(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
並列なＮ本（Ｎは２以上の整数）の磁気トラックを、磁性体が配置された媒体に書き込む磁気トラック書込装置であって、
前記Ｎ本の磁気トラックのそれぞれの書き込み及び読み込みを実行するＮ個の磁気ヘッドと、
前記Ｎ個の磁気ヘッドを制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記Ｎ個の磁気ヘッドによって、記録情報に応じて前記磁性体の磁化方向を変化させた前記磁気トラックの書き込みを実行する書込処理実行部と、
前記Ｎ個の磁気ヘッドのそれぞれについて、前記磁性体の磁化方向を変化させる変化点を書き込む書込タイミングを調整する書込タイミング調整部と、
前記Ｎ個の磁気ヘッドに、前記Ｎ本の磁気トラックを走査させて前記変化点の読み込みを実行する読込処理実行部と、
を備え、
前記Ｎ本の磁気トラックは、第１と第２の検査対象磁気トラックを含み、
前記Ｎ個の磁気ヘッドは、前記第１と第２の検査対象磁気トラックに対応する第１と第２の検査対象磁気ヘッドを含み、
前記読込処理実行部は、前記第１と第２の検査対象磁気ヘッドを用いて、前記第１と第２の検査対象磁気トラックを再走査するとともに、前記第１と第２の検査対象磁気ヘッドによる走査を継続させて、前記第１と第２の検査対象磁気トラックの走査方向に存在する前記磁性体の外周端を検出する端部検出処理を実行し、
前記書込タイミング調整部は、前記端部検出処理において、前記第１と第２の検査対象磁気ヘッドのそれぞれが前記磁性体の外周端を検出するまでの走査距離の差を、前記第１と第２の検査対象磁気トラックの互いの書き込み位置のずれ量として求め、前記走査距離の差に応じて前記Ｎ個の磁気ヘッドのそれぞれについて前記書込タイミングを調整する書込タイミング調整処理を実行し、
前記書込処理実行部は、前記書込タイミング調整処理において調整された調整後書込タイミングによって、前記Ｎ本の磁気トラックを再書き込みする、磁気トラック書込装置。
【請求項２】
請求項１記載の磁気トラック書込装置であって、さらに、
前記Ｎ個の磁気ヘッドの出力信号から、前記変化点をピークとして示すパルスを含むＮ組の波形データを生成する波形データ生成部を備え、
前記第１と第２の検査対象磁気トラックから生成される第１と第２の検査対象波形データは、前記第１と第２の検査対象磁気ヘッドが前記端部検出処理において前記磁性体の外周端を走査したときの出力信号によって生じる第１と第２のエッジパルスを含み、
前記書込タイミング調整部は、前記第１と第２のエッジパルス同士の位相差を前記端部検出処理において求められた前記走査距離の差として求め、前記位相差が所定の閾値以上である場合に、前記位相差を前記前記第１と第２の検査対象磁気トラックの互いの書き込み位置のずれ量として、前記書込タイミング調整処理を実行する、磁気トラック書込装置。
【請求項３】
請求項２記載の磁気トラック書込装置であって、
前記書込処理実行部は、前記Ｎ個の磁気ヘッドのうち、少なくとも前記第１と第２の検査対象磁気ヘッドによって、記録情報を表す磁化方向の変化が書き込まれた前記磁気トラックに続けて、前記磁性体の外周端まで前記磁性体の磁化方向を一定方向とする磁化方向一定領域を書き込ませる磁化方向一定領域書込処理を実行し、
前記読込処理部は、前記第１と第２の端部を検出するために、前記第１と第２の磁気ヘッドに前記磁化方向一定領域を走査させる、磁気トラック書込装置。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の磁気トラック書込装置であって、
前記整数Ｎは３以上であり、
前記書込タイミング調整部は、前記書込タイミング調整処理において、前記Ｎ本の磁気トラックのうち、前記第１と第２の検査対象磁気トラック以外の他の磁気トラックのそれぞれについての前記書込タイミングを、前記第１の検査対象磁気トラックと前記他の磁気トラックとの距離に応じて調整する、磁気トラック書込装置。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の磁気トラック書込装置であって、さらに、
前記磁性体が配置された媒体に外力を加えて前記磁性体の配置方向が略一定となるように調整する磁性体配置調整機構を備え、
前記制御部は、前記磁性体配置調整機構によって前記磁性体の配置方向を調整させた後に、前記書込タイミング調整部が調整した前記書込タイミングによって、前記書込処理実行部に前記Ｎ本の磁気トラックの書き込みを実行させる、磁気トラック書込装置。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の磁気トラック書込装置であって、さらに、不揮発的に情報を記憶できる記憶部を備え、
前記書込タイミング調整部は、前記書込タイミング調整部が前記書込タイミング調整処理における調整量を基に更新する基準調整量を、前記記憶部に格納し、
前記書込処理実行部は、前記書込タイミング調整部が前記基準調整量を用いて調整した初期調整後書込タイミングによって前記Ｎ本の磁気トラックを書き込む初期書込処理を実行し、
前記読込処理実行部は、前記初期書込処理において書き込まれた初期調整後のＮ本の磁気トラックに対して前記端部検出処理を実行し、
前記書込タイミング調整部は、前記端部検出処理の結果を用いて、前記書込タイミング調整処理を実行するとともに、前記基準調整量を更新する基準調整量更新処理を実行する、磁気トラック書込装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、複数の並列な磁気トラックを書き込む磁気トラック書込装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
銀行の通帳や鉄道の乗車券などの媒体には、その利用情報等を複数の並列な磁気トラックが書き込まれた磁気ストライプ（磁性体）を有するものが知られている。複数の並列な磁気トラックは、媒体に貼付された磁性体の表面に、各磁気トラックに対応する複数の磁気ヘッドを走査させて、当該磁性体の磁化方向を変化させることによって書き込まれる。また、複数の並列な磁気トラックとして書き込まれた情報は、同様な複数の磁気ヘッドによって走査されることによって取得された磁化方向の変化を示す波形データをもとに再生される。（特許文献１等）。
【０００３】
【特許文献１】特開平６−３４９０１５号公報
【０００４】
ところで、複数の並列な磁気トラックを書き込む際に、例えば、書き込みを行う各磁気ヘッドの位置が製造誤差によりずれている場合や、書き込み対象である媒体の配置位置がずれている場合には、各磁気トラックが媒体に対してずれて書き込まれてしまう。この場合には、各磁気トラックから取得される波形データ同士に位相のずれが生じる可能性があり、書き込まれた情報の再現性が低下してしまう。しかし、これまでこうした問題に対して十分な工夫がなされてこなかったのが実情であった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、複数の並列な磁気トラックを書き込む磁気トラック書込装置において、各磁気トラック同士の位置ずれの発生の可能性を低減する技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。
【０００７】
［適用例１］並列なＮ本（Ｎは２以上の整数）の磁気トラックを磁性体に書き込む磁気トラック書込装置であって、前記Ｎ本の磁気トラックのそれぞれの書き込み及び読み込みを実行するＮ個の磁気ヘッドと、前記Ｎ個の磁気ヘッドを制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記Ｎ個の磁気ヘッドによって前記磁性体の磁化方向を変化させて前記磁気トラックの書き込みを実行する書込処理実行部と、前記Ｎ個の磁気ヘッドのそれぞれについて、前記磁性体の磁化方向を変化させる変化点を書き込む書込タイミングを調整する書込タイミング調整部と、前記Ｎ個の磁気ヘッドに、前記Ｎ本の磁気トラックを走査させて前記変化点の読み込みを実行する読込処理実行部とを備え、前記Ｎ本の磁気トラックは、第１と第２の検査対象磁気トラックを含み、前記読込処理実行部は、前記Ｎ個の磁気ヘッドによって書き込まれた前記Ｎ本の磁気トラックを前記Ｎ個の磁気ヘッドを用いて再走査するとともに、前記第１と第２の検査対象磁気トラックのそれぞれの延伸方向に存在する前記磁性体の第１と第２の端部を検出する端部検出処理を実行し、前記書込タイミング調整部は、前記第１と第２の検査対象磁気トラックの始端又は終端から前記第１と第２の端部までのそれぞれの距離の差を求め、前記差の値に応じて前記Ｎ個の磁気ヘッドのそれぞれについて前記書込タイミングを調整する書込タイミング調整処理を実行し、前記書込処理実行部は、前記書込タイミング調整処理において調整された調整後書込タイミングによって、前記Ｎ本の磁気トラックを再書き込みする、磁気トラック書込装置。
【０００８】
適用例１の磁気トラック書込装置によれば、第１と第２の検査対象磁気トラックの始端又は終端から第１と第２の端部までのそれぞれの距離同士の差を、第１と第２の検査対象磁気トラックの書込位置のずれとして検出できる。そのずれ量が所定の閾値より大きい場合に、そのずれ量に応じて各磁気ヘッドの書込開始タイミングを調整して、磁気トラックの再書き込みを実行する。従って、各磁気トラック同士の位置ずれの発生の可能性を低減することができる。
【０００９】
