(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネルに検出された不良ピクセルと、前記不良ピクセルに隣接して同一色を表示する正常ピクセルとを電気的に連結してリンクピクセルをつくる段階と、
前記表示パネルにおける正常な輝度に表示される正常領域に比べ輝度差を有する複数のピクセルを含むパネル欠陥領域を検出する段階と、
前記パネル欠陥領域の位置データ、前記パネル欠陥領域の輝度を補償するためのパネル欠陥補償データ、前記リンクピクセルの位置を指示するリンクピクセル位置データ及び前記リンクピクセルの充電特性を補償するための充電特性補償データを決定する段階と、
前記パネル欠陥領域の位置データ及び前記リンクピクセル位置データと前記補償データを前記平板表示装置のデータ変調用メモリに貯蔵する段階と、
前記表示パネルに表示されるビデオデータのうち、前記パネル欠陥領域の位置に表示されるビデオデータのｍ（ｍは０を除く自然数）ビットの赤色データ、ｍビットの緑色データ及びｍビットの青色データからｎ（ｎはｎ＞ｍの自然数）ビットの輝度情報及びｎビットの色差情報を算出する段階と、
前記ｎビットの輝度情報を前記パネル欠陥補償データに増減して変調されたｎビットの輝度信号を発生する段階と、
前記変調されたｎビットの輝度情報及び前記ｎビットの色差情報から変調されたｍビットの赤色データ、変調されたｍビットの緑色データ及び変調されたｍビットの青色データを算出して１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータを発生する段階と、
前記正常領域に表示される赤色、緑色、青色データを前記補償なしに出力する段階と、
前記１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータ及び前記補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータのうち、前記リンクピクセルに表示されるビデオデータを前記充電特性補償データに増減して２次補償されたビデオデータを発生する段階と、
前記リンクピクセルでない正常ピクセルのビデオデータを前記２次補償なしに出力する段階と、
前記１次及び２次補償中、少なくとも１つが補償された赤色、緑色、青色ビデオデータ及び前記補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータを用いて前記表示パネルを駆動する段階と
を含み、
前記パネル欠陥領域の輝度を補償する前記１次補償段階と、前記リンクピクセルの赤色、緑色、青色データを補償する前記２次補償段階が互いに分離され、
前記パネル欠陥補償データと前記充電特性データ、全体階調を複数の階調を含む複数の階調領域に区分し（ここで、複数の階調領域の数は全体階調数より小さい）、前記各階調領域別に異なるよう設定し、
前記パネル欠陥領域と前記リンクピクセルの位置が重畳されるとき、前記リンクピクセルを補償するための前記充電特性補償データが、前記１次補償で算定された前記パネル欠陥補償データを考慮して算定される
ことを特徴とする平板表示装置の画質制御方法。
【請求項２】
前記１次及び２次補償されたビデオデータを前記表示パネルに印加し、前記パネル欠陥、不良ピクセル及びその外の画質欠陥を検査する段階と、
前記検査の結果、前記パネル欠陥と前記不良ピクセルの最終位置データと最終補償データを決定する段階と、
前記最終位置データと前記最終補償データを前記データ変調用メモリに貯蔵する段階とを更に含むことを特徴とする請求項１に記載の平板表示装置の画質制御方法。
【請求項３】
前記最終位置データは、バックライトの輝度不均一により発生される輝線を含み、前記最終補償データは前記輝線に対する補償データを含むことを特徴とする請求項１に記載の平板表示装置の画質制御方法。
【請求項４】
前記変調されたｎビットの輝度情報を発生する段階は、
入力される第１赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を判断する段階と、
前記輝度情報に基づいて前記第１赤色、緑色、青色ビデオデータの階調を分析する段階と、
前記メモリに貯蔵された前記パネル欠陥領域の位置データと前記第１赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を比較して、前記第１赤色、緑色、青色ビデオデータが前記パネル欠陥位置に該当すれば、前記パネル欠陥領域の位置に対応する前記パネル欠陥補償データを前記メモリから判読するための第１リードアドレスを生成する段階と、
前記第１リードアドレスに従って前記メモリから出力された前記パネル欠陥補償データと、前記第１変換器からの輝度情報を加算または減算して出力する段階と
を含み、
前記２次補償されたビデオデータを発生する段階は、
前記１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータ及び補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータ中の一つである第２赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を判断する段階と、
前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータの階調を分析する段階と、
前記メモリに貯蔵された前記リンクピクセルの位置データと前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を比較して、前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータ中、少なくとも一つが前記リンクピクセルに該当すれば、前記リンクピクセルの位置に対応する前記充電特性補償データを前記メモリから判読するための第２リードアドレスを生成する段階と、
前記第２リードアドレスに従って前記メモリから出力された前記充電特性補償データと、前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータ中、該当ビデオデータを加算または減算して出力する段階と
を含む
ことを特徴とする請求項１に記載の平板表示装置の画質制御方法。
【請求項５】
前記パネル欠陥補償データは、前記パネル欠陥領域の位置により異なるよう設定されることを特徴とする請求項１に記載の平板表示装置の画質制御方法。
【請求項６】
前記充電特性補償データは、前記リンクピクセルの位置により異なるよう設定されることを特徴とする請求項１に記載の平板表示装置の画質制御方法。
【請求項７】
前記メモリは、データの更新のできる非揮発性メモリを含むことを特徴とする請求項１に記載の平板表示装置の画質制御方法。
【請求項８】
前記非揮発性メモリは、ＥＥＰＲＯＭまたはＥＤＩＤ ＲＯＭを含むことを特徴とする請求項７に記載の平板表示装置の画質制御方法。
【請求項９】
平板表示装置の画質制御装置において、
前記平板表示装置は、不良ピクセル及び前記不良ピクセルに隣接して同一色を表示する正常ピクセルが電気的に連結されるリンクピクセルと、正常な輝度で表示される正常領域に比較して輝度差を有する複数のピクセルを含むパネル欠陥領域中、少なくとも一つを含み、前記リンクピクセルに対する充電特性を補償するための充電特性補償データ、前記リンクピクセルの位置を指示するリンクピクセル位置データ、前記表示パネルにおける正常な輝度で表示される正常領域に比べ輝度差を有するパネル欠陥領域の輝度を補償するためのパネル欠陥補償データ、前記パネル欠陥領域の位置を指示するパネル欠陥領域の位置データが貯蔵されたメモリと、
前記表示パネルに表示されるビデオデータのうち、前記パネル欠陥位置に表示される赤色データ、緑色データ及び青色データから輝度情報と色差情報とを算出する第１の変換器と、
前記輝度情報を前記メモリに貯蔵された前記パネル欠陥補償データで増減して変調された輝度情報を発生する第１の補償部と、
前記変調された輝度情報と前記色差情報から変調された赤色データ、変調された緑色データ及び変調された青色データを算出して１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータを発生する第２の変換器と、
前記１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータと補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータのうち、前記リンクピクセルに表示されるビデオデータを前記メモリに貯蔵された前記充電特性補償データで増減して２次補償されたビデオデータを発生する第２の補償部と
を備え、
前記パネル欠陥領域の輝度を補償する前記１次補償部と、前記リンクピクセルの赤色、緑色、青色データを補償する前記２次補償部が互いに分離され、
前記パネル欠陥補償データと前記充電特性データ、全体階調を複数の階調を含む複数の階調領域に区分し（ここで、複数の階調領域の数は全体階調数より小さい）、前記各階調領域別に異なるよう設定し、
前記パネル欠陥領域と前記リンクピクセルの位置が重畳されるとき、前記リンクピクセルを補償するための前記充電特性補償データが、前記１次補償で算定された前記パネル欠陥補償データを考慮して算定される
ことを特徴とする平板表示装置の画質制御装置。
【請求項１０】
前記第１の変換器は、ｍ（ｍは０以外の自然数）ビットの前記赤色データ、ｍビットの前記緑色データ及びｍビットの前記青色データからｎ（ｎは、ｎ＞ｍの自然数）ビットの輝度情報とｎビットの色差情報とを算出し、前記第２の変換器は、前記変調されたｎビットの輝度情報と前記変調されたｎビットの色差情報から、ｍビットの前記変調された赤色データ、ｍビットの前記変調された緑色データ及びｍビットの前記変調された青色データを算出することを特徴とする請求項９に記載の平板表示装置の画質制御装置。
【請求項１１】
前記第１補償部は、
前記第１補償部から入力される第１赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を判断する第１位置判断部と、
前記第１変換器からの輝度情報に基づいて前記第１赤色、緑色、青色ビデオデータの階調を分析する第１階調判断部と、
前記メモリに貯蔵された前記パネル欠陥領域の位置データと前記第１位置判断部の出力を比較して、前記第１赤色、緑色、青色ビデオデータが前記パネル欠陥領域に該当すれば、前記パネル欠陥領域の位置に対応する前記パネル欠陥補償データを前記メモリから判読するための第１リードアドレスを生成する第１アドレス生成部と、
前記第１リードアドレスに従って前記メモリから出力された前記パネル欠陥補償データと、前記第１変換器からの輝度情報を輝度情報を加算または減算して出力する第１演算器と
を含み、
前記２次補償部は、
前記１次補償部から入力された第２赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を判断する第２位置判断部と、
前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータの階調を分析する第２階調判断部と、
前記メモリに貯蔵された前記リンクピクセルの位置データと前記第２位置判断部の出力を比較して、前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータ中、少なくとも一つが前記リンクピクセルに該当すれば、前記リンクピクセルの位置に対応する前記充電特性補償データを前記メモリから判読するための第２リードアドレスを生成する第２アドレス生成部と、
前記第２リードアドレスに従って前記メモリから出力された前記充電特性補償データと、前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータ中、該当ビデオ信号を加算または減算して出力する演算器と
を含む
ことを特徴とする請求項９に記載の平板表示装置。
