(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク記録再生装置における記録動作時の記録パワーを制御する記録動作制御装置であって、
光ディスクに対して複数種類の記録パワーで記録動作が行われ、それぞれの記録情報が所定の再生レーザ光強度で再生される際に反射光強度が計測されることによって得られる再生ＲＦ信号に基づいて、各記録パワーに対応する情報記録精度を算出する情報記録精度算出部と、
上記情報記録精度算出部によって算出された情報記録精度に基づいて、記録パワーと情報記録精度との関係を表す関係情報を取得する関係情報取得部と、
上記関係情報取得部によって取得された関係情報を記憶する関係情報記憶部と、
上記関係情報記憶部に記憶された関係情報に基づいて目標情報記録精度に対応する記録パワーを求め、求めた記録パワーで上記光ディスクへの情報の記録が行われるように光ピックアップを制御するレーザ制御部と、
上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を上記光ディスク記録再生装置の状態に基づいて補正する関係情報補正部と、
記録動作中に記録精度の悪化が計測された時に上記光ディスク記録再生装置に記録動作を中断させる中断部とを備え、
上記情報記録精度算出部は、さらに、上記中断直前に記録された情報の情報記録精度を算出し、
上記関係情報補正部は、上記中断直前に記録された情報の情報記録精度に基づいて、上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を補正するように構成されていることを特徴とする記録動作制御装置。
【請求項２】
請求項１の記録動作制御装置であって、
上記関係情報補正部は、
上記記録動作時に記録精度の悪化が計測された時には、上記中断直前に記録された情報の情報記録精度に基づいて、上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を補正する一方、
上記光ディスク記録再生装置の情報記録精度に影響する動作条件が変化した時に、上記光ディスク記録再生装置の上記動作条件がどのように変化したかに基づいて、上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を補正するように構成されていることを特徴とする記録動作制御装置。
【請求項３】
請求項２の記録動作制御装置であって、
上記光ディスク記録再生装置の情報記録精度に影響する動作条件は、上記光ディスク記録再生装置の温度、または上記光ディスクの表面温度であることを特徴とする記録動作制御装置。
【請求項４】
請求項２の記録動作制御装置であって、
上記光ディスク記録再生装置の情報記録精度に影響する動作条件は、上記光ディスクの角速度であることを特徴とする記録動作制御装置。
【請求項５】
請求項２の記録動作制御装置であって、
上記光ディスク記録再生装置の情報記録精度に影響する動作条件は、上記光ディスクの線速度であることを特徴とする記録動作制御装置。
【請求項６】
請求項１の記録動作制御装置であって、
上記関係情報は、記録パワーと情報記録精度との関係を表す関係式のパラメータであることを特徴とする記録動作制御装置。
【請求項７】
請求項１の記録動作制御装置であって、
上記関係情報は、上記情報記録精度算出部によって算出された情報記録精度を対応する記録パワーと関連付けて示す情報であることを特徴とする記録動作制御装置。
【請求項８】
光ディスク記録再生装置における記録動作時の記録パワーを制御する集積回路であって、
光ディスクに対して複数種類の記録パワーで記録動作が行われ、それぞれの記録情報が所定の再生レーザ光強度で再生される際に反射光強度が計測されることによって得られる再生ＲＦ信号に基づいて、各記録パワーに対応する情報記録精度を算出する情報記録精度算出部と、
上記情報記録精度算出部によって算出された情報記録精度に基づいて、記録パワーと情報記録精度との関係を表す関係情報を取得する関係情報取得部と、
上記関係情報取得部によって取得された関係情報を記憶する関係情報記憶部と、
上記関係情報記憶部に記憶された関係情報に基づいて目標情報記録精度に対応する記録パワーを求め、求めた記録パワーで上記光ディスクへの情報の記録が行われるように光ピックアップを制御するレーザ制御部と、
上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を上記光ディスク記録再生装置の状態に基づいて補正する関係情報補正部と、
記録動作中に記録精度の悪化が計測された時に上記光ディスク記録再生装置に記録動作を中断させる中断部とを備え、
上記情報記録精度算出部は、さらに、上記中断直前に記録された情報の情報記録精度を算出し、
上記関係情報補正部は、上記中断直前に記録された情報の情報記録精度に基づいて、上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を補正するように構成されていることを特徴とする集積回路。
【請求項９】
請求項８の集積回路を備えた光ディスク記録再生装置。
【請求項１０】
光ディスク記録再生装置における記録動作時の記録パワーを制御する記録動作制御装置を用いた記録動作制御方法であって、
光ディスクに対して複数種類の記録パワーで記録動作が行われ、それぞれの記録情報が所定の再生レーザ光強度で再生される際に反射光強度が計測されることによって得られる再生ＲＦ信号に基づいて、各記録パワーに対応する情報記録精度を算出する情報記録精度算出ステップと、
上記情報記録精度算出ステップにおいて算出された情報記録精度に基づいて、記録パワーと情報記録精度との関係を表す関係情報を取得する関係情報取得ステップと、
上記関係情報取得ステップにおいて取得された関係情報を関係情報記憶部に記憶させる関係情報記憶ステップと、
上記関係情報記憶部に記憶された関係情報に基づいて目標情報記録精度に対応する記録パワーを求め、求めた記録パワーで上記光ディスクへの情報の記録が行われるように光ピックアップを制御するレーザ制御ステップと、
上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を上記光ディスク記録再生装置の状態に基づいて補正する関係情報補正ステップと、
