(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法において、
前記マイクロプレートとして、所定の光学特性を有した物質からなり、かつ、少なくとも２つのポイントからなる標識が設けられたマイクロプレートを使用し、
前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像を前記撮像素子により検出し、
前記検出した投影像の状態に基づいて、前記各ウエルからの各光が成す各投影像の形成位置を認識する
ことを特徴とする光測定方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光測定方法において、
前記少なくとも２つのポイントからなる標識は、前記複数のウエルのうち少なくとも２つの所定のウエルに注入された試薬からなる
ことを特徴とする光測定方法。
【請求項３】
請求項２に記載の光測定方法において、
前記試薬は、前記各標本に注入されるべき標本測定用試薬とは異なる光学特性を有した試薬である
ことを特徴とする光測定方法。
【請求項４】
複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法であって、
前記撮像素子に対する前記マイクロプレートの位置を相対的にずらすことによって、前記ウエル形成面の複数の部分領域について個別に前記光学測定を行う光測定方法において、
前記マイクロプレートとして、所定の光学特性を有した物質からなり、かつ、少なくとも２つのポイントからなる標識が設けられたマイクロプレートを使用すると共に、前記各光学測定においては、それら少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像を前記撮像素子により検出し、
前記ウエル形成面全域の投影像を一画面として得るために、前記検出した前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像に基づいて、前記各光学測定において検出される、前記各部分領域の各投影像を位置合わせする
ことを特徴とする光測定方法。
【請求項５】
複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法において、
前記マイクロプレートとして、所定の光学特性を有した物質からなる少なくとも２つのポイントからなる標識であり、かつ前記光学測定に適用される測定条件の種類、前記マイクロプレートの種類の何れか一方又は双方からなる情報を示す少なくとも２つのポイントからなる標識が設けられたマイクロプレートを使用し、
前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像を前記撮像素子により検出することによって、前記情報を読み取る
ことを特徴とする光測定方法。
【請求項６】
請求項１〜請求項５の何れか１項に記載の光測定方法において、
前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像の一部又は全部の変化から、前記照明の状態変化を検出する
ことを特徴とする光測定方法。
【請求項７】
請求項１に記載の光測定方法に使用されるマイクロプレートであって、
前記複数のウエルの底部と同面に、前記少なくとも２つのポイントからなる標識が形成されている
ことを特徴とするマイクロプレート。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マイクロプレートの表面に形成される複数個のサンプル収容凹部（本明細書中では「ウエル」という。）内に収容された標本を測定する光測定方法、及びその光測定方法に使用されるマイクロプレートに関する。
【０００２】
【従来の技術】
標本の蛍光などの特性を測定する装置として、マイクロプレートを使用するものがある。マイクロプレートはその表面に標本を個別に収容するための複数個のウエルを有している。
マイクロプレートの各ウエルには、標本の他、標本と相互作用を起こす所定の試薬が滴下され、その相互作用により発生する蛍光や透過光の経時変化等を光学的に測定することにより、複数の標本の反応の様子が調べられる。
【０００３】
近年、取得すべき測定データが大量化されるのに伴い、マイクロプレート上に形成されるウエルの個数は、９６ウエル〜３８４ウエル、さらには１５３６ウエルと増加する傾向にある。マイクロプレートの外形寸法は、ウエルの個数に依らず１２７ｍｍ×８５ｍｍとほぼ統一されているので、ウエルの個数の増加に伴い、ウエルの大きさが細分化される。因みに、細分化により、１回の反応に必要な試薬と標本の量の節約が可能となりコスト低減にも繋がる。
