(57)【要約】【課題】本発明は、ディスプレー装置の画質を客観的な数値に定量化して提供することによって、ディスプレー装置に対する画質評価において、客観的な数値で評価が行われるようにするディスプレー装置の画質分析方法及びシステムを提案する。【解決手段】本発明は、参照映像パターンの出力及び参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する段階、残像測定用映像パターンを長時間出力させる段階、参照映像パターンを再び出力させて、細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを算出する段階、及び第１及び第２画質測定用データを利用して、画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から残像測定用映像パターンの残像出力程度を定量的に検出する段階が含まれる。【選択図】　図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスプレー装置に参照映像パターンを出力させて、前記参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する段階、
前記ディスプレー装置に残像測定用映像パターンを設定された時間以上に長時間出力させる段階、
前記ディスプレー装置に前記参照映像パターンを再び出力させて、前記細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを再び算出する段階、及び
前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記残像測定用映像パターンの残像出力程度を定量的に検出する段階を含むことを特徴とするディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２】
前記ディスプレー装置に出力される前記参照映像パターンは、全体画面に対して半灰色で出力されることを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項３】
前記第１及び第２画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、細分化された各画素単位に対して第１及び第２画質測定用データを算出することを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項４】
前記第１及び第２画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、細分化された画素単位中において、基準画素から所定の同一間隔で位置している各画素単位に対して第１及び第２画質測定用データを算出することを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項５】
前記算出される第１及び第２画質測定用データは、輝度測定機を通して各細分化された画面表示領域から測定される輝度データであることを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項６】
前記輝度測定機は、２次元ＣＣＤ輝度測定機であることを特徴とする請求項５に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項７】
前記算出される第１及び第２画質測定用データは、彩度測定機を通して各細分化された画面表示領域から測定される彩度データであることを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項８】
前記彩度測定機は、２次元ＣＣＤ彩度測定機であることを特徴とする請求項７に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項９】
前記算出される第１及び第２画質測定用データは、輝度／色度測定機を通して各細分化された画面表示領域から測定される輝度データ及び色度データから算出される色差データであることを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１０】
前記残像測定用映像パターンは、ｎ×ｍ形態を有するチェスボード状の映像であることを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１１】
前記ｎ×ｍ形態を有するチェスボード状の映像は、チェスボードパターンを形成する近接した位置間に輝度差が多く発生する映像であることを特徴とする請求項１０に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１２】
前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示することにおいて、前記第１画質測定用データまたは第２画質測定用データ中から、一つの画質測定用データを選択して、該選択された画質測定用データを利用して他の画質測定用データを割る正規化処理を遂行して、該遂行された正規化処理結果を画面に映像で表示することを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１３】
前記残像測定用映像パターンの残像出力程度を定量的に検出することにおいて、線残像に対する定量的な評価及び／または面残像に対する定量的な評価が行うことを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１４】
前記線残像に対する定量的な評価を行うことにおいて、線残像が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から画質測定データを各々取得して、その取得された測定データ値中から大きい値をＮｍａｘとし、小さい値をＮｍｉｎとする時、次の式によって線残像に対する定量的な尺度を示すことを特徴とする請求項１３に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【数１】
2004054226.tif 000032
【請求項１５】
前記線残像に対する定量的な評価を行うことにおいて、線残像が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から画質測定データを各々取得して、その獲得された測定データ値中から大きい値をＮｍａｘとし、小さい値をＮｍｉｎとする時、二値に対する比率または二値に対する差を線残像に対する定量的な尺度で示すことを特徴とする請求項１３に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１６】
前記面残像に対する定量的な評価を遂行することにおいて、面残像が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から複数の画質測定データを各々取得して、該取得された複数の画質測定データ値を利用して平均を各々求めて、値が大きい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘとし、値が小さい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎとする時、次の式によって面残像に対する定量的な尺度を示すことを特徴とする請求項１３に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【数２】
2004054226.tif 000033
【請求項１７】
前記面残像に対する定量的な評価を遂行することにおいて、面残像が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から複数の画質測定データを各々取得して、該取得された複数の画質測定データ値を利用して平均を各々求めて、値が大きい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘとし、値が小さい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎとする時、二平均値に対する比率または二平均値に対する差を面残像に対する定量的な尺度で示すことを特徴とする請求項１３に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１８】
