(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
可変波長光源が生成する可変波長光の波長を測定する光波長測定装置であって、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
強度変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、
前記変調用周波数で強度変調した前記可変波長光を前記参照光デバイスに供給する光変調手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光と前記変調用信号との位相差に基づき前記参照光デバイスの群遅延時間を測定する群遅延時間測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスの目標群遅延時間を計算する目標群遅延時間計算手段と、
前記群遅延時間と前記目標群遅延時間とを比較する遅延時間比較手段と、
を備え、
前記参照光測定手段は、前記位相差を測定する、
光波長測定装置。
【請求項２】
前記参照光デバイスは、分散補償ファイバおよび分散補償ファイバブラッググレーティングの内のいずれか一つである、請求項１に記載の光波長測定装置。
【請求項３】
可変波長光源が生成する可変波長光の波長を測定する光波長測定装置であって、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスを透過する可変波長光の目標振幅を計算する目標振幅計算手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の振幅と前記目標振幅とを比較する振幅比較手段と、
を備え、
前記参照光測定手段は、前記振幅を測定する光波長測定装置。
【請求項４】
前記参照光デバイスは、H13C14N、アルゴン、キセノンおよびクリプトンの内のいずれか一つである、請求項３に記載の光波長測定装置。
【請求項５】
可変波長光源が生成する可変波長光の波長を測定する光波長測定装置であって、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
強度変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、
前記変調用周波数で強度変調した前記可変波長光を前記参照光デバイスに供給する光変調手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光と前記変調用信号との位相差に基づき前記参照光デバイスの群遅延時間を測定する群遅延時間測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスの目標群遅延時間を計算する目標群遅延時間計算手段と、
前記群遅延時間と前記目標群遅延時間とを比較する遅延時間比較手段と、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録手段と、
前記参照光デバイス特性記録手段の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定手段と、
を備え、
前記参照光測定手段は、前記位相差を測定する、
光波長測定装置。
【請求項６】
可変波長光を生成する可変波長光源と、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
強度変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、
前記変調用周波数で強度変調した前記可変波長光を前記参照光デバイスに供給する光変調手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光と前記変調用信号との位相差に基づき前記参照光デバイスの群遅延時間を測定する群遅延時間測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスの目標群遅延時間を計算する目標群遅延時間計算手段と、
前記群遅延時間と前記目標群遅延時間とを比較する遅延時間比較手段と、
を有し、
前記参照光測定手段は、前記位相差を測定する光波長測定装置の前記可変波長光の波長を測定する光波長測定方法であって、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録工程と、
前記参照光デバイス特性記録工程の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定工程と、
を備えた光波長測定方法。
【請求項７】
可変波長光を生成する可変波長光源と、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
強度変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、
前記変調用周波数で強度変調した前記可変波長光を前記参照光デバイスに供給する光変調手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光と前記変調用信号との位相差に基づき前記参照光デバイスの群遅延時間を測定する群遅延時間測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスの目標群遅延時間を計算する目標群遅延時間計算手段と、
前記群遅延時間と前記目標群遅延時間とを比較する遅延時間比較手段と、
を有し、
前記参照光測定手段は、前記位相差を測定する光波長測定装置の前記可変波長光の波長を測定する光波長測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録処理と、
前記参照光デバイス特性記録処理の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
【請求項８】
可変波長光を生成する可変波長光源と、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
強度変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、
前記変調用周波数で強度変調した前記可変波長光を前記参照光デバイスに供給する光変調手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光と前記変調用信号との位相差に基づき前記参照光デバイスの群遅延時間を測定する群遅延時間測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスの目標群遅延時間を計算する目標群遅延時間計算手段と、
前記群遅延時間と前記目標群遅延時間とを比較する遅延時間比較手段と、
を有し、
前記参照光測定手段は、前記位相差を測定する光波長測定装置の前記可変波長光の波長を測定する光波長測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録処理と、
前記参照光デバイス特性記録処理の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項９】
