【手続補正書】
【提出日】平成15年8月5日(2003.8.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
偏光された試験ビームにおける２つの直交状偏光成分の位相差とこれらの成分の強度とを測定することの可能な方法であって、
次の諸ステップ：
その試験ビームを空間的に分離された第１及び第２のビームに分割するステップであって、その試験ビームが、偏光方向を表すｐと直交偏光方向を表すｓのようなｐ及びｓ成分を有し、これらのｐ及びｓ成分が、空間的に分離された第１及び第２のビームに不均一に分割される分割ステップ；
空間的に分離された前記第１ビームにおける１つの偏光成分の位相を他の偏光成分の位相に関して遅延させる位相遅延ステップ；
位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビームから相互直交状の直線偏光を有する空間分離状の第１出力ビーム対をつくるステップ；
前記第１出力ビーム対を変換出力ビーム強度に比例した第１電気信号組に変換し、その第１電気信号組を分析のためのデータ処理装置に供給するステップ；
空間的に分離された前記第２ビームから相互直交状の直線偏光を有する空間分離状の第２出力ビーム対をつくるステップ；
前記第２出力ビーム対を変換出力ビーム強度に比例した第２電気信号組に変換し、その第２電気信号組を分析のための前記データ処理装置に前記第１電気信号組とともに供給するステップ；
及び、前記電気信号の前記分析から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の間の少なくとも位相差を決定する決定ステップ
を備えてなる方法。
【請求項２】
前記の決定ステップがさらに、前記電気信号の前記分析から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の相対強度を決定するステップを備えている請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記の分割ステップが、偏光された試験ビームを部分偏光ビームスプリッタに導くことでその試験ビームを分割するステップを備え、その部分偏光ビームスプリッタにおける試験ビームの入射面がｓ偏光方向及びｐ偏光方向を規定する
請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記の位相遅延ステップが、空間的に分離された前記の第１ビームを複屈折要素に通過させるステップを備えている
請求項３記載の方法。
【請求項５】
空間的に分離された前記の第１出力ビーム対をつくるステップが、位相が遅延されて空間的に分離された第１ビームを空間的に分離された前記の第１出力ビーム対をつくるための第１偏光ビームスプリッタに通過させるステップを備えている
請求項４記載の方法。
【請求項６】
第１出力ビーム対を第１電気信号組に変換するステップが、前記第１電気信号組を供給するための対応光検出器に前記第１出力ビーム対のそれぞれを入射させるステップを備えている
請求項５記載の方法。
【請求項７】
空間的に分離された前記の第２出力ビーム対をつくるステップが、空間的に分離された第２ビームを空間的に分離された前記の第２出力ビーム対をつくるための第２偏光ビームスプリッタに通過させるステップを備えている
請求項３記載の方法。
【請求項８】
前記の分割ステップが、偏光された試験ビームをホモダイン受信装置において空間的に分離された前記の第１及び第２ビームに分割することを備えており、この方法が、前記ホモダイン受信装置を較正するステップをさらに備えている
請求項１記載の方法。
【請求項９】
前記の較正ステップがさらに、ｓ偏光成分、ｐ偏光成分及び中間配向角に沿って配向された少なくとも３つの直線偏光子をその試験ビームの中に挿入するステップを備えている
請求項８記載の方法。
【請求項１０】
偏光された試験ビームにおける２つの直交状偏光成分の位相差とこれらの成分の強度とを測定することの可能な方法であって、
次の諸ステップ：
その試験ビームを空間的に分離された第１及び第２のビームに分割するステップであって、その試験ビームが、偏光方向を表すｐと直交偏光方向を表すｓのようなｐ及びｓ成分を有し、これらのｐ及びｓ成分が、空間的に分離された第１及び第２のビームに不均一に分割される分割ステップ；
空間的に分離された前記第１ビームにおける１つの偏光成分の位相を他の偏光成分の位相に関して遅延させる位相遅延ステップ；
位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビームから相互直交状の直線偏光を有する空間分離状の第１出力ビーム対をつくるステップ；
前記第１出力ビーム対を変換出力ビーム強度に比例した第１電気信号組に変換し、その第１電気信号組を分析のためのデータ処理装置に供給するステップ；
空間的に分離された前記第２ビームから相互直交状の直線偏光を有する空間分離状の第２出力ビーム対をつくるステップ；
