(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対して情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも再生が可能な光ディスク装置であって、
光源と、
前記光源からの光を１つの主ビームと２つの副ビームに分割するグレーティングと、
前記グレーティングからの前記主ビームを前記光ディスクのアクセス対象のトラックに照射し、前記２つの副ビームを前記アクセス対象のトラックの一側及び他側にそれぞれ隣接するトラックに照射する光学系と、
前記光ディスクで反射された前記主ビームを受光する主ビーム用受光素子と、前記光ディスクで反射された前記２つの副ビームをそれぞれ受光する第１の副ビーム用受光素子及び第２の副ビーム用受光素子とを有する受光器と、
前記主ビーム用受光素子の出力信号が入力される第１のトランスバーサルフィルタと、前記主ビーム用受光素子の出力信号が入力され、前記第１のトランスバーサルフィルタに対して、タップ係数がタップ係数の中心を原点として反転した構造である第２のトランスバーサルフィルタと、前記第１のトランスバーサルフィルタの出力信号におけるジッタ値と前記第２のトランスバーサルフィルタの出力信号おけるジッタ値との差を出力する減算器とを有するタンジェンシャルチルト検出部と、
前記主ビーム用受光素子の出力信号と前記第１の副ビーム用受光素子の出力信号が入力される第３のトランスバーサルフィルタと、前記主ビーム用受光素子の出力信号と前記第２の副ビーム用受光素子の出力信号が入力され、前記第３のトランスバーサルフィルタに対して、タップ係数がタップ係数の中心を原点として反転した構造である第４のトランスバーサルフィルタと、前記第３のトランスバーサルフィルタの出力信号におけるジッタ値と前記第４のトランスバーサルフィルタの出力信号おけるジッタ値との差を出力する減算器とを有するラジアルチルト検出部と、
前記タンジェンシャルチルト検出部の出力信号に基づいて、基準面に対する前記光ディスクのタンジェンシャルチルトを補正し、前記ラジアルチルト検出部の出力信号に基づいて、基準面に対する前記光ディスクのラジアルチルトを補正するチルト補正装置と、を備える光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置に係り、さらに詳しくは、光ディスクの傾きを検出するためのチルト検出装置を備えた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル技術の進歩及びデータ圧縮技術の向上に伴い、音楽、映画、写真及びコンピュータソフトなどの情報（以下「コンテンツ」ともいう。）を記録するための情報記録媒体としてＣＤ（compact disc）やＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクを情報の記録及び再生などを含むアクセスの対象媒体とする光ディスク装置が普及するようになった。
【０００３】
光ディスク装置では、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録面にレーザ光の微小スポットを形成して情報の記録を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。そして、光ディスク装置には、記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置として光ピックアップ装置が設けられている。
【０００４】
一般的に光ピックアップ装置は、対物レンズを含み、光源から出射される光を記録面に導くとともに、記録面で反射された戻り光を所定の受光位置まで導く光学系、及び受光位置に配置された光検出器などを備えている。この光検出器からは、記録面に記録されているデータの再生情報だけでなく、対物レンズの位置制御に必要な情報を含む信号が出力される。そして、光ディスク装置は、光検出器からの出力信号に基づいて、記録面の所定位置に所定形状の光スポットが形成されるように各種制御を行っている。
【０００５】
光ピックアップ装置では、対物レンズの光軸方向と記録面に垂直な方向とにずれ（以下、便宜上「チルト」ともいう。）があると、そのチルトに起因して波面収差が生じ、光スポットの形状の劣化や、上記光検出器から出力される再生情報及びサーボ情報などを含む信号の劣化を引き起こすおそれがあった。なお、以下では、トラックの接線方向に直交する方向(以下「ラジアル方向」ともいう。)におけるチルトを「ラジアルチルト」といい、トラックの接線方向（以下「タンジェンシャル方向」ともいう。）におけるチルトを「タンジェンシャルチルト」という。
【０００６】
そこで、チルトを補正するための方法及び装置が種々提案された（例えば、特許文献１〜特許文献３参照）。
【０００７】
しかしながら、特許文献１〜特許文献３に開示されている装置では、今後さらに光ディスクの高記録密度化が進むと、十分な検出精度を確保するのが難しくなるおそれがある。
【０００８】
【特許文献１】実公平３−２９７７８号公報
【特許文献２】特許第３７７１７６７号公報
【特許文献３】特開平８−４５０８１号公報
【特許文献４】特許第３４９８６４４号公報
【特許文献５】特開平１１−１１０７６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その目的は、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は、光ディスクに対して情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも再生が可能な光ディスク装置であって、光源と、前記光源からの光を１つの主ビームと２つの副ビームに分割するグレーティングと、前記グレーティングからの前記主ビームを前記光ディスクのアクセス対象のトラックに照射し、前記２つの副ビームを前記アクセス対象のトラックの一側及び他側にそれぞれ隣接するトラックに照射する光学系と、前記光ディスクで反射された前記主ビームを受光する主ビーム用受光素子と、前記光ディスクで反射された前記２つの副ビームをそれぞれ受光する第１の副ビーム用受光素子及び第２の副ビーム用受光素子とを有する受光器と、前記主ビーム用受光素子の出力信号が入力される第１のトランスバーサルフィルタと、前記主ビーム用受光素子の出力信号が入力され、前記第１のトランスバーサルフィルタに対して、タップ係数がタップ係数の中心を原点として反転した構造である第２のトランスバーサルフィルタと、前記第１のトランスバーサルフィルタの出力信号におけるジッタ値と前記第２のトランスバーサルフィルタの出力信号おけるジッタ値との差を出力する減算器とを有するタンジェンシャルチルト検出部と、前記主ビーム用受光素子の出力信号と前記第１の副ビーム用受光素子の出力信号が入力される第３のトランスバーサルフィルタと、前記主ビーム用受光素子の出力信号と前記第２の副ビーム用受光素子の出力信号が入力され、前記第３のトランスバーサルフィルタに対して、タップ係数がタップ係数の中心を原点として反転した構造である第４のトランスバーサルフィルタと、前記第３のトランスバーサルフィルタの出力信号におけるジッタ値と前記第４のトランスバーサルフィルタの出力信号おけるジッタ値との差を出力する減算器とを有するラジアルチルト検出部と、前記タンジェンシャルチルト検出部の出力信号に基づいて、基準面に対する前記光ディスクのタンジェンシャルチルトを補正し、前記ラジアルチルト検出部の出力信号に基づいて、基準面に対する前記光ディスクのラジアルチルトを補正するチルト補正装置と、を備える光ディスク装置である。