可変波長光源が生成する可変波長光の波長を測定する光波長測定装置であって、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスを透過する可変波長光の目標振幅を計算する目標振幅計算手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の振幅と前記目標振幅とを比較する振幅比較手段と、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録手段と、
前記参照光デバイス特性記録手段の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定手段と、
を備え、
前記参照光測定手段は、前記振幅を測定する光波長測定装置。
【請求項１０】
可変波長光を生成する可変波長光源と、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスを透過する可変波長光の目標振幅を計算する目標振幅計算手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の振幅と前記目標振幅とを比較する振幅比較手段と、
を備え、
前記参照光測定手段は、前記振幅を測定する光波長測定装置の前記可変波長光の波長を測定する光波長測定方法であって、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録工程と、
前記参照光デバイス特性記録工程の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定工程と、
を備えた光波長測定方法。
【請求項１１】
可変波長光を生成する可変波長光源と、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスを透過する可変波長光の目標振幅を計算する目標振幅計算手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の振幅と前記目標振幅とを比較する振幅比較手段と、
を備え、
前記参照光測定手段は、前記振幅を測定する光波長測定装置の前記可変波長光の波長を測定する光波長測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録処理と、
前記参照光デバイス特性記録処理の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
【請求項１２】
可変波長光を生成する可変波長光源と、
前記可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、
目標とする前記可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき前記参照光デバイスを透過する可変波長光の目標振幅を計算する目標振幅計算手段と、
前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の振幅と前記目標振幅とを比較する振幅比較手段と、
を備え、
前記参照光測定手段は、前記振幅を測定する光波長測定装置の前記可変波長光の波長を測定する光波長測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記物理量と、前記参照光デバイスを透過した前記可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録処理と、
前記参照光デバイス特性記録処理の記録内容および測定された前記物理量から前記可変波長光の波長を求める波長測定処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光等を生成する光源の波長測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来技術における光デバイスの波長分散の測定システムは例えば特公平７−９３８６号公報のようなものがあり、その構成を図１６に示す。図１６に示す波長分散の測定システムによれば、測定用レーザ１０２が測定用レーザ光を生成し、レーザ光は発振器１０１が生成する電気信号に基づき、外部変調器１０８によって強度変調されて光デバイスである光ファイバ１０４に入射される。光ファイバ１０４を透過した測定用レーザ光は光受信器１０５により光電変換される。光受信器１０５により光電変換された電気信号と発振器１０１が生成する電気信号との位相差が位相比較器１０６により測定される。位相差からは光ファイバ１０４の群遅延時間や波長分散を求めることができる。
【０００３】
上記のような測定を行うにあたっては、測定用レーザ１０２が生成する測定用レーザ光の波長を掃引し、しかも測定用レーザ光の波長を正確に測定する必要がある。そのための方法は以下の通りである。まず、測定用レーザ光の最初の波長を光波長計１１２で計測しておく。そして、モニタ用レーザ１１０の生成するモニタ用レーザ光の波長を、測定用レーザ光の最初の波長にあわせる。そして、測定用レーザ光の波長を掃引する。ここで、測定用レーザ光とモニタ用レーザ光とを光合成器１１３で合成し、測定用レーザ光とモニタ用レーザ光との周波数の差に基づくビート信号を得る。ビート信号を光受信器１０５ｃで光電変換することにより中間周波数信号を得て、スペクトラムアナライザ１１１にて観測する。ビート信号をスペクトラムアナライザ１１１にて観測するので、測定用レーザ光とモニタ用レーザ光との周波数の差が測定できる。よって、測定用レーザ光の波長の変化を測定できる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、測定用レーザ光を狭い波長範囲（例えば1.0nm以下）で波長掃引する場合、一回で掃引できる波長範囲がスペクトラムアナライザ１１１の測定可能帯域で制限を受ける。また、測定用レーザの波長掃引の度に、モニタ用レーザ１１０の生成するモニタ用レーザ光の波長を、測定用レーザ光の最初の波長にあわせる必要があり、手間と測定時間がかかる。また、モニタ用レーザ１１０が生成するレーザ光の波長範囲が、測定用レーザ光の波長範囲と実質的に同じでなければならず、モニタ用レーザ１１０が高価になってしまう。
【０００５】
上記のような問題が生じるのは、測定用レーザ光の波長を大きく掃引したときでも測定用レーザ光の波長を特定できるレーザ光波長測定装置がないからである。
【０００６】
そこで、本発明は、レーザ光の波長を大きく掃引しても、レーザ光の波長を特定できる光波長測定装置等を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、可変波長光源が生成する可変波長光の波長を測定する光波長測定装置であって、可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、参照光デバイスを透過した可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、を備えるように構成される。
【０００８】
上記のように構成された光波長測定装置によれば、参照光測定手段により参照光デバイスを透過した可変波長光の物理量が測定され、この物理量と可変波長光の波長とが既知であることから、可変波長光の波長が測定できる。この物理量を適宜選択することで、可変波長光の波長を大きく掃引しても、波長が測定可能となる。
【０００９】