［適用例２］適用例１記載の磁気トラック書込装置であって、さらに、前記Ｎ個の磁気ヘッドの出力信号から、前記変化点をピークとして示すパルスを含むＮ組の波形データを生成する波形データ生成部を備え、前記第１と第２の検査対象磁気トラックから生成される第１と第２の検査対象波形データは、前記第１と第２の検査対象磁気トラックに対応する第１と第２の検査対象磁気ヘッドが前記端部検出処理において前記第１と第２の端部を走査したときの出力信号によって生じる第１と第２のエッジパルスを含み、前記書込タイミング調整部は、前記第１と第２のエッジパルス同士の位相差が所定の閾値以上である場合に、前記位相差を前記差の値として、前記書込タイミング調整処理を実行する、磁気トラック書込装置。
【００１０】
適用例２記載の磁気トラック書込装置によれば、波形データに含まれるエッジパルスの位相差から第１と第２の検査対象磁気トラック同士の位置ずれおよびそのずれ量を検出することができる。そのずれ量が所定の閾値以上の場合に、そのずれ量に応じて磁気ヘッドの書込開始タイミングを調整して磁気トラックの再書き込みを実行する。従って、各磁気トラック同士の位置ずれの発生の可能性を低減することができる。
【００１１】
［適用例３］適用例２記載の磁気トラック書込装置であって、前記書込処理実行部は、前記Ｎ個の磁気ヘッドのうち、少なくとも前記第１と第２の検査対象磁気ヘッドに、前記第１と第２の検査対象磁気トラックの始端又は終端と前記第１と第２の端部との間から前記第１と第２の端部まで前記磁性体の磁化方向を一定方向とする磁化方向一定領域を書き込ませる磁化方向一定領域書込処理を実行し、前記読込処理部は、前記第１と第２の端部を検出するために、前記第１と第２の磁気ヘッドに前記磁化方向一定領域を走査させる、磁気トラック書込装置。
【００１２】
適用例３記載の磁気トラック書込装置によれば、磁化方向一定領域を第１と第２の磁気ヘッドによって走査して、第１と第２のエッジパルスを検出する。この場合には、磁化方向一定領域が設けられていない場合より顕著に第１と第２のエッジパルスを検出できる。従って、磁性体の端部の検出が容易となり、検査対象磁気トラック同士の位置ずれの検出が容易となり、各磁気トラック同士の位置ずれの発生の可能性をより低減することができる。
【００１３】
［適用例４］適用例１ないし適用例３のいずれかに記載の磁気トラック書込装置であって、前記整数Ｎは３以上であり、前記書込タイミング調整部は、前記書込タイミング調整処理において、前記Ｎ本の磁気トラックのうち、前記第１と第２の検査対象磁気トラック以外の他の磁気トラックのそれぞれについての前記書込タイミングを、前記第１の検査対象磁気トラックと前記他の磁気トラックとの距離に応じて調整する、磁気トラック書込装置。
【００１４】
適用例４記載の磁気トラック書込装置によれば、第１と第２の検査対象磁気トラックによって検出された書込位置のずれ量から、他の磁気トラックについての書込開始タイミングの補正量を第１の検査対象トラックからの距離に応じて容易に設定できる。従って、磁気トラックの書込開始タイミングの調整を容易かつ迅速に実行することができる。
【００１５】
［適用例５］請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の磁気トラック書込装置であって、さらに、前記磁性体に外力を加えて前記磁性体の配置方向が略一定となるように調整する磁性体配置調整機構を備え、前記制御部は、前記磁性体配置調整機構によって前記磁性体の配置方向を調整させた後に、前記書込タイミング調整部が調整した前記書込タイミングによって、前記書込処理実行部に前記Ｎ本の磁気トラックの書き込みを実行させる、磁気トラック書込装置。
【００１６】
適用例５記載の磁気トラック書込装置によれば、磁性体配置調整機構によって、磁性体に各磁気トラックを書き込む際の磁性体の配置方向が常に略一定となるようにすることができる。従って、磁性体の配置方向のずれによって生じる磁気ストライプの書込位置のずれの発生を抑制することができる。
【００１７】
［適用例６］適用例１ないし適用例５のいずれかに記載の磁気トラック書込装置であって、さらに、不揮発的に情報を記憶できる記憶部を備え、前記書込タイミング調整部は、前記書込タイミング調整部が前記書込タイミング調整処理における調整量を基に更新する基準調整量を、前記記憶部に格納し、前記書込処理実行部は、前記書込タイミング調整部が前記基準調整量を用いて調整した初期調整後書込タイミングによって前記Ｎ本の磁気トラックを書き込む初期書込処理を実行し、前記読込処理実行部は、前記初期書込処理において書き込まれた初期調整後のＮ本の磁気トラックに対して前記端部検出処理を実行し、
前記書込タイミング調整部は、前記端部検出処理の結果を用いて、前記書込タイミング調整処理を実行するとともに、前記基準調整量を更新する基準調整量更新処理を実行する、磁気トラック書込装置。
【００１８】
適用例６記載の磁気トラック書込装置によれば、書込開始タイミングの調整を実行するたびに、その調整量を反映して、基準調整量の更新される。また、その基準調整量を用いた初期調整後に書き込まれた第１と第２の検査対象磁気トラック同士に位置ずれが生じている場合には、そのずれ量に応じて、さらに、書込開始タイミングの調整が実行され、基準調整量も更新される。従って、各磁気トラック間の書込位置のずれを継続的に低減していくことが可能である。
【００１９】
なお、本発明は、種々の形態で実現することが可能であり、例えば、複数の並列な磁気トラックの書込方法およびその方法を実行する磁気トラック書込装置、磁気トラック書込装置の制御方法および磁気トラック書込装置の制御装置、それらの方法または装置の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体等の形態で実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
次に、本発明の実施の形態を実施例に基づいて以下の順序で説明する。
A．第１実施例：
B．第２実施例：
C．第３実施例：
D．第４実施例：
E．変形例：
【００２１】
A．第１実施例：
図１は本発明の一実施例としての磁気トラック書込装置の構成を示す概略図である。この磁気トラック書込装置１０００は、利用者の利用情報等が磁気データとして書き込まれた磁気カード１０を発行する端末装置である。磁気カード１０は、非磁性体１１の一方の外表面に磁性体１２が貼付された媒体である。
【００２２】
磁気トラック書込装置１０００は、カード搬送部１００と、磁気ヘッド部２００と、スタッカ３００とを備えている。カード搬送部１００は、磁気カード１０を搬送するための搬送路１０１と、搬送路１０１に設けられた複数の搬送ローラ１０２と、磁気カード１０を利用者へ提供するための排出口１０３とを備えている。
【００２３】
スタッカ３００には、磁気データが書き込まれる前の複数の磁気カード１０が格納さている。スタッカ３００は、排出口１０３と対向する位置において搬送路１０１と連結されており、磁気カード１０の発行処理において、搬送路１０１に１枚ずつ磁気カード１０を供給する。
【００２４】
磁気カード１０は、搬送路１０１内を、複数の搬送ローラ１０２の回転駆動によって、排出口１０３に向かって一定速度で搬送される。この磁気カード１０が搬送される方向を「搬送方向ＰＤ」と呼ぶ。磁気ヘッド部２００は、搬送路１０１の途中に設けられており、搬送途中の磁気カード１０の磁性体１２を走査することができる。
【００２５】
図２（Ａ）は、図１の矢印Ｙ方向に磁気トラック書込装置１０００を見たときの図であり、磁気ヘッド部２００と磁気カード１０以外の図示は省略されている。磁気ヘッド部２００には、ｎ個のヘッド素子２１０（ｎは２以上の整数）が一列に等間隔で配列されている。
【００２６】
各ヘッド素子２１０は、供給される電流の方向に応じて磁性体１２の磁化方向を変化させて各ヘッド素子２１０に対応するｎ本の磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnを書き込む。以後、複数の並列な磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書き込まれた磁性体１２を「磁気ストライプ２０」と呼ぶ。なお、この磁気ヘッド部２００は、磁気ストライプ２０の各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnにおける磁化方向の変化を検出することも可能である。これによって、磁気ヘッド部２００は、磁気ストライプ２０に書き込まれた各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの検証が可能である。
【００２７】
ところで、磁気トラック書込装置１０００では、図２（Ａ）に示すように、磁気ヘッド部２００のｎ個のヘッド素子２１０の列方向（２点鎖線ＨＬの延伸方向）と、磁気カード１０の搬送方向ＰＤとが、ほぼ垂直に交わることが好ましい。以後、什器ヘッド部２００の配置状態を「正常配置状態」と呼ぶ。
【００２８】
磁気ヘッド部２００が正常配置状態の場合には、磁気ストライプ２０の各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnは、書込開始位置が揃った状態で書き込まれる。一方、製造誤差などの原因により、磁気ヘッド部２００の配置角度がずれて配置されてしまう場合がある（以後、この状態を「異常配置状態」と呼ぶ）。
【００２９】
図２（Ｂ）は、磁気ヘッド部２００の異常配置状態の一例を示す概略図である。図２（Ｂ）は、磁気ヘッド部２００の角度が異なる点以外は、図２（Ａ）とほぼ同じである。異常配置状態の磁気ヘッド部２００によって書き込まれた各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnは、その書込開始位置が、磁気ヘッド部２００の配置角度のずれ量に応じてずれてしまう。
【００３０】
