(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コア基板に樹脂絶縁層と導体回路とを積層してなるパッケージ基板であって、
前記パッケージ基板内に通孔を設けた板状コンデンサを配置したことを特徴とするパッケージ基板。
【請求項２】
前記板状コンデンサの通孔に前記コア基板を配設し、
前記コア基板の両面のビルドアップ層を、前記コア基板に形成されたスルーホールを介して接続したことを特徴とする請求項１に記載のパッケージ基板。
【請求項３】
前記板状コンデンサの通孔に前記コア基板を配設し、
前記コア基板の両面のビルドアップ層を、前記板状コンデンサの電極を介して接続したことを特徴とする請求項１に記載のパッケージ基板。
【請求項４】
前記板状コンデンサを前記コア基板のＩＣチップ側の面に配置し、
前記板状コンデンサの通孔内に前記樹脂絶縁層と前記導体回路とを積層したことを特徴とする請求項１に記載のパッケージ基板。
【請求項５】
前記板状コンデンサを前記コア基板の外部基板側の面に配置し、
前記板状コンデンサの通孔内に前記樹脂絶縁層と前記導体回路とを積層したことを特徴とする請求項１に記載のパッケージ基板。
【請求項６】
前記板状コンデンサが、セラミック板に導電体層と誘電体層とを設けてなる請求項１〜５のいずれか１項に記載のパッケージ基板。
【請求項７】
前記板状コンデンサが、金属板に導電体層と誘電体層とを設けてなる請求項１〜５のいずれか１項に記載のパッケージ基板。
【請求項８】
前記板状コンデンサを電源用のコンデンサとしたことを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載のパッケージ基板。
【請求項９】
前記誘電体層が、酸化チタン塩あるいはペロブスカイト系材料で形成されてなることを特徴とする請求項６又は７に記載のパッケージ基板。
【請求項１０】
前記板状コンデンサの表層に銅が形成されていることを特徴とする請求項１〜９のいずれか１項に記載のパッケージ基板。
【請求項１１】
前記板状コンデンサの表層に粗化層が形成されていることを特徴とする請求項１〜９のいずれか１項に記載のパッケージ基板。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
ＩＣチップなどの電子部品を載置するパッケージ基板に関し、特にコンデンサを内蔵するパッケージ基板に関するのもである。
【０００２】
【従来の技術】
現在、パッケージ基板では、電源からＩＣチップの電源／アースまでのループインダクタンスを低減するため、チップコンデンサを表面実装することがある。即ち、伝送損出となるループインダクタンスは、図１６（Ａ）に示すＩＣチップ２７０の電源端子２７２Ｐからパッケージ基板３００内の電源線を介して電源までの配線長、及び、電源からパッケージ基板３００内のアース線を介してＩＣチップ２７０のアース端子２７２Ｅまでの配線長に比例する。このため、図１６（Ｂ）に示すように、パッケージ基板３００にチップコンデンサ２９８を表面実装し、電源からＩＣチップの電源／アースまでの間にチップコンデンサ２９８を介在させることで、ループインダクタンスを決定するループ長を図中で実線で示すように、チップコンデンサ２９８間の配線長を短縮する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ループインダクタンスのリアクタンス分ＸLは、次式に示すように周波数に依存する。
ＸL＝２πfＬ      ｆ：周波数        Ｌ：インダクタンス
このため、ＩＣチップの高周波数化に伴い、図１６（Ｂ）を参照して上述したようにチップコンデンサを実装することによっては、ループインダクタンスのリアクタンス分ＸLを低減することができなくなってきた。
【０００４】
係る課題に対応するため、コンデンサを内蔵するセラミック板上に樹脂絶縁層及び配線層を積層することを本発明者は案出した。係る構成のパッケージ基板においては、ＩＣチップの直下にコンデンサを配設することで、ループ長を短縮できる。しかしながら、低い誘電率の樹脂と、コンデンサを形成する高い誘電率の誘電体層とを貫いて信号線を配設することになるため、インピーダンス不連続による信号の反射、及び、高誘電体通過時において信号伝搬の遅延を発生することが予想された。
【０００５】
