(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーリ散乱光を除去するためのレーリ散乱光除去フィルタと、
前記レーリ散乱光除去フィルタの初期の中心波長を記憶している子機側メモリと、
前記レーリ散乱光除去フィルタの初期の中心波長と、前記レーリ散乱光除去フィルタの現在の中心波長とを比較し、中心波長の短波長側又は長波長側への移動に基づいて、前記レーリ散乱光除去フィルタの性能劣化を判断する比較手段と、を備えたことを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【請求項２】
請求項１のラマン散乱光測定装置において、
前記子機側メモリは、前記初期情報として、さらに該光学素子の識別情報、及び該光学素子の使用開始日時情報よりなる群より選択された一以上の情報を含むことを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のラマン散乱光測定装置において、
前記子機側メモリは、前記レーリ散乱光除去フィルタの性能に関する経過情報を書き込み読み出し可能としたことを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【請求項４】
請求項３記載のラマン散乱光測定装置において、
前記子機側メモリは、前記経過情報として、前記レーリ散乱光除去フィルタの最終使用日時情報、該レーリ散乱光除去フィルタの使用時間情報、該レーリ散乱光除去フィルタの半値幅情報、該レーリ散乱光除去フィルタの透過スペクトル情報、及び該レーリ散乱光除去フィルタのメンテナンス履歴情報よりなる群より選択された一以上の情報を含むことを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載のラマン散乱光測定装置において、
前記比較手段により得られた比較結果がしきい値を越えていると判断された場合は警告する警告手段を備えたことを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載のラマン散乱光測定装置において、
前記レーリ散乱光除去フィルタの子機側メモリに対して該レーリ散乱光除去フィルタの経過情報の書き込み読み出しを行う子機側アクセス手段を備えたことを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれかに記載のラマン散乱光測定装置において、
前記子機側メモリは、前記レーリ散乱光除去フィルタの識別情報を記憶しており、
前記レーリ散乱光除去フィルタの経過情報を前記レーリ散乱光除去フィルタの識別情報毎に記憶している親機側メモリと、
前記レーリ散乱光除去フィルタの識別情報に基づいて、前記親機側メモリに記憶されているレーリ散乱光除去フィルタの経過情報への書き込み読み出しを行う親機側アクセス手段と、を備えたことを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【請求項８】
請求項７記載のラマン散乱光測定装置において、
前記子機側メモリは、前記レーリ散乱光除去フィルタの識別情報のみを記憶しており、
前記親機側メモリは、前記情報のうちの前記識別情報以外の情報を記憶していることを特徴とするラマン散乱光測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光学素子及びそれを用いた光測定装置、特にその性能確認機構の改良に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、光測定装置では、光学素子が用いられている。例えばラマン分光測定装置では、レーリ散乱光を除去するためのノッチフィルタが用いられている（例えば、特許文献１）。
ところで、光学素子は、使用することによってその性能は劣化する。
光学素子の性能劣化による測定の不確さをできるだけ小さくするため、光学素子の性能を定期的に確認し、光学素子の性能を維持する必要がある。
しかしながら、従来は、特にラマン分光測定装置のノッチフィルタの性能を定期的に確認する方法は、未だ確立されていなかった。
このために従来は、以下のようにしてノッチフィルタの性能を定期的に確認していた。
すなわち、従来はユーザが実際に試料を測定して得られたスペクトル情報のレーリ散乱光の切れ具合やレーリ散乱光の裾引き具合等に基づいて、ノッチフィルタの性能劣化を判断していた。
【０００３】
【特許文献１】特開平９−１５１５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、前記従来方式にあっても、適切な性能確認が、容易に行えるものでなかった。また、従来は、その原因も未だ不明であった。
