試験できるようになる。
【００２１】
開示される一実施形態に従い、試験機及びＤＵＴは、周波数Ｆ１で生じる規定の同期メッセージ交換（３０１、３０２、及び３０３）を開始する。試験機は例えば、無線試験機又は他の電子構成要素（例えば、ベクトル信号発生器（ＶＳＧ）、及びベクトル信号分析機（ＶＳＡ））を含む、様々な試験機器の１つを含み得る。ＤＵＴは、ホストプロセッサ、メモリ（例えば、不揮発性メモリ）、無線送受信機、及び１つ以上の周辺デバイスを含めた、多数の埋め込みサブシステムなどの、１つ以上の電子的構成要素並びに構成を含み得る。ホストプロセッサは、様々な制御インターフェースを介して、メモリ、無線送受信機、及び周辺デバイスを制御するように構成することができる。典型的には、メモリは、ファームウェアとして、ＤＵＴによって使用されるプログラムを記憶する。
【００２２】
試験機がメッセージ交換３０１中にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、一方で、ＤＵＴがメッセージ交換３０２中にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されたパケットを受信すると、試験機に確認応答３０３を返し、よって同期（ＳＹＮＣ）が確立されたことを示す。同期を達成すると、ＤＵＴは、周波数Ｆ１で試験機に、１つ又は複数の規定のパケットのシーケンス３０５を送信する（例えば、ＴＸシーケンス）。試験機は上記のパケットを受信し、これらが規定の試験基準を満たしているかどうかを判定するために、所望のパラメーターについて分析する（３０４）。ブロック３０４及び３０５は更に、試験機はＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し（例えば、ＴＸシーケンス）、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。この場合において、試験基準が満たされ、所定の試験フローに従いＤＵＴが周波数をＦ２に変更する。
【００２３】
周波数Ｆ２において、また、試験機及びＤＵＴは、同期パケット（３０６、３０７、及び３０８）を交換する。周波数Ｆ１における試験スキームと同様に、試験機はメッセージ交換３０６の間にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、その間ＤＵＴは、メッセージ交換３０７の間にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されたパケットを受信すると、試験機に確認応答３０８を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期を達成すると、この実施例においてＤＵＴは、１つ又は複数の規定のパケットのシーケンス３１１を、周波数Ｆ２で試験機に送信する。試験機は上記のパケットを受信し、これらが規定の試験基準を満たしているかどうかを判定するために、所望のパラメーターについて分析する（３１０）。ブロック３１０及び３１１は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し（例えば、ＲＸシーケンス）、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。しかしながら、この場合においては、エラー３０９が存在する。一実施形態において、エラーは、例えば、試験機の分析サブシステムによって判定されて、試験機の制御サブシステムに伝達され得る。エラーの判定はまた、ＤＵＴからの分析データでは結果を明確に判定できない場合、又はＤＵＴが期待される（例えば、規定の）シーケンスに従わない場合に生じることがある。開示される実施形態に従い、試験機は、エラーが判定されたときに、試験シーケンスを再試行するように構成される。
【００２４】
特に、不必要なフィードバックを低減し、効果的な電子制御設計をもたらすために、ＤＵＴは、開示される実施形態に従って、エラーイベントを直接判定するように構成されない。したがって、いずれのエラー、又は試験を再試行しようとする試験機の機能の意図を認識しないＤＵＴは、次の試験シーケンスへと進む。この場合、ＤＵＴは、周波数Ｆ３へと切り替わり、期待される同期交換３１２を待つ。一方で、ブロック（Ｎ＝２）におけるエラーを認識する試験機は、前のエラーを生じた試験を再試行するように構成され、次の期待される同期イベントへと進まない。代わりに試験機は、ＤＵＴの規定の再試行プロトコルを知るように構成され、周波数Ｆ２のままであり、通常の同期工程を行おうとする（例えば、メッセージ交換３１３、３１４、及び３１５を介して）。
【００２５】
