(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
吸着ノズルに吸着した電子部品をカメラで撮像してその撮像画像データに基づいて該電子部品の外観情報及び／又は吸着位置情報を検出する電子部品実装機の撮像画像処理装置において、
前記電子部品の高さと撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率との関係を表す視差データを記憶する記憶手段と、
前記カメラで実際に撮像する電子部品の高さに関する部品高さデータを取り込む部品高さデータ取込手段と、
前記部品高さデータと前記視差データとに基づいて電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を補正することで該電子部品の撮像画像の視差を補正する視差補正手段と
を備えていることを特徴とする電子部品実装機の撮像画像処理装置。
【請求項２】
前記カメラは、複数の吸着ノズルに吸着した複数の電子部品を同一の視野内に収めて撮像し、
前記部品高さデータ取込手段は、前記複数の電子部品の高さに関する複数の部品高さデータを取り込み、
前記視差補正手段は、前記カメラの視野の中から前記複数の電子部品の撮像画像を判別して各電子部品毎に該当する部品高さデータと前記視差データとを用いて各電子部品の撮像画像の視差を個別に補正することを特徴とする請求項１に記載の電子部品実装機の撮像画像処理装置。
【請求項３】
吸着ノズルに吸着した電子部品をカメラで撮像してその撮像画像データに基づいて該電子部品の外観情報及び／又は吸着位置情報を検出する電子部品実装機の撮像画像処理装置において、
前記電子部品の高さと撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率との関係を表す視差データを記憶する記憶手段と、
前記カメラで実際に撮像する電子部品の高さに関する部品高さデータを取り込む部品高さデータ取込手段と、
前記電子部品の撮像画像の視差を補正する視差補正手段とを備え、
前記視差データは、前記電子部品の大小２つの高さについて撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を実測又は演算して作成され、
前記視差補正手段は、前記部品高さデータに基づいて電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に前記視差データを補間補正することで該電子部品の撮像画像の視差を補正することを特徴とする電子部品実装機の撮像画像処理装置。
【請求項４】
吸着ノズルに吸着した電子部品をカメラで撮像してその撮像画像データに基づいて該電子部品の外観情報及び／又は吸着位置情報を検出する電子部品実装機の撮像画像処理方法において、
予め、前記電子部品の高さと撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率との関係を表す視差データを記憶手段に記憶させておき、前記カメラで電子部品を撮像する際に、その電子部品に関する部品高さデータを取り込んで、その部品高さデータと前記視差データとに基づいて電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を補正することで該電子部品の撮像画像の視差を補正することを特徴とする電子部品実装機の撮像画像処理方法。
【請求項５】
前記視差データを作成する際に、光透過材料により板状に形成したキャリブレーション治具を使用すると共に、該キャリブレーション治具の片面には、予めキャリブレーションマークを所定ピッチでマトリックス状に形成しておき、
前記キャリブレーション治具の前記キャリブレーションマーク側の面を前記吸着ノズルで吸着して前記カメラで撮像して各キャリブレーションマークの位置を認識することで、電子部品の最小高さにおける撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を演算して、この演算値を電子部品の最小高さにおける視差データとして前記記憶手段に記憶させ、
前記キャリブレーション治具の前記キャリブレーションマークとは反対側の面を前記吸着ノズルで吸着して前記カメラで撮像して各キャリブレーションマークの位置を認識することで、該キャリブレーション治具の高さと同一の電子部品の高さにおける撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を演算して、この演算値を該キャリブレーション治具の高さと同一の電子部品の高さにおける視差データとして前記記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項４に記載の電子部品実装機の撮像画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、吸着ノズルに吸着した電子部品を撮像するカメラを備えた電子部品実装機の撮像画像処理装置及び撮像画像処理方法に関する発明である。
