(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、
前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力するように前記撮像手段を駆動する駆動手段と、
前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、
前記撮像手段から出力される画像信号に基づいて、前記撮像手段の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正手段と、
前記撮像手段からフィールド毎に読み出しパターンを変えて得られた最新フィールドの画像信号と、次に新しいフィールドの画像信号とに基づいて、被写体の動き量を検出する動き検出手段と、
前記検出された動き量が予め設定された動き量よりも小さい場合に前記検出手段を駆動し、大きい場合に前記検出手段を制止する手段とを有し、
前記検出手段は、フィールド毎に読み出しパターンを変えて前記画像信号が出力された場合、フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づき、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
撮像装置であって、
入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、
前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力するように前記撮像手段を駆動する駆動手段と、
前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、
前記撮像手段から出力される画像信号に基づいて、前記撮像手段の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正手段と、
前記撮像装置の揺れを検出する揺れ検出手段と、
前記検出された前記撮像装置の揺れが予め設定された揺れよりも小さい場合に前記検出手段を駆動し、大きい場合に前記検出手段を制止する手段とを有し、
前記検出手段は、フィールド毎に読み出しパターンを変えて前記画像信号が出力された場合、フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づき、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出することを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、
前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力するように前記撮像手段を駆動する駆動手段と、
前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、
前記撮像手段から出力される画像信号に基づいて、前記撮像手段の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正手段と、
三脚を取り付けるための三脚取り付け手段と、
三脚が前記三脚取り付け手段に取り付けられているかどうかを検知する三脚検知手段と、
前記三脚検知手段が三脚が取り付けられている状態を検知した場合に前記検出手段を駆動し、検知していない場合に前記検出手段を制止する手段とを有し、
前記検出手段は、フィールド毎に読み出しパターンを変えて前記画像信号が出力された場合、フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づき、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出することを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
前記検出手段は、
前記予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、フィールド内の水平方向で連続しているかどうかを判断するライン内検出手段と、
前記予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、フィールド内の垂直方向で連続しているかどうかを判断するフィールド内検出手段と、
前記予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、フィールド間の垂直方向で連続しているかどうかを判断するフィールド間検出手段と、
前記ライン内検出手段と、前記フィールド内検出手段と、前記フィールド間検出手段の何れにおいても連続していないと判断された場合に、当該画素を欠陥画素として決定する決定手段と
を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタとを有する撮像装置における欠陥画素処理方法であって、
前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力する撮像工程と、
前記撮像工程で前記撮像手段から出力された前記フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づいて、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する検出工程と、
前記検出工程で検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正工程と、
前記撮像工程で前記撮像手段から出力された最新フィールドの画像信号と、次に新しいフィールドの画像信号とに基づいて、被写体の動き量を検出する動き検出工程と、
前記検出された動き量が予め設定された動き量よりも小さい場合に前記検出工程を実行し、大きい場合に前記検出工程の実行を制止する工程と
を有することを特徴とする欠陥画素処理方法。
【請求項６】
入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタとを有する撮像装置における欠陥画素処理方法であって、
前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力する撮像工程と、
前記撮像工程で前記撮像手段から出力された前記フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づいて、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する検出工程と、
前記検出工程で検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正工程と、
前記撮像装置の揺れを検出する揺れ検出工程と、
前記検出された前記撮像装置の揺れが予め設定された揺れよりも小さい場合に前記検出工程を実行し、大きい場合に前記検出工程の実行を制止する工程と
