(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたピークレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正工程とを有し、
前記記録パルス修正工程でパルス幅が修正された後は、前記記録パルス幅修正工程で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録方法。
【請求項２】
前記読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが最短の場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項３】
前記読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが２番目に短い場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項４】
前記記録パルス幅修正工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合のピークレベルと、最短以外の複数の場合のピークレベルの平均値とを比較することを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項５】
前記記録パルス幅修正工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合と、最短以外のいずれかの長さの場合とを比較することを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項６】
前記記録パルス幅修正工程は、前記ピークレベルの比較において、前記スペースの直前のマークが短い場合の方が大きい場合は、マルチパルスのパルス幅を小さくなるように修正し、直前のマークが短い場合の方が小さい場合は、マルチパルスのパルス幅を大きくなるように修正することを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項７】
前記記録パルス幅修正工程は、前記スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較することにより得られる差と、マルチパルスのパルス幅の変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、マルチパルスのパルス幅を修正することを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項８】
前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項９】
前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項１０】
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたピークレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正手段とを有し、
前記記録パルス修正手段でパルス幅が修正された後は、前記記録パルス幅修正手段で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録装置。
【請求項１１】
前記読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが最短の場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１２】
前記読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが２番目に短い場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１３】
前記記録パルス幅修正手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合のピークレベルと、最短以外の複数の場合のピークレベルの平均値とを比較することを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１４】
前記記録パルス幅修正手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合と、最短以外のいずれかの長さの場合とを比較することを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１５】
前記記録パルス幅修正手段は、前記ピークレベルの比較において、前記スペースの直前のマークが短い場合の方が大きい場合は、マルチパルスのパルス幅を小さくなるように修正し、直前のマークが短い場合の方が小さい場合は、マルチパルスのパルス幅を大きくなるように修正することを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１６】
前記記録パルス幅修正手段は、前記スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較することにより得られる差と、マルチパルスのパルス幅の変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、マルチパルスのパルス幅を修正することを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１７】
前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１８】
前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１９】
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、マークの長さが同じ場合の前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたボトムレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正工程とを有し、
前記記録パルス修正工程で前エッジ位置が修正された後は、前記記録パルス修正工程で修正した前記ライトストラテジの前エッジ位置を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録方法。
【請求項２０】
前記マークレベル読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが最短の場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２１】
前記マークレベル読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが２番目に短い場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２２】
前記記録パルス修正工程は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、前記マークの直前のスペースの長さが最短以外の複数の場合の信号のボトムレベルの平均値とを比較することを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２３】
前記記録パルス修正工程は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、最短以外の場合のいずれかの信号のボトムレベルとを比較することを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２４】
前記記録パルス修正工程は、前記マークに対応する信号のボトムレベルの比較において、前記マークの直前のスペースが短い方が大きい場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が早くなるように修正し、前記マークの直前のスペースが短い方が小さい場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が遅くなるように修正することを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２５】
前記記録パルス修正工程は、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較することにより得られる差と、マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の変化量との関係を予め求めておき、その関係に基づいて、前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の修正量を決定することを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２６】
前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるのであることを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２７】
前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１９に記載の光記録方法。
【請求項２８】
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、マークの長さが同じ場合の前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたボトムレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正手段とを有し、
前記記録パルス修正手段で前エッジ位置が修正された後は、前記記録パルス修正手段で修正した前記ライトストラテジの前エッジ位置を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録装置。
【請求項２９】
前記マークレベル読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが最短の場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３０】
前記マークレベル読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが２番目に短い場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３１】
前記記録パルス修正手段は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、前記マークの直前のスペースの長さが最短以外の複数の場合の信号のボトムレベルの平均値とを比較することを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３２】
前記記録パルス修正手段は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、最短以外の場合のいずれかの信号のボトムレベルとを比較することを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３３】
前記記録パルス修正手段は、前記マークに対応する信号のボトムレベルの比較において、前記マークの直前のスペースが短い方が大きい場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が早くなるように修正し、前記マークの直前のスペースが短い方が小さい場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が遅くなるように修正することを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３４】
前記記録パルス修正手段は、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較することにより得られる差と、マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の変化量との関係を予め求めておき、その関係に基づいて、前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の修正量を決定することを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３５】
前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるのであることを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３６】
前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項２８に記載の光記録装置。
【請求項３７】
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたピークレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正するマルチパルス幅修正工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、マークの長さが同じ場合の前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたボトムレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する前エッジ位置修正工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅を計測する工程と、前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、スペースに対応する部分の幅を計測する工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅を比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたマークに対応する部分の幅とスペースに対応する部分の幅の差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスのパルス幅を修正する先頭パルス幅修正工程とを有し、
前記マルチパルスパルス幅修正工程と、前記前エッジ位置修正工程と、前記先頭パルス幅修正工程で修正を行なった後は、前記マルチパルスパルス幅修正工程と、前記前エッジ位置修正工程と、前記先頭パルス幅修正工程で修正した前記ライトストラテジを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録方法。
【請求項３８】
前記ライトストラテジの修正工程が、始めにマルチパルス幅修正工程を実施し、次に前エッジ位置修正工程を実施し、最後に先頭パルス幅修正工程を実施するライトストラテジの修正工程を有する請求項３７に記載の光記録方法。
【請求項３９】
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたピークレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正するマルチパルス幅修正手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、マークの長さが同じ場合の前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたボトムレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する前エッジ位置修正手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅を計測する手段と、前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、スペースに対応する部分の幅を計測する手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅を比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたマークに対応する部分の幅とスペースに対応する部分の幅の差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスのパルス幅を修正する先頭パルス幅修正手段とを有し、
前記マルチパルスパルス幅修正手段と、前記前エッジ位置修正手段と、前記先頭パルス幅修正手段で修正を行なった後は、前記マルチパルスパルス幅修正手段と、前記前エッジ位置修正手段と、前記先頭パルス幅修正手段で修正した前記ライトストラテジを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録装置。
【請求項４０】
前記ライトストラテジの修正手段が、始めにマルチパルス幅修正手段を実施し、次に前エッジ位置修正手段を実施し、最後に先頭パルス幅修正手段を実施するライトストラテジの修正手段を有する請求項３９に記載の光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録装置に関わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジの調整方法に関するものである。
