(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
既存の気中使用の高圧回転機の誘電体損失率または絶縁抵抗値の経年データを回帰分析して得た信頼度毎の誘電体損失率の回帰直線の傾きまたは信頼度毎の絶縁抵抗値の回帰曲線の指数関数の乗数および運転経過年数毎に第１の信頼度のときの誘電体損失率または絶縁抵抗値に対する第２信頼度のときの誘電体損失率または絶縁抵抗値の倍率、且つ所見文書がそれぞれ記憶されている記憶手段と、
残存寿命推定対象の変圧器の残存寿命を推定するためのデータを入力するデータ入力手段と、
入力された製造年月と調査年月とから経過年数を算出し、入力された特性値を経過年数での第１信頼度での値と見なし且つ上記入力された特性値に上記倍率を乗算して第２信頼度での値を求め、且つ上記第１信頼度での値および第２信頼度での値から上記傾きまたは上記乗数の指数関数で延ばすことにより経過年数以降での第１信頼度および第２信頼度での特性値の推移を推定する特性値推定手段と、
上記第１信頼度および第２信頼度でそれぞれ推定した特性値が予め定めた不良レベル値を超えるまでに要する残存寿命を推定する残存寿命推定手段と、
推定した残存寿命に基づいて上記所見文書を検索する所見文書検索手段と、
を備えることを特徴とする変圧器残存寿命推定システム。
【請求項２】
上記残存寿命推定手段は、上記第１信頼度および第２信頼度でそれぞれ推定した特性値が予め定めた要注意レベル値を超えるまでに要する要注意年数を推定することを特徴とする請求項１に記載の変圧器残存寿命推定システム。
【請求項３】
上記残存寿命推定手段により推定された残存誘電体損失率または残存絶縁抵抗値から残存放電開始電圧を推定する残存ＢＤＶ推定手段を備えることを特徴とする請求項１または２に記載の変圧器残存寿命推定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、乾式変圧器またはモールド変圧器の残存寿命を推定する変圧器残存寿命推定システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、一般的なビルの地下電気室や超高層ビルの高圧サブ電気室などにおいては油入変圧器が多用されてきたが、不燃化を目的にして、２５年位前から除々に乾式変圧器が採用され始め、近年ではモールド変圧器の適用率が高まってきている。
ところで、老朽化した変圧器を更新する目安は、油入変圧器の場合には、絶縁抵抗値または誘電体損失率と油温との関連図を用いてＩＥＣ規格などとして公表された良否判定図から、年次点検時の絶縁抵抗値や誘電体損失率に対応する値とし、絶縁劣化の評価を行っている。
しかし、乾式変圧器またはモールド変圧器については油入変圧器のような絶縁劣化判定の評価図が公表されていないので、ビルの設備管理者は年次点検データなどを踏まえて、変圧器メーカの意向も参考にして判断している（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開平３−２７４４７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、年次点検は停電時に実施され、その時に入手した変圧器の絶縁抵抗値のみが唯一の判断材料となっているため、設備管理者の主観的な要素に依るところが多く、客観的な判断が下せないばかりか、余寿命の推定評価を実施するという発展的な技術展開の道も閉ざされた状態であった。
【０００５】
この発明の目的は、乾式変圧器またはモールド変圧器の経年、環境、運転に関わる諸要因の複合劣化による絶縁の劣化度合いを定量的に評価し、且つ絶縁的な余寿命を統計的に推定する変圧器残存寿命推定システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係る変圧器残存寿命推定システムは、既存の気中使用の高圧回転機の誘電体損失率または絶縁抵抗値の経年データを回帰分析して得た信頼度毎の誘電体損失率の回帰直線の傾きまたは信頼度毎の絶縁抵抗値の回帰曲線の指数関数の乗数および運転経過年数毎に第１の信頼度のときの誘電体損失率または絶縁抵抗値に対する第２信頼度のときの誘電体損失率または絶縁抵抗値の倍率、且つ所見文書がそれぞれ記憶されている記憶手段と、残存寿命推定対象の変圧器の残存寿命を推定するためのデータを入力するデータ入力手段と、入力された製造年月と調査年月とから経過年数を算出し、入力された特性値を経過年数での第１信頼度での値と見なし且つ上記入力された特性値に上記倍率を乗算して第２信頼度での値を求め、且つ上記第１信頼度での値および第２信頼度での値から上記傾きまたは上記乗数の指数関数で延ばすことにより経過年数以降での第１信頼度および第２信頼度での特性値の推移を推定する特性値推定手段と、上記第１信頼度および第２信頼度でそれぞれ推定した特性値が予め定めた不良レベル値を超えるまでに要する残存寿命を推定する残存寿命推定手段と、推定した残存寿命に基づいて上記所見文書を検索する所見文書検索手段と、を備える。
【発明の効果】
【０００７】
この発明に係る変圧器残存寿命推定システムの効果は、高圧回転機について得られている経過年数に対するＭｅｇ値またはｔａｎδ値の実測データを重回帰分析して回帰曲線または回帰直線を求め、劣化の割合は片対数で表した回帰曲線または回帰直線の傾きで表され、推定対象の変圧器の実測値を信頼度５０％と仮定することにより信頼度９９％、９５％、９０％での値を推定できることを見出したので、推定対象の変圧器のＭｅｇ値またはｔａｎδ値の劣化の度合いから残存寿命を推定できることである。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１に係る変圧器残存寿命推定システムは、モールド変圧器を例にしてモールド変圧器の残存寿命を推定する。なお、乾式変圧器に対して適用しても同様に残存寿命を推定することができる。
モールド変圧器は、高圧コイルと低圧コイルとの間にエポキシ注型絶縁材を使用し、また鉄心とコイル間に所定の熱絶縁階級にふさわしい電気絶縁スペーサ材を使用して絶縁されている。
