(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数個の渦流センサを走行する金属帯の幅方向に配置し、前記センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理工程を有する金属帯の渦流探傷方法において、
前記演算処理工程は、
（イ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、
前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えた出力のチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、この材料ノイズ判定部位を前記欠陥判定部位から除き、
（ロ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、
前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えた出力が出た場合は、該出力のチャンネルにおける前記（イ）の処理を行わないことを特徴とする金属帯の渦流探傷方法。
【請求項２】
複数個の渦流センサを走行する金属帯の幅方向に配置し、前記センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理工程を有する金属帯の渦流探傷方法において、
前記演算処理工程は、
（イ）金属帯の一定移動量ピッチ毎に、前記センサそれぞれの出力をＡ／Ｄ変換およびフィルタ処理した後、金属帯の所定長さ分だけ区間データとして収集する区間データサンプリング工程と、
（ロ）前記区間データと、あらかじめ設定された欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する欠陥判定部検出工程と、
（ハ）前記区間データと、前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えたデータのチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、
当該長手位置を起点とした、前記所定長さ内の、所定の前後材料ノイズ判定長さ内の全チャンネル部位を前記欠陥判定部位から除く欠陥判定部リジェクト工程と、
（ニ）前記区間データと、
前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えたデータが出た場合は、当該長手位置における前記欠陥判定部リジェクト工程の処理を行わない判定区間再演算工程と、
を有することを特徴とする金属帯の渦流探傷方法。
【請求項３】
走行する金属帯の幅方向に配置した複数個の渦流センサと、該センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理部とを有する金属帯の渦流探傷装置において、
前記演算処理部は、
（イ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、
前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えた出力のチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、この材料ノイズ判定部位を前記欠陥判定部位から除く欠陥判定部リジェクト手段と、
（ロ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、
前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えた出力が出た場合は、該出力のチャンネルにおける前記（イ）の処理を行わない判定区間再演算手段とを備えることを特徴とする金属帯の渦流探傷装置。
【請求項４】
走行する金属帯の幅方向に配置した複数個の渦流センサと、該センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理部とを有する金属帯の渦流探傷装置において、
前記演算処理部は、
（イ）金属帯の一定移動量ピッチ毎に、前記センサそれぞれの出力をＡ／Ｄ変換およびフィルタ処理した後、金属帯の所定長さ分だけ区間データとして収集する区間データサンプリング手段と、
（ロ）前記区間データと、あらかじめ設定された欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する欠陥判定部検出手段と、
（ハ）前記区間データと、前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えたデータのチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、
当該長手位置を起点とした、前記所定長さ内の、所定の前後材料ノイズ判定長さ内の全チャンネル部位を前記欠陥判定部位から除く欠陥判定部リジェクト手段と、
（ニ）前記区間データと、
