(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
アドレス情報と記録データで構成されるブロック単位でデータを記録した光ディスクに光ヘッドからレーザ光を照射することでアクセスし、該光ディスクから得られた信号に適応等化処理を行い再生信号を得る光ディスク装置であって、
前記光ヘッドおよび前記光ディスクの回転を制御するアクセス制御手段と、
適応等化処理を行うフィルタであり、適応等化処理に用いるタップ係数値の変更が可能なＦＩＲフィルタと、
タップ係数値の更新速度を示す減衰率を設定する係数生成手段と、
前記アクセス制御手段、ＦＩＲフィルタ、および、係数生成手段を制御するシステム制御手段を備え、
前記システム制御手段は、
前記係数生成手段に減衰率を設定し、
前記アクセス制御手段に対しＡブロック（Ａは正の整数）の再生を制御し、Ａブロック再生後、前記ＦＩＲフィルタ出力と等化目標値の誤差値から収束を判定し、
設定した減衰率に対し、適応等化処理の収束に要する収束ブロック数Ａを決定し、
再生目標ブロックに記録されたデータを再生する場合には、当該再生ブロックに対しＡブロック手前のブロックに前記光ヘッドをアクセスさせることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記システム制御手段は、Ａブロック再生後、更にＣブロック（Ｃは正の整数）再生終了時点の誤差値から収束を判定し、設定した減衰率に対し、適応等化処理の収束に要する収束ブロック数Ａを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記システム制御手段は、単位時間あたりのタップ係数値の変動量から収束を判定し、設定した減衰率に対し、適応等化処理の収束に要する収束ブロック数Ａを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
アドレス情報と記録データで構成されるブロック単位でデータを記録した光ディスクに光ヘッドからレーザ光を照射することでアクセスし、該光ディスクから得られた信号に適応等化処理を行い再生信号を得る光ディスク装置であって、
前記光ヘッドおよび前記光ディスクの回転を制御するアクセス制御手段と、
適応等化処理を行うフィルタであり、適応等化処理に用いるタップ係数値の変更が可能なＦＩＲフィルタと、
タップ係数値の更新速度を示す減衰率を設定する係数生成手段と、
再生処理あるいは適応等化処理の異常を判定する判定手段と、
前記アクセス制御手段、ＦＩＲフィルタ、係数生成手段、および、判定手段を制御するシステム制御手段を備え、
前記システム制御手段は、
前記係数生成手段に第１の減衰率を設定し、前記適応等化処理の収束を判定し、前記第１の減衰率に対する適応等化処理の収束に要する収束ブロック数Ａ（Ａは正の整数）を決定し、
前記係数生成手段に第２の減衰率を設定し、前記適応等化処理の収束を判定し、前記第２の減衰率に対する適応等化処理の収束に要する収束ブロック数（Ａ＋Ｂ）（Ｂは正の整数）を決定し、
再生目標ブロックに記録されたデータを再生する場合に、前記第１の減衰率を前記係数生成手段に設定し、当該再生目標ブロックに対しＡブロック手前のブロックに光ヘッドをアクセスさせ、当該ブロックから再生処理を行い前記判定手段が異常を検出したときは、前記第２の減衰率を前記係数生成手段に設定し、前記再生目標ブロックに対し（Ａ＋Ｂ）ブロック手前のブロックに前記光ヘッドをアクセスさせ、当該ブロックから適応等化処理をリトライすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク装置において、
前記判定手段は、適応等化処理が行われるＦＩＲフィルタ出力と等化目標値から求められる誤差値、或いは前記係数生成手段における単位時間でのタップ係数変動量より異常検出を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
アドレス情報と記録データで構成されるブロック単位でデータを記録した光ディスクにアクセスし、該光ディスクから得られた信号に適応等化処理を行い再生信号を得る光ディスク再生方法であって、
適応等化処理を行うフィルタであり、適応等化処理に用いるタップ係数値の変更が可能なＦＩＲフィルタのタップ係数値の更新速度を示す減衰率を決定する際に、
