(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被計量物の荷重を歪みに変換する起歪体と、前記起歪体に貼り付けられた二対の歪みゲージを含む感圧部材と、から構成される荷重信号検出部と、前記二対の歪みゲージの抵抗値を変換して歪み信号を得る信号変換手段と、前記歪み信号から前記被計量物の荷重に対応した荷重値を得る荷重値算出手段とを有し、前記荷重信号検出部は、歪み信号が負のクリープ特性となるように構成されているとともに、前記荷重算出手段は、前記歪み信号の時間変化が極値を示したことを検出する極値検出手段と、前記極値検出手段の検出結果に基づいて、前記歪み信号に対してクリープ補正を行うクリープ補正手段とを有することを特徴とする歪みゲージ式ロードセル。
【請求項２】
クリープ特性記憶手段と、前記クリープ特性を測定して前記クリープ特性記憶手段に保存するクリープ特性校正手段をさらに有することを特徴とする請求項１に記載の歪みゲージ式ロードセル。
【請求項３】
前記荷重値算出手段は、スパンおよび／またはドリフトの補正をするスパン・ドリフト補正手段を有するとともに、前記スパン・ドリフト補正手段を校正するスパン・ドリフト校正手段と、前記クリープ特性校正手段と、前記スパン・ドリフト校正手段とを並行して実行する校正制御手段とを更に有することを特徴とする請求項２に記載の歪みゲージ式ロードセル
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかの歪みゲージ式ロードセルと、前記荷重値を表示する表示部を有することを特徴とする電子はかり。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は質量や力などを測定する歪みゲージ式ロードセルおよびそれを用いた電子はかりに関し、特にロードセルのクリープ現象を除去する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の代表的な歪みゲージ式ロードセル１は、図６に示すように、被計量物の荷重Ｗｏを歪みに変換する起歪体の機能を有するロバーバル機構２１と、ロバーバル機構２１に接着剤２２２ａ１〜２２２ｂ２により貼り付けられた歪みゲージ２２１ａ１〜２２１ｂ２を含む感圧部２２ａ１〜２２ｂ２と、から構成される荷重信号検出部２と、歪みゲージ２２１ａ１〜２２１ｂ２の抵抗値を変換して歪み信号Ｓｈを得る信号変換手段３と、歪み信号Ｓｈを離散的な歪み値Ｓｈ’に変換するＡ／Ｄ変換器１０と、被計量物の荷重Ｗｏに対応した荷重推定値Ｗを得る荷重値算出手段４とから構成されている。また、荷重検出部２の一方の端は、固定端１４にねじ１３で固定されており、荷重検出部２の他方の端上部に、計量皿保持部１５が設けられている。ここに、感圧部２２ａ１〜２２ｂ２は、左上感圧部２２ａ１、左下感圧部２２ａ２、右上感圧部２２ｂ１、及び右下感圧部２２ｂ２を言い、以下任意の感圧部を指すときは、感圧部２２と称する。同様に、任意の歪みゲージを指すときは歪みゲージ２２１と称し、任意箇所の接着剤を指すときは接着剤２２２と称することとする。
【０００３】
計量皿保持部１５にＷｏの荷重がかかると、図７に示すように、ロバーバル機構２１が歪み、その歪みが感圧部２２に伝達されて、感圧部２２を構成する歪みゲージ２２１に曲げ応力が生じ、曲げ方向と曲げ量に応じた抵抗値の変化が生じる。このとき、ロバーバル機構２１の歪みは、荷重Ｗｏがかかっている間、徐々に同じ方向に歪む。以下、この現象をロバーバルクリープという。
【０００４】
