(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼に対してレーザ光を走査し、その反射光を受光することにより被検眼を撮影しモニタに表示する眼科撮影装置において、レーザ光を出射する光源と前記レーザ光を眼底にて２次元的に走査するためのレーザ光走査手段とを有し，被検眼にレーザ光を照射する照射光学系と、該照射光学系により前記被検眼に照射されたレーザ光の反射光を受光して撮影像を得るための撮影光学系と、該撮影光学系による受光結果に基づいて撮影像をモニタに表示する表示制御部と、を備え、さらに前記撮影光学系は、前記被検眼からの反射光を受光して眼の波面収差を検出する波面検出部と，前記照射光学系と撮影光学系との共通光路以外の撮影光学系の光路に置かれ前記波面検出部による検出結果に基づいて波面収差を補償する波面補償部と、を有することを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項２】
請求項１の眼科撮影装置において、前記波面補償部は液晶空間位相変調器であることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項３】
請求項２の眼科撮影装置において、前記波面補償部は反射型であることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項４】
請求項２の眼科撮影装置において、前記波面補償部は透過型であることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項５】
請求項３又は請求項４の眼科撮影装置において、前記波面検出部はシャックハルトマンセンサまたは波面曲率センサであることを特徴とする眼科撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼を撮影して観察を行うための眼科撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、眼科撮影装置としては、眼底に対して２次元的にレーザ光を走査し、その反射を受光することにより眼底像を得る眼底撮影装置が知られている。このような眼底撮影装置においては、例えば、ポリゴンミラーとガルバノミラーとを組み合わせて、レーザ光を眼底上にて２次元的に走査するようになっている（特許文献１  参照）。
【特許文献１】特開平６−１１４００８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
このような眼科撮影装置は、従来の眼底カメラに対して高解像度の撮影画像が得られるものであるが、近年ではさらに画質の良い高解像度の画像を得ることが望まれている。
上記従来技術の問題点に鑑み、解像度の高い撮影画像を得ることができる眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
（１）  被検眼に対してレーザ光を走査し、その反射光を受光することにより被検眼を撮影しモニタに表示する眼科撮影装置において、レーザ光を出射する光源と前記レーザ光を眼底にて２次元的に走査するためのレーザ光走査手段とを有し，被検眼にレーザ光を照射する照射光学系と、該照射光学系により前記被検眼に照射されたレーザ光の反射光を受光して撮影像を得るための撮影光学系と、該撮影光学系による受光結果に基づいて撮影像をモニタに表示する表示制御部と、を備え、さらに前記撮影光学系は、前記被検眼からの反射光を受光して眼の波面収差を検出する波面検出部と，前記照射光学系と撮影光学系との共通光路以外の撮影光学系の光路に置かれ前記波面検出部による検出結果に基づいて波面収差を補償する波面補償部と、を有することを特徴とする。
（２）  （１）の眼科撮影装置において、前記波面補償部は液晶空間位相変調器であることを特徴とする。
（３）  （２）の眼科撮影装置において、前記波面補償部は反射型であることを特徴とする。
（４）  （２）の眼科撮影装置において、前記波面補償部は透過型であることを特徴とする。
（５）  （３）又は（４）の眼科撮影装置において、前記波面検出部はシャックハルトマンセンサまたは波面曲率センサであることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００５】
本発明によれば、解像度の高い撮影画像を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。図１は眼科撮影装置の一つである眼底撮影装置の光学系を示した図である。
