【手続補正書】
【提出日】平成25年11月14日(2013.11.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号に対して動作して出力信号を生成する電子デバイスによって導入される歪みについて当該入力信号を補償する方法であって、当該方法は、
複数のサンプリング時間インスタンスの各々について、前記入力信号及び前記出力信号を表す第１の信号サンプル及び第２の信号サンプルを生成することと、
前記サンプリング時間インスタンスのうちの１つ以上について、前記第１の信号サンプルと前記電子デバイス又は事前歪み器の非線形歪みモデルにおける基底関数のセットとから対応するデータサンプルのセットを生成することと、
各基底関数からの正規化された前記データサンプルが所定の分散を有するように前記データサンプルを正規化することと、
正規化された前記データサンプルを前記第２の信号サンプルに適合させるために前記非線形歪みモデルに従ってモデル重み係数を算出することと、
モデル適合パラメータから事前歪み重みを判定することと、
前記事前歪み重みを前記入力信号に適用して、前記電子デバイスによって導入される前記歪みを補償することと、
を含む、方法。
【請求項２】
所与のサンプリング時間インスタンスについて前記対応するデータサンプルのセットを生成することは、２つ以上のサンプリング時間インスタンスに対応する複数の第１の信号サンプルに基づいて１つ以上のデータサンプルを算出することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
２つ以上のサンプリング時間インスタンスに対応する複数の第１の信号サンプルに基づいて１つ以上のデータサンプルを算出することは、
２つ以上のサンプリング時間インスタンスに対応する基底関数の出力信号を算出することと、
前記基底関数の出力信号から前記１つ以上のデータサンプルを生成することと、
を含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記データサンプルを正規化することは、
前記基底関数の出力信号を正規化することと、
正規化された当該基底関数の出力信号から正規化されたデータサンプルを生成することと、
を含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記データサンプルを正規化することは、
前記基底関数の出力信号から前記１つ以上のデータサンプルを正規化されていないデータサンプルとして生成することと、
前記正規化されていないデータサンプルを正規化することと、
を含む、請求項３に記載の方法。
【請求項６】
前記データサンプルを正規化することは、
各基底関数から生成される前記データサンプルに、当該基底関数によって生成される前記データサンプルの平方根の逆数に比例する対応する正規化因子を乗算すること、
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記非線形歪みモデルは、事前歪み器モデルを含み、
前記モデル重み係数から事前歪み重みを判定することは、前記事前歪みモデルの前記モデル重み係数から事前歪み重みを算出することを含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記モデル重み係数から事前歪み重みを算出することは、前記モデル重み係数とそれぞれの正規化因子との積として事前歪み重みを算出することを含む、
請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記非線形歪みモデルは、前記電子デバイスの歪みモデルを含み、
前記モデル重み係数から事前歪み重みを判定することは、
前記モデル重み係数から電力増幅器重み係数を算出することと、
事前歪み器重み係数を前記電力増幅器重み係数の逆値として算出することと、
を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
所与のサンプリング時間インスタンスについての前記データサンプルは、データサンプルを、分岐出力信号として、前記第１の信号サンプル及びそれぞれの分岐に対応する基底関数のセットから算出することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
前記データサンプルを正規化することは、前記分岐出力信号を正規化することを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記分岐出力信号は、２つ以上のサンプリング時間インスタンスに対応する基底関数の出力信号の重み付け加算として算出される、請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
