【事件の表示】
　平成　８年特許願第２６５７３８号「液晶表示装置の製造方法並びに液晶表示装置の検査方法及びその装置」拒絶査定に対する審判事件［平成１０年　４月２８日出願公開、特開平１０−１１１２３７］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本件は、平成８年１０月７日を出願日とする特許出願であって、平成１５年５月１２日付で拒絶査定がなされ、これに対し、同年６月１９日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年７月１８日付で手続補正がなされたものである。
　　
２．平成１５年７月１８日付の手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１５年７月１８日付の手続補正を却下する。
［理由］
（１）補正後の本願発明
　本件補正により、特許請求の範囲の請求項１２は、
「【請求項１２】
　ガラス基板に形成されて表面がラビング処理された配向膜を検査する方法であって、光源から発射した光を第１の偏光手段を透過させて第１の偏光特性を与え、該第１の偏光特性を与えた光を前記偏光膜（配向膜の誤記：審決注）が形成されたガラス基板に照射し、該照射により前記ガラス基板を透過した光を第２の偏光手段に入射させ、該第２の偏光手段に入射した前記ガラス基板を透過した光のうち第１の偏光手段で付与された第１の偏光特性に対して前記配向膜により偏光特性が変化した成分を透過させ、該第２の偏光手段を透過した光を０．１ルックス以下の明るさを検出できる感度を有する撮像装置の撮像面に結像させて前記ガラス基板の画像を得、該画像を処理することにより前記配向膜のラビングの方向を含む配向特性の情報を得ることを特徴とする液晶表示装置の検査方法。」
と補正された。
　上記補正は、請求項１２に記載した発明を特定するために必要な事項について限定をするものであって、特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　そこで、本件補正後の前記請求項１２に記載された発明（以下、「本願補正発明」という。）が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第４項の規定に適合するか）について、以下に検討する。
　　
（２）引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された特開平６−５９２３０号公報（以下、「引用例１」という。）には、図面とともに、
「【０００１】
　　【産業上の利用分野】
　本発明は、ラビング検査装置に関し、特に液晶表示パネルの製造工程において基板上に塗布された配向膜をラビングするラビング工程の検査を行うに適当なラビング検査装置に関する。」、
「【０００７】
・・・
　一方、最近になって、本願の発明者及び株式会社コーガクの八坂勝彦氏は、偏光度の大きな偏光観察用顕微鏡で、このラビング処理に相関を持った像を得ることができることを見いだした。この偏光観察用顕微鏡で観察できる像は、前述したＳＥＭやＡＦＭで観察された溝の像に比べて、像の幅や間隔が広くかつ像の長さも長く白っぽい複数の筋の像（以下この筋の像はラビング筋像と称し、偏光観察される筋像のことを指す）であるため、前記溝の像とは全く異なるものである。しかしながら、このラビング筋像は、ラビング処理前の配向膜上で観察できず、また、ラビング処理後の配向膜上で観察できることが分かっており、さらに、このラビング筋像を観察できた配向膜を塗布した基板は、良品の液晶パネルとして使用することができることもわかった。」、
「【０００９】
　しかしながら、両者は、何故、偏光顕微鏡でこのようなラビング筋像を観察できるのか、実際のｎｍオーダーの溝とどのような相関関係があるのかについて詳細は分かっていない。両者は、ラビング筋像が偏光顕微鏡で観察できることから、配向膜という比較的薄い膜を構成する分子の配列が布で擦ることにより整い、これにより配向膜に偏光特性が生じるため、ラビング筋像が観察できるのではないかと推測している。
【００１０】
　本発明は、このような前提となる技術に基づいてなされた発明であり、本発明の目的は、液晶表示パネルの製造工程中において、ラビング筋像を観察することによって行うラビング検査をより短い時間で行うことのできるラビング検査装置を提供することである。」、
