【手続補正書】
【提出日】平成16年1月22日(2004.1.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記複数のデータ線を駆動するためのデータ線ドライバと、
前記複数のデータ線の各々に対して設けられた第１のスイッチを有する検査回路とを具備し、
前記データ線ドライバは出力端をハイインピーダンス状態とする機能を有することを特徴するアクティブマトリクス基板。
【請求項２】
請求項１に記載のアクティブマトリクス基板において、
前記検査回路を構成する素子は、前記データ線ドライバを構成する素子と共に、同じ製造プロセスにより製造されたことを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項３】
請求項１または２に記載のアクティブマトリクス基板において、
前記データ線ドライバは出力部に設けられた第２のスイッチを開状態とすることによって前記出力端をハイインピーダンス状態とすることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれかに記載のアクティブマトリクス基板において、
前記データ線ドライバは、容量分割方式のＤ／Ａ変換器，抵抗分割方式のＤ／Ａ変換器，ＰＷＭ方式のＤ／Ａ変換器のいずれかを具備することを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載のアクティブマトリクス基板において、
前記第１のスイッチは点順次で走査されることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項６】
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載のアクティブマトリクス基板において、
前記第１のスイッチのうち少なくとも２個以上の第１のスイッチは一括して駆動されることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれかに記載のアクティブマトリクス基板において、
前記検査回路の少なくとも一部は、アクティブマトリクス基板の、画像表示に寄与しないスペースに配置されていることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項８】
請求項７に記載のアクティブマトリクス基板において、
前記検査回路は、パネル工程における封止材による封止位置に配置されていることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項９】
請求項１乃至請求項８のいずれかに記載のアクティブマトリクス基板において、
前記検査回路および前記データ線ドライバはそれぞれ、アクティブマトリクス基板上において、複数に分割されて配置されていることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項１０】
請求項９に記載のアクティブマトリクス基板において、
前記検査回路は、少なくとも第１の検査回路と第２の検査回路とに分割され、前記データ線ドライバは、少なくとも第１のデータ線ドライバと第２のデータ線ドライバとに分割され、
データ線を挟んで前記第１のデータ線ドライバと前記第１の検査回路とが対峙して配置され、また、データ線を挟んで前記第２のデータ線ドライバと前記第２の検査回路とが対峙して配置され、
前記第１のデータ線ドライバと前記第２の検査回路とはデータ線の同じ側の端部に配置され、前記第２のデータ線ドライバと前記第１の検査回路とはデータ線の同じ側の端部に配置されていることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
【請求項１１】
データ線と走査線と画素部を備えたアクティブマトリクス基板の検査方法であって、
前記データ線を駆動するデータ線ドライバにより前記データ線を介して、前記画素部に信号の書き込みを行うステップと、
前記データ線ドライバの出力をハイインピーダンス状態とするステップと、
前記検査回路により前記画素部に書き込まれた前記信号を読出して検査の基礎となる基礎信号を取得し、その取得された基礎信号に基づいてアクティブマトリクス部の検査を行うことを特徴とするアクティブマトリクス基板の検査方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載のアクティブマトリクス基板の検査方法において、
請求項１１に記載の各ステップの実行に先立ち、前記データ線ドライバ自体の検査ならびに前記データ線の断線検査を行うことを特徴とするアクティブマトリクス基板の検査方法。
【請求項１３】
請求項１１に記載のアクティブマトリクス基板の検査方法において、
前記取得された基礎信号に基づくアクティブマトリクス部の検査の工程は、前記基礎信号の特性の、アクティブマトリクス部における２次元的な分布を考察するステップを含むことを特徴とするアクティブマトリクス基板の検査方法。
【請求項１４】
請求項１１に記載のアクティブマトリクス基板の検査方法において、
前記取得された基礎信号に基づくアクティブマトリクス部の検査の工程は、前記取得された基礎信号を、予め用意されているサンプル信号と比較するステップを含むことを特徴とするアクティブマトリクス基板の検査方法。
【請求項１５】
請求項１乃至請求項１０のいずれかに記載のアクティブマトリクス基板を用いて構成された液晶装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の液晶装置を用いて構成された電子機器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
（１）本発明の一態様に係るアクティブマトリクス基板は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記複数のデータ線を駆動するためのデータ線ドライバと、前記複数のデータ線の各々に対して設けられた第１のスイッチを有する検査回路とを具備し、前記データ線ドライバは出力端をハイインピーダンス状態とする機能を有することを特徴する。


【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
データ線ドライバは、出力部にＤ／Ａ変換器をもつため、一度出力した信号を、共通の経路を介して再び読み込んでアクティブマトリクス部の検査（点欠陥の測定）を行うことはできない。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
しかし、本発明の一態様では、検査回路が設けられているために、データ線ドライバでデータ線を駆動してアクティブマトリクス部の容量（蓄積容量）に信号を書き込み、その書き込んだ信号を検査回路を介して読み出すことができる。したがって、アクティブマトリクス部の点欠陥の有無を判別できるようになる。


【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
検査回路を用いた信号の読み出しのときに、デジタルドライバの出力（Ａ／Ｄ変換出力）がオンとなっている場合には、蓄積容量から読み出した信号による欠陥判定が担保されないため、点欠陥判定のための基礎信号の取得のステップでは検査回路の出力をオフする（ハイインピーダンスとする）ことが必要になる。よって、本発明の一態様のデータ線ドライバには、出力をハイインピーダンス状態とすることができる機能が付与されている。


