(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を撮影するために閃光を発する発光手段と、被写体光を受光して当該被写体光を光電変換し、複数回の発光により得られた電荷を累積的に積分する積分手段とを備え、第１回目の発光幅よりも第２回目以降の発光幅が広くなるよう、前記発光手段により、予め定めた複数回である所定発光回数の間欠的な発光をさせるとともに、前記積分手段により得られる積分値に基づいて測距を行う測距装置であって、
第１回目の発光後の積分値が所定値に達したか否かを判定するとともに、各回の発光後の積分値が所定の飽和値に達したか否かを判定する判定手段と、
第１回目の発光後の積分値が所定値に達せず且つ第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭くなるよう第１回目の発光幅を再設定し、第１回目の発光から再度測距を実行させる再測距制御手段と、
を備えた測距装置。
【請求項２】
被写体を撮影するために閃光を発する発光手段と、被写体光を受光して当該被写体光を光電変換し、複数回の発光により得られた電荷を累積的に積分する積分手段とを備え、第１回目の発光幅よりも第２回目以降の発光幅が広くなるよう、前記発光手段により、予め定めた複数回である所定発光回数の間欠的な発光をさせるとともに、前記積分手段により得られる積分値に基づいて測距を行う測距装置、における測距制御方法であって、
第１回目の発光後の積分値が所定値に達したか否かを判定するとともに、各回の発光後の積分値が所定の飽和値に達したか否かを判定する判定工程と、
第１回目の発光後の積分値が所定値に達せず且つ第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭くなるよう第１回目の発光幅を再設定し、第１回目の発光から再度測距を実行させる再測距制御工程と、
を備えた測距制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、いわゆるパッシブ方式のＡＦ（自動焦点調節）カメラ等に搭載される測距装置、及び当該測距装置における測距制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のカメラ等の自動焦点調節において、補助光の発光量を確実に制御するための技術が提案されている。例えば、下記の特許文献１には、ストロボ補助光を段階的に光量が増加するように間欠的に繰り返し発光させ、予め設定された最大発光回数に達した場合、補助光を停止させる技術が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−３３８３８６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記公報の技術では、第１回目発光しなかった場合に、その不具合が考慮されていなかった。即ち、第１回目の発光を狭いパルス幅で行っているため、発光しなかった場合に補助光到達距離が短くなってしまうという問題がある。一方、パルス幅を広くすると、被写体が近距離に位置する場合に光量が飽和してしまい、適正な自動焦点調節が困難となるという問題がある。
【０００４】
本発明は、上記課題を解決するために成されたものであり、第１回目発光しなかった場合の不具合を考慮し、被写体との距離が遠距離であるか近距離であるかを問わず、自動焦点調節を適正に行うことができる測距装置及び測距制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明に係る測距装置は、被写体を撮影するために閃光を発する発光手段と、被写体光を受光して当該被写体光を光電変換し、複数回の発光により得られた電荷を累積的に積分する積分手段とを備え、第１回目の発光幅よりも第２回目以降の発光幅が広くなるよう、前記発光手段により、予め定めた複数回である所定発光回数の間欠的な発光をさせるとともに、前記積分手段により得られる積分値に基づいて測距を行う測距装置であって、第１回目の発光後の積分値が所定値に達したか否かを判定するとともに、各回の発光後の積分値が所定の飽和値に達したか否かを判定する判定手段と、第１回目の発光後の積分値が所定値に達せず且つ第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭くなるよう第１回目の発光幅を再設定し、第１回目の発光から再度測距を実行させる再測距制御手段とを備えたことを特徴とする。