【００１６】
これによれば、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図２９に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。
【００１８】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３をスレッジ方向に駆動するためのシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、モータ制御回路２６、ピックアップ制御回路２７、再生信号処理回路２８、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、本実施形態では、一例として波長が４０５ｎｍの光に対応したＤＶＤが光ディスク１５に用いられるものとする。
【００１９】
前記光ピックアップ装置２３は、図２に示されるように、受発光モジュール５１、回折素子５０、コリメートレンズ５２、対物レンズ６０及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ及びチルトアクチュエータ（いずれも図示省略））などを備えている。なお、本実施形態では、フォーカス方向をＺ軸方向、トラッキング方向をＸ軸方向とする。
【００２０】
上記受発光モジュール５１は、波長が４０５ｎｍのレーザ光を発光する半導体レーザＬＤ、及び戻り光を受光する受光器ＰＤなどを含んで構成されている。なお、ここでは受発光モジュール５１から出射される光の最大強度出射方向を＋Ｚ方向とする。
【００２１】
前記受光器ＰＤは半導体レーザＬＤの近傍に配置され、回折素子５０で回折された戻り光を受光する。この受光器ＰＤは一例として図３に示されるように、４つの部分受光素子（Ｑa，Ｑb，Ｑc，Ｑd）からなる４分割受光素子Ｐd１と、２つの部分受光素子（Ｑe，Ｑf）からなる２分割受光素子Ｐd２と、２つの部分受光素子（Ｑg，Ｑh）からなる２分割受光素子Ｐd３とを含んで構成されている。
【００２２】
４分割受光素子Ｐd１は、トラックの接線方向に対応する方向（ここではＹ軸方向）の分割線DL１と、トラックの接線方向に直交する方向に対応する方向（ここではＸ軸方向）の分割線DL２とによって４分割されている。前記部分受光素子Ｑaは分割線DL１の＋Ｘ側で、かつ分割線DL２の＋Ｙ側に位置している。前記部分受光素子Ｑbは分割線DL１の−Ｘ側で、かつ分割線DL２の＋Ｙ側に位置している。前記部分受光素子Ｑcは分割線DL１の−Ｘ側で、かつ分割線DL２の−Ｙ側に位置している。前記部分受光素子Ｑdは分割線DL１の＋Ｘ側で、かつ分割線DL２の−Ｙ側に位置している。
【００２３】
２分割受光素子Ｐd２は、トラックの接線方向に対応する方向の分割線DL３によって２分割されている。前記部分受光素子Ｑeは分割線DL３の−Ｘ側に位置している。前記部分受光素子Ｑfは分割線DL３の＋Ｘ側に位置している。
【００２４】
２分割受光素子Ｐd３は、トラックの接線方向に対応する方向の分割線DL４によって２分割されている。前記部分受光素子Ｑgは分割線DL４の−Ｘ側に位置している。前記部分受光素子Ｑhは分割線DL４の＋Ｘ側に位置している。
【００２５】
上記各部分受光素子はそれぞれ光電変換を行なって受光量に応じた電流信号を生成する。各部分受光素子で生成された電流信号は、それぞれ再生信号処理回路２８に出力される。
【００２６】
前記回折素子５０は、受発光モジュール５１の＋Ｚ側に配置され、グレーティング５０ａ及びホログラム５０ｂを含んで構成されている。なお、本実施形態では一例として、回折素子５０と受発光モジュール５１とは一体化されている。これにより、組み付け時の部品点数が減少し、作業性を向上させることができる。また、調整工程を簡素化することも可能となる。
【００２７】
上記グレーティング５０ａは、受発光モジュール５１から出射された光（以下、便宜上「出射光」ともいう。）を主ビームとしての０次光と、副ビームとしての２つの１次回折光（＋１次回折光及び−１次回折光）に分割（３ビーム化）する。そして、一例として図４に示されるように、記録面において、０次光の光スポットＳＰ０の中心からトラッキング方向に関してトラックピッチＰtだけずれた位置に、２つの１次回折光の光スポットＳＰ１がそれぞれ形成されるように設定されている。なお、光スポットＳＰ０の中心と光スポットＳＰ１の中心とを結ぶ線ベクトルのタンジェンシャル方向成分の大きさをＬ（以下、便宜上「タンジェンシャル方向ずれＬ」ともいう。）とする。また、本実施例では、一例として０次光の光量、＋１次回折光の光量及び−１次回折光の光量は、それぞれほぼ等しいものとする。
【００２８】
従って、アクセス対象トラック（以下、便宜上「対象トラック」ともいう。）上に光スポットＳＰ０が形成されると、対象トラックの一側に隣接するトラック（以下、便宜上「第１隣接トラック」ともいう。）上、及び対象トラックの他側に隣接するトラック（以下、便宜上「第２隣接トラック」ともいう。）上に光スポットＳＰ１がそれぞれ形成される。
【００２９】
ホログラム５０ｂは、グレーティング５０ａの＋Ｚ側に配置され、光ディスク１５の記録面からの戻り光を受光器ＰＤの受光面方向に回折する。ここでは、一例として図５に示されるように、０次光の戻り光は４分割受光素子Ｐd１で受光され、各１次回折光の戻り光は２分割受光素子Ｐd２及び２分割受光素子Ｐd３でそれぞれ受光されるように設定されている。
【００３０】
前記コリメートレンズ５２は回折素子５０の＋Ｚ側に配置され、回折素子５０にて３ビーム化された各光をそれぞれ略平行光とする。前記対物レンズ６０はコリメートレンズ５２の＋Ｚ側に配置され、コリメートレンズ５２を透過した各光を集光し、光ディスク１５の記録面に光スポットをそれぞれ形成する。
【００３１】
前記フォーカシングアクチュエータは、対物レンズ６０の光軸方向であるフォーカス方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。前記トラッキングアクチュエータは、トラッキング方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。前記チルトアクチュエータは、タンジェンシャル方向及びラジアル方向に対物レンズ６０を傾斜するためのアクチュエータである。
【００３２】
図１に戻り、前記再生信号処理回路２８は、アンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、デコーダ２８ｅ及びチルト検出回路２８ｆなどから構成されている。
【００３３】
前記アンプ２８ａは、受光器ＰＤからの各光電変換信号をそれぞれ電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。ここでは、図６に示されるように、部分受光素子Ｑaの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳａ、部分受光素子Ｑｂの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳｂ、部分受光素子Ｑｃの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳｃ、部分受光素子Ｑｄの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳｄ、部分受光素子Ｑｅの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳｅ、部分受光素子Ｑｆの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳｆ、部分受光素子Ｑｇの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳｇ、部分受光素子Ｑｈの出力信号に対応するアンプ２８ａの出力信号をＳｈとする。