また、感圧部２２は、曲げ応力が一定値に達した後は、いわゆるフックの法則に基づいて、歪みゲージ２２１および接着剤２２２の材質・膜厚等に応じた復元力が働いて、徐々に元の形状に戻ろうとする。以下、この現象を感圧部復元という。ここで、左上感圧部２２ａ１と右下感圧部２２ｂ２は、縮む方向に変形するので、伸びる方向に復元力が働く。一方、左下感圧部２２ａ２と右上感圧部２２ｂ１は、伸びる方向に変形するので、縮む方向に復元力が働く。なお、歪みゲージ２２１は、伸びるほど抵抗値が大きくなる特性を持つ。
【０００５】
計量皿保持部１５に荷重Ｗｏを負荷した場合における信号変換手段４から出力される歪み信号Ｓｈの時間変化の例を図８に示す。ここで、図８の縦軸は歪み信号Ｓｈを示し、横軸は時刻を示す。なお、歪み信号Ｓｈは電圧値などを表すが、その絶対量は特に問題とならないので説明を省略する。
【０００６】
クリープ特性として、感圧部復元の影響が大きい場合を負のクリープ特性（図８（ａ））、ロバーバルクリープの影響が大きい場合を正のクリープ特性（図８（ｂ））、双方の釣り合いが取れている場合をゼロクリープ特性（図８（ｃ））という。一般に、歪みゲージ２２１の材質・形状は、計量範囲等、他の要因で決定されていることが多く、ばらつきもある。従って、ゼロクリープ特性を実現するために、例えば歪みゲージ２２１を接着剤２２２により貼り付けた後、歪みゲージ２２１に適切な圧力を加えるなどして接着剤２２２膜厚を制御することにより、歪みゲージ２２１の特性のばらつきなどを吸収していた。
【０００７】
しかしながら、ゼロクリープを完全に達成する歪みゲージ２２１および接着剤２２２の膜厚の組み合わせを選び出すことは非常に困難であり、また、歪みゲージ２２１を貼り付けた後、実際に測定を行わなければ、ゼロクリープが達成されているか否か判定できず、ゼロクリープが達成されていない場合は、再度接着剤２２２をはがすなどの煩雑な作業が必要となって、製造に多大なコストを要する他、歩留まり低下の要因ともなっていた。
また、製造時にゼロクリープ特性を達成していても、経年変化により接着剤２２２や歪みゲージ２２１の弾性に変化が生じた場合には、正負いずれかのクリープ特性が現れ、問題となっていた。
【０００８】
かかる課題を解決するため、負のクリープ特性を実現する感圧部と正のクリープ特性を実現する感圧部とから構成される歪み信号検出部を設けて、それぞれの感圧部で検出された歪み信号が相互に逆方向に変化しているときはクリープ状態であると判定するクリープ状態判定手段と、クリープ判定手段の判定結果に基づいて、歪み信号に対してクリープ補正を行う、ロードセルのクリープ判定方法およびクリープ補正方法に関する先行技術が知られている（例えば特許文献１参照）。かかる方法によれば、正のクリープ特性もしくは負のクリープ特性を持つように粗調整された感圧部の組み合わせを準備することにより、製造時における接着フィルムの微調整などが不要で、製造工数・歩留まりを低減することができる。
【特許文献１】特開２０００−２７５１１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、先行技術においては、従来の２倍の歪みゲージおよびブリッジ回路等の周辺回路が必要となり、部品点数が増大するという課題が新たに発生する。また、これらの部品点数の増加に伴って、故障率の増加・消費電力の増大などが懸念される。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
かかる課題を解決するために、本願発明にかかる歪みゲージ式ロードセルは、被計量物の荷重を歪みに変換する起歪体と、前記起歪体に貼り付けられた二対の歪みゲージを含む感圧部材と、から構成される荷重信号検出部と、前記二対の歪みゲージの抵抗値を変換して歪み信号を得る信号変換手段と、前記歪み信号から前記被計量物の荷重に対応した荷重値を得る荷重値算出手段とを有し、前記荷重信号検出部は、歪み信号が負のクリープ特性となるように構成されているとともに、前記荷重算出手段は、前記歪み信号の時間変化が極値を示したことを検出する極値検出手段と、前記極値検出手段の検出結果に基づいて、前記歪み信号に対してクリープ補正を行うクリープ補正手段とを有することを特徴とする。