【０００６】
また、上記目的を達成するために、本発明に係る測距制御方法は、被写体を撮影するために閃光を発する発光手段と、被写体光を受光して当該被写体光を光電変換し、複数回の発光により得られた電荷を累積的に積分する積分手段とを備え、第１回目の発光幅よりも第２回目以降の発光幅が広くなるよう、前記発光手段により、予め定めた複数回である所定発光回数の間欠的な発光をさせるとともに、前記積分手段により得られる積分値に基づいて測距を行う測距装置、における測距制御方法であって、第１回目の発光後の積分値が所定値に達したか否かを判定するとともに、各回の発光後の積分値が所定の飽和値に達したか否かを判定する判定工程と、第１回目の発光後の積分値が所定値に達せず且つ第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭くなるよう第１回目の発光幅を再設定し、第１回目の発光から再度測距を実行させる再測距制御工程とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
測距装置では、被写体に閃光を発し、その被写体光を光電変換して得られた電荷の積分値に基づいて測距を行うが、このとき、第１回目の発光幅よりも第２回目以降の発光幅が広くなるよう、発光手段により、予め定めた複数回である所定発光回数の間欠的な発光をさせる。このため、被写体との距離が短い場合は、当該距離との関係で第２回目の発光幅が広すぎて飽和による測距エラーが発生することがあった。
【０００８】
ここで、本発明では、第１回目の発光後の積分値が所定値に達したか否かを判定するとともに、各回の発光後の積分値が所定の飽和値に達したか否かを判定し、その結果、第１回目の発光後の積分値が所定値に達せず且つ第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合には、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭くなるよう第１回目の発光幅を再設定し、第１回目の発光から再度測距を実行させる。これにより、第１回目に非発光となり、第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合でも、飽和による測距エラーとはせず、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭い新たな第１回目の発光幅での再測距を実行させるため、飽和による測距エラーを防止して、被写体と近距離であっても測距可能とすることができ、測距可能な距離範囲を近距離方向に拡大することができる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、第１回目に非発光となり、第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合でも、飽和による測距エラーとはせず、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭い新たな第１回目の発光幅での再測距を実行させるため、飽和による測距エラーを防止して、被写体と近距離であっても測距可能とすることができ、測距可能な距離範囲を近距離方向に拡大することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、添付図面に従って、本発明に係るカメラ及び測距方法の好ましい実施の形態について詳説する。
【００１１】
図１は、本発明が適用されたカメラの正面斜視図である。同図に示すようにカメラＣには、被写体像を銀塩フィルムに結像する撮影レンズを備えたズームレンズ鏡胴２１と、ストロボ光が発光されるストロボ発光窓２２と、リモコン信号を受信するためのリモコン受光窓２３と、被写体距離を測定するパッシブタイプのＡＦセンサが内蔵されているＡＦ窓２４と、セルフタイマ用光源としてのセルフタイマＬＥＤ２５と、撮影者が被写体を確認するファインダ窓２６と、被写体の明るさを測定する測光センサが内蔵されている測光窓２７と、撮影者がシャッタレリーズを指示する際に操作するシャッタボタン２８等が設けられている。
【００１２】
