(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベースバンドのデジタルの同相成分信号と直交成分信号とを出力するベースバンド信号発生部（１１）と、前記デジタルの同相成分信号と直交成分信号をアナログの同相成分信号と直交成分信号に変換するＤ／Ａ変換器（１２、１３）と、前記アナログの同相成分信号と直交成分信号とで直交変調された所定周波数帯の信号を出力する直交変調器（１４）とを有し、且つ、
前記ベースバンド信号発生部と前記Ｄ／Ａ変換器との間に、前記直交変調器のオフセット誤差および直交誤差を補償する誤差補償部（２２）が設けられたデジタル変調信号発生装置において、
前記誤差補償部は、
前記ベースバンド信号発生部が出力した同相成分信号と前記直交変調器の出力信号を直交復調して得られる同相成分信号の振幅比をＧｉ、前記ベースバンド信号発生部が出力した直交成分信号と前記直交変調器の出力信号を直交復調して得られる直交成分信号の振幅比をＧｑ、同相成分信号に対する前記直交変調器のキャリア信号の位相誤差をθｉ、該キャリア信号のリークレベルをＬｉ、直交成分信号に対する前記直交変調器のキャリア信号の位相誤差をθｑ、該キャリア信号のリークレベルをＬｑとし、
入力される同相成分信号Ｉと直交成分信号Ｑに対して、次式
Ｉ′＝｛（Ｉ−Ｌｉ）cos θｑ−（Ｑ−Ｌｑ）sin θｑ｝
／｛Ｇｉ・cos （θｑ−θｉ）｝
Ｑ′＝−｛（Ｉ−Ｌｉ）sin θｉ−（Ｑ−Ｌｑ）cos θｉ｝
／｛Ｇｑ・cos （θｑ−θｉ）｝
の演算を行うことにより、前記オフセット誤差、振幅誤差および位相誤差が補償された同相成分信号Ｉ′と直交成分信号Ｑ′を生成することを特徴とするデジタル変調信号発生装置。
【請求項２】
前記直交変調器の出力信号を受けて、デジタルのベースバンドの同相成分信号と直交成分信号を復調する復調部（３１）と、
前記復調部によって復調された同相成分信号と直交成分信号とをＩＱ直交座標上のシンボル点の座標情報として順次記憶し、該記憶した各シンボル点の座標情報から、前記オフセット誤差の補償に必要なリークレベルＬｉ、Ｌｑ、前記直交誤差の補償に必要な振幅比Ｇｉ、Ｇｑおよび位相誤差θｉ、θｑを求めて前記誤差補償部に設定する誤差検出部（３２）とを備えたことを特徴とする請求項１記載のデジタル変調信号発生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ベースバンド信号発生部から出力されたベースバンドのデジタルの同相成分信号と直交成分信号とを、それぞれＤ／Ａ変換器によりアナログの同相成分信号と直交成分信号に変換して直交変調器に入力し、アナログの同相成分信号と直交成分信号とで直交変調された所定周波数帯の信号を出力するデジタル変調信号発生装置において、特定の校正用のベースバンド信号を用いることなく高精度なデジタル変調信号を生成できるようにするための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタル無線通信機器等を試験するための信号源として、従来から直交変調器を用いたデジタル変調信号発生装置が使用されている。
【０００３】
図７は、デジタル変調信号発生装置１０の基本構成を示すものであり、ベースバンド信号発生部１１から出力されたベースバンドのデジタルの同相成分信号Ｉ（ｋ）と直交成分信号Ｑ（ｋ）とを、それぞれＤ／Ａ変換器１２、１３によりアナログの同相成分信号Ｉ（ｔ）と直交成分信号Ｑ（ｔ）に変換して直交変調器１４に入力し、同相成分信号Ｉ（ｔ）と直交成分信号Ｑ（ｔ）とで直交変調された所定周波数帯の信号ｍを生成出力している。
