(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体が収容され静磁場が形成される空間に勾配磁場と高周波磁場とを形成し、前記被検体からの磁気共鳴信号に基づいて前記被検体の断層画像を生成する磁気共鳴イメージング装置であって、
前記勾配磁場を形成する手段は、
前記勾配磁場を発生する勾配コイルと、
前記勾配コイルに勾配パルスを印加して前記勾配コイルを駆動する勾配駆動手段と、
前記勾配磁場において渦電流の影響が少なくなるように前記勾配パルスを補正する補正手段とを有し、
前記補正手段は、前記勾配パルスの振幅に対して非線型に変化する前記渦電流の振幅と時定数とを前記勾配パルスの振幅に対応して記憶する記憶手段を含み、前記記憶手段が前記勾配パルスの振幅に対応して記憶する前記渦電流の振幅と時定数とに基づいて、前記勾配パルスを補正する
磁気共鳴イメージング装置。
【請求項２】
前記渦電流の振幅と時定数とを前記勾配パルスの振幅に対応させて測定する測定手段を有し、
前記記憶手段は、前記測定手段が測定した前記渦電流の振幅と時定数とを記憶する
請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項３】
前記勾配駆動手段は、複数種類の振幅の前記勾配パルスを前記勾配コイルに印加し、
前記測定手段は、前記複数種の振幅の勾配パルスにおける渦電流をそれぞれ測定する
請求項２に記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項４】
前記静磁場を形成する手段は、前記被検体が収容される空間を挟むように対向して配置され、前記静磁場を生成する一対の永久磁石を有する
請求項１から３のいずれかに記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項５】
前記静磁場を形成する手段は、前記一対の永久磁石が対向しているそれぞれの面に配置され、前記永久磁石が生成する静磁場を調整する一対の整磁板を有し、
前記勾配コイルは、前記一対の整磁板が対向しているそれぞれの面に配置されている
請求項４に記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項６】
前記被検体からの磁気共鳴信号に基づいて生成される前記被検体の断層画像を表示する表示手段を有する
請求項１から５のいずれかに記載の磁気共鳴イメージング装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気共鳴イメージング装置および勾配磁場形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気共鳴イメージング（ＭＲＩ：Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ  Ｉｍａｇｉｎｇ）装置は、核磁気共鳴（ＮＭＲ：Ｎｕｃｌｅａｒ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ）現象を利用して、被検体の断層画像を撮影できる装置として知られている。磁気共鳴イメージング装置は、医療用途、産業用途などさまざまな分野において、利用されている。
【０００３】
磁気共鳴イメージング装置を用いて被検体の断層画像を撮影する際においては、まず、静磁場が形成される撮影空間内に被検体を置き、被検体内のプロトン（ｐｒｏｔｏｎ）のスピンの方向を静磁場の方向へ整列させて磁化ベクトルを得た状態にする。その後、共鳴周波数の電磁波と勾配磁場とを照射することにより、核磁気共鳴現象を発生させてプロトンの磁化ベクトルを変化させ、元の磁化ベクトルに戻るプロトンからの磁気共鳴信号を受信する。そして、磁気共鳴イメージング装置は、その受信した磁気共鳴信号に基づいて被検体の断層画像を生成する。
【０００４】
