(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検体と、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質から形成された筒状の電子スピン濃度測定用冶具と、スピントラップ剤溶液とを用いる電子スピン濃度の測定方法であって、
前記検体の表面に前記電子スピン濃度測定用冶具を設置して前記電子スピン濃度測定用冶具の筒内部に前記スピントラップ剤溶液を添加し、前記検体からラジカルを発生させるラジカル発生処理を行った後、ラジカルがトラップされたスピントラップ剤溶液に対して、電子スピン共鳴法による測定を行うことを特徴とする電子スピン濃度の測定方法。
【請求項２】
前記検体が、少なくとも光触媒を含有する光触媒含有組成物であることを特徴とする請求項１に記載の電子スピン濃度の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検体から発生するラジカルの電子スピン濃度を測定することができる電子スピン濃度の測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、エネルギー照射によってラジカルを発生し、そのラジカルの作用によって周囲の有機物を分解したり変性させたりすることが可能である光触媒を利用した製品が広く開発されている。このような光触媒を含有する製品の光触媒活性を検査する方法としては、電子スピン共鳴法（以下ＥＳＲ法ともいう。）等が知られている。ＥＳＲ法は、不対電子の有無の確認、定量を行うことができ、吸収の時間的変化から反応速度や反応機構を明らかにすることもできることから、材料選択、プロセスの最適化等の観点から、極めて有効な手段であるといえる。
【０００３】
しかしながら、従来の方法においては、測定の対象となる検体を、ＥＳＲ測定用装置に収まる大きさにカッティング等して測定する必要があり、工程が煩雑であるという問題があった。またカッティング作業中に検体が変質したり、不純物が混入する恐れがあることから、正確な測定を行うことが難しい、という問題もあった。
【０００４】
また、上記ＥＳＲ法によれば、ラジカルが関与する樹脂組成物の劣化速度等についても、測定可能であることが知られているが、この場合においても、検体を所定の大きさにカッティング等することが必要であるため、上記と同様に工程が煩雑であり、また正確な測定を行うことが難しい、という問題があった。
なお、本発明に関する先行文献は発見されていない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、検体を破壊することなく簡便な方法で、ラジカルの電子スピン濃度を測定できる電子スピン濃度の測定方法の提供が望まれている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、検体と、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質から形成された筒状の電子スピン濃度測定用冶具と、スピントラップ剤溶液とを用いる電子スピン濃度の測定方法であって、上記検体の表面に上記電子スピン濃度測定用冶具を設置して上記電子スピン濃度測定用冶具の筒内部に上記スピントラップ剤溶液を添加し、上記検体からラジカルを発生させるラジカル発生処理を行った後、ラジカルがトラップされたスピントラップ剤溶液に対して、電子スピン共鳴法による測定を行うことを特徴とする電子スピン濃度の測定方法を提供する。
【０００７】
本発明によれば、上記電子スピン濃度測定用冶具内に添加されたスピントラップ剤溶液によって、検体から発生したラジカルをトラップし、このスピントラップ剤溶液の電子スピン濃度を測定することから、検体を所定の大きさにカッティングする等の工程を省略することができる。したがって、簡便な方法でかつ種々の検体から発生するラジカルについての電子スピン濃度を算出することができる。これにより、製造工程の簡略化、製品の歩留まり向上等が期待できる。
【０００８】
