(57)【要約】【課題】光源の発光パワーを制御するための微分効率を精度良く決定することができる微分効率取得方法を提供する。【解決手段】光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が、非線形から線形に移行する境界を推定し（ステップ４０１〜４３５）、その境界での発光特性と、境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて、微分効率を決定する。これにより、微分効率は、駆動電流と発光パワーとの関係がほぼ直線となる領域内の少なくとも異なる２点における発光特性に基づいて決定されることとなり、微分効率の精度を向上させることが可能となる。【選択図】　図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体の記録面に光を照射し、その記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置に用いられ、供給される駆動電流に応じた発光パワーで光を出射する光源の微分効率を求める微分効率決定方法であって、
前記光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界を推定する第１工程と；
前記境界での発光特性と、前記境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率を決定する第２工程と；を含む微分効率決定方法。
【請求項２】
前記第１工程では、前記境界が含まれると予想される駆動電流範囲内の複数の計測点における前記光源の発光特性の変化に基づいて前記境界を推定することを特徴とする請求項１に記載の微分効率決定方法。
【請求項３】
前記複数の計測点における隣接する計測点間の駆動電流の変化量は一定であり、前記境界は前記各計測点における発光パワーの変化量に基づいて推定されることを特徴とする請求項２に記載の微分効率決定方法。
【請求項４】
前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体の識別情報又は前記情報記録媒体への試し書き情報に基づいて得られた前記情報記録媒体に最適な記録パワーとほぼ等しいことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の微分効率決定方法。
【請求項５】
前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体への情報の記録時に前記情報記録媒体からの反射光の受光結果に基づいて補正された記録パワーとほぼ等しいことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の微分効率決定方法。
【請求項６】
光源から出射された光束を用いて情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、
請求項１〜５のいずれか一項に記載の微分効率決定方法によって決定された微分効率に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定し、その記録条件を用いて情報を記録する工程を含む記録方法。
【請求項７】
光源から出射された光束を用いて情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置で用いられるプログラムであって、
前記光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界を推定する第１手順と；
前記境界での発光特性と、前記境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率を決定する第２手順と；を前記情報記録装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項８】
前記第１手順として、前記境界が含まれると予想される駆動電流範囲内の複数の計測点における前記光源の発光特性の変化に基づいて前記境界を推定する手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項７に記載のプログラム。
【請求項９】
前記複数の計測点における隣接する計測点間の駆動電流の変化量は一定であり、前記境界は前記各計測点における発光パワーの変化量に基づいて推定されることを特徴とする請求項８に記載のプログラム。
【請求項１０】
前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体の識別情報又は前記情報記録媒体への試し書き情報に基づいて求められた最適な記録パワーとほぼ等しいことを特徴とする請求項７〜９のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項１１】
前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体への情報の記録時に前記情報記録媒体からの反射光の受光結果に基づいて補正された記録パワーとほぼ等しいことを特徴とする請求項７〜９のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項１２】
前記第２手順で決定された微分効率に基づいて記録条件を設定し、その記録条件を用いて情報を記録する第３手順を前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項７〜１１のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項１３】
請求項７〜１２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項１４】
光源から出射された光束を用いて情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置であって、
前記光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界を推定する境界推定手段と；
前記境界での発光特性と、前記境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率を求める微分効率取得手段と；
前記微分効率に基づいて記録条件を設定する記録条件設定手段と；
前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える情報記録装置。
【請求項１５】
前記情報記録媒体の識別情報を取得し、その識別情報に基づいて前記情報記録媒体に最適な記録パワーを求める記録パワー取得手段を更に備え、
前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記記録パワー取得手段で求められた最適な記録パワーとほぼ等しいことを特徴とする請求項１４に記載の情報記録装置。
【請求項１６】
前記情報記録媒体に試し書きを行い、最適な記録パワーを求める試し書き手段を更に備え、
前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記試し書き手段で求められた最適な記録パワーとほぼ等しいことを特徴とする請求項１４に記載の情報記録装置。
【請求項１７】
前記情報記録媒体への情報の記録時に、前記情報記録媒体からの反射光の受光結果に基づいて、記録パワーを補正する記録パワー補正手段を更に備え、
前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記記録パワー補正手段で補正された記録パワーとほぼ等しいことを特徴とする請求項１４に記載の情報記録装置。
【請求項１８】
前記記録手段では、マルチパルス方式で前記情報記録媒体に情報が記録されることを特徴とする請求項１４〜１７のいずれか一項に記載の情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、微分効率決定方法、記録方法、プログラム及び記録媒体、並びに情報記録装置に係り、更に詳しくは、光源の発光パワーを制御する際に用いられる微分効率の決定方法、光源から出射された光束を用いて情報記録媒体に情報を記録する記録方法、情報記録装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体、並びに情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、パーソナルコンピュータは、その機能が向上するに伴い、音楽や映像といったＡＶ（Ａｕｄｉｏ−Ｖｉｓｕａｌ）情報を取り扱うことが可能となってきた。これらＡＶ情報の情報量は非常に大きいために、情報記録媒体としてＣＤ（ｃｏｍｐａｃｔ　ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（ｄｉｇｉｔａｌ　ｖｅｒｓａｔｉｌｅ　ｄｉｓｃ）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、情報記録装置としての光ディスク装置がパーソナルコンピュータの周辺機器の一つとして普及するようになった。光ディスク装置では、光ディスクのスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光の微小スポットを照射することにより情報の記録及び消去を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。そして、光ディスク装置には、情報記録媒体の記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するために、光ピックアップ装置が設けられている。
