(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＶＤを箔押しした後キャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について箔残りを検出することで、前記ＯＶＤが確実に箔押しされたかどうかを検査する検査装置であって、
前記再巻箔に対して光を照射する光源部と、
前記光源部からの照射による透過光より得られる光情報を取り込むタイミングを指示するトリガ部と、
前記光情報を取り込み、取り込んだ前記光情報を後工程に送信する情報収集部と、
前記光情報に対して２値化処理及びエッジ間測定の画像としての解析を行い、前記２値化処理結果及び前記エッジ間測定結果とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定する情報解析部から構成されることを特徴とするＯＶＤ箔検査装置。
【請求項２】
前記情報解析部は、前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較検査するときの検査条件を保存する記憶部と、
前記情報収集部から送信される前記光情報から得られる画像に対しての２値化処理及びエッジ間測定を行い、前記２値化処理結果と前記エッジ間測定値と前記比較検査結果とを前記記憶部へフィードバックする演算部と、
前記トリガ部の信号によって前記ＯＶＤの計数を行う計数部と、
前記演算部の前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査を行い、前記比較検査結果より良否判定を行う判定部と、
前記比較検査のための指示信号と前記比較検査結果を箔押し機へフィードバックする信号を制御する制御部から成る請求項１記載のＯＶＤ箔検査装置。
【請求項３】
前記演算部における前記検査条件の設定を行う操作部を備える請求項２記載のＯＶＤ箔検査装置。
【請求項４】
製品用紙とそれ以外の用紙（機械調整用紙など）の判別及び用紙通過の有無検知を行う用紙検知部及び／又は前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値と前記計数部での計数結果と前記判定部での判定結果を保存するデータ集積部を備える請求項１乃至３のいずれか１項に記載のＯＶＤ箔検査装置。
【請求項５】
前記情報解析部において、前記ＯＶＤが用紙に確実に箔押しされているかどうか検査した前記判定結果が不良であると判定された際にその旨を作業者に報知する警告部を備える請求項１乃至４のいずれか１項に記載のＯＶＤ箔検査装置。
【請求項６】
ＯＶＤを箔押しした後キャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について箔残りを検出することで、前記ＯＶＤが確実に箔押しされたかどうかを検査する検査方法であって、
前記再巻箔に対して光を照射し、そこで得られる光情報を取り込むタイミングを指示し、
前記タイミングに基づき前記光情報を取り込み、
前記光情報に対して２値化処理及びエッジ間測定の画像としての解析を行い、前記２値化処理結果及びエッジ間測定結果と予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定するＯＶＤ箔検査方法。
【請求項７】
前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較検査するときの検査条件を保存し、
前記光情報から得られる画像に対しての２値化処理及びエッジ間の測定を行い、前記２値化処理結果と前記エッジ間測定値と前記比較検査結果とを前記記憶部へフィードバックし、
前記ＯＶＤの個数の計数を行い、
前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査を行い、
前記比較検査結果により良否の判定を行い、
前記比較検査のための指示信号と前記比較検査結果を箔押し機へフィードバックする信号を制御する請求項６記載のＯＶＤ箔検査方法。
【請求項８】
前記光情報を画像として解析した測定値と前記予め記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査及び前記検査後に次の検査のためにフィードバックする検査条件を設定することが可能な請求項６又は７記載のＯＶＤ箔検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は基材にＯＶＤを形成した際に、ＯＶＤが確実に箔押しされたか否かを検査するとともに箔押し位置制御を行う検査装置及び検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ホログラムや回折格子のような光学特性の異なる薄膜を重ねることで、見る角度により色の変化を生じる多層薄膜のような光の干渉を利用した表示技術（以下「ＯＶＤ（Optical Variable Deviceの略）」といい、ＯＶＤが付された箔、を「ＯＶＤ箔」という。）が、光の回折と干渉によって見る角度により固有の像や色の変化を生じるということから優れた装飾効果を有する一方、有効な偽造防止技術として、カード類を始め有価証券、金券及び銀行券等に広く用いられている。