本発明は上述した課題を解決するためなされたものであり、その目的とするところは、大容量のコンデンサをＩＣチップの近傍に配置できるパッケージ基板を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するため、請求項１は、コア基板に樹脂絶縁層と導体回路とを積層してなるパッケージ基板であって、
前記パッケージ基板内に通孔を設けた板状コンデンサを配置したことを技術的特徴とする。
【０００９】
請求項１では、パッケージ基板内にコンデンサを配置するため、ＩＣチップとコンデンサとの距離が短くなり、ループインダクタンスを低減することができる。また、パッケージ基板内に板状コンデンサを収容するため、パッケージ基板が反り難くなる。
【００１０】
請求項２は、請求項１において、前記板状コンデンサの通孔に前記コア基板を配設し、
前記コア基板の両面のビルドアップ層を、前記コア基板に形成されたスルーホールを介して接続したことを技術的特徴とする。
【００１１】
請求項２では、コア基板の両面のビルドアップ層を、コンデンサの通孔に形成されたコア基板のスルーホールを介して接続し、コンデンサを信号線が通過しないため、高誘電体によるインピーダンス不連続による反射、及び、高誘電体通過による伝搬遅延が発生しない。また、板状コンデンサの通孔にコア基板を配設することで、該板状コンデンサをコア基板として用いるため、パッケージ基板が反り難くなる。
【００１２】
請求項３は、請求項１において、前記板状コンデンサの通孔に前記コア基板を配設し、
前記コア基板の両面のビルドアップ層を、前記板状コンデンサの電極を介して接続したことを技術的特徴とする。
【００１３】
請求項３では、コア基板の両面のビルドアップ層（配線）を、コア基板内の板状コンデンサの電極を介して接続するため、短い距離でＩＣチップとコンデンサ、コンデンサと外部接続基板、ＩＣチップと外部接続基板とを接続することができる。
【００１４】
請求項４は、請求項１において、前記板状コンデンサを前記コア基板のＩＣチップ側の面に配置し、
前記板状コンデンサの通孔内に前記樹脂絶縁層と前記導体回路とを積層したことを技術的特徴とする。
【００１５】
請求項４では、コンデンサをコア基板のＩＣチップ側の面に備え、コンデンサの通孔内に樹脂絶縁層と導体回路とを積層して接続を取り、コンデンサを信号線が通過しないため、高誘電体によるインピーダンス不連続による反射、及び、高誘電体通過による伝搬遅延が発生しない。また、コア基板の上面に板状コンデンサを配設するため、パッケージ基板が反り難くなる。
【００１６】
請求項５は、請求項１において、前記板状コンデンサを前記コア基板の外部基板側の面に配置し、
前記板状コンデンサの通孔内に前記樹脂絶縁層と前記導体回路とを積層したことを技術的特徴とする。
【００１７】
請求項５では、コンデンサをコア基板の外部基板側の面に備え、コンデンサの通孔内に樹脂絶縁層と導体回路とを積層して接続を取り、コンデンサを信号線が通過しないため、高誘電体によるインピーダンス不連続による反射、及び、高誘電体通過による伝搬遅延が発生しない。また、コア基板の下面に板状コンデンサを配設するため、パッケージ基板が反り難くなる。
【００１８】
請求項６では、コンデンサがセラミック板からなるため、高誘電率の誘電体層を同時焼成により容易に形成することができる。
【００１９】
請求項７では、パッケージ基板内にコンデンサを構成する金属基板を配設するため、ＩＣチップからマザーボード側への電磁波干渉をシールドすることができる。
【００２０】
請求項８では、パッケージ基板内に電源コンデンサを配置するため、ＩＣチップと電源コンデンサとの距離が短くなり、大電力を瞬時的にＩＣチップ側へ供給することが可能になる。
【００２１】
請求項９では、誘電体層が、誘電率の高い酸化チタン塩あるいはペロブスカイト系材料で形成されているため、コンデンサを大容量に形成できる。また、誘電体層を焼成して形成することで、層自体を薄くすることができる。前述の誘電体層で用い得るチタン酸塩とは、チタン酸バリウム、チタン酸鉛系、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸ビスマス、チタン酸マグネシウムからなるチタン酸と金属との化合物を意味し、ペロブスカイト系材料とは、少なくともＭｇｘＮｂｙＯzである化合物全般を意味する。その中でもチタン酸バリウムを用いることが特によい。誘電率を１０００以上にし易く、金属層と誘電体層との密着が優れているからである。
【００２２】
請求項１０のパッケージ基板では、内蔵の板状コンデンサの表層（最外層の誘電体層）は、主に銅によって形成されている。これによって、層間樹脂絶縁層のバイアホールも主に銅からなる金属によって形成されていることから、異種金属による膨張率差などに起因する剥離を防止することができ、信頼性が向上する。