【０００４】
現在は、３８４ウエルや１５３６ウエル等マイクロプレートが多く使われ始めている。それぞれのウエルの大きさは、３８４ウエルのマイクロプレートで直径４．５ｍｍ程度、１５３６ウエルのマイクロプレートになると直径１．５ｍｍと極めて小さくなる。
さて、このようなマイクロプレートを使い、全てのウエルからの光の経時変化を短時間で測定するためには、１２７ｍｍ×８５ｍｍのマイクロプレートの全体を覆うような口径の大きいレンズで一括に照明することが有効である（特開平１０−１９７４４９号公報）。
【０００５】
本明細書では、このようにマイクロプレート上の複数のウエルを含む広い範囲を一括に照明することによって、それら複数のウエルにそれぞれ収容された各標本を同時に測定する光測定を「一括型光測定」と称す。
また、一括型光測定の際には、ＣＣＤカメラの撮像面（例えば１００万ピクセル）上に各ウエルの縮小像が一括して投影される。
【０００６】
そして一括型光測定では、どこのウエルでどのような反応が生起したかを確認するために、各ウエルに番地を付与して管理する必要がある。
この際、９６ウエルのようにウエル数が少ないマイクロプレートについては、予め各ウエルの位置とＣＣＤカメラの各ピクセルの位置とを対応付けておけばよかった。
【０００７】
ここで、本明細書では、「ウエルの位置」という表現を、「ウエルの投影像の撮像面上における位置」の意味で使用する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ウエルが細分化されると、ＣＣＤカメラ上でのウエルの投影像の間隔も小さくなる。例えば、縮小倍率を１／１０とした場合、１５３６ウエルではウエルの間隔はおよそ１ｍｍであるから、そのウエルの投影像の間隔は０．１ｍｍとなる。
【０００９】
この場合、マイクロプレートが基準位置に対して少しでも斜めに配置されると、ウエルの間隔が狭いために、ＣＣＤカメラ上では、各ピクセルにそれぞれ対応づけられた各ウエルの位置に、異なるウエルの投影像が重なってしまう場合がある。
因みに、マイクロプレートが基準位置に対して１°斜めに傾いて配置されると、マイクロプレート上で最大２．２ｍｍずれ、ＣＣＤカメラ上で０．２２ｍｍずれが生じてしまう。この０．２２ｍｍのずれは、ウエルの投影像の間隔０．１ｍｍよりも大きいので、このときには、上記のような重なりが生じてしまう。この結果、各ウエルに正しい番地を付与することができなくなる。
【００１０】
このように従来は、ウエルが細分化すると、１つのマイクロプレートから得た各測定データを管理することが困難になる。
さらに、以上説明したように測定データが大量化される傾向にある光測定（特に一括型光測定）では、その測定が複数回に亘り、しかも各測定の反応条件や使用されるマイクロプレートの種類などが異なるような場合、測定データを測定の種類毎にも管理しなければならない。しかし、一般に、マイクロプレートにバーコードを付与する等の従来の管理方法は、専用のバーコードリーダを要するために、装置が大型化する等の問題を孕んでいる。
【００１１】
本発明は、以上の問題に鑑みてなされたもので、測定データの大量化に対応することのできる光測定方法、及びマイクロプレートを提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の光測定方法は、複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法において、前記マイクロプレートとして、所定の光学特性を有した物質からなり、かつ少なくとも２つのポイントからなる標識が設けられたマイクロプレートを使用し、前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像を前記撮像素子により検出し、前記検出した投影像の状態に基づいて、前記各ウエルからの各光が成す各投影像の形成位置を認識することを特徴とする。
【００１３】
このように、前記少なくとも２つのポイントからなる標識を利用して前記認識を行う結果、前記マイクロプレートの配置状態に依らず、前記光学測定により得た各測定データ（各ウエルからの各光が成す各投影像）を、確実にウエル毎に管理することが可能となる。しかも、上記認識のための手段として、前記光学測定において使用される前記撮像素子を利用しているので、効率的である。