本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり、その目的は、適切な性能確認を容易に行うことのできる光学素子、及びそれを用いた光測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
光学素子
前記目的を達成するために本発明にかかる光学素子は、性能が経年変化するであろう光学素子を対象としており、子機側メモリを備えることを特徴とする。
ここで、前記子機側メモリは、少なくとも前記光学素子の性能に関する初期情報を記憶している。
そして、前記光学素子は、前記子機側メモリに記憶している初期情報に基づいて、測定装置により該光学素子の性能確認が行われる。
【０００６】
本発明の子機側メモリとしては、読み出し型、書き込み読み出し型を用いることができる。
本発明のメモリとしては、例えばＥＥＰ−ＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable ROM）、ＩＣメモリ等が一例として挙げられる。
【０００７】
＜レーリ散乱光除去フィルタ＞
なお、本発明においては、前記光学素子が、レーリ散乱光を除去するためのレーリ散乱光除去フィルタであり、
前記性能は、前記レーリ散乱光除去フィルタの少なくとも中心波長の経年変化による短波長側又は長波長側への移動を対象としており、
前記子機側メモリは、前記初期情報として、前記レーリ散乱光除去フィルタの中心波長情報を含むことが好適である。
なお、前記光学素子は、中心波長情報と同様に、中心波数情報を用いることも好適である。
【０００８】
＜初期情報＞
また、本発明においては、前記子機側メモリが、前記初期情報として、前記光学素子の初期中心波長情報、該光学素子の識別情報、及び該光学素子の使用開始日時情報よりなる群より選択された一以上の情報を含むことが好適である。
【０００９】
＜書き込み読み出しメモリ＞
本発明においては、前記子機側メモリが、さらに前記光学素子の性能に関する経過情報を書き込み読み出し可能とすることが好適である。
【００１０】
＜経過情報＞
本発明においては、前記子機側メモリが、前記経過情報として、前記光学素子の最終使用日時情報、該光学素子の使用時間情報、該光学素子の半値幅情報、該光学素子の透過スペクトル情報、及び該光学素子のメンテナンス履歴情報よりなる群より選択された一以上の情報を含むことが好適である。
【００１１】
測定装置
また、前記目的を達成するために、本発明にかかる測定装置は、本発明にかかる光学素子と、比較手段と、を備えることが好適である。
ここで、前記比較手段は、前記光学素子の性能に関する初期情報と、該光学素子の性能に関する現在情報ないし経過情報とを比較し、該比較結果に基づいて該光学素子の性能劣化を判断する。
また、光学素子がレーリ散乱光除去フィルタの場合は、前記比較手段は、前記レーリ散乱光除去フィルタの初期の中心波長と、前記レーリ散乱光除去フィルタの現在の中心波長とを比較し、中心波長の短波長側又は長波長側への移動に基づいて、前記レーリ散乱光除去フィルタの性能劣化を判断する。
【００１２】
＜警告手段＞
なお、本発明においては、警告手段を備えることが好適である。
ここで、前記警告手段は、前記比較手段により比較結果がしきい値を越えていると判断された場合は警告する。
【００１３】
＜経過情報＞
（子機側）
本発明においては、子機側アクセス手段を備えることが好適である。
ここで、前記子機側アクセス手段は、前記子機側メモリに対して前記光学素子の経過情報の書き込み読み出しを行う。
【００１４】
（親機側）
また、本発明においては、前記子機側メモリが、前記光学素子の識別情報を記憶しており、親機側メモリと、親機側アクセス手段と、を備えることが好適である。
ここで、前記親機側メモリは、前記光学素子の経過情報を前記光学素子の識別情報毎に記憶している。
また、前記親機側アクセス手段は、前記光学素子の識別情報に基づいて、前記親機側メモリに記憶されている光学素子の経過情報への書き込み読み出しを行う。
【００１５】
さらに、本発明においては、前記子機側メモリが、前記光学素子の識別情報のみを記憶しており、
前記親機側メモリが、前記情報のうちの前記識別情報以外の情報を記憶していることも好適である。
【発明の効果】
【００１６】
本発明にかかる光学素子によれば、その性能に関する初期情報を記憶している子機側メモリを備えることとしたので、その性能確認を適切に及び容易に行うことができる。
また、本発明においては、レーリ散乱光除去フィルタの少なくとも中心波長の経年変化による移動を対象とすることにより、レーリ散乱光除去フィルタの適切な性能確認を容易に行うことができる。