【０００４】
ここで、アナログ型の直交変調器１４は、キャリア信号発生器１４ａから出力された所定周波数ｆｃのキャリア信号Ｃを移相器１４ｂに入力して、９０度の位相差をもつキャリア信号Ｃａ、Ｃｂを生成し、一方のキャリア信号Ｃａを第１ミキサ１４ｃに入力し、他方のキャリア信号Ｃｂを第２ミキサ１４ｄに入力する。
【０００５】
同相成分信号Ｉ（ｔ）は第１ミキサ１４ｃによりキャリア信号Ｃａと混合され、直交成分信号Ｑ（ｔ）は第２ミキサ１４ｄによりキャリア信号Ｃｂと混合され、両混合成分が合成器１４ｅによって合成されてデジタル変調出力信号ｍが生成される。
【０００６】
ここで、
Ｃａ＝cos ωｔ，Ｃｂ＝sin ωｔ    （ω＝２πｆｃ）
とすると、変調出力信号ｍは、
ｍ（ｔ）＝Ｉ(t)・cos ωｔ−Ｑ(t)・sin ωｔ
と表すことができる。
【０００７】
また、例えばベースバンド信号の周波数をｆｂとし、
Ｉ(t)＝cos ω’ｔ，Ｑ(t)＝sin ω’ｔ    （ω＝２πｆｂ）
とすれば、変調出力信号ｍは、
ｍ（ｔ）＝cos ω’ｔ・cos ωｔ−sin ω’ｔ・sin ωｔ
＝cos (ω+ω’)ｔ
となり、周波数（ｆｃ＋ｆｂ）の正弦波信号となる。
【０００８】
上記したデジタル変調信号発生装置１０の基本構成は、例えば特許文献１に記載されている。
【０００９】
【特許文献１】特開２００１−１３６２１６号公報
【００１０】
上記構成のデジタル変調信号発生装置では、主に直交変調器１４の直交誤差、キャリアリークの影響により、変調出力信号ｍの品質が大きく低下することが知られている。
【００１１】
即ち、キャリア信号Ｃａ、Ｃｂの位相差が９０度に対して誤差をもつか、あるいはキャリア信号Ｃａ、Ｃｂ間に振幅差があると、変調出力信号ｍの変調精度、例えば、ＥＶＭ（Ｅｒｒｏｒ  Ｖｅｃｔｏｒ  Ｍａｇｎｉｔｕｄｅ）等が悪くなる。
【００１２】
さらに、直交変調器１４のミキサ１４ｃ、１４ｄに直流オフセットがあると、キャリア信号Ｃａ、Ｃｂが出力側に漏れ、変調出力信号ｍに周波数ｆｃのキャリア成分が大きなレベルで発生してしまう。
【００１３】
この直交変調器１４のオフセット誤差や直交誤差による変調出力信号ｍの品質低下を防ぐための補償技術が種々検討されている。
【００１４】
例えば、特許文献２には、直交変調器に入力されるアナログの同相成分信号と直交成分信号に対して直流電圧を加算して、直交変調器のオフセット誤差を補償する技術が開示されている。
【００１５】
【特許文献２】特開２００３−２４９８２２号公報
【００１６】
また、直交変調器の直交誤差を補償する場合には、例えば前記したように変調出力信号が単一周波数の正弦波となるようなベースバンド信号を校正用信号として用い、直交誤差によって変調出力信号に含まれるイメージ成分をスペクトラムアナライザにより観測し、このイメージ成分のレベルが最小となるように直交変調器１４に入力される同相成分信号Ｉと直交成分信号Ｑの振幅と位相の調整をしている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかしながら、上記のように校正用の信号を用いて変調出力信号のスペクトラムを測定してイメージ成分が最小となるように振幅、位相を補償する方法では、操作者の熟練を要し、補償精度にバラツキが生じるという問題があった。
【００１８】
また、補償のためのパラメータを調整あるいは再調整する間は、校正用のベースバンド信号しか出力できず、調整が完了するまで実際の試験を行うことができないという問題があった。