１はレーザ光を発する光源であり、本実施形態では所定の偏光方向を持つ直線偏光の赤外域のレーザ光を発する半導体レーザを用いている。２は中央に開口部を有する穴開きミラー、３はレンズである。４及び５はミラーであり、図１に示す矢印方向に移動可能とされ、光路長を変化させることによりフォーカス合せ（視度補正）を行うことができる。６、８及び１０は凹面ミラーである。７はレーザ光を被検眼眼底にて水平方向に偏向させ走査するための偏向手段となるポリゴンミラー、９はポリゴンミラー７による走査方向に対して直角方向にレーザ光を偏向させ走査するための偏向手段となるガルバノミラーである。
【０００７】
光源１から出射したレーザ光は、穴開きミラー２の開口部を通り、レンズ３介した後、ミラー４、ミラー５、凹面ミラー６にて反射し、ポリゴンミラー７に向かう。ポリゴンミラー７にて反射された光束は、凹面ミラー８、ガルバノミラー９、凹面ミラー１０にて反射した後、被検眼眼底にて集光し、眼底を２次元的に（図示するＸＹ軸方向に）走査する。これらの光学部材によって照射光学系を形成する。
【０００８】
１１は反射ミラー、１２は波面補償デバイスである。本実施形態で用いる波面補償デバイス１２は、例えば浜松ホトニクス株式会社のＰＰＭ（プログラマブル位相変調ユニット）等に代表される液晶空間位相変調器を用いるものとしている。なお、光源１は、直線偏光である測定光（眼底からの反射光）が、Ｐ偏光として波面補償デバイス１２に入射するような向きに配置される。また、波面補償デバイス１２は、その液晶層内の液晶分子の配列方向が入射する反射光の偏光面と略平行であり、さらに、液晶分子が液晶層への印加電圧の変化に応じて回転する所定の面が、波面デバイス１２に対する眼底からの反射光の入射光軸及び反射光軸と、波面補償デバイス１２が持つミラー層の法線と、を含む平面に対して略平行になるように、配置されている。
【０００９】
１３はハーフミラー、１４は波面収差検出器である。波面収差検出器１４は、例えばハルトマンシャック検出器や光強度変化を検出する波面曲率センサ等を用いることができる。なお、波面補償デバイス１２の反射面、及び波面収差検出器１４の受光面は、被検眼の瞳位置と略共役な関係であってもよい。この場合には、被検眼の瞳と、波面補償デバイス１２の反射面及び波面収差検出器１４の受光面とを共役にするために、必要な光学部材を撮影光学系に設置しておく。
１５はレンズ、１６は光軸上にピンホールを有したピンホール板である。レンズ１５は被検眼眼底の観察点とピンホール板１６とを共役な位置に置く。１７は集光レンズ、１８は受光部である。なお、本実施形態の受光部１８には、ＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）を用いている。
【００１０】
被検眼眼底に走査されたレーザ光の反射光は、前述した照射光学系を逆に辿り、穴開きミラー２にて反射し、下方に折り曲げられる。なお、被検眼の瞳位置と穴開きミラー２の開口部とは、レンズ３により共役となっている。穴開きミラー２にて反射した反射光は、ミラー１１により反射した後、波面補償デバイス１２に入射する。波面補償デバイス１２の反射面にて反射し、波面を補償された反射光は、ハーフミラー１３、レンズ１５を介してピンホール板１６のピンホールに焦点を結ぶ。ピンホールにて焦点を結んだ反射光は、レンズ１７を経て受光素子１８に受光される。また、ハーフミラー１３にて反射した反射光の一部は、波面収差検出器１４に入射する。波面収差検出器１４は波面収差の検出を行い、波面補償デバイス１２を用いて行われる波面補償の情報を得る。これらの光学部材により撮影光学系を形成する。
【００１１】
なお、本実施形態では、光源１は直線偏光である測定光がＰ偏光として波面補償デバイス１２に入射するような向きに配置するものとしているが、これに限るものではない。Ｐ波の偏光方向を変化させるための１／２波長板を、波面補償デバイス１２より前の撮影光学系の光路上に配置して、好適な画像が得られるような偏光方向（波面補償デバイス１２に対して効率よく反射する偏光方向）になるように１／２波長板を回転駆動させる構成とすることもできる。なお、１／２波長板は前述した照射光学系と共通光路とならない撮影光学系の光路上に配置することが好ましい。
【００１２】