を有することを特徴とする欠陥画素処理方法。
【請求項７】
入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、三脚を取り付けるための三脚取り付け手段とを有する撮像装置における欠陥画素処理方法であって、
前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力する撮像工程と、
前記撮像工程で前記撮像手段から出力された前記フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づいて、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する検出工程と、
前記検出工程で検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正工程と、
三脚が前記三脚取り付け手段に取り付けられているかどうかを検知する三脚検知工程と、
前記三脚検知工程で三脚が取り付けられている状態を検知した場合に、前記検出工程を実行し、検知していない場合に前記検出工程の実行を制止する工程と
を有することを特徴とする欠陥画素処理方法。
【請求項８】
前記検出工程では、
前記予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、フィールド内の水平方向で連続しているかどうかを判断するライン内検出工程と、
前記予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、フィールド内の垂直方向で連続しているかどうかを判断するフィールド内検出工程と、
前記予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、フィールド間の垂直方向で連続しているかどうかを判断するフィールド間検出工程と、
前記ライン内検出工程と、前記フィールド内検出工程と、前記フィールド間検出工程の何れにおいても連続していないと判断された場合に、当該画素を欠陥画素として決定する決定工程と
を有することを特徴とする請求項５乃至７のいずれか１項に記載の欠陥画素処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、イメージセンサ等の固体撮像素子を用いた撮像装置及び撮像装置における欠陥画素の処理方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年の撮像装置においては、ＣＣＤやＣＭＯＳセンサ等に代表される固体撮像素子の多画素化が進んでいる。これに伴い、撮像素子上の欠陥画素（キズ）の発生個数も多くなっている。
【０００３】
欠陥画素の中には撮像素子の製造過程で発生する製造キズや、撮像装置に組み込んだ後に発生する成長キズがある。さらに、成長キズの中には、撮像装置の温度によって使用中に増減する温度特性依存キズがある。
【０００４】
これらの欠陥画素の内、製造キズに対しては、工場出荷時に黒画像を撮影して、あらかじめ欠陥画素の位置を検出して補正する方法がとられている。また、成長キズに対しては、電源投入時に強制的に撮像素子を遮光するなどして黒画像を撮影し、欠陥画素を検出して補正することができる。
【０００５】
例えば、特許文献１には、以下の方法が提案されている。まず、電源投入時に絞りを閉じて撮像素子を遮光した状態で１画面分撮像する。そして、この撮像で得られた画像データと閾値とを比較し、閾値よりも画像データが高い輝度を示す画素を欠陥画素（白キズ）として検出し、その位置情報を記憶する。更に、モードスイッチにより欠陥画素の検出モードを選択した状態で、専用の被写体にカメラを向けて１画面分撮像する。そして、この撮像で得られた画像データと閾値とを比較し、閾値よりも画像データが低い輝度を示す画素を欠陥画素（黒キズ）として検出し、その位置情報を記憶する。
【０００６】
しかしながら、特許文献１に記載されている方法では、撮像装置の使用中にその温度変化により発生した温度特性依存キズを検出することができない。
【０００７】
一方、特許文献２には、撮像して得た画像から欠陥画素を検出し、補正する方法について開示している。この特許文献２の方法では、各画素の輝度を周辺画素の輝度と比較することで、一定レベル差以上の輝度を有する画素を白キズとして判定している。
【０００８】
【特許文献１】特開平１０−３２２６０３号公報
【特許文献２】特開２００４−０１５１９１号公報
【特許文献３】特開平５−３４４４２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献２では、撮像デバイス１６全てから得られる画素データを用いて、欠陥画素を検出するが、動画撮影時におけるフィールド読み出し（インターレース読み出し）時の判定方法については、何ら記載がなかった。フィールド読み出し時に特許文献２に記載の方法により欠陥画素の検出を行うと、欠陥画素が読み出し対象行に無い場合には検出を行うことができなかったり、逆に誤検出を起こしてしまうという問題があった。
【００１０】
これに対し、特許文献３では、フィールド読み出し（インターレース読み出し）によりＣＣＤを駆動している最中に、欠陥画素を検出するモードに切り換えられると、強制的にフレーム読み出しに切り換えることが開示されている。このように欠陥画素を検出する際にはフレーム読み出しに強制的に切り換えるため、上記特許文献２の問題を回避することはできる。しかしながら、フィールド読み出しをしながら欠陥画素を検出する方法については何ら開示されておらず、特許文献３に記載の方法で欠陥画素の検出を行うと、滑らかな動画像を撮影することができなかった。特に、リアルタイムで欠陥画素の検出を行うために頻繁に欠陥画素を検出するモードに切り換えると、動画像の時間解像度が落ちてしまうという問題があった。
【００１１】
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、撮像装置からフィールド毎に読み出しパターンを変えて画像を撮影している最中に、新たに発生した撮像素子のキズをリアルタイムで検出し、補正できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために、本発明の撮像装置は、入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力するように前記撮像手段を駆動する駆動手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、前記撮像手段から出力される画像信号に基づいて、前記撮像手段の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正手段と、前記撮像手段からフィールド毎に読み出しパターンを変えて得られた最新フィールドの画像信号と、次に新しいフィールドの画像信号とに基づいて、被写体の動き量を検出する動き検出手段と、前記検出された動き量が予め設定された動き量よりも小さい場合に前記検出手段を駆動し、大きい場合に前記検出手段を制止する手段とを有し、前記検出手段は、フィールド毎に読み出しパターンを変えて前記画像信号が出力された場合、フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づき、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する。
