(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
腐食環境と接触する生物医学的デバイスの導電性表面の腐食の防止方法であって、
（ａ）導電性表面を半導体被覆で被覆し、被覆された導電性構造体に接続した電子フィルターを提供する工程；
（ｂ）前記の被覆された導電性構造体によって発生する腐食ノイズを監視し、前記腐食ノイズを最少化するために前記電子フィルターのフィルター特性を調整する工程；
を含む方法。
【請求項２】
前記電子フィルターが、電源及びコンデンサを備える、請求項１の方法。
【請求項３】
前記の監視及び調整工程（ｂ）が、能動フィルター及び監視手段を使用して継続的に行われる、請求項１の方法。
【請求項４】
前記電子フィルターが複数のコンデンサを備え、前記工程（ｂ）が前記導線性表面上への前記複数のコンデンサ各々の配置を決定することを更に含む、請求項１の方法。
【請求項５】
前記導電性表面が、金属導電性表面である、請求項１の方法。
【請求項６】
前記金属導電性表面が、含鉄金属及び導電性非鉄金属からなる群より選択される金属を含む、請求項５の方法。
【請求項７】
前記金属が、スチールである、請求項６の方法。
【請求項８】
前記金属が、アルミニウムである、請求項６の方法。
【請求項９】
前記金属が、ステンレススチールである、請求項６の方法。
【請求項１０】
前記金属が、チタンである、請求項６の方法。
【請求項１１】
前記導電性表面が、非金属導電性物質である、請求項１の方法。
【請求項１２】
前記非金属導電性物質が、炭素繊維−エポキシ複合材料である、請求項１１の方法。
【請求項１３】
前記非金属導電性物質が、炭素ナノチューブ−エポキシ複合材料である、請求項１１の方法。
【請求項１４】
前記非金属導電性物質が、生理学的に許容されるポリマー中に包理された導電性炭素である、請求項１１の方法。
【請求項１５】
前記導電性表面が、人工関節及び器官からなる群より選択される生物医学的デバイスの表面である、請求項１の方法。
【請求項１６】
前記半導体被覆が、ｐ型及びｎ型の両方の半導体領域を含む、請求項１の方法。
【請求項１７】
前記半導体被覆が、金属−半導体接合を含む、請求項１の方法。
【請求項１８】
前記半導体被覆が、イオン伝導体−半導体接合を含む、請求項１の方法。
【請求項１９】
前記半導体被覆が、金属−半導体−イオン伝導体接合を含む、請求項１の方法。
【請求項２０】
前記半導体被覆が、半導体−絶縁体−半導体接合を含む、請求項１の方法。
【請求項２１】
前記半導体被覆が、金属／金属酸化物／シリケート被覆である、請求項１の方法。
【請求項２２】
前記金属／金属酸化物／シリケート被覆が、亜鉛／酸化亜鉛／シリケート被覆である、請求項２１の方法。
【請求項２３】
前記半導体被覆が、１つ以上のドーパントを更に含む、請求項２１の方法。
【請求項２４】
（ａ）半導体被覆をその表面に有する生物医学的デバイス；（ｂ）固定電子フィルター；
（ｃ）腐食ノイズ監視システム；及び
（ｄ）可調整フィルター；
を備える、生物医学的デバイスの腐食またはファウリング、あるいは両方を防止するためのシステム。
【請求項２５】
前記腐食ノイズ監視システムが、高インピーダンス参照電極及びオシロスコープを更に備える、請求項２４のシステム。
【請求項２６】
前記可調整フィルターが、手動可調整フィルター及び能動フィルターからなる群より選択される、請求項２４のシステム。
【請求項２７】
前記半導体被覆が、ｐ型及びｎ型の両方の半導体領域を含む、請求項２４のシステム。
【請求項２８】
前記半導体被覆が、金属−半導体接合を含む、請求項２４のシステム。
【請求項２９】
前記半導体被覆が、イオン伝導体−半導体接合を含む、請求項２４のシステム。
【請求項３０】
前記半導体被覆が、金属−半導体−イオン伝導体接合を含む、請求項２４のシステム。
【請求項３１】
前記半導体被覆が、半導体−絶縁体−半導体接合を含む、請求項２４のシステム。
【請求項３２】
前記半導体被覆が、金属／金属酸化物／シリケート被覆である、請求項２４のシステム。
【請求項３３】
前記金属／金属酸化物／シリケート被覆が、亜鉛／酸化亜鉛／シリケート被覆である、請求項３２のシステム。
【請求項３４】
前記半導体被覆が、１つ以上のドーパントを更に含む、請求項３２のシステム。
【請求項３５】
前記半導体表面が、金属導電性表面である、請求項２４のシステム。
【請求項３６】
前記金属導電性表面が、含鉄金属及び導電性非鉄金属からなる群より選択される金属を含む、請求項３５のシステム。
【請求項３７】
前記金属が、スチールである、請求項３６のシステム。
【請求項３８】
前記金属が、アルミニウムである、請求項３６のシステム。
【請求項３９】
前記金属が、ステンレススチールである、請求項３６のシステム。
