【手続補正書】
【提出日】平成24年6月18日(2012.6.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のイオントラップおよび前記第１のイオントラップの下流に配置された第２のイオントラップ、ならびに
制御システムを含み、
前記制御システムは、
（ｉ）イオンを前記第１のイオントラップに所定の期間入射させ、前記第１のイオントラップが第１の電荷容量を有するように構成され、前記所定の期間中に前記第１の電荷容量を超え、過剰なイオンが前記第１のイオントラップから現れるかそうでなければ射出され、かつ
（ｉｉ）前記所定の期間後に、前記第１のイオントラップ内に蓄積された少なくともいくつかのイオンまたは全てのイオンを前記第２のイオントラップに移動させるように構成および適合された質量分析計であって、
前記第２のイオントラップが第２の電荷容量を有し、前記第１の電荷容量に対する前記第２の電荷容量の比が、＞１であり、
前記第１の電荷容量および前記第２のイオントラップの電荷容量は、少なくともいくつかのイオンまたは全てのイオンが前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動するときに、前記第２のイオントラップの分析性能が実質的に損なわれずかつ／または前記第２のイオントラップの電荷容量が実質的に超過されることがないように構成および設定される
質量分析計。
【請求項２】
（ｉ）前記第１のイオントラップおよび／または前記第２のイオントラップが、四重極、六重極もしくは八重極ロッドセットイオントラップ、リニアもしくは二次元イオントラップ、中心リング電極と２つのエンドキャップ電極とを含む三次元イオントラップ、または質量選択的ロッドセットイオントラップを含み、かつ／あるいは
（ｉｉ）前記第１のイオントラップおよび／または前記第２のイオントラップが、複数の電極を含むイオントンネルイオントラップであって、各電極が使用時にイオンが移送される１つ以上の開口を含むイオントンネルイオントラップを含み、かつ／あるいは
（ｉｉｉ）前記第１のイオントラップおよび／または前記第２のイオントラップが、概ねイオン移送平面に配置された複数の平面電極を含むイオンガイドであって、前記複数の平面電極が軸方向にセグメント化されているイオンガイドを含む、請求項１に記載の質量分析計。
【請求項３】
（ａ）前記第１の電荷容量が、（ｉ）＜１００００個の電荷、（ｉｉ）１００００〜１５０００個の電荷、（ｉｉｉ）１５０００〜２００００個の電荷、（ｉｖ）２００００〜２５０００個の電荷、（ｖ）２５０００〜３００００個の電荷、（ｖｉ）３００００〜３５０００個の電荷、（ｖｉｉ）３５０００〜４００００個の電荷、（ｖｉｉｉ）４００００〜４５０００個の電荷、（ｉｘ）４５０００〜５００００個の電荷、および（ｘ）＞５００００個の電荷に設定され、かつ／あるいは
（ｂ）前記第２の電荷容量が、（ｉ）＜１００００個の電荷、（ｉｉ）１００００〜１５０００個の電荷、（ｉｉｉ）１５０００〜２００００個の電荷、（ｉｖ）２００００〜２５０００個の電荷、（ｖ）２５０００〜３００００個の電荷、（ｖｉ）３００００〜３５０００個の電荷、（ｖｉｉ）３５０００〜４００００個の電荷、（ｖｉｉｉ）４００００〜４５０００個の電荷、（ｉｘ）４５０００〜５００００個の電荷、および（ｘ）＞５００００個の電荷に設定され、かつ／あるいは
（ｃ）前記第１の電荷容量に対する前記第２の電荷容量の比が、（ｉ）１〜１.５、（ｉｉ）１.５〜２.０、（ｉｉｉ）２.０〜２.５、（ｉｖ）２.５〜３.０、（ｖ）３.０〜３.５、（ｖｉ）３.５〜４.０、（ｖｉｉ）４.０〜４.５、（ｖｉｉｉ）４.５〜５.０、（ｉｘ）５.０〜６.０、（ｘ）６.０〜７.０、（ｘｉ）７.０〜８.０、（ｘｉｉ）８.０〜９.０、（ｘｉｉｉ）９.０〜１０.０、および（ｘｉｖ）＞１０.０からなる群から選択される、請求項１または２に記載の質量分析計。
【請求項４】