【００１７】
また、本発明においては、前記子機側メモリが、前記初期情報として、前記光学素子の初期中心波長情報、該光学素子の識別情報、及び該光学素子の使用開始日時情報よりなる群より選択された一以上の情報を含むことにより、前記光学素子の性能確認を、より確実に行うことができる。
本発明においては、前記子機側メモリが、さらに前記光学素子の性能に関する経過情報を書き込み読み出し可能とすることにより、前記光学素子の性能確認を、より確実に行うことができる。
本発明においては、前記子機側メモリが、前記経過情報として、前記光学素子の最終使用日時情報、該光学素子の使用時間情報、該光学素子の半値幅情報、該光学素子の透過スペクトル情報、及び該光学素子のメンテナンス履歴情報よりなる群より選択された一以上の情報を含むことにより、前記光学素子の性能確認を、より確実に行うことができる。
【００１８】
また、本発明にかかる光測定装置によれば、本発明にかかる光学素子と、前記光学素子の性能に関する初期情報と、該光学素子の性能に関する現在情報ないし経過情報とを比較し、該比較結果に基づいて該光学素子の性能劣化を判断する比較手段と、を備えることとしたので、光学素子の適切な性能確認を容易に行うことができる。
【００１９】
本発明においては、前記比較手段により比較結果がしきい値を越えていると判断された場合は警告する警告手段を備えることにより、前記光学素子の性能確認を、より確実に行うことができる。
【００２０】
また、本発明においては、前記子機側メモリが前記光学素子の経過情報を記憶し、又は前記親機側メモリが前記光学素子の経過情報を前記光学素子の識別情報毎に記憶することにより、前記光学素子の性能確認を、より確実に行うことができる。
本発明においては、前記子機側メモリが前記光学素子の識別情報のみを記憶し、前記識別情報以外の情報を前記親機側メモリが記憶していることによっても、前記光学素子の性能確認を、より確実に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、図面に基づき本発明の好適な一実施形態について説明する。
図１には本発明の一実施形態にかかる光学素子の概略構成が示されている。
同図に示すノッチフィルタ（光学素子，レーリ散乱光除去フィルタ）１０は、経年変化により中心波長が短波長側又は長波長側へ移動するものを対象としており、子機側メモリ１２を備える。
子機側メモリ１２は、例えばＩＣメモリ、ＥＥＰ−ＲＯＭ等よりなり、ノッチフィルタ１０の中心波長（性能）に関する初期情報を記憶している。
前記ノッチフィルタ１０の初期情報は、ノッチフィルタ１０の出荷時の中心波長情報（初期中心波長情報）を含む。
【００２２】
なお、本実施形態においては、ノッチフィルタ１０が、図２に示されるようなラマン分光測定装置（光測定装置）１４において用いられる。
同図に示すラマン分光測定装置（光測定装置）１４は、測定装置本体１６と、コンピュータ１８と、を備える。
測定装置本体１６は、例えばラマン分光測定のため、例えば測定用光源２０と、試料照射手段２２と、前記ノッチフィルタ１０と、ラマン光分光手段２４と、光検出手段２６と、を備える。そして、測定装置本体１６では、試料照射手段２２とノッチフィルタ１０との間の光路中に、試料２８をセットしている。
測定装置本体１６は、子機側アクセス手段３０を備える。子機側アクセス手段３０は、子機側メモリ１４に記憶されている情報を読み込む。
【００２３】
コンピュータ１８は、比較手段３２と、警告手段３４と、を備える。
ここで、比較手段３２は、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２に記憶している出荷時の中心波長（初期情報３５）と、現在の中心波長（現在情報３６）とを比較する。
そして、比較手段３２は、出荷時の中心波長と現在の中心波長との間の波長移動量がしきい値を超えている場合は、これをノッチフィルタ１０が完全に劣化しているとして判断する。また、比較手段３２は、出荷時の中心波長と現在の中心波長との間の波長移動量がしきい値以下の場合は、これをノッチフィルタ１０が完全には劣化していないとして判断する。
比較手段３２は、ノッチフィルタ１０が完全に劣化していると判断した場合は、警告手段３４に、外部への警告指示を出す。
【００２４】
＜初期情報、現在情報＞
本実施形態においては、初期情報３５、現在情報３６を、例えば以下のスペクトルの測定結果に基づいて得ている。
測定装置本体１６は、試料２８を観察するために、試料観察用光源３７を備えている。試料観察用光源３７は、例えばＬＥＤや白色光源等よりなる。
