【手続補正書】
【提出日】平成24年3月9日(2012.3.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８４】
本発明は、以下の形態として実現可能である。
［形態１］
第１の範囲内の質量電荷比を有する親イオン又は前駆イオンを伝送するために第１の動作モードに適応するように構成される第１の質量電荷比フィルタ又は第１の質量電荷比質量分析器と、
イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器と、
動作モードにおいてイオンを減衰又は逸らせるための減衰手段と、
衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置と、
前記第１の範囲内の質量電荷比を有するが１つ又は２つ以上の望ましくない第１の荷電状態を有するイオンが実質的に減衰されるように前記減衰手段の動作を制御するように構成され適応される制御装置と、
を備える、質量分析計。
［形態２］
形態１に記載の質量分析計であって、
前記第１の質量電荷比フィルタ又は第１の質量電荷比質量分析器は、前記第１の範囲外の質量電荷比を有するイオンを減衰させるために前記第１の動作モードに適応するように構成される、質量分析計。
［形態３］
形態１又は２に記載の質量分析計であって、
前記第１の範囲は、(i)＜５０、(ii)５０〜１００、(iii)１００〜１５０、(iv)１５０〜２００、(v)２００〜２５０、(vi)２５０〜３００、(vii)３００〜３５０、(viii)３５０〜４００、(ix)４００〜４５０、(x)４５０〜５００、(xi)５００〜５５０、(xii)５５０〜６００、(xiii)６００〜６５０、(xiv)６５０〜７００、(xv)７００〜７５０、(xvi)７５０〜８００、(xvii)８００〜８５０、(xviii)８５０〜９００、(xix)９００〜９５０、(xx)９５０〜１０００、(xxi)１０００〜１０５０、(xii)１０５０〜１１００、(xxiii)１１００〜１１５０、(xxiv)１１５０〜１２００、(xxv)１２００〜１２５０、(xxvi)１２５０〜１３００、(xvii)１３００〜１３５０、(xxviii)１３５０〜１４００、(xxix)１４００〜１４５０、(xxx)１４５０〜１５００、(xxxi)１５００〜１５５０、(xxxii)１５５０〜１６００、(xxxiii)１６００〜１６５０、(xxxiv)１６５０〜１７００、(xxxv)１７００〜１７５０、(xxxvi)１７５０〜１８００、(xxxvii)１８００〜１８５０、(xxxviii)１８５０〜１９００、(xxxix)１９００〜１９５０、(xl)１９５０〜２０００、及び(xli)＞２０００からなる群より選択される質量電荷比範囲内に入る、質量分析計。
［形態４］
形態１、２、又は３に記載の質量分析計であって、
前記第１の範囲は、(i)＜０．５原子質量単位、(ii)０．５〜１．０原子質量単位、(iii)１．０〜１．５原子質量単位、(iv)１．５〜２．０原子質量単位、(v)２．０〜２．５原子質量単位、(vi)２．５〜３．０原子質量単位、(vii)３．０〜３．５原子質量単位、(viii)３．５〜４．０原子質量単位、(ix)４．０〜４．５原子質量単位、(x)４．５〜５．０原子質量単位、及び(xi)＞５．０原子質量単位からなる群より選択される幅を有する、質量分析計。
［形態５］
形態１ないし４のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記減衰手段は、イオンゲート、イオン偏向器、又はイオン障壁を含む、質量分析計。
［形態６］
形態１ないし５のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器は、前記減衰手段の上流及び／又は下流に配置される、質量分析計。
［形態７］
形態１ないし６のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記減衰手段は、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の少なくとも一部に印加されるＡＣ若しくはＲＦの電圧又は電位の振幅を排除、減衰、又は低減させるための手段を含む、質量分析計。
［形態８］
形態７に記載の質量分析計であって、
使用時において、前記減衰手段は、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の少なくとも一部内にあるイオンが前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器内に放射状に閉じ込められないように、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の少なくとも一部に印加されるＡＣ若しくはＲＦの電圧又は電位の振幅を排除、減衰、又は低減させる、質量分析計。
［形態９］
形態１ないし８のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記減衰手段は、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の上流及び／又は下流に配置されるイオンガイド又はその他のイオン光学装置の少なくとも一部に印加されるＡＣ若しくはＲＦの電圧又は電位の振幅を排除、減衰、又は低減させるための手段を含む、質量分析計。
［形態１０］
形態９に記載の質量分析計であって、
使用時において、前記減衰手段が、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の上流及び／又は下流に配置される前記イオンガイド又はその他のイオン光学装置の少なくとも一部に印加されるＡＣ若しくはＲＦの電圧又は電位の振幅を排除、減衰、又は低減させるとき、前記イオンガイド又はその他のイオン光学装置の少なくとも一部内のイオンは、前記イオンガイド又はその他のイオン光学装置内に放射状に閉じ込められない、質量分析計。
［形態１１］