なお、本発明は、強度変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、変調用周波数で強度変調した可変波長光を参照光デバイスに供給する光変調手段と、を備え、参照光測定手段は、参照光デバイスを透過した可変波長光と変調用信号との位相差を測定する、ものであるようにしてもよい。
【００１０】
なお、本発明は、位相差に基づき参照光デバイスの群遅延時間を測定する群遅延時間測定手段と、参照光デバイスの群遅延時間と、参照光デバイスを透過した可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録手段と、参照光デバイス特性記録手段の記録内容および参照光デバイスの群遅延時間から可変波長光の波長を求める波長測定手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１１】
なお、本発明は、光変調手段は被測定デバイスにも変調用周波数で強度変調した可変波長光を供給し、被測定デバイスを透過した可変波長光と変調用信号との位相差を測定するＤＵＴ計測手段を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１２】
なお、本発明は、位相差に基づき参照光デバイスの群遅延時間を測定する群遅延時間測定手段と、目標とする可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき参照光デバイスの目標群遅延時間を計算する目標群遅延時間計算手段と、群遅延時間と目標群遅延時間とを比較する遅延時間比較手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１３】
なお、本発明は、目標とする可変波長光源の可変波長光の目標波長と波長測定手段の求めた可変波長光の波長とを比較する波長比較手段、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１４】
なお、本発明は、波長測定手段の求めた可変波長光の波長に基づき可変波長光源が生成する可変波長光の波長を制御する波長制御手段と、可変波長光源が生成する可変波長光を、可変波長光源と光変調手段との間から取り出す光分波手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１５】
なお、本発明は、参照光デバイスは、分散補償ファイバ、分散補償ファイバブラッググレーティングおよびシングルモード光ファイバの内のいずれか一つである、ものであるようにしてもよい。
【００１６】
なお、本発明は、参照光測定手段は、参照光デバイスを透過した可変波長光の振幅を測定する、ものであるようにしてもよい。
【００１７】
なお、本発明は、参照光デバイスを透過した可変波長光の振幅と波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録手段と、参照光デバイス特性記録手段の記録内容および可変波長光の振幅から可変波長光の波長を求める波長測定手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１８】
なお、本発明は、強度変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、変調用周波数で強度変調した可変波長光を被測定デバイスに供給する光変調手段と、被測定デバイスを透過した可変波長光と変調用信号との位相差を測定するＤＵＴ計測手段を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００１９】
なお、本発明は、目標とする可変波長光源の可変波長光の目標波長に基づき参照光デバイスを透過する可変波長光の目標振幅を計算する目標振幅計算手段と、振幅と目標振幅とを比較する振幅比較手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００２０】
なお、本発明は、目標とする可変波長光源の可変波長光の目標波長と波長測定手段の求めた可変波長光の波長とを比較する波長比較手段、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００２１】
なお、本発明は、波長測定手段の求めた可変波長光の波長に基づき可変波長光源の可変波長光の波長を制御する波長制御手段と、可変波長光源の可変波長光を、可変波長光源と光変調手段との間から取り出す光分波手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００２２】
なお、本発明は、参照光デバイスは、12C2H2、13C2H2、H13C14N、アルゴン、キセノンおよびクリプトンの内のいずれか一つである、ものであるようにしてもよい。
【００２３】
本発明は、可変波長光源が生成する可変波長光の波長を測定する光波長測定装置であって、可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、参照光デバイスを透過した可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、物理量と、参照光デバイスを透過した可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録手段と、参照光デバイス特性記録手段の記録内容および測定された物理量から可変波長光の波長を求める波長測定手段と、を備えるように構成されるようにしてもよい。
【００２４】
本発明は、可変波長光を生成する可変波長光源と、可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、参照光デバイスを透過した可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、を有する光波長測定装置の可変波長光の波長を測定する光波長測定方法であって、物理量と、参照光デバイスを透過した可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録工程と、参照光デバイス特性記録手段の記録内容および測定された物理量から可変波長光の波長を求める波長測定工程と、を備えた光波長測定方法であるようにしてもよい。
【００２５】
本発明は、可変波長光を生成する可変波長光源と、可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、参照光デバイスを透過した可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、を有する光波長測定装置の可変波長光の波長を測定する光波長測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、物理量と、参照光デバイスを透過した可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録処理と、参照光デバイス特性記録手段の記録内容および測定された物理量から可変波長光の波長を求める波長測定処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であるようにしてもよい。
【００２６】
