【手続補正書】
【提出日】平成15年8月11日(2003.8.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
集積回路であって、
複数の入力／出力パッドを有する半導体ダイと、
複数のバウンダリスキャンセルであって、該バウンダリスキャンセルの各々は前記複数の入力／出力パッドのうち１つに関連づけられたバウンダリスキャン機能を実装する機能を有し、前記バウンダリスキャンセルの各々はＴＤＩ入力およびＴＤＯ出力を有し、前記複数のバウンダリスキャンセルは、シフトレジスタとして構成されて、１つのバウンダリスキャンセルから隣接するバウンダリスキャンセルに一方向にデータをシフトし、前記複数のバウンダリスキャンセルのうち１つは、データを受けとる該複数のバウンダリスキャンセルのうち第１として定義される第１のバウンダリスキャンセルであり、前記複数のバウンダリスキャンセルのうち１つは、データを受けとる該複数のバウンダリスキャンセルのうち最後として定義される最後のバウンダリスキャンセルである、複数のバウンダリスキャンセルと、
前記複数のバウンダリスキャンセルに近接してループを形成するエンドレス制御コンダクタであって、該エンドレス制御コンダクタは前記複数のバウンダリスキャンセルの各々に結合されて、該複数のバウンダリスキャンセルの各々へテストクロック信号を導く、エンドレス制御コンダクタと、
前記複数のバウンダリスキャンセルに近接する半導体ダイの周囲に伸びる少なくとも１つの他の制御コンダクタであって、該少なくとも１つの他の制御コンダクタは、前記複数のバウンダリスキャンセルの各々に結合され、該少なくとも１つの他の制御コンダクタは、前記第１のバウンダリスキャンセルと前記最後のバウンダリスキャンセルとの間で不連続である、少なくとも１つの他の制御コンダクタとを備える集積回路。
【請求項２】
前記少なくとも１つの他の制御コンダクタに供給される制御信号は、シフト信号、捕捉信号、および更新信号からなるグループから選択される、請求項１に記載の集積回路。
【請求項３】
前記少なくとも１つの他の制御コンダクタに結合される前記制御信号は、該少なくとも１つの他の制御コンダクタ上にドライブされた該制御信号が、１つのバウンダリスキャンセルから隣接するバウンダリスキャンセルに一方向のデータがシフトされる方向とは反対の方向に、前記少なくとも１つの他の制御コンダクタに沿って、前記複数のバウンダリスキャンセルの各々に伝播するように、前記少なくとも１つの制御コンダクタが不連続である該制御コンダクタに結合される、請求項１に記載の集積回路。
【請求項４】
前記ＴＤＯ出力と直列な遅延を含んで、前記それぞれのバウンダリスキャンセルからの出力の表示に既定の遅延を導入する各バウンダリスキャンセルをさらに含む請求項１に記載の集積回路。
【請求項５】
前記既定の遅延は、制御コンダクタ上に課されるクロック信号の期間の半分の少なくとも８０％である持続時間を有する、請求項４に記載の集積回路。
【請求項６】
前記少なくとも１つの他の制御コンダクタは少なくとも３つの他の制御コンダクタを含み、該少なくとも３つの他の制御コンダクタの各々は前記複数のバウンダリスキャンセルの各々に結合され、該少なくとも３つの他の制御コンダクタの各々は、前記第１のバウンダリスキャンセルと前記最後のバウンダリスキャンセルとの間で不連続である、請求項１に記載の集積回路。
【請求項７】
前記少なくとも３つの他の制御コンダクタに供給される制御信号はシフト信号、捕捉信号、および更新信号を含む請求項６に記載の集積回路。
【請求項８】
基板と、
該基板の上に装着された複数の集積回路と、
複数のスキャンセルであって、該スキャンセルの各々は前記複数の集積回路のうち１つに関連づけられたスキャン機能を実装する機能を有し、前記スキャンセルの各々はＴＤＩ入力およびＴＤＯ出力を有し、前記複数のスキャンセルはシフトレジスタとして構成されて、１つの集積回路から隣接する集積回路に一方向にデータをシフトし、前記複数の集積回路のうち１つは、データを受けとる該複数の集積回路のうち第１として定義される第１の集積回路であり、該複数の集積回路のうち１つは、データを受けとる該複数の集積回路のうち最後として定義される最後の集積回路である、複数のスキャンセルと、
該複数の集積回路に近接してループを形成するエンドレス制御コンダクタであって、該エンドレス制御コンダクタは前記複数の集積回路の各々に結合されて、該複数の集積回路の各々にテストクロック信号を導く、エンドレス制御コンダクタと、
前記複数の集積回路に近接して基板の周囲に伸びる少なくとも１つの他の制御コンダクタであって、該少なくとも１つの他の制御コンダクタは前記複数の集積回路の各々に結合され、該少なくとも１つの他の制御コンダクタは、前記第１の集積回路と前記最後の集積回路との間で不連続である、少なくとも１つの他の制御コンダクタとを備える装置。
【請求項９】