記録動作中に記録精度の悪化が計測された時に上記光ディスク記録再生装置に記録動作を中断させる中断ステップと、
上記中断直前に記録された情報の情報記録精度を算出する中断直前記録精度算出ステップとを備え、
上記関係情報補正ステップは、上記中断直前記録精度算出ステップにおいて算出された情報記録精度に基づいて、上記関係情報記憶部に記憶された関係情報を補正するものであることを特徴とする記録動作制御方法。
【請求項１１】
請求項１０の記録動作制御方法であって、
上記関係情報は、記録パワーと情報記録精度との関係を表す関係式のパラメータであることを特徴とする記録動作制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷ／Ｒ  ＤＬ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ／Ｒ  ＤＬ、ＤＶＤ−ＲＡＭまたは次世代光ディスク等の光ディスクに対してデータの記録と再生を行う光ディスク記録再生装置のレーザ光強度を制御する技術に関し、特に、記録時のレーザ光強度を調整する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクには数種類の記録規格が存在するが、いずれの規格であっても記録すべき情報に応じた記録パターン信号（所定の長さのピット形成のための記録レーザー照射時間に応じたパルス幅を有する信号）を生成するという点では共通している。光ディスク記録装置は、光ディスクへ適応した記録パターン信号を生成するために、回転する光ディスクに対して記録パワーを変化させながらレーザを照射することにより、ピットの形成及び消去を行っている。この記録パワーが適正でない場合には、正確なピットの形成及び消去を行うことができず、記録すべきであったデータが読み出されなくなる。
【０００３】
また、同規格の光ディスクであっても対応している記録速度は個々に異なっている。記録を行う速度に応じた記録パターン信号が用いられることがあるので、同規格の光ディスクであっても用いられる記録パターン信号が異なる場合もある。それぞれの光ディスクの記録速度や記録パターン信号に応じた記録パワーを設定する必要がある。
【０００４】
そこで、特許文献１には、変調度を指標として記録パワーを最適化するＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）という処理について記載されている。同文献に記載された光ディスク装置においては、１６段階の記録パワーで光ディスクのテストエリアにテストデータが記録され、記録したテストデータが再生されたときの再生ＲＦ信号から記録パワー毎の変調度が算出される。算出された変調度は、記録パワーと関連付けられて記憶される。そして、目標変調度に対応する最適記録パワーが、記憶された記録パワーと変調度との関係に基づいて選択され、選択された最適記録パワーでデータが記録される。
【０００５】
なお、ＤＶＤ―ＲＷ等の光ディスク規格のように、記録済みのデータを消去することを前提とした規格の光ディスクへの記録を行う光ディスク装置では、記録済みのデータを消去するために消去パワーが使用される。最適消去パワーＰｅｒは、予め光ディスク装置内蔵のメモリ等に記憶されていたり、光ディスクにＬＰＰ（Ｌａｎｄ  Ｐｒｅ−Ｐｉｔ）情報として記録されている係数εｏ（消去／記録パワー比）を用いて、Ｐｅｒ＝εｏ・Ｐｂｔにより算出されて設定される。
【特許文献１】特開２００３−３０３４１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、１枚の光ディスクを記録している間であっても、記録速度が切り替えられたり、装置内の温度が変化する等、装置の状態が変化し、最適記録パワーを求め直す必要が生じることがある。したがって、装置の状態が変化する毎に、１６段階の記録パワーでテストデータの記録を行うことによって最適記録パワーを求め直すとすると、ＯＰＣの計測に用いるための領域、すなわちテストデータの記録に用いられる領域が大きくなる。
【０００７】
よって、ＯＰＣの計測に用いられるテストエリアが外周部分に限られている光ディスクを用いる場合には、最適記録パワーを１回求めるのに用いる領域を小さくする必要がある。
【０００８】
また、装置の状態が変化する毎に、最適記録パワーを求め直すために１６段階の記録パワーでテストデータの記録が行われると、ＯＰＣの計測にかかる時間も長くなる。
【０００９】
本発明は、上記の点に鑑み、最適記録パワーの導出に用いられる光ディスクの領域を小さくし、また、最適記録パワーの導出にかかる時間を短くすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、光ディスク記録再生装置における記録動作時の記録パワーを制御する記録動作制御であって、光ディスクに対して複数種類の記録パワーで記録動作が行われ、それぞれの記録情報が所定の再生レーザ光強度で再生される際に反射光強度が計測されることによって得られる再生ＲＦ信号に基づいて、各記録パワーに対応する情報記録精度を算出し、算出した情報記録精度に基づいて、記録パワーと情報記録精度との関係を表す関係情報を取得し、取得した関係情報を関係情報記憶部に記憶させ、関係情報記憶部に記憶された関係情報に基づいて目標情報記録精度に対応する記録パワーを求め、求めた記録パワーで光ディスクへの情報の記録が行われるように光ピックアップを制御し、関係情報記憶部に記憶された関係情報を光ディスク記録再生装置の状態に基づいて補正することを特徴とする。
【００１１】
これにより、関係情報記憶部に記憶された関係情報が光ディスク記録再生装置の状態に基づいて補正されるので、光ディスク記録再生装置の状態が変化した場合に、複数種類の記録パワーによる記録動作を再度行わずに、新たな関係情報を取得することができる。したがって、記録パワーを求めるために用いられる光ディスクの領域を小さくでき、記録パワーを求めるためにかかる時間も短くできる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、光ディスク記録再生装置の状態が変化した場合に、複数種類の記録パワーによる記録動作を再度行わずに、新たな関係情報を取得することができる。したがって、最適記録パワーの導出に用いられる光ディスクの領域を小さくし、また、最適記録パワーの導出にかかる時間を短くできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１４】