本発明はまた、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）レコーダ等、光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録再生装置に係わるもので、特にライトストラテジ（記録に用いられるレーザ発光波形規則）を選択する方法及びそれを用いた装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに対して情報の記録を行うためには、記録時に用いるライトストラテジを光ディスクの特性に合わせて最適に調整する必要があった。【０００３】
この対応策として、試し書きにより形成されたピット部分を読み取り、読み取ったピット部分の信号の振幅のピーク部分が略平坦となるようにマルチパルスのパルス幅を調整するものがある（例えば特許文献１参照）。【０００４】
別の改善策として、光ディスクに試し書きしたデータを再生し、再生信号と基準クロックの位相誤差を検出してパルスの先頭位置を調整するものがある（例えば特許文献２参照）。【０００５】
さらに、従来の他の光記録方法及び光記録再生装置においては、ライトストラテジを容易かつ迅速に最適化するために、マーク部およびスペース部の開始ジッタの大小関係により、例えば、マーク部開始ジッタがスペース部開始ジッタより大きい場合にはマーク部の先頭パルス幅を小さくし、一方、マーク部開始ジッタがスペース部開始ジッタより小さい場合にはマーク部の先頭パルス幅を大きくすることにより、ライトストラテジの変更方向を正しく認識するようにしていた（例えば、特許文献３参照）。【０００６】
【特許文献１】特開２００２−６３７２１号公報（第１−１０貢、第１−７図）
【特許文献２】特開２００３−３０８３７号公報（第１−２６頁、第１−１０図）
【特許文献３】特開２００３−２０８７１６号公報（段落００２８，００２９）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１に記載された従来の光記録装置では、試し書きにより形成されたピット部分を読み取った信号の振幅のピーク部分が略平坦となるようにマルチパルスのパルス幅を調整しているが、ピット部分を読み取った信号の振幅のピーク部分のマルチパルスのパルス幅に対する変動量は光ディスクの感度等によって異なる為、マルチパルスのパルス幅をどれだけ調整すれば良いかは分からない。また、光ディスクの特性によっては、前記振幅のピーク部分が平坦となる場合に必ずしもジッタ等の信号品質が良くならないという問題点があった。【０００８】
特許文献２に記載された従来の光記録装置では、光ディスクに試し書きしたデータを再生し、再生信号と基準クロックの位相誤差を検出してパルスの先頭位置を調整しているが、マーク長とそのマークの直前または直後のスペース長との組み合わせ毎に位相誤差を測定しているため、位相誤差を求めるための演算や組み合わせ毎の誤差を格納する多量のメモリが必要で手順が複雑であった。【０００９】
特許文献３に記載された従来の光記録方法及び光記録再生装置では、マーク部開始ジッタおよびスペース部開始ジッタの大小により調整を実施するものであるが、先頭パルス幅の調整に対して必ずしもジッタが最小となるポイントが最適ライトストラテジであるとは限らず、また、初期記録で用いたライトストラテジと最適ライトストラテジの差が大きい場合には先頭パルス幅の調整に時間がかかるという問題点があった。【００１０】
本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を、前記光ディスクに対して最適に調整し、最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることを目的としている。【００１１】
この発明の他の目的は、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジを、光ディスクに対して最適に調整し、最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたピークレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正工程とを有し、
前記記録パルス修正工程でパルス幅が修正された後は、前記記録パルス幅修正工程で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録方法を提供する。
【００１４】
本発明はまた、
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、マークの長さが同じ場合の前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたボトムレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正工程とを有し、
前記記録パルス修正工程で前エッジ位置が修正された後は、前記記録パルス修正工程で修正した前記ライトストラテジの前エッジ位置を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録方法を提供する。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係る、
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、スペースの長さが同じ場合の前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたピークレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正工程とを有し、
前記記録パルス修正工程でパルス幅が修正された後は、前記記録パルス幅修正工程で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録方法によれば、
記録された信号のスペースに対応する信号のピークレベルを、スペースの直前のマークの長さ別に比較し、ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正するので、光ディスクに最適なマルチパルスのパルス幅を決定することができ、最適な記録を行うことができる。
【００１７】
本発明に係る、
光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、マークの長さが同じ場合の前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて、前記比較されたボトムレベルの差が所定の範囲内に収まるように、前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正工程とを有し、
前記記録パルス修正工程で前エッジ位置が修正された後は、前記記録パルス修正工程で修正した前記ライトストラテジの前エッジ位置を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う光記録方法によれば、
記録された信号のマークに対応する信号のボトムレベルを、マークの直前のスペースの長さ別に比較し、ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正するので、光ディスクに最適なマルチパルスの先頭パルスの前エッジ位置を決定することができ、最適な記録を行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】この発明の実施の形態１における光記録再生装置を示すブロック図である。
【図２】（ａ）〜（ｃ）は、この発明の実施の形態１におけるアシンメトリ検出部において、検出される再生信号のアシンメトリの例を示した図である。
【図３】（ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、光ディスクが色素系媒体である場合に生成するライトストラテジの例を示した図である。
【図４】この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。
【図５】この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順の一例を示すフローチャートである。
【図６】この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順の他の例を示すフローチャートである。
【図７】この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順のさらに他の例を示すフローチャートである。
【図８】（ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態１におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。
【図９】（ａ）〜（ｃ）は、この発明の実施の形態１におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。
【図１０】この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図１１】この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１とマルチパルスのパルス幅ＴＭとの関係を示した図である。
【図１２】この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、Ａの光ディスクにおいて、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図１３】この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、Ｂの光ディスクにおいて、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図１４】この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、Ｃの光ディスクにおいて、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図１５】この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＢ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図１６】この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ４−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図１７】この発明の実施の形態２における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順の一例を示すフローチャートである。
【図１８】この発明の実施の形態３における光記録再生装置を示すブロック図である。
【図１９】この発明の実施の形態３における光記録再生装置における、記録の手順の一例を示すフローチャートである。
【図２０】この発明の実施の形態３における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順の一例を示すフローチャートである。
【図２１】この発明の実施の形態３における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順の他の例を示すフローチャートである。
【図２２】この発明の実施の形態３における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順のさらに他の例を示すフローチャートである。
【図２３】（ａ）〜（ｃ）は、この発明の実施の形態３におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。
【図２４】（ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態３におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。
【図２５】この発明の実施の形態３における光記録再生装置において、先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤを変更した時の３Ｔマーク信号レベルの差Ｉ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図２６】この発明の実施の形態３における光記録再生装置において、先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤを変更した時の３Ｔマーク信号レベルの差Ｉ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１と先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤとの関係を示した図である。
【図２７】この発明の実施の形態４における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順の一例を示すフローチャートである。
【図２８】この発明の実施の形態５における光記録再生装置を示すブロック図である。
【図２９】（ａ）〜（ｆ）は、この発明の実施の形態５における光記録再生装置において、光ディスクが色素系媒体である場合に生成するライトストラテジの例を示した図である。
【図３０】この発明の実施の形態５における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。
【図３１】この発明の実施の形態５における光記録再生装置における、マーク形成のための先頭パルスの調整手順の一例を示すフローチャートである。
【図３２】この発明の実施の形態５における光記録再生装置におけるマーク形成のための先頭パルスの調整手順の他の例を示すフローチャートである。
【図３３】この発明の実施の形態５における光記録再生装置における、マーク形成のための先頭パルスの調整手順のさらに他の例を示すフローチャートである。
【図３４】この発明の実施の形態５における光記録再生装置において、各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、同一周期数のマーク部の幅とスペース部の幅の差と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図３５】この発明の実施の形態５における光記録再生装置において、各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、同一周期数のマーク部の幅と基準マーク部幅の差と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図３６】この発明の実施の形態５における光記録再生装置において、異なる種類の光ディスク（Ａ、Ｂ、Ｃ）において、３Ｔのマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、３Ｔのマーク部の幅とスペース部の幅の差と再生ジッタとの関係を示した図である。
【図３７】この発明の実施の形態６における光記録再生装置を示すブロック図である。
【図３８】この発明の実施の形態６における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００２０】
１００  光記録再生装置、  １１０  半導体レーザ、  １２０  レーザ駆動部、  １３０  コリメートレンズ、  １４０  ビームスプリッタ、  １５０  対物レンズ、  １６０  光ディスク、  １７０  検出レンズ、  １８０  受光素子、  １９０  ヘッドアンプ、  ２００  プリピット検出部、  ２１０  アシンメトリ検出部、  ２２０  イコライザ、  ２３０  データエンコーダ、  ２４０  レーザ波形制御部、  ２５０  中央制御装置、  ２６０  データデコーダ、  ２７０  スペースレベル検出部、  ２８０  マークレベル検出部、  ２９０  パルス幅検出部。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
実施の形態１．
以下に説明する実施の形態１及び実施の形態２における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジ（記録に用いられるレーザ発光波形規則）に従いマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなっている。即ち、以下の実施の形態１及び実施の形態２で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものであり、マーク期間中に１つ以上のパルスを有する。そして、このようなマルチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態１及び実施の形態２では、ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を、試し書きした信号から読み取ったスペースに対応した信号のピークレベルを基に調整することとしている。
さらにまた、以下に説明する実施の形態１及び実施の形態２では、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録や再生に用いられるチャンネルクロックの周期Ｔを単位として表され、光ディスクへの情報の記録が、ＥＦＭ（８−１６）変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマーク、即ちクロック周期数ｎが３乃至１１、及び１４のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。なお、最長マーク（長さ１４Ｔのマーク）は、シンクパターンである。【００２２】
