(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第一回路及び第二回路を含む回路群であって、
前記第一回路は、
第一調整信号に基づいて前記第一回路の第一電圧を第二電圧に調整し、前記第二電圧は前記第一電圧よりも参照電圧に接近する第一電圧調整モジュールと、
前記第一電圧調整モジュールと接続し、マージン調整信号に基づいて前記第二電圧のマージン範囲を調整する第二電圧調整モジュールと、
を含み、
前記第二回路は、
第二調整信号に基づいて前記第二回路の第三電圧を第四電圧に調整し、前記第四電圧は前記第三電圧よりも参照電圧に接近する第三電圧調整モジュールと、
前記第三電圧調整モジュールと接続し、前記マージン調整信号に基づいて前記第四電圧のマージン範囲を調整する第四電圧調整モジュールと、
を含む、
回路群。
【請求項２】
前記回路群は、さらに、第三回路を含み、
前記第三回路は、
第三調整信号に基づいて前記第三回路の第五電圧を第六電圧に調整し、前記第六電圧は前記第五電圧よりも参照電圧に接近する第五電圧調整モジュールと、
前記第五電圧調整モジュールと接続し、前記マージン調整信号に基づいて前記第六電圧のマージン範囲を調整する第六電圧調整モジュールと、
を含む、
請求項１に記載の回路群。
【請求項３】
前記第一電圧調整モジュールは、
前記第一電圧を受け取る第一入力端部を有する増幅器と、
前記増幅器の第二入力端部及び参照電圧とそれぞれ接続する第一端部及び第二端部を有する可変式分圧モジュールであって、前記可変式分圧モジュールは、前記第一調整信号に基づいて、前記可変式分圧モジュールの第一端部から第三端部までの抵抗値と第二端部から第三端部までの抵抗値との比を調整し、前記可変式分圧モジュールの第三端部に前記第二電圧を出力させる可変式分圧モジュールと、
前記増幅器の出力端部及び外部電圧とそれぞれ接続するゲート端部及び第一端部を有するトランジスタであって、前記トランジスタの第二端部は前記可変式分圧モジュールの第四端部と接続するトランジスタと、
を含む、
請求項１に記載の回路群。
【請求項４】
前記第二電圧調整モジュールは、
前記第二電圧を受け取る第一入力端部を有する増幅器と、
前記増幅器の第二入力端部及び参照電圧とそれぞれ接続する第一端部及び第二端部を有する可変式分圧モジュールであって、前記可変式分圧モジュールは、前記マージン調整信号に基づいて、前記可変式分圧モジュールの第一端部から第三端部までの抵抗値と第二端部から第三端部までの抵抗値との比を調整し、前記第二電圧のマージン範囲を調整する可変式分圧モジュールと、
前記増幅器の出力端部及び外部電圧とそれぞれ接続するゲート端部及び第一端部を有するトランジスタであって、前記トランジスタの第二端部は前記可変式分圧モジュールの第四端部と接続するトランジスタと、
を含む、
請求項１に記載の回路群。
【請求項５】
前記第一回路は、さらに、
前記第一電圧調整モジュールと接続し、動作電圧を受け取って前記第一電圧を生成する第一直流電圧生成器を含む、
請求項１に記載の回路群。
【請求項６】
前記第二回路は、さらに、
前記第三電圧調整モジュールと接続し、前記動作電圧を受け取って前記第三電圧を生成する第二直流電圧生成器を含む、
請求項５に記載の回路群。
【請求項７】
前記第一電圧調整モジュールは、さらに、
前記第一電圧を前記第二電圧に固定するためのヒューズユニットを含む、
請求項１に記載の回路群。
【請求項８】
前記第一回路と前記第二回路とは、同じ構成要素を有する、
請求項１に記載の回路群。
【請求項９】
第一回路及び第二回路を少なくとも含む回路群のテスト方法であって、
第一調整信号に基づいて前記第一回路の第一電圧を、当該第一電圧よりも参照電圧に接近する第二電圧に調整するステップと、
第二調整信号に基づいて前記第二回路の第三電圧を、当該第三電圧よりも参照電圧に接近する第四電圧に調整するステップと、
マージン調整信号に基づいて前記第二電圧と前記第四電圧のマージン範囲を一緒に調整するステップと、
を含む、
テスト方法。
【請求項１０】
第一回路及び第二回路を少なくとも含む回路群をテストするためのテスト装置であって、
