(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ユーザ操作により移動する可動部材と、前記可動部材の移動方向に沿って配置される複数の検出電極とを有する操作部材と、
前記複数の検出電極を互いに隣接する検出電極が互いに異なる検出電極群に所属するように区分して構成される３つ以上の検出電極群のそれぞれについて静電容量を検出する静電容量検出手段と、
前記各検出電極群の静電容量に対して設定される基準値と閾値を記憶する記憶手段と、
前記静電容量検出手段により検出される各検出電極群の静電容量が、対応する前記基準値に対して対応する前記閾値以上又は以下に変化したかどうかにより前記可動部材の前記移動方向と前記移動量を判定する判定手段と、
所定タイミングにおける前記各検出電極群の静電容量により、前記記憶手段に記憶される所定の前記基準値を更新する更新手段と
を有し、
前記更新手段は、前記所定タイミングにおける前記各検出電極群の静電容量の内で最も小さい静電容量を示す検出電極群の前記基準値を、前記最も小さい静電容量の値で更新することを特徴とする電子機器。
【請求項２】
前記更新手段は、前記所定タイミングにおける前記各検出電極群の静電容量の内で最も大きい静電容量を示す検出電極群を除く検出電極群の前記基準値を、対応する検出電極群の静電容量の値で更新することを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記所定タイミングは、電源の接続を含むことを特徴とする請求項１または２に記載の電子機器。
【請求項４】
前記所定タイミングは、電源のオンであることを特徴とする請求項１または２に記載の電子機器。
【請求項５】
ユーザ操作によりリセットされるタイマを有し、
前記所定タイミングは、前記タイマが所定の時間を計時したタイミングを含むことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の電子機器。
【請求項６】
周囲の温度を測定する温度測定手段を有し、
前記所定タイミングは、前記温度測定手段が所定温度以上の変化を検出したタイミングを含むことを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の電子機器。
【請求項７】
前記可動部材の前記移動量をカウントするカウンタを有し、
前記所定タイミングは、前記カウンタが所定量をカウントしたタイミングを含むことを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の電子機器。
【請求項８】
前記可動部材が、ユーザ操作により回転する部材であることを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載の電子機器。
【請求項９】
前記可動部材が、ユーザ操作により直線的に移動する部材であることを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、静電容量検出方式の操作手段を有する電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ユーザのタッチ操作を検出することができるタッチパネルが種々な機器に検出装置として実装されている。タッチパネルの中でも、多点同時検出が容易な静電容量検出方式のタッチパネルが広く使われている。
【０００３】
特許文献１には、静電容量検出方式の検出装置が記載されている。特許文献１における検出装置では、複数の検出電極における静電容量の増減を検出することで操作点の移動方向を決定することができる。
【０００４】
静電容量検出方式の検出装置では、構成部品のガタつきや、経年劣化による検出電極間の静電容量の変化が問題となる。このような問題に対し、特許文献２では、静電容量の変化をゲインの調整で吸収する技術が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１３−３０１２１号公報
【特許文献２】特開２０１０−２８７３５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献２に記載される技術では、各電極の静電容量比から回転位相を算出している。そのため、操作中に構成部品がガタついた場合には正しい静電容量比を検出することができず、回転角度を適切に検出できない可能性がある。
【０００７】
