(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを指定された線速度で回転させた状態で、光ディスクにレーザ光を照射するとともに、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクに記録された複数種類の既定パルス幅を有する一連のパルスからなるディジタルデータを、前記一連のパルスに対応した一連のパルス状信号を含むアナログ再生信号として再生して、前記アナログ再生信号を評価する光ディスクの再生信号評価装置において、
光ディスクの１回転における１つの特定回転位置を検出する回転位置検出手段と、
前記回転位置検出手段が前記特定回転位置を検出してから前記特定回転位置を再び検出するまで、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換するサンプリング手段と、
前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値を用いて、前記アナログ再生信号における前記一連のパルス状信号の各パルス幅及び各振幅値をそれぞれ検出するパルス検出手段と、
前記検出された各振幅値を、前記複数種類の既定パルス幅のうちで前記検出された各パルス幅が近似するいずか一種類の既定パルス幅に関する振幅値として分類し、前記分類した各振幅値を表す各振幅値データを前記既定パルス幅ごとに記憶するとともに、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値のサンプリング開始からの順番を表すデータ番号であって前記各振幅値データに対応したサンプリング値の順番を表すデータ番号を記憶する振幅値分類手段と、
前記既定パルス幅ごとに記憶された複数の振幅値データ及びデータ番号を用い、各既定パルス幅ごとに振幅値データによって表された振幅値の変化を光ディスクの周方向に沿って表示する振幅値表示手段とを備えたことを特徴とする光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項２】
前記パルス検出手段は、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値の全部又は一部のサンプリング値を平均することにより基準値を計算し、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値が、サンプリング順に、前記基準値を正側に超えてから負側に超えるまでの複数のサンプリング値を１つのパルス状信号を構成するものとし、かつ前記基準値を負側に超えてから正側に超えるまでの複数のサンプリング値を他の１つのパルス状信号を構成するものとする請求項１に記載の光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項３】
前記振幅値表示手段は、前記複数の振幅値データにより表された振幅値の変化を、隣り合う振幅値を曲線で繋げて表示する請求項１又は２に記載の光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のうちのいずれか一つに記載の光ディスクの再生信号評価装置において、さらに、
前記既定パルス幅ごとに、前記振幅値データにより表わされた振幅値の最大値及び最小値を計算する最大値・最小値計算手段を備え、
前記振幅値表示手段は、前記振幅値の変化の表示中に、さらに前記計算された最大値及び最小値を他の振幅値と区別して表示する光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項５】
前記回転位置検出手段は、前記アナログ再生信号から光ディスクに記録されているディジタルデータを復号して、復号したディジタルデータから特定アドレスを検出することにより、又は光ディスクのバースト・カッティング・エリアにレーザ光を照射し、前記バースト・カッティング・エリアからの反射光を受光して前記バースト・カッティング・エリアに記録されたデータを検出することにより、前記特定回転位置を検出するものである請求項１乃至４のうちのいずれか一つに記載の光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項６】
前記回転位置検出手段は、光ディスクのレーベル面に設けた特定のマーク又は模様を検出することにより、前記特定回転位置を検出するものである請求項１乃至４のうちのいずれか一つに記載の光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項７】
請求項１乃至６のうちのいずれか一つに記載の光ディスクの再生信号評価装置において、さらに、
光ディスクに対するレーザ光照射位置を光ディスクの半径方向に移動する半径方向移動手段を備え、
前記サンプリング手段は、前記半径方向移動手段により光ディスクに対するレーザ光の照射位置を移動させ、複数の異なる半径方向位置ごとに、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換し、
前記パルス検出手段は、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記各パルス幅及び各振幅値の検出を行い、
前記振幅値分類手段は、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記各振幅値を分類するとともに前記各振幅値データ及び各データ番号を記憶し、かつ
前記振幅値表示手段は、前記複数の異なる半径方向位置における前記振幅値の変化の表示を同時に行うものである光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項８】
光ディスクを指定された線速度で回転させた状態で、光ディスクにレーザ光を照射するとともに、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクに記録された複数種類の既定パルス幅を有する一連のパルスからなるディジタルデータを、前記一連のパルスに対応した一連のパルス状信号を含むアナログ再生信号として再生して、前記アナログ再生信号を評価する光ディスクの再生信号評価装置において、
光ディスクの１回転における１つの特定回転位置を検出する回転位置検出手段と、
光ディスクに対するレーザ光照射位置を光ディスクの指定された半径方向位置に移動する半径方向移動手段と、
前記半径方向移動手段により光ディスクに対するレーザ光の照射位置が移動された後、複数の異なる半径方向位置ごとに、前記回転位置検出手段により前記特定回転位置が検出されてから前記特定回転位置が再び検出されるまで、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換するサンプリング手段と、
前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値を用いて、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記アナログ再生信号における前記一連のパルス状信号の各パルス幅及び各振幅値をそれぞれ検出するパルス検出手段と、
前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値のサンプリング開始からの順番を表すデータ番号であって前記各振幅値に対応したサンプリング値の順番を表すデータ番号を、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値の数で除算することにより、前記特定回転位置からの回転角を表す回転角データを計算する回転角計算手段と、
前記検出された各振幅値を、前記複数種類の既定パルス幅のうちで前記検出された各パルス幅が近似するいずか一種類の既定パルス幅に関する振幅値として分類し、前記分類した各振幅値を表す各振幅値データを、前記計算された回転角を表す回転角データと共に、前記複数の異なる半径方向位置ごとかつ前記既定パルス幅ごとに記憶する振幅値分類手段と、
前記振幅値分類手段によって分類された各振幅値データにより表わされた各振幅値を、その大きさに応じて複数のグループのいずれかに割り当てる割当て手段と、
前記複数の異なる半径方向位置ごとに記憶されている各振幅値データの割当てられた各グループ及び前記複数の異なる半径方向位置ごとに計算された各回転角データを用いて、前記振幅値の変化を、前記グループごとに異なる表示態様で、光ディスクの周方向及び半径方向に２次元表示する振幅値表示手段とを備えたことを特徴とする光ディスクの再生信号評価装置。
【請求項９】
光ディスクを指定された線速度で回転させた状態で、光ディスクにレーザ光を照射するとともに、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクに記録された複数種類の既定パルス幅を有する一連のパルスからなるディジタルデータを、前記一連のパルスに対応した一連のパルス状信号を含むアナログ再生信号として再生して、前記アナログ再生信号を評価する光ディスクの再生信号評価方法において、
光ディスクの１回転における１つの特定回転位置を検出する回転位置検出工程と、
前記回転位置検出工程により前記特定回転位置が検出されてから前記特定回転位置が再び検出されるまで、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換するサンプリング行程と、
前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値を用いて、前記アナログ再生信号における前記一連のパルス状信号の各パルス幅及び各振幅値をそれぞれ検出するパルス検出行程と、
前記検出された各振幅値を、前記複数種類の既定パルス幅のうちで前記検出された各パルス幅が近似するいずか一種類の既定パルス幅に関する振幅値として分類し、前記分類した各振幅値を表す各振幅値データを前記既定パルス幅ごとに記憶するとともに、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値のサンプリング開始からの順番を表すデータ番号であって前記各振幅値データに対応したサンプリング値の順番を表すデータ番号を記憶する振幅値分類手段と、
前記既定パルス幅ごとに記憶された複数の振幅値データ及びデータ番号を用い、各既定パルス幅ごとに振幅値データによって表された振幅値の変化を光ディスクの周方向に沿って表示する振幅値表示行程とからなることを特徴とする光ディスクの再生信号評価方法。
【請求項１０】
光ディスクを指定された線速度で回転させた状態で、光ディスクにレーザ光を照射するとともに、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクに記録された複数種類の既定パルス幅を有する一連のパルスからなるディジタルデータを、前記一連のパルスに対応した一連のパルス状信号を含むアナログ再生信号として再生して、前記アナログ再生信号を評価する光ディスクの再生信号評価方法において、
光ディスクの１回転における１つの特定回転位置を検出する回転位置検出行程と、
光ディスクに対するレーザ光照射位置を光ディスクの指定された半径方向位置に移動する半径方向移動行程と、
前記半径方向移動行程により光ディスクに対するレーザ光の照射位置が移動された後、複数の異なる半径方向位置ごとに、前記回転位置検出行程により前記特定回転位置が検出されてから前記特定回転位置が再び検出されるまで、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換するサンプリング行程と、
前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値を用いて、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記アナログ再生信号における前記一連のパルス状信号の各パルス幅及び各振幅値をそれぞれ検出するパルス検出行程と、
前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値のサンプリング開始からの順番を表すデータ番号であって前記各振幅値に対応したサンプリング値の順番を表すデータ番号を、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値の数で除算することにより、前記特定回転位置からの回転角を表す回転角データを計算する回転角計算工程と、
前記検出された各振幅値を、前記複数種類の既定パルス幅のうちで前記検出された各パルス幅が近似するいずか一種類の既定パルス幅に関する振幅値として分類し、前記分類した各振幅値を表す各振幅値データを、前記計算された回転角を表す回転角データと共に、前記複数の異なる半径方向位置ごとかつ前記既定パルス幅ごとに記憶する振幅値分類行程と、
前記振幅値分類行程によって分類された各振幅値データにより表わされた各振幅値を、その大きさに応じて複数のグループのいずれかに割り当てる割当て行程と、
前記複数の異なる半径方向位置ごとに記憶されている各振幅値データの割当てられた各グループ及び前記複数の異なる半径方向位置ごとに計算された各回転角データを用いて、前記振幅値の変化を、前記グループごとに異なる表示態様で、光ディスクの周方向及び半径方向に２次元表示する振幅値表示行程とからなることを特徴とする光ディスクの再生信号評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射して反射光を受光することにより、光ディスクに記録された複数種類の既定パルス幅を有する一連のパルスからなるディジタルデータをアナログ再生して、再生したアナログ再生信号を評価する光ディスクの再生信号評価装置及び再生信号評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、例えば下記特許文献１，２に示されているように、光ディスクなどの記録媒体に記録されているディジタル信号をアナログ再生した際のアナログ再生信号を評価することにより、記録媒体又は記録媒体に記録されたディジタル信号を再生するためのピックアップなどの評価を行う再生信号評価装置は知られている。この再生信号評価装置においては、光ディスクなどの記録媒体に記録された一連のパルスからなるディジタルデータをアナログ再生し、複数種類のパルス幅ごとにアナログ再生信号の振幅値を正側と負側でそれぞれ検出し、この検出した振幅値を用いて、変調振幅、アシンメトリ、振幅値の変動範囲などの評価値を計算して、計算した評価値により記録媒体又はピックアップなどを評価している。
