(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御モジュールと複数の温度測定モジュールが装着され、同時に複数の測定対象の温度を測定する測定システムであって、
前記各温度測定モジュールにはそれぞれの積分時間が前記制御モジュールから個別に５０Ｈｚに対応する２０ｍｓ、６０Ｈｚに対応する１６．７ｍｓ、５０／６０Ｈｚ共用に対応する１００ｍｓのいずれかに設定できるように構成された１チップ積分型Ａ/Ｄ変換器が実装され、
前記制御モジュールにより、前記各温度測定モジュールに実装された１チップ積分型Ａ/Ｄ変換器の積分時間は、第１の温度測定モジュールにおいては５０Ｈｚに対応する２０ｍｓ、第２の温度測定モジュールにおいては６０Ｈｚに対応する１６．７ｍｓ、第３の温度測定モジュールにおいては５０／６０Ｈｚ共用に対応する１００ｍｓにそれぞれ設定され、
前記第１の温度測定モジュールには電源周波数が５０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力され、
前記第２の温度測定モジュールには電源周波数が６０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力され、
前記第３の温度測定モジュールには第１の温度測定モジュールの測定結果を検証するときには電源周波数が５０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力され、第２の温度測定モジュールの測定結果を検証するときには電源周波数が６０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力されることを特徴とする測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定システムに関し、詳しくは、測定結果に対する電源周波数ノイズの影響低減に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
工場設備などの工業計測分野における温度測定にあたっては、温度センサとして熱電対が広く用いられている。
【０００３】
ところが、熱電対の熱起電力は微弱であり、主に電源系統から回り込むノイズによって測定値がふらついてしまうことがある。そこで、測定値を安定化させる対処法として、例えば特許文献１にも記載されているように、積分型Ａ/Ｄ変換器を用い、その積分時間を電源周波数（５０Ｈｚなら２０ｍｓ、６０Ｈｚなら１６．７ｍｓ）に合わせて設定することが行われている。
【０００４】
例えば装置の開発や評価にあたっては、図２のブロック図に示すように、電源周波数が５０Ｈｚの測定対象１の温度を測定する図示しない熱電対の熱起電力は電源周波数が５０Ｈｚで積分時間が２０ｍｓの温度測定器３に入力し、電源周波数が６０Ｈｚの測定対象２の温度を測定する図示しない熱電対の熱起電力は電源周波数が６０Ｈｚで積分時間が１６．７ｍｓの温度測定器４に入力することが行われている。
【０００５】
また、電源周波数５０／６０Ｈｚ双方のノイズ成分が同時に除去できるように積分時間が１００ｍｓに設定された電源周波数５０／６０Ｈｚ共用型の温度測定器５を用い、測定対象１および２の温度を測定することも行われている。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−１４８９９６
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、電源周波数に合わせて個別に積分時間が設定された独立した温度測定器で測定するためには、それぞれの電源周波数で駆動するように構成された温度測定器を用意しなければならない。
【０００８】
また、電源周波数５０／６０Ｈｚ双方のノイズ成分が同時に除去できるように積分時間が１００ｍｓに設定された電源周波数５０／６０Ｈｚ共用型の温度測定器で測定する場合には、電源周波数に合わせて個別に積分時間が設定された独立した温度測定器で測定する場合に比べて測定周期が長くなってしまい、高速測定が困難になる。
【０００９】
本発明は、このような従来の問題点に着目したものであり、その目的は、異なる電源周波数で駆動される複数の測定対象の温度測定にあたり、電源周波数のノイズ成分が除去できるとともに高速測定が行える測定システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
このような課題を達成する請求項１の発明は、
制御モジュールと複数の温度測定モジュールが装着され、同時に複数の測定対象の温度を測定する測定システムであって、
前記各温度測定モジュールにはそれぞれの積分時間が前記制御モジュールから個別に５０Ｈｚに対応する２０ｍｓ、６０Ｈｚに対応する１６．７ｍｓ、５０／６０Ｈｚ共用に対応する１００ｍｓのいずれかに設定できるように構成された１チップ積分型Ａ/Ｄ変換器が実装され、