前記第一回路及び前記第二回路と接続し、前記第一回路の第一電圧に基づいて第一調整信号を生成し、前記第一回路は前記第一調整信号に基づいて前記第一電圧を、当該第一電圧よりも参照電圧に接近する第二電圧に調整し、前記第二回路の第三電圧に基づいて第二調整信号を生成し、前記第二回路は前記第二調整信号に基づいて前記第三電圧を、当該第三電圧よりも参照電圧に接近する第四電圧に調整する第一制御ユニットと、
前記第一回路及び前記第二回路と接続し、マージン調整信号を生成して前記第二電圧と前記第四電圧のマージン範囲を一緒に調整する第二制御ユニットと、
を含む、
テスト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路群のテスト技術に関し、特に、複数の回路のマージン電圧（Ｍａｒｇｉｎ  Ｖｏｌｔａｇｅ）のテスト技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
多数の集積回路（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＩＣ）にとって言えば、通常、その内部には直流電圧生成器が配置される。直流電圧生成器によりＩＣへ提供された電圧が不適当である場合、ＩＣが正常に動作できないことを招く恐れがある。よって、ＩＣが製造された後に、通常、ＩＣに対してテストを行うことにより、ＩＣの歩留まりを確保する。以下、添付した図面を参照しながら、従来の回路テスト技術を詳細に説明する。
【０００３】
図１は、ヒューズ技術により直流電圧生成器の電圧を調整することを内含する回路を示す図である。図１を参照する。回路１１は、直流電圧生成器１０１とテストモード調整ユニット（Ｔｅｓｔ  Ｍｏｄｅ  Ｔｒｉｍ  Ｕｎｉｔ）１０２を含む。直流電圧生成器１０１は、直流電圧Ｖ１を提供するために用いられる。テストモード調整ユニット１０２は、直流電圧Ｖ１を多種な異なるテスト電圧Ｖｏｕｔに調整することにより、回路１１が正常に動作できるかをテストする。
【０００４】
まず、回路１１の最適の動作電圧が２．５Ｖであり、且つ、そのマージン電圧が２．３Ｖ〜２．７Ｖであると仮定する。また、表１に示すように、テストモード調整ユニット１０２が８種類のテストモードを有すると仮定する。
【表１】
0004801118.tif 000002
一般的に言えば、回路のテストは、２段階に分けられ、第一段階は、最適な動作電圧に最も近いテスト電圧を回路１１へ提供し、これにより、回路１１が正常に動作できるかをテストする。第二の階段は、マージン電圧を回路１１へ提供し、また、回路１１が正常に動作できるかをテストし、これにより、回路１１の品質を確保する。
【０００５】
直流電圧生成器１０１により生成された直流電圧Ｖ１が２．６５Ｖであると仮定する。回路テストの第一段階において、回路１１が最適な動作電圧の下で正常に動作できるかをシミュレーションするために、まず、テストモード調整ユニット１０２のテストモードを「０、１、０」に設定し、これにより、直流電圧Ｖ１に−０．１Ｖの電圧偏移を生成させ、回路１１へ２．５５Ｖのテスト電圧を出力し、続いて、回路１１がマージン電圧の下で正常に動作できるかをテストする。回路１１が正常に動作できれば、回路１１がヒューズ技術により修復されることができると指し、回路１１が正常に動作できなければ、回路１１が欠点を有し出荷できないことを指し、これにより、ユーザが正常に動作できない回路を買うことを避けることができる。
【０００６】
また、回路テストの第二段階において、回路１１がマージン電圧の下で正常に動作できるかをシミュレーションするために、まず、テストモード調整ユニット１０２のテストモードを「１、０、０」に変更し、これにより、直流電圧Ｖ１に＋０．０５Ｖの電圧偏移を生成させ、回路１１へ２．７Ｖのテスト電圧Ｖｏｕｔを出力する。このようにすれば、２．７Ｖのテスト電圧Ｖｏｕｔを使用することにより、回路１１がマージン電圧２．７Ｖの下で正常に動作できるかをシミュレーションすることができる。
【０００７】
