(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも、ポリシリコン層と、該ポリシリコン層に形成された酸化膜とを有する半導体装置における前記酸化膜の形成方法であって、
複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置により、Ａｒガスと酸素ガスとを含み、かつ酸素分圧が、０．６６〜２．６６Ｐａである処理ガスを用いて、前記ポリシリコン層にプラズマ処理を行い、酸化膜を形成する工程を含むことを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項２】
請求項１において、前記プラズマ処理における圧力が６７〜６６７Ｐａ、処理温度が３００〜６００℃であることを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２において、前記酸化膜より上層に第２のポリシリコン層を形成する工程を、さらに有することを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項４】
請求項３において、前記酸化膜の形成方法が、フラッシュメモリ素子または薄膜トランジスタの製造方法に用いられることを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項５】
請求項１から請求項３のいずれか１項において、前記酸化膜に対して、熱酸化処理を行なう第２の酸化工程を含むことを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれか１項において、前記酸化膜を形成する工程の前に、前記処理室内の残留水素分を除去する工程を、備えていることを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項７】
請求項６において、前記処理室内の残留水素分を除去する工程は、前記酸化膜を形成する工程と同じレシピで行われることを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項８】
請求項１から請求項５のいずれか１項において、前記ポリシリコン層にプラズマ処理を行う前に、前記処理室内に前記Ａｒガス及び前記酸素ガスを導入し、前記酸化膜を形成する工程よりも高圧にして昇温することを特徴とする、酸化膜の形成方法。
【請求項９】
コンピュータ上で動作し、実行時に、複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置を制御する制御プログラムであって、
前記制御プログラムは、請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の酸化膜の形成方法が行なわれるように、前記プラズマ処理装置を制御するものであることを特徴とする、制御プログラム。
【請求項１０】
コンピュータ上で動作する制御プログラムが記憶されたコンピュータ記憶媒体であって、
前記制御プログラムは、実行時に、複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置に、請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の酸化膜の形成方法が行なわれるように、前記プラズマ処理装置を制御するものであることを特徴とする、コンピュータ記憶媒体。
【請求項１１】
プラズマにより被処理体を処理するための真空排気可能な処理室と、
複数のスロットを有する平面アンテナにて前記処理室内にマイクロ波を導入することによりプラズマを発生させるプラズマ供給源と、
前記処理室内で、複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置に、請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の酸化膜の形成方法が行なわれるように、制御する制御部と、
を備えたことを特徴とする、プラズマ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばフラッシュメモリ素子や薄膜トランジスタなどの半導体装置を製造する際の酸化膜の形成方法、制御プログラム、コンピュータ記憶媒体およびプラズマ処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
各種半導体装置、例えば、シリコン半導体のフラッシュメモリ素子やＬＣＤ（Liquid Crystal Display）に用いる薄膜トランジスタにおいて、ゲート電極の絶縁の目的で形成される酸化膜は、一般に熱酸化法やＣＶＤ法などによって形成されていた。従来、シリコンやポリシリコン（多結晶シリコン）を熱酸化することによって得られる熱酸化膜は、他の方法に比べて膜質が良質であることから、ｄｒｙ−Ｏ２や、ＷＶＧ（Water Vapor Generation）、ＩＳＳＧ（In Situ Steam Generation）などのＷｅｔによる熱酸化法が多用されてきた。【０００３】
しかし、熱酸化法は、酸化雰囲気中でポリシリコンを９００〜１０００℃の高温に加熱して酸化処理するため、ポリシリコン中にドープされたリンなどの不純物が再拡散して偏析したり、ポリシリコンが再結晶化することによって酸化膜との界面の平坦性が失われたりすることがある。また、熱酸化法において酸化雰囲気に水素を添加して酸化膜を形成する場合には、酸化膜中の水素が離脱し、ホールトラップが形成される。その結果、酸化膜の耐圧特性や信頼性の低下を招くという問題があった。【０００４】
一方、熱酸化法やＣＶＤ法以外の酸化膜の形成方法として、例えば、高密度マイクロ波プラズマを用いて４００℃前後の低温で酸化膜を形成する技術が提案されている（例えば、特許文献１、特許文献２）。これら特許文献１および２の方法では、低温でのプラズマ処理によって、熱酸化膜に匹敵する電気的特性および信頼性を備えた酸化膜が得られる、とされている。
【特許文献１】ＷＯ０１／６９６６５号公報（図２など）
【特許文献２】ＷＯ０１／６９６７３号公報（図２など）