【００１９】
本発明は、この問題を解決し、オフセット誤差および直交誤差の補償精度を高く且つ安定に維持でき、任意のパターンのベースバンド信号を出力している際に補償用のパラメータを更新することができるデジタル変調信号発生装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
前記目的を達成するために、本発明の請求項１のデジタル変調信号発生装置は、
ベースバンドのデジタルの同相成分信号と直交成分信号とを出力するベースバンド信号発生部（１１）と、前記デジタルの同相成分信号と直交成分信号をアナログの同相成分信号と直交成分信号に変換するＤ／Ａ変換器（１２、１３）と、前記アナログの同相成分信号と直交成分信号とで直交変調された所定周波数帯の信号を出力する直交変調器（１４）とを有し、且つ、
前記ベースバンド信号発生部と前記Ｄ／Ａ変換器との間に、前記直交変調器のオフセット誤差および直交誤差を補償する誤差補償部（２２）が設けられたデジタル変調信号発生装置において、
前記誤差補償部は、
前記ベースバンド信号発生部が出力した同相成分信号と前記直交変調器の出力信号を直交復調して得られる同相成分信号の振幅比をＧｉ、前記ベースバンド信号発生部が出力した直交成分信号と前記直交変調器の出力信号を直交復調して得られる直交成分信号の振幅比をＧｑ、同相成分信号に対する前記直交変調器のキャリア信号の位相誤差をθｉ、該キャリア信号のリークレベルをＬｉ、直交成分信号に対する前記直交変調器のキャリア信号の位相誤差をθｑ、該キャリア信号のリークレベルをＬｑとし、
入力される同相成分信号Ｉと直交成分信号Ｑに対して、次式
Ｉ′＝｛（Ｉ−Ｌｉ）cos θｑ−（Ｑ−Ｌｑ）sin θｑ｝
／｛Ｇｉ・cos （θｑ−θｉ）｝
Ｑ′＝−｛（Ｉ−Ｌｉ）sin θｉ−（Ｑ−Ｌｑ）cos θｉ｝
／｛Ｇｑ・cos （θｑ−θｉ）｝
の演算を行うことにより、前記オフセット誤差、振幅誤差および位相誤差が補償された同相成分信号Ｉ′と直交成分信号Ｑ′を生成することを特徴としている。
【００２１】
また、本発明の請求項２のデジタル変調信号発生装置は、請求項１記載のデジタル変調信号発生装置において、
前記直交変調器の出力信号を受けて、デジタルのベースバンドの同相成分信号と直交成分信号を復調する復調部（３１）と、
前記復調部によって復調された同相成分信号と直交成分信号とをＩＱ直交座標上のシンボル点の座標情報として順次記憶し、該記憶した各シンボル点の座標情報から、前記オフセット誤差の補償に必要なリークレベル、前記直交誤差の補償に必要な振幅比Ｇｉ、Ｇｑおよび位相誤差θｉ、θｑを求めて前記誤差補償部に設定する誤差検出部（３２）とを備えたことを特徴としている。
【発明の効果】
【００２２】
このように本発明のデジタル変調信号発生装置は、誤差補償部が、
入力される同相成分信号Ｉと直交成分信号Ｑに対して、次式
Ｉ′＝｛（Ｉ−Ｌｉ）cos θｑ−（Ｑ−Ｌｑ）sin θｑ｝
／｛Ｇｉ・cos （θｑ−θｉ）｝
Ｑ′＝−｛（Ｉ−Ｌｉ）sin θｉ−（Ｑ−Ｌｑ）cos θｉ｝
／｛Ｇｑ・cos （θｑ−θｉ）｝
の演算を行うことにより、オフセット誤差、振幅誤差および位相誤差が補償された同相成分信号Ｉ′と直交成分信号Ｑ′を生成しているので、既知の各パラメータを用いて各誤差が補償された成分信号を得ることができ、人手による補償精度のバラツキをなくすことができる。
【００２３】
