(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録層が積層形成された検査用光ディスクであって、
前記複数の記録層それぞれに、複数の検査用データが間欠的に記録されており、
各記録層には、他の記録層に記録されたデータの記録範囲開始端部に対向するデータ未記録部分と、他の記録層に記録されたデータの記録範囲終了端部に対向するデータ未記録部分と、他の記録層に記録されたデータの記録範囲開始端部に対向するデータ記録済部分と、他の記録層に記録されたデータの記録範囲終了端部に対向するデータ記録済部分と、が設けられていることを特徴とする検査用光ディスク。
【請求項２】
請求項１記載の検査用光ディスクであって、
各記録層に記録された検査用データの記録範囲と、他の記録層に記録された検査用データの記録範囲とは、一部重複していることを特徴とする検査用光ディスク。
【請求項３】
請求項１または２に記載の検査用光ディスクであって、
検査用光ディスクが、二層の記録層が積層形成された二層光ディスクである場合に、
前記二層の記録層それぞれに、他の記録層に記録されたデータの記録範囲に含まれる記録範囲の検査用データと、他の記録層に記録されたデータの記録範囲を完全に含む記録範囲の検査用データと、が記録されていることを特徴とする検査用光ディスク。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載の検査用光ディスクであって、
各記録層のデータ領域は、周方向に複数のデータ範囲に分割されており、
前記複数のデータ範囲のそれぞれには、同じパターンで検査用データが記録されていることを特徴とする検査用光ディスク。
【請求項５】
請求項４に記載の検査用光ディスクであって、
各記録層のデータ領域は、周方向に三つのデータ範囲に分割されていることを特徴とする検査用光ディスク。
【請求項６】
複数の記録層が積層形成された多層光ディスクを取り扱う光ディスクドライブまたは光ピックアップの検査方法であって、
前記複数の記録層それぞれに複数の検査用データが間欠的に記録されている検査用光ディスクを、検査対象である光ディスクドライブに装填するステップと、
他の記録層に記録されたデータの記録範囲端部に対向しない部分におけるトラッキングオフセット量を検出するステップと、
他の記録層に記録されたデータの記録範囲端部に対向する部分におけるトラッキングオフセット量を検出するステップと、
検出された二つのトラッキングオフセット量の比較に基づき、層間クロストークの影響を判断するステップと、
を備えることを特徴とする光ディスクドライブまたは光ピックアップの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録層が積層形成された多層光ディスクを取り扱う光ディスクドライブの検査に用いられる検査用光ディスク、および、光ディスクドライブまたは光ピックアップの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録再生する光ディスクドライブの性能評価や調整に用いられる検査用光ディスクが提案されている。例えば、特許文献１には、ディスク径方向膜圧を順次変化させた記録層を二層積層した検査用光ディスクが開示されている。また、特許文献２には、記録密度の異なる複数の記録層を積層し、各記録層に信号が一定の形式で記録されたテストディスクが開示されている。
【０００３】
特許文献１に記載の検査用光ディスクによれば、二層光ディスクにおいて膜厚が光ディスクドライブの性能に与える影響を検査することができる。また、特許文献２に記載のテストディスクによれば、一枚のディスクで種々の記録密度に対する光ディスクドライブの性能をテストすることができる。
【０００４】