また、別の構成によれば、本発明の撮像装置は、入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力するように前記撮像手段を駆動する駆動手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、前記撮像手段から出力される画像信号に基づいて、前記撮像手段の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正手段と、前記撮像装置の揺れを検出する揺れ検出手段と、前記検出された前記撮像装置の揺れが予め設定された揺れよりも小さい場合に前記検出手段を駆動し、大きい場合に前記検出手段を制止する手段とを有し、前記検出手段は、フィールド毎に読み出しパターンを変えて前記画像信号が出力された場合、フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づき、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する。
更に別の構成によれば、本発明の撮像装置は、入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力するように前記撮像手段を駆動する駆動手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、前記撮像手段から出力される画像信号に基づいて、前記撮像手段の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正手段と、前記撮像装置に三脚を取り付けるための三脚取り付け手段と、三脚が前記三脚取り付け手段に取り付けられているかどうかを検知する三脚検知手段と、前記三脚検知手段が三脚が取り付けられている状態を検知した場合に前記検出手段を駆動し、検知していない場合に前記検出手段を制止する手段とを有し、前記検出手段は、フィールド毎に読み出しパターンを変えて前記画像信号が出力された場合、フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づき、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する。
【００１３】
また、入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタとを有する撮像装置における本発明の欠陥画素処理方法は、前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力する撮像工程と、前記撮像工程で前記撮像手段から出力された前記フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づいて、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する検出工程と、前記決定工程で決定された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正工程と、前記撮像工程で前記撮像手段から出力された最新フィールドの画像信号と、次に新しいフィールドの画像信号とに基づいて、被写体の動き量を検出する動き検出工程と、前記検出された動き量が予め設定された動き量よりも小さい場合に前記検出工程を実行し、大きい場合に前記検出工程の実行を制止する工程とを有する。
また、別の構成によれば、入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタとを有する撮像装置における欠陥画素処理方法であって、前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力する撮像工程と、前記撮像工程で前記撮像手段から出力された前記フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づいて、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する検出工程と、前記検出工程で検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正工程と、前記撮像装置の揺れを検出する揺れ検出工程と、前記検出された前記撮像装置の揺れが予め設定された揺れよりも小さい場合に前記検出工程を実行し、大きい場合に前記検出工程の実行を制止する工程とを有する。
更に別の構成によれば、入射する被写体光を光電変換し、画像信号を出力する複数の画素から成る撮像手段と、前記撮像手段よりも被写体側に配置された光学ローパスフィルタと、三脚を取り付けるための三脚取り付け手段とを有する撮像装置における欠陥画素処理方法であって、前記撮像手段から、フィールド毎に読み出しパターンを変えて画像信号を出力する撮像工程と、前記撮像工程で前記撮像手段から出力された前記フィールド内及び連続する２フィールド間の画像信号に基づいて、予め設定された第１の値よりも高いか、または、前記第１の値より低い第２の値よりも低い画像信号を出力した画素が、前記撮像手段の画素の並び順において２画素以上連続しない場合に、当該画素を前記撮像手段の欠陥画素として検出する検出工程と、前記検出工程で検出された欠陥画素から出力された画像信号を補正する補正工程と、三脚が前記三脚取り付け手段に取り付けられているかどうかを検知する三脚検知工程と、前記三脚検知工程で三脚が取り付けられている状態を検知した場合に、前記検出工程を実行し、検知していない場合に前記検出工程の実行を制止する工程とを有する。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、撮像装置からフィールド毎に読み出しパターンを変えて画像を撮影している最中に、新たに発生した撮像素子のキズをリアルタイムで検出し、補正することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、添付図面を参照して本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。
【００１６】
＜図１の実施形態＞
本発明の第１の実施形態における撮像装置について、図１を参照して説明する。本第１の実施形態では、撮像装置として、動画及び静止画の撮影が可能なデジタルカメラを例に挙げて説明する。
【００１７】