【０００３】
ＯＶＤは箔押し機によって用紙等の基材に箔押しされているが、正常に箔押しされているかどうかは従来、人の目による検査のみであった。そのために検査精度の均一化、全数検査実施等も困難な状況であり、機械による検査工程の自動化が求められていた。
【０００４】
ＯＶＤ箔はその構成上、用紙などの基材に箔押しされるＯＶＤと箔押し位置まで前記ＯＶＤを運搬するキャリアフィルムの大きく２つに分けられる。なお、箔押し後はそのキャリアフィルムのみ残り再び巻き取って回収するため、本明細書中では特に再巻箔と呼ぶこととする。
【０００５】
検査工程の自動化した技術として、キャリアフィルムが再び巻き取られた再巻箔に光を当ててカメラでとらえ、箔押しして抜け落ちた部分（以下「箔抜け」という。）の面積を測定し、その面積が所定範囲内の値であるか否かを判定して、箔押しが確実に行われたかどうかを検査する箔押し検査方法及び装置（例えば、特許文献１参照。）があるが、箔抜けの面積を測定するということで、箔の全面が蒸着されたＯＶＤ箔（以下「全面蒸着箔」という。）に対しては箔押しした際、ＯＶＤに圧力及び熱を加える金属版（以下「刻印」という。）の形状で箔が抜け落ちるために効果がある。
【０００６】
箔全体が金属蒸着されている全面蒸着箔について前述したが、全面蒸着箔で複雑な形状や微小文字を表現するためには刻印形状も複雑にする必要がある。そこで基材に箔押ししたい部分のみを金属蒸着しておくことで、簡易形状（円形や四角形など）の刻印で箔押しすることが可能となるＯＶＤ箔（以下「部分蒸着箔」という。）がある。
【０００７】
その部分蒸着箔について検査することができる箔押し機（例えば、特許文献２参照。）があるが、これは光学式センサを用いた検査方法である。この場合には、スポットタイプ（センサの照射光が点状）の光学式センサを用いており、ＯＶＤ箔上に残った蒸着部分（以下「箔残り」という。）を検査するため部分蒸着箔に対しても検出が可能である。
【０００８】
【特許文献１】特開２００２−３９７２９号公報
【特許文献２】特開２００４−３５０１４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
部分蒸着箔は箔押ししない部分をあらかじめ除去してあるため、箔押しして蒸着部が基材に転移すると再巻箔には何も残らない。すると箔はあたかもすべて抜け落ちたかのようになり、光源より照射された光は箔抜けの形状にかかわらず透過してしまうため、確実に箔押しできているかどうか確認することができない。
【００１０】
特許文献１においては光が当てられた残箔をカメラでとらえるとあるが、撮像タイミングを指示するトリガ部についての記述がなく、部分蒸着箔を検査できるような高い検査精度は見込めないと考えられる。
【００１１】
特許文献２については、物体を検出するための光を固定された検知部より照射し、その照射範囲を通過する箔を検査するという機構上、その極小の照射幅（この場合スポット径）でしか検出できず、蒸着部全体を検査することができない。また箔押し前後にセンサを設置してＯＶＤ箔を検査し、箔押し状態の確認を行っているが、検査工程が増えることで装置が複雑になり、その分の設置スペースも必要となる。
【００１２】
箔押し位置制御に関して箔押し機に取り付けられた刻印位置は固定であるため、箔押し時において用紙の搬送不良があると用紙に対する刻印の接触位置は変化する。同時に箔（ＯＶＤ箔及び再巻箔）についても、搬送不良により刻印に対するＯＶＤ箔の接触位置は変化する（以下、搬送不良とは箔の搬送不良を指す）。
【００１３】
正規の位置で箔押しした際に蒸着部が刻印内に収まるように設計されている部分蒸着箔は、搬送不良が生じると箔の搬送位置が変化するためその不良の程度によっては、刻印からはみ出して箔押しされてしまうことになる。
【００１４】
搬送不良の検査方法として箔押しした基材のＯＶＤを直接検査する方法が考えられるが、その検査精度は基材の表面状態に左右されるため、用紙にうねりや波うちなどがある場合には機上での高精度かつ均一な検査が難しくなる。
【００１５】
検査工程を後工程に移すことで箔押しに関する不良を発見する応答性が悪くなり、また検査項目も増加することが考えられるため、検査装置の構造がより複雑になる。
