(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物の測定面に、先端に曲率半径が１０μｍ未満の探針を備えたプローブを追従させて、前記被測定物の表面形状を測定する形状測定方法であって、
校正の基準となる基準球の測定面に前記プローブを追従させて前記基準球の測定面を測定することにより前記基準球の中心出しを行い、前記基準球の中心出しを行った後、前記基準球の測定面を測定し、前記基準球の測定データに対して、前記基準球と前記探針との接触位置を求め、その接触位置における測定面の傾斜角から前記探針の曲率半径による位置誤差を補正し、前記補正された前記基準球の測定データを座標変換して前記基準球の設計式と重ね合わせを行い、前記座標変換後の補正された前記基準球の測定データと前記基準球の設計式との形状誤差量を算出し、前記探針の前記基準球との接触位置における測定面の傾斜角を用いて、この探針の接触位置に対応する前記基準球測定時の基準球上の位置を特定し、この特定された基準球上の位置における前記基準球測定時の前記形状誤差量を前記探針の接触位置における形状誤差量として記憶し、
前記被測定物の測定面に前記プローブを追従させて前記被測定物の測定面を測定することにより前記被測定物の中心出しを行い、前記被測定物の中心出しを行った後、前記被測定物の測定面を測定し、前記被測定物の測定データに対して、前記被測定物と前記探針との接触位置を求め、その接触位置における測定面の傾斜角から前記探針の曲率半径による位置誤差を補正し、前記探針の曲率半径による位置誤差を補正された前記被測定物の測定データに対して、接触位置における測定面の傾斜角に対応した、前記形状誤差量を加算または減算して前記探針の曲率半径からの形状誤差を補正し、前記形状誤差を補正された前記被測定物の測定データを座標変換して前記被測定物の設計式と重ね合わせを行い、前記補正された被測定物の測定データと設計式との形状誤差量を算出することを特徴とする形状測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクのピックアップレンズや光通信で使用されるファイバ集光用レンズなどの小径レンズ及びその金型の表面形状など、極小部分の形状を高精度で測定する形状測定装置及び方法、並びに被測定物の製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
非球面レンズやその金型の形状など、極小部分の形状を５０ｎｍ以下の高精度で測定できる超高精度三次元形状測定装置については、特開平４−２９９２０６号公報、特開平１０−１７０２４３号公報等に記載されている。図１は形状測定装置の一構成例を示す斜視図である。
【０００３】
形状測定装置は、石定盤１上に設置されたレンズ等の被測定物２の測定面２ａに、移動体３に取り付けられたプローブ５の先端を追従させて、被測定物２の表面形状を測定するように構成されている。詳細には、被測定物２が載置される石定盤１には、支持部を介してプローブ５の位置座標を測定するためのＸ参照ミラー６、Ｙ参照ミラー７、Ｚ参照ミラー８が配置されている。一方、プローブ５が取り付けられた移動体３には、Ｘステージ９及びＹステージ１０が設けられており、被測定物２の測定面２ａの表面形状に追従してＸ軸方向及びＹ軸方向にそれぞれ移動体３及びプローブ５を走査可能となっている。また、移動体３にはレーザ測長光学系４が設けられており、既知の光干渉法によりＸ参照ミラー６を基準としたプローブ５のＸ座標、Ｙ参照ミラー７を基準としたプローブ５のＹ座標、Ｚ参照ミラー８を基準としたプローブ５のＺ座標がそれぞれ測長される。
【０００４】
次に、このような形状測定装置における測定手順について説明する。最初に、被測定物２の測定面２ａの設計式などの設計情報を形状測定装置に入力していく。次に、プローブ５を被測定物２の測定面２ａに一定の測定圧で追従させ、プローブ５をＸＹ方向に軸上走査させることで被測定物２の中心出しを行う。この中心出し処理の詳細については、特開平２−２５４３０７号公報に記載されている。その後、実際に被測定物２の測定面２ａ上において、プローブ５をＸＹ方向に面走査して形状測定を行う。