【００１４】
なお、前記少なくとも２つのポイントからなる標識は、前記複数のウエルのうち少なくとも２つの所定のウエルに注入された試薬によって構成されてもよい。このようなマークは、従来のマイクロプレートに何ら変更を加えることなく、複数のウエルの一部に試薬を注入するだけの簡単な工程で設けることができる。
【００１５】
しかも、一般に試薬は所定の光学特性を有するので、その光学特性を利用すれば、前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像を確実に検出することができる。また、本発明を適用しないときには、その試薬を除去するだけで、マイクロプレートを従来と同様に使用することも可能である。すなわち、この光測定方法は、試薬を注入するだけの簡単な工程によって実現可能であり、また専用のマイクロプレートを使用する必要がない点で優れている。
【００１６】
また、前記試薬は、前記各標本に注入されるべき標本測定用試薬とは異なる光学特性を有した試薬であってもよい。この場合、少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像と、標本測定用試薬が注入されたウエルからの光が成す投影像とは、互いに異なる光学特性を有するので、仮に、少なくとも２つのポイントからなる標識として使用されるウエルが標本測定のために使用される各ウエルの中に混在していても、前記撮像素子によって確実に識別することができる。
【００１７】
この結果、少なくとも２つの点状マークとして使用すべきウエルの配置の仕方に自由度が増す。
【００１９】
本発明の別の光測定方法は、複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法であって、前記撮像素子に対する前記マイクロプレートの位置を相対的にずらすことによって、前記ウエル形成面の複数の部分領域について個別に前記光学測定を行う光測定方法において、前記マイクロプレートとして、所定の光学特性を有した物質からなり、かつ、少なくとも２つのポイントからなる標識が設けられたマイクロプレートを使用すると共に、前記各光学測定においては、それら少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像を前記撮像素子により検出し、前記ウエル形成面全域の投影像を一画面として得るために、前記検出した前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像に基づいて、前記各光学測定において検出される、前記各部分領域の各投影像を位置合わせすることを特徴とする。
【００２０】
このように、前記少なくとも２つのポイントからなる標識を利用することにより前記位置合わせを行う結果、各光学測定により得た各測定データ（各部分領域からの各光が成す各投影像）を、互いに繋ぎ合わせて一画面を構築し、管理することができる。しかも、上記位置合わせのための手段として、前記光学測定において使用される撮像素子を利用しているので、効率的である。
【００２１】
因みに、このようにマイクロプレートの部分領域毎に光学測定を行う光測定方法によると、光学系の小型化やマイクロプレートの大型化が可能である。
本発明の別の光測定方法は、複数のウエルを配置したマイクロプレートを照明し、そのマイクロプレートにおけるウエル形成面からの光が成す投影像を撮像素子にて検出することにより、各ウエルに収容された各標本を光学測定する光測定方法において、前記マイクロプレートとして、所定の光学特性を有した物質からなり、かつ、少なくとも２つのポイントからなる標識であり、かつ前記光学測定に適用される測定条件の種類、前記光学測定に適用されるマイクロプレートの種類の何れか一方又は双方からなる情報を示す少なくとも２つのポイントからなる標識が設けられたマイクロプレートを使用し、前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像を前記撮像素子により検出することによって、前記情報を読み取ることを特徴とする。
【００２２】
このように、前記少なくとも２つのポイントからなる標識を利用してマイクロプレートに対する前記情報の付与および読み取りを行う結果、光学測定が複数回に亘る場合にも、各光学測定で得た各測定データ（前記ウエル形成面からの光が成す投影像）を、各光学測定に適用された測定条件の種類、各光学測定に適用されたマイクロプレートの種類の何れか一方又は双方からなる情報（すなわち測定の種類を示す情報）に応じて管理することが可能となる。
