(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録方法において、
標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して、記録するための基準条件、および基準閾値を決定して記録装置の初期設定とし、
前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいてテスト記録時の記録回数を決定し、
前記記録回数に応じて前記記録対象の光情報記録媒体に対するテスト記録を行う、
ことを特徴とする光情報記録方法。
【請求項２】
前記記録回数の変化は、前記レーザ光のパワー条件および／または前記パルス照射のパルス条件の変更を伴うことを特徴とする請求項１記載の光情報記録方法。
【請求項３】
前記記録特性の検査は、前記レーザ光のパルス照射により行い、該パルス照射は、前記レーザ光のパワー条件および／または前記パルス照射のパルス条件が異なる少なくとも２種類の記録条件を用いて行われることを特徴とする請求項１記載の光情報記録方法。
【請求項４】
レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録方法において、
標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して、記録するための基準条件、および基準閾値を決定して記録装置の初期設定とし、
前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパワーを変化させる回数を決定し、
前記回数に応じて前記レーザ光のパワーを段階的に変化させてテスト記録を行う、
ことを特徴とする光情報記録方法。
【請求項５】
前記テスト記録は、前記パルスの幅を段階的に変化させ、該変化させたパルス幅ごとに前記パワーを段階的に変化させることで実行されることを特徴とする請求項４記載の光情報記録方法。 
【請求項６】
前記記録特性の検査は、予め定められた複数の基準条件で前記光情報記録媒体に記録を行い、その結果得られる再生特性を検出することにより行われることを特徴とする請求項４記載の光情報記録方法。 
【請求項７】
前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値を用いて前記光情報記録媒体の記録特性を近似し、該近似の結果から再生基準を満たす大小２点のパワー値を導出し、これら各パワー値の差分量に応じて決定されることを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。 
【請求項８】
前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値を用いて前記光情報記録媒体の記録特性を近似し、該近似の結果と再生基準との関係に応じて決定されることを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。
【請求項９】
前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値のうち再生基準に最も近い２点を選択し、これら２点がそれぞれ示す大小２点のパワー値の差分量に応じて決定されることを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。
【請求項１０】
前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値のうち再生基準に最も近い２点を選択し、これら２点と該再生基準との関係に応じて決定されることを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。
【請求項１１】
前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の変化の極となるパワー値に基づき設定されることを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。
【請求項１２】
前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値と所定の再生基準との関係に応じて決定され、前記回数の変化は、前記記録特性検査の際に使用した記録条件とは異なる条件での追加記録により行われることを特徴とする請求項６記載の光情報記録方法。
【請求項１３】
レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録方法において、
標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して、記録するための基準条件、および基準閾値を決定して記録装置の初期設定とし、
前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパルス幅を変化させる回数を決定し、
前記回数に応じて前記レーザ光のパルス幅を段階的に変化させてテスト記録を行う、
ことを特徴とする光情報記録方法。
【請求項１４】
前記テスト記録は、前記レーザ光のパワーを段階的に変化させ、該変化させたパワーごとに前記パルス幅を段階的に変化させることで実行されることを特徴とする請求項１３記載の光情報記録方法。
【請求項１５】
レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録装置において、
標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して決定された記録するための基準条件、および基準閾値を初期設定として記憶する記憶手段と、
前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパワーを変化させる回数を決定し、該決定した回数に応じて前記レーザ光のパワーを段階的に変化させてテスト記録を行うテスト記録実行手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項１６】
レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録装置において、
標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して決定された記録するための基準条件、および基準閾値を初期設定として記憶する記憶手段と、
前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパルス幅を変化させる回数を決定し、該決定した回数に応じて前記レーザ光のパルス幅を段階的に変化させてテスト記録を行うテスト記録実行手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ディスク等の光情報記録媒体の記録方法および装置に関し、特に、記録条件の決定時に行われるテスト記録の回数を低減しつつ、最適な記録条件の設定に有効な記録方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等に代表される光情報記録媒体（以下、「メディア」という）の記録においては、記録対象となるメディアと記録に使用する記録装置（以下、「ドライブ」という）との相性が個々の組み合わせにより異なる。この原因としては、メディアを構成する記録材料の種類の違いや製造時の成膜バラツキにより最適な記録条件が変化するといったメディア側の要因と、ドライブを構成するピックアップや半導体レーザの種類の違いや製造時の組立バラツキにより最適な条件が変化するといったドライブ側の要因が考えられ、実際はこれらの複合要因として各組み合わせに特有の最適条件が存在する。
【０００３】
そこで、従来から、記録されるメディアと記録に使用するドライブとの実際の組み合わせでテスト記録（「試し書き」とも言う）を行い、その結果から最も記録状態の良かった記録条件を選択する手法が広く用いられている。
【０００４】
ここで、記録条件を構成する制御要因としては、メディアに照射するレーザのパワー（以下、「パワー」という）と記録パルスの幅（以下、「パルス幅」という）との２つが主要な要因となるため、最適条件を確実に見つけるという視点からすると、パワーとパルス幅の全ての組み合わせ条件をテストするのが理想であるが、メディアに設けられたテスト記録領域は有限であり、テスト回数の増加はユーザの使用領域や追記可能回数に影響を与えるため、可能な限り最小のテスト回数でより望ましい記録条件を見つけることが望まれる。
【０００５】
そこで、従来は、メディア側に当該メディアの種類がドライブ側から識別可能なＩＤ情報を格納しておくとともに、ドライブ側にはメディアの種類ごとに予め用意されたテスト条件を格納しておき、実際の記録を行う場合には、ドライブに装填されたメディアから当該メディアのＩＤ情報を読み込み、当該ＩＤ情報と関連づけられたテスト条件を使用するといった手法が使用されている。
【０００６】
図３１は、メディアに格納されたＩＤ情報を基にテスト条件を決定する手法の特徴を示す概念図である。同図に示すように、テスト条件の範囲を記録パルス１０のパワーとパルス幅を組み合わせたマトリックスイメージで示すと、この手法では、パルス幅を固定した状態でパワーの範囲を徐々に変化させてゆくテスト条件が用いられる。
【０００７】
