(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザー光を出射する半導体レーザーと、複数の情報記録層を有する光ディスクと、の間の光路上に、
回折格子と、偏光ビームスプリッタと、１／４波長板と、対物レンズと、光検出器と、を備え、
前記半導体レーザーから前記光ディスクまでの往光路において、
前記回折格子は、前記レーザー光に基づいて、直線偏光する第１の０次光及び回折光を発生し、
前記１／４波長板は、前記第１の０次光及び回折光が前記偏光ビームスプリッタを介して入射し、前記第１の０次光及び回折光を円偏光する第２の０次光及び回折光に変換して発生し、
前記対物レンズは、前記第２の０次光及び回折光が入射し、前記第２の０次光及び回折光を前記光ディスクの一の情報記録層に集光するべく発生し、
前記光ディスクから前記光検出器までの復光路において、
前記対物レンズは、前記光ディスクの情報記録層から反射される前記第２の０次光及び回折光とは逆方向に円偏光する第３の０次光及び回折光を発生し、
前記１／４波長板は、前記第３の０次光及び回折光が入射し、前記第３の０次光及び回折光を前記第１の０次光及び回折光とは直交する方向に直線偏光する第４の０次光及び回折光に変換して発生し、
前記光検出器は、前記第２の０次光が前記光ディスクの一の情報記録層に集光する場合の前記第４の０次光を前記偏光ビームスプリッタを介して受光する０次光受光面と、前記第２の回折光が前記光ディスクの一の情報記録層に集光する場合の前記第４の回折光を前記偏光ビームスプリッタを介して受光する回折光受光面と、を有し、前記０次光受光面及び前記回折光受光面の受光結果に応じて、前記光ディスクに対する情報の記録又は再生を行うためのサーボ制御にかかる信号を発生する光ピックアップ装置であって、
前記１／４波長板は、
前記往光路において、前記第１の０次光及び回折光を前記第２の０次光及び回折光に変換するとともに、前記復光路において、前記第３の０次光及び回折光を前記第４の０次光及び回折光に変換する領域と、
前記往光路及び前記復光路において、前記偏光ビームスプリッタによって前記光検出器に出射されない前記第１の０次光及び回折光の直線偏光方向を変換せずに、当該第１の０次光及び回折光を透過する禁止領域と、を有し、
前記領域に対して、前記禁止領域は、
前記第２の０次光及び回折光が前記光ディスクの一の情報記録層に集光したときの前記光ディスクの他の情報記録層から反射され、前記領域及び前記偏光ビームスプリッタを介して得られた前記第４の０次光を、前記回折光受光面が受光しないための前記回折光受光面以上の大きさを有する領域を、当該第４の０次光に形成させる形状で設けられる、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記禁止領域は、
前記第１の０次光及び回折光の直線偏光方向と同一方向の光学軸を有する素子からなる、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記禁止領域は、
前記回折光受光面と略同一形状である、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記禁止領域は、
前記０次光受光面が、前記第２の０次光及び回折光が前記光ディスクの一の情報記録層に集光したときの、前記光ディスクの他の情報記録層から反射されて得られる前記第４の０次光を受光することを禁止する、
ことを特徴とする請求項１乃至３の何れかに記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記禁止領域は、
前記０次光受光面及び前記回折光受光面と略同一形状である、
ことを特徴とする請求項４に記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク（ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＨＤ ＤＶＤ（High Definition DVD）、Ｂｌｕ-ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標）等）の情報記録層に形成されたトラックにレーザー光を集光するためのサーボ制御として、例えば３ビームを用いた差動プッシュプル法等によるトラッキング制御が知られている。
【０００３】
この差動プッシュプル法等においては、先ず、半導体レーザーが出射するレーザー光から回折格子等により、例えば０次光と±１次回折光（３ビーム）を発生させる。尚、一般的に、０次光と±１次回折光との光量比を、１０〜２０：１とする回折効率を有する回折格子等が用いられる。この０次光及び±１次回折光は、各光学系（偏光ビームスプリッタ、コリメータレンズ、１／４波長板、対物レンズ等）を介して、光ディスクの情報記録層に形成されたトラックに集光される。そして、０次光の反射光（以下、０次反射光という）及び±１次回折光の反射光（以下、±１次反射光という）は、偏光ビームスプリッタにおいて例えば反射されることにより、光検出器の各受光面で受光される。図９を参照しつつ詳述すると、０次反射光は、４分割された０次反射光用の受光面Ａ´乃至Ｄ´にて受光され、＋１次反射光は、４分割（２分割でも良い）された＋１次反射光用の受光面Ｉ´乃至Ｌ´にて受光され、−１次反射光は、４分割（２分割でも良い）された−１次反射光用の受光面Ｅ´乃至Ｈ´にて受光される。そして、各受光面Ａ´乃至Ｌ´における反射光の光量に応じた光電変換信号に基づいて、｛（受光面Ａ´の光電変換信号＋受光面Ｂ´の光電変換信号）−（受光面Ｃ´の光電変換信号＋受光面Ｄ´の光電変換信号）｝−ｋ［｛（受光面Ｉ’の光電変換信号＋受光面Ｊ’の光電変換信号）−（受光面Ｋ’の光電変換信号＋受光面Ｌ’の光電変換信号）｝＋｛（受光面Ｅ’の光電変換信号＋受光面Ｆ’の光電変換信号）−（受光面Ｇ’の光電変換信号＋受光面Ｈ’の光電変換信号）｝］を演算処理することにより、トラッキングエラー信号が検出される（尚、ｋは０次光の光量／±１次回折光の光量）。そして、このトラッキングエラー信号に基づいて、光ディスクの径方向に対物レンズが移動することにより、光ディスクの情報記録層に形成されたトラックにレーザー光を追従させることが可能となる。
【０００４】
また、近年の光ディスクにおいては、１つの情報記録層のみを有する光ディスクに比べてより多くの情報量を記録可能とするべく、複数の情報記録層を有する光ディスクが実現されている。そして、複数の情報記録層に形成されたトラックに対しても同様に、レーザー光を追従させるためのトラッキング制御が必要となる。
