(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験機と、リレー装置と、該リレー装置に装着するＡＣ用アタッチメントを備え、大型コンピュータ用の記憶装置を被試験装置とし、前記記憶装置の電源部に対し前記ＡＣアタッチメントを装着したリレー装置を介して前記試験機を接続すると共に、前記接続とは別に前記試験機と前記記憶装置の記憶部との間をデータ転送用インタフェースで接続し、
前記試験機からの試験信号により前記リレー装置を動作させ、更にＡＣアタッチメントを駆動することで前記記憶装置の電源投入切断試験を行うと共に、前記試験機からデータ転送用インタフェースを介して前記記憶部とのデータ転送を行うことで、前記記憶部のデータライト／リード試験を行う記憶装置の試験装置であって、
前記試験機は前記電源投入切断試験及び記憶部単体のデータライト／リード試験の制御を行う試験制御部を備え、
前記試験制御部からの試験信号により前記リレー装置を動作させて変換した信号により前記ＡＣアタッチメントを制御してＡＣ電源を駆動制御することで行う、前記記憶装置の電源投入切断試験と、
前記電源投入切断試験の電源投入状態で、前記試験機からデータ転送用インタフェースを介して前記記憶部とのデータ転送を行うことで、前記記憶部のデータライト／リード試験を連動させて行う機能を備えていることを特徴とする記憶装置の試験装置。
【請求項２】
前記試験機はパーソナルコンピュータにより構成され、前記試験制御部は前記電源投入切断試験を行うための試験プログラムとタイマで構成されると共に、
前記試験プログラムは、同一試験プログラム上にデータ転送と電源投入切断用の命令を記述することで、前記タイマに設定された電源投入切断時間及び電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号を含むＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を生成して前記リレー装置へ出力する機能と、
前記電源投入切断試験と連動させて前記データライト／リード試験を行う機能を備えていることを特徴とする請求項１記載の記憶装置の試験装置。
【請求項３】
前記リレー装置は、前記試験機からのＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を入力し、該入力信号に含まれる電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号に応じてオン信号電圧を変換する第１の手段及びオフ信号電圧を変換する第２の手段と、
前記電圧変換したオン信号及びオフ信号を基に、電源をオン／オフ制御するためのオン／オフ制御信号を作成する第３の手段と、
前記オン／オフ制御信号を基に、電源線の２点間の開放と接触を制御する第４の手段を含んでいることを特徴とする請求項１記載の記憶装置の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験機とリレー装置を備え、大型コンピュータ用の記憶装置を被試験装置とし、記憶装置にリレー装置を介して試験機を接続し、試験機からの試験信号によりリレー装置を動作させることで記憶装置の電源投入切断試験を行う記憶装置の試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
(1) ：従来例１
図７は従来例１の説明図である。以下、図７に基づいて従来例１を説明する。この例は、大型コンピュータに使用する大型の記憶装置（この例では、大型磁気記憶装置）の電源投入切断試験を行う例である。
【０００３】
この試験では、ホストコンピュータ１として大型コンピュータを使用し、このホストコンピュータ１と被試験装置である大型の記憶装置５（この例では大型磁気記憶装置として、大型磁気ディスク装置を使用）を電源制御用ケーブルとデータ転送用インタフェース（インタフェースケーブル）で接続して試験を行う。
【０００４】
この場合、ホストコンピュータ１には、記憶装置５の電源制御を行うための電源制御部２が設けてある。なお、ホストコンピュータ１の他の各部は図示省略してある。また、記憶装置５には、データの記憶を行うための記憶部６と、記憶部６に対する各種制御を行う制御部７と、記憶装置５の各部に電源供給を行うための電源部８と、電源部８に対する制御を行う電源制御部９と、電源制御部９を制御するための信号等をホストコンピュータ１から入力するための電源制御入力部１０等が設けてある。この場合、電源部８には、外部からＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの商用電源電圧を供給する。
【０００５】
