【事件の表示】
　平成１０年特許願第２４８０６７号「導電性ボールの移載方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１２年３月１４日出願公開、特開２０００−７７４６０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
Ｉ．出願の経緯の概要、及び本願発明
　本願は平成１０年９月２日の出願であって、その請求項１に係る発明は、平成１５年７月１日に提出された手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりの次のものである。（以下「本願発明」という。）
「【請求項１】下面に導電性ボールを吸着する複数の吸着孔が形成された吸着ヘッドにより導電性ボールをワークに移載する導電性ボールの移載方法であって、前記吸着ヘッドの下面に沿って横方向へ発光部により光を照射し、この発光部の光を受光する受光部から出力される電気信号に基づいて前記吸着ヘッドの下面の吸着孔位置以外に付着した余分な導電性ボール及び吸着孔に吸着された導電性ボールの下に付着した導電性ボールの有無を判定する第１の判定工程と、前記吸着ヘッドの下面をカメラで撮像し、得られた画像データに基づいて前記吸着ヘッドの下面の導電性ボールの有無を判定する第２の判定工程と、導電性ボールを位置決め部のワークに移載した後に、前記吸着ヘッドの下面に残留する導電性ボールを検出する工程とを含むことを特徴とする導電性ボールの移載方法。」
　　
II．証拠の記載事実
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用され、本願出願前に頒布された刊行物である特開平９−２４６４２２号公報（以下「引用例１」という。）、および特開平９−６４０４６号公報（以下「引用例２」という。）には、以下の記載がある。
引用例１（特開平９−２４６４２２号公報）
(1-1)「【請求項１】導電性ボールの供給部と、ミスボールの検出手段と、ミスボールの排出部と、ワークの位置決め部とを同一直線上に並設し、またこの供給部とミスボールの検出手段とワークの位置決め部に沿う移動テーブルを設け、かつこの移動テーブルに沿って前記供給部と位置決め部の間を往復移動して前記供給部に備えられた導電性ボールを前記ワークに移送搭載する搭載ヘッドを設けたことを特徴とする導電性ボールの搭載装置。」（請求項１）
(1-2)「本発明によれば、同一直線上に並設された導電性ボールの供給部とミスボールの検出手段とミスボールの排出部とワークの供給部の上方を、搭載ヘッドを直線的に往復移動させるという単純な動作により、ワークの電極上に多数個の導電性ボールを作業性よく搭載できる。」（段落【0006】）
(1-3)「図４において、ケース１４の両側部にはブラケット１５、１６が立設されている。ブラケット１５の内面には発光素子１７が装着されており、またブラケット１６の内面には受光素子１８が装着されている。発光素子１７と受光素子１８は、ケーブル１９を介して検出部２０に接続されている。検出部２０は制御部２１に接続されている。Ｌは発光素子１７から受光素子１８へ向って照射される光の光路である。この発光素子１７、受光素子１８は、エキストラボールの検出手段を構成している。」（段落【0009】）
(1-4)「図１において、２２は搭載ヘッドである。搭載ヘッド２２はボックス２３の下部に保持されている。ボックス２３の上部にはモータ２４が設けられている。ボックス２３の内部には、モータ２４に駆動される送りねじなどの上下動手段が内蔵されており、モータ２４が駆動すると、搭載ヘッド２２は上下動作を行う。図７に示すように、搭載ヘッド２２の下部には吸着孔２５が多数開孔されている。搭載ヘッド２２は空気圧ユニット（図外）に接続されており、空気圧ユニットが駆動することにより、吸着孔２５に半田ボール１を真空吸着して保持し、また真空吸着状態を解除することにより半田ボール１を落下させる。」（段落【0010】）
(1-5)「搭載ヘッド２２は、図５に示すように発光素子１７と受光素子１８の間を通過する。図５および図７に示すように、搭載ヘッド２２のレベルは、正常な半田ボール１には光路Ｌは遮光されないが正常な半田ボール１よりも下方へ突出するエキストラボール１Ａには遮光される高さに設定されている。勿論、搭載ヘッド２２のレベルは、モータ２４を駆動して行う。上述のように、エキストラボール１Ａはブラシ４で摺接落下させられるものであるが、摺接落下は必ずしも成功するものではなく、図５および図７に示すようにエキストラボール１Ａがなおも残存付着している場合がある。このようなエキストラボール１Ａは光路Ｌを遮光することにより検出される。」（段落【0016】）