《発明の実施形態》
＜光ディスク記録再生装置１００の構成＞
図１は、本発明の実施形態に係る光ディスク記録再生装置１００の構成を示すブロック図である。
【００１５】
本実施形態の光ディスク記録再生装置１００は、実際のデータ記録に先立って、ＯＰＣと称される記録パワーの最適化処理を行うようになっている。ＯＰＣは、記録パワーを複数段階に変化させてテストデータの記録を行い、各記録パワーによって記録されたテストデータを再生してそれぞれの信号品質を評価し、最適記録パワーを得る処理である。本実施形態の光ディスク記録再生装置１００は、光ディスク上の所定の位置に設けられたテストエリアである１６セクタに対して、１６段階にレーザ光の記録パワーを変化させてテストデータの記録を行う。各セクタに対しては、対応する１段階の記録パワーで記録を行う。そして、各セクタに記録されたテストデータを再生してそれぞれの信号品質を評価し、最適記録パワーを得る。ここで、記録パワーとは、光ディスクへのデータ記録のためのレーザ光出力のレベル（強さ）である。本実施形態では、再生信号の品質を評価する値として、変調度ｍが用いられる。ここで、変調度ｍとは、ＤＣ（Ｄｉｒｅｃｔ  Ｃｕｒｒｅｎｔ）成分を含む再生ＲＦ信号（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ信号）のエンベロープのピーク電圧（ｐｋ）とボトム電圧（ｂｔｍ）から、ｍ＝（ｐｋ―ｂｔｍ）／ｐｋの式により算出されるパラメータであり、この値が所定値の場合に再生信号の品質が最適とされる。
【００１６】
また、ＯＰＣを行う方法として、ＲＯＰＣ（Ｒｕｎｎｉｎｇ  Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）という方法がある。ＲＯＰＣとは、ＯＰＣ時とデータ記録時とのレーザの反射光強度を比較し、反射光強度を一定に維持するように最適記録パワーを随時補正していく方法である。本実施形態の光ディスク記録再生装置１００は、このＲＯＰＣと同様に、データ記録時のレーザ反射光強度を観測し、レーザ反射光強度が規定の値より外れた場合には記録を中断して、記録パワーを算出しなおすようになっている。本実施形態では、中断直前の記録部分の信号品質を測定することによって関係式が補正され、補正後の関係式を元に記録パワーが算出される。本実施形態の光ディスク記録再生装置１００では、得られた最適記録パワーでＯＰＣ情報（ＯＰＣ実行時の記録再生装置やディスク表面の温度、線速度、および使用したディスクと記録再生装置の固有番号等のＯＰＣ実行時の動作状況を示す情報、および導出した最適記録パワー等）を光ディスク２００に記録する時に、レーザ反射光強度を測定することによって上記規定の値を得るようになっている。
【００１７】
図２は、１６段階に記録パワーを変化させながらセクタ単位で記録されたデータに対応する変調度の例である。この図では、記録パワーが、低い記録パワーから、高い記録パワーに変化している。一般的に、低い記録パワーで行われた記録面の変調度は低く、高い記録パワーで記録された変調度は高く計測される。しかし、記録パワーを直線的に増加、または減少させた場合でも、変調度の変化は直線的にならない（変調度の傾きは一定にはならない）。変調度は、一定以上の記録パワーに対しては、特定の値に漸近するように変化する。
【００１８】
本実施形態の光ディスク記録再生装置１００は、図１に示すように、光ピックアップ１０１、スピンドルモータ１０２、および記録動作制御装置１０３を備えている。記録動作制御装置１０３は、ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ−Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）と呼ばれる集積回路によって構成されている。
【００１９】
光ピックアップ１０１は、レーザ光をスピンドルモータ１０２の発生する動力によって回転する光ディスク２００に照射し、光ディスク２００にデータを記録するようになっている。さらに、光ピックアップ１０１は、照射したレーザ光の反射光を受光し、受光した反射光の強度を計測することにより再生ＲＦ信号を得るようになっている。これにより、光ディスク２００のデータが再生される。また、光ピックアップ１０１は、記録時にも、照射した記録レーザ光の反射光を受光し、受光した反射光から反射光量を示す信号を得るようになっている。
【００２０】
記録動作制御装置１０３は、変調度算出部１０４（情報記録精度算出部）、メモリ１３０（関係情報記憶部）、関係式算出部１４０（関係情報取得部）、レーザ制御部１５０、モータ制御部１６０、中断部１７０、関係式補正部１８０（関係情報補正部）、およびシステムコントローラ１９０を備えている。変調度算出部１０４は、信号制御部１１０と信号品質演算部１２０とを備えている。
【００２１】
信号制御部１１０は、光ピックアップ１０１によって受光された反射光から得られる再生ＲＦ信号を受信し、再生データに変換して出力するようになっている。
【００２２】
図３は、信号制御部１１０の構成を示すブロック図である。
【００２３】
信号制御部１１０は、ＲＦ調整部１１１、ＬＰＦ１１２（Ｌｏｗ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）、ＥＱ調整部１１３（Ｅｑｕａｌｉｚｅｒ調整部）、二値化処理部１１４、ＰＬＬ回路１１５（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）、ピーク検出部１１６、およびボトム検出部１１７を備えている。
【００２４】
ＲＦ調整部１１１は、再生レーザ光の反射光から得られた再生ＲＦ信号の波形を調整するようになっている。
【００２５】
ＬＰＦ１１２は、ＲＦ調整部１１１によって波形が調整された信号のノイズを除去するようになっている。
【００２６】
ＥＱ調整部１１３は、ＬＰＦ１１２によってノイズが除去された信号の波形を整形するようになっている。
【００２７】
二値化処理部１１４は、ＥＱ調整部１１３によって整形された波形に基づいて二値化データを出力するようになっている。
【００２８】