一方で、ＤＵＴは、試験機から更に交換パケットを受け取らず、イベント３１２における再試行プロトコルに基づいてタイムアウトし、更にこのイベントによって同期が生じないことを判定する。したがって、これに応答して、ＤＵＴは、再試行プロトコルに基づいて、前の周波数（Ｆ＝Ｆ２）へと戻り、同期を試みるように構成される。試験機のタイムアウト期間は特に、ＤＵＴがその再試行ルーチンに戻る前に試験機がタイムアウトしないことを確実にするため、ＤＵＴのタイムアウト期間よりも必ず長いように構成される。したがって、周波数Ｆ２における再試行スキームにしたがって、試験機はメッセージ交換３１３の間にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、一方でＤＵＴは、メッセージ交換３１４の間にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から予測されるパケットを受信すると、試験機に確認応答３１５を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期が確立されると（３１５）、ＤＵＴは、同じ規定された１つ又は複数のパケット（３１１から前に期待されたように（例えば、３１１＝３１７））を送信し、試験機はこれらを受信及び分析し（３１６）、これらが試験基準を満たしているかどうかを判定する。ブロック３１６及び３１７は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し（例えば、ＲＸシーケンス）、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。このとき、ブロックＮ＝２は、規定の試験基準を満たしている。結果的にＤＵＴは継続し、周波数Ｆ３へと切り替わる。ブロック１０４及び１０５におけるように、ブロック１１６及び３１７は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、例えば、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。
【００２６】
周波数Ｆ３において、ＤＵＴ及び試験機は、同期メッセージを交換する（３１８、３１９、及び３２０）。試験機がメッセージ交換３１９中にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信する間、ＤＵＴがメッセージ交換３１８中にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されるパケットを受信すると、試験機に確認応答３２０を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期を達成すると、ＤＵＴは、１つ又は複数の規定のパケットのシーケンス３２２を、周波数Ｆ３で試験機に送信する。試験機は上記のパケットを受信してこれらを分析し（３２１）、これらが規定の試験基準を満たしているかどうかを判定する。この時点で、代表的な実施形態において、試験シーケンスが完了する。ブロック３２１及び３２２は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、例えば、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。上記のシナリオにおいて、ほとんどの記載される試験は、試験機にパケットを送信するＤＵＴを有するが、当業者であれば、試験はまた、試験機がＤＵＴにパケットを送信する場合を含み、及び両方の組み合わせの場合も含み得ることを容易に認識するであろう。
【００２７】
図４を参照し、フロー図は、図３における方法をサポートする、ＤＵＴの論理フローを例示している。まず、ブロックＮの同期４００が実行される（図３の３０２及び３０３）。同期が、交換メッセージの送信中（３０３）に生じる場合、４０１分岐の「Ｙ」パスが選択される。その後ＤＵＴは、シーケンスをそれぞれ送受信（３０５及び３０４）することによって、ブロックＮ（例えば、Ｆ１におけるＮ＝１）の残りを実行する（４０２）。ＤＵＴはここで、ブロックを１増やす（Ｎ＝Ｎ＋１、すなわち、Ｎ＝２）（４０３）。再試行（ＲＥＴＲＹ）変数は設定されていない（４０４におけるＮ）ため、ＤＵＴは、ブロックＮ＝２、Ｆ＝２の同期を行おうとする（図３の３０７、３０８）。Ｎ＝２ブロックにおいて、ＤＵＴは、上記と同じフローに従い、よってＮはＮ＝３へと増加する。しかしながら、ブロックＮ＝２の間にエラーが生じ、試験機に再試行の実行を決定させる。
【００２８】
