(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
導体回路を有し製品となるべき製品領域と，特性インピーダンスを測定するためのインピーダンス測定領域とを備えたプリント配線板であって，
上記インピーダンス測定領域は，上記導体回路において発生し得る特性インピーダンスの上限値を測定する上限値測定用回路と，上記導体回路において発生し得る特性インピーダンスの下限値を測定する下限値測定用回路とからなり，
上記上限値測定用回路は単線であり，
一方，上記下限値測定用回路の両側には，その長手方向に沿って，補助回路が配置されており，
上記上限値測定用回路，上記下限値測定用回路及び上記補助回路の線幅は，上記導体回路の線幅と同じかまたはその差異が±１０％以内であり，
かつ上記下限値測定用回路と上記補助回路との配線ピッチは，上記導体回路の配線ピッチと同じかまたはその差異が±２％以内であることを特徴とするプリント配線板。
【請求項２】
請求項１において，上記上限値測定用回路又は／及び上記下限値測定用回路のそれぞれの長さＬ１と上記製品領域の長さＬ２との比率（Ｌ１／Ｌ２）は，０．５〜１であることを特徴とするプリント配線板。
【請求項３】
請求項１又は２において，上記インピーダンス測定領域は，上記製品領域の外部に配置されていることを特徴とするプリント配線板。
【請求項４】
請求項１又は２において，上記インピーダンス測定領域は，上記製品領域の中に配置されていることを特徴とするプリント配線板。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【技術分野】
本発明は，プリント配線板に関し，特に特性インピーダンスの測定に関する。
【０００２】
【従来技術】
プリント配線板の品質を維持するためには，導体回路の特性インピーダンスを測定することが必要である。従来，導体回路の特性インピーダンスは，図６に示すごとく，インピーダンス測定機９１に接続されたプローブ９２を，プリント配線板９３のインピーダンス測定領域９４に接触させて電気信号を発信し受信することにより測定されていた。インピーダンス測定領域９４には，測定用回路９５と，接地回路９６とを設けている。測定用回路９５は測定用端子９５１と，接地回路９６は接地用端子９６１と接続している。
プローブ９２は，測定ピン９２５と，接地ピン９２６とを有し，それぞれ，プリント配線板９３の測定用端子９５１及び接地用端子９６１に接触させる。そして，インピーダンス測定機９１から所定電圧のパルス電流からなる信号電流を，測定用回路９５に発信する。すると，測定用回路９５からインピーダンス測定機９１に向けて反射電流が流れる。入射電圧と反射電圧とにより，プリント配線板の導体回路の特性インピーダンスを演算し表示する。なお，符号９７はケーブルである。
【０００３】
近年，コンピュータ等の処理速度の向上に伴い，信号が流れるプリント配線板の性能に対する要求も厳しくなってきている。このため，プリント配線板に生じ得る特性インピーダンスも，正確に把握したいという要望がある。
【０００４】
【解決しようとする課題】
しかしながら，従来のインピーダンス測定領域９４では，測定用回路９５が単線であったため，プリント配線板内の導体回路において生じ得る特性インピーダンスの最大値を測定できるに過ぎなかった。
実際は，導体回路において生じ得る特性インピーダンスにはバラツキがある。このため，特性インピーダンスの上限値だけを測定したのでは，導体回路の特性を正確に把握することができない。
【０００５】
本発明はかかる従来の問題点に鑑み，導体回路の特性を正確に把握することができるインピーダンス測定領域を持つプリント配線板を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題の解決手段】
本発明は，導体回路を有し製品となるべき製品領域と，特性インピーダンスを測定するためのインピーダンス測定領域とを備えたプリント配線板であって，