形態１ないし１０のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記減衰手段は、第１の期間又は第１の時間窓中にイオンを伝送するように構成される、質量分析計。
［形態１２］
形態１１に記載の質量分析計であって、
前記減衰手段は、第２の期間又は第２の時間窓中にイオンを減衰及び／又は逸らせるように構成され、前記第２の期間又は第２の時間窓は、前記第１の期間又は第１の時間窓と異なる、質量分析計。
［形態１３］
形態１２に記載の質量分析計であって、
前記減衰手段は、第３の期間又は第３の時間窓中にイオンを減衰及び／又は逸らせるように構成され、前記第３の期間又は第３の時間窓は、前記第２の期間又は第２の時間窓と異なり、前記第３の期間又は第３の時間窓は、前記第１の期間又は第１の時間窓とも異なる、質量分析計。
［形態１４］
形態１ないし１３のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第１の望ましくない荷電状態は、(i)一価、(ii)二価、(iii)三価、(iv)四価、(v)五価、及び(vi)多価のうちの１つ又は２つ以上から選択される、質量分析計。
［形態１５］
形態１ないし１４のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器は、ガス位相電気泳動装置を含む、質量分析計。
［形態１６］
形態１ないし１５のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器は、
(i)ドリフト管、
(ii)多重極ロッドセット若しくはセグメント化多重極ロッドセット、
(iii)イオントンネル若しくはイオンファネル、又は、
(iv)積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極、
を含む、質量分析計。
［形態１７］
形態１６に記載の質量分析計であって、
前記ドリフト管は、１つ又は２つ以上の電極と、前記ドリフト管の軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って軸方向ＤＣ電圧勾配又は実質的に一定若しくは直線状の軸方向ＤＣ電圧勾配を維持するための手段とを含む、質量分析計。
［形態１８］
形態１６に記載の質量分析計であって、
前記多重極ロッドセットは、四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセット、又は８を超えるロッドを含むロッドセットを含む、質量分析計。
［形態１９］
形態１６に記載の質量分析計であって、
前記イオントンネル又はイオンファネルは、使用時にイオンを通過させるアパーチャを有する複数の電極又は少なくとも２、５、１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０、８０、９０、若しくは１００個の電極を含み、前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、実質的に同じサイズを有するアパーチャ、又は同じ面積を有するアパーチャ、又はサイズ若しくは面積を漸進的に増大又は低減させるアパーチャを有する、質量分析計。
［形態２０］
形態１９に記載の質量分析計であって、
前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、(i)≦１．０ｍｍ、(ii)≦２．０ｍｍ、(iii)≦３．０ｍｍ、(iv)≦４．０ｍｍ、(v)≦５．０ｍｍ、(vi)≦６．０ｍｍ、(vii)≦７．０ｍｍ、(viii)≦８．０ｍｍ、(ix)≦９．０ｍｍ、(x)≦１０．０ｍｍ、及び(xi)＞１０．０ｍｍからなる群より選択される内径又は内部寸法を有する、質量分析計。
［形態２１］
形態１６に記載の質量分析計であって、
前記積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、複数の又は少なくとも２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８、１９、若しくは２０個の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極を含み、前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、使用時にイオンが移動する平面内に概して配置される、質量分析計。
［形態２２］
形態２１に記載の質量分析計であって、
前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも一部又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％は、ＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給され、隣り合う平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、逆位相の前記ＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給される、質量分析計。
［形態２３］
形態１ないし２２のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器は、複数の軸方向セグメント又は少なくとも５、１０、１５、２０、２５、３０、３５、４０、４５、５０、５５、６０、６５、７０、７５、８０、８５、９０、９５、若しくは１００個の軸方向セグメントを含む、質量分析計。
［形態２４］
形態１ないし２３のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の軸方向長さの少なくとも一部又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の軸方向長さの少なくとも一部又は少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、若しくは１００％に沿って実質的に一定のＤＣ電圧勾配を維持するためのＤＣ電圧手段を備える、質量分析計。