【００１１】
また、本願発明にかかる歪みゲージ式ロードセルは、クリープ特性記憶手段と、クリープ特性を測定してクリープ特性記憶手段に保存するクリープ特性校正手段をさらに有することを特徴とする。
【００１２】
さらに、本願発明にかかる電子はかりは、上述のような歪みゲージ式ロードセルと、表示部とを有することを特徴とする。
【００１３】
本願請求項１または２に記載の発明は、起歪体の機能を有するロバーバル機構に一定の荷重を負荷した場合は、荷重によりロバーバル機構が歪むことに伴って、感圧部が弾性変形する。その荷重が一定である間は、ロバーバルクリープと感圧部復元とが発生する。ここで、荷重信号検出部から出力される荷重信号は負のクリープ特性となるように構成されているので、歪み信号はいったん荷重に対応した大きさまで増加した後、負のクリープ特性に従って減少する。極値検出手段は、歪み信号が極大値になったこと、すなわち歪み信号が減少に転じたことを検出する。クリープ補正手段は、極大値が検出されたことをもってクリープ状態であると判断し、クリープ特性記憶手段に記憶されたクリープ特性に基づいて歪み信号を補正する。
【００１４】
一方、荷重が減少した場合にもクリープ特性の補正を行う場合は、次のように作用する。荷重が減少した場合には、ロバーバル機構の歪み量が減少し、その歪み量の変化に伴って、感圧部が弾性変形する。減少後の荷重が一定である間は、ロバーバルクリープと感圧部復元とが発生する。ここで、荷重信号検出部から出力される荷重信号は負のクリープ特性となるように構成されているので、歪み信号はいったん減少後の荷重に対応した大きさまで減少した後、負のクリープ特性に従って増加する。極値検出手段は、歪み信号が極小値になったこと、すなわち歪み信号が増加に転じたことを検出する。クリープ補正手段は、極小値が検出されたことをもってクリープ状態であるとみなし、クリープ特性記憶手段に記憶されたクリープ特性に基づいて歪み信号を補正する。
【００１５】
また、請求項２に記載の発明においては、必要に応じてクリープ特性校正手段を動作させることにより、クリープ負荷が測定されて、測定結果がクリープ特性記憶手段に保存される。
【００１６】
また、請求項３に記載の発明においては、必要に応じて校正制御手段を作動させることにより、スパン・ドリフト校正手段と前記クリープ特性校正手段とが並行して実行される。また、上述のようにして補正された歪み信号に対して、スパン補正・ドリフト補正を施し、荷重推定値を算出する。
【００１７】
さらに、請求項４に記載の発明においては、上述のようにして算出された荷重推定値を表示部に表示する。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１に記載の発明は上述のように作用するから、クリープ状態か否かを判定することができ、その判定結果に基づいて歪み信号に含まれるクリープ誤差を除去することにより、迅速に荷重検出信号を安定させることができるという効果を奏する。また、その効果を得るために多くの感圧部を設ける必要がなく、部品点数の低減及びそれに伴う信頼性の向上が期待できる。
【００１９】
また、請求項２に記載の発明は上述のように作用するから、経年変化に伴ってクリープ特性が変化した場合であっても、必要に応じてクリープ特性を測定して記憶しておくことにより、常に最適なクリープ補正を行うことができるという効果を奏する。
【００２０】