【００２３】
なお、前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像の一部又は全部の変化から、前記照明の状態変化を検出してもよい。
【００２４】
すなわち、前記光学測定が複数回に亘る場合にも、前記少なくとも２つのポイントからなる標識を利用して、各測定間における照明の状態変化を得ることができる。したがって、各光学測定で得た各測定データ（前記ウエル形成面からの光が成す投影像）を、測定時の照明状態に応じて管理することが可能となる。
【００２５】
また、本発明のマイクロプレートは、本発明の光測定方法に使用されるマイクロプレートであって、前記複数のウエルの底部と同面に、前記少なくとも２つのポイントからなる標識が形成されていることを特徴とする。
【００２６】
この場合、ウエルの底面に焦点を合わせたときに、同時に少なくとも２つのポイントからなる標識にも焦点を合わせることができる。したがって、前記少なくとも２つのポイントからなる標識の投影像の検出を、前記光学測定と同一の焦点調節状態で実施することができる。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。
【００２８】
［第１実施形態］
先ず、図１，図２，図３，図４に基づいて本発明の第１実施形態について説明する。図１は、本実施形態の蛍光測定装置の概略構成図である。この蛍光測定装置は、マイクロプレート１を一括型に照明して測定する一括型光測定を行うための装置である。すなわち、マイクロプレート１を、その下面から光源１０により照明し、マイクロプレート１の各ウエルに注入された試薬からの蛍光を、レンズ３により集光し、ダイクロイックミラー７で波長選択し、結像レンズ６、及びフィルター８を介してＣＣＤカメラ９上に投影する。なお、このフィルター８は、試薬からの蛍光波長を検出するためのフィルタである。
【００２９】
図２は、本実施形態のマイクロプレート１を示す図である。
マイクロプレート１の構造は、従来のマイクロプレートと同様である。すなわち、マイクロプレート１上には、サンプル収容凹部であるウエル２４が複数形成されている。
但し、本実施形態では、マイクロプレート１の最右側ウエルの列については、２箇所のウエル２１，２２に位置認識のための蛍光を発する試薬が注入され（位置認識用ウエル）、それ以外のウエル２３は空となっている。
【００３０】
そして、右側から２列目以降のウエル２４のそれぞれに、標本が注入されると共に、その標本に反応する試薬（標本測定用試薬）が滴下されている。
つまり、本実施形態では、マイクロプレート１の最右側ウエルの列を標識として利用する。
なお、この標識では、空のウエル２３も利用しているので、位置認識用ウエル２１，２２に注入される試薬が標本測定用試薬と同じであっても、その空のウエル２３からの光を指標として、位置認識用ウエル２１，２２からの蛍光を他のウエル２４からの蛍光と識別することができる。
【００３１】
図３は、本実施形態の測定手順を示すフローチャートである。
本実施形態では、従来の測定と同様、マイクロプレート１を照明し（ステップＳ１）、各ウエルからの蛍光をＣＣＤカメラ９へ投影させ（ステップＳ２）、各ウエルの蛍光量を測定し（ステップＳ４）、各ウエルの蛍光量を解析する（ステップＳ５）。但し、本実施形態では、ステップＳ２の後段かつステップＳ４の前段に、以下のようなステップＳ３が挿入される。
【００３２】
ステップＳ３では、ステップＳ２の結果から、ＣＣＤカメラ９上の各ピクセルで位置を認識するために、蛍光を発する２箇所の位置認識用ウエル２１，２２の位置を認識し、その後、計算により各ウエルの位置を求める。
ここで、図４に基づいて、マイクロプレート４２（本実施形態ではマイクロプレート１）上の２箇所の位置認識用ウエルＡ，Ｂ（本実施形態では位置認識用ウエル２１，２２）を利用して、各ウエルの位置を検出するための計算を説明する。
【００３３】
なお、以下に説明する計算は、ＣＣＤカメラ９上に形成される標識の投影像の位置ずれ及び回転ずれに応じた座標変換を行い、各ウエルの位置を、ＣＣＤカメラ９上のピクセルの位置によって認識するための計算の一例である。
また、図４では、ホルダー４１に対してマイクロプレート４２が傾いて配置された様子を示した。以下では、このホルダー４１の位置を基準位置とする。
【００３４】
先ず、原点ＯG（０，０）、位置認識用ウエルＡの中心を点ＡG（Ｘ１G1，Ｙ１G1）、位置認識用ウエルＢの中心を点ＢG（Ｘ２G2，Ｙ２G2）、番地検出したいウエルＣの中心を点ＣG（ＸG，ＹG）とする。