そこで、本発明は、このような可能性を低減した電子機器を提示することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る電子機器は、ユーザ操作により移動する可動部材と、前記可動部材の移動方向に沿って配置される複数の検出電極とを有する操作部材と、前記複数の検出電極を互いに隣接する検出電極が互いに異なる検出電極群に所属するように区分して構成される３つ以上の検出電極群のそれぞれについて静電容量を検出する静電容量検出手段と、前記各検出電極群の静電容量に対して設定される基準値と閾値を記憶する記憶手段と、前記静電容量検出手段により検出される各検出電極群の静電容量が、対応する前記基準値に対して対応する前記閾値以上又は以下に変化したかどうかにより前記可動部材の前記移動方向と前記移動量を判定する判定手段と、所定タイミングにおける前記各検出電極群の静電容量により、前記記憶手段に記憶される所定の前記基準値を更新する更新手段とを有し、前記更新手段は、前記所定タイミングにおける前記各検出電極群の静電容量の内で最も小さい静電容量を示す検出電極群の前記基準値を、前記最も小さい静電容量の値で更新する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、構成部品がある程度ガタついた場合にも、適切に操作を検出することができる電子機器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施例１における電子機器の概略構成を説明するためのブロック図である。
【図２】実施例１における電子機器の外観を説明するための図である。
【図３】回転ダイヤルとして実装される操作部１４０の分解斜視図である。
【図４】検出電極と、静電容量を生成するための導体板の形状と、これらの配置関係とを説明するための図である。
【図５】静電容量検出と基準値更新とを説明するためのフローチャートである。
【図６】検出電極群ごとの静電容量の変化の一例を説明するための図である。
【図７】基準値を更新する動作の一例を説明するための図である。
【図８】実施例２における電子機器に実装された非回転操作部材を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して、本発明の実施例を説明する。
【実施例１】
【００１２】
図１は、実施例１における電子機器の概略構成を説明するためのブロック図である。図２は、実施例１における電子機器の外観を説明するための図である。実施例１における電子機器は、例えば、撮像装置である。撮像装置は、カメラとして動作することができる装置である。デジタルカメラ、カメラ付き携帯電話などは、撮像装置の一例である。
【００１３】
電子機器１００において、第１のメモリ１０１は、例えば、不揮発性メモリである。第１のメモリ１０１には、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）１５０がアクセスすることができ、ＣＰＵ１５０によって実行されるプログラムが格納されている。また、第１のメモリ１０１には、静電容量検出部１２０で用いられる基準値Ｋ１と閾値Ｋ２（所定の値）とが格納される。実施例１では、第１のメモリ１０１は、例えば、フラッシュメモリからなるが、その他のメモリを利用することもできる。
【００１４】
第２のメモリ１０２は、例えば、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）である。第２のメモリ１０２は、ＣＰＵ１５０がアクセスすることができ、ＣＰＵ１５０のワークメモリとして機能する。電子機器１００が有する撮像部によって生成された画像データ（静止画像、動画像のいずれでもよい）も、第２のメモリ１０２に格納される。ＣＰＵ１５０によって画像処理された画像データも、第２のメモリ１０２に格納される。
【００１５】
表示部１０３は、静止画像、動画像、メニュー等を表示可能な表示器として動作する。表示部１０３は、カメラ部１６０によって取り込まれたライブビュー画像を表示するビューファインダとしても使用される。表示部１０３に表示される静止画像、動画像、メニュー等は、ＣＰＵ１５０から供給される。
【００１６】
保持検出部１０４は、ユーザが電子機器１００を保持したことを検出し、検出結果をＣＰＵ１５０に通知することができる。図２では、電子機器１００のグリップ部に保持検出部１０４を配置しているが、これに限定されるものではなく、電子機器１００の任意の場所に配置してもよい。また、電子機器１００には、複数の保持検出部１０４を配置してもよい。保持検出部１０４は、例えば、静電容量センサ、フォトインタラプタ等のセンサＩＣで構成される。
【００１７】