本発明は、可変波長光を生成する可変波長光源と、可変波長光が透過し、透過した可変波長光の物理量と波長との関係が既知である参照光デバイスと、参照光デバイスを透過した可変波長光の物理量を測定する参照光測定手段と、を有する光波長測定装置の可変波長光の波長を測定する光波長測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、物理量と、参照光デバイスを透過した可変波長光の波長との対応を記録する参照光デバイス特性記録処理と、参照光デバイス特性記録手段の記録内容および測定された物理量から可変波長光の波長を求める波長測定処理と、をコンピュータに実行させるためのプログラムであるようにしてもよい。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００２８】
第一の実施形態
図１は、本発明の第一の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、変調用電源１４、光変調器１６、光電変換器２２、位相比較器２４、群遅延時間測定部３２、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０を備える。なお、本発明の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２の光波長を測定するためのものである。
【００２９】
可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長光の波長を掃引することができる。変調用電源１４は、光変調器１６に、可変波長光を変調すべき周波数（変調用周波数）の変調用信号を与える。光変調器１６は、可変波長光を変調用周波数で強度変調して、参照光デバイス４０に入射する。光変調器１６は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、光の強度を変調できるものであれば、ＬＮを含んでいなくてもよい。
【００３０】
参照光デバイス４０は、光変調器１６の出力した光を透過する。また、光の波長と、参照光デバイス４０の群遅延時間との対応関係は既知である。参照光デバイス４０に入射する光の波長と、群遅延時間との対応関係の一例を図２に示す。図２に示すように、波長が増加すれば、群遅延時間が単調減少していく。そこで、波長と群遅延時間とが一対一の対応である。また、群遅延時間は波長掃引に対して連続である。一方、群遅延時間は絶対値の測定はできず、差分すなわち相対値の測定しかできない。よって、可変波長光の波長測定開始時の参照光デバイス４０の群遅延時間と、ある測定時における参照光デバイス４０の群遅延時間との差分ΔＧＤを測定すれば、可変波長光の波長測定開始時の可変波長光の波長と、ある測定時における可変波長光の波長との差分Δλを求めることができる。
【００３１】
なお、参照光デバイス４０は、例えば分散補償ファイバ（ＤＣＦ）、分散補償ファイバブラッググレーティング（ＦＢＧ）および長尺シングルモード光ファイバである。また、参照光デバイス４０は、分散値[ps/nm]が大きいもの程よい。
【００３２】
光電変換器２２は、参照光デバイス４０を透過した光を電気信号に変換する。位相比較器２４は、光電変換器２２の出力した電気信号と、変調用電源１４の出力した変調用信号との位相差を測定する。群遅延時間測定部３２は、位相比較器２４の測定した位相差および変調用信号の周波数に基づき参照光デバイス４０の群遅延時間を測定する。参照光デバイス特性記録部３４は、参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、参照光デバイス４０の群遅延時間との対応関係を記録している。なお、対応関係は図２に示すようなものであり、既知である。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容と、参照光デバイス４０の群遅延時間とから、可変波長光の波長を測定する。
【００３３】
次に、本発明の第一の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。次に、光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調し、可変波長光が参照光デバイス４０に入射される。可変波長光は参照光デバイス４０を透過し、光電変換器２２により光電変換される。そして、位相比較器２４により、光電変換器２２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差が計測される。この位相差に基づき、群遅延時間測定部３２は、参照光デバイス４０の群遅延時間を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、参照光デバイス４０の群遅延時間との対応関係）と、参照光デバイス４０の群遅延時間とから、可変波長光の波長を測定する。
【００３４】
本発明の第一の実施形態によれば、参照光デバイス４０の群遅延時間を測定することにより、可変波長光源１２が生成する可変波長光の波長を測定できる。参照光デバイス４０の群遅延時間は、可変波長光の波長を大きく掃引しても測定可能である。よって、可変波長光の波長を大きく掃引しても、可変波長光の波長を測定できる。
【００３５】
第二の実施形態
第二の実施形態は、第一の実施形態にかかる光波長測定装置をＤＵＴ（Device Under Test：被測定デバイス）の光特性測定装置に組み込んだものである。以下、第一の実施形態と同様な部分は同じ番号を付して説明を省略する。
【００３６】
図３は、本発明の第二の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。第二の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、変調用電源１４、光変調器１６、光分波器１８、光電変換器２２、位相比較器２４、群遅延時間測定部３２、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０、ＤＵＴ５０、光電変換器６２、ＤＵＴ計測用位相比較部６４を備える。
【００３７】
光分波器１８は、光変調器１６の出力を参照光デバイス４０およびＤＵＴ５０に入射する。ＤＵＴ５０は、群遅延時間および波長分散などを求める対象物である。光電変換器６２はＤＵＴ５０を透過した可変波長光を電気信号に変換する。ＤＵＴ計測用位相比較部６４は、光電変換器６２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差を測定する。この位相差と変調用信号の周波数とに基づきＤＵＴ５０の群遅延時間が測定でき、ＤＵＴ５０の群遅延時間および可変波長光の波長に基づきＤＵＴ５０の波長分散が測定できる。
【００３８】
次に、本発明の第二の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。次に、光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調する。光変調器１６の出力した可変波長光は、光分波器１８により、参照光デバイス４０およびＤＵＴ５０に入射される。
【００３９】
参照光デバイス４０を透過した可変波長光は、光電変換器２２により光電変換される。そして、位相比較器２４により、光電変換器２２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差が計測される。この位相差に基づき、群遅延時間測定部３２は、参照光デバイス４０の群遅延時間を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、参照光デバイス４０の群遅延時間との対応関係）と、参照光デバイス４０の群遅延時間とから、可変波長光の波長を測定する。