上記インピーダンス測定領域は，上記導体回路において発生し得る特性インピーダンスの上限値を測定する上限値測定用回路と，上記導体回路において発生し得る特性インピーダンスの下限値を測定する下限値測定用回路とからなり，
上記上限値測定用回路は単線であり，
一方，上記下限値測定用回路の両側には，その長手方向に沿って，補助回路が配置されており，
上記上限値測定用回路，上記下限値測定用回路及び上記補助回路の線幅は，上記導体回路の線幅と同じかまたはその差異が±１０％以内であり，
かつ上記下限値測定用回路と上記補助回路との配線ピッチは，上記導体回路の配線ピッチと同じかまたはその差異が±２％以内であることを特徴とするプリント配線板である（請求項１）。
【０００７】
本発明のプリント配線板においては，製品領域内の導体回路において発生し得る特性インピーダンスの最大値だけでなく最小値をも測定することができる。このため，導体回路の特性を正確に把握することができる。
以上のように本発明によれば，導体回路の特性を正確に把握することができるインピーダンス測定領域を持つプリント配線板を提供することができる。
【０００８】
本発明において，上限値測定用回路及び下限値測定用回路の上側または／及び下側には，絶縁層を介して，電源回路または接地回路が配置されていることがある。上限値測定用回路及び下限値測定用回路は，プリント配線板の表面に形成されている場合もあるが，内部に形成されている場合もある。
【０００９】
また，本発明においては，上記上限値測定用回路は単線であり，上記下限値測定用回路の両側には，その長手方向に沿って，補助回路が配置されており，かつ上記上限値測定用回路，上記下限値測定用回路及び上記補助回路の線幅は，上記導体回路の線幅と同じかまたはその差異が±１０％以内であり，且つ上記下限値測定用回路と上記補助回路との配線ピッチは，上記導体回路の配線ピッチと同じかまたはその差異が±２％以内である。
以下，この点に関して，更に詳しく説明する。
【００１０】
上記の上限値測定用回路は，導体回路の線幅とほぼ同じ線幅の単一線であり，導体回路で生じ得る特性インピーダンスの最大値を測定できる。
下限値測定用回路は，複数の補助回路を並列させている。この構造は，製品領域の導体回路において発生し得る特性インピーダンスの最小値を示すであろうと考えられる部位の構造をモデル化したものである。したがって，この下限値測定用回路によれば，導体回路で生じ得る特性インピーダンスの最小値を測定することができる。
【００１１】
製品領域の導体回路において発生し得る特性インピーダンスの最小値を示すであろうと考えられる部位は，例えば，導体回路において測定対象部位の隣に少なくとも１本の導体回路があり，両回路間の間隙が狭い部位である。
ここで，補助回路は，導体回路の隣に配置されている回路をモデル化したものである。補助回路は，下限値測定用回路の両側に少なくとも１本配置されている。
上記下限値測定用回路と補助回路との配線ピッチとは，両回路の中心部間の距離をいう。
【００１２】
一方，上限値測定用回路，下限値測定用回路及び補助回路の線幅と，導体回路の線幅との差異が±１０％を超える場合，または下限値測定用回路と補助回路との配線ピッチと，導体回路の配線ピッチとの差異が±２％を超える場合には，導体回路の特性インピーダンスの上限値及び下限値を測定することができないおそれがある。
【００１３】
本発明において，上限値測定用回路，下限値測定用回路及び補助回路の線幅は，導体回路において特性インピーダンスを知りたい測定対象部位の線幅と同じかまたはその差異が１０％以内である。
これにより，当該測定対象部位の特性インピーダンスの上限値及び下限値を測定することができる。
製品領域の中に特性インピーダンスを知りたい測定対象部位が２本ある場合には，たとえば，線幅の細い測定対象部位の線幅に，上限値測定用回路，下限値測定用回路及び補助回路の線幅を上記のように合わせることが多い。線幅の太い測定対象部位の特性インピーダンスは，線幅の細い測定対象部位の特性インピーダンスの上限値及び下限値の範囲内に入ると考えられるからである。