【請求項１２】
前記パネル欠陥補償データは、前記パネル欠陥領域の位置により異なるよう設定されることを特徴とする請求項９に記載の平板表示装置の画質制御装置。
【請求項１３】
前記充電特性補償データは、前記リンクピクセルの位置により異なるよう設定されることを特徴とする請求項９に記載の平板表示装置の画質制御装置。
【請求項１４】
前記メモリは、データの更新のできる非揮発性メモリを含むことを特徴とする請求項９に記載の平板表示装置の画質制御装置。
【請求項１５】
前記非揮発性メモリは、ＥＥＰＲＯＭまたはＥＤＩＤ ＲＯＭを含むことを特徴とする請求項１４に記載の平板表示装置の画質制御装置。
【請求項１６】
不良ピクセルと、不良ピクセルに隣接して同一色を表示する正常ピクセルとが電気的に連結されたリンクピクセルと、正常な輝度で表示される正常領域に比較して輝度差を有する複数のピクセルを含むパネル欠陥領域中、少なくとも一つを有する表示パネルと、
前記リンクピクセルに対する充電特性を補償するための充電特性補償データ、前記リンクピクセルの位置を指示するリンクピクセル位置データ、前記表示パネルにおける正常な輝度に表示される正常領域に比べ輝度差を有するパネル欠陥領域の輝度を補償するためのパネル欠陥補償データ、前記パネル欠陥領域の位置を指示するパネル欠陥位置データが貯蔵されたメモリと、
前記表示パネルに表示されるビデオデータのうち、前記パネル欠陥位置に表示される赤色データ、緑色データ及び青色データから輝度情報と色差情報とを算出する第１の変換器と、
前記輝度情報を前記メモリに貯蔵された前記パネル欠陥補償データで増減して変調された輝度情報を発生する第１の補償部と、
前記変調された輝度情報と前記色差情報から変調された赤色データ、変調された緑色データ及び変調された青色データを算出して１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータを発生する第２の変換器と、
前記１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータと補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータのうち、前記リンクピクセルに表示されるビデオデータを前記メモリに貯蔵された前記充電特性補償データに増減して２次補償されたビデオデータを発生する第２の補償部と、
前記第２の補償部により補償されたデータと補償されてないデータとを用いて前記表示パネルを駆動する駆動部と
を備え、
前記パネル欠陥領域の輝度を補償する前記１次補償部と、前記リンクピクセルの赤色、緑色、青色データを補償する前記２次補償部が互いに分離され、
前記パネル欠陥補償データと前記充電特性データ、全体階調を複数の階調を含む複数の階調領域に区分し（ここで、複数の階調領域の数は全体階調数より小さい）、前記各階調領域別に異なるよう設定し、
前記パネル欠陥領域と前記リンクピクセルの位置が重畳されるとき、前記リンクピクセルを補償するための前記充電特性補償データが、前記１次補償で算定された前記パネル欠陥補償データを考慮して算定される
ることを特徴とする平板表示装置。
【請求項１７】
前記第１の変換器は、ｍ（ｍは０以外の自然数）ビットの前記赤色データ、ｍビットの前記緑色データ及びｍビットの前記青色データからｎ（ｎは、ｎ＞ｍの自然数）ビットの輝度情報とｎビットの色差情報とを算出し、前記第２の変換器は、前記変調されたｎビットの輝度情報と前記変調されたｎビットの色差情報から、ｍビットの前記変調された赤色データ、ｍビットの前記変調された緑色データ及びｍビットの前記変調された青色データを算出することを特徴とする請求項１６に記載の平板表示装置。
【請求項１８】
前記第１補償部は、
前記第１補償部から入力される第１赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を判断する第１位置判断部と、
前記第１変換器からの輝度情報に基づいて前記第１赤色、緑色、青色ビデオデータの階調を分析する第１階調判断部と、
前記メモリに貯蔵された前記パネル欠陥領域の位置データと前記第１位置判断部の出力を比較して、前記第１赤色、緑色、青色ビデオデータが前記パネル欠陥領域に該当すれば、前記パネル欠陥領域の位置に対応する前記パネル欠陥補償データを前記メモリから判読するための第１リードアドレスを生成する第１アドレス生成部と、
前記第１リードアドレスに従って前記メモリから出力された前記パネル欠陥補償データと、前記第１変換器からの輝度情報を輝度情報を加算または減算して出力する第１演算器と
を含み、
前記２次補償部は、
前記１次補償部から入力された第２赤色、緑色、青色ビデオデータの表示位置を判断する第２位置判断部と、
前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータの階調を分析する第２階調判断部と、
前記メモリに貯蔵された前記リンクピクセルの位置データと前記第２位置判断部の出力を比較して、前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータ中、少なくとも一つが前記リンクピクセルに該当すれば、前記リンクピクセルの位置に対応する前記充電特性補償データを前記メモリから判読するための第２リードアドレスを生成する第２アドレス生成部と、
前記第２リードアドレスに従って前記メモリから出力された前記充電特性補償データと、前記第２赤色、緑色、青色ビデオデータ中、該当ビデオデータを加算または減算して出力する演算器と
を含む
ことを特徴とする請求項１６に記載の平板表示装置。
【請求項１９】
前記パネル欠陥補償データは、前記パネル欠陥領域の位置により異なるよう設定されることを特徴とする請求項１６に記載の平板表示装置。
【請求項２０】
前記充電特性補償データは、前記リンクピクセルの位置により異なるよう設定されることを特徴とする請求項１６に記載の平板表示装置。
【請求項２１】
前記メモリは、データの更新のできる非揮発性メモリを含むことを特徴とする請求項１６に記載の平板表示装置。
【請求項２２】
前記非揮発性メモリは、ＥＥＰＲＯＭまたはＥＤＩＤ ＲＯＭを含むことを特徴とする請求項２１に記載の平板表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に関し、特にリペア工程及び補償回路を用いたデータ変調を通じて画質の向上を可能にした平板表示装置とその画質制御方法及び平板表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、陰極線管の短所である重量及び体積を減少させることのできる各種平板表示装置が開発されている。このような平板表示装置としては、液晶表示装置、電界放出表示装置、プラズマ表示パネル及び有機発光素子表示装置等がある。
【０００３】
このような平板表示装置は、画像を表示するための表示パネルを備えるが、表示パネルにはテスト過程で画質欠陥が発見されることが多々ある。このような画質欠陥には、パネル欠陥（またはむら）、不良ピクセルによる輝点、バックライトによる輝線等がある。
【０００４】
前記「パネル欠陥」とは、露光器のレンズ収差と工程不良に起因し、点、帯、ブロック等のような形態により周辺画面と異なる輝度差で示される表示むらを意味する。即ち、表示パネル上のパネル欠陥領域と非欠陥領域に同一信号を印加する場合、パネル欠陥領域に表示される画像は、非パネル欠陥領域に表示される画像に比べ暗く、または明るく表示されるか、色感が異なって示される。このようなパネル欠陥は、大部分が表示パネルの製造工程上で発生し、その発生原因により、点、線、帯、円、多角形等のような定型的な形状を有するか、または不定型的な形状を有する。
【０００５】
このように多様な形状を有するパネル欠陥の例を、図１Ａないし図１Ｅに示した。このうち、図１Ａないし図１Ｃに示すように、垂直の帯状のパネル欠陥は、主に重畳露光、レンズ収差等の原因により発生し、図１Ｄに示すように、点状のパネル欠陥は、主に異物質等により発生する。パネル欠陥は、その程度によって製品の不良につながることもあり、パネル欠陥による製品の不良は、歩留まりを低下させ、費用を上昇させる。また、このようなパネル欠陥が見つけられた製品が良品として出荷されるとしても、パネル欠陥により低下した画質は製品の信頼度を低下させる。従って、パネル欠陥による画質欠陥を改善するために、多様な方法が提案されてきた。しかし、従来の改善方法は、大部分が製造工程上の問題点を解決しようとするものであり、改善された工程上で発生するパネル欠陥に対しては適切な対処が困難であるという問題点がある。
【０００６】
表示パネル上の不良ピクセルは、信号配線のショート及び断線、薄膜トランジスタ（以下、「ＴＦＴ」という）の不良、電極パターンの不良等により発生される。このような不良ピクセルによる画質欠陥は表示画面で暗点または輝点に示されるが、輝点が暗点より肉眼で感じられる認知程度が相対的に大きいため、従来の一般的なリペア工程では輝点に示される不良ピクセルを暗点化させることにより画質欠陥を克服しようとしている。ところで、図２Ａに示すように、暗点化された不良ピクセルはブラック階調の表示画面では殆ど認知されないが、図２Ｂ及び図２Ｃに示すように、中間階調及びホワイト階調の表示画面では、暗点化された不良サブピクセル１０が輝点に比べ肉眼で感じられる認知程度は少ないとはいえども、依然として表示画像で暗点として認知される問題点がある。
【０００７】
バックライトによる輝線は、多様な平板表示装置のうち、特に液晶表示装置から表れ得る画質欠陥である。自発光素子を用いる表示装置ではない液晶表示装置は、表示パネルの背面からバックライトに光を照射し、表示パネルの背面から前面への光透過率を調節することにより画像を示す。このような液晶表示装置は、バックライトからの光が表示パネルの入射面全体に対して均等入射されないことにより、表示画面上に輝線が表れる問題点がある。図３は、直下型バックライトを用いる液晶表示装置に主に表れる輝線の例を示す図面である。
【０００８】
実際の表示パネル上には多様な種類の画質欠陥が一パネルから重なって発生されている実情である。
【０００９】
一方、本願出願人は重畳露光が実施される対面的液晶表示装置で露光が重畳されるブロックに表示されるデータを補償する方法を提案した（例えば、特許文献１参照）。しかし、前記方法は補償データの更新が容易ではないため、各モデルに適応的に対応し難く、多様な形態のパネル欠陥を正確に補償し難く、また、補償値を微細に調整し難いという問題点があった。
【００１０】
【特許文献１】韓国公開特許第１０−２００５−６１８８１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