適応等化処理によりＡブロック（Ａは正の整数）の再生を行い、
Ａブロック（Ａは正の整数）再生後、ＦＩＲフィルタ出力と等化目標値の誤差値から収束を判定、ブロック数Ａに対する減衰率を仮決定し、
更にＣブロック（Ｃは正の整数）再生後の誤差値から収束を判定し、ブロック数Ａに対する減衰率を最終的に決定し、
再生目標ブロックに記録されたデータを再生する場合には、当該再生ブロックに対しＡブロック手前のブロックに光ヘッドをアクセスさせることを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項７】
アドレス情報と記録データで構成されるブロック単位でデータを記録した光ディスクにアクセスし、該光ディスクから得られた信号に適応等化処理を行い再生信号を得る光ディスク再生方法であって、
第１の減衰率を設定し、適応等化処理の収束を判定し、前記第１の減衰率に対する適応等化処理の収束に要する収束ブロック数Ａ（Ａは正の整数）を決定し、
第２の減衰率を設定し、前記適応等化処理の収束を判定し、前記第２の減衰率に対する適応等化処理の収束に要する収束ブロック数（Ａ＋Ｂ）（Ｂは正の整数）を決定し、
再生目標ブロックに記録されたデータを再生する場合に、前記第１の減衰率を設定し、前記再生目標ブロックに対しＡブロック手前のブロックに光ヘッドをアクセスさせ、当該ブロックから適応等化処理を行い異常が検出されたときは、前記第２の減衰率を設定し、前記再生目標ブロックに対し（Ａ＋Ｂ）ブロック手前のブロックに前記光ヘッドをアクセスさせ、当該ブロックから適応等化処理をリトライすることを特徴とする光ディスク再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク再生信号に対し、適応等化処理を行う光ディスク装置及び、光ディスク再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年DVDの高速記録再生技術や、Blu−rayディスク等の高密度ディスクの開発が進んでおり、高速再生や高密度化（短マークの記録）に伴いディスク再生信号のS/N比(Signal to noise ratio)が劣化する傾向にある。光ディスクの再生信頼性を確保する目的でPRML（Partial Response Maximum Likelihood）方式を光ディスク装置に採用することが考えられる。
【０００３】
PRMLはFIR（Ｆｉｎｉｔｅ Impulse Response）フィルタで構成されるPR等化器と、ブランチメトリック、パスメトリック、パスメモリ更新などの各種演算回路からなるビタビ復号器より構成される（特許文献１参照）。
【０００４】
また、PRML方式に対し更に再生信頼性向上を目的とした適応等化処理を光ディスク装置に採用することが考えられる。
【０００５】
適応等化処理はFIRフィルタの特性を決定するタップ係数を制御し、再生信号に対する補正を行う。適応等化処理の制御アルゴリズムとしてLMS（Least Mean Square）アルゴリズムが一般的に用いられ、その基本式を(１)式に示す。
Ｃi（n＋１）＝Ci（n）−μ × e（n） × x（n-i）       ・・・・・（1）式
右辺Ｃi（n）は時刻（ｎ）のFIRフィルタを構成する各タップ係数値で、iはFIRフィルタの各タップ位置を示す。μは減衰率、e（ｎ）はＦＩＲフィルタ出力と教師（ターゲット）信号との誤差、x（n-i）は各タップ位置に対するＦＩＲフィルタ入力であり、右辺の演算から時刻（n＋１）のタップ係数値Ｃi（n＋１）を求める。この演算に従いタップ係数を更新することで、誤差e(n)が減衰し、FIRフィルタ出力値がターゲットレベルに近づく。つまり、再生信号に応じてFIRフィルタ特性を調整し、再生信頼性を向上させる（特許文献２参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開平10―326456号公報
【特許文献２】特開2001―189052号公報（第３頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
