【手続補正書】
【提出日】平成24年3月7日(2012.3.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
目標材料を検査するための方法であって、
前記目標材料に超音波音響振動を誘発するための生成レーザと、前記振動を検出するための検出レーザとを有するレーザ超音波検査システムを使って前記目標材料のレーザ超音波検査を行う工程、
サーモグラフィ検査システムを使って前記目標材料のサーモグラフィ検査を行う工程、
前記超音波検査試験システムおよび前記サーモグラフィ検査システムを、レーザ超音波検査システムには典型的であるがサーモグラフィに典型的に使うより大きい前記目標材料からの離隔距離に提供する工程、および
前記目標材料の内部構造を決めるためにレーザ超音波検査結果とサーモグラフィ検査結果の両方を解析する工程
を含む方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法に於いて、前記目標材料の前記超音波検出結果および前記サーモグラフィ検査結果を前記目標材料のモデル上に組合わせる方法。
【請求項３】
請求項１に記載の方法であって、更に、定量的熱肉厚を決める工程、および前記定量的熱肉厚に予期しない変化が起るところに前記目標材料内の傷を特定する工程を含む方法。
【請求項４】
請求項１に記載の方法であって、前記サーモグラフィ検査と前記超音波検査を行う工程の間に所定量の時間待機する工程を含み、前記目標材料の前記サーモグラフィ検査は、前記目標材料の上記超音波検査の前に行われる方法。
【請求項５】
請求項１に記載の方法に於いて、前記サーモグラフィ検査が、
前記目標材料に熱過渡現象を誘発するために前記目標材料を照射する工程、
前記目標材料の経時サーマルイメージを取得する工程、および
前記目標材料についての情報を得るために前記目標材料のサーマルイメージを解析する工程を含む方法。
【請求項６】
請求項１に記載の方法に於いて、前記サーモグラフィ検査システムが反射式フラッシュランプおよびカメラを含み、前記方法が、更に、前記目標材料を前記反射式フラッシュランプによって前記離隔距離で照射する工程を含み、それにより前記サーモグラフィ検査システムおよび前記レーザ検査システムを同じ位置決めシステム上に取付けることができ、また前記カメラが大きい視野を持つことができる方法。
【請求項７】
請求項１に記載の方法であって、前記目標材料が複合材料を含むとき、この複合材料の深内部構造についての情報が得られるように、前記超音波検査結果で検出した超音波変位を解析する工程、および
前記目標材料が複合材料を含むとき、この複合材料の近表面内部構造についての情報が得られるように、前記サーモグラフィ検査結果からの目標材料のサーマルイメージを解析する工程をさらに含む方法。
【請求項８】
請求項１に記載の方法に於いて、前記超音波検査が、
検出レーザビームを発生する工程、
前記検出レーザビームを前記目標材料の表面へ向ける工程、
前記目標材料の表面で前記検出レーザビームを散乱して超音波表面変位によって位相変調した光を作る工程、
前記位相変調した光を集める工程、
前記位相変調した光を処理して前記表面での超音波変位を表すデータを得る工程、および
前記目標材料を解析するためにデータを集める工程
を含む方法。
【請求項９】
目標の内部構造を検査するために使用できる検査システムであって、
前記目標内の超音波変位を創成し且つ検出することによって前記目標の内部構造を検査するために使用できるレーザ超音波検査システム、
前記レーザ超音波検査システムと同じ位置決めシステム上に取付けられ、前記目標の内部構造を検査し且つ前記目標のサーマルイメージを得るために使用できるサーモグラフィ検査システムであって、前記位置決めシステムは、レーザ超音波検査システムには典型的であるがサーモグラフィに典型的に使うより大きい前記目標材料からの離隔距離に配置されているサーモグラフィ検査システム、
処理および制御システムであって、
前記目標の内部構造についてのサーモグラフィ検査結果を得るために前記目標のサーマルイメージを解析し、
前記目標の内部構造についての超音波検査結果を得るために前記目標で検出した超音波変位を解析し、また
前記目標の内部構造についての情報を得るために前記目標材料の前記超音波検査結果と前記サーモグラフィ検査結果を組合わせる
ために使用できる処理および制御システム
を含む検査システム。
【請求項１０】
請求項９に記載の検査システムに於いて、前記レーザ超音波検査システムが、
前記目標での前記超音波表面変位を照射するために使用できる検出レーザビームを発生するために使用できる検出レーザ、
前記目標表面によって散乱した検出レーザビームから超音波表面変位によって位相変調した光を収集するための収集光学装置、
位相変調した光を処理し且つ少なくとも一つの出力信号を発生するための干渉計、および
前記目標での超音波表面変位を表すデータを得るために少なくとも一つの出力信号を処理するための光処理ユニット
を含むシステム。
【請求項１１】
請求項９に記載の検査システムに於いて、前記サーモグラフィ検査システムが赤外線（ＩＲ）過渡サーモグラフィシステムを含むシステム。
【請求項１２】
請求項１１に記載の検査システムに於いて、前記目標に振動を誘発するために前記超音波検査システムによって生成レーザビームが創成され、また前記ＩＲ過渡サーモグラフィシステムが、前記生成レーザビームによって照射した前記目標のイメージフレームを取得するために使用できるＩＲ感応カメラを含むシステム。
【請求項１３】
請求項１２に記載の検査システムに於いて、前記目標のイメージフレームは、画素列を含み、また経過時間に対応するフレーム番号が割当ててあり、定量的熱肉厚が、サーマルイメージの連続するフレームを解析することによって決められるシステム。
【請求項１４】
請求項１２に記載の検査システムに於いて、前記処理ユニットが、前記検出した超音波変位と前記サーマルイメージを相関付けるシステム。
【請求項１５】
請求項９に記載の検査システムであって、更に、サーマルイメージングフレームの取得を生成レーザビームのパルス繰返し率に整合させるために使用できる制御モジュールを含むシステム。
【請求項１６】
請求項９に記載の検査システムであって、処理ユニットを更に含み、前記目標材料が複合材料を含む場合、前記処理ユニットは、
前記複合材料の深内部構造についての情報を得るために検出した超音波変位を解析し、
複合材料の近表面内部構造についての情報を得るために前記目標でのサーマルイメージを解析し、また
複合材料の深内部構造とこの複合材料の近表面内部構造についての情報を相関付ける
ようになっているシステム。
【請求項１７】
大面積複合検査システムであって、
試験中の複合材料に超音波変位および熱過渡現象を誘発するために使用できるパルス式レーザビームを発生するために使用できる生成レーザ、
前記複合材料での前記超音波表面変位を検出するために使用できるレーザ超音波検出システム、
前記複合材料での前記熱過渡現象を検出するために使用できるサーマルイメージングシステムであって、レーザ超音波検査システムには典型的であるがサーモグラフィに典型的に使うより大きいテスト中の前記複合材料からの離隔距離に、前記レーザ超音波検出システムとともに取付けられるサーマルイメージングシステム、
サーマルイメージフレーム取得を前記生成レーザビームのパルス繰返し率に整合させるために使用できる制御モジュール、および
前記複合材料の内部構造についての情報を得るために、前記複合材料で検出した超音波変位と前記複合材料のサーマルイメージの両方を解析するために使用できるプロセッサ
を含むシステム。