上記発明においては、上記検体が、少なくとも光触媒を含有する光触媒含有組成物とすることができる。上記方法によれば、光触媒含有組成物の光触媒活性を容易に求めることが可能となるからである。
【０００９】
また、本発明は、上記電子スピン濃度の測定方法で用いられる電子スピン濃度測定用冶具を提供する。本発明によれば、上記電子スピン濃度測定用冶具を用いることで、簡便な方法で、かつ種々の検体から発生するラジカルの電子スピン濃度を測定することが可能となる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、簡便な方法でかつ種々の検体から発生するラジカルについての電子スピン濃度を算出することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明の電子スピン濃度の測定方法、および電子スピン濃度測定用冶具について、以下詳細に説明する。
【００１２】
Ａ．電子スピン濃度の測定方法
まず、本発明の電子スピン濃度の測定方法について説明する。本発明の電子スピン濃度の測定方法は、検体と、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質から形成された筒状の電子スピン濃度測定用冶具と、スピントラップ剤溶液とを用いる電子スピン濃度の測定方法であって、上記検体の表面に上記電子スピン濃度測定用冶具を設置して上記電子スピン濃度測定用冶具の筒内部に上記スピントラップ剤溶液を添加し、上記検体からラジカルを発生させるラジカル発生処理を行った後、ラジカルがトラップされたスピントラップ剤溶液に対して、電子スピン共鳴法による測定を行うことを特徴とするものである。
【００１３】
本発明の電子スピン濃度の測定方法について図面を用いて説明する。図１は、本発明の電子スピン濃度の測定方法の工程を示す説明図である。図１（ａ）に示すように、検体１の表面に電子スピン濃度測定用冶具２を設置し、その後、図１（ｂ）に示すように、電子スピン濃度測定用冶具２の筒内部にスピントラップ剤溶液３を添加する。さらに、図１（ｃ）に示すように、例えばエネルギー４を検体１に照射する等して検体１からラジカルを発生させるラジカル発生処理を行い、検体１から発生したラジカルをトラップしたスピントラップ剤溶液３´を得る。その後、このスピントラップ剤溶液３´を電子スピン共鳴装置で測定することによって、ラジカルの電子スピン濃度を測定する。
【００１４】
本発明によれば、上記電子スピン濃度測定用冶具内に添加されたスピントラップ剤溶液によって、検体から発生したラジカルをトラップし、このスピントラップ剤溶液の電子スピン濃度を測定することから、検体を所定の大きさにカッティングする等の工程を省略することができる。したがって、簡便な方法でかつ種々の検体から発生するラジカルの電子スピン濃度を算出することができる。これにより、製造工程の簡略化、製品の歩留まり向上等が期待できる。また上記検体をカッティングする工程等を行った場合には、検体が変質してしまったり、検体に不純物が付着してしまう可能性があるが、本発明によれば、これらが生じることの少ないものとすることができ、より正確に検体から発生するラジカルの電子スピン濃度を測定することができるという利点も有する。
【００１５】
なお、本発明において、電子スピン濃度（スピン／ｍ２）は単位面積あたりの電子スピン数として算出される。これに対して、検体を所定の大きさにカッティングした上でＥＳＲ測定を行なう従来の方法においては、電子スピン濃度（スピン／ｇ）は単位重量あたりの電子スピン数として算出されるが、これらは良好な相関性を有し同様の傾向を示すことから、本発明によれば検体を破壊しなくても、ラジカル特性に関する充分な知見を得ることができ、非常に有用であるといえる。
【００１６】
また、本発明の電子スピン濃度の測定方法は、種々の用途に利用可能である。その用途としては、特に限定されるものではなく、例えば、光触媒活性評価、樹脂製品や塗膜等の耐光性評価、樹脂製品や塗膜等の耐熱性評価、耐腐食性評価等が挙げられる。
以下、本発明の電子スピン濃度の測定方法における各構成について詳細に説明する。
【００１７】