［形態２５］
形態１ないし２４のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器を構成する少なくとも一部の電極に１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧若しくは過渡ＤＣ電位又は１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧波形若しくは過渡ＤＣ電位波形を印加するように構成され適応される過渡ＤＣ電圧手段を備える、質量分析計。
［形態２６］
形態１ないし２５のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器を構成する電極に２つ又は３つ以上の位相シフトされたＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するように構成され適応されるＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段を備える、質量分析計。
［形態２７］
形態１ないし２６のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器は、(i)＜２０ｍｍ、(ii)２０〜４０ｍｍ、(iii)４０〜６０ｍｍ、(iv)６０〜８０ｍｍ、(v)８０〜１００ｍｍ、(vi)１００〜１２０ｍｍ、(vii)１２０〜１４０ｍｍ、(viii)１４０〜１６０ｍｍ、(ix)１６０〜１８０ｍｍ、(x)１８０〜２００ｍｍ、(xi)２００〜２２０ｍｍ、(xii)２２０〜２４０ｍｍ、(xiii)２４０〜２６０ｍｍ、(xiv)２６０〜２８０ｍｍ、(xv)２８０〜３００ｍｍ、及び(xvi)＞３００ｍｍからなる群より選択される軸方向長さを有する、質量分析計。
［形態２８］
形態１ないし２７のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器は、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器内にイオンを放射状に閉じ込めるために、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器を構成する電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％にＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するように構成され適応されるＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段をさらに含む、質量分析計。
［形態２９］
形態２８に記載の質量分析計であって、
前記ＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段は、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の電極に(i)＜５０Ｖ、(ii)５０〜１００Ｖ、(iii)１００〜１５０Ｖ、(iv)１５０〜２００Ｖ、(v)２００〜２５０Ｖ、(vi)２５０〜３００Ｖ、(vii)３００〜３５０Ｖ、(viii)３５０〜４００Ｖ、(ix)４００〜４５０Ｖ、(x)４５０〜５００Ｖ、及び(xi)＞５００Ｖからなる群より選択される最高最低振幅を有するＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給するように構成され適応される、質量分析計。
［形態３０］
形態２８又は２９に記載の質量分析計であって、
前記ＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段は、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の電極に(i)＜１００ｋＨｚ、(ii)１００〜２００ｋＨｚ、(iii)２００〜３００ｋＨｚ、(iv)３００〜４００ｋＨｚ、(v)４００〜５００ｋＨｚ、(vi)０．５〜１．０ＭＨｚ、(vii)１．０〜１．５ＭＨｚ、(viii)１．５〜２．０ＭＨｚ、(ix)２．０〜２．５ＭＨｚ、(x)２．５〜３．０ＭＨｚ、(xi)３．０〜３．５ＭＨｚ、(xii)３．５〜４．０ＭＨｚ、(xiii)４．０〜４．５ＭＨｚ、(xiv)４．５〜５．０ＭＨｚ、(xv)５．０〜５．５ＭＨｚ、(xvi)５．５〜６．０ＭＨｚ、(xvii)６．０〜６．５ＭＨｚ、(xviii)６．５〜７．０ＭＨｚ、(xix)７．０〜７．５ＭＨｚ、(xx)７．５〜８．０ＭＨｚ、(xxi)８．０〜８．５ＭＨｚ、(xxii)８．５〜９．０ＭＨｚ、(xxiii)９．０〜９．５ＭＨｚ、(xxiv)９．５〜１０．０ＭＨｚ、及び(xxv)＞１０．０ＭＨｚからなる群より選択される周波数を有するＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給するように構成され適応される、質量分析計。
［形態３１］
形態１ないし３０のいずれかに記載の質量分析計であって、
