【手続補正書】
【提出日】平成24年3月9日(2012.3.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８５】
本発明は、以下の形態で実現可能である。
［形態１］
複数の電極を含むイオンガイドと、
イオンを前記イオンガイド内において径方向に閉じ込めるように構成及び適応される第１の手段と、
時間変化する不均一な軸方向電場を前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分に沿って印加するように構成及び適応される第２の手段と、
を備える飛行時間型質量分析器。
［形態２］
形態１に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記イオンガイドは、
(i)多重極ロッドセット若しくはセグメント化多重極ロッドセット、
(ii)イオントンネル若しくはイオンファネル、又は
(iii)積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、若しくはメッシュ電極を含む、飛行時間型質量分析器。
［形態３］
形態２に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記多重極ロッドセットは、四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセット、又は８を超えるロッドを含むロッドセットを含む、飛行時間型質量分析器。
［形態４］
形態２に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記イオントンネル又はイオンファネルは、使用時にイオンを通過させるアパーチャを有する複数の電極又は少なくとも２、５、１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０、８０、９０、若しくは１００個の電極を含み、前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、実質的に同サイズすなわち同面積の又はサイズすなわち面積が漸進的に大きくなる及び／若しくは小さくなるアパーチャを有する、飛行時間型質量分析器。
［形態５］
形態４に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、(i)≦１．０ｍｍ、(ii)≦２．０ｍｍ、(iii)≦３．０ｍｍ、(iv)≦４．０ｍｍ、(v)≦５．０ｍｍ、(vi)≦６．０ｍｍ、(vii)≦７．０ｍｍ、(viii)≦８．０ｍｍ、(ix)≦９．０ｍｍ、(x)≦１０．０ｍｍ、及び(xi)＞１０．０ｍｍからなる群より選択される内径又は内部寸法を有する、飛行時間型質量分析器。
［形態６］
形態２に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、複数の又は少なくとも２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８、１９、若しくは２０個の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極を含み、前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、使用時にイオンが移動する平面内に概して配置される、飛行時間型質量分析器。
［形態７］
形態６に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも一部又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％は、ＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給され、隣り合う平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、逆位相の前記ＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給される、飛行時間型質量分析器。
［形態８］
形態１ないし７のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記イオンガイドは、複数の軸方向セグメント又は少なくとも５、１０、１５、２０、２５、３０、３５、４０、４５、５０、５５、６０、６５、７０、７５、８０、８５、９０、９５、若しくは１００個の軸方向セグメントを含む、飛行時間型質量分析器。
［形態９］
形態１ないし８のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
隣り合う電極間の中心間距離は、(i)＜０．５ｍｍ、(ii)０．５〜１．０ｍｍ、(iii)１．０〜１．５ｍｍ、(iv)１．５〜２．０ｍｍ、(v)２．０〜２．５ｍｍ、(vi)２．５〜３．０ｍｍ、(vii)３．０〜３．５ｍｍ、(viii)３．５〜４．０ｍｍ、(ix)４．０〜４．５ｍｍ、(x)４．５〜５．０ｍｍ、(xi)５．０〜５．５ｍｍ、(xii)５．５〜６．０ｍｍ、(xiii)６．０〜６．５ｍｍ、(xiv)６．５〜７．０ｍｍ、(xv)７．０〜７．５ｍｍ、(xvi)７．５〜８．０ｍｍ、(xvii)８．０〜８．５ｍｍ、(xviii)８．５〜９．０ｍｍ、(xix)９．０〜９．５ｍｍ、(xx)９．５〜１０．０ｍｍ、及び(xxi)＞１０．０ｍｍからなる群より選択される、飛行時間型質量分析器。
［形態１０］
形態１ないし９のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記イオンガイドは、(i)＜２０ｍｍ、(ii)２０〜４０ｍｍ、(iii)４０〜６０ｍｍ、(iv)６０〜８０ｍｍ、(v)８０〜１００ｍｍ、(vi)１００〜１２０ｍｍ、(vii)１２０〜１４０ｍｍ、(viii)１４０〜１６０ｍｍ、(ix)１６０〜１８０ｍｍ、(x)１８０〜２００ｍｍ、(xi)２００〜２２０ｍｍ、(xii)２２０〜２４０ｍｍ、(xiii)２４０〜２６０ｍｍ、(xiv)２６０〜２８０ｍｍ、(xv)２８０〜３００ｍｍ、及び(xvi)＞３００ｍｍからなる群より選択される軸方向長さを有する、飛行時間型質量分析器。
