(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＭＳｎ−１分析（ｎは２以上の整数）により得られるイオンの中から特定の質量を持つイオンをプリカーサイオンとして選別し、該プリカーサイオンに対する開裂操作により生じたイオンのＭＳｎ分析を行うＭＳｎ分析可能な質量分析装置により取得されたデータを処理するためのデータ処理装置において、
a)ＭＳｎ分析により得られたデータに基づいてＭＳｎスペクトルを表示するためのスペクトルデータを作成するＭＳｎスペクトル作成手段と、
b)前記ＭＳｎスペクトルに現れる全て又は一部のピークの質量とそのＭＳｎ分析のプリカーサイオン及び／又はそのプリカーサイオンを生成する元となったＭＳ２分析〜ＭＳｎ−１分析（但しこの場合ｎは３以上）のプリカーサイオンの質量との差をそれぞれ計算する質量差算出手段と、
c)前記質量差算出手段により得られた各質量差を質量軸上にそれぞれ対応付けたピークを有するＭＳｎ質量差スペクトルを表示するための質量差スペクトルデータを作成するＭＳｎ質量差スペクトル作成手段と、
d)前記ＭＳｎ質量差スペクトルに現れる各ピークが前記ＭＳｎスペクトルに現れる各ピークと視覚的に識別可能な態様であるように両スペクトルを重ね合わせた又は組み合わせたスペクトルを作成するスペクトル併合手段と、
を備え、前記スペクトル併合手段により作成されたスペクトルを表示画面上に表示するようにしたことを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
【請求項２】
前記視覚的に識別可能な態様とは、ＭＳｎスペクトルとＭＳｎ質量差スペクトルとに現れるピークの描線の色、太さ、又は線種が相違するものであることを特徴とする請求項１に記載の質量分析装置用データ処理装置。
【請求項３】
ＭＳｎ−１分析（ｎは２以上の整数）により得られるイオンの中から特定の質量を持つイオンをプリカーサイオンとして選別し、該プリカーサイオンに対する開裂操作により生じたイオンのＭＳｎ分析を行うＭＳｎ分析可能な質量分析装置により取得されたデータを処理するためのデータ処理装置において、
a)ＭＳｎ分析により得られたデータに基づいてＭＳｎスペクトルを表示するためのスペクトルデータを作成するＭＳｎスペクトル作成手段と、
b)質量が互いに相違する２つのプリカーサイオンを設定してそれぞれＭＳｎ分析を実行する場合に、２つのプリカーサイオンの質量差を算出し、前記ＭＳｎスペクトルに現れる全て又は一部のピークの位置を前記質量差の分だけシフトさせた仮想的なピークを前記ＭＳｎスペクトル上に表示するようにスペクトルデータを追加するＭＳｎスペクトル修正手段と
を備え、前記ＭＳｎスペクトル修正手段により追加されたスペクトルデータに基づくスペクトルを表示画面上に表示するようにしたことを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は質量分析装置用データ処理装置に関し、さらに詳しくは、ＭＳｎ分析を実行する質量分析装置で得られたデータを処理するためのデータ処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
イオントラップ型質量分析装置などを用いた質量分析においては、従来よりＭＳ／ＭＳ分析（タンデム分析）という手法が知られている。一般的なＭＳ／ＭＳ分析では、まず分析対象物から目的とする特定の質量（厳密にはm/z）を有するイオンをプリカーサイオンとして選別し、その選別したプリカーサイオンをＣＩＤ（Collusion Induced Dissociation：衝突誘起分解）によって開裂させることでプロダクトイオンを生成する。その後、そのプロダクトイオンを質量分析することによって、プロダクトイオンや脱離イオンの質量に関する情報を取得し、これに基づいて目的とする試料分子の組成や化学構造を推定する。
