(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
成形機本体や周辺装置における複数のセンサからの検出信号をそれぞれ１ショット毎のアナログ波形情報として一時保存する第１のメモリ手段と、
前記複数のセンサからの検出信号に基づく監視用の実績値をそれぞれ１ショット毎のロギング情報として一時保存する第２のメモリ手段と、
前記各情報はショット数情報あるいは時刻情報と共に保存され、
更に、前記第２のメモリ手段に格納された情報を、検索によって前記第２のメモリ手段から取り出すために必要な特徴量を入力するための設定手段を含んで、前記第２のメモリ手段に保存されている各情報に対して、前記設定手段から入力された特徴量に基づく検索を行うことにより、該検索により得られた情報に対応する前記第１のメモリに保存されている少なくとも１種類のアナログ波形情報を前記ショット数情報あるいは前記時刻情報との関連により取り出す検索手段と、
少なくとも前記検索手段により取り出されたアナログ波形を表示あるいは印字する出力手段とを備えることにより、
大量のアナログ波形情報の中から参照したいものを短時間で得ることができるようにしたことを特徴とするアナログ波形検索機能付き成形機。
【請求項２】
成形機本体や周辺装置における複数のセンサからの検出信号をそれぞれ１ショット毎のアナログ波形情報として一時保存する第１のメモリ手段と、
設定器で変更した設定の内容や操作した内容を設定履歴情報、操作履歴情報として一時保存する第３のメモリ手段と、
前記各情報はショット数情報あるいは時刻情報と共に保存され、
更に、前記第３のメモリ手段に格納された情報を、検索によって前記第３のメモリ手段から取り出すために必要な特徴量を入力するための設定手段を含んで、前記第３のメモリ手段に保存されている各情報に対して、前記設定手段から入力された特徴量に基づく検索を行うことにより、該検索により得られた情報に対応する前記第１のメモリに保存されている少なくとも１種類のアナログ波形情報を前記ショット数情報あるいは前記時刻情報との関連により取り出す検索手段と、
少なくとも前記検索手段により取り出されたアナログ波形を表示あるいは印字する出力手段とを備えることにより、
大量のアナログ波形情報の中から参照したいものを短時間で得ることができるようにしたことを特徴とするアナログ波形検索機能付き成形機。
【請求項３】
成形機本体や周辺装置における複数のセンサからの検出信号をそれぞれ１ショット毎のアナログ波形情報として一時保存する第１のメモリ手段と、
異常発生時の内容を異常履歴情報として一時保存する第４のメモリ手段と、
前記各情報はショット数情報あるいは時刻情報と共に保存され、
更に、前記第４のメモリ手段に格納された情報を、検索によって前記第４のメモリ手段から取り出すために必要な特徴量を入力するための設定手段を含んで、前記第４のメモリ手段に保存されている各情報に対して、前記設定手段から入力された特徴量に基づく検索を行うことにより、該検索により得られた情報に対応する前記第１のメモリに保存されている少なくとも１種類のアナログ波形情報を前記ショット数情報あるいは前記時刻情報との関連により取り出す検索手段と、
少なくとも前記検索手段により取り出されたアナログ波形を表示あるいは印字する出力手段とを備えることにより、
大量のアナログ波形情報の中から参照したいものを短時間で得ることができるようにしたことを特徴とするアナログ波形検索機能付き成形機。
【請求項４】
更に、前記第１〜第４のメモリ手段に一時保存された情報の中から、前記設定手段により指定される所望の情報をメモリカードもしくは磁気ディスク等のリムーバブル記憶メディアに保存可能とする第１のインタフェースを備えることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のアナログ波形検索機能付き成形機。
【請求項５】
前記出力手段が表示手段であって表示される情報が複数種類である場合、これら複数種類の情報を分割画面あるいは重ね書きにより表示することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のアナログ波形検索機能付き成形機。
