(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象となる印刷版を撮像して得た検査対象画像と、前記印刷版に形成されている画像に対応する検査基準画像とを比較して前記印刷版の欠陥検出を行なう印刷版検査装置であって、前記検査基準画像から前記検査対象画像を減算処理した（基準−対象）差分画像および／または前記検査対象画像から前記検査基準画像を減算処理した（対象−基準）差分画像、前記検査基準画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査基準エッジ画像を生成したのち、前記検査基準エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって生成した検査基準エッジ膨張画像および／または前記検査対象画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査対象エッジ画像を生成したのち、前記検査対象エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって生成した検査対象エッジ膨張画像を生成し、前記（基準−対象）差分画像を前記検査対象エッジ膨張画像でマスク処理した（基準差分−対象膨張）マスク済み画像において顕在化する汚れ欠陥を検出する汚れ欠陥検出処理部および／または前記（対象−基準）差分画像を前記検査基準エッジ膨張画像でマスク処理した（対象差分−基準膨張）マスク済み画像において顕在化する抜け欠陥を検出する抜け欠陥検出処理部、を具備することを特徴とする印刷版検査装置。
【請求項２】
請求項１記載の印刷版検査装置において、データフォーマット変換手段を具備し、前記検査基準画像は、そのデータフォーマット変換手段によって前記検査対象画像と同じデータフォーマットに合わせた検査基準画像であることを特徴とする印刷版検査装置。
【請求項３】
請求項１または２記載の印刷版検査装置において、階調変換手段を具備し、前記検査対象画像は、その階調変換手段によって前記検査基準画像と同じ階調特性に合わせた検査対象画像であることを特徴とする印刷版検査装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の印刷版検査装置において、前記汚れ欠陥検出処理部と前記抜け欠陥検出処理部とは、前記検査基準画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査基準エッジ画像を生成する検査基準画像エッジ抽出手段と、前記検査基準エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって検査基準エッジ膨張画像を生成する検査基準画像エッジ膨張手段と、前記検査対象画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査対象エッジ画像を生成する検査対象画像エッジ抽出手段と、前記検査対象エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって検査対象エッジ膨張画像を生成する検査対象画像エッジ膨張手段と、を共有することを特徴とする印刷版検査装置。
【請求項５】
請求項４記載の印刷版検査装置において、前記汚れ欠陥検出処理部は、前記検査基準画像から前記検査対象画像を減算処理して（基準−対象）差分画像を生成する（基準−対象）差分手段と、前記（基準−対象）差分画像の前記検査対象エッジ膨張画像によるマスク処理によって（基準差分−対象膨張）マスク済み画像を生成する（基準差分−対象膨張）マスク手段と、前記（基準−対象）差分画像の前記検査基準エッジ膨張画像によるマスク処理によって（基準差分−基準膨張）マスク済み画像を生成する（基準差分−基準膨張）マスク手段と、前記（基準差分−対象膨張）マスク済み画像と前記（基準差分−基準膨張）マスク済み画像の合成処理によって汚れ欠陥画像を生成する汚れ欠陥合成手段と、前記汚れ欠陥画像を所定のしきい値により２値化処理して汚れ欠陥２値化画像を生成する汚れ欠陥２値化手段と、前記汚れ欠陥２値化画像をラベリング処理して汚れ欠陥の各々を特定する符号を付けた汚れ欠陥ラベリング画像を生成する汚れ欠陥ラベリング手段と、前記汚れ欠陥ラベリング画像における前記汚れ欠陥の各々の面積を算出し、その面積を所定の面積しきい値と比較して面積判定処理を行なう汚れ欠陥面積判定手段と、を有することを特徴とする印刷版検査装置。
【請求項６】