セルフタイマＬＥＤ２５により照射される光は、ストロボ光よりも配光角が狭いため、被写体にコントラストが無い場合でも、当該被写体の中心部と周辺部とで発光量に差異が生じる。このため、セルフタイマＬＥＤ２５を測距の補助光光源として用いることで、ストロボ光を測距の補助光として用いた場合よりも、コントラストが少ない被写体であっても、測距できる確率が向上する、という利点がある。
【００１３】
図２は、カメラＣの電気的構成を示すブロック図である。同図に示すように、カメラＣにはＣＰＵ１が設けられている。ＣＰＵ１は、カメラＣ全体の制御を行うものであり、制御・演算処理のためのプログラムを予め記憶しているＲＯＭ２及び制御・演算の際に各種データを記憶するＲＡＭ３を内蔵している。
【００１４】
更に、ＣＰＵ１には、電源回路４、ＬＣＤ５、ＬＥＤ群７、デート写し込み部８、リモコン受信回路９、ストロボ回路１０、測光回路１１、ＡＦ回路１２、ＥＥＰＲＯＭ１４、スイッチ群１５、モータドライバ１６、鏡胴駆動部１７、フィルム給送部１８、及びシャッタ駆動部１９が接続されている。
【００１５】
電源回路４は、ＣＰＵ１に電力を供給するものであり、この電力供給によりＣＰＵ１を動作させる。ＬＣＤ５は、撮影モードなどを表すマークや、デート表示のための数字を表示するものである。ＬＥＤ群７には、上記図１のセルフタイマＬＥＤ２５が含まれる。ストロボ回路１０は、ストロボ窓内に設けられた発光体を有し、ＣＰＵ１による制御の下、選択された撮影モード（ストロボ発光態様等に関するモード）に従って発光体をストロボ発光させる。測光回路１１は、測光センサなどにより構成されている。ＡＦ回路１２は、ＡＦ投光窓およびＡＦ受光窓それぞれの中に発光体および受光体それぞれを有し、これら発光体および受光体を用いた三角測距の原理により、ＣＰＵ１による指示により被写体までの距離を測定し、その測定結果をＣＰＵ１に送る。
【００１６】
ＥＥＰＲＯＭ１４は、各時点におけるカメラの状態、各種の制御パラメータ等を記憶する。スイッチ群１５は、シャッタレリーズを行うシャッタボタン、撮影モードを設定するためのモードスイッチ、セルフタイマ撮影を設定するためのセルフタイマスイッチ、カメラの撮影可能状態、撮影不可能状態を切り替えるメインスイッチ、ズーミングを行うためのズームスイッチ（ＴＥＬＥスイッチ、ＷＩＤＥスイッチ）、フィルム装填及び取り出し時に裏蓋の開閉を検出する裏蓋開閉スイッチ、フィルムの途中巻戻しを指示するＭＲスイッチ、標準電波の受信開始を手動で行うための手動受信スイッチなどにより構成されている。
【００１７】
モータドライバ１６は、ＣＰＵ１からの制御信号を受けて鏡胴駆動部１７、フィルム給送部１８及びシャッタ駆動部１９に駆動信号を出力するものである。鏡胴駆動部１７は、レンズ鏡胴の繰り出し及び繰り込みの駆動を行うものであり、図示しないモータを備えている。このモータは、鏡胴を駆動するためのモータであり、モータドライバ１６の駆動信号を受けて駆動する。フィルム給送部１８は、ＣＰＵ１による指示に従い、装填されているフィルムパトローネのフィルムを順方向または逆方向に給送する。シャッタ駆動部１９は、シャッタ駆動を行うものであり、モータドライバ１６の駆動信号を受けて作動する。
【００１８】
図３は、パッシブ方式によるＡＦセンサ９８の構成を示した図である。同図に示すようにＡＦセンサ９８には、例えば白と黒の２つの色から構成されている被写体９０の像を左右の各センサの受光面に結像するレンズ９２と、受光面に結像した像を光電変換して輝度信号として出力する右側のＲ（右）センサ９４及び左側のＬ（左）センサ９６と、ＣＰＵ１と間で各種データの送受信を行うとともにＲセンサ９４及びＬセンサ９６の制御とデータ処理を行うＡＦ回路１２（図２も参照）とが設けられている。尚、Ｒセンサ９４、Ｌセンサ９６、及び、ＡＦ回路１２は、例えば、同一基板上に実装される。
【００１９】
Ｒセンサ９４及びＬセンサ９６は例えばＣＭＯＳラインセンサであり、直線上に配列された複数のセル（受光素子）から構成される。尚、Ｒセンサ９４とＬセンサ９６のそれぞれのセルには図３において左側から順にセンサ番号１、２、３…２３３、２３４が付されるものとする。ただし、Ｒセンサ９４及びＬセンサ９６の左右両側の５つずつのセルは、ダミーのセルとして実際には使用されていないため、有効なセンサ領域は、センサ番号６から２２９までとなっている。これらのＲセンサ９４及びＬセンサ９６の各セルからは受光した光量に応じた輝度信号がセンサ番号と関連付けてＡＦ回路１２に順次出力される。
【００２０】
そして、ＣＰＵ１ではＲセンサ９４とＬセンサ９６のそれぞれのセンサ像の間で相関値演算を行い、相関が最も高くなるときのセンサ像のズレ量を求め、被写体９０までの距離を算出する（三角測量の原理）。
