(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付してなる光学フィルムにおける前記セパレートフィルム付き粘着材側となる一方の主面側又は他方の主面側に設けられた光源と、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に設けられた透過検査器と、前記光学フィルムの前記一方の主面と前記光源又は前記透過検査器との間に設けられた透過検査用の偏光フィルタとを備える欠陥検査装置を用いて前記光学フィルムの欠陥を検査する方法であって、
前記欠陥検査装置は、前記光学フィルムの前記一方の主面側に設けられた配向角測定器を更に備え、
前記欠陥検査方法は、
前記配向角測定器によって、前記セパレートフィルムの配向角を測定する配向角測定工程と、
前記配向角測定工程において測定された前記配向角に基づいて、前記偏光フィルタの偏光軸を調整する調整工程と、
前記光源によって、前記光学フィルムに光を照射する光照射工程と、
前記透過検査器によって、前記偏光フィルタを介して前記光学フィルムを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて前記光学フィルムの欠陥検査を行う欠陥検査工程と、
を含む、
光学フィルムの欠陥検査方法。
【請求項２】
前記欠陥検査装置は、前記光学フィルムの前記他方の主面と前記光源又は前記透過検査器との間に設けられた透過検査用の補助偏光フィルタを更に備え、
前記欠陥検査工程では、前記偏光フィルタ及び前記補助偏光フィルタを介して前記光学フィルムを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて前記光学フィルムの欠陥検査を行う、
請求項１に記載の光学フィルムの欠陥検査方法。
【請求項３】
前記配向角測定工程において測定された前記配向角の情報を前記光学フィルム上に記録する記録工程を更に含み、
前記調整工程では、前記記録工程において前記光学フィルム上に記録された前記配向角の情報に基づいて、前記偏光フィルタの偏光軸を調整する、
請求項１又は２に記載の光学フィルムの欠陥検査方法。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の光学フィルムの欠陥検査方法を含み、
前記配向角測定工程及び前記欠陥検査工程前に、前記光学フィルム本体部の前記一方の主面に前記セパレートフィルム付き粘着材を貼付する貼付工程を含む、
光学フィルムの製造方法。
【請求項５】
請求項１又は２に記載の光学フィルムの欠陥検査方法を含み、
前記配向角測定工程後であって前記欠陥検査工程前に、前記光学フィルム本体部の前記一方の主面に前記セパレートフィルム付き粘着材を貼付する貼付工程を含む、
光学フィルムの製造方法。
【請求項６】
光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付してなる光学フィルムの欠陥検査装置であって、
前記光学フィルムにおける前記セパレートフィルム付き粘着材側の一方の主面側又は他方の主面側に設けられ、前記光学フィルムに光を照射する光源と、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に設けられ、前記光学フィルムを透過した光を受光する透過検査器と、
前記光学フィルムの前記一方の主面と前記光源又は前記透過検査器との間に設けられた透過検査用の偏光フィルタと、
前記光学フィルムの前記一方の主面側に設けられ、前記セパレートフィルムの配向角を測定する配向角測定器と、
を備え、
前記配向角測定器によって測定された前記配向角に基づいて前記偏光フィルタの偏光軸を調整した後に、前記透過検査器によって受光した透過光に基づいて前記光学フィルムの欠陥検査を行う、
光学フィルムの欠陥検査装置。
【請求項７】
前記光学フィルムの前記他方の主面と前記光源又は前記透過検査器との間に設けられた透過検査用の補助偏光フィルタを更に備える、
請求項６に記載の光学フィルムの欠陥検査装置。
【請求項８】
前記配向角測定器によって測定された前記配向角の情報を前記光学フィルム上に記録する記録部を更に備え、
前記記録部によって前記光学フィルム上に記録された前記配向角の情報に基づいて前記偏光フィルタの偏光軸を調整した後に、前記透過検査器によって受光した透過光に基づいて前記光学フィルムの欠陥検査を行う、
請求項６又は７に記載の光学フィルムの欠陥検査装置。
【請求項９】
請求項７又は８に記載の光学フィルムの欠陥検査装置を備え、
前記配向角測定器及び前記透過検査器の上流側において、前記光学フィルム本体部の前記一方の主面に前記セパレートフィルム付き粘着材を貼り合わせる、
光学フィルムの製造装置。
【請求項１０】
請求項７又は８に記載の光学フィルムの欠陥検査装置を備え、
前記配向角測定器の下流側であって前記透過検査器の上流側において、前記光学フィルム本体部の前記一方の主面に前記セパレートフィルム付き粘着材を貼り合わせる、