【０００３】
近年、こうした装置で分析しようとする試料はますます分子量が大きくなり、構造（組成）も複雑になる傾向にある。そのため、試料の性質によっては、一段階の開裂操作だけでは十分に小さな質量までイオンが開裂しない場合がある。そうした場合には、開裂の操作を複数回繰り返し、最終的に生成したプロダクトイオンを質量分析するＭＳｎ分析が行われることもある（例えば特許文献１、２など参照）。上記ＭＳ／ＭＳ分析はｎ＝２におけるＭＳｎ分析である。
【０００４】
一般に質量分析装置では、質量分析の結果として、横軸に質量、縦軸に信号強度（相対強度）をとったマススペクトル（ＭＳｎスペクトル）が作成され、これが分析結果の一つとしてディスプレイ画面上に表示される。ＭＳｎ分析可能な質量分析装置の場合、異なる質量を持つ複数のプリカーサイオンが選別対象として設定されれば、各プリカーサイオンに対するＭＳｎスペクトルがそれぞれ得られることになる。
【０００５】
いま一例として、プリカーサイオンとしてm/z５００とm/z８００のイオンを選別してそれぞれＭＳ／ＭＳ分析を実行した結果、図９に示すようなＭＳ／ＭＳスペクトルが得られたものとする。これらＭＳ／ＭＳスペクトルに現れている各ピークの位置は開裂により生じたプロダクトイオンの質量を示す。図９（ａ）によればm/z５００をプリカーサイオンとした場合にm/z１８０、２４０、４００の３種類のプロダクトイオンが得られることが分かる。また図９（ｂ）によればm/z８００をプリカーサイオンとした場合にm/z４８０、７００の２種類のプロダクトイオンが得られることが分かる。なお、この例の場合には、開裂操作により殆ど全てのプリカーサイオンが開裂しているためプリカーサイオンに対応するピークはＭＳ／ＭＳスペクトル上に現れていない。
【０００６】
ＭＳｎ分析においてプリカーサイオンの化学構造や組成を推定し、ひいては元の試料分子の構造や組成を推定する際に、各プロダクトイオンの質量情報も重要であるが、各プロダクトイオンが生成される過程で除去された断片の質量情報も重要である。ところが、従来の装置において上述したように表示されるＭＳｎスペクトルを分析担当者が見ても、そうした開裂により除去された断片に関する質量情報を直感的に得ることは容易ではない。
【０００７】
特に、ＭＳｎスペクトル上でプリカーサイオンに対応するピークが明確に現れている場合にはプリカーサイオンの質量と各プロダクトイオンの質量との差、つまり除去された断片の質量情報を頭の中で計算し易いが、図９に示した例のようにプリカーサイオン由来のピークが殆ど見えないような場合には、前述したような頭の中での計算も行いにくい。また、ＭＳｎ分析においては、質量の相違する複数のプリカーサイオンに対する開裂について脱離する断片の質量が一致するものがあるか否かというのも重要な情報の一つであるが、上記のような従来の装置で表示されるＭＳｎスペクトルではこうしたことも直感的には判断しにくい。こうした不便さが、ＭＳｎ分析結果を基にした構造推定の作業効率を低下させる一因になっている。
【０００８】
【特許文献１】特開平１０−１４２１９６号公報
【特許文献２】特開２００１−２４９１１４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その主な目的は、分析担当者が複数のＭＳｎスペクトルを利用して化学構造推定などの解析作業を行う際に分かり易く有用な情報を提供することができる質量分析装置用データ処理装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するために成された第１発明は、ＭＳｎ−１分析（ｎは２以上の整数）により得られるイオンの中から特定の質量を持つイオンをプリカーサイオンとして選別し、該プリカーサイオンに対する開裂操作により生じたイオンのＭＳｎ分析を行うＭＳｎ分析可能な質量分析装置により取得されたデータを処理するためのデータ処理装置において、
