(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
一様な材質からなる一の記録層内に記録マークが形成されてなる光ディスクに対して、光源から出射された光を集光し照射する対物レンズと、
上記記録マークからの反射による戻り光を受光して検出信号を生成する検出信号生成部と、
上記検出信号から上記記録マークと上記光の焦点とのずれを表すサーボ制御信号を生成するサーボ制御信号生成部と、
上記検出信号の和光量が所定の検出閾値以上であるときの上記サーボ制御信号におけるピーク又は当該ピーク近傍を結んだ補正サーボ制御信号を生成するサーボ信号補正部と
を有し、
上記補正サーボ制御信号に基づきサーボ制御を行う
光ディスク装置。
【請求項２】
上記光ディスクに設けられ同心円状又は螺旋状の基準トラックが形成された基準層に照射するための基準光を出射する基準光源と、
上記対物レンズを駆動する駆動部と、
上記光の光軸方向に関し、上記対物レンズにより集光される上記基準光の焦点と上記光の焦点との距離を、上記光が照射されるべき目標位置に応じた距離だけ離隔させるよう、上記対物レンズへ入射される上記基準光及び上記光のうち少なくとも一方の球面収差を調整する球面収差調整部と、
上記対物レンズを上記光ディスクに近接させ又は離隔させるフォーカス制御を行うフォーカス制御部と
を有し、
上記フォーカス制御部は、
最初に基準光が基準層によって反射されてなる反射光の受光結果を基に上記基準光を上記基準層に合焦させる基準フォーカス制御を行い、その後上記戻り光の受光結果を基に上記光を上記マーク層に合焦させる情報フォーカス制御に切り換える
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記対物レンズを駆動する駆動部と、
上記補正サーボ制御信号に基づいて上記光が照射されるべき照射ライン上に上記光を照射するよう上記駆動部を制御する駆動制御部と
を有する請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記対物レンズを駆動する駆動部と、
上記サーボ制御信号に基づいて上記光が照射されるべき照射ライン上に上記光を照射するよう上記駆動部を制御するサーボ制御を実行すると共に、上記補正サーボ制御信号が基準レベルと交差するゼロクロスタイミングに応じて上記サーボ制御を開始する駆動制御部と
を有する請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記駆動制御部は、
上記サーボ制御信号が上記基準レベルになるようフィードバック制御を実行する
請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記駆動制御部は、
上記補正サーボ制御信号が上記基準レベルになるようフィードバック制御を実行する
請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記サーボ信号補正部は、
上記ピークを結んだ包絡線を上記補正サーボ制御信号として生成する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
上記サーボ制御信号は、
フォーカスエラー信号である
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
上記サーボ制御信号は、
トラッキングエラー信号である
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
一様な材質からなる一の記録層内に記録マークが形成されてなる光ディスクの上記記録マークからの反射による戻り光の受光量に応じた検出信号から上記記録マークと上記光の焦点とのずれを表すサーボ制御信号を生成するサーボ制御信号生成ステップと、
上記検出信号の和光量が所定の検出閾値以上であるときの上記サーボ制御信号におけるピーク又は当該ピーク近傍を結んだ補正サーボ制御信号を生成するサーボ信号補正ステップと、
上記補正サーボ制御信号に基づきサーボ制御を行うサーボ制御ステップと
を有する補正サーボ制御信号生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置及び補正サーボ制御信号生成方法に関し、例えば一様でなる記録層に記録マークが形成されてなる光ディスクから情報を再生する光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置においては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）等のように、信号記録層を有する従来型の光ディスクが広く普及している。この光ディスク装置では、信号記録層において光ビームが照射されるべき所望のトラック（以下、これを所望トラックと呼ぶ）に対して光ビームを照射し、その反射光を読み取ることにより情報を再生するようになされている。
【０００３】
この従来型の光ディスク装置では、信号記録層に対して光ビームを照射すると、当該光ビームが信号記録層によって反射されるため常に所定以上の光量で反射光を受光することができる。このため従来型の光ディスク装置では、反射光を基に光ビームの所望トラックからのズレ量を表す各種エラー信号（例えばフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号）を生成し、光ビームを所望の位置に照射するようサーボ制御を実行するようになされている。
【０００４】
またかかる従来型の光ディスク装置では、当該光ディスクの信号記録層に対して光ビームを照射し、当該信号記録層の局所的な反射率等を変化させることにより、情報の記録を行うようになされている。
【０００５】
この光ディスクについて、対物レンズ等により光ビームが集光された際に形成するビームスポットの大きさは、およそλ／ＮＡ（λ：光ビームの波長、ＮＡ：開口数）で与えられ、解像度もこの値に比例することが知られている。例えばＢＤ方式では、直径１２０［ｍｍ］の光ディスクに１層あたり約２５［ＧＢ］のデータを記録することができる。
【０００６】
ところで光ディスクには、音楽コンテンツや映像コンテンツ等の各種コンテンツ、或いはコンピュータ用の各種データ等のような種々の情報が記録されるようになされている。特に近年では、映像の高精細化や音楽の高音質化等により情報量が増大し、また１枚の光ディスクに記録するコンテンツ数の増加等が要求されており、当該光ディスクのさらなる大容量化が望まれている。
【０００７】
そこで光ディスク装置のなかには、例えばホログラムを利用して光ディスクの一様な記録層内に定在波を記録マークとして記録し、これを多層化することにより光ディスクの簡素化及び大容量化を図ったものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００８】
この光ディスク装置では、光ディスクにおいて記録マークの中心を結ぶ照射ライン上に光ビームを照射すると共に当該光ディスクによって反射されてなる反射光を受光する。そして光ディスク装置では、当該反射光を基に記録マークの有無を検出し、情報を再生するようになされている。
【特許文献１】特開２００８−７１４３３公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところでかかる構成の光ディスク装置に対応する光ディスクでは、記録層内が一様でなり信号記録層を有さない。このため光ディスク装置では、光ディスクに対して光ビームを照射しても、常に所定以上の光量を有する反射光を得ることができず、光ビームの照射ラインからのずれを表すサーボ制御信号を生成することができないという問題があった。
【００１０】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ビームの照射ラインからのずれを表す補正サーボ制御信号を生成し得る光ディスク装置及び補正サーボ制御信号生成方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
かかる課題を解決するため本発明の光ディスク装置においては、一様な材質からなる一の記録層内に記録マークが形成されてなる光ディスクに対して、光源から出射された光を集光し照射する対物レンズと、記録マークからの反射による戻り光を受光して検出信号を生成する検出信号生成部と、検出信号から記録マークと光の焦点とのずれを表すサーボ制御信号を生成するサーボ制御信号生成部と、検出信号の和光量が所定の検出閾値以上であるときのサーボ制御信号におけるピーク又は当該ピーク近傍を結んだ補正サーボ制御信号を生成するサーボ信号補正部とを設け、補正サーボ制御信号に基づきサーボ制御を行うようにした。
【００１２】
これにより光ディスク装置は、サーボ制御信号から戻り光の光量の変動を除去することができる。
【００１３】
また本発明の補正サーボ制御信号生成方法においては、一様な材質からなる一の記録層内に記録マークが形成されてなる光ディスクの記録マークからの反射による戻り光の受光量に応じた検出信号から記録マークと光の焦点とのずれを表すサーボ制御信号を生成するサーボ制御信号生成ステップと、検出信号の和光量が所定の検出閾値以上であるときのサーボ制御信号におけるピーク又は当該ピーク近傍を結んだ補正サーボ制御信号を生成するサーボ信号補正ステップと、補正サーボ制御信号に基づきサーボ制御を行うサーボ制御ステップとを設けるようにした。
【００１４】
これにより補正サーボ制御信号生成方法では、サーボ制御信号から戻り光の光量の変動を除去することができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、サーボ制御信号から戻り光の光量の変動を除去することができ、かくして光ビームの照射ラインからのずれを表す補正サーボ制御信号を生成し得る光ディスク装置及び補正サーボ制御信号生成方法を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１７】
（１）第１の実施の形態
（１−１）光ディスクに対する情報の記録再生原理
まず、第１の実施の形態における情報の記録及び再生に関する原理について説明する。第１の実施の形態では、光ディスク１００の記録層１０１に気泡でなる記録マークＲＭを形成するようになされている。
【００１８】
実際上光ディスク１００は、図１に外観図を示すように、全体として略円板状に構成され、中心にチャッキング用の孔１００Ｈが設けられている。
【００１９】
また光ディスク１００は、図２に断面図を示すように、情報を記録するための記録層１０１の両面を基板１０３及び１０４により挟んだような構成を有しており、さらに記録層１０１と基板１０３との間に基準層１０２が設けられている。
【００２０】
基準層１０２には、サーボ用の案内溝が形成されており、具体的には、一般的なＢＤ−Ｒ（Recordable）ディスク等と同様のランド及びグルーブにより螺旋状のトラック（以下、これを基準トラックと呼ぶ）ＴＲを形成している。
【００２１】
この基準トラックＴＳには、所定の記録単位ごとに一連の番号でなるアドレスが付されており、情報を記録又は再生する際にサーボ光ビームＬＳが照射されるべき基準トラック（以下、これを目標基準トラックＴＳＧと呼ぶ）を当該アドレスにより特定し得るようになされている。