「【００１５】
　　【実施例】
・・・
　図１に示すように、第１実施例のラビング検査装置は、ステージ２と、偏光光学系７と、この偏光光学系７に設けられたＴＶカメラ８とこのＴＶカメラ８に接続されたモニター９とを有する。
【００１６】
　ステージ２は、試料である液晶用配向膜１ａを塗布した基板１を保持し、このステージ２は、焦準機構３により上下動可能に保持される。・・・」、
「【００１８】
・・・
　また、図１に示すように、偏光光学系７は、光源６と、この光源６からの光を基板に導くハーフミラー７ｃ，対物レンズ７ｄと、光源６とハーフミラー７ｃとの間に配置されたポラライザー７ａと、ハーフミラー７ｃとＴＶカメラ８の結像面８ａとの間に配置されるアナライザー７ｂとを有する。ポラライザー７ａで偏光した光によって照明された範囲の基板１の像を含む光は、対物レンズ７ｄ，ハーフミラー７ｃを通過した後、さらにアナライザー７ｂを通過し、ＴＶカメラ８の結像面８ａ（図１参照）に結像し、この結像面に結像した前記照明された範囲の基板の像は、モニター９上に表示される。
【００１９】
  ポラライザー７ａ及びアナライザー７ｂは、図３に示すように、互いの偏光方向Ｐ及びＡが直交するように配置されている。これらの偏光方向Ｐ，Ａをステージ２上に投影させた時の偏光方向をＰ′，Ａ′とすると、それぞれの投影された偏光方向Ｐ′，Ａ′はステージ移動方向Ｘ，Ｙに対し４５度傾いている。したがって、偏光方向Ｐ及びＡに対して前記基板１のラビング方向１ｂは４５度傾いている。」、
「【００３２】
　画像処理装置１０は、ＴＶカメラ８で撮像された画像の画像信号から、ラビング筋像の信号だけを抽出して、ラビング筋像の画像を強調するものであり、強調された画像信号は、判定装置１１に出力される。判定装置１１は、受信した画像信号から、良否判定を行い、結果情報は、モニター９に表示されるとともに、制御装置１２内の記憶装置に記録される。また、制御装置１２は、ステージ２ａとともに、これらのＴＶカメラ８、画像処理装置１０、判定装置１１を制御するものである。
【００３３】
　以下、この自動検査装置の動作を制御装置の手順に沿って詳述する。
　図５に示すように、基板１は、ステージ２ａの移動方向Ｙと基板１に施されたラビング方向１ｂとが平行になるように、ステージ２ａ上に載置される。
　制御装置１２は、まず、ＴＶカメラ８で撮像し判定装置１１で判定したい基板上の位置が偏光光学系７の観察範囲Ａｎ内に配置されるように、ステージ２ａを移動させる。移動後観察範囲Ａｎ内の基板１の表面の像は、偏光光学系７によりＴＶカメラ８の撮像面８ａで図６に示す結像範囲Ａに結像する。
【００３４】
　制御装置１２は、ＴＶカメラ８に、この範囲Ａに結像した像のうち撮像範囲Ｆ内の像を撮像させる。ＴＶカメラ８は、この撮像した画像に基づく画像信号を画像処理装置１０に出力する。
　画像処理装置１０は、ＴＶカメラ８からの画像信号から画像処理を行う。この画像処理は、ラビング筋像と共に電極パターン等の像が撮像された画像信号の中から、ラビング筋像の画像信号のみを強調するものである。
【００３５】
　この画像強調は、ラビング筋像が、ラビング方向に沿って整列した、長さ数ミリ〜１０数ミリ程度の細長くかつ白濁色の複数の像であり、その他の像は、このような規則性がないこと、例えば、電極の配設パターンＤ１〜Ｄ８は、図６に示すようにラビング筋像Ｒ１〜Ｒ７即ちラビング方向に対し傾いているため、上記規則性がないことに着目し、ラビング筋像に直交した方向にＴＶカメラの走査線の方向を設定し、この走査線からの信号をラビング方向（図６のＹ方向）に蓄積することによって、ラビング筋像を重ね合わせることにより行うものである。」との記載が認められる。
　これらの記載によれば、引用例１には、
「液晶表示パネルの製造工程において基板上に塗布された配向膜をラビングするラビング工程の検査を行うに適当なラビング検査方法に関し、
　ステージ２と、偏光光学系７と、この偏光光学系７に設けられたＴＶカメラ８とこのＴＶカメラ８に接続された画像処理装置１０とを有し、
　前記ステージ２は、試料である液晶用配向膜１ａを塗布した基板１を保持し、