Ｎ＝３及びＦ＝３において、ＤＵＴは同期４００（図３の３１２）を得ようとするが、このとき同期は生じなかった。結果的に４０１の分岐の「Ｎ」パスを通る。ＤＵＴはその後、再試行変数が設定されたかどうかをチェックする（４０５）。この場合、設定されておらず、したがって、４０５の分岐の「Ｎ」パスが選択される。したがって、Ｎは、Ｎ＝３からＮ＝２へと減少し（４０６）、再試行変数が設定され（４０７）、このことは試験機によって再試行が要求されたことを意味する。
【００２９】
ＤＵＴはその後、Ｆ＝２でブロックＮ＝２の同期を実行する（例えば、図３の３１３、３１４）。同期が得られると（例えば、図３の３１５）、４０１の分岐の「Ｙ」パスが実行され、ブロックＮ（Ｎ＝２）が実行され、その後ＮがＮ＝３へと増加する。このとき、再試行が設定され、よって４０４の分岐の「Ｙ」パスが選択される。このとき、同期が正しく実行されるので、再試行変数がクリアされ（再試行ｏｋ）（４０８）、ＮがＮ（例えばＮ＝３）に設定される（４０９）。
【００３０】
しかしながら、同期が生じなかった場合、分岐４０１の「Ｎ」パスが選択されたであろう。再試行が既に設定されたために、分岐４０５の「Ｙ」パスが選択され、ＤＵＴは、試験フローから抜ける（４１０）。この時点において、試験シーケンスは、再開（例えば、Ｎ＝１）など、追加的な動作を実行するように構成されてもよく、又は代わりに、動作を終了してもよい。また、当業者には容易に理解されるように、他の構成が検討されてもよい。
【００３１】
いくつかの場合、試験シーケンス中において、ＤＵＴ及び試験機が試験シーケンス中のより後で、別のブロックの試験へと移る前に、ブロック試験の結果を分析する機会を認識しない、及び／又は有しない場合がある。例えば、図５は、シーケンス内の各ブロックが送信される一方で試験機の分析サブシステムが同時に動作している試験環境において、ブロック試験「再試行」を実行するための試験環境及び方法を示している。データパケットの前のブロックが試験基準を満たしたか、又は満たさなかったかの判定が、以降のブロックの実行中に生じる場合がある。図示されるように、開示される実施形態は、失敗した１つ以上のブロックを再試験するため、試験機を、例えば、必要な量のブロックへと戻らせる。その後、再試験が成功すると、ＤＵＴ及び試験機が、規定の試験シーケンスを再開するために、適切な量のブロック（すなわち、前に試験されていないブロック）へと進む。以下に記載される実施例において、試験は、失敗したブロックを再試験するために、２ブロック戻る。その後、再試験が成功すると、ＤＵＴ及び試験機は、２ブロック進んで、規定の試験シーケンスを再開する。
【００３２】
図３におけるように、図５の試験機及びＤＵＴは、周波数Ｆ１で、規定の同期メッセージ交換（５０１、５０２、及び５０３）を開始する。例えば、試験機がメッセージ交換５０１中にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、その間ＤＵＴがメッセージ交換５０２中にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されるパケットを受信すると、試験機に確認応答５０３を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期を達成すると、ＤＵＴは、１つ又は複数の規定のパケットのシーケンス５０５を、周波数Ｆ１で送信する。試験機は上記のパケットを受信してこれらを分析し（５０４）、これらが規定の試験基準を満たしているかどうかを判定する。ブロック５０４及び５０５は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、例えば、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。この場合において、試験基準が満たされ、所定の試験フローに従いＤＵＴが周波数をＦ２に変更する。
【００３３】
ここでまた、周波数Ｆ２において、試験機及びＤＵＴは、同期パケット（５０６、５０７、及び５０８）を交換する。周波数Ｆ１における試験スキームと同様に、試験機はメッセージ交換５０６の間にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、一方でＤＵＴは、メッセージ交換５０７の間にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されるパケットを受信すると、試験機に確認応答５０８を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期を達成すると、ＤＵＴは、１つ又は複数の規定のパケットのシーケンス５１０を、周波数Ｆ２で試験機に送信する。試験機は上記のパケットを受信してこれらを分析し（５０９）、これらが規定の試験基準を満たしているかどうかを判定する。ブロック５０９及び５１０は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し（例えば、ＲＸシーケンス）、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。しかしながら、この場合においては、エラー５１１が存在する。開示される実施形態において、エラーは、例えば、試験機の分析サブシステムによって判定され、試験機の制御サブシステムに伝達され得る。エラーの判定はまた、ＤＵＴからの分析データでは結果を明確に判定できない場合に、生じることがある。
