【手続補正書】
【提出日】平成16年1月22日(2004.1.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成するステップと、
この再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を記憶するステップと、
上記再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算するステップと、
この決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測するステップと、
上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示するステップと、
を行うことを特徴とする擬似三次元画像における三次元量計測方法。
【請求項２】
被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成する手段と、
この再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を記憶する記憶手段と、
上記再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段と、
この決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段と、
上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示する表示手段と、
を備えて成ることを特徴とする擬似三次元画像における三次元量計測装置。
【請求項３】
上記表示手段は、任意に指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報の変化をグラフで表示するものとし、この表示された奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置の計算を可能としたことを特徴とする請求項２記載の擬似三次元画像における三次元量計測装置。
【請求項４】
上記表示手段は、任意に指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報の変化をグラフで表示すると共に、その奥行き情報として断層像の各画素点における奥行き方向の反射光強度或いは濃度値、不透明度、又は上記反射光強度或いは濃度値、不透明度の奥行き方向への変化に対する微分値、積分値或いは平均値等を切り換え表示が可能としたことを特徴とする請求項３記載の擬似三次元画像における三次元量計測装置。
【請求項５】
上記画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段は、任意に指定した点が複数存在する場合にはその複数点間における奥行き情報を用いて決定し、複数点によって囲まれた領域の場合にはその領域を囲む複数点間における奥行き情報を用いて決定することを特徴とする請求項２記載の擬似三次元画像における三次元量計測装置。
【請求項６】
上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段は、その決定された表面上にて２点間の距離を求める場合には、該２点間の三次元座標的な直線距離で求め、又は該２点間においてその表面に沿った三次元座標的な最短距離で求めることを特徴とする請求項２記載の擬似三次元画像における三次元量計測装置。
【請求項７】
上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段は、その決定された表面上の複数点に囲まれた領域の面積又は体積を求める場合には、該複数点で囲まれた表面に沿って三次元座標的な面積又は体積で求めることを特徴とする請求項２記載の擬似三次元画像における三次元量計測装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の詳細な説明
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばＸ線ＣＴ装置やＭＲＩ装置、超音波診断装置などの医用画像診断装置で被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、これに対して設定したある視点位置から該積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて投影して再構成した擬似三次元画像上で、画像の奥行き情報を用いてその画像の表面位置を決定すると共に三次元座標的な量を計測する擬似三次元画像における三次元量計測方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
擬似三次元画像は、例えばＸ線ＣＴ装置で被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像を投影面に陰影化して投影して再構成したものであり、手術の支援や治療計画の支援などに使われるものである。そして、上記投影面に陰影化して投影する投影法には、平行投影法と中心投影法とがある。また、投影に際して遠いものは小さく、近いものは大きくする陰影付けアルゴリズムとしては、サーフェイス法やデプス法、ボリュームレンダリング法などがある。
【０００３】
サーフェイス法は、積み上げ三次元画像の画素周囲の画素値の大小（すなわち傾斜の大小）によって投影点の画素値を付与するものである。また、デプス法は、積み上げ三次元画像上の画素位置とその画素位置からの投影面上の投影点との距離Ｒ（中心投影法においては、距離Ｒとは視点と断層面の投影対象点との間の距離となる）を基準にして、この距離Ｒが大きいほど投影点での画素値を小さくし、上記距離Ｒが小さいほど投影点での画素値を大きくして付与するものである。さらに、ボリュームレンダリング法は、奥行き方向に見た各断層像ごとにその不透明度を考慮して、不透明度に基づく反射と透過とを利用して反射してきたと想定できる画素値を投影点の画素値として与えるものである。
【０００４】
