(57)【要約】【課題】濃度基準板を形成する白色基準板のゴミやキズを精度よく検知して、この濃度基準板の製造歩留まり向上と、画質劣化防止を実現可能な画像読み取り装置の提供。【解決手段】濃度基準部材１０４上に設定された複数のシェーディング補正係数算出エリアと、シェーディング補正回路３０７の後段に配置され、基準となる点と、この基準となる点とは位置の異なる点での読み取りデータから濃度基準部材１０４の特異点を判定する判定手段５０１と、複数のシェーディング補正係数算出エリアに対し、位置の異なる複数の箇所にて前記判定手段５０１を動作させるための判定位置制御手段と、前記判定手段５０１、及び判定位置制御手段により、前記複数のシェーディング補正係数算出エリアに対して行われる複数の箇所での判定結果に基づいて、シェーディング補正係数算出エリアを制御するエリア制御手段とを有することを特徴とする。【選択図】　　　　図５
2004096344.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
シェーディング補正係数を算出するための濃度基準部材と、シェーディング補正回路とを有する画像読み取り装置であって、
前記濃度基準部材上に設定された複数のシェーディング補正係数算出エリアと、前記シェーディング補正回路の後段に配置され、基準となる点と、この基準となる点とは位置の異なる点での読み取りデータから濃度基準部材の特異点を判定する判定手段と、
前記複数のシェーディング補正係数算出エリアに対し、位置の異なる複数の箇所にて前記判定手段を動作させるための判定位置制御手段と、
前記判定手段、及び判定位置制御手段により、前記複数のシェーディング補正係数算出エリアに対して行われる複数の箇所での判定結果に基づいて、シェーディング補正係数算出エリアを制御するエリア制御手段とを有することを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項２】
請求項１記載の画像読み取り装置において、前記エリア制御手段は、すべての箇所で特異点無しと判定されたエリアをシェーディング補正係数算出のための前記濃度基準部材の読み取り位置とすることを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項３】
請求項１記載の画像読み取り装置において、前記判定位置制御手段により制御される位置の異なる複数の判定箇所はそれぞれ読み取り解像度以下の距離だけ離れた箇所であることを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項４】
請求項１記載の画像読み取り装置において、前記判定手段はシェーディング補正後の画像データに対して所定レベルで２値化処理を行う２値化手段と、該２値化手段による２値化データを所定ライン分加算する加算手段と、該加算手段の加算結果を所定の判定閾値と比較する比較手段を有することを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項５】
請求項４記載の画像読み取り装置において、前記２値化手段の２値化レベル及び前記比較手段の判定閾値を、ＲＧＢ各色ごとに変更することを特徴とする画像読み取り装置。
【請求項６】
複数の読み取り領域を有する濃度基準部材と、シェーディング補正回路とを有する画像読取装置であって、
前記シェーディング補正回路の後段に配置され、前記複数の読み取り領域の中の１つの領域に対して複数の読み取り位置で特異点を判定する判定手段と、
複数の読み取り位置で前記判定手段により特異点を判定するために、読み取り位置を制御する位置制御手段と、
前記複数の読み取り領域で前記判定手段によって得られた判定結果に基づいて、シェーディング補正データを取得する読み取り領域を決定する領域決定手段とを有することを特徴とする画像読み取り装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像読み取り装置に関し、詳しくは濃度基準板に付着したゴミ、汚れ及びキズによる画像劣化を防止するためのシェーディング補正回路を備えた画像読み取り装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
先ず、図１，２，３を用いて画像読み取り装置の構成について説明する。
【０００３】
図１は、画像読み取り装置１００の構成を示す模式的側断面説明図である。
【０００４】
画像読み取り装置１００は、原稿１０１を載置する原稿台ガラス１０２、原稿１０１を押さえ付ける原稿圧板１０３、シェーディング補正係数を算出するための濃度基準部材（以下、濃度基準板と記す）１０４、濃度基準板１０４を原稿台ガラス１０２に貼り付ける粘着シート１０５、原稿１０１及び濃度基準板１０４を照明するための光源１０６、光源１０６の光を原稿台ガラス上の読み取り位置に集光させるための反射笠１０７、原稿１０１あるいは濃度基準板１０４からの反射光を導光するための光学ユニット１１４、レンズ１１１、光学ユニット１１４からの反射光をレンズ１１１を介して読み取るＣＣＤラインセンサ１１２で構成されている。
【０００５】
光学ユニット１１４は、第１ミラー１０８、第２ミラー１０９、第３ミラー１１０で構成されている。なお、濃度基準板１０４は、通常では、湿度・温度などの環境条件により色味が変動しない材料が用いられている。
【０００６】
実際に原稿を読み取る際には、第１ミラー１０８、第２ミラー１０９、第３ミラー１１０等で構成される光学ユニット１１４は、パルスモータ１１３によって矢印Ａ（図１）の方向へ移動される。そして、原稿読み取り装置１００は、原稿１０１を２次元的に読み取ることができる。光学ユニット１１４は、制御部（不図示）でパルスモータ１１３を制御することにより駆動されている。
【０００７】
ここで、画像読み取り装置１００において、光源１０６からの光がＣＣＤラインセンサ１１２に集光されて電気信号を得る過程を概略説明する。
【０００８】
光源１０６及び反射笠１０７からの光は、原稿台ガラス１０２を通して照明され、原稿１０１または濃度基準板１０４に照射される。原稿１０１または濃度基準板１０４からの反射光は、第１ミラー１０８、第２ミラー１０９、第３ミラー１１０、及びレンズ１１１を介してＣＣＤラインセンサ１１２の受光部上に結像される。
【０００９】
そして、その反射光は、ＣＣＤラインセンサ１１２により電気信号に変換される。なお、ＣＣＤラインセンサ１１２がカラーラインセンサの場合、レンズ１１１を介して結像された反射光は、カラーラインセンサの受光部上のカラーフィルタによりそれぞれ色分解されて、電気信号に変換される。
【００１０】
