【手続補正書】
【提出日】平成26年10月16日(2014.10.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なる試料を迅速にスクリーニングするためのシステムであって、前記システムは、
タンデム質量分析計と、
非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスであって、前記高速試料導入デバイスは、前記タンデム質量分析計に、前記高速試料導入デバイスによって注入される複数の異なる試料のうちの各異なる試料を供給する、高速試料導入デバイスと、
前記タンデム質量分析計および前記高速試料導入デバイスと通信しているプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、前記高速試料導入デバイスに、前記各異なる試料を前記タンデム質量分析計に供給するように命令し、前記タンデム質量分析計に、着目質量範囲全体にわたって広前駆体質量選択窓を移動し、どの質量を断片化させるかを決定する必要なく、前記各異なる試料の前記着目質量範囲全体にわたって、２つ以上の広前駆体質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令する、システム。
【請求項２】
前記プロセッサは、前記プロセッサが、前記タンデム質量分析計に、前記断片化スキャンを実施するように命令する前に、前記タンデム質量分析計に、前記質量範囲の質量スペクトルを得るように命令する、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記高速試料導入デバイスは、フローインジェクション分析デバイスまたは迅速な試料清浄デバイスを備えている、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記プロセッサは、前記タンデム質量分析計に、前記２つ以上の広前駆体質量選択窓のうちの少なくとも２つの間において、前記タンデム質量分析計の少なくとも１つのパラメータを変動させるように命令する、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記広前駆体質量選択窓が、異なる試料が前記高速試料導入デバイスによって注入される速度内で各異なる試料の前記着目質量範囲全体にわたって移動されるように、前記広前駆体質量選択窓の幅は、前記プロセッサによって選択される、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
広前駆体質量選択窓は、２０ａｍｕと２００ａｍｕとの間の幅を有する、請求項１に記載のシステム。
【請求項７】
異なる試料を迅速にスクリーニングする方法であって、前記方法は、
プロセッサを使用して、非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスに、前記高速試料導入デバイスによって注入される複数の異なる試料のうちの各異なる試料をタンデム質量分析計に供給するように命令することと、
前記プロセッサを使用して、前記タンデム質量分析計に、着目質量範囲全体にわたって広前駆体質量選択窓を移動し、どの質量を断片化させるかを決定する必要なく、前記各異なる試料の前記着目質量範囲全体にわたって、２つ以上の広前駆体質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令することと
を含む、方法。
【請求項８】
前記タンデム質量分析計に、前記断片化スキャンを実施するように命令する前に、前記プロセッサを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記質量範囲の質量スペクトルを得るように命令することをさらに含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記プロセッサを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記２つ以上の広前駆体質量選択窓のうちの少なくとも２つの間において、前記タンデム質量分析計の少なくとも１つのパラメータを変動させるように命令することをさらに含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
前記広前駆体質量選択窓が、前記プロセッサを使用して、異なる試料が前記高速試料導入デバイスによって注入される速度内で各異なる試料の前記着目質量範囲全体にわたって移動されるように、前記広前駆体質量選択窓の幅を選択することをさらに含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
広前駆体質量選択窓は、２０ａｍｕと２００ａｍｕとの間の幅を有する、請求項７に記載の方法。
【請求項１２】
コンテンツがプログラムを含む非一時的かつ有形のコンピュータ可読記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記プログラムは、異なる試料を迅速にスクリーニングする方法を実施するようにプロセッサ上で実行される命令を有し、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、１つ以上の個別ソフトウェアモジュールを備え、前記個別ソフトウェアモジュールは、高速試料導入モジュールおよびタンデム質量分析モジュールを備えている、ことと、
前記高速試料導入モジュールを使用して、非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスに、前記高速試料導入デバイスによって注入される複数の異なる試料のうちの各異なる試料をタンデム質量分析計に供給するように命令することと、
前記タンデム質量分析モジュールを使用して、前記タンデム質量分析計に、着目質量範囲全体にわたって広前駆体質量選択窓を移動し、どの質量を断片化させるかを決定する必要なく、前記各異なる試料の前記着目質量範囲全体にわたって、２つ以上の広前駆体質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
【請求項１３】
前記タンデム質量分析計に、前記断片化スキャンを実施するように命令する前に、前記タンデム質量分析モジュールを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記質量範囲の質量スペクトルを得るように命令することをさらに含む、請求項１２に記載のコンピュータプログラム製品。