【００２２】
なお基準層１０２（すなわち記録層１０１と基板１０３との境界面）には、案内溝に代えてピット等が形成され、或いは案内溝とピット等とが組み合わされていても良い。また基準層１０２のトラックは、螺旋状でなく同心円状であっても良い。
【００２３】
また基準層１０２は、例えば波長約４０５［ｎｍ］の青色光ビーム及び波長約６６０［ｎｍ］の赤色光ビームを高い反射率で反射するようになされている。
【００２４】
光ディスク装置２０は、光ディスク１００に対して波長約６６０［ｎｍ］でなるサーボ光ビームＬＳを照射する。このときサーボ光ビームＬＳは、光ディスク１００の基準層１０２により反射されサーボ反射光ビームＬＳｒとなる。
【００２５】
光ディスク装置２０は、サーボ反射光ビームＬＳｒを受光し、その受光結果を基に対物レンズ４０を光ディスク１００に近接又は離隔させるフォーカス方向へ位置制御することにより、サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳを基準層１０２に合わせるようになされている。
【００２６】
一方記録層１０１は、波長４０５［ｎｍ］でなる青色光ビームに反応するフォトポリマー等でなり、所定の光強度以上でなる情報光ビームＬＭに応じて気泡を形成するようになされている。
【００２７】
このとき光ディスク装置２０は、サーボ光ビームＬＳと情報光ビームＬＭとの光軸を互いに一致させている。これにより光ディスク装置２０は、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを、記録層１０１内における目標基準トラックＴＳＧに対応した箇所に、すなわち目標基準トラックＴＳＧを通り基準層１０２に垂直な法線上に位置させる。
【００２８】
以下、目標マーク層ＹＧにおける目標基準トラックＴＳＧと対応したトラックを目標トラックＴＧと呼び、また焦点ＦＭの位置を目標位置ＰＧと呼ぶ。この目標位置ＰＧは、記録マークＲＭの中心同士を結ぶ照射ライン上に存在することになる。
【００２９】
記録層１０１は、比較的強い強度でなる情報光ビームＬＭが当該記録層１０１内に照射されると、例えば気泡を形成することにより、焦点ＦＭの位置に記録マークＲＭを記録する。
【００３０】
因みに光ディスク装置２０は、記録すべき情報を符号「０」及び「１」の組み合わせでなる２値の記録データに符号化する。また光ディスク装置２０は、例えば当該記録データの符号「１」に対応して記録マークＲＭを形成すると共に、符号「０」に対応して当該記録マークＲＭを形成しないよう、情報光ビームＬＭを出射制御するようになされている。
【００３１】
さらに光ディスク装置２０は、光ディスク１００を回転駆動すると共に対物レンズ４０及び２２を半径方向へ適宜移動制御しながら情報光ビームＬＭの強度を変調させる。
【００３２】
この結果光ディスク１００の記録層１０１内には、複数の記録マークＲＭによる螺旋状のトラックが、基準層１０２に設けられたトラックと対応するよう順次形成される。
【００３３】
またこのようにして形成された記録マークＲＭは、光ディスク１００の第１面１００Ａ及び基準面１０２等の各面とほぼ平行な平面状に配置され、当該記録マークＲＭによる層（以下これをマーク層Ｙと呼ぶ）を形成する。
【００３４】
さらに光ディスク装置２０は、情報光ビームＬＭにおける焦点ＦＭの位置を光ディスク１００の厚さ方向に変化させることにより、記録層１０１内に複数のマーク層Ｙを形成することができる。例えば光ディスク装置２０は、光ディスク１００の一面１００Ａ側から所定の層間隔ごとにマーク層Ｙを順次形成するようになされている。
【００３５】
一方、光ディスク装置２０は、光ディスク１００から情報を再生する際、例えば第１面１００Ａ側から情報光ビームＬＭを集光する。ここで焦点ＦＭの位置（すなわち目標位置ＰＧ）に記録マークＲＭが形成されている場合、当該情報光ビームＬＭが記録マークＲＭによって反射され、当該記録マークＲＭから情報反射光ビームＬＭｒが出射される。
【００３６】
光ディスク装置２０は、情報反射光ビームＬＭｒの検出結果に応じた検出信号を生成し、当該検出信号を基に記録マークＲＭが形成されているか否かを検出する。
【００３７】
このとき光ディスク装置２０は、例えば記録マークＲＭが形成されていれば符号「１」に、当該記録マークＲＭが形成されていなければ符号「０」に割り当てることにより、記録されている情報を再生することができる。
【００３８】
このように第１の実施の形態では、光ディスク装置２０により光ディスク１００から情報を再生する場合、サーボ光ビームＬＳを併用しながら情報光ビームＬＭを目標位置ＰＧに照射することにより、所望の情報を再生するようになされている。
【００３９】
（１−２）光ディスク装置の構成
図３に示すように、光ディスク装置２０は、制御部２１を中心に構成されている。制御部２１は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ（Read Only Memory）と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ（Random Access Memory）とによって構成されている。
【００４０】
制御部２１は、光ディスク１００から情報を再生する場合、駆動制御部２２を介してスピンドルモータ２４を回転駆動させ、所定のターンテーブルに載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。
【００４１】
また制御部２１は、駆動制御部２２を介してスレッドモータ２５を駆動させることにより、光ピックアップ２６を移動軸２５Ａ及び２５Ｂに沿ってトラッキング方向、すなわち光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向へ大きく移動させるようになされている。
【００４２】
光ピックアップ２６は、対物レンズ４０等の複数の光学部品が取り付けられており、制御部２１の制御に基づいて光ディスク１００へサーボ光ビームＬＳ及び情報光ビームＬＭを照射し、サーボ反射光ビームＬＳｒ及び情報反射光ビームＬＭｒを検出するようになされている。
【００４３】
信号処理部２３は、検出信号に対し所定の演算処理、復調処理及び復号化処理等を施すことにより、目標マーク層ＹＧの目標トラックＴＧに記録マークＲＭとして記録されている情報を再生し得るようになされている。
【００４４】
また光ピックアップ２６の２軸アクチュエータ４０Ａは、検出信号から算出される補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈに基づいて対物レンズ４０のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、当該対物レンズ４０により集光されるサーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳ及び情報光ビームＬＭの焦点ＦＭの位置を調整するようになされている（詳しくは後述する）。
【００４５】
（１−３）光ピックアップの構成
次に、光ピックアップ２６の構成について説明する。この光ピックアップ２６では、図４に示すように、サーボ制御のためのサーボ光学系３０と、情報の再生又は記録のための情報光学系５０を有している。
【００４６】
（１−３−１）サーボ光ビームの光路
図５に示すように、サーボ光学系３０では、対物レンズ４０を介して波長約６６０[ｎｍ]でなるサーボ光ビームＬＳを光ディスク１００に照射すると共に、当該光ディスク１００に反射されてなるサーボ反射光ビームＬＳｒをフォトディテクタ４３で受光するようになされている。
【００４７】
実際上レーザダイオード３１は、制御部２１（図３）の制御に基づいて発散光でなる所定光量のサーボ光ビームＬＳを発射し、コリメータレンズ３３へ入射させる。コリメータレンズ３３は、サーボ光ビームＬＳを発散光から平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ３４へ入射させる。
【００４８】
偏光ビームスプリッタ３４は、反射透過面３４Ｓにおいて、光ビームの偏光方向によりＰ偏光でなるサーボ光ビームＬＳのほぼ全てを透過させ、１／４波長板３６へ入射させる。
【００４９】
１／４波長板３６は、サーボ光ビームＬＳを円偏光に変換し、ダイクロイックプリズム３７へ入射する。ダイクロイックプリズム３７は、透過反射面３７Ｓにおいて、光ビームの波長によりサーボ光ビームＬＳを反射して対物レンズ４０へ入射させる。
【００５０】
対物レンズ４０は、サーボ光ビームＬＳを集光し、光ディスク１００の基準層１０２へ向けて照射する。このときサーボ光ビームＬＳは、図２に示したように、基板１０４を透過し基準層１０２において反射され、サーボ光ビームＬＳと反対方向へ向かうサーボ反射光ビームＬＳｒとなる。
【００５１】
この後、サーボ反射光ビームＬＳｒは、対物レンズ４０によって平行光に変換された後、ダイクロイックプリズム３７へ入射される。ダイクロイックプリズム３７は、サーボ反射光ビームＬＳｒを反射し、これを１／４波長板３６へ入射させる。
【００５２】
１／４波長板３６は、円偏光でなるサーボ反射光ビームＬＳｒをＳ偏光に変換し、偏光ビームスプリッタ３４へ入射させる。偏光ビームスプリッタ３４は、Ｓ偏光でなるサーボ反射光ビームＬＳｒをその偏光方向により反射させ、集光レンズ４１へ入射させる。
【００５３】
集光レンズ４１は、サーボ反射光ビームＬＳｒを収束させ、シリンドリカルレンズ４２により非点収差を持たせた上で当該サーボ反射光ビームＬＳｒをフォトディテクタ４３へ照射する。
【００５４】
ところで光ディスク装置２０では、回転する光ディスク１００における面ブレ等が発生する可能性があるため、対物レンズ４０に対する目標基準トラックＴＳＧの相対的な位置が変動する可能性がある。
【００５５】
このため、サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳ（図２）を目標トラックに追従させるには、当該焦点ＦＳを光ディスク１００に対する近接方向又は離隔方向であるフォーカス方向及び光ディスク１００の内周側方向又は外周側方向であるトラッキング方向へ移動させる必要がある。
【００５６】
そこで対物レンズ４０は、２軸アクチュエータ４０Ａにより、フォーカス方向及びトラッキング方向の２軸方向へ駆動され得るようになされている。
【００５７】
またサーボ光学系３０（図４）では、対物レンズ４０によりサーボ光ビームＬＳが集光され光ディスク１００の基準層１０２へ照射されるときの合焦状態が、集光レンズ４１によりサーボ反射光ビームＬＳｒが集光されフォトディテクタ４３に照射されるときの合焦状態に反映されるよう、各種光学部品の光学的位置が調整されている。
【００５８】
フォトディテクタ４３は、図６に示すように、サーボ反射光ビームＬＳｒが照射される面上に、格子状に分割された４つの検出領域４３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃ及び４３Ｄを有している。因みに矢印ａ１により示される方向（図中の縦方向）は、サーボ光ビームＬＳが基準層１０２（図２）に照射されるときの、トラックの走行方向に対応している。