【０００３】
通常、光ピックアップ装置は、レーザ光を所定の発光パワー（出力）で出射する光源、その光源から出射されるレーザ光を情報記録媒体の記録面に導くとともに、記録面で反射されたレーザ光を所定の受光位置まで導く光学系、及びその受光位置に配置された受光素子などを備えている。
【０００４】
光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク領域及びスペース領域のそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。そこで、光ディスクに情報を記録する際には所定の位置にマーク領域及びスペース領域がそれぞれ形成されるように光源の発光パワーが制御される。
【０００５】
記録層に有機色素を含むＣＤ−Ｒ（ＣＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）及びＤＶＤ＋Ｒ（ＤＶＤ＋ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの追記型の光ディスク（以下、便宜上「色素型ディスク」ともいう）では、マーク領域を形成するときには発光パワーを高くして色素を加熱及び溶解し、そこに接している基板部分を変質・変形させている。一方、スペース領域を形成するときには基板が変質・変形しないように発光パワーを再生時と同程度に小さくしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。
【０００６】
また、記録層に特殊合金を含むＣＤ−ＲＷ（ＣＤ−ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）、及びＤＶＤ＋ＲＷ（ＤＶＤ＋ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）などの書き換え可能な光ディスク（以下、便宜上「相変化型ディスク」ともいう）では、マーク領域を形成するときには、レーザ光により特殊合金を第１の温度に加熱した後、発光パワーを小さくして特殊合金を急冷し、特殊合金をアモルファス（非晶質）状態にしている。スペース領域を形成するときには、レーザ光により特殊合金を第２の温度（＜第１の温度）に加熱した後、特殊合金を徐冷し、特殊合金を結晶状態にしている。これにより、マーク領域では、スペース領域よりも反射率が低くなる。
【０００７】
通常、色素型ディスクでは、一例として図１５に示されるように、例えば８−１６変調信号ＷＤにおけるマーク部Ｍに対応するマーク領域を形成する際の発光パワーＬＰを大きくし（図１５ではＰｗ）、スペース部Ｓに対応するスペース領域を形成する際の発光パワーＬＰを小さくしている（図１５ではＰｒ）。このような発光パワーの制御方式は、単パルス記録方式とも呼ばれている。なお、Ｐｗは記録パワー（又はピークパワー）、Ｐｒは再生パワー（又はバイアスパワー）とも呼ばれている。
【０００８】
一方、相変化型ディスクでは、蓄熱の影響を除去するために、一例として図１６に示されるように、マーク領域を形成するときの発光パワーを複数のパルスに分割（マルチパルス化）することが行なわれている。このような発光パワーの制御方式はマルチパルス記録方式とも呼ばれている。このマルチパルス記録方式において、マーク領域を形成するときの発光パワーをマルチパルス化する規則は、記録ストラテジと呼ばれている。なお、スペース領域を形成するときの発光パワーＰｅは消去パワー（又はイレーズパワー）とも呼ばれている。
【０００９】
また、色素型ディスクであっても、例えばＤＶＤ系の光ディスク（ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒなど）では、一例として図１７に示されるように、マルチパルス記録方式が提案されている。
【００１０】
【特許文献１】
特開２００１−３４９８７号公報
【特許文献２】
特開２００１−３１９３３７号公報
【特許文献３】
特開２００２−４２３３７号公報
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
通常、半導体レーザなどの光源は電流駆動型であり、その発光パワーはドライバから供給される電流（駆動電流）によって制御されている。この駆動電流と発光パワーとの関係は一般に「Ｉ−Ｌ特性」と呼ばれている。例えば色素型ディスクの場合には、駆動電流を安定化させるために、２種類の制御信号がドライバに入力されている。１つはバイアスパワーに対応する制御信号（バイアス電流信号）であり、他の１つはピークパワーとバイアスパワーとの差分に対応する制御信号（ピーク重畳信号）である。そして、ドライバでは、一例として図１８に示されるように、バイアスパワーＰｒに対してはバイアス電流信号のみに基づいた駆動電流（バイアスレベル電流）Ｉｒを出力し、ピークパワーＰｗに対してはバイアスレベル電流信号とピーク重畳信号との和信号に基づいた駆動電流（ピークレベル電流）Ｉｗを出力している。ここで、ピーク重畳信号は、次の（１）式で示される重畳電流Ｉｘに対応している。
【００１２】
Ｉｘ＝（Ｐｗ−Ｐｒ）／η　…（１）
【００１３】
上記（１）式におけるηは微分効率と呼ばれ、次の（２）式で示されるように、発光パワーの変化ΔＰと駆動電流の変化ΔＩとの関係を示す係数である。
【００１４】
η＝ΔＰ／ΔＩ　…（２）
【００１５】
一般に、光源では駆動電流の一部が熱に変換されるため、光源の温度が上昇し、Ｉ−Ｌ特性が変化する場合がある。バイアスパワーについては、いわゆるＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御により、常に一定となるようにバイアスレベル電流を自動的に補正しているが、ピークパワーについては、マルチパルス化されているためにＡＰＣ制御は困難である。そこで、情報の記録に先だって、上記微分効率を求め、上記（１）式に基づいてピーク重畳電流、ピーク重畳信号を補正し、ピークパワーの安定化を図っている。例えば色素系ディスクの場合には、一例として図１９（Ａ）に示されるように、駆動電流Ｉ１が供給されたときの発光パワーＰ１と駆動電流Ｉ２（＞Ｉ１）が供給されたときの発光パワーＰ２とを計測し、次の（３）式に基づいて微分効率ηを求めている。
【００１６】
η＝（Ｐ２−Ｐ１）／（Ｉ２−Ｉ１）　…（３）
【００１７】
駆動電流Ｉ１としては、バイアスレベル電流Ｉｒを用いることが一般的に行われている（例えば特許文献１、特許文献２、及び特許文献３参照）。しかしながら、バイアスパワー近傍ではＩ−Ｌ特性が非線形となる場合があり、一例として図１９（Ｂ）に示されるように、駆動電流Ｉ１がＩ−Ｌ特性の線形領域から外れていると、求められた微分効率に誤差が含まれることとなり、所定の形状のマーク領域が形成されず、記録品質が低下するおそれがあった。
【００１８】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、光源の発光パワーを制御するための微分効率を精度良く決定することができる微分効率取得方法を提供することにある。
【００１９】
また、本発明の第２の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができるプログラム及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【００２０】
また、本発明の第３の目的は、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができる記録方法及び光ディスク装置を提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、情報記録媒体の記録面に光を照射し、その記録面からの反射光を受光する光ピックアップ装置に用いられ、供給される駆動電流に応じた発光パワーで光を出射する光源の微分効率を求める微分効率決定方法であって、前記光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界を推定する第１工程と；前記境界での発光特性と、前記境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率を決定する第２工程と；を含む微分効率決定方法である。
【００２２】
これによれば、光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界が推定され（第１工程）、その境界での発光特性と、境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率が決定される（第２工程）。すなわち、駆動電流と発光パワーとの関係がほぼ直線となる領域内の少なくとも異なる２点における発光特性に基づいて、微分効率を決定している。従って、従来よりも微分効率の精度を向上させることが可能となる。
