(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料の分離手段と、前記分離手段により分離された試料を質量分析する質量分析手段とを含む質量分析システムにおいて、
前記質量分析手段は、
Ｎ（Ｎは１以上の整数）回目の質量分析において、イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと、特定のイオン種を選択的に解離させ質量分析して得られるデータとを含むマススペクトルデータを生成する手段と、
前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータから全てのイオン種の溶出パターンを算出するイオン種溶出パターン算出手段と、
前記イオン種溶出パターンと前記マススペクトルデータとに基づいて、Ｎ＋１回目の質量分析の対象となるイオン種の優先順位を決定する分析優先順位決定手段とを備え、
前記イオン種溶出パターン算出手段は、各イオン種について、測定強度のピーク時を算出し、
前記分析優先順位決定手段は、前記算出結果がＮ＋１回目の質量分析における分析タイミングに合致するイオン種に対して高い優先順位を与えることを特徴とする質量分析システム。
【請求項２】
前記質量分析手段により質量分析した結果データについて、各イオン種に対して再分析を行う必要の有無を判定する再分析判定手段をさらに備えていることを特徴とする請求項１に記載の質量分析システム。
【請求項３】
前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと前記マススペクトルデータとに基づいて、Ｎ＋１回目の質量分析における質量分析条件を決定する質量分析条件決定手段をさらに備えていることを特徴とする請求項１又は２に記載の質量分析システム。
【請求項４】
試料の分離手段と、前記分離手段により分離された試料を質量分析する質量分析手段とを含む質量分析システムにおいて、
前記質量分析手段は、
Ｎ（Ｎは１以上の整数）回目の質量分析において、イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと、特定のイオン種を選択的に解離させ質量分析して得られるデータとを含むマススペクトルデータを生成する手段と、
前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータから全てのイオン種の溶出パターンを算出するイオン種溶出パターン算出手段と、
前記イオン種溶出パターンと前記マススペクトルデータとに基づいて、Ｎ＋１回目の質量分析の対象となるイオン種の優先順位を決定する分析優先順位決定手段とを備え、
前記イオン種溶出パターン算出手段は、各イオン種について、測定強度のピーク付近を算出し、
前記分析優先順位決定手段は、前記算出結果がＮ＋１回目の質量分析における分析タイミングに合致するイオン種に対して高い優先順位を与えることを特徴とする質量分析システム。
【請求項５】
試料の分離手段と、前記分離手段により分離された試料を質量分析する質量分析手段とを含む質量分析システムにおいて、
前記質量分析手段は、
Ｎ（Ｎは１以上の整数）回目の質量分析において、イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと、特定のイオン種を選択的に解離させ質量分析して得られるデータとを含むマススペクトルデータを生成する手段と、
前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータから全てのイオン種の溶出パターンを算出するイオン種溶出パターン算出手段と、
前記イオン種溶出パターンと前記マススペクトルデータとに基づいて、Ｎ＋１回目の質量分析の対象となるイオン種の優先順位を決定する分析優先順位決定手段とを備え、
前記イオン種溶出パターン算出手段は、溶出パターンのピーク強度が第１の閾値以上であるイオン種については測定強度のピーク時又は測定強度が所定の範囲である時間を登録し、溶出パターンのピーク強度が第２の閾値以上、前記第１の閾値未満であるイオン種については測定強度のピーク時を登録し、溶出パターンのピーク強度が前記第２のしきい値未満であるイオン種についてはピーク時間を登録せず、
