(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
直流電源に直列に接続され、電流値を調整する抵抗部と電流立ち上がり度合いを調整するインダクタンス部と第一のスイッチ部とを有する電流特性調整部を備えるヒュ−ズ遮断試験装置であって、
複数の前記電流特性調整部を並列に備え、前記第一のスイッチ部の開閉によりヒュ−ズへの供給電流量を調整可能とし、
前記インダクタンス部は、並列に接続される複数のインダクタンスと、前記複数のインダクタンスの中から所望のインダクタンスを選択可能とする第二のスイッチ部とを備える
ことを特徴とするヒュ−ズ遮断試験装置。
【請求項２】
請求項１に記載のヒュ−ズ遮断試験装置において、
前記電流特性調整部ごとに、選択される前記インダクタンスの値と前記抵抗部の抵抗値との比が、前記複数の電流特性調整部間で同一の値である
ことを特徴とするヒュ−ズ遮断試験装置。
【請求項３】
請求項２に記載のヒュ−ズ遮断試験装置において、
前記選択されるインダクタンスの値は、前記複数の電流特性調整部間で２のＮ乗（Ｎは＞１の整数）倍の関係を有し、
前記抵抗部の抵抗値は、前記複数の電流特性調整部間で２のＮ乗（Ｎは＞１の整数）倍の関係を有する
ことを特徴とするヒュ−ズ遮断試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電流条件等を変更してヒュ−ズの溶断試験をするヒュ−ズ遮断試験装置に関し、特に複数の特性の異なるヒュ−ズに対応可能なヒュ−ズ遮断試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ヒュ−ズの遮断試験（溶断試験）は、可能な限り現実のヒュ−ズ利用環境に即した状態の下で行うことが好ましい。このため、電源と抵抗やインダクタンスとを直列に接続した回路とし、遮断試験対象のヒュ−ズを接続し、通電して試験を行うのが一般的である。
【０００３】
また、特性の異なる複数のヒュ−ズの遮断試験にも対応可能な汎用性を備えたヒュ−ズ遮断試験装置とするためには、ヒュ−ズの特性に対応して個々に異なる遮断電流値等とする必要がある。
【０００４】
このため、回路のインダクタンス値と抵抗との比である時定数を一定としつつ、抵抗やインダクタンス値をヒュ−ズごとに個別調整するという煩雑な作業を行っていた。この場合には抵抗やインダクタンスには、可変抵抗や可変インダクタンスを用いていた。
【０００５】
従来のヒュ−ズ遮断試験装置の一例を、図４に示す。このヒュ−ズ遮断試験装置４０は、ヒュ−ズの溶断条件（電圧や電流等）を確認できる装置である（例えば、ＪＩＳＣ８２６９−１を参照）。
【０００６】
ヒュ−ズ遮断試験装置４０においては、被験対象となるヒュ−ズ４７が、スイッチ４３を介して電源４６と直列に接続される。電源４６は、ヒュ−ズ４７に要求される特性に対応して、必要に応じ交流電源としてもよい。
【０００７】
ヒュ−ズ４７とスイッチ４３とコイルであるリアクトル４２とその抵抗４１とは直列接続され、スイッチ４３のオンオフにより、電源４６との接続が制御され、ヒュ−ズ４７への通電制御が可能となるように構成されている。
【０００８】
また、電流計４４は、ヒュ−ズ４７を流れる電流を検出する。ヒュ−ズ遮断試験装置４０の回路の抵抗をＲとしリアクトル４２のインダクタンスをＬとすると、スイッチ４３を入れた後、電流計４４で検出される電流値は、回路の時定数（Ｌ／Ｒ）で立ち上がり、増加しながら一定値に飽和して収束する。飽和電流値は、電源４６の電圧をＶとすれば、Ｖ／Ｒとなる。
【０００９】
また、ヒュ−ズ遮断試験装置４０において、異なる特性のヒュ−ズ４７を測定する場合には個々のヒュ−ズごとに、所望の電流値等となるように抵抗４１を調整し、かつ抵抗４１やリアクトル４２を最適値に調整して回路の時定数等を調整する作業を行っていた。