また、請求項３に記載の発明は上述のように作用するから、スパン・ドリフト特性の校正時に行う基準分銅の加除の際、クリープ特性の記録を行うことにより、校正時間の短縮が図れるという効果を奏する。また、クリープ補正が施された信号に対して、スパン補正・ドリフト補正を施した、荷重推定値を得ることができる。
【００２１】
また、請求項４に記載の発明は上述のように作用するから、適切に補正された荷重推定値を表示器に表示して、操作者に提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
本願発明にかかる代表的な実施形態の電子はかりは、図１に示すように、被計量物の荷重を歪みに変換する起歪体の機能を有するロバーバル機構２１と、ロバーバル機構２１に貼り付けられた二対の接着剤２２２と接着剤２２２に貼り付けられた歪みゲージ２２１とを含む感圧部２２とから構成される荷重信号検出部２と、二対の歪みゲージ２２１の抵抗値を変換して歪み信号Ｓｈを得る信号変換手段３と、歪み信号Ｓｈを離散的な歪み値Ｓｈ’に変換するＡ／Ｄ変換器１０と、歪み値Ｓｈ’を処理するためのＣＰＵ１１と、歪み値Ｓｈ’を処理するために用いるデータを記憶する記憶手段１２とを備えたロードセル１と、計量皿１６と、表示部１７とから構成されている。
【００２３】
なお、荷重検出部２の一方の端は、固定端１４にねじ１３で固定されており、荷重検出部２の他方の端上部に、計量皿保持部１５が設けられている。
【００２４】
ＣＰＵ１１で実行されるモジュールとして、荷重値算出手段４と校正制御手段７とが設けられている。荷重値算出手段４は、歪み量Ｓｈ’を一定期間分保持して歪み値Ｓｈ’の極値を検出する極値検出手段４１と、極値検出手段４１の検出結果を受けて、歪み値Ｓｈ’に含まれるクリープ特性を補正し、補正後の歪み量Ｓｈ’’を出力するクリープ補正手段４３と、歪み値Ｓｈ’’を入力として、歪み値Ｓｈ’’に含まれるスパン・ドリフト特性を補正し、荷重推定値Ｗを求めるスパン・ドリフト補正手段４４とから構成される。また、校正制御手段７は、クリープ特性校正手段５と、スパン・ドリフト校正手段６とを含み、荷重検出手段４で使用するクリープ特性Ｐｃ、スパン特性Ｐｓ及び、ドリフト特性Ｐｄを求めて、記憶手段１２に保存する機能を有している。
【００２５】
また、記憶手段１２は、クリープ特性記憶手段４３１と、スパン・ドリフト特性記憶手段４４１とを含んでおり、校正制御手段７からの要求により、クリープ特性Ｐｃおよびスパン特性Ｐｓ・ドリフト特性Ｐｄを保存するとともに、保存された各特性を、荷重値算出手段４へ提供する。
【００２６】
本願発明の荷重検出部２は、負のクリープ特性Ｐｃを有しなければならない。ここに、荷重検出部２が負のクリープ特性Ｐｃとなるようにするためには、感圧部２２を構成する接着剤２２２の材質と厚みを選択して用いることにより、ロバーバルクリープよりも感圧部復元が大きくなるように粗調整すればよい。なお、このような態様に限定されるものではなく、負のクリープ特性Ｐｃを得るべく荷重検出部２の構成部品を選択的に用いる限りにおいて、その方法を種々選択可能である。例えば、接着剤２２２を複数枚重ねて貼ることにしてもよい。また、歪みゲージ２２１として、歪に対する復元力の高い材質や厚みを選択的に用いても良い。逆に、ロバーバル機構２１の弾性・形状を調整する機構を別途設けても良い。
【００２７】
このようにして、信号変換手段３から出力された、負のクリープ特性Ｐｃを有する歪み信号Ｓｈは、Ａ／Ｄ変換器１０により離散的な歪み量Ｓｈ’に変換されて、ＣＰＵ１１上で動作する荷重値算出手段４により所定の周期で読み込まれる。なお、所定の周期は一定周期であれば処理が容易であるが、必ずしも一定周期である必要はない。
【００２８】