前記第２出力ビーム対を変換出力ビーム強度に比例した第２電気信号組に変換し、その第２電気信号組を分析のための前記データ処理装置に前記第１電気信号組とともに供給するステップ；
及び、前記電気信号の前記分析から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の少なくとも相対強度を決定する決定ステップ
を備えてなる方法。
【請求項１１】
偏光された試験ビームにおける２つの直交状偏光成分の位相差とこれらの成分の強度とを測定することの可能なホモダイン受信装置であって、
その試験ビームを受信し、かつ、それを空間的に分離された第１及び第２のビームに分割する手段であって、試験ビームが、偏光方向を表すｐと直交偏光方向を表すｓのようなｓ及びｐ成分を有し、これらのｓ及びｐ成分を空間的に分離された第１及び第２のビームに不均一に分割するための手段をさらに備えている受信・分割手段と、
空間的に分離された前記２つのビームにおける一方の偏光成分の位相を他方の偏光成分の位相に関して遅延させるための、空間的に分離された前記２つのビームの１つに関して光学的に整列された位相遅延手段であって、位相が遅延されて空間的に分離されたビームを供給するために、空間的に分離された前記２つのビームが通過する位相遅延手段と、
空間的に分離された第１出力ビーム対及び第２出力ビーム対をそれぞれつくるための、位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビーム及び前記第２ビームのそれぞれに関して光学的に整列された偏光ビームスプリッタと、
前記２つの出力ビームの出力ビーム強度のそれぞれに比例した１つの電気信号組をつくるための、前記２つの出力ビームのそれぞれに関して光学的に整列された光検出手段と、
前記電気信号から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の間の少なくとも位相差を決定する決定手段と
を備えてなるホモダイン受信装置。
【請求項１２】
前記の決定手段がさらに、前記電気信号から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の相対強度を決定する手段を備えている
請求項１１記載のホモダイン受信装置。
【請求項１３】
前記の位相遅延手段が複屈折要素を備えている
請求項１２記載のホモダイン受信装置。
【請求項１４】
前記の複屈折要素が波動板を備えている
請求項１３記載のホモダイン受信装置。
【請求項１５】
前記の偏光ビームスプリッタ手段がウォラストン・プリズムを備えている
請求項１４記載のホモダイン受信装置。
【請求項１６】
偏光された試験ビームにおける２つの直交状偏光成分の位相差とこれらの成分の強度とを測定することの可能なホモダイン受信装置であって、
その試験ビームを受信し、かつ、それを空間的に分離された第１及び第２のビームに分割する手段であって、試験ビームが、偏光方向を表すｐと直交偏光方向を表すｓのようなｓ及びｐ成分を有し、これらのｓ及びｐ成分を空間的に分離された第１及び第２のビームに不均一に分割するための手段をさらに備えている受信・分割手段と、
空間的に分離された前記２つのビームにおける一方の偏光成分の位相を他方の偏光成分の位相に関して遅延させるための、空間的に分離された前記２つのビームの１つに関して光学的に整列された位相遅延手段であって、位相が遅延されて空間的に分離されたビームを供給するために、空間的に分離された前記２つのビームが通過する位相遅延手段と、
空間的に分離された第１出力ビーム対及び第２出力ビーム対をそれぞれつくるための、位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビーム及び前記第２ビームのそれぞれに関して光学的に整列された偏光ビームスプリッタと、
前記２つの出力ビームの出力ビーム強度のそれぞれに比例した１つの電気信号組をつくるための、前記２つの出力ビームのそれぞれに関して光学的に整列された光検出手段と、
前記電気信号から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の少なくとも相対強度を決定する手段と
を備えてなるホモダイン受信装置。
【請求項１７】
前記の第１出力ビーム対は、位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量からなり、かつ、前記の第２出力ビーム対は、位相が遅延されて空間的に分離された前記第２ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量からなる
請求項１記載の方法。
【請求項１８】
前記の第１出力ビーム対は、位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量からなり、かつ、前記の第２出力ビーム対は、位相が遅延されて空間的に分離された前記第２ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量からなる