【００１０】
このようなヒュ−ズ遮断試験装置４０に関する利用技術の一例が、下記特許文献１等に開示されている。
【特許文献１】特開昭６１−１８９４６７
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
このような、ヒュ−ズ試験装置４０においては、異なる特性のヒュ−ズ４９に変更して試験する場合、変更後のヒュ−ズの特性や種類に対応させて、その都度リアクトル４１や抵抗４２の値を適宜変更して調整する必要があった。このため、作業が煩雑となるだけでなく、スル−プット等の低下を招来し、設定調整ミスによる正確性の欠如の原因となるなど好ましからざる状況が懸念されていた。
【００１２】
本発明は、上述のような問題点に鑑みなされたものであり、スイッチの開閉操作のみによる簡便な操作により、電流立ち上がり飽和時間が同一の条件下で異なる特性のヒュ−ズ試験が可能なヒュ−ズ遮断試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明にかかるヒュ−ズ遮断試験装置は、直流電源に直列に接続され、電流値を調整する抵抗部と電流立ち上がり度合いを調整するインダクタンス部と第一のスイッチ部とを有する電流特性調整部を備えるヒュ−ズ遮断試験装置であって、複数の電流特性調整部を並列に備え、第一のスイッチ部の開閉によりヒュ−ズへの供給電流量を調整可能とし、インダクタンス部は、並列に接続される複数のインダクタンスと、複数のインダクタンスの中から所望のインダクタンスを選択可能とする第二のスイッチ部とを備えることを特徴とする。
【００１７】
また、本発明にかかるヒュ−ズ遮断試験装置は、さらに好ましくは電流特性調整部ごとに、選択されるインダクタンスの値と抵抗部の抵抗値との比が、複数の電流特性調整部間で同一の値であることを特徴とする。
【００１８】
また、本発明にかかるヒュ−ズ遮断試験装置は、さらに好ましくは選択されるインダクタンスの値が、複数の電流特性調整部間で２のＮ乗（Ｎは＞１の整数）倍の関係を有し、抵抗部の抵抗値は、複数の電流特性調整部間で２のＮ乗（Ｎは＞１の整数）倍の関係を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
本発明により、煩雑な設定調整作業を要することなく簡便なスイッチ操作により、異なる電流値による試験が可能なヒュ−ズ試験装置とすることができる。
【００２０】
また、特性や種類が異なる複数のヒュ−ズに対しても汎用性高く、迅速かつ正確なヒュ−ズ試験を行うことが可能なヒュ−ズ試験装置とできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
本実施形態においては、直流電圧源と直列に接続される電流特性調整部とヒュ−ズとメインスイッチ等とからなる直流回路としてヒュ−ズ遮断試験装置を構成する。
【００２２】
電流特性調整部は、ヒュ−ズに流れる電流値や電流値の時間特性等を調整する機能を担う。電流特性調整部は、抵抗とインダクタンスと第一のスイッチ等とからなる。
【００２３】
また、ヒュ−ズ遮断試験装置は、複数の電流特性調整部を並列に備える。また、電流特性調整部の第一のスイッチをオンオフすることにより、複数の電流特性調整部のなかから、ヒュ−ズ遮断試験に用いる電流特性調整部を選択する。
【００２４】
これにより、ヒュ−ズに流れる電流特性が、第一のスイッチオンオフによるいわばビット単位で調整可能となる。
【００２５】
そこで、以下図面に基づいて詳細に説明する。
【００２６】
（第一の実施形態）
図１は、本実施形態にかかるヒュ−ズ遮断試験装置１０の構成を概念的に説明するものである。
【００２７】
ヒュ−ズ遮断試験装置１０は、電圧“Ｖ”の直流電圧源１２とメインスイッチ１１と試験対象となるヒュ−ズ１３を備える。メインスイッチ１１のオンオフにより、ヒュ−ズ１３への電流供給を統括して制御することができる。