荷重値算出手段４は、歪み量Ｓｈ’を極値検出手段４１に渡す。図２に、歪み量Ｓｈ’の変化の例を示す。図２において、横軸は時刻を表し、縦軸は歪み量Ｓｈ’および歪み量Ｓｈ’の微分値を表す。また、実線は歪み量Ｓｈ’を表し、破線は歪み量Ｓｈ’の微分値を表す。ｔ＝Ａの前後において、歪み量Ｓｈ’の微分値の符号が反転していること及び、反転前の微分値が正であることから、極大値であったことが判定できる。同様に、ｔ＝Ｂの前後において、歪み量Ｓｈ’の微分値の符号が反転していること及び反転前の微分値が負であることから、極小値であったことが判定できる。このとき、ノイズなどの影響により誤って極値と判定することを防止するために、歪み量Ｓｈ’に対して、高周波除去フィルタを適用しておくことが望ましい。
【００２９】
なお、極値の判定手段として歪み量Ｓｈ’の微分値の符号を基準として判定することとして説明したが、必ずしもこのような実施態様に限定されるものではなく、アナログ回路において差分・微分を求めたものをＣＰＵ１１に別途入力するなどしてもよい。その他、歪み量Ｓｈ’や歪み信号Ｓｈの極値を判定する限りにおいて、種々その手法を変更可能である。
【００３０】
極値検出手段４１によって極値が検出された場合は、その旨クリープ補正手段４３に通知される。通知を受けたクリープ補正手段４３は、以下に説明するように、クリープ補正を行う。
【００３１】
具体的なクリープ補正手段４３を説明するに先立って、クリープを除去する方法の一例を説明する。  図３（ａ）は、ｔ＝０において荷重を負荷した場合における、歪み量Ｓｈ’の応答、すなわちステップ応答を示したグラフである。ここに、横軸が時刻、縦軸が荷重および歪み量Ｓｈ’である。また、図３（ｂ）は、ｔ＝０から徐々に荷重を負荷した場合における歪み量Ｓｈ’の応答を示したグラフである。
【００３２】
一般的に、同一の荷重を負荷する場合であっても、負荷する速度によってクリープは変化する。しかし、同一荷重が負荷されていれば、その荷重にいたる過程に関わらず、歪み量Ｓｈ'は同一の値へ収束するはずである。従って、歪み量Ｓｈ'が極値を示した時点から後の変化は、ステップ応答と同一の変化を示すものと仮定してクリープの補正を行えばよい。
【００３３】
しかし、クリープは、荷重を変動させる前のクリープの状態に影響される。すなわち、無負荷状態から荷重を負荷した場合（図４（ａ））と、荷重が予め負荷されている状態でさらに荷重を増加させる場合（図４（ｂ））とで、歪み量Ｓｈ'の変化が異なる。これは、残留クリープが存在することを意味する。ただし、同一の荷重を負荷すれば、残留クリープの存在に関わらず、歪み量Ｓｈ'は一定の値へ収束するはずである。従って、荷重の変化があった時点での歪み量Ｓｈ'と、クリープ状態であると判定された時点での歪み量Ｓｈ'との差に比例したクリープ特性を示すものと仮定して（図４（ｃ））、クリープ補正を行こととすればよい。
【００３４】
なお、クリープ特性がクリープ状態であると判定された時点での歪み量Ｓｈ'との差に比例すると仮定したが、システムの系は単純でない場合が多いので、複数の荷重の変化量に対応したクリープ特性を予め測定しておいて、荷重の変化に対応したクリープ特性を選択して用いても良い。
【００３５】
上述の原理に基づいて動作するクリープ補正手段４３について、装置全体の構成図（図１）、状態遷移図（図５（ａ））及び、歪み量Ｓｈ'の変化を示すグラフ（図５（ｂ））を用いて説明する。なお、クリープ補正に用いられるクリープ特性Ｐｃ（ｔ）は、クリープが十分収束するに要する時間分だけ、クリープ特性記憶手段４３１（図１）に格納されている。校正制御手段７は、操作者から指示されたとき、もしくは電源投入直後などに、標準荷重が負荷された後、所定の周期で歪み量Ｓｈ'をサンプリングしたものをクリープ特性Ｐｃ（ｔ）として、クリープ特性記憶手段４３１に格納する。
【００３６】
ここで、クリープ補正手段４３は、歪み量Ｓｈ'および極値が検出された旨の通知を入力として、補正後の歪み量Ｓｈ'’を出力する状態遷移型の機能モデルであるとして説明する。以下、各状態における機能を順に説明する。
