(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
暗欠陥を除去する暗欠陥隠蔽方法であって、
連続的に出力される複数の画素データから読み出される、第１画素Ｐ１、第２画素Ｐ２、第３画素Ｐ３、第４画素Ｐ４、及び第５画素Ｐ５の５つの連続的な画素からなるウィンドウを設定する第１ステップと、
前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５の平均値αと、該平均値αを２の倍数である複数のｎで除算して複数のα／ｎを計算する第２ステップと、
前記複数のα／ｎのうち、いずれか１つを画像輝度に応じて選択する第３ステップと、
前記平均値αと選択された前記α／ｎとを加算して得られるしきい値α＋α／ｎと、前記第３画素Ｐ３の画素値とを比較する第４ステップと、
前記しきい値α＋α／ｎが前記第３画素Ｐ３の画素値以上の場合、暗欠陥隠蔽を省略する第５ステップとを含み、
前記第３画素Ｐ３は、前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５と同じ第１のフィルター色であり、
前記第２画素Ｐ２及び前記第４画素Ｐ４が同じ第２のフィルター色であり、
前記第１のフィルター色と前記第２のフィルター色とが異なることを特徴とするイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項２】
前記第４ステップの前記比較の結果、前記第３画素Ｐ３の画素値が前記しきい値α＋α／ｎより大きい場合、前記ウィンドウ内にエッジが存在するか否かを判断する第６ステップをさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項３】
前記第６ステップにおいて、
前記判断の結果により、前記ウィンドウ内にエッジが存在すると判断された場合、前記暗欠陥隠蔽を省略することを特徴とする請求項２に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項４】
前記第６ステップにおいて、
前記第１画素Ｐ１、前記第２画素Ｐ２、前記第４画素Ｐ４、及び前記第５画素Ｐ５が、｜Ｐ２−Ｐ４｜＞（Ｐ２＋Ｐ４）／２又は｜Ｐ１−Ｐ５｜＞（Ｐ１＋Ｐ５）／４のいずれかの条件を満足する場合、前記ウィンドウ内にエッジが存在すると判断することを特徴とする請求項３に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項５】
前記第６ステップにおいて、
前記第１画素Ｐ１、前記第２画素Ｐ２、前記第４画素Ｐ４、及び前記第５画素Ｐ５が、前記｜Ｐ２−Ｐ４｜＞（Ｐ２＋Ｐ４）／２又は｜Ｐ１−Ｐ５｜＞（Ｐ１＋Ｐ５）／４のいずれかの条件を満足して、前記ウィンドウ内にエッジが存在すると判断されても、前記第１画素Ｐ１と前記第５画素Ｐ５とが所定の値以下であるブロッキングゾーンに含まれる場合、前記暗欠陥隠蔽を行うことを特徴とする請求項４に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項６】
画素データが８ビットである場合、前記所定の値は約７以上約３２以下の範囲の値であることを特徴とする請求項５に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項７】
前記第３ステップにおいて、
前記ｎの値が増大するにつれて暗欠陥の検出能力が増大し、画質が劣化することを特徴とする請求項１に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項８】
前記画素データは、赤色、緑色、及び青色のうちのいずれかの色に対応する値であることを特徴とする請求項１に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項９】
暗欠陥を除去する暗欠陥隠蔽方法であって、
連続的に出力される複数の画素データから読み出される、第１画素Ｐ１、第２画素Ｐ２、第３画素Ｐ３、第４画素Ｐ４、及び第５画素Ｐ５の５つの連続的な画素からなるウィンドウを設定する第１ステップと、