上記において、外見的な切断形状を観察するには平行投影法が適するが、内視鏡的な動きを模擬した投影画像を得たい場合には中心投影法が適する。また、表面形状を明確に描出するためには、陰影付けアルゴリズムとしてはサーフェイス法やデプス法が適し、半透明表示を行うためにはボリュームレンダリング法が適する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、このような従来の方法で得た擬似三次元画像では、陰影付けアルゴリズムとしてサーフェイス法やデプス法を用いて画像を再構成したものについては、明確な表面位置の情報を持っており、画像上で任意に指定した領域に対して距離や面積、体積の算出を行うことができるが、陰影付けアルゴリズムとしてボリュームレンダリング法を用いて画像を再構成したものについては、明確な表面位置の情報を持っておらず表面位置の決定ができず、画像上で任意に点、線又は領域を指定することが難しかった。従って、画像上の任意の領域に対して距離や面積、体積の算出を行うことが困難であった。
【０００６】
そこで、本発明は、このような問題点に対処し、ボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影した擬似三次元画像上で、画像の奥行き情報を用いてその画像の表面位置を決定すると共に三次元座標的な量を計測することができる擬似三次元画像における三次元量計測方法及びその装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明による擬似三次元画像における三次元量計測方法は、被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成するステップと、この再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を記憶するステップと、上記再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算するステップと、この決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測するステップと、上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示するステップと、を行うものである。
【０００８】
また、本発明による擬似三次元画像における三次元量計測装置は、被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成する手段と、この再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を記憶する記憶手段と、上記再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段と、この決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段と、上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示する表示手段と、を備えて成るものである。
【０００９】
そして、上記表示手段は、任意に指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報の変化をグラフで表示するものとし、この表示された奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置の計算を可能とされている。
【００１０】
或いは、上記表示手段は、任意に指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報の変化をグラフで表示すると共に、その奥行き情報として断層像の各画素点における奥行き方向の反射光強度或いは濃度値、不透明度、又は上記反射光強度或いは濃度値、不透明度の奥行き方向への変化に対する微分値、積分値或いは平均値等を切り換え表示が可能とされている。
【００１１】
また、上記画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段は、任意に指定した点が複数存在する場合にはその複数点間における奥行き情報を用いて決定し、複数点によって囲まれた領域の場合にはその領域を囲む複数点間における奥行き情報を用いて決定するものとされている。
【００１２】
さらに、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段は、その決定された表面上にて２点間の距離を求める場合には、該２点間の三次元座標的な直線距離で求め、又は該２点間においてその表面に沿った三次元座標的な最短距離で求めるものとされている。
【００１３】
また、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段は、その決定された表面上の複数点に囲まれた領域の面積又は体積を求める場合には、該複数点で囲まれた表面に沿って三次元座標的な面積又は体積で求めるものとされている。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本発明による擬似三次元画像における三次元量計測方法の手順を示すフローチャートである。この三次元量計測方法は、擬似三次元画像を再構成するのに先立ってその画像上の表面位置の決定条件となる奥行き情報を予め設定しておくものである。まず、前提条件として、例えばＸ線ＣＴ装置により被検体の対象部位、例えば或る管腔臓器について複数の断層像（Ｘ線ＣＴ画像）を撮影し、これらの断層像を積み上げて積み上げ三次元画像が得られているとする。この状態で、上記積み上げ三次元画像に対し擬似三次元画像を再構成するための視点位置を設定する（図１のステップS1）。この視点位置は、例えば平行投影法での無限遠方又は中心投影法での視点などである。
【００１５】
次に、後のステップS3で再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を設定して記憶する（ステップS2）。ここで、上記画像の奥行き情報としては、例えば断層像の各画素点における奥行き方向の反射光強度を用いればよい。具体的には、Ｘ線ＣＴ画像のＣＴ値より計算された反射光強度を用いればよい。なお、この奥行き情報としては、上記の反射光強度に限らず、断層像の各画素点における奥行き方向の濃度値或いは不透明度を用い、又は上記反射光強度或いは濃度値、不透明度の奥行き方向への変化に対する微分値、積分値或いは平均値を用いてもよい。