モールド変圧器の高圧コイルと低圧コイルとの間、また鉄心とコイルとの間の特性として、絶縁抵抗値（以下、Ｍｅｇ値と称す）と誘電体損失率（以下、ｔａｎδ値と称す）を用いる。
Ｍｅｇ値は、モールド変圧器の定格電圧の所定の倍数の直流電圧を印加してから１分経過した時点の漏れ電流値で印加した直流電圧を除算した値である。
ｔａｎδ値は、モールド変圧器に加わる商用電力近傍の周波数の交流電圧を印加しブリッジを平衡させてからｔａｎδを求める。
【０００９】
図１は、この発明の実施の形態１に係る変圧器残存寿命推定システムの機能ブロック図である。
この発明の実施の形態１に係る変圧器残存寿命推定システムは、図１に示すように、特性毎且つ信頼度毎の傾き、特性毎且つ信頼度が５０％のときの値に対する信頼度が９０％、９５％、９９％のときの値の倍率、所見文書がそれぞれ記憶されている記憶手段１、メニューを表示しシステムを制御する表示制御手段２、推定対象の変圧器の残存寿命を推定するためのデータを入力するデータ入力手段３、入力された製造年月と調査年月とから経過年数を算出し、入力されたＭｅｇ値またはｔａｎδ値を用いて経過年数以降での信頼度５０％、９０％、９５％、９９％のときのＭｅｇ値またはｔａｎδ値の推移を推定する特性値推定手段４、信頼度毎のＭｅｇ値またはｔａｎδ値が要注意レベル値および不良レベル値に到達するまでに要する要注意年数および残存年数を推定する残存寿命推定手段５、推定した要注意年数および残存年数に基づいて所見文書を検索する所見文書検索手段６、および、推定した結果および所見文書を出力する出力手段７を有する。
【００１０】
そして、この発明の実施の形態１に係る変圧器残存寿命推定システムは、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、インターフェース回路を有するコンピュータ、モニタ、キーボード、マウスなどから構成されている。
記憶手段１は、信頼度毎の傾きを記憶する傾き表１１、経過年数毎に信頼度５０％の値を１にしたとき信頼度９０％、９５％、９９％の値の倍率を記憶する倍率表１２、所見文書を記憶する所見文書庫１３が格納されている。
傾き表１１に記憶されているｔａｎδ値に関する傾きは、電気学会技術報告ＩＩ部第２６７号の記載されている運転経過年数をパラメータとしたｔａｎδ値を重回帰分析することにより得た信頼度毎の回帰直線の傾きである。図２は、ｔａｎδ値に関する信頼度毎の傾きを列記した傾き表である。
傾き表１１に記憶されているＭｅｇ値に関する傾きは、電気学会技術報告（ＩＩ部）第２６７号に記載されている運転経過年数をパラメータとしたＭｅｇ値を重回帰分析することにより得た信頼度毎の指数関数の乗数である。図３は、Ｍｅｇ値に関する信頼度毎の傾きを列記した傾き表である。
【００１１】
倍率表１２は、運転経過年数毎に信頼度５０％のＭｅｇ値またはｔａｎδ値に対する信頼度９０％、９５％、９９％のＭｅｇ値またはｔａｎδ値の倍率を列記したものである。図４は、Ｍｅｇ値に関する経過年度をパラメータとして倍率を列記した倍率表である。図５は、ｔａｎδ値に関する経過年度をパラメータとして倍率を列記した倍率表である。
【００１２】
所見文書庫１３には、乾式変圧器のｔａｎδ値を用いて残存寿命を推定したときに係る所見１〜所見９、乾式変圧器のＭｅｇ値を用いて残存寿命を推定したときに係る所見１１〜所見１９、モールド変圧器のｔａｎδ値を用いて残存寿命を推定したときに係る所見２１〜所見２９、モールド変圧器のＭｅｇ値を用いて残存寿命を推定したときに係る所見３１〜所見３９が記憶されている。
【００１３】
所見１は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。予防保全の見地から今後とも定期的な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見２は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行に伴う要注意レベルへの到達を勘案し、今後とも確実な定期的絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見３は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が考えられますので、毎年の絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見４は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行もあり、かつ運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が懸念されますので、毎年の確実な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見５は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、要注意年数が５年未満でもありますので、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見６は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、絶縁の状態は要注意レベルにあり且つ残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
所見７は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、高信頼度での残存寿命から考えて絶縁事故の発生する恐れがあります。早急に変圧器の更新を行う必要があります。」である。
所見８は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見９は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
【００１４】