【請求項６】
前記表示手段により異常発生に関連する表示を行う場合、異常発生時のショット数あるいは時刻のアナログ波形とその前後における少なくとも１つずつのアナログ波形とが表示されることを特徴とする請求項５に記載のアナログ波形検索機能付き成形機。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は射出成形機のような成形機に関し、特に実成形に際して得られた大量のアナログ波形の中から参照したいものを短時間で検索表示あるいは印字できるようにしたアナログ波形検索機能付き成形機に関する。
【０００２】
【従来の技術】
成形機のうち、射出成形機について言えば、各種センサからの検出信号をフィードバック制御に用いており、この検出信号をショット毎にアナログ波形として表示し、異常発生時のトラブルシューティングや、成形品質の代用特性として品質評価に活用することが可能であった。また、量産時のアナログ波形を大容量の記憶装置に一時保存し、この記憶装置から更にメモリカードや磁気ディスク等のリムーバブル記憶メディアに保存することにより、このアナログ波形を別の時期に同じ成形品の良品を生産するための基準となるアナログ波形として利用することができた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、収集保存された過去のアナログ波形には、射出成形機がどのような状態であったかを知るすべはない。そのため、過去に収集保存されたアナログ波形の中に異常発生時のアナログ波形が含まれていて、それを取り出そうとした場合には、すべてのアナログ波形を表示装置等により表示して確認する作業が必要であり、長時間にわたって面倒な作業が必要であった。これは、射出成形機に限らず、押出し成形機、その他の成形機全般に共通する問題である。
【０００４】
そこで、本発明の課題は、成形機で収集された膨大な量の過去のアナログ波形中から参照したいものを短時間で検索できるようにし、様々な解析を短時間かつ正確に行えるようにすることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、成形機本体や周辺装置における複数のセンサからの検出信号をそれぞれ１ショット毎のアナログ波形情報として一時保存する第１のメモリ手段と、前記複数のセンサからの検出信号に基づく監視用の実績値をそれぞれ１ショット毎のロギング情報として一時保存する第２のメモリ手段とを備え、前記各情報はショット数情報あるいは時刻情報と共に保存され、更に、前記第２のメモリ手段に格納された情報を、検索によって前記第２のメモリ手段から取り出すために必要な特徴量を入力するための設定手段を含んで、前記第２のメモリ手段に保存されている各情報に対して、前記設定手段から入力された特徴量に基づく検索を行うことにより、該検索により得られた情報に対応する前記第１のメモリに保存されている少なくとも１種類のアナログ波形情報を前記ショット数情報あるいは前記時刻情報との関連により取り出す検索手段と、少なくとも前記検索手段により取り出されたアナログ波形を表示あるいは印字する出力手段とを備えることにより、大量のアナログ波形情報の中から参照したいものを短時間で得ることができるようにしたことを特徴とするアナログ波形検索機能付き成形機が提供される。
【０００６】
本発明によればまた、成形機本体や周辺装置における複数のセンサからの検出信号をそれぞれ１ショット毎のアナログ波形情報として一時保存する第１のメモリ手段と、設定器で変更した設定の内容や操作した内容を設定履歴情報、操作履歴情報として一時保存する第３のメモリ手段と、前記各情報はショット数情報あるいは時刻情報と共に保存され、更に、前記第３のメモリ手段に格納された情報を、検索によって前記第３のメモリ手段から取り出すために必要な特徴量を入力するための設定手段を含んで、前記第３のメモリ手段に保存されている各情報に対して、前記設定手段から入力された特徴量に基づく検索を行うことにより、該検索により得られた情報に対応する前記第１のメモリに保存されている少なくとも１種類のアナログ波形情報を前記ショット数情報あるいは前記時刻情報との関連により取り出す検索手段と、少なくとも前記検索手段により取り出されたアナログ波形を表示あるいは印字する出力手段とを備えることにより、大量のアナログ波形情報の中から参照したいものを短時間で得ることができるようにしたことを特徴とするアナログ波形検索機能付き成形機が提供される。