【００３７】
（初期状態ＳＴ０）電源投入直後の状態は、初期状態ＳＴ０である。
歪み量Ｓｈ'の変化が閾値を超えたときには、過渡状態ＳＴ１へ遷移する。過渡状態ＳＴ１へ遷移する場合には、状態遷移時の時刻ｔを記憶する（Ｔｏ１とする）とともに、ｔ＝Ｔｏにおける歪み量Ｓｈ'の値を記憶する（Ｓｏ１とする）。状態が変化しない場合は、Ｓｈ’’＝０を出力する。
【００３８】
（過渡状態ＳＴ１）歪み量Ｓｈ'が変化している状態である。
極値検出手段４１から、極値を検出した旨の通知があった場合には、クリープ状態ＳＴ２へ遷移する。クリープ状態ＳＴ２へ遷移する場合には、状態遷移時の時刻ｔを記憶する（Ｔｉ１とする）とともに、ｔ＝Ｔｉにおける歪み量Ｓｈ'の値を記憶する（Ｓｉ１とする）。ここで、αＰ（Ｔｉ−Ｔｏ）＝Ｓｉ−Ｓｏとなるように、係数αの値を決定する。このように決定された係数αから、無限時間経過後の歪み量Ｓｈ’がαＰｃ（∞）であることが推定される。なお、荷重が減少した場合は、α＜０となる。状態が変化しない場合は、Ｓｈ’’＝Ｓｈ’を出力する。
【００３９】
（クリープ状態ＳＴ２）歪み量Ｓｈ'が安定してクリープしている状態である。
歪み量Ｓｈ'の変化が閾値を超えた場合には、過渡状態ＳＴ１へ遷移する。ここで、歪み量Ｓｈ'の変化とは、｜Ｓｈ’−αＰｃ（ｔ−Ｔｏ）｜を指し、クリープ特性を加味した、予想される歪み信号からのずれを意味する。過渡状態ＳＴ１へ遷移する場合は、状態遷移時の時刻ｔ（Ｔｏ２とする）と、ｔ＝Ｔｏにおける歪み量Ｓｈ'の値（Ｓｏ２とする）を記憶する。状態が変化しない場合は、Ｓｈ’’として、歪み量Ｓｈ'の推定値αＰｃ（∞）を出力する。
【００４０】
以上説明したように、クリープ状態ＳＴ２に遷移した段階で、歪み量Ｓｈ'の推定値αＰｃ（∞）を決定して、歪み量Ｓｈ'の変化が所定の閾値を超えるまでは、補正後の歪み量Ｓｈ'’を一定に保持することができる。また、クリープ特性を加味して予想される歪み信号と、歪み量Ｓｈ'とのずれを、歪み量Ｓｈ'の変化とみなして判断することにより、被計量物が微小量変化した場合においても、クリープとの区別が可能となる。
【００４１】
スパン・ドリフト補正手段４４は、クリープ補正手段４３から受け取った補正後の歪み量Ｓｈ’’に対して、スパン・ドリフト特性記憶手段４４１に記憶されたスパン特性Ｐｓおよびドリフト特性Ｐｄを用いてスパン・ドリフト補正を施すことにより、荷重推定値Ｗを求める。荷重推定値Ｗは、表示器１７を通じて、操作者に提供される。なお、本実施例においては、荷重増加時と減少時とでクリープ特性が同一であると仮定したが、系のヒステリシス性などを考慮して、減少時のクリープ特性を別途設けても良い。
【００４２】
以上、計量皿保持部１５に載置された荷重の荷重推定値Ｗを求めることができるが、クリープ特性Ｐ（ｔ）、スパン特性Ｐｓおよびドリフト特性Ｐｄは装置毎に異なり、また、経年により変化する場合がある。従って、工場出荷時および、製品の使用時において、適宜校正が必要である。
【００４３】
ここに、クリープ特性校正手段５を作動させた後に上述の基準荷重を計量皿保持部１５に負荷すると、クリープ特性校正手段５は、歪み量Ｓｈ’が極大値を示した時を基準として、歪み量Ｓｈ’の変化と極大値との差分を逐次求めてクリープ特性記憶手段４３１へ記憶する。同様に、計量皿保持部１５から基準荷重を除荷すると、歪み量Ｓｈ’が極小値を示した時を基準として、歪み量Ｓｈ’の変化と極小値との差分を逐次求めてクリープ特性記憶手段４３１へ記憶する。これら一連の動作により、クリープ特性記憶手段４３１に記憶されたクリープ特性Ｐｃ（ｔ）は、装置の状態に合わせて最適な値に設定される。
【００４４】
一方、スパン・ドリフト校正手段６も同様に、基準荷重を負荷したときの歪み量Ｓｈ’の変化を観測して、校正を行う。
