(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
身体を観察するためのデバイスであって、当該デバイスは、
身体（５）の表面を照明する手段（１２）と、
該照明された表面から後方散乱した光束をサンプリングする手段と、
そのようにサンプリングした後方散乱した光束から画像を形成する手段と、
該後方散乱した光束中に配置された波面歪み測定手段と、
該歪み測定手段の上流に配置された波面補整手段と、
を有し、該波面補整手段は、該サンプリングした光束に、歪み測定から計算した補正を適用するように配置されており、
当該デバイスの特徴が、
各調査した微細表面上の任意の地点から発する波面が波長のフラクションの範囲内で同一であるように、規定されたスキャニング工程で一連の微細表面を調査するために、該照明する手段によって放射される光束を偏向させるスキャニング手段をさらに含むこと、および該画像を形成する手段が、各調査した微細表面の深さＺの調査を提供するために設計されていることである、前記デバイス。
【請求項２】
照明光線が集中する地点をサンプリング領域に作成する手段と、該集中地点からサンプリング手段の光学エントランスに直接入る光線のみをサンプリングする手段とを有することを特徴とする、請求項１に記載のデバイス。
【請求項３】
画像表示デバイスを制御するために、サンプリングした光を信号に変換することができる測光センサー（７００）を含むこと、および波面歪み測定手段（２１）と波面補正手段（２２）とが、身体と該センサー（７００）との間の光の経路に配置されることを特徴とする、請求項１〜２のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項４】
サンプリング領域（０１）が、この領域（０１）中の任意の地点から来る波面が波長の４分の１の範囲内で同一であるのに十分なほど補整計算地点に近いように選択されることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項５】
集中地点がサンプリング領域にわたってスキャンされることを特徴とする、請求項２に記載のデバイス。
【請求項６】
画像を形成する手段が、該画像を形成する手段の上流に配置されかつ補正された光束を受け取る共焦点空間フィルタリング手段を有することを特徴とする、請求項１〜５のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項７】
サンプリング領域中の集中地点をスキャンすることができる第１の偏向モジュール（４５０）と、該サンプリング領域の位置を変更することができる第２の偏向モジュール（４００）とを有することを特徴とする、請求項１〜６のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項８】
波面歪み補正手段（２２）が、センサー（７００）と偏向モジュール（４００、４５０）との間に配置されることを特徴とする、請求項７に記載のデバイス。
【請求項９】
共焦点空間フィルタリング手段が、サンプリング領域と共同の平面に配置されたフィルタリングホールを有し、該フィルタリングホールが回折スポットの直径を有することを特徴とする、請求項６〜８のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項１０】
画像を形成する手段が、照明された表面から後方散乱した光束と参照アーム中の光束との間に干渉画像を形成する手段を有し、該参照アーム中の光束は、時空コヒーレンス長の範囲内で、該後方散乱した光束と同じ光学距離を移動することを特徴とする、請求項１〜４のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項１１】
照明する手段が発光ダイオードであることを特徴とする、請求項１０に記載のデバイス。
【請求項１２】
干渉手段（１２、ＳＭ１、ＳＭ３）が、身体（５）の少なくとも１つの部分の画像を形成し、この画像が、すべてのこの部分から同時に来る光によって干渉法により形成されることを特徴とする、請求項１０および１１のいずれかに記載のデバイス。
【請求項１３】
サンプリングされたビームが参照ビームと干渉する前に、波面補整が該サンプリングされたビームに適用されることを特徴とする、請求項１０〜１２のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項１４】
マトリクスセンサーと、サンプリング領域に対応する該マトリクスセンサーの領域を露光するために、サンプリング手段に同期させた修正可能マスクとをさらに有することを特徴とする、請求項１０〜１３のいずれか１項に記載のデバイス。
【請求項１５】
修正可能マスクが、透明位置または不透明コンフィギュレーションに切り換えられることができる一組の素子からなることを特徴とする、請求項１４に記載のデバイス。
【請求項１６】
身体を観察する方法であって、当該方法は、
光束で身体の表面を照明することと、
該照明された表面から後方散乱した光束をサンプリングすることと、
該後方散乱した光束上で波面歪み測定を行うことと、
そのようにサンプリングした後方散乱した光束から画像を形成することと、
波面歪み測定に基づいて波面補整を行うことと、