従って、本発明の目的は、データ変調を通じて画質の向上を可能にした平板表示装置とその画質制御方法及び装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前記目的を達成するために、本発明に係る平板表示装置の画質制御方法は、表示パネルに検出された不良ピクセルと、前記不良ピクセルに隣接して同一色を表示する正常ピクセルとを電気的に連結してリンクピクセルをつくる段階と、前記表示パネルにおける正常な輝度に表示される正常領域に比べ輝度差を有する複数のピクセルを含むパネル欠陥領域を検出する段階と、前記パネル欠陥領域の位置データ、前記パネル欠陥領域の輝度を補償するためのパネル欠陥補償データ、前記リンクピクセルの位置を指示するリンクピクセル位置データ及び前記リンクピクセルの充電特性を補償するための充電特性補償データを決定する段階と、前記パネル欠陥領域の位置データ及び前記リンクピクセル位置データと前記補償データを前記平板表示装置のデータ変調用メモリに貯蔵する段階と、前記表示パネルに表示されるビデオデータのうち、前記パネル欠陥領域の位置に表示されるビデオデータのｍ（ｍは０を除く自然数）ビットの赤色データ、ｍビットの緑色データ及びｍビットの青色データからｎ（ｎはｎ＞ｍの自然数）ビットの輝度情報及びｎビットの色差情報を算出する段階と、前記ｎビットの輝度情報を前記パネル欠陥補償データに増減して変調されたｎビットの輝度信号を発生する段階と、前記変調されたｎビットの輝度情報及び前記ｎビットの色差情報から変調されたｍビットの赤色データ、変調されたｍビットの緑色データ及び変調されたｍビットの青色データを算出して１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータを発生する段階と、前記正常領域に表示される赤色、緑色、青色データを前記補償なしに出力する段階と、前記１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータ及び前記補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータのうち、前記リンクピクセルに表示されるビデオデータを前記充電特性補償データに増減して２次補償されたビデオデータを発生する段階と、前記リンクピクセルでない正常ピクセルのビデオデータを前記２次補償なしに出力する段階と、前記１次及び２次補償中、少なくとも１つが補償された赤色、緑色、青色ビデオデータ及び前記補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータを用いて前記表示パネルを駆動する段階とを含み、前記パネル欠陥領域の輝度を補償する前記１次補償段階と、前記リンクピクセルの赤色、緑色、青色データを補償する前記２次補償段階が互いに分離され、前記パネル欠陥補償データと前記充電特性データ、全体階調を複数の階調を含む複数の階調領域に区分し（ここで、複数の階調領域の数は全体階調数より小さい）、前記各階調領域別に異なるよう設定し、前記パネル欠陥領域と前記リンクピクセルの位置が重畳されるとき、前記リンクピクセルを補償するための前記充電特性補償データが、前記１次補償で算定された前記パネル欠陥補償データを考慮して算定されることを特徴とする。
また、本発明に係る平板表示装置の画質制御装置は、前記平板表示装置は、不良ピクセル及び前記不良ピクセルに隣接して同一色を表示する正常ピクセルが電気的に連結されるリンクピクセルと、正常な輝度で表示される正常領域に比較して輝度差を有する複数のピクセルを含むパネル欠陥領域中、少なくとも一つを含み、前記リンクピクセルに対する充電特性を補償するための充電特性補償データ、前記リンクピクセルの位置を指示するリンクピクセル位置データ、前記表示パネルにおける正常な輝度で表示される正常領域に比べ輝度差を有するパネル欠陥領域の輝度を補償するためのパネル欠陥補償データ、前記パネル欠陥領域の位置を指示するパネル欠陥領域の位置データが貯蔵されたメモリと、前記表示パネルに表示されるビデオデータのうち、前記パネル欠陥位置に表示される赤色データ、緑色データ及び青色データから輝度情報と色差情報とを算出する第１の変換器と、前記輝度情報を前記メモリに貯蔵された前記パネル欠陥補償データで増減して変調された輝度情報を発生する第１の補償部と、前記変調された輝度情報と前記色差情報から変調された赤色データ、変調された緑色データ及び変調された青色データを算出して１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータを発生する第２の変換器と、前記１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータと補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータうち、前記リンクピクセルに表示されるビデオデータを前記メモリに貯蔵された前記充電特性補償データで増減して２次補償されたビデオデータを発生する第２の補償部とを備え、前記パネル欠陥領域の輝度を補償する前記１次補償部と、前記リンクピクセルの赤色、緑色、青色データを補償する前記２次補償部が互いに分離され、前記パネル欠陥補償データと前記充電特性データ、全体階調を複数の階調を含む複数の階調領域に区分し（ここで、複数の階調領域の数は全体階調数より小さい）、前記各階調領域別に異なるよう設定し、前記パネル欠陥領域と前記リンクピクセルの位置が重畳されるとき、前記リンクピクセルを補償するための前記充電特性補償データが、前記１次補償で算定された前記パネル欠陥補償データを考慮して算定されることを特徴とする。
さらに本発明に係る平板表示装置は、不良ピクセルと、不良ピクセルに隣接して同一色を表示する正常ピクセルとが電気的に連結されたリンクピクセルと、正常な輝度で表示される正常領域に比較して輝度差を有する複数のピクセルを含むパネル欠陥領域中、少なくとも一つを有する表示パネルと、前記リンクピクセルに対する充電特性を補償するための充電特性補償データ、前記リンクピクセルの位置を指示するリンクピクセル位置データ、前記表示パネルにおける正常な輝度に表示される正常領域に比べ輝度差を有するパネル欠陥領域の輝度を補償するためのパネル欠陥補償データ、前記パネル欠陥領域の位置を指示するパネル欠陥位置データが貯蔵されたメモリと、前記表示パネルに表示されるビデオデータのうち、前記パネル欠陥位置に表示される赤色データ、緑色データ及び青色データから輝度情報と色差情報とを算出する第１の変換器と、前記輝度情報を前記メモリに貯蔵された前記パネル欠陥補償データで増減して変調された輝度情報を発生する第１の補償部と、前記変調された輝度情報と前記色差情報から変調された赤色データ、変調された緑色データ及び変調された青色データを算出して１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータを発生する第２の変換器と、前記１次補償された赤色、緑色、青色ビデオデータと補償されてない赤色、緑色、青色ビデオデータのうち、前記リンクピクセルに表示されるビデオデータを前記メモリに貯蔵された前記充電特性補償データに増減して２次補償されたビデオデータを発生する第２の補償部と、前記第２の補償部により補償されたデータと補償されてないデータとを用いて前記表示パネルを駆動する駆動部とを備え、前記パネル欠陥領域の輝度を補償する前記１次補償部と、前記リンクピクセルの赤色、緑色、青色データを補償する前記２次補償部が互いに分離され、前記パネル欠陥補償データと前記充電特性データ、全体階調を複数の階調を含む複数の階調領域に区分し（ここで、複数の階調領域の数は全体階調数より小さい）、前記各階調領域別に異なるよう設定し、前記パネル欠陥領域と前記リンクピクセルの位置が重畳されるとき、前記リンクピクセルを補償するための前記充電特性補償データが、前記１次補償で算定された前記パネル欠陥補償データを考慮して算定されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明は、不良ピクセルに対して認知程度を確実に低下させることができ、データ変調を形状に示すパネル欠陥を補償することができる。また、本発明は、平板表示装置のパネル欠陥位置において輝度を微細に調節することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、図４ないし図２２を参照し、本発明の好ましい実施の形態について説明する。
【００１７】
図４は、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法を示す図面である。
【００１８】
図４を参照すると、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、まず、表示パネルの上部基板（カラーフィルター基板）及び下部基板（ＴＦＴ−アレイ基板）をそれぞれ製作する（Ｓ１、Ｓ２）。Ｓ１及びＳ２の段階には、基板洗浄工程、基板パターニング工程、配向膜形成／ラビング工程等が含まれる。基板洗浄工程では、上部基板及び下部基板の表面上の異物質を洗浄液で除去する。基板パターニング工程では、上部基板のパターニングと下部基板のパターニング工程に分けられる。上部基板のパターニング工程では、カラーフィルター、共通電極、ブラックマトリクス等が形成される。下部基板のパターニング工程では、データラインとゲートライン等の信号配線が形成され、データラインとゲートラインとの交差部にＴＦＴが形成され、データラインとゲートラインとの交差に設けられるピクセル領域にピクセル電極が形成される。一方、下部基板の基板パターニング工程では、図６に示すように、正常サブピクセル１１と不良サブピクセル１０とをリンクするための電導性リンクパターン１２をパターニングする過程が含まれる。電導性リンクパターン１２についての詳細な説明は後述する。
【００１９】
続いて、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、表示パネルの下部基板に各階調のテストデータを印加してテスト画像を表示し、その画像に対して電気／磁気的な検査及び／または肉眼検査を通じてパネル欠陥の有無及び不良サブピクセルの有無を１次検査する（Ｓ３）。ここで、サブピクセルは、一つのピクセルを構成する赤Ｒ、緑Ｇ、青Ｂ色のサブピクセルの中の何れか一つを指し、一般的に、ピクセル不良は、サブピクセルを単位として表れるため、この１次検査工程（Ｓ３）を含み、後述される２次及び３次検査工程（Ｓ８、Ｓ１４）と、後述される１次及び２次リペア工程（Ｓ５、Ｓ１０）はサブピクセルを単位で成される。
【００２０】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、Ｓ３の段階の１次検査の結果、パネル欠陥が検出された場合（Ｓ４［ＹＥＳ］）、パネル欠陥の位置に対する情報と共にパネル欠陥の有無に対する情報が図示しない検査用コンピューターに貯蔵される。検査用コンピューターは、パネル欠陥の各位置に対して階調別パネル欠陥補償データを算定する（Ｓ６）。パネル欠陥補償データの算定についての詳細な説明は後述する。
【００２１】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、Ｓ３の段階の検査の結果、不良サブピクセルが検出された場合（Ｓ４［ＹＥＳ］）、検出された不良サブピクセルに対して１次リペア工程（Ｓ５）を行う。１次リペア工程（Ｓ５）は、図６に示すように、不良サブピクセル１０をこの不良サブピクセル１０と隣接しながら同一色を示す正常サブピクセル１１と電気的にショートまたはリンクさせる方法で成される。
【００２２】
この１次リペア工程（Ｓ５）は、不良サブピクセル１０のピクセル電極にデータ電圧が供給される経路を遮る過程及び正常サブピクセル１１と不良サブピクセル１０とを電導性リンクパターン１２を用いて電気的にショートまたはリンクさせる過程を含むが、前記過程は後述される電導性リンクパターン１２の形成に対する実施の形態によって、即ち、図７ないし図１７に示すように、Ｗ−ＣＶＤ（Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｖａｐｏｒ  Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）工程によるリンクパターン４４、１０４を用いる場合、下部基板の製作工程中、予め形成されたリンクパターン７４を用いる場合、またはゲートラインのヘッド部１３３を用いる場合によってその過程が異なる。従って、１次リペア工程（Ｓ５）についての説明は、以後の電導性リンクパターン１２の形成に対する実施の形態についての説明を通じて詳細にする。
【００２３】
一方、図６のように、１次リペア工程（Ｓ５）において、同一色の正常サブピクセル１１と不良サブピクセル１０が電気的に連結されたリンクサブピクセル１３にリンクされている正常サブピクセル１１のデータ電圧の充電時に、リンクされている不良サブピクセル１０は同一なデータ電圧を充電する。ところで、リンクサブピクセル１３は、一つのＴＦＴを通じて二つのサブピクセル１０、１１に含まれたピクセル電極に電荷が供給されるため、リンクされていない正常サブピクセル１４に比べ充電特性が異なる。
【００２４】