【特許文献１】特開２００５−２０３０９０号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、光ディスクの各情報記録層に対して、差動プッシュプル法等に基づくトラッキング制御を行う場合、情報の記録又は再生の対象となる一の情報記録層とは異なる他の情報記録層からの０次反射光が発生し、正確なトラッキングエラー信号を検出することが出来なくなる可能性があり、この結果、安定したトラッキング制御を行うことが困難となる可能性があった。
【０００６】
以下、図８、図９を参照しつつ詳述する。例えば２つの情報記録層Ｌ０、Ｌ１を有する光ディスク１００の情報記録層Ｌ１は、情報記録層Ｌ０、Ｌ１の何れに対しても情報の記録又は再生を可能とするべく、半透明反射膜から構成されている。このため、情報記録層Ｌ０に対して情報の記録又は再生を行うべく０次光を集光する場合（図８（ａ））、当該情報記録層Ｌ０からの０次反射光（実線）のみならず、情報記録層Ｌ１にて０次光が反射されることによる０次反射光（破線、以下、迷光という）が発生する。また、情報記録層Ｌ１に対して情報の記録又は再生を行うべく０次光を集光する場合（図８（ｂ））、当該情報記録層Ｌ１からの０次反射光（実線）のみならず、当該情報記録層Ｌ１を０次光が透過して情報記録層Ｌ０にて反射されることにより迷光（破線）が発生する。この迷光の光量は、光ディスク１００の製造誤差等に起因する情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との間の層間厚み誤差に応じて変動したものとなっている。そして、迷光が、図９・斜線にて示すように、光検出器１０１の各受光面Ａ´乃至Ｌ´にて受光されることにより、各光電変換信号が生成される。この各光電変換信号は、情報記録層Ｌ０と情報記録層Ｌ１との層間厚み誤差等に応じて変動する信号となるため、当該変動成分を含んだトラッキングエラー信号が検出される可能性があった。特に、受光面Ｅ´乃至Ｌ´における光電変換信号は、０次光と±１次回折光との光量比に基づいて増幅（ｋ倍）されるため、トラッキングエラー信号に与える変動成分の影響が大きくなる可能性があった。この結果、安定したトラッキング制御が出来なくなる可能性があり、光ディスク１００の各情報記録層に対する情報の記録又は再生を良好に行うことが困難となる可能性があった。
【０００７】
そこで従来においては、光検出器による迷光の受光を回避するべく、例えば迷光の光路に偏光ホログラムを設ける方法が特開２００５−２０３０９０号に開示されている。この偏光ホログラムは、光検出器に迷光が入射しないように、例えば、迷光の全てを＋１次回折光として回折するものである。しかしながら、偏光ホログラムを用いる場合、迷光を完全に回折させる（０次光を発生させない）ことが可能な回折格子形状としなければならず、高精度な偏光ホログラムの製造を要求されることとなり、工程数増加、コストアップ等を招く可能性があった。また、偏光ホログラムは波長依存性を有するため、温度変化によるレーザー光の波長変化や、半導体レーザーの製造誤差等に起因する波長誤差等により、迷光を完全に回折させることが困難となる可能性があった。この結果、従来の解決方法では、正確なトラッキングエラー信号を検出することが出来なくなる可能性があり、安定したトラッキング制御を行うことが困難となる可能性があった。
【０００８】
そこで、本発明は、複数の情報記録層を有する光ディスクの一の情報記録層にレーザー光を集光したときの、他の情報記録層からのレーザー光の反射光を、光検出器の受光面が受光することを禁止することが可能な光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するための発明は、レーザー光を出射する半導体レーザーと、複数の情報記録層を有する光ディスクと、の間の光路上に、回折格子と、偏光ビームスプリッタと、１／４波長板と、対物レンズと、光検出器と、を備え、前記半導体レーザーから前記光ディスクまでの往光路において、前記回折格子は、前記レーザー光に基づいて、直線偏光する第１の０次光及び回折光を発生し、前記１／４波長板は、前記第１の０次光及び回折光が前記偏光ビームスプリッタを介して入射し、前記第１の０次光及び回折光を円偏光する第２の０次光及び回折光に変換して発生し、前記対物レンズは、前記第２の０次光及び回折光が入射し、前記第２の０次光及び回折光を前記光ディスクの一の情報記録層に集光するべく発生し、前記光ディスクから前記光検出器までの復光路において、前記対物レンズは、前記光ディスクの情報記録層から反射される前記第２の０次光及び回折光とは逆方向に円偏光する第３の０次光及び回折光を発生し、前記１／４波長板は、前記第３の０次光及び回折光が入射し、前記第３の０次光及び回折光を前記第１の０次光及び回折光とは直交する方向に直線偏光する第４の０次光及び回折光に変換して発生し、前記光検出器は、前記第２の０次光が前記光ディスクの一の情報記録層に集光する場合の前記第４の０次光を前記偏光ビームスプリッタを介して受光する０次光受光面と、前記第２の回折光が前記光ディスクの一の情報記録層に集光する場合の前記第４の回折光を前記偏光ビームスプリッタを介して受光する回折光受光面と、を有し、前記０次光受光面及び前記回折光受光面の受光結果に応じて、前記光ディスクに対する情報の記録又は再生を行うためのサーボ制御にかかる信号を発生する、光ピックアップ装置であって、前記１／４波長板は、前記往光路において、前記第１の０次光及び回折光を前記第２の０次光及び回折光に変換するとともに、前記復光路において、前記第３の０次光及び回折光を前記第４の０次光及び回折光に変換する領域と、前記往光路及び前記復光路において、前記偏光ビームスプリッタによって前記光検出器に出射されない前記第１の０次光及び回折光の直線偏光方向を変換せずに、当該第１の０次光及び回折光を透過する禁止領域と、を有し、前記領域に対して、前記禁止領域は、前記第２の０次光及び回折光が前記光ディスクの一の情報記録層に集光したときの前記光ディスクの他の情報記録層から反射され、前記領域及び前記偏光ビームスプリッタを介して得られた前記第４の０次光を、前記回折光受光面が受光しないための前記回折光受光面以上の大きさを有する領域を、当該第４の０次光に形成させる形状で設けられる、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、光ディスクの一の情報記録層に対する情報の記録又は再生を行うためのサーボ制御にかかる信号への、他の情報記録層から反射されるレーザー光による影響を防止又は軽減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本明細書および添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。
【００１２】
＝＝＝本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６を具備する光ピックアップ装置１の全体構成＝＝＝