【００４０】
ＤＵＴ５０を透過した可変波長光は、光電変換器６２により光電変換される。そして、ＤＵＴ計測用位相比較部６４により、光電変換器６２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差が計測される。この位相差と変調用信号の周波数とに基づきＤＵＴ５０の群遅延時間が測定でき、ＤＵＴ５０の群遅延時間および波長測定部３６の測定した可変波長光の波長に基づきＤＵＴ５０の波長分散が測定できる。
【００４１】
第二の実施形態によれば、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を大きく掃引しても波長を測定できる。そこで、波長の測定結果を利用して、ＤＵＴ５０の波長分散等を測定できる。
【００４２】
第三の実施形態
第三の実施形態は、第一の実施形態に、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長が目標とする値になっているか否かを判断する機能を付加したものである。以下、第一の実施形態と同様な部分は同じ番号を付して説明を省略する。
【００４３】
図４は、本発明の第三の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。第三の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、変調用電源１４、光変調器１６、光電変換器２２、位相比較器２４、群遅延時間測定部３２、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０、目標波長記録部７２、目標群遅延時間計算部７４、群遅延時間比較部７６、波長比較部７８を備える。
【００４４】
目標波長記録部７２は、可変波長光の目標とする波長と、目標に到達する時間とを記録している。目標波長記録部７２の記録内容を図５に示す。目標波長記録部７２の記録内容は、図５（ａ）に示すように、測定を開始してからの時間ｔと可変波長光の目標とする波長λとの対応関係でもよい。なお、図５（ａ）中のλ０は、測定開始時の可変波長光の目標とする波長である。また、目標波長記録部７２の記録内容は、図５（ｂ）に示すように、測定を開始してからの時間ｔと可変波長光の目標とする波長の変位Δλとの対応関係でもよい。
【００４５】
目標群遅延時間計算部７４は、目標波長記録部７２の記録内容から、目標波長に対応する目標群遅延時間を計算する。参照光デバイス４０における、透過光の波長と群遅延時間との関係は既知であるため、目標波長に対応する目標群遅延時間も計算できる。目標群遅延時間計算部７４の計算結果は図６に示すようなものになる。ただし、図６（ａ）は図５（ａ）に対応し、図６（ｂ）は図５（ｂ）に対応する。
【００４６】
群遅延時間比較部７６は、群遅延時間測定部３２の測定した参照光デバイス４０の群遅延時間と、目標群遅延時間計算部７４の計算結果である目標群遅延時間とを比較する。比較の結果、一致すれば、目標どおりに波長を掃引できていることになる。比較の結果、一致しなければ、目標どおりに波長を掃引できていないことになる。例えば、図７に示すように、目標群遅延時間は右下がりであり、群遅延時間が一定である場合は、目標どおりに波長を掃引できていない。しかも、群遅延時間が一定なので、波長の掃引が何らされていないことがわかる。
【００４７】
波長比較部７８は、波長測定部３６が可変波長光の波長を測定した測定結果と、目標波長記録部７２の記録内容とを比較する。群遅延時間比較部７６のように、群遅延時間と目標群遅延時間とを比較する他にも、目標波長と実際の波長とを比較して目標値通り掃引できているか否かを判定する方法もある。比較の結果、一致すれば、目標どおりに波長を掃引できていることになる。比較の結果、一致しなければ、目標どおりに波長を掃引できていないことになる。例えば、図８に示すように、目標波長は右上がりであり、測定された波長が一定である場合は、目標どおりに波長を掃引できていない。しかも、波長の掃引が何らされていないことがわかる。
【００４８】
次に、本発明の第三の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。次に、光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調し、可変波長光が参照光デバイス４０に入射される。可変波長光は参照光デバイス４０を透過し、光電変換器２２により光電変換される。そして、位相比較器２４により、光電変換器２２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差が計測される。この位相差に基づき、群遅延時間測定部３２は、参照光デバイス４０の群遅延時間を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、参照光デバイス４０の群遅延時間との対応関係）と、参照光デバイス４０の群遅延時間とから、可変波長光の波長を測定する。
【００４９】
また、目標群遅延時間計算部７４は目標波長記録部７２の記録内容に基づき目標群遅延時間を計算する。群遅延時間比較部７６は、群遅延時間測定部３２の測定した参照光デバイス４０の群遅延時間と、目標群遅延時間計算部７４の計算結果である目標群遅延時間とを比較する。
【００５０】
さらに、波長比較部７８は、波長測定部３６が可変波長光の波長を測定した測定結果と、目標波長記録部７２の記録内容とを比較する。
【００５１】
第三の実施形態によれば、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を大きく掃引しても波長を測定できる。しかも、群遅延時間比較部７６および波長比較部７８により、目標とする波長掃引が行われているかを監視することができる。
【００５２】
第四の実施形態
第四の実施形態は、第一の実施形態における可変波長光の光波長を波長制御部８０で制御して、光分波器１３により外部に取出すことで、光波長測定装置全体を、波長を適切に制御できる光源として取り扱えるようにしたものである。以下、第一の実施形態と同様な部分は同じ番号を付して説明を省略する。
【００５３】
図９は、本発明の第四の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。第四の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、光分波器１３、変調用電源１４、光変調器１６、光電変換器２２、位相比較器２４、群遅延時間測定部３２、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０、波長制御部８０を備える。
【００５４】
光分波器１３は、可変波長光源１２と光変調器１６との間に配置され、可変波長光源１２から出力される光を外部に取出す。すなわち、光波長測定装置全体を一つの光源とするものである。
【００５５】
