(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
穀粒を貯留するタンク部と、
該タンクから流下した穀粒に対して熱風を通風する乾燥部と、
該乾燥部から流下した穀粒を機外に取り出す取出部と、
該取出部が排出した穀粒を昇降機及び上部搬送部によって前記タンクに還流する還流部と、
前記昇降機に配設するとともに前記穀粒の胴割検出と水分測定とを行う胴割検査機能付水分計と、
該胴割検査機能付水分計の測定結果に基づいて乾燥運転等の制御を行う制御部と、を備えた穀粒乾燥機において、
前記胴割検査機能付水分計は、供給されたサンプル穀粒の胴割判定及び水分測定を１粒単位で行う胴割検出部及び水分測定部を設けるとともに、前記胴割検出部での検査を終えた穀粒を前記水分測定部に移送する移送手段を配設し、
前記胴割検出部は、前記サンプル穀粒に光を照射して当該サンプル穀粒から検出された透過光に基づいて胴割判定用電圧値を演算して求めて胴割判定を行う判定部を有し、該判定部は、前記胴割判定用電圧値が、任意の低電圧レベル値よりも低い場合は胴割粒でないと判定する一方、任意の高電圧レベル値よりも高い場合は胴割粒と判定し、前記低電圧レベル値と高電圧レベル値との範囲内であるときには、前記水分測定部が測定した当該穀粒の測定水分値が所定値以下のときに当該穀粒を胴割粒と判定し、所定値よりも高いときには当該穀粒を胴割粒でないと判定することを特徴とする穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項２】
前記所定の水分値が２１％である請求項１に記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項３】
前記胴割検出査部は、前記サンプル穀粒を保持する保持部を周縁に複数配設した傾斜状の回転円盤と、該回転円盤を載置するベース盤と、前記回転円盤の上位に配設した前記穀粒から透過光を検出する光学部と、前記回転円盤の下位に構成したサンプル穀粒の滞留部と、前記ベース盤に設けた前記光学部での検査を終えた穀粒を前記保持部から前記移送手段に排出する排出部、とを有し、
前記滞留部の上方にはサンプル穀粒の籾供給口を備えたことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項４】
任意数のサンプル穀粒の検査開始前若しくは終了後、又は所定時間が経過した時点に、一時的に、前記回転円盤を逆方向に回転させる制御基盤を設けるとともに、前記滞留部における前記逆方向側には残留排出部を配設したことを特徴とする請求項３に記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項５】
前記光学部における受光センサを単素子のものとする一方、前記光学部において穀粒が光学検出されるタイミングを検出するタイミング検出手段を設けたことを特徴とする請求項３又は請求項４に記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項６】
前記回転円盤の回転によって前記保持部が移送される経路上には、当該保持部から上方に突出した移送中の穀粒と当接する当接部材を配設したことを特徴とする請求項３乃至請求項５のいずれかに記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項７】
前記籾供給口には、穀粒が通過可能な間隔を有するくし状の夾雑物除去部を上方から下方に延設したことを特徴とする請求項３乃至請求項６のいずれかに記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項８】
前記夾雑物除去部における前記回転円盤側には、その下端部と前記滞留部との間を所定間隔にした滞留量規制板を立設したことを特徴とする請求項３乃至請求項７のいずれかに記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【請求項９】
前記胴割検出部及び水分測定部を上下に順次重設してなることを特徴とする請求項１乃至請求項８のいずれかに記載の穀粒乾燥機における胴割検査機能付水分計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、循環式穀粒乾燥機における穀粒の胴割れを低減する乾燥運転（以下「胴割防止乾燥運転」という）を行う際に用いる胴割検査機能付きの水分計（以下「胴割検査機能付水分計」という）に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、胴割防止乾燥運転としては、循環式穀粒乾燥機のタンクに胴割検査装置を設け、乾燥中のサンプル穀粒を前記胴割検査装置に取り込んで胴割検査し、該検査結果から算出した胴割率が一定以上になった時点で乾燥速度を低下させるものがある（特許文献１）。
【０００３】