【００１６】
さらに全面蒸着箔で模様が一切描かれていない無地の金属箔を箔押しする際、正常に箔抜けしているかどうかを検査すれば問題ないが、部分蒸着箔や蒸着面に図柄模様が描かれている場合には搬送不良により模様や蒸着部が欠けてしまうおそれがあるため、箔押し位置について検査する必要がある。
【００１７】
そこで本発明は全面蒸着箔及び部分蒸着箔に関わらず、箔押し機における箔押し部の後工程つまり再巻箔搬送部において箔残りを検出し、ＯＶＤが基材に確実に箔押しされたかどうかを検査する装置及び方法を提供するものである。
【００１８】
また同時に箔押し位置検出用のマーク（以下「レジスタマーク」という。）が検査トリガとなり、すべての箔が同一のタイミングで撮像され、再巻箔の箔抜けのエッジ検出により箔押しした位置を割り出し、正常な位置で箔押しされたかどうかを検査、制御する装置及び方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
以上の課題を解決するために、本発明は次のようなＯＶＤ箔検査装置を提供するものである。
ＯＶＤを箔押しした後キャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について箔残りを検出することで、ＯＶＤが確実に箔押しされたかどうかを検査する検査装置であって、再巻箔に対して光を照射する光源部と、光源部からの照射による透過光より得られる光情報を取り込むタイミングを指示するトリガ部と、光情報を取り込み、取り込んだ光情報を後工程に送信する情報収集部と、光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定する情報解析部から構成されることを特徴とする。
【００２０】
また、本発明のＯＶＤ箔検査装置の情報解析部は、光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較検査するときの検査条件を保存する記憶部と、情報収集部から送信される光情報から得られる画像に対しての２値化処理及びエッジ間測定を行い、２値化処理結果とエッジ間測定値と比較検査結果とを記憶部へフィードバックする演算部と、トリガ部の信号によってＯＶＤの計数を行う計数部と、演算部の光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査を行い、比較検査結果より良否判定を行う判定部と、比較検査のための指示信号と比較検査結果を箔押し機へフィードバックする信号を制御する制御部から成る。
【００２１】
また、本発明のＯＶＤ箔検査装置は、演算部における検査条件の設定を行う操作部を備える。
【００２２】
また、本発明のＯＶＤ箔検査装置は、情報収集部から送信される光情報と光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値と判定部より得られる判定結果とを表示する表示部を備える。
【００２３】
また、本発明のＯＶＤ箔検査装置は、製品用紙とそれ以外の用紙（機械調整用紙など）の判別及び用紙通過の有無検知を行う用紙検知部及び／又は光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値と計数部での計数結果と判定部での判定結果を保存するデータ集積部を備える。
【００２４】
また、本発明のＯＶＤ箔検査装置は、情報解析部において、ＯＶＤが用紙に確実に箔押しされているかどうか検査した判定結果が不良であると判定された際にその旨を作業者に報知する警告部を備える。
【００２５】
また、本発明は、ＯＶＤを箔押しした後キャリアフィルムを再び巻き取った再巻箔について箔残りを検出することで、ＯＶＤが確実に箔押しされたかどうかを検査するＯＶＤ箔の検査方法であって、再巻箔に対して光を照射し、そこで得られる光情報を取り込むタイミングを指示し、タイミングに基づき光情報を取り込み、光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定する。
【００２６】
また、本発明は、光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較検査するときの検査条件を保存し、光情報から得られる画像に対しての２値化処理及びエッジ間の測定を行い、２値化処理結果とエッジ間測定値と比較検査結果とを記憶部へフィードバックし、ＯＶＤの個数の計数を行い、光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査を行い、比較検査結果より良否の判定を行い、比較検査のための指示信号と比較検査結果を箔押し機へフィードバックする信号を制御するＯＶＤ箔検査方法である。
