(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
動作クロックの速度が異なる複数のクロックドメインのうち一のクロックドメインと他のクロックドメインと間の遅延故障を試験する遅延故障試験回路であって、
前記一のクロックドメインの動作クロックの速度が前記他のクロックドメインの動作クロックの速度よりも速い場合、前記複数のクロックドメインの各動作クロックからそれぞれラウンチエッジおよびキャプチャエッジのみ生成するとともに、前記各キャプチャエッジを整列させ、
前記複数のラウンチエッジのうち前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジのみを前記一のクロックドメインに与え、前記複数のキャプチャエッジのうち前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジのみを前記他のクロックドメインに与えることを特徴とする遅延故障試験回路。
【請求項２】
前記複数のラウンチエッジのうち前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジ以外のラウンチエッジをマスクして、前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジのみからなるクロック信号を前記一のクロックドメインに与え、
前記複数のキャプチャエッジのうち前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジ以外のキャプチャエッジをマスクして、前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジのみからなるクロック信号を前記他のクロックドメインに与えることを特徴とする請求項１に記載の遅延故障試験回路。
【請求項３】
前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジは、前記一のクロックドメインのスキャンモード時における最終クロックのエッジであることを特徴とする請求項１または２に記載の遅延故障試験回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＬＳＩなどの被試験回路内のクロックドメイン間の遅延故障を検出する遅延故障試験回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＬＳＩの出荷試験において、縮退故障に加えて遅延故障を検出する重要性が高くなっている。遅延故障の検出率を上げるため、クロックドメイン間の遅延故障の検出が重要である。
【０００３】
従来のテストパターン生成技術において遅延故障を検出するパターンを作成する場合には、まずは被試験回路におけるキャプチャクロックおよびラウンチ側のクロックを解析する。そして、ラウンチ側とキャプチャ側のクロックが同一のクロックになっている場合には容易にテストパターンを生成することができる。ラウンチ側とキャプチャ側のクロックが異なる場合にはクロック間のタイミングを考慮する必要があるため、テストパターンを生成することが困難である。
【０００４】
図１１は、従来の遅延故障試験回路を含むＬＳＩを示す回路図である。図１１において、ＬＳＩ１１００は、複数種類（図１１では例として３種類）のクロックドメインＣＤ（ＣＤ１〜ＣＤ３）と、このクロックドメインＣＤ（ＣＤ１〜ＣＤ３）の遅延故障を検出する遅延故障試験回路１１０１とを有する被試験回路である。
【０００５】
遅延故障試験回路１１０１は、クロックソースＣＬＫと、リセット入力端子Ｒと、スキャンモード入力端子ＳＭと、を有する。また、クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３ごとに、分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３とセレクタ１１１１〜１１１３とを有する。なお、図１１においては、入力／出力端子と当該入力／出力端子から入力／出力される信号には、同一符号を付すこととする。
【０００６】
クロック信号ＣＬＫは、各分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３に入力されるとともに、各セレクタ１１１１〜１１１３にも入力される。また、リセット信号Ｒは、各分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３に反転入力される。また、スキャンモード信号ＳＭは、各セレクタ１１１１〜１１１３に入力される。
【０００７】
分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３は、入力されてくるクロック信号ＣＬＫを分周する。図１２では、クロック信号ＣＬＫを基準クロック信号とすると、そのＮ分周（Ｎは実数）のクロックに分周する。たとえば、分周回路ｄｉｖ１は、クロック信号ＣＬＫを１／８に分周して、分周クロック信号ＣＬＫ１（＝１／８ＣＬＫ）を出力する。
【０００８】
また、分周回路ｄｉｖ２は、クロック信号ＣＬＫを１／４に分周して、分周クロック信号ＣＬＫ２（＝１／４ＣＬＫ）を出力する。また、分周回路ｄｉｖ３は、クロック信号ＣＬＫを１／２に分周して、分周クロック信号ＣＬＫ３（＝１／２ＣＬＫ）を出力する。
【０００９】
各分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３の後段には、それぞれセレクタ１１１１〜１１１３が接続されている。各セレクタ１１１１〜１１１３は、それぞれ前段の分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３からの分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３を入力する。また、各セレクタ１１１１〜１１１３は、それぞれクロック信号ＣＬＫも入力する。また、各セレクタ１１１１〜１１１３は、それぞれスキャンモード信号ＳＭにより、出力するクロック信号を選択する。
【００１０】
具体的には、スキャンモード信号ＳＭが入力された場合には、各セレクタ１１１１〜１１１３はクロック信号ＣＬＫを出力する。一方、スキャンモード信号ＳＭが入力されていない場合には、それぞれ前段の分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３からの分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３を出力する。
【００１１】
各セレクタ１１１１〜１１１３の後段には、クロックバッファ１１２１〜１１２３を介してクロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３が接続されている。すなわち、セレクタ１１１１〜１１１３から出力される分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３がクロックバッファ１１２１〜１１２３を介してクロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３に入力される。
【００１２】
このようなＬＳＩ１１００においては、以下の３つのデータ転送が考えられる。
１）クロックドメインＣＤ１，ＣＤ２間でのデータ転送（図１１中、矢印Ａ）
２）クロックドメインＣＤ２，ＣＤ３間でのデータ転送（図１１中、矢印Ｂ）
３）クロックドメインＣＤ１，ＣＤ３間でのデータ転送（図１１中、矢印Ｃ）
【００１３】
このＬＳＩ１１００について遅延故障を検出するためには、ラウンチ／キャプチャの２つのエッジを一対一の関係にすることが必要である。ラウンチエッジとは、データを出力するタイミングとなるクロックであり、キャプチャエッジとは、出力されたデータを取り込むタイミングとなるクロックである。
【００１４】
図１２は、ＬＳＩ１１００の故障検出時におけるクロック信号ＣＬＫと分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３のタイミングチャートである。ここで、クロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ１へのデータ転送に着目すると、当該データ転送を実現するためには、分周クロック信号ＣＬＫ３から分周クロック信号ＣＬＫ１にクロックを乗り換える必要がある。
【００１５】
具体的には、分周クロック信号ＣＬＫ１に２サイクル目のクロック（ＣＬＫ１の（２））が入力されるまでに分周クロック信号ＣＬＫ３では４サイクルのクロック（ＣＬＫ３の（１）〜（４））が入力されることになる。
【００１６】
すなわち、この場合、１つのキャプチャエッジ（ＣＬＫ１の（２））に対し、４つのラウンチエッジ（ＣＬＫ３の（１）〜（４））が存在するため、ラウンチエッジとキャプチャエッジとが一対一の対応関係にならない。
【００１７】
したがって、たとえば、分周クロック信号ＣＬＫ３の４サイクル目のクロック（ＣＬＫ３の（４））によりラウンチされたデータが分周クロック信号ＣＬＫ１のキャプチャエッジ（ＣＬＫ１の（２））によりキャプチャされる場合（図１２中ａ）の遅延故障を検出するためのテストパターンを生成することができない。
【００１８】
一方、クロックドメインＣＤ１からクロックドメインＣＤ３へのデータ転送に着目すると、当該データ転送を実現するためには、分周クロック信号ＣＬＫ１から分周クロック信号ＣＬＫ３にクロックを乗り換える必要がある。
【００１９】
この場合も、上述した場合と同様、分周クロック信号ＣＬＫ１のラウンチエッジ（ＣＬＫ１の（１））に対し、分周クロック信号ＣＬＫ３では、複数のキャプチャエッジ（ＣＬＫ３の（２）〜（７））が生成される。したがって、本来確認したい箇所（たとえば、図１２中ｂ）の遅延故障を検出することができない。
【００２０】
この問題点を解消するために、複数のクロックドメイン間の立ち上がりエッジを整列させる遅延故障試験回路が開示されている（たとえば、下記特許文献１を参照。）。
【００２１】
【特許文献１】特表２００４‐５３８４６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２２】
しかしながら、上述した特許文献１の従来技術では、複数ある第１パルス間の信号変化のタイミングの影響（たとえばclkout(1)の第１パルスからclkout(0)もしくはlastclkoutの第１パルスまでの間の信号変化の影響）をテストパターン生成時にも考慮しなければならない。したがって、複数のクロックが同時に動くため、すべての回路がテスト対象となり、テストパターンの生成が複雑になってしまうという問題点があった。
【００２３】