【００１６】
その後、擬似三次元画像を再構成する（ステップS3）。すなわち、被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定し、この視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成する。このとき、図２に示すように、表示装置１の画面に設定された画像表示部２には、上記再構成された擬似三次元画像３が表示される。なお、上記画面には画像表示部２のほかに、奥行き情報をグラフ等で表示する表示パネル部４が設定されると共に、後述の三次元量を計測する計測方法や計測開始を指定したり、上記表示された奥行き情報を切り換えるスイッチが配置された操作パネル部５が設定されている。
【００１７】
次に、上記再構成された擬似三次元画像３上で任意に点、線又は領域を指定する（ステップS4）。すなわち、図２に示す表示装置１の画像表示部２に表示された擬似三次元画像３に対し、図示省略のマウスやトラックボール、電子ペンなどの入力装置を使用して、図４に示すように、点６、線７，８又は領域９を指定する。上記の線７は指定された２点を直線で結んだものであり、線８は指定された２点を曲線で結んだものである。また、領域９は指定された複数の点を直線又は曲線で結んだ範囲の内部を示している。なお、図４は或る対象部位の或る血管について任意の断層面から覗き込んだ奥行き方向の擬似三次元画像３を示している。
【００１８】
次に、上記指定された点６、線７，８又は領域９に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像３上の表面位置を計算して決定する（ステップS5）。このとき、図３に示すように、表示装置１の表示パネル部４には、上記ステップS2で予め設定された奥行き情報や、ステップS4で指定された点６、線７，８又は領域９に関する奥行き情報のグラフ１０が、横軸を奥行き（Depth）とし、縦軸を画像のＣＴ値より計算された反射光強度（Intensity）などの奥行き情報として表示される 。そして、図４に示す点６についてはその点６における奥行き情報が、また線７，８についてはそれらの線上の総ての点又は複数点についての奥行き情報が、さらに領域９については境界線上の点又は領域を囲む総ての点若しくは複数点についての奥行き情報がそれぞれ表示される。従って、上記表示パネル部４には、前記指定された点６、線７，８又は領域９の数だけ複数本の奥行き情報のグラフ１０が表示されることとなる。この状態で、操作者がマウス等の入力装置を使用して上記表示パネル部４に表示された奥行き情報のグラフ１０やその横軸に平行に設定された線１１に対して処理を加え、又は図示省略のキーボードを使用して数値を入力することにより、表面位置として定義する奥行き情報を決定して擬似三次元画像３上の表面位置を決定する。
【００１９】
その後、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する（ステップS6）。三次元座標的な量とは、図４に示す擬似三次元画像３上の表面位置における距離又は面積、体積などである。例えば、前記のように決定された表面上にて２点間の距離を求める場合には、該２点間の三次元座標的な直線距離（例えば図４に示す直線７の長さ）で求め、又は該２点間においてその表面に沿った三次元座標的な最短距離（例えば図４に示す曲線８の長さ）で求めればよい。また、前記のように決定された表面上の複数点に囲まれた領域の面積又は体積を求める場合には、該複数点で囲まれた表面に沿って三次元座標的な面積又は体積（例えば図４に示す領域９で囲まれた部分の面積又は体積）で求めればよい。
【００２０】
これにより、設定された視点位置から積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成したその画像上で、画像の奥行き情報を用いてその画像の表面位置を決定すると共に、三次元座標的な量を計測することができる。その後、上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示装置１の画面に表示する。
【００２１】
図５は、第二の実施形態による擬似三次元画像における三次元量計測方法の手順を示すフローチャートである。この実施形態の三次元量計測方法は、擬似三次元画像を再構成した後、その画像上の表面位置の決定条件となる奥行き情報を計算して求め、その奥行き情報を設定するものである。まず、前提条件として、例えばＸ線ＣＴ装置により被検体の対象部位、例えば或る管腔臓器について複数の断層像（Ｘ線ＣＴ画像）を撮影し、これらの断層像を積み上げて積み上げ三次元画像が得られているとする。この状態で、上記積み上げ三次元画像に対し擬似三次元画像を再構成するための視点位置を設定する（図５のステップＡ）。この視点位置は、例えば平行投影法での無限遠方又は中心投影法での視点などである。
【００２２】
その後、図１のステップS3と同様にして擬似三次元画像を再構成する（ステップＢ）。このとき、図２に示すように、表示装置１の画面に設定された画像表示部２には、上記再構成された擬似三次元画像３が表示される。次に、図１のステップS4と同様にして上記再構成された擬似三次元画像３上で任意に点、線又は領域を指定する（ステップＣ）。すなわち、図２に示す表示装置１の画像表示部２に表示された擬似三次元画像３に対し、図示省略のマウスやトラックボール、電子ペンなどの入力装置を使用して、図４に示すように、点６、線７，８又は領域９を指定する。次に、この指定された点６、線７，８又は領域９に対する画像の奥行き情報を計算して表示する（ステップＤ）。この計算して求められた奥行き情報は、図２に示す表示装置１の表示パネル部４などに表示される。
【００２３】