前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５の平均値αと、該平均値αを２の倍数である複数のｎで除算して複数のα／ｎを計算する第２ステップと、
前記複数のα／ｎのうち、いずれか１つを画像輝度に応じて選択する第３ステップと、
前記平均値αと選択された前記α／ｎとを加算して得られるしきい値α＋α／ｎと、前記第３画素Ｐ３の画素値とを比較する第４ステップと、
前記しきい値α＋α／ｎが前記第３画素Ｐ３の画素値以上の場合、暗欠陥隠蔽を省略する第５ステップと、
前記第４ステップの前記比較の結果、前記第３画素Ｐ３の画素値が前記しきい値値α＋α／ｎより大きい場合、前記ウィンドウ内にエッジが存在するか否かを判断する第６ステップと、
前記第６ステップの前記判断の結果により、前記ウィンドウ内にエッジが存在すると判断された場合、前記暗欠陥隠蔽を省略する第７ステップと、
前記第６ステップの前記判断の結果により、前記ウィンドウ内にエッジが存在しないと判断された場合、前記暗欠陥隠蔽を行う第８ステップとを含み、
前記第３画素Ｐ３は、前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５と同じ第１のフィルター色であり、
前記第２画素Ｐ２及び前記第４画素Ｐ４が同じ第２のフィルター色であり、
前記第１のフィルター色と前記第２のフィルター色とが異なることを特徴とするイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項１０】
前記第６ステップにおいて、
前記第１画素Ｐ１、前記第２画素Ｐ２、前記第４画素Ｐ４、及び前記第５画素Ｐ５が、｜Ｐ２−Ｐ４｜＞（Ｐ２＋Ｐ４）／２又は｜Ｐ１−Ｐ５｜＞（Ｐ１＋Ｐ５）／４のいずれかの条件を満足して、前記ウィンドウ内にエッジが存在すると判断されても、前記第１画素Ｐ１と前記第５画素Ｐ５とが所定の値以下であるブロッキングゾーンに含まれる場合、前記暗欠陥隠蔽を行うことを特徴とする請求項９に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項１１】
画素データが８ビットである場合、前記所定の値は約７以上約３２以下の範囲の値であることを特徴とする請求項１０に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項１２】
前記第３ステップにおいて、
前記ｎの値が増大するにつれて暗欠陥の検出能力が増大し、画質が劣化することを特徴とする請求項９に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【請求項１３】
前記画素データは、赤色、緑色、及び青色のうちのいずれかの色に対応する値であることを特徴とする請求項９に記載のイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はイメージセンサの暗欠陥隠蔽（Ｄａｒｋ  Ｄｅｆｅｃｔ  Ｃｏｎｃｅａｌｍｅｎｔ）方法、より詳細には画素データに対して能動的に適用可能な暗欠陥隠蔽方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
イメージセンサは、半導体が光に反応する性質を利用した撮像素子である。すなわち、被写体から出力されるそれぞれ異なる明るさ及び波長の光をイメージセンサの各画素が感知し、光を電気信号に変換する。イメージセンサは、この電気信号を信号処理可能なレベルにする。
【０００３】
最近、高集積度で低消費電力の生産性に優れたＣＭＯＳイメージセンサが、従来の固体撮像素子であるＣＣＤに比べて注目されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一方、イメージセンサの欠点は低照度環境での光信号の再現能力の低さである。これは半導体素子固有の特性に起因するノイズ信号の影響のためである。このようなノイズ成分は、信号対雑音比（ＳＮＲ）を低下させて画質を劣化させる要因となる。
【０００５】