【請求項４０】
前記金属が、チタンである、請求項３６のシステム。
【請求項４１】
前記導電性表面が、非金属導電性物質である、請求項２４のシステム。
【請求項４２】
前記非金属導電性物質が、炭素繊維−エポキシ複合材料である、請求項４１のシステム。
【請求項４３】
前記非金属導電性物質が、炭素ナノチューブ−エポキシ複合材料である、請求項４１のシステム。
【請求項４４】
前記非金属導電性物質が、生理学的に許容されるポリマー中に包理された導電性炭素である、請求項４１のシステム。
【請求項４５】
前記導電性表面が、人工関節及び器官からなる群より選択される生物医学的デバイスの表面である、請求項２４のシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体技術を利用する導電性構造体の腐食の防止のための方法及びシステム、とりわけこれら導電性構造体が身体中もしくは身体表面の生物医学的デバイスの一部である場合の方法及びシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
これまで数世紀に亘って腐食の制御のための様々な方法が、特に腐食環境にある金属構造体の寿命を延長するための方法に重点をおいて発展してきた。これらの方法は、主にスチールなどの含鉄金属（ferrous-metal）及びアルミニウムなどの幾つかの非鉄金属の腐食耐性を改良し、より高価な合金を使用する必要性を避けるために使用される、防食被覆を含むことが典型的である。したがって、これらは、性能を改善すると共にコストを低減する。しかしながら、こうした防食被覆には、典型的には幾つかの落とし穴があり、これには腐食またはファウリングの問題を被る非金属構造体に対する適応性の乏しさが含まれる。
【０００３】
防食被覆は二つの主なカテゴリーに分けられる。これらカテゴリーの最大のものは、塗料などの局所被覆であり、これは環境に対して物理的バリアとして作用する。第二のカテゴリーは亜鉛またはカドミニウム等の犠牲被覆からなり、これは攻撃からベース金属を守るために優先的に腐食するように設計されている。
【０００４】
陰極防食及び被覆は、いずれも、腐食の緩和及び防止を主要目的とする工学的制御である。各工程は相違する：陰極防食は、通常の電気化学的腐食反応を妨害するために外部源から電流を導入することによって腐食を妨げ、その一方で、被覆は、自然に発生する陽極と陰極との間の、またはガルバニック電池対内における、腐食電流または電子の流れを妨げるためのバリアを形成する。これらの工程の各々に得られる成功は限られている。被覆は、断然、一般的な腐食防止の最も普及した方法である（Leon et al U. S. Patent No. 3,562,124及びHayashi et al U. S. Patent No. 4,219,358参照のこと)。陰極防食は、しかしながら、埋設または沈設条件に曝された数千マイルの何百というパイプ及び何エーカーものスチール表面の防食に使用されてきた。
【０００５】
陰極防食の技術は、金属表面に充分な陰極電流を提供して陽極溶解速度を僅かなものとすることによって金属表面の腐食を低減するために使用される（例えば、Pryor, U. S. Patent No. 3,574,801; Wasson U. S. Patent No. 3,864,234; Maes U. S. Patent No. 4,381, 981; Wilson et al U. S. Patent No. 4,836,768; Webster U. S. Patent No. 4,863,578; and Stewart et al U. S. Patent No. 4,957,612参照のこと)。陰極防食の概念は、充分な電流の適用によって陰極を陽極の電位に近づけることで局所的陽極及び陰極表面の間の電位差をなくすことによって作用する。換言すれば、陰極電流適用の効果は、陽極として作用し続ける領域の腐食の速度を低減させることよりもむしろ、こうして維持される陽極領域を減少させることである。完全な防食は、陽極全てが無くなったときに達成される。電気化学的見地によれば、これは防食しようとする金属に充分な電子が供給され、その結果、該金属のイオン化または溶液となる傾向が中和されたことを示す。
【０００６】
腐食についての最近の研究では、電気化学的腐食過程は電気化学的システムの電気特性、例えばセル電流及び電極電位などにおけるランダムな変動に関係するらしいことが判明している。これらのランダムな変動は、「ノイズ」として既知である。研究者らは、電気化学的システムにおける腐食の過程を研究するために、ノイズ分析技術を適用し始めた。
【０００７】