そして、本実施形態においては、試料観察用光源３７を用いて、ノッチフィルタ１０の透過スペクトルを測定する。得られた透過スペクトルの半値幅、中心波長等を求める。
本実施形態においては、前記スペクトル測定を出荷時に行うことで、初期情報３５を取得している。
そして、前記子機側アクセス手段３０は、初期情報３５を、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２に記憶している。
また、本実施形態においては、前記スペクトル測定を、現在において行うことで、現在情報３６を取得している。
【００２５】
本実施形態にかかるノッチフィルタ１０、及びそれを用いたラマン分光測定装置１４は概略以上のように構成され、以下にその作用について説明する。
本実施形態においては、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２に出荷時の中心波長情報を記憶しているので、出荷時の中心波長と現在の中心波長とを比較し、波長の移動量が、しきい値を超えたか超えないかに基づいて、ノッチフィルタ１０の劣化具合を判断することができる。波長移動量がしきい値に到達すると、ノッチフィルタの完全劣化を意味する。
このため、本実施形態においては、ノッチフィルタ１０の経年変化による中心波長のずれを適切に及び容易に確認することができる。これにより、本実施形態においては、光学素子の適切な性能確認を容易に行うことができる。
【００２６】
以下に、前記作用について、より具体的に説明する。
すなわち、ノッチフィルタ１０を測定装置本体１６の所定位置にセットすると、子機側メモリ１２に記憶されている出荷時の中心波長情報（初期情報３５）が、子機側アクセス手段３０を介して比較手段３２に自動に読み込まれる。
比較手段３２は、ノッチフィルタ１９の子機側メモリ１２に記憶している出荷時中心波長（初期情報３５）と、現在の中心波長（現在情報３６）とを比較し、出荷時中心波長と現在中心波長との間の移動量（ずれ量）を求める。
比較手段３２は、求められた移動量が規定値を超えている場合は、これをノッチフィルタ１０が劣化しているとして判断する。また、比較手段３２は、移動量が規定値以下の場合は、これをノッチフィルタ１０が劣化していないと判断する。
このようにして比較手段３２は、ノッチフィルタ１０の中心波長の移動量に基づいて、ノッチフィルタ１０の劣化具合を容易に確認することができる。
【００２７】
そして、比較手段３２は、ノッチフィルタ１０が劣化していると判断した場合は、警告手段３４に、外部への警告指示を出す。
このためユーザは、警告手段３４からの警告に基づいて、ノッチフィルタ１０の劣化具合を容易に及び確実に確認することができる。
【００２８】
これに対し、従来は、ノッチフィルタの劣化の判定方法としては、以下の方法が考えられる。すなわち、ノッチフィルタの劣化により、試料を測定して得られたスペクトルのベースが浮いてくる。このために従来は、試料を測定して得られたスペクトルのレーリー光の切れ具合情報、レーリー光の裾引き具合情報等に基づいて、ノッチフィルタの劣化を判断していた。そして、劣化具合に基づいてノッチフィルタの角度を調整し、ノッチフィルタの性能を確保していた。
しかしながら、従来方式では、本発明のような満足のゆく性能確認が行えるものでなかった。
本発明者によれば、ノッチフィルタは経年変化ないし使用環境により、ＯＤ値の劣化、中心波長の移動が起こることがわかった。本発明者によれば、ノッチフィルタは特に短波長側又は長波長側に中心波長が移動し、これがノッチフィルタの性能劣化に最も深刻な影響を及ぼしていることがわかった。このために本実施形態においては、ノッチフィルタ１０の主に中心波長を監視しているのである。
【００２９】
更なる容易化等
ところで、本実施形態においては、ノッチフィルタ１０の劣化具合を、より容易に及び確実に確認するため、下記の工夫も非常に重要である。
＜読み込み型＞
本実施形態において、前記子機側メモリ１２は、読み出し型を用いることも好ましいが、書き込み読み出し型を用いることも好ましい。
【００３０】
＜経過情報＞
（子機側）
すなわち、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２には、初期情報３５のほかに、経過情報３８をデータベースのように記憶することも好ましい。
本実施形態において、経年情報３８に関するデータベースは、検査項目として、使用時のノッチフィルタ１０の中心波長情報、使用開始日時情報、使用時間情報、使用日時情報等を含む。
