(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｎ種類（ｎは３以上）の原料の組合せ比率が、ｎ元系の組成図の互いに異なる組成点の比率となるように混合して成る化学生成物である複数の試料から成るライブラリをＸ線回折を用いて分析するライブラリ分析方法であって、
（１）前記複数の試料に互いに異なる符号を付するステップと、
（２）前記複数の試料のそれぞれに対してＸ線回折測定を行うことによって実測Ｘ線回折プロファイルを前記試料の符号毎に作成するステップと、
（３）前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと、化合物のデータベースに保存された前記原料を構成する元素の組合せから成る標準Ｘ線回折プロファイルと、を照合することにより純化合物を検索し、純化合物の存在する組成点を決定するステップと、
（４）純化合物の存在する組成点のうち、同一座標面にあるもの３点を選択して１つの三角形を形成するステップと、
（５）前記三角形に含まれるそれぞれの組成点に対応する試料の実測Ｘ線回折プロファイルと、前記３点の純化合物の前記標準Ｘ線回折プロファイルと、を順次に照合して、予め定められた相関以上に一致した前記標準Ｘ線回折プロファイルを前記実測Ｘ線回折プロファイルから削除するステップと、
（６）前記（５）のステップを前記１つの三角形に含まれる全ての組成点の試料に対して繰り返し、その繰り返しの後に残った実測Ｘ線回折プロファイルを前記符号毎に保存するステップと、
を備えていることを特徴とするライブラリ分析方法。
【請求項２】
前記純化合物の組成点を選択し、次に同一座標面でその組成点に最も近い距離にある純化合物の組成点を選択し、さらに同一座標面で次に近い距離にある純化合物の組成点を選択して前記１つの三角形を形成し、
前記１つの三角形と重複しないという条件の下、前記１つの三角形の１辺を形成する２つの組成点と、他の前記純化合物の組成点とから他の三角形を形成する
ことを特徴とする請求項１記載のライブラリ分析方法。
【請求項３】
前記純化合物の組成点のうちの３点で形成される三角形が複数形成される場合において、全ての三角形について、前記（１）から（６）のステップを繰り返すことを特徴とする請求項１又は請求項２記載のライブラリ分析方法。
【請求項４】
請求項１から請求項３の少なくとも１つに記載のライブラリ分析方法において、
前記（６）のステップを実行した結果において残った前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルの中で同定できないものと、前記ｎ種類の原料を構成する元素のうちの少なくとも１つを他の元素に置き換えて得られる物質の前記標準Ｘ線回折プロファイルと、を照合する
ことを特徴とするライブラリ分析方法。
【請求項５】
ライブラリプレート上の予め定められた複数の試料形成点にそれぞれ１つずつ試料が形成されて成るライブラリを分析するライブラリ分析装置であって、
前記試料は複数種の原料を異なる比率の組合せで混合して成る化学生成物であり、
前記比率は前記原料の種類数ｎ（ｎは３以上）に相当するｎ元系の組成図の組成点の比率となされており、
前記試料にはそれぞれ異なる符合が付されており、
前記ライブラリ分析装置は、入力手段と、Ｘ線計測手段と、制御手段と、分析手段と、データベースとを有し、
前記Ｘ線計測手段は、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の座標軸と、Ｘ軸上及びＹ軸上で予め定められた基準点と、前記ライブラリプレートを支持するための支持台とを有し、前記支持台は前記Ｘ軸方向及び／又は前記Ｙ軸方向に移動して前記試料形成点を前記基準点へ移動させることができ、
前記入力手段は、ライブラリのデータ及びライブラリプレート上の複数の試料形成点の位置に関するデータを入力するための入力手段であり、
前記制御手段は、
前記入力手段から入力された前記ライブラリプレート上にある前記複数の試料形成点の位置に関するデータに基づいて、前記Ｘ線計測手段の前記基準点から前記試料形成点のそれぞれのＸ軸方向及びＹ軸方向の偏差を演算し、
その偏差に基づいて前記試料形成点が順次に前記測定点に自動的に移動するよう前記支持台を移送し、
前記Ｘ線計測手段は、前記測定点に順次に移送された前記複数の試料の個々に対して順次にＸ線回折測定を行い、
前記分析手段により、
（１）前記実測Ｘ線回折プロファイルを前記試料の符号毎に作成するステップと、
（２）前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと、化合物のデータベースに保存された前記原料を構成する元素の組合せから成る標準Ｘ線回折プロファイルと、を照合することにより純化合物を検索し、純化合物の存在する組成点を決定するステップと、
（３）純化合物の存在する組成点のうち、同一座標面にあるもの３点を選択して１つの三角形を形成するステップと、
（４）前記三角形に含まれるそれぞれの組成点の試料の実測Ｘ線回折プロファイルと、前記３点の純化合物の前記標準Ｘ線回折プロファイルと、を順次に照合して、予め定められた相関以上に一致した前記標準Ｘ線回折プロファイルを前記実測Ｘ線回折プロファイルから削除するステップと、
（５）前記（４）のステップを前記１つの三角形に含まれる全ての組成点の試料に対して繰り返し、残った実測Ｘ線回折プロファイルを前記符号毎に保存するステップと、が実行される
ことを特徴とするライブラリ分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数種の原料を互いに異なる比率で混合して調製される複数、例えば、数十以上の試料を、Ｘ線回折測定を用いて分析するのに適したライブラリ分析方法及びライブラリ分析装置に関する。特に、多元系の組成図の組成点を形成する複数の試料を自動的に分析し、組成図を形成する複数の試料の中から未知物質を定性分析するのに適したライブラリ分析方法及びライブラリ分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
無機材料を例に挙げると、近年、ファインセラミックス技術の進歩により、セラミックス材料の結晶構造、組成、結晶粒の大きさ等をミクロンからナノスケールで制御できるようになっている。このため、セラミックス材料の電子材料等への応用展開の途が急速に拡大している。なかでも、セラミックスの酸化物は、誘電特性や、磁気特性や、電気導電性等において幅広い物性を有する。セラミックス材料の機能の多様性は、セラミックス材料として制御すべきパラメータがその不定比性、結晶構造の異方性等も含めて極めて多様であることを意味している。