また、テストモード調整ユニット１０２のテストモードを「０、１、１」に変更し、これにより、直流電圧Ｖ１に−０．２Ｖの電圧偏移を生成させ、回路１１へ２．４５Ｖのテスト電圧を出力することができる。このようにすれば、２．４５Ｖのテスト電圧Ｖｏｕｔを使用することにより、回路１１がマージン電圧２．３Ｖの下で正常に動作できるかをシミュレーションすることができる。なお、テストモード調整ユニット１０２の制限で、テストモード調整ユニット１０２は、回路１１がマージン電圧２．３Ｖの下で正常に動作できるかをシミュレーションするための２．３Ｖのテスト電圧を提供することができない。言い換えれば、前記動作は、回路１１が２．３Ｖ〜２．４５Ｖの下で相変わらず正常に動作することを確保することができない。
【０００８】
その上、テストする必要がある回路１１が１００個を有すると仮定する。各回路１１の直流電圧生成器１０１により生成された直流電圧Ｖ１は互いに多少異なるので、回路のテストを行う時に、前記１００個の回路１１のテストモード調整ユニット１０２に対して逐一に設定を行い、適当なテスト電圧を生成しなければならない。より詳しく言えば、前述した従来の方法によると、各回路１１が回路テストの第一段階と第二段階に要したテスト時間がそれぞれＴ１とＴ２であると仮定すると、１００個の回路１１が回路テストに要した総時間が１００×（Ｔ１＋Ｔ２）となる。よって、従来の方法では、相当な時間を要し、且つ、コストも浪費する。
【０００９】
再び図１を参照する。前述と同様に、テストする必要がある回路１１が１００個を有すると仮定する。回路のテストに要する総時間を短縮するために、従来技術では、他のテスト方法が提案された。この方法では、回路テストの第一段階において、まず、テスト装置（図示せず）
を利用して２．５Ｖのテスト電圧Ｖ１を同時に１００個の回路１１へ提供し、これにより、１００個の回路１１が正常に動作できるかを並列にテストする。
【００１０】
また、回路テストの第二段階において、まず、テスト装置を利用して２．３Ｖのテスト電圧Ｖ１を１００個の回路１１へ同時に提供し、これにより、１００個の回路１１が正常に動作できるかを並列にテストする。続いて、テスト装置を再び利用して２．７Ｖのテスト電圧Ｖ１を１００個の回路１１へ同時に提供し、これにより、１００個の回路１１が正常に動作できるかを並列にテストする。この方法により、回路のテストに要した総時間を短縮することができるが、１００個の回路１１の直流電圧生成器１０１が全て正常に動作することを確保することができない。言い換えれば、回路１１の直流電圧生成器１０１が欠点を有すれば、回路１１が正常に動作できないことを招くことが依然可能である。しかし、従来の方法では、直流電圧生成器１０１が欠点を有するかを検出することができない。
【００１１】
その上、テスト装置により提供されるテスト電圧Ｖ１がかなり安定で且つ強大な駆動能力を有するので、回路１１に電流漏れなどが発生したとしても、テスト電圧Ｖ１に偏移を発生させることができない。言い換えると、回路１１が電流漏れなどの欠点を有する場合、回路１１の直流電圧生成器１０１により２．５Ｖの動作電圧を回路１１へ提供しても、回路１１が電流漏れなどの欠点を有するので、直流電圧生成器１０１により提供される動作電圧に偏移を生成させてしまい（例えば、２．０Ｖに偏移させてしまい）、このようにすれば、回路１１が正常に動作できない恐れがある。しかし、従来の方法では、このような欠点を検出することができない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明の目的は、回路テスト歩留まりを向上することができる回路群を提供することにある。
【００１３】
本発明の他の目的は、複数の回路を並列にテストし、テストコストを節約することができる回路群のテスト方法を提供することにある。
【００１４】
本発明の他の目的は、回路群における複数の回路を並列にテストし、テスト時間を短縮し、コストを削減することができるテスト装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
