(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つの放射源を備え、計測すべき表面の一部である計測表面に対して光を所定の角度で送出する少なくとも１つの第１照明手段と、
前記計測表面に対して所定の角度で並べられ、かつ前記計測表面で反射した光の一部を受け入れる少なくとも１つの第１光学的計測手段であって、反射光の特性を有する電子計測信号を発する少なくとも１つの光センサを備える第１光学的計測手段と、
前記計測表面に対して所定の角度で並べられ、かつ前記計測表面で反射した光の一部を受け入れる少なくとも１つの第２光学的計測手段であって、反射光の特性を有する電子計測信号を発する少なくとも１つの光センサを備える第２光学的計測手段と、
少なくとも１つのプロセッサ手段と少なくとも１つのメモリ手段を有し、計測シーケンスを制御しかつ計測結果を評価する制御及び較正手段と、
出力手段と、
を有する光学的計測装置を再較正するために基準計測を行うための方法であって；
前記光学的計測装置の製造過程においてまたは較正の間に、前記光学的計測装置が基準表面上に位置決めされた状況下で、前記第１光学的計測手段の計測値を第１較正パラメータとして前記メモリ手段に記憶し、そして前記第２光学的計測手段の計測値を第２較正パラメータとして前記メモリ手段に記憶する段階を備えると共に、更に、
ａ）  前記基準表面と前記光学的計測装置とを互いに配置する段階と；
ｂ）  前記第１光学的計測手段により計測する段階と；
ｃ）  前記第１光学的計測手段の計測値と前記メモリ手段に記憶された前記第１較正パラメータとから第１偏差パラメータを導く段階と；
ｄ）  前記第２光学的計測手段により計測する段階と；
ｅ）  前記第２光学的計測手段の計測値と前記メモリ手段に記憶された前記第２較正パラメータとから第２偏差パラメータを導く段階と；
ｆ）  前記第１光学的計測手段の前記第１偏差パラメータと前記第２光学的計測手段の前記第２偏差パラメータとから変動パラメータを導く段階であって、前記第１偏差パラメータと前記第２偏差パラメータとの差の特性を有する変動パラメータを導く段階と；
ｇ）  前記変動パラメータを所定の範囲と比較すると共に、前記変動パラメータが前記所定の範囲を越えるか又は前記所定の範囲に及ばない場合に警告信号を発する段階と；を備えることを特徴とする方法。
【請求項２】
少なくとも１つの放射源を備え、計測すべき表面の一部である計測表面に対して光を所定の角度で送出する少なくとも１つの第１照明手段と、
前記計測表面に対して所定の角度で並べられ、かつ前記計測表面で反射した光の一部を受け入れる少なくとも１つの第１光学的計測手段であって、反射光の特性を有する電子計測信号を発する少なくとも１つの光センサを備える第１光学的計測手段と、
前記計測表面に対して所定の角度で並べられ、かつ前記計測表面で反射した光の一部を受け入れる少なくとも１つの第２光学的計測手段であって、反射光の特性を有する電子計測信号を発する少なくとも１つの光センサを備える第２光学的計測手段と、
少なくとも１つのプロセッサ手段と少なくとも１つのメモリ手段を有し、計測シーケンスを制御しかつ計測結果を評価する制御及び較正手段と、
出力手段と、
を有する光学的計測装置を再較正するために基準計測を行うための方法であって；
前記光学的計測装置の製造過程においてまたは較正の間に、前記光学的計測装置が基準表面上に位置決めされた状況下で、前記第１光学的計測手段の計測値を第１較正パラメータとして前記メモリ手段に記憶し、そして／または前記第２光学的計測手段の計測値を第２較正パラメータとして前記メモリ手段に記憶する段階を備えると共に、更に、
ａ）  前記基準表面と前記光学的計測装置とを互いに配置する段階と；
ｂ）  前記第１光学的計測手段または前記第２光学的計測手段により第１の計測を行う段階と；
ｃ）  前記第１光学的計測手段または前記第２光学的計測手段の第１の計測値とそれぞれ前記メモリ手段に記憶された前記第１較正パラメータまたは前記第２較正パラメータとから第１偏差パラメータを導く段階と；
ｄ）  前記第１光学的計測手段または前記第２光学的計測手段により第２の計測を行う段階と；
ｅ）  前記第１光学的計測手段または前記第２光学的計測手段の第２の計測値とそれぞれ前記メモリ手段に記憶された前記第１較正パラメータまたは前記第２較正パラメータとから第２偏差パラメータを導く段階と；
ｆ）  前記第１光学的計測手段の前記第１偏差パラメータと前記第２光学的計測手段の前記第２偏差パラメータとから変動パラメータを導く段階であって、前記第１偏差パラメータと前記第２偏差パラメータとの差の特性を有する変動パラメータを導く段階と；
ｇ）  前記変動パラメータを所定の範囲と比較すると共に、前記変動パラメータが前記所定の範囲を越えるか又は前記所定の範囲に及ばない場合に警告信号を発する段階と；を備えることを特徴とする方法。
【請求項３】