前記ディスプレー装置は、液晶表示装置であることを特徴とする請求項１に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項１９】
ディスプレー装置に所定の輝度を有する参照映像パターンを出力させて、前記参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する段階、
前記ディスプレー装置に前記参照映像パターンに比べて相対的に非常に弱い輝度を有する画面不良測定用映像パターンを出力させて、前記画面不良測定用映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを算出する段階、及び
前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記ディスプレー装置の画面不良を定量的に検出する段階を含むことを特徴とするディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２０】
前記画面不良ということは、少なくとも一つ以上のｄｉｍ（薄暗い）不良またはむら不良であることを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２１】
前記ディスプレー装置に出力される前記参照映像パターン及び画面不良測定用映像パターンは同一パターンで形成され、前記参照映像パターンは相対的に高輝度の映像パターンであり、前記画面不良測定用映像パターンは相対的に低輝度の映像パターンであることを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２２】
前記ディスプレー装置に出力される前記参照映像パターンは、全体画面に対してホワイトで出力され、前記画面不良測定用映像パターンは全体画面に対して半灰色で出力されることを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２３】
前記第１及び第２画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、細分化された各画素単位に対して第１及び第２画質測定用データを算出することを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２４】
前記第１及び第２画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、細分化された画素単位中において、基準画素から所定の同一間隔で位置している各画素単位に対して第１及び第２画質測定用データを算出することを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２５】
前記算出される第１及び第２画質測定用データは、輝度測定機を通して各細分化された画面表示領域から測定される輝度データであることを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２６】
前記輝度測定機は、２次元ＣＣＤ輝度測定機であることを特徴とする請求項２５に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２７】
前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示することにおいて、前記第１画質測定用データまたは第２画質測定用データ中から、一つの画質測定用データを選択して、該選択された画質測定用データを利用して他の画質測定用データを割る正規化処理を遂行して、該遂行された正規化処理結果を画面に映像で表示することを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項２８】
前記画面不良に対する定量的な評価を行うことにおいて、画面不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から画質測定データを各々取得して、該取得された測定データ値中から大きい値をＮｍａｘとし、小さい値をＮｍｉｎとする時、次の式によって画面不良に対する定量的な尺度を示すことを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【数３】
2004054226.tif 000034
【請求項２９】
前記画面不良に対する定量的な評価を行うことにおいて、画面不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から画質測定データを各々取得して、該取得された測定データ値中から大きい値をＮｍａｘといって、小さい値をＮｍｉｎという時、二値に対する比率または二値に対する差を画面不良に対する定量的な尺度で示すことを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項３０】
前記画面不良ということはｄｉｍ（薄暗い）不良を意味することであることを特徴とする請求項２８または２９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項３１】
前記画面不良に対する定量的な評価を行うことにおいて、画面不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から複数の画質測定データを各々取得して、該取得された複数の画質測定データ値を利用して平均を各々求めて、値が大きい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘとし、値が小さい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎとする時、次の式によって画面不良に対する定量的な尺度を示すことを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【数４】
2004054226.tif 000035
【請求項３２】
前記画面不良に対する定量的な評価を遂行することにおいて、画面不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から複数の画質測定データを各々取得して、該取得された複数の画質測定データ値を利用して平均を各々求めて、値が大きい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘとし、値が小さい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎとする時、二平均値に対する比率または二平均値に対する差を画面不良に対する定量的な尺度で示すことを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項３３】
前記ディスプレー装置は、液晶表示装置であることを特徴とする請求項１９に記載のディスプレー装置の画質分析方法。
【請求項３４】
画質分析対象になるディスプレー装置から、画面表示領域に出力される映像に対する光学的データを検出する映像獲得手段、
前記映像獲得手段から検出された光学的データを利用して、前記ディスプレー装置の画質分析のための画質測定用データを算出するデータ処理手段、及び
前記データ処理手段から算出される、前記ディスプレー装置に出力される複数映像に対する画質測定用データを利用して、前記ディスプレー装置の画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記ディスプレー装置の画質尺度を定量的に検出する画質尺度検出手段を含むことを特徴とするディスプレー装置の画質分析システム。
【請求項３５】
前記映像獲得手段は、ＣＣＤ輝度／色度測定機であることを特徴とする請求項３４に記載のディスプレー装置の画質分析システム。
【請求項３６】
前記データ処理手段から算出される画質測定用データは、輝度データであることを特徴とする請求項３４に記載のディスプレー装置の画質分析システム。
【請求項３７】
前記データ処理手段から算出される画質測定用データは、色度データであることを特徴とする請求項３４に記載のディスプレー装置の画質分析システム。
【請求項３８】