このように、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒn同士にずれが生じている磁気ストライプ２０を、例えば、図２（Ａ）の正常配置状態の磁気ヘッド部２００で読み込んだ場合には、そのずれが原因でデータの誤読が発生する可能性が高い。以後、本実施例では、磁気トラック書込装置１０００の磁気ヘッド部２００が異常配置状態である場合を想定して、当該ずれの発生を抑制することができる磁気カード１０の発行処理を説明する。
【００３１】
図３は、磁気トラック書込装置１０００による磁気カード１０の発行処理の処理工程を示すフローチャートである。磁気トラック書込装置１０００（図１）は、利用者から磁気カード１０の発行指示を受けると、スタッカ３００から搬送路１０１へと磁気カード１０を１枚供給させる。磁気カード１０は、搬送路１０１内を一定速度で搬送方向ＰＤへと搬送される（ステップＳ１０）。
【００３２】
図４は、ステップＳ２０の磁気データ書込処理における磁気トラック書込装置１０００の装置構成を示すブロック図である。磁気トラック書込装置１０００は、磁気ヘッド部２００の各ヘッド素子２１０に信号線によって接続されたｎ個の書込回路２２０と、制御部４００と、メモリ５００とを備えている。
【００３３】
制御部４００は、磁気データ書込処理を実行する書込処理実行部４１０と、書込タイミング補正部４２０とを備えている。メモリ５００には、書込タイミングテーブル５１０が格納されている。ステップＳ２０では、書込処理実行部４１０が、メモリ５００にアクセスして書込タイミングテーブル５１０の内容を読み込む。
【００３４】
図５（Ａ）は、書込タイミングテーブル５１０の内容を説明するための説明図である。この書込タイミングテーブル５１０は、書込開始時刻Ｔ0を起点として、各ヘッド素子２１０が磁性体１２の磁化方向を変化させる時刻（書込タイミング）Ｔ（１，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）が、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnごとに設定されている。
【００３５】
なお、この書込タイミングＴ（１，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）のカッコ内の数字は、１番目の数字が対応する磁気トラックのトラック番号を示し、２番目の数字は、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnにおける変化点の順位を示している。即ち、第１の磁気トラックＴｒ1の１番目の変化点が、書込タイミングＴ（１，１）のタイミングで書き込まれ、最後の変化点が、書込タイミングＴ（１，ｍ1）のタイミングで書き込まれる。同様に、第ｎの磁気トラックＴｒnの１番目の変化点は、書込タイミングＴ（ｎ，１）のタイミングで書き込まれ、最後の変化点（ｍn番目の変化点）が、書込タイミングＴ（１，ｍn）のタイミングで書き込まれる。ここで、ｍ1〜ｍnは任意の自然数であり、それぞれ各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnに存在する変化点の数と一致する。
【００３６】
書込処理実行部４１０は、書込タイミングテーブル５１０から読み込んだ書込タイミングＴ（１，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）に応じて、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnごとの書込信号ＷＳ1〜ＷＳnを生成する。書込処理実行部４１０は、各書込信号ＷＳ1〜ＷＳnを対応する各書込回路２２０へと送信する。
【００３７】
図５（Ｂ）は、書込処理実行部４１０が生成・送信する書込信号の一例として、第１の書込信号ＷＳ1を示すグラフである。図５（Ｂ）は、縦軸が電圧レベルを示し、横軸が時間を示している。書込信号ＷＳ1は、書込開始時刻Ｔ0から始まる矩形波であり、各書込タイミングＴ（１，１）〜Ｔ（１，ｍ1）において電圧レベルの正負が反転している。他の書込信号ＷＳ2〜ＷＳnも同様に生成される。
【００３８】
書込処理実行部４１０から各書込信号ＷＳ1〜ＷＳnが送信されると、各書込回路２２０は、各書込信号ＷＳ1〜ＷＳnに従って、各ヘッド素子２１０に印加する電圧の正負（流す電流の方向）を変化させる。各ヘッド素子２１０に供給される電流の方向に応じて、磁気カード１０の磁性体１２の磁化方向は変化する。
【００３９】
図５（Ｃ）は、ステップＳ２０において書き込まれた第１の磁気トラックＴｒ1の一部を模式的に示す概略図である。図５（Ｃ）では、磁気トラックＴｒ1を白く塗りつぶされた領域と黒く塗りつぶされた領域と区分けて示しているが、これは各領域ごとに磁化方向が反転していることを示している。このように、書込処理実行部４１０は、書込タイミングテーブル５１０に設定された各書込タイミングＴ（１，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）に応じて、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnを書き込む。
【００４０】
ここで、書込処理実行部４１０は、書込タイミングテーブル５１０に設定されたタイミングで全ての変化点を各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnに記録した後も、各書込回路２２０に対して各ヘッド素子２１０に一定方向の電流を供給させる。これによって、磁気カード１０の磁性体１２には、磁性体１２の端部１２ｅまで延びる磁気トラックが書き込まれる（図２）。この磁気ストライプ２０のうち、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnが書き込まれた領域を「データ領域２０ｄ」（実線で表示）と呼ぶ。一方、データ領域２０ｄに続いて端部１２ｅまで一定の磁化方向によって書き込まれた領域を「エッジ検出領域２０ｅ」と呼ぶ（破線で表示）。このエッジ検出領域２０ｅを書き込む理由は後述する。
【００４１】
ステップＳ３０（図３）では、磁気トラック書込装置１０００は、書き込まれた各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれの有無を検証するために、磁気ストライプ２０を磁気ヘッド部２００によって読み込む。なお、この磁気ストライプ読込処理を実行する前に、カード搬送部１００は、複数の搬送ローラ１０２を逆回転させて、磁気カード１０をスタッカ３００側へと引き戻し、磁気ヘッド部２００による再走査を可能な状態とする。
【００４２】
図６は、ステップＳ３０の磁気ストライプ読込処理における磁気トラック書込装置１０００の装置構成を示すブロック図である。図６は、以下に説明する点以外は、図４とほぼ同じである。図６では、ｎ個のヘッド素子２１０に、ｎ個の書込回路２２０に換えて、ｎ個の増幅アンプ２３０が接続され、さらに各増幅アンプ２３０にｎ個の波形整形回路２４０が接続されている。また、図６では、制御部４００が磁気ストライプ検証部４３０を備えており、メモリ５００には、変化点タイムテーブル５２０が格納されている。
【００４３】
各増幅アンプ２３０は、各ヘッド素子２１０からの出力波形信号を増幅する。また、各波形整形回路２４０は、その増幅された波形信号に、デジタル変換処理や、ノイズ除去などの波形整形処理を施し、デジタル波形データＷｆ1〜Ｗｆnとして制御部４００へ送信する。
【００４４】
図７（Ａ）は、磁気トラックの一例として第１の磁気トラックＴｒ1の一部を模式的に示す概略図であり、図５（Ｃ）とほぼ同じである。図７（Ｂ）は、図７（Ａ）に示す磁気トラックＴｒ1の一部を磁気ヘッド部２００が走査することによって得られる第１の波形データＷｆ1を示すグラフである。図７（Ｂ）は、縦軸が電圧レベルを示し、横軸が走査時間を示す。
【００４５】
このように、第１の磁気トラックＴｒ1を磁気ヘッド部２００が走査すると、制御部４００には、第１の磁気トラックＴｒ1における各変化点をピークとする電圧レベルの変化（パルスＰ）を示す第１の波形データＷｆ1が得られる。なお、第１の波形データＷｆ1は、読込開始時刻Ｔａ0を起点としており、パルスＰの電圧レベルの正負は、磁化方向の反転する向きに応じて変化している。ステップＳ３０では、他の磁気トラックＴｒ2〜Ｔｒnからも同様に波形データＷｆ2〜Ｗｆnが生成され、それぞれ制御部４００へと送信される。
【００４６】
図８（Ａ），（Ｂ）は、ステップＳ３０において生成された各波形データＷｆ1〜Ｗｆnを説明するための説明図である。図８（Ａ）は、ステップＳ３０の後の磁気カード１０と磁気ヘッド部２００とを示しており、図２（Ｂ）とほぼ同じである。図８（Ａ）は、ステップＳ３０で得られた各波形データＷｆ1〜Ｗｆnを示す図７（Ｂ）と同様なグラフである。
【００４７】
ステップＳ３０では、磁気ヘッド部２００は、磁気ストライプ２０のデータ領域２０ｄを走査した後も、継続してエッジ検出領域２０ｅを走査する。各波形データＷｆ1〜Ｗｆnには、各ヘッド素子２１０が磁性体１２の端部１２ｅを走査した時刻をピークとするパルスＰｅが発生している。この端部１２ｅにおいて発生するパルスＰｅを、本明細書では特に「エッジパルスＰｅ」と呼ぶ。磁気トラック書込装置１０００は、各波形データＷｆ1〜ＷｆnにおけるエッジパルスＰｅを検出することによって、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの延伸方向に存在する磁性体１２の端部１２ｅを検出することができる。
【００４８】
図９（Ａ），（Ｂ）は、比較例として、正常配置状態にある磁気ヘッド部２００によってステップＳ１０〜Ｓ３０までの処理が行われた場合を説明するための説明図である。図９（Ａ）は、ステップＳ３０の後の磁気カード１０と正常配置状態の磁気ヘッド部２００とを示しており、図２（Ａ）とほぼ同じである。図９（Ｂ）は、ステップＳ３０において正常配置状態の磁気ヘッド部２００から得られた各波形データＷｆ1〜Ｗｆnを示す図８（Ｂ）と同様なグラフである。
