(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
圧延設備の圧延製品（２）のための検査システムにおいて、
圧延製品（２）のためのコンベヤベルト（４）に、コンベヤベルト（４）上に載置されている圧延製品（２）を挟み、コンベヤベルト（４）から圧延製品（２）を持ち上げるための、複数の高さ調整可能な圧延製品クランプ（６，８）が配設されており、２つの圧延製品クランプ（６，８）の間に、持ち上げられた圧延製品（２）を研磨のために上に向かって押し上げるための、高さ調整可能な緊張ステーション（１０）が配設されていることを特徴とする検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、圧延設備の圧延製品のための検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
圧延製品に、圧延作業の際に生じる可能な瑕疵に対する検査を受けさせるために、圧延プロセスに続いて、通常は圧延製品の表面が検査員によって検査を受ける。この場合、表面構造の不均一さをこのプロセスによって見えるようにするために、圧延製品を、例えば石によって研磨する技術が使用される。例えばコンベヤベルト上に載置されている圧延製品にこの加工をする場合、支持体の組織は、圧延製品の下面で、圧痕形成を受けるか、更には圧延製品を貫通して圧痕形成を受け、これにより上面で認めることが可能となるという危険が有り得る。従って、圧延プロセスの際に生じている瑕疵は、場合によっては、申し分のない確認ができず、従って本当の瑕疵の発生源に到達できない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従って、本発明の基本にある課題は、圧延製品の加工に際して、特に研磨に際して、支持体の組織の圧痕及び／又は貫通痕を確実に回避する上記様式の圧延設備の圧延製品のための検査システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
この課題は、本発明によれば、圧延製品のためのコンベヤベルトに、コンベヤベルト上に載置されている圧延製品を挟み、コンベヤベルトから圧延製品を持ち上げるための、複数の高さ調整可能な圧延製品クランプが配設されており、２つの圧延製品クランプの間に、持ち上げられた圧延製品を研磨のために上に向かって押し上げるための、高さ調整可能な緊張ステーションが配設されていることによって解決される。
【０００５】
この場合、本発明は、表面に圧力を加えることによって圧延製品を加工する際、特に研磨する際に、検査すべき圧延製品に対する支持体の組織の圧痕又は貫通痕がほぼ回避不可能であるという考察から出発する。検査員に対して圧延製品の表面の瑕疵の発見及び圧延プロセス又は支持体にこれを適用することに関して場合によっては同時に生じる困難を回避するために、検査システムは、検査すべき圧延製品を、その支持体の研磨の際に解放するために設計すべきである。これは、支持体から圧延製品を持ち上げることを可能にする装置によって達成可能である。このため、検査システム内で、圧延製品のためのコンベヤベルトに、多数の高さ調整可能な圧延製品クランプが配設されている。これらの圧延製品クランプによって、当該圧延製品を固定し、次のプロセスのために確実にコンベヤベルトによって高くされた位置にもたらし、この位置を加工の際に維持することが可能である。
【０００６】
後続の確実な瑕疵の分析を顧慮して圧延製品の表面の入念かつ一様な研磨をするために、圧延製品は、効果的に緊張状態にある。圧延製品をこの加工状態に移すために、有利なことに、２つの圧延製品クランプの間に、高さ調整可能な緊張ステーションが設けられている。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
本発明の実施例を、図面を基にして詳細に説明する。
【０００８】
全ての図面において、同じ部分は、同じ符号を備えている。
【０００９】
図示されてない圧延設備の圧延製品２のための検査システム１は、圧延プロセスの際に場合によっては生じる瑕疵に対する圧延製品２、例えばブリキ板の表面の検査のために使用される。この場合、圧延製品２は、通常は、例えばコンベヤベルト４のような支持体上に位置する。検査にとって、表面上の最も些細な起伏でも可視にするために、圧延製品２の表面の研磨は有効で有り得る。コンベヤベルト４上に載置されている圧延製品２の表面に対して研磨又は圧力を加えることによる別の方法を実施する場合、コンベヤベルト４との直接的な接触によって、圧延プロセスに関する瑕疵の検査の際に少なくとも邪魔となり得るその組織の圧痕及び／又は貫通痕が、圧延製品２に結像されてしまう。
【００１０】