図１は本発明の実施の形態１に係る光記録再生装置１００の基本的な構成例を示す図である。図１において、レーザ光源としての半導体レーザ１１０はレーザ駆動部１２０により駆動制御されている。【００２３】
データ再生時においては、半導体レーザ１１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。光ディスク１６０からの反射光は、対物レンズ１５０を通った後にビームスプリッタ１４０により入射光と分離され、検出レンズ１７０を介して受光素子１８０で受光される。
上記のうち、半導体レーザ１１０と、コリメートレンズ１３０と、ビームスプリッタ１４０と、対物レンズ１５０、検出レンズ１７０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子１８０と、レーザ駆動部１２０とで光ピックアップＰＵが構成されている。
受光素子１８０は光信号を電気信号に変換する。受光素子１８０において変換された電気信号は、ヘッドアンプ１９０を介してプリピット検出部２００とアシンメトリ検出部２１０とイコライザ２２０とに入力される。プリピット検出部２００は、入力された電気信号から、光ディスク１６０のプリピット部に予め記録された、アシンメトリ値βの推奨値等の光ディスク固有の情報を検出する。
また、イコライザ２２０に入力されたヘッドアンプ１９０からの電気信号は整形され、データデコーダ２６０とスペースレベル検出部２７０とに入力される。データデコーダ２６０は、入力された電気信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク１６０に記録されたデータを生成（再生）する。
スペースレベル検出部２７０は、再生された信号のうち、スペースに対応する部分のピークレベルを検出する。この場合、各クロック周期数のスペース部に対応するピークレベルを、当該スペースの直前に位置するマークの長さ別（クロック周期数で表されるマークの長さ別に）に検出する。例えば、３Ｔのスペースに対応するピークレベルを、当該スペースの直前に位置するマーク３Ｔである場合について検出し、また当該スペースの直前に位置するマークが３Ｔ以外である場合について検出する。【００２４】
アシンメトリ検出部２１０は、入力された電気信号をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリ値βを算出する。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）・・・（１）
ここで、ピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。【００２５】
図２（ａ）〜（ｃ）は、アシンメトリ検出部２１０において、検出される再生信号（ヘッドアンプ１９０から出力される信号）のアシンメトリの検出例を示したものである。図２（ａ）にβ＜０の場合を示す。図２（ｂ）にβ＝０の場合を示す。図２（ｃ）にβ＞０の場合を示す。【００２６】
データ記録時においては、データエンコーダ２３０は、中央制御部２５０から与えられる、記録すべき元データに対して、エラー訂正符号を付与し、データ変調を行って、半導体レーザ１１０への駆動信号の基本となる記録データを生成する。レーザ波形制御部２４０は、記録データに基きライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２５０からライトストラテジが設定された後、データエンコーダ２３０から、周期数ｎを指定する記録データ、即ち、３Ｔ乃至１１Ｔ及び１４Ｔのいずれかを指定する記録データが与えられると、レーザ波形制御部２４０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（ライトストラテジに従って生成された、発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。【００２７】
レーザ駆動部１２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザ１１０を駆動する。半導体レーザ１１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。【００２８】
図３（ａ）〜（ｅ）は、図１に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部２４０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図３（ａ）に、記録のために用いられる周期Ｔを有するチャネルクロックを（記録用チャンネルクロック）示す。図３（ｂ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データの例を示す。図３（ｃ）に、図３（ｂ）の記録データを記録するためのライトストラテジ信号、即ち発光パルスパターンの例を示す。発光パルスパターンは、記録パワーレベルＷＰと再生パワーレベルＲＰとの間でレベルが変化し、記録パワーレベルＷＰにある期間が各パルスの幅と定義される。
図３（ｄ）に、図３（ｃ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークＭＫと、マークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとを示す。図３（ｄ）の横軸は、光ディスクのトラックに沿う長さ（位置）であるが、便宜上図３（ｃ）の発光パルスパターンに対応させて示してある。
図３（ｅ）に、図３（ｄ）のマークＭＫ及びスペースＳＰを読み出すことにより得られた再生信号を示す。この再生信号はマークＭＫに対応する部分ＭＢとスペースＳＰに対応する部分ＳＢとを有する。【００２９】
最短マークは、周期数ｎ＝３、即ち３Ｔに対応する長さを有し、最長マークは周期数ｎ＝１４、即ち１４Ｔに対応する長さを有する。
図３（ｂ）及び図３（ｃ）は、最短マーク、即ち３Ｔのマークを記録し、次に４番目に短いマーク、即ち６Ｔのマークを記録する場合を想定している。【００３０】
図３（ｃ）の左側に示すように、記録データが最短マークの場合のライトストラテジは、１Ｆのパルス幅を有する先頭パルスＦのみからなる。
図３（ｃ）の右側に示すように、記録データが４番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、ＬＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く３個のマルチパルスＭからなる。
記録データとしてｐ番目（４＜ｐ＜１０）に短いマーク（（ｐ＋２）Ｔ＝ｎＴに対応する長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く（ｐ−１）個のマルチパルスＭからなる。
また、記録データとして最長マーク（１４Ｔの長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１１個のマルチパルスＭからなる。
このように、４番目に短いマークから最長マークまでは、先頭のパルスの幅がいずれの場合もＬＦであり、互いに同じである。
記録データとして２番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、２Ｆのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１個のマルチパルスＭからなる。
記録データとして３番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、３Ｆのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く２個のマルチパルスＭからなる。
記録されるマークが上記のいずれであっても、マルチパルスＭの幅はすべて同じである。【００３１】
中央制御部２５０は、光記録再生装置１００の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、プリピット検出部２００からのプリピット情報、及びアシンメトリ検出部２１０からのアシンメトリ値、データデコーダ２６０からの再生データ、スペースレベル検出部２７０からのスペースレベル値を受ける一方、データエンコーダ２３０、レーザ波形制御部２４０、レーザ駆動部１２０に制御信号を与える。【００３２】
中央制御部２５０はまた、後に図４及び図５、図６又は図７を参照して説明するライトストラテジの調整、特にそのパルス幅の算出、アシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとアシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。【００３３】
中央制御部２５０は例えばＣＰＵ２５０ａと該ＣＰＵ２５０ａの動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２５０ｂとデータを記憶するＲＡＭ２５０ｃとを備えている。ＲＯＭ２５０ｂに格納されたプログラムは、後に図５、図６又は図７並びに図８（ａ）〜（ｅ）及び図９（ａ）〜（ｃ）を参照して説明されるマルチパルスのパルス幅の調整のための計算、及びマルチパルスのパルス幅を修正を定義する部分を含む。また、ＲＯＭ２５０ｂには、後述のマルチパルスのパルス幅を調整する際に、パルス幅の変更量を設定するための係数や、調整精度を定める為の許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。【００３４】
一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。【００３５】
最初に、例えばランダムな記録データに対応した３Ｔ〜１１Ｔのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２１０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２５０において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。
中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。【００３６】
このような光記録方法を基本として、本実施の形態１及び実施の形態２においては、試し書きにより形成されたマークＭＫ及びスペースＳＰを読み取って信号を再生する際に、スペースレベル検出部２７０で検出された、スペースＳＰに対応する信号部分ＳＢのピークレベルを、当該スペースＳＰの直前に位置するマークＭＫの長さ（マークＭＫに対応する再生信号部分ＭＢの、クロック周期数で表される長さ）別に検出し、比較し、比較結果に基づいて、マルチパルスのパルス幅を調整する。【００３７】
以下、図４を参照して実施の形態１の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスク１６０が光記録再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２５０に伝えられ、中央制御部２５０は、光ピックアップＰＵを駆動して光ディスク１６０から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、アシンメトリβ値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す（ステップＳ１１）。【００３８】
次にステップＳ１２において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、マルチパルスのパルス幅の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。【００３９】
次にステップＳ１３において、読み取られたアシンメトリβ値の推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、アシンメトリβ値の目標値としては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定した特定の値を用いても良い。【００４０】
然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（Ｓ１４）、ステップＳ１５において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びアシンメトリ目標値を用いて前記光ディスク１６０への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１２において中央制御部２５０内に設定されたライトストラテジ（各ｎＴに対するストラテジ）をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を光ピックアップで再生し、アシンメトリ検出部２１０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ１３において設定されたアシンメトリ目標値とを中央制御部２５０で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。【００４１】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ１６で、マルチパルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップＳ１６では、マルチパルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。【００４２】
最後にステップＳ１７において、ステップＳ１６で調整されたマルチパルスのパルス幅をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップＳ１６において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップＳ１５で決定された値ではなくステップＳ１６で決定された記録パワーを用いても良い。【００４３】
上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ１１の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、データデコーダ２６０、及び中央制御部２５０により行われ、ステップＳ１２及びＳ１３の処理は、中央制御部２５０により行われ、ステップＳ１４の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ１５の処理は、ヘッドアンプ１９０、アシンメトリ検出部２１０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１６の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、スペースレベル検出部２７０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１７の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。【００４４】
図５は図４のステップＳ１６の処理を詳細に示す。
ステップＳ１５１においては、ステップＳ１２において設定された初期ライトストラテジとステップＳ１４において決定された記録パワーを用いて、光ディスク１６０へ試し書きを行い、ステップＳ１５２において、ステップＳ１５１で試し書きした信号を再生する。
ステップＳ１５１の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１５２の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、及びイコライザ２２０により行われる。【００４５】
次に、ステップＳ１５３においては、スペースレベル検出部２７０で、ステップＳ１５２において再生された信号の、スペースの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルを、前記スペースの前マークの長さ別に検出する。【００４６】
次に、ステップＳ１５４においては、ステップＳ１５３で検出したスペースの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルから、前記スペースの前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベル（スペースＳＰに対応する信号ＳＢのレベル）Ｉ３Ｈ１を抽出する。ステップＳ１５３及びＳ１５４の処理は、スペースレベル検出部２７０及び中央制御部２５０により行われる。【００４７】
次に、ステップＳ１５５においては、ステップＳ１５３で検出したスペースの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルから、前記スペースの前マークの長さが３Ｔ以外の全ての場合のスペース信号レベルを抽出して、その平均値Ｉ３ＨＡを算出する。
なお、前記スペースの前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルとしては、前マークの長さが３Ｔ以外の全ての場合のスペース信号レベルの平均値を用いたが、前マークの長さが３Ｔ以外の特定のｎＴの場合のみを用いたり、前マークの長さが３Ｔ以外の複数の場合（複数のｎＴの値の場合）の平均値を用いても良い。【００４８】
次に、ステップＳ１５６においては、ステップＳ１５４において抽出した前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、ステップＳ１５５において抽出した前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡとを比較し、両者が等しければ、マルチパルス調整を終了する。