所見１１は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。予防保全の見地から今後とも定期的な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見１２は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行に伴う要注意レベルへの到達を勘案し、今後とも確実な定期的絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見１３は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が考えられますので、毎年の絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見１４は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行もあり、かつ運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が懸念されますので、毎年の確実な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見１５は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、要注意年数が５年未満でもありますので、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見１６は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、絶縁の状態は要注意レベルにあり且つ残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
所見１７は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、高信頼度での残存寿命から考えて絶縁事故の発生する恐れがあります。早急に変圧器の更新を行う必要があります。」である。
所見１８は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見１９は、「貴ビルの乾式変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
【００１５】
所見２１は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。予防保全の見地から今後とも定期的な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見２２は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行に伴う要注意レベルへの到達を勘案し、今後とも確実な定期的絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見２３は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が考えられますので、毎年の絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見２４は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行もあり、かつ運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が懸念されますので、毎年の確実な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見２５は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、要注意年数が５年未満でもありますので、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見２６は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、絶縁の状態は要注意レベルにあり且つ残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
所見２７は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、高信頼度での残存寿命から考えて絶縁事故の発生する恐れがあります。早急に変圧器の更新を行う必要があります。」である。
所見２８は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見２９は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したｔａｎδ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
【００１６】
所見３１は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。予防保全の見地から今後とも定期的な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見３２は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行に伴う要注意レベルへの到達を勘案し、今後とも確実な定期的絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見３３は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が考えられますので、毎年の絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見３４は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命などは１０年以上あり現状では絶縁上の問題はありません。但し、ある程度の絶縁劣化の進行もあり、かつ運転年数から考えて今後の急激な絶縁特性の悪化が懸念されますので、毎年の確実な絶縁診断をお勧めいたします。」である。