【００２７】
また、本発明は、光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値との比較検査及び検査後に次の検査のためにフィードバックする検査条件を設定することが可能なＯＶＤ箔検査方法である。
【００２８】
また、本発明は、光情報と光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値と判定結果とを表示するＯＶＤ箔検査方法である。
【００２９】
また、本発明は、製品用紙とそれ以外の用紙（機械調整用紙など）の判別と用紙通過の有無検知及び／又は光情報を画像として解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値と計数結果と判定結果の保存を行うＯＶＤ箔検査方法である。
【００３０】
また、本発明は、ＯＶＤが用紙に確実に箔押しされているかどうか検査した判定結果が不良であると判定された際にその旨を作業者に報知するＯＶＤ箔検査方法である。
【発明の効果】
【００３１】
本発明のＯＶＤ箔検査装置はＯＶＤを箔押しして再び巻き取った再巻箔に光を照射し、その透過光から得られる光情報を情報収集部で取り込み、情報解析部において箔押しして再巻箔に残った部分の面積を測定値として測定し、その測定値と正規の再巻箔として記憶している基準値とを比較することによりその良否を判定し、箔押しが確実に行われたかどうかを検査することができる。
【００３２】
再巻箔に光源部にて光を照射しその透過光が遮蔽される部分の面積を測定することにより、全面蒸着箔に限らず部分蒸着箔に対しても検査することができる。
【００３３】
再巻箔についてレジスタマークを検出することによりＯＶＤを計数し、２値化処理を用いた比較検査によって箔残り検査を行い、箔押し部において箔抜けと再巻箔又は基準枠のエッジ間の距離測定で箔押し位置を検査し、不良があれば箔押し機にフィードバック信号を送信して箔押し位置の制御を行うことができる。
また２値化処理結果、エッジ間測定値及び比較検査結果を検査条件にフィードバックし、必要情報を記憶することで常に最適な検査条件を維持する。
【００３４】
箔押し機に通紙する用紙の有無を検出することができ、また製品用紙とそれ以外の用紙（機械調整用紙）との判別を行うことができる。
【００３５】
箔残りだけでなく再巻箔表面上のチリや傷など透過光を遮蔽するものであれば、検出することができる。
【００３６】
トリガ部で通過するＯＶＤの数量を、また用紙検知部にて基材の通紙の有無を検知することにより用紙に箔押ししたＯＶＤの数量及び箔押しした用紙の数量（箔押し回数）を情報解析部にてカウントすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
図１に本発明におけるＯＶＤ箔検査装置の概略図、図２に構成の詳細なブロック図を示す。なお当該装置は一実施例であり、これに限定されるものではない。
本発明におけるＯＶＤ箔検査装置は、搬送方向２へ搬送されている再巻箔１について箔押し状態を検査するために再巻箔１に対して光を照射する光源部３、その再巻箔１から得られる透過光４、再巻箔１のレジスタマークを読み取って光情報を撮像するタイミングを指示するトリガ部６、トリガ部６の信号により光情報を撮像する情報収集部５、撮像した画像を解析した測定値とあらかじめ記憶してある正規の再巻箔画像の基準値とを比較して被検査物の良否について判定する情報解析部７とで構成される。
【００３８】
情報解析部においては検査条件を保存する記憶部７a、２値化処理及びエッジ間測定、比較検査結果の検査条件へのフィードバックを行う演算部７b、トリガ部６と用紙検知部８の信号より箔押し枚数、各用紙枚数、ＯＶＤ検査数を計数する計数部７c、比較検査結果からＯＶＤが正常に箔押しされているどうかを判定する判定部７d、比較検査のための指示信号及び箔押し機へのフィードバック信号を制御する制御部７eからなる。
【００３９】
なお用紙の判別及び用紙通過を検知する用紙検知部８、検査条件の設定を行う操作部９、取込画像や比較検査結果をモニタリングする表示部１０、基準値、測定値、計数結果、判定結果を保存するデータ集積部１１、作業者に不良箔発生を知らせる警告部１２を備えることで、より一層ＯＶＤ箔の検査作業の効率化が図られる。
【００４０】
光源部３においてはＬＥＤ又はハロゲン照明、情報収集部５ではＣＣＤのラインセンサカメラ又はエリアセンサカメラ、トリガ部６及び用紙検知部８においては光学式センサ又はロータリーエンコーダ、操作部９はコンソール、表示部１０はモニタ、操作及び表示の両機能を備えるタッチパネル、また警告部１２ではブザー又はパトライトを用いることが可能であるがこれに限定されるものではない。
