(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録担体の記録のための記録パルスのパラメータの値を決定する方法であって、前記記録パルスは、前記記録担体に光読み取り可能なマークのパターンを書き込むために前記光記録担体の記録面に照射され、前記方法は、
所定の値の前記記録パルスのパラメータでテストパターンを書き込むステップを有し、ここで前記値は各テストパターンについて異なるものであり、前記方法は更に、
前記テストパターンを読み取り、読み取り信号を形成するステップと、
各前記テストパターンに対応する前記読み取り信号のジッタ値を測定し、前記所定の値の前記記録パルスのパラメータに対する前記ジッタ値の依存関係を形成するステップと、
前記依存関係の略単調でない部分と２つの略単調な部分とを識別するステップと、
を有し、前記略単調な部分のそれぞれが一次関数を用いて近似され、前記一次関数の交点が、前記記録パルスのパラメータの最適化された値を導出するために決定される方法。
【請求項２】
前記記録パルスのパラメータは、前記記録パルスの記録パワーレベルである、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記記録パルスのパラメータの前記最適化された値は前記光記録担体に記録される、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記記録パルスのパラメータの前記最適化された値は、記録パルスのパラメータの値を決定するための装置に保存される、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
光記録担体の記録のための記録パルスのパラメータの値を決定する装置であって、
前記記録パルスを用いて記録担体の記録面を照射することにより、前記記録担体に光読み取り可能なマークのパターンを書き込む記録ユニットと、
所定の値の前記記録パルスのパラメータでテストパターンを有するテスト信号を生成し、前記テスト信号を処理ユニットの入力部へ供給するテスト信号生成器と、
前記記録担体上のマークを読み取り、読み取り信号を供給する読み取りユニットと、
前記記録パルスのパラメータの値を最適化し、前記最適化された前記記録パルスのパラメータを表す制御信号を供給する制御ユニットと、
前記テストパターンに対応する前記読み取り信号のジッタ値を測定し、前記ジッタ値を前記制御ユニットに供給するジッタ検出器と、
記録されるべき入力情報を出力信号に変換する処理ユニットと、
を有し、前記出力信号は放射パルスに対応し且つ前記入力情報を表し、前記記録パルスのパラメータの前記最適化された値は前記制御信号によって供給され、
前記制御ユニットは、前記所定の値の前記記録パルスのパラメータに対する前記ジッタ値の依存関係を形成し、前記依存関係の略単調でない部分と２つの略単調な部分とを識別し、前記略単調な部分を近似する２つの一次関数の交点の決定により前記記録パルスのパラメータの前記最適化された値を導出するように構成され、各前記一次関数は、前記依存関係の略単調な部分の近似である装置。
【請求項６】
前記記録パルスのパラメータの前記最適化された値を保存するための記憶ユニットを有する、請求項５に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録担体の記録のための記録パルスのパラメータの値を決定する方法であって、前記記録パルスは、前記記録担体に光読み取り可能なマークのパターンを書き込むために前記光記録担体の記録面に照射され、前記方法は、所定の値の前記記録パルスのパラメータでテストパターンを書き込むステップを有し、ここで前記値は各テストパターンについて異なるものであり、前記方法は更に、前記テストパターンを読み取り、読み取り信号を形成するステップと、各前記テストパターンに対応する前記読み取り信号のジッタ値を測定し、前記所定の値の前記記録パルスのパラメータに対する前記ジッタ値の依存関係を形成するステップとを有する方法に関する。
【０００２】
