(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
軽希土類フッ化物単結晶であって、Ｐｒ、Ｌｕ及びＦを含有し、Ｐｒ１−ｘＬｕｘＦ３（ｘ≦０．５）で表されることを特徴とする放射線検出用フッ化物単結晶。
【請求項２】
請求項１の放射線検出用フッ化物単結晶からなるシンチレータと、このシンチレータからの発光を検出する光検出器とを具備することを特徴とする放射線検出器。
【請求項３】
１０−４〜１０−５ｔｏｒｒの高真空を保ちながら、粉末又はバルク状多結晶フッ化物原料を室温から原料の融点以下の温度まで加熱し、フロン系ガス及びアルゴンガスを導入してから温度を融点以上に上げ、融液あるいは溶液表面に発生する不純物および融液あるいは溶液内に存在する不純物とガスとを反応させて、不純物を除去し、得られた融液あるいは溶液から成長させることを特徴とする請求項１の放射線検出用フッ化物単結晶の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、新規な放射線検出用フッ化物単結晶及び放射線検出器に関し、特に、主として、Ｘ線断層撮影装置（Ｘ−ｒａｙ  Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：Ｘ線ＣＴ）、陽電子放射断層撮影装置（Ｐｏｓｉｔｒｏｎ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ  ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＰＥＴ）、タイム・オブ・フライト陽電子放射断層撮影装置（Ｔｉｍｅ−Ｏｆ−Ｆｌｉｇｈｔ  Ｐｏｓｉｔｒｏｎ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ  ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＴＯＦ−ＰＥＴ）などの医療診断装置に用いられる放射線検出用フッ化物単結晶及び放射線検出器に関する。また、本発明の放射線検出用フッ化物単結晶は、ＰＣＥなどの発光材料としても使用することができる。
【背景技術】
【０００２】
従来、医療診断や工業用非破壊検査などに放射線が利用され、例えば、医療装置として、Ｘ線ＣＴ、ＰＥＴが実用化されている。このような放射線を用いた装置には、γ線やＸ線などの放射線を検出するための検出器、例えば、シンチレータが使用されている。
【０００３】
ここで、シンチレータは、γ線やＸ線などの放射線の刺激により可視光線又は可視光線に近い波長の電磁波を放射する物質であり、密度が高いこと、蛍光の減衰時間が短いこと、及び耐放射線性に優れていることが要求される。
【０００４】
このようなＰＥＴ用のシンチレータ材料としては、従来、ビスマスジャーマネイト（Ｂｉ４Ｇｅ３Ｏ１２単結晶（ＢＧＯ））が使用されていたが、高性能な特性を求めてセリウムをドープしたガドリニウムシリケート（Ｃｅ：Ｇｄ２ＳｉＯ５（Ｃｅ：ＧＳＯ））単結晶が開発され、実用化された（特許文献１参照）。
【０００５】
また、その後、さらに高性能な特性を求めて種々の検討が行われ、セリウムをドープしたルテチウムオキシオルトシリケート結晶（Ｃｅ：Ｌｕ２ＳｉＯ５：（Ｃｅ：ＬＳＯ））が開発され、現在最も高性能なものとして実用化されている（特許文献２、３、４等参照）。
【０００６】
しかしながら、酸化物シンチレータは、融点が高いためチョクラルスキー法を用いた育成ではホットゾーンへダメージが大きくかつ融点が高い分エネルギーコストが高価になり、また、組成に含まれる元素の種類が多く結晶育成の組成ずれを防ぐため仕込み比をシビアに制御する必要があるという問題がある。
【０００７】
そこで、現在、酸化物以外では、光学レンズ用などとして製造されているＢａＦ２およびＣｓＦを併用したシンチレータがＴＯＦ−ＰＥＴへ応用検討されているがＣｓＦは潮解性があり問題がある。また、従来から検討されているＣｅＦ３は、蛍光寿命に優れているが蛍光強度はやや低いなどの課題がある（非特許文献１）。
【０００８】
このような単結晶以外に、各種のセラミック材料がシンチレータとして検討され、ＢａＦＣｌ：Ｅｕ、ＬａＯＢｒ：Ｔｂ、ＣｓＩ：Ｔｌ、ＣａＷＯ４、ＣｄＷＯ４などの多結晶体（セラミックス）（特許文献５等参照）、（Ｇｄ，Ｙ）２Ｏ３：Ｅｕのような立方晶構造を有する希土類酸化物の多結晶体（セラミックス）（特許文献６等参照）、Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒのような希土類酸硫化物の多結晶体（セラミックス）（特許文献７等参照）などが知られている。