ＰＬＬ回路１１５は、上記二値化データに同期した同期クロックを生成するようになっている。
【００２９】
図示しない復調部は、上記同期クロックを用いて上記二値化データから再生データを抽出して復調するようになっている。
【００３０】
信号制御部１１０は、また、テストエリアの１６セクタに１６段階の記録パワーで記録されたテストデータをＯＰＣ動作時に再生する時に、信号品質を測定するためのデータを出力するようになっている。
【００３１】
ピーク検出部１１６（ピーク検出器）およびボトム検出部１１７（ボトム検出器）は、テストデータの再生時に、ＥＱ調整部１１３によって整形された波形に基づいて、信号品質の演算に必要なデータを取得するようになっている。より詳しくは、ＥＱ調整部１１３によって整形された波形に基づいて、ピーク電圧（ｐｋ）を示すデータとボトム電圧（ｂｔｍ）を示すデータを取得するようになっている。これらのデータは、各セクタのテストデータについて取得され、信号品質演算部１２０へ送られるようになっている。
【００３２】
信号品質演算部１２０は、ピーク検出部１１６およびボトム検出部１１７によって取得されたピーク電圧（ｐｋ）を示すデータとボトム電圧（ｂｔｍ）を示すデータを用いて、変調度ｍを算出するようになっている。より詳しくは、テストデータの再生時には、各セクタのテストデータの変調度ｍを算出するようになっている。ここで、変調度ｍは、ｍ＝（ｐｋ―ｂｔｍ）／ｐｋの式により算出されるパラメータである。
【００３３】
メモリ１３０（関係式記憶部）は、信号品質演算部１２０によって算出される各セクタのテストデータの変調度を、対応する記録パワーと関連付けて記憶するようになっている。メモリ１３０は、さらに、後述する関係式算出部１４０によって算出された関係式のパラメータを記憶するようになっている。また、ＯＰＣ情報が記録される時に光ピックアップ１０１によって測定される反射光量を基準反射光量として記憶するようになっている。
【００３４】
関係式算出部１４０は、１６セクタのテストデータの再生が終了すると、メモリ１３０に記憶された１６セクタ分のテストデータの変調度、すなわち、１６種類の各記録パワーに対応する変調度から、記録パワーと変調度との関係を表す関係式のパラメータを算出するようになっている。関係式としては、例えば、近似を用いた４次多項式が用いられる。また、ばらつきの大きい測定点を除外して近似されるようにしてもよい。
【００３５】
レーザ制御部１５０は、記録および再生に用いられるレーザ光を制御するようになっている。ＯＰＣ動作後の実際のデータ記録時には、メモリ１３０に記憶されたパラメータによって示される関係式に目標変調度を代入することによって得られる最適記録パワーで光ディスク２００への情報の記録が行われるように光ピックアップ１０１を制御するようになっている。
【００３６】
図４は、レーザ制御部１５０の構成を示すブロック図である。
【００３７】
レーザ制御部１５０は、発光強度制御部１５１と記録パターン生成部１５２とを備えている。
【００３８】
発光強度制御部１５１は、記録および再生に用いるレーザーパワー（レーザ光の発光強度）を制御するようになっている。再生処理時には、装置の製造時に設定された所定の再生用レーザーパワーで、再生レーザ光を制御するようになっている。記録処理は、データ記録に先立ってレーザの記録パワーを最適化するＯＰＣ処理時と実際に記録したいデータを光ディスク２００に記録する通常記録時とに行われる。テストデータの記録を行う際には、記録レーザ光を所定の１６段階の記録パワーに変化させるようになっている。また、ＯＰＣ情報の記録時および通常記録時には、得られた最適記録パワーで記録が行われるように、記録レーザ光を制御するようになっている。
【００３９】
記録パターン生成部１５２は、光ディスク２００へ記録すべき情報に基づいて、記録パターン信号を生成するようになっている。
【００４０】
モータ制御部１６０は、スピンドルモータ１０２の制御処理を行うようになっている。
【００４１】
中断部１７０は、通常記録時に、光ピックアップ１０１で測定される反射光量にメモリ１３０に記憶された基準反射光量との差異が生じると、光ディスク記録再生装置１００に記録動作を中断させるようになっている。記録動作の中断は、例えば、光ピックアップ１０１による記録レーザ光の照射がレーザ制御部１５０によって中断させられることによって行われる。
【００４２】
関係式補正部１８０は、中断部１７０によって記録が中断された場合、上記中断直前に記録された情報の変調度に基づいて、メモリ１３０に記憶された関係式のパラメータを補正し、補正後のパラメータをメモリ１３０に記憶させるようになっている。また、光ディスク２００の線速度が変化した場合に、線速度がどのように変化したかに応じて、メモリ１３０に記憶された関係式のパラメータを補正し、補正後の関係式のパラメータをメモリ１３０に記憶させるようになっている。
【００４３】
補正は、例えば、メモリ１３０に記憶された関係式のパラメータを増減することによって行われる。
【００４４】
中断部１７０によって記録が中断された場合の関係式補正部１８０による補正方法の例について、図５を参照しながら説明する。
【００４５】
図５は、事前に求められている式によって表される変調度ｍの補正前曲線と、その補正前曲線を補正した補正曲線を示す説明図である。
【００４６】
図５に示される補正前曲線（近似曲線）を示す関係式がすでに求められてそのパラメータがメモリ１３０に記憶されている場合、再度テストデータの記録を行うことなく新たな式を得ることができる。以下は図５に示す名称を基に説明する。中断部１７０による記録の中断直前は、補正前曲線を示す式に目標変調度ｍ＿ｔｇｔを代入することによって算出された記録パワーで記録が行われている。この記録パワーを測定パワーＰｍｓｒとする。補正前曲線と現在の記録条件との整合が取れているならば、測定パワーＰｍｓｒで記録されたデータから得られる変調度ｍは、図５中のポイント２０１に示した目標変調度ｍ＿ｔｇｔ（目標としている変調度）と同値となるはずである。しかしながら、記録条件の変化により、中断部１７０による記録の中断直前に記録されたデータから得られる変調度ｍが、図５中のポイント２０２に示したように目標変調度ｍ＿ｔｇｔとは異なる実測変調度ｍ＿ｍｓｒになっていたとする。この事は、測定パワーＰｍｓｒを用いて記録を行った場合では、目標変調度ｍ＿ｔｇｔと実測変調度ｍ＿ｍｓｒとの差分量に比例して記録品位が低下する事を意味する。なお、中断部１７０による記録の中断直前に記録されたデータから得られる変調度ｍは、中断後に中断直前に記録されたデータが光ディスク記録再生装置１００によって再生され、信号品質演算部１２０によって算出されることによって得られるようになっている。