a)ＭＳｎ分析により得られたデータに基づいてＭＳｎスペクトルを表示するためのスペクトルデータを作成するＭＳｎスペクトル作成手段と、
b)前記ＭＳｎスペクトルに現れる全て又は一部のピークの質量とそのＭＳｎ分析のプリカーサイオン及び／又はそのプリカーサイオンを生成する元となったＭＳ２分析〜ＭＳｎ−１分析（但しこの場合ｎは３以上）のプリカーサイオンの質量との差をそれぞれ計算する質量差算出手段と、
c)前記質量差算出手段により得られた各質量差を質量軸上にそれぞれ対応付けたピークを有するＭＳｎ質量差スペクトルを表示するための質量差スペクトルデータを作成するＭＳｎ質量差スペクトル作成手段と、
d)前記ＭＳｎ質量差スペクトルに現れる各ピークが前記ＭＳｎスペクトルに現れる各ピークと視覚的に識別可能な態様であるように両スペクトルを重ね合わせた又は組み合わせたスペクトルを作成するスペクトル併合手段と、
を備え、前記スペクトル併合手段により作成されたスペクトルを表示画面上に表示するようにしたことを特徴としている。
【００１１】
スペクトル併合手段において、ＭＳｎスペクトルとＭＳｎ質量差スペクトルとを完全に重ね合わせる、つまりは質量軸と強度軸とを共通にする場合には、両スペクトルのピークは混在する。そこで、この場合に「視覚的に識別可能な態様」とは、両スペクトルに現れるピークの描線の態様、例えば色や太さ、線種などを相違するものとしたり、各ピークの質量情報を数値で表示するマスラベル表示の形態（色など）を相違するものとしたりすることができる。
【００１２】
またスペクトル併合手段において、ＭＳｎスペクトルとＭＳｎ質量差スペクトルとを組み合わせる場合には、質量軸、強度軸の少なくともいずれか一方を別にすればよいから、両スペクトルのピークが混在しないように表示領域を分けることができ、これによって「視覚的に識別可能な態様」が達成される。
【００１３】
上記課題を解決するために成された第２発明は、ＭＳｎ−１分析（ｎは２以上の整数）により得られるイオンの中から特定の質量を持つイオンをプリカーサイオンとして選別し、該プリカーサイオンに対する開裂操作により生じたイオンのＭＳｎ分析を行うＭＳｎ分析可能な質量分析装置により取得されたデータを処理するためのデータ処理装置において、
a)ＭＳｎ分析により得られたデータに基づいてＭＳｎスペクトルを表示するためのスペクトルデータを作成するＭＳｎスペクトル作成手段と、
b)質量が互いに相違する２つのプリカーサイオンを設定してそれぞれＭＳｎ分析を実行する場合に、２つのプリカーサイオンの質量差を算出し、前記ＭＳｎスペクトルに現れる全て又は一部のピークの位置を前記質量差の分だけシフトさせた仮想的なピークを前記ＭＳｎスペクトル上に表示するようにスペクトルデータを追加するＭＳｎスペクトル修正手段と
を備え、前記ＭＳｎスペクトル修正手段により追加されたスペクトルデータに基づくスペクトルを表示画面上に表示するようにしたことを特徴としている。
【発明の効果】
【００１４】
第１発明に係る質量分析装置用データ処理装置によれば、表示画面上に、ＭＳｎ分析によるプロダクトイオン由来のピークが現れているＭＳｎスペクトルのほかに各プロダクトイオンとプリカーサイオンとの質量差の位置に仮想的なピークが現れているＭＳｎ質量差スペクトルが併せて表示されるので、分析担当者は、そのＭＳｎ分析での開裂操作によりプリカーサイオンから脱離して除去された断片の質量情報、或いは多段の各開裂操作により元のプリカーサイオンから脱離して除去された断片の質量の加算情報を、視覚的且つ直感的に得ることができる。これにより、質量が互いに相違する２つのプリカーサイオンを設定してそれぞれＭＳｎ分析を実行した際の結果を比較する場合、両ＭＳｎ分析において同一質量の断片が存在するか否かを視覚的に容易に知ることができ、ＭＳｎ分析結果の判断を効率良く行うことができる。そして、ひいては目的とする物質の化学構造の解析作業の効率向上にも寄与する。