適応等化処理は、（1）式の減衰率μに従い誤差収束までに最低限必要な再生データ量が決定され、通常は減衰率を1/1000〜1/10000程度としてFIRフィルタに対する係数更新を安定させる。例えば減衰率が1/10000に相当する場合、タップ係数が１ステップ変化するためには少なくとも１００００サンプルの再生信号をFIRフィルタへ入力する必要がある。更にタップ係数が収束、つまり入力信号に適したフィルタ特性に収束し、再生出力を得るためにはその数倍から数十倍の再生データ量が必要となる。
【０００８】
従って適応等化処理を光ディスク装置に適用する場合、再生目標ブロックに到達するまでにタップ係数が収束することで、再生信号の改善効果によりエラーレートを抑制した再生が可能となる。一方で光ディスクに対するアクセスはアドレス情報を含むブロック単位で行われる。そこで減衰率μの設定に対し、再生データ量に相当する収束ブロック数を決定、アクセス目標ブロックを決定することが第1の課題となる。
【０００９】
しかしながら光ディスクは記録位置により記録品質が異なる場合や、ディスク上の傷などの影響でランダムに再生信号が劣化する場合がある。この場合適応等化処理による再生信号の改善を得ないまま、再生目標ブロックに到達、エラーレート改善を図れないという第２の課題がある。
【００１０】
本発明の目的は上記課題を解決する光ディスク装置及び、ディスク再生方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記第1の課題に対し、タップ係数の更新速度を決定する減衰率を設定し、Nブロック（Nは正の整数）再生後、FIRフィルタ出力と等化目標値から得られる誤差或いは、単位時間当りのタップ係数量から、適応等化処理の収束を判定、設定した減衰率に対する収束ブロック数Nを決定する。再生の際には、収束ブロック数Nを用い、再生目標ブロックのNブロック手前をアクセス目標ブロックとしてアクセス、適応等化処理を開始することで解決される。
【００１２】
上記第２の課題に対しては、減衰率に対応した収束ブロック数Nをアクセス目標ブロックとしてアクセス、再生目標ブロック以降の発生した異常検出に呼応して再生を中断し、収束ブロック数（N＋M）に対する減衰率を設定、中断したブロックから（N＋M）ブロック手前のアクセス目標ブロックにアクセス、適応等化処理を行うことで解決される。
【００１３】
また、第1の課題に対し光ディスク装置は、光ヘッドに対するアクセス、光ディスク回転を制御するアクセス制御手段、タップ係数値の変更が可能なFIRフィルタ、減衰率の設定が可変な係数生成手段、FIRフィルタ出力と等化目標値から得られる誤差値の検出手段と、装置全体のシステム制御手段を備えた光ディスク装置を構成することで解決できる。第２の課題に対し、上記に加え、再生処理あるいは適応等化処理における異常状態を検出する判定手段を備えることで解決可能となる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明により、再生目標ブロックから適応等化処理によるエラーレートを改善し再生することができ、再生信号の品質向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の第１の実施例について図面を用いて説明する。
【００１６】
図１は本発明の光ディスク装置の構成図、図２は光ディスク装置の動作を説明する状態遷移図、図３は図１の装置における光ディスク再生方法の説明図、図４はもう一方のディスク再生方法に対する説明図、図７は減衰率と誤差収束に要するデータ量の関係を学習し、その学習結果から再生目標ブロックに対するアクセス目標ブロックの決定方法を説明するフローチャートである。
【００１７】
図１の光ディスク装置の構成を説明する。図１において１は光ディスク、２は光ディスク１上の記録マーク、ピットの読み取りを行う光ヘッド、３は光ヘッド２の移動手段、４は光ディスク１を回転させるディスクモータ（DM）、５は光ディスクからの戻り光に対する増幅を行い、再生信号として出力するプリアンプ、６はプリアンプ５からの再生信号に対し１Ｔ（Ｔは自然数で記録マーク、ピットの長さに対する最小単位を示すチャネルビット）単位で再生信号入力に対するサンプリングを行い、サンプル信号をデジタル値へ変換するADC、７はAD変換後の再生信号と発振クロックの位相誤差が最小となるようにクロック周波数制御を行うDPLL回路、８はタップ係数の任意設定が可能で、設定係数に従いフィルタ周波数特性を可変可能なＦＩＲフィルタ回路、９はビタビ復号アルゴリズムを実現するビタビ復号回路、１０はビタビ復号出力のNRZI信号（non-return to zero inverted）に含まれ伝送される同期信号の検出、データ復調処理を行うことで元の情報を得るデータ復調回路、１１は順次入力されるNRZI信号からPR(Partial Response)符号を復号し、復号したＰＲ符号に対する等化目標値を選択出力するターゲット選択回路である。