(57)【要約】【課題】動作試験を効率的に行うことができるようにしたインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置を提供する。【解決手段】インバータ式Ｘ線高電圧装置１に、Ｘ線装置操作卓１２に接続した通常動作用通信ポート１１と、自動動作試験装置１４に接続した自動試験用通信ポート１０を設け、この自動動作試験装置１４は、インバータ式Ｘ線高電圧装置１の制御回路５に対して複数の動作シーケンスを有する試験動作を定義する試験動作定義手段２４と、この試験動作定義手段２４に対して複数のシーケンス毎に試験条件を設定する試験条件設定手段２５を備えた。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設けたことを特徴とするインバータ式Ｘ線高電圧装置。
【請求項２】
制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管と、上記制御回路に接続したＸ線装置操作卓とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設け、上記制御回路と上記Ｘ線装置操作卓間を接続する通常動作用通信ポートとは別に、上記自動動作試験装置と上記制御回路間を接続する自動試験用通信ポートを設けたことを特徴とするインバータ式Ｘ線高電圧装置。
【請求項３】
制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管と、上記制御回路に接続したＸ線装置操作卓とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設け、上記制御回路に上記Ｘ線装置操作卓および上記自動動作試験装置を交互に接続可能な通信ポートを設けたことを特徴とするインバータ式Ｘ線高電圧装置。
【請求項４】
制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置の上記制御回路に、動作試験の擬似信号を与える自動動作試験装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを設けたことを特徴とするインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置。
【請求項５】
請求項３記載のものにおいて、上記試験動作定義手段によって与えた少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験中に、上記インバータ式Ｘ線高電圧装置から得た情報に基づいて自動動作試験を継続する否かを判定する試験時エラーチェック手段を設けたことを特徴とするインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置。
【請求項６】
請求項４記載のものにおいて、上記試験時エラーチェック手段によって自動動作試験の継続中止と判定したとき、その関連情報を表示する表示手段を設けたことを特徴とするインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、直流電圧をインバータ回路を用いて高周波の交流電圧に変換し、その交流電圧を変換した高電圧の直流をＸ線管に印加するインバータ式Ｘ線高電圧装置およびその自動動作試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、インバータ式Ｘ線高電圧装置は、商用の交流電源からの交流電圧を交流リアクトルを介してサイリスタまたはダイオードで構成された全波整流回路を用いたコンバータ回路により直流電圧に変換し、これを平滑コンデンサで平滑してインバータ回路に入力し、インバータ回路から出力された高周波の交流電圧を高電圧変圧器で昇圧し、これを高電圧整流器で直流に変換した後にＸ線管に印加し、Ｘ線管からＸ線を放射するように構成している。このインバータ回路は、共振コンデンサと高電圧変圧器の漏れインダクタンスとの共振現象を利用してインバータ回路の位相差や周波数を制御することにより負荷であるＸ線管に直流の高電圧（以下管電圧と称する）を印加するものであり、実際の管電圧は管電圧検出器によって検出し、これと目標電圧とをインバータ制御回路に入力してインバータ回路の位相差や周波数を求め、これを制御するようにしている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開昭６３−１９０５５６号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
このようなインバータ式Ｘ線高電圧装置は、装置の寿命や熱サイクルを調べるために動作試験を行うのが望ましい。例えば高電圧装置の温度上昇試験や、Ｘ線管の熱特性試験、高電圧変圧器の耐圧試験部品の発熱および冷却の繰り返しによる熱サイクル劣化試験、Ｘ線装置の様々な使用条件における動作の確認などがある。これらの各装置をインバータ式Ｘ線高電圧装置として組み立てた後に、上述した動作試験を実施しようとする場合、Ｘ線装置操作卓から擬似信号を送って行うことが考えられるが、Ｘ線装置操作卓からは実際の操作に対応した一つのシーケンスの擬似信号しか与えることができないため、実際の動作試験に対応する複数のシーケンスのうち、一つのシーケンス毎にＸ線装置操作卓から入力して擬似信号を送らなければならず、この方法では大規模の動作試験の場合に数ヶ月にもわたり継続することになってしまう。
