【手続補正書】
【提出日】平成24年6月8日(2012.6.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも２つの顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）および対象物培地（５ａ、５ｂ）の監視および／または培養のための機器であって、
−スライド（２）を備え、該スライドは、該スライドの上面（２Ａ）に少なくとも２つの凹部（３ａ、３ｂ）を備え、
−各凹部（３ａ、３ｂ）は、各それぞれの顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）および対象物培地（５ａ、５ｂ）を保持するために該凹部よりも小さい断面を有する窪み（４ａ、４ｂ）を備え、
−該スライド（３ａ、３ｂ）は、該培地（５ａ、５ｂ）が相互に流体連通しないように、該凹部（３ａ、３ｂ）間に共通の重層（７）を提供するためのリザーバ（６ａ、６ｂ）を提供される、機器。
【請求項２】
前記スライド（２）は、各凹部を一意的に識別する手段を備える、請求項１に記載の機器。
【請求項３】
少なくとも前記凹部（３ａ、３ｂ）および／または前記窪み（４ａ、４ｂ）は、前記スライド（２）上の少なくとも該凹部（３ａ、３ｂ）および／または該窪み（４ａ、４ｂ）の輪郭に対応する底面プロファイル（２０）を呈し、そのプロファイル（２０）の微細構造は、スライドホルダの対応する微細構造に一致するように適合される、請求項１または２に記載の機器。
【請求項４】
前記底面プロファイル（２０）の少なくとも一部分には、熱伝導層（２３ａ、２３ｂ）が提供される、請求項３に記載の機器。
【請求項５】
前記機器の少なくとも一部分には、操作突出部（７０）が提供される、請求項１〜４のいずれか一項に記載の機器。
【請求項６】
前記リザーバ（６）は、前記上面（２Ａ）内の共通の陥凹部（６Ｂ）である、請求項１〜５のいずれか一項に記載の機器。
【請求項７】
前記リザーバ（６）は、前記少なくとも２つの凹部（３ａ、３ｂ）間の流体連通部（６Ｂ）である、請求項１〜６のいずれか一項に記載の機器。
【請求項８】
前記底面プロファイル（２０）は、対応するスライドホルダに一致するように適合される、請求項３〜７のいずれか一項に記載の機器。
【請求項９】
前記凹部は、前記スライド（２）上に、該凹部の輪郭に対応する底面プロファイル（２０）を呈し、そのプロファイル（２０）は、熱伝導層（２３）を提供される、請求項１〜８のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１０】
前記熱伝導層（２３）は、熱源への接続に適合される、請求項４〜９のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１１】
前記熱伝導層（２３）は、前記スライド（２）の前記上面（２Ａ）の少なくとも一部分、好ましくは、前記窪み（４ａ、４ｂ）および／または前記凹部（３ａ、３ｂ）の内面の少なくとも一部分を提供する、請求項４〜１０のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１２】
前記上面（２Ａ）および／または底部分（２Ｂ）の少なくとも一部分には、前記操作突出部（７０）が提供される、請求項５〜１１のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１３】
前記操作突出部（７０）の少なくとも一部分は、前記スライドから上方および／または下方に垂直方向に延出している、請求項５〜１２のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１４】
前記操作突出部（７０）は、フィンを備える、請求項５〜１３のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１５】
前記顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）は、成長中の細胞培養、具体的には、発生中の胚等の顕微鏡有機体である、請求項１〜１４のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１６】
一連の凹部（３ａ、３ｂ）が提供される、請求項１〜１５のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１７】
前記凹部（３ａ、３ｂ）は、少なくとも１つの方向に相互に等距離に配置される、請求項１６に記載の機器。
【請求項１８】
各凹部（３ａ、３ｂ）および／または窪み（４ａ、４ｂ）の寸法は、選択される用途に適合される、請求項１〜１７のいずれか一項に記載の機器。
【請求項１９】
凹部および／または窪みの垂直切断面は、円柱状、テーパ状、円錐状、スリット状、ピラミッド状、台形状、円形の一部、または実質的に円形、あるいは任意のそれらの組み合わせを含む群のうちのいずれかの形状を保持する、請求項１〜１８のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２０】
凹部および／または窪みの水平切断面は、円形、楕円形、長方形、ひし型、または６角形、あるいは任意のそれらの組み合わせを含む群のうちのいずれかの形状を保持する、請求項１〜１９のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２１】
前記凹部は、前記顕微鏡対象物を前記窪みに誘導するための漏斗部の形式の実質的に平滑な底部分をさらに備え、該漏斗部の形式は、水平断面から成る群から選択される、請求項１〜２０のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２２】
