(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生装置であって、
前記ディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生する記録再生制御手段と、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得する指標値取得手段と、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出する計算処理手段と、
を具備し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波で、
前記記録再生制御手段は、前記第２の記録波形における前記矩形波の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間の時間を、前記第１の記録波形における前記矩形波の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間の時間より、短く発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生装置であって、
前記ディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生する記録再生制御手段と、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得する指標値取得手段と、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出する計算処理手段と、
を具備し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波群で、
前記矩形波群の先頭矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く２番目矩形波の立ち上がりエッジとの間の時間をＴ１、
前記矩形波群の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間の時間をＴ２、
としたとき、
前記記録再生制御手段は、前記第２の記録波形のＴ１を前記第１の記録波形のＴ１より短く、前記第２の記録波形のＴ２を前記第１の記録波形のＴ２より短く、発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項３】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生装置であって、
前記ディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生する記録再生制御手段と、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得する指標値取得手段と、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出する計算処理手段と、
を具備し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波で、
前記記録再生制御手段は、前記第２の記録波形における前記矩形波の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間のパワーを、前記第１の記録波形における前記矩形波の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間のパワーより大きく発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項４】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生装置であって、
前記ディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生する記録再生制御手段と、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得する指標値取得手段と、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出する計算処理手段と、
を具備し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波群で、
前記矩形波群の先頭矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く２番目矩形波の立ち上がりエッジとの間のパワーをＰ１、
前記矩形波群の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間のパワーをＰ２、
としたとき、
前記記録再生制御手段は、前記第２の記録波形のＰ１を前記第１の記録波形のＰ１より大きく、前記第２の記録波形のＰ２を前記第１の記録波形のＰ２より大きく発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の光ディスク記録再生装置であって、
前記ディスクが書き換え可能な場合、前記記録再生制御手段は、前記第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録する試し書き記録を、前記ディスクの試し書き領域上に１回以上行う様に発光制御することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項６】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生方法であって、
前記第１のディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、
前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生し、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得し、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波で、
前記矩形波の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間の時間が、前記第２の記録波形の方が前記第１の記録波形より短く発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項７】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生方法であって、