【００１５】
また第２発明に係る質量分析装置用データ処理装置によれば、表示画面上に表示される第１のプリカーサイオンをＭＳｎ分析した結果であるＭＳｎスペクトル上に、ＭＳｎ分析によるプロダクトイオン由来のピークのみならず第１及び第２の２つのプリカーサイオンの質量差の分だけ質量軸上で位置がシフトされた仮想的なピークが現れている。この質量差の分だけの質量軸上での位置のシフトは、両ＭＳｎ分析において開裂により脱離した断片の質量を比較するための両プリカーサイオンの質量差の補正操作に相当する。したがって、この仮想的なピークと、第２のプリカーサイオンをＭＳｎ分析した結果であるＭＳｎスペクトル上に現れているピークとが一致した位置にあるか否かを視覚的に判断することにより、第１発明と同様に、両ＭＳｎ分析において同一質量の断片が存在するか否かを容易に知ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
まず第１発明に係るデータ処理装置を備える質量分析システムの一実施例について図面を参照して説明する。図１はこの質量分析システムの全体構成図である。
【００１７】
質量分析部１は、試料分子をイオン化するイオン源２、イオンをその内部空間に一時的に蓄積するとともにその内部空間においてイオンのＣＩＤを促進させるイオントラップ４、イオン源２で生成されたイオンを上記イオントラップ４まで案内するイオン光学系３、イオントラップ４から放出されたイオンを質量に応じて分離する飛行時間型質量分離器（ＴＯＦ）５、ＴＯＦ５により分離されたイオンを検出する検出器６、を含む。
【００１８】
分析制御部１１は中央制御部１０からの指示に基づいて、上記質量分析部１の各部の動作を制御することでＭＳｎ分析を実行する。またデータ処理部１２は検出器６で得られた検出データを受けて、後述するような表示処理を含めて所定のデータ処理を実行する。中央制御部１０にはユーザーインターフェースとしての操作部１３及び表示部１４が接続されている。なお、中央制御部１０、分析制御部１１、及びデータ処理部１２の大部分は所定の制御／処理ソフトウエアを搭載したパーソナルコンピュータにより具現化することができる。
【００１９】
上記構成の質量分析システムの基本的な動作を概略的に説明する。通常のＭＳ分析を実行する際には、分析制御部１１の制御の下に、イオン源２は試料分子をイオン化し、発生した各種イオンはイオン光学系３を経てイオントラップ４に導入される。イオントラップ４では、三次元四重極型の電極に印加される電圧により形成される電場によってイオンが一旦捕捉される。捕捉されたイオンは所定のタイミングで一斉に放出されてＴＯＦ５に導入され、ＴＯＦ５の飛行空間を飛行する間に質量に応じて各イオンには時間差が生じ、順番に検出器６に到達して検出される。
【００２０】
この検出データを受けたデータ処理部１２は、ＴＯＦ５における飛行時間を質量に換算してマススペクトルを作成し、中央制御部１０を介して表示部１４の画面上にマススペクトルを表示させる。このＭＳ分析結果に基づいて、分析担当者はＭＳ２分析の対象のプリカーサイオンを決定する。
【００２１】
分析担当者がプリカーサイオンの質量を操作部１３より入力した上でＭＳ２分析の実行を指示すると、分析制御部１１の制御の下に、イオン源２は試料分子をイオン化し、発生した各種イオンはイオン光学系３を経てイオントラップ４に導入される。イオントラップ４では上述したような電場によってイオンが一旦捕捉され、その後、設定されたプリカーサイオンを除く他の不所望のイオンが発散するような電圧が各電極に印加され、プリカーサイオンのみが捕捉空間内に残される（プリカーサイオンの選別）。さらにその捕捉空間に外部よりＣＩＤガスが導入されてＣＩＤガスとの衝突により、プリカーサイオンの開裂が促進される。