【０００７】
本発明によれば更に、成形機本体や周辺装置における複数のセンサからの検出信号をそれぞれ１ショット毎のアナログ波形情報として一時保存する第１のメモリ手段と、異常発生時の内容を異常履歴情報として一時保存する第４のメモリ手段とを備え、前記各情報はショット数情報あるいは時刻情報と共に保存され、更に、前記第４のメモリ手段に格納された情報を、検索によって前記第４のメモリ手段から取り出すために必要な特徴量を入力するための設定手段を含んで、前記第４のメモリ手段に保存されている各情報に対して、前記設定手段から入力された特徴量に基づく検索を行うことにより、該検索により得られた情報に対応する前記第１のメモリに保存されている少なくとも１種類のアナログ波形情報を前記ショット数情報あるいは前記時刻情報との関連により取り出す検索手段と、少なくとも前記検索手段により取り出されたアナログ波形を表示あるいは印字する出力手段とを備えることにより、大量のアナログ波形情報の中から参照したいものを短時間で得ることができるようにしたことを特徴とするアナログ波形検索機能付き成形機が提供される。
【０００８】
なお、更に、前記第１〜第４のメモリ手段に一時保存された情報の中から、前記設定手段により指定される所望の情報をメモリカードもしくは磁気ディスク等のリムーバブル記憶メディアに保存可能とする第１のインタフェースを備えても良い。
【０００９】
更に、前記出力手段が表示手段であって表示される情報が複数種類である場合、これら複数種類の情報を分割画面あるいは重ね書きにより表示することができる。
【００１０】
更に、前記表示手段により異常発生に関連する表示を行う場合、異常発生時のショット数あるいは時刻のアナログ波形とその前後における少なくとも１つずつのアナログ波形とを表示することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を、アナログ波形検索機能付き射出成形機の場合について説明する。射出成形機本体には通常、樹脂圧力センサ、加熱シリンダ内の樹脂温度センサ、加熱シリンダ内のスクリュの位置センサ、射出圧力センサ、型締圧センサ等の複数のセンサが設置されている。射出成形機本体の周辺装置としての制御装置は、この種のセンサの検出信号を受けて成形制御を行う。制御装置はまた、１ショット毎にサイクル時間や充填時間、計量時間等の計時機能を有しており、本形態ではこのような計時機能により得られる信号もセンサの検出信号として扱うものとする。簡単に言えば、上記のサイクル時間や充填時間、計量時間等はアナログ波形としてよりも、監視用の実績値としてのロギング情報や設定器で設定変更が行われた場合の設定値を示す設定履歴情報として使用される。
【００１２】
本実施の形態では、以下のような構成要素を備えることにより、参照したいアナログ波形をディスプレイの設定画面上もしくは外部の波形解析のための装置で容易に検索できるようにしている。
【００１３】
▲１▼複数のセンサからの検出信号により得られたアナログ波形を一時保存可能な大容量メモリ（第１のメモリ手段）。
【００１４】
▲２▼複数のセンサからの検出信号に基づいて射出成形機で監視している監視用の実績値をロギング情報として一時保存する大容量メモリ（第２のメモリ手段）。
【００１５】
▲３▼設定器で変更した設定値や操作した内容を設定履歴情報、操作履歴情報として一時保存する大容量メモリ（第３のメモリ手段）。
【００１６】
▲４▼異常発生時の内容を異常履歴情報として一時保存する大容量メモリ（第４のメモリ手段）。
【００１７】
▲５▼上記▲１▼〜▲４▼のメモリに一時保存されたものの中から、必要な情報をメモリカードもしくは磁気ディスク等のリムーバブル記憶メディアに保存可能にするインタフェース、もしくはハードディスク等のさらに大容量なバックアップメモリ、または射出成形機外部へ通信によって上記▲１▼〜▲４▼のメモリに保存された情報を転送可能にするインタフェース。