【００３４】
しかしながら、図５の開示される実施形態において、試験機の試験分析は、エラー発生時（５１１）において完了していない。一方で、ＤＵＴ及び試験機は試験シーケンスを続け、周波数＝Ｆ３のブロックＮ＝３へと連続的に進む。周波数Ｆ３において、試験機及びＤＵＴは、同期パケット（５１２、５１３、及び５１４）を交換する。周波数Ｆ１及びＦ２における試験スキームと同様に、試験機はメッセージ交換５１２の間にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、一方でＤＵＴは、メッセージ交換５１３の間にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されるパケットを受信すると、試験機に確認応答５１４を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期を達成すると、ＤＵＴは１つ又は複数の規定のパケットのシーケンス５１６を、周波数Ｆ３で送信する。試験機は上記のパケットを受信してこれらを分析し（５１５）、これらが規定の試験基準を満たしているかどうかを判定する。ブロック５１５及び５１６は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、例えば、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。
【００３５】
しかしながら、ここまでに、試験機はＦ＝２におけるブロックＮ＝２にエラーがあったことを認識していることがある。この例において、試験機は再試行を始めることにより、エラーを検証するか、又はエラーを克服するように構成される。一方でＤＵＴは、開示される実施形態に従って、不必要なフィードバックを低減させ、効率的な電子制御設計をもたらすために、エラーイベントを直接認識するように設計されない場合がある。したがって、いずれかのエラー、又は試験を再実行するための試験機の再試行機能を認識しないＤＵＴは、その機能を継続し、周波数Ｆ４へと切り替わり、期待される同期交換５１７を待つ。代わりに、ブロックＮ＝２におけるエラーを判定した試験機は、次の期待される同期イベントへと進まないように構成される。または、試験機は、再試行プロトコルによるＤＵＴの予測される挙動に基づく規定の再試行スキームを実行し、エラー発生の時点又はイベントへと戻るように構成される。この場合、周波数Ｆ２でエラーが生じた。このようなときＤＵＴは、明らかに、この時点において試験機から更なる交換パケットを受信しない。ＤＵＴは、イベント５１７においてタイムアウトし、このイベントで同期が生じないことを更に判定する。
【００３６】
一方で、試験機は、通常の同期工程を行おうとすることにより、再試行スキームを実行するように構成される（例えば、メッセージ交換５１８、５１９、及び５２０を介して）。この場合もやはり、試験機のタイムアウト期間は、ＤＵＴがタイムアウトして再試行ルーチンに戻るために十分な時間を有するように、ＤＵＴのタイムアウト期間よりも長い。同期イベントを検出せず、タイムアウトしたＤＵＴは、Ｆ２に戻り、その再試行プロトコルに従って、同期を試みる（５１９）。したがって、周波数Ｆ２における再試行スキームにしたがって、試験機はメッセージ交換５１８の間にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、一方でＤＵＴは、メッセージ交換５１９の間にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されるパケットを受信すると、試験機に確認応答５２０を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期が確立されると（５２０）、ＤＵＴは、同じ規定された１つ又は複数のパケット（５１０から前に期待されたように（例えば、５１０＝５２２））を送信し、試験機はこれらを受信及び分析し（５２１）、これらが試験基準を満たしているかどうかを判定する。ブロック５２１及び５２２は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し（例えば、ＲＸシーケンス）、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。このとき、ブロックＮ＝２は、試験基準を満たしている。結果として、ＤＵＴは、次の未試験ブロック、及びこの場合は周波数Ｆ４への切り替えへと続く。