【０００３】
その結果、従来のように出発原料である複数種の無機物質原料を互いに異なる比率で混合し、さらに焼成してセラミックス材料を１つ１つ製造し、それらの性質を調べる方法では、目的の物質材料に到達するまでに膨大な時間がかかるばかりでなく、勘と経験の及ばない偶然な発見につながる可能性は極めて低いものとなる。
【０００４】
さらに、同じ系統の物質を取り扱う際に、その取り扱いを複数の人間で行うと、ヒューマンエラーによる誤差を生ずる確立が高くなる。新規セラミックス材料の探索には、自動処理装置を用いることにより多種の原料の組合せを系統的に制御しつつ生成することに加えて、材料の分析を自動的に行うことができるようにすることが重要になる。つまり、膨大な種類の材料が分析されずに蓄積されることがないよう、材料の分析を自動化することにより、新規セラミックス材料の探索を効果的に行うことが可能となる。
【０００５】
また、有機物質原料の場合を例にとっても、例えば、医薬品の分野で、効果的な薬剤の開発において、同様にコビナトリアル手法が広く採用されていることはよく知られている。この分野においても、複数種の原料を混合して混合比の異なる膨大な数の試料を正確に、且つ短時間で生成することに加えて、試料生成のタイミングに合わせて分析することができれば、広く科学技術分野で新規材料の探索が大いに進歩することが期待できる。
【０００６】
発明者らは、複数の無機物質原料を互いに異なる比率の組合せで混合して成る試料を多数生成すると共にこれらの試料を分析するための化学反応処理装置を発明し、この装置に関して特許出願を行った（例えば、特許文献１参照）。この化学反応処理装置を使うことにより、容易な制御により、多種多数の化学生成物を得ると共に、それらを分析評価できることとなった。
【０００７】
化学生成物を定性分析する方法としては、Ｘ線を利用する方法が最も広く採用されている（例えば、特許文献２参照）。この方法では、試料のＸ線回折測定を行うことによって実測Ｘ線回折プロファイルを求め、試料に含まれる元素についての可能な組合せによって得られる化合物の標準Ｘ線回折プロファイルとを照合する定性分析方法が提案されている。しかしながら、コンビナトリアル手法によって得られる多種多数の化学生成物の個別の定性分析を従来の方法で分析するのでは、その分析のために長い時間を要し、材料探索の上での大きな障害の１つになりかねない。特に、３種類以上の試料から成る原料を互いに異なる比率で混合して成る化学生成物の場合、試料の種類が膨大になり、それ故、材料の探索が困難なものとなっていた。
【０００８】
【特許文献１】特開２００１−２１９０５２号公報（第３〜７頁、図２）
【特許文献２】特許第３４５２２７８号公報（第３〜６頁、図１〜４）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、例えば、本発明者らが開発した上述の化学反応装置を使って得られるような実測Ｘ線回折プロファイルであって、組成図の組成点に位置する多種類の試料から成るライブラリをＸ線回折測定で測定した結果において得られた実測Ｘ線回折プロファイルに基づいて、試料を構成する化合物を効率的に定性分析することのできるライブラリ分析方法及びライブラリ分析装置を提供することを目的とする。
【００１０】
特に、ライブラリの中の試料に未知物質が存在している場合に、その未知物質を効率的に評価して定性分析することに関して有効なライブラリ分析方法及びライブラリ分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上述の問題点を解決するために成されたものであって、組成図の組成点に位置する試料の実測Ｘ線回折プロファイルと、データベースの標準Ｘ線回折プロファイルとを照合することにより、３種類以上の純化合物を同定し、それらのうちの３種類の純化合物が位置する組成点を結んだ三角形の中に含まれる組成点の試料の実測Ｘ線回折プロファイルから３種類の純化合物の中の一致するＸ線回折プロファイルを削除し、その結果、残ったＸ線回折プロファイルがあれば、その残ったＸ線回折プロファイルを他の純化合物として同定したり、その同定ができない場合には未知物質のＸ線回折プロファイルとして分析、すなわち評価する。
【００１２】
（１）すなわち、本発明に係るライブラリ分析方法は、ｎ種類（ｎは３以上）の原料の組合せ比率が、ｎ元系の組成図の互いに異なる組成点の比率となるように混合して成る化学生成物である複数の試料から成るライブラリに対してＸ線回折測定を行うことによってそのライブラリを分析するライブラリの分析方法であって、
（ｉ）前記複数の試料に互いに異なる符号を付するステップと、
（ｉｉ）前記複数の試料のそれぞれに対してＸ線回折測定を行うことによって実測Ｘ線回折プロファイルを前記試料の符号毎に作成するステップと、
（ｉｉｉ）前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと化合物のデータベースに保存された前記原料を構成する元素の組合せから成る標準Ｘ線回折プロファイルとを照合することにより純化合物を検索し、純化合物の存在する組成点を決定するステップと、
（ｉｖ）純化合物の存在する組成点のうち、同一座標面にあるもの３点を選択し、１つの三角形を形成するステップと、
（ｖ）前記三角形に含まれるそれぞれの組成点の試料の実測Ｘ線回折プロファイルと前記３点の純化合物の前記標準Ｘ線回折プロファイルとを順次に照合して、予め定められた相関以上に一致した前記標準Ｘ線回折プロファイルを前記実測Ｘ線回折プロファイルから削除するステップと、
（ｖｉ）前記（ｖ）のステップを前記１つの三角形に含まれる全ての組成点の試料に対して繰り返し、その繰り返しの後に残った実測Ｘ線回折プロファイルを前記符号毎に保存するステップと、
を備えていることを特徴とする。
【００１３】
上記構成において、「組成図」とは、原料の種類が３種類の場合は３元系となり、３元組成図と呼ばれる。また、原料の種類が４種類の場合は、４元組成図となる。「組成点」とは、組成図を含む座標上において、その組成図を構成する各頂点と頂点を結ぶ辺を等間隔でいくつかに分割したときにそれらの線が交差する点、及びそれらの線と各辺とが交差する点である。座標上で各頂点と頂点とをいくつに分割するかは、分析者が指示できる。各組成点は、試料に含まれる複数の原料の組成比を示すものである。なお、座標の分割数を多くすることにより、より細かい間隔で試料を生成することができる。また、１つの組成図上の複数の組成点は、必ずしも同じ分割数に応じて引かれた線の上にある必要はなく、部分的に分割数が異なっていても良い。