【００３４】
サーボ信号検出回路２８ｂは、アンプ２８ａの出力信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラックエラー信号を検出する。
【００３５】
ここでは、次の（１）式に基づいてフォーカスエラー信号ＦＥが求められる。
【００３６】
ＦＥ＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−（Ｓｃ＋Ｓｄ）  ……（１）
【００３７】
また、次の（２）式で示されるように、一例としていわゆる差動プッシュプル法（ＤＰＰ法）を用いてトラックエラー信号ＴＥが検出される。
【００３８】
ＴＥ＝ＰＰ０−ｋ×ＰＰ１  ……（２）
【００３９】
上記（２）式におけるＰＰ０は０次光のプッシュプル信号であり、次の（３）式で求められる。なお、ｋは定数である。
【００４０】
ＰＰ０＝（Ｓｂ＋Ｓｃ）−（Ｓａ＋Ｓｄ）  ……（３）
【００４１】
また、上記（２）式におけるＰＰ１は±１次光のプッシュプル信号であり、次の（４）式で求められる。
【００４２】
ＰＰ１＝（Ｓｅ−Ｓｆ）＋（Ｓｇ−Ｓｈ）  ……（４）
【００４３】
ここで検出されたフォーカスエラー信号及びトラックエラー信号は前記ピックアップ制御回路２７に出力される。
【００４４】
ウォブル信号検出回路２８ｃは、アンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。ここでは、次の（５）式に基づいてウォブル信号Ｗｂが求められる。
【００４５】
Ｗｂ＝（Ｓｂ＋Ｓｃ）−（Ｓａ＋Ｓｄ）  ……（５）
【００４６】
ＲＦ信号検出回路２８ｄは、アンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。ここでは、次の（６）式に基づいてＲＦ信号ＲＦが求められる。
【００４７】
ＲＦ＝（Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ）  ……（６）
【００４８】
デコーダ２８ｅは前記ウォブル信号からアドレス情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたアドレス情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。また、デコーダ２８ｅは前記ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ３７を介して前記バッファＲＡＭ３４に格納する。
【００４９】
チルト検出回路２８ｆは、アンプ２８ａの出力信号に基づいてタンジェンシャルチルト及びラジアルチルトを検出し、タンジェンシャルチルト信号及びラジアルチルト信号を生成する。このチルト検出回路２８ｆは、一例として図７に示されるように、アンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号及びＲＦ信号を生成する信号生成回路１５１、信号生成回路１５１の出力信号に基づいてタンジェンシャルチルト信号を生成するタンジェンシャルチルト検出部ＴＴ、及び信号生成回路１５１の出力信号に基づいてラジアルチルト信号を生成するラジアルチルト検出部ＲＴを有している。
【００５０】
信号生成回路１５１は、上記（５）式に基づいてウォブル信号Ｗｂ又は上記（６）式に基づいてＲＦ信号ＲＦを生成する。ここで生成されたウォブル信号Ｗｂ又はＲＦ信号ＲＦは、タンジェンシャルチルト検出部ＴＴ及びラジアルチルト検出部ＲＴに出力される。
【００５１】
また、信号生成回路１５１は、次の（７）式に基づいて前記第１隣接トラックにおけるウォブル信号Ｗｂ１又は次の（８）式に基づいて第１隣接トラックにおけるＲＦ信号ＲＦ１を生成する。ここで生成されたウォブル信号Ｗｂ１又はＲＦ信号ＲＦ１は、ラジアルチルト検出部ＲＴに出力される。
【００５２】
Ｗｂ１＝Ｓｅ−Ｓｆ  ……（７）
ＲＦ１＝Ｓｅ＋Ｓｆ  ……（８）
【００５３】
さらに、信号生成回路１５１は、次の（９）式に基づいて前記第２隣接トラックにおけるウォブル信号Ｗｂ２又は次の（１０）式に基づいて第２隣接トラックにおけるＲＦ信号ＲＦ２を生成する。ここで生成されたウォブル信号Ｗｂ２又はＲＦ信号ＲＦ２は、ラジアルチルト検出部ＲＴに出力される。
【００５４】
Ｗｂ２＝Ｓｇ−Ｓｈ  ……（９）
ＲＦ２＝Ｓｇ＋Ｓｈ  ……（１０）
【００５５】
タンジェンシャルチルト検出部ＴＴは、２つのフィルタ（ｆ１、ｆ２）、２つのジッタ値取得回路（１０９、１１９）、及び減算器１２１を備えている。
【００５６】
そして、フィルタｆ１は、遅延素子１０１、２つの乗算器（１０３、１０５）、及び加算器１０７を有している。遅延素子１０１は、ウォブル信号Ｗｂ又はＲＦ信号ＲＦを時間ｔ１だけ遅延させる。乗算器１０３は、ウォブル信号Ｗｂ又はＲＦ信号ＲＦに係数ｋ01を乗算し、乗算器１０５は、遅延素子１０１の出力信号に係数ｋ02を乗算する。なお、上述した時間ｔ１及び各係数はＣＰＵ４０によってレジスタ（図示省略）にセットされている。ここでは、一例として、ｔ１＝１８ｎｓ、ｋ01＝−０．１、ｋ02＝１がセットされている（図８参照）。加算器１０７は、乗算器１０３の出力信号と乗算器１０５の出力信号とを加算する。すなわち、フィルタｆ１は、ｋ01及びｋ02をタップ係数とする２タップのトランスバーサルフィルタである。
【００５７】
フィルタｆ２は、遅延素子１１１、２つの乗算器（１１３、１１５）、及び加算器１１７を有している。遅延素子１１１は、ウォブル信号Ｗｂ又はＲＦ信号ＲＦを時間ｔ１だけ遅延させる。乗算器１１３は、ウォブル信号Ｗｂ又はＲＦ信号ＲＦに係数ｋ11を乗算し、乗算器１１５は、遅延素子１１１の出力信号に係数ｋ22を乗算する。なお、各係数はＣＰＵ４０によってレジスタにセットされている。ここでは、一例としてｋ11＝１、ｋ12＝−０．１がセットされている（図８参照）。加算器１１７は、乗算器１１３の出力信号と乗算器１１５の出力信号とを加算する。すなわち、フィルタｆ２は、ｋ11及びｋ12をタップ係数とする２タップのトランスバーサルフィルタである。フィルタｆ２は、フィルタｆ１に対して、タップ係数がタップ係数の中心を原点として反転した構造となっている。
【００５８】
なお、タンジェンシャルチルト及びラジアルチルトがいずれもほぼ０のときに０次光の光スポットＳＰ０におけるメインスポットをその中に含むリング状の第１回折スポットの半径（図９（Ａ）のｒ）が、予め取得されて前記フラッシュメモリ３９に格納されており、ＣＰＵ４０は、遅延素子１０１及び遅延素子１１１における遅延時間ｔ１として、上記第１回折スポットの半径を光ディスク１５の線速度で割った値をレジスタにセットする。
【００５９】
ジッタ値取得回路１０９は、加算器１０７の出力信号に基づいてジッタ値を取得し、該ジッタ値に対応する信号を生成する。ジッタ値取得回路１１９は、加算器１１７の出力信号に基づいてジッタ値を取得し、該ジッタ値に対応する信号を生成する。
【００６０】
減算器１２１は、ジッタ値取得回路１１９の出力信号からジッタ値取得回路１０９の出力信号を減算する。この減算器１２１の出力信号が前記タンジェンシャルチルト信号である。
【００６１】
ラジアルチルト検出部ＲＴは、２つのゲインアンプ（１３１、１３３）、３つの遅延素子（１３５、１３７、１３９）、３つの減算器（１４１、１４３、１４９）、及び２つのジッタ値取得回路（１４５、１４７）を備えている。