電源部１０５は、電池及びＡＣアダプタと接続可能であり、ＤＣ−ＤＣコンバータ等を介して、電子機器１００の各構成要素に電力を供給する。電池及びＡＣアダプタは、何れも電源部１０５から取り外し可能である。
【００１８】
電源スイッチ（電源ＳＷ）１０６は、電子機器１００の電源部１０５をオンまたはオフにするためのスイッチである。電源ＳＷ１０６は、ＣＰＵ１５０に接続されている。図２では、電源ＳＷ１０６が、オン位置とオフ位置とを有する機械的スイッチである場合を示すが、電源ＳＷ１０６は、プッシュスイッチ、電気的スイッチ等で構成してもよい。電源ＳＷ１０６の状態がオフでは、電源部１０５に電池又はＡＣアダプタが接続されていても、電子機器１００は、低消費電力状態又は電源オフ状態になる。電源部１０５に電池又はＡＣアダプタが接続された状態で電源ＳＷ１０６の状態がオンにされると、電子機器１００の各構成要素に電力が供給される。その結果、電子機器１００は、通常状態又は電源オン状態となり、通常の動作が行える状態となる。但し、操作部１４０は、電源ＳＷ１０６の状態がオン及びオフのいずれであっても、操作できるように構成してもよい。
【００１９】
温度測定部１０７は、静電容量検出部１２０の周囲温度を測定し、測定結果をＣＰＵ１５０に通知することができる。温度測定部１０７は、例えば、温度センサＩＣ等で構成される。
【００２０】
ＣＰＵ１５０は、電子機器１００の各構成要素を統括的に制御するマイクロプロセッサを有する。ＣＰＵ１５０は、電子機器１００が撮像装置として動作するように電子機器１００の各構成要素を制御することができる。ＣＰＵ１５０は、詳細は後述するが、操作部１４０に対する操作検出結果に応じて、電子機器１００の動作モードを切り替え、表示部１０３の表示を更新することができる。
【００２１】
タイマ１５１は、継続的に動作し、所定の時間を計時するごとにＣＰＵ１５０に割り込みを発生させる。図１では、タイマ１５１がＣＰＵ１５０に内蔵されている場合を示すが、タイマ１５１はＣＰＵ１５０の外に配置してもよい。
【００２２】
カウンタ１５２は、操作部１４０に対する操作回数をカウントし、そのカウント値をＣＰＵ１５０に通知する。図１では、カウンタ１５２がＣＰＵ１５０に内蔵されている場合を示すが、カウンタ１５２はＣＰＵ１５０の外に配置してもよい。カウンタ１５２は、操作部１４０以外の操作部についての操作回数をカウントするように構成してもよい。
【００２３】
静電容量検出部１２０は、グランド電位（以下、ＧＮＤ電位）の導体３２０（図３参照）と検出電極群１３０ａとの間の静電容量を検出する。同様に、静電容量検出部１２０は、ＧＮＤ電位の導体３２０と検出電極群１３０ｂとの間の静電容量と、ＧＮＤ電位の導体３２０と検出電極群１３０ｃとの間の静電容量とを検出する。静電容量検出部１２０によって検出された検出電極群１３０ａ、１３０ｂ及び１３０ｃのそれぞれの静電容量は、ＣＰＵ１５０に通知される。図１では、静電容量検出部１２０がＣＰＵ１５０に接続されている場合を示すが、静電容量検出部１２０は、ＣＰＵ１５０に内蔵してもよい。或いは、静電容量検出部１２０は、ＣＰＵ１５０で実行されるプログラムとして実装することも可能である。ＣＰＵ１５０は、静電容量検出部１２０によって検出された検出電極群１３０ａ、１３０ｂ及び１３０ｃのそれぞれの静電容量に基づいて、ユーザの操作部１４０に対する操作を検出する。検出電極部１３０は、ＧＮＤ電位の導体３２０と対面するように同軸の円周上に配置される。
【００２４】
静電容量検出部１２０は、ＣＰＵ１５０によって任意の基準値と閾値（或いは所定値）とを設定可能である。静電容量検出部１２０は、検出電極部１３０で検出される静電容量が当該基準値に対して当該閾値（或いは当該所定値）以上又は以下になるとＣＰＵ１５０に対する割り込みを発生する。ＣＰＵ１５０は、任意のタイミングで検出電極部１３０の静電容量を静電容量検出部１２０からＣＰＵ１５０に出力させることができる。
【００２５】
検出電極部１３０に含まれる複数の検出電極は、検出電極群１３０ａ、検出電極群１３０ｂ及び検出電極群１３０ｃのいずれかに区分され、図４に示すように、円周上に１つずつ交互に配置される。各検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃに属する検出電極は、静電容量検出部１２０の同じ入力端子に接続する。静電容量検出部１２０は、検出電極群１３０ａに所属する複数の検出電極の静電容量を検出し、検出結果をＣＰＵ１５０に通知する。検出電極群１３０ｂ及び１３０ｃについても同様である。
【００２６】