波長制御部８０は、波長測定部３６の測定した波長に基づき、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標波長にあわせるように可変波長光源１２を制御する。波長制御部８０の制御対象は、可変波長光源１２の構成により異なる。可変波長光源１２がＤＦＢレーザならば、波長制御部８０は、可変波長光源１２の駆動電流および温度を制御する。可変波長光源１２が外部共振器レーザならば、波長制御部８０は、可変波長光源１２の駆動電流、温度のみならず共振器長をも制御する。なお、可変波長光源１２が外部共振器レーザである場合の、可変波長光源１２の構成を図１０に示す。可変波長光源１２は、レーザダイオード１２ａ、ピエゾ素子１２ｂ、グレーティング１２ｃを有する。レーザダイオード１２ａとグレーティング１２ｃとは共振器を構成する。
【００５６】
なお、波長制御部８０が、波長測定部３６の測定した波長に基づき、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標波長にあわせるようにするための制御法は周知である。例えば、波長測定部３６の測定した波長と目標波長との差をとって、この差に比例して駆動電流、温度、共振制御長を変位させてやるなどといった一般的なフィードバック制御を行ってもよい。
【００５７】
次に、本発明の第四の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。次に、光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調し、可変波長光が参照光デバイス４０に入射される。可変波長光は参照光デバイス４０を透過し、光電変換器２２により光電変換される。そして、位相比較器２４により、光電変換器２２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差が計測される。この位相差に基づき、群遅延時間測定部３２は、参照光デバイス４０の群遅延時間を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、参照光デバイス４０の群遅延時間との対応関係）と、参照光デバイス４０の群遅延時間とから、可変波長光の波長を測定する。
【００５８】
波長制御部８０は、波長測定部３６の測定した波長に基づき、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標波長にあわせるようにするために、可変波長光源１２を制御する。そして、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長が目標値に一致するようになる。そこで、光分波器１３から可変波長光源１２の生成する可変波長光が取出される。よって、光波長測定装置全体が一つの光源となる。
【００５９】
本発明の第四の実施形態によれば、参照光デバイス４０の群遅延時間を測定することにより、可変波長光源１２が生成する可変波長光の波長を測定できる。参照光デバイス４０の群遅延時間は、可変波長光の波長を大きく掃引しても測定可能である。よって、可変波長光の波長を大きく掃引しても、可変波長光の波長を測定できる。そこで、波長制御部８０が波長の測定結果を利用して、可変波長光源１２を制御することで、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標値にあわせることができる。さらに、波長を目標値にあわせた可変波長光を光分波器１３から取出すことで光波長測定装置全体を一つの光源として取り扱える。
【００６０】
第五の実施形態
図１１は、本発明の第五の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。第五の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、変調用電源１４、光変調器１６、光電変換器２２、振幅測定部３３、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０を備える。なお、本発明の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２の光波長を測定するためのものである。
【００６１】
可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長光の波長を掃引することができる。変調用電源１４は、光変調器１６に、可変波長光を変調すべき周波数（変調用周波数）の変調用信号を与える。光変調器１６は、可変波長光を変調用周波数で強度変調して、参照光デバイス４０に入射する。光変調器１６は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、光の強度を変調できるものであれば、ＬＮを含んでいなくてもよい。
【００６２】
参照光デバイス４０は、光変調器１６の出力した光を透過する。また、光の波長と、参照光デバイス４０を透過後の光の振幅との対応関係は既知である。参照光デバイス４０に入射する光の波長と、透過後の光の振幅（厳密には、透過後の光を光電変換した電気信号と、変調用電源１４の出力する電気信号との振幅比）との対応関係の一例を図１２に示す。図１２に示す例は、参照光デバイス４０としてアセチレン（12C2H2）を用いた場合の例である。
【００６３】
図１２に示すように、ある波長になると、振幅が急激に減少する。よって、参照光デバイス４０を透過した光の振幅を計測すれば、可変波長光源１２の光波長を測定できる。なお、参照光デバイス４０は、例えば12C2H2、13C2H2、H13C14N、アルゴン、キセノンおよびクリプトンである。
【００６４】
光電変換器２２は、参照光デバイス４０を透過した光を電気信号に変換する。振幅測定部３３は、参照光デバイス４０を透過した光の振幅を測定する。すなわち、光電変換器２２が出力した電気信号の振幅と、変調用電源１４の出力する電気信号の振幅との振幅比を測定する。参照光デバイス特性記録部３４は、参照光デバイス４０を透過した可変波長光の振幅と、波長との対応関係を記録している。対応関係は図１２に示すようなものであり、既知である。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容と、参照光デバイス４０を透過した光の振幅とから、可変波長光の波長を測定する。
【００６５】
次に、本発明の第五の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。次に、光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調し、可変波長光が参照光デバイス４０を透過し、光電変換器２２により光電変換される。そして、振幅測定部３３は、光電変換器２２が出力した電気信号の振幅と、変調用電源１４の出力する電気信号の振幅との振幅比を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、振幅との対応関係）と、参照光デバイス４０を透過した光の振幅とから、可変波長光の波長を測定する。
【００６６】
本発明の第五の実施形態によれば、参照光デバイス４０を透過した光の振幅を測定することにより、可変波長光源１２が生成する可変波長光の波長を測定できる。参照光デバイス４０を透過した光の振幅は、可変波長光の波長を大きく掃引しても測定可能である。よって、可変波長光の波長を大きく掃引しても、可変波長光の波長を測定できる。
【００６７】
第六の実施形態
第六の実施形態は、第五の実施形態にかかる光波長測定装置をＤＵＴ（Device Under Test：被測定デバイス）の光特性測定装置に組み込んだものである。以下、第一の実施形態と同様な部分は同じ番号を付して説明を省略する。
【００６８】