［形態１１］
形態１ないし１０のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第１の手段は、前記イオンガイド内においてイオンを径方向に閉じ込めるために、前記イオンガイドを構成する電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に第１のＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するように構成及び適応される第１のＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段を含む、飛行時間型質量分析器。
［形態１２］
形態１１に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第１のＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段は、前記イオンガイドの電極に(i)＜５０Ｖ、(ii)５０〜１００Ｖ、(iii)１００〜１５０Ｖ、(iv)１５０〜２００Ｖ、(v)２００〜２５０Ｖ、(vi)２５０〜３００Ｖ、(vii)３００〜３５０Ｖ、(viii)３５０〜４００Ｖ、(ix)４００〜４５０Ｖ、(x)４５０〜５００Ｖ、及び(xi)＞５００Ｖからなる群より選択される最高最低振幅を有する第１のＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給するように構成及び適応される、飛行時間型質量分析器。
［形態１３］
形態１１又は１２に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第１のＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段は、前記イオンガイドの電極に(i)＜１００ｋＨｚ、(ii)１００〜２００ｋＨｚ、(iii)２００〜３００ｋＨｚ、(iv)３００〜４００ｋＨｚ、(v)４００〜５００ｋＨｚ、(vi)０．５〜１．０ＭＨｚ、(vii)１．０〜１．５ＭＨｚ、(viii)１．５〜２．０ＭＨｚ、(ix)２．０〜２．５ＭＨｚ、(x)２．５〜３．０ＭＨｚ、(xi)３．０〜３．５ＭＨｚ、(xii)３．５〜４．０ＭＨｚ、(xiii)４．０〜４．５ＭＨｚ、(xiv)４．５〜５．０ＭＨｚ、(xv)５．０〜５．５ＭＨｚ、(xvi)５．５〜６．０ＭＨｚ、(xvii)６．０〜６．５ＭＨｚ、(xviii)６．５〜７．０ＭＨｚ、(xix)７．０〜７．５ＭＨｚ、(xx)７．５〜８．０ＭＨｚ、(xxi)８．０〜８．５ＭＨｚ、(xxii)８．５〜９．０ＭＨｚ、(xxiii)９．０〜９．５ＭＨｚ、(xxiv)９．５〜１０．０ＭＨｚ、及び(xxv)＞１０．０ＭＨｚからなる群より選択される周波数を有する第１のＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給するように構成及び適応される、飛行時間型質量分析器。
［形態１４］
形態１１、１２、又は１３に記載の飛行時間型質量分析器であって、
隣り合う電極間又は隣り合う電極群間における前記第１のＡＣ電圧又はＲＦ電圧の位相差は、(i)＞０o、(ii)１〜３０o、(iii)３０〜６０o、(iv)６０〜９０o、(v)９０〜１２０o、(vi)１２０〜１５０o、(vii)１５０〜１８０o、(viii)１８０o、(ix)１８０〜２１０o、(x)２１０〜２４０o、(xi)２４０〜２７０o、(xii)２７０〜３００o、(xiii)３００〜３３０o、及び(xiv)３３０〜３６０oからなる群より選択される、飛行時間型質量分析器。
［形態１５］
形態１１ないし１４のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
使用時に前記電極に印加される前記第１のＡＣ電圧又はＲＦ電圧は、使用時に前記イオンガイド内においてイオンを径方向に閉じ込める働きをする径方向の擬ポテンシャル井戸を生じさせる又は生成する、飛行時間型質量分析器。
［形態１６］
形態１１ないし１５のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第１のＡＣ電圧又はＲＦ電圧は、二相若しくは多相のＡＣ電圧又はＲＦ電圧を含む、飛行時間型質量分析器。
［形態１７］
形態１ないし１６のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２の手段は、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って、時間変化する非ゼロの不均一な軸方向電場を印加するように構成及び適応される、飛行時間型質量分析器。
［形態１８］
形態１ないし１７のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２の手段は、前記電極に第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するための手段を含む、飛行時間型質量分析器。
［形態１９］
形態１８に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧は、単相のＡＣ電圧又はＲＦ電圧を含む、飛行時間型質量分析器。
［形態２０］
形態１８又は１９に記載の飛行時間型質量分析器であって、
隣り合う電極間又は隣り合う電極群間における前記第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧の位相差は、実質的に０oである、飛行時間型質量分析器。
［形態２１］
形態１８、１９、又は２０に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧は、前記複数の電極の少なくとも一部に跨って印加される、飛行時間型質量分析器。
［形態２２］
形態１８ないし２１のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧は、少なくともｘ個の電極に印加され、ｘは、(i)＜１０、(ii)１０〜２０、(iii)２０〜３０、(iv)３０〜４０、(v)４０〜５０、(vi)５０〜６０、(vii)６０〜７０、(viii)７０〜８０、(ix)８０〜９０、(x)９０〜１００、(xi)１００〜１５０、(xii)１５０〜２００、及び(xiii)＞２００からなる群より選択される、飛行時間型質量分析器。
