(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定方向に沿って伸縮する電気機械変換素子と、
前記所定方向における前記電気機械変換素子の一端に固定された駆動部材と、
前記電気機械変換素子への駆動パルスの供給を制御する駆動パルス制御部と、
を備え、
前記駆動パルス制御部が、前記所定方向に沿った前記電気機械変換素子の伸び速度と縮み速度とを異ならせるよう前記駆動パルスの供給を制御して前記電気機械変換素子を伸縮させることで、前記駆動部材を前記所定方向に沿って振動させ、当該駆動部材に摩擦係合しレンズを含んで構成される被駆動部材を前記所定方向に沿って移動させる駆動制御装置であって、
前記駆動パルス制御部は、
前記レンズの焦点合わせ動作での前記被駆動部材の駆動方向に該被駆動部材を所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、該レンズを介して撮像された画像より得られる所定のＡＦ評価値を測定するＡＦ評価値測定手段と、
前記ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた測定最大値に基づいて、ＡＦ評価値の最大値が得られると推測される最大値推測位置を算出し、さらに、当該最大値推測位置へ前記被駆動部材を戻すべき戻しパルス数を算出する戻しパルス数算出手段と、
前記戻しパルス数算出手段により算出された戻しパルス数に基づいて、前記被駆動部材を前記逆方向へ戻すよう前記駆動パルスの供給を制御する逆移動制御手段と、
前記ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた前記測定最大値に基づいて、予め設定された固定焦点位置へ前記被駆動部材を移動させるか否かを規定する評価値閾値を、算出する閾値算出手段と、
前記逆移動制御手段により前記被駆動部材が戻されて停止した位置で前記ＡＦ評価値を再測定し、さらに、当該再測定で得られたＡＦ再評価値が、前記閾値算出手段により算出された前記評価値閾値以上であるか否かを判断する測定判断手段と、
前記測定判断手段により前記ＡＦ再評価値が前記評価値閾値以上であると判断されるまで、前記被駆動部材を前記逆方向へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、前記ＡＦ評価値を再測定するＡＦ評価値再測定手段と、
を含んで構成される駆動制御装置。
【請求項２】
前記ＡＦ評価値再測定手段による測定で得られた第一ＡＦ評価値が、当該第一ＡＦ評価値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた第二ＡＦ評価値よりも、所定値以上低い場合、前記ＡＦ評価値再測定手段は、前記ＡＦ再評価値が前記評価値閾値以上であると判断されるまで、前記被駆動部材を前記駆動方向へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、前記ＡＦ評価値を再測定することを特徴とする請求項１記載の駆動制御装置。
【請求項３】
前記閾値算出手段は、前記ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた前記測定最大値と、該測定最大値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた直前評価値と、該測定最大値が得られた位置の直後１回の測定タイミングで得られた直後評価値とから、当該測定最大値と前記直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とに基づいて、前記評価値閾値を算出することを特徴とする請求項１又は２記載の駆動制御装置。
【請求項４】
前記閾値算出手段は、前記ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた前記測定最大値と前記直前評価値と前記直後評価値とから、補間演算により、前記ＡＦ評価値の最大値と推測される補間評価値を算出し、さらに、当該補間評価値に基づいて、前記評価値閾値を算出することを特徴とする請求項３記載の駆動制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気機械変換素子を用いた駆動制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、圧電素子を用いたアクチュエータが種々提案されている。例えば、カメラのレンズのフォーカス駆動のための圧電素子を用いたアクチュエータも提案されている（下記の特許文献１参照）。かかるアクチュエータでは、所定方向に沿った圧電素子の伸び速度と縮み速度とを異ならせるよう該圧電素子への駆動パルスの供給を制御して該圧電素子を伸縮させることで、レンズ駆動用の軸部材を上記所定方向に沿って振動させ、該軸部材に摩擦係合したレンズを上記所定方向に沿って微小に移動させるのが一般的である。
【０００３】
ところが、上記のアクチュエータでは、所定方向に沿った圧電素子の伸び速度と縮み速度とを異ならせるよう該圧電素子を伸縮させることで、軸部材を上記所定方向に沿って振動させ、該軸部材に摩擦係合したレンズを微小に移動させていたため、駆動パルス数に比例した距離だけレンズを移動させることは困難であった。
【０００４】
かかる問題点を踏まえ、下記特許文献２には、レンズのフォーカス駆動の精度を向上させるべく、レンズの移動量を検出し該レンズの移動速度を求め、該レンズの移動速度が予め定められた目標速度となるよう、レンズの駆動のための駆動パルスの供給停止時間を制御する技術が開示されている。
【特許文献１】特許２６３３０６６号公報
【特許文献２】特開平１１−３５６０７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、従来、レンズを所定方向に所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その都度、該レンズを介して撮像された画像より得られる所定のＡＦ評価値（例えばコントラスト値）を測定し、該ＡＦ評価値が最大となる位置を求め、該位置にレンズを移動させることでレンズの焦点合わせを行う技術が知られている。かかる技術では、ＡＦ評価値の測定位置が所定間隔で離間しているため、より精度良く焦点合わせを行うべく、ＡＦ評価値の測定（ＡＦサーチ）後、ＡＦ評価値のピーク位置までレンズを逆方向へ戻す操作が行われている。
