(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
固定枠と、この固定枠に回転可能に支持された略円形状の回転枠と、この回転枠に取り付けられたＸ線管と、このＸ線管から出射され被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、このＸ線検出器の出力と前記回転枠の回転による前記Ｘ線管の回転位置とに基づいて前記被検体の断層画像データを再構成するコンピュータ部とを有するＸ線コンピュータ断層撮影装置において、
前記Ｘ線管の回転位置を検出する磁気抵抗式センサと、
前記磁気抵抗式センサの出力波形に基づいて、前記回転枠の回転駆動制御に用いられる第１のパルス列を発生させるエンコーダで構成された第１のパルス生成回路と、
前記磁気抵抗式センサの出力の周期を測定する周期測定回路を有し、前記測定した周期に従って、前記断層画像データの再構成に用いられる第２のパルス列を発生させる第２のパルス生成回路と、
を備えることを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項２】
前記周期測定回路は、前記磁気抵抗式センサの出力変動に伴うゼロクロス点を検出するコンパレータと、前記検出したゼロクロス点から前記周期を測定する時間測定タイマーとを有することを特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項３】
前記第２のパルス生成回路は、前記測定した周期の１／ｎの時間を求める測定時間除算回路と、前記求めた時間を周期としてパルスを発生するパルス発生カウンタとを有することを特徴とする請求項１又は請求項２記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項４】
前記第２のパルス列は前記第１のパルス列に対してｎ倍の周波数を有することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項５】
前記第２のパルス列の前記第１のパルス列に対する時間遅れは、少なくとも前記第１のパルス列の２周期以上の長さであることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれかに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項６】
前記回転枠を直接的に回転するダイレクトドライブ方式のモータをさらに備え、
前記ダイレクトドライブ方式モータのコイルと前記磁気抵抗式センサとの間には磁気シールド板が設けられることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれかに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項７】
前記固定枠又は前記回転枠の一方に取り付けられるとともに所定間隔で凹凸を設けた円周を有する略円管状の磁性体で構成される検出歯車を備え、
前記磁気抵抗式センサは、前記固定枠又は前記回転枠の他方に取り付けられるとともに前記凹凸を検出することを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれかに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項８】
前記検出歯車の側面にはスリットが形成されていることを特徴とする請求項７記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項９】
前記スリットの端面は回転軸に対して斜めに形成されていることを特徴とする請求項８記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項１０】
前記検出歯車の側面には放射状に溝が形成されていることを特徴とする請求項７記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項１１】
前記検出歯車は、はすば歯形を有することを特徴とする請求７乃至請求項１０のいずれかに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【請求項１２】