【００４７】
本実施形態では、関係式補正部１８０は、メモリ１３０に記憶されたパラメータによって表される式を、補正曲線を表す式に補正する。補正曲線とは、補正前曲線を記録パワーの正または負の方向にシフトさせた曲線であって、縦軸座標が実測変調度ｍ＿ｍｓｒであり、横軸座標が測定パワーＰｍｓｒであるポイントを通る曲線である。図５の例では、補正前曲線を記録パワーの正の方向にシフトさせた曲線であって、縦軸座標が実測変調度ｍ＿ｍｓｒであり、横軸座標が測定パワーＰｍｓｒであるポイント２０２を通る曲線が補正曲線となる。つまり、メモリ１３０に記憶されたパラメータによって表される式は、この補正曲線を表す式に補正される。
【００４８】
メモリ１３０に記憶されたパラメータによって表される関係式を補正した式が補正曲線を求める事により求められると、目標変調ｍ＿ｔｇｔから最適パワーＰｂｔを求めることは容易となる。
【００４９】
また、光ディスク２００の線速度が変化した場合は、メモリ１３０に記憶された関係式のパラメータに、線速度がどのように変化したかに応じて、所定の補正係数が加算されたり減算される補正が行われるようになっている。上記所定の補正係数は、装置の製造時等にあらかじめ設定される。
【００５０】
システムコントローラ１９０は、変調度算出部１０４、メモリ１３０、関係式算出部１４０、レーザ制御部１５０、およびモータ制御部１６０を制御するようになっている。
【００５１】
＜光ディスク記録再生装置１００の動作＞
上記のように構成された光ディスク記録再生装置１００では、以下に説明する動作が行われるようになっている。
【００５２】
以下、本実施形態の光ディスク記録再生装置１００の動作を、図６と図７を参照しながら説明する。
【００５３】
図６において、（Ｓ１００１）〜（Ｓ１００５）はＯＰＣの処理である。
【００５４】
（Ｓ１００１）テストエリアの１６セクタに対して、記録パワーを変更しながら１セクタ単位でテストデータの記録が行われ、記録されたデータが再生される。変調度算出部１０４が、再生レーザ光の反射光から測定された再生ＲＦ信号から、それぞれの記録領域（各セクタ）の変調度を算出する。
【００５５】
（Ｓ１００２）各領域（各セクタ）に記録が行われた時の記録パワーがＰｏｗ［０〜１５］としてメモリ１３０に格納される。また、それぞれの記録パワーに対応した変調度がＭｏｄ［０〜１５］としてメモリ１３０に格納される。
【００５６】
（Ｓ１００３）関係式算出部１４０は、（Ｓ１００２）でメモリ１３０に格納された記録パワーと変調度を用いて最小二乗法による近似曲線の式ｆ（ｍ）のパラメータを算出する。また、この近似曲線の式のパラメータはメモリ１３０によって記憶される。
【００５７】
（Ｓ１００４）求められた近似曲線の式ｆ（ｍ）のパラメータと目標とされる目標変調度ｍ＿ｔｇｔを用いて最適記録パワーＰｂｔが求められる。
【００５８】
（Ｓ１００５）（Ｓ１００４）で求められた最適記録パワーを用いてＯＰＣ情報が光ディスク２００に記録される。この時、光ピックアップ１０１は、反射光量ＲＦ＿ｒｅｆを測定する。測定された反射光量ＲＦ＿ｒｅｆはメモリ１３０によって情報記録精度の変化を知る基準として保持される。
【００５９】
（Ｓ１００６）光ディスクへの記録が開始する。
【００６０】
（Ｓ１００７）記録処理が終了されるかどうかが判定され、終了されない場合は、（Ｓ１００８）に進む。
【００６１】
記録処理が終了されるまで（Ｓ１００８）以降の動作が繰り返される。
【００６２】
（Ｓ１００８）線速度の切り替えが行われたか否かが確認され、行われていれば（Ｓ１０１２）に進み、行われていなければ（Ｓ１００９）に進む。
【００６３】
（Ｓ１００８）の線速度の切り替えが行われたか否かの確認は、定期的に行われる。
【００６４】
（Ｓ１００９）光ピックアップ１０１は、その時の反射光量ＲＦ＿ｒｅｆを測定する。
【００６５】
（Ｓ１０１０）（Ｓ１００９）で測定された反射光量ＲＦ＿ｃｒｎｔと（Ｓ１００５）で測定された基準の反射光量ＲＦ＿ｒｅｆとが比較される。ＲＦ＿ｃｒｎｔとＲＦ＿ｒｅｆが異なっていた場合、つまり反射光量が所定以上変化した場合、記録精度が悪化したとみなされる。
【００６６】
（Ｓ１０１１）線速度の切り替えも行われず、かつ反射光量の変化も見られなかった場合にはデータの記録が継続される。
【００６７】
（Ｓ１０１２）関係式補正部１８０は、線速度が切り替えられた場合には、（Ｓ１００３）で当初求めた式ｆ（ｍ）のパラメータを用いて、式ｆ（ｍ）を補正した式ｆｚ（ｍ）のパラメータを算出する。
【００６８】
（Ｓ１０１３）レーザ制御部１５０は、（Ｓ１０１２）で算出した式ｆｚ（ｍ）のパラメータと目標変調度とを用いて、切り替え後の線速度に対する最適記録パワーを求める。
【００６９】
（Ｓ１０１４）（Ｓ１０１２）で算出した近似曲線の式ｆｚ（ｍ）のパラメータがメモリ１３０に保持される。
【００７０】
（Ｓ１０１５）（Ｓ１０１３）で求められた最適記録パワーで記録が再開される。
【００７１】
（Ｓ１０１６）光ピックアップ１０１は、その時の反射光量を測定する。測定された反射光量は、情報記録精度の変化を知る基準のＲＦ＿ｒｅｆとしてメモリ１３０によって保持される。この切り替え後の線速度に対しては、（Ｓ１０１０）における比較に、この新たな反射光量ＲＦ＿ｒｅｆが用いられる。そして、（Ｓ１００７）に戻る。
【００７２】
（Ｓ１０１７）中断部１７０は、反射光量が変化した場合には、光ディスク記録再生装置１００に記録処理を中断させる。すると、光ディスク２００における中断直前に記録された部分が再生される。そして、信号品質演算部１２０は、その直前に記録されたデータが再生される際の反射光強度に基づく変調度ｍ＿ｍｓｒを算出する。
【００７３】
（Ｓ１０１８）（Ｓ１０１７）で算出された変調度ｍ＿ｍｓｒと目標変調度ｍ＿ｔｇｔとが比較され、差異があれば（Ｓ１０１９）の処理に進み、差異がなければ、データの記録処理が再開する。
【００７４】