一方、特許文献２によれば、循環式穀粒乾燥機に前記胴割検査機能付水分計を備え、該胴割検査機能付水分計により乾燥中のサンプル穀粒の胴割検査及びその胴割率を算出し、該胴割率が一定以上になった場合、測定水分値が胴割れの増加が著しいとされる水分値１８％になるまでは、乾燥速度（熱風温度）を低下して更なる胴割れの発生を防止する一方、測定水分値が１８％よりも低下すると、測定水分値が１８％になったときの乾燥速度を維持させるようにして乾燥時間の長時間化を防止し、効率的な乾燥を行うようにしてある。
【０００４】
【特許文献１】特公昭６２−６０６３１号公報
【特許文献２】特許第２８１４５７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、前記胴割検査機能付水分計には以下の問題点があった。すなわち、特許文献２よると、胴割検査機能付水分計の構成説明は、「水分センサには１粒ずつ移送される穀粒の胴割を検出する胴割センサを内装して構成する」との記載に止まっていた。このため、前記胴割検査機能付水分計の具体的構成が明らかでないため、１台の装置によって安定的かつ検査精度よく穀粒の胴割検査及び水分値測定を行なう装置の開発が望まれていた。
そこで、本発明は、上記問題点にかんがみ、１台の装置によって安定的に穀粒の胴割検査及び水分値測定が行え、かつ、精度よく胴割判定が行えるようにした胴割検査機能付水分計を提供することを課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、請求項１により、
穀粒を貯留するタンク部と、
該タンクから流下した穀粒に対して熱風を通風する乾燥部と、
該乾燥部から流下した穀粒を機外に取り出す取出部と、
該取出部が排出した穀粒を昇降機及び上部搬送部によって前記タンクに還流する還流部と、
前記昇降機に配設するとともに前記穀粒の胴割検出と水分測定とを行う胴割検査機能付水分計と、
該胴割検査機能付水分計の測定結果に基づいて乾燥運転等の制御を行う制御部と、を備えた穀粒乾燥機において、
前記胴割検査機能付水分計は、供給されたサンプル穀粒の胴割判定及び水分測定を１粒単位で行う胴割検出部及び水分測定部を設けるとともに、前記胴割検出部での検査を終えた穀粒を前記水分測定部に移送する移送手段を配設し、
前記胴割検出部は、前記サンプル穀粒に光を照射して当該サンプル穀粒から検出された透過光に基づいて胴割判定用電圧値を演算して求めて胴割判定を行う判定部を有し、該判定部は、前記胴割判定用電圧値が、任意の低電圧レベル値よりも低い場合は胴割粒でないと判定する一方、任意の高電圧レベル値よりも高い場合は胴割粒と判定し、前記低電圧レベル値と高電圧レベル値と範囲内であるときには、前記水分測定部が測定した当該穀粒の測定水分値が所定値以下のときに当該穀粒を胴割粒と判定し、所定値よりも高いときには当該穀粒を胴割粒でないと判定する、という技術的手段を講じた。
【０００７】
また、請求項２により、
前記所定の水分値を２１％とする、という技術的手段を講じた。
【０００８】
さらに、請求項３により、
前記胴割検出部は、前記サンプル穀粒を保持する保持部を周縁に複数配設した傾斜状の回転円盤と、該回転円盤を載置するベース盤と、前記回転円盤の上位に配設した前記穀粒から透過光を検出する光学部と、前記回転円盤の下位に構成したサンプル穀粒の滞留部と、前記ベース盤に設けた前記光学部での検査を終えた穀粒を前記保持部から前記移送手段に排出する排出部、とを有し、
前記滞留部の上方にはサンプル穀粒の籾供給口を備えた、という技術的手段を講じた。
【０００９】
また、請求項４により、
任意数のサンプル穀粒の検査開始前若しくは終了後、又は所定時間が経過した時点に、一時的に、前記回転円盤を逆方向に回転させる制御基盤を設けるとともに、前記滞留部における前記逆方向側には残留排出部を配設した、という技術的手段を講じた。
【００１０】
さらに、請求項５により、
前記光学部における受光センサを単素子のものとする一方、前記光学部において穀粒が光学検出されるタイミングを検出するタイミング検出手段を設けた、という技術的手段を講じた。
【００１１】
また、請求項６により、
前記回転円盤の回転によって前記保持部が移送される経路上には、当該保持部から上方に突出した移送中の穀粒と当接する当接部材を配設した、という技術的手段を講じた。
【００１２】
さらに、請求項７により、
前記籾供給口には、穀粒が通過可能な間隔を有するくし状の夾雑物除去部を上方から下方に延設した、という技術的手段を講じた。
【００１３】
また、請求項８により、
前記夾雑物除去部における前記回転円盤側には、その下端部と前記滞留部との間を所定間隔にした滞留量規制板を立設した、という技術的手段を講じた。
【００１４】
さらに、請求項９により、
