(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
端子部に所定のピッチで配列された複数本のリード端子を含むリード端子群を備えている液晶表示パネルを検査対象とし、上記リード端子の各々に電圧プローブピンを接触させてチェックユニットより上記液晶表示パネルに所定の点灯電圧を印加してその点灯状態を検査する液晶表示パネルの点灯検査方法において、
上記端子部に、ピッチが上記リード端子群内の最小端子ピッチと同一、かつ、端子幅が上記リード端子群内の最小端子幅と同一であって、互いに導通するパターンとして形成されたずれ検出用の一対のダミー端子を上記リード端子群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の距離を置いて配置するとともに、
上記電圧プローブピンを保持するプローブヘッド側に、上記ダミー端子を介して導通チェック電流を流す各一対の電流プローブピンを設け、
上記電圧プローブピンおよび上記電流プローブピンのすべてを上記端子部に接触させたのち、上記電流プローブピン間のみに導通チェック電流を流し、その導通・非導通により、上記電圧プローブピンと上記リード端子との間の位置ずれの有無を検出し、
上記電流プローブピン間が導通で位置ずれがない場合には、上記電流プローブピンを上記ダミー端子に接触させた状態のまま、上記電圧プローブピンから上記リード端子の各々に上記点灯電圧を印加することを特徴とする液晶表示パネルの点灯検査方法。
【請求項２】
上記一対のダミー端子が、互いに導通するＵ字状パターンとして形成されている請求項１に記載の液晶表示パネルの点灯検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルおよびその点灯検査方法に関し、さらに詳しく言えば、端子部に形成されている各リード端子にプローブピンを同時に接触させて点灯電圧を印加する際のリード端子とプローブピン間の位置ずれ検出技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
どの製品でも同じく組み立て後に最終的な性能検査が行われるが、液晶表示パネルの場合には点灯検査がそれに該当する。液晶表示パネルの点灯検査は、端子部に形成されているリード端子にチェックユニットのプローブピンを接触させて所定の点灯電圧を印加し、その点灯状態によって透明電極の断線もしくは短絡の有無を検査する。
【０００３】
この点灯検査には、リード端子とプローブピンとの正確な位置合わせが要求される。例えば、ＴＦＴ液晶表示パネルにおいては、位置ずれによりリード端子を間違えて電圧をかけると、その電圧印加のタイミングによってはＴＦＴが破壊されることがある。そのため多くの場合、オートアライメント機構を有する検査装置が用いられている。
【０００４】
この検査装置によると、液晶表示パネルに設けられているアライメントマークをＣＣＤカメラにて撮像し、その撮像信号を画像処理ユニットで処理して液晶表示パネルのリード端子位置を特定する。そして、その位置データに基づいてプローブピンもしくはパネルのいずれかを移動させて、リード端子とプローブピンとを位置合わせする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のオートアライメント機構を有する検査装置を含めて従来の検査装置は、位置合わせ後において、最終的に位置合わせ状態を確認する手段を備えていないため、信頼性に欠ける嫌いがあった。
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、その目的は、リード端子に点灯電圧を印加するに先だって、リード端子とプローブピンの位置合わせ状態を、実際にプローブピンを接触させた状態で確実に検出することができる信頼性の高い液晶表示パネルの点灯検査方法を提供することにある。
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明は、端子部に所定のピッチで配列された複数本のリード端子を含むリード端子群を備えている液晶表示パネルを検査対象とし、上記リード端子の各々に電圧プローブピンを接触させてチェックユニットより上記液晶表示パネルに所定の点灯電圧を印加してその点灯状態を検査する液晶表示パネルの点灯検査方法において、上記端子部に、ピッチが上記リード端子群内の最小端子ピッチと同一、かつ、端子幅が上記リード端子群内の最小端子幅と同一であって、互いに導通するパターンとして形成されたずれ検出用の一対のダミー端子を上記リード端子群の両側に上記最小端子ピッチの整数倍の距離を置いて配置するとともに、上記電圧プローブピンを保持するプローブヘッド側に、上記ダミー端子を介して導通チェック電流を流す各一対の電流プローブピンを設け、