等化目標値は、PR符号（NRZIのビット列）が「0000」、「0001/1000」、「0011/1100」、「0111/1110」、「1111」、「0110」、「1001」の７値それぞれに対する目標値であり、１２はNRZIに対する等化目標値とＦＩＲフィルタ回路７の出力から目標誤算を演算する誤差演算回路で、目標誤差は、例えば数サンプルの平均値である。
【００１８】
１３は目標誤差と閾値との比較で異常判定を行う誤差異常検出回路でFIRフィルタ回路の入力信号異常、FIRフィルタ回路に置けるタップ係数不適切、ビタビ復号処理の異常を判断できる。１４は目標誤差とFIRフィルタ回路入力、減衰率μの演算結果とFIRフィルタ回路７に出力するタップ係数から、LMSアルゴリズム（１）式に準じた演算を行い、新たなタップ係数を生成する係数制御回路である。1５はアクセス命令に従い光ヘッド移動手段３を制御し、光ヘッド２をアクセス目標ブロックに移動させると共に、ディスクモータ４に対する回転速度を制御するサーボ制御回路、１６は目標誤差と閾値の比較から適応等化処理のタップ係数更新で誤差収束を判定する収束判定回路である。なお装置全体、各回路に対する制御を行うステムコントローラについては省略しているが、少なくともサーボ制御回路１４のアクセス命令生成、係数制御回路１３の減衰率設定、適応等化ON/OFF、誤差異常検出回路１２、収束判定回路１６の閾値設定を行う。
【００１９】
図１の光ディスク装置における動作制御を図２の状態遷移図で説明する。図２において、係数制御回路１４に対し減衰率を設定、サーボ制御回路１５にアクセス目標ブロックに対するアクセス命令を生成する（S20）。サーボ制御回路１５は移動手段３の制御で光ヘッド２を移動させアクセス、アクセス目標ブロックから光ヘッドによる記録トラックのトレースを開始する（S21）。トレースの開始後プリアンプ５、ADC６を介し得られる再生信号に対し、DPLL回路７で再生信号と発振クロックの位相誤差が最小となるようクロック周波数制御を行い位相誤差収束でDPLLロックを検出する。係数制御回路１３はDPLLロック検出と適応等化ONの条件で、FIRフィルタ回路６に対するタップ係数更新を開始する。一方でIRフィルタ回路出力に対しビタビ復号、データ復調処理も開始される（S22）。その後再生目標ブロックに到達、アクセス目標ブロックからの適応等化処理実施でタップ係数、目標誤差が収束した状態で再生が継続される（S23）。
【００２０】
S20で係数制御回路１４、サーボ制御回路１５にそれぞれ設定される減衰率とアクセス目標ブロックの決定方法について図７のフローチャートを用いて説明する。光ディスク１に対するアクセスは誤り訂正処理の完結単位や、アドレス情報と記録データを１単位としたデータ量のブロック単位で行われる。光ディスクに対する再生の際には、再生目標ブロックに対し、少なくとも１ブロック手前のアクセス目標ブロックにアクセスし、再生目標ブロックに到達するまでの期間でPLLを安定させ、再生目標ブロック以降の再生を行う。
【００２１】
一方、適応等化処理を光ディスク装置に適用する際には、アクセス目標ブロックから再生目標ブロックまでの期間でタップ係数、目標誤差が収束する減衰率設定が望ましい。従って減衰率に対する収束ブロック数を決定する必要がある。
【００２２】