窪みおよび／または凹部の寸法は、実質的に等しい直径および深さを有する、請求項１〜２１のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２３】
前記窪み（４；４ａ、４ｂ）の寸法は、前記凹部（３；３ａ、３ｂ）の直径に比べて小さくなるように選択され、監視／培養される前記対象物の大きさに対して、該対象物の直径の約１．１ｘから１０ｘであり、好ましくは、該監視／培養される対象物の直径の１．５ｘから３ｘである、請求項１〜２２のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２４】
前記少なくとも２つの凹部の直径は、用途に応じて、１ｍｍと２５ｍｍとの間であり、好ましくは、２ｍｍから５ｍｍまでであり、最も好ましくは、約４．０ｍｍである、請求項１〜２３のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２５】
前記窪みの各々は、それらのそれぞれの凹部内の実質的に中心に提供される、請求項１〜２４のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２６】
各窪みの底部分は、実質的に平面である、請求項１〜２５のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２７】
少なくとも各窪みの底部分は、透明である、請求項１〜２６のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２８】
前記スライドの寸法は、２５ｍｍｘ７６ｍｍ等の、標準的および／または特別に適合された顕微鏡システムおよび／または培養システム内に嵌合するような寸法である、請求項１〜２７のいずれか一項に記載の機器。
【請求項２９】
各凹部を一意的に識別する前記手段は、前記スライドにおいて少なくとも１つの配置マーカを備える、請求項１〜２８のいずれか一項に記載の機器。
【請求項３０】
前記少なくとも１つの配置マーカは、スライドホルダ上の対応する部分を係合可能である陥没または突出部分である、請求項２９に記載の機器。
【請求項３１】
各凹部を一意的に識別する前記手段は、前記スライドにおける凹部の行を識別するための少なくとも１つのマーカと、凹部の列を識別するための少なくとも１つのマーカとを備える、請求項１〜３０のいずれか一項に記載の機器。
【請求項３２】
少なくとも２つの顕微鏡対象物の監視および／または培養を実行するように配設されるシステムであって、少なくとも２つの顕微鏡対象物および対象物培地を取り扱うための機器を備え、
該機器は、スライドを備え、該スライドは、該スライドの上面に少なくとも２つの凹部を備え、各凹部は、各それぞれの顕微鏡対象物および対象物培地を保持するための該凹部よりも小さい断面を有する窪みを備え、
少なくとも該窪みは、該スライド上の該窪みの輪郭に対応する底面プロファイルを呈し、
該システムには、少なくとも該少なくとも２つの窪みの輪郭に少なくとも対応する該底面プロファイルを一致させるように適合されるスライドホルダを備える配置手段がさらに提供される、システム。
【請求項３３】
少なくとも２つの顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）の監視および／または培養を実行するように配設されるシステムであって、請求項１〜３１のいずれか一項に記載の機器と、該機器を保持するための配置手段とを備える、システム。
【請求項３４】
−顕微鏡をさらに備え、前記配置手段は、該配置手段に対して該顕微鏡の下に前記機器を配置するように配設されるか、および／または、
−前記少なくとも２つの顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）を培養するための温度を提供することに適した熱源をさらに備え、該配置手段は、該熱源への熱接触を確実にするように使用される、請求項３２または３３に記載のシステム。
【請求項３５】
前記配置手段は、スライドホルダを備え、該スライドホルダは、少なくとも前記少なくとも２つの窪みの輪郭に少なくとも対応する前記底面プロファイルに一致させるように適合される、請求項３２〜３４のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項３６】
所定の安定温度を少なくとも前記窪みに提供するように適合される熱伝導層がさらに提供され、その温度は、培養、具体的には、前記少なくとも２つの顕微鏡対象物のインキュベーションに適している、請求項３２〜３５のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項３７】
前記機器の底面プロファイル（２３）が、前記熱源への接続に適合された熱伝導層を提供されている、請求項３〜３１のいずれか一項に記載の機器を参照する請求項３２〜３６のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項３８】
前記配置手段は、
−前記スライドホルダを貫通する少なくとも１つの垂直孔と、
−垂直光を提供するレーザ等の発光体と、
−該スライドホルダが監視および／または培養のための正確な位置にある場合に、発光される光を検知するための、該発光体に対して前記スライド（２）の反対側にある光センサと、
をさらに備える、請求項３２〜３７のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項３９】
前記配置手段は、前記顕微鏡および／または前記熱源に対して前記機器を自動的に配置するための制御ユニットをさらに備える、請求項３２〜３８のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項４０】