【０００５】
本発明の目的は、動作試験を効率的に行うことができるようにしたインバータ式Ｘ線高電圧装置およびその自動動作試験装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記目的を達成するために、制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設けたことを特徴とする。
【０００７】
本発明によるインバータ式Ｘ線高電圧装置は、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数のシーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設けたため、Ｘ線装置操作卓からは設定できなかった複数のシーケンスから成る動作試験を自動で連続的に行うことができるようになり、動作試験を効率的に行うことができる。
【０００８】
また請求項２に記載の本発明は、制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管と、上記制御回路に接続したＸ線装置操作卓とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設け、上記制御回路と上記Ｘ線装置操作卓間を接続する通常動作用通信ポートとは別に、上記自動動作試験装置と上記制御回路間を接続する自動試験用通信ポートを設けたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載した本発明によるインバータ式Ｘ線高電圧装置は、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数のシーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設け、制御回路とＸ線装置操作卓間を接続する通常動作用通信ポートとは別に、自動動作試験装置と制御回路間を接続する自動試験用通信ポートを設けたため、インバータ式Ｘ線高電圧装置に自動試験用通信ポートを追加することによって自動動作試験装置から自動動作試験を行うことができるようになり、しかもＸ線装置操作卓からは設定できなかった複数のシーケンスから成る動作試験を自動で連続的に行うことができるようになり、動作試験を効率的に行うことができる。
【００１０】
また請求項３に記載の本発明は上記目的を達成するために、制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管と、上記制御回路に接続したＸ線装置操作卓とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設け、上記制御回路に上記Ｘ線装置操作卓および上記自動動作試験装置を交互に接続可能な通信ポートを設けたことを特徴とする。
【００１１】
請求項３に記載した本発明によるインバータ式Ｘ線高電圧装置は、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数のシーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを有する自動動作試験装置を設け、制御回路にＸ線装置操作卓および自動動作試験装置を交互に接続可能な通信ポートを設けたため、新たな通信ポートを追加することなく、実際の使用時にはＸ線装置操作卓を接続し、動作試験時にはＸ線装置操作卓に替えて自動動作試験装置を接続して自動動作試験を行うことができるようになり、しかもＸ線装置操作卓からは設定できなかった複数のシーケンスから成る動作試験を自動で連続的に行うことができるようになり、動作試験を効率的に行うことができる。
【００１２】
また請求項４に記載の本発明は、制御回路によって制御される半導体スイッチングデバイスを有するインバータ回路と、このインバータ回路による出力の交流電圧を変換した高電圧の直流を印加するＸ線管とを備えたインバータ式Ｘ線高電圧装置の上記制御回路に、動作試験の擬似信号を与える自動動作試験装置において、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を上記制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数の上記シーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを設けたことを特徴とする。
【００１３】
請求項４に記載した本発明によるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置は、少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験の擬似信号を制御回路に与える試験動作定義手段と、この試験動作定義手段に複数のシーケンスの試験条件を設定する試験条件設定手段とを設けたため、インバータ式Ｘ線高電圧装置に接続して使用することができ、Ｘ線装置操作卓からは設定できなかった複数のシーケンスから成る動作試験を自動で連続的に行うことができるようになり、動作試験を効率的に行うことができる。