図１に示す撮像装置において、レンズ１及び光学低域通過フィルタ（光学ＬＰＦ）２を透過した被写体像は、電荷結合素子（ＣＣＤ）やＣＭＯＳセンサなどに代表される撮像素子３（ここでは、ＣＣＤとする。）で光電変換され、電気信号が出力される。なお、ＣＣＤ３は、例えば、原色ベイヤー配列などの不図示のカラーフィルタで覆われており、カラー画像を撮影することができる。なお後述するが、ＣＣＤ３は全画素を順次読み出すフレーム読み出しと、ＣＣＤ３を所定ラインおきに読み出すフィールド読み出し（インターレース読み出し）による読み出し制御が可能である。次に、アナログフロントエンド（ＡＦＥ）回路４において、ＣＣＤ３から出力された電気信号に対してリセットノイズ除去、利得調整、アナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換等が行われ、デジタル画像データが出力される。
【００１８】
ＡＦＥ回路４から出力されるデジタル画像データは、メモリ８及び欠陥画素検出回路７に送られる。メモリ８はデータを１フレーム分格納可能な容量を有し、フィールド読み出しでは、２フィールド分の画像データを格納する。そして、後述する欠陥画素検出回路７には１フィールド前の画像データを出力し、欠陥画素補正回路９には現フィールドの画像データを出力する。欠陥画素検出回路７では、フレーム読み出し時にはＡＦＥ回路４から出力される画像データを用いて、また、フィールド読み出し時には更にとメモリ８から出力される画像データとを用いて欠陥画素を検出する。なお、欠陥画素検出回路７で行われる欠陥画素検出処理については、詳細に後述する。
【００１９】
欠陥画素補正回路９には、メモリ８から出力される現フィールドまたは現フレームの画像データと、欠陥画素検出回路７の欠陥画素検出結果とが入力される。そして、メモリ８からの画像データにＣＣＤ３の欠陥画素に起因する画像データ（以下、「欠陥画素データ」と呼ぶ。）が含まれているときには、欠陥画素データを除去する補正を行う。そして、欠陥画素補正回路９により欠陥画素データの補正を施した画像データに対して、重心ずれ補正回路１０は後述の重心ずれ補正を行う。次に、カメラ信号処理回路１１は、重心ずれ補正された画像データに対して、アパーチャ補正、ガンマ補正、ホワイトバランス等の撮像系のカメラ信号処理を施す。
【００２０】
カメラ信号処理回路１１の出力は、ディジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）変換器１２でアナログ信号に変換された後、モニタ１３に表示される。これによりユーザは、撮像した画像をモニタリングすることができる。
【００２１】
一方、カメラ信号処理回路１１の出力は、符号化回路１４へも送られる。入力キー１６で画像の記録を指示されると、マイコン１７、データバス１８を介して符号化回路１４を駆動してデータを圧縮し、テープ、カード、ディスク等の記録メディア１５に記録する。なお、使用する記録メディア１５の種類は特に限るものではなく、撮像装置が適合しているものを適宜使用すればよい。
【００２２】
次に、欠陥画素検出回路７で行われる、本第１の実施形態における欠陥画素検出処理について詳細に説明する。
【００２３】
被写体に夜空に浮かぶ星のような孤立点がある場合、光学ＬＰＦ２の影響で光学的に高域が除去されるので、ＡＦＥ回路４の出力は図２に示すように、少しなだらかになり、複数画素にまたがる孤立領域となる。一方、ＣＣＤ３上に欠陥画素（白キズ）がある場合には、光学ＬＰＦ２の影響を受けないので、ＡＦＥ回路４の出力は図３のように１画素のみ信号レベルが突出した孤立点となる。従って、本第１の実施形態では、欠陥画素検出回路７は、図３に示すような孤立点を検出することで欠陥画素データを検出する。
【００２４】
図４に原色ベイヤー配列のＣＣＤ３の一部を示す。近年、撮像素子の画素数が増大しているが、静止画撮影の際は時間の制約が無いので、ＣＣＤ３が多画素であっても、任意の時間をかけて全ての画素を読み出すことができる。これに対し、動画を表示あるいは記録する際は、ＣＣＤ３の動作速度の制約上、決められた時間（例えばＮＴＳＣ規格では１／６０秒）で全画素を読み出すことは困難である。従って、同期信号発生回路（ＳＳＧ）６からのフィールドインデックス（ＦＩ）、垂直同期信号（ＶＤ）、水平同期信号（ＨＤ）に基づいてタイミング信号発生回路（ＴＧ）５で制御信号を発生させて、以下のようにＣＣＤ３を駆動する。即ち、図６に示すように、例えばＦＩがハイレベルのときは、図５（ａ）に示すように、０、１、４、５、８、９…ラインというように２ラインおきに画素を読み出す。そして、例えばＦＩがローレベルのときは、図５（ｂ）に示すように、２、３、６、７、１０、１１…ラインというように、ＦＩがハイレベルの時に読み出さない画素を、２ラインおきに読み出すようにする。このように制御することで、決められた時間（ＮＴＳＣ規格で１／６０秒）以内で全体の半分の画素を読み出せばよいので、ＣＣＤ３の動作速度の制約を満たすことが可能となる。
【００２５】
つまり、動画記録時、または、静止画記録時のプレビュー画として、リアルタイムに撮像画像をモニタ１３に表示する時は、フィールド毎に異なるＣＣＤ３の画素を半分ずつ読み出す。なお、入力キー１６により、静止画を記録する旨の指示が入力されると、ＴＧ５によるＣＣＤ３の制御を変更し、図４に示すように全画素を順次読み出して、記録メディア１５に静止画を記録する。
【００２６】
静止画撮影の場合には、ＣＣＤ３の全画素の読み出しを行うため、欠陥画素補正回路７は、得られた画像データから上述した図３に示すような孤立点を検出することで欠陥画素データを検出することができる。これに対し、動画撮影の場合、例えば上述したＮＴＣＳ規格に準拠した読み出し方式では、各フィールド毎に２ラインおきに画素を読み出すため、静止画と同様の方法で孤立点を検出すると、誤検出を招くことになる。以下にこの点について詳しく説明する。
【００２７】
図７はＣＣＤ３の一部画素における信号レベルの一例を示す図である。図７において、Ａ〜Ｈは横方向の画素位置を示し、０〜７は縦方向の画素位置を示している。
【００２８】
例えば、夜空の星を撮影した場合、黒地に白いパターンが浮かび上がる。この時に得られる画像データの模式図を図７（ａ）に示す。画素１−Ｂが欠陥画素（ここでは白キズとする。）であるとすると、画素１−Ｂから出力される画像データが上述の理由により孤立点となる。一方、他の白い個所（この例では星とする。）は光学ＬＰＦ２の影響で、水平、垂直方向の少なくとも一方に広がるので、複数の画素に跨るある程度の領域を有する。このとき、図５に示すようにして１フィールドおきに互いに異なるラインを２ラインおきに読み出した場合、ＦＩがハイレベルのとき（以下、ＦＩがハイレベルの時のフィールドを「偶数フィールド」と呼ぶ。）は、図７（ｂ）に示すようになる。また、ＦＩがローレベルのとき（以下、「奇数フィールド」と呼ぶ。）は、図７（ｃ）に示すようになる。
【００２９】