【０００９】
このようなセラミックシンチレータ材料は、粉末を焼結して製造されるため、透明性（透光性）の改良、焼結性の改良などに関して種々の提案がなされている。例えば、Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒなどの蛍光体セラミックス中の不純物量、特に燐酸塩（ＰＯ４）の含有量を１００ｐｐｍ以下とすることによって、シンチレータの光出力を向上させるという提案がある（特許文献８参照）。また、希土類酸硫化物粉末にＬｉＦ、Ｌｉ２ＧｅＦ６、ＮａＢＦ４のようなフッ化物を焼結助剤として添加し、これらの混合粉末を熱間静水圧プレス（ＨＩＰ）で焼結することによって、高密度化させた蛍光体セラミックスが提案されている（特許文献９参照）。
【００１０】
なお、フッ化物単結晶は、その広範囲に亘る高い透過性、小さな結晶場、屈折率の温度係数が負であることから、レーザー用結晶として大きな期待を集めていたが、ＣｅＦ３、ＣｓＦおよびＢａＦ２以外の単結晶についてはシンチレータなどの放射線検出用材料として応用検討は殆どなされていない。一方、フッ化物単結晶は作製雰囲気、作製温度、原料の純度や組成の制御等、作製を困難にする要因が多数存在するので、大きなバルク結晶を製造すること自体困難であった。そこで本発明者は高品位な単結晶を安全かつ容易に作製する技術を開発し（特許文献１０参照）、レーザー用単結晶として、フッ化リチウムカルシウムアルミニウム（特許文献１１参照）、フッ化バリウムリチウム単結晶（特許文献１２参照）を製造している。さらに、フッ化リチウムカルシウムアルミニウムに関してはシンチレータとして使用できる特性を有していることを報告した（非特許文献２、非特許文献３参照）が、密度が２．９４ｇ／ｃｍ３と小さく、γ線の吸収係数が小さいという問題があった。
【００１１】
【特許文献１】特公昭６２−８４７２号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献２】米国特許第４９５８０８０号明細書  （Ｉ  ＣＬＡＩＭ）
【特許文献３】米国特許第５０２５１５１号明細書  （ＷＨＡＴ  ＩＳ  ＣＬＡＩＭＥＤ  ＩＳ）
【特許文献４】特開平９−１１８５９３号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献５】特公昭５９−４５０２２号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献６】特開昭５９−２７２８３号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献７】特開昭５８−２０４０８８号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献８】特開平７−１８８６５５号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献９】特公平５−０１６７５６号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献１０】特許第３０６２７５３号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献１１】特許第３０８９４１８号公報  （特許請求の範囲）
【特許文献１２】特許第３１６８２９４号公報  （特許請求の範囲）
【非特許文献１】"Cerium Fluoride, A New Fast, Heavy Scintillator", W. W. Moses et al., IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 36, No. 1, Feb. 1989, pp. 173-176.
【非特許文献２】"Scintillation decay of LiCaAlF6:Ce3+single crystals"  M.Nikl,N.Solovieva,E.Mihokova,M.Dusek,A.Vedda,M.Martini,K.Shimamura and T.Fukuda,Phys.Stat.Sol.(a) 187 (2001) R1−R3.
【非特許文献３】"LiCaAlF6:Ce crystal:a new scintillator"  A.Gektin,N.Shiran,S.Neicheva,V.Gavrilyuk,A.Bensalah,T.Fukuda and K.Shimamura,Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 486 (2002) 274−277.