【００５９】
フォトディテクタ４３は、検出領域４３Ａ、４３Ｂ、４３Ｃ及び４３Ｄによりサーボ反射光ビームＬＳｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じてサーボ検出信号ＵＳａ、ＵＳｂ、ＵＳｃ及びＵＳｄ（以下、これらをまとめてサーボ検出信号ＵＳと呼ぶ）をそれぞれ生成して、これらを信号処理部２３（図３）へ送出するようになされている。
【００６０】
このようにサーボ光学系３０では、サーボ光ビームＬＳを光ディスク１００の基準層１０２へ照射すると共に、サーボ反射光ビームＬＳＲを検出してサーボ検出信号ＵＳを生成し、これらを信号処理部２３へ供給するようになされている。
【００６１】
（１−３−２）情報光ビームの光路
一方情報光学系５０では、図４と対応する図７に示すように、対物レンズ４０を介してレーザダイオード５１から出射した情報光ビームＬＭを光ディスク１００に照射すると共に、当該光ディスク１００に反射されてなる情報反射光ビームＬＭｒをフォトディテクタ６３で受光するようになされている。
【００６２】
すなわちレーザダイオード５１は、波長約４０５[ｎｍ]の青色レーザ光を出射し得るようになされている。実際上レーザダイオード５１は、制御部２１（図４）の制御に基づいて発散光でなる所定光量の情報光ビームＬＭを発射し、コリメータレンズ５２へ入射させる。コリメータレンズ５２は、情報光ビームＬＭを発散光から平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ５４へ入射させる。
【００６３】
偏光ビームスプリッタ５４は、反射透過面５４Ｓにおいて、光ビームの偏光方向によりＰ偏光でなる情報光ビームＬＭを透過させ、球面収差などを補正するＬＣＰ（Liquid  Crystal  Panel）５６を介して１／４波長板５７へ入射させる。１／４波長板５７は、情報光ビームＬＭをＰ偏光から円偏光に変換してリレーレンズ５８へ入射させる。
【００６４】
リレーレンズ５８は、可動レンズ５８Ａにより情報光ビームＬＭを平行光から収束光に変換し、収束後に発散光となった当該情報光ビームＬＭの収束又は発散の度合い（以下、これを収束状態と呼ぶ）を固定レンズ５８Ｂにより調整し、ミラー５９へ入射させる。
【００６５】
ここで可動レンズ５８Ａは、アクチュエータ５８Ａａにより情報光ビームＬＭの光軸方向に移動されるようになされている。実際上、リレーレンズ５８は、駆動制御部２２（図２）の制御に基づきアクチュエータ５８Ａａによって可動レンズ５８Ａを移動させることにより、固定レンズ５８Ｂから出射される情報光ビームＬＭの収束状態を変化させ得るようになされている。
【００６６】
ミラー５９は、情報光ビームＬＭを反射することによりその進行方向を偏向させ、ダイクロイックプリズム３７へ入射する。ダイクロイックプリズム３７は、反射透過面３７Ｓにより当該情報光ビームＬＭを透過させ、これを対物レンズ４０へ入射する。
【００６７】
対物レンズ４０は、情報光ビームＬＭを集光し、光ディスク１００へ照射する。このとき情報光ビームＬＭは、図２に示したように、基板１０４を透過し、記録層１０１内に合焦する。
【００６８】
ここで当該情報光ビームＬＭの焦点ＦＭの位置は、リレーレンズ５８の固定レンズ５８Ｂから出射される際の収束状態により定められることになる。すなわち焦点ＦＭは、可動レンズ５８Ａの位置に応じて記録層１０１内をフォーカス方向に移動することになる。
【００６９】
実際上、情報光学系５０は、駆動制御部２２（図３）により可動レンズ５８Ａの位置が制御されることにより、光ディスク１００の記録層１０１内における情報光ビームＬＭの焦点ＦＭ（図２）の深さｄ（すなわち基準層１０２からの距離）を調整し、目標位置ＰＧに焦点ＦＭを合致させるようになされている。
【００７０】
このように情報光学系５０は、サーボ光学系３０によるサーボ制御された対物レンズ４０を介して情報光ビームＬＭを照射することにより、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭのトラッキング方向を目標位置ＰＧに合致させ、さらにリレーレンズ５８における可動レンズ５８Ａの位置に応じて当該焦点ＦＭの深さｄ（図２）を調整することにより、焦点ＦＭのフォーカス方向を目標位置ＰＧに合致させるようになされている。
【００７１】
そして情報光ビームＬＭは、光ディスク１００に対して情報を記録する記録処理の際、対物レンズ４０によって焦点ＦＭに集光され、当該焦点ＦＭに記録マークＲＭを形成する。
【００７２】
一方情報光ビームＬＭは、光ディスク１００に記録された情報を読み出す再生処理の際、目標位置ＰＧ近傍に記録マークＲＭが記録されていた場合には、焦点ＦＭに集光した情報光ビームＬＭが当該記録マークＲＭによって情報反射光ビームＬＭｒとして反射され、対物レンズ４０へ入射される。
【００７３】
他方情報光ビームＬＭは、焦点ＦＭに記録マークＲＭが記録されていない場合には、焦点ＦＭに収束した後に再び発散し、基準層１０２によって反射され、情報反射光ビームＬＭｒとして対物レンズ４０へ入射される。
【００７４】
対物レンズ４０は、情報反射光ビームＬＭｒをある程度収束させ、ダイクロイックプリズム３７へ入射する。ダイクロイックプリズム３７は、情報反射光ビームＬＭｒを透過させ、ミラー５９へ入射する。ミラー５９は、情報反射光ビームＬＭｒを反射することによりその進行方向を偏向させ、リレーレンズ５８へ入射する。
【００７５】
リレーレンズ５８は、情報反射光ビームＬＭｒを平行光に変換し、１／４波長板５７へ入射する。１／４波長板５２は、円偏光でなる情報反射光ビームＬＭｒをＳ偏光に変換し、ＬＣＰ５６を介して偏光ビームスプリッタ５４に入射する。
【００７６】
偏光ビームスプリッタ５４は、Ｓ偏光でなる情報反射光ビームＬＭｒを偏光面５４Ｓによって反射し、集光レンズ６０へ入射させる。集光レンズ６０は、情報反射光ビームＬＭｒを集光し、シリンドリカルレンズ６１に入射させる。シリンドリカルレンズ６１は、情報反射光ビームＬＭｒに非点収差を付加させた上で、ピンホール板６２を介してフォトディテクタ６３へ照射させる。
【００７７】
ここで図８に示すように、ピンホール板６２は、集光レンズ６０（図７）により集光される情報反射光ビームＬＭｒの焦点を孔部６２Ｈ内に位置させるよう配置されているため、当該情報反射光ビームＬＭｒをそのまま通過させることになる。
【００７８】
一方図８に示すように、ピンホール板６２は、例えば光ディスク１００における基板１０２の表面や、目標位置ＰＧとは異なる位置に存在する記録マークＲＭ、基準層１０２などから反射されるような焦点の異なる光（以下、これを迷光ＬＮと呼ぶ）をほぼ遮断することになる。この結果、フォトディテクタ６３は、迷光ＬＮの光量を殆ど検出することがない。
【００７９】
この結果、フォトディテクタ６３は、迷光ＬＮの影響を受けることなく、情報反射光ビームＬＭｒの光量に応じた情報検出信号ＵＭを生成し、これを信号処理部２３（図６）へ供給するようになされている。
【００８０】
ここでフォトディテクタ６３は、図９に示すように、サーボ反射光ビームＬＳｒが照射される面上に、格子状に分割された４つの検出領域６３Ａ、６３Ｂ、６３Ｃ及び６３Ｄを有している。因みに矢印ａ２により示される方向（図中の縦方向）は、情報光ビームＬＭが記録層１０１に照射されるときの、トラックの走行方向に対応している。
【００８１】
フォトディテクタ６３は、検出領域６３Ａ、６３Ｂ、６３Ｃ及び６３Ｄにより情報反射光ビームＬＭｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて情報検出信号ＵＭ（ＵＭａ、ＵＭｂ、ＵＭｃ及びＵＭｄ）をそれぞれ生成して、これらを信号処理部２３（図３）へ送出する。
【００８２】
このように情報光学系５０は、光ディスク１００から対物レンズ４０へ入射される情報反射光ビームＬＭｒを受光し、その受光結果を信号処理部２３へ供給するようになされている。
【００８３】
（１−４）フォーカス制御及びトラッキング制御
次に、光ディスク装置２０におけるフォーカス制御及びトラッキング制御について説明する。ここで光ディスク装置２０では、光ディスク１００自体の反りやいわゆる面ブレ等により、当該光ディスク装置２０に対し光ディスク１００が傾く場合がある。
【００８４】
例えば図１０に示すように、光ディスク１００に対する法線ＸＤが光軸Ｌｘに対して角度θだけ傾いていた場合、光軸Ｌｘ上での基準層１０２と目標マーク層ＹＧとの間隔が焦点ＦＳと焦点ＦＭとの距離ＤＧから（１／ｃｏｓθ）倍されてしまい、当該距離ＤＧと相違することになってしまう。
【００８５】
この場合、基準光ビームＬＳを光ディスク１００の基準層１０２に合焦させていたとしても、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを目標マーク層ＹＧに合わせることができず、当該目標マーク層ＹＧの情報を読み取ることができない。
【００８６】
すなわち光ディスク装置２０は、光ディスク１００が傾斜した場合、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを目標マーク層ＹＧに合わせるといった本来のフォーカス制御を正しく行うことができず、情報の再生精度を大幅に低下させてしまう恐れがある。
【００８７】
そこで光ディスク装置２０では、まず光ディスク１００の基準層１０２を利用して基準フォーカス制御を行い、光ディスク１００の目標マーク層ＹＧを利用した情報フォーカス制御に徐々に切り換えていくようになされている。
【００８８】
（１−４−１）フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の生成
信号処理部２３は、光ピックアップ２６から供給されるサーボ検出信号ＵＳ及び情報検出信号ＵＭのそれぞれについて、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を算出するようになされている。
【００８９】
すなわち信号処理部２３は、非点収差法により次に示す（１）式に従ってサーボ検出信号ＵＳ（ＵＳａ〜ＵＳｄ）を基にフォーカスエラー信号ＳＦＥｓを算出し、これを駆動制御部２２へ供給する。
【００９０】
【数１】
0004662186.tif 000002
【００９１】
このフォーカスエラー信号ＳＦＥｓは、サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳ（図４）と光ディスク１００の基準層１０２とのフォーカス方向に関するずれ量を表すことになる。
【００９２】
また信号処理部２３は、プッシュプル法により次に示す（２）式に従ってサーボ検出信号ＵＳを基にトラッキングエラー信号ＳＴＥｓを算出し、これを駆動制御部２２へ供給する。
【００９３】
【数２】
0004662186.tif 000003
【００９４】
このトラッキングエラー信号ＳＴＥｓは、サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳ（図４）と光ディスク１００の基準層１０２における目標基準トラックＴＳＧとのトラッキング方向に関するずれ量を表すことになる。
【００９５】