図２、図３を参照しつつ、本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６を具備する光ピックアップ装置１の全体構成の一例について説明する。図２（ａ）は、本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６を具備する光ピックアップ装置１の全体構成と、半導体レーザー２から光ディスク５０までの光路（往光路）を示す図である。図２（ｂ）は、本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６を具備する光ピックアップ装置１の全体構成と、光ディスク５０から光検出器９までの光路（復光路）を示す図である。図３は、図２に示す光検出器９に対するレーザー光の照射の様子を示す図である。尚、図２に示す光ディスク５０は、複数の情報記録層を有する光ディスクの一例として、半透明反射膜からなる情報記録層Ｌ１と情報記録層Ｌ０との２つの情報記録層を有するＢｌｕ-ｒａｙ Ｄｉｓｃを示すものである。
【００１３】
光ピックアップ装置１は、半導体レーザー２、回折格子３、偏光ビームスプリッタ４、コリメータレンズ５、１／４波長板６、対物レンズ７、検出レンズ８、光検出器９を有する。尚、図２に示す光ピックアップ装置１は、一般的な光ピックアップ装置が有するトラッキング制御、フォーカス制御等のためのアクチュエータ、フロントモニタダイオード等は省略している。
【００１４】
半導体レーザー２は、例えばｐ型半導体とｎ型半導体とをｐｎ接合したダイオードから構成されている。半導体レーザー２は、不図示のレーザー駆動回路からの制御電圧が印加されることにより、光ディスク５０の保護層の厚み（０．１ｍｍ〜０．０７５ｍｍ）に対応する波長（４００ｎｍ〜４１０ｎｍ）であって、図２紙面の上下矢印方向の偏光方向に直線偏光した（以下、上下矢印方向の直線偏光を、例えばｐ偏光という）レーザー光を出射する。尚、本実施形態においては、図２紙面上下矢印方向の偏光方向の直線偏光を、例えばｐ偏光として、以下説明する。また、本実施形態において、半導体レーザー２は、ｐ偏光であるレーザー光を出射するものとして説明しているが、これに限るものではない。例えば、光ディスク５０の各情報記録層のトラックに照射されるレーザー光の光強度を再生又は記録に適した光強度とするべく、レーザー光の偏光方向がｐ偏光とは所定角度（例えば３０°）傾くように半導体レーザー２が設置される場合ある。この場合、半導体レーザー２と回折格子３との間に１／２波長板（不図示）を設け、１／２波長板から回折格子３に出射されるレーザー光をｐ偏光とするようにしても良い。
【００１５】
回折格子３は、半導体レーザー２からのｐ偏光であるレーザー光から、ｐ偏光である例えば０次光と±１次回折光（第１の０次光及び回折光）を発生する。尚、本実施形態における回折格子３は、０次光と±１次回折光との光量比を、１０〜２０：１とする回折効率を有するものとして説明する。
【００１６】
偏光ビームスプリッタ４は、例えばｐ偏光を透過するとともに、ｐ偏光の偏光方向と直交する偏光方向（図２紙面手前から奥方向及び奥から手前方向）のｓ偏光を検出レンズ８に反射可能な偏光膜を有し、この偏光膜は、半導体レーザー２を実使用可能な波長範囲（例えば４０５ｎｍ±１０ｎｍ）において、透過率及び反射率が略一定のものである。そして、偏光ビームスプリッタ４は、回折格子３からのｐ偏光である０次光、±１次回折光を透過する。また、偏光ビームスプリッタ４は、０次光、±１次回折光が光ディスク５０の一の情報記録層に集光される場合において、後述する１／４波長板６の第１領域１０を介したｓ偏光である０次反射光、±１次反射光（図２（ｂ）破線、第４の０次光及び回折光）を反射する。更に、偏光ビームスプリッタ４は、０次光、±１次回折光が光ディスク５０の一の情報記録層に集光される場合において、１／４波長板６の第２領域１１を介したｐ偏光である０次反射光、±１次反射光（図２（ｂ）斜線）を透過する。尚、０次光、±１次回折光が光ディスク５０の一の情報記録層に集光される場合、情報記録層Ｌ１が半透明反射膜にて構成されているため、他の情報記録層にて反射される０次反射光、±１次反射光（迷光）が発生することとなる。しかしながら、光検出器９にて受光された場合の±１次反射光（迷光）の光量は、回折格子３の回折効率による±１次回折光の光量（０次光の光量の１／１０〜２０）及び光検出器９に対する±１次反射光の非集光等に起因して、一般的にトラッキングエラー信号の検出には影響を及ぼさない程度の光量となるため、本実施形態において迷光とは、他の情報記録層からの０次反射光を指すものとする。
【００１７】
コリメータレンズ５は、偏光ビームスプリッタ４からのｐ偏光である０次光、±１次回折光を平行光に変換し、１／４波長板６に出射する。また、コリメータレンズ５は、１／４波長板６からのｓ偏光である０次反射光、±１次反射光を収束光に変換する。また、コリメータレンズ５は、１／４波長板６からのｐ偏光である０次反射光、±１次反射光を収束光に変換する。
【００１８】
１／４波長板６は、ｐ偏光である０次光、±１次回折光を、Ａ（右回り）方向に回転する円偏光（以下、Ａ方向の円偏光という）に変換する（図２（ａ））ためであるとともに、Ａ方向の円偏光である０次光、±１次回折光（第２の０次光及び回折光）が光ディスク５０の各情報記録層にて反射されることにより発生するＡ方向とは逆のＢ（左回り）方向に回転する円偏光（以下、Ｂ方向の円偏光という）である０次反射光、±１次反射光（第３の０次光及び回折光）を、ｓ偏光に変換する（図２（ｂ）、第４の０次光及び回折光）ための第１領域１０を有する。また、１／４波長板６は、ｐ偏光である０次光、±１次回折光の偏光方向を変換せずに透過し、ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光の偏光方向を変換せずに透過するための第２領域１１（禁止領域）を有する。この結果、１／４波長板６から対物レンズ７に対し、Ａ方向の円偏光である０次光、±１次回折光、及びｐ偏光である０次光、±１次回折光が出射されることとなる。また、１／４波長板６からコリメータレンズ５に対し、ｓ偏光である０次反射光、±１次反射光、及びｐ偏光である０次反射光、±１次反射光が出射されることとなる。尚、１／４波長板６の構成については、後述において詳細に説明する。
【００１９】
