【手続補正書】
【提出日】平成24年4月9日(2012.4.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フロー材料の導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めるための振動式フローメータ（５）であって、
一または複数のフロー導管（１０３）を有したフローメータ組立体（１０）と、
メータ温度Ｔｍを測定するように構成されたメータ温度センサ（２０４）と、
外部環境温度Ｔａを測定するための外部環境温度センサ（２０８）と、
前記メータ温度センサ（２０４）および前記外部環境温度センサ（２０８）に結合され、前記メータ温度Ｔｍおよび前記外部環境温度Ｔａを受信し、前記メータ温度Ｔｍおよび前記外部環境温度を用いて、前記振動式フローメータ（５）内の前記フロー材料の前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めるように構成されたメータ電子機器（２０）とを備えてなる、振動式フローメータ（５）。
【請求項２】
前記メータ電子機器（２０）が、前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを用いるようにさらに構成されてなる、請求項１に記載の振動式フローメータ（５）。
【請求項３】
前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めることが、式［Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ＝（Ｔｍ−ＴａＣｅ）／（１−Ｃｅ）］を用いることをさらに含んでおり、この式において、Ｃｅは温度誤差係数である、請求項１に記載の振動式フローメータ（５）。
【請求項４】
前記メータ電子機器（２０）が、フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを用いるようにさらに構成されてなる、請求項１に記載の振動式フローメータ（５）。
【請求項５】
前記フロー材料の流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓを測定するように構成された流体温度センサ（２１０）をさらに備えており、前記メータ電子機器（２０）が、前記メータ温度Ｔｍおよび前記外部環境温度を用いて前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求め、測定された前記流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓと前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖとの間の差を用いて前記振動式フローメータの一または複数フロー導管内のコーティングレベルを求めるように構成されてなる、請求項１に記載の振動式フローメータ（５）。
【請求項６】
前記メータ電子機器（２０）が、Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求め、前もって決められているコーティングしきい値と前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを比較し、前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合、コーティングを示す情報を生成するようにさらに構成されてなる、請求項５に記載の振動式フローメータ（５）。
【請求項７】
前記メータ電子機器（２０）が、Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求め、前もって決められているコーティングしきい値と前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを比較し、前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Ｓｔｅｒｉｌｉｚａｔｉｏｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＳＩＰ）および／またはＣｌｅａｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＣＩＰ）を示す情報を生成するようにさらに構成されてなる、請求項５に記載の振動式フローメータ（５）。
【請求項８】
振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めるための方法であって、
メータ温度Ｔｍを測定することと、
外部環境温度Ｔａを測定することと、
前記メータ温度Ｔｍおよび前記外部環境温度Ｔａを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めることとを含む、方法。
【請求項９】
前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めることが、式［Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ＝（Ｔｍ−ＴａＣｅ）／（１−Ｃｅ）］を用いることをさらに含んでおり、この式においてＣｅは温度誤差係数である、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを用いることをさらに含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１１】
フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを用いることをさらに含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１２】
流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓを測定することと、
Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求めることと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとをさらに含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１３】
流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓを測定することと、
Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求めることと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Ｓｔｅｒｉｌｉｚａｔｉｏｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＳＩＰ）および／またはＣｌｅａｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＣＩＰ）を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１４】
振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めるための方法であって、
メータ温度Ｔｍを測定することと、
外部環境温度Ｔａを測定することと、
前記メータ温度Ｔｍおよび前記外部環境温度Ｔａを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めることと、
前記流体温度を用いて、前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めることとを含む、方法。
【請求項１５】
前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めることが、式［Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ＝（Ｔｍ−ＴａＣｅ）／（１−Ｃｅ）］を用いることをさらに含んでおり、この式においてＣｅは温度誤差係数である、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを用いることをさらに含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１７】
流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓを測定することと、
Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求めることと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとを含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１８】
流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓを測定することと、
Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求めることと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Ｓｔｅｒｉｌｉｚａｔｉｏｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＳＩＰ）および／またはＣｌｅａｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＣＩＰ）を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１９】
振動式フローメータ内のフロー材料の導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めるための方法であって、
メータ温度Ｔｍを測定することと、
外部環境温度Ｔａを測定することと、
流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓを測定することと、
前記メータ温度Ｔｍおよび前記外部環境温度Ｔａを用いて、前記振動式フローメータ内の前記フロー材料の前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めることと、
測定された前記流体温度Ｔｆ−ｍｅａｓと前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖとの間の差を用いて、前記振動式フローメータの一または複数のフロー導管内のコーティングレベルを求めることとを含む、方法。
【請求項２０】
前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを求めることが、式［Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ＝（Ｔｍ−ＴａＣｅ）／（１−Ｃｅ）］を用いることをさらに含んでおり、この式においてＣｅは温度誤差係数である、請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記フロー材料の一または複数のフロー特性を求めるために前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを用いることをさらに含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２２】
フロー導管の剛性を補償するために前記導出流体温度Ｔｆ−ｄｅｒｉｖを用いることをさらに含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２３】
前記コーティングレベルを求めることが、Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求めることと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、コーティングを示す情報を生成することとを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２４】
Ｔｅｒｒｏｒ＝｜Ｔｆ−ｍｅａｓ−Ｔｆ−ｄｅｒｉｖ｜である温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを求めることと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒを前もって決められているコーティングしきい値と比較することと、
前記温度誤差ファクターＴｅｒｒｏｒが前記前もって決められているコーティングしきい値を超えている場合に、Ｓｔｅｒｉｌｉｚａｔｉｏｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＳＩＰ）および／またはＣｌｅａｎ−Ｉｎ−Ｐｌａｃｅ（ＣＩＰ）を示す情報を生成することとをさらに含む、請求項１９に記載の方法。