【発明の開示】
【０００５】
所望の膜厚のポリシリコン酸化膜を形成する際には、短時間で形成することが重要である。酸化膜の形成速度（酸化レート）を上げることは、半導体装置の製造プロセス全体のスループット向上にもつながる。しかし、上記特許文献１および２の方法では、酸化膜の膜質の向上を主要観点としているため、酸化レートを向上させるための条件については検討されていない。
【０００６】
従って、本発明の目的は、ポリシリコン上に、優れた膜質の酸化膜を高い酸化レートで成膜する酸化膜の形成方法を提供することにある。
【０００７】
本発明者らは鋭意研究を重ねた結果、ＲＬＳＡ方式のプラズマ処理装置による酸化処理において、処理ガスを構成するガス成分の選択と、その中に含まれる酸素の割合が酸化レートに大きな影響を与えるとの知見を得た。しかも酸素割合については、単に比率を大きくするだけでは、却って酸化レートの低下を招くことが判明した。つまり、ＲＬＳＡ方式のプラズマ処理装置を用いてポリシリコンの酸化を行なう際に、高い酸化レートと良好な膜質を両立させるためには、プラズマ処理条件を制御することが必要であることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００８】
すなわち、本発明の第１の観点によれば、少なくとも、ポリシリコン層と、該ポリシリコン層に形成された酸化膜とを有する半導体装置における前記酸化膜の形成方法であって、
複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置により、Ａｒガスと酸素ガスとを含み、かつ酸素分圧が、０．６６〜２．６６Ｐａである処理ガスを用いて、前記ポリシリコン層にプラズマ処理を行い、酸化膜を形成する工程を含むことを特徴とする、酸化膜の形成方法が提供される。
【０００９】
第１の観点の酸化膜の形成方法では、前記プラズマ処理における圧力が６７〜６６７Ｐａ、処理温度が３００〜６００℃であることが好ましい。
【００１４】
また、本発明の第２の観点によれば、コンピュータ上で動作し、実行時に、複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置を制御する制御プログラムであって、
前記制御プログラムは、第１の観点に係る酸化膜の形成方法が行なわれるように、前記プラズマ処理装置を制御するものであることを特徴とする、制御プログラムが提供される。
【００１５】
また、本発明の第３の観点によれば、コンピュータ上で動作する制御プログラムが記憶されたコンピュータ記憶媒体であって、
前記制御プログラムは、実行時に、複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置に、第１の観点に係る酸化膜の形成方法が行なわれるように、前記プラズマ処理装置を制御するものであることを特徴とする、コンピュータ記憶媒体が提供される。
【００１６】
また、本発明の第４の観点によれば、プラズマにより被処理体を処理するための真空排気可能な処理室と、
複数のスロットを有する平面アンテナにて前記処理室内にマイクロ波を導入することによりプラズマを発生させるプラズマ供給源と、
前記処理室内で、複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるプラズマ処理装置に、第１の観点に係る酸化膜の形成方法が行なわれるように、制御する制御部と、
を備えたことを特徴とする、プラズマ処理装置が提供される。
【００１７】
本発明によれば、ＲＬＳＡ方式のプラズマ処理装置を用いてポリシリコンの酸化を行なう際に、酸素分圧を制御することによって、高い酸化レートを維持しながら、良質な酸化膜を形成することが可能となる。
すなわち、ＲＬＳＡ方式のプラズマ処理装置は、他の高密度プラズマと比較してプラズマの電子温度が低いため、低温で高品質な酸化膜形成が可能であり、しかも短時間に酸化膜を形成できる。
【００１８】
また、ＲＬＳＡ方式の高密度プラズマを用いたラジカル酸化では、活性種のエネルギーが高いため、面方位依存性がなく、この方法でポリシリコンを酸化しても低温処理によりポリシリコンの再結晶化が抑制され、ポリシリコン表面の突起形成も起こらず、その平坦性が失われない。従って、酸化過程の初期に面方位依存性が存在する熱酸化処理に対し、大きな優位性を持つ方法である。
【００１９】
さらに、低温で酸化膜を形成できるので、ポリシリコン中の不純物の再拡散が生じ難いとともに、酸化膜中に取り込まれる不純物濃度が小さく、膜中の不純物に起因する準位が少ない良質な酸化膜が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明方法の実施に適したプラズマ処理装置の一例を示す概略断面図。
【図２】平面アンテナ部材の構造を示す図面。
【図３Ａ】フラッシュメモリ素子の製造手順を示す図面であり、シリコン基板上に、ＬＯＣＯＳ酸化膜を形成した状態を示す。
【図３Ｂ】フラッシュメモリ素子の製造手順を示す図面であり、トンネル酸化膜を覆うように第１のポリシリコン層を形成した状態を示す。
【図３Ｃ】フラッシュメモリ素子の製造手順を示す図面であり、ＯＮＯ積層構造の絶縁膜を所定厚さで形成した状態を示す。
【図３Ｄ】フラッシュメモリ素子の製造手順を示す図面であり、フラッシュメモリ素子２００を形成した状態を示す。
【図４】プラズマ処理におけるＡｒガスに対するＯ２ガスの割合と、膜厚および表面の非均一性の関係を示すグラフ図面。
【図５Ａ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｂ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｃ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｄ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｅ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｆ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｇ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｈ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図５Ｉ】テスト用ゲート電極の製造工程を示す図面。