（Ｓ１０１９）関係式補正部１８０は、近似曲線の式ｆ（ｍ）のパラメータと（Ｓ１０１７）で算出された測定変調度ｍ＿ｍｓｒを用いて、近似曲線の式ｆ（ｍ）から想定される記録パワーＰｃｒｎｔを求める。記録パワーＰｃｒｎｔは、測定変調度ｍ＿ｍｓｒを式ｆ（ｍ）に代入することによって求められる。
【００７５】
（Ｓ１０２０）関係式補正部１８０は、（Ｓ１０１９）で求められた記録パワーＰｃｒｎｔと設定されている最適記録パワーＰｂｔとの差Ｐｄｆを求める。
【００７６】
（Ｓ１０２１）関係式補正部１８０は、（Ｓ１０２０）で求められた差Ｐｄｆを用いて近似曲線の式ｆ（ｍ）を補正し、補正された近似曲線（補正曲線）の式ｆａｄｊ（ｍ）のパラメータを求める。
【００７７】
（Ｓ１０２２）関係式補正部１８０は、補正された近似曲線ｆａｄｊ（ｍ）のパラメータと目標変調度を用いて最適記録パワーを算出する。つまり、補正された近似曲線の式ｆａｄｊ（ｍ）に目標変調度を代入して新たな最適記録パワーＰｂｔを求める。
【００７８】
（Ｓ１０２３）（Ｓ１０２１）で求められた補正曲線の式ｆａｄｊ（ｍ）のパラメータがメモリ１３０に保持される。
【００７９】
（Ｓ１０２４）（Ｓ１０２２）で算出された記録パワーＰｂｔを用いてデータの記録が再開される。
【００８０】
（Ｓ１００７）〜（Ｓ１０２４）の処理は、データ記録が終了するまで定期的に行われる。
【００８１】
なお、光ディスク記録再生装置１００によるデータの記録および再生の動作は、光ピックアップ１０１およびスピンドルモータ１０２が記録動作制御装置１０３によって制御されることにより行われる。
【００８２】
なお、（Ｓ１００１）〜（Ｓ１０２４）で説明した動作のうちの各種演算処理や判定処理は、記録動作制御装置１０３のいずれのブロックによって行われてもよい。
【００８３】
１枚のディスクの記録中に記録条件が変化しない場合には、一度作成された関係式から得られる記録パワーでディスク全体の記録を行うことも可能であるが、記録条件が変化する場合、一つの関係式から得られる記録パワーは、必ずしも各記録条件での記録に適した精度の高い記録パワーであるとは言えない。しかしながら、変化する記録条件によっては、新たに算出された関係式が、一度算出された関係式と近しいものとなる場合も多い。このような場合には、本実施形態のように、一度作成された関係式が補正されるようになっていることにより、記録条件が変化した場合においても、更に精度の高い測定結果を得る事ができる。
【００８４】
＜評価指標について＞
本実施形態の光ディスク記録再生装置１００では、変調度と記録パワーとの関係式のパラメータを求めることによって、最適記録パワーが求められるようになっていたが、変調度に代えて他の情報記録精度を示す値を用いてもよい。
【００８５】
例えば、最適記録パワーを求めるための評価指標として、変調度ｍの他にＲＦ信号の非対称性を表すβを用いてもよい。ＲＦ信号の非対称性βは、前記ピーク電圧（ｐｋ）、ボトム電圧（ｂｔｍ）、およびＲＦ信号のＤＣ値（ｄｃ）に基づいて、β＝（ｐｋ＋ｂｔｍ−２ｄｃ）／（ｐｋ−ｂｔｍ）により算出されるパラメータである。この値が０に近いほど、ＲＦ信号がＤＣ値を中心とする対称性を有する、つまり、ＲＦ信号に対応するピットパターンが上下対称であるといえる。したがって、ＲＦ信号の非対称性βを最適記録パワーの評価指標にする事ができる。
【００８６】
また、変調度の微分効率γを評価指標として用いて最適記録パワーを調整してもよい。変調度の微分効率γは、変調度の増加量（ｄｍ）と記録パワー（Ｐ）の増加量（ｄＰ）から、γ＝（ｄｍ／ｄＰ）／（ｍ／Ｐ）の式により算出されるパラメータである。変調度の微分効率γも変調度と同様に、この値が所定の範囲にある場合に再生信号の品質が適正とされ、最適記録パワーを決定する指標として用いられる。
【００８７】
ここで、微分効率γを評価指標として用いる方法について説明する。
【００８８】
図８は、ある理想的な変化を行った変調度ｍと、その変調度を基にした変調度の微分効率γを表すグラフである。
【００８９】
変調度ｍが規則的に増加しているので、その微分効率であるγも規則的に変化する。この時の変調度の微分効率γとは、変調度の増加量（ｄｍ）と記録パワー（Ｐ）の増加量（ｄＰ）から、γ＝（ｄｍ／ｄＰ）／（ｍ／Ｐ）により算出されるパラメータである。微分効率γを評価指標とする場合、目標とするγの値を定めておき、目標γ値と微分効率γ曲線との交点を探し、求まった交点から記録パワーを決定する。
【００９０】
図９は、変調度ｍの測定に、多少のばらつきが発生した場合の変調度ｍと、その時の微分効率γと表すグラフである。
【００９１】
変調度ｍは、図８のようになるのが理想ではあるが、記録時の条件、再生の精度等の関係から、必ずしも図８のようななめらかな曲線になるとは限らない。図９に示したように、変調度ｍの増加量が、記録パワーの増加量に対して規則的にならない場合も考えられる。変調度ｍを評価指標としている場合よりも、微分効率γを評価指標としている場合は、少しのばらつきが含まれただけで結果を求める事が出来なくなる可能性が高い。それは、図９の微分効率γのように増減を繰り返していると、目標として定めている目標γ値との交点が１点に定まらない場合があり、定まった場合でも、その信頼性が著しく低下するためである。
【００９２】
そこで、算出した変調度ｍから、多項近似式を求め、その近似式に対して微分効率γを測定する方法がある。
【００９３】
図１０は、測定に対して多少ばらつきが発生した変調度ｍと、その変調度ｍに対応する微分効率γ、そして、変調度ｍから求められる近似式の近似曲線と、その近似曲線の各点に対応する微分効率γを表すグラフである。
【００９４】
先述のように、ばらつきの生じた変調度ｍから直接微分効率γを求めたのでは、装置の動作の十分な信頼性を保つ結果を得る事はできない。そこで、変調度ｍの近似曲線を求める。近似の方法には様々な方法があるが、ここで示すのは変調度ｍに対して、４次多項式による近似を行った例である。ここで求められた４次多項式で表される近似曲線を基に微分効率γの近似曲線も求められる。
【００９５】