請求項４または５記載の印刷版検査装置において、前記汚れ検出処理部は、前記検査対象画像から前記検査基準画像を減算処理して（対象−基準）差分画像を生成する（対象−基準）差分手段と、前記（対象−基準）差分画像の前記検査対象エッジ膨張画像によるマスク処理によって（対象差分−対象膨張）マスク済み画像を生成する（対象差分−対象膨張）マスク手段と、前記（対象−基準）差分画像の前記検査基準エッジ膨張画像によるマスク処理によって（対象差分−基準膨張）マスク済み画像を生成する（対象差分−基準膨張）マスク手段と、前記（対象差分−対象膨張）マスク済み画像と前記（対象差分−基準膨張）マスク済み画像の合成処理によって抜け欠陥画像を生成する抜け欠陥合成手段と、前記抜け欠陥画像を所定のしきい値により２値化処理して抜け欠陥２値化画像を生成する抜け欠陥２値化手段と、前記抜け欠陥２値化画像をラベリング処理して抜け欠陥の各々を特定する符号を付けた抜け欠陥ラベリング画像を生成する抜け欠陥ラベリング手段と、前記抜け欠陥ラベリング画像における前記抜け欠陥の各々の面積を算出し、その面積を所定の面積しきい値と比較して面積判定処理を行なう抜け欠陥面積判定手段と、を有することを特徴とする印刷版検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、印刷版に形成されている画像が適正であるか否かを外観によって検査する技術分野に属する。特に、印刷版検査装置において、印刷版の画像における輪郭部分に発生する欠陥についても検出をすることができる、印刷版検査装置に関する。
【０００２】
【従来技術】
刷版工程において製作された印刷版には、汚れ、欠け、現像不良、等の欠陥を有するものがある。それらの欠陥を有する印刷版が印刷工程に進み印刷が開始されてから印刷物において欠陥が発見された場合には、印刷機における生産阻害となり極めて損失が大きくなる。したがって、刷版工程に在る間に印刷版の画像を目視によって最終確認する作業が行なわれている。このときに対比する基準としては、通常は、校正印刷物が用いられる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、目視確認しなければならない欠陥の寸法は極めて微細である。また、校正印刷物は重ね刷りされた多色の印刷物であり、各色の印刷版の画像とは異なった画像である。各色の印刷版の画像は、分版された各色の印刷物に近いのであるが、各色の印刷物は存在しない。このため、欠陥を見つけることは極めて困難な作業となっている。
【０００４】
そこで、印刷版に形成された画像と刷版データとを比較することによって、欠陥を検出する装置の試みがある。しかしながら、検査対象とする画像である印刷版の撮像画像は、印刷版に欠陥が存在しない場合であっても、検査基準とする画像である刷版データとは素性の異なった画像であり同一画像ではない。両者の画像のフォーマットや階調特性を同一とする変換を行なったとしても、若干の誤差を含んでいるため、単に画素ごとを比較するだけでは、その誤差部分で誤検出することとなる。特に、画像における輪郭部分において誤差が発生し易いため、輪郭部分に不感帯を設定することが行なわれる。しかし、不感帯を設定したために、輪郭部分に発生する汚れや欠けについては検出感度が無くなるか、または極めて検出感度が低くなるという問題がある。
【０００５】
本発明は上記の問題を解決するためになされたものである。その目的は、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する欠陥は勿論のこと、画像における輪郭部分に発生する欠陥についても検出することができる印刷版検査装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題は下記の本発明によって解決される。すなわち、本発明の請求項１に係る印刷版検査装置は、検査対象となる印刷版を撮像して得た検査対象画像と、前記印刷版に形成されている画像に対応する検査基準画像とを比較して前記印刷版の欠陥検出を行なう印刷版検査装置であって、前記検査基準画像から前記検査対象画像を減算処理した（基準−対象）差分画像および／または前記検査対象画像から前記検査基準画像を減算処理した（対象−基準）差分画像、前記検査基準画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査基準エッジ画像を生成したのち、前記検査基準エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって生成した検査基準エッジ膨張画像および／または前記検査対象画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査対象エッジ画像を生成したのち、前記検査対象エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって生成した検査対象エッジ膨張画像を生成し、前記（基準−対象）差分画像を前記検査対象エッジ膨張画像でマスク処理した（基準差分−対象膨張）マスク済み画像において顕在化する汚れ欠陥を検出する汚れ欠陥検出処理部および／または前記（対象−基準）差分画像を前記検査基準エッジ膨張画像でマスク処理した（対象差分−基準膨張）マスク済み画像において顕在化する抜け欠陥検出処理部、を具備するようにしたものである。本発明によれば、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する欠陥は勿論のこと、画像における輪郭部分に発生する欠陥についてもマスク済み画像において顕在化することができる。しかも、汚れ欠陥検出処理部においては、本来は存在すべきでない画像が形成されている欠陥である汚れ欠陥が顕在化し、抜け欠陥検出処理部においては、本来は存在すべき画像が形成されていない欠陥である抜け欠陥が顕在化する。したがって、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する欠陥は勿論のこと、画像における輪郭部分に発生する欠陥について検出することができる印刷版検査装置が提供される。
