(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁性基板の表面両端部に配置された一対の凸状絶縁物層と、該凸状絶縁物層上に配置された一対の電極と、該電極に接続されて前記一対の凸状絶縁物層間に配置された抵抗体と、該抵抗体を被覆する前記一対の凸状絶縁物層間に配置された保護膜と、少なくとも前記一対の電極上に配置されためっき電極とを備え、
前記凸状絶縁物層が印刷により形成され、前記めっき電極の表面の高さが前記保護膜の表面の高さよりも高いことを特徴とするチップ抵抗器。
【請求項２】
前記絶縁性基板の裏面には裏面電極が配置され、側端面には端面電極が配置され、これらの電極上にめっき電極が配置されていることを特徴とする請求項１記載のチップ抵抗器。
【請求項３】
前記凸状絶縁物層は、高温で焼成されたガラス層であることを特徴とする請求項１記載のチップ抵抗器。
【請求項４】
絶縁性基板の表面に一対の凸状絶縁物層を印刷により形成し、該凸状絶縁物層上に電極を配置し、該凸状絶縁物層間の凹部に抵抗体を前記電極と接続して配置し、前記抵抗体を被覆する保護膜を前記凸状絶縁物層間の凹部に形成し、めっきによりめっき電極を前記電極上に形成し、該めっき電極の表面高さが前記保護膜の表面高さよりも高くなるように形成することを特徴とするチップ抵抗器の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップ抵抗器に係り、特に多数のチップ部品を収納したバルクカセットから該チップ部品の表裏を選択することなく回路基板に実装する、いわゆるバルク実装に好適なチップ抵抗器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図４（ａ）は従来の厚膜チップ抵抗器の構造例を示す。従来のチップ抵抗器は、アルミナ等の絶縁性基板１１の表面両端部に厚膜電極１３，１３を備え、この電極間に厚膜抵抗体１５が配置されている。抵抗体１５はガラス絶縁膜１７’および樹脂絶縁膜からなる保護膜１７により被覆され保護されている。絶縁性基板１１の両端部である表面の電極１３と裏面の電極１９との間には端面電極１６’，１６’が形成されており、これらの電極表面にはめっき電極２３，２３が形成されている。
【０００３】
この場合、基板中央部の保護膜１７の部分の高さがめっき電極部２３の高さよりも高くなる。絶縁性基板１１の表面側のめっき電極２３と保護膜１７のそれぞれの表面の段差が３０−５０μｍ程度発生している場合が多い。
【０００４】
ところで、従来のチップ抵抗器は、工場出荷の際にテープに１個ずつ、抵抗体が存在する面を表面として固定するいわゆるテーピングによる荷姿で出荷される場合が多い。そして、回路基板に実装する際には、そのままの状態で、即ち、抵抗体が存在する面（保護膜側）を表面として実装機（マウンタ）により回路基板に固定されていた。この場合には、図４（ｂ）に示すように回路基板２５のランド部２７に絶縁性基板１１の電極２３，２３の裏面側が密着し、はんだリフロー等による固定が行われる。
【０００５】
しかしながら、実装方法にはバルクカセットに多数のチップ部品をランダムな状態で収容し、このチップ部品を一個ずつバルクカセットから取り出して回路基板に実装する、いわゆるバルク実装が存在する。係る実装方式によれば、チップ部品を回路基板に装着するに際して、チップ部品の表裏を選択することなく、チップ部品の面実装が行われる。
【０００６】