１．検体
まず、本発明に用いられる検体について説明する。本発明に用いられる検体は、電子スピン濃度の測定対象となるものである。本発明に用いられる検体の形状としては、後述する電子スピン濃度測定用冶具を設置することができるものであれば特に限定されるものではないが、例えば、板状等を挙げることができる。また、本発明に用いられる検体は、後述するスピントラップ剤溶液の流出防止の観点から、平滑な表面を有していることが好ましい。
【００１８】
また、本発明に用いられる検体の材料としては、後述するラジカル発生処理によりラジカルが発生するものであれば特に限定されるものではない。ここでは、その一例として、少なくとも光触媒を含有する光触媒含有組成物、および樹脂製品や塗膜等の樹脂組成物について説明する。
【００１９】
（１）光触媒含有組成物
本発明においては、検体として例えば光触媒を含有する光触媒含有組成物を検体として用いることが可能である。上記光触媒含有組成物としては、少なくとも光触媒を含有するものであれば特に限定されるものではなく、例えば光触媒のみからなるものであってもよく、また光触媒と樹脂とを含有するもの等であってもよい。また例えば、光触媒が金属やセラミックス等の無機材料中に含有されているもの等であってもよい。また光触媒含有組成物の形状は特に限定されるものではなく、例えば層状に形成されているものであってもよく、また各種形状に成型されているもの等であってもよい。また例えば基板等と貼りあわせられているものであってもよい。なお、上記光触媒含有組成物が各種形状に成型されている場合には、平坦な面を利用して、本発明の電子スピン濃度の測定方法が行われることとなる。
【００２０】
また上記光触媒含有組成物中に含有されている光触媒の用途についても特に限定されるものではなく、例えば光触媒を、例えば抗菌用途や防汚用途に用いるものであってもよく、また例えば悪臭物質を分解する脱臭用途等に用いるものであってもよい。またさらに、例えば特開２０００−２４９８２１号公報に記載されているように、光触媒を有機物のパターニングや表面処理等の用途で利用するものであってもよい。
【００２１】
また、上記光触媒含有組成物中に含有される光触媒としては、特に限定されるものではなく、例えば、半導体として知られる二酸化チタン（ＴｉＯ２）、酸化亜鉛（ＺｎＯ）、酸化スズ（ＳｎＯ２）、チタン酸ストロンチウム（ＳｒＴｉＯ３）、酸化タングステン（ＷＯ３）、酸化ビスマス（Ｂｉ２Ｏ３）、および酸化鉄（Ｆｅ２Ｏ３）等を挙げることができる。また半導体以外としては、金属錯体や銀等も用いることができ、これらから選択して１種または２種以上含有されていてもよい。
【００２２】
このような光触媒含有組成物においては、本発明の電子スピン濃度の測定方法により、光触媒の作用によって発生するラジカルの量を測定することにより、光触媒含有組成物の光触媒活性について判断することが可能となる。通常、光触媒含有組成物から発生するラジカルの量が多ければ多いほど、光触媒活性が高いものであるといえる。
【００２３】
またこの際、測定されるラジカルの種類としては、例えばヒドロキシラジカル、炭素ラジカル等が挙げられる。
【００２４】
なお、光触媒組成物中に、光触媒の作用により発生するラジカルと反応を起こす物質が含有されている場合には、上記ラジカル由来の信号強度、および上記ラジカルと反応を起こした物質由来の信号強度から、ラジカル由来の電子スピン濃度を求めることができる。
【００２５】
（２）樹脂組成物
本発明においては、検体として例えば塗膜や樹脂製品等の樹脂組成物等も用いることが可能である。このような樹脂組成物としては、例えばエネルギー照射や熱照射等によって生じる劣化反応中にラジカルを生じるもの等であれば、特に限定されるものではない。例えば樹脂のみからなるものであってもよく、また樹脂中に、顔料や各種添加剤等が含有されているもの等であってもよい。また上記樹脂組成物の形状についても特に限定されるものではなく、例えば層状に形成されているものであってもよく、また各種形状に成型されているもの等であってもよい。また例えば基板等と貼りあわせられたり、基板上に塗布されているもの等であってもよい。なお、上記樹脂組成物が各種形状に成型されている場合等には、平坦な面を利用して、本発明の電子スピン濃度の測定方法が行われることとなる。