を包含し、該補整において、該サンプリングした光束に、歪み測定に基づいて計算した補正が適用され、
当該方法の特徴が、
各調査した微細表面の任意の地点から発する波面が波長のフラクションの範囲内で同一であるように、規定されたスキャニング工程で一連の微細表面を調査するために、該光束をスキャンすることをさらに含むこと、および各調査した微細表面の深さＺを調査するために、画像を形成することが提供されることである、前記方法。
【請求項１７】
画像を形成することが、補正された光束の共焦点空間フィルタリングを含むことを特徴とする、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
画像を形成することが、照明された表面から後方散乱した光束と参照アーム中の光束との間に干渉画像を形成することを含み、該参照アーム中の光束は、時空コヒーレンス長の範囲内で、該後方散乱した光束と同じ光学距離を移動することを特徴とする、請求項１６に記載の方法。
【請求項１９】
各調査された微細表面の範囲を自動的に決定することをさらに含むことを特徴とする、請求項１６〜１８のうちの１項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は、身体（例えば、生体）または工業製品を観察するためのデバイスに関する。
【０００２】
本発明は、特に、眼を観察するためのデバイスに関する。
【０００３】
眼を観察するための多くのデバイス（例えば、生体顕微鏡、検眼鏡またはレチノグラフィックデバイス（retinographic device））が知られている。これらは様々なタイプの試験（例えば、直接の解剖学的な観察あるいは色素（例えば、フルオレセイン、インドシアニングリーン、ローズベンガルまたはアクリジンオレンジ）によるスキャニング）を利用する。
【０００４】
ある最近の実験装置によると、機能的なスキャニングも可能である（例えば、結合（attachment）の研究、あるいは視覚経路の電気的な活動を記録することを意図したテストの投影）。この場合、画像は、照明ビームの調節によって直接網膜上に形成される。
【０００５】
従来の装置の大半は、多色光または単色光において５°〜６０°の視野を有する全体的な照明（overall illumination）に基づく。
【０００６】
概して、これらの装置は、いわゆるガルストランドの原理に従って、照明瞳孔と観察瞳孔とを別々にすることを必要とする。
【０００７】
レチノグラフィックデバイスは、写真感受性表面（photographic sensitive surface）を使用する。これらのデバイスは、観察者の網膜を直接介した検眼鏡検査による観察に必要な網膜照明のレベルよりもさらに高レベルの網膜照明を必要とする。これらのデバイスの性能レベルは、本質的に、システムの光学的な解像度によって規定される。
【０００８】
さらに最近では、ヒトの眼に見えるか、または見えない波長でのビデオ録画（videoscopic recording）を許容する感受性表面が出現している。従って、これらの装置の解像度は、光学的な制限に加えて、電子的な取得（electronic acquisition）の制限を受ける。
【０００９】
角膜および水晶体のスキャニングの分野において、照明システムは公知であり、その照明光源は、円形のまたはスリットの形態（幅は可変である）を有し、その光学的な画像は、観察面上に焦点が合わされる。
【００１０】
このようなデバイスでは、照明デバイスに固定された単眼または両眼の拡大システムからなる観察システムが使用される。組織の画像は、直接か、または眼に近接して配置した追加のレンズを介してかのいずれかで観察してもよい。これらの装置は、瞳孔分離の原理（pupil separation principle）、いわゆるガルストランドの原理の規定を満たす。
【００１１】
さらに最近では、角膜および／または水晶体の顕微鏡装置が記載されている。これらの装置は、従来の顕微鏡に非常に似たものである。これらの装置は、眼の前部媒体(anterior media)によって、いわゆる液浸技術を用いて非常に広いビーム角で作業することが可能になるという事実を使用する。
【００１２】
最近では、角膜を表示するために、共焦点顕微鏡法と呼ばれる新たな技術も提案されている。共焦点技術は、Ｚ方向に一定の厚さを有する光学セクション面を選択する際に利点を有する。従って、この技術を利用する装置は、断層撮影特性（tomographic property）を有する。即ち、これらの装置によって、散乱媒質における観察面の単離が可能となる。ビデオ技術（videoscopic technique）によって、多数の光学セクションを連続した面でリアルタイムに得ることが可能となる。
【００１３】
網膜スキャニングの分野において、上記の原理とは異なる、１９世紀の中頃にヘルムホルツによって定義された原理に基づく技術を使用することも提案されている。
【００１４】
