【手続補正書】
【提出日】平成16年1月20日(2004.1.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶素子と、前記記憶素子に対してデータを記憶させるために必要な信号を入出力するための外部ピンとを備え、書き込み装置に設けられたピンに対して前記外部ピンを接続して該書き込み装置から前記記憶素子に対してデータを書き込むようにした半導体装置において、
前記外部ピンと前記記憶素子との間に接続され、前記外部ピンと前記書き込み装置のピンとの接続状態を検出するためのテスト回路を備えた半導体装置。
【請求項２】
請求項１に記載の半導体装置において、
前記テスト回路は、
モード信号に基づいて、前記記憶素子に対してデータを書き込む通常モードと、前記外部ピンの接続状態をテストするテストモードとに切り替えられる半導体装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の半導体装置において、
前記テスト回路は、
前記外部ピンの配列に対応して予め設定されたデータが記憶されたメモリと、
前記外部ピンと記憶素子との間に接続されると共に前記メモリに接続され、モード信号に基づいて、前記外部ピンを選択的に前記記憶素子または前記メモリに接続する切り替え回路と
を備えた半導体装置。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の半導体装置において、
前記テスト回路は、
カウント値の初期値が設定され、制御信号が入力される毎にカウント値をカウントアップするカウンタ回路と、
前記カウンタ回路のカウント値と入力される前記アドレス信号とを比較し、その比較結果を出力する比較回路と
を備えた半導体装置。
【請求項５】
請求項４に記載の半導体装置において、
前記テスト回路は、
更に、前記カウント値と前記アドレス信号とが一致しない場合にその状態を記憶するレジスタを備えたステータス回路を備えた半導体装置。
【請求項６】
請求項２乃至５のうちの何れか１項に記載の半導体装置の外部ピンを、書き込み装置に装着するために用いられる変換治具であって
前記半導体装置に入力されるモード信号を切り替えるためのモードスイッチを備えた変換治具。
【請求項７】
請求項４又は５に記載の半導体装置の外部ピンを、書き込み装置に装着するために用いられる変換治具であって、
前記半導体装置に入力されるモード信号を切り替えるためのモードスイッチと、
前記比較回路の比較結果を報知する報知手段と
を備えた変換治具。
【請求項８】
半導体装置に設けられた記憶素子にデータを書き込むデータ書き込み方法において、
前記書き込み装置に設けられたピンに対して前記半導体装置の外部ピンを接続し、
前記書き込み装置のピンと前記外部ピンとの接続状態を検出し、
前記書き込み装置から前記記憶素子に対してデータを書き込むこと
を特徴とするデータ書き込み方法。
【請求項９】
テストモード時には、前記書き込み装置に設けられたピンと前記外部ピンとを接続して接続状態を検出し、
通常モード時には、前記外部ピンと前記記憶素子とを接続して該記憶素子にデータを書き込むこと
を特徴とする請求項８に記載のデータ書き込み方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
【課題を解決するための手段】
図１は本発明の原理説明図である。半導体装置１は、記憶素子２とテスト回路３とを備える。記憶素子２は、データを保持するために設けられる。記憶素子２は、半導体装置１に設けられた外部ピン４を介して書き込み装置５と接続され、その書き込み装置５から入力されるデータを記憶する。テスト回路３は、記憶素子２と外部ピン４との間に挿入接続される。テスト回路３は、外部ピン４と前記書き込み装置５のピンとの接続状態を検出する。


【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の半導体装置において、前記テスト回路は、モード信号に基づいて、前記記憶素子に対してデータを書き込む通常モードと、前記外部ピンの接続状態をテストするテストモードとに切り替えられることを要旨とする。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の半導体装置において、前記テスト回路は、前記外部ピンの配列に対応して予め設定されたデータが記憶されたメモリと、前記外部ピンと記憶素子との間に接続されると共に前記メモリに接続され、モード信号に基づいて、前記外部ピンを選択的に前記記憶素子または前記メモリに接続する切り替え回路とを備えたことを要旨とする。


【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
請求項４に記載の発明は、請求項１又は２に記載の半導体装置において、前記テスト回路は、カウント値の初期値が設定され、制御信号が入力される毎にカウント値をカウントアップするカウンタ回路と、前記カウンタ回路のカウント値と入力される前記アドレス信号とを比較し、その比較結果を出力する比較回路とを備えたことを要旨とする。