図１３は、本発明の第六の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。第六の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、変調用電源１４、光変調器１６、光分波器１８、光電変換器２２、振幅測定部３３、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０、ＤＵＴ５０、光電変換器６２、ＤＵＴ計測用位相比較部６４を備える。
【００６９】
変調用電源１４は、光変調器１６に、可変波長光を変調すべき周波数（変調用周波数）の変調用信号を与える。光変調器１６は、可変波長光を変調用周波数で強度変調して、光分波器１８に入射する。光変調器１６は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有することが一般的であるが、光の強度を変調できるものであれば、ＬＮを含んでいなくてもよい。光分波器１８は、可変波長光源１２の出力を参照光デバイス４０およびＤＵＴ５０に入射する。ＤＵＴ５０は、群遅延時間および波長分散などを求める対象物である。光電変換器６２はＤＵＴ５０を透過した可変波長光を電気信号に変換する。ＤＵＴ計測用位相比較部６４は、光電変換器６２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差を測定する。この位相差と変調用信号の周波数とに基づきＤＵＴ５０の群遅延時間が測定でき、ＤＵＴ５０の群遅延時間および可変波長光の波長に基づきＤＵＴ５０の波長分散が測定できる。
【００７０】
次に、本発明の第六の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。次に、可変波長光が光分波器１８により分波され、参照光デバイス４０および光変調器１６に入射される。
【００７１】
光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調する。光変調器１６の出力した可変波長光は光分波器１８を介してＤＵＴ５０に入射される。ＤＵＴ５０を透過した可変波長光は、光電変換器６２により光電変換される。ＤＵＴ計測用位相比較部６４は、光電変換器６２の出力する電気信号と変調用電源１４の生成する変調用信号との位相差を測定する。この位相差と変調用信号の周波数とに基づきＤＵＴ５０の群遅延時間が測定でき、ＤＵＴ５０の群遅延時間および可変波長光の波長に基づきＤＵＴ５０の波長分散が測定できる。
【００７２】
また、光分波器１８を介して参照光デバイス４０を透過した可変波長光は、光電変換器２２により光電変換される。そして、振幅測定部３３は、参照光デバイス４０を透過した光の振幅（厳密には、透過後の光を光電変換器２２により光電変換した電気信号と、変調用電源１４の出力する電気信号との振幅比）を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、振幅との対応関係）と、参照光デバイス４０を透過した光の振幅とから、可変波長光の波長を測定する。
【００７３】
第六の実施形態によれば、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を大きく掃引しても波長を測定できる。そこで、波長の測定結果を利用して、ＤＵＴ５０の波長分散等を測定できる。
【００７４】
第七の実施形態
第七の実施形態は、第五の実施形態に、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長が目標とする値になっているかを判断する機能を付加したものである。以下、第五の実施形態と同様な部分は同じ番号を付して説明を省略する。
【００７５】
図１４は、本発明の第七の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。第七の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、変調用電源１４、光変調器１６、光電変換器２２、振幅測定部３３、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０、目標波長記録部７２、目標振幅計算部７５、振幅比較部７７、波長比較部７８を備える。
【００７６】
目標波長記録部７２は、可変波長光の目標とする波長と、目標に到達する時間とを記録している。目標波長記録部７２の記録内容は、第三の実施形態と同様であり、図５を参照して説明する。目標波長記録部７２の記録内容は、図５（ａ）に示すように、測定を開始してからの時間ｔと可変波長光の目標とする波長λとの対応関係でもよい。なお、図５（ａ）中のλ０は、測定開始時の可変波長光の目標とする波長である。また、目標波長記録部７２の記録内容は、図５（ｂ）に示すように、測定を開始してからの時間ｔと可変波長光の目標とする波長の変位Δλとの対応関係でもよい。
【００７７】
目標振幅計算部７５は、目標波長記録部７２の記録内容から、目標波長に対応する目標振幅を計算する。参照光デバイス４０における、透過光の波長と振幅との関係は既知であるため、目標波長に対応する目標振幅も計算できる。
【００７８】
振幅比較部７７は、振幅計３３の測定した参照光デバイス４０を透過した可変波長光の振幅と、目標振幅計算部７５の計算結果である目標振幅とを比較する。比較の結果、一致すれば、目標どおりに波長を掃引できていることになる。比較の結果、一致しなければ、目標どおりに波長を掃引できていないことになる。例えば、振幅計３３の測定した振幅が一定の場合は、波長の掃引が何らされていないことがわかる。
【００７９】
波長比較部７８は、波長測定部３６が可変波長光の波長を測定した測定結果と、目標波長記録部７２の記録内容とを比較する。群遅延時間比較部７６のように、群遅延時間と目標群遅延時間とを比較する他にも、目標波長と実際の波長とを比較する方法もある。比較の結果、一致すれば、目標どおりに波長を掃引できていることになる。比較の結果、一致しなければ、目標どおりに波長を掃引できていないことになる。例えば、図８に示すように、目標波長は右上がりであり、測定された波長が一定である場合は、目標どおりに波長を掃引できていない。しかも、波長の掃引が何らされていないことがわかる。
【００８０】
次に、本発明の第七の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。次に、光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調し、可変波長光が参照光デバイス４０に入射される。可変波長光は参照光デバイス４０を透過し、光電変換器２２により光電変換される。そして、振幅測定部３３は、参照光デバイス４０を透過した可変波長光の振幅（厳密には、透過後の光を光電変換した電気信号と、変調用電源１４の出力する電気信号との振幅比）を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、振幅との対応関係）と、参照光デバイス４０を透過した可変波長光の振幅とから、可変波長光の波長を測定する。
【００８１】
また、目標振幅計算部７５は目標波長記録部７２の記録内容に基づき目標振幅を計算する。振幅比較部７７は、振幅計３３の測定した参照光デバイス４０を透過した可変波長光の振幅と、目標振幅計算部７５の計算結果である目標振幅とを比較する。
【００８２】