前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えたデータが出た場合は、当該長手位置における前記欠陥判定部リジェクト手段の処理を行わない判定区間再演算手段と、
を備えることを特徴とする金属帯の渦流探傷装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導体である金属帯表層に存在する欠陥を高精度に検出する、金属帯の渦流探傷方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
導体である金属帯の表層に存在する欠陥を検出する方法として、渦流探傷法が広く使用されている。渦流探傷法は、励磁（１次）コイルにより導電体の表層に渦電流を発生させ、その渦電流によって検出（２次）コイルに発生する誘導電圧を検出することにより欠陥を検出するものである。金属帯の表面に欠陥があった場合には、渦電流の流れに変化が起き、それに伴って誘導電圧が変化するので、欠陥の検出が可能となる。このような渦流センサを、例えば鉄鋼製造プロセスにおける酸洗ラインへ適用し、後工程である冷間圧延ラインへ挿入する前にヘゲ欠陥を検出できれば、あらかじめヘゲ部を除去したり、ヘゲ混入情報を冷間圧延ラインへ伝達し、ヘゲ部について圧延ミルの開放などを行うことで、ヘゲ欠陥による板破断や圧延ロールへのダメージを未然に防ぐことが可能となる。
【０００３】
渦流探傷法に使用されるセンサとして、例えば、特許文献１に示すような、Ｅ型形状をしたセンサが開示されている。Ｅ型センサを使用した渦流探傷の原理を、図４に示す。図４において、１はセンサ、１ａは１次コイル、１ｂ、１ｃは２次コイル、２は金属帯(鋼帯)、３は欠陥をそれぞれ示す。ここで１次コイル１ａの両端１a１、１a２には交流電源が接続され、これによって鋼帯２には、矢印で示されるような渦電流が発生する。また、２次コイル１ｂ、１ｃは直列に差動接続されており、これら検出コイルに同じ向きでかつ大きさの等しい交流磁界が差交する場合には、お互いに打ち消し合うことで、検出コイル両端１ｂ１、１ｃ１間に誘起される起電力は０となる。
【０００４】
鋼帯に欠陥がないときは、２次コイル１ｂ、１ｃに発生する誘導電圧は同じであるため、差動接続された二つの２次コイルの誘導電圧の出力は、ほぼゼロになる。図４に示されるように、２次コイル１ｃの近傍にのみ欠陥３が存在する場合には、渦電流変化により二つの２次コイルに発生する誘導電圧に差が発生するので、両コイルの誘導電圧の差分がゼロでなくなり、差動接続された２つの２次コイルの両端には出力を生じる。結果として、図４の下図に示すように、上方に固定されたセンサの下方を欠陥３を有する金属帯２が矢印の方向へ移動したとき、位相検波後の出力は、センサ１の中心軸を中心としたサインカーブ状の波形を描くことで、欠陥の検出が可能となる。なお、ここでは１ａを１次コイル、１ｂ及び１ｃを２次コイルとしたが、逆にしても上記差分効果が得られるので、１ｂ及び１ｃを１次コイル、１ａを２次コイルとしても良い。
【０００５】
図６は、鉄鋼製造プロセスにおける酸洗ライン出側のブライドルロール上へ、幅方向へ３４ｍｍピッチで配列された前記Ｅ型渦流センサ群の下方を、幅約２０ｍｍのヘゲが通過した際の、ヘゲ直上付近センサチャンネルの出力信号をフィルタ処理した後の波形である（後にヘゲ信号の、幅方向特性について述べるため、センサ直上の左右２チャンネル（ＣＨ）分の波形についても図示し、ヘゲ直上ＣＨも含め合計５ＣＨ分〈(a)〜(e)〉図示している）。なお、フィルタ処理は、Ｓ／Ｎ向上させるため、ヘゲ信号周波数近傍の信号を取り出す処理である。
【０００６】
図６より、あらかじめ欠陥判定しきい値を正負に設け、これを超えたものについて欠陥判定するようにすることで、ヘゲ欠陥の検出が可能となる。
【特許文献１】特開平７−１１６７３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、酸洗ラインを流れる板の溶接部近傍は、上工程である熱間圧延ライン走行時に、ランナウトテーブルロール上をバウンドしながら通板されるため、材質荒れによる板幅方向に広く分布した材料ノイズが存在する。この材料ノイズは、有害ヘゲ欠陥による信号レベルに近接しているため、欠陥判定しきい値との比較のみでは、前記溶接部近傍材料ノイズのヘゲ欠陥への誤検出が発生する。
【０００８】
図７は、図６同様に、幅方向へ３４ｍｍピッチで配列された５６ＣＨのＥ型渦流センサのうち、２０、２５、３０、３５、および４０ＣＨの５ＣＨ分について、そのフィルタ処理後の溶接部近傍材料ノイズ波形を示す。このように、板幅方向に広い範囲で分布している溶接部近傍の材料ノイズ（矢印にて表示）は、ヘゲ欠陥信号レベル（図６）と比較して無視できないレベルにあるため、ヘゲ欠陥として誤判定してしまう。この溶接部近傍の材料ノイズによる過検出を抑制するため、溶接部近傍をマスク処理する方法があるが、ヘゲ欠陥はむしろ溶接部近傍に多く、よって溶接部近傍のマスク区間は極力小さい方が望ましい。