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、複数のクロックドメイン間のテストパターンの生成の容易化およびクロックドメイン間の遅延故障の検出率の向上を図ることにより、ＬＳＩの品質向上を図ることができる遅延故障試験回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、この発明にかかる遅延故障試験回路は、動作クロックの速度が異なる複数のクロックドメインのうち一のクロックドメインと他のクロックドメインと間の遅延故障を試験する遅延故障試験回路であって、前記一のクロックドメインに対し、当該一のクロックドメインから前記他のクロックドメインへデータを転送するためのラウンチエッジのみ与え、前記他のクロックドメインに対し前記データを取り込むためのキャプチャエッジのみ与えることを特徴とする。
【００２５】
この発明によれば、ラウンチエッジとキャプチャエッジとを一対一で対応付けすることができる。
【００２６】
また、この発明にかかる遅延故障試験回路は、動作クロックの速度が異なる複数のクロックドメインのうち一のクロックドメインと他のクロックドメインと間の遅延故障を試験する遅延故障試験回路であって、前記一のクロックドメインの動作クロックの速度が前記他のクロックドメインの動作クロックの速度よりも遅い場合、前記複数のクロックドメインの各動作クロックからそれぞれラウンチエッジおよびキャプチャエッジのみ生成するとともに、前記各ラウンチエッジを整列させ、前記複数のラウンチエッジのうち前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジのみを前記一のクロックドメインに与え、前記複数のキャプチャエッジのうち前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジのみを前記他のクロックドメインに与えることを特徴とする。
【００２７】
この発明によれば、相対的に動作クロックが遅いクロックドメインから速いクロックドメインに乗り換える場合、クロックドメインに与えるラウンチエッジとキャプチャエッジとを一対一で対応付けすることができる。
【００２８】
また、上記発明において、前記複数のラウンチエッジのうち前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジ以外のラウンチエッジをマスクして、前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジのみからなるクロック信号を前記一のクロックドメインに与え、前記複数のキャプチャエッジのうち前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジ以外のキャプチャエッジをマスクして、前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジのみからなるクロック信号を前記他のクロックドメインに与えることとしてもよい。
【００２９】
この発明によれば、遅延故障試験対象となるクロックドメイン間以外のクロックドメインのクロックをマスクすることで、遅延故障試験対象となるクロックドメインにのみラウンチエッジ、キャプチャエッジを生成することができる。したがって、クロックドメインに与えるラウンチエッジとキャプチャエッジとを一対一で対応付けすることができる。
【００３０】
また、この発明にかかる遅延故障試験回路は、動作クロックの速度が異なる複数のクロックドメインのうち一のクロックドメインと他のクロックドメインと間の遅延故障を試験する遅延故障試験回路であって、前記一のクロックドメインの動作クロックの速度が前記他のクロックドメインの動作クロックの速度よりも速い場合、前記複数のクロックドメインの各動作クロックからそれぞれラウンチエッジおよびキャプチャエッジのみ生成するとともに、前記各キャプチャエッジを整列させ、前記複数のラウンチエッジのうち前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジのみを前記一のクロックドメインに与え、前記複数のキャプチャエッジのうち前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジのみを前記他のクロックドメインに与えることを特徴とする。
【００３１】
この発明によれば、相対的に動作クロックが速いクロックドメインから遅いクロックドメインに乗り換える場合、クロックドメインに与えるラウンチエッジとキャプチャエッジとを一対一で対応付けすることができる。
【００３２】
また、上記発明において、前記複数のラウンチエッジのうち前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジ以外のラウンチエッジをマスクして、前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジのみからなるクロック信号を前記一のクロックドメインに与え、前記複数のキャプチャエッジのうち前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジ以外のキャプチャエッジをマスクして、前記他のクロックドメインの動作クロックから得られたキャプチャエッジのみからなるクロック信号を前記他のクロックドメインに与えることとしてもよい。
【００３３】
この発明によれば、遅延故障試験対象となるクロックドメイン間以外のクロックドメインのクロックをマスクすることで、遅延故障試験対象となるクロックドメインにのみラウンチエッジ、キャプチャエッジを生成することができる。したがって、クロックドメインに与えるラウンチエッジとキャプチャエッジとを一対一で対応付けすることができる。
【００３４】
また、この発明にかかる遅延故障試験回路は、動作クロックの速度が異なる複数のクロックドメインのうち一のクロックドメインと他のクロックドメインと間の遅延故障を試験する遅延故障試験回路であって、前記一のクロックドメイン内の遅延故障を試験する場合、前記一のクロックドメインの動作クロックからラウンチエッジおよびキャプチャエッジのみ生成するとともに、残余のクロックドメインの動作クロックをマスクし、前記一のクロックドメインに対し、前記ラウンチエッジおよび前記キャプチャエッジを与えることを特徴とする。
【００３５】
この発明によれば、動作クロックの速度が異なる複数のクロックドメインのうち一のクロックドメインと他のクロックドメインと間の遅延故障を試験する遅延故障試験回路においても、同一ドメイン検証を実現することができる。
【００３６】
また、上記発明において、前記一のクロックドメインの動作クロックから得られたラウンチエッジは、前記一のクロックドメインのスキャンモード時における最終クロックのエッジとしてもよい。
【００３７】
この発明によれば、遅延故障試験回路をスキュードロード方式に適用することができる。
【発明の効果】
【００３８】
この発明にかかる遅延故障試験回路によれば、複数のクロックドメイン間のテストパターンの生成の容易化およびクロックドメイン間の遅延故障の検出率の向上を図ることにより、ＬＳＩの品質向上を図ることができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３９】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる遅延故障試験回路の好適な実施の形態を詳細に説明する。なお、本実施の形態においては、入力／出力端子と当該入力／出力端子から入力／出力される信号には、同一符号を付すこととする。たとえば、図１において、クロックソースと当該クロックソースからのクロック信号には、ともにＣＬＫを付す。
【００４０】
（実施の形態１）
図１は、この発明の実施の形態１にかかる遅延故障試験回路を含むＬＳＩを示す回路図である。図１において、ＬＳＩ１００は、複数種類（図１では例として３種類）のクロックドメインＣＤ（ＣＤ１〜ＣＤ３）と、このクロックドメインＣＤ（ＣＤ１〜ＣＤ３）の故障を検出する遅延故障試験回路１０１とを有する被試験回路である。
【００４１】
遅延故障試験回路１０１は、クロックソースＣＬＫと、リセット入力端子Ｒと、スキャンモード入力端子ＳＭと、２つのラウンチ入力端子Ｌ１，Ｌ２と、２つのキャプチャ入力端子Ｃ１，Ｃ２と、テストモード入力端子ＴＭと、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１と、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２と、制御回路１１０と、を有する。
【００４２】
また、クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３ごとに、分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３と、セレクタＳ１〜Ｓ３と、高速選択回路１１１〜１１３と、ＯＲ回路１２１〜１２３と、ゲートクロックバッファＧＣＢ１〜ＧＣＢ３と、を有する。
【００４３】
クロック信号ＣＬＫは、各分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３に入力されるとともに、各セレクタＳ１〜Ｓ３にも入力される。また、リセット信号Ｒは、各分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３に反転入力される。また、スキャンモード信号ＳＭは、各セレクタＳ１〜Ｓ３に入力される。テストモード信号ＴＭは、制御回路１１０に入力される。
【００４４】
２つのラウンチ入力端子Ｌ１，Ｌ２からのラウンチ選択信号Ｌ１，Ｌ２は、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１および制御回路１１０に入力される。また、２つのキャプチャ入力端子Ｃ１，Ｃ２からのキャプチャ選択信号Ｃ１，Ｃ２は、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２および制御回路１１０に入力される。
【００４５】
分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３は、入力されてくるクロック信号ＣＬＫを分周する。図１では、クロック信号ＣＬＫを基準クロック信号とすると、そのＮ分周（Ｎは実数）のクロックに分周する。
【００４６】
たとえば、分周回路ｄｉｖ１は、クロック信号ＣＬＫを１／８に分周して、分周クロック信号ＣＬＫ１（＝１／８ＣＬＫ）を出力する。また、分周回路ｄｉｖ２は、クロック信号ＣＬＫを１／４に分周して、分周クロック信号ＣＬＫ２（＝１／４ＣＬＫ）を出力する。また、分周回路ｄｉｖ３は、クロック信号ＣＬＫを１／２に分周して、分周クロック信号ＣＬＫ３（＝１／２ＣＬＫ）を出力する。
【００４７】