特に、入力する光が弱い低照度環境では、内部的に信号成分は増大される。この際、ノイズ成分も同じ割合で増大されるため、スポット（ｓｐｏｔ）のようなノイズ欠陥が発生する。これを暗欠陥と呼んでいる。
【０００６】
本発明は、上述した従来技術の問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、低照度環境で顕著に発生するスポットのようなノイズ欠陥である暗欠陥を無くすことができるイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様によると、本発明は、暗欠陥を除去する暗欠陥隠蔽方法であって、連続的に出力される複数の画素データから読み出される、第１画素Ｐ１、第２画素Ｐ２、第３画素Ｐ３、第４画素Ｐ４、及び第５画素Ｐ５の５つの連続的な画素からなるウィンドウを設定する第１ステップと、前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５の平均値αと、該平均値αを２の倍数である複数のｎで除算して複数のα／ｎを計算する第２ステップと、前記複数のα／ｎのうち、いずれか１つを画像輝度に応じて選択する第３ステップと、前記平均値αと選択された前記α／ｎとを加算して得られるしきい値α＋α／ｎと、前記第３画素Ｐ３の画素値とを比較する第４ステップと、前記しきい値α＋α／ｎが前記第３画素Ｐ３の画素値以上の場合、暗欠陥隠蔽を省略する第５ステップとを含み、前記第３画素Ｐ３は、前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５と同じ第１のフィルター色であり、前記第２画素Ｐ２及び前記第４画素Ｐ４が同じ第２のフィルター色であり、前記第１のフィルター色と前記第２のフィルター色とが異なることを特徴とするイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法を提供する。
【０００８】
また、本発明の別の態様によると、本発明は、暗欠陥を除去する暗欠陥隠蔽方法であって、連続的に出力される複数の画素データから読み出される、第１画素Ｐ１、第２画素Ｐ２、第３画素Ｐ３、第４画素Ｐ４、及び第５画素Ｐ５の５つの連続的な画素からなるウィンドウを設定する第１ステップと、前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５の平均値αと、該平均値αを２の倍数である複数のｎで除算して複数のα／ｎを計算する第２ステップと、前記複数のα／ｎのうち、いずれか１つを画像輝度に応じて選択する第３ステップと、前記平均値αと選択された前記α／ｎとを加算して得られるしきい値α＋α／ｎと、前記第３画素Ｐ３の画素値とを比較する第４ステップと、前記しきい値α＋α／ｎが前記第３画素Ｐ３の画素値以上の場合、暗欠陥隠蔽を省略する第５ステップと、前記第４ステップの前記比較の結果、前記第３画素Ｐ３の画素値が前記しきい値値α＋α／ｎより大きい場合、前記ウィンドウ内にエッジが存在するか否かを判断する第６ステップと、前記第６ステップの前記判断の結果により、前記ウィンドウ内にエッジが存在すると判断された場合、前記暗欠陥隠蔽を省略する第７ステップと、前記第６ステップの前記判断の結果により、前記ウィンドウ内にエッジが存在しないと判断された場合、前記暗欠陥隠蔽を行う第８ステップとを含み、前記第３画素Ｐ３は、前記第１画素Ｐ１及び前記第５画素Ｐ５と同じ第１のフィルター色であり、前記第２画素Ｐ２及び前記第４画素Ｐ４が同じ第２のフィルター色であり、前記第１のフィルター色と前記第２のフィルター色とが異なることを特徴とするイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法を提供する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によると、シフトレジスタ等の簡単なハードウェア構成を用いて１×５のウィンドウを形成し、連続的に出力される画素データの中から連続する画素データを選択し、各ウィンドウ内の中央画素と同じカラーフィルター色を有する画素データを用いて平均値及びしきい値を決定し、これら平均値及びしきい値を用いて暗欠陥を判別することにより、暗欠陥隠蔽を選択的に行うことができる。