従って、PomerantzeffおよびWebbによる米国特許第４ ２１３ ６７８号は、視野をスキャンする狭い領域を照明することを提案している。この特許は、二次元で光ビーム（この光ビームは、眼の瞳孔の直径よりも小さい直径を有する）を偏向させるために、光学機械的なスキャニング（optomechanical scanning）を使用することを教示している。この装置は、全瞳孔（full pupil）において、眼組織によって反射および／または散乱された光束を集める。この装置は、ガルストランドの原理と一致し、これによって、減少した照明瞳孔を使用して解像度を制限する。この文献は、偏光した光を使用することによって反射の存在を排除することを目的とする。
【００１５】
欧州特許第１４５ ５６３号では、Cohen Sabban、RousselおよびSimonは、眼組織によって反射および／または散乱された光束を、照明光束と同じ経路を辿らせることを提案している。この反射された光束は、光学的な偏向経路を進んでいくので、静止した状態となる。著者らは、この作用をビーム安定化（beam stabilization）と呼ぶ。この光学デバイスは、光源および観察する光学的な組織と共同の面において空間フィルトレーション素子を用いて、眼から来るリターンビームのフィルトレーションを可能にする。この記載は、共焦点デバイスの使用に相当する。この光学デバイスによって、ガルストランドの瞳孔分離の原理を用いることなく、反射を排除することが可能となる。
【００１６】
照明経路および観察経路に対して同一の瞳孔を使用すると、文献の米国特許第４ ２１３ ６７８号のデバイスよりも良好な解像度が得られる。共焦点フィルタリングの使用は、光束（この光束は、観察する面に対して上方および下方にある面によって散乱される）を排除することによってコントラストを増大させることを可能にする。
【００１７】
１９８７年、WebbおよびHughesは、欧州特許第２２３ ３５６号において、照明ビームおよび観察ビームを安定化する原理を採用しているが、彼らは安定化されたリターンビームにおいて瞳孔の分離を維持している。このデバイスは、瞳孔反射を除去するということに関して、以前のものよりも効果的であるが、依然として、集められる光束の制限という欠点を有する。
【００１８】
安定化されたリターン経路における空間フィルタリングデバイスの使用によって画像を得ることが可能となり、画像のフィールドの深さは、フィルトレーション瞳孔の直径によって規定される。この断層撮影の局面によって、研究される組織の三次元的な画像の構築が可能となる。しかし、得られる解像度は、幾何学的な収差、および透明媒体の変動に関係がある。解像度は網膜のＸＹ領域にわたって３０μｍ、網膜組織の深さＺの場合には３００μｍに制限されたままである。
【００１９】
角膜および網膜スキャニングの分野において、Izaatらは、Michelson干渉計タイプのデバイスを用いる干渉法によるスキャニングを提案している。
【００２０】
後者は、低い時空(spatio-temporal)コヒーレンスの照明光源を使用する。深さ方向Ｚの解像度は光源のコヒーレンス特性によって決定される。発光ダイオードの使用によって、眼において１５μｍのＺ解像度および角膜において２０μｍのＺ解像度が可能となる。
【００２１】
スキャンされる組織から来る光束と、いわゆる参照アーム（reference arm）に配置されたミラーから来る参照光束との間に生じる連続した干渉パターンによって、Ｚ網膜深さ（Ｚ retinal depth）において、光学セクションの画像が得られる。参照ミラーの各位置には、干渉システムが提供され、このシステムはスキャンされ、Ｚにおいて画素に情報を提供するだろう。
【００２２】
ラインに沿ったスキャニングは、光学機械的なスキャニングによって得られ、これによって、以前の位置に対してＺ方向のスキャニングが完了したときに新たな位置をスキャンすることが可能となる。ＸＹＺ解像度は、最も良い条件下で２０μｍのオーダーである。
【００２３】
このデバイスは、眼の運動に敏感である。なぜなら、取得時間（acquisition time）は、眼球運動のバンド幅と比較すると、比較的長いからである。補正アルゴリズムは、この欠点を部分的にのみ補整し得る。このデバイスは、種々の相対的な位置の画像を与え、忠実かつ絶対的な等高線の画像を与えることを可能にはしない。得られる実際の解像度は、ＸまたはＹにおいて１００μｍのオーダー、Ｚにおいて５０μｍのオーダーである。
【００２４】
適応光学（adaptive optics）の分野において、米国特許第５ ７７７  ７１９号では、変形可能ミラー(deformable mirror)を使用した波面補整デバイスを従来のレチノグラフィックシステムに挿入することが提案されている。表面上のある点が、超発光ダイオードによって照明される。これによって、波面の歪みを測定することが可能となり、かつ補整（この補整は変形可能ミラーによって付与されなければならない）を計算することが可能となる。この補整は、眼底の完全な画像にわたって実施され、ＣＣＤカメラによって得られる。この技術によって、２μｍのＸＹ解像度を得ることが可能となるが、これは満足なものではない。
【００２５】
さらに、このデバイスは、下方および上方の面から来る全ての反射および後方散乱を回避することによって研究される、組織の選択された光学平面（optical plane）に対応する有用な信号を抽出することを可能とはしない。
【００２６】
本発明の全体的な目的は、身体（例えば、生きているヒトの身体）、または例えば工業製品を観察するためのデバイスを提供することであり、当該デバイスは、特に、既存のデバイスによって提供される画像の解像度を上回る改善された解像度を有する。