【図６】第１のポリシリコン層の表面ラフネスを示すグラフ図面。
【図７Ａ】本発明のプラズマ処理により形成された第１のポリシリコン層の表面のＡＦＭ測定画像を示す図面。
【図７Ｂ】ＨＴＯ−ＣＶＤ処理により形成された第１のポリシリコン層の表面のＡＦＭ測定画像を示す図面。
【図７Ｃ】ｄｒｙ−熱酸化処理により形成された第１のポリシリコン層の表面のＡＦＭ測定画像を示す図面。
【図８Ａ】酸化膜形成前のポリシリコン層の断面状態のＴＥＭ像を示す図面。
【図８Ｂ】プラズマ酸化処理後のポリシリコン層の断面状態のＴＥＭ像を示す図面。
【図８Ｃ】熱酸化処理後のポリシリコン層の断面状態のＴＥＭ像を示す図面。
【図９】酸化膜が形成されたポリシリコン層の深さ方向のＰの濃度分布を示すグラフ図面。
【図１０】酸化膜が形成されたポリシリコン層の深さ方向のＢの濃度分布を示すグラフ図面。
【図１１Ａ】酸化膜が形成されたポリシリコン層におけるＰの偏析状態を示すＴＥＭによる画像。
【図１１Ｂ】酸化膜が形成されたポリシリコン層におけるＰの偏析状態を示すＴＥＭによる画像。
【図１１Ｃ】酸化膜が形成されたポリシリコン層におけるＰの偏析状態を示すＥＥＬＳによる画像。
【図１１Ｄ】酸化膜が形成されたポリシリコン層におけるＰの偏析状態を示すＥＥＬＳによる画像。
【図１２】ゲート酸化膜のＪ−Ｅプロットを示すグラフ図面。
【図１３】ゲート酸化膜のＥｏｘとＴｏｘとの関係を示すグラフ図。
【図１４】処理ガス中に水素を添加せずに形成した酸化膜のＪ−Ｅプロットを示すグラフ図。
【図１５】処理ガス中に水素を添加して形成した酸化膜のＪ−Ｅプロットを示すグラフ図。
【図１６】本発明を適用可能な薄膜トランジスタの概要を示す模式図。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、図面を参照しながら、本発明の好ましい形態について説明する。
図１は、本発明による酸化膜の形成方法の実施に適したプラズマ処理装置の一例を模式的に示す断面図である。このプラズマ処理装置は、複数のスロットを有する平面アンテナにて処理室内にマイクロ波を導入してプラズマを発生させるＲＬＳＡ（Radial Line Slot Antenna；ラジアルラインスロットアンテナ）プラズマ生成技術を利用することにより、高密度かつ低電子温度のマイクロ波プラズマを発生させ得るものである。【００２２】
このプラズマ処理装置１００は、電子温度の低いプラズマにより、６００度以下の低温で下地膜等へのダメージフリーなプラズマ処理を進めることができるとともに、プラズマ均一性に優れており、拡散炉に比べても遜色無い緻密な酸化膜およびプロセスの均一性を実現できる。このため、プラズマ酸化処理装置１００は、ポリシリコン層への酸化膜形成に好適に利用可能なものである。【００２３】
このプラズマ処理装置１００は、気密に構成され、接地された略円筒状のチャンバー１を有している。なお、チャンバー１の形状は、円筒状に限らず、四角形状でもよい。チャンバー１の底壁１ａの略中央部には、円形の開口部１０が形成されており、底壁１ａにはこの開口部１０と連通し、下方に向けて突出する排気室１１が設けられている。【００２４】
チャンバー１内には被処理基板であるウエハＷを水平に支持するためのＡｌＮ等のセラミックスからなるサセプタ２が設けられている。このサセプタ２は、排気室１１の底部中央から上方に延びる円筒状のＡｌＮ等のセラミックスからなる支持部材３により支持されている。サセプタ２の外縁部には、ウエハＷをガイドするためのガイドリング４が設けられている。また、サセプタ２には抵抗加熱型のヒータ５が埋め込まれており、このヒータ５はヒータ電源６から給電されることによりサセプタ２を加熱して、その熱で被処理体であるウエハＷを加熱する。このとき、例えば室温から８００℃まで範囲で温度制御可能となっている。なお、チャンバー１の内周には、石英からなる円筒状のライナー７が設けられている。【００２５】
サセプタ２には、ウエハＷを支持して昇降させるためのウエハ支持ピン（図示せず）がサセプタ２の表面に対して突没可能に設けられている。【００２６】
チャンバー１の側壁には環状をなすガス導入部材１５が設けられており、このガス導入部材１５にはガス供給系１６が接続されている。なお、ガス導入部材はシャワー状に配置してもよい。このガス供給系１６は、Ａｒガス供給源１７、Ｎ２ガス供給源１８、Ｏ２ガス供給源１９を有しており、これらのガスが、それぞれガスライン２０を介してガス導入部材１５に至り、ガス導入部材１５からチャンバー１内に導入される。ガスライン２０の各々には、マスフローコントローラ２１およびその前後の開閉バルブ２２が設けられている。なお、図１のプラズマ処理装置１００では、Ｎ２ガスは、Ａｒガスとともに窒化膜の形成および酸化膜の窒化処理に用いられ、Ｏ２ガスは、Ａｒガスとともに酸化膜の形成に用いられるが、ガスの種類はこれに限定されるものではなく、ＮＨ３ガス、ＮＯガス、Ｎ２Ｏガス、ハロゲン系のクリーニングガス等のガス供給源を接続することができる。【００２７】
上記排気室１１の側面には、排気管２３が接続されており、この排気管２３には高速真空ポンプを含む排気装置２４が接続されている。そしてこの排気装置２４を作動させることによりチャンバー１内のガスが、排気室１１の空間１１ａ内へ均一に排出され、排気管２３を介して排気される。これによりチャンバー１内は所定の真空度、例えば０．１３３Ｐａまで高速に減圧することが可能となっている。【００２８】
チャンバー１の側壁には、プラズマ処理装置１００に隣接する搬送室（図示せず）との間でウエハＷの搬入出を行うための搬入出口２５と、この搬入出口２５を開閉するゲートバルブ２６とが設けられている。【００２９】
チャンバー１の上部は開口部となっており、この開口部の周縁部に沿って環状の支持部２７が設けられている。この支持部２７に誘電体、例えば石英やＡｌ２Ｏ３等のセラミックスからなり、マイクロ波を透過するマイクロ波透過板２８がシール部材２９を介して気密に設けられている。したがって、チャンバー１内は気密に保持される。【００３０】