【０００６】
しかしながら、上記の戻す操作を行わせる制御については、上記特許文献２でも言及されていない。また、ＡＦ評価値のピーク位置までレンズを逆方向へ戻す操作を繰り返すうちに、圧電素子の性質が変化することで、規定の距離だけレンズを実際に移動させるのに要するパルス数が変化することによって、より高い精度でのＡＦサーチが困難となってしまう。
【０００７】
本発明は、上記課題を解決するために成されたものであり、圧電素子を用いることによるレンズの移動操作を繰り返した場合でも、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる駆動制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明に係る駆動制御装置は、所定方向に沿って伸縮する電気機械変換素子と、所定方向における電気機械変換素子の一端に固定された駆動部材と、電気機械変換素子への駆動パルスの供給を制御する駆動パルス制御部と、を備え、駆動パルス制御部が、所定方向に沿った電気機械変換素子の伸び速度と縮み速度とを異ならせるよう駆動パルスの供給を制御して電気機械変換素子を伸縮させることで、駆動部材を所定方向に沿って振動させ、当該駆動部材に摩擦係合しレンズを含んで構成される被駆動部材を所定方向に沿って移動させる駆動制御装置であって、駆動パルス制御部は、レンズの焦点合わせ動作での被駆動部材の駆動方向に該被駆動部材を所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、該レンズを介して撮像された画像より得られる所定のＡＦ評価値を測定するＡＦ評価値測定手段と、ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた測定最大値に基づいて、ＡＦ評価値の最大値が得られると推測される最大値推測位置を算出し、さらに、当該最大値推測位置へ被駆動部材を戻すべき戻しパルス数を算出する戻しパルス数算出手段と、戻しパルス数算出手段により算出された戻しパルス数に基づいて、被駆動部材を逆方向へ戻すよう駆動パルスの供給を制御する逆移動制御手段と、ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた測定最大値に基づいて、予め設定された固定焦点位置へ被駆動部材を移動させるか否かを規定する評価値閾値を、算出する閾値算出手段と、逆移動制御手段により被駆動部材が戻されて停止した位置でＡＦ評価値を再測定し、さらに、当該再測定で得られたＡＦ再評価値が、閾値算出手段により算出された評価値閾値以上であるか否かを判断する測定判断手段と、測定判断手段によりＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまで、被駆動部材を逆方向へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定するＡＦ評価値再測定手段と、を含んで構成されることを特徴とする。
【０００９】
なお、上記の「ＡＦ評価値」とは、例えば、レンズを介して撮像された画像より得られるコントラスト値のように、レンズの焦点合わせ動作にて用いられる評価値を意味し、該ＡＦ評価値が高いほど、ピントの合った度合いが高いと評価される。
【００１０】
上記の本発明に係る駆動制御装置によれば、まず、駆動パルス制御部が、ＡＦ評価値の測定で得られた測定最大値に基づいて最大値推測位置を算出し、さらに、当該最大値推測位置へ被駆動部材を戻すべき戻しパルス数を算出して戻しパルス数に基づいて、被駆動部材を逆方向へ戻すよう駆動パルスの供給を制御する。また、駆動パルス制御部が、測定最大値に基づいて、評価値閾値を算出する。次に、駆動パルス制御部が、被駆動部材が戻されて停止した位置でＡＦ評価値を再測定し、さらに、当該再測定で得られたＡＦ再評価値が、算出された評価値閾値以上であるか否かを判断する。そして、駆動パルス制御部が、ＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまで、被駆動部材を逆方向へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定する。
【００１１】
このように本発明では、測定最大値に基づいて最大値推測位置を算出し、当該最大値推測位置へ被駆動部材を戻し、測定最大値に基づいて評価値閾値を算出して、ＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまでＡＦ評価値の測定を再度行う。これにより、圧電素子を用いることによるレンズの移動操作を繰り返して圧電素子の性質が変化することで、規定の距離だけレンズを実際に移動させるのに要するパルス数が変化した場合でも、最大値推測位置又はその近傍でＡＦ評価値を再測定するため、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる。
【００１２】
また、本発明に係る駆動制御装置では、ＡＦ評価値再測定手段による測定で得られた当該第一ＡＦ評価値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた第二ＡＦ評価値よりも、所定値以上低い場合、ＡＦ評価値再測定手段は、ＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまで、被駆動部材を駆動方向へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定することも好ましい。
【００１３】
これにより、第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低い場合、駆動パルス制御部が、ＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまで、被駆動部材を駆動方向へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定する。このため、第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低くなった場合は、逆方向へ移動させていた被駆動部材をこのまま移動させていてもＡＦ評価値が更に高く測定される位置へ移動させることができる可能性は低いため、被駆動部材の移動方向を変更して駆動方向へ移動させながら、ＡＦ評価値を再測定することができる。この結果、ＡＦ評価値が更に高く測定される位置へ被駆動部材を早期に移動させることができる。また、ＡＦ評価値が測定される際に所定値未満のノイズ等が発生しても、このノイズ等の発生に関わらず、ＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまで、ＡＦ評価値が更に高く測定される位置へ被駆動部材を移動させることができる。
