(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
指定された波長範囲内で波長掃引されるローカル光を出射する波長可変光源（２１）と、
前記ローカル光と被測定光とを合波する合波部（２２）と、
前記合波部から出射される光を受ける光電変換部（２３）と、
前記光電変換部の出力信号から、前記ローカル光と被測定光の差周波成分を抽出する通過中心周波数可変のバンドパス型のフィルタ部（２４）と、
前記フィルタ部の出力信号を包絡線検波する検波部（２５）と、
前記検波部の出力信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしてデジタルのデータに変換するＡ／Ｄ変換部（２６）と、
測定波長範囲（λｃ、Ｗ）と測定波長分解能（Ｒ）とを含む測定条件を指定する測定条件指定手段（３１）と、
前記指定された測定波長範囲に応じて前記ローカル光の波長を掃引させ、前記測定波長範囲の幅（Ｗ）、前記ローカル光の１掃引に要する掃引時間（Ｔ）、前記測定波長分解能（Ｒ）および前記ローカル光のスペクトル線幅とに基づいて、前記フィルタ部の通過中心周波数と前記Ａ／Ｄ変換部のサンプリング周期とを設定し、該設定した測定条件で得られたデータから、前記被測定光のスペクトル波形を求める演算処理部（３０）とを備えた光スペクトルモニタ。
【請求項２】
前記合波部は、被測定光とローカル光との合波光を２分岐して出射するように構成され、
前記光電変換部は、前記合波部で２分岐された光を、第１光電変換器（２３ａ）と第２光電変換器（２３ｂ）とでそれぞれ受け、その出力信号同士を減算器（２３ｃ）により減算して、直流分が除去された信号を出力することを特徴とする請求項１記載の光スペクトルモニタ。
【請求項３】
前記ローカル光の偏波を前記Ａ／Ｄ変換部のサンプリング速度より高速に攪拌して、前記合波部へ与える偏波スクランブラ（４０）を有していることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光スペクトルモニタ。
【請求項４】
前記合波部は、ローカル光と被測定光とを、それぞれ直交する偏光成分に分け、ローカル光と被測定光の一方の偏光成分同士を合波し、他方の偏光成分同士を合波して出射するように構成されており、
前記光電変換部は、前記合波部から出射される一方の偏光成分の合波光を受ける第１光電変換器（２３ａ）と他方の偏光成分の合波光を受ける第２光電変換器（２３ｂ）とを有し、
前記フィルタ部は、前記第１光電変換器の出力信号を受ける第１バンドパスフィルタ（２４ａ）と、前記第２光電変換器の出力信号を受ける第２バンドパスフィルタ（２４ｂ）とを有し、
前記検波部は、前記第１バンドパスフィルタの出力信号を包絡線検波する第１検波器（２５ａ）と、前記第２ハンドパスフィルタの出力信号を包絡線検波する第２検波器（２５ｂ）とを有し、
前記Ａ／Ｄ変換部は、前記第１検波器の出力信号を前記所定のサンプリング周期でサンプリングする第１Ａ／Ｄ変換器（２６ａ）と、前記第２検波器の出力信号を前記第１Ａ／Ｄ変換器と同期したタイミングにサンプリングする第２Ａ／Ｄ変換器（２６ｂ）とを有し、
前記演算処理部は、前記第１Ａ／Ｄ変換器と第２Ａ／Ｄ変換器によって得られたデータにより前記被測定光のスペクトル波形を求めることを特徴とする請求項１記載の光スペクトルモニタ。
【請求項５】