通常、原稿読み取り装置１００で原稿の読み取りが行われる際には、あらかじめ濃度基準板１０４を読み取って求められたシェーディング補正係数が必要である。
【００１１】
図２は、シェーディング補正前後の画像データの態様を示す説明図である。
【００１２】
図２において、点線で挟まれた区間は、ＣＣＤラインセンサ１１２の読み取り範囲を示している。図２（ａ）の２０１はシェーディング補正前の濃度基準板１０４の読み取り画像データを示しており、図２（ｂ）の２０２はシェーディング補正後の画像データを示している。図２（ａ）の２０１のような不均一な特性の原因は一般的に以下の３点が上げられる。
【００１３】
▲１▼ＣＣＤラインセンサを構成するフォトダイオードの画素ごとの感度バラツキ
▲２▼光源（原稿照明ランプ）１０６の配光
▲３▼レンズ１１１の端部光量劣化
【００１４】
シェーディング補正は、濃度基準板１０４を読み取った画像データ（図２（ａ）の２０１）を、フラット（均一、または平滑）な画像データ（図２（ｂ）の２０２）となるように画素単位で補正を行うことである。
【００１５】
次に、図３を参照して、シェーディング補正係数の求め方について説明する。
【００１６】
図３は、シェーディング補正演算処理の構成（演算部３００）を示すブロック図である。図３において、シェーディング補正演算部３００は、シェーディングメモリ３０１、セレクタ３０２、シェーディングターゲットレジスタ（Ｋｄａｔ）３０３、除算回路３０４、加算回路３０５、平均化回路３０６、ショーディング補正回路３０７で構成されている。ここでは、シェーディングメモリ３０１は、７５００ワード×１６ｂｉｔサイズの容量を有するものである。
【００１７】
シェーディング補正演算部３００に入力される信号ＶＩ（ｎ）は、ＣＣＤラインセンサ１１２から出力された電気信号である。シェーディング補正演算部３００に入力される前に、ＣＣＤラインセンサ１１２で得られたアナログ電気信号は、増幅回路で増幅され、さらにＡ／Ｄ変換器でデジタル電気信号に変換される。ＶＩ（ｎ）は、デジタル電気信号ということになる。
【００１８】
シェーディングメモリ３０１は、シューディング補正の処理を行うときに用いられる。以下に、そのときの処理の具体例を示す。
【００１９】
▲１▼複数ラインのデータを加算するライン加算処理
▲２▼加算されたデータ（ラインデータ）から画素単位ごとに平均する平均化処理
▲３▼シェーディング補正係数を求める除算処理
▲４▼除算処理で求められたシェーディング補正係数の保持
【００２０】
以上の構成により、実際のシェーディング補正は以下のように行われる。
【００２１】
以下の動作は、不図示の制御部（ＣＰＵ）により実行される。まず、シェーディング補正に必要なシェーディング補正係数の求め方について説明する。
【００２２】
シェーディング補正演算部３００に入力された信号ＶＩ（ｎ）は、濃度基準板１０４からの反射光に基づいたラインデータである。ここでは、シェーディング補正係数の信頼性を向上するために、濃度基準板１０４の読み取りが６４回（データとして６４ライン）行われる。
【００２３】
濃度基準板１０４からのラインデータ（６４ラインデータ）は、加算回路３０５により加算され、シェーディングメモリ３０１に書き込まれる。このとき、セレクタ３０２が、加算回路３０５から出力されるデータを選択するように制御部によって制御される。加算回路３０５は、６４ライン分のラインデータを加算するものである。さらに、詳しく言えば、入力画像信号ＶＩ（ｎ）とＶＩ（ｎ）に同期して読み出されたシェーディングメモリ３０１からのデータとが入力され、その加算結果を出力するものである。
【００２４】
加算されたデータは、シェーディングメモリ３０１から読み出され、平均化回路３０６に送られる。そして、平均化回路３０６では、シェーディングメモリ３０１からの出力を６ｂｉｔシフトすることにより６４ライン分のデータの平均化処理が実行される。ここでは、平均ライン数は２ｎに限定される（ｎは自然数）。
【００２５】
平均化処理が行われたデータは、再びシェーディングメモリ３０１に書き込まれる。このとき、前述と同様に、セレクタ３０２が、平均化回路３０６から出力されるデータを選択するように制御部によって制御される。さらに、データはシェーディングメモリ３０１から読み出され、除算回路３０４に送られる。除算回路３０４では、シェーディングメモリ３０１からの出力とシェーディングターゲットレジスタ３０３に設定されたシェーディングターゲットＫｄａｔとに基づいて、次式の処理が実行され、その処理結果であるシェーディング補正係数が出力される。
【００２６】
【数１】
2004096344.tif 000003
Ｍ（ｎ）：シェーディングメモリ３０１の出力
Ｏ（ｎ）：演算結果
ｎ：画素番号
【００２７】
なお、上記演算処理（シェーディング補正係数を求める演算処理）は、以下ではＣＤ演算とする。
【００２８】
ＣＤ演算により求められたシェーディング補正係数は、シェーディングメモリ３０１に記憶される。
【００２９】
シェーディング補正演算部３００に入力された入力画像信号ＶＩ（ｎ）とシェーディングメモリ３０１から読み出されるシェーディング補正係数ＣＤ（ｎ）は同期されて、シェーディング補正回路３０７に入力される。シェーディング補正回路３０７は、ＶＩ（ｎ）とＣＤ（ｎ）に基づいて画像単位で乗算処理を行うものである。なお、シェーディング補正回路３０７で乗算処理されたデータは、ＶＯ（ｎ）として出力される。
【００３０】
ＶＩ（ｎ）とＣＤ（ｎ）は乗算されることにより、図２（ｂ）の２０２のようにフラットな特性（均一、または平滑な特性）を得ることが出来る。なお、カラーの画像読み取り装置の場合、シェーディング補正はカラーＣＣＤラインセンサから出力されるＲＧＢ各信号について独立に行われる。
【００３１】
以上のようにして、シェーディング補正動作が実行されているが、その動作は濃度基準板１０４の濃度が均一であるという前提において行われている。従って、濃度基準板１０４には全面均一な濃度特性が要求されている。そのために、濃度基準板１０４の精度や信頼性は厳密でなければならず、その管理は厳しく行われることが要求されていた。
【００３２】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、シェーディング補正は濃度基準板１０４を均一濃度として補正を行うため、濃度基準板１０４にゴミが付着あるいはキズや汚れがあった場合には画質の劣化を引き起こすという問題がある。
【００３３】
図４は、ゴミやキズによる画像劣化の状態を示す模式的説明図である。
【００３４】