【００６２】
ゲインアンプ１３１は、ゲインｋａに基づいて前記ウォブル信号Ｗｂ１又はＲＦ信号ＲＦ１を調整する。
【００６３】
遅延素子１３５は、ウォブル信号Ｗｂ又はＲＦ信号ＲＦを時間ｔ２だけ遅延させる。これにより、Ｗｂ又はＲＦの、Ｗｂ１又はＲＦ１に対する位相のずれを補正することができる。
【００６４】
ゲインアンプ１３３は、ゲインｋｂに基づいて前記ウォブル信号Ｗｂ２又はＲＦ信号ＲＦ２を調整する。
【００６５】
なお、上記各ゲインはＣＰＵ４０によってレジスタにセットされている。ここでは、一例としてｋａ＝０．２、ｋｂ＝０．２がセットされている（図８参照）。なお、３本のビームの光量に差がある場合には、ｋａ及びｋｂの値を調整する必要がある。
【００６６】
遅延素子１３７は、乗算器１３３の出力信号を時間ｔ２だけ遅延させる。そして、遅延素子１３９は、遅延素子１３７の出力信号を時間ｔ２だけ遅延させる。これにより、Ｗｂ２又はＲＦ２の、Ｗｂ１又はＲＦ１に対する位相のずれを補正することができる。
【００６７】
なお、各遅延素子における遅延時間ｔ２は、前記タンジェンシャル方向ずれＬを光ディスク１５の線速度で割った値がＣＰＵ４０によってレジスタ（図示省略）にセットされる。ここでは、一例としてｔ２＝１８ｎｓである。
【００６８】
減算器１４１は、遅延素子１３５の出力信号から乗算器１３１の出力信号を減算する。減算器１４３は、遅延素子１３５の出力信号から遅延素子１３９の出力信号を減算する。
【００６９】
ジッタ値取得回路１４５は、減算器１４１の出力信号に基づいてジッタ値を取得し、該ジッタ値に対応する信号を生成する。ジッタ値取得回路１４７は、減算器１４３の出力信号に基づいてジッタ値を取得し、該ジッタ値に対応する信号を生成する。
【００７０】
減算器１４９は、ジッタ値取得回路１４５の出力信号からジッタ値取得回路１４７の出力信号を減算する。この減算器１４９の出力信号が前記ラジアルチルト信号である。
【００７１】
上記のようにしてチルト検出回路２８ｆで生成されたタンジェンシャルチルト信号及びラジアルチルト信号は、それぞれ前記ピックアップ制御回路２７に出力される。
【００７２】
図１に戻り、前記モータ制御回路２６は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてシークモータ２１を駆動するための駆動信号を生成し、シークモータ２１に出力する。また、モータ制御回路２６は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてスピンドルモータ２２を駆動するための駆動信号を生成し、スピンドルモータ２２に出力する。なお、モータ制御回路２６は、再生及び記録中においては、スピンドルモータ２２の線速度（又は角速度）が指示された速度を維持するようにスピンドルモータ２２の駆動信号を調整する。
【００７３】
前記ピックアップ制御回路２７は、フォーカス制御回路２７ａ、トラッキング制御回路２７ｂ、及びチルト制御回路２７ｃを有している。
【００７４】
フォーカス制御回路２７ａは、前記フォーカスエラー信号に基づいて、フォーカスずれを補正するための前記フォーカシングアクチュエータの駆動信号を生成する。
【００７５】
トラッキング制御回路２７ｂは、前記トラックエラー信号に基づいて、トラックずれを補正するための前記トラッキングアクチュエータの駆動信号を生成する。
【００７６】
チルト制御回路２７ｃは、前記タンジェンシャルチルト信号に基づいて、タンジェンシャルチルトを補正するための前記チルトアクチュエータの駆動信号を生成する。また、チルト制御回路２７ｃは、前記ラジアルチルト信号に基づいて、ラジアルチルトを補正するための前記チルトアクチュエータの駆動信号を生成する。
【００７７】
前記バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ３７によって管理されている。
【００７８】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてバッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。ここで生成された書き込み信号はレーザ制御回路２４に出力される。
【００７９】
前記レーザ制御回路２４は、半導体レーザＬＤから出射されるレーザ光のパワーを制御する。例えば記録の際には、レーザ制御回路２４は、前記書き込み信号、記録条件、及び半導体レーザＬＤの発光特性などに基づいて、半導体レーザＬＤの駆動信号を生成する。
【００８０】
前記インターフェース３８は、上位装置９０（例えば、パソコン）との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）及びＵＳＢ（Universal Serial Bus）などの標準インターフェースに準拠している。再生時には、バッファＲＡＭ３４に格納されている再生データは、セクタ毎にインターフェース３８を介して上位装置９０に出力される。また、記録時には、上位装置９０から記録用データがインターフェース３８を介して入力され、バッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に蓄積される。
【００８１】
前記フラッシュメモリ３９には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された各種プログラム、前記第１回折スポットの半径ｒ、前記各乗算器の係数（タップ係数）、前記各ゲインアンプのゲイン、前記タンジェンシャル方向ずれＬ、記録条件及び半導体レーザＬＤの発光特性などが格納されている。
【００８２】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９に格納されているプログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【００８３】
《タンジェンシャルチルトについて》
記録面上に形成される０次光の光スポットＳＰ０における第１回折スポットは、一例として図９（Ａ）に示されるように、メインスポットをその中に含むリング状を呈することが好ましい。ところで、タンジェンシャルチルトがあると、一例として図９（Ｂ）及び図９（Ｃ）に示されるように、第１回折スポットは三日月形状となり、トラック方向に関して、メインスポットの−側あるいは＋側に形成されるようになる。この場合には、第１回折スポットの光強度はタンジェンシャルチルトの大きさによって変化する。ここでは、トラックにおけるアドレスが増加する方向を「トラック方向」としている。また、本実施形態では、一例として、トラック方向に関して、メインスポットの−側に第１回折スポットが形成されるときのタンジェンシャルチルトを正のタンジェンシャルチルトといい、メインスポットの＋側に第１回折スポットが形成されるときのタンジェンシャルチルトを負のタンジェンシャルチルトということとする。
【００８４】
また、本明細書では、一例として図１０に示されるように、トラック方向における、メインスポットの−側の領域をＡ領域、＋側の領域をＢ領域とし、Ａ領域及びＢ領域における光強度をクロストーク量と呼ぶこととする。
【００８５】
計測されたＡ領域のクロストーク量とジッタ値との関係が一例として図１１に示されている。これによると、クロストーク量（Ｘaとする。）とジッタ値（Ｙaとする。）との関係は、次の（１１）式で示すことができる。ここで、ｋaは、ジッタのクロストークに対する感度であり、光源から出射される光の波長、対物レンズの開口数、トラックピッチ及びピット長などによって異なる。ｃaは、符号間干渉及びＢ領域のクロストークなどに起因するジッタである。なお、Ｘａ≧０である。