所見３５は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、要注意年数が５年未満でもありますので、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見３６は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、絶縁の状態は要注意レベルにあり且つ残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
所見３７は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、高信頼度での残存寿命から考えて絶縁事故の発生する恐れがあります。早急に変圧器の更新を行う必要があります。」である。
所見３８は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命は数年程度であり、現在での継続運転に絶縁上の支障はありません。但し、毎年の絶縁診断および中期的な変圧器更新のご計画をお勧めいたします。」である。
所見３９は、「貴ビルのモールド変圧器について測定したＭｅｇ値を、電気学会で公表された気中使用の高圧機器の絶縁諸特性と比較しましたところ、残存寿命もわずか数年となっています。至近年度での変圧器更新のご計画が必要です。」である。
【００１７】
表示制御手段２は、変圧器残存寿命推定システムが起動されると図６に示すようなメインメニュー画面を表示し、メインメニュー画面でメインメニュー（１．診断データ入力、２．単独処理、３．報告書出力、４．終了）が選択されると対応する画面（図７に示すような診断データ入力画面、図８に示すような単独処理出力メニュー画面、図９に示すような報告書印刷画面）を表示し、単独処理出力メニュー画面で単独処理メニュー（残存寿命シミュレーショングラフ、残存寿命推定表出力、所見文書確認・編集、報告書プリント出力、ファイル（報告書データ）保存、終了）が選択されると対応する図示しない画面（残存寿命シミュレーショングラフ画面、残存寿命推定表出力画面、所見文書出力画面、報告書データ保存画面）を表示する。
データ入力手段３は、図７に示す診断データ入力画面の保存釦を押下すると診断データ入力画面の所定の空欄に入力された値をデータとして取り込み記憶する。
診断データ入力画面から入力されるデータは、データ名、建物名称、調査日時、調査者名、調査対象項目、製造年月、機材名、室温、湿度、設置環境、診断データ、判定レベル、シミュレーショングラフの表示範囲である。
診断データは、メインメニューでｔａｎδ値が選択されたときにはｔａｎδ値、Ｍｅｇ値が選択されたときにはＭｅｇ値が入力できるように設定されている。
判定レベルは、メインメニューでｔａｎδ値が選択されたときにはｔａｎδ値に関する不良レベルおよび要注意レベル、Ｍｅｇ値が選択されたときにはＭｅｇ値に関する不良レベルおよび要注意レベルが入力できるように設定されている。なお、要注意レベルが不要のときには空白のままにできる。
【００１８】
特性値推定手段４は、単独処理出力メニューの中からシミュレーションが選択されたとき入力された製造年月と調査年月とから経過年数を算出する経過年数算出手段２１、入力されたＭｅｇ値またはｔａｎδ値を経過年数で信頼度が５０％のときのＭｅｇ値またはｔａｎδ値とし今後のＭｅｇ値またはｔａｎδ値の推移を推定する信頼度５０％推定手段２２、および、入力されたＭｅｇ値またはｔａｎδ値に信頼度毎の倍率を乗算して経過年数での信頼度毎のＭｅｇ値またはｔａｎδ値とし、且つ今後のＭｅｇ値またはｔａｎδ値の推移を推定する信頼度毎推定手段２３を備える。
例えば、製造年月が１９７６年４月、調査年月が２００７年２月とすると経過年月は３０年１０ヶ月となる。また、特性値はｔａｎδ値とし、１．５％である。
信頼度が５０％、９０％、９５％、９９％のときのそれぞれの傾き（ｔａｎδ／年）は０．８０６３、０．８６３４、０．８７９６、０．９１００である。
また、経過年数３０年１０ヶ月の時点の倍率は、経過年数３０年と３１年での倍数を補間すると、１．２９、１．３７、１．５２となるので、３０年１０ヶ月の時点での信頼度９０％、９５％、９９％のｔａｎδ値は、それぞれ１．９３％、２．０５％、２．２８％となる。
ゆえに、信頼度５０％、９０％、９５％、９９％での回帰直線は、式（１）、式（２）、式（３）、式（４）で表される。なお、この式ではｘは３０年１０ヶ月以上である。
【００１９】
ｔａｎδ５０（ｘ）＝０．８０６３ｘ−２３．３６      （１）
ｔａｎδ９０（ｘ）＝０．８６３４ｘ−２４．６９      （２）
ｔａｎδ９５（ｘ）＝０．８７９６ｘ−２５．０７      （３）
ｔａｎδ９９（ｘ）＝０．９１００ｘ−２５．７８      （４）
【００２０】
なお、特性値がＭｅｇ値の場合には、信頼度５０％、信９０％、９５％、９９％での回帰曲線は、式（５）、式（６）、式（７）、式（８）で表される。なお、Ａ５０は、経過年数ｘ年のときの実測したＭｅｇ値を式（５）に代入して求めた値である。また、Ａ９０、Ａ９５、Ａ９９は、経過年数ｘ年のときの実測したＭｅｇ値に図４に示す倍率を乗じて得た値をそれぞれ式（６）、式（７）、式（８）に代入して求めた値である。
【００２１】
Ｍｅｇ５０（ｘ）＝Ａ５０×ｅｘｐ（−０．２２３１ｘ）      （５）
Ｍｅｇ９０（ｘ）＝Ａ９０×ｅｘｐ（−０．１６９５ｘ）      （６）
Ｍｅｇ９５（ｘ）＝Ａ９５×ｅｘｐ（−０．１５４３ｘ）      （７）
Ｍｅｇ９９（ｘ）＝Ａ９９×ｅｘｐ（−０．１２５８ｘ）      （８）
【００２２】
残存寿命推定手段５は、経過年数での信頼度５０％、９０％、９５％、９９％のｔａｎδ５０、ｔａｎδ９０、ｔａｎδ９５、ｔａｎδ９９と要注意レベル、不良レベルとを用いて残存ｔａｎδ値を推定する。この例では要注意レベルが３％、不良レベルが６％に設定されている。