光学フィルムの製造装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学フィルムの欠陥検査方法に関し、光学フィルムの欠陥検査装置、光学フィルムの製造方法、及び、光学フィルムの製造装置にも関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光学フィルムとして、偏光特性を有する偏光板や複屈折性を有する位相差板などの光学フィルム本体部を含み、これらの光学フィルム本体部における一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材が貼付された光学フィルムが知られている。この様な光学フィルムは通常、帯状の光学フィルム本体部を長さ方向に連続的に搬送しながら、帯状のセパレートフィルム付き粘着材を連続的に貼付して生産され、得られた光学フィルムは連続的に搬送される。特許文献１〜３には、この種の光学フィルムの欠陥検査方法が開示されている。
【０００３】
光学フィルム本体部が偏光板である場合、欠陥検査方法では、光学フィルムにおける一方の主面（セパレートフィルム付き粘着材側）とは反対側の他方の主面側に設けられた光源によって、光学フィルムに光を照射する光照射工程と、光学フィルムの一方の主面側に設けられた透過検査器によって、光学フィルムと透過検査器との間に設けられた透過検査用偏光フィルタを介して、光学フィルムを透過した光を受光する受光工程とを含み、光学フィルム（偏光板）と透過検査用偏光フィルタとによるクロスニコル法透過検査によって、光学フィルムの欠陥検査を行う。
【０００４】
光学フィルム本体部が位相差板である場合、欠陥検査方法では、光学フィルムにおける一方の主面（セパレートフィルム付き粘着材側）とは反対側の他方の主面側に設けられた光源によって、光学フィルムと光源との間に設けられた透過検査用補助偏光フィルタを介して、光学フィルムに光を照射する光照射工程と、光学フィルムの一方の主面側に設けられた透過検査器によって、光学フィルムと透過検査器との間に設けられた透過検査用偏光フィルタを介して、光学フィルムを透過した光を受光する受光工程とを含み、透過検査用補助偏光フィルタと透過検査用偏光フィルタとによるクロスニコル法透過検査によって、光学フィルムの欠陥検査を行う。
【０００５】
ところで、セパレートフィルム付き粘着材におけるセパレートフィルムとしては、延伸工程を経て生産されていて、比較的大きな複屈折性を示す延伸フィルムが用いられている。このため、セパレートフィルムは複屈折性に基づく配向角を有しており、これらのクロスニコル法透過検査では、セパレートフィルム付き粘着材におけるセパレートフィルムの配向角を考慮して、透過検査用偏光フィルタの偏光軸（例えば、透過検査用偏光フィルタの回転角度）を調整することによって、クロスニコル状態を実現する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−２１３０１６号公報
【特許文献２】国際公開第２０１１／１４８７９０号
【特許文献３】特開２００１−３４９８３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、この様な光学フィルムの生産に使用するセパレートフィルム付き粘着材として、例えば数千メートルほどの長さのものを用い、一方、偏光板や位相差板などの光学フィルム本体部として、例えば数万メートルほどの長さのものを用いると、セパレートフィルム付き粘着材は、一つの光学フィルム本体部に対して、繋ぎ合せながら連続的に貼付されることとなる。
【０００８】
このセパレートフィルム付き粘着材におけるセパレートフィルムとしては、例えば原料フィルムを延伸して得られた幅広の延伸フィルムを、貼付すべき光学フィルム本体部の幅に合せて、幅方向に複数に裁断されたものが用いられる。原料フィルムを延伸して延伸フィルムとする際、フィルムの幅方向で配向角が僅かに変化する、いわゆるボーイングと呼ばれる現象に起因して幅方向に配向角のばらつきが生じるため、貼付すべきセパレートフィルム付き粘着材ごとに、配向角が異なることとなる。
【０００９】
そのため、上記したように、偏光板や位相差板にセパレートフィルム付き粘着材を貼付した後にクロスニコル法透過検査を行う場合、使用するセパレートフィルム付き粘着材ごとに透過検査用偏光フィルタの偏光軸を調整する必要がある。
【００１０】
しかしながら、連続的に生産される光学フィルム本体部に対して連続的に、すなわちインラインでクロスニコル法透過検査を行う場合、セパレートフィルム付き粘着材のロールを切り替えるために透過検査用偏光フィルタの偏光軸を調整しているときであっても、光学フィルム本体部は連続的に生成される。このため、この調整の間に得られる光学フィルムの領域は未検査領域となってしまう。例えば、透過検査用偏光フィルタの偏光軸の調整にかかる時間が約１分、ライン速度が約１０〜３０ｍ／分とすると、セパレートフィルム付き粘着材の切替１回において約１０〜３０ｍもの光学フィルムの領域が未検査となってしまう。