Riffe, U. S. 5,352,342及びRiffe. U. S. 5,009,757は、腐食防止システムにおいてエレクトロニクスと組み合わせて使用される、亜鉛／酸化亜鉛をベースとするシリケート被覆を開示している。該被覆中の亜鉛／酸化亜鉛粒子は、半導体特性、主にＺｎ−ＺｎＯ相境界面におけるｐ−ｎ接合を有する旨が開示されている。逆バイアスの場合、このｐ−ｎ接合はダイオードとして作用して前記境界面を越える電子伝達を抑制する旨が記載されている。この制限は、ＺｎＯ表面上でのＺｎ酸化の部位から酸素還元の部位への電子伝達を制限する。実際に、局所的腐食セルの陽極と陰極との間には抵抗が増大し、腐食が減少する。
【０００８】
概して、Ｚｎ−ＺｎＯベースの接合は、Ｚｎ表面におけるＺｎの酸化及びＺｎＯ表面におけるＯ2の還元に関連する電位により、逆バイアスになるであろう。しかしながら、著しい確率電圧変動が起こる。これらの電圧変動によって、前記接合は一時的に順バイアスになる。順バイアスの場合、接合を越える電子伝送が増加し、Ｚｎの酸化及びＯ2の還元が促進される。実際に、局所的腐食セルの陽極と陰極との間の短絡が生じ、腐食が増加する。
【０００９】
Riffe特許は、腐食防止システムの電気化学的回路内への固定値コンデンサの取り付けを開示している。しかしながら、コンデンサのレベルを制御する方法はなく、如何なる所定の構造体における腐食をも有効に防止するために必要な電気容量のレベルを決定するための方法も全く示唆されていない。よって、システムが有効であるためには、過剰な電気容量を用いることが必要である。
【００１０】
生体組織の身体の内部は、しばしば、生命が発生したと考えられている海の環境を反映していると考えられている。上述のように、海中における人工物質のファウリング及び腐食は、ファウリング及び腐食を含む多数の有害な過程に陥りがちである。腐食過程は、ミクロ及びマクロの生物両方の付着及び成長によって特徴付けられる。これら同様の有害な過程の多くが、人の身体及び別の生体組織内に移植されたデバイス、またはこうしたデバイスに密に関連したデバイス（例えばプラスマフェレーシスシステム、透析ユニット等）において起こる。生物学的設置における半導体物質の使用は、最近になって初めて有効な結果を奏している（例えば、Mirkin et al, Nature, 405, 626 (2000)を参照のこと)。生物医学的デバイス及び表面のファウリングは、しばしば、細菌バイオフィルムとしても既知の、細菌のフィルムの形態である。この現象は、Mittelman, Methods in Enzymology, 310,534-551 (1999)に報告されており、ここではバイオフィルム細菌の回収及び特徴付けが医学的デバイスと関連して説明されている。こうした細菌バイオフィルムの取り扱い及び制御に向けた１つのアプローチが、McLeod et al, Methods in Enzymology, 310, 656-670 (1999)に提唱されており、これは電磁場と抗生物質との組み合わせを使用するものである。残念ながら、注意深く制御された電流の確立を必要とする、こうした電磁場の応用は、実験研究においては申し分ないが、バイオファウリングの実際の長期的影響を最も受けるであろう生体内においては現実的でない。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明の１つの目的は、身体中に設置されたまたは生物医学的デバイスに接続したあらゆる導電性もしくは非導電性構造体に、抗腐食及び抗ファウリング／抗拒絶、及び抗生物特性を与える、柔軟な半導体被覆を提供することである。
【００１２】
本発明の更に別の目的は、導電性金属構造体を腐食から保護する方法であって、前記金属もしくは非金属構造体の独自の特徴及び生体組織の身体内におけるその設置に合わせて微調整した方法を提供することである。
本発明の更に別の目的は、半導体技術を利用することにより、外部陽極も電解質も電流もなしに、導電性構造体のファウリング、感染、及び腐食を防止するための方法を提供することである。
【００１３】
本発明の更に別の目的は、身体内におけるファウリング、感染、及び腐食から導電性構造体を保護するためのシステムを提供することであり、ここでは前記システムは最小限のシステム整備を要して長期的保護を提供するものである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
これら及び他の目的は、生物学的に「許容される」半導体被覆及び関連する電子システムの発見によって満たされており、ここで前記システムは、その表面に半導体被覆を設置した導電性構造体中における、電圧変動を濾波する（filter）ことのみによって操作可能である。ここで該システムの使用方法は、
・導電性構造体を半導体被覆で被覆し、前記の被覆された構造体を固定電子フィルターと接続する工程、