前記検出歯車は、インボリュート歯車であることを特徴とする請求項７乃至請求項１０のいずれかに記載のＸ線コンピュータ断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スキャンタイムを短縮するためにＸ線管及びＸ線検出器等を搭載した円環形状の回転枠を連続的に回転するタイプのＸ線コンピュータ断層撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
周知のとおり、上述した連続高速回転は、Ｘ線管への給電や信号送受信を金属リングと導電性ブラシで行うスリップリング及びダイレクトドライブモータの採用により実現し得る。このような連続高速回転では、Ｘ線管の回転位置を非常に高精度で検出することが要求される。このためにレゾルバを採用したものが登場している。レゾルバは、ダイレクトドライブモータと同様に、ステータとロータとから構成され、ステータに９０°位相のずれた二相コイルを配置して、ロータと共に回転するコイルの電圧の位相により位置検出を行うことを原理として、具体的にはステータの二相コイルそれぞれに正弦波と余弦波で励磁電圧を与えると、ロータコイルの誘起電圧は回転位置θに応じて変動し、この回転位置θは励磁電圧と誘起電圧の位相差で与えられる。従って、３６０度に対する励磁電圧のゼロクロス点から誘起電圧のゼロクロス点までの間隔（実際にはクロックのカウンタ値）の比率が、（カウンタのクロック周波数）／励磁周波数に対する回転位置θの比率が相似になり、これを解くことで、回転位置θを絶対値で求めることができる。このレゾルバは、極数を多くすることで、比較的簡単にその精度を高くできるという特性をもっている。
【０００３】
このようにレゾルバは、回転位置を絶対値として求めることができ、しかも高精度を容易に獲得できるという優位性を持っている。
【０００４】
しかし、このようなレゾルバをＸ線コンピュータ断層撮影装置に採用するには、被検体が挿入される撮影領域に合わせて１０００ｍｍ程度の大口径で作成する必要があり、非常に大型化し、しかも非常に高価になってしまう。また、ロータコイル信号をスリップリングを介して取り出すようになっているため、故障時には架台解体が必要とされ、非常に手間や時間を要するものであった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置において、小型で、安価でしかもメンテナンス性の高い回転位置検出を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、固定枠と、この固定枠に対して回転可能に支持された略円形状の回転枠と、この回転枠に取り付けられたＸ線管と、このＸ線管から出射され被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、このＸ線検出器の出力と前記回転枠の回転による前記Ｘ線管の回転位置とに基づいて前記被検体の断層画像データを再構成するコンピュータ部とを有するＸ線コンピュータ断層撮影装置において、前記Ｘ線管の回転位置を検出する磁気抵抗式センサと、前記磁気抵抗式センサの出力波形に基づいて、前記回転枠の回転駆動制御に用いられる第１のパルス列を発生させるエンコーダで構成された第１のパルス生成回路と、前記磁気抵抗式センサの出力の周期を測定する周期測定回路を有し、前記測定した周期に従って、前記断層画像データの再構成に用いられる第２のパルス列を発生させる第２のパルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明によるＸ線コンピュータ断層撮影装置を好ましい実施形態により説明する。周知のとおり、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置には、Ｘ線管とＸ線検出器とが１体として被検体の周囲を回転する回転／回転（ROTATE/ROTATE ）世代、リング状にアレイされた多数の検出素子が固定され、Ｘ線管のみが被検体の周囲を回転する固定／回転（STATIONARY/ROTATE ）世代があり、それらのいずれの世代でも本発明を適用可能である。ここでは、現在、主流を占めている回転／回転世代を例に説明する。また、１枚の断層画像を再構成するには、被検体の周囲１周、約３６０度分の投影データが、またハーフスキャン法でも１８０度＋ビュー角（Ｘ線の拡散角）分の投影データが必要とされる。いずれの方式にも本発明を適用可能である。ここでは、一般的な前者の約３６０度分の投影データセットから１枚の断層画像データを再構成するものとして説明する。
