(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を被検眼に照射し、前房内に集光して走査し、前房内からの散乱光を解析して所定の眼科測定を行なう眼科測定装置において、
前記眼科測定の校正のための測定対象として、装置本体に対して被検眼の占めるべき位置と同等の校正位置に配置されて使用される校正手段と、
装置本体に対して、前記校正手段を前記校正位置、または収納位置に移動可能に支持する支持手段とを有し、
所定期間以上前記校正手段を用いた校正処理が実行されていない場合、前記校正処理を条件として前記眼科測定を開始するとともに、所定のユーザ操作に応じて前記校正処理を行なわずに前記眼科測定が強行された場合は測定値の信頼性が低下している可能性があることを示すためのマークを関連づけて測定結果を記憶ないし出力することを特徴とする眼科測定装置。
【請求項２】
前記眼科測定において被検眼を走査する投光手段、および前記校正手段を用いた校正処理において前記校正手段を照明する投光手段に同一の投光光源が兼用されることを特徴とする請求項１に記載の眼科測定装置。
【請求項３】
前記校正手段を前記校正位置に移動されたことを条件として、前記校正手段を用いた校正処理を開始することを特徴とする請求項１に記載の眼科測定装置。
【請求項４】
前記校正手段を用いた前回の校正処理からの経過時間を測定する手段を有し、所定期間以上前記校正処理が実行されていない場合、前記校正処理をユーザに促すことを特徴とする請求項１に記載の眼科測定装置。
【請求項５】
周囲からの外乱光を装置の測定部に影響を与えないよう遮光する着脱可能な遮光手段を有することを特徴とする請求項１に記載の眼科測定装置。
【請求項６】
前記測定部近傍の外乱光の明るさを検出し、外乱光の明るさが所定値よりも大きくかつ前記遮光手段が装着されていない場合は前記遮光手段を装着するようユーザに促すことを特徴とする請求項５に記載の眼科測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼に対して所定の眼科測定を行なうとともに、前記眼科測定に関する校正を行なう校正手段を含む眼科測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、レーザ光を被検眼に照射し、前房内に集光して走査し、前房内の細胞からの散乱光を解析して所定の眼科測定を行なうフレアメータなどと呼ばれる眼科測定装置が知られている。
【０００３】
この種の眼科測定装置において、被検眼の占めるべき位置に校正器を配置して眼科測定に関する校正を行なう技術が知られている（たとえば下記の特許文献１）。
【特許文献１】特開平０７−０５１２２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載されるような校正器は眼科測定装置と別体であり、ユーザ環境で校正を行なうにはユーザが着脱操作を行なう必要があり、ユーザが校正器を紛失するような事故を生じやすい、という問題があった。さらに、装置の測定精度を保つには適当な頻度で校正作業を行なう必要があるにもかかわらず、適正な校正が行なわれるかどうかはユーザー任せであり、また、校正作業を長期間怠ると測定データの信頼性が低下するにもかかわらず、従来構成ではそれを防止することができなかった。
【０００５】
本発明の課題は、上記の問題に鑑み、校正器の紛失を生じることなく、適正な頻度で、また容易に眼科測定装置の校正を行なえるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決するため、本発明においては、レーザ光を被検眼に照射し、前房内に集光して走査し、前房内からの散乱光を解析して所定の眼科測定を行なう眼科測定装置において、前記眼科測定の校正のための測定対象として、装置本体に対して被検眼の占めるべき位置と同等の校正位置に配置されて使用される校正手段と、装置本体に対して、前記校正手段を前記校正位置、または収納位置に移動可能に支持する支持手段とを有し、所定期間以上前記校正手段を用いた校正処理が実行されていない場合、前記校正処理を条件として前記眼科測定を開始するとともに、所定のユーザ操作に応じて前記校正処理を行なわずに前記眼科測定が強行された場合は測定値の信頼性が低下している可能性があることを示すためのマークを関連づけて測定結果を記憶ないし出力する構成を採用した。
【発明の効果】
【０００７】
