【事件の表示】
　平成８年特許願第１４９３４３号「電子写真感光体の製造方法及び製造装置」拒絶査定に対する審判事件［平成９年１２月２２日出願公開、特開平　９−３２９８９９］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、平成８年６月１１日の出願であって、その請求項１ないし１５に係る発明は、平成１１年１１月２９日付け及び平成１２年４月１０日付けの手続補正書によって補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし１５項に記載された事項により特定されるものであり、特に請求項１に係る発明は次のとおりのものと認める。
「導電性基体表面上に有機系材料を含む複数の異なる機能層を順次積層してなる電子写真感光体の製造方法において、前記各機能層形成後に、複数の異なる機能層を積層した部分における最も新しく形成された機能層に特徴的に吸収され且つ前記機能層の下に形成された機能層の吸収が少ない波長における吸光度を測定する吸光度測定工程と、測定された前記吸光度に基づいて前記各機能層の膜厚が一定になるように前記各機能層の塗布を制御する制御工程と、を有することを特徴とする電子写真感光体の製造方法。」（以下「本願請求項１に係る発明」という。）
　
２．引用刊行物記載の発明
（引用刊行物１の記載事項）
 これに対して、拒絶の理由に引用された、本願出願の日前の平成６年５月１３日に頒布された「特開平６−１３０６８３号公報」（以下「引用刊行物１」という。）には、次の事項が記載されている。
（１）「導電性基体表面に下引層、電荷発生層、電荷輸送層を、これら各層の膜厚を逐次測定しつつ、順次塗布形成する有機電子写真感光体の製造方法において、下引層又は電荷輸送層の膜厚を光干渉法で測定することにより求め、また、電荷発生層の膜厚を、感光体ドラムの画像形成域外の部分で基板表面に設けた下引層を形成しない部分にて電荷発生層の分光吸収スペクトルを測定することにより求め、これら膜厚の測定結果を演算処理装置にフィードバックする工程、及び演算処理装置により昇降速度を制御して塗布量を調整する工程を有することを特徴とする有機電子写真感光体の製造方法。」
（【請求項１】）
（２）「一般に浸漬塗布の場合、塗布膜厚（湿潤膜厚）と塗液物性値と塗布速度の関係は式（３）で表される。・・・　式（３）から塗布膜厚は、塗布速度及び塗液の比重・粘度で制御できることがわかる。・・・塗布速度による調整は・・・例えば膜厚を厚くするためには塗布速度を速くし、逆に薄くするためには塗布速度を遅くすればよい。」
（【００１６】【００１７】）
（３）「本発明の電荷発生層の形成を説明する。導電性基体１３にはあらかじめ下引層が塗布されており、その際、画像形成領域外には下引層塗布が行なわれていない・・・画像形成領域外に塗布された電荷発生層に特定な波長の光を照射し分光光度計受光部２１でその反射光を受光する。受光された反射光のデータは分光光度計演算部２２で解析され、直ちに演算処理装置（パソコン）２０に送付される。このデータに基づきパソコンによって・・・制御し、・・・適切な引き上げ速度（塗布速度）とすることによって塗布膜の膜厚を調節する。」（【００２６】【００２７】）
（４）「電荷輸送層形成について・・・塗布された電荷輸送層に特定な波長の光を照射し分光光度計受光部２１でその反射光を受光する。受光された反射光のデータは分光光度計演算部２２で解析され、直ちに演算処理装置（パソコン）２０に送付される。このデータに基づきパソコンによって・・・制御し、・・・適切な引き上げ速度（塗布速度）とすることによって塗布膜の膜厚を調節する。」（【００３０】）
（引用刊行物１記載の発明）
　これらの記載事項から、引用刊行物１には、「導電性基体表面に下引層、電荷発生層、電荷輸送層を、これら各層の膜厚を分光光度計で逐次測定しつつ、順次塗布形成する有機電子写真感光体の製造方法であって、これら膜厚の測定結果を演算処理装置にフィードバックする工程、及び演算処理装置により制御して膜厚が均一になるように塗布量を調整する工程を有する有機電子写真感光体の製造方法。」（以下「引用刊行物１記載の発明」という。）
　
（引用刊行物２の記載事項）
　拒絶の理由に引用された、本願出願の日前の平成１年９月７日に頒布された「特開平１−２２４６０７号公報」（以下「引用刊行物２」という。）には、次の事項が記載されている。
（１）「金属材の表面上に形成された２種類以上の成分からな成る被膜の表面に赤外線を投射し、金属材表面からの反射性赤外線の強度を検出することにより被膜成分夫々の付着量を測定する方法において、各被膜成分の夫々に対して吸収を生じ他方の被膜に対して吸収を生じにくい２種類の波長と、両被膜に共に吸収を生じない２種類の波長とを含む赤外線を金属材の表面に投射し、該赤外線の金属材表面からの反射赤外線の強度を検出し、その検出値から所定の算出式により前記２種類の被膜成分の夫々の付着量を算出することを特徴とする付着量測定方法。」（特許請求の範囲第１項）
（２）「該鋼板６の表面上には膜厚ｔBの化成処理被膜Ｂが形成され、さらにその上部には膜厚ｔAの有機被膜Ａが形成されている。・・・ここでλ１は有機被膜Ａで吸収を生じ、化成処理被膜Ｂで吸収を生じにくい波長、λ２は逆に化成処理被膜Ｂで吸収を生じ、有機被膜Ａで吸収を生じにくい波長、λ３、λ４は両被膜Ａ，Ｂで共に吸収を生じない波長に選定しており、・・・次に説明する算出式により有機被膜Ａの付着量ｔAおよび化成被膜の付着量ｔBを求める演算を行う。」