マイクロ波透過板２８の上方には、サセプタ２と対向するように、円板状の平面アンテナ部材３１が設けられている。この平面アンテナ部材３１は、マイクロ波透過板２８の上に配置され、さらに平面アンテナ部材３１の上部を覆うように遅波材３３が配備されている。これらの平面アンテナ部材３１と遅波材３３は、その周縁部において押え部材３４ｂにより固定される。また、遅波材３３を覆うように導体のシールド蓋体３４が設けられ、このシールド蓋体３４はチャンバー１の側壁上端に支持されている。平面アンテナ部材３１は、例えば８インチサイズのウエハＷに対応する場合には、直径が３００〜４００ｍｍ、厚みが１〜数ｍｍ（例えば５ｍｍ）の導電性材料からなる円板または四角形の角板である。具体的には、平面アンテナ部材３１は、例えば表面が金メッキされた銅板またはアルミニウム板からなり、多数のマイクロ波放射孔３２が所定のパターンで貫通して形成された構成となっている。【００３１】
このマイクロ波放射孔３２は、例えば図２に示すように長溝状のスロット３２ａからなり、隣接するスロット３２ａ同士が「Ｔ」字状に配置され、さらに、これら複数のスロット３２ａが同心円状に配置された構造を採用することができる。スロット３２ａの長さや配列間隔は、マイクロ波発生装置３９で発生した高周波の波長に応じて決定される。なお、マイクロ波放射孔３２（スロット３２ａ）は、円形状の貫通孔等の他の形状であってもよい。また、マイクロ波放射孔３２（スロット３２ａ）の配置形態は、特に限定されず、同心円状のほか、例えば、螺旋状、放射状等に配置させてもよい。【００３２】
平面アンテナ部材３１の上面には、真空よりも大きい誘電率を有する遅波材３３が設けられている。チャンバー１の上面には、これら平面アンテナ部材３１および遅波材３３を覆うように、例えばアルミニウムやステンレス鋼、銅等の金属材からなるシールド蓋体３４が設けられている。チャンバー１の上面とシールド蓋体３４とはシール部材３５によりシールされている。シールド蓋体３４には、複数の冷却水流路３４ａが形成されており、そこに冷却水を通流させることにより、平面アンテナ部材３１、マイクロ波透過板２８、遅波材３３、シールド蓋体３４を冷却して、プラズマの熱による破損防止および安定的なプラズマの維持を図ることができるようになっている。なお、シールド蓋体３４は接地されている。【００３３】
シールド蓋体３４の上壁の中央には、開口部３６が形成されており、この開口部３６には導波管３７が接続されている。この導波管３７の端部には、マッチング回路３８を介してマイクロ波発生装置３９が接続されている。これにより、マイクロ波発生装置３９で発生した例えば周波数２．４５ＧＨｚのマイクロ波が導波管３７を介して上記平面アンテナ部材３１へ伝搬されるようになっている。なお、マイクロ波の周波数としては、８．３５ＧＨｚ、１．９８ＧＨｚ等を用いることもできる。【００３４】
導波管３７は、上記シールド蓋体３４の開口部３６から上方へ延出する断面円形状の同軸導波管３７ａと、この同軸導波管３７ａの上端部に接続された水平方向に延びる矩形導波管３７ｂとを有している。矩形導波管３７ｂの同軸導波管３７ａとの接続部側の端部はモード変換器４０となっている。同軸導波管３７ａの中心には内導体４１が延在しており、この内導体４１の下端部は、平面アンテナ部材３１の中心に内導体４１の傾斜部４１ａを介して接続固定されている。内導体４１の傾斜部４１ａは、平面アンテナ部材３１に向けて拡開した形状であり、マイクロ波を水平方向に均一に効率良く伝播させるように作用する。これにより、マイクロ波は、同軸導波管３７ａの内導体４１、内導体４１の傾斜部４１ａを介して効率よく平面アンテナ部材３１へ伝播される。【００３５】
プラズマ処理装置１００の各構成部は、ＣＰＵを備えたプロセスコントローラ５０に接続されて制御される構成となっている。プロセスコントローラ５０には、工程管理者がプラズマ処理装置１００を管理するためにコマンドの入力操作等を行うキーボードや、プラズマ処理装置１００の稼働状況を可視化して表示するディスプレイ等からなるユーザーインタフェース５１が接続されている。【００３６】
また、プロセスコントローラ５０には、プラズマ処理装置１００で実行される各種処理をプロセスコントローラ５０の制御にて実現するための制御プログラムや処理条件データ等が記録されたレシピが格納された記憶部５２が接続されている。【００３７】
そして、必要に応じて、ユーザーインタフェース５１からの指示等にて任意のレシピを記憶部５２から呼び出してプロセスコントローラ５０に実行させることで、プロセスコントローラ５０の制御下で、プラズマ処理装置１００での所望の処理が行われる。また、前記制御プログラムや処理条件データ等のレシピは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、例えばＣＤ−ＲＯＭ、ハードディスク、フレキシブルディスク、フラッシュメモリなどに格納された状態のものを利用したり、あるいは、他の装置から、例えば専用回線を介して随時伝送させてオンラインで利用したりすることも可能である。【００３８】
このように構成されたＲＬＳＡ方式のプラズマ処理装置１００において、ポリシリコンのプラズマ酸化処理の条件としては、例えばガス流量は、Ａｒなどの希ガス：１００〜３０００ｍＬ／ｍｉｎ、Ｏ２ガス：０．５〜５００ｍＬ／ｍｉｎが好ましく、希ガス：１００〜２０００ｍＬ／ｍｉｎ、Ｏ２ガス：０．５〜５２ｍＬ／ｍｉｎがより好ましい。
また、酸化レートを速くする観点から、処理ガス中のＯ２の割合は０．５〜２．５％以下とすることが好ましく、１〜２％とすることが望ましい。また、チャンバー内圧力は、６７〜６６７Ｐａ、温度は４００〜６００℃、マイクロ波パワーは２０００〜３５００Ｗとすることが好ましい。さらに、プラズマ処理時間は、５〜６００秒が好ましく、１０〜１８０秒がより好ましい。形成する酸化膜の膜厚は、対象にもよるが、１〜１２ｎｍとすることが好ましく、２．２〜５ｎｍがより好ましい。以上の条件により、高い酸化レートを維持しながら、ポリシリコン表面に緻密で良好な膜質の酸化膜を形成することができる。【００３９】