そして、ホストコンピュータ１と前記制御部７との間をデータ転送用インタフェース（インタフェースケーブル）で接続し、前記ホストコンピュータ１の電源制御部２と記憶装置５の電源制御入力部１０との間を電源制御用ケーブルにより接続する。この状態でホストコンピュータ１の制御により記憶装置５の電源投入切断試験を行う。
【０００６】
(2) ：従来例２
図８は従来例２の説明図である。以下、図８に基づいて従来例２を説明する。この例は、大型コンピュータに使用する大型の記憶装置（この例では、大型磁気記憶装置）の記憶部に対して試験を行う例である。
【０００７】
この試験では、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）からなる試験機２０を使用し、従来例１で説明した大型の記憶装置５の記憶部６と電源部８を使用して試験を行う。この場合、外部の商用電源からＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの交流電源を電源部８に供給し、電源部８から記憶部６に電源を供給している状態で試験を行う。
【０００８】
試験を行うには、試験機（ＰＣ）２０からデータ転送用インタフェースを介して試験データを転送し、記憶部６に対してデータのライトやリードを繰り返すことにより試験を行う。
【０００９】
(3) ：従来例３
以下、特許文献１を従来例３として説明する。従来例３には次のような内容が記載されている。
【００１０】
「機器の異常を当該機器から離れた場所において表示する機器異常表示システムにおいて、前記機器には、当該機器の異常を検出する異常検出手段と、この異常検出手段が異常を検出した場合に、ｎバイト分の連続する「１」または「０」のデータをシリアル伝送するデータ伝送手段とが備えられ、異常表示が行われる場所には、前記データ伝送手段より送られてくるデータを受けてｎバイト分の連続する「１」または「０」であるか否かを検出する検出手段と、この検出手段の検出結果に基づき異常表示を行う表示手段を備えさせたことを特徴とする。」・・・（公報第２頁右上欄第１行目〜第２頁右上欄第１５行目参照）
【特許文献１】特開平４−２０５５３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
(1) ：従来例１で説明したように、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を行う場合、ホストコンピュータとして大型コンピュータを必要とするため、設備費用がかかっていた。また、大型コンピュータを使用すると、その立ち上げに時間がかかり、試験効率が悪かった。
【００１２】
(2) ：従来例２で説明したような大型磁気記憶装置の記憶部単体での試験において、記憶部に対してデータライトやリード試験と、従来例２で説明したような電源投入切断試験を連動させて実施する手段が無く、不便であった。
【００１３】
本発明は前記の課題を解決し、次のことを目的とする。
【００１４】
(a) ：大型コンピュータの電源制御部の機能をパーソナルコンピュータ等で構成した試験機で擬似的に行い、記憶装置の電源投入切断試験を単体で行うことにより、前記課題(1) の解決を図ることで、試験効率を改善する。
【００１５】
(b) ：記憶部単体でのデータのライト／リード試験と、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を連動して行えるようにする前記課題(2) の解決を図ることで、試験効率の改善を図る。
【００１６】
(c) ：前記(a) と(b) を同一のシステムで実現することで、設備費用を少なくし、効率の良い試験ができるようにする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。
【００２０】
(1) ：試験機と、リレー装置と、該リレー装置に装着するＡＣ用アタッチメントを備え、大型コンピュータ用の記憶装置を被試験装置とし、前記記憶装置の電源部に対し前記ＡＣアタッチメントを装着したリレー装置を介して前記試験機を接続すると共に、前記接続とは別に前記試験機と前記記憶装置の記憶部との間をデータ転送用インタフェースで接続し、前記試験機からの試験信号により前記リレー装置を動作させ、更にＡＣアタッチメントを駆動することで前記記憶装置の電源投入切断試験を行うと共に、前記試験機からデータ転送用インタフェースを介して前記記憶部とのデータ転送を行うことで、前記記憶部のデータライト／リード試験を行う記憶装置の試験装置であって、前記試験機は前記電源投入切断試験及び記憶部単体のデータライト／リード試験の制御を行う試験制御部を備え、前記試験制御部からの試験信号により前記リレー装置を動作させて変換した信号により前記ＡＣアタッチメントを制御してＡＣ電源を駆動制御することで行う、前記記憶装置の電源投入切断試験と、前記電源投入切断試験の電源投入状態で、前記試験機からデータ転送用インタフェースを介して前記記憶部とのデータ転送を行うことで、前記記憶部のデータライト／リード試験を連動させて行う機能を備えている。