【背景技術】
【０００２】  近年の電子部品実装機は、吸着ノズルに電子部品を吸着してから回路基板に実装するするまでの間に、吸着ノズルに吸着した電子部品をカメラで撮像してその撮像画像データに基づいて該電子部品の外観情報（例えばサイズ等）や吸着位置情報（例えば部品の中心位置、傾きθ等）を検出することで、電子部品の実装位置精度を確保したり、不良部品の実装を未然に防止ようにしている。この際、実装能率を高めるために、図１Ａ及び図１Ｂに示すように、複数の吸着ノズルに吸着した複数の電子部品を１台のカメラの視野内に収めて撮像することで、複数の電子部品の外観情報や吸着位置情報を１度の撮像でまとめて検出するようにしたものがある。【０００３】  一般に、カメラには視差があるため、撮像する電子部品がカメラから離れるほど小さく写り（像倍率が小さくなり）、カメラの視野内でその中心から離れるほど小さく写るという特性がある。このため、図１Ｂに示すように、撮像する電子部品が実際には長方形であっても、カメラの視差により、電子部品の撮像画像の形状が台形状に変形して写ったり、或は、電子部品の高さ（厚み）によってカメラと電子部品との間の距離が変化して電子部品の撮像画像のサイズが変化して写るという特性がある。特に、複数の電子部品を１台のカメラの視野内に収めて撮像する場合は、撮像する複数の電子部品の高さが相違したり、カメラの視野の中心と各電子部品との水平方向の距離が相違するため、各電子部品毎に撮像画像の変形度合いや画像サイズの縮小度合いが相違して、各電子部品の外観情報や吸着位置情報を正確に検出できないという問題がある。【０００４】  このようなカメラの視差による問題を解決するために、下記の特許文献１に示すように、視差補正用のテレセントリックレンズをカメラの前方に配置して電子部品を撮像することで、該電子部品の位置が変化しても、基本的に該電子部品の撮像画像が変化しないようにすることが提案されている。
【特許文献１】特開２００１−２１７５９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】  しかしながら、テレセントリックレンズを用いる場合は、カメラの視野とほぼ同一のレンズ径の大型のテレセントリックレンズを用いなければならない。特に、複数の電子部品を１台のカメラの視野内に収めて撮像する場合は、カメラの視野も大きくなるため、それに合わせて非常に大型のテレセントリックレンズを用いなければならない。このため、電子部品実装機の機種によっては、カメラの前方にテレセントリックレンズを配置するスペースの余裕がなく、テレセントリックレンズを配置できない場合がある。また、テレセントリックレンズを電子部品実装機の装着ヘッドに搭載する場合は、装着ヘッドの重量増加が問題となり、装着ヘッドの移動速度の高速化が困難となるという問題がある。しかも、テレセントリックレンズには絞りがないため、明るさの調整が難しいという問題がある他、テレセントリックレンズの価格が高価であるため、電子部品実装機の製造コストが高くなるという問題もある。【０００６】  本発明はこれらの問題を解決するためになされたものであり、従って、本発明の目的は、既存の電子部品実装機に対して、テレセントリックレンズを用いずに、ソフトウェア（プログラム）の追加又は変更のみでカメラの撮像画像の視差を補正する機能を持たせることができる電子部品実装機の撮像画像処理装置及び撮像画像処理方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】  上記目的を達成するために、本発明は、予め、撮像する電子部品の高さと撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率との関係を表す視差データを記憶手段に記憶させておき、カメラで電子部品を撮像する際に、その電子部品の高さ（厚み）に関する部品高さデータを取り込んで、その部品高さデータと前記視差データとに基づいて電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を補正することで該電子部品の撮像画像の視差を補正するようにしたものである。このようにすれば、既存の電子部品実装機に対して、テレセントリックレンズを用いずに、ソフトウェア（プログラム）の追加又は変更のみでカメラの撮像画像の視差を補正する機能を持たせることができる。これにより、テレセントリックレンズを用いて視差補正を行う場合に生じる前記諸問題を一挙に解決することができる。