前記胴割検出部及び水分測定部を上下に順次重設した、という技術的手段を講じた。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の胴割検査機能付水分計は、サンプル穀粒の胴割判定及び水分測定を１粒単位で行う胴割検出部及び水分測定部を上位下位に順次重設するとともに、前記胴割検出部での検査を終えた穀粒を前記水分測定部に移送する移送手段を配設したことにより、サンプル穀粒の胴割検査及び水分値測定を安定的に１粒単位で行える。また、前記胴割検出部における判定部は、胴割判定用電圧値が、任意の低電圧レベル値よりも低い場合は胴割粒でないと判定する一方、任意の高電圧レベル値よりも高い場合は胴割粒と判定し、前記低電圧レベル値と高電圧レベル値との範囲内であるときには、前記水分測定部が測定した当該穀粒の測定水分値が所定値（２１％）以下のときに当該穀粒を胴割粒と判定し、所定値（２１％）よりも高いときには当該穀粒を胴割粒でないと判定する。よって、前記胴割判定用電圧値が、前記低電圧レベル値と高電圧レベル値との範囲内に含まれて、胴割判定が困難な小さい値であっても、サンプル穀粒の胴割判定をより正確に行うことができるので、該胴割判定結果に基づいて演算される胴割率が正確になる。このため、穀粒乾燥機において、前記胴割率に基づく胴割防止乾燥運転をより安全で的確なものにし、胴割粒の発生・増加を低減することができる。
【００１６】
また、前記胴割検出査部の構成について、穀粒を保持する保持部を周縁に複数配設した傾斜状の回転円盤と、該回転円盤を載置するベース盤と、前記回転円盤の上位に配設した前記穀粒から透過光を検出する光学部と、前記回転円盤の下位に構成したサンプル穀粒の滞留部と、前記ベース盤に設けた前記光学部での検査を終えた穀粒を前記保持部から前記移送手段に排出する排出部、とを有し、前記滞留部の上方にはサンプル穀粒の籾供給口を備える構成にしたことにより、前記籾供給口から供給されて滞留部に滞留したサンプル穀粒を、回転する回転円盤の保持部（溝部）に１粒ずつ入れて光学部により確実に移送することが可能になる。
【００１７】
また、任意数のサンプル穀粒の検査開始前、若しくは終了後等において、前記回転円盤を一時的に逆方向に回転させるようにしたことにより、前記滞留部に滞留した残留穀粒等を前記残留排出部から排除できる。これにより、前記滞留部に滞留した、保持部での移送が困難でかつ詰まりの原因となる枝梗粒をも排除することができるので、常に新しいサンプル穀粒の測定が行え、より正確な測定データが安定的に得ることができる。
【００１８】
さらに、前記光学部において穀粒が光学検出されるタイミングを検出するタイミング検出手段を設けたことにより、前記光学部において安価な単素子の受光センサを使用しても、前記タイミングにおける穀粒からの受光信号に基づいて胴割検出が可能である。これにより、前記光学部を安価で、しかも、ＣＣＤセンサや画像処理等の複雑な回路を必要としない簡略化したものにすることができた。
【００１９】
また、前記回転円盤の回転によって前記保持部が移送される経路上に、移送中の保持部から上方に突出した穀粒と当接する当接部材を配設したことにより、移送中に、当該穀粒と当接して該穀粒の排除又は姿勢を整える作用を有するとともに、移送される穀粒が枝梗粒であった場合には、枝梗部分と当接して当該枝梗粒を前記保持部から排除することができる。このため、前記光学部には前記保持部に納まり姿勢が整った穀粒を移送することができるので、胴割検出をより正確に行うことができる。
【００２０】
さらに、前記籾供給口に、くし状の夾雑物除去部を配設したことにより、前記籾供給口を通過する際に、サンプル穀粒に混入した夾雑物や枝梗粒が排除され、前記滞留部に供給されるサンプル穀粒に含まれる前記夾雑物や枝梗粒の量を低減することができる。
【００２１】
また、前記夾雑物除去部における前記回転円盤側には、その下端部と前記滞留部との間が所定間隔にされた滞留量規制板を立設することにより、前記滞留部に堆積するサンプル穀粒の前記回転円盤側への流れ込みを堰止めるとともに、前記籾供給口を超えて堆積したサンプル穀粒を当該籾供給口から排出させることができる。これにより、前記滞留部におけるサンプル穀粒の堆積量を適量に維持できるので、前記回転円盤に及ぼす回転負荷等の悪影響を低減できる。
【００２２】
さらに、前記胴割検出部及び水分測定部を上下に順次重設することにより、装置をコンパクトにできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明の循環式穀粒乾燥機１を説明する（図１、図２、図３参照）。前記循環式穀粒乾燥機１は、穀粒を貯留するタンク部２、熱風を通風して穀粒の乾燥を行う乾燥部３及び前記熱風通風を受けた穀粒を機外に取出す取出部４を重設して構成する。該取出部４は取り出した穀粒を前記タンク部２に還流する還流部５に接続し、また、該還流部５は、昇降機５ａ及び上部搬送部５ｂから構成する。前記上部搬送部５ｂの搬送終端部には、タンク部２内（天板）に配設した分散装置５ｃを配設する。前記乾燥部３は、中央に熱風胴６を横設し、該熱風胴６の両側に、穀粒流下通路（乾燥室）７及び排風胴８を順次横設した構成とする。前記熱風胴６の一方側となる開口部には熱風発生手段（バーナー）9を配設し、当該熱風胴６内に熱風を供給するようにしてある。前記熱風胴６の他方側となる開口部には排風機１０を配設し、該排風機１０の吸引作用により、前記熱風発生装置９から供給される熱風が、前記熱風胴６、前記穀粒流下通路７及び排風胴8を通風して機外に排風されるように構成してある。なお、乾燥部３の側板には、張込用の開閉蓋３ａを備える。