対物レンズ７は、光ディスク５０の規格に対応した開口数（０．８５）を有し、１／４波長板６からのＡ方向の円偏光である０次光、±１次回折光と、ｐ偏光である０次光、±１次回折光とを、光ディスク１００の一の情報記録層に集光する。この結果、Ａ方向の円偏光及びｐ偏光である０次光は、光ディスク１００の一の情報記録層に形成された情報の記録又は再生対象であるトラックに集光されるとともに、他の情報記録層を照射することとなる。尚、Ａ方向の円偏光及びｐ偏光である０次光が、他の情報記録層を照射することにより、迷光が発生することとなる（以下、Ａ方向の円偏光である０次光が他の情報記録層を照射することにより発生する迷光を迷光Ａ、ｐ偏光である０次光が他の情報記録層を照射することにより発生する迷光を迷光Ｂという）。また、Ａ方向の円偏光及びｐ偏光である＋１次回折光は、光ディスク５０の径方向において当該トラックから例えば内周側へ１／２トラックピッチ分離れ、当該トラックの接線方向において所定距離離れた位置に集光されるとともに、他の情報記録層を照射することとなる。また、Ａ方向の円偏光及びｐ偏光である−１次回折光とは、０次光の集光位置に対し＋１次回折光の集光位置と点対称
となる位置に集光されるとともに、他の情報記録層を照射することとなる。また、対物レンズ７は、光ディスク５０からのＢ方向の円偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ａと、ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂとを平行光に変換して、１／４波長板６に出射する。
【００２０】
検出レンズ８は、シリンドリカルレンズ等で構成され、偏光ビームスプリッタ４からのｓ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ａに非点収差を付与する。
【００２１】
光検出器９は、図３に示すように、例えば正方形の形状を有した、検出レンズ８からのｓ偏光である０次反射光を受光するための受光面１２（０次光受光面）と、ｓ偏光である＋１次反射光を受光するための受光面１３（回折光受光面）と、ｓ偏光である−１次反射光を受光するための受光面１４（回折光受光面）とを有する。受光面１２乃至１４は、ｓ偏光である０次反射光、±１次反射光が最小錯乱円となる位置に設けられ、受光面１２乃至１４の光検出器９における配置は、光ディスク５０の一の情報記録層に対する、Ａ方向の円偏光及びｐ偏光である０次光の集光位置と、Ａ方向の円偏光及びｐ偏光である＋１次回折光の集光位置と、Ａ方向の円偏光及びｐ偏光である−１次回折光と集光位置との配列に対応している。また、受光面１２を受光面Ａ、Ｂと受光面Ｃ、Ｄとに分割する分割方向と、受光面１３を受光面Ｉ、Ｊと受光面Ｋ、Ｌとに分割する分割方向と、受光面１４を受光面Ｅ、Ｆと受光面Ｇ、Ｈとに分割する分割方向とは、光ディスク５０の情報記録層Ｌ０及びＬ１に形成されたトラックの接線方向に対応している。また、受光面１２の対角線は、０次反射光の非点収差の発生方向と略一致している。受光面１３の対角線は、＋１次反射光の非点収差の発生方向と略一致している。受光面１４の対角線は、−１次反射光の非点収差の発生方向と略一致している。尚、受光面１２乃至受光面１４のトラックの接線方向に対応する分割方向（以下、Ｃ方向という）における各長さをＸ３とし、受光面１２乃至受光面１４の配列方向（以下、Ｄ方向という）における受光面１３から受光面１４までの長さをＹ３として、後記する１／４波長板６の構成の詳細において説明する。
【００２２】
この光検出器９は、受光面Ａにおける０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ａ、受光面Ｂにおける０次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｂ、受光面Ｃにおける光電変換信号Ｃ、受光面Ｄにおける光電変換信号Ｄ、受光面Ｉにおける＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｉ、受光面Ｊにおける＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｊ、受光面Ｋにおける＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｋ、受光面Ｌにおける＋１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｌ、受光面Ｅにおける−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｅ、受光面Ｆにおける−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｆ、受光面Ｇにおける−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｇ、受光面Ｈにおける−１次反射光の光量に応じた光電変換信号Ｈを生成して、光ディスク５０の情報記録層に記録された情報の再生信号、トラッキング制御のためのトラッキングエラー信号、フォーカス制御のためのフォーカスエラー信号等を検出する不図示の処理回路に出力する。そして、当該処理回路における、光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄの演算処理の結果に基づいて、再生信号が検出されることとなる。また、当該処理回路において、｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ）−（光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）｝−ｋ［｛（光電変換信号Ｉ＋光電変換信号Ｊ）−（光電変換信号Ｋ＋光電変換信号Ｌ）｝＋｛（光電変換信号Ｅ＋光電変換信号Ｆ）−（光電変換信号Ｇ＋光電変換信号Ｈ）｝］を演算処理することにより、トラッキングエラー信号が検出されることとなる（ｋ＝０次光の光量／±１次回折光の光量＝１０〜２０／２）。また、当該処理回路において、｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｃ）−（光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｄ）｝＋ｋ［｛（光電変換信号Ｉ＋光電変換信号Ｋ）−（光電変換信号Ｊ＋光電変換信号Ｌ）｝＋｛（光電変換信号Ｅ＋光電変換信号Ｇ）−（光電変換信号Ｆ＋光電変換信号Ｈ）｝］を演算処理することにより、フォーカスエラー信号が検出されることとなる。尚、光ディスク５０の規格等に応じて、｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｃ）−（光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｄ）｝からフォーカスエラー信号を検出することとしても良い。
【００２３】
＝＝＝本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６の構成＝＝＝