本発明はまた、光記録担体の記録のための記録パルスのパラメータの値を決定する装置であって、前記記録パルスを用いて記録担体の記録面を照射することにより、前記記録担体に光読み取り可能なマークのパターンを書き込む記録ユニットと、所定の値の前記記録パルスのパラメータでテストパターンを有するテスト信号を生成し、前記テスト信号を処理ユニットの入力部へ供給するテスト信号生成器と、前記記録担体上のマークを読み取り、読み取り信号を供給する読み取りユニットと、前記記録パルスのパラメータの値を最適化し、前記最適化された前記記録パルスのパラメータを表す制御信号を供給する制御ユニットと、前記テストパターンに対応する前記読み取り信号のジッタ値を測定し、ジッタ信号を前記制御ユニットに供給するジッタ検出器と、記録されるべき入力情報を出力信号に変換する処理ユニットとを有し、前記出力信号は放射パルスに対応し且つ前記入力情報を表し、前記記録パルスのパラメータの前記最適化された値は前記制御信号によって供給される装置に関する。
【０００３】
本発明は更に、記録パルスによって書き込まれる光記録担体であって、基板及び記録パルスのパラメータの値を有する制御情報を含む前記基板上の手段を有する光記録担体に関する。
【背景技術】
【０００４】
光記録担体への情報の記録の処理を信頼性高いものとするために、記録パルスパラメータの最適化が必須である。記録パルスのパラメータとは、記録処理を直接に制御するパラメータであると解釈される。該パラメータは、記録速度、記録の間に利用される放射ビームのパワーレベル、又は記録パルスの幅（継続時間）を含み得る。読み取りパラメータとは、記録担体上の情報を読み取るときに得られる信号から導出可能であり、記録パラメータの値を最適化するために有用なパラメータであると解釈される。読み取り信号のジッタ（jitter）又は変調は、前記読み取りパラメータの一般的な例である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特願平１１−００５２４４は、光記録担体の記録のための記録パルスのパラメータの値を最適化する方法を開示している。この既知の方法においては、記録パルスのパラメータに対する読み取りパラメータ（例えばジッタ）の依存関係を形成し、非線形な依存関係の近似式を決定するため、書き込みテストが実行される。前記記録パルスのパラメータの最適化された値は、前記近似式の極値（最大値又は最小値）から導出される。この既知の方法は高次の計算を必要とし、時間を浪費し、通常単純なマイクロプロセッサを利用する記録装置にとっては精密すぎるものとなる。
【０００６】
本発明の目的は、単純な、一次の計算を利用した、光記録担体の記録のための記録パルスのパラメータの値を決定する方法を提供することにある。本発明の他の目的は、かような方法を実行するように動作可能な装置、及び記録パルスのパラメータの値を示す情報を備えた光記録担体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本目的は、本明細書の前文に記載した方法であって、前記依存関係の２つの略単調な部分が識別され、前記略単調な部分のそれぞれが一次関数を用いて近似される方法によって達成される。更に、前記一次関数の交点が、前記記録パルスのパラメータの最適化された値を導出するために決定される。本発明の実施例においては、前記記録パルスのパラメータは、前記記録パルスのパワーである。前記記録パルスのパラメータの最適化された値が、前記光記録担体に記録されるか、又は記録装置の記憶ユニットに保存される場合もまた有利である。
【０００８】
本明細書の前文に記載した装置は、本発明によれば、前記制御ユニットは、前記所定の値の前記記録パルスのパラメータに対する前記ジッタ値の依存関係を形成し、２つの一次関数の交点の決定により前記記録パルスのパラメータの前記最適化された値を導出するように構成され、各前記一次関数は、前記依存関係の略単調な部分の近似であることを特徴とする。他の実施例においては、前記装置は、前記記録パルスのパラメータの最適化された値を保存するための記憶ユニットを備える。
【０００９】
本明細書の前文に記載した光記録担体は、本発明によれば、記録パルスのパラメータの値を保存した制御情報を有し、前記記録パルスのパラメータの値は、２つの一次関数の交点の決定により最適化され、各前記一次関数は、所定の値の前記記録パルスのパラメータに対する測定されたジッタの依存関係の略単調な部分の近似である。