図７において、ターゲット選択回路１１に、各等化目標値の設定後（S71）、収束判定の基準である再生ブロック数M（Mは正の整数で１≦M）の初期値として１ブロックを指定、減衰率初期値としてμを初期化（μは自然数）し（S72）、係数制御回路１４に設定する（S73）。例えば初期化の際減衰率μは最大値を設定する。更にサーボ制御回路１５の制御により、光ディスクの任意位置にアクセスし、M（＝１）ブロック再生する（S74）。Mブロック経過後、収束判定回路１６より収束検出を判定し（S75）、収束検出の場合は、更にKブロック（Kは正の整数で１≦K）再生を継続する（S76）。Kブロック経過後、収束検出を判定し（S77）、減衰率μに対する再生継続時の収束安定性が判断される。減衰率設定が大きすぎる場合、仮にS75の判定で収束検出したとしても、S77の判定では収束検出が安定しない。これは減衰率設定が大きすぎるためタップ係数の変動が発振、誤差収束が安定しないためで、Kブロック再生により減衰率設定値の妥当性が判定可能である。S77の収束検出に呼応して、減衰率μとそのアクセス時の再生線速度、光ディスク半径方向に対する再生ゾーンに関する情報を一時的に保持する（S78）。
【００２３】
S76、S77で収束検出がなされない場合は、S73において減衰率を初期値から減少させ、S74からS77までの処理を繰返し行う。減衰率を減少させながらS74からS77の処理を繰り返すことで、S77における収束検出が行われ、さらに減衰率減少でS77における収束検出がなされなくなる。これはMブロック再生期間で収束判定回路１６における判定閾値まで収束しないことを意味する。従って減衰率減少でS75、S77の収束検出がなされなくなる減衰率設定の１つ手前の設定が、Mブロック再生で収束する最小の減衰率であり、S78において最終的な減衰率の保持値となる。
【００２４】
S78でMブロック再生に対する減衰率μの判定処理が終了すると、S79、S７A、S73からS78までの処理を通じ、ブロック数Mを増加させ、各ブロック数に対する最小の減衰率を判定する。
【００２５】
S79で再生ブロック数を可変した場合の減衰率最小値の判定が終了すると、S7Bにおいて、S7B、S7Cの処理を通じて光ディスク半径方向に対し複数分割した再生ゾーン、再生線速度に対してもS72からS79の処理を実施し、S７Dにおいて再生ゾーン、再生線速度と、再生ブロック数Mに対する減衰率μ最小値の関係を示すテーブル（マトリックス）を作成、減衰率判定処理を終了する。
【００２６】
なお図７のS75、S77における収束判定は、目標誤差値から判定することに限定されず、１／Pブロック（Pは正の整数で１≦P）期間のタップ係数変動量が閾値以下となった場合、収束と判断することも考えられる。
【００２７】
またターゲット選択回路１１において、等化目標値の組合わせを選択し、S72からS79の処理により減衰率を決定する場合も考えられる。等化目標値の組合わせは、例えばPR符号が「0000」、「0001/1000」、「0011/1100」、「0111/1110」、「1111」、「0110」、「1001」の７値のうち、「0011/1100」のみに対する等化目標値で目標誤差、タップ係数の更新演算を行う場合や、全ての等化目標値を演算対象とする場合などが考えられる。この場合前記テーブルに、等化目標値の組合わせと、再生ブロック数M、減衰率μ最小値との対応関係が追加される。
【００２８】
図２、S23に遷移後、再生目標ブロック以降の復調データに対する誤り訂正処理の結果再生不能と判断された場合や、誤差異常検出回路１３での誤差異常検出など異常要因が検出された場合は、それらの検出時点で再生を中断し、リトライ処理（S24）に遷移する。S24への遷移で再生不能、異常要因検出のブロックを再生目標ブロックとしてリトライ処理を行うが、その前にリトライパラメータとして例えば（１）アクセス目標ブロック、（２）減衰率、（３）再生速度の各パラメータがシステムコントローラにより変更される（S25）。各回路に対し再設定後、サーボ制御回路１５の制御によりアクセス目標ブロックにアクセスし（S21）、タップ係数の更新（S22）、再生目標ブロックからの再生が行われる（S23）。この後再度リトライ処理S24に遷移した場合はS25でリトライパラメータの変更が行われるが、リトライ回数上限を超えた場合はリトライ処理を停止し、光ディスク装置の動作制御を終了する。
【００２９】