【００１０】
また、本発明によると、暗欠陥隠蔽を行い、画像の劣化を最小化することにより、イメージセンサの画像データの画質を改善することができる。
【００１１】
また、本発明によると、暗欠陥判別の際、同じカラーフィルター色及びこれと異なるカラーフィルター色の隣接画素の画素データを用いてエッジの存在を判断することにより、暗欠陥判別の精度を向上することができる。
【００１２】
また、本発明によると、エッジの存在を判断する際、ウィンドウ内で同じカラーフィルター色である画素の画素データが所定の値以下の場合、ブロッキング領域を用いて判断することにより、エッジの存在を判断する際の精度を向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の好ましい実施の形態を添付する図面を参照して説明する。
【００１４】
図１は、本発明の実施の形態に係るイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法を示すフローチャートであり、図２は、本発明の実施の形態に係るイメージセンサの画素配列及びデータフォーマットを説明する図である。
【００１５】
図１及び図２を参照し、本発明の実施の形態に係る暗欠陥隠蔽方法について説明する。以下の記載で、符号Ｇ、Ｂ、及びＲは、それぞれ緑色、青色、及び赤色を示す。
【００１６】
イメージセンサの画素配列は、図２に示すベイヤー（Ｂａｙｅｒ）配列であり、カラーフィルター色がＲＧＢの画素データは、ａとｂの２つの列で示すように、それぞれＧＲＧＲＧＲＧＲとＢＧＢＧＢＧＢＧＢＧの一連の連続した順序で出力される。
【００１７】
図３は、図２に示す一連の連続した順序で出力される画素データに設定したウィンドウを示す図である。
【００１８】
暗欠陥隠蔽のステップＳ１０１において、連続的に出力されるイメージセンサ画素配列全体の画素データのうち、５つの連続した画素データを選択する１×５のウィンドウを設定する。例えば、順に、図２のｂ列の、Ｂを第１画素Ｐ１、Ｇを第２画素Ｐ２、Ｂを第３画素Ｐ３、Ｇを第４画素Ｐ４、及びＢを第５画素Ｐ５として選択するようにウィンドウを設定する。ここで、選択された第１画素Ｐ１〜第５画素Ｐ５のうち、暗欠陥判別の対象となる画素は、ウィンドウの中央Ｎに位置する第３画素Ｐ３（図３の例ではＢ）である。
【００１９】
この場合、画素配列がＲＧＢのベイヤー配列であることから、第１画素Ｐ１、第３画素Ｐ３、及び第５画素Ｐ５は、同じフィルター色の画素である。例えば、図３では、第１画素Ｐ１、第３画素Ｐ３、及び第５画素Ｐ５はＢのカラーフィルター色である。第２画素Ｐ２及び第４画素Ｐ４も同じフィルター色の画素であり、例えば、図３では、第２画素Ｐ２及び第４画素Ｐ４はＧのカラーフィルター色である。ウィンドウは、例えば、５つのシフトレジスターを用いて、イメージセンサ画素配列全体のうち、５つのシフトレジスタに読み込む画素配列の始点を指定し、画素データを読み込むようにすることで簡単に実現可能である。
【００２０】
次に、ステップＳ１０２において、設定したウィンドウにおいて、第３画素Ｐ３と同じフィルター色を有する第１画素Ｐ1と第５画素Ｐ５とを用いて、平均値αと、平均値αを２の倍数である複数のｎで除算した複数のα／ｎとを用いて複数のしきい値を計算する。
【００２１】
ここで、平均値αは、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５との平均値であり、（Ｐ１＋Ｐ５）／２と表すことができる。ここで、第１画素Ｐ１及び第５画素Ｐ５で表される値は信号のコード値であり、例えば、８ビットで画素データの値を表示する場合、０以上２５５以下の範囲の値である。
【００２２】
一方、平均値αとの比較のみで第３画素Ｐ３の暗欠陥を判別すれば、大きな問題が発生する。例えば、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５がそれぞれ１２９と１３１の値であるとすると、平均値αは１３０である。この時、第３画素Ｐ３の値が１３１であれば、平均値αの１３０より大きいので、第３画素Ｐ３は暗欠陥であると判別される。