【０００７】
また本発明の請求項２に係る印刷版検査装置は、請求項１に係る印刷版検査装置において、データフォーマット変換手段を具備し、前記検査基準画像は、そのデータフォーマット変換手段によって前記検査対象画像と同じデータフォーマットに合わせた検査基準画像であるようにしたものである。本発明によれば、データフォーマット変換手段により、検査基準画像は検査対象画像と同じデータフォーマットに合わせた検査基準画像とされる。したがって、データフォーマットに依存せず印刷版の欠陥検出が行なわれる。
【０００８】
また本発明の請求項３に係る印刷版検査装置は、請求項１または２に係る印刷版検査装置において、階調変換手段を具備し、前記検査対象画像は、その階調変換手段によって前記検査基準画像と同じ階調特性に合わせた検査対象画像であるようにしたものである。本発明によれば、階調変換手段により、検査対象画像は検査基準画像と同じ階調特性に合わせた検査対象画像とされる。したがって、階調特性に依存せず印刷版の欠陥検出が行なわれる。
【０００９】
また本発明の請求項４に係る印刷版検査装置は、請求項１〜３のいずれかに係る印刷版検査装置において、前記汚れ欠陥検出処理部と前記抜け欠陥検出処理部とは、前記検査基準画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査基準エッジ画像を生成する検査基準画像エッジ抽出手段と、前記検査基準エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって検査基準エッジ膨張画像を生成する検査基準画像エッジ膨張手段と、前記検査対象画像におけるエッジを抽出する処理を行なって検査対象エッジ画像を生成する検査対象画像エッジ抽出手段と、前記検査対象エッジ画像におけるエッジを膨張する処理を行なって検査対象エッジ膨張画像を生成する検査対象画像エッジ膨張手段と、を共有するようにしたものである。本発明によれば、共有する手段とそれによって生成された画像とを、汚れ欠陥検出処理部と抜け欠陥検出処理部が使用することで処理が効率される。
【００１０】
また本発明の請求項５に係る印刷版検査装置は、請求項４に係る印刷版検査装置において、前記汚れ欠陥検出処理部は、前記検査基準画像から前記検査対象画像を減算処理して（基準−対象）差分画像を生成する（基準−対象）差分手段と、前記（基準−対象）差分画像の前記検査対象エッジ膨張画像によるマスク処理によって（基準差分−対象膨張）マスク済み画像を生成する（基準差分−対象膨張）マスク手段と、前記（基準−対象）差分画像の前記検査基準エッジ膨張画像によるマスク処理によって（基準差分−基準膨張）マスク済み画像を生成する（基準差分−基準膨張）マスク手段と、前記（基準差分−対象膨張）マスク済み画像と前記（基準差分−基準膨張）マスク済み画像の合成処理によって汚れ欠陥画像を生成する汚れ欠陥合成手段と、前記汚れ欠陥画像を所定のしきい値により２値化処理して汚れ欠陥２値化画像を生成する汚れ欠陥２値化手段と、前記汚れ欠陥２値化画像をラベリング処理して汚れ欠陥の各々を特定する符号を付けた汚れ欠陥ラベリング画像を生成する汚れ欠陥ラベリング手段と、前記汚れ欠陥ラベリング画像における前記汚れ欠陥の各々の面積を算出し、その面積を所定の面積しきい値と比較して面積判定処理を行なう汚れ欠陥面積判定手段と、を有するようにしたものである。本発明によれば、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する汚れ欠陥については特に高い精度で検出され、また画像における輪郭部分に発生する汚れ欠陥についても検出される。
【００１１】
また本発明の請求項６に係る印刷版検査装置は、請求項４または５に係る印刷版検査装置において、前記汚れ検出処理部は、前記検査対象画像から前記検査基準画像を減算処理して（対象−基準）差分画像を生成する（対象−基準）差分手段と、前記（対象−基準）差分画像の前記検査対象エッジ膨張画像によるマスク処理によって（対象差分−対象膨張）マスク済み画像を生成する（対象差分−対象膨張）マスク手段と、前記（対象−基準）差分画像の前記検査基準エッジ膨張画像によるマスク処理によって（対象差分−基準膨張）マスク済み画像を生成する（対象差分−基準膨張）マスク手段と、前記（対象差分−対象膨張）マスク済み画像と前記（対象差分−基準膨張）マスク済み画像の合成処理によって抜け欠陥画像を生成する抜け欠陥合成手段と、前記抜け欠陥画像を所定のしきい値により２値化処理して抜け欠陥２値化画像を生成する抜け欠陥２値化手段と、前記抜け欠陥２値化画像をラベリング処理して抜け欠陥の各々を特定する符号を付けた抜け欠陥ラベリング画像を生成する抜け欠陥ラベリング手段と、前記抜け欠陥ラベリング画像における前記抜け欠陥の各々の面積を算出し、その面積を所定の面積しきい値と比較して面積判定処理を行なう抜け欠陥面積判定手段と、を有するようにしたものである。本発明によれば、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する抜け欠陥については特に高い精度で検出され、また画像における輪郭部分に発生する抜け欠陥についても検出される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