プラズマ処理装置１００によるポリシリコンの酸化処理は、具体的には、例えば、以下のステップ１〜７により実施できる。
ステップ１：シーズニング
まず、チャンバー１へ処理するウエハＷを搬入する前に、シーズニングを実施し、チャンバー１内の残留水素分を除去する。この処理は、チャンバー１内にＨ２が０．２％程度でも存在すると酸化膜形成に影響を与え、歩留まりを悪化させるので、チャンバー１内雰囲気を整えるために行なうものである。シーズニング条件は、後述するプラズマ処理と同じレシピで、例えば３６０秒間程度実施する。シーズニングの好ましい時間は１６０〜６００秒である。なお、シーズニングは、ダミーウエハ（Ｗｄ）を用い、１枚のウエハＷを処理する毎に行ってもよい。【００４０】
ステップ２：ウエハ搬入
ステップ１のシーズニング終了後、ゲートバルブ２６を開にして搬入出口２５からポリシリコン（ゲート電極）が形成されたウエハＷをチャンバー１内に搬入し、サセプタ２上に載置する。【００４１】
ステップ３：昇温／昇圧
ガス供給系１６のＡｒガス供給源１７およびＯ２ガス供給源１９から、ＡｒガスおよびＯ２ガスを所定の流量でガス導入部材１５を介してチャンバー１内に導入し、所定の圧力に維持する。具体的には、例えば大流量のＡｒガスを１５００ｍＬ／ｍｉｎ、Ｏ２を５ｍＬ／ｍｉｎに設定し、５３３．３Ｐａの高圧まで昇圧する。また、ウエハＷの温度を５００℃程度に昇温する。このように、処理前にチャンバー１内にガスを導入し、処理時より高圧にして昇温することにより、ガスによる伝熱性を高め、ウエハＷの温度上昇を促す効果が得られる。【００４２】
ステップ４：流量制御
ステップ３の加熱温度および圧力を維持したまま、処理ガスの全流量が５００ｍＬ／ｍｉｎ（ｓｃｃｍ）になるように、Ａｒガス流量を４９５ｍＬ／ｍｉｎ、Ｏ２ガス流量を５ｍＬ／ｍｉｎに設定して処理ガスの流量を安定化させる。なお、ガス流量の制御は、後述するステップ５のプロセス圧力制御と同時に実施してもよい。【００４３】
ステップ５：プロセス圧力制御  
ステップ４のガス流量を維持したまま、チャンバー１内の圧力を例えば約１３３．３Ｐａの処理圧力まで降圧して、Ｏ２ガスの分圧を安定させる。【００４４】
ステップ６：プラズマ処理
マイクロ波発生装置３９からのマイクロ波を、マッチング回路３８を経て導波管３７に導く。マイクロ波は、矩形導波管３７ｂ、モード変換器４０、および同軸導波管３７ａ、内導体４１を順次通って内導体４１の傾斜部４１ａを介して平面アンテナ部材３１に放射状に供給され、平面アンテナ部材３１からマイクロ波透過板２８を経てチャンバー１内におけるウエハＷの上方空間に均一に放射される。マイクロ波は、矩形導波管３７ｂ内ではＴＥモードで伝搬し、このＴＥモードのマイクロ波はモード変換器４０でＴＥＭモードに変換されて、同軸導波管３７ａ内を平面アンテナ部材３１に向けて伝搬されていく。平面アンテナ部材３１からマイクロ波透過板２８を経てチャンバー１に放射されたマイクロ波によりチャンバー１内で電磁界が形成され、ＡｒガスおよびＯ２ガスがプラズマ化し、このプラズマによりウエハＷに形成されたポリシリコンを酸化する。このマイクロ波プラズマは、マイクロ波が平面アンテナ部材３１の多数のスロット３２ａから放射されることにより、略５×１０１１〜１×１０１３／ｃｍ３あるいはそれ以上の高密度のプラズマとなり、その電子温度は、０．７〜２ｅＶ程度、プラズマ密度の均一性は、±５％以下である。従って、低温かつ短時間で酸化処理を行って薄い酸化膜を形成することができ、しかも低電子温度のプラズマにより下地膜へのイオン等のプラズマダメージが小さく、緻密で良質な酸化膜を形成できるというメリットがある。【００４５】
ステップ７：処理終了
ウエハＷへの酸化膜形成が終了したら、圧力、ガス流量はそのままでプラズマを終了させた後、ガスを停止し、次いで排気装置２４によりチャンバー１内のガスを排気し、圧力を常圧まで降下させる。【００４６】
本発明による酸化膜の形成方法では、上記ステップ１〜７に例示したプラズマ酸化処理によって良好な膜質の酸化膜を形成できるが、別の好ましい形態として、プラズマ処理による酸化膜形成を行なった後、さらに９００〜１２００℃程度の熱酸化処理を行なうことも可能である。【００４７】
次に、本発明方法による半導体装置の製造工程を、半導体集積回路を構成するフラッシュメモリ素子を例にとって説明する。図３Ａ〜図３Ｄは、フラッシュメモリ素子２００の製造工程を模式的に示すものである。【００４８】
まず、図３Ａでは、清浄に洗浄されたシリコン基板２０１上に、ＬＯＣＯＳ酸化膜２０２を形成する。なお、シリコン基板２０１上には、酸化膜２０３が形成されている。【００４９】
次に、図３Ｂでは、ＬＯＣＯＳ酸化膜２０２によって区画されたメモリセル領域の酸化膜２０３を除去し、トンネル酸化膜２０４を所定膜厚で形成する。トンネル酸化膜２０４の形成は、図１のプラズマ処理装置１００を用いて行なうことができる。トンネル酸化膜２０４を形成した後、トンネル酸化膜２０４を覆うように第１のポリシリコン層２０５を形成する。【００５０】
次に、図３Ｃに示すように、第１のシリコン酸化膜２０６、窒化膜２０７、第２のシリコン酸化膜２０８を順に形成し、ＯＮＯ積層構造の絶縁膜を所定厚さで形成する。
具体的には、図１のプラズマ処理装置１００においてチャンバー１内を高真空状態に排気し、さらにガス導入部材１５からＡｒガスおよびＯ２ガスを導入し、処理室内の圧力を１３３Ｐａ、ウエハＷの温度を５００℃に加熱した状態で、マイクロ波パワー２７５０Ｗのマイクロ波を平板アンテナ部材３１およびマイクロ波透過板２８を介して供給し、高密度のプラズマを生成させる。この高密度プラズマによって、第１のポリシリコン層２０５上に、約１〜１２ｎｍ、好ましくは２．２〜５ｎｍの膜厚の第１のシリコン酸化膜２０６が形成される。このプラズマ酸化処理におけるガス流量としては、酸素割合を０．５〜２．５％とすることが好ましく、例えばガス流量は、Ａｒガス：１００〜２０００ｍＬ／ｍｉｎ、Ｏ２ガス：０．５〜５２ｍＬ／ｍｉｎとすることが好ましい。
次に、マイクロ波の供給を停止した後、ＡｒガスおよびＯ２ガスの導入を止め、チャンバー１内を排気する。このようにして、シリコン酸化膜の形成が終了したら、チャンバー１からウエハＷを搬出する。【００５１】