従って、図４（ａ）に示す従来のチップ抵抗器をバルク実装機にてバルク実装した場合に、図４（ｃ）に示すように、チップ抵抗器の表面側（保護膜側）が回路基板２５に面するように裏向きに実装される場合が５０％程度の確率で発生する。この時、チップ抵抗器が傾いて実装される可能性が強く、最悪の場合、片側のはんだ付けができない、または、図４（ｄ）に示すように、チップ立等の現象が発生するという問題がある。従って、従来のチップ抵抗器は、いわゆるバルク実装には対応できないという問題がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上述した事情に鑑みて為されたもので、実装に際してチップ部品の表裏を選択しない、いわゆるバルク実装に対応が可能なチップ抵抗器を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
このような従来技術における問題点を解決するために、本発明の一態様は、絶縁性基板の表面両端部に配置された一対の凸状絶縁物層と、該凸状絶縁物層上に配置された一対の電極と、該電極に接続されて前記一対の凸状絶縁物層間に配置された抵抗体と、該抵抗体を被覆する前記一対の凸状絶縁物層間に配置された保護膜と、少なくとも前記一対の電極上に配置されためっき電極とを備え、前記凸状絶縁物層が印刷により形成され、前記めっき電極の表面の高さが前記保護膜の表面の高さよりも高いことを特徴とするチップ抵抗器である。
【０００９】
前記絶縁性基板の裏面には裏面電極が配置され、側端面には端面電極が配置され、これらの電極上にめっき電極が配置されていることが好ましく、前記凸状絶縁物層は、高温で焼成されたガラス層であることが好ましい。
【００１０】
また、本発明のチップ抵抗器の製造方法は、絶縁性基板の表面に一対の凸状絶縁物層を印刷により形成し、該凸状絶縁物層上に電極を配置し、該凸状絶縁物層間の凹部に抵抗体を前記電極と接続して配置し、前記抵抗体を被覆する保護膜を前記凸状絶縁物層間の凹部に形成し、めっきによりめっき電極を前記電極上に形成し、該めっき電極の表面高さが前記保護膜の表面高さよりも高くなるように形成することを特徴とするものである。
【００１１】
上述した本発明のチップ抵抗器によれば、あらかじめ絶縁性基板表面に凸状絶縁物層を設けて電極部の嵩上げを行っておくことにより、めっき電極表面を保護膜表面の高さよりも高く形成し、保護膜表面においても実装時の隙間（スタンドオフ）を確保することができる。従って、バルク実装対応の実装機を用いて実装を行っても、１００％の確率でチップ抵抗器の回路基板への実装が可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るチップ抵抗器の実施形態について図１乃至図３を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の実施形態におけるチップ抵抗器の全体構成を示す図である。
【００１３】
このチップ抵抗器は、アルミナ等の絶縁性基板１１の表面に高温の焼成により形成されたガラス層からなる凸状絶縁物層３１を備えている。ガラス層からなる凸状絶縁物層３１の焼成温度は１０００〜１３００℃程度が好適である。ここで、凸状絶縁物層３１は厚さ２０−５０μｍ程度に形成することが好ましい。
【００１４】
凸状絶縁物層３１，３１上には電極１３，１３が配置され、電極１３，１３間に抵抗体１５が配置されている。抵抗体１５は酸化ルテニウム等の厚膜ペーストのスクリーン印刷によるパターン形成後に焼成することにより形成され、厚さ１０−１５μｍ程度に形成することが好ましい。従って、抵抗体１５は一対の凸状絶縁物層３１，３１間の凹部に配置され、電極１３，１３に接続されている。
【００１５】
抵抗体１５はガラス絶縁膜１７ａおよび樹脂絶縁膜１７ｂからなる２層の保護膜１７により被覆され保護されている。ガラス絶縁膜１７ａおよび樹脂絶縁膜１７ｂからなる保護膜１７は一対の凸状絶縁物層３１，３１間の凹部に配置されている。ガラス絶縁膜１７ａは厚さ１５−２０μｍ程度に形成することが好ましく、樹脂絶縁膜１７ｂは厚さ２０μｍ程度に形成することが好ましい。