前記演算処理部は、前記測定波長範囲の幅（Ｗ）、前記ローカル光の１掃引に要する掃引時間（Ｔ）、前記測定波長分解能（Ｒ）から得られるサンプリング周波数（１／（Ｔ・Ｒ／Ｗ））の１／２と、前記ローカル光のスペクトル線幅とのうちの大きい方にほぼ等しい周波数を、前記フィルタ部の通過中心周波数に設定することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の光スペクトルモニタ。
【請求項６】
前記検波部は、包絡線検波の時定数が可変できるように構成され、
前記演算処理部は、前記検波部の包絡線検波の時定数を、前記測定条件に応じた値に設定することを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の光スペクトルモニタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光信号のスペクトルの観測をするための光スペクトルモニタにおいて、高速掃引、広ダイナミックレンジ、高感度、高波長分解能を実現するための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光信号の品質評価のためにそのスペクトルを表示するヘテロダイン型の光スペクトルモニタが用いられている。
【０００３】
ヘテロダイン型の光スペクトルモニタは、波長掃引されるローカル光とモニタ対象の入力光とを合波して光電変換器に入射する。
【０００４】
光電変換器からは、ローカル光と入力光の振幅のみ依存した信号の他に、両光の差周波数成分に依存した信号が出力される。
【０００５】
そこで、光電変換器の出力信号を所定の通過中心周波数Ｆｉのバンドパスフィルタに入力し、被測定光のうち、波長掃引されるローカル光に対して周波数差Ｆｉをもつ成分を抽出し、その抽出信号を検波することで、ローカル光の波長に対して周波数差Ｆｉを有する波長成分のレベルを検出することができる。
【０００６】
ここで、ローカル光の周波数がＦ１〜Ｆ２の範囲で掃引された場合、入力光に含まれる波長成分のうち、
｜Ｆ１−Ｆｉ｜〜｜Ｆ２−Ｆｉ｜
の周波数成分のレベルがローカル光の掃引によって検出されることになる。
【０００７】
ところが実際には、バンドパスフィルタの通過中心周波数Ｆｉは、光の周波数Ｆ１、Ｆ２に比べて格段に小さいため、ローカル光の周波数は被測定光を跨ぐように掃引される。このため、１つの被測定光に対して、±Ｆｉの位置（２・Ｆｉだけ離れた位置）において、信号を検出してしまい、正確なスペクトル波形を得ることができない。
【０００８】
例えば、図８の（ａ）のように、被測定光Ｓに周波数Ｆｘのスペクトルが存在している状態で、ローカル光Ｌの周波数が例えば低い方（図では左方）から近づいて、周波数（Ｆｘ−Ｆｉ）に一致したとき、図８の（ｃ）のようにバンドパスフィルタの出力信号のレベルがピークとなり、さらにローカル光Ｌの周波数が高い方に掃引され、図８の（ｂ）のように、周波数（Ｆｘ＋Ｆｉ）に一致したとき、図８の（ｃ）のようにバンドパスフィルタの出力信号のレベルが再びピークとなる。
【０００９】
つまり、被測定光Ｓの一つのスペクトルに対して２つのスペクトルが存在しているように測定されてしまう。
【００１０】
この問題を解決する一つの方法として、特許文献１では、検出される２つのスペクトルの幅がローカル光のスペクトル線幅に依存しており、バンドパスフィルタの通過中心周波数を、ローカル光のスペクトル線幅にほぼ等しくすることで、正規のスペクトルとイメージのスペクトラムとが重なり、あたかも一つのスペクトルとして観測されるようにした技術が開示されている。
【００１１】
【特許文献１】特許第２６６４２５５号公報
【００１２】