【００１４】
「ライブラリ」とは、複数の異なる試料の集合体であり、例えば、１枚のライブラリプレートの上に形成されるものである。１枚のライブラリプレートの上に複数の試料が規則的に配列されていると、それらの試料に対してＸ線測定を自動的に行うことが容易になるので、好ましい。
【００１５】
「ｎ」は一般的には「３」である。「３」であれば、組成図を平面上、つまり１つの座標面に表現できるので、分析者は組成図を直感的に理解できる。また、「ｎ」が「４」の場合、座標面は、角錐形（三角錐）の側面を形成する「４つ」と、それらに並行で、座標の分割数の数によって決まる座標面が存在する。「ｎ」は、特には限定されないが、直感的に理解できる「３」又は「４」が好ましい。現在の新規材料の探索は、５元素系、６元素系、……といったように、多くの種類の原料を組み合わせることが多いが、その場合、多元素から成る純化合物を原料として３元組成図や４元組成図を形成することにより、複雑な系を対象とすることができる。
【００１６】
「実測Ｘ線回折プロファイル」は、例えば、横軸にＸ線回折角度（２θ）をとり、縦軸に回折Ｘ線強度をとったグラフ上に表された線図のことであって、試料に入射するＸ線の入射角度を変化させたときに、その試料で回折するＸ線の回折角度及びその回折Ｘ線の強度を表すものである。「データベースに保存された標準Ｘ線回折プロファイル」とは、あらゆる種類の化合物に対して予めＸ線回折測定を行ったときに得られたＸ線回折プロファイルである。例えば、ＪＣＰＤＦファイルとして広く知られているものは、標準Ｘ線回折プロファイルに基づくピークサーチ結果が各種の化合物ごとにカードの形で標準ピークカードとしてまとめられている。また、ＩＣＤＤデータベースも実測Ｘ線回折プロファイルとして広く知られている。
【００１７】
実測Ｘ線回折プロファイルとデータベースの標準Ｘ線回折プロファイルとを照合する方法は、特に限定されないが、例えば、Ｊａｄｅ社の定性分析ソフトを使った検索方法等といった公知の方法が挙げられる。
【００１８】
「純化合物」とは、複数の原料を混合することによって１種類の化学生成物が得られたときの化合物である。純化合物を得ることができる条件が解れば、目的の材料を効率よく高純度で得ることができる。また、同じ純化合物が複数の組成点で見出された場合は、その中の任意の組成点のひとつを純化合物の存在する組成点とすることができる。より厳密には、純化合物の化学式から求められる座標点を純化合物の存在する組成点とすることができる。この場合、純化合物の組成点は、必ずしも当初に決めた座標の分割数に応じた座標点である必要はない。
【００１９】
また、上述の三角形に含まれるそれぞれの組成点の試料は、平衡状態であれば、ギブスの相律により次の組成領域、すなわち、１種類の純化合物のみの組成領域、２種類の純化合物が混合した組成領域、及び３種類の純化合物が混合した組成領域のいずれかに分類される。そのため、上述の実測Ｘ線回折プロファイルから３種類の純化合物の標準Ｘ線回折プロファイルを削除した結果、実測Ｘ線回折プロファイルが残れば、そこに他の純化合物が存在する可能性又は未知物質が存在する可能性が高いと判断できる。
【００２０】
（２）次に、上記（１）のライブラリ分析方法においては、前記純化合物の１つの組成点を選択し、次に同一座標面でその組成点に最も近い距離にある純化合物の組成点を選択し、次に同一座標面で次に近い距離にある純化合物の組成点を選択して前記１つの三角形を形成し、さらに、前記１つの三角形と重複しないという条件の下で、前記１つの三角形の１辺を形成する２つの組成点と、他の前記純化合物の組成点とから他の三角形を形成することが望ましい。
【００２１】
３つの組成点で形成される三角形で、対象となる組成図の範囲の全てを重複することなく覆うことにより、漏れなく、ライブラリを構成する試料を分析することができる。
【００２２】
（３）次に、上記（１）又は（２）のライブラリ分析方法においては、前記純化合物の組成点のうちの３点で形成される三角形が複数形成される場合において、それら全ての三角形について、前記（ｉ）から（ｖｉ）のステップを繰り返すことが望ましい。
【００２３】
（４）次に、上記（１）から（３）に記載のライブラリ分析方法においては、前記（ｖｉ）のステップを実行した結果において残った前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルの中で同定できないものと、前記ｎ種類の原料を構成する元素のうちの少なくとも１つを他の元素に置き換えて得られる物質の前記標準Ｘ線回折プロファイルと、を照合することが望ましい。
【００２４】
同定できないＸ線回折プロファイルが見つかるということは、原料を構成する元素によって未知の物質が合成されており、その未知の物質は新規な結晶構造を有する可能性がある。そこで、その未知物質を他の既知化合物と比較することにより、未知物質の結晶構造を推定することが可能となる。置き換える元素としては、原料の元素と価数が同じものやイオン半径が近いものを選ぶことにより、未知物質の結晶構造を推定することが容易になる。
【００２５】
（５）次に、本発明に係るライブラリ分析装置は、
（ア）ライブラリプレート上の予め定められた複数の試料形成点に試料が形成されて成るライブラリを分析するライブラリ分析装置であって、
（イ）前記試料は複数種の原料を互いに異なる比率の組合せで混合して成る化学生成物であり、
（ウ）前記比率は前記原料の種類数ｎ（ｎは３以上）に相当するｎ元系の組成図の組成点の比率となされており、
（エ）前記試料にはそれぞれ異なる符合が付されており、
（オ）前記ライブラリ分析装置は、入力手段と、Ｘ線計測手段と、制御手段と、分析手段と、データベースとを有し、
（カ）前記Ｘ線計測手段は、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の座標軸と、Ｘ軸上及びＹ軸上で予め定められた基準点と、前記ライブラリプレートを支持するための支持台とを有し、
（キ）前記入力手段は、ライブラリのデータ及びライブラリプレート上の複数の試料形成点の位置に関するデータを入力するための入力手段であり、
（ク）前記支持台は前記Ｘ軸方向及び／又は前記Ｙ軸方向に移動して前記試料形成点を前記基準点へ移動させることができ、
（ケ）前記制御手段は、
前記入力手段から入力された前記ライブラリプレート上にある前記複数の試料形成点の位置に関するデータに基づいて、前記Ｘ線計測手段の前記基準点から前記試料形成点のそれぞれのＸ軸方向及びＹ軸方向の偏差を演算し、
その偏差に基づいて前記試料形成点が順次に前記測定点に自動的に移動するよう前記支持台を移送し、
