【事件の表示】
　平成　３年特許願第　５７８１８号「リストスイープ測定の測定条件設定方式」拒絶査定不服審判事件〔平成　５年　８月２０日出願公開、特開平　５−２０９９１２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は平成３年２月２８日に特許出願されたものであり、平成１３年３月１４日付で拒絶査定（同月１９日発送）がされ、これに対して平成１３年４月１６日に審判が請求され、当審において平成１４年８月１２日付で拒絶の理由を通知（同月１３日発送）したところ、その指定期間内である平成１４年１０月７日に手続補正書及び意見書が提出されたものである。
　
２．本願請求項に係る発明
　本願請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成１２年１月２７日付、平成１４年１０月７日付の手続補正によって補正された明細書及び図面の記載からみて、その請求項１に記載された下記のとおりのものである。
　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　記
　
【請求項１】キーボードと、キーボード入力処理部と、表設定部と、記憶手段と、スイープ制御部と、表示画面とを備え、前記記憶手段に格納された測定条件の値の一覧表を参照して前記表示画面に前記一覧表を表示し、また、前記格納された一覧表を前記スイープ制御部が参照して周波数掃引する周波数掃引測定装置において、前記一覧表を作成するための測定条件設定方法であって、
　前記キーボード入力処理部において、前記キーボードよって任意に繰り返し入力される前記測定条件に関するデータもしくは信号を読み込んで処理した後、前記測定条件の設定された値を前記表設定部に渡し、
　前記表設定部において、前記キーボード入力処理部から渡された前記測定条件の設定値を、掃引周波数帯域毎に独立して、前記記憶手段に設けられた一覧表の設定対象行内の対応する列に格納する、工程を含み、
　前記測定条件の値は、前記周波数掃引測定装置の掃引可能な周波数帯域のうちから任意に選択される掃引周波数帯域を示す値と、測定点の個数を示す値とを含むことを特徴とする測定条件設定方法。
　
３．当審で通知した拒絶の理由の要点
　本願発明は、本願の出願日前に頒布された以下の刊行物に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
刊行物１　特開昭６４−８８３７６号公報
刊行物２　特公昭３８−１９５０１号公報
　
４．刊行物１の記載
　当審で通知した拒絶理由通知書で引用した刊行物１には、第１図、第２図とともに、以下の記載がある。
　
（１）「〔発明の技術分野〕　本発明はスペクトラム・アナライザやネットワーク・アナライザ、半導体特性測定装置などのように、掃引機能を有する掃引測定装置に関する。」（第１頁左下欄第１０ないし１３行）
　
（２）「〔従来技術とその問題点〕・・・上述の測定器には、つぎのような問題点がある。一回の掃引中に測定器の測定条件（減衰器の設定、測定帯域幅の設定、増幅度の設定など）が変更できないので、測定される信号等の大きさが広範囲に変化すると測定精度が著しく劣化する部分が生じる。例えば、信号の小さいところでは感度不足となる。」（第１頁左下欄第１４行ないし第２頁左上欄第２行）
　
（３）「〔発明の目的〕　従って本発明の目的は、掃引区間を部分掃引区間に分割して、各部分掃引区間毎にオペレータが指定する測定条件を変更できるように・・・することにより上記の問題を解決し、高精度、高速、高効率測定が可能な掃引測定装置を提供することである。」（第２頁左上欄第１１ないし１８行）
　