前記第１のディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、
前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生し、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得し、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波群で、
前記矩形波群の先頭矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く２番目矩形波の立ち上がりエッジとの間の時間をＴ１、
前記矩形波群の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間の時間をＴ２、
としたとき、
前記第２の記録波形のＴ１を前記第１の記録波形のＴ１より短く、前記第２の記録波形のＴ２を前記第１の記録波形のＴ２より短くする様に発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項８】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生方法であって、
前記第１のディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、
前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生し、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得し、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波で、
前記矩形波の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間のパワーが、前記第２の記録波形の方が前記第１の記録波形より大きくする様に発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項９】
ディスクに、照射する光の発光波形のパワーとタイミングを制御して情報を記録再生する光ディスク記録再生方法であって、
前記第１のディスクへの情報の記録に用いる第１の記録波形とは異なる第２の記録波形のパワーを段階的に変化させて記録し、
前記パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生し、
前記再生した再生信号から記録品質指標値を取得し、
前記記録品質指標値をもとに前記第１の記録波形のパワーを算出し、
前記第１の記録波形と前記第２の記録波形は複数矩形波の構成からなる２値以上のパワーを持った矩形波群で、
前記矩形波群の先頭矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く２番目矩形波の立ち上がりエッジとの間のパワーをＰ１、
前記矩形波群の最終矩形波の立ち下がりエッジとそれに続く立ち上がりエッジとの間のパワーをＰ２、
としたとき、
前記第２の記録波形のＰ１を前記第１の記録波形のＰ１より大きく、前記第２の記録波形のＰ２を前記第１の記録波形のＰ２より大きくする様に発光制御を行うことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項１０】
請求項６乃至請求項９のいずれかに記載の光ディスク記録再生方法であって、
前記ディスクが書き換え可能な場合、前記第２の記録波形で試し書き記録を、前記ディスクの試し書き領域上に１回以上行う様に発光制御することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はディスクに光を照射して情報を記録再生する光ディスク記録再生装置および光ディスク記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク記録再生装置において、部品やディスクのばらつき、温度変化によって記録品質が大きく異なる場合がある。このようなばらつきや環境変化が生じた場合においても記録品質を安定させるための技術に以下のようなものがある。
【０００３】
特許文献１には「相変化型の光情報記録媒体である光ディスクの周囲温度に応じて短パルスである冷却パルスＣＰのパルス幅Ｔｃｐを変更することで、短パルス群からなる記録ストラテジを制御するようにした。これにより、急熱急冷に支障がある高温環境下においても記録品質の悪化を抑えることができる。」と記載されている。
【０００４】
特許文献２には「最も効果的な最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータを調整することで、調整時間の短縮を図り、不毛な記録劣化を防ぎ得る記録パルスパラメータ調整方法を提供する」と記載されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−９３０１７号公報
【特許文献２】特開２００６−３０２３３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
近年、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）といった光ディスクドライブの発展が著しい。これら光ディスクドライブはＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）用のみならず、レコーダやカメラといったＡＶ（Ａｕｄｉｏ  Ｖｉｓｕａｌ）用途にも普及している。
【０００７】
ディスクに記録する際に、温度変化やドライブの個体差ばらつきにより同一パラメータでは記録品質が安定しない場合がある。そこでドライブ個々の条件に応じて試し書きを行い、適正なパワーを決定する必要がある。
【０００８】
パワーを算出する試し書きとは、パワーを変化させて試し書き領域に記録を行い、その領域を再生して記録品質指標値を取得し、そしてその指標値特性から適正なパワーを算出することである。
【０００９】
しかしながら、ピックアップやレーザ、ディスク膜面感度のばらつきにより、この指標値特性が安定せずにばらつくため、算出パワーもばらつくという問題がある。そこで試し書きの指標値特性を安定させる記録を行い、算出パワーのばらつきを低減することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