前記データ処理手段から算出される画質測定用データは、輝度データ及び色度データから演算される色差データであることを特徴とする請求項３４に記載のディスプレー装置の画質分析システム。
【請求項３９】
前記ディスプレー装置は、液晶表示装置であることを特徴とする請求項３４に記載のディスプレー装置の画質分析システム。
【請求項４０】
前記画質尺度検出手段から検出する画質尺度は、前記ディスプレー装置の少なくとも一つ以上の残像または画面不良に対する定量的な画質評価であることを特徴とする請求項３４に記載のディスプレー装置の画質分析システム。
【請求項４１】
前記画面不良ということは、少なくとも一つ以上のｄｉｍ（薄暗い）不良またはむら不良であることを特徴とする請求項４０に記載のディスプレー装置の画質分析システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はディスプレー装置の画質分析に係り、特にディスプレー装置の画質を客観的な数値で定量化できるディスプレー装置の画質分析方法及びシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
現在、ディスプレー装置は、ブラウン管方式から液晶表示装置、プラズマ表示パネル、有機ＥＬ表示装置などを利用する方式に変化されており、特に液晶表示装置はブラウン管方式に比べて消費電力が低くて、軽量薄形化が可能であり、有害電磁波を放出しない長所によって次世代先端ディスプレー装置として脚光を浴びている。
【０００３】
従来、このような種の平面形表示パネル、例えば液晶表示装置の画質検査においては液晶パネルを点灯させて、その液晶表示装置の表示面を作業者が肉眼により画質程度を分析する方法が行われていた。このようなディスプレー装置の画質測定においては残像（ｉｍａｇｅ　ｓｔｉｃｋｉｎｇ）、むら、ｄｉｍ（薄暗い）のような問題に対する画質分析が遂行される。
【０００４】
例えば、ディスプレー装置に対する残像程度を判断することにおいては、図１に示したような映像パターンがディスプレー装置に長時間出力されるように駆動させた後、駆動パターンを変更させた時、長時間駆動した特定パターンが残っている程度を判断するようになる。図１は一般的なディスプレー装置の画質評価において用いられる映像パターンの例を示した図面である。
【０００５】
ところで、作業者の肉眼による画質測定は、作業者（熟練者）の能力によって測定結果に差が発生し得る。また同一作業者による測定であっても、作業者が測定する時点の肉体的状態により測定程度が不均一になることができる。これにより、評価者の肉眼を通して測定されたディスプレー装置の画質は客観的な数値を提供できなくて、評価者による主観的な要因が介入するという問題点がある。
【０００６】
特に、ディスプレー装置に対する画質の均一性（ｕｎｉｆｏｒｍｉｔｙ）を測定することにおいては、同一作業者が同一時間帯に測定をしても、画面を見る作業者の視野角及び照明状態によって、画質の均一性評価において大幅の差が発生するという問題点がある。
【０００７】
また、ディスプレー装置のｄｉｍ（薄暗い）不良やむら発生等においては、画面に表示される映像の明るさ及び周辺の照明状態によって、不良発生に対する人間の認識程度が変わるようになる。一般的に、画面に表示される映像の明るさが強い場合には、ディスプレー装置に基本的な不良がある場合（例えばドライバＩＣ不良によるｄｉｍ（薄暗い）発生）にも、ｄｉｍ（薄暗い）不良やむら発生などがよく認識できない傾向がある。
【０００８】
このように、ディスプレー装置の画質評価において、評価者による主観的要因が介入されるによって、ディスプレー装置を製造する会社及び購買者間に客観的で公正な評価基準が提示できない実情である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、ディスプレー装置の画質を客観的な数値に定量化して提供することによって、ディスプレー装置に対する画質評価において、客観的な数値で評価が行われるようにするディスプレー装置の画質分析方法及びシステムを提供することにその目的がある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために本発明によるディスプレー装置の画質分析方法は、
ディスプレー装置に参照映像パターンを出力させて、前記参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する段階、
前記ディスプレー装置に残像測定用映像パターンを設定された時間以上に長時間出力させる段階、
前記ディスプレー装置に前記参照映像パターンを再び出力させて、前記細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを再び算出する段階、及び
前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記残像測定用映像パターンの残像出力程度を定量的に検出する段階を含む点にその特徴がある。
【００１１】
また、前記の目的を達成するために本発明によるディスプレー装置の画質分析方法の他の例は、
ディスプレー装置に所定の輝度を有する参照映像パターンを出力させて、前記参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する段階、
前記ディスプレー装置に前記参照映像パターンに比べて相対的に非常に弱い輝度を有する画面不良測定用映像パターンを出力させて、前記画面不良測定用映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを算出する段階、及び
前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記ディスプレー装置の画面不良を定量的に検出する段階を含む点にその特徴がある。
【００１２】
ここで、前記画面不良ということはｄｉｍ（薄暗い）不良またはむら不良であることを意味する。
【００１３】
また、前記の目的を達成するために本発明によるディスプレー装置の画質分析システムは、
画質分析対象になるディスプレー装置から、画面表示領域に出力される映像に対する光学的データを検出する映像獲得手段、
前記映像獲得手段から検出された光学的データを利用して、前記ディスプレー装置の画質分析のための画質測定用データを算出するデータ処理手段、及び
前記データ処理手段から算出される、前記ディスプレー装置に出力される複数映像に対する画質測定用データを利用して、前記ディスプレー装置の画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、その表示された映像から前記ディスプレー装置の画質尺度を定量的に検出する画質尺度検出手段を含む点にその特徴がある。
【００１４】
ここで、前記映像獲得手段は、ＣＣＤ輝度／色度測定機である点にその特徴がある。
【００１５】
また、前記データ処理手段から算出される画質測定用データは、輝度（ｌｕｍｉｎａｎｃｅ）データと、色度（ｃｈｒｏｍａｔｉｃｉｔｙ）データと、輝度データ及び色度データから演算される色差（ｃｏｌｏｒ　ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ）データである点にその特徴がある。
【００１６】
また、前記ディスプレー装置は、液晶表示装置である点にその特徴がある。
【００１７】
また、前記画質尺度検出手段から検出する画質尺度は、前記ディスプレー装置の残像、ｄｉｍ（薄暗い）不良及びむら不良に対する定量的な画質評価である点にその特徴がある。
【００１８】
このような本発明によると、ディスプレー装置の画質を客観的な数値に定量化して提供することによって、ディスプレー装置に対する画質評価において、客観的な数値で評価が遂行されうる長所がある。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、添付された図面を参照しながら本発明による実施例を詳細に説明する。
【００２０】
図２は、本発明によるディスプレー装置の画質分析システムの構成を概略的に示した図面である。
【００２１】