ところで、光ディスクの記録層は、データの記録前後で、光の反射率および透過率が異なる。この反射率および透過率の違いは、当然、データの記録再生品質に影響を与える。複数の記録層が積層された多層光ディスクの場合は、レーザ光を合焦照射している記録層だけでなく、それ以外の記録層における反射率および透過率の影響も受ける。例えば、二層の記録層が積層された二層光ディスクにおいて、光源に近い記録層であるＬ０層にレーザ光を合焦照射し、その反射光を受光する場合、光源から遠い記録層であるＬ１層の反射率の影響を受ける。また、Ｌ１層にレーザ光を合焦照射し、その反射光を受光する場合、Ｌ０層の透過率および反射率の影響を受ける。特に、データの記録範囲の境界部分では、反射率および透過率が急激に変化する。この反射率および透過率の急激な変動は、トラッキングサーボに大きな影響を与える。そこで、特許文献３には、記録領域と未記録領域との境界を判別し、一つの記録層に記録を行う際、他の記録層における境界部によってトラッキングサーボへの影響が大きいとされる領域にはデータ記録を行わない技術が開示されている。この特許文献３の技術によれば、多層光ディスクへのデータ記録、再生時におけるトラッキングサーボの精度を向上でき得る。
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−２２２５２７号公報
【特許文献２】特開２００４−３０３３５１号公報
【特許文献３】特開２００２−２３７０５０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、特許文献３の技術では、光ディスクドライブ全体の制御が複雑になりやすい。また、一部の領域へのデータ記録を避けているため、光ディスク全体での記憶容量の低下を招く。そのため、特許文献３のような技術を用いることなく、正確なデータ記録再生ができることが望ましい。換言すれば、予め光ディスクドライブの性能を評価し、調整し、特許文献３に記載の技術を採用することなく多層光ディスクについてデータ記録再生できるようにしておくことが望ましい。しかし、従来、他の記録層におけるデータ記録状態の影響に対する光ディスクドライブまたは光ピックアップのロバスト性を評価、調整でき得る検査用光ディスクは無かった。
【０００７】
そこで、本発明では、他の記録層におけるデータ記録状態の影響に対する光ディスクドライブまたは光ピックアップのロバスト性を評価、調整でき得る検査用光ディスクおよび検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の検査用光ディスクは、複数の記録層が積層形成された検査用光ディスクであって、前記複数の記録層それぞれに、複数の検査用データが間欠的に記録されており、各記録層には、他の記録層に記録されたデータの記録範囲開始端部に対向するデータ未記録部分と、他の記録層に記録されたデータの記録範囲終了端部に対向するデータ未記録部分と、他の記録層に記録されたデータの記録範囲開始端部に対向するデータ記録済部分と、他の記録層に記録されたデータの記録範囲終了端部に対向するデータ記録済部分と、が設けられていることを特徴とする。
【０００９】
好適な態様では、別の好適な態様では、各記録層に記録された検査用データの記録範囲と、他の記録層に記録された検査用データの記録範囲とは、一部重複している。検査用光ディスクが、二層の記録層が積層形成された二層光ディスクである場合に、前記二層の記録層それぞれに、他の記録層に記録されたデータの記録範囲に含まれる記録範囲の検査用データと、他の記録層に記録されたデータの記録範囲を完全に含む記録範囲の検査用データと、が記録されていることが望ましい。
【００１０】
好適な態様では、各記録層のデータ領域は、周方向に複数のデータ範囲に分割されており、前記複数のデータ範囲のそれぞれには、同じパターンで検査用データが記録されている。各記録層のデータ領域は、周方向に三つのデータ範囲に分割されていることが望ましい。
【００１１】
他の本発明である光ディスクドライブまたは光ピックアップの検査方法は、複数の記録層が積層形成された多層光ディスクを取り扱う光ディスクドライブまたは光ピックアップの検査方法であって、前記複数の記録層それぞれに複数の検査用データが間欠的に記録されている検査用光ディスクを、検査対象である光ディスクドライブに装填するステップと、  他の記録層に記録されたデータの記録範囲端部に対向しない部分におけるトラッキングオフセット量を検出するステップと、他の記録層に記録されたデータの記録範囲端部に対向する部分におけるトラッキングオフセット量を検出するステップと、検出された二つのトラッキングオフセット量の比較に基づき、層間クロストークの影響を判断するステップと、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の検査用光ディスクは、複数の記録層それぞれに、複数の検査用データが間欠的に記録されている。