【特許文献１】特開２００６−０１８８６６号公報
【特許文献２】特開２００７−０６６４１２号公報
【発明の開示】
【０００３】
しかし、上記従来の再生信号評価装置においては、各評価値は１つであるため、例えば振幅値の変動範囲が１箇所で大きい場合と、振幅値の変動範囲が全体的に大きい場合とがあっても、両場合の評価値が同等となり、適切な評価が行えないことがある。また、同一の光ディスクを異なる再生信号評価装置でそれぞれ評価した場合、評価値が異なっていても、評価値の比較のみでは評価値が異なる原因の究明が困難となることもある。
【０００４】
本発明は、上記問題に対処するためになされたもので、その目的は、評価値とは別に、アナログ再生信号を簡単かつ適切に評価できるようにした光ディスクの再生信号評価装置を提供することにある。また、同一の光ディスクを異なる再生信号評価装置でそれぞれ評価した場合でも、双方の評価を比較できるようにすることにもある。
【０００５】
前記目的を達成するために、本発明の特徴は、光ディスクを指定された線速度で回転させた状態で、光ディスクにレーザ光を照射するとともに、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクに記録された複数種類の既定パルス幅を有する一連のパルスからなるディジタルデータを、前記一連のパルスに対応した一連のパルス状信号を含むアナログ再生信号として再生して、前記アナログ再生信号を評価する光ディスクの再生信号評価装置において、光ディスクの１回転における１つの特定回転位置を検出する回転位置検出手段（６３，６８，７０、Ｓ３０６，Ｓ３１４）と、前記回転位置検出手段が前記特定回転位置を検出してから前記特定回転位置を再び検出するまで、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換するサンプリング手段（６４，６５，６６，７０，Ｓ４１６〜Ｓ４２４）と、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値を用いて、前記アナログ再生信号における前記一連のパルス状信号の各パルス幅及び各振幅値をそれぞれ検出するパルス検出手段（６７，Ｓ６１０）と、前記検出された各振幅値を、前記複数種類の既定パルス幅のうちで前記検出された各パルス幅が近似するいずか一種類の既定パルス幅に関する振幅値として分類し、前記分類した各振幅値を表す各振幅値データを前記既定パルス幅ごとに記憶するとともに、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値のサンプリング開始からの順番を表すデータ番号であって前記各振幅値データに対応したサンプリング値の順番を表すデータ番号を記憶する振幅値分類手段（６７，Ｓ６１４）と、前記既定パルス幅ごとに記憶された複数の振幅値データ及びデータ番号を用い、各既定パルス幅ごとに振幅値データによって表された振幅値の変化を光ディスクの周方向に沿って表示する振幅値表示手段（７０，７２，Ｓ１１４）とを備えたことことにある。
【０００６】
この場合、前記パルス検出手段は、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値の全部又は一部のサンプリング値を平均することにより基準値を計算し、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値が、サンプリング順に、前記基準値を正側に超えてから負側に超えるまでの複数のサンプリング値を１つのパルス状信号を構成するものとし、かつ前記基準値を負側に超えてから正側に超えるまでの複数のサンプリング値を他の１つのパルス状信号を構成するものとする（Ｓ６０８，Ｓ６１０）とよい。また、前記振幅値表示手段は、前記複数の振幅値データにより表された振幅値の変化を、隣り合う振幅値を曲線で繋げて表示する（Ｓ１１４）とよい。
【０００７】
前記のように構成した再生信号評価装置においては、同一の既定パルス幅を有するパルスに対応したパルス状信号の振幅値が光ディスクの周方向に沿って表示装置に表示される。これにより、振幅値の変動状態を既定パルス幅（信号長）ごとに視覚的に確認することができ、評価値だけでは分からない振幅値の変動状態を簡単に確認できて、光ディスクのアナログ再生信号を簡単かつ適切に評価できるようなる。また、正側と負側で最短と最長の既定パルス幅を有するパルスに対応したパルス状信号の振幅値を表示装置に表示すれば、変調振幅、アシンメトリ、振幅値の変動範囲などを視覚的に簡単に確認することもできる。また、この再生信号評価装置においては、光ディスクの１回転分のアナログ再生信号がサンプリングされる。これにより、通常、隣り合ったトラックにおけるアナログ再生信号波形はほぼ同一であるので、最低限のデータにより、適切にアナログ再生信号を評価できるようになる。
【０００８】
また、本発明の他の特徴は、さらに、前記既定パルス幅ごとに、前記振幅値データにより表わされた振幅値の最大値及び最小値を計算する最大値・最小値計算手段（６７，Ｓ６１８）を備え、前記振幅値表示手段は、前記振幅値の変化の表示中に、さらに前記計算された最大値及び最小値を他の振幅値と区別して表示する（Ｓ１１４）ようにしたことにある。
【０００９】
前記のように構成した再生信号評価装置においては、振幅値の変化の表示中に、さらに前記計算された最大値及び最小値が他の振幅値と区別して表示される。これにより、振幅値の変動範囲を振幅値の変化状態と対応づけて、視覚的に簡単に確認することができ、光ディスクの再生信号を簡単かつ適切に評価できるようなる。
【００１２】
また、本発明の他の特徴は、前記回転位置検出手段は、前記アナログ再生信号から光ディスクに記録されているディジタルデータを復号して、復号したディジタルデータから特定アドレスを検出することにより、又は光ディスクのバースト・カッティング・エリアにレーザ光を照射し、前記バースト・カッティング・エリアからの反射光を受光して前記バースト・カッティング・エリアに記録されたデータを検出することにより、前記特定回転位置を検出する（Ｓ３０６）ようにしたことにある。
【００１３】
前記のように構成した再生信号評価装置においては、アナログ再生信号のサンプリング開始点が、光ディスクに特定アドレスが記録されている位置又はバースト・カッティング・エリアに記録されているコードの特定位置となり、常に同一の特定回転位置を基準に、光ディスクの１回転分の振幅値の変化を表示装置に表示できるようになる。これにより、同一の光ディスクを異なる再生信号評価装置でそれぞれ評価した場合でも、両方の振幅値の変化状態を対比でき、アナログ再生信号の評価結果を適切に比較することができる。
【００１４】
また、本発明の他の特徴は、前記回転位置検出手段が、光ディスクのレーベル面に設けた特定のマーク又は模様を検出することにより、前記特定回転位置を検出する（Ｓ３１４）ようにしたことにある。
【００１５】
前記のように構成した信号再生装置においては、アナログ再生信号のサンプリング開始点が、光ディスクのレーベル面のデザインの特定位置となり、レーベル面の特定位置を常に基準に、光ディスクの１回転分の振幅値の変化を表示装置に表示できるようになる。これにより、レーベル面のデザイン位置と光ディスクに記録されているディジタルデータとの関係に規則性がある場合は、複数の光ディスクを評価すれば、この規則性を見い出すことができ、アナログ再生信号を適切に評価することができる。
【００１６】
また、本発明の他の特徴は、さらに、光ディスクに対するレーザ光照射位置を光ディスクの半径方向に移動する半径方向移動手段（２３）を備え、前記サンプリング手段は、前記半径方向移動手段により光ディスクに対するレーザ光の照射位置を移動させ、複数の異なる半径方向位置ごとに、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換し（Ｓ４０８，Ｓ４１６，Ｓ４２０〜Ｓ４２４，Ｓ４３０）、前記パルス検出手段は、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記各パルス幅及び各振幅値の検出を行い（Ｓ６０４，Ｓ６０６，Ｓ６１０）、前記振幅値分類手段は、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記各振幅値を分類するとともに前記各振幅値データ及び各データ番号を記憶し（Ｓ６０４，Ｓ６０６，Ｓ６１４）、かつ前記振幅値表示手段は、前記複数の異なる半径方向位置における前記振幅値の変化の表示を同時に行う（Ｓ１１４）ものである
【００１７】
前記のように構成した再生信号評価装置においては、複数の異なる半径方向位置ごとに、同一の既定パルス幅を有するパルスに対応したパルス状信号の振幅値の変化が表示装置に同時に表示される。これにより、周方向に加えて、半径方向におけるパルス状信号の各振幅値の変動状態を既定パルス幅（信号長）ごとに視覚的に確認することができ、評価値だけでは分からない振幅値の変動状態を簡単に確認できて、光ディスクのアナログ再生信号を簡単かつ適切に評価できるようなる。
【００１８】
また、本発明の他の特徴は、光ディスクを指定された線速度で回転させた状態で、光ディスクにレーザ光を照射するとともに、光ディスクからの反射光を受光し、光ディスクに記録された複数種類の既定パルス幅を有する一連のパルスからなるディジタルデータを、前記一連のパルスに対応した一連のパルス状信号を含むアナログ再生信号として再生して、前記アナログ再生信号を評価する光ディスクの再生信号評価装置において、光ディスクの１回転における１つの特定回転位置を検出する回転位置検出手段（６３，６８，７０，Ｓ３０６，Ｓ３１４）と、光ディスクに対するレーザ光照射位置を光ディスクの指定された半径方向位置に移動する半径方向移動手段（２３，７０，Ｓ４０８）と、前記半径方向移動手段により光ディスクに対するレーザ光の照射位置が移動された後、複数の異なる半径方向位置ごとに、前記回転位置検出手段により前記特定回転位置が検出されてから前記特定回転位置が再び検出されるまで、前記アナログ再生信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてＡ／Ｄ変換するサンプリング手段（６４，６５，７０，Ｓ４１４，Ｓ４２０〜Ｓ４２４）と、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値を用いて、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記アナログ再生信号における前記一連のパルス状信号の各パルス幅及び各振幅値をそれぞれ検出するパルス検出手段（６７，Ｓ６１０）と、前記複数の異なる半径方向位置ごとに、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値のサンプリング開始からの順番を表すデータ番号であって前記各振幅値に対応したサンプリング値の順番を表すデータ番号を、前記Ａ／Ｄ変換された複数のサンプリング値の数で除算することにより、前記特定回転位置からの回転角を表す回転角データを計算する回転角計算手段（６７，Ｓ６１２）と、前記検出された各振幅値を、前記複数種類の既定パルス幅のうちで前記検出された各パルス幅が近似するいずか一種類の既定パルス幅に関する振幅値として分類し、前記分類した各振幅値を表す各振幅値データを、前記計算された回転角を表す回転角データと共に、前記複数の異なる半径方向位置ごとかつ前記既定パルス幅ごとに記憶する振幅値分類手段（６７，Ｓ６１４）と、前記振幅値分類手段によって分類された各振幅値データにより表わされた各振幅値を、その大きさに応じて複数のグループのいずれかに割り当てる割当て手段（６７，Ｓ６２０）と、前記複数の異なる半径方向位置ごとに記憶されている各振幅値データの割当てられた各グループ及び前記複数の異なる半径方向位置ごとに計算された各回転角データを用いて、前記振幅値の変化を、前記グループごとに異なる表示態様で、光ディスクの周方向及び半径方向に２次元表示する振幅値表示手段（７０，７２，Ｓ１１４）とを備えたことにある。
【００１９】
前記のように構成した再生信号評価装置においては、同一の既定パルス幅を有するパルスに対応したパルス状信号の振幅値の変化状態が、光ディスクの周方向及び半径方向に表示態様を異ならせて２次元表示される。これにより、光ディスク全体にわたって振幅値の変動状態を視覚的に簡単に確認でき、光ディスクのアナログ再生信号を簡単かつ適切に評価できるようなる。
【００２０】
さらに、本発明の実施にあたっては、光ディスクの再生信号評価装置の発明に限定されることなく、光ディスクの再生信号評価方法及びコンピュータプログラムの発明としても実施し得るものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の一実施形態について説明する。図１は、光ディスクＤＫに記録されたディジタルデータを再生した際におけるアナログ再生信号（ＳＵＭ信号）を評価することによって光ディスクＤＫを検査する光ディスク検査装置の全体概略図である。この装置は、光ディスクＤＫを回転駆動する駆動装置１０と、光ディスクＤＫにレーザ光を照射するとともに同照射による光ディスクＤＫからの反射光を受光する光ピックアップ装置３０とを備えている。
【００２２】
駆動装置１０は、光ディスクＤＫを回転駆動するためのスピンドルモータ１１及び光ディスクＤＫを径方向に移動させるフィードモータ１２を備えている。スピンドルモータ１１の回転軸１１ｂにはターンテーブル１３が固定されており、同ターンテーブル１３上に光ディスクＤＫが着脱可能に組み付けられるようになっている。