次に、ＳｉＮ膜をＣＶＤにより形成する。
すなわち、熱ＣＶＤ装置を用いて、例えばＳｉＨ２Ｃｌ２ガスおよびＮＨ３ガスにより、成膜温度７５０℃により、上記第１のシリコン酸化膜２０６上に、シリコン窒化膜（Ｓｉ３Ｎ４）２０７を５〜７ｎｍの膜厚で形成する。【００５２】
次に、第２のシリコン酸化膜２０８を熱ＣＶＤ法または高密度プラズマ処理法により形成する。
例えば、熱ＣＶＤ法による場合は、ＳｉＨ２Ｃｌ２ガス（またはＳｉＨ４ガス）と、Ｎ２Ｏガスとを用い、８００℃でシリコン窒化膜２０７上に、第２のシリコン酸化膜２０８を５〜７ｎｍの膜厚で形成する。
高密度プラズマ処理法の場合には、ガス導入部材１５からＳｉＨ４またはＳｉ２Ｈ６ガスおよびＯ２ガスを導入し、上記第１のシリコン酸化膜２０６の成膜に準じた条件でプラズマ処理を行なうことにより、窒化膜２０７上に、第２の酸化膜２０８を形成する。
以上のようにして、ＯＮＯ積層膜２３０を形成する。【００５３】
以上の工程の後、図３Ｄに示すように、ＯＮＯ積層膜２３０の上に、第２のポリシリコン層２０９を積層し、さらに必要に応じてＷＳｉ等の金属シリサイド層（または金属層）２１０を積層する。さらに、ＳｉＮ等のエッチストッパ層（図示せず）を形成する。フォトリソグラフィーによりパターニングし、エッチングを行って最後に、図示しないソースおよびドレインの形成、コンタクト形成などを行なうことにより、フラッシュメモリ素子２００を製造することができる。【００５４】
次に、本発明の基礎となった試験について述べる。
図４は、図１のプラズマ処理装置１００により酸化膜の形成を行なった際の処理ガス（ＡｒおよびＯ２）中のＯ２割合と、酸化膜の膜厚および粗さ（非均一性）との関係を測定した結果である。プラズマ処理条件は、チャンバー内圧力１３３Ｐａ、温度５００℃、マイクロ波パワー２７５０Ｗ、処理時間を１８０秒とし、全ガス流量が５００ｍＬ／ｍｉｎになるように、Ａｒガス流量を３７５〜４９５ｍＬ／ｍｉｎ、Ｏ２ガス流量を２．５〜１２５ｍＬ／ｍｉｎ（処理ガス中の酸素の割合は０．５〜２５％；酸素分圧としては、０．６６〜３３．２５Ｐａ）で変化させた。【００５５】
図４から、Ｏ２割合（分圧）が高くなるに従い、酸化膜の膜厚が減少しており、酸化レートの低下がみられる。また、Ｏ２割合（分圧）が高くなるに従い、酸化膜の均一性も低下している。
しかし、Ａｒ中のＯ２割合が０．５〜２．５％（酸素分圧は１．３３〜２．６６Ｐａ）程度までは膜厚が増大しており、Ａｒ中のＯ２割合１〜２％（酸素分圧は１．３３〜１．９９５Ｐａ）が最も膜厚が大きくなっている。
また、Ｏ２割合０．５〜５％であれば、膜の均一性も良好である。酸化レートを考慮すると、Ｏ２割合は０．５〜５％（酸素分圧は０．６６〜６．６７Ｐａ）が好ましく、より好ましくは、０．５〜２．５％（酸素分圧は０．６６〜２．６６Ｐａ）が望ましいことが示された。【００５６】
次に、図５Ａ〜図５Ｉに概略を示す手順で素子テストパターンを作製し、得られた酸化膜について、各種の電気的特性および物理的特性を評価した。
図５Ａでは、まず、Ｓｉ基板３００上に熱ＣＶＤにより膜厚１００ｎｍの絶縁膜３０１を形成し、次に、図５Ｂに示すように、絶縁膜３０１上にＣＶＤによって膜厚１５０ｎｍの第1のポリシリコン層３０２を形成した。この際、第１のポリシリコン層３０２には、５×１０２０ａｔｏｍ／ｃｍ３のＰをドープし、８００℃で１５分加熱することによってＰの拡散を行なった。【００５７】
次に、第１のポリシリコン層３０２にレジスト膜（図示せず）を形成した後、図５Ｃではフォトリソグラフィーによる露光、現像、エッチング、洗浄を実施して、パターニングを行なった。
次いで、図５Ｄでは、エッチング後の各ポリシリコン層３０２に対しプラズマ酸化処理を行い、酸化膜３０３を形成した。この酸化膜３０３の形成は、図１のプラズマ処理装置により、チャンバー内圧力１３３Ｐａ、温度５００℃、マイクロ波パワー２７５０Ｗ、５００ｍＬ／ｍｉｎのＡｒガスおよび５ｍＬ／ｍｉｎのＯ２ガスを用いてＲＬＳＡプラズマ酸化処理を行うことにより実施した。また、比較のため、ＨＴＯ（High Temperature Oxidizing）−ＣＶＤ処理、ｄｒｙ−熱酸化処理によってもＳｉＯ２膜の成膜を行なった。ｄｒｙ−熱酸化は、９００℃のＯ２ドライ熱酸化で酸化膜厚が３．５ｎｍとなるように行なった。また、ＨＴＯ−ＣＶＤは、ＳｉＨ２Ｃｌ２とＮ２Ｏを用い、７８０℃で酸化膜を形成した。【００５８】
次に、図５Ｅに示すように、ＨＴＯ−ＣＶＤ法により、酸化膜３０３を覆うように膜厚１６００オングストロームの第２のポリシリコン層３０４を成膜した。この第２のポリシリコン層３０４を成膜後、ＰＯＣｌ３を用いたアニールにより４×１０２０ａｔｏｍ／ｃｍ３のリンを拡散させた。【００５９】
さらに図５Ｆに示すように、レジスト膜（図示せず）を形成した後フォトリソグラフィーによる露光、現像、エッチング、洗浄を実施して、パターニングを行なった。【００６０】
図５Ｇでは、上記のように形成された電極を覆うようにＣＶＤを行い、絶縁膜３０５を形成し、さらに図５Ｈに示すように、コンタクトメタル形成を行なった。コンタクトメタル３０６は、フォトリソグラフィーによりコンタクトホールを形成した後、アルミニウムをスパッタリングによって埋め込み、さらにフォトリソグラフィーにより露光、現像、エッチングを行なうことによって実施した。コンタクトメタル形成後、４００℃、３０分間アルミニウムへのＨ２シンター処理を実施した。
以上のようにして形成されたゲート電極３１０に、図５Ｉで示すようにプローバーを接続し、各種電気特性の測定に供した。【００６１】
図６は、ゲート電極３１０において、酸化膜３０３より上の層をＨＦで処理して剥離した後の第１のポリシリコン層３０２の表面（１０μｍ×１０μｍ）を、ＡＦＭ（原子間力顕微鏡；Atomic Force Microscopy）により測定し、表面粗さ（ラフネス）を比較した結果を示す。また、図７Ａ〜図７Ｃは、同測定における第１のポリシリコン層３０２の表面の測定結果を示すイメージ図であり、図７Ａは本発明のプラズマ処理、図７ＢはＨＴＯ−ＣＶＤ処理、図７Ｃはｄｒｙ−熱酸化処理による結果を示す。【００６２】