図２、S25におけるリトライパラメータの変更方法について説明する。図３はリトライパラメータとして（１）アクセス目標ブロックシフトの一例を説明する図であり、再生トラック上にアドレス（N−３）から（N＋１）の再生ブロックが連続的に配置され、再生目標ブロックはアドレスNに対するブロック、１ブロックのデータ量で収束する減衰率μ0、アクセス目標ブロックはアドレス（N−１）のブロックとする。リトライ処理時アクセス目標ブロックを１ブロックずつ増加させ、減衰率についても増加するブロック数に応じてμ0から、μ1、μ2へ順次変更する。μ０、μ１、μ２の各減衰率は図７で説明した方法に従い決定される（μ0、μ1、μ2は自然数）。従って再生目標ブロック到達までの収束期間を延長、つまり収束ブロック数増加と、それに応じた減衰率を設定することでタップ係数の不用意な変動を抑制し、再生目標ブロックから最適なタップ係数により再生が可能となる。
【００３０】
アクセス目標ブロックのシフトのみでリトライ処理を行うことも考えられる。各リトライに対する減衰率μ0、μ1、μ2はμ0固定（μ0 = μ1 = μ2）で、収束ブロック数を１ブロックずつ増加させる。特に収束ブロックの再生中にディスク上の傷等により再生信号に欠落が存在が生じ、欠落区間での適応等化処理を行わない場合、収束ブロック数の増加でタップ係数、誤差収束に費やすデータ量を確保し、再生目標ブロックから最適なタップ係数による再生が可能となる。
【００３１】
図４は、リトライパラメータとして（２）減衰率変更の一例を説明する図であり、アドレスNの再生目標ブロックに対し、アドレス（N-1）のアクセス目標ブロックは固定、つまり収束ブロック数は同じである。リトライパラメータとして減衰率をμ0、μ1、μ2（μ0 ＜ μ1 ＜ μ2）を順次増加させることで、再生目標ブロックに到達するまでのタップ係数、誤差収束を早める。従ってリトライパラメータとして減衰率を増加させる場合は、収束ブロック数を固定し、かつ収束ブロックの再生信号に欠落が生じる場合に適する一方、減衰率を減少させるパラメータ更新方法も考えられる。リトライパラメータとして減衰率をμ0、μ1、μ2（μ0 ＞ μ1 ＞ μ2）と順次減少させることで再生目標ブロックに到達するまでのタップ係数の不用意な変動を抑制できる。この場合、収束ブロックにおいて再生信号の劣化が大きい場合に有効である。
【００３２】
リトライパラメータ変更として（３）再生速度の変更について説明する。ディスクモータ４の制御によるディスク回転数を減速、再生線速度の減少に伴い、プリアンプ５入力の再生信号に対するS/Nが改善される。従ってリトライ処理時に線速度を下げた場合、図７で説明した方法で求めた、再生線速度に対する減衰率を適用することで、再生目標ブロックから最適なタップ係数による再生が可能となる。
【００３３】
一方で、再生線速度V0、V0に対する減衰率μ0に対し、リトライ処理の度に、V0からV1、V2と減少させ（V0 ＞ V1 ＞ V2）、減衰率はμ0からμ1、μ2（μ0 ＜ μ1 ＜ μ2）と順次増加させる場合も考えられる（V0、V1、V2は自然数）。線速度の減少で再生信号のS/Nが改善され、減衰率増加でタップ係数、誤差収束を早めることが可能となる。再生線速度、減衰率共に減少させる方法も考えられる。この場合再生目標ブロックに到達するまでの不用意なタップ係数変更の抑制が可能である。この場合、収束ブロックにおいて再生信号の劣化が大きい場合に有効である。
【００３４】
以上説明した第１の実施例においては、減衰率設定値とタップ係数、誤差収束に要するデータ量、つまり収束ブロック数との関係を判定し、それを利用することで、適応等化処理による最適なタップ係数で、再生目標ブロックからの再生、エラーレート改善を得ることができる。更にリトライパラメータとして、アクセス目標ブロックのシフト、減衰率の調整、再生線速度の変更を行い、適応等化処理を行うことで、リトライ時にも同様の効果を得ることが出来る。
【００３５】
次に、本発明の第２の実施例について図面を用いて説明する。
【００３６】
図５は本発明の波形等化制御方法を光ディスク装置に適用した場合の第２の構成図であり、１７は係数異常検出回路であり、その他の符号については図１と同様であり説明を省略する。係数異常回路１７は、係数制御回路１４におけるFIRフィルタ回路８の各タップ係数値と係数可変範囲からオーバーフロー、アンダーフローを検出し、係数ごとに検出結果を出力する。係数制御回路１４は各タップ係数可変範囲の上限、下限の設定が可能となっている。第２の実施例においても係数オーバー、アンダーフロー検出に応じた、係数上限、下限制御はシステムコントローラにより行われる。
【００３７】