［形態２３］
形態１８ないし２２のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、前記イオンガイドの軸方向長さに沿った１つ又は２つ以上の点における前記第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧の最大振幅は、時間によらずに実質的に一定に留まるように構成される、飛行時間型質量分析器。
［形態２４］
形態１８ないし２２のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、前記イオンガイドの軸方向長さに沿った１つ又は２つ以上の点における前記第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧の最大振幅は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、飛行時間型質量分析器。
［形態２５］
形態１ないし２４のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記複数の電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、分圧器すなわち抵抗鎖に沿った異なる点に接続される、飛行時間型質量分析器。
［形態２６］
形態１ないし２５のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２の手段は、時間変化する軸方向電場を前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分に沿って印加するように構成及び適応され、前記軸方向電場は、前記イオンガイドのイオン入口領域から前記イオンガイドのイオン出口領域に向かう方向に、前記イオンガイドの長さに沿って増大又は減少する、飛行時間型質量分析器。
［形態２７］
形態２６に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記軸方向電場は、前記イオンガイドのイオン入口領域から前記イオンガイドのイオン出口領域に向かう方向に、前記イオンガイドの長さに沿って直線的又は非直線的なかたちで増大又は減少するように構成される、飛行時間型質量分析器。
［形態２８］
形態１ないし２７のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２の手段は、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分に沿って軸方向にイオンを加速又は減速させるように構成及び適応される、飛行時間型質量分析器。
［形態２９］
形態１ないし２８のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第２の手段は、１つ又は２つ以上の補助電極をさらに含む、飛行時間型質量分析器。
［形態３０］
形態２９に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記１つ又は２つ以上の補助電極は、前記イオンガイドを構成する前記複数の電極の外側に配置される、飛行時間型質量分析器。
［形態３１］
形態２９又は３０に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記１つ又は２つ以上の補助電極は、前記イオンガイドのイオン入口領域から前記イオンガイドのイオン出口領域に向かう方向に前記イオンガイドの長さに沿って変化、増大、又は減少する断面積又は断面形状を有する、飛行時間型質量分析器。
［形態３２］
形態２９、３０、又は３１に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記１つ又は２つ以上の補助電極は、軸方向にセグメント化される、飛行時間型質量分析器。
［形態３３］
形態１ないし３２のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
１〜１００、１００〜２００、２００〜３００、３００〜４００、４００〜５００、５００〜６００、６００〜７００、７００〜８００、８００〜９００、９００〜１０００、又は＞１０００の範囲の質量電荷比を有する一価イオンは、前記イオンガイドを通る(i)０〜５０μｓ、(ii)５０〜１００μｓ、(iii)１００〜１５０μｓ、(iv)１５０〜２００μｓ、(v)２００〜２５０μｓ、(vi)２５０〜３００μｓ、(vii)３００〜３５０μｓ、(viii)３５０〜４００μｓ、(ix)４００〜４５０μｓ、(x)４５０〜５００μｓ、(xi)５００〜５５０μｓ、(xii)５５０〜６００μｓ、(xiii)６００〜６５０μｓ、(xiv)６５０〜７００μｓ、(xv)７００〜７５０μｓ、(xvi)７５０〜８００μｓ、(xvii)８００〜８５０μｓ、(xviii)８５０〜９００μｓ、(xix)９００〜９５０μｓ、(xx)９５０〜１０００μｓ、及び(xxi)＞１０００μｓの範囲のドリフト時間すなわち通過時間を有する、飛行時間型質量分析器。
［形態３４］
形態１ないし３３のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
