(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
比表面積が10m2／ｇ以上の塩基性酸化物を含む担体と該担体に担持された貴金属とよりなる排ガス浄化用触媒の処理方法であって、
排ガスに晒され該貴金属の粒成長によって触媒性能が低下した該触媒を 600℃以上の高温の酸化性雰囲気中で処理する酸化処理と、該酸化処理後の該触媒を 800℃以下のストイキ雰囲気又は還元性雰囲気中で処理する還元処理と、を行うことを特徴とする排ガス浄化用触媒の処理方法。
【請求項２】
前記塩基性酸化物は希土類元素及びアルカリ土類金属から選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物である請求項１に記載の排ガス浄化用触媒の処理方法。
【請求項３】
前記塩基性酸化物はCe，Pr，La，及びMgから選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物である請求項２に記載の排ガス浄化用触媒の処理方法。
【請求項４】
前記担体は前記塩基性酸化物の一次粒子の粒界に前記塩基性酸化物と固相反応しない非反応性酸化物が介在している請求項１〜３のいずれかに記載の排ガス浄化用触媒の処理方法。
【請求項５】
前記非反応性酸化物はAl，Ti，Si，及びZrから選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物である請求項４に記載の排ガス浄化用触媒の処理方法。
【請求項６】
前記貴金属はPt及びRhの少なくとも一方である請求項１に記載の排ガス浄化用触媒の処理方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は排ガス浄化用触媒の処理方法に関し、詳しくは、担持されている貴金属が粒成長して活性が低下した触媒の活性を回復させるための処理方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より自動車の排ガス浄化用触媒として、排ガス中のCO及びHCの酸化とNOx の還元とを同時に行って浄化する三元触媒が用いられている。このような三元触媒としては、例えばコーディエライトなどからなる耐熱性ハニカム基材にγ-Al2O3からなる担体層を形成し、その担体層に白金（Pt）やロジウム（Rh)などの貴金属を担持させたものが広く知られている。
【０００３】
排ガス浄化触媒に用いられる担体の条件としては、比表面積が大きく耐熱性が高いことが挙げられ、一般には Al2O3、SiO2、ZrO2、TiO2などが用いられることが多い。また排ガスの雰囲気変動を緩和するために、酸素吸蔵放出能をもつCeO2や、CeO2の酸素吸蔵放出能及び耐熱性を向上させたCeO2−ZrO2固溶体を添加することも知られている。
【０００４】
ところで近年の排ガス規制の強化により、エンジン始動からごく短い時間にも排ガスを浄化する必要性がきわめて高くなっている。そのためには、より低温で触媒を活性化し、排出規制成分を浄化しなければならない。中でもPtなどをCeO2に担持した触媒は、低温からCOを浄化する性能に長けている。したがってこのような触媒を三元触媒などと組み合わせて用いれば、COが低温で着火されることによってPtのCO吸着被毒が緩和され、HCの着火性が向上する。また触媒表面の暖機が促進されるため、低温域からHCを浄化することができる。
【０００５】
またPtなどをCeO2に担持した触媒では、水性ガスシフト反応によって低温域でH2が生成される。したがってこのような触媒を三元触媒などと組み合わせて用いれば、生成したH2を還元剤としてNOx との反応に利用することにより、低温域からNOx を還元浄化することができるようになる。
【０００６】
しかし従来のCeO2にPtなどを担持した触媒においては、実際の排ガス中における耐久性に乏しく、熱によってCeO2がシンタリングしてしまい実用的ではない。実際の排ガス中で使用するためには、CeO2の性質を失うことなく耐熱性を向上させる必要性がある。またそのようにCeO2の性質を失うことなく担体としての耐熱性を向上させないと、CeO2のシンタリングに伴って貴金属の粒成長が生じ、活性が低下する場合があるため、担体上の貴金属の安定化は必須である。
【０００７】
またCeO2に担持されたPtは、高温の排ガスに長時間晒されるとPt自身に粒成長が生じ、活性点の減少によって活性が低下するという不具合がある。これは、上記したように担体のシンタリングに伴っても生じるが、担持されているPt自体が担体上を移動するのが主原因であり、Ptを高密度で担持した場合に特に生じやすいことがわかっている。