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は上述した事情に鑑み、従来の材料より容易に結晶育成ができ、放射線に対して応答性を有する放射線検出用フッ化物単結晶及びそれを用いた放射線検出器を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前記課題を解決する本発明の第１の態様は、軽希土類フッ化物単結晶であって、Ｐｒ、Ｌｕ及びＦを含有し、Ｐｒ１−ｘＬｕｘＦ３（ｘ≦０．５）で表されることを特徴とする放射線検出用フッ化物単結晶にある。
【００１７】
本発明の第２の態様は、第１の態様の放射線検出用フッ化物単結晶からなるシンチレータと、このシンチレータからの発光を検出する光検出器とを具備することを特徴とする放射線検出器にある。
本発明の第３の態様は、１０−４〜１０−５ｔｏｒｒの高真空を保ちながら、粉末又はバルク状多結晶フッ化物原料を室温から原料の融点以下の温度まで加熱し、フロン系ガス及びアルゴンガスを導入してから温度を融点以上に上げ、融液あるいは溶液表面に発生する不純物および融液あるいは溶液内に存在する不純物とガスとを反応させて、不純物を除去し、得られた融液あるいは溶液から成長させることを特徴とする第１の態様の放射線検出用フッ化物単結晶の製造方法にある。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の放射線検出用フッ化物単結晶は、従来の材料より容易に結晶育成ができ、放射線に対して応答性を有するという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の放射線検出用フッ化物単結晶は、軽希土類フッ化物単結晶であって、ＲＥＦ３（ＲＥは、ＮｄおよびＰｒから選択される少なくとも一種である）からなる。蛍光波長が可視領域にあり、かつ蛍光強度が大きいほど解像度向上に寄与するから、プラセオジムＰｒが特に好ましい。
【００２０】
かかるフッ化物単結晶は、軽希土類でも単結晶密度が高く、蛍光の減衰時間が短く、蛍光の強度も大きいので、シンチレータなどの放射線検出用材料として有用である。
【００２１】
本発明の放射線検出用フッ化物単結晶である軽希土類フッ化物単結晶は、γ線やＸ線などの放射線の刺激により可視光線又は可視光線に近い波長の電磁波を放射するシンチレータ等としての特性を有するものであれば、製造方法としては特に限定されない。
【００２２】
本発明の軽希土類フッ化物は、複数の希土類フッ化物が複合した単結晶でもよく、また、希土類元素の一部を他の元素で置換したものとしてもよい。希土類元素の一部を他の元素で置換することにより、発光量の調整や発光波長のシフトをすることができる。
【００２３】
このような他の元素としては、ＲＥ及びＬａ以外の希土類元素、すなわち、セリウムＣｅ、プラセオジムＰｒ、ネオジムＮｄ、プロメチウムＰｍ、サマリウムＳｍ、ユウロピウムＥｕ、ガドリニウムＧｄ、テルビウムＴｂ、ジスプロシウムＤｙ、ホルミウムＨｏ、エルビウムＥｒ、ツリウムＴｍ、イッテルビウムＹｂ、ルテチウムＬｕから選択される少なくとも一種の元素Ｒを挙げることができるが、好ましくは、Ｎｄ、Ｐｒ、Ｌｕ、Ｇｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｔｍ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｂ、Ｄｙを挙げることができる。
【００２４】
このような元素は５０モル％程度まで置換することができる。すなわち、希土類フッ化物単結晶は、ＲＥ１−ｘＲｘＦ３で表され、ｘは０．５以下、好ましくは０．２以下、さらに好ましくは、０．０１〜０．１である。ｘが０．５より大きいと、希土類フッ化物単結晶の特性が置換した元素Ｒに大きく依存するため、発光量の低下およびホスト材と異なる性質になる場合がある。なお、このような置換元素は、１モル％程度まではドーパントともいう。
【００２５】
また、置換元素は、ランタンＬａであってもよい。Ｌａは、同じ軽希土類であるため、クラックおよびインクルージョンが少ない状態でＮｄ及びＰｒを置換することが可能であり、使用量に応じて発光量および発光波長を幅広く変化させることができる。なお、Ｌａは９５モル％程度まで置換することができる。Ｌａを含む希土類フッ化物単結晶は、（ＲＥ１−ｘＲｘ）１−ｙＬａｙＦ３（０≦ｘ≦０．５）で表され、ｙは０．９５以下、好ましくは０．７以下、さらに好ましくは０．２〜０．５である。ｙが０．２より小さいと特性が大きく変化せず、また、０．９５より大きいと添加したランタンに大きく依存してしまうためＲＥおよびＲの特徴が低下する。