前述した目的を達成するために、本発明による回路群は、第一回路と第二回路を少なく含む。本発明によるテスト方法は、第一調整信号に基づいて第一回路の第一電圧を、第一電圧よりも参照電圧に接近する第二電圧に調整するステップと、第二調整信号に基づいて第二回路の第三電圧を、第三電圧よりも参照電圧に接近する第四電圧に調整するステップと、マージン調整信号に基づいて第二電圧と第四電圧のマージン範囲を一緒に調整するステップと、を含む。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、回路テスト歩留まりを向上することができる回路群、複数の回路を並列にテストすることによりテストコストを節約することができる回路群のテスト方法、及び、回路群における複数の回路を並列にテストすることによりテスト時間を短縮しコストを削減することができるテスト装置提供する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
次に、添付した図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態を詳細に説明する。
【００１８】
図２は、本発明の実施例による回路群及びそのテスト装置を示す図である。図２を参照する。この実施例において、回路群は、回路２１〜２４を含む。一方、テスト装置２５は、制御ユニット２１１、２１２を含む。本実施例において、回路２１〜２４は、それぞれ、直流電圧生成器２０１と電圧調整モジュール２０２、２０３を含む。
【００１９】
回路２１において、直流電圧生成器２０１は、動作電圧Ｖｗを受け取ることができ、これにより、電圧Ｖｉｎ１を生成する。回路２１の電圧調整モジュール２０２は、制御ユニット２１１により提供される調整信号Ｓ１に基づいて電圧Ｖｉｎ１を、参照電圧に接近する電圧Ｖｒｅｆ１に調整することができる。また、回路２１の電圧調整モジュール２０３は、制御ユニット２１２により提供されるマージン調整信号Ｓｍａに基づいて電圧Ｖｒｅｆ１のマージン範囲を調整する。より具体的に言えば、回路２１の電圧調整モジュール２０３は、マージン調整信号Ｓｍａに基づいて電圧Ｖｒｅｆ１を電圧Ｖｒｅｆ１±△Ｖに調整することができる。
【００２０】
同様に、回路２２において、直流電圧生成器２０１は、動作電圧Ｖｗを受け取ることができ、これにより、電圧Ｖｉｎ２を生成する。回路２２の電圧調整モジュール２０２は、制御ユニット２１１により提供される調整信号Ｓ２に基づいて電圧Ｖｉｎ２を、参照電圧に接近する電圧Ｖｒｅｆ２に調整することができる。また、回路２２の電圧調整モジュール２０３は、制御ユニット２１２により提供されるマージン調整信号Ｓｍａに基づいて電圧Ｖｒｅｆ２のマージン範囲を調整することができる。より具体的に言えば、回路２２の電圧調整モジュール２０３は、マージン調整信号Ｓｍａに基づいて電圧Ｖｒｅｆ２を電圧Ｖｒｅｆ２±△Ｖに調整することができる。また、回路２３、２４についても同様であり、ここではその説明を省略する。
【００２１】
なお、従来技術では、直流電圧生成器２０１が精確な電圧を生成することができないので、回路２１〜２４の直流電圧生成器２０１により生成される電圧Ｖｉｎ１〜Ｖｉｎ４は互いに多少異なり、これにより、電圧Ｖｒｅｆ１〜Ｖｒｅｆ４と電圧Ｖｒｅｆ１±△Ｖ〜Ｖｒｅｆ４±△Ｖも互いに多少異なることになる。
【００２２】
また、他の角度から見ると、テスト装置２５における制御ユニット２１１は、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０２とそれぞれカップリングされる。制御ユニット２１１が、それぞれ、回路２１〜２４の電圧Ｖｉｎ１〜Ｖｉｎ４に基づいて調整信号Ｓ１〜Ｓ４を生成し、これにより、制御回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０２をそれぞれ制御することができる。また、テストユニット２５における制御ユニット２１２は、それぞれ、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３とカップリングされる。制御ユニット２１２は、マージン調整信号Ｓｍａを生成しつつ回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３を制御する。