【０００５】
図１０は、形状測定装置において、プローブ５の先端のスタイラス３１が被測定物２の測定面２ａに追従している様子を、Ｚ−Ｘ座標について拡大して示したものである。このスタイラス３１により検出された三次元座標は、図１０において、スタイラス３１の先端Ｔの座標（Ｘ0 ，Ｙ0 ，Ｚ0 ）に相当する。しかし、図示したように、スタイラス３１の先端部３２が曲率半径Ｒを有し、被測定物２の表面形状に追従している場合には、実際の測定点Ｐの三次元座標（Ｘi ，Ｙi ，Ｚi ）と、プローブ５を走査することにより得られたスタイラス３１の先端Ｔの座標（Ｘ0 ，Ｙ0 ，Ｚ0 ）との間には、測定誤差が生じることになる。
【０００６】
このスタイラス３１の先端部３２が曲率半径Ｒを有していることで生じる測定誤差は、実際の測定点Ｐの位置において測定面２ａの傾斜角θが分かれば、スタイラス３１の先端Ｔの座標（Ｘ0 ，Ｙ0 ，Ｚ0 ）から、実際の測定点Ｐの座標（Ｘi ，Ｙi ，Ｚi ）が算出できる。このスタイラス３１の先端Ｔを基準にした実際の測定点Ｐの位置（２つの座標の相対距離）を加算または減算することによって測定誤差を補正する。
【０００７】
Ｚ−Ｘ座標においては、プローブ５のスタイラス３１の先端座標Ｔ（Ｘ0 ，Ｙ0 ，Ｚ0 ）、実際の測定点の座標Ｐ （Ｘi ，Ｙi ，Ｚi ）、測定点Ｐにおける測定面２ａのＸ方向の傾斜角θx とすると、
（Ｘi，Ｙi，Ｚi）＝（Ｘ0−Ｒ・sinθx，Ｙ0，Ｚ0＋Ｒ・（１−cosθx））
（ただし、Ｚ−Ｘ座標においてはＹ方向の座標成分Ｙi ，Ｙ0 は不定）
となる。同様に、実際の測定点Ｐの位置における測定面２ａのＹ方向の傾斜角θy が分かれば、Ｚ−Ｙ座標においても同様の補正ができる。以後、このようなプローブ先端のスタイラス先端部における曲率半径Ｒによる測定誤差（プローブ先端Ｒ誤差）の補正をプローブＲ補正と呼ぶ。このときの傾斜角θは、取り込まれた前後の測定データから算出することができるし、また、スタイラス３１の先端Ｔの座標と被測定物２の設計式からも求めることができる。
【０００８】
スタイラス３１で検出した被測定物２の形状測定データには、被測定物２の設置時の設置誤差（アライメント誤差）があり、入力した設計式との誤差を求める場合には、前記プローブＲ補正した後のデータを三次元的に回転・平行移動して座標変換することによって設計式との最適な重ねあわせを行う。これにより前記アライメント誤差が補正される。以後、前記プローブＲ補正とこの座標変換とを合わせて、アライメント処理と呼ぶ。
【０００９】
前記アライメント処理後、入力した設計式と被測定物２の測定データとのＺ方向の形状誤差（偏差）を求め、この偏差データを出力する。ここで、設計式と実際の被測定物との形状誤差が大きい場合には、その偏差データを加工機にフィードバックして、被測定物２の実際の形状が設計式と比較して所望の精度以内になるまで（例えば、光ディスクのピックアップ用非球面レンズの場合、形状誤差が±０．１μｍ以内）加工を繰り返し、被測定物２である非球面レンズやその金型などを高精度に製作する。
【００１０】
上述したような５０ｎｍ以下の高精度で測定することができる超高精度三次元形状測定装置において、被測定物２の表面形状に追従するプローブ５に取り付いているスタイラス３１の先端部３２は、0.02〜0.03μｍ以下の高い真球度と繰り返し測定に対する耐久性が要求されるため、機械研磨により高い真球度を達成でき、また優れた加工性と硬度特性を有する外径φ１mm前後のルビー球が一般に広く使用されている。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
近年、光通信分野において、光電変換接続装置に用いられている光ファイバ集光用レンズは、レンズ径が約φ２mm以下と小さく、表面の傾斜角度が４０度以上の傾斜角を有したものがある。このような光ファイバ集光用レンズにおいては、取扱いを容易にするために、鏡筒とレンズをプレス成形時に一体結合させる鏡筒一体型非球面ガラスレンズなどが使われている。