上記構成によれば、校正器の紛失のような従来の問題を確実に解決することができ、適正な頻度で、また容易かつ確実に眼科測定装置の校正を行なうことができる、という優れた効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下では、校正器を一体化した眼科測定装置の構成を例示する。
【実施例１】
【０００９】
図１〜図６に本発明を採用した眼科測定装置としてフレアメータの構成を示す。図１〜図４は装置前方（被検者側）からの斜視図、図５は上面図、図６は側面図である。
【００１０】
以下では、まず図１、図２、図５および図６を用いて装置の全体的な構成につき説明する（図３および図４は特に遮光のための構成について示しており、これら図３および図４については後で詳述する）。
【００１１】
図１、図２、図５および図６において、装置の本体１０は架台１１上に移動自在に配置され、架台１１前方に配置されたあご台１３上の被検者の頭部（特に被検眼）に対して所望の位置に位置決めできるようになっている。
【００１２】
あご台１３とは反対側の本体１０の上面は、表示部１４２およびキーボード１４３から成る操作部１４として構成されている。キーボード１４３には各種操作スイッチと本体１０を架台１１上で移動させるためのジョイスティック１４３ａなどが含まれる。
【００１３】
本体１０の上部には光学ヘッド１２が支持されており、図１に示されるように光学ヘッド１２は散乱光測定を行なうための受光測定光学系１２１、前眼部の観察のための観察光学系１２２、散乱光測定に必要な照明光走査を行なうための投光／校正ユニット１２３を有している。
【００１４】
図１の破線に示すように、受光測定光学系１２１、観察光学系１２２の光軸、および投光／校正ユニット１２３の投光光軸はあご台１３上の被検眼（不図示）の方向に向けられている。
【００１５】
部材１２３の名称から明らかなように、本実施例では投光／校正ユニット１２３は投光部と校正手段を兼ねており、また、これにより眼科測定装置の校正手段が眼科測定装置自体に一体化されている。
【００１６】
投光／校正ユニット１２３は光学ヘッド１２（ないし本体１０上部）に支柱１２４を介して回動自在（図５の矢印Ａ）に支持され、投光／校正ユニット１２３は図１の通常位置（収納位置）と、図２の校正位置のいずれかに位置決めすることができる。投光／校正ユニット１２３が図１の通常位置ないし図２の校正位置のいずれの位置にあるかは、不図示のセンサ（リミットスイッチや光学センサ）により検出できるようにしておく。
【００１７】
図５に示すように、支柱１２４の中心には、散乱光測定および校正を行なうための投光光源部２００が配置されている。投光光源部２００は図１、図２および図５では１部しか示されていないが、その詳細な構造は図１２および図１３により後で詳述する。
【００１８】
この投光光源部２００の投光光軸（図５の矢印Ｂ）は投光／校正ユニット１２３を図１の通常位置ないし図２の校正位置のいずれの位置に移動させても変化しない。
【００１９】
投光／校正ユニット１２３内の投光光源部２００とは反対側の端部には標準散乱板から成る校正板が配置される。図１、図２および図５の破線１２３ｂおよび１２３ｄはこの校正板を示し、また破線１２３ａおよび１２３ｃは後述の校正ミラーの位置を示している。
【００２０】
図２のように投光／校正ユニット１２３を校正ポジションに移動させる、すなわち、図５において、投光／校正ユニット１２３を実線位置から細線により示された位置に投光／校正ユニット１２３が来るように移動させると、校正板および校正ミラーはそれぞれ破線１２３ｂおよび１２３ａの位置から破線１２３ｄおよび１２３ｃの位置に移動する。この校正ポジションにおいて、校正板を投光／校正ユニット１２３の投光光源部２００の走査光で走査でき、その拡散光を効率よく受光測定光学系１２１の方向に出射できるよう破線１２３ｂ（１２３ｄ）で示された校正板の位置をあらかじめ決定しておけばよい。
【００２１】
図１２および図１３に投光／校正ユニット１２３の回動構造、および内部の投光光源部２００の構造を詳細に示す。
【００２２】
図１２および図１３では、校正板および校正ミラーはそれぞれ符号２０１および２０２で示してある（図５との関連を示すため、かっこ書きで図５におけるこれらの部材の位置を示す符号も併記してある）。
【００２３】