次に、本発明について実施の形態を説明する。刷版工程と本発明の印刷版検査装置における情報処理の過程を図１にブロック図として示す。図１において、１はカメラ、２は画像入力部、３は検査処理部、４は制御部、５はＨＤＤ（ハードディスク装置）、６は画像変換部、１１，１２はＣＭＹＫ・印刷版解像度ＴＩＦＦデータ、１３，１４はＣＭＹＫ・カメラ解像度ＴＩＦＦデータ、１０１は製版システム、１０２はＲＩＰ（ラスタイメージプロセッサ）、１０３はプレートセッタ、１０４は現像機、２０１はＰＳデータ、２０２はＲＩＰデータ、２０３はプレート（印刷版）である。
【００１３】
まず、刷版工程について説明しておく。前工程の製版工程において、製版システム１０１等を使用して、文字、絵柄、写真、マーク、等の編集が行なわれ、ＰＳ（PostScript）データが生成される。そして刷版工程において、ラスタイメージプロセッサ１０２は、ＰＳデータをラスターイメージのデータに変換する処理を行いＲＩＰデータ２０２を生成する。プレートセッタ１０３は、版材料の表面に形成された感光性被膜に対し、ＲＩＰデータ２０２によって変調されたレーザービームを走査し露光を行なう。現像機１０４は露光済みの版材料を現像する。さらに、後処理、等が行なわれた後に印刷版２０３が完成する。
【００１４】
次に、本発明の印刷版検査装置が用いる検査基準画像を生成する過程について図１を参照して説明する。ラスタイメージプロセッサ１０２は、また、ＰＳデータをＴＩＦＦ（tagged image file format）データに変換する処理を行い、ＣＭＹＫ・印刷版解像度ＴＩＦＦデータ１１を生成し、ハードディスク５に書込む。画像変換部６は、そのハードディスク５から読込んだＣＭＹＫ・印刷版解像度ＴＩＦＦデータ１２に対して、解像度を変換する処理を行ない、ＣＭＹＫ・カメラ解像度ＴＩＦＦデータ１３を生成し、ハードディスク５に書込む。そのハードディスク５から本発明の印刷版検査装置が読込んだＣＭＹＫ・カメラ解像度ＴＩＦＦデータ１４は、検査基準画像である。
なお、「ＣＭＹＫ」は、プロセスインキの各色であるシアン（Cyan）、マゼンタ（Magenta）、イエロー（Yellow）、ブラック（Black）の頭文字であり、「ＣＭＹＫ・・・データ」は、それらの分色データを示す。
【００１５】
次に、本発明の印刷版検査装置の構成について、図１を参照して説明する。
カメラ１は、印刷版の表面の画像をセンサに結像する結像光学系（レンズ）と、受光素子を１次元または２次元に配列したＣＣＤ（charge coupled device）やＭＯＳ（metal oxide semiconductor）等のセンサと、そのセンサの駆動回路、等から成るラインセンサカメラまたはエリアセンサカメラである。本発明の印刷版検査装置は、刷版工程におけるインラインの検査装置であり、カメラ１は、現像機１０４から排出される印刷版２０３の表面を撮像して撮像信号を出力する。
【００１６】
画像入力部２は、カメラ１とのインタフェース部、画像記憶部、等から成る。インタフェース部は、撮像信号をＡ／Ｄ（analog-to-digital）変換してディジタル画像データを生成する。そのディジタル画像データは、検査対象画像である。画像処理部はその検査対象画像を記憶する。画像入力部２は、現像機１０４における処理に同期して上記の処理を行なう。
【００１７】
検査処理部３は、パーソナルコンピュータ、画像処理装置、検査専用処理装置、等のデータ処理装置のハードウェアとソフトウェアから成る。検査処理部３は、汚れ欠陥検出処理部（図示せず）と抜け欠陥検出処理部（図示せず）とを有する。検査基準画像と検査対象画像に基づいて、汚れ欠陥検出処理部は本来は存在すべきでない画像が形成されている欠陥である汚れ欠陥を検出する処理を行なう。また、抜け欠陥検出処理部は、本来は存在すべき画像が形成されていない欠陥である抜け欠陥を検出する処理を行なう。
【００１８】
検査処理部３の汚れ欠陥検出処理部と抜け欠陥検出処理部が行なう処理は、さらに細分化した複数の処理によって構成される。それらの処理は、データフォーマット変換手段、階調変換手段、検査基準画像エッジ抽出手段、検査基準画像エッジ膨張手段、検査対象画像エッジ抽出手段、検査対象画像エッジ膨張手段、（基準−対象）差分手段、（基準差分−対象膨張）マスク手段、（基準差分−基準膨張）マスク手段、汚れ欠陥合成手段、汚れ欠陥２値化手段、汚れ欠陥ラベリング手段、汚れ欠陥面積判定手段、（対象−基準）差分手段、（対象差分−対象膨張）マスク手段、（対象差分−基準膨張）マスク手段、抜け欠陥合成手段、抜け欠陥２値化手段、抜け欠陥ラベリング手段、抜け欠陥面積判定手段、等によって行なわれる。それらの詳細は後述する。
【００１９】
