【手続補正書】
【提出日】平成26年1月27日(2014.1.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ほぼ大気圧またはそれを超えた圧力で動作する第１の圧力領域であって、
イオン源からサンプルイオンを受け取り、かつ選択されたサンプルイオンの第１のセットを通過させるための第１のＤＭＳフィルタを含む第１の圧力領域と、
ほぼ大気圧より低い圧力で動作する、前記第１の圧力領域と連通した第２の圧力領域であって、
選択されたサンプルイオンの前記第１のセットを加速するための分離領域と、
選択されたサンプルイオンの第２のセットを通過させるための第２のＤＭＳフィルタと、を含む第２の圧力領域と、
を含むサンプル分析システム。
【請求項２】
約１Ｔｏｒｒ未満で動作する、前記第２の圧力領域と連通した第３の圧力領域であって、
選択されたサンプルイオンの前記第２のセットを受け取るためのイオン光学要素を含む第３の圧力領域を含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
約１０−４Ｔｏｒｒ未満で動作する、前記第３の圧力領域と連通した第４の圧力領域であって、
質量分析器を含む第４の圧力領域を含む、請求項２に記載のシステム。
【請求項４】
少なくとも１つの試薬を導入するための、前記第１の圧力領域と連通したドーパント入口を含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
カーテンガスおよび搬送ガスの少なくとも１つを導入するための、前記第１の圧力領域と連通したガス入口を含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
ｉ）イオンのデクラスタリング、ｉｉ）イオンの脱溶媒和、ｉｉｉ）試薬を用いた、イオンの再クラスタリングの加速、およびｉｖ）ドーパントまたは試薬を用いた、イオン用のクラスタリング平衡のシフト、の少なくとも１つを実行するように構成された少なくとも１つの加熱領域を含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項７】
前記少なくとも１つの加熱領域における温度を制御するための少なくとも１つの調整可能な加熱要素を含む、請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
前記第１または第２の圧力領域内に加熱領域を含み、前記加熱領域が、前記サンプルイオンの望ましくないクラスタの除去、および少なくとも１つの試薬を用いた前記サンプルイオンの再クラスタリングの加速の少なくとも１つを実行するように構成される、請求項４に記載のシステム。
【請求項９】
前記少なくとも１つの試薬を用いて、前記サンプルイオンの一部をクラスタリングするために前記第１の圧力領域に反応領域を含む、請求項４に記載のシステム。
【請求項１０】
イオン源と、
前記イオン源からのイオンフローと、
少なくとも１つの修飾剤を前記イオンフローに導入するための反応領域と、
前記反応領域から前記イオンフローを受け取るための、ほぼ大気圧で動作する第１のＤＭＳであって、第１の移動度ベースのフィルタ動作を前記イオンフローに対して実行する第１のＤＭＳと、
前記第１のＤＭＳから前記イオンフローを受け取るための、大気圧より低い圧力で動作するデクラスタリング領域と、
前記デクラスタリング領域から前記イオンフローを受け取り、かつ第２の移動度ベースのフィルタ動作を前記イオンフローに対して実行するための、大気圧より低い圧力で動作する第２のＤＭＳと、
を含むイオン分析器。
【請求項１１】
前記第２のＤＭＳから前記イオンフローを受け取るための質量分光計を含む、請求項１０に記載の分析器。
【請求項１２】
前記質量分光計が質量分析器を含む、請求項１１に記載の分析器。
【請求項１３】
ｉ）イオンのデクラスタリング、ｉｉ）イオンの脱溶媒和、ｉｉｉ）試薬を用いた、イオンの再クラスタリングの加速、およびｉｖ）ドーパントまたは試薬を用いた、イオン用のクラスタリング平衡のシフト、の少なくとも１つを実行するように構成された少なくとも１つの加熱領域を含む、請求項１０に記載の分析器。
【請求項１４】
前記第１のＤＭＳが、クラスタリングモデル機構に基づいて分離を実行する、請求項１０に記載の分析器。
【請求項１５】
前記第２のＤＭＳが、剛体球衝突モデル機構に基づいて分離を実行する、請求項１４に記載の分析器。
【請求項１６】