【００２３】
この場合において、前記境界を推定する方法としては、種々の方法が考えられるが、請求項２に記載の微分効率決定方法の如く、前記第１工程では、前記境界が含まれると予想される駆動電流範囲内の複数の計測点における前記光源の発光特性の変化に基づいて前記境界を推定することとしても良い。かかる場合には、例えば各計測点において、隣り合う計測点間の駆動電流変化に対する発光パワー変化の割合（以下、便宜上「発光特性の傾き」ともいう）を求め、その発光特性の傾きがほぼ一定となったときに、非線形から線形に移行したと判断することができる。
【００２４】
この場合において、請求項３に記載の微分効率決定方法の如く、前記複数の計測点における隣接する計測点間の駆動電流の変化量は一定であり、前記境界は前記各計測点における発光パワーの変化量に基づいて推定されることとすることができる。かかる場合には、発光パワーの変化量が発光特性の傾きに対応することとなり、隣り合う計測点間での発光パワーの変化量がほぼ一定となったときに、非線形から線形に移行したと判断することができる。従って、境界を推定するための処理が単純化され、処理に要する時間を短縮することが可能となる。
【００２５】
上記請求項１〜３に記載の各微分効率決定方法において、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーとしては、種々のものが考えられるが、請求項４に記載の微分効率決定方法の如く、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体の識別情報又は前記情報記録媒体への試し書き情報に基づいて得られた前記情報記録媒体に最適な記録パワーとほぼ等しいこととすることができる。あるいは、請求項５に記載の微分効率決定方法の如く、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体への情報の記録時に前記情報記録媒体からの反射光の受光結果に基づいて補正された記録パワーとほぼ等しいこととすることができる。かかる場合には、実際の記録とほぼ同じ条件下で微分効率を決定することができ、微分効率の信頼性を向上させることが可能となる。また、例えば連続して記録を行う場合でも、光源の温度上昇の影響を吸収することができる。
【００２６】
請求項６に記載の発明は、光源から出射された光束を用いて情報記録媒体に情報を記録する記録方法であって、請求項１〜５のいずれか一項に記載の微分効率決定方法によって決定された微分効率に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定し、その記録条件を用いて情報を記録する工程を含む記録方法である。
【００２７】
これによれば、請求項１〜５のいずれか一項に記載の微分効率決定方法によって決定された高精度の微分効率に基づいて、情報記録媒体に最適な記録条件が設定されているために、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００２８】
請求項７に記載の発明は、光源から出射された光束を用いて情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置で用いられるプログラムであって、前記光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界を推定する第１手順と；前記境界での発光特性と、前記境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率を決定する第２手順と；を前記情報記録装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００２９】
これによれば、本発明のプログラムがメインメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、情報記録装置の制御用コンピュータは、光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が、非線形から線形に移行する境界を推定し、その境界での発光特性と、境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて、微分効率を決定する。すなわち、本発明のプログラムによれば、情報記録装置の制御用コンピュータに請求項１に記載の発明に係る微分効率決定方法を実行させることができ、微分効率が精度良く決定される。従って、結果的に情報記録装置では記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００３０】
この場合において、請求項８に記載のプログラムの如く、前記第１手順として、前記境界が含まれると予想される駆動電流範囲内の複数の計測点における前記光源の発光特性の変化に基づいて前記境界を推定する手順を前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３１】
この場合において、請求項９に記載のプログラムの如く、前記複数の計測点における隣接する計測点間の駆動電流の変化量は一定であり、前記境界は前記各計測点における発光パワーの変化量に基づいて推定されることとすることができる。
【００３２】
上記請求項７〜９に記載の各プログラムにおいて、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーとしては、種々のものが考えられるが、請求項１０に記載のプログラムの如く、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体の識別情報又は前記情報記録媒体への試し書き情報に基づいて求められた最適な記録パワーとほぼ等しいこととしても良い。あるいは、請求項１１に記載のプログラムの如く、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記情報記録媒体への情報の記録時に前記情報記録媒体からの反射光の受光結果に基づいて補正された記録パワーとほぼ等しいこととしても良い。
【００３３】
上記請求項７〜１１に記載の各プログラムにおいて、請求項１２に記載のプログラムの如く、前記第２手順で決定された微分効率に基づいて記録条件を設定し、その記録条件を用いて情報を記録する第３手順を前記制御用コンピュータに更に実行させることとすることができる。かかる場合には、情報記録装置の制御用コンピュータに請求項６に記載の発明に係る記録方法を実行させることができ、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００３４】
請求項１３に記載の発明は、請求項７〜１２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００３５】
これによれば、請求項７〜１２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００３６】
請求項１４に記載の発明は、光源から出射された光束を用いて情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置であって、前記光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界を推定する境界推定手段と；前記境界での発光特性と、前記境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率を求める微分効率取得手段と；前記微分効率に基づいて記録条件を設定する記録条件設定手段と；前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える情報記録装置である。
【００３７】
これによれば、境界推定手段により、光源の駆動電流と発光パワーとの関係を示す発光特性が非線形から線形に移行する境界が推定され、微分効率取得手段により、前記境界での発光特性と、前記境界よりも高発光パワー側にある少なくとも１つの任意の位置での発光特性とに基づいて微分効率が求められる。すなわち、前記境界及び前記任意の位置は発光特性が線形となる領域にそれぞれ含まれることとなるため、従来よりも精度良く微分効率を求めることができる。そして、記録条件設定手段により、前記微分効率に基づいて記録条件が設定された後、記録手段により、前記記録条件に基づいて情報記録媒体に情報が記録される。すなわち、情報記録媒体に最適な記録条件で記録が行われることとなる。従って、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００３８】
この場合において、請求項１５に記載の情報記録装置の如く、前記情報記録媒体の識別情報を取得し、その識別情報に基づいて前記情報記録媒体に最適な記録パワーを求める記録パワー取得手段を更に備え、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記記録パワー取得手段で求められた最適な記録パワーとほぼ等しいこととすることができる。
【００３９】