前述の静磁場を永久磁石により形成する場合においては、被検体が収容される空間を挟むように、一対の永久磁石が対向して配置される。そして、永久磁石が生成する静磁場を調整するために、一対の永久磁石が対向しているそれぞれの面に一対の整磁板が配置される。そして、一対の整磁板が対向しているそれぞれの面に勾配コイルが配置される（たとえば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−１２６１５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記のように、永久磁石により静磁場を形成する場合においては、勾配コイルが整磁板に近接しているため、勾配コイルが生成する勾配磁場により整磁板内に渦電流が発生し、勾配磁場の時間的および空間的な挙動が変質するため、断層画像が歪み画像品質が低下する場合がある。
【０００６】
このため、渦電流の影響が少なくなるように勾配パルスを補正することが行われている。従来においては、渦電流が勾配パルスの振幅に比例すると仮定し、勾配パルスの補正を行っていた。
【０００７】
しかしながら、勾配パルスの振幅が大きくなると、渦電流の発生量が勾配パルスの振幅に比例せず発生割合が変化する。このため、従来においては、渦電流の影響を十分に少なくすることができず、断層画像が歪んで画像品質を向上することが困難であった。
【０００８】
したがって、本発明の目的は、渦電流の影響を抑制して断層画像の歪みを防止し、画像品質を向上することが可能な磁気共鳴イメージング装置および勾配磁場形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的の達成のために本発明の磁気共鳴イメージング装置は、被検体が収容され静磁場が形成される空間に勾配磁場と高周波磁場とを形成し、前記被検体からの磁気共鳴信号に基づいて前記被検体の断層画像を生成する磁気共鳴イメージング装置であって、前記勾配磁場を形成する手段は、前記勾配磁場を発生する勾配コイルと、前記勾配コイルに勾配パルスを印加して前記勾配コイルを駆動する勾配駆動手段と、前記勾配磁場において渦電流の影響が少なくなるように前記勾配パルスを補正する補正手段とを有し、前記補正手段は、前記渦電流の振幅と時定数とを前記勾配パルスの振幅に対応して記憶する記憶手段を含み、前記記憶手段が前記勾配パルスの振幅に対応して記憶する前記渦電流の振幅と時定数とに基づいて、前記勾配パルスを補正する。
【００１０】
上記の本発明の磁気共鳴イメージング装置によれば、補正手段は、渦電流の振幅と時定数とを勾配パルスの振幅に対応して記憶する記憶手段を含む。そして、補正手段は、記憶手段が勾配パルスの振幅に対応して記憶する渦電流の振幅と時定数とに基づいて、勾配磁場における渦電流の影響が少なくなるように勾配パルスを補正する。
【００１１】
上記目的の達成のために本発明の勾配磁場形成装置は、磁気共鳴イメージング装置において被検体が収容される空間に勾配磁場を形成する勾配磁場形成装置であって、前記勾配磁場を発生する勾配コイルと、前記勾配コイルに勾配パルスを印加して前記勾配コイルを駆動する勾配駆動手段と、前記勾配磁場において渦電流の影響が少なくなるように前記勾配パルスを補正する補正手段とを有し、前記補正手段は、前記渦電流の振幅と時定数とを前記勾配パルスの振幅に対応して記憶する記憶手段を含み、前記記憶手段が前記勾配パルスの振幅に対応して記憶する前記渦電流の振幅と時定数とに基づいて、前記勾配パルスを補正する。
【００１２】
上記の本発明の勾配磁場形成装置によれば、補正手段は、渦電流の振幅と時定数とを勾配パルスの振幅に対応して記憶する記憶手段を含む。そして、補正手段は、記憶手段が勾配パルスの振幅に対応して記憶する渦電流の振幅と時定数とに基づいて、勾配磁場における渦電流の影響が少なくなるように勾配パルスを補正する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、渦電流の影響を抑制して断層画像の歪みを防止し、画像品質を向上することが可能な磁気共鳴イメージング装置および勾配磁場形成装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下より、本発明にかかる実施形態の一例について図面を参照して説明する。