【００４９】
磁気ヘッド部２００が正常配置状態である場合であっても、異常配置状態である場合であっても、各ヘッド素子２１０がデータ領域２０ｄを走査した時間区間における波形データＷｆ1〜Ｗｆnでは位相差がほぼ生じていない（図８（Ｂ），図９（Ｂ））。従って、当該時間区間における各波形データＷｆ1〜Ｗｆnを検証するのみでは、磁気ストライプ２０における各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれを検出することはできない。
【００５０】
しかし、磁気ヘッド部２００が異常配置状態の場合には、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnに対応する各エッジ検出領域２０ｅの走査距離が異なってくるため（図８（Ａ））、各波形データＷｆ1〜ＷｆnにおけるエッジパルスＰｅ同士には位相差が生じている（図８（Ｂ）。即ち、このエッジパルスＰｅの位相差を検証することによって、磁気ストライプ２０の各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれ及び、その位置ずれ量を検出することが可能である。
【００５１】
図１０は、ステップＳ４０（図３）のパルス発生時刻取得工程を説明するための説明図である。制御部４００の磁気ストライプ検証部４３０（図６）は、各波形整形回路２４０から送信されてきた各波形データＷｆ1〜Ｗｆnから、読取開始時刻Ｔａ0を基点として、各パルスＰの発生タイミング（発生時刻）を取得する。具体的には、第１の波形データＷｆ1からは、パルスＰの発生時刻として、Ｔａ（１，１）〜Ｔａ（１，ｍ1）が得られる。また、第ｎの波形データＷｆnからは、パルスＰの発生時刻として、Ｔａ（ｎ，１）〜Ｔａ（ｎ，ｍn）が得られる。なお、本明細書中におけるパルスＰの発生タイミングＴａ（１，１）〜Ｔａ（ｎ，ｍn）の表記方法は、書込タイミングＴ（１，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）と同様である。
【００５２】
また、磁気ストライプ検証部４３０は、各波形データＷｆ1〜ＷｆnにおけるエッジパルスＰｅの発生タイミングＴａ（１，ｅ）〜Ｔａ（ｎ，ｅ）を取得する。磁気ストライプ検証部４３０は、これらのパルス発生時刻Ｔａ（１，１）〜Ｔａ（ｎ，ｍn），Ｔａ（１，ｅ）〜Ｔａ（ｎ，ｅ）をメモリ５００の変化点タイムテーブル５２０に格納する。
【００５３】
図１１は、メモリ５００の変化点タイムテーブル５２０の内容を示す説明図である。変化点タイムテーブル５２０には、ステップＳ４０で取得されたパルス発生時刻Ｔａ（１，ｍ1）〜Ｔａ（ｎ，ｍn）と、エッジパルス発生時刻Ｔａ（１，ｅ）〜Ｔａ（ｎ，ｅ）が各トラックＴｒ1〜Ｔｒnごとに、各パルスＰ，Ｐｅの発生順で書き込まれている。
【００５４】
ステップＳ５０（図３）では、変化点タイムテーブル５２０のエッジパルス発生時刻Ｔａ（１，ｅ）〜Ｔａ（ｎ，ｅ）の位相差を検出し、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnに書込位置のずれが生じているかを検証する。具体的には、第１のトラックＴｒ1を基準として、そのエッジパルス発生時刻Ｔａ（１，ｅ）と、他の磁気トラックＴｒ2〜Ｔｒnのエッジパルス発生時刻Ｔａ（２，ｅ）〜Ｔａ（ｎ，ｅ）との位相差ΔＴ2〜ΔＴnを求める。
【００５５】
以後、この位相差ΔＴ2〜ΔＴnを、「エッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴn」と呼ぶ。また、第１の磁気トラックＴｒ1のように、他の磁気トラックの基準となる磁気トラックを「基準トラック」と呼び、他の磁気トラックを「補正対象トラック」と呼ぶ。
【００５６】
エッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnのうちいずれかの値が所定の範囲（以後、「許容範囲」と呼ぶ）内にあるか否かを判定する。ここで、「許容範囲」としては、各波形データＷｆ1〜Ｗｆnを基に２値データを生成する場合には、生成される２値データがビットずれを生じない値の範囲とすることができる。より具体的には、各波形データＷｆ1〜Ｗｆnから単位時間ｔあたり１ビットのデータが生成される場合には、許容範囲は、−１／２ｔ〜１／２ｔの範囲内の値としても良い。
【００５７】
ステップＳ５０において位相差が許容範囲内であった場合には、磁気ストライプ検証部４３０（図６）は、磁気ストライプ２０の各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnにはデータの再現性に影響するような書込位置のずれは生じていないと判断する。この場合には、制御部４００は、磁気カード１０を、そのまま搬送方向ＰＤへと搬送し、排出口１０３から利用者へと供給する（ステップＳ７０）。ステップＳ５０において、磁気ストライプ検証部４３０が、位相差が許容範囲内にないと判定した場合には、書込タイミング補正部４２０（図４）によって、ステップＳ６０の書込タイミングテーブル補正処理が実行される。
【００５８】
図１２（Ａ），（Ｂ）は、ステップＳ６０の書込タイミングテーブル補正処理を説明するための説明図である。図１２（Ａ）は、補正処理前の書込タイミングテーブル５１０を示しており、図５とほぼ同じである。図１２（Ｂ）は、補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔを示しており、各書込タイミングＴ（２，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）に補正値ΔＴ2〜ΔＴnが加算されている点以外は、図１２（Ａ）と同様である。
【００５９】
このステップＳ６０では、書込タイミング補正部４２０は、ステップＳ５０で算出されたエッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnを、対応する補正対象トラックＴｒ2〜Ｔｒnの各書込タイミングＴ（２，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）に加算する。磁気トラック書込装置１０００は、この補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔを用いて、ステップＳ２０の磁気データ書込処理を再度実行し、磁気ストライプ２０には、補正された各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnが上書きされる。
【００６０】
図１３（Ａ），（Ｂ）は、磁気データの再書き込みが実行された磁気ストライプ２０を説明するための説明図である。図１３（Ａ）は、ステップＳ６０の補正処理前に書き込まれた磁気ストライプ２０を示しており、図８（Ａ）とほぼ同じである。図１３（Ｂ）は、ステップＳ６０の補正処理後に磁気データが再書き込みされた磁気ストライプ２０を示しており、磁気ヘッド部２００の配置角度が異なる点以外は、図９（Ａ）とほぼ同じである。
【００６１】
このように、補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔを用いることにより、磁気カード１０に対して、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込開始位置のずれの発生が抑制される。ただし、ステップＳ２０で再書込がなされた後、再びステップＳ３０〜ステップＳ５０において、補正後の各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書き込み位置の検証されるが、この場合には次のように検証処理が実行される。
【００６２】
図１４（Ａ）は、磁気データが再書き込みされた磁気ストライプ２０をステップＳ３０で読み込んだときに生成される波形データＷｆ1〜Ｗｆnを示しており、図８（Ｂ）と同様なグラフである。ステップＳ６０の補正処理の前においては（図８（Ｂ））、データ領域２０ｄに相当する区間ではパルスＰに位相差が生じていなかった。しかし、ステップＳ６０の補正も後においては（図１４（Ａ））、当該区間における各波形データＷｆ2〜Ｗｆnの位相は、ステップＳ６０において補正された分だけシフトしている。そこで、本実施例では、磁気データが再書き込みされた後の磁気ストライプ２０の検証処理では、検証の前に、各波形データＷｆ2〜Ｗｆnの位相を全体に、補正値であるエッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnの分だけ逆方向にシフトさせる処理を行う。
【００６３】
図１４（Ｂ）は、上述した位相のシフト処理後の波形データＷｆ1〜Ｗｆnを示す説明図である。  図１４（Ｂ）は、各波形データＷｆ2〜ＷｆnのエッジパルスＰｅの位相が第１の波形データＷｆ1のエッジパルスＰｅの位相とほぼ一致している点以外は、図８（Ｂ）の波形データＷｆ1〜Ｗｆnとほぼ同じである。即ち、各波形データＷｆ2〜Ｗｆnに上記シフト処理を実行することによって、ステップＳ５０では、各磁気トラックＴｒ1〜ＴｒnのエッジパルスＰｅ間の位相差が解消される。従って、磁気ストライプ検証部４３０は、磁気ストライプ２０の各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnには書込位置のずれが生じていないと判定する。ステップＳ７０では、制御部４００は、正常に各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnが書き込まれた磁気カード１０を排出口１０３（図１）を介して利用者へと供給する。