図３２は、図３１に示した従来手法により得られる再生特性を示す概念図である。同図に示すように、図３１の従来手法でパワーを変化させてゆくと、得られる再生特性、例えばジッタ値は、あるパワー値を極とした曲線特性を描き、この最小値が最適記録条件として選択される。この手法がテスト条件を決める最も汎用的な手法に位置づけられるが、これを改善するための発明が下記の特許文献1乃至４から提案されている。  
図３３は、特許文献１に開示された手法の特徴を示す概念図である。同図に示すように、この手法では、光ディスクの温度や、光ディスクに予め記録された最適記録条件に関する情報に基づいて、パワーの変化範囲を限定する手段を採用しており、テスト回数の低減には有効な手法である。
【０００８】
しかし、この手法では、記録対象となる光ディスクと記録に使用するドライブとの相性が実際に検証されるわけではなく、テスト範囲限定の基礎になる情報は、温度等の推定情報になるため、限定されたテスト範囲に最適条件を含む確率が低く、少ないテスト回数で最適条件を見つけるという観点からは十分でない。また、前述した従来手法と同じく、パワーのみを変化させる手法であるため、最適条件を逃すことも想定される。
【０００９】
図３４は、特許文献２、３および４に開示された手法の特徴を示す概念図である。同図に示すように、これらの手法では、パルス幅を変化させるという点に着目し、パワーを固定させた状態でパルス幅を変化させる手法を採用している。
【００１０】
しかし、これらの手法では、パルス幅の変化範囲が広いためテスト回数の低減としては十分でなく、また、パワー固定の条件でテスト記録が行われるるため、最適条件を見つけるという観点からも十分でない。
【００１１】
尚、特許文献１には、テスト時間の短縮に有効な手法として、「・・・図１と同じ構成で、最初の試験記録では試験条件を広くとり、かつ、荒い精度で最適記録条件を求め、以降、所望の再生品質が得られるまで、あるいは所望の精度の最適記録条件が見つかるまで、試験記録の度に最適記録条件をより細かい精度で求めていくことも可能である。最適記録条件が光ディスク記録装置と光ディスクとの組合せで大きくばらつくにもかかわらず、最適記録条件を細かい精度で求めなければならない場合に、最適記録条件の検出時間短縮に効果的である・・・」と記載されているが、この手法では、精度を変えてテスト記録を繰り返しているだけであり、最初の記録時に再生品質を検査しておかなければ、２回目のテスト時に再生品質を検査しても十分なテスト回数の低減は期待できない。 
【特許文献１】特許３０２４２８２号
【特許文献２】特開２０００−３６１１５号公報
【特許文献３】特開２０００−１８２２４４号公報
【特許文献４】特開２００３−２０３３４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
そこで本発明は、テスト記録の回数を低減しつつ、最適な記録条件の設定に有効な記録方法および装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するため、請求項１記載の発明は、レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録方法において、標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して、記録するための基準条件、および基準閾値を決定して記録装置の初期設定とし、前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいてテスト記録時の記録回数を決定し、前記記録回数に応じて前記記録対象の光情報記録媒体に対するテスト記録を行う、ことを特徴とする。
【００１４】
また、請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記記録回数の変化は、前記レーザ光のパワー条件および／または前記パルス照射のパルス条件の変更を伴うことを特徴とする。
【００１５】
また、請求項３記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記記録特性の検査は、前記レーザ光のパルス照射により行い、該パルス照射は、前記レーザ光のパワー条件および／または前記パルス照射のパルス条件が異なる少なくとも２種類の記録条件を用いて行われることを特徴とする。
【００１６】
また、請求項４記載の発明は、レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録方法において、標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して、記録するための基準条件、および基準閾値を決定して記録装置の初期設定とし、前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパワーを変化させる回数を決定し、前記回数に応じて前記レーザ光のパワーを段階的に変化させてテスト記録を行う、ことを特徴とする。
【００１７】
また、請求項５記載の発明は、請求項４記載の発明において、前記テスト記録は、前記パルスの幅を段階的に変化させ、該変化させたパルス幅ごとに前記パワーを段階的に変化させることで実行されることを特徴とする。
【００１８】
また、請求項６記載の発明は、請求項４記載の発明において、前記記録特性の検査は、予め定められた複数の基準条件で前記光情報記録媒体に記録を行い、その結果得られる再生特性を検出することにより行われることを特徴とする。 
【００１９】
また、請求項７記載の発明は、請求項６記載の発明において、前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値を用いて前記光情報記録媒体の記録特性を近似し、該近似の結果から再生基準を満たす大小２点のパワー値を導出し、これら各パワー値の差分量に応じて決定されることを特徴とする。 
【００２０】
また、請求項８記載の発明は、請求項６記載の発明において、前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値を用いて前記光情報記録媒体の記録特性を近似し、該近似の結果と再生基準との関係に応じて決定されることを特徴とする。
【００２１】
また、請求項１０記載の発明は、請求項６記載の発明において、前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値のうち再生基準に最も近い２点を選択し、これら２点と該再生基準との関係に応じて決定されることを特徴とする。
【００２２】
また、請求項１１の発明は、請求項６記載の発明において、前記パワーを変化させる範囲は、前記再生特性の変化の極となるパワー値に基づき設定されることを特徴とする。
【００２３】
また、請求項１１記載の発明は、請求項６記載の発明において、前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の変化の極となるパワー値に基づき設定されることを特徴とする。
【００２４】
また、請求項１２の発明は、請求項６記載の発明において、前記パワーを変化させる回数は、前記再生特性の検出により得られた複数の再生値と所定の再生基準との関係に応じて決定され、前記回数の変化は、前記記録特性検査の際に使用した記録条件とは異なる条件での追加記録により行われることを特徴とする。
【００２５】
また、請求項１３記載の発明は、レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録方法において、標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して、記録するための基準条件、および基準閾値を決定して記録装置の初期設定とし、前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパルス幅を変化させる回数を決定し、前記回数に応じて前記レーザ光のパルス幅を段階的に変化させてテスト記録を行う、ことを特徴とする。
【００２６】
また、請求項１４の発明は、請求項１３記載の発明において、前記テスト記録は、前記レーザ光のパワーを段階的に変化させ、該変化させたパワーごとに前記パルス幅を段階的に変化させることで実行されることを特徴とする。
【００２７】
また、請求項１５記載の発明は、レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録装置において、標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して決定された記録するための基準条件、および基準閾値を初期設定として記憶する記憶手段と、前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパワーを変化させる回数を決定し、該決定した回数に応じて前記レーザ光のパワーを段階的に変化させてテスト記録を行うテスト記録実行手段とを具備することを特徴とする。
【００２８】
また、請求項１６記載の発明は、レーザ光のパルス照射により記録対象の光情報記録媒体にテスト記録を行い、その結果に基づいて該記録対象の光情報記録媒体の記録条件を決定する光情報記録媒体の記録装置において、標準的な記録特性を有する基準光情報記録媒体に対して決定された記録するための基準条件、および基準閾値を初期設定として記憶する記憶手段と、前記記録対象の光情報記録媒体に対して前記初期設定に基づく記録特性の検査を行い、該記録特性の検査結果に基づいて前記レーザ光のパルス幅を変化させる回数を決定し、該決定した回数に応じて前記レーザ光のパルス幅を段階的に変化させてテスト記録を行うテスト記録実行手段とを具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２９】