【００２１】
定量的には、被写体距離は、Ｒセンサ９４とＬセンサ９６との間隔及び各センサからレンズ９２までの距離、Ｒセンサ９４及びＬセンサ９６の各セルのピッチ（例えば１２μｍ）等を考慮して、センサ像のズレ量から算出することができる。センサ像のズレ量は、Ｒセンサ９４とＬセンサ９６のそれぞれのセンサ像の間で相関値演算を行うことにより求めることができる。
【００２２】
ここで、図４に示すようにＲセンサ９４及びＬセンサ９６のセンサ領域は、それぞれ５分割したエリア単位で相関値演算等の処理が行われ、各エリア毎に被写体距離が算出されるようになっている。これらの分割されたエリアを以下分割エリアというものとすると、分割エリアは、同図に示すように「右エリア」、「右中エリア」、「中央エリア」、「左中エリア」、「左エリア」から構成される。また、各分割エリアは、隣接する分割エリアと一部領域（セル）を共有している。相関値演算等の際には、Ｒセンサ９４とＬセンサ９６の対応する各分割エリア間（同一名の分割エリア間）でそれぞれ個別に相関値演算が行われることになる。尚、本実施の形態では分割エリアはセンサ領域を５分割したものであるが５分割以外の分割数であってもよい。
【００２３】
測距エリアは、Ｒセンサ９４とＬセンサ９６のそれぞれのセンサ領域のうち測距に使用する領域であり、「右エリア」、「右中エリア」、「中央エリア」、「左中エリア」、「左エリア」の５つの分割エリアで構成される領域が測距に使用される。よって、ＡＦ測距処理中にエラーが発生しない限り、上記それぞれのエリアから５つの測距値（被写体距離）が算出される。測距値が算出されると、ＣＰＵ１は以下のような処理をして測距値を基にしてオートフォーカスデータを算出する。
【００２４】
以下、図５及び図６を参照して、測距値が算出された後に、ＣＰＵ１が測距値を基にしてオートフォーカスデータを算出する処理について説明する。図５は上記処理の手順を示すフロー図である。図６は５つの測距値の位置関係を表した模式図であり、図６において上にある測距値ほどカメラから遠い距離に対応する測距値（数値の小さい測距値）であり、下にある測距値ほどカメラから近い距離に対応する測距値（数値の大きい測距値）を表している。なお、測距値は対応する距離が近い（対象物がカメラから近い状態）ほど大きく、遠い（対象物がカメラから遠い状態）ほど小さい数値となっている。以下、測距値の大小を言う場合はこの例に従うものとする。また、図６の例では測距値７０ａ、７０ｂ、７０ｃ、７０ｄ、７０ｅの順に測距値が大きい（対応する距離が近い）ものとして説明する。
【００２５】
まず、５つ得られた測距値７０ａ、７０ｂ、７０ｃ、７０ｄ、７０ｅのうち最も至近距離に対応する（最も大きい）測距値である最至近測距値を検出する（Ｓ１０）。この例では測距値７０ａが最至近測距値７０ａとして検出されることとなる。
【００２６】
次に、最至近測距値７０ａ以外の測距値についてそれぞれ最至近測距値７０ａとの差７２ｂ、７２ｃ、７２ｄ、７２ｅを算出する。そして、それらの差が所定のしきい値７２ｆよりも小さい測距値を選択し、それ以外の測距値は以下の処理には用いないこととする（Ｓ１２）。ここでしきい値７２ｆは諸条件によって切替可能となっており、フィルム感度、撮影レンズのＦナンバ及び焦点距離等によって決定される錯乱円に基づいて変更することが可能である。本実施形態では例えば、しきい値７２ｆは最至近測距値に対応する距離に焦点を合わせたとした場合の錯乱円δがδ＝０．０９ｍｍとなる位置に設定してある。この例では測距値７０ｂ、７０ｃ、７０ｄが選択され、測距値７０ｅは以降の処理には用いないこととなる。ここで、最至近測距値７０ａとの差が所定のしきい値７２ｆよりも小さい測距値が存在しない場合にはオートフォーカスデータ＝最至近測距値７０ａとしてオートフォーカスデータ算出処理を終了する（Ｓ１３）。
【００２７】
次に、選択した測距値７０ｂ、７０ｃ、７０ｄと最至近測距値７０ａとの差７２ｂ、７２ｃ、７２ｄを取り、それらの平均値である第一補正値７２ｈを算出する。すなわちこの例の場合は７２ｈ＝（７２ｂ＋７２ｃ＋７２ｄ）／３で計算される（Ｓ１４）。
【００２８】
次に、Ｓ１２で選択された、最至近測距値７０ａとの差が所定のしきい値７２ｆよりも小さい測距値７０ｂ、７０ｃ、７０ｄのうち、最も遠距離に対応する（最も小さい）測距値である最遠測距値７０ｄを検出し、最遠測距値７０ｄと最至近測距値７０ａとの差７２ｄの１／２である第二補正値７２ｊを算出する（Ｓ１６）。