【００２２】
そして、開裂により生じたプロダクトイオン（及びプリカーサイオンが残っている場合には該イオンも）は所定のタイミングで一斉に放出されてＴＯＦ５に導入され、ＴＯＦ５の飛行空間を飛行する間に質量に応じて各イオンには時間差が生じ、順番に検出器６に到達して検出される。この検出データを受けたデータ処理部１２は、ＴＯＦ５における飛行時間を質量に換算してＭＳ２スペクトルを作成し、中央制御部１０を介して表示部１４の画面上にＭＳ２スペクトルを表示させる。なお、イオントラップ４内でＣＩＤにより生成したプロダクトイオンの１つを再びプリカーサイオンとして選別した後に該プリカーサイオンをＣＩＤにより開裂させる、という操作を複数回繰り返すことでｎ＝３以上のＭＳｎ分析を実行することができる。
【００２３】
本実施例の質量分析システムにおけるデータ処理部１２では、上述のようにＭＳｎ分析による検出データを受けて表示部１４に表示すべきＭＳｎスペクトルを作成する際に特徴的な動作を行う。この点について図２、図３を参照して説明する。
【００２４】
処理が開始されると、まず収集した検出データに基づいて、飛行時間を質量に換算し、質量とイオン電流の大ききに応じた相対強度とを対応付けた主ピークリストを作成する（ステップＳ１）。この主ピークリストに挙げられたピークを、横軸が質量、縦軸が相対強度であるグラフ上に描出したものが図９に示したような従来の一般的なＭＳｎスペクトルである。
【００２５】
次に、上記ＭＳｎスペクトルに現れる（主ピークリストに挙げられている）各プロダクトイオンの質量Ｍ１、Ｍ２、…とプリカーサイオンの質量Ｍとの差ΔＭ１、ΔＭ２、…を計算し（ステップＳ２）、その質量差ΔＭ１、ΔＭ２、…と該質量差を求めたプロダクトイオンの相対強度とを対応付けた補助ピークリストを作成する（ステップＳ３）。例えば図９（ａ）の例で説明すると、プリカーサイオンの質量Ｍは５００であるから、質量Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３が１８０、２４０、４００である各プロダクトイオンに対応する質量差ΔＭ１、ΔＭ２、ΔＭ３はそれぞれ３２０、２６０、１００であり、この値とそれぞれのピークの相対強度とを対応付けたものが補助ピークリストに挙げられる。
【００２６】
そして、同一のグラフ上に、つまり質量軸と強度軸が共通なグラフ上に、主ピークリストに挙げられた各ピークを所定の表示色（例えば黒色）の線で描出し、補助ピークリストに挙げられた各ピークを別の表示色（例えば赤色）の線で描出するようにＭＳｎスペクトルデータを作成する（ステップＳ４）。そして、このＭＳｎスペクトルデータを中央制御部１０に送って表示部１４の画面上に表示させると、図３（ａ）に示すようなＭＳｎスペクトルが描出されることになる（ステップＳ５）。但し、図３では異なる２種の表示色を実線と点線とで表現している。
【００２７】
また、図３（ａ）ではプロダクトイオン由来の３本のピーク（実線）と各質量差の位置に仮想的に形成された３本のピーク（点線）とが混在しているが、前者と後者とを一対一に対応付けるために、例えば質量m/zを数値で示しているマスラベルの表示色を合わせる等の表示処理を行うことが望ましい。
【００２８】
質量がm/z５００であるイオンをプリカーサイオンとして選択してＭＳ２分析した結果は図３（ａ）に示すＭＳ２スペクトルで表される。一方、同一試料に対し質量がm/z８００であるイオンをプリカーサイオンとして選択してＭＳ２分析した結果は図３（ｂ）に示すＭＳ２スペクトルで表される。分析担当者がこの両ＭＳ２スペクトルに現れているピークを比較すれば、質量差が１００と３２０とで共通の仮想的なピークが存在することが一目瞭然である。したがって、プリカーサイオンの質量は相違するものの、開裂により脱離する断片の質量が共通のものが２つあることがすぐに分かる。