前記第１偏差パラメータと前記第２偏差パラメータのうちの少なくとも１つの偏差パラメータが、前記いずれかの計測手段の前記計測値と対応する較正パラメータとの差から求められることを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
【請求項４】
前記第１偏差パラメータと前記第２偏差パラメータのうちの少なくとも１つの偏差パラメータが、前記いずれかの計測手段の前記計測値と対応する較正パラメータとの比率から求められることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項記載の方法。
【請求項５】
前記第１偏差パラメータが前記第１光学的計測手段に対する所定の範囲から外れた場合に前記警告信号を発し、及び／又は前記第２偏差パラメータが前記第２光学的計測手段に対する所定の範囲から外れた場合に前記警告信号を発することを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項記載の方法。
【請求項６】
前記変動パラメータは、前記第１偏差パラメータと前記第２偏差パラメータとの差から導かれることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項記載の方法。
【請求項７】
線形，対数計算又は指数計算を含む一群の演算から選ばれた数学的演算を使用して、前記変動パラメータが求められることを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項記載の方法。
【請求項８】
前記光学的デバイスが、少なくとも１つの光源を有しかつ計測すべき表面の一部である計測表面に対して光を所定の角度で送出する第２照明手段を備えることを特徴とする請求項１乃至７の何れか１項記載の方法。
【請求項９】
前記所定の角度は、計測すべき表面の垂直方向に対して０°，５°，１０°，１５°，２０°，３０°，４０°，４５°，５０°，６０°，７０°，７５°，８０°，８５°，及び他の同様の角度を備える群から選択されることを特徴とする請求項１乃至８の何れか１項記載の方法。
【請求項１０】
前記第１照明手段が、前記第１光学的計測手段に対して対称的に配置されることを特徴とする請求項１乃至９の何れか１項記載の方法。
【請求項１１】
前記第１偏差パラメータと前記第２偏差パラメータ、前記変動パラメータ、計測された前記第１光学的計測手段の前記基準値と計測された前記第２光学的計測手段の前記基準値を備える値の群から少なくとも１つの値が、前記メモリ手段のテーブル内に本質的に永続的に記憶されることを特徴とする請求項１乃至１０の何れか１項記載の方法。
【請求項１２】
前記第１光学的計測手段が前記計測表面に対して並べられる前記所定の角度と、前記第２光学的計測手段が前記計測表面に対して並べられる前記所定の角度とは異なることを特徴とする請求項１乃至１１の何れか１項記載の方法。
【請求項１３】
前記変動パラメータを前記所定の範囲と比較した後で、前記変動パラメータが前記所定の範囲内にある場合には、前記第１光学的計測手段の前記計測値が第１基準パラメータとして記憶されると共に、前記第２光学的計測手段の前記計測値が第２基準パラメータとして記憶されることを特徴とする請求項１乃至１２の何れか１項記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基準計測方法に関するものであって、表面品質を計測する際に使用される光学的計測装置をそれぞれ再較正する基準計測方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
非常に多様な製品の表面品質を計測するために使用される装置は公知技術として知られている。製品の全体の印象を与える点で、多くの製品にとって表面品質は重大な特性であるので、上記製品表面の品質はしばしば特別な意義を有している。このために、表面の視覚特性を質的かつ量的に計測するために計測装置が使用されている。
【０００３】
このような計測装置は、製造環境において、埃及び特に他の汚染物（しかしこれらに限らない）にさらされており、前記装置の光学的構成要素が時間の経過と共に汚れ、次第にその透過特性が変化し、かつ誤った計測値を算出してしまう。よって、従来の装置は定期的に決まり通りの保守を受けている。
【０００４】
表面計測の際に生じる別の問題点は、装置内の個々の要素が劣化する点である。特に、フィラメントを有する熱光源を使用する場合には、フィラメントの一部が時間の経過とともに気化し、取り囲んでいるガラスバルブの内側に付着し、かつ光源から発せられた光がスペクトルの経年変化を呈するように、ガラスバルブの透過特性を変化させる。
【０００５】
振動（又は振動衝撃）の影響等のために、光放射要素とセンサとの互いの相対位置も変化する可能性がある。それにより、計測装置内の幾何学的関係比率が時間の経過と共に変化する可能性がある。
【０００６】