【００２６】
一方、このようなフッ化物単結晶が放射線を吸収した際に発生する蛍光の強度を増大させ、シンチレータとしての特性を向上させるため、フッ化物単結晶の相転移を防止するため、又は蛍光ピークをシフトするためなどに、必要に応じて他のドーパントを添加してもよい。このようなドーパントは、好ましくはフッ化物で添加するが、蛍光の波長に吸収が存在しないものを用いるのが好ましい。このようなドーパントは、例えば、モル比で０．０１％〜１％程度添加することができる。なお、このようなドーパントを添加すると、蛍光の強度、発光波長や蛍光寿命が変化する場合があるので、所望の特性に併せて適宜選択する必要がある。
【００２７】
本発明の放射線検出用フッ化物単結晶は、ＰＥＴ又はＴＯＦ−ＰＥＴの検出器のシンチレータなどとして使用するので、高品質、かつ均質なバルク結晶を得る必要がある。このようなバルク結晶を得るためには、下記に示すような製造法によるのが好ましい。
【００２８】
すなわち、本発明の放射線検出用フッ化物単結晶は、好適には、融液成長法、あるいは溶液成長法によって製造するが、本発明の希土類フッ化物を製造するためには、以下の条件によって融液成長法、あるいは溶液成長法により製造するのが好ましい。この条件は、１０−４〜１０−５ｔｏｒｒの高真空を保ちながら、粉末又はバルク状多結晶フッ化物原料を室温から原料の融点以下の温度、例えば、５００〜８００℃の温度まで加熱し、炉内にＣＦ４などのフロン系ガス及びアルゴンガスを導入してから（混合比、フロン系ガス：アルゴンガス＝１００：０〜０：１００、体積比）温度を融点以上に上げ、融液あるいは溶液表面に発生する不純物および融液あるいは溶液内に存在する不純物とガスとを反応させて、不純物を除去し、得られた融液あるいは溶液から成長させるようにする。
【００２９】
上記製造方法によって、例えば、純度９９．９重量％程度のフッ化物原料を使った場合でも、従来技術の方法に比してより簡便に、高品質な単結晶を製造することが可能となる。また、本発明のフッ化物単結晶は、不純物を除去して得た融液又は溶液からＡｒなどの不活性ガス雰囲気下で融液成長法、あるいは溶液成長法によってフッ化物単結晶を作製することが可能となる。
【００３０】
以下に、本発明の放射線検出用フッ化物単結晶についてより詳細に説明する。
【００３１】
本発明の放射線検出用フッ化物単結晶は、粉末又は多結晶の希土類フッ化物原料、すなわち、フッ化プラセオジム（ＰｒＦ３）などのマトリックス用原料に、必要に応じてフッ化ネオジム（ＮｄＦ３）などの置換元素、さらにはドーパント用原料を坩堝内に充填し、炉内・原料内に含まれる水分および酸素の除去のため１０−４〜１０−５ｔｏｒｒ程度の高真空を保ちながら、上記フッ化物原料を室温から５００〜８００℃程度、すなわち、融点を超えない所定の温度まで加熱する。次に、作製炉内にＣＦ４などのフロン系ガス及びアルゴンガスを導入してから（混合比、フロン系ガス：アルゴンガス＝１００：０〜０：１００、体積比）温度を融点以上に上昇し、融液又は溶液表面に発生する不純物および融液又は溶液内に存在する不純物とフロン系ガスとを反応させ、不純物を除去するようにする。そして、得られた融液あるいは溶液から希土類フッ化物単結晶を製造する。なお、ドーパントを添加する場合には、例えば、ドーパントのフッ化物を適量添加すればよい。
【００３２】
このようにして得られる融液又は溶液からの単結晶の製造方法は特に限定されず、引き上げ法やブリッジマン法等を用いればよい。例えば、引き上げ法によると、融液の温度を各化合物の融点近辺に保ち、種結晶を１〜５０ｒｐｍで回転させながら０．１〜１０ｍｍ／ｈの速度で引き上げることによって、結晶中に気泡やスキャッタリングセンターなどのない、透明な高品質単結晶が得られる。また、本発明のフッ化物単結晶は、融解後、徐冷するだけでも単結晶が得られ、条件を適宜設定すれば、種結晶を用いることなく、徐冷するだけで単結晶が得られるという特長を有する。
【００３３】
このようにして得られる希土類フッ化物単結晶は、ＰＥＴやＴＯＦ−ＰＥＴ用のシンチレータとして有用である。
【００３４】
このような希土類フッ化物単結晶を所定の寸法に切り出したシンチレータは、放射線、例えば、Ｘ線又はγ線を吸収することにより発生する蛍光の波長に合わせた光検出器、例えば、可視光又は紫外線の光電子増倍管などの光検出器と組み合わせることにより、放射線検出器とすることができる。