上記請求項１４に記載の情報記録装置において、請求項１６に記載の情報記録装置の如く、前記情報記録媒体に試し書きを行い、最適な記録パワーを求める試し書き手段を更に備え、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記試し書き手段で求められた最適な記録パワーとほぼ等しいこととすることができる。
【００４０】
上記請求項１４に記載の情報記録装置において、請求項１７に記載の情報記録装置の如く、前記情報記録媒体への情報の記録時に、前記情報記録媒体からの反射光の受光結果に基づいて、記録パワーを補正する記録パワー補正手段を更に備え、前記少なくとも１つの任意の位置での発光パワーは、前記記録パワー補正手段で補正された記録パワーとほぼ等しいこととすることができる。
【００４１】
上記請求項１４〜１７に記載の各情報記録装置において、請求項１８に記載の情報記録装置の如く、前記記録手段では、マルチパルス方式で前記情報記録媒体に情報が記録されることとすることができる。
【００４２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図１２に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る情報記録装置としての光ディスク装置の概略構成を示すブロック図が示されている。
【００４３】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、レーザコントロール回路２４、エンコーダ２５、モータドライバ２７、再生信号処理回路２８、サーボコントローラ３３、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、ＲＯＭ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、本実施形態では、一例としてＤＶＤ−Ｒの規格に準拠した情報記録媒体が光ディスク１５として用いられるものとする。
【００４４】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置である。光ピックアップ装置２３は、一例として図２に示されるように、光源ユニット５１、コリメートレンズ５２、第１のビームスプリッタ５４、対物レンズ６０、第１の検出レンズ５８、第１の受光器５９、第２のビームスプリッタ７１、第２の検出レンズ７２、第２の受光器７３、及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ及びシークモータ（いずれも図示省略））などを備えている。
【００４５】
前記光源ユニット５１は、波長が６６０ｎｍの光束を出射する光源としての半導体レーザ５１ａを含んで構成されている。なお、本実施形態では、半導体レーザ５１ａから出射される光束の最大強度出射方向を＋Ｘ方向とする。この光源ユニット５１の＋Ｘ側には、前記コリメートレンズ５２が配置され、光源ユニット５１から出射された光束を略平行光とする。
【００４６】
コリメートレンズ５２の＋Ｘ側には、半導体レーザ５１ａから出射された光束の一部をモニタ用光束として抽出するための前記第２のビームスプリッタ７１が配置されている。前記モニタ用光束は−Ｚ方向に分岐される。
【００４７】
第２のビームスプリッタ７１の＋Ｘ側には、光ディスク１５からの戻り光束を−Ｚ方向に分岐するための前記第１のビームスプリッタ５４が配置されている。この第１のビームスプリッタ５４の＋Ｘ側には、第１のビームスプリッタ５４を透過した光束を集光し、光ディスク１５の記録面に光スポットを形成するための前記対物レンズ６０が配置されている。
【００４８】
第１のビームスプリッタ５４の−Ｚ側には、第１のビームスプリッタ５４で分岐された戻り光束を集光する前記第１の検出レンズ５８が配置されている。この第１の検出レンズ５８の−Ｚ側には、前記第１の受光器５９が配置されている。第１の受光器５９としては、通常の光ディスク装置と同様に、４分割受光素子が用いられている。この第１の受光器５９は、光ディスク１５の記録面からの反射光を受光し、通常の光ピックアップ装置と同様に、ウォブル信号情報、再生データ情報、フォーカスエラー情報及びトラックエラー情報などを含む信号を出力する。
【００４９】
第２のビームスプリッタ７１の−Ｚ側には、第２のビームスプリッタ７１で分岐されたモニタ用光束を集光する前記第２の検出レンズ７２が配置されている。この第２の検出レンズ７２の−Ｚ側には、前記第２の受光器７３が配置されている。第２の受光器７３としては、通常の受光素子が用いられている。この第２の受光器７３は、半導体レーザ５１ａの発光パワーをモニタするために設置されており、半導体レーザ５１ａから出射される光束の光量に関する情報を含む信号を出力する。
【００５０】
上記のように構成される光ピックアップ装置２３の作用を簡単に説明すると、半導体レーザ５１ａから出射された光束は、コリメートレンズ５２で略平行光とされた後、その一部が第２のビームスプリッタ７１で−Ｚ方向に分岐され、残りは第１のビームスプリッタ５４に入射する。第１のビームスプリッタ５４を透過した光束は、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。光ディスク１５の記録面にて反射した反射光は、戻り光束として対物レンズ６０で略平行光とされ、第１のビームスプリッタ５４に入射する。第１のビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束は、第１の検出レンズ５８を介して第１の受光器５９で受光される。第１の受光器５９からは、受光量に応じた信号が再生信号処理回路２８に出力される。また、第２のビームスプリッタ７１で−Ｚ方向に分岐されたモニタ用光束は、第２の検出レンズ７２を介して第２の受光器７３で受光される。第２の受光器７３からは、受光量に応じた信号が再生信号処理回路２８に出力される。
【００５１】
前記再生信号処理回路２８は、図３に示されるように、第１のＩ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、デコーダ２８ｅ、ピークレベル検出回路２８ｆ、ボトムレベル検出回路２８ｇ、第２のＩ／Ｖアンプ２８ｋ、及びサンプルホールド回路２８ｍなどから構成されている。
【００５２】
前記第１のＩ／Ｖアンプ２８ａは第１の受光器５９の出力信号である電流信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。前記サーボ信号検出回路２８ｂは第１のＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてサーボ信号（フォーカスエラー信号やトラックエラー信号）を検出する。ここで検出されたサーボ信号はサーボコントローラ３３に出力される。前記ウォブル信号検出回路２８ｃは第１のＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。前記ＲＦ信号検出回路２８ｄは第１のＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。
【００５３】
前記デコーダ２８ｅは、ウォブル信号検出回路２８ｃで検出されたウォブル信号からＡＤＩＰ（Ａｄｄｒｅｓｓ　Ｉｎ　Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたＡＤＩＰ情報は信号ＳＡとしてＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。また、デコーダ２８ｅは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号に対して復調処理及び誤り訂正処理などを行った後、バッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に格納する。なお、再生情報が音楽データの場合にはデコーダ２８ｅからの信号はＤ／Ａコンバータ（図示省略）を介して外部のオーディオ機器などに出力される。
【００５４】
前記ピークレベル検出回路２８ｆは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号のピークレベルを検出し、ピークレベル信号ＳＸ１としてＣＰＵ４０に出力する。前記ボトムレベル検出回路２８ｇは、ＲＦ信号検出回路２８ｄで検出されたＲＦ信号のボトムレベルを検出し、ボトムレベル信号ＳＸ２としてＣＰＵ４０に出力する。
【００５５】
前記第２のＩ／Ｖアンプ２８ｋは第２の受光器７３の出力信号である電流信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。前記サンプルホールド回路２８ｍは、第２のＩ／Ｖアンプ２８ｋの出力信号に対して、ＣＰＵ４０からのタイミング信号ＳＴに同期してサンプルホードし、信号ＳＢとしてＣＰＵ４０に出力する。本実施形態では、サンプルホールド回路２８ｍは、タイミング信号ＳＴの立ち上がりに同期してサンプリングを開始し、立ち下りに同期してそのときの入力信号をホールドする。
【００５６】
図１に戻り、前記サーボコントローラ３３は、再生信号処理回路２８からのフォーカスエラー信号に基づいて光ピックアップ装置のフォーカシングアクチュエータを制御する制御信号を生成し、トラックエラー信号に基づいて光ピックアップ装置のトラッキングアクチュエータを制御する制御信号を生成する。各制御信号はサーボコントローラ３３からそれぞれモータドライバ２７に出力される。