【０００８】  この場合、視差データを作成する際に、電子部品の高さの最大値と最小値の間を細かく分割して、多数の部品高さについてそれぞれ撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を実測又は演算して視差データとして記憶手段に記憶させておき、カメラで電子部品を撮像する際に、実際の部品高さデータに最も近い高さの視差データを選択して視差を補正するようにしても良いが、１台のカメラで撮像する画像のピクセル数（画素数）は非常に多いため、多数の部品高さについてそれぞれ視差データを作成すると、視差データが膨大なデータとなり、これを記憶するのに膨大な記憶容量の記憶手段が必要となってくる。【０００９】  これを避けるために、予め、電子部品の大小２つの高さ（例えば最大値と最小値）について撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を実測又は演算して視差データとして記憶手段に記憶させておき、実際の部品高さデータに基づいて電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に前記視差データを補間補正することで該電子部品の撮像画像の視差を補正するようにすると良い。このようにすれば、電子部品の大小２つの高さについて作成した視差データを用いて、全ての電子部品の高さに対して視差を補正することができ、視差データが膨大化するのを回避することができる。【００１０】  本発明は、１台のカメラで１個の電子部品を撮像する場合にも適用できるが、複数の吸着ノズルに吸着した複数の電子部品を１台のカメラの視野内に収めて撮像する場合にも適用できる。この場合には、カメラの視野の中から複数の電子部品の撮像画像を判別して各電子部品毎に該当する部品高さデータと前記視差データとを用いて各電子部品の撮像画像の視差を個別に補正するようにすると良い。このようにすれば、複数の電子部品を１台のカメラの視野内に収めて撮像する場合に、複数の電子部品の高さが相違したり、カメラの視野の中心と各電子部品との水平方向の距離が相違しても、複数の電子部品の撮像画像の視差を個別に精度良く補正することができる。【００１１】  また、視差データを作成する際に、光透過材料により板状に形成したキャリブレーション治具を使用すると共に、該キャリブレーション治具の片面には、予めキャリブレーションマークを所定ピッチでマトリッ��ス状に形成しておき、前記キャリブレーション治具の前記キャリブレーションマーク側の面を吸着ノズルで吸着してカメラで撮像して各キャリブレーションマークの位置を認識することで、電子部品の最小高さにおける撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を演算して、この演算値を電子部品の最小高さにおける視差データとして記憶手段に記憶させ、前記キャリブレーション治具の前記キャリブレーションマークとは反対側の面を吸着ノズルで吸着してカメラで撮像して各キャリブレーションマークの位置を認識することで、該キャリブレーション治具の高さと同一の電子部品の高さにおける撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズ又は像倍率を演算して、この演算値を該キャリブレーション治具の高さと同一の電子部品の高さにおける視差データとして記憶手段に記憶させるようにすると良い。このようにすれば、キャリブレーション治具を用いて、電子部品の大小２つの高さについて視差データを容易に作成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】  以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。本発明は、吸着ノズルに吸着した電子部品を撮像するカメラを備えた電子部品実装機であれば、そのシステム構成を問わず、全ての機種に適用できるため、電子部品実装機の機械的構成の説明は省略する。尚、カメラを備えた電子部品実装機の一例は、例えば特開２０００−２９４９９０号公報に記載されている。【００１３】  電子部品実装機を制御するコンピュータは、図１Ａに示すように、吸着ノズル１１に電子部品Ａ，Ｂを吸着してから回路基板に実装するするまでの間に、吸着ノズル１１に吸着した電子部品Ａ，Ｂをカメラで撮像してその撮像画像データを取り込む。この際、実装能率を高めるために、カメラは、複数の吸着ノズル１１に吸着した複数の電子部品Ａ，Ｂを同一の視野内に収めて撮像する。【００１４】  一般に、カメラには視差があるため、撮像する電子部品Ａ，Ｂがカメラから離れるほど小さく写り（像倍率が小さくなり）、カメラの視野内でその中心から離れるほど小さく写るという特性がある。