操作部１４０は、電子機器１００の操作部である。図２のように、操作部１４０は回転ダイヤルとして実装されているが、回転ダイヤルに限定する必要はなく、スライダや他のダイヤル等の構成に適用可能である。操作部１４０は、電子機器１００のモード操作、測距点選択、画像再生選択及びメニュー操作等の様々な操作に適用される。
【００２７】
次に、図３を参照して、検出電極部１３０と操作部１４０との位置関係を説明する。図３は、回転ダイヤルとして実装される操作部１４０の分解斜視図である。
【００２８】
回転操作部材３００は、ユーザによって操作される操作部材である。リング３１０は、電子機器１００の筺体に固定されており、内周部分に凹凸形状を持つ。回転操作部材３００には、リング３１０の内周部の凹凸形状に接触するボールがリング３１０の内周方向にバネ付勢された状態で取り付けられている。ユーザが回転操作部材３００を回転操作すると、回転操作部材３００のボールがリング３１０の内周部の凹凸形状に接触しながら移動し、回転操作の抵抗が周期的に変化する。これにより、一定角度の操作ごとのクリック感をユーザに与えることができる。
【００２９】
導体３２０は、ＧＮＤ電位の導体（金属体）である。導体３２０は、ビス等により、電子機器１００の金属筺体部に固定され、静電容量検出部１２０のＧＮＤ電位と電気的に同電位にされている。切片部３２１は、回転導体板３３０をＧＮＤ電位にするための、導体３２０から延出する切片部であり、実施例１では１２０度おきに設置されている。実施例１では、導体３２０は、３つの切片部３２１により３点で回転導体板３３０に電気的及び物理的に接触するが、切片数と切片構造等は、図３に示す構成に限定されない。回転導体板３３０は、回転操作部材３００と一体になって回転する部材であり、ユーザ操作に応じて検出電極部１３０の並び方向に移動する可動部材の一例である。
【００３０】
検出電極部１３０は円形の基板３４０上の一定半径の円周上に原則一定ピッチで配置されている。
【００３１】
図３では、回転導体板３３０をＧＮＤ電位の導体３２０に接触させているが、この構成は任意に変更可能である。例えば、基板３４０上にＧＮＤパターンを配置し、このＧＮＤパターンをＧＮＤ電位の導体３２０の代替としてもよい。更には、例えば、回転導体板３３０の代わりに同じ形状の回転誘電体を設け、ＧＮＤ電位の導体３２０の切片部３２１を省略してもよい。
【００３２】
図４を参照して、回転導体板３３０の形状と検出電極部１３０の配置を説明する。図４（ａ）は検出電極部１３０の基板３４０上の配置を示す配置図である。図４（ｂ）は、回転導体板３３０の形状を示す平面図である。図４（ｃ）は、回転導体板３３０と検出電極部１３０とを重ねて示す平面図である。
【００３３】
図４（ａ）において、検出電極群１３０ａに属する複数の検出電極には「１」を付記し、検出電極群１３０ｂに属する複数の検出電極には「２」を付記し、検出電極群１３０ｃに属する複数の検出電極には「３」を付記してある。検出電極群１３０ａに属する複数の検出電極は、基板３４０上で結線され、静電容量検出部１２０の１つのポートに接続する。検出電極群１３０ｂに属する複数の検出電極及び検出電極群１３０ｃに属する複数の検出電極も同様である。図４（ａ）に示す配置例では、検出電極群１３０ａ、１３０ｂ及び１３０ｃはそれぞれ、円周方向に等角度で配置された８つの検出電極からなり、検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃに属する複数の検出電極が所定の順番に隣接して配置されている。図４では、トータルで２４個の検出電極部１３０が図示されているが、これは一例である。検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃのそれぞれに属する検出電極数も８個に限定されない。
【００３４】
図４（ｂ）に示すように、回転導体板３３０には、検出電極部１３０に対応する周上に、隣接する２つの検出電極を同時に導体３２０と対面可能にするサイズの空きスロット３３１を複数（図３及び図４では、８個）、均等角度で配置してある。この結果、回転導体板３３０を検出電極部１３０に重ねた状態で、図４（ｃ）に例示するように、２つの検出電極群１３０ｂ及び１３０ｃのそれぞれに属する検出電極が導体３２０に対面する状態をとりうる。この状態のとき、検出電極群１３０ａの検出電極が回転導体板３３０に対面する状態をとりうる。もちろん、２つの検出電極群１３０ａ及び１３０ｂのそれぞれに属する検出電極が導体３２０に対面する状態をとりうるとき、検出電極群１３０ｃの検出電極が回転導体板３３０に対面する状態をとりうる。更には、２つの検出電極群１３０ａ及び１３０ｃのそれぞれに属する検出電極が導体３２０に対面する状態をとりうるとき、検出電極群１３０ｂの検出電極が回転導体板３３０に対面する状態をとりうる。これらの状態で回転導体板３３０が安定又は静止するように、回転操作部材３００のリング３１０に対する係止位置を設定してある。各検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃが８つの並列に接続された検出電極からなるので、単一の検出電極からなる場合に比べ、静電容量の検出値が８倍になる。