【００４１】
ここで、本発明のＯＶＤ検査装置を設ける箔押し機の機構を説明する。なお箔押し機は一実施例であり、これに限定されるものではない。
給紙部１３からグリッパ２１により運搬される枚葉紙１５及び検査箔開巻部１８から送り出されるＯＶＤ箔は、箔押し機により同期しながら箔押し部に搬送され、刻印板１６と圧胴板１７で枚葉紙１５の定位置にＯＶＤが箔押しされて、枚葉紙１５は排紙部１４に排出、ＯＶＤ箔はキャリアフィルムのみの状態となり再巻箔１として箔再巻取部１９にて再び巻き取られる。
【００４２】
本発明におけるＯＶＤ箔検査装置はこのような箔押し機の場合、再巻箔１について箔押し状態を検査するため常に光を照射する光源部３とレジスタマークを読み取り透過光より得られる光情報を取り込むタイミングを指示するトリガ部６とトリガ部６の指示により光情報を撮像する情報収集部５は箔開巻部から箔巻取部で回収されるまでの箔押し後の再巻箔搬送部に、また撮像した画像に対する２値化処理及びエッジ間測定、トリガ部６と用紙検知部８の信号による計数、測定値と正規の再巻箔画像の基準値との比較検査、箔残り及び箔押し位置制御に関する検査を行う情報解析部７を箔押し機外部に設置されることが望ましい。
【００４３】
さらに箔押しされる枚葉紙１５の用紙の判別及び計数及び給紙状態による検査開始の判定を行うため用紙検知部８を箔押し機の給紙部１３に、検査条件の設定を行う操作部９と取込画像や測定値、基準値、比較検査結果を表示する表示部１０と各種データを保存するデータ集積部１１と作業者に不良箔発生を知らせる警告部１２を箔押し機外部に設置することが望ましい。
【００４４】
図４のフローチャートは本装置での検査工程を示している。
ＯＶＤ箔において箔押し後キャリアフィルムのみとなった再巻箔に対して常に光を照射する。搬送される再巻箔のレジスタマークを検知し、箔抜けの光情報を撮像する（この際に箔押し位置を検出するためにレジスタマークの読取位置を基準とし、取込画像の画素を座標と想定し、開始点P0（A0，B0）より分岐点P1（A1，B1）、P2（A2，B2）、P3（A3，B3）を通過し、P0まで到達する長方形を取込画像に描画する（図８参照）。これを以下「基準枠Ｚ」という）。撮像した画像に対して２値化処理し、基準値と比較して箔押しが確実に行われたかどうか判定し箔残り検査する。同時に箔押し位置制御についても行うが図６（d）、図７（d）のように、取込画像に対して搬送位置を測定するための基準枠Ｚを設定し、幅方向は箔抜けと再巻箔のエッジ距離Ｘ１、搬送方向は箔抜けと基準枠のエッジ距離Ｙ１を測定し、それぞれの基準距離Ｘ０、Ｙ０と比較することで箔押し位置を検査する。比較検査結果より箔押し状態を判定して正常判定であれば再び検査に復帰し、不良判定なら箔押し機を停止させる。
【００４５】
基本的には全数検査が可能であるが、用紙通過及び用紙判別を行うことで検査対象を製品用紙に箔押しした再巻箔に絞ることができ効率的な検査となる。またトリガ信号との組み合わせによるＯＶＤ及び用紙の通過数及び検査数及び箔押し数の計数機能、その計数結果や取込画像、検査条件、判定結果の表示及び保存による検査状態の確認機能、異常があった場合にその旨を作業者へ報知する警告機能によって作業性を向上させる。
【００４６】
必要データを保存後、箔押しが正常判定された場合には検査に復帰する。不良判定された際にはその旨を作業者に報知、自動的に機械を停止して作業者は当該用紙をサンプリングする。ただし、箔押し位置検査にて搬送不良が許容範囲内であった場合には正常判定を行い、基準位置に戻すための修正量を箔押し機にフィードバックし再巻箔の搬送位置を制御する。
【００４７】
前述のように用紙に箔押しするＯＶＤ箔については部分蒸着箔と全面蒸着箔があるが、それぞれについて実施の形態を以下に示す。
【００４８】
まず部分蒸着箔について説明する。
部分蒸着箔は図５（a）のように、蒸着部となる金属層が蒸着された図柄模様部Ａと、レジスタマークＢ及び非蒸着部となるキャリアフィルムＤ１から構成されており、刻印がＣのような楕円形状であった場合に箔押しするとＣの範囲内が基材に転移することとなる。
【００４９】
図６は、後述する条件で箔押しされた部分蒸着箔の再巻箔が検査される様子を示したものである。（a）は正常に箔押しされたもの、（b）は部分的に箔押しされなかったもの、（c）は幅方向、（d）は搬送方向にそれぞれずれて箔押しされたものである。前述のとおり、本発明におけるＯＶＤ箔検査装置は２種類の方法で再巻箔を検査する。（a）〜（c）は２値化による検査が行われている様子であり、刻印Ｃ範囲内における照射光の透過部を箔押し部Ｇ、非透過部を非箔押し部Ｈと認識しその面積を測定することで箔残りＥを検出する。（a）、（b）のように箔押し位置が正常であれば、箔残りＥがある（b）は非箔押し部Ｈの面積が大きくなり不良箔と判定される。