１〜１００、１００〜２００、２００〜３００、３００〜４００、４００〜５００、５００〜６００、６００〜７００、７００〜８００、８００〜９００、９００〜１０００、又は＞１０００の範囲の質量電荷比を有する一価イオンは、前記イオンガイドを通る(i)０〜１ｍｓ、(ii)１〜２ｍｓ、(iii)２〜３ｍｓ、(iv)３〜４ｍｓ、(v)４〜５ｍｓ、(vi)５〜６ｍｓ、(vii)６〜７ｍｓ、(viii)７〜８ｍｓ、(ix)８〜９ｍｓ、(x)９〜１０ｍｓ、(xi)１０〜１１ｍｓ、(xii)１１〜１２ｍｓ、(xiii)１２〜１３ｍｓ、(xiv)１３〜１４ｍｓ、(xv)１４〜１５ｍｓ、(xvi)１５〜１６ｍｓ、(xvii)１６〜１７ｍｓ、(xviii)１７〜１８ｍｓ、(xix)１８〜１９ｍｓ、(xx)１９〜２０ｍｓ、(xxi)２０〜２１ｍｓ、(xxii)２１〜２２ｍｓ、(xxiii)２２〜２３ｍｓ、(xxiv)２３〜２４ｍｓ、(xxv)２４〜２５ｍｓ、(xxvi)２５〜２６ｍｓ、(xxvii)２６〜２７ｍｓ、(xxviii)２７〜２８ｍｓ、(xxix)２８〜２９ｍｓ、(xxx)２９〜３０ｍｓ、(xxxi)３０〜３５ｍｓ、(xxxii)３５〜４０ｍｓ、(xxxiii)４０〜４５ｍｓ、(xxxiv)４５〜５０ｍｓ、(xxxv)５０〜５５ｍｓ、(xxxvi)５５〜６０ｍｓ、(xxxvii)６０〜６５ｍｓ、(xxxviii)６５〜７０ｍｓ、(xxxix)７０〜７５ｍｓ、(xl)７５〜８０ｍｓ、(xli)８０〜８５ｍｓ、(xlii)８５〜９０ｍｓ、(xliii)９０〜９５ｍｓ、(xliv)９５〜１００ｍｓ、及び(xlv)＞１００ｍｓの範囲のドリフト時間すなわち通過時間を有する、飛行時間型質量分析器。
［形態３５］
形態１ないし３４のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、さらに、
前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％に沿って実質的に一定のＤＣ電圧勾配を維持するためのＤＣ電圧手段を備える飛行時間型質量分析器。
［形態３６］
形態１ないし３５のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、さらに、
前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記イオンガイドを構成する電極の少なくとも一部に１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧若しくは過渡ＤＣ電位又は１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧波形若しくは過渡ＤＣ電位波形を印加するように構成及び適応される過渡ＤＣ電圧手段を備える飛行時間型質量分析器。
［形態３７］
形態１ないし３６のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、さらに、
前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記イオンガイドを構成する電極に２つ又は３つ以上の位相シフトされたＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するように構成及び適応されるＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段を備える飛行時間型質量分析器。
［形態３８］
形態１ないし３７のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記飛行時間型質量分析器は、一動作モードにおいてイオンが第１の方向に移動し、前記イオンガイド内において反射され、次いで前記第１の方向と実質的に反対である第２の方向に移動する、リフレクトロン飛行時間型質量分析器を含む、飛行時間型質量分析器。
［形態３９］
形態１ないし３８のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、イオンは、入口電極、入口領域、又は入口アパーチャを通じて前記イオンガイドに進入し、前記イオンガイドの長さを突っ切り、出口電極、出口領域、又は出口アパーチャを通じて前記イオンガイドから退出する、飛行時間型質量分析器。
［形態４０］
形態３９に記載の飛行時間型質量分析器であって、
イオンは、前記入口電極、入口領域、又は入口アパーチャから前記出口電極、出口領域、又は出口アパーチャへと突っ切る際に、前記イオンガイド内において軸方向に実質的に反射されない、飛行時間型質量分析器。
［形態４１］
形態１ないし４０のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記イオンガイドの少なくとも一部分は、(i)＞０．００１ミリバール、(ii)＞０．０１ミリバール、(iii)＞０．１ミリバール、(iv)＞１ミリバール、(v)＞１０ミリバール、(vi)＞１００ミリバール、(vii)０．００１〜１００ミリバール、(viii)０．０１〜１０ミリバール、及び(ix)０．１〜１ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される、飛行時間型質量分析器。
［形態４２］
形態１ないし４１のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記イオンガイドの少なくとも一部分は、(i)０．００１〜０．００５ミリバール、(ii)０．００５〜０．０１０ミリバール、(iii)０．０１〜０．０５ミリバール、(iv)０．０５〜０．１０ミリバール、(v)０．１〜０．５ミリバール、(vi)０．５〜１．０ミリバール、(vii)１〜５ミリバール、(viii)５〜１０ミリバール、(ix)１０〜５０ミリバール、(x)５０〜１００ミリバール、及び(xi)＞１００ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される、飛行時間型質量分析器。
［形態４３］
形態１ないし４２のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、イオンは、それらのイオン移動度にしたがって実質的に分離されることなくそれらの質量電荷比にしたがって実質的に分離される、飛行時間型質量分析器。
［形態４４］
形態１ないし４２のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、イオンは、それらの質量電荷比及び／又はそれらのイオン移動度にしたがって実質的に分離される、飛行時間型質量分析器。
［形態４５］
形態１ないし４４のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、前記質量分析器は、衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置として動作するように構成及び適応される、飛行時間型質量分析器。