図６および図７Ａ〜図７Ｃに示されるように、ｄｒｙ−熱酸化処理をした場合には表面ラフネスが最も大きく、また、第１のポリシリコン層３０２の表面には突起が形成されており、この突起部分は酸化膜３０３のＳｉＯ２の膜厚が薄くなるため、耐圧劣化につながる。ＨＴＯ−ＣＶＤ処理の場合には、ラフネスは改善されたが、図１のプラズマ処理装置１００を用いたプラズマ処理では、さらにラフネスが小さく、緻密で良好な膜質であった。また、第１のポリシリコン層３０２の表面に熱酸化処理のような突起は確認されなかった。【００６３】
図８Ａ〜図８Ｃは、第１のポリシリコン層３０２の断面を示すＴＥＭ（透過型電子顕微鏡）写真であり、図８Ａは絶縁膜３０３を形成する前（酸化処理前）の状態を示しており、図８Ｂは、図１のプラズマ処理装置１００による本発明の酸化処理を実施した後の状態を示しており、図８Ｃは、熱酸化処理後の状態を示している。
図８Ｃに示すように、第１のポリシリコン層３０２中では、高温によるポリシリコンの再結晶化が顕著に観察されたが、本発明方法による図８Ｂの場合は、処理前である図８Ａと比較しても同等の結晶サイズおよび平坦性を維持できることが示された。【００６４】
次に、不純物をドープしたポリシリコンに単層の酸化膜を形成したサンプルを調製し、不純物の拡散状態を測定した。図９は、Ｐをドープしたポリシリコン層に対し、図１のプラズマ処理装置１００を用い、チャンバー内圧力１３３Ｐａ、温度５００℃、マイクロ波パワー２７５０Ｗ、５００ｍＬ／ｍｉｎのＡｒガスおよび５ｍＬ／ｍｉｎのＯ２ガスを用いてＲＬＳＡプラズマ酸化して酸化膜を形成した場合と、１１３０℃の酸素雰囲気条件で熱酸化処理によりポリシリコンを酸化して酸化膜を形成した場合のドーパントの深さ方向分布をＳＩＭＳ（二次イオン質量分析法；Secondary Ion Mass Spectrometry）によって調査した結果を示している。同様に、図１０は、Ｂをドープしたポリシリコン層に同様に酸化膜を形成し、ＳＩＭＳにより測定した場合の深さ方向分布を示している。なお、図９、図１０において、横軸は、酸化膜表面からの深さであり、三角印は、ポリシリコン層と酸化膜との界面を示している。【００６５】
熱酸化の場合は、図９より、界面付近でＰの濃度が高く顕著であり、また、図１０より、界面付近のＢの濃度が高く、酸化膜中へのＢの吸上げが顕著に見られ、ポリシリコン層中のＢの濃度まで変化が見られた。これに対して、本発明のプラズマ処理の場合には、不純物の濃度および再拡散が抑制されており、良質な酸化膜が形成できることが示された。【００６６】
図１１Ａ〜図１１Ｄは、図９と同一のサンプルについて、ポリシリコン層と酸化膜（ＳｉＯ２）との境界付近の断面を示しており、図１１Ａおよび図１１ＢはＴＥＭによる測定画像、図１１Ｃおよび図１１Ｄは、ＥＥＬＳ（電子エネルギー損失分光法；Electron Energy Loss Spectroscopy）による測定画像を示している。
図１１Ｂおよび図１１Ｄより、熱酸化処理の場合には、酸化膜とポリシリコン層との界面に、絶縁破壊の起点となるＰの偏析が観察された。図１１Ｄ中に円で囲った部分は、Ｐが偏析した領域を示している。一方、プラズマ処理装置１００を用いた酸化の場合、図１１Ａおよび図１１Ｃに示すようにＰの偏析は観察されず、ドーパントの再拡散が抑制されていることがわかる。【００６７】
図１２および図１３は、図５Ａ〜図５Ｉのようにして得られたゲート電極３１０の絶縁特性を調べた結果を示す図面である。
図１２は、本発明のプラズマ処理で形成した酸化膜、ＨＴＯ−ＣＶＤで形成した酸化膜およびｄｒｙ−熱酸化による酸化膜のＪ−Ｅプロットを比較したグラフである。図１２のグラフの縦軸のＪｇは、ゲート酸化膜を介して流れる単位面積当りのリーク電流を意味する。また横軸のＥｏｘは、ゲート酸化膜にかかる電界強度を意味し、下式によって求められる。
Ｅｏｘ＝印加電圧／Ｔｏｘ
Ｔｏｘ＝（εｏｘ×ε０×電極面積）／Ｃ
ここで、εｏｘは酸化膜の誘電率、ε０は真空の誘電率、Ｃはゲート酸化膜の容量値Ｃ-Ｖ測定から求められる値である。【００６８】
Ｊ−Ｅプロットは、図１のプラズマ処理装置１００を用いて７ｎｍの膜厚の酸化膜を形成した場合（ａ）、１２ｎｍの膜厚の酸化膜を形成した場合（ｂ）、ＨＴＯ−ＣＶＤにより１２ｎｍの膜厚の酸化膜を形成した場合（ｃ）、ｄｒｙ−熱酸化により１５ｎｍの酸化膜を形成した場合（ｄ）について比較を行なった。
図１２より、図１のプラズマ処理装置１００を用いた酸化処理により得られた酸化膜では、熱酸化処理による酸化膜と比較するとＪｇが小さく、膜厚に関わらず耐圧が非常に良好なことがわかる。よって、７ｎｍのプラズマ酸化膜でも効果があることが示された。【００６９】
図１３は、リーク電流密度が１×１０−６［Ａ／ｃｍ２］のときの電界強度とＴｏｘの関係を示している。この図から、プラズマ酸化で形成した酸化膜のほうが、熱酸化で形成した酸化膜に比べて高耐圧であることがわかる。
また、本試験では、図５Ｄの工程において、プラズマ処理装置１００による酸化膜を３ｎｍ形成後に、１０００℃度でＯ２ガス雰囲気でｄｒｙ−熱酸化処理をして、合計１０ｎｍの酸化膜としたテストパターン（ゲート電極）についても測定を実施し、グラフ中にプロットした。この結果から、プラズマ酸化処理後に熱酸化前を施すと、耐圧が改善することも判明した。この現象は、面方位依存性が生じやすい初期酸化過程をプラズマ酸化により行なうことにより、表面凹凸の発生が抑制され、その後に熱酸化を行なった場合でも酸化膜の耐圧が向上した結果であると考えられる。【００７０】
次に、プラズマ酸化膜と熱酸化膜に、ＣＣＳ＝−０．１Ａ／ｃｍ２のストレスを与えたときのＱｂｄを測定した。その結果、熱酸化膜のＱｂｄは０［Ｃ／ｃｍ２］であったのに対し、プラズマ酸化膜のＱｂｄは、３．８［Ｃ／ｃｍ２］であった。この結果から、熱酸化膜と比較して、プラズマ酸化膜の信頼性は非常に高いことがわかる。【００７１】
図１４および図１５は、図５Ａ〜図５Ｉのようにして得られたゲート電極３１０の酸化膜３０３の絶縁特性を調べた結果のＪ−Ｅプロットを示すグラフである。【００７２】