【実施例】
【００３５】
（実施例１）
純度９９．９９％の市販のバルク粉砕原料であるＰｒＦ３を準備し、これを坩堝内に充填した。それをそのまま単結晶作製炉内に置き、１０−４〜１０−５ｔｏｒｒ程度まで真空に引き、そのまま約７００℃程度まで真空状態で加熱し炉内・原料中の水分・酸素を除去した。ここでＣＦ４及びアルゴンガスを単結晶作製炉内に導入し、混合ガス雰囲気中で原料を加熱融解し、そのまま１時間、液体状態で保った。このとき、液体表面に現れた不純物は、ＣＦ４ガスと反応することにより、全て消滅した。次に融液に種結晶を接触させ、ｃ軸方向に引き上げ速度２ｍｍ／ｈ、回転数１０ｒｐｍで引き上げ単結晶を成長・作製した。作製した結晶は、直径約１５ｍｍ、長さ約７０ｍｍで、気泡、クラックおよびスキャッタリングセンターなどの無く、緑色透明かつ高品質なフッ化プラセオジム（ＰｒＦ３）単結晶であった。得られたＰｒＦ３単結晶の密度は６．２９ｇ／ｃｍ３であった。
【００３６】
（実施例２）
純度９９．９９％の市販のバルク粉砕原料であるＮｄＦ３を準備し、これを坩堝内に充填したのち、実施例１と同様に、結晶を育成した。作製した結晶は、直径約２５ｍｍ、長さ約７０ｍｍで、気泡、クラックおよびスキャッタリングセンターなどの無く、緑色透明かつ高品質なフッ化ネオジム（ＮｄＦ３）単結晶であった。得られたＮｄＦ３単結晶の密度は６．５０ｇ／ｃｍ３であった。
【００３７】
（実施例３）
純度９９．９９％の市販のバルク粉砕原料であるＰｒＦ３を準備し、これを坩堝内に充填した。それをそのまま単結晶作製炉内に置き、１０−４〜１０−５ｔｏｒｒ程度まで真空に引き、そのまま約７００℃程度まで真空状態で加熱し炉内・原料中の水分・酸素を除去した。ここでＣＦ４ガス及びアルゴンガスを単結晶作製炉内に導入し、混合ガス雰囲気中で原料を加熱融解し、そのまま１時間、液体状態で保った。このとき、液体表面に現れた不純物は、ＣＦ４ガスと反応することにより、全て消滅した。次に融液を２４時間かけて徐々に冷却し、気泡、クラックなどの無く、緑色透明かつ高品質なフッ化プラセオジム（ＰｒＦ３）単結晶を作製した。作製した結晶は、直径約６０ｍｍ、長さ約１５ｍｍで、気泡およびクラックおよびスキャッタリングセンターなどの無く、緑色透明かつ高品質なフッ化プラセオジム（ＰｒＦ３）単結晶であった。
【００３８】
（実施例４）
純度９９．９９％の市販のバルク粉砕原料であるＰｒＦ３を準備し、これを坩堝内に充填したのち、ドーパントとしてＮｄＦ３を１モル％坩堝内に充填し、実施例１と同様に、結晶を育成した。
【００３９】
（実施例５）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＴｂＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同様に、結晶を育成した。
【００４０】
（実施例６）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＤｙＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同様に、結晶を育成した。
【００４１】
（実施例７）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＥｕＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同様に、結晶を育成した。
【００４２】
（実施例８）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＥｒＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同様に、結晶を育成した。
【００４３】
（実施例９）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＴｍＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同様に、結晶を育成した。
【００４４】
（実施例１０）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＨｏＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同様に、結晶を育成した。
【００４５】
