【事件の表示】
　平成６年特許願第１３１２６９号「赤外線ガス分析計の校正方法」拒絶査定に対する審判事件［平成７年１２月８日出願公開、特開平７−３１８４９２］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、平成６年５月２１日の出願であって、その請求項１に係る発明は、平成１２年４月２６日付けの手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、特許請求の請求項１に記載された次のとおりのものと認める（以下、「本願発明」という。）
　「【請求項１】　サンプルガス中の特定の測定対象成分を検出するとともに、測定モード時、所定時間毎に自動ゼロ校正を行うように構成された赤外線ガス分析計において、暖機時間が短いときは、測定モード中に実行される自動ゼロ校正の時間間隔を短く設定し、暖機時間が長いときは、前記自動ゼロ校正の時間間隔を長く設定したことを特徴とする赤外線ガス分析計の校正方法。」
　
２．引用刊行物記載の発明
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用された、本願出願日前に頒布された刊行物である実願昭５７−１２１３９３号（実開昭５９−２８７９６号）のマイクロフィルム（以下、「刊行物１」という）、実願昭５６−７４２０４号（実開昭５７−１８６８４６号）のマイクロフィルム（以下、「刊行物２」という）、特開昭６２−６３８３９号公報（以下、「刊行物３」という）、特開平２−２４２１３６号公報（以下、「刊行物４」という）には、次の事項が記載されている。
　
　刊行物１には、
　「分析計校正装置において、初回校正動作までの待ち時間を設定し格納する手段と、校正動作の周期を設定し格納する手段とを含み、初回の校正動作を設定された待ち時間経過後に実行し、次回以後の校正動作は設定された周期に従って実行することを特徴とする分析計校正装置。」（明細書第１頁第８−１４行）、
　「分析計は、一定時間毎に定期的にゼロ点変動やスパン点変動を校正することが望ましい。」（明細書第２頁第３−４行）、
　「本実施例の場合、ゼロ点校正値は、−０５．５〜２０．０（％ＦＳ）の任意の値が設定でき、……、初回校正動作までの待ち時間は００．０〜７５０．０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定でき、校正周期は０００〜７５０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定でき、」（明細書第８頁第１４−２０行）、
　「初回校正動作までの待ち時間は設定されている校正周期とは無関係に任意のある時点から最初の校正動作開始までの時間を任意に設定するためのものであり、校正周期は校正動作の繰り返し時間間隔であり、」（明細書第９頁第６−１０行）、
　「自動校正動作を行わせる場合には操作キーＫ４をＡＵＴＯの位置にし」（明細書第９頁第１７−１８行）、
　「上記実施例では、ガス分析計の例について説明した」（明細書第１４頁第５−６行）、
　が記載され、
　
　刊行物２には、
　「予め設定した一定の周期で校正の動作を行うので、校正不要の場合でも校正時間中、試料ガスを濃度計へ導入できないことによる測定不能状態即ち欠測が生じてしまうことである。校正不要の場合とは、ゼロあるいはスパンのドリフトが測定精度内にある場合である。」（明細書第２頁第８−１４行）、
　「第１図の構成において、分析部（１）が赤外線吸収法……の原理によりガス濃度分析を行う部分である。」（明細書第２頁第１８行−第３頁第１行）、
「校正周期は測定精度を維持するために必要十分な周期が設定されるのが望ましい。」（明細書第４頁第２−４行）、
　が記載されている。
　
　刊行物３には、
　「従来、赤外線ガス分析計等のガス分析計では、……時間の経過と共に出力がドリフトする。この為、校正ガスを用いて一定の周期で自動的に校正が行われる。」（第２頁左上欄第３−６行）、
　「ガス分析計の出力のゼロ点、並びにスパンのドリフトをモニターし、これらデータに基づきドリフトの変化傾向を求め、この変化傾向に基づき前記最小の校正期間、前記ガス分析計の出力にリアルタイムで補正演算を施し出力させる。また前記最小の校正期間の経過後、……校正を行い、前回の校正結果と差がないとき、校正の間隔が延長され、さらにこのような操作を繰り返し、校正の期間を順次延長する。」（第２頁右下欄第９−１８行）、
　が記載されている。
　
　刊行物４には、
　「例えばＮＤＩＲ（非分散型赤外線分析法）をはじめとする各種測定法を用いたガス分析計において、十分に精度良い測定値を得るためには、一般に電源をＯＮしてから分析計が定常状態に到達するまでの間、暖機運転（通常は数分ないし数十分）を行わせる必要がある。」（第１頁右下欄第１５−２０行）、
　が記載されている。