【００１４】
また請求項５に記載の本発明は、請求項３記載のものにおいて、上記試験動作定義手段によって与えた少なくとも複数のシーケンスを有する動作試験中に、上記インバータ式Ｘ線高電圧装置から得た情報に基づいて自動動作試験を継続する否かを判定する試験時エラーチェック手段を設けたことを特徴とする。
【００１５】
請求項５に記載した本発明によるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置は、試験中に作動する試験時エラーチェック手段を設け、この試験時エラーチェック手段で自動動作試験中に継続不可能な状態を検出するようにしたため、継続不可能状態が検出されるまで一連の試験を継続させることができるようになり、また継続不可能状態が検出された時点ではこれに対処することができるようになり、自動による動作試験を効率的に行うことができる。
【００１６】
さらに請求項６に記載の本発明は、請求項４記載のものにおいて、上記試験時エラーチェック手段によって自動動作試験の継続中止と判定したとき、その関連情報を表示する表示手段を設けたため、この継続不可能な状態を表示装置に表示させることによって、一時的なものであれば直ちに同状態を回避するように促すことができ、動作試験を効率的に行うことができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の一実施の形態によるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置を示すブロック構成図である。
インバータ式Ｘ線高電圧装置１は、直流電源２に接続された複数の半導体スイッチングデバイス３を有して直流電圧を交流電圧に変換するインバータ回路４と、このインバータ回路４を制御する制御回路５と、インバータ回路４の出力側に一次巻線を接続した高電圧変圧器６と、この高電圧変圧器６の二次側巻線側に接続して直流に変換する整流器７と、この整流器７の出力側に接続されたＸ線管８とを備えている。
【００１８】
インバータ回路４の制御回路５にはポート切替手段９が接続され、このポート切替手段９を介して制御回路５に自動試験用通信ポート１０と通常動作用通信ポート１１とが交互に切り替え接続可能に成されている。通常動作用通信ポート１１にはＸ線装置操作卓１２が接続され、このＸ線装置操作卓１２はＣＴスキャナ１３に接続されている。インバータ式Ｘ線高電圧装置１は、通常、ポート切替手段９によって制御回路５と通常動作用通信ポート１１間を接続し、このＸ線装置操作卓１２から患者の検査部位に対応した条件を与えてＸ線管８に必要な電圧を印加したりするために用いられる。また自動試験用通信ポート１０は、インバータ式Ｘ線高電圧装置１の外部に設置した自動動作試験装置１４の通信ポート２６に接続可能に構成されている。
【００１９】
このように通常動作用通信ポート１１とは別に自動試験用通信ポート１０を設けているため、この自動試験用通信ポート１０に自動動作試験装置１４を接続し、ポート切替手段９を切り替えて制御回路５と自動試験用通信ポート１０を接続すると、自動試験装置１４側からインバータ式Ｘ線高電圧装置１の擬似動作制御信号を与えることが可能になり、加えて温度や動作信号、電圧、電流の検出値やフィードバックゲインなどのインバータ式Ｘ線高電圧装置１の動作状態を示す情報を自動動作試験装置１４がら得ることが可能になる。
【００２０】
ポート切替手段９によって通常動作用通信ポート１１と制御回路５を接続すると、インバータ式Ｘ線高電圧装置１が動作している場合には、Ｘ線装置操作卓１２からインバータ式Ｘ線高電圧装置１の動作を許可するＥｎａｂｌｅ信号１５が入力される。一方、ポート切替手段９を切り替えて制御回路５に自動試験用通信ポート１０を接続している場合には、このＥｎａｂ１ｅ信号が入力されていなくても動作するような手段を設けている。例えば、ポート切替手段９が自動試験用通信ポート１０を選択している場合、ポート切替手段９からＥｎａｂｌｅ信号を疑似的に送出する方法がある。Ｘ線装置操作卓１２が接続されていない場合でも、インバータ式Ｘ線高電圧装置１を動作させるために必要な信号を与える信号付与手段１６を設けておくと、インバータ式Ｘ線高電圧装置１の外部に同様の装置を設けなくても良い。
【００２１】
図２は、自動動作試験装置１４の詳細を示す構成図である。
通信ポート２６には通信機能を持った通信手段２０が接続され、この通信手段２０にはデータバス１７を介してＣＰＵ１６、ＲＡＭ１８、フラッシュメモリ２８、フレキシブルデスク２９、ハードデスク３０が接続されている。また通信手段２０には監視手段２１からの信号に基づいてインバータ式Ｘ線高電圧装置１の状態を表示する表示手段２７が接続されている。フラッシュメモリ２８内には、通信手段２０の通信内容を監視する監視手段２１と、通信記録手段２２に記録した通信内容を解析する解析手段２３とが構成されており、ハードデスク３０内には、通信手段２０による通信内容を記録する通信記録手段２２と、試験の動作を定義する試験動作定義手段２４と、この試験動作定義手段２４の試験条件を書き換えおよび設定可能な試験条件設定手段２５と、詳細を後述する起動時エラーチェック手段３１と、試験時エラーチェック手段３２などが構成されている。