(1-6)「図７は、半田ボール１をピックアップした搭載ヘッド２２の下部を示している。図示するように、各吸着孔２５には、それぞれ１個の半田ボール１が真空吸着されているが、この図７では、１個の余分な導電性ボール（エキストラボール）１Ａが付着している。このエキストラボール１Ａをワーク１０に搭載すると、ワーク１０は不良品になるので、エキストラボール１Ａはワーク１０に搭載してはならない。なおエキストラボール１Ａの発生原因は、静電気による半田ボール同士の付着や吸着孔２５の真空漏れなどである。」（段落【0014】）また、図７、９には余分な導電性ボール（エキストラボール）として記号「１Ａ」、「１Ａ’」の各ボールが示されている
(1-7)「搭載ヘッド２２は、図５に示すように発光素子１７と受光素子１８の間を通過する。図５および図７に示すように、搭載ヘッド２２のレベルは、正常な半田ボール１には光路Ｌは遮光されないが正常な半田ボール１よりも下方へ突出するエキストラボール１Ａには遮光される高さに設定されている。」（段落【0016】）
(1-8)「搭載ヘッド２２はワーク１０に半田ボール１を搭載したならば、搭載ヘッド２２は容器２の上方へ復帰する。図６は、この復帰中にボックス１４上を通過する搭載ヘッド２２を示している。１Ｂは搭載ヘッド２２の下面に残存する半田ボール（以下、「残存ボール」と称する）である。残存ボール１Ｂは、ワーク１０への搭載に失敗して、搭載ヘッド２２の下面に残存付着するものである。本発明では、エキストラボール１Ａや残存ボール１Ｂをミスボールと総称する。
　この残存ボール１Ｂは、光路Ｌを遮光することにより検出される。なお、モータ２４を駆動することにより、搭載ヘッド２２の高さを、往路よりも復路をわずかに低くするか、あるいは図外のリフターにより発光素子１７と受光素子１８をわずかに高くすることにより、図６に示すように残存ボール１Ｂで光路Ｌを遮光させることができる。」（段落【0021】〜【0022】）
(1-9)「図８は、本発明の実施の形態２の導電性ボールの搭載装置の側面図、図９は同カメラの明暗画像図である。３０はカメラ、３１は上方へ照明光を照射する光源であり、上記発光素子１７と受光素子１８に替えて、搭載ヘッド２２の移動路の下方に設けられている。」（段落【0024】）
(1-10)「図９はカメラ３０で入手された画像を示している。半田ボール１は光沢のある金属の球体であり、下方から光を照射すると、そのセンターに入射した光のみが下方へ強く反射されてカメラ３０に入射するので、半田ボール１のセンターのみが明るく観察される。なお搭載ヘッド２２の下面は、カメラ３０で黒く観察されるように、黒色などの暗色にしておく。図９において、１’は正常な半田ボール１の画像、１Ａ’はエキストラボールの画像である。したがってこの画像を周知画像処理技術によって解析することにより、エキストラボール１Ａの存在を簡単に検出できる。」（段落【0025】）
(1-11)「本発明はさらに様々な設計変更が可能であって、図６に示す残存ボール１Ｂの検出も、図８に示すカメラ３０で行ってもよい。」（段落【0026】）
　　
引用例２（特開平９−６４０４６号公報）
(2-1)「【請求項１】ワークの電極に形成されたバンプの高さを高さ検出手段により検出し、検出された高さを予め設定された適正高さと比較して不良バンプを検出することを特徴とする不良バンプの検出方法。
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【請求項４】ワークの上面をカメラにより観察し、このカメラに入手された画像に基いてワークの電極から位置ずれした不良バンプを検出することを特徴とする不良バンプの検出方法。」（請求項１、４）
(2-2)「本発明は、半田ボールによりワークの電極上に形成されたバンプのうち、寸法が過大・過少なバンプや電極から位置ずれしたバンプなどの不良バンプの検出方法・・・に関するものである。」（段落【0001】）
(2-3)「図２において、高さ検出ユニット１０はレーザ光（矢印）を発光する発光素子１３と、測定対象物で反射されたレーザ光を受光するＰＳＤなどの受光素子１４を備えている。発光素子１３や受光素子１４はＣＰＵなどから成る制御部１５に接続されており、受光素子１４に入射した反射光の位置から、測定対象物の高さを測定する。すなわち、発光素子１３と受光素子１４は高さ検出手段である。またカメラ１１も制御部１５に接続されている。１６はメモリであって、必要なデータが登録される。
　カメラ１１は上方からワーク１の上面を観察し、輝度の画像を入手する。図３は本発明の一実施例の不良バンプの検出装置のカメラに入手される輝度の画像図を示している。」（段落【0013】〜【0014】）
(2-4)「測定された高さが適正高さＨ内であるか否かを制御部１５により判定する。図２に示す例では、バンプ３ａは適正高さＨ内であって良品である。またバンプ３ｂは過大，バンプ３ｃは過少であって不良である。また右端部のバンプ３ｄは電極２から大きく位置ずれしており、したがって電極２上のバンプは過少と判定される。」（段落【0017】）