・前記固定電子フィルターを接続した前記被覆によって発生するノイズを監視する工程；
・前記被覆に接続した可調整フィルターを使用して、前記被覆によって発生するノイズを最少化するために必要な抗腐食フィルターレスポンスを測定する工程；
及び、
・前記可調整フィルターを、少なくとも前記抗腐食フィルターレスポンスのフィルターレスポンスを有する受動もしくは能動フィルタで置き換える工程；
を含み、
前記導電性構造体が、被験者の身体に取り付けられたか身体中に移植されている生物医学的デバイスである。
【００１５】
本発明及びこれに付随する多数の利点のより完全な評価は、これらが、添付の図に関連して考慮される場合は以下の詳細な説明に従ってよりよく理解されるであろう。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明は、導電性構造体を半導体被覆で被覆して、得られる被覆された前記構造体を固定電子フィルターに接続する工程、該システムによって発生する腐食ノイズを監視する工程、及び前記腐食ノイズを最少化するために必要とされるフィルターレスポンスを測定する工程（本発明の内容においては、「腐食ノイズ」なる語はガルバニック腐食過程により生じる電圧変動を表すために用いられる）を含む、腐食しがちなあらゆる導電性構造体のための腐食防止方法を提供する。１つの実施態様においては、本発明は、被覆された前記被覆構造体によって生じる前記ノイズを最少化するために必要とされるフィルターレスポンスを測定するために、可調整フィルターを使用してフィルターレスポンスを調整すること、及びその後、少なくとも測定された抗腐食フィルターレスポンスを有する受動電子フィルターで、前記可調整フィルターを置き換えることを含む。別の実施態様においては、本発明は、前記可調整フィルターを、能動電子フィルターと、ノイズを継続的に監視して自動的にフィルターレスポンスを調整することで該システム中における変動を最少化する監視システムとで置き換える。
【００１７】
本発明は、半導体被覆を電子フィルターに結合させることによって、この腐食ノイズを最少化する。前記電子フィルターは、本発明の内容に即して所定の周波数におけるノイズの減少のレベルとして定義されるフィルターレスポンスを有する。上記の通り、前記フィルターは受動的低域ＲＣフィルターまたは能動フィルターであって良い。いずれの場合も、該フィルターは電圧変動を最少化する。半導体被覆中に存在する接合は、逆バイアスを維持する。半導体被覆中における陽極領域から陰極領域への時間平均化電子流はその後減少して、該被覆は効果的に不活性化される。
【００１８】
受動的低域ＲＣフィルターは、本質的にコンデンサー及び抵抗器である。本発明のシステムの場合には、半導体被覆は幾分抵抗器のごとく作用し、コンデンサーがＲＣフィルターを完全にする。好適な能動フィルターには、以下に限定されるものではないが、バッタワースフィルター、ベッセルフィルター、及びサレン−キー（Sallen-Key）フィルターが含まれる。これらの能動フィルターは、購入可能であり、及び／または当業者によって容易に調製可能である。これらの能動フィルターは、基本的にコンデンサーを備えた演算増幅器回路である。好ましくは、本発明のフィルターの主成分はコンデンサーであり、ここでフィルターレスポンスは、所定の周波数におけるノイズの減少を提供するために必要とされる電気容量に関連している。
【００１９】
本発明のノイズ測定態様は、特定の応用についてシステムの設計に合わせて微調整するために使用される。測定されたノイズに基づいて、前記構造体、例えば航空母艦または大スパンの橋等の非常に大型の構造体でさえ、その全表面上に亘る一定の腐食防止のために、必要なフィルター特性及びシステム中におけるフィルター設置の位置を決定及び改善可能である。本発明においては、被覆表面と低ノイズの高インピーダンス参照電極との間の電圧変動を監視する。適当な高インピーダンス参照電極は、例えば飽和カロメル電極または飽和サルフェート電極から調製可能である。この目的に適した購入可能な高インピーダンス参照電極は、様々なカタログ備品会社、例えばBeckman InstrumentsまたはCorningから入手可能である。前記ノイズはこれらの電極を用い、電圧変動を示すためにオシロスコープを使用することによって監視可能である。あるいはまた、前記電極から得られたデータは、アナログ・デジタル変換器を備えたＰＣコンピューターを使用し、得られたデータを時系列分析プログラム、例えば高速フーリエ変換（ＦＦＴ）分析または最大エントロピー法（MEM法）を使用して分析することによって、蓄積及び分析することができる。これらの方法は、所望により実時間の及び遅延した結果を提供可能である。こうした方法を使用することにより、フィルターレスポンスのレベルの測定、及びオシロスコープ上でほとんど水平な線を発生させる（すなわちノイズを最少化する）ために必要とされるフィルターの設置が可能である。これは該構造体の単一位置において、またはより精密な制御のためには該構造体表面上の複数の位置において、行うことができる。電子フィルター特性及びフィルター設置位置は、測定した電圧変動を最少化するために調整可能であり、よって前記被覆の不動態化は最大化される。最終結果は、如何なる所望の構造体タイプについても腐食防止システムの寿命における劇的な増大である。これは、腐食ノイズの減少によって起き、従って半導体被覆の犠牲腐食を劇的に低減する。