【０００８】
一方、特開平8-144748号公報には、Pt又はRhの少なくとも一方とPdとを担持してなる排ガス浄化用触媒に対して、強度が制御されたリッチ劣化回復処理とリーン劣化回復処理を行うことで、活性が回復することが記載されている。
【０００９】
Pt又はRhは高温酸化雰囲気で酸化物となり、これによって活性が低下する。したがって上記公報では、高温還元雰囲気でリッチ劣化回復処理を行うことによってPt又はRhの活性を回復させている。またPdはPdO となることで活性化するが、高温還元雰囲気ではPdメタルとなって活性が低下する。したがって上記公報では、高温酸化雰囲気でリーン劣化回復処理を行うことによってPdの活性を回復させている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
Pt又はRhが高温酸化雰囲気で酸化物となって活性が低下するのは、上記公報にも記載されているように一次劣化であって、上記公報に記載の処理によって活性を回復させることが可能である。しかしながら熱履歴などによる粒成長による劣化は、永久劣化であって、粒成長した貴金属を再び微細化することは困難であり、上記公報には、上記公報に記載の処理によって永久劣化した触媒の触媒性能は回復しないと記載されている。
【００１１】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、担体と貴金属との相互作用を利用することによって、粒成長によって永久劣化した貴金属を再び微粒子化して触媒の活性を回復させることを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明の排ガス浄化用触媒の処理方法の特徴は、比表面積が10m2／ｇ以上の塩基性酸化物を含む担体と該担体に担持された貴金属とよりなる排ガス浄化用触媒の処理方法であって、排ガスに晒され貴金属の粒成長によって触媒性能が低下した触媒を 600℃以上の高温の酸化性雰囲気中で処理する酸化処理と、酸化処理後の触媒を 800℃以下のストイキ雰囲気又は還元性雰囲気中で処理する還元処理と、を行うことにある。
【００１３】
塩基性酸化物は希土類元素及びアルカリ土類金属から選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物であることが好ましく、Ce，Pr，La，及びMgから選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物であることが特に望ましい。
【００１４】
また担体は、塩基性酸化物の一次粒子の粒界に塩基性酸化物と固相反応しない非反応性酸化物が介在していることが望ましく、非反応性酸化物はAl，Ti，Si，及びZrから選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物であることが好ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】
本発明の排ガス浄化用触媒の処理方法では、排ガスに晒され触媒性能が低下した触媒を先ず 600℃以上の高温の酸化性雰囲気中で処理している。例えば塩基性酸化物としてCeO2を、貴金属としてPtを例に取って推定される反応機構を説明すると、CeO2に担持されたPtは高温の排ガスに長時間晒されることで粒成長し、浄化活性が失活する。このように永久劣化した触媒を例えば 700℃以上の酸化性雰囲気中で処理すると、Ptが酸化されてCeO2との間に固相反応が生じ、CeO2表面にPt成分が濡れた状態となる。
【００１６】
しかる後、例えば 700℃以下の還元性雰囲気中で処理すると、還元反応によってPtがメタル粒子として再析出する。この際、PtとCeO2との親和性が高いために、CeO2表面に濡れた状態のPt成分の表面から還元反応が徐々に進行し、Ptメタルは微粒子として析出すると考えられる。これにより活性が回復する。
【００１７】
本発明に用いられる排ガス浄化用触媒の担体は、塩基性酸化物を含んでいる。塩基性酸化物は貴金属との相互作用が高いため、酸化処理によって貴金属成分が塩基性酸化物粒子の表面に濡れた状態とすることができ、上記した作用が円滑に奏される。
【００１８】
そして塩基性酸化物の比表面積は10m2／ｇ以上である。比表面積がこの範囲より小さいと、酸化処理において貴金属成分が塩基性酸化物粒子の表面に濡れた状態における表面積が小さくなる。したがって還元処理によって析出する貴金属メタル粒子の分散性が低下し、活性の回復度合いが小さくなるため好ましくない。