以上説明したように、本発明によれば、テスト記録の条件が該テスト記録の前に行われた記録特性の検査結果に基づき決定されるため、より少ないテスト回数で実際の使用に供されるメディアとドライブの組み合わせに適した記録条件を見出すことが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
まず、本発明の主要部となるテスト記録の特徴を説明し、その後、このテスト記録の実施に好適な実施形態の全体および細部を詳細に説明する。
【００３１】
図１は、本発明に係るテスト記録の特徴を示す概念図である。同図に示すように、本発明のテスト記録は、記録パルス１０のパワーとパルス幅を段階的に変化させることで行い、その際に使用されるテスト条件の領域（以下、「テスト領域」という）は、パワー、パルス幅のマトリクスイメージで示すと、例えば、同図の符号１００で示したようなマトリクスのある部分に集中した領域となる。
【００３２】
このように、ある部分にテスト条件を集中させる理由は、より適した記録条件となり得る値の存在確率が高い領域を集中的にテストすることで、より少ない回数で最適条件を見出そうとするものである。
【００３３】
図２は、パワーとパルス幅の変化に対するジッタ特性を示す特性図である。同図に示すように、記録条件の１つであるパルス幅をａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅと変化させ、該ａ〜ｅまでの各パルス幅ごとにパワーをＰ１〜Ｐ３までのレンジで連続的に変化させると、各パルス幅ごとに異なる特性曲線を描くジッタ特性１０２ａ〜１０２ｅが得られる。
【００３４】
ここで、各ジッタ特性１０２ａ〜１０２ｅの最小値、即ち、特性曲線の極となる部分に着目すると、この例では、パルス幅ｃでパワーを変化させた場合のジッタ特性１０２ｃが最も低いジッタ値となり、この値がジッタ特性１０２ａ〜１０２ｅの中では最も望ましい値となることがわかる。
【００３５】
従って、同図に示す例では、ジッタ最小値となるパワーＰ２とパルス幅ｃが最も適した条件、即ち、最適条件となるため、この条件を少ないテスト回数で見出すことが本発明の主題となる。そこで、本発明では、ジッタにある閾値を設け、この閾値以下となる領域をテスト記録前に行われた記録特性の検査により当りをつけ、その結果に基づいて、テスト領域を確率の高い範囲に選択し、この選択した部分を集中してテストすることで、少ないテスト回数で最適条件を見出そうとするものである。
【００３６】
図３は、本発明に係るドライブとメディアで構成された記録システムの全体構成を示すブロック図である。同図に示すように、この記録システムは、本発明に係るドライブ２０と、該ドライブを用いた記録の対象となるメディア１６とで構成される。メディア１６としては、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒに代表される色素型メディアやＣＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＷに代表される相変化型のメディア等の光情報記録媒体が適用可能である。
【００３７】
ドライブ２０は、同図に示すように、メディア１６に対するレーザ光照射の光学系を構成するピックアップ３０と、ピックアップ３０の制御位置等の幾何情報を検出するサーボ検出部３２と、ピックアップ３０で得られたＲＦ信号を検出するＲＦ検出部３４と、ピックアップ３０内に設けられたレーザダイオードを制御するＬＤコントローラ３６と、ＬＤコントローラ３６の制御条件等が格納されたメモリ３８と、サーボ検出部３２の検出結果に基づいてピックアップ３０のトラッキングを行うトラッキング制御部４０と、ピックアップ３０のフォーカシングを行うフォーカス制御部４２とを具備する。
【００３８】
これらドライブ２０を構成する各要素の詳細については、前述の特許文献１乃至４にも記載されており、また、当業者にも周知の技術事項になるため、ここでは詳細な説明を省略する。
【００３９】
尚、本発明の主要部となるテスト記録の実行に際しては、これら各要素のうち、ＬＤコントローラ３６とメモリ３８が特に関係し、ＬＤコントローラ３６は、メディア１６に照射するレーザの条件、即ち、図１に示した記録パルス１０をピックアップ３０に出力することで、記録条件の制御を行い、メモリ３８には、記録パルス１０のパルスパターンやその他の諸条件が格納される。
【００４０】
図４は、本発明に係るドライブが実行する一連の手順を示すフローチャートである。同図に示すように、前述のドライブ２０は、該ドライブの初期設定を行うまでステップＳ１０〜Ｓ１４までを実行し、次に、テスト記録の条件を決めるまでのステップＳ１６〜Ｓ２２までを実行し、その後、決定した条件でテスト記録を行うステップＳ２４を実行し、その結果に基づいて本記録の条件を決定するステップＳ２６を実行し、この条件でメディア１６に情報を記録するステップＳ２８を実行する。以下、これら各ステップの詳細を説明する。
【００４１】
（基準条件の決定）
図４に示すステップＳ１０では、まず、任意の標準的なメディアを用いて記録速度を変化させながらテスト記録を行い、１つのパルス幅と３つのパワー値を基準条件として求める。３つのパワー値としては、上記テスト記録の結果、ジッタが最小となった値と、その前後に位置する２つのパワー値を用いることが望ましい。前後２つのパワー値としては、ジッタ良否の基準となる閾値近傍の値を用いることが好ましい。ここで求めた基準条件が後の記録特性検査の際に利用される。
【００４２】
（基準閾値の決定）
上述してきたように、本発明ではジッタ閾値以下の領域を最も確率の高いテスト領域として設定することを意図しているため、この判断基準となる閾値を決定する必要がある。閾値の値としては、ドライブやメディアの種類に応じて標準的な値を用意しておいても良いが、ジッタの許容領域のミニマムラインを示す閾値は、図３に示したピックアップ３０やその他の要素の状態によって変化し、また、メディアを記録する速度によっても変化する。
【００４３】
従って、この閾値も実際に使用するドライブとメディアの組み合わせごとに求め、より的確な判断基準を持たせることで、より的確なテスト領域の設定を行うことが推奨される。
【００４４】
もっとも、この閾値をドライブとメディアの組み合わせごとに設定することは、記録工程の増加要因にもなるため、ドライブ個体ごとのバラツキが閾値変動の主要因と仮定して、ドライブ製造時に個体ごとに適した閾値をメモリ３８に格納しておいても良い。
【００４５】
図５は、図４に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。同図に示すように、基準閾値の決定は、所定の記録条件による記録再生を行い、その結果に基づいてシステムとしての基準値を決定し、該基準値から所定のマージンを確保した値をテスト領域決定の際に使用する閾値とすることで行われる。以下、各ステップを順に説明する。
【００４６】
まず、記録条件設定を行うステップＳ５０を実行し、このステップでは、パルス幅、パワー、記録再生速度、記録アドレス等の記録再生に必要な条件を所定のパターン用意し、この記録条件をドライブ２０に設定した後、該ドライブ内に基準メディアを装填する。基準メディアとしては、各種のメディアがある中から特性が標準的なものを選ぶことが望ましい。
【００４７】
次に、上記のステップＳ５０で設定した記録条件で装填した基準メディアに対して、記録と再生を行うステップＳ５２を実行し、各記録条件における記録再生特性値、例えばジッタを取得する。ここで取得する特性値としては記録品位を示す値を選択する。
【００４８】
続いて、上記ステップＳ５２で取得した記録再生特性値から最良の値、例えば、ジッタの最小値を求め、これをシステム基準値とするステップＳ５４を実行する。これにより、当該ドライブで最適値に近いと思われるジッタ値が基準値として設定される。尚、この基準値はジッタ最適点ではなく、所定の閾値と交差する２点の中間値、即ちパワーマージンの中間値としても良い。
【００４９】
最後に、上記ステップＳ５４で決定したシステム基準値に対して、所定の係数α（α＞１とすることが望ましい）を掛け合わせた値を閾値として算出するステップＳ５６を実行する。これにより、システム基準値に対して所定のマージンを持たせた形で判断が行われる。即ち、システム基準値を用いた閾値の算出は、閾値＝システム基準値×αで行われ、係数αとしては、およそ１．５程度の値を用いることが望ましい。尚、この係数αはドライブやメディアの種類に応じて適切な値を設定すれば良く、α＝０．８〜１．２のようにシステム基準値に近い値を設定しても良いし、α＝２．０〜３．０のように、大きめに設定しても良い。
【００５０】
図６は、図５に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅に対してパワーをＰ１〜Ｐ６まで変化させて、再生特性１０２−１〜１０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、パルス幅Ｗ１〜Ｗ４とパワーＰ１〜Ｐ６が記録条件となり、最も低いジッタ値が得られた再生特性１０２−３の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。尚、同図中のマトリクス内に示された矢印はテスト条件を変化させる方向を示し、以下の説明においても同様の意味で使用する。