【００２９】
次に、第一補正値７２ｈと第二補正値７２ｊを比較し、より小さい方を採用補正値（図示しない）として採用する（Ｓ１８、Ｓ２０、Ｓ２２）。なお、両者の値が同一である場合にはいずれの値を採用することとしてもよい。さらに、最至近測距値７０ａから採用補正値（正の値）を減算補正することによりオートフォーカスデータとして算出する（Ｓ２４）。
【００３０】
ここでさらに、算出した結果のオートフォーカスデータが所定の値よりも小さくなってしまった場合にはオートフォーカスデータは該所定の値とし、採用補正値の算出結果が所定の値を超えてしまった場合は採用補正値を該所定の値とすることによって異常なオートフォーカスデータが算出されることを防止してもよい。
【００３１】
オートフォーカスデータが算出されれば、ＣＰＵ１は温度等の要因を考慮しながらオートフォーカスデータを基に対象物との距離を求め、モータ駆動によりズームレンズ鏡胴２１を求めた距離に対応する位置へ動かしてフォーカス位置を変更する。
【００３２】
以下、本実施形態のカメラＣのＣＰＵ１により実行される測距制御処理を図７〜図１０に基づいて説明する。
【００３３】
本実施形態では、正常時には、図９（ａ）に示すように第１回目の発光時間（パルス幅）が２２マイクロ秒、第２〜第４回目の発光時間（パルス幅）が２８マイクロ秒に設定された計４回のストロボ補助光の発光を伴う測距を行うものとする。なお、図９（ａ）、（ｂ）及び図１０では横軸は時間軸とする。
【００３４】
また、本実施形態では、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きい場合（即ち第１回目の発光がされたと認められない場合）で、且つ第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４との差が第２の差分基準値ＳＴＥＮＤ２以上である場合に、追加で第５回目の発光を行うことを特徴とする。
【００３５】
また、本実施形態では、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きい場合（即ち第１回目の発光がされたと認められない場合）で、且つ第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２が所定の飽和基準値ＳＴ＿ＲＥＡＦより小さい場合（即ち第２回目の発光で飽和したと認められる場合）に、第１回目の発光幅２２マイクロ秒よりも広く第２回目の発光幅２８マイクロ秒よりも狭くなるよう第１回目の発光幅を２５マイクロ秒に再設定し、第１回目の発光から再度測距を実行させることを特徴とする。
【００３６】
更に、本実施形態では、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２との差が第１の差分基準値ＳＴＥＮＤ１より小さい場合に、第３回目以降の発光を中止させるものとする。
【００３７】
なお、第１の差分基準値ＳＴＥＮＤ１、第２の差分基準値ＳＴＥＮＤ２、所定の飽和基準値ＳＴ＿ＲＥＡＦ、及び所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦは、予め定められＥＥＰＲＯＭ１４に記憶されているものとする。
【００３８】
図７、図８の処理において、まず、再度の測距処理中であることを示す再測距フラグＦを「０」にリセットして（図７のＳ３０）、測距条件の設定を行い（Ｓ３１）、測光を行う（Ｓ３２）。そして、測光の結果に基づき、測距のためにストロボ補助光の設定変更が必要であるか否かを判断する（Ｓ３３）。ここでストロボ補助光の設定変更が必要でないと判断した場合は、ストロボ補助光の設定変更をせずに、ストロボ補助光を発光させて積分を開始する（図８のＳ５８）。その後、規定時間の経過後（Ｓ５９で肯定判断）に積分を終了し（Ｓ６０）、積分値が基準レベル以上であるか否かを判断する（Ｓ６１）。ここで、積分値が基準レベル以上でなければ（Ｓ６１で否定判断であれば）、測距エラー（Ｓ６４）として処理を終了する。一方、積分値が基準レベル以上であれば（Ｓ６１で肯定判断であれば）、そのときのセンサデータを読み出し（Ｓ６２）、読み出されたセンサデータを基に演算処理を行い（Ｓ６３）、自動焦点調節のための測距値を得て、処理を終了する。
【００３９】