【００８６】
Ｙa＝ｋa×Ｘa２＋ｃa  ……（１１）
【００８７】
同様に、Ｂ領域のクロストーク量（Ｘbとする。）とジッタ値（Ｙbとする。）との関係は、次の（１２）式で示すことができる。なお、Ｘｂ≧０である。
【００８８】
Ｙb＝ｋb×Ｘb２＋ｃb  ……（１２）
【００８９】
そこで、全体のクロストーク量（Ｘtとする。）は、次の（１３）式で示されるように、Ａ領域のクロストーク量ＸaとＢ領域のクロストーク量Ｘbの和となる。
【００９０】
Ｘt＝Ｘa＋Ｘb  ……（１３）
【００９１】
そこで、全体のクロストーク量Ｘtとジッタ値（Ｙtとする。）との関係は、次の（１４）式で示すことができる。ここで、ｋtはジッタのクロストークに対する感度であり、ｃtは符号間干渉やノイズなどに起因するジッタである。
【００９２】
Ｙt＝ｋt×Ｘt２＋ｃt  ……（１４）
【００９３】
また、タンジェンシャルチルトとクロストーク量との関係が一例として図１２に示されている。これによると、現実的なチルト補正の範囲内では、タンジェンシャルチルトとクロストーク量との関係は一次式で示すことができる。
【００９４】
また、Ａ領域のクロストーク量Ｘaとタンジェンシャルチルトとの関係が一例として図１３（Ａ）に示されている。また、Ｂ領域のクロストーク量Ｘbとタンジェンシャルチルトとの関係が一例として図１３（Ｂ）に示されている。
【００９５】
全体のクロストーク量Ｘtとタンジェンシャルチルトとの関係が一例として図１４に示されている。そして、このときのジッタ値Ｙtとタンジェンシャルチルトとの関係が一例として図１５に示されている。この場合には、ジッタ値Ｙtからタンジェンシャルチルトを求めることはできるが、タンジェンシャルチルトの方向（＋又は−）を知ることはできない。
【００９６】
そこで、一例として図１６（Ａ）に示されるように、Ａ領域のクロストーク量ＸaをＡcancelに低減するフィルタ（以下、便宜上「正のフィルタ」という）を用いると、Ａ領域のクロストーク量｜Ａcancel｜と、Ｂ領域のクロストーク量Ｘbの和である全体のクロストーク量は、一例として図１８（Ａ）に示されるように、タンジェンシャルチルトが−側に増加するにつれてクロストーク量が増加するようにクロストーク量を変換することができる。
【００９７】
また、一例として図１７（Ａ）に示されるように、Ｂ領域のクロストーク量ＸbをＢcancelに低減するフィルタ（以下、便宜上「負のフィルタ」という）を用いると、Ａ領域のクロストーク量｜Ｂcancel｜と、Ｂ領域のクロストーク量Ｘaの和である全体のクロストーク量は、一例として図１８（Ｂ）に示されるように、タンジェンシャルチルトが＋側に増加するにつれてクロストーク量が増加するようにクロストーク量を変換することができる。
【００９８】
そして、正のフィルタで変換されたクロストーク量によるジッタ値（Ｙ１とする。）とタンジェンシャルチルト（Ｔｔとする。）との関係が、一例として図１９（Ａ）に示されている。このジッタ値Ｙ１とタンジェンシャルチルトＴｔとの関係は、次の（１５）式で示すことができる。ここで、ｋはジッタのクロストークに対する感度、αはフィルタのクロストーク補正量、ｃは符号間干渉やノイズなどに起因するジッタである。
【００９９】
Ｙ１＝ｋ×（Ｔｔ−α）２＋ｃ  ……（１５）
【０１００】
同様に、負のフィルタで変換されたクロストーク量によるジッタ（値Ｙ２とする）とタンジェンシャルチルトＴｔとの関係が、一例として図１９（Ｂ）に示されている。このジッタ値Ｙ２とタンジェンシャルチルトＴｔとの関係は、次の（１６）式で示すことができる。
【０１０１】
Ｙ２＝ｋ×（Ｔｔ＋α）２＋ｃ  ……（１６）
【０１０２】
そして、ジッタ値Ｙ２とジッタ値Ｙ１との差（ΔＹとする。）とタンジェンシャルチルトＴｔとの関係が、一例として図２０に示されている。このΔＹとタンジェンシャルチルトＴｔとの関係は、次の（１７）式で示すことができる。
【０１０３】
ΔＹ＝Ｙ２−Ｙ１＝４×α×ｋ×Ｔｔ  ……（１７）
【０１０４】
すなわち、ΔＹとタンジェンシャルチルトＴｔとの関係は、原点を通る直線となる。なお、クロストーク補正量αは大きいほうがタンジェンシャルチルトに対する感度は高くなるが、クロストーク量がある程度以上ではジッタ値は飽和するため、クロストーク補正量αは大きいほどタンジェンシャルチルトの計測可能範囲が狭くなる。
【０１０５】
本実施形態では、前記フィルタｆ１が上記正のフィルタの作用を有し、前記フィルタｆ２が上記負のフィルタの作用を有している。ここでは、前記加算器１０７の出力信号が、｜Ａcancel｜＋Ｘbに対応する信号を含む信号であり、前記加算器１１７の出力信号が、Ｘa＋｜Ｂcancel｜に対応する信号を含む信号である。従って、前記減算器１２１の出力信号に基づいて、タンジェンシャルチルトの大きさと方向（＋又は−）とを同時に知ることができる。なお、具体的な減算器１２１の出力信号（タンジェンシャルチルト信号）とタンジェンシャルチルトとの関係が図２１に示されている。また、減算器１２１の出力信号（タンジェンシャルチルト信号）とラジアルチルトとの関係が図２２に示されている。すなわち、タンジェンシャルチルト検出部ＴＴは、ラジアルチルトが同時に存在してもタンジェンシャルチルトを精度良く検出することができる。
【０１０６】
また、タンジェンシャルチルトが小さいときの、ノイズの大きさ（キャリア／ノイズ（Ｃ／Ｎ））とタンジェンシャルチルト信号との関係が一例として図２３に示されている。これによると、タンジェンシャルチルト信号はノイズの大きさに関係なくほぼ一定である。すなわち、タンジェンシャルチルト検出部ＴＴは、ノイズに強く、高いタンジェンシャルチルトの検出精度を有している。また、タンジェンシャルチルト検出部ＴＴは、タンジェンシャルチルトが０のときには、タンジェンシャルチルト信号も０となるため、タンジェンシャルチルト信号をそのままタンジェンシャルチルトの補正用信号とすることができる。さらに、タンジェンシャルチルト検出部ＴＴは、タンジェンシャルチルトの大きさが時間によって変化するいわゆるＡＣチルトであっても対応可能である。
【０１０７】
《ラジアルチルトについて》
ラジアルチルトがあると、一例として図２４（Ａ）及び図２４（Ｂ）に示されるように、０次光の光スポットＳＰ０における第１回折スポットは三日月形状となり、対象トラックに隣接するトラックに形成されるようになる。第１回折スポットの光強度はラジアルチルトの大きさによって変化する。なお、本実施形態では、一例として、第２隣接トラックに第１回折スポットが形成されるときのラジアルチルトを正のラジアルチルトといい、第１隣接トラックに第１回折スポットが形成されるときのラジアルチルトを負のラジアルチルトということとする。
【０１０８】
具体的な減算器１４９の出力信号（ラジアルチルト信号）とラジアルチルトとの関係が図２５に示されている。すなわち、減算器１４９の出力信号に基づいて、ラジアルチルトの大きさと方向（＋又は−）とを同時に知ることができる。
【０１０９】
また、減算器１４９の出力信号（ラジアルチルト信号）とタンジェンシャルチルトとの関係が図２６に示されている。すなわち、ラジアルチルト検出部ＲＴは、タンジェンシャルチルトが同時に存在してもラジアルチルトを精度良く検出することができる。
【０１１０】