【０００８】
まず、Ｘ線コンピュータ断層撮影装置の基本構成について説明する。Ｘ線コンピュータ断層撮影装置は、投影データを収集する大規模構造物のスキャン本体と、そのスキャン本体の制御や投影データを処理して断層画像データを再構成するといった役割が与えられているコンピュータシステムとに大きく分かれる。コンピュータシステムは、検出された投影データに対して、チャンネル間の感度不均一を補正する等の前処理を実行する前処理部、前処理部で補正された投影データに基づいて断層画像データを再構成する再構成プロセッサ、その断層画像データを表示するディスプレイ、その他、ユーザインストラクションを入力するための入力デバイスや架台部のスキャン動作を制御するスキャンコントローラ等を装備している。
【０００９】
図１には、架台部の一部を切り欠いてその架台部の内部構造を示している。図２には、架台図の側面略図を示し、図３には、架台図の正面略図を示している。さらに、図４には、図３のＡ−Ａ断面図を示している。１０は、略円環形状の回転枠であり、スタンド１２に略垂直に配置された固定枠１１に回転可能に支持されている。回転枠１０には永久磁石及び円環形状の磁性体のロータヨーク１７がその円周に沿って等間隔で取り付けられ、これと固定枠１１に取り付けられたコイル１８とにより、回転枠１０を直接的に回転駆動するダイレクトドライブモータ方式が採用されている。
【００１０】
上記回転枠１０には、例えばコーンビーム形でＸ線を曝射するタイプのＸ線管１３と、例えばマルチスライス形のＸ線検出器１４とが、寝台１６に載置された被検体Ｐを挟んで対向する位置関係で搭載されている。その他、回転枠１０には、Ｘ線検出器１４からの電流信号を電圧に変換するＩ−Ｖ変換器、この電圧信号を周期的に積分する積分器、この積分器の出力信号を増幅するアンプ、このプリアンプの出力信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル・コンバータ等からなるデータ収集システム（一般的にＤＡＳ(data acquisition system) と呼ばれている）を収納するボックス１５や、Ｘ線管１３への電力供給及び信号送受信のためのスリップリング機能が回転バランスをとって装備されている。
【００１１】
本実施形態では、小型で、安価でしかもメンテナンス性の高い回転位置検出を提供するために、磁気抵抗方式を採用している。この方式について以下に説明する。この磁気抵抗方式は、図５に示すように回転枠１０に直接的に取り付けられた磁性体の検出歯車２１と、検出面が検出歯車２１の歯先から所定距離Ｇを隔ててそれに対向する向きで固定枠１１に取り付けられた磁気抵抗式センサ２２とにより実現される。検出歯車２１は、大口径の歯先円直径を有し、その外周には、同一形状の歯２３が一定間隔のピッチで整然と形成されている。なお、検出歯車２１は回転枠１０と共に回転する部位であれば、寝台１６側に設けられていてもよい。また、検出歯車２１を固定枠１１に取付、磁気抵抗式センサ２２を回転枠１０に取り付けるようにしてもよい。
【００１２】
検出歯車２１の歯先形状は、インボリュートが望ましく、そのタイプとしては図６に示すように、はすば歯、やま歯、平歯、かさ歯のいずれでもよい。特に、はすば歯は、高周波磁束低減効果があり、センサ精度向上の観点から好適であるといえる。また検出歯車２１の側面には、図７（ａ）に示すように円周方向に沿って複数のスリット２６が形成されている。または、検出歯車２１の側面には、図７（ｂ）に示すように半径方向と平行に又はそれに対して若干傾斜させた向きで放射状に複数の溝２７が形成されている。検出歯車２１が回転枠１０に伴って回転すると、検出歯車２１の側面に形成されたスリット２６や溝２７により、架台内部の空気（流体）が流動される。これにより、ダイレクトドライブモータやＸ線管１３の冷却効果が期待できる。さらに、この冷却効果を向上させるために、図７（ｃ）、図７（ｃ）のＤ−Ｄ断面図である図７（ｄ）又は図７（ｅ）に示すように、複数のスリット２６の端面を回転軸に対して傾斜させるようにしてもよい。
【００１３】
