(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
接続部で接続され、前記接続部を有する配線部をそれぞれ備えた第１及び第２の被測定物における前記配線部間の電気抵抗を測定する際に使用される検査治具であって、間隔をおいて互いに対向した接近及び離間が可能な対のレバーと、前記対のレバーの非対向位置にそれぞれ保持された第１及び第２の接触子と、前記対のレバーを互いに接近する向きに付勢し、前記第１及び第２の接触子を前記第１及び第２の被測定物の配線部にそれぞれ接触させる付勢手段とを含み、前記第１の接触子は、前記第１の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第２の接触子は、前記第２の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第１及び第２の接触子の各々は前記レバーを貫通し、前記電気抵抗を測定する測定器に接続されることを特徴とする検査治具。
【請求項２】
前記対のレバーを互いに回動可能に繋いだ軸をさらに含み、前記付勢手段は、前記対のレバー間に作用するバネを有する、請求項１に記載の検査治具。
【請求項３】
前記対のレバーの各々は、前記軸から見た一側の作用部と、前記軸から見た他側の操作部とを含み、前記第１及び第２の接触子の各々は前記作用部に保持されており、前記バネは前記操作部に作用している、請求項２に記載の検査治具。
【請求項４】
前記対のレバーを互いに接近及び離間可能に結合させた結合部をさらに含み、前記レバー及び前記結合部は弾力性を有する一体部材として形成され、前記付勢手段は、前記一体部材の弾力性を利用している、請求項１に記載の検査治具。
【請求項５】
接続部で接続され、前記接続部を有する配線部をそれぞれ備えた第１及び第２の被測定物における前記配線部間の電気抵抗を測定する際に使用される検査治具であって、間隔をおいて互いに対向した接近及び離間が可能な対のレバーと、前記対のレバーの非対向位置にそれぞれ保持された第１及び第２の接触子と、前記対のレバーを互いに接近する向きに付勢し、前記第１及び第２の接触子を前記第１及び第２の被測定物の配線部にそれぞれ接触させる付勢手段とを含み、前記第１の接触子は、前記第１の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第２の接触子は、前記第２の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第１及び第２の接触子のうち少なくとも一方の接触子は、前記レバーを貫通した棒状のものであり、かつ、前記レバーに対し軸心方向に可動に保持されていることを特徴とする検査治具。
【請求項６】
前記少なくとも一方の接触部は、前記対のレバーの対応したものに螺合したネジを有する、請求項５に記載の検査治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被測定物の電気抵抗を測定する際に使用するための検査治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１は、被測定物に備えた二つの電極間の絶縁診断を行う機能を有する電気機器を開示している。その電気機器は二つのボルトを備え、これらのボルトを被測定物の二つの電極にそれぞれ接触させ、電極間の絶縁診断を行う。
【０００３】
特許文献２は、集積回路のリード端子に測定装置などを接続するのに用いられるＩＣクリップを開示している。このＩＣクリップは、回動可能な対のレバーの端部に互いに対向するピンをそれぞれ備え、ピンを互いに接近させるようにレバーをバネで付勢している。こうして、バネによりピンを集積回路のリード端子に押し付けることで電気的な接続を得る。
【０００４】
特許文献３は、ＩＣ試験用工具として使用されるＩＣクリップを開示している。このＩＣクリップは、回動可能な対のレバーとして働く二つの接触子の先端部を互いに対向するように内側に曲げ、その先端部を集積回路のリード端子に接触させやすくしている。
【０００５】
特許文献４は、スポット溶接に使用する溶接ガンを開示している。この溶接ガンは、互いに対向する対の電極チップを備えている。対の電極チップの間にワークを配し、そのワークに対の電極チップを接触させて通電することにより、溶接を行う。
【０００６】
【特許文献１】特開平８−３０４４８５号公報
【特許文献２】実開平５−４１０６７号公報
【特許文献３】実開平５−６３７１号公報
【特許文献４】特開平２００１−３２１９６０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、特許文献１から４に開示された技術では、導体を持つ２つの接続部位の電気抵抗を測定するのに適した検査治具を提供できない。なぜならば、それらの技術では、この種の検査治具に求められる以下の課題を解決できないからである。
【０００８】
課題の１つは、電気抵抗を測定するための測定器のプローブが接触できる部位では、導体を持つ２つの接続部位の接触抵抗だけを測定することができないことにある。その理由は、測定器のプローブが接触できる部位は、２つの導体の接続部位から更に配線部を経た次の接続部位となることにある。