【００５１】
図７は、図５に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅ごとにパワーの変化範囲を変えて、再生特性１０２−１〜１０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、最も低いジッタ値が得られた再生特性１０２−２の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。このように、閾値の決定は、パルス幅ごとにパワー条件を変更して求めることも可能である。
【００５２】
（記録装置の初期設定）
以上説明した図４のステップＳ１０およびステップＳ１２で求めた基準条件と基準閾値をドライブ２０内のメモリ３８に格納するステップＳ１４を実行する。この工程はドライブ２０の製造時に行っておくことが望ましい。
【００５３】
（記録対象メディアの装填）
続いて、ステップＳ１４の初期設定が完了したドライブ２０内に、情報記録を行うメディア１６を装填するステップＳ１６を実行する。
【００５４】
（基準条件による記録再生）
次に、ステップＳ１４で設定した条件を用いて、ステップＳ１６で装填したメディア１６に記録を行うステップＳ１８を実行する。具体的には、基準条件として定義された１つのパルス幅と３種類のパワー値を用いて３回の記録再生を行い３点のジッタ値を得る。この３点のジッタ値をパワー軸との関係でプロットすると、ドライブ２０とメディア１６の組み合わせに応じた記録特性の傾向が明らかになる。
【００５５】
（記録特性の検査）
図８は、図４のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。同図に示すように、記録特性の検査は、前述までのステップで得られた各基準条件に対するジッタ値と閾値とを用いて行う。同図に示す例は、基準条件としてパワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３を用いたときの例であり、各パワー値で得られたジッタ値を結ぶ仮想線が谷型のパターンとなる。このような谷型のパターンが得られたときは、ステップＳ１０で使用した基準メディアとステップＳ１６で装填した記録対象メディアとが同感度であり、記録特性が類似していることを意味する。
【００５６】
ここで、同図（ａ）は谷型パターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は谷型パターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアと記録対象メディアは同感度と考えられる。このように、基準メディアと記録対象メディアが同感度であった場合は、後述するように、テスト記録で使用する条件は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で設定する。
【００５７】
ここで、同図（ａ）と（ｂ）とでは、各記録ポイントＰ１、Ｐ２、Ｐ３でそれぞれ得られた再生値と再生基準値との差分量、即ち、同図の例ではジッタ値とジッタ閾値との差分量が異なり、同図（ａ）の方が得られた再生値が再生基準値に近くなる。
【００５８】
このことは、同図（ａ）の方が同図（ｂ）よりも最適条件の発見が容易であると考えられるため、同図（ａ）の記録特性が得られたときの方が同図（ｂ）の記録特性が得られたときよりも、テスト回数を少なく設定し、より少ないテスト回数でより適した解を見出す構成としても良い。
【００５９】
即ち、再生値と再生基準値との差分量が少なかった場合は、最適条件が前述の基準条件に近くなり、再生値と再生基準値との差分量が多かった場合は、最適条件が前述の基準条件から遠くなるため、テスト回数をより少なくしたい場合には、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させることが望ましい。
【００６０】
図９は、図４のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が下がってゆく右下がりのパターンとなる。このような右下がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が低感度であることを意味する。
【００６１】
ここで、同図（ａ）は右下がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右下がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が低感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が低感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を高パワー、広パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。
【００６２】
また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより高パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ３よりも高パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録特性の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。
【００６３】
また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。
【００６４】
図１０は、図４のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が上がってゆく右上がりのパターンとなる。このような右上がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が高感度であることを意味する。
【００６５】
ここで、同図（ａ）は右上がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右上がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が高感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が高感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を低パワー、狭パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。
【００６６】
また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより低パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ１よりも低パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録特性の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。
【００６７】
また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。
【００６８】
（テスト領域の決定）
図１１は、図４のステップＳ２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、谷型パターンが得られた場合は、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントをテスト記録で使用するパワーの変化領域とし、この変化領域がパワーレンジとなる。尚、本発明においては、実際にテスト記録で使用するパワーの範囲を「パワーレンジ」と定義し、ジッタが閾値以下となるパワーの範囲を「パワーマージン」と定義する。
【００６９】
ここで、近似曲線１０６は、パルス幅ごとに異なるため、基準条件で用いたパルス幅をＷ４とすると、このＷ４を中心としたパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれに対して、パワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３で記録し、その結果得られた近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントを確認してゆく。これにより同図のマトリクスイメージに示すように、各パルス幅ごとに閾値以下となるパワーレンジが得られ、同図のハッチで示した領域がテスト領域となる。ここで、基準条件として使用したＰ１、Ｐ２、Ｐ３のパワー３条件と、パルス幅Ｗ４をマトリクス中のイメージで示すと、同図の１０８−１、１０８−２、１０８−３となり、決定されたテスト領域は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域として設定される。
【００７０】
このように、パルス幅ごとにパワーレンジを求めることで、閾値以下となる領域を集中してテストすることができるため、少ないテスト回数でより適した条件を見出すことが可能になる。
【００７１】