各分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３の後段には、それぞれセレクタＳ１〜Ｓ３が接続されている。各セレクタＳ１〜Ｓ３は、それぞれ前段の分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３からの分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３を入力する。また、各セレクタＳ１〜Ｓ３は、それぞれクロック信号ＣＬＫも入力する。
【００４８】
また、各セレクタＳ１〜Ｓ３は、それぞれスキャンモード信号ＳＭにより、出力するクロック信号を選択する。セレクタＳ１〜Ｓ３から出力される分周クロック信号は、それぞれゲートクロックバッファＧＣＢ１〜ＧＣＢ３に入力される。
【００４９】
具体的には、スキャンモード信号ＳＭが入力された場合には、各セレクタＳ１〜Ｓ３はクロック信号ＣＬＫを出力する。一方、スキャンモード信号ＳＭが入力されていない場合には、それぞれ前段の分周回路ｄｉｖ１〜ｄｉｖ３からの分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３を出力する。
【００５０】
また、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１は、ラウンチ側のクロックを選択する。ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の入力はラウンチ入力端子Ｌ１，Ｌ２に接続されている。また、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１は、クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３ごとにラウンチ出力端子ＬＯ１〜ＬＯ３を有しており、それぞれ高速選択回路１１１〜１１３に接続されている。
【００５１】
ラウンチ側デコーダＤＥＣ１は、ラウンチ入力端子Ｌ１，Ｌ２に入力されたラウンチ選択信号Ｌ１，Ｌ２から、単一のクロックを活性化させる。以下に、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の動作モード表を示す。
【００５２】
【表１】
0004845543.tif 000002
【００５３】
たとえば、クロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ２へのデータ転送に関する遅延故障をテストする場合、ラウンチ側（転送元）となるクロックドメインＣＤ３のクロックが解析される。そして、ラウンチクロックとなる分周クロック信号ＣＬＫ３を活性化させるために、ラウンチ出力端子ＬＯ３が１になるようにラウンチ入力端子Ｌ１，Ｌ２からのラウンチ選択信号（上記表１では、Ｌ１＝１，Ｌ２＝１）が設定される。
【００５４】
また、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２は、キャプチャ側のクロックを選択する。キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の入力はキャプチャ入力端子Ｃ１，Ｃ２に接続されている。また、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２は、クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３ごとにキャプチャ出力端子ＣＯ１〜ＣＯ３を有しており、それぞれ高速選択回路１１１〜１１３に接続されている。
【００５５】
キャプチャ側デコーダＤＥＣ２は、キャプチャ入力端子Ｃ１，Ｃ２に入力されたキャプチャ選択信号から、単一のクロックを活性化させる。以下に、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の動作モード表を示す。
【００５６】
【表２】
0004845543.tif 000003
【００５７】
たとえば、クロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ２へのデータ転送に関する遅延故障をテストする場合、キャプチャ側（転送先）となるクロックドメインＣＤ２のクロックが解析される。そして、ラウンチクロックとなる分周クロック信号ＣＬＫ２を活性化させるために、キャプチャ出力端子ＣＯ２が１になるようにキャプチャ入力端子Ｃ１，Ｃ２からのキャプチャ選択信号（上記表２では、Ｃ１＝１，Ｃ２＝０）が設定される。
【００５８】
また、制御回路１１０は、ラウンチ入力端子Ｌ１，Ｌ２およびキャプチャ入力端子Ｃ１，Ｃ２からの各選択信号からラウンチ／キャプチャのクロックをデコードし、故障検出に必要なクロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３とマスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３とを生成する。生成されたクロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３は、それぞれ高速選択回路１１１〜１１３に入力される。また、マスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３は、それぞれＯＲ回路１２１〜１２３に入力される。
【００５９】
マスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３は、それぞれ分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３をマスクする信号である。すなわち、マスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３は、それぞれのクロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３で２クロック分のパルスが出るようにマスクをする信号である。
【００６０】
具体的には、マスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３が立ち上がっている状態（Ｈ状態）では、それぞれ分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３はマスクされ、クロックが発生しない。一方、マスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３が立ち下がっている状態（Ｌ状態）では、それぞれ分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３のマスクが解除され、活性化する。下記表３は、制御回路１１０の動作モード表である。
【００６１】
【表３】
0004845543.tif 000004
【００６２】
上記動作モード表において、「ＭＯＤＥ１」は、相対的に遅いクロックのクロックドメインから速いクロックのクロックドメインへの乗り換え箇所を検証する場合の動作モードである。図１では、クロックドメインＣＤ１→クロックドメインＣＤ２、クロックドメインＣＤ２→クロックドメインＣＤ３、クロックドメインＣＤ１→クロックドメインＣＤ３における乗り換え箇所を検証する。
【００６３】
また、上記動作モード表において、「ＭＯＤＥ２」は、相対的に速いクロックから遅いクロックへの乗り換え箇所を検証する場合の動作モードである。図１では、クロックドメインＣＤ３→クロックドメインＣＤ２、クロックドメインＣＤ２→クロックドメインＣＤ１、クロックドメインＣＤ３→クロックドメインＣＤ１における乗り換え箇所を検証する。
【００６４】
また、上記動作モード表において、「ＭＯＤＥ３」は、同一クロックドメインを検証する場合の動作モードである。図１では、クロックドメインＣＤ１→クロックドメインＣＤ１、クロックドメインＣＤ２→クロックドメインＣＤ２、クロックドメインＣＤ３→クロックドメインＣＤ３を検証する。ＭＯＤＥ１〜ＭＯＤＥ３の詳細については後述する。
【００６５】
また、図１において、高速選択回路１１１〜１１３は、それぞれフリップフロップＦＦ１〜ＦＦ３と、セレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３を有している。フリップフロップＦＦ１〜ＦＦ３は、それぞれクロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３を入力する。また、フリップフロップＦＦ１〜ＦＦ３の反転出力は、セレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３に入力されるとともに、ＦＦ１〜ＦＦ３に入力される。また、フリップフロップＦＦ１〜ＦＦ３は、リセット信号Ｒを反転入力する。
【００６６】
このように、フリップフロップＦＦ１〜ＦＦ３は、クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３に対応したクロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３によりトグルさせることで、ラウンチ／キャプチャ切替信号を生成する。生成されたラウンチ／キャプチャ切替信号は、後段のセレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３に入力されるラウンチエッジ／キャプチャエッジの活性信号ＬＯ１〜ＬＯ３，ＣＯ１〜ＣＯ３を切り替える。
【００６７】
また、セレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３は、それぞれフリップフロップＦＦ１〜ＦＦ３からのラウンチ／キャプチャ切替信号に基づいて、それぞれラウンチ側デコーダＤＥＣ１からの活性信号ＬＯ１〜ＬＯ３とキャプチャ側デコーダＤＥＣ２からの活性信号ＣＯ１〜ＣＯ３とを切り替える。すなわち、セレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３からの出力となる活性信号は、ラウンチ／キャプチャ切り替え信号により、ラウンチ／キャプチャが必要なクロックドメインにのみクロックを生成するためのマスク信号となる。
【００６８】
具体的には、セレクタＳＥＬ１は、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１からの活性信号ＬＯ１とキャプチャ側デコーダＤＥＣ２からの活性信号ＣＯ１とを入力する。そして、フリップフロップＦＦ１からのラウンチ／キャプチャ切替信号により、入力されたいずれか一方の活性信号を選択して、後段のＯＲ回路１２１に出力する。
【００６９】
たとえば、ラウンチ／キャプチャ切替信号が「１」の場合、活性信号ＬＯ１を選択してＯＲ回路１２１に出力する。一方、ラウンチ／キャプチャ切替信号が「０」の場合、活性信号ＣＯ１を選択してＯＲ回路１２１に出力する。
【００７０】