図７（ｂ）では、画素１−Ｂだけではなく、画素１−Ｅも孤立点であるように見える。しかしながら、図７（ａ）で示したように、画素１−Ｅは実際には孤立点ではなく、欠陥画素ではない。このように、フィールド読み出しの場合、正確に孤立点を検出するためには、連続する２フィールドの画像データを用いて孤立点の検出を行う必要がある。また、図７（ｃ）では、画素１−Ｂが読み出されないため、孤立点を検出することができない。そのため、以下に説明するようにして孤立領域と孤立点とを識別する。
【００３０】
図８（ａ）〜（ｄ）は、垂直方向に２画素連続する白画素（輝度値が予め設定した輝度値よりも高い画素）のパターンを４通り示し、各パターンについて、連続するフィールド間でどのように信号値として現れるかを示す図である。なお、水平方向に白画素が２画素以上連続する場合には、垂直方向の連続性を調べなくても孤立点ではないと判断することができるので、ここでは、垂直方向にのみ白画素が連続しているかどうかを確認する場合について説明する。
【００３１】
まず、白領域が図８（ａ）のパターンＩに示す位置にある場合、フィールド毎に半分ずつの画素を読み出すと、連続する３フィールドにおける信号レベルのパターンは図８（ｂ）のようになる。この時は、まず、偶数フィールド（ｅｖｅｎ）において、白画素が偶数ライン（ここでは第０ライン）に現れるので、フィールド内の１ライン下のラインとの連続する２ライン間で白画素が続いているかどうかを調べる。また、白画素が奇数ライン（ここでは第１ライン）に現れた時には、フィールド内の１ライン上のラインとの連続する２ライン間で白画素が続いているかどうかを調べる。白画素が続いている場合には、ライン０、１にある白画素が孤立点ではなく、欠陥画素で無いことが分かる。ここで、白画素が偶数ライン（例えば第４ライン）に現れたときにフィールド内の１ライン上のライン（ここでは第１ライン）を調べたり、奇数ライン（例えば第１ライン）に現れたときにフィールド内の１ライン下のライン（ここでは第４ライン）を調べることはしない。これは、例えば、第１ラインと第４ラインに欠陥画素がある場合に、欠陥画素でないと誤認識してしまうことを避けるためである。
【００３２】
また、白領域が図８（ａ）のパターンＩＩＩに示す位置にある場合、フィールド毎に半分ずつの画素を読み出すと、連続する３フィールドにおける信号レベルのパターンは図８（ｄ）のようになる。この時は、まず、奇数フィールド（ｅｖｅｎ）において、白画素が偶数ライン（ここでは第２ライン）に現れるので、フィールド内の１ライン下のラインとの連続する２ライン間で白画素が続いているかどうかを調べる。また、白画素が奇数ライン（ここでは第３ライン）に現れた時には、フィールド内の１ライン上のラインとの連続する２ライン間で白画素が続いているかどうかを調べる。白画素が続いている場合には、ライン２、３にある白画素が孤立点ではなく、欠陥画素で無いことが分かる。ここで、白画素が偶数ライン（例えば第６ライン）に現れたときにフィールド内の１ライン上のライン（ここでは第３ライン）を調べたり、奇数ライン（例えば第３ライン）に現れたときにフィールド内の１ライン下のライン（ここでは第６ライン）を調べることはしない。これは、例えば、第３ラインと第６ラインに欠陥画素がある場合に、欠陥画素でないと誤認識してしまうことを避けるためである。
【００３３】
上記パターンＩ及びパターンＩＩＩの場合には、フィールド内で白画素の連続性を調べることで、白画素が孤立点かどうかを判断することができる。この検索方法を、以下、「フィールド内検索」と呼ぶ。
【００３４】
次に、白領域が図８（ａ）のパターンＩＩに示す位置にある場合、フィールド毎に半分ずつの画素を読み出すと、連続する３フィールドにおける信号レベルのパターンは図８（ｃ）のようになる。この時は、まず、偶数フィールド（ｅｖｅｎ）において、白画素が奇数ラインに現れ、次に奇数フィールドにおいて偶数ラインに現れる。この時に、図８（ｂ）及び図８（ｄ）で説明した用にフィールド内検索により白画素の連続性を確認するだけでは、孤立点の誤認識を引き起こしてしまう。つまり、偶数ライン（例えば、第０、第２ライン）とフィールド内の１ライン下（ここでは第１、第３ライン）との連続する２ライン間だけで白画素を調べた場合、ライン１、２にある連続した白領域がそれぞれ孤立点であると誤認識してしまう。同様に、奇数ライン（例えば第１、第３ライン）とフィールド内の１ライン上（ここでは第０、第２ライン）との連続する２ライン間だけで白画素を調べた場合、ライン１、２にある連続した白領域がそれぞれ孤立点であると誤検出されてしまう。そこで、パターンＩＩの場合には、直前のフィールドにおいて、白画素が検出された偶数ライン（例えば第２ライン）の１ライン上のライン（ここでは第１ライン）のデータを調べることで、ライン１、２にある白画素が２ライン連続していると判別することができる。または白画素が検出された奇数ライン（例えば第１ライン）の１ライン下のライン（第２ライン）のデータを調べることで、ライン１、２にある白画素が２ライン連続していると判別することができる。
【００３５】
また、白領域が図８（ａ）のパターンＩＶに示す位置にある場合、フィールド毎に半分ずつの画素を読み出すと、連続する３フィールドにおける信号レベルのパターンは図８（ｅ）のようになる。従って、パターンＩＩの場合と同様に、この場合もフィールド内検索だけでは、孤立点の誤認識を引き起こしてしまう。そのため、パターンＩＩと同様に、パターンＩＶにおいても、直前のフィールドにおいて、直前のフィールドにおいて、白画素が検出された偶数ライン（例えば第４ライン）の１ライン上のライン（ここでは第３ライン）のデータを調べることで、ライン１、２にある白画素が２ライン連続していると判別することができる。または白画素が検出された奇数ライン（例えば第３ライン）の１ライン下のライン（第４ライン）のデータを調べることで、ライン３、４にある白画素が２ライン連続していると判別することができる。
【００３６】
上記パターンＩＩ及びパターンＩＶの場合には、フィールド間で白画素の連続性を調べることで、白画素が孤立点かどうかを判断することができる。この検索方法を、以下、「フィールド間検索」と呼ぶ。
【００３７】
つまり、白画素が現れたラインが偶数ラインの場合、
(1)  １ライン下のラインのデータとフィールド内検索。
(2)  １フィールド前の１ライン上のデータとフィールド間検索。
【００３８】
を行う必要がある。
また、白画素が現れたラインが奇数ラインの場合、
(1)  １ライン上のラインのデータとフィールド内検索。
(2)  １フィールド前の１ライン下のデータとフィールド間検索。
【００３９】
を行う必要がある。
このように、各ケースにおいて、それぞれ(1)、(2)の検索結果、共に２画素続いていないと判断されれば、その点が「孤立点」、即ち、欠陥画素であると判断することができる。
【００４０】
以上の孤立点検出動作を実現可能な欠陥画素補正回路７の動作を図９に、また、その構成を図１０に示す。まず、動作について説明する。
【００４１】