従って、高品質計測を得るために、従来技術で知られる多くの計測装置は、頻繁に使用される基部上で、較正され、それぞれ再較正される。そのようにする際に、計測装置が、公知の特性を有する表面上に配置され、次にこれらの特性が前記計測装置により計測される。ユーザは、例えば、ポテンショメータの抵抗を変化させることにより、特有のふれに対してそれぞれ装置をゼロにバランスする（すなわち較正する）。これにより、各装置におけるずれがある程度補償される。
【０００７】
操作を簡便にするために、基準表面が計測された後に、対応する基準値に計測装置を自動的に再較正する自動較正方法も従来技術において知られている。
【０００８】
しかしながら、公知の従来技術の方法及び装置の欠点は、多くのオペレータエラー（operator error）が検出されないことである。例えば、光学デバイスを自分で精査せずかつ各デバイスが汚れていないかどうかを検査することなく、ユーザは絶えずこのような自動機械を信頼している。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題及び課題を解決するための手段】
よって、本発明の課題は、光学的計測装置を較正又は再較正するための信頼可能かつ反復可能な基準計測法を可能とするために、上記したような方法を提供することである。
【００１０】
この課題は、請求項１に記載した本発明の方法により達成される。
【００１１】
さらに、本発明は下位請求項の内容を構成している。
【００１２】
基準計測を行うための本発明による方法は、少なくとも１つの放射源を備える少なくとも１つの第１照明手段を有し、かつ計測表面に対して所定の角度で並べられた光学的デバイスを使用して行われる。
【００１３】
さらに、光学的デバイスは少なくとも１つの第１光学的計測手段と少なくとも１つの第２光学的計測手段とを備え、前記各光学的計測手段は、いずれも計測表面に対して所定の角度で整列されかつ前記計測表面で反射された光の一部を受け入れる。
【００１４】
第１光学的計測手段と第２光学的計測手段は、それぞれ、いずれも受信したそれぞれ反射された光の特性を示す電気計測信号を発する少なくとも１つの光センサを備えている。
【００１５】
計測シーケンスを制御しかつ計測結果を評価するために、光学的デバイス内に少なくとも１つのプロセッサ及び少なくとも１つのメモリ手段を有する制御及び評価手段をさらに具備している。計測値を出力するために、光学的デバイス内に出力手段を具備している。
【００１６】
光学的デバイスを使用する本発明による方法は、以下の順序通り又は異なる順序で行われてもよい以下の各段階を備える。
ａ）  まず最初に、光学的デバイスと基準表面とが互いに整列され；好ましくは、光学的デバイスが該基準表面上に位置決めされる。
ｂ）  次に、第１光学的計測手段が、好ましくはメモリ手段内に記憶される計測値を得る。
ｃ）  第１計測手段により得られた計測値と第１光学的計測手段の特性を有しかつメモリ手段内に記憶された第１較正値とから偏差パラメータが導かれ、該偏差パラメータは前記第１較正パラメータからの測定値の偏差の尺度である。
ｄ）  次の段階は第２光学的手段による計測を伴う。
ｅ）  第２光学的手段による計測後、第２偏差パラメータが、前記第２計測手段からの計測値と第３計測手段の特性を有しかつメモリ手段に記憶された第２較正パラメータとから導かれる。
ｆ）  第１偏差パラメータと第２偏差パラメータとから変動パラメータが導かれる。
ｇ）  変動パラメータがある範囲を越える場合又は到達しない場合、又は変動パラメータが所定値よりも大きい場合に、続いて警告信号が発せられる。
【００１７】
本発明による方法は多くの有利点を有している。
【００１８】
最初に光学的デバイスを使用する際に、生産又は品質管理部においても通常行われるように、基準原器を計測しかつ対応する正確な微調整をすることによりデバイスがまず調整される。
【００１９】
幾何学的状況におけるあらゆる変化を本質的に等しくし、いずれかを除くために、高品質計測装置が定期的に再較正される必要がある。よって、多くの計測装置に対して明確に知られかつ定義された特性を有する基準表面を具備している；これらの基準表面は、オリジナルの精度調整の基準原器に一致させてもよい。
【００２０】
従来の計測装置では、少なくとも最終検査又は精度調整段階の範囲内で、計測装置は、好ましくは少なくとも１つの基準表面上に位置決めされ、次に装置が前記基準表面を計測する。適切に計測された値が計測装置のメモリ内の較正パラメータとして記憶され、それぞれ製品仕様に印刷される。このような計測装置が、毎日の作動中に、再較正を必要とした場合には、計測装置が適切な基準表面上に位置決めされかつ前記基準表面の特性を計測する。
【００２１】
計測値をメモリ手段内に記憶された較正パラメータ（それぞれ印刷された較正パラメータ）と比較することにより、従って装置を再調整することができ、よって、汚れ及び他のそのような同等の要因により引き起こされるような影響を（少なくともある程度）無効にする。
【００２２】