測定値から算出される近似が行われていない変調度から求めた微分効率γは、一連の変化の中で増減を繰り返す場所が多い。したがって、この微分効率γを評価指標として用いることによって適切な記録パワーを得ることは難しい。しかしながら、変調度ｍの近似曲線に基づいて求められる微分効率γの近似曲線によると、事前に定めてある目標γ値に対して、一つの記録パワーを決定することができる。したがって、変調度ｍの近似曲線に基づいて求められる微分効率γの近似曲線は、より精度の高い評価指標として用いる事ができる。
【００９６】
《その他の実施形態》
（１）上記実施形態では、記録開始時にＯＰＣを行って関係式を求めているが、一度求めた関係式に関する情報を、装置のメモリ１３０、すなわちシステム上のメモリに保存しておくのではなく、光ディスク上の例えばリードイン領域上に記録しておき、２度目以降の記録開始時に、ドライブ情報等が前に関係式を求めた時と合致した場合に、光ディスク２００に記録された関係式の情報が呼び出されるようにしてもよい。これにより、更に効率のよい記録パワーの調整が可能となる。
【００９７】
（２）上記実施形態では、記録開始時にＯＰＣを行って関係式を求めているが、ドライブ上のシステムに関係式を記憶させておく事によって、最初のＯＰＣに必要な処理を短縮する事も可能となる。
【００９８】
（３）上記実施形態では、光ピックアップ１０１によって測定される反射光量に基準反射光量との差異が生じた時、および光ディスク２００の線速度が変化した時に、関係式補正部１８０による補正が行われるようになっていた。しかし、その他の任意のタイミングで補正が行われるようにしてもよい。また、光ピックアップ１０１によって測定される反射光量に基準反射光量との差異が生じた時、および光ディスク２００の線速度が変化した時のうちのいずれか一方の時だけに補正が行われるようにしてもよい。また、反射光量や線速度以外の光ディスク記録再生装置１００の状態が変化した時に補正が行われるようにしてもよい。例えば、線速度以外の光ディスク記録再生装置１００の情報記録精度に影響する動作条件が変化した時に補正が行われるようにしてもよい。動作条件が変更された場合には、記録に最適な記録パワーも変わる場合が多いので、動作条件が変更された場合に記録パワーを算出し直すことは、データを正確に記録するために重要であるといえる。
【００９９】
具体的には、例えば、記録倍速の変更に伴って光ディスク２００の角速度、すなわち回転速度が変化した時に補正が行われるようにしてもよい。
【０１００】
線速度や角速度が変化した時に補正が行われることは、光ディスク２００上の記録位置によって異なる記録速度で記録する記録方式が用いられる場合に特に有用である。そのような記録方式には、ＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式、ＺＣＬＶ（Ｚｏｎｅｄ  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式、ＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式、ＰＣＡＶ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式等がある。これらは、内周は低速度で記録し、外周に近づくにつれて、より高速度で記録を行う方式であり、多種のメディアの記録に用いられる。
【０１０１】
また、ＯＰＣで測定に用いることのできる領域は、本来は最内周か最外周である。従来から知られているＯＰＣでは、最内周のＯＰＣを行う領域において、最内周で記録を行う速度、もしくはそれに準ずる速度でＯＰＣが行われることにより、内周での最適記録パワーが得られる。内周以降にデータの記録が行われる領域の記録速度に対応する記録パワーは、最内周でのＯＰＣ結果を元に、中周および外周での記録パワーを推測するか、または、最外周のＯＰＣを行える領域において、最外周で記録を行う速度、もしくはそれに準ずる速度でＯＰＣを行い、外周での最適記録パワーを計測し、内周でのＯＰＣ結果と外周でのＯＰＣ結果を元に、中周での記録パワーを推測することにより求められる。
【０１０２】
このように、中周での記録パワーは内周もしくは内外周でのＯＰＣ結果から得られた記録パワーから推測することによって求められる場合、内周もしくは内外周で得られた関係式を、記録速度に応じて補正し、補正された式から記録パワーを求めることによって、その記録速度にＯＰＣを行った結果に近い記録パワーを得ることが有用である。
【０１０３】
また、光ディスク記録再生装置１００の温度、または光ディスク２００の表面温度の変化が測定された時に補正が行われるようにしてもよい。光ディスク記録再生装置１００の温度の測定は、例えば、記録動作制御装置１０３を含むＬＳＩの内部にＬＳＩの温度を測定させるために設けられた温度測定部によって行われる。また、光ディスク２００の表面温度の測定は、例えば、当該ＬＳＩの外部に設けられ、光ディスク２００の表面温度を直接測定する温度測定部によって行われる。光ピックアップ１０１から照射されるレーザ光の発光強度は、光ディスク記録再生装置１００が動作している環境温度や、光ディスク２００自体の表面温度によって大きく変化することが考えられる。たとえば、光ディスク記録再生装置１００が動作している環境温度が高い場合には、記録パワー等のレーザ発光強度の設定が低温条件の場合と同じであったとしても、光ピックアップ１０１から照射されるレーザ光の発光強度は一般的に低くなる。そのため、記録パワーを決定する時の環境温度や表面温度が、以前にＯＰＣを行った時から変化した場合に、関係式を補正する事によって、より記録に適した精度の高い記録パワーを得る事が可能となる。
【０１０４】
（４）上記実施形態では、光ディスク２００の線速度が変化した時には、線速度がどのように変化したかに応じた補正が行われるようになっていた。しかし、線速度が変化して最初に記録したデータから得られる変調度に基づく補正が行われるようにしてもよい。同様に、線速度以外の動作条件が変化した場合に補正が行われるようにした場合も、動作条件がどのように変化したかに応じた補正が行われるようにしてもよいし、動作条件が変化して最初に記録したデータから得られる変調度に基づく補正が行われるようにしてもよい。
【０１０５】