【００１４】
また、閾値算出手段は、ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた測定最大値と、該測定最大値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた直前評価値と、該測定最大値が得られた位置の直後１回の測定タイミングで得られた直後評価値とから、当該測定最大値と直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とに基づいて、評価値閾値を算出することも好ましい。なお、直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とは、直前評価値及び直後評価値の内で大きい方の評価値を意味し、上記２つの評価値が等しい場合は、当該等しい評価値を意味する。
【００１５】
これにより、駆動パルス制御部が、測定最大値と直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とに基づいて、評価値閾値を算出する。次に、駆動パルス制御部が、ＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断するまで、被駆動部材を逆方向へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定する。ここで、算出された評価値閾値は、測定最大値のみに基づいたものではなく、更に、直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値にも基づいている。この結果、評価値閾値の精度をより向上させることができるため、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる。
【００１６】
また、閾値算出手段は、ＡＦ評価値測定手段による測定で得られた測定最大値と直前評価値と直後評価値とから、補間演算により、ＡＦ評価値の最大値と推測される補間評価値を算出し、さらに、当該補間評価値に基づいて、評価値閾値を算出することも好ましい。
【００１７】
これにより、駆動パルス制御部が、測定最大値と直前評価値と直後評価値とから、補間演算により補間評価値を算出し、さらに、当該補間評価値に基づいて、前記評価値閾値を算出する。ここで、算出された評価値閾値は、測定最大値と直前評価値及び直後評価値の内の一方とのみに基づいたものではなく、測定最大値と直前評価値と直後評価値とから補間演算により算出された補間評価値に基づいている。この結果、評価値閾値の精度をより向上させることができるため、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、圧電素子を用いることによるレンズの移動操作を繰り返した場合でも、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、図１乃至図６を参照して本発明に係る実施形態について説明する。
【００２０】
［駆動制御装置の概略構成］
図１には、本発明に係る駆動制御装置２０の一例の分解斜視図を示す。図１において、駆動制御装置２０は、被駆動部材としてのレンズ２１（図２）を内蔵した鏡筒１と、鏡筒１を支持するとともにレンズ２１の光軸方向に沿って鏡筒１を案内するガイドバー３とを含んで構成される。鏡筒１の左側の突部１ａの孔１ｂと突部１ｃの孔１ｄには鏡筒１を支持するとともに鏡筒１を軸方向移動させる鏡筒支持部材兼駆動棒１７が挿入されており、該駆動棒１７（以下「駆動棒」と略記する）は駆動棒支持部材１３に形成された第１の直立部１３ａの孔１３ｂ及び第２の直立部１３ｃの孔１３ｄに軸方向移動可能に挿入されている。また、駆動棒１７は該駆動棒支持部材１３の第２の直立部１３ｃよりも更に後方に突出しており、該駆動棒の後端は該駆動棒支持部材１３の第３の直立部１３ｅに後端を固着された圧電素子１２の前端に固定されている。
【００２１】
鏡筒１の突部１ａ及び１ｃの下面には鉛直なネジ孔が形成され、それぞれのネジ孔の位置と一致するバカ孔１４ａ及び１４ｂを両端に有した長方形の板バネ１４がビス１５及び１６によって突部１ａ及び１ｃの下面に駆動棒１７と平行に取付けられている。板バネ１４の中央には上向きに突出した屈曲部１４ｃが形成され、この屈曲部１４ｃは突部１ａと１ｃとの中間位置において駆動棒１７の下面に圧接されている。このため突部１ａの孔１ｂ及び突部１ｃの孔１ｄのそれぞれの中で駆動棒１７が上の方へ片寄せされ、孔１ｂ及び１ｄのそれぞれの上側の内周面に駆動棒１７の上側の外周面が板バネ１４の弾発力により圧接されている。従って、孔１ｂ及び１ｄと駆動棒１７との摩擦力及び屈曲部１４ｃと駆動棒１７の摩擦力以下の軸方向力が駆動棒１７に加えられた時には鏡筒１と駆動棒１７とは一体となって動くが、該摩擦力以上の軸方向力が駆動棒１７に加わった時には駆動棒１７のみが軸方向に移動可能となる。なお、ｗ１及びｗ２は圧電素子１２に給電するためのリード線である。
【００２２】
次に、駆動棒１７と鏡筒１を摩擦係合する板バネ１４の作用について説明する。摩擦力を安定して発生させ、板バネ１４による弾性力が鏡筒１の変位方向に作用しないようにするために板バネ１４の弾性力は駆動棒１７に略垂直に加わるようになされている。更に圧電素子１２の伸縮により、板バネ１４が圧電素子１２の伸縮方向に弾性変形すると駆動棒１７と鏡筒１との摩擦力が変化し、更に鏡筒１の変位方向に弾性力が作用し、鏡筒１の変位が不安定になる。これを防ぐため、板バネ１４は圧電素子１２の伸縮方向と平行な平面部を有し、この方向には大きな剛性を有するようになされている。
【００２３】
［駆動制御装置の機能的構成］