【００２３】
さらに極端な方法として、平均値αの２倍である２αをもって第３画素Ｐ３の暗欠陥を判別すれば、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５がそれぞれ５９と６１の値であるとすると、２αは１２０である。この場合、第３画素Ｐ３の値が１１９であれば、２αの１２０が第３画素Ｐ３の値１１９より大きいので、第３画素Ｐ３は暗欠陥でないと判別される。
【００２４】
しかしながら、上記の２つの判別方法は、暗欠陥を十分に判別するものではない。
【００２５】
それゆえに、本発明では、暗欠陥をさらに精度良く判別するためにしきい値（Ｖｔ）を暗欠陥の判別基準として用いる。ここで、しきい値（Ｖｔ）は、２の倍数である複数のｎで平均値αを除算して得られる複数のα／ｎの値、すなわちα／２やα／４の値を平均値αと加算して計算する。
【００２６】
ここで、画像が低輝度の場合にはｎの値を選択的に変更する。
【００２７】
ｎの値が大きい場合、しきい値（Ｖｔ）が減少するため、暗欠陥の検出をより精度良くできるという長所がある。しかしながら、この場合には暗欠陥隠蔽が頻繁に行われて、画質の劣化を引き起こす。従って、ｎの値の選択は、画像の輝度により選択的に決定することが好ましい。
【００２８】
続いて、ステップＳ１０３において、２つのしきい値Ｖｔ１及びＶｔ２のうち、判定対象の画素（Ｐ３）に適用するしきい値を選択する。
【００２９】
図４は、平均値αとしきい値α＋α／ｎを用いた暗欠陥判別領域を示すグラフである。
【００３０】
図４に、平均値αと２つのしきい値Ｖｔ１（α＋α／２）とＶｔ２（α＋α／４）とを例示する。第３画素Ｐ３の値がＶｔ２より大きい斜線領域にある場合、第３画素Ｐ３を暗欠陥画素であると判別する場合には、ステップＳ１０３においてＶｔ２を選択する。そして、これに対して後述のステップにおいて暗欠陥隠蔽を行う。暗欠陥隠蔽には、例えば、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５との平均値αをもって第３画素Ｐ３のデータを置き換える。
【００３１】
その後、ステップＳ１０４において、判定対象の画素（Ｐ３）としきい値との値の大小を比較する。
【００３２】
比較の結果、判定対象の画素である第３画素Ｐ３の値がしきい値より小さい場合、第３画素Ｐ３を暗欠陥が発生しなかった画素であると判断し、ステップＳ１０５において暗欠陥隠蔽を省略する。
【００３３】
一方、第３画素Ｐ３の値がしきい値より大きい場合、第３画素Ｐ３を暗欠陥が発生した画素であると一時的に判断する。
【００３４】
図５は、本発明の実施の形態に係る設定したウィンドウ内での暗欠陥検出の一例を示す図である。
【００３５】
図５に斜線で区別して示すように、暗欠陥判別の対象画素である第３画素Ｐ３は、第１画素Ｐ１及び第５画素Ｐ５と同じフィルター色である。第２画素Ｐ２と第４画素Ｐ４もまたお互いに同じフィルター色である。
【００３６】
また、（ａ）は、（Ｐ１＋Ｐ５）／２である平均値αを表し、（ｂ）は、α＋α／２であるしきい値を表し、（ｃ）は、α＋α／４であるしきい値を表す。
【００３７】
このとき、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５の両方の値が１０であれば、（ｃ）で計算されるしきい値は１２．５である。したがって、第３画素Ｐ３の値が１５であれば、Ｐ３の値は（ｃ）で計算されるしきい値１２．５より大きいので、この場合には第３画素Ｐ３は暗欠陥が発生した画素であると一時的に判断する。
【００３８】
しかし、実際の画像にはエッジ（境界）が存在するので、暗欠陥の判断にはこれを考慮すべきである。
【００３９】
すなわち、図５に示すように、第３画素Ｐ３が暗欠陥であると判断されたとしても、実際にはこの部分にエッジが存在して値が変化していることがあり得る。
【００４０】
従って、ステップＳ１０６において、中央画素の値がしきい値より大きい場合には、そのウィンドウ内にエッジが存在するか否かを判断する。