さらに信号処理部２３は、次に示す（３）式に従い基準層１０２における目標基準トラックＴＳＧから再生ＲＦ信号ＳＲＦｓを順次生成する。
【００９６】
【数３】
0004662186.tif 000004
【００９７】
この再生ＲＦ信号ＳＲＦｓには、基準層１０２の各トラックに付与されたアドレス情報等が含まれている。
【００９８】
さらに信号処理部２３は、次に示す（５）式に従って情報検出信号ＵＭ（ＵＭａ〜ＵＭｄ）を基に情報反射光ビームＬＭｒの和光量を表すプルイン信号ＳＰＩを算出する。
【００９９】
【数４】
0004662186.tif 000005
【０１００】
さらに信号処理部２３は、非点収差法により次に示す（５）式に従って情報検出信号ＵＭ（ＵＭａ〜ＵＭｄ）を基にフォーカスエラー信号ＳＦＥｍを算出する。
【０１０１】
【数５】
0004662186.tif 000006
【０１０２】
さらに信号処理部２３は、プッシュプル法により次に示す（６）式に従って情報検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄを基にトラッキングエラー信号ＳＴＥｍを算出する。
【０１０３】
【数６】
0004662186.tif 000007
【０１０４】
ここで光ディスク１００では、従来型の光ディスクのように信号記録層を有しておらず、目標トラックＴＲＧには情報に応じた記録マークＲＭのみが形成されている。このため光ディスク装置２０は、目標位置ＰＧに記録マークＲＭが存在しない場合には、情報反射光ビームＬＭｒを殆ど得ることができない。このため図１１に示すように、信号処理部２３は、記録マークＲＭの有無に応じて信号レベルが変動する櫛形のプルイン信号ＳＰＩ及びフォーカスエラー信号ＳＦＥｍを生成することになる。なおプルイン信号ＳＰＩ及びフォーカスエラー信号ＳＦＥｍがこのような櫛形となるのは、光ディスク１００の偏心によるものと考えられる。
【０１０５】
因みに図１１では、対物レンズ４０をフォーカス方向に移動させるフォーカスサーチ等の際に得られるプルイン信号ＳＰＩ及びフォーカスエラー信号ＳＦＥｍ（いわゆるＳ字信号）を示している。なおプルイン信号ＳＰＩの極性が図１４とは反対になっている。また図示していないが、Ｓ字信号の始端から終端までは約０．５秒間程度である。
【０１０６】
すなわち（５）式に従って算出されたフォーカスエラー信号ＳＦＥｍは、情報反射光ビームＬＭｒの光量が十分であった場合には情報光ビームＬＭと目標位置ＰＧ（すなわち記録マークＲＭ）とのずれ量を表すことができる。一方フォーカスエラー信号ＳＦＥｍは、情報反射光ビームＬＭｒが殆ど得られなかった場合には、信号レベルがほぼ基準レベルＳＬとなるため、情報光ビームＬＭと目標位置ＰＧとのずれ量を正確に表していないことになる。
【０１０７】
ここで光ディスク装置２０は、記録マークＲＭの有無に拘わらず記録マークＲＭの中心同士を結ぶ照射ラインを目標位置ＰＧとし、当該照射ラインに沿って情報光ビームＬＭを照射することにより、当該照射ライン上における記録マークＲＭの有無を検出する。
【０１０８】
そこで光ディスク装置２０では、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍを補正することにより、情報光ビームＬＭと照射ラインとのずれ量を表す補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成するようになされている。
【０１０９】
具体的に図１２に示すように光ディスク装置２０の信号処理部２３は、プルイン信号ＳＰＩ（図１２（Ａ））を監視し、時点ｔ１において当該プルイン信号ＳＰＩが所定の検出閾値ＡＩ以上となるとピーク検出信号ＳＰＲ（図１２（Ｂ））を「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。一方信号処理部２３は、プルイン信号ＳＰＩが検出閾値ＡＩ未満となると、ピーク検出信号ＳＰＲを「Ｈｉｇｈ」レベルから「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げる。
【０１１０】
なおこの検出閾値ＡＩは、情報光ビームＬＭが記録マークＲＭに合焦するときに得られると想定されるプルイン信号ＳＰＩの信号レベルの例えば１／３程度に設定される。
【０１１１】
信号処理部２３は、ピーク検出信号ＳＰＲが「Ｈｉｇｈ」レベルの間、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍ（図１２（Ｃ））を監視し、当該フォーカスエラー信号ＳＦＥｍからピーク（すなわち極大値）を検出する。さらに信号処理部２３は、検出された極大値同士を結ぶことにより補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ（図１２（Ｄ））を生成する。すなわち信号処理部２３は、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍのピーク群が接線を共有する包絡線を補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈとして生成する。
【０１１２】
この補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈは、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭ（図２）と光ディスク１００の照射ラインとのフォーカス方向に関するずれ量をほぼ正確に表すことになる。
【０１１３】
また信号処理部２３は、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍと同様に櫛形のトラッキングエラー信号ＳＴＥｍ（図１２（Ｅ））を生成することになる。このトラッキングエラー信号ＳＴＥｍも同様に情報光ビームＬＭと照射ラインとのずれ量を正確に表していないことになる。
【０１１４】
光ディスク装置２０では、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍと同様にしてトラッキングエラー信号ＳＴＥｍを補正することにより、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成するようになされている。
【０１１５】
具体的に光ディスク装置２０の信号処理部２３は、時点ｔ１からピーク検出信号ＳＰＲが「Ｈｉｇｈ」レベルの間、トラッキングエラー信号ＳＴＥｍからピーク（極大値及び極小値）を検出する。さらに信号処理部２３は、当該ピーク同士を結ぶことにより補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成する。すなわち信号処理部２３は、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍと同様、トラッキングエラー信号ＳＴＥｍの包絡線を補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈとして生成する。
【０１１６】
このトラッキングエラー信号ＳＴＥｍは、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭ（図２）と光ディスク１００の照射ラインとのトラッキング方向に関するずれ量を表すことになる。因みに図１３に、実際に生成された補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを示している。この図１３では、便宜上、本実施の形態とは異なりピークを検出しないときの補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈの信号レベルを任意の信号レベルに保持した場合について示している。
【０１１７】
このように光ディスク装置２０は、信号処理部２３により、サーボ検出信号ＵＳを基にフォーカスエラー信号ＳＦＥｓ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥｓ等を算出すると共に、情報検出信号ＵＭを基に補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを算出するようになされている。
【０１１８】
（１−４−２）基準層を利用したフォーカス制御
光ディスク装置２０は、まずサーボ検出信号ＵＳに基づいたフォーカスエラー信号ＳＦＥｓを基に、フォーカス制御を行うようになされている。
【０１１９】
実際上、駆動制御部２２は、次に示す（７）式に従い、サーボ検出信号ＵＳに基づいたフォーカスエラー信号ＳＦＥｓと情報検出信号ＵＭに基づいた補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈとにそれぞれゲインＧ１及びＧ２を乗じ、合成フォーカスエラー信号ＳＦＥＣを算出する。
【０１２０】
【数７】
0004662186.tif 000008
【０１２１】
ここでゲインＧ１及びＧ２は、次に示す（８）式を満たすような値となっている。すなわち（７）式では、ゲインＧ１及びＧ２に応じた比率でフォーカスエラー信号ＳＦＥｓ及び補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈの混合比率を調整し得るようになされている。
【０１２２】
【数８】
0004662186.tif 000009
【０１２３】
駆動制御部２２は、この時点では（７）式におけるゲインＧ１を値「１」としゲインＧ２を値「０」とすることにより、フォーカスエラー信号ＳＦＥｓのみを基にフォーカス制御を行うようになされている。
【０１２４】
駆動制御部２２は、合成フォーカスエラー信号ＳＦＥＣに対し所定のフィルタ処理や増幅処理等を施すことによりフォーカス駆動信号ＳＦＤを生成し、これを光ピックアップ２６の２軸アクチュエータ４０Ａへ供給する。これに応じて２軸アクチュエータ４０Ａは、対物レンズ４０をフォーカス方向へ駆動する。
【０１２５】
このとき光ディスク装置２０では、一連の処理を繰り返すフィードバック処理によってフォーカス制御を行うことにより、合成フォーカスエラー信号ＳＦＥＣを値「０」に収束させていき、最終的にサーボ光ビームＬＳを光ディスク１００の基準層１０２に合焦させるようになされている（以下、これを基準フォーカス制御と呼ぶ）。
【０１２６】
（１−４−３）目標マーク層を利用したトラッキング制御
次に光ディスク装置２０は、情報検出信号ＵＭに基づいた補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを基に、トラッキング制御を行うようになされている。
【０１２７】
因みに、このとき光ディスク装置がフォーカス制御の次にトラッキング制御を行うのは、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈの算出原理上、情報光ビームＬＭがある程度目標マーク層ＹＧに合焦した状態となっていなければ、当該補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈが適切な値とならないためである。
【０１２８】