【００２３】
スピンドルモータ１１内には、スピンドルモータ１１の回転すなわちターンテーブル１３（光ディスクＤＫ）の回転を検出して、同回転を表す回転検出信号を出力するエンコーダ１１ａが組み込まれている。この回転検出信号は、ターンテーブル１３（光ディスクＤＫ）の回転位置が一つの基準回転位置に来るごとに発生されるインデックス信号Indexと、所定の微小な回転角度ずつハイレベルとローレベルを繰返すパルス列信号からなるとともに互いにπ／２だけ位相のずれたＡ相信号φA及びＢ相信号φBとからなる。インデックス信号Index、Ａ相信号φA及びＢ相信号φBはカウント回路２１に供給され、Ａ相信号φA及びＢ相信号φBはスピンドルモータ制御回路２２にも供給される。
【００２４】
カウント回路２１は、後述するコントローラ７０によって指示されて、ターンテーブル１３（光ディスクＤＫ）の基準回転位置に対する回転位置（すなわち、ターンテーブル１３を固定して見た場合、光ディスクＤＫ上にレーザ光照射により形成される光スポットの基準回転位置に対する回転位置）を検出する。カウント回路２１は、インデックス信号Indexによりリセットされるとともに、Ａ相信号φA及びＢ相信号φBによって規定される光ディスクＤＫの回転方向に応じて正方向又は負方向にＡ相信号φA又はＢ相信号φBをカウントして、カウント値ＣＮＴをコントローラ７０に出力する。したがって、カウント回路２１から出力されるカウント値ＣＮＴは、光ディスクＤＫの基準回転位置からの回転角０〜２πを表す。ただし、この基準回転位置は、光ディスクＤＫのターンテーブル１３への載置の仕方に依存して変化するもので、光ディスクＤＫの固定的な基準位置（例えば、データの開始記録位置など）に対応するものではない。
【００２５】
スピンドルモータ制御回路２２は、コントローラ７０により指示されて、コントローラ７０によって指定された回転速度又はコントローラ７０によって指定された線速度で、光スポットが光ディスクＤＫ上を移動するようにスピンドルモータ１１の回転を制御する。すなわち、ウォブル信号が与えられない状態では、スピンドルモータ制御回路２２は、エンコーダ１１ａから供給されるＡ相信号φA及びＢ相信号φBを用いて、コントローラ７０によって指定された回転速度で光ディスクＤＫが回転するようにスピンドルモータ１１の回転を制御する。具体的には、パルス列信号であるＡ相信号φA又はＢ相信号φBの単位時間当たりのカウント数がコントローラ７０によって指定された回転速度における単位時間当たりのカウント数に一致するように、スピンドルモータ１１の回転を制御する。また、ウォブル信号が与えられれば、同ウォブル信号を用いて、光ディスクＤＫ上の光スポットが線速度一定で同光ディスクＤＫに対して移動するように、スピンドルモータ１１の回転速度を制御する。具体的には、ウォブル信号から生成したパルス列信号の単位時間当たりのカウント数がコントローラ７０によって指定された線速度における単位時間当たりのカウント数と一致するように、スピンドルモータ１１の回転を制御する。
【００２６】
フィードモータ１２は、スクリューロッド１４を介して、スピンドルモータ１１を固定支持するとともに光ディスクＤＫの径方向の移動のみが許容された支持部材１５に連結されている。スクリューロッド１４は、その一端にてフィードモータ１２の回転軸に一体回転するように連結され、その他端に支持部材１５に固着されたナット（図示しない）に螺合している。したがって、フィードモータ１２が回転すると、スピンドルモータ１１、ターンテーブル１３及び支持部材１５は、スクリューロッド１４及びナットからなるねじ機構により光ディスクＤＫの径方向に変位する。
【００２７】
フィードモータ１２内にも、フィードモータ１２の回転を検出して、前記エンコーダ１１ａと同様な回転検出信号を出力するエンコーダ１２ａが組み込まれている。この回転検出信号中のＡ相信号φA及びＢ相信号φBが、フィードモータ制御回路２３及び半径位置検出回路２４に出力される。フィードモータ制御回路２３は、半径位置検出回路２４、スレッドサーボ回路６０及びコントローラ７０にも接続されて、これらの回路１２ａ，２４，６０，７０からの信号に基づいてフィードモータ１２を駆動制御する。具体的には、フィードモータ制御回路２３は、コントローラ７０によって初期作動の開始が指示されると、フィードモータ１２の駆動を開始して、支持部材１５を初期位置まで移動させる。なお、この初期位置は、フィードモータ１２によって駆動される支持部材１５の駆動制限位置である。
【００２８】
その後、フィードモータ制御回路２３は、コントローラ７０からの指示に従って、エンコーダ１２ａからのＡ相信号φA及びＢ相信号φB、半径位置検出回路２４から入力される光スポットの半径方向位置、並びに後述するスレッドサーボ回路６０からのスレッドサーボ信号を用いてフィードモータ１２の回転を制御する。具体的には、コントローラ７０から光スポットの半径方向位置が指示されると、フィードモータ制御回路２３は、半径位置検出回路２４から入力される光スポットの半径方向位置がコントローラ７０によって指示された光スポットの半径方向位置に等しくなるように、フィードモータ１２を駆動制御する。また、コントローラ７０からスレッドサーボの開始が指示されると、フィードモータ制御回路２３は、詳しくは後述するスレッドサーボ信号を用いてフィードモータ１２の回転速度を計算し、計算した回転速度にエンコーダ１２ａから供給されるＡ相信号φA又はＢ相信号φBを用いて計算した回転速度が等しくなるようにフィードモータ１２の回転を制御する。
【００２９】
半径位置検出回路２４は、コントローラ７０によって初期作動の開始が指示され、エンコーダ１２ａから供給されるＡ相信号φA及びＢ相信号φBの入力停止を検出すると、支持部材１５が初期位置に達したことを表す信号をフィードモータ制御回路２３に出力する。その後、半径位置検出回路２４は、光スポットの半径方向位置を検出して、同半径方向位置を表す半径位置信号をフィードモータ制御回路２３及びコントローラ７０に出力する。具体的には、半径位置検出回路２４は、カウント回路を有し、支持部材１５の初期位置に達したことを検出した時点でカウント値を「０」にリセットする。その後、半径位置検出回路２４は、Ａ相信号φA及びＢ相信号φBによって規定されるフィードモータ１２の回転方向に応じて正方向又は負方向にＡ相信号φA又はＢ相信号φBをカウントして積算することでカウント値を導出し、このカウント値を用いて移動量を計算し、初期位置の半径方向位置に加算することにより光スポットの半径方向位置を計算する。
【００３０】
光ピックアップ装置３０は、レーザ光源３１、コリメートレンズ３２、偏光ビームスプリッタ３３、１／４波長板３４、対物レンズ３５、凸レンズ３６、シリンドリカルレンズ３７及びフォトディテクタ３８を備えている。そして、この光ピックアップ装置３０においては、レーザ光源３１からのレーザ光を、コリメートレンズ３２、偏光ビームスプリッタ３３、１／４波長板３４及び対物レンズ３５を介して、光ディスクＤＫの記録層に集光させ、光ディスクＤＫの記録層上に光スポットを形成する。レーザ光源３１は、コントローラ７０によって作動制御されるレーザ駆動回路４１によって駆動制御される。
【００３１】
また、この光ディスクＤＫに形成された光スポットからの反射光は、対物レンズ３５、１／４波長板３４、偏光ビームスプリッタ３３、凸レンズ３６及びシリンドリカルレンズ３７を介して、フォトディテクタ３８に導かれて受光される。フォトディテクタ３８は、分割線で区切られた４つの同一正方形状の受光素子からなる４分割受光素子によって構成されており、各受光素子は受光量に比例した検出信号Ｓa，Ｓb，Ｓc，Ｓdをそれぞれ受光信号として出力する。なお、検出信号Ｓa，Ｓb，Ｓc，Ｓdは、４分割受光素子を光ディスクＤＫのトラックの方向に合わせて見た場合、左上から時計回りに配置された各受光素子の受光量を表している。
【００３２】
また、この光ピックアップ装置３０は、フォーカスアクチュエータ４２及びトラッキングアクチュエータ４３も備えている。フォーカスアクチュエータ４２は、対物レンズ３５をレーザ光の光軸方向（光ディスクＤＫの盤面に対して垂直方向）に駆動する。トラッキングアクチュエータ４３は、対物レンズ３５を光ディスクＤＫの半径方向に駆動する。
【００３３】
また、この光ディスクＤＫの信号再生装置は、フォトディテクタ３８に接続されてその検出信号Ｓa，Ｓb，Ｓc，Ｓdをそれぞれ増幅するＨＦ信号増幅回路５１を備えている。このＨＦ信号増幅回路５１には、フォーカスエラー信号生成回路５２、トラッキングエラー信号生成回路５３及び再生信号生成回路５４が接続されている。
【００３４】
フォーカスエラー信号生成回路５２は、ＨＦ信号増幅回路５２を介したフォトディテクタ３８からの検出信号Ｓa〜Ｓdを用いた演算（具体的には、非点収差法によるフォーカスサーボ制御の場合は(Ｓa＋Ｓc)−(Ｓb＋Ｓd)の演算）により、フォーカスエラー信号を生成して、フォーカスサーボ回路５５に出力する。フォーカスサーボ回路５５は、コントローラ７０により作動制御され、フォーカスエラー信号に基づいてフォーカスサーボ信号を生成してドライブ回路５６に供給する。ドライブ回路５６は、このフォーカスサーボ信号に応じてフォーカスアクチュエータ４２を駆動制御して、対物レンズ３５をレーザ光の光軸方向に変位させる。これらのフォーカスエラー信号生成回路５２、フォーカスサーボ回路５５及びドライブ回路５６により、対物レンズ３５によって集光されたレーザ光は、光ディスクＤＫにおける記録層に合焦され続ける。
【００３５】
トラッキングエラー信号生成回路５３は、ＨＦ信号増幅回路５１を介してフォトディテクタ３８からの検出信号Ｓa〜Ｓdを用いた演算（具体的には、プッシュプル法によるトラッキング制御の場合は(Ｓa＋Ｓb)−(Ｓc＋Ｓd)の演算）により、トラッキングエラー信号を生成して、トラッキングサーボ回路５７に出力する。トラッキングサーボ回路５７は、コントローラ７０により作動制御され、トラッキングエラー信号に基づいてトラッキングサーボ信号を生成してドライブ回路５８に供給する。ドライブ回路５８は、このトラッキングサーボ信号に応じてトラッキングアクチュエータ４３を駆動制御して、対物レンズ３５を光ディスクＤＫの半径方向に変位させる。これらのトラッキングエラー信号生成回路５３、トラッキングサーボ回路５７及びドライブ回路５８により、対物レンズ３５によって集光されたレーザ光は、光ディスクＤＫのトラックに合焦され続ける。
【００３６】
また、トラッキングエラー信号生成回路５３にて生成されたトラッキングエラー信号は、バンドパスフィルタからなるウォブル信号取出し回路５９にも供給される。ウォブル信号取出し回路５９は、トラッキングエラー信号からウォブル信号を取出してスピンドルモータ制御回路２２に供給する。この供給されたウォブル信号は、前述のように、スピンドルモータ制御回路２２において、光ディスクＤＫを線速度一定で回転させるために用いられる。また、トラッキングサーボ回路５７にて生成されたトラッキングサーボ信号は、スレッドサーボ回路６０にも供給される。スレッドサーボ回路６０は、コントローラ７０により作動が制御され、供給されたトラッキングサーボ信号からの直流的成分を抽出することによりスレッドサーボ信号を生成して、同スレッドサーボ信号をフィードモータ制御回路２３に供給する。スレッドサーボ信号は、トラッキングアクチュエータ４３の駆動中心位置のトラッキングアクチュエータ４３の中立位置（信号が入力しない時の位置）からのずれ量であり、フィードモータ制御回路２３は、このずれ量がなくなるようにフィードモータ１２の回転を制御する。
【００３７】
再生信号生成回路５４は、ＳＵＭ信号生成回路からなり、ＨＦ信号増幅回路５１にて増幅された検出信号Ｓa〜Ｓdを合算して、合算信号Ｓa＋Ｓb＋Ｓc＋ＳdをＳＵＭ信号として波形等化回路６１に出力する。波形等化回路６１は、イコライズ回路で構成されてＳＵＭ信号の振幅を周波数に応じて補正して、２値化回路６２に出力する。２値化回路６２は、前記補正されたＳＵＭ信号を基準レベルと比較して、ハイレベル及びローレベルからなる２値化信号を生成して復号回路６３に出力する。復号回路６３は、コントローラ７０の指示により、供給された２値化信号を復号してコントローラ７０に供給する。この復号においては、光ディスクＤＫのデータ記録領域に記録されたデータの復号と、ＢＣＡ（Burst
Cutting Area；バースト・カッティング・エリア）に記録されたデータの復号の２つの復号があり、どちらの復号が行われるかはコントローラ７０によって指示される。
【００３８】
また、再生信号生成回路５４から出力されたＳＵＭ信号は、アナログ／ディジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器という）６４にも供給される。Ａ／Ｄ変換器６４は、クロック信号発生回路６５からのクロック信号の１周期毎にＳＵＭ信号をサンプリングホールドして、同サンプリングホールドした再生信号の瞬時値をＡ／Ｄ変換し、同瞬時値を表すディジタルデータ、具体的にはサンプリング時における再生信号の電圧値を表す波形値データおよび同サンプリング時におけるタイミングを表すタイミングデータからなる波形データを前記クロック信号の１周期ごとに外部記憶回路６６に出力する。なお、アナログ再生信号を評価する光ディスクＤＫとしてブルーレイ・ディスク（Blu-ray  Disk）を選定した場合、ブルーレイ・ディスクの基準クロック周波数（すなわち、すなわち信号長１Ｔに相当する周波数）は６６．０MHzであるので、クロック信号発生回路６５からのクロック信号の周波数はブルーレイ・ディスクの基準クロック周波数の２倍以上（すなわち、１３２．０MHｚ以上）であればよいが、本実施形態では約２００MHzである。また、このクロック信号は、光ディスクＤＫに記録されている信号の基準クロックとは無関係である。なお、クロック信号発生回路６５の作動は、コントローラ７０によって制御される。
【００３９】