【００２７】
本発明の目的は、身体、特に眼を観察するためのデバイスによって本発明に従って達成され、当該デバイスは、身体を照明する手段と、該身体の照明された領域から来る光をサンプリングする手段と、該身体上の地点から来るビームの波面歪みを測定することができ、かつ該サンプリング手段によってサンプリングされた光にこの測定した歪みから計算される補正を適用する補整手段とを有し、その特徴は、補正の計算のために使用される身体上の各地点について、該サンプリング手段が該身体の選択された領域にわたって光をサンプリングするように、該サンプリング手段と該補整手段とが配置され、該身体の選択された領域は、この領域中の任意の地点から来る光の波面歪みが波長のフラクションの範囲内で該計算の地点から来る光の波面歪みと同一であるのに十分なほど該計算の地点に近いこと、および該デバイスは、補正の計算に使用される身体上の地点を自動的に変更し、かつ関係するサンプリング領域を同期して変更する手段を含み、それゆえ、該デバイスは、一連のこのような連続領域の形態で観察された身体をスキャンし、該領域中の任意の地点から発する波面の歪みのそれぞれは、波長のフラクションの範囲内で、関係する計算の地点から発する波面の歪みと同一であることである。
【００２８】
本発明の更なる特徴、目的および利点は、添付の図面を参照とし、以下の詳細な説明を読むことで明らかとなるだろう。
【００２９】
以下の説明において、「同平面の（イソプラナーな）(isoplanar)表面または微細表面」との用語は、ほぼ平面状の観察表面を言い、これは、表面に存在する任意の点から来る波面が波長のフラクションの範囲内で同一であるという条件を満たしている。このような表面は、例えば、物理的に身体のある面から成っていてもよいし、または散乱媒質を通る断面から成っていてもよい。
【００３０】
「波長のフラクション」は、１波長未満の偏差（deviation）を意味するものとして理解される。
【００３１】
文献「Objective measurement of wave aberrations of the human eye with the use of a Hartman-Schack wavefront sensor」、V. Liangら、Jounal of the Optical Society of America, Vol. 11, No. ７, 1994年７月において、本発明に関連して使用され得る、波面の歪みを測定する方法は、波面の歪みを同定すること（すなわち、２つの波面の歪みの間において波形が同一であるか、またはそうでないか）を提案としている。この測定方法（この測定方法は、ヒトの眼から来るビームの場合において該文献に詳細に詳説されている）は、任意の観察される身体から発する波面の歪みの決定に適用可能である。
【００３２】
より具体的には、本明細書中、以下に記載されるデバイスにおいて、微細表面の同平面性（イソプラナリティー）(isoplanarity)の基準は、この表面上の任意の点から発する波面が、約４分の１の波長の範囲内で同一であるという事実によって定義されるであろう。
【００３３】
同平面の微細表面は、定義された表面にわたって波面の歪みを前もって研究することで決定される。波面の歪みがこの基準から外れるときは、スキャンされた表面は同平面ではない。そのときは、本発明に従って、再び同平面になるまで表面の領域を減らすことが必要となる。
【００３４】
同平面の表面の同定を繰り返すプロセスは、本発明のデバイスのパラメーターを設定するステージで、同平面の表面の平均的な大きさを決めるために行われてもよいし、本発明に係るデバイスに組み込まれた自動モジュールによって行われてもよい。そして、その自動モジュールの役割は、表面上の選択された各位置に対して、その表面が同平面であるようにその大きさを決定することである。
【００３５】
図１の構造は４つの主要部材、すなわち光源ユニット１０、サーボ機構により制御される光学デバイス２０、ステッパースキャニングデバイス３０および画像をキャプチャーし構築するデバイス４０を有する。
【００３６】
好ましくは、光源ユニット１０は二つの個別の光源；同平面の表面の波面の歪みを測定するよう意図された光源１１および同平面の表面の画像を構築するよう意図された光源１２を有する。
【００３７】
光源１１および１２の強度は、生体組織に関する安全則（AFNOR C 43 801, 1992年およびANSI Z136.1, 1993年基準）に適合するよう選択される。光源は、制御エレクトロニクスによって、波面測定段階では波面測定光源１１のみを用い、独立した画像構築段階でのみ光源１２を用いるよう調節され得る。
【００３８】
サーボ機構により制御される光学デバイス２０は、眼組織５によって後方散乱された光束用の回路に配置される。それは、波面歪み測定デバイス２１および波面補正または補整デバイス２２を有する。
【００３９】
補整デバイス２２は、眼から（あるいは工業製品といった、別の本体から）来る光束の経路中の測定デバイス２１の前に配置される。それは、後者とともにフィードバックループのサーボ機構による制御システムを構成する。
【００４０】