【０００９】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、溶接部近傍材料ノイズとヘゲ欠陥とを分離することができる金属帯の渦流探傷方法および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
発明者らはこの課題に対して検討を加えた結果、「ヘゲによる板幅信号分布は、図６に示すようにセンサ直下より外れると急激に減衰するのに対して、溶接部近傍材料ノイズによる信号分布は、図７に示すように板幅方向に広がりを持ったものとなる」という知見を得て、本発明に至った。
【００１１】
本発明の請求項１に係る発明は、複数個の渦流センサを走行する金属帯の幅方向に配置し、前記センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理工程を有する金属帯の渦流探傷方法において、前記演算処理工程は、（イ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えた出力のチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、この材料ノイズ判定部位を前記欠陥判定部位から除き、（ロ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えた出力が出た場合は、該出力のチャンネルにおける前記（イ）の処理を行わないことを特徴とする金属帯の渦流探傷方法である。
【００１２】
また本発明の請求項２に係る発明は、複数個の渦流センサを走行する金属帯の幅方向に配置し、前記センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理工程を有する金属帯の渦流探傷方法において、前記演算処理工程は、（イ）金属帯の一定移動量ピッチ毎に、前記センサそれぞれの出力をＡ／Ｄ変換およびフィルタ処理した後、金属帯の所定長さ分だけ区間データとして収集する区間データサンプリング工程と、（ロ）前記区間データと、あらかじめ設定された欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する欠陥判定部検出工程と、（ハ）前記区間データと、前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えたデータのチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、当該長手位置を起点とした、前記所定長さ内の、所定の前後材料ノイズ判定長さ内の全チャンネル部位を前記欠陥判定部位から除く欠陥判定部リジェクト工程と、（ニ）前記区間データと、前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えたデータが出た場合は、当該長手位置における前記欠陥判定部リジェクト工程の処理を行わない判定区間再演算工程と、を有することを特徴とする金属帯の渦流探傷方法である。
【００１３】
また本発明の請求項３に係る発明は、走行する金属帯の幅方向に配置した複数個の渦流センサと、該センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理部とを有する金属帯の渦流探傷装置において、前記演算処理部は、（イ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えた出力のチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、この材料ノイズ判定部位を前記欠陥判定部位から除く欠陥判定部リジェクト手段と、（ロ）前記フィルタ処理後のそれぞれの出力と、前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えた出力が出た場合は、該出力のチャンネルにおける前記（イ）の処理を行わない判定区間再演算手段とを備えることを特徴とする金属帯の渦流探傷装置である。
【００１４】
さらに本発明の請求項４に係る発明は、走行する金属帯の幅方向に配置した複数個の渦流センサと、該センサそれぞれの出力をフィルタ処理し、フィルタ処理後のそれぞれの出力と欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する演算処理部とを有する金属帯の渦流探傷装置において、前記演算処理部は、（イ）金属帯の一定移動量ピッチ毎に、前記センサそれぞれの出力をＡ／Ｄ変換およびフィルタ処理した後、金属帯の所定長さ分だけ区間データとして収集する区間データサンプリング手段と、（ロ）前記区間データと、あらかじめ設定された欠陥判定しきい値との比較により、欠陥判定部位を検出する欠陥判定部検出手段と、（ハ）前記区間データと、前記欠陥判定しきい値よりも低いレベルに設定された、材料ノイズ判定しきい値との比較を行い、該材料ノイズ判定しきい値を超えたデータのチャンネル数を幅方向にカウントし、そのカウント数があらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル数以上であれば、材料ノイズと判定し、当該長手位置を起点とした、前記所定長さ内の、所定の前後材料ノイズ判定長さ内の全チャンネル部位を前記欠陥判定部位から除く欠陥判定部リジェクト手段と、（ニ）前記区間データと、前記欠陥判定しきい値よりも、高いレベルに設定された第２の欠陥判定しきい値との比較を行い、該第２の欠陥判定しきい値を超えたデータが出た場合は、当該長手位置における前記欠陥判定部リジェクト手段の処理を行わない判定区間再演算手段と、を備えることを特徴とする金属帯の渦流探傷装置である。