【００２３】
図３は、本発明の実施例に係る回路群のテスト方法のフローチャートである。図２と図３を参照する。本実施例において、回路２１〜２４の最適な動作電圧が２．５Ｖであり、且つ、そのマージン電圧が２．３Ｖ〜２．７Ｖであると仮定する。また、表２に示すように、電圧調整モジュール２０２が８種類の調整モードを有すると仮定する。さらに、図３に示すように、電圧調整モジュール２０３も８種類の調整モードを有すると仮定する。
【表２】
0004801118.tif 000003
【表３】
0004801118.tif 000004
本実施例において、回路群の回路２１〜２４のテストは、２段階に分けられる。第一段階は、回路２１〜２４が最適な動作電圧の下で正常に動作できるかをシミュレーションする。第二階段は、回路２１〜２４がマージン電圧の下で正常に動作できるかをシミュレーションする。以下、まず、第一段階について説明を行う。
【００２４】
第一段階
まず、テスト装置２５により回路２１〜２４の直流電圧生成器２０１へ動作電圧Ｖｗを提供し、これにより、回路２１〜２４の直流電圧生成器２０１に電圧Ｖｉｎ１〜Ｖｉｎ４をそれぞれ生成させる。本実施例において、電圧Ｖｉｎ１〜Ｖｉｎ４がそれぞれ２．６５Ｖ、２．５３Ｖ、２．３３Ｖ及び２．１５Ｖであることを例として説明を行うが、本発明は、それに限ることが無い。続いて、テスト装置２５の制御ユニット２１１が電圧Ｖｉｎ１〜Ｖｉｎ４に基づいて調整信号Ｓ１〜Ｓ４をそれぞれ生成し、これにより、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０２をそれぞれ制御することができる。
【００２５】
また、回路群の角度から見ると、回路２１の電圧調整モジュール２０２は、調整信号Ｓ１に基づいて電圧Ｖｉｎ１を、参照電圧に接近する電圧Ｖｒｅｆ１に調整することができる（ステップＳ３０１）。本実施例において、参照電圧が最適な動作電圧２．５Ｖであることを例として説明を行うが、本発明は、これに限ることが無い。他の実施例において、参照電圧が他の電圧値であっても良い。より具体的に言えば、ステップＳ３０１において、回路２１の電圧調整モジュール２０２は、調整信号Ｓ１に基づいてその調整モードを「０、１、０」に調整し、２．６５Ｖの電圧Ｖｉｎ１を２．５５Ｖの電圧Ｖｒｅｆ１に調整することができる。
【００２６】
同様に、回路２２〜２４の電圧調整モジュール２０２は、調整信号Ｓ２〜Ｓ４に基づいて電圧Ｖｉｎ２〜Ｖｉｎ４を、参照電圧に接近する電圧Ｖｒｅｆ２〜Ｖｒｅｆ４にそれぞれ調整することができる（ステップＳ３０２）。より具体的に言えば、ステップＳ３０２において、回路２２の電圧調整モジュール２０２は、調整信号Ｓ２に基づいてその調整モードを「０、０、０」に設定し、２．５３Ｖの電圧Ｖｉｎ２を２．５３Ｖの電圧Ｖｒｅｆ２に維持することができる。また、回路２３の電圧調整モジュール２０２は、調整信号Ｓ３に基づいてその調整モードを「１、１、０」に設定し、２．３３Ｖの電圧Ｖｉｎ３を２．４８Ｖの電圧Ｖｒｅｆ３に調整することができる。さらに、回路２４の電圧調整モジュール２０２は、調整信号Ｓ４に基づいてその調整モードを「１、１、１」に設定し、２．１５Ｖの電圧Ｖｉｎ４を２．３５Ｖの電圧Ｖｒｅｆ４に調整することができる。
【００２７】
続いて、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３が予め設定される調整モード「０、０、０」を用いることにより、電圧２．５５Ｖ、２．５３Ｖ、２．４８Ｖ及び２．３５Ｖをそれぞれ出力することができる。このようにすれば、回路２１は、電圧２．５５Ｖを用いることにより、回路２１が最適な動作電圧の下で正常に動作できるかをシミュレーションすることができる。回路２１が正常に動作できれば、回路２１がヒューズ技術により修復されることができると指し、回路２１が正常に動作できなければ、回路２１が欠点を有し出荷できないことを指し、これにより、ユーザが正常に動作できない回路を購入することを避けることができる。また、回路２２〜２４についても同様であり、ここでは、その説明を省略する。