図１４に示すＪ−Ｅプロットは、図１のプラズマ処理装置１００を用い、ＡｒとＯ２を流量比Ａｒ：Ｏ２＝５００：５ｍＬ／ｍｉｎ（ｓｃｃｍ）で供給し、処理圧力１３３．３３Ｐａ、マイクロ波パワー２７５０Ｗ、処理温度５００℃でプラズマ酸化処理を行うことによって膜厚７ｎｍの酸化膜３０３を形成した場合の測定結果である。【００７３】
また、図１５に示すＪ−Ｅプロットは、図１のプラズマ処理装置１００を用い、ＡｒとＯ２とＨ２とを、流量比Ａｒ：Ｏ２：Ｈ２＝５００：５：１ｍＬ／ｍｉｎ（ｓｃｃｍ）で供給し、上記と同様の処理圧力、マイクロ波パワーおよび処理温度でプラズマ酸化処理を行うことによって、上記と同様の膜厚で酸化膜３０３を形成した場合の測定結果である。【００７４】
図１４より、図１のプラズマ処理装置１００を用い、水素が存在しない処理ガスを用いてプラズマ酸化処理して得られた酸化膜３０３では、デバイス間でＪｇのばらつきが小さく、耐圧性能が非常に良好であった。これに対して、図１５より、ＡｒおよびＯ２とともに、１ｍＬ／ｍｉｎ（ｓｃｃｍ）の水素を供給してプラズマ酸化処理を行うことにより得られた酸化膜３０３では、デバイス間でＪｇのばらつきが大きく、耐圧性能のばらつきも大きかった。これは、酸化膜３０３の形成過程でプラズマ中に水素（ラジカル、イオン）が存在することにより、ポリシリコンへの水素ダメージが入ること、および、形成される酸化膜に水素が存在するとそれが脱離してホールトラップが形成されることによって、絶縁耐性を不安定なものにしているものと推測された。この傾向は、被処理体が単結晶シリコンの場合よりも、ポリシリコンの場合に特に顕著に現れた。【００７５】
従って、形成されるシリコン酸化膜（ＳｉＯ２）の絶縁特性を十分なものとする観点から、図１のプラズマ処理装置１００を用いたプラズマ酸化処理における処理ガス中には水素を含まないことが好ましい。また、プラズマ酸化処理を行う処理チャンバー１内には水素が存在していないことが好ましいから、プラズマ酸化処理の前に、前記シーズニングを実施して水素を除去しておくことが好ましい。特に、ポリシリコンを酸化処理してシリコン酸化膜を形成する場合には、シーズニングにより、絶縁特性の大きな改善効果が期待できる。【００７６】
以上、本発明の実施形態を述べたが、本発明は上記実施形態に制約されることはなく、種々の変形が可能である。
例えば、図３Ａ〜図３Ｄの実施形態では、フラッシュメモリ素子２００を例に挙げたが、本発明の酸化膜の形成方法は、通常のトランジスタのゲート酸化膜や、薄膜トランジスタのゲート酸化膜を形成する場合にも好適に適用できる。例えば、図１６は、ガラス基板２１１に第１のポリシリコン層２１２が積層され、その上にゲート酸化膜２１３および第２のポリシリコン層２１４が形成された薄膜トランジスタ２２０の模式図である。この薄膜トランジスタ２２０において、ゲート酸化膜２１３を形成する場合に、プラズマ処理装置１００を用いてガス流量を制御しながらプラズマ酸化処理を施すことによって、高い酸化レートで良質な酸化膜を形成することができる。【００７７】
また、上記実施形態では、ＡｒとＯ２とを含む処理ガスを用いて酸化処理を行なったが、さらにＮ２、ＮＯ、Ｎ２Ｏ、ＮＯ２、ＮＨ３等のガスを含む処理ガスを用いることもできる。特に、処理ガス中に窒素を含むガスを混合することにより、ポリシリコンと酸化膜との界面に窒素が導入された酸窒化膜を形成し、その上に、熱酸化（加熱）を行ない酸化膜を形成する２段階酸化処理をすることによって、工程数を削減できる。また、これにより、ポリシリコンとの界面の酸化膜欠陥を修復することができ、半導体装置の信頼性を向上させ得るとともに、ポリシリコン中の不純物が酸化膜中へ移行する拡散を防止できる。【００７８】
さらに、本実施形態で形成したシリコン酸化膜に図1のプラズマ処理装置１００を用いてＡｒとＮ２の混合ガスのプラズマを照射し、シリコン酸化膜を窒化処理してシリコン窒化膜を形成し、その上に熱酸化膜を形成するようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００７９】
本発明は、フラッシュメモリ素子やトランジスタなどの各種半導体装置の製造に好適に利用できる。
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図３Ｄ】
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【図４】
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【図５Ａ】
0004739215.tif 000009
【図５Ｂ】
0004739215.tif 000010
【図５Ｃ】
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【図５Ｄ】
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【図５Ｅ】
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【図５Ｆ】
0004739215.tif 000014
【図５Ｇ】
0004739215.tif 000015
【図５Ｈ】
0004739215.tif 000016
【図５Ｉ】
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【図６】
0004739215.tif 000018
【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
0004739215.tif 000020
【図７Ｃ】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図８Ｃ】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１１Ｃ】
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【図１１Ｄ】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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