また、復調部と、復調部によって復調された同相成分信号と直交成分信号とをＩＱ直交座標上のシンボル点の座標情報として順次記憶し、該記憶した各シンボル点の座標情報から、前記オフセット誤差の補償に必要なリークレベルＬｉ、Ｌｑ、前記直交誤差の補償に必要な振幅比Ｇｉ、Ｇｑおよび位相誤差θｉ、θｑを求めて前記誤差補償部に設定する誤差検出部とを備えたデジタル変調信号発生装置では、各補償に必要なパラメータを特定の校正用信号を用いることなく、任意パターンのベースバンド信号を出力している間に得ることができ、高い変調品質を維持できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用したデジタル変調信号発生装置２０の構成を示している。
【００２５】
図１に示しているように、このデジタル変調信号発生装置２０は、前記したデジタル変調信号発生装置１０の基本構成をなすベースバンド信号発生部１１、Ｄ／Ａ変換器１２、１３および直交変調器１４を有している。
【００２６】
また、ベースバンド信号発生部１１とＤ／Ａ変換器１２、１３の間には、誤差補償部２２が設けられている。
【００２７】
また、直交変調器１４の出力側には、変調出力信号ｍを出力端子２０ａと復調部３１とに分配する信号分配器２６が設けられている。
【００２８】
復調部３１は、変調出力信号ｍをＡ／Ｄ変換器３１ａによりデジタル信号Ｍに変換し、直交復調器３１ｂによりベースバンドの同相成分信号Ｉｒと直交成分信号Ｑｒを復調して、後述の誤差検出部３２に出力する。
【００２９】
次に、この実施形態の補償原理について説明する。
図２の（ａ）は、デジタル変調信号発生装置の基本構成の誤差モデルである。
【００３０】
図２の（ａ）において、ゲイン誤差回路１０３、１０４は、ベースバンド信号発生部１１から直交変調器１４までの各成分信号に対するゲインＧｉ、Ｇｑ（理想値は１）を示し、ゲインＧｉは、ベースバンド信号発生部１１が出力した同相成分信号と直交変調器１４の出力信号を直交復調して得られる同相成分信号の振幅比に相当し、ゲインＧｑは、ベースバンド信号発生部１１が出力した直交成分信号と直交変調器１４の出力信号を直交復調して得られる直交成分信号の振幅比に相当している。
【００３１】
ベースバンド信号発生部１１からデジタル値で出力されたベースバンドの理想的な各成分信号Ｉ、Ｑが、ゲイン誤差回路１０３、１０４を経て、直交変調器１４のミキサ１４ｃ、１４ｄに入力される（Ｄ／Ａ変換器１２、１３は省略し、各成分信号Ｉ、Ｑはデジタル、アナログの区別なく説明する）。
【００３２】
また、移相器１４ｂからミキサ１４ｃに入力されるキャリア信号Ｃａにθｉの位相誤差があり、ミキサ１４ｄに入力されるキャリア信号Ｃｂにθｑの位相誤差があるものとし、さらに、直交変調器１４自体の直流オフセットの影響により発生するキャリア信号Ｃａのミキサ１４ｃ側へのリークレベルをＬｉ、キャリア信号Ｃｂのミキサ１４ｄ側へのリークレベルをＬｑとしている。ただし、各リークレベルＬｉ、Ｌｑは直交変調器１４の入力換算値である。
【００３３】
この誤差モデルにおいて、図２の（ｂ）に示しているように、ゲインＧｉ、Ｇｑの逆数のゲイン１／Ｇｉ，１／Ｇｑをもつ回路１０７、１０８をベースバンド信号発生部１１から直交変調器１４（あるいはＤ／Ａ変換器１２、１３）の間に挿入することで、各成分信号Ｉ、Ｑに対するゲインはともに１に補償される。
【００３４】
上記ゲイン誤差の補償を行うことで、変調出力信号ｍは次のようなる。
【００３５】
ｍ（ｔ）＝Ｇｉ・（１／Ｇｉ）・Ｉ・cos （ωｔ＋θｉ）
−Ｇｑ・（１／Ｇｑ）・Ｑ・sin （ωｔ＋θｑ）
＋（Ｌｉ）cos （ωｔ＋θｉ）