【００２０】
本発明はまた、一連の重要な特性を提供するために、様々な導電性物質と共に使用することが可能な半導体被覆にも関する。本発明の半導体被覆は、以下に限定されるものではないが、（ａ）ｐ型及びｎ型の両方の半導体領域、（ｂ）金属−半導体接合、（ｃ）イオン伝導体−半導体接合、（ｄ）金属−半導体−イオン伝導体接合、（ｅ）半導体−絶縁体−半導体接合、及びこれらの様々な組み合わせを有する半導体被覆のように、如何なる半導体被覆であっても良い。本発明の半導体被覆は、様々な最終用途において使用可能である。これらの最終用途の中で主なものは、導電性構造体の腐食の防止である。導電性物質の腐食の防止のための本発明のシステムは、（ａ）導電性構造体の表面の少なくとも一部と導電性接触状態にある半導体被覆；及び（ｂ）前記導電性基質に接続された、腐食ノイズを濾波するための手段（前記手段は、電子シンク、例えば電池または他の電力供給を、フィルター、例えばコンデンサーと共に含む）；を含み、発見された本発明の腐食防止方法は、
１）導電性構造体の外部表面を清浄化する工程；
２）本発明の半導体被覆で前記外部表面を被覆する工程；及び
３）前記システム中における腐食ノイズを最少化するために電子フィルターを用いる工程；
を含む。
【００２１】
本発明の方法及びシステムへの鍵は、全システム（以下に限定されるものではないが、基質、被覆、及びフィルター成分を含む）によって発生する腐食ノイズの測定及び電子フィルターの適用による前記ノイズの最少化である。
【００２２】
腐食及びファウリング防止のための実施態様において、本システムは、二つの相互依存成分：（１）半導体被覆、及び（２）前記被覆が適用される導電性構造体にネット負性バイアスを与える手段を備える。一般的に、半導体被覆は、導電性表面に、前記表面を清浄化した後に、好ましくは、金属表面については市販のブラスト仕上げとするグリットブラストによって、または非金属導電性構造体については同等の方法によって、適用される。導電性表面がグリットブラストまたは同等の方法によって清浄化される場合には、該表面は０．１乃至数ミルの深さの多数の溝またはくぼみを有するであろう。本発明の半導体被覆は、前記清浄化工程によって形成された穴の深さよりも、少なくとも２ミル大なる深さ、好ましくは２乃至１０ミル厚さ、最も好ましくは７乃至９ミル厚さで適用されるべきである。著しい穴のない滑らかな表面上には、システム性能に有害な影響を与えることなく、前記被覆は下限約０．５ミルの厚さで適用することができる。
【００２３】
本発明の方法及びシステムを使用して保護可能な構造体は、いかなる腐食しがちな導電性物質であってもよい。好ましくは、該構造体は、含鉄金属または非鉄導電性金属の金属性構造体である。典型的な金属には、以下に限定されるものではないが鉄、スチール、及びアルミニウムが含まれる。
【００２４】
本発明の半導体被覆は、好ましくは金属もしくは金属合金の被覆であって、存在する金属（類）の酸化物の存在の有無によらない。最も好ましい実施態様においては、前記被覆Ｚｎ／ＺｎＯシステムである。金属または金属合金は、それ自体で、または好適な被覆バインダーと組み合わせて使用することができる。被覆バインダーには、様々なシリケートバインダー、例えばナトリウムシリケート、マグネシウムシリケート、及びリチウムシリケートが含まれる。該被覆中の金属または金属合金は、保護しようとする導電性物質よりも高い酸化電位を有していなくてはならない。ほとんどの金属についての標準電極電位は周知であり、様々に異なる金属について、以下の通り再現される。
【００２５】
標準的電極還元電位（水素電極に比べて）
【化１】
0004668511.tif 000002
(Source: CRC Handbook of Chemistry and Physics, 60th ed., Ed. Robert C. Weast, CRC Press, Inc, Boca Raton, FL, 1979)
【００２６】