例えば、リンクサブピクセル１３とリンクされていない正常サブピクセル１４とに同一なデータ電圧が供給されるという場合、リンクサブピクセル１３は、二つのサブピクセル１０、１１に電荷が分散されるため、リンクされていない正常サブピクセル１４に比べ電荷充電量が少ない。その結果、リンクされていない正常サブピクセル１４とリンクサブピクセル１３に同一なデータ電圧が供給される場合、リンクサブピクセル１３は、データ電圧が小さい程、透過率または階調が高くなるノーマリホワイトモード（Ｎｏｒｍａｌｌｙ  Ｗｈｉｔｅ  Ｍｏｄｅ）で、リンクされていない正常サブピクセル１１に比べ更に明るく映される。反面、データ電圧が大きい程、透過率または階調が低くなるノーマリブラックモード（Ｎｏｒｍａｌｌｙ  Ｂｌａｃｋ  Ｍｏｄｅ）で、リンクされていない正常サブピクセル１４に比べ更に暗く映される。
【００２５】
一般的に、液晶セルのピクセル電極と共通電極が液晶を介して対向する二つの基板上に分離形成され、ピクセル電極と共通電極の間に縦電界が印加されるツイステッドネマチックモード（Ｔｗｉｓｔｅｄ  Ｎｅｍａｔｉｃ  Ｍｏｄｅ：以下、「ＴＮモード」という）は、ノーマリホワイトモードで駆動される反面、液晶セルのピクセル電極と共通電極が同一基板上に形成され、ピクセル電極と共通電極の間に横電界が印加されるインプレインスイッチングモード（Ｉｎ−ｐｌａｎｅ  Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ  Ｍｏｄｅ：以下、「ＩＰＳモード」という）はノーマリブラックモードで駆動される。
【００２６】
不良サブピクセル１０に対する１次リペア工程（Ｓ５）を経ると、リンクサブピクセル１３の位置に対する情報と共に、不良サブピクセル１０の有無に対する情報は検査用コンピューターに貯蔵され、検査用コンピューターは、リンクサブピクセル１３の各位置に対して階調別充電特性補償データを算定する（Ｓ６）。ここで、充電特性補償データは、リンクされていない正常ピクセル１４に対するリンクサブピクセル１３の充電特性を補償するためのデータを指し、この充電特性補償データの算定についての詳細な説明は、前記パネル欠陥補償データの算定についての詳細な説明と共に後述する。
【００２７】
続いて、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、上／下部基板をシーラント（Ｓｅａｌａｎｔ）やフリットガラス（Ｆｒｉｔ  ｇｌａｓｓ）で合着する（Ｓ７）。Ｓ７の段階は、配向膜形成／ラビング工程と基板合着／液晶注入工程を含む。配向膜形成／ラビング工程では、表示パネルの上部基板と下部基板とのそれぞれに配向膜を塗布し、その配向膜をラビング布等にラビングする。基板合着／液晶注入工程では、シーラントを用いて上部基板と下部基板とを合着し、液晶注入口を通じて液晶とスペーサを注入した後、その液晶注入口を封止する工程に進まれる。
【００２８】
続いて、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、上／下部基板が合着された表示パネルに各階調のテストデータを印加してテスト画像を表示し、その画像に対して電気／磁気的な検査及び／または肉眼検査を通じてパネル欠陥の有無及び不良サブピクセルの有無を２次検査する（Ｓ８）。
【００２９】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、Ｓ８の段階の２次検査の結果、パネル欠陥が検出された場合（Ｓ９［ＹＥＳ］）、パネル欠陥（またはパネル欠陥領域）の位置に対する情報と共に、パネル欠陥の有無に対する情報が検査用コンピューターに貯蔵される。検査用コンピューターは、パネル欠陥の各位置に対して階調別パネル欠陥補償データを算定する（Ｓ６）。
【００３０】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、Ｓ８の段階の検査の結果、不良サブピクセルが検出された場合（Ｓ９［ＹＥＳ］）、検出された不良サブピクセルに対して２次リペア工程（Ｓ１０）を行う。２次リペア工程（Ｓ１０）も１次リペア工程（Ｓ５）と同様に、不良サブピクセル１０をこの不良サブピクセル１０と隣接しながら同一色を示す正常サブピクセル１１と電気的にショートまたはリンクさせる過程に成されるが、後述される電導性リンクパターン１２の形成に対する実施の形態によって、１次リペア工程（Ｓ５）と２次リペア工程（Ｓ１０）は同一であるか、または異なる。従って、２次リペア工程（Ｓ１０）についての説明も、以後、電導性リンクパターン１２の形成に対する実施の形態についての説明を通じて詳細にする。
【００３１】
不良サブピクセル１０に対する２次リペア工程（Ｓ１０）を経ると、リンクサブピクセル１３の位置に対する情報と共に、不良サブピクセル１０の有無に対する情報は検査用コンピューターに貯蔵され、検査用コンピューターは、リンクサブピクセル１３の各位置に対して階調別充電特性補償データを算定する（Ｓ６）。
【００３２】
続いて、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、上／下部基板が合着された表示パネルに駆動回路を実装し、駆動回路が実装された表示パネル及びバックライト等をケースに搭載して表示パネルのモジュール組み立て工程を行う（Ｓ１１）。駆動回路の実装工程においては、ゲートドライブ集積回路及びデータドライブ集積回路等の集積回路が実装されたテープキャリアパッケージ（Ｔａｐｅ  Ｃａｒｒｉｅｒ  Ｐａｃｋａｇｅ：以下、「ＴＣＰ」という）の出力段を基板上のパッド部に接続させ、テープキャリアパッケージの入力段をタイミングコントローラが実装された印刷回路基板（ＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ：以下、「ＰＣＢ」という）と接続させる。
【００３３】
このＰＣＢ上には、パネル欠陥及び／またはリンクサブピクセルの位置データとパネル欠陥補償データ及び／または充電特性補償データが貯蔵される非揮発性メモリと、非揮発性メモリに貯蔵されたデータを用いてパネル欠陥及び／またはリンクサブピクセル１３に供給されるディジタルビデオデータを変調する補償回路が実装される。非揮発性メモリとしては、データの更新及び消去のできるＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）等が使用される。一方、補償回路はタイミングコントローラとワン・チップ（Ｏｎｅ−Ｃｈｉｐ）化してタイミングコントローラに内蔵することができ、ドライブ集積回路は、テープキャリアパッケージを用いたテープオートメーテッドボンディング（Ｔａｐｅ  Ａｕｔｏｍａｔｅｄ  Ｂｏｎｄｉｎｇ）方式の外に、チップオンガラス（Ｃｈｉｐ  Ｏｎ  Ｇｌａｓｓ：ＣＯＧ）方式等に基板上に直接実装することもできる。
【００３４】
続いて、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、検査用コンピューターに貯蔵されたパネル欠陥及び／または不良サブピクセルの有無に対する情報を参照して表示パネル上のパネル欠陥及び／または不良サブピクセルの存在の可否を判断し、表示パネルにパネル欠陥及び／または不良サブピクセルが存在する場合（Ｓ１２［ＹＥＳ］）、検査用コンピューターに貯蔵されたパネル欠陥及び／またはリンクサブピクセルの位置データと検査用コンピューターにより算定されたパネル欠陥補償データ及び／または充電特性補償データを前記ＥＥＰＲＯＭに貯蔵する（Ｓ１３）。一方、Ｓ１２［ＹＥＳ］及びＳ１３の段階と前記Ｓ１１の段階は、その実施の順序が変わっても拘わりない。
【００３５】
検査用コンピューターは、図示しないＲＯＭ記録器を用いて前記位置データ及び補償データをＥＥＰＲＯＭに供給する。ここで、ＲＯＭ記録器は、ユーザーコネクタ（ｕｓｅｒ  ｃｏｎｎｅｃｔｏｒ）を通じてＥＥＰＲＯＭに位置データ及び補償データを伝送することができる。ユーザーコネクタを通じて補償データが直列に伝送され、また、ユーザーコネクタを通じて直列クロック（Ｓｅｒｉａｌ  Ｃｌｏｃｋ）と電源、接地電源等がＥＥＰＲＯＭに伝送される。
【００３６】
この際、検査用コンピューターにより算定される補償データ、即ち、ＥＥＰＲＯＭに貯蔵される補償データが有する補償値は、パネル欠陥の位置によって非欠陥領域との輝度差または色差の程度が異なるため、位置別に最適化されるべきであり、また、図５のようなガンマ特性を考慮して、各階調別に最適化されるべきである。従って、補償値は、Ｒ、Ｇ、Ｂサブピクセルそれぞれで各階調別に設定するか、図５に示すように、複数の階調を含む階調区間（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）別に設定することができる。
【００３７】
例えば、補償値は、「パネル欠陥１」の位置で「＋１」、「パネル欠陥２」の位置で「−１」、「パネル欠陥３」の位置で「０」等により、位置別に最適化された値に設定され、また、「階調区間Ａ」で「０」、「階調区間Ｂ」で「０」、「階調区間Ｃ」で「１」、「階調区間Ｄ」で「１」等により、階調区間別に最適化された値に設定することができる。従って、補償値は同一なパネル欠陥位置で階調別に異なる可能性があり、また、同一な階調でパネル欠陥位置別に異なる可能性がある。このような補償値は、輝度補償の際、一つのピクセルのＲ、Ｇ、Ｂデータのそれぞれで同一値に設定され、Ｒ、Ｇ、Ｂサブピクセルを含む一つのピクセル単位に設定される。また、補償値は、色差補償の際、Ｒ、Ｇ、Ｂデータのそれぞれで異なるよう設定される。例えば、特定パネル欠陥位置で、赤色が非欠陥位置でより更に目立つと、Ｒ補償値は、Ｇ、Ｂ補償値より更に小さくなる。
【００３８】
そして、リンクサブピクセル１３の充電特性もリンクサブピクセル１３の位置によってリンクされていない正常サブピクセル１４との輝度差または色差の程度が異なるため、ＥＥＰＲＯＭに貯蔵される充電特性補償データが有する補償値はリンクサブピクセル１３の各位置別に最適化されるべきであり、また、ＥＥＰＲＯＭに貯蔵される充電特性補償データが有する補償値は、リンクサブピクセル１３がリンクされていない正常サブピクセル１４の階調表現能力と同一な階調表現能力を有するように階調別に異にするか、複数の階調を含む階調領域別に異にすることが好ましい。
【００３９】
一方、非揮発性メモリとしては、ＥＥＰＲＯＭの代わり、ＥＤＩＤ ＲＯＭ （Ｅｘｔｅｎｄｅｄ  Ｄｉｓｐｌａｙ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  Ｄａｔａ  ＲＯＭ）が使用されることができる。ＥＤＩＤ  ＲＯＭには販売者／生産者職別情報（ＩＤ）及び基本表示素子の変数及び特性等のようなモニター情報データが貯蔵され、前記モニター情報データが貯蔵される貯蔵空間とは別途の貯蔵空間に前記位置データ及び補償データが貯蔵される。ＥＥＰＲＯＭの代り、ＥＤＩＤ  ＲＯＭに補償データを貯蔵する場合、ＲＯＭ記録器はＤＤＣ（Ｄａｔａ  Ｄｉｓｐｌａｙ  Ｃｈａｎｎｅｌ）を通じて補償データを伝送する。
【００４０】
従って、ＥＤＩＤ  ＲＯＭを使用する場合にはＥＥＰＲＯＭとユーザーコネクタが除去される可能性があるため、それだけ追加開発費が低減される効果がある。以下、補償データが貯蔵されるメモリはＥＥＰＲＯＭに仮定して説明する。勿論、以下の実施の形態の説明において、ＥＥＰＲＯＭとユーザーコネクタはＥＤＩＤ  ＲＯＭとＤＤＣに代えられる。一方、前記位置データ及び補償データの貯蔵のための非揮発性メモリとしては、ＥＥＰＲＯＭとＥＤＩＤ ＲＯＭだけではなく、データの更新及び消去のできる他種の非揮発性メモリの使用もできる。
【００４１】
続いて、本発明に係る液晶表示装置の製造方法は、ＥＤＩＤ  ＲＯＭに貯蔵された前記位置データ及び前記補償データを用いてリンクサブピクセル１３及び／またはパネル欠陥位置に供給されるディジタルビデオデータを変調し、変調されたデータを液晶表示装置に供給してテスト画像を表示し、その画像に対して電気／磁気的な検査及び／または肉眼検査を通じて画質欠陥を３次検査する（Ｓ１４）。