【００２４】
前記左右の穀粒流下層７は下端を交わらせて構成し、この交わり部には、ロータリーバルブ（繰出しバルブ）１１を横設する。前記取出部４は、前記ロータリーバルブ１１のほか、該ロータリーバルブ１１によって繰出された穀粒を集穀して機外に排出する漏斗状の集穀板（ダッシュボード）１２及び下部搬送部１３から構成する。該下部搬送部１３の搬送終端部は前記還流部５と接続し、集穀した穀粒が前記タンク部２に還流されるように構成してある。
【００２５】
次に、本発明の特徴構成である胴割検査機能付水分計１５の構成について説明する（図４、図５、図６参照）。前記胴割検査機能付水分計１５は前記昇降機５ａに装着し、該昇降機５ａ内をバケットから零（こぼ）れ落ちるサンプル籾（もみ）を取り込み、該穀粒の胴割検出と水分測定とを行う機能を有する。前記胴割検査機能付水分計１５は胴割検査部１６を上位側に構成し、その下位側に、穀粒の水分値を測定する水分測定部１７を構成する。前記胴割検査部１６と水分測定部１７との間には移送手段１８を配設し、前記胴割検査部１６での検査を終えた穀粒を前記水分測定部１７に移送するようにしてある。なお、前記枠体１５ａは、サンプル籾を胴割検査機能付水分計１５内に供給するための籾供給口１５ｂを備える。該籾供給口１５ｂは、後述する滞留部２２の上方位置に設けてサンプル籾を滞留部２２に供給するようにしてある。
【００２６】
前記胴割検査部１６は、傾斜状のベース盤１９、及び該ベース盤１９上において回転可能にした回転円盤２０を有する。該回転円盤２０は図示しないモータを設け、該モータの出力によって回転させようにする。また、前記回転円盤２０の周縁部には、等間隔ごとに、穀粒を１粒ずつ保持して後述する光学部２４に移送するための保持部（溝部）２０ａを複数形成する。該溝部２０ａの形状は、１粒の穀粒が入る程度の大きさで、前記回転円盤２０の縁部側を切り欠いた略Ｃ状にしてある。
【００２７】
前記回転円盤２０の傾斜下位側には、前記籾供給口１５ｂから供給されたサンプル籾を滞留させる滞留部２２を構成する。該滞留部２２は、前記ベース盤１９の傾斜下位側において、前記回転円盤２０の下位側周縁部に沿って配設した滞留用堰（せき）部２１によって構成する。そして、該滞留用堰（せき）部２１からさらに傾斜上方側の周縁部に沿っては、前記溝部２０ａに保持した穀粒が前記切り欠き部からの放出されないように堰き止めるための移送用堰部２３を配設する。該移送用堰部２３は、滞留用堰部２１から前記回転円盤２０の傾斜上位に配設した光学部２４まで延設し、前記回転円盤２０の上面よりも若干高くしてある。この高さは穀粒の厚さよりも小さいものとする。前記移送用堰部２３の傾斜上方側であって、前記光学部２４における移送方向手前側には、前記溝部２０ａ内から上方に突出した籾を当該溝部２０ａ内に納めて安定した姿勢に規制する当接部材２０ｂを配設する。該当接部材２０ｂは、合成樹脂材料等からなる柔軟性のあるシート状とし、かつ、その下端部と前記回転円盤２０の上面との間隔（隙間）は１ｍｍ程度とする。前記ベース盤１９は、射出成形法等により、前記滞留用堰部２１及び移送用堰部２３を合成樹脂材料によって一体成形するとよい。
【００２８】
前記滞留部２２（滞留用堰部２１）における、前記回転円盤２０の回転方向（図６の矢印Ｙ方向）の逆方向側に隣接した位置は、前記回転円盤２０の逆回転により、前記滞留部２２に残留した穀粒（枝梗粒含む）を排出するための残留排出部２１ａが配設してある。本実施例において該残留排出部２１ａは、開放状にして滞留用堰部２１の端部を過ぎて前記残留穀粒を移送すると自然落下するようにしてある。そして、この自然落下する残留穀粒は、後述する、排出樋１７ｇを介して昇降機５ａ内に排出されるようにしてある。
【００２９】
前記光学部２４は照射部２５と受光部２６とを構成する（図７参照）。前記照射部２５は、前記回転円盤２０の下方側に配設し、前記溝部２０ａの移送経路における任意の位置に設定した光学検出位置Ｋに対して照射光を放つようにしてある。一方、前記受光部２６は、光学検出位置Ｋを挟んで対向する上方側に配設し、当該光学検出位置Kからの光を受光するようにしてある。前記受光部２６を構成する受光センサは、前記光学検出位置Kにおける移送方向（図７の矢印：Ｙ方向）に対し、上流側の斜め上方位置に配設した第１受光センサ２６ａと、同下流側の斜め上方位置に配設した第２受光センサ２６ｂとから構成する。前記第１受光センサ２６ａ及び第２受光センサ２６ｂは共に、シリコンフォトダイオード（単素子）などからなるアナログ式の透過光センサで構成し、各焦点は、前記光学検出位置Kを中心にして移送方向に互いに少しずらした位置にしてある。前記アナログ式の透過光センサは、フォトトランジスタ（単素子）等であってもよい。
【００３０】
前記光学部２４を配設する位置のベース盤１９には、前記光学検出位置Kを中心とするように照射開口部１９ａを形成する。そして、該照射開口部１９ａの上縁部にはスリット孔を有するスリット板１９ｂを嵌設し、さらに、該スリット板１９ｂの上には透明板ガラス１４を重設する。これにより、前記照射部２５からの照射光が前記光学検出位置K（溝部２０ａ内の穀粒）にその下方側から照射されるようにしてある。