【００２８】
前述した方法による利点は、回路２１〜２４がパッケージされた後に使用する電圧を正しくシミュレーションできることにある。よって、回路２１〜２４が実際に使用される時に正常に動作できるかを正しく表すことができ、これにより、テスト品質を向上することができる。
【００２９】
回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０２の出力／入力電圧をより明りょうに表すために、ここでは、それらを表４に纏める。また、ここでは、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３の出力／入力電圧を表５に纏める。
【表４】
0004801118.tif 000005
【表５】
0004801118.tif 000006

第二段階
続いて、第二段階において、回路２１〜２４がマージン電圧の下で正常に動作できるかをシミュレーションする。第二段階において、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０２の調整モードが第一段階と同様に維持されても良い。本実施例において、回路２１〜２４がマージン電圧の下で正常に動作できるかをシミュレーションするために、制御ユニット２１２がマージン調整信号Ｓｍａを生成することのみにより、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３の調整モードを同時に制御する必要がある。他の角度から見ると、回路２１〜２４は、マージン調整信号Ｓｍａに基づいて電圧Ｖｒｅｆ１〜Ｖｒｅｆ４のマージン範囲を同時に調整することができる（ステップＳ３０３）。
【００３０】
例えば、回路２１〜２４がマージン電圧２．３Ｖの下で正常に動作できるかをシミュレーションするために、まず、制御ユニット２１２によりマージン調整信号Ｓｍａを生成しつつ回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３の調整モードを「１、０，１」に設定し、これにより、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３に電圧２．３５Ｖ、２．３３Ｖ、２．２８Ｖ及び２．１５Ｖをそれぞれ出力させる。このようにすれば、回路２１〜２４は、２．３５Ｖ、２．３３Ｖ、２．２８Ｖおよび２．１５Ｖをそれぞれ用いることにより、回路２１〜２４がマージン電圧２．３Ｖの下で正常に動作できるかをシミュレーションすることができる。
【００３１】
また、例えば、回路２１〜２４がマージン電圧２．７Ｖの下で正常に動作できるかをシミュレーションするために、まず、制御ユニット２１２によりマージン調整信号Ｓｍａを生成しつつ回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３の調整モードを「０、１、０」に設定し、これにより、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３に電圧２．７５Ｖ、２．７３Ｖ、２．６８Ｖ及び２．５５Ｖをそれぞれ出力させる。このようにすれば、回路２１〜２４は、２．７５Ｖ、２．７３Ｖ、２．６８Ｖ及び２．５５Ｖをそれぞれ用いることにより、回路２１〜２４がマージン電圧２．７Ｖの下で正常に動作できるかをシミュレーションすることができる。
【００３２】
前述した方法による利点は、回路群のテスト時間を大幅に節約できることにある。より具体的に言えば、本実施例の第二段階において、回路２１〜２４を同時に並列にテストすることができるので、回路群のテスト時間を大幅に節約することができる。それに、回路２１〜２４がパッケージされた後に使用するマージン電圧を正しくシミュレーションすることもできるので、回路２１〜２４が実際に使用されるときに正常に動作できるかを正しく表し、テスト品質を向上することができる。本実施例により節約されるテスト時間をより明確に示すために、以下、本実施例に係る技術と従来技術との比較を行う。