駆動制御部２２は、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈに対し所定のフィルタ処理や増幅処理等を施すことによりトラッキング駆動信号ＳＴＤを生成し、これを光ピックアップ２６の２軸アクチュエータ４０Ａへ供給する。これに応じて２軸アクチュエータ４０Ａは、対物レンズ４０をトラッキング方向へ駆動する。
【０１２９】
このとき光ディスク装置２０では、フォーカス制御の場合と同様、一連の処理を繰り返すフィードバック処理によってトラッキング制御を行うことにより、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを値「０」に収束させていき、最終的に情報光ビームＬＭを目標マーク層ＹＧの目標位置ＰＧに追従させるようになされている。
【０１３０】
（１−４−４）目標マーク層を利用したフォーカス制御
ところで光ディスク装置２０では、制御部２１によって上述したリレーレンズ５８の可動レンズ５８Ａを制御することにより、サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳ（図２）と情報光ビームＬＭの焦点ＦＭとの距離を調整するようになされている。
【０１３１】
ここで制御部２１は、可動レンズ５８Ａの設定位置と光ディスク１００における各マーク層Ｙとを対応付けたリレーレンズ制御テーブルをＲＯＭ（図示せず）に保持している。
【０１３２】
実際上制御部２１は、光ディスク１００のいずれのマーク層Ｙが目標マーク層ＹＧであるかに応じて、当該リレーレンズ制御テーブルに従って可動レンズ５８Ａの設定位置を読み出し、可動レンズ５８Ａを当該設定位置に合わせるようリレーレンズ５８を制御するようになされている。
【０１３３】
しかしながら実際の光ディスク１００では、図１０を用いて説明した面ブレの発生等により、リレーレンズ５８を制御すると共にサーボ光ビームＬＳを基準層１０２に合焦させたとしても、情報光ビームＬＭを目標マーク層ＹＧに合焦させ得ない可能性もある。
【０１３４】
そこで光ディスク装置２０は、サーボ検出信号ＵＳに基づいたフォーカス制御から、情報検出信号ＵＭに基づいたフォーカス制御に切り換えるようになされている。
【０１３５】
具体的に駆動制御部２２は、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを監視し、当該補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈがある程度収束し、いわゆるトラッキングサーボがかかった状態となるまで待機する。
【０１３６】
実際上補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈは、未だトラッキング制御し得ない段階、すなわち情報光ビームＬＭを目標マーク層ＹＧにおける所望のトラックに追従させ得ない段階では、例えば図１４（Ａ）に波形図を示すように、比較的大きな振幅ｗ１となる。
【０１３７】
一方補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈの波形は、トラッキング制御し得る段階、すなわち情報光ビームＬＭを目標マーク層ＹＧにおける所望のトラックに追従させ得る段階では、図１４（Ｂ）に波形図を示すように、比較的小さな振幅ｗ２となる。
【０１３８】
そこで駆動制御部２２は、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈの振幅値を所定の閾値と比較し、当該閾値未満となったことを検出した段階でトラッキングサーボがかかったものと判断する。
【０１３９】
このとき駆動制御部２２は、図１５（Ａ）に示すように、（７）式を満たす範囲で、ゲインＧ１を徐々に減少させると共に、ゲインＧ２を徐々に増加させていき、最終的にゲインＧ１を値「０」としゲインＧ２を値「１」とする。
【０１４０】
この結果、駆動制御部２２は、時間ｔｅの経過後には補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈのみを基にフォーカス制御を行うことになる（以下、これを情報フォーカス制御と呼ぶ）。すなわち光ディスク装置２０Ｘは、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈがゼロになるようにフィードバック制御を実行する。
【０１４１】
因みに駆動制御部２２は、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭが目標マーク層ＹＧの目標位置ＰＧから大きく外れ、いわゆるフォーカスサーボが外れた状態となり、フォーカス制御及びトラッキング制御の継続が困難となった場合には、上述した基準フォーカス制御に戻って一連の処理を繰り返すようになされている。
【０１４２】
このとき駆動制御部２２は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈの絶対値が所定の閾値よりも大きくなった場合に、フォーカスサーボが外れた状態にあることを検出するようになされている。
【０１４３】
このように駆動制御部２２は、まず光ディスク１００の基準層１０２を利用して基準フォーカス制御を行い、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈがある程度収束した段階で、光ディスク１００の目標マーク層ＹＧを利用した情報フォーカス制御に徐々に切り換えていくようになされている。
【０１４４】
（１−５）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置２０は、一様でなる記録層１０１に記録マークＲＭが形成されてなる光ディスク１００に対して、対物レンズ４０を介して光源であるレーザダイオード３１から出射された光としての情報光ビームＬＭを集光し照射する。
【０１４５】
光ディスク装置２０は、記録マークＲＭによる戻り光としての情報反射光ビームＬＭｒを受光して検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄを生成し、当該検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄから記録マークＲＭと情報光ビームＬＭの焦点ＦＭとのずれを表すサーボ制御信号としてのフォーカスエラー信号ＳＦＥｍを生成する。
【０１４６】
そして光ディスク装置２０は、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍにおける記録マークＲＭに応じたピークを結ぶことにより情報光ビームＬＭが照射されるべき照射ラインと情報光ビームＬＭの焦点ＦＭとのずれを表す補正サーボ制御信号としての補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成する。
【０１４７】
これにより光ディスク装置２０は、信号記録層を有する光ディスクに対応する従来型の光ディスク装置が生成するフォーカスエラー信号と同様の補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成することができる。このため光ディスク装置２０では、従来型の光ディスク装置と同様にして当該補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを用いた各種処理を実行することができる。
【０１４８】
また光ディスク装置２０は、光ディスク１００に設けられ螺旋状の基準トラックＴＳが形成された基準層１０２に照射するための基準光としてのサーボ光ビームＬＳを基準光源としてのレーザダイオード５１から出射する。
【０１４９】
光ディスク装置２０は、情報光ビームＬＭの光軸方向に関し、対物レンズ４０により集光されるサーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳと情報光ビームＬＭの焦点ＦＭとの距離を、情報光ビームＬＭが照射されるべき目標位置ＰＧに応じた距離だけ離隔させるよう、対物レンズ４０へ入射される情報光ビームＬＭの球面収差を調整する。
【０１５０】
光ディスク装置２０は、対物レンズ４０を光ディスク１００に近接させ又は離隔させるフォーカス制御を行う際、最初に基準反射光であるサーボ反射光ビームＬＳｒの受光結果を基にサーボ光ビームＬＳを基準層１０２に合焦させる基準フォーカス制御を行い、その後情報反射光ビームＬＭｒの受光結果を基に情報光ビームＬＭをマーク層に合焦させる情報フォーカス制御に切り換える。
【０１５１】
従って光ディスク装置２０は、最終的に情報フォーカス制御を行うことができるので、目標マーク層ＹＧに対し情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを高精度に合わせることができる。
【０１５２】
このとき光ディスク装置２０は、まず正しい値を検出し得る可能性が極めて高い基準フォーカス制御を行ってサーボ光ビームＬＳを基準層１０２に合焦させ、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを目標マーク層ＹＧへおおよそ合わせた上で、情報フォーカス制御に切り換える。
【０１５３】
このため光ディスク装置２０は、当初より情報フォーカス制御のみを行う場合に生じ得る、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを目標マーク層ＹＧの近傍に位置させることができずフォーカスエラー信号ＳＦＥｍを正常に取得できない、といった問題が発生することを未然に防止できる。この結果光ディスク装置２０は、当該情報フォーカス制御をほぼ確実に行うことができる。
【０１５４】
さらに光ディスク装置２０は、検出信号ＵＭの和光量を表すプルイン信号ＳＰＩが所定の検出閾値ＡＩ以上であるときのフォーカスエラー信号ＳＦＥｍにおけるピークを結ぶことにより補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｍを生成する。
【０１５５】
これにより光ディスク装置２０は、情報反射光ビームＬＭｒが所定以上得られた場合のピークのみを選択することができるため、ノイズによるピークを排除することができ、情報光ビームＬＭと照射ラインとのずれを高い精度で表し得る補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成することができる。
【０１５６】
また光ディスク装置２０は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈに基づいて照射ライン上に光を照射する。これにより光ディスク装置２０は、情報反射光ビームＬＭｒの受光量の変動に応じて信号レベルが変化しない補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを用いて高精度なフォーカス制御を実行できる。
【０１５７】