外部記憶回路６６は、Ａ／Ｄ変換器６４からのディジタルデータを記憶するもので、コントローラ７０により、データの記憶開始及び記憶終了が指示されるとともに、記憶したデータがクリアされる。また、外部記憶回路６６は、信号評価回路６７からの指示により、記憶したデータを信号評価回路６７に出力する。本実施形態では、この外部記憶回路６６としてＲＡＭを用いているが、データの書き込みおよび読み出しが可能であれば、他の記録媒体を用いてもよい。
【００４０】
信号評価回路６７は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭなどからなるマイクロコンピュータを内蔵している。マイクロコンピュータは、コントローラ７０からの指示により図７のプログラムを実行して、波形表示のためのデータ作成処理及び評価値の算出処理を実行して、前記作成データ及び算出評価値を前記ＲＡＭで構成した内部メモリ６７ａに記憶する。この内部メモリ６７ａに記憶された作成データ及び算出評価値は、コントローラ７０の指示により、コントローラ７０に出力される。
【００４１】
光ディスクＤＫの上方位置には、光強度センサ６８が設けられている。光強度センサ６８は、その作動がコントローラ７０により指示され、レーザ光を光ディスクＤＫのレーベル面ＬＢに照射するとともに、レーベル面ＬＢからの反射光を受光して、受光した反射光の光量の変化に従って変化する光の強度を表す光強度信号を特定位置検出回路６９に出力する。特定位置検出回路６９は、その作動がコントローラ７０によって指示され、作動時に入力した光強度信号が予め決められた低い所定レベル以下であることを検出すると、特定位置検出信号をコントローラ７０に出力する。なお、検査される光ディスクＤＫには、例えば図１１に示すように、レーベル面ＬＢのデザインの中に特定の周方向位置に反射率が低いラインマークＭＫが設けられている。なお、このラインマークＭＫに代えて、レーベル面ＬＢ上のデザインにおける模様の特定部分を特定位置とするようにしてもよい。また、特定位置検出回路６９は、光強度信号の所定レベル以上を検出するようにしてもよい。要は、光ディスクＤＫの周方向の特定位置を検出できるものであれば、如何なるものでもよい。
【００４２】
コントローラ７０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどの不揮発性メモリなどからなるコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置７１からの指示に従って、図２のプログラム（図３〜６のサブプログラムを含む）を実行することにより、光ディスクＤＫに記録された情報を再生する。また、コントローラ７０には、作動指示及び作動状況を作業者に対して視覚的に知らせるための液晶表示器、ＣＲＴ表示器などの表示装置７２も接続されている。
【００４３】
次に、上記のように構成した光ディスク検査装置の作動について説明する。作業者は、情報を記録した光ディスクＤＫをターンテーブル１３の上に載せて、同光ディスクＤＫをターンテーブル１３上に固定する。そして、図示しない電源スイッチの投入により、コントローラ７０を含む各種回路の作動を開始させる。ただし、図１のコントローラ７０からの信号を表す矢印が記載されている回路の作動開始及び停止、又は作動態様に関してはコントローラ７０の指示に従う。前記コントローラ７０が作動開始された状態で、ユーザが入力装置７１を操作して、光ディスクＤＫに記録されているデータのアナログ再生信号の評価開始を指示すると、コントローラ７０は、図２のステップＳ１００にてメインプログラムの実行を開始する。
【００４４】
メインプログラムの実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ１０２にて、表示装置７２を用いて、光ディスクＤＫにおける評価すべき半径方向位置を表す評価半径位置の入力を作業者に促す。作業者は、入力装置７１を用いて、複数の評価半径位置を順次入力する。コントローラ７０は、この入力された複数の評価半径位置を半径位置データｒ(１)，ｒ(２)・・・ｒ(ｐ)として記憶する。また、評価半径位置の数ｐが小さければ、前記方法を採用するが、評価半径位置の数ｐが大きい場合には、次の方法を採用するとよい。すなわち、光ディスクＤＫにおける評価すべき開始半径位置、半径位置の間隔及び半径位置数ｐを入力する。この代わりに、光ディスクＤＫにおける開始半径位置、半径位置の間隔及び終了半径位置を入力してもよい。さらには、光ディスクＤＫにおける開始半径位置、終了半径位置及び半径位置数ｐを入力してもよい。これらの場合には、コントローラ７０は、入力された値を用いて、複数の評価半径位置を表わす半径位置データｒ(１)，ｒ(２)・・・ｒ(ｐ)を計算して記憶する。前記ステップＳ１０２の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ１０４にて半径位置数ｐを信号評価回路６７に出力し、信号評価回路６７の内部メモリ６７ａに半径位置数ｐを記憶させる。
【００４５】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ１０６にて、表示装置７２を用いて、光ディスクＤＫの周方向の特定回転位置の取得方法を入力することを作業者に促す。特定回転位置の取得方法に関しては、光ディスクＤＫに記録されているデータの特定アドレスに対応した光ディスクＤＫの特定回転位置を取得する場合と、レーベル面ＬＢ上のデザイン（例えば、ラインマークＭＫ）に対応した光ディスクＤＫの特定回転位置を取得する場合との２つの取得方法が用意されている。したがって、作業者は、前記２つの取得方法のいずれかを選択する。なお、評価半径位置が予め決められている場合には前記ステップＳ１０２の処理がスキップされ、特定回転位置の取得方法が予め決められている場合には、前記ステップＳ１０６の処理がスキップされる。
【００４６】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ１０８にて、装置作動開始ルーチンを実行する。装置作動開始ルーチンの詳細は、図３に示されており、その実行がステップＳ２００にて開始される。この実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ２０２にて、初期半径位置移動処理を実行する。この初期半径位置移動処理においては、コントローラ７０は、フィードモータ制御回路２３及び半径位置検出回路２４に初期作動の開始を指示する。この指示により、フィードモータ制御回路２３は、フィードモータ１２の駆動制御を開始して、支持部材１５を初期位置方向に支持部材１５の移動が制限されるまで駆動する。一方、半径位置検出回路２４は、エンコーダ１２ａからＡ相信号φA及びＢ相信号φBを入力して、これらのＡ相信号φA及びＢ相信号φBの変化停止を検出し始める。この変化停止の検出により、支持部材１５の初期位置（駆動制限位置）への到達が検出される。この到達の検出時に、半径位置検出回路２４は、フィードモータ制御回路２３に前記検出信号を出力する。この検出信号に応答して、フィードモータ制御回路２３は、フィードモータ１２の駆動を停止する。一方、半径位置検出回路２４は、支持部材１５の初期位置への到達の検出時に、内蔵のカウント回路のカウント値を「０」にリセットする。その後、半径位置検出回路２４は、Ａ相信号φA及びＢ相信号φBによって規定される光ディスクＤＫの回転方向に応じて正方向又は負方向にＡ相信号φA又はＢ相信号φBのパルス数をカウントし、このカウント値を用いて光スポットの半径方向位置を計算して出力し続ける。
【００４７】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ２０４にて、レーザ光照射による光スポットが光ディスクＤＫのデータ記録開始半径位置に形成されるように、データ記録開始半径位置をフィードモータ制御回路２３に出力する。これにより、フィードモータ制御回路２３は、半径位置検出回路２４から入力される光スポットの半径方向位置が前記データ記録開始半径位置に等しくなるように、フィードモータ１２を駆動制御する。なお、データ記録開始半径位置に関しては、光ディスクＤＫのＢＣＡ（バースト・カッティング・エリア；Burst Cutting Area）に記録されているデータを利用したり、事前にコントローラ７０に記憶されているデータを利用できる。
【００４８】
前記ステップＳ２０４の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ２０６にて、前記データ記録開始半径位置を用いて予め決められた線速度になるスピンドルモータ１１の回転速度を計算し、スピンドルモータ制御回路２２に、予め決められた線速度と、前記計算した回転速度とを出力するとともに、光ディスクＤＫを回転させることを指示する。この指示に応答して、スピンドルモータ制御回路２２は、エンコーダ１１ａからのＡ相信号φA及びＢ相信号φBを用いて、光ディスクＤＫが前記回転速度で回転するように、スピンドルモータ１１の回転を制御する。そして、後述するトラッキングサーボ制御後には、スピンドルモータ制御回路２２は、ウォブル信号取出し回路５９から入力されるウォブル信号を用いて、光ディスクＤＫが常に前記線速度で回転するように、スピンドルモータ１１の回転を制御する。
【００４９】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ２０８にて、レーザ駆動回路４１にレーザ駆動を指示する。これにより、レーザ駆動回路４１は、レーザ光源３１に作動電圧及び作動電流を供給することによりレーザ光源３１を駆動制御して、レーザ光源３１にレーザ光の出射を開始させる。レーザ光源３１から出射されたレーザ光は、コリメートレンズ３２、偏光ビームスプリッタ３３、１／４波長板３４及び対物レンズ３５を介して光ディスクＤＫに導かれ、同光ディスクＤＫのデータ記録開始半径位置に光スポットを形成する。そして、光ディスクＤＫからの反射光が、対物レンズ３５、１／４波長板３４、偏光ビームスプリッタ３３、凸レンズ３６及びシリンドリカルレンズ３７を介してフォトディテクタ３８に入射する。フォトディテクタ３８は、この入射光に対応した検出信号Ｓa〜Ｓdを、ＨＦ信号増幅回路５１を介してフォーカスエラー信号生成回路５２及びトラッキングエラー信号生成回路５３に供給する。
【００５０】
前記ステップＳ２０８の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ２１０にて、フォーカスサーボ回路５５に作動を指示して、図示しないフォーカスアクチュエータ駆動回路、Ｓ字信号検出回路などと共にフォーカスサーボ回路５５によるフォーカス引込み処理を実行させるとともに、フォーカスサーボ制御を開始させる。すなわち、フォーカスサーボ回路５５は、ドライブ回路５６を介して、フォーカスアクチュエータ４２をフォーカスサーボ信号に応じて駆動制御する。これにより、対物レンズ３５がレーザ光の軸線方向に駆動制御されて、レーザ光源３１からのレーザ光による光スポットが光ディスクＤＫのデータ記録層に正確に形成されるようになる。
【００５１】
前記ステップＳ２１０の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ２１２にてトラッキングサーボ回路５７に作動を指示して、図示しないトラッキング引込みタイミング検出回路などと共にトラッキングサーボ回路５７によるトラッキング引込み処理を実行させるとともに、トラッキングサーボ制御を開始させる。すなわち、トラッキングサーボ回路５７は、ドライブ回路５６を介して、トラッキングアクチュエータ４３をトラックサーボ信号に応じて駆動制御する。これにより、対物レンズ３５が光ディスクＤＫの半径方向に駆動制御されて、レーザ光源３１からのレーザ光による光スポットが光ディスクＤＫのトラックを常に追従するようになる。
【００５２】
前記ステップＳ２１２の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ２１４にて、スレッドサーボ制御開始をスレッドサーボ回路６０とフィードモータ制御回路２３に指示する。これにより、スレッドサーボ回路６０は、スレッドサーボ信号を生成してフィードモータ制御回路２３に供給し始める。そして、フィードモータ制御回路２３は、光スポットがトラックを追従する際のトラッキングアクチュエータ４３の駆動中心位置が中立位置になるようにスレッドサーボ信号に応じてフィードモータ１２を駆動制御する。その結果、レーザ光源３１からのレーザ光による光スポットが光ディスクＤＫのトラックを追跡しながら半径方向に移動し始める。また、前述のように、この状態では、スピンドルモータ制御回路２２のウォブル信号を用いた制御により、光ディスクＤＫは線速度一定で回転し続ける。そして、これらのステップＳ２０６〜Ｓ２１４の処理により、光ディスクＤＫに記録されているデータに対応した検出信号Ｓa〜Ｓdがフォトディテクタ３８により検出され始める。この検出信号Ｓa〜Ｓdは、ＨＦ信号増幅回路５１を介して再生信号生成回路５４に供給され、再生信号生成回路５４は、光ディスクＤＫに記録されているデータを表すアナログ信号であるＳＵＭ信号を波形等化回路６１及びＡ／Ｄ変換器６４に供給し始める。
【００５３】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ２１６にてカウント回路２１の作動を開始させる。この作動開始により、カウント回路２１は、以降、ターンテーブル１３（光ディスクＤＫ）の基準回転位置（インデックス信号Indexに対応）に対する回転位置を表すカウント値をコントローラ７０に出力し始める。そして、ステップＳ２１８のリターン処理により、コントローラ７０は、図２のステップＳ１０８の装置作動開始ルーチンの実行を終了して、ステップＳ１１０にてカウント値取り込みルーチンを実行する。
【００５４】