図２を参照して説明すれば、本発明によるディスプレー装置の画質分析システムは、画質分析の対象になるディスプレー装置２１０例えば、液晶表示装置、プラズマ表示パネル、有機ＥＬ表示装置等から、画面表示領域に出力される映像に対する光学的データを検出する映像獲得手段２２１、前記映像獲得手段２２１から検出された光学的データを利用して、前記ディスプレー装置２１０の画質分析のための画質測定用データを算出するデータ処理手段２２２、及び前記データ処理手段２２２から算出される、前記ディスプレー装置の画面表示領域に出力される映像パターンを正規化（ｎｏｒｍａｌｉｚｉｎｇ）処理して表示し、該表示された映像から前記ディスプレー装置の画質尺度を定量的に検出する画質尺度検出手段２２３を含む。
【００２２】
ここで、前記映像獲得手段２２１としては２次元−ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ　Ｃｏｕｐｌｅｄ　Ｄｅｖｉｃｅ）輝度／色度測定機（ｌｕｍｉｎａｎｃｅｍｅｔｅｒ　＆　ｃｏｌｏｒｉｍｅｔｅｒ）などを利用することができ、このような映像獲得手段２２１を通して前記ディスプレー装置２１０の各検出領域（例えば、各画素単位）から輝度データ及び色度データを検出できるようになる。
このようなディスプレー装置の画質分析システムを利用すれば、ディスプレー装置の残像、ｄｉｍ（薄暗い）不良、むら不良等に対する定量的な分析を遂行することができる。
【００２３】
以下、ディスプレー装置の各不良に対する画質分析方法について順次記述する。
【００２４】
図３は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ディスプレー装置の残像程度を定量化する過程を示した順序図である。
【００２５】
まず、ディスプレー装置に参照映像パターンを出力させて、前記参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する（段階３０１）。
【００２６】
このとき、前記ディスプレー装置に出力される映像パターンは、映像パターン発生器などを通して多様に具現されることができ（同一映像パターンを利用する場合にも各映像パターンに対する輝度を異なるようにすることができる。）、ここでは全体画面に対して半灰色（ｈａｌｆ　ｇｒａｙ）で出力される場合を基準に説明する。
【００２７】
ここで、前記細分化された画面表示領域各々に対して算出される画質測定用データとして基本的に輝度データと色度データが各々利用できる。
【００２８】
このとき、輝度データ及び色度データは、２次元−ＣＣＤ輝度／色度測定機のような映像獲得手段を通して前記ディスプレー装置から基本的な輝度／色度の光学的データを検出できる。
【００２９】
ここで、前記ディスプレー装置の画面領域から検出された輝度データは、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数５】
2004054226.tif 000003
【００３０】
そして、前記ディスプレー装置の画面領域から検出された色度データも、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数６】
2004054226.tif 000004
【００３１】
また、前記映像獲得手段を通して検出された前記輝度／色度の光学的データを参照して、人が感じる色感の差である色差（ｃｏｌｏｒ　ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ：ΔＥｕｖ）データを算出して、この算出された色差データを利用して前記ディスプレー装置の画質分析を遂行することもできる。
【００３２】
このとき、前記色差データを求める際に、基準点（ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ　ｐｏｉｎｔ）としては画面表示領域の特定の点例えば、画面表示領域の中央地点などを選択することができる。
【００３３】
そして、前記ディスプレー装置から画質測定用データを算出する際に、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、該細分化された各画素単位に対して画質測定用データを算出することもできる。また、前記ディスプレー装置から画質測定用データを算出する際に、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、該細分化された画素単位中において、基準画素から所定の同一間隔で位置している各画素単位に対して画質測定用データを算出することもできる。
【００３４】
前記映像獲得手段を通して検出された輝度データ及び色度データを利用して、色差（ΔＥｕｖ）データを算出する過程に対して簡略に説明する。ここでは色差データの算出において、ＶＥＳＡ　ＦＰＤＭ（Ｆｌａｔ　Ｐａｎｅｌ　Ｄｉｓｐｌａｙ　Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ）Ｖ．２．０を参照して次のように算出した。
【数７】
2004054226.tif 000005
【００３５】
このように、前記ディスプレー装置の輝度データ及び色度データを参照して、前記各画面表示領域から算出された色差（ΔＥｕｖ）データは次のように行列表示で示すことができる。
【数８】
2004054226.tif 000006
【００３６】
本発明によるディスプレー装置の画質分析方法においては、画面表示領域から検出される輝度データ及び彩度（ｃｈｒｏｍａｔｉｃｉｔｙ）データと、これから算出される色差データを利用して定量的に画質分析を遂行することができる。
【００３７】
ここでは、前記ディスプレー装置の画面表示領域から検出される輝度データを利用して残像程度を検出する方法に対して説明する。
【００３８】
基本的には輝度データでない他のデータを利用する場合においても、以下説明する過程と同様な過程を経ることによって残像程度を定量的に評価することができる。
【００３９】
一方、前記段階３０１で算出された第１画質測定用データ例えば、輝度データを利用して画面表示領域に出力される映像を表示すれば、図４のように示すことができる。
図４は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像程度を検出するために利用される参照映像パターンが出力された映像を示した図面である。
【００４０】
本発明の実施例では参照映像パターンとして、全体画面に対して半灰色で出力されるようにし、左側に垂直方向に線が形成されたものは測定用ディスプレー装置に線欠陥が発生した状態であるためである。
【００４１】
このとき、前記ディスプレー装置の各画面表示領域から検出される前記第１画質測定用データを表示すれば次のように行列表示で示すことができる。
【数９】
2004054226.tif 000007
【００４２】
前記段階３０１で参照映像パターンに対して第１画質測定用データを検出した後、前記ディスプレー装置に残像測定用映像パターンを設定された時間以上に長時間出力させる（段階３０２）。
【００４３】
このとき、本実施例では残像測定用映像パターンとして、図５に示したような８×６形態を有するチェスボード状の映像を利用した。これは、残像の影響を容易に把握するためのものであって、８×６形態を有するチェスボード状の映像は各チェスボードパターンを形成する近接した位置間に輝度差が多く発生するようにした。
【００４４】
そして、ディスプレー装置の残像発生程度を把握するために前記残像測定用映像パターンを長時間（本実施例では２時間程度）出力した。
【００４５】
一方、前記段階３０２以後に、前記ディスプレー装置に前記参照映像パターンを再び出力させて、前記細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを再び算出する（段階３０３）。
【００４６】
ここで、算出された第２画質測定用データ例えば、輝度データを利用して画面表示領域に出力される映像を表示すれば、図６のように示すことができる。
【００４７】
図６は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像測定用映像パターンが長時間出力された後に、残像程度を検出するために利用される参照映像パターンが再出力された映像を示した図面である。
【００４８】
本発明の実施例では参照映像パターンとして、前記段階３０１で用いられた参照映像パターンと同一に全体画面に対して半灰色で出力されるようにし、左側に垂直方向に線が形成されたものは測定用ディスプレー装置に線欠陥が発生した状態であるためである。