［形態４６］
形態１ないし４５のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、前記質量分析器は、前記イオンガイド内においてイオンを衝突によって冷却する又は熱運動化するように構成及び適応される、飛行時間型質量分析器。
［形態４７］
形態１ないし４６のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、前記質量分析器は、イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器として動作するように構成及び適応される、飛行時間型質量分析器。
［形態４８］
形態１ないし４７のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器であって、
一動作モードにおいて、イオンは、前記イオンガイド内を第１の方向に通るように構成され、衝突、バックグラウンド、又はその他のガスは、前記イオンガイド内を第２の方向に流れるように構成される、飛行時間型質量分析器。
［形態４９］
形態４８に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第１の方向は、前記第２の方向と実質的に反対である、飛行時間型質量分析器。
［形態５０］
形態４８に記載の飛行時間型質量分析器であって、
前記第１の方向は、前記第２の方向と実質的に同じ方向である、飛行時間型質量分析器。
［形態５１］
形態１ないし５０のいずれかに記載の飛行時間型質量分析器を備える質量分析計。
［形態５２］
形態５１に記載の質量分析計であって、さらに、
加速電極、押し込み電極、引き込み電極、又はグリッド電極を備え、一動作モードにおいて、イオンは、前記加速電極、押し込み電極、引き込み電極、又はグリッド電極に対する電圧パルスの印加によって、前記イオンガイド内へと加速される、質量分析計。
［形態５３］
形態５２に記載の質量分析計であって、
前記加速電極、押し込み電極、引き込み電極、又はグリッド電極は、前記イオンガイドの入口電極、入口領域、又は入口アパーチャに隣接して配置される、質量分析計。
［形態５４］
形態５１、５２、又は５３に記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオンガイドの前記入口電極、入口領域、又は入口アパーチャに隣接して配置されるイオン検出器を備える質量分析計。
［形態５５］
形態５１、５２、又は５３に記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオンガイドの出口電極、出口領域、又は出口アパーチャに隣接して配置されるイオン検出器を備え、前記出口電極、出口領域、又は出口アパーチャは、前記入口電極、入口領域、又は入口アパーチャと反対側の前記イオンガイドの端に配置される、質量分析計。
［形態５６］
形態５１ないし５５のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記飛行時間型質量分析器の上流及び／又は下流に配置されるさらなるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域をさらに備える質量分析計。
［形態５７］
形態５６に記載の質量分析計であって、
前記さらなるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域は、イオンを捕捉、貯蔵、又は蓄積するように、そして次いでイオンを前記飛行時間型質量分析器に周期的にパルス入力する又は向かわせるように構成される、質量分析計。
［形態５８］
形態５６又は５７に記載の質量分析計であって、
一動作モードにおいて、前記飛行時間型質量分析器の一部を構成する前記イオンガイドの軸方向長さに沿った１つ又は２つ以上の地点における前記第２のＡＣ電圧又はＲＦ電圧の最大振幅は、前記飛行時間型質量分析器の上流及び／又は下流に配置される前記さらなるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域からのイオンの放出に同期化されたかたちで時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、質量分析計。
［形態５９］
形態５１ないし５８のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記飛行時間型質量分析器の上流及び／又は下流に配置される、複数の電極を含む第２のイオンガイドを備える質量分析計。
［形態６０］
形態５９に記載の質量分析計であって、
前記第２のイオンガイドは、
(i)多重極ロッドセット若しくはセグメント化多重極ロッドセット、
(ii)イオントンネル若しくはイオンファネル、又は
(iii)積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、若しくはメッシュ電極を含む、質量分析計。
［形態６１］
形態６０に記載の質量分析計であって、
前記多重極ロッドセットは、四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセット、又は８を超えるロッドを含むロッドセットを含む、質量分析計。
［形態６２］
形態６０に記載の質量分析計であって、
前記イオントンネル又はイオンファネルは、使用時にイオンを通過させるアパーチャを有する複数の電極又は少なくとも２、５、１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０、８０、９０、若しくは１００個の電極を含み、前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、実質的に同サイズすなわち同面積の又はサイズすなわち面積が漸進的に大きくなる及び／若しくは小さくなるアパーチャを有する、質量分析計。
［形態６３］
形態６２に記載の質量分析計であって、
前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、(i)≦１．０ｍｍ、(ii)≦２．０ｍｍ、(iii)≦３．０ｍｍ、(iv)≦４．０ｍｍ、(v)≦５．０ｍｍ、(vi)≦６．０ｍｍ、(vii)≦７．０ｍｍ、(viii)≦８．０ｍｍ、(ix)≦９．０ｍｍ、(x)≦１０．０ｍｍ、及び(xi)＞１０．０ｍｍからなる群より選択される内径すなわち内部寸法を有する、質量分析計。