【００１２】
図１１は、光ファイバ集光用レンズ４１をプローブ５に取り付けたスタイラス３１で測定する際のスタイラス３１の接触状態の一例について図示したものである。スタイラス３１の先端部３２はφ１mm程度のルビー球であるため、レンズ径φ２mm以下の光ファイバ集光用レンズ４１の形状測定を行う場合、レンズの有効径Ｗの端においてスタイラス３１又はその先端部３２であるルビー球と光ファイバ集光用レンズ４１の鏡筒４２とが干渉してしまい、光ファイバ集光用レンズ４１の有効径Ｗの全範囲を測定できないという問題点がある。
【００１３】
このため、光ファイバ集光用レンズ４１の有効径Ｗの全体を測定するには、スタイラス３１の先端部３２の曲率半径を数μｍ程度まで小さくする必要がある。このとき、例えば、φ１mmのルビー球の代わりにダイヤモンドを取り付け、これを研磨してスタイラス先端の曲率半径を数μｍ程度まで小さくするような場合を考える。この場合、ダイヤモンドはルビー球のようにころがし研磨で製作できないため、熟練技術者による手作業の研磨を必要とし、またダイヤモンド結晶が方向性を有していることによる加工性の悪さと合わせると、所望の真球度を得るのが困難である。例えば、先端部３２の開き角が１２０度以内では、真球度が０．１μｍ程度から悪い場合になると０．２μｍ以上となり、従来のルビー球と比較して数倍からそれ以上悪くなってしまう。
【００１４】
このような真球度の悪いダイヤモンド製のスタイラス３１で被測定物２の表面形状を測定すると、上述したプローブＲ補正では、スタイラス３１の先端部３２の形状誤差までは補正していないため、前記真球度の悪さがそのまま被測定物２の形状誤差として測定データに現れてしまい、高精度の測定ができないという問題点があった。
【００１５】
また、光ディスクなどに使用されるピックアップ用の小径レンズにおいても、近年、高ＮＡ化が進んでおり、従来の接触式の形状測定装置においては、４０度を越える傾斜角を有した被測定物であるレンズやその金型の形状を測定しようとすると、プローブ先端とコバ面とが干渉するために、レンズ及び金型の有効径全体を測定できないという上記と同じ問題点があった。
【００１６】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、光通信分野において使用される光ファイバ集光用レンズや光ディスクなどに使用されるピックアップ用のレンズなどの小径レンズやその金型の表面形状測定においても、プローブ先端が小径レンズのコバ面や鏡筒などに干渉することなく、かつ高精度の測定を行うことが可能な形状測定装置及び方法、並びに被測定物の製造方法を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、第１に、被測定物の測定面に、先端に曲率半径が１０μｍ未満の探針を備えたプローブを追従させて、前記被測定物の表面形状を測定する形状測定方法であって、校正の基準となる基準球の測定面に前記プローブを追従させて前記基準球の測定面を測定することにより前記基準球の中心出しを行い、前記基準球の中心出しを行った後、前記基準球の測定面を測定し、前記基準球の測定データに対して、前記基準球と前記探針との接触位置を求め、その接触位置における測定面の傾斜角から前記探針の曲率半径による位置誤差を補正し、前記補正された前記基準球の測定データを座標変換して前記基準球の設計式と重ね合わせを行い、前記座標変換後の補正された前記基準球の測定データと前記基準球の設計式との形状誤差量を算出し、前記探針の前記基準球との接触位置における測定面の傾斜角を用いて、この探針の接触位置に対応する前記基準球測定時の基準球上の位置を特定し、この特定された基準球上の位置における前記基準球測定時の前記形状誤差量を前記探針の接触位置における形状誤差量として記憶し、前記被測定物の測定面に前記プローブを追従させて前記被測定物の測定面を測定することにより前記被測定物の中