図２には駆動制御装置２０に関する機能ブロック図を示す。図２に示すように、駆動制御装置２０は、図１の鏡筒１に内蔵されたレンズ２１と、レンズ２１を介して画像を撮像する撮像素子２２と、撮像素子２２による撮像で得られた画像データに対し所定の画像処理を行い当該画像処理後の画像データを後述のＡＦ評価値測定手段３１と逆移動制御手段３３とＡＦ評価値再測定手段３４とへ出力する画像処理手段２３と、レンズ２１の位置を光軸方向に沿って調整するための駆動棒１７（駆動部材）と、駆動棒１７に連結され該駆動棒１７を光軸方向に沿って移動させる作用を持つ圧電素子１２（電気機械変換素子）と、圧電素子１２への駆動パルスの供給を制御する駆動パルス制御部３０とを備えている。このうち駆動パルス制御部３０は、光軸方向に沿った圧電素子１２の伸び速度と縮み速度とを異ならせるよう駆動パルスの供給を制御して圧電素子１２を伸縮させることで、駆動棒１７を光軸方向に沿って振動させ、駆動棒１７に摩擦係合しレンズ２１を含んで構成された鏡筒１（及び内蔵されたレンズ２１）を、光軸方向に沿って被写体に近づく方向（以下「Ｎ方向」という）及び被写体から遠ざかる方向（以下「ＩＮＦ方向」という）に移動させる。
【００２４】
また、駆動パルス制御部３０は、従来より知られたフォトインタラプタ（不図示）を備え該フォトインタラプタからの出力信号（以下「ＰＩ出力」という。）に基づいてレンズ２１の位置を検出するポジションセンサ３２を備えている。ＰＩ出力は、一例として図３に示すようにＨ区間であるＡ領域及びＤ領域と、Ｌ区間であるＢ領域及びＣ領域とを含んだグラフで表される。ポジションセンサ３２は、レンズ２１の焦点合わせ動作の開始前に、該焦点合わせ動作でのレンズ２１の駆動方向（ここでは図３のＮ方向とする）と、駆動方向とは逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）のそれぞれについて、図３のＡ領域に相当するパルス数（規定の距離だけレンズ２１を実際に移動させるのに要したパルス数、以下「実駆動パルス数」という）を測定する実駆動パルス数測定手段としての機能を有する。
【００２５】
その他、駆動パルス制御部３０は、図２に示すように、ＥＥＰＲＯＭ３６と、ＡＦ評価値測定手段３１と、戻しパルス数算出手段３５と、逆移動制御手段３３と、閾値算出手段３７と、測定判断手段３８と、ＡＦ評価値再測定手段３４とを備える。ＥＥＰＲＯＭ３６は、ポジションセンサ３２が用いる後述の所定パルスの数や、基準パルスの数（即ち、常温正姿勢で予め求められたＮ方向基準パルス数Ｐ２ＮとＩＮＦ方向基準パルス数Ｐ２ＩＮＦ）や、ＡＦ評価値の測定を行う所定回数や、後述の評価値閾値に対して乗じる所定値などのさまざまな規定値を予め記憶している。
【００２６】
また、ＡＦ評価値測定手段３１は、レンズ２１の焦点合わせ動作でのレンズ２１の駆動方向（即ち、Ｎ方向）にレンズ２１を所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、レンズ２１を介して撮像された画像より得られる所定のＡＦ評価値を測定する。戻しパルス数算出手段３５は、測定で得られた最大値（測定最大値）に基づいて、ＡＦ評価値の最大値が得られると推測される位置（最大値推測位置）を算出し、さらに、当該最大値推測位置へレンズ２１を戻すべき戻しパルス数を算出する。逆移動制御手段３３は、算出された戻しパルス数に基づいて、レンズ２１を逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）へ戻すよう駆動パルスの供給を制御する。閾値算出手段３７は、測定で得られた測定最大値に基づいて、予め設定された固定焦点位置へレンズ２１を移動させるか否かを規定する閾値（評価値閾値）を、算出する。測定判断手段３８は、逆移動制御手段３３によりレンズ２１が戻されて停止した位置でＡＦ評価値を再測定し、さらに、当該再測定で得られたＡＦ評価値（ＡＦ再評価値）が、算出された評価値閾値以上であるか否かを判断する。ＡＦ評価値再測定手段３４は、測定判断手段３８によりＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまで、レンズ２１を逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定する。
【００２７】
また、ＡＦ評価値再測定手段３４は、測定で得た第一のＡＦ評価値（第一ＡＦ評価値）が、当該第一ＡＦ評価値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた第二のＡＦ評価値（第二ＡＦ評価値）よりも、所定値以上低い場合、ＡＦ再評価値が評価値閾値以上であると判断されるまで、レンズ２１を駆動方向（即ち、Ｎ方向）へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定する。
【００２８】
なお、閾値算出手段３７は、測定で得られた測定最大値と、該測定最大値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた直前評価値と、該測定最大値が得られた位置の直後１回の測定タイミングで得られた直後評価値とから、当該測定最大値と直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とに基づいて、評価値閾値を算出してもよい。なお、直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とは、直前評価値及び直後評価値の内で大きい方の評価値を意味し、上記２つの評価値が等しい場合は、当該等しい評価値を意味する。
【００２９】
また、閾値算出手段３７は、測定で得られた測定最大値と直前評価値と直後評価値とから、周知の補間演算により、ＡＦ評価値の最大値と推測される補間評価値を算出し、さらに、閾値算出手段３７が、当該補間評価値に基づいて、評価値閾値を算出してもよい。
【００３０】
［駆動制御装置における処理動作］
以下、駆動制御装置２０における処理動作を説明する。図４には基本の処理動作を示す。この図４に示すように、まずはステップＳ１０にて、ポジションセンサ３２が、レンズ２１の焦点合わせ動作の開始前に、Ｎ方向及びＩＮＦ方向のそれぞれについて、図３のＡ領域に相当する実駆動パルス数を測定する。つまり、ポジションセンサ３２が、図３のＡ領域について最初にＮ方向の実駆動パルス数を測定し、次にＡ領域についてＩＮＦ方向の実駆動パルス数を測定する。
【００３１】