次に、Ａ，Ｂの位置を基準とした、Ｃの相対的な位置を決める。このとき、点ＡGを絶対座標の原点ＯGとなるように変換（平行移動）し、Ａを基準としたマイクロプレート４２の傾きθ（すなわち図４に示すようなＡに対してＢが傾いている分θ）が垂直（すなわちθが０）となるように変換（回転）する。
【００３５】
点ＡGが原点ＯGとなるように変換すると点ＣGは点Ｃg（ＸG−Ｘ１G1，ＹG−Ｙ１G1）に変換される。因みに、点ＡGは点Ａg（０，０）へ、点ＢGは点Ｂg（Ｘ２G2−Ｘ１G1，Ｙ２G2−Ｙ１G1）へと変換される。
さらに、点Ｂgを点Ａgに対して垂直になるようにした位置を点Ｂggとし、直線ＡgＢgと直線ＡgＢggのなす角度をθとする。
【００３６】
Ｃはさらにθ回転（反時計回りを正とする）させたとき、以下のような変換式により点Ｃggの座標をＡ，Ｂを基準とした座標として求めることができる。
【数１】
0004622052.tif 000002
このような計算を各ウエルについておこなうと、マイクロプレート４２が基準位置に対して斜めに傾いて配置されても、各ウエルの位置を、ＣＣＤカメラ９上のピクセル位置の絶対座標から決めることができる。
【００３７】
なお、本実施形態では位置認識のための試薬を最右側列に入れた（図２参照）が、最左側列や中央列や最下段列や最上段列であってもよい。つまり、マイクロプレート１における標識の形成箇所は、予め分かっているのであれば、最右側列に限らず、最左列や中央列など如何なる箇所としてもよい。
［第２実施形態］
次に、図５，図６，図７，図８に基づいて本発明の第２実施形態について説明する。
【００３８】
図５は、本実施形態のマイクロプレート１を示す図である。
マイクロプレート１の構造は、従来や、第１実施形態のマイクロプレート１と同様である。
但し、本実施形態では、複数のウエル５１に、標本を注入すると共にその標本の反応を見るための標本測定用試薬Ａを滴下し、特定の２箇所のウエル（例えば最右側列のウエル５３，５２）にのみ、その標本測定用試薬Ａとは異なる波長の蛍光を発する標識用試薬Bを注入する。
【００３９】
つまり、本実施形態では、マイクロプレート１のうち標識用試薬Ｂの注入された２つの位置認識用ウエル５３，５４を標識として利用する。
なお、この標識には、標本測定用試薬Ａとは異なる光学特性を有した標識用試薬Ｂが使用されているので、空の状態のウエルを設けなくとも、位置認識用ウエル５３，５４を他のウエルから識別することができる。したがって、全てのウエルを無駄にすることなく有効に使うことができる。
【００４０】
図６は、本実施形態の蛍光測定装置の概略構成図である。
この蛍光測定装置は、図１に示す装置において、フィルター切り替え装置１２を備えたものに等しい。
フィルター切り替え装置１２は、標本測定用試薬Ａからの蛍光波長を取り出せるような測定用のフィルター８と、標識用試薬Ｂからの蛍光波長を取り出せるような標識検出用フィルター１１とを有し、これら２つのフィルターを選択的に光路に挿入することができる。
【００４１】
フィルター切り替え装置１２は、光路に挿入すべきフィルターを、標識を検出する時には標識検出用フィルター１１とし、各ウエルの反応を測定するときには測定用のフィルター８というように、適宜切り替える。
図７は、本実施形態の測定手順を示すフローチャートである。
本実施形態では、従来や上記第１実施形態と同様、マイクロプレート１を照明し（ステップＳ１）、各ウエルからの蛍光をＣＣＤカメラ９へ投影させ（ステップＳ２）、各ウエルの蛍光量を測定し（ステップＳ４）、各ウエルの蛍光量を解析する（ステップＳ５）。但し、ステップＳ１の前段には、測定用のフィルター８を光路に挿入する手順（ステップＳ２１）が挿入され、ステップＳ４の後段かつステップＳ５の前段には、ウエルの位置をＣＣＤカメラ９上のピクセル位置によって認識するためのウエル位置認識手順（ステップＳ２２〜ステップＳ２５）が挿入される。
【００４２】
ウエル位置認識手順では、測定用のフィルター８を光路から外して標識検出用フィルター１１を光路に挿入し（ステップ２２）、各ウエルの位置を計算により求めて番地を決定し（ステップＳ２３）、標識用試薬Ｂの位置を検出し（ステップＳ２４）、各ウエルの番地と蛍光量とを対応づける（ステップＳ２５）。
すなわち、このウエル位置認識手順は、ＣＣＤカメラ９上に形成される標識（ここではウエル最右列の位置認識用ウエル５３，５４）の投影像の位置ずれ及び回転ずれに応じた座標変換（例えば、上記第１実施形態において説明したような計算による座標変換）を行い、各ウエルの番地に、ステップＳ４において測定した各蛍光量を対応づけるものである。