−（Ｌｑ）sin （ωｔ＋θｑ）
＝（Ｉ＋Ｌｉ）cos （ωｔ＋θｉ）
−（Ｑ＋Ｌｑ）sin （ωｔ＋θｑ）
………（４）
【００３６】
さらに、図２の（ｃ）のように、オフセット誤差によるリーク分を抑制するために各成分信号Ｉ、ＱからＬｉ、Ｌｑをそれぞれ減算する回路１０９、１１０を挿入すると、変調出力信号ｍは次のように表される。
【００３７】
ｍ（ｔ）＝（Ｉ−Ｌｉ＋Ｌｉ）cos （ωｔ＋θｉ）
−（Ｑ−Ｌｑ＋Ｌｑ）sin （ωｔ＋θｑ）
＝Ｉ・cos （ωｔ＋θｉ）−Ｑ・sin （ωｔ＋θｑ）
………（５）
【００３８】
上記式（５）は、ゲイン誤差およびオフセット誤差が補償された状態の変調出力を示しており、さらにこの式を分解すると、次式（６）が得られる。
【００３９】
ｍ（ｔ）＝Ｉ｛cos ωｔ・cos θｉ−sin ωｔ・sin θｉ｝
−Ｑ｛sin ωｔ・cos θｑ＋cos ωｔ・sin θｑ｝
＝｛Ｉ・cos θｉ−Ｑ・sin θｑ｝cos ωｔ
−｛Ｉ・sin θｉ＋Ｑ・cos θｑ｝sin ωｔ
＝Ｉａ・cos ωｔ−Ｑａ・sin ωｔ
ただし、
Ｉａ＝Ｉ・cos θｉ−Ｑ・sin θｑ
Ｑａ＝Ｉ・sin θｉ＋Ｑ・cos θｑ
…………（６）
【００４０】
上記式（６）で、変調出力信号ｍのＩａ、Ｑａがそれぞれ元の各成分信号Ｉ、Ｑと等しくなれば、位相誤差が補償されたことになる。
【００４１】
ここで、位相誤差が正しく補償されて直交変調器１４に入力されるベースバンド信号をＩａ′、Ｉｑ′とすると、次の式が成り立つ。
【００４２】
Ｉａ＝Ｉ＝Ｉａ′・cos θｉ−Ｑａ′・sin θｑ
Ｑａ＝Ｑ＝Ｉａ′・sin θｉ＋Ｑａ′・cos θｑ
…………（７）
【００４３】
上記式（７）を、位相補償出力Ｉａ′、Ｑａ′について解くと、次の結果が得られる（途中式省略）。
【００４４】
Ｉａ′＝（Ｉ・cos θｑ−Ｑ・sin θｑ）／cos（θｑ−θｉ）
Ｑａ′＝−（Ｉ・sin θｉ−Ｑ・cos θｉ）／cos（θｑ−θｉ）
…………（８）
【００４５】
したがって、図２の（ｄ）のように、演算回路１１１、１１２により入力成分信号Ｉ、Ｑに対して上記式（８）の演算処理をそれぞれ行って直交変調器１４に入力すれば、その変調出力信号ｍは、
ｍ（ｔ）＝Ｉ・cos ωｔ−Ｑ・sin ωｔ
と理想状態にすることができる。
【００４６】
図１に示している実施形態では、誤差補償部２２が、ベースバンド信号発生部１１から出力された各成分信号Ｉ、Ｑに対して、図２の回路１０９、１１０の減算処理と、回路１０７、１０８、１０９、１１０の演算処理とを含めて、次の演算処理を行い、変調出力信号ｍ（ｔ）に含まれるキャリアリークおよびイメージ成分を抑圧する。
【００４７】
Ｉ１＝｛（Ｉ−Ｌｉ）cos θｑ−（Ｑ−Ｌｑ）sin θｑ｝
／｛Ｇｉ・cos（θｑ−θｉ）｝
Ｑ１＝−｛（Ｉ−Ｌｉ）sin θｉ−（Ｑ−Ｌｑ）cos θｉ｝
／｛Ｇｑ・cos（θｑ−θｉ）｝
…………（９）
【００４８】
この式（９）の補償演算処理により、オフセット誤差および直交誤差による品質劣化がない高精度な変調出力信号を得ることができる。
【００４９】
上記した各補償処理を正しく行うために必要なパラメータであるゲイン（振幅比）Ｇｉ、Ｇｑ、リークレベルＬｉ、Ｌｑ、位相誤差θｉ、θｑは、前記した復調部３１および誤差検出部３２によって得られる。
【００５０】
誤差検出部３２は、復調部３１によって復調された各成分信号Ｉｒ、ＱｒをＩＱ直交座標上のシンボル点の座標情報として順次記憶し、その記憶した各シンボル点の座標情報から、オフセット誤差の補償に必要なリークレベルＬｉ、Ｌｑ、直交誤差の補償に必要なゲインＧｉ、Ｇｑおよび位相誤差θｉ、θｑを求める。