１〜１００、１００〜２００、２００〜３００、３００〜４００、４００〜５００、５００〜６００、６００〜７００、７００〜８００、８００〜９００、９００〜１０００、又は＞１０００の範囲の質量電荷比を有する一価イオンは、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器を通る(i)０〜１ｍｓ、(ii)１〜２ｍｓ、(iii)２〜３ｍｓ、(iv)３〜４ｍｓ、(v)４〜５ｍｓ、(vi)５〜６ｍｓ、(vii)６〜７ｍｓ、(viii)７〜８ｍｓ、(ix)８〜９ｍｓ、(x)９〜１０ｍｓ、(xi)１０〜１１ｍｓ、(xii)１１〜１２ｍｓ、(xiii)１２〜１３ｍｓ、(xiv)１３〜１４ｍｓ、(xv)１４〜１５ｍｓ、(xvi)１５〜１６ｍｓ、(xvii)１６〜１７ｍｓ、(xviii)１７〜１８ｍｓ、(xix)１８〜１９ｍｓ、(xx)１９〜２０ｍｓ、(xxi)２０〜２１ｍｓ、(xxii)２１〜２２ｍｓ、(xxiii)２２〜２３ｍｓ、(xxiv)２３〜２４ｍｓ、(xxv)２４〜２５ｍｓ、(xxvi)２５〜２６ｍｓ、(xxvii)２６〜２７ｍｓ、(xxviii)２７〜２８ｍｓ、(xxix)２８〜２９ｍｓ、(xxx)２９〜３０ｍｓ、(xxxi)３０〜３５ｍｓ、(xxxii)３５〜４０ｍｓ、(xxxiii)４０〜４５ｍｓ、(xxxiv)４５〜５０ｍｓ、(xxxv)５０〜５５ｍｓ、(xxxvi)５５〜６０ｍｓ、(xxxvii)６０〜６５ｍｓ、(xxxviii)６５〜７０ｍｓ、(xxxix)７０〜７５ｍｓ、(xl)７５〜８０ｍｓ、(xli)８０〜８５ｍｓ、(xlii)８５〜９０ｍｓ、(xliii)９０〜９５ｍｓ、(xliv)９５〜１００ｍｓ、及び(xlv)＞１００ｍｓの範囲のドリフト時間又は通過時間を有する、質量分析計。
［形態３２］
形態１ないし３１のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の少なくとも一部を(i)＞０．００１ミリバール、(ii)＞０．０１ミリバール、(iii)＞０．１ミリバール、(iv)＞１ミリバール、(v)＞１０ミリバール、(vi)＞１００ミリバール、(vii)０．００１〜１００ミリバール、(viii)０．０１〜１０ミリバール、及び(ix)０．１〜１ミリバールからなる群より選択される圧力に維持するように構成され適応される装置を備える、質量分析計。
［形態３３］
形態１ないし３２のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の少なくとも一部を(i)＜０．１ミリバール、(ii)≧０．１ミリバール、(iii)≧０．２ミリバール、(iv)≧０．３ミリバール、(v)≧０．４ミリバール、(vi)≧０．５ミリバール、(vii)≧０．６ミリバール、(viii)≧０．７ミリバール、(ix)≧０．８ミリバール、(x)≧０．９ミリバール、(xi)≧１．０ミリバール、(xii)≧１．１ミリバール、(xiii)≧１．２ミリバール、(xiv)≧１．３ミリバール、(xv)≧１．４ミリバール、(xvi)≧１．５ミリバール、(xvii)≧１．６ミリバール、(xviii)≧１．７ミリバール、(xix)≧１．８ミリバール、(xx)≧１．９ミリバール、(xxi)≧２．０ミリバール、(xxii)≧３．０ミリバール、(xxiii)≧４．０ミリバール、(xxiv)≧５．０ミリバール、(xxv)≧６．０ミリバール、(xxvi)≧７．０ミリバール、(xxvii)≧８．０ミリバール、(xxviii)≧９．０ミリバール、及び(xxix)≧１０．０ミリバールからなる群より選択される圧力に維持するように構成され適応される装置を備える、質量分析計。
［形態３４］
形態１ないし３３のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の少なくとも一部を(i)０．１〜０．５ミリバール、(ii)０．５〜１．０ミリバール、(iii)１．０〜１．５ミリバール、(iv)１．５〜２．０ミリバール、(v)２．０〜２．５ミリバール、(vi)２．５〜３．０ミリバール、(vii)３．０〜３．５ミリバール、(viii)３．５〜４．０ミリバール、(ix)４．０〜４．５ミリバール、(x)４．５〜５．０ミリバール、(xi)５．０〜５．５ミリバール、(xii)５．５〜６．０ミリバール、(xiii)６．０〜６．５ミリバール、(xiv)６．５〜７．０ミリバール、(xv)７．０〜７．５ミリバール、(xvi)７．５〜８．０ミリバール、(xvii)８．０〜８．５ミリバール、(xviii)８．５〜９．０ミリバール、(xix)９．０〜９．５ミリバール、及び(xx)９．５〜１０．０ミリバールからなる群より選択される圧力に維持するように構成され適応される装置を備える、質量分析計。
［形態３５］
形態１ないし３４のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、衝突誘起解離（ＣＩＤ）によってイオンを断片化するように構成され適応される、質量分析計。
［形態３６］
形態１ないし３４のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、(i)表面誘起解離（ＳＩＤ）フラグメンテーション装置、(ii)電子移動解離フラグメンテーション装置、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーション装置、(iv)電子衝突又は電子衝撃解離フラグメンテーション装置、(v)光誘起解離（ＰＩＤ）フラグメンテーション装置、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーション装置、(vii)赤外線放射誘起解離装置、(viii)紫外線放射誘起解離装置、(ix)ノズル−スキマ界面フラグメンテーション装置、(x)インソースフラグメンテーション装置、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーション装置、(xii)熱源又は温度源フラグメンテーション装置、(xiii)電場誘起フラグメンテーション装置、(xiv)磁場誘起フラグメンテーション装置、(xv)酵素消化又は酵素分解フラグメンテーション装置、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーション装置、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーション装置、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーション装置、(xix)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーション装置、(xx)イオン−準安定分子反応フラグメンテーション装置、(xxi)イオン−準安定原子反応フラグメンテーション装置、(xxii