具体的には、図３に示すように、当該時点のポジションセンサ３２の被測定位置がＰＩ出力におけるＡ領域内に相当する場合、駆動パルス制御部３０は、レンズ２１をＮ方向に移動させるよう圧電素子１２への駆動パルス供給を開始し、ポジションセンサ３２によりＰＩ出力におけるＨからＬへの立ち下がり（Ａ領域からＣ領域への切替り）を検出したら、その立ち下がり位置から所定パルス（例えば１０パルス）だけ駆動パルスを供給した時点で供給を停止する。その後、駆動パルス制御部３０は、レンズ２１をＩＮＦ方向に移動させるよう圧電素子１２への駆動パルス供給を開始し、ポジションセンサ３２によりＰＩ出力におけるＨからＬへの立ち下がり（Ａ領域からＢ領域への切替り）を検出したら、その立ち下がり位置から所定パルス（例えば１０パルス）だけ駆動パルスを供給した時点で供給を停止する。次に、駆動パルス制御部３０はレンズ２１をＮ方向に移動させるよう圧電素子１２への駆動パルス供給を開始し、ポジションセンサ３２は、ＰＩ出力におけるＬからＨへの立ち上がり（Ｂ領域からＡ領域への切替り）を検出した時点で実駆動パルス数のカウントを開始し、その後、ＰＩ出力におけるＨからＬへの立ち下がり（Ａ領域からＣ領域への切替り）を検出した時点で実駆動パルス数のカウントを終了する。このようにしてＮ方向の実駆動パルス数Ｐ１Ｎが測定される。同様に、駆動パルス制御部３０がレンズ２１をＩＮＦ方向に移動させるよう圧電素子１２への駆動パルス供給を開始した後、ポジションセンサ３２は、ＰＩ出力におけるＬからＨへの立ち上がり（Ｃ領域からＡ領域への切替り）を検出した時点で実駆動パルス数のカウントを開始し、その後、ＰＩ出力におけるＨからＬへの立ち下がり（Ａ領域からＢ領域への切替り）を検出した時点で実駆動パルス数のカウントを終了する。このようにしてＩＮＦ方向の実駆動パルス数Ｐ１ＩＮＦが測定される。
【００３２】
図４において次のステップＳ２０で、ＡＦ評価値測定手段３１が、レンズ２１の駆動方向（即ち、Ｎ方向）にレンズ２１を所定駆動パルス数だけ移動させ、次のステップＳ２１で、所定のＡＦ評価値を測定する。このレンズ２１のＮ方向の移動の際には、上記のＮ方向の実駆動パルス数Ｐ１Ｎを、ＥＥＰＲＯＭ３６に記憶された上記のＮ方向基準パルス数Ｐ２Ｎで除することによって算出されたＮ方向の補正係数が用いられる。そして、次のステップＳ２２で、ポジションセンサ３２が、この時点でＡＦサーチ範囲の全範囲のサーチが完了した状態であるか否かを判断する。全範囲サーチが既に完了した状態である場合、測定最大値を発見できなかったエラーとして、固定焦点位置へレンズ２１を移動させて（ステップＳ２５）、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。このレンズ２１のＮ方向の移動の際には、上記のＮ方向の補正係数が用いられる。一方、このレンズ２１のＩＮＦ方向の移動の際には、上記のＩＮＦ方向の実駆動パルス数Ｐ１ＩＮＦを、ＥＥＰＲＯＭ３６に記憶された上記のＩＮＦ方向基準パルス数Ｐ２ＩＮＦで除することによって算出されたＩＮＦ方向の補正係数が用いられる。このように、Ｎ方向及びＩＮＦ方向それぞれの補正係数を算出して用いることによって、レンズ２１の移動操作を繰り返すうちに圧電素子１２の性質が変化してもレンズ２１をより精度よく移動させることができる。
【００３３】
一方、ステップＳ２２で、全範囲サーチが未だ完了していない状態である場合、次のステップＳ２３で、ＡＦ評価値測定手段３１による測定で測定最大値が発見されたか否かを、ＡＦ評価値測定手段３１が判断する。測定最大値とは、ＡＦ評価値測定手段３１による３回以上の測定によって得られた３つ以上のＡＦ評価値の中での最大値が、最初の測定でもなく、且つ、最後の測定でもない測定値を意味する。即ち、測定最大値とは、合焦点とすべきＡＦ評価値を意味する。測定最大値が発見されなかった場合、即ち、測定を継続することによって更に高いＡＦ評価値が得られる可能性がある場合、ステップＳ２０に戻る。一方、測定最大値が発見された場合、即ち、測定を継続しても更に高いＡＦ評価値が得られる可能性がない場合、ステップＳ２４に進む。このように、測定最大値が発見された時点で残りのＡＦサーチ範囲のサーチを行わないようにすることで、ＡＦサーチに要する時間を短縮することができる。
【００３４】
次に、ステップＳ２４で、得られた測定最大値が有効判定値Ｊ以上であるか否かを、ＡＦ評価値測定手段３１が判断する。有効判定値Ｊとは、予め設定された固定焦点位置へレンズ２１を移動させるか否かを規定する判定値を意味する。ステップＳ２４で、測定最大値が有効判定値Ｊ未満である場合、有効な測定値が得られなかったエラーとして、固定焦点位置へレンズ２１を移動させて（ステップＳ２５）、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。一方、ステップＳ２４で、測定最大値が有効判定値Ｊ以上である場合、ステップＳ３０に進む。
【００３５】
ステップＳ３０では、戻しパルス数算出手段３５が、測定最大値に基づいて、最大値推測位置を算出する。ここで、戻しパルス数算出手段３５は、測定最大値と直前評価値と直後評価値とから、周知の補間演算により、最大値推測位置を算出してもよい。そして、次のステップＳ３１では、戻しパルス数算出手段３５が、この最大値推測位置へレンズ２１を戻すべき戻しパルス数を算出する。そして、次のステップＳ４０では、この戻しパルス数に基づいて、レンズ２１を逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）へ高速で戻すよう駆動パルスの供給を制御する。この制御により、レンズ２１は、この最大値推測位置（又は、その近傍の位置）へ移動される。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。そして、ステップＳ５０に進む。
【００３６】
ステップＳ５０では、閾値算出手段３７が、上記で得られた測定最大値（と、直前評価値と、直後評価値と）に基づいて、後述する所定の計算方式（例えば、周知の補間演算）により、評価値閾値を算出する。評価値閾値は、予め設定された固定焦点位置へレンズ２１を移動させるか否かを規定する閾値を意味する。なお、ステップＳ４０及びＳ５０の実行順序は、逆にしてもよい。即ち、ステップＳ３１、Ｓ５０、Ｓ４０の順序で実行されてもよい。そして、次のステップＳ６０で、測定判断手段３８が、ステップＳ４０においてレンズ２１が逆移動制御手段３３により戻されて停止した位置で、ＡＦ評価値を再測定する。そして、次のステップＳ６１で、測定判断手段３８が、この新たな再測定で得られたＡＦ再評価値（又は、後述の第一ＡＦ評価値）が、閾値算出手段３７により算出された評価値閾値以上であるか否かを判断する。ＡＦ再評価値が評価値閾値以上である場合、ＡＦ評価値のピーク位置を高い精度で特定できたこととされて、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。一方、ＡＦ再評価値が評価値閾値未満である場合、ステップＳ７０に進む。