【００４９】
このとき、前記ディスプレー装置の各画面表示領域から検出される前記第２画質測定用データを表示すれば次のように行列表示で示すことができる。
【数１０】
2004054226.tif 000008
【００５０】
そして、前記第２画質測定用データが検出される細部画素単位の位置は、前記第１画質測定用データが検出された細部画素単位の位置と同一にその検出される位置を選択した。すなわち、前記第１画質測定用データ‘Ｌ１１、Ｌ１２．．．’が検出された細部画素単位の位置と、前記第２画質測定用データ‘ＩＳ１１、ＩＳ１２．．．’が検出される細部画素単位の位置が各々同一になるようにデータ検出位置を調整した。
【００５１】
以後、このように検出された前記第１画質測定用データ‘Ｌ１１、Ｌ１２．．．’及び第２画質測定用データ‘ＩＳ１１、ＩＳ１２．．．’を利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記残像測定用映像パターンの残像出力程度を定量的に検出する（段階３０４）。
【００５２】
本発明では前記段階３０４で、前記残像測定用映像パターンの残像出力程度を検出することにおいて、線残像（ｌｉｎｅ　ｉｍａｇｅ　ｓｔｉｃｋｉｎｇ）に対する定量的な画質評価及び面残像（ｆａｃｅ　ｉｍａｇｅ　ｓｔｉｃｋｉｎｇ）に対する定量的な画質評価を遂行した。
【００５３】
まず、線残像及び面残像に対する定量的な画質評価を説明する以前に、前記第３０１段階及び第３０４段階で算出された、第１画質測定用データ‘Ｌ１１、Ｌ１２．．．’及び第２画質測定用データ‘ＩＳ１１、ＩＳ１２．．．’を利用して正規化する過程に対して簡略に説明する。
【００５４】
ここで正規化過程とは、前記第１画質測定用データ‘Ｌ１１、Ｌ１２．．．’または第２画質測定用データ‘ＩＳ１１、ＩＳ１２．．．’中から、一つの画質測定用データを選択して、該選択された画質測定用データを利用して他の画質測定用データを割る過程を意味する。
【００５５】
本発明の実施例では、第１画質測定用データを利用して第２画質測定用データを割る場合を基準に説明する。このような正規化過程を通して算出されるデータは次のような行列表示で表現することができる。
【数１１】
2004054226.tif 000009
【００５６】
一方、このようなデータから表示されるディスプレー装置の画面表示領域は図７に示したように図示される。図７は本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、第１及び第２画質測定用データを利用して正規化されたデータから表示される画面出力状態を示した図面である。
【００５７】
ここで、図４、図６及び図７から次のような結果を得ることができる。図４及び図６に示した画面表示領域を比較して見る時、視覚的に特別な相違を感じられないことが分かる。
【００５８】
前述したように、図４は残像測定用映像（例えば、チェスボード状パターン）が出力されない状態で、参照映像パターンが出力された状態で検出されたデータから表示された画面出力状態であり、図６は残像測定用映像が長時間出力された後に、参照映像パターンが出力された状態で検出されたデータから表示された画面出力状態を示したものである。
【００５９】
このように、図４及び図６に示した画面出力状態から特別な相違を感じられないことは、残像測定用映像の出力可否に関係なく画面出力状態の変化がないということを意味する。
【００６０】
すなわち、前記検査が遂行されたディスプレー装置は、残像がよく発生しない良い画質特性を持っているということになる。
【００６１】
ところで、図４及び図６から導出されるこのような結果とは異なるように、図７を基準に画質尺度を判断すれば前記検査が遂行されたディスプレー装置は、残像が甚だしく残っている、よくない画質特性を持っているという結論に到達する。
【００６２】
すなわち、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によると、人間の肉眼で確認できない残像の存在までも検出できるようになることによって、さらに正確にディスプレー装置の残像存在有無に対する評価を行うことができる。
【００６３】
これに対して図７を参照してさらに敷衍して説明する。
【００６４】
図７に示した画面出力状態を見れば、前記段階３０２で出力された残像測定用映像パターン（チェスボード状）と同一な形状があらわれることが分かる。これは、前記段階３０３で算出された第２画質測定用データに、前記段階３０２で出力された残像測定用映像パターン（チェスボード状）が残像で残っていることによって、該残像が反映されて検出されたという意味になる。
【００６５】
ここで、われわれが留意しなければならない点は、参照映像を利用した正規化過程という処理過程を通して、ディスプレー装置に対する立派な画質評価方案を得ることができるということである。
【００６６】
一方、図８ないし図１１は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像の定量的な評価によるデータ抽出及び画面表示状態を各々示した図面である。
【００６７】
図８ないし図１１に示したように、本実施例では残像による効果が強い場合（図８、ｓｔｒｏｎｇ　ｌｅｖｅｌ）、中間の場合（図９、ｍｉｄｄｌｅ　ｌｅｖｅｌ）、弱い場合（図１０、ｗｅａｋ　ｌｅｖｅｌ）及び非常に弱い場合（図１１、ｖｅｒｙ　ｗｅａｋ　ｌｅｖｅｌ）に対するデータを各々取得することができた。
【００６８】
それでは、図１２を参照して、線残像に対する定量的な画質評価及び面残像に対する定量的な画質評価に対して説明する。
【００６９】
図１２は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、線残像及び面残像を定量的に分析するためのデータ検出位置を説明するための図面である。
【００７０】
本発明では前記段階３０２で残像測定用映像パターンとして８×６のチェスボード状を利用した。これにより、図８の（ａ）及び（ｂ）に示したように、残像が検出された輝度データの周期的な変化が発生し、画面表示も明暗が交互に形成される。
【００７１】
図１２を参照して説明すれば、残像測定用映像パターンとして８×６のチェスボード状を利用する場合には、一つの水平ラインに対して７個の境界線が発生する。
【００７２】
これにより、本発明ではこのような７本の境界線を基準にして、両側領域からデータを各々抽出することによって、線残像及び面残像に対する定量的な評価を行った。
【００７３】
このとき、前記線残像に対する定量的な評価を行うことにおいて、線残像が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から画質測定データを各々取得して、該取得された測定データ値中から大きい値をＮｍａｘとし、小さい値をＮｍｉｎとする時、次の式によって線残像に対する定量的な尺度を示すことができる。
【数１２】
2004054226.tif 000010
【００７４】
このように定義された線残像に対する定量的な評価分析結果を表１及び図１３に示した。図１３は本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像検査が行われた各ディスプレー装置の線残像に対する定量的な分析結果を示した図面である。
【表１】
2004054226.tif 000011
【００７５】
また、前記線残像に対する定量的な評価を行うことにおいて、前記Ｎｍａｘ値とＮｍｉｎ値を利用して、二値に対する比率または二値に対する差を線残像に対する定量的な尺度で示すこともできる。このように定量的な尺度を示す数学式としては次のように多様に定義することもできる。
【数１３】
2004054226.tif 000012
【００７６】
そして、前記面残像に対する定量的な評価を行うことにおいて、面残像が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から複数の画質測定データを各々取得して、該取得された複数の画質測定データ値を利用して平均を各々求める（図１２では境界線を基準に各４個のデータ検出位置が表示されているが、実際にははるかに多くのデータを検出する）。
【００７７】