尚、パワーマージンが広く取れた場合には、パワー変化のステップを大きめに設定し、パワーマージンが狭かった場合には、パワー変化のステップを小さく設定することでもテスト回数の低減を図ることができる。例えば、１０ｍＷのマージンが取れた場合には、ラフにテストしても最適値が得られるものと仮定して２ｍＷステップで５回のテストを行い、１ｍＷのマージンが取れた場合には、より精密なテストが必要と判断して０．１ｍＷステップで１０回テストするような構成も可能である。
【００７２】
図１２は、図４のステップＳ２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右下がりパターンが得られた場合は、最適条件がより高パワー側にあると考えられるため、Ｐ３よりも高いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ＋のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。
【００７３】
ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件１０８−１、１０８−２、１０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が高パワー側にシフトされた形となる。この例では、谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右下がりパターンの場合は、低感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも広いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。
【００７４】
図１３は、図４のステップＳ２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右上がりパターンが得られた場合は、最適条件がより低パワー側にあると考えられるため、Ｐ１よりも低いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ＋、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線１０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。
【００７５】
ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件１０８−１、１０８−２、１０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が低パワー側にシフトされた形となる。この例でも谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右上がりパターンの場合は、高感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも狭いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。
【００７６】
即ち、上述した手法では、各パルス幅ごとに記録特性の検査が行われ、その結果に基づいて、各パルス幅ごとにテスト回数が決定されるため、テスト回数の低減が期待できる。以上説明した記録特性の検査は、基準条件での記録によるジッタ変化をパターニングすることで行う例であり、より望ましくは、下記に示す８パターンを用いて行うことが推奨される。
【００７７】
図１４は、図４のステップＳ２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。同図に示すように、パターン１は、谷型、右上がり、右下がり等のどのようなパターンであっても、ジッタの最大値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られたときは、基準メディアと同程度の感度であると見なすとともに、閾値以下となるマージンが広く取れると判断し、パワー条件を低パワー側と高パワー側のそれぞれに拡張する。即ち、このパターン１では、閾値近傍の値が取れていないため、低パワー側と高パワー側の両方に追加記録が行われることになる。
【００７８】
その後、この追加記録の結果得られたジッタ特性を曲線近似し、この近似曲線がジッタ閾値と交差する大小２点の間隔をパワーレンジの基準値とする。
【００７９】
さらに、このパターンが得られたときは、基準値±０．２Ｔのパルス幅領域をテスト領域として決定し、テスト記録時には、このテスト領域内を０．２Ｔごとに変化させて最適記録条件の検出を行う。尚、Ｔは記録ピットの単位時間長を示す。
【００８０】
ここで、基準値となるパルス幅をパルス条件１とし、拡張した２点をパルス条件２および３とすると、パターン１のパルス条件２および３は±０．２Ｔ拡張された後のパルス幅となる。このパルス幅の条件変更に伴って、テスト条件として使用するパワーレンジにも若干の変更を行う。
【００８１】
即ち、パルス幅を０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×１）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を０．２Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×２）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を−０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとする。
【００８２】
よって、このパターン１に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００８３】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×(−２)）ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、本発明では、上記（１）に示した基準条件は、実際のテスト記録で使用しなくても良い。
【００８４】
パターン２は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度であると判断し、基準値±０．１Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン２に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００８５】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
パターン３は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度、かつメディアの素性差が大きいと判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン３に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００８６】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン４は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや低感度であると判断し、基準値、＋０．１Ｔおよび＋０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン４に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００８７】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン５は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり低感度であると判断し、基準値、＋０．２Ｔおよび＋０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン５に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００８８】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋４））ｍＷ
パターン６は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや高感度であると判断し、基準値、−０．１Ｔおよび−０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン６に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００８９】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
パターン７は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり高感度であると判断し、基準値、−０．２Ｔおよび−０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン７に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９０】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−４））ｍＷ