【００６４】
このように、本実施例の構成によれば、複数の磁気ヘッドによって複数の並列な磁気トラックを書き込む磁気トラック書込装置において、各磁気ヘッドの位置ずれが原因で各磁気トラックがずれて書き込まれてしまうことを抑制できる。従って、磁気カードの読み取り時におけるデータの再現性の低下を抑制できる。
【００６５】
B．第２実施例：
図１５は本発明の第２実施例としての磁気トラック書込装置１０００Ａの構成を示す概略図である。図１５はスキュー補正機構６００が搬送路１０１に設けられている点以外は、図１とほぼ同じである。スキュー補正機構６００は、搬送路１０１において磁気ヘッド部２００の手前に設けられており、磁気カード１０の配置位置の補正を機械的に行う。スキュー補正機構６００の詳細な処理・動作は後述する。なお、磁気トラック書込装置１０００Ａの他の装置構成は、第１実施例のものと同様である（図２（Ｂ），図４，図６）。
【００６６】
図１６は、磁気トラック書込装置１０００Ａの磁気カード発行処理の処理手順を示すフローチャートである。図１６は、ステップＳ１５が追加されている点と、ステップＳ５０，Ｓ６０に換えてステップＳ５０Ａ，Ｓ６０Ａが実行される点以外は、図３とほぼ同じである。以下に、その相違点を説明する。
【００６７】
図１７（Ａ），（Ｂ）は、ステップＳ１５のスキュー補正機構６００による磁気カード１０の配置位置補正処理を説明するための説明図である。図１７（Ａ），（Ｂ）は、図１５の矢印Ｙ方向に磁気トラック書込装置１０００Ａの搬送路１０１及びスキュー補正機構６００を見たときの図である。
【００６８】
スキュー補正機構６００は、位置調整板６０１と、ソレノイド機構部６０２とを備えている。位置調整板６０１は、ソレノイド機構部６０２と連結されており、ソレノイド機構部６０２は、位置調整板６０１を搬送方向ＰＤとは略垂直な方向に往復動させることができる。スキュー補正機構６００は、通常は、搬送路１０１の一方の側壁１０４に収容されており、位置調整板６０１の外表面が、側壁１０４に沿って配置されている（図１７（Ａ））。
【００６９】
図１７（Ａ）は、ステップＳ１０でスタッカ３００から搬送路１０１に供給された磁気カード１０がスキュー補正機構６００の配置位置まで搬送されてきた状態を示している。磁気カード１０は、図に示すように搬送方向ＰＤに対して角度を有する状態で搬送されてしまう場合がある。なお、このような状態を、「スキュー状態」ともいう。このスキュー状態のまま磁気カード１０が搬送されると、ステップＳ２０において、磁気カード１０には、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnがずれて書き込まれてしまう可能性が高い（破線で図示）。
【００７０】
図１７（Ｂ）は、ソレノイド機構部６０２が位置調整板６０１を搬送路１０１側へと押し出した状態を示している。制御部４００からの指示によって、ソレノイド機構部６０２は位置調整板６０１を搬送路１０１側へと押し出す。すると、磁気カード１０は、位置調整板６０１によって押され、その一辺１０ｓと位置調整板６０１に対向する側壁１０５とが接触する。これによって、磁気カード１０は側壁１０５に沿った配置状態となる。従って、磁気カード１０は適切な角度で搬送されることとなり、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnがずれて書き込まれることを抑制できる。
【００７１】
ステップＳ２０で磁気カード１０に各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnが書き込まれると、磁気トラック書込装置１０００Ａの磁気ストライプ検証部４３０（図６）は、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれを検証する（ステップＳ３０〜Ｓ５０Ａ）。ここで、第１実施例では、磁気ストライプ検証部４３０は、全てのエッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnを検証していた（図３；ステップＳ５０）。しかし、この第２実施例では、第１と第２の波形データＷｆ1，Ｗｆ2のエッジパルス位相差ΔＴ2のみを検証する（ステップＳ５０Ａ）。
【００７２】
なお、以後、本明細書において、第１と第２の波形データＷｆ1，Ｗｆ2のように、エッジパルスＰｅの位相差が検証される波形データを「検査対象波形データ」と呼ぶ。また、検査対象データに対応する磁気トラック、即ち、検査対象波形データが生成される磁気トラックを「検査対象トラック」と呼ぶ。さらに、位相差ΔＴ2のように、検査対象波形データから検出されたエッジパルスＰｅの位相差を「補正基準位相差」と呼ぶ。
【００７３】
磁気ストライプ検証部４３０は、補正基準位相差ΔＴ2が許容範囲（第１実施例の記載参照）にある場合には、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnには磁気ヘッド部２００の配置ずれを原因とする書込位置のずれが発生していないものと判定する（ステップＳ５０Ａ）。この場合には、磁気カード１０は、排出口１０３（図１５）から利用者に供給され、磁気カード１０の発行処理は終了する。一方、補正基準位相差ΔＴ2が許容範囲にない場合には、磁気ストライプ検証部４３０は、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnには磁気ヘッド部２００の配置ずれを原因とする書込位置のずれが発生しているものと判定する。この場合には、書込タイミング補正部４２０（図４）は、書込タイミングテーブル５１０（図５（Ａ））の補正値を計算する（ステップＳ６０Ａ）。
【００７４】
図１８は、ステップＳ６０Ａで実行される書込タイミングテーブルの補正処理で用いられる補正値の算出処理を説明するための説明図である。図１８は、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnがずれて書き込まれた磁気ストライプ２０を模式的に示している。
【００７５】
この第２実施例では、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnは等間隔Ｔｉで書き込まれている。従って、第１のトラックＴｒ1に対する他の磁気トラックＴｒ2〜Ｔｒnの位置ずれ量は、一定比率で第１のトラックＴｒ1から離れるほど増加する。即ち、第１と第２の磁気トラックＴｒ1，Ｔｒ2同士の位置ずれ量をＴｄとすると、第１の磁気トラックＴｒ1と第ｎの磁気トラックＴｒnとの位置ずれ量は、Ｔｄ×（ｎ−１）と推定することができる。そこで、ステップＳ５０Ａにおいて、書込タイミング調整部４２０は、ステップＳ４０で検証に用いた補正基準位相差ΔＴ2を用いて、第２の磁気トラックＴｒ2以降の各磁気トラックＴｒ2〜Ｔｒnについて、第１のトラックＴｒ1からの距離に応じた補正値を算出する。
【００７６】
図１９（Ａ），（Ｂ）は、ステップＳ７０の書込タイミングテーブル補正処理を説明するための説明図である。図１９（Ａ），（Ｂ）は、エッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnに換えて、補正値補正値ΔＴ2〜ΔＴ2×（ｎ−１）を用いている点以外は、図１２（Ａ），（Ｂ）とほぼ同じである。即ち、例えば、第ｎの磁気トラックＴｒnの書込タイミングＴ（ｎ，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）には、補正値ΔＴ2×（ｎ−１）が加算されている。磁気トラック書込装置１０００Ａは、この補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔを用いて、磁気データ書込処理を再度実行し、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnを上書きする（ステップＳ２０）。
【００７７】
このように、この第２実施例によれば、スキュー補正機構６００によって磁気カード１０の配置角度を修正した上で各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書き込みを実行し、その検証を行う。従って、第１実施例の効果に加えて、さらに、磁気カード１０のスキューが原因で各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnがずれて書き込まれる可能性が低減される。このため、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書き込み位置のずれにより、磁気カード１０のデータの再現性が低下することを抑制できる。
【００７８】
また、この第２実施例では、検査対象波形データＷｆ1，Ｗｆ2を基に得た補正基準位相差ΔＴ2のみを用いて磁気ストライプ２０の検証及び書込タイミングテーブル５１０の補正処理を実行している。従って、第１実施例よりも簡易かつ迅速に、適正な磁気トラックの書き込みが可能となる。
【００７９】
C．第３実施例：
図２０は本発明の第３実施例としての磁気トラック書込装置における磁気カード発行処理の処理手順を示すフローチャートである。図２０は、ステップＳ１５のスキュー補正処理がない点と、ステップＳ５０Ａに替えてステップＳ５０Ｂの判定処理がなされている点と、ステップＳ６０Ａに換えてステップＳ６０Ｂの第１補正処理が実行される点以外は、図１６とほぼ同じである。なお、この第３実施例の磁気トラック書込装置の装置構成及び書込タイミングテーブル５１０の内容は、第２実施例で説明したものと同様である（図２，図４，図６，図１５，図１９（Ａ））。
【００８０】