例えば、ＺＣＬＶ方式の記録のように、光ディスク２００上の記録領域を幾つかの領域に分け、その領域ごとに記録条件を変更している記録では、記録領域が切り替わった最初の記録に対して変調度ｍを求め、その時の記録パワーを上記測定パワーＰｍｓｒ、その記録に対する変調度を測定変調度ｍ＿ｍｓｒとし、図５の例について上で説明したように関係式の補正を行ってもよい。ＺＣＬＶ記録では、光ディスク２００上の記録位置（ＺＯＮＥ）ごとに線速度が一定であり、記録しているＺＯＮＥが切り替われば、光ディスク２００の線速度も変更されるので、その都度、記録パワーの設定が必要となる。
【０１０６】
また、ＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）記録のように、記録中に線速度が変化する光ディスク２００上の箇所、または記録中に線速度が一定に保たれる光ディスク２００上の間隔があらかじめ特定できる場合、光ディスク２００上の特定された箇所で、あるいは特定の間隔にデータを記録する毎に変調度を測定し、その時の記録パワーと変調度の関係から関係式を補正し、再度記録パワーの調整を行う事も可能となる。
【０１０７】
（５）また、記録条件が異なる複数の記録領域を有する１枚の光ディスクに対し、複数種類の関係式にそれぞれ目標変調度を代入することによって得られる複数種類の記録パワーで記録を行う場合であって、各記憶領域に対応する関係式のパラメータがメモリ１３０に記録されている場合は、そのうちの１つの関係式についてのパラメータが補正されると、それ以外の関係式に対応するパラメータについても同様の補正が行われるようにしてもよい。これにより、品質精度の高い記録を行うことができる。
【０１０８】
（６）また、上記実施形態の光ディスク記録再生装置１００は、１６種類の記録パワーに対応する１６の変調度に基づいて算出された関係式に目標変調度を代入することによって、最適記録パワーを求めるようになっていた。しかし、関係式を求めずに、メモリ１３０に記憶された１６の変調度のうち目標変調度に近い変調度に対応する記録パワーを最適記録パワーとして選択するようにしてもよい。この場合、変調度算出部１０４が、関係情報取得部の機能を果たしていることになる。そして、線速度等、光ディスク２００の状態が変化した場合に、メモリ１３０に記憶された１６の変調度が、光ディスク２００の状態がどのように変化したかに応じて補正され、補正後の１６の変調度がメモリ１３０に記憶されるようにしてもよい。具体的には、関係式補正部１８０に代えて、線速度が所定量変化した場合に、変調度を所定倍したり、所定量増減したりすることによって補正し、補正後の１６の変調度をメモリ１３０に記憶させる補正部を設けてもよい。
【０１０９】
つまり、最適記録パワーを求めるために用いられる情報は、関係式のパラメータに限られず、複数の記録パワーと対応する変調度との関係を表す情報であればよい。
【産業上の利用可能性】
【０１１０】
本発明に係る記録動作制御装置、集積回路、光ディスク記録再生装置、および記録動作制御方法は、最適記録パワーの導出に用いられる光ディスクの領域を小さくし、また、最適記録パワーの導出にかかる時間を短くできるという効果を有し、例えば、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷ／Ｒ  ＤＬ（Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ／Ｒ  ＤＬ、ＤＶＤ−ＲＡＭまたは次世代光ディスク等の光ディスクに対してデータの記録と再生を行う光ディスク記録再生装置のレーザ光強度を制御する技術等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１１１】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク記録再生装置１００の構成を示すブロック図である。
【図２】同、光ディスクにセクタ毎に記録パワーを変化させながらデータの記録が行われた場合の各セクタのデータの変調度の関係を例示する説明図である。
【図３】同、信号制御部１１０の構成を示すブロック図である。
【図４】同、レーザ制御部１５０の構成を示すブロック図である。
【図５】同、事前に求めている式で表される変調度ｍの補正前曲線と、その補正前曲線を補正した補正曲線を示す説明図である。
【図６】同、光ディスク記録再生装置１００の動作を示すフローチャートである。
【図７】同、光ディスク記録再生装置１００の動作を示すフローチャートである。
【図８】同、ある理想的な変化を行った変調度ｍと、その変調度を基にした変調度の微分効率γを表すグラフである。
【図９】同、変調度ｍの測定に、多少のばらつきが発生した場合の変調度ｍと、その時の微分効率γと表すグラフである。
【図１０】同、測定に対して多少ばらつきが発生した変調度ｍと、その変調度ｍに対応する微分効率γ、そして、変調度ｍから求められる近似式の近似曲線と、その近似曲線の各点に対応する微分効率γを表すグラフである。
【符号の説明】
【０１１２】
１００      光ディスク記録再生装置
１０１      光ピックアップ
１０２      スピンドルモータ
１０３      記録動作制御装置
１０４      変調度算出部（情報記録精度算出部）
１１０      信号制御部
１１１      ＲＦ調整部
１１２      ＬＰＦ
１１３      ＥＱ調整部
１１４      二値化処理部
１１５      ＰＬＬ回路
１１６      ピーク検出部
１１７      ボトム検出部
１２０      信号品質演算部
１３０      メモリ（関係情報記憶部）
１４０      関係式算出部（関係情報取得部）
１５０      レーザ制御部
１５１      発光強度制御部
１５２      記録パターン生成部
１６０      モータ制御部
１７０      中断部
１８０      関係式補正部（関係情報補正部）
１９０      システムコントローラ
【図１】
0004814940.tif 000002
【図２】
0004814940.tif 000003
【図３】
0004814940.tif 000004
【図４】
0004814940.tif 000005
【図５】
0004814940.tif 000006
【図６】
0004814940.tif 000007
【図７】
0004814940.tif 000008
【図８】
0004814940.tif 000009
【図９】
0004814940.tif 000010
【図１０】
0004814940.tif 000011