（コ）前記Ｘ線計測手段は、前記測定点に順次に移送された前記複数の試料の個々に対して順次にＸ線回折測定を行い、
（サ）前記分析手段により、
（ｉ）前記実測Ｘ線回折プロファイルを前記試料の符号毎に作成するステップと、
（ｉｉ）前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと、化合物のデータベースに保存された前記原料を構成する元素の組合せから成る標準Ｘ線回折プロファイルと、を照合することにより純化合物を検索し、純化合物の存在する組成点を決定するステップと、
（ｉｉｉ）純化合物の存在する組成点のうち、同一座標面にあるもの３点を選択して１つの三角形を形成するステップと、
（ｉｖ）前記三角形に含まれるそれぞれの組成点の試料の実測Ｘ線回折プロファイルと、前記３点の純化合物の前記標準Ｘ線回折プロファイルと、を順次に照合して、予め定められた相関以上に一致した前記標準Ｘ線回折プロファイルを前記実測Ｘ線回折プロファイルから削除するステップと、
（ｖ）前記（ｉｖ）のステップを前記１つの三角形に含まれる全ての組成点の試料に対して繰り返し、残った実測Ｘ線回折プロファイルを前記符号毎に保存するステップと、が実行されることを特徴とする。
【００２６】
つまり、本発明に係るライブラリ分析装置は、
（ア）ライブラリプレート上の予め定められた複数の試料形成点に試料が形成されて成るライブラリを分析するライブラリ分析装置であって、
（イ）前記試料は複数種の原料を互いに異なる比率の組合せで混合して成る化学生成物であり、
（ウ）前記比率は前記原料の種類数ｎ（ｎは３以上）に相当するｎ元系の組成図の組成点の比率となされており、
（エ）前記試料にはそれぞれ異なる符合が付されており、
（オ）前記ライブラリ分析装置は、入力手段と、Ｘ線計測手段と、制御手段と、分析手段と、データベースとを有し、
（カ）前記Ｘ線計測手段は、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の座標軸と、Ｘ軸上及びＹ軸上で予め定められた基準点と、前記ライブラリプレートを支持するための支持台とを有し、
（キ）前記入力手段は、ライブラリのデータ及びライブラリプレート上の複数の試料形成点の位置に関するデータを入力するための入力手段であり、
（ク）前記支持台は前記Ｘ軸方向及び／又は前記Ｙ軸方向に移動して前記試料形成点を前記基準点へ移動させることができ、
（ケ）前記制御手段は、
前記入力手段から入力された前記ライブラリプレート上にある前記複数の試料形成点の位置に関するデータに基づいて、前記Ｘ線計測手段の前記基準点から前記試料形成点のそれぞれのＸ軸方向及びＹ軸方向の偏差を演算し、
その偏差に基づいて前記試料形成点が順次に前記測定点に自動的に移動するよう前記支持台を移送し、
（コ）前記Ｘ線計測手段は、前記測定点に順次に移送された前記複数の試料の個々に対して順次にＸ線回折測定を行い、
（サ）前記分析手段は、
（ｉ）前記実測Ｘ線回折プロファイルを前記試料の符号毎に作成する手段と、
（ｉｉ）前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと、化合物のデータベースに保存された前記原料を構成する元素の組合せから成る標準Ｘ線回折プロファイルと、を照合することにより純化合物を検索し、純化合物の存在する組成点を決定する手段と、
（ｉｉｉ）純化合物の存在する組成点のうち、同一座標面にあるもの３点を選択して１つの三角形を形成する手段と、
（ｉｖ）前記三角形に含まれるそれぞれの組成点の試料の実測Ｘ線回折プロファイルと、前記３点の純化合物の前記標準Ｘ線回折プロファイルと、を順次に照合して、予め定められた相関以上に一致した前記標準Ｘ線回折プロファイルを前記実測Ｘ線回折プロファイルから削除する手段と、
（ｖ）前記（ｉｖ）の手段を前記１つの三角形に含まれる全ての組成点の試料に対して繰り返して用い、残った実測Ｘ線回折プロファイルを前記符号毎に保存する手段とを有することを特徴とする。
【００２７】
上記の「ライブラリのデータ」としては、例えば、ライブラリを構成する試料の原料の種類と、座標の分割数と、試料の符号等がある。試料の符号の入力は、例えば、ライブラリの一部を分析する場合に、試料を選択する目的で行うことができる。「ライブラリプレート上の複数の試料形成点の位置に関するデータ」は、（ａ）予め複数の試料形成点の位置との関係を設定したり、（ｂ）ライブラリプレートのタイプを決めておくことにより、ライブラリプレートのタイプとすることができる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明のライブラリ分析方法及びライブラリ分析装置によれば、３種類以上の純化合物を同定することにより、３種類の純化合物の組成点で形成される三角形の中の組成点の化学生成物の定性分析を効率的に行うことができる。また、未知化合物の定性分析を容易に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。図１は、本発明のライブラリ分析装置を示す構成図であり、図２は、本発明のライブラリ分析装置の計測手段の要部を示す平面図であり、図３は、本発明のライブラリ分析装置による分析方法を示すフローチャートであり、図４は、本発明のライブラリ分析方法の純化合物の位置を示した組成図であり、図５は、本発明のライブラリ分析方法の組成点に符号を付した組成図であり、図６は、本発明のライブラリ分析方法で得られた分析結果であり、図７は、本発明のライブラリ分析方法で得られた他の分析結果である。
【００３０】
なお、本実施形態では、原料として液状無機物質原料を用い、化学生成物を試料としてＸ線回折測定を行ってその試料を分析する場合を例にとって説明する。図１において、制御手段１は、入力手段２、表示手段３、分析手段４、データベース５、計測手段６、ライブラリ製造手段７、搬送手段８とそれぞれ電気通信手段により結ばれている。
【００３１】
制御手段１及び分析手段４は、例えば、コンピュータのＣＰＵ（Central Processing Unit）等といた演算制御手段と、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ハードディスク等といった記憶媒体とを含んで構成されるシステムによって実現される機能実現手段である。
【００３２】
また、入力手段２は、例えば、キーボードやマウス等といった入力機器が採用されている。また、表示手段３は、例えば、液晶表示装置等といったフラットディスプレイによって構成されている。入力手段２は、表示手段３の画面とタッチパネルとを組み合わせて成るタッチパネル方式の入力装置とすることができ、この入力装置を用いれば操作が簡便になり好ましい。