【００２６】
上記樹脂組成物に含有される樹脂の種類としては、例えば特に限定されるものではなく、有機系樹脂であってもよく、また無機系樹脂であってもよい。
【００２７】
通常、上述したような樹脂組成物においては、例えば熱やエネルギーの照射等によって、樹脂組成物内でラジカルが発生し、このラジカルによって樹脂組成物の劣化反応や腐食反応が進行することとなる。そこで、本発明の電子スピン濃度の測定方法により、樹脂組成物に熱やエネルギーを照射した際に発生したラジカルの量を測定することによって、樹脂組成物の熱やエネルギー、腐食等に対する耐性を判断することが可能となる。この場合、発生するラジカルの量が少なければ少ないほど、熱やエネルギー、腐食等に対する耐性が高いものであるといえる。
【００２８】
なお、測定されるラジカルの種類としては、例えば炭素ラジカル、酸素ラジカル等が挙げられる。
【００２９】
２．電子スピン濃度測定用冶具
次に、本発明に用いられる電子スピン濃度測定用冶具について説明する。本発明に用いられる電子スピン濃度測定用冶具は、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質から形成されたものであって、検体と密着して配置された後、筒内に添加されるスピントラップ剤溶液を保持することが可能なものであれば、特に限定されるものではない。なお、本発明でいう「ラジカルを発生させない」とは、検体からラジカルを発生させるためのラジカル発生処理によって、電子スピン濃度測定用冶具から電子スピン濃度の測定値に実質的な影響を与える程ラジカルを発生させないことをいい、「ラジカルを消費しない」とは、検体から発生するラジカルによって、電子スピン濃度の測定値に実質的な影響を与える程度電子スピン濃度測定用冶具がラジカルが変質したりしないことをいうこととする。具体的には、石英からなる上記電子スピン濃度測定用冶具を用い、この電子スピン濃度測定用冶具内にスピントラップ剤溶液を添加して、照度５５０ルクスの高圧水銀ランプから積算エネルギー量が２０００ｍＪ／ｍ２となるまで紫外線を照射した際に、１．０×１０１９スピン／ｍ２〜５．０×１０１９スピン／ｍ２の範囲内となる基準板に対して、上記材質からなる上記電子スピン濃度測定用冶具を用いて同様の測定を行った際、石英を用いた場合に対して、電子スピン濃度の誤差が、５％以下となる材質をいう。
【００３０】
上記電子スピン濃度測定用冶具の材質としては、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しないものであれば特に限定されるものではないが、具体的には、天然石英、合成石英等が挙げられ、中でも高純度の合成石英が用いられることが好ましい。これらは、加工が容易であり、かつラジカルを発生したりすることなく、またラジカルに対して安定しているからである。
【００３１】
なお、ラジカルを発生させる方法として加熱を行う場合は、上記電子スピン濃度測定用冶具は耐熱性に優れた材質からなるものが用いられることが好ましい。
【００３２】
上記電子スピン濃度測定用冶具の形状としては、筒状であり、検体とスピントラップ剤溶液とを接触させることができるものであれば特に限定されるものではない。具体的には、円筒状、あるいは断面が多角形の筒状等を挙げることができ、中でも円筒状であることが好ましい。スピントラップ剤溶液が、均一にラジカルをトラップすることができるからである。このような電子スピン濃度測定用冶具の具体例を図２に示す。また、上記電子スピン濃度測定用冶具は、スピントラップ剤溶液の蒸発、外部環境からの汚染等を防止するために、蓋を有するものであっても良い。
【００３３】
また、上記電子スピン濃度測定用冶具を検体の表面に設置し、上記電子スピン濃度測定用冶具の筒内部にスピントラップ剤溶液を添加した際に、検体およびスピントラップ剤溶液が接触する接触面積としては、特に限定されるものではないが、例えば１〜１０ｃｍ２の範囲内中でも３〜８ｃｍ２の範囲内であることが好ましい。