例えば、経過年数３０年１０ヶ月での信頼度５０％、９０％、９５％、９９％のｔａｎδ５０＝１．５％、ｔａｎδ９０＝１．９３％、ｔａｎδ９５＝２．０５％、ｔａｎδ９９＝２．２８％であれば、要注意レベル３％との差、すなわち残存ｔａｎδ値は、１．５％、１．０７％、０．９５％、０．７２％となる。
また、不良レベル６％との差、すなわち残存ｔａｎδ値は、４．５％、４．０７％、３．９５％、３．７２％となる。
【００２３】
また、残存寿命推定手段５は、残存ｔａｎδ値を傾きで除算して要注意年数および残存寿命を推定する。
例えば、要注意年数は、信頼度５０％、９０％、９５％、９９％でそれぞれ１年１０ヶ月、１年３ヶ月、１年１ヶ月、９ヶ月であり、残存寿命は、信頼度５０％、９０％、９５％、９９％でそれぞれ５年７ヶ月、４年９ヶ月、４年６ヶ月、４年１ヶ月となる。
【００２４】
所見文書検索手段６は、「乾式またはモールド」、「ｔａｎδ値またはＭｅｇ値」、「要注意レベルが空白」、「経過年数」、「信頼度９９％での残存年数」、「信頼度９９％での要注意年数」、「信頼度５０％での残存寿命」を用いて所見文書庫を検索して所見を選択する。
ここで、所見文書庫を検索する手順について図１０から図１３を参照して説明する。
ステップＳ１において、推定対象の変圧器が乾式かモールドか判断し、乾式のときステップＳ２に進み、モールドのときノード２を経由してステップＳ５７に進む。
ステップＳ２において、推定に用いた特性値がｔａｎδ値かＭｅｇ値か判断し、ｔａｎδ値のときステップＳ３に進み、Ｍｅｇ値のときノード１を経由してステップＳ３０に進む。
ステップＳ３において、経過年数が１５年未満か否かを判断し、１５年以上のときステップＳ４に進み、１５年未満のときステップＳ２３に進む。
ステップＳ４において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ５に進み、空白が設定されているときステップＳ１７に進む。
ステップＳ５において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ６に進み、１０年以上のときステップＳ１３に進む。
ステップＳ６において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ７に進み、５年以上のときステップＳ１０に進む。
ステップＳ７において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ８に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ１１に進む。
ステップＳ８において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ９に進み、０年を上回るときステップＳ１２に進む。
ステップＳ９において、手入力により所見を入力して手順を終了する。
ステップＳ１０において、所見５を選択して手順を終了する。
ステップＳ１１において、所見６を選択して手順を終了する。
ステップＳ１２において、所見７を選択して手順を終了する。
【００２５】
ステップＳ１３において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ１４に進み、１０年以上のときステップＳ１５に進む。
ステップＳ１４において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ９に進み、５年以上のときステップＳ１６に進む。
ステップＳ１５において、所見３を選択して手順を終了する。
ステップＳ１６において、所見４を選択して手順を終了する。
【００２６】
ステップＳ１７において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ１８に進み、１０年以上のときステップＳ１６に進む。
ステップＳ１８において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ１９に進み、５年以上のときステップＳ２１に進む。
ステップＳ１９において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ２０に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ２２に進む。
ステップＳ２０において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ９に進み、０年を上回るときステップＳ１２に進む。
ステップＳ２１において、所見８を選択して手順を終了する。
ステップＳ２２において、所見９を選択して手順を終了する。
ステップＳ２３において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ２４に進み、空白が設定されているときステップＳ２９に進む。
ステップＳ２４において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ９に進み、１０年以上のときステップＳ２５に進む。
ステップＳ２５において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ２６に進み、１０年以上のときステップＳ２７に進む。
ステップＳ２６において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ９に進み、５年以上のときステップＳ２８に進む。
ステップＳ２７において、所見１を選択して手順を終了する。
ステップＳ２８において、所見２を選択して手順を終了する。
ステップＳ２９において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ９に進み、１０年以上のときステップＳ２８に進む。
【００２７】
ステップＳ３０において、経過年数が１５年未満か否かを判断し、１５年以上のときステップＳ３１に進み、１５年未満のときステップＳ５０に進む。