前記分析優先順位決定手段は、前記登録されたピーク時あるいは時間がＮ＋１回目の質量分析における分析タイミングに合致するイオン種に対して高い優先順位を与えることを特徴とする質量分析システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試料分離手段と質量分析手段とを備えた質量分析システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的な質量分析法では、測定対象の試料をイオン化した後、生成された各種イオンを質量分析装置に送り込み、イオンの質量数と価数の比である質量対電荷比（ｍ／ｚ）の値ごとに、イオンの測定強度を測定する。この結果得られるマススペクトルは、各質量対電荷比値に対する測定されたイオンの測定強度のピーク（イオンピーク）を含んでいる。このように、イオン化した試料そのものを質量分析することをＭＳ１と呼び、得られたデータをＭＳ１データと呼ぶ。多段解離が可能な質量分析装置では、ＭＳ１で検出されたイオンピークのうち、特定の質量対電荷比を有するイオンピークを選択して（選択したイオン種を前駆イオンと呼ぶ）、更に、その前駆イオンを、ガス分子との衝突等により解離分解し、生成した解離イオン種（解離したイオン種を解離イオンと呼ぶ）を質量分析して、同様にマススペクトルが得られる。ここで、前駆イオンをｎ−１段解離して、その解離イオン種を質量分析することをＭＳｎと呼び、得られたデータをＭＳｎデータと呼ぶ。このように、多段解離が可能な質量分析装置では、前駆イオンを多段（１段，２段，…，ｎ−１段）に解離させ、各段階で生成したイオン種の質量数を分析する（ＭＳ２，ＭＳ３，…，ＭＳｎ）。
【０００３】
また、生体試料のように複雑な混合試料の分析においては、質量分析装置のみでは同一もしくは非常に近い質量対電荷比を有するイオン種を分離することが困難なため、イオン種の分離を目的とした液体クロマトグラフ（ＬＣ）やガスクロマトグラフ（ＧＣ）などの試料分離手段と質量分析手段とが一体となった質量分析システムが多用されている。
【０００４】
しかしながら、複雑な混合試料の分析では、試料分離手段によりイオン種を分離しても、同一溶出時間においてイオン化した試料中には複数の前駆イオン候補となるイオン種が含まれる場合が多いという問題点があった。この問題点を解消する手段として、下記のような技術が提案されている。
【０００５】
特許文献１には、Ｎ回目までにＭＳｎを実行した前駆イオンの重複測定を避けるため、前駆イオンの情報を内部データベースとして登録し、測定回数、イオン強度の和、積算イオン強度、ＭＳｎデータの質などに制限を設け、Ｎ＋１回目以降の測定時に測定中の実時間においてＭＳｎ実行済みの前駆イオンを選択から除外する機能を備えた質量分析システムが開示されている。
【０００６】
特許文献２には、（ｉ）主検出器たる質量分析装置と副検出器（紫外線検出器など）とを用い、ＬＣ部から溶出した試料がまず副検出器に入り、それより所定の時間だけ遅れて質量分析装置に試料が入るように構成された質量分析システムにおいて、副検出器から得られるデータのクロマトグラムからピークを検出し、クロマトグラムにおけるピークの保持時間や測定強度に応じて、質量分析装置を制御することが提案されている。また、（ｉｉ）ＬＣ部から溶出した試料をスプリッタにより２方向に分岐させ、一方に主検出器を、他方に副検出器を用い、副検出器のデータを基に主検出器を制御することが提案されている。これを応用すると、副検出器に質量分析装置を用いることで、副検出器で得られるＭＳ１データのマスクロマトグラムからピークを検出し、クロマトグラムにおけるピークの保持時間や測定強度に応じて、質量分析装置を制御することが可能である。
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−９１３４４号公報。