【００３７】
ステップＳ７０では、ＡＦ評価値再測定手段３４が、レンズ２１の逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）にレンズ２１を所定駆動パルス数だけ移動させて、所定のＡＦ評価値を再測定する。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。なお、このときの所定駆動パルス数は、上記したステップＳ２０における所定駆動パルス数よりも小さくするのが好ましい。そして、次のステップＳ７１で、測定判断手段３８が、この新たな再測定で得られたＡＦ再評価値が、閾値算出手段３７により算出された評価値閾値以上であるか否かを判断する。ＡＦ再評価値が評価値閾値以上である場合、ＡＦ評価値のピーク位置を高い精度で特定できたこととされて、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。一方、ＡＦ再評価値が評価値閾値未満である場合、ステップＳ７２に進む。
【００３８】
ステップＳ７２では、ＡＦ評価値再測定手段３４による再測定で得られた第一ＡＦ評価値が、当該第一ＡＦ評価値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた第二ＡＦ評価値よりも、所定値以上低いか否かを、ＡＦ評価値再測定手段３４が判断する。なお、この所定値は、ＡＦ評価値の測定を行う際に発生し得るノイズやバラツキ等の大きさよりも大きいものとする。第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低い状態ではない場合、ステップＳ６１に戻る。一方、第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低い状態である場合、ステップＳ７３に進む。
【００３９】
ステップＳ７３では、ＡＦ評価値再測定手段３４による再測定で測定最大値が発見されたか否かを、ＡＦ評価値再測定手段３４が判断する。測定最大値が発見された場合、測定最大値が得られた位置へレンズ２１を移動させて（ステップＳ７４）、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。一方、測定最大値が発見されなかった場合、ステップＳ７５に進む。このように、測定最大値が発見された時点で残りのＡＦサーチ範囲のサーチを行わないようにすることで、ＡＦサーチに要する時間を短縮することができる。
【００４０】
ステップＳ７５では、ＡＦ評価値再測定手段３４が、逆方向のレンズの移動が所定回数行われたか否かを判断する。即ち、ステップＳ７０で行われたレンズ２１の逆方向のＡＦ評価値の再測定が、ＥＥＰＲＯＭ３６に記憶された所定回数だけ行われたか否かが判断される。逆方向のレンズの移動が、既に所定回数行われた場合は、測定最大値を発見できなかったエラーとして、固定焦点位置へレンズ２１を移動させて（ステップＳ７６）、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。一方、逆方向のレンズの移動が、未だ所定回数行われていない場合は、ステップＳ８０に進む。
【００４１】
ステップＳ８０では、逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）へ移動させていたレンズ２１をこのまま移動させていてもＡＦ評価値が更に高く測定される位置へ移動させることができる可能性は低いため、ＡＦ評価値再測定手段３４が、レンズ２１の移動方向を変更して駆動方向（即ち、Ｎ方向）に所定駆動パルス数だけ移動させ、所定のＡＦ評価値を再測定する。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。そして、次のステップＳ８１で、ＡＦ評価値再測定手段３４が、この新たな再測定で得られたＡＦ再評価値が評価値閾値以上であるか否かを判断する。ＡＦ再評価値が評価値閾値以上である場合、ＡＦ評価値のピーク位置を高い精度で特定できたこととされて、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。一方、ＡＦ再評価値が評価値閾値未満である場合、ステップＳ８２に進む。
【００４２】
ステップＳ８２では、ＡＦ評価値再測定手段３４が、レンズ２１の駆動方向（即ち、Ｎ方向）にレンズ２１を所定駆動パルス数だけ移動させて、所定のＡＦ評価値を再測定する。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。なお、このときの所定駆動パルス数は、上記したステップＳ２０における所定駆動パルス数よりも小さくするのが好ましい。そして、次のステップＳ８３で、ＡＦ評価値再測定手段３４による再測定で得られた第一ＡＦ評価値が、当該第一ＡＦ評価値が得られた位置の直前１回の測定タイミングで得られた第二ＡＦ評価値よりも、所定値以上低いか否かを、ＡＦ評価値再測定手段３４が判断する。第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低い状態である場合、ステップＳ８４に進む。一方、第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低い状態ではない場合、ステップＳ９０に進む。
【００４３】
ステップＳ８４では、ＡＦ評価値再測定手段３４による再測定で測定最大値が発見されたか否かを、ＡＦ評価値再測定手段３４が判断する。測定最大値が発見された場合、測定最大値が得られた位置へレンズ２１を移動させて（ステップＳ８５）、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。一方、測定最大値が発見されなかった場合、ステップＳ９０に進む。このように、測定最大値が発見された時点で残りのＡＦサーチ範囲のサーチを行わないようにすることで、ＡＦサーチに要する時間を短縮することができる。
【００４４】