【００１５】
図１は、本実施形態の磁気共鳴イメージング装置の構成を示す構成図である。
【００１６】
図１に示すように、磁気共鳴イメージング装置は、静磁場マグネット部１２と、勾配コイル部１３と、ＲＦコイル部１４と、サーチコイル部１５と、ＲＦ駆動部２２と、勾配駆動部２３と、データ収集部２４と、制御部２５と、クレードル２６と、渦電流測定部２７と、勾配パルス補正部２８と、データ処理部３１と、操作部３２と、表示部３３とを有する。なお、本実施形態の磁気共鳴イメージング装置においては、サーチコイル部１５と渦電流測定部２７とは、渦電流を測定後に取り外される。
【００１７】
以下より、各構成要素について、順次、説明する。
【００１８】
静磁場マグネット部１２は、被検体が収容される撮影空間１１に静磁場を形成するために設けられている。静磁場マグネット部１２は、静磁場の方向が被検体４０の体軸方向に対して垂直な方向Ｚに沿うように構成されている。
【００１９】
図２は、静磁場マグネット部１２の構成を示す構成図である。
【００２０】
図２に示すように、静磁場マグネット部１２は、ヨーク１０１と、永久磁石１０２と、整磁板１０３とを有する。
【００２１】
ヨーク１０１は、上ヨーク１０１ａと下ヨーク１０１ｂとサイドヨーク１０１ｃとを有する。上ヨーク１０１ａと下ヨーク１０１ｂとは、被検体が収容される撮影空間１１を挟むように配置され、サイドヨーク１０１ｃによって端部が支持されている。また、上ヨーク１０１ａと下ヨーク１０１ｂとサイドヨーク１０１ｃは、磁気的に接続されている。
【００２２】
永久磁石１０２は、被検体が収容される撮影空間１１を挟むように上ヨーク１０１ａと下ヨーク１０１ｂとにそれぞれ一対で配置されている。永久磁石１０２は、上ヨーク１０１ａと下ヨーク１０１ｂとに磁気的に接続されており、永久磁石１０２とヨーク１０１とによって、被検体が収容される撮影空間１１に静磁場が発生する。
【００２３】
整磁板１０３は、一対の永久磁石１０２が対面している面にそれぞれ配置されている。整磁板１０３は、被検体が収容される撮影空間１１に、永久磁石１０２とヨーク１０１とによって発生する静磁場を調整するために設けられている。整磁板１０３は、鉄などの強磁性体からなり、底板部１１１と突起部１１２とを有する。底板部１１１は、略同心円の円盤であり、底板部１１１の周囲を囲うように環状の突起部１１２が設けられている。整磁板１０３は、突起部１１２の部分が底板部１１１よりも厚くなっており、突起部１１２の方が底板部１１１よりも磁気抵抗が低い。このため、整磁板１０３は、突起部１１２によって静磁場の強度を補償し、静磁場を均一化している。
【００２４】
勾配コイル部１３は、図２に示すように、一対の整磁板１０３が対面している面の側に一対で配置されている。勾配コイル部１３は、静磁場が形成された撮影空間１１に勾配磁場を形成する。勾配コイル部１３は、静磁場が形成された撮影空間１１に勾配磁場を形成し、ＲＦコイル部１４が受信する磁気共鳴信号に位置情報を付加する。なお、図２においては、勾配コイル部１３を１系統のみ図示しているが、勾配コイル部１３は、スライス選択勾配磁場、読み取り勾配磁場、位相エンコード勾配磁場の３種類の勾配磁場を形成するために３系統有する。
【００２５】
ＲＦコイル部１４は、図１に示すように、被検体４０の撮影領域である頭部全体を囲むように配置されており、送信用と受信用とを兼用するように構成されている。ＲＦコイル部１４は、静磁場マグネット部１２により静磁場が形成される撮影空間１１内において、被検体４０の撮影領域におけるプロトンのスピンを励起するために、電磁波であるＲＦ信号を送信して高周波磁場を形成する。そして、ＲＦコイル部１４は、その励起された被検体４０内のプロトンから発生する電磁波を磁気共鳴信号として受信する。なお、ＲＦコイル部１４は、本実施形態において送信用と受信用とを兼用しているが、送信用コイルと受信用コイルとを独立して設けてもよい。
【００２６】