【００５１】
例えば、変調方式がＱＰＳＫでＩ、Ｑの絶対値が１の場合で説明すると、理想的なデジタル変調信号を復調して得られる理想シンボル点は、図３の（ａ）に示すように、ＩＱ直交座標の座標原点を重心とする正方形の頂点Ｓａ（１，１）、Ｓｂ（−１，１）、Ｓｃ（−１，−１）、Ｓｄ（１，−１）のいずれかであり、時間経過に伴い各シンボル点Ｓａ〜Ｓｄの間を移動することになる。
【００５２】
ここで、前記各誤差のうち、オフセット誤差のみがあり、他の誤差が無いと仮定した場合、復調された各シンボル点には、リークレベルＬｉ、Ｌｑが加わるため、図３の（ｂ）のように、各理想シンボル点Ｓａ〜Ｓｄにそれぞれ対応した受信シンボル点Ｓａ１〜Ｓｄ１は、Ｉ軸方向にＬｉ、Ｑ軸方向にＬｑ分移動することになる。
【００５３】
また、前記各誤差のうち、例えばゲインＧｉ＞１、Ｇｑ＜１の誤差があり、他の誤差が無いと仮定した場合、復調された各シンボル点のＩ座標、Ｑ座標はそれぞれＧｉ倍、Ｇｑ倍となるので、図３の（ｃ）のように、各理想シンボル点Ｓａ〜Ｓｄにそれぞれ対応した受信シンボル点Ｓａ２〜Ｓｄ２のＩ座標の絶対値が１より大きくなり、受信シンボル点Ｓａ２〜Ｓｄ２のＱ座標の絶対値は１より小さくなり、４点を結んで形成される４角形は横長の長方形となる。
【００５４】
また、前記各誤差のうち、例えば位相誤差θｉのみがあり、他の誤差が無いと仮定した場合、前記式（６）から、復調された各シンボル点Ｓａ３〜Ｓｄ３のＩ座標、Ｑ座標は、
Ｉａ＝Ｉ・cos θｉ
Ｑａ＝Ｉ・sin θｉ＋Ｑ
で表される。
【００５５】
ここで、Ｉ、Ｑの絶対値を１とすれば、受信シンボル点Ｓａ３の座標は（cos θｉ，sin
θｉ＋１）、受信シンボル点Ｓｂ３の座標は（−cos θｉ，−sin θｉ＋１）となり、２つの点Ｓａ３、Ｓｂ３を結ぶ線分のＩ軸に対する傾きｋは、
ｋ＝（sin θｉ＋１＋sin θｉ−１）／（cos θｉ＋cos θｉ）
＝sin θｉ／cos θｉ＝tan θｉ
となる。また、受信シンボル点Ｓｃ３、Ｓｄ３を結ぶ線分のＩ軸に対する傾きも同一結果となる。
【００５６】
つまり、図３の（ｄ）のように、受信シンボル点Ｓａ３、Ｓｂ３を結ぶ線分および受信シンボル点Ｓｃ３、Ｓｄ３を結ぶ線分は、Ｉ軸に対して位相誤差θｉだけ傾いている。
【００５７】
なお、このとき、受信シンボル点Ｓａ３、Ｓｄ３のＩ座標はともにcos θｉで等しく、受信シンボル点Ｓｂ３、Ｓｃ３のＩ座標はともに−cos
θｉで等しい。
【００５８】
また、前記各誤差のうち、例えば位相誤差θｑのみがあり、他の誤差が無いと仮定した場合、前記式（６）から、復調された各シンボル点Ｓａ４〜Ｓｄ４のＩ座標、Ｑ座標は、
Ｉａ＝Ｉ−Ｑ・sin θｑ
Ｑａ＝Ｑ・cos θｑ
で表される。
【００５９】
ここで、Ｉ、Ｑの絶対値を１とすれば、受信シンボル点Ｓａ４の座標は（１−sin θｑ，cos
θｑ）、受信シンボル点Ｓｄ４の座標は（１＋sin θｑ，−cos θｑ）となり、２つの点Ｓａ４、Ｓｄ４を結ぶ線分のＱ軸に対する傾きｋは、
ｋ＝（１＋sin θｑ−１＋sin θｑ）／（cos θｑ＋cos θｑ）
＝sin θｑ／cos θｑ＝tan θｉ
となる。また、受信シンボル点Ｓｂ４、Ｓｃ４を結ぶ線分のＱ軸に対する傾きも同一結果となる。
【００６０】
つまり、図３の（ｅ）のように、受信シンボル点Ｓａ４、Ｓｄ４を結ぶ線分および受信シンボル点Ｓｂ４、Ｓｃ４を結ぶ線分は、Ｑ軸に対して位相誤差θｑだけ傾いている。