【００１６】
絶縁性基板１１の側端面にはニッケルクロム（Ｎｉ−Ｃｒ）のスパッタリングや銀（Ａｇ）もしくは銀・パラジウム（Ａｇ−Ｐｄ）の塗布等により形成された端面電極２１が形成されている。基板表面側の電極１３および裏面側の電極１９、さらに基板側端面の端面電極２１にはめっきにより形成されためっき電極２３が被着されている。めっき電極２３はニッケルめっき層２３ａおよびはんだまたはスズめっき層２３ｂにより構成されている。ニッケルめっき層２３ａは厚さ３−１０μｍ程度に形成することが好ましく、はんだまたはスズめっき層２３ｂは厚さ５−１５μｍ程度に形成することが好ましい。
【００１７】
従って、めっき電極２３，２３の基板表面側は凸状絶縁物層３１，３１により嵩上げされ、その間の凹部に保護膜１７が配置された構造が得られる。即ち、基板表面側において、めっき電極２３の表面の高さが前記保護膜１７の表面の高さよりも高くなっている。図２はこのチップ抵抗器を回路基板に実装した状態を示し、（ａ）はチップ抵抗器の表面（保護膜側）が上側に向いて実装され、（ｂ）はチップ抵抗器の表面（保護膜側）が回路基板２５のランド２７に向いて（裏向きに）実装された状態をそれぞれ示している。
【００１８】
上述した構造を持ったチップ抵抗器は、チップ抵抗器の保護膜１７の表面より突出した電極２３が形成されているため、図２（ｂ）に示すようにチップ抵抗器が裏向きに実装されてもチップ抵抗器の傾きを抑えることができ、これにより確実に回路基板に実装される。このため、バルク実装機によるバルクカセットからの表裏面の選択性のない面実装を行い、チップ抵抗器の表面側（保護膜側）が回路基板２５に面するように（裏向きに）実装されても、問題無くはんだ付けによる固定が可能である。
【００１９】
次に、本発明のチップ抵抗器の製造方法について、図３を参照しながら説明する。
まず、（ａ）に示すように、アルミナ等の絶縁性基板１１を準備する。図示の例では１個のチップ領域を示すが、実際には多数のチップ抵抗器を一括して製造する多数個取りの基板が用いられる。
【００２０】
次に、（ｂ）に示すように、絶縁性基板１１の両端部に一対の凸状絶縁物層パターンをガラスペーストのスクリーン印刷にて形成し、焼成を行うことで、厚さ２０−５０μｍ程度の凸状絶縁物層３１を形成する。この凸状絶縁物層３１は、１０００℃〜１３００℃の高温で焼成して形成したガラス層であることが好ましい。この凸状絶縁物層３１は、その上に形成される電極１３，２３を嵩上げするという点で重要な役割を果たしている。
【００２１】
次に、（ｃ）に示すように、凸状絶縁物層３１上に電極１３を形成する。この電極１３はＡｇ又はＡｇ−Ｐｄペーストパターンをスクリーン印刷により形成し、例えば８５０℃程度の温度で焼成することで形成する。この電極１３は一対の凸状絶縁物層間に形成された凹部に回り込ませる様に形成する。裏面電極１９も同様にＡｇ又はＡｇ−Ｐｄペーストパターンをスクリーン印刷により配置し、焼成することで形成する。表面側の電極１３と裏面側の電極１９とは、どちらを先に形成してもよい。
【００２２】
次に、（ｄ）に示すように、電極１３，１３間に抵抗体１５を抵抗体ペーストのスクリーン印刷および焼成にて形成する。抵抗体としては酸化ルテニウム等を用いることが好ましく、例えば８５０℃程度の温度で焼成する。抵抗体１５は一対の凸状絶縁物層３１，３１間の凹部に形成し、その端部で電極１３，１３と接続する。抵抗体１５には必要に応じてレーザートミリングを行い、抵抗値を調整する。
【００２３】