上記特許文献１の技術によれば、ローカル光のスペクトル線幅で決まる波長分解能で被測定光の測定を行え、極めて高い波長分解能の測定が可能となる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、上記のように、ローカル光のスペクトル線幅相当の通過中心周波数を有する比較的狭い通過帯域のバンドパスフィルタを用いた従来装置で、ローカル光の掃引を高速にすると、ローカル光と被測定光が干渉した結果生じる干渉光の強度が変動する周波数は、ローカル光と被測定光の周波数差よりも高くなる。
【００１４】
このため、バンドパスフィルタの帯域から外れて、通過する信号量が低下し、感度低下を招き、スペクトルを見失う場合もある。
【００１５】
また、高波長分解能測定で高速掃引を行う場合には、ローカル光のスペクトラム線幅の波長幅より狭い間隔でサンプリングを行う必要があり、超高速なデータサンプリングが必要となる。
【００１６】
例えば、ローカル光のスペクトル線幅を１ＭＨｚ（波長幅で約１０ｆｍ：フェムトメータ）とすると、１０ｆｍ以下の波長間隔でデータサンプリングが必要となる。したがって、超高速なデータサンプリングを行うか、ローカル光の波長掃引速度を低速にせざるを得ない。
【００１７】
測定波長掃引範囲の幅を１００ｎｍ、掃引時間を２ｍｓ、ローカル光のスペクトル線幅（波長分解能に相当）を１ＭＨｚ（波長幅で約１０ｆｍ）として、その１／１０の１００ＫＨｚ（波長幅で約１ｆｍ）の波長間隔でデータをサンプリングすると、サンプリング時間間隔Ｔｓは、
Ｔｓ＝２（ｍｓ）×１（ｆｍ）／１００（ｎｍ）
＝２×１０−１１（ｓｅｃ）
となり、５０ＧＨｚのデータサンプリングが必要となってしまい、実現が困難である。
【００１８】
本発明は、この問題を解決し、実現容易なデータサンプリング速度で、広い波長範囲のスペクトルを高波長分解能で高速に測定できる光スペクトルモニタを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
前記目的を達成するために、本発明の請求項１の光スペクトルモニタは、
指定された波長範囲内で波長掃引されるローカル光を出射する波長可変光源（２１）と、
前記ローカル光と被測定光とを合波する合波部（２２）と、
前記合波部から出射される光を受ける光電変換部（２３）と、
前記光電変換部の出力信号から、前記ローカル光と被測定光の差周波成分を抽出する通過中心周波数可変のバンドパス型のフィルタ部（２４）と、
前記フィルタ部の出力信号を包絡線検波する検波部（２５）と、
前記検波部の出力信号を所定のサンプリング周期でサンプリングしてデジタルのデータに変換するＡ／Ｄ変換部（２６）と、
測定波長範囲（λｃ、Ｗ）と測定波長分解能（Ｒ）とを含む測定条件を指定する測定条件指定手段（３１）と、
前記指定された測定波長範囲に応じて前記ローカル光の波長を掃引させ、前記測定波長範囲の幅（Ｗ）、前記ローカル光の１掃引に要する掃引時間（Ｔ）、前記測定波長分解能（Ｒ）および前記ローカル光のスペクトル線幅とに基づいて、前記フィルタ部の通過中心周波数と前記Ａ／Ｄ変換部のサンプリング周期とを設定し、該設定した測定条件で得られたデータから、前記被測定光のスペクトル波形を求める演算処理部（３０）とを備えている。
【００２０】
また、本発明の請求項２の光スペクトルモニタは、請求項１記載の光スペクトルモニタにおいて、
前記合波部は、被測定光とローカル光との合波光を２分岐して出射するように構成され、
前記光電変換部は、前記合波部で２分岐された光を、第１光電変換器（２３ａ）と第２光電変換器（２３ｂ）とでそれぞれ受け、その出力信号同士を減算器（２３ｃ）により減算して、直流分が除去された信号を出力することを特徴としている。
