【手続補正書】
【提出日】平成15年7月18日(2003.7.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子デバイスを試験するための複数のテスタ回路を設けた電子回路あるいはボード用のテスタにおいて、前記複数のテスタ回路はそれぞれ、
前記試験すべき電子デバイスに電気的接続を設けるための導体と、
少なくとも圧縮されたテストデータシーケンスを記憶する第１のメモリと、
第１の比較器と、
シーケンサであって、アドレスバスと前記圧縮されたテストデータシーケンスの伸長及び前記伸長されたテストデータシーケンスの前記電子デバイスへの転送あるいは前記電子デバイスの応答データを前記伸長されたテストデータと比較する第１の比較器への転送を制御するデータバスを介して、前記第１のメモリに接続されたシーケンサと
を備え、
前記テスタ回路の各々は、前記試験すべき電子デバイスの電気接続部と電気的に接続され、
前記テスタは、前記シーケンサにタイミング信号を印加するクロック手段を有することを特徴とする電子回路あるいはボード用のテスタ。
【請求項２】
前記試験すべき電子デバイスの前記接続された電気接続部あるいは前記第１の比較器に転送すべきテストデータシーケンスについて、前記テストデータシーケンス中に反復して存在するデータストリングをチェックするデータプロセッサを有し、
前記データプロセッサはシーケンサ命令と前記圧縮されたテストデータシーケンスを生成し、
前記シーケンサ命令は前記圧縮されたテストデータシーケンスを前記テストデータシーケンスに伸長するための前記シーケンサの動作命令である
ことを特徴とする請求項１記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項３】
前記シーケンサ命令は前記第１のメモリあるいは前記テスタ回路の第２のメモリに記憶されることを特徴とする請求項２記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項４】
前記反復して存在するデータストリングは前記第１のメモリに一度だけ記憶され、
前記シーケンサ命令は、必要に応じて前記反復して存在するデータストリングを反復し、前記圧縮されたテストデータシーケンスに基づいて前記テストデータシーケンスを生成する命令を含む
ことを特徴とする請求項２または請求項３記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項５】
前記シーケンサ命令は前記一度だけ記憶される反復して存在するデータストリングを前記シーケンサのメモリに順次ロードするための少なくとも２つのアクセス命令を設けたことを特徴とする請求項４記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項６】
前記反復して存在するデータストリングと必要に応じて前記データストリングを反復して前記テストデータシーケンスを生成する前記シーケンサ命令の記憶は、伸長された反復して存在するデータストリングの記憶に要するメモリスペースより大きなメモリスペースを必要とするかどうかをチェックする第２の比較器を有することを特徴とする請求項２記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項７】
前記テスタ回路の前記シーケンサは、前記タイミング信号に対する以外は、夫々他の前記シーケンサから独立して動作することを特徴とする請求項１記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項８】
前記第１のメモリは夫々ＲＡＭを設けたことを特徴とする請求項１記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項９】
前記シーケンサの各々は、シーケンサ記憶ユニット、シーケンサディレクトリ、及びシーケンサコントローラを設けたことを特徴とする請求項１記載の電子回路あるいはボード用テスタ。
【請求項１０】
試験すべき電子デバイスの１つの電気接続部に印加される伸長されたテストデータシーケンスを、シーケンサ命令と圧縮されたテストデータシーケンスとを生成するデータプロセッサによって圧縮し、
前記圧縮されたテストデータシーケンスと前記シーケンサの前記シーケンサ命令を、少なくとも夫々アドレスバスとデータバスとを介して前記シーケンサに接続される第１のメモリに記憶し、
前記シーケンサが前記シーケンサ命令によって動して前記圧縮されたテストデータシーケンスを伸長し、
前記伸長されたテストデータシーケンスを、前記試験すべき電子デバイスの前記電気接続部あるいは前記電子デバイスの応答データを前記伸長されたテストデータシーケンスと比較する比較器に転送する