また、セレクタＳＥＬ２は、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１からの活性信号ＬＯ２とキャプチャ側デコーダＤＥＣ２からの活性信号ＣＯ２とを入力する。そして、フリップフロップＦＦ２からのラウンチ／キャプチャ切替信号により、入力されたいずれか一方の活性信号を選択して、後段のＯＲ回路１２２に出力する。
【００７１】
たとえば、ラウンチ／キャプチャ切替信号が「１」の場合、活性信号ＬＯ２を選択してＯＲ回路１２２に出力する。一方、ラウンチ／キャプチャ切替信号が「０」の場合、活性信号ＣＯ２を選択してＯＲ回路１２２に出力する。
【００７２】
また、セレクタＳＥＬ３は、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１からの活性信号ＬＯ３とキャプチャ側デコーダＤＥＣ２からの活性信号ＣＯ３とを入力する。そして、フリップフロップＦＦ３からのラウンチ／キャプチャ切替信号により、入力されたいずれか一方の活性信号を選択して、後段のＯＲ回路１２３に出力する。
【００７３】
たとえば、ラウンチ／キャプチャ切替信号が「１」の場合、活性信号ＬＯ３を選択してＯＲ回路１２３に出力する。一方、ラウンチ／キャプチャ切替信号が「０」の場合、活性信号ＣＯ３を選択してＯＲ回路１２３に出力する。
【００７４】
高速選択回路１１１〜１１３は、クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３に与えられるクロックの速度が高速であるため、制御回路１１０内に設けるとレイアウトの制約上困難である。したがって、制御回路１１０外、特にゲートクロックバッファＧＣＢ１〜ＧＣＢ３の直前に高速選択回路１１１〜１１３を埋め込むことで、ラウンチ側またはキャプチャ側の切り替えをＡｔ−Ｓｐｅｅｄでおこなうことができる。
【００７５】
また、ＯＲ回路１２１〜１２３は、セレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３により選択された活性信号と、制御回路１１０からのマスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３とを入力する。そして、ラウンチエッジ／キャプチャエッジが必要なクロックドメインＣＤにのみマスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３を出力する。
【００７６】
また、ゲートクロックバッファＧＣＢ１〜ＧＣＢ３は、ＯＲ回路１２１〜１２３からのマスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３と、セレクタＳ１〜Ｓ３からの分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３とを入力する。そして、各クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３に対し、マスク信号ＥＮ１〜ＥＮ３によりマスクされたクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３を出力する。
【００７７】
＜ＭＯＤＥ１の動作＞
つぎに、表３に示したＭＯＤＥ１の動作について説明する。図２は、ＭＯＤＥ１の動作波形を示すタイミングチャートである。図２に示したクロック信号ＣＫ１は、分周クロック信号ＣＬＫ１をマスク信号ＥＮ１によりマスクした信号であり、クロック信号ＣＫ２は、クロック信号ＣＬＫ２をマスク信号ＥＮ２によりマスクした信号であり、クロック信号ＣＫ３は、分周クロック信号ＣＬＫ３をマスク信号ＥＮ３によりマスクした信号である。
【００７８】
また、クロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３において、同一タイミングで揃っているエッジをラウンチエッジＬＥ（ＬＥ１〜ＬＥ３）とすると、キャプチャエッジＣＥ（ＣＥ１〜ＣＥ３）は、そのつぎのサイクルのクロックの立ち上がりエッジとなる。
【００７９】
図３は、ＭＯＤＥ１の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。図３において、（Ａ）はクロックドメインＣＤ１からクロックドメインＣＤ２への乗り換え（ＣＤ１→ＣＤ２）検証時の波形である。
【００８０】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ１がＬＯ１＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ２がＣＯ２＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ａ）の波形を得ることができる。
【００８１】
すなわち、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＣＯ１＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ１のキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００８２】
また、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＬＯ２＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ２のラウンチ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００８３】
また、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＬＯ３＝０，ＣＯ３＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ３のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００８４】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のキャプチャエッジＣＥ２のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【００８５】
また、図３において、（Ｂ）はクロックドメインＣＤ１からクロックドメインＣＤ３への乗り換え（ＣＤ１→ＣＤ３）検証時の波形である。この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ１がＬＯ１＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ３がＣＯ３＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ｂ）の波形を得ることができる。
【００８６】
すなわち、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＣＯ１＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ１のキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００８７】
また、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＬＯ２＝０，ＣＯ２＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ２のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００８８】
また、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＬＯ３＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ３のラウンチ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００８９】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のキャプチャエッジＣＥ３のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【００９０】
また、図３において、（Ｃ）はクロックドメインＣＤ２からクロックドメインＣＤ３への乗り換え（ＣＤ２→ＣＤ３）検証時の波形である。この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ２がＬＯ２＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ３がＣＯ３＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ｃ）の波形を得ることができる。
【００９１】
すなわち、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＬＯ１＝０，ＣＯ１＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ１のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００９２】
また、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＣＯ２＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ２のキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００９３】
また、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＬＯ３＝０であるため、図２に示したクロック信号ＣＫ３のラウンチ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【００９４】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のキャプチャエッジＣＥ３のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【００９５】
このように、ＭＯＤＥ１によれば、相対的に遅いクロックのクロックドメインから速いクロックのクロックドメインに乗り換える場合、乗り換え元となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のラウンチエッジ、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のキャプチャエッジのみが生成され、他のクロックは隠蔽される。これにより、乗り換え検証に必要なラウンチエッジＬＥとキャプチャエッジＣＥとの組み合わせを一対一で活性化することができる。
【００９６】
＜ＭＯＤＥ２の動作＞