【００３１】
次に、前記受光部２６に隣接した前記移送方向側には、移送された前記溝部２０ａの到達（通過）を検知する溝部検知センサ２７を配設するとともに、前記溝部２０ａ内から穀粒を排出する排出部２８を配設する。前記溝部検知センサ２７は、前記溝部２０ａが通過する経路上に、前記光学検出位置Ｋから所定距離だけ離れた位置に配設し、当該経路を上下に挟んで互いに対向配設した受光部２７ａ及び照射部２７ｂによって構成する（図８、図９参照）。前記所定距離は、前記溝部検知センサ２７が溝部２０ａを通過検知するタイミングと、前記受光部２６が前記光学検出位置Ｋに移送された溝部２０ａ（籾）を光学検出するタイミングとが一致するように、前記溝部２０ａとこれに隣り合う溝部２０ａとの間隔距離とする。前記排出部２８は、前記ベース盤１９における当該排出部２８を設ける部分について、前記溝部２０ａが通過する経路部分を開放状にして、溝部２０ａの底部から籾が自然落下するようにした空間部２８にしてよって形成する。なお、前記溝部検知センサ２７に関しては、前記受光部２６が前記光学検出位置Ｋの溝部２０ａ（籾）を光学検出するタイミングを検出することのできるタイミング検出手段であればよく、上記以外の方法であってもよい。
【００３２】
前記空間部（排出部）２８の下方には前記移送手段１８として、傾斜状のシュート１８を配設する（図５、図６参照）。該シュート１８は、左右の側面壁を設けて流下する穀粒が飛び出さないようにしてある。そして、前記シュート１８の下端部は、後述する一対の電極ロールの接点（電極ロール間）に直近した位置で、かつ、前記下端部から放出される穀粒の放出軌跡が前記接点に向かう位置に配設する。
【００３３】
なお、前記胴割検査部１６は、前記光学部２４から検出した光学部受光信号（検出電圧値）に基づいて胴割判定を行う後述の判定部１５ｆも備えてなる。
【００３４】
前記水分測定部１７は公知の抵抗式水分計の構造とする（例えば、本出願人による、特許第３０４８００６号公報など参照）（図５参照）。前記水分測定部１７は、一対の電極ロール１７ａ，１７ｂからなる圧砕電極部１７ｃを備えるとともに、該電極ロール１７ａ，１７ｂを互いに逆方向に回転させるための駆動部１７ｄを備える。該駆動部１７ｄは、モータ１７ｅと、該モータ１７ｅの出力を前記電極ロール１７ａ，１７ｂに伝達する複数の減速ギヤ等からなるギヤ部１７ｆとから構成する。前記電極ロール１７ａ，１７ｂの下方には漏斗形状の排出樋１７ｇを設け、水分測定を終えて落下した穀粒を機外に排出するようにしてある。なお、排出樋１７ｇは管路３０ａを介して前記昇降機５ａ内と連通し、前記排出穀粒を昇降機５ａに排出するようにしてある。なお、前記水分測定部１７は、前記電極ロール１７ａ，１７ｂで検出した電気的抵抗値に基づいて測定水分値の演算を行う後述の判定部１５ｆも備えてなる。
【００３５】
次に、夾雑物除去部３０を説明する（図４、図５参照）。該夾雑物除去部３０は、前記籾供給口１５ｂにおける前記胴割検査機能付水分計１５内部側に配設する。前記夾雑物除去部３０は、直径約１ｍｍの複数の棒体３１からなる。該棒体３１は、前記籾供給口１５ｂにおける前記胴割検査機能付水分計１５の内部上方側から当該籾供給口１５ｂに向かって下方傾斜（例えば６０度傾斜角）させ、かつ、前記籾供給口１５ｂの全幅方向にわたって等間隔に並設する。前記間隔は、籾の長さ寸法が約７ｍｍであるので、籾よりも長い藁（わら）屑等をできるだけ除去するため、約８〜１２ミリメートルとするのが好ましい。また、棒体３１の材質は例えばステンレスとする。また、前記棒体３１の下端部は前記籾供給口１５ｂの開口下端部まで延設してもよいが、本実施例においては、前記棒体３１の下端部３１ａと前記籾供給口１５ｂの開口下端部１５ｃとの間に間隙を形成し、サンプル籾を、前記間隔を通さず、直接、前記滞留部２２に供給するようにしてある。なお、図４において符号１５ｅで示したスリット孔１５ｅは、昇降機５ａ側に形成したフックに嵌合し、前記胴割検査機能付水分計１５を昇降機５ａに装着するためのものである。
【００３６】
次に、滞留量規制板３２について説明する（図５参照）。該滞留量規制板３２は前記複数の棒体３１（夾雑物除去部３０）の回転円盤２０側に、略垂直状に配設する。前記滞留量規制板３２は、少なくとも、前記籾供給口１５ｂの開口幅よりも幅広のものとし、かつ、その下端部３２ａは前記滞留部２２の上方に当該滞留部２２と間隔Ｔを形成した位置に止めるようにする。前記間隔Ｔの長さを変更すると、前記滞留部２２に供給・滞留されるサンプル籾の量が調節できる。
【００３７】
なお、前記胴割検査機能付水分計１５は制御基盤（判定部）１５ｆを配設し、該制御基盤（判定部）１５ｆによって、前記胴割検査部１６及び水分測定部１７を駆動させるとともに、前記胴割検査部１６（前記光学部２４）や水分測定部１７から光学検出データや電気的抵抗値を取得して胴割判定及び水分値演算を行うようにしてある。
【００３８】