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−イオン反応装置、(xxiii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−分子反応装置、(xxiv)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−原子反応装置、(xxv)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定イオン反応装置、(xxvi)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定分子反応装置、及び(xxvii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定原子反応装置からなる群より選択される、質量分析計。
［形態３７］
形態１ないし３６のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、
(i)多重極ロッドセット若しくはセグメント化多重極ロッドセット、
(ii)イオントンネル若しくはイオンファネル、又は
(iii)積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極を含む、質量分析計。
［形態３８］
形態３７に記載の質量分析計であって、
前記多重極ロッドセットは、四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセット、又は８を超えるロッドを含むロッドセットを含む、質量分析計。
［形態３９］
形態３７に記載の質量分析計であって、
前記イオントンネル又はイオンファネルは、使用時にイオンを通過させるアパーチャを有する複数の電極又は少なくとも２、５、１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０、８０、９０、若しくは１００個の電極を含み、前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、実質的に同じサイズのアパーチャ、又は同じ面積のアパーチャ、又はサイズ若しくは面積を漸進的に増大又は低減させるアパーチャを有する、質量分析計。
［形態４０］
形態３９に記載の質量分析計であって、
前記電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、(i)≦１．０ｍｍ、(ii)≦２．０ｍｍ、(iii)≦３．０ｍｍ、(iv)≦４．０ｍｍ、(v)≦５．０ｍｍ、(vi)≦６．０ｍｍ、(vii)≦７．０ｍｍ、(viii)≦８．０ｍｍ、(ix)≦９．０ｍｍ、(x)≦１０．０ｍｍ、及び(xi)＞１０．０ｍｍからなる群より選択される内径又は内部寸法を有する、質量分析計。
［形態４１］
形態３７に記載の質量分析計であって、
前記積層状若しくは配列状の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、使用時にイオンが移動する平面内に概して配置される複数の又は少なくとも２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８、１９、若しくは２０個の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極を含み、前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、使用時にイオンが移動する平面内に概して配置される、質量分析計。
［形態４２］
形態３７に記載の質量分析計であって、さらに、
前記複数の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極にＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給するためのＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段を備え、隣り合う平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、逆位相の前記ＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給される、質量分析計。
［形態４３］
形態１ないし４２のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、複数の軸方向セグメント又は少なくとも５、１０、１５、２０、２５、３０、３５、４０、４５、５０、５５、６０、６５、７０、７５、８０、８５、９０、９５、若しくは１００個の軸方向セグメントを含む、質量分析計。
［形態４４］
形態１ないし４３のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を構成する電極に１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧若しくは過渡ＤＣ電位又は１つ若しくは２つ以上の過渡ＤＣ電圧波形若しくは過渡ＤＣ電位波形を印加するように構成され適応される過渡ＤＣ電圧手段を備える、質量分析計。
［形態４５］
形態１ないし４４のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を構成する電極に２つ又は３つ以上の位相シフトされたＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するように構成され適応されるＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段を備える、質量分析計。
［形態４６］