この検出歯車２１が回転枠１０の回転に伴って回転するとき、その外周の凹凸によって、固定枠１１に取り付けられた磁気抵抗式センサ２２の付近で磁束密度が変動し、この変動により磁気抵抗式センサ２２の出力Ｖｏｕｔが変化するようになっている。なお、ダイレクトドライブモータのロータヨーク１７に取り付けられた永久磁石及びコイル１８に対して磁気抵抗式センサ２２を磁気的に遮蔽するために、コイル１８と磁気抵抗式センサ２２との間には磁気シールド板２７が配置されている。磁気シールド板２７は、回転枠１０に取り付けてもよいが、磁気抵抗式センサ２２とともに、固定枠１１に取り付けることが望ましい。
【００１４】
磁気抵抗式センサ２２は、図８及び図９に示すように、磁束密度が疎になると抵抗値が小さく（または大きく）なり、逆に磁束密度が密になると抵抗値が大きく（または小さく）なる性質を有する一対の磁気抵抗素子ＭＲ１，ＭＲ２を備えている。一対の磁気抵抗素子ＭＲ１，ＭＲ２は、検出歯車２１の移動方向、つまり回転軸に対して直交する方向に沿って並べられていて、その後方に磁気バイアスを与えるための永久磁石２４が配置されている。そして一対の磁気抵抗素子ＭＲ１，ＭＲ２は、直流電源Ｅと接地ＧＮＤとの間に直列に接続され、その中点Ｍからセンサ出力が引き出されるようになっている。
【００１５】
ここで、図１０に示すように、磁性体の歯（凸部）２３が磁気抵抗素子ＭＲ１，ＭＲ２に正対するとき、磁束密度は高くなり、その抵抗値は大きくなる。逆に、磁性体の歯溝（凹部）２８が磁気抵抗素子ＭＲ１，ＭＲ２に正対するとき、磁束密度は逆に低くなり、その抵抗値は小さくなる。検出歯車２１の歯２３が磁気抵抗素子ＭＲ１，ＭＲ２の直前を次々と通過するとき、抵抗値の変動に伴って、磁気抵抗素子ＭＲ１，２の中点Ｍの電位Ｖｏｕｔは変動する。具体的には、磁気抵抗素子ＭＲ１の抵抗をＲ１、もう一方の磁気抵抗素子ＭＲ２の抵抗をＲ２、直流電流をＥとするとき、中点Ｍの電位Ｖｏｕｔは、
Ｖｏｕｔ＝Ｅ×Ｒ２／（Ｒ１＋Ｒ２）
で与えられる。回転枠１０が回転し、図１０（ａ）に示すように歯２３が磁気抵抗素子ＭＲ１の近傍にくると、磁気抵抗素子ＭＲ１の抵抗値Ｒ１は小さくなりＲ１＜Ｒ２となる。さらに図１０（ｂ）に示すように歯２３が中点Ｍの真下にくると、両者の抵抗値Ｒ１，Ｒ２は等しくなり、そして図１０（ｃ）に示すように歯２３が磁気抵抗素子ＭＲ１を通過して磁気抵抗素子ＭＲ２の近傍にくると、磁気抵抗素子ＭＲ２の抵抗値Ｒ２は小さくなりＲ２＜Ｒ１となる。従って、歯２３の接近及び通過さらにその繰り返しにより、中点電位Ｖｏｕｔは略正弦波で変化する。この電位Ｖｏｕｔの時間変化から歯２３の通過を検知して、回転位置の変化を認識することができる。
【００１６】
この回転位置の検出精度は、基本的に検出歯車２１の歯２３の工作精度に依存するが、それ以外で重要なのは、センサ２２の出力波形の歪みである。さらに、後者のセンサ２２の出力波形の歪みは、主に、歯２３の歯先形状に依存して決まる。ここではセンサ２２の出力波形の歪みを低減させる歯先形状について考察する。図１１には、歯２３の寸法パラメータを示している。歯先形状は、歯幅ｒ／単一ピッチλで定義される。なお、詳細は後述するが、本実施形態では、センサ２２の出力波形のゼロクロス点を検出して、その点を基準にパルスを出力するようになっており、センサ２２の出力波形の歪みが小さくなれば、それに反比例して、理論上でのパルス幅と測定されたパルス幅との誤差の大きさ（以下、パルス精度と記す）が、向上するという関係にある。
【００１７】
そして、センサ２２の出力波形の歪を低減させるのに好適な歯先形状を得るために（歯幅ｒ／歯溝ｍ）を所定値よりも小さくするとともに、（歯幅ｒ／単一ピッチλ）を所定範囲に入るようにした。更に、この歯形形状でも必要なパルス精度を得るために検出歯車２１の歯先と磁気抵抗式センサ２２の検出面とのギャップも所定範囲に設定した。
【００１８】
このような条件で歯先を設計加工し、しかもギャップも所定範囲内に収めることで、パルス精度を、仕様を満たすまで高めることができた。
【００１９】
次に、磁気抵抗式センサ２２の出力波形に基づいてパルス列を出力するパルス発生回路について説明する。図１２には、磁気抵抗式センサ２２の出力波形の変動に応じてパルス列を出力するパルス発生回路の構成を示している。ここでは、検出歯車２１の歯２３の数は４３２個として説明する。磁気抵抗式センサ２２の出力は、エンコーダ（第１のパルス生成回路）３１と、パルス生成回路（第２のパルス生成回路）３２との２系統に分配される。前者のエンコーダ３１は、磁気抵抗式センサ２２の出力波形の波高値に基づいて、同じ周波数でパルスを発生するもので、従って、１回転あたり、４３２個のパルスが発生される。このエンコーダ３１は、磁気抵抗式センサ２２の出力からパルス出力までがほぼリアルタイムではあるが、パルス精度（回転位置測定精度）が波形歪みに対する依存性があるという特性を備えており、そのリアルタイム性を利用して、ダイレクトドライブモータへのフィードバック制御に用いることが有効である。