ここで、FIRフィルタ回路８のタップレイアウトと、係数制御回路１４で行われる各タップ係数制御範囲の一例について図６を用いて説明する。図６（A）はFIRフィルタ回路の構成例を示し、C3からC-3までのタップ係数が可変である。図６（B）−１は通常再生時のタップ係数可変範囲の一例を示し、各係数で可変範囲が異なり、光ディスク装置リセット時の初期値、適応等化処理によるタップ係数可変範囲の上限、下限がそれぞれ与えられる。図６（B）−２はリトライ時のタップ係数可変範囲の一例を示している。C1、C-1タップ、C2、C-2については上限、C3、C-3については上限、下限がそれぞれ拡張される。各係数の初期値、上限、下限に対するタップ係数制御は係数制御回路１４で行われる。
【００３８】
図６で説明したFIRフィルタとタップ係数可変範囲を用いた光ディスク装置の制御方法を説明する。光ディスク装置における制御方法は図２の状態遷移図が適用され、S24に遷移する際の異常要因として係数異常検出回路１７による係数オーバーフロー、アンダーフロー検出が加わる。パラメータ変更S25においてはオーバー、アンダーを検出した係数に対し可変範囲の変更を行う。例えば、係数C1のオーバーフローを検出すると、システムコントローラは係数制御回路１４に対し係数C1を（B）−２の上限値に変更する。係数C2のオーバーフロー検出においては係数C2を（B）−２の上限に変更する。その他の係数についても同様、各係数のオーバーフロー、アンダーフロー検出で上限、下限を変更し、S21への遷移でアクセス目標ブロックへアクセス、以降S22の遷移で適応等化処理を行う。
【００３９】
係数異常検出回路１６においてはオーバーフロー、アンダーフローの連続検出回数と閾値から各係数のオーバーフロー、アンダーフローを判定することで不用意なリトライ処理への遷移、係数可変範囲の変更を抑えることが可能となる。更に係数可変範囲は（B）−１に対し、（B）−２に変更することに限定されず、リトライ処理に遷移する度に（B）-1の各係数上限、下限に対しLステップ（Lは自然数）単位で可変範囲を拡張することも考えられる。また各係数いずれかのアンダーフロー、オーバーフロー検出で全てのタップ係数可変範囲を（B）−１から（B）−２へ変更したり、上限または下限を一律Lステップ拡張することも考えられる。
【００４０】
なお第２の実施例におけるリトライパラメータに、第１の実施例で説明した（１）アクセス目標ブロック、（２）減衰率、（３）再生速度の各パラメータの変更を組み合わせて行うことも可能である。
【００４１】
以上説明した第２の実施例においては、FIRフィルタに対する各係数可変範囲に対しオーバーフロー、アンダーフローを検出、係数可変範囲の変更でリトライ処理を行い、再生目標ブロックから再生、エラーレート改善を得ることができる。
【００４２】
なお、図１、図５において、光ディスク装置を構成する各回路は同一の半導体チップにレイアウトされ、第1、第2の実施例で説明した処理行いながら適応等化処理を行う。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】光ディスク装置に適用した本発明の第１の構成を示すブロック図。
【図２】リトライ処理時に行う、アクセス目標ブロックシフトの説明図。
【図３】リトライ処理時に行う、減衰率変更の説明図。
【図４】本発明の光ディスク装置に対する制御を説明する状態遷移図。
【図５】光ディスク装置に適応した本発明の第２の構成を示すブロック図。
【図６】FIRフィルタ回路の構成例と、タップ係数可変範囲の説明図。
【図７】減衰率に対するアクセス目標ブロックの決定方法を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００４４】
１…光ディスク、２…光ヘッド、３…光ヘッド移動手段、４…ディスクモータ、５…プリアンプ、６…ＡDコンバータ、７…DPLL回路、８…ＦＩＲフィルタ回路、９…ビタビ復号回路、１０…データ復調回路、１１…ターゲット選択回路、１２…誤差演算回路、１３…誤差異常検出回路、１４…係数制御回路、１５…サーボ制御回路、１６…収束判定回路、１７…係数異常検出回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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