したがって、他の記録層におけるデータ記録状態の影響に対する光ディスクドライブまたは光ピックアップのロバスト性を簡易に評価、調整でき得る。また、他の本発明は、かかる検査用光ディスクを用いて光ディスク装置を検査しているため、簡易に、層間クロストークの影響を評価、調整できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明の実施形態である検査用光ディスク１０の概略断面図である。この検査用光ディスク１０は、ディスクの片面に二層の記録層１４，１８が積層されており、その物理的構成は、通常の二層光ディスクと同様である。
【００１４】
すなわち、検査用光ディスク１０は、レーザ光源側から順に、保護層１２、Ｌ０層１４、中間層１６、Ｌ１層１８、ディスク基板２０の順に積層されている。保護層１２は、所定の厚みを有した透明層であり、光源（図示せず）から照射されたレーザ光５０をそのまま透過させる。Ｌ０層１４は、データが記録される記録層である。このＬ０層１４には、螺旋状にトラックが形成されており、当該トラックに沿ってデータが記録されている。中間層１６は、Ｌ０層１４とＬ１層１８との間に配される透明層である。この中間層１６も規定の厚みで形成されており、Ｌ０層１４を透過した光をそのまま透過させる。Ｌ１層１８は、データが記録される記録層である。このＬ１層１８もＬ０層１４と同様にトラックが形成されており、当該トラックに沿ってデータが記録される。ディスク基板２０は、ポリカーボネート等からなる所定の厚みの基板である。
【００１５】
ここで、通常、光ディスクに記録されたデータを再生、あるいは、光ディスクにデータを記録する場合は、当該データの記録再生の対象となる位置に、レーザ光を合焦させて照射する。そして、その際得られる戻り光の強度に基づいて、記録されているデータの再生信号を生成したり、照射するレーザ光の強度を調整したりする。このとき、記録再生の対象となる位置におけるデータの記録状況を考慮する必要がある。すなわち、通常、光ディスクは、データの記録状況に応じて反射率が異なってくる。例えば、書換型ＤＶＤ等で採用されている相変化型ディスクの場合、データが記録されていない結晶化部分と、データ記録済みの非結晶化部分とでは、その反射率が異なってくる。反射率が異なれば、当然、得られる戻り光の強度も異なってくる。そのため、データの記録再生時には、記録再生の対象となる位置におけるデータの記録状況を考慮する必要がある。
【００１６】
また、二層光ディスクの場合は、記録再生の対象となる位置のデータ記録状況だけでなく、当該対称となる位置に正対する他の記録層におけるデータ記録状況も考慮する必要がある。すなわち、二層光ディスクドライブの場合は、データ記録再生の対象となる記録層での反射光だけでなく、他の記録層における反射光も、戻り光に重畳されている。この他の記録層における反射光成分は、通常、層間クロストーク成分と呼ばれる。この層間クロストーク成分は、ジッタ値やトラッキングエラー値の検出精度低下の原因となり、ひいては、記録再生品質の低下の原因となっている。
【００１７】
特に、記録再生対象位置が、他の記録層におけるデータ境界部分に相当した場合には、トラッキングエラーにオフセットを生じさせる。すなわち、この場合、戻り光には、この境界部分での反射光（層間クロストーク成分）も重畳されることになる。この境界部分での反射光は、記録部分での反射光と、未記録部分での反射光との合成であり、その強度分布は非対称となっている。つまり、層間クロストーク成分は非対称となる。一方、通常、光ディスクドライブでは、対象となる記録層での反射光の強度分布の対称性に基づいてトラッキングエラー値を検出している。ただし、対象となる記録層での反射光の強度分布のみを抽出することは困難であるため、多くの場合は、層間クロストーク成分が重畳された戻り光の強度分布の対称性に基づいてトラッキングエラー値を検出している。しかし、戻り光に非対称な層間クロストーク成分が重畳されている場合、この非対称性が戻り光全体に影響を与えてしまい、適切な、トラッキングエラー値を検出できない場合がある。