【００３３】
また、データベース５は、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ハードディスク等といった記憶媒体によって構成される。また、計測手段６は、例えば、Ｘ線測定装置及びライブラリを搬送するための装置を含んで構成される。また、ライブラリ製造手段７は、例えば、ライブラリを製造するために好適な機構を含んで構成される。また、搬送手段８は、例えば、ライブラリ製造手段７によって製造されたライブラリを搬送するために好適な機構を含んで構成される。
【００３４】
ライブラリ製造手段７では、図２に示すように、ライブラリプレート６２上の予め定められた複数の試料形成点６３に１つずつ、全体では複数の試料９が形成されて成るライブラリ２１が製造される。試料９は、複数種の原料を異なる比率の組合せで混合して成る複数、本実施形態では６６個の化学生成物であり、各原料の比率は、原料の種類数ｎ（ｎは３以上）に相当するｎ元系の組成図の組成点の比率となっている。
【００３５】
組成図は、例えば図５に示すような三角形で表現できる図である。この組成図は３種類の原料を用いる場合に相当しているので三角形となっており、三角形の３つの頂点が３つの各原料に相当している。また、０から６５の各数字を与えた個々の点（便宜上、十の位の数字を省略している）がそれぞれ組成点を示している。
【００３６】
図１のライブラリ製造手段７で製造された図２のライブラリ２１は、図１において、搬送手段８によって搬送されて計測手段６へ移送され、計測手段６内において図２に示すライブラリ支持台６１に設置される。
【００３７】
複数の原料を異なる比率の組合せで混合して成る試料９は膨大な数になることから、ライブラリ２１を自動的に製造することにより、膨大な作業量を削減することが可能となり、ヒューマンエラーを避けることも可能となる。また、ライブラリプレート６２の移送が自動的に行われれば、ライブラリ製造からライブラリ分析まで自動化できるので、作業工程を削減でき、ヒューマンエラーを避けるという効果が大きくなる。
【００３８】
次に、ライブラリ２１を自動的に製造する方法を説明する。入力手段２では、（１）混合される複数種の原料の識別名や濃度、（２）組成図の座標の分割数、（３）混合される原料の化学処理条件がデータとして入力される。識別名の入力の方法は、原料名を入力することや、予め入力手段に設けられた入力画面に示された識別名に濃度を入力したり、識別名を選択したりすることによって行われる。原料名と識別名とは別途対応させることになる。化学処理条件とは、ライブラリ製造の各要素操作の条件であり、ライブラリプレート６２上に形成する試料９の量や、加熱による反応を行う場合は乾燥、加熱条件等である。また、ライブラリ製造からライブラリ分析までを自動的に行う場合には、入力手段２から化学処理条件に加えて、（４）ライブラリ分析の条件を入力する。なお、「組成図の座標の分割数」とは、組成図の各頂点と頂点を結ぶ辺を等間隔でいくつかに分割したときのその分割の数のことである。
【００３９】
入力手段２から入力された上記のデータは制御手段１に送られる。制御手段１では、入力手段２から入力された原料の種類の数ｎ（ｎは３以上）に相当するｎ元系の組成図が、例えば図５のように作成される。次に、入力手段２から入力された分割数によって決まる複数、本実施形態では６６個の組成点に図５に示すように互いに異なる符号が付される。図５では、図示する都合で１０の位の数字は省略してある。例えば、頂点の符号は「０」であり、底辺の左端の符号は「５５」であり、底辺の右端の符号は「６５」である。ここで、組成点は複数種の原料を混合して得られる混合物に含まれる各原料の割合を分割数で等分することによって決定される。それらの符号に対応する組成点における複数の原料の混合比が自動的に計算され、それら混合比の異なる６６個の試料９がライブラリ製造手段７で自動的に生成される。
【００４０】
さらに、制御手段１は、ライブラリプレート６２上の試料形成点６３への上記試料９の盛り付けに関して、さらに、乾燥、加熱等といった化学処理に関して、各要素が行うべき操作を自動的に実行させる。盛り付けは、入力手段２で入力された化学処理条件に従って、複数の試料９をライブラリプレート６２上に所定量ずつ自動的に配列することによって行われる。さらに、ライブラリプレート６２上の複数の試料９が、入力手段２で入力された化学処理条件に従って、自動的に乾燥処理及び加熱処理される。このようにして、ライブラリ２１が製造される。
【００４１】
以上のようにして得られたライブラリ２１に対して、入力手段２から入力された分析条件に従って、計測手段６において自動的に順次にＸ線を用いた所定の計測が行われ、その計測の結果として得られた実測Ｘ線回折プロファイルが符号毎に保存される。
【００４２】
図２において、計測手段６は、ライブラリプレート６２を支持するための支持台６１と、支持台６１を面内回転させる面内回転系２２と、支持台６１を平面内で平行移動させる面内平行移動系２３とを有している。支持台６１には、ライブラリプレート６２の位置を規定するためにそのライブラリプレート６２に嵌合する凹部２４が設けられている。ライブラリプレート６２はこの凹部２４に収容されることにより、位置ずれしない状態で支持台６１によって支持される。
【００４３】
上記の面内回転系２２は、Ｘ軸とＹ軸とによって規定される座標上における基準点６４を通って紙面垂直方向に延びる軸線φを中心として支持台６１を回転、いわゆる面内回転させることができる。基準点６４はＸ線回折測定における測定点となる。この面内回転系２２は、異方性を有する試料９を測定する場合に好適に用いられる。この面内回転系２２は、例えば、ステッピングモータ、サーボモータ等といった回転角度及び回転速度を制御可能なモータの回転を、ウオームとウオームホイールとから成る回転伝達機構を介して支持台６１へ伝える機構によって構成できる。
【００４４】
上記の面内平行移動系２３は、支持台６１を互いに直交する軸であるＸ軸とＹ軸の２軸方向へ独立して平行移動させる移動系である。このように、支持台６１をＸ軸方向及びＹ軸方向のそれぞれへ独立して平行移動させることにより、支持台６１上の任意の点を平面内の所望の位置へ運ぶことができる。この面内平行移動系２３は、例えば、いわゆるＸＹテーブルを用いて構成できる。ＸＹテーブルは、一般に、種々の構造によって構成できるが、例えば、Ｘ軸方向へ延びる送りねじとＹ軸方向へ延びる送りねじとの両方に１つのテーブルを個別に連結し、Ｘ軸方向の送りねじとＹ軸方向の送りねじとを独自に回転駆動して、テーブルを平面内でＸ軸方向及びＹ軸方向へ平行移動させることができる。