第３実施例のステップＳ５０Ｂでは、磁気ストライプ検証部４３０（図６）は、第２実施例のステップＳ５０Ｂ（図１６）の条件に加え、さらに、磁気ストライプ２０から読み取ったデータが正常であるか否か（読み取りデータの再現性）を判定する。具体的には、例えば、各波形データＷｆ1〜Ｗｆnを２値データへと変換し、パリティチェックを実行するものとしても良いし、原データとのつきあわせをするものとしても良い。これによってデータの再現性が検証された場合には、磁気ストライプ検証部４３０は、読み取りデータに不具合が発見されなければ、そのまま磁気カード１０を利用者に供給する（ステップＳ７０）。
【００８１】
一方、補正基準位相差ΔＴ2が許容範囲内に無い場合、若しくは、読み取りデータに不具合が発見された場合、又は、そのいずれの場合にも該当する場合には、磁気ストライプ検証部４３０は、ステップＳ６０Ｂの第１補正処理を実行する。
【００８２】
図２１は、第１補正処理の処理手順を示すフローチャートである。この第１補正処理は、磁気データの書き込みが適切に行われなかった原因が、磁気カード１０のスキューが原因である可能性を排除するために行われる。ステップＳ１１０では、制御部４００は、第２実施例で説明したスキュー補正処理と同様な補正処理を実行する（図１６；ステップＳ１５）。その後、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの再書き込み（ステップＳ１２０）が、図２０のステップＳ２０と同様に実行される。また、磁気ストライプ検証処理のための磁気ストライプ２０の読み込み（ステップＳ１３０）及び波形データＷｆ1〜Ｗｆnからのパルス発生時刻の取得（ステップＳ１４０）が、ステップＳ３０，Ｓ４０（図２０）と同様に実行される。
【００８３】
ステップＳ１５０では、磁気ストライプ検証部４３０が、補正基準位相差ΔＴ2の値が許容範囲にあるか否かの判断を行う。補正基準位相差ΔＴ2が許容範囲内にない場合には、磁気ヘッド部２００の配置位置のずれが原因で磁気ストライプ２０への磁気データの書き込みが不適切となっていることが推定される。そこで、ステップＳ１６０の第２補正処理が実行される（後述）。
【００８４】
一方、ステップＳ１５０において、補正基準位相差ΔＴ2が許容範囲内にある場合には、磁気ヘッド部２００の配置位置のずれによる磁気データの書き込みミスはないものと推定される。そこで、磁気ストライプ検証部４３０は、さらに、読み取りデータの再現性を検証する（ステップＳ１７０）。
【００８５】
ステップＳ１７０において、読み取りデータが正常であると判断された場合には、適切な補正処理がなされたものとして、第１補正処理を終了し、図２０のステップＳ７０が実行される。しかし、ステップＳ１７０において、読み取りデータが正常ではないと判断された場合には、磁気データの書き込み失敗の原因が、磁気ヘッド部２００の配置位置のずれや、磁気カード１０のスキューによるものである可能性は低い。この場合には、装置の故障など、他のエラー原因が推定されるため、その旨を利用者に報せるなどのエラー処理が実行される（ステップＳ１８０）。
【００８６】
図２２は、ステップＳ１６０の第２補正処理の処理手順を示すフローチャートである。この第２補正処理では、磁気ストライプ２０への磁気データの書き込みが不適切となる原因が磁気ヘッド部２００の配置位置のずれにあると考えられるため、書込タイミングテーブル５１０の補正を実行する（ステップＳ２１０）。ステップＳ２１０では、第２実施例で説明したステップＳ６０Ａ（図１６）と同様な補正処理が実行される。その後、ステップＳ２２０〜ステップＳ２４０が、図２１のステップＳ１２０〜Ｓ１４０と同様に実行される。
【００８７】
ステップＳ２５０では、磁気ストライプ検証部４３０が、図２０のステップＳ５０Ｂと同様な判定を行う。即ち、補正基準位相差ΔＴ2の値が所定の範囲内にあり、かつ、読み取りデータが正常であった場合には、補正処理が適切に実行されたものとして第２補正処理は終了し、図２０のステップＳ７０が実行される。また、上記の条件を満たさなかった場合には、図２１のステップＳ１８０と同様に、他のエラー原因が考えられるためエラー処理が実行される（ステップＳ２６０）。
【００８８】
このように、第３実施例では、必要に応じて、スキュー補正（図２１；第１補正処理）と書込タイミングテーブル５１０の補正（図２２；第２補正処理）とを順に実行する。従って、より適切な補正処理を状況に応じて実行することができ、より適正な磁気データの書込処理が可能となる。
【００８９】
D．第４実施例：
図２３（Ａ），（Ｂ）は、本発明の第４実施例としての磁気トラック書込装置１０００Ｃの内部構成を示すブロック図である。図２３（Ａ）は、磁気データ書込処理時における磁気トラック書込装置１０００Ｃの内部構成を示しており、メモリ５００に補正値テーブル５４０（後述）が格納されている点以外は、図４とほぼ同じである。図２３（Ｂ）は、磁気ストライプ読込処理時における磁気トラック書込装置１０００Ｃの内部構成を示しており、図６とほぼ同じである。なお、この磁気トラック書込装置１０００Ｃの他の構成は、第３実施例のものと同様である（図２（Ｂ），図１５）。また、書込タイミングテーブル５１０の内容も、第３実施例の説明で用いたものと同様である（図１９（Ａ））。
【００９０】
図２４は、磁気トラック書込装置１０００Ｃで実行される磁気カード１０の発行処理の処理手順を示すフローチャートである。図２４は、書込タイミングテーブルの初期補正処理（ステップＳ１８）が追加されている点と、ステップＳ５０Ｂの判定処理に換えてステップＳ５０Ｃの判定処理が実行される点以外は、図２０とほぼ同じである。この磁気トラック書込装置１０００Ｃでは、初回の磁気データ書込処理（ステップＳ２０）が実行される前に、書込タイミングテーブル５１０を補正値テーブル５４０を用いて更新する。
【００９１】
図２５（Ａ）は、補正値テーブル５４０の内容を説明するための説明図である。補正値テーブル５４０には、基準トラックＴｒ1以外の各補正対象トラックＴｒ2〜Ｔｒnに対応する書込タイミングの補正量Ｔｃ2〜Ｔｃnが格納されている。また、補正値テーブル５４０には、後述する補正値テーブル５４０の更新処理が実行された回数ＵＮが格納されている。なお、この補正値テーブル５４０は、不揮発的にメモリ５００に記憶されている。
【００９２】
図２５（Ｂ）は、ステップＳ１８の書込タイミングテーブルの初期補正処理を説明するための説明図であり、初期補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆを示している。図２５（Ｂ）は、補正対象トラックＴｒ2〜Ｔｒnの各書込タイミングＴ（２，１）〜（ｎ，ｍn）に対して、対応する各磁気トラックごとに補正値テーブル５４０の補正値Ｔｃ2〜Ｔｃnがそれぞれ加算されている点以外は、図２５（Ａ）と同様である。なお、初期補正前の書込タイミングテーブル５１０は、初期補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆとは別個にメモリ５００にバックアップされる。バックアップされた初期補正前の書込タイミングテーブル５１０は、後述する第３補正処理で用いられる。
【００９３】
ステップＳ２０（図２４）では、書込処理実行部４１０（図２３）が、初期補正処理後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆを用いて、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書き込みを実行する。その後、ステップＳ３０〜Ｓ４０は、磁気ストライプ２０の読み取り及びパルス発生時刻（各変化点の発生時刻）の検出が第３実施例と同様に実行される。ステップＳ５０Ｃでは、磁気ストライプ検証部４３０は、エッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnの値がいずれも許容範囲内にあり、かつ、読み取りデータが正常であるか判定する。
【００９４】
ステップＳ５０Ｃにおいて、磁気ストライプ検証部４３０が、磁気ストライプ２０に書き込まれた磁気データが上記の条件を満たしていると判定したときは、制御部４００は、そのまま磁気カード１０を利用者に供給する（ステップＳ７０）。一方、磁気ストライプ検証部４３０が、磁気ストライプ２０への磁気データの書き込みが正常ではないと判定したときは、制御部４００は、ステップＳ６０Ｃの第１補正処理を実行する。
【００９５】
図２６は、ステップＳ６０Ｃにおける第１補正処理の処理手順を示すフローチャートである。図２６は、ステップＳ１５０に換えてステップＳ１５０Ｃの判定処理が実行されている点と、ステップＳ１６０に換えてステップＳ１６０Ｃの第２補正処理が実行される点以外は、図２１と同様である。
【００９６】
この第４実施例における第１補正処理のステップＳ１２０では、スキュー補正処理（ステップＳ１１０）の後に、初期補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆ（図２５（Ｂ））を用いて各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnが書き込まれる。また、ステップＳ１５０Ｃでは、磁気ストライプ検証部４３０が、再書き込みされた各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnから取得したエッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnのうち、いずれかが許容範囲内にないと判断した場合には、制御部４００は、後述する第２補正処理を実行する。それ以外の点は、第３実施例の第１補正処理（図２１）と同様であるので説明は省略する。
【００９７】