【特許文献２】特開２００２−１８１７８４号公報。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１に開示された質量分析システムの場合には、Ｎ回目までにＭＳｎ実行済みの前駆イオンやユーザが予め指定したイオン種をＮ＋１回目におけるＭＳnターゲットから除外することが可能である。しかしながら、分析ターゲットとなる前駆イオンのマスクロマトグラム中のどの時点でＭＳｎを行うかは不明である。このため、データベース検索・照合時に分析イオン種の同定に寄与する可能性が高いという意味で、前駆イオンのＭＳｎデータの質が良いタイミングでＭＳｎを行う可能性もあれば、悪いタイミングでＭＳｎを行う可能性もある。そうすると、イオン強度の和、積算イオン強度、ＭＳnデータの質などに制限を設け、前駆イオンをＭＳｎターゲットから除外した場合に良好なＭＳｎデータが得られるかどうかは不明である。また、結果的に良好なＭＳｎデータが得られたとしても、それ以前にＭＳｎデータの質が悪いタイミングでＭＳｎを実行してしまうと、無駄なＭＳｎ回数が増加するため、一回のサンプル測定時においてＭＳnを実行する前駆イオン種数が減少する可能性がある。
【０００９】
特許文献２では、（i）副検出器として紫外検出器が用いられているが、生体試料のように複雑な混合試料の分析では、同一溶出時間においてイオン化した試料中には複数の前駆イオン候補となるイオン種が含まれることが多く、紫外検出器では前駆イオンのマスクロマトグラムを判断することはできないという問題がある。この問題は、上記した（ii
）ＬＣ部から溶出した試料をスプリッタにより分岐して主検出器と副検出器とに供給し、副検出器のデータを基に主検出器を制御するという手法により解決することができる。しかしながら、スプリッタによって試料を分岐すると、詰まりなどの発生により圧力を一定に保つことが難しく、前記所定の時間を正確に保って質量分析装置を正常に動作させることができない可能性がある。また、２台の質量分析装置を用いるため、１台の質量分析装置を用いる場合に比べて、測定ごとに試料が２倍必要になるという問題もある。さらに、質量分析装置を２台用意するためにコストが増大するという問題もある。
【００１０】
本発明の目的は、以上のような課題を解決すべく、１台の質量分析装置を用いて、前駆イオンのマスクロマトグラムを予測し、良好なＭＳｎデータを得られる可能性が高いタイミングでＭＳｎを実行することができる質量分析システムを提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記解決課題に鑑みて鋭意研究の結果、本発明者は、試料の分離手段と質量分析手段から構成される質量分析システムにおいて、Ｎ回目までのサンプル測定で得られたＭＳ１データから全イオン種溶出パターンを算出し、前記イオン種溶出パターンとＭＳｎデータとを基にＮ＋１回目のサンプル測定時に質量分析するイオン種の優先順位を決定することに想到した。
【００１２】
すなわち、本発明は、試料の分離手段と、前記分離手段により分離された試料を質量分析する質量分析手段とを含む質量分析システムにおいて、前記質量分析手段は、Ｎ（Ｎは１以上の整数）回目の質量分析において、イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと、特定のイオン種を選択的に解離させ質量分析して得られるデータとを含むマススペクトルデータを生成する手段と、前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータから全てのイオン種の溶出パターンを算出するイオン種溶出パターン算出手段と、前記イオン種溶出パターンと前記マススペクトルデータとに基づいて、Ｎ＋１回目の質量分析の対象となるイオン種の優先順位を決定する分析優先順位決定手段とを備えることを特徴とする質量分析システムを提供するものである。
【００１３】
本発明の質量分析システムにおいて、前記イオン種溶出パターン算出手段は、各イオン種について、測定強度のピーク時又は測定イオン強度が所定の範囲内である溶出時を算出し、前記分析優先順位決定手段は、前記算出結果がＮ＋１回目の質量分析における分析タイミングに合致するイオン種に対して高い優先順位を与えることを特徴とする。
【００１４】
本発明の質量分析システムは、また、前記質量分析手段により質量分析した結果データについて、各イオン種に対して再分析を行う必要の有無を判定する再分析判定手段をさらに備えていることを特徴とする。
【００１５】