形態１ないし４５のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、(i)＜２０ｍｍ、(ii)２０〜４０ｍｍ、(iii)４０〜６０ｍｍ、(iv)６０〜８０ｍｍ、(v)８０〜１００ｍｍ、(vi)１００〜１２０ｍｍ、(vii)１２０〜１４０ｍｍ、(viii)１４０〜１６０ｍｍ、(ix)１６０〜１８０ｍｍ、(x)１８０〜２００ｍｍ、(xi)２００〜２２０ｍｍ、(xii)２２０〜２４０ｍｍ、(xiii)２４０〜２６０ｍｍ、(xiv)２６０〜２８０ｍｍ、(xv)２８０〜３００ｍｍ、及び(xvi)＞３００ｍｍからなる群より選択される軸方向長さを有する、質量分析計。
［形態４７］
形態１ないし４６のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内にイオンを放射状に閉じ込めるために、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の前記複数の電極の少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％にＡＣ電圧又はＲＦ電圧を印加するように構成され適応されるＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段をさらに含む、質量分析計。
［形態４８］
形態４７に記載の質量分析計であって、
前記ＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段は、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の前記複数の電極に(i)＜５０Ｖ、(ii)５０〜１００Ｖ、(iii)１００〜１５０Ｖ、(iv)１５０〜２００Ｖ、(v)２００〜２５０Ｖ、(vi)２５０〜３００Ｖ、(vii)３００〜３５０Ｖ、(viii)３５０〜４００Ｖ、(ix)４００〜４５０Ｖ、(x)４５０〜５００Ｖ、及び(xi)＞５００Ｖからなる群より選択される最高最低振幅を有するＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給するように構成され適応される、質量分析計。
［形態４９］
形態４７又は４８に記載の質量分析計であって、
前記ＡＣ電圧手段又はＲＦ電圧手段は、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の前記複数の電極に(i)＜１００ｋＨｚ、(ii)１００〜２００ｋＨｚ、(iii)２００〜３００ｋＨｚ、(iv)３００〜４００ｋＨｚ、(v)４００〜５００ｋＨｚ、(vi)０．５〜１．０ＭＨｚ、(vii)１．０〜１．５ＭＨｚ、(viii)１．５〜２．０ＭＨｚ、(ix)２．０〜２．５ＭＨｚ、(x)２．５〜３．０ＭＨｚ、(xi)３．０〜３．５ＭＨｚ、(xii)３．５〜４．０ＭＨｚ、(xiii)４．０〜４．５ＭＨｚ、(xiv)４．５〜５．０ＭＨｚ、(xv)５．０〜５．５ＭＨｚ、(xvi)５．５〜６．０ＭＨｚ、(xvii)６．０〜６．５ＭＨｚ、(xviii)６．５〜７．０ＭＨｚ、(xix)７．０〜７．５ＭＨｚ、(xx)７．５〜８．０ＭＨｚ、(xxi)８．０〜８．５ＭＨｚ、(xxii)８．５〜９．０ＭＨｚ、(xxiii)９．０〜９．５ＭＨｚ、(xxiv)９．５〜１０．０ＭＨｚ、及び(xxv)＞１０．０ＭＨｚからなる群より選択される周波数を有するＡＣ電圧又はＲＦ電圧を供給するように構成され適応される、質量分析計。
［形態５０］
形態１ないし４９のいずれかに記載の質量分析計であって、
１〜１００、１００〜２００、２００〜３００、３００〜４００、４００〜５００、５００〜６００、６００〜７００、７００〜８００、８００〜９００、９００〜１０００、又は＞１０００の範囲の質量電荷比を有する一価イオンは、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を通る(i)０〜１０μｓ、(ii)１０〜２０μｓ、(iii)２０〜３０μｓ、(iv)３０〜４０μｓ、(v)４０〜５０μｓ、(vi)５０〜６０μｓ、(vii)６０〜７０μｓ、(viii)７０〜８０μｓ、(ix)８０〜９０μｓ、(x)９０〜１００μｓ、(xi)１００〜１１０μｓ、(xii)１１０〜１２０μｓ、(xiii)１２０〜１３０μｓ、(xiv)１３０〜１４０μｓ、(xv)１４０〜１５０μｓ、(xvi)１５０〜１６０μｓ、(xvii)１６０〜１７０μｓ、(xviii)１７０〜１８０μｓ、(xix)１８０〜１９０μｓ、(xx)１９０〜２００μｓ、(xxi)２００〜２１０μｓ、(xxii)２１０〜２２０μｓ、(xxiii)２２０〜２３０μｓ、(xxiv)２３０〜２４０μｓ、(xxv)２４０〜２５０μｓ、(xxvi)２５０〜２６０μｓ、(xxvii)２６０〜２７０μｓ、(xxviii)２７０〜２８０μｓ、(xxix)２８０〜２９０μｓ、(xxx)２９０〜３００μｓ、及び(xxxi)＞３００μｓの範囲のドリフト時間又は通過時間を有する、質量分析計。
［形態５１］
形態１ないし５０のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の少なくとも一部を(i)＞０．０００１ミリバール、(ii)＞０．００１ミリバール、(iii)＞０．０１ミリバール、(iv)＞０．１ミリバール、(v)＞１ミリバール、(vi)＞１０ミリバール、(vii)０．０００１〜０．１ミリバール、及び(viii)０．００１〜０．０１ミリバールからなる群より選択される圧力に維持するように構成され適応される手段を備える、質量分析計。
［形態５２］
形態１ないし５１のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
イオンを加速して前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に入らせるように構成され適応される加速手段をさらに備え、動作モードにおいて、前記イオンの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％、又は１００％は、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に入る際に断片化又は反応を引き起こされる、質量分析計。