次に、前記循環式穀粒乾燥機１の制御部３４を説明する（図１０）。該制御部３４は、中央演算装置（以下「ＣＰＵ」という）３５を中心とし、該ＣＰＵ３５に接続した、入出力回路（以下「Ｉ／Ｏ」という）３６、読み込み専用記憶部（以下「ＲＯＭ」という）３７及び読み込み・書き込み用記憶部（以下「ＲAＭ」という）３８を有し、そしてさらに、前記Ｉ／Ｏ３６に接続した、張込ボタン、乾燥ボタン及び停止ボタン等の各種運転の操作ボタン群３９を有する。制御部３４（前記Ｉ／Ｏ３６）には、前記循環式穀粒乾燥機１の本機モータ等用の循環系等駆動回路４０、前記熱風発生装置９及び前記胴割検査機能付水分計１５がそれぞれ接続する。前記ＲＯＭ３７には、張込運転プログラムや乾燥運転プログラムなどが記憶してある。なお、穀粒の胴割判定用のしきい値は、前記判定部１５ｆに設けた記憶部に記憶してある。
【００３９】
次に、上記循環式穀粒乾燥機１及び胴割検査機能付水分計１５の作用を説明する。上記循環式穀粒乾燥機１において前記張込ボタンを押すと、前記ＣＰＵ３５による前記張込運転プログラム（張込運転）が実行され、前記循環系等駆動回路４０からの信号を受けて、前記還流部５、下部搬送部１３及び排風機１０のそれぞれは駆動を開始するとともに、前記胴割検査機能付水分計１５も駆動を開始する。穀粒の張り込み作業は、前記開閉蓋３ａを開けて、前記ダッシュボード１２上に穀粒を供給して行い、この供給された穀粒は、順次、前記下部搬送部１３から前記昇降機５ａ及び上部搬送部５ｂを介して前記タンク部２に張り込まれる。張込運転の際に胴割検査機能付水分計１５によって検出した穀粒水分値や胴割検査結果等は、乾燥運転における公知の乾燥運転（胴割防止乾燥運転を含む）を行う際に用いる。なお、本発明は、１台の装置によって安定的に穀粒の胴割検査及び水分値測定が行えるようにした胴割検査機能付水分計１５を主内容とするものなので、前記乾燥運転（胴割防止乾燥運転）の詳細説明は省略する。
【００４０】
次に、前記胴割検査機能付水分計１５の作用を説明する。前記胴割検査機能付水分計１５は、上記張込運転中のとき以外にも乾燥運転中や送風運転中にも作動し、供給されたサンプル穀粒（以下「サンプル籾」とする）について、１粒ごとの胴割検査と水分値測定とを行う。以下詳細に説明する。
【００４１】
まず、前記胴割検査部１６の作用を説明する（図４、図５、図６参照）。
前記昇降機５ａ内において、搬送中の上位バケットからこぼれ落ちた籾の一部は、前記排風機１０による吸引作用等により、前記籾供給口１５ｂから入り前記滞留部２２にサンプル籾として堆積する。前記こぼれ落ちる籾には枝梗粒や藁屑等の夾雑物が混入しているため、前記夾雑物除去部３０によって前記枝梗粒及び夾雑物を出来るだけ除去し、胴割検査及び水分値測定の精度の向上を図っている。
【００４２】
前記滞留部２２に供給・堆積（滞留）するサンプル籾の量は、前記滞留量規制板３２による前記回転円盤２０側へ流れ込みが堰止められるとともに、堆積超過分のサンプル籾は前記籾供給口１５ｂから昇降機５ａ内に溢れ出るようになっているため、常に、滞留部２２において適量に維持される。
【００４３】
前記滞留部２２の前記サンプル籾は、前記回転円盤２０の回転（図６矢印Ｙ方向、反時計回り方向）により、前記サンプル籾中を順次通過する前記各溝部２０ａに入り、前記光学部２４に向かって移送される。この前記光学部２４に移送される間において、前記当接部材２０ｂは、各溝部２０ａにおける籾に対し、２粒の籾が入りそうになっている際には当該溝部２０ａから突出した当該籾と当接して１粒或いは２粒とも除去したり、または、溝部２０ａに入りきってない際にはこの１粒籾と当接して溝部２０ａ内に籾を安定した姿勢で入れたりなどの規制を行う。また、前記夾雑物除去部３０で除去しきれなかった枝梗粒が溝部２０ａに入って移送された場合においても、これと当接して排除を行う。以上のようにして前記各サンプル籾は前記光学部２４に順次移送される。
【００４４】
以下、本発明の特徴事項である胴割判定フローについて説明する（図１１参照）。
【００４５】
ステップ１：
前記光学部２４は、前記溝部２０ａによって前記光学検出位置Ｋに移送されたサンプル籾（溝部２０ａ）に対して、その下方側から、スリット光を当該籾の移送方向と直交する向きで順次横断的に照射する。一方、前記溝部検知センサ２７が前記溝部２０ａを検知すると、前記光学検出位置Ｋに溝部２０ａが移送されたタイミングであると認識し、溝部検出信号Ｍを発する（図１２の（１）,（３）参照）。前記制御基盤１５ｆ（判定部）は、前記溝部検出信号Ｍに合わせて、該溝部検出信号Ｍが検出されている間における、前記第１受光センサ２６ａ及び第２受光センサ２６ｂが検出した籾からの透過光に基づく光学部受光信号（検出電圧値）Ｓ１，Ｓ２を取り込む（図１２の（２）参照）。
【００４６】
ステップ２：