【００２８】
また、ヒュ−ズ遮断試験装置１０は、抵抗１４ａと、インダクタンス１６ａと、第一のスイッチに対応する選択スイッチ１５ａとを有する電流特性調整部１７ａを備える。また、ヒュ−ズ遮断試験装置１０は、電流特性調整部１７ａと並列に接続される電流特性調整部１７ｂを備える。電流特性調整部１７ｂは、抵抗１４ｂと、インダクタンス１６ｂと、選択スイッチ１５ｂとを有する。
【００２９】
また、ヒュ−ズ遮断試験装置１０は、電流特性調整部１７ａ，１７ｂと並列に接続される電流特性調整部１７ｃを備える。電流特性調整部１７ｃは、抵抗１４ｃと、インダクタンス１６ｃと、選択スイッチ１５ｃとを有する。
【００３０】
このようにして、ヒュ−ズ遮断試験装置１０は、相互に並列接続された任意の数の電流特性調整部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，・・１７ｎを備える。
【００３１】
ここで、電流特性調整部１７ａ，１７ｂ・・１７ｎの抵抗１４ａ，１４ｂ・・１４ｎの値“Ｒａ，Ｒｂ，・・Ｒｎ”とインダクタンス１６ａ，１６ｂ・・１６ｎの値“Ｌａ，Ｌｂ，・・Ｌｎ”との各電流特性調整部１７ａ，１７ｂ・・１７ｎでの各々の比は、同一に調整されていることが好ましい。すなわち、各電流特性調整部１７ａ，１７ｂ・・１７ｎにおけるＬ／Ｒは同一となることが好ましい。
【００３２】
ヒュ−ズ遮断試験装置１０での試験対象であるヒュ−ズ１３は、用途に応じて規格化された電流値等の特性が定められている場合が多い。また、ヒュ−ズ遮断試験を行う際の電流立ち上がり特性等に相当する時定数等も、予め所定の試験条件として定められる場合もある。
【００３３】
従って、各電流特性調整部１７ａ，１７ｂ・・１７ｎ間における時定数（Ｌ／Ｒに対応）を同一となるように、各電流特性調整部１７ａ，１７ｂ・・１７ｎの抵抗値とインダクタンス値とを調整して配置する。
【００３４】
これにより、ヒュ−ズ遮断試験装置１０は、複数の電流特性調整部１７ａ，１７ｂ・・１７ｎから、任意に選択した電流特性調整部のみ使用したとしても、電流立ち上がり時間が一定のままで電流値のみを変化させた遮断試験を行うことが可能となる。
【００３５】
換言すれば、電流値特性の異なる複数種類のヒュ−ズに対応して、選択スイッチ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ・・１５ｎのオンオフを適宜選択することにより、電流立ち上がり時間を一定に保ったまま、電流値のみを任意に変更したヒュ−ズ遮断試験を行うことができる。
【００３６】
例えば、電流特性調整部１７ａを利用する場合には、選択スイッチ１５ａをオンとする。また、電流特性調整部１７ｂを利用する場合には、選択スイッチ１５ｂをオンとする。
【００３７】
このように、任意の一又は複数の電流特性調整部を適宜選択して利用することで、複雑な設定作業を要することなく、ヒュ−ズ１３を流れる電流値を適切かつ正確かつ簡便に変更することが可能となる。
【００３８】
図２は、電流特性調整部１７ａ，１７ｂ・・１７ｎのなかから一つの電流特性調整部１７ａを選択した場合のヒュ−ズを流れる電流値の時間変化２２と、二つの電流特性調整部１７ａ，１７ｂを選択した場合のヒュ−ズを流れる電流値の時間変化２１とを比較して概念的に示すものである。
【００３９】
電流特性調整部１７ａのみを選択した場合には、電流値の時間変化２２は、Ｖ／Ｒａで飽和（Saturation）するまでに所定時間“ｔ”を要する。
【００４０】
また、電流特性調整部１７ａ，１７ｂを選択した場合には、電流値の時間変化２１は、Ｖ／Ｒａ＋Ｖ／Ｒｂで飽和（Saturation）するまでに同一の所定時間“ｔ”を要する。
【００４１】