ことを特徴とする電子デバイスの試験方法。
【請求項１１】
前記伸長されたテストデータシーケンスを前記伸長されたテストデータシーケンス中に反復して存在するデータストリングについてチェックし、
前記データストリングを前記第１のメモリに一度だけあるいは少なくとも前記反復して存在する数より少ない回数だけ記憶する
ことを特徴とする請求項１０記載の電子デバイスの試験方法。
【請求項１２】
前記反復して存在するデータストリングを前記テストデータシーケンスから除去し、
前記シーケンサの動作を制御する既存のシーケンサ命令に第１のシーケンサ命令を追加して、前記シーケンサが前記シーケンサ命令によって動作し、既存のシーケンサ命令が前記伸長されたテストデータシーケンスを生成するようにするか、あるいは前記既存のシーケンサ命令を変更してこのように動作させる
ことを特徴とする請求項１１記載の電子デバイスの試験方法。
【請求項１３】
前記テストデータシーケンスの前記圧縮中、前記反復して存在するデータストリングを１つあるいはそれ以上のアクセス命令に置き換え、
このような圧縮されたテストデータシーケンスを前記第１のメモリに記憶し、  前記データストリングを前記第１のメモリあるいは第２のメモリに記憶し、
前記シーケンサは、伸長を行なうために前記圧縮されたテストデータシーケンスを順次ロードするとき、前記アクセス命令が存在するか否かをチェックし、
存在する場合は、前記データストリングをロードし前記データストリングを挿入して、前記試験すべき電子デバイスの１つの電気接続部に印加すべき、あるいは前記試験すべき電子デバイスの応答データを前記伸長されたテストデータシーケンスと比較する前記比較器に印加すべき、前記伸長されたテストデータシーケンスを得る
ことを特徴とする請求項１１記載の電子デバイスの試験方法。
【請求項１４】
前記既存のシーケンサ命令に前記第１のシーケンサ命令を追加した結果が、データストリングが反復して存在している前期テストシーケンスを記憶するのに要するより大きいメモリスペースを必要とするか否かを、第２の比較器がチェックする
ことを特徴とする請求項１２記載の電子デバイスの試験方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
【概要】
本発明は、電子デバイスを試験するための、複数のテスタ回路を設けた電子回路あるいはボード用テスタであって、夫々のテスタ回路は、前記試験すべき電子デバイスに電気接続部を設けるための導体と、少なくとも圧縮されたテストデータシーケンスを記憶する第１のメモリとからなり、シーケンサが、アドレスバスと前記圧縮されたテストデータシーケンスの伸長及び前記伸長されたテストデータシーケンスの前記電子デバイスへの転送あるいは前記電子デバイスの応答データを前記伸長されたテストデータと比較する第１の比較器への転送を制御するデータバスを介して、前記第１のメモリに接続され、夫々のテスタ回路は前記試験すべき電子デバイスの電気接続部と電気的に接続されており、更に前記シーケンサにタイミング信号を印加するクロック手段を有する電子回路あるいはボード用テスタを提供するものである。


【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
図２には、図１に示すような３つのテスタ回路１０ａ、１０ｂ及び１０ｃを有する電子電子回路あるいはボード用テスタを示す。テスタ回路１０ａ、１０ｂ、１０ｃは夫々試験すべき電子デバイス（ＤＵＴ）のピン等の異なる電気接続部１８ａ、１８ｂ及び１８ｃに接続されている。共通のクロック手段３０が電線等の電気接続部３１を介して各テスタ回路１０ａ、１０ｂ及び１０ｃとその電子デバイスに接続されている。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
ＤＵＴの各ピンすなわち電気接続部１８ａ、１８ｂ及び１８ｃは、シーケンサ１１及びベクトルシーケンサメモリ１２を設けた自己のテスタ回路に関係付けられているため、ＤＵＴの対応する電気接続部あるいはテスタ１０ａ、１０ｂ及び１０ｃの夫々に対応する比較器に異なるテストデータシーケンスを転送することができる。


【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
このことから、このような圧縮には６８ベクトル分のメモリスペースがさらに必要となることがわかる。本発明のデータプロセッサは、テストデータシーケンスの圧縮を行なう別のやり方がないかどうかチェックし、各種の圧縮のやり方を比較した上で、必要なメモリスペースが最小限となる圧縮を選択する。