しかしながら、基準計測が正確には実行されないことが、従来技術で知られるような計測装置及び計測方法（較正又は基準計測値をそれぞれ分析すること）により計測された場合にたびたび起こる。
【００２３】
本発明による方法は、第１計測手段と第２計測手段の計測結果が尤もらしいチェックを受け、誤った基準計測、それぞれ誤った較正計測を防止するとの公知の方法に対して有利点を有している。高品質かつ意味のある計測結果を得るために、誤った基準計測が繰り返される必要があるとの問題だけではなく、基準又は較正計測におけるこのようなタイプのエラーの多くが時間が経ってから検出されるとの問題がある。これは、他のことでは、現在行われている生産操業において、誤った基準計測を使用して多くの計測が既に行われた可能性があることを意味する。このようなエラーが数時間、数日、又は数週間経っても発見されないならば、その間に非常に多くの欠陥製品がその時間枠で製造されてしまっている。そして、それらを改めて製造することは高出費になる。欠陥製品を配送するとの点において生じる会社のイメージに対するダメージは無視できないものである。
【００２４】
例えば指紋により、複数の光学的構成要素のうちの一つが汚れ、その一方で他の光学的構成要素が本質的にまだ汚れていないことが、このようなタイプの計測装置を使用する場合にしばしば起こる。このような状況は、本発明による方法により信頼性を有する検出が可能である。最初に、基準又は較正計測の経過中に各光学的計測手段により計測がなされ、かつメモリ手段内に記憶された各較正パラメータと比較することにより何れかの各光学的構成要素に対して偏差パラメータが定められる。複数の光学的構成要素のうちの１つが例えば指紋により汚れたとの例では、この光学的構成要素に対する偏差パラメータが比較的高い値になり、一方で汚れていない光学的構成要素に対する偏差パラメータは低い値になるであろう。よって、第１偏差パラメータと第２偏差パラメータとから導かれる変動パラメータは、この場合比較的高い値を示す。
【００２５】
よって、本発明による方法は、例えば部分的に汚れた光学的構成要素のために生じる誤った基準計測を迅速にかつ信頼性を有して決定することが可能であり、それにより、警告信号を発することが可能であり、かつ基準計測が再度行うことが可能であり、必要ならば、続いて各光学的構成要素を洗浄する。
【００２６】
本発明による方法では、少なくとも１つの第１光学的計測手段又は第２光学的計測手段の偏差パラメータが、各計測手段の計測値と各較正値との差から導かれる。これにより、第１偏差パラメータと第２偏差パラメータが、それぞれ、好ましくは各計測値と第１較正パラメータあるいは第２較正パラメータとの差に等しくなる。
【００２７】
計測値と較正値との差から偏差パラメータを形成することは、小さな偏差は小さな偏差パラメータを導き、一方大きな偏差は従って大きな偏差パラメータを導くので、有利である。
【００２８】
本発明の方法では、少なくとも１つの偏差パラメータ（すなわち、第１偏差パラメータ又は第２偏差パラメータ）が、対応する計測値と対応する較正値との比から導かれる。
【００２９】
前述した本発明において、第１偏差パラメータ及び／又は第２偏差パラメータがある所定の範囲から外れる（すなわち、所定値を越えるか又は所定値以下に低くなる）場合に、前記出力手段により警告信号が好ましくは発せられる。
【００３０】
基準計測又は較正計測を行う際に、別の異なる可能性のあるエラーを信頼可能に検出できるので、本発明の方法は非常に有利である。
【００３１】
この点において、例えば、照明手段が汚れているか、又は照明手段内の放射源が欠陥を有しており、そのため放射源が何れの強度でも発光せず、又は非常に低い強度で発光する。この場合に、第１計測手段と第２計測手段とにより基準値を得たならば、計測信号が非常に低くなるであろう；結果として、この計測シーケンスからのエラー比率は、特に高くなる。この場合に、両計測手段が例えば同様の偏差を有し、かつ小さな変動パラメータのみが求められる一方で、基準計測において信頼性を有してエラーを検出できるように、各計測値と対応する較正パラメータとから導かれた各偏差パラメータは比較的大きなものとなる。
【００３２】
各偏差パラメータを制限することにより、欠陥を有するか又は汚れた基準表面を信頼性を有して定めることが同様に可能である。基準表面が汚れたならば、低い計測値が導かれ、かつ本発明による方法を使用しない場合には、誤った基準値を導き、よって、続く全ての計測が同様に誤ったものになるであろう。
【００３３】
各偏差パラメータの１つが許容可能な範囲を超えるか又は許容可能な範囲以下に下がった際に警告信号を発することにより、汚れた基準計測表面が信頼可能に検出可能となっている。
【００３４】
さらに、基準計測を行う場合に、ユーザが較正のために正しくない基準表面又は不適当な基準表面を使用する場合がある。偏差パラメータを制限することにより、これらのタイプのエラーを本質的に信頼可能に防止しても良い。
【００３５】
本発明による方法において、基準計測を行っている間に第１計測手段又は第２計測手段により得られる少なくとも１つの計測値が、所定の範囲を越える又は到達しない場合に、警告信号が発せられる。