【００４５】
計測手段６は、面内平行移動系２３を適宜に作動させることにより、各試料形成点６３、６３、……を測定点６４へ移動させることができる。具体的には、図１の制御手段１は、入力手段２から入力されたライブラリプレート６２上の複数の試料形成点６３，６３，……の位置に関するデータに基づいて、図２の計測手段６の基準点６４からの各試料形成点６３，６３，……のＸ軸方向の偏差及びＹ軸方向の偏差を演算する。そして、こうして演算された偏差に基づいて、図２の面内平行移動系２３を作動させることにより、各試料形成点６３，６３，……が順次に測定点６４へ自動的に運ばれるように支持台６１を平行移動させることができる。
【００４６】
試料９に異方性がある場合には、この面内回転装置２２を作動させて、基準点６４の位置に設定されている測定点を中心として、支持台６１を自動的に面内回転させながら測定を行うことができる。こうして、方向性の無い試料９に対してＸ線回折測定を行うことができる。なお、試料９が異方性を有することが予測される場合には、入力手段２から分析条件として、試料９が異方性を有することを示す情報を入力することにより、上記の面内回転の操作を制御手段１からの指示によって自動的に行うことができる。
【００４７】
本実施形態では、測定前に支持台６１がスタート位置に置かれたときのライブラリプレート６２の中心が基準点６４と成されており、基準点６４のＸＹ座標上の座標点が制御手段１に記憶されている。入力手段２から入力されたライブラリプレート６２の情報により、６６個の試料形成点６３，６３，……についての基準点６４からのＸ軸上の偏差及びＴ軸上の偏差が制御手段１によって演算される。また、ライブラリプレート６２のタイプ毎に、試料形成点６３の基準点６４からの偏差のデータを制御手段１に予め記憶しておき、入力手段２から入力されたライブラリプレート６２のタイプと照合することにより、偏差を求めても良い。
【００４８】
図２において、ライブラリプレート６２の左上の角６５が切り取られており、支持台６１のうちその角６５に対応する位置には、その角６５に嵌合するように角部が膨出して形成されている。このため、ライブラリプレート６２を間違った方向に設置することがなくなる。つまり、試料９の順番を間違うことがなくなる。
【００４９】
Ｘ線を用いた計測は、例えば、図６に示すように、Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線Ｒ０を入射角θで測定点６４へ入射させ、測定点６４に置かれた試料９で回折したＸ線Ｒ１を回折角度２θの角度位置に置かれたＸ線検出器６６で検出することによって行う。なお、回折角度２θはＸ線入射角度θの２倍の角度であり、Ｘ線回折測定はこの角度関係を維持しつつ角度θ及び角度２θを走査回転移動させながら行われる。Ｘ線検出器６６として２元系Ｘ線検出器を用いるのであれば、Ｘ線検出器の２θ走査移動は不要である。
【００５０】
続いて、図１の分析手段４では、計測手段６による測定結果である実測プロファイルが自動的に分析される。この分析処理を図３に基づいて説明する。分析処理のルーチンに入ると、「符号の付与のステップ」Ｓ４１において、上述したように、複数の試料９に互いに異なる符合が付けられる。
【００５１】
次に、「実測Ｘ線回折プロファイル登録のステップ」Ｓ４２では、複数の試料９の実測Ｘ線回折プロファイルが試料毎、すなわち試料の符号毎に作成される。そして、これらの実測Ｘ線回折プロファイルは、符号毎のファイルとして分析手段４に保存される。
【００５２】
次に、「純化合物サーチのステップ」Ｓ４３では、符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと、原料を構成する元素の組合せから成る化合物のデータベースに保存された標準Ｘ線回折プロファイルとを照合することにより、純化合物が検索される。これにより、図４の組成図３０の中に純化合物の存在する組成点３１，３２，３３，３４が決定される。
【００５３】
次に、図３の「１つの三角形形成のステップ」Ｓ４４では、純化合物の存在する組成点３１，３２，３３，３４のうち、同一座標面にあるものが３点、つまり、組成点３１，３２，３３が座標面上で他の純化合物の存在する組成点３３を含まないように選択され、１つの三角形３５が形成される。具体的な方法の１つは、まず純化合物の１つの組成点を選び出し、次に同一座標面でその組成点に最も近い距離にある純化合物の組成点を選択し、次に同一座標面で次に近い距離にある純化合物の組成点を選択して１つの三角形を形成することができる。
【００５４】
次に、「プロファイルの削除のステップ」Ｓ４５では、１つの三角形３５に含まれるそれぞれの組成点３１，３２，３４の試料の実測Ｘ線回折プロファイルが３点の純化合物の標準Ｘ線回折プロファイルと順次に照合され、予め定められた相関以上に一致した標準Ｘ線回折プロファイルが実測Ｘ線回折プロファイルから削除される。ここでは、１つの三角形３５に含まれる全ての組成点３１，３２，３４の試料に対して同じことが繰り返され、符号毎に残った実測Ｘ線回折プロファイルが分析手段４に保存される。
【００５５】
次に、「他の三角形形成のステップ」Ｓ４６では、１つの三角形３５の１辺を形成する２つの組成点３２，３４と、１つの三角形３５と重複しないという条件で、純化合物の組成点３３とから他の三角形３６が形成される。
【００５６】
次に、ステップＳ４５と同様にして「プロファイルの削除のステップ」Ｓ４７が実効される。また、他の三角形の１辺を形成する２つの組成点３３，３４と、他の三角形３６と重複しないという条件で、純化合物の組成点３１とから第３の三角形３７が形成される。それらに関してもステップＳ４７が実行される。第４、第５、……の三角形が形成可能ならステップＳ４８で「ＹＥＳ」と判定されてステップＳ４６へ戻って同様に三角形が形成され、さらに、ステップＳ４７が順次に実行される。
【００５７】
次に、「ピークサーチのステップ」Ｓ４９では、残った実測Ｘ線回折プロファイルと、データベースに保存された標準Ｘ線回折プロファイルとを照合することにより、化合物をサーチし、他の純化合物を同定する。ここで、他の純化合物が同定されたら（ステップＳ５０でＹＥＳ）、ステップＳ４４へ戻ってその後のステップが繰り返される。
【００５８】
次に、「未知物質の探索のステップ」Ｓ５１では、ステップＳ４７の結果において残った前記符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと、それぞれｎ種類の原料の元素のうち少なくとも１種類を、他の元素に置き換えた標準Ｘ線回折プロファイルとを照合し、一致度の高いプロファイルがあれば、そのプロファイルに対応する物質は新しい結晶構造である可能性が高いので、さらに詳細な分析を実行する。