【００１４】
また，本発明において，下限値測定用回路と補助回路との配線ピッチは，導体回路において特性インピーダンスを知りたい測定対象部位の配線ピッチと同じかまたはその差異が±２％以内である。
これにより，測定対象部位の特性インピーダンスの上限値及び下限値を測定することができる。
製品領域の中に配線ピッチが異なる導体回路がある場合には，たとえば，狭い方の配線ピッチに，下限値測定用回路と補助回路との配線ピッチを上記のごとくあわせることが多い。配線ピッチが広い方の測定対象部位の特性インピーダンスの下限値は，配線ピッチが狭い方の測定対象部位の特性インピーダンスの下限値よりも大きいと考えられるからである。
【００１５】
【発明の実施の形態】
上記上限値測定用回路又は／及び上記下限値測定用回路のそれぞれの長さＬ１と上記製品領域の長さＬ２との比率（Ｌ１／Ｌ２）は，０．５〜１であることが好ましい（請求項２）。これにより，特性インピーダンスの測定値が安定になる。Ｌ１／Ｌ２が０．５未満の場合に，測定値が不正確になるおそれがある。また，特性インピーダンスの測定は，製品領域をある程度個片化した後に行われることが多い。このため，上記Ｌ１／Ｌ２が１を超えて長くても，個片化時に１を超えた分だけ切断されてしまうため，無意味になるからである。
【００１６】
上記インピーダンス測定領域は，上記製品領域の外部に配置されていることが好ましい（請求項３）。インピーダンス測定領域は，製品領域の外部に形成されていると，製品領域の外形加工のときに切断除去され，製品の中に残らない。したがって，製品の小型化を妨げなくてすむ。
【００１７】
上記インピーダンス測定領域は，上記製品領域の中に配置されていることが好ましい（請求項４）。これにより，各製品領域毎に特性インピーダンスを測定できるため，より正確な測定値が得られる。
【００１８】
【実施例】
本発明の実施形態について実施例を用いて更に詳細に説明する。
（実施例１）
本例のプリント配線板８は，図１に示すごとく，導体回路７１を有する製品領域７と，インピーダンス測定領域６とを備えている。
インピーダンス測定領域６は，製品領域７内の導体回路７１において発生し得る特性インピーダンスの上限値を測定する上限値測定用回路１と，導体回路７１において発生し得る特性インピーダンスの下限値を測定する下限値測定用回路２とからなる。
【００１９】
下限値測定用回路２及び補助回路３の線幅Ｂ２，Ｂ３，配線ピッチＰ２３，Ｐ３３，間隙幅Ｂ２３，Ｂ３３は，導体回路７１の中で線幅Ｂ７１１，配線ピッチＰ７１及び間隙幅Ｂ７０が狭い配線部７１１，例えばボンディングパッドの近傍部位に合わせている。具体的には，下限値測定用回路２の線幅Ｂ２は，１００μｍであり，導体回路７１の上記配線部７１１の線幅Ｂ７１１と同じである。下限値測定用回路２の両側には，その長手方向に沿って，導体回路７１の配線部７１１の間隙幅Ｂ７０と同じ間隙幅Ｂ２３を隔てて補助回路３が２本ずつ配置されている。補助回路３同士の間隙幅Ｂ３３も，１００μｍであり，導体回路７１の配線部７１１の間隙幅Ｂ７０と同じである。補助回路３の線幅Ｂ３は，１００μｍであり，導体回路７１の配線部７１１の線幅Ｂ７１１と同じである。
下限値測定用回路２と補助回路３との配線ピッチＰ２３，及び補助回路３同士の配線ピッチＰ３３は，導体回路７１の配線部７１１の配線ピッチＰ７０と同じである。
上限値測定用回路１は，導体回路７１の配線部７１１の線幅Ｂ７１１と同じ線幅Ｂ１を有する単線である。その線幅Ｂ１は１００μｍである。
【００２０】
上限値測定用回路１及び下限値測定用回路２の一端には，上限値測定用端子１１及び下限値測定用端子２１が接続されている。