このように、ヒュ−ズ遮断試験装置１０は、ヒュ−ズ１３に流れる飽和電流値を変更させるのみで、電流立ち上がりに要する飽和時間は変更することなく、所望のヒュ−ズ遮断試験を行うこととできる。
【００４２】
さらに、抵抗１４ａ，１４ｂ，１４ｃ・・１４ｎの差を２のｎ乗とすることで、選択スイッチ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ・・１５ｎのオンオフによる効率的な設定が可能となる。
【００４３】
同様に、インダクタンス１６ａ，１６ｂ，１６ｃ・・１６ｎの差を２のｎ乗とすることで、選択スイッチ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ・・１５ｎのオンオフによる効率的な設定が可能となる。
【００４４】
典型的には、抵抗１４ａを０．５オ−ムとすれば、抵抗１４ｂを１オ−ムとし、抵抗１４ｃを２オ−ムとし、抵抗１４ｄを４オ−ム・・とすることが可能である。
【００４５】
また、インダクタンス１６ａを０．５ミリヘンリとすれば、インダクタンス１６ｂを１ミリヘンリとし、インダクタンス１６ｃを２ミリヘンリとし、インダクタンス１６ｄを４ミリヘンリとすることができる。
【００４６】
従って、直流電圧源１２の電圧Ｖを５００ボルトとすれば、電流特性調整部１７ａでの飽和電流値は、１０００アンペアとなる。また、電流特性調整部１７ｂでの飽和電流値は、５００アンペアとなる。また、電流特性調整部１７ｃでの飽和電流値は、２５０アンペアとなる。
【００４７】
この場合において、図２における電流値の時間変化２２の飽和電流値は１０００アンペアとなり、電流値の時間変化２１の飽和電流値は、１５００アンペアとすることができる。
【００４８】
また、選択スイッチ１５ａと選択スイッチ１５ｃとのオンにより、電流特性調整部１７ａと電流特性調整部１７ｃとを用いる場合には、ヒュ−ズ１３を流れる飽和電流は、１２５０アンペアとすることができる。
【００４９】
また、例えば抵抗１４ａ単体で１０００アンペアの電流値を許容可能な抵抗材料が見当たらない場合等においては、抵抗１４ａを複数の抵抗等の配列組み合わせとして構成してもよい。他の抵抗１４ｂ,１４ｃ，・・・１４ｎも同様に、各々複数の抵抗等の配列組み合わせとして構成してもよい。
【００５０】
また、電流特性調整部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ・・１７ｎの数は、任意に設定してもよい。典型的には、１２ビット相当のスイッチ操作となるように、例えば１２個の電流特性調整部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ・・１７ｋ，１７ｌを設けることとしてもよい。
【００５１】
次に、各電流特性調整部１７ａ，１７ｂ，１７ｃ・・１７ｎに複数のインダクタンスを備える実施形態について、図３を用いて説明する。
【００５２】
（第二の実施形態）
図３は、ヒュ−ズ遮断試験装置１０のインダクタンス１６ａ，１６ｂ，１６ｃ・・１６ｎが、それぞれ２個のインダクタンス３７ａ，３６ａ、３７ｂ，３６ｂ、３７ｃ，３６ｃ・・３７ｎ，３６ｎから構成されるヒュ−ズ遮断試験装置３０について示すものである。
【００５３】
ヒュ−ズ遮断試験装置３０は、インダクタンス３７ａ，３６ａ、３７ｂ，３６ｂ、３７ｃ，３６ｃ・・３７ｎ，３６ｎの構成及びインダクタンス選択スイッチ３８ａ，３８ｂ，３８ｃ・・３８ｎの構成以外は、ヒュ−ズ遮断試験装置１０と構成及び動作を共にするので説明を省略する。また、ヒュ−ズ遮断試験装置３０では、インダクタンスが各々２個からなる場合を典型例として示したが、これに限られず、任意の複数のインダクタンスを各々設けることとしてもよい。
【００５４】
図３において、インダクタンス３７ａ，３７ｂ，３７ｃ・・３７ｎと、各々対応する抵抗３４ａ，３４ｂ，３４ｃ・・抵抗３４ｎとの比は、各電流特性調整部３９ａ，３９ｂ，３９ｃ・・３９ｎ間で同一となる。