(2-5)「次に、カメラ１１により、バンプの位置を検出する。その方法は図３を参照して説明したとおりである。図２に示す例では、バンプ３ａ，３ｂ，３ｃはそれぞれ電極２上に存在するので、図３（ｃ）に示す輝度のデータが得られ、電極２上に正しく存在することが確認される。また右端部の電極２は図３（ｂ）に示すように観察され、これによりこの電極２上にはバンプが存在しないことが判明する。またポイントａの地肌は、本来ならば図３（ａ）に示すように地肌のみが観察されるのであるが、このポイントａには右端の電極２から大きく位置ずれしたバンプ３ｄが存在するので、図３（ｃ）に示すデータが得られ、これにより地肌上にバンプ３ｄが誤って形成されていることが判明する。」（段落【0018】）
(2-6)「上述した高さ検出ユニット１０やカメラ１１による良否判定データや、不良バンプの高さデータ、位置データなどもメモリ１６に登録される。以上のように、高さ検出ユニット１０とカメラ１１を併用することにより、すべての不良バンプを検出できる。」（段落【0018】）
　　
III．対比・判断
　本願発明と、引用例１に記載されたものとを対比すると、引用例１には、導電性ボールの供給部と、ミスボールの検出手段と、ミスボールの排出部と、ワークの位置決め部とを同一直線上に並設し、またこの供給部とミスボールの検出手段とワークの位置決め部に沿う移動テーブルを設け、かつこの移動テーブルに沿って前記供給部と位置決め部の間を往復移動して前記供給部に備えられた導電性ボールを前記ワークに移送搭載する搭載ヘッドを設けた導電性ボールの搭載装置（摘記1-1）の発明とともに、導電性ボールの供給部とミスボールの検出手段とミスボールの排出部とワークの供給部の上方を、搭載ヘッドを直線的に往復移動させることにより、ワークの電極上に多数個の導電性ボールを作業性よく搭載できること（摘記1-2）、搭載ヘッドの下部には吸着孔が開孔され、吸着孔にボールを真空吸着して保持し、また真空吸着状態を解除することによりボールを落下させること（摘記1-4）、ケースの両側部のブラケットの内面には発光素子が装着されており、またブラケットの内面には受光素子が装着され、発光素子と受光素子は検出部に接続され、検出部は制御部に接続されて、発光素子、受光素子は、エキストラボールの検出手段を構成していること（摘記1-3）、搭載ヘッドは発光素子と受光素子の間を通過し、エキストラボールは光路を遮光することにより検出されること（摘記1-5）、図８は導電性ボールの搭載装置の側面図、図９はカメラの明暗画像図を示し、３０はカメラ、３１は上方へ照明光を照射する光源であり、１’は正常な半田ボール１の画像、１Ａ’はエキストラボールの画像であって、この画像を周知画像処理技術によって解析することにより、エキストラボール１Ａの存在を検出できること（摘記1-10）、図６は復帰中にボックス１４上を通過する搭載ヘッド２２を示し、１Ｂは搭載ヘッド２２の下面に残存する半田ボール（以下、「残存ボール」と称する）であること（摘記1-11）が記載されており、さらに、搭載ヘッドはワークに半田ボールを搭載した後、容器の上方へ復帰し、図６中、１Ｂは搭載ヘッド２２の下面に残存する半田ボール（残存ボール）であり、残存ボール１Ｂは、ワークへの搭載に失敗して、搭載ヘッドの下面に残存付着するものであって、「エキストラボール」及び「残存ボール」を「ミスボール」と総称すること、残存ボールは光路を遮光することにより検出されること（摘記1-8）、及び、様々な設計変更が可能であって、残存ボールの検出もカメラで行ってもよいこと（摘記1-11）が記載されており、そして、本願発明でいう「吸着ヘッドの下面の吸着孔位置以外に付着した余分な導電性ボール」及び「吸着孔に吸着された導電性ボールの下に付着した導電性ボール」は、エキストラボール（余分な導電性ボール）の一種であり、また、本願発明における「吸着ヘッドの下面に残留する導電性ボール」は、引用例に記載された「残存ボール」に相当する。
　してみれば、引用例１には、下面に導電性ボールを吸着する複数の吸着孔が形成された吸着ヘッドにより導電性ボールをワークに移載する導電性ボールの移載方法であって、前記吸着ヘッドの下面に沿って横方向へ発光部により光を照射し、この発光部の光を受光する受光部から出力される電気信号に基づいてエキストラボールの有無を判定する第１の判定工程、又は、前記吸着ヘッドの下面をカメラで撮像し、得られた画像データに基づいて前記吸着ヘッドの下面の導電性ボールの有無を判定する第２の判定工程、及び、導電性ボールを位置決め部のワークに移載した後に、前記吸着ヘッドの下面に残留する導電性ボールを検出する工程とを含むことを特徴とする導電性ボールの移載方法、の発明が記載されていると認められ、本願発明はこの点で引用例１に記載された発明と一致し、そして、