以下、図２、図３を適宜参照しつつ、図１を用いて本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６の詳細について説明する。図１（ａ）は、図２に示す第１領域１０及び第２領域１１の左側面図である。図１（ｂ）は、トラックの接線方向から１／４波長板６を見た時の断面図である。
【００２４】
１／４波長板６は、第１領域１０、第２領域１１、ガラス基板１５ａ、１５ｂを有する。ガラス基板１５ａ、１５ｂは、第１領域１０、第２領域１１を封止する。
【００２５】
第１領域１０は、複屈折シート、ポリマー材等の高分子材料や水晶等から構成されており、複屈折シート等の光学軸（図１（ａ）の第１領域１０中の矢印方向）に対して＋４５度の角度をなす偏光方向であるｐ偏光をＡ方向の円偏光に変換し、複屈折シート等の光学軸に対して−４５度の角度をなす偏光方向であるｓ偏光をＢ方向の円偏光に変換する。また、第１領域１０は、Ａ方向の円偏光をｐ偏光に変換し、また、Ｂ方向の円偏光をｓ偏光に変換する。この結果、第１領域１０は、コリメータレンズ５からのｐ偏光である０次光、±１次回折光をＡ方向の円偏光に変換し、対物レンズ７からのＢ方向の円偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ａをｓ偏光に変換することとなる。
【００２６】
第２領域１１は、ｐ偏光である０次光、±１次回折光の偏光方向を変換せずに透過し、ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂの偏光方向を変換せずに透過するべく例えば空気又はガラス、屈折率分布が等方的な樹脂等で構成された、長方形の形状を有する領域である。以下、図３を参照しつつ、第２領域１１の径方向における長さＸ１、接線方向における長さＹ１と、長方形の形状を有する、迷光Ａ（斜線）中の非斜線部１６のＣ方向における長さＸ２、Ｄ方向における長さＹ２との関係について説明する。第２領域１１の径方向における長さＸ１は、光検出器９に対して迷光Ａ（斜線）が照射される場合、当該迷光Ａ中の非斜線部１６のＣ方向における長さをＸ２（＞Ｘ３）とする値で設定される。また、第２領域１１の接線方向における長さＹ１は、光検出器９に対して迷光Ａが照射される場合、当該迷光Ａ（斜線）中の非斜線部１６のＤ方向における長さをＹ２（＞Ｙ３）とする値で設定される。つまり、第２領域１１は、光検出器９の受光面１２乃至１４が迷光Ａを受光しないための領域（非斜線部１６）を当該迷光Ａに形成させる形状で設けられる。言い換えれば、第２領域１１は、迷光Ｂが仮に光検出器９に照射される場合に、非斜線部１６の形状で照射されることを回避するための形状で設けられる。尚、この第２領域１１の長さＸ１、Ｙ１は、１／４波長板６からコリメータレンズ５に出射した迷光Ａ（又は／及び迷光Ｂ）が、当該１／４波長板６から光検出器９までの復路光学系（コリメータレンズ５、偏光ビームスプリッタ４、検出レンズ８）を介したときの、迷光Ａ（又は／及び迷光Ｂ）の例えば径の変化倍率等に基づいてもとめることが可能であるし、又は実験、シュミレーション等を繰り返すことにより算出することも可能である。この結果、光ディスク５０の他の情報記録層にて反射された０次反射光は、１／４波長板６からコリメータレンズ５に出射したとき、光検出器９に対して非斜線部１６を有して照射されるｓ偏光である迷光Ａと、図２（ｂ）の斜線にて示す偏光ビームスプリッタ４を透過可能なｐ偏光である迷光Ｂとなる。
【００２７】
＝＝＝迷光に対する１／４波長板６の効果＝＝＝
以下、図１乃至図３を参照しつつ、本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６の効果について説明する。尚、本実施形態においては、例えば光ディスク５０の情報記録層Ｌ１に０次光、±１次回折光を集光する場合について説明する。
【００２８】
コリメータレンズ５からのｐ偏光である０次光、±１次回折光のうち、径方向における長さＸ１、接線方向における長さＹ１を有する第２領域１１に入射した０次光、±１次反射光は、当該第２領域１１を透過する。また、残りのｐ偏光である０次光、±１次回折光は、第１領域１０によりＡ方向の円偏光に変換される。
【００２９】
１／４波長板６からのＡ方向の円偏光及びｐ偏光である０次光は、対物レンズ７によって、光ディスク５０の情報記録層Ｌ１に形成されたトラックに集光されるとともに、情報記録層Ｌ０を照射する。この結果、Ａ方向の円偏光である０次光が情報記録層Ｌ１にて反射されることによりＢ方向の円偏光である０次反射光が発生し、ｐ偏光である０次光が情報記録層Ｌ１にて反射されることによりｐ偏光である０次反射光が発生する。また、Ａ方向の円偏光である０次光が情報記録層Ｌ０にて反射されることによりＢ方向の円偏光である０次反射光（迷光Ａ）が発生し、ｐ偏光である０次光が情報記録層Ｌ０にて反射されることによりｐ偏光である０次反射光（迷光Ｂ）が発生することとなる。
【００３０】
また、１／４波長板６からのＡ方向の円偏光及びｐ偏光の＋１次回折光は、対物レンズ７によって、当該トラックから内周側へ１／２トラックピッチ分離れ、当該トラックに接線方向において所定距離離れた位置に集光されるとともに、情報記録層Ｌ０を照射する。この結果、Ａ方向の円偏光である＋１次回折光が情報記録層Ｌ１にて反射されることによりＢ方向の円偏光である＋１次反射光が発生し、ｐ偏光である＋１次回折光が情報記録層Ｌ１にて反射されることによりｐ偏光である＋１次反射光が発生する。また、Ａ方向の円偏光である＋１次回折光が情報記録層Ｌ０にて反射されることによりＢ方向の円偏光である＋１次反射光が発生し、ｐ偏光である＋１次反射光が情報記録層Ｌ０にて反射されることによりｐ偏光である＋１次反射光が発生することとなる。尚、上述したように、情報記録層Ｌ０からの＋１次反射光は、トラッキングエラー信号の検出には影響を及ぼさない程度の光量となるため、説明を省略する。
【００３１】
また、１／４波長板６からのＡ方向の円偏光及びｐ偏光の−１次回折光は、対物レンズ７によって、０次光の集光位置に対し＋１次回折光の集光位置と点対象となる位置に集光されるとともに、情報記録層Ｌ０を照射する。この結果、Ａ方向の円偏光である−１次回折光が情報記録層Ｌ１にて反射されることによりＢ方向の円偏光である−１次反射光が発生し、ｐ偏光である−１次回折光が情報記録層Ｌ１にて反射されることによりｐ偏光である−１次反射光が発生する。また、Ａ方向の円偏光である−１次回折光が情報記録層Ｌ０にて反射されることによりＢ方向の円偏光である−１次反射光が発生し、ｐ偏光である−１次反射光が情報記録層Ｌ０にて反射されることによりｐ偏光である−１次反射光が発生することとなる。尚、上述したように、情報記録層Ｌ０からの−１次反射光は、トラッキングエラー信号の検出には影響を及ぼさない程度の光量となるため、説明を省略する。
【００３２】