パターン８は、山型パターンが得られた場合であって、ジッタの最大値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、異常パターンであると判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン８に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【００９１】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、以上説明した８つのパターンのうち、基準メディアに最も近くなるパターン２以外のパターンが検出された場合は、再生誤動作によるものでないことを確認するために、このパターンの基になった記録結果を再度再生し、ジッタを再検出する構成としても良い。この場合、再度の再生によりパターン２以外の特性が検出された場合は、図１４に示す条件に従って、記録条件の追加と拡張を行えば良い。
【００９２】
ここで、上記再生誤動作の確認を行った結果、パターン８が検出された場合は、記録誤動作の可能性が考えられるため、追加記録およびパルス幅の拡張を行う前に、パルス幅の基準値で再度記録を行う。この再記録結果を再生してもパターン８となった場合は、追加記録、即ち、パルス条件１のマージン測定を行うためのパワー拡張は行わずに、パルス条件の拡張、即ち、パルス条件２および３の拡張を行う。これらパルス条件２および３の拡張に応じたパワーの拡張は前述の手法で行えば良い。
【００９３】
即ち、パターン８の場合、パルス条件１ではマージンが取れず、拡張の基準となるパワーレンジを求めることができないため、初期のパワー条件範囲を基準となるパワーレンジとして設定する。
【００９４】
（テスト領域の決定：近似法によるパワーレンジの決定）
前述の手順を実行することにより、少ないテスト回数で最適解を得るに有効なテスト領域が決定されるが、このテスト領域決定の際に重要となるパワーレンジの決定手法について以下説明を加える。
【００９５】
本発明では可能な限り少ないテスト回数で最適解発見の精度を上げたいため、閾値以下の領域にテスト条件を集中させることは前述したとおりである。この考え方に基づけば、テスト記録の際に使用されるパワーレンジは、閾値に対するマージンを示す大小２点のパワー値から求めればよいこととなる。ここで、閾値に対するマージンとは、その領域であれば、閾値以下の特性値が得られる幅を意味し、大小２点のパワー値とは、このマージンの幅を決める低パワー側の値と、高パワー側の値を意味する。
【００９６】
ここで、各種メディアのテスト記録時間の短縮およびライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限の有るメディアのテスト領域の効率化を考えると、テスト記録に要する記録ポイントはより少ないことが望ましいが、ここで求めるパワーレンジは、最適記録条件の判断基準となる重要なパラメータであるため、高精度であることが望まれる。
【００９７】
このパワーレンジを精度良く求めることは、より選択された領域の集中したテストを意味するため、テスト回数の低減にも寄与する。例えば、０．１ｍＷに１回の頻度でテスト記録を行う場合には、パワーレンジが１ｍＷだと１０回のテスト記録が行われ、２ｍＷだと２０回のテスト記録が行われるため、パワーレンジを絞ることがテスト回数の低減に寄与することになる。
【００９８】
そこで、本発明では、記録再生信号の記録品位が記録パワーに対して最適点を極値とする２次曲線的な変化を描くことに着目し、数点の記録ポイントを用いて特性曲線を近似算出することで、求めたいマージン量を得る手法を提唱する。このような近似手法を適用することにより、数点の記録ポイントでパワーレンジを高精度かつ容易に求めることが可能になり、テスト回数の低減が図られる。
【００９９】
図１５は、図４のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。同図に示すように、近似を行うにあたっては、まず、記録特性の判断基準とするジッタ値が閾値近傍となる低パワー側のａおよび高パワー側のｃの２点と、これらの間に位置し、かつ、これらａ、ｃおよび閾値のいずれの値よりも小さなジッタ値となるｂを選択する。即ち、ここで選択されるａ、ｂ、ｃは、下記の関係を有することになる。
【０１００】
ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ
ここで、上記の閾値近傍は、同図に示すように、閾値からある幅を持った上限値と下限値の間として定義し、望ましくは、上限値を閾値の４０％、下限値を閾値の５％に設定する。その後、これらａ，ｂ，ｃの値を２次関数で近似し、該２次関数と閾値がクロスする大小２点の差分をパワーレンジとする。尚、閾値近傍として定義する範囲は、−５％〜＋４０％や−１０％〜３０％等、記録ポイントの間隔等を考慮して適宜変更可能である。
【０１０１】
図１６は、図４のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。同図に示すように、Ａ、Ｂ、Ｃの３条件でのみでは、前述の「ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ」の条件を満たす関係が得られなかった場合、高パワー側のＤを追記することで、閾値近傍の値を得ることが望ましい。
【０１０２】
さらに、同図に示すように、Ｂ＞Ｃの関係がある場合は、Ｂを用いずに、Ａ、Ｃ、Ｄの３点で近似式を算出することが望ましい。
【０１０３】
このとき記録ポイント３点と閾値の関係は、「Ａ＞Ｃ、Ｄ＞Ｃ、閾値＞Ｃ」となり、近似曲線を描くに適した関係となるため、３点近似で高精度な近似曲線を得ることができる。尚、Ｄに示した追加記録条件は、追記前の記録ポイントが示すＡ＞Ｂ、Ｂ＞Ｃおよび閾値によって決定すれば良い。
【０１０４】
また、図１５とは逆に、低パワー側に閾値近傍の値がなかった場合は、Ａより低パワー条件で追記を行えば良く、記録ポイントと閾値の関係によっては、適宜１点以上の記録条件を追加しても良い。
【０１０５】
また、追加記録条件で用いるパワーの範囲は、所定のパワーステップに対して一定の変化を持たせても良いし、予めパワーの変動に対するジッタ変動の関係を求めておき、その関係からパワー条件を設定しても良い。
【０１０６】
尚、上記記録条件の追加を行っても、パワーレンジを求めるに十分な記録ポイントが得られない場合は、上述と同様の手順により再度記録条件の追加を行って記録ポイントを変更する。
【０１０７】
また、ライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限のある場合や、膨大なテスト時間の使用を回避するため、上記再度記録条件の追加回数に上限値を持たせても良く、記録条件の追加によって記録パワーがレーザ出力値を超えないように、追記パワーの上限値を持たせておいても良い。
【０１０８】
また、上述の例では、３点近似によりパワーレンジを求めたが、最も閾値に近い２点を選択し、これら２点がそれぞれ示す大小２点のパワー値の差分よりパワーレンジを決定しても良い。
【０１０９】
その他、閾値近傍の２点を選択する手法としては、閾値をまたぐ大小２点が見つかるまでパワーを変化させて記録し、該記録した中で最も閾値に近い２点を選択しても、この２点をそのまま選択しても良い。この方法については以下詳細な説明を加える。
【０１１０】
（テスト領域の決定：サンプリングによるパワーレンジの決定）
図１７は、図４のステップＳ２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。同図に示す例では、前述した３点近似ではなく、閾値に近い値が得られるまでパワーを徐々に変化させて、閾値に近い大小２点のパワー値を基準にパワーレンジが求められる。
【０１１１】
つまり、同図に示すように、記録パワーをＰ１からＰ２、Ｐ３・・・と順に増加させて記録再生を行い、閾値以上の値が得られたパワー値Ｐ６まで記録再生を繰り返す。この処理のイメージをマトリクスで示すと、パワー変化はＰ１〜Ｐ６まで行うが、パワーレンジは、閾値に最も近い低パワー側のＰ２と高パワー側のＰ６との間となる。このように、閾値をまたぐ２点を選択することによってもパワーレンジを決定することができる。
【０１１２】
ここで、閾値に近い大小２点を選択する方法としては、下記のような形態を適宜選択して使用することができる。
【０１１３】
１）パワーマージンを成す大小２点を選択する方法、即ち、再生基準値を満たすパワー領域内であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
２）パワーマージンのやや外にはなるが再生基準に最も近い２点を選択
３）低パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
４）高パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
５）低パワー側および高パワー側で再生基準値を跨ぐ形となる２点であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
また、上記各手法により選択した２点を用いて記録特性を近似し、再生基準値と交差する大小２点を求めても良い。
【０１１４】
（テスト記録）