次に、（ｅ）に示すように、スクリーン印刷にて抵抗体パターン１５上へ第１保護層パターンを形成して焼成する。第１保護層１７ａはガラス絶縁層であり、６００℃程度の温度で焼成することが好ましい。次に、スクリーン印刷にてガラス絶縁層１７ａ上へ樹脂ペーストの第２保護層パターンを形成して加温硬化し、第２保護層１７ｂを形成する。第２保護層１７ｂはエポキシ系樹脂であり、２００℃程度の温度で加温硬化することが好ましい。第１保護層１７ａおよび第２保護層１７ｂは一対の凸状絶縁物層３１，３１間に形成された凹部に配置する。
【００２４】
以上の処理は多数個取りの基板の一括処理であるが、次に短冊状に分割する加工を行う。加工はダイシング、またはブレークのどちらでも良い。多数個取り基板を短冊状に分割後に、図３（ｆ）に示すように、露出した基板側端面に端面電極２１，２１を形成する。端面電極２１，２１は例えばスパッタリングにより被着したＮｉ・Ｃｒの薄膜層であったり、銀（Ａｇ）もしくは銀・パラジウム（Ａｇ−Ｐｄ）などの塗布であってもよい。そして、チップ単体に分割する加工を行う。加工はダイシング、ブレークどちらでも良い。次に、（ｇ）に示すように、電解メッキを行い、電極１３，１９，２１上にめっき電極２３，２３を形成する。電極くわれ防止およびはんだ付けの信頼性向上のために、電解めっきによってＮｉめっき層２３ａとＳｎ−Ｐｂめっき層（Ｓｎめっき層でもよい）２３ｂとからなるめっき電極２３を形成している。
【００２５】
上述した製造工程によれば、絶縁性基板１１の両端部の電極２３の表面が凸状絶縁物層３１により嵩上げされ、中央の保護膜１７の表面部分に実装時の回路基板面に対して隙間（スタンドオフ）が生じる。係るチップ抵抗器の製造方法によれば、凸状絶縁物層３１の工程を付加する以外は通常のチップ抵抗器の製造方法をそのまま採用することができる。従って、製造コストの上昇を抑制しつつ、実装面の表裏の選択性のないバルク実装に対応したチップ抵抗器を製造できる。
【００２６】
なお、上記実施形態においては、絶縁性基板の表面および裏面に電極を設け、チップ抵抗器が表向きにも裏向きにも実装可能な例について説明したが、基板表面のみに電極を設け、裏向きにのみ実装するいわゆるフィレットレス実装にも適用が可能である。
【００２７】
これまで本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されず、その技術的思想の範囲内において種々異なる形態にて実施されてよいことは言うまでもない。
【００２８】
【発明の効果】
上述したように、本発明によれば、チップ抵抗器の保護膜の表面よりも嵩上げされた電極が形成されていることにより、チップ抵抗器が裏向きに実装された場合でも確実に回路基板への面実装が可能となる。これにより、実装面の表裏の選択性のないバルク実装に好適なチップ抵抗器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態におけるチップ抵抗器の全体構成を示す断面図である。
【図２】上記チップ抵抗器の実装状態を示す図であり、（ａ）はチップ抵抗器の保護膜側が上側に向いて実装され、（ｂ）は保護膜側が回路基板に向いて（裏向き）に実装された状態をそれぞれ示している。
【図３】上記チップ抵抗器の製造工程を示す図である。
【図４】従来のチップ抵抗器について、（ａ）は全体構成を示す断面図であり、（ｂ）は保護膜側が表面側に向いて実装され、（ｃ）は保護膜側が回路基板に向いて裏向きに実装され、（ｄ）はいわゆるチップ立ちを起こした状態をそれぞれ示した図である。
【符号の説明】
１１    絶縁性基板
１３，１９，２１    電極
１５    抵抗体
１７ａ，１７ｂ，１７    保護膜
２３ａ，２３ｂ，２３    めっき電極
３１    凸状絶縁物層（ガラス層）
【図１】
0004754710.tif 000002
【図２】
0004754710.tif 000003
【図３】
0004754710.tif 000004
【図４】
0004754710.tif 000005