制御部４は、刷版工程における印刷版の処理の過程と、本発明の刷版検査装置の検査処理部３における処理の過程との同期制御を行なう。また、検査結果を出力する処理を行なう。
【００２０】
上述の構成において、次に、本発明の印刷版検査装置における動作について、図１、図２、図３を参照して説明する。図２は、本発明の印刷版検査装置の動作の過程をフロー図として示す図である。図３は、検査基準画像と検査対象画像の一例を絵図として示す図である。
まず、図２のステップＳ１において、本発明の印刷版検査装置における検査処理部３は、ハードディスク５からＣＭＹＫ・カメラ解像度ＴＩＦＦデータ１４、すなわち検査基準画像を読込む。図３（Ａ）に検査基準画像の一例を絵図として示す。
【００２１】
次に、ステップＳ２において、カメラ１は印刷版２０３の版面を撮像し撮像信号を出力する。画像入力部２はその撮像信号を入力し、Ａ／Ｄ変換して撮像画像を記憶する。検査処理部３は、その撮像画像、すなわち検査対象画像を読込む。図３（Ｂ）に検査対象画像の一例を絵図として示す。
次に、ステップＳ３において、検査処理部３は、検査基準画像と検査対象画像の間に存在する位置ずれ補正を行なう。この補正は全体の画像に対して行なう。
【００２２】
次に、ステップＳ４において、検査処理部３は、汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理とを行なう。汚れ欠陥検出処理は、本来は存在すべきでない画像が形成されている欠陥である汚れ欠陥を検出する処理である。また、抜け欠陥検出処理は、本来は存在すべき画像が形成されていない欠陥である抜け欠陥を検出する処理である。この処理によって、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する欠陥は勿論のこと、画像における輪郭部分に発生する欠陥について検出することができる。この処理の詳細については後述する。
【００２３】
次に、ステップＳ５において、検査処理部３は、欠陥の有無を判定する。「有」の場合にはステップＳ６に進み、「無」の場合にはステップＳ７に進む。
次に、ステップＳ６において、検査処理部３は、検査基準画像における欠陥が存在する位置をディスプレイ（図示せず）に表示する。
次に、ステップＳ７において、検査処理部３は、制御部４を介して検出した欠陥に基づく印刷版の良不良判定、等の検査結果の出力（表示、印刷）を行なう。
【００２４】
以上、本発明の印刷版検査装置における全体的な動作の過程を説明した。次に、本発明の印刷版検査装置における汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理の過程の詳細について図４〜図７を参照して説明する。図４は、汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理の過程をフロー図として示す図である。図５〜図７は、汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理の過程で生成される画像を模式化して示す絵図である。図５〜図７において、５１は検査基準画像、５２は検査対象画像、５３は（基準−対象）差分画像、５４は（対象−基準）差分画像、５５は検査基準エッジ画像、５６は検査対象エッジ画像、５７は検査基準エッジ膨張画像、５８は検査対象エッジ膨張画像、５９は（基準差分−対象膨張）マスク済み画像、６０は（対象差分−対象膨張）マスク済み画像、６１は（基準差分−基準膨張）マスク済み画像、６２は（対象差分−基準膨張）マスク済み画像である。
【００２５】
まず、図４のステップＳ１０１において、検査処理部３のデータフォーマット変換手段（図示せず）は、検査基準画像５１が検査対象画像５２と同じデータフォーマットでないときには、検査基準画像５１を検査対象画像５２に合わせて同じデータフォーマットの検査基準画像５１とする。
次に、ステップＳ１０２において、検査処理部３の階調変換手段（図示せず）は、検査対象画像５２が検査基準画像５１と同じ階調特性でないときには、検査対象画像５２を検査基準画像５１に合わせて同じ階調特性の検査対象画像５２とする。
【００２６】
階調変換手段は、たとえば、ＬＵＴ（look up table）を参照して階調変換前の画素値から階調変換後の画素値を得る方法で実現される。ＬＵＴは、網点面積率を徐々に変化させたパッチ（網点スケール）を印刷版に形成し、検査基準画像５１における画素値と、検査対象画像５２の対応する画素値とが一致するようなＬＵＴとして作成する。このとき、プレートセッター１０３の種類によって印刷版の画線部の色が異なるため、複数のプレートセッターにおいて本発明の装置を共有するときにはＬＵＴを切り替える必要性がある。また、印刷版の所定の位置にパッチを必ず形成するようにし、そのパッチを用いてＬＵＴを検査の度に更新して階調変換を行なうことができる。その方法では、撮像に用いる光源の経時変化やその他の変動要因に対応することができるため好ましい。
【００２７】
次に、ステップＳ１０３において、検査処理部３の検査基準画像エッジ抽出手段（図示せず）は、検査基準画像５１におけるエッジを抽出する処理を行なって検査基準エッジ画像５５を生成する。