（第２頁右上欄第１７行目〜同右下欄第５行目）
　
（引用刊行物３の記載事項）
 拒絶の理由に引用された、本願出願の日前の平成３年１０月７日に頒布された「特開平３−２２６６１０号公報」（以下「引用刊行物３」という。）には、次の事項が記載されている。
（１）「吸光度から多層構造体のｋ番目の被測定層の厚みｔｋを算出する検量線式として、・・・測定波長は、一般に、多層構造体の各層に特徴的であって、測定厚み範囲で比較的大きい吸収のある波長を選ぶ。測定波長の数は、多層構造体の層の数（構成材料の数）以上とする。・・・多層構造体の特性吸収帯に属しない参照波長でベースラインを補正する場合は、・・・なお、参照波長としては、被測定層とそれ以外の層の両方ともにおいて吸収の小さい波長を１〜２個選べばよい。」
（第３頁右上欄第５行目〜同右下欄第１８行目）
　
（引用刊行物４の記載事項）
 拒絶の理由に引用された、本願出願の日前の平成４年１２月９日に頒布された「特開平４−３５５３０８号公報」（以下「引用刊行物４」という。）には、次の事項が記載されている。
（１）「多層膜の測定物に赤外線を投光する放射源と、前記測定物からの光のうち測定物の各膜に固有の吸収波長の光および基準波長の光を選択する波長選択手段と、この波長選択手段による前記各波長の光を別々に検出する複数の検出素子と、この各検出素子の出力に基づき前記測定物の各膜厚を測定する演算手段とを備えた多層膜測定装置。」（【請求項１】）
（２）「この例では測定物３は２層のフィルム３１、３２からなる。測定物３を透過した光は、フィルム３１に固有の吸収波長λ１の光を通すフィルタ４１、フィルタ３２に固有の吸収波長λ２の光を通すフィルタ４２、各フィルム３１、３２に吸収されない基準波長λ０の光を通すフィルタ４３等よりなる波長選択手段を介し、各々焦電素子等の検出素子５１、５２、５３に入射する。」（【０００８】）
３．対比
　本願請求項１に係る発明と引用刊行物１記載の発明とを比較すると、
（ア）引用刊行物１記載の発明の「下引層、電荷発生層、電荷輸送層」「塗布量を調整する」は、本願請求項１に係る発明の「有機系材料を含む複数の異なる機能層」「塗布を制御する」に相当する。
（イ）本願請求項１に係る発明は、吸光度に基づいて各機能層の膜厚が一定になるように塗布を制御するものであるが、これは明細書の記載から、吸光度に基づき各機能層の膜厚を計算し、この膜厚に基づいて制御を行うものである。そして、本願請求項１記載の発明の吸光度に基づき各機能層の膜厚を計算することと、引用刊行物１記載の発明の「各層の膜厚を分光光度計で逐次測定」することとは、「各機能層の膜厚を光学的に測定」する点で共通している。
　以上のことから、本願発明と引用刊行物１記載の発明との間には下記の一致点及び相違点がある。
（一致点）
　導電性基体表面上に有機系材料を含む複数の異なる機能層を順次積層してなる電子写真感光体の製造方法において、各機能層の膜厚を光学的に測定しこれに基づいて各機能層の膜厚が一定になるように各機能層の塗布を制御する電子写真感光体の製造方法。
（相違点）
　各機能層の膜厚測定のための光学的測定が、本願請求項１に係る発明では、各機能層形成後に複数の異なる機能層を積層した部分における最も新しく形成された機能層に特徴的に吸収され且つ前記機能層の下に形成された機能層の吸収が少ない波長における吸光度を測定することにより行うのに対して、引用刊行物１記載の発明では、下引層と電荷輸送層は光干渉法で、電荷発生層は単層状態で分光吸収スペクトルで行う点で相違する。
　
４．当審の判断
（相違点について）
　引用刊行物２ないし４に記載されるように、複数の異なる層を積層した多層膜の各層の膜厚を、膜厚を測定したい各層で吸収を生じ他の層で吸収を生じにくい波長、及び各層に吸収を生じない波長を選定して赤外線を多層膜に投射し、光の吸収の測定値から所定の算出式により各層の膜厚を算出する方法は、膜厚測定の技術分野では周知技術である。引用刊行物１には、膜厚を測定するのに、下引き層及び電荷輸送層は光干渉法で測定し、また電荷発生層は単層状態で吸光度を測定しており各層が積層された状態での測定ではないが、多層膜の各層の膜厚を積層状態で測定する技術は上記のとおり周知であるから、引用刊行物１記載の発明において、多層構造体である感光体の各機能層の膜厚の測定をするのに、上記周知の多層膜厚測定技術を適用することは当業者が容易になし得たものといえる。また、各機能層形成後に複数の異なる機能層を積層した部分における最も新しく形成された機能層を順次測定対象層とすることは当業者が適宜になし得たものといえる。また、上記周知の多層膜の膜厚測定技術を適用したことに伴う効果は予測し得るものである。
　
５．むすび
　以上のとおり、本願請求項１に係る発明は、引用刊行物１に記載された発明、及び引用刊行物２ないし４に記載された周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
  したがって、請求項２ないし１５についての判断を示すまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。