一動作モードにおいて、イオンを前記第１のイオントラップ内に軸方向に閉じ込めるために、軸方向ＤＣ電位障壁および／または軸方向擬電位障壁が前記第１のイオントラップの領域全体にわたって維持され、前記軸方向ＤＣ電位障壁および／または前記軸方向擬電位障壁の振幅が前記第１の電荷容量を少なくとも部分的に決定し、前記第１の電荷容量を超えると、少なくともいくつかの過剰なイオンが前記軸方向ＤＣ電位障壁および／または前記軸方向擬電位障壁を越えて前記第１のイオントラップから現れる、請求項１、２または３に記載の質量分析計。
【請求項５】
偏向レンズと、前記第１のイオントラップの下流に配置されたイオン検出器とをさらに含み、
前記偏向レンズは、第１の動作モードにおいて、前記第１の電荷容量を超えると前記第１のイオントラップから軸方向に現れるイオンを前記イオン検出器上に偏向するように動作し、かつ、
前記制御システムが、前記イオン検出器が前記第１のイオントラップから現れたイオンを検出すると、前記第１の電荷容量を超えたと判定する、請求項１〜４のいずれかに記載の質量分析計。
【請求項６】
前記イオン検出器が前記第１のイオントラップから現れたイオンを検出することによって、前記第１の電荷容量を超えたと前記制御が判断すると、前記偏向レンズが、次いで、第２の動作モードにおいて、前記第１のイオントラップから後続して現れるイオンを前記第２のイオントラップへと移送するように動作する、請求項５に記載の質量分析計。
【請求項７】
前記第１の電荷容量を超えると、少なくともいくつかの過剰なイオンが前記第１のイオントラップから半径方向および／または軸方向に射出され、イオン検出器によって検出される、請求項１〜６のいずれかに記載の質量分析計。
【請求項８】
前記制御システムが、
（ｉ）前記第１の電荷容量を超えたと前記制御システムが判定すると、および／または
（ｉｉ）イオンが前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動中、および／または
（ｉｉｉ）イオンが前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動した後のいずれかに、
更なるイオンが前記第１のイオントラップに一定期間入射できないようにするか、または前記第１のイオントラップ内へ移送されている更なるイオンを減衰または減少させるようにさらに構成および適合される、請求項１〜７のいずれかに記載の質量分析計。
【請求項９】
一動作モードにおいて、イオンを、所定の最大充填期間Ｔまで前記第１のイオントラップに入射または充填させることができ、前記充填期間Ｔの後、イオンは前記第１のイオントラップに一定の期間実質的に入射できない、請求項１〜８のいずれかに記載の質量分析計。
【請求項１０】
イオン検出器または他のデバイスが前記第１のイオントラップから現れるイオンを前記所定の充填期間Ｔ中に検出できなかった場合、
前記制御システムが、
（ｉ）更なるイオンが前記第１のイオントラップに一定期間入射できないようにするか、または前記第１のイオントラップ内へ移送されている更なるイオンを減衰または減少させ、かつ／あるいは
（ｉｉ）前記所定の充填期間Ｔの後、イオンを前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動させるように構成および適合される、請求項９に記載の質量分析計。
【請求項１１】
イオン検出器または他のデバイスが、前記所定の充填期間Ｔ中に時間Ｔ／ｘにおいて前記第１のイオントラップから現れるイオンを検出した場合、
前記制御システムが、
（ｉ）更なるイオンが前記第１のイオントラップに一定期間入射できないようにするか、または前記第１のイオントラップ内へ移送されている更なるイオンを減衰または減少させ、かつ／あるいは
（ｉｉ）前記時間Ｔ／ｘの後、イオンを前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移送させ、かつ／あるいは
（ｉｉｉ）前記第２のイオントラップからイオンをスキャンまたは射出し、かつ／あるいは