このカウント値取り込みルーチンは図４に詳細に示されており、その実行がステップＳ３００にて開始される。このカウント値取り込みルーチンの実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ３０２にて、前記図２のステップＳ１０６にて、特定回転位置の取得方法として、光ディスクＤＫの特定アドレスに対応した特定回転位置が選択されたか、レーベル面ＬＢ上のデザインに関係した特定回転位置が選択されたかを判定する。前者の場合には、ステップＳ３０４〜Ｓ３１０の処理が実行されて、光ディスクＤＫの特定アドレスに対応した特定回転位置を表すカウント値がカウント回路２１から取り込まれる。後者の場合には、ステップＳ３１２〜Ｓ３１８の処理が実行されて、レーベル面ＬＢ上のデザインに関係した特定回転位置を表すカウント値がカウント回路２１から取り込まれる。
【００５５】
具体的には、光ディスクＤＫの特定アドレスに対応した特定回転位置が選択された場合には、コントローラ７０は、ステップＳ３０４にて、復号回路６３にデータの復号処理の開始を指示する。これにより、復号回路６３は、２値化回路６２から入力するパルス信号から光ディスクＤＫに記録されているデータを作成し、このデータを復号したデータをコントローラ７０に供給する。コントローラ７０は、ステップＳ３０６にて、復号されたデータに含まれるアドレスデータを検出し、検出したアドレスデータが予め設定されている特定のアドレスであるか否かを判定し続ける。特定アドレスであると判定されると、コントローラ７０は、ステップＳ３０６にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ３０８にてカウント回路２１から現在のカウント値を取り込んで、特定カウント値θａとして記憶する。そして、コントローラ７０は、ステップＳ３１０にて、復号回路６３の復号動作を停止させる。
【００５６】
また、レーベル面ＬＢ上のデザインに関係した特定回転位置が選択された場合には、コントローラ７０は、ステップＳ３１２にて、光強度センサ６８及び特定位置検出回路６９を作動開始させる。これにより、光強度センサ６８及び特定位置検出回路６９は作動を開始し、特定位置検出回路６９は、特定位置の検出時に検出信号をコントローラ７０に出力するようになる。コントローラ７０は、ステップＳ３１４にて、特定位置検出回路６９からの検出信号を待ち続ける。特定位置の検出信号が特定位置検出回路６９から入力されると、コントローラ７０は、ステップＳ３１４にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ３１６にてカウント回路２１から現在のカウント値を取り込んで、特定カウント値θａとして記憶する。そして、コントローラ７０は、ステップＳ３１８にて、光強度センサ６８及び特定位置検出回路６９を作動停止させる。前記ステップＳ３１０，Ｓ３１８の処理後、ステップＳ３２０のリターン処理により、コントローラ７０は、図２のステップＳ１１０のカウント値取り込みルーチンの実行を終了して、ステップＳ１１２にて再生信号評価ルーチンを実行する。
【００５７】
この再生信号評価ルーチンは図５に詳細に示されており、その実行がステップＳ４００にて開始される。この再生信号評価ルーチンは、信号評価回路６７にて実行される図７の信号評価データ生成プログラムと連動して、再生信号の信号波長ごとの波形表示用データ及び再生信号の評価値を取得する。
【００５８】
前記再生信号評価ルーチンの実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ４０２にて、評価半径位置を指定するための変数ｉを「１」に初期設定する。次に、コントローラ７０は、ステップＳ４０４にて、クロック信号発生回路６５に作動開始を指示する。クロック信号発生回路６５は、所定周期のクロック信号をＡ／Ｄ変換器６４に出力する。Ａ／Ｄ変換器６４は、クロック信号発生回路６５からのクロック信号の１周期毎にＳＵＭ信号をサンプリングホールドして、同サンプリングホールドした再生信号の瞬時値をＡ／Ｄ変換して外部記憶回路６６に出力し始める。
【００５９】
前記ステップＳ４０４の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ４０６〜Ｓ４３０からなる循環処理を繰り返し実行し始める。ステップＳ４０６にて、コントローラ７０は、フォーカスサーボ回路５５、トラッキングサーボ回路５７及びスレッドサーボ回路６０に作動停止を指示する。フォーカスサーボ回路５５は作動を停止し、フォーカスサーボ制御は中断する。トラッキングサーボ回路５７も作動を停止し、トラッキングサーボ制御も中断する。スレッドサーボ回路６０も作動を停止し、フィードモータ１２による光スポットの半径方向への移動が中断する。この状態で、コントローラ７０は、ステップＳ４０８にて、半径位置データｒ(ｉ)をフィードモータ制御回路２３に出力するとともに、フィードモータ１２の作動を指示する。フィードモータ制御回路２３は、半径位置検出回路２４によって検出される半径方向位置を用いて、光スポットが形成される半径方向位置が半径位置データｒ(ｉ)によって表される半径方向位置に一致するまでフィードモータ１２の回転を制御する。これにより、光ディスクＤＫが半径方向に移動して、光スポットが形成される半径方向位置が半径位置データｒ(ｉ)によって表される半径方向位置となる。
【００６０】
次に、コントローラ７０は、前述した図３のステップＳ２１０〜Ｓ２１４と同様なステップＳ４１０〜Ｓ４１４の処理により、フォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御及び光スポットの半径方向への移動を開始させる。そして、コントローラ７０は、ステップＳ４１６にて、カウント回路２１によるカウント値を取り込んで、取り込んだカウント値が前記図４のステップＳ３０８又はステップＳ３１６の処理により記憶した特定カウント値θａ以上になるまで判定処理を実行し続ける。そして、前記取り込んだカウント値が特定カウント値θａ以上になると、コントローラ７０は、ステップＳ４１６にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ４１８にて現在の半径位置番号を表わす変数ｉを外部記憶回路６６に出力する。そして、コントローラ７０は、ステップＳ４２０にて外部記憶回路６６に再生信号の記憶開始を指示する。外部記憶回路６６は、Ａ／Ｄ変換器６４にてＡ／Ｄ変換されたアナログ再生信号の瞬時値（再生ディジタルデータ）を順次記憶し始める。この場合、外部記憶回路６６は、Ａ／Ｄ変換器６４から供給された再生ディジタルデータを半径位置ごとにデータＤ(ｎ，ｉ)として順に記憶する。変数ｉが「１」であれば、データはＤ(１，１)，Ｄ(２，１)・・・のようになる。なお、値ｎは、各半径位置において、「１」から順に「１」ずつ大きくなる入力番号である。また、値ｉは半径位置番号（１〜ｐ）を表わす値である。
【００６１】
前記ステップＳ４２０の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ４２２にて、前記ステップＳ４１６の処理と同様にして、カウント回路２１から取り込んだカウント値がふたたび前記特定カウント値θａ以上になるまで判定処理を実行し続ける。そして、前記取り込んだカウント値が特定カウント値θａ以上になると、コントローラ７０は、ステップＳ４２２にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ４２４にて外部記憶回路６６に再生信号の記憶終了を指示する。このようなステップＳ４１６〜Ｓ４２４の処理により、評価半径位置ｒ(ｉ)における光ディスクＤＫの１回転分のアナログ再生信号のＡ／Ｄ変換値が外部記憶回路６６に順次記憶される。コントローラ７０は、ステップＳ４２６にて、信号評価回路６７に作動開始、すなわち信号評価用データの作成処理の開始を指示する。信号評価回路６７は、詳しくは後述する図７の信号評価用データ生成プログラムの実行により、外部記憶回路６６に記憶されている再生ディジタルデータを用いた信号評価用データの作成処理を実行し始める。
【００６２】
前記ステップＳ４２６の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ４２８にて、変数ｉが半径位置数ｐ未満であるか、すなわち全ての半径位置データｒ(１)〜ｒ(ｐ)により表された半径位置の再生信号のディジタルデータが外部記憶回路６６に記憶され終えたかを判定する。変数ｉが半径位置数ｐよりも小さければ、コントローラ７０は、ステップＳ４３０にて変数ｉを「１」だけインクリメントして、プログラムをステップＳ４０６に戻し、前述したステップＳ４０６〜Ｓ４３０からなる循環処理をふたたび実行する。これにより、変数ｉのインクリメントに従い、半径位置データｒ(１)〜ｒ(ｐ)により表された半径位置における光ディスクＤＫの１回転分ずつの再生信号のディジタルデータが外部記憶回路６６に順次記憶されていく。そして、全ての半径位置データｒ(１)〜ｒ(ｐ)により表された半径位置の再生信号のディジタルデータが外部記憶回路６６に記憶されて、変数ｉが半径位置数ｐに達すると、コントローラ７０はステップＳ４２８にて「Ｎｏ」と判定してプログラムをステップＳ４３２に進める。この状態では、外部記憶回路６６には、データとして、Ｄ(１，１)，Ｄ(２，１)・・Ｄ(ｎ１，１)，Ｄ(１，２)，Ｄ(２，２)・・Ｄ(ｎ２，２)，〜〜，Ｄ(１，ｐ)，Ｄ(２，ｐ)・・Ｄ(ｎｐ，ｐ)なるデータが記憶されることになる。なお、値ｎ１，ｎ２・・ｎｐは半径位置ごとのディジタルデータの数であり、ほぼ同じ値を示すが、必ずしも同じである必要はない。
【００６３】
ステップＳ４３２においては、コントローラ７０は、クロック信号発生回路６５に作動停止を指示する。クロック信号発生回路６５は作動を停止、すなわちＡ／Ｄ変換器６４へのクロック信号の出力を停止する。これにより、Ａ／Ｄ変換器６４は、アナログ再生信号の瞬時値のＡ／Ｄ変換を停止して、Ａ／Ｄ変換された再生ディジタルデータの外部記憶回路６６への出力も停止する。前記ステップＳ４３２の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ４３４にて、信号評価回路６７からの終了信号の入力を待つ。
【００６４】
前記再生信号評価ルーチンの実行中、信号評価回路６７は、図７の信号評価用データ生成プログラムを実行している。このプログラムの実行はステップＳ６００にて開始され、信号評価回路６７内のマイクロコンピュータ（以下、単にマイクロコンピュータという）は、ステップＳ６０２にて変数ｊを「１」に初期設定する。この変数ｊは、光ディスクＤＫの評価半径位置を指定するための変数である。
【００６５】
マイクロコンピュータは、ステップＳ６０４にて、外部記憶回路６６に、変数ｊによって指定される光ディスクＤＫの評価半径位置ｒ(ｊ)に関する１周分のデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の出力を指示する。この指示に応答して、外部記憶回路６６は、前記記憶データＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)を信号評価回路６７に出力する。マイクロコンピュータは、前記ステップＳ６０４にて、外部記憶回路６６から出力される記憶データＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)を内部メモリ６７ａに記憶する。そして、ステップＳ６０６にて、変数ｊによって指定される１周分の全てのデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)を入力したかを判定する。この場合、外部記憶回路６６に前記全てのデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)が用意されていなくて、前記全てのデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)が信号評価回路６７に入力されていなければ、マイクロコンピュータは、ステップＳ６０６にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ６２６に進む。ステップＳ６２６においては、マイクロコンピュータは、変数ｊが評価すべき半径位置数ｐよりも大きいかを判定する。この場合、変数ｊは最初「１」に設定されているので、マイクロコンピュータは、ステップＳ６２６にて「Ｎｏ」と判定して、ステップＳ６０４，Ｓ６０６，Ｓ６２６からなる循環処理を実行する。そして、前記全てのデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)が信号評価回路６７に入力された時点で、マイクロコンピュータは、ステップＳ６０６にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６０８以降の処理を実行する。
【００６６】
ステップＳ６０８においては、マイクロコンピュータは、前記入力記憶したデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の平均値を計算して、後述の２値化処理のために必要な基準レベルVrefを計算する。図８(ａ)は、データＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)により表される信号波形を示している。図８(ｂ)は、図８(ａ)の信号波形の時間軸方向の一部を取出して、時間軸方向に拡大して示している。なお、前記基準レベルVrefの計算においては、前記単純な平均値の計算に代え、全てのデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の度数分布を求め、度数分布が予め決めた小さな所定値よりも低くなる部分を除外し、データＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)のうちで前記所定値よりも度数分布が高いデータの平均値を計算するようにしてもよい。また、データＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)のうちで、前記度数分布が前記所定値近傍の値となる大小２組ずつのデータ（１ずつのデータ又は複数ずつのデータ）の平均値を計算するようにしてもよい。この変形例によれば、光ディスクＤＫ上の傷などにより、再生信号波形の瞬時値が極めて大きくなったり、小さくなったりする部分の影響をなくすことができる。また、前記入力記憶したデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)のうちの、最初の部分、中間の部分又は最後の部分の所定数個のデータの平均値を基準レベルVrefとして計算するようにしてもよい。さらには、前記入力記憶したデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)のうちで、所定数（例えば、５，１０個）おきのデータの平均値を基準レベルVrefとして計算するようにしてもよい。