【００２９】
図３の例では、本発明で言うところのＭＳｎスペクトルとＭＳｎ質量差スペクトルとを完全に重ね合わせて、各スペクトルに含まれるピークの表示色を変えることで両者を識別可能であるようにしていたが、表示色でなく線種や線の太さなどを変えるようにしてもよい。
【００３０】
また、図４〜図６に示すように別の態様とすることもできる。図４は質量軸を重ねずに強度軸を中心に線対称（左右対称）形状に延伸させたものである。図５は質量軸を重ねるものの、強度軸は重ねずに質量軸を中心に線対称（上下対称）形状に延伸させたものである。さらに図６は、図５におけるＭＳｎ質量差スペクトルの質量軸を平行移動させるようにしたものである。これらはいずれも両スペクトルのピークの存在領域が重ならないため、ピークの描線の態様を変更しなくても十分に識別が可能である。また、マスラベルの形態を変えて（例えば一方のスペクトルの文字を斜体字としたり表示枠の形状を変えたりする等）両スペクトルのピークを識別できるようにしてもよい。
【００３１】
また上記図３〜図６の各例ではいずれも仮想的なピークの相対強度を元のプロダクトイオンのピークの相対強度と同一にしているが、これは適宜に変更することができる。例えば、元のプロダクトイオンのピークの相対強度に拘わらず一定の相対強度にしてもよいし、或いは相対強度が低くて見にくいような場合に適度に相対強度を大きくすることで見易くしてもよい。
【００３２】
また、上記実施例はＭＳｎ分析の際のプリカーサイオンとプロダクトイオンとの質量の差の位置にピークを持つような質量差スペクトルを作成するようにしていたが、開裂操作をｎが３以上の多段階に行う場合には、ＭＳｎ分析のプロダクトイオンとそのプリカーサイオンの生成の元となったＭＳｎ−１分析のプリカーサイオン、さらに遡ったＭＳｎ−２分析のプリカーサイオンなどとの質量の差の位置にピークを持つような質量差スペクトルを作成してもよい。即ち、ＭＳｎ分析で得られたプロダクトイオンとＭＳ１分析〜ＭＳｎ−１分析までのプリカーサイオンとの質量差をスペクトル化してもよい。こうした質量差スペクトルは例えば次のような場合に特に有用である。
【００３３】
一例として、或る物質Ａ（質量m/z１０００）がＭＳ１分析において観察され、これをプリカーサイオンとしてＭＳ２分析を実行して質量m/z９８２のプロダクトイオンが、さらにこれをプリカーサイオンとしてＭＳ３分析を実行して質量m/z３００、５００、８００の３数種のプロダクトイオンが観察されたものとする。この場合、ＭＳ３分析のプロダクトイオンとプリカーサイオンとの質量差は６８２、４８２、１８２である。一方、物質Ａに類似した物質Ａ’（質量m/z１１００）がＭＳ１分析において観察され、この物質Ａ’は容易に開裂するものであったためにこれをプリカーサイオンとしてＭＳ２分析を実行して質量m/z１０８２、９００、６００、４００の４数種のプロダクトイオンが観察されたものとする。これら物質Ａ’に由来する各プロダクトイオンは、物質Ａに由来するＭＳ２ 分析 、ＭＳ３分析の各プロダクトイオンにそれぞれ質量が１００である要素が付加されているものと推定できる。
【００３４】
即ち、例えば物質Ａ’に由来する質量m/z４００のプロダクトイオンと物質Ａに由来する質量m/z３００のプロダクトイオンとは高い類似性を有しているとみなし得る。ところが、前者のプロダクトイオンから得られるＭＳ２分析のプロダクトイオン／プリカーサイオンの質量差は７００、後者のプロダクトイオンから得られるＭＳ３分析のプロダクトイオン／プリカーサイオンの質量差は６８２と異なるため、上記のように単純に或る開裂操作の前後のイオンの質量差を捉えただけではプロダクトイオンの類似性を見い出すことができない。