（イ）本願発明では、光の照射・受光に基づく上記第１の判定工程と、カメラ撮像に基づく上記第２の判定工程との両者を含むものであるのに対して、引用例には当該第１の判定工程及び第２の判定工程の各判定工程が記載されているものの、これら２つの判定工程を併用することの記載が見あたらない点、及び、
（ロ）本願発明では、判定の対象となるエキストラボールとして、「吸着ヘッドの下面の吸着孔位置以外に付着した余分な導電性ボール」及び「吸着孔に吸着された導電性ボールの下に付着した導電性ボール」としているのに対して、引用例１の記載においては、「余分な導電性ボール」（摘記1-6）と記載され、具体的には、図７中「１Ａ」として示されたボールが示されているものの、上記２種類のエキストラボールを対象とすることを明示する記載が見当たらない点、の各点で一応相違が認められる。
　そこで、これら相違点について、以下検討する。
　　
相違点（イ）について
　引用例１には上記２種類の判定工程について、これら両者を併用することの記載は見当たらない。しかし、判定の精度を上げるために、上記２種類の判定方法を併用することは、当業者が必要とする判定精度にしたがって当業者が容易になし得ることであり、そしてその場合に、吸着ヘッドの側面からなされる上記第１の判定工程と、吸着ヘッドの垂直面からなされる上記第２の判定工程との、異なった検知方向、手法による２種類の判定方法を併用することにより、判定精度がより向上し得ることは、当業者が容易に想到できることである。
　かつまた、引用例２には、高さ検出手段で不良バンプを検出し、カメラ画像により位置ずれバンプを検出すること（摘記2-1、2-3）、当該高さ検出手段でバンプの高さのみならず位置ずれをも検出できること（摘記2-4、2-5）が記載され、さらに、高さ検出手段とカメラ画像による検出手段との２種類の検出手段を併用することにより、位置ずれを含む全ての不良バンプを検出でき、検出精度が向上すること（摘記2-6及び2-1〜2-5）が開示されている。引用例２はワーク電極の不良バンプの検出方法について記載したものであるが、バンプの配列状態の検出の点からみると、同じく金属ボールを配列させた吸着ヘッドの不良バンプ検出においても、２種類の検出方法を併用させることにより不良バンプの検出精度が向上することは、上記引用例２の記載に基づき、当業者が容易に想到できることである。
　以上のとおりであるから、光の照射・受光に基づく判定工程と、カメラ撮像に基づく判定工程の２種類の判定工程を併用して、上記相違点（イ）のとおり構成することに、格別の困難性があるということはできない。
　　
相違点（ロ）について
　引用例１には、吸着孔から外れた位置に付着する余分な導電性ボール（エキストラボール）が説明され（摘記1-6）、このエキストラボールは、本願発明でいう「吸着ヘッドの下面の吸着孔位置以外に付着した余分な導電性ボール」に相当するといえる。
　一方、引用例１には、本願発明でいう「吸着孔に吸着された導電性ボールの下に付着した」エキストラボールの有無を判定することの明示的な記載は見当たらない。しかし、引用例１には、エキストラボール（余分な導電性ボール）として、静電気による半田ボール同士の付着による場合（摘記1-6）が挙げられており、引用例１に記載された判定方法が、導電性ボールの下に付着したエキストラボールをも対象とし得ることが示唆されている。そして、搭載ヘッドのレベルは、正常な半田ボールよりも下方へ突出するエキストラボールには遮光される高さに設定される（摘記1-7）との引用例１の記載からすると、吸着孔に吸着された導電性ボールの下に付着したエキストラボールの有無が、引用例１に記載された光の照射・受光に基づく判定工程により判定できることは、当業者が容易に想到できることである。
　　
　以上のとおりであるから、上記相違点（イ）及び（ロ）とした点は、当業者が容易に想到できたことと認められ、したがって、本願発明は引用例１及び２に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができた発明である。なおかつ、本願明細書及び図面の記載を見ても、その効果は当業者が予期し得なかったほど格別に顕著であると認めることはできない。
　　
IV．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１及び２に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができた発明であり、したがって、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることはできない。
　したがって、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。