本実施形態において、ノッチフィルタ１０を測定装置本体１６にセットして使用すると、コンピュータ１８の比較手段３２が、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２に記憶されている経過情報３８に関するデータベースを各項目毎に更新していく。
本実施形態においては、ノッチフィルタ１０の子機メモリ１２が経過情報３８も記憶しているので、コンピュータ１８とは異なるコンピュータ（ラマン分光測定装置１４とは異なるラマン分光測定装置）を使用しても、ユーザは、ノッチフィルタ１０の劣化具合に関し、初期情報３５と現在情報３６との比較に加えて、経過情報３８との比較や、経過情報３８の確認も、容易に及び適切に行うことができる。
【００３１】
＜親機側＞
前記構成では、ノッチフィルタ１０の経過情報３８を、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２に書き込みした例について説明したが、図３に示されるようにコンピュータ１８に書き込むことも好ましい。
同図においては、コンピュータ１８が、親機側メモリ４０と、親機側アクセス手段４２と、を備える。
また、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２には、ノッチフィルタ１０の識別情報４３が記憶されている。
親機側メモリ４０には、ノッチフィルタの識別情報毎に経過情報３８ａ〜３８ｎが記憶されている。
そして、ノッチフィルタ１０が測定装置本体１６にセットされると、子機側メモリ１２に記憶されているノッチフィルタ１０の識別情報４３がコンピュータ１８に読み込まれる。
コンピュータ１８は、読み込まれた識別情報４３に対応する経過情報３８が、親機側メモリ４０の経過情報３８ａ〜３８ｎの中に存在しない場合は、読み込まれた識別情報４３に関する経過情報３８を新規作成し、これを、親機側アクセス手段４２を介して親機側メモリ４０に記憶しておく。
そして、次回からは、ノッチフィルタ１０が測定装置本体１６にセットされると、親機側アクセス手段４２が識別情報４３毎に、親機側メモリ４０の経過情報に関するデータベースを更新していく。
この結果、本実施形態においては、コンピュータ１８の親機側メモリ４０が経過情報を記憶しているので、ノッチフィルタ１０には初期情報３５の他に識別情報４３を記憶しておくだけで、ノッチフィルタ１０とは異なるノッチフィルタを使用しても、ユーザは、各種ノッチフィルタの劣化具合に関し、初期情報３５と現在情報３６との比較に加えて、経過情報３８ａ〜３８ｎとの比較や、経過情報３８ａ〜３８ｎの確認も容易に及び適切に行うことができる。
【００３２】
＜測定パラメータ＞
（子機側）
ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２には、さらに、測定パラメータ等の設定情報４４を記憶しておくことも好ましい。
ノッチフィルタ１０が測定装置本体１６にセットされると、子機側メモリ１２に記憶されている測定パラメータ等の設定情報４４が、コンピュータ１８に自動に読み取られる。  コンピュータ１８は、特に測定パラメータ設定手段４６が、読み取られた測定パラメータに基づいて、測定装置本体１６の測定パラメータを、自動設定している。
この結果、本実施形態においては、さらに、ノッチフィルタ１０を備えたラマン分光測定装置１４の測定条件を容易に及び確実に設定することができるので、ノッチフィルタ１０を用いた光測定を、より容易に及び適切に行うことができる。
【００３３】
（親機側）
前記構成では、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２に測定パラメータ等の設定情報４４を記憶した例について説明したが、ノッチフィルタ１０毎に測定パラメータ等の設定情報４４ａ〜４４ｎを、コンピュータ１８の親機側メモリ４０に記憶しておくことも好ましい。
この場合は、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２には、識別情報４３のみを記憶しておき、それ以外の情報、例えば前記ノッチフィルタ１０の中心波長、そのバンド幅、その他の情報は総てコンピュータ１８の親機側メモリ４０に記憶しておくことも好ましい。
そして、ノッチフィルタ１０が測定装置本体１６にセットされると、子機側メモリ１２に記憶してある識別情報４３が、子機側アクセス手段３０を介して、コンピュータ１８に自動的に読み込まれる。
コンピュータ１８は、特に測定パラメータ設定手段４６が、読み込まれた識別情報４３に基づき、親機側メモリ４０の設定情報４４ａ〜４４ｎの中から、該ノッチフィルタ１０に関する測定パラメータ等の設定情報４４を検索し、これを測定装置本体１６に自動設定する。