（４）「〔発明の実施例〕　第１図は本発明の一実施例の掃引測定装置のブロック図、第２図はその動作例を示すフロー図である。第１図において、主マイクロプロセッサ１（以下ＣＰＵＡと呼称する）、はＲＯＭ２、ＲＡＭ３に格納されたプログラム及びデータに従ってディスプレイ１０、キーボード９、デジタル・インタフェース８、ＲＡＭ４とデータの入出力をおこなう。ＲＡＭ４は主、副両マイクロプロセッサの共有部分と副マイクロプロセッサの固有部分を含んでいる。副マイクロプロセッサ５（以下ＣＰＵＢと呼称する）は、ＲＡＭ４を介して測定制御データを入力し、ＲＡＭ４に格納する。ＣＰＵＢは測定制御データから測定条件の設定を行い、ＣＰＵＡのトリガにより、ＲＯＭ６に記憶された測定シーケンスにより測定部７を制御して部分掃引区間の掃引測定を実行する。掃引測定により取得した測定データはＲＡＭ４に格納される。ＲＡＭ４の測定データはＣＰＵＡにより読み出されてディスプレイ１０のスクリーンメモリに転送され管面に表示がなされる。ＲＡＭ４はＣＰＵＡとＣＰＵＢが共有する部分とＣＰＵＢ固有の部分を有する。ディスプレイ１０の管面には、掃引される第１の電気量（本実施例では周波数）に対する第２の電気量（本実施例では第１の電気量たる周波数における周波数成分）のグラフと第１の電気量の特定の点を指定する１つあるいは複数のマーカが表示される。マーカにより部分掃引区間が画定される。マーカの表示はなくとも動作上困難は生じないがオペレータの作業効率が落ちるのでマーカは表示されるのが普通である。
　マーカの位置は測定制御データの一部（当審注：「１部」は「一部」の誤記である。）であり、これらはキーボード９やデジタル・インタフェース８などから入力することができる。また、マーカで区分される部分掃引区間の測定制御データはＲＡＭ３に入力され、順次ＲＡＭ４を介してＣＰＵＢに送られ対応する掃引が行われる。各部分掃引区間には１つあるいは多数の測定点が含まれ、各点の測定手順はＲＯＭ６にある。測定制御データは各部分掃引の終了後行われる１つあるいは複数の掃引後機能（以下ＳＥＦと呼称する）のＣＰＵＢが制御する部分をも決定する。
　ＳＥＦは測定条件（測定器の設定、掃引区間等）、ＳＥＦ自身の実行の有無、他のＳＥＦの実行の有無などを決定する機能である。
　第２図により、本実施例の動作例を示す。第２図の（Ａ）において、ブロック２１は動作の開始Ｓ１を示す。
　掃引測定装置のオペレータは、ディスプレイ１０の表示などから適当な位置にマーカを移動し（ブロック２２）、マーカで指定された周波数から開始する掃引区間を指定する第２のマーカを移動する（ブロック２３）。これらのデータはＲＡＭ４に格納される。ＣＰＵＢはＲＡＭ４からこれらのデータを読み出して掃引に必要な測定部７の設定をおこない、ＣＰＵＡのトリガによりＲＯＭ６内の測定手順を読み出しそれを繰り返し掃引を実行する（ブロック２４）。」（第２頁左下欄第１４行ないし第３頁右上欄第１１行）
　
　ここで、「ディスプレイ１０の管面には、・・・マーカが表示される。」、「マーカの位置は測定制御データの一部であり、これらはキーボード９やデジタル・インタフェース８などから入力することができる。また、マーカで区分される部分掃引区間の測定制御データはＲＡＭ３に入力され、順次ＲＡＭ４を介してＣＰＵＢに送られ対応する掃引が行われる」（摘記事項（４））から、測定制御データは（オペレータによって）「作成」され、「ＲＡＭ３に設けられた格納領域に格納」され、表示や掃引に際して「参照」されるものといえる。
　
　したがって、刊行物１には、以下の発明が記載されているといえる。
「キーボード９と、ＲＡＭ３と、副マイクロプロセッサ５（ＣＰＵＢ）と、ディスプレイ１０とを備え、前記ＲＡＭ３に格納された測定条件の値（測定器の設定、掃引区間等）の測定制御データを参照して前記ディスプレイ１０に前記測定制御データを表示し、また、前記格納された測定制御データを前記副マイクロプロセッサ５（ＣＰＵＢ）が参照して周波数掃引する掃引測定装置において、前記測定制御データを作成するための測定条件設定方法であって、
　キーボード９によって入力される測定条件に関するデータを読み込んで処理した後、前記測定条件の設定値を、ＲＡＭ３に設けられた測定制御データの格納領域に格納する、
工程を含み、
　前記測定条件の値は、前記掃引測定装置のマーカにより画定された部分掃引区間を示す値を含む測定条件設定方法。」
　
５．対比
　本願発明と刊行物１に記載された発明を対比すると以下のとおりである。
（１）刊行物１に記載された発明の「キーボード９」、「ＲＡＭ３」、「副マイクロプロセッサ５（ＣＰＵＢ）」、「ディスプレイ１０」、「掃引測定装置」、「部分掃引区間」及び「掃引測定装置のマーカにより画定された部分掃引区間を示す値」は、それぞれ、本願発明の、「キーボード」、「記憶手段」、「スイープ制御部」、「表示画面」、「周波数掃引測定装置」、「掃引周波数帯域」及び「周波数掃引測定装置の掃引可能な周波数帯域のうちから任意に選択される掃引周波数帯域を示す値」に相当する。