【００１８】
なお、上記▲１▼〜▲４▼の情報はショット毎に得られるので、すべてどのショット数の時に、あるいはどの時刻に保存されたかを示すショット数情報あるいは時刻情報と共に記憶される。
【００１９】
▲６▼上記▲５▼もしくは▲２▼〜▲４▼の情報に対する特徴量の検索、例えば「サイクル時間が７秒以上のもの」、「充填ピーク圧が２０％以上のもの」とか、「自動運転後５ショット目」、「計量時間のばらつきが±０．２秒以内に収まってきた時」等のアナログ波形を検索可能な検索部。
【００２０】
▲７▼上記の特徴量の検索のために、特徴量を入力するための設定器。
【００２１】
▲８▼上記▲６▼で検索された情報を逐次もしくは分割、あるいは重ね書きできるディスプレイやプリンタのような出力手段。
【００２２】
図１は、上記の▲１▼〜▲８▼を実現するための具体的な構成を示した図である。図１において、複数のセンサからの検出信号はアナログ信号であり、検出信号以外の、例えば各種接点信号と共に信号入力部１１に集められる。信号入力部１１で集められた各種信号は、信号処理部１２に出力される。
【００２３】
信号処理部１２では、入力された信号を、ディジタル信号に変換した後に、あらかじめ選択されている特定の信号についてアナログ波形実績値情報としてショット数情報あるいは時刻情報と共に波形実績値保持部１３に保存させる。信号処理部１２ではまた、ディジタル信号に変換された信号の中からあらかじめ選択されている監視用の実績値を１ショット毎のロギング情報としてショット数情報あるいは時刻情報と共にロギング及び履歴情報保持部１４に保存させる。ロギング及び履歴情報保持部１４に保存されるのは、前に述べたように、制御装置からの計時情報、つまりロギング情報も含まれる。ロギング及び履歴情報保持部１４はまた、実成形において異常が発生した場合に、射出成形機本体の制御装置（図示せず）から異常の内容がショット数情報あるいは時刻情報と共に送出されてくるのでこれを保存する。ロギング及び履歴情報保持部１４は更に、射出成形機本体の設定器（図示せず）により成形条件等が設定、変更された場合には、その設定、変更の内容や操作した内容が設定履歴情報としてショット数情報あるいは時刻情報と共に送出されてくるのでこれを保存する。つまり、ここでは、上述した第２〜第４のメモリを１つのメモリで実現した場合を示している。勿論、ロギング及び履歴情報保持部１４は、ロギング情報、異常履歴情報、設定履歴情報を、それぞれに対応して設定された、異なる記憶エリアに保存する。
【００２４】
設定器１５は上記した▲７▼用の設定器であり、上記のような特徴量を入力して検索部１６に与えるためのものである。設定器１５により特徴量が入力されると、検索部１６は入力された特徴量に基づく検索を行うことにより、検索により得られた情報に対応する、波形実績値保持部１３に保存されている少なくとも１種類のアナログ波形情報をショット数情報あるいは時刻情報との関連により取り出す。そして、取り出されたアナログ波形はディスプレイ１７により表示される。ディスプレイ１７に加えて、あるいはディスプレイ１７に代えてプリンタのような出力手段が用いられても良い。
【００２５】
検索部１６はまた、波形実績値保持部１３、ロギング及び履歴情報保持部１４に一時保存された情報の中から、設定器１５により指定される所望の情報をメモリカードもしくは磁気ディスク等のリムーバブル記憶メディアに保存可能にする第１のインタフェース１８を備える。検索部１６は更に、波形実績値保持部１３、ロギング及び履歴情報保持部１４に一時保存された情報の中から、設定器１５により指定される所望の情報を射出成形機外部の解析装置等へ通信により転送できる第２のインタフェース１９を備える。
【００２６】
外部の解析装置も、少なくとも図１に示された検索部、設定器、ディスプレイあるいはプリンタのような出力手段を備えた構成となる。
【００２７】
図２は、ロギング情報の表示例であり、ここでは便宜上、実績値の値はすべて０になっている。また、ここでは制御装置から送られてくるサイクル時間、充填時間、計量時間、保圧スクリュ時間等の実績値の他、クッション位置、保圧完了位置、Ｖ／Ｐ切換位置等の実績値がロギング情報としてショット数情報と共に表示されている。