一方、図７のＳ３３でストロボ補助光の設定変更が必要であると判断した場合、例えば、測距のためにストロボ補助光の光量を増やす必要がある場合等は、測距のためのストロボ補助光の設定を行う（Ｓ３４）。
【００４０】
設定後は、ストロボ補助光を発光させて積分を開始する（Ｓ３５）。ここで、再測距フラグＦが１であるか否かを判断する（Ｓ３６）。最初は、再測距フラグＦは０なので、Ｓ３７へ進み、第１回目の発光を２２マイクロ秒行い（Ｓ３７）、その後、第１回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達したか否かを判断する（Ｓ３９）。なお、積分終了レベルの判断は、図３のＡＦセンサ９８内部で信号量を検出して自動で行われる。
【００４１】
第１回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していれば、それ以上、発光を行う必要はないので、図８のＳ６２へジャンプし、そのときのセンサデータを読み出し（Ｓ６２）、読み出されたセンサデータを基に演算処理を行い（Ｓ６３）、自動焦点調節のための測距値を得て、処理を終了する。
【００４２】
一方、Ｓ３９で第１回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していなければ、当該時点のモニターデータ（即ち、第１回目の発光後の積分値）をアナログ／デジタル変換した後、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１としてＥＥＰＲＯＭ１４に保管する（Ｓ４０）。
【００４３】
次に、第２回目の発光を２８マイクロ秒行い（Ｓ４１）、当該時点のモニターデータ（即ち、第２回目の発光後の積分値）をアナログ／デジタル変換した後、第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２としてＥＥＰＲＯＭ１４に保管する（Ｓ４２）。その後、第２回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達したか否かを判断する（Ｓ４３）。
【００４４】
第２回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していれば、以下の本実施形態に特有の処理を行う。即ち、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きいか否か、及び、第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２が所定の飽和基準値ＳＴ＿ＲＥＡＦより小さいか否かを判断し（Ｓ４５、Ｓ４６）、両方とも肯定判断された場合、即ち、図１０に示すように、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きく且つ第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２が所定の飽和基準値ＳＴ＿ＲＥＡＦより小さい場合（即ち、第１回目の発光がされたと認められず且つ第２回目の発光で飽和したと認められる場合）は、積分を終了して（Ｓ４７）、再測距フラグＦが０であるか否かを判断する（Ｓ４８）。最初は、再測距フラグＦは０なので、Ｓ４９へ進み、再測距フラグＦを「１」にセットした後、Ｓ３１へ戻って、再測距処理を行う。Ｓ３１以降の再測距処理では、Ｓ３６で肯定判断されるため、Ｓ３８へ進み、第１回目のパルス幅を２５マイクロ秒として発光がされる（図１０の矢印Ｒ部分）。
【００４５】
なお、Ｓ３９以降は同様に処理が繰り返される。再測距処理でもＳ４５とＳ４６の両方で肯定判断された場合は、再測距フラグＦが１なのでＳ４８で否定判断され、測距エラー（Ｓ６４）として処理を終了する。
【００４６】
さて、Ｓ４３で第２回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していなければ、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２との差が第１の差分基準値ＳＴＥＮＤ１以下であるか否かを判断する（Ｓ４４）。
【００４７】