【００３４】
また、本発明おいては、上記電子スピン濃度測定用冶具が検体と接触する領域に、電子スピン濃度測定用冶具と検体との密着性を向上させるための流出防止手段を用いることが好ましい。これにより、検体および電子スピン濃度測定用冶具の密着性が向上し、スピントラップ剤溶液の流出を防止することができるからである。このような流出防止手段としては、例えば電子スピン濃度測定用冶具側に形成されるシール部材であってもよく、また電子スピン濃度測定用冶具側および／または検体側に塗布されるシール剤等であってもよい。
【００３５】
上記流出防止手段として電子スピン濃度測定用冶具側に形成されるシール部材としては、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質からなるものであって、検体および電子スピン濃度測定用冶具との密着性が良好なものであれば、特に限定されるものではない。このようなシール部材としては、上記電子スピン濃度測定用冶具と一体に形成されているものであってもよく、また電子スピン濃度測定用冶具と着脱可能なものであってもよい。
【００３６】
また上記シール部材の形状については、上記検体および電子スピン濃度測定用冶具と密着させることが可能な形状であれば特に限定されるものではない。通常電子スピン濃度測定用冶具のうち、検体と面することとなる領域全体に形成されるものとされる。
【００３７】
また、上記流出防止手段として電子スピン濃度測定用冶具側および／または検体側に塗布されるシール剤としては、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しないものであれば特に限定されるものではなく、例えば、シリコーングリースのような無機グリース等を挙げることができる。また、シール剤の使用量は、電子スピン濃度測定用冶具の形状、大きさ、あるいはスピントラップ剤の種類等を考慮して、適宜選択することが好ましい。
【００３８】
３．スピントラップ剤溶液
次に、本発明に用いられるスピントラップ剤溶液について説明する。本発明に用いられるスピントラップ剤溶液は、通常、スピントラップ剤および溶媒を少なくとも含有するものである。
【００３９】
上記スピントラップ剤としては、所望のラジカルをトラップすることができるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、5,5-Dimethyl-1-pyrroline N-oxide（ＤＭＰＯ）、2-metyl-2-nitrosopropane（ＭＮＰ）、3,5-dibromo-4-nitrosobenzenesulfonic acid（ＤＢＮＢＳ）等を挙げることができる。
【００４０】
上記検体から発生するラジカルがヒドロキシラジカルである場合は、スピントラップ剤として、5,5-Dimethyl-1-pyrroline N-oxide（ＤＭＰＯ）を用いることが好ましい。また、検体から発生するラジカルが、炭素ラジカルである場合には、3,5-dibromo-4-nitrosobenzenesulfonic acid（ＤＢＮＢＳ）等を用いることが好ましい。
【００４１】
上記スピントラップ剤を溶解または分散させる溶媒としては、上記スピントラップ剤を溶解または分散させることが可能なものであれば特に限定されるものではなく、通常、水を用いることができる。
【００４２】
また上記スピントラップ剤溶液におけるスピントラップ剤の濃度としては、エネルギー照射等によって生じるラジカルをトラップできる濃度であれば特に限定されるものではないが、通常０．０１〜１重量％程度、中でも０．１〜１重量％程度とすることができる。濃度が低すぎると、エネルギー照射等によって生じるラジカルをトラップしきれない可能性があり、濃度が高すぎると、得られる効果は変わらず、コスト面で好ましくないからである。
【００４３】
４．電子スピン濃度の測定方法