また、ラジアルチルトが小さいときの、ノイズの大きさ（Ｃ／Ｎ）とラジアルチルト信号との関係が一例として図２７に示されている。これによると、ラジアルチルト信号はノイズの大きさに関係なくほぼ一定である。すなわち、ラジアルチルト検出部ＲＴは、ノイズに強く、ラジアルチルトの高い検出精度を有している。また、ラジアルチルト検出部ＲＴは、ラジアルチルトが０のときには、ラジアルチルト信号も０となるため、ラジアルチルト信号をそのままラジアルチルトの補正用信号とすることができる。さらに、ラジアルチルト検出部ＲＴは、ラジアルチルトの大きさが時間によって変化するいわゆるＡＣチルトであっても対応可能である。
【０１１１】
《記録処理》
次に、上位装置９０から記録要求があったときの、光ディスク装置２０における処理（記録処理）について図２８を用いて簡単に説明する。図２８のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。
【０１１２】
上位装置９０から記録要求コマンドを受信すると、図２８のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録処理がスタートする。
【０１１３】
最初のステップ４０１では、所定の線速度（又は角速度）で光ディスク１５が回転するようにモータ制御回路２６に指示するとともに、上位装置９０から記録要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。
【０１１４】
次のステップ４０３では、記録要求コマンドに含まれる指定アドレスに対応する目標位置近傍に光スポットが形成されるように、モータ制御回路２６に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。そして、シーク動作が完了するとステップ４０５に移行する。なお、シーク動作が不要であれば、ここでの処理はスキップされる。
【０１１５】
このステップ４０５では、チルト制御をオンにする。これにより、前述したようにしてチルト検出回路２８ｆにてタンジェンシャルチルト信号及びラジアルチルト信号が生成される。なお、ここでは、ウォブル信号Ｗｂに基づいてタンジェンシャルチルト信号が生成される。また、ウォブル信号Ｗｂ、Ｗｂ１及びＷｂ２に基づいてラジアルチルト信号が生成される。そして、チルト制御回路２７ｃからチルトアクチュエータの駆動信号が出力される。
【０１１６】
次のステップ４０７では、記録を許可する。
【０１１７】
次のステップ４０９では、記録が完了したか否かを判断する。完了していなければ、ここでの判断は否定され、所定時間経過後に再度判断する。完了していれば、ここでの判断は肯定され、ステップ４１１に移行する。
【０１１８】
このステップ４１１では、記録が完了したことを上位装置９０に通知する。そして、記録処理を終了する。
【０１１９】
《再生処理》
次に、上位装置９０から再生要求があったときの、光ディスク装置２０における処理（再生処理）について図２９を用いて簡単に説明する。図２９のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。
【０１２０】
上位装置９０から再生要求コマンドを受信すると、図２９のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、再生処理がスタートする。
【０１２１】
最初のステップ５０１では、所定の線速度（又は角速度）で光ディスク１５が回転するようにモータ制御回路２６に指示するとともに、上位装置９０から再生要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。
【０１２２】
次のステップ５０３では、再生要求コマンドに含まれる指定アドレスに対応する目標位置近傍に光スポットが形成されるように、モータ制御回路２６に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。そして、シーク動作が完了するとステップ５０５に移行する。なお、シーク動作が不要であれば、ここでの処理はスキップされる。
【０１２３】
このステップ５０５では、チルト制御をオンにする。これにより、前述したようにしてチルト検出回路２８ｆにてタンジェンシャルチルト信号及びラジアルチルト信号が生成される。なお、ここでは、ＲＦ信号ＲＦに基づいてタンジェンシャルチルト信号が生成される。また、ＲＦ信号ＲＦ、ＲＦ１及びＲＦ２に基づいてラジアルチルト信号が生成される。そして、チルト制御回路２７ｃからチルトアクチュエータの駆動信号が出力される。
【０１２４】
次のステップ５０７では、再生を開始する。
【０１２５】
次のステップ５０９では、再生が完了したか否かを判断する。完了していなければ、ここでの判断は否定され、所定時間経過後に再度判断する。完了していれば、ここでの判断は肯定され、再生処理を終了する。
【０１２６】
なお、タンジェンシャルチルト検出部ＴＴの供給されるＲＦ信号ＲＦは、波形等価後の信号であっても良いし、波形等価前の信号であっても良い。
【０１２７】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、チルト検出回路２８ｆによってチルト検出装置が構成され、チルト制御回路２７ｃと不図示のチルトアクチュエータとによってチルト補正装置が構成されている。
【０１２８】
そして、タンジェンシャルチルト検出部ＴＴでは、フィルタｆ１によって第１の信号生成回路が構成され、フィルタｆ２によって第２の信号生成回路が構成され、ジッタ値取得回路１０９とジッタ値取得回路１１９とによって信号品質取得回路が構成されている。
【０１２９】
また、ラジアルチルト検出部ＲＴでは、乗算器１３１と遅延素子１３５と減算器１４１とによって第１の信号生成回路が構成され、乗算器１３３と遅延素子１３５と遅延素子１３７と遅延素子１３９と減算器１４３とによって第２の信号生成回路が構成され、ジッタ値取得回路１４５とジッタ値取得回路１４７とによって信号品質取得回路が構成されている。
【０１３０】
また、上記記録処理及び再生処理において、本発明に係るチルト検出方法が実施されている。
【０１３１】
以上説明したように、本実施形態に係るチルト検出回路２８ｆによると、フィルタｆ１によってウォブル信号あるいはＲＦ信号に基づいてタンジェンシャルチルトが基準面に対して−側に増加すると該増加に伴って増加する信号成分を含む信号（第１の信号）が生成され、フィルタｆ２によってウォブル信号あるいはＲＦ信号に基づいてタンジェンシャルチルトが基準面に対して＋側に増加すると該増加に伴って増加する信号成分を含む信号（第２の信号）が生成される。そして、ジッタ値取得回路１０９によってフィルタｆ１の出力信号に基づいてジッタ値が取得され、ジッタ値取得回路１１９によってフィルタｆ２の出力信号に基づいてジッタ値が取得される。そして、減算器１２１によってジッタ値取得回路１１９の出力信号からジッタ値取得回路１０９の出力信号が減算され、タンジェンシャルチルト信号が生成される。これにより、タンジェンシャルチルトの大きさと方向（＋側又は−側）とを同時にリアルタイムで求めることができる。従って、基準面に対する光ディスクのタンジェンシャルチルトを迅速に精度良く検出することが可能となる。
【０１３２】
また、本実施形態に係るチルト検出回路２８ｆによると、乗算器１３１と遅延素子１３５と減算器１４１とによってウォブル信号あるいはＲＦ信号に基づいてラジアルチルトが基準面に対して＋側に増加すると該増加に伴って増加する信号成分を含む信号（第１の信号）が生成され、乗算器１３３と遅延素子１３５と遅延素子１３７と遅延素子１３９と減算器１４３とによってウォブル信号あるいはＲＦ信号に基づいてラジアルチルトが基準面に対して−側に増加すると該増加に伴って増加する信号成分を含む信号（第２の信号）が生成される。そして、ジッタ値取得回路１４５によって減算器１４１の出力信号に基づいてジッタ値が取得され、ジッタ値取得回路１４７によって減算器１４３の出力信号に基づいてジッタ値が取得される。そして、減算器１４９によってジッタ値取得回路１４５の出力信号からジッタ値取得回路１１４７の出力信号が減算され、ラジアルチルト信号が生成される。これにより、ラジアルチルトの大きさと方向（＋側又は−側）とを同時にリアルタイムで求めることができる。従って、基準面に対する光ディスクのラジアルチルトを迅速に精度良く検出することが可能となる。