このため、図１Ｂに示すように、撮像する電子部品Ａ，Ｂが実際には長方形であっても、カメラの視差により、電子部品Ａ，Ｂの撮像画像の形状が台形状に変形して写ったり、或は、電子部品Ａ，Ｂの高さ（厚み）によってカメラと電子部品Ａ，Ｂとの間の距離が変化して電子部品Ａ，Ｂの撮像画像のサイズが変化して写るという特性がある。特に、複数の電子部品Ａ，Ｂを１台のカメラの視野内に収めて撮像する場合は、撮像する複数の電子部品Ａ，Ｂの高さが相違したり、カメラの視野の中心と各電子部品Ａ，Ｂとの水平方向の距離が相違するため、各電子部品Ａ，Ｂ毎に撮像画像の変形度合いや画像サイズの縮小度合いが相違して、各電子部品Ａ，Ｂの外観情報（例えばサイズ等）や吸着位置情報（例えば部品の中心位置、傾きθ等）を正確に検出できないという問題がある。【００１５】  この問題を解決するために、視差補正用の大型のテレセントリックレンズを用いると、前述したように、低コスト化、省スペース化、ヘッド速度の高速化等の要求を満たすことができない。【００１６】  そこで、本実施例では、既存の電子部品実装機に対して、テレセントリックレンズを用いずに、ソフトウェア（プログラム）の追加又は変更のみでカメラの撮像画像の視差を補正する機能を持たせるようにしている。【００１７】  以下、本実施例のカメラの撮像画像の視差補正機能を説明する。本実施例では、視差を補正する際に用いる視差データを次のようにして作成する。まず、図２に示すキャリブレーション治具１２を吸着ノズル１１に吸着してこれをカメラで撮像することで、吸着ノズル１１で吸着可能な電子部品の高さの最大値と最小値について、撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを測定する。【００１８】  この測定に用いるキャリブレーション治具１２は、光透過材料（例えば透明ガラス、透明プラスチック等）によりカメラの視野よりも大きい板状に形成され、その厚みは、吸着ノズル１１で吸着可能な電子部品の最大高さ（最大厚み）と同一に形成されている。このキャリブレーション治具１２の片面には、白い円形のキャリブレーションマーク１３が正確なピッチ（例えば５ｍｍピッチ）で��トリックス状に印刷等により形成されている。このキャリブレーション治具１２は、光透過材料で形成されているため、表面側のみならず裏面側からもキャリブレーションマーク１３をカメラで認識できるようになっている。【００１９】  尚、キャリブレーションマーク１３を白色にする理由は、カメラの撮像画像の背景となる吸着ノズル１１上部側の部材が全て黒色に着色されているため、キャリブレーションマーク１３を白色にすることで、撮像画像の背景（黒色）とキャリブレーションマーク１３（白色）とのコントラストを大きくして、キャリブレーションマーク１３を認識しやすくするためである。従って、キャリブレーションマーク１３を認識しやすい色であれば、白色に限定されず、他の色であっても良い。【００２０】  このキャリブレーション治具１２の表面側（マーク側）を吸着ノズル１１で吸着してカメラで撮像すると、カメラは、キャリブレーション治具１２の裏面側から撮像することになるが、該治具１２は光透過材料で形成されているため、該治具１２の厚みが無視され、最小（０）の厚みのキャリブレーション治具を用いて撮像するのと全く同じ撮像画像が得られる。この撮像画像データを処理して、撮像画像にマトリックス状に写った各キャリブレーションマーク１３の中心位置に相当するピクセルの位置（Ｘ，Ｙ）を認識し、撮像画像上のマーク間ピッチのピクセル数（Ｎ）を計数することで、次式により１ピクセル当たりの部品サイズを算出することができる。
１ピクセル当たりの部品サイズ＝Ｐ／Ｎ
Ｐ：キャリブレーション治具１２上のマーク間ピッチ［ｍｍ］
Ｎ：撮像画像上のマーク間ピッチのピクセル数
ここで、キャリブレーション治具１２上のマーク間ピッチ（Ｐ）は、既知であるため、撮像画像上のマーク間ピッチのピクセル数（Ｎ）を計数することで、１ピクセル当たりの部品サイズを算出することができる。【００２１】  従って、キャリブレーション治具１２の表面側（マーク側）を吸着ノズル１１で吸着してカメラで撮像して、撮像画像の各ピクセル毎に１ピクセル当たりの部品サイズを算出すれば、吸着ノズル１１で吸着可能な電子部品の高さの最小値（０）における撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを求めることができる。【００２２】  その後、キャリブレーション治具１２の表裏を反転させて、キャリブレーション治具１２の裏面側を吸着ノズル１１で吸着してカメラで撮像して、上記と同様の方法で、撮像画像の各ピクセル毎に１ピクセル当たりの部品サイズを算出すれば、キャリブレーション治具１２の高さ（吸着可能な電子部品の高さの最大値又はその付近）における撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを求めることができる。