上記電圧プローブピンおよび上記電流プローブピンのすべてを上記端子部に接触させたのち、上記電流プローブピン間のみに導通チェック電流を流し、その導通・非導通により、上記電圧プローブピンと上記リード端子との間の位置ずれの有無を検出し、上記電流プローブピン間が導通で位置ずれがない場合には、上記電流プローブピンを上記ダミー端子に接触させた状態のまま、上記電圧プローブピンから上記リード端子の各々に上記点灯電圧を印加することを特徴としている。
【０００８】
本発明において、ずれ検出用の一対のダミー端子は導通していれば、その導通箇所はどこでもよいが、電流プローブピンの配設位置精度を考慮してリード端子と同じく短冊状であることが好ましく、また誤判定をなくすためには、互いに導通するＵ字状（もしくは逆Ｕ字状）パターンがよい。
【００１０】
【発明の実施の形態】
次に、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。図１に液晶表示パネル１の端子部１０の構成を示し、図２に端子部１０と点灯検査装置であるチェックユニット２０との相対位置関係を示す。
【００１１】
端子部１０には、複数本のリード端子１１を含むリード端子群１２が設けられており、各リード端子１１は、液晶表示パネル１内の図示しない透明電極に接続されている。各リード端子１１は、透明電極と同じくＩＴＯ（インジウム・錫酸化物）よりなり、短冊状パターンとして形成されている。
【００１２】
この実施形態において、各リード端子１１の端子間ピッチおよび端子幅はともに同一とされているが、そのいずれか一方もしくは双方が異なっている場合も、本発明の検査対象に含まれる。
【００１３】
リード端子群１２の両側には、ずれ検出部１４，１４が設けられている。このずれ検出部１４，１４は同一構成であるため、その一方について説明すると、ずれ検出部１４は、一対のダミー端子１４１，１４１を備えている。
【００１４】
ダミー端子１４１，１４１は、リード端子１１と同じくＩＴＯにより短冊状に形成されているとともに、短絡パターン１４２にて互いに導通されている。この実施形態において、短絡パターン１４２は、ダミー端子１４１，１４１の各一端側に配置されている。これにより、ずれ検出部１４は全体してＵ字状パターンを呈している。
【００１５】
短絡パターン１４２は、端子部１０の基端部側（パネル表示部側）に配置され、かつ、その線幅Ｗ２は基端部から０．５ｍｍ以下であることが好ましい。なお、変形例の一つとして、短絡パターン１４２をダミー端子１４１，１４１の中央に配置して、ずれ検出部１４をＨ字状パターンとしてもよい。
【００１６】
ダミー端子１４１，１４１の端子幅Ｗ１は、リード端子１１の端子幅と同一幅である。なお、リード端子群１２に異なる端子幅のリード端子が含まれる場合には、その中の最小端子幅と同一とされる。
【００１７】
また、ダミー端子１４１，１４１間のピッチＰ１は、リード端子１１，１１間のピッチと同一である。なお、リード端子群１２に異なるピッチのリード端子が含まれる場合には、その中の最小端子ピッチと同一とされる。
【００１８】
ずれ検出部１４とリード端子群１２との間の距離Ｌも、本発明にとって重要な要素である。すなわち、この距離Ｌは、リード端子１１，１１間のピッチ（リード端子群１２に異なるピッチのリード端子が含まれる場合には、その中の最小端子ピッチ）の整数倍に設定される。
【００１９】
なお、整数倍であることを条件として、リード端子群１２に対する図１の右側ずれ検出部１４と左側ずれ検出部１４の各距離Ｌを異ならせてもよい。例えば、図１の右側ずれ検出部１４の距離Ｌを端子間ピッチの２倍とし、左側ずれ検出部１４の距離Ｌを端子間ピッチの３倍としてもよい。
【００２０】
図２を参照して、チェックユニット２０は、測定部２１とプローブヘッド２２とを備えている。プローブヘッド２２は、図示しない駆動手段により端子部１０に対して接近・離反するように動かされる。