ここで、前記前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と前記前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡが完全に一致する必要は無く、予め設定した許容誤差量の範囲に収まれば、前記前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と前記前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡは等しいものとし、マルチパルス調整を終了する。
また、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡが前記の場合以外の場合は、ステップＳ１５７の処理を行う。【００４９】
ステップＳ１５７においては、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡとを比較し、どちらが大きいかを判断する。
前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１が大きい場合は、ステップＳ１５８において、マルチパルスのパルス幅を、ステップＳ１５１の試し書きで用いたマルチパルスのパルス幅よりも、狭くなるように修正する。
また、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１が小さい場合は、ステップＳ１５８において、マルチパルスのパルス幅を、ステップＳ１５１の試し書きで用いたマルチパルスのパルス幅よりも、広くなるように修正する。
ここで、マルチパルスのパルス幅の修正は、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡとの差に対するマルチパルスのパルス幅の変化量を予め求めておき、求められた前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡとの差に対応する変化量分、マルチパルスのパルス幅を修正する。または、予め設定した固定値あるいは、レーザ波形制御部２４０で変更できる最小値を用いるようにしても良い。
ステップＳ１５５〜Ｓ１５９の処理は、中央制御部２５０で行われる。【００５０】
ステップＳ１５８あるいは、ステップＳ１５９において、マルチパルスのパルス幅を修正された後は、修正されたマルチパルスのパルス幅を用いて、ステップＳ１５１において試し書きをし、以降の動作をステップ１５６において、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡが等しくなるまでマルチパルス調整を繰り返し行う。
なお、ステップＳ１５１において試し書きをする前に、再度最適パワー調整を行うようにしても良い。【００５１】
また、マルチパルス調整は前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡが等しくなるまでとしていたが、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡの差が最小となる場合にマルチパルス調整を終了するようにしても良い。
また、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡの差が、予め設定した許容値よりも小さくなる場合には、マルチパルス調整を終了するようにしても良い。【００５２】
さらにまた、マルチパルス調整の回数の制限値を予め設定しておき、マルチパルスを修正した回数がその制限値を超えた場合は、マルチパルス調整を終了するようにしても良い。例えば図６に示すように、ステップＳ１５６でＮＯの場合に、ステップＳ１６１に進み、修正の回数が所定値を超えたか否かの判断を行い、超えていれば（Ｓ１６１でＹＥＳ）マルチパルス調整を終了する。超えていなければ（Ｓ１６１でＮＯ）、ステップＳ１５７に進む。ステップＳ１６１の処理は、中央制御部２５０で行われる。【００５３】
さらにまた、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了するようにしても良い。例えば、ステップＳ１５５の次に、図７に示すように、ジッタ値などの信号品質をチェックし（Ｓ１６２）、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップＳ１５６に進むようにしても良い。ステップＳ１６２の処理は、中央制御部２５０で行われる。【００５４】
上記の様にステップＳ１６では、試し書きされた信号の再生信号から、スペースの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルを、前マークの長さが３Ｔの場合と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合を比較することによって、記録に用いるライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正するようにしている。その理由を図８（ａ）〜（ｅ）及び図９（ａ）〜（ｃ）を参照して説明する。【００５５】
図８（ａ）〜（ｅ）及び図９（ａ）〜（ｃ）は、図１に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０に記録された信号を再生した際に得られる信号を、長さが３Ｔのスペースと互いに異なる長さの前マークの組合せについて示したものである。
図８（ａ）〜（ｅ）は３Ｔスペースの前マークが３Ｔよりも長いＴ（ｎＴ（ｎ＞３）、図示の例ではｎ＝７の場合を示し、図９（ａ）〜（ｃ）は３Ｔスペースの前マークが３Ｔの場合を示している。
図８（ａ）及び図９（ａ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データを示す。図８（ｂ）〜（ｄ）及び図９（ｂ）に、図８（ａ）及び図９（ａ）の記録データを記録するためのライトストラテジを示す。ここで、図８（ｂ）には、最適なマルチパルスのパルス幅ＴＭ１の場合を示し、図８（ｃ）には、最適なマルチパルスのパルス幅ＴＭ１よりも狭いマルチパルスのパルス幅ＴＭ２の場合を示し、図８（ｄ）には、最適なマルチパルスのパルス幅ＴＭ１よりも広いマルチパルスのパルス幅ＴＭ３の場合を示している。
図８（ｅ）及び図９（ｃ）に、図８（ｂ）〜（ｄ）及び図９（ｂ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られた再生信号を示す。【００５６】
図８（ｂ）に示すように、マルチパルス幅が最適な値（ＴＭ１）の場合、再生信号のうちスペースに対応する部分（スペース信号）ＳＢは、図８（ｅ）に曲線ＲＴＭ１に示すごとくとなる。
図８（ｃ）に示すように、最適なマルチパルスのパルス幅ＴＭ１よりも狭いマルチパルスのパルス幅ＴＭ２で記録された場合、図８（ｅ）に曲線ＲＴＭ２で示す様に再生信号のマーク部ＭＢの終端の立ち上がりは、最適なマルチパルスのパルス幅ＴＭ１で記録された場合よりも、前方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は大きくなる。
逆に、図８（ｄ）に示すように、最適なマルチパルスのパルス幅ＴＭ１よりも広いマルチパルスのパルス幅ＴＭ３で記録された場合、図８（ｅ）に曲線ＲＴＭ３で示す様に再生信号のマーク部ＭＢの終端の立ち上がりは、最適なマルチパルスのパルス幅ＴＭ１で記録された場合よりも、後方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は小さくなる。
これに対し、図９（ａ）〜（ｃ）に示すように、前マークが３Ｔの場合は、ライトストラテジにマルチパルスが含まれていない為、マルチパルスの変動によってスペース信号ＳＢのレベルの変動は無く、常に信号レベルＩ３Ｈ１が得られることになる。
従って、前マークが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈと、前マークが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡを等しく制御することで、良好な信号品質を得ることができる。【００５７】
本発明者等は、上記スペース信号レベルと信号品質との関係を調べる為に、ライトストラテジのパルス幅を変更した場合のスペース信号レベルを求める実験を行った。そして、再生ジッタを最小にするマルチパルスのパルス幅と、前記スペース信号レベルとの関係を求めた。【００５８】
図１０はマルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時に、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈを平均した値Ｉ３ＨＡと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ１からＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１を算出し、再生ジッタとの関係を示している。
特性の異なる３種類の光ディスクについて、上記関係を測定し、Ａの光ディスクを○印で示し、Ｂの光ディスクを△印で示し、Ｃの光ディスクを□印で示している。
図より、３種類の光ディスク全てで、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１がゼロとなる付近と再生ジッタの最良値がほぼ等しくなっており、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＡと前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ１を等しく制御することでマルチパルスのパルス幅を最適に調整できることがわかる。【００５９】
図１１は上記で算出したＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１とマルチパルス幅ＴＭの関係を示している。図１０と同様に、Ａの光ディスクを○印で示し、Ｂの光ディスクを△印で示し、Ｃの光ディスクを□印で示している。
図より、算出したＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１とマルチパルス幅ＴＭは比例関係にあり、さらにＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１に対するマルチパルス幅ＴＭの変化量は、３種の光ディスクで殆ど等しいことがわかる。従って、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１がゼロより大きい場合は、マルチパルス幅ＴＭを大きくなるように修正し、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１がゼロより小さい場合は、マルチパルス幅ＴＭを小さくなるように修正すれば良いことが分かる。
また、上記マルチパルス幅ＴＭを修正する変化量は、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１に対するＴＭの変化量を基に、マルチパルス幅ＴＭを修正すれば良いことが分かる。【００６０】
次に、マルチパルスを調整する際の精度について検討を行った。
図１２は、図１０で示したＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタの関係のうち、Ａの光ディスクの場合を示している。ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば０．３％とした場合、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１は−０．０１８から０．０１３の範囲が許容範囲になることが分かる。
図１３は、図１０で示したＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタの関係のうち、Ｂの光ディスクの場合を示している。図１２の場合と同様に、ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば０．３％とした場合、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１は−０．０２３から０．０１２の範囲が許容範囲になることが分かる。
図１４は、図１０で示したＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１と再生ジッタの関係のうち、Ｃの光ディスクの場合を示している。図１２の場合と同様に、ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば０．３％とした場合、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１は−０．０１８から０．０１２の範囲が許容範囲になることが分かる。
従って、ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば０．３％とした場合、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１を±０．０１以内に収まるようにマルチパルスのパルス幅を調整すれば良いことになる。
また、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１の下限値を−０．０１８とし、上限値を０．０１と、異なる数値にしても良い。
また、マルチパルスのパルス幅を設定するレーザ波形制御部２４０が制御できるマルチパルスのパルス幅の最小変更量と、図１１で示したＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１とマルチパルス幅ＴＭの関係から、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１の許容範囲を設定しても良い。その場合、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１の許容範囲は、少なくとも、マルチパルス幅ＴＭの最小変更量に対して変化するＩ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１の値が必要となる。
図１１の場合は、マルチパルス幅ＴＭの最小変更量を例えば０．０２Ｔとした場合、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１の変化量は約０．０２であるため、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１の許容範囲は０．０２以上の幅、即ち±０．０１以上が必要となる。【００６１】
上記においては、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈとして、前マークが３Ｔ以外の場合のＩ３Ｈの平均値を用いていたが、前マークが特定の長さのＴの場合の組合せのみ選択し、そのＩ３Ｈの平均値を用いたり、さらには、前マークが３Ｔ以外の特定の長さのＴの場合のＩ３Ｈの値を用いるようにしても良い。【００６２】
図１５はマルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時に、前マークが５Ｔと６Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈを平均した値Ｉ３ＨＢと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ１からＩ３ＨＢ−Ｉ３Ｈ１を算出し、再生ジッタとの関係を示している。
図より、Ｉ３ＨＢ−Ｉ３Ｈ１がゼロとなる付近で再生ジッタが最良となっており、マルチパルスのパルス幅ＴＭの調整に、前マークが５Ｔと６Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈを平均した値Ｉ３ＨＢを用いても良いことが分かる。【００６３】
図１６はマルチパルスのパルス幅ＴＭを変更した時に、前マークが６Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ４と、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ１からＩ３Ｈ４−Ｉ３Ｈ１を算出し、再生ジッタとの関係を示している。
図より、Ｉ３Ｈ４−Ｉ３Ｈ１がゼロとなる付近で再生ジッタが最良となっており、マルチパルスのパルス幅ＴＭの調整に、前マークが６Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ４を用いても良いことが分かる。【００６４】
以上の事と同様に、マルチパルスのパルス幅ＴＭを調整するために、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルとして、上記以外の前マークの長さの組合せによる３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈの平均値や、上記以外の前マークの長さの場合の３Ｔスペース信号レベルを用いることとしても良い。【００６５】
以上の様に本実施の形態においては、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルを比較することで、容易にマルチパルスのパルス幅ＴＭを最適に調整することができる。
また、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルがどちらが大きいかを比較することにより、マルチパルスのパルス幅ＴＭを変化させる方向（大きくすれば良いか、小さくすれば良いか）を知ることができる。【００６６】
実施の形態２．