【００３６】
これは、基準計測を評価する場合に、個々の計測値の絶対基準を考慮に入れることが可能であるといった有利点を提供する。
【００３７】
本発明において、オリジナルの較正パラメータ（初期の精度調整）と対応する計測値とから、第１偏差パラメータ及び／又は第２偏差パラメータを得ることができる。
【００３８】
最も最近保存した較正パラメータ（例えば、最も最近の確かな基準計測の計測値）と現在の計測値とから、偏差パラメータを導くことも可能である。
【００３９】
この変形例では、測定値勾配が最も最近の基準計測と現在の計測とから形成される。この勾配が所定の大きさ及び／又は選択可能な大きさを越えた際に、警告信号が発せられる。
【００４０】
本発明において、第１偏差パラメータと第２偏差パラメータとの差から変動パラメータが得られる；さらに本発明によると、第１偏差パラメータと第２偏差パラメータとの比から変動パラメータが得られる。
【００４１】
本発明において、例えば、線形、対数又は指数計算、又は他の同様の計算といった数学的演算を使用して、変動パラメータが定められる。適切な数学的演算を使用することにより、偏差パラメータ又は（例えば、ある基準を越えるか又はある基準に到達しない）計測値をより高度に考察し、そのため、さらに微調整された適切な評価が計測のタイプ（光沢、色彩等）に関してなし得る。
【００４２】
本発明において、光学的デバイスは、少なくとも１つの光源を有する第２照明手段を備えている。この光は計測表面に対して所定の角度で放射される。本発明によると、第１照明手段が第１計測手段に対して対称的に配置され、かつ第２照明手段が第２計測手段に対して対称的に配置されることが特に好ましい。
【００４３】
しかしながら、個々の照明手段及び計測手段が前記表面に対して異なる角度で整列される場合もありうる。これにより、個々の手段（照明手段と計測手段）が計測すべき表面の垂直方向に対して整列される所定の角度は、０°，５°，１０°，１５°，２０°，３０°，４０°，４５°，５０°，６０°，７０°，７５°，８０°，８５°，又は他の同様の角度とすることが可能である。本発明の方法を使用する場合に角度の並べ方も、光学的デバイスが行うべき計測作業に依存する。
【００４４】
本発明によると、前記偏差パラメータ、変動パラメータ、及び好ましくは計測された基準値のうちの少なくとも１つが、各基準計測の際にメモリ手段内に本質的に永続的に記憶される。これにより、メモリ手段内に少なくとも第１偏差パラメータ及び第２偏差パラメータ、及び変動パラメータを本質的永続的に記憶することが特に好ましい。
【００４５】
本発明は、現在の計測値、それぞれの偏差パラメータ、それぞれの変動パラメータを評価する場合に、個々の値を記憶することは、前の基準計測を考慮に入れることも可能であるとの点で、多くの有利点を有している。
【００４６】
本発明によると、テーブル手段がメモリ手段内に設けられており、このメモリ手段に対して、前記各種パラメータ、好ましくは第１偏差パラメータ，第２偏差パラメータ，変動パラメータのうちの少なくとも１つが、本質的に各基準計測のための前記テーブルのラインで又は前記テーブルの同様の対象にて本質的永続的に記憶されている。各計測の際に、計測時間パラメータが好ましくは追加的に記憶される。よって、以前の基準計測からの各種パラメータが本質的永続的に有効であり、かつ２つの連続する基準計測が所定の大きさを越える偏差（例えば、２つの連続するパラメータ又は計測値間の比率又は差を意味する）を示す場合に、警告信号が発せられる。
【００４７】
例として、複数の光学的構成要素のうち１つのｎ番目の基準計測から得た偏差パラメータが、対応する光学的構成要素の（ｎ−１）番目の基準計測から得た偏差パラメータからある量だけ外れている場合に、警告信号が発せられる。このような構成は、光学的計測手段を１つだけ有する光学的デバイスにより、本発明の方法を適用することが可能である。前の基準計測が基準計測制御として機能し、かつ基準計測から記録された計測値が所定値よりも大きな量だけ次の基準計測と異なる場合に、警告信号が発せられる。出願人は、このような方法に対するクレーム保護に対する権利を留保することを指摘している。
【００４８】
本発明において、基準計測を評価する場合には、メモリ手段内に設けられたテーブル手段が、従来技術として知られるような統計的選択プロセス（statistical selective process）を使用して評価しても良い。
【００４９】
例えば、第１計測手段の基準値と第２計測手段の計測値（適用できる場合に）とのそれぞれの線形回帰を介してオフセットラインが生じたならば、基準計測が却下され、現在の計測値が所定の基準により前記オフセットラインから外れる場合に、警告信号が発せられる。
【００５０】
構成は、例えば、汚れ具合が基準からあまりにも大幅に越えない限り、汚れが若干増大しても許容され得るものとされている。それは、同時に、基準計測の際の高信頼性検出エラーについても許容している。