図４（ａ）は、濃度基準板に白いゴミがあった場合で、出力された画像は黒スジとなって影響を及ぼしている。図４（ｂ）は、濃度基準板１０４に黒いゴミがあった場合で、出力された画像は白スジとなって影響を及ぼしている。
【００３５】
このような画像への影響を防止するためには、濃度基準板１０４は均一濃度を達成しなければならない。しかし、画像読み取り装置を製造するときに、厳しい検査工程が必要となり、歩留まりの低下、コスト増大という大きな問題があった。その厳しい検査工程は、例えば顕微鏡を使った目視検査などが挙げられる。
【００３６】
本発明は、上述の点に着目して成されたもので、濃度基準板を形成する白色基準板のゴミやキズを精度よく検知して、この濃度基準板の製造歩留まり向上と、画質劣化防止を実現可能な画像読み取り装置を提供することを目的とする。
【００３７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、下記構成を備えることにより上記課題を解決できるものである。
【００３８】
（１）シェーディング補正係数を算出するための濃度基準部材と、シェーディング補正回路とを有する画像読み取り装置であって、
前記濃度基準部材上に設定された複数のシェーディング補正係数算出エリアと、前記シェーディング補正回路の後段に配置され、基準となる点と、この基準となる点とは位置の異なる点での読み取りデータから濃度基準部材の特異点を判定する判定手段と、前記複数のシェーディング補正係数算出エリアに対し、位置の異なる複数の箇所にて前記判定手段を動作させるための判定位置制御手段と、前記判定手段、及び判定位置制御手段により、前記複数のシェーディング補正係数算出エリアに対して行われる複数の箇所での判定結果に基づいて、シェーディング補正係数算出エリアを制御するエリア制御手段とを有する画像読み取り装置。
【００３９】
（２）前項（１）記載の画像読み取り装置において、前記エリア制御手段は、すべての箇所で特異点無しと判定されたエリアをシェーディング補正係数算出のための前記濃度基準部材の読み取り位置とする画像読み取り装置。
【００４０】
（３）前項（１）記載の画像読み取り装置において、前記判定位置制御手段により制御される位置の異なる複数の判定箇所はそれぞれ読み取り解像度以下の距離だけ離れた箇所である画像読み取り装置。
【００４１】
（４）前項（１）記載の画像読み取り装置において、前記判定手段はシェーディング補正後の画像データに対して所定レベルで２値化処理を行う２値化手段と、該２値化手段による２値化データを所定ライン分加算する加算手段と、該加算手段の加算結果を所定の判定閾値と比較する比較手段を有する画像読み取り装置。
【００４２】
（５）前項（４）記載の画像読み取り装置において、前記２値化手段の２値化レベル及び前記比較手段の判定閾値を、ＲＧＢ各色ごとに変更する画像読み取り装置。
【００４３】
（６）複数の読み取り領域を有する濃度基準部材と、シェーディング補正回路とを有する画像読取装置であって、
前記シェーディング補正回路の後段に配置され、前記複数の読み取り領域の中の１つの領域に対して複数の読み取り位置で特異点を判定する判定手段と、
複数の読み取り位置で前記判定手段により特異点を判定するために、読み取り位置を制御する位置制御手段と、前記複数の読み取り領域で前記判定手段によって得られた判定結果に基づいて、シェーディング補正データを取得する読み取り領域を決定する領域決定手段とを有する画像読み取り装置。
【００４４】
即ち、シェーディング補正部後段に２値化回路を設け、白ゴミ検知レベル、黒ゴミ検知レベルでシェーディング補正後の画像信号に対して２値化処理を行い、２値化後の画像データを所定ライン分加算し、検知レベルを超える画素のヒストグラムを作成し、そのヒストグラムをゴミ判定閾値と比較し、濃度基準板（白色基準板）上のゴミの有無を判定し、ゴミ判定は、シェーディングサンプリング可能なエリア内の複数の箇所について行われ、各箇所の検知結果がすべてゴミ無しの場合、そのエリアをシェーディングサンプリング位置とする。
【００４５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る画像読み取り装置の実施の形態について説明する。
【００４６】
図１は、画像読み取り装置１００の構成を示す模式的側断面説明図、図２は、シェーディング補正前後の画像データの態様を示す説明図、図３は、従来例におけるシェーディング補正演算部の構成を示すブロック図、図４は、ゴミやキズによる画像劣化の状態を示す模式的説明図、図５は、実施例１におけるシェーディング補正演算部の構成を示すブロック図、図６は、画像読み取り位置にゴミなどがある場合のゴミ判定動作を示す模式的説明図、（ａ）はシェーディングサンプリング時の画像信号、（ｂ）はシェーディング補正後の画像データ、（ｃ）は２値化データの加算結果（ヒストグラム）、図７は、シェーディング補正係数算出位置にゴミなどがある場合のゴミ判定動作を示す模式的説明図、（ａ）はシェーディングサンプリング時の画像信号、（ｂ）はシェーディング補正後の画像データ、（ｃ）は２値化データの加算結果（ヒストグラム）、図８は、濃度基準板上のシェーディング補正データ取得エリアを示す説明図、図９は、シェーディング補正データ取得エリア内でのゴミ検知範囲を示す説明図、図１０は、実施例２におけるシェーディング補正演算部の構成を示すブロック図、図１１は、カラー画像読み取り装置の場合のゴミ検知シーケンスを示すフローチャートである。
【００４７】
（実施例１）
以下、実施例１について、図５，図６，図７，図８，図９を参照して説明する。
【００４８】
図５は、本発明の実施の形態におけるシェーディング補正演算部５０００のブロック図を示している。従来の技術で説明したシェーディング補正演算部のブロック図（図３）と同一の機能ブロックのものには同じ番号を付してある。
【００４９】
ここでは、図３とは異なる構成のみを説明する。図５のシューディング補正演算部５０００は、図３の機能ブロックに加えて、ゴミ検知部５００で構成されている。
【００５０】
ゴミ検知部５００は、２値化回路５０３、２値化回路５０３の２値化基準レベルを記憶するレジスタ５０４，５０５、ゴミの有無を判定する判定手段（以下、判定回路と記す）５０１、判定回路５０１のゴミ判定しきい値（閾値）レベルを記憶するレジスタ５０２で構成されている。
【００５１】
２値化回路５０３は、シェーディング補正回路３０７の後段に接続されており、シェーディング補正後の画像信号に対して２値化処理を行う。２値化回路５０３は、レジスタ５０４に記憶されている２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”、またはレジスタ５０５に記憶されている２値化基準レベル“ＬＯＷＥＲ”を基準にして画像信号の２値化処理を実行する。