【００１８】
これについて、図２を用いて説明する。図２は、二層光ディスクの概略断面図である。図２において、ハッチングを施した部分はデータ記録済み部分を示している。図２において、Ｌ０層１４の位置Ｘのデータを再生する場合を考える。位置Ｘのデータを再生する場合は、当該位置Ｘにレーザ光５０を合焦させて照射する。このとき、照射されたレーザ光５０の一部はＬ０層１４で反射されて光源側に戻るが、残りの一部はＬ０層１４を透過してＬ１層１８へと至る。そして、Ｌ１層１８で反射、Ｌ０層１４で透過されて光源側に戻る。すなわち、Ｌ０層１４での反射光５２ａおよびＬ１層１８での反射光５２ｂの両方が合成された光が戻り光となる。トラッキングサーボが適切に行われていた場合、Ｌ０層１４での反射光５２ａの強度分布は対称性を持つ。一方、Ｌ１層１８での反射光５２ｂは、データ記録済部分での反射光および未記録部分での反射光が合成されている。つまり、Ｌ１層１８での反射光５２ｂの強度分布は、非対称となる。かかる非対称の反射光が重畳された戻り光の強度分布は、当然、非対称になる。その結果、適切なトラッキングエラーの算出、ひいては、適切なトラッキングサーボの実行が困難になる。つまり、他の記録層のデータ境界部分に相当する位置では、適切なトラッキングサーボが困難になる。以下では、図２における位置Ｘのように、他の記録層におけるデータ記録範囲の境界部分に相当する記録再生対象の記録層の部分を境界対向部と呼ぶ。
【００１９】
二層光ディスクを取り扱う光ディスクドライブでは、通常、かかる層間クロストーク成分の影響を吸収でき得るような構成や信号処理方式が採用されている。しかし、かかる構成や信号処理方式は複雑であったり、微細な調整が必要であったりする。そのため、かかる構成や信号処理方式を、適切に稼動させるためには、その評価や調整が欠かせない。
【００２０】
本実施形態の検査用光ディスク１０は、かかる評価や調整を簡易に行うために、特殊なデータ構成となっている。以下、これについて、詳説する。図３は、検査用光ディスク１０の上面図である。
【００２１】
検査用光ディスク１０は、周方向に三つの領域、すなわち、リードイン領域２２、データ領域２６、リードアウト領域２４に大別されている。リードイン領域２２はディスクの最内周に、リードアウト領域２４はディスクの最外周に、それぞれ設けられた領域である。従来の光ディスクと同様に、このリードイン領域２２およびリードアウト領域２４には、光ディスクの種類や記録密度、アドレス情報等が記録されている。本実施形態では、このリードイン領域２２に、後述する検査用データのアドレス情報を記録している。
【００２２】
データ領域２６は、各種データが記録される領域である。検査用光ディスク１０では、このデータ領域２６がさらに、周方向に三つの範囲、すなわち、内周データ範囲２８、中周データ範囲３０、外周データ範囲３２に分割されている。内周データ範囲２８は、データ領域２６のうち最も内周側に位置するデータ範囲である。外周データ範囲３２は、データ領域２６のうち最も外周側に位置するデータ範囲である。中周データ範囲３０は、内周データ範囲２８および外周データ範囲３２の間に設けられたデータ範囲である。この三つのデータ範囲２８，３０，３２は、いずれも、ほぼ同じ程度の径を有するようになっている。そして、本実施形態では、この三つのデータ範囲２８，３０，３２全てに、同じ記録パターンで検査用データを記録している。
【００２３】
このように、データ領域２６を周方向に三つに分割し、さらに、全てのデータ範囲２８，３０，３２に同じ構成で検査用データを記録するのは次の理由による。通常、光ディスクは、内周から外周にかけて、僅かながら撓みを生じている。この撓みは、光ピックアップと記録層との距離や相対角度、ひいては、レーザ光の合焦精度に影響を与える。かかる撓みの影響をも評価するべく、本実施形態では、データ領域２６を周方向に三分割している。もちろん、場合によっては、データ領域２６を分割することなく、後述する検査用データを一箇所にのみ記録するようにしてもよい。あるいは、より多数のデータ範囲に分割して、径方向位置の相違による記録再生品質の相違をより詳細に評価するようにしてもよい。
【００２４】