この結果、本実施形態においては、さらに、ノッチフィルタ１０を備えたラマン分光測定装置１４の測定条件を容易に及び確実に設定することができるので、ノッチフィルタ１０を用いた光測定を、より容易に及び適切に行うことができる。
この場合は、ノッチフィルタ１０の子機側メモリ１２には、識別情報４３のみを記憶しておき、それ以外の情報、例えば前記ノッチフィルタ１０の中心波長、そのバンド幅、その他の情報は総て親ことも好ましい。
すなわち、前記図３において、前記子機側メモリは、ノッチフィルタ１０の識別情報のみを記憶しており、前記親機側メモリは、前記情報のうちの、前記光学素子の識別情報以外の情報を記憶しており、
前記親機側アクセス手段は、前記光学素子の識別情報に基づいて、前記親機側メモリに記憶されている前記情報へのアクセスを行うことも好適である。これによっても、前記各構成と同様の効果を得ることができる。
【００３４】
＜警告手段の動作例＞
前記構成では、ノッチフィルタ１０が測定装置本体１６にセットされると、測定装置本体１６の測定条件が自動にセットされた場合について説明したが、ノッチフィルタ１０が測定装置本体１６にセットされる前に、既にセットされている場合に用いることも好ましい。
すなわち、予め測定パラメータが測定装置本体１６に設定されている状態で、ノッチフィルタ１０が測定装置本体１６にセットされると、比較手段３２が、ノッチフィルタ１０の識別情報に基づいて、現在の設定に対して、正しいノッチフィルタ１０がセットされたか否かを確認することもできる。
比較手段３２が、もし間違ったノッチフィルタ１０がセットされたと判断したときは、警告手段３４が、警告を出したり、測定装置本体１６の動作を制限（一時停止）したりすることもできる。
この結果、本実施形態においては、さらに、ラマン分光測定装置１４の現在の設定に対して正しいノッチフィルタ１０がされたか否かも、容易に及び確実に確認することができるので、ノッチフィルタ１０を用いた光測定を、より容易に及び適切に行うことができる。
【００３５】
以下に、前記警告手段３４の動作例について、より具体的に説明する。
すなわち、本実施形態のバリデーション機能においては、警告手段３４が、以下のように動作する。
（１）上記判定手法を用い、工場出荷時の中心波数（波長）と測定結果とを比較し、劣化具合を警告する。
（２）また、バリデーション履歴を残す。
（３）数ヶ月（任意に指定可）使用していない（バリデートしていない）ノッチフィルタを使用する場合、警告を出す。
【００３６】
また、本実施形態の測定ソフトウェアにおいては、警告手段３４が、以下のように動作する。
（１）ノッチフィルタ１０の最終使用日時が一ヶ月（任意に指定可）前のものは、警告メッセージを出す。
（２）ノッチフィルタの性能確認試験を一定期間行っていないノッチフィルタを使用する場合に、警告メッセージを出す。
（３）ノッチフィルタ１０に、測定パラメータを記憶させ、測定装置本体１６に装填しただけで、測定パラメータを測定装置本体１６に自動設定することができる。
【００３７】
なお、前記図３においては、子機側メモリ１２にノッチフィルタ１０の識別情報４３のみを記憶し、それ以外の各種情報、つまり識別情報４３以外の情報はすべて親機側メモリ４０に記憶させておくことも非常に好ましい。このような構成によっても、他の実施形態と同様、本発明の極めて優れた効果を得ることができると共に、さらに、子機側メモリ１２をシンプルなものにすることができる。
【００３８】
＜適用例＞
なお、前記実施形態では、ラマン分光測定装置のノッチフィルタの例について説明したが、本発明はこれに限定されるものでなく、性能が経年変化するであろう光学素子であれば、任意の光学素子に適用することができる。本発明は、例えばラマン分光測定装置のノッチフィルタ以外の光学素子にも適用することができ、また、ラマン分光測定装置以外の光測定装置の光学素子にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の一実施形態にかかる光学素子の概略構成の説明図である。
【図２】本発明の一実施形態にかかる光学素子及び光測定装置の使用例の説明図である。
【図３】前記図２に示した使用例の変形例である。
【符号の説明】
【００４０】
１０  ノッチフィルタ（光学素子，レーリ散乱光除去フィルタ）
１２  子機側メモリ
１４  ラマン分光測定装置（光測定装置）
１６  測定装置本体
１８  コンピュータ
３０  子機側アクセス手段
３２  比較手段
３４  警告手段
４０  親機側メモリ
４２  親機側アクセス手段
【図１】
0004637791.tif 000002
【図２】
0004637791.tif 000003
【図３】
0004637791.tif 000004