(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の隣接する画像化出力装置の各々を、前記画像化出力装置において制御される性質を表す画像化変数に関する複数の初期設定であって、複数の目標の光学的性質に対応している前記複数の初期設定に基づいて駆動することにより、複数の画像領域を画像化媒体上に形成するステップと、
各々の前記画像領域について光学的性質を測定するステップと、
光学的性質の各々の測定データについて、前記画像化出力装置において制御される性質を表す２つの前記画像化変数および３つの特徴付けパラメータの関数として特性方程式を定義するステップと、
各々の前記特性方程式のため上記特徴付けパラメータを計算するステップと、
異なる目標の光学的性質値ごとに１つの応答曲線を生成するステップであって、１つの前記目標の光学的性質に対応する前記初期設定に基づいて前記複数の隣接する画像化出力装置により形成された前記複数の画像領域について、当該複数の画像領域の間での前記光学的性質の変動を減少するように、当該複数の画像領域の前記測定データに当てはめられる応答曲線を生成するステップと、
少なくとも１つの前記画像化変数を調整することにより、前記光学的性質の測定データと前記応答曲線との差を低減して、隣接する前記画像化出力装置の間の変動を減少するステップと、
調整された前記画像化変数及び計算された前記特徴付けパラメータの関数として画像を生成するステップと
を含む、画像化装置を較正する方法。
【請求項２】
前記画像化出力装置が複数のパルスレーザダイオードであり、前記画像化変数を調整するステップがパルス持続時間及びレーザ電流を調整するステップを含む、請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記２つの画像化変数を調整する前記ステップが、測定された前記光学的性質と前記応答曲線との間の差を計算するステップを含む、請求項１記載の方法。
【請求項４】
各画像化出力装置を監視するために前記測定ステップを繰り返すステップを更に含む、請求項１記載の方法。
【請求項５】
応答曲線を生成する前記ステップが、前記応答曲線をメモリに格納するステップを含む、請求項１記載の方法。
【請求項６】
前記１つ以上の対応する光学的性質の測定データが所定の閾値より以上に，生成された前記応答曲線からずれている場合、少なくとも１つの画像化出力変数を調整する前記ステップを繰り返すステップを更に含む、請求項５記載の方法。
【請求項７】
光学的性質を測定する前記ステップが、画像化システムに通信可能に連結された濃度計を用いて各画像領域の光学濃度を自動測定するステップを含む、請求項１記載の方法。
【請求項８】
光学的性質を測定する前記ステップが、画像化システムに通信可能に連結された分光測光器を用いて各画像領域の光学濃度を自動測定するステップを含む、請求項１記載の方法。
【請求項９】
各々が画像化媒体の対応する部分に画像を形成する複数の隣接する画像化出力装置と、
前記画像化媒体の光学的性質を測定する測定装置と、
前記画像化出力装置及び前記測定装置に連結されたコントローラであって、前記複数の隣接する画像化出力装置の各々を、複数の目標の光学的性質に対応している複数の初期設定であって、前記画像化出力装置において制御される性質を表す画像化変数についての前記複数の初期設定で駆動することにより、複数の画像領域を画像化媒体上に形成させ、前記測定装置に、各々の前記画像領域について光学的性質を測定させ、光学的性質の各々の測定データについて、前記画像化出力装置において制御される性質を表す２つの前記画像化変数および３つの特徴付けパラメータの関数により特性方程式を定義し、各々の前記特性方程式のため上記特徴付けパラメータを計算し、前記複数の目標の光学的性質の各々について、当該目標の光学的性質に対応する前記初期設定に基づいて前記複数の隣接する画像化出力装置により形成された前記複数の画像化領域について、当該複数の画像化領域の間での前記光学的性質の変動を減少するように、当該複数の画像化領域の前記測定データに当てはめられる１つの応答曲線を生成し、少なくとも１つの前記画像化変数を調整することにより、前記光学的性質の測定データと前記応答曲線との差を低減して、隣接する前記画像化出力装置の間の変動を減少し、前記複数の隣接する画像化出力装置の各々に、前記調整された前記画像化変数及び計算された前記特徴付けパラメータの関数として画像を生成させるコントローラと、