サーチコイル部１５は、図１と図２とに示すように、一対で構成されている。サーチコイル部１５のそれぞれは、一対の勾配コイル１３が対面する間の略中央であって、勾配コイル１３の端部に対応するように配置される。サーチコイル部１５は、撮影空間１１において渦電流により発生する磁場の誘導起電力を検出し渦電流測定部２７に出力する。なお、サーチコイル部１５は、スライス選択勾配磁場、読み取り勾配磁場、位相エンコード勾配磁場の３種類の勾配磁場における渦電流を測定するように構成されている。そして、サーチコイル部１５は、渦電流を測定後、取り外される。
【００２７】
ＲＦ駆動部２２は、ＲＦコイル部１４を駆動させて撮影空間１１内に高周波磁場を形成するために、ゲート変調器（図示なし）とＲＦ電力増幅器（図示なし）とＲＦ発振器（図示なし）とを有する。ＲＦ駆動部２２は、制御部２５からの制御信号に基づいて、ＲＦ発振器からのＲＦ信号を、ゲート変調器を用いて所定のタイミングおよび所定の包絡線の信号に変調する。そして、ゲート変調器により変調されたＲＦ信号を、ＲＦ電力増幅器により増幅した後、ＲＦコイル部１４に出力する。
【００２８】
勾配駆動部２３は、制御部２５からの制御信号に基づいて、所定の振幅の勾配パルスを勾配コイル部１３に印加して駆動させ、静磁場が形成されている撮影空間１１内に勾配磁場を発生させる。勾配駆動部２３は、勾配コイル部１３の３系統の勾配コイルに対応して３系統の駆動回路（図示なし）を有する。
【００２９】
データ収集部２４は、制御部２５からの制御信号に基づいて、ＲＦコイル部１４が受信する磁気共鳴信号を収集するために、位相検波器（図示なし）とアナログ／デジタル変換器（図示なし）とを有する。位相検波器は、ＲＦコイル部１４が受信する磁気共鳴信号を、ＲＦ駆動部２２のＲＦ発振器の出力を参照信号として位相検波し、アナログ／デジタル変換器に出力する。そして、位相検波器から出力されるアナログ信号の磁気共鳴信号を、アナログ／デジタル変換器がデジタル信号に変換してデータ処理部３１に出力する。
【００３０】
制御部２５は、コンピュータにより構成されており、操作部３２からデータ処理部３１を介して入力される操作信号に基づいて、ＲＦ駆動部２２と勾配駆動部２３とデータ収集部２４と渦電流測定部２７とにそれぞれ制御信号を出力し制御を行う。制御部２５は、所定のパルスシーケンスに基づく操作信号が操作部３２からデータ処理部３１を介して入力され、それに基づいてＲＦ駆動部２２と勾配駆動部２３とデータ収集部２４とに制御信号を出力し磁気共鳴信号を取得させる。また、制御部２５は、渦電流の測定のための操作信号が操作部３２からデータ処理部３１を介して入力され、それに基づいて勾配駆動部２３と渦電流測定部２７とに制御信号を出力して渦電流の測定を実施させる。
【００３１】
クレードル２６は、被検体４０を載置する台であり、クレードル駆動部（図示なし）により撮影空間１１内に出し入れ可能となっている。
【００３２】
渦電流測定部２７は、渦電流を測定するために設けられている、渦電流測定部２７は、サーチコイル部１５に接続されており、制御部２５からの制御信号に基づいて、サーチコイル部１５を駆動させる。そして、渦電流測定部２７は、サーチコイル部１５が検出する誘導起電力の時間変化に基づいて、渦電流の振幅と時定数とを測定する。なお、渦電流測定部２７は、スライス選択勾配磁場、読み取り勾配磁場、位相エンコード勾配磁場の３種類の勾配磁場における渦電流を測定する。そして、渦電流測定部２７は、渦電流を測定後、取り外される。
【００３３】
勾配パルス補正部２８は、コンピュータにより構成されており、制御部２５と渦電流測定部２７と接続されている。また、勾配パルス補正部２８は、渦電流記憶部２９を有する。渦電流記憶部２９は、渦電流測定部２７が測定する渦電流の振幅と時定数とを勾配パルスの振幅に対応して記憶する。渦電流記憶部２９は、たとえば、渦電流の振幅と時定数とを勾配パルスの振幅に関連付けられたルックアップテーブルとして記憶する。そして、勾配パルス補正部２８は、渦電流記憶部２９が勾配パルスの振幅に対応して記憶する渦電流の振幅と時定数とに基づいて、勾配パルスを補正する。勾配パルス補正部２８は、制御部２５から勾配駆動部２３を制御するための制御信号を取得して、勾配駆動部２３が勾配コイル１３に印加する勾配パルスの振幅の情報を得る。