この理由から、検査システム１は、この実施例では図１ａ〜１ｆに従ってコンベヤベルト４に送り方向Ｘに２つの高さ調整可能な圧延製品クランプ６，８を有する。これらのクランプは、圧延製品２を必要な場合にコンベヤベルト４から持ち上げることができるので、圧延製品２の表面は、加工の際に、確実な表面検査に対して損害を与えてしまうコンベヤベルトに対する接触を何ら有することがない。検査システム１は、更に両方の圧延製品クランプ６，８の間に配設された緊張ステーション１０を、圧延製品２の改善された研磨のために備える。
【００１１】
コンベヤベルト４研磨すべき圧延製品２に関しての圧延製品クランプ６，８及び緊張ステーション１０の個々の調整を、以下で説明する。
【００１２】
図１ａに図示されているように、圧延製品クランプ６，８及び緊張ステーション１０は、その開始位置では、コンベヤベルト４の下の高さに降下している。この形態で、圧延製品２は、従来的な検査を受け、別の処理のための装置に供給することができる。
【００１３】
図１ｂ及び１ｃにおける図は、両者が相応の高さに移動された後で、開始位置から高くされた、圧延製品２のための収容位置として使用される中間位置にある圧延製品クランプ６，８を示す。従って、圧延製品クランプ６，８のこの持ち上げられた中間位置で、研磨すべき圧延製品２は、圧延製品クランプ６，８に入れられ、この実施例では、これらの圧延製品クランプから、圧延製品の縁部領域１２内で例えばいわゆるクランプジョー１４によって不動にクランプされる。互いに回転させて示したクランプジョー１４によって圧延製品２が不動にクランプされたこの状態は、図１ｃに図示されている。
【００１４】
図１ｄにおける図は、クランプジョー１４によってクランプされた圧延製品２を有する圧延製品クランプ６，８の検査位置を示す。この場合、圧延製品クランプ６，８は、人間工学上有利な高さ、例えばテーブルの高さに高さの移動をされている。圧延製品クランプ６，８にクランプされた圧延製品２を、この実施例では当該圧延製品２の上面の一様な研磨をするための高くされた位置で緊張するために、緊張ステーション１０は、同様に高さ調整可能に形成されている。このため、この実施例ではスタンプの様式の形を備える緊張ステーション１０は、視覚的にスタンプ台に似ている成形部分１６によって、圧延製品２をその下面を介して圧延製品２の適当な研磨位置にまで上に向かって押し上げる。その後、コンベヤベルト４から切り離され、かつ緊張された圧延製品２の上面は、検査の目的で、圧延製品２の粒子がコンベヤベルト４の組織によって粗悪化されたり、乱されたりしてしまうことなく、研磨をすることができる。
【００１５】
検査が行なわれた後、緊張ステーション１０は、再び図１ａのために説明した開始位置の高さに降下される。一方、クランプされた圧延製品２を有する両方の圧延製品クランプ６，８は、先ず図１ｂのために説明した中間位置の高さにもたらされる。その後、圧延製品クランプ６，８のクランク機構が解放されるので、この実施例では、そのクランプジョーが検査された圧延製品２を解放する。従って、クランプジョーは、図１ｅで、もはや互いに回転された状態で示されているのではなく、互いに平行に示されている。その後、圧延製品２は、この実施例では、送り方向Ｘに、この送り方向Ｘに先ず位置する圧延製品クランプ６から出され、これにより自由な圧延製品クランプ６は、再び開始位置に降下される。即ち、図１ｅにおける図は、コンベヤベルト４にある下の緊張ステーション１０と圧延製品クランプ６を示す。次いで、圧延製品２は、この実施例では送り方向Ｘとは反対に、送り方向Ｘに後続の圧延製品クランプ８が自由になるまで移動され、いまや自由な圧延製品クランプ８が開始位置に降下される。従って、図１ｆにおける図は、再びコンベヤベルト４の下にある緊張ステーション１０と圧延製品クランプ６及び８を示す。
【００１６】
例えばプレートチルタへの供給のような後続の使用に対して、ストリップの下面も検査できるようにするため、圧延製品２は、更にまたこの実施例では送り方向Ｘに、再び図１ａに示されているようなその開始位置を占めるまで移動される。
【００１７】
当然、圧延製品２が、先ず圧延製品クランプ８から出され、その後この圧延製品クランプが、圧延製品クランプ６の前に開始位置に降下されてもよい。このため、圧延製品２の送り方向２の指定は、相応に変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】１ａ〜１ｆに、圧延製品クランプ及び／又は圧延製品のための緊張ステーションを種々に位置決めした検査システムの概略側面図を示す。
【符号の説明】
【００１９】
１      検査システム
２      圧延製品
４      コンベヤベルト
６      圧延製品クランプ
８      圧延製品クランプ
１０    緊張ステーション
１２    縁部領域
１４    クランプジョー
１６    成形部分
Ｘ      送り方向
【図１ａ】
0004734228.tif 000002
【図１ｂ】
0004734228.tif 000003
【図１ｃ】
0004734228.tif 000004
【図１ｄ】
0004734228.tif 000005
【図１ｅ】
0004734228.tif 000006
【図１ｆ】
0004734228.tif 000007