【００５９】
「未知物質の探索のステップ」Ｓ５１でそれぞれｎ種類の原料の元素のうち少なくとも１種類を、他の元素に置き換える理由は、フェーズ理論から外れる化合物は、知られている結晶構造から格子定数等がずれている可能性があり、原子化やイオン半径の近い他の元素と置き換えた標準Ｘ線回折プロファイルを検索することによって、結晶構造が推定できる可能性があるためである。
【００６０】
本発明のライブラリ分析装置をさらに、具体的に説明する。図１の各手段はユニット化されており、いろいろなユニットの組合せによるライブラリ分析装置の構成が可能となされている。なお、本明細書で「ユニット」とは、１つの構造体として取り扱うことができるということであって、例えば、１つの構造体として持ち運ぶことができること、１つの構造体として他の構造体に機械的に接続できること、１つの構造体として他の構造体に電気的に接続できること、等といった技術内容を含むことである。
【００６１】
つまり、ライブラリ分析装置の組合せとしては、制御手段１と入力手段２と計測手段６との組合せが必要最低限の最小の組合せであり、制御ユニット、入力ユニット、計測ユニットのそれぞれを互いに組み合わせることが可能である。ここで、計測手段６はＸ線測定ユニットとなされている。必要に応じて、表示手段３、分析手段４、データベース５を、それぞれ、表示ユニット、分析ユニット、データベースユニットとして備えることができる。また、ライブラリの製造からライブラリの分析までを自動的に行うために、ライブラリ製造手段７及び搬送手段８を、それぞれ、ライブラリ製造ユニット及び搬送ユニットとして付け加えることも効果的である。また、データベース５は、通信回線で制御手段１と接続することにより、外部のデータベースを利用することもできる。
【００６２】
図１のライブラリ分析装置では、秤量、混合、盛付、乾燥、加熱処理、Ｘ線回折、分析等といった各種の処理が行われる。これらの処理は、ライブラリ分析装置を構成する図１の各手段に含まれる各種の構成要素を適宜に操作することによって実行される。制御手段１は、入力手段２から入力された複数種の原料の識別名に応じて、且つ、組成点ごとの割合に対応して、上記の各構成要素の操作を自動的に連続的に実行させる機能を有する。
【００６３】
さらに、制御手段１は、照合のための解析を行う分析手段４に接続されている。この分析手段４は、データベース５との照合により相同定を行い、組成図上に示された分析結果を表示手段３の画面に表示する機能を有する。
【００６４】
ライブラリ製造手段７では次の一連の処理が行われる。すなわち、まず、液状無機物質原料を分注ピペットによって秤量した上で混合容器へ分注する。次に、分注された混合容器中の試料を攪拌棒を利用して混合することにより試料を生成する。次に、得られた試料を分取ピペットで分取りした上で図２のライブラリプレート６２上に配列する。ライブラリプレート６２は例えば白金製であり、このライブラリプレート６２には、６６個の凹部（すなわち、ウエル）によって同数の試料形成部６３が形成されている。分取ピペットは６６個の試料形成部６３のそれぞれに試料を１つずつ盛り付けることにより、ライブラリプレート６２上に複数の試料９を配列する。次に、配列された試料９を乾燥及び加熱することにより、ライブラリ２１が製造される。加熱は、盛り付けられた試料９を電気炉で焼成することによって行われる。
【００６５】
計測手段６は、本実施形態では、Ｘ線測定ユニットとして構成されている。このＸ線測定ユニットは、ライブラリ２１を構成する複数の試料９の個々の実測Ｘ線回折プロファイルを計測し、さらに収録し、その収録データを図１のデータベース５に収納された標準Ｘ線回折プロファイル（例えば、ＪＣＰＤＳファイルやＩＣＤＤデータベース）と照合できる形式に変換する。また、計測手段６は、形式変換されたデータを、ライブラリプレート６２上の各試料９と１対１に対応させて試料の符号毎に出力する機能を有する。
【００６６】
分析手段４は、計測手段６から出力されて制御手段１を介して送られた各実測Ｘ線回折プロファイルを符号毎のファイルとして所定の記憶領域に保存し、さらに、その保存したファイルをデータベース５に収納された標準Ｘ線回折プロファイルと照合して、生成物中の既知相を抽出し、さらに未知相のＸ線回折プロファイルを抽出する。さらに、分析手段４は、ライブラリプレート６２上の全ての試料９について回折図を抽出し、出発原料の数を「ｎ」とすると、解析照合結果をｎ元系空間にプロットし、例えば、図６や図７のように組成図３０上に表示する。この生成物をプロットした組成図は、登録（すなわち、所定の記憶領域内に記憶）することができる。ここで、複数種類の原料の組合せや、化学処理条件や、分析条件等をデータとして保存できるようにしておくと、操作の繰り返しを少なくできるので好ましい。
【実施例】
【００６７】
次に、本発明のライブラリ分析装置を利用したライブラリ分析方法の実施例を説明する。具体的な化合物の合成の例として、元素Ｎｉ−Ｚｎ−Ｆｅから成る系を説明する。
【００６８】
出発原料である液状無機物質原料として、（１）水を分散媒としたＮｉＯスラリー濃度１．０ｍｏｌ／ｌ、（２）水を分散媒としてＺｎＯスラリー濃度１．０ｍｏｌ／ｌ水溶液、及び（３）水を分散媒としたＦｅ２Ｏ３スラリー濃度０．５ｍｏｌ／ｌの３種類を用いた。
【００６９】
まず、上記３種類の液状無機物質原料の識別名と、そのモル濃度と、組成図の座標の分割数と、化学処理条件と、分析条件とを入力手段２から制御手段１へ入力した。組成図の座標の分割数は「１０」とした。この際、液状無機物質原料については、それぞれを識別名として画面表示されている原料１、原料２、原料３に濃度を入力することにより、識別名を選択した。入力が終わると、表示手段３に図４に示す組成図３０が表示される。このときの原料の組成比の組合せは６６通りになる。
【００７０】
続いて、組成図３０の座標の分割数１０に従って３種の無機物質原料の６６通りの混合比を自動的に計算した。続いて、混合比の異なる６６個の試料を化学処理条件に従って自動的に生成した。ここで、化学処理条件とは、液状無機物質原料の攪拌時間や攪拌条件等を指し、必要なら、雰囲気温度や雰囲気気体等の条件を指す。
【００７１】
続いて、６６個の液状の試料を、図２に示す６６個の凹部（すなわち、ウエル）である試料形成部６３を有する１枚の白金製ライブラリプレート６２上に、化学処理条件に従って自動的に配列した。ここで、化学処理条件とは、盛付量や、トレー温度や、雰囲気温度や、雰囲気気体や、液状試料の乾燥条件等を指す。