【００１１】
そこで、本発明は、セパレートフィルムの配向角のばらつきに起因して必要となるクロスニコル法透過検査用偏光フィルタの偏光軸の調整時間を短縮することが可能な光学フィルムの欠陥検査方法を提供することを目的とする。また、本発明は、光学フィルムの欠陥検査装置、光学フィルムの製造方法、及び、光学フィルムの製造装置を提供することをも目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の光学フィルムの欠陥検査方法は、光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付してなる光学フィルムにおけるセパレートフィルム付き粘着材側となる一方の主面側又は他方の主面側に設けられた光源と、光学フィルムに対して光源と反対側に設けられた透過検査器と、光学フィルムの一方の主面と光源又は透過検査器との間に設けられた透過検査用の偏光フィルタとを備える欠陥検査装置を用いて光学フィルムの欠陥を検査する方法であって、欠陥検査装置は、光学フィルムの一方の主面側に設けられた配向角測定器を更に備え、欠陥検査方法は、配向角測定器によって、セパレートフィルムの配向角を測定する配向角測定工程と、配向角測定工程において測定された配向角に基づいて、偏光フィルタの偏光軸を調整する調整工程と、光源によって、光学フィルムに光を照射する光照射工程と、透過検査器によって、偏光フィルタを介して光学フィルムを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて光学フィルムの欠陥検査を行う欠陥検査工程とを含む。
【００１３】
また、本発明の光学フィルムの欠陥検査装置は、光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付してなる光学フィルムの欠陥検査装置であって、光学フィルムにおけるセパレートフィルム付き粘着材側の一方の主面側又は他方の主面側に設けられ、光学フィルムに光を照射する光源と、光学フィルムに対して光源と反対側に設けられ、光学フィルムを透過した光を受光する透過検査器と、光学フィルムの一方の主面と光源又は透過検査器との間に設けられた透過検査用の偏光フィルタと、光学フィルムの一方の主面側に設けられ、セパレートフィルムの配向角を測定する配向角測定器とを備え、配向角測定器によって測定された配向角に基づいて偏光フィルタの偏光軸を調整した後に、透過検査器によって受光した透過光に基づいて光学フィルムの欠陥検査を行う。
【００１４】
この光学フィルムの欠陥検査方法及び欠陥検査装置によれば、配向角測定器によってセパレートフィルムの配向角を測定し、測定した配向角に基づいて偏光フィルタの偏光軸を調整するので、セパレートフィルムの配向角のばらつきに起因して必要となるクロスニコル法透過検査用の偏光フィルタの偏光軸の調整時間を短縮することができる。その結果、インラインでクロスニコル法透過検査を行う場合に、セパレートフィルム付き粘着材のロールを切り替えるために透過検査用偏光フィルタの偏光軸を調整しているときに連続的に生成される光学フィルムの未検査領域を削減することができ、無駄を低減することができる。
【００１５】
なお、この光学フィルムの欠陥検査方法及び欠陥検査装置は、偏光板本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付してなる偏光板の欠陥検査であって、この偏光板と透過検査用偏光フィルタとによるクロスニコル法透過検査に適用可能である。
【００１６】
上記した光学フィルムの欠陥検査装置は、光学フィルムの他方の主面と光源又は透過検査器との間に設けられた透過検査用の補助偏光フィルタを更に備えてもよい。また、上記した光学フィルムの欠陥検査方法における欠陥検査工程では、偏光フィルタ及び補助偏光フィルタを介して光学フィルムを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて光学フィルムの欠陥検査を行ってもよい。
【００１７】
この光学フィルムの欠陥検査方法及び欠陥検査装置は、位相差板本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付してなる位相差板の欠陥検査であって、透過検査用偏光フィルタと透過検査用補助偏光フィルタとによるクロスニコル法透過検査に適用可能である。
【００１８】
また、上記した光学フィルムの欠陥検査方法では、配向角測定工程において測定された配向角の情報を光学フィルム上に記録する記録工程を更に含み、調整工程では、記録工程において光学フィルム上に記録された配向角の情報に基づいて、偏光フィルタの偏光軸を調整してもよい。また、上記した光学フィルムの欠陥検査装置では、配向角測定器によって測定された配向角の情報を光学フィルム上に記録する記録部を更に備え、記録部によって光学フィルム上に記録された配向角の情報に基づいて偏光フィルタの偏光軸を調整した後に、透過検査器によって受光した透過光に基づいて光学フィルムの欠陥検査を行ってもよい。