【００５０】
（c）、（d）は箔押し位置がずれた場合であるが、（c）のように検査範囲Ｆの外まで箔押し部がまたがるような大きな搬送不良の場合には、非箔押し部Ｈの面積が増加し２値化検査より不良箔と判定される。
【００５１】
（d）はエッジ間測定による検査の様子であり、物体の輪郭や境界において透過光の濃度差ができることを利用して箔押し位置を検査する。この場合、箔押し部と非箔押し部の境界を判別するため、レジスタマークＢを含めたキャリアフィルムＤ１が非箔押し部Ｈとして区別される。画像処理工程において基準枠Ｚを設け、幅方向Ｘ１（箔押し部ＣとキャリアフィルムＤ１の距離）及び搬送方向Ｙ１（箔押し部Ｃと基準枠Ｚの距離）を測定し、基準の箔押し位置の距離Ｘ０、Ｙ０と比較して正常な位置で箔押しされているかどうかを検査する。２値化及びエッジ間測定の検査方法のうち、いずれか一つで不良箔であると判定された場合には、当該箔は不良であると判定される。
【００５２】
次に全面蒸着箔について説明する。
部分蒸着箔は図５（b）のように、蒸着部となる金属層が蒸着された図柄模様部Ａと、レジスタマークＢ、キャリアフィルムＤ２から構成されており、刻印がＣのような楕円形状であった場合に箔押しするとＣの範囲内が基材に転移することとなる。
【００５３】
図７は、図６と同様な条件で箔押しされた全面蒸着箔の再巻箔が検査される様子を示したものである。前述の通り、本発明におけるＯＶＤ箔検査装置は２種類の方法で再巻箔を検査する。（a）〜（c）は２値化による検査が行われている様子であるが、部分蒸着箔と異なりキャリアフィルムＤ２が蒸着されており、正常な箔押し位置であると部分蒸着箔と比べて非箔押し部Ｈの面積は大きくなる（図６（a）と図７（a））。ただしその面積（非箔押し部Ｈ１）は一定であり、（b）のような箔残りＥを増加分として検出すれば不良箔と判定される。
【００５４】
（c）、（d）は箔押し位置がずれた場合であるが、（c）のように検査範囲Ｆの外まで箔押し部がまたがるような大きな搬送不良の場合には、非箔押し部Ｈの面積が増加し２値化検査より不良箔と判定される。
【００５５】
（d）はエッジ間測定による検査の様子である。図６と同様に、箔押し部と非箔押し部の境界を判別するため、レジスタマークＢを含めたキャリアフィルムＤ１が非箔押し部Ｈとして区別される。２値化及びエッジ間測定の検査方法のうち、いずれか一つで不良箔であると判定された場合には、当該箔は不良であると判定される。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明に関わるＯＶＤ箔検査装置の一実施例を示す概略図である。
【図２】ＯＶＤ箔検査装置の構成を示すブロック図である。
【図３】箔押し機におけるＯＶＤ箔検査装置の構成についての概略図である。
【図４】ＯＶＤ箔検査装置の検査方法に関するフローチャートである。
【図５】箔押し前の部分蒸着箔と全面蒸着箔の一部である。
【図６】部分蒸着箔における検査内容の一例を示した模式図である。
【図７】全面蒸着箔における検査内容の一例を示した模式図である。
【符号の説明】
【００５７】
１    再巻箔
２    搬送方向
３    光源
４    透過光
５    情報収集部
６    トリガ部
７    情報解析部
７ａ  記憶部
７ｂ  演算部
７ｃ  計数部
７ｄ  判定部
７ｅ  制御部
８    用紙検知部
９    操作部
１０  表示部
１１  データ集積部
１２  警告部
１３  給紙部
１４  排紙部
１５  基材（枚葉紙）
１６  刻印板
１７  圧胴板
１８  箔開巻部
１９  箔巻取部
２０  箔搬送部
２１  グリッパ
Ａ    図柄模様部（蒸着部）
Ｂ    レジスタマーク
Ｃ    箔押し部
Ｄ１  キャリアフィルム（非蒸着部）
Ｄ２  キャリアフィルム（蒸着部）
Ｅ    箔残り
Ｆ    検査範囲
Ｘ０  基準距離（幅方向）
Ｘ１  測定距離（幅方向）
Ｙ０  基準距離（搬送方向）
Ｙ１  測定距離（搬送方向）
Ｚ    基準枠
【図１】
0004706064.tif 000002
【図２】
0004706064.tif 000003
【図３】
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【図４】
0004706064.tif 000005
【図５】
0004706064.tif 000006
【図６】
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【図７】
0004706064.tif 000008