【００３７】
周波数Ｆ４において、試験機及びＤＵＴは、同期パケット（５２４、５２５、及び５２６）を交換する。周波数Ｆ１、Ｆ２及びＦ３における試験スキームと同様に、試験機はメッセージ交換５２４の間にＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し、一方でＤＵＴは、メッセージ交換５２５の間にパケットをリッスンする。ＤＵＴが試験機から期待されるパケットを受信すると、試験機に確認応答５２６を返し、よって同期が確立されたことを示す。同期を確立すると、ＤＵＴは１つ又は複数の規定のパケット５２８を試験機に送信し、試験機はこれらを受信及び分析し（５２７）、これらが規定の試験基準を満たすかどうかを判定する。ブロック５２７及び５２８は追加的に、試験機がＤＵＴに１つ以上のパケットを送信し（例えば、ＲＸシーケンス）、ＤＵＴのパケットを受信する能力を試験するシナリオを含み得る。この時点において、代表的な実施形態では試験シーケンスが完了する。上記のシナリオで、ほとんどの記載される試験は試験機にパケットを送信するＤＵＴを有するが、当業者であれば、試験はまた、試験機がＤＵＴにパケットを送信する場合、及び両方の組み合わせの場合を含み得ることを認識するべきである。
【００３８】
したがって、図５の開示される実施形態は、シーケンス内の各ブロックが送信される一方で試験機の分析サブシステムが同時に動作している試験環境において、ブロック試験「再試行」を行うための方法を表している。データパケットの前のブロックが試験基準を満たしたか、又は満たさなかったかの判定が、以降のブロックの実行中に生じる場合がある。開示される実施形態は、試験機がエラー発生時に戻ることを可能にする。この場合において、試験機は、２ブロック戻り、失敗したブロックを再試験する。その後、再試験が成功である場合、ＤＵＴ及び試験機は、未試験ブロックの試験の再開へと進む。この場合において、ＤＵＴ及び試験機は、２ブロック進んで、規定の試験シーケンスを再開する。
【００３９】
図５に記載され、示される実施形態は、例示的な目的及び説明のためのものである。図５の実施形態により、試験機が、２ブロック戻って失敗したブロックを再試験することによって試験エラーを再試行できるが、試験機器は、エラーブロック判定から３ブロック以上離れた、失敗した試験ブロックを認識するように構成されてもよい。この場合において、試験機器は、失敗したブロックを再試験するために適切な数のブロックに戻るように構成されてもよい。再試験の検証の後（すなわち、再試験は成功）、試験機器は適切な数のブロックへと進んで前の未試験ブロックの試験を再開してもよい。したがって、上記のシナリオにおいて、試験機及びＤＵＴは２ブロック戻ったが（例えば、Ｎ＝４からＮ＝２）、試験分析（例えば、試験機の）が、上記のシナリオより長くかかる場合、再試行ルーチン、及びその支援論理が、より多くのブロックだけ戻ってはいけない理由はないということを当業者は容易に理解し得る。加えて、ルーチン及び支援論理は、検証が生じると試験シーケンスを再開するために、未試験ブロックへと先に跳んではならない理由はない。
【００４０】
図６を参照し、例えば、図５の方法を支援するＤＵＴの論理フローを示すフロー図が開示される。まず、ブロックＮの同期６００が実行される（図３の５０１及び５０２）。同期が、交換メッセージの送信中（５０３）に生じる場合、６０１分岐の「Ｙ」パスが選択される。その後ＤＵＴは、試験シーケンスをそれぞれ送受信（５０５及び５０４）することによって、ブロックＮ（例えば、Ｆ１におけるＮ＝１）の残りを実行する（６０２）。ＤＵＴはここで、ブロックを１つ増やす（６０３）（Ｎ＝Ｎ＋１、すなわち、Ｎ＝２）。再試行の変数は設定されていない（４０４におけるＮ）ため、ＤＵＴは、ブロックＮ＝２、Ｆ＝２の同期を行おうとする（５０７、５０８）。Ｎ＝２ブロックにおいて、ＤＵＴは、上記と同じフローに従い、よってＮはＮ＝３へと増加する。ここで、ブロックＮ＝２における試験機の分析はまだ完了していないため、ＤＵＴ及び試験機の両方が、同期交換６００を行う（パケット５１２、５１３、及び５１４の送受信（図５参照））。この時点において、ＤＵＴ又は試験機のいずれも、ブロック試験失敗を認識していないため、ＤＵＴは、パケットを送信し（５１６）、試験機がこれらを受信及び分析する（５１５）。そしてＤＵＴはまた、Ｎ＝Ｎ＋１、又はＦ４におけるＮ＝４に進む。しかしながら、ブロックＮ＝２の間にイベントが生じ、試験機及びＤＵＴの両方がブロックＮ＝３の試験を完了した後に、試験機に再試行の実行を決定させる。ＤＵＴはＮ＝４及びＦ＝４に進んだが、今や問題を認識する試験機は再試行を開始することができ、Ｆ＝２へと戻る。