【００２３】
請求項１１のパッケージ基板では、内蔵の板状コンデンサの表層（最外層の誘電体層）には、粗化層が形成されている。これによって、層間樹脂絶縁層及び層間樹脂絶縁層に形成されるバイアホールとの密着性が向上し、剥離や断線といった電気接続に起因する障害を防止できる。
粗化層は、電解めっき膜、酸化還元処理、エッチングによる粗化処理で形成することができる。粗化層は、平均粗度０．５〜５μｍの間で形成することが望ましい。０．５μｍ未満では、密着性の向上が望めない。他方、５μｍを越えると、バイアホールを形成する際に、底面に樹脂残りを引き起こし、信頼性の低下が懸念されるからである。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について図を参照して説明する。
[第１実施形態]
先ず、本発明の第１実施形態に係るパッケージ基板の構成について図６、図７を参照して説明する。図６は、パッケージ基板１０の断面を示し、図７は、図６に示すパッケージ基板１０にＩＣチップ７０を搭載し、ドータボード８０側へ取り付けた状態を示している。
【００２５】
図６に示すようにパッケージ基板１０は、板状コンデンサ３０と、板状コンデンサ３０の中央に設けられた通孔３０ａに収容されたコア基板２０と、ビルドアップ層９０Ａ、９０Ｂを構成する層間樹脂絶縁層４０、１４０とからなる。層間樹脂絶縁層４０には、バイアホール４６及び導体回路４８が形成され、層間樹脂誘電体層１４０には、バイアホール１４６及び導体回路１４８が形成されている。
【００２６】
図７に示すように上側のビルドアップ層９０Ａのバイアホール１４６には、ＩＣチップ７０のパッド７２Ｓ、７２Ｐ１，７２Ｐ２へ接続するためのバンプ６６が形成されている。一方、下側のビルドアップ層９０Ｂのバイアホール１４６には、ドータボード８０のパッド８２Ｓ、８２Ｐ１、８２Ｐ２へ接続するためのバンプ６６が配設されている。コア基板２０にはスルーホール２６が形成されている。
【００２７】
中央に通孔３０ａの形成された板状コンデンサ３０は、金属基板１２の表面に誘電体層１４及び導電体層１６が配設されてなる。即ち、金属基板１２の表面に誘電体層１４を、更に誘電体層１４の表面に導電体層１６を配設することで電源用コンデンサが形成されている。
【００２８】
図７中に示すドータボード８０の信号用のパッド８２Ｓは、バンプ６６−バイアホール１４６−導体回路４８−バイアホール４６−コア基板２０のスルーホール２６−バイアホール４６−導体回路４８−バイアホール１４６を介して、ＩＣチップ７０の信号用のパッド７２Ｓへ接続されている。
【００２９】
ドータボード８０の電源用のパッド８２Ｐ１は、バンプ６６−バイアホール１４６−導体回路４８−バイアホール４６−電源端子１７を介して板状コンデンサ３０の電極を構成する金属基板１２へ接続されている。同様に、ドータボード８０の他方の電源用のパッド８２Ｐ２は、バンプ６６−バイアホール１４６−導体回路４８−バイアホール４６を介して板状コンデンサ３０の他方の電極を構成する導電体層１６へ接続されている。
【００３０】
一方、ＩＣチップの電源用のパッド７２Ｐ１は、バンプ６６−導体回路１４８−バイアホール１４６−導体回路４８−バイアホール４６−電源端子１７を介して、板状コンデンサ３０の電極を構成する金属基板１２へ接続されている。ＩＣチップの電源用の他方のパッド７２Ｐ２は、バンプ６６−導体回路１４８−バイアホール１４６−導体回路４８−バイアホール４６を介して、上述した電源用コンデンサの他方の電極を構成する導電体層１６へ接続されている。即ち、ドータボード８０から供給された電力は、板状コンデンサ３０を介してＩＣチップ側へ供給される。
【００３１】
本実施形態のパッケージ基板１０では、パッケージ基板内に板状コンデンサ３０を配置するため、ＩＣチップとコンデンサとの距離が短くなり、大電力を瞬時的にＩＣチップ側へ供給することが可能になる。即ち、ループインダクタンスを決定するループ長さを短縮することができる。
【００３２】
本実施形態では、コア基板２０の両面のビルドアップ層９０Ａ、９０Ｂの配線（バイアホール４６、導体回路４８、バイアホール１４６、導体回路１４８）を、コア基板２０内の板状コンデンサ３０の電極（導電体層）１６を介して接続するため、短い距離でＩＣチップ７０とコンデンサ３０、コンデンサ３０とドータボード（外部接続基板）８０、ＩＣチップ７０とドータボード８０とを接続することができる。