【請求項１４】
前記広前駆体質量選択窓が、前記タンデム質量分析モジュールを使用して、異なる試料が前記高速試料導入デバイスによって注入される速度内で各異なる試料の前記着目質量範囲全体にわたって移動されるように、前記広前駆体質量選択窓の幅を選択することをさらに含む、請求項１２に記載のコンピュータプログラム製品。
【請求項１５】
広前駆体質量選択窓は、２０ａｍｕと２００ａｍｕとの間の幅を有する、請求項１２に記載のコンピュータプログラム製品。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
種々の実施形態において、非クロマトグラフ的である高速試料導入技法が、着目質量範囲全体にわたって、２つ以上の質量選択窓において、断片化スキャンを行い、迅速な試料分析方法を提供するタンデム質量分析技法と結合される。本方法は、意義深い結果を生成するための十分なＭＳ／ＭＳ情報を提供することができ、かつ結果における重要な複雑性を明らかにすることができる。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
（項目１）
試料を迅速にスクリーニングするためのシステムであって、
タンデム質量分析計と、
非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスであって、前記タンデム質量分析計に複数の試料のうちの各試料を供給する高速試料導入デバイスと、
前記タンデム質量分析計および前記高速試料導入デバイスと通信しているプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、前記高速試料導入デバイスに、前記各試料を前記タンデム質量分析計に供給するように命令し、前記タンデム質量分析計に、前記各試料の着目質量範囲全体にわたって、２つ以上の質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令する、システム。
（項目２）
前記２つ以上の質量選択窓は、固定の窓幅を有している、項目１に記載のシステム。
（項目３）
前記２つ以上の質量選択窓のうちの少なくとも２つは、異なる窓幅を有している、項目１に記載のシステム。
（項目４）
前記プロセッサは、前記プロセッサが、前記タンデム質量分析計に、前記断片化スキャンを実施するように命令する前に、前記タンデム質量分析計に、前記質量範囲の質量スペクトルを得るように命令する、項目１に記載のシステム。
（項目５）
前記高速試料導入デバイスは、フローインジェクション分析デバイス、イオン移動度分析デバイス、または迅速な試料清浄デバイスを備えている、項目１に記載のシステム。
（項目６）
前記プロセッサは、前記タンデム質量分析計に、前記２つ以上の質量選択窓のうちの少なくとも２つの間において、前記タンデム質量分析計の少なくとも１つのパラメータを変動させるように命令する、項目１に記載のシステム。
（項目７）
試料を迅速にスクリーニングする方法であって、
プロセッサを使用して、非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスに、複数の試料のうちの各試料をタンデム質量分析計に供給するように命令することと、
前記プロセッサを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記各試料の着目質量範囲全体にわたって、２つ以上の質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令することと
を含む、方法。
（項目８）
前記２つ以上の質量選択窓は、固定の窓幅を有している、項目７に記載の方法。
（項目９）
前記２つ以上の質量選択窓のうちの少なくとも２つは、異なる窓幅を有している、項目７に記載の方法。
（項目１０）
前記プロセッサを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記断片化スキャンを実施するように命令する前に、前記タンデム質量分析計に、前記質量範囲の質量スペクトルを得るように命令することをさらに含む、項目７に記載の方法。
（項目１１）
前記プロセッサを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記２つ以上の質量選択窓のうちの少なくとも２つの間において、前記タンデム質量分析計の少なくとも１つのパラメータを変動させるように命令することをさらに含む、項目７に記載の方法。
（項目１２）
そのコンテンツがプログラムを含む非一時的かつ有形のコンピュータ可読記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記プログラムは、試料を迅速にスクリーニングする方法を実施するようにプロセッサ上で実行される命令を有し、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、１つ以上の個別ソフトウェアモジュールを備え、前記個別ソフトウェアモジュールは、高速試料導入モジュールおよびタンデム質量分析モジュールを備えている、ことと、
前記高速試料導入モジュールを使用して、非クロマトグラフ的である高速試料導入デバイスに、複数の試料のうちの各試料をタンデム質量分析計に供給するように命令することと、
前記タンデム質量分析モジュールを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記各試料の着目質量範囲全体にわたって、２つ以上の質量選択窓において、断片化スキャンを実施するように命令することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
（項目１３）
前記２つ以上の質量選択窓は、固定の窓幅を有している、項目１２に記載のコンピュータプログラム製品。
（項目１４）
前記２つ以上の質量選択窓のうちの少なくとも２つは、異なる窓幅を有している、項目１２に記載のコンピュータプログラム製品。
（項目１５）
前記タンデム質量分析モジュールを使用して、前記タンデム質量分析計に、前記断片化スキャンを実施するように命令する前に、前記タンデム質量分析計に、前記質量範囲の質量スペクトルを得るように命令することをさらに含む、項目１２に記載のコンピュータプログラム製品。