【００１９】
この光学フィルムの欠陥検査方法及び欠陥検査装置によれば、配向角測定工程から記録工程まで同一ラインで行い、調整工程、光照射工程及び欠陥検査工程を別ラインで行うことが可能となる。
【００２０】
本発明の光学フィルムの製造方法は、上記した光学フィルムの欠陥検査方法を含み、配向角測定工程及び欠陥検査工程前に、光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付する貼付工程を含む形態であってもよいし、配向角測定工程後であって欠陥検査工程前に、光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼付する貼付工程を含む形態であってもよい。
【００２１】
また、本発明の光学フィルムの製造装置は、上記した光学フィルムの欠陥検査装置を備え、配向角測定器及び透過検査器の上流側において、光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼り合わせる形態であってもよいし、配向角測定器の下流側であって透過検査器の上流側において、光学フィルム本体部の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材を貼り合わせる形態であってもよい。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、セパレートフィルムの配向角のばらつきに起因して必要となるクロスニコル法透過検査用偏光フィルタの偏光軸の調整時間を短縮することができる。その結果、インラインでクロスニコル法透過検査を行う場合に、セパレートフィルム付き粘着材のロールを切り替えるための透過検査用偏光フィルタの偏光軸を調整しているときに連続的に生成される光学フィルムの未検査領域を削減することができ、無駄を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る偏光板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに偏光板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【図２】図１に示す製造装置及び製造方法によって製造される偏光板を示す図である。
【図３】図１に示すセパレートフィルムの配向角ばらつきを示す図である。
【図４】本発明の第２の実施形態に係る偏光板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに偏光板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【図５】本発明の第３の実施形態に係る位相差板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに位相差板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【図６】図５に示す製造装置及び製造方法によって製造される位相差板を示す図である。
【図７】本発明の第４の実施形態に係る位相差板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに位相差板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【図８】本発明の変形例に係る偏光板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに偏光板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【図９】本発明の変形例に係る偏光板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに偏光板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
［第１の実施形態］
【００２５】
図１は、本発明の第１の実施形態に係る偏光板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに偏光板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図であり、図２は、図１に示す製造装置及び製造方法によって製造される偏光板を示す図である。
【００２６】
図１に示す製造装置１０は、図２に示す偏光板１００を製造するためのものである。まず、製造装置１０は、偏光子１１１の主面両側に保護フィルム１１２を貼りあわせて、偏光板本体部（光学フィルム本体部）１１０を生成する。次いで、製造装置１０は、セパレートフィルム（離型フィルム）１２１が粘着材１２２に貼り合わされたセパレートフィルム付き粘着材１２０を偏光板本体部１１０に貼り合わせて、偏光板１００を生成する。次いで、製造装置１０は、生成した偏光板１００を原反巻取１１によって巻き取る。
【００２７】