入力信号に対して動作して出力信号を生成する電子デバイスによって導入される歪みを補償するために当該入力信号を事前歪みさせるための事前歪み回路であって、当該事前歪み回路は、
複数のサンプリング時間インスタンスの各々について、前記入力信号及び前記出力信号を表す第１の信号サンプル及び第２の信号サンプルを生成するように構成される入力回路と、
前記電子デバイス又は事前歪み器の歪みをモデリングし、事前歪み重みを算出するための歪みモデリング回路であって、
前記サンプリング時間インスタンスのうちの１つ以上について、前記第１の信号サンプルと前記電子デバイス又は事前歪み器の非線形歪みモデルにおける基底関数のセットとから、対応するデータサンプルのセットを生成し、
各基底関数からの正規化された前記データサンプルが所定の分散を有するように前記データサンプルを正規化し、
正規化された前記データサンプルを前記第２の信号サンプルに適合させるためにモデル重み係数を前記非線形歪みモデルに従って算出し、
前記モデル重み係数から事前歪み重みを判定する、
ように構成される歪みモデリング回路と、
前記事前歪み重みを前記入力信号に適用して、前記電子デバイスによって導入される前記歪みを補償する事前歪み器と、
を備える、事前歪み回路。
【請求項１４】
前記歪みモデリング回路は、２つ以上のサンプリング時間インスタンスに対応する複数の第１の信号サンプルに基づいて１つ以上のデータサンプルを算出することによって、所与のサンプリング時間インスタンスについての前記対応するデータサンプルのセットを生成するように構成される、請求項１３に記載の事前歪み回路。
【請求項１５】
前記歪みモデリング回路は、２つ以上のサンプリング時間インスタンスに対応する基底関数の出力信号を算出し、当該基底関数の出力信号から前記１つ以上のデータサンプルを生成することによって、前記１つ以上のデータサンプルを算出するように構成される、請求項１４に記載の事前歪み回路。
【請求項１６】
前記歪みモデリング回路は、前記基底関数の出力信号を正規化し、正規化された前記基底関数の出力信号から正規化されたデータサンプルを生成することによって、前記データサンプルを正規化するように構成される、請求項１５に記載の事前歪み回路。
【請求項１７】
前記歪みモデリング回路は、前記基底関数の出力信号から前記１つ以上のデータサンプルを正規化されていないデータサンプルとして生成し、当該正規化されていないデータサンプルを正規化することによって、前記データサンプルを正規化するように構成される、請求項１５に記載の事前歪み回路。
【請求項１８】
前記歪みモデリング回路は、各基底関数から生成される前記データサンプルに、当該基底関数によって生成される前記データサンプルの平方根の逆数に比例する対応する正規化因子を乗算することによって、前記データサンプルを正規化するように構成される、請求項１５に記載の事前歪み回路。
【請求項１９】
前記非線形歪みモデルは、事前歪み器モデルを含み、
前記歪みモデリング回路は、前記事前歪みモデルの前記モデル重み係数から事前歪み重みを算出するように構成される、
請求項１３に記載の事前歪み回路。
【請求項２０】
前記歪みモデリング回路は、前記モデル重み係数とそれぞれの正規化因子との積として前記事前歪み重みを算出するように構成される、請求項１９に記載の事前歪み回路。
【請求項２１】
前記非線形歪みモデルは、前記電子デバイスの歪みモデルを含み、
前記歪みモデリング回路は、
前記電子デバイスの歪みモデルのモデル適合パラメータから電力増幅器重み係数を算出し、
事前歪み重み係数を前記電力増幅器重み係数の逆値として算出する、
ように構成される、請求項１３に記載の事前歪み回路。
【請求項２２】
前記歪みモデリング回路は、データサンプルを、分岐出力信号として、前記第１の信号サンプル及びそれぞれの分岐に対応する基底関数のセットから算出するように構成される、請求項１３に記載の事前歪み回路。
【請求項２３】
前記歪みモデリング回路は、前記分岐出力信号を正規化することによって前記データサンプルを正規化するように構成される、請求項２２に記載の事前歪み回路。
【請求項２４】
前記歪みモデリング回路は、２つ以上のサンプリング時間インスタンスに対応する基底関数の出力信号の重み付け加算として前記分岐出力信号を算出するように構成される、請求項２２に記載の事前歪み回路。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