以上の構成によれば、光ディスク装置２０は、非点収差法により（５）式に従って算出されるフォーカスエラー信号ＳＦＥｍに対し、ピークを結ぶことにより情報光ビームＬＭと照射ラインとのずれを表す補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成する。これにより光ディスク装置２０は、従来の光ディスク装置が生成するフォーカスエラー信号と同様の補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成することができ、従来の光ディスク装置と同様の制御によりフォーカス制御を実行することができる。
【０１５８】
（２）第２の実施の形態
図１６〜図１８は第２の実施の形態を示すもので、図１〜１５に示す第１の実施の形態に対応する部分を同一符号で示している。第２の実施の形態では、図示しないが、光ディスク１００と対応する光ディスク２００が基準層１０２を有しておらず、一様でなる記録層２０１を基板２０３及び２０４によって挟んだ構成でなる。
【０１５９】
さらに第２の実施の形態では、光ピックアップ２６と対応する光ピックアップ１２０の構成が異なる点と、情報光ビームＬＭの引き込みの際に補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを使用する点が第１の実施の形態と異なっている。また光ディスク装置２０Ｘとしての全体的な構成は第１の実施の形態とほぼ同様であるため説明を省略する。
【０１６０】
（２−１）光ピックアップの構成
次に、光ピックアップ１２０の構成について説明する。この光ピックアップ１２０は、図１６に示すように、多数の光学部品の組み合わせにより構成されている。
【０１６１】
具体的にレーザダイオード１３１は、波長約４０５[ｎｍ]の青色レーザ光でなる情報光ビームＬＭを出射し、コリメータレンズ１３２へ入射させる。実際上レーザダイオード３１は、制御部２１（図３）の制御に基づき情報の記録又は読出に応じた所定の光量の情報光ビームＬＭを出射する。コリメータレンズ１３２は、情報光ビームＬＭを発散光から平行光に変換し、１／２波長板１３３へ入射させる。
【０１６２】
情報光ビームＬＭは、１／２波長板１３３によって偏光方向が所定角度回転されることにより例えばＰ偏光に調整され、偏光ビームスプリッタ１３５へ入射される。
【０１６３】
偏光ビームスプリッタ１３５は、入射される光ビームの偏光方向により情報光ビームＬＭを透過して１／４波長板１３７へ入射させる。１／４波長板１３７は、情報光ビームＬＭをそれぞれＰ偏光から円偏光に変換してリレーレンズ１３８へ入射させる。
【０１６４】
リレーレンズ１３８は、可動レンズ１３９により情報光ビームＬＭをそれぞれ平行光から収束光に変換し、収束後に発散光となった情報光ビームＬＭをそれぞれ固定レンズ１４０により再度収束光に変換し、ミラー１４１へ入射させる。
【０１６５】
ここで可動レンズ１３９は、図示しないアクチュエータにより情報光ビームＬＭの光軸方向に移動されるようになされている。実際上、リレーレンズ１３８は、制御部２１（図３）の制御に基づき当該アクチュエータによって可動レンズ１３９を移動させることにより、固定レンズ１４０から出射される情報光ビームＬＭの収束状態をそれぞれ変化させ得るようになされている。
【０１６６】
ミラー１４１は、情報光ビームＬＭを反射することにより、その進行方向を９０°偏向させ、当該情報光ビームＬＭを対物レンズ１２１へ入射させる。
【０１６７】
対物レンズ１２１は、情報光ビームＬＭを集光し、光ディスク２００に照射する。ここで対物レンズ１２１から情報光ビームＬＭの焦点ＦＭまでのフォーカス方向に関する距離は、当該情報光ビームＬＭがリレーレンズ１３８から出射されるときの発散角に応じて定まることになる。
【０１６８】
実際上、リレーレンズ１３８は、制御部２１の制御に基づき可動レンズ１３９を移動させることにより、焦点ＦＭを記録層内における目標マーク記録層ＹＧにおおよそ合わせると共に、情報光ビームＬＭの球面収差を調整するようになされている。
【０１６９】
対物レンズ１２１は、情報光ビームＬＭを集光し、光ディスク２００の記録層２０１における目標位置ＰＧに照射する。
【０１７０】
ここで記録層２０１は、目標位置ＰＧ近傍にサーボ情報マーク群ＫＳｐ又は記録マークＲＭが形成されている場合には、当該サーボ情報マーク群ＫＳｐ又は記録マークＲＭによって情報光ビームＬＭを反射し、情報反射光ビームＬＭｒを生成することになる。
【０１７１】
情報反射光ビームＬＭｒは、元の情報光ビームＬＭの光路を反対方向へ進行する。すなわち情報反射光ビームＬＭｒは、対物レンズ１２１により発散角が変換され、ミラー１４１により反射され、リレーレンズ１３８により平行光に変換され、１／４波長板１３７及び液晶パネル１３６を順次透過し、Ｓ偏光として偏光ビームスプリッタ１３５へ入射される。
【０１７２】
偏光ビームスプリッタ１３５は、Ｓ偏光でなる情報反射光ビームＬＭｒを反射透過面３５Ｓによって反射し、集光レンズ１４３へ入射させる。集光レンズ１４３は、情報反射光ビームＬＭｒを集光し、ピンホール板１４４を介してフォトディテクタ１４５へ照射させる。
【０１７３】
ピンホール板１４４は、集光レンズ１４３により集光される情報反射光ビームＬＭｒの焦点を孔部内に位置させるよう配置されているため、当該情報反射光ビームＬＭｒをそのまま通過させ、光ディスク２００の表面や目標マーク層ＹＧ以外のマーク層Ｙによって反射されてなる迷光ＬＮをほぼ遮断することになる。
【０１７４】
フォトディテクタ１４５は、フォトディテクタ６３（図９）と同様に、情報反射光ビームＬＭｒを受光するための検出領域１４５Ａ、１４５Ｂ、１４５Ｃ及び１４５Ｄ（以下、これらをまとめて検出領域１４５Ａ〜１４５Ｄとする）が設けられている。
【０１７５】
フォトディテクタ１４５は、検出領域１４５Ａ〜１４５Ｄにより情報反射光ビームＬＭｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号ＵＭａ、ＵＭｂ、ＵＭｃ及びＵＭｄ（以下、これらをまとめて検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄとする）をそれぞれ生成して、これらを信号処理部２３（図３）へ送出するようになされている。
【０１７６】
（２−２）情報光ビームの引き込み
第２の実施の形態による光ディスク装置２０Ｘでは、情報光ビームＬＭを目標位置ＰＧに引き込む際、上述した補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを用いるようになされている。
【０１７７】
（２−２−１）フォーカスの引き込み
光ディスク装置２０Ｘは、２軸アクチュエータ１２２を駆動することにより対物レンズ１２１を光ディスク２００から最も離隔させた位置に変位させると、対物レンズ１２０を所定の移動速度で光ディスク２００に近接させる。
【０１７８】
このとき光ディスク装置２０Ｘの信号処理部２３（図３）は、第１の実施の形態と同様にして検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄから情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｍ、情報トラッキングエラー信号ＳＴＥｍを生成する。また信号処理部２３は、第１の実施の形態と同様にしてプルイン信号ＳＰＩ、情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｍ及び情報トラッキングエラー信号ＳＴＥｍから補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成する。
【０１７９】
さらに信号処理部２３は、プルイン信号ＳＰＩを補正することにより補正プルイン信号ＳＰＩｈを生成するようになされている。
【０１８０】
すなわち信号処理部２３は、プルイン信号ＳＰＩが検出閾値ＡＩ以上となると、当該プルイン信号ＳＰＩのピーク（すなわち極大値）を検出し、当該極大値同士を結ぶことにより補正プルイン信号ＳＰＩｈを生成する。因みに図１３に、実際に生成された補正プルイン信号ＳＰＩｈを示している。なお図１３では、プルイン信号ＳＰＩのピークが検出閾値ＡＩ未満であるときの補正プルイン信号ＳＰＩｈの値を任意の信号レベルに保持した場合について示している。また図１３では、その極性が図１４、１７及び１８とは逆になっている。
【０１８１】
そして制御部２１は、補正プルイン信号ＳＰＩｈが所定のゼロクロス検出閾値ＡＨ以上となると、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈから当該補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈが基準レベルＳＬと交差する、いわゆるゼロクロスを検出する。このとき制御部２１は、検出されたゼロクロスの数をカウントし、目標マーク層ＹＧにおいて補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈがゼロクロスするのを待ち受ける。
【０１８２】
さらに制御部２１は、目標マーク層ＹＧにおいて補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈがゼロクロスすると、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈの生成を終了すると共に、フォーカス制御を実行するフォーカスループ回路をＯＮに切り換える。
【０１８３】
具体的に駆動制御部２２は、例えば情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｍに所定のゲインを乗算することによりフォーカス駆動信号ＳＦＤを生成し、これを２軸アクチュエータ１２２に供給する。そして２軸アクチュエータ１２２は、フォーカス駆動信号ＳＦＤに応じて対物レンズ１２１を変位させることにより、照射ラインと情報光ビームＬＭの焦点ＦＭとのずれがゼロになるようフォーカス制御を実行するようになされている。
【０１８４】
なお情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｈは、照射ラインと焦点ＦＭとのずれを正確に表していないものの、ずれの極性（方向）をほぼ正確に表している。このため光ディスク装置２０Ｘでは、ゲインなどを適切に調整することにより情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｍを用いた場合であっても適切なフォーカス制御が可能となる。
【０１８５】
具体的に、光ディスク２００における入射面側から３層目のマーク層Ｙを目標マーク層ＹＧとする場合に実行されるフォーカスの引き込み処理について、図１７を用いて説明する。
【０１８６】
フォーカスの引き込み処理が開始されると、信号処理部２３は、プルイン信号ＳＰＩ（図１７（Ａ））の監視を開始する。時点ｔ１０において、信号処理部２３は、当該プルイン信号ＳＰＩの信号レベルが所定の検出閾値ＡＩ以上となると、プルイン信号ＳＰＩ及び情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｍ（図１７（Ｄ））からピークを検出する。
【０１８７】