図１８は、図４に示したステップＳ２４のテスト記録で使用するパルスパターンの例を示す概念図である。同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。同図に示すように、シングルパルス１０−１およびマルチパルス１０ー２は、パルスの先頭に配置された先頭パルス１２と、後端に配置された後端パルス１４とを具備し、メインパワーＰＷが示す高さで記録パルス全体のエネルギー量が規定され、先頭パルス幅Ｔｔｏｐが示す長さで記録ピット先端に与える初段のエネルギー量が規定される。尚、点線で示したＰＷＤは、エネルギー量の微調整に利用する領域であり、この部分については後述する。
【０１１５】
ここで、メインパワーＰＷは、記録パルス１０−１、１０ー２の中で最も高い値とすることが望ましく、先頭パルス幅Ｔｔｏｐは、３Ｔの長さを有する記録ピットに対応した幅を有し、この幅の記録パルスが最も出現確率が高く、記録品位への影響が大きいため、このＴｒｏｐをテスト記録で変化させることが望ましい。
【０１１６】
同図に示すように、シングルパルスとマルチパルスのいずれを用いる場合も、前述までのステップで決定したテストパワーの値をメインパワーＰＷとして使用し、テストパルスの幅を先頭パルス幅Ｔｔｏｐとして使用する。
【０１１７】
このようにして、メインパワーＰＷと先頭パルス幅Ｔｔｏｐを段階的に変化させながら図４のステップＳ１６で装填したメディアに対してテスト記録を行い、その結果形成された記録ピットを再生して各テスト条件ごとのジッタ値を得る。
【０１１８】
その後、さらに所定のピット−ランドパターンを用いた別のテスト記録を行い、記録パルスと記録ピットのズレ等の他の調整要因を検証し、一連のテスト記録を終了する。
【０１１９】
（記録条件の決定）
前述のテスト記録の結果、最小のジッタ値が得られたメインパワーＰＷと先頭パルス幅Ｔｔｏｐの値、並びに他の調整要因を調整するためのパラメータを決定し、これらの値を当該ドライブとメディアの組み合わせに適した記録条件とする。
【０１２０】
図１９は、図４のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。図１８と同様に、同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。
【０１２１】
同図（ａ）に示すように、シングルパルス１０−１の場合には、他の調整要因として、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に、メインパワーＰＷよりもＰＷＤだけ低い低パワー領域を設ける。この量を規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。同様に、マルチパルス１０−２の場合には、同図（ｂ）に示すように、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に位置する中間パルスの幅Ｔｍｐを規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。
【０１２２】
図２０は、図４のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。図１８と同様に、同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。
【０１２３】
同図に示すように、シングルパルス１０−１とマルチパルス１０−２のいずれの場合も、他の調整要因として、先頭パルス１２の開始位置を調整するＴｔｏｐｒを設定するとともに、後端パルス１４の終了位置を調整するＴｌａｓｔを設定する。これらの値を調整することで、記録後のピット長が適切な値となるパルスパターンを決定する。
【０１２４】
以上の手順で得られたメインパワーＰＷ、先頭パルス幅Ｔｔｏｐ、低パワー領域ＰＷＤ、先端パルス位置Ｔｔｏｐｒ、後端パルス位置Ｔｌａｓｔを図３に示したメモリ３８に格納し記録条件の決定を終了する。
【０１２５】
（情報の記録）
図３に示すＬＤコントローラ３６は、ドライブ２０の外部から入力された記録対象となる情報に対して、前述の工程でメモリ３８に格納された各種記録条件を基準に記録パルスを生成し、これをピックアップ３０に出力する。これにより、メディア１６に対する情報の記録が行われる。
【０１２６】
（テスト領域決定の他の形態）
以下、本発明の特徴部となるテスト領域決定の他の実施形態を説明する。
【０１２７】
図２１は、閾値を超える位置までをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例では、テスト記録の際に使用するパワーをＰ１、Ｐ２・・・の順に変化させてゆき、ジッタ値が閾値を超えたＰ６でテスト記録を終了する例である。このイメージをマトリクスで示すと、あるパルス幅に対してパワーをＰ１、Ｐ２、・・・Ｐ６と離散的に変化させ、その中で最もジッタ値の低いパワー値Ｐ４が記録条件１０４とする。この場合、パワーを変化させたＰ１〜Ｐ６がパワーレンジとなり、閾値以下の領域に近いＰ２〜Ｐ６がパワーマージンとなる。このように、閾値に達するまでをテスト領域とすることで、常時固定のパワー範囲をテストする手法に比べてテスト回数の低減が図られる。
【０１２８】
図２２は、パワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２１に示した手順に加えてパルス幅を変化させ、各パルス幅ごとに得られたパワーレンジまたはパワーマージンの極を記録条件とする例である。この例では、パルス幅をＷ１、Ｗ２・・・と順次変化させながら、各パルス幅ごとに図２１に示した閾値に至るまでパワーを変化させる工程を実行し、パワーレンジまたはパワーマージンが最も大きくなるパルス幅Ｗ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１２９】
パワーレンジまたはパワーマージンの極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パルス幅Ｗ４が極になる場合は１つ後ろのＷ５までテスト記録が行われることになる。ここで、パワーレンジおよびパワーマージンは、各パルス幅ごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパルス幅ごとに異なることになる。
【０１３０】
パルス幅Ｗ４が極になる場合は、このＷ４の中で最もジッタ値の低いパワーＰ３とパルス幅Ｗ４が記録条件１０４となる。このように、図２１の工程に加えて、パルス幅を変化させることにより、少ないテスト回数でテスト領域をパルス幅方向に拡張することができる。
【０１３１】
図２３は、閾値近傍の２点間をパワーレンジとする例を示した概念図である。同図に示す例では、閾値に近い値が得られるまでパワーを徐々に変化させて、閾値に近い大小２点のパワー値を基準にパワーレンジを求める例である。この例の実行手順については、前述の図１７を用いた説明と同じであるため、ここでは説明を省略する。
【０１３２】
この例が前述の図２１に示した例と異なる点は、Ｐ２〜Ｐ６までのサンプリングポイントのみをテストするのではなく、パワーレンジの決定後、当該レンジ内をより微細なステップで変化させ、より適した条件を求めようとする点にある。
【０１３３】
図２４は、パワーレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。同図に示すように、図２３で決定したパワーレンジＰ２〜Ｐ６に対し、より微細なステップでパワーを変化させ、得られたジッタ値の中で最小の条件を記録条件１０４とする。このように、パワーレンジの中をより微細なステップで検査することにより、最適に近い値を見出すことができる。尚、この例では、Ｐ３とＰ４の間に最適点が発見された例を示している。
【０１３４】
図２５は、図２４の工程に加えてパワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２４に示した手順に加えてパルス幅を変化させ、各パルス幅ごとに得られたパワーレンジまたはパワーマージンの極を記録条件とする例である。この考え方は、図２１に示した工程を図２２に適用する場合と同じであるため、ここでは説明を省略する。
【０１３５】
図２６は、閾値を超える位置までパルス幅を変更し、この変更範囲をテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例では、テスト記録の際に使用するパルス幅をＷ１、Ｗ２・・・の順に変化させてゆき、ジッタ値が閾値を超えたＷ６でテスト記録を終了する例である。このイメージをマトリクスで示すと、パワーＰ１に対してパルス幅をＷ１、Ｗ２、・・・Ｗ６と順次変化させ、その中で最もジッタ値の低いパルス幅Ｗ４を記録条件１０４とする。この場合、パルス幅を変化させたＷ１〜Ｗ６がテストされるパルスレンジとなり、閾値以下の領域に近いＷ２〜Ｗ６がパルスマージンとなる。このように、閾値に達するまでをテスト領域とすることで、常時固定のパルス範囲をテストする手法に比べてテスト回数の低減が図られる。
【０１３６】
図２７は、パルスレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２６に示した手順に加えてパワー値を変化させ、各パワー値ごとに得られたパルスレンジまたはパルスマージンの極を記録条件とする例である。この例では、パワー値をＰ１、Ｐ２・・・と順次変化させながら、各パワーごとに図２６に示した閾値に至るまでパルスを変化させる工程を実行し、パルスレンジまたはパルスマージンが最も大きくなるパワーＰ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１３７】