前記制御ユニットは、安定的なインキュベーター環境のために前記熱源の温度を制御するように適合され、および／または撮像手段を使用して前記顕微鏡対象物の画像を監視および／または収集するように適合され、および／または該対象物の品質査定のために該画像を分析し、および／または交換スライドの記録を保持する、請求項３９に記載のシステム。
【請求項４１】
代謝活動の非侵襲性測定を実行するための手段をさらに備え、該手段は、例えば、ｐＨ、酸素含有量などを測定するためのマイクロセンサを備える、請求項３２〜４０のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項４２】
２つ以上の機器を備える、請求項３２〜４１のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項４３】
請求項２〜３１のいずれか一項に記載の機器を取り扱うための方法であって、請求項３２〜３６のいずれか一項に記載のシステムのスライドホルダを備える対応する配置手段に、少なくとも前記少なくとも２つの窪みの輪郭に少なくとも対応する該機器の前記底面プロファイル（２０）を一致させるステップによって、該システム内に該機器を配置するステップを含む、方法。
【請求項４４】
前記顕微鏡および／または前記少なくとも２つの顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）を培養するための温度の提供に適切である前記熱源に対して下に、前記機器を配置するステップを含む、請求項３２〜３６のいずれか一項に記載のシステムにおける機器の監視および／または培養のための方法。
【請求項４５】
前記システムのスライドホルダを備える対応する配置手段に、少なくとも前記少なくとも２つの窪みの輪郭に少なくとも対応する前記機器の前記底面プロファイル（２０）を一致させるステップをさらに含む、請求項４４に記載の方法。
【請求項４６】
一致させる前記ステップは、前記スライドの前記上面を実質的に水平方向に保持し、該スライドを前記スライドホルダの上の位置に移動し、該スライドホルダ上に、該スライドを垂直方向に降下させることによって実行される、請求項４５に記載の方法。
【請求項４７】
前記少なくとも２つの顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）の顕微鏡検査を実行するステップは、手動的または自動的のいずれかで、そして、後に続いてまたは実質的に同時にのいずれかで実行される、請求項４５または４６に記載の方法。
【請求項４８】
培養に適切な所定の温度をある期間、前記熱伝導層に提供するステップをさらに含む、請求項２８〜４２のいずれか一項に記載のシステムにおける請求項４３〜４７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項４９】
前記熱源は、前記スライド、前記スライドホルダ、および／または前記突出部に接続される、請求項４３〜４８のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５０】
−対象物培地（５ａ、５ｂ）が相互に流体連通しないように、少なくとも前記窪み（４ａ、４ｂ）の各々に該培地（５ａ、５ｂ）を提供するステップと、
−該少なくとも２つの窪み（４ａ、４ｂ）の各々に顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）を提供するステップと、
−該培地（５ａ、５ｂ）が相互に流体連通しないように、前記少なくとも１つのリザーバ（６）内に共通の重層（７）を提供するステップと、
−該少なくとも２つの顕微鏡対象物の監視および／または培養を実行するステップと
をさらに含む、請求項４３〜４４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５１】
前記顕微鏡対象物（１ａ、１ｂ）は、単一細胞培養等の体外細胞培養、卵母細胞等の胚、胚、原形質体、細胞質体等、および／または細菌、生体試料、ならびに任意のそれらの組み合わせを含む群から選択される顕微鏡有機体である、請求項４３〜５０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５２】
前記共通の重層は、流体、半固体、および／または固体であり、好ましくは、培養温度中には流体である、請求項４３〜５１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５３】
前記対象物培地は、流体、半固体、および／または固体であり、好ましくは、培養温度には流体である、請求項４３〜５２のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５４】
前記配置するステップは、
−少なくとも１つの垂直光ビームを提供するためのレーザ光等の光を発光するステップと、
−該少なくとも１つの光ビームが、前記スライドホルダを貫通する前記少なくとも１つの垂直孔を通過し、かつ、前記スライドの反対側における前記センサによって検知されるまで、前記顕微鏡および／または前記熱源に対して該スライドを配置するステップと
をさらに含む、請求項４３〜５３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５５】
安定的なインキュベーター環境のために前記熱源の温度を制御するステップ、および／または撮像手段を使用して前記顕微鏡対象物の画像を監視および／または収集し、および／または該対象物の品質査定のために該画像を分析し、および／または交換スライドの記録を保持するステップをさらに含む、請求項４３〜５４のいずれか一項に記載の方法。