【００５１】
前述した構成の全てにおいて、警告信号が好ましくは出力手段により発せられる。これにより、この警告作動は、視覚的、聴覚的に、又は他の方法により確実に行われる。さらに、警告信号が無線信号又は他の同様の手段を介して中央装置に発せられることが可能である。
【００５２】
本発明の方法は、３つ又は４つ又は５つ以上の計測手段を複数有するデバイスを使用して実行されることも可能である。偏差パラメータを全ての又は２つ又は３つ又は４つ以上の前記計測手段に対して定めることが可能である。
【００５３】
警告信号が発せられたならば、本発明の方法では、計測値を採用しないことが可能であり、このため、確かな基準又は較正計測が採用される前に、ユーザは、例えば、値を再確認するか又はまずエラー発生源を除去する必要がある。
【００５４】
図面とともに以下の実施形態の記載にて、本発明の更なる特徴点及び応用可能性を詳述する。
【００５５】
【発明の実施の形態】
図１及び図２に記載された計測装置を参照して、本発明による方法を記載する。図１及び図２に示すように、計測装置は表面の光沢を検出する目的のために使用されるものである。しかしながら、本発明の方法が、色彩を計測する装置又は他の表面特性を計測するための他の計測装置を使用することも可能であることは勿論のことである。
【００５６】
図１に示した光沢計測装置１は第１光学的手段２と第１計測手段１０とを備えており、前記第１光学的手段及び第１計測手段とは、それぞれ計測表面８に対して所定の角度１７，１８で並べられている。
【００５７】
照明手段２は、１つ又は２、３の光源３を備えている。光源（複数の光源）から発せられた光を計測表面８上に本質的に平行に送出するために、開口部４とレンズ５とが照明手段２の放射経路内に配置されている。
【００５８】
前記第１計測手段１０は、表面８で反射された光の一部を第１計測手段１０内に配置された光センサ１３に集束させるレンズ１１を具備している。これにより、開口部１２が開口を制限するために前記第１計測手段１０内に配置される。
【００５９】
光センサ２１を備える第２計測手段２０が、前記光沢計測装置内にさらに配置されている。実施形態では、前記第２計測手段２０が前記第１計測手段１０に比べて単純に構成されているが、前記第１計測手段と全て同様の要素を備えることも可能である。
【００６０】
図１に示した光沢計測装置とは対照的に、図２に示す光沢計測装置は、２つの照明手段と、対応する２つの計測手段とを備えている。同一又は同様の構成要素に対する参照符号が、図２においても使用されている。
【００６１】
現実施形態では、図２による光沢計測装置が第２計測手段２０に対して対称的に配置された第２照明手段６を備えている。
【００６２】
図３に示す基本回路構成を両光沢計測装置で使用してもよい。
【００６３】
複数の同様の電子回路が、異なる光学的構成要素と照明手段を制御しかつ計測装置における計測結果を評価するために使用されることが好ましい。これは、（環境の影響による）電子回路内の偏差が同様に異なる計測に影響するといった有利点を提供する。
【００６４】
本発明の方法を使用する光沢計測装置は、少なくとも１つのプロセッサ手段６０を有する制御及び評価手段６０を有している。装置を制御するために設けられたプログラムがメモリ手段６１内に記憶されている。計測値、較正値、及び他のデータが前記メモリ手段６１内に追加記憶されてもよい。前記制御手段６０は、光源（又は複数の光源）３を制御し、かつ光センサ１３，２１からの信号を分析するために光センサ１３，２１からの信号を記録するように作用する。
【００６５】
視覚的警告信号を発するために、出力手段６５がディスプレイとして構成されている。出力手段６５は、聴覚的警告信号を発するために、さらにラウドスピーカを備えてもよい。
【００６６】
図４（ａ）、図４（ｂ）、図４（ｃ）を参照して、本発明による方法を記載する。
【００６７】
図４（ａ）は、第１計測手段からの複数の計測値４０〜４８，４２’，４２’’を示しており、それらは対応する回数の基準計測に基づいている。
【００６８】
第１基準計測値４０は、正確な微調整の状況下で装置の製造中に又は製造後に記録されたものであり、かつ前記第１計測手段のオリジナルの較正パラメータを示す。
【００６９】
図４（ｂ）は対応する計測値７０〜７８，７２’，７２’’を表し、これらは図４（ａ）で示した各計測値に対応するものである。
【００７０】
エラーを検出するために（それぞれ較正中のエラーを防止するために）、エラーに対する多くの制限及びマージンが本発明の方法で設けられている。
【００７１】
例えば、第１計測手段からの計測結果が前記第１計測手段の上限５１以上又は前記計測手段の下限５３以下であると確認された場合に、警告信号が発せられる。これにより、例えば欠陥光源のために低放射が発せられた場合に、計測結果を採用することが防止される。同様に誤った計測を排除するために、上限８１と下限８３が同様に第２計測手段に対して設けられている。