【００６１】
なお、このとき、受信シンボル点Ｓａ４、Ｓｂ４のＱ座標はともにcos θｑで等しく、受信シンボル点Ｓｃ４、Ｓｄ４のＱ座標はともに−cos
θｑで等しい。
【００６２】
したがって、上記した全ての誤差が含まれている場合に得られる受信シンボル点Ｓａ′〜Ｓｄ′を順番に結んで得られる理論上の図形は、図４に示すような平行四辺形となり、その対角線の交点である重心の座標がリークレベルＬｉ、Ｌｑに相当し、受信シンボル点Ｓａ′、Ｓｂ′（あるいはＳｃ′、Ｓｄ′）を結ぶ線分の長さの１／２がゲインＧｉに相当し、その線分のＩ軸に対する角度が位相誤差θｉに相当し、受信シンボル点Ｓａ′、Ｓｄ′（あるいはＳｂ′、Ｓｃ′）を結ぶ線分の長さの１／２がゲインＧｑに相当し、その線分のＱ軸に対する角度が位相誤差θｑに相当する。
【００６３】
ただし、実際に復調されたベースバンド信号に対して得られる受信シンボル点Ｓａ′〜Ｓｄ′の位置にはノイズの影響等でバラツキが生じるので、誤差検出部３２は、復調部３１によって復調された各成分信号Ｉｒ、ＱｒをＩＱ直交座標上のシンボル点の座標情報として順次記憶し、４つの理想シンボル点Ｓａ〜Ｓｄにそれぞれ対応した受信シンボル点の平均化を行い、その平均化で得られた４つのシンボル点Ｓａ″〜Ｓｄ″の座標情報について、上記した各演算を行うことで、オフセット誤差の補償に必要なリークレベルＬｉ、Ｌｑ、直交誤差の補償に必要なゲインＧｉ、Ｇｑおよび位相誤差θｉ、θｑを求め、これらの補償パラメータを誤差補償部２２に設定している。
【００６４】
次に、この実施形態のデジタル変調信号発生装置２０の動作について説明する。
始めに、誤差補償部２２の補償動作を停止させた状態、即ち、前記した誤差モデルの状態で装置を作動させ、直交変調器１４から出力された変調出力信号ｍ（ｔ）に対する復調処理を復調部３１で行い、復調部３１で得られたベースバンド信号Ｉｒ、Ｑｒを誤差検出部３２に入力して、その同相成分信号Ｉｒと直交成分信号Ｑｒとで決まる受信シンボル点の座標を記憶し、平均化処理して、図５のように、平行四辺形の頂点を形成する４つのシンボル点Ｓａ″〜Ｓｄ″を求める。
【００６５】
そして、この平行四辺形の重心Ｇの座標を、オフセット誤差の補償に必要なリークレベルＬｉ、Ｌｑとし、誤差補償部２２に設定する。
【００６６】
また、誤差検出部３２は、シンボル点Ｓａ″、Ｓｂ″間（あるいはＳｃ″、Ｓｄ″間）の長さの１／２と、シンボル点Ｓａ″、Ｓｄ″間（あるいはＳｂ″、Ｓｃ″間）の長さの１／２を、それぞれゲインＧｉ、Ｇｑとして求め、さらに、シンボル点Ｓａ″、Ｓｂ″（あるいはＳｃ″、Ｓｄ″）を結ぶ線分のＩ軸に対する傾き角θｉと、シンボル点Ｓａ″、Ｓｄ″（あるいはＳｂ″、Ｓｃ″）を結ぶ線分のＱ軸に対する傾き角θｑとを位相誤差として求め、ゲインＧｉ、Ｇｑとともに誤差補償部２２に設定する。
【００６７】
上記各パラメータの設定により、オフセット誤差および直交誤差が補償されて直交変調器１４の出力信号に含まれていたキャリアリークおよびイメージ成分が抑圧され、これを復調したときに得られる各受信シンボル点は、図５に示しているようにそれぞれ対応する理想シンボル点Ｓａ〜Ｓｄに重なるように修正され、その結果、高精度なデジタル変調信号が得られる。
【００６８】
なお、上記のように補償用のパラメータを求めて設定する動作を、１回だけでなく、複数回繰り返すことで、より理想状態に近づけることができる。
【００６９】