を含む、画像化装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
発明の技術分野
本発明は、一般に画像化の分野に関し、より詳しくは、複数の画像化出力装置を有する画像化装置を較正する方法及び装置に関する。
【０００２】
発明の背景技術
多くの既存の印刷装置は、連続階調画像を容易に再現できない２値レベル装置である。これらの装置では、連続階調画像は、スクリーンとして知られる中間階調グリッドをまず定義することにより近似される。前記スクリーンは、本質的に中間階調セルとして知られる領域の配列である。各中間階調セルは通常、固定サイズであり、ディジタル２値レベル方式で選択的に「オン」にして種々のパターンを形成することができるアドレス指定可能な画素のマトリックスにより定義される。人間の目は、中間階調セルの前記配列を統合して連続階調画像を視覚化する。前記連続階調画像の該当領域の階調値を示すために、階調値は前記スクリーン内の各中間階調セルに割り当てられる。各中間階調セル内に含まれる前記画素の一部を起動させることにより、前記セルは、前記連続階調画像のそれぞれの領域を密に近似する階調色をシミュレートする。例えば、前記画像のより明るい領域を近似するために、前記中間階調セルのより小さい百分率の画素（例えば、１０％）を起動させる。より暗い領域をシミュレートするために、より大きい百分率の画素を起動させる。
【０００３】
従来の印刷装置は、それぞれの中間階調セルで「オン」になっている各画素に対応する位置で中間階調ドットを媒体上に形成することにより中間階調画像を生成する。中間階調ドットを形成する方法は、印刷装置の種類に関与している。例えば、起動された点に対応する位置でインク又はトナーを印刷基板上に付着させることによりスポットを形成することができる。代わりに、放射線又は熱エネルギーにそれぞれ暴露することによりスポットを写真フィルム又は感熱フィルム上に形成することもできる。他の印刷装置では、当業界で知られているダイ昇華や熱物質トランスファなどの処理を使用している。
【０００４】
多くの印刷装置は、黄、シアン、マゼンタ及び黒などの色成分に元の色画像を分離することによりその色画像を再現する。前記色成分は、前述の中間階調処理に応じてそれぞれの媒体上に別々に形成される。例えば、オフセット印刷では、印刷版を各色成分に対して作成し、色インクを重ね印刷することにより色画像を再現する。
【０００５】
ドットゲインは、中間階調システムに関連する周知の問題であり、印刷された中間階調ドットのサイズのその目標サイズからの見掛けの変化を指す。この現象は、インクの広がり易さやフィルム特性の変動などの多くの要因から生じる。例えば、中間階調セル内の５０％のドットを暴露すると、得られる暗い領域は、前記中間階調セルにより定義された全領域の５０％よりも大きい又は小さい領域を占める場合がある。一般的に、これは、画像化システム、フィルム、媒体又は処理システムの非線形効果のせいである。０％及び１００％は通常達成可能であるため、非線形の関係は、目標ドット領域と得られるドット領域との間に現れる。
【０００６】
イメージセッタと呼ばれる従来の印刷装置のサブセットは、フロントエンドラスタ画像プロセッサ（ＲＩＰ）と、フィルム、紙又は印刷版上に画像を生成する記録装置とから成る。手動較正法は、ドットゲインを補償するように中間階調イメージセッタを較正する手段として業界で周知である。一般的に、印刷装置のオペレータは、濃度計を用いてドットゲインを検出する。濃度計は、再現された画像の感知光学濃度を測定する器械である。濃度計は通常、再現された画像を照明する発光構成部品と、前記画像から反射した光を測定する光検出器とから成る。また、前記光検出器は、前記再現画像を透過した光を測定する。前記画像が暗いほど、より多くの光を吸収し、前記濃度計からの濃度読取値は高くなる。較正処理中、一連の中間階調画像領域を含む単一のグレースケールテストパターンが印刷される。各画像領域は、異なる所定のドット領域を有する。例えば、一連の画像領域は通常、前記ドット領域が２％から１００％の範囲になるよう印刷される。前記オペレータは、標準の濃度計を用いて各画像領域の濃度を手動で測定する。これらの測定値から、「伝達関数」を作成して、補正視覚濃度を生成するドット領域にその後要求される任意のドット領域をマップする。
【０００７】