本システム及び方法の被覆は、保護される導電性物質に対して犠牲的である（腐食ノイズが最少化された場合には最小限に犠牲的である）ため、被覆に含ませる金属を決定する際には、保護しようとする導電性物質に比べてより負の標準的電極電位を有する金属を選択することが重要である。例えば、Ｆｅ（例えばスチール中に存在するもの）を保護するためには、該被覆はＺｎ、Ｔｉ、または−０．４４よりも負である標準電極電位を有する他のあらゆる金属を使用することができる。アルミニウム（−１．６８）等の非常に負の電極電位を有する金属を保護する場合には、あまり負でない電極電位を有する金属（例えばＺｎ）をより負の電極電位を有する金属（例えばＭｇ）と組み合わせた合金を使用することが許容される。この合金は、Ｍｇ等の高い負の電極電位を有する金属のみを含む被覆の場合に起こるであろう、極度の酸化を避ける一方で、必要とされる犠牲的性質を備えた被覆を提供するであろう。高度に負の電極電位金属を上記バインダーの１つに導入することによって、過度に迅速に犠牲になる被覆を避けることも可能である。二つの金属の合金の代わりに、より負の電極電位金属をシリケートバインダーのカウンターイオンとして導入することが可能である。
【００２７】
好ましい実施態様において、本発明の半導体被覆は、ここにそれぞれを参照のために取り込むこととするSchutt, U. S. 3.620,784、Riffe, U. S. 5,352,342、またはRiffe, U. S. 5,009,757に開示されたのと同様の被覆であって良い。無機亜鉛被覆の基本的ビルディングブロックは、シリカ、酸素、及び亜鉛である。液体形態においては、これらは金属シリケートの比較的に小さな分子、例えばナトリウムシリケートまたは有機シリケート、例えばエチルシリケートである。これら本質的にモノマー性の物質は、全ての無機亜鉛被覆のための基本的フィルム形成剤またはバインダーである、シリカ−酸素−亜鉛構造中に架橋される。本発明における使用のための、好適な無機亜鉛被覆は、様々な購入可能アルキルシリケートまたはアルカリ加水分解シリケートタイプのものである。こうした購入可能な被覆の１つは、Carboline, Inc.製のCarbozinc D7 WB（登録商標）である。
【００２８】
本発明の被覆はまた、該被覆中に導入されたさらなるｎ型半導体、例えばＳｎ／ＳｎＯを包含可能である。更に、該被覆は、該被覆の導電性を増大させるためにＡｌまたはＧａ等の金属で、または該被覆の導電性を低減するために１乃至５％のＬｉ等の金属でドープ可能である。本発明の被覆中における金属／金属酸化物境界面（Ｚｎ／ＺｎＯ）は、電気化学的システム中におけるダイオードとして作用する。したがって、該被覆はダイオードとして作用する多くのミクロ領域を含む。該被覆によって発生する腐食ノイズのために、該被覆中のミクロ領域の導電性電位が変動することにより、前記ダイオードには周期的にスイッチが入ったり切れたりする。導電性電位のこうした変動及びダイオードのスイッチ切り替えにより、前記被覆の犠牲的腐食が起こる。例えばＬｉなどでのドーピングによる被覆の導電性の低減により、ダイオードの切り替え電圧をノイズ変動曲線の最低点以下に低下させることが可能である。これは該被覆の犠牲腐食を最少化する一方で、保護しようとする構造体の導電性物質を依然として保護するであろう。
【００２９】
導電性表面のために半導体被覆物質を適切に選択することにより、伝統的な受動バリア並びに新規な能動バリアの両方が実現可能なことを付記できる。
【００３０】
好ましい実施態様においては、本発明の被覆の亜鉛末が金属−半導体接合を形成し、ここでは金属亜鉛と酸化亜鉛との境界面が酸化亜鉛を伴ってｎ型半導体である。
【００３１】
【実施例】
完成した被覆の好ましい実施態様を、図１に図示する。図１は、本発明の好ましい亜鉛／酸化亜鉛／シリケート被覆（４）の多孔性の性質を示す。亜鉛粒子（１）は酸化亜鉛層（２）によって覆われ、様々な酸化物被覆粒子と共に不溶性金属シリケートバインダー（３）によって取り囲まれている。前記被覆と構造体金属との間の境界面（５）にあるのは、不溶性金属シリケート層であり、これはスチール構造体の場合には不溶性鉄シリケート層になろう。
【００３２】
本発明の導電性構造体は、金属構造体及び非金属構造体の両方を含む、腐食からの保護を必要とするあらゆる導電性構造体でありうる。こうした金属構造体の例には、金属の乗り物、例えば船、飛行機、自動車、軍用の戦車または輸送機、金属の乗り物部品、橋、鉄道接続装置、コンテナ、パイプ、及び金属塔、並びに生物医学的デバイスなどのより小さな構造体が含まれる。金属の乗り物部品の例には、自動車、飛行機、電車、軍用陸上乗り物、例えば戦車、並びに船舶及び他の海洋乗り物の金属部品が含まれる。コンテナの例には、精油コンテナ、貯蔵サイロ、及び貯蔵鉱舎が含まれる。非金属導電性構造体の例には、導電性コンクリート及び導電性ポリマー構造体が含まれる。腐食過程は、これらの非金属導電性構造体にも影響を与えるが、本発明によって最小限にすることが可能である。導電性コンクリートは、浮動性空港滑走路の調製のための可能な材料として推奨されている。本発明のシステムは、コンクリートの腐食防止を助け、よってコンクリート構造体の寿命を延長し、構造保全性を拡張する。