パルスレンジまたはパルスマージンの極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パワーＰ４が極になる場合は１つ後ろのＰ５までテスト記録が行われることになる。ここで、パルスレンジおよびパルスマージンは、各パワーごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパワーごとに異なることになる。
【０１３８】
パワーＰ４が極になる場合は、このＰ４の中で最もジッタ値の低いパルス幅Ｗ３とパワーＰ４が記録条件１０４となる。このように、図２６の工程に加えて、パワーを変化させることにより、少ないテスト回数でテスト領域をパワー方向に拡張することができる。
【０１３９】
図２８は、パルスレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。同図に示すように、図２７で特定したパルスレンジの極付近となるＰ３〜Ｐ５に対し、より微細なステップでパワーを変化させ、得られたジッタ値の中で最小の条件を記録条件１０４とする。このように、極付近のパワーをより微細なステップで検査することにより、最適に近い値を見出すことができる。尚、この例では、Ｐ３とＰ４の間に最適点が発見された例を示している。
【０１４０】
図２９は、図２１の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２１に示した手順に加えてパルス幅を変化させ、各パルス幅ごとに得られたジッタの最小値の極を記録条件とする例である。この例では、パルス幅をＷ１、Ｗ２・・・と順次変化させながら、各パルス幅ごとに図２１に示した工程を実行し、該各工程で得られたジッタの最小値を比較しながら、その中でも最小のジッタ値となるパルス幅Ｗ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１４１】
ジッタ最小値の極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パルス幅Ｗ４が極になる場合は１つ後ろのＷ５までテスト記録が行われることになる。ここで、ジッタの最小値は、各パルス幅ごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパルス幅ごとに異なることになる。
【０１４２】
パルス幅Ｗ４が極になる場合は、このＷ４の中で最もジッタ値の低いパワーＰ３とパルス幅Ｗ４が記録条件１０４となる。このように、図２１の工程に加えて、ジッタ最小値の極を検出することによっても、少ないテスト回数でテスト領域をパルス幅方向に拡張することができる。
【０１４３】
図３０は、図２６の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。同図に示す例は、図２６に示した手順に加えてパワーを変化させ、各パワーごとに得られたジッタの最小値の極を記録条件とする例である。この例では、パワーをＰ１、Ｐ２・・・と順次変化させながら、各パワーごとに図２６に示した工程を実行し、該各工程で得られたジッタの最小値を比較しながら、その中でも最小のジッタ値となるパワーＰ４が特定できるまでこの工程を繰り返す。
【０１４４】
ジッタ最小値の極は、隣接するサンプル点の値の変化量を検証することで特定可能である。従って、パワーＰ４が極になる場合は１つ後ろのＰ５までテスト記録が行われることになる。ここで、ジッタの最小値は、各パワーごとに異なるため、同図のマトリクスイメージに示したように、テストされるハッチ領域はパワーごとに異なることになる。
【０１４５】
パワーＰ４が極になる場合は、このＰ４の中で最もジッタ値の低いパルス幅Ｗ２とパワーＰ４が記録条件１０４となる。このように、図２６の工程に加えて、ジッタ最小値の極を検出することによっても、少ないテスト回数でテスト領域をパワー方向に拡張することができる。
【０１４６】
以上説明したように、本発明では、記録特性の検査結果に基づき、テスト記録で使用するパワーおよび／またはパルス幅を決定しているため、より少ない回数でより適した記録条件を得ることが可能になる。
【０１４７】
望ましくは、メディアの特性、ドライブの特性およびこれらの相性を考慮した実際の記録環境に近い形で記録特性の検査を行い、その結果に基づきテスト条件を決定することが推奨される。
【産業上の利用可能性】
【０１４８】
本発明によれば、より少ないテスト回数で、実際の使用に供されるメディアとドライブの組み合わせに適した記録条件を見出すことが可能になるため、メディアやドライブの特性バラツキの影響が顕著になってくる高速記録や高密度記録への適用が期待される。
【図面の簡単な説明】
【０１４９】
【図１】本発明に係るテスト条件の特徴を示す概念図である。
【図２】パワーとパルス幅の変化に対するジッタ特性を示す特性図である。
【図３】本発明に係る光情報記録媒体および光情報記録装置の全体構成を示すブロック図である。
【図４】本発明に係るドライブが実行する一連の手順を示すフローチャートである。
【図５】図４に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。
【図６】図５に示したフローの一実施例を示す概念図である。
【図７】図５に示したフローの一実施例を示す概念図である。
【図８】図４のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。
【図９】図４のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。
【図１０】図４のステップＳ２０で実行した記録特性検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。
【図１１】図４のステップＳ２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１２】図４のステップＳ２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１３】図４のステップＳ２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１４】図４のステップＳ２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。
【図１５】図４のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。
【図１６】図４のステップＳ２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。
【図１７】図４のステップＳ２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。
【図１８】図４に示したステップＳ２４のテスト記録で使用するパルスパターンの例を示す概念図である。
【図１９】、図４のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。
【図２０】、図４のステップＳ２６で決定される他の調整要因の一例を示す概念図である。
【図２１】閾値を超える位置までをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２２】図２１の工程に加えてパワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２３】閾値近傍の２点間をパワーレンジとする例を示した概念図である。
【図２４】パワーレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。
【図２５】図２４の工程に加えてパワーレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２６】閾値を超える位置までパルス幅を変更し、この変更範囲をテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２７】図２６の工程に加えてパルスレンジの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図２８】パルスレンジ内をより微細なステップで変化させた場合の例を示す概念図である。
【図２９】図２１の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図３０】図２６の工程に加えて最小ジッタの極が得られるまでをテスト領域とする例を示した概念図である。
【図３１】メディアに格納されたＩＤ情報を基にテスト条件を決定する手法の概念を説明した概念図である。
【図３２】図３２に示した従来手法により得られる再生特性を示す概念図である。
【図３３】特許文献１に開示された手法の特徴を示す概念図である。
【図３４】特許文献２、３および４に開示された手法の特徴を示す概念図である。
【符号の説明】
【０１５０】
１０…記録パルス、１２…先頭パルス、１４…後端パルス、１６…メディア、２０…ドライブ、３０…ピックアップ、３２…サーボ検出部、３４…ＲＦ検出部、３６…ＬＤコントローラ、３８…メモリ、４０…トラッキング制御部、４２…フォーカス制御部、１００…テスト領域、１０２…再生特性、１０４…記録条件、１０６…近似曲線、１０８…基準条件
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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