【００１０】
本発明は、例としてＤＶＤ＋Ｒシステムを用いて説明されるが、本発明は他の光記録システムに適用されても良いことは、当業者には明らかであろう。
【００１１】
本発明の目的、特徴及び利点は、添付する図に示されるような、以下の本発明の実施例のより具体的な説明から明らかとなるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
図１は、本発明による装置及び光記録担体１を示す。ディスク形の記録担体１は、透明な基板３及び基板３上に配置された記録層５を持つ。記録層５は、放射ビームによって情報を書き込むために適切な物質を有する。この記録物質は、相変化型のものであっても良く、光記録に適した色素又は他のいずれの物質であっても良い。情報は、前記記録担体上の光検出可能なマーク及びランドの形で記録担体１に記録されても良い。
【００１３】
前記装置は、放射ビームを発するための、例えば半導体レーザ１１のような放射源を有する。マークは、記録パルスのパラメータによって特徴づけられる単一の記録パルスの放射に記録担体１の記録層５がさらされた場合に形成される。前記記録パルスのパラメータは、本実施例では記録パワーレベルである。マークはまた、等しい又は異なる長さの、１以上の記録パワーレベルを持つ一連の放射パルスによって書き込まれても良い。前記放射ビームは、ビームスプリッタ１３、対物レンズ１５及び基板３を介して記録層５に集束させられる。記録担体１は、基板３を通過することなく前記放射ビームが記録層５に直接に集束する、空気入射型であっても良い。半導体レーザ１１、ビームスプリッタ１３及び対物レンズ１５は、合わせて記録ユニット１７を形成する。
【００１４】
前記装置はまた、例えば処理ユニットのプロセッサ２３から成る処理ユニット２１を有する。前記プロセッサは、例えばマイクロプロセッサ又はディジタル信号プロセッサのような、計算を実行するのに適したいずれの手段をも意味するものと解釈される。記録担体１に書き込まれるべき情報を表す信号Ｓ（例えば情報信号又はテスト信号）は、処理ユニット２１のプロセッサに供給される。処理ユニット２１は、記録担体１に前記情報を記録するための記録パルスの記録パワーレベルを決定する。前記記録パワーレベルの決定は、制御ユニット６１によって算出された最適記録パワーレベルＰｏｐｔを考慮に入れて実行される。制御ユニット６１の制御信号ＳＣは、処理ユニット２１に供給される。特定の記録担体１用の最適記録パワーレベルＰｏｐｔが算出されると、該最適記録パワーレベルＰｏｐｔは、記録担体１に記録された情報から処理ユニット２１に供給される。処理ユニット２１の出力部は、半導体レーザ１１及び制御ユニット６１に接続される。
【００１５】
前記装置は更に、テスト信号生成器３１を有する。テスト信号生成器３１は、テスト信号ＳＴを生成するのに適したテスト信号生成器のプロセッサから成っても良い。テスト信号ＳＴは好ましくは、所謂ＥＦＭ（eighteen-to-fourteen modulation）で符号化された場合に全ての長さのマークを有するテストパターンを表す。テスト信号ＳＴは、ランダム的な信号であっても良い。テスト信号ＳＴは、処理ユニット２１の入力部に供給される。
【００１６】
前記装置は更に、半導体レーザ１１、ビームスプリッタ１３、対物レンズ１５、検出システム４３及び読み取りユニットの回路（図示されていない）によって形成される読み取りユニット４１を有する。記録された記録担体１は、半導体レーザ１１から読み取りパワーレベルＰｒｅａｄで発せられた放射ビームにさらされる。記録担体１から反射される放射は、対物レンズ１５によって集束させられ、ビームスプリッタ１３を通過した後、検出システム４３に当たる。検出システム４３は、入射放射を電気検出器信号に変換する。前記検出器信号は、前記読み取りユニットの回路に入力される。該回路は、記録担体１から読み取られている情報を表す読み取り信号ＳＲのような幾つかの信号を前記検出器信号から導出する。読み取り信号ＳＲは更に、ジッタ検出器５１に供給される。ジッタ検出器５１は、読み取り信号ＳＲのジッタ値を測定する。前記ジッタは、ディジタル化された読み取り信号におけるレベル遷移と、クロック信号における対応する遷移との間の時間差の標準偏差である。前記時間差は、前記クロックの１周期によって正規化される。
