【手続補正書】
【提出日】平成24年6月25日(2012.6.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディジタル・システムの信頼性を監視するシステムであって、
前記ディジタル・システムの信頼性の監視を容易にするために前記ディジタル・システムに関連して実装される少なくとも１つのリング・オシレータ・センサであって、前記ディジタル・システムが、複数の論理タイプを含む回路構成を含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、選択された前記ディジタル・システムの複数の論理タイプを含む回路構成を含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサ内の前記複数の論理タイプの特定の論理タイプのパーセンテージが、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサのエージングを前記ディジタル・システムのエージングに相関させるために前記ディジタル・システム内の前記複数の論理タイプの特定の論理タイプのパーセンテージを再現し、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、カウント信号を出力する、少なくとも１つのリング・オシレータ・センサと、
前記カウント信号を前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの発振周波数に変換する、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサに結合されたカウンタ論理と、
前記少なくとも１つのリング・オシレータの発振周波数を周期的に評価し、
（i）前記少なくとも１つのリング・オシレータの測定または推定された発振周波数が前記ディジタル・システムの警告しきい周波数未満である、または
（ii）前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの測定された発振周波数の間の差の測定または推定された変化のレートが前記ディジタル・システムの許容可能な変化のレートしきい値を超える
のうちの少なくとも１つである場合に、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの、したがって前記ディジタル・システムの信頼性劣化を示す警告信号を生成する、前記カウンタ論理に結合された制御論理と
を含むシステム。
【請求項２】
前記ディジタル・システムの前記回路構成が、複数の論理タイプおよび複数のデバイス・タイプを含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの前記回路構成も、前記ディジタル・システムの前記複数の論理タイプおよび前記複数のデバイス・タイプを含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサ内の前記複数の論理タイプの特定の論理タイプおよび前記複数のデバイス・タイプの特定のデバイス・タイプのパーセンテージが、前記ディジタル・システム内の前記複数の論理タイプの特定の論理タイプおよび前記複数のデバイス・タイプの特定のデバイス・タイプのパーセンテージを再現する、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記ディジタル・システムが、複数のディジタル機能ブロックおよび複数の回路区域を含み、前記システムが、さらに、複数のリング・オシレータ・センサを含み、各リング・オシレータ・センサが、前記ディジタル・システムの論理タイプまたはデバイス・タイプ構成のうちの少なくとも１つを再現するために前記ディジタル・システムの前記複数のディジタル機能ブロックまたは複数の回路区域の少なくとも１つに関連し、前記ディジタル・システムの前記関連する少なくとも１つのディジタル機能ブロックまたは回路区域のエージングを監視するのに有用なカウント信号を供給する、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記ディジタル・システムの前記回路構成が、複数の論理タイプを含み、前記複数の論理タイプが、ＡＮＤ論理、ＮＡＮＤ論理、ＯＲ論理、ＮＯＲ論理、およびインバータ論理のうちの少なくとも２つを含み、前記ディジタル・システムの前記複数の論理タイプが、さらに、少なくとも１つのデバイス・タイプを含み、前記少なくとも１つのデバイス・タイプが、薄い酸化物デバイス、厚い酸化物デバイス、低濃度ＶＴドープ・デバイス、または高濃度ＶＴドープ・デバイスのうちの１つまたは複数を含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記ディジタル・システムが、複数のディジタル機能ブロックを含み、前記システムが、さらに、複数のリング・オシレータ・センサを含み、各リング・オシレータ・センサが、前記複数のディジタル機能ブロックのめいめいのディジタル機能ブロック内に埋め込まれ、各ディジタル機能ブロックおよび関連するリング・オシレータ・センサが、共通の電源によって電力を供給される、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
前記ディジタル・システムが、さらに、少なくとも１つのディジタル機能ブロックを含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、前記少なくとも１つのディジタル機能ブロックに関連し、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、さらに、前記関連する少なくとも１つのディジタル機能ブロックの入力に電気的に結合されたイネーブル入力を含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、前記関連する少なくとも１つのディジタル機能ブロックでの要求の受け取りによってイネーブルされる、請求項１に記載のシステム。
【請求項７】
前記制御論理が、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの次の発振周波数を推定する際に前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの複数の判定された発振周波数を使用し、前記警告信号の前記生成が、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの前記推定された次の発振周波数が前記警告しきい周波数未満である場合に前記警告信号を生成することを含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項８】
前記制御論理が、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの測定された発振周波数の間の差の変化のレートを周期的に判定し、線形モデル推定または前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサのヒストリカル・エージング・データのうちの１つを使用して次の変化のレートを推定する際に前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの測定された発振周波数の間の複数の判定された変化のレートを使用し、前記制御論理が、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの測定された発振周波数の間の差の前記推定された次の変化