【０００９】
課題のもう１つは、導体を持つ２つの接続部位の接触抵抗だけを測定するには接続部位に近い箇所に、別途、プローブを固定した状態で接触させ続ける端子を設けるなどの手間や費用が必要となることにある。その理由は、測定器のプローブはピンのような接触するだけの形状や、たとえクリップ式の形状であっても、被測定物の外形から接続部位までの距離が遠く届かないことにある。
【００１０】
それ故に本発明の課題は、上記課題を解決する検査治具を提供することにある。
【００１１】
本発明の他の課題は、被接続物の配線部分の導体抵抗値を極力少なくした状態での接続抵抗の測定を容易に可能とする検査治具を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の一態様によれば、接続部で接続され、前記接続部を有する配線部をそれぞれ備えた第１及び第２の被測定物における前記配線部間の電気抵抗を測定する際に使用される検査治具であって、間隔をおいて互いに対向した接近及び離間が可能な対のレバーと、前記レバーの非対向位置にそれぞれ保持された第１及び第２の接触子と、前記対のレバーを互いに接近する向きに付勢し、前記第１及び第２の接触子を前記第１及び第２の被測定物の配線部にそれぞれ接触させる付勢手段とを含み、前記第１の接触子は、前記第１の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第２の接触子は、前記第２の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第１及び第２の接触子の各々は前記レバーを貫通し、前記電気抵抗を測定する測定器に接続されることを特徴とする検査治具が得られる。
【００１４】
前記対のレバーを互いに回動可能に繋いだ軸をさらに含み、前記付勢手段は、前記対のレバー間に作用するバネを有してもよい。
【００１５】
前記対のレバーの各々は、前記軸から見た一側の作用部と、前記軸から見た他側の操作部とを含み、前記第１及び第２の接触子の各々は前記作用部に保持されており、前記バネは前記操作部に作用していてもよい。
【００１６】
前記対のレバーを互いに接近及び離間可能に結合させた結合部をさらに含み、前記レバー及び前記結合部は弾力性を有する一体部材として形成され、前記付勢手段は、前記一体部材の弾力性を利用してもよい。
【００１７】
本発明の他の態様によれば、接続部で接続され、前記接続部を有する配線部をそれぞれ備えた第１及び第２の被測定物における前記配線部間の電気抵抗を測定する際に使用される検査治具であって、間隔をおいて互いに対向した接近及び離間が可能な対のレバーと、前記対のレバーの非対向位置にそれぞれ保持された第１及び第２の接触子と、前記対のレバーを互いに接近する向きに付勢し、前記第１及び第２の接触子を前記第１及び第２の被測定物の配線部にそれぞれ接触させる付勢手段とを含み、前記第１の接触子は、前記第１の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第２の接触子は、前記第２の被測定物の接続部に近い配線部に接触するように設けられ、前記第１及び第２の接触子のうち少なくとも一方の接触子は、前記レバーを貫通した棒状のものであり、かつ、前記レバーに対し軸心方向に可動に保持されていることを特徴とする検査治具が得られる。
【００１８】
前記少なくとも一方の接触部は、前記対のレバーの対応したものに螺合したネジを有してもよい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の一態様による検査治具は、被接続物の配線部分の導体抵抗値を極力少なくした状態での接続抵抗の測定を容易に可能とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
図１を参照して、本発明の一実施形態に係る検査治具について説明する。
【００２１】
図１の検査治具は、二つの被測定物８，９間の抵抗の測定に使用できるものであり、一対の絶縁性のレバー１，２を含んでいる。レバー１，２は、軸３によって互いに回動可能に繋がれている。レバー１，２の軸３から見た一側部分を作用部１４，２４と呼び、レバー１，２の軸３から見た反対側部分を操作部１５，２５と呼ぶ。
【００２２】
作用部１４，２４は互いに対向した内向面１１，２１と互いに背向した外向面１２，２２とを有している。レバー１，２の間にはバネ４が備えられている。バネ４は、操作部１４，２４に係合し、内向面１１，２１を互いに接近する向きに付勢している。したがって、レバー１，２は、所謂クリップのような形態をなしている。
【００２３】
レバー１，２の作用部１４，２４には、棒状の導電性の接触子１３，２３がそれぞれ固定的に備えられている。一方の接触子１３は内向面１１から外向面１２を貫通している。他方の接触子２３は内向面２１から外向面２２を貫通している。これらの接触子１３，２３には、抵抗値を測定する測定器７の対のプローブ７１，７２をそれぞれ接続する。なお、接触子１３，２３は図１に示すように互いに位置ずれしている。
【００２４】
二つの被測定物８，９は互いに接続された接続部８１，９１を有する配線部８２，９２をそれぞれ備えたものである。配線部８２，９２はまた端子部８３，９３を有している。