【００２０】
一方、後者のパルス生成回路３２は、エンコーダ３１とは異なり、パルス精度が波形歪みに対して依存性はない、つまりパルス精度が高いが、磁気抵抗式センサ２２の出力からパルス出力までに若干の時間遅れが生じるという特性を備えている。この特性は、画像の再構成に用いる際に有効である。
【００２１】
図１３には、パルス生成回路３２の構成を示し、図１４にはパルス生成回路３２の動作を説明するための波形図を示している。まず、磁気抵抗式センサ２２からの出力信号（Ｖｏｕｔ）は、個々の歯２３が磁気抵抗式センサ２２を通過するごとに周期的に変動する。つまり、１回転時間／歯数の逆数の周波数で、出力信号（Ｖｏｕｔ）が周期的に振幅する。出力信号の波形は、上述したように基本的には略正弦波形状である。出力信号は、まず、ゼロクロス点検出コンパレータ４１に取り込まれる。ゼロクロス点検出コンパレータ４１は、出力信号のゼロクロス点ＺＣを検出する。
【００２２】
そして、時間測定タイマー回路４２では、ゼロクロス点検出コンパレータ４１で検出された前回のゼロクロス点ＺＣから今回のゼロクロス点ＺＣまでの時間、つまり磁気抵抗式センサ２２からの出力信号の各周期を、クロック回路４６からの例えば１２ＭＨｚのクロックを最小単位として測定する。実際には、周期に含まれるクロックパルス数ＣＹとして測定される。この測定された磁気抵抗式センサ２２からの出力信号の周期情報は、測定時間除算回路４３で、予め設定された除数（４・ｎ）で除算される（ＣＹ／（４・ｎ））。なお、ｎは、磁気抵抗式センサ２２からの出力信号の周波数に対するパルス発生カウンタ回路４５の出力パルスの周波数の逓倍係数であり、この例ではｎ＝２５としている。この値は任意であり、オペレータにより自由に設定及び変更可能である。この除算結果（ＣＹ／（４・ｎ））は、遅延回路４４を経由してパルス発生カウンタ回路４５に送られる。遅延回路４４の遅延時間は、磁気抵抗式センサ２２からの信号出力から、パルス発生カウンタ回路４５からのパルス出力までの時間遅れを、所定時間、この例では２周期に固定化するために設けられている（少なくとも２周期前が望ましい）。
【００２３】
パルス発生カウンタ回路４５は、磁気抵抗式センサ２２からの出力信号の周波数のｎ倍の周波数のＡ相とＢ相の２相パルス（Ａ相パルスに対してＢ相パルスは、位相が９０°ずれている）を出力する。具体的には、図１５に示すように、パルス発生カウンタ回路４５では、除算結果（ＣＹ／（４・ｎ））に対して、クロック回路４６の現在のカウント値と１つ前のカウント値の差（Ｃn −Ｃn-1 ）が一致したとき、この場合、Ｂ相パルスを立ち下げる。次の期では、Ａ相パルスを立ち上げる。このように（ＣＹ／（４・ｎ））に応じて２相パルスを交互に立ち下げ／立ち上げる。このような動作をクロック回路４６のカウント値のインクリメントを維持したままで、（４・ｎ）回繰り返し、当該周期動作を終了する。このときクロック回路４６のカウント値をリセットして、次の周期でもその測定周期に基づいて同様の動作を行う。
【００２４】
このように磁気抵抗式センサ２２からの出力信号の周期を測定し、その周期を（４・ｎ）で除算した周期で、パルスを発生する、ここでは２相パルスのハイとローの状態を交互に切り替えることにより、検出歯車２１の工作精度が所望の精度に対して高い精度を得ることができていれば、非常に高精度で回転位置を測定することができる。この高精度のパルスは、再構成プロセッサにおいて、２周期前の投影データと対応付けられ、断層画像データの再構成に用いられる。
【００２５】
なお、この高精度パルスは、周期測定が必須とされる関係上、歯車２１の動きに対して、例えば２周期の遅れ時間が発生するが、ダイレクトドライブモータのトルク変動に対して、回転枠１０のイナーシャ（慣性）が非常に大きいので、２周期前と現在周期との差はゼロに近似的であるといえる。従って、それをリアルタイムなものとしてモータのフィードバック制御に用いるようにしても実質的には不具合は生じないといえる。