前記判定部１５ｆは、取り込んだ前記光学部受光信号Ｓ１，Ｓ２に、くぼみ状の波形Ｑ１，Ｑ２があることを検出すると、前記溝部２０ａ内に籾が存在していることを認識する（図１２の（２）参照）。そして、前記判定部１５ｆは、前記くぼみ波形Ｑ１，Ｑ２に立ち上がり状の胴割れ波形Ｗ１，Ｗ２があることを検出すると、該胴割れ波形Ｗ１，Ｗ２における胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２を求め、当該１粒籾のデータとして、前記判定部１５ｆに内蔵した記憶部に一旦記憶する。なお、前記くぼみ波形Ｑ１，Ｑ２に前記胴割れ波形Ｗ１，Ｗ２が検出されなかった籾（胴割粒でない籾）の検出結果も同様に記憶部に一旦記憶する。
【００４７】
このように、前記胴割検出部１６は、前記回転円盤２０に設けた溝部２０ａに籾を１粒ずつ前記光学部２４に移送し、また、前記夾雑物除去部３０により、前記滞留部２２に供給される籾に混入する枝梗粒や夾雑物の量を低減しながら胴割検査することができる。さらに、仮に、枝梗粒又は夾雑物が溝部２０ａに入ったとしても、前記当接部材２０ｂにより、前記枝梗粒又は夾雑物は光学部２４に移送する前にはじかれて排除される。また、前記当接部材２０ｂは、前記溝部２０ａに入りきっていない籾を当該溝部２０ａに押し込めて光学測定に適した安定した姿勢にする作用も有する。よって、前記胴割検出部１６は、前記光学部２４に、籾を安定的に１粒ずつ移送することができるため、胴割検査を正確に行うことができる。
【００４８】
また、前記胴割検出部１６は、ＣＣＤセンサや画像処理回路を用いることなく、単素子の受光センサ２６ａ，２６ｂ及び溝部検知センサ２７（タイミング検出手段）によって胴割検出できるようにしてあるので、装置が簡略化し、製造コストも安価なものとなる。
【００４９】
ステップ３：
次に、前記排出部２８及び水分測定部１７の作用を説明する。
前記光学部２４での胴割検査を終え、前記排出部２８に移送された籾は、溝部２０ａの開放底部から当該排出部２８である前記空間部２９を介して前記シュート１８上に落下し、前記水分測定部１７に移送される（図５参照）。前記水分測定部１７は、前記駆動部１７ｄからの出力によって、前記一対の電極ロール１７ａ，１７ｂが互いに逆方向に回転している。前記シュート１８によって流下移送された籾は、当該シュート１８の下端部から放出された後、前記一対の電極ロール１７ａ，１７ｂ間の接点に供給されて、前記籾は当該電極ロール１７ａ，１７ｂ間に引き込まれて圧砕される。前記制御基盤（判定部）１５ｆは、前記圧砕時における電極ロール１７ａ，１７ｂからの電気的抵抗値を検出して測定水分値Ｔを演算し、該測定水分値Ｔを当該１粒籾のデータとして前記記憶部に一旦記憶する。なお、前記電極ロール１７ａ，１７ｂ間を通過した籾は、前記排出樋１７ｇ及び管路３０ａを介して昇降機５ａ内に排出される。
【００５０】
以上のように、前記排出部２８及びシュート１８により、胴割検査が終った籾を１粒ずつ順次、前記電極ロール１７ａ，１７ｂ間に確実に供給して水分値測定が行えるので、各籾における、測定水分値Ｔと、前記胴割検出部１６での光学検出値（胴割れ波形Ｗ１，Ｗ２の有無や胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２）とを確実に取得することができる。
【００５１】
ステップ４：
前記判定部１５ｆは、前記胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２が検出されたサンプル籾のデータを前記記憶部から読み出す。そして、胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２が検出されたサンプル籾について、当該サンプル籾の胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２と、予め記憶しておいた前記胴割判定用のしきい値（０．２ｖ）とを比較し、前記胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２のうち、いずれか一方の値が大きい方が０．２ｖ（ボルト）未満となる低電圧レベル値であれば、米粒亀裂から得られる値ではないと判断して当該サンプル籾は「胴割粒ではない」と判断し、一方、０．２ｖ以上であればステップ５の判断スッテップに進む。
【００５２】
ステップ５：
前記胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２が０．２ｖ以上である場合は、前記胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２が０．８ｖ（ボルト）以上か未満かを判定する。０．８ｖ以上（高電圧レベル値）であると米粒亀裂から得られる明確な値であると判断して当該サンプル籾は「胴割粒ではない」と判断する。一方、０．８ｖ未満である場合には、米粒亀裂から得られる明確な値ではないとして、更にステップ６の判断スッテップに進む。
【００５３】
ステップ６：