【００４２】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、Ｓ１４の段階の３次検査の結果、画質欠陥が検出された場合（Ｓ１５［ＹＥＳ］）、この画質欠陥を示す位置に対する情報を検査用コンピューターに貯蔵し、検査用コンピューターは、この位置に対して階調別画質欠陥に対する補償データを算定する（Ｓ６）。画質欠陥に対する補償データの算定は、前述のパネル欠陥及び／またはリンクサブピクセルに対する補償データと共に成され、画質欠陥に対する位置データ及び算定された補償データはＥＥＰＲＯＭに貯蔵される（Ｓ１３）。一方、Ｓ１４の段階の３次検査において検出される画質欠陥は、パネル欠陥及び／またはリンクサブピクセルに対する補償値が最適化されない場合、バックライトによる輝線等を含む。
【００４３】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法は、Ｓ１４の段階の３次検査の結果、画質欠陥が発見されない場合（Ｓ１５［ＮＯ］）、即ち、画質欠陥の程度が良品許容基準値以下で発見されると、その液晶表示装置は良品として判定され出荷される（Ｓ１６）。
【００４４】
図７ないし図１７は、前記１次及び２次リペア工程（Ｓ５、Ｓ１０）において、電導性リンクパターン１３を形成する多様な実施の形態を示す図面である。
【００４５】
図７及び図８は、本発明の第１の実施の形態に係るＴＮモードの液晶表示装置のリペア工程を説明するための図面である。
【００４６】
図８及び図９を参照すると、本発明に係るリペア工程は、Ｗ−ＣＶＤ（Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｖａｐｏｒ  Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）工程を用いてリンクパターン４４を隣接する不良サブピクセル１０のピクセル電極４３Ａと正常サブピクセル１１のピクセル電極４３Ｂ上に直接形成する。
【００４７】
下部基板のガラス基板４５上にはゲートライン４１とデータライン４２が交差し、その交差部にＴＦＴが形成される。ＴＦＴのゲート電極はゲートライン４１に電気的に連結され、ソース電極はデータライン４２に電気的に連結される。そして、ＴＦＴのドレイン電極はコンタクトホールを通じてピクセル電極４３Ａ、４３Ｂに電気的に連結される。
【００４８】
ゲートライン４１、ＴＦＴのゲート電極等を含むゲート金属パターンは、アルミニウム（Ａｌ）、アルミニウムネオジウム（ＡｌＮｄ）等のゲート金属蒸着工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じてガラス基板４５上に形成される。
【００４９】
データライン４２、ＴＦＴのソース及びドレイン電極等を含むソース／ドレイン金属パターンは、クロム（Ｃｒ）、モリブデン（Ｍｏ）、チタニウム（Ｔｉ）等のソース／ドレイン金属蒸着工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じてゲート絶縁膜４６上に形成される。
【００５０】
ゲート金属パターンとソース／ドレイン金属パターンとを電気的に絶縁するためのゲート絶縁膜４６は、窒化シリコン（ＳｉＮｘ）または酸化シリコン（ＳｉＯｘ）等の無機絶縁膜に形成される。そして、ＴＦＴ、ゲートライン４１、データライン４２を覆う保護膜（Ｐａｓｓｉｖａｔｉｏｎ  Ｆｉｌｍ）は無機絶縁膜または有機絶縁膜に形成される。
【００５１】
ピクセル電極４３Ａ、４３Ｂは、インジウム・チン・オキサイド（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｔｉｎ  Ｏｘｉｄｅ：ＩＴＯ）、チン・オキサイド（Ｔｉｎ  Ｏｘｉｄｅ：ＴＯ）、インジウム・ジンク・オキサイド（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｚｉｎｃ  Ｏｘｉｄｅ：ＩＺＯ）またはインジウム・チン・ジンク・オキサイド（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｔｉｎ Ｚｉｎｃ  Ｏｘｉｄｅ：ＩＴＺＯ）等の透明導電性金属を蒸着する工程フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じて保護膜４７上に形成される。このピクセル電極４３Ａ、４３Ｂには、ＴＦＴのターンオンされるスキャニング期間の間、ＴＦＴを通じてデータライン４２からデータ電圧が供給される。
【００５２】
リペア工程は、基板合着／液晶注入工程の前の下部基板に対して行う。このリペア工程は、まず、不良サブピクセル１０のＴＦＴとピクセル電極４３Ａとの間の電流パスを遮るために、ＴＦＴのソース電極とデータライン４２の間、または、ＴＦＴのドレイン電極とピクセル電極４３Ａの間の電流パスをレーザーカッティング工程で断線（Ｏｐｅｎ）させる。続いて、リペア工程は、Ｗ−ＣＶＤ工程を用いて、リンクパターン４４を不良サブピクセル１０のピクセル電極４３Ａと、それと隣接する同一色の正常サブピクセル１１のピクセル電極４３Ｂ、そして、そのピクセル電極４３Ａ、４３Ｂの間の保護膜４７上にタングステン（Ｗ）を直接蒸着させる。一方、断線工程とＷ−ＣＶＤ工程の順序は変わっても拘わりない。
【００５３】
Ｗ−ＣＶＤ工程は、図９のように、Ｗ（ＣＯ）６の雰囲気の下で、ピクセル電極４３Ａ、４３Ｂの中の何れか一つのピクセル電極上にレーザー光を集光させ、その集光されたレーザー光を他のピクセル電極の方に移動またはスキャニングする。そうすると、レーザー光に反応してＷ（ＣＯ）６からタングステン（Ｗ）が分離され、そのタングステン（Ｗ）がレーザー光のスキャン方向に沿ってピクセル電極４３Ａ、保護膜４７、他側ピクセル電極４３Ｂに移動しながらピクセル電極４３Ａ、４３Ｂとその間の保護膜４７上に蒸着される。
【００５４】
図１０及び図１１は、本発明の第２の実施の形態に係るＴＮモードの液晶表示装置のリペア工程を説明するための図面である。
【００５５】
図１０及び図１１を参照すると、本発明に係るリペア工程は、保護膜７７を介して不良サブピクセル１０のピクセル電極７３Ａ及びそれと隣接する正常サブピクセル１１のピクセル電極７３Ｂと重畳されるリンクパターン７４を備える。
【００５６】
下部基板のガラス基板７５上にはゲートライン７１とデータライン７２が交差し、その交差部にＴＦＴが形成される。ＴＦＴのゲート電極はゲートライン７１に電気的に連結され、ソース電極はデータライン７２に電気的に連結される。そして、ＴＦＴのドレイン電極はコンタクトホールを通じてピクセル電極７３Ａ、７３Ｂに電気的に連結される。
【００５７】
ゲートライン７１、ＴＦＴのゲート電極等を含むゲート金属パターンは、ゲート金属蒸着工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じてガラス基板７５上に形成される。
【００５８】
ゲートライン７１はリンクパターン７４と重畳されないようにリンクパターン７４と所定の距離に離隔され、リンクパターン７４を囲む形態の凹パターン８０を含む。
【００５９】
データライン７２、ＴＦＴのソース及びドレイン電極、リンクパターン７４等を含むソース／ドレイン金属パターンは、ソース／ドレイン金属蒸着工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じてゲート絶縁膜７６上に形成される。
【００６０】
リンクパターン７４は、リペア工程の前に、ゲートライン７１、データライン７２及びピクセル電極７３Ａ、７３Ｂと接続されていない島パターン（Ｉｓｌａｎｄ  ｐａｔｔｅｒｎ）に形成される。このリンクパターン７４の両端は垂直に隣接するピクセル電極７３Ａ、７３Ｂと重畳され、レーザー溶接工程でピクセル電極７３Ａ、７３Ｂと接続される。
【００６１】
ゲート絶縁膜７６は、ゲート金属パターンとソース／ドレイン金属パターンとを電気的に絶縁し、保護膜７７は、ソース／ドレイン金属パターンとピクセル電極７３Ａ、７３Ｂとを電気的に絶縁する。
【００６２】
ピクセル電極７３Ａ、７３Ｂは、透明導電性金属を蒸着する工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じて保護膜７７上に形成される。ピクセル電極７３Ａ、７３Ｂは上端の一側から伸張された伸張部７６を含む。この伸張部７６によりピクセル電極７３Ａ、７３Ｂはリンクパターン７４の一端と十分に重畳される。このピクセル電極７３Ａ、７３Ｂには、ＴＦＴのターンオンされるスキャニング期間の間、ＴＦＴを通じてデータライン７２からデータ電圧が供給される。
【００６３】
リペア工程は、基板合着／液晶注入工程の前の下部基板または基板合着／液晶注入工程の後のパネルに対して行う。このリペア工程は、まず、不良ピクセルのＴＦＴとピクセル電極７３Ａとの間の電流パスを遮るために、ＴＦＴのソース電極とデータライン７２の間、またはＴＦＴのドレイン電極とピクセル電極７３Ａの間の電流パスをレーザーカッティング工程で断線させる。
【００６４】
続いて、リペア工程は、レーザー溶接工程を用いて、図８のように、リンクパターン７４の両端で隣接するピクセル電極７３Ａ、７３Ｂにレーザーを照射する。そうすると、レーザー光によりピクセル電極７３Ａ、７３Ｂ及び保護膜７７が溶けるようになり、その結果、ピクセル電極７３Ａ、７３Ｂがリンクパターン７４と接続される。一方、断線工程とレーザー溶接工程の順序は変わっても拘わりない。図１２は、レーザー溶接工程の前、保護膜７７により電気的に分離されたピクセル電極７３Ａ、７３Ｂとリンクパターン７４を示す図面である。
【００６５】
図１３及び図１４は、本発明の第３の実施の形態に係るＩＰＳモードの液晶表示装置のリペア工程を説明するための図面である。
【００６６】
図１３及び図１４を参照すると、本発明に係るリペア工程は、Ｗ−ＣＶＤ（Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｖａｐｏｒ  Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）工程を用いてリンクパターン１０４を隣接する不良サブピクセル１０のピクセル電極１０３Ａと正常サブピクセル１１のピクセル電極１０３Ｂ上に直接形成する。
【００６７】
下部基板のガラス基板１０５上にはゲートライン１０１とデータライン１０２が交差し、その交差部にＴＦＴが形成される。ＴＦＴのゲート電極はゲートライン１０１に電気的に連結され、ソース電極はデータライン１０２に電気的に連結される。そして、ＴＦＴのドレイン電極はコンタクトホールを通じてピクセル電極１０３Ａ、１０３Ｂに電気的に連結される。
【００６８】
ゲートライン１０１、ＴＦＴのゲート電極、共通電極１０８等を含むゲート金属パターンは、ゲート金属蒸着工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じてガラス基板１０５上に形成される。共通電極１０８は全液晶セルに連結され、液晶セルに共通電圧Ｖｃｏｍを印加する。この共通電極１０８に印加される共通電圧Ｖｃｏｍとピクセル電極１０３Ａ、１０３Ｂに印加されるデータ電圧とにより、液晶セルには横電界が印加される。
【００６９】
データライン１０２、ＴＦＴのソース及びドレイン電極等を含むソース／ドレイン金属パターンは、ソース／ドレイン金属蒸着工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じてゲート絶縁膜１０６上に形成される。
【００７０】
ピクセル電極１０３Ａ、１０３Ｂは、透明導電性金属を蒸着する工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じて保護膜１０７上に形成される。このピクセル電極１０３Ａ、１０３Ｂには、ＴＦＴのターンオンされるスキャニング期間の間、ＴＦＴを通じてデータライン１０２からデータ電圧が供給される。
【００７１】