上記の実施の形態１では、図５に示したように、ステップＳ１５７〜Ｓ１５９においては、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１と、前マークの長さが３Ｔ以外の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＡとを比較し、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１が大きい場合は、マルチパルスのパルス幅を、狭くなるように修正し、前マークの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ１が小さい場合は、マルチパルスのパルス幅を、広くなるように修正しているが、このようにする代わりに、マルチパルスのパルス幅の変化量と、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差の関係を予め調べておき、その差を基に、マルチパルスのパルス幅を変更することで、マルチパルスのパルス幅が最適値から大きくずれている場合にも、少ない調整回数で、マルチパルスのパルス幅を最適に調整することができる。【００６７】
例えば、各光記録再生装置１００において、実験的にマルチパルスのパルス幅の変更量と前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差との関係を求め、これを光記録再生装置１００内に、例えば中央制御部２５０内のＲＯＭ２５０ｂ内に格納しておき、マルチパルスのパルス幅の調整を行う際に、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差の大きさに応じてマルチパルスのパルス幅を調整する。即ち、ステップＳ１５６における判定結果でＮＯの場合には、図１７に示すようにステップＳ１６３に進み、ここで、前マークが３Ｔ以外の場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＡと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ１の差に基づいて、上記ＲＯＭ２５０ｂからマルチパルスのパルス幅の変更量（増加させるか減少させるかを含め）を読み出し、読み出した変更量だけマルチパルスのパルス幅を変更し、ステップＳ１５１に戻り、変更したマルチパルスのパルス幅を用いて再度試し書きを行う。このようにすることで、マルチパルスのパルス幅を少ない調整回数で、最適に調整することができる。
尚、上記の関係は、各型式の光記録再生装置に対して一度行えば良く、同じ型式の多数の光記録再生装置に対して同じ関係を用いることができる。即ち、ある型式の光記録再生装置に関して、前記関係が求められたら、同じ型式の光記録再生装置には、その関係を同様に設定して出荷すればよい。【００６８】
実施の形態２の場合にも、図６及び図７を参照して説明したような変形を加えることができる。【００６９】
なお、上記の実施の形態１及び実施の形態２においては、スペースが３Ｔの場合の信号レベルを比較するようにしたが、スペースが４Ｔの場合（スペースの長さが２番目に短い場合）について信号レベルを比較するようにしても良い。【００７０】
実施の形態３．
以下に説明する実施の形態３及び実施の形態４における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジ（記録に用いられるレーザ発光波形規則）に従いマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなっている。即ち、以下の実施の形態３及び実施の形態４で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものであり、マーク期間中に１つ以上のパルスを有する。そして、このようなマルチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態３及び実施の形態４では、ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を、試し書きした信号から読み取ったマークに対応した信号のボトムレベルを基に調整することとしている。【００７１】
さらにまた、以下に説明する実施の形態３及び実施の形態４では、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録や再生のためのチャンネルクロックの周期Ｔを単位として表され、光ディスクへの情報の記録が、ＥＦＭ（８−１６）変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマーク、即ちクロック周期数ｎが３乃至１１、及び１４のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。なお、最長マーク（長さ１４Ｔのマーク）は、シンクパターンである。【００７２】
図１８は本発明の実施の形態３に係る光記録再生装置１００の基本的な構成例を示す図である。図１８に示される光記録再生装置１００は、概して図１に示す光記録再生装置１００と同じであるが、図１のスペースレベル検出部２７０が設けられておらず、代わりにマークレベル検出部２８０が設けられている点で異なる。図１８の各要素は、図１の同じ符号で示される要素と概して同じ役割を持ち、データ再生時及びデータ記録時における基本的動作も概して同じである。以下、図１の装置の動作とは異なる点を中心として説明する。【００７３】
イコライザ２２０に入力されたヘッドアンプ１９０からの電気信号は整形された後、データデコーダ２６０とマークレベル検出部２８０とに入力される。
マークレベル検出部２８０は、再生された信号のうち、マークに対応する部分のボトムレベルを検出する。この場合、各クロック周期数のマークに対応するボトムレベルを、当該マークの直前に位置するスペースの長さ別に（該スペースに対応する再生信号部分の、クロック周期数で表される長さ別に）に検出する。例えば、３Ｔのマークに対応するボトムレベルを、当該マークの直前に位置するスペースが３Ｔである場合について検出し、また当該マークの直前に位置するスペースが３Ｔ以外である場合について検出する。【００７４】
図１８に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部２４０で生成されるライトストラテジ信号の例は、図３（ａ）〜（ｅ）に示すとおりである。【００７５】
中央制御部２５０は、光記録再生装置１００の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、プリピット検出部２００からのプリピット情報、及びアシンメトリ検出部２１０からのアシンメトリ値、データデコーダ２６０からの再生データ、マークレベル検出部２８０からのマークレベル値を受ける一方、データエンコーダ２３０、レーザ波形制御部２４０、レーザ駆動部１２０に制御信号を与える。【００７６】
中央制御部２５０はまた、後に図１９及び図２０、図２1又は図２２を参照して説明するライトストラテジの調整、特にそのパルス幅の算出、アシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとアシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。【００７７】
中央制御部２５０は例えばＣＰＵ２５０ａと該ＣＰＵ２５０ａの動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２５０ｂとデータを記憶するＲＡＭ２５０ｃとを備えている。ＲＯＭ２５０ｂに格納されたプログラムは、後に図２０、図２1又は図２２並びに図２３（ａ）〜（ｃ）及び図２４（ａ）〜（ｅ）を参照して説明される先頭パルスの前エッジ位置の調整のための計算、及び先頭パルスの前エッジ位置の修正を定義する部分を含む。また、ＲＯＭ２５０ｂには、後述の先頭パルスの前エッジ位置を調整する際に、前エッジ位置の変更量を設定するための係数や、調整精度を定める為の許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。【００７８】
一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。【００７９】
最初に、例えばランダムな記録データに対応した３Ｔ〜１１Ｔのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２１０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２５０において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。
中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。【００８０】
このような光記録方法を基本として、本実施の形態においては、試し書きにより形成されたマークＭＫ及びスペースＳＰを読み取って信号を再生する際に、マークレベル検出部２８０で検出された、マークＭＫに対応する信号部分ＭＢのボトムレベルを、当該マークの直前に位置するスペースＳＰの長さ（スペースＳＰに対応する信号部分の、クロック周期数で表される長さ）別に検出し、比較し、比較結果に基づいて、記録する際の発光ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を調整する。【００８１】
以下、図１９を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスク１６０が光記録再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ２０）、中央制御部２５０に伝えられ、中央制御部２５０は、光ピックアップＰＵを駆動して、光ディスク１６０から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、アシンメトリβ値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す（ステップＳ２１）。【００８２】
次にステップＳ２２において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。【００８３】
次にステップＳ２３において、読み取られたアシンメトリβ値の推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、アシンメトリβ値の目標値としては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定した特定の値を用いても良い。【００８４】
然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（Ｓ２４）、ステップＳ２５において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びアシンメトリ目標値を用いて前記光ディスク１６０への試し書きを行う。即ち、ステップＳ２２において中央制御部２５０内に設定されたライトストラテジ（各ｎＴに対するストラテジ）をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を光ピックアップＰＵで再生し、アシンメトリ検出部２１０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ２３において設定されたアシンメトリ目標値とを中央制御部２５０で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。【００８５】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ２６で、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う。なお、ステップＳ２６では、先頭パルスの前エッジ位置の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。【００８６】
最後にステップＳ２７において、ステップＳ２６で調整された先頭パルスの前エッジ位置をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップＳ２４で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップＳ２６において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップＳ２４で決定された値ではなくステップＳ２６で決定された記録パワーを用いても良い。【００８７】
上記のうち、ステップＳ２０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ２１の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、データデコーダ２６０、及び中央制御部２５０により行われ、ステップＳ２２及びＳ２３の処理は、中央制御部２５０により行われ、ステップＳ２４の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ２５の処理は、ヘッドアンプ１９０、アシンメトリ検出部２１０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ２６の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、マークレベル検出部２８０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ２７の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。【００８８】
図２０は図１９のステップＳ２６の処理を詳細に示す。
ステップＳ２５１においては、ステップＳ２２において設定された初期ライトストラテジとステップＳ２４において決定された記録パワーを用いて、光ディスク１６０へ試し書きを行い、ステップＳ２５２において、ステップＳ２５１で試し書きした信号を再生する。
ステップＳ２５１の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ２５２の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、及びイコライザ２２０により行われる。【００８９】
次に、ステップＳ２５３においては、マークレベル検出部２８０で、ステップＳ２５２において再生された信号の、マークの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルを、前記マークの前スペースの長さ別に検出する。【００９０】
次に、ステップＳ２５４においては、ステップＳ２５３で検出したマークの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルから、前記マークの前スペースの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルＩ３Ｌ１を抽出する。
ステップＳ２５３及びＳ２５４の処理は、マークレベル検出部２８０及び中央制御部２５０により行われる。【００９１】
次に、ステップＳ２５５においては、ステップＳ２５３で検出したマークの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルから、前記マークの前スペースの長さが３Ｔ以外の全ての場合のマーク信号レベル（マークＭＫに対応する信号ＭＢのレベル）を抽出して、その平均値Ｉ３ＬＡを算出する。
なお、前記マークの前スペースの長さが３Ｔ以外の場合のマーク信号レベルとしては、前スペースの長さが３Ｔ以外の全ての場合のマーク信号レベルの平均値を用いたが、前スペースの長さが３Ｔ以外の特定のｎＴの場合のみを用いたり、前スペースの長さが３Ｔ以外の複数の場合（複数のｎＴの値の場合）の平均値を用いても良い。【００９２】
次に、ステップＳ２５６においては、ステップＳ２５４において抽出した前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、ステップＳ２５５において抽出した前スペースの長さが３Ｔ以外の場合のマーク信号レベルＩ３ＬＡとを比較し、両者が等しければ、先頭パルス調整を終了する。
ここで、前記前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と前記前スペースの長さが３Ｔ以外の場合の平均マーク信号レベルＩ３ＬＡが完全に一致する必要は無く、予め設定した許容誤差量の範囲に収まれば、前記前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と前記前スペースの長さが３Ｔ以外の場合の平均マーク信号レベルＩ３ＬＡは等しいものとし、先頭パルス調整を終了する。
また、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合の平均マーク信号レベルＩ３ＬＡが前記の場合以外の場合は、ステップＳ２５７の処理を行う。【００９３】
ステップＳ２５７においては、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合のマーク信号レベルＩ３ＬＡとを比較し、どちらが大きいかを判断する。
前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１が大きい場合は、ステップＳ２５８において、先頭パルスの前エッジ位置を、ステップＳ２５１の試し書きで用いた先頭パルスの前エッジ位置よりも、早くなるように修正する。
また、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１が小さい場合は、ステップＳ２５９において、先頭パルスのエッジ位置を、ステップＳ２５１の試し書きで用いた先頭パルスの前エッジ位置よりも、遅くなるように修正する。