　前記偏光光学系７は、光源６と、この光源６からの光を基板に導くハーフミラー７ｃ，対物レンズ７ｄと、光源６とハーフミラー７ｃとの間に配置されたポラライザー７ａと、ハーフミラー７ｃとＴＶカメラ８の結像面８ａとの間に配置されるアナライザー７ｂとを有し、前記ポラライザー７ａ及びアナライザー７ｂは、互いの偏光方向Ｐ及びＡが直交するように配置され、また、前記基板１のラビング方向１ｂは、前記偏光方向Ｐ及びＡに対して４５度傾いて配置されており、
　ポラライザー７ａで偏光した光によって照明された範囲の基板１の像を含む光は、対物レンズ７ｄ，ハーフミラー７ｃを通過した後、さらにアナライザー７ｂを通過し、ＴＶカメラ８の結像面８ａに結像し、
　前記画像処理装置１０は、ＴＶカメラ８からの画像信号の画像処理を行い、ラビング方向に沿って整列したラビング筋像（長さ数ミリ〜１０数ミリ程度の細長くかつ白濁色の複数の像）の画像信号のみを強調することにより、ラビング筋像を観察するラビング検査方法。」
との発明（以下「引用例１発明」という。）が開示されていると認めることができる。
　　
（３）対比
　そこで、本願補正発明と引用例１発明とを比較すると、
　本願補正発明の「配向膜が形成されたガラス基板」は、引用例１発明の「液晶用配向膜１ａを塗布した基板１」に相当し、以下同様に「第１の偏光手段」は、「ポラライザー７ａ」に、「第２の偏光手段」は、「アナライザー７ｂ」に、「撮像装置」は、「ＴＶカメラ８」に相当し、
　また、本願補正発明の「該画像を処理することにより前記配向膜のラビングの方向を含む配向特性の情報を得ること」は、引用例１発明の「画像処理装置１０は、ＴＶカメラ８からの画像信号の画像処理を行い、ラビング方向に沿って整列したラビング筋像（長さ数ミリ〜１０数ミリ程度の細長くかつ白濁色の複数の像）の画像信号のみを強調することにより、ラビング筋像を観察する」ことに相当することは明らかであるから、
　両者は、
「ガラス基板に形成されて表面がラビング処理された配向膜を検査する方法であって、光源から発射した光を第１の偏光手段を透過させて第１の偏光特性を与え、該第１の偏光特性を与えた光を前記偏光膜が形成されたガラス基板に照射し、ガラス基板からの光を第２の偏光手段に入射させ、該第２の偏光手段に入射した光のうち第１の偏光手段で付与された第１の偏光特性に対して前記配向膜により偏光特性が変化した成分を透過させ、該第２の偏光手段を透過した光を撮像装置の撮像面に結像させて前記ガラス基板の画像を得、該画像を処理することにより前記配向膜のラビングの方向を含む配向特性の情報を得ることを特徴とする液晶表示装置の検査方法。」
の点で一致し、以下の点で相違している。
　　
［相違点１］本願補正発明は、ガラス基板を「透過した光」を第２の偏光手段に入射させ」る方法であるのに対して、引用例１発明は、ガラス基板で「反射した光」を第２の偏光手段に入射させる方法であって、ガラス基板を透過した光を観察するものではない点。
［相違点２］本願補正発明の撮像装置は、「０．１ルックス以下の明るさを検出できる感度を有する」ものであるのに対して、引用例１発明には、撮像装置の感度が記載されていない点。
　　
（４）判断
［相違点１］について
　第１の偏光手段から出射した直線偏光を試料（本願補正発明ではガラス基板が相当）に照射し、これを透過した光を前記第１の偏光手段と偏光軸が直交する第２の偏光手段に入射させ、さらに、これから出射した光を観察するようにした点は、従来から周知の技術事項（例えば、特開昭６４−３５４６号公報（２頁右上欄５行〜同頁左下欄１３行、第１図）、特開平７−７７４９０号公報（段落【０００９】〜【００２１】、【図１】）、特開平７−２６１０９２号公報（段落【０００８】、【図１】）等参照）にすぎず、これを引用例１発明に採用することに特段の困難性があるとはいえない。
［相違点２］について
　撮像装置の感度に関して、本願明細書には以下のような記載が認められる。
「【００３１】
　配向膜は通常数百Åの膜にラビング等を行いこの膜の極表面の層を分子配向させて形成されるため、光学的に異方な層の厚さは５０〜１００Åであるといわれている。従ってこの膜の光学的主軸の方向に偏光する２つの互いに直交する直線偏光が膜を透過することにより受けるそれぞれの光の波の位相の相対的な差は僅かに０．０１〜０．１°程度となる。この結果直交する偏光子と検光子の間の配向膜の主軸がこの方向と４５°をなす最大検出時においても偏光子を透過した光の１．３×１０８分の１〜１．３×１０６分の１しか検光子を透過して来ない。
【００３２】