心出しを行い、前記被測定物の中心出しを行った後、前記被測定物の測定面を測定し、前記被測定物の測定データに対して、前記被測定物と前記探針との接触位置を求め、その接触位置における測定面の傾斜角から前記探針の曲率半径による位置誤差を補正し、前記探針の曲率半径による位置誤差を補正された前記被測定物の測定データに対して、接触位置における測定面の傾斜角に対応した、前記形状誤差量を加算または減算して前記探針の曲率半径からの形状誤差を補正し、前記形状誤差を補正された前記被測定物の測定データを座標変換して前記被測定物の設計式と重ね合わせを行い、前記補正された被測定物の測定データと設計式との形状誤差量を算出することを特徴とする。
【００２６】
本発明では、先端に曲率半径が１０μｍ未満の細径の探針を備えたプローブによって、被測定物の測定面にプローブの先端を追従させて、被測定物の表面形状を測定する際に、校正の基準となる基準球を測定することにより探針の曲率半径からの形状誤差を求め、この基準球の測定により求めた探針の形状誤差データを用いて、被測定物の測定データを補正する。このとき、被測定物の測定データに対して、被測定物と探針との接触位置を求め、その接触位置における測定面の傾斜角から探針の曲率半径による位置誤差を補正するとともに、探針の形状誤差データより前記接触位置における形状誤差量を抽出し、この形状誤差量を加算または減算して探針の曲率半径からの形状誤差を補正する。
【００２７】
これにより、基準球の測定により求めた探針の形状誤差を予め考慮して測定データに反映することができ、被測定物の形状について適正に校正されたより正確な測定データを得ることが可能となる。また、光通信分野において使用される光ファイバ集光用レンズや光ディスクなどに使用されるピックアップ用のレンズなどの小径レンズやその金型の表面形状測定においても、プローブ先端が小径レンズのコバ面や鏡筒などに干渉することなく、例えば５０ｎｍ以下の高精度でレンズの有効範囲全域にわたって測定することが可能である。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図１は形状測定装置の一構成例を示す斜視図、図２は本実施形態の形状測定装置に用いるプローブ先端の寸法形状を示す説明図、図３は本実施形態における基準球測定時の形状測定装置を示す側面図、図４は基準球測定時のプローブ先端の接触状態を示す説明図である。
【００２９】
本実施形態では、プローブ先端に取り付けるスタイラス（探針）として曲率半径を小さく加工したダイヤモンドを用い、被測定物の形状測定に先立って、スタイラスの形状誤差を補正するために校正基準となるよう真球度が高く形成された基準球の測定を行うようにする。
【００３０】
図１に示すように、形状測定装置は、５０ｎｍ以下の超高精度の三次元測定を可能としたもので、石定盤１上に設置されたレンズ等の被測定物２の測定面２ａに、移動体３に取り付けられたプローブ５の先端を追従させて、被測定物２の表面形状を測定するように構成されている。
【００３１】
被測定物２が載置される石定盤１には、支持部を介してプローブ５の位置座標を測定するためのＸ参照ミラー６、Ｙ参照ミラー７、Ｚ参照ミラー８が配置されている。一方、プローブ５が取り付けられた移動体３には、Ｘステージ９及びＹステージ１０が設けられており、被測定物２の測定面２ａの表面形状に追従してＸ軸方向及びＹ軸方向にそれぞれ移動体３及びプローブ５を走査可能となっている。また、移動体３にはレーザ測長光学系４が設けられており、既知の光干渉法によってＸ参照ミラー６を基準としたプローブ５のＸ座標、Ｙ参照ミラー７を基準としたプローブ５のＹ座標、Ｚ参照ミラー８を基準としたプローブ５のＺ座標がそれぞれ測長されるようになっている。なお図示しないが、形状測定装置にはプローブ５の走査の制御や測定データの処理などを行うためのプロセッサ及びメモリ等を備えた制御手段が設けられている。以降で述べる測定手順は、形状測定装置の制御手段によって動作制御が行われて実行される。
【００３２】