【００３３】
また、本実施形態のパッケージ基板では、誘電体層１４が、無機材料として、誘電率の高い酸化チタンバリウムから構成されており、誘電体層の厚みを薄くすることで、コンデンサを大容量に形成できる。更に、金属単体である金属基板１２上に無機材料を焼結するため、焼結物は１種類であり、雰囲気制御、焼結制御が容易であり、誘電率の安定した誘電体層を形成することができる。ここで、誘電体層としては、誘電率の高い酸化チタン塩あるいはペロブスカイト系材料を用いることで、コンデンサを大容量に形成できる。また、誘電体層を焼成して形成するので、層自体を薄くできる。前述の誘電体層で用い得るチタン酸塩とは、チタン酸バリウム、チタン酸鉛系、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸ビスマス、チタン酸マグネシウムからなるチタン酸と金属との化合物を意味して、ペロブスカイト系材料とは、少なくともＭｇｘＮｂｙＯzである化合物全般を意味する。
【００３４】
更に、板状コンデンサ３０の通孔３０ａに収容されたコア基板２０側にドータボード８０への接続用のスルーホール２６を設け、板状コンデンサ３０の誘電体層１４を信号線が通過しないため、高誘電体によるインピーダンス不連続による反射、及び、高誘電体通過による伝搬遅延が発生しない。
【００３５】
また、ＩＣチップ７０の下方に金属基板１２を配設するため、ＩＣチップからマザーボード側への電磁波干渉をシールドすることができる。また、熱伝導性、耐熱性の高い金属基板１２側を用いるため、ＩＣチップを効率的に冷却できる。更に、金属基板１２を用いるため、薄く形成しても十分な基板剛性が得られ、パッケージ基板に反りを発生させない。
【００３６】
ひき続き、図６を参照して上述したパッケージ基板の製造方法について、図１〜図５を参照して説明する。
厚さ２００〜１０００μｍの銅、アルミニウム等からなる金属基板１２を出発材料とする（図１（Ａ））。先ず、パンチングにより中央に通孔３０ａを打ち抜く（図１（Ｂ））。そして、酸化チタンバリウムを周知の方法でグリーンシート１４αにし、金属基板１２に貼り付け、当該グリーンシート１４αに開口１４ａをパンチング、又は、レーザにより穿設する（図１（Ｃ））。引き続き、プレーン層となるＡｇペースト１６αをグリーンシート１４α上に印刷し、開口１４ａに電極端子となるＡgペースト１７αを印刷する（図１（Ｄ））。ここでは、Ａｇを用いているが、Ｃｕペーストを使用することもできる。
【００３７】
これら積層体を熱圧着した後、空気中において９５０℃で３０分間焼成し、金属基板１２、誘電体層１４、導電体層１６から成る板状コンデンサ３０を形成する（図１（Ｅ））。本実施形態では、誘電体層１４を焼成により形成するため、酸化チタンバリウム等の無機高誘電率材料を用いることができ、大容量のコンデンサを形成することが可能となる。
【００３８】
一方、コア基板２０を用意する（図２（Ａ））。このコア基板２０としては、エポキシ樹脂を含浸させたプリプレグを積層してなる積層板を用いることができる。エポキシ以外でも、ＢＴ、フェノール樹脂あるいはガラスクロスなどの強化材を含有しているもの等、一般的にプリント配線板で使用されるものを用い得る。先ず、ドリルでスルーホール用の３００〜５００μｍの通孔２２を穿設する（図２（Ｂ））。その後、無電解めっき及び電解めっきを行い、該コア基板２０の表面に金属膜２４を形成する（図２（Ｃ））。そして、金属膜２４をパターンエッチングしてスルーホール２６を形成する（図２（Ｄ））。最後に、スルーホール２６内に、銅ペースト２８を充填する（図２（Ｅ））。コアとなる基板は、樹脂であり、融点が３００℃以下であるため、３５０℃以上の温度を加えると、溶解、軟化もしくは、炭化してしまう。
【００３９】
引き続き、上記図１を参照して上述した工程で完成した板状コンデンサ３０の通孔３０ａに、図２を参照して上述した工程で完成したコア基板２０を嵌入する（図３（Ａ））。そして、コア基板２０及び板状コンデンサ３０の上に、絶縁樹脂４０αを塗布する（図３（Ｂ））。絶縁樹脂としては、エポキシ、ＢＴ、ポリイミド、オレフィン等の熱硬化性樹脂、又は、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂との混合物を用いることができる。また、樹脂を塗布する代わりに、樹脂フィルムを貼り付けることもできる。
【００４０】