【００１７】
前記ジッタ値は、プロセッサを有する前記制御ユニット６１に供給される。前記制御ユニットのプロセッサは、単純なマイクロプロセッサであっても良い。制御ユニット６１はまた、前記テストパターンが記録されたときに用いられた記録パワーレベルＰの値を含む信号ＳＰを、処理ユニット２１から供給される。制御ユニット６１の役割は、記録担体１用の記録パワーレベルの最適値Ｐｏｐｔを導出し、処理ユニット２１に制御信号ＳＣを供給することである。
【００１８】
図２は、本発明による装置の他の実施例を示す。ここで前記装置は更に、例えばメモリから成る記憶ユニット７１を有する。前記メモリは、例えば固体メモリのような、データを保存するために適したいずれかの手段を意味するものと解釈される。本実施例においては、特定の記録媒体１についての最適な記録パワーレベルＰｏｐｔは、記憶ユニット７１から処理ユニット２１へ供給される。
【００１９】
記憶担体に情報を記録する前に、前記装置は、以下の手順を実行することにより、該装置の記録パワーレベルＰを最適値に設定する。最初に、一連のテストパターンが記憶担体１に記録される。ここでそれぞれの前記テストパターンは、異なる所定の記録パワーレベルＰで記録される。本手順によればＮ個のテストパターンを記録することが必要である。ここでＮは奇数であり、（Ｎ−１）／２は７以上である。所定のパワーの範囲は、記録担体１上の制御情報から得られる、示されたパワーレベルに基づいて選択されても良い。以降のパターンは、段階的に増大するパワーで書き込まれても良い。前記パターンは、記録担体１のどこに書き込まれても良く、特別に用意されたテストエリアに書き込まれても良い。
【００２０】
記録担体１から前記テストパターンを読み取った後、制御ユニット６１のプロセッサは、前記ジッタ検出器５１によって提供される各パターンについての読み取り信号ＳＲのジッタＪと、処理ユニット２１によって提供される、前記パターンが記録されたときに用いられた所定のパワーレベルとの、一連の値の対を形成する。図３は、Ｎ＝１５個の一連の点を示し、それぞれがテストパターンのジッタＪの値と所定の記録パワーレベルとの対を表している。これらの点は、前記所定の記録パワーに対するジッタＪの値の依存関係８１を形成する。図３から、前記依存関係は非線形な（バスタブ型）特性を示すことが明らかである。本発明による手順は、高次の計算を利用せず、最適な記録パワーレベルＰｏｐｔは単に一次の式によって決定される。最適なパワーレベルＰｏｐｔは、依存関係８１の最小ジッタ値の記録パワーレベルから導出される。
【００２１】
次いで、バスタブ型の依存関係８１の、２つの略単調な部分が識別される。この目的のため、前記点の２つの連続が形成される。ここで、所定の記録パワーレベルの極値（最小及び最大の記録パワーレベル）と、ジッタＪの最小値の周りの点とは、前記連続から省かれる。数学的に、前記点の２つの連続は、以下に与えられる条件を満たす。ここでＮ＝１５である。
【数１】
0004652815.tif 000002
ここでＰｌｋは前記依存関係の左側部分の所定の記録パワーレベル値であり、Ｊｌｋは、前記依存関係の左側部分のジッタ値であり、Ｐｒｋは前記依存関係の右側部分の所定の記録パワーレベル値であり、Ｊｒｋは前記依存関係の右側部分のジッタ値である。
【００２２】
図４は、レーザ照射の前記所定の記録パワーレベルに依存するジッタ値と、依存関係８１の略単調な部分を近似した２つの一次関数９１及び９３とを示す。塗りつぶされたドットは前記２つの連続を形成する点を表し、一方空のドットは前記連続から除外された点を表す。
【００２３】
ジッタと所定の記録パワーレベルとの依存関係８１の略単調な部分を近似する一次関数９１又は９３を決定するため、前記点の連続のそれぞれが利用される。前記依存関係の左側部分についての４点の組のカーテシアン座標定義は、以下のようになる。
【数２】
0004652815.tif 000003
【００２４】
これらの点から、前記依存関係の左側部分を近似する一次関数９１のカーテシアン座標定義は、以下の形をとる。
【数３】