プローブ５の先端には、図２に示すような円錐形状のスタイラス２１が取り付けられている。このスタイラス２１は、先端部２２の曲率半径Ｒが数μｍオーダーに加工されたダイヤモンドからなり、先端開き角θが３５〜４５度程度の円錐形状に形成されている。先端開き角θは４５度以上であっても良いが、６０度以上の高い傾斜角を有した被測定物を測定する場合には、測定面にスタイラス２１の側面が干渉して正しく被測定物の表面形状を測定できないことがあるため、５５度以内が好ましく、さらには３５〜４５度ぐらいがより好ましい。
【００３３】
このスタイラス２１をプローブ５の先端に装着した後、始めに基準球の面形状測定を行う。図３に示すように、石定盤１を含む設置治具部５０上に、基準球５１が載置される。この基準球５１は、底部に３つの足が突設された台座５２上にほぼ上半球が露呈した状態で設けられ、石定盤１に対して３点支持で載置されるようになっている。設置治具部５０は、上から回転ステージ５３、あおり調整ステージ５４、Ｚ移動ステージ５５を備えて構成され、形状測定装置の設置ベースに固定されている。
【００３４】
基準球５１は、通常、鋼球やセラミック球などで形成され、外表面が球面であるため干渉計などで設計式からの実際の形状のずれ量を評価することが可能であり、真球度が0.02μｍ以内のものを製作することができる。本実施形態では、ダイヤモンド製のスタイラス２１の先端部２２における設計上の曲率半径Ｒからの形状誤差を校正するために、このような高精度な形状を有した基準球５１を使用する。この場合、図４に示すように、基準球５１の外表面にスタイラス２１の先端部２２を追従させて基準球５１の表面形状を測定する。
【００３５】
図５はスタイラス２１を用いた基準球５１の表面形状の測定手順を示すフローチャートである。最初に、校正用の被測定物である基準球５１の測定面５１ａの設計式などの設計情報を形状測定装置に入力する（ステップＳ１１）。次に、プローブ５に取り付けたスタイラス２１を基準球５１の測定面５１ａに一定の測定圧で追従させ、プローブ５をＸＹ方向に軸上走査させることで基準球５１の中心出しを行う（ステップＳ１２）。この中心出し処理は、特開平２−２５４３０７号公報に記載の方法を用いればよい。その後、実際に基準球５１の測定面５１ａ上において、プローブ５をＸＹ方向に面走査して形状測定を行う（ステップＳ１３）。
【００３６】
次いで、前述した従来の技術と同様に、スタイラス２１の先端部２２が曲率半径Ｒを有していることで生じる測定誤差（プローブ先端Ｒ誤差）の補正、すなわちプローブＲ補正を行う（ステップＳ１４）。これにより、スタイラスの先端Ｔと実際の測定点Ｐｒ（スタイラス２１の先端部２２と基準球５１の測定面５１ａとの接触位置）との位置誤差が補正される。そして、プローブＲ補正した後のデータを三次元的に回転・平行移動して座標変換することによって、基準球５１の設計式との最適な重ねあわせを行い、基準球５１の設置時の設置誤差（アライメント誤差）の補正を行う（ステップＳ１５）。次に、前記プローブＲ補正と座標変換とによるアライメント処理を行った後、入力した基準球５１の設計式と測定データとの形状誤差（偏差）を求め、この偏差データをスタイラス形状誤差データとして出力する（ステップＳ１６）。
【００３７】
図６は、校正に使用する基準球５１（材質：Ｓｉ3Ｎ4、設計半径Ｒｍ＝５．５５５８７mm）を先端部の曲率半径２μｍのダイヤモンド製のスタイラス２１で測定した場合のスタイラス形状誤差データを示したグラフである。図６の偏差データは、形状測定装置によって位置検出され取り込まれた離散的な測定データを、取り込まれた順番に直線でつないで表示したものである。この偏差データは、基準球５１の設計式と実際の測定データとの差分、つまり設計式に対する基準球５１の測定面５１ａの形状誤差（偏差）を示している。しかし、実際には、上述したように基準球５１は形状誤差がほとんどないため、得られた偏差データはスタイラス２１の先端部２２の設計値からの形状誤差を示したスタイラス形状誤差データとなる。
【００３８】