本体１０から突出するように配置された支柱１２４は中空の円筒形状であり、基部のフランジにより本体１０とリジッドに結合されている。本体１０および支柱１２４の内部には、測定／校正用の光源の主要部分、すなわちレーザ素子２０３、レンズ群２０４、走査ミラー２０５、およびミラー２０６が配置されている。走査ミラー２０５の角度は公知のフレアメータなどで行なわれている対象物の２次元走査を行なうために、後述のＣＰＵなどの制御手段により制御される。
【００２４】
なお、図１２および図１３では投光光源部２００の主要部は本体１０内部に配置するようにしているが、もちろん支柱１２４内部に配置されていてもよい。
【００２５】
支柱１２４の前方（被検眼に向かう方向）には窓１２４ａが配置されている。この窓１２４ａは投光光源部２００の走査光をミラー２０６から射出するためのもので、その位置は固定されている。
【００２６】
上記のように構成された支柱１２４に対して、投光／校正ユニット１２３が図示のように回動自在に支持される。図１２は投光／校正ユニット１２３が測定ポジションにある状態、また図１３は投光／校正ユニット１２３が校正ポジションにある状態をそれぞれ示している。
【００２７】
投光／校正ユニット１２３は、図示のような中空の箱型（図示の例では両端部が半円形状であるがこのような意匠は任意）形状であり、支柱１２４と反対側の端部に校正板２０１および校正ミラー２０２が配置されている。
【００２８】
投光／校正ユニット１２３の支柱１２４側の端部には、窓１２５ａが設けられている。この窓１２５ａの態位は図１２の測定ポジションでは支柱１２４の窓１２４ａと一致する。
【００２９】
また、投光／校正ユニット１２３の側面には校正ポジション（図１３）において校正板の拡散光を受光測定光学系１２１の方向に出射するための窓１２６が設けられている（図１、図５など参照）。
【００３０】
図１２および図１３に詳細に示したように、投光／校正ユニット１２３を回転式とし、測定および校正に用いる光源を共通のもので兼用する構成を採用することにより、装置の部品点数を増加させることなく、また、校正手段が装置に一体化されているため、校正器の紛失などの問題を生じることがない。
【００３１】
次に図３および図４の構成につき説明する。図３および図４は、受光測定光学系１２１、観察光学系１２２、および投光／校正ユニット１２３に測定や校正に悪影響を与える外乱光が入射するのを防止するための遮光手段を設ける構造を示したものである。
【００３２】
図３の構成では、図１ないし図２と同様に構成された光学ヘッド１２の受光測定光学系１２１、観察光学系１２２、および投光／校正ユニット１２３の部分を上から覆う遮光ボックス１５を遮光手段として用いている。遮光ボックス１５は着脱自在であり、光学ヘッド１２あるいは本体１０に対して適当な位置決め手段により位置決めされる。
【００３３】
遮光ボックス１５の前方部分および側方部分は、受光測定光学系１２１、観察光学系１２２、および投光／校正ユニット１２３が覗くように開口部１５ａとなっている。図示のように遮光ボックス１５の側方部分まで開口部１５ａを設けることにより、遮光ボックス１５を装着したままで投光／校正ユニット１２３は通常ポジション（測定ポジション）と校正ポジションの間で自由に移動させることができる。
【００３４】
図３のように遮光ボックス１５を被せることにより測定や校正に悪影響を与える外乱光が入射するのを防止しつつ受光測定光学系１２１、観察光学系１２２、および投光／校正ユニット１２３を用いた前眼部観察、散乱光測定、あるいは校正を行なえる。
【００３５】
このような遮光ボックス１５を用いることにより、半暗室、あるいは通常の明るさの部屋でも被検眼の瞳孔がある程度開くようにして、眼科診断・測定を行い易くすることができる。
【００３６】
図４の構成は、図３の遮光ボックス１５の開口部１５ａに開口部１５ａの角部分を覆うように布やプラスチックシートなどから成り遮光特性を有する遮光幕１６を配置したものである。図３のように側方部分まで遮光ボックス１５の開口部１５ａを設ける構成では、側方部分からの外乱光が入りやすいが、図４のように遮光幕１６を設けることにより、側方部分からの外乱光を効果的に排除することができる。遮光幕１６は布やプラスチックシートなどの可撓性のある材質で構成すれば投光／校正ユニット１２３の移動を妨げることがない。
【００３７】