そして、値が大きい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘとして、値が小さい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎとする時、次の式によって面残像に対する定量的な尺度を示すことができる。
【数１４】
2004054226.tif 000013
【００７８】
このように定義された面残像に対する定量的な評価分析結果を表２及び図１４に示した。
【００７９】
図１４は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像検査が行われた各ディスプレー装置の面残像に対する定量的な分析結果を示した図面である。
【表２】
2004054226.tif 000014
【００８０】
また、前記面残像に対する定量的な評価を行うことにおいて、前記Ｎ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘ値とＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎ値を利用して、二値に対する比率または二値に対する差を面残像に対する定量的な尺度で示すこともできる。このように定量的な尺度を示す数学式としては次のように多様に定義することもできる。
【数１５】
2004054226.tif 000015
【００８１】
このような過程を通してディスプレー装置に対する線残像及び面残像に対して定量的に評価することができる。
【００８２】
一方、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法により、上述したディスプレー装置の残像問題以外にまた他の画面不良の程度を定量化してこれを評価することができる。
【００８３】
ここで、前記残像以外の画面不良ということはｄｉｍ（薄暗い）不良及びむら不良をいうことであり、図１５は本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ディスプレー装置のｄｉｍ（薄暗い）不良程度を定量化する過程を示した順序図である。
【００８４】
そうすると、図１５を参照して、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法による他の分析例として、ｄｉｍ（薄暗い）不良程度を定量化する方案に対して説明する。
【００８５】
まず、ディスプレー装置に所定の輝度を有する参照映像パターンを出力させて、前記参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する（段階１５０１）。
【００８６】
このとき、前記ディスプレー装置に出力される映像パターンは、映像パターン発生器などを通して多様に実現されることができて（同一映像パターンを利用する場合にも各映像パターンに対する輝度を異なるようにすることができる。）、ここでは全体画面に対してホワイト（ｗｈｉｔｅ　ｌｅｖｅｌ）で出力される場合を基準に説明する。
【００８７】
また、前記細分化された画面表示領域各々に対して算出される画質測定用データとして、基本的に輝度データと色度データが各々利用できる。このとき、輝度データ及び色度データは２次元−ＣＣＤ輝度／色度測定機のような映像獲得手段を通して前記ディスプレー装置から基本的な輝度／色度の光学的データを検出できる。
【００８８】
ここで、前記ディスプレー装置の画面領域から検出された輝度データは、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数１６】
2004054226.tif 000016
【００８９】
そして、前記ディスプレー装置の画面領域から検出された色度データも、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数１７】
2004054226.tif 000017
【００９０】
また、前記映像獲得手段を通して検出された前記輝度／色度の光学的データを参照して、人が感じる色感の差である色差（ΔＥｕｖ）データを算出して、この算出された色差データを利用して前記ディスプレー装置の画質分析を行うこともできる。
【００９１】
このとき、前記色差データを求めることにおいて、基準点としては画面表示領域の特定の点例えば、画面表示領域の中央地点などを選択することができる。
【００９２】
そして、前記ディスプレー装置から画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、該細分化された各画素単位に対して画質測定用データを算出することもできる。
【００９３】
また、前記ディスプレー装置から画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、該細分化された画素単位中において、基準画素から所定の同一間隔で位置している各画素単位に対して画質測定用データを算出することもできる。
【００９４】
このように、前記ディスプレー装置の輝度データ及び色度データを参照して、前記各画面表示領域から算出された色差（ΔＥｕｖ）データは次のように行列表示で示すことができる。
【数１８】
2004054226.tif 000018
【００９５】
本発明によるディスプレー装置の画質分析方法では、画面表示領域から検出される輝度データ及び彩度データと、これから算出される色差データを利用して定量的に画質分析を行うことができる。
【００９６】
一方、前記段階１５０１で、前記参照映像パターンが出力されるディスプレー装置の画面領域から検出された第１画質測定用データは、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数１９】
2004054226.tif 000019
【００９７】
そして前記ディスプレー装置に、前記段階１５０１以後に、前記参照映像パターンに比べて相対的に非常に弱い輝度を有するｄｉｍ（薄暗い）測定用映像パターンを出力させて、前記ｄｉｍ（薄暗い）測定用映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを算出する（段階１５０２）。
【００９８】
このとき、前記参照映像パターン及びｄｉｍ（薄暗い）測定用映像パターンは、同一パターンで形成され、前記ｄｉｍ（薄暗い）測定用映像パターンは相対的に低輝度の映像パターンが利用されるのに、ここでは全体画面に半灰色で出力される場合を基準に説明する。
【００９９】
前記段階１５０２で、前記ｄｉｍ（薄暗い）測定用映像パターンが出力されるディスプレー装置の画面領域から検出された第２画質測定用データは、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数２０】
2004054226.tif 000020
【０１００】
ここで、前記第２画質測定用データが検出される細部画素単位の位置は、前記第１画質測定用データが検出された細部画素単位の位置と同一になるように検出される位置を選択した。
【０１０１】
すなわち、前記第１画質測定用データ‘Ｒ１１、Ｒ１２．．．’が検出された細部画素単位の位置と、前記第２画質測定用データ‘Ｄ１１、Ｄ１２．．．’が検出される細部画素単位の位置が各々同一になるようにデータ検出位置を調整した。
【０１０２】
そして、前記第１画質測定用データ‘Ｒ１１、Ｒ１２．．．’及び第２画質測定用データ‘Ｄ１１、Ｄ１２．．．’を利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記ディスプレー装置のｄｉｍ（薄暗い）不良を定量的に検出する（段階１５０３）。
【０１０３】
ここで、前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示することにおいて、前記第１画質測定用データまたは第２画質測定用データ中から、一つの画質測定用データを選択する。そして、該選択された画質測定用データを利用して他の画質測定用データを割る正規化処理を遂行する。
【０１０４】
本発明の実施例では、第１画質測定用データを利用して第２画質測定用データを割る場合を基準に説明する。
【０１０５】
このような正規化過程を通して算出されるデータは次のような行列表示で表現することができる。
【数２１】
2004054226.tif 000021
【０１０６】
一方、このような正規化されたデータから表示されるディスプレー装置の画面表示領域は、図１６に示したように図示される。
【０１０７】