　
３．対比
　本願発明と刊行物１に記載された発明を対比すると、刊行物１は装置発明に係るが、この刊行物１には初回校正動作までの待ち時間は００．０〜７５０．０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定でき、自動ゼロ校正の校正周期（校正動作の繰り返し時間間隔）は、０００〜７５０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定できるようにするという校正方法、も実質上、示されていることが明らかであり、刊行物１における「ゼロ点変動の校正動作が設定された周期に従って実行されるように設定すること」が、本願発明の「自動ゼロ校正の時間間隔を設定すること」に相当し、また刊行物１におけるガス分析計が、サンプルガス中の特定の測定対象成分を検出する装置であることも自明であり、さらにまた、刊行物１において所定時間毎に自動ゼロ校正を行うのは測定モードにおいてであることも明らかであるから、両者は、
　「サンプルガス中の特定の測定対象成分を検出するとともに、測定モード時、所定時間毎に自動ゼロ校正を行うように構成されたガス分析計において、測定モード中に実行される自動ゼロ校正の時間間隔を設定したことを特徴とするガス分析計の校正方法」
　である点で一致し、
　次の点で相違する。
　相違点１
　本願発明は、赤外線ガス分析計の校正方法であるのに対し、刊行物１は、ガス分析計の校正方法である点。
　
　相違点２．
　本願発明は、暖機時間が短いときは、測定モード中に実行される自動ゼロ校正の時間間隔を短く設定し、暖機時間が長いときは、前記自動ゼロ校正の時間間隔を長く設定する方法であるのに対し、刊行物１に記載のものは、初回校正動作までの待ち時間は００．０〜７５０．０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定でき、自動ゼロ校正の時間間隔（校正周期）は、０００〜７５０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定できる方法である点。
　
４．当審の判断
　前記相違点について検討すると、
　相違点１について
　校正ガスを用いてゼロ点変動やスパン点変動を校正するガス分析計の代表的なもののひとつとして、赤外線ガス分析計があることは、従来周知である（必要とあれば、刊行物２−４を参照）から、刊行物１において実質上示されている、初回校正動作までの待ち時間は００．０〜７５０．０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定でき、自動ゼロ校正の校正周期（校正動作の繰り返し時間間隔）は、０００〜７５０（Ｈ；時間）の任意の時間が設定できるようにするという校正方法を適用するガス分析計として赤外線ガス分析計を選択することは、当業者が容易に想到できたものである。
　
　相違点２について
　刊行物４に「例えばＮＤＩＲ（非分散型赤外線分析法）をはじめとする各種測定法を用いたガス分析計において、十分に精度良い測定値を得るためには、一般に電源をＯＮしてから分析計が定常状態に到達するまでの間、暖機運転（通常は数分ないし数十分）を行わせる必要がある。」と記載のとおり、赤外線ガス分析計において、暖機運転は必要であって、定常状態になるまでは、過渡的乃至は不安定であることは技術常識であり、また、赤外線ガス分析計において、初回校正動作までの待ち時間を暖機運転の時間であると設定することも従来周知である［例えば、特開昭６２−１０８１３４号公報において「特に定期的に標準ガスにより分析計の校正を行う必要のある連続ガス分析計において、校正信号を発生するために使用される装置に関するものである。このようなガス分析計としては、非分散型赤外線式の各種分析計、……などがある。……これらの連続ガス分析計では、電源が投入されたら暖機の時間をまって一回校正した後でないと、測定対象のガスの校正は行えない。」（第１頁右下欄第４−１４行）と記載がある。］から、刊行物１に記載の校正方法において、赤外線ガス分析計を校正方法として、初回校正動作までの待ち時間（電源が投入されてからの暖機の時間）を十分な定常状態に達したと認められるように長めに設定した際は、自動ゼロ校正の校正周期を長い目に設定し、初回校正動作までの待ち時間をやや少な目に設定した際は、赤外線分析計が未だ十分安定になってはいない可能性もあろうから、自動ゼロ校正の校正間隔を詰めて短めに設定することは、当業者が容易に想到できた程度の事項と認められる。
　
５．むすび
　したがって、本願発明は、刊行物１−４及び従来周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるので、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。