デバイス２１は、例えばＨａｒｔｍａｎｎ＆Ｓｈａｃｋ型の波面測定システム（それはビームを多数のサブ瞳孔(subpupil)に分割する）からなるか、でなければ波面曲率スキャニングデバイスからなる。本デバイスは、好ましくは被験者の瞳孔と共同の光学平面に配置されるが、最適と思われる他の任意の平面に配置されてもよい。本光学系は、光屈折界面の収差、特に幾何学的な収差、および透明媒質の指標の時空(temporo-spatial)の変動を、ワイドアパーチャー光学系を用いるデバイスによって生じる収差とともに、測定する。
【００４１】
デバイス２２は、変形させることができるいくつかのアクチュエーターを有する、変形可能ミラーからなり得る。それは、波面の歪みを構成する光路中の時空差を補整する。一組の独立なマイクロミラーまたは液晶といった、任意の等価なデバイスを用いることもなされる。それゆえ、本デバイスは観察される対象物に、あるいは観察系それ自体に由来する光学的な欠陥を補整する。
【００４２】
ミラー２２は、図面では光束を９０°偏向させるように表現されており、好都合には、ミラーに対して入射する光束に対し９０°より小さい角度で光束を反射させるように配置される。
【００４３】
このような制御ループ条件下では、解像度は回折の限界とこの適応制御系のクオリティーの両方によって決まる。
【００４４】
ステッパースキャニングデバイス３０の目的は、観察される微細表面を変更することである。それは、一連の微細表面を連続的にスキャンするために、光源１２によって放射された光束を誘導する。そのために、それは、例えばステッパーモーターによって制御された光学機械的偏向板を有する。
【００４５】
ステップは、スキャンすることを所望する同平面の表面の大きさによって決定される。それは、固定されてもよいし、あるいは観察を所望する画像および領域のクオリティーに応じてユーザーが設定してもよい。大きな領域であって、その表面全体が上記で規定した同平面性の条件を満たさない領域を観察するためには、連続してスキャンされる部分が同平面性を満たすように、ステップが選択される。
【００４６】
好ましい実施態様においては、照明光束と組織によって後方散乱された光束とは同じ光路を通り、それゆえリターンビームは偏向デバイス３０によって安定化される。
【００４７】
スプリッターＳＭ１は３つのモジュール間、すなわち光源ユニット１０、サーボ機構により制御される光学モジュール２０およびスキャニングモジュール３０の間に光学的に連結される。このスプリッターＳＭ１の目的は、光源１１および１２によって放射された光束をスキャニングデバイス３０へ伝達すること、およびスキャニングモジュール３０から来るリターン光束をサーボ機構により制御される光学デバイス２０へ伝達することである。それゆえ、適応光学部分２０は安定化された信号を受け取る。
【００４８】
画像をキャプチャーし構築するデバイス４０は、時計ユニットを備えた電子式のデータ処理ユニットを有する光電子レシーバーであり、この時計ユニットは、全ての事象のシーケンスを生成し、かつ、センサーから、および照明光束を調節する可能な素子から、あるいは以下に記載される可能な動的フィルタリング制御素子から来る全ての信号を増幅し処理する。それは、得られた画像を表示し、保存するために、情報の処理も行う。
【００４９】
以下に記載されるデバイスは図１のデバイスの素子を用いる。これら共通の素子は同じ参照番号が付けられる。
【００５０】
次に、図２のデバイスがより明確に記載される。
【００５１】
波面測定は、このデバイスにおいて、スキャンした組織内で可能な限り小さい照明スポットを形成することによって行われる。そのために、超発光ダイオード１１によって放射された光は、レンズ３００を通過し、スプリッターミラーＳＭ１に反射され、次いで微細表面を変更するために可動ミラー４００に反射された後、およびデバイスの光学エントランスを形成する、一対のレンズ５００を通過した後に、目５に入る。
【００５２】
波面アナライザー２１は被験者の瞳孔のそれと共同の光学平面に配置される。このアナライザー２１に達するために、後方散乱された光束は一対のレンズ５００を通過し、可動ミラー４００によって反射され、スプリッターミラーＳＭ１を通過し、そして第２番目の可動ミラー４５０によって反射される。
【００５３】
照明光源１２は、このミラー４５０の上流に直接配置され、光源１２によって放射された光は、４５°の半透明ミラーによって可動ミラー４５０に誘導される。
【００５４】
本光学系は、ダイオード１２によって放射された照明光束が網膜上に光の焦点スポットを形成するよう、設計される。以下に記載されるように、この焦点スポットによって後方散乱された光線のみがサンプリングされる。それゆえ、このデバイスは共焦点スキャニング法を用いる。
【００５５】
それゆえ、ミラー４５０は、ミラー４００の選択された位置に相当する微細表面の内部をスキャンするよう設計される。ミラー４００の各位置に相当する同平面の表面の全体は、ミラー４５０によってスキャンされる。
【００５６】
ダイオード１１の目的は、目５の網膜上のスポットを照明することであり、そのため、この点によって後方散乱された光束に関する計算により、補整デバイス２０は、そこを通過する光学的な信号に適用される波面補正を得る。
【００５７】