【００４１】
Ｎ＝４及びＦ＝４のとき、ＤＵＴは、同期６００（例えば、図５の５１７参照）を得ようとするが、このとき同期は生じない。したがって、６０１分岐の「Ｎ」パスに従う。ＤＵＴはその後、再試行の変数が設定されたかどうかをチェックする（６０５）。この場合、それは設定されておらず、よって分岐６０５の「Ｎ」パスに従う。したがって、Ｎは、Ｎ＝４からＮ＝２へと減少し（６０６）、再試行変数が設定され（６０７）、これは試験機によって再試行が要求されたことを意味する。
【００４２】
ＤＵＴはその後、Ｆ＝２でブロックＮ＝２の同期を実行する（例えば、図５の５１８、５１９）。同期が得られると（例えば、５２０）、分岐６０１の「Ｙ」パスに従い、ブロックＮ（Ｎ＝２）が実行され、その後ＮがＮ＝３へと増加する。このとき、再試行が設定され、分岐６０４の「Ｙ」パスに続く。このとき、同期が正確に行われるので、再試行変数がクリアされ（再試行ｏｋ）、ＮがＮ＋１（例えばＮ＝４）に設定される（６０９）。
【００４３】
しかしながら、同期が生じなかった場合、分岐６０１の「Ｎ」パスが選択されたであろう。再試行が既に設定されたために、分岐６０５の「Ｙ」パスが選択され、ＤＵＴは、試験フローから脱出する（６１０）。この点において、試験シーケンスは、再開（例えば、Ｎ＝１）など、追加的な動作を行うように構成されてもよく、又は代わりに、動作を終了してもよい。当業者に明らかであるように、他の構成が検討されてもよい。
【００４４】
上記の代表的な実施形態により、様々なデータブロックＮ、Ｎ＋１、Ｎ＋２、．．．におけるＤＵＴの試験が、異なる対応する周波数Ｆ１、Ｆ２、Ｆ３、．．．でデータブロックを送信することを含む。しかしながら、当業者に容易に明らかになるように、データブロック信号の送信は、他の信号特性の変化を含み得る。例えば、データパケットが送信される周波数を変更することに加え、又はその代わりに、データ転送速度、信号変調タイプ、及び信号電力などを含むがこれらに限定されない他の信号特性が変化してもよい。したがって、規定の試験基準は、所望により、周波数、データ転送速度、信号変調タイプ、及び信号電力が挙げられるがこれらに限定されない、様々な信号特性を含み得る。
【００４５】
したがって、本発明の開示される実施形態は、１つ以上の試験ブロック障害が発生した際に試験シーケンス全体を再実行する必要性を排除することにより、先行技術の欠陥を克服する。本実施形態の利益は、試験システムが、試験シーケンス全体を再実行しなくてはならないのではなく、失敗したブロックを自動的に「再試行」することを可能にすることにより、試験費用を伴う試験シーケンスイベントの全体的な試験時間を減少させることである。直近で失敗したブロックのみについて試験を反復することは、従来的な試験システムが完全な試験シーケンスを再実行することを必要とするのに対して、試験イベントに僅かな時間を加えるに過ぎない。本発明の開示される実施形態は、したがって、全体的な試験時間を短縮し、試験効率を向上させ、かつ試験費用を低減させる。
【００４６】
本開示の範囲から逸脱することなく、開示される方法に様々な修正及び変形を加えてもよいことが、当業者には明らかとなるであろう。加えて、本明細書を考察することにより、方法の他の実施形態が、当業者には明らかとなるであろう。本明細書及び実施例は、例示としてのみ考慮され、本開示の真の範囲は、以下の特許請求の範囲及びそれらの等価物によって示されるものとする。
【００４７】
上記の説明は、当業者が本技術を作製及び使用することを可能にするために提示され、特許取得のための要件に関連して記載される。本説明は、本技術を実施するための、現時点で想到される最良の方法である。好ましい実施形態への様々な修正は、当業者には容易に明らかとなり、本技術の一般的原理は、他の実施形態に適用することができ、本技術の一部の特徴は、対応する他の特徴の使用を伴うことなく、使用することができる。したがって、本技術は、示される実施形態に限定されることを意図するものではなく、本明細書に記載される原理及び特徴に一致する最も広い範囲が与えられるものとする。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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