【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
また、検査回路は、検査に用いられる回路であるため、データ線ドライバのような高速動作が不要であり、例えば、検査可能な最小限の機能さえ有すればよいので、回路構成が簡単であり、高度な動作特性が要求されないためにトランジスタのサイズも小さくて済み、省スペース化に適している。したがって、その検査回路を、アクティブマトリクス基板上に搭載することは充分に可能である。


【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
（２）本発明の一態様において、
前記検査回路を構成する素子は、前記データ線ドライバを構成する素子と共に、同じ製造プロセスにより製造されたことを特徴とする。


【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
一つのアクティブマトリクス基板上において、データ線ドライバおよび検査回路を同一のプロセスにより製造するものである。例えば、低温ポリシリコン薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）技術を用いて製造することができる。


【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
（３）本発明の一態様において、
前記データ線ドライバは、その出力部にスイッチを具備し、そのスイッチを開状態とすることによって出力端をハイインピーダンス状態とすることを特徴とする。


【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
データ線ドライバの出力をハイインピーダンス状態とするために、出力部にスイッチを設けたものである。


【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
（４）本発明の一態様において、
前記データ線ドライバは、容量分割方式のＤ／Ａ変換器，抵抗分割方式のＤ／Ａ変換器，ＰＷＭ方式のＤ／Ａ変換器のいずれかを具備することを特徴とするものである。


【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
（５）本発明の一態様において、
前記第１のスイッチは点順次で走査されることを特徴とする。


【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
（６）本発明の一態様では、前記第１のスイッチのうち少なくとも２個以上の第１のスイッチは一括して駆動することができる。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
（７）本発明の一態様において、
前記検査回路の少なくとも一部は、アクティブマトリクス基板の、画像表示に寄与しないスペースに配置されていることを特徴とする。


【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
（８）本発明の一態様において、
前記検査回路は、パネル工程における封止材による封止位置に配置されていることを特徴とする。


【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
（９）本発明の一態様において、
前記検査回路および前記データ線ドライバはそれぞれ、アクティブマトリクス基板上において、複数に分割されて配置されていることを特徴とする。


【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
（１０）本発明の一態様において、
前記検査回路は、少なくとも第１の検査回路と第２の検査回路とに分割され、前記データ線ドライバは、少なくとも第１のデータ線ドライバと第２のデータ線ドライバとに分割され、
データ線を挟んで前記第１のデータ線ドライバと前記第１の検査回路とが対峙して配置され、また、データ線を挟んで前記第２のデータ線ドライバと前記第２の検査回路とが対峙して配置され、
かつ、前記第１のデータ線ドライバと前記第２の検査回路とはデータ線の同じ側の端部に配置され、前記第２のデータ線ドライバと前記第１の検査回路とはデータ線の同じ側の端部に配置されていることを特徴とする。


【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
（１１）本発明の他の態様は、データ線と走査線と画素部を備えたアクティブマトリクス基板の検査方法であって、
前記データ線を駆動するデータ線ドライバにより前記データ線を介して、前記画素部に信号の書き込みを行うステップと、
前記データ線ドライバの出力をハイインピーダンス状態とするステップと、
前記検査回路により前記画素部に書き込まれた前記信号を読出して検査の基礎となる基礎信号を取得し、その取得された基礎信号に基づいてアクティブマトリクス部の検査を行うことを特徴とする。


【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
本発明の一態様に係るアクティブマトリクス基板を用いて、アクティブマトリクス部の検査を行う、基本的な方法である。


【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
（１２）  本発明の他の態様において、各ステップの実行に先立って、前記データ線ドライバ自体の検査ならびに前記データ線の断線検査を行うことを特徴とする。


【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４１】
アクティブマトリクス部の検査以前に、データ線ドライバ自体の出力特性ならびにデータ線の断線を検査するもの（予備的検査）である。


【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４２】
上述した本発明のアクティブマトリクス基板では、データ線を挟んで、データ線ドライバに対向して検査回路が設けられているので、データ線ドライバにより各データ線を例えば１回だけ線順次駆動し、そのスキャンに同期させて検査回路を線順次あるいは点順次でスキャンし、データ線を介して送られてくる信号を受信すれば、受信の有無ならびに受信信号の振幅等により、容易に予備的な検査ができる。


【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４３】
（１３）本発明の他の態様において、
前記取得された基礎信号に基づくアクティブマトリクス部の検査の工程は、前記基礎信号の特性の、アクティブマトリクス部における２次元的な分布を考察するステップを含むことを特徴とする。


【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４５】
（１４）本発明の他の態様において、
前記取得された基礎信号に基づくアクティブマトリクス部の検査の工程は、前記取得された基礎信号を、予め用意されているサンプル信号と比較するステップを含むことを特徴とする。


【手続補正２５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４７】
（１５）本発明のさらに他の態様は、本発明の一態様に係るアクティブマトリクス基板を用いて構成された液晶装置である。


【手続補正２６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４９】
（１６）本発明のさらに他の態様は上述の液晶装置を用いて構成された電子機器である。