【００５２】
レジスタ５０４に記憶されている２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”は、シェーディング補正を行うことによって白スジの原因となる特異点を判定するための判定レベルであり、シェーディングターゲットレベルＫｄａｔに対して１０高いレベルが設定されている。１０高いレベルを設定した理由は、画像読み取り装置１００で発生するノイズによってゴミ等が在る、と誤って認識しないためである。なお、２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”を基準にして行う２値化処理は、２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”より大きい画像信号は“１”とし、小さい画像信号は“０”とする。
【００５３】
それに対して、レジスタ５０５に記憶されている２値化基準レベル“ＬＯＷＥＲ”はシェーディング補正を行うことによって黒スジの原因となる特異点を判定するための判定レベルであり、シェーディングターゲットレベルＫｄａｔに対して１０低いレベルが設定されている。１０低いレベルを設定した理由は、２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”であるときと同様に、画像読み取り装置１００で発生するノイズによってゴミ等が在る、と誤って認識しないためである。なお、２値化基準レベル“ＬＯＷＥＲ”を基準にして行う２値化処理は、２値化基準レベル“ＬＯＷＥＲ”より小さい画像信号は“１”とし、大きい画像信号は“０”とする。
【００５４】
尚、上記の「シェーディングターゲットレベルＫｄａｔに対して１０高いレベル、シェーディングターゲットレベルＫｄａｔに対して１０低いレベル」とは、２５６階調の０〜２５５の場合において、Ｋｄａｔを１７６と設定した時、上下に「１０」の余裕を持たせることを意味している。
【００５５】
シェーディング補正回路３０７の後段に接続されているゴミ検知部５００は、シューディング補正回路３０７から出力された画像信号に対して２値化処理を行い、その結果を基にしてゴミの有無の判定を行う。ゴミの有無の判定は、以下の条件に基づいて実行される。
【００５６】
ＶＯ（ｎ）＞ＵＰＰＥＲ　または　ＶＯ（ｎ）＜ＤＯＷＮ
ＶＯ（ｎ）：シェーディング補正後の画像信号
ＵＰＰＥＲ：上限判定レベル（白すじ判定レベル）
ＤＯＷＮ　：下限判定レベル（黒すじ判定レベル）
ｎ　：画素番号（各画像を示す番号）
【００５７】
２値化処理は、１ライン分の画像信号に対して行われる。そして、１ライン分の２値化された画像信号は、１ラインごとに判定回路５０１に送られる。判定回路５０１は、２値化回路５０３からの出力された画像信号に対して１ラインごとに所定ライン分の画像信号を加算し、判定レベルを超えているかどうかを明確に示す画素のヒストグラムを作成する。
【００５８】
さらに、判定回路５０１は、作成したヒストグラムから判定レベルを超えているもの（画素）があるか否かによって特異点があるかどうかを判定する。そのときの判定レベルは、ゴミの有無を判定するためのゴミ判定しきい値（閾値）であり、レジスタ５０２に記憶されている。
【００５９】
レジスタ５０２に記憶されている判定レベルは、２値化された画像信号を所定ライン数分だけ加算した信号から特異点を判定するための値である。なお、その値は、加算される信号のライン数に応じて適宜決定される。
【００６０】
判定回路５０１の結果を基にして、判定回路５０１でゴミが有ると判定された場合は、フラグ：ＧＭＫＦｌａｇに“１”を入力する。それに対して、ゴミが無いと判定された場合は、フラグ：ＧＭＫＦｌａｇに“０”を入力する。
【００６１】
図６は、ゴミ判定方法を示す模式図である。図６（ａ）は、シェーディングサンプリング位置（シューディング補正係数を求めるための読み取り位置）にゴミやキズ等がないときのシューディングサンプリング時における画像信号である。
【００６２】
この画像信号は、シューディング補正係数を求めるために、濃度基準板１０４に光を照射し、その反射光をＣＣＤラインセンサ１１２により読み取った信号である。なお、この画像信号は、ＣＣＤラインセンサ１１２の感度バラツキや光源１０６の配光によって生じる不均一な特性を示しているが、ごみやキズ等により生じる特異性を示してはいない。
【００６３】
図６（ｂ）は、シェーディングサンプリング位置から所定量だけ離れた画像読み取り位置で読み取った画像信号に対して、シェーディング補正を実行した後の画像信号を示したものである。シェーディングサンプリング位置から所定量だけ離れた画像読み取り位置は、以下では単に画像読み取り位置とする。
【００６４】
ゴミやキズ等が有るか無いかの判定を行うために、シェーディングサンプリング位置とは異なる画像読み取り位置で読み取りを行い、画像信号を得る。画像読み取り位置にゴミがない場合、読み取られた画像信号はシェーディングターゲットレベルＫｄａｔに等しくフラットな波形（均一、または平滑な波形）となる（シェーディング補正後の波形）（図６（ｂ）（イ））。
【００６５】
一方、画像読み取り位置に白ゴミ（紙粉など）がある場合（図６（ｂ）（ロ））、読み取られた画像信号は白ゴミのある位置（画素）でレベル（値）が大きくなってしまい、フラットな波形（均一、または平滑な波形）にはならない。同様に、画像読み取り位置に黒ゴミがある場合（図６（ｂ）（ハ））、読み取られた画像信号は黒ゴミのある位置でレベルが小さくなってしまい、フラットな波形にはならない。これらの画像信号は、２値化回路５０３で２値化レベル“ＵＰＰＥＲ”、“ＬＯＷＥＲ”を基準にして、それぞれ２値化処理される。
【００６６】
図６（ｃ）は、複数ライン分の２値化された画像データを加算した画像データ（上下限レベルを超える画素のヒストグラム）を示したグラフである。画像読み取り位置にゴミがない場合（図６（ｃ）（イ））、判定レベル（ゴミ判定しきい値レベル）を超えている画素位置はないので、ヒストグラム上に特異性のある点は存在しない。
【００６７】
画像読み取り位置に白ゴミがある場合（図６（ｃ）（ロ））、画像データは、ゴミのある画素位置で上限レベル“ＵＰＰＥＲ”を超えているため、ヒストグラム上のカウント値が大きくなる。同様に、画像読み取り位置に黒ゴミがある場合（図６（ｃ）（ハ））、画像データは、ゴミのある画素位置で下限レベル“ＬＯＷＥＲ”を下回っているため、ヒストグラム上のカウント値が大きくなる。
【００６８】