【００４１】
図６は、ステップＳ１０１で設定したウィンドウ内にエッジが存在する一例を示す図である。即ち、第２画素Ｐ２がエッジの画素である場合を示している。
【００４２】
図６に示すように、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５がそれぞれ値１０と５０であり、第３画素Ｐ３が値５０である場合、平均値αは、（Ｐ１＋Ｐ５）／２により３０となる。図５に示す（ｃ）に該当するしきい値を適用すれば、しきい値は５α／４であり、３７．５となる。
【００４３】
従って、第３画素Ｐ３の値５０がしきい値３７．５より大きいので、第３画素Ｐ３は暗欠陥であると判断される。しかしながら、このウィンドウの場合、点線で示す領域にエッジが存在することにより、第１画素Ｐ１の値と第３画素Ｐ３の値とに大きい差がある。この場合、暗欠陥であると判断して暗欠陥隠蔽を行うと、画質は劣化する。そのため、該当するウィンドウに対するエッジの有無を考慮することが重要となる。
【００４４】
このため、エッジの有無を判断するための、エッジ判別ゾーンを設定し、エッジの存在を確認する。
【００４５】
図７は、本発明の実施の形態に係るエッジ判別ゾーンを示す図である。
【００４６】
図７において、横軸は第１画素Ｐ１の値を、縦軸は第５画素Ｐ５の値をそれぞれ８ビットのデータ表現（値が０から２５５）で示す。
【００４７】
図７に示すように、Ｒ１′領域は、Ｐ４−Ｐ２＞（Ｐ４＋Ｐ２）／２、即ちＰ４＞３Ｐ２で定義される。また、Ｒ１領域は、Ｐ２−Ｐ４＞（Ｐ２＋Ｐ４）／２、即ちＰ２＞３Ｐ４で定義される。これら２つの領域は、｜Ｐ２−Ｐ４｜＞（Ｐ２＋Ｐ４）／２で表現可能である。
【００４８】
すなわち、領域Ｒ１及びＲ１′では、第３画素Ｐ３に隣接する、第３画素と異なるフィルター色を有する画素である第２画素Ｐ２と第４画素Ｐ４との関係において、いずれか一方の値が他方の値の３倍を越えるので、この領域ではエッジが存在すると判断する。
【００４９】
さらに、Ｒ２′領域は、Ｐ５−Ｐ１＞（Ｐ５＋Ｐ１）／４、即ちＰ５＞５／３Ｐ１で定義される。また、Ｒ２領域は、Ｐ１−Ｐ５＞（Ｐ１＋Ｐ５）／４、即ちＰ１＞５／３Ｐ５で定義される。これら２つの領域は、｜Ｐ１−Ｐ５｜＞（Ｐ１＋Ｐ５）／４で表現可能である。
【００５０】
すなわち、第３画素Ｐ３と同じフィルター色を有する画素である第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５との関係において、いずれか一方の値が他方の値の５／３倍を越えるので、この領域ではエッジが存在すると判断する。（Ｐ１，Ｐ５）で表される点が、図７に示すＲ１、Ｒ１′、Ｒ２、及びＲ２′の４つの領域に位置する場合、たとえ第３画素Ｐ３の値がしきい値を越える値であるとしても、ステップＳ１０５において暗欠陥隠蔽は省略される。
【００５１】
一方、前述の４つの領域に該当しないＲ３の領域に点（Ｐ１，Ｐ５）が位置する場合には、ウィンドウにエッジが存在しないと判断し、第３画素Ｐ３の値としきい値との大小比較により暗欠陥隠蔽を行うか否かが決定される。
【００５２】
すなわち、第３画素Ｐ３の値がしきい値より大きく、一時的に暗欠陥と判断されかつエッジが存在しなければ、第３画素Ｐ３を暗欠陥画素であると最終的に判断し、ステップＳ１０７において暗欠陥隠蔽を行う。
【００５３】
一方、極めて低照度の画像では、たとえ第１画素Ｐ１〜第５画素Ｐ５の値において微々たる差があってもエッジであると判断され、暗欠陥隠蔽が行われない。このように、実際にはエッジでない領域が｜Ｐ２−Ｐ４｜＞（Ｐ２＋Ｐ４）／２または｜Ｐ１−Ｐ５｜＞（Ｐ１＋Ｐ５）／４を満足して、エッジであると誤って判断されるのを防止するために、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５の値どちらもが所定の値以下である領域をブロッキングゾーン（ｂｌｏｃｋｉｎｇ  ｚｏｎｅ）Ｒ４と定義する。
【００５４】
即ち、第１画素Ｐ１と第５画素Ｐ５の値で表される点がブロッキングゾーンＲ４に位置すれば、第３画素Ｐ３に対する暗欠陥隠蔽を無条件に行う。