偏光子１１１の材料としては、ポリビニルアルコール（Polyvinyl Alcohol：ＰＶＡ）等が挙げられ、保護フィルム１１２の材料としては、トリアセチルセルロース（Triacetylcellulose：ＴＡＣ）等が挙げられる。また、セパレートフィルム１２１の材料としては、ポリエチレンテレフタレート（Polyethylene Terephthalate：ＰＥＴ）等が挙げられる。セパレートフィルム１２１を剥がすことにより、偏光板１００は、粘着材１２２によって液晶パネルや他の光学フィルム等に貼り合わせることが可能となる。
【００２８】
また、製造装置１０は欠陥検査装置２０を含む。欠陥検査装置２０は、配向角測定器２１と、光源２２と、透過検査器２３と、透過検査用偏光フィルタ２４とを備え、インラインにて偏光板１００の欠陥検査を行う。
【００２９】
配向角測定器２１は、透過検査器２３よりも製造ラインの上流側において、偏光板１００におけるセパレートフィルム付き粘着材１２０側の一方の主面１０１側に設けられており、セパレートフィルム１２１の配向角を測定する。配向角測定器２１は、測定した配向角の情報を透過検査用偏光フィルタ２４へ提供する。配向角測定器２１としては、インライン軸測定器（例えば、大塚電子製ＲＥ−２００）などが使用可能である。配向角測定器２１よりも製造ラインの下流側には、光源２２及び透過検査器２３が設けられている。
【００３０】
光源２２は、偏光板１００の他方の主面１０２側に設けられており、偏光板１００の他方の主面１０２側に光を照射する。一方、透過検査器２３は、偏光板１００の一方の主面１０１側に設けられており、透過検査用偏光フィルタ２４を介して偏光板１００を透過した光を受光する。
【００３１】
透過検査用偏光フィルタ２４は、偏光板１００の一方の主面１０１と透過検査器２３との間に設けられている。透過検査用偏光フィルタ２４は、偏光軸調整機構を有しており、配向角測定器２１からのセパレートフィルム１２１の配向角の情報に基づいて、偏光板本体部１１０の偏光軸に対する偏光フィルタ２４の偏光軸（例えば、偏光フィルタ２４の回転角度）を調整して、クロスニコル状態を形成する。例えば、偏光軸調整機構は、セパレートフィルム１２１の配向角に関連付けて偏光フィルタ２４の偏光軸の調整量を予めルックアップテーブルとして記憶し、このルックアップテーブルに基づいて、測定したセパレートフィルム１２１の配向角に対応した偏光フィルタ２４の偏光軸を自動的に決定する。
【００３２】
偏光フィルタ２４の偏光軸の調整後、透過検査器２３によって、受光した透過光に基づいてクロスニコル法透過検査によって、偏光板１００の欠陥検査を行う。クロスニコル法透過検査とは、２つの偏光子（本実施形態では、偏光板１００及び偏光フィルタ２４）の吸収軸を略直交させた状態（クロスニコル）での透過光像をカメラ（例えば、ラインセンサ）を用いて観察し、光抜けする欠陥（輝点）を検出する検査である。
【００３３】
なお、本実施形態では、配向角測定器２１及び透過検査器２３の上流側において、偏光板本体部１１０の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼り合わせている。
【００３４】
次に、本発明の第１の実施形態に係る偏光板の欠陥検査方法、及び、製造方法を説明する。まず、偏光板本体部１１０の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼付する（貼付工程）。
【００３５】
次いで、配向角測定器２１によって、セパレートフィルム１２１の配向角を測定する（配向角測定工程）。次いで、透過検査用偏光フィルタ２４における偏光軸調整機構によって、測定されたセパレートフィルム１２１の配向角の情報に基づいて、偏光板本体部１１０の偏光軸に対する偏光フィルタ２４の偏光軸を調整する（調整工程）。
【００３６】
次いで、光源２２によって、偏光板１００に光を照射する（光照射工程）。次いで、透過検査器２３によって、偏光フィルタ２４を介して偏光板１００を透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて偏光板１００の欠陥検査を行う（欠陥検査工程）。
【００３７】
ところで、セパレートフィルム付き粘着材１２０を、例えば１０００ｍ以上の長さでロール形態で提供し、一方、偏光板１００を、例えばセパレートフィルム付き粘着材１２０の長さを超える長さで連続生成すると、セパレートフィルム付き粘着材１２０は、一つの偏光板１００に対して、ロール同士を繋ぎ目１２３において繋ぎ合せながら連続的に貼付することとなる。
【００３８】
セパレートフィルム付き粘着材１２０におけるセパレートフィルム１２１としては、図３に示すように、例えば原料フィルムを延伸して得られた幅広の延伸フィルムを、貼付すべき偏光板１００の幅に合せて、幅方向に複数Ａ，Ｂ，Ｃに裁断されたものが用いられる。原料フィルムを延伸して延伸フィルムとする際、ボーイングＤに起因して幅方向に配向角Ｅのばらつきが生じるため、貼付すべきセパレートフィルム付き粘着材１２０のロールＡ，Ｂ，Ｃごとに配向角が異なることとなる。