これらの特定の画素位置（白ゴミまたは黒ゴミが存在する位置）に相当するヒストグラムデータとゴミ判定しきい値（判定レベル）とを比較することによって、ゴミ判定回路５０１でゴミの有無を判定する。
【００６９】
図７は、図６と同様にゴミ判定方法を示す模式図である。図７は、シェーディングサンプリング位置にゴミやキズ等があるときのゴミ判定時の画像データである。
【００７０】
図７（ａ）は、シェーディングサンプリング位置（シューディング補正係数を求めるための読み取り位置）にゴミやキズ等があったときのシューディングサンプル時の画像信号である。この画像信号は、シューディング補正係数を求めるために、濃度基準板１０４に光を照射し、その反射光をＣＣＤラインセンサ１１２で読み取られた信号である。
【００７１】
シェーディングサンプリング位置に白ゴミがある場合（図７（ａ）（イ））、読み取られた画像信号は白ゴミのある位置（画素）で信号のレベルが大きくなる。それに対して、シェーディングサンプリング位置に黒ゴミがある場合（図７（ａ）（ロ））、読み取り画像信号は黒ゴミのある位置で信号レベルが小さくなる。
【００７２】
シェーディングサンプリング位置にゴミやキズ等がある場合はいづれにしても、読み取られた画像信号に基づいてシェーディング補正係数を求めてしまうことになる。それによって、原稿を読み取ったときの画像信号に対してシェーディング補正を実行すると、黒すじあるいは白すじのある画像データが出力されることになる。
【００７３】
図７（ｂ）は、ゴミやキズなどのない読み取り位置（シェーディングサンプリング位置とは異なる画像読み取り位置）で読み取られた画像信号に対して、シェーディング補正を実行した後の画像データを示すグラフである。
【００７４】
シェーディングサンプリング位置に白ゴミがある場合（図７（ｂ）（イ））、画像読み取り位置にゴミが無いにも拘らず、読み取られた画像データは白ゴミのある位置でレベルが下がってしまいフラットな波形（均一、または平滑な波形）にはならない。同様に、シェーディングサンプリング位置に黒ゴミがある場合（図７（ｂ）（ロ））、画像読み取り位置にゴミが無いにも拘らず、読み取られた画像データは黒ゴミのある位置でレベルが大きくなってしまい、フラットな波形（均一、または平滑な波形）にはならない。
【００７５】
つまり、シェーディングサンプリング位置にゴミやキズ等がある場合は、原稿を読み取った画像信号に対してシェーディング補正を実行すると黒スジ（または白スジ）のある画像データになってしまうことになる。
【００７６】
これらの読み取られた画像データは、２値化回路５０３で２値化基準レベル（上限レベル）“ＵＰＰＥＲ”、（下限レベル）“ＬＯＷＥＲ”の値を基準にして２値化処理される。そして、判定回路５０１は、２値化された画像データに対して特異点（ゴミやキズなど）が有るか無いかを判定する。
【００７７】
図７（ｃ）は、図７（ｂ）のシェーディング補正を実行した後の画像データ（複数ライン分の画像データ）を加算して２値化処理した画像データを示したグラフである。２値化処理された画像データを基にして判定回路５０１で、ゴミの有無の判定が行われる。
【００７８】
シェーディングサンプリング位置に白ゴミがある場合（図７（ｃ）（イ））、画像読み取り位置で読み取られた画像信号（シェーディング補正を行った画像信号）が、ゴミのある画素位置で上限レベル“ＬＯＷＥＲ”を下回っているため、ヒストグラム上のカウント値が大きくなる。
【００７９】
同様に、シェーディングサンプリング位置に黒ゴミがある場合（図７（ｃ）（ロ））、画像読み取り位置で読み取られた画像信号（シェーディング補正を行った画像信号）が、ゴミのある画素位置で、上限レベル“ＵＰＰＥＲ”を越えているため、ヒストグラム上のカウント値が大きくなる。
【００８０】
図７（ｃ）で示されるように、ヒストグラムデータとゴミ判定しきい値（判定レベル）を比較することによって判定回路５０１でゴミの有無の判定が実行される。これらのゴミ検知動作は、図５に示すゴミ検知部５００で行われている。
【００８１】
図８は、濃度基準板１０４を読み取ることにより、シェーディング補正データを取得することができるエリアを示したものである。そのエリアは、濃度基準板１０４の長手方向に沿って、細長い領域として複数のエリアに分割されている。ここでは、図８に示すように、エリア１〜１０の１０個のエリアを有している。
【００８２】
エリア１〜１０は、濃度基準板１０４においてシェーディング補正データを取得することが可能な複数のエリアを示している（図８）。１０個のエリアの中からひとつのエリアにおいて、シェーディング補正係数を求める時に読み取られるシェーディングサンプリング位置が選択される。シェーディングサンプリング位置の周辺にゴミやキズのない最適な位置が選択されることが望ましい。
【００８３】
シェーディング補正データを取得するエリアを決定する方法は、以下に説明する。そのエリアの決定する方法は、ゴミ検知部５００によるゴミ検知動作を基にして行われる。
【００８４】
先ず、図９を用いて、シェーディング補正データを取得するエリア内でゴミやキズなどのある読み取り位置を検知する方法を説明する。ここでは、図８に示すエリア１〜１０のシェーディング補正データを取得するエリアの中からエリア１を用いて説明する。
【００８５】
白丸（○）はシェーディング補正係数を求めるために画像読み取りを行うシェーディングサンプリング位置を示しており、黒丸（●）はシューディングサンプリング位置（白丸位置）から求めたシェーディング補正係数を基にして画像読み取りを行い、ゴミの有無を判定する位置を示している。
【００８６】
以上説明したように、ゴミ検知は、シェーディングサンプリング位置で読み取られた信号を基に得られるデータとシェーディングサンプリング位置とは異なる画像読み取り位置で読み取られた画像データに基づいて行われる。ここでは、シェーディングサンプリング位置と画像読み取り位置は、濃度基準板１０４のエリア１のうち、所定の幅だけ離れたところに設定している。
【００８７】
濃度基準板１０４の各エリアにおけるゴミやキズ等を精度良く検知するために、所定の間隔を有する位置だけずらした、（Ａ）から（Ｆ）の６つの箇所について、ゴミ検知を行うように制御する。したがって、１つのシェーディング補正データを取得可能なエリア内において、読み取り位置の異なる６つの箇所でゴミ検知を行うことになる。
【００８８】
図９に示すゴミ検知範囲における一連の検知動作を以下に説明する。
【００８９】
［１］　位置（Ａ）でのシェーディング補正係数算出
先ず、光学モータ１１３によって第１ミラー１０８は、エリア１の（Ａ）のシェーディングサンプリング位置に移動される。
【００９０】