【００７２】
基準計測又は較正を行う場合に、光沢計測装置１が基準表面８上に位置決めされ、かつ前記光沢計測装置１の制御構成要素６２を介して制御コマンドを入力することにより、メモリ手段６１内に記憶されたプログラムが開始される。さらに、色彩計測装置が基準計測を行うための制御手段６０を介して制御される。
【００７３】
装置１のディスプレイ６５は、好ましくは最初にユーザに対して再較正を望む基準表面上に光沢計測装置を位置決めするように促す。このタイプの基準表面は、例えば、装置１のハウジング内で（又はハウジング内で一体化され）、又は前記装置１用の（図示しない）保管容器内に配置されてもよい。
【００７４】
前記光沢計測装置１を基準表面８上に位置決めした後に（この位置決め方法は（図示しない）分離したセンサにより検出されてもよい）、信号を入力手段６２に入力することにより較正処理を開始するようにユーザに対して指示してもよい。
【００７５】
まず、照明手段２の光源のスイッチを入れ、かつ第１計測値４１が記録される。この段階に続いて、図１による装置において、他の計測値７１が第２計測手段２０により記録される。図２による光沢計測装置では、対照的に、第２照明手段６が駆動され、かつ計測値７１が前記第２計測手段２０により記録される。
【００７６】
偏差パラメータが、それぞれオリジナルの較正パラメータ４０，７０と対応する計測値４１，７１との差として規定され、計測値４１，７１から定められる。現在選択した具体例における各計測値４１，７１では、計測値４１がオリジナルの較正値４０に等しくかつ計測値７１がオリジナルの較正値に等しいので、第１計測手段に対する第１偏差パラメータと第２計測手段に対する第２偏差パラメータの双方がゼロに等しい。
【００７７】
所定の時間周期が経過した直後又は後の第２時間に光沢計測装置が再較正されるならば、計測値（例えば）４２’が第１計測手段により記録され、かつ計測値７２’が第２計測手段により記録されるかもしれない。この場合に、第１計測手段からの計測値４２’はオリジナルの較正値４０及び計測値４１よりも高い値を示し、現在の計測値と前回の適切に計測された値４１との差として第１偏差パラメータａが生成する。この例では第２計測手段により記録された計測値７２’は、前回の計測の計測値７１及びオリジナルの較正値７０と同じ値を示し、結果として現在の計測７２’に対する第２偏差パラメータがゼロに等しくなる。
【００７８】
次に、計測値４２’からの第１計測手段の第１偏差パラメータと計測値７２’からの第２偏差パラメータとの差から、変動パラメータ９２’が形成される。
【００７９】
この例では、計測値４２’は前回の計測値４１から量ａだけずれている。一方、第２計測手段の計測値７２’は前回の適切な基準計測からの計測値７１と一致している。
【００８０】
よって、２つの偏差パラメータ間の差から得られた変動パラメータが量ｃを生成する。この量ｃは図４（ｃ）の値９２’に対応している。この例では、第１計測手段１０からの計測結果４２’に対する前記第１計測手段の理想的な計測値４０，４１からのずれが、前記第２計測手段の計測値７２’に対する前記第２計測手段の理想的な計測結果７１，７０からのずれよりも非常に大きい。
【００８１】
本発明の方法によれば、誤った基準計測を採用することを充分に防止するために、変動パラメータが、例えば、図４（ｃ）における参照符号９０〜９８，９２’，９２’’により示されるような計測値から得られるものである。
【００８２】
変動パラメータを求めることにより、例えば汚れた光学的構成要素の場合が検出される。この場合に、第１計測手段と第２計測手段からの各計測結果が実際の汚れの程度により比較的大きく異なるであろう。
【００８３】
同様に、不適当な又は正確でない基準表面が誤って使用され、そのため、光学的手段の１つの計測結果が、対応する表面の表面特性により上方又は下方に変位する可能性がある。同様に、計測装置が計測される基準表面上にある角度でセットされることから、基準計測を行う際にエラーが生じる可能性がある。
【００８４】
図２に示した光沢計測装置では、複数の異なる計測手段が表面に対して異なる角度で方向付けられており、そのため、位置決め角度を傾斜させることは、２つの計測手段に対して大きく異なる角度へと作用する。このような傾斜エラーは、通常、求められた計測値が低くなる。ある状況（例えば、組織された表面（structured surface）、又はある粗さを有する表面の場合）では、より大きな計測値が検出されるかもしれない。
【００８５】
図４（ａ）における計測値４２’は、傾斜エラーの一例としての役目を果たしている。この傾斜エラーは、計測手段が例えば組織された計測表面に対して向けるべき角度よりも大きな角度で方向付けされることから生じる。
【００８６】