【００３５】
実施例１では、電子機器１００の電池の接続（交換）に応じて、回転操作部材３００の回転操作を検出するための検出電極群１３０ｃの静電容量の基準値を更新する。閾値を基準値に応じて決定するので、閾値も更新することになる。図５は、その基準値更新を説明するためのフローチャートである。パワーオン時を含む任意のタイミングでＣＰＵ１５０が図５に示すのと同様の処理を実行するようにしてもよい。電池蓋開閉を検出するスイッチを設け、当該スイッチにより検出される電池蓋が閉じたタイミングに、図５に示すのと同様の処理を実行するようにしてもよい。更には、ＣＰＵ１５０のパワーマネージメントにより、スリープ状態から復帰したタイミングであってもよい。
【００３６】
ステップＳ５０１で、ＣＰＵ１５０は、静電容量検出部１２０を初期設定する。例えば、検出電極群１３０ａの数と、検出電極群１３０ｂの数と、検出電極群１３０ｃの数とを設定する。
【００３７】
ステップＳ５０２で、ＣＰＵ１５０は、第１のメモリ１０１から静電容量の基準値と閾値とを読み出し、静電容量検出部１２０に設定する。基準値と閾値との両方又は一方を、制御プログラム内に固定値として組み込み、他方を第１のメモリ１０１に格納してもよい。
【００３８】
ステップＳ５０３で、ＣＰＵ１５０は、静電容量検出部１２０のステータスを確認し、これにより、操作部１４０の回転位置（初期位相）を判定する。以後、ＣＰＵ１５０は、この判定された位置を基準に、検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃの、回転操作による静電容量の増加／減少により回転操作の方向と回転量とを判定する。
【００３９】
ステップＳ５０４で、ＣＰＵ１５０は、電源ＳＷ１０６のオン又はオフを判定し、オンを検出すると、回転操作部材３００の回転動作を検出するためにステップＳ５０５に移行する。電源ＳＷ１０６のオフ状態への移行を検出すると、ＣＰＵ１５０は、第１のメモリ１０１に記憶される各検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃの基準値を更新するためにステップＳ５０８に移行する。理解を容易にするために、図５に示すフローチャートではステップＳ５０４で電源ＳＷ１０６のオン又はオフ状態を検出又は判定しているが、電源ＳＷ１０６のオン又はオフ状態でＣＰＵ１５０に割込みをかけるようにしてもよい。
【００４０】
ステップＳ５０５で、ＣＰＵ１５０は、静電容量検出部１２０の出力による割込みの有無を判定する。静電容量検出部１２０は、検出電極群１３０ａ、１３０ｂ及び１３０ｃの静電容量とを定期的に測定しており、ステップＳ５０２で設定した基準値及び閾値に応じて基準値から閾値を上回る静電容量を検出した場合にＣＰＵ１５０に割込みをかける。
【００４１】
ステップＳ５０６は、ＣＰＵ１５０は、静電容量検出部１２０の割込みに応じて、静電容量検出部１２０のステータスを確認する。静電容量検出部１２０のステータスは、検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃのうちのどの検出電極群で基準値から閾値を上回る静電容量を検出されたかを示す情報を保持する。
【００４２】
ステップＳ５０７で、ＣＰＵ１５０は、ステップＳ５０６で確認したステータスから、回転操作部材３００の回転方向と量とを判定する。ＣＰＵ１５０は、判定した回転方向と量とから、ユーザが回転操作部材３００の操作で指定するモード等を決定し、表示部１０３の表示を更新する。
【００４３】
ステップＳ５０８で、ＣＰＵ１５０は、静電容量検出部１２０を介して検出電極群１３０ａの静電容量と、検出電極群１３０ｂの静電容量と、検出電極群１３０ｃの静電容量とを読み込む。
【００４４】
ステップＳ５０９で、ＣＰＵ１５０は、ステップＳ５０８で読み込んだ各検出電極群１３０ａ、１３０ｂ及び１３０ｃの静電容量を、第１のメモリ１０１に記憶されている対応する基準値と比較して差分を算出する。そして、ＣＰＵ１５０は、算出した差分値が最も小さくなる検出電極群の、第１のメモリ１０１に記憶される基準値を、測定された静電容量で置換する。この書き換えのために、第１のメモリ１０１の基準値を記憶する記憶素子を不揮発性メモリ（例えば、ＥＥＰＲＯＭ）とする。第２のメモリ１０２の一部を不揮発性メモリとし、この不揮発性メモリに変更された基準値を格納するようにしてもよい。