前記イオンフローを前記第２のＤＭＳに供給するために、前記第２のＤＭＳの上流にイオンガイドを含む、請求項１０に記載の分析器。
【請求項１７】
イオン源と、
前記イオン源からのイオンフローと、
前記イオンフローからのイオンの第１の部分を修飾して、イオンの前記第１の部分に関連するα関数を変更するための第１の手段と、
イオンの前記第１の部分を受け取り、微分移動度分離を行い、かつイオンの第２の部分を出力する第１のＤＭＳと、
イオンの前記第２の部分を修飾して、イオンの前記第２の部分に関連する前記α関数を変更するための第２の手段と、
イオンの前記第２の部分を受け取り、微分移動度分離を行い、かつイオンの第３の部分を出力する第２のＤＭＳと、
を含むイオン分析システム。
【請求項１８】
修飾するための前記手段が、反応領域、クラスタリング領域、分離領域、およびデクラスタリング領域の少なくとも１つを含む、請求項１７に記載のシステム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
さらに別の態様において、イオン分析システムには、イオン源と、イオン源からのイオンフローと、イオンフローからのイオンの第１の部分を修飾して、イオンの第１の部分に関連するイオン種のそれぞれに対して特定のα関数を提供するための第１の手段と、イオンの第１の部分を受け取り、微分移動度分離を行い、かつイオンの第２の部分を出力するように構成された第１のＤＭＳと、イオンの第２の部分を修飾して、イオンの第２の部分に関連するα関数を変更する第２の手段と、イオンの第２の部分を受け取り、微分移動度分離を行い、かつイオンの第３の部分を出力するように構成された第２のＤＭＳと、が含まれる。修飾用の手段には、反応領域、クラスタリング領域、分離領域、および／またはデクラスタリング領域を含んでもよい。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
（項目１）
低圧分離領域と、
微分移動度分光計であって、
少なくとも一対のフィルタ電極であって、前記フィルタ電極間にイオンフロー経路を画定し、サンプルイオンの移動度特性に基づいて前記サンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成するフィルタ電極と、
前記フィルタ電極の少なくとも１つにＲＦおよびＤＣ電圧を供給して前記電界を生成する電圧源と、
前記低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るためのイオン入口と、
前記サンプルイオンの前記選択された部分を出力するためのイオン出口と、含む微分移動度分光計と、
前記サンプルイオンにおける前記選択された部分のいくらかまたは全てを受け取るための質量分光計と、
を含む質量分析システム。
（項目２）
前記分離領域が、衝突領域、脱溶媒和領域、およびデクラスタリング領域の少なくとも１つを含む、項目１に記載のシステム。
（項目３）
前記低圧分離領域が、前記サンプルイオンを加速するように構成される、項目２に記載のシステム。
（項目４）
前記低圧分離領域が、前記サンプルイオンのデクラスタリングおよび断片化の少なくとも１つを実行するように構成される、項目３に記載のシステム。
（項目５）
前記微分移動度分光計、および前記低圧分離領域の一部における圧力が、ほぼ大気圧より低い、項目１に記載のシステム。
（項目６）
前記微分移動度分光計および前記低圧分離領域の一部における前記圧力が、約１００Ｔｏｒｒ未満である、項目５に記載のシステム。
（項目７）
前記イオンフロー経路の圧力が、前記低圧分離領域の一部における前記圧力とほぼ同じである、項目１に記載のシステム。
（項目８）
前記低圧分離領域、および前記微分移動度分光計と前記低圧分離領域との間の中間領域の少なくとも１つに位置する少なくとも１つのイオンガイドを含む、項目１に記載のシステム。
（項目９）
前記少なくとも１つのイオンガイドが、少なくとも１つのイオン集束要素を含む、項目７に記載のシステム。
（項目１０）
前記イオン集束要素が、ＲＦロッド、ＲＦリング、ＲＦレンズ、ＤＣレンズ、ＤＣリング、偏向板、およびグリッドの少なくとも１つを含む、項目８に記載のシステム。
（項目１１）
前記低圧分離領域が、イオン源から前記サンプルイオンのフローを受け取るように構成される、項目１に記載のシステム。
（項目１２）
前記フローが、前記分離領域から真空抵抗によって形成される、項目１１に記載のシステム。
（項目１３）
前記イオン源が、第２の微分移動度分光計を含む、項目１０に記載のシステム。