そして、光源１０６が点灯され、図９に示すように読み取り位置（Ａ）の白丸（○）でシェーディングサンプリングが行われる。シェーディングサンプリング位置で読み取りが行われるに際して、シェーディングメモリ３０１の内容がクリアされ、判定回路５０１のフラグ：ＧＭＫＦｌａｇがクリアされる初期化処理が行われる。シェーディング補正係数の求め方は、図３で説明したような構成に基づいて行われる。
【００９１】
［２］　位置（Ａ）での画像読み取り
読み取り位置（Ａ）の黒丸（●）で示す画像読み取り位置に移動して、ゴミ検知を行うために画像読み取りが行われる。具体的には、光源１０６が点灯され、かつシェーディングサンプリング位置で求められたシェーディング補正係数を用いてシェーディング補正が行われ、ゴミ検知を行うために画像読み取りが行われる。
【００９２】
［３］　２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”での２値化処理
画像読み取り位置で読み取られた画像は、１ラインごとにシェーディング補正回路３０７から２値化回路５０３に画像信号として送られ、レジスタ５０４の２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”を基準にして２値化処理される。２値化された１ラインの画像データは、判定回路５０１に送られる。
【００９３】
［４］　２値化データの加算、及びゴミ判定
判定回路５０１で、２値化回路５０３から順次送られてくる２値化データは、加算され、最終的に２５６ライン分の２値化加算データを基にして画素のヒストグラムを作成する。このヒストグラムは、２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”を超えるかどうか判断するためのものである。
【００９４】
そのヒストグラムから最大値を検出して、その最大値とゴミ判定しきい値とを比較する。ヒストグラム上の最大値が、レジスタ５０２に記憶されているゴミ判定しきい値よりもより大きい場合、ゴミの有無を判定する判定回路５０１は「ゴミあり」と判定する。
【００９５】
一方、ヒストグラム上の最大値が、レジスタ５０２に記憶されているゴミ判定しきい値より小さい場合、ゴミ判定回路６０１は「ゴミなし」と判定する。ゴミ判定の結果を基にして、フラグＧＭＫＦｌａｇにフラグを立てる。
【００９６】
［５］　２値化基準レベル“ＬＯＷＥＲ”での２値化処理
画像読み取り位置で読み取られた画像は、１ラインごとにシェーディング補正回路３０７から２値化回路５０３に画像信号として送られ、レジスタ５０５の２値化基準レベル“ＬＯＷＥＲ”を基準にして２値化処理される。２値化された１ラインの画像データは、判定回路５０１に送られる。
【００９７】
［６］　２値化データ加算、下限レベルＬＯＷＥＲゴミ判定
上記［４］と同様な処理で、ゴミ判定が行われる。これまでに行われた画像読み取り位置の移動、画像の読み取り、シェーディング補正係数演算、及びゴミの有無の判定等は、不図示のＣＰＵにより制御される。
【００９８】
２値化基準レベル“ＵＰＰＥＲ”５０４を基にして生成された２値化データによるゴミ判定の結果、及び２値化基準レベル“ＬＯＷＥＲ”５０５を基にして生成された２値化データによるゴミ判定の結果は、それぞれの判定結果ごとにフラグＧＭＫＦｌａｇにフラグを立てる。そのフラグを基にして、ＣＰＵにより記憶手段に保存される。
【００９９】
なお、エリア１の位置（Ａ）における前記［１］〜［６］の動作を引き続き、位置（Ｂ）→（Ｃ）→（Ｄ）→（Ｅ）→（Ｆ）と順次行い、１つのエリア内においてゴミ判定が行われる。
【０１００】
（Ａ）〜（Ｆ）の順にゴミ判定を行った結果の例を表１に示す。
【０１０１】
【表１】
2004096344.tif 000004
【０１０２】
表１のような結果を基にして、エリア１内の読み取り位置（Ａ）〜（Ｆ）の中でひとつでもＮＧ判定があれば、ＣＰＵは、ゴミ検知を行ったシェーディング補正データを取得可能なエリア１においてシェーディング補正係数を求める領域にはふさわしくない領域であると判断して、エリア１をＮＧ（シェーディング補正データを取得するには不適当である）と設定する。
【０１０３】
それに対して、エリア内においてＯＫ（エリア内にはゴミやキズがなく、シェーディング補正データを取得するのに適当である）という判定である場合には、シェーディング補正データを取得するエリアであると判断して、そのエリアをＯＫと設定する。
【０１０４】
本発明の実施の形態では、シェーディング補正係数算出位置を「エリア」として設定することを特徴としている。ゴミ判定結果に従って指定されたエリア内でシェーディング補正係数を求めるようにしておけば、ミラー台などの停止精度が多少悪い場合でも、濃度基準板１０４上のゴミのない位置で常に読み取ることが可能である。
【０１０５】
シェーディング補正係数算出位置を「点」として設定した場合には、ミラー台の停止精度によっては指定した（予め設定した）シェーディング補正係数算出位置からずれてしまうこともある。そして、変わってしまった読み取り位置の濃度基準板上にゴミがある場合には、不適当であるシェーディング補正係数になってしまい、すでに説明したように読み取られた原稿画像に影響を及ぼすことになる。
【０１０６】
ミラー台の停止精度を考慮した場合、シェーディング補正係数の算出位置は「エリア」として設定するほうが適している。
【０１０７】
さらに、図９（Ａ）〜（Ｆ）の読み取り位置（検知位置）はエリア内を隙間なくゴミ検知できるような位置に設定される。すなわち、解像度６００ｄｐｉの画像読み取り装置の場合、１ライン（画素）の読み取り幅は４２．３μｍになるので、（Ａ）から（Ｆ）の各位置の関係を４２．３μｍ以下に設定することにより、濃度基準板１０４の読み取りエリア内を隙間なくゴミ検知することが可能になる。
【０１０８】
（Ａ）から（Ｆ）の読み取り位置（判定位置）の間隔が、４２．３μｍ以上に設定されると、濃度基準板１０４の読み取りエリア内におけるゴミを検知できない部分が生じてしまうことになる。このような場合、各判定位置の間においてゴミを検知できない位置に本当はゴミが存在するにも拘らず、（Ａ）から（Ｆ）におけるゴミ検知で「ゴミなし」と判断され、そのエリアはシェーディング補正係数算出位置に適している、即ち「ＯＫ」と判断されてしまう。そして、本当はゴミが存在する濃度基準板１０４のエリアが、シェーディング補正データの取得エリアとして設定されてしまうことになる。ミラー台の停止精度によっては、ゴミが存在する位置でシェーディングサンプリングの処理が行われ、シェーディング補正係数が算出されてしまうことになる。
【０１０９】