情報記録層Ｌ１からのＢ方向の円偏光である０次反射光、±１次反射光（図２（ｂ）破線）、ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光（図２（ｂ）斜線）は、対物レンズ７によって、平行光に変換される。また、情報記録層Ｌ０からのＢ方向の円偏光である迷光Ａ（図２（ｂ）破線）、ｐ偏光である迷光Ｂ（図２（ｂ）斜線）は、対物レンズ７によって、略平行光に変換される。
【００３３】
そして、径方向における長さＸ１、接線方向における長さＹ１を有する第２領域１１に入射した、ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂは、当該第２領域１１を透過する。また、Ｂ方向の円偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ａは、第１領域１０によりｓ偏光に変換される。
【００３４】
１／４波長板６からのｐ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂ、及びｓ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ａは、コリメータレンズ５により収束光に変換される。
【００３５】
そして、コリメータレンズ５からのｓ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ａは、偏光ビームスプリッタ４によって反射されることにより、検出レンズ８に出射される。また、ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂは、偏光ビームスプリッタ４を透過することにより、回折格子３に出射される。この結果、情報の記録又は再生の対象ではない情報記録層Ｌ０を０次光が照射することにより発生する迷光Ａ、Ｂのうち、迷光Ｂは光検出器９側へ出射されないこととなり、迷光Ａのみが光検出器９側へ出射されることとなる。
【００３６】
ｓ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ａは、検出レンズ８により非点収差が付与されて、光検出器９に出射される。
【００３７】
ｓ偏光である０次反射光は、光検出器９の受光面１２にて受光される。また、ｓ偏光である＋１次反射光は、光検出器９の受光面１３にて受光される。また、ｓ偏光である−１次反射光は、光検出器９の受光面１４にて受光される。そして、ｓ偏光である迷光Ａは、図３に示すように、Ｃ方向における長さＸ２、Ｄ方向における長さＹ２の非斜線部１６を除いて光検出器９に照射されることとなる。つまり、受光面１２乃至１４にて迷光が受光されなくなる。この結果、受光面Ａ乃至Ｄにて受光された０次反射光、受光面Ｉ乃至Ｌにて受光された＋１次反射光、受光面Ｅ乃至Ｈにて受光された−１次反射光に基づいて、良好なトラッキングエラー信号が検出されることとなる。
【００３８】
上述した実施形態によれば、迷光Ｂの受光を禁止された受光面１２乃至１４からの光電変換信号Ａ乃至Ｌに基づいて、良好なトラッキングエラー信号を検出することが可能となり、光ディスク５０に対する情報の記録又は再生を正確に行うことが可能となる。また、光ディスク５０に対する情報の記録又は再生を行うために光ピックアップ装置１が有するべき１／４波長板６を用いている為、従来のように、迷光の受光を禁止するために偏光ホログラム等を設ける必要がないため、工程数増加、コストアップ等を軽減又は防止することが可能となる。また、半導体レーザー２が出射するレーザー光の波長の変動に対しても、偏光ビームスプリッタ４が透過及び反射可能であるため、受光面１２乃至１４が迷光Ｂを受光することを禁止することが可能となる。
【００３９】
更に、第２領域１１が、往光路において、ｐ偏光である０次光、±１次回折光を透過し、復光路において、ｐ偏光である０次反射光、±１反射光、迷光Ｂを透過することから、偏光ビームスプリッタ４は、当該ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂを確実に透過することが可能となる。この結果、受光面１２乃至１４が迷光Ｂを受光することをより確実に禁止することが可能となる。
【００４０】
更に、受光面１２が、迷光Ｂを受光することを禁止することが可能となり、より正確なトラッキングエラー信号を検出することが可能となる。この結果、光ディスク５０に対する情報の記録又は再生をより良好に行うことが可能となる。更に、再生信号（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ＋光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）に対する迷光Ｂの影響を軽減又は防止することが可能となり、光ディスク５０に対するより良好な情報の再生又は記録を行うことが可能となる。
【００４１】
＝＝＝本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板６のその他の形態＝＝＝
＜＜第２領域の形状＞＞
上述の実施形態においては、第２領域１１の形状を、図３に示す長方形としたがこれに限るものではない。
【００４２】
例えば、図４に示す形状しても良い。図４（ａ）は、光検出器９の受光面１２乃至１４の形状（正方形）と略同一形状を有する第２領域１７Ａ乃至１７Ｃを備えた、１／４波長板１９を示す図である。図４（ｂ）は、光検出器９に対するレーザー光の照射の様子を示す図である。尚、図４において、図１及び図３と同一の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
【００４３】
１／４波長板１９は、第１領域１８、第２領域１７Ａ乃至１７Ｃ、不図示のガラス基板１５ａ、１５ｂを有する。第２領域１７Ａの径方向における長さＸ１は、光検出器９に対して迷光Ａ（斜線）が照射される場合、当該迷光Ａ中の非斜線部２０ＡのＣ方向における長さをＸ２（＞Ｘ３）とする値で設定され、接線方向における長さＹ４（＝Ｘ１）は、Ｄ方向における長さをＹ５（＝Ｘ２）（＞Ｙ６（＝Ｘ３））とする値で設定される。また、第２領域１７Ｂの径方向における長さＸ１は、光検出器９に対して迷光Ａ（斜線）が照射される場合、当該迷光Ａ中の非斜線部２０ＢのＣ方向における長さをＸ２（＞Ｘ３）とする値で設定され、接線方向における長さＹ４は、Ｄ方向における長さをＹ５（＞Ｙ６）とする値で設定される。また、第２領域１７Ｃの径方向における長さＸ１は、光検出器９に対して迷光Ａ（斜線）が照射される場合、当該迷光Ａ中の非斜線部２０ＣのＣ方向における長さをＸ２（＞Ｘ３）とする値で設定され、接線方向における長さＹ４は、Ｄ方向における長さをＹ５（＞Ｙ６）とする値で設定される。つまり、第２領域１７Ａは、受光面１２が迷光Ａを受光しないための領域であり、第２領域１７Ｂは、受光面１３が迷光Ａを受光しないための領域であり、第２領域１７Ｃは、受光面１４が迷光Ａを受光しないための領域である。この結果、ｓ偏光である迷光Ａは、図４（ｂ）に示すように、Ｃ方向における長さＸ２、Ｄ方向における長さＹ５の非斜線部２０Ａ乃至２０Ｃを除いて光検出器９に照射されることとなる。つまり、受光面１２乃至１４が迷光Ｂを受光することを禁止することが可能となり、良好なトラッキングエラー信号が検出されることとなる。