【０１３３】
また、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、チルト検出回路２８ｆによってタンジェンシャルチルト及びラジアルチルトがいずれも精度良く検出され、チルト制御回路２７ｃとチルトアクチュエータとによって、タンジェンシャルチルト及びラジアルチルトがそれぞれ補正される。従って、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うことが可能となる。
【０１３４】
ところで、タンジェンシャルチルトの周波数特性の一例が図３０に示されている。タンジェンシャルチルト値は２ω（ω：光ディスクの回転周波数）近傍で最大値を取り、３ω以上で大きく減衰する。すなわち、タンジェンシャルチルトのＤＣ〜２ω成分を補正できれば大きな効果が得られる。そこで、光ディスクの回転周期の１／４以下に対応する時間内でジッタ値の計算が完了すると、光ディスクの１回転につき４回のタンジェンシャルチルトのサンプリングが可能となる。そのため、２ωのカットオフ周波数を持つＬＰＦ（ローパスフィルタ）を前記減算器１２１及び減算器１４９の後段にそれぞれ設けることにより、サンプリング定理（標本化定理）から明らかなように、２ω成分までのタンジェンシャルチルト情報を忠実に再現でき、更に効果の高いタンジェンシャルチルト補正が可能となる。
【０１３５】
なお、上記実施形態では、前記タンジェンシャルチルト検出部ＴＴにおけるフィルタｆ１及びｆ２にそれぞれ２タップのトランスバーサルフィルタを用いる場合について説明したが、これに限らず、例えば、図３１〜図３３に示されるように、それぞれ５タップのトランスバーサルフィルタを用いても良い。
【０１３６】
また、本構成は、クロストーク成分の検出に隣接トラック上の光スポットを用いているが、実際のクロストーク成分は、光スポットの端の部分への漏れ成分である。そのため、クロストーク成分の周波数特性は、隣接トラックの再生信号の周波数特性とは異なる。よって、より厳密なクロストーク量の減算のためには、隣接トラックの再生信号の周波数特性を、クロストーク成分の周波数特性に変換するために、上記実施形態における前記ラジアルチルト検出部ＲＴの各ゲインアンプに代えて、図３４〜図３７に示されるように、それぞれトランスバーサルフィルタを用いても良い。なお、逆にゲインアンプは広義でトランスバーサルフィルタの一種と考えることも可能である。
【０１３７】
また、上記実施形態では、前記係数ｋ01及びｋ12の値がそれぞれ−０．１の場合について説明したが、これに限定されるものではない。必要とされる検出感度及び検出範囲に応じてそれぞれの値を変更しても良い。なお、係数ｋ01及びｋ12の絶対値は、小さいほどタンジェンシャルチルトの検出可能範囲が広くなるが検出感度は小さくなり、一方、大きいほどタンジェンシャルチルトの検出可能範囲は狭くなるが検出感度は大きくなる。
【０１３８】
また、上記実施形態では、チルトアクチュエータによって対物レンズ６０を傾斜させて各チルトの補正を行う場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、電気光学効果を示す電気光学結晶や液晶などを含み、光に光学的位相差を付与する光学素子を前記受発光モジュール５１と対物レンズ６０との間の光路上に配置して、タンジェンシャルチルト及びラジアルチルトに起因する波面収差を相殺しても良い。この場合には、前記チルト制御回路２７ｃは、タンジェンシャルチルト信号及びラジアルチルト信号に応じて前記光学的位相差を付与する光学素子に駆動電圧を印加することとなる。
【０１３９】
また、光ピックアップ装置２３の全体を傾斜させてチルト補正を行っても良い。この場合は、光ピックアップ装置２３の全体を傾斜させるための駆動機構が更に設けられ、前記チルト制御回路２７ｃは、タンジェンシャルチルト信号及びラジアルチルト信号に応じて前記駆動機構に駆動電圧を供給することとなる。
【０１４０】
また、上記実施形態において、チルト検出回路２８ｆの各ジッタ値取得回路に代えて、ビットエラーレート取得回路を用いても良い。特に、ジッタ値が正規分布とならない場合には、検出精度を更に向上させることができる。
【０１４１】
また、上記実施形態において、記録変調方式にＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）方式が用いられる場合には、チルト検出回路２８ｆの各ジッタ値取得回路に代えて、ＰＲＳＮＲ値を求めるＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal-to-Noise Ratio）計測器をそれぞれ用いても良い。
【０１４２】
また、上記実施形態において、前記チルト検出装置２８ｆの信号生成回路１５１が前記アンプ２８ａに含まれていても良い。
【０１４３】
また、上記実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生及び消去のうち、少なくとも情報の再生が可能な光ディスク装置であれば良い。
【０１４４】
また、上記実施形態では、前記チルト検出装置２８ｆがタンジェンシャルチルト及びラジアルチルトの両方を検出する場合について説明したが、例えば、記録及び再生に及ぼすラジアルチルトの影響が小さい場合には、タンジェンシャルチルトのみを検出しても良い。この場合には、前記ラジアルチルト検出部ＲＴは不要である。そして、タンジェンシャルチルトのみが補正される。
【０１４５】
また、上記実施形態では、いわゆる３ビーム方式が用いられる場合について説明したが、前記チルト検出装置２８ｆがタンジェンシャルチルトのみを検出する場合には、いわゆる１ビーム方式が用いられても良い。この場合には、前記グレーティング５０ａ、前記２分割受光素子Ｐd２及び２分割受光素子Ｐd３は不要となる。そして、トラックエラー信号は、プッシュプル法（ＰＰ法）あるいは位相差法（ＤＰＤ法）などで検出されることとなる。
【０１４６】
また、上記実施形態では、光ディスクが１つの記録層を有する場合について説明したが、これに限らず、複数の記録層を有していてもよい。
【０１４７】
また、上記実施形態では、光ディスクが４０５ｎｍの波長の光に対応したＤＶＤの場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、光ディスクがＣＤ系、及び６６０ｎｍの波長の光に対応したＤＶＤであっても良い。
【０１４８】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約４０５ｎｍの光を発光する半導体レーザ、波長が約６６０ｎｍの光を発光する半導体レーザ及び波長が約７８０ｎｍの光を発光する半導体レーザのうちの少なくとも１つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。
【０１４９】