本発明の実施の形態では、ゴミ検知の処理を実行する時はミラー台の移動をパルスモータの駆動により制御を行っている。その制御は、パルスモータをマイクロステップ、１パルスで駆動し、読み取りライン幅以下になるようにゴミ検知位置の制御を行っている。
【０１１０】
（Ａ）〜（Ｆ）のゴミ検知動作は、図８に示すシェーディング補正データの取得可能なエリア１から１０に対して順次行われる。エリア１から１０についてゴミ検知を行った結果の一例を表２に示す。
【０１１１】
【表２】
2004096344.tif 000005
【０１１２】
エリア１から１０においてシェーディング補正データの取得エリアのうち、ゴミの有無を判定する判定結果がＯＫとなるエリアが、シェーディング補正データの取得可能なエリア候補となる。そして、その候補の中からシェーディング補正係数算出に使用されるエリアは適宜決定される。
【０１１３】
シェーディング補正データの取得に使用するエリアの決定は、種々の方法がある。
【０１１４】
第１の方法としては、シェーディング補正データ取得エリアにおけるゴミの有無を判定する判定結果が、３連続以上「ＯＫ」（表２においてはエリア４、５、６）となる場合に、その間にあるエリア５をシューディング補正データの取得位置として使用する。その理由は、ミラー台の停止精度に対してマージンをより多く取るためである。３連続「ＯＫ」となる開始エリア４、及び終了エリア６より、その中間に位置する中間エリア５の方が、濃度基準板１０４上のゴミが存在する位置からは離れており、ゴミの影響を受けないシェーディング補正データを取得することができる。
【０１１５】
第２の方法としては、エリア１から１０においてシェーディング補正データを取得可能なエリアすべてに対して、ゴミ検知を実行するのではなく、エリア１から順にゴミ検知を行い、その判定結果で「ＯＫ」の判定が行われたエリアをシェーディング補正係数算出に使用する。その理由は、ゴミの有無を判定する判定の結果で「ＯＫ」と判定が行われたエリアをシェーディング補正データ取得エリアと設定する場合、それ以降のゴミ検知は行う必要はないので、ゴミ検知動作の時間の短縮が可能になるからである。
【０１１６】
第３の方法としては、第１の方法と第２の方法を組み合わせた方法がある。エリア１から順次にゴミ検知を行って、「ＯＫ」の判定が３連続であれば、その時点でゴミ検知の動作をやめて、シェーディング補正データ取得エリアを決定する。この方法は、第１の方法と第２の方法の利点を兼ね備えた方法である。
【０１１７】
以上のような動作によって、ＣＰＵが濃度基準板１０４のごみ検知を行い、シェーディング補正データの取得に使用するエリアを決定する。
【０１１８】
（実施例２）
図１０，図１１を用いて実施例２におけるカラー画像読取装置について説明する。
【０１１９】
３ラインカラーセンサを使用して、ＲＧＢそれぞれの画像データを読み取る画像読み取り装置においては、濃度基準板１０４上に色のついたゴミが存在する場合もあるため、ＲＧＢの各色ごとにゴミの有無を判定するゴミ判定を行うことが望ましい。
【０１２０】
図１０は、本発明の実施の形態におけるＲＧＢの各色ごとにゴミ判定を行うシェーディング補正演算部の構成を示すブロック図である。
【０１２１】
従来の技術で説明したシェーディング補正演算部のブロック図（図３）、及び前述の実施例１におけるシェーディング補正演算部のブロック図（図５）と同一の機能ブロックのものには同じ番号を付している。ここでは、図３，図５とは異なる構成のみを説明する。
【０１２２】
シェーディング補正演算部は、ＲＧＢの各色ごとのシェーディング補正回路３０７Ｒ，３０７Ｇ，３０７Ｂ、シェーディング補正された画像信号を選択するセレクタ１００１、ゴミ検知部５００で構成されている。シェーディング補正回路３０７Ｒ、３０７Ｇ、３０７Ｂでシェーディング補正され、出力された画像信号は、ＣＰＵに制御されることによりセレクタ１００１で選択され、シェーディング補正回路の後段にある２値化回路５０３に出力される。
【０１２３】
セレクタ１００１の後段にある２値化回路５０３、判定回路５０１はすでに説明した動作と同様である。セレクタ１００１により選択されたＲＧＢの画像データは、ＲＧＢの各色それぞれにおいてゴミ判定が行われる。
【０１２４】
図１１は、図１０のシェーディング補正演算部で、カラー画像に対してゴミ判定を行う場合のフローチャートを示している。ゴミ判定は、図８に示すように濃度基準板１０４の複数のエリアにおいて実行される。図１１のフローチャートでは、図９に示したように、読み取り位置（Ａ）から（Ｆ）までの各位置で実行されるゴミ検知動作のうちのひとつについて説明する。
【０１２５】
まず、所定のタイミングでゴミ判定が開始されると（Ｓ１１０１）、ＣＰＵはパルスモータ１１３を駆動させ、読み取り光学系ユニット（ミラー台など）をシェーディング補正係数算出のための読み取り位置（シェーディングサンプリング位置）に移動させる（Ｓ１１０２）。
【０１２６】
そして、光源１０６を点灯させ濃度基準板１０４を読み取らせる。カラーＣＣＤラインセンサで読み取られた画像信号が、シェーディングターゲットＫｄａｔの値になるように、不図示のＣＰＵでシェーディング補正係数を算出する（Ｓ１１０３）。シェーディング補正係数算出が終了したら、再度読み取り光学系ユニットを移動させ、次の濃度基準板１０４上の画像読み取り位置（シェーディングサンプリング位置）に移動させる（Ｓ１１０４）。
【０１２７】
Ｓ１１０４で読み取られた画像信号は、シェーディング補正され、ゴミ判定を行うためにゴミ検知部５００に送られるように制御する。そのために、ＣＰＵがセレクタ１００１を制御して、３つシェーディング補正回路３０７Ｒ、３０７Ｇ、３０７Ｂからの出力のうち２値化回路５０３に送る画像データを選択する（Ｓ１１０５）。ここでは、セレクタ１００１が最初にＲＥＤ画像を選択する。
【０１２８】
ＣＰＵは、レジスタ５０４に上限レベル“ＵＰＰＥＲ”（２値化基準レベル）の値を設定し、またレジスタ５０５に下限レベル“ＬＯＷＥＲ”（２値化基準レベル）の値を設定して記憶させる（Ｓ１１０６）。さらに、ＣＰＵは、判定回路５０１のゴミ判定しきい値（閾値）をレジスタ５０２に設定して記憶させる（Ｓ１１０７）。セレクタ１００１の制御、レジスタ５０４、５０５、５０２の設定が完了した時点で、濃度基準板１０４の読み取りが開始される（Ｓ１１０８）。
【０１２９】
セレクタ１００１により選択されたＲＥＤの画像データは、２値化回路５０３においてレジスタ５０４に記憶されている２値化基準レベルを基にして２値化処理された後、判定回路５０１に送られる。そして、その画像データは、レジスタ５０２に記憶されているゴミ判定しきい値を基にして判定回路５０１でゴミ判定が行われる（Ｓ１１０９）。