従来の較正法は、アプリケーションレベル又はＲＩＰレベルの何れかで作動する。アプリケーションレベル法は、各印刷ジョブと共に伝達関数を送る。一方、ＲＩＰ方式補償法は、伝達関数を格納するのにＲＩＰを必要とする。前記オペレータは、現在の動作条件に基づいて補正伝達関数を選択する。新しい媒体の種類の使用等といった動作条件が変わると、オペレータは、グレースケールテストパターンを生成し、濃度計を用いて濃度を手動で測定し、伝達関数を生成し、現在の使用に対する新しい関数を指定する。主なシステム変更が生じない場合、例えば数週間の長期間にわたって前記関数を使用してもよい。
【０００８】
上述の較正法では、較正が適切である時をオペレータが判断する必要があり、よって、オペレータが実質的に対話する必要がある。更に、このような手動の方法は、数個のレーザダイオードなどの複数の画像化出力装置を有する画像化システムにおいて不適当である。このようなシステムの手動較正は、あまりにも時間がかかり、僅かしか受け入れられないという結果になる。
【０００９】
前述の理由、及び本明細書を読んで理解した当業者にとって明白である後述の他の理由から、オペレータの関与を要することなく複数の画像化出力装置を有する画像化システムを較正する方法及び装置が業界で必要である。
【００１０】
発明の開示
先行技術の問題を解決するために、本発明は、複数のレーザダイオードなどの複数の画像化出力装置を有する画像化装置を較正する改良方法及び装置を提供する。各画像化出力装置を駆動して少なくとも１つの画像領域を有するテストパターンを画像化媒体上に形成することにより、較正を行う。各画像領域は、目標光学濃度、目標鮮鋭度などの目標光学的性質を有する。次に、光学濃度などの光学的性質を各形成画像領域に関して測定する。前記測定光学的性質の関数として前記画像化出力装置を調整して、前記複数の画像化出力装置により描写される領域間の光学的変動を低減する。
【００１１】
より詳しくは、１つ以上の画像化変数の関数として前記測定光学的性質を特徴付けることにより、前記画像化出力装置を調整する。実質的に等しい目標光学的性質を有する各組の画像領域に関して応答曲線を生成する。例えば、各画像化出力装置がグレースケールを形成すると、実質的に等しい目標濃度を有する画像領域に関して応答曲線を生成する。前記測定光学的性質と前記応答曲線との間の差を低減することにより、各画像領域に関する前記画像化変数を調整する。例えば、ある実施形態において、前記画像化出力装置は、前記調整画像化変数がパルス持続時間及びレーザ電流を含むような複数のパルスレーザダイオードである。本発明の上記及び他の特徴と利点は、本発明の好ましい実施形態の以下の説明から明らかになるであろう。
【００１２】
発明の詳細な説明
以下の詳細な説明において、本発明を実施可能な具体的な実施形態を示す添付図面を参照する。本発明の精神と範囲に反することなく、電気的、機械的、論理的及び構造的な変更を実施形態について行うことができる。それゆえ、以下の詳細な説明は限定的な意味に解釈されるべきでなく、本発明の範囲は添付の請求項及びそれらの均等物によって定まるものである。
【００１３】
図面について説明すると、図１はブロック図の形態で画像化装置１０を示す。この画像化装置１０は、複数の画像化源３２を有する任意の画像化デバイスを表す。例えば、ある実施形態では、図１に示すように、画像化装置１０は任意の中間階調画像化デバイスである。しかし、別の実施形態では、画像化装置１０は、任意の連続階調画像化デバイス、又はこれらの画像化処理の組合せを用いた任意の画像化デバイスでもよい。
【００１４】
画像化装置１０は、ラスタ画像プロセッサ（ＲＩＰ）１４及びレコーダ１８を含む。ＲＩＰ１４は、ＰｏｓｔｓｃｒｉｐｔTMなどのページ記述言語（ＰＤＬ）で特徴を表した画像データを含むファイル２０を受信する。一例として、ＲＩＰ１４は、データファイルの形態でワークステーション（図示せず）から直接ＰＤＬファイル２０を受信する。別の例では、ＲＩＰ１４は、ネットワークに接続されて複数台のワークステーション（同様に図示せず）の１台からＰＤＬファイル２０を受信する。更に、ＲＩＰ１４は、着脱可能な媒体からＰＤＬファイル２０をロードするための局所媒体リーダを含んでもよい。
【００１５】