図１１は本実施例の眼科測定装置の制御系の構成を示している。図１１において符号１０１はＣＰＵで、このＣＰＵ１０１は上記の操作部１４の表示部１４２およびキーボード１４３に対する入出力を制御する他、インターフェース回路１０４を介して装置の各部、たとえば光学系その他の可動部を制御する各種のモータ／ソレノイド１０５、各種のセンサ１０６、受光測定光学系１２１に含まれ校正および測定に用いられる受光素子１０７、投光／校正ユニット１２３で用いられる投光光源部２００に含まれる照明光源１０８（後述のレーザ素子２０３）などの動作を制御する。
【００３８】
本実施例の場合、センサ１０６には、少なくとも投光／校正ユニット１２３の回動位置、特に投光／校正ユニット１２３が図１の通常ポジション（測定ポジション）ないし図２の校正ポジションのいずれであるかを検出できるセンサ、あるいは、後述の制御で用いる光学ヘッド１２近傍の明るさを検出するための光センサ（ただし、受光測定光学系１２１に含まれる受光素子（１０７）や露光制御用の光センサなどを用いる場合は不要）が含まれるものとする。
【００３９】
ＣＰＵ１０１には後述の制御手順をＣＰＵ１０１の制御プログラムとして格納したＲＯＭ１０２、および後述の制御のワークエリア、あるいは画像処理のためのワークエリアとして用いられるＲＡＭ１０３が接続されている。
【００４０】
次に上記構成における動作につき説明する。
【００４１】
上述のように、本実施例では校正手段を投光系と一体化し投光／校正ユニット１２３として構成し、投光／校正ユニット１２３を図１の通常ポジション（測定ポジション）から図２の校正ポジションに移動させることにより、眼科測定装置の校正を行なうことができる。投光／校正ユニット１２３は、支柱１２４を中心として回動させるだけで、図１の通常ポジション（測定ポジション）と図２の校正ポジションの間で容易に移動させることができる。
【００４２】
校正手段を投光系と一体化し投光／校正ユニット１２３として構成することにより、ユーザが校正器を紛失してしまうような従来の問題を確実に解決することができる。また、ユーザは図１の通常ポジション（測定ポジション）から図２の校正ポジションの間に投光／校正ユニット１２３を移動させるだけで、容易に校正作業を行なうことができ、ユーザに余計なストレスを与えることがなく、ユーザに所定の校正作業を定期的に行なわせることができ、これにより正確な眼科測定を行なうことができる。
【００４３】
さらに、ＣＰＵ１０１により図７のような制御を行なうことにより、校正処理を所定の間隔で確実に行なわせることができ、また測定結果を有効に利用することができる。
【００４４】
図７の制御手順はＣＰＵ１０１の制御プログラムとして所定の記憶媒体、たとえばＲＯＭ１０２に格納しておけばよい。図７の制御では、ＲＡＭ１０３ないし他の不揮発性のメモリに、校正結果を測定に反映させるため前回の校正結果を記憶させるとともに、校正の実行日時に関するデータが格納されるものとする。また、ＣＰＵ１０１の計時ルーチン（あるいは他の計時素子）により校正の実行日時からの経過時間を測定できるものとする。さらに投光／校正ユニット１２３の位置や図３および図４の遮光ボックス１５の装着状態など装置の各部の状態は適当な検出手段（光学センサやリミットスイッチなど）により検出できるものとする。
【００４５】
図７のステップＳ１において装置の電源が投入されると、ＣＰＵ１０１は装置の各部の初期化を行ない、続いてステップＳ２で、ＣＰＵ１０１は前回の校正からの経過時間を調べ、前回の校正から所定期間以上経過しているか否かを判定する。この所定期間は、校正を行なうべき時間間隔に対応するもので、装置の仕様に応じて数時間、数週間、数ヶ月など任意の長さにあらかじめ定めておく。ステップＳ２が肯定された場合には、新しく校正を行なうべきであるので、ステップＳ３に移行し、否定された場合にはステップＳ１２に移行する。
【００４６】
校正が必要な場合、ステップＳ３において、表示部１４２に図８に示すようなメッセージ８１を表示する。図８では装置の校正が必要であること、さらに校正器（投光／校正ユニット１２３）を回してセットするなど、校正の操作方法もある程度示唆している。このようなメッセージは合成音声などにより出力してもよい。また、図８の例では、（とりあえず）校正処理を後回しにして測定を進めるためのボタン８２を表示している。このボタン８２は、ポインティングデバイス（マウスなど）やキーボード１４３のカーソルキーなどを用いて操作される。
【００４７】
ステップＳ４では、上記の校正を後回しにするためのボタン８２が操作されたか否かを判定する。ボタン８２が操作された場合にはステップＳ１２の測定処理に移るが、そうでない場合にはステップＳ５に移行する。