図２７は、第４実施例における第２補正処理の処理手順を示すフローチャートである。図２７は、以下の点以外は、図２２とほぼ同じである。図２７は、図２２のステップＳ２１０に換えてステップ２１０Ｃの初期補正後書込タイミングテーブル５１０ｔｆに対する補正処理が実行される。また、図２７は、図２２のステップＳ２５０の判定処理に換えてステップＳ２５０Ｃの判定処理が実行される。さらに、図２７は、図２２のステップＳ２６０のエラー処理に替えてステップＳ２７０の第３補正処理（後述）が実行され、ステップＳ２８０の補正値テーブル５４０の更新処理が追加されている。
【００９８】
図２８（Ａ），（Ｂ）は、ステップＳ２１０Ｃにおける初期補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆに対する補正処理を説明するための説明図である。図２８（Ａ）は、図２５（Ｂ）と同様に、初期補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆを示しているが、各書込タイミングＴ（２，１）〜Ｔ（ｎ，ｍn）に各補正値Ｔｃ2〜Ｔｃnが加算された値を、初期補正後書込タイミングＴｆｔ（２，１）〜Ｔｆｔ（ｎ，ｍn）として示している。
【００９９】
図２８（Ｂ）は、ステップＳ２１０Ｃ補正処理後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆｔを示しいる。図２８（Ｂ）は、  図２８（Ａ）の初期補正後書込タイミングＴｕ（２，１）〜Ｔｕ（ｎ，ｍn）に対して、対応する各エッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnを加算している点以外は、図２８（Ａ）とほぼ同じである。
【０１００】
即ち、ステップＳ２１０Ｃでは、書込タイミング補正部４２０が、初期補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆに対して、第１実施例のステップＳ６０（図３）と同様な補正処理を実行する。このステップＳ２１０Ｃにおける補正処理を、以後、「加重補正処理」と呼ぶ。
【０１０１】
図２７のステップＳ２２０では、書込処理実行部４１０（図２３（Ａ））が、この加重補正処理後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆｔを用いて、再び各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnを書き込む。また、続いて、磁気ストライプ検証部４３０（図２３（Ｂ））が、その磁気ストライプ２０の検証処理を実行する（ステップＳ２３０〜Ｓ２５０Ｃ）。
【０１０２】
ステップＳ２５０Ｃでは、各エッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnの値のいずれもが許容範囲内にあり、かつ、読み取りデータが正常である場合には、磁気ストライプ検証部４３０（図６）は、第２補正処理により磁気ストライプ２０への磁気データの書き込みが適正に実行されたものと判定する。この場合には、ステップＳ２８０において補正値テーブル５４０の更新処理を実行する。
【０１０３】
図２９（Ａ），（Ｂ）は、ステップＳ２８０における補正値テーブル５４０の更新処理を説明するための説明図である。図２９（Ａ）は、更新前の補正値テーブル５４０を示しており、図２５（Ａ）とほぼ同じである。  図２９（Ｂ）は、更新処理後の補正値テーブルを示している。
【０１０４】
各補正対象トラックＴｒ2〜Ｔｒnに対応する各補正値Ｔｃ2〜Ｔｃnには、新たに算出された補正値が代入される。具体的には、第ｎの補正値Ｔｃnには、下記の数式（１）により得られた値が代入されている。
（Ｔｃn×ＵＮ＋ΔＴn）／（ＵＮ＋１）…  （１）
また、各補正値Ｔｃ2〜Ｔｃnの更新後に、更新回数ＵＮもインクリメントされる。即ち、補正値テーブル５４０の各補正値Ｔｃ2〜Ｔｃnは、過去に実行された初期補正後の書込タイミングテーブル５１０ｔｆの加重補正処理に用いられた補正値の平均値である。なお、各補正値Ｔｃ2〜Ｔｃnは、他の算出方法によって更新されるものとしても良い。
【０１０５】
図３０は、第４実施例における第３補正処理の処理手順を示すフローチャートである。図２７のステップＳ２５０Ｃにおいて、磁気データが適切に書き込まれていないと判定された場合には、この第３補正処理が実行される。即ち、この第３補正処理が実行されるのは、磁気カード１０のスキュー補正及び磁気ヘッド部２００の書込タイミング補正が実行されても、なお磁気データの書き込みが適切に行われていない場合である。この場合には、補正値テーブル５４０の各補正値Ｔｃ2〜Ｔｃnが過去の更新処理によって適切な値ではなくなっている可能性がある。そこで、この第３補正処理では、初期補正処理（図２４；ステップＳ１８）前の書込タイミングテーブル５１０を用いて各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの再書き込み及びその検証処理を実行する。
【０１０６】
ステップＳ３１０では、書込処理実行部４１０（図２３（Ａ））は、バックアップされた初期補正前の書込タイミングテーブル５１０をメモリ５００から読み込む。ステップＳ３２０では、書込処理実行部４１０は、その書込タイミングテーブル５１０を用いて各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込処理を実行する。
【０１０７】
続いて、磁気ストライプ検証部４３０（図２３（Ｂ））は、第２補正処理のステップＳ２３０〜ステップＳ２５０Ｃと同様に、書き込まれた磁気データの再現性を検証する。ステップＳ３５０において、磁気ストライプ検証部４３０が、磁気ストライプ２０に書き込まれた磁気データが正常であると判定した場合には、第３補正処理は正常に終了し、磁気カード１０が利用者に供給される（図２４；ステップＳ７０）。一方、磁気ストライプ２０に磁気データが適切に書き込まれていないと判定されたときは、装置の故障などが考えられるため、メンテナンスコールを行うなどの、エラー処理が実行される（ステップＳ３６０）。
【０１０８】
このように、この第４実施例では、補正値テーブル５４０がメモリ５００に不揮発的に格納されており、磁気ヘッド部２００の書込タイミングが補正されるたびに、その補正量を加味して更新されていく。従って、この磁気トラック書込装置１０００Ｃでは、磁気ストライプ２０の書き込みが実行されるたびに、その書き込み精度を向上させていくことができる。
【０１０９】
E．変形例：
なお、この発明は上記の実施例や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
【０１１０】
上記実施例において、ハードウェアによって実現されていた構成の一部をソフトウェアに置き換えるようにしてもよく、逆に、ソフトウェアによって実現されていた構成の一部をハードウェアに置き換えるようにしてもよい。例えば、書込タイミング補正部４２０の機能の一部を磁気ストライプ検証部４３０が実行するようにすることもできる。
【０１１１】
E1．変形例１：
上記実施例では、自動で書き込みタイミングを補正し、再書き込みを実行していたが、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれを検出した後に、アラームを上げるものとしても良い。例えば、ずれの最大値が予め設定している許容量より大きくなった場合、保守センタ等の上位にアラームを上げることにより、装置保守員が保守点検等で作業する際、磁気ヘッドのずれの補正作業を行なう、または、このずれ量を保守員が操作画面から入力作業を行い、書込タイミングの補正を行なうこともできる。
【０１１２】
E2．変形例２：
上記実施例において、磁気ストライプ２０には、データ領域２０ｄの後ろにエッジ検出領域２０ｅが設けられていたが、エッジ検出領域２０ｅの後ろにデータ領域２０ｄが設けられているものとしても良い。即ち、この場合には、各波形データＷｆ1〜ＷｆnにおいてエッジパルスＰｅは他のパルスＰより先に検出される。
【０１１３】
また、磁気ストライプ２０には、エッジ検出領域２０ｅが設けられていなくとも良い。この理由は、通常、エッジ検出領域２０ｅが設けられていない磁性体１２の端部１２ｅを磁気ヘッド部２００によって走査しても、微弱なエッジパルスＰｅを検出することができるためである。なお、上記実施例のように、エッジ検出領域２０ｅを設けることによって、より顕著なエッジパルスＰｅを検出可能であることを本発明の発明者は見出した。即ち、上記実施例の構成によれば、より確実かつ容易にエッジパルスＰｅを検出することができ、より各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれの発生を抑制することが可能である。
【０１１４】
E3．変形例３：
上記実施例において、エッジパルスＰｅ同士の位相差が許容範囲にあるか否かの判定を行い、許容範囲内にない場合に書込タイミングテーブル補正処理を実行していたが、上記判定をすることなく、書込タイミングテーブル補正処理を実行するものとしても良い。
【０１１５】
E4．変形例４：
上記実施例において、磁気カード１０を搬送することによって磁気ヘッド部２００が磁気ストライプ２０を走査していたが、磁気カード１０を定位置に配置した状態で磁気ヘッド部２００を移動させて磁気ストライプ２０を走査するものとしても良い。
【０１１６】
E5．変形例５：
第１と第４実施例において、基準トラックとして第１の磁気トラックＴｒ1が選択されていたが、他の磁気トラックＴｒ2〜Ｔｒnが基準トラックとして選択されるものとしても良い。また、複数の基準トラックが選択されるものとしても良い。
【０１１７】
E6．変形例６：