そして、勾配パルス補正部２８は、渦電流記憶部２９において記憶されている前述のルックアップテーブルを用いて、勾配駆動部２３が勾配コイル１３に印加する勾配パルスの振幅に対応する渦電流の振幅と時定数とを求める。そして、勾配パルス補正部２８は、その求めた渦電流の振幅と時定数とに基づいて、勾配駆動部２３が勾配コイル１３に印加する勾配パルスの形状を変形して、渦電流の影響が少なくなるような補正を行う。なお、勾配パルス補正部２８は、スライス選択勾配磁場、読み取り勾配磁場、位相エンコード勾配磁場の３種類の勾配磁場のそれぞれにおいて上述のような補正を行う。
【００３４】
データ処理部３１は、コンピュータにより構成されている。データ処理部３１は、操作部３２に接続されており、操作部３２からの操作信号が入力される。また、データ処理部３１は、制御部２５に接続されており、オペレータによって操作部３２に入力される操作信号を制御部２５に出力する。また、データ処理部３１は、データ収集部２４に接続されており、データ収集部２４が収集し出力する磁気共鳴信号を所得し、その取得した磁気共鳴信号に対して画像処理を行って画像データを生成する。そして、データ処理部３１は、その生成した画像データを表示部３３に出力する。
【００３５】
操作部３２は、キーボードやマウスなどの操作デバイスにより構成されている。操作部３２は、オペレータによって操作され、その操作に応じた操作信号をデータ処理部３１に出力する。操作部３２は、たとえば、パルスシーケンスの設定項目や渦電流測定のための設定項目が、オペレータによって入力される。
【００３６】
表示部３３は、グラフィックディスプレイなどの表示デバイスにより構成されている。表示部３３は、被検体４０からの磁気共鳴信号に基づいて生成される被検体の断層画像を表示する。ここで、表示部３３は、データ処理部３１から画像データを取得し、その画像データに基づいて断層画像の表示を行う。
【００３７】
なお、上記の本実施形態における勾配コイル部は、本発明の勾配コイルに相当する。また、本実施形態における勾配駆動部は、本発明の勾配駆動手段に相当する。また、本実施形態における渦電流測定部は、本発明の測定手段に相当する。また、本実施形態における勾配パルス補正部は、本発明の補正手段に相当する。また、本実施形態における渦電流記憶部は、本発明の記憶手段に相当する。また、本実施形態における表示部は、本発明の表示手段に相当する。
【００３８】
以下より、上記の本実施形態の磁気共鳴イメージング装置を用いて渦電流を測定する渦電流測定方法について図３と図４とを用いて説明する。
【００３９】
図３は、本実施形態において、渦電流の振幅と時定数とが勾配パルスの振幅に関連付けられたルックアップテーブルを作成する手順を示すフロー図である。
【００４０】
図４は、本実施形態におけるルックアップテーブルを示す図である。図４において、図４（ａ）は渦電流の振幅と勾配パルスの振幅とにおけるルックアップテーブルを示しており、縦軸が渦電流の振幅であり、横軸が勾配パルスの振幅である。また、図４において、図４（ｂ）は渦電流の時定数と勾配パルスの振幅とにおけるルックアップテーブルを示しており、縦軸が渦電流の時定数であり、横軸が勾配パルスの振幅である。
【００４１】
本実施形態の勾配磁場形成方法においては、図３に示すように、渦電流の振幅と時定数との測定のテストを行うため、テスト用の勾配パルスｇｋ（ｔ）の振幅Ｇｋを操作部３２に設定する。ここでは、テスト用の勾配パルスｇｋ（ｔ）の振幅Ｇｋを等間隔の振幅で１０段階（ｋ＝１，２，３，４，５，６，７，８，９，１０）に設定する（ＳＴ１１）。
【００４２】