本発明における電子スピン濃度の測定方法としては、検体の表面に電子スピン濃度測定用冶具を設置し、電子スピン濃度測定用冶具の筒内部にスピントラップ剤溶液を添加し、検体からラジカルを発生させるラジカル発生処理を行い、ラジカルがトラップされたスピントラップ剤溶液に対して、電子スピン共鳴法による測定を行うものである。
【００４４】
上記ラジカル発生処理としては、検体からラジカルを発生させることができる方法であれば特に限定されるものではなく、例えば紫外線照射、可視光照射、赤外線照射、加熱処理等を挙げることができる。なお、上記光触媒含有組成物を検体とし、光触媒活性を評価する場合には、通常、可視光照射および紫外線照射が行われる。また、上記樹脂組成物を検体とし、樹脂組成物の各種劣化の評価を行う場合には、目的に応じて、可視光照射や紫外線照射、加熱処理等が行われる。また、上記各エネルギーの照射量や照射時間、加熱温度や加熱時間等については、検体の種類や測定の目的等に合わせて適宜選択させる。
【００４５】
本発明においては、次に上記ラジカル発生処理により発生したラジカルがトラップされたスピントラップ剤溶液を、電子スピン共鳴法により測定することによって、検体から発生したラジカルの電子スピン濃度を算出する。これにより、検体が目的とするような性状を有するものであるか、優劣の判断をすることが可能となるのである。なお、電子スピン濃度は、測定により得られたスピントラップ剤溶液の信号強度を、スピン濃度既知のＤＰＰＨ標準試薬を測定した場合の信号強度と比較することで求めることができる。詳細な算出方法としては、「電子スピン共鳴」（株式会社講談社  １９９１年発行）に記載されている方法を用いる。
【００４６】
Ｂ．電子スピン濃度測定用冶具
次に、本発明の電子スピン濃度測定用冶具について説明する。本発明の電子スピン濃度測定用冶具は、上記電子スピン濃度の測定方法で用いられることを特徴とするものである。本発明によれば、上記電子スピン濃度測定用冶具を用いることで、簡便な方法で検体から発生するラジカルの電子スピン濃度を測定することができる。
【００４７】
本発明の電子スピン濃度測定用冶具は、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質から形成されたものであって、検体と密着して配置された後、筒内で測定に用いられるスピントラップ剤溶液を保持することが可能なものであれば、特に限定されるものではない。
【００４８】
このような電子スピン濃度測定用冶具の材質や、形状等については、上述した「Ａ．電子スピン濃度の測定方法」ので説明したものと同様であるので、ここでの説明は省略する。
【００４９】
また、本発明においては、電子スピン濃度測定用冶具と検体との密着性を向上させるための流出防止手段を用いることが好ましい。これにより、検体および電子スピン濃度測定用冶具の密着性が向上し、スピントラップ剤溶液の流出を防止することができるからである。このような流出防止手段としては、上述した「Ａ．電子スピン濃度の測定方法」で説明したものと同様であるので、ここでの説明は省略する。
【００５０】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【実施例】
【００５１】
以下に実施例を示し、本発明をさらに具体的に説明する。
【００５２】
[実施例１]
二酸化チタンゾル液（商品名ＳＴＫ−０１、石原産業社製）を、洗浄済みのガラス基板上にスピンコーティングにより塗布し、１３０℃のホットプレート上で１時間乾燥させて、光触媒含有組成物の膜（以下、光触媒膜ともいう。）とした。
上記光触媒膜に、膜面をきずつけないように慎重に、端部に微量のシリコーングリースを塗布した直径２ｃｍ（面積約３．１４ｃｍ２）の円を底面に有する筒状の合成石英からなる電子スピン濃度測定用冶具を密着させた。この電子スピン濃度測定用冶具の筒内部に、静かに、スピントラップ剤（ＤＭＰＯ）の１重量％純水溶液をマイクロピペッターにより正確に２ｍｌ滴下した。この際、光触媒脂膜面と電子スピン濃度測定用冶具の接触部分より、スピントラップ剤の漏れが無いことを確認した。滴下後、１分間静置後、やはりマイクロピペッターにより、電子スピン濃度測定用冶具の筒内部からスピントラップ剤純水溶液を１ｍｌ抜き取り、電子スピン濃度測定用サンプル管に投入し、電子スピン濃度測定を実施し、この状態を次測定のためのリファレンスとした。