前記判定部１５ｆは、前記胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２が０．８ｖ未満であるサンプル籾の測定水分値Ｔを前記記憶部から読み出す。そして、測定水分値Ｔが２１％以下であれば、当該サンプル籾は「胴割粒」であると判断する一方、測定水分値Ｔが２１％よりも大きい２２％以上であれば、当該サンプル籾は「胴割粒ではない」と判断する。このような測定水分値に基づく胴割粒か否かの判断は、発明者が、原料籾や乾燥籾などの任意の籾において、胴割粒の測定水分値を調べた結果に基づき、水分値約２１％を境に、胴割粒と正常籾とが区別できるとする根拠に基づくものである。また、前記胴割れ判定の測定水分値Ｔは、張込運転、乾燥運転及び送風運転のいずれの運転においても同じ値（固定）でよい。
【００５４】
ステップ７：
以上のステップにおいて判定された各サンプル籾における胴割検査結果及び測定水分値に基づき、前記判定部１５ｆはこれを集計して平均水分値や胴割率を演算し、前記胴割防止乾燥運転等を行う基データとするため前記循環式穀粒乾燥機１の制御部３４に送る。これらの集計・演算は、一定時間間隔置きに、例えば100粒のサンプル籾から得られた胴割検査結果及び測定水分値を一単位として行う。
【００５５】
ステップ８：
上記循環式穀粒乾燥機１からの運転の停止信号が送信されてくると、胴割検査機能付水分計１５の駆動も停止する。一方、前記停止信号が送られてこない間は、前記ステップ４戻り、胴割れの判定等が繰り返される。
【００５６】
以上のように、本発明の胴割検査機能付水分計１５によると、各サンプル籾における光学検出値（胴割判定用電圧値Ｖ１，Ｖ２など）・測定水分値を検出・測定することができるので、検出した光学検出値では胴割判定が難しい場合には、当該籾の測定水分値に基づいて胴割れの判定が行える。よって、胴割れ判定の精度が向上するので、乾燥運転における胴割防止乾燥運転をより安全で的確なものにし、胴割粒の発生・増加を低減できる。
【００５７】
なお、本発明において、胴割判定の際に用いる低電圧レベル値と高電圧レベル値とによる前記所定範囲については、上記実施例においては０．２ｖ〜０．８ｖとしたが、これに限らず適宜設定すればよいものである。
また、上記実施例では、胴割判定や水分値演算を行う前記判定部１５ｆを胴割検査機能付水分計１５に設けたが、循環式穀物乾燥機１の制御部３４（ＣＰＵ３５）にその機能を備えるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明における循環式穀粒乾燥機の前方斜視図である。
【図２】同循環式穀粒乾燥機の後方斜視図である。
【図３】同循環式穀粒乾燥機の正面縦断面である。
【図４】本発明における胴割検査機能付水分計の単体斜視図である。
【図５】同胴割検査機能付水分計における内部の斜視図である。
【図６】同胴割検査機能付水分計における内部の側面図である。
【図７】図６におけるＡ−Ａの断面図である。
【図８】回転円盤における溝部とタイミング検出手段（溝部検知センサ）との位置関係を示した図である。
【図９】図８におけるＢ−Ｂの断面図である。
【図１０】前記循環式穀粒乾燥機及び胴割検査機能付水分計の制御ブロック図である。
【図１１】胴割検査機能付水分計における胴割判定のフローを示す。
【図１２】光学検出位置（籾）、光学部検出信号及び溝部検出信号の関係を示した一例の図である。
【符号の説明】
【００５９】
１  循環式穀粒乾燥機
２  タンク部
３  乾燥部
３ａ  開閉蓋
４  取出部
５  還流部
５ａ  昇降機
５ｂ  上部搬送部
５ｃ  穀粒分散装置
６  熱風胴
７  穀粒流下通路（乾燥室）
８  排風胴
９  熱風発生装置
１０  排風機
１１  ロータリーバルブ
１２  ダッシュボード
１３  下部搬送部
１４  透明板ガラス
１５  胴割検査機能付水分計
１５ａ  枠体
１５ｂ  籾供給口
１５ｃ  開口下端部
１５ｅ  スリット孔
１５ｆ  制御基盤（判定部）
１６  胴割検出部
１７  水分測定部
１７ａ  電極ロール
１７ｂ  電極ロール
１７ｃ  圧砕電極部
１７ｄ  駆動部
１７ｅ  モータ
１７ｆ  ギヤ部
１７ｇ  排出樋
１８  移送手段（シュート）
１９  ベース盤
１９ａ  照射開口部
１９ｂ  スリット板
２０  回転円盤
２０ａ  保持部（溝部）
２０ｂ  当接部材
２１  滞留用堰部
２１ａ  残留排出部
２２  滞留部
２３  移送用堰部
２４  光学部
２５  照射部
２６  受光部
２６ａ  第１受光センサ
２６ｂ  第２受光センサ
２７  溝部検知センサ（タイミング検出手段）
２７ａ  受光部
２７ｂ  照射部
２８  排出部
２９  空間部
３０  夾雑物除去部
３１  棒体
３２  滞留量規制板
３２ａ  下端部
３３  突起
３４  制御部
３５  中央演算装置（ＣＰＵ）
３６  入出力回路（Ｉ／Ｏ）
３７  読み込み専用記憶部（ＲＯＭ）
３８  読み込み・書き込み用記憶部（ＲAＭ）
３９  運転操作ボタン群
４０  循環系等駆動回路
Ｋ  光学検出位置
Ｓ  穀粒（サンプル穀粒）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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