請求項１０記載の方法。
【請求項１９】
空間的に分離された前記第１出力ビーム対及び前記第２出力ビーム対はそれぞれ、前記の第１出力ビーム対のそれぞれが、位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量を有し、かつ、前記の第２出力ビーム対のそれぞれが、位相が遅延されて空間的に分離された前記第２ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量を有する、相互直交状の直線偏光を有している
請求項１１記載のホモダイン受信装置。
【請求項２０】
空間的に分離された前記第１出力ビーム対及び前記第２出力ビーム対はそれぞれ、前記の第１出力ビーム対のそれぞれが、位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量を有し、かつ、前記の第２出力ビーム対のそれぞれが、位相が遅延されて空間的に分離された前記第２ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の実質的に等しい量を有する、相互直交状の直線偏光を有している
請求項１６記載のホモダイン受信装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明は次のような第１〜第４の形態からなる。
本発明の第１の形態によれば、偏光された試験ビームにおける２つの直交状偏光成分の位相差とこれらの成分の強度とを測定することの可能な方法であって、次の諸ステップ：その試験ビームを空間的に分離された第１及び第２のビームに分割するステップであって、その試験ビームが、偏光方向を表すｐと直交偏光方向を表すｓのようなｐ及びｓ成分を有し、これらのｐ及びｓ成分が、空間的に分離された第１及び第２のビームに不均一に分割される分割ステップ；空間的に分離された前記第１ビームにおける１つの偏光成分の位相を他の偏光成分の位相に関して遅延させる位相遅延ステップ；位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビームから相互直交状の直線偏光を有する空間分離状の第１出力ビーム対をつくるステップ；前記第１出力ビーム対を変換出力ビーム強度に比例した第１電気信号組に変換し、その第１電気信号組を分析のためのデータ処理装置に供給するステップ；空間的に分離された前記第２ビームから相互直交状の直線偏光を有する空間分離状の第２出力ビーム対をつくるステップ；前記第２出力ビーム対を変換出力ビーム強度に比例した第２電気信号組に変換し、その第２電気信号組を分析のための前記データ処理装置に前記第１電気信号組とともに供給するステップ；及び、前記電気信号の前記分析から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の間の少なくとも位相差を決定する決定ステップを備えてなる方法が提供される。


【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
本発明の第２の形態によれば、前記第１の形態における「決定ステップ」に代えて、前記電気信号の前記分析から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の少なくとも相対強度を決定する決定ステップを備えてなる方法が提供される。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
本発明の第３の形態によれば、偏光された試験ビームにおける２つの直交状偏光成分の位相差とこれらの成分の強度とを測定することの可能なホモダイン受信装置であって、その試験ビームを受信し、かつ、それを空間的に分離された第１及び第２のビームに分割する手段であって、試験ビームが、偏光方向を表すｐと直交偏光方向を表すｓのようなｓ及びｐ成分を有し、これらのｓ及びｐ成分を空間的に分離された第１及び第２のビームに不均一に分割するための手段をさらに備えている受信・分割手段と、空間的に分離された前記２つのビームにおける一方の偏光成分の位相を他方の偏光成分の位相に関して遅延させるための、空間的に分離された前記２つのビームの１つに関して光学的に整列された位相遅延手段であって、位相が遅延されて空間的に分離されたビームを供給するために、空間的に分離された前記２つのビームが通過する位相遅延手段と、空間的に分離された第１出力ビーム対及び第２出力ビーム対をそれぞれつくるための、位相が遅延されて空間的に分離された前記第１ビーム及び前記第２ビームのそれぞれに関して光学的に整列された偏光ビームスプリッタと、前記２つの出力ビームの出力ビーム強度のそれぞれに比例した１つの電気信号組をつくるための、前記２つの出力ビームのそれぞれに関して光学的に整列された光検出手段と、前記電気信号から試験ビームのｓ偏光成分及びｐ偏光成分の間の少なくとも位相差を決定する決定手段とを備えてなるホモダイン受信装置が提供される。