［形態６４］
形態６０に記載の質量分析計であって、
前記積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、複数の又は少なくとも２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８、１９、若しくは２０個の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極を含み、前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、使用時にイオンが移動する平面内に概して配置される、質量分析計。
［形態６５］
形態６４に記載の質量分析計であって、
前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも一部又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％は、ＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給され、隣り合う平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、逆位相の前記ＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給される、質量分析計。
［形態６６］
形態５９ないし６５のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第２のイオンガイドは、複数の軸方向セグメント又は少なくとも５、１０、１５、２０、２５、３０、３５、４０、４５、５０、５５、６０、６５、７０、７５、８０、８５、９０、９５、若しくは１００個の軸方向セグメントを含む、質量分析計。
［形態６７］
形態５９ないし６６のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第２のイオンガイドの隣り合う電極間の中心間距離は、(i)＜０．５ｍｍ、(ii)０．５〜１．０ｍｍ、(iii)１．０〜１．５ｍｍ、(iv)１．５〜２．０ｍｍ、(v)２．０〜２．５ｍｍ、(vi)２．５〜３．０ｍｍ、(vii)３．０〜３．５ｍｍ、(viii)３．５〜４．０ｍｍ、(ix)４．０〜４．５ｍｍ、(x)４．５〜５．０ｍｍ、(xi)５．０〜５．５ｍｍ、(xii)５．５〜６．０ｍｍ、(xiii)６．０〜６．５ｍｍ、(xiv)６．５〜７．０ｍｍ、(xv)７．０〜７．５ｍｍ、(xvi)７．５〜８．０ｍｍ、(xvii)８．０〜８．５ｍｍ、(xviii)８．５〜９．０ｍｍ、(xix)９．０〜９．５ｍｍ、(xx)９．５〜１０．０ｍｍ、及び(xxi)＞１０．０ｍｍからなる群より選択される、質量分析計。
［形態６８］
形態５９ないし６７のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第２のイオンガイドは、(i)＜２０ｍｍ、(ii)２０〜４０ｍｍ、(iii)４０〜６０ｍｍ、(iv)６０〜８０ｍｍ、(v)８０〜１００ｍｍ、(vi)１００〜１２０ｍｍ、(vii)１２０〜１４０ｍｍ、(viii)１４０〜１６０ｍｍ、(ix)１６０〜１８０ｍｍ、(x)１８０〜２００ｍｍ、(xi)２００〜２２０ｍｍ、(xii)２２０〜２４０ｍｍ、(xiii)２４０〜２６０ｍｍ、(xiv)２６０〜２８０ｍｍ、(xv)２８０〜３００ｍｍ、及び(xvi)＞３００ｍｍからなる群より選択される軸方向長さを有する、質量分析計。
［形態６９］
形態５９ないし６８のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記第２のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第２のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％に沿って実質的に一定のＤＣ電圧勾配を維持するためのＤＣ電圧手段を備える質量分析計。
［形態７０］
形態５９ないし６９のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記第２のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第２のイオンガイドを構成する電極の少なくとも一部に１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧若しくは過渡ＤＣ電位又は１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧波形若しくは過渡ＤＣ電位波形を印加するように構成及び適応される過渡ＤＣ電圧手段を備える質量分析計。
［形態７１］
形態５９ないし７０のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記第２のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第２のイオンガイドを構成する電極に２つ又は３つ以上の位相シフトされたＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するように構成及び適応されるＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段を備える質量分析計。
［形態７２］
形態５１ないし７１のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記飛行時間型質量分析器の上流及び／又は下流に配置される第２の質量分析器を備える質量分析計。
［形態７３］
形態７２に記載の質量分析計であって、