　例えば点光源に近い２００Ｗのショートアーク水銀ランプを用い、全光束が１２５００ルーメンとなっても、このうち２度以内の指向性を有する平行光にできる割合は約５．６％となる。これを図２で示す入射光３０として用いた場合、この３０の光束の照度は７０４ルーメンで、径が１８．８ｍｍとなり、偏光子を透過する光の照度は約８００００ルックスとなる。結像光学系の倍率を１倍とすると光学的異方性が上記のように小さな配向膜ではこの照度は１．３×１０８分の１〜１．３×１０６分の１になるため、撮像装置の撮像面では０．０６〜０．０００６ルックスにしか成らない。光源のパワーを大きくし撮像面に達する光の強度を大きくすることは不可能ではないが、通常ランプの出力を大きくすると光源の面積が大きくなり、２００Ｗのランプの数倍の照度が限界である。従って
撮像装置の感度は０．１ルックス以下でなければならない
　以上の記載に照らせば、本願補正発明において撮像装置の感度を０．１ルックス以下の明るさを検出できる程度とした点の趣旨は、２００Ｗのショートアーク水銀ランプを光源に、図２に示す光学系を用い、所定の結像倍率とした場合に、配向膜表面の光学的に異方な層、すなわちラビング筋像を検出するために必要な感度を規定したものであるといえる。
　他方引用例１発明の撮像装置も、上記２．（２）に記載されているようにラビング筋像を観察することができるものであるから、ラビング筋像の観察に必要十分な感度を有しているものと十分推認することができる。
　そうすると、相違点２に係る本願補正発明の構成は、ラビング筋像の観察を行うに必要な値を単に記載したにすぎず、単なる設計事項であるといえる。
　　
　そして、本願補正発明の作用効果も、引用例１に記載された発明及び上記周知技術から当業者が予測できる範囲のものである。
　したがって、本願補正発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　　
（５）むすび
　以上のとおり、本件補正は、特許法第１７条の２第５項で準用する同法第１２６条第４項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項で準用する特許法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　　
３．本願発明について
　平成１５年７月１８日付の手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１２に係る発明（以下、同項記載の発明を「本願発明」という。）は、平成１４年１１月１日付手続補正書の特許請求の範囲の請求項１２に記載された事項により特定される、以下のとおりのものである。
「【請求項１２】
　ガラス基板に形成されて表面がラビング処理された配向膜を検査する方法であって、光源から発射した光を第１の偏光手段を透過させて第１の偏光特性を与え、該第１の偏光特性を与えた光を前記偏光膜（配向膜の誤記：審決注）が形成されたガラス基板に照射し、該照射により前記ガラス基板を透過した光を第２の偏光手段に入射させ、該第２の偏光手段に入射した前記ガラス基板を透過した光のうち第１の偏光手段で付与された第１の偏光特性に対して前記配向膜により偏光特性が変化した成分を透過させ、該第２の偏光手段を透過した光を撮像装置の撮像面に結像させて前記ガラス基板の画像を得、該画像を処理することにより前記配向膜の配向特性の情報を得ることを特徴とする液晶表示装置の検査方法。」
　　
（１）引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例１及びその記載事項は、上記「２．（２）」に記載したとおりである。
　　
（２）対比・判断
　本願発明は、上記２．で検討した本願補正発明から「撮像装置」の限定事項である「０．１ルックス以下の明るさを検出できる感度を有する」及び「配向特性の情報」の限定事項である「ラビングの方向を含む」との構成を省いたものである。
　そうすると、本願発明の構成要件を全て含み、さらに他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、上記「２．（４）」に記載したとおり、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
（３）むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。