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、まず低いレベルにて設定された材料ノイズ判定しきい値による比較を行うことで、材料ノイズの輪郭抽出を行い、次に、しきい値を超えたチャンネルについて幅方向にカウントした個数に対し、あらかじめ設定された材料ノイズ判定チャンネル個数と比較することで、これを超えた場合には、ヘゲ欠陥でなく、材料ノイズであるという判定を行うとともに、
通常の欠陥判定しきい値よりも高いレベルで設定された第２の欠陥判定しきい値を有し、これを超えたものについては、前記材料ノイズ判定処理を行わないようにしたので、
信号レベルがヘゲ信号に近接していても、材料ノイズのヘゲ欠陥への誤検出を防止するとともに、巨大ヘゲ欠陥の見逃しの防止も可能となる。
【００１６】
また、所定長さ分だけ演算処理部へ全チャンネル分のデータを取り込み、各種演算処理をした上で、材料ノイズ判定しきい値超えチャンネル数をカウントし、所定長さ内で前記材料ノイズ判定チャンネル個数を超えた長手位置に対し、前後材料ノイズ判定長さ内の前後データについて、材料ノイズ判定処理するようにしたので、
幅方向に均一に存在しない材料ノイズであっても、ヘゲ欠陥への誤検出防止が可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明を実施するための最良の形態を、図面を参照しながら以下説明する。図１は、本発明に係る金属帯の渦流探傷装置の概要を説明する図である。図中、１はセンサ、４は渦流信号処理アンプ、５はＡ／Ｄ変換器、６は演算処理部、および７はラインＰＬＧをそれぞれ表す。
【００１８】
複数のＥ型渦流センサ１を、測定したい方向（例えば、板幅方向）に所定のピッチにて配列する。各々のセンサは、渦流信号処理アンプ４に接続されており、その渦流信号処理アンプ４からの出力信号は、Ａ／Ｄ変換器５を介して、演算処理部６に入力される。
【００１９】
演算処理部６へは、金属帯の移動をトラッキングするためのラインＰＬＧ７信号が入力され、所定の移動量ピッチ（例えば５ｍｍ）金属帯が進むごとに全チャンネルの渦流信号処理アンプ４出力信号を取り込む。続いて演算処理部６では、所定の処理長さ、例えば６４０ｍｍだけ金属帯が進んだところで、所定のフィルタ処理をソフト的に演算する。フィルタ処理は、欠陥周波数近傍の信号のみを取り出すことで、S/N向上させるためのものである。
【００２０】
図５は、金属帯として鋼帯を例に、その渦流探傷の様子を模式的に示した図である。前記Ｅ型渦流センサ１を、ロール上を走行する鋼帯２の幅方向に渡って所定のピッチにて複数個、かつ鋼帯２の上方所定の距離をおいて配列している。また、表裏面に前記Ｅ型渦流センサ１を配列すれば、鋼帯のばたつき影響も無く、鋼帯の全幅全長における欠陥の検出が可能となる。
【００２１】
図２は、本発明に係る演算処理の一例を説明するフローチャートである。ここでの処理は、図１の演算処理部６で行われるものであり、図２に基づいて、演算処理内容を詳説してゆく。
【００２２】
まず、Step01にて、(1)あらかじめ検出したいヘゲ欠陥レベルに合わせて設定する、欠陥判定しきい値Ａ、(2)欠陥判定しきい値よりも小さく、通常の地合レベルより高いレベルで、材料ノイズ輪郭を抽出するために設定する、材料ノイズ判定しきい値Ｂ、(3)欠陥判定しきい値よりも大きいレベルで設定する、第２の欠陥判定しきい値Ｃ、の３つのしきい値(Ａ〜Ｃ)について設定しておく。材料ノイズ判定しきい値Ｂ＜欠陥判定しきい値Ａ＜第２の欠陥判定しきい値Ｃという関係に設定するようにする。また、(4)材料ノイズ判定チャンネル個数Ｄ（例えば、全５６ＣＨの内の１０ＣＨなど）とともに、(5)前後材料ノイズ判定長さＥ（この場合、１００ｍｍ）を設定しておく。
【００２３】
次に、Step02にて、区間データサンプリングを行う。例えば、５ｍｍ金属帯が進むごとに全チャンネルの出力信号を取り込む作業を、１２８回行えば、６４０ｍｍだけ金属帯が進んだ区間全体のデータサンプリングが行える。
【００２４】
Step02の区間データサンプリングが終わった段階で、３つのしきい値(欠陥判定しきいＡ、材料ノイズ判定しきい値Ｂ、および第２の欠陥判定しきい値Ｃ)を用いた２値化処理の工程(Step03〜Step05)に、並列的に進む。
【００２５】
Step03では、先の区間データについて欠陥判定しきい値Ａとの比較を行い、２値化処理を行う。例えば、欠陥判定しきい値Ａより大きいデータ部分を黒くし、小さいデータ部分を白くする処理を行う。ここの処理は、これまでヘゲ欠陥の検出で行われてきたものである。