【００１９】
このように大きな比表面積をもつ塩基性酸化物は、塩基性酸化物を構成する金属の水溶性金属塩の水溶液から前駆体を沈殿させ、それを焼成することで調製することができる。また沈殿後に水の存在下で室温以上、好ましくは 100〜 200℃で加熱する熟成工程を行うことも好ましい。この熟成工程を行うことにより得られる塩基性酸化物は、比較的結晶性が高く大きな粒径の結晶子をもつため、酸化処理時における担体自身のシンタリングを一層抑制することができる。
【００２０】
この塩基性酸化物としては、CeO2，PrO2，La2O3 ，MgO ，CeO2−ZrO2複合酸化物，SrO2， Nd2O3，Y2O3，CeO2-CaO，CeO2−SrO2などの一種あるいは複数種の混合物が例示される。中でも塩基性酸化物は希土類元素及びアルカリ土類金属から選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物であることが好ましく、Ce，Pr，La，及びMgから選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物であることが特に望ましい。
【００２１】
担体は上記塩基性酸化物を含めばよく、通常は上記塩基性酸化物の粉末と Al2O3，ZrO2，SiO2，TiO2など他の酸化物粉末とが混合されて担体とされ、これによって三元触媒、酸化触媒などとして利用される。担体中の塩基性酸化物の比率は、塩基性酸化物を少しでも含めば特に制限されず、用途に応じて決められる。
【００２２】
担体は、塩基性酸化物の一次粒子の粒界に塩基性酸化物と固相反応しない非反応性酸化物が介在している構造とすることも好ましい。このような複合酸化物から形成された担体は、同種の酸化物どうしが接触する確率が低いためシンタリングが抑制される。これによりこの複合酸化物は、 600℃で５時間の焼成後に細孔直径が 3.5〜 100nmの細孔容積が0.07cc／ｇ以上となり、 800℃で５時間の焼成後に細孔直径が 3.5〜 100nmの細孔容積が0.04cc／ｇ以上となる特性を有している。
【００２３】
したがってこのような複合酸化物からなる担体を用いれば、耐久後も高い比表面積を有しているため高い活性が発現される。そして酸化処理時における担体自身のシンタリングが抑制されるため、酸化処理において貴金属成分が塩基性酸化物粒子の表面に濡れた状態における表面積が大きくなり、還元処理で析出する貴金属メタル粒子をさらに高分散化することができる。
【００２４】
上記複合酸化物からなる担体は、 600℃で５時間の焼成後に細孔直径が 3.5〜 100nmの細孔容積が0.13cc／ｇ以上となり、 800℃で５時間の焼成後に細孔直径が 3.5〜 100nmの細孔容積が0.10cc／ｇ以上となる特性を有することがより望ましい。
【００２５】
非反応性酸化物は、塩基性酸化物と固相反応しないものであり、Al，Ti，Si，及びZrから選ばれる少なくとも一種の金属の酸化物であることが望ましい。また複合酸化物における塩基性酸化物と非反応性酸化物との構成比率は、塩基性酸化物が50原子％以上とすることが望ましい。塩基性酸化物が50原子％未満であると、本発明の処理方法の作用がうまく奏されず活性の回復が困難となる。
【００２６】
上記複合酸化物は、塩基性酸化物を構成する金属の水溶性金属塩と非反応性酸化物を構成する金属の水溶性金属塩との混合水溶液を調製し、共沈法によって得られた沈殿を焼成することで調製することができる。また共沈後に水の存在下で室温以上、好ましくは 100〜 200℃で加熱する熟成工程を行うことも好ましい。この熟成工程を行うことにより得られる複合酸化物は、比較的結晶性が高く大きな粒径の結晶子をもつため、酸化処理時における担体自身のシンタリングを一層抑制することができる。
【００２７】
なお本発明にいう担体は、上記複合酸化物のみから構成してもよいし、 Al2O3，ZrO2，SiO2，TiO2など他の酸化物粉末と混合されて担体とすることもでき、これによって三元触媒、酸化触媒などとして利用される。担体中の上記複合酸化物の比率は、上記複合酸化物を少しでも含めば特に制限されず、用途に応じて決められる。
【００２８】
担体に担持された貴金属としては、塩基性酸化物との相互作用が大きなPt，Rh，Pd，Cu，Ruなどを用いることができる。Pt及びRhの少なくとも一方であることが好ましいが、本発明の処理方法はPtの場合に特に効果的であるので、少なくともPtを含むことが望ましい。また貴金属の担持量は特に制限されず、従来の排ガス浄化用触媒と同等でよい。