つぎに、表３に示したＭＯＤＥ２の動作について説明する。図４は、ＭＯＤＥ２の動作波形を示すタイミングチャートである。図４に示したクロック信号ＣＫ１は、分周クロック信号ＣＬＫ１をマスク信号ＥＮ１によりマスクした信号であり、クロック信号ＣＫ２は、分周クロック信号ＣＬＫ２をマスク信号ＥＮ２によりマスクした信号であり、クロック信号ＣＫ３は、分周クロック信号ＣＬＫ３をマスク信号ＥＮ３によりマスクした信号である。
【００９７】
また、クロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３において、同一タイミングで揃っているエッジをキャプチャエッジＣＥ（ＣＥ１〜ＣＥ３）とすると、ラウンチエッジＬＥ（ＬＥ１〜ＬＥ３）は、その手前のサイクルのクロックの立ち上がりエッジとなる。
【００９８】
図５は、ＭＯＤＥ２の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。図５において、（Ａ）はクロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ１への乗り換え（ＣＤ３→ＣＤ１）検証時の波形である。
【００９９】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ３がＬＯ３＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ１がＣＯ１＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ａ）の波形を得ることができる。
【０１００】
すなわち、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＬＯ１＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ１のラウンチ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１０１】
また、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＬＯ２＝０，ＣＯ２＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ２のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１０２】
また、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＣＯ３＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ３のキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１０３】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のキャプチャエッジＣＥ１のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１０４】
また、図５において、（Ｂ）はクロックドメインＣＤ２からクロックドメインＣＤ１への乗り換え（ＣＤ２→ＣＤ１）検証時の波形である。この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ２がＬＯ２＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ１がＣＯ１＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ｂ）の波形を得ることができる。
【０１０５】
すなわち、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＬＯ１＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ１のラウンチ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１０６】
また、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＣＯ２＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ２のキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１０７】
また、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＬＯ３＝０，ＣＯ３＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ３のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１０８】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のキャプチャエッジＣＥ１のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１０９】
また、図５において、（Ｃ）はクロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ２への乗り換え（ＣＤ３→ＣＤ２）検証時の波形である。この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ３がＬＯ３＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ２がＣＯ２＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ｃ）の波形を得ることができる。
【０１１０】
すなわち、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＬＯ１＝０，ＣＯ１＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ１のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１１１】
また、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＬＯ２＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ２のラウンチ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１１２】
また、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＣＯ３＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ３のキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１１３】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のキャプチャエッジＣＥ２のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１１４】
このように、ＭＯＤＥ２によれば、相対的に速いクロックのクロックドメインから遅いクロックのクロックドメインに乗り換える場合、乗り換え元となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のラウンチエッジＬＥ、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のキャプチャエッジＣＥのみが生成され、他のクロックは隠蔽される。これにより、乗り換え検証に必要なラウンチエッジＬＥとキャプチャエッジＣＥとの組み合わせを一対一で活性化することができる。
【０１１５】
＜ＭＯＤＥ３の動作＞
つぎに、表３に示したＭＯＤＥ３の動作について説明する。ＭＯＤＥ３の動作波形は、ＭＯＤＥ１の動作波形（図２を参照）とＭＯＤＥ２の動作波形（図４を参照）のうちいずれの動作波形を用いてもよい。ここでは、図４に示したＭＯＤＥ２の動作波形を用いることとする。
【０１１６】
図６は、ＭＯＤＥ３の動作における検証時の波形を示すタイミングチャートである。図６において、（Ａ）はクロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ３（ＣＤ３→ＣＤ３）への同一ドメイン検証時の波形である。
【０１１７】
この同一ドメイン検証の場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ３がＬＯ３＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ３がＣＯ３＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ａ）の波形を得ることができる。
【０１１８】
すなわち、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＬＯ１＝０，ＣＯ１＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ１のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１１９】
また、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＬＯ２＝０，ＣＯ２＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ２のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１２０】
また、（Ａ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＬＯ３＝１，ＣＯ３＝１であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ３のラウンチ側およびキャプチャ側のいずれの波形もマスクされないクロック信号となる。
【０１２１】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のキャプチャエッジＣＥ３のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１２２】
また、図６において、（Ｂ）はクロックドメインＣＤ２からクロックドメインＣＤ２への乗り換え（ＣＤ２→ＣＤ２）検証時の波形である。この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ２がＬＯ２＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ２がＣＯ２＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ｂ）の波形を得ることができる。