次に、図１のステップS2と同様にして、上記再構成された擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を設定して記憶する（ステップＥ）。ここで、上記画像の奥行き情報としては、例えば断層像の各画素点における奥行き方向の反射光強度を用いればよい。具体的には、Ｘ線ＣＴ画像のＣＴ値より計算された反射光強度を用いればよい。なお、この奥行き情報としては、上記の反射光強度に限らず、断層像の各画素点における奥行き方向の濃度値或いは不透明度を用い、又は上記反射光強度或いは濃度値、不透明度の奥行き方向への変化に対する微分値、積分値或いは平均値を用いてもよい。
【００２４】
次に、図１のステップS5と同様にして、前記指定された点６、線７，８又は領域９に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像３上の表面位置を計算して決定する（ステップＦ）。このとき、図３に示すように、表示装置１の表示パネル部４には、上記ステップＥで設定された奥行き情報や、ステップＣで指定された点６、線７，８又は領域９に関する奥行き情報のグラフ１０が、横軸を奥行き（Depth）とし、縦軸を画像のＣＴ値より計算された反射光強度（Intensity）などの奥行き情報として表示される。そして、上記表示パネル部４には、前記指定された点６、線７，８又は領域９の数だけ複数本の奥行き情報のグラフ１０が表示される。この状態で、操作者がマウス等の入力装置を使用して上記表示パネル部４に表示された奥行き情報のグラフ１０やその横軸に平行に設定された線１１に対して処理を加え、又は図示省略のキーボードを使用して数値を入力することにより、表面位置として定義する奥行き情報を決定して擬似三次元画像３上の表面位置を決定する。
【００２５】
その後、図１のステップS6と同様にして、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する（ステップＧ）。三次元座標的な量とは、図４に示す擬似三次元画像３上の表面位置における距離又は面積、体積などである。これにより、図１に示す第一の発明と同様にして、設定された視点位置から積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成したその画像上で、画像の奥行き情報を用いてその画像の表面位置を決定すると共に、三次元座標的な量を計測することができる。その後、上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示装置１の画面に表示する。
【００２６】
なお、以上の第一及び第二の実施形態の説明においては、断層像としてＸ線ＣＴ画像を用いた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＭＲＩ画像や超音波画像についても同様に適用することができる。
【００２７】
次に、上述の本発明による擬似三次元画像における三次元量計測方法の実施に使用する三次元量計測装置について説明する。この三次元量計測装置は、ボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し再構成された擬似三次元画像上で、画像の奥行き情報を用いてその画像の表面位置を決定すると共に三次元座標的な量を計測するもので、被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成する手段と、この再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を記憶する記憶手段と、上記再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定しこの指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段と、この決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段と、上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示する表示手段とを備えて成る。
【００２８】
上記三次元量計測装置の具体的なハードウェア構成を示すと、図６に示すブロック図のようになる。すなわち、複数の断層像及び画像再構成プログラム等が格納された磁気ディスク１２と、装置の制御プログラムが格納された主メモリ１３と、各構成要素の動作を制御する中央処理装置（ＣＰＵ）１４と、再構成された画像データを表示のために記憶する表示メモリ１５と、この表示メモリ１５からの画像データを表示するＣＲＴ１６と、各種の操作指令を入力するキーボード１７と、位置入力装置としてのマウス１８と、このマウス１８を制御するコントローラ１９と、上記各構成要素を接続する共通バス２０とを有して成る。そして、上記ＣＰＵ１４で擬似三次元画像を再構成する手段を構成し、磁気ディスク１２及び主メモリ１３で画像の奥行き情報を記憶する記憶手段を構成し、ＣＰＵ１４で上記画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段を構成し、また主メモリ１３及びＣＰＵ１４並びに表示メモリ１５で上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段を構成し、さらにＣＲＴ１６で上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示する表示手段を構成している。
【００２９】
なお、上記表示手段としてのＣＲＴ１６は、図２及び図３に示すように、その画面に表示された擬似三次元画像３上で任意に指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報の変化をグラフ１０で表示するものとし、この表示された奥行き情報を用いて擬似三次元画像３上の表面位置の計算が可能とされている。
【００３０】
また、上記表示手段としてのＣＲＴ１６は、図２及び図３に示すように、その画面に表示された擬似三次元画像３上で任意に指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報の変化をグラフ１０で表示すると共に、その奥行き情報として断層像の各画素点における奥行き方向の反射光強度或いは濃度値、不透明度、又は上記反射光強度或いは濃度値、不透明度の奥行き方向への変化に対する微分値、積分値或いは平均値等を切り換えて表示が可能とされている。