【００５７】
前記モータドライバ２７は、サーボコントローラ３３からの各制御信号に基づいて、光ピックアップ装置のトラッキングアクチュエータ及びフォーカシングアクチュエータを駆動する。すなわち、サーボ信号検出回路２８ｂ、サーボコントローラ３３及びモータドライバ２７によってトラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。また、モータドライバ２７は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてスピンドルモータ２２及び光ピックアップ装置のシークモータを制御する。
【００５８】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されているデータをバッファマネージャ３７を介して取り出し、８−１６変調及びエラー訂正コードの付加などを行なうとともに、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。この書き込み信号は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、再生信号処理回路２８からの同期信号に同期してレーザコントロール回路２４に出力される。
【００５９】
前記レーザコントロール回路２４は、図４（Ａ）に示されるように、駆動電流出力回路２４ａ、パルス調整回路２４ｂ及び駆動信号生成回路２４ｃなどから構成されている。パルス調整回路２４ｂは、ＣＰＵ４０からのパルス調整信号Ｓ３に基づいて、エンコーダ２５からの書き込み信号に対して立ち上がりエッジのパルス幅を調整する。駆動信号生成回路２４ｃは、パルス調整回路２４ｂにてパルス調整された書き込み信号ＷＤＡＴ、ＣＰＵ４０からのバイアス電流信号Ｓ１及びピーク重畳信号Ｓ２に基づいて、半導体レーザ５１ａの駆動信号を生成する。すなわち、書き込み信号におけるバイアスレベルに対してはバイアス電流信号Ｓ１を駆動信号として出力し、ピークレベルに対してはバイアス電流信号Ｓ１とピーク重畳信号Ｓ２との和信号を駆動信号として出力する。駆動電流出力回路２４ａは、駆動信号生成回路２４ｃからの駆動信号を駆動電流ＩＤに変換し、半導体レーザ５１ａに出力する。すなわち、一例として図４（Ｂ）に示されるように、書き込み信号ＷＤＡＴにおけるバイアスレベルに対してはバイアスレベル電流Ｉｂが供給され、ピークレベルに対してはピークレベル電流Ｉｐが供給される。
【００６０】
図１に戻り、前記インターフェース３８は、ホスト（例えばパーソナルコンピュータ）との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（ＡＴ　Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ　Ｐａｃｋｅｔ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）及びＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ　Ｃｏｍｐｕｔｅｒ　Ｓｙｓｔｅｍ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）などの標準インターフェースに準拠している。
【００６１】
前記ＲＯＭ３９はプログラム領域とデータ領域とを備えており、プログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された後述する記録時に用いられるプログラム（以下「記録制御プログラム」という）を含むプログラムが格納されている。なお、光ディスク装置２０の電源がオン状態になると、プログラム領域に格納されているプログラムは不図示のメインメモリにロードされる。また、ＲＯＭ３９のデータ領域には、サンプルホールド回路２８ｍの出力信号から発光パワーを求めるための換算式（以下、便宜上「パワー換算式」という）が格納されている。さらに、ＲＯＭ３９のデータ領域には、光ディスクの種類毎に最適な記録パワーを含むパワー情報が格納されている。
【００６２】
前記ＣＰＵ４０は、ＲＯＭ３９に格納されているプログラムに従って上記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどを一時的にＲＡＭ４１に保存する。
【００６３】
次に、ホストから記録要求コマンドを受信したときの処理（以下、便宜上「第１の記録制御処理」という）について図５及び図６を用いて説明する。図５及び図６のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。ホストから記録要求コマンドを受信すると、図５及び図６のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理がスタートする。
【００６４】
最初のステップ４０１では、光ディスク１５の所定位置に記録されている光ディスク１５の種類を識別する情報（識別情報）を読み出す。
【００６５】
次のステップ４０３では、光ディスク１５の識別情報に基づいて、ＲＯＭ３９のデータ領域に格納されているパワー情報を参照し、光ディスク１５に最適な記録パワー（ここではＰｗａとする）を抽出する。
【００６６】
次のステップ４０５では、上記最適な記録パワーＰｗａに対応する駆動電流を推定し、ピークレベル電流Ｉｐに設定する。
【００６７】
次のステップ４０７では、微分効率を算出するためのダミー記録用のテストデータを作成する。このとき、１０Ｔ（Ｔ：チャネルクロックの周期）以上の長さのマークデータ及び１０Ｔ以上の長さのスペースデータがそれぞれ少なくとも１つ含まれるようにする。ここで作成されたテストデータは、バッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭに格納される。なお、本実施形態では、一例として図７に示されるように、１１Ｔのマークデータと１１Ｔのスペースデータが含まれるものとする。
【００６８】
次のステップ４０９では、バイアスレベル電流の変更回数を示すカウンタｉに１をセットし初期化する。
【００６９】
次のステップ４１１では、再生パワーＰｒに対応する駆動電流Ｉｒ（予めＡＰＣなどで得られている）をバイアスレベル電流Ｉｂｉ（ここではｉ＝１）に設定する。
【００７０】
次のステップ４１３では、バイアスレベル電流Ｉｂｉに対応する信号をバイアス電流信号Ｓ１として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。また、ピークレベル電流Ｉｐとバイアスレベル電流Ｉｂｉとの差に対応する信号をピーク重畳信号Ｓ２として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。そして、ダミー記録用の書き込み信号の生成をエンコーダ２５に指示する。これにより、エンコーダ２５はバッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭに格納されているテストデータを読み出し、所定の処理を行って書き込み信号を生成する。このとき、エンコーダ２５は、一例として図８に示されるように、１０Ｔ以上の長さのマークデータに対しては、マルチパルスではなく単パルスとする。
【００７１】
次のステップ４１５では、ダミー記録を開始する。ダミー記録では、実際にデータが光ディスク１５に記録されるのを防止するために、光ディスク１５の記録面に照射される光束がデフォーカス状態となるようにＸ軸方向に関する対物レンズ６０の位置を制御する。また、ダミー記録中は、書き込み信号に同期してタイミング信号ＳＴを生成し、サンプルホールド回路２８ｍに出力する。ここでは、一例として図８に示されるように、１０Ｔ以上の長さのマーク及び１０Ｔ以上の長さのスペースに対応してパルスが生成される。これにより、一例として図８に示されるように、駆動電流Ｉｐが供給されたときに半導体レーザ５０ａから出射された光束の光量に対応する電圧信号Ｖｐ、及び駆動電流Ｉｂｉが供給されたときに半導体レーザ５０ａから出射された光束の光量に対応する電圧信号Ｖｂｉが、信号ＳＢとしてサンプルホールド回路２８ｍからＣＰＵ４０に出力される。
【００７２】
次のステップ４１７では、サンプルホールド回路２８ｍの出力信号ＳＢに基づいて、電圧信号Ｖｐ及び電圧信号Ｖｂｉを抽出し、ＲＯＭ３９に格納されているパワー換算式を用いて、ピークパワーＰｐ及びバイアスパワーＰｂｉを求める。
【００７３】
次のステップ４１９では、カウンタｉの値が１を超えているか否かを判断する。ここでは、ｉ＝１なのでステップ４１９での判断は否定され、ステップ４２１に移行する。
【００７４】
このステップ４２１では、記録パワーＰｗａと計測されたピークパワーＰｐとの差分が予め設定されている閾値Ｓ１未満であるか否かを判断する。ここで、差分が閾値Ｓ１以上であれば、ステップ４２１での判断は否定され、ステップ４２３に移行する。
【００７５】
このステップ４２３では、上記差分がほぼ０となるようにピークレベル電流Ｉｐの設定値を修正する。
【００７６】
なお、ステップ４２１において、差分が閾値Ｓ１未満であれば、ステップ４２１での判断は肯定され、ステップ４２３をスキップして、ステップ４２５に移行する。
【００７７】
このステップ４２５では、カウンタｉをインクリメント（＋１）する。
【００７８】