図３は、一般化された歪みモデル２００を示し、当該モデルは、（例えば、図２の直接学習アーキテクチャにおけるモデル係数評価部１６０によってモデリングされるような）電力増幅器１２０によって導入される歪み、又は（例えば、図１の事前歪み器モデル係数評価部１５０によってモデリングされるような）事前歪み器の事前歪み伝達関数を表し得る。いずれの場合も、歪みモデル２００は、所望の基底関数セットに対応する構造２１０を含む。モデル構造２１０は、Ｐ個のタップを含み、各タップが基底関数に対応する。留意すべき点は、幾つかの実施形態において、複数個のタップが同じ基底関数に対応し得るという点である。モデル構造２１０は、入力信号ｘ（ｎ）に対して動作して、それぞれのタップにおいてデータ信号｛ｕ０（ｎ），ｕ１（ｎ），．．．ｕＰ−１（ｎ）｝を生成する。歪みモデル２００は、データ信号｛ｕ０（ｎ），ｕ１（ｎ），．．．ｕＰ−１（ｎ）｝の重み付け加算を算出して、歪められた入力信号ｄ（ｎ）を取得する。より具体的には、データ信号｛ｕ０（ｎ），ｕ１（ｎ），．．．ｕＰ−１（ｎ）｝に、対応する重み係数｛ｗ０（ｎ），ｗ１（ｎ），．．．ｗＰ−１（ｎ）｝が乗算され、結果とし得られる積が足し合わされて、ｄ（ｎ）が取得される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
直交基底関数セットは、べき基底関数の重み付け加算（weighted  summation）として構築されることができる。直交基底関数セットは、歪みモデルについての重み係数を評価するために用いられる行列計算の期間中により良好な数値安定性を提供することができるため、多くのアプリケーションにおいて有利となり得る。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６６】
図９は、メモリ付きの歪みモデル８００におけるタップ出力の正規化のための１つのアプローチを示し、当該モデル８００は、図５における歪みモデルと比較され得る。歪みモデル８００は、複数の分岐８１０を含む。各分岐８１０は、基底関数８２０及びメモリモデル８３０を含む。前述のように、基底関数８２０は、基底関数セットにおけるべき基底関数又は直交基底関数のうちの１つであってよい。歪みモデル８００における分岐８１０と基底関数セットにおける基底関数８２０との間には１対１の対応が存在する。メモリモデル８３０は、Ｑ個のタップを有するタップ遅延ラインとして表され、ここで、Ｑは、メモリ長である。一般的なモデルと比較して、メモリモデルにおけるタップの総数Ｐは、Ｋ・Ｑである。正規化ブロック８４０は、各タップからのデータ信号出力に正規化因子αｋを乗算する。タップからのデータ信号にそれぞれの係数、例えば、
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７５】
図１３は、電力増幅器についての例示的な事前歪み回路１１００を示す。当該事前歪み回路は、ベースバンドプロセッサなどのデジタル処理回路、ハードウェア、ファームウェア、又はこれらの組み合わせによって実装され得る。事前歪み回路は、事前歪み器１０１０、サンプリング回路１０２０、及び歪みモデリング回路１０３０を備える。変調入力信号は、事前歪み器１０１０に印加される。事前歪み器１０１０は、入力信号を事前歪みさせて、事前歪みされた信号を生成する。アップコンバータ／フィルタ回路１０５０は、事前歪みされた信号を電力増幅器１０６０への入力のためにアップコンバートし及びフィルタリングする。アップコンバージョンの期間中、事前歪みされた信号は、デジタル領域からアナログ領域に変換される。電力増幅器１６０は、事前歪みされた信号を増幅して、送信のための出力信号を生成する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７７】
歪みモデリング回路１０３０は、前述のように、事前歪み器１０１０（間接アプローチ）又は電力増幅器１０６０（直接アプローチ）のいずれかによって導入される歪みをモデリングする。歪みモデリング回路１０３０は、歪みモデルへの入力信号を出力信号に適合させるためのモデル重み係数ｗのセットを算出する。歪みモデリング回路１０３０は、モデル重み係数から事前歪み器の係数も算出する。間接アプローチにおいて、モデル重み係数に、対応する正規化因子が乗算されて、事前歪み器の重み係数が取得され得る。直接アプローチにおいて、モデル重み係数の行列は、事前歪み器の重み係数を算出する前に逆行列化される必要がある。