それゆえ、各々の補正の計算について、つまりダイオード１１によって照明された各点について、目５からピックアップされた全ての光束、すなわち、ダイオード１２から来る光束に新たな補整が適用され、目に光の焦点スポットを形成し、この光束は組織により後方散乱され、光線の焦点から系の光学エントランス５００へ直接入る。
【００５８】
本発明によれば、ミラー４００の新たな各位置に関連付けられるのは、ミラー２２による新たな補整計算および新たな補正である。ミラー４００の所定の位置に対してミラー４５０によりスキャンされた微細表面の大きさは、この表面が同平面であるように選択されるので、モジュール２０によって適用される補正は、この表面のスキャニングにわたって一定のままである。それゆえ、この表面からピックアップされる光束は全て、あらかじめ計算されたこの補正に供され、その補正は、その表面が同平面性を示すという事実ゆえに、この選択された表面にとって適切なものである。同平面の表面が変更されると、つまりミラー４００が新たな位置に動くと、新たな補整計算は、この新たな同平面の表面上の点のダイオード１１による照明に基づいて行われる。
【００５９】
それゆえ、光サンプリング手段、すなわち、特にミラー４００および４５０およびキャプチャーデバイス７００、およびサンプリング手段、すなわち、特に補整モジュール２０およびミラー４００は、補整計算の新たな点が、最適な方法で、この補正にとって適切なサンプリングの範囲全体のためにこの補正を利用する偏向板４００および４５０によって使用されるように同期させている。それゆえ、最大の利点は新たな各補正からもたらされる。サンプリング表面に位置する波面の歪みの測定点を照明するために、ダイオード１１によって放射される光束は、半透明なミラーＳＭ１を通って、ミラー４５０の平均位置に相当する照明光線の方向と平行に、ミラー４００に誘導される。
【００６０】
ミラー４００は、同期化モジュール７２０によりセンサー７００に同期されたモジュール４２０によって制御される。ミラー４５０自体も、モジュール７２０によってミラー４００およびセンサー７００に同期されたモジュール４７０によって制御される。
【００６１】
この明細書に記載した本発明の実施態様によれば、同平面の表面の大きさは前もって決定される。しかし、本発明に従って、ミラー４００の新たな各位置について、この位置に相当するサンプリング表面の大きさを決定し得るモジュールをデバイスに提供し、それによって後者が同平面性の基準を確証するようになっている。
【００６２】
調査される同平面の微細表面０１は、調査される組織の平面に焦点を合わせた発光ダイオード１２によって点から点へと照明される。照明スポットは、可能な最小の直径を有する。
【００６３】
付加的なスキャニングデバイス４５０は、対象物の瞳孔と共同の光学平面に位置する。それゆえ、実際の微細表面をスキャンするよう意図された特定のスキャニングが行われる。
【００６４】
この好ましい実施態様においては、照明光束および組織によって後方散乱された光束は同じ光路を進み、それゆえリターンビームは、二つのミラー４００および４５０からなる偏向デバイスにより安定化される。このリターン光束は、文献ＵＳ４２１３６７８におけるように、瞳孔の平面には集められない。
【００６５】
安定化され補正された光束は、共焦点フィルタリングデバイスあるいは空間フィルタリングデバイスへ伝達され、これらデバイスは、網膜と共同の平面に、網膜を画像化するよう意図された検出器の前に配置される。
【００６６】
この共焦点空間フィルタリングユニットは、回折スポットの直径を有するフィルタリングホール(filtering hole)からなる。それは、レンズ６００によって、光源１２およびスキャンされる網膜組織５と共同の平面に位置する。
【００６７】
この共焦点フィルターの下流に配置された画像構築デバイスは、光電子増倍管あるいはアバランシェフォトダイオードあるいはＣＣＤ型の検出器７００からなる。それゆえ、それは、調査される組織５から出て来て、かつ素子５００、４００、ＳＭ１、４５０、２２および６００を通過した、後方散乱した光束を検出する。センサー７００によって検出された光束は増幅され、次いで組織の画像を表示するために電子ユニット４２によって処理される。
【００６８】
ここで、センサー７００は、単一の、非マトリクスセンサーである。それゆえ、このデバイスは、情報の時空変換のための電子システムを含み、この電子システムは、単一のセンサーに基づいて、微細表面を構成する各点で行った測定に対応する値のマトリクスを満たすことを可能にする。
【００６９】
後方散乱した光束中の時間情報は、スキャニングシステム４００及び４５０の動作と同期的且つ相似的にマトリクスを満たすこの電子システムによって空間情報に変換される。
【００７０】
共焦点フィルトレーションデバイスにより、広いまたは狭いスペクトル範囲で作動することが可能となる。蛍光画像もまた可能である。
【００７１】
上述の条件下では、解像度は、網膜表面の平面ＸＹにおいては２μｍであり、網膜の深さＺにおいては１０μｍである。このデバイスの主たる利点は、それが蛍光研究の実施を可能にするということである。このようなデバイスにより、１０°を超す広視野で画像を作製することが可能となる。
【００７２】