リペア工程は基板合着／液晶注入工程の前の下部基板に対して行う。このリペア工程は、まず、不良サブピクセル１０のＴＦＴとピクセル電極１０３Ａとの間の電流パスを遮るために、ＴＦＴのソース電極とデータライン１０２の間、または、ＴＦＴのドレイン電極とピクセル電極１０３Ａの間の電流パスをレーザーカッティング工程で断線（Ｏｐｅｎ）させる。
【００７２】
続いて、リペア工程は、Ｗ−ＣＶＤ工程を用いてリンクパターン４４を不良サブピクセル１０のピクセル電極１０３Ａと、それと隣接する同一色の正常サブピクセル１１のピクセル電極１０３Ｂ、そして、そのピクセル電極１０３Ａ、１０３Ｂの間の保護膜１０７上にタングステン（Ｗ）を直接蒸着させる。一方、断線工程とＷ−ＣＶＤ工程の順序は変わっても拘わりない。
【００７３】
図１５及び図１６は、本発明の第４の実施の形態に係るＩＰＳモードの液晶表示装置のリペア工程を説明するための図面である。図１５及び図１６において、データライン等のデータ金属パターン、ＴＦＴ、ピクセル電極と共に液晶セルに横電界を印加するための共通電極等は省略される。
【００７４】
図１５及び図１６を参照すると、本発明に係る液晶表示装置のゲートライン１２１は、ネック部１３２、ネック部１３２に連結され、面積が拡大されたヘッド部１３３、ネック部１３２及びヘッド部１３３の周りから「Ｃ」字状で除去された開口パターン１３１を含む。
【００７５】
ゲートライン１２１、図示しないＴＦＴのゲート電極、共通電極等を含むゲート金属パターンは、ゲート金属蒸着工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じてガラス基板１２５に形成される。
【００７６】
ピクセル電極１２３Ａ、１２３Ｂは、透明導電性金属を蒸着する工程、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程を通じて保護膜１２７上に形成される。
【００７７】
ゲートライン１２１において、ネック部１３１はリペア工程においてレーザーカッティング工程により断線（Ｏｐｅｎ）される。ヘッド部１３３の一端はゲート絶縁膜１２６及び保護膜１２７を介して不良サブピクセル１０のピクセル電極１２３Ａと重畳され、ヘッド部１３３の他端はゲート絶縁膜１２６及び保護膜１２７を介して不良サブピクセル１０と隣接する正常サブピクセル１１のピクセル電極１２３Ｂと重畳される。
【００７８】
リペア工程は基板合着／液晶注入工程の前の下部基板、または基板合着／液晶注入工程の後のパネルに対して行う。このリペア工程は、まず、不良ピクセルのＴＦＴとピクセル電極１２３Ａとの間の電流パスを遮るために、ＴＦＴのソース電極とデータライン４２の間、または、ＴＦＴのドレイン電極とピクセル電極１２３Ａの間の電流パスをレーザーカッティング工程で断線させ、ゲートライン１２１のネック部１３２を断線させる。
【００７９】
続いて、リペア工程は、レーザー溶接工程を用いて、図１３のように、ヘッド部１３３の両端で隣接するピクセル電極１２３Ａ、１２３Ｂにレーザーを照射する。そうすると、レーザー光によりピクセル電極１２３Ａ、１２３Ｂ、保護膜１２７、ゲート絶縁膜１２６が溶けるようになり、その結果、ヘッド部１３３は独立パターンになってゲートライン１２１と分離され、ピクセル電極１２３Ａ、１２３Ｂがヘッド部１３３に接続される。一方、断線工程とレーザー溶接工程の順序は変わっても拘わりない。図１４は、レーザー溶接工程の前、保護膜１２７及びゲート絶縁膜１２６により電気的に分離されたピクセル電極１２３Ａ、１２３Ｂとヘッド部１３３とを示す図面である。
【００８０】
本発明の第４の実施の形態に係るリペア工程は、ゲートライン１２１のパターニング工程においてネック部１３３を予め除去して、図１０のリンクパターン７４のような独立パターンで形成し、リペア工程において、ネック部１３３のカッティング工程を省略することもできる。
【００８１】
一方、図１０のリンクパターン７４や図１５のヘッド部１３３、ネック部１３２及び開口パターン１３１は、前述した実施の形態のように、一ピクセル当り一つずつ形成することもできるが、リンクピクセルの電気的接触特性、即ち、接触抵抗を減らすために、一ピクセル当り複数個ずつ形成することもできる。
【００８２】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の画質制御方法は、表示画面中、画質欠陥が表れる位置に供給されるディジタルビデオデータを、前述のような液晶表示装置の製造方法を通じて算定された補償データに変調し、画質欠陥が表れる位置に供給することにより画質欠陥を補償する。この際、画質欠陥が表れる位置に供給されるディジタルビデオデータに対する変調方法は、画質欠陥の種類によって異にすることができる。例えば、一般的にある領域に表れるパネル欠陥に比べ発生範囲が狭いため、データ変化に対する認知度が低いリンクサブピクセルに対しては、画質欠陥が表れる位置に供給されるディジタルビデオデータを、このディジタルビデオデータが表現できる階調表現単位に増減するデータ変調方法を適用し、パネル欠陥領域に対してはリンクサブピクセルに対するデータ変調方法より細分化された階調表現ができるデータ変調方法を適用する。
【００８３】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の画質制御方法は、パネル欠陥に対する１次補償段階と、リンクサブピクセルに対する２次補償段階に分けられる。
【００８４】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の画質制御方法の１次補償段階においては、パネル欠陥位置に表示される赤色Ｒ、緑色Ｇ及び青色Ｂの情報を含むｍ／ｍ／ｍ（ｍは０を除いた自然数）ビットのＲ／Ｇ／Ｂデータを輝度Ｙ及び色差Ｕ／Ｖ情報を含むｎ／ｎ／ｎ（ｎはｍより大きな自然数）ビットのＹ／Ｕ／Ｖデータに変換し、変換されたｎ／ｎ／ｎビットのＹ／Ｕ／Ｖデータのうち、パネル欠陥位置に表示されるＹデータをパネル欠陥補償データで増減して変調し、これを再び赤色Ｒ、緑色Ｇ、青色Ｂの情報を含むｍ／ｍ／ｍビットのＲ／Ｇ／Ｂデータに変換する。例えば、８／８／８ビットのＲ／Ｇ／Ｂデータをビット数が拡張された１０／１０／１０ビットのＹ／Ｕ／Ｖデータに変換し、Ｙ／Ｕ／Ｖデータに変換する際、Ｙデータの拡張されたビットにパネル欠陥補償データを加算または減算した後、Ｙデータが増減された１０／１０／１０ビットのＹ／Ｕ／Ｖデータを８／８／８ビットのＲ／Ｇ／Ｂデータにまた変換する。
【００８５】
一方、パネル欠陥補償データは、パネル欠陥の位置と、パネル欠陥位置に示されるビデオデータの階調によって異なる。例えば、図１８Ａに示すように、表示パネル上に４つのパネル欠陥領域ＰＤ１ないしＰＤ４が存在する場合、パネル欠陥領域ＰＤ１ないしＰＤ４に表示されるディジタルビデオデータの輝度情報を補償するため、下記の表１に示すように、各パネル欠陥領域の位置（領域）別、階調（領域）別パネル欠陥補償データをＥＥＰＲＯＭに貯蔵することができる。
【００８６】
【表１】
0004641291.tif 000002
【００８７】
ＥＥＰＲＯＭに貯蔵されたパネル欠陥補償データが表１のようである場合、本発明の実施の形態に係る画質制御方法の１次補償段階は、「パネル欠陥領域ＰＤ１」の位置に供給される８／８／８ビットのＲ／Ｇ／Ｂデータを１０／１０／１０ビットのＹ／Ｕ／Ｖデータに変換し、変換されたＹデータの上位８ビットが「階調区間２」に当たる「０１００００００（６４）」であると、このＹデータの下位２ビットに「１０（２）」を加算してＹデータを変調し、この変調されたＹデータを含むＹ／Ｕ／Ｖデータをまた８／８／８ビットのＲ／Ｇ／Ｂデータに変換することによりデータを変調する。
【００８８】
また、ＥＥＰＲＯＭに貯蔵されたパネル欠陥補償データが前記表１のようである場合、本発明の実施の形態に係る画質制御方法の１次補償段階は、「パネル欠陥領域ＰＤ４」の位置に供給される８／８／８ビットのＲ／Ｇ／Ｂデータを１０／１０／１０ビットのＹ／Ｕ／Ｖデータに変換し、変換されたＹデータの上位８ビットが「階調区間３」に当たる「１０００００００（１２８）」であると、このＹデータの下位２ビットに「１１（３）」を加算してＹデータを変調し、この変調されたＹデータを含むＹ／Ｕ／Ｖデータをまた８／８／８ビットのＲ／Ｇ／Ｂデータに変換することによりデータを変調する。
【００８９】
このように、本発明の実施の形態に係る画質制御方法の中の１次補償段階は、人の目が色差よりは輝度差に敏感であるということに着眼し、パネル欠陥位置に表示されるＲＧＢビデオデータを輝度成分と色差成分に変換し、このうち、輝度情報を含むＹデータのビット数を拡張してパネル欠陥位置の輝度を調節することにより、平板表示装置のパネル欠陥位置での輝度の微細な調節を可能にする。
【００９０】
本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の画質制御方法の２次補償段階においては、２次補償段階を通じて変調または変調されないディジタルビデオデータのうち、リンクサブピクセルに供給されるディジタルビデオデータを予め設定された充電特性補償データに増減して変調する。
【００９１】
例えば、図１８Ｂに示すように、表示パネル上に２つのリンクサブピクセルＬＳＰ１、ＬＳＰ２が存在する場合、リンクサブピクセルＬＳＰ１、ＬＳＰ２の充電特性を補償するため、下記の表２に示すように、各リンクサブピクセルＬＳＰ１、ＬＳＰ２の位置別、階調（領域）別パネル欠陥補償データをＥＥＰＲＯＭに貯蔵することができる。
【００９２】
【表２】
0004641291.tif 000003
【００９３】
ＥＥＰＲＯＭに貯蔵されたパネル欠陥補償データが前記表２のようである場合、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の画質制御方法の中の２次補償段階は、例えば、リンクサブピクセルＬＳＰ１に供給されるディジタルビデオデータが「階調区間１」に当たる「０１０００００１（６４）」であると、「０１０００００１（６４）」に「０００００１００（４）」を加算してリンクサブピクセルＬＳＰ１に供給されるディジタルビデオデータを「０１０００１００（６８）」に変調し、リンクサブピクセルＬＳＰ２に供給されるディジタルビデオデータが「階調区間３」に当たる「１０００００００（１２８）」であると、「１０００００００（１２８）」に「０００００１１０（６）」を加算してリンクサブピクセル２に供給されるディジタルビデオデータを「１００００１１０（１３４）」に変調する。
【００９４】
前述のように、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置の画質制御方法の中の２次補償段階は、不良サブピクセル１１を、それと隣接する同一色の正常サブピクセル１０と電気的に連結してリンクサブピクセル１３を形成し、リンクサブピクセル１３に表示されるディジタルビデオデータをリンクピクセルの充電特性を補償するために予め設定された補償データに変調することにより、不良サブピクセルの認知程度を低下させ、不良サブピクセルを含むリンクサブピクセルの充電特性を補償することができる。
【００９５】
一方、図１８Ｃに示すように、表示パネル上でパネル欠陥領域ＰＤ３内にリンクサブピクセルＬＳＰ３が存在することができる。このような場合、パネル欠陥領域の位置とリンクサブピクセル位置が重畳される位置に対して、２次補償においては、１次補償で算定したパネル欠陥補償データ値を勘案して充電特性補償データを算定する。例えば、特徴階調（領域）においてのパネル欠陥補償データを「＋２」に、充電特性補償データを「＋６」に決定したとすると、前記のようにパネル欠陥領域とリンクピクセルとが重畳された場合、１次補償部でリンクサブピクセルに対する充電特性を「＋２」だけ補償するので、２次補償部ではリンクサブピクセルに対して「＋４」（＋６−２）だけの充電特性を補償する。
【００９６】