（ｉｖ）イオンが前記第２のイオントラップからスキャンまたは射出されたことによって記録された質量スペクトルデータの強度を因子ｘによってスケーリングするように構成および適合される、請求項９に記載の質量分析計。
【請求項１２】
イオン検出器が、前記所定の充填期間Ｔ中に時間Ｔ／ｘにおいて前記第１のイオントラップから現れるイオンを検出した場合、
前記制御システムが、
（ｉ）更なるイオンが前記第１のイオントラップに一定期間入射できないようにするか、または前記第１のイオントラップ内へ移送されている更なるイオンを減衰または減少させ、かつ／あるいは
（ｉｉ）イオンを前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動させ、かつ／あるいは
（ｉｉｉ）前記第２のイオントラップからイオンをスキャンまたは射出し、かつ／あるいは
（ｉｖ）イオンが前記第２のイオントラップからスキャンまたは射出されたことによって記録された質量スペクトルデータの強度を因子（Ｃ＋Ｄ）／Ｃ（式中、Ｃは前記第１の電荷容量、Ｄは時間Ｔ中に前記イオン検出器によって記録された電荷数に対応する）によってスケーリングするように構成および適合される、請求項９に記載の質量分析計。
【請求項１３】
（ｉ）前記制御システムが、一旦イオンが前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動したら、更なるイオンを前記第１のイオントラップに蓄積させるように構成および適合され、かつ／あるいは
（ｉｉ）前記制御システムが、前記第２のイオントラップからイオンがスキャンまたは射出されている間、更なるイオンを前記第１のイオントラップに蓄積させるように構成および適合され、かつ／あるいは
（ｉｉｉ）前記制御システムが、イオンが前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動していると同時に、イオンを前記第２のイオントラップから質量選択的に射出またはスキャン射出させるように構成および適合され、かつ／あるいは
（ｉｖ）前記制御システムが、一旦イオンが前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動したら、イオンを前記第２のイオントラップから質量選択的に射出またはスキャン射出させるように構成および適合される、請求項１〜１２のいずれかに記載の質量分析計。
【請求項１４】
前記第１のイオントラップと前記第２のイオントラップとの間に配置された減衰レンズまたは減衰デバイスをさらに含み、前記減衰レンズまたは減衰デバイスが、前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップへと前方移送されるイオンの強度を低下させるように構成および適合される、請求項１〜１３のいずれかに記載の質量分析計。
【請求項１５】
第１のイオントラップおよび前記第１のイオントラップの下流に配置された第２のイオントラップを準備する工程、
イオンを前記第１のイオントラップに所定の期間入射させる工程であって、前記第１のイオントラップが第１の電荷容量を有するように構成され、前記所定の期間中に前記第１の電荷容量を超え、過剰なイオンが前記第１のイオントラップから現れるかそうでなければ射出される工程、および
前記所定の期間後に、前記第１のイオントラップ内に蓄積された少なくともいくつかのイオンまたは全てのイオンを前記第２のイオントラップに移動させる工程を含む質量分析の方法であって、
前記第２のイオントラップが第２の電荷容量を有し、前記第１の電荷容量に対する前記第２の電荷容量の比が、＞１であり、
前記方法が、第１の電荷容量および前記第２のイオントラップの電荷容量を、少なくともいくつかのイオンまたは全てのイオンが前記第１のイオントラップから前記第２のイオントラップに移動するときに、前記第２のイオントラップの分析性能が実質的に損なわれずかつ／または前記第２のイオントラップの電荷容量が実質的に超過されることがないように構成または設定する工程をさらに含む
質量分析の方法。