【００２３】  以上のようにして、予め、キャリブレーション治具１２を用いて、吸着ノズル１１で吸着可能な電子部品の高さの最大値と最小値について、撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを測定し、この測定データを視差データとしてコンピュータの記憶装置（記憶手段）に記憶させておく。【００２４】  コンピュータは、記憶装置（記憶手段）に記憶されている図３又は図４の撮像画像処理プログラムを実行することで、上記視差データを用いて、電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に１ピクセル当たりの部品サイズを補正することで該電子部品の撮像画像の視差を補正する。【００２５】  図３の撮像画像処理プログラムは、カメラで１個の電子部品のみを撮像する場合の視差補正を行うプログラムであり、図４の撮像画像処理プログラムは、１台のカメラの視野内に複数の電子部品を収めて撮像する場合の視差補正を行うプログラムである。【００２６】  カメラで１個の電子部品のみをを撮像する場合は、図３の撮像画像処理プログラムを実行し、まずステップ１０１で、カメラで撮像する電子部品の高さに関する部品高さデータをコンピュータの記憶装置（記憶手段）から読み込む。この場合、予め、吸着ノズル１１で吸着可能な全ての電子部品の高さに関する部品高さデータをコンピュータの記憶装置に記憶しておき、ステップ１０１で、今回撮像する電子部品の高さに関する部品高さデータを記憶装置の記憶データから検索して読み込む。このステップ１０１の処理が特許請求の範囲でいう部品高さデータ取込手段としての役割を果たす。【００２７】  この後、ステップ１０２に進み、吸着ノズル１１に吸着されている電子部品をカメラで撮像した後、ステップ１０３に進み、視差データを記憶装置から読み込む。ここで、視差データは、吸着ノズル１１で吸着可能な電子部品の高さの最大値と最小値について、撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを測定して作成したデータである。【００２８】  この後、ステップ１０４に進み、上記ステップ１０１で読み込んだ部品高さデータに基づいて電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に視差データを線形補間することで該電子��品の撮像画像の視差を補正する。この視差補正は、具体的には次のようにして行う。例えば、図５に示すように、任意のピクセルの位置（Ｘ，Ｙ）における部品高さ最大値の視差データをＭ１、部品高さ最小値の視差データをＭ２、撮像する電子部品の高さ（厚み）をＨとすると、当該ピクセルの位置（Ｘ，Ｙ）における１ピクセル当たりの部品サイズＳは、下記の線形補間式により算出される。
Ｓ＝Ｍ１＋（Ｍ２−Ｍ１）・（Ｈｍａｘ−Ｈ）／Ｈｍａｘ
ここで、Ｈｍａｘは、部品高さ最大値（キャリブレーション治具１２の高さ）である。【００２９】  このような視差データＭ１，Ｍ２の線形補間を電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に行うことで、該電子部品の撮像画像の視差を補正する。この視差補正により、テレセントリックレンズを用いて撮像する場合と同じように、視差のない撮像画像データを取得することができる。このステップ１０４の処理が特許請求の範囲でいう視差補正手段としての役割を果たす。【００３０】  この後、ステップ１０５に進み、視差補正後の撮像画像データに基づいて部品認識の処理を行い、該電子部品の外観情報（例えばサイズ等）や吸着位置情報（例えば部品の中心位置、傾きθ等）を検出する。【００３１】  一方、１台のカメラの視野内に複数の電子部品を収めて撮像する場合は、図４の撮像画像処理プログラムを実行し、まずステップ２０１で、カメラで撮像する複数の電子部品の高さに関する複数の部品高さデータをコンピュータの記憶装置（記憶手段）から読み込む。このステップ２０１の処理が特許請求の範囲でいう部品高さデータ取込手段としての役割を果たす。【００３２】  この後、ステップ２０２に進み、複数の吸着ノズル１１に吸着されている複数の電子部品を１台のカメラの視野内に収めて撮像した後、ステップ２０３に進み、視差データを記憶装置から読み込む。【００３３】  この後、ステップ２０４に進み、カメラの視野の中から複数の電子部品の撮像画像を判別した後、ステップ２０５に進み、各電子部品毎に該当する部品高さデータと視差データとを用いて、前記ステップ１０４と同様の線形補間により各電子部品の撮像画像の視差を個別に補正する。