次に、同様に光触媒膜を作製し、電子スピン濃度測定用冶具と密着させ、電子スピン濃度測定用冶具内にスピントラップ剤を添加した。この光触媒膜に対し、高圧水銀ランプにより紫外線を垂直方向から１０００ｍＪ／ｍ２照射し、同様に電子スピン濃度測定を実施した。その結果、上述したリファレンスにおいてはヒドロキシラジカル由来の信号が殆ど検出されなかったのに対し、今回の測定結果では、極めて強いヒドロキシラジカルの信号強度が確認（信号強度は約２００倍）され、光触媒作用による活性酸素の生成が確認された。
【００５３】
[実施例２]
メチレンブルー色素による分解挙動観察により、光触媒活性が比較的低い（活性酸素生成効率が低い）と分かっている石原産業社製酸化チタン光触媒材料を用いて実施例１と同様に電子スピン濃度測定した結果、信号強度は、リファレンスの強度に対して１７０倍の増加となり、活性酸素生成量が少ないことが確認された。
【００５４】
[実施例３]
関東化学（株）製ポリ（メタクリル酸メチル）の１重量％トルエン溶液を、洗浄済みのガラス基板上にスピンコーティングにより塗布し、８０℃のホットプレート上で３０分間乾燥させて、透明アクリル樹脂膜とした。
本アクリル樹脂膜に対し、膜面をきずつけないように慎重に、端部に微量のシリコーングリースを塗布した直径２ｃｍ（面積約３．１４ｃｍ２）の円を底面に有する筒状の合成石英からなる電子スピン濃度測定用冶具を密着させた。この電子スピン濃度測定用冶具の筒内部に、静かに、スピントラップ剤（ＭＮＰ）の１重量％純水溶液をマイクロピペッターにより正確に２ｍｌ滴下した。この際、アクリル樹脂膜面と電子スピン濃度測定用冶具との接触部分より、スピントラップ剤の漏れが無いことを確認した。滴下後、１分間静置後、やはりマイクロピペッターにより、電子スピン濃度測定用冶具の筒内部から、スピントラップ剤純水溶液を１ｍｌ抜き取り、電子スピン濃度測定用サンプル管に投入し、電子スピン濃度測定を実施した。この測定結果を次測定のためのリファレンスとした。
次に、透明アクリル樹脂膜を上記と同様に作製し、電子スピン濃度測定用冶具とアクリル樹脂膜とを密着させ、スピントラップ剤を添加した。この透明アクリル樹脂膜に対し、高圧水銀ランプにより紫外線を垂直方向から５０００ｍＪ／ｍ２照射し、同様に電子スピン濃度測定を実施した結果、上記リファレンスにおいては炭素ラジカル由来の信号は殆ど検出されなかったのに対し、今回の測定結果では、炭素ラジカルの信号強度が確認され、光照射により、アクリル樹脂の劣化が進行していることが分かった。なお、炭素ラジカルは光分解により生じたものと考えられる。
【００５５】
[実施例４]
黄変を観察する、分光学的耐光性試験により、耐光性が比較的高いと分かっている関東化学（株）製高純度アクリル樹脂材料を用いて同様に電子スピン濃度測定した結果、炭素ラジカル由来の信号は、光照射後も殆ど確認されず、光分解が起っていない、即ち、耐光性が高いことが分かった。
【００５６】
[評価]
実施例１および実施例２により、塗膜サンプルをカットする等、煩雑な前処理を施すことなく、簡便に電子スピン濃度の測定を行うことにより、光触媒活性評価が可能であることが確認された。
また、実施例３および実施例４より、塗膜サンプルをカットする等、煩雑な前処理を施すことなく、簡便に電子スピン濃度の測定を行うことにより、塗膜の耐光性評価が可能となることが確認された。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の電子スピン濃度の測定方法を説明する説明図である。
【図２】本発明に用いられる電子スピン濃度測定用冶具の一例を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００５８】
１  …検体
２  …電子スピン濃度測定用冶具
３  …スピントラップ剤溶液
４  …エネルギー
【図１】
0004814572.tif 000002
【図２】
0004814572.tif 000003