本発明の質量分析システムは、また、前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと前記マススペクトルデータとに基づいて、Ｎ＋１回目の質量分析における質量分析条件を決定する質量分析条件決定手段をさらに備えていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
以上、説明したように、本発明の質量分析システムによれば、Ｎ＋１回目のサンプル測定時に質量分析するイオン種の分析優先順位を決定することにより、ＭＳｎを行う最適のタイミングを予測することが可能となる。この予測結果に基づき最適のタイミングでＭＳｎを行うことが出来れば、質の良いＭＳｎデータを取得することが可能となる。更に１つのイオン種の測定回数に所定の制限を設ける場合においては、質の良いＭＳｎデータを取得することで、１つのイオン種を分析する回数が減少し、一度のサンプル測定時により多くのイオン種のＭＳｎデータを取得することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の質量分析システムを実施するための最良の形態を詳細に説明する。図１〜図１１は、本発明の実施の形態を例示する図であり、これらの図において、同一の符号を付した部分は同一物を表わし、基本的な構成及び動作は同様であるものとする。
【００１８】
図１は、本発明の質量分析システムの一実施形態に係る質量分析システムの構成例を概略的に示す図である。図１において、質量分析システムは、試料分離装置１０１、イオン化部１０２、質量分析部１０３、検出器１０４、データ処理部１０５、表示部１０６及び制御部１０７を備えている。
【００１９】
試料分離装置１０１は、例えば、液体クロマトグラフ（ＬＣ）、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）、電気泳動装置（Electrophoresis）などの試料分離装置を含むことが好ましい。イオン化部１０２は、例えば、エレクトロスプレー（ＥＳＩ）イオンソース、常圧化学電離（ＡＰＣＩ）イオンソース、常圧光電離（ＡＰＰＩ）イオンソース、レーザ脱着電離（ＬＤＩ）イオンソース、誘導結合プラズマ（ＩＣＰ）イオンソース、電子衝撃（ＥＩ）イオンソース、化学電離（ＣＩ）イオンソース、電界電離（ＦＩ）イオンソース、高速原子衝撃（ＦＡＢ）イオンソース、液体二次イオン質量分析法（ＬＳＩＭＳ）イオンソース、常圧電離（ＡＰＩ）イオンソース、電界脱着（ＦＤ）イオンソース、マトリックスアシスト（Matrix Assisted）レーザ脱着電離（ＭＡＬＤＩ）イオンソース、シリコン上脱着／電離（Desorption/Ionisation on Silicon，（ＤＩＯＳ）イオンソースなどのイオンソースを含むことが好ましい。さらに、イオンソースは連続イオンソースもしくはパルスイオンソースであってもよい。質量分析部１０３は、例えば、フライト時間（Time of Flight）質量分析装置、四重極質量分析装置、ペニングまたはフーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴（ＦＴＩＣＲ）質量分析装置、二次元または線形四重極イオントラップ、ポールまたは三次元四重極イオントラップなどの質量分析装置を含むことが好ましい。
【００２０】
図１に示す質量分析システムにおいて、まず、測定試料が試料分離装置１０１に導入されると、その特性に応じて分離されてイオン化部１０２に送られる。イオン化部１０２においてイオン化された試料は、質量分析部１０３において各質量数成分に分離されて、検出器１０４において検出される。検出器１０４において得られた検出信号はデータ処理部１０５に送られてデータ処理された後、マススペクトルデータとして表示部１０６に表示される。図示するように、イオン化部１０２、質量分析部１０３、検出器１０４、データ処理部１０５は、制御部１０７によって制御される。
【００２１】