このように、各電子部品毎に視差補正を行うことで、テレセントリックレンズを用いて複数の電子部品を撮像する場合と同じように、視差のない複数の電子部品の撮像画像データを取得することができる。このステップ２０５の処理が特許請求の範囲でいう視差補正手段としての役割を果たす。【００３４】  この後、ステップ２０６に進み、各電子部品毎に、視差補正後の撮像画像データに基づいて部品認識の処理を行い、各電子部品の外観情報（例えばサイズ等）や吸着位置情報（例えば部品の中心位置、傾きθ等）を検出する。【００３５】  以上説明した本実施例によれば、既存の電子部品実装機に対して、テレセントリックレンズを用いずに、ソフトウェア（プログラム）の追加又は変更のみでカメラの撮像画像の視差を補正する機能を持たせることができる。これにより、テレセントリックレンズを用いて視差補正を行う場合に生じる前記諸問題を一挙に解決することができる。【００３６】  しかも、本実施例では、キャリブレーション治具１２を用いて、吸着ノズル１１で吸着可能な電子部品の高さの最大値と最小値について、撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを測定し、この測定データを視差データとしてコンピュータの記憶装置（記憶手段）に記憶させておき、実際の部品高さデータに基づいて電子部品の撮像画像の各ピクセル毎に前記視差データを補間補正することで該電子部品の撮像画像の視差を補正するようにしたので、電子部品の大小２つの高さについて作成した視差データを用いて、全ての電子部品���高さに対して視差を補正することができ、視差データが膨大化するのを回避することができる利点がある。【００３７】  尚、本発明において、視差データの作成方法は、吸着ノズル１１に吸着可能な電子部品の高さの最大値と最小値について視差データを作成することに限定されず、要は、電子部品の大小２つの高さについて撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを実測又は演算して視差データを作成するようにすれば良い。【００３８】  また、記憶装置の記憶容量に余裕があるシステムに本発明を適用する場合は、吸着ノズル１１に吸着可能な電子部品の高さの最大値と最小値の間を細かく分割して、多数の部品高さについてそれぞれ撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを実測して視差データとして記憶装置に記憶させておき、カメラで電子部品を撮像する際に、実際の部品高さデータに最も近い高さの視差データを選択して視差を補正するようにしても良い。【００３９】  また、本実施例では、複数の吸着ノズル１１に吸着した複数の電子部品を１台のカメラの視野内に収めて撮像する場合に、カメラの視野の中から複数の電子部品の撮像画像を判別して各電子部品毎に該当する部品高さデータと前記視差データとを用いて各電子部品の撮像画像の視差を個別に補正するようにしたので、カメラの視野内の複数の電子部品の高さが相違したり、カメラの視野の中心と各電子部品との水平方向の距離が相違しても、複数の電子部品の撮像画像の視差を個別に精度良く補正することができる。【００４０】  尚、本実施例では、撮像画像の各ピクセル毎の１ピクセル当たりの部品サイズを補正するようにしたが、撮像画像の各ピクセル毎の像倍率を補正するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【００４１】  本発明は、吸着ノズルに吸着した電子部品を撮像するカメラを備えた様々なタイプの電子部品実装機に適用して実施できる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】［図１Ａ］吸着ノズルの電子部品吸着状態を示す正面図である。
［図１Ｂ］撮像画面を説明する図である。
［図２］本発明の実施例で用いるキャリブレーション治具の外観斜視図である。
［図３］カメラで１個の電子部品のみを撮像する場合に実行する撮像画像処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
［図４］１台のカメラの視野内に複数の電子部品を収めて撮像する場合に実行する撮像画像処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
［図５］線形補間を説明する図である。
【符号の説明】
【００４３】  １１…吸着ノズル、１２…キャリブレーション治具、１３…キャリブレーションマーク
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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