つぎに、振幅Ｇｋの勾配パルスｇｋ（ｔ）に対する渦電流成分Ｉｋｉ＝Ａｋｉ・ｅｘｐ（−ｔ／τｋｉ）を測定し、渦電流成分Ｉｋｉの振幅Ａｋｉと、時定数τｋｉとを算出する（ＳＴ２１）。ここでは、たとえば、ｉ＝１，２，３として渦電流成分の測定を行う。まず、操作部３２にて設定された振幅Ｇ１の勾配パルスｇ１（ｔ）の操作信号が、データ処理部３１を介して制御部２５に出力される。そして、制御部２５は、その操作信号に基づいて勾配駆動部２３と渦電流測定部２７とに制御信号を出力する。そして、制御部２５からの制御信号に基づいて、勾配駆動部２３が振幅Ｇ１の勾配パルスｇ１（ｔ）を勾配コイル部１３に印加して駆動させ、静磁場が形成されている撮影空間１１内に勾配磁場を発生させる。この時、渦電流測定部２７は制御部２５からの制御信号に基づいてサーチコイル部１５を駆動させる。そして、サーチコイル部１５は、勾配コイル部１３が形成した勾配磁場による誘導起電力を測定データとして検出し渦電流測定部２７に出力する。そして、サーチコイル部１５が検出する測定データの時間変化を、最小二乗法などの非線形最適化手法を用いて、Ｉｋｉ＝Ａｋｉ・ｅｘｐ（−ｔ／τｋｉ）の式にフィッティングし、渦電流測定部２７が渦電流成分の振幅Ａ１１，Ａ１２，Ａ１３と、時定数τ１１，τ１２，τ１３とを求める。そして、図４に示すように、渦電流測定部２７が求めた渦電流成分の振幅Ａ１１，Ａ１２，Ａ１３と、時定数τ１１，τ１２，τ１３を、勾配パルスｇ１（ｔ）の振幅Ｇ１に対応するように渦電流記憶部２９に記憶させる。そして、上記と同様にして、各振幅Ｇ２〜Ｇ１０の勾配パルスｇ２〜１０（ｔ）に対応するように渦電流成分の振幅Ａ２ｉ〜Ａ１０ｉと、時定数τ２ｉ〜τ１０ｉとを求めて渦電流記憶部２９に記憶させ、図４に示すようなルックアップテーブルを完成させる。以上のようにして、スライス選択勾配磁場、読み取り勾配磁場、位相エンコード勾配磁場のそれぞれの勾配磁場における渦電流を測定する。
【００４３】
以下より、上記の本実施形態の磁気共鳴イメージング装置を用いて被検体の断層画像の撮影をする撮影方法について説明する。
【００４４】
始めに、被検体４０をクレードル２６に載置する。その後、被検体４０の撮影領域である頭部に、ＲＦコイル部１４を設置する。その後、所定のパルスシーケンスに基づく撮影情報を操作部３２に入力する。そして、操作部３２は、データ処理部３１を介して、その撮影情報に基づく操作信号を制御部２５に出力する。
【００４５】
そして、制御部２５は、操作部３２に入力された撮影情報に基づいて、静磁場が形成されている撮影空間１１内に、被検体４０が載置されているクレードル２６をクレードル駆動部により駆動させ、被検体４０の撮影領域である頭部を撮影空間１１の内部に搬入する。
【００４６】
また、この時、勾配パルス補正部２８は、勾配駆動部２３を制御するための制御信号を制御部２５から取得し、渦電流記憶部２９が勾配パルスｇｋ（ｔ）の振幅Ｇｋに対応して記憶する渦電流の振幅Ａｋｉと時定数τｋｉとに基づいて、勾配パルスｇｋ（ｔ）を補正する
【００４７】
図５は、勾配パルス補正部２８が勾配パルスｇｋ（ｔ）を補正する手順を説明するためのフロー図である。また、図６は、補正前の勾配パルスｇｋ（ｔ）と補正後の勾配パルスｇｋ'（ｔ）とを示す図である。図６においては、縦軸が勾配を示し、横軸が時間を示している。
【００４８】
図５と図６とに示すように、勾配パルス補正部２８は、まず、勾配駆動部２３を制御するための制御信号を制御部２５から取得し、勾配駆動部２３が勾配コイル１３に印加する勾配パルスｇｋ（ｔ）における振幅Ｇｋの情報を得る（ＳＴ１１１）。
【００４９】
そして、勾配パルス補正部２８は、渦電流記憶部２９において記憶されている前述のルックアップテーブルを用いて、勾配駆動部２３が勾配コイル１３に印加する勾配パルスｇｋ（ｔ）の振幅Ｇｋに対応する渦電流の振幅Ａｋｉと時定数τｋｉとを求める（ＳＴ１２１）。
【００５０】
そして、勾配パルス補正部２８は、その求めた渦電流の振幅Ａｋｉと時定数τｋｉとに基づいて、勾配駆動部２３が勾配コイル１３に印加する勾配パルスｇｋ（ｔ）の形状を、渦電流の影響が少なくなるように補正し、補正された勾配パルスｇｋ'（ｔ）を得る（ＳＴ１３１）。勾配パルス補正部２８は、たとえば、数式（１）に示すように、その求めた渦電流の振幅Ａｋｉおよび時定数τｋｉと、勾配パルスｇｋ（ｔ）の時間変化率とをコンボリューションし、そのコンボリューションの結果と元の勾配パルスｇｋ（ｔ）とを加算して、補正された勾配パルスｇｋ'（ｔ）を得る
【００５１】
【数１】
0004820063.tif 000002
【００５２】