前記第２の質量分析器は、(i)四重極質量分析器、(ii)２Ｄ型又は直線型の四重極質量分析器、(iii)Paul型又は３Ｄ型の四重極質量分析器、(iv)Penningトラップ質量分析器、(v)イオントラップ質量分析器、(vi)磁場セクタ型質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴（ＩＣＲ）質量分析器、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴（ＦＴＩＣＲ）質量分析器、(ix)静電型又はオービトラップ質量分析器、(x)フーリエ変換静電型又はオービトラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間型質量分析器、(xiii)直交加速方式飛行時間型質量分析器、(xiv)軸方向加速方式飛行時間型質量分析器、及び(xv)ウィーンフィルタからなる群より選択される、質量分析計。
［形態７４］
形態５１ないし７３のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を備える質量分析計。
［形態７５］
形態７４に記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、衝突誘起解離（ＣＩＤ）によってイオンを断片化するように構成及び適応される、質量分析計。
［形態７６］
形態７４に記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、(i)表面誘起解離（ＳＩＤ）フラグメンテーション装置、(ii)電子移動解離フラグメンテーション装置、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーション装置、(iv)電子衝突又は電子衝撃解離フラグメンテーション装置、(v)光誘起解離（ＰＩＤ）フラグメンテーション装置、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーション装置、(vii)赤外線放射誘起解離装置、(viii)紫外線放射誘起解離装置、(ix)ノズル−スキマ界面フラグメンテーション装置、(x)インソースフラグメンテーション装置、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーション装置、(xii)熱源又は温度源フラグメンテーション装置、(xiii)電場誘起フラグメンテーション装置、(xiv)磁場誘起フラグメンテーション装置、(xv)酵素消化又は酵素分解フラグメンテーション装置、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーション装置、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーション装置、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーション装置、(xix)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーション装置、(xx)イオン−準安定分子反応フラグメンテーション装置、(xxi)イオン−準安定原子反応フラグメンテーション装置、(xxii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−イオン反応装置、(xxiii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−分子反応装置、(xxiv)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−原子反応装置、(xxv)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定イオン反応装置、(xxvi)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定分子反応装置、及び(xxvii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定原子反応装置からなる群より選択される、質量分析計。
［形態７７］
形態７４、７５、又は７６に記載の質量分析計であって、さらに、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内へとイオンを加速するように構成及び適応される加速手段を備え、一動作モードにおいて、前記イオンの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する際に断片化又は反応を引き起こされる、質量分析計。
［形態７８］
形態７４ないし７７のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
イオンが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する前に通る電位差を、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する際にイオンが実質的に断片化又は反応される相対的に高いフラグメンテーション又は反応の動作モードと、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する際に断片化又は反応されるイオンが大幅に少ない又は実質的にない相対的に低いフラグメンテーション又は反応の動作モードとの間で切り替える又は繰り返し切り替えるように構成及び適応される制御システムを備える質量分析計。
［形態７９］
形態７８に記載の質量分析計であって、
前記相対的に高いフラグメンテーション又は反応の動作モードにおいて、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入するイオンは、(i)≧１０Ｖ、(ii)≧２０Ｖ、(iii)≧３０Ｖ、(iv)≧４０Ｖ、(v)≧５０Ｖ、(vi)≧６０Ｖ、(vii)≧７０Ｖ、(viii)≧８０Ｖ、(ix)≧９０Ｖ、(x)≧１００Ｖ、(xi)≧１１０Ｖ、(xii)≧１２０Ｖ、(xiii)≧１３０Ｖ、(xiv)≧１４０Ｖ、(xv)≧１５０Ｖ、(xvi)≧１６０Ｖ、(xvii)≧１７０Ｖ、(xviii)≧１８０Ｖ、(xix)≧１９０Ｖ、及び(xx)≧２００Ｖからなる群より選択される電位差を通して加速される、質量分析計。
［形態８０］