（項目１４）
前記第２の微分移動度分光計が、ほぼ大気圧またはその上の圧力で動作する、項目１１に記載のシステム。
（項目１５）
前記低圧分離領域が、自由噴流膨張内でイオンを加速するように構成される、項目１０に記載のシステム。
（項目１６）
ハウジングであって、前記微分移動度分光計をほぼ取り囲むハウジングを含む、項目１に記載のシステム。
（項目１７）
前記ハウジングが、前記低圧分離領域をほぼ取り囲む、項目１６に記載のシステム。
（項目１８）
前記ハウジングが、前記サンプルイオンを受け取るためのハウジング入口を含む、項目１７に記載のシステム。
（項目１９）
前記ハウジングが、選択されたサンプルイオンの前記部分を前記質量分光計に出力するために、前記イオン出口と連通したハウジング出口を含む、項目１６に記載のシステム。
（項目２０）
前記質量分光計が、前記ハウジング出口を介して、前記サンプルイオンの前記選択された部分を受け取るための少なくとも１つのイオン光学要素を含む、項目１９に記載のシステム。
（項目２１）
前記質量分光計が、前記少なくとも１つのイオン光学要素と連通した質量分析器を含む、項目２０に記載のシステム。
（項目２２）
前記フィルタ電極の少なくとも１つと通じた絶縁材料を含む、項目１に記載のシステム。
（項目２３）
ｉ）イオンのデクラスタリング、ｉｉ）イオンの脱溶媒和、ｉｉｉ）試薬を用いたイオンの再クラスタリングの加速、およびｉｖ）ドーパントまたは試薬を用いた、イオン用のクラスタリング平衡のシフト、の少なくとも１つを実行するように構成された少なくとも１つの加熱領域を含む、項目１に記載のシステム。
（項目２４）
前記微分移動度分光計、および前記低圧分離領域の一部における圧力が、約５０〜約７６０Ｔｏｒｒである、項目１に記載のシステム。
（項目２５）
前記微分移動度分光計が４つの電極を含む、項目１に記載のシステム。
（項目２６）
サンプルを分析するための方法であって、
低圧分離領域にサンプルイオンを通過させることと、
少なくとも一対のフィルタ電極の少なくとも一電極にＲＦおよびＤＣ電圧を印加することと、
前記少なくとも一対のフィルタ電極間のフロー経路に電界を生成することと、
前記サンプルイオンの移動度特性に基づいて前記サンプルイオンの選択された部分を電界に通過させることと、
前記質量分光計において、前記サンプルイオンの前記選択された部分のいくらかまたは全てを受け取ることと、
を含む方法。
（項目２７）
前記低圧分離領域において前記サンプルイオンを加速することを含む、項目２６に記載の方法。
（項目２８）
前記低圧分離領域における前記サンプルイオンのデクラスタリングおよび断片化の少なくとも１つを実行することを含む、項目２７に記載の方法。
（項目２９）
前記フロー経路、および前記低圧分離領域の一部における圧力が、約７６０Ｔｏｒｒ未満である、項目２６に記載の方法。
（項目３０）
前記フロー経路、および前記低圧分離領域の一部における圧力が、約１００Ｔｏｒｒ未満である、項目２９に記載の方法。
（項目３１）
前記イオンフロー経路の圧力が、前記低圧分離領域の圧力の一部とほぼ同じである、項目２６に記載の方法。
（項目３２）
前記低圧分離領域および中間領域の少なくとも１つを通して前記サンプルイオンを案内することを含む、項目２６に記載の方法。
（項目３３）
前記案内が、少なくとも１つのイオン集束要素を含むイオンガイドによって実行される、項目３２に記載の方法。
（項目３４）
前記イオン集束要素が、ＲＦロッド、ＲＦリング、ＲＦレンズ、ＤＣリング、ＤＣレンズ、偏向板、およびグリッドの少なくとも１つを含む、項目３３に記載の方法。
（項目３５）
イオン源からの前記サンプルイオンのフローを前記低圧分離領域において受け取ることを含む、項目２６に記載の方法。
（項目３６）
ｉ）イオンのデクラスタリング、ｉｉ）イオンの脱溶媒和、ｉｉｉ）試薬を用いたイオンの再クラスタリングの加速、およびｉｖ）ドーパントまたは試薬を用いた、イオン用のクラスタリング平衡のシフト、の少なくとも１つを実行するように構成された少なくとも１つの加熱領域を設けることを含む、項目２６に記載の方法。
（項目３７）
前記少なくとも一対のフィルタ電極が、４つの電極を含む、項目２６に記載の方法。
（項目３８）
ほぼ大気圧またはそれを超えた圧力で動作する第１の圧力領域であって、
イオン源からサンプルイオンを受け取り、かつ選択されたサンプルイオンの第１のセットを通過させるための第１のＤＭＳフィルタを含む第１の圧力領域と、