【００２１】
また、本発明の請求項３の光スペクトルモニタは、請求項１または請求項２記載の光スペクトルモニタにおいて、
前記ローカル光の偏波を前記Ａ／Ｄ変換部のサンプリング速度より高速に攪拌して、前記合波部へ与える偏波スクランブラ（４０）を有している。
【００２２】
また、本発明の請求項４の光スペクトルモニタは、請求項１記載の光スペクトルモニタにおいて、
前記合波部は、ローカル光と被測定光とを、それぞれ直交する偏光成分に分け、ローカル光と被測定光の一方の偏光成分同士を合波し、他方の偏光成分同士を合波して出射するように構成されており、
前記光電変換部は、前記合波部から出射される一方の偏光成分の合波光を受ける第１光電変換器（２３ａ）と他方の偏光成分の合波光を受ける第２光電変換器（２３ｂ）とを有し、
前記フィルタ部は、前記第１光電変換器の出力信号を受ける第１バンドパスフィルタ（２４ａ）と、前記第２光電変換器の出力信号を受ける第２バンドパスフィルタ（２４ｂ）とを有し、
前記検波部は、前記第１バンドパスフィルタの出力信号を包絡線検波する第１検波器（２５ａ）と、前記第２ハンドパスフィルタの出力信号を包絡線検波する第２検波器（２５ｂ）とを有し、
前記Ａ／Ｄ変換部は、前記第１検波器の出力信号を前記所定のサンプリング周期でサンプリングする第１Ａ／Ｄ変換器（２６ａ）と、前記第２検波器の出力信号を前記第１Ａ／Ｄ変換器と同期したタイミングにサンプリングする第２Ａ／Ｄ変換器（２６ｂ）とを有し、
前記演算処理部は、前記第１Ａ／Ｄ変換器と第２Ａ／Ｄ変換器によって得られたデータにより前記被測定光のスペクトル波形を求めることを特徴としている。
【００２３】
また、本発明の請求項５の光スペクトルモニタは、請求項１〜４のいずれかに記載の光スペクトルモニタにおいて、
前記演算処理部は、前記測定波長範囲の幅（Ｗ）、前記ローカル光の１掃引に要する掃引時間（Ｔ）、前記測定波長分解能（Ｒ）から得られるサンプリング周波数（１／（Ｔ・Ｒ／Ｗ））の１／２と、前記ローカル光のスペクトル線幅とのうちの大きい方にほぼ等しい周波数を、前記フィルタ部の通過中心周波数に設定することを特徴としている。
【００２４】
また、本発明の請求項６の光スペクトルモニタは、請求項１〜５のいずれかに記載の光スペクトルモニタにおいて、
前記検波部は、包絡線検波の時定数が可変できるように構成され、
前記演算処理部は、前記検波部の包絡線検波の時定数を、前記測定条件に応じた値に設定することを特徴としている。
【発明の効果】
【００２５】
上記したように、本発明の光スペクトルモニタは、フィルタ部の通過中心周波数を可変できるように構成し、指定された測定波長範囲の幅（Ｗ）、ローカル光の１掃引に要する掃引時間（Ｔ）、測定波長分解能（Ｒ）およびローカル光のスペクトル線幅とに基づいて、フィルタ部の通過中心周波数と前記Ａ／Ｄ変換部のサンプリング周期とを設定しており、測定条件に応じてフィルタ部の通過中心周波数を設定することで、実現可能なサンプリング速度で種々の測定条件に対応できる。
【００２６】
また、検波部として比較的時定数を大きくとれる包絡線検波を採用しているので、高速掃引時や高分解能測定の際に正規スペクトルとイメージスペクトルとの隙間を埋める波形改善効果が期待できる。
【００２７】
また、請求項２の構成の光スペクトルモニタでは、光電変換部から直流分が除去された信号を出力することができ、光電変換器の直流ドリフトの影響を除くことができる。
【００２８】