ＰＤＬファイル２０を受信すると、ＲＩＰ１４は、ＰＤＬファイル２０内に含まれる画像データをレコーダ１８に伝達されるラスタデータ２２に変換する。レコーダ１８は、画像化媒体２４上に中間階調画像を形成する。一例として、画像化媒体２４は、画像化媒体２４上に形成された中間階調画像を化学処理して現像するプロセッサステーション（図示せず）をレコーダ１８が含むような写真であってもよい。別の例では、画像化媒体２４は、光感熱式のものでもよく、熱的に処理することができる。また、直接熱画像化、融蝕画像化、ダイトランスファ、電子写真、電送写真、インクジェット、ダイ昇華及び熱物質トランスファなどを含む他の画像化処理も、本発明に適している。
【００１６】
中間階調画像デバイスとして、ＲＩＰ１４は、ドットジェネレータ２６及びラスタメモリ２８を含む。ドットジェネレータ２６は、ＰＤＬファイル２０を受信して一連の中間階調ドットを生成する。前記中間階調ドットは、ＰＤＬファイル２０で表される画像の階調値にサイズが比例し、ラスタデータとしてラスタメモリ２８に格納される。コントローラ３０は、画像化出力装置３２が中間階調潜像を画像化媒体２４上に生成するようレコーダ１８に命令する。例えば、ある実施形態において、前記画像化出力装置３２は複数のレーザダイオードである。この構成では、画像化媒体２４がレコーダ１８を介して与えられると、各レーザダイオードは画像化媒体２４の該当部分に描写する。
【００１７】
コントローラ３０は、デバイス制御に適した論理回路である。例えば、コントローラ３０は、データ操作及び汎用プログラム実行用ＲＡＭとプログラム記憶用ＲＯＭ又はフラッシュメモリとを有する組込みマイクロプロセッサでもよい。代わりに、コントローラ３０は、画像化変数に対する計算調整を手動で実行する画像化デバイスから切り離すこともできる。更に、画像化出力装置３２は、適当な放射線を発するレーザダイオード走査モジュールから構成してもよい。
【００１８】
詳しく後述するように、画像化装置１０は、画像化出力装置３２間の画像化変動を低減するために画像化装置１０を較正する本発明方法に関係している。画像化装置１０は、オペレータが手動で起動した時、又はシステム性能のドリフトを自動検出した時の何れかに較正処理を呼び出す。概して、較正処理は、（１）特徴付け、（２）平衡、及び（３）監視の三段階に分類することができる。
【００１９】
前記特徴付け段階の間、レコーダ１８は、画像化媒体２４上に複数のテストパターンを形成する。図２は、特徴付け段階中に使用可能な１つのテストパターン６５を示す。各テストパターン６５は、画像領域７０1から７０Nを含む。テストパターン６５の各画像領域７０は、異なる目標ドット領域を有する。例えば、対応するドット領域の範囲は、１０％から１００％まででもよく、また５％から９５％まででもよい。
【００２０】
レコーダ１８のコントローラ３０は、各画像化出力装置３２に命令して対応するテストパターン６５を形成する。各テストパターン６５を形成すると、コントローラ３０は、各種画像化変数に関する初期設定に基づいて画像化出力装置３２を駆動する。例えば、ある実施形態において、各画像化出力装置３２はパルスレーザダイオードである。この実施形態では、コントローラ３０は、レーザ電流及びパルス持続時間に関する初期設定の関数として画像化出力装置３２を駆動する。
【００２１】
レコーダ１８の各画像化出力装置３２が対応するテストパターン６５を形成した後、レコーダ１８は、各画像領域７０の光学的性質を測定する。例えば、ある実施形態において、濃度計３４は、画像化媒体２４がレコーダ１８を出るときに各画像領域７０の光学濃度を測定する。代わりに、分光測光器などの波長走査デバイスを用いて、ＣＩＥＬＵＶ又はＣＩＥＬＡＢ系内で定義されるような１つ以上の比色性質を測定して較正することもできる。更に、適当なデバイスを用いて蛍光の強さなどの発光性質を測定して、本発明の較正性質として使用することもできる。また、鮮鋭度などの他の光学的性質を使用して、焦点距離などの画像化変数を較正することもできる。
【００２２】
各画像領域７０の光学濃度を測定するために、濃度計３４の発光構成部品（図示せず）は、画像化媒体２４が濃度計３４の近傍内で通過するときに各画像領域７０を照明する。代わりに、濃度計３４を画像化媒体２４の近傍内で移動させてもよい。また、濃度計３４は、各テストパターン６５の各画像領域７０から反射した光を測定する光検出器（同様に図示せず）を含む。代わりに、濃度計３４は、各画像領域６０を透過した光を測定してもよい。何れの場合でも、レコーダ１８は、外部の光がスプリアス測定エラーを引き起こすのを防ぐために適当に封止すべきである。また、使用者が、外部の入出力ポートを介してコントローラ３０に連結された携帯濃度計を用いて各画像領域６０の前記濃度を手動で測定できることも考えられる。