【００３９】
そのため、上記したように、偏光板本体部１１０にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼付した後にクロスニコル法透過検査を行う場合、使用するセパレートフィルム付き粘着材１２０のロールごとに透過検査用偏光フィルタ２４の偏光軸を調整する必要がある。
【００４０】
従来、インラインでクロスニコル法透過検査を行う場合、セパレートフィルム付き粘着材のロールを切り替えるために透過検査用偏光フィルタの偏光軸を調整しているときにも、偏光板は連続的に生成される。このため、この調整の間に得られる偏光板の領域は未検査領域となってしまい、製品として使用できず、無駄となってしまう。例えば、透過検査用偏光フィルタの偏光軸の調整にかかる時間が約１分、ライン速度が約１０〜３０ｍ／分とすると、セパレートフィルム付き粘着材のロール切替１回において約１０〜３０ｍもの偏光板の領域が未検査となってしまい、無駄となってしまうこととなる。
【００４１】
しかしながら、この第１の実施形態の偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに偏光板の製造方法及び製造装置によれば、配向角測定器２１によってセパレートフィルム１２１の配向角を事前に測定し、測定した配向角に基づいて偏光フィルタ２４の偏光軸を自動的に調整するので、セパレートフィルム１２１の配向角のばらつきに起因して必要となるクロスニコル法透過検査用の偏光フィルタ２４の偏光軸の調整時間を短縮することができる。
【００４２】
その結果、インラインでクロスニコル法透過検査を行う場合に、セパレートフィルム付き粘着材１２０のロールを切り替えるために透過検査用偏光フィルタ２４の偏光軸を調整しているときに連続的に生成される偏光板１００の未検査領域を削減することができ、無駄を低減することができる。
［第２の実施形態］
【００４３】
図４は、本発明の第２の実施形態に係る偏光板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに偏光板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【００４４】
図４に示す第２の実施形態の製造装置１０Ａは、配向角測定器２１よりも下流側であって透過検査器２３よりも上流側において、偏光板本体部１１０の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼り合わせている点で第１の実施形態と異なっている。第２の実施形態の製造装置１０Ａのその他の構成は、第１の実施形態の製造装置１０と同一である。
【００４５】
換言すれば、第２の実施形態の製造方法では、配向角測定工程後であって欠陥検査工程前に、偏光板本体部１１０の一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼付する貼付工程を含む点で第１の実施形態と異なっている。
【００４６】
この第２の実施形態の偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに偏光板の製造方法及び製造装置でも、第１の実施形態の偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに偏光板の製造方法及び製造装置と同様の利点を得ることができる。
［第３の実施形態］
【００４７】
図５は、本発明の第３の実施形態に係る位相差板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに位相差板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図であり、図６は、図５に示す製造装置及び製造方法によって製造される位相差板を示す図である。
【００４８】
図５に示す製造装置１０Ｂは、図６に示す位相差板１００Ｂを製造するためのものである。製造装置１０Ｂは、セパレートフィルム（離型フィルム）１２１が粘着材１２２に貼り合わされたセパレートフィルム付き粘着材１２０を位相差板本体部１１０Ｂに貼り合わせて、位相差板１００Ｂを生成する。次いで、製造装置１０は、生成した位相差板１００Ｂを原反巻取１１によって巻き取る。位相差板の材料としては、ＴＡＣ、ポリカーボネート、ＰＥＴ、ＣＯＰ（シクロオレフィンポリマー）等が挙げられる。
【００４９】
また、製造装置１０Ｂは欠陥検査装置２０Ｂを含む。欠陥検査装置２０Ｂは、欠陥検査装置２０において透過検査用補助偏光フィルタ２５及び位相差補償フィルタ２６を更に備える点で第１の実施形態と異なっている。
【００５０】
透過検査用補助偏光フィルタ２５は、位相差板１００Ｂの他方の主面１０２と光源２２との間に設けられており、位相差補償フィルタ２６は、位相差板１００Ｂの他方の主面１０２と透過検査用補助偏光フィルタ２５との間に設けられている。
【００５１】