このように実施形態のデジタル変調信号発生装置２０は、校正用の特定の信号を必要とせず、任意のパターンのベースバンド信号を出力している間に、オフセット誤差および直交誤差の補償に必要なパラメータを取得して設定することができ、従来のようにスペクトラム波形を観測しながらパラメータを調整するという煩雑で熟練を要する作業が不要となる。
【００７０】
また、測定中の任意のタイミングに新たなパラメータを取得して設定することができ、温度等の環境変化による品質劣化を防ぐことができ、高い変調品質を維持することができる。
【００７１】
上記実施形態では、復調部３１および誤差検出部３２が装置内部に設けられていたが、図６に示すデジタル変調信号発生装置２０′のように、復調部３１および誤差検出部３２を装置内に設けず、工場出荷時等に復調処理および誤差検出処理によって得られた補償用のパラメータを、装置内のパラメータ記憶部３５に記憶設定する構成であってもよい。
【００７２】
また、前記実施形態では、誤差検出の処理として変調方式ＱＰＳＫの場合について説明したが、１６ＱＡＭ、６４ＱＡＭ等の他の変調方式の場合でも本発明を適用できる。
【００７３】
即ち、前記したＱＰＳＫも含めて一般形で言えば、オフセット誤差の補償に必要なリークレベルを検出する場合には、変調方式で決まる理想シンボル点のうち、座標原点を重心とする正ｎ角形（ｎは４以上）の各頂点に位置する理想シンボル点を選択し、その選択した理想シンボル点にそれぞれ対応する受信シンボル点（またはその平均化で得られる点）を結んで形成されるｎ角形の重心のＩ座標とＱ座標をリークレベルＬｉ、Ｌｑとして求める。
【００７４】
また、変調方式によって決まる全ての理想シンボル点にそれぞれ対応する各受信シンボル点（またはその平均化で得られる点）のＩ座標の総和を求めてこれをリークレベルＬｉ、Ｑ座標の総和を求めてこれをリークレベルＬｑとしてもよい。
【００７５】
また、振幅を求める場合には、変調方式で決まる理想シンボル点のうち、座標原点を重心とする正方形の頂点に位置する理想シンボル点を選択し、その選択した理想シンボル点にそれぞれ対応する受信シンボル点（またはその平均化で得られた点）を結んで形成される四角形の辺の長さを求め、その辺の長さに基づいて振幅を求めればよい。
【００７６】
さらに、位相誤差を求める場合、変調方式で決まる理想シンボル点のうち、Ｑ座標が等しい２つの理想シンボル点にそれぞれ対応する２つの受信点間を結ぶ線分のＩ軸に対する傾きを位相誤差θｉとして求め、Ｉ座標が等しい２つの理想シンボル点にそれぞれ対応する２つの受信シンボル点間を結ぶ線分のＱ軸に対する傾きを位相誤差θｑとして求めればよい。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本発明の実施形態の構成図
【図２】実施形態の誤差モデルと補償との関係を示す図
【図３】誤差とシンボル点が描く図形との関係を示す図
【図４】オフセット誤差と直交誤差を有する信号を復調したときに得られるシンボル点が描く図形を示す図
【図５】受信シンボル点の平均化により得られた図形と補償によるシンボル点の変化を示す図
【図６】他の実施形態の構成を示す図
【図７】従来装置の構成図
【符号の説明】
【００７８】
１１……ベースバンド信号発生部、２０、２０′……デジタル変調信号発生装置、２２……誤差補償部、１２、１３……Ｄ／Ａ変換器、１４……直交変調器、３１……復調部、３２……誤差検出部、３５……パラメータ記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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