【００２３】
各テストパターン６５の各画像領域７０の場合、濃度計３４は、濃度読取値をディジタル表現に変換して前記読取値をコントローラ３０に伝送する。測定された光学的性質に基づいて、コントローラ３０は、各テストパターン６５の各画像領域７０に関する一組の特徴付けパラメータを計算する。より詳しくは、コントローラ３０は、画像化変数によって測定光学的性質を特徴付ける適当な数学的関数の特徴付けパラメータを計算する。反射光学的性質を特徴付ける一般的な一次式は、次のとおりである。
0004629226.tif 000002
ここで、ＲＯＤは光学濃度、ａ，ｂ，ｃ及びｄは画像化変数ν1，ν2及びν3に対するパラメータ（係数）である。代わりに、二次以上の多項式、三角関数、対数関数、指数関数などの非線形の数式を使用してもよい。
【００２４】
数学的関数により記述された画像化変数は、容易に制御可能であることが好ましい。例えば、画像化出力装置３２がパルスレーザダイオードである場合、光学濃度測定値を特徴付ける適当な一次関数は、次のとおりである
0004629226.tif 000003
ここで、ＲＯＤは反射光学濃度測定値、ａ，ｂ及びｃは係数、画像化変数laser current及びpulse widthは制御可能な画像化変数である。
【００２５】
前記較正の特徴付け段階の間、画像化装置１０は、各テストパターン６５の各画像領域７０に関する特徴付けパラメータを計算する。よって、画像化装置１０が４０の画像化出力装置３２を有し、かつテストパターン６５が１０の画像領域７０を有する場合、コントローラ３０は、４００（４０*１０）組の特徴付けパラメータを計算することになる。
【００２６】
上述の特徴付け段階により、一組の特性方程式が得られ、ここで、複数の画像化出力装置３２により形成される画像領域７０の各々に関して１つの方程式が得られる。前記特徴付け段階が一旦計算完了すると、画像化装置１０は平衡段階に入る。この平衡段階は、隣接する画像化出力装置３２により形成される画像領域７０間の画像化変動を低減しようと試みる。
【００２７】
この段階では、コントローラ３０は一組の応答曲線を計算する。より詳しくは、コントローラ３０は、同様な目標濃度を有する画像領域７０に関する測定光学濃度の組に応答曲線を当てはめる。よって、各テストパターン６５がＮ個の画像領域７０を有する場合、コントローラ７０はＮ本の応答曲線を生成する。滑らかな曲線は、１０％、１５％などの目標濃度の各組に当てはめられる。適当な平滑化ルーチンには、三点及び五点移動平均、多項関数、スプライン関数などがある。
【００２８】
応答曲線の組を生成した後、コントローラ３０は、各画像領域７０における測定光学濃度と生成応答曲線に沿った対応点との差を計算する。例えば、図３は、３２の画像化出力装置を有する画像化装置に関する一組の画像領域７０の測定濃度を当てはめるように生成された応答曲線８０を示す。各画像化出力装置３２に対して、コントローラ３０は、測定濃度（黒で示す）と応答曲線８０に沿った対応点（黒で示す）との差を計算する。例えば、図３の６番目の画像化出力装置の場合、測定濃度は０．４であるが、生成応答曲線に沿った対応点は０．３７５であり、その差は０．０２５となる。
【００２９】
各画像化出力装置３２に関して計算された差に基づいて、コントローラ３０は、特定の画像化出力装置３２及び特定の画像領域７０に対応する特性方程式の１つ以上の画像化変数を調整する。より詳しくは、コントローラ３０は、光学濃度（ＯＤ）などの特徴付けられた光学的性質が応答曲線に近づくまで対応する特性方程式の画像化変数を繰り返し修正する。この処理は、前記特徴付け段階中に生成された各特性方程式に関して繰り返される。このようにして、コントローラ３０は、近くの画像化出力装置３２間の急激な変動を低減する。
【００３０】
上述の較正法の利点の一つは、前記濃度を手動で測定するようなオペレータの関与を要することなくレコーダ１８が較正処理を実行することができるという点である。また、較正処理を異なる媒体タイプに関して繰り返し可能であることも考えられる。このようにして、レコーダ１８は広範囲の媒体タイプに関する較正画像化変数を維持する。
【００３１】
ある実施形態において、コントローラ３０は、調整された画像化変数を格納する機構として探索テーブルを生成する。この探索テーブルに格納された較正画像化変数に応じて画像化出力装置３２を駆動することにより、レコーダ１８は、実際の濃度と応答曲線に沿った目標濃度との間の偏差を低減する。更に、上記の較正処理は、隣接する画像化出力装置３２間の変動を低減し、これにより、画像化品質の急激な変動を除去する。