絶縁樹脂４０αを加熱して硬化させ層間樹脂絶縁層４０とする。層間樹脂絶縁層には、熱硬化性性樹脂、熱硬化性と熱可塑性樹脂、熱可塑性樹脂に感光性を付加したものを用いることができる。エポキシ、フェノキシ、ポリオレフィン、ポリイミドなどを用い得る。その後、ＣＯ2レーザ、ＹＡＧレーザ、エキシマレーザ又はＵＶレーザにより、層間樹脂絶縁層４０に、スルーホール２６及び導電体層１６へ至る開口径２５〜２５０μｍの非貫通孔４０ａを形成する（図３（Ｃ））。その後、デスミヤ処理を施す。
【００４１】
コア基板２０のパラジウム触媒を付与し、無電解めっき液へ浸漬して、層間樹脂絶縁層４０の表面に均一に厚さ０．２〜５μｍの無電解めっき膜４２を析出させる（図４（Ａ））。ここでは、無電解めっきを用いているが、スパッタにより銅、ニッケル等の金属膜を形成することも可能である。スパッタはコスト的には不利であるが、樹脂との密着性を改善できる利点がある。また、層間樹脂絶縁層に粗化層を設けてからめっき膜を形成してもよい。
【００４２】
引き続き、無電解めっき膜４２の表面に感光性ドライフィルムを張り付け、マスクを載置して、露光・現像処理し、厚さ25μｍのめっきレジストレジスト４３を形成する（図４（Ｂ））。そして、無電解めっき液に浸漬し、無電解めっき膜４２を介して電流を流してレジスト４３の非形成部に電解めっき４４を形成する（図４（Ｃ））。
【００４３】
そして、レジスト４３及びマスク４５を５％KOH で剥離除去した後、硫酸と過酸化水素混合液でエッチングし、めっきレジスト下の無電解めっき膜４２を溶解除去し、無電解めっき４２及び電解銅めっき４４からなる厚さ１８μｍ（１０〜３０μｍ）の導体回路４８及びバイアホール４６を得る（図５（Ａ））。
【００４４】
更に、クロム酸、過マンガン酸などに１分間浸漬して、導体回路４８間の層間樹脂絶縁層４０の表面を１μｍエッチング処理し、表面のパラジウム触媒を除去する。更に、第２銅錯体と有機酸とを含有するエッチング液により、導体回路４８及びバイアホール４６の表面に粗化面（図示せず）を形成し、さらにその表面にSn置換を行ってもよい。
【００４５】
上述した図３（Ｂ）〜図５（Ａ）の処理を繰り返し、層間樹脂誘電体層１４０、バイアホール１４６、導体回路１４８を形成する（図５（Ｂ））。
【００４６】
上述したパッケージ基板にはんだバンプを形成する。基板の両面に、ソルダーレジスト組成物を30μｍの厚さで塗布し、乾燥処理を行った後、円パターン（マスクパターン）が描画された厚さ５mmのフォトマスクフィルム（図示せず）を密着させて載置し、紫外線で露光し、現像処理する。そしてさらに、加熱処理し、はんだパッド部分（バイアホールとそのランド部分を含む）の開口６０ａを有するソルダーレジスト層（厚み20μｍ）６０を形成する（図５（Ｃ））。
【００４７】
そして、ソルダーレジスト層６０の開口部６０ａに、半田ペーストを充填する（図示せず）。その後、開口部６０ａに充填された半田を 200℃でリフローすることにより、半田バンプ（半田体）６６を形成する（図６参照）。なお、耐食性を向上させるため、開口部６０ａにＮｉ、Ａｕ、Ａｇ、Ｐｄなどの金属層をめっき、スパッタにより形成することも可能である。
【００４８】
次に、該パッケージ基板へのＩＣチップの載置及び、ドータボードへの取り付けについて、図７を参照して説明する。完成したパッケージ基板１０の半田バンプ６６にＩＣチップ７０の半田パッド７２Ｓ、７２Ｐ１、７２Ｐ２が対応するように、ＩＣチップ７０を載置し、リフローを行うことで、ＩＣチップ７０の取り付けを行う。同様に、パッケージ基板１０の半田バンプ６６にドータボード８０のパッド８２Ｓ、８２Ｐ１、８２Ｐ２をリフローすることで、ドータボード８０へパッケージ基板１０を取り付ける。
【００４９】
引き続き、本発明の第１実施形態の改変例に係るパッケージ基板について、図８及び図９を参照して説明する。改変例のパッケージ基板１０は、上述した第１実施形態とほぼ同様である。但し、この改変例のパッケージ基板では、導電性ピン８４が配設され、該導電性ピン８４を介してドータボードとの接続を取るように形成されている。
【００５０】
また、上述した第１実施形態では、板状コンデンサ３０が単板の金属板から構成されていたが、改変例では、板状コンデンサ１３０は、セラミック板１１８を３枚積層することで構成されている。図９に板状コンデンサ１３０の断面を拡大して示す。各セラミック板１１８の表面には、コンデンサの電極となる導電体層１１２が配設され、該導電体層１１２の表面には第１実施形態と同様の構成の誘電体層１１４が配設され、該誘電体層１１４の表面には、コンデンサの他方の電極となる誘電体層１１６が更に形成されている。板状コンデンサ１３０は、セラミック板１１８となるセラミックグリーンシートを３層積層した状態で、同時焼成により製造される。