次のステップ４２７では、予め設定されている増分ΔＩｂをバイアスレベル信号Ｉｂｉ−１（ここではＩｂ１）に加え、バイアスレベル信号Ｉｂｉ（ここではＩｂ２）に設定する。そして、ステップ４１３に戻る。
【００７９】
上記ステップ４１３〜ステップ４１７の処理が再度行われた後、ステップ４１９の判断を行う。今回はｉ＝２であるため、ステップ４１９での判断は肯定され、ステップ４３１に移行する。
【００８０】
このステップ４３１では、今回取得したバイアスパワーＰｂｉと前回取得したバイアスパワーＰｂｉ−１との差を演算し、パワー増加量ΔＰｂｉ（ここではΔＰｂ２）とする。
【００８１】
次のステップ４３３では、カウンタｉの値が２を超えているか否かを判断する。ここでは、ｉ＝２なのでステップ４３３での判断は否定され、ステップ４２１に移行する。
【００８２】
上記ステップ４２１〜ステップ４３１の処理が再度行われた後、ステップ４３３の判断を行う。今回はｉ＝３であるため、ステップ４３３での判断は肯定され、ステップ４３５に移行する。
【００８３】
このステップ４３５では、今回算出したパワー増加量ΔＰｂｉ（ここではΔＰｂ３）と前回算出したパワー増加量ΔＰｂｉ−１（ここではΔＰｂ２）との差が予め設定されている閾値Ｓ２未満であるか否かを判断する。ここで、パワー増加量の差が閾値Ｓ２以上であれば、ステップ４３５での判断は否定され、ステップ４２１に戻る。以下、ステップ４３５での判断が肯定されるまで、上記ステップ４２１〜ステップ４３５のループ処理を繰り返す。
【００８４】
パワー増加量の差が閾値Ｓ２未満になると、ステップ４３５での判断は肯定され、図６のステップ４３６に移行する。なお、ｉ＝６の場合にステップ４３５での判断が肯定された例が図９に示されている。
【００８５】
このステップ４３６では、バイアスレベル電流Ｉｂｉ−２（図９ではＩｂ４）を、Ｉ−Ｌ特性の線形領域内における低電流側の端部近傍の電流（以下、便宜上「線形端電流」ともいう）Ｉｚとする。また、そのときのバイアスパワーＰｂｉ−２（図９ではＰｂ４）を線形端パワーＰｚと呼ぶ。
【００８６】
次のステップ４３７では、次の（４）式に基づいて微分効率ηを求める。
【００８７】
η＝（Ｐｐ−Ｐｚ）／（Ｉｐ−Ｉｚ）　…（４）
【００８８】
次のステップ４３９では、再生パワーＰｒに対応する駆動電流Ｉｒをバイアスレベル電流Ｉｂに設定するとともに、それに対応する信号をバイアス電流信号Ｓ１として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。
【００８９】
次のステップ４４１では、３Ｔから１４Ｔまでの１２種類のマークデータ及びスペースデータを含むテストデータを作成する。そして、半導体レーザ５１ａの発光パワーをステップ状に変化させつつテストデータをＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ　Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ　Ａｒｅａ）と呼ばれる試し書き領域に記録する。具体的には、セクタ毎（ここでは、１４８８×２６＝３８６８８チャネルクロック毎）にピーク重畳信号Ｓ２を所定のステップで更新する。試し書きが終了すると、ステップ４４３に移行する。
【００９０】
このステップ４４３では、試し書き領域に記録されたテストデータを再生し、発光パワー毎にＡＣ結合後のＲＦ信号のアシンメトリを評価基準として算出する。このアシンメトリβは、次の（５）式に示されるように、ピークレベル検出回路２８ｆから出力されるピークレベル信号ＳＸ１、及びボトムレベル検出回路２８ｇから出力されるボトムレベル信号ＳＸ２とから算出される。
【００９１】
β＝（ＳＸ１−ＳＸ２）／（ＳＸ１＋ＳＸ２）　……（５）
【００９２】
そして、算出されたアシンメトリβに基づいて、最適な記録パワーを求める。なお、最も記録品質が良いときのアシンメトリβの値は、光ディスクの種類毎に予め実験的に得られており、ＲＯＭ３９のデータ領域に格納されているものとする。また、ここでは最適な記録パワーＰｗｏが得られたものとする。さらに、最適な記録パワーＰｗｏで形成されたマーク領域からの反射光のレベルを求め、反射率の目標値としてＲＡＭ４１に格納する。
【００９３】
次のステップ４４５では、次の（６）式に基づいて、ピーク重畳電流Ｉｘを算出する。
【００９４】
Ｉｘ＝（Ｐｗｏ−Ｐｒ）／η　…（６）
【００９５】
次のステップ４４７では、ピーク重畳電流Ｉｘに対応する信号をピーク重畳信号Ｓ２として駆動信号設定回路２４ｃに出力する。
【００９６】
次のステップ４４９では、光ディスク１５にホストからのデータを記録する。データの記録中は、書き込み信号に同期してタイミング信号ＳＴを生成し、サンプルホールド回路２８ｍに出力する。ここでは、一例として図１０に示されるように、１０Ｔ以上の長さのスペースデータに対応してパルスを生成する。これにより、駆動電流Ｉｒ（＝Ｉｂ）が供給されたときに半導体レーザ５０ａから出射された光束の光量に関する情報を含む信号がサンプルホールド回路２８ｍから不図示のＡＰＣ回路に出力され、バイアスレベル信号Ｓ１が自動的に補正される。
【００９７】
さらに、データの記録中には、記録面からの反射光（ＲＦ信号）を検出し、そのレベル変化に応じて記録パワーを修正するいわゆるランニングＯＰＣを行う。通常、マークデータを記録する個所はレーザの照射とともに反射率が低くなっていくので、一例として図１１に示されるように、ＲＦ信号はマーク領域の先頭から後端に向かって徐々に低くなっていく。そこで、ランニングＯＰＣでは、ＲＦ信号のレベルがある程度整定する後端の所定の箇所（図１１では矢印で示される箇所）でサンプリングを行ない、反射率を検出する。また、記録速度が高速になりサンプリングのタイミングが厳しくなる場合には、ＲＦ信号をＬＰＦ（ローパスフィルタ）により平均化した信号を用いても良い。そして、検出した反射率とＲＡＭ４１に格納されている反射率の目標値（前記試し書きの際に求めた反射率の目標値）とを比較し、それらの差と微分効率とに基づいてピーク重畳信号Ｓ２を調整し、記録パワーを修正する。そして、全てのデータの記録が完了すると、第１の記録制御処理を終了する。
【００９８】
この後、続けてホストから記録要求コマンドを受信したときの処理（以下、便宜上「第２の記録制御処理」という）について図１２を用いて説明する。図１２のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。ホストから続けて記録要求コマンドを受信すると、図１２のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、第２の記録制御処理がスタートする。
【００９９】
最初のステップ５０１では、新たに微分効率を求めるために、上記試し書きの結果から求めた最適な記録パワーＰｗｏにほぼ対応する駆動電流をピークレベル電流Ｉｐに設定する。
【０１００】
次のステップ５０３では、第１の記録制御処理で求めた線形端電流Ｉｚをバイアスレベル電流Ｉｂに設定する。
【０１０１】
次のステップ５０５では、バイアスレベル電流Ｉｂに対応する信号をバイアス電流信号Ｓ１として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。また、ピークレベル電流Ｉｐとバイアスレベル電流Ｉｂとの差に対応する信号をピーク重畳信号Ｓ２として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。
【０１０２】
次のステップ５０７では、ステップ４０７と同様にして、ダミー記録用のテストデータを作成する。なお、ここでは、ステップ４０７で作成したテストデータを用いても良い。
【０１０３】
次のステップ５０９では、ステップ４１５と同様にして、ダミー記録を行う。これにより、駆動電流Ｉｐが供給されたときに半導体レーザ５０ａから出射された光束の光量に対応する電圧信号Ｖｐ、及び駆動電流Ｉｂが供給されたときに半導体レーザ５０ａから出射された光束の光量に対応する電圧信号Ｖｂが、信号ＳＢとしてサンプルホールド回路２８ｍからＣＰＵ４０に出力される。ダミー記録が終了すると、ステップ５１１に移行する。
【０１０４】
このステップ５１１では、サンプルホールド回路２８ｍの出力信号ＳＢに基づいて、電圧信号Ｖｐ及び電圧信号Ｖｂを抽出し、ＲＯＭ３９に格納されているパワー換算式を用いて、ピークパワーＰｐ及びバイアスパワーＰｂを求める。
【０１０５】
次のステップ５１３では、次の（７）式に基づいて微分効率ηを求める。
【０１０６】
η＝（Ｐｐ−Ｐｂ）／（Ｉｐ−Ｉｂ）　…（７）
【０１０７】
次のステップ５１５では、再生パワーＰｒに対応する駆動電流Ｉｒをバイアスレベル電流Ｉｂに設定し、それに対応する信号をバイアス電流信号Ｓ１として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。
【０１０８】
次のステップ５１７では、上記（６）式に基づいて、ピーク重畳電流Ｉｘを算出する。
【０１０９】
次のステップ５１９では、ピーク重畳電流Ｉｘに対応する信号をピーク重畳信号Ｓ２として駆動信号設定回路２４ｃに出力する。
【０１１０】
次のステップ５２１では、光ディスク１５にホストからのデータを記録する。そして、全てのデータの記録が完了すると、第２の記録制御処理を終了する。
【０１１１】