図１６は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ｄｉｍ（薄暗い）不良検査が行われたディスプレー装置の第１及び第２画質測定用データを利用して正規化されたデータから表示される画面出力状態を示した図面である。
【０１０８】
図１６は、ｄｉｍ（薄暗い）不良が検出された例を示したものであって、画面の上端に横方向にｄｉｍ（薄暗い）不良があらわれたことを認識できる。このようなｄｉｍ（薄暗い）不良を定量的に分析するためには、前記ｄｉｍ（薄暗い）不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から画質測定データを各々取得する。
【０１０９】
そして、その取得された測定データ値中から大きい値をＮｍａｘとして、小さい値をＮｍｉｎとする時、次の式によってｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な尺度を示すことができる。
【数２２】
2004054226.tif 000022
【０１１０】
このようなｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な分析を行うためにはデータを抽出しなければならないが、図１７を参照することによりそのデータ抽出領域を容易に理解することができる。
【０１１１】
図１７は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ｄｉｍ（薄暗い）不良を定量的に分析するためのデータ検出位置を説明するための図面である。
【０１１２】
すなわち、ｄｉｍ（薄暗い）不良が水平ラインとして発生する場合に、垂直ラインに対する測定データを分析すれば図１７のようにあらわれる。これからｄｉｍ（薄暗い）不良が発生した位置（中間の急激に変化される部分）を把握できるようになれば、これを境界線にして定量的な分析のためのデータを取得する。
【０１１３】
そして、前記ｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な評価を行うことにおいて、ｄｉｍ（薄暗い）不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から複数の画質測定データを各々取得して、その取得された複数の画質測定データ値を利用して平均を各々求める。
【０１１４】
そして、値が大きい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘとして、値が小さい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎとする時、次の式によってｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な尺度を示すことができる。
【数２３】
2004054226.tif 000023
【０１１５】
このように定義されたｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な評価分析結果を表３に示した。
【表３】
2004054226.tif 000024
【０１１６】
また、前記ｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な評価を行うことにおいて、前記Ｎｍａｘ値とＮｍｉｎ値を利用して、二値に対する比率または二値に対する差をｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な尺度で示すこともできる。このように定量的な尺度を示す数学式としては次のように多様に定義することもできる。
【数２４】
2004054226.tif 000025
【０１１７】
また、前記ｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な評価を行うことにおいて、前記Ｎ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘ値とＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎ値を利用して、二値に対する比率または二値に対する差をｄｉｍ（薄暗い）不良に対する定量的な尺度で示すこともできる。このように定量的な尺度を示す数学式としては次のように多様に定義することもできる。
【数２５】
2004054226.tif 000026
【０１１８】
このような過程を通してディスプレー装置に対するｄｉｍ（薄暗い）不良を定量的に評価することができる。
【０１１９】
一方、図１８は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ディスプレー装置のむら不良程度を定量化する過程を示した順序図である。
【０１２０】
以下、図１８を参照して、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法による他の分析例として、むら不良程度を定量化する方案について説明する。
【０１２１】
まず、ディスプレー装置に所定の輝度を有する参照映像パターンを出力させて、前記参照映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第１画質測定用データを算出する（段階１８０１）。
【０１２２】
このとき、前記ディスプレー装置に出力される映像パターンは、映像パターン発生器などを通して多様に実現されることができて（同一映像パターンを利用する場合にも各映像パターンに対する輝度を異なるようにすることができる。）、ここでは全体画面に対してホワイトで出力される場合を基準に説明する。
【０１２３】
また、前記細分化された画面表示領域各々に対して算出される画質測定用データは、基本的に輝度データと色度データが各々利用されうる。
【０１２４】
このとき、輝度データ及び色度データは、２次元−ＣＣＤ輝度／色度測定機のような映像獲得手段を通して前記ディスプレー装置から基本的な輝度／色度の光学的データを検出できる。
【０１２５】
また、前記細分化された画面表示領域各々に対して算出される画質測定用データは、前記輝度データ及び色度データから算出される色差データが利用されることもできる。
【０１２６】
そして、前記ディスプレー装置から画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、該細分化された各画素単位に対して画質測定用データを算出することもできる。
【０１２７】
また、前記ディスプレー装置から画質測定用データを算出することにおいて、前記画面表示領域を画素単位で細分化して、該細分化された画素単位中において、基準画素から所定の同一間隔で位置している各画素単位に対して画質測定用データを算出することもできる。
【０１２８】
前記段階１８０１で、前記参照映像パターンが出力されるディスプレー装置の画面領域から検出された第１画質測定用データは、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数２６】
2004054226.tif 000027
【０１２９】
そして前記ディスプレー装置に、前記段階１８０１以後に、前記参照映像パターンに比べて相対的に非常に弱い輝度を有するむら測定用映像パターンを出力させて、前記むら測定用映像パターンが出力される画面表示領域を細分化して、該細分化された画面表示領域各々に対して第２画質測定用データを算出する（段階１８０２）。
【０１３０】
このとき、前記参照映像パターン及びむら測定用映像パターンは、同一パターンで形成され、前記むら測定用映像パターンは相対的に低輝度の映像パターンが利用されるのに、ここでは全体画面に半灰色で出力される場合を基準に説明する。
【０１３１】
前記段階１８０２で、前記むら測定用映像パターンが出力されるディスプレー装置の画面領域から検出された第２画質測定用データは、検出位置によって次のように行列表示で示すことができる。
【数２７】
2004054226.tif 000028
【０１３２】
ここで、前記第２画質測定用データが検出される細部画素単位の位置は、前記第１画質測定用データが検出された細部画素単位の位置と同一になるように検出される位置を選択した。すなわち、前記第１画質測定用データ‘Ｒ１１、Ｒ１２．．．’が検出された細部画素単位の位置と、前記第２画質測定用データ‘Ｍ１１、Ｍ１２．．．’が検出される細部画素単位の位置が各々同一になるようデータ検出位置を調整した。