試し書きで用いる記録波形は、ディスクに情報を記録する記録波形と異なる記録波形で記録を行う。
【００１１】
特にマルチパルス型の場合は、先頭パルスの次に続く先頭冷却時間と、最終パルスの次に続く最終冷却時間を試し書きの記録では短くする。または先頭クーリングパルスの冷却パワーと、最終クーリングパルスの冷却パワーを試し書きの記録では大きくする。
【００１２】
キャッスル型の場合は、最終パルスの次に続く最終冷却時間を試し書きの記録では短くする。または最終パルスの次に続く最終冷却パワーを試し書きの記録では大きくする。
【００１３】
また、１回記録型のディスクの場合は試し書きを未記録領域上に１回、書き換え型ディスクの場合は試し書きを未記録領域上に１回または既記録領域上に１回以上行う。
【発明の効果】
【００１４】
ディスクに情報を記録するときに、安定した記録品質の確保が可能となり、ユーザの利便性が増す。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下本発明にかかる光ディスク記録再生装置について図面を用いて説明する。
【実施例１】
【００１６】
本発明の光ディスク記録再生装置１００の構成図を、ＢＤドライブを例として図１に示す。ディスク１０１は書き換え型のＢＤ−ＲＥ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）ディスクとし、レーザ１０２から約４０５［ｎｍ］の青色レーザ光を発光して対物レンズを通してディスク１０１に照射する。
【００１７】
記録再生制御手段１０５はレーザ１０２で発光させる波形の制御を行う。記録再生制御手段１０５は発光波形のパワーや発光タイミング（タイマー）を決定し、発光制御を行うレーザドライバに設定値を設定する。レーザドライバは設定値に従って電流を制御し、レーザ１０２からレーザ光を発光させる。記録時は記録レベルの光を発光してマークを形成するように電流を制御し、再生時は直流波に高周波を重畳させた再生レベルの光を発光してマークとスペースの反射信号を得られるように電流を制御する。
【００１８】
指標値取得手段１０３はディスク１０１からの反射信号を光検出器で検出し、光検出器で得られた信号をＡＦＥ（Ａｎａｌｏｇ  Ｆｒｏｎｔ  Ｅｎｄ）でサーボ信号等の必要信号の抽出や必要帯域のブースト等のフィルタ処理を行う。得られた反射信号の振幅比（変調度）やマークの形成形状とクロックとの差から得られるジッタ等を指標値として記録品質指標値を取得する。
【００１９】
計算処理手段１０４は指標値取得手段１０３で得られた記録品質指標値の特性から１次ないし２次近似を行い、変調度やジッタが目標とする値となるパワーを決定する。その決定されたパワーは記録再生制御手段１０５に設定される。
【００２０】
次に記録波形について図２に示す。ディスク１０１のトラック上に形成される記録部２０１をマークとし、未記録部２０２をスペースとする。またマークとスペースを２値化した信号を２値化信号２０３とする。
【００２１】
図２のＡは矩形波を繰り返したマルチパルス型のストラテジであり、クロックを１ＴとしてｎＴのマークを形成する場合はｎ−１本のパルスを発光するストラテジとする。ここでパルスのパワーは３値とし、最大値を記録パワー（Ｐｗ）、最小値を冷却パワー（Ｐｃ）、マークを消去する中間値を消去パワー（Ｐｅ）とする。
【００２２】
３Ｔ以上のマーク形成において、先頭パルスの次に続く冷却パワーＰｃの光の照射時間を先頭冷却時間２１１、最終パルスの次に続く冷却パワーＰｃの光の照射時間を最終冷却時間２１２とする。２Ｔマーク形成のストラテジはパルスが１本であるが、先頭パルスの次に続く冷却パワーＰｃの光の照射時間を最終冷却時間２１２とする。図２のＡのストラテジを第１のストラテジと呼び、ディスク１０１に情報を記録する際にはこの第１のストラテジでレーザ発光を行う。
【００２３】
ここで上記マルチパルス型における消去パワーＰｅを算出する試し書きについて説明する。消去パワーを学習する方法をここではイレーズＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ぶ。
【００２４】
イレーズＯＰＣは、記録パワーＰｗを固定にし、消去パワーＰｅを段階的に変化させて記録を行う。この記録は未記録領域上に１回または既記録領域上に１回以上行う。そして記録されたマークのジッタを取得してその記録品質指標値の特性を得る。
【００２５】
図４のＡに、横軸が消去パワー、縦軸がジッタである、消去パワー対ジッタグラフ４０１を示す。その特性は一般にＵ字型であり、ジッタが最小となる消去パワーが適正消去パワー４０２である。
【００２６】
このイレーズＯＰＣでは第１のストラテジより冷却時間が短い第２のストラテジを用いることが特徴である。この第２のストラテジを図２のＢに示す。第２のストラテジの先頭冷却時間２２１は第１のストラテジの先頭冷却時間２１１より短くし、同様に最終冷却時間２２２は最終冷却時間２１２より短い。
【００２７】
図４のＢに、第１のストラテジと第２のストラテジを用いた消去パワー対ジッタグラフ４１１を示す。第１のストラテジで記録した品質特性４１２は、マージンが広く、消去パワーの大きい側の特性にばらつきが生じる傾向にある。このような特性では、ジッタの大小差が小さいため２次近似で算出する算出消去パワー４１３もばらつきやすい。
【００２８】
一方、第２のストラテジで記録した品質特性４１４は、マージンは狭くなるがジッタの大小が明確になるため、算出消去パワー４１５のばらつきは低減する。
【００２９】
ここで第１のストラテジの算出消去パワー４１３と第２のストラテジの算出消去パワー４１５に差異がでることがあるが、算出消去パワー４１５に係数α４１６を乗じてパワーを決定することにより、適正消去パワーを決定する。またはあるオフセット量α’を加算してもよい。
【００３０】
このように、ストラテジの冷却時間を短くすることによって、マークの部分結晶化が起こりマージンは狭いながらもばらつきの少ない品質特性を取得することが可能になる。つまりばらつきが少ないので適切な消去パワーを得やすい。そしてこの品質特性を用いて安定した適性消去パワーＰｅを決定することができる。以上により、温度変化やドライブの個体差が生じても安定した記録品質の確保が可能である。
【００３１】
なお、本実施例では３値としたが、消去パワーＰｅと冷却パワーＰｃが等しい２値の場合は先頭冷却時間のみを短くすればよい。
【実施例２】
【００３２】
実施例１において、イレーズＯＰＣでの記録は第１のストラテジより冷却時間を短くする第２のストラテジを用いたが、本実施例では冷却パワーＰｃを第１のストラテジより大きくする第２のストラテジについて説明する。
【００３３】