［形態５３］
形態１ないし５２のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
イオンが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に入る前に通り抜ける電位差を、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に入る際にイオンが実質的に断片化又は反応される相対的に高いフラグメンテーション又は反応の動作モードと、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に入る際に断片化又は反応されるイオンが大幅に少ない又は実質的にない相対的に低いフラグメンテーション又は反応の動作モードと、
の間で切り替える又は繰り返し切り替えるように構成され適応される制御システムを備える、質量分析計。
［形態５４］
形態５３に記載の質量分析計であって、
前記相対的に高いフラグメンテーション又は反応の動作モードにおいて、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に入るイオンは、(i)≧１０Ｖ、(ii)≧２０Ｖ、(iii)≧３０Ｖ、(iv)≧４０Ｖ、(v)≧５０Ｖ、(vi)≧６０Ｖ、(vii)≧７０Ｖ、(viii)≧８０Ｖ、(ix)≧９０Ｖ、(x)≧１００Ｖ、(xi)≧１１０Ｖ、(xii)≧１２０Ｖ、(xiii)≧１３０Ｖ、(xiv)≧１４０Ｖ、(xv)≧１５０Ｖ、(xvi)≧１６０Ｖ、(xvii)≧１７０Ｖ、(xviii)≧１８０Ｖ、(xix)≧１９０Ｖ、及び(xx)≧２００Ｖからなる群より選択される電位差を通して加速される、質量分析計。
［形態５５］
形態５３又は５４に記載の質量分析計であって、
前記相対的に低いフラグメンテーション又は反応の動作モードにおいて、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に入るイオンは、(i)≦２０Ｖ、(ii)≦１５Ｖ、(iii)≦１０Ｖ、(iv)≦５Ｖ、及び(v)≦１Ｖからなる群より選択される電位差を通して加速される、質量分析計。
［形態５６］
形態５３、５４、又は５５に記載の質量分析計であって、
前記制御システムは、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を、少なくとも１ｍｓ、５ｍｓ、１０ｍｓ、１５ｍｓ、２０ｍｓ、２５ｍｓ、３０ｍｓ、３５ｍｓ、４０ｍｓ、４５ｍｓ、５０ｍｓ、５５ｍｓ、６０ｍｓ、６５ｍｓ、７０ｍｓ、７５ｍｓ、８０ｍｓ、８５ｍｓ、９０ｍｓ、９５ｍｓ、１００ｍｓ、２００ｍｓ、３００ｍｓ、４００ｍｓ、５００ｍｓ、６００ｍｓ、７００ｍｓ、８００ｍｓ、９００ｍｓ、１ｓ、２ｓ、３ｓ、４ｓ、５ｓ、６ｓ、７ｓ、８ｓ、９ｓ、又は１０ｓごとに、前記相対的に高いフラグメンテーション又は反応の動作モードと前記相対的に低いフラグメンテーション又は反応の動作モードとの間で切り替えるように構成され適応される、質量分析計。
［形態５７］
形態１ないし５６のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、イオンのビームを受け取り、任意の特定の時間において少なくとも１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８、１９、又は２０の個別のイオングループ又はイオンパケットが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内に閉じ込められるなおかつ／又は隔離されるように前記イオンのビームを変換する又は分割するように構成され適応され、各イオングループ又は各イオンパケットは、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内に形成される個別の軸方向ポテンシャル井戸内に個別に閉じ込められ及び／又は隔離される、質量分析計。
［形態５８］
形態１ないし５７のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第１の質量電荷比フィルタ又は第１の質量電荷比質量分析器は、前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の上流及び／又は下流に配置される、質量分析計。
［形態５９］
形態５８に記載の質量分析計であって、
前記第１の質量電荷比フィルタ又は第１の質量電荷比分析器は、(i)四重極ロッドセット質量フィルタ、(ii)飛行時間型質量フィルタ又は飛行時間型質量分析器、(iii)ウィーンフィルタ、及び(iv)磁場セクタ型質量フィルタ又は磁場セクタ型質量分析器からなる群より選択される、質量分析計。
［形態６０］
形態１ないし５９に記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器の上流及び／又は下流に配置されるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域を備える、質量分析計。
［形態６１］
形態６０に記載の質量分析計であって、
前記イオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域は、イオンを捕捉、貯蔵、又は蓄積し、次いで、イオンを前記イオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域から周期的にパルス出力して前記イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器に入らせる又は向かわせるように構成される、質量分析計。
［形態６２］
形態１ないし６１のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
第２の質量電荷比フィルタ又は第２の質量電荷比分析器を備える、質量分析計。
［形態６３］
形態６２に記載の質量分析計であって、