スタイラス２１の面走査によって実際の被測定物の形状測定を行う際には、上記のように基準球の測定によって予め取得したスタイラス形状誤差データを用いて、測定データ取得後のプローブＲ補正の過程においてこのスタイラス形状誤差データを加算して補正する。これによって、スタイラス２１の先端形状の校正が行われることになる。
【００３９】
以下に、前記基準球の測定で求めたスタイラス形状誤差データによるスタイラス２１の先端部２２の形状誤差補正の手順を、実際の測定例に当てはめて説明する。図７は本実施形態のスタイラス２１によって光ファイバ集光用レンズ４１を測定する際のスタイラス２１の接触状態の一例について示した説明図、図８はスタイラスの形状誤差補正を含む被測定物の形状測定手順を示すフローチャートである。
【００４０】
まず、測定したい被測定物の測定面にプローブ５に取り付けたスタイラス２１を追従させて、測定面の表面形状を測定する。このとき、レンズ径φ２mm以下の光ファイバ集光用レンズ４１の形状測定を行う場合、従来例の先端部がφ１mm程度のルビー球ではレンズ４１の有効径Ｗの全てを測定できなかったが、本実施形態のような先端部の曲率半径が数μｍ程度である細径のダイヤモンド円錐形状のスタイラス２１では、図７のように先端部２１が光ファイバ集光用レンズ４１の鏡筒４２などと干渉しないため、レンズ有効径Ｗの全範囲を測定できる。
【００４１】
前記基準球測定時と同様に、始めに、被測定物２の測定面２ａの設計式などの設計情報を形状測定装置に入力する（ステップＳ２１）。次に、プローブ５に取り付けたスタイラス２１を被測定物２の測定面２ａに一定の測定圧で追従させ、プローブ５をＸＹ方向に軸上走査させることで被測定物２の中心出しを行う（ステップＳ２２）。その後、実際に被測定物２の測定面２ａ上において、プローブ５をＸＹ方向に面走査して形状測定を行う（ステップＳ２３）。
【００４２】
そして、得られた被測定物２の測定データに対して、まず基準球測定時と同様にプローブＲ補正を行うことで、プローブ５に付いているスタイラス２１の先端部２２が曲率半径Ｒを有していることによる測定誤差（プローブ先端Ｒ誤差）を取り除く（ステップＳ２４）。これにより、スタイラスの先端Ｔと実際の測定点Ｐｉ（スタイラス２１の先端部２２と被測定物２である光ファイバ集光用レンズ４１の表面との接触位置）との位置誤差が補正される。
【００４３】
次に、プローブＲ補正された測定データに対して、基準球の測定によって事前に求めたスタイラス２１の先端部２２の形状誤差（スタイラス形状誤差データ）による補正を行う。ここで、校正用の基準球以外の被測定物における形状測定を行う場合に、上記スタイラス形状誤差データを用いて、プローブＲ補正した測定データを補正するには、スタイラス２１の先端部２２のどの部分が被測定物２の測定面２ａに接していたのかを特定して、その特定された接触位置（測定点）Ｐｉに対応する図６に示した形状誤差量を加算してやらないと正しく補正できない。そこで、まずスタイラス２１上での被測定物２との接触位置Ｐｉを特定し、基準球測定時におけるこの接触位置に対応する基準球上の座標Ｐｒを特定する（ステップＳ２５）。
【００４４】
このとき、前段階のステップＳ２４でのプローブＲ補正時において、前述したように被測定物２の測定面２ａとスタイラス２１の先端部２２とが接触する測定点におけるＸ及びＹ方向の傾斜角θx 、θy を求めるため、この傾斜角の情報を用いることにより、形状測定に使用しているスタイラス２１上における被測定物２との接触位置Ｐｉと、この接触位置に対応する基準球測定時の基準球上の位置Ｐｒとが一意に特定できる。換言すれば、プローブＲ補正時に求めた測定点における測定面の傾斜角に基づいて、基準球測定時にこれと同一の傾斜角となる場合の基準球上でのスタイラスと接触する測定点の位置、すなわち前記傾斜角が得られる状態となったときにスタイラスが接触している基準球上での位置を特定することができる。結果として、実際の形状測定時に被測定物２と接触しているスタイラス２１上の位置と、基準球測定時にこのスタイラス２１上の位置に対して接触する基準球上の位置との対応関係が求められ、校正用のスタイラス形状誤差データの中からこの特定位置における適切な形状誤差量を抽出できる。