【０１２３】
すなわち、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＬＯ１＝０，ＣＯ１＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ１のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１２４】
また、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＬＯ２＝１，ＣＯ２＝１であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ２のラウンチ側およびキャプチャ側のいずれの波形もマスクされないクロック信号となる。
【０１２５】
また、（Ｂ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＬＯ３＝０，ＣＯ３＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ３のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１２６】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のキャプチャエッジＣＥ２のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１２７】
また、図６において、（Ｃ）はクロックドメインＣＤ１からクロックドメインＣＤ１への乗り換え（ＣＤ１→ＣＤ１）検証時の波形である。この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ１がＬＯ１＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ１がＣＯ１＝１に設定される。この状態でクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、（Ｃ）の波形を得ることができる。
【０１２８】
すなわち、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ１は、ＬＯ１＝１，ＣＯ１＝１であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ１のラウンチ側およびキャプチャ側のいずれの波形もマスクされないクロック信号となる。
【０１２９】
また、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ２は、ＬＯ２＝０，ＣＯ２＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ２のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１３０】
また、（Ｃ）のクロック信号ＴＣＫ３は、ＬＯ３＝０，ＣＯ３＝０であるため、図４に示したクロック信号ＣＫ３のラウンチ側およびキャプチャ側の波形がマスクされたクロック信号となる。
【０１３１】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のキャプチャエッジＣＥ１のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１３２】
このように、ＭＯＤＥ３によれば、同一クロックドメインに取り込まれるクロック信号のラウンチエッジＬＥおよびキャプチャエッジＣＥのみが生成され、他のクロックは隠蔽される。これにより、同一クロックドメインの検証に必要なラウンチエッジＬＥとキャプチャエッジＣＥとの組み合わせを一対一で活性化することができる。ただし、タイミングに影響がなければ、ラウンチエッジＬＥもしくはキャプチャエッジＣＥを複数とすることも可能である。
【０１３３】
（実施の形態２）
つぎに、実施の形態２について説明する。実施の形態２は、実施の形態１にスキュードロード（Ｓｋｅｗｅｄｌｏａｄ）方式を適用した例である。スキュードロード方式とは、遅延故障試験をおこなう際に、スキャンシフト用のクロック信号をラウンチエッジとして使用する方式である。
【０１３４】
図７は、実施の形態２にかかる遅延故障試験回路を含むＬＳＩを示す回路図である。図７において、ＬＳＩ７００は、複数種類（図７では例として３種類）のクロックドメインＣＤ（ＣＤ１〜ＣＤ３）と、このクロックドメインＣＤ（ＣＤ１〜ＣＤ３）の故障を検出する故障試験回路７０１とを有する被試験回路である。
【０１３５】
故障試験回路７０１は、実施の形態１で示した遅延故障試験回路１０１とほぼ同様の回路構成であるため、同一構成には同一符号を付し、その説明を省略する。また、各種動作も上述した表１〜表３に示した内容と同一であるため、その説明を省略する。
【０１３６】
制御回路７１０は、図１に示した制御回路１１０の各構成のほか、さらに、スキュードロード入力端子ＳＬと、クロックドメインＣＤ１〜ＣＤ３ごとのスキャンイネーブル出力端子ＳＥ１〜ＳＥ３とを有する。
【０１３７】
このスキュードロード方式の場合、ラウンチエッジＬＥｉ（ｉ＝１〜３）が入るクロックドメインＣＤｉ内のスキャンフリップフロップ（不図示）についてだけ、スキャンイネーブル信号ＳＥｉをラウンチエッジＬＥｉに合わせて変化させる。
【０１３８】
その他のクロックドメインＣＤｊ（ｊ≠ｉ）内のスキャンフリップフロップ（不図示）に入力されるスキャンイネーブル信号ＳＥｊは、クロックが高速な間（たとえば、４００［ＧＨｚ］）は、常にシフトを抑制する極性とする。
【０１３９】
具体的には、ラウンチエッジＬＥｉが入るクロックドメインＣＤｉのスキャンシフトの回数を１回多くおこなう。これにより、スキャンシフトの最後のクロックをラウンチエッジＬＥｉとして用いることができ、スキャンシフトとラウンチとの共有化を図ることができる。
【０１４０】
この場合、スキャンシフトの最後のエッジとキャプチャエッジとを近づける。以下、実施の形態２における、表３に示したＭＯＤＥ１〜ＭＯＤＥ３の動作について説明する。
【０１４１】
＜ＭＯＤＥ１の動作＞
まず、表３に示したＭＯＤＥ１の動作について説明する。ＭＯＤＥ１の動作波形については、図２に示した動作波形と同一であるため、その説明を省略する。
【０１４２】
図８は、ＭＯＤＥ１の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。図８において、（Ａ）はクロックドメインＣＤ１からクロックドメインＣＤ２への乗り換え（ＣＤ１→ＣＤ２）検証時の波形である。
【０１４３】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ１がＬＯ１＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ２がＣＯ２＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図２に示したクロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３から、図８に示した（Ａ）の波形を得ることができる。
【０１４４】
すなわち、（Ａ）では、ＬＯ１＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ１となり、このラウンチエッジＬＥ１を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ１が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１以外のクロックはマスクされる。
【０１４５】
また、ＬＯ２＝０，ＬＯ３＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ２，ＳＥ３がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ２，ＴＣＫ３からはラウンチエッジＬＥ２，ＬＥ３は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１４６】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＣＫ２のキャプチャエッジＣＥ２のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１４７】
また、図８において、（Ｂ）はクロックドメインＣＤ１からクロックドメインＣＤ３への乗り換え（ＣＤ１→ＣＤ３）検証時の波形である。
【０１４８】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ１がＬＯ１＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ３がＣＯ３＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図２に示したクロック信号ＣＫ１〜ＣＫ３から、図８に示した（Ｂ）の波形を得ることができる。
【０１４９】
すなわち、（Ｂ）では、ＬＯ１＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ１となり、このラウンチエッジＬＥ１を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ１が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１以外のクロックはマスクされる。
【０１５０】
また、ＬＯ２＝０，ＬＯ３＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ２，ＳＥ３がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ２，ＴＣＫ３からはラウンチエッジＬＥ２，ＬＥ３は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１５１】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のキャプチャエッジＣＥ３のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１５２】
また、図８において、（Ｃ）はクロックドメインＣＤ２からクロックドメインＣＤ３への乗り換え（ＣＤ２→ＣＤ３）検証時の波形である。