なお、上記ステップ５０１において、試し書きの結果から求めた最適な記録パワーＰｗｏに対応する駆動電流の代わりにランニングＯＰＣで修正された記録パワーに対応する駆動電流を用いても良い。
【０１１２】
次に、前述した光ディスク装置２０を用いて、光ディスク１５に記録されているデータを再生する場合の処理動作について簡単に説明する。
【０１１３】
ＣＰＵ４０はホストから再生要求のコマンドを受信すると、再生速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をモータドライバ２７に出力するとともに、ホストから再生要求のコマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。そして、光ディスク１５の回転が所定の線速度に達すると、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。また、再生信号処理回路２８はＡＤＩＰ情報を抽出し、ＣＰＵ４０に通知する。
【０１１４】
ＣＰＵ４０はＡＤＩＰ情報に基づいて、指定された読み込み開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するようにシークモータを制御する信号をモータドライバ２７に出力する。ＣＰＵ４０はＡＤＩＰ情報に基づいて、光ピックアップ装置２３の位置が読み込み開始地点であると判断すると、再生信号処理回路２８に通知する。
【０１１５】
そして、再生信号処理回路２８は、受光器５９の出力信号に基づいてＲＦ信号を検出し、復調処理及び誤り訂正処理などを行った後、バッファＲＡＭ３４に蓄積する。バッファマネージャ３７は、バッファＲＡＭ３４に蓄積された再生データがセクタデータとして揃ったときに、インターフェース３８を介してホストに転送する。
【０１１６】
なお、記録処理及び再生処理が終了するまで、トラッキング制御及びフォーカス制御は所定のタイミング毎に行われる。
【０１１７】
以上の説明から明らかなように、本実施形態では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、境界推定手段、微分効率取得手段、記録条件設定手段、記録手段、記録パワー取得手段、試し書き手段及び記録パワー補正手段が実現されている。すなわち、図５のステップ４０１及び４０３の処理によって記録パワー取得手段が、図５のステップ４０５〜図６のステップ４３６の処理によって境界推定手段が、ステップ４３７の処理によって微分効率取得手段が、ステップ４４１及び４４３の処理によって試し書き手段が、ステップ４４５及びステップ４４７の処理によって記録条件設定手段が、ステップ４４９の処理によって記録手段がそれぞれ実現されている。また、図１２では、ステップ５０１〜５１３の処理によって微分効率取得手段が、ステップ５１５〜５１９の処理によって記録条件設定手段が、ステップ５２１の処理によって記録手段がそれぞれ実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記実施形態は一例に過ぎず、上記のＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した構成各部の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全ての構成部分をハードウェアによって構成することとしても良い。
【０１１８】
また、本実施形態では、ＲＯＭ３９にインストールされているプログラムのうち、図５、図６及び図１２のフローチャートで示される処理に対応するプログラムによって前記記録制御プログラムが構成されている。
【０１１９】
そして、図５のステップ４０１〜図６のステップ４３６の処理によって本発明に係る微分効率決定方法の第１工程が実施され、図６のステップ４３７の処理によって第２工程が実施されている。また、図１２ではステップ５０１〜５１３の処理によって第２工程が実施されている。
【０１２０】
さらに、図６ではステップ４４３〜４４９の処理によって、図１２ではステップ５１５〜５２１の処理によって、本発明に係る記録方法が実施されている。
【０１２１】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置及び微分効率決定方法によると、再生パワーに対応する駆動電流を基準バイアスレベル電流とし、所定のステップでバイアスレベル電流を増加させつつダミー記録を行い、バイアスレベル電流毎に発光パワーを計測している。そして、バイアスレベル電流の変化に対する発光パワーの変化が一定となる条件に基づいて、Ｉ−Ｌ特性が非線形から線形に移行する境界における駆動電流を求めている。これにより、Ｉ−Ｌ特性における線形性を満足するとともに、再生パワーに対応する駆動電流に非常に近い駆動電流（線形端電流）を求めることができる。また、この線形端電流をバイアスレベル電流とし、記録パワーに対応する駆動電流をピークレベル電流としたダミー記録結果に基づいて、微分効率を求めているために、従来よりも微分効率の精度を向上させることが可能となる。
【０１２２】
また、本実施形態では、ダミー記録を行う際に、試し書きによって得られた最適な記録パワーに対応する駆動電流をピークレベル電流としてダミー記録を行っているために、実際のデータ記録とほぼ同じ条件で記録動作を行うことができ、その結果として、微分効率を精度良く求めることが可能となる。
【０１２３】
また、本実施形態では、ダミー記録を行う際に、光ディスクの識別情報及び試し書き情報に基づいて得られた最適な記録パワーに対応する駆動電流をピークレベル電流としてダミー記録を行っているために、実際のデータ記録とほぼ同じ条件で記録動作を行うことができ、その結果として、微分効率を精度良く求めることが可能となる。さらに、ランニングＯＰＣによって補正された記録パワーに対応する駆動電流をピークレベル電流としてダミー記録を行うことができるため、半導体レーザの温度上昇の影響を吸収することが可能となる。
【０１２４】
また、本実施形態に係る光ディスク装置では、光源の発光パワーを精度良く制御することができるため、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【０１２５】
なお、上記実施形態では、ピークレベル電流を修正しつつ、ダミー記録を行う場合について説明したが、これに限らず、例えばダミー記録ではピークレベル電流を一定としても良い。
【０１２６】
また、上記実施形態において、閾値Ｓ１及びＳ２は、ホストから変更することが可能である。さらに、ダミー記録でのピークパワー又はピークレベル電流をホストから設定しても良い。
【０１２７】
また、上記実施形態では、ΔＩｂが一定の場合について説明したが、これに限らず、例えばパワー増加量の差が小さくなった時点で、ΔＩｂ／（２〜５）を新たなΔＩｂとしても良い。これにより、線形端電流Ｉｚを再生パワーに対応する駆動電流に更に近づけることができる。
【０１２８】
また、上記実施形態では、第１の記録制御処理において、線形端電流Ｉｚを求める際に、バイアスパワーとピークパワーとを計測する場合について説明したが、これに限らず、例えば図１３及び図１４に示されるように、バイアスパワーのみを計測しても良い。この場合について、以下に簡単に説明する。この図１３及び図１４のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。ホストから記録要求コマンドを受信すると、図１３及び図１４のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理がスタートする。
【０１２９】
最初のステップ６０１では、バイアスレベル電流の変更回数を示すカウンタｉに１をセットし初期化する。また、閾値チェックがすでに行われたか否かを判別するフラグｆに０をセットし初期化する。
【０１３０】
次のステップ６０３では、再生パワーＰｒに対応する駆動電流Ｉｒをバイアスレベル電流Ｉｂｉ（ここではｉ＝１）に設定する。
【０１３１】
次のステップ６０５では、バイアスレベル電流Ｉｂｉに対応する信号をバイアス電流信号Ｓ１として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。
【０１３２】
次のステップ６０７では、バイアスレベル電流Ｉｂｉを半導体レーザ５１ａに供給し、レーザ光を出射させる。レーザ光出射中は、所定のタイミング信号ＳＴを生成し、サンプルホールド回路２８ｍに出力する。これにより、駆動電流Ｉｂｉが供給されたときに半導体レーザ５０ａから出射された光束の光量に対応する電圧信号Ｖｂｉが、信号ＳＢとしてサンプルホールド回路２８ｍからＣＰＵ４０に出力される。
【０１３３】
次のステップ６０９では、サンプルホールド回路２８ｍの出力信号ＳＢに基づいて、電圧信号Ｖｂｉを抽出し、ＲＯＭ３９に格納されているパワー換算式を用いて、バイアスパワーＰｂｉを求める。
【０１３４】
次のステップ６１１では、カウンタｉの値が予め設定されている値Ｍ（例えばＭ＝６）未満であるか否かを判断する。ここでは、ｉ＝１なので、ステップ６１１での判断は肯定され、ステップ６１３に移行する。
【０１３５】
このステップ６１３では、カウンタｉをインクリメント（＋１）する。
【０１３６】
次のステップ６１５では、予め設定されている増分ΔＩｂをバイアスレベル信号Ｉｂｉ−１（ここではＩｂ１）に加え、バイアスレベル信号Ｉｂｉ（ここではＩｂ２）に設定する。そして、ステップ６０５に戻る。