【００２６】
Step04では、Step03と同様に２値化処理を行うが、Step03との相異は、比較に用いるしきい値が、Step03で用いた欠陥判定しきい値Ａより小さい材料ノイズ判定しきい値Ｂを用いる点にある。これにより、欠陥判定しきい値よりも低いレベルで設定された材料ノイズしきい値に対する判定マップが得られる。そして、この処理に続くStep06にて、区間内の長手位置毎のしきい値超えCH数をカウントし、Step07の材料ノイズ判定区間演算にて、材料ノイズ判定区間が特定される。すなわち、Step07では、Step01で設定した、材料ノイズ判定チャンネル個数Ｄおよび前後材料ノイズ判定長さＥを用いて、材料ノイズ判定区間を演算する。これにより、信号レベルがヘゲ信号に近接していても、材料ノイズのヘゲ欠陥への誤検出防止が可能となる。また、前後材料ノイズ判定長さＥを設定するのは、材料ノイズはきっちり長手方向同一位置にて幅方向に存在するものでなく、材料ノイズが発生する境目では少数のチャンネルしか反応せず、前記材料ノイズ判定チャンネル個数に達せず、ヘゲ欠陥へ誤判定されたままになることを防止するためである。
【００２７】
ここまでの処理の様子を、図３の具体例を用いて説明する。図３は、鋼帯より２０ｍｍ上方に、板幅方向に３４ｍｍピッチにて配列した５６ＣＨのＥ型渦流センサからの信号処理の過程の一部を示したものであり、５ｍｍピッチで１２８回データを取り込んだ、６４０ｍｍをその判定区間としているものである。
【００２８】
先ず、図３（Ａ）は、Step03で溶接部近傍材料ノイズが、欠陥判定しきい値Ａ超えにより、２値化され（中央部、右側の黒点）て、欠陥として誤判定された状態を示している。
【００２９】
さらに、図３（Ｂ）は、欠陥判定しきい値Ａよりも低いレベルで設定された材料ノイズしきい値Ｂに対する判定マップ(Step04)であり、材料ノイズの輪郭部が抽出される。同図にて、前記材料ノイズしきい値Ｂを超えたチャンネル数を長手位置毎にカウントする(Step06)。そして、設定した材料ノイズ判定チャンネル個数Ｄの１０ＣＨに対し、図中の長手位置ａ〜ｄ(それぞれ１１、１３、１１、および１３ＣＨ)の位置でこれを超えることになり、各長手位置ａ〜ｄに対し、その前後１００ｍｍの区間を材料ノイズ判定区間とする(Step07)。そして、最終的に図３（Ｃ）に示すように、図３（Ａ）で表示された誤判定による欠陥判定部がマップ上より、リジェクト(Step09)される。
【００３０】
なお、図２の処理フローでは、Step05として第２の欠陥判定しきい値Ｃと比較して、これを超えるような極大信号が存在した場合には、当該長手位置については、前記材料ノイズ判定による欠陥判定部のリジェクト処理をしない処理(Step08)を行っている。これは、幅方向に大きいヘゲ欠陥を見逃すことを防止するためのものであり、幅方向に巨大なヘゲ欠陥は、その信号強度が極めて大きく、しきい値比較のみにより材料ノイズとの分離が容易である。
【００３１】
Step09までで一連の区間データについての演算処理は終了するが、更に他の区間データにより処理を継続する場合は、Step02の区間データサンプリングに戻り処理を継続する(Step10)。なお、Ａ〜Ｅのしきい値等を変更し、異なった判定基準で判定する場合は、改めてStep01の設定を行う。
【００３２】
以上説明した処理によって、溶接部前後等の材料ノイズによる欠陥への誤判定の防止および幅方向に大きいヘゲ欠陥の見逃し防止が可能となり、信頼性の高い渦流探傷が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明に係る金属帯の渦流探傷装置の概要を説明する図である。
【図２】本発明に係る演算処理の一例を説明するフローチャートである。
【図３】本発明による材料ノイズ判定処理内容を説明する図である。
【図４】Ｅ型渦流センサの動作原理を説明する図である。
【図５】鋼帯の渦流探傷の様子を模式的に示した図である。
【図６】ヘゲによる信号波形例を示した図である。
【図７】溶接部近傍材料ノイズによる信号波形例を示した図である。
【符号の説明】
【００３４】
１          センサ
１ａ        １次コイル
１ｂ、１ｃ  ２次コイル
２          金属帯(鋼帯)
３          欠陥
４          渦流信号処理アンプ
５          Ａ／Ｄ変換器
６          演算処理部
７          ラインＰＬＧ
【図２】
0004622742.tif 000002
【図３】
0004622742.tif 000003
【図６】
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【図７】
0004622742.tif 000005
【図１】
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【図４】
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【図５】
0004622742.tif 000008