（２）刊行物１に記載された発明の「測定制御データ」も本願発明の「一覧表」も共に、測定条件の値の「データ集合」といえるものである。
（３）摘記事項（４）から見て、刊行物１に記載された発明の測定条件に関するデータは、各部分掃引区間毎にオペレータが指定するもので、適当な位置にマーカを移動する等して指定されるものであるから、「キーボード９によって任意に繰り返し入力される」ものに相当するといえる。
（４）摘記事項（４）から見て、刊行物１に記載された発明は掃引区間を部分掃引区間に分割して、各部分掃引区間毎にオペレータが指定する測定条件を変更できるようにしたものであるから、前記測定条件の設定値が「部分掃引区間毎に独立して」ＲＡＭ３に設けられた測定制御データの格納領域に格納されていることは明らかである。
　
　したがって、本願発明と刊行物１に記載された発明は、「キーボードと、記憶手段と、スイープ制御部と、表示画面とを備え、前記記憶手段に格納された測定条件の値のデータ集合を参照して前記表示画面に前記データ集合を表示し、また、前記格納されたデータ集合を前記スイープ制御部が参照して周波数掃引する周波数掃引測定装置において、前記データ集合を作成するための測定条件設定方法であって、
　前記キーボードよって任意に繰り返し入力される前記測定条件に関するデータもしくは信号を読み込んで処理した後、
　前記測定条件の設定値を、掃引周波数帯域毎に独立して、前記記憶手段に設けられたデータ集合の格納領域に格納する、工程を含み、
　前記測定条件の値は、前記周波数掃引測定装置の掃引可能な周波数帯域のうちから任意に選択される掃引周波数帯域を示す値を含む測定条件設定方法。」の点で一致し、他方、両者は以下の点で相違する。
　
（相違点１）
　本願発明は、測定条件の値を一覧表として記憶手段に格納し、表示画面に表示するのに対し、刊行物１に記載された発明では、測定条件の値をどのような形態で格納・表示するのか、記載されていない点。
　
（相違点２）
　本願発明は、「キーボード入力処理部」及び「表設定部」を有し、「キーボード入力処理部において」前記キーボードよって任意に繰り返し入力される前記測定条件に関するデータもしくは信号を読み込んで処理した後、「前記測定条件の設定された値を前記表設定部に渡し、前記表設定部において、前記キーボード入力処理部から渡された」前記測定条件の設定値を、掃引周波数帯域毎に独立して、前記記憶手段に格納しているのに対し、刊行物１に記載された発明では、摘記事項（４）に「第１図において、主マイクロプロセッサ１（以下ＣＰＵＡと呼称する）、はＲＯＭ２、ＲＡＭ３に格納されたプログラム及びデータに従ってディスプレイ１０、キーボード９、デジタル・インタフェース８、ＲＡＭ４とデータの入出力をおこなう。」と記載されており、主マイクロプロセッサ１がキーボード９からの入力信号を処理し、ＲＡＭ３との入出力を行っているとは認められるものの、それ以上の具体的な態様は不明りょうである点。
　
（相違点３）
　本願発明は、測定条件の値として「測定点の個数を示す値」を含むのに対し、刊行物１に記載された発明では、その点について明記されていない点。
　
６．判断
（相違点１について）
　データ集合を一覧表として取り扱うことは、例えば、特開平２−８９７３号公報（以下、「刊行物２」という。）、特開平３−２０２４号公報（以下、「刊行物３」と言う。）に記載されているように周知といえる。
　つまり、刊行物２においては第２図の如く、刊行物３においては第４ないし１０図の如く一覧表が表示画面に表示され、データ作成され、また、一覧表の内容は記憶手段に格納され、参照されている。そして、記憶手段に格納されるものは一覧表の内容であるから、一覧表内の各々の設定値が一覧表の設定対象行内の対応する列に格納されることは当然である。
　また、刊行物１に記載された発明は、各部分掃引区間毎に種々の測定条件を変更できるようにしたものであるから、データ集合を一覧表のような２次元配列として取り扱うことに適するものである。
　以上の点を考慮すれば、刊行物１に記載された発明のデータ集合を、一覧表として格納・表示することは、当業者が容易に発明できることである。
　
（相違点２について）