前述のような本発明の実施の形態に係る画質制御方法を実現するため、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置は、図１９に示すように、ビデオデータである画像データの入力を受け、これを変調して表示パネル２０３を駆動する駆動部２１０に供給する補償回路２０５を備える。
【００９７】
図２０は、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置を示す図面である。
【００９８】
図２０を参照すると、本発明の実施の形態に係る液晶表示装置は、データライン２０６とゲートライン２０８とが交差し、その交差部に、液晶セルＣｌｃを駆動するためのＴＦＴが形成された表示パネル２０３と、補償されたディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／Ｂｃを発生させる補償回路２０５と、補償されたディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／Ｂｃをアナログのデータ電圧に変換してデータライン２０６に供給するデータ駆動回路２０１と、ゲートライン２０８にスキャンパルスを供給するゲート駆動回路２０２と、データ駆動回路２０１及びゲート駆動回路２０２を制御するタイミングコントローラ２０４とを備える。
【００９９】
表示パネル２０３の基板（ＴＦＴ基板とカラーフィルター基板）の間には液晶分子が注入される。ＴＦＴ基板上に形成されたデータライン２０６とゲートライン２０８は直交する。データライン２０６とゲートライン２０８との交差部に形成されたＴＦＴは、ゲートライン２０８からのスキャン信号に応答して、データライン２０６からのデータ電圧を液晶セルＣｌｃのピクセル電極に供給する。カラーフィルター基板上には図示しないブラックマトリクス、カラーフィルター及び共通電極が形成される。一方、カラーフィルター基板上に形成される共通電極は、ＩＰＳ（Ｉｎ−ｐｌａｎｅ  ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ  ｍｏｄｅ）またはＦＦＳ（Ｆｒｉｎｇｅ  ｆｉｅｌｄ  ｓｗｉｔｃｈｉｎｇｍｏｄｅ）等のような水平電界印加方式で、ＴＦＴ基板上に形成される。ＴＦＴ基板とカラーフィルター基板には互いに垂直の偏光軸を有する偏光板がそれぞれ付着される。
【０１００】
補償回路２０５は、図示しないシステムインターフェース（Ｓｙｓｔｅｍ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）から入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの供給を受け、パネル欠陥領域内に供給される入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉを変調して補償されたディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／Ｂｃを発生する。
【０１０１】
図２１を参照すると、本発明に実施の形態に係る補償回路２０５は、表示パネル２０３上のパネル欠陥領域及びリンクサブピクセルの位置を指示する位置データＰＤ、パネル欠陥領域に表示される輝度を補償するためのパネル欠陥補償データＣＤ及びリンクサブピクセルの充電特性を補償するための充電特性補償データＣＤが貯蔵されるＥＥＰＲＯＭ２５３と、ＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵される位置データＰＤ及び補償データＣＤを用いて入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉを変調することにより補償されたディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／Ｂｃを発生する補償部２５１と、補償回路２０５と外部システムとの通信のためのインタフェース回路２５７と、インタフェース回路２５７を経由してＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵されるデータが一時貯蔵されるレジスタ２５５とを備える。
【０１０２】
ＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵された位置データＰＤと補償データＣＤは、入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの階調によって、そして、パネル欠陥領域の位置及びリンクピクセルの位置によって異って決定されることができる。ここで、階調による補償値とは、入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの各階調に対応して設定される補償値または二つ以上の階調を含む階調区間に対応して設定される補償値を意味する。階調区間に対応して補償値が設定される場合、ＥＥＰＲＯＭ２５３には階調区間に対する情報、即ち、階調区間が含む階調に対する情報も貯蔵される。このＥＥＰＲＯＭ２５３は、ＲＯＭ記録器を通じて入力されるデータによりパネル欠陥位置と補償値に対するデータの更新ができる。
【０１０３】
インタフェース回路２５７は、補償回路２０５と外部システム間の通信のための構成として、Ｉ２Ｃ等の通信標準プロトコル規格に合わせて設計される。外部システムにおいては、このインタフェース回路２５７を通じてＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵されたデータを読み取るか、修正することができる。即ち、ＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵された位置データＰＤと補償データＣＤは、工程上の変化、適用モデル間の差異等のような理由により更新が要求され、使用者は更新しようとする位置データＵＰＤと補償データＵＣＤを外部システムから供給してＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵されたデータを修正することができる。
【０１０４】
レジスタ２５５には、ＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵された位置データＰＤと補償データＣＤを更新するため、インタフェース回路２５７を通じて伝送される位置データＵＰＤと補償データＵＣＤが一時貯蔵される。
【０１０５】
図２２を参照すると、補償部２５１は、ＥＥＰＲＯＭ２５３に貯蔵された位置データＰＤと補償データＣＤを用いてパネル欠陥位置に供給される入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉをパネル欠陥補償データを用いて変調する第１の補償部２５１Ａと、第１の補償部２５１Ａにより１次変調されたディジタルビデオデータＲｍ／Ｇｍ／Ｂｍを、充電特性補償データを用いて変調する２次の第２の補償部２５１Ｂとを備える。
【０１０６】
第１の補償部２５１Ａは、第１の変換器２６０、位置判断部２６１Ａ、階調判断部２６２、アドレス生成部２６３、演算器２６４及び第２の変換器２６５を備える。
【０１０７】
第１の補償部２５１Ａが参照するＥＥＰＲＯＭ２５３Ｙは、パネル欠陥位置に表示される入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの輝度情報Ｙｉを微細に変調するための位置別、階調別パネル欠陥補償データが貯蔵される。
【０１０８】
第１の変換器２６０は、ｍ／ｍ／ｍビットのＲ／Ｇ／Ｂデータを有する入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉを変数とする下式（１）ないし（３）を用いてｎ／ｎ／ｎビットでビット拡張された輝度情報Ｙｉと色差情報Ｕｉ／Ｖｉとを算出する。
Ｙｉ＝０．２９９Ｒｉ＋０．５８７Ｇｉ＋０．１１４Ｂｉ    （１）
Ｕｉ＝−０．１４７Ｒｉ−０．２８９Ｇｉ＋０．４３６Ｂｉ
＝０．４９２（Ｂｉ−Ｙ）                            （２）
Ｖｉ＝０．６１５Ｒｉ−０．５１５Ｇｉ− ０．１００Ｂｉ
＝０．８７７（Ｒｉ−Ｙ）                            （３）
【０１０９】
位置判断部２６１Ａは、垂直／水平同期信号Ｖｓｙｎｃ、Ｈｓｙｎｃ、データイネーブル信号ＤＥ及びドットクロックＤＣＬＫを用いて入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの表示位置を判断する。
【０１１０】
階調判断部２６２は、第１の変換器２６０からの輝度情報Ｙｉに基づいて入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの階調を分析する。
【０１１１】
アドレス生成部２６３は、ＥＥＰＲＯＭ２５３Ｙのパネル欠陥位置データと位置判断部２６１Ａの出力信号を比較し、入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの表示位置がパネル欠陥領域内の位置に当たると判断されると、そのパネル欠陥領域内の位置に対応するパネル欠陥補償データを読み出すためのリードアドレスを生成してＥＥＰＲＯＭ２５３Ｙに供給する。
【０１１２】
アドレスによってＥＥＰＲＯＭ２５３Ｙから出力されるパネル欠陥補償データは演算器２６４に供給される。
【０１１３】
演算器２６４は、第１の変換器２６０からのｎビット輝度情報ＹｉにＥＥＰＲＯＭ２５３Ｙからのパネル欠陥補償データを加算または減算し、パネル欠陥位置に表示される入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの輝度を変調する。ここで、演算器２６４は、加算器、減算器の外にもｎビット輝度情報Ｙｉにパネル欠陥補償データを乗算または除算するための乗算器または除算器を含むこともできる。
【０１１４】
このように、演算器２６４により変調された輝度情報Ｙｃは、拡張されたｎビットの輝度情報Ｙｉを増減させるため、入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの輝度を微細に調整することができる。
【０１１５】
第２の変換器２６５は、輝度情報Ｙｃと色差情報ＵｉＶｉを変数とする下式（４）ないし（６）を用いて、ｍ／ｍ／ｍビットでビット数が還元された１次変調データＲｍ／Ｇｍ／Ｂｍを出力する。
Ｒ＝Ｙｃ＋１．１４０Ｖｉ                      （４）
Ｇ＝Ｙｃ−０．３９５Ｕｉ−０．５８１Ｖｉ      （５）
Ｂ＝Ｙｃ＋２．０３２Ｕｉ                      （６）
【０１１６】
一方、第１の補償部２５１Ａにより変調された１次変調ディジタルビデオデータＲｍ／Ｇｍ／Ｂｍの中、パネル欠陥領域ではない非欠陥領域に表示されるデータは変調されないまま第２の補償部２５１Ｂに入力される。
【０１１７】
第２の補償部２５１Ｂは、第１の補償部２５１Ａにより変調された１次変調ディジタルビデオデータＲｍ／Ｇｍ／Ｂｍの中、リンクサブピクセル１３に供給されるデータをＥＥＰＲＯＭ２５３Ｒ、２５３Ｇ、２５３Ｂに貯蔵された充電特性補償データに増減して２次変調ディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／Ｂｃを発生する。このような第２の補償部２５１Ｂは、位置判断部２６１Ｂ、階調判断部２６２、アドレス生成部２６３、演算器２６４を備える。
【０１１８】
赤色ＥＥＰＲＯＭ２５３Ｒは、赤色サブピクセルを含むリンクサブピクセル１３の位置データＰＤ及びパネル欠陥補償データＣＤが貯蔵され、緑色ＥＥＰＲＯＭ２５３Ｇは、緑色サブピクセルを含むリンクサブピクセル１３の位置データＰＤ及びパネル欠陥補償データＣＤが貯蔵される。そして、青色ＥＥＰＲＯＭ２５３Ｂは、青色サブピクセルを含むリンクサブピクセル１３の位置データＰＤ及びパネル欠陥補償データＣＤが貯蔵される。
【０１１９】