【００４５】
従って、クリープ特性校正手段５とスパン・ドリフト校正手段６とは、同様に基準荷重の加除を伴うこと、および歪み量Ｓｈ’を観測することから、これらの校正手段を同時に作動させることにより、時間の短縮を図ることができる。
【００４６】
また、内蔵分銅およびその加除機構を伴うロードセルにおいては、装置の電源投入時などに、スパン・ドリフト校正手段６を動作させることが一般的に行われるが、同時にクリープ特性校正手段５を作動させることにより、操作者に何等の負担をかけずに、クリープ特性Ｐ（ｔ）の校正が可能となる。
【００４７】
また、一般的に、クリープ特性Ｐｃ（ｔ）は、基準荷重に対する歪み量Ｓｈ’の０．１％未満である。従って、スパン・ドリフト校正手段６が、クリープ特性を含んだ歪み量Ｓｈ’を使用しても、その影響は無視できる範囲内となる。
【００４８】
さらに、基準荷重が多少想定の荷重と異なる場合であっても、基準荷重の変化分に対応するクリープ特性Ｐｃ（ｔ）は相対的な特性であって、全く問題とならない。従って、操作者は、非常に高価な標準分銅を準備する必要がない。
【００４９】
本実施例においては、クリープ特性校正手段５とスパン・ドリフト校正手段６とを同時に作動させることとしたが、別々に作動させるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本願発明にかかる電子はかりの詳細構造を示す図である。
【図２】本願発明の歪みゲージ式ロードセルの歪み信号とその微分値の変化を表した図である。
【図３】クリープ特性を説明する図である。
【図４】与圧がある場合のクリープ特性を説明する図である。
【図５】本願発明のクリープ補正手段の動作を説明する図である。
【図６】従来技術にかかる歪みゲージ式ロードセルの詳細構造を示す図である。
【図７】本願発明の歪みゲージ式ロードセルに荷重をかけたときの歪みの様子を表した図である。
【図８】歪みゲージ式ロードセルのクリープ特性を示す図である。
【符号の説明】
【００５１】
１                      ロードセル
２                      荷重検出部
２１                  ロバーバル機構
２２                  感圧部
２２１              歪みゲージ
２２２              接着剤
３                      信号変換手段
４                      荷重値算出手段
４１                  極値検出手段
４３                  クリープ補正手段
４３１              クリープ特性記憶手段
４４                  スパン・ドリフト補正手段
４４１              スパン・ドリフト特性記憶手段
５                      クリープ特性校正手段
６                      スパン・ドリフト校正手段
７                      校正制御手段
１０                    Ａ／Ｄ変換器
１１                    ＣＰＵ
１２                    記憶手段
１３                    ねじ
１４                    固定端
１５                    計量皿保持部
【図１】
0004752528.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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