ステップＳ３１において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ３２に進み、空白が設定されているときステップＳ４４に進む。
ステップＳ３２において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ３３に進み、１０年以上のときステップＳ４０に進む。
ステップＳ３３において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ３４に進み、５年以上のときステップＳ３７に進む。
ステップＳ３４において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ３５に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ３８に進む。
ステップＳ３５において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ３６に進み、０年を上回るときステップＳ３９に進む。
ステップＳ３６において、手入力により所見を入力して手順を終了する。
ステップＳ３７において、所見１５を選択して手順を終了する。
ステップＳ３８において、所見１６を選択して手順を終了する。
ステップＳ３９において、所見１７を選択して手順を終了する。
【００２８】
ステップＳ４０において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ４１に進み、１０年以上のときステップＳ４２に進む。
ステップＳ４１において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ３６に進み、５年以上のときステップＳ４３に進む。
ステップＳ４２において、所見１３を選択して手順を終了する。
ステップＳ４３において、所見１４を選択して手順を終了する。
【００２９】
ステップＳ４４において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ４５に進み、１０年以上のときステップＳ４３に進む。
ステップＳ４５において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ４６に進み、５年以上のときステップＳ４９に進む。
ステップＳ４６において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ４７に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ４９に進む。
ステップＳ４７において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ３６に進み、０年を上回るときステップＳ３９に進む。
ステップＳ４８において、所見１８を選択して手順を終了する。
ステップＳ４９において、所見１９を選択して手順を終了する。
ステップＳ５０において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ５１に進み、空白が設定されているときステップＳ５６に進む。
ステップＳ５１において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ３６に進み、１０年以上のときステップＳ５２に進む。
ステップＳ５２において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ５３に進み、１０年以上のときステップＳ５４に進む。
ステップＳ５３において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ３６に進み、５年以上のときステップＳ５５に進む。
ステップＳ５４において、所見１１を選択して手順を終了する。
ステップＳ５５において、所見１２を選択して手順を終了する。
ステップＳ５６において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ３６に進み、１０年以上のときステップＳ５５に進む。
【００３０】
ステップＳ５７において、推定に用いた特性値がｔａｎδ値かＭｅｇ値か判断し、ｔａｎδ値のときステップＳ５８に進み、Ｍｅｇ値のときノード３を経由してステップＳ８５に進む。
ステップＳ５８において、経過年数が１５年未満か否かを判断し、１５年以上のときステップＳ５９に進み、１５年未満のときステップＳ７８に進む。
ステップＳ５９において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ６０に進み、空白が設定されているときステップＳ７２に進む。
ステップＳ６０において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ６１に進み、１０年以上のときステップＳ６８に進む。
ステップＳ６１において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ６２に進み、５年以上のときステップＳ６５に進む。
ステップＳ６２において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ６３に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ６６に進む。
ステップＳ６３において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ６４に進み、０年を上回るときステップＳ６７に進む。
ステップＳ６４において、手入力により所見を入力して手順を終了する。
ステップＳ６５において、所見２５を選択して手順を終了する。
ステップＳ６６において、所見２６を選択して手順を終了する。
ステップＳ６７において、所見２７を選択して手順を終了する。
【００３１】
ステップＳ６８において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ６９に進み、１０年以上のときステップＳ７０に進む。