次に、ステップＳ１０４において、検査処理部３の検査対象画像エッジ抽出手段（図示せず）は、検査対象画像５２におけるエッジを抽出する処理を行なって検査対象エッジ画像５６を生成する。
【００２８】
次に、ステップＳ１０５において、検査処理部３の検査基準画像エッジ膨張手段（図示せず）は、検査基準エッジ画像５５におけるエッジを膨張する処理を行なって検査基準エッジ膨張画像５７を生成する。
次に、ステップＳ１０６において、検査処理部３の検査対象画像エッジ膨張手段（図示せず）は、検査対象エッジ画像５６におけるエッジを膨張する処理を行なって検査対象エッジ膨張画像５８を生成する。
【００２９】
以上、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６は、汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理とにおいて共通する処理の過程である。汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理とでは、この後、別々の処理の過程に進む。汚れ欠陥検出処理は、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６に続いて、ステップＳ１１１〜Ｓ１１７に示す処理の過程に進む。一方、抜け欠陥処理は、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６に続いて、ステップＳ１２１〜Ｓ１２７に示す処理の過程に進む。
【００３０】
まず、汚れ欠陥検出処理について説明する。ステップＳ１１１において、検査処理部３の汚れ欠陥処理部の（基準−対象）差分手段（図示せず）は、検査基準画像５１から検査対象画像５２を減算処理して（基準−対象）差分画像５３を生成する。この（基準−対象）差分画像５３において、本来は存在すべきでない画像が形成されている欠陥である汚れ欠陥と、図５では明示してないが、輪郭部分とが顕在化する。
【００３１】
ここで、上述の減算処理は、検査基準画像５１と検査対象画像５２と（基準−対象）差分画像５３の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、下記の数１によって定義される。
【数１】
0004844784.tif 000002
ただし、ａ；検査基準画像５１の画素値
ｂ；検査対象画像５２の画素値
【００３２】
次に、ステップＳ１１２において、汚れ欠陥処理部の（基準差分−対象膨張）マスク手段（図示せず）は、（基準−対象）差分画像５３の検査対象エッジ膨張画像５８によるマスク処理によって（基準差分−対象膨張）マスク済み画像５９を生成する。この（基準差分−対象膨張）マスク済み画像５９において、（基準−対象）差分画像５３に存在していた輪郭部分は除かれる。一方、汚れ欠陥は、輪郭部分から外れた汚れ欠陥も輪郭部分に存在する汚れ欠陥も、面積が小さくなるものの顕在化したまま残る。
【００３３】
ここで、上述のマスク処理は、（基準−対象）差分画像５３と検査対象エッジ膨張画像５８と（基準差分−対象膨張）マスク済み画像５９の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、下記の数２によって定義される。
【数２】
0004844784.tif 000003
ただし、ｃ；（基準−対象）差分画像５３の画素値
ｂｍ；検査対象エッジ膨張画像５８の画素値
【００３４】
次に、ステップＳ１１３において、汚れ欠陥処理部の（基準差分−基準膨張）マスク手段（図示せず）は、（基準−対象）差分画像５３の検査基準エッジ膨張画像５７によるマスク処理によって（基準差分−基準膨張）マスク済み画像６１を生成する。この（基準差分−基準膨張）マスク済み画像６１において、輪郭部分から外れた汚れ欠陥は、（基準−対象）差分画像５３で顕在化したときの面積に戻る。一方、輪郭部分に存在する汚れ欠陥は除かれる。
【００３５】
ここで、上述のマスク処理は、（基準−対象）差分画像５３と検査基準エッジ膨張画像５７と（基準差分−基準膨張）マスク済み画像６１の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、下記の数３によって定義される。
【数３】
0004844784.tif 000004
ただし、ｃ；（基準−対象）差分画像５３の画素値
ａｍ；検査基準エッジ膨張画像５７の画素値
【００３６】
次に、ステップＳ１１４において、汚れ欠陥処理部の汚れ欠陥合成手段（図示せず）は、（基準差分−対象膨張）マスク済み画像５９と（基準差分−基準膨張）マスク済み画像６１の合成処理によって汚れ欠陥画像６３を生成する。この汚れ欠陥画像６３においては、（基準−対象）差分画像５３に存在していた輪郭部分は除かれる。一方、汚れ欠陥は、輪郭部分から外れた汚れ欠陥はそのままの面積で顕在化する。また、輪郭部分に存在する汚れ欠陥は面積が小さくなるものの顕在化する。
【００３７】