【００２９】
酸化処理は、触媒を 600℃以上の高温の酸化性雰囲気中で処理する。温度が 600℃より低いと粒成長した貴金属と塩基性酸化物との反応が生じず、還元工程における貴金属微粒子の再析出、高分散化が困難となる。温度の上限は特に制限されないが、担体の分解温度未満とする必要があることはいうまでもない。しかし温度が高いほど処理時間を短縮できるので 600℃以上、さらには 800℃以上の高温で処理することが望ましい。
【００３０】
酸化処理における酸化性雰囲気とは、化学量論的にO2などの酸化成分の当量がCO，HCなどの還元成分の当量より大きい雰囲気をいい、当量比（酸化成分／還元成分）が1.05以上であることが望ましい。この当量比が1.05より小さいと酸化処理が困難となる。なお酸化処理は、例えば大気中で触媒を加熱するなどして行うこともできるが、排ガス中で行うことが望ましい。この場合は、空燃比（ A/F）が15以上で燃焼された排ガス雰囲気とすることが好ましい。
【００３１】
酸化処理における処理時間は、処理温度及び酸化性雰囲気の程度に応じて決定される。例えば大気中で加熱する場合には、１分間以上とするのが好ましい。処理時間がこれより短いと、貴金属と酸化物との固相反応が充分に起こらず、還元処理において貴金属メタルの微粒子化が不十分となり、活性の回復が困難となる。
【００３２】
還元処理は、酸化処理後の触媒を 800℃以下のストイキ雰囲気又は還元性雰囲気中で処理する。処理温度が 800℃を超えると、酸化物粒子自身の熱凝集が起こり比表面積が低下するため好ましくない。また処理温度の下限は特に制限されないが、実際の排ガス中での処理を考えると 300〜 600℃が実用的である。
【００３３】
還元処理におけるストイキ雰囲気とは、化学量論的にO2などの酸化成分の当量がCO，HCなどの還元成分の当量と等しい雰囲気をいい、還元性雰囲気とは、化学量論的にO2などの酸化成分の当量がCO，HCなどの還元成分の当量より小さい雰囲気をいう。還元性雰囲気は、当量比（酸化成分／還元成分）が１以下であることが望ましい。この当量比が１より大きいと還元処理時間が長くなってしまい、還元が起こらない場合もある。なお還元処理は、例えばCOガス中で触媒を加熱するなどして行うこともできるが、排ガス中で行うことが望ましい。この場合は、空燃比（ A/F）が14.6以下で燃焼された排ガス雰囲気とすることが好ましい。
【００３４】
還元処理における処理時間は、処理温度及び還元性雰囲気の程度に応じて決定される。例えばストイキ雰囲気の排ガス中で加熱する場合には、１分間以上とするのが好ましい。処理時間がこれより短いと、貴金属メタル微粒子がほとんど析出せず、活性の回復が困難となる。
【００３５】
酸化処理と還元処理は、触媒を排ガス流路から取り出して行ってもよいが、排ガス流路に配置した状態で行うことが好ましい。例えば現実の触媒の活性に関する物理量を検出し、触媒が劣化していると判断された場合には、リーン雰囲気の 700℃以上の高温の排ガスを触媒に流通させて酸化処理を行う。そして所定時間経過後、次にストイキ又はリッチ雰囲気の 600℃以下の排ガスを流通させて還元処理を行う。このようにすれば触媒の使用に連続して酸化処理と還元処理を行うことができ、劣化した触媒を自動的に回復させることも可能である。
【００３６】
【実施例】
以下、実施例及び比較例により本発明を具体的に説明する。
【００３７】
（実施例１）
硝酸セリウム（ III）と、セリウムイオンの 1.1倍モルのH2O2とを含む水溶液を十分に撹拌しながら、中和当量の 1.2倍モルのNH3 を含むアンモニア水を加えて沈殿を生成させた。生成した沈殿を0.12MPa ， 110℃で２時間水熱処理して熟成し、濾過後大気中にて 300℃で３時間仮焼し、さらに大気中にて 500℃で１時間焼成し、 600℃で５時間熱処理してCeO2粉末を調製した。このCeO2粉末の比表面積は60m2／ｇであった。
【００３８】
このCeO2粉末74ｇと、活性アルミナ粉末 120ｇと、全固形分の７重量％相当のアルミナゾルを混合し、ボールミルにて所定粒度まで粉砕してスラリーを調製した。得られたスラリーをコージェライト製ハニカム基材（35cm3 のテストピース）にウオッシュコートし、乾燥・焼成してコート層を形成した。コート量はハニカム基材１Ｌあたり 200ｇである。
【００３９】