ステップＳ６９において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ６４に進み、５年以上のときステップＳ７１に進む。
ステップＳ７０において、所見２３を選択して手順を終了する。
ステップＳ７１において、所見２４を選択して手順を終了する。
【００３２】
ステップＳ７２において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ７３に進み、１０年以上のときステップＳ７１に進む。
ステップＳ７３において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ７４に進み、５年以上のときステップＳ７６に進む。
ステップＳ７４において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ７５に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ７７に進む。
ステップＳ７５において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ６４に進み、０年を上回るときステップＳ６７に進む。
ステップＳ７６において、所見２８を選択して手順を終了する。
ステップＳ７７において、所見２９を選択して手順を終了する。
ステップＳ７８において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ７９に進み、空白が設定されているときステップＳ８４に進む。
ステップＳ７９において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ６４に進み、１０年以上のときステップＳ８０に進む。
ステップＳ８０において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ８１に進み、１０年以上のときステップＳ８２に進む。
ステップＳ８１において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ６４に進み、５年以上のときステップＳ８３に進む。
ステップＳ８２において、所見２１を選択して手順を終了する。
ステップＳ８３において、所見２２を選択して手順を終了する。
ステップＳ８４において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ６４に進み、１０年以上のときステップＳ８３に進む。
【００３３】
ステップＳ８５において、経過年数が１５年未満か否かを判断し、１５年以上のときステップＳ８６に進み、１５年未満のときステップＳ１０５に進む。
ステップＳ８６において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ８７に進み、空白が設定されているときステップＳ９９に進む。
ステップＳ８７において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ８８に進み、１０年以上のときステップＳ９５に進む。
ステップＳ８８において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ８９に進み、５年以上のときステップＳ９２に進む。
ステップＳ８９において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ９０に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ９３に進む。
ステップＳ９０において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ９１に進み、０年を上回るときステップＳ９４に進む。
ステップＳ９１において、手入力により所見を入力して手順を終了する。
ステップＳ９２において、所見３５を選択して手順を終了する。
ステップＳ９３において、所見３６を選択して手順を終了する。
ステップＳ９４において、所見３７を選択して手順を終了する。
【００３４】
ステップＳ９５において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ９６に進み、１０年以上のときステップＳ９７に進む。
ステップＳ９６において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ９１に進み、５年以上のときステップＳ９８に進む。
ステップＳ９７において、所見３３を選択して手順を終了する。
ステップＳ９８において、所見３４を選択して手順を終了する。
【００３５】
ステップＳ９９において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ１００に進み、１０年以上のときステップＳ９８に進む。
ステップＳ１００において、信頼度９９％での残存寿命が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ１０１に進み、５年以上のときステップＳ１０３に進む。
ステップＳ１０１において、信頼度９９％での残存寿命が０．１年以上５年未満か否かを判断し、０．１年未満のときステップＳ１０２に進み、０．１年以上５年未満のときステップＳ１０４に進む。
ステップＳ１０２において、信頼度５０％での残存寿命が０年を上回るか否かを判断し、０年以下のときステップＳ９１に進み、０年を上回るときステップＳ９４に進む。
ステップＳ１０３において、所見３８を選択して手順を終了する。
ステップＳ１０４において、所見３９を選択して手順を終了する。
ステップＳ１０５において、要注意レベルに空白が設定されているか否かを判断し、空白が設定されていないときステップＳ１０６に進み、空白が設定されているときステップＳ１１１に進む。
ステップＳ１０６において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ９１に進み、１０年以上のときステップＳ１０７に進む。