【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の半導体装置において、前記テスト回路は、更に、前記カウント値と前記アドレス信号とが一致しない場合にその状態を記憶するレジスタを備えたステータス回路を備えたことを要旨とする。


【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
請求項６に記載の発明は、請求項２乃至５のうちの何れか１項に記載の半導体装置の外部ピンを、書き込み装置に装着するために用いられる変換治具であって前記半導体装置に入力されるモード信号を切り替えるためのモードスイッチを備えたことを要旨とする。


【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
請求項７に記載の発明は、請求項４又は５に記載の半導体装置の外部ピンを、書き込み装置に装着するために用いられる変換治具であって、前記半導体装置に入力されるモード信号を切り替えるためのモードスイッチと、前記比較回路の比較結果を報知する報知手段とを備えたことを要旨とする。
請求項８に記載の発明は、半導体装置に設けられた記憶素子にデータを書き込むデータ書き込み方法において、前記書き込み装置に設けられたピンに対して前記半導体装置の外部ピンを接続し、前記書き込み装置のピンと前記外部ピンとの接続状態を検出し、前記書き込み装置から前記記憶素子に対してデータを書き込むことを要旨とする。
請求項９に記載の発明は、テストモード時には、前記書き込み装置に設けられたピンと前記外部ピンとを接続して接続状態を検出し、通常モード時には、前記外部ピンと前記記憶素子とを接続して該記憶素子にデータを書き込むことを要旨とする。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
請求項２に記載の発明によれば、テスト回路は、モード信号に基づいて記憶素子に対してデータを書き込む通常モードと外部ピンの接続状態をテストするテストモードとに切り替えられる。そして、通常モード時には外部ピンに記憶素子に接続し、テストモード時には外部ピンに記憶素子を接続しないようにする。


【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
請求項３に記載の発明によれば、テスト回路には、外部ピンの配列に対応して予め設定されたデータが記憶されたメモリと、外部ピンと記憶素子との間に接続されると共にメモリに接続され、モード信号に基づいて、外部ピンを選択的に記憶素子または前記メモリに接続する切り替え回路とが備えられる。


【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
請求項４に記載の発明によれば、テスト回路には、カウント値の初期値が設定され、制御信号が入力される毎にカウント値をカウントアップするカウンタ回路と、カウンタ回路のカウント値と入力されるアドレス信号とを比較し、その比較結果をエラー信号として出力する比較回路とが備えられる。


【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
請求項５に記載の発明によれば、テスト回路には、更に、カウント値とアドレス信号とが一致しない場合にその状態を記憶するレジスタを備えたステータス回路が備えられる。


【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
請求項６に記載の発明によれば、請求項２乃至５のうちの何れか１項に記載の半導体装置の外部ピンを、書き込み装置に装着するために用いられる変換治具であって半導体装置に入力されるモード信号を切り替えるためのモードスイッチを備え、そのモード信号に基づいて半導体装置の外部ピンがテストされる。


【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
請求項７に記載の発明によれば、請求項４又は５に記載の半導体装置の外部ピンを、書き込み装置に装着するために用いられる変換治具であって、半導体装置に入力されるモード信号を切り替えるためのモードスイッチと、比較回路の比較結果を報知する報知手段とが備えられる。そして、モードスイッチの操作に基づいたモード信号に基づいてテスト回路によって半導体装置の外部ピンの状態がテストされ、そのテスト結果が報知手段により報知される。
請求項８に記載の発明によれば、書き込み装置に設けられたピンに対して半導体装置の外部ピンが接続され、書き込み装置のピンと前記外部ピンとの接続状態が検出され、書き込み装置から半導体装置の記憶素子に対してデータを書き込まれる。
請求項９に記載の発明によれば、テストモード時には、書き込み装置に設けられたピンと外部ピンとを接続して接続状態が検出され、通常モード時には、外部ピンと記憶素子とが接続されて該記憶素子にデータを書き込まれる。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１０１】
また、請求項６又は７に記載の発明によれば、半導体装置を汎用プログラムライターに装着し、その半導体装置に搭載された記憶素子に対して誤書き込みを防止することが可能な変換治具を提供することができる。
また、請求項８又は９に記載の発明によれば、搭載された記憶素子に対して誤書き込みを防止することの可能なデータの書き込み方法を提供することができる。