ステップＳ１１において、欠陥画素検出回路７は、ＡＦＥ４から撮影した画像データを入力すると共に、メモリ８から１フィールド前の画像データを入力する。ステップＳ１１で入力した画像データを用いて、ステップＳ１２〜Ｓ１４で所定の輝度を超える画像データ（白画素）のライン内検索、フィールド内検索、フィールド間検索を行う。ステップＳ１２のライン内検索では、白画素が検出された場合に、水平方向に２画素以上続いているかどうかを判断する。ステップＳ１３では、白画素が検出された場合に、同じフィールド内において、検出されたラインが偶数ラインであれば１ライン下、奇数ラインであれば１ライン上の画素が白画素かどうかを調べる。また、ステップＳ１４では、白画素が検出された場合に、検出されたラインが偶数ラインであれば、１フィールド前の１ライン上、奇数ラインであれば、１フィールド前の１ライン下の画素が白画素かどうかを調べる。
【００４２】
次に、ステップＳ１５において、ライン内で白連続が連続しているかどうかを判断する。連続していればステップＳ１９に進み、調べた白画素が孤立点ではないと決定する。ステップＳ１５でライン内で連続していないと判断された場合、ステップＳ１６に進み、フィールド内で白画素が連続しているかどうかを判断する。連続していればステップＳ１９に進み、調べた白画素が孤立点ではないと決定する。ステップＳ１６でフィールド内で連続していないと判断された場合、ステップＳ１７に進み、フィールド間で白画素が連続しているかどうかを判断する。連続していればステップＳ１９に進んで、調べた白画素が孤立点ではないと決定する。ステップＳ１７でフィールド間でも連続していないと判断された場合、ステップＳ１８に進んで、当該白画素が孤立点であると判断する。即ち、ステップＳ１２〜Ｓ１４で画像データを調べた結果、ステップＳ１５〜Ｓ１７の全ての判断において連続していないと判断された場合に、その白画素が孤立点であると判断する。なお、ステップＳ１５〜Ｓ１７の判断は上述した順番に限るものではなく、また、全てまたはその一部を同時に行っても良い。
【００４３】
ステップＳ１８またはＳ１９で白画素が孤立点であるかどうかを判定後、ステップＳ２０で検索すべき画像データがあるかどうかを判断し、あればステップＳ１１に戻って画像データの読み出しを行い、無ければ孤立点の検索処理を終了する。
【００４４】
図１０は、上記処理を実現するための欠陥画素検出回路７の詳細な構成例を示すブロック図である。図１０に示す構成では、ステップＳ１５〜Ｓ１７の判断を同時に行うことが可能な構成を示している。
【００４５】
図１０において、７０１〜７０４は１水平ライン分、画像データを遅延するためのラインメモリである。ラインメモリ７０１、７０３は、ＡＦＥ４及びメモリ８から出力される画像データが１水平ライン期間遅延して出力する。ラインメモリ７０２、７０４は、ラインメモリ７０１、７０３から出力された画像データを更に１水平ライン期間遅延して出力する。その結果、ラインメモリ７０２、７０４からは２水平ライン期間遅延された画像データが出力される。７０５はセレクタであり、２水平ライン期間遅延された画像データまたはＡＦＥ４から出力される遅延されていない画像データのいずれかを選択する。７０６もセレクタであり、メモリ８から読み出された信号または、２水平ライン期間遅延された画像データのいずれかを選択する。
【００４６】
セレクタ７０５、７０６は、制御信号生成回路７０７により制御される。制御信号生成回路７０７はＳＳＧ６から、ＦＩ、ＶＤ、ＨＤ信号を入力し、セレクタ７０５でＡＦＥ４の出力とラインメモリ７０２の何れの出力を選択するかを１水平ライン毎に切り換える制御信号を生成する。具体的には、ＡＦＥ４から奇数ラインの信号が出力されている時には、セレクタ７０５が０側（ＡＦＥ４）を選択し、ＡＦＥ４から偶数ラインの信号が出力されているときには、１側（ラインメモリ７０２）を選択するように制御される。また、制御信号生成回路７０７はセレクタ７０６がメモリ８とラインメモリ７０４の何れを出力を選択するかを１フィールド毎に切り換える制御信号も生成する。具体的には、ＡＦＥ４から偶数フィールドの信号が出力されている時には、セレクタ７０６が０側を選択し、ＡＦＥ４から奇数フィールドの信号が出力されているときには、セレクタ７０６が１側を選択するように制御される。
【００４７】
上記制御により、ＡＦＥ４、ラインメモリ７０１〜７０４、及びセレクタ７０６及び７０６から出力される画像データの概念を、ライン単位で図１１のタイムチャートに示す。図１１のチャート内の数字は、ライン番号を示す。図１１（ａ）は偶数フィールドの時を、また、図１１（ｂ）は奇数フィールドの時を示している。
【００４８】
７０８はライン内孤立パターン検出回路であり、ラインメモリ７０１により１水平ライン期間遅延された画像データから白画素を検出し、同じラインの前後の画素に白画素が連続していないかどうかを判断する。連続していない場合に限り、論理「ハイ」を出力する（ステップＳ１２に対応）。
【００４９】
７０９はフィールド内孤立パターン検出回路であり、以下の通り動作する。まず、ラインメモリ７０１から出力された１水平ライン期間遅延された画像データから白画素を検出する。白画素が検出されると、セレクタ７０５により選択された画像データが白画素かどうかを判断する。判断の結果、白画素が連続していない場合に限り、論理「ハイ」を出力する（ステップＳ１３に対応）。
【００５０】
具体的には、例えば、図１１（ａ）に示すように、偶数フィールドにおいてＡＦＥ４から第４ライン目が出力されているとき、セレクタ７０５は１側を選択する。従って、フィールド内孤立パターン検出回路７０９には、ラインメモリ７０１の出力である第１ラインと、ラインメモリ７０２の出力である第０ラインが入力される。これにより、第１ラインと第０ライン間で白画素が孤立点であるかどうかを判断することができる。また、例えば、図１１（ｂ）に示すように、奇数フィールドにおいてＡＦＥ４から第７ラインが出力されているとき、セレクタ７０５は０側を選択する。従って、フィールド内孤立パターン検出回路７０９には、ラインメモリ７０１の出力である第６ラインと、ＡＦＥ４の出力である第７ラインが入力される。これにより、第６ラインと第７ライン間で白画素が孤立点であるかどうかを判断することができる。
【００５１】
７１０はフィールド間孤立パターン検出回路であり、以下の通り動作する。まず、ラインメモリ７０１から出力された１水平ライン期間遅延された画像データから白画素を検出する。白画素が検出されると、セレクタ７０６により選択された画像データが白画素かどうかを判断する。判断の結果、白画素が連続していない場合に限り、論理「ハイ」を出力する（ステップＳ１４に対応）。
【００５２】
具体的には、例えば、図１１（ａ）に示すように、ＡＦＥ４から偶数フィールドの画像データが出力されているとき、セレクタ７０６は０側を選択する。従って、例えば、ＡＦＥ４から第４ラインの画像データが出力されている場合には、フィールド間孤立パターン検出回路７１０には、ラインメモリ７０１の出力である第１ラインと、ラインメモリ７０４の出力である１フィールド前の第２ラインが入力される。これにより、第１ラインと第２ライン間で白画素が孤立点であるかどうかを判断することができる。また、例えば、図１１（ｂ）に示すように、ＡＦＥ４から奇数フィールドの画像データが出力されているとき、セレクタ７０６は１側を選択する。従って、例えば、ＡＦＥ４から第７ラインの画像データが出力されている場合には、フィールド間孤立パターン検出回路７１０には、ラインメモリ７０１の出力である第６ラインと、メモリ８の出力である１フィールド前の第５ラインが入力される。これにより、第５ラインと第６ライン間で白画素が孤立点であるかどうかを判断することができる。