ステップＳ１０７において、信頼度９９％での要注意年数が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ１０８に進み、１０年以上のときステップＳ１０９に進む。
ステップＳ１０８において、信頼度９９％での要注意年数が５年以上か否かを判断し、５年未満のときステップＳ９１に進み、５年以上のときステップＳ１１０に進む。
ステップＳ１０９において、所見３１を選択して手順を終了する。
ステップＳ１１０において、所見３２を選択して手順を終了する。
ステップＳ１１１において、信頼度９９％での残存寿命が１０年以上か否かを判断し、１０年未満のときステップＳ９１に進み、１０年以上のときステップＳ１１０に進む。
【００３６】
この発明の実施の形態１に係る変圧器残存寿命推定システムは、高圧回転機について得られている経過年数に対するＭｅｇ値またはｔａｎδ値の実測データを重回帰分析して回帰曲線または回帰直線を求め、劣化の割合は片対数で表した回帰曲線または回帰直線の傾きで表され、推定対象の変圧器の実測値を信頼度５０％と仮定することにより信頼度９９％、９５％、９０％での値を推定できることを見出したので、推定対象の変圧器のＭｅｇ値またはｔａｎδ値の劣化の度合いから残存寿命を推定できる。
【００３７】
すなわち、乾式変圧器またはモールド変圧器のように気中使用の機器のうち、構造が近い高圧回転機のＭｅｇ値またはｔａｎδ値に注目し、重回帰分析して得た回帰曲線または回帰直線の傾きが乾式変圧器またはモールド変圧器の経年変化の割合を示すことが分かったことと、各経過年度での分布は高圧回転機のＭｅｇ値またはｔａｎδ値の分布と相似であることが分かったことである。そこで、実測した乾式変圧器またはモールド変圧器のＭｅｇ値またはｔａｎδ値を信頼度５０％の値と見なすと信頼度９０％、９５％、９９％の値を求めることができ、信頼度毎の残存寿命を推定できる。
一方、気中使用の機器でも例えば高圧ケーブルのＭｅｇ値またはｔａｎδ値を用いても、乾式変圧器またはモールド変圧器の寿命を推定し得る係数を求めることができなかった。
【００３８】
なお、上述の所見は主に信頼度９９％での残存寿命を用いているが、これに限るものではなく、信頼度９５％、信頼度９０％での残存寿命を用いて所見を作成しても良い。
【００３９】
実施の形態２．
図１４は、この発明の実施の形態２に係る変圧器残存寿命推定システムの機能ブロック図である。
この発明の実施の形態２に係る変圧器残存寿命推定システムは、図１４に示すように、この発明の実施の形態１に係る変圧器残存寿命推定システムに残存ＢＤＶ推定手段８を追加したことが異なり、それ以外は同様であるので、同様な部分に同じ符号を付記し説明は省略する。
残存ＢＤＶ推定手段８は、残存寿命推定手段５により推定された残存ｔａｎδ値または残存Ｍｅｇ値から残存放電開始電圧（ＢＤＶ）を推定する。この推定方法は以下の通りである。この推定方法では事前に電気学会技術報告（ＩＩ部）第２６７号に示されている高圧回転機に関する絶縁抵抗値の対数と放電開始電圧の相対値、およびｔａｎδ値と放電開始電圧の相対値の実測データを絶縁抵抗値の対数またはｔａｎδ値をパラメータにして重回帰分析することにより絶縁抵抗値の対数またはｔａｎδ値に対する放電開始電圧の相対値の回帰曲線を求める。この回帰曲線を用いると残存Ｍｅｇ値の対数または残存ｔａｎδ値に対応する残存ＢＤＶを推定することができる。
そして、残存ＢＤＶが推定されると、実際に不具合が発生する前に更新したときに実際に放電破壊を起こすことにより、推定した残存寿命の確度を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】この発明の実施の形態１に係る変圧器残存寿命推定システムの機能ブロック図である。
【図２】ｔａｎδ値に関する信頼度毎の回帰直線の傾きである。
【図３】Ｍｅｇ値に関する信頼度毎の片対数座標に表したときの回帰曲線の傾きである。
【図４】ｔａｎδ値に関する信頼度５０％での値を基準としたときの信頼度９０％、９５％、９９％での値の倍率である。
【図５】Ｍｅｇ値に関する信頼度５０％での値を基準としたときの信頼度９０％、９５％、９９％での値の倍率である。
【図６】メインメニュー画面である。
【図７】診断データ入力画面である。
【図８】単独処理出力マニュー画面である。
【図９】報告書印刷画面である。
【図１０】所見文書庫を検索する手順を表すフローチャートのその１である。
【図１１】所見文書庫を検索する手順を表すフローチャートのその２である。
【図１２】所見文書庫を検索する手順を表すフローチャートのその３である。
【図１３】所見文書庫を検索する手順を表すフローチャートのその４である。
【図１４】この発明の実施の形態２に係る変圧器残存寿命推定システムの機能ブロック図である。
【符号の説明】
【００４１】
１  記憶手段、２  表示制御手段、３  データ入力手段、４  特性値推定手段、５  残存寿命推定手段、６  所見文書検索手段、７  出力手段、８  残存ＢＤＶ推定手段、１１  傾き表、１２  倍率表、１３  所見文書庫、２１  経過年数算出手段、２２  ５０％推定手段、２３  信頼度毎推定手段。
【図１】
0004806668.tif 000002
【図２】
0004806668.tif 000003
【図３】
0004806668.tif 000004
【図４】
0004806668.tif 000005
【図５】
0004806668.tif 000006
【図６】
0004806668.tif 000007
【図７】
0004806668.tif 000008
【図８】
0004806668.tif 000009
【図９】
0004806668.tif 000010
【図１０】
0004806668.tif 000011
【図１１】
0004806668.tif 000012
【図１２】
0004806668.tif 000013
【図１３】
0004806668.tif 000014
【図１４】
0004806668.tif 000015