【００４８】
ステップＳ５では校正器（投光／校正ユニット１２３）が図２の校正ポジションに回動されるのを待つ。
【００４９】
校正器（投光／校正ユニット１２３）が図２の校正ポジションに回動されると、ステップＳ６において、光学ヘッド１２周辺の照度（明るさ）を測定し、校正処理に支障がない程度に暗い状態か否かを判定する。光学ヘッド１２周辺の照度（明るさ）は、受光測定光学系１２１内部に設けた受光素子や露光測定素子などを利用して測定するか、あるいは光学ヘッド１２近傍に専用の光センサを設けておき、これにより測定してもよい。
【００５０】
ステップＳ６が否定、すなわち、光学ヘッド１２周辺が明るい場合にはステップＳ７で遮光ボックス１５が装着されているか否かを判定する。遮光ボックス１５が装着されている場合には、ステップＳ８で表示部１４２に部屋を暗くするよう要請するメッセージを表示し、遮光ボックス１５が装着されていない場合は、ステップＳ９で遮光ボックス１５（あるいはさらに遮光幕１６）を装着するか、部屋を暗くするよう要請するメッセージを表示し、ステップＳ６にループする。
【００５１】
以上のようにしてステップＳ６が肯定、すなわち、校正処理に支障がない程度に暗い状態が形成された場合には、ステップＳ１０で校正器（投光／校正ユニット１２３）を用いて所定の校正処理を行なう。この時、投光／校正ユニット１２３の投光光源部２００により上記の標準拡散板などからなる校正板が照明され、受光測定光学系１２１により散乱光測定を行なう。
【００５２】
校正処理が終了するとステップＳ１１において校正終了日時をＲＡＭ１０３ないし他の不揮発性のメモリに格納する。その後、処理はステップＳ１２の測定処理に進む。
【００５３】
ステップＳ１２では、測定処理に必要な各部の初期化などを行なった上、測定処理を実行する。図７では明示的な図示を省略しているが、ステップＳ１２の測定処理では、当然ながらステップＳ５で示したのと同様な判定ループを実行して、校正器（投光／校正ユニット１２３）が図１の測定ポジションに位置しているかどうかを調べ、もし校正器（投光／校正ユニット１２３）が図２の校正ポジションに位置していればそれが測定ポジションに戻されるのを待つ処理を行なう。
【００５４】
ステップＳ１３では、前回の校正からの経過時間を調べ、前回の校正から所定期間（ステップＳ２におけるものと同じ）以上経過しているか否かを判定する。もし、前回の校正から所定期間以上経過している場合には、ステップＳ１４で測定値の信頼性が低下している可能性があることを示すため、測定値データに所定のマーク（信頼性低下マーク）をつけて記憶させる。このマーク（信頼性低下マーク）が付いた測定値データを出力（表示部１４２で出力、あるいは不図示のプリンタなどで出力）する場合、測定値データに特定のシンボル表示を付けて表示するなどの表示制御を行なうことにより、ユーザは適正な校正を行なって得た測定結果と適正な校正を行なわず（たとえば図８のボタン８２により測定を強行した場合）に得た測定結果を確実に区別することができる。
【００５５】
ステップＳ１５では、ユーザが測定を続けるか否か判断し、操作部１４でその判断に応じた適当な操作を行なう。この段階で、表示部１４２（あるいは印刷出力）に上記のようにして測定値データとともに特定のシンボル（マーク）表示が出力されていれば、ユーザはこのシンボル表示を見て、これ以上測定を続行するか否かを判断し、操作部１４の操作を行なうことができる。ここで、そのまま測定を続ける場合にはステップＳ１２にループし、測定を中止する場合には処理を終了する。
【００５６】
なお、上記の校正処理（図７のステップＳ１２）の間は、図９のようにして表示部１４２に校正処理の進行状態を表示する。また、校正処理が終了すると図１０のように表示部１４２に校正結果を表示する。
【００５７】
図９の表示例では、校正処理は符号９１〜９３の３段階（Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ３）で行なわれる。最初のＳｔｅｐ１（９１）では、受光測定光学系１２１のシャッタ（不図示）を閉じ、受光測定光学系１２１に含まれる光電子増倍管（ＰＭＴ）などから構成された受光素子１０７の暗電流の測定を行なう。
【００５８】
次のＳｔｅｐ２（９２）では受光測定光学系１２１のシャッタを開いた状態で、装置の周囲の明るさに対応する受光量を測定する。この測定は、ステップＳ６の装置の周囲の明るさが校正処理に適合している（遮光ボックス１５が無い状態では半暗室程度の明るさになっている）ことが確認された上で校正処理の一部として行なうものである。