本発明の第二の態様においては、図３に示すように、画像は、観察される組織平面により後方散乱した光束と、該後方散乱した光束と時空コヒーレンス長の範囲内で同じ光学距離を進む参照アーム中の光束との間の干渉から創り出される。
【００７３】
波面の歪みの補正は、その加算(addition)を参照アームの信号とコヒーレントにする前に、安定化された光束に対して行なわれる。
【００７４】
スキャンした組織中にできるだけ小さな照明スポットを形成することにより、ここで再度波面測定が実施される。これは、超発光ダイオード１１と、観察される組織において光線を集中させる点を生じさせ得る光デバイスとによって得られる。
【００７５】
画像を構築するのに用いられる照明光源１２は、Ｚにおける数μｍの解像を得るために、低い時空コヒーレンスを有する。例えば、これは発光ダイオードである。Ｚにおける解像度は照明光源の時間的コヒーレンスに依存し、また、光学系のアパーチャーにも依存する。
【００７６】
したがって、参照アームと観察アーム中の光ビームが進む経路は、厳密に同一でなければならない。
【００７７】
この目的を達成するために、眼の光学的挙動をできるだけ厳密にシミュレートすることができる光学機械デバイスが参照アーム中に設置される。時空コヒーレンス条件が両方の枝路で満たされると、干渉パターンが形成し、これは、適切なデータ処理（同期検出および計算）の後に、調査される組織平面の画像を得ることを可能にする。
【００７８】
ダイオード１２により送達される照明光束は、選択された同平面の微細表面０１上にこの光束を向けることができる可動ミラー４００によって網膜上に向けられる。
【００７９】
調査される微細表面０１によって後方散乱した光束は、組合せプレート（コンバイニングプレート）(combining plate)ＳＭ１に向けられる。
【００８０】
この組合せプレートＳＭ１に到達すべく、後方散乱した光束は、照明光束の光路の一部を逆方向に進む。特に、それは、可動の微細表面変更ミラー４００、変形可能な波面補整ミラー２２、偏向ミラー２３、およびミラー２２に接続された波面歪み測定モジュール２１を通って、組合せプレートＳＭ１に到達する。
【００８１】
参照光束はダイオード１１により発せられ、半透明のスプリッターミラーＳＭ１により偏向した後、後方散乱した光束と同じ経路を進む。
【００８２】
ＳＭ１により出力される、組み合わされた光束は、ミラー４００の第二の面に向けられ、このミラー４００の第二の面は、同平面の表面全体に対応するこの光束を画像構築デバイス上に偏向させる。
【００８３】
したがって、コンバイナー（combiner）ＳＭ１は、上述の１１、ＳＭ１、ＳＭ２、２３、２２およびＳＭ１の符号を付けた素子からなる参照アームから来る光束を、上述の５、４００、２２、２３、ＳＭ２、ＳＭ１の符号を付けた素子から来る後方散乱した組織光束と組み合わせる。
【００８４】
ダイオード１１および１２の下流で且つスプリッターＳＭ１の上流の光デバイスは、ダイオード１１により直接出力される光束を、ダイオード１２により直接出力される光束と組み合わせ、それらの各々が発するビームのパワーを制御することを可能にする。このようにするために、２つの光学系ｏｂｊ２およびｏｂｊ３が該ダイオードの手前に設置され、それによって、調査される平面の位置を選択することが可能となる。
【００８５】
干渉画像は、センサー７１０の平面に形成され、ミラー４００の各位置で、表示することが所望される同平面の表面全体に対応する。
【００８６】
組織の画像化のために意図された光源１２は、眼５の網膜上に照明領域を形成し、この領域は、光学的倍率の範囲内で、調査される基本的微細表面に対応する組織領域に等しい。
【００８７】
このダイオード１２と観察される組織との間に介在する光デバイスによって提供される光学的倍率は、調査される微細表面全体がダイオード１２によって同時に照明されるように計算される。
【００８８】
したがって、該干渉計のコンフィギュレーションは、眼の全部分から（あるいは別の身体もしくは物品から）同時に来る光における干渉パターンを形成するのに適しており、その結果、この全体的な干渉パターンによってこの部分の画像が形成され、このときこの部分は同平面の表面である。
【００８９】
画像測定デバイスは増幅もしくは冷却されたレシーバーのマトリクスを有し、これにより、スキャンされた組織のマトリクス電子画像を送ることが可能となる。
【００９０】
参照アームと測定アームとの間の相互作用によって形成される干渉パターンは、マトリクスセンサー７１０によって検出され、次いで、信号を抽出して組織画像を表示するために、電子式のデータ処理ユニット４２によって処理される。
【００９１】
本発明のこの実施態様の文脈内では、同平面の微細表面は、スキャニングデバイス４００、そしてまた、マトリクスセンサーの手前に設置される動的マスク(dynamic mask)７２０によって、連続的にスキャンされる。
【００９２】
動的マスクデバイス７２０は、平面検出器(plane detector)の表面全体を連続的にカバーするように、該検出器を空間的にスキャニングするダイアフラムからなる。
【００９３】
言い換えれば、動的フィルタリングデバイス７２０は、倍率の範囲内で、調査される微細表面に対応するマトリクス検出器７１０のその領域を露出し、それをその上に配置する。動的フィルタリングデバイス７２０とマトリクス検出器７１０は、調査される組織平面と共同の光学平面に設置される。