【００２１】
プローブヘッド２２には、各リード端子１１に対応して配置された点灯電圧印加用の電圧プローブ２３と、ずれ検出部１４に対応して配置され、その各ダミー端子１４１，１４１を介して導通チェック電流を流す各一対の電流プローブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，２４ｄとが設けられている。
【００２２】
この実施形態において、測定部２１は、導通チェック用の電源である電池２５を有し、この電池２５の例えば正極側には、対をなす内のそれぞれ一方の電流プローブピン２４ａと電流プローブピン２４ｄとがスイッチ２６を介して接続されている。
【００２３】
対をなすそれぞれ他方の電流プローブピン２４ｂと電流プローブピン２４ｃは、アンド回路２７の入力側に接続され、アンド回路２７の出力側は図示しない判定部に接続されている。なお、電圧プローブ２３に対する点灯電圧制御回路は本発明の要旨でないため、その図示を省略している。
【００２４】
次に、本発明の動作について説明する。例えば、液晶表示パネル１０が図示しない位置合わせ用のＸ−Ｙ移動テーブルに載置され、オートアライメント機構などにより位置合わせが終了すると、本発明の点灯検査が行われる。
【００２５】
まず、プローブヘッド２２を下降させてすべてのプローブピン２３，２４を端子部１０に接触させる。そして、電圧プローブピン２３から各リード端子１１に点灯電圧を印加する前に、スイッチ２６をオンして電流プローブピン２４ａと電流プローブピン２４ｄとに電圧を加える。
【００２６】
このとき、電流プローブピン２４ａ，２４ｂ；２４ｃ，２４ｄの各々が、ずれ検出部１４のダミー端子１４１，１４１に接触していれば、電流プローブピン２４ａ，２４ｂ間および電流プローブピン２４ｃ，２４ｄ間に電流が流れ、アンド回路２７の各入力側「Ｈ」となるため、アンド回路２７の出力が「Ｈ」となる。
【００２７】
これにより、判定部にて位置ずれ「なし（ＯＫ）」と判定され、次のステップとして電圧プローブピン２３から各リード端子１１に点灯電圧が印加される。スイッチ２６をオンしても、アンド回路２７の出力が「Ｌ」のままであると、判定部にて位置ずれ「あり（ＮＧ）」と判定され、例えばブザーなどにより警告が発せられる。
【００２８】
このように、本発明によれば、点灯電圧を印加する前に位置ずれの有無を実際のプローブの接触状態で確認できるため、信頼性の高い点灯検査を行うことができる。特に、ＴＦＴパネルの場合、間違った電圧印加によるＴＦＴの破壊を防止できるので好適である。
【００２９】
なお、本明細書において、点灯電圧を印加するプローブピンを電圧プローブピン、導通チェック用のプローブピンを電流プローブピンとしているが、これは説明の都合上のものであって、実際には同じプローブピンが用いられている。
【００３０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、端子部に複数本のリード端子を含むリード端子群を備えている液晶表示パネルを点灯検査するにあたって、端子部にピッチがリード端子群内の最小端子ピッチと同一、かつ、端子幅がリード端子群内の最小端子幅と同一であって、互いに導通している一対のずれ検出用のダミー端子をリード端子群の両側に最小端子ピッチの整数倍の距離を置いて配置するとともに、プローブヘッド側にダミー端子を介して導通チェック電流を流す各一対の電流プローブピンを設け、リード端子の各々に点灯電圧を印加する前に、電流プローブピン間に導通チェック電流を流し、その導通・非導通により、位置ずれの有無を検出するようにしたことにより、信頼性の高い液晶表示パネルの点灯検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係る液晶表示パネルの端子部を示した要部平面図。
【図２】上記液晶表示パネルとチェックユニットの相対位置関係を示す説明図。
【符号の説明】
１  液晶表示パネル
１０  端子部
１１  リード端子
１２  リード端子群
１４  ずれ検出部
１４１  ダミー端子
１４２  短絡パターン
２０  チェックユニット
２１  測定部
２２  プローブヘッド
２３  電圧プローブピン
２４ａ〜２４ｄ  電流プローブピン
【図１】
0004803692.tif 000002
【図２】
0004803692.tif 000003