基本的なドライブ構成図とイレーズＯＰＣの動作は実施例１と同様である。図３のＡに冷却パワー３１１がＰｃである第１のストラテジを、図３のＢに冷却パワー３２１がＰｃ’である第２のストラテジを示す。このときＰｃ’＞Ｐｃを満足する。
【００３４】
このように、ストラテジの冷却パワーを高くすることによって、マークの部分結晶化が起こりマージンは狭いながらもばらつきの少ない品質特性を取得することが可能になる。以上により、ばらつきの少ない適性消去パワーを決定することができ、安定した記録品質の確保が可能となる。
【００３５】
なお、実施例１と２では書き換え型ＢＤ−ＲＥディスクについて述べたが、１回記録型のディスクでも良い。ただし１回記録型ディスクにおいては、未記録領域上の記録は１回のみとする。またＢＤに限らず、赤色レーザを用いるＤＶＤ等の光ディスクでもよい。
【実施例３】
【００３６】
本実施例では１回記録のＢＤ−Ｒ（Ｂｌｕｒ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）ディスクを例として記録パワーＰｗを算出するＯＰＣの記録について述べる。
【００３７】
基本的なドライブ構成図は第１の実施例と同様である。図５のＡに矩形波と中間直流波から成るキャッスル型ストラテジを示す。２Ｔマークと３Ｔマークの形成は２値のパワーから成る１つのパルスで行い、４Ｔマーク以上では記録パワーＰｗのパルスを両脇として、その間を中間パワーＰｍの中間直流波で接続した４値のパワーからなる波形とする。このストラテジを第１のストラテジとする。
【００３８】
ＯＰＣでの記録は未記録領域上に記録パワーＰｗを段階的に変化させながら１回行う。その際、記録パワーＰｗと中間パワーＰｍの比は一定とする。そして記録を行った領域を再生してジッタを取得する。
【００３９】
図７のＡに、横軸が記録パワー、縦軸がジッタである、記録パワー対ジッタグラフ７０１を示す。その特性は一般にＵ字型であり、ジッタが最小となる記録パワーが適正記録パワー７０２である。
【００４０】
この記録パワーのためのＯＰＣでは第１のストラテジより冷却時間が短い第２のストラテジを用いることが特徴である。この第２のストラテジを図５のＢに示す。第２のストラテジの最終冷却時間５２１は第１のストラテジの最終冷却時間５１１より短い。
【００４１】
図７のＢに、第１のストラテジと第２のストラテジを用いた記録パワー対ジッタグラフ７１１を示す。第１のストラテジで記録した品質特性７１２は、マージンが広く、記録パワーの大きい側の特性にばらつきが生じる傾向にある。このような特性では、ジッタの大小差が小さいため２次近似で算出する算出記録パワー７１３もばらつきやすい。
【００４２】
一方、第２のストラテジで記録した品質特性７１４は、マージンは狭くなるがジッタの大小が明確になるため、算出記録パワー７１５のばらつきは低減する。
【００４３】
ここで第１のストラテジの算出記録パワー７１３と第２のストラテジの算出記録パワー７１５に差異がでることがあるが、算出記録パワー７１５に係数β７１６を乗じてパワーを決定することにより、適正記録パワーを決定する。またはあるオフセット量β’を加算してもよい。
【実施例４】
【００４４】
実施例３において、ＯＰＣでの記録は第１のストラテジより冷却時間を短くする第２のストラテジを用いたが、本実施例では冷却パワーＰｃを第１のストラテジより大きくする第２のストラテジについて説明する。ＯＰＣの動作は実施例３と同様である。
【００４５】
図６のＡに冷却パワー６１１がＰｃである第１のストラテジを、図６のＢに冷却パワー６２１がＰｃ’である第２のストラテジを示す。このときＰｃ’＞Ｐｃを満足する。
【００４６】
このように、ストラテジの冷却パワーを高くすることによって、マークの部分結晶化が起こりマージンは狭いながらもばらつきの少ない品質特性を取得することが可能になる。以上により、ばらつきの少ない適性記録パワーを決定することができ、安定した記録品質の確保が可能となる。
【００４７】
なお、実施例３と４では１回記録型ＢＤ−Ｒディスクについて述べたが、繰り返し記録型のディスクでも良い。繰り返し記録型のディスクにおいては、未記録領域上の記録は１回または既記録領域上に１回以上行う。またＢＤに限らず、赤色レーザを用いるＤＶＤ等の光ディスクでもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明における光ディスク記録再生装置の第１乃至４の実施例を示す全体構成図。
【図２】本発明における第１の実施例における記録波形を示す模式図。
【図３】本発明における第２の実施例における記録波形を示す模式図。
【図４】本発明における実施例での記録品質特性より適正消去パワーを算出する方法を示す概念図。
【図５】本発明における第３の実施例における記録波形を示す模式図。
【図６】本発明における第４の実施例における記録波形を示す模式図。
【図７】本発明における実施例での記録品質特性より適正記録パワーを算出する方法を示す概念図。
【符号の説明】
【００４９】
１００・・・光ディスク記録再生装置、          １０１・・・ディスク、
１０２・・・レーザ、       １０３・・・指標値取得手段、
１０４・・・計算処理手段、               １０５・・・記録再生制御手段、
２０１・・・記録部、       ２０２・・・未記録部、
２０３・・・２値化信号、   ２１１・・・先頭冷却時間、
２１２・・・最終冷却時間、               ２２１・・・先頭冷却時間、
２２２・・・最終冷却時間、
３１１・・・冷却パワー、   ３２１・・・冷却パワー、
４０１・・・消去パワー対ジッタグラフ、        ４０２・・・適正消去パワー、
４１１・・・消去パワー対ジッタグラフ、        ４１２・・・品質特性、
４１３・・・算出消去パワー、                          ４１４・・・品質特性、
４１５・・・算出消去パワー、                          ４１６・・・係数α、
５１１・・・冷却時間、     ５２１・・・冷却時間、
６１１・・・冷却パワー、   ６２１・・・冷却パワー、
７０１・・・記録パワー対ジッタグラフ、        ７０２・・・適正記録パワー、
７１１・・・記録パワー対ジッタグラフ、        ７１２・・・品質特性、
７１３・・・算出記録パワー、                          ７１４・・・品質特性、
７１５・・・算出記録パワー、                          ７１６・・・係数β。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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