【００２８】
図３は、異常履歴情報の表示例であり、ここでは異常の種別が発生時刻及び解除時刻情報と共に表示されている。
【００２９】
図４は、設定履歴情報の表示例であり、ここでは図中左側の設定変更の種別と図中右側の操作内容が時刻情報と共に表示されている。
【００３０】
図５は、アナログ波形（油圧系の圧力実績波形）の表示例を示している。図５を参照して、特徴量入力の更に他の例をあげると、１ショット内のある時間帯Ｔ１〜Ｔ２の間の圧力実績波形のピーク値が所定の値を越える波形、あるいは１ショット内のある時間帯Ｔ３〜Ｔ４の間の圧力実績波形の最低値が一定の値より低い波形というような特徴量で検索すべきアナログ波形を規定することもできる。
【００３１】
図２〜図５の表示例は、いずれもこれまでの射出成形機で表示が行われている周知の例であるが、本形態における波形実績値保持部１３、ロギング及び履歴情報保持部１４には少なくともこのような表示が可能な程度の情報が保存される。
【００３２】
図６は、本形態の機能によりあるショットにおける複数種類のアナログ波形を重ね書きにより表示した例を示している。波形１は速度設定値を表し、波形２は速度検出値を表す。また、波形３は保圧設定値を表し、波形４は保圧検出値を表す。ここでは、１ショット分のアナログ波形を表示しているが、設定器１５の設定により１ショットのある時間帯の部分波形を表示することもできる。また、重ね書きではなく、画面を複数に分割した分割画面に複数の波形のそれぞれを表示させることもできる。更に、異常発生に関連する表示を行うような場合には、異常発生時のショット数あるいは時刻のアナログ波形とその前後における少なくとも１つ、好ましくは複数のアナログ波形とを表示させることもでき、このようにすれば、異常発生時と正常時との違いを分析し易くなる。更に、図６のようなアナログ波形だけでなく、図２〜図４に示したような各種画面を分割画面にて表示させるようにしても良い。
【００３３】
本発明は、各種センサからの検出信号をアナログ波形として表示することが可能な射出成形機、及び射出成形機に組み合わされて、射出成形機における各種センサからの検出信号を収集可能な、アナログ波形収集装置に適用できる。また、射出成形機に限らず、シート成形機、封止装置、フィルム加工機等、他の加工機一般においても適用可能である。
【００３４】
【発明の効果】
本発明によれば、以下のような効果が得られる。
【００３５】
１）後処理の煩雑さを危惧することなく、大容量のアナログ波形を収集することができる。その理由は、単にアナログ波形を収集するだけであれば、そのアナログ波形の評価に時間を浪費するため、必要最小限のデータ収集に収めたくなる。しかしながら、後で参照したいアナログ波形を検索できるため、大量にアナログ波形を収集しても、無駄にならないからである。
【００３６】
２）異常発生時のトラブルシューティングや不良品の解析の精度向上に寄与せしめることができる。その理由は、上記１）により、大容量のアナログ波形データを構築できているため、正常な状態と不具合発生時の違いをディスプレイにより表示することで、後追いで検証できるからである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態をアナログ波形検索機能付き射出成形機の場合についてその構成を示した図である。
【図２】従来のロギング情報の表示例を示した図である。
【図３】従来の異常履歴情報の表示例を示した図である。
【図４】従来の設定履歴情報の表示例を示した図である。
【図５】従来のアナログ波形の表示例を示した図である。
【図６】本発明により複数のアナログ波形を重ね書きにより表示した例を示す。
【符号の説明】
１１    信号入力部
１２    信号処理部
１３    波形実績値保持部
１４    ロギング及び履歴情報保持部
１５    設定器
１６    検索部
１７    ディスプレイ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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