【０１５３】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ２がＬＯ２＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ３がＣＯ３＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図２に示したクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３から、図８に示した（Ｃ）の波形を得ることができる。
【０１５４】
すなわち、（Ｃ）では、ＬＯ２＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ２となり、このラウンチエッジＬＥ２を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ２が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２以外のクロックはマスクされる。
【０１５５】
また、ＬＯ１＝０，ＬＯ３＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１，ＳＥ３がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ１，ＴＣＫ３からはラウンチエッジＬＥ１，ＬＥ３は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１５６】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のキャプチャエッジＣＥ３のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１５７】
このように、ＭＯＤＥ１によれば、相対的に遅いクロックのクロックドメインから速いクロックのクロックドメインに乗り換える場合、乗り換え元となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のラウンチエッジ、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のキャプチャエッジのみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１５８】
これにより、乗り換え検証に必要なラウンチエッジＬＥとキャプチャエッジＣＥとの組み合わせを一対一で活性化することができる。したがって、大幅に回路構成を変更することなく、スキュードロード方式を故障検出に適用することができる。
【０１５９】
＜ＭＯＤＥ２の動作＞
つぎに、表３に示したＭＯＤＥ２の動作について説明する。ＭＯＤＥ２の動作波形については、図４に示した動作波形と同一であるため、その説明を省略する。
【０１６０】
図９は、ＭＯＤＥ２の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。図９において、（Ａ）はクロックドメインＣＤ２からクロックドメインＣＤ１への乗り換え（ＣＤ２→ＣＤ１）検証時の波形である。
【０１６１】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ２がＬＯ２＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ１がＣＯ１＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図４に示したクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３から、図９に示した（Ａ）の波形を得ることができる。
【０１６２】
すなわち、（Ａ）では、ＬＯ２＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ２となり、このラウンチエッジＬＥ２を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ２が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２以外のクロックはマスクされる。
【０１６３】
また、ＬＯ１＝０，ＬＯ３＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１，ＳＥ３がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ１，ＴＣＫ３からはラウンチエッジＬＥ１，ＬＥ３は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１６４】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のキャプチャエッジＣＥ１のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１６５】
また、図９において、（Ｂ）はクロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ２への乗り換え（ＣＤ３→ＣＤ２）検証時の波形である。
【０１６６】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ３がＬＯ３＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ２がＣＯ２＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図４に示したクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３から、図９に示した（Ｂ）の波形を得ることができる。
【０１６７】
すなわち、（Ｂ）では、ＬＯ３＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ３となり、このラウンチエッジＬＥ３を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ３が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３以外のクロックはマスクされる。
【０１６８】
また、ＬＯ２＝０，ＬＯ１＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１，ＳＥ２がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ１，ＴＣＫ２からはラウンチエッジＬＥ１，ＬＥ２は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１６９】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のキャプチャエッジＣＥ２のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１７０】
また、図９において、（Ｃ）はクロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ１への乗り換え（ＣＤ３→ＣＤ１）検証時の波形である。
【０１７１】
この乗り換えを検証する場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ３がＬＯ３＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ１がＣＯ１＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図４に示したクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３から、図９に示した（Ｃ）の波形を得ることができる。
【０１７２】
すなわち、（Ｃ）では、ＬＯ３＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ３となり、このラウンチエッジＬＥ３を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ３が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３以外のクロックはマスクされる。
【０１７３】
また、ＬＯ１＝０，ＬＯ２＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１，ＳＥ２がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ１，ＴＣＫ２からはラウンチエッジＬＥ１，ＬＥ２は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１７４】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のキャプチャエッジＣＥ１のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１７５】
このように、ＭＯＤＥ２によれば、相対的に速いクロックのクロックドメインから遅いクロックのクロックドメインに乗り換える場合、乗り換え元となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のラウンチエッジＬＥ、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤに取り込まれるクロック信号のキャプチャエッジＣＥのみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１７６】
これにより、乗り換え検証に必要なラウンチエッジＬＥとキャプチャエッジＣＥとの組み合わせを一対一で活性化することができる。したがって、大幅に回路構成を変更することなく、スキュードロード方式を故障検出に適用することができる。
【０１７７】
＜ＭＯＤＥ３の動作＞
つぎに、表３に示したＭＯＤＥ３の動作について説明する。ＭＯＤＥ３の動作波形については、図４に示した動作波形と同一であるため、その説明を省略する。
【０１７８】
図１０は、ＭＯＤＥ３の動作における検証時の波形を示すタイミングチャートである。図１０において、（Ａ）はクロックドメインＣＤ３からクロックドメインＣＤ３（ＣＤ３→ＣＤ３）への同一ドメイン検証時の波形である。
【０１７９】
この同一ドメイン検証の場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ３がＬＯ３＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ３がＣＯ３＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図４に示したクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３から、図１０に示した（Ａ）の波形を得ることができる。