ほぼ大気圧より低い圧力で動作する、前記第１の圧力領域と連通した第２の圧力領域であって、
選択されたサンプルイオンの前記第１のセットを加速するための分離領域と、
選択されたサンプルイオンの第２のセットを通過させるための第２のＤＭＳフィルタと、を含む第２の圧力領域と、
を含むサンプル分析システム。
（項目３９）
約１Ｔｏｒｒ未満で動作する、前記第２の圧力領域と連通した第３の圧力領域であって、
選択されたサンプルイオンの前記第２のセットを受け取るためのイオン光学要素を含む第３の圧力領域を含む、項目３８に記載のシステム。
（項目４０）
約１０−４Ｔｏｒｒ未満で動作する、前記第３の圧力領域と連通した第４の圧力領域であって、
質量分析器を含む第４の圧力領域を含む、項目３９に記載のシステム。
（項目４１）
少なくとも１つの試薬を導入するための、前記第１の圧力領域と連通したドーパント入口を含む、項目３８に記載のシステム。
（項目４２）
カーテンガスおよび搬送ガスの少なくとも１つを導入するための、前記第１の圧力領域と連通したガス入口を含む、項目３８に記載のシステム。
（項目４３）
ｉ）イオンのデクラスタリング、ｉｉ）イオンの脱溶媒和、ｉｉｉ）試薬を用いた、イオンの再クラスタリングの加速、およびｉｖ）ドーパントまたは試薬を用いた、イオン用のクラスタリング平衡のシフト、の少なくとも１つを実行するように構成された少なくとも１つの加熱領域を含む、項目３８に記載のシステム。
（項目４４）
前記少なくとも１つの加熱領域における温度を制御するための少なくとも１つの調整可能な加熱要素を含む、項目４３に記載のシステム。
（項目４５）
前記第１または第２の圧力領域内に加熱領域を含み、前記加熱領域が、前記サンプルイオンの望ましくないクラスタの除去、および少なくとも１つの試薬を用いた前記サンプルイオンの再クラスタリングの加速の少なくとも１つを実行するように構成される、項目４１に記載のシステム。
（項目４６）
前記少なくとも１つの試薬を用いて、前記サンプルイオンの一部をクラスタリングするために前記第１の圧力領域に反応領域を含む、項目４１に記載のシステム。
（項目４７）
イオン源と、
前記イオン源からのイオンフローと、
少なくとも１つの修飾剤を前記イオンフローに導入するための反応領域と、
前記反応領域から前記イオンフローを受け取るための、ほぼ大気圧で動作する第１のＤＭＳであって、第１の移動度ベースのフィルタ動作を前記イオンフローに対して実行する第１のＤＭＳと、
前記第１のＤＭＳから前記イオンフローを受け取るための、大気圧より低い圧力で動作するデクラスタリング領域と、
前記デクラスタリング領域から前記イオンフローを受け取り、かつ第２の移動度ベースのフィルタ動作を前記イオンフローに対して実行するための、大気圧より低い圧力で動作する第２のＤＭＳと、
を含むイオン分析器。
（項目４８）
前記第２のＤＭＳから前記イオンフローを受け取るための質量分光計を含む、項目４７に記載の分析器。
（項目４９）
前記質量分光計が質量分析器を含む、項目４８に記載の分析器。
（項目５０）
ｉ）イオンのデクラスタリング、ｉｉ）イオンの脱溶媒和、ｉｉｉ）試薬を用いた、イオンの再クラスタリングの加速、およびｉｖ）ドーパントまたは試薬を用いた、イオン用のクラスタリング平衡のシフト、の少なくとも１つを実行するように構成された少なくとも１つの加熱領域を含む、項目４７に記載の分析器。
（項目５１）
前記第１のＤＭＳが、クラスタリングモデル機構に基づいて分離を実行する、項目４７に記載の分析器。
（項目５２）
前記第２のＤＭＳが、剛体球衝突モデル機構に基づいて分離を実行する、項目５１に記載の分析器。
（項目５３）
前記イオンフローを前記第２のＤＭＳに供給するために、前記第２のＤＭＳの上流にイオンガイドを含む、項目４７に記載の分析器。
（項目５４）
イオン源と、
前記イオン源からのイオンフローと、
前記イオンフローからのイオンの第１の部分を修飾して、イオンの前記第１の部分に関連するα関数を変更するための第１の手段と、
イオンの前記第１の部分を受け取り、微分移動度分離を行い、かつイオンの第２の部分を出力する第１のＤＭＳと、
イオンの前記第２の部分を修飾して、イオンの前記第２の部分に関連する前記α関数を変更するための第２の手段と、
イオンの前記第２の部分を受け取り、微分移動度分離を行い、かつイオンの第３の部分を出力する第２のＤＭＳと、
を含むイオン分析システム。
（項目５５）
修飾するための前記手段が、反応領域、クラスタリング領域、分離領域、およびデクラスタリング領域の少なくとも１つを含む、項目５４に記載のシステム。