その後、制御部２５は、勾配パルス補正部２８において補正された勾配パルスｇｋ’（ｔ）を、勾配駆動部２３が勾配コイル部１３に印加するように制御する。そして、制御部２５は、ＲＦ駆動部２２を制御してＲＦコイル部１４によって高周波磁場を形成する。そして、制御部２５は、被検体４０からの磁気共鳴信号をＲＦコイル部１４で受信させ、データ収集部２４にその磁気共鳴信号を収集させる。データ収集部２４は、位相検波器によって位相検波し、アナログ／デジタル変換器によって磁気共鳴信号をデジタル信号に変換して、データ処理部３１に出力する。その後、データ収集部２４から出力される磁気共鳴信号をデータ処理部３１が画像処理し、表示部３３が画像を表示する。
【００５３】
以上のように、本実施形態の磁気共鳴イメージング装置においては、勾配パルス補正部２８が渦電流の振幅Ａｋｉと時定数τｋｉとを勾配パルスｇ（ｔ）の振幅Ｇｋに対応して記憶する渦電流記憶部２９を含む。ここで、勾配パルス補正部２８は、渦電流記憶部２９が勾配パルスｇ（ｔ）の振幅Ｇｋに対応して記憶する渦電流の振幅Ａｋｉと時定数τｋｉとに基づいて、勾配磁場における渦電流磁場の影響が少なくなるように補正し、補正された勾配パルスｇ'（ｔ）を得る。そして、磁気共鳴イメージング装置においては、その補正された勾配パルスｇｋ’（ｔ）を勾配駆動部２３が勾配コイル部１３に印加して、被検体４０からの磁気共鳴信号をＲＦコイル部１４が受信し、その磁気共鳴信号に基づいて被検体の断層画像を生成する。このように、本実施形態は、渦電流磁場の影響が少なくなるように勾配磁場が補正されているため、渦電流の影響を抑制して断層画像の歪みを防止し、画像品質を向上することができる。
【００５４】
なお、本発明の実施に際しては、上記した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形形態を採用することができる。
【００５５】
たとえば、上記実施形態において、静磁気発生源として永久磁石を用いた場合について示しているが、これに限定されず、たとえば、超伝導コイル、常伝導コイルなどを用いる場合についても適用することができる。
【００５６】
たとえば、上記実施形態において、サーチコイル部を用いて渦電流を測定しているが、これに限定されず、磁気共鳴信号の位相情報から渦電流を測定し求め、渦電流の振幅と時定数とを記憶手段に記憶させてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】図１は、本発明にかかる実施形態の磁気共鳴イメージング装置の構成を示す構成図である。
【図２】図２は、本発明にかかる実施形態の静磁場マグネット部の構成を示す構成図である。
【００５８】
【図３】図３は、本発明にかかる実施形態においてルックアップテーブルを作成する手順を示すフロー図である。
【図４】図４は、本発明にかかる実施形態におけるルックアップテーブルを示す図である。
【図５】図５は、本発明にかかる実施形態において勾配パルスを補正する手順を説明するためのフロー図である。
【図６】図６は、本発明にかかる実施形態において、補正前の勾配パルスと補正後の勾配パルスとを示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１１：撮影空間
１２：静磁場マグネット部
１３：勾配コイル部（勾配コイル）
１４：ＲＦコイル部
１５：サーチコイル部
２２：ＲＦ駆動部
２３：勾配駆動部（勾配駆動手段）
２４：データ収集部
２５：制御部
２６：クレードル
２７：渦電流測定部（測定手段）
２８：勾配パルス補正部（補正手段）
２９：渦電流記憶部（記憶手段）
３１：データ処理部
３２：操作部
３３：表示部（表示手段）
１０１：ヨーク
１０１ａ：上ヨーク
１０１ｂ：下ヨーク
１０１ｃ：サイドヨーク
１０２：永久磁石
１０３：整磁板
１１１：底板部
１１２：突起部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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