本実施形態にて行う質量分析方法について、図２を参照しながら説明する。図２に示すように、本実施形態の質量分析システムでは、イオン化した試料そのものを質量分析するＭＳ１と、特定のイオン種（前駆イオン）を選択して、更にその前駆イオンを解離し生成した解離イオン種（解離イオン）を質量分析するといったように前駆イオンをｎ−１段解離して質量分析するＭＳｎとを行うことができる。このように、多段解離が可能な質量分析装置では、前駆イオンを多段（１段，２段，…，ｎ−１段）に解離させ、各段階で生成したイオン種の質量数を分析する（ＭＳ２，ＭＳ３，…，ＭＳｎ）。ここで、前駆イオンの解離法には、例えば衝突解離（Collision Induced Dissociation）法、電子捕獲解離（Electron Capture Dissociation）法などの解離法を用いるのが好ましい。
【００２２】
本実施形態の質量分析システムでは、図３Ａに示すように、測定１回目と測定２回目の間に、測定１回目のデータを用いて測定２回目の分析内容を決定することを特徴としている。これに対して、従来技術では図３Ｂに示すように測定１回目終了後そのまま測定２回目を行っていた。ここで、測定１回目、測定２回目・・・・測定Ｎ回目とは、試料の導入から分析終了までを意味する。なお、以下では測定１回目と測定２回目についてのみ説明を行うが、測定Ｎ−１回目と測定Ｎ回目についても同様に行うことができる。また、測定Ｎ回目の分析内容は、測定Ｎ−１回目のデータのみに基づいて決定するわけではない。例えば、測定Ｎ−１回目のデータからイオン種溶出パターンを算出し、測定１回目からＮ−１回目までにＭＳｎ分析した前駆イオンを選択から除外するといったように、測定１回目からＮ−１回目のデータの一部もしくは全てを用いて、測定Ｎ回目の分析内容を決定してもよい。
【００２３】
図４は、本実施形態の質量分析システムにおける質量分析の手順を詳細に示す図である。まず、測定１回目で得られたＭＳ１データから各イオン種の情報を内部データベース（以下、内部データベースをイオン種リストと呼ぶ）に登録する。ここで、イオン種リストに登録されるイオン種はモノアイソトピックピークのみであることが好ましいが、これに限定されるわけではない。また、イオン種の質量対電荷比や価数、測定強度などによって登録されるイオン種を制限するのが好ましい。図４ではＭＳ１データからイオン種リストを作成しているが、ＭＳｎデータのイオン種をイオン種リストに追加してもよい。
【００２４】
イオン種リストに登録される各イオン種の情報には、質量対電荷比、電荷数、溶出開始時間、測定強度がピークとなる時間、ピーク時の測定強度などを含んでいるのが好ましい。あるいは、イオンを検出する時間やイオンの質量数そのものなどの上記の情報に準ずるものを含んでいてもよい。さらに、登録するイオン種に関して、ユーザがイオン種リストに登録する範囲を各情報に基づき指定できるようになっているのが好ましい。
【００２５】
次に、ＭＳ２実行済みの前駆イオンを測定２回目での前駆イオン除外対象としてイオン種リストに登録し、それ以外のイオン種を測定２回目での前駆イオン選択対象として登録する。尚、イオン種リストの各イオン種を前駆イオン選択対象または除外対象として登録するのではなく、どちらか一方のみを登録するか、あるいは除外対象となったイオン種をイオン種リストから削除するなどしてもよい。また、ＭＳ２済みの前駆イオンを測定２回目での前駆イオン除外対象とするのではなく、逆に、ＭＳ２済みの前駆イオンを選択対象として登録し、これ以外のイオン種を除外対象とすることもできる。あるいは、ＭＳ２を実行したか否かに係らず、イオン種リスト中の全イオン種を測定２回目の選択対象とすることもできる。また、ＭＳ２済みの前駆イオンを優先的に分析するイオンとして登録することもできる。
【００２６】
次に、前駆イオン選択対象となったイオン種に対し分析優先順位を決定し、イオン種リストに登録する。上記したように、従来の質量分析システムでは、前駆イオンのＭＳ２データの質が良いタイミングでＭＳ２（あるいはＭＳｎ）を行う可能性もあれば、質の悪いタイミングでＭＳ２（あるいはＭＳｎ）を行う可能性もあった。本実施形態の質量分析システムでは、ＭＳ２データの質が良いと期待される前駆イオンのピーク付近で質量分析を行うよう分析優先順位を決定する。具体的には、図５に示すように、イオン種リストに登録されている各イオン種のピーク時間を参照し、測定タイミングにおいてピークとなる前駆イオンを優先的にＭＳ２するように分析優先順位を決定すればよい。例えば、図６Ａにおいて、溶出したイオン種６０１〜６０３のそれぞれについて、測定強度がピーク付近となるタイミングで優先的に分析できるように分析優先順位を決定することができる。一方で、図６Ｂに示すように、同イオン種６０１〜６０３を従来の質量分析システムで測定した場合には、測定タイミングにおける測定強度の高さの順に測定を行うので、前駆イオン６０２、６０３をそれぞれのピーク位置で質量分析することはできなかった。