また、請求項３、４の構成の光スペクトルモニタでは、被測定光とローカル光の偏波状態による測定への影響をなくすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した光スペクトルモニタ２０の構成を示している。
【００３０】
この光スペクトルモニタ２０の波長可変光源２１は、例えばＭＥＭＳ型の外部共振可変波長光源であり、所定の波長範囲で掃引されるローカル光Ｌを合波部２２に出射する。
【００３１】
合波部２２はローカル光Ｌと被測定光Ｓとを合波し、その合波光Ｓａを光電変換部２３に入射する。
【００３２】
光電変換部２３は合波光Ｓａを受け、その合波光Ｓａに含まれるローカル光Ｌ、被測定光Ｓおよびその差周波数成分に依存した電気信号Ｅを出力する。
【００３３】
フィルタ部２４は、その通過中心周波数Ｆｉが可変できるバンドパス型に構成され、光電変換部２３の出力信号Ｅから、周波数Ｆｉを中心する信号Ｅａを抽出して、包絡線検波器２５に出力する。
【００３４】
フィルタ部２４は、例えば通過中心周波数Ｆｉが異なる複数のバンドパスフィルタをスイッチにより選択する方式と、一つのバンドパスフィルタの通過中心周波数を決める回路定数を可変する方式のいずれでもよいが、イメージによるスペクトル波形の落ち込みを少なくするために、低域側の特性は周波数ゼロ（直流）の近くまで延びていることが望ましい。
【００３５】
検波部２５は、フィルタ部２４の出力信号Ｅａを所定時定数Ｃｔで包絡線検波し、その検波出力ＥｂをＡ／Ｄ変換部２６に出力する。なお、この検波部２５の包絡線検波の時定数Ｃｔは固定であってもよいが、可変できるように構成し、図１で点線で示しているように、演算処理部３０から可変設定できるようにすれば、より多種の測定条件に対応することができる。
【００３６】
Ａ／Ｄ変換部２６は、検波出力Ｅｂを所定のサンプリング周期ＴｓでサンプリングしてデジタルのデータＤに変換し、演算処理部３０に出力する。
【００３７】
演算処理部３０は、測定条件指定手段３１によって指定された波長掃引範囲（例えばセンタ波長λｃと掃引幅Ｗによる）と掃引時間Ｔ（この掃引時間Ｔは固定であってもよい）を波長可変光源２１に設定し、ローカル光Ｌを、指定された波長掃引範囲（λｃ−Ｗ／２〜λｃ＋Ｗ／２）を１掃引当たりＴ時間で掃引させる。
【００３８】
また、演算処理部３０は、掃引幅Ｗ、掃引時間Ｔおよび波長分解能Ｒに応じてフィルタ部２４の通過中心周波数Ｆｉと、Ａ／Ｄ変換部２６のサンプリング周期Ｔｓを設定し、その条件で得られたデータＤを記憶して、スペクトルの波形データを生成し、その波形を表示器３２に表示させる。
【００３９】
具体的に言えば、波長掃引幅Ｗ、掃引時間Ｔ、測定波長分解能Ｒに対して、計算上要求されるサンプリング周波数１／（Ｔ×Ｒ／Ｗ）の１／２の値Ｕ、即ち、Ｕ＝１／（２×Ｔ×Ｒ／Ｗ）と、ローカル光Ｌのスペクトル線幅とのうち、大きい方の周波数に等しい通過中心周波数Ｆｉを設定し、サンプリング周期Ｔｓは、例えばその通過中心周波数Ｆｉの２倍以上に設定する。なお、測定波長分解能Ｒの最高値はローカル光Ｌのスペクトル線幅（例えば１０ｆｍ）であるが、ここでは実際に欲しい値（１ｐｍ、１０ｐｍ）等を指す。
【００４０】
例えば、波長掃引幅Ｗを１００ｎｍ、掃引時間Ｔを１ｍｓ、ローカル光Ｌのスペクトル線幅が１ＭＨｚ（波長幅で約１０ｆｍ）で、波長分解能Ｒが０．１ｎｍと指定された場合、前記値Ｕ（Ｈｚ）は、
Ｕ＝１／（２×Ｔ×Ｒ／Ｗ）＝５００ＫＨｚ
で、ローカル光Ｌのスペクトル線幅より小さいので、図２の（ａ）のように、フィルタ部２４の通過中心周波数Ｆｉをローカル光Ｌのスペクトル線幅の１ＭＨｚに設定する。