【０１３７】
以下、ステップ６１１での判断が否定されるまで、ステップ６０５〜ステップ６１５の処理が繰り返し行われる。
【０１３８】
ステップ６１１において、カウンタｉの値がＭに等しくなると、ステップ６１１での判断は否定され、ステップ６１７に移行する。ここでは、Ｍ個のバイアスレベル信号Ｉｂ１〜ＩｂＭが得られている。
【０１３９】
次のステップ６１７では、フラグｆが０か否かを判断する。ここでは、ｆ＝０のままなので、ステップ６１７での判断は肯定され、ステップ６１９に移行する。
【０１４０】
次のステップ６１９では、カウンタｉに２をセットするとともに、フラグｆの値を１に変更する。
【０１４１】
次のステップ６２１では、ｉ番目に計測したバイアスパワーＰｂｉと（ｉ−１）番目に計測したバイアスパワーＰｂｉ−１との差を演算し、パワー増加量ΔＰｂｉ（ここではΔＰｂ２）とする。
【０１４２】
次のステップ６２３では、カウンタｉをインクリメント（＋１）する。
【０１４３】
次のステップ６２５では、ｉ番目に計測したバイアスパワーＰｂｉと（ｉ−１）番目に計測したバイアスパワーＰｂｉ−１との差を演算し、パワー増加量ΔＰｂｉ（ここではΔＰｂ３）とする。
【０１４４】
次のステップ６２７では、パワー増加量ΔＰｂｉ（ここではΔＰｂ３）とパワー増加量ΔＰｂｉ−１（ここではΔＰｂ２）との差が予め設定されている閾値Ｓ２未満であるか否かを判断する。ここで、パワー増加量の差が閾値Ｓ２以上であれば、ステップ６２７での判断は否定され、ステップ６２９に移行する。
【０１４５】
このステップ６２９では、カウンタｉの値がＭ未満であるか否かを判断する。ここで、カウンタｉの値がＭ未満であれば、ステップ６２９での判断は肯定され、ステップ６２３に戻る。以下、ステップ６２７で肯定されるか、あるいはステップ６２９で否定されるまで、ステップ６２３〜ステップ６２９までの処理を繰り返す。
【０１４６】
ステップ６２９において、カウンタｉの値がＭ以上であれば、ステップ６２９での判断は否定され、ステップ６３１に移行する。
【０１４７】
このステップ６３１では、Ｍの値をインクリメント（＋１）するとともに、このＭの値をカウンタｉにセットする。そして、ステップ６１５に移行する。
【０１４８】
なお、ステップ６１７において、フラグｆが０でなければ、ステップ６１７での判断は否定され、ステップ６２５に移行する。
【０１４９】
一方、ステップ６２７において、パワー増加量の差が閾値Ｓ２未満であれば、ステップ６２７での判断は肯定され、図１４のステップ６５１に移行する。
【０１５０】
このステップ６５１では、バイアスレベル電流Ｉｂｉ−２を、線形端電流Ｉｚとする。
【０１５１】
次のステップ６５３では、光ディスク１５の所定位置に記録されている光ディスク１５の識別情報を読み出す。
【０１５２】
次のステップ６５５では、光ディスク１５の識別情報に基づいて、ＲＯＭ３９のデータ領域に格納されているパワー情報を参照し、光ディスク１５に最適な記録パワー（ここではＰｗａとする）を抽出する。
【０１５３】
次のステップ６５７では、上記最適な記録パワーＰｗａに対応する駆動電流を推定し、ピークレベル電流Ｉｐに設定する。
【０１５４】
次のステップ６５９では、上記ステップ４０７と同様にして、ダミー記録用のテストデータを作成する。
【０１５５】
次のステップ６６１では、線形端電流Ｉｚに対応する信号をバイアス電流信号Ｓ１として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。また、ピークレベル電流Ｉｐと線形端電流Ｉｚとの差に対応する信号をピーク重畳信号Ｓ２として駆動信号生成回路２４ｃに出力する。
【０１５６】
次のステップ６６３では、ステップ４１５と同様にして、ダミー記録を行う。
【０１５７】
次のステップ６６５では、ステップ４１７と同様にして、ピークパワーＰｐ及びバイアスパワーＰｂを求める。
【０１５８】
次のステップ６６７では、次の（８）式に基づいて微分効率ηを求める。
【０１５９】
η＝（Ｐｐ−Ｐｂ）／（Ｉｐ−Ｉｚ）　…（８）
【０１６０】
次のステップ６６９〜６７９では、上記ステップ４３９〜４４９と同様な処理が行われる。
【０１６１】
また、上記実施形態では、試し書きの結果に対してＡＣ結合後のＲＦ信号のアシンメトリを評価基準として最適な記録パワーを求める場合について説明したが、これに限らず、例えばＲＦ信号のＤＣモジュレーションを評価基準としても良い。このＤＣモジュレーションＤＭは、次の（９）式に示されるように、ＲＦ信号の最大振幅Ｉｐ−ｐとＲＦ信号の最大値Ｉｍａｘとから算出される。
【０１６２】
ＤＭ＝Ｉｐ−ｐ／Ｉｍａｘ　……（９）
【０１６３】
また、上記実施形態では、前記記録制御プログラムは、ＲＯＭ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応するドライブ装置を付加し、各ドライブ装置から記録制御プログラムをインストールすることとなる。要するに、記録制御プログラムがＣＰＵ４０のメインメモリにロードされれば良い。
【０１６４】
また、上記実施形態では、Ｉ−Ｌ特性における異なる２点での発光特性に基づいて微分効率を求める場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではなく、３点以上での発光特性に基づいて微分効率を求めても良い。
【０１６５】
また、上記実施形態では、光ディスクがＤＶＤ−Ｒの場合について説明したが、これに限定されるものではなく、光源をパルス発光して情報を記録する情報記録媒体であれば良い。
【０１６６】
また、上記実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生及び消去のうち、少なくとも情報の記録が可能な光ディスク装置であれば良い。
【０１６７】
また、上実施形態では、光源が１つの場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。
【０１６８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る微分効率決定方法によれば、光源の発光パワーを制御するための微分効率を精度良く決定することができるという効果がある。
【０１６９】
また、本発明に係るプログラム及び記録媒体によれば、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができるという効果がある。
【０１７０】
また、本発明に係る記録方法及び情報記録装置によれば、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における光ピックアップ装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図３】図１における再生信号処理回路の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図４】図４（Ａ）は、図１におけるレーザコントロール回路の詳細構成を説明するためのブロック図であり、図４（Ｂ）は、レーザコントロール回路における信号波形を説明するためのタイミングチャートである。
【図５】本発明に係る第１の記録制御処理を説明するためのフローチャート（その１）である。
【図６】本発明に係る第１の記録制御処理を説明するためのフローチャート（その２）である。
【図７】ダミー記録用のテストデータを説明するための図である。
【図８】ダミー記録中における駆動電流ＩＤ、タイミング信号ＳＴ、及びサンプルホールド回路の出力信号ＳＢを説明するためのタイミングチャートである。
【図９】微分効率を求めるためのバイアスレベル信号の決定方法を説明するための図である。
【図１０】情報の記録中におけるタイミング信号ＳＴを説明するためのタイミングチャートである。
【図１１】情報の記録中におけるＲＦ信号及びサンプリングのタイミングを説明するためのタイミングチャートである。
【図１２】本発明に係る第２の記録制御処理を説明するためのフローチャートである。
【図１３】第１の記録制御処理の変形例を説明するためのフローチャート（その１）である。
【図１４】第１の記録制御処理の変形例を説明するためのフローチャート（その２）である。
【図１５】色素型ディスクにおける単パルス記録方式を説明するための図である。
【図１６】相変化型ディスクにおけるマルチパルス記録方式を説明するための図である。
【図１７】色素型ディスクにおけるマルチパルス記録方式を説明するための図である。
【図１８】バイアス電流とピーク電流とを説明するための図である。
【図１９】図１９（Ａ）及び図１９（Ｂ）は、それぞれ微分効率を説明するための図である。
【符号の説明】
１５…光ディスク（情報記録媒体）、２０…光ディスク装置（情報記録装置）、３９…ＲＯＭ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（境界推定手段、微分効率取得手段、記録条件設定手段、記録手段、記録パワー取得手段、試し書き手段、記録パワー補正手段）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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