【００２１】
(2) ：前記(1) の記憶装置の試験装置において、前記試験機はパーソナルコンピュータにより構成され、前記試験制御部は前記電源投入切断試験を行うための試験プログラムとタイマで構成されると共に、前記試験プログラムは、同一試験プログラム上にデータ転送と電源投入切断用の命令を記述することで、前記タイマに設定された電源投入切断時間及び電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号を含むＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を生成して前記リレー装置へ出力する機能と、前記電源投入切断試験と連動させて前記データライト／リード試験を行う機能を備えている。
【００２２】
(3) ：前記(1) の記憶装置の試験装置において、前記リレー装置は、前記試験機からのＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を入力し、該入力信号に含まれる電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号に応じてオン信号電圧を変換する第１の手段及びオフ信号電圧を変換する第２の手段と、前記電圧変換したオン信号及びオフ信号を基に、電源をオン／オフ制御するためのオン／オフ制御信号を作成する第３の手段と、前記オン／オフ制御信号を基に、電源線の２点間の開放と接触を制御する第４の手段を含んでいる。
【００２３】
（作用）
以下、図１を参照しながら前記構成に基づく本発明の作用を説明する。
【００２４】
(a) ：前記(3) の作用
図１のＡ図において、先ず、試験機２０の操作により各種設定情報を入力すると、試験制御部２５（試験プログラムとタイマ）は、この入力情報を内部の所定部分に設定する。次に、試験制御部２５は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オフの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８がオフになる。
【００２５】
このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験制御部２５は、設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る。すなわち、試験制御部２５は、設定された時間を用いて試験信号をリレー装置２３へ送出する。この信号により、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オンの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８が所定時間オンになる。次に、試験制御部２５は、予め決めた試験回数に達していなければ、電源をオフにして前記の動作を繰り返す。このようにして予め決めた試験回数に達したら、この試験を終了する。
【００２６】
このようにすれば、大型コンピュータの電源制御部の機能をパーソナルコンピュータ等で構成した試験機２０で擬似的に行い、大型コンピュータ用の大型記憶装置の電源投入切断試験を、大型記憶装置単体で行なえるようにして、前記課題(1) の解決を図り、試験効率を改善する。
【００２７】
すなわち、従来は大型コンピュータを使用して電源投入切断試験を行っていたため、設備費用がかかっていたが、本発明では、大型コンピュータの代わりにパーソナルコンピュータで実現できるため、設備費用が極めて小さくなる。また、従来のように大型コンピュータを使用すると、その立ち上げに時間がかかり試験効率が悪かったが、本発明では、パーソナルコンピュータで実現できるため、その立ち上がりも早くなり、試験効率が改善できる。
【００２８】
(b) ：前記(1) 、(2) 、(3) の作用
図１のＢ図において、先ず、試験機２０によりオペレータの操作で各種設定情報（電源オン／オフ時間、試験回数等）を入力すると、試験制御部２５（試験プログラムとタイマ）は、この入力情報を内部の所定部分に設定する。次に、試験制御部２５は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３はＡＣ用アタッチメント２４を駆動して電源部８をオフにする。
【００２９】
このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験制御部２５は、設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る。すなわち、試験制御部２５は、設定された時間を用いて試験信号をリレー装置２３へ送出する。この信号により、リレー装置２３はＡＣ用アタッチメント２４を駆動して、電源部８を所定時間オンにする。
【００３０】
このようにして電源部８がオン状態の時に、試験制御部２５は、記憶装置５の記憶部６へデータ転送用インタフェースを介して試験データを転送する。このようにして、電源の試験と連動させてデータライト／リード試験を行う。次に、試験制御部２５は、予め決めた試験回数に達していなければ、電源をオフにして前記の動作を繰り返す。このようにして予め決めた試験回数に達したら、この試験を終了する。
【００３１】
このようにして、記憶部単体でのデータのライト／リード試験と、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を連動して行えるため、試験効率の改善を図ることができる。
【００３２】
すなわち、本発明では、試験機としてパーソナルコンピュータを使用し、このパーソナルコンピュータ内の試験プログラムとタイマで構成した試験制御部により、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験と記憶部に対するデータライト／リード試験を連動させて行えるため、試験効率が極めて良くなると共に、設備費用を少なくすることができる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明は前記の構成により次のような効果がある。
【００３４】
(a) ：大型コンピュータの電源制御部の機能をパーソナルコンピュータ等で構成した試験機で擬似的に行い、大型コンピュータ用の大型記憶装置の電源投入切断試験を、大型記憶装置単体で行なえるようにして、前記課題(1) の解決を図り、試験効率を改善する。
【００３５】
すなわち、従来は大型コンピュータを使用して電源投入切断試験を行っていたため、設備費用がかかっていたが、本発明では、大型コンピュータの代わりにパーソナルコンピュータで実現できるため、設備費用が極めて小さくなる。また、従来のように大型コンピュータを使用すると、その立ち上げに時間がかかり試験効率が悪かったが、本発明では、パーソナルコンピュータで実現できるため、その立ち上がりも早くなり、試験効率が改善できる。
【００３６】
(b) ：記憶部単体でのデータのライト／リード試験と、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験を連動して行えるため前記課題(2) の解決を図り、試験効率の改善を図ることができる。
【００３７】
すなわち、本発明では、試験機としてパーソナルコンピュータを使用し、このパーソナルコンピュータ内の試験プログラムとタイマで構成した試験制御部により、大型磁気記憶装置の電源投入切断試験と記憶部に対するデータライト／リード試験を連動させて行えるため、試験効率が極めて良くなると共に、設備費用を少なくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
§１：例１のシステム構成の説明
図２は例１のシステム構成図である。このシステムは、大型コンピュータ用の大型磁気記憶装置に対し、試験機とリレー装置を使用して電源投入切断試験を行うシステム例である。
【００３９】
前記システムにおいて、被試験装置である大型磁気記憶装置（以下、単に「記憶装置」と記す）５には、データのライト／リードを行いデータを記憶する記憶部６と、記憶部６に対する各種制御（データのライト／リード等の制御）を行う制御部７と、装置内の電源を供給する電源部８と、電源部８の制御を行う電源制御部９と、電源制御部９に対する電源制御信号を入力する電源制御入力部１０等が設けてある。そして、前記電源部８には、ＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの商用電源を接続して使用する。
【００４０】
また、前記試験機２０はパーソナルコンピュータ（ＰＣ：パーソナルコンピュータ）で構成し、その内部には、試験プログラム２１とタイマ２２を設ける。なお、前記試験プログラム２１とタイマ２２で図１に示した試験制御部２５を構成している。そして、試験機２０とリレー装置２３の間は、ケーブルＡ（ＲＳ２３２Ｃ用のケーブル）で接続し、リレー装置２３と記憶装置５の電源制御入力部１０との間は電源制御用ケーブル（図７の電源制御用ケーブルと同じ）により接続して試験用のシステムが構成される。
【００４１】