【００２２】
フラッシュメモリ２８内の監視手段２１や解析手段２３は、ＲＡＭ１８に読み込まれ、ハードデスク３０内の試験動作定義手段２４および試条件設定手段２５を基に動作させ、また通信手段２０を介して通信ポート２６との通信および表示手段２７への情報送信を行う。ここで通信記録手段２２、試験動作定義手段２４および試験条件設定手段２５は、ハードデスク３０内に構成しているが、フラッシュメモリ２８やフレキシブルデスク２９など書き換え可能な他の記録媒体に構成しても良い。また表示手段２７としてディスプレーを用いているが、これはセグメントＬＥＤや点灯ランプ、スピーカなど状態を外部へ伝達するものであればどのようなものでも良い。
【００２３】
自動試験用通信ボート１０に接続した上述の通信手段２０は、制御回路５との通信を行う機能、また通信内容を通信記録手段２２に出力して保存する機能を有している。また、通信手段２０は試験動作定義手段２４によって定義された手順でデータを送受信する機能を持っている。インバータ式Ｘ線高電圧装置１の通信方法が装置によって異なる場合には、通信手段２０を変更することで対応できる。
【００２４】
また上述の試験動作定義手段２４は、通信手段２０を介してインバータ式Ｘ線高電圧装置１の操作手順や、装置のエラー発生時における停止あるいは復旧動作の手順を定義している。また試験動作定義手段２４は試験条件設定手段２５の内容を読み込み、これを基にインバータ式Ｘ線高電圧装置１の設定を行う手順を定義しており、通信手段２０はこの設定に従ってＸ線装置の操作を行う。また試験動作定義手段２４は通信手段２０が出力する通信記録手段２２の作成手順も定義することができる。
【００２５】
上述した試験条件設定手段２５は、各シーケンスの試験に必要な各種試験条件を設定するもので、これらの試験条件にはＸ線管８に供給する管電圧、管電流、曝射回数、曝射時間、曝射間の待ち時間および次のシーケンスまでの待ち時間などがあり、各シーケンスによって異なる。
【００２６】
図３は、上述した自動動作試験装置１４による試験手順例を示すフローチャートである。
ステップＳ１で自動試験用通信ポート１０に自動動作試験装置１４の通信ポート２６を接続し、ポート切替手段９を切り替えて制御回路５に自動試験用通信ポート１０を接続して試験モードに切り替え、ステップＳ２の起動処理を行った後、ステップＳ３で自動動作試験装置１４の起動時エラーチェック手段３１による起動時エラーチェックを行う。
【００２７】
図４は、この起動時エラーチェック手段３１の動作を示したフローチャートである。
ステップＳ１１で起動時の各種計測に基づいてエラーがあるか否かを判定し、エラーが無ければ終了となる。しかし、何等かのエラーが検出された場合、ステップＳ１２，Ｓ１３でエラー時刻と内容を通信記録手段２２に記録すると共に、ステップＳ１４でその内容を判定する。例えば、コネクタの抜け検出であれば配線ミスと判定し、入力電圧不足であれば電源電圧不足と判定して、ステップＳ１５でこのエラー内容を表示手段２７に表示し、ステップＳ１８で自動動作試験装置１４による試験を中止する。
【００２８】
一方、ステップＳ１４での判定内容がＸ線管８の温度が２５℃以下ということであれば、ステップＳ１９でＸ線管８のアイドリングが必要と判定し、ステップＳ２０で１０分間のＸ線管８のアイドリングを行ってから起動時エラーチェックを終了し、図３に示したステップＳ４に進む。
【００２９】
図３におけるステップＳ４では、試験に必要なシーケンス数だけＸ線曝射動作を繰り返す。この試験は、ステップＳ５に示すように試験条件設定手段２５から管電圧、管電流、Ｘ線の曝射時間、曝射間の待ち時間などの試験条件を与え、これを試験動作定義手段２４へ読み込み、ステップＳ６で読み込んだ試験条件を通信手段２０、通信ポート２６およびインバータ式Ｘ線高電圧装置１の自動試験用通信ポート１０を介して制御回路５に設定して行う。ここで、図６を用いて試験条件設定手段２５からの試験条件の設定について説明する。
【００３０】
上述したように試験条件設定手段２５は、各シーケンスの試験に必要な各種試験条件を設定するもので、この試験条件は各シーケンスによって異なる。図６は試験条件設定手段２５による諸条件例を示す説明図で、横軸にＸ線管８に供給する管電圧３３、管電流３４、曝射回数３５、曝射間の待ち時間３６および次のシーケンスまでの待ち時間３７を示し、縦軸には任意の試験における一連の複数のシーケンス３８ａ〜３８ｎを示している。このように試験条件設定手段２５を設けているため、異なる試験における一連の複数のシーケンスを設定する場合でも、この試験条件設定手段２５を用いて容易に設定することができる。
【００３１】
この試験条件設定手段２５による試験条件に基づいて制御回路５が設定され、インバータ式Ｘ線高電圧装置１は自動動作試験装置１４によって制御されることになる。ステップＳ７では制御回路５へ設定したこの試験条件に従って、例えば、図６に示した試験条件に従ってＸ線管８からＸ線を曝射する。例えば、試験内容を実際のＸ線装置で使用されるものと同一条件とし、破損するまで連続で動作させることによって、インバータ式Ｘ線高電圧装置１やＸ線管８の寿命試験を行うことができる。また発熱および冷却を繰り返す試験条件を設定することにより、熱サイクルによる劣化試験を行うことができる。