さらに、波長比較部７８は、波長測定部３６が可変波長光の波長を測定した測定結果と、目標波長記録部７２の記録内容とを比較する。
【００８３】
第七の実施形態によれば、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を大きく掃引しても波長を測定できる。しかも、振幅比較部７７および波長比較部７８により、目標とする波長掃引が行われているかを監視することができる。
【００８４】
第八の実施形態
第八の実施形態は、第五の実施形態における可変波長光の光波長を波長制御部８０で制御して、光分波器１３により外部に取出すことで、光波長測定装置を波長を適切に制御できる光源として取り扱えるようにしたものである。以下、第五の実施形態と同様な部分は同じ番号を付して説明を省略する。
【００８５】
図１５は、本発明の第八の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。第八の実施形態にかかる光波長測定装置は、可変波長光源１２、光分波器１３、変調用電源１４、光変調器１６、光電変換器２２、振幅測定部３３、参照光デバイス特性記録部３４、波長測定部３６、参照光デバイス４０、波長制御部８０を備える。
【００８６】
光分波器１３は、可変波長光源１２と光変調器１６との間に配置され、可変波長光源１２から出力される光を外部に取出す。すなわち、光波長測定装置全体を一つの光源とするものである。
【００８７】
波長制御部８０は、波長測定部３６の測定した波長に基づき、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標波長にあわせるように可変波長光源１２を制御する。波長制御部８０の制御対象は、可変波長光源１２の構成により異なる。可変波長光源１２がＤＦＢレーザならば、波長制御部８０は、可変波長光源１２の駆動電流および温度を制御する。可変波長光源１２が外部共振器レーザならば、波長制御部８０は、可変波長光源１２の駆動電流、温度のみならず共振器長をも制御する。なお、可変波長光源１２が外部共振器レーザである場合の、可変波長光源１２の構成を図１０に示す。可変波長光源１２は、レーザダイオード１２ａ、ピエゾ素子１２ｂ、グレーティング１２ｃを有する。レーザダイオード１２ａとグレーティング１２ｃとは共振器を構成する。
【００８８】
なお、波長制御部８０が、波長測定部３６の測定した波長に基づき、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標波長にあわせるようにするための制御法は周知である。例えば、波長測定部３６の測定した波長と目標波長との差をとって、この差に比例して駆動電流、温度、共振制御長を変位させてやるなどといった一般的なフィードバック制御を行ってもよい。
【００８９】
次に、本発明の第八の実施形態にかかる光波長測定装置の動作を説明する。まず、可変波長光源１２が可変波長光を生成する。光変調器１６が可変波長光を変調用電源１４の生成する変調用信号の周波数で強度変調し、可変波長光が参照光デバイス４０を透過し、光電変換器２２により光電変換される。そして、振幅計３３は、参照光デバイス４０を透過した光の振幅（厳密には、透過後の光を光電変換器２２により光電変換した電気信号と、変調用電源１４の出力する電気信号との振幅比）を測定する。波長測定部３６は、参照光デバイス特性記録部３４の記録内容（参照光デバイス４０を透過した可変波長光の波長と、振幅との対応関係）と、参照光デバイス４０を透過した光の振幅とから、可変波長光の波長を測定する。
【００９０】
波長制御部８０は、波長測定部３６の測定した波長に基づき、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標波長にあわせるようにするために、可変波長光源１２を制御する。そして、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長が目標値に一致するようになる。そこで、光分波器１３から可変波長光源１２の生成する可変波長光が取出される。よって、光波長測定装置全体が一つの光源となる。
【００９１】
本発明の第八の実施形態によれば、参照光デバイス４０の群遅延時間を測定することにより、可変波長光源１２が生成する可変波長光の波長を測定できる。参照光デバイス４０の群遅延時間は、可変波長光の波長を大きく掃引しても測定可能である。よって、可変波長光の波長を大きく掃引しても、可変波長光の波長を測定できる。そこで、波長制御部８０が波長の測定結果を利用して、可変波長光源１２を制御することで、可変波長光源１２の生成する可変波長光の波長を目標値にあわせることができる。さらに、波長を目標値にあわせた可変波長光を光分波器１３から取出すことで光波長測定装置全体を一つの光源として取り扱える。
【００９２】
また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【００９３】
【発明の効果】
本発明によれば、参照光測定手段により参照光デバイスを透過した可変波長光の物理量が測定され、この物理量と可変波長光の波長とが既知であることから、可変波長光の波長が測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】参照光デバイス４０に入射する光の波長と、群遅延時間との対応関係の一例を示す図である。
【図３】本発明の第二の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の第三の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図５】目標波長記録部７２の記録内容を示す図である。
【図６】目標群遅延時間計算部７４の計算結果を示す図である。
【図７】群遅延時間と、目標群遅延時間との比較を示す図である。
【図８】波長と、目標波長との比較を示す図である。
【図９】本発明の第四の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図１０】可変波長光源１２が外部共振器レーザである場合の、可変波長光源１２の構成を示すブロック図である。
【図１１】本発明の第五の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図１２】参照光デバイス４０に入射する光の波長と、透過後の光の振幅との対応関係の一例を示す図である。
【図１３】本発明の第六の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図１４】本発明の第七の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図１５】本発明の第八の実施形態にかかる光波長測定装置の構成を示すブロック図である。
【図１６】従来技術における光デバイスの波長分散の測定システムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１２  可変波長光源
１４  変調用電源
１６  光変調器
２２  光電変換器
２４  位相比較器
３２  群遅延時間測定部
３３  振幅計
３４  参照光デバイス特性記録部
３６  波長測定部
４０  参照光デバイス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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