【００５３】
なお、フィールド内孤立パターン検出回路７０９及びフィールド間孤立パターン検出回路７１０は、検出結果を１画素分遅延してから出力する。これは、ライン内孤立パターン検出回路７０８において１画素後の画像データの判断が必要になるため、検出結果の出力タイミングが他の検出結果と比較して１画素分遅れるためである。
【００５４】
７１１はＡＮＤゲートであり、ライン内孤立パターン検出回路７０８、フィールド内孤立パターン検出回路７０９及びフィールド間孤立パターン検出回路７１０からの出力が全て論理「ハイ」の場合に、論理「ハイ」を出力する（ステップＳ１５〜Ｓ１８に対応）。これにより、検出した白画素が孤立点である場合に、その旨を示す信号が出力され、欠陥画素補正回路９に出力される。
【００５５】
欠陥画素補正回路９では、メモリ８と欠陥画素検出回路７からそれぞれ信号を入力し、欠陥画素検出回路７出力がハイレベルのとき、周辺画素で置換するといった公知の手法を用いて、メモリ８から読み出した現フィールドの画像データに欠陥画素補正を施す。なお、必要に応じて、メモリ８の出力と欠陥画素検出回路７の出力の位相を合わせる。
【００５６】
次に、重心ずれ補正回路１０で行う重心ずれ補正の動作について説明する。図５で示した通り、フィールド読み出しでは、フィールド毎に２ラインおきに２ラインずつＣＣＤ３から画像信号を読み出す。そのため、読み出した画像信号をモニタ１３にインターレース表示した場合、図１２の左半分に示すように、各フィールドで隙間が生じ、解像度ムラ等を引き起こす。そこで、図１２に示すように、読み出しフィールド、ラインにより、同じ色フィルタの配列を持つラインを１：３で足し合わせて補間処理を行うか、読み出したデータをそのまま使うかを切り換えて、各フィールドに対応する信号を１ラインおきに並べる。このことにより、解像度ムラを低減する。
【００５７】
以上説明したＣＣＤ３の画素の読み出し、欠陥画素検出回路７、及び、重心ずれ補正回路１０の動作は連動して制御される。
【００５８】
上記の通り本第１の実施形態によれば、動画記録時、または、静止画記録時のプレビュー画として、フィールド読み出しを行った場合でも、フィールド内及びフィールド間で孤立点の判断を行うことで、リアルタイムで欠陥画素を検出することが可能となる。従って、撮像装置の使用中に内部温度の変化によって増えた欠陥画素を検出することができる。
【００５９】
なお、孤立点を検出する動作の説明で、図７乃至図１２では、黒地の画像から白い孤立点を検出する例を挙げたが、本発明はこれに限るものではなく、逆に、白地の画像から黒い孤立点を検出する場合に適用することもできる。その場合には、予め設定された輝度値以下の画素を検出し、白画素の代わりに黒画素の連続性を調べる。また、白画素と黒画素を例に挙げているが、孤立点検出は２値化されたデータに限定されるものではなく、多値データを閾値で２値化してから孤立点検索してもよい。あるいは多値データのデータ間の差分をとり、その絶対値を用いて孤立点検索をしてもよい。
【００６０】
また、上記第１の実施形態では、ＣＣＤの色フィルタの例として原色フィルタを示したが、本発明はこれに限るものではなく、補色フィルタ等であってもよい。
【００６１】
また、上記第１の実施形態では、撮像装置として、動画及び静止画の撮影が可能なデジタルカメラを例に挙げて説明した。しかしながら、本発明はこれに限るものではなく、動画または静止画のみを撮影可能なデジタルカメラに適用することも可能である。また、入射する光学像をエリアセンサなどの２次元配列された固体撮像素子を用いて光電変換により電気的な画像として取得するものであって、フィールド読み出しするものであれば、本発明を適用することができる。
【００６２】
＜第２の実施形態＞
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。
【００６３】
図１４は、本第２の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。上記第１の実施形態で図１を参照して説明した撮像装置の構成とは、動きベクトル検出回路１９を設けた点が異なる。なお、図１と同様の機能を有する構成には同じ参照番号を付し、説明を省略する。
【００６４】
動きベクトル検出回路１９でＡＦＥ回路４の出力データからフィールド間、もしくはフレーム間の動きベクトルを求め、求めた動きベクトル値を、データバス１８を介してマイコン１７に送る。
【００６５】
次に、図１４のフローチャートを参照して、本第２の実施形態における欠陥画素の検出及び補正処理の制御動作について説明する。動作を開始すると、マイコン１７は動きベクトル検出回路１９から動きベクトル値を取得して（ステップＳ２１）、予め設定した所定値と比較する（ステップＳ２２）。動きベクトル値が所定値以下であれば、欠陥画素検出回路７を作動させて、上記第１の実施形態で図９を参照して説明した欠陥画素検出動作、即ち、孤立点の検出を行う（ステップＳ２３）。次に、ステップＳ２３における孤立点検出結果に基づき、欠陥画素補正回路９で孤立点の除去を行い、欠陥画素データの補正を行う（ステップＳ２４）。
【００６６】
一方、動きベクトル値が所定量以上であれば（ステップＳ２２でＮＯ）、欠陥画素検出回路７の動作を止め、孤立点検出動作を行わないようにする。
【００６７】
次に、ステップＳ２５で制御動作を終了するかどうか判断し、継続するならばステップＳ２１に戻って次の動きベクトルを取得し、継続しないならば、当該処理を終了する。
【００６８】
上記の通り本第２の実施形態によれば、画像データのフィールド間の動きが小さい時にのみ、欠陥画素検出を行う。これにより、第１の実施形態で説明したフィールド間孤立点判定を行う際に、画像データが動いたことにより生ずるパターンの変化を、孤立点として誤判別することを防ぐことができる。その結果、欠陥画素補正の精度を向上させることができる。
【００６９】
＜第３の実施形態＞
次に、本発明の第３の実施形態について説明する。
【００７０】
図１５は、本第３の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。図１５に示す構成は、図１３の動きベクトル検出回路１９の代わりにジャイロセンサ２０を設けた点が第２の実施形態と異なる。上記第２の実施形態では、撮像して得られた画像に基づいて動きベクトル検出回路１９で被写体の動きを検出し、その大小で欠陥画素検出回路７を制御した。これに対し、本第３の実施形態では、ジャイロセンサ２０で図１５の撮像装置全体の動き量を検出する。そして、ジャイロセンサ２０で取得した動き量のデータを、データバス１８を介してマイコン１５に送出する。他の動作は、第２の実施形態と同様に図１４のフローチャートに基づいて行われるが、本第３の実施形態ではステップＳ２２において動きベクトル値の代わりに、動き量を所定値と比較する。