【００４３】
［第１実施形態，第２実施形態の変形］
ここで、上記第１実施形態においては、上記マイクロプレート１に代えて、図８に示すマイクロプレートを使用してもよい。
このマイクロプレートは、ウエル形成領域の外側に、複数のくぼみ８１，８２，・・・が形成されたものである。これら複数のくぼみ８１，８２，・・・深さは何れも各ウエルと同じである。
【００４４】
このマイクロプレートを使用した測定では、複数のくぼみ８１，８２，・・・のうち２箇所（例えばくぼみ８１，８２）に、試薬が注入される。このとき、試薬の注入された２つのくぼみ８１，８２が標識を成す。
この標識を利用すれば、上記第１実施形態と同様の手順で各ウエルの番地を決めて正確な測定を行うことができる。
【００４５】
また、上記第２実施形態においても、上記マイクロプレート１に代えて、図８に示すマイクロプレートを使用してもよい。
このマイクロプレートを使用した測定では、複数のくぼみ８１，８２，・・・のうち２箇所（例えばくぼみ８１，８２）に、標識用試薬Ｂが注入される。このとき、標識用試薬Ｂの注入された２つのくぼみ８１，８２が標識を成す。
【００４６】
この標識を利用すれば、上記第２実施形態と同様の手順で各ウエルの番地を決めて正確な測定を行うことができる。また、上記各実施形態においては、標識として使用する２つのくぼみの間隔を、標本の濃度や試薬の濃度や反応条件の情報（すなわち測定の種類を示す情報）と対応させることもできる。
【００４７】
例えば、選択された２つのくぼみの間隔が「Ａ」という間隔であれば各ウエルに注入する試薬の濃度を「ａ」とする、というように予め決めておけば、標本の測定の種類の識別を可能とすることができる。
【００４８】
この情報の読み取りは、専用の読取装置を必要とせず、ＣＣＤカメラ９が、標識として使用する２つのくぼみからの各光が成す投影像の間隔を検出することによって、簡単に行われる。
この結果、測定データを測定の種類に応じて分類、比較（すなわち管理）することが可能になる。
【００４９】
なお、上記説明した標識は、必要に応じて、マイクロプレートの配置状態を示すための標識、測定の種類を示すための標識、の何れか一方のみとして利用しても構わない。
［第３実施形態］
次に、図６、図７、図９に基づいて本発明の第３実施形態について説明する。
【００５０】
図９は、本実施形態のマイクロプレート９１を示す図である。
本実施形態では、上記第２実施形態において、上記マイクロプレート１に代えて、このマイクロプレート９１を使用する。すなわち、図６に示す蛍光測定装置に、マイクロプレート１に代えてマイクロプレート９１を装着し、図７に示す手順で測定を行う。
【００５１】
但し、標識検出用フィルター１１として使用するのは、後述する蛍光物質９２からの蛍光を検出するためのフィルターである。
図９に示すように、マイクロプレート９１には、ウエル形成領域の外側の２箇所に、それぞれ蛍光を発する物質（蛍光物質）９２が予め形成されている。
２つの蛍光物質９２が形成される位置は、長方形をしたマイクロプレート９１の長い方の辺の外縁部から１．５ｍｍ程度内側の位置、かつウエルの底面と同面となる位置とされることが好ましい。
【００５２】
つまり、本実施形態では、マイクロプレート９１のうち２つの蛍光物質９２を標識として利用する。
なお、蛍光物質９２の位置を前記同面にすることで、ウエルの底面に蛍光測定装置の焦点を合わせたときに、同時に蛍光物質９２にも焦点を合わせることができ、図７における通常の測定手順（図７ステップＳ２１，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ４）の後、ウエル位置認識手順（図７ステップＳ２２〜Ｓ２５）において、焦点を合わせ直す手間及び時間を省くことができる。
【００５３】
なお、本実施形態では、２つの蛍光物質９２の形成位置の間隔を大きくとると、標識の投影像の回転ずれ（図４θ参照）を検出し易くなる。例えば、ウエルが細分化されたマイクロプレートを使用するときなど、高い精度が必要なときは、特にこの２つの蛍光物質９２の形成位置の間隔を大きくすることが好ましい。
また、蛍光物質９２はほとんど退色せず、発光強度が大きい機能性蛍光ガラス（例えば、（株）住田光学によるLUMILASS（商品名））を使うことが有効である。
【００５４】