【００３３】
更にまた、本システムは、生体組織の身体、好ましくはヒトの身体内の生物医学的デバイスの腐食の防止を可能にする。金属または非金属ベースの導電性生物医学的デバイスの移植において遭遇する１つの問題は、ヒトの身体内に見られる条件下における該デバイスの腐食である。本発明の内容に沿って、「生物医学的デバイス」なる語には、身体中に移植されるデバイス並びに身体の外のデバイスであって、前記デバイスの表面腐食を引き起こしうる体液に曝されるあらゆる装置の両方が含まれる。好適な例には、人工関節、人工臓器、及び最適下限の健康状態である患者の治療に使用される他のあらゆるデバイスが含まれる。
【００３４】
本発明の半導体被覆を備えたデバイスの表面を被覆し、必要な固定電子フィルターを接続することにより、該デバイスは、本発明の可調整フィルター及びノイズ測定を使用して、生体内で微調整可能である。例えば、固定電子フィルターの移植及び該生物医学的デバイスへの接続に際して、可調整フィルターを使用して該ノイズを測定及び最少化することができる。この点で、移植操作の完了前に、ノイズ測定手段及び可調整フィルターは除去可能であり、必要とされるフィルター反応を有する固定受動もしくは能動フィルターを取り付け可能である。該フィルターは外側に、またはペースメーカーでよく行われているように所望によって内側に設置可能である。さらに、電子システムへの電力供給は、ペースメーカー電池パック、単ＡＡＡ電池、あるいはまたは参照のためにここに取り込むこととするBates et al, U. S. Patent 5,338,625に記載の薄膜電池（これは前記システムを数年間作動させるのに充分な電力を有するであろう）などのミクロ電池のように単純であって良い。アルカリ、ＮｉＣｄ、及び他の充電式電池を含むあらゆるタイプの電池が使用可能である。Batesらのもの等の薄膜電池の使用により、半導体被覆の表面への直接の電池の適用が可能になり、これによって全体のパッケージを最もコンパクトにすることができる。
【００３５】
生物医学的実施態様においては、半導体被覆が、チタンまたは生物医学的デバイスにおいてしばしば使用されるステンレススチール等の金属製であるか、あるいは例えば導電特性を有するポリマー複合材料などの非金属導電性物質製であるかによらないデバイスの表面に適用される。こうしたポリマー複合材料は、導電性炭素繊維をポリマー中に含むポリマーデバイス、炭素繊維−エポキシ複合物、炭素ナノチューブ−エポキシ複合物、及び導電性炭素が埋め込まれた他のポリマー材料を含むであろう。他の好適なポリマー材料には、以下に限定されるものではないが、シリコーン、テフロン（登録商標）、Ｋｅｌ−Ｆ、及び他の高度にフッ素化されたポリマーを含む、生理学的に許容されるあらゆるポリマー材料が含まれるであろう。表面上に被覆された際に半導体被覆は著しい度合いの可撓性を有するため、高度に可撓性のポリマーもまた使用してよい。ポリマー材料上への半導体被覆の被覆は、定法を用いて行うことができる。
【００３６】
本発明において得られる１つの著しい利点は、半導体被覆の犠牲腐食を最少化することによって、該被覆の寿命が従来の被覆保護システムよりも何倍にも延長されるであろうことである。これを、陰極電流の適用により水中で達成することもできるであろうが、これは実質的電流を要するであろうし、且つ非常に制御困難であろう。更に、陰極電流モデルは、身体内におけるこうした電流の維持に関連する困難性により、生物医学的実施態様向けには実用的ではないであろう。本発明の方法は、被覆に内部的に作用し、これにより腐食媒体が空気から液化した湿分に過ぎない場合の環境腐食を防止する。これは、強度を増大させるための設計が同時に腐食しがちな領域を増大させている、現代の船の内部表面などの表面の保護において、及び自動車部品、橋、飛行機、及び電車の保護において、非常に重要となっている。これはまた、電子システムの衝撃係数を微調整して犠牲腐食を最少化することによって、表面からの金属イオンの放出（すなわち、これは腐食組織体に局所的毒性環境を提供する）が最少化可能であり、さらにはミクロスケールにおいては電子サイクルによって金属イオンが放出及び再吸収されうるにも関わらず、マクロスケールにおいては金属イオンの放出が停止可能であることにより、被覆の抗ファウリング特性における、著しい影響力を提供するであろう。好ましい亜鉛被覆よりもかなり毒性の高い他の金属、例えばHg/HgO、Cd/CdO等は、全体としての身体に対する毒性作用を回避する一方で、身体中において抗ファウリング効力のために使用することができる。これらの金属の組み合わせは、同様に最適な抗ファウリング及び抗腐食効力を提供するために使用可能である。