【００３３】
再び図１を参照する。従来技術によれば、１００個の回路１１に対してテストを行うときに要した総時間が１００×（Ｔ１＋Ｔ２）になる。しかし、本実施例の技術を前述した例に応用すれば、１００個の回路１１に対してテストを行う時に要した総時間が（１００×Ｔ１）＋Ｔ２になる。よって、本実施例により、回路テストに要した総時間を大幅に短縮することが確実であり、且つ、テスト品質を維持することもでき、例えば、直流電圧生成器１０１の欠点を検出することができる。従って、本実施例に係る技術により、従来技術に長期的に存在する問題を解決することができる。
【００３４】
再び図２を参照する。前述した実施例において、回路群は、回路２１〜２４のみに基づいて説明されるが、本発明は、これに限ることが無い。他の実施例において、回路群の回路の数量は、他の値であって良い。
【００３５】
なお、前述した実施例において回路群及びそのテスト方法とテスト装置の可能な実施形態について説明したが、当業者が知っているように、各メーカが採用する回路群及びそのテスト方法とテスト装置の設計が異なるので、本発明の応用は、そのような実施形態に限らない。言い換えると、第一制御信号に基づいて第一回路の第一電圧を第二電圧に調整し、且つ第二調整信号に基づいて第二回路の第三電圧を第四電圧に調整し、またマージン調整信号に基づいて第二電圧及び第四電圧のマージン範囲を一緒に調整するのであれば、本発明の範囲内に属する。以下、電圧調整モジュールの他の実施形態を述べる。
【００３６】
以下、図２における電圧調整モジュール２０２の他の実施形態を提供する。図４は、図２の電圧調整モジュールの回路図である。図２と図４を参照する。本実施例において、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０２が互いに類似するので、ここでは、回路２１の電圧調整モジュール２０２のみについて説明を行うが、回路２２〜２４の電圧調整モジュール２０２の実施形態についても同様である。
【００３７】
説明の便宜のために、ここでは、電圧調整モジュール２０２の３種類の調整モードの実施形態を列挙する。これにより、当業者が電圧調整モジュール２０２の異なる数量の調整モードの実施形態を推測することができる。回路２１の電圧調整モジュール２０２は、増幅器４１、トランジスタ４２及び可変式分圧モジュール４３を含む。可変式分圧モジュール４３は、スイッチユニットとヒューズユニット４０１〜４０６、抵抗４１１〜４１４を含む。可変式分圧モジュール４３は、調整信号Ｓ１に基づいてスイッチユニットとヒューズユニット４０１〜４０６の導通状態をそれぞれ決定することにより、可変式分圧モジュール４３の内部回路の接続関係を変更することができる。このやり方の目的は、可変式分圧モジュール４３の各端部の間の抵抗比を調整することにより可変式分圧モジュール４３の第三端部に電圧Ｖｒｅｆ１を出力させることにある。
【００３８】
例えば、スイッチユニットとヒューズユニット４０１、４０５、４０６が導通し且つスイッチユニットとヒューズユニット４０２〜４０４が導通しない時に、可変式分圧モジュール４３は第一調整モードに設定する。スイッチユニットとヒューズユニット４０１、４０４、４０６が導通し且つスイッチユニットとヒューズユニット４０２、４０３、４０５が導通しないときに、可変式分圧モジュール４３は第二調整モードに設定する。スイッチユニットとヒューズユニット４０２、４０３が導通し且つスイッチユニットとヒューズユニット４０１、４０４〜４０６が導通しないときに、可変式分圧モジュール４３は第三調整モードに設定する。このようにすれば、電圧Ｖｒｅｆ１が３種類の電圧変化を有するようにさせることができる。また、当業者が実際に応じて抵抗４１１〜４１４の抵抗値を変えても良く、これにより、各種の電圧値を有する電圧Ｖｒｅｆ１を生成することができる。
【００３９】