前記のシステムにおいて、大型コンピュータ用の記憶装置５に対し、試験機（ＰＣ）２０とリレー装置２３を使用して電源投入切断試験を行うには、試験機２０内の試験プログラム２１を起動し、該試験プログラム２１によりタイマ２２を使用して試験信号を送出する。この時、ケーブルＡを介して送られた試験信号によりリレー装置２３を動作させ、更に、リレー装置２３から電源制御用ケーブルを介して電源制御入力部１０へ電源制御信号を送出することで試験を行う。
【００４２】
§２：例２のシステム構成の説明
図３は例２のシステム構成図である。このシステムは、試験機２０と、リレー装置２３と、リレー装置２３に装着するＡＣ用アタッチメント２４を備え、大型コンピュータ用の記憶装置５を被試験装置とし、記憶装置５の電源部６に対しＡＣ用アタッチメント２４を装着したリレー装置２３を介して試験機２０を接続すると共に、試験機２０と記憶装置５の記憶部６との間をデータ転送用インタフェースで接続し、試験機２０からの試験信号によりリレー装置２３を動作させ、更にＡＣ用アタッチメント２４を駆動することで記憶装置５の電源投入切断試験を行うと共に、試験機２０からデータ転送用インタフェースを介して記憶部６にデータを転送することで、記憶部６のデータ転送試験を連動させて行うシステム例である。
【００４３】
このシステムにおいて、試験機２０はパーソナルコンピュータ（ＰＣ）で構成し、その内部には、試験プログラム２１とタイマ２２（図１の試験制御部２５に対応）を設ける。そして、試験機２０とリレー装置２３の間は、ケーブルＡ（ＲＳ２３２Ｃ用のケーブル）で接続し、リレー装置２３には、ＡＣ用アタッチメント２４を接続して使用する。この場合、ＡＣ用アタッチメント２４には、ＡＣ２００Ｖ又はＡＣ１００Ｖの商用電源を接続して試験を行う。
【００４４】
また、リレー装置２３と記憶装置５の電源部８との間はＡＣ供給ケーブルにより接続し、試験機２０と記憶部６との間は、データ転送用インタフェースで接続してデータ転送試験を行う。
【００４５】
更に詳しくは次の通りである。試験機２０は電源投入切断試験及び記憶部６単体のデータ転送試験の制御を行う試験プログラム２１とタイマ２２（図１の試験制御部２５に対応）を備え、試験プログラム２１からの試験信号によりリレー装置２３を動作させて変換した信号によりＡＣ用アタッチメント２４を駆動し、ＡＣ電源を駆動制御することで行う、前記記憶装置５の電源投入切断試験と、前記電源投入切断試験の電源投入状態で、試験機２０からデータ転送用インタフェースを介して記憶部６にデータを転送することで行う、記憶部６のデータ転送試験を連動させて行う機能を備えている。
【００４６】
この場合、試験機２０はパーソナルコンピュータにより構成され、試験プログラム２１は、同一試験プログラム上にデータ転送と電源投入切断用の命令を記述することで、タイマ２２に設定された電源投入切断時間及び電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号を含むＲＳ２３２Ｃ用の試験信号を生成して、リレー装置２３へ出力する機能と、前記電源投入切断試験と連動させて前記データ転送試験を行う機能を備えている。
【００４７】
§３：リレー装置の詳細構成の説明
図４はリレー装置の詳細構成図である。リレー装置２３には、Ａ１乃至Ａ６の各手段が設けてある。前記各手段は次の通りである。すなわち、Ａ１はオン信号電圧変換部、Ａ２はオン信号反転部、Ａ３はオフ信号電圧変換部、Ａ４はオフ信号反転部、Ａ５はオン・オフ制御部、Ａ６はリレー部である。また、前記Ａ５には手動反転スイッチによりスイッチ動作のオン・オフ反転が手動操作で行えるようになっている。
【００４８】
この場合、リレー装置２３は、試験機２０からのＲＳ２３２Ｃ試験信号を入力し、該入力信号に含まれる電源投入切断制御に必要なオン／オフレベル信号に応じて、オン信号電圧を変換する第１の手段（Ａ１、Ａ２）及びオフ信号電圧を変換する第２の手段（Ａ３、Ａ４）と、前記電圧変換したオン信号及びオフ信号を基に、電源をオン／オフ制御するためのオン／オフ制御信号（オン／オフ命令）を作成する第３の手段（オン・オフ制御部Ａ５）と、前記オフ／オン制御信号を基に、電源線の２点間の開放と接触を制御する第４の手段（リレー部Ａ６）を含んでいる。
【００４９】
§４：例１の試験プログラムの処理説明
図５は例１の試験プログラムの処理フローチャートである。以下、図５に基づいて、例１の試験プログラムの処理を説明する。なお、図５中、Ｓ１〜Ｓ５は各処理ステップを示す。
【００５０】
オペレータ（試験担当者等）が試験機２０を操作して試験プログラム２１を起動すると、試験プログラム２１が動作して次の処理を開始する。
【００５１】