【００７２】
次に、ライブラリプレート６２上の複数の試料９を化学処理条件に従って自動的に加熱処理した。ここで、化学処理条件としては、昇温速度、加熱温度、加熱時間、冷却速度、雰囲気気体等を指す。加熱温度は絶対温度で１３７３度とし、ライブラリ２１をこの温度で所定時間加熱した。雰囲気気体は空気とした。
【００７３】
ライブラリ２１を構成するライブラリプレート６２は、手動操作によって計測手段６の支持台６１の上に固定した。続いて、支持台６１は試料形成点６３が自動的に計測点６４に移動するように自動的に移送された。
【００７４】
さらに、ライブラリプレート６２上の加熱処理された６６個の試料９のそれぞれに対して、支持台６１を自動的に面内回転させながら実測Ｘ線回折プロファイルを測定によって求め、そのプロファイルのデータを所定の記憶領域に記憶した。そして、その記憶したデータを図１のデータベース５に収納された標準Ｘ線回折データファイル（例えば、ＩＣＤＤデータベース）に照合できる形式に変換した。また、データ変換した実測Ｘ線回折プロファイルを、ライブラリプレート６２上の各試料９と１対１に対応させて試料の符号毎に、分析手段４に保存した。ここで、分析条件としては、Ｘ線照射角度やＸ線強度や支持台の回転等が挙げられる。
【００７５】
さらに、符号毎の実測Ｘ線回折プロファイルと、データベース５に保存された標準Ｘ線回折プロファイルであって原料を構成する元素の組合せから成る化合物のプロファイルと、を照合することにより純化合物を検索した。具体的には、まず、制御手段１を介して送られた計測手段６から出力された各実測Ｘ線回折プロファイルを、データベース５に収納されたＩＣＤＤデータベースのＮｉＯ、ＺｎＯ、Ｆｅ２Ｏ３の標準Ｘ線回折プロファイルと、照合することにより、図６の結果を得た。化学式より、符号０の組成点の純化合物ＮｉＯ、符号５５の組成点の純化合物ＺｎＯ、符号６５の組成点の純化合物Ｆｅ２Ｏ３を決定した。
【００７６】
以上の結果から、符号０、符号５５、符号６５で１つの三角形を形成した。この時点では、金属元素１種類から成る純化合物だけを照合するだけなので、非常に迅速に純化合物の組成点が決定できた。但し、２種類以上の金属元素から成る純化合物の存在に関する検索は省略した。
【００７７】
次に、１つの三角形、つまり組成図３０の全体の組成点の試料の実測Ｘ線回折プロファイルを、ＮｉＯ、ＺｎＯ、Ｆｅ２Ｏ３のそれぞれの標準Ｘ線回折プロファイルと順次に照合し、予め定められた相関以上に一致した標準Ｘ線回折プロファイルを実測Ｘ線回折プロファイルとし、符号毎に残った実測Ｘ線回折プロファイルを分析手段４に保存した。
【００７８】
分析手段４に保存した上記の残った実測Ｘ線回折プロファイルと、データベース５に保存されていて原料を構成する元素Ｎｉ，Ｚｎ，Ｆｅの組合せから成る化合物の標準Ｘ線回折プロファイルと、を照合することにより、図７の結果を得た。つまり、純化合物としてＮｉＦｅ２Ｏ４，ＺｎＦｅ２Ｏ４，（Ｎｉ，Ｚｎ）Ｆｅ２Ｏ４を同定した。
【００７９】
ここで、ＮｉＯ，ＺｎＯ，Ｆｅ２Ｏ３以外の純化合物を同定したので、ＮｉＯ，ＺｎＯ，Ｆｅ２Ｏ３，ＮｉＦｅ２Ｏ４，ＺｎＦｅ２Ｏ４，（Ｎｉ，Ｚｎ）Ｆｅ２Ｏ４の化学式に基づく組成点によりフェーズルールを適用する三角形を５つ形成し、それらの三角形のそれぞれについて、三角形の中に含まれる組成点の実測Ｘ線回折プロファイルから、三角形の頂点の純化合物の標準Ｘ線回折プロファイルを削除したところ、有意な実測Ｘ線回折プロファイルは残らず、この系では、既知の結晶構造だけが存在することが確認できた。
【００８０】
（本実施形態の効果）
本実施形態のライブラリ分析方法によれば、組成図の組成点を形成する多数の試料のＸ線回折による定性分析を効率的に行うことができる。また、同定できないＸ線回折プロファイルから未知物質の定性分析を行うことができ、これにより、新規物質の発見が可能となる。
【００８１】
（その他の実施形態）
以上、本発明の実施形態及び実施例を図面を参照して説明したが、本発明の具体的構成はこれらの実施形態等に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても、その変更は本発明に含まれる。
例えば、組成図は３成分系に限らず、４成分系以上の系であっても良い。例えば、４成分系では、組成図を三角錐で視覚的に表示することが可能である。また、座標の分割数は「１０」より少なくても良いし、「２０」より多くても良い。また、当然、「１０」から「２０」の間の数であっても構わない。
【００８２】
また、原料は液状に限られるものではなく、粉末等を固めた固体あっても良い。さらに、原料は、結晶構造を形成するものであれば、有機物であっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００８３】
本発明のライブラリ分析装置によれば、複数の無機物質原料を数十から数百通りの混合比で混合した組成物であっても、それらの分析が効率的に正確にできるので、膨大な実験数をこなすことができ、新物質の発見を容易にする。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明のライブラリ分析装置を示す構成図である。
【図２】本発明のライブラリ分析装置の計測手段の要部を示す平面図である。
【図３】本発明のライブラリ分析装置によって行われる分析方法を示すフローチャートである。
【図４】本発明のライブラリ分析方法で考慮される純化合物の位置を示した組成図である。
【図５】本発明のライブラリ分析方法で用いる組成図を構成する複数の組成点に符号を付した状態を示す図である。
【図６】本発明のライブラリ分析方法を実施して得られた分析結果である。
【図７】本発明のライブラリ分析方法を実施して得られた他の分析結果である。
【符号の説明】
【００８５】
１．制御手段、  ２．入力手段、  ３．表示手段、  ４．分析手段、
５．データベース、  ６．計測手段、  ７．ライブラリ製造手段、  ８．搬送手段、
９．試料、  ２１．ライブラリ、  ２２．面内回転系、  ２３．面内平行移動系、
２４．凹部、  ３０．組成図、  ３１，３２，３３，３４．純化合物の組成点、
３５．１つの三角形、  ３６，３７．他の三角形、  ６１．ライブラリ支持台、
６２．ライブラリプレート、  ６３．試料形成点、  ６４．基準点（測定点）、
６５．角
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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