【００４５】
具体的には、プローブＲ補正時に求めたＸ方向の傾斜角θx を用いて、基準球上のＸ位置は、
Ｘ＝Ｒｍ・sinθx
として特定できる。ここで、Ｒｍは基準球の設計半径（この例ではＲｍ＝５．５５５８７mm）である。例えば、Ｘ方向の傾斜角θx が３０度（つまり、被測定物２の測定面２ａの傾斜角が３０度）の場合には、
Ｘ＝５．５５５８７× sin３０°＝２．７７８mm
となる。このＸ位置における基準球の形状誤差を、スタイラス２１の先端部２２の形状誤差量として加算して補正してやればよい。なお、この場合傾斜角３０度となる位置は、Ｘ軸上では２箇所あるが、傾斜角を符号付きで扱うことによって、一つに特定できる。同様に、基準球上のＹ位置についても特定する。
【００４６】
そして、上記のように特定した基準球上の位置（Ｘ，Ｙ）について、前記基準球測定により求めた図６に示すスタイラス形状誤差データを参照して、この特定位置での基準球の形状誤差、すわなちスタイラス形状誤差量を抽出する。このスタイラス形状誤差量をプローブＲ補正した測定データの各点ごとに加えることによって、スタイラス２１の先端部２２の曲率半径からの形状誤差補正を行う（ステップＳ２６）。
【００４７】
なお、スタイラス形状誤差データは、基準球上の各位置に対応する補正値として保持してもよいし、スタイラス先端上での各位置に対応する補正値として保持してもよい。この場合、前記プローブＲ補正の後に、被測定物に接触しているスタイラスの測定点の位置に対応するスタイラス形状誤差量を、基準球測定によって事前に求めた形状誤差量のデータから直接読み出して補正することも可能である。
【００４８】
以上のように、被測定物２の測定面２ａに対するプローブＲ補正量と、実際の測定点Ｐに対応する基準球の測定から算出したスタイラス２１の先端部２２の形状誤差量とを測定データに加算することで、スタイラス２１の先端部２２における曲率半径からの形状誤差補正を含む測定誤差の補正を正確に行うことができるため、高精度の測定が可能となる。
【００４９】
このステップＳ２４〜Ｓ２６によるプローブＲ補正を含むスタイラス形状誤差補正の後、前記基準球測定時と同様に、補正後のデータを三次元的に回転・平行移動して座標変換することによって、被測定物２の設計式との最適な重ねあわせを行い、被測定物２の設置時の設置誤差（アライメント誤差）の補正を行う（ステップＳ２７）。そして、入力した被測定物２の設計式と測定データとの形状誤差（偏差）を求め、この偏差データを出力する（ステップＳ２８）。
【００５０】
このような形状測定によって得られた偏差データは、例えば加工装置にフィードバックして、被測定物の実際の形状が設計式と比較して所望の精度以内になるまで、例えば、光ディスクのピックアップ用非球面レンズの場合は形状誤差が±０．１μｍ以内となるまで、加工を繰り返し、被測定物の形状を製作する。これにより、高精度な形状加工が可能となる。
【００５１】
上述した測定手順により、スタイラスとして先端部が極細径のダイヤモンド製のものを用いた場合であっても、被測定物の表面形状を高精度に測定することができる。図９は、上記スタイラス形状誤差補正の処理を加えて基準球の測定を行った場合の出力結果の形状誤差データを示したグラフである。図６に比べて誤差がほとんど無く、正しく基準球の形状を測定できていることがわかる。この場合、細径のスタイラスによる実際の被測定物の測定において、上記手順のように、プローブ先端Ｒ誤差の補正とアライメント誤差の補正とを行うのに加えて、基準球測定によって求めたスタイラス先端部の形状誤差データに基づいてスタイラス形状誤差の補正を行うことによって、測定誤差に対してより正確な補正を実行可能となる。
【００５２】