第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２との差は、第２回目の発光のみに起因した電荷量に相当するが、第２回目の発光幅（２８マイクロ秒）は第１回目の発光幅（２２マイクロ秒）よりも広く設定されている。このため、上記の差が第１の差分基準値ＳＴＥＮＤ１以下であると判断された場合は、第２回目の発光のみに起因した電荷量は小さく、さらに第１回目の発光に起因した電荷量はもっと小さいものと判断することができる。よって、第１回目、第２回目の発光による被写体光の光量はともに、測距するには不十分な光量であり、それ以上測距のために発光を繰り返しても無駄であると判断することができる。そこで、本実施形態では、Ｓ４４で第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２との差が第１の差分基準値ＳＴＥＮＤ１以下であると判断された場合は、測距エラーとして（図８のＳ６４）として処理を終了する。
【００４８】
一方、Ｓ４４で第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２との差が第１の差分基準値ＳＴＥＮＤ１より大きい場合は、第３回目の発光を２８マイクロ秒行い（図８のＳ５０）、その後、第３回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達したか否かを判断する（Ｓ５１）。第３回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していれば、それ以上、発光を行う必要はないので、Ｓ６２へジャンプし、そのときのセンサデータを読み出し（Ｓ６２）、読み出されたセンサデータを基に演算処理を行い（Ｓ６３）、自動焦点調節のための測距値を得て、処理を終了する。
【００４９】
第３回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していなければ、第４回目の発光を２８マイクロ秒行い（Ｓ５２）、その後、第４回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達したか否かを判断する（Ｓ５３）。第４回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していれば、それ以上、発光を行う必要はないので、Ｓ６２へジャンプし、そのときのセンサデータを読み出し（Ｓ６２）、読み出されたセンサデータを基に演算処理を行い（Ｓ６３）、自動焦点調節のための測距値を得て、処理を終了する。
【００５０】
第４回目の発光後の積分値が積分終了レベルに達していなければ、当該時点のモニターデータ（即ち、第４回目の発光後の積分値）をアナログ／デジタル変換した後、第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４としてＥＥＰＲＯＭ１４に保管する（Ｓ５４）。
【００５１】
そして、以下の本実施形態に特有の処理を行う。即ち、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きいか否か、及び、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４との差が第２の差分基準値ＳＴＥＮＤ２以上であるか否かを判断し（Ｓ５５、Ｓ５６）、両方とも肯定判断された場合、即ち、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きく、且つ第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４との差が第２の差分基準値ＳＴＥＮＤ２以上である場合には、図９（ｂ）に示すように、追加的な第５回目の発光を２８マイクロ秒行う（Ｓ５７）。
【００５２】
その後は、規定時間の経過後（Ｓ５９で肯定判断）に積分を終了し（Ｓ６０）、積分値が基準レベル以上であるか否かを判断する（Ｓ６１）。ここで、積分値が基準レベル以上でなければ（Ｓ６１で否定判断であれば）、測距エラー（Ｓ６４）として処理を終了する。一方、積分値が基準レベル以上であれば（Ｓ６１で肯定判断であれば）、そのときのセンサデータを読み出し（Ｓ６２）、読み出されたセンサデータを基に演算処理を行い（Ｓ６３）、自動焦点調節のための測距値を得て、処理を終了する。
【００５３】
以上の実施形態では、カメラと被写体との距離が短いために、図１０に示すように、第１回目に非発光となり、第２回目の発光後の積分値が所定の飽和値に達した場合でも、飽和による測距エラーとはせず、第１回目の発光幅よりも広く第２回目の発光幅よりも狭い新たな第１回目の発光幅（２５マイクロ秒）での再測距を実行させるため、飽和による測距エラーを防止して、被写体と近距離であっても測距可能とすることができ、測距可能な距離範囲を近距離方向に拡大することができる。