ステップＳ９０では、ＡＦ評価値再測定手段３４が、駆動方向のレンズの移動が所定回数行われたか否かを判断する。即ち、ステップＳ８０及びＳ８２で行われたレンズ２１の駆動方向のＡＦ評価値の再測定が、ＥＥＰＲＯＭ３６に記憶された所定回数だけ行われたか否かが判断される。駆動方向のレンズの移動が、未だ所定回数行われていない場合は、ステップＳ８１に戻る。一方、駆動方向のレンズの移動が、既に所定回数行われた場合は、測定最大値を発見できなかったエラーとして、固定焦点位置へレンズ２１を移動させて（ステップＳ９１）、一連の処理は終了となる（ＥＮＤ）。このレンズ２１の移動の際には、上記の補正係数が用いられる。
【００４５】
なお、図４のステップＳ２０〜Ｓ２４が本発明に係るＡＦ評価値測定ステップに相当し、ステップＳ３０〜Ｓ３１が戻しパルス数算出ステップに相当し、ステップＳ４０が逆移動制御ステップに相当し、ステップＳ５０が閾値算出ステップに相当し、ステップＳ６０〜Ｓ６１が測定判断ステップに相当し、ステップＳ７０〜Ｓ７４、Ｓ８０〜Ｓ８４、及びＳ９０がＡＦ評価値再測定ステップに相当する。なお、駆動制御装置２０に電源が投入された直後は、ＡＦ評価値測定手段３１及びＡＦ評価値再測定手段３４により測定されるフレーム毎に輝度のバラツキがあるため、このバラツキが安定してから、ステップＳ２１以降のステップが実行される。
【００４６】
引き続き、戻しパルス数算出手段３５が、測定最大値と直前評価値と直後評価値とから、周知の補間演算により最大値推測位置を算出する様子の一例を、図５を参照しながら説明する。図５に、測定最大値と直前評価値と直後評価値と最大値推測位置との関係を示すグラフを示す。このグラフにおいて、縦軸はＡＦ評価値の大きさを、横軸はレンズ２１の位置を示している。図５に示すように、ＡＦ評価値測定手段３１が、レンズ２１の駆動方向（即ち、Ｎ方向）にレンズ２１を所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、所定のＡＦ評価値を測定する。Ｎ方向に移動させながら順に測定が行われた測定ポイントを、それぞれ、Ｐ１、Ｐ２、及びＰ３とする。また、それぞれの測定ポイントにおけるレンズ２１の位置を、Ｑ１、Ｑ２、及びＱ３とする。また、それぞれの測定ポイントにおけるＡＦ評価値の大きさを、Ｖ１、Ｖ２、及びＶ３とする。ここで、ＡＦ評価値測定手段３１による３回以上の測定によって得られた３つのＡＦ評価値Ｖ１〜Ｖ３の中での最大値はＶ２であり、このＶ２は、最初の測定（即ち、Ｖ１）でもなく、且つ、最後の測定（即ち、Ｖ３）でもないため、上記したステップＳ２３では測定最大値となる。このため、直前評価値がＶ１となり、直後評価値がＶ３となる。なお、上記したように、次のステップＳ２４で、得られた測定最大値Ｖ２が有効判定値Ｊ以上であるか否かが判断される。ここでは、測定最大値Ｖ２が有効判定値Ｊ以上であるとする。
【００４７】
ここで、戻しパルス数算出手段３５が、測定最大値Ｖ２と直前評価値Ｖ１と直後評価値Ｖ３とから、周知の補間演算により、最大値推測位置ＱＭを算出し、この最大値推測位置ＱＭへレンズ２１を戻すべき戻しパルス数を算出し、この戻しパルス数に基づいてレンズ２１を逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）へ高速で戻すよう駆動パルスの供給を制御する。この制御により、レンズ２１は、この最大値推測位置ＱＭ（又は、その近傍の位置）へ移動される。なお、レンズの移動操作を繰り返すことによって圧電素子の性質が変化することで、レンズ２１は最大値推測位置ＱＭからずれた位置に移動されることがある。そして、閾値算出手段３７が、測定最大値Ｖ２に基づいて評価値閾値ＶＲを算出する。ここでは、評価値閾値ＶＲを測定最大値Ｖ２とする。
【００４８】
なお、評価値閾値ＶＲは、測定最大値Ｖ２と直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値（即ち、ここでは直後評価値Ｖ３）との平均値とすることも好ましい。また、評価値閾値ＶＲは、後述するように、測定最大値Ｖ２と直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とに基づいて補間演算により算出することも好ましい（図６参照）。また、算出した評価値閾値ＶＲに対して、ＥＥＰＲＯＭ３６に記憶された所定値（例えば、正の整数を１０２４で除した数値）を乗じることによって得られた数値を、新たな評価値閾値ＶＲとしてもよい。
【００４９】
更に、閾値算出手段３７は、測定最大値Ｖ２と直前評価値Ｖ１と直後評価値Ｖ３とから、周知の補間演算により補間評価値ＶＭを算出し、さらに、当該補間評価値ＶＭに基づいて、評価値閾値ＶＷを算出してもよい。より詳しくは、まず、閾値算出手段３７は、上記３つの評価値から、ＡＦ評価値の最大値と推測される補間評価値ＶＭを算出する。即ち、補間評価値ＶＭとは、測定最大値Ｖ２が得られるポイント（即ちＰ２）と直前評価値及び直後評価値の内で大きくない方の評価値が得られるポイント（即ちＰ１）とを通過する通過直線Ｌ１、及び、縦軸に平行な直線を対称軸として通過直線Ｌ１と左右対称な直線であって直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値が得られるポイント（即ちＰ３）を通過する対象直線Ｌ２の交点ＰＮにおいて得られるＡＦ評価値である。（閾値算出手段３７は、この補間評価値ＶＭを評価値閾値ＶＷとして算出してもよい。）ここで、補間評価値ＶＭが得られる位置である最大値推測位置ＱＭからの所定距離Ｗの２つの位置、即ち、ＱＭからＩＮＦ方向に所定距離Ｗの地点と、ＱＭからＮ方向に所定距離Ｗの地点とを、それぞれ、ＱＸ、ＱＹとする。そして、閾値算出手段３７は、通過直線Ｌ１上の位置ＱＸにおけるＡＦ評価値（即ち、対象直線Ｌ２上の位置ＱＹにおけるＡＦ評価値）を評価値閾値ＶＷとして算出してもよい。
【００５０】
引き続き、評価値閾値ＶＲを、測定最大値Ｖ２と直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とに基づいて算出する様子の一例を、図６を参照しながら説明する。図６に、図５の一部（Ｐ２及びＰ３の周辺）を拡大したグラフを示す。測定ポイントのＰ２の位置であるＱ２からの所定距離の範囲の範囲内に最大値推測位置ＱＭが存在していると仮定し、この範囲に相当するＡＦ評価値の範囲内でＡＦ再評価値が得られれば、ＡＦ評価値のピーク位置を特定できたこととし、一連の処理を終了させる。Ｑ２からＮ方向に所定距離だけ離れた位置をＱＲとし、Ｑ２からＩＮＦ方向に所定距離だけ離れた位置をＱＳとし、直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方がＶ３であれば、上記の所定距離の範囲とは、Ｑ２とＱＲの間の範囲を意味し、直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方がＶ１（図示せず）であれば、上記の所定距離の範囲とは、Ｑ２とＱＳの間の範囲を意味する。