位置判断部２６１Ｂは、垂直／水平同期信号Ｖｓｙｎｃ、Ｈｓｙｎｃ、データイネーブル信号ＤＥ及びドットクロックＤＣＬＫを用いて入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの表示位置を判断する。
【０１２０】
階調判断部２６２は、赤Ｒ、緑Ｇ、青Ｂ別の階調判断部２６２Ｒ、２６２Ｇ、２６２Ｂを含む。この階調判断部２６２Ｒ、２６２Ｇ、２６２Ｂは入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの階調をＲ、Ｇ、Ｂ別に分析する。
【０１２１】
アドレス生成部２６３は、赤Ｒ、緑Ｇ、青Ｂ別のアドレス生成部２６３Ｒ、２６３Ｇ、２６３Ｂを含む。このアドレス生成部２６３Ｒ、２６３Ｇ、２６３Ｂは、ＥＥＰＲＯＭ２５３Ｒ、２５３Ｇ、２５３Ｂに貯蔵されたリンクサブピクセル１３の位置データを参照して、入力ディジタルビデオデータＲｉ／Ｇｉ／Ｂｉの表示位置がリンクサブピクセル１３に該当すると、そのリンクサブピクセル１３においての充電特性補償データを読み出すためのリードアドレスを生成してＥＥＰＲＯＭ２５３Ｒ、２５３Ｇ、２５３Ｂに供給する。リードアドレスによってＥＥＰＲＯＭ２５３Ｒ、２５３Ｇ、２５３Ｂから出力される充電特性補償データは演算器２６６Ｒ、２６６Ｇ、２６６Ｂに供給される。
【０１２２】
演算器２６４は、赤Ｒ、緑Ｇ、青Ｂ別の演算器２６４Ｒ、２６４Ｇ、２６４Ｂを含む。演算器２６４Ｒ、２６４Ｇ、２６４Ｂは第１の補償部２５１Ａの出力データにＥＥＰＲＯＭ２５３Ｒ、２５３Ｇ、２５３Ｂからの充電特性補償データを加算または減算する。ここで、演算器２６４Ｒ、２６４Ｇ、２６４Ｂは、加算器、減算器の外にも、充電特性補償データを乗算または除算するための乗算器または除算器を含むこともできる。
【０１２３】
一方、第２の補償部２５１Ｂの出力データＲｃ、Ｇｃ、Ｂｃにおいて、リンクピクセル１３と連結されない正常サブピクセルのデータは変調されない。また、パネル欠陥領域内に属しないと共に、リンクピクセルにも属しない正常サブピクセルのデータは、第１及び第２の補償部２５１Ａ、２５１Ｂにより変調されなく、元のデータを維持したまま第１及び第２の補償部２５１Ａ、２５１Ｂをバイパスしてタイミングコントローラ２０４に入力される。
【０１２４】
前述の第１及び第２の補償部２５１Ａ、２５１Ｂを通じて変調され、パネル欠陥及び／または充電特性が補償されたディジタルビデオデータＲｃ、Ｇｃ、Ｂｃ、即ち、補償されたディジタルビデオデータＲｃ、Ｇｃ、Ｂｃは、タイミングコントローラ２０４及びデータ駆動回路２０１を経由して表示パネル１０３に供給され、画質の補償された画像を表示するようになる。
【０１２５】
タイミングコントローラ２０４は、補償回路２０５を経由して供給される垂直／水平同期信号Ｖｓｙｎｃ、Ｈｓｙｎｃ、データイネーブル信号ＤＥ及びドットクロックＤＣＬＫを用いて、ゲート駆動回路２０２を制御するためのゲート制御信号ＧＤＣ、データ駆動回路２０１を制御するためのデータ制御信号ＤＤＣを発生すると共に、補償されたディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／ＢｃをドットクロックＤＣＬＫに合わせてデータ駆動回路２０１に供給する。
【０１２６】
データ駆動回路２０１は、補償されたディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／Ｂｃの入力を受け、このディジタルビデオデータＲｃ／Ｇｃ／Ｂｃをアナログガンマ補償電圧（データ電圧）に変換し、そのアナログガンマ補償電圧をデータ電圧としてタイミングコントローラ２０４の制御下に表示パネル２０３のデータライン２０６に供給する。
【０１２７】
ゲート駆動回路２０２は、スキャン信号をゲートライン２０８に順次供給することにより、ゲートライン２０８に接続されたＴＦＴをターンオン（
Ｔｕｒｎ−ｏｎ）させ、データ電圧が供給される１水平ラインの液晶セルＣｌｃを選択する。データ駆動回路２０１から発生されるアナログデータ電圧はスキャンパルスに同期されることによって選択された１水平ラインの液晶セルＣｌｃに供給される。
【０１２８】
一方、本発明は、実施の形態において液晶表示装置を中心として説明されたが、ディジタルデータを処理する他の平板表示装置、例えば、アクティブマトリクス有機発光ダイオードＯＬＥＤにも無理なく適用されるはずである。
【０１２９】
前述のように、本発明に係る平板表示装置、その画質制御方法及び装置は、リペア工程及び補償回路を用いたデータ変調を通じて平板表示装置の画質を向上させることにより、不良ピクセルに対して肉眼で感じられる認知程度を確実に減らすことができ、データ変調を形状に示すパネル欠陥を補償することができる。
【０１３０】
また、本発明に係る平板表示装置、その画質制御方法及び装置は、パネル欠陥を補償することにおいて、人の目が色差よりは輝度差に敏感であるということに着眼し、パネル欠陥位置に表示されるＲＧＢビデオデータを輝度成分と色差成分に変換し、このうち、輝度情報を含むＹデータのビット数を拡張してパネル欠陥位置の輝度を調節することにより、平板表示装置のパネル欠陥位置での輝度の微細な調節が可能になる。
【０１３１】
以上、説明した内容を通じて、当業者であれば本発明の技術思想を逸脱しない範囲内で種々なる変更および修正が可能であることが分かる。従って、本発明の技術的範囲は、明細書の詳細な説明に記載した内容に限定されるものではなく、特許請求の範囲により定めなければならない。
【図面の簡単な説明】
【０１３２】
【図１Ａ】パネル欠陥の多様な形状の例を示す図面である。
【図１Ｂ】パネル欠陥の多様な形状の例を示す図面である。
【図１Ｃ】パネル欠陥の多様な形状の例を示す図面である。
【図１Ｄ】パネル欠陥の多様な形状の例を示す図面である。
【図１Ｅ】パネル欠陥の多様な形状の例を示す図面である。
【図２Ａ】不良ピクセルが暗点化される場合、多様な階調での不良ピクセルの認知程度を示す図面である。
【図２Ｂ】不良ピクセルが暗点化される場合、多様な階調での不良ピクセルの認知程度を示す図面である。
【図２Ｃ】不良ピクセルが暗点化される場合、多様な階調での不良ピクセルの認知程度を示す図面である。
【図３】バックライトによる輝線による画質欠陥を示す図面である。
【図４】本発明の実施の形態に係る平板表示装置の製造方法を段階的に示す図面である。
【図５】本発明の実施の形態に係るリペア工程を概略的に説明するための図面である。
【図６】ガンマ特性を示す図面である。
【図７】本発明の第１の実施の形態に係るリペア工程を説明するため、不良ピクセルとそれと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す平面図である。
【図８】リペア工程の後、図７から線「Ｉ−Ｉ’」を切り取って、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す断面図である。
【図９】本発明の第１の実施の形態に係るリペア工程において、Ｗ−ＣＶＤ工程を段階的に示す断面図である。
【図１０】本発明の第２の実施の形態に係るリペア工程を説明するために、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す平面図である。
【図１１】リペア工程の後、図１０から線「ＩＩ−ＩＩ’」を切り取って、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す断面図である。
【図１２】リペア工程の前、図１０から線「ＩＩ−ＩＩ’」を切り取って、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す断面図である。
【図１３】本発明の第３の実施の形態に係るリペア工程を説明するために、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す平面図である。
【図１４】リペア工程の後、図１３から線「ＩＩＩ−ＩＩＩ’」を切り取って、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す断面図である。
【図１５】本発明の第４の実施の形態に係るリペア工程を説明するために、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す平面図である。
【図１６】リペア工程の後、図１５から線「ＩＶ−ＩＶ’」を切り取って、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す断面図である。
【図１７】リペア工程の前、図１２から線「ＩＶ−ＩＶ’」を切り取って、不良ピクセルと、それと隣接する同一色の正常ピクセルとを示す断面図である。
【図１８Ａ】パネル欠陥補償データを説明するためのパネル欠陥の例を示す図面である。
【図１８Ｂ】充電特性補償データを説明するためのリンクピクセルの例を示す図面である。
【図１８Ｃ】パネル欠陥の位置とリンクピクセルの位置とが重畳される例を示す図面である。
【図１９】本発明の実施の形態に係る平板表示装置を概略的に示す図面である。
【図２０】本発明の実施の形態に係る平板表示装置を示す図面である。
【図２１】図１９に示す補償回路を示す図面である。
【図２２】図２０に示す補償部の詳細な構成を示す図面である。
【符号の説明】
【０１３３】
２０１：データ駆動回路              ２０２：ゲート駆動回路
２０３：表示パネル                  ２０４：タイミングコントローラ
２０５：補償回路                    ２０６：データライン
２０８：ゲートライン                ２１０：駆動部
２５１：補償部                      ２５１Ａ：第１の補償部
２５１Ｂ：第２の補償部              ２５３：メモリ
２５５：レジスタ                    ２５７：インタフェース回路
２６０：第１の変換器                ２６１：位置判断部
２６２：階調判断部                  ２６３：アドレス生成部
２６４、２６６：演算器              ２６５：第２の変換器
【図１Ａ】
0004641291.tif 000004
【図１Ｂ】
0004641291.tif 000005
【図１Ｃ】
0004641291.tif 000006
【図１Ｄ】
0004641291.tif 000007
【図１Ｅ】
0004641291.tif 000008
【図２Ａ】
0004641291.tif 000009
【図２Ｂ】
0004641291.tif 000010
【図２Ｃ】
0004641291.tif 000011
【図３】
0004641291.tif 000012
【図４】
0004641291.tif 000013
【図５】
0004641291.tif 000014
【図６】
0004641291.tif 000015
【図７】
0004641291.tif 000016
【図８】
0004641291.tif 000017
【図９】
0004641291.tif 000018
【図１０】
0004641291.tif 000019
【図１１】
0004641291.tif 000020
【図１２】
0004641291.tif 000021
【図１３】
0004641291.tif 000022
【図１４】
0004641291.tif 000023
【図１５】
0004641291.tif 000024
【図１６】
0004641291.tif 000025
【図１７】
0004641291.tif 000026
【図１８Ａ】
0004641291.tif 000027
【図１８Ｂ】
0004641291.tif 000028
【図１８Ｃ】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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