ここで、上述の合成処理は、（基準差分−対象膨張）マスク済み画像５９と（基準差分−基準膨張）マスク済み画像６１と汚れ欠陥画像６３の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、（基準差分−対象膨張）マスク済み画像５９の画素値と（基準差分−基準膨張）マスク済み画像６１の画素値において、大きい方の画素値を汚れ欠陥画像６３の画素値とする演算処理（ｍａｘ演算処理）である。
【００３８】
次に、ステップＳ１１５において、汚れ欠陥処理部の汚れ欠陥２値化手段（図示せず）は、汚れ欠陥画像６３を所定のしきい値により２値化処理して汚れ欠陥２値化画像（図示せず）を生成する。
次に、ステップＳ１１６において、汚れ欠陥処理部の汚れ欠陥ラベリング手段（図示せず）は、汚れ欠陥２値化画像をラベリング処理して汚れ欠陥の各々を特定する符号を付けた汚れ欠陥ラベリング画像（図示せず）を生成する。
【００３９】
次に、ステップＳ１１７において、汚れ欠陥処理部の汚れ欠陥面積判定手段（図示せず）は、汚れ欠陥ラベリング画像における汚れ欠陥の各々の面積を算出し、その面積を所定の面積しきい値と比較して面積判定処理を行なう。このステップＳ１１７において、所定の面積しきい値を超える面積の汚れ欠陥が存在するときには、その検査対象の印刷版２０３を不良であると判定する。一方、このステップＳ１１７において、所定の面積しきい値を超える面積の汚れ欠陥が存在しないときには、その検査対象の印刷版２０３を良品であると判定する。
【００４０】
以上、汚れ欠陥検出処理についての説明を終え、次に、抜け欠陥検出処理について説明する。ステップＳ１２１において、検査処理部３の抜け欠陥処理部の（対象−基準）差分手段（図示せず）は、検査対象画像５２から検査基準画像５１を減算処理して（対象−基準）差分画像５４を生成する。この（対象−基準）差分画像５４において、本来は存在すべき画像が形成されていない欠陥である抜け欠陥と、図５では明示してないが、輪郭部分とが顕在化する。
【００４１】
ここで、上述の減算処理は、検査基準画像５１と検査対象画像５２と（基準−対象）差分画像５４の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、下記の数４によって定義される。
【数４】
0004844784.tif 000005
ただし、ａ；検査基準画像５１の画素値
ｂ；検査対象画像５２の画素値
【００４２】
次に、ステップＳ１２２において、抜け欠陥処理部の（対象差分−対象膨張）マスク手段（図示せず）は、（対象−基準）差分画像５４の検査対象エッジ膨張画像５８によるマスク処理によって（対象差分−対象膨張）マスク済み画像６０を生成する。この（対象差分−対象膨張）マスク済み画像６０において、（基準−対象）差分画像５４に存在していた輪郭部分は除かれる。一方、抜け欠陥は、輪郭部分から外れた汚れ欠陥も輪郭部分に存在する汚れ欠陥も、面積が小さくなるものの顕在化したまま残る。
【００４３】
ここで、上述のマスク処理は、（対象−基準）差分画像５４と検査対象エッジ膨張画像５８と（対象差分−対象膨張）マスク済み画像６０の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、下記の数５によって定義される。
【数５】
0004844784.tif 000006
ただし、ｄ；（対象−基準）差分画像５４の画素値
ｂｍ；検査対象エッジ膨張画像５８の画素値
【００４４】
次に、ステップＳ１２３において、抜け欠陥処理部の（対象差分−基準膨張）マスク手段（図示せず）は、（対象−基準）差分画像５４の検査基準エッジ膨張画像５７によるマスク処理によって（対象差分−基準膨張）マスク済み画像６２を生成する。この（対象差分−基準膨張）マスク済み画像６２において、輪郭部分から外れた抜け欠陥は、（対象−基準）差分画像５４で顕在化したときの面積に戻る。一方、輪郭部分に存在する抜け欠陥は除かれる。
【００４５】
ここで、上述のマスク処理は、（基準−対象）差分画像５４と検査基準エッジ膨張画像５７と（基準差分−基準膨張）マスク済み画像６２の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、下記の数６によって定義される。
【数６】
0004844784.tif 000007
ただし、ｄ；（基準−対象）差分画像５４の画素値
ａｍ；検査基準エッジ膨張画像５７の画素値
【００４６】
次に、ステップＳ１２４において、抜け欠陥処理部の抜け欠陥合成手段（図示せず）は、（対象差分−対象膨張）マスク済み画像６０と（対象差分−基準膨張）マスク済み画像６２の合成処理によって抜け欠陥画像６４を生成する。この抜け欠陥画像６４においては、（対象−基準）差分画像５４に存在していた輪郭部分は除かれる。一方、抜け欠陥は、輪郭部分から外れた抜け欠陥はそのままの面積で顕在化する。また、輪郭部分に存在する抜け欠陥は面積が小さくなるものの顕在化する。
【００４７】
ここで、上述の合成処理は、（対象差分−対象膨張）マスク済み画像６０と（対象差分−基準膨張）マスク済み画像６２と抜け欠陥画像６４の各々の画像における位置的に対応する画素の画素値についての演算処理であって、（対象差分−対象膨張）マスク済み画像６０の画素値と（対象差分−基準膨張）マスク済み画像６２の画素値において、大きい方の画素値を抜け欠陥画像６４の画素値とする演算処理（ｍａｘ演算処理）である。