【００２７】
こうして決定された、分析優先順位に基づいて２回目の測定を行う。図７は、２回目の測定における分析処理の詳細を示す図である。図７において、まず、ＭＳ１データを取得し、ＭＳ１データ中のイオン種とイオン種リストを比較し、最も優先順位の高いイオン種をリアルタイムで選出し、ＭＳ２を行う。なお、前記比較の際には、測定１回目と測定２回目の誤差などを考慮し、所定の尤度あるいは範囲内であれば一致と判定するようにしてもよい。以下同様の操作を任意の回数繰り返すようシステムを構成することが好ましい。なお、図７ではＭＳ２後に次の分析内容の判定として、ＭＳ１もしくはＭＳ２の判定を行っているが、ＭＳ３なども判定の対象に含めても良い。さらに、連続してＭＳ２を行う場合、直前にＭＳ２を行った前駆イオンはこの場合に限り前駆イオン選択対象から除外できるようにされることが好ましい。
【００２８】
以下、上記した質量分析システムのより具体的な実施例について説明する。
【実施例１】
【００２９】
本実施例では、イオン種リストに登録するイオン種情報として、あるイオン種のピーク時間以外にも所定の測定強度範囲内である溶出時間をイオン種リストに登録する。図８Ａに示すように、ある前駆イオン種のピーク時間の測定強度が所定の測定強度以上の場合、ピーク時間以外に所定の測定強度以上である時間の範囲をイオン種リストに登録し、所定の測定強度以下の場合ピーク時間のみを登録する。この際、分析優先順位の決定では、ある前駆イオン種がピーク時間でなくとも所定の強度以上であれば優先的にＭＳ２分析を行うようシステム構成するのが好ましい。更に、図８Ｂに示すようにピークの時間が同一であるイオン種８０１とイオン種８０２の場合、イオン種８０２をピーク時間にＭＳ２を実行し、イオン種８０１はその前後でＭＳ２を実行するよう分析優先順位を決定しても良い。
【００３０】
別の例としては、図９に示すように、あるイオン種のピーク強度が測定強度９０１以上のイオン種はピーク時間およびその範囲内である時間を登録し、ピーク強度が測定強度９０１未満、かつ測定強度９０２以上のイオン種はピーク時間を登録し、測定強度９０２未満のイオン種はピーク時間を登録せず前駆イオン除外対象としてイオン種リストに登録するようにしてもよい。
【実施例２】
【００３１】
本実施例では、ユーザが予め指定したイオン種を優先的にＭＳ２するもしくは前駆イオン除外対象とするようシステム構成する。この際、ユーザが指定したイオン種においても、実施例１に示すような判定方法によってＭＳ２のタイミングを決定するのが好ましい。
【実施例３】
【００３２】
本実施例では、再分析の必要性の有無を判定する方法について説明する。本質量分析システムでは、測定１回目にはイオン種リストが存在しない。このため、測定１回目のＭＳ２は、図５に示すような前駆イオンのマスクロマトグラム中でＭＳ２データの質が良いと期待されるタイミングでＭＳ２を行っているとは限らない。そこで、本実施例では、図１０に示すような手順でＭＳ２済み前駆イオンの再分析の必要性を判定する。
【００３３】
図１０において、まず、得られたＭＳ２データの質を判定し、再分析の必要性を判定する。ＭＳ２データの質の判定には、例えばDe Novoシーケンス法やデータベース検索との照合結果、あるいはＭＳ２データに含まれるイオンピークの数などを用いることができる。次に、前駆イオンの溶出パターンのどのタイミングでＭＳ２分析を行ったかを算出し、その結果によって更に再分析の必要性の有無を判定する。ＭＳ２分析のタイミング判定には、例えば、溶出パターンのピークで分析を行ったかなどを用いることができる。両者の判定において、いずれか一方で再分析の必要有りと判定されれば前駆イオン選択対象イオンとしてイオン種リストに登録し、どちらも再分析の必要無しと判定されれば前駆イオン除外対象イオンとしてイオン種リストに登録する。なお、再分析の判定にはＭＳ２データの質の判定、もしくはＭＳ２分析のタイミング判定のどちらか一方のみで判定してもよい。