【００４１】
また、波長掃引幅Ｗを１００ｎｍ、掃引時間Ｔを１ｍｓ、ローカル光Ｌのスペクトル線幅が１ＭＨｚ（波長幅で約１０ｆｍ）で、波長分解能Ｒが０．０１ｎｍと指定された場合、値Ｕ（Ｈｚ）は、
Ｕ＝１／（２×Ｔ×Ｒ／Ｗ）＝５ＭＨｚ
となり、ローカル光Ｌのスペクトル線幅の方が小さいので、図２の（ｂ）のように、フィルタ部２４の通過中心周波数Ｆｉを５ＭＨｚに設定する。
【００４２】
このように、測定条件としての波長掃引幅Ｗ、掃引時間Ｔ、測定波長分解能Ｒに応じてフィルタ部２４の通過中心周波数Ｆｉを可変制御することで、高感度で高波長分解能の高速測定が可能となる。
【００４３】
また、フィルタ部２４の通過帯域幅も通過中心周波数Ｆｉに応じて可変できるようにすれば、より多様な測定条件に対応できる。
【００４４】
低速波長掃引や低波長分解能での測定では、前記値Ｕは、ローカル光Ｌのスペクトル線幅と同等もしくは小さい周波数となるため、フィルタ部２４の通過中心周波数Ｆｉは、ローカル光Ｌのスペクトラム線幅の付近となり、被測定光Ｓの正規スペクトルとイメージスペクトルとが顕著に分離されて観測されることは無い。
【００４５】
ところが、高速波長掃引や高波長分解能での測定の場合、前記値Ｕが大きくなり、フィルタ部２４の通過中心周波数Ｆｉとローカル光Ｌのスペクトル線幅との周波数差が大きくなり、図３の（ａ）のように被測定光の正規スペクトルＳｒとイメージスペクトルＳｉとが分離されて観測されることが起こり得るが、このような場合であっても、実施形態の光スペクトルモニタ２０では、フィルタ部２４の出力Ｅａを検波部２５において包絡線検波しているので、図１で点線で示しているように、演算処理部３０によって、包絡線検波の時定数Ｃｔを、例えばサンプリング周期Ｔｓ（＝Ｔ×Ｒ／Ｗ）に近い値に設定することで、図３の（ｂ）のように、正規スペクトルＳｒとイメージスペクトルＳｉとの間の波形の落ち込みを防ぐことができ、イメージスペクトルＳｉが観測されるのを防ぐことができる。
【００４６】
前記した図１の構成は本発明の光スペクトルモニタの基本構成であるが、以下、その具体的な構成例について説明する。
【００４７】
図４は、合波部２２と光電変換部２３の構成例を示したものであり、合波部２２は、光カプラ型で被測定光Ｓとローカル光Ｌを合波し、その合波光を２つの光Ｓａ１、Ｓａ２に分波して、光電変換部２３に入射する。なお、光Ｓａ１、Ｓａ２の位相は互いに反転している。
【００４８】
光電変換部２３は、２つの光Ｓａ１、Ｓａ２を光電変換器２３ａ、２３ｂでそれぞれ受け、その出力信号を減算器２３ｃに与えることで、光電変換器２３ａ、２３ｂの出力に含まれる直流分を除去する。
【００４９】
即ち、光電変換器２３ａの出力Ｅ１は（直流分＋被測定光とローカル光の差周波数成分）となり、光電変換器２３ｂの出力Ｅ２は（直流分−被測定光とローカル光の差周波成分）となり、その差分をとることにより、信号Ｅには、（被測定光とローカル光の差周波成分）の２倍が現れる。なお、被測定光とローカル光の和周波数成分は高過ぎて光電変換器が応答できないので無視できる。
【００５０】
この構成では、合波部２２の一方の出力、例えば光Ｓａ１を１つの光電変換部２３ａで受けるだけの構成に比べ、該差周波成分を２倍の強度で検出でき、且つ直流ドリフトの影響を除去できるため、３ｄＢ以上のＳ／Ｎ改善が図れる。
【００５１】
図５は、波長可変光源２１から出射されるローカル光Ｌを偏波スクランブラ４０に入射し、偏波状態がランダム化されたローカル光Ｌ′を生成して合波部２２に入射する構成例を示している。この場合、偏波スクランブラ４０では、Ａ／Ｄ変換部２６のサンプリング周期Ｔｓより短い周期で偏波状態を攪拌（スクランブル）させる。このようにローカル光Ｌの偏波状態をスクランブルすることで、被測定光Ｓの偏波状態に依存しない測定結果を得ることができる。