【００３２】
この試験中、通信記録手段２２は通信手段２０の送受信している通信内容を記録しており、また監視手段２１は通信手段２０の送受信している通信内容を監視し、表示手段２７に「待機状態」「Ｘ線曝射中」「エラー発生」などといったインバータ式Ｘ線高電圧装置１の状態を表示する。これらの状態表示やＸ線曝射の警告により、試験を安全に効率的に進めることができる。また解析手段２３は、この試験中も通信記録手段２２を解析しており、後述する試験時エラーチェック手段３２によって、インバータ式Ｘ線高電圧装置１の動作経過やエラー発生時刻および内容などといった必要な情報だけを表示手段２７に表示する。この通信記録手段２２への記録は試験動作定義手段２４によって決められた手順で通信手段２０によって行われる。解析手段２３は、試験後に通信記録手段２２の見直しを行うこともできる。
【００３３】
上述したようにこの試験中、通信手段２０は管電圧、Ｘ線管８の冷却装置の温度、半導体スイッチングデバイス３の過電流などの各種検出値を取り込んでおり、ステップＳ８で自動動作試験装置１４の試験時エラーチェック手段３２は、図５に示すように取り込んだ各種検出値に基づいて装置の状態を確認するエラーチェックを行う。
【００３４】
図５は、上述した試験時エラーチェック手段３２の動作を示すフローチャートである。
ステップＳ２１で試験時の各種計測に基づいてエラーがあるか否かを判定し、エラーがなければ終了となる。しかし、何等かのエラーが検出された場合、ステップＳ２２，Ｓ２３でエラー時刻と内容を通信記録手段２２に記録すると共に、ステップＳ２４でその内容を判定する。例えば、管電圧の急激な減少が検出されていればステップＳ２５でＸ線管８における放電と判定し、この放電自体は直ちに大きな問題にならないため、ステップＳ２６で所定時間内での放電の回数を記録し、ステップＳ２７で所定時間内の放電回数を考慮しながらステップＳ２８でエラーフラグをクリアして試験を続行する。
【００３５】
しかし、Ｘ線管８の放電が多発するとＸ線管８の破損が考えられ、このまま試験を継続するとインバータ式Ｘ線高電圧装置１の破損にいたり兼ねないので、ステップＳ２７で放電回数を所定の設定値、例えば５０回以上であるかどうかを判定し、この判定の結果が５０回を超えていた場合、ステップＳ３５で表示手段２７にこの旨を表示しステップＳ３６で試験を中止する。
【００３６】
またＸ線管８の冷却装置が所定の温度を超えていれば、ステップＳ２９で同冷却装置のオーバーヒートと判断し、試験対象が冷却装置でなければ直ちに問題とならないので、ステップＳ３０で所定時間内のオーバーヒート回数を記録し、ステップＳ３１で所定時間内のオーバーヒート回数を考慮した後、ステップＳ３２で冷却時間３０分経過した後、ステップＳ３３でエラーフラグをクリアして試験を再開し継続する。しかし、ステップＳ３１で所定時間内のオーバーヒート回数が１０回を超えた場合、冷却装置に故障が発生したと判断し、ステップＳ３５で表示手段２７にこの旨を表示しステップＳ３６で試験を中止する。
【００３７】
さらにエラー内容が半導体スイッチングデバイス３の過電流を検出した場合、ステップＳ３４で半導体スイッチングデバイス３の破損と判定し、試験継続は危険であるため半導体スイッチングデバイス３の交換を行ってから再開するものとし、ここではステップＳ３５で表示手段２７にこの旨を表示しステップＳ３６で試験を中止する。
【００３８】
この試験時エラーチェック手段３２によって試験中止と判定されなければ、図３に示したステップＳ９で次のシーケンスまでの待機時間を経過後、次のシーケンスを同様に実施し、ステップＳ１０では図６に示した一連のシーケンスを全て実施したか否かを判定し、実施済みであれば試験終了となる。こうして一連の複数のシーケンスによって、インバータ式Ｘ線高電圧装置１やＸ線管８の寿命試験や、また発熱および冷却を繰り返す試験条件を設定することにより熱サイクルによる劣化試験などを行うことができる。
【００３９】
インバータ式Ｘ線高電圧装置１は、通常、ポート切替手段９によって制御回路５と通常動作用通信ポート１１間を接続し、このＸ線装置操作卓１２から患者の検査部位に対応した条件を与えてＸ線管８に必要な電圧を印加するために用いられるため、Ｘ線装置操作卓１２から管電流、管電圧、間隔待ち時間、繰り返し回数を指定した１シーケンスの擬似信号を与えて動作試験を行うことも考えられる。しかし、上述したように寿命試験や熱サイクルによる劣化試験のように複数のシーケンスから成る擬似信号を自動で与えることはできない。従って、この説明から分かるように複数のシーケンスを定義可能な試験動作定義手段２４と、複数のシーケンスに対応する試験条件を設定可能な試験条件設定手段２５とによって、一連の試験を自動で行うことができるようになる。
【００４０】