【実施例４】
【００３４】
本実施例では、実施例１で記載した所定の測定強度を自動で判定する方法について説明する。まず、測定１回目のＭＳ２データにおいて、データの質を判定する。その結果と分析時の前駆イオンの測定強度から、どの測定強度以上であれば、質の良いデータを取れる可能性が高いかを判定し、その測定強度を所定の測定強度として採用する。また、より好ましい形態としては、分析時の前駆イオン測定強度だけでなく、より詳細なＭＳ２の情報、例えば前駆イオンの質量や測定強度、前駆イオン選択時のトータルイオン量、さらには分析時の装置条件などから所定の測定強度を推測する。
【実施例５】
【００３５】
本実施例では、測定２回目における同一前駆イオン種のＭＳ２回数の制限について説明する。図８Ａに示すようにある前駆イオン種が所定の強度以上であれば優先的にＭＳ２を行うよう分析優先順位を決定する場合、複数のＭＳ２の分析タイミングにおいてＭＳ２を行う可能性がある。このため、図１１に示すようにＭＳ２後、次の前駆イオン種の選択までの間にリアルタイムで、例えば、前駆イオン種のＭＳ２実行回数、測定強度の和、測定強度の積算値、あるいはＭＳ２データの質などに応じて、前駆イオン除外対象としてイオン種リストに登録するのが好ましい。
【実施例６】
【００３６】
本実施例では、質量分析装置の装置条件の制御について説明する。測定１回目のマススペクトルデータの情報、例えば前駆イオンの質量や測定強度、前駆イオン選択時のトータルイオン量、ＭＳ２データの質、さらには分析時の装置条件などの質量分析に関する情報から測定２回目における各ＭＳ２時での最適な装置条件を予測できるように質量分析システムを構成されているのが好ましい。
【００３７】
以上、本発明の質量分析システムについて、具体的な実施の形態を示して説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。当業者であれば、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において、上記各実施形態又は他の実施形態にかかる発明の構成及び機能に様々な変更・改良を加えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の質量分析システムの一実施形態に係る質量分析システムの構成例を概略的に示す図である。
【図２】本発明による質量分析方法について説明する図である。
【図３】本発明の質量分析システムにおける質量分析の手順と、従来の質量分析システムにおける質量分析の手順との比較を示す図である。
【図４】本発明の質量分析システムにおける質量分析の手順を詳細に示す図である。
【図５】前駆イオンのＭＳ２データの質とＭＳ２を行うタイミングとの関係を示す図である。
【図６】前駆イオンのＭＳ２データの質とＭＳ２を行うタイミングとの関係を示す図である。
【図７】本発明の質量分析システムにおいて２回目の測定を行う際の分析処理の詳細を示す図である。
【図８】本発明の質量分析システムの第１実施例について説明する図である。
【図９】本発明の質量分析システムの第１実施例について説明する図である。
【図１０】本発明の質量分析システムの第３実施例について説明する図である。
【図１１】本発明の質量分析システムの第５実施例について説明する図である。
【符号の説明】
【００３９】
１０１・・・試料分離装置、１０２・・・イオン化部、１０３・・・質量分析部、１０４・・・検出器、１０５・・・データ処理部、１０６・・・制御部、６０１・・・ある前駆イオンのマスクロマトグラム、６０２・・・６０１とは異なる前駆イオンのマスクロマトグラム、６０３・・・６０１、６０２とは異なる前駆イオンのマスクロマトグラム、８０１・・・ある前駆イオンのマスクロマトグラム、８０２・・・８０１とは異なる前駆イオンのマスクロマトグラム、９０１・・・ある測定強度、９０２・・・９０１とは異なる測定強度
【図１】
0004801455.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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