ここで、先頭パルスのエッジ位置の修正は、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合のマーク信号レベルＩ３ＬＡとの差に対する先頭パルスのエッジ位置の変化量を予め求めておき、求められた前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合のマーク信号レベルＩ３ＬＡとの差に対応する変化量分、先頭パルスの前エッジ位置を修正する。または、予め設定した固定値あるいは、レーザ波形制御部２４０で変更できる最小値を用いるようにしても良い。
ステップＳ２５５〜Ｓ２５９の処理は、中央制御部２５０で行われる。【００９４】
ステップＳ２５８あるいは、ステップＳ２５９において、先頭パルスの前エッジ位置を修正された後は、修正された先頭パルスの前エッジ位置を用いて、ステップＳ２５１において試し書きをし、以降の動作をステップＳ２５６において、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合の平均マーク信号レベルＩ３ＬＡが等しくなるまで先頭パルス調整を繰り返し行う。
なお、ステップＳ２５１において試し書きをする前に、再度最適パワー調整を行うようにしても良い。【００９５】
また、ステップＳ２５６の処理の前に、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合は先頭パルス調整を終了するようにしても良い。例えば、ステップＳ２５５の次に、図２1に示すように、ジッタ値などの信号品質をチェックし（Ｓ２６０）、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップＳ２５６に進むようにしても良い。ステップＳ２６０の処理は、中央制御部２５０で行われる。【００９６】
また、先頭パルス調整は前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合の平均マーク信号レベルＩ３ＬＡが等しくなるまでとしていたが、先頭パルス調整の回数の制限値を予め設定しておき、先頭パルスを修正した回数がその制限値を超えた場合は、先頭パルス調整を終了するようにしても良い。
例えば図２２に示すように、ステップＳ２５６でＮＯの場合に、ステップＳ２６０に進み、修正の回数が所定値を超えたか否かの判断を行い、超えていれば（Ｓ２６１でＹＥＳ）先頭パルス調整を終了する。超えていなければ（Ｓ２６１でＮＯ）、ステップＳ２５７に進む。ステップＳ２６１の処理は、中央制御部２５０で行われる。【００９７】
上記の様にステップＳ２６では、試し書きされた信号の再生信号から、マークの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルを、前スペースの長さが３Ｔの場合と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合を比較することによって、記録に用いるライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正するようにしている。その理由を図２３（ａ）〜（ｃ）及び図２４（ａ）〜（ｅ）を参照して説明する。【００９８】
図２３（ａ）〜（ｃ）及び図２４（ａ）〜（ｅ）は、図１８に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０に記録された信号を再生した際に得られる信号を、長さが３Ｔのマークと互いに異なる長さの前スペースの組合せについて示したものである。
図２３（ａ）〜（ｃ）は、３ＴのマークＭＫの直前のスペースＳＰが３Ｔよりも長いＴ（ｎＴ（ｎ＞３）、例えばｎ＝６）の場合を示し、図２４（ａ）〜（ｅ）は３ＴマークＭＫの直前のスペースＳＰが３Ｔの場合を示している。
図２３（ａ）及び図２４（ａ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データを示す。図２３（ｂ）及び図２４（ｂ）〜（ｄ）に、図２３（ａ）及び図２４（ａ）の記録データを記録するためのライトストラテジを示す。ここで、図２４（ｂ）に最適な先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ１の場合を示し、図２４（ｃ）に、最適な先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ１よりも早い先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ２の場合を示し、図２４（ｄ）に、最適な先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ１よりも遅い先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ３の場合をそれぞれ示している。【００９９】
図２３（ｃ）に、図２３（ｂ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られた再生信号を示す。
図２４（ｅ）に、図２４（ｂ）〜（ｄ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られた再生信号を示す。【０１００】
図２４（ｂ）に示すように、先頭パルスの前エッジが最適位置（ＴＬＤ１）の場合、再生信号は図２４（ｅ）に曲線ＲＴＬＤ１に示すごとくとなる。
図２４（ｃ）に示すように、最適な先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ１よりも早い先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ２で記録された場合、図２４（ｅ）に曲線ＲＴＬＤ２で示す様に再生信号のスペースに対応する部分ＳＢの終端の立ち下がりは、最適な先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ１で記録された場合よりも、前方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔマーク信号ＭＢの振幅は大きくなる。【０１０１】
逆に、図２４（ｄ）に示すように、最適な先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ１よりも遅い先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ３で記録された場合、図２４（ｅ）に曲線ＲＴＬＤ３で示す様に再生信号のスペースに対応する部分ＳＢの終端の立ち下がりは、最適な先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤ１で記録された場合よりも、後方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔマーク信号ＭＢの振幅は小さくなる。【０１０２】
これに対し、図２３（ａ）〜（ｃ）に示すように、前スペースが３Ｔより長い場合は、前スペース３Ｔの時と比較すると前スペースよりさらに前のマーク生成時の熱の影響が少ないため、先頭パルスの前エッジ位置の影響を受けにくい。
従って、前スペースが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースが３Ｔ以外の場合のマーク信号レベルＩ３ＬＡを等しく制御することで、良好な信号品質を得ることができる。【０１０３】
本発明者等は、上記マーク信号レベルと信号品質との関係を調べる為に、ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を変更した場合のマーク信号レベルを求める実験を行った。そして、再生ジッタを最小にする先頭パルスの前エッジ位置と、前記マーク信号レベルとの関係を求めた。【０１０４】
図２５は先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤを変更した時に、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルＩ３Ｌを平均した値Ｉ３ＬＡと、前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルＩ３Ｌ１からＩ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１を算出し、再生ジッタとの関係を示している。【０１０５】
特性の異なる３種類の光ディスクについて、上記関係を測定し、Ａの光ディスクを○印で示し、Ｂの光ディスクを△印で示し、Ｃの光ディスクを□印で示している。
図より、３種類の光ディスク全てで、Ｉ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１がゼロとなる付近と再生ジッタの最良値がほぼ等しくなっており、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルＩ３ＬＡと前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルＩ３Ｌ１を等しく制御することで先頭パルスの前エッジ位置を最適に調整できることがわかる。【０１０６】
図２６は上記で算出したＩ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１と先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤの関係を示している。図２５と同様に、Ａの光ディスクを○印で示し、Ｂの光ディスクを△印で示し、Ｃの光ディスクを□印で示している。
図より、算出したＩ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１と先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤは比例関係にあり、さらにＩ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１に対する先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤの変化量は、３種の光ディスクで殆ど等しいことがわかる。従って、Ｉ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１がゼロより大きい場合は、先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤを早くなるように修正し、Ｉ３ＨＡ−Ｉ３Ｈ１がゼロより小さい場合は、先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤを遅くなるように修正すれば良いことが分かる。
また、上記先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤを修正する変化量は、Ｉ３ＬＡ−Ｉ３Ｌ１に対する先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤの変化量を基に、先頭パルスの前エッジ位置ＴＬＤを修正すれば良いことが分かる。【０１０７】
以上の事と同様に、先頭パルスの前エッジ位置を調整するために、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルとして、上記以外の前スペースの長さの組合せによる３Ｔマーク信号レベルＩ３Ｌの平均値や、上記以外の前スペースの長さの場合の３Ｔマーク信号レベルを用いることとしても良い。【０１０８】
以上の様に本実施の形態においては、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルと、前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルを比較することで、容易に先頭パルスの前エッジ位置を最適に調整することができる。【０１０９】
また、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルと、前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルとのどちらが大きいかを比較することにより、先頭パルスの前エッジ位置を変化させる方向（早くすれば良いか、遅くすれば良いか）を知ることができる。【０１１０】
実施の形態４．
上記の実施の形態３では、図２０に示したように、ステップＳ２５７〜Ｓ２５９においては、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１と、前スペースの長さが３Ｔ以外の場合のマーク信号レベルＩ３ＬＡとを比較し、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１が大きい場合は、先頭パルスの前エッジ位置を、早くなるように修正し、前スペースの長さが３Ｔの場合のマーク信号レベルＩ３Ｌ１が小さい場合は、先頭パルスのエッジ位置を、遅くなるように修正しているが、このようにする代わりに、先頭パルスの前エッジ位置の変化量と、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルと、前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルの差の関係を予め調べておき、その差を基に、先頭パルスの前エッジ位置を変更することで、先頭パルスの前エッジ位置が最適値から大きくずれている場合にも、少ない調整回数で先頭パルスの前エッジ位置を最適に調整することができる。【０１１１】
例えば、各光記録再生装置１００において、実験的に先頭パルスの前エッジ位置の変更量と前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルと、前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルの差との関係を求め、これを光記録再生装置１００内に、例えば中央制御部２５０内のＲＯＭ２５０ｂ内に格納しておき、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う際に、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルと、前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルの差の大きさに応じて先頭パルスの前エッジ位置を調整する。即ち、ステップＳ２５６における判定結果でＮＯの場合には、図２７に示すようにステップＳ２６３に進み、ここで、前スペースが３Ｔ以外の場合の３Ｔマーク信号レベルＩ３ＬＡと、前スペースが３Ｔの場合の３Ｔマーク信号レベルＩ３Ｌ１の差に基づいて、上記ＲＯＭ２５０ｂから先頭パルスの前エッジ位置の変更量（増加させるか減少させるかを含め）を読み出し、読み出した変更量だけ前エッジ位置を変更し、ステップＳ２５１に戻り、前エッジ位置を変更した先頭パルスを用いて再度試し書きを行う。このようにすることで、先頭パルスの前エッジ位置を少ない調整回数で、最適に調整することができる。
尚、上記の関係は、各型式の光記録再生装置に対して一度行えば良く、同じ型式の多数の光記録再生装置に対して同じ関係を用いることができる。即ち、ある型式の光記録再生装置に関して、前記関係が求められたら、同じ型式の光記録再生装置には、その関係を同様に設定して出荷すればよい。【０１１２】
実施の形態４の場合にも、図２1及び図２２を参照して説明したような変形を加えることができる。【０１１３】
なお、上記の実施の形態３及び実施の形態４マークが３Ｔの場合の信号レベルを比較するようにしたが、マークが４Ｔの場合（マークの長さが２番目に短い場合）について信号レベルを比較するようにしても良く、又は他の周期数のマークについて、信号レベルを比較するようにしても良い。【０１１４】
実施の形態５．
以下に説明する実施の形態５における光記録方法は、マークエッジ記録を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジに従いマルチパルス駆動してマークを形成することにより情報の記録をおこなっている。即ち、以下の実施の形態５で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものであり、マーク期間中に１つ以上のパルスを有する。そして、このようなマルチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態５では、試し書きにより形成したマーク及びスペースを読み取ることにより得られた再生信号のうちの、互いに同一クロック周期数（以下単に「周期数」と言うことがある）のマーク部及びスペース部（互いに同一の周期数で書き込まれたマーク及びスペースに対応する部分）の幅が互いに等しくなるようにライトストラテジの先頭パルスの幅を調整することとしている。ここで、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録や再生のためのチャンネルクロックの周期Ｔを単位として表される。
さらにまた、以下に説明する実施の形態５では、光ディスクへの情報の記録がＥＦＭ（８−１６）変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマーク、即ち周期数ｎが３乃至１１、及び１４のマークに対応したパターンのパルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。なお、最長マーク（長さ１４Ｔのマーク）は、シンクパターンである。言い換えると、記録のための変調規則に従って生成される発光パルスパターンは、周期数ｎが３乃至１１、及び１４のマークを形成するためのものである。【０１１５】
図２８は本発明の実施の形態５に係る光記録再生装置１００の基本的な構成例を示す図である。図２８に示される光記録再生装置１００は、概して図１に示す光記録再生装置１００と同じであるが、図１のスペースレベル検出部２７０が設けられておらず、代わりにパルス幅検出部２９０が設けられている点で異なる。図２８の各要素は、図１の同じ符号で示される要素と概して同じ役割を持ち、データ再生時及びデータ記録時における基本的動作も概して同じである。以下、図１の装置の動作とは異なる点を中心として説明する。【０１１６】