【００５１】
ここでは、直前評価値及び直後評価値の内で大きい方はＶ３であるため、上記の所定距離の範囲とはＱ２とＱＲの間の範囲を意味する。ここで、Ｑ２からＱ３までの差分におけるＱＲの位置に対応する、Ｖ２からＶ３までの差分における相当位置をＶＲとする。即ち、差分Ａ（Ｑ２〜ＱＲ）対差分Ｂ（ＱＲ〜Ｑ３）の比が、差分ａ（Ｖ２〜ＶＲ）と差分ｂ（ＶＲ〜Ｖ３）の比に等しい関係となっている。そして、Ｑ２からの所定距離の範囲に相当するＡＦ評価値の範囲とは、ＶＲからＶ２までの範囲を意味する。これにより、このＶＲが、測定最大値Ｖ２と直前評価値及び直後評価値の内で小さくない方の評価値とに基づいて、周知の補間演算により、評価値閾値ＶＲとして算出されたことになる。上記したステップＳ６１、Ｓ７１、又はＳ８１において、ＡＦ再評価値がこの評価値閾値ＶＲ以上である場合に、ＡＦ評価値のピーク位置を特定できたこととして、一連の処理を終了させてもよい。
【００５２】
図５を用いて上述したように、駆動制御装置２０によれば、測定最大値Ｖ２に基づいて最大値推測位置ＱＭを算出し、最大値推測位置ＱＭへレンズ２１を戻し、測定最大値Ｖ２に基づいて評価値閾値ＶＲを算出して、ＡＦ再評価値が評価値閾値ＶＲ以上であると判断されるまでＡＦ評価値の測定を再度行う。これにより、圧電素子１２を用いることによるレンズ２１の移動操作を繰り返して圧電素子１２の性質が変化することで、規定の距離だけレンズ２１を実際に移動させるのに要するパルス数が変化した場合でも、測定最大値Ｖ２と直前評価値Ｖ１と直後評価値Ｖ３とに基づいてレンズ２１が最大値推測位置ＱＭ又はその近傍まで戻され、且つ、ＡＦ再評価値が評価値閾値ＶＲ以上であると判断されるまでＡＦ評価値が再測定されるため、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる。
【００５３】
また、第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低い場合、駆動パルス制御部３０のＡＦ評価値再測定手段３４が、ＡＦ再評価値が評価値閾値ＶＲ以上であると判断されるまで、レンズ２１を駆動方向（即ち、Ｎ方向）へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定する。ここで、第一ＡＦ評価値が第二ＡＦ評価値よりも所定値以上低くなった場合は、逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）へ移動させていたレンズ２１をこのまま移動させていてもＡＦ評価値が更に高く測定される位置へ移動させることができる可能性は低い。これにより、レンズ２１の移動方向を変更して駆動方向（即ち、Ｎ方向）へ移動させながら、ＡＦ評価値を再測定することができるため、ＡＦ評価値が更に高く測定される位置へレンズ２１を早期に移動させることができる。また、ＡＦ評価値が測定される際に所定値未満のノイズ等が発生しても、このノイズ等の発生に関わらず、ＡＦ再評価値が評価値閾値ＶＲ以上であると判断されるまで、ＡＦ評価値が更に高く測定される位置へレンズ２１を移動させることができる。
【００５４】
また、駆動パルス制御部３０の閾値算出手段３７が、測定最大値Ｖ２と直前評価値Ｖ１及び直後評価値Ｖ３の内で小さくない方の評価値とに基づいて、評価値閾値ＶＲを算出する。次に、駆動パルス制御部３０の測定判断手段３８が、ＡＦ再評価値が評価値閾値ＶＲ以上であると判断するまで、レンズ２１を逆方向（即ち、ＩＮＦ方向）へ所定駆動パルス数ずつ移動させながら、その移動の都度、ＡＦ評価値を再測定する。ここで、算出された評価値閾値ＶＲは、測定最大値Ｖ２のみに基づいたものではなく、更に、直前評価値Ｖ１及び直後評価値Ｖ３の内で小さくない方の評価値にも基づいている。この結果、評価値閾値ＶＲの精度をより向上させることができるため、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる。
【００５５】
また、駆動パルス制御部３０の閾値算出手段３７が、測定最大値Ｖ２と直前評価値Ｖ１と直後評価値Ｖ３とから、補間演算により補間評価値ＶＭを算出し、さらに、当該補間評価値ＶＭに基づいて、評価値閾値ＶＷを算出する。ここで、算出された評価値閾値ＶＷは、測定最大値Ｖ２と直前評価値及び直後評価値の内の一方とのみに基づいたものではなく、測定最大値Ｖ２と直前評価値Ｖ１と直後評価値Ｖ３とから補間演算により算出された補間評価値ＶＭに基づいている。この結果、評価値閾値ＶＷの精度をより向上させることができるため、より高い精度でのＡＦサーチを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明に係る駆動制御装置の一例を示す分解斜視図である。
【図２】駆動制御装置に関する機能ブロック図である。
【図３】ポジションセンサに含まれるフォトインタラプタからの出力信号を示すグラフである。
【図４】駆動制御装置における処理動作を示す流れ図である。
【図５】測定最大値と直前評価値と直後評価値と最大値推測位置との関係を示すグラフである。
【図６】測定最大値と直前評価値と直後評価値と最大値推測位置との関係を示すグラフである。
【符号の説明】
【００５７】
１…鏡筒、３…ガイドバー、１２…圧電素子、１３…駆動棒支持部材、１４…板バネ、１５…ビス、１７…駆動棒、２０…駆動制御装置、２１…レンズ、２２…撮像素子、２３…画像処理手段、３０…駆動パルス制御部、３１…評価値測定手段、３２…ポジションセンサ、３３…逆移動制御手段、３４…評価値再測定手段、３５…戻しパルス数算出手段、３６…ＥＥＰＲＯＭ、３７…閾値算出手段、３８…測定判断手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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