前記制御モジュールにより、前記各温度測定モジュールに実装された１チップ積分型Ａ/Ｄ変換器の積分時間は、第１の温度測定モジュールにおいては５０Ｈｚに対応する２０ｍｓ、第２の温度測定モジュールにおいては６０Ｈｚに対応する１６．７ｍｓ、第３の温度測定モジュールにおいては５０／６０Ｈｚ共用に対応する１００ｍｓにそれぞれ設定され、
前記第１の温度測定モジュールには電源周波数が５０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力され、
前記第２の温度測定モジュールには電源周波数が６０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力され、
前記第３の温度測定モジュールには第１の温度測定モジュールの測定結果を検証するときには電源周波数が５０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力され、第２の温度測定モジュールの測定結果を検証するときには電源周波数が６０Ｈｚの測定対象の熱電対の熱起電力が入力されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
これにより、異なる電源周波数で駆動される複数の測定対象の温度測定にあたり、電源周波数のノイズ成分が除去できるとともに高速測定が行える測定システムが実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明について、図面を用いて説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図であり、図２と共通する部分には同一の符号を付けている。図１において、温度測定器６はモジュール型測定装置であり、複数の温度測定モジュール６１〜６３が装着されている。これら温度測定モジュール６１〜６３には、電源周波数と積分時間が制御モジュール６４から個別に設定できるように構成された１チップ積分型Ａ/Ｄ変換器が実装されている。
【００１６】
温度測定モジュール６１は電源周波数が５０Ｈｚで積分時間が２０ｍｓに設定され、温度測定モジュール６２は電源周波数が６０Ｈｚで積分時間が１６．７ｍｓに設定され、温度測定モジュール６３は電源周波数が５０／６０Ｈｚ共用で積分時間が１００ｍｓに設定されている。
【００１７】
電源周波数が５０Ｈｚの測定対象１の温度を測定する図示しない熱電対の熱起電力は電源周波数が５０Ｈｚで積分時間が２０ｍｓに設定された温度測定モジュール６１に入力され、電源周波数が６０Ｈｚの測定対象２の温度を測定する図示しない熱電対の熱起電力は電源周波数が６０Ｈｚで積分時間が１６．７ｍｓに設定された温度測定モジュール６２に入力されている。
【００１８】
温度測定モジュール６１は電源周波数が５０Ｈｚで積分時間が２０ｍｓに設定されているので、測定対象１の温度を測定する熱電対の熱起電力に周波数が５０Ｈｚの電源から回り込むノイズの影響を打ち消すことができ、温度測定モジュール６２は電源周波数が６０Ｈｚで積分時間が１６．７ｍｓに設定されているので、測定対象２の温度を測定する熱電対の熱起電力に周波数が６０Ｈｚの電源から回り込むノイズの影響を打ち消すことができる。
【００１９】
これにより、電源周波数が５０Ｈｚの測定対象１の温度と電源周波数が６０Ｈｚの測定対象２の温度を１台のモジュール型測定装置で同時に測定でき、高速で高精度の温度測定が行える。
【００２０】
なお、電源周波数が５０／６０Ｈｚ共用で積分時間が１００ｍｓに設定されている温度測定モジュール６３を装着しておくことにより、温度測定モジュール６１の測定結果や温度測定モジュール６２の測定結果を必要に応じて検証できる。
【００２１】
また、本実施例では、複数の温度測定モジュールが装着されたモジュール型測定装置を用いた測定システムについて説明したが、測定モジュールとして電源周波数と積分時間が制御モジュールから個別に設定できるように構成された１チップ積分型Ａ/Ｄ変換器が実装されたものを用いることにより、電源系統から回り込むノイズの影響を受けやすい各種信号の測定にも有効である。
【００２２】
以上説明したように、本発明によれば、測定結果に対する電源周波数ノイズの影響を低減できる測定システムが実現でき、特に熱電対の熱起電力などの複数の微弱信号測定に好適である。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】従来の測定システムの一例を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００２４】
１,２  測定対象
６  温度測定器(モジュール型測定装置)
６１〜６３  温度測定モジュール
【図１】
0004817117.tif 000002
【図２】
0004817117.tif 000003