【００２６】
このようにパルス生成回路３２は、磁気抵抗式センサ２２からの出力信号の周期から回転位置を測定するので、たとえ磁気抵抗式センサ２２からの出力波形が歪んでいたとしても、その影響を殆ど受けることなく、非常に高精度で回転位置を検出することができる。
【００２７】
（変形例）
上述した磁気抵抗式センサ２２は、図１６に示すように、光学式センサ５０に置き換えることが可能である。光学式センサ５０は、検出歯車２１に光を照射する光源５２と、検出歯車２１からの反射光を受光し、その受光強度に応じた振幅の電気信号を出力する光検出器５１とからなる。この光学式センサ５０に歯２３が正対するとき、反射光の大部分が光検出器５１に入射し、一方、光学式センサ５０に歯溝２８が正対するとき、反射光はあまり光検出器５１に入射しない。このため回転枠１０に伴って検出歯車２１が光学式センサ５０の直前で回転するとき、光学式センサ５０の出力信号は、磁気抵抗式センサ２２の場合と同様に、個々の歯２３の接近、正対、そして通過に伴って振幅する。従って、この光学式センサ５０の出力信号をパルス発生回路で同様に処理することができる。
【００２８】
この場合、光学式センサ５０の出力信号の振幅を拡大して、パルス精度を向上するために、図１７に示すように、検出歯車２１の歯２３の表面を高反射材５３でコートして検出歯車２１の凸部を凹部よりも反射率が高くなるようにしたり、、また歯溝２７の底面と側面を低反射材５４でコートして検出歯車２１の凹部を凸部よりも反射率が低くなるようにしてもよい。もちろん、部位と反射率はこの組み合わせに限らず、凸部と凹部とで反射率が異なっていればよい。
【００２９】
さらに本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されてもよい。
【００３０】
【発明の効果】
本発明によれば、Ｘ線管の回転位置を検出するためのセンサを固定枠に設け、しかもそのセンサに磁気抵抗式を採用したことにより、検出する小型で、安価でしかもメンテナンス性の高い回転位置検出を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係るＸ線コンピュータ断層撮影装置の架台の内部構造を示す切り欠き図。
【図２】図１の架台の側面略図。
【図３】図１の架台の正面略図。
【図４】図３のＡ−Ａ断面図。
【図５】図１の検出歯車の取付位置を示す略図。
【図６】図１の検出歯車の歯車形状を示す略図。
【図７】図１の検出歯車の側面構造略図。
【図８】図１の磁気抵抗式センサの構造略図。
【図９】図８の磁気抵抗式センサの等価回路図。
【図１０】図８の磁気抵抗式センサが検出歯車の凹凸を検出する原理説明図。
【図１１】図１の検出歯車の歯先形状を示す図。
【図１２】図１の磁気抵抗式センサの出力を処理するパルス発生回路の構成図。
【図１３】図１２のパルス生成回路の構成図。
【図１４】図１２のパルス生成回路の動作説明図。
【図１５】図１４のパルス発生カウンタ出力波形の詳細図。
【図１６】本実施形態の変形例を示す図。
【図１７】本実施形態の他の変形例を示す図。
【符号の説明】
１０…回転枠、
１１…固定枠、
１２…スタンド、
１３…Ｘ線管、
１４…Ｘ線検出器、
１５…データ収集システム、
１６…寝台、
１７…ロータヨーク、
１８…コイル、
２１…検出歯車。
【図１】
0004686009.tif 000002
【図２】
0004686009.tif 000003
【図３】
0004686009.tif 000004
【図４】
0004686009.tif 000005
【図５】
0004686009.tif 000006
【図６】
0004686009.tif 000007
【図７】
0004686009.tif 000008
【図８】
0004686009.tif 000009
【図９】
0004686009.tif 000010
【図１０】
0004686009.tif 000011
【図１１】
0004686009.tif 000012
【図１２】
0004686009.tif 000013
【図１３】
0004686009.tif 000014
【図１４】
0004686009.tif 000015
【図１５】
0004686009.tif 000016
【図１６】
0004686009.tif 000017
【図１７】
0004686009.tif 000018