【００４４】
更に、第２領域１７Ａ乃至１７Ｃを、受光面１２乃至１４の形状と略同一形状とすることにより、受光面１２乃至１４が受光するべきｓ偏光の０次反射光、±１次反射光に対する、偏光ビームスプリッタ４を透過するｐ偏光である０次反射光、±１次反射光の影響をより軽減することが可能となる。詳述すると、例えば、非斜線部２０Ａ乃至２０ＣのＣ方向における長さＸ２及びＤ方向における長さＹ５を、図４（ｂ）に示す長さよりも長い長さとするべく、第２領域１７Ａ乃至１７Ｃの径方向における長さＸ１及び接線方向における長さＹ４を設定したものとする。この場合、情報の記録又は再生の対象となる一の情報記録層にて反射されたｐ偏光である０次反射光、±１次反射光は、図４に示す第２領域１７Ａ乃至１７Ｃを設けたことによるｐ偏光である０次反射光、±１次反射光に比べ光量、光径等がより大きくなる。逆に、情報の記録又は再生の対象となる一の情報記録層にて反射されたｓ偏光である０次反射光、±１次反射光は、図４に示す第２領域１７Ａ乃至１７Ｃを設けたことによるｓ偏光である０次反射光、±１次反射光に比べ光量、光径等がより小さくなる。このため、受光面１２乃至１４が受光するべきｓ偏光の０次反射光、±１次反射光が小さくなり、良好なトラッキングエラー信号等が検出されなくなる可能性がある。しかしながら、上述したように、第２領域１７Ａ乃至１７Ｃを、受光面１２乃至１４の形状と略同一形状とすることにより、受光面１２乃至１４が受光するべきｓ偏光の０次反射光、±１次反射光の光量等を大きくすることが可能となり、トラッキングエラー信号等の検出をより確実に行うことが可能となる。
【００４５】
また、例えば、図５に示す形状としても良い。図５（ａ）は、図４（ａ）に示す１／４波長板１９の第２領域１７Ａを第１領域１８とした、１／４波長板２１を示す図である。図５（ｂ）は、光検出器９に対するレーザー光の様子を示す図である。尚、図５において、図４と同一の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
【００４６】
図５（ｂ）に示すように、図４（ａ）に示す１／４波長板１９の第２領域１７Ａを第１領域１８とすることにより、受光面１２において迷光Ａが受光されることとなる。そして、トラッキングエラー信号は、前述したように、｛（光電変換信号Ａ＋光電変換信号Ｂ）−（光電変換信号Ｃ＋光電変換信号Ｄ）｝−ｋ［｛（光電変換信号Ｉ＋光電変換信号Ｊ）−（光電変換信号Ｋ＋光電変換信号Ｌ）｝＋｛（光電変換信号Ｅ＋光電変換信号Ｆ）−（光電変換信号Ｇ＋光電変換信号Ｈ）｝］を演算処理することにより検出されることとなる。ここで、トラッキングエラー信号の検出に係る受光面１２からの光電変換信号Ａ乃至Ｄと、受光面１３、１４からの光電変換信号Ｅ乃至Ｌとを比べると、受光面１３、１４からの光電変換信号Ｅ乃至Ｌに基づく演算結果［｛（光電変換信号Ｉ＋光電変換信号Ｊ）−（光電変換信号Ｋ＋光電変換信号Ｌ）｝＋｛（光電変換信号Ｅ＋光電変換信号Ｆ）−（光電変換信号Ｇ＋光電変換信号Ｈ）｝］は、回折格子３の回折効率に基づいてｋ倍されることとなる。このため、仮に、受光面１３、１４にて迷光Ａが受光された場合、その迷光Ａの受光に起因したトラッキングエラー信号に対する影響は、受光面１２にて迷光Ａが受光された場合の影響よりも大きく増幅されることとなる。つまり、受光面１２による迷光Ａの受光は、トラッキングエラー信号の検出にあたって相対的に小さいものであることが分かる。このため、図５（ａ）に示すように第２領域１７Ｂ、１７Ｃのみを１／４波長板２１に設けることによっても、良好なトラッキングエラー信号を検出することが可能となる。
【００４７】
＜＜第２領域のその他の形態＞＞
上述の実施形態によれば、第２領域１１（１７）を、ｐ偏光である０次光、±１次回折光の偏光方向を変換せずに透過し、ｐ偏光である０次反射光（迷光Ｂを含む）、±１次反射光の偏光方向を変換せずに透過するべく、空気又はガラス、屈折率分布が等方的な樹脂等で構成しているがこれに限るものではない。
【００４８】
例えば、図６に示すように、光学軸をｐ偏光の偏光方向と同一方向に設定した複屈折シート等で第２領域２４を構成しても良い。図６（ａ）は、１／４波長板２５を構成する第１領域１０、第２領域２４を示す図である。図６（ｂ）は、トラックの接線方向から１／４波長板２５を見た時の断面図である。図６（ｃ）は、光検出器９に照射されるレーザー光の様子を示す図である。尚、図６において、図１及び図３と同一の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
【００４９】
第２領域２４は、第１領域１０を構成する複屈折シート等の光学軸（図６（ａ）の第１領域１０中の矢印方向）に対して、＋４５度の角度をなす光学軸で設定された複屈折シート等（素子）から構成されている。この結果、第２領域２４を構成する複屈折シートの光学軸と、ｐ偏光の偏光方向とは同一方向となる。つまり、第２領域２４は、１／４波長板として機能を有しない領域となる。このため、第２領域２４は、ｐ偏光である０次光、±１次回折光の偏光方向を変換せずに透過し、ｐ偏光である０次反射光（迷光Ｂを含む）、±１次反射光の偏光方向を変換せずに透過することとなる。この結果、ｓ偏光である迷光Ａは、図６（ｃ）に示すように、Ｃ方向における長さＸ２、Ｄ方向における長さＹ２の非斜線部２６を除いて光検出器９に照射されることとなる。つまり、受光面１２乃至１４が迷光Ｂを受光することを禁止することが可能となり、良好なトラッキングエラー信号が検出されることとなる。
【００５０】
更に、図６に示す第２領域２４を複屈折シート等から構成することにより、１／４波長板２５に入射された０次光、±１次回折光が、当該１／４波長板２５からの出射されたときの、第１領域１０からのＡ方向の円偏光である０次光、±１次回折光と、第２領域２４からのｐ偏光である０次光、±１次回折光との位相段差の発生を防止することが可能となる。この結果、光ディスク５０の一の情報記録層に形成されたトラックに対し、対物レンズ７の集光動作によって、Ａ方向の円偏光である０次光、±１次回折光と、ｐ偏光である０次光、±１次回折光とによる良好なスポット光を形成することが可能となる。このため、光ディスク５０の一の情報記録層に対する、情報の記録及び／再生を良好に行うことが可能となる。
【００５１】