そしてPt(NO2)2(NO3)2 水溶液の所定量をコート層に含浸させ、乾燥後 300℃で１時間焼成してPtを担持した。Ptの担持量はハニカム基材１Ｌあたり２ｇである。
【００４０】
得られた触媒を評価装置に配置し、表１に示すモデルガスを空間速度35,000 h-1で流通させながら 700℃で25時間保持する耐久試験を行った。耐久試験後の触媒をStep１触媒という。
【００４１】
そしてStep１触媒を評価装置に配置し、表２に示すストイキモデルガスを空間速度200,000h-1で流通させながら、 500℃で10分間の還元処理を行った後、 100℃から 500℃までの昇温時のNO，CO及びC3H6の浄化挙動を測定し、各成分の50％浄化温度で比較した。
【００４２】
次にStep１触媒を耐久試験装置に配置し、大気を空間速度35,000 h-1で流通させながら 800℃で５時間保持する酸化処理を行った。酸化処理後の触媒をStep２触媒という。
【００４３】
このStep２触媒を評価装置に配置し、表２に示すストイキモデルガスを空間速度200,000h-1で流通させながら、 500℃で10分間の還元処理を行った後、 100℃から 500℃までの昇温時のNO，CO及びC3H6の浄化挙動を測定し、各成分の50％浄化温度で比較した。
【００４４】
以下、Step１触媒を得る耐久試験と、Step２触媒を得る酸化処理とを再度繰り返し、各処理後の触媒について、表２に示すストイキモデルガスを空間速度200,000h-1で流通させながら、 500℃で10分間の還元処理を行った後、 100℃から 500℃までの昇温時のNO，CO及びC3H6の浄化挙動を測定し、各成分の50％浄化温度で比較した。結果を図１に示す。なおNO及びCOも、C3H6と同様の序列であったため、図示を割愛した。
【００４５】
【表１】
0004655436.tif 000002
【００４６】
【表２】
0004655436.tif 000003
【００４７】
（実施例２）
沈殿に水熱処理を施さなかったこと以外は実施例１と同様にして、CeO2粉末を調製した。このCeO2粉末の比表面積は50m2／ｇであった。このCeO2粉末を用いて実施例１と同様に触媒を調製した後、同様にしてC3H6の50％浄化温度を測定した。結果を図１に示す。なおNO及びCOも、C3H6と同様の序列であったため、図示を割愛した。
【００４８】
（実施例３）
セリウムイオンの 0.4倍モルの硝酸アルミニウムをさらに加えた水溶液を用いたこと以外は実施例１と同様にして沈殿させ、同様に水熱処理後焼成し、CeO2の一次粒子の粒界に Al2O3が介在した複合酸化物粉末を調製した。このCeO2-Al2O3複合酸化物粉末の比表面積は 100m2／ｇであった。
【００４９】
CeO2粉末に代えてこのCeO2-Al2O3複合酸化物粉末を用いたこと以外は実施例１と同様にして触媒を調製した後、同様にしてC3H6の50％浄化温度を測定した。結果を図１に示す。なおNO及びCOも、C3H6と同様の序列であったため、図示を割愛した。
【００５０】
またFE−STEMの EDSを用い、上記のCeO2-Al2O3複合酸化物粉末の重なりのない一つの粒子を直径 0.5nmのビーム径により元素分析を行った。分析条件は、（株）日立製作所製「 HD-2000」を使用し、加速電圧 200kVで測定した。この装置は EDX検出器（ NCRAN社製 Vatage EDX system）を備え、試料から発生する特性Ｘ線によって高感度で元素分析ができるようになっている。
【００５１】
その結果、直径 0.5nmのビーム径によりきわめて微小な部分を分析しても、CeとAlの組成分布は理論原子比（Ce：Al＝５：２）を中心として±10％以内と、狭い範囲に集中していた。もし例えばCeO2及び Al2O3が 0.5nm以上の粒子として存在するとすれば、上記測定によってCeが 100％あるいは Alが 100 %の部分が多数検出されるはずである。したがってCeO2及び Al2O3は、共に 0.5nm未満の微粒子として存在している。
【００５２】
また上記複合酸化物粉末について、 600℃， 800℃及び1000℃でそれぞれ５時間の焼成を行い、その後それぞれＸ線回折（40kV-350mA）測定を行った。その結果、CeO2の回折線は誤差範囲内であってピークシフトは認められず、CeO2と Al2O3とは互いに固溶していないことが明らかであった。
【００５３】
（実施例４）
沈殿に水熱処理を施さなかったこと以外は実施例３と同様にしてCeO2-Al2O3複合酸化物粉末を調製した。このCeO2-Al2O3複合酸化物粉末の比表面積は85m2／ｇであった。