ここで、“LUMILASS”は、紫外光による希土類イオンの蛍光が効率よく得られるフツリン酸ガラスを用いた、可視光の発光強度が大きい蛍光性ガラスである。可視光に変換される紫外光は２００〜４２０nmの広い波長域に亘る。また、微弱な紫外光でも十分な発光が得られる。
以上説明した本実施形態では、上記各実施形態と同様に、マイクロプレート９１が基準位置から傾いて配置されても、各ウエルの番地を正しく認識することができる。
【００５５】
なお、２つの蛍光物質９２の形成位置の間隔を、マイクロプレートの種類と対応させることによって、マイクロプレートの種別情報を予めマイクロプレートに付与することもできる。例えば、上記２つの蛍光物質９２の間隔がＡのときには９６ウエル、Ｂのときは３８４ウエル、Ｃのときは１５３６ウエルというように、マイクロプレートのウエル数を示す情報を予め組み込むことができる。
【００５６】
この情報の読み取りは、専用の読取装置を必要とせず、ＣＣＤカメラ９が、２つの蛍光物質９２からの各光が成す投影像の間隔を検出することによって、簡単に行われる。
この結果、多種類のマイクロプレートが混ざり得る状況下で複数の測定が行われても、後に測定データを、前記情報に応じて分類、比較（すなわち管理）することが可能となる。
【００５７】
［第１実施形態、第２実施形態、第３実施形態の変形例］
また、上記各実施形態においては、位置認識用ウエル内の試薬（第３実施形態では蛍光物質）から発せられる蛍光量をモニターすることで、マイクロプレート毎（測定毎）の照明強度のばらつき（電源パワーの変動による照明強度の時間方向のばらつき）を把握することができる。例えば、或る測定の際に位置認識用ウエル内の試薬からの蛍光量が多ければ、そのとき測定した各ウエルからの蛍光量に対し、そのばらつきによる誤差を除去するような換算を行うことできる。
【００５８】
例えば、各ウエルについて得た蛍光量から位置認識用ウエルについて得た蛍光量を減算するなどして、上記ばらつきによる誤差を除去することができる。
［第４実施形態］
次に、図１０，図１１に基づいて本発明の第４実施形態について説明する。図１０は、本実施形態の蛍光測定装置の概略構成図である。
【００５９】
この蛍光測定装置は、図６に示した蛍光測定装置において、マイクロプレート１１０（後述する）を移動させるステージ１０１が備えられたものである。
本実施形態では、マイクロプレート１１０が移動して、図１１のように左半分の検出範囲１１１と右半分の検出範囲１１２とのをそれぞれを一括で照明し、それぞれの測定が行われる。このとき、ＣＣＤカメラ９は、マイクロプレート１１０に対して、左右の２画面の投影像を取り込む。
【００６０】
因みに、このような蛍光測定によれば、光学系の小型化や、マイクロプレート１１０の大型化が可能である。
図１１は、本実施形態のマイクロプレート１０を示す図である。
マイクロプレート１１０の基本的な構造は、従来や、第１実施形態、第２実施形態のマイクロプレート１と同じである。
【００６１】
但し、本実施形態では、位置認識用ウエルが、上記範囲１１１、１１２の重複範囲内の２つのウエル１１３，１１４とされ、この位置認識用ウエル１１３，１１４に、標識用試薬Ｂが注入される。
そして、位置認識用ウエル１１３，１１４以外のウエルに標本と標本測定用試薬Ａとを注入する。
【００６２】
つまり、本実施形態では、マイクロプレート１０１のうち標識用試薬Ｂの注入された２つの位置認識用ウエル１１３，１１４を標識として利用する。
このようにすれば、前記したそれぞれの測定で得られる測定データ（ここでは、左右の２画面の投影像から得た蛍光量）を、この標識を使って容易に重ね合わせることができ、１つのマイクロプレート１１０の全域の各ウエルの蛍光量を、１画面として表示することができる。
【００６３】
さらにそれぞれの測定時に標識の一部又は全部（位置認識用ウエル１１３，位置認識用ウエル１１４の何れか一方又は送付尾）からの蛍光量とその他の各ウエルの蛍光量との比較データ（比、差分等）をとっておけば、両測定時の照明強度のばらつきを補正でき、１つのマイクロプレート１１０内で各ウエルの各蛍光量を適正に比較することができる。
【００６４】
［第５実施形態］
次に、図１２，図１３に基づいて本発明の第５実施形態について説明する。本実施形態は、従来と同じ測定を行うが、その測定に先だって、以下のような手順が実施される。すなわち、図１２に示すように、マイクロプレート１の各ウエルに標本や試薬を収容する前に、マイクロプレート１の全体を照明し、その反射光をＣＣＤカメラ９上に投影する。
【００６５】