イコライザ２２０に入力されたヘッドアンプ１９０からの電気信号は整形された後、データデコーダ２６０に入力される。
パルス幅検出部２９０では、データデコーダ２６０から２値化信号を受け、各周期数のマーク部の幅を平均化し、抽出するとともに、各周期数のスペース部の幅を平均化し、抽出する。【０１１７】
図２９（ａ）〜（ｆ）は、図２８に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部２４０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図２９（ａ）に、記録のために用いられる周期Ｔを有するチャネルクロック（記録用チャンネルクロック）を示す。図２９（ｂ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データの例を示す。図２９（ｃ）に、図２９（ｂ）の記録データを記録するためのライトストラテジ信号、即ち発光パルスパターンの例を示す。発光パルスパターンは、記録パワーレベルＷＰと再生パワーレベルＲＰとの間でレベルが変化し、記録パワーレベルＷＰにある期間が各パルスの幅と定義される。
図２９（ｄ）に、図２９（ｃ）のライトストラテジ信号で記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークＭＫと、マークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとを示す。図２９（ｄ）の横軸は、光ディスクのトラックに沿う長さ（位置）であるが、便宜上図２９（ｃ）の発光パルスパターンに対応させて示してある。
図２９（ｅ）に、図２９（ｄ）のマークＭＫ及びスペースＳＰから成る記録部を読み出し、２値化することにより得られた２値化再生信号を示す。図２９（ｆ）に、再生のために用いられるチャンネルクロック（再生用チャンネルクロック）を示す。図２９（ｅ）の再生信号は、図２９（ｆ）の再生用チャンネルクロックを用いて生成されたものである。図２９（ｅ）及び図２９（ｆ）の横軸は、図２９（ａ）乃至（ｃ）と同様、時間であり、図２９（ｄ）とは異なるが、便宜上図２９（ｄ）のマークＭＫ及びスペースＳＰに対応させて示してあり、図２９（ｆ）の再生用チャンネルクロックは、図２９（ａ）の記録用チャンネルクロックと同じ周期Ｔを有するものとして示してある。図２９（ｅ）の再生信号は、マークＭＫに対応するマーク部ＭＢと、スペースＳＰに対応するスペース部ＳＢとを含む。【０１１８】
図示の例では、再生信号のうち、３ＴのマークＭＫに対応する部分ＭＢの幅（３ＷＭ）が、基準幅３Ｔよりも小さく、再生信号のうち、３ＴのスペースＳＰに対応する部分ＳＢの幅（３ＷＳ）が、基準幅３Ｔよりも大きく、再生信号のうち、６ＴのマークＭＫに対応する部分ＭＢの幅（６ＷＭ）が、基準幅３Ｔよりも小さく、再生信号のうち、６ＴのスペースＳＰに対応する部分ＳＢの幅（６ＷＳ）が、基準幅３Ｔよりも大きいものとして図示してある。これについては後述する。【０１１９】
最短マークは、周期数ｎ＝３、即ち３Ｔに対応する長さを有し、最長マークは周期数ｎ＝１４、即ち１４Ｔに対応する長さを有する。
図２９（ｂ）及び図２９（ｃ）は、最短マーク、即ち３Ｔのマークを記録し、次に４番目に短いマーク、即ち６Ｔのマークを記録する場合を想定している。【０１２０】
図２９（ｃ）の左側に示すように、記録データが最短マークの場合のライトストラテジは、１Ｆのパルス幅を有する先頭パルスＦのみからなる。
図２９（ｃ）の右側に示すように、記録データが４番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、ＬＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く３個のマルチパルスＭからなる。
記録データとしてｐ番目（４＜ｐ＜１０）に短いマーク（（ｐ＋２）Ｔ＝ｎＴに対応する長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く（ｐ−１）個のマルチパルスＭからなる。
また、記録データとして最長マーク（１４Ｔの長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１１個のマルチパルスＭからなる。
このように、４番目に短いマークから最長マークまでは、先頭のパルスの幅がいずれの場合もＬＦであり、互いに同じである。
記録データとして２番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、２Ｆのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１個のマルチパルスＭからなる。
記録データとして３番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、３Ｆのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く２個のマルチパルスＭからなる。
記録されるマークが上記のいずれであっても、マルチパルスＭの幅ＭＴはすべて同じである。【０１２１】
中央制御部２５０は、光記録再生装置１００の記録、再生の際に装置の全体を制御するもので、プリピット検出部２００からのプリピット情報、及びアシンメトリ検出部２１０からのアシンメトリ値、データデコーダ２６０からの再生データ、パルス幅検出部２９０からのマーク部およびスペース部の幅値を受ける一方、データエンコーダ２３０、レーザ波形制御部２４０、レーザ駆動部１２０に制御信号を与える。【０１２２】
中央制御部２５０はまた、後に図３０及び図３１を参照して説明するライトストラテジの調整、特にそのパルス幅の算出、アシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとアシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。【０１２３】
中央制御部２５０は例えばＣＰＵ２５０ａと該ＣＰＵ２５０ａの動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２５０ｂとデータを記憶するＲＡＭ２５０ｃとを備えている。ＲＯＭ３５０ｂに格納されたプログラムは、後に図３１及び図３４を参照して説明される先頭パルスのパルス幅の調整のための計算、及びマルチパルスのパルス幅の修正を定義する部分を含む。また、ＲＯＭ２５０ｂには、後述の先頭パルスのパルス幅を調整する際に、パルス幅の変更量を設定するための係数や、調整精度を定めるための許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。【０１２４】
一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。【０１２５】
最初に、例えばランダムな記録データに対応した３Ｔ〜１１Ｔのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２１０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２５０において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。
中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。【０１２６】
このような光記録方法を基本として、本実施の形態５においては、試し書きにより形成されたマーク及びスペースを読み取って信号を再生する際に、パルス幅検出部２９０で検出された同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅、即ち再生された信号のうちの、互いに同一周期数ｎのマークとスペースにそれぞれ対応する部分ＭＢ及びＳＢの幅（例えば、図２９において、３ＷＭと３ＷＳ、或いは６ＷＭと６ＷＳ）が互いに等しくなるようにマーク形成のための先頭パルス幅を調整し、調整された先頭パルス幅を用いてデータの記録を行う。なお、実際には、上記のような部分（「再生信号のうちの周期数ｎのマークに対応する部分」や「再生信号のうちの周期数ｎのスペースに対応する部分」）を個々に比較して両者が同一になるようにパルス幅を調整するのではなく、複数個のマーク及びスペースに対応する部分について平均を求め、平均値同士を比較し、平均値が互いに等しくなるようにパルス幅の調整を行う。【０１２７】
以下、図３０を参照して本実施の形態５の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスクが光記録装置に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ３０）、中央制御部２５０に伝えられ、中央制御部２５０は、光ピックアップＰＵを駆動して、光ディスク１６０から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、アシンメトリβ値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す（ステップＳ３１）。【０１２８】
次にステップＳ３２において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、先頭パルスのパルス幅の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｃ内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。【０１２９】
次にステップＳ３３において、読み取られたアシンメトリβ値の推奨値を、記録パワーの最適化に使用するための目標値として、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｃ内に）設定する。なお、アシンメトリβ値の目標値としては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定した特定の値を用いても良い。【０１３０】
しかる後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（ステップＳ３４）、ステップＳ３５において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びアシンメトリ目標値を用いて前記光ディスク１６０への試し書きを行う。即ち、ステップＳ３２において中央制御部２５０内に設定されたライトストラテジ（各ｎＴに対するストラテジ）をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジ信号を生成し、光ピックアップを用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を光ピックアップで再生し、アシンメトリ検出部２１０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ３３において設定されたアシンメトリ目標値とを中央制御部２５０で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。【０１３１】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ３６で、先頭パルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップＳ３６では、先頭パルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。【０１３２】
最後にステップＳ３７において、ステップＳ３６で調整された先頭パルスのパルス幅をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジ信号を生成し、ステップＳ３５で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップＳ３６において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーはステップＳ３５で決定された値ではなく、ステップＳ３６で決定された記録パワーを用いても良い。【０１３３】
上記のうち、ステップＳ３０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ３１の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、データデコーダ２６０、及び中央制御部２５０により行われ、ステップＳ３２及びＳ３３の処理は、中央制御部２５０により行われ、ステップＳ３４の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ３５の処理は、ヘッドアンプ１９０、アシンメトリ検出部２１０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ３６の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、データデコーダ２６０、パルス幅検出部２９０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ３７の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。【０１３４】
図３１は図３０のステップＳ３６の処理を詳細に示す。
ステップＳ３５１においては、ステップＳ３２において設定された初期ライトストラテジとステップＳ３５において決定された記録パワーを用いて、光ディスク１６０へ試し書きを行い、ステップＳ３５２において、ステップＳ３５１で試し書きした信号を再生する。
ステップＳ３５１の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ３５２の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、及びイコライザ２２０により行われる。【０１３５】
次に、ステップＳ３５３においては、パルス幅検出部２９０でステップＳ３５２において再生された信号の各マーク部ＭＢの幅を平均化し、抽出する。即ち、周期数ｎ＝３乃至６の各々について、複数箇所のマークを再生することにより得られた信号の対応部分の幅を平均し、平均値を、それぞれ周期数ｎ（＝３乃至６）のマーク部ＭＢの幅として記憶する。【０１３６】
次に、ステップＳ３５４においては、パルス幅検出部２９０でステップＳ３５２において再生された信号の各スペース部ＳＢの幅を平均化し、抽出する。即ち、周期数ｎ＝３乃至６の各々について、複数箇所のスペースを再生することにより得られた信号の対応部分の幅を平均し、平均値を、それぞれ周期数ｎ（＝３乃至６）のスペース部ＳＢの幅として記憶する。
ステップＳ３５３及びＳ３５４の処理は、データデコーダ２６０、パルス幅検出部２９０及び中央制御部２５０により行われる。【０１３７】
次に、ステップＳ３５５においては、ステップＳ３５３で平均化抽出した各マーク部ＭＢの幅と、ステップＳ３５４で平均化抽出した各スペース部ＳＢの幅のうちの、同一周期数のものについて差を算出する。【０１３８】
次に、ステップＳ３５６においては、ステップＳ３５５において算出した同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差ｎＷＭ−ｎＷＳ（ｎ＝３〜１１、１４）が０（ゼロ）であるかどうかを判断する。
もしｎＷＭ−ｎＷＳ＝０であれば、先頭パルスの調整を終了する。一方、ｎＷＭ−ｎＷＳ＝０でない場合には先頭パルスの調整を実行する。【０１３９】
ステップＳ３５７においては、先頭パルスの調整をするにあたり、ｎＷＭとｎＷＳの大小比較を行う。【０１４０】
マーク部ＭＢの幅がスペース部ＳＢの幅より大きい場合（ｎＷＭ−ｎＷＳ＞０）、先頭パルス幅を狭くする（ステップＳ３５８）。一方、マーク部ＭＢの幅がスペース部ＳＢの幅より大きくない場合、先頭パルス幅を広くする（ステップＳ３５９）。
ステップＳ３５５〜Ｓ３５９の処理は、中央制御部２５０で行われる。【０１４１】
ステップＳ３５８あるいはステップＳ３５９において、先頭パルスのパルス幅が修正された後は、修正された先頭パルスのパルス幅を用いて、ステップＳ３５１において試し書きをし、以降の動作をステップ１５６において、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差ｎＷＭ−ｎＷＳ＝０となるまで先頭パルス調整を繰り返し行う。
なお、ステップＳ３５１において試し書きをする前に、再度最適パワー調整を行うようにしても良い。
また、先頭パルス調整は同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差が零になるまでとしていたが、先頭パルス調整の回数の制限値を予め設定しておき、先頭パルスを修正した回数がその制限値を超えた場合は、先頭パルス調整を終了するようにしても良い。例えば図３２に示すように、ステップＳ３５６でＮＯの場合に、ステップＳ３６１に進み、修正の回数が所定値を超えたか否かの判断を行い、超えていれば（ステップＳ３６１でＹＥＳ）マルチパルス調整を終了する。超えていなければ（ステップＳ３６１でＮＯ）、ステップＳ３５７に進む。ステップＳ３６１の処理は、中央制御部２５０で行われる。【０１４２】
また、ステップＳ３５６の前に、ジッタ値などの信号品質をチェックし、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップＳ３５６に進むようにしても良い。例えば、ステップＳ３５５の次に、図３３に示すように、ジッタ値などの信号品質をチェックし（ステップＳ３６２）、信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップＳ３５６に進むようにしても良い。ステップＳ３６２の処理は、中央制御部２５０で行われる。【０１４３】