【０１８０】
すなわち、（Ａ）では、ＬＯ３＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ３となり、このラウンチエッジＬＥ３を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ３がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ３が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３以外のクロックはマスクされる。
【０１８１】
また、ＬＯ１＝０，ＬＯ２＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１，ＳＥ２がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ１，ＴＣＫ２からはラウンチエッジＬＥ１，ＬＥ２は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１８２】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のラウンチエッジＬＥ３、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ３に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ３のキャプチャエッジＣＥ３のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１８３】
また、図１０において、（Ｂ）はクロックドメインＣＤ２からクロックドメインＣＤ２（ＣＤ２→ＣＤ２）への同一ドメイン検証時の波形である。
【０１８４】
この同一ドメイン検証の場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ２がＬＯ２＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ２がＣＯ２＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図４に示したクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３から、図１０に示した（Ｂ）の波形を得ることができる。
【０１８５】
すなわち、（Ｂ）では、ＬＯ２＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ２となり、このラウンチエッジＬＥ２を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ２がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ２が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２以外のクロックはマスクされる。
【０１８６】
また、ＬＯ１＝０，ＬＯ３＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１，ＳＥ３がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ１，ＴＣＫ３からはラウンチエッジＬＥ１，ＬＥ３は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１８７】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のラウンチエッジＬＥ２、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ２に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ２のキャプチャエッジＣＥ２のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１８８】
また、図１０において、（Ｃ）はクロックドメインＣＤ１からクロックドメインＣＤ１（ＣＤ１→ＣＤ１）への同一ドメイン検証時の波形である。
【０１８９】
この同一ドメイン検証の場合、ラウンチ側デコーダＤＥＣ１の出力端子ＬＯ１がＬＯ１＝１に設定され、かつ、キャプチャ側デコーダＤＥＣ２の出力端子ＣＯ１がＣＯ１＝１に設定される。この状態でスキャンモード時にクロックソースＣＬＫにクロック信号ＣＬＫを入力し、遅延故障試験開始のトリガを与える。これにより、図４に示したクロック信号ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３から、図１０に示した（Ｃ）の波形を得ることができる。
【０１９０】
すなわち、（Ｃ）では、ＬＯ１＝１であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＨ状態となる。そして、スキャンモードの最後のクロックであるエッジがラウンチエッジＬＥ１となり、このラウンチエッジＬＥ１を検出することで、スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＨ状態からＬ状態に変化する。スキャンイネーブル信号ＳＥ１がＬ状態の期間中は、マスク信号ＥＮ１が活性化するため、クロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１以外のクロックはマスクされる。
【０１９１】
また、ＬＯ２＝０，ＬＯ３＝０であるため、スキャンイネーブル信号ＳＥ２，ＳＥ３がＬ状態となる。したがって、クロック信号ＴＣＫ２，ＴＣＫ３からはラウンチエッジＬＥ２，ＬＥ３は検出されない。なお、キャプチャエッジＣＥのマスクについては、実施の形態１と同様のマスク処理となる。
【０１９２】
これにより、乗り換え元となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のラウンチエッジＬＥ１、および乗り換え先となるクロックドメインＣＤ１に取り込まれるクロック信号ＴＣＫ１のキャプチャエッジＣＥ１のみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１９３】
このように、ＭＯＤＥ３によれば、同一クロックドメインに取り込まれるクロック信号のラウンチエッジＬＥおよびキャプチャエッジＣＥのみが生成され、他のクロックは隠蔽される。
【０１９４】
これにより、同一クロックドメインの検証に必要なラウンチエッジＬＥとキャプチャエッジＣＥとの組み合わせを一対一で活性化することができる。したがって、大幅に回路構成を変更することなく、スキュードロード方式を故障検出に適用することができる。
【０１９５】
以上説明したように、遅延故障試験回路によれば、遅延故障試験対象となるクロックドメインＣＤ間以外のクロックドメインのクロックをマスクすることで、遅延故障試験対象となるクロックドメインＣＤにのみラウンチエッジ、キャプチャエッジを生成することができる。したがって、ラウンチエッジとキャプチャエッジとを一対一で対応付けすることができる。ただし、タイミングに影響がなければ、ラウンチエッジＬＥもしくはキャプチャエッジＣＥを複数とすることも可能である。
【０１９６】
これにより、クロックドメインＣＤ間のテストパターンの生成の容易化およびクロックドメインＣＤ間の遅延故障の検出率の向上を図ることができ、ＬＳＩの品質向上を図ることができる。
【０１９７】
また、被試験回路（ＬＳＩ１００，７００）のクロック構成を変更することなく実現することができる。したがって、ツールによる遅延故障試験回路の自動挿入に対しても有効である。
【産業上の利用可能性】
【０１９８】
以上のように、本発明にかかる遅延故障試験回路は、被試験回路であるＬＳＩの遅延故障試験に有用であり、特にクロック速度が異なる複数のクロックドメインを有する被試験回路に適している。
【図面の簡単な説明】
【０１９９】
【図１】この発明の実施の形態１にかかる遅延故障試験回路を含むＬＳＩを示す回路図である。
【図２】ＭＯＤＥ１の動作波形を示すタイミングチャートである。
【図３】ＭＯＤＥ１の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。
【図４】ＭＯＤＥ２の動作波形を示すタイミングチャートである。
【図５】ＭＯＤＥ２の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。
【図６】ＭＯＤＥ３の動作における検証時の波形を示すタイミングチャートである。
【図７】実施の形態２にかかる遅延故障試験回路を含むＬＳＩを示す回路図である。
【図８】ＭＯＤＥ１の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。
【図９】ＭＯＤＥ２の動作における乗り換え検証時の波形を示すタイミングチャートである。
【図１０】ＭＯＤＥ３の動作における検証時の波形を示すタイミングチャートである。
【図１１】従来の遅延故障試験回路を含むＬＳＩを示す回路図である。
【図１２】従来の遅延故障試験回路を含むＬＳＩの故障検出時におけるクロック信号ＣＬＫと分周クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３のタイミングチャートである。
【符号の説明】
【０２００】
１００，７００  ＬＳＩ（被試験回路）
１０１，７０１  遅延故障試験回路
１１０，７１０  制御回路
１１１〜１１３  高速選択回路
１２１〜１２３  ＯＲ回路
ＣＤ（ＣＤ１〜ＣＤ３）  クロックドメイン
ＣＥ（ＣＥ１〜ＣＥ３）  キャプチャエッジ
ＣＫ１〜ＣＫ３  クロック信号
ＣＬＫ  クロックソース（クロック信号）
ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３  分周クロック信号
ＥＮ１〜ＥＮ３  マスク信号
ＧＣＢ１〜ＧＣＢ３  ゲートクロックバッファ
ＬＥ（ＬＥ１〜ＬＥ３）  ラウンチエッジ
ＳＥ１〜ＳＥ３スキャンイネーブル出力端子（スキャンイネーブル信号）
ＴＣＫ１〜ＴＣＫ３  クロック信号
【図１】
0004845543.tif 000005
【図２】
0004845543.tif 000006
【図３】
0004845543.tif 000007
【図４】
0004845543.tif 000008
【図５】
0004845543.tif 000009
【図６】
0004845543.tif 000010
【図７】
0004845543.tif 000011
【図８】
0004845543.tif 000012
【図９】
0004845543.tif 000013
【図１０】
0004845543.tif 000014
【図１１】
0004845543.tif 000015
【図１２】
0004845543.tif 000016