【００３５】
そこで、上記のような一種の共通性・類似性の見逃しを防止するためには、一回の開裂操作の前後のプリカーサイオンとプロダクトイオンとの質量差を計算してスペクトル化するだけでなく、そのプリカーサイオンが生成された一段階前の開裂操作のプリカーサイオンとの質量差、或いはさらに遡った前の段階の開裂操作のプリカーサイオンとの質量差も計算してスペクトル化して表示するようにするとよい。上記例で言えば、物質Ａに由来する質量m/z３００のプロダクトイオンは、ＭＳ３分析の際のプリカーサイオン（質量m/z９８２）との質量差だけでなく、その一段階前のＭＳ２分析の際のプリカーサイオン（質量m/z１０００）との質量差も計算して、これをＭＳｎ質量差スペクトル上に表示するようにするとよい。これにより、異なる質量のプリカーサイオンに由来するプロダクトイオンの類似性や共通性をよく確実に求めることができる。
【００３６】
なお、ＭＳｎスペクトルと質量差スペクトルとを重ねて表示する又は別領域に表示するのいずれの場合でも、質量差スペクトル上の或るピークがＭＳｎスペクトル上のいずれのピークとプリカーサイオンとの引き算の結果得られたものであるのかが一目で分かることが望ましい。そこで、例えばプリカーサイオンのピークが現れていない場合にはこれを他のピークと識別可能であるように仮想的に示した上で、このピークとプロダクトイオンのピークと、これらに依る質量差スペクトル上のピークとを対応付けるように、表示色を合わせる、線でつなぐ、或いは同一の指示記号を付す、ようにするとよい。また、こうした対応関係を示すための表示は常に行われていなくてもよく、例えば、分析担当者が操作部１３のマウス操作等により質量差スペクトル上で所望のピークを選択すると、それに対応するプロダクトイオンとプリカーサイオンのピークの表示色が変わる或いは輝度が上がる等、一時的に容易に認識可能な状態となるようにしてもよい。
【００３７】
次に第２発明に係るデータ処理装置を備える質量分析システムの一実施例について説明する。この質量分析システムの全体構成は上述した第１発明の一実施例である図１と同様であるので説明を省略する。相違するのはデータ処理部１２において表示部１４に表示すべきＭＳｎスペクトルを作成する際の処理動作のみである。図７はこの処理動作のフローチャート、図８はＭＳ２分析の結果表示されるＭＳ２スペクトルの一例である。
【００３８】
この場合、質量m/z８００のイオンをプリカーサイオンとしたときのＭＳ２スペクトルの表示は図８（ｂ）に示すように従来の図９（ｂ）と何ら変わりはない。これに対し、質量m/z５００のイオンをプリカーサイオンとしたときのＭＳ２スペクトルの表示は図８（ａ）に示すように本来のプロダクトイオン由来のピークのほかに仮想的なピークが現れたものとなっている。
【００３９】
即ち、データ処理部１２は質量m/z５００のイオンをプリカーサイオンとしたときのＭＳ２分析の検出データを受け取ると、質量とイオン電流の大ききに応じた相対強度とを対応付けた主ピークリストを作成する（ステップＳ１１）。次に、このプリカーサイオンの質量（m/z５００）と比較対象であるＭＳ２分析のプリカーサイオンの質量（m/z８００）の差ΔＭを計算し（ステップＳ１２）、上記ＭＳｎスペクトルに現れる（主ピークリストに挙げられている）各プロダクトイオンの質量をそれぞれ質量差ΔＭだけシフトさせた各ピークを含む補助ピークリストを作成する（ステップＳ１３）。例えば図８（ａ）の例で説明すると、プリカーサイオンの質量差ΔＭは３００であるから、質量Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３が１８０、２４０、４００である各プロダクトイオンに対応するピークを３００だけ質量軸上でずらす。このとき比較対象のプリカーサイオンの質量のほうが大きいので、上方向にシフトさせる。こうして、質量m/zがそれぞれ４８０、５４０、７００の位置にピークが形成される補助ピークリストが出来る。