信号処理部２３は、以降もプルイン信号ＳＰＩを監視し、プルイン信号ＳＰＩの信号レベルが検出閾値ＡＩ以上となるときの当該プルイン信号ＳＰＩ及び情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｍのピークを検出し、当該ピークを結ぶことにより補正プルイン信号ＳＰＩｈ（図１７（Ｂ））及び補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ（図１７（Ｅ））を生成する。
【０１８８】
時点ｔ１１において、信号処理部２３は、補正プルイン信号ＳＰＩｈが所定のゼロクロス検出閾値ＡＨ以上となると、ゼロクロス準備信号ＳＣＲｆを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げると共に、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈの監視を開始する。
【０１８９】
時点ｔ１２において信号処理部２３は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈの信号レベルが基準レベルと交差する（すなわちゼロクロス）を検出すると、ゼロクロスカウント信号ＳＦＺを一時的に「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げると共に、ゼロクロス準備信号ＳＣＲｆ「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げる。
【０１９０】
時点ｔ１３において信号処理部２３は、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭが記録マークＲＭの存在しない位置に移動したことにより、プルイン信号ＳＰＩの信号レベルが検出閾値ＡＩ未満となると、補正プルイン信号ＳＰＩｈ及び補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈの生成を停止するものの、プルイン信号ＳＰＩの監視を継続する。
【０１９１】
時点ｔ１４〜時点ｔ１７において信号処理部２３は、再びプルイン信号ＳＰＩの信号レベルが所定の検出閾値ＡＩ以上となると、時点ｔ１０〜時点ｔ１３と同様の処理を繰り返す。
【０１９２】
時点ｔ１８及び時点１９において、信号処理部２３は、プルイン信号ＳＰＩの信号レベルが所定の検出閾値ＡＩ以上となると、時点ｔ１０と同様に補正プルイン信号ＳＰＩｈ及び補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成すると共に、時点ｔ１１と同様にゼロクロス準備信号ＳＣＲｆを「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。
【０１９３】
時点ｔ２０において、信号処理部２３は、時点ｔ１２と同様にゼロクロスを検出すると、ゼロクロスカウント信号ＳＦＺを一時的に「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げると共に、ゼロクロス準備信号ＳＣＲｆ「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げる。
【０１９４】
このとき制御部２１は、ゼロクロスカウント信号ＳＦＺが３回に亘って「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上がったことにより目標マーク層ＹＧに合焦したと認識し、フォーカスループ制御信号ＳＦＬを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。さらに制御部２１は、フォーカスループ制御信号ＳＦＬをトリガとしてフォーカスループ回路を「ＯＮ」に切り換える。すなわち光ディスク装置２０Ｘは、トラッキングエラー信号ＳＦＥｍがゼロになるようフィードバック制御することにより、情報フォーカスエラー信号ＳＦＥｍによるフォーカス制御を実行するようになされている。
【０１９５】
このように光ディスク装置２０Ｘは、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈのゼロクロスを検出することによりマーク層Ｙをカウントすると共に、目標マーク層ＹＧに対する補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈのゼロクロスタイミングでフォーカスループ回路を「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り換えるようにした。これにより光ディスク装置２０Ｘは、適切なタイミングでフォーカスループ回路を閉じることができ、フォーカス制御を開始することができる。
【０１９６】
（２−２−２）トラッキングの引き込み
次に、フォーカス制御が開始された状態で実行されるトラッキングの引き込み処理について説明する。
【０１９７】
光ディスク装置２０Ｘの制御部２１は、フォーカス制御が正常に開始されると、再生アドレス情報に従って光ピックアップ１２０を光ディスク２００の半径方向（すなわちトラッキング方向）に移動させる。
【０１９８】
そして図１８に示すように、制御部２１は、再生アドレス情報が示すトラック近傍に光ピックアップ１２０を移動させた時点ｔ２５において、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈのゼロクロスを検出すると、トラッキングループ制御信号ＳＴＬを一時的に立ち上げると共に、当該トラッキングループ制御信号ＳＴＬをトリガとしてトラッキングループ回路を「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り換える。
【０１９９】
具体的に駆動制御部２２は、例えばトラッキングエラー信号ＳＦＥｍに所定のゲインを乗算することによりトラッキング駆動信号ＳＴＤを生成し、これを２軸アクチュエータ１２２に供給する。そして２軸アクチュエータ１２２は、トラッキング駆動信号ＳＴＤに応じて対物レンズ１２１を変位させることにより、照射ラインと情報光ビームＬＭの焦点ＦＭとのずれがゼロになるようトラッキング制御を実行するようになされている。この結果光ディスク装置２０Ｘは、トラッキングエラー信号ＳＦＥｍがゼロになるようフィードバック制御を実行する。
【０２００】
このように光ディスク装置２０Ｘは、補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈのゼロクロスタイミングでトラッキングループ回路を「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り換えるようにした。これにより光ディスク装置２０Ｘは、適切なタイミングでトラッキングループ回路を閉じることができ、トラッキング制御を開始することができる。
【０２０１】
（２−３）動作及び効果
以上の構成において光ディスク装置２０Ｘは、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍに基づいて照射ライン上に情報光ビームＬＭを照射するよう駆動部である２軸アクチュエータ１２２を制御するフォーカス制御を実行すると共に、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈが基準レベルＳＬと交差するゼロクロスタイミングに応じてフォーカス制御を開始する。
【０２０２】
これにより光ディスク装置２０Ｘは、情報反射光ビームＬＭｒの光量の変動に応じて基準レベルＳＬ付近を往来する大きい振幅を有することにより、ゼロクロスを検出することが困難なフォーカスエラー信号ＳＦＥｍに基づいて、ゼロクロスを適切に検出することができる。この結果光ディスク装置２０Ｘは、適切にフォーカス方向において情報光ビームＬＭが照射ラインに合焦するタイミングを検出し、フォーカス制御を開始することができる。
【０２０３】
また光ディスク装置２０Ｘは、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍが基準レベルＳＬになるようフィードバック制御を実行する。これにより光ディスク装置２０Ｘは、フォーカス方向への引き込み処理の終了後は補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成する必要がなく、信号処理部２３の処理負荷を軽減することができる。また補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成することにより生じるタイムラグを極力抑制することもできる。
【０２０４】
以上の構成によれば、光ディスク装置２０Ｘは、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈが基準レベルＳＬと交差するゼロクロスタイミングに応じてフォーカス制御を開始することにより、適切なタイミングでフォーカス制御を開始することができる。
【０２０５】
（３）他の実施の形態
なお上述した第１の実施の形態において、検出閾値ＡＩは、情報光ビームＬＭが記録マークＲＭに合焦するときに得られると想定されるプルイン信号ＳＰＩの信号レベルの１／３程度に設定されるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の値に設定されても良い。
【０２０６】
また上述した第１及び第２の実施の形態では、プルイン信号ＳＰＩが検出閾値ＡＩ以上のときにフォーカスエラー信号ＳＦＥｍ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥｍからピークを検出するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばプルイン信号ＳＰＩの信号レベルから情報光ビームＬＭの合焦状態を判別するようにしても良い。
【０２０７】
この場合信号処理部２３は、プルイン信号ＳＰＩの信号レベルが所定の閾値以上である場合、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍからピークの検出を開始する一方、プルイン信号ＳＰＩの信号レベルが所定の閾値未満のまま所定の検出時間に亘って維持されると、情報反射光ビームＬＭｒの受光量が十分でないと判別し、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍからのピークの検出を停止する。このとき信号処理部２３は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈの信号レベルを所定の信号レベルに保持することにより、図１３に示すような補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈを生成することができる。
【０２０８】
さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥｍのピークを結んだ包絡線状の補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られない。例えばフォーカスエラー信号ＳＦＥｍ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥｍのピーク近傍同士を結んで補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成しても良い。このとき、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを滑らかに結んでも良く、折れ線状に結んでも良い。