【０１３３】
そして、前記第１画質測定用データ‘Ｒ１１、Ｒ１２．．．’及び第２画質測定用データ‘Ｍ１１、Ｍ１２．．．’を利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示し、該表示された映像から前記ディスプレー装置のむら不良を定量的に検出する（段階１８０３）。
【０１３４】
ここで、前記第１画質測定用データ及び第２画質測定用データを利用して、前記画面表示領域に出力される映像パターンを正規化処理して表示することにおいて、前記第１画質測定用データまたは第２画質測定用データ中から、一つの画質測定用データを選択する。そして、その選択された画質測定用データを利用して他の画質測定用データを割る正規化処理を遂行する。
【０１３５】
本発明の実施例では、第１画質測定用データを利用して第２画質測定用データを割る場合を基準に説明する。このような正規化過程を通して算出されるデータは次のような行列表示で表現することができる。
【数２８】
2004054226.tif 000029
【０１３６】
一方、このような正規化されたデータから表示されるディスプレー装置の画面表示領域は、図１９に示したように図示される。
【０１３７】
図１９は、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、むら不良検査が行われたディスプレー装置の第１及び第２画質測定用データを利用して正規化されたデータから表示される画面出力状態を概念的に示した図面である。
【０１３８】
図１９は、むら不良が検出された例を示したものであって、画面の中央部にむら不良があらわれたことを認識できる。このようなむら不良を定量的に分析するためには、前記むら不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域（内側領域及び外側の方の領域）で画質測定データを各々取得する。
【０１３９】
ここで、前記むら不良に対する定量的な評価を行う際に、むら不良が発生した境界線を中心にして、前記境界線の両側領域から複数の画質測定データを各々取得して、その取得された複数の画質測定データ値を利用して平均を各々求める。そして、値が大きい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘとして、値が小さい領域の平均値をＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎとする時、次の式によってむら不良に対する定量的な尺度で示すことができる。
【数２９】
2004054226.tif 000030
【０１４０】
また、前記むら不良に対する定量的な評価を行う際に、前記Ｎ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍａｘ値とＮ＿ａｖｅｒａｇｅ＿ｍｉｎ値を利用して、二値に対する比率または二値に対する差をむら不良に対する定量的な尺度で示すこともできる。このように定量的な尺度を示す数学式としては次のように多様に定義することもできる。
【数３０】
2004054226.tif 000031
【０１４１】
このような過程を通してディスプレー装置に対するむら不良を定量的に評価することができる。
【０１４２】
【発明の効果】
以上の説明と同じく本発明によるディスプレー装置の画質分析方法及びシステムによると、ディスプレー装置の画質を客観的な数値に定量化して提供することによって、ディスプレー装置に対する客観的な画質評価が行われる長所がある。
【０１４３】
また、本発明によるディスプレー装置の画質分析方法及びシステムによると、ディスプレー装置の画質尺度を定量化して数値として提供することによって、ディスプレー装置を製造する会社及び購買者間に客観的で公正な評価基準が提示される長所がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】一般的なディスプレー装置の画質評価において用いられる映像パターンの例を示した図面。
【図２】本発明によるディスプレー装置の画質分析システムの構成を概略的に示した図面。
【図３】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ディスプレー装置の残像程度を定量化する過程を示した順序図。
【図４】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像程度を検出するために利用される参照映像パターンが出力された映像を示した図面。
【図５】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像程度を検出するために利用される残像測定用映像パターンを示した図面。
【図６】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像測定用映像パターンが長時間出力された後に、残像程度を検出するために利用される参照映像パターンが再出力された映像を示した図面。
【図７】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、第１及び第２画質測定用データを利用して正規化されたデータから表示される画面出力状態を示した図面。
【図８】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像の定量的な評価によるデータ抽出及び画面表示状態を各々示した図面。
【図９】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像の定量的な評価によるデータ抽出及び画面表示状態を各々示した図面。
【図１０】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像の定量的な評価によるデータ抽出及び画面表示状態を各々示した図面。
【図１１】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像の定量的な評価によるデータ抽出及び画面表示状態を各々示した図面。
【図１２】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、線残像及び面残像を定量的に分析するためのデータ検出位置を説明するための図面。
【図１３】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像検査が遂行された各ディスプレー装置の線残像に対する定量的な結果を示した図面。
【図１４】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、残像検査が遂行された各ディスプレー装置の面残像に対する定量的な結果を示した図面。
【図１５】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ディスプレー装置のｄｉｍ（薄暗い）不良程度を定量化する過程を示した順序図。
【図１６】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ｄｉｍ（薄暗い）不良検査が行われたディスプレー装置の第１及び第２画質測定用データを利用して正規化されたデータから表示される画面出力状態を示した図面。
【図１７】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ｄｉｍ（薄暗い）不良を定量的に分析するためのデータ検出位置を説明するための図面。
【図１８】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、ディスプレー装置のむら不良程度を定量化する過程を示した順序図。
【図１９】本発明によるディスプレー装置の画質分析方法によって、むら不良検査が行われたディスプレー装置の第１及び第２画質測定用データを利用して正規化されたデータから表示される画面出力状態を概念的に示した図面。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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