(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
操作キーを押下する加圧手段と、
押下された操作キーの荷重を計測する手段と、
操作キー、および操作キー周辺の変位を計測する手段と、
良否判定手段とを備えたキーボード検査装置であって、
変位計測手段は、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、
良否判定手段は、操作キーの荷重が所定の値のときに、操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とするキーボード検査装置。
【請求項２】
操作キーを所定の荷重で押下し、
操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、
操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とするキーボード検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は操作キーのキータッチ感を検査するキーボード検査装置、およびキーボード検査方法に関し、特に、操作キーにタッチした場合のキーボード沈み込み等によるストロークの変化を含む、キータッチ感を検査する、キーボード検査装置、およびキーボード検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ノートパソコン等では一般的に、キーボード上の、操作キー周辺の筐体上に手のひら等を置いてキーやボタンを操作する。このため操作者は、操作時のキーのストローク、すなわち指先の感覚だけでなく、手のひら等で操作キー周辺の沈み込みを感知し、総合的にキータッチ感を得る。したがって、操作キー単体の、加圧力−ストローク特性を検査するだけでは、実際のキータッチ感を検査したことにはならない。
【０００３】
従来、操作キーを押した感触を数値化して検査する技術が開示されている。（特許文献１参照）
【特許文献１】特開平７−５５６５４号公報  特許文献１に記載の方法では、図５に示すごとく、キー押し部３で操作キー２を押し、センシング部５、９で操作キー２が押された時の変位と荷重を検出し、Ａ／Ｄ変換部１１で変位と荷重の検出信号をＡ／Ｄ変換し、微分処理部１３でＡ／Ｄ変換された情報を各変位に対して荷重の微分値を持つ微分関数に変換し、区間分割処理部１４で微分関数を変位の区間に分割し、クリック感特性値算出部１５で分割された区間からクリック感特性値を計算し、判定部１６でクリック感特性値を予め定めた判定式に当てはめて操作キーが正常かどうかを判定する。
【０００４】
この場合、あらかじめ操作キー２を押した際の標準的な荷重微分値−変位特性から、ベース特性検出閾値ｘ、ダイヤフラム特性検出閾値ｙ、移行部検出閾値ｚを定め、実測したダイヤフラム特性検出閾値ｙにおける変位Ｃと、移行部検出閾値ｚにおける変位Ｂとの差（Ｃ−Ｂ）が所定の範囲に有るか否かで良否判定をおこなう。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、ダイヤフラム特性検出閾値ｙにおける変位Ｃと、移行部検出閾値ｚにおける変位Ｂとの差、すなわち（Ｃ−Ｂ）を検査するだけでは、（Ｃ−Ｂ）が所定の範囲にあれば、製品自体の沈み込みが大きく、キータッチ感としては不快であるような場合でも「良」と判定してしまう。
【０００６】
本発明は、操作キーを押下した場合の操作キー周辺の沈み込みを含め、キーボード全体のキータッチ感を検査する装置、および方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第一の発明は、操作キーを押下する加圧手段と、押下された操作キーの荷重を計測する手段と、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測する手段と、良否判定手段とを備えたキーボード検査装置であって、変位計測手段は、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、良否判定手段は、操作キーの荷重が所定の値のときに、操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とする。
【０００８】
第二の発明は、キーボード検査方法であって、操作キーを所定の荷重で押下し、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明により、操作キーを押下した場合の操作キー周辺の沈み込みを含め、キーボード全体のキータッチ感を検査する装置、および方法を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
図１に本発明の基本構成を示す。キーボード検査装置２１は、キーを押下する加圧手段２２と、押下された操作キーの荷重を計測する荷重計測手段２３と、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測する変位計測手段２４と、良否判定手段２５とを備えた検査装置であって、変位計測手段２４は、検査対象のキーボード２６の操作キー２７、および操作キー周辺２８の変位を計測し、良否判定手段２５は、操作キー２７の荷重が所定の値のときに、操作キー２７および操作キー周辺２８の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定する。
【実施例１】
【００１１】
図２は、図１に示す構成を用いてキーボードの検査を行う装置の、実施例１の処理フローを示す。
【００１２】
なお、検査に先立ち、図３に示す、操作キーの荷重-ストローク特性データ等から、操作キー荷重-ストロークの良否判定基準を定めておく。良否判定基準としては、例えば、操作キー荷重１００ｇのとき、操作キーの最大ストローク２．８ｍｍ、操作キー周辺の沈み込み０〜１．０ｍｍとする。
【００１３】
キーボード検査装置２１に検査対象のキーボード２６がセットされると、ステップＳ１１で、変位計測手段２４が、操作キー２７周辺をスキャンして操作キー２７、および操作キーの左右前後（周辺）２８の位置を確認し、ステップＳ１２で操作キー２７、および操作キー周辺２８の高さを計測する。
【００１４】
図４は、変位計測手段２４を左右、前後にスキャンし、操作キー、および操作キー周辺の高さ計測した例を示す。
【００１５】
キーボード検査装置２１は操作キー２７の位置を確認すると、ステップＳ１３で、加圧手段２２を操作キー２７上方に移動させ、操作キー２７を加圧しつつ荷重計測手段２３で加圧力を計測する。
【００１６】
加圧力が所定の値Ｐ、例えば１００ｇになると、ステップＳ１４で、変位計測手段２４で操作キー２７、および操作キー周辺２８の高さを計測する。
【００１７】
ステップＳ１５では、操作キー２７加圧時の、操作キー２７、および操作キー周辺２８の変位ΔＨを計算する。
【００１８】
ステップＳ１６では、計算した変位が許容範囲内であった場合にステップＳ１７に進み「良」と判定し、それ以外の場合にはステップＳ１８に進み「不良」と判定する。
【００１９】
これにより、操作キーを押下した場合の操作キー周辺の沈み込みを含め、キーボード全体のキータッチ感を定量的に検査することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の基本構成
【図２】実施例１の処理フロー
【図３】操作キーの荷重−ストローク特性例
【図４】変位計測手段による高さ計測例
【図５】従来例
【符号の説明】
【００２１】
２１    キーボード検査装置
２２    加圧手段
２３    荷重計測手段
２４    変位計測手段
２５    良否判定手段
２６    キーボード
２７    操作キー
２８    操作キー周辺
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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