上記第２実施例及び第３実施例では、検査対象波形データとして第１と第２の波形データＷｆ1，Ｗｆ2を選択していたが、他の波形データＷｆ3〜Ｗｆnを検査対象波形データとして選択するものとしても良い。また、さらに複数の波形データを検査対象波形データとして選択するものとしても良い。即ち、少なくとも２本の任意の磁気トラックを検査対象トラックとして選択することができる。なお、この場合には、当該少なくとも２本の磁気トラックにのみエッジ検出領域２０ｅが書き込まれるものとしても良い。
【０１１８】
ここで、ステップＳ６０Ａの書込タイミングテーブル５１０の補正処理では、通常、基準トラック（上記実施例では第１の磁気トラックＴｒ1）との間の距離が大きくなるに従い、各磁気トラックに対する補正量に含まれる誤差も増大する。そこで、基準トラックとしてより中央列に近い磁気トラックを選択することによって、基準トラックと他の磁気トラックとの間の距離が増加することを比較的低減させることができる。従って、より適切な各波形データの位相補正を実行することが可能であり、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれが発生することを抑制できる。
【０１１９】
E7．変形例７：
上記第２実施例及び第３実施例では、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnが等間隔で書き込まれていたが、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnは等間隔で書き込まれていなくとも良い。この場合には、基準トラックＴｒ1と他の磁気トラックＴｒ2〜Ｔｒnとの間隔を予め検出又は設定しておくことによって、それぞれの間隔に応じて、補正基準位相差ΔＴ2の値を変動させ、補正対象トラックＴｒ2〜Ｔｒnの各書込タイミングＴ（２，１）〜Ｔ（２，ｍn）の補正を実行するものとしても良い。
【０１２０】
E8．変形例８：
上記実施例は、次のように解釈することも可能である。並列なＮ本（Ｎは２以上の整数）の磁気トラックを磁性体に書き込む磁気トラック書込装置であって、前記Ｎ本の磁気トラックのそれぞれの書き込み及び読み込みを実行するＮ個の磁気ヘッドと、前記Ｎ個の磁気ヘッドを制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記Ｎ個の磁気ヘッドによって前記磁性体の磁化方向を変化させて前記磁気トラックの書き込みを実行する書込処理実行部と、前記Ｎ個の磁気ヘッドのそれぞれについて、前記磁性体の磁化方向を変化させる変化点を書き込む書込タイミングを調整する書込タイミング調整部と、前記Ｎ個の磁気ヘッドに、前記Ｎ本の磁気トラックを走査させて前記変化点の読み込みを実行する読込処理実行部とを備え、前記Ｎ本の磁気トラックは、第１と第２の検査対象磁気トラックを含み、前記読込処理実行部は、前記Ｎ個の磁気ヘッドによって書き込まれた前記Ｎ本の磁気トラックを前記Ｎ個の磁気ヘッドを用いて再走査するとともに、前記第１と第２の検査対象磁気トラックのそれぞれの延伸方向に存在する前記磁性体の第１と第２の端部を検出する端部検出処理を実行し、前記書込タイミング調整部は、前記第１と第２の検査対象磁気トラックの始端又は終端から前記第１と第２の端部までのそれぞれの距離の差を求め、前記差の値に応じて前記Ｎ個の磁気ヘッドのそれぞれについて前記書込タイミングを調整する書込タイミング調整処理を実行し、前記書込処理実行部は、前記書込タイミング調整処理において調整された調整後書込タイミングによって、前記Ｎ本の磁気トラックを再書き込みする、磁気トラック書込装置。
【０１２１】
即ち、第１実施例および第４実施例においては、第１の磁気トラックＴｒ1が第１の検査対象磁気トラックに相当し、各補正対象トラックＴｒ2〜Ｔｒnが第２の検査対象磁気トラックに相当する。また、第２実施例および第３実施例においては、第１と第２のトラックＴｒ1，Ｔｒ2がそれぞれ第１と第２の検査対象磁気トラックに相当する。さらに、上記実施例では、エッジパルス位相差ΔＴ2〜ΔＴnを検出して各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの書込位置のずれの発生を検証していたが、これは、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnの始端または終端から磁性体１２の端部１２ｅまでのそれぞれの距離の差異を検出しているものと解釈することができる。あるいは、各磁気トラックＴｒ1〜Ｔｒnに対応するエッジ検出領域２０ｅの長さの差を検出しているものと解釈することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１２２】
【図１】磁気トラック書込装置の構成を示す概略図。
【図２】磁気ヘッド部と磁気カードに書き込まれた磁気ストライプを説明するための説明図。
【図３】磁気トラック書込装置による磁気カード発行処理の処理手順を示すフローチャート。
【図４】磁気データ書込処理時の磁気トラック書込装置の装置構成を示すブロック図。
【図５】書込タイミングテーブルの内容及び書込信号と書込信号によって書き込まれた磁気ストライプを示す説明図。
【図６】磁気ストライプ読込処理時の磁気トラック書込装置の装置構成を示すブロック図。
【図７】磁気ストライプの読み込みによって生成される波形データを説明するための説明図。
【図８】異常配置状態の磁気ヘッド部によって書き込まれた磁気ストライプから取得された波形データを説明するための説明図。
【図９】比較例として、正常配置状態の磁気ヘッド部によって書き込まれた磁気ストライプから取得された波形データを説明するための説明図。
【図１０】パルス発生時刻取得処理を説明するための説明図。
【図１１】変化点タイムテーブルの内容を示す説明図。
【図１２】書込タイミングテーブルの補正処理を説明するための説明図。
【図１３】補正処理後に再書き込みされた磁気ストライプを示す概略図。
【図１４】補正後の磁気ストライプの検証処理を説明するための説明図。
【図１５】第２実施例における磁気トラック書込装置の構成を示す概略図。
【図１６】第２実施例における磁気トラック書込装置による磁気カード発行処理の処理手順を示すフローチャート。
【図１７】スキュー補正処理を説明するための模式図。
【図１８】各磁気トラック同士の位置ずれの関係を説明するための説明図。
【図１９】第２実施例における書込タイミングテーブルの補正処理を説明するための説明図。
【図２０】第３実施例における磁気トラック書込装置による磁気カード発行処理の処理手順を示すフローチャート。
【図２１】第３実施例における第１補正処理の処理手順を示すフローチャート。
【図２２】第３実施例における第２補正処理の処理手順を示すフローチャート。
【図２３】第４実施例における磁気トラック書込装置の装置構成を示すブロック図。
【図２４】第４実施例における磁気トラック書込装置による磁気カード発行処理の処理手順を示すフローチャート。
【図２５】第４実施例における補正値テーブルの内容及び補正値テーブルによる書込タイミングテーブルの初期補正を説明するための説明図。
【図２６】第４実施例における第１補正処理の処理手順を示すフローチャート。
【図２７】第４実施例における第２補正処理の処理手順を示すフローチャート。
【図２８】初期補正処理後の書込タイミングテーブルに対する加重補正処理を説明するための説明図。
【図２９】第４実施例における補正値テーブルの更新処理を説明するための説明図。
【図３０】第４実施例における第３補正処理の処理手順を示すフローチャート。
【符号の説明】
【０１２３】
１０…磁気カード
１１…非磁性体
１２…磁性体
１２ｅ…端部
２０…磁気ストライプ
２０ｄ…データ領域
２０ｅ…エッジ検出領域
１００…カード搬送部
１０１…搬送路
１０２…搬送ローラ
１０３…排出口
１０４，１０５…側壁
２００…磁気ヘッド部
２１０…ヘッド素子
２２０…書込回路
２３０…アンプ
２４０…波形整形回路
３００…スタッカ
４００…制御部
４１０…書込処理実行部
４２０…書込タイミング補正部
４３０…磁気ストライプ検証部
５００…メモリ
５１０…書込タイミングテーブル
５１０ｔ…補正後書込タイミングテーブル
５１０ｔｆ…初期補正後書込タイミングテーブル
５１０ｔｆｔ…加重補正処理後の書込タイミングテーブル
５２０…変化点タイムテーブル
５４０…補正値テーブル
６００…スキュー補正機構
６０１…位置調整板
６０２…ソレノイド機構部
１０００,１０００Ａ，１０００Ｃ…磁気トラック書込装置
Ｐ…パルス
Ｐｅ…エッジパルス
ＰＤ…搬送方向
Ｔｒ1〜Ｔｒn…磁気トラック
ＷＳ1〜ＷＳn…書込信号
Ｗｆ1〜Ｗｆn…波形データ
【図１】
0004781344.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
0004781344.tif 000014
【図１４】
0004781344.tif 000015
【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
0004781344.tif 000019
【図１９】
0004781344.tif 000020
【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
0004781344.tif 000027
【図２７】
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【図２８】
0004781344.tif 000029
【図２９】
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【図３０】
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