この投影では、図１３に示すような像、すなわち、格子状の各ウエル間のすきまを認識できるような縮小投影像１３１をＣＣＤカメラ９による得ることができる。
この縮小投影像に基づけば、マイクロプレート１の配置状態を検知できるので、その検知した配置状態に基づいて各ウエルの番地を正確に付与することができる。
【００６６】
なお、本実施形態では、上記反射光のできるだけ多くをＣＣＤカメラ９で受光するために、上記投影のときには、フィルター８を光路から外しておく。このように、各ウエルのの番地が決定された後は、分注器１２１及びその駆動装置１２２によって、標本及び試薬を各ウエルに分注して、フィルター８を光路に挿入した状態で測定を行えば、各ウエル内の反応によって得られた蛍光量を各ウエルの番地と関連付けることができる。
【００６７】
すなわち本実施形態は、従来の光測定において、蛍光測定する前にマイクロプレート１を照明、投影する手順を付加し、マイクロプレート１に対して標識を設けることなく、各ウエルの位置を認識するものである。
［その他］
なお、上記各実施形態では、蛍光測定装置を使用した光測定方法を説明したが、それら光測定方法を自動的に行うための制御部を付加した蛍光測定装置を構成してもよい。
【００６８】
また、上記各実施形態では、マイクロプレートからの蛍光のうち特定の波長の蛍光を検出して測定する蛍光測定装置を説明したが、マイクロプレートにおける透過光や反射光の強度を検出する光測定装置など、如何なる種類の光を検出する装置にも、本発明は適用可能である。
また、上記各実施形態では、マイクロプレートの配置状態を示すための標識として、マイクロプレートの短手方向又は長手方向に配置された２つのポイント（２つの位置認識用ウエル、又は２つの蛍光物質）を使用しているが、これらのポイントは、マイクロプレート上における所定の方向であれば、例えば長手方向に対して４５°傾いた方向など、如何なる方向に配置されていてもよい。
【００６９】
また、上記各実施形態では、マイクロプレートの配置状態を示すための標識として、２つのポイント（２つの位置認識用ウエル、又は２つの蛍光物質）からなる標識を使用しているが、マイクロプレート上においてウエル形成面内の所定の二次元ベクトルを示す標識であれば、そのポイント数は２つ以上の如何なる数に代えてもよい。
【００７０】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、マイクロプレートの各ウエルから得た各測定データを確実に管理することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施形態の蛍光測定装置の概略構成図である。
【図２】第１実施形態のマイクロプレート１を示す図である。
【図３】第１実施形態の測定手順を示すフローチャートである。
【図４】座標変換を説明する図である。
【図５】第２実施形態のマイクロプレート１を示す図である。
【図６】第２実施形態の蛍光測定装置の概略構成図である。
【図７】第２実施形態の測定手順を示すフローチャートである。
【図８】第１実施形態又は第２実施形態に適用される別のマイクロプレートを説明する図である。
【図９】第３実施形態のマイクロプレート９１を示す図である。
【図１０】第４実施形態の蛍光測定装置の概略構成図である。
【図１１】第４実施形態のマイクロプレート１１０を示す図である。
【図１２】第５実施形態を説明する図である。
【図１３】第５実施形態において得られるマイクロプレートの縮小投影像を示す図である。
【符号の説明】
１，９１，４２，１１０  マイクロプレート
２  ガイドレール
３，４，５，６  レンズ
７  ダイクロイックミラー
８  フィルター
１１  標識検出用フィルター
９  ＣＣＤカメラ
１０  光源
１２  フィルター切り替え装置
４１  マイクロプレートホルダ
２４，５１  標本測定用試薬Ａが注入されたウエル
２１，２２  位置認識用ウエル（標本測定用試薬Ａが注入される）
５２，５３，８１，８２，１１３，１１４  標識用試薬Bが注入されたウエル（位置認識用ウエル）
８３  くぼみ
９２  蛍光物質
９３  投影レンズの検出範囲
１０１  ステージ
１１１  投影レンズの左半分の検出範囲
１１２  投影レンズの右半分の検出範囲
１２１  分注器
１２２  駆動装置
１３１  マイクロプレートの縮小投影図
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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