図４は、この検査用光ディスク１０のデータ領域２６をトラックに沿って引き伸ばした際のイメージ図である。図４において、１４，１８は、それぞれ、Ｌ０層、Ｌ１層を示している。また、Ｌ０層１４、Ｌ１層１８において、ハッチングを施した部分はデータ記録済範囲を、ハッチングを施していない部分はデータ未記録範囲を示している。
【００２５】
既述したように、検査用光ディスク１０のデータ領域２６は、内周データ範囲２８、中周データ範囲３０、外周データ範囲３２の三つのデータ範囲に分割されている。各データ範囲には、全く同じ構成で検査用データ３４が記録されている。すなわち、三つのデータ範囲における検査用データ３４の記録範囲（記録長さ）や記録間隔は全て同じである。ただし、この記録範囲や記録間隔は、必ずしも同じである必要はなく、各データが間欠的に記録されているのであれば、その記録範囲や記録間隔は適宜変更してもよい。
【００２６】
図５は、一つのデータ範囲における検査用データの記録パターンを示す図である。一つのデータ範囲には、ダミーデータが間欠的に記録されている。ダミーデータは、検査に用いられるデータ、すなわち、検査用データである。ダミーデータは、例えば、“００”などの実データで、その記録深さは均一であることが望ましい。もちろん、記録深さが既知、あるいは、許容範囲内であるならば、適宜、記録深さを変動させてもよい。
【００２７】
本実施形態では、一つのデータ範囲において、各記録層に長い範囲のデータＬｎ＿Ｌ（ｎ＝０，１）と、短い範囲のデータＬｎ＿Ｓと、を間欠的に記録している。すなわち、Ｌ０層１４の一つのデータ範囲には、長いデータＬ０＿Ｌと短いデータＬ０＿Ｓが間隔を開けて記録されている。また、Ｌ１層１８の一つのデータ範囲には、長いデータＬ１＿Ｌと短いデータＬ１＿Ｓが間隔を開けて記録されている。
【００２８】
また、一つの記録層における長いデータＬｎ＿Ｌは、他の記録層の短いデータＬｎ＿Ｓに対向する位置に記録されている。例えば、Ｌ０層１４における長いデータＬ０＿Ｌは、Ｌ１層１８における短いデータＬ１＿Ｓに対向する位置に記録されている。換言すれば、ある記録層におけるデータの記録範囲は、他の記録層におけるデータの記録範囲に、一部重複している。ただし、対向する二つのデータの記録開始位置および記録終了位置は異なっている。例えば、対向するデータＬ０＿ＳとデータＬ１＿Ｌの記録開始位置および記録終了位置は互いに異なる。そのため、ある記録層に記録された長いデータＬｎ＿Ｌの端部（境界部分）は他の記録層における未記録範囲に位置し、ある記録層に記録された短いデータＬｎ＿Ｓの端部は他の記録層の記録済範囲内に位置することになる。
【００２９】
以上のような構成とすることで、一つのデータ範囲に、８種類の境界対向部を設けることができる。すなわち、Ｌ０層１４のデータ記録開始位置に対向する記録済部分である境界対向部Ａ、Ｌ０層１４のデータ記録終了位置に対向する記録済部分である境界対向部Ｂ、Ｌ０層１４のデータ記録開始位置に対向する未記録部分である境界対向部Ｄ、Ｌ０層１４のデータ記録終了位置に対向する未記録部分である境界対向部Ｅ，Ｌ１層１８のデータ記録開始位置に対向する未記録部分である境界対向部ａ、Ｌ１層１８のデータ記録終了位置に対向する未記録部分である境界対向部ｂ、Ｌ１層１８のデータ記録開始位置に対向する記録済部分である境界対向部ｄ、Ｌ１層１８のデータ記録終了位置に対向する記録済部分である境界対向部ｅの８種類の対向部分が存在する。そして、本実施形態では、一つの検査用光ディスク１０に三つのデータ範囲２８，３０，３２を設けているため、一つの検査用光ディスク１０には、８種類、２４箇所の境界対向部が存在することになる。
【００３０】
この８種類、２４箇所の境界対向部のアドレス情報は、光ディスクのリードイン領域に記憶される。また、境界対向部の近傍に位置する境界対向部以外の部分（以下、「非境界対向部」という）、例えば、図５における位置Ｙ，Ｚや位置ｙ，ｚなどの非境界対向部のアドレス情報もリードイン領域に記憶される。
【００３１】
光ディスクドライブまたは光ピックアップの評価、調整の際、特に、層間クロストークがトラッキングオフセットに与える影響を評価する場合には、この８種類、２４箇所の境界対向部、および、非境界対向部にレーザ光を合焦させて照射し、その際の戻り光に基づいてトラッキングオフセット量を検出する。そして、境界対向部におけるトラッキングオフセット量と非境界対向部におけるトラッキングオフセット量とを比較し、層間クロストークがトラッキングオフセットに与える影響を評価する。