図２，図３に示すごとく，インピーダンス測定領域６の内部には，ベタ状の電源回路４が配置されている。この電源回路４は，製品領域における電源回路とほぼ同じ位置にほぼ近似した形状である。内部の電源回路４は，インピーダンス測定領域６内に形成された直径０．３ｍｍのビアホール４２を通じて，外部の電源用端子４３と接続している。図３に示すごとく，電源回路４と，上限値測定用回路１及び下限値測定用回路２との間には，ガラスエポキシ樹脂からなる厚み７５μｍの絶縁層８５が介在している。上限値測定用回路１，下限値測定用回路２，補助回路３及び電源回路４は，それぞれ板状であり，互いに板面が並行に対向してマイクロストリップライン構造をなす。
【００２１】
図１に示すごとく，上限値測定用回路１及び下限値測定用回路２の長さＬ１は４０ｍｍであり，製品領域７の長さＬ２は４２．５ｍｍであって，両者の比率（Ｌ１／Ｌ２）は，０．９４である。
製品領域７に設けられた導体回路７１は，配線部７１１と，ボンディングパッド７１２と，ビアホール７１０とを有する。製品領域７の中央には，電子部品を搭載するための搭載部７２が設けられている。
【００２２】
図４に示すごとく，インピーダンス測定領域６は，製品領域７の外部に形成されている。インピーダンス測定領域６は，プリント配線板８の周縁部のつかみ代８１に形成されており，基板端部から２０ｍｍ内側に位置している。インピーダンス測定領域６は，製品領域７の外形の延長線と同じになるように配置されている。
【００２３】
図１に示すごとく，インピーダンス測定領域６において特性インピーダンスを測定するにあたっては，インピーダンス測定機５１に接続された測定ピン５２５及び電源ピン５２６を，それぞれ，インピーダンス測定領域６の上限値測定用端子１１及び電源用端子４３に接触させる。このときの特性インピーダンスは５３Ωであった。
次に，測定ピン５２５及び電源ピン５２６を，それぞれ，下限値測定用端子１２及び電源用端子４３に接触させる。このときの特性インピーダンスは４８Ωであった。
インピーダンス測定領域６は，特性インピーダンス測定後に，外形加工により，つかみ代８１の一部として切断除去される。
【００２４】
本例のプリント配線板８においては，導体回路において発生し得る特性インピーダンスの最大値だけでなく最小値をも測定することができる。このため，導体回路の特性を正確に把握することができる。
【００２５】
（実施例２）
本例は，図５に示すごとく，インピーダンス測定領域６が製品領域７の内部に配置されている例である。プリント配線板８の外形加工により製品領域６が個片化されて製品となるが，この製品にはインピーダンス測定領域６が残る。
インピーダンス測定領域６は，各製品領域７毎に形成されている。このため，各製品領域ごとの正確な特性インピーダンスを測定することができる。
その他は，実施例１と同様である。本例においては実施例１と同様の効果を発揮できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例１のプリント配線板の平面図。
【図２】実施例１における，プリント配線板の内部に形成された電源回路の平面図。
【図３】実施例１における，プリント配線板の断面図。
【図４】実施例１における，インピーダンス測定領域の配置説明図。
【図５】実施例２における，インピーダンス測定領域の配置説明図。
【図６】従来例のインピーダンス測定方法の説明図。
【符号の説明】
１．．．上限値測定用回路，
１１．．．上限値測定用端子，
２．．．下限値測定用回路，
２１．．．下限値測定用端子，
３．．．補助回路，
４．．．電源回路，
４２．．．ビアホール，
４３．．．電源用端子，
５１．．．インピーダンス測定機，
６．．．インピーダンス測定領域，
７．．．製品領域，
７１．．．導体回路，
７１１．．．配線部，
８．．．プリント配線板，
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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