【００５４】
CeO2粉末に代えてこのCeO2-Al2O3複合酸化物粉末を用いたこと以外は実施例１と同様にして触媒を調製した後、同様にしてC3H6の50％浄化温度を測定した。結果を図１に示す。なおNO及びCOも、C3H6と同様の序列であったため、図示を割愛した。
【００５５】
（比較例１）
硝酸セリウム（ III）に代えて硝酸アルミニウム（ III）を用いたこと以外は実施例１と同様にして Al2O3粉末を調製した。この Al2O3粉末の比表面積は 130m2／ｇであった。
【００５６】
CeO2粉末に代えてこの Al2O3粉末を用いたこと以外は実施例１と同様にして触媒を調製した後、同様にしてC3H6の50％浄化温度を測定した。結果を図１に示す。なおNO及びCOも、C3H6と同様の序列であったため、図示を割愛した。
【００５７】
（比較例２）
実施例１と同様にして調製したCeO2粉末を大気中にて1000℃で５時間処理して比表面積を３m2／ｇとしたこと以外は実施例１と同様にして触媒を調製した後、同様にしてC3H6の50％浄化温度を測定した。結果を図１に示す。なおNO及びCOも、C3H6と同様の序列であったため、図示を割愛した。
【００５８】
＜評価＞
図１より、比較例１では耐久試験及び酸化還元処理を繰り返すごとに活性が劣化し、酸化還元処理による触媒性能の回復は認められない。また比較例２でも回復効果は認められず、塩基性酸化物の比表面積が低すぎてPtとの充分な接触界面が確保できていないことが示唆される。
【００５９】
一方で各実施例では、酸化還元処理を行った後の活性評価ではその触媒性能が回復していることがわかる。また耐久試験と酸化還元処理を２周期以上繰り返しても回復した活性の程度が同レベルであることから、活性の回復過程が再現性のあるものであることが示唆される。
【００６０】
次に触媒上のPtの状態を調査した例として、実施例３の触媒で耐久試験後に活性評価を行った場合と、酸化還元処理後に活性評価を行った場合のＸＰＳによるPtの酸化状態測定結果を図２に示す。
【００６１】
図２によれば、耐久試験後の触媒上のPtと、酸化還元処理後の触媒上のPtとは、明らかに酸化状態が異なっている。耐久試験後に活性評価を行った場合では、Pt-Metal（71eV）とPtO （74eV）の中間的な状態を示す位置（73eV）にピークが確認され、Ptが酸化状態にあることが示唆される。
【００６２】
一方、酸化還元処理後に活性評価を行った場合では、先のピークが消失しPt-Metalに帰属されるピーク（71eV)が出現している。また、耐久試験後に活性評価時と同様のストイキ前処理を行っても、Pt-Metalの析出は認められない。
【００６３】
両者の結果を併せて考えると、耐久試験で活性が劣化した触媒に酸化処理を行うことにより、Ptが酸化されることに伴う担体との固相反応が進行してPtが担体上に濡れた状態となり、活性評価時のストイキ前処理（還元処理）によりPt-Metalとして再析出したことが示唆される。
【００６４】
なお本来ならPtO2に帰属されるピークが現れる75eV付近のピークは共存する Al2O3由来のものであり、PtO2が存在していないことは別途確認されている。
【００６５】
そして実施例１と実施例３、及び実施例２と実施例４との比較から、CeO2-Al2O3複合酸化物を含有する担体を用いた触媒は、CeO2を含有する担体を用いた触媒に比べて本発明の手法による活性回復効果が大きく、かつ活性そのものも高いことがわかる。これは Al2O3とCeO2が複合化されていることにより、CeO2の耐熱性が向上したためと考えられる。
【００６６】
さらに実施例１と実施例２、あるいは実施例３と実施例４の比較から、CeO2あるいはCeO2-Al2O3複合酸化物を調製する際に熟成処理を行うことにより、これらを担体として用いた触媒の活性そのものが向上していることも明らかである。
【００６７】
【発明の効果】
すなわち本発明の排ガス浄化用触媒の処理方法によれば、粒成長した貴金属を再び微細化することができるため、劣化した触媒の浄化活性を容易に回復させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例及び比較例の処理方法におけるC3H6の50％浄化温度の推移を示すグラフである。
【図２】実施例３における耐久試験後及び酸化処理後のPtの酸化状態を示すグラフである。
【図１】
0004655436.tif 000004
【図２】
0004655436.tif 000005