前記第２の質量電荷比フィルタ又は第２の質量電荷比分析器は、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の上流及び／又は下流に配置される、質量分析計。
［形態６４］
形態６２又は６３に記載の質量分析計であって、
前記第２の質量電荷比フィルタ又は第２の質量電荷比分析器は、(i)四重極ロッドセット質量フィルタ、(ii)飛行時間型質量フィルタ又は飛行時間型質量分析器、(iii)ウィーンフィルタ、及び(iv)磁場セクタ型質量フィルタ又は磁場セクタ型質量分析器からなる群より選択される、質量分析計。
［形態６５］
形態１ないし６４のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
イオン源を備える、質量分析計。
［形態６６］
形態１ないし６５のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
(i)エレクトロスプレイイオン化（ＥＳＩ）イオン源、(ii)大気圧光イオン化（ＡＰＰＩ）イオン源、(iii)大気圧化学イオン化（ＡＰＣＩ）イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）イオン源、(v)レーザ脱離イオン化（ＬＤＩ）イオン源、(vi)大気圧イオン化（ＡＰＩ）イオン源、(vii)シリコン上脱離イオン化（ＤＩＯＳ）イオン源、(viii)電子衝撃（ＥＩ）イオン源、(ix)化学イオン化（ＣＩ）イオン源、(x)電界イオン化（ＦＩ）イオン源、(xi)電界脱離（ＦＤ）イオン源、(xii)誘導結合プラズマ（ＩＣＰ）イオン源、(xiii)高速原子衝撃（ＦＡＢ）イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析（ＬＳＩＭＳ）イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレイイオン化（ＤＥＳＩ）イオン源、(xvi)ニッケル６３放射性イオン源、及び(xvii)サーモスプレイイオン源からなる群より選択されるイオン源を備える、質量分析計。
［形態６７］
形態６５又は６６に記載の質量分析計であって、さらに、
連続イオン源又はパルスイオン源を備える、質量分析計。
［形態６８］
形態１ないし６７のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置の上流及び／又は下流に配置される質量分析器を備える、質量分析計。
［形態６９］
形態６８に記載の質量分析計であって、
前記質量分析器は、(i)フーリエ変換（ＦＴ）質量分析器、(ii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴（ＦＴＩＣＲ）質量分析器、(iii)飛行時間型（ＴＯＦ）質量分析器、(iv)直交加速方式飛行時間型（ｏａＴＯＦ）質量分析器、(v)軸方向加速方式飛行時間型質量分析器、(vi)磁場セクタ型質量分析器、(vii)Paul型又は３Ｄ型の四重極質量分析器、(viii)２Ｄ型又は直線型の四重極質量分析器、(ix)Penningトラップ質量分析器、(x)イオントラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換オービトラップ、(xii)静電型イオンサイクロトロン共鳴質量分析計、(xiii)静電型フーリエ変換質量分析計、及び(xiv)四重極ロッドセット質量フィルタ又は四重極ロッドセット質量分析器からなる群より選択される、質量分析計。
［形態７０］
第１の範囲内の質量電荷比を有する親イオン又は前駆イオンを伝送することと、
イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器を提供することと、
動作モードにおいてイオンを減衰させる又は逸らせるための減衰手段を提供することと、
衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を提供することと、
前記第１の範囲内の質量電荷比を有するが１つ又は２つ以上の望ましくない荷電状態を有するイオンが実質的に減衰されるように前記減衰手段の動作を制御することと、
を備える質量分析方法。
［形態７１］
イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器と、イオン減衰手段との組み合わせと、
衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置と、
を備え、
動作モードにおいて、特定の質量電荷比及び特定の荷電状態の両方を有する親イオン又は前駆イオンのみが前記組み合わせによって前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置へと前方に伝送される、質量分析計。
［形態７２］
形態７１に記載の質量分析計であって、
前記動作モードにおいて、二価又は多価の親イオン又は前駆イオンが前記組み合わせによって前方に伝送される一方で、一価の親イオン又は前駆イオンは前記組み合わせによって実質的に減衰される、質量分析計。
［形態７３］
イオン移動度分析計又はイオン移動度分離器と、イオン減衰手段との組み合わせを提供することと、
衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を提供することと、
特定の質量電荷比及び特定の荷電状態の両方を有する親イオン又は前駆イオンのみが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置へと前方に伝送されるように、前記組み合わせを動作させることと、
を備える質量分析方法。
［形態７４］
形態７３に記載の質量分析計であって、
二価又は多価の親イオン又は前駆イオンが前記組み合わせによって前方に伝送される一方で、一価の親イオン又は前駆イオンは前記組み合わせによって実質的に減衰される、質量分析計。
例示目的で提示される装置構成とともに、本発明の様々な実施形態が、以下の添付の図面を参照にしつつ、単なる例として説明される。