また、近年、ＳＩＬ（ｓｏｌｉｄ  ｉｍｍｅｒｓｉｏｎ  ｌｅｎｓ）を用いて、対物レンズのＮＡ（ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  ａｐｅｒｔｕｒｅ）が１を超える光学系を用いることで、記録容量の増加を狙う光ディスクシステムが提案されている。このＳＩＬを用いた光ディスクシステム（以下、便宜上「ＳＩＬ光ディスクシステム」ともいう）においては、レーザ光の入射面と記録層との間にある透明層（以下では、「読み出し側の基板」という、例えばＤＶＤでは厚さ０．６ｍｍの基板）がないか、読み出し側の基板がある場合にもそれが非常に薄いため、チルトによるコマ収差の影響は小さい。しかしながら、チルトにより、軸外でＳＩＬとディスク間のギャップが変化するため、すなわち、対物レンズの中心軸から離れるにしたがってチルトによるＳＩＬとディスクの間のギャップが大きくなり、チルトＳＩＬからのいわゆる染みだし光（エバネッセント光）の分布が変化し、記録層における光スポット径の拡大を招き、ひいては記録品質・再生品質の低下が起こる。
【０１５０】
ＳＩＬ光ディスクシステムにおけるチルトに対する光スポット形状の変化が、一例として図３８（Ａ）〜図３８（Ｃ）に示されている。前述した図９と比較して、コマ収差がないためチルトによる第一回折スポットの変化はないが、チルトにより前記ギャップが変化するため、記録層における光スポットの形状が、例えばタンジェンシャルチルトに対しては、図３８（Ｂ）及び図３８（Ｃ）に示されるように、ディスクのタンジェンシャル方向（トラック方向）に伸びた形状となる。このように、ＳＩＬ光ディスクシステムにおいても、通常の光ディスクシステムと同様に、チルトに伴って記録層における光スポットの形状に変化が起こり、クロストーク量が増大する。そこで、ＳＩＬ光ディスクシステムにおいても、本発明のチルト検出手法を用いることにより、チルト検出が可能である。
【０１５１】
特に、ＳＩＬ光ディスクシステムでは、ＳＩＬとディスク間のギャップが一般的に数１０ｎｍと非常に小さいため、チルト量がわずかに変化しても、記録層における光スポットの形状は大きく変化する。従って、本発明のチルト検出手法を用いることにより、非常に高感度のチルト検出が可能である。
【産業上の利用可能性】
【０１５２】
以上説明したように、本発明のチルト検出方法及びチルト検出装置によれば、基準面に対する光ディスクの傾きを迅速に精度良く検出するのに適している。また、本発明の光ディスク装置によれば、応答性に優れた光ディスクへのアクセスを安定して行うのに適している。
【図面の簡単な説明】
【０１５３】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における光ピックアップ装置を説明するための図である。
【図３】図２における受光器を説明するための図である。
【図４】３ビーム法を説明するための図である。
【図５】戻り光を説明するための図である。
【図６】図１におけるアンプを説明するための図である。
【図７】図１におけるチルト検出回路を説明するための図である。
【図８】図７における各フィルタのタップ数及び遅延時間を説明するための図である。
【図９】図９（Ａ）〜図９（Ｃ）は、それぞれ主ビームによる光スポットの形状とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【図１０】クロストーク量を説明するための図である。
【図１１】図１０のＡ領域におけるクロストーク量とジッタ値との関係を説明するための図である。
【図１２】クロストーク量とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【図１３】図１３（Ａ）は、Ａ領域におけるクロストーク量とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図であり、図１３（Ｂ）は、Ｂ領域におけるクロストーク量とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【図１４】全体のクロストーク量とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【図１５】図１４に対応する、ジッタ値とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【図１６】図１６（Ａ）は、Ａcancelを説明するための図であり、図１６（Ｂ）は、｜Ａcancel｜を説明するための図である。
【図１７】図１７（Ａ）は、Ｂcancelを説明するための図であり、図１７（Ｂ）は、｜Ｂcancel｜を説明するための図である。
【図１８】図１８（Ａ）は、フィルタｆ１の出力信号に含まれる信号を説明するための図であり、図１８（Ｂ）は、フィルタｆ２の出力信号に含まれる信号を説明するための図である。
【図１９】図１９（Ａ）は、ジッタ値取得手段１０９の出力信号を説明するための図であり、図１９（Ｂ）は、ジッタ値取得手段１１９の出力信号を説明するための図である。
【図２０】減算器１２１の出力信号を説明するための図である。
【図２１】タンジェンシャルチルト信号とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【図２２】タンジェンシャルチルト信号とラジアルチルトとの関係を説明するための図である。
【図２３】タンジェンシャルチルト信号とノイズの大きさとの関係を説明するための図である。
【図２４】図２４（Ａ）及び図２４（Ｂ）は、それぞれ光スポットの形状とラジアルチルトとの関係を説明するための図である。
【図２５】ラジアルチルト信号とラジアルチルトとの関係を説明するための図である。
【図２６】ラジアルチルト信号とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【図２７】ラジアルチルト信号とノイズの大きさとの関係を説明するための図である。
【図２８】記録処理を説明するためのフローチャートである。
【図２９】再生処理を説明するためのフローチャートである。
【図３０】タンジェンシャルチルトの周波数特性を説明するための図である。
【図３１】図７におけるフィルタｆ１の変形例を説明するための図である。
【図３２】図７におけるフィルタｆ２の変形例を説明するための図である。
【図３３】図３１のフィルタｆ１及び図３２のフィルタｆ２のタップ数を説明するための図である。
【図３４】図７におけるラジアルチルト検出部の変形例を説明するための図である。
【図３５】図３４におけるフィルタ３０１を説明するための図である。
【図３６】図３４におけるフィルタ３５１を説明するための図である。
【図３７】図３４における各フィルタのタップ数を説明するための図である。
【図３８】図３８（Ａ）〜図３８（Ｃ）は、それぞれＳＩＬを用いた光ディスクシステムにおける主ビームによる光スポットの形状とタンジェンシャルチルトとの関係を説明するための図である。
【符号の説明】
【０１５４】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置、２７ｃ…チルト制御回路（チルト補正装置の一部）、２８ｆ…チルト検出回路（チルト検出装置）、１０９…ジッタ値取得回路（信号品質取得回路の一部）、１１９…ジッタ値取得回路（信号品質取得回路の一部）、１２１…減算器、１４５…ジッタ値取得回路（信号品質取得回路の一部）、１４７…ジッタ値取得回路（信号品質取得回路の一部）、１４９…減算器、ｆ１…フィルタ（第１の信号生成回路）、ｆ２…フィルタ（第２の信号生成回路）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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