しかも、試験中に作動する試験時エラーチェック手段３２を設け、この試験時エラーチェック手段３２で自動試験による試験中に継続不可能な状態を検出するようにしたため、継続不可能状態が検出されるまで一連の試験を継続させることができるようになる。この継続不可能な状態は、表示装置２７に表示させることによって、一時的なものであれば直ちに同状態を回避するように促すことができる。
【００４１】
試験中、試験動作定義手段２４によって決められた手順で通信手段２０によって通信記録手段２２に記録され、試験動作定義手段２４によって記録手順が定義されているため、通信記録手段２２にはエラー発生時の時間や装置のエラー状況を取得し、記録するなどといった付加価値のついた情報を記録することができる。また、試験条件の変更および追加を行う場合、インバータ式Ｘ線高電圧装置１の外部に設けた自動動作試験装置１４の試験条件設定手段２５から行うようにしているため、修正が容易であり、しかも、インバータ式Ｘ線高電圧装置１内に設定した場合に比べて、インバータ式Ｘ線高電圧装置１の小型化やコストダウンを図ることができる。
【００４２】
図７は、本発明の他の実施の形態によるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置を示すブロックであり、先の実施の形態との同等物には同一符号を付けて説明を省略し、相違部分についてのみ説明する。
先の実施の形態では、インバータ式Ｘ線高電圧装置１に自動試験用通信ポート１０と通常動作用通信ポート１１を設け、通常動作用通信ポート１１にはＸ線装置操作卓１２を接続し、自動試験用通信ポート１０には自動動作試験装置１４を接続するようにしているが、通常動作用通信ポート１１に対してＸ線装置操作卓１２と自動動作試験装置１４とを交互につなぎ変えるようにしている。
【００４３】
このような構成によれば、通常動作用通信ポート１１におけるつなぎ変え作業が必要であるが、図１に示したように新たにポート切替手段９や自動試験用通信ポート１０を付設する必要がない。自動試験そのものは、先の実施の形態と同様に行うことができる。
【００４４】
さらに、上述の実施の形態では、いずれの場合もインバータ式Ｘ線高電圧装置１と自動動作試験装置１４を別体に製作してそれらを接続してインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動試験装置を構成したが、本発明の他の実施の形態におけるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置では、自動動作試験装置１４の試験動作定義手段２４を複数に分割して構成し、一部を制御回路５あるいはＸ線装置操作卓１２に組み込んで分散配置したり、さらにはＸ線装置操作卓１２に全ての試験動作定義手段２４を組み込んだり一部を共用して構成しても良い。また、自動動作試験装置１４のみを製作し、これを一般のインバータ式Ｘ線高電圧装置１に接続して使用することも可能である。
【００４５】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置によれば、Ｘ線装置操作卓からは設定できなかった複数のシーケンスから成る動作試験を自動で連続的に行うことができ、動作試験を効率的に行うことができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態によるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置を示すブロック構成図である。
【図２】図１に示したインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置における要部を示すブロック構成図である。
【図３】図１に示したインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置の動作を示すフローチャートである。
【図４】図１に示したインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置における起動時エラーチェック手段の動作を示すフローチャートである。
【図５】図１に示したインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置における試験時エラーチェック手段の動作を示すフローチャートである。
【図６】図１に示したインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置における試験条件設定手段による設定例を示す説明図である。
【図７】本発明の他の実施の形態によるインバータ式Ｘ線高電圧装置の自動動作試験装置を示すブロック構成図である。
【符号の説明】
１　インバータ式Ｘ線高電圧装置
４　インバータ回路
５　制御回路
８　Ｘ線管
９　ポート切替手段
１０　自動試験用通信ポート
１１　通常動作用通信ポート
１２　Ｘ線装置操作卓
１４　自動動作試験装置
２０　通信手段
２１　監視手段
２２　通信記録手段
２３　解析手段
２４　試験動作定義手段
２５　試験条件設定手段
２６　通信ポート
２７　表示手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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