【００５５】
このとき、ブロッキングゾーンＲ４の最大臨界値は、８ビットのデータ表現（値が０から２５５）である場合、例えば、約７以上約３２以下の値とする。
【００５６】
このように、上記手順で示す暗欠陥隠蔽は、初め、ウィンドウの中央Ｎに位置する第３画素Ｐ３に対して行われる。次に、ウィンドウの中央の位置を隣の画素にずらし、つまり、先に設定したウィンドウでＮ＋１に位置する第４画素Ｐ４を新たな中央Ｎとして、第１画素Ｐ１〜第５画素Ｐ５を新たに設定し、暗欠陥隠蔽が行われる。その後同様に、ウィンドウの中央の位置を次々にずらし、イメージセンサ画素配列全体又は所定の範囲の画素データに対して繰り返し適用されることによって、２次元画像の暗欠陥を無くすことができる。
【００５７】
図８Ａ及び図８Ｂは、本発明の暗欠陥隠蔽方法を適用した場合のイメージセンサの画質改善効果を示す透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）写真である。
【００５８】
図８Ａは、暗欠陥隠蔽方法の適用前を示す図であって、図中にＸで示す複数の欠陥を確認することができる。図８Ｂは、暗欠陥隠蔽方法の適用後を示す図であって、欠陥がほぼ除去されたことを確認することができる。
【００５９】
一方、上述した実施の形態では、画素データがＲＧＢ（赤、緑、青）フォーマットからなる場合について説明したが、これ以外にも、ＹＭｇＣｙ（イエロー、マゼンタ、シアン）といった補色フォーマットにも本発明を適用可能である。
【００６０】
上述の本発明は、連続的に出力される画素データの出力に対して、シフトレジスタ等のハードウェア構成を用いて１×５のウィンドウを適用する。この時、各ウィンドウで中央画素と同じカラーフィルター色を有する画素を用いて平均値及びしきい値を決定し、これら平均値及びしきい値を用いて暗欠陥を判別する。このように、暗欠陥判別の際、同じカラーフィルター色及び異なるカラーフィルター色の隣接画素の値を用いてエッジの存在を判断し暗欠陥隠蔽を選択的に行う。ブロッキング領域を設定することによって、ウィンドウ内で同じカラーフィルター色の画素データの値が所定の値以下の場合、暗欠陥判別及びエッジの存在を判断する際の精度を向上することにより、画質を改善することができる。
【００６１】
なお、本発明は、上記の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想から逸脱しない範囲内で様々な変更が可能であり、それらも本発明の技術的範囲に属する。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の実施の形態に係るイメージセンサの暗欠陥隠蔽方法を示すフローチャートである。
【図２】本発明の実施の形態に係るイメージセンサの画素配列及びデータフォーマットを説明する図である。
【図３】図２に示す一連の連続した順序で出力される画素データに設定したウィンドウを示す図である。
【図４】平均値αとしきい値α＋α／ｎを用いた暗欠陥判別領域を示すグラフである。
【図５】本発明の実施の形態に係る設定したウィンドウ内での暗欠陥検出の一例を示す図である。
【図６】ステップＳ１０１で設定したウィンドウ内にエッジが存在する一例を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態に係るエッジ判別ゾーンを示す図である。
【図８Ａ】本発明の暗欠陥隠蔽方法を適用した場合のイメージセンサの画質改善効果を示すための比較の透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）写真である。
【図８Ｂ】本発明の暗欠陥隠蔽方法を適用した場合のイメージセンサの画質改善効果を示す透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）写真である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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