【００４５】
図５に示すフローチャートでは、電源ＳＷ１０６がオフ状態になると、基準値更新プロセスを開始するが、その他の所定タイミングで基準値更新プロセスを開始してもよい。例えば、ＣＰＵ１５０のパワーマネージメントによりスリープ状態へ遷移するタイミングで、第１のメモリ１０１の各検出電極の基準値を更新するようにしてもよい。
【００４６】
図６は、回転操作部材３００を回転操作したときの、検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃの静電容量の変化例を示す。先に説明したように、静電容量検出部１２０が、各検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃの静電容量を検出する。図５（ａ）は検出電極群１３０ａの静電容量の変化を示し、図５（ｂ）は検出電極群１３０ｂの静電容量の変化を示し、図５（ｃ）は検出電極群１３０ｃの静電容量の変化を示す。横軸は時間を示し、縦軸は静電容量検出部１２０が検出する静電容量を示す。
【００４７】
図７は、回転操作部材３００の複数の静止位置での、各検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃの静電容量を示す。回転操作部材３００がどの回転位置にあっても、図７に縦の破線で例示するように、検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃの内の少なくとも１つの静電容量が最小になる。すなわち、静電容量が最小になっている検出電極群の２値判別の閾値を適切に決定できることになる。閾値は、実施例１では基準値に所定値を加減算した値としているので、基準値を適切に決定することで、閾値を適切に決定できることになる。
【００４８】
また、回転操作部材３００のボールがリング３１０の内周の凹部に入り込む回転操作部材３００の静止位置では、検出電極群１３０ａ，１３０ｂ及び１３０ｃの内の１つの静電容量が大きく、残る２つの静電容量が小さくなる。この状況では、小さい静電容量になっている２つの検出電極群の基準値を決定でき、従って２つの検出電極群の閾値を決定できる。
【００４９】
図５に示す基準値更新処理（ステップＳ５０８，Ｓ５０９）により、実施例１では、検出された静電容量とその基準値との差分が最小になる検出電極群について、その基準値を、検出された静電容量で更新する。これにより、各検出電極群の基準値が最小の静電容量に鞘寄せすることになる。従って、静電容量検出部１２０は、測定された静電容量が基準値を閾値以上下回る場合を考慮する必要がなくなる。このような処理により、静電容量の経時変化に関わらず、また、回転操作部材３００を１周する間に静電容量がばらついたとしても、安定した２値判別を実現できる。
【００５０】
第１のメモリ１０１に初期に格納する各検出電極群の基準値は、設計段階で算出された値でも、工場出荷時に個体毎に測定された値でもよいことはいうまでもない。
【００５１】
ユーザが電子機器１００を手放したタイミングでは操作部１４０が動くことはないと考えられる。従って、保持検出部１０４の出力に従い、ユーザが電子機器１００を保持しなくなったタイミングで、基準値更新処理（ステップＳ５０８，Ｓ５０９）を起動してもよい。
【００５２】
タイマ１５１を使用して、所定の間隔で、基準値更新処理（ステップＳ５０８，Ｓ５０９）を起動してもよい。この場合には、ユーザの操作部１４０に対する操作を検出した場合、タイマ１５１をリセットする。これは、ユーザが操作部１４０を操作中に基準値を更新してしまうことを防ぐためである。
【００５３】
温度測定部１０７が所定温度以上の変化を検出した場合に、基準値更新処理（ステップＳ５０８，Ｓ５０９）を実行するようにしてもよい。ユーザが操作部１４０を操作中である場合には、基準値更新を延期するのが好ましい。ユーザが操作部１４０を操作中に基準値を更新すると、回転方向又は回転量の検出を失敗する可能性があるからである。
【００５４】
カウンタ１５２により操作部１４０の回転数（移動量）を計数し、所定の回転数（所定量）に到達する毎に基準値更新処理（ステップＳ５０８，Ｓ５０９）を実行するようにしてもよい。この場合も、ユーザが操作部１４０を操作中である場合には、基準値更新を延期するのが好ましい。ユーザが操作部１４０を操作中に基準値を更新すると、回転方向又は回転量の検出を失敗する可能性があるからである。