0004652815.tif 000004
【００２５】
同様に、前記依存関係の右側部分についての４点の組のカーテシアン座標定義は、以下のようになる。
【数４】
0004652815.tif 000005
【００２６】
それ故、前記依存関係の右側部分を近似する一次関数９３のカーテシアン座標定義は、以下の形をとる。
【数５】
0004652815.tif 000006
【００２７】
前記依存関係の左側部分を近似する関数９１が、前記依存関係の右側部分を近似する関数９３と交差する点の座標によって、ジッタ最小値が決定される。それ故、最適な記録パワーレベルは、以下の依存関係から算出され得る。
【数６】
0004652815.tif 000007
ここで、
【数７】
0004652815.tif 000008
【００２８】
最適な記録パワーレベルＰｏｐｔが制御ユニット６１によって決定されると、該Ｐｏｐｔの値を表す制御信号ＳＣが処理ユニット２１に供給される。処理ユニット２１は、最適な記録パワーレベルＰｏｐｔの値を表す信号を記録ユニット１７に供給し、当該値が記録担体１の制御情報に記録される。他の実施例においては、前記最適な記録パワーレベルの値を表す情報は、記憶手段７１に保存される。
【００２９】
図５は、本発明によるディスク型の光記録担体１を示す。前記記録担体の記録層は、記録装置によって光学的に又は光磁気的に書き込まれることができる。前記記録担体上の情報は、マークのパターンによって表される。情報は、記録処理によってトラックに記録される。当該処理において、一定の又は変化する記録パワーレベルＰの１以上の記録パルスによって、各マークが形成される。記録パワーレベルＰやパルスの数のような前記記録処理の記録パラメータは、とりわけ前記記録担体の物質特性によって、前記記録担体用に調整されるべきである。書き込まれることが可能な記録担体の一例は、知られた「CD Write-Once」である。前記記録担体は、記録用の連続的なトラック１０１を持つ。トラック１０１は螺旋形であっても良く、エンボスされた溝（groove）又は隆起（ridge）の形であっても良い。前記記録担体のエリアは、ユーザ情報を記録するための情報記録エリア１０３と、ユーザ情報を記録するための関連する情報を保存するための制御エリア１０５とに分割される。制御エリア１０５は、図において点線のトラックによって示される。前記記録担体に記録するために最適な記録パワーレベルＰｏｐｔの値は、制御エリア１０５に制御情報のパターンとして保存されても良い。前記制御エリアがエンボスされる際に、前記記録担体１の製造者は、前記値を記録する必要がある。代替として前記値は、例えば記録担体１の初期化の際にユーザによって記録され、これによって担体に特有な値を記録することを可能としても良い。
【００３０】
図６は、前記制御情報がエンコードされたマーク１０９のパターンを有する、非常に拡大されたトラックの一部１０７を示す。
【００３１】
記録パラメータとして記録パワーレベルを用いた実施例によって説明してきたが、他の記録パラメータ（例えばマークを記録するための記録パルスパターンの特定のタイミング）が本発明において利用され得ることは明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明による光記録装置の図を示す。
【図２】別の実施例における、本発明による光記録装置の図を示す。
【図３】非線形の曲線でフィッティングされた、レーザ照射の記録パワーレベルに依存するジッタ値を示す。
【図４】レーザ照射の記録パワーレベルに依存するジッタ値と、当該依存関係の略単調な部分を近似した２つの一次関数を示す。
【図５】本発明による光記録担体を示す。
【図６】制御情報がエンコードされたマークのパターンを有する、非常に拡大されたトラックの一部を示す。
【図１】
0004652815.tif 000009
【図２】
0004652815.tif 000010
【図３】
0004652815.tif 000011
【図４】
0004652815.tif 000012
【図５】
0004652815.tif 000013
【図６】
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