【００４８】
次に、ステップＳ１２５において、抜け欠陥処理部の抜け欠陥２値化手段（図示せず）は、抜け欠陥画像６４を所定のしきい値により２値化処理して抜け欠陥２値化画像（図示せず）を生成する。
次に、ステップＳ１２６において、抜け欠陥処理部の抜け欠陥ラベリング手段（図示せず）は、抜け欠陥２値化画像をラベリング処理して抜け欠陥の各々を特定する符号を付けた抜け欠陥ラベリング画像（図示せず）を生成する。
【００４９】
次に、ステップＳ１２７において、抜け欠陥処理部の抜け欠陥面積判定手段（図示せず）は、抜け欠陥ラベリング画像における抜け欠陥の各々の面積を算出し、その面積を所定の面積しきい値と比較して面積判定処理を行なう。このステップＳ１２７において、所定の面積しきい値を超える面積の抜け欠陥が存在するときには、その検査対象の印刷版２０３を不良であると判定する。一方、このステップＳ１２７において、所定の面積しきい値を超える面積の抜け欠陥が存在しないときには、その検査対象の印刷版２０３を良品であると判定する。
【００５０】
制御部４は、上述の汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理における判定に基づいて、総合した判定として検査対象の印刷版２０３の良否判定結果を出力する。通常、いずれか一方の判定が不良であるときに、検査対象の印刷版２０３を不良とし、両方の判定が良品であるときに限って検査対象の印刷版２０３を良品とする。
【００５１】
【発明の効果】
以上のとおりであるから、本発明の請求項１に係る印刷版検査装置によれば、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する欠陥は勿論のこと、画像における輪郭部分に発生する欠陥について検出することができる印刷版検査装置が提供される。
また本発明の請求項２に係る印刷版検査装置によれば、データフォーマットに依存せず印刷版の欠陥検出を行なうことができる。
また本発明の請求項３に係る印刷版検査装置によれば、階調特性に依存せず印刷版の欠陥検出を行なうことができる。
また本発明の請求項４に係る印刷版検査装置によれば、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する汚れ欠陥については特に高い精度で検出することができ、また画像における輪郭部分に発生する汚れ欠陥についても検出することができる。
また本発明の請求項６に係る印刷版検査装置によれば、画像における輪郭部分から外れた部位に発生する抜け欠陥については特に高い精度で検出することができ、また画像における輪郭部分に発生する抜け欠陥についても検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】刷版工程と本発明の印刷版検査装置における情報処理の過程をブロック図として示す図である。
【図２】本発明の印刷版検査装置の動作の過程をフロー図として示す図である。
【図３】検査基準画像と検査対象画像の一例を絵図として示す図である。
【図４】汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理の過程をフロー図として示す図である。
【図５】汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理の過程で生成される画像を模式化して示す絵図（その１）である
【図６】汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理の過程で生成される画像を模式化して示す絵図（その２）である。
【図７】汚れ欠陥検出処理と抜け欠陥検出処理の過程で生成される画像を模式化して示す絵図（その３）である。
【符号の説明】
１  カメラ
２  画像入力部
３  検査処理部
４  制御部
５  ＨＤＤ（ハードディスク装置）
６  画像変換部
１１，１２  ＣＭＹＫ・印刷版解像度ＴＩＦＦデータ
１３，１４  ＣＭＹＫ・カメラ解像度ＴＩＦＦデータ
５１  検査基準画像
５２  検査対象画像
５３  （基準−対象）差分画像
５４  （対象−基準）差分画像
５５  検査基準エッジ画像
５６  検査対象エッジ画像
５７  検査基準エッジ膨張画像
５８  検査対象エッジ膨張画像
５９  （基準差分−対象膨張）マスク済み画像
６０  （対象差分−対象膨張）マスク済み画像
６１  （基準差分−基準膨張）マスク済み画像
６２  （対象差分−基準膨張）マスク済み画像
１０１  製版システム
１０２  ＲＩＰ（ラスタイメージプロセッサ）
１０３  プレートセッタ
１０４  現像機
２０１  ＰＳデータ
２０２  ＲＩＰデータ
２０３  プレート（印刷版）
【図１】
0004844784.tif 000008
【図２】
0004844784.tif 000009
【図３】
0004844784.tif 000010
【図４】
0004844784.tif 000011
【図５】
0004844784.tif 000012
【図６】
0004844784.tif 000013
【図７】
0004844784.tif 000014