【００６７】
次に、マイクロコンピュータは、ステップＳ６１０にて、正負のパルス状信号の信号長及びその振幅を計算して記憶する。正の信号長の計算においては、前記入力記憶したデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の値が、この順に基準レベルVrefを正側に超えてから、基準レベルVrefを負側に超えるまでの信号長（時間長）を順次計算する。負の信号長の計算においては、前記入力記憶したデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の値が、この順に基準レベルVrefを負側に超えてから、基準レベルVrefを正側に超えるまでの信号長（時間長）を順次計算する。そして、図８（ｃ）に示すように、正の信号長を出現順に信号長Ｗｐ(１，ｊ)，Ｗｐ(２，ｊ)，Ｗｐ(３，ｊ)・・・として内部メモリ６７ａに記憶するとともに、負の信号長を出現順に信号長Ｗｎ(１，ｊ)，Ｗｎ(２，ｊ)，Ｗｎ(３，ｊ)・・・として内部メモリ６７ａに記憶する。なお、この信号長の計算処理は、光ディスクＤＫに記録されたデータの再生において、再生信号（ＳＵＭ信号）を所定のスライスレベルでスライスして２値化信号を生成し、この２値化信号を正側と負側で複数の信号長のデータに変換する処理に相当する。
【００６８】
正の振幅の計算においては、前記正の信号長Ｗｐ(１，ｊ)，Ｗｐ(２，ｊ)，Ｗｐ(３，ｊ)・・・にそれぞれ含まれるデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の中から最大値を示すデータをそれぞれ抽出する。負の振幅の計算においては、前記負の信号長Ｗｎ(１，ｊ)，Ｗｎ(２，ｊ)，Ｗｎ(３，ｊ)・・・にそれぞれ含まれるデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の中から最小値を示すデータをそれぞれ抽出する。そして、これらの最大値及び最小値を示すデータを、前記信号長に対応させて、正の振幅Ｈｐ(１，ｊ)，Ｈｐ(２，ｊ)，Ｈｐ(３，ｊ)・・・として内部メモリ６７ａに記憶するとともに、負の振幅Ｈｎ(１，ｊ)，Ｈｎ(２，ｊ)，Ｈｎ(３，ｊ)・・・として内部メモリ６７ａに記憶する。また、このステップＳ６１０においては、マイクロコンピュータは、前記正の振幅Ｈｐ(１，ｊ)，Ｈｐ(２，ｊ)，Ｈｐ(３，ｊ)・・・及び前記負の振幅Ｈｎ(１，ｊ)，Ｈｎ(２，ｊ)，Ｈｎ(３，ｊ)・・・として採用したデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の順番（１，２・・ｎｊ）を、データ番号Ｎｐ(１，ｊ)，Ｎｐ(２，ｊ)，Ｎｐ(３，ｊ)・・・及びデータ番号Ｎｎ(１，ｊ)，Ｎｎ(２，ｊ)，Ｎｎ(３，ｊ)・・・として内部メモリ６７ａにそれぞれ記憶する。なお、図７のステップＳ６１０内においては、正側の信号長Ｗｐ、振幅Ｈｐ及びデータ番号Ｎｐの順番を変数ｓ（１，２，３・・・）で表し、負側の信号長Ｗｎ、振幅Ｈｎ及びデータ番号Ｎｎの順番を変数ｍ（１，２，３・・・）で表している。
【００６９】
なお、前記信号長Ｗｐ，Ｗｎの計算においては、ＣＤ、ＤＶＤにような光ディスクＤＫの場合には信号長の区別は高精度で行われるが、ブルーレイ・デクィスク(Blu−ray  Disk)、ＨＤ  ＤＶＤのような高密度記録の光ディスクＤＫの場合には、２Ｔ，３Ｔの信号長が極めて短くかつ振幅も小さいため、信号長の区別が必ずしも高精度で行われ得ないこともある。このような場合には、データＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)から、公知の手法であるＰＲ等化処理及びビタビ復号処理を用いて信号長を計算するとよい。このＰＲ等化処理及びビタビ復号処理に関しては、例えば特開２００６−１８８６６号公報に説明されている。
【００７０】
また、例えば特開２００７−０６６４１２号公報に示されているように、トリガレベルをクロスしてから最大値に達するまでの時間と振幅値から作成した分布から、信号長が短い２Ｔ，３Ｔ，４Ｔを区別するようにしてもよい。また、この場合、信号長の長い信号に関しては、スライスレベルをクロスしてから次にクロスするまでの幅から信号長を区別するとよい。ただし、この方法は、トリガレベルをクロスしない信号の信号長が判別できないので、判別ができなかった場合には、前後にある信号長が判別できた信号の波高値から信号長を判別する必要がある。なお、トリガレベルとは、前記基準レベルVrefと波高値（最大値及び最小値）との間に設定される中間レベルである。また、スライスレベルとは、トリガレベルよりも若干絶対値の大きな中間レベルである。
【００７１】
前記ステップＳ６１０の処理後、マイクロコンピュータは、ステップＳ６１２にてデータ番号Ｎｐ(ｓ，ｊ)に対応した回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｊ)（ｓ＝１，２，３・・・）及びデータ番号Ｎｎ(ｍ，ｊ)に対応した回転角度ＲＡｎ(ｍ，ｊ)（ｓ＝１，２，３・・・）を計算する。変数ｊによって指定される半径位置のデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)の数は、ｎj個である。また、前記半径位置のデータＤ(１，ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎｊ，ｊ)は、クロック信号発生回路６５からＡ／Ｄ変換器６４に入力するクロック信号の１周期ごとに取り込まれた、光ディスクＤＫの特定回転位置から１回転分のデータである。したがって、データ番号Ｎｐ(ｓ，ｊ)に対応した回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｊ)は、ラジアン単位では演算ＲＡｐ(ｓ，ｊ)＝２π・Ｎｐ(ｓ，ｊ)／ｎj（ｓ＝１，２，３・・・）により計算される。また、データ番号Ｎｎ(ｍ，ｊ)に対応した回転角度ＲＡｎ(ｍ，ｊ)は、ラジアン単位では演算ＲＡｎ(ｍ，ｊ)＝２π・Ｎｐ(ｍ，ｊ)／ｎj（ｍ＝１，２，３・・・）により計算される。このような演算によって計算された回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｊ)及び回転角度ＲＡｎ(ｍ，ｊ)は、光ディスクＤＫの特定回転位置からの回転角を表しており、これらの回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｊ)，ＲＡｎ(ｍ，ｊ)も内部メモリ６７ａに記憶される。
【００７２】
次に、マイクロコンピュータは、ステップＳ６１４にて、正側のデータ番号Ｎｐ(ｓ，ｊ)、振幅Ｈｐ(ｓ，ｊ)及び回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｊ)を、それらに対応する正側の信号長Ｗｐ(ｓ，ｊ)を用いて信号長（既定パルス幅）ごとに分類する。また、負側のデータ番号Ｎｎ(ｍ，ｊ)、振幅Ｈｎ(ｍ，ｊ)及び回転角度ＲＡｎ(ｍ，ｊ)を、それらに対応する負側の信号長Ｗｎ(ｍ，ｊ)を用いて信号長（既定パルス幅）ごとに分類する。この場合、光ディスクＤＫがＣＤであれば、信号長（既定パルス幅）の種類は３Ｔ〜１１Ｔである。光ディスクＤＫがＤＶＤであれば、信号長（既定パルス幅）の種類は３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔである。光ディスクＤＫがブルーレイ・ディスクであれば、信号長（既定パルス幅）の種類は２Ｔ〜８Ｔである。光ディスクＤＫがＨＤ  ＤＶＤであれば、信号長（既定パルス幅）の種類は２Ｔ〜１１Ｔである。前記分類においては、信号長Ｗｎ(ｍ，ｊ)，Ｗｎ(ｍ，ｊ)が最も近い既定の信号長である既定パルス幅に分類される。なお、光ディスクＤＫがブルーレイ・ディスク又はＨＤ  ＤＶＤであっても、信号長は前述した方法により高精度で計算されるので、信号長の分類には支障がなくなる。
【００７３】
そして、信号長（既定パルス幅）の種類を小さい側からｗ１，ｗ２・・・ｗmaxとすると、正側のデータ番号Ｎｐ(ｓ，ｊ)、振幅Ｈｐ(ｓ，ｊ)及び回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｊ)に関して、データ番号Ｎｐ(ｓ，ｗ１，ｊ)〜Ｎｐ(ｓ，ｗmax，ｊ)、振幅Ｈｐ(ｓ，ｗ１，ｊ)〜Ｈｐ(ｓ，ｗmax，ｊ)及び回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｗ１，ｊ)〜ＲＡｐ(ｓ，ｗmax，ｊ)のように分類されたデータが生成され、内部メモリ６７ａに記憶される。また、負側のデータ番号Ｎｎ(ｍ，ｊ)
、振幅Ｈｎ(ｍ，ｊ)及び回転角度ＲＡｎ(ｍ，ｊ)に関して、データ番号Ｎｎ(ｍ，ｗ１，ｊ)〜Ｎｎ(ｍ，ｗmax，ｊ)、振幅Ｈｎ(ｍ，ｗ１，ｊ)〜Ｈｎ(ｍ，ｗmax，ｊ)及び回転角度ＲＡｎ(ｍ，ｗ１，ｊ)〜ＲＡｎ(ｍ，ｗmax，ｊ)のように分類されたデータが生成され、内部メモリ６７ａに記憶される。但し、変数ｓ，ｍは、それぞれ１，２，３・・・を示す。また、変数ｊは、評価半径位置を表している。
【００７４】
その結果、内部メモリ６７ａには、第ｊ番目の評価半径位置に関して、下記表１に示す分類された正の信号に関するデータからなるテーブルが形成される。
【表１】
0004835633.tif 000002
【００７５】
また、内部メモリ６７ａには、第ｊ番目の評価半径位置に関して、下記表２に示す分類された負の信号に関するデータからなるテーブルが形成される。
【表２】
0004835633.tif 000003
【００７６】
前記ステップＳ６１４の処理後、マイクロコンピュータは、ステップＳ６１６にて、前記分類した正側の振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)の平均値AveHp(ｗｋ，ｊ)及び負側の振幅Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)の平均値AveHn(ｗｋ，ｊ)を、信号長（既定パルス幅）ごとにそれぞれ計算して内部メモリ６７ａに記憶しておく。ただし、変数ｗｋは、値ｗ１，ｗ２・・・ｗmaxのいずれかを表すもので、複数の信号長（既定パルス幅）にそれぞれ対応する。また、変数ｊは、値１，２・・・ｐのいずれかを表すもので、複数の評価半径位置にそれぞれ対応する。
【００７７】
次に、マイクロコンピュータは、ステップＳ６１８にて、前記分類した正側の振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)の最大値maxHp(ｗｋ，ｊ)及び最小値minHp(ｗｋ，ｊ)を、信号長（既定パルス幅）ごとにそれぞれ計算して内部メモリ６７ａに記憶しておく。また、前記分類した負側の振幅Ｈｎ(ｓ，ｗｋ，ｊ)の最大値maxHn(ｗｋ，ｊ)及び最小値minHn(ｗｋ，ｊ)を、信号長（既定パルス幅）ごとにそれぞれ計算して内部メモリ６７ａに記憶しておく。ただし、最大値maxHn(ｗｋ，ｊ)及び最小値minHn(ｗｋ，ｊ)は、負の絶対値が最大な値及び最小な値である。また、この場合も、変数ｗｋは、値ｗ１，ｗ２・・・ｗmaxのいずれかを表すもので、複数の信号長（既定パルス幅）にそれぞれ対応する。また、変数ｊも、値１，２・・・ｐのいずれかを表すもので、複数の評価半径位置にそれぞれ対応する。
【００７８】
次に、マイクロコンピュータは、ステップＳ６２０にて、前記分類した正側の振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)及び負側の振幅Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)に基づいて、各振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)，Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)に対応した色データCrp(ｓ，ｗｋ，ｊ)，Crn(ｍ，ｗｋ，ｊ)をそれぞれ計算する。すなわち、振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)，Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)を、その大きさに応じて異なる色に割り当てる。これは、振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)，Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)の大きさを色別に表示するためである。ただし、この場合も、変数ｓ，ｍは、それぞれ値１，２，３・・・のいずれかを表す。変数ｗｋは、値ｗ１，ｗ２・・・ｗmaxのいずれかを表す。変数ｊは、値１，２・・・ｐのいずれかを表す。
【００７９】