これにより、透過検査器２３は、透過検査用補助偏光フィルタ２５、位相差補償フィルタ２６、及び、透過検査用偏光フィルタ２４を介して位相差板１００Ｂを透過した光を受光する。
【００５２】
また、透過検査用偏光フィルタ２４における偏光軸調整機構は、配向角測定器２１からのセパレートフィルム１２１の配向角の情報に基づいて、透過検査用補助偏光フィルタ２５の偏光軸に対する偏光フィルタ２４の偏光軸（例えば、偏光フィルタ２４の回転角度）を調整して、クロスニコル状態を形成する。すなわち、本実施形態では、２つの偏光子（透過検査用補助偏光フィルタ２５及び偏光フィルタ２４）によってクロスニコル状態を形成する。
【００５３】
なお、本実施形態では、配向角測定器２１及び透過検査器２３の上流側において、位相差板本体部１１０Ｂの一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼り合わせている。
【００５４】
次に、本発明の第３の実施形態に係る位相差板の欠陥検査方法、及び、製造方法を説明する。まず、上記した貼付工程及び配向角測定工程が行われる。
【００５５】
次いで、透過検査用偏光フィルタ２４における偏光軸調整機構によって、測定されたセパレートフィルム１２１の配向角の情報に基づいて、透過検査用補助偏光フィルタ２５の偏光軸に対する偏光フィルタ２４の偏光軸を調整する（調整工程）。
【００５６】
次いで、光源２２によって、位相差板１００Ｂに光を照射する（光照射工程）。次いで、透過検査器２３によって、補助偏光フィルタ２５、位相差補償フィルタ２６、及び、偏光フィルタ２４を介して位相差板１００Ｂを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて位相差板１００Ｂの欠陥検査を行う（欠陥検査工程）。
【００５７】
この第３の実施形態の位相差板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに位相差板の製造方法及び製造装置でも、配向角測定器２１によってセパレートフィルム１２１の配向角を事前に測定し、測定した配向角に基づいて偏光フィルタ２４の偏光軸を自動的に調整するので、セパレートフィルム１２１の配向角のばらつきに起因して必要となるクロスニコル法透過検査用の偏光フィルタ２４の偏光軸の調整時間を短縮することができる。
【００５８】
その結果、インラインでクロスニコル法透過検査を行う場合に、セパレートフィルム付き粘着材１２０のロールを切り替えるために透過検査用偏光フィルタ２４の偏光軸を調整しているときに連続的に生成される位相差板１００Ｂの未検査領域を削減することができ、無駄を低減することができる。
［第４の実施形態］
【００５９】
図７は、本発明の第４の実施形態に係る位相差板（光学フィルム）の欠陥検査装置及び欠陥検査方法、並びに位相差板（光学フィルム）の製造装置及び製造方法を示す図である。
【００６０】
図７に示す第４の実施形態の製造装置１０Ｃは、配向角測定器２１よりも下流側であって透過検査器２３よりも上流側において、位相差板本体部１１０Ｂの一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼り合わせている点で第３の実施形態と異なっている。第４の実施形態の製造装置１０Ｃのその他の構成は、第３の実施形態の製造装置１０Ｂと同一である。
【００６１】
換言すれば、第４の実施形態の製造方法では、配向角測定工程後であって欠陥検査工程前に、位相差板本体部１１０Ｂの一方の主面にセパレートフィルム付き粘着材１２０を貼付する貼付工程を含む点で第３の実施形態と異なっている。
【００６２】
この第４の実施形態の位相差板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに位相差板の製造方法及び製造装置でも、第３の実施形態の位相差板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに位相差板の製造方法及び製造装置と同様の利点を得ることができる。
【００６３】
なお、本発明は上記した第１の実施形態〜第４の実施形態（以下、これらを合せて本実施形態と称することがある。）に限定されることなく種々の変形が可能である。例えば、本実施形態では、光源２２が偏光板１００又は位相差板１００Ｂの他方の主面１０２側に設けられ、透過検査器２３が偏光板１００又は位相差板１００Ｂの一方の主面１０１側に設けられる形態を例示したが、光源２２が偏光板１００又は位相差板１００Ｂの一方の主面１０１側に設けられ、透過検査器２３が偏光板１００又は位相差板１００Ｂの他方の主面１０２側に設けられてもよい（例えば、図８：第１の実施形態の変形を参照）。この場合、第１及び第２の実施形態では、透過検査用偏光フィルタ２４は、偏光板１００の一方の主面１０１と光源２２との間に設けられればよい。一方、第３及び第４の実施形態では、透過検査用偏光フィルタ２４は、位相差板１００Ｂの一方の主面１０１と光源２２との間に設けられればよく、透過検査用補助偏光フィルタ２５及び位相差補償フィルタ２６は、位相差板１００Ｂの他方の主面１０２と透過検査器２３との間に設けられればよい。