一方、スイッチユニットとヒューズユニット４０１〜４０６は、スイッチ（図示せず）とヒューズ（図示せず）をそれぞれ含むので、スイッチユニットとヒューズユニット４０１〜４０６は、調整信号Ｓ１に基づいてその導通状態が決定され、テストのために用いられる。また、回路２１のテストが完了した後に、レーザ技術によりスイッチユニットとヒューズユニット４０１〜４０６のヒューズを溶断することにより電圧Ｖｒｅｆ１を固定する。これにより、直流電圧生成器２０１により生成された電圧の誤差を減少する。
【００４０】
当業者が実際に応じて電圧調整モジュール２０２の実施形態を変えることもできる。例えば、図４における可変式分圧モジュール４３のスイッチユニットとヒューズユニット４０１〜４０６の代わりにスイッチユニットを使用しても良い。図５は、図２における電圧調整モジュールの他の回路図である。図２、図４及び図５を参照する。図５の可変式分圧モジュール４４は図４の可変式分圧モジュール４３と類似するが、相違点は、図５の可変式分圧モジュール４４がスイッチユニット４２１〜４２６と抵抗４１１〜４１４とを含むことにある。
【００４１】
また、図２の電圧調整モジュール２０３は電圧調整モジュール２０２と類似するので、回路２１〜２４の電圧調整モジュール２０３については図４と図５の実施形態を参照すれば良く、ここでは、その説明を省略する。
【００４２】
故に、本発明は、第一調整信号に基づいて第一回路の第一電圧を第二電圧に調整し、そのうち、第二電圧は、第一電圧よりも参照電圧に接近する。また、第二調整信号に基づいて第二回路の第三電圧を第四電圧に調整し、そのうち、第四電圧は、第三電圧よりも参照電圧に接近する。さらに、マージン調整信号に基づいて第二電圧と第四電圧のマージン範囲を調整する。これにより、第一回路と第二回路のテスト時間を短縮し、コストを節約することができる。
【００４３】
また、本発明は、少なくとも次の利点を有する。
【００４４】
１、回路テストの第二段階（マージン電圧のテスト）において、並列テスト技術を用いてテスト時間を大幅に減少することにより、コストを節約することができる。
【００４５】
２、回路における直流電圧生成器を用いてテストを行うことにより、直流電圧生成器の欠点を確実に検出し、且つ、回路の実際の動作状況を正しくシミュレーションすることができる。これにより、回路の歩留まりとテスト品質を向上することができる。
【００４６】
３、電圧調整モジュールにヒューズユニットを配置し、ヒューズ技術で直流電圧生成器により生成された電圧の誤差を修復することにより、回路の歩留まりを向上することができる。
【００４７】
以上、本発明の好ましい実施形態を説明したが、本発明はこの実施形態に限定されず、本発明の趣旨を離脱しない限り、本発明に対するあらゆる変更は本発明の範囲に属する。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】ヒューズ技術により直流電圧生成器の電圧を調整する従来の回路を示す図である。
【図２】本発明の実施例による回路群及びそのテスト装置を示す図である。
【図３】本発明の実施例による回路群のテスト方法のフローチャートである。
【図４】図２における電圧調整モジュールの回路図である。
【図５】図２における電圧調整モジュールの他の回路図である。
【符号の説明】
【００４９】
１１、２１〜２４  回路
２５  テスト装置
４１  増幅器
４２  トランジスタ
４３  可変式分圧モジュール
１０１、２０１  直流電圧生成器
１０２  テストモード調整ユニット
２０２、２０３  電圧調整モジュール
２１１、２１２  制御ユニット
４０１〜４０６  スイッチユニットとヒューズユニット
４１１〜４１４  抵抗
４２１〜４２６  スイッチユニット
Ｖ１、Ｖｏｕｔ、Ｖｗ、Ｖｉｎ１〜Ｖｉｎ４、Ｖｒｅｆ１〜Ｖｒｅｆ４、Ｖｒｅｆ１±△Ｖ〜Ｖｒｅｆ４±△Ｖ、ＶＣＣ、ＧＮＤ  電圧
Ｓ１〜Ｓ４、Ｓｍａ  調整信号
Ｓ３０１〜Ｓ３０３  回路群のテスト方法の各ステップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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