また、例えば、図７に示す１／２波長板としての機能を有する第２領域２７を設けても良い。図７（ａ）は、１／４波長板２５を構成する第１領域１０、第２領域２７を示す図である。図７（ｂ）は、トラックの接線方向から１／４波長板２８を見た時の断面図である。図７（ｃ）は、光検出器９に照射されるレーザー光の様子を示す図である。尚、図７において、図６と同一の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
【００５２】
第２領域２７は、ｐ偏光の偏光方向に対して角度θをなす光学軸で設定された複屈折シート等から構成されている。この結果、第２領域２７は、１／２波長板としての機能を有する領域となる。このため、第２領域２７に入射するｐ偏光である０次光、±１次回折光は、もとの偏光方向（図７、上下矢印方向）に対し角度２θ回転した偏光方向の直線偏光となる（以下、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光という）。この角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次光、±１次回折光、及び第１領域１０からのＡ方向の円偏光である０次光、±１次回折光は、対物レンズ７の集光動作によって、光ディスク５０の一の情報記録層に形成されたトラックに集光されるとともに、他の情報記録層に照射される。以下、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次光、±１次回折光について説明する。光ディスク５０の一の情報記録層に集光された、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次光、±１次回折光は、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次反射光、±１次反射光となり、他の情報記録層に集光された、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次光、±１次回折光は、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次反射光（迷光Ｂ）、±１次反射光となる。そして、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次反射光、±１次反射光は対物レンズ７により平行光に変換されるとともに、迷光Ｂは対物レンズ７により略平行光に変換されて、１／４波長板２８の第２領域２７に入射する。角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂは、第２領域２７により、角度２θに対し角度−２θ回転した偏光方向の直線偏光となる。つまり、０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂは、再びｐ偏光となる。この結果、ｐ偏光である０次反射光、±１次反射光、迷光Ｂは、コリメータレンズ５にて収束光に変換された後、偏光ビームスプリッタ４を透過することとなる。このため、ｓ偏光である迷光Ａは、図７（ｃ）に示すように、Ｃ方向における長さＸ２、Ｄ方向における長さＹ２の非斜線部２９を除いて光検出器９に照射されることとなる。つまり、受光面１２乃至１４が迷光Ｂを受光することを禁止することが可能となり、良好なトラッキングエラー信号が検出されることとなる。
【００５３】
更に、図７に示す第２領域２７を複屈折シート等から構成することにより、１／４波長板２８に入射された０次光、±１次回折光が、当該１／４波長板２５からの出射されたときの、第１領域１０からのＡ方向の円偏光である０次光、±１次回折光と、第２領域２７からの角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次光、±１次回折光との位相段差の発生を防止することが可能となる。この結果、光ディスク５０の一の情報記録層に形成されたトラックに対し、対物レンズ７の集光動作によって、Ａ方向の円偏光である０次光、±１次回折光と、角度２θ回転した偏光方向の直線偏光である０次光、±１次回折光とによる良好なスポット光を形成することが可能となる。このため、光ディスク５０の一の情報記録層に対する、情報の記録及び／再生を良好に行うことが可能となる。尚、図６に示す第２領域２４、図７に示す第２領域２７の形状を、前述した図４に示す第２領域１７Ａ乃至１７Ｃ、図５に示す第２領域１７Ｂ、１７Ｃとすることも可能である。
【００５４】
以上、本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板について説明したが、上記の説明は、本発明の理解を容易とするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得る。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板の詳細を示す図である。
【図２】本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板を具備する光ピックアップ装置の全体構成を示す図である。
【図３】光検出器に照射されるレーザー光の様子を示す図である。
【図４】本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板のその他の形態を示す図である。
【図５】本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板のその他の形態を示す図である。
【図６】本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板のその他の形態を示す図である。
【図７】本発明に係る光ピックアップ装置のための１／４波長板のその他の形態を示す図である。
【図８】光ディスクの各情報記録層からの０次反射光を示す図である。
【図９】光検出器に照射されるレーザー光の様子を示す図である。
【符号の説明】
【００５６】
１    光ピックアップ装置
２    半導体レーザー
３    回折格子
４    偏光ビームスプリッタ
５    コリメータレンズ
６、１９、２１、２５、２８    １／４波長板
７    対物レンズ
８    検出レンズ
９    光検出器
１０、１８    第１領域
１１、１７、２４、２７    第２領域
１２、１３、１４    受光面
１５    ガラス基板
１６、２０、２６、２９    非斜線部
５０    光ディスク
１００    光ディスク
１０１    光検出器
【図１】
0004740043.tif 000002
【図２】
0004740043.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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