　（相違点１について）で述べたように、刊行物１に記載された発明において測定条件の値を一覧表として格納・表示することは容易になし得ることであり、これを刊行物１に記載された発明の装置構成で実現するに際し、刊行物１における主マイクロプロセッサを、
・キーボードから入力される信号を読み込んで処理する機能
・測定条件の設定された値を掃引周波数毎に独立して一覧表として記憶手段に格納する機能
　の２つの機能に対応する「キーボード入力処理部」及び「表設定部」を有するものとすることは、刊行物１に記載された主マイクロプロセッサの機能から見て必然的なものといえる。
　
（相違点３について）
　刊行物１の〔従来技術とその問題点〕には「一回の掃引中に測定器の測定条件（減衰器の設定、測定帯域幅の設定、増幅度の設定など）が変更できないので、測定される信号等の大きさが広範囲に変化すると測定精度が著しく劣化する部分が生じる。例えば、信号の小さいところでは感度不足となる。」（摘記事項（２））と記載されている。
　このように、測定される信号等の大きさが急激に変化する箇所において、（測定点数を増やさなければ）測定精度が著しく劣化することは、測定一般における技術常識であるから、このような場合を想定し、測定条件の値として「測定点の個数を示す値」を含めるようにすることは、当業者が容易にできることである。
　
　この点について、請求人は平成１４年１０月７日付の意見書において、「通常、周波数掃引測定装置において、一掃引区間に含まれる複数の測定点は、等間隔に存在しています。従って、特別の記載がなければ刊行物１にも、そうした通常の周波数掃引測定装置が記載されていると解釈するほかありません。それゆえ、刊行物１記載の発明において、一掃引区間を複数の部分掃引区間に分割してなる部分掃引区間における測定点の個数をそれぞれ異なるようにするには、一掃引区間を不均等な幅に区切らざるを得ません。逆に、例えば、一掃引区間を等分してなる部分掃引区間においては、それぞれの部分掃引区間における測定点の個数は等しいものとなってしまいます。すなわち、ある部分掃引区間における測定点の個数は他の部分掃引区間幅と当該区間における測定点の個数とに支配されており、各部分掃引区間における測定点の個数は互いに独立して自由に設定されたものではありません。・・・つまり、刊行物１では、・・・測定条件の１つである測定点の個数を掃引周波数帯域毎に独立して設定する事に関しては何ら示唆されていません。従って、当時の当業者が、刊行物等から知るところにより、測定上重要な箇所ないし範囲に測定点を集中的に配置せんと欲しても、それを単純に実施する事は叶わないのです。」と主張している。
　しかしながら、「測定条件の１つである測定点の個数を掃引周波数帯域毎に独立して設定する」といった方法は請求項１に記載されておらず、したがって上記請求人の主張は特許請求の範囲の記載に基づくものではない。仮に上記の構成が特許請求の範囲から読み取れるとしたところで、例えば、特開昭６０−７１９６７号公報（刊行物４）においては、第１２図に示す如く、各掃引区間（Ｆ０〜Ｆ１、Ｆ１〜Ｆ２、Ｆ２〜Ｆ３）を不均等な幅（Δｆ１（例：４０Ｈｚ）、Δｆ２（例：４Ｈｚ）、Δｆ３（例：１００Ｈｚ））で区切り、測定上重要な範囲（第１３図のＦ１〜Ｆ２）に測定点を集中的に配置して測定する技術が開示されており、また、特開昭６０−１０２５６９号公報（刊行物５）においては、〔発明の背景〕として「従来、信号を分析する装置としてフーリエ変換に基づいたスペクトルアナライザーがある。これを用いると、入力信号に対するサンプリング周波数、データの総数を適宜設定できるので、必要な周波数範囲、分解能を変えて分析可能である。」（第１頁右下欄第６ないし１１行）と記載されており、本願出願当時の当業者であれば、測定される信号等の大きさが急激に変化する箇所において測定点を増やすことは、既に容易であったと認められる。
　したがって、請求人の主張は採用できない。
　
　したがって、本願発明は、刊行物１に記載された発明、及び、上記周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
７．むすび
　以上の通り、本願発明は特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものであるから、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。