【００４０】
そして、同一のグラフ上に、つまり質量軸と強度軸が共通なグラフ上に、主ピークリストに挙げられた各ピークを所定の表示色（例えば黒色）の線で描出し、補助ピークリストに挙げられた各ピークを別の表示色（例えば赤色）の線で描出するようにＭＳｎスペクトルデータを作成する（ステップＳ１４）。そして、このＭＳｎスペクトルデータを中央制御部１０に送って表示部１４の画面上に表示させると、図８（ａ）に示すようなＭＳｎスペクトルが描出されることになる（ステップＳ１５）。
【００４１】
分析担当者が図８（ａ）及び（ｂ）に示すようなＭＳ２スペクトルに現れているピークを比較すれば、プリカーサイオンの質量m/zが８００であるＭＳ２分析において質量m/zが４８０と７００とで共通のピークが存在することが一目瞭然である。上述したようなピークの質量シフトの操作は両プリカーサイオンの質量差を補正する処理に相当するから、上記結果によれば、プリカーサイオンの質量は相違するものの、開裂により脱離する断片の質量が共通のものが２つあることがすぐに分かる。
【００４２】
なお、上記実施例ではプリカーサイオンの質量m/zが５００であるＭＳ２スペクトル上に現れるピークをシフトさせたが、プリカーサイオンの質量m/zが８００であるＭＳ２スペクトル上に現れるピークをシフト（この場合には下方向に）させても同様である。
【００４３】
また、この実施例においても上記実施例と同様に、元々のプロダクトイオン由来のピークとシフトにより得られる仮想的なピークを識別するために表示色を変更する以外の各種の態様を採ることができる。
【００４４】
さらにまた、それ以外の点においても、本発明の趣旨の範囲で適宜に変更、修正、追加を行っても本願請求の範囲に包含されることは当然である。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本発明に係るデータ処理装置を備える質量分析システムの一実施例の全体構成図。
【図２】本実施例の質量分析システムにおけるＭＳｎスペクトル表示処理の動作を示すフローチャート。
【図３】本実施例の質量分析システムのＭＳｎスペクトルの表示の一例を示す図。
【図４】本実施例の質量分析システムのＭＳｎスペクトルの表示の他の例を示す図。
【図５】本実施例の質量分析システムのＭＳｎスペクトルの表示の他の例を示す図。
【図６】本実施例の質量分析システムのＭＳｎスペクトルの表示の他の例を示す図。
【図７】本発明の他の実施例による質量分析システムでのＭＳｎスペクトル表示処理の動作を示すフローチャート。
【図８】本発明の他の実施例による質量分析システムでのＭＳｎスペクトルの表示の一例を示す図。
【図９】従来の質量分析装置のＭＳｎスペクトルの表示の一例を示す図。
【符号の説明】
【００４６】
１…質量分析部
２…イオン源
３…イオン光学系
４…イオントラップ
５…飛行時間型質量分離器（ＴＯＦ）
６…検出器
１０…中央制御部
１１…分析制御部
１２…データ処理部
１３…操作部
１４…表示部
【図１】
0004678439.tif 000002
【図２】
0004678439.tif 000003
【図３】
0004678439.tif 000004
【図４】
0004678439.tif 000005
【図５】
0004678439.tif 000006
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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