【００３２】
図１について説明する。較正が一旦達成されると、レコーダ１８は、較正処理中に生成され格納された調整画像化変数に基づいて画像化出力装置３２に関する適当な駆動値にラスタデータ２２をマップする。よって、この典型的な実施形態において、ＲＩＰ１４はこの較正処理に関与しない。別の実施形態において、ＲＩＰ１４は、通信回線３６を介してレコーダ１８からの較正データを受信し、この較正データをＰＤＬファイル２０の画像データに適用する。
【００３３】
図４は、本発明の較正処理中の画像化装置１０の１つの動作モードを示すフローチャートである。特徴付け段階１０２は、論理ステップ１１０、１１２及び１１４を含み、平衡段階１０４は、論理ステップ１１６、１１８及び１２０を含む。最後に、監視段階１０６は、ステップ１２２及び１２４を含む。
【００３４】
画像化装置１０のコントローラ３０は、開始ステップ１００で本発明の較正処理を開始すると、すぐにステップ１１０に進む。ステップ１１０では、コントローラ３０は、各画像化出力装置３２に命令して、各画像領域７０1から７０Nを含む図２の対応するテストパターン６５を完全に形成する。テストパターン６５の各画像領域７０は、前述のように異なるドット領域を有する。例えば、対応するドット領域は、図２に示す実施形態において１０％から１００％の範囲である。
【００３５】
複数のテストパターン６５が画像化媒体２４上に一旦形成されると、コントローラ３０は、ステップ１１２に進み、各テストパターン６５の各画像領域７０に関する濃度計３４から光学濃度読取値を受信する。また、ＣＩＥＬＵＶ又はＣＩＥＬＡＢ系で定義されるような比色特性、鮮鋭度、蛍光放射などの他の光学的性質も、光学濃度測定値の代わりに使用できる適当な光学的性質である。
【００３６】
ステップ１１４では、コントローラ３０は、受信した光学濃度読取値に基づいて各テストパターン６５の各画像領域７０に関する一組の特徴付けパラメータを計算する。前述のように、コントローラ３０は、画像化変数によって測定光学濃度を特徴付けるために適当な数学的関数の１つ以上のパラメータを計算する。
【００３７】
画像化装置１０のコントローラ３０が各テストパターン６５の画像領域７０に関する特徴付けパラメータを計算した後、コントローラ３０は、特徴付け段階１０２を出て、隣接する画像化出力装置３２間の画像化変動を低減するために平衡段階１０４のステップ１１６に進む。
【００３８】
ステップ１１６では、コントローラ３０は、複数本の応答曲線を計算し、ここで、１本の応答曲線が、実質的に等しい目標光学濃度を有する複数の画像領域７０の組の各々に関して計算される。換言すれば、コントローラ７０は、各画像領域７０に関して測定された各組の濃度に滑らかな曲線を当てはめる。ある実施形態において、生成された応答曲線は、画像化出力装置３２の今後の監視のためにメモリに格納される。
【００３９】
コントローラ３０は、ステップ１１８に進み、各画像化出力装置３２により形成された各画像領域７０に関して、測定濃度と対応する生成応答曲線に沿った対応点との間の差を計算する。ステップ１２０は、平衡段階１０４の最終ステップである。このステップでは、コントローラ３０は、特定の画像化出力装置３２及び特定の画像領域７０に対応する特性方程式の１つ以上の画像化変数を調整することにより特徴付け光学濃度と応答曲線に沿った目標点との間の差を低減する。このようにして、平衡段階１０４は、近くの画像化出力装置３２間の急激な変動を低減する。
【００４０】
画像化装置１０を較正すると、コントローラ３０は、ステップ１２０から監視段階１０６のステップ１２２に進む。ステップ１２２では、コントローラ３０は、各画像化出力装置３２に周期的に命令して対応するテストパターン６５を形成し各測定濃度を格納応答曲線と比較することにより、画像化出力装置３２を監視する。ステップ１２４では、コントローラ３０は、測定濃度の１つが所定の閾値（例えば、画像の固相濃度領域の測定反射光学濃度の偏差０．０３）より以上に応答曲線からずれているか否かを判定する。ずれている場合、コントローラ３０は、ステップ１１０に分岐して特徴付け段階１０２及び平衡段階１０４を繰り返す。ずれていない場合、コントローラは、ステップ１２２に戻って画像化出力装置３２の監視を続ける。