【００３７】
別の好ましい実施態様は、凝縮物がその高い食塩含量のためにかなり腐食性であり、これと同時に陰極防食システムが機能するためには湿分が不十分である、最新の船の内部表面上における、本発明の方法及びシステムの使用である。本発明のノイズフィルターなしには、ビルジへの凝縮物の流れによって被覆中の亜鉛は迅速に溶解し、腐食するであろう。しかしながら、本発明によるノイズフィルターの金属基体への適用により、この腐食は効果的に停止される。
【００３８】
さらにまた、該ノイズフィルターは、電池または他の電源を使用するものでさえも、被覆を越えて感知できるほど放射する場を生み出すものではないため、前記船の基体スチールでのノイズフィルターの使用が艦載電子機器に与える干渉は、船内で電球を灯すことを越えるものではなく、敵の探知装置にとって探知可能なシグナルを生むものでもない。亜鉛の吸収特性は周知であり、ＥＭシールド及び電子エンクロージャにしばしば使用される。したがって、本発明のシステムを適用した基地組織からの測定可能なＥＭ放射はないであろう。
【００３９】
本発明の固定電子フィルターは、電子シンクを接続してなるコンデンサーとして作用して、該コンデンサーは逆バイアスに維持される。固定電子フィルターは、好ましくは、従来の電力供給、例えば電池、好ましくは１２ボルト電池、及び太陽電池などの直流（ＤＣ）電力供給手段、並びに交流（ＡＣ）電力供給手段の組み合わせである。これらの成分は、本願においては「電力供給」と呼称されているが、本システム中には電流も電圧もない。したがって、電力供給との命名は、単に便宜上のものであり、電子流を包含することを企図するものではない。使用される電力供給手段は、回路を完成させたならば好ましくは０．５乃至３０V、最も好ましくは１０乃至２０Vの電圧を送達するために十分なものである。固定電子フィルター（すなわち、電力供給及びコンデンサー）は、基体に直接、または被覆に接続することで、被覆した導電性基体に接続可能である。好ましい実施態様において、本発明の電力供給手段は、保護しようとする導電性構造体に直接接合した負端子を有する。電力供給手段の正端子は、該構造体の、負端子接合から離れた部分に、フィルター／コンデンサー経由で導電性構造体に接続される。本発明は、端子間の距離の増大につれて下降する、電流の発生に依存しないため、前記端子間の距離は、正極及び負極の端子が互いに接触しない限りにおいては重要ではない。正極端子接合は、該構造体上において、負極端子接合の位置から０．０１乃至３０メートルの位置で、最も好ましくは負極端子接合の位置から５乃至１０メートルの位置で行われることが好ましい。
【００４０】
本発明の方法は、該システムの寿命についての自己管理である。従来の陰極防食システムにあるような、監視すべき電流も電位もなく、周期的制御もない。さらにまた、外部陰極防食システムにおいて起こりうるような、本システムが制御不能になり、支持構造体をひどく損なう可能性はない。したがって、被覆の寿命における唯一印象的な減少は、空中及び水中での摩耗によるものであろう。該被覆の摩耗耐性が、メッキよりも幾分優れているため、該被覆の見込み寿命は、数十年の範囲で延長可能である。
【００４１】
さらにまた、継続してノイズ変動を監視し、フィルターレスポンス及びカットオフ周波数等のフィルター特性を調整する監視システム及び能動フィルターを使用すれば、経時的に腐食が増加することによる犠牲損失の速度の増大を防止することによって、被覆寿命は延長可能である。
【００４２】
図２は、本発明のシステムを示す等価回路図を示す。該回路中においては、１０は溶液抵抗（Rs）であり、１１及び１２は、それぞれ陽極（Ea）及び陰極（Ec）におけるガルバニック電極電位である。該回路中のノイズ源（En）は１３によって表される。陽極（Ra）及び陰極（Rc）のファラデーインピーダンスは、それぞれ１４及び１５に示される。Ｚｎ／ＺｎＯ境界面での金属−半導体接合は、ダイオード（Ｄ）１６として示される。能動フィルターであるか受動フィルターであるかによらず、ノイズフィルター（Ｆ）は１７によって表される。
【００４３】
明らかに、上記教示に照らせば本発明の多数の変更及び変形が可能である。したがって、本発明は、添付のクレームの範囲内においては、ここに特に記載したのとは異なって実施されても良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】  図１は、本発明の好ましい実施態様のＺｎ／ＺｎＯ接合の図示である。
【図２】  図２は、本発明のシステムを図示する等価回路図を示す図である。
【図１】
0004668511.tif 000003
【図２】
0004668511.tif 000004