先ず、試験機２０において、オペレータのオペレーションにより各種設定情報（電源オン／オフ時間、試験回数等）を入力すると、試験プログラム２１は、このオペレーションによる入力情報を内部の所定部分（例えば、タイマ２２、或いはワークメモリ等）に設定する（Ｓ１）。次に、試験プログラム２１は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オフの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８がオフになる（Ｓ２）。
【００５２】
このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験プログラム２１は、タイマ２２に設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る（Ｓ３）。すなわち、試験プログラム２１は、タイマ２２に設定された時間を用いて試験信号をリレー装置２３へ送出する。この信号により、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オンの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８が所定時間オンになる（Ｓ４）。
【００５３】
次に、試験プログラム２１は、予め決めた試験回数に達したかを判断し（Ｓ５）、予め決めた試験回数に達していなければ、Ｓ２の処理へ移行する。また、予め決めた試験回数に達していたら、この処理を終了する。
【００５４】
§５：例２の試験プログラムの処理説明
図６は例２の試験プログラムの処理フローチャートである。以下、図６に基づいて、例２の試験プログラムの処理を説明する。なお、図６中、Ｓ１１〜Ｓ１７は各処理ステップを示す。
【００５５】
オペレータ（試験担当者等）が試験機２０を操作して試験プログラム２１を起動すると、試験プログラム２１が動作して次の処理を開始する。
【００５６】
先ず、試験機２０において、オペレータのオペレーションにより各種設定情報（電源オン／オフ時間、試験回数等）を入力すると、試験プログラム２１は、このオペレーションによる入力情報を内部の所定部分（例えば、タイマ２２、或いはワークメモリ等）に設定する（Ｓ１１）。次に、試験プログラム２１は、被試験装置５の電源をオフにする信号をリレー装置２３へ送ると、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オフの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８がオフになる（Ｓ１２）。
【００５７】
このようにして被試験装置の電源をオフにした後、試験プログラム２１は、タイマ２１に設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る（Ｓ１３）。すなわち、試験プログラム２１は、タイマ２２に設定された時間（オン時間）を用いて試験信号をリレー装置２３へ送る送出する。この信号により、リレー装置２３を介して電源制御入力部１０へ電源オンの信号が入力し、電源制御部９の制御で電源部８が所定時間オンになる（Ｓ１４）。
【００５８】
このようにして電源部８がオン状態にある状態で、試験プログラム２１は、記憶装置５の記憶部６へデータ転送用インタフェースを介して試験データを転送する。そして、電源の試験と連動させて記憶部６に対するデータ転送試験を行う（Ｓ１５）。
【００５９】
次に、試験プログラム２１は、予め決めた試験回数に達したかを判断し（Ｓ１６）、予め決めた試験回数に達していなければ、Ｓ１２の処理へ移行する。また、予め決めた試験回数に達していたら、試験結果を集計し（Ｓ１７）、この処理を終了する。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の原理説明図であり、Ａ図は試験装置１の説明図、Ｂ図は試験装置２を示す。
【図２】実施の形態における例１のシステム構成図である。
【図３】実施の形態における例２のシステム構成図である。
【図４】実施の形態におけるリレー装置の詳細構成図である。
【図５】実施の形態における例１の試験プログラムの処理フローチャートである。
【図６】実施の形態における例２の試験プログラムの処理フローチャートである。
【図７】従来例１の説明図である。
【図８】従来例２の説明図である。
【符号の説明】
【００６１】
１  ホストコンピュータ
２  電源制御部
５  記憶装置
６  記憶部
７  制御部
８  電源部
９  電源制御部
１０  電源制御入力部
２０  試験機
２１  試験プログラム
２２  タイマ
２３  リレー装置
２４  ＡＣアタッチメント
２５  試験制御部
【図１】
0004676352.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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