【００３２】
次に、この検査用光ディスクを用いての光ディスクドライブまたは光ピックアップの検査方法について簡単に説明する。図６は、検査対象である光ディスクドライブ６０の概略構成を示すブロック図である。ただし、ここで例示する光ディスクドライブ６０の構成は、あくまで、一例であり、検査対象の光ディスクドライブや光ピックアップに応じて、適宜、変更される。
【００３３】
スピンドルモータ６８は、光ディスクドライブに装填された光ディスクを回転駆動する。光ピックアップ６２は、この回転駆動される光ディスクの記録層にレーザ光を照射する。送り機構７２は、光ピックアップ６２を光ディスクの径方向に移動制御する。より具体的には、データの記録再生時に、対象となるトラックの対応する位置に光ピックアップ６２を移動させるように送りモータを駆動制御する。サーボ回路７０は、光ピックアップ６２のアクチュエータを制御し、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボを行う。ここで、トラッキングサーボは、後述するトラッキングエラーが最小になるべく行われる。信号処理部６４は、光ピックアップ６２での検出出力に基づいてＲＦ再生信号や、トラッキングエラー値など各種の信号、値を生成する。生成されたＲＦ再生信号は、上位装置に出力される。トラッキングエラー値等はサーボ回路７０に出力される。サーボ回路７０は、これらの値に基づいて、トラッキングサーボ、フォーカスサーボを制御する。
【００３４】
この光ディスクドライブ６０を検査する場合には、既述の検査用光ディスク１０を当該光ディスクドライブ６０に装填する。光ディスクドライブ６０は、検査用光ディスク１０の装填を検知すれば、当該ディスクのリードイン領域に記録されている各種情報を読み込む。このとき、既述の８種類、２４箇所の境界対向部、および、この境界対向部に近接する非境界対向部のアドレス情報も読み込まれる。
【００３５】
続いて、非境界対向部におけるトラッキングオフセット値を検出する。具体的には、ディスクにフォーカスさせ、その際のトラッキングエラー値を検出する。トラッキングエラーは、ディスクの偏心により、トラックを横断することで正弦波状のエラー波形が得られる。すなわち、トラックの偏心の影響で、径方向に走査された場合、トラッキングエラー値は、正弦波状に変化する。この正弦波の中心に相当する値が、非境界対向部におけるトラッキングオフセット値となる。制御部７４は、このトラッキングオフセット値を基準トラッキングオフセット値として図示しないメモリに記憶しておく。
【００３６】
続いて、境界対向部におけるトラッキングオフセット値を検出する。この場合の検出も、非境界対向部におけるそれと同様に、境界対向部を中心としてレーザ光をディスクにフォーカスさせ、その際に得られるトラッキングエラー値を検出することでトラッキングオフセット値を取得する。すなわち、境界対向部Ａ、Ｂ，Ｄ，Ｅにおいては、Ｌ１層１８にレーザ光を合焦させながら、径方向に走査する。そして、その際、得られる正弦波状に変動するトラッキングエラー値の中心の値をトラッキングオフセット値として検出する。また、境界対向部ａ，ｂ，ｄ，ｅにおいては、Ｌ０層１４にレーザ光を合焦させながら、トラッキングオフセット値を検出する。制御部７４は、得られた各境界対向部におけるトラッキングオフセット値をメモリに記憶する。
【００３７】
非境界対向部、境界対向部それぞれにおいて、トラッキングオフセット値が得られれば、検査者は、そのトラッキングオフセット値を比較し、層間クロストークがトラッキングオフセットに与える影響を判断する。具体的には、非境界対向部におけるトラッキングオフセット値と、境界対向部におけるトラッキングオフセット値との差異を算出する。そして、その差異値が所定の基準値以上である場合には、境界対向部における層間クロストークの影響が過大であり、光ディスク装置の適正な駆動を妨げる恐れがあると判断できる。その場合、光ディスクドライブの各種制御パラメータを調整したり、光ピックアップの対物レンズ等の位置等を改めて調整したりする。一方、その差異値が所定の基準値未満である場合には、境界対向部における層間クロストークの影響は比較的小さく、光ディスク装置の適正な駆動を妨げないと判断できる。