【００３１】
そして、上記画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段としてのＣＰＵ１４は、任意に指定した点が複数存在する場合にはその複数点間における奥行き情報を用いて決定し、複数点によって囲まれた領域の場合にはその領域を囲む複数点間における奥行き情報を用いて決定するものとされている。
【００３２】
また、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段としての主メモリ１３及びＣＰＵ１４並びに表示メモリ１５は、その決定された表面上にて２点間の距離を求める場合には、該２点間の三次元座標的な直線距離で求め、又は該２点間においてその表面に沿った三次元座標的な最短距離で求めるものとされている。
【００３３】
或いは、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段としての主メモリ１３及びＣＰＵ１４並びに表示メモリ１５は、その決定された表面上の複数点に囲まれた領域の面積又は体積を求める場合には、該複数点で囲まれた表面に沿って三次元座標的な面積又は体積で求めるものとされている。
【００３４】
これにより、本発明による擬似三次元画像における三次元量計測装置を使用することにより、設定された視点位置から積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成したその画像上で、画像の奥行き情報を用いてその画像の表面位置を決定すると共に、三次元座標的な量を計測することができる。
【００３５】
なお、以上の三次元量計測装置においても、断層像としてはＸ線ＣＴ画像やＭＲＩ画像、超音波画像について同様に適用することができる。
【００３６】
【発明の効果】
本発明は以上のように構成されたので、請求項１に係る擬似三次元画像における三次元量計測方法によれば、被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成し、この再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を記憶し、上記再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算し、この決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測し、上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示することにより、予め設定された画像の奥行き情報を用いて、再構成された擬似三次元画像上でその画像の表面位置を決定すると共に三次元座標的な量を計測することができる。従って、明確な表面位置の情報を持った状態で表面位置の決定ができ、画像上で任意に点、線又は領域を指定することが容易にでき、画像上の任意の領域に対して距離や面積、体積の算出を容易に行うことができる。
【００３７】
また、請求項２〜４に係る擬似三次元画像における三次元量計測装置によれば、被検体の対象部位について撮影した複数の断層像を積み上げて三次元画像を得、画像再構成手段により、この積み上げ三次元画像に対してある視点を設定しこの視点位置から上記積み上げ三次元画像を投影面にボリュームレンダリング法を用いて陰影化して投影し擬似三次元画像を再構成し、この再構成される擬似三次元画像において表面位置の決定条件となる奥行き情報を記憶手段で記憶し、上記再構成された擬似三次元画像上で任意に点、線又は領域を指定し、この指定された点、線又は領域に対する画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算し、この決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測し、上記得られた擬似三次元画像及び計測結果を表示手段に表示することができる。これにより、予め設定された画像の奥行き情報を用いて、再構成された擬似三次元画像上でその画像の表面位置を決定すると共に三次元座標的な量を計測することができる。従って、明確な表面位置の情報を持った状態で表面位置の決定ができ、画像上で任意に点、線又は領域を指定することが容易にでき、画像上の任意の領域に対して距離や面積、体積の算出を容易に行うことができる。
【００３８】
そして、請求項５に係る発明によれば、上記画像の奥行き情報を用いて擬似三次元画像上の表面位置を計算する手段により、任意に指定した点が複数存在する場合にはその複数点間における奥行き情報を用いて画像の表面位置を決定し、複数点によって囲まれた領域の場合にはその領域を囲む複数点間における奥行き情報を用いて画像の表面位置を決定することができる。
また、請求項６に係る発明によれば、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段により、その決定された表面上にて２点間の距離を求める場合には、該２点間の三次元座標的な直線距離で求め、又は該２点間においてその表面に沿った三次元座標的な最短距離で求めることができる。
さらに、請求項７に係る発明によれば、上記決定された表面位置を用いて三次元座標的な量を計測する手段により、その決定された表面上の複数点に囲まれた領域の面積又は体積を求める場合には、該複数点で囲まれた表面に沿って三次元座標的な面積又は体積で求めることができる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】本発明による擬似三次元画像における三次元量計測方法の手順を
示すフローチャートである。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図５】第二の実施形態による擬似三次元画像における三次元量計測方法の手順を示すフローチャートである。


【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
1998201755.tif 000001