図２は本実施形態における眼底撮影装置の制御系を示したブロック図である。２０は装置全体の制御を行う制御部である。制御部２０にはレーザ光源１、ポリゴンミラー７、ガルバノミラー９、波面補償デバイス１３、波面収差検出器１５、受光部１９、ミラー４，５を駆動させるための駆動手段２１、コントロール部２２、画像処理部２３、モニタ２４、記憶部２５等が接続される。コントロール部２２は、視度補正のために被検眼の屈折力値を入力するためのスイッチ類等が設けられている。また、画像処理部２３は受光部１９にて受光した信号を基にモニタ２４に被検眼眼底の画像を形成する表示制御を行う。記憶部２３には種々の設定情報や撮影画像が保存される。
【００１３】
以上のような構成を有する眼底撮影装置において、その動作について説明する。
検者は予め被検眼の屈折力を眼屈折力測定装置等にて測定しておき、得られた被検眼の屈折力値をコントロール部２２を用いて入力する。制御部２０は入力された屈折力データを記憶部２５に記憶させるとともに、駆動手段２１を用いてミラー４，５を駆動させて視度補正を行う。視度補正が行われた状態にて、検者は図示なきジョイスティック等を用いて装置を駆動させて、被検眼の眼底にレーザ光が照射され、所望する画像がモニタ２4に表示されるように、アライメントを行う。
【００１４】
制御部２０は光源１から直線偏光のレーザ光を出射させる。光源１から出射したレーザ光は、穴開きミラー２の開口部を通過した後、レンズ３を透過し、ミラー４，５、凹面ミラー６にて反射してポリゴンミラー７に向かう。ポリゴンミラー７は一定の速度で回転しており、レーザー光はポリゴンミラー７にて反射され、水平方向に走査される。ポリゴンミラー７にて走査されたレーザ光は、凹面ミラー８にて反射した後、ガルバノミラー９の駆動により、さらに垂直方向（上から下）に走査される。ガルバノミラー９にて反射したレーザ光は、凹面ミラー１０にて反射し、被検眼眼底に集光するとともに眼底上を２次元的に走査する。
【００１５】
眼底に集光したレーザ光の反射光は、凹面ミラー１０から穴開きミラー２までを逆に辿り、穴開きミラー２にて下方に折り曲げられる。穴開きミラー２にて下方に折り曲げられた反射光束は、ミラー１１にて反射した後、Ｐ波の反射光は波面補償デバイス１２の反射面にて反射される。
【００１６】
波面補償デバイス１２にて反射した反射光は、その一部がハーフミラー１３にて反射され、波面収差検出器１４にて受光される。制御部２０は波面収差検出器１４にて得られる光学的な分布（受光信号）をフーリエ変換し、その結果に基づいて補償光学系の瞳関数の位相を動的に制御する。本実施形態では瞳関数の位相変調には、波面補償デバイス１４が持つ液晶パネル（液晶層）を用い、眼底からの反射光の回折像の拡がり具合が最小となるように、液晶パネルの液晶分子を電圧制御により配列方向を変え、位相分布を制御する。
このような構成により波面補償デバイス１２を反射した光は、波面収差が補償された状態でハーフミラー１３、レンズ１５を介してピンホール板１６のピンホールに集光する。ピンホールにて集光した反射光は、集光レンズ１７を介して受光部１８にて受光される。
【００１７】
画像処理部２３は、得られた受光部１８からの受光信号を逐次並べることにより、モニタ２４に解像度の高い眼底像を表示する。また、本実施形態の眼底撮影装置は、眼底の観察面とピンホール板１６のピンホールとを共焦点とする光学系を形成しているため、被検眼眼底の観察面の限られた領域のみの光がピンホールを通過して受光部１８に受光されることとなる。このため、眼底の観察面以外での反射光は、ピンホール板１６のピンホールにより、効率的に排除され、さらにクリアな眼底像を得ることができる。なお、ピンホール板１６のピンホールの開口径を可変とする機構を持たせることにより、ピンホールの大きさを変化させて、光量を確保することもできる。
【００１８】
以上の実施形態では、反射型の波面補償デバイスを用いているが、これに限るものではなく、眼底からの反射光を透過させて波面収差を補償するような透過型の波面補償デバイスを用いることもできる。
また、本実施形態では眼底撮影装置を例に挙げ、説明したが、これに限るものではなく、前眼部の撮影等の被検眼を撮影する眼科撮影装置に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本実施形態の眼底撮影装置の光学系を示した図である。
【図２】制御系を示したブロック図である。
【符号の説明】
【００２０】
１  光源
７  ポリゴンミラー
９  ガルバノミラー
１２  波面補償デバイス
１４  波面収差検出器
１８  受光部
２０  制御部
２３  画像処理部
２４  モニタ
【図１】
0004653577.tif 000002
【図２】
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