【００５１】
改変例では、板状コンデンサ１３０がセラミック板１１８からなるため、高誘電率の誘電体層１１４を同時焼成により容易に形成することができる。
【００５２】
[第２実施形態]
引き続き、本発明の第２実施形態に係るパッケージ基板の構成について図１０を参照して説明する。
上述した第１実施形態においては、板状コンデンサ３０の中央の通孔３０ａにコア基板２０が収容された。これに対して、第２実施形態では、コア基板２０の上側に板状コンデンサ３０が配設されている。
【００５３】
ここで、ＩＣチップ７０の電源用のパッド７２Ｐ１は、バンプ６６−バイアホール１４６−導体回路１４８−電源端子１７を介して、板状コンデンサ３０の電極を構成する金属基板１２へ接続されている。ＩＣチップの電源用の他方のパッド７２Ｐ２は、バンプ６６−バイアホール１４６−導体回路１４８を介して板状コンデンサ３０の他方の電極を構成する導電体層１６に接続されている。
【００５４】
一方、ドータボード８０の電源用のパッド８２Ｐ１は、バンプ６６−ビルドアップ層９０Ｂの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−スルーホール２６−電源端子１７を介して、板状コンデンサ３０の電極を構成する金属基板１２へ接続されている。同様に、ドータボード８０の他方の電源用のパッド８２Ｐ２は、バンプ６６−ビルドアップ層９０Ｂの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−スルーホール２６を介して板状コンデンサ３０の他方の電極を構成する導電体層１６へ接続されている。
【００５５】
他方、ＩＣチップ７２の信号用パッド７２Ｓは、バンプ６６−ビルドアップ層９０Ａの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−スルーホール２６−ビルドアップ層９０Ｂの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−バンプ６６を介して、ドータボード８０の信号用パッド８２Ｓへ接続されている。
【００５６】
この第２実施形態においては、ＩＣチップ７０の信号用パッド７２Ｓとコア基板２０に形成されたスルーホール２６とを、コア基板２０の上面に形成されたビルドアップ層９０Ａに形成されたビア１４６、４６を介して接続し、板状コンデンサ３０を信号線が通過しないため、高誘電体によるインピーダンス不連続による反射、及び、高誘電体通過による伝搬遅延が発生しない。また、コア基板２０上面に板状コンデンサ３０を配設するため、コア基板に反りが発生し難い。
【００５７】
第２実施形態のパッケージ基板１１０では、ＩＣチップ７０の下に板状コンデンサ３０を配置するため、ＩＣチップとコンデンサとの距離が短くなり、大電力を瞬時的にＩＣチップ側へ供給することが可能になる。即ち、ループインダクタンスを決定するループ長さを最短にすることができる。
【００５８】
次に、本発明の第２実施形態の改変例に係るパッケージ基板について、図１１を参照して説明する。改変例のパッケージ基板１１０は、上述した第２実施形態とほぼ同様である。但し、この改変例のパッケージ基板では、導電性ピン８４が配設され、該導電性ピン８４を介してドータボードとの接続を取るように形成されている。
【００５９】
また、上述した第２実施形態では、板状コンデンサ３０が単板の金属板から構成されていたが、改変例では、板状コンデンサ１３０は、セラミック板１１８を３枚積層することで構成されている（図９参照）。
【００６０】
[第３実施形態]
引き続き、本発明の第３実施形態に係るパッケージ基板の構成について図１２を参照して説明する。
上述した第１実施形態においては、板状コンデンサ３０の通孔３０ａにコア基板２０が収容された。これに対して、第３実施形態では、コア基板２０の下側に板状コンデンサ３０が配設されている。
【００６１】
ここで、ＩＣチップ７０の電源用のパッド７２Ｐ１は、バンプ６６−ビルドアップ層９０Ｂの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−スルーホール２６−電源端子１７を介して、板状コンデンサ３０の電極を構成する金属基板１２へ接続されている。同様に、ＩＣチップの電源用の他方のパッド７２Ｐ２は、バンプ６６−ビルドアップ層９０Ｂの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−スルーホール２６を介して板状コンデンサ３０の他方の電極を構成する導電体層１６に接続されている。