また、上記測定手順におけるスタイラス２１の先端部２２の曲率半径からの形状誤差を求める過程において、測定データの間隔をＸ方向及びＹ方向ともにほぼ等間隔にして測定し、その等間隔の格子状のデータから、例えば既知のスプライン曲線等により補間して形状誤差曲面を作成すれば、離散データから外れた位置のスタイラス形状誤差データを、その周辺の格子状の形状誤差の離散データから推定することができる。なお、測定データは、上記のように必ずしもＸＹ共に等間隔に取る必要はなく、取り込んだ離散的データから、補間しやすいように補正用のデータを作成しても良い。
【００５３】
また、求めたスタイラスの形状誤差データは、形状測定装置の制御手段がいつでも任意に参照できるように、例えば Windows（登録商標）などのＯＳを用いた装置においては、ＤＬＬ（ダイナミック・リンク・ライブラリ）などの形式で記憶手段に記憶しておくと良い。
【００５４】
本実施形態の形状測定方法は、従来の方法と比較して、基準球の測定という作業工程が増えるものの、基準球の測定及び形状誤差（偏差）の算出は形状測定装置の日常点検も兼ねているために、通常の測定においても一番最初に測定者により行われるようなものであるため、測定者の作業はほとんど変わらない。なお、測定者が別のダイヤモンド製のスタイラスを用いて形状測定を行う場合には、そのスタイラスの形状誤差を、再度基準球の測定によって求めてから被測定物を測定する必要があるのはいうまでもない。
【００５５】
上述のように、本実施形態の形状測定装置及び方法では、光ディスクのピックアップレンズや光通信で使用される光ファイバ集光用レンズなどの、小径レンズや鏡筒及びその金型の表面形状を測定する場合であっても、プローブ先端のスタイラスが小径レンズのコバ面や鏡筒などに干渉することなく、また、スタイラスの形状誤差を適正に補正して測定できるため、高精度の測定が実行可能である。よって、従来測定できなかった高ＮＡ化した小径レンズや金型などにも対応することができる。
【００５６】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、光通信分野において使用される光ファイバ集光用レンズや光ディスクなどに使用されるピックアップ用のレンズなどの小径レンズやその金型の表面形状測定においても、プローブ先端が小径レンズのコバ面や鏡筒などに干渉することなく、かつ高精度の測定を行うことが可能となる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】形状測定装置の一構成例を示す斜視図である。
【図２】本実施形態の形状測定装置に用いるプローブ先端の寸法形状を示す説明図である。
【図３】本実施形態における基準球測定時の形状測定装置を示す側面図である。
【図４】本実施形態における基準球測定時のプローブ先端の接触状態を示す説明図である。
【図５】本実施形態におけるスタイラスを用いた基準球の表面形状の測定手順を示すフローチャートである。
【図６】校正に使用する基準球を先端部が細径のダイヤモンド製のスタイラスで測定した場合のスタイラス形状誤差データを示したグラフである。
【図７】本実施形態のスタイラスによって光ファイバ集光用レンズを測定する際のスタイラスの接触状態の一例について示した説明図である。
【図８】スタイラスの形状誤差補正を含む被測定物の形状測定手順を示すフローチャートである。
【図９】スタイラス形状誤差補正の処理を加えて基準球の測定を行った場合の出力結果の形状誤差データを示したグラフである。
【図１０】形状測定装置においてプローブ先端のスタイラスが被測定物の測定面に追従している様子を示す説明図である。
【図１１】光ファイバ集光用レンズを従来のスタイラスによって測定する際のスタイラスの接触状態の一例について示した説明図である。
【符号の説明】
１  石定盤
２  被測定物
２ａ  測定面
５  プローブ
２１  スタイラス
２２  先端部
４１  光ファイバ集光用レンズ
４２  鏡筒
５１  基準球
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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