【００９４】
光電フィルタリング素子の連続的な透明−コンフィギュレーション切換えにより、光学的倍率の範囲内で、組織スキャニング表面に対応するマスクが形成される。この可動マスクは、微細表面のセットから画像を形成することが意図されるマトリクス平面を段階的にスキャンする。アパーチャーの位置の変化は、スキャニングデバイス４００の段階的動作と同期され、且つそれと相似的である。
【００９５】
光検出マトリクス７１０上での微細表面の位置の相似的且つ同期的な動きは、検流計ミラー４００の第二の面によって提供される。
【００９６】
６３３ｎｍの光源では、このデバイスにより得られる解像度は、ＸＹにおいて２μｍであり、Ｚにおいて１０μｍである。
【００９７】
およそ４８８ｎｍの平均波長の使用、これによって、網膜のスキャニングに関し、Ｘ、Ｙにおいて１μｍ、Ｚにおいて数μｍオーダーの解像度を得ることが可能になる。
【００９８】
このデバイスにおいては、以前のデバイスの場合と同様、補整手段は選択された表面上の一組の点から来る一組の光線に対する補正を用い、これらの光線はこの補正で計算点と同じ波面歪みを有する。
【００９９】
本件の場合、これらの点から来る光線は、それらが全体の光束を構成するように同時にサンプリングされる。
【０１００】
サンプリング表面の範囲は、計算点で測定される補正がこの表面全体について有効であるように選択される。
【０１０１】
ここで、後方散乱した光は、同平面の表面全体にわたって同時にサンプリングされる。したがって、最適な利点は、表面全体にわたって光をサンプリングすることにより、補正ミラー２２のそれぞれの新しいコンフィギュレーションから得られ、この表面の範囲は、補整がこの表面全体にわたって有効であるように選択される。補整計算点を同平面のサンプリング表面に正しく配置させるために、超発光ダイオード１１は、波面歪み測定段階において、照明光束および後方散乱光束の光路と共通する光路の一部を進む光束を発する。
【０１０２】
本明細書に記載した例においては、微細表面の範囲は、デバイスの様々な素子の相対的配置によって予め決められる。しかしながら、デバイスには、表面の範囲を自動的に決定するためのモジュールが提供されてもよく、このモジュールは該表面の同平面性を自動的に確保し得る。
【０１０３】
本構成において、補整計算手段（即ち、特に計算モジュール２１および計算点を決定するミラー４００）と画像サンプリング手段（即ち、干渉手段１１、ＳＭ１およびミラー４００）は、新しくサンプリングされた各領域で、この領域に適した補整計算が行われるように同期させる。
【０１０４】
上記した本発明の構成により、被験者のいかなる屈折異常も補整することが可能となる。屈折異常の補整は、共焦点スキャニングシステムについては、光源デバイスと共焦点フィルタリングを一緒に動かすことによって、即ち、干渉デバイスの場合は参照平面を動かすことによって行われる。
【０１０５】
これらの種々の装置を用いて、目の角膜、水晶体および眼底をリアルタイムで観察することができる。上記の配置により、特に１μｍオーダーの解像度を有する三次元的な生体顕微鏡または検眼鏡の製造が可能となる。
【０１０６】
本発明の別の利点は、選ばれたデバイスにより、広い照明瞳孔で、即ち、被験者を厳密なマクスウェル視条件下におく必要なしに操作することが可能となることである。
【０１０７】
本発明は、約１０のファクターによって、広視野のスキャンを可能にしつつ、空間の３方向における解像度を実質的に改善する。
【０１０８】
これらのデバイスは、眼の光学系が透明であるいかなる波長でも作動する。
【０１０９】
しかしながら、共焦点スキャニング技術または干渉計技術を用いる上記デバイスは、眼や生体の観察に限定されず、工業製品（例えば、半導体など）の観察に有利に適用される。
【０１１０】
本発明はまた、上記の態様にも限定されない。
【０１１１】
特に、本発明によれば、３つの技術、即ち、適応光学、光学スキャニングおよび干渉法を組み合わせることが提供される。
【０１１２】
本光学的構成は、必ずしも照明瞳孔と観察瞳孔を分離する原理を用いる必要がなく、この場合、それらは重なり合うかもしくは合一化し、被験者の瞳孔の直径を有する。
【０１１３】
これらの条件下では、使用し得る光学ビーム角はより広く、したがって、回折スポットの直径を減ずる。回折スポットを減ずるとさらに解像度が増す。
【０１１４】
このことにより、従来の装置のそれよりも広い光学的瞳孔の使用が可能となり、本件の場合、それは正常な散瞳性の被験者において７ｍｍ〜９ｍｍであり得る。この配置は、画像の非常に良好な解像度をさらに改善する。
【図面の簡単な説明】
【図１】  図１は、本発明に従う検眼鏡の、機能ブロックの形態の図である。
【図２】  図２は、共焦点フィルタリング技術を用いて眼から来る信号を抽出する、本発明の第一の実施態様に従う検眼鏡の詳細な機能的な表示である。
【図３】  図３は、干渉法の技術を用いて眼から来る信号を抽出する、本発明の第二の実施態様に従う検眼鏡の詳細な機能的な表示である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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