【００６２】
一方、ドータボード８０の電源用のパッド８２Ｐ１は、バンプ６６−電源端子１７を介して、板状コンデンサ３０の電極を構成する金属基板１２へ接続されている。同様に、ドータボード８０の電源用のパッド８２Ｐ２は、バンプ６６を介して板状コンデンサ３０の他方の電極を構成する導電体層１６へ接続されている。
【００６３】
他方、ＩＣチップ７２の信号用パッド７２Ｓは、バンプ６６−ビルドアップ層９０Ａの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−スルーホール２６−ビルドアップ層９０Ｂの層間樹脂絶縁層１４０、４０の導体回路１４８、４８及びバイアホール１４６、４６−バンプ６６を介して、ドータボード８０の信号用パッド８２Ｓへ接続されている。
【００６４】
この第３実施形態においては、コア基板２０に形成されたスルーホール２６とドータボード接続用バンプ６６とを、コア基板２０の下面に形成されたビルドアップ層９０Ｂに形成されたビア１４６、４６を介して接続し、板状コンデンサ３０を信号線が通過しないため、高誘電体によるインピーダンス不連続による反射、及び、高誘電体通過による伝搬遅延が発生しない。また、コア基板２０下面に板状コンデンサ３０を配設するため、コア基板に反りが発生し難くなる。
【００６５】
第３実施形態のパッケージ基板１１０では、ＩＣチップ７０の下に板状コンデンサ３０を配置するため、ＩＣチップとコンデンサとの距離が短くなり、大電力を瞬時的にＩＣチップ側へ供給することが可能になる。即ち、ループインダクタンスを決定するループ長さを短縮することができる。
【００６６】
次に、本発明の第３実施形態の改変例に係るパッケージ基板について、図１３を参照して説明する。改変例のパッケージ基板１１０は、上述した第３実施形態とほぼ同様である。但し、この改変例のパッケージ基板では、導電性ピン８４が配設され、該導電性ピン８４を介してドータボードとの接続を取るように形成されている。
【００６７】
また、上述した第３実施形態では、板状コンデンサ３０が単板の金属板から構成されていたが、改変例では、板状コンデンサ１３０は、セラミック板１１８を３枚積層することで構成されている（図９参照）。
【００６８】
引き続き、本発明の第４実施形態に係るパッケージ基板の構成について図１４を参照して説明する。
図１４（Ａ）は、図３（Ａ）を参照して上述した第１実施形態において板状コンデンサ３０の通孔３０ａにコア基板２０を嵌入した状態の平面図を示している。一方、図１４（Ｂ）は、２枚の板状コンデンサ３０Ａ、３０Ｂの間にコア基板２０を配設した第４実施形態の構成を示している。この第４実施形態では、複数の板状コンデンサ３０Ａ、３０Ｂの間にコア基板２０を挟む構成を採用している。
【００６９】
なお、この第４実施形態では、板状コンデンサ３０Ａ、３０Ｂの間にコア基板２０を挟んだが、第２実施形態のようにコア基板２０上に複数の板状コンデンサを配設することも、また、第３実施形態のようにコア基板２０の下に板状コンデンサを配設することも可能である。一方、第１、第２、第３実施形態の改変例では、複数枚のセラミック板から成る板状コンデンサ１３０を示したが、単板式に構成することも、あるいは、導電体層と誘電体層とを積層した状態（ラミネート状態）で折り畳み、コンデンサを構成することも可能である。
【００７０】
[第５実施形態]
図１５（Ａ）に第４実施形態に係るパッケージ基板に内蔵される板状コンデンサを示す。第５実施形態では、板状コンデンサ３０は、金属基板１２の表面に誘電体層１４及び導電体層１６が配設されてなる。誘電体層１６は、銀又は銅ペーストを焼成して成り、この誘電体層１６の表面に、無電解銅めっき膜１８ｂと電解銅めっき膜１８ｂとが形成されている。
【００７１】
第５実施形態では、板状コンデンサ３０の表層（最外層の誘電体層１６）には、銅めっき膜１８ａ、１８ｂが配設されている。これによって、層間樹脂絶縁層のバイアホールも主に銅からなる金属によって形成されていることから、異種金属による膨張率差などに起因する剥離を防止することができ、信頼性が向上する。
【００７２】
[第６実施形態]