このステップＳ６２０の色データの計算について具体的に説明すると、信号長ｗｋ（ｋ＝１，２・・・max）ごとに、正側及び負側の振幅の平均値AveHp(ｗｋ，ｊ)，AveHn(ｗｋ，ｊ)の差に所定数αを乗算した値Ｖ（＝α・{AveHp(ｗｋ，ｊ)−AveHn(ｗｋ，ｊ)}）を計算する。この場合、αは例えば０．１程度の小さな値であり、平均値AveHn(ｗｋ，ｊ)はAveHp(ｗｋ，ｊ)より小さいので、値Ｖは両平均値AveHp(ｗｋ，ｊ)，AveHn(ｗｋ，ｊ)間の差の１０分の１程度の値を示す。次に、正側の振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)（但し、ｓ＝１，２，３・・・、ｗｋ＝ｗ１，ｗ２・・・ｗmax、ｊ＝１，２・・・ｐ）のそれぞれに対して、下記表３に示す複数の不等式を適用することにより、該当する不等式に対応させて振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)を分類して、各不等式に対応した下記表３の右側に示す色を振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)にそれぞれ割り当てる。
【００８０】
【表３】
0004835633.tif 000004
前記割り当て後、マイクロコンピュータは、振幅Ｈｐ(ｓ，ｗｋ，ｊ)にそれぞれ対応させた正側の色データCrp(ｓ，ｗｋ，ｊ)に、前記割り当てた白、青、黄、桃及び赤のいずれかを表す色コードをそれぞれ設定して、内部メモリ６７ａに記憶する。
【００８１】
次に、負側の振幅Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)（但し、ｍ＝１，２，３・・・、ｗｋ＝ｗ１，ｗ２・・・ｗmax、ｊ＝１，２・・・ｐ）のそれぞれに対して、下記表４に示す複数の不等式を適用することにより、該当する不等式に対応させて振幅Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)を分類して、各不等式に対応した下記表４の右側に示す色を振幅Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)にそれぞれ割り当てる。
【表４】
0004835633.tif 000005
前記割り当て後、マイクロコンピュータは、振幅Ｈｎ(ｍ，ｗｋ，ｊ)にそれぞれ対応させた負側の色データCrp(ｍ，ｗｋ，ｊ)に、前記割り当てた白、青、黄、桃及び赤のいずれかを表す色コードをそれぞれ設定して、内部メモリ６７ａに記憶する。
【００８２】
その結果、前記表1に示す正側のデータ番号Ｎｐ(ｓ，ｗ１，ｊ)〜Ｎｐ(ｓ，ｗmax，ｊ)、振幅Ｈｐ(ｓ，ｗ１，ｊ)〜Ｈｐ(ｓ，ｗmax，ｊ)及び回転角度ＲＡｐ(ｓ，ｗ１，ｊ)〜ＲＡｐ(ｓ，ｗmax，ｊ)に加えて、下記表５に示す正側の色データCrp(ｓ，ｗｋ，ｊ)が内部メモリ６７ａに追加される。
【表５】
0004835633.tif 000006
【００８３】
また、前記表２に示す負側のデータ番号Ｎｎ(ｍ，ｗ１，ｊ)〜Ｎｎ(ｍ，ｗmax，ｊ)、振幅Ｈｎ(ｍ，ｗ１，ｊ)〜Ｈｎ(ｍ，ｗmax，ｊ)及び回転角度ＲＡｎ(ｍ，ｗ１，ｊ)〜ＲＡｎ(ｍ，ｗmax，ｊ)に加えて、下記表６に示す負側の色データCrn(ｍ，ｗｋ，ｊ)が内部メモリ６７ａに追加される。
【表６】
0004835633.tif 000007
【００８４】
なお、前記色データCrp(ｓ，ｗｋ，ｊ)，Crn(ｍ，ｗｋ，ｊ)の割り当てにおいては、白、青、黄、桃及び赤を用いたが他の色を用いてもよい。また、色を異ならせるのに代えて、又は加えて、異なる明度（例えば、パーソナルコンピュータ画面の０〜２５５段階の明度）を割り当ててもよい。さらに、色彩又は明度を異ならせるのに代えて、又は加えて、異なる模様を割り当ててもよい。さらに、前記実施形態では、振幅Ｈｐ(ｓ，ｗ１，ｊ)，Ｈｎ(ｍ，ｗ１，ｊ)を５段階に振り分けたが、さらに多くの段階又は少ない段階に振り分けてもよい。この場合、振り分けの段階数に応じて、色、明度又は模様の数を異ならせるとよい。
【００８５】
次に、マイクロコンピュータは、ステップＳ６２２にて、信号長ｗｋが最小の信号長ｗ１に関する正側及び負側の振幅平均値AveHp(ｗ１，ｊ)，AveHn(ｗ１，ｊ)と、信号長ｗｋが最大の信号長ｗmaxに関する正側及び負側の振幅平均値AveHp(ｗmax，ｊ)，AveHn(ｗmax，ｊ)とを用いて、評価値ＨＹ(１，ｊ)，ＨＹ(２，ｊ)，ＨＹ(３，ｊ)をそれぞれ計算する。なお、変数ｊ（１，２・・・ｐ）は、評価半径位置を表す。具体的には、最大信号長ｗmaxの正側の振幅平均値AveHp(ｗmax，ｊ)に対する、最大信号長ｗmaxにおける正側の振幅平均値AveHp(ｗmax，ｊ)と負側の振幅平均値AveHn(ｗmax，ｊ)との差（すなわち距離）AveHp(ｗmax，ｊ)−AveHn(ｗmax，ｊ)の比を、下記数１に従って評価値ＨＹ(１，ｊ)として計算するとともに、内部メモリ６７ａに記憶する。これは、最大信号長ｗmaxにおける正側の振幅平均値AveHp(ｗmax，ｊ)と、負側の振幅平均値AveHn(ｗmax，ｊ)の差を評価する値であり、値が大きいほど信号の変化が大きいことを示している。
【数１】
0004835633.tif 000008
【００８６】
また、最大信号長ｗmaxにおける正側の振幅平均値AveHp(ｗmax，ｊ)と負側の振幅平均値AveHn(ｗmax，ｊ)との差（すなわち距離）AveHp(ｗmax，ｊ)−AveHn(ｗmax，ｊ)に対する、最小信号長ｗ１における正側の振幅平均値AveHp(ｗ１，ｊ)と負側の振幅平均値AveHn(ｗ１，ｊ)との差（すなわち距離）AveHp(ｗ１，ｊ)−AveHn(ｗ１，ｊ)の比を、下記数２に従って評価値ＨＹ(２，ｊ)として計算するとともに、内部メモリ６７ａに記憶する。これは、最小信号長ｗ１における正側と負側の振幅間距離の、最大信号長ｗmaxにおける正側と負側の振幅間距離に対する割合を評価する値であり、値が大きいほど、最大信号長の振幅と最小信号長の振幅との差が小さいことを示している。なお、この評価値は、一般的に変調振幅と呼ばれるものである。
【数２】
0004835633.tif 000009
【００８７】
また、最大信号長ｗmaxにおける正側の振幅平均値AveHp(ｗmax，ｊ)と負側の振幅平均値AveHn(ｗmax，ｊ)との差（すなわち距離）AveHp(ｗmax，ｊ)−AveHn(ｗmax，ｊ)に対する、最大信号長ｗmaxにおける正側の振幅平均値AveHp(ｗmax，ｊ)と負側の振幅平均値AveHn(ｗmax，ｊ)の中央値{AveHp(ｗmax，ｊ)＋AveHn(ｗmax，ｊ)}／２と、最小信号長ｗ１における正側の振幅平均値AveHp(ｗ１，ｊ)と負側の振幅平均値AveHn(ｗ１，ｊ)の中央値{AveHp(ｗ１，ｊ)＋AveHn(ｗ１，ｊ)}／２との差の比を、下記数３に従って評価値ＨＹ(３，ｊ)として計算するとともに、内部メモリ６７ａに記憶する。これは、最大信号長ｗmaxにおける正側と負側の振幅間距離と対比して、最小信号長ｗ１における正側と負側の振幅中央値と、最大信号長ｗmaxにおける正側と負側の振幅中央値のずれを表わすもので、両中央値が同じことを示す「０」が望ましい評価値である。なお、この評価値は、一般的にアシンメトリと呼ばれるものである。
【数３】
0004835633.tif 000010
【００８８】
さらに、マイクロコンピュータは、ステップＳ６２２にて、前記ステップＳ６１８の処理によって計算した正側の最大値maxHp(ｗｋ，ｊ)及び最小値minHp(ｗｋ，ｊ)を用いた下記数４の演算の実行により、最大値maxHp(ｗｋ，ｊ)に対する、最大値maxHp(ｗｋ，ｊ)と最小値minHp(ｗｋ，ｊ)との差maxHp(ｗｋ，ｊ)−minHp(ｗｋ，ｊ)の比を評価値ＨＹ(４，ｊ)として計算する。なお、この場合も、変数ｊ（１，２・・・ｐ）は、評価半径位置を表す。これは、正側における最大振幅値と最小振幅値とのずれを表わすもので、最大及び最小振幅値が同じであることを示す「０」が望ましい評価値である。
【数４】
0004835633.tif 000011
【００８９】
前記ステップＳ６２２の処理後、マイクロコンピュータは、ステップＳ６２４にて評価半径位置を表す変数ｊに「１」を加算して、ステップＳ６０４に戻る。そして、マイクロコンピュータは、ステップＳ６０４，Ｓ６０６，Ｓ６２６からなる循環処理により、変数ｊによって指定される１周分の全てのデータＤ(１,ｊ)，Ｄ(２，ｊ)・・Ｄ(ｎj，ｊ)を外部記憶回路６６から取り込んで内部メモリ６７ａに記憶した後、前述のステップＳ６０８〜Ｓ６２４からなる処理を実行し続ける。前記処理により、最大の評価半径位置に関する前記ステップＳ６０４〜Ｓ６２４の処理が終了して、変数ｊが最大の評価半径位置を越えた位置を表す値ｐ＋１に達すると、ステップＳ６２６にて「Ｙｅｓ」と判定して、ステップＳ６２８に進む。マイクロコンピュータは、ステップＳ６２８にて、信号評価データの生成処理を終了したことを表す終了信号をコントローラ７０に出力し、ステップＳ６３０にてこの信号評価用データ生成プログラムの実行を終了する。
【００９０】
ふたたび、図５の再生信号評価ルーチンの説明に戻ると、コントローラ７０は、ステップＳ４３４にて、信号評価回路６７からの終了信号に応答して、「Ｙｅｓ」と判定してステップＳ４３６に進む。ステップＳ４３６においては、コントローラ７０は、信号評価回路６７が信号評価用データ生成プログラムの実行により生成した全ての評価データを取り込んで、ＲＡＭ、ハードディスクなどの内部メモリに記憶する。次に、コントローラ７０は、ステップＳ４３８にて、外部記憶回路６６に記憶データのクリアを指示する。外部記憶回路６６は、記憶中の全てのデータをクリアする。前記ステップＳ４３６，Ｓ４３８の処理後、ステップＳ４４０のリターン処理により、コントローラ７０は、図２のステップＳ１１２の再生信号評価ルーチンの実行を終了する。
【００９１】
次に、コントローラ７０は、ステップＳ１１４にて、前記取込み記憶した評価データの表示処理を実行する。この表示処理においては、作業者は、入力装置７１を操作して、表示内容を指示することにより、評価データを用いた種々の内容が表示装置７２に表示される。次に、この表示装置７２による表示の具体例について説明する。
【００９２】
例えば、評価半径位置ｊ及び信号長ｗｋを指定して、正側の振幅値の表示を指定すると、コントローラ７０は、前記記憶した評価データの中から、評価半径位置ｊ及び信号長ｗｋに関するデータ番号Ｎｐ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｎｐ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｎｐ(３，ｗｋ，ｊ)・・・及び振幅値Ｈｐ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(３，ｗｋ，ｊ)・・・を抽出する。そして、コントローラ７０は、表示装置７２にて、データ番号Ｎｐ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｎｐ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｎｐ(３，ｗｋ，ｊ)・・・に対応した横軸上の位置に、振幅値Ｈｐ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(３，ｗｋ，ｊ)・・・を順次表示するとともに、各振幅値Ｈｐ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(３，ｗｋ，ｊ)・・・を曲線で繋げる。この場合、データ番号Ｎｐ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｎｐ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｎｐ(３，ｗｋ，ｊ)・・・は光ディスクＤＫの周方向の特定回転位置からの順番を表わすので、表示装置７２には、図９(ａ)に示すように、評価半径位置ｊ及び信号長ｗｋに関する特定回転位置からの１周分の正側の振幅値の変化が表示される。これにより、正側の振幅値の変化を視覚的に確認できるようになる。
【００９３】
また、この表示状態で、作業者が入力装置７１を用いて最大値及び最小値を指定すると、図９(ａ)の黒丸で示すように、コントローラ７０は、前記記憶した評価データの中から最大値maxHp(ｗｋ，ｊ)及び最小値minHp(ｗｋ，ｊ)を抽出し、前記振幅値Ｈｐ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｈｐ(３，ｗｋ，ｊ)・・・の中から、これらの最大値maxHp(ｗｋ，ｊ)及び最小値minHp(ｗｋ，ｊ)に等しい振幅値Ｈｐを見つけ出して、同振幅値Ｈｐの対応する位置にマーク（例えば、図９(ａ)の黒丸）を表示する。これにより振幅の最大値及び最小値の位置を視覚的に確認できるようになる。
【００９４】
さらに、負側の振幅値の表示が指定された場合には、コントローラ７０は、前記記憶した評価データの中から、評価半径位置ｊ及び信号長ｗｋに関するデータ番号Ｎｎ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｎｎ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｎｎ(３，ｗｋ，ｊ)・・・及び振幅値Ｈｎ(１，ｗｋ，ｊ)，Ｈｎ(２，ｗｋ，ｊ)，Ｈｎ(３，ｗｋ，ｊ)・・・を抽出して、正側の振幅値と同様に、曲線及びマークを表示装置７２に表示する。なお、この負側の振幅値に関しては、振幅値Ｈｎは負の値として表示される。これにより、負側の振幅値の変化を視覚的に確認できるようになる。
【００９５】