【００５５】
回転導体板３３０について、空きスロット３３１の周方向のサイズを１つの検出電極を導体３２０と対面可能な程度に小さくしてもよい。空きスロット３３１間のサイズを２つの検出電極分とすることで、静電容量検出部１２０は、同一の検出電極群に属する複数の検出電極の静電容量を検出できる。すなわち、図４に示す例とは逆に、回転導体板３３０の静止位置で、１つの検出電極群の検出電極が導体３２０に対面し、残る２つの検出電極群の複数の検出電極が回転導体板３３０に対面するようにする。この構成でも、図５に示すフローチャートにより、回転操作部材３００の回転操作を検出可能である。
【００５６】
以上の構成により、検出電極部１３０及び回転導体板３３０を含む操作部１４０の構成上のがたつき及び変形があったとしても、回転操作の方向と量とを適切に検出できるようになる。
【実施例２】
【００５７】
実施例１では、回転操作部材を用いた実施例を説明したが、回転操作部材は非回転操作部材（例えば、直線的に往復移動する操作部材）に置き換えて実現することもできる。任意の検出電極に対し、操作による一方の移動方向に隣接する検出電極及び他方の移動方向に隣接する検出電極の全てが互いに異なる検出電極群に属する場合、操作方向と移動量を検知できる。
【００５８】
実施例２では、非回転操作部材を用いた電子機器８００の実施例を説明する。図８（ａ）は、実施例２における電子機器８００の外観背面図を示し、図８（ｂ）は、非回転操作部材の断面構成を示す。図８（ｃ）は、非回転操作部材（以下、「スライダ」と略す）の平面図を示し、図８（ｄ）は、検出電極の配置の平面図を示す。
【００５９】
図８（ａ）に示す電子機器８００の内部構成は、操作部１４０として非回転操作部材８０１を有し、検出電極部１３０を検出電極部８２１で置換することを除いて、図１に示す構成と同様である。検出電極部８２１に含まれる複数の検出電極は、互い違いに３つの検出電極群８２１ａ，８２１ｂ及び８２１ｃに区分され、静電容量検出部１２０は、各検出電極群８２１ａ，８２１ｂ及び８２１ｃに属する複数の検出電極の静電容量を検出する。
【００６０】
スライダ８０１は、レール８０２に沿って直線的に移動可能である。スライダ８０１の底面にはＧＮＤ電位の金属導体８０３が接着されており、スライダ８０１の移動に伴い、金属導体８０３が検出電極部８２１内の複数の検出電極の列上を所定間隔を空けて移動する。この移動により、検出電極部８２１内の各検出電極と金属導体８０３との間の静電容量がスライダ８０１の移動に伴って変化する。金属導体８０３のサイズ及び形状は、どのスライド位置でも単一の検出電極と対面するサイズ及び形状としてある。
【００６１】
レール８０２の下面には、スライダ８０１を一定周期の決まった位置で静止させる係止機構８１０を設けてある。係止機構８１０は、ボール８１１、バネ８１２及び周期的凹凸面８１３からなる。スライダ８０１から横方向にボール８１１をバネ８１２により突出させ、そのボール８１１が嵌合する周期的凹凸面８１３をスライダ８０１の移動方向に沿って並行に配置してある。周期的凹凸面８１３の高低差を小さくすることでクリック感を弱くすることができ、高低差を大きくすることでクリック感を強くすることができる。
【００６２】
スライダ８０１の金属導体８０３の下方向に所定距離離れた基板８２０上に、スライダ８０１のスライド方向に複数の検出電極を一定間隔で配置してある。スライダ８０１のどの位置でも、金属導体８０３は検出電極部８２１と接触しない。検出電極部８２１は、検出電極部１３０と同様に、互いに隣接する検出電極が異なる群に属するように３つの検出電極群８２１ａ，８２１ｂ及び８２１ｃに区分される。静電容量検出部１２０は、各検出電極群８２１ａ，８２１ｂ及び８２１ｃに属する検出電極の並列接続状態での静電容量を測定又は検出する。
【００６３】
静電容量検出部１２０による各検出電極群８２１ａ，８２１ｂ及び８２１ｃの静電容量の検出と基準値更新の動作は、実施例１と同様であるので、詳細な説明を省略する。
【００６４】
実施例１及び２では、本発明を撮像装置などの電子機器に適用した実施例を説明したが、本発明は、静電容量方式で操作方向と操作量とを検知できる操作部材を有する電子機器であれば、撮像装置以外の電子機器にも適用可能である。
【００６５】
以上、本発明の好ましい実施例を説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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