【００２５】
被測定物８，９間の抵抗を測定するには、レバー１，２の操作部１５，２５に矢印５，６で示すように操作力を加え、作用部１４，２４を互いに離間させる。この状態で、作用部１４，２４の間に被測定物８，９を挿入し位置を固定する。次に、操作部１５，２５に対する操作力を解放し、バネ４の付勢力による作用部１４，２４の互いに近付く向きへの回動に伴い、接触子１３，２３を被測定物８，９の配線部８２，９２に接触させる。なお、被測定物８，９が配線部８２，９２に保護のための層を設けたものである場合は、それらを予め除去しておく。
【００２６】
接触子１３，２３が被測定物８，９の配線部８２，９２に接触すると、測定器７がプローブ７１，７２及び接触子１３，２３を介して被測定物８，９の配線部８２，９２に電気的に接続される。したがって、被測定物８，９が互いに接続されていることを電気的に確認することができる。具体的には、測定器７により被測定物８，９の配線部８２，９２間の抵抗値の変化がないことなどを測定できる。また、配線部８２，９２のうち接続部８１，９１に近い箇所を測定することで、配線部８２，９２自体による導体抵抗値を極力少なくした抵抗値の測定が可能になる。
【００２７】
上述した検査治具を用いると、被測定物８，９の接続部位である接続部８１，９１そのものの接続に近い状態が確認できる。その理由は、被測定物８，９の接続部位である接続部８１，９１と近い箇所に測定器７のプローブ７１，７２を接触子１３，２３を介して接触させることができるためである。
【００２８】
また、被測定物８，９の接続部位の接触抵抗を測定するために、別途、プローブを固定した状態で接触させ続ける測定用の端子を設けるなどの手間や費用を必要としない。その理由は、配線部の保護層を溶剤などで取り除き、検査治具を接触するだけで前述の被測定物の配線部８２，９２の配線抵抗値を極力含まずに測定できることによる。
【００２９】
次に、図２を参照して、本発明の他の実施形態に係る検査治具ついて説明する。図１と同様な部分については、同じ参照符号を付して説明を省略する。
【００３０】
図２の検査治具も、二つの被測定物８，９間の抵抗の測定に使用できるものであり、互いに間隔をもつ一対のレバー３１，３２を含んでいる。レバー３１，３２は結合部３３に一体に結合されている。即ち、レバー３１，３２と結合部３３とは絶縁部材にて一体部材として形成されている。ここで、少なくとも結合部３３は弾力性を有するのものとする。したがって、レバー３１，３２は結合部３３を支点として互いに接近又は離間可能である。
【００３１】
レバー３１，３２にそれぞれ保持させた接触子１３，２３の少なくとも一方にネジ４１を具備する。図２では、上方のレバー３１に保持させた接触子１３にネジ４１を具備させている。接触子１３のネジ４１はレバー３２のネジ穴に螺合している。したがって、接触子１３はその回動に連れて軸心方向に移動するため、レバー３２に対する位置を変動可能である。
【００３２】
被測定物８，９間の抵抗を測定するには、接触子１３を回してレバー３２から離間させる。この状態で、レバー３１，３２の間に被測定物８，９を挿入し位置を固定する。次に、接触子１３を反対向きに回してレバー３２に近づける。こうして、接触子１３，２３を被測定物８，９の配線部８２，９２に接触させる。勿論、被測定物８，９が配線部８２，９２に保護のための層を設けたものである場合は、それらを予め除去しておく。
【００３３】
接触子１３，２３が被測定物８，９の配線部８２，９２に接触すると、測定器７がプローブ７１，７２及び接触子１３，２３を介して被測定物８，９の配線部８２，９２に電気的に接続される。したがって、被測定物８，９が互いに接続されていることを電気的に確認することができる。具体的には、測定器７により被測定物８，９の配線部８２，９２間の抵抗値の変化がないことなどを測定できる。また、配線部８２，９２のうち接続部８１，９１に近い箇所を測定することで、配線部８２，９２自体による導体抵抗値を極力少なくした抵抗値の測定が可能になる。
【００３４】
図２の検査治具を用いても、図１の検査治具を用いた場合と同様な作用効果を奏することができる。その上、接触子１３，２３が配線部８２，９２に確実に接触することを確認しやすいという新たな効果も有する。なお、下方のレバー３２に保持させた接触子２３にも、同様なネジを具備させてもよい。
【００３５】
上述では特定の実施形態を用いて説明したが、本発明の範囲がこれらの実施形態に限定されないことは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る検査治具の使用状態を示す概略構成図である。
【図２】本発明の第２の実施形態に係る検査治具の使用状態を示す概略構成図である。
【符号の説明】
【００３７】
１，２  レバー
３  軸
４  バネ
７  測定器
８，９  被測定物
１１，２１  内向面
１２，２２  外向面
１３，２３  接触子
１４，２４  作用部
１５，２５  操作部
３１，３２  レバー
３３  結合部
４１  ネジ
７１，７２  プローブ
８１，９１  接続部
８２，９２  配線部
８３，９３  端子部
【図１】
0004678034.tif 000002
【図２】
0004678034.tif 000003