また、１つの評価半径位置ｊ及び複数の信号長ｗｋを指定して、正側及び負側の振幅値の表示を指定すると、コントローラ７０は、前記記憶した評価データの中から、評価半径位置ｊ及び複数の信号長ｗｋに対応した複数組のデータ番号Ｎｐ，Ｎn及び振幅値Ｈｐ，Ｈnを抽出する。そして、前記場合と同様に、指定した評価半径位置ｊの複数の信号長ｗｋに関する特定回転位置から１周分の正側及び負側の振幅値の変化が表示される。図９(ｂ)は、この複数の振幅値の変化の表示状態を示している。この表示状態で、作業者が入力装置７１を用いて平均値を指定すると、コントローラ７０は、前記記憶した評価データの中から平均値AveHp(ｗｋ，ｊ)，AveHn(ｗｋ，ｊ)を抽出する。そして、コントローラ７０は、図９(ｂ)に破線で示すように、前記振幅値の変化に平均値AveHp(ｗｋ，ｊ)，AveHn(ｗｋ，ｊ)を破線で加えて表示する。なお、この場合において、作業者が最小の信号長ｗ１と最大の信号長ｗmaxを指定すれば、変調振幅及びアシンメトリを視覚的に確認することができる。
【００９６】
また、このとき、前記評価半径位置ｊ及び複数の信号長ｗｋを指定するのに加えて、再生信号波形を同時に表示することを指定すれば、図９(ｂ)に図８(ａ)の再生信号波形が重ねて表示される。この場合、振幅の変化と、再生信号波形の表示色を異ならせるとよい。これによれば、信号長ごとの振幅の変化を再生信号波形と対比させて視覚的に確認できる。また、この場合も、最大値、最小値及び平均値を指定することにより、最大値、最小値及び平均値を再生信号波形と対比させて視覚的に確認できる。
【００９７】
また、複数の評価半径位置ｊ及び１つの信号長ｗｋを指定して、正側（又は負側）の振幅値の表示を指定すると、コントローラ７０は、前記記憶した評価データの中から、複数の評価半径位置ｊ及び１つの信号長ｗｋに関するデータ番号Ｎｐ（又はＮn）及び振幅値Ｈｐ（又はＨｎ）を抽出する。そして、コントローラ７０は、表示装置７２にて、図９(ｃ)に示すように、複数の評価半径位置ｊ及び１つの信号長ｗｋに関する特定回転位置から１周分の正側の振幅値の変化を表示する。この場合、評価半径位置ｊごとに、振幅値の表示色を異ならせるとよい。これによれば、複数の評価半径位置に関する振幅値の変化を視覚的に同時に確認できるようになる。
【００９８】
さらに、振幅の変化を光ディスクＤＫの盤面に対応させて２次元表示すなわちマップ表示させたい場合、作業者は、入力装置７１を用いて、信号長ｗｋと正側（又は負側）のマップ表示を指定する。この場合、コントローラ７０は、評価データの中から、回転角度ＲＡｐ(１，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｐ(２，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｐ(２，ｗｋ，ｊ)・・・及び色データCrp(１，ｗ１，ｊ)，Crp(２，ｗ１，ｊ)，Crp
(３，ｗ１，ｊ)・・・（又は回転角度ＲＡｎ(１，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｎ(２，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｎ(２，ｗｋ，ｊ)・・・及び色データCrn(１，ｗｋ，ｊ)，Crn(２，ｗｋ，ｊ)，Crn(３，ｗｋ，ｊ)・・・）を抽出する。この場合、変数ｊは、１，２・・・ｐの全ての値をとる。そして、コントローラ７０は、表示装置７２にて、変数ｊによって指定される評価半径位置及び回転角度ＲＡｐ(１，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｐ(２，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｐ(２，ｗｋ，ｊ)・・・（又は回転角度ＲＡｎ(１，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｎ(２，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｎ(２，ｗｋ，ｊ)・・・）により指定される光ディスクＤＫ上の位置を、色データCrp(１，ｗ１，ｊ)，Crp(２，ｗ１，ｊ)，Crp
(３，ｗ１，ｊ)・・・（又は色データCrn(１，ｗｋ，ｊ)，Crn(２，ｗｋ，ｊ)，Crn(３，ｗｋ，ｊ)・・・）により指定される色で着色表示する。この場合、評価半径位置ｊと両側の評価半径位置ｊ−１，ｊ＋１との各中間位置で挟まれた区間を評価半径位置ｊとし、回転角度ＲＡｐ(１，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｐ(２，ｗｋ，ｊ)，ＲＡｐ(２，ｗｋ，ｊ)・・・に関しても、回転角度ＲＡｐと両隣りの回転角度ＲＡｐとの各中間位置で挟まれた区間を１つの回転角度とすればよい。図１０は、このマップ表示状態を示す図である。これにより、光ディスクＤＫの盤面全体における信号長ごとの振幅の変化を視覚的に同時確認できる。
【００９９】
このような表示による光ディスクＤＫの視覚的な評価後、作業者が入力装置７１を用いて表示処理の終了を指示すると、コントローラ７０は、ステップＳ１１４の表示処理の実行を終了する。なお、前記評価データの表示処理に関しては、図２のメインプログラムを実行することなく単独で実行することも可能である。すなわち、評価データは、ＲＡＭ、ハードディスクなどの内部メモリに記憶されているので、作業者はこの記憶されている評価データを用いた前記表示処理をいつでも行って、光ディスクＤＫの評価を行うことができる。さらには、前記図７のステップＳ６２２で計算した評価値ＨＹ(１，ｊ)〜ＨＹ(４，ｊ)を前述の各種表示に加え又は単独で表示装置７２に表示するとよい。前記ステップＳ１１４の処理後、コントローラ７０は、ステップＳ１１４にて装置作動停止ルーチンを実行する。
【０１００】
この装置作動停止ルーチンは図６に詳細に示されており、その実行がステップＳ５００にて開始される。この実行開始後、コントローラ７０は、ステップＳ５０２にて、カウント回路２１の作動を停止させる。次に、コントローラ７０は、フォーカスサーボ回路５５、トラッキングサーボ回路５７、スレッドサーボ回路６０及びフィードモータ制御回路２３の作動停止を指示して、フォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御及びフィードモータ１２による光スポットの半径方向への移動を停止させる。次に、コントローラ７０は、ステップＳ５０６にてレーザ駆動回路４１の作動停止を指示して、レーザ光源３１からのレーザ光の出射を停止する。さらに、コントローラ７０は、ステップＳ５０８にてスピンドルモータ制御回路２２に作動停止を指示して、スピンドルモータ１１の回転も停止する。その後、コントローラ７０は、ステップＳ５１０のリターン処理により、図２のステップＳ１１６の装置作動停止ルーチンの実行を終了して、ステップＳ１１８にてメインプログラムの実行を終了する。
【０１０１】
上記の動作する実施形態によれば、振幅値の変動状態を信号長（既定パルス幅）ごとに視覚的に確認することができ、評価値だけでは分からない振幅値の変動状態を簡単に確認できて、光ディスクＤＫの再生信号を簡単かつ適切に評価できるようなる。
【０１０２】
以上、本発明の実施形態について詳しく説明したが、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変形も可能である。
【０１０３】
例えば、上記実施形態では、光ディスクＤＫに記録されているディジタルデータの中のアドレスデータから予め設定した特定アドレスを検出することにより、又は光ディスクＤＫのレーベル面ＬＢに設けた特定のマーク又は模様を検出することにより、光ディスクＤＫの特定回転位置を検出するようにした。しかし、これに代えて、光ディスクＤＫのバースト・カッティング・エリア（ＢＣＡ）にレーザ光を照射し、ＢＣＡからの反射光を受光してＢＣＡに記録されたデータ（すなわち、光ディスクＤＫの識別コード、具体的にはバーコードで記録されたＢＣＡコード）の特定位置を検出することにより、光ディスクＤＫの特定回転位置を検出するようにしてもよい。具体的には、ＢＣＡコードの開始位置又は終了位置を光ディスクＤＫの特定回転位置とすることができる。
【０１０４】
ＢＣＡコードの開始位置又は終了位置を特定回転位置として検出するには、具体的には次のように行う。パルス信号がハイレベルからローレベルに変化するごとに検出信号をコントローラ７０に出力する回路を設け、この回路に２値化回路６２が出力する２値化信号を入力させるようにする。そして、コントローラ７０は、検出信号が入力するごとに、カウント回路２１が出力するカウント値を順に取得するようにし、順に取得したカウント値の中で隣同士のカウント値の差が大きいカウント値をＢＣＡコードの終了位置及び開始位置のカウント値とする。これにより、ＢＣＡコードの開始位置又は終了位置を特定回転位置としたときのカウント値が取得される。
【０１０５】
また、上記実施形態においては、１つの半径位置ごとに光ディスクＤＫの１回転分のアナログ再生信号を取得するようにしたが、１つの半径位置ごとに光ディスクＤＫの複数回転分の再生信号を取得して、取得したデータを平均して光ディスクＤＫの１回転分のデータとするようにしてもよい。この場合、光ディスクＤＫが１回転するごとに、元の位置にトラックジャンプすることにより、複数回転分のデータを取得すればよい。これによれば、より高精度の波形表示を行えるとともに、高精度の評価値を取得できるようになる。
【０１０６】
また、上記実施形態では、複数の半径位置における再生信号を取得する際に、フォーカスサーボ、トラッキングサーボ及びスレッドサーボを停止して半径方向の移動を行うようにした。しかし、これに代えて、再生信号を取得する半径位置の間隔が短い場合には、トラックジャンプを繰り返して半径位置を変えるようにしてもよい。これによれば、光ディスクＤＫの検査に必要な時間を短縮することができる。
【０１０７】
また、上記実施形態では、光ディスクＤＫ（すなわち、ターンテーブル１３）を移動させることにより、光ディスクＤＫに対するレーザ光照射位置を光ディスクＤＫの半径方向に移動させるようにした。しかし、これに代えて、光ピックアップ装置３０を光ディスクＤＫの半径方向に移動させることにより、光ディスクＤＫに対するレーザ光照射位置を光ディスクＤＫの半径方向に移動させるようにしてもよい。
【０１０８】
また、上記実施形態においては、光ディスクＤＫの検査装置に本発明を適用するようにした。しかし、これに代えて、光ディスクＤＫに記録されたデータのアナログ再生信号を評価することにより、光ピックアップを評価する装置に本発明を適用するようにしてもよい。
【０１０９】
さらに、上記実施形態では、光ディスクＤＫのデータ記録部に記録されたディジタルデータのアナログ再生信号の評価に関して説明した。しかし、これに限らず、光ディスクＤＫのＢＣＡに記録されたＢＣＡコード（識別コード）の再生アナログ信号を評価する際にも、本発明は適用できる。この場合、ＢＣＡコードをアナログ再生して、このアナログ再生信号を上記実施形態と同様に所定のサンプリングレートでサンプリングするとともに、Ａ／Ｄ変換する。そして、このＡ／Ｄ変換されたディジタルデータを用いて、ＢＣＡコードのアナログ再生波形信号を表示装置７２に表示するようにすればよい。しかし、ＢＣＡコードのアナログ再生信号のパルス幅は大きく瞬時値が大きく変動するので、スムージング処理などの補正処理を施して、表示波形信号を滑らかにするとよい。また、このＢＣＡコードのアナログ再生信号波形においては、各パルス幅ごとに、上述した振幅値に相当する極大値及び極小値を求めて同時に表示するようにするとよい。この場合も、ＢＣＡコードのアナログ再生信号のパルス幅は大きく瞬時値の変動が大きいので、隣り合う極大値間の差及び隣り合う極小値間の差が小さい場合には、大きい方の極大値及び小さい方の極小値のみ採用して、各パルス状信号に対して１つの極大値及び極小値のみを表示するようにするとよい。
【図面の簡単な説明】
【０１１０】
【図１】本発明の一実施形態に係り、光ディスク検査装置の全体概略図である。
【図２】図１のコントローラによって実行されるメインプログラムを示すフローチャートである。
【図３】図２の装置作動開始ルーチンの詳細を示すフローチャートである。
【図４】図２のカウント値取り込みルーチンの詳細を示すフローチャートである。
【図５】図２の再生信号評価ルーチンの詳細を示すフローチャートである。
【図６】図２の装置作動停止ルーチンの詳細を示すフローチャートである。
【図７】図１の信号評価回路のマイクロコンピュータにより実行される信号評価用データ生成プログラムを示すフローチャートである。
【図８】（ａ）は評価半径位置における再生信号の波形図を示し、（ｂ）は前記再生信号波形における時間軸方向の一部を取出して時間軸方向に拡大して示す再生信号波形図であり、（ｃ）は（ｂ）の再生信号波形に信号長及び振幅を加えた再生信号波形図である。
【図９】(ａ)〜(ｃ)は、特定回転位置から１周分の振幅値の変化を示す図である。
【図１０】振幅値の変化を２次元マップ表示した例を示す図である。
【図１１】光ディスクの一例を示す概略平面図である。
【符号の説明】
【０１１１】
１１…スピンドルモータ、１２…フィードモータ、１３…ターンテーブル、２１…カウント回路、２４…半径位置検出回路、３０…光ピックアップ装置、５５…フォーカスサーボ回路、５７…トラッキングサーボ回路、６０…スレッドサーボ回路、６３…復号回路、６４…Ａ／Ｄ変換器、６５…クロック信号発生回路、６６…外部記憶回路、６７…信号評価回路、６８…光強度センサ、６９…特定位置検出回路、７０…コントローラ、７１…入力装置、７２…表示装置
【図１】
0004835633.tif 000012
【図２】
0004835633.tif 000013
【図３】
0004835633.tif 000014
【図４】
0004835633.tif 000015
【図５】
0004835633.tif 000016
【図６】
0004835633.tif 000017
【図７】
0004835633.tif 000018
【図８】
0004835633.tif 000019
【図９】
0004835633.tif 000020
【図１０】
0004835633.tif 000021
【図１１】
0004835633.tif 000022