【０２０９】
さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、プルイン信号ＳＰＩが検出閾値ＡＩ以上であるときのピークを結ぶことにより補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られるものではない。本発明では、例えば全てのピークを結ぶことにより補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成するようにしても良い。
【０２１０】
またプルイン信号ＳＰＩの代りに再生ＲＦ信号ＳＲＦｍを用いるようにしても良い。この再生ＲＦ信号ＳＲＦｍは、プルイン信号ＳＰＩと同様、情報検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄを加算することにより算出される。
【０２１１】
さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、非点収差法に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥｍを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られるものではない。本発明では、例えばスポットサイズ法など、その他種々の手法によってフォーカスエラー信号ＳＦＥｍを生成することができる。
【０２１２】
さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、プッシュプル法に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥｍを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られるものではない。本発明では、例えばＤＰＰ（Differential Push Pull）法やＤＰＤ（Differential Phase Detection）法など種々の手法によってトラッキングエラー信号ＳＴＥｍを生成することができる。
【０２１３】
さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥｍの双方を補正し、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれにかぎられず、いずれか一方のみを生成しても良い。
【０２１４】
さらに上述した第１の実施の形態においては、基準フォーカス制御から情報フォーカス制御へ徐々に切り換えるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、瞬時に切り換えるようにしても良い。
【０２１５】
具体的に駆動制御部２２は、第１の実施の形態と同様、一連のフォーカス制御処理を行う。ここで駆動制御部２２は、図１５（Ｂ）に示すように、ある時点ｔｃにおいてゲインＧ１を値「１」から「０」に変化させると共にゲインＧ２を値「０」から「１」に変化させる。これにより駆動制御部２２は、基準フォーカス制御から情報フォーカス制御へ極めて短い時間で切り換えることができる。
【０２１６】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光ピックアップ２６のリレーレンズ５８によりサーボ光ビームＬＳの焦点ＬＳと情報光ビームＬＭの焦点ＦＭとの距離を調整するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、他の種々の光学素子を用いても良い。この場合、要は光ピックアップ２６の情報光学系５０において、情報光ビームＬＭの球面収差を変化させることにより、対物レンズ４０により集光されたときの焦点ＦＭを移動させ得れば良い。また例えば情報光ビームＬＭだけでなくサーボ光ビームＬＳの球面収差を調整しても良い。
【０２１７】
さらに上述した第２の実施の形態においては、光ピックアップ１２０のリレーレンズ１３８により情報光ビームＬＭの球面収差を補正するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の方法により情報光ビームＬＭの球面収差を補正しても良い。また必ずしもかかる球面補正手段は必要ではない。
【０２１８】
さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、立体的な記録マークとして記録層１０１及び２０１に気泡でなる記録マークＲＭが形成されるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られるものではない。例えば予めホログラムが記録された記録層１０１及び２０１に対し、ホログラムが破壊されることにより立体的な記録マークを形成することができる。
【０２１９】
また一の光源から出射された光ビームを２つに分離し、互いに反対方向から照射することにより、立体的な記録マークとしてホログラムを形成することができる。なおこのホログラムを記録マークとして記録する光ディスク装置の構成は、特許文献１に記載されている。
【０２２０】
さらに上述した第１及び第２の実施の形態では、記録層１０１及び２０１に複数のマーク層Ｙが形成されるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、マーク層Ｙが１層のみ形成されるようにしても良い。
【０２２１】
さらに上述した第１の実施の形態においては、基準層１０２が螺旋状の基準トラックＴＳを有するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、同心円状の基準トラックを有するようにしても良い。
【０２２２】
さらに上述した第２の実施の形態においては、フォーカスエラー信号ＳＦＥｍ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥｍが基準レベルＳＬになるようフィードバック制御を実行するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られない。本発明は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｈ及び補正トラッキングエラー信号ＳＴＥｈが基準レベルＳＬになるようフィードバック制御を行っても良い。また例えばこれらを適宜組み合わせるようにしても良い。
【０２２３】
さらに上述した第１の実施の形態においては、対物レンズとしての対物レンズ４０と、サーボ制御信号生成部及びサーボ信号補正部としての信号処理部２３とによって光ディスク装置としての光ディスク装置２０を構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる対物レンズと、サーボ制御信号生成部と、サーボ信号補正部とによって本発明の光ディスク装置を構成するようにしても良い。
【０２２４】
さらに上述した第２の実施の形態においては、対物レンズとしての対物レンズ１２１と、サーボ制御信号生成部及びサーボ信号補正部としての信号処理部２３とによって光ディスク装置としての光ディスク装置２０Ｘを構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる対物レンズと、サーボ制御信号生成部と、サーボ信号補正部とによって本発明の光ディスク装置を構成するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【０２２５】
本発明は、映像や音声、或いはコンピュータ用のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【０２２６】
【図１】光ディスクの外観を示す略線的斜視図である。
【図２】光ディスクの内部構成を示す略線図である。
【図３】光ディスク装置の構成を示す略線図である。
【図４】第１の実施の形態による光ピックアップの構成を示す略線図である。
【図５】サーボ光ビームの光路の説明に供する略線図である。
【図６】フォトディテクタにおける検出領域の構成（１）を示す略線図である。
【図７】情報光ビームの光路の説明に供する略線図である。
【図８】ピンホールによる光ビームの選別の説明に供する略線図である。
【図９】フォトディテクタにおける検出領域の構成（２）を示す略線図である。
【図１０】光ディスクの傾きによる焦点位置のずれの説明に供する略線図である。
【図１１】トラッキングエラー信号の収束状態を示す略線図である。
【図１２】フォーカス制御における検出信号のゲインの切換を示す略線図である。
【図１３】フォーカスエラー信号とプルイン信号を示す略線図である。
【図１４】フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の補正の説明に供する略線図である。
【図１５】補正フォーカスエラー信号を示す略線図である。
【図１６】第２の実施の形態による光ピックアップの構成を示す略線図である。
【図１７】第２の実施の形態によるフォーカスの引き込みの説明に供する略線図である。
【図１８】第２の実施の形態によるトラッキングの引き込みの説明に供する略線図である。
【符号の説明】
【０２２７】
２０、２０Ｘ……光ディスク装置、２１……制御部、２２……駆動制御部、２３……信号処理部、２６……光ピックアップ、４０、１２１……対物レンズ、４１、１２２……２軸アクチュエータ、３１、５１、１３１……レーザダイオード、３３、５２、１３２……コリメータレンズ、３７……ダイクロイックプリズム、３４、５４、１３５……偏光ビームスプリッタ、５８、１３８……リレーレンズ、５８Ａ、１３９……可動レンズ、４３、６３、１４５……フォトディテクタ、１００、２００……光ディスク、１０１、２０１……記録層、１０２……基準層、ＴＳＧ……目標基準トラック、ＴＧ……目標トラック、Ｙ……マーク層、ＹＧ……目標マーク層、ＲＭ……記録マーク、ＬＳ……サーボ光ビーム、ＬＳＲ……サーボ反射光ビーム、ＬＭ……情報光ビーム、ＬＭｒ……情報反射光ビーム、ＦＳ、ＦＭ……焦点。
【図１】
0004662186.tif 000010
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
0004662186.tif 000022
【図１４】
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【図１５】
0004662186.tif 000024
【図１６】
0004662186.tif 000025
【図１７】
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【図１８】
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