例えば、第１計測手段により計測する場合に、計測表面が若干傾斜しており、そのため理想的な値４０，４１よりも大きな値４２’に達している一方で、第２計測手段２０による計測が正確に測られ、そのため正確な計測値７２’が得られる。この例では、各偏差パラメータ間の差としての変動パラメータ９２’（現在の計測値と対応する適切な基準値との差それぞれの差）が変動パラメータに対する妥当な上限１０１を越え、警告信号が発せられ、かつ基準計測を繰り返すようにユーザに指示することになる。たとえ計測値４２’が第１計測手段の基準計測値に対する上限５１と下限５３との間の妥当な範囲内にあったとしても、警告信号が発せられる。
【００８７】
計測値４２’が却下され、かつ基準計測が繰り返されねばならない。
【００８８】
次の基準計測では、第１計測手段からの計測値４２’’と第２計測手段からの計測値７２’’に戻る。計測値７２’’は正確に検出されたが、計測値４２’’は非常に低い大きさを示している。これは、例えば、第１計測手段における汚れた光学構成要素に原因があると考えられる。各計測値から定められた変動パラメータ９２’’が変動パラメータの妥当な範囲の下限１０３以下であり、よって、たとえ計測値４２’’が前記第１計測手段の基準計測に対して妥当な範囲内に依然としてあったとしても、基準計測が却下されかつ繰り返されねばならない。本実施形態では、若干汚れた光学的構成要素の検出に対する計測値４２’’，７２’’の大きさは許容され、計測値４２’’，７２’’が不適当又は不正確な基準表面により求められることを基本的に排除可能である。
【００８９】
次の計測値４２は、必要条件を満たしかつ（丁度基準計測値７２が採用されるように）採用される。
【００９０】
本発明による方法は、第１計測手段と第２計測手段との許容可能な偏差を比較的高く制限することを可能としており、これにより、劣化の増大する徴候及び／又は関連する関連構成要素の汚れをある程度許容可能である。このことは、（第１計測手段により得られた）さらなる基準計測４３，４４，４５，４６，４７，４８と、（第２計測手段により得られた）対応する計測値７３，７４，７５，７６，７７，７８とにより示されている。
【００９１】
各基準計測の対応する変動パラメータ９３，９４，９５，９６，９７，９８が図４（ｃ）に示されている。それぞれ基準計測回数が増大するにつれて、第１計測手段及び第２計測手段の記録された大きさが時間の経過とともに減少しているが、対応する変動パラメータ９３〜９８は、変動パラメータの下限１０３と変動パラメータの上限１０１との間の許容可能な範囲内に維持されている。
【００９２】
許容可能な変動パラメータの範囲は、理想的な変動パラメータ１０２（好ましくはゼロの値から測って得られる差）と許容可能正偏差１０５と許容可能負偏差１０４により表現されてもよい。これにより、正偏差と負偏差の範囲が対称的である必要はない。
【００９３】
第２計測手段の計測値７３から第２計測手段の計測値７８にかけて、記録された大きさが着実に減少しているが、計測値７５，７６は線形減少傾向からずれている。対照的に、図４（ａ）に示したように、計測値例４３〜４８では線形減少傾向が起きている。
【００９４】
バルブ品質が、全時間での計測値４１〜４８にて見られる変化から確かめることができ、かつ例えば、（計測毎に又は全時間で）変化が非常に大きいと判断した場合に、さらなる警告信号を発生可能である。その時は、光源を置換することが推奨されてもよい。
【００９５】
計測値４３〜４８と第２計測手段の対応する計測値７３〜７８とから求められた変動パラメータ９３〜９８は、全て変動パラメータの下方許容限界１０３よりも上であり、かつ変動パラメータの上方許容限界１０１よりも下である。
【００９６】
第１計測手段及び第２計測手段の偏差パラメータを求めるために、現在の計測値と各計測手段の最も最近計測された妥当な基準計測値との差（これは、偏差パラメータ値ｂ（勾配形態）を生成する）を求めることも可能である。
【００９７】
２つの連続的な基準計測の間の変化が非常に大きくなることを防止するために、同様にして、上限及び下限が前記偏差パラメータ値ｂに対して設定される。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の方法で使用される装置の第１実施形態の断面図である。
【図２】  本発明の方法を作用させる際に使用される他の光学的デバイスの断面図である。
【図３】  本発明の方法を作用させる際に使用される光学的デバイスの基本回路構成を表す図である。
【図４】  （ａ）は第１計測手段による複数の基準計測からの具体的計測値の高さを示す図であり、（ｂ）は第２計測手段による（ａ）に従う基準計測の測定値の高さを示す図であり、及び（ｃ）は（ａ）及び（ｂ）による基準計測の変動パラメータを示す図である。
【符号の説明】
２  第１照明手段
３  光源
８  計測表面
１０  第１計測手段
１３，２１  光センサ
２０  第２計測手段
６０  プロセッサ手段
６１  メモリ手段
６５  出力手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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