【００６４】
また、本実施形態では、配向角測定器２１によって測定された配向角の情報を偏光フィルタ２４に直接供給したが、配向角測定器２１によって測定されたセパレートフィルム１２１の配向角の情報を、記録部２７によって偏光板１００又は位相差板１００Ｂ上に記録し、原反巻取１２によって一旦巻き取り、その後再度巻き出す際に、偏光フィルタ２４における偏光軸調整機構によって、偏光板１００又は位相差板１００Ｂ上に記録した情報を読み取り、この情報に基づいて光フィルタの偏光軸の調整を行ってもよい。換言すれば、配向角測定工程において測定されたセパレートフィルム１２１の配向角の情報を偏光板１００又は位相差板１００Ｂ上に記録する記録工程を含み、調整工程では、記録工程において偏光板１００又は位相差板１００Ｂ上に記録されたセパレートフィルム１２１の配向角の情報に基づいて、偏光フィルタ２４の偏光軸を調整する（例えば、図９：第１の実施形態の変形を参照）。
【００６５】
偏光板１００又は位相差板１００Ｂ上に記録する情報は、識別コード（一次元バーコード、二次元コード、ＱＲコード（登録商標）など）などであればよく、偏光板１００又は位相差板１００Ｂ上における幅方向の端部に記録されればよい。
【００６６】
これによれば、配向角測定工程から記録工程まで同一ラインで行い、調整工程、光照射工程及び欠陥検査工程を別ラインで行うことが可能となる。
【００６７】
また、配向角測定器２１として、上記と同様の透過検査器、透過検査用偏光フィルタ、位相差補償フィルタおよび光源を組合せ、第２の実施形態（図４）、第３の実施形態（図５）および第４の実施形態（図７）の場合には更に上記と同様の透過検査用補助偏光フィルタを組み合わせて用いてもよい。この場合、例えば配向角測定器（２１）を配置する位置に透過検査器を配置し、透過検査器とセパレートフィルム付き粘着材（１２０）との間に透過検査用偏光フィルタを配置し、セパレートフィルム付き粘着材（１２０）の透過検査器側とは反対側に光源を配置し、セパレートフィルム付き粘着材（１２０）と光源との間にセパレートフィルム付き粘着材（１２０）側から順に位相差補償フィルタおよび透過検査用補助偏光フィルタを配置する。例えば光源からの光が透過検査器に届かなくなるように、透過検査用偏光フィルタの偏光軸、位相差補償フィルタの遅相軸および光学検査用補助偏光フィルタの偏光軸の向きを変え、これらの軸の向きからセパレートフィルムの配向角を求めることができる。
【００６８】
ところで、一般に、偏光板１００又は位相差板１００Ｂ（光学フィルム）の長さは、セパレートフィルム付き粘着材１２０の長さに対して１０倍以下である。換言すれば、一般に、連続生成される偏光板本体部１１０又は位相差板本体部１１０Ｂ（光学フィルム本体部）の長さは、セパレートフィルム付き粘着材１２０の長さに対して１０倍以下である。具体的には、偏光板１００又は位相差板１００Ｂの長さ（換言すれば、偏光板本体部１１０又は位相差板本体部１１０Ｂの長さ）は１０００ｍ以上２００００ｍ以下であり、セパレートフィルム付き粘着材１２０の長さは５００ｍ以上５０００ｍ以下であることが多い。このように、偏光板１００又は位相差板１００Ｂの長さ（換言すれば、偏光板本体部１１０又は位相差板本体部１１０Ｂの長さ）がセパレートフィルム付き粘着材１２０の長さに対して３倍以上、更には５倍以上であると、１本の偏光板１００又は位相差板１００Ｂ（換言すれば、偏光板本体部１１０又は位相差板本体部１１０Ｂ）に対してセパレートフィルム付き粘着材１２０を繋ぎ合せる頻度が多くなる。このように、偏光板１００又は位相差板１００Ｂの長さ（換言すれば、偏光板本体部１１０又は位相差板本体部１１０Ｂの長さ）とセパレートフィルム付き粘着材１２０の長さとが大きく異なり、セパレートフィルム付き粘着材１２０を繋ぎ合せる頻度が多くなる場合に、本発明の方法及び装置が、好適に適用可能であり、上記した顕著な効果を発揮する。
【符号の説明】
【００６９】
１０，１０Ａ…偏光板（光学フィルム）の製造装置、１０Ｂ，１０Ｃ…位相差板（光学フィルム）の製造装置、１１，１２…原反巻取、２０…偏光板（光学フィルム）の欠陥検査装置、２０Ｂ…位相差板（光学フィルム）の欠陥検査装置、２１…配向角測定器、２２…光源、２３…透過検査器、２４…透過検査用偏光フィルタ、２５…透過検査用補助偏光フィルタ、２６…位相差補償フィルタ、２７…記録部、１００…偏光板（光学フィルム）、１００Ｂ…位相差板（光学フィルム）、１０１…一方の主面、１０２…他方の主面、１１０…偏光板本体部（光学フィルム本体部）、１１０Ｂ…位相差板本体部（光学フィルム本体部）、１２０…セパレートフィルム付き粘着材、１２１…セパレートフィルム、１２２…粘着材、１２３…繋ぎ目。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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