（実施例１１）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＣｅＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同
様に、結晶を育成した。
【００４６】
（実施例１２）
ドーパントとしてＮｄＦ３の代わりに、ＬｕＦ３を１モル％用いた以外は実施例４と同
様に、結晶を育成した。
【００４７】
（試験例）
実施例１及び実施例２のＰｒＦ３単結晶及びＮｄＦ３単結晶のＸ線回折プロファイルを図１に示す。この結果、実施例１及び実施例２の単結晶が、それぞれＰｒＦ３単結晶及びＮｄＦ３単結晶であることが確認された。
【００４８】
実施例１で得られたＰｒＦ３単結晶についてＸ線蛍光スペクトルを測定した結果を図２に示す。この結果、発光波長が緑−赤領域にピークがなく、４００ｎｍに鋭いピークがあることがわかった。
【００４９】
また、実施例１で得られたＰｒＦ３単結晶について、Ｘ線照射で蛍光寿命を測定した結果を図３に示す。この結果、蛍光寿命が５１０ｎｓｅｃでアフターグローは見られなかった。
【００５０】
さらに、実施例１で得られたＰｒＦ３単結晶のＸ線蛍光強度をＢＧＯと比較した結果を図４に示す。この結果、蛍光強度はＢＧＯより僅かに低いが、ほぼ同等の値を示すことがわかった。
【００５１】
各種ドーパントを１モル％添加して得られた実施例４〜１０の単結晶のＸ線蛍光スペクトル測定した結果を図５に示す。この結果、実施例４〜１０の単結晶は実施例１と比較して蛍光強度が低くはなるが、約４００ｎｍにピークが得られることが確認された。したがって、各種ドーパントを添加することにより発光量を調整できることが分かった。
【００５２】
実施例１、１１及び１２の単結晶のＸ線蛍光スペクトル測定した結果を図６に示す。実施例１１は、実施例４〜１０と同様に、実施例１と比較して４００ｎｍ付近のピークが小さくなるが、新しく３００ｎｍに発光ピークが得られることを確認した。したがって、実施例４〜１０では４００ｎｍの蛍光強度が低下し、かつ可視領域付近で新たな大きな発光ピークの発現が見られなかったが、Ｃｅをドーパントとした実施例１１では、ピークが３００ｎｍに発現しＣｅの添加量に応じて可視領域付近での発光量を増加させることが可能であることがわかった。また、Ｌｕをドーパントとした実施例１２では約４００ｎｍに大きなピークが得られ実施例１より蛍光強度が高くなることが確認された。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
本発明の放射線検出用フッ化物単結晶は、主として、Ｘ線断層撮影装置（Ｘ−ｒａｙ  Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：Ｘ線ＣＴ）、陽電子放射断層撮影装置（Ｐｏｓｉｔｒｏｎ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ  ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＰＥＴ）、タイム・オブ・フライト陽電子放射断層撮影装置（Ｔｉｍｅ−Ｏｆ−Ｆｌｉｇｈｔ  Ｐｏｓｉｔｒｏｎ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ  ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＴＯＦ−ＰＥＴ）などの医療診断装置に用いられるが、その他、放射線検出用の各種用途に用いられる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】実施例１及び２のＰｒＦ３単結晶及びＮｄＦ３単結晶のＸ線回析プロファイルを示す図である。
【図２】実施例１のＰｒＦ３単結晶のＸ線蛍光スペクトルを示す図である。
【図３】実施例１のＰｒＦ３単結晶について蛍光寿命を測定した結果を示す図である。
【図４】実施例１のＰｒＦ３単結晶のＸ線蛍光強度をＢＧＯと比較した結果を示す図である。
【図５】各種ドーパントを１モル％添加して得られた実施例４〜１０の単結晶のＸ線蛍光スペクトルを示す図である。
【図６】実施例１、１１及び１２の単結晶のＸ線蛍光スペクトルを示す図である。
【図１】
0004605588.tif 000002
【図２】
0004605588.tif 000003
【図３】
0004605588.tif 000004
【図４】
0004605588.tif 000005
【図５】
0004605588.tif 000006
【図６】
0004605588.tif 000007