【００７１】
上記の通り本第３の実施形態によれば、撮像装置の動きが小さい時にのみ、欠陥画素検出を行う。これにより、第１の実施形態で説明したフィールド間孤立点判定を行う際に、撮像装置が動いたことにより生ずるパターンの変化を、孤立点と誤判別することを防ぐことができる。その結果、欠陥画素補正の精度を向上させることができる。
【００７２】
＜第４の実施形態＞
次に、本発明の第４の実施形態について説明する。
【００７３】
図１６は、本第４の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。図１６に示す構成は、図１３の動きベクトル検出回路１９や図１５のジャイロセンサ２０の代わりに三脚取り付け端子２１を設けた点が異なる。本第４の実施形態では、三脚取り付け端子２１の状態を、例えばインピーダンスの状態から検知して、データバス１８を介してマイコン１５に送出する。そして、三脚取り付け端子２１に不図示の三脚が装着されているときにのみ、マイコン１５の指示で孤立点の検出を行う。
【００７４】
図１７は、本第４の実施形態の撮像装置における欠陥画素の検出及び補正処理の制御動作を示すフローチャートである。図１４のフローチャートに示す動作とは、ステップＳ２１及びＳ２２において動きベクトル値を求めて所定値とを比較する代わりに、ステップＳ３１において三脚取り付け端子の状態を取得するところが異なる。他の動作は、図１４に示す動作と同様であるため、同じ参照番号を付して説明を省略する。
【００７５】
上記の通り本第４の実施形態によれば、三脚を装着すると手ブレの影響がなくなるので、撮像装置が動いたことにより生ずる画像パターンの変化を、孤立点と誤判別することを防ぐことができる。その結果、欠陥画素補正の精度を向上させることができる。
【００７６】
なお、上記第１〜第４の実施形態においては、フィールド読み出し時に２フィールドでＣＣＤ３の全画素を読み出す場合について説明したが、本発明はこれに限るものではない。例えば、２ライン読み出して４ライン飛ばすようにして、３フィールドかけて全画素を読み出したり、２ライン読み出して６ライン飛ばすようにして、４フィールドかけて全画素を読み出す等、３フィールド以上かけて全画素を読み出す場合にも適用可能である。
【００７７】
＜他の実施形態＞
なお、上記実施の形態では、欠陥画素の検出をハードウエアにより実現する場合について説明したが、その全部またはその一部をソフトウェアにより実現することも可能である。
【００７８】
その場合、まず、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給する。そして、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【００７９】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、以下のようにして達成することも可能である。即ち、読み出したプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合である。ここでプログラムコードを記憶する記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、ＲＯＭ、ＲＡＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ、光ディスク、光磁気ディスク、ＭＯなどが考えられる。また、ＬＡＮ（ローカル・エリア・ネットワーク）やＷＡＮ（ワイド・エリア・ネットワーク）などのコンピュータネットワークを、プログラムコードを供給するために用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】本発明の第１の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図２】被写体に孤立点がある場合の画素位置に対する信号レベルの概念を示す図である。
【図３】撮像素子に欠陥画素がある場合の画素位置に対する信号レベルの概念を示す図である。
【図４】ＣＣＤの全画素読み出しの概念を表す図である。
【図５】ＣＣＤのフィールド読み出しの概念を表す図である。
【図６】ＣＣＤのフィールド読み出しのタイミングを表すタイミングチャートである。
【図７】孤立領域及び孤立点、及び間引き読み出しされた孤立領域及び孤立点の一例を表す図である。
【図８】垂直方向に連続する孤立領域の形状及び間引き読み出しされた連続する３フィールドにおける孤立領域の一例を示す図である。
【図９】本発明の実施の形態における孤立点判定動作を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の実施の形態における欠陥画素検出回路の内部構成の一例を表すブロック図である。
【図１１】本発明の実施の形態における欠陥画素検出回路の各構成の出力を表すタイムチャートである。
【図１２】本発明の実施の形態における重心ずれ補正の原理を表す図である。
【図１３】本発明の第２の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図１４】本発明の第２及び第３の実施形態における欠陥画素の検出及び補正処理の制御動作を示すフローチャートである。
【図１５】本発明の第３の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図１６】本発明の第４の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明の第４の実施形態における欠陥画素の検出及び補正処理の制御動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８１】
１  レンズ
２  光学ＬＰＦ
３  撮像素子
４  アナログフロントエンド
５  タイミング信号発生回路
６  同期信号発生回路
７  欠陥画素検出回路
８  メモリ
９  欠陥画素補正回路
１０  重心ずれ補正回路
１１  カメラ信号処理回路
１２  Ｄ／Ａ変換器
１３  モニタ
１４  符号化回路
１５  記録メディア
１６  入力キー
１７  マイコン
１８  データバス
７０１〜７０４  ラインメモリ
７０５、７０６  セレクタ
７０８  ライン内孤立パターン検出回路
７０９  フィールド内孤立パターン検出回路
７１０  フィールド間孤立パターン検出回路
７１１  ＡＮＤゲート
【図１】
0004789602.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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