本発明者等は、上記同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差と信号品質との関係を調べるために、マーク形成のための先頭パルス幅を変更した場合のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅を求める実験を行った。そして、再生ジッタを最小にする同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅との関係を求めた。【０１４４】
図３４は各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、再生時に取得されるマーク部ＭＢの幅ｎＷＭ、スペース部ＳＢの幅ｎＷＳおよび再生ジッタより、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差ｎＷＭ−ｎＷＳを算出し、再生ジッタとの関係を示している。
同図において、横軸はマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差をチャネルクロック周期Ｔにて正規化したものであり、縦軸は記録後の再生ジッタを示す。図中の○、×、△、□印は、各々３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ以上におけるマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差を変更させた場合の再生ジッタ値を示す（図中凡例としては各々３Ｔｔｏｐ、４Ｔｔｏｐ、５Ｔｔｏｐ、６Ｔｔｏｐと記載している）。
なお、同図の実験は７Ｔ以上のマーク形成のための先頭パルス幅については６Ｔと同じ先頭パルス幅にて記録を行っている。【０１４５】
また、先頭パルス幅の変更を行っていない周期数のマークの形成のためには固定値を用いている。例えば、先頭パルス幅固定値としては、３Ｔマークでは１．３８Ｔ、４Ｔマークでは１．３８Ｔ、５Ｔマークでは１．４２Ｔ、６Ｔ以上マークでは１．４６Ｔを用いている。
なお、マルチパルス幅についても固定値を用いており、例えば０．６６Ｔとしている。【０１４６】
図３４より、パターンの発生頻度の高い３Ｔ、４Ｔ、５ＴでｎＷＭ−ｎＷＳ＝０なるポイント、すなわち同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅が等しくなる場合において再生ジッタが最小となり、６Ｔ以上においても再生ジッタ最小近傍の良好な記録特性が得られていることが分かる。【０１４７】
一方、図３５は各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、再生時に取得されるマーク部ＭＢの幅ｎＷＭおよび再生ジッタより、マーク部ＭＢの幅と基準マーク部幅ｎＴ（即ち周期数とクロック周期の積）の差ｎＷＭ−ｎＴを算出し、再生ジッタとの関係を示している。
同図において、横軸がマーク部ＭＢの幅と基準マーク部幅の差をチャネルクロック周期Ｔにて正規化したものであり、縦軸は記録後の再生ジッタを示す。図中の○、×、△、□印は、各々３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ以上におけるマーク部ＭＢの幅と基準マーク部幅の差を変更させた場合の再生ジッタ値を示す（図中凡例としては各々３Ｔｔｏｐ、４Ｔｔｏｐ、５Ｔｔｏｐ、６Ｔｔｏｐと記載している）。
なお、同図の実験においても図３４同様、７Ｔ以上のマーク形成のための先頭パルス幅としては６Ｔと同じ先頭パルス幅を用いて記録を行っている。【０１４８】
また、先頭パルス幅の変更を行っていない周期数のマークの形成のためには固定値を用いている。例えば、先頭パルス幅固定値としては、３Ｔマークでは１．３８Ｔ、４Ｔマークでは１．３８Ｔ、５Ｔマークでは１．４２Ｔ、６Ｔ以上のマークでは１．４６Ｔを用いている。
なお、マルチパルス幅についても固定値を用いており、例えば０．６６Ｔとしている。【０１４９】
図３５より、パターンの比較的発生頻度の高い４Ｔ、５Ｔにおいて基準マーク部幅と比較して−０．０５Ｔ程ずれたポイントにおいて再生ジッタが最小となり、必ずしも基準マーク幅によるマークの記録により最良の記録特性が得られていないことが分かる。【０１５０】
図３６は、特性の異なる３種類の光ディスクについて、３Ｔマークの形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、再生時に取得されるマーク部ＭＢの幅ｎＷＭ、スペース部ＳＢの幅ｎＷＳおよび再生ジッタより、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢ幅の差ｎＷＭ−ｎＷＳを算出し、再生ジッタとの関係を示している。○印、△印、□印はそれぞれ光ディスクＡ、Ｂ、Ｃに対応する。先頭パルス幅の変更を行っていない周期数のマークの形成のためには固定値を用いている。
同図において、横軸は３Ｔマーク部ＭＢの幅と３Ｔスペース部ＳＢの幅の差をチャネルクロック周期Ｔにて正規化したものであり、縦軸は記録後の再生ジッタを示す。【０１５１】
図３６より、ｎＷＭ−ｎＷＳ＝０なるポイント、すなわちマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅が等しくなる場合において再生ジッタが最小となり、良好な記録特性が得られていることが分かる。【０１５２】
以上の様に本実施の形態５においては、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅が等しくなるようにマークの形成のための先頭パルス幅を調整することにより、最適な記録を行うことができる。
また、記録時のマーク形成のための先頭パルスを狭くするか、広くするかは、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の大小比較の結果により、容易に知ることができる。【０１５３】
即ち、各光記録再生装置１００において、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅が等しくなるように記録時のマーク形成のための先頭パルス幅を求め、これを光記録再生装置１００内に、例えば中央制御部２５０内のメモリ内に光ディスクを特定する情報とともに格納しておくことにより、光ディスクを特定する情報が格納された光ディスクについては、マーク形成のための先頭パルス幅を無調整、あるいは少ない回数にて最適に調整することができる。【０１５４】
また、上記実施の形態５においては、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅が互いに等しくなるように記録時のマーク形成のための先頭パルス幅を調整するとしたが、同一周期数のマーク部ＭＢの幅とスペース部ＳＢの幅の差の絶対値が閾値以下であれば、これらの差がゼロである場合と同様に扱うこととして、記録時のマーク形成のための先頭パルス幅の調整を完了するとしてもよい。【０１５５】
さらにまた、上記の実施の形態５では、先頭パルス幅を調整することとしているが、先頭パルス幅以外のレーザ光の照射幅を調整することとしても良い。【０１５６】
また、上記の実施の形態５では、７Ｔ以上のマークの形成（記録）のための先頭パルス幅としては６Ｔと同じ先頭パルス幅を用いて記録を行うこととしているが、本発明はこれに限定されず、一般化して言えばｋ周期のマークの形成（記録）のための先頭パルスの幅などのレーザ光照射幅を、ｊ周期（ｊはｋとは異なり、例えばｊはｋよりも大きい）のマークの形成（記録）のための先頭パルスの幅などのレーザ光照射幅としても用いることとしても良い。言い換えると、本発明では、変調規則で生成される複数の互いに異なる周期数のマークのうち、一部の周期数のマーク（例えば３Ｔ〜６Ｔのマーク）についてのみ、レーザ光照射幅の調整を行い、他の周期数のマーク（７Ｔ以上のマーク）の形成には、上記一部の周期数のマークについて定められた照射幅を用いることとしても良い。
実施の形態６【０１５７】
図３７は本発明の実施の形態６に係る光記録再生装置１００の基本的な構成例を示す図である。図３７に示される光記録再生装置１００は、概して図１に示す光記録再生装置１００と同じであるが、図１８のマークレベル検出部２８０及び図２８のパルス幅検出部２９０が付加されている点で異なる。図３７の各要素は、図１、図１８、及び図２８の同じ符号で示される要素と概して同じ役割を持ち、データ再生時及びデータ記録時における基本的動作も概して同じである。以下、図１、図１８、及び図２８の装置の動作とは異なる点を中心として説明する。【０１５８】
以下、図３８を参照して本実施の形態６の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスク１６０が光記録再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ４０）、中央制御部２５０に伝えられ、中央制御部２５０は、光ピックアップＰＵを駆動して光ディスク１６０から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、アシンメトリ値βの推奨値等のディスクの固有情報を読み出す（ステップＳ４１）。【０１５９】
次にステップＳ４２において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、マルチパルスのパルス幅の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。【０１６０】
次にステップＳ４３において、読み取られたアシンメトリ値βの推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、アシンメトリ値βの目標値としては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定した特定の値を用いても良い。【０１６１】
然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（Ｓ４４）、ステップＳ４５において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びアシンメトリ目標値を用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。即ち、ステップＳ４２において中央制御部２５０内に設定されたライトストラテジ（各ｎＴに対するストラテジ）をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を光ピックアップで再生し、アシンメトリ検出部２１０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ４３において設定されたアシンメトリ目標値とを中央制御部２５０で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。【０１６２】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ４６で、マルチパルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップＳ４６では、マルチパルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。ステップＳ４６の処理は、例えば実施の形態１に関し図５〜図７を参照して説明したのと同様に行うことができる。【０１６３】
ステップＳ４６でマルチパルスのパルス幅の調整が終わった後、ステップＳ４７で、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う。なお、ステップＳ４７では、先頭パルスの前エッジ位置の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。ステップＳ４７の処理は、例えば実施の形態３に関し図２０〜図２２を参照して説明したのと同様に行うことができる。【０１６４】
ステップＳ４７で先頭パルスの前エッジ位置が終わった後、ステップＳ４８で、先頭パルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップＳ４８では、先頭パルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。ステップＳ４８の処理は、例えば実施の形態５に関し図３１〜図３３を参照して説明したのと同様に行うことができる。【０１６５】
最後にステップＳ４９において、ステップＳ４６で調整されたマルチパルスのパルス幅と、ステップ４７で調整された先頭パルスの前エッジ位置と、ステップ４８で調整された先頭パルスのパルス幅をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップＳ４５で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップＳ４６〜Ｓ４８において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップＳ４５で決定された値ではなくステップＳ４６〜Ｓ４８で決定された記録パワーを用いても良い。【０１６６】
上記のうち、ステップＳ４０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ４１の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、データデコーダ２６０、及び中央制御部２５０により行われ、ステップＳ４２及びＳ４３の処理は、中央制御部２５０により行われ、ステップＳ４４の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ４５の処理は、ヘッドアンプ１９０、アシンメトリ検出部２１０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ４６〜Ｓ４８の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、スペースレベル検出部２７０、マークレベル検出部２８０、パルス幅検出部２９０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ４９の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。【０１６７】
また、上記のステップＳ４６〜Ｓ４８では、マルチパルスのパルス幅の調整と、先頭パルスの前エッジ位置の調整と、先頭パルスのパルス幅の調整を順番に各々１回ずつ行っているが、各々のライトストラテジの調整後に、調整されたライトストラテジで記録した信号の、例えばジッタ値やエラーレートを確認することで、予め指定した性能を満足できる場合は、それ以降の調整を行わず、ステップＳ４９の処理を実行しても良い。また、ステップＳ４９の前に、調整されたライトストラテジで記録した信号の、例えばジッタ値やエラーレートを確認することで、予め指定された性能を満足できない場合は、再度ステップＳ４６〜ステップＳ４７を繰り返す様にしても良い。【０１６８】
また、上記のステップＳ４６〜Ｓ４８では、マルチパルスのパルス幅の調整から実施し、次に先頭パルスの前エッジ位置を調整し、最後に先頭パルスのパルス幅の調整を行うようにしているが、この順番は最も望ましい順番を示しているのみで、実際にはどのライトストラテジから調整を実施しても良い。
【図１】
0004818126.tif 000002
【図２】
0004818126.tif 000003
【図３】
0004818126.tif 000004
【図４】
0004818126.tif 000005
【図５】
0004818126.tif 000006
【図６】
0004818126.tif 000007
【図７】
0004818126.tif 000008
【図８】
0004818126.tif 000009
【図９】
0004818126.tif 000010
【図１０】
0004818126.tif 000011
【図１１】
0004818126.tif 000012
【図１２】
0004818126.tif 000013
【図１３】
0004818126.tif 000014
【図１４】
0004818126.tif 000015
【図１５】
0004818126.tif 000016
【図１６】
0004818126.tif 000017
【図１７】
0004818126.tif 000018
【図１８】
0004818126.tif 000019
【図１９】
0004818126.tif 000020
【図２０】
0004818126.tif 000021
【図２１】
0004818126.tif 000022
【図２２】
0004818126.tif 000023
【図２３】
0004818126.tif 000024
【図２４】
0004818126.tif 000025
【図２５】
0004818126.tif 000026
【図２６】
0004818126.tif 000027
【図２７】
0004818126.tif 000028
【図２８】
0004818126.tif 000029
【図２９】
0004818126.tif 000030
【図３０】
0004818126.tif 000031
【図３１】
0004818126.tif 000032
【図３２】
0004818126.tif 000033
【図３３】
0004818126.tif 000034
【図３４】
0004818126.tif 000035
【図３５】
0004818126.tif 000036
【図３６】
0004818126.tif 000037
【図３７】
0004818126.tif 000038
【図３８】
0004818126.tif 000039