前記少なくとも１つの他の制御コンダクタに結合される制御信号は、該少なくとも１つの他の制御コンダクタ上にドライブされた該制御信号が、１つの集積回路から隣接する集積回路に一方向のデータがシフトされる方向とは反対の方向に、前記少なくとも１つの他の制御コンダクタに沿って、前記複数の集積回路の各々に伝播するように、少なくとも１つの制御コンダクタが不連続である該制御コンダクタに結合される、請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
スキャンシステムを制御する方法であって、
複数のスキャンセルの中で、複数の入力／出力パッドのうち１つに関連づけられたバウンダリスキャン機能を実装するステップであって、前記スキャンセルの各々はＴＤＩ入力およびＴＤＯ出力を有し、前記複数のバウンダリスキャンセルは、シフトレジスタとして構成されて、１つのバウンダリスキャンセルから隣接するバウンダリスキャンセルに一方向にデータをシフトし、前記複数のバウンダリスキャンセルのうち１つは、データを受けとる該複数のスキャンセルのうち第１として定義される第１のバウンダリスキャンセルであり、該複数のスキャンセルのうち１つは、データを受けとる該複数のスキャンセルのうち最後として定義される最後のバウンダリスキャンセルであるステップと、
前記複数のスキャンセルに近接してループを形成するエンドレス制御コンダクタをルーティングするステップと、
該エンドレス制御コンダクタを前記複数のスキャンセルの各々に結合して、テストクロック信号を該複数のスキャンセルの各々に導くステップと、
該複数のスキャンセルに近接する少なくとも１つの他の制御コンダクタをルーティングするステップであって、該少なくとも１つの他の制御コンダクタは前記複数のスキャンセルの各々に結合され、該少なくとも１つの他の制御コンダクタは前記第１のスキャンセルと前記最後のスキャンセルとの間で不連続であるステップとを含む方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
バウンダリスキャンセル１８は、ＪＴＡＧテストアクセスポート（ＴＡＰ）コントローラ２４によって制御される。コントローラ２４は、ＪＴＡＧインタフェース１６のボンドパッドの各々に結合される。ＴＣＫ入力パッド２６はテストクロック入力を供給する。ＴＤＩ入力パッド２８は、テストデータを、データを受けとるチェーン２２内の第１のバウンダリスキャンセルに供給する。ＴＲＳＴＮ入力パッド３２は、ネガティブにトリガされるリセット機能を提供する。ＴＭＳ入力パッド３０は、コントローラ２４に供給されて、バウンダリスキャンチェーン２２の動作モードを選択するテストモード選択である。バウンダリスキャンモードが選択されている時、ＴＤＯ出力パッド３４はコンダクタ５６上でＪＯＵＴブロック６２からバウンダリスキャンセルを介して並べられたテストデータを受けとる。


【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
図２は、追加の遅延線８２を含む、典型的なバウンダリスキャンセル１８のスキャンレジスタ８０部分の概念図である。シフト信号、捕捉信号、および更新信号はそれぞれ、マルチプレクサ８４、８６、および８８に制御入力を供給する。マルチプレクサ８４のＴＤＩ入力にテストデータが提供されると、シフト信号が低くテストクロック信号も低い場合には、テストデータはマスタラッチ９０の出力に渡され、テストクロック信号遷移が高い場合には、そこからスレーブラッチの出力に渡される。遅延８２は、典型的なバウンダリスキャンセルのテストデータ出力ＴＤＯとしてのスレーブラッチの出力におけるデータの表示内に、既定の遅延を導入する。好ましい実施形態では、遅延の持続時間はテストクロックＴＣＫ信号の期間の半分の、少なくとも約８０％である。遅延は任意の知られた方法で実装される場合がある。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
図３は、本発明を装置に応用した図を示す。集積回路１２０は回路基板１２２上に装着される。トレース１２４はバス１２６を形成して、集積回路１２０をＪＴＡＧ制御信号と相互接続し、データを伝送する。ＪＴＡＧインタフェース３１６は、ＴＣＫ入力パッド３２６、ＴＤＩ入力パッド３２８、ＴＭＳ入力パッド３３０、ＴＲＳＴＮ入力パッド３３２、及びＴＤＯ入力パッド３３４を含む。バス１２６は、チェーンの中で集積回路１２０を相互接続する。データはチェーンの中で１つの集積回路から次の集積回路に直列的に１つのトレース１２４上を伝送することが可能である。各集積回路１２０は上記のように、バウンダリスキャンチェーン２２を有する。装置に関するＪＴＡＧ制御機能は、集積回路のうち１つのＪＴＡＧコントローラ３２４、ＪＴＡＧブロック３６０およびＪＯＵＴブロック３６０によって実行される場合もあり、または、図３に示されたように、装置レベルで別のＪＴＡＧコントローラ３２４、ＪＴＡＧブロック３６０およびＪＯＵＴブロック３６０によって実行される場合もある。上記の説明から、装置レベルの動作は当業者であれば明らかであろう。