【０１３０】
Ｓ１１０９のゴミ判定の結果、「ゴミあり」と判断された場合、そのエリアはシェーディング補正データの取得には適さないエリアであるため、「ＮＧ」と判定する。そして、そのエリアでのゴミ判定の動作を終了して、次のエリアのゴミ判定に移行する（Ｓ１１１０）。
【０１３１】
Ｓ１１０９のゴミ判定の結果、「ゴミなし」と判断された場合、濃度基準板１０４上の該当する読み取りエリアのすべての位置に対してゴミ検知の動作が完了しているかどうか判断される（Ｓ１１１１）。また、ＲＥＤ画像信号に対して上限レベル“ＵＰＰＥＲ”でのゴミ判定しか終了していない場合も、Ｓ１１０５に戻る。続いて、ＲＥＤ画像信号に対して下限レベル“ＬＯＷＥＲ”でのゴミ判定が実行され、さらにはＧＲＥＥＮ画像信号、ＢＬＵＥ画像信号に対してそれぞれゴミ判定が繰り返し実行される。
【０１３２】
ＲＧＢ各色の画像信号に対して、上限レベル“ＵＰＰＥＲ”、下限レベル“ＬＯＷＥＲ”でのゴミ判定がすべて終了し、その判定結果すべてが「ゴミなし」の場合、ゴミ判定は終了する（Ｓ１１１２）。
【０１３３】
以上のようなフローチャートは、図９に示した（Ａ）から（Ｆ）の各検知位置のうちの（Ａ）に対するものである。この処理の後で、同様に、読み取り位置（Ｂ）以降のゴミ検知位置についても行われる。つまり、（Ａ）〜（Ｆ）の各読み取り位置でＲＧＢ各色ごとにゴミ判定が実行されることになる。そして、「ゴミなし」と判定されたエリアの内からすでに述べたような方法を用いて、シェーディング補正データを取得するにあたり最適なエリアをシェーディングサンプリングエリアと判断する。
【０１３４】
ＲＧＢの各色ごとにおける画像信号に対してゴミ判定を実行する場合、色ごとに画像信号のばらつき（画像Ｓ／Ｎ）が異なることもあるので、ＲＧＢ各色ごとに上限レベル“ＵＰＰＥＲ”、下限レベル“ＬＯＷＥＲ”、及びゴミ判定しきい値は変更してもよい。
【０１３５】
なお、ごみ検知を実行して、シェーディング補正係数算出エリアを決定するタイミングは、以下に示すときが好ましい。
【０１３６】
▲１▼工場出荷時：　ごみ検知結果に応じて、読み取り装置毎にシェーディングサンプリングエリアを調整する。
【０１３７】
▲２▼システム起動時：　読み取り装置の出荷後に発生する濃度基準板（基準白板）へのごみの付着や、汚れなどを検知する。そして、その検知結果により、ごみの無いシェーディングサンプリングエリアが存在すれば画質維持のためにシェーディングサンプリングエリアを変更する。
【０１３８】
なお、すべてシェーディングサンプリングエリアにおいて「ごみ有り」と判断された場合には、警告表示を行い濃度基準板（基準白板）の清掃もしくは交換を指示する。
【０１３９】
【発明の効果】
以上説明したように、装置内で濃度基準板（基準白板）のごみ検知を可能にすることによって次のような効果を得ることができる。
【０１４０】
▲１▼ごみに影響されないシェーディング係数算出エリアを選択することが出来る。
【０１４１】
また、シェーディング補正係数算出位置をエリアで設定しているので、ミラー台の停止精度による悪影響を排除できる。
【０１４２】
▲２▼濃度基準板のゴミに対する許容マージンを増やすことによって、濃度基準板（基準白板）の製造工程を簡略化することができ、製造コストを低減すると共に濃度基準板（基準白板）の製造歩留まりを向上することができる。
【０１４３】
▲３▼出荷後の不良に関しても自動的に画質補正を行うことができる。また的確な清掃もしくは交換指示を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】画像読み取り装置１００の構成を示す模式的側断面説明図
【図２】シェーディング補正前後の画像データの態様を示す説明図
【図３】従来例におけるシェーディング補正演算部の構成を示すブロック図
【図４】ゴミやキズによる画像劣化の状態を示す模式的説明図
【図５】実施例１におけるシェーディング補正演算部の構成を示すブロック図
【図６】画像読み取り位置にゴミなどがある場合のゴミ判定動作を示す模式的説明図、（ａ）はシェーディングサンプリング時の画像信号、（ｂ）はシェーディング補正後の画像データ、（ｃ）は２値化データの加算結果（ヒストグラム）
【図７】シェーディング補正係数算出位置にゴミなどがある場合のゴミ判定動作を示す模式的説明図、（ａ）はシェーディングサンプリング時の画像信号、（ｂ）はシェーディング補正後の画像データ、（ｃ）は２値化データの加算結果（ヒストグラム）
【図８】濃度基準板上のシェーディング補正データ取得エリアを示す説明図
【図９】シェーディング補正データ取得エリア内でのゴミ検知範囲を示す説明図
【図１０】実施例２におけるシェーディング補正演算部の構成を示すブロック図、
【図１１】カラー画像読み取り装置の場合のゴミ検知シーケンスを示すフローチャート
【符号の説明】
１００　画像読み取り装置
１０１　原稿
１０２　原稿台ガラス
１０３　原稿圧板
１０４　濃度基準部材（濃度基準板、または白色基準板）
１０５　粘着シート
１０６　光源
１０７　反射笠
１０８　第１ミラー
１０９　第２ミラー
１１０　第３ミラー
１１１　レンズ
１１２　ＣＣＤラインセンサ
１１３　パルスモータ
２０１　シェーディング補正前の画像データ
２０２　シェーディング補正後の画像データ
３０１　メモリ
３０２　セレクタ
３０３　レジスタ（シェーディングターゲットレジスタ）
３０４　除算回路
３０５　加算回路
３０６　平均化回路
３０７　シェーディング補正回路
３０７Ｒ　ＲＥＤ画像用シェーディング補正回路
３０７Ｇ　ＧＲＥＥＮ画像用シェーディング補正回路
３０７Ｂ　ＢＬＵＥ画像用シェーディング補正回路
５００　ゴミ検知部
５０１　判定手段（判定回路）
５０２　レジスタ
５０３　２値化回路
５０４　レジスタ（ＵＰＰＥＲ）
５０５　レジスタ（ＬＯＷＥＲ）
１００１　セレクタ
【図１】
2004096344.tif 000006
【図２】
2004096344.tif 000007
【図３】
2004096344.tif 000008
【図４】
2004096344.tif 000009
【図５】
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【図６】
2004096344.tif 000011
【図７】
2004096344.tif 000012
【図８】
2004096344.tif 000013
【図９】
2004096344.tif 000014
【図１０】
2004096344.tif 000015
【図１１】
2004096344.tif 000016