図１５（Ｂ）に第５実施形態に係るパッケージ基板に内蔵される板状コンデンサを示す。第６実施形態では、板状コンデンサ３０は、金属基板１２の表面に誘電体層１４及び導電体層１６が配設されてなる。誘電体層１６の表面には、Ｃｕ−Ｎｉ−Ｐの合金からなる無電解めっき膜により平均粗度３μｍの粗化層２１が形成されている。粗化層は、無電解めっき膜の代わりに、第二銅錯体と有機塩酸からなるエッチング液により、また、ＮａＯＨ（１０ｇ／ｌ）、ＮａＣｌＯ2 （４０ｇ／ｌ）、Ｎａ3 ＰＯ4 （６ｇ／ｌ）を含む水溶液を黒化浴（酸化浴）とする黒化処理、および、ＮａＯＨ（１０ｇ／ｌ）、ＮａＢＨ4 （６ｇ／ｌ）を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い形成することもできる。
【００７３】
第６実施形態のパッケージ基板では、内蔵の板状コンデンサの表層（最外層の誘電体層）に粗化層２１が形成されている。これによって、層間樹脂絶縁層及び層間樹脂絶縁層に形成されるバイアホールとの密着性が向上し、剥離や断線といった電気接続に起因する障害を防止できる。
【００７４】
【発明の効果】
本発明の構成により、ＩＣチップへ大電力を供給することができ、ループインダクタンスを低減でき、かつ、コンデンサを内蔵することから、反りや基板の収縮などに起因する剥離が防止できる。また、コンデンサと層間樹脂絶縁層のバイアホールとが接続されているため、電気的接続性、信頼性が向上する。
更に、コンデンサの表層に銅を形成することで、銅から成るバイアホールとの接続信頼性が向上する。
一方、コンデンサの表層に、粗化層を形成することで、層間樹脂絶縁層及びバイアホールとの接続信頼性がより向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態に係るパッケージ基板の製造工程図である。
【図２】本発明の第１実施形態に係るパッケージ基板の製造工程図である。
【図３】本発明の第１実施形態に係るパッケージ基板の製造工程図である。
【図４】本発明の第１実施形態に係るパッケージ基板の製造工程図である。
【図５】本発明の第１実施形態に係るパッケージ基板の製造工程図である。
【図６】第１実施形態に係るパッケージ基板の断面図である。
【図７】第１実施形態に係るパッケージ基板の断面図である。
【図８】第１実施形態の改変例に係るパッケージ基板の断面図である。
【図９】図８に示すパッケージ基板の板状コンデンサの断面図である。
【図１０】本発明の第２実施形態に係るパッケージ基板の断面図である。
【図１１】本発明の第２実施形態の改変例に係るパッケージ基板の断面図である。
【図１２】本発明の第３実施形態に係るパッケージ基板の断面図である。
【図１３】本発明の第３実施形態の改変例に係るパッケージ基板の断面図である。
【図１４】図１４（Ａ）及び図１４（Ｂ）は、本発明の実施形態に係る板状コンデンサの平面図である。
【図１５】図１５（Ａ）は、本発明の第４実施形態の板状コンデンサの断面図であり、図１５（Ｂ）は、第５実施形態の板状コンデンサの断面図である。
【図１６】図１６（Ａ）及び図１６（Ｂ）は、従来技術に係るパッケージ基板のループインダクタンスの説明図である。
【符号の説明】
１２  金属基板
１４  誘電体層
１６  導電体層（電極）
２０  コア基板
３０  板状コンデンサ
３０ａ  通孔
４０  層間樹脂絶縁層
４０ａ  非貫通孔
４２  無電解めっき膜
４４  電解めっき
４６  バイアホール
４８  導体回路
６０  ソルダーレジスト
６６  半田バンプ
７０  ＩＣチップ
８０  ドータボード
８４  導電性ピン
１４０  層間樹脂絶縁層
１４６  バイアホール
【図１】
0004771583.tif 000002
【図２】
0004771583.tif 000003
【図３】
0004771583.tif 000004
【図４】
0004771583.tif 000005
【図５】
0004771583.tif 000006
【図６】
0004771583.tif 000007
【図７】
0004771583.tif 000008
【図８】
0004771583.tif 000009
【図９】
0004771583.tif 000010
【図１０】
0004771583.tif 000011
【図１１】
0004771583.tif 000012
【図１２】
0004771583.tif 000013
【図１３】
0004771583.tif 000014
【図１４】
0004771583.tif 000015
【図１５】
0004771583.tif 000016
【図１６】
0004771583.tif 000017