形態７８又は７９に記載の質量分析計であって、
前記相対的に低いフラグメンテーション又は反応の動作モードにおいて、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入するイオンは、(i)≦２０Ｖ、(ii)≦１５Ｖ、(iii)≦１０Ｖ、(iv)≦５Ｖ、及び(v)≦１Ｖからなる群より選択される電位差を通して加速される、質量分析計。
［形態８１］
形態７８、７９、又は８０に記載の質量分析計であって、
前記制御システムは、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を、１ｍｓ、５ｍｓ、１０ｍｓ、１５ｍｓ、２０ｍｓ、２５ｍｓ、３０ｍｓ、３５ｍｓ、４０ｍｓ、４５ｍｓ、５０ｍｓ、５５ｍｓ、６０ｍｓ、６５ｍｓ、７０ｍｓ、７５ｍｓ、８０ｍｓ、８５ｍｓ、９０ｍｓ、９５ｍｓ、１００ｍｓ、２００ｍｓ、３００ｍｓ、４００ｍｓ、５００ｍｓ、６００ｍｓ、７００ｍｓ、８００ｍｓ、９００ｍｓ、１ｓ、２ｓ、３ｓ、４ｓ、５ｓ、６ｓ、７ｓ、８ｓ、９ｓ、又は１０ｓごとに少なくとも１回づつ、前記相対的に高いフラグメンテーション又は反応の動作モードと前記相対的に低いフラグメンテーション又は反応の動作モードとの間で切り替えるように構成及び適応される、質量分析計。
［形態８２］
形態７４ないし８１のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、イオンのビームを受け取り、そして任意の特定の時間において少なくとも１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８、１９、又は２０の個別のイオングループ又はイオンパケットが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内に閉じ込められるなおかつ／又は隔離されるように前記イオンのビームを変換する又は分割するように構成及び適応され、各イオングループ又は各イオンパケットは、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内に形成される個別の軸方向のポテンシャル井戸内に個別に閉じ込められるなおかつ／又は隔離される、質量分析計。
［形態８３］
形態５１ないし８２のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記飛行時間型質量分析器の上流及び／又は下流に配置されるさらなる質量フィルタ又は質量分析器を備える質量分析計。
［形態８４］
形態８３に記載の質量分析計であって、
前記さらなる質量フィルタ又は質量分析器は、(i)四重極ロッドセット質量フィルタ、(ii)飛行時間型の質量フィルタ又は質量分析器、(iii)ウィーンフィルタ、及び(iv)磁場セクタ型の質量フィルタ又は質量分析器からなる群より選択される、質量分析計。
［形態８５］
形態５１ないし８４のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
イオン源を備える質量分析計。
［形態８６］
形態８５に記載の質量分析計であって、さらに、
(i)エレクトロスプレイイオン化（ＥＳＩ）イオン源、(ii)大気圧光イオン化（ＡＰＰＩ）イオン源、(iii)大気圧化学イオン化（ＡＰＣＩ）イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）イオン源、(v)レーザ脱離イオン化（ＬＤＩ）イオン源、(vi)大気圧イオン化（ＡＰＩ）イオン源、(vii)シリコン上脱離イオン化（ＤＩＯＳ）イオン源、(viii)電子衝撃（ＥＩ）イオン源、(ix)化学イオン化（ＣＩ）イオン源、(x)電界イオン化（ＦＩ）イオン源、(xi)電界脱離（ＦＤ）イオン源、(xii)誘導結合プラズマ（ＩＣＰ）イオン源、(xiii)高速原子衝撃（ＦＡＢ）イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析（ＬＳＩＭＳ）イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレイイオン化（ＤＥＳＩ）イオン源、(xvi)ニッケル６３放射性イオン源、(xvii)サーモスプレイイオン源、(xviii)粒子ビーム（ＰＢ）イオン源、及び(xix)フロー高速原子衝撃（フローＦＡＢ）イオン源からなる群より選択されるイオン源を備える質量分析計。
［形態８７］
形態８５又は８６に記載の質量分析計であって、さらに、
連続イオン源又はパルスイオン源を備える質量分析計。
［形態８８］
イオンをそれらの飛行時間にしたがって質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドを提供することと、
前記イオンガイド内にイオンを径方向に閉じ込めることと、
時間変化する不均一な軸方向電場を前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分に沿って印加することと、
を備える方法。
［形態８９］
形態８８に記載の方法を含む質量分析方法。
［形態９０］
イオンをそれらの質量電荷比及び／又はイオン移動度にしたがって時間的に分離するための装置であって、
複数の電極を含むイオンガイドと、
前記イオンガイド内にイオンを径方向に閉じ込めるように構成及び適応される第１の手段と、
時間変化する不均一な軸方向電場を前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分に沿って印加するように構成及び適応される第２の手段と、
を備える装置。
［形態９１］
イオンをそれらの質量電荷比及び／又はイオン移動度にしたがって時間的に分離する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドを提供することと、
前記イオンガイド内にイオンを径方向に閉じ込めることと、
時間変化する不均一な軸方向電場を前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分に沿って印加することと、
を備える方法。
以下では、例示のみを目的として提示される装置構成とともに、本発明の様々な実施形態が、添付の図面を参照にしながら単なる例として説明される。