【００５２】
また、図６は、合波部２２において、被測定光Ｓをその偏光方向が互いに直交するＰ偏光とＳ偏光に分け、ローカル光Ｌについても同様に２つの偏光成分に分け、一方の偏光成分同士の合波光Ｓａｐと、他方の偏光成分同士の合波光Ｓａｓを出射する。
【００５３】
そして、一方の合波光Ｓａｐを光電変換部２３の一方の光電変換器２３ａで受け、他方の合波光Ｓａｓを、光電変換部２３の他方の光電変換器２３ｂで受ける。
【００５４】
さらに、各光電変換器２３ａ、２３ｂの出力Ｅｐ、Ｅｓをフィルタ部２４に入力し、前記同様に通過中心周波数Ｆｉが設定されたバンドパスフィルタ２４ａ、２４ｂにそれぞれ与え、その出力信号Ｅａｐ、Ｅａｓを検波部２５の２つの検波器２５ａ、２５ｂにより包絡線検波し、その検波出力Ｅｂｐ、ＥｂｓをＡ／Ｄ変換部２６の２つのＡ／Ｄ変換器２６ａ、２６ｂによってデジタルのデータＤｐ、Ｄｓに変換し、演算処理部３０に入力する。
【００５５】
演算処理部３０は、直交する２つ偏光成分について得られたデータＤｐ、Ｄｓを合成することで被掃引光のスペクトルを求めて、波長対スペクトル波形データを生成し、表示器２３に表示する。
【００５６】
なお、上記した合波部２２は、例えば図７の（ａ）のように、ビームスプリッタ２２ａによりローカル光Ｌと被測定光ＳをそれぞれＰ偏光とＳ偏光の成分Ｌｐ、Ｌｓ、Ｓｐ、Ｓｓに分け、Ｐ偏光成分Ｌｐ、Ｓｐの合波光Ｓａｐを０゜偏光子２２ｂから出射させ、Ｓ偏光成分Ｌｓ、Ｓｓの合波光Ｓａｓを９０゜偏光子２２ｃが出射させる。
【００５７】
また、図７の（ｂ）のように、偏光ビームスプリッタ２２ａにより、ローカル光Ｌと被測定光ＳをそれぞれＰ偏光とＳ偏光の成分Ｌｐ、Ｌｓ、Ｓｐ、Ｓｓに分け、互いに直交する成分Ｌｓ、Ｓｐを４５゜偏光子２２ｄに入射して、偏光が４５゜傾く成分Ｌｓ′、Ｓｐ′の合波光Ｓａｐを出射させ、互いに直交する成分Ｌｐ、Ｓｓを４５゜偏光子２２ｅに入射して、偏光が４５゜傾く成分Ｌｐ′、Ｓｓ′の合波光Ｓａｓを出射させる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の実施形態の構成を示す図
【図２】実施形態の動作を説明するための図
【図３】実施形態の動作を説明するための図
【図４】本発明の実施形態の要部構成例を示す図
【図５】偏波スクランブラを用いた構成を示す図
【図６】本発明の別の実施形態を示す図
【図７】図６の要部の構成例を示す図
【図８】ヘテロダイン型の光スペクトルモニタの動作を説明するための図
【符号の説明】
【００５９】
２０……光スペクトルモニタ、２１……波長可変光源、２２……合波部、２３……光電変換部、２３ａ、２３ｂ……光電変換器、２３ｃ……減算器、２４……フィルタ部、２４ａ、２４ｂ……バンドパスフィルタ、２５……検波部、２５ａ、２５ｂ……検波器、２６……Ａ／Ｄ変換部、２６ａ、２６ｂ……Ａ／Ｄ変換器、３０……演算処理部、３１……測定条件指定手段、３２……表示器、４０……偏波スクランブラ
【図１】
0004608528.tif 000002
【図２】
0004608528.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0004608528.tif 000008
【図８】
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