【００５５】
また、インダクタンス３６ａ，３６ｂ，３６ｃ・・３６ｎと、各々対応する抵抗３４ａ，３４ｂ，３４ｃ・・３４ｎとの比は、各電流特性調整部３９ａ，３９ｂ，３９ｃ・・３９ｎ間で同一となる。
【００５６】
ヒュ−ズ遮断試験装置３０をこのように構成することで、特性の異なる電流立ち上がり時定数をヒュ−ズ遮断試験条件とするような、特性の異なる複数のヒュ−ズにも対応可能なヒュ−ズ遮断試験装置とできる。
【００５７】
例えば、ヒュ−ズ遮断試験条件として規格Ａの時定数に対応する抵抗３４ａ，３４ｂ・・３４ｎとインダクタンス３７ａ，３７ｂ・・３７ｎとの比とすることができる。そして、規格Ａでのヒュ−ズ遮断試験をする際には、インダクタンス選択スイッチ３８ａ，３８ｂ・・３８ｎを、インダクタンス３７ａ，３７ｂ，３７ｃ・・３７ｎ側にオンすることで、所定の時定数に対応する同一条件の電流立ち上がり飽和時間としたヒュ−ズ遮断試験を行うことができる。
【００５８】
また、ヒュ−ズ遮断試験条件として規格Ｂの時定数に対応する抵抗３４ａ，３４ｂ・・３４ｎとインダクタンス３６ａ，３６ｂ・・３６ｎとの比とすることができる。そして、規格Ｂでのヒュ−ズ遮断試験をする際には、インダクタンス選択スイッチ３８ａ，３８ｂ・・３８ｎを、各々インダクタンス３６ａ，３６ｂ，３６ｃ・・３６ｎ側にオンすることで、所定の時定数に対応する同一条件の電流立ち上がり飽和時間としたヒュ−ズ遮断試験を行うことができる。
【００５９】
規格Ａと規格Ｂとが、異なる顧客による試験条件指定である場合などにおいても、ヒュ−ズ３０は、スイッチ操作により一括して対応可能なので調整ミスも低減できる。また、ヒュ−ズ遮断試験装置３０は、異なる条件下で異なる特性のヒュ−ズに対しても迅速かつ正確なヒュ−ズ遮断試験を行うことができる。また、容易に自動試験装置化することが可能となる。
【００６０】
試験条件の例としては、例えば電流立ち上がり１ミリ秒後の電流値が、飽和電流値に対して何％であるのかという指定であってもよい。ヒュ−ズ３３の許容電流値が決まれば、飽和電流値を規定する抵抗１４ａ，１４ｂ・・１４ｎや、スイッチ１５ａ，１５ｂ・・１５ｎの開閉状況を決定できる。抵抗１４ａ，１４ｂ・・１４ｎの値が決まれば、規格に対応する時定数等電流立ち上がり条件を満たすように各インダクタンス３７ａ，３６ａ、３７ｂ，３６ｂ、３７ｃ，３６ｃ・・３７ｎ，３６ｎの値を決めることができる。
【００６１】
また、ヒュ−ズ遮断試験装置には、徐々に電流を増加させて溶断する電流値を測定するものと、高電圧印加状態で溶断する電圧等を測定するものとがあるが、ヒュ−ズ遮断試験装置１０,３０は、いずれに適用してもよい。
【００６２】
ヒュ−ズ遮断試験装置１０とヒュ−ズ遮断試験装置３０とは、実施形態での説明に限定されることはなく、その構成と動作を自明な範囲で適宜変更し、使用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は、ヒュ−ズ遮断試験装置に適用することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】ヒュ−ズ試験装置の構成概念図
【図２】ヒュ−ズを流れる電流の時間変化概念図
【図３】ヒュ−ズ試験装置の第二の構成概念図
【図４】従来のヒュ−ズ遮断試験装置回路概念図
【符号の説明】
【００６５】
１０・・ヒュ−ズ遮断試験装置、１１・・メインスイッチ、１２・・直流電圧源、１３・・ヒュ−ズ、１４ａ・・抵抗、１５ａ・・選択スイッチ、１６ａ・・インダクタンス、１７ａ・・電流特性調整部、３８ａ・・インダクタンス選択スイッチ
【図１】
0004801023.tif 000002
【図２】
0004801023.tif 000003
【図３】
0004801023.tif 000004
【図４】
0004801023.tif 000005