【００３８】
８種類、２４箇所の境界対向部分、全てについて、トラッキングオフセット値の比較ができれば、検査は終了となる。ここで、境界対向部は、二層光ディスクにおいて、層間クロストークの影響を最も強く受ける部分である。かかる境界対向部において層間クロストークの影響が許容範囲内と判断できれば、当然、他の部分における層間クロストークの影響は許容範囲内であると判断できる。したがって、本実施形態の検査用光ディスクを用いれば、途中で光ディスクの交換等の手間を生じることなく、光ディスク装置の層間クロストークに対するロバスト性を検査することができるのである。
【００３９】
なお、ここでは、層間クロストークがトラッキングオフセットに与える影響を検査する場合のみを説明している。しかし、目的に応じて、適宜、検査方法を変えてもよい。例えば、記録再生対象の記録層以外の記録層のデータ記録状況が再生品質に与える影響について検査する場合には、未記録部分に対向する部分、記録済部分に対向する部分、それぞれにレーザ光を照射し、その際得られる戻り光の強度や強度分布等を比較すればよい。例えば、図５における位置Ｙ、位置Ｚにレーザ光を合焦照射した際に得られる戻り光の強度や強度分布を比較すれば、Ｌ１層１８のデータ再生時に、Ｌ０層１４のデータの記録状況が、どのように影響しているかが検査できる。また、同様に、図５における位置ｙ、位置ｚにレーザ光を合焦照射した際に得られる戻り光の強度や強度分布を比較すれば、Ｌ０層１４のデータ再生時に、Ｌ１層１８のデータの記録状況が、どのように影響しているかが検査できる。
【００４０】
以上の説明から明らかなように、本実施形態の検査用光ディスク１０は、予め規定されたパターンで検査用データが間欠的に記録されている。そのため、層間クロストーク成分の影響、特に、境界対向部における層間クロストークの影響を簡易に検査することができる。
【００４１】
なお、本実施形態で説明した検査用データの記録パターンは一例であり、当然、他の記録パターンであってもよい。例えば、図７に図示するように、ほぼ同じ長さの検査用データを対向させるとともに、当該対向するデータの開始位置を互いにずらしてもよい。この場合であっても、８種類の境界対向部が存在することになる。その結果、様々な状況での、層間クロストークの影響を確認することができる。
【００４２】
また、本実施形態では、二層光ディスクの検査用光ディスクを例示したが、当然、より多層の光ディスクに応用してもよい。例えば、図８は、三層の記録層が積層された検査用光ディスク８０の一例である。三層の場合も、各記録層に間欠的にデータを記録する。また、三つの記録層におけるデータが、互いに、一部重複するようなデータ記録パターンとするのが望ましい。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明の実施形態である検査用光ディスクの概略断面図である。
【図２】二層光ディスクでの戻り光の状態を示す図である。
【図３】検査用光ディスクの概略上面図である。
【図４】検査用光ディスクのデータ領域をトラックに沿って引き延ばしたイメージ図である。
【図５】一つのデータ範囲におけるデータ記録パターンを示す図である。
【図６】光ディスクドライブの検査の様子を示す図である。
【図７】検査用光ディスクのデータ記録パターンの他の例を示す図である。
【図８】検査用光ディスクのデータ記録パターンの他の例を示す図である。
【符号の説明】
【００４４】
１０，８０  検査用光ディスク、１２  保護層、１４  Ｌ０層、１６  中間層、１８  Ｌ１層、２０  ディスク基板、２６  データ領域、２８  内周データ範囲、３０  中周データ範囲、３２  外周データ範囲、３４  検査用データ、５０  レーザ光、６０  光ディスクドライブ、６２  光ピックアップ、６４  信号処理部、７０  サーボ回路。
【図１】
0004699142.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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