【００５４】
また、図９（ｂ）に示すように、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きい場合（即ち第１回目の発光がされたと認められない場合）で、且つ第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４との差が第２の差分基準値ＳＴＥＮＤ２以上である場合に、追加で第５回目の発光を行う制御を行うため、カメラと被写体との距離が長い場合でも測距可能とし、測距可能な距離範囲を拡大することができる。
【００５５】
もちろん、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１が所定基準値ＳＴ＿ＲＥＦより大きい場合（即ち第１回目の発光がされたと認められない場合）という条件のみで、追加で第５回目の発光を行う制御を行ってもよい。しかし、上記のように、当該条件に、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４との差が第２の差分基準値ＳＴＥＮＤ２以上である場合という条件を加えることにより、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４との差が小さくて、さらにもう１回の発光をしても無駄であると判断できる場合に、当該無駄な発光を回避することができ、これに伴い、測距時間の短縮及び発光の消費電力の削減を図ることができる。換言すると、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第４回目の発光後の積分値ＳＴＭ４との差が第２の差分基準値ＳＴＥＮＤ２以上である、即ち、さらにもう１回の発光をする意義があると判断した上で、もう１回の発光をさせるため、適正な発光制御を行うことができる。
【００５６】
なお、本実施形態では、第１回目の発光後の積分値ＳＴＭ１と第２回目の発光後の積分値ＳＴＭ２との差が第１の差分基準値ＳＴＥＮＤ１より小さい場合に、第３回目以降の発光を中止させる制御を行うことで、無駄な発光を回避し、測距時間の短縮及び発光の消費電力の削減を図っている。但し、このように第３回目以降の発光を中止させる制御は、本発明では必須要件とされない。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明が適用されたカメラの正面斜視図である。
【図２】カメラの電気的構成を示すブロック図である。
【図３】パッシブ方式によるＡＦセンサの構成を示した図である。
【図４】Ｒセンサ及びＬセンサのセンサ領域における分割エリアを示した図である。
【図５】オートフォーカスデータを算出する処理のフロー図である。
【図６】得られた測距値の位置関係を表す模式図である。
【図７】本実施形態のカメラで実行される測距制御処理の前半を示す流れ図である。
【図８】本実施形態のカメラで実行される測距制御処理の後半を示す流れ図である。
【図９】（ａ）は測距が正常に行われた場合の発光制御信号及び積分信号の状態を示すグラフであり、（ｂ）はカメラが被写体と遠距離にあり追加の発光を行う場合の発光制御信号及び積分信号の状態を示すグラフである。
【図１０】カメラが被写体と至近距離にあり、パルス幅２５マイクロ秒で再測距を行う場合の発光制御信号及び積分信号の状態を示すグラフである。
【符号の説明】
【００５８】
Ｃ…カメラ、１…ＣＰＵ、２…ＲＯＭ、３…ＲＡＭ、４…電源回路、５…ＬＣＤ、７…ＬＥＤ群、８…デート写し込み部、９…リモコン受信回路、１０…ストロボ回路、１１…測光回路、１２…ＡＦ回路、１４…ＥＥＰＲＯＭ、１５…スイッチ群、１６…モータドライバ、１７…鏡胴駆動部、１８…フィルム給送部、１９…シャッタ駆動部、２１…ズームレンズ鏡胴、２２…ストロボ発光窓、２３…リモコン受光窓、２４…ＡＦ窓、２５…セルフタイマＬＥＤ、２６…ファインダ窓、２７…測光窓、２８…シャッタボタン、９０…被写体、９２…レンズ、９４…Ｒセンサ、９６…Ｌセンサ、９８…ＡＦセンサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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