【００５９】
そしてＳｔｅｐ３（９３）では、受光測定光学系１２１のシャッタを開き、照明光源１０８（図１２および図１３のレーザ素子２０３）を制御して校正板２０１を２次元走査し、受光測定光学系１２１のシャッタを開いた状態で、粒子測定を行なう。
【００６０】
図９に示すように、校正処理中は実行中のステップが反転表示などにより強調表示され、かつ、ステータス表示９４により、ユーザにしばらくの待機を促すメッセージと、処理が全体の（あるいは各ステップの）何％まで進行しているかを表示する。
【００６１】
校正処理が終了すると、図１０のように画面の下部のステータス表示９４は校正処理結果を表示するカウント値（たとえば光電子増倍管（ＰＭＴ）のカウントした光子数）に切り替える。さらに、画面の下部には、校正結果を実際の測定処理に反映させるため記憶させるか否かを選択するためのボタン９５を表示する。
【００６２】
以上の制御により、適切なインターバルでユーザに校正作業を励行させることができる。校正を行なうべき期間が経過していれば、ユーザは投光／校正ユニットを移動させるだけで、容易に校正作業を行なうことができるし、また、校正を行なうべき期間が経過していてもユーザは所定の操作により測定を強行することができる。また、このようにして強行された測定により得られた測定値には、所定のマーク（信頼性低下マーク）を付した上、記憶、あるいは表示／印刷出力することができるため、ユーザは測定値を適切に評価することができる。さらに、光学ヘッド近傍の明るさに応じて遮光ボックスや遮光幕による遮光、部屋の照度調節などを行なわせることができる。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は、眼科測定の校正のための測定対象として、装置本体に対して被検眼の占めるべき位置と同等の校正位置に配置されて使用される校正手段を用いる種々の眼科検査装置に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明を採用した眼科検査装置の構成を示した斜視図である。
【図２】本発明を採用した眼科検査装置の構成を示した斜視図である。
【図３】本発明を採用した眼科検査装置の構成を示した斜視図である。
【図４】本発明を採用した眼科検査装置の構成を示した斜視図である。
【図５】本発明を採用した眼科検査装置の構成を示した上面図である。
【図６】本発明を採用した眼科検査装置の構成を示した側面図である。
【図７】本発明を採用した眼科検査装置の制御手順を示したフローチャート図である。
【図８】本発明を採用した眼科検査装置における表示例を示した説明図である。
【図９】本発明を採用した眼科検査装置における表示例を示した説明図である。
【図１０】本発明を採用した眼科検査装置における表示例を示した説明図である。
【図１１】本発明を採用した眼科検査装置の制御系の構成を示したブロック図である。
【図１２】本発明を採用した眼科検査装置の要部の構成を示した断面図である。
【図１３】本発明を採用した眼科検査装置の要部の構成を示した断面図である。
【符号の説明】
【００６５】
１０  本体
１１  架台
１２  光学ヘッド
１３  あご台
１４  操作部
１５  遮光ボックス
１６  遮光幕
１０１  ＣＰＵ
１０２  ＲＯＭ
１０３  ＲＡＭ
１０４  インターフェース回路
１０５  モータ／ソレノイド
１０６  センサ
１０７  受光素子
１０８  照明光源
１２１  受光測定光学系
１２２  観察光学系
１２３  投光／校正ユニット
１２４  支柱
１２６  窓
１４２  表示部
１４３  キーボード
２００  投光光源部
２０１  校正板
２０２  校正ミラー
２０３  レーザ素子
２０４  レンズ群
２０５  走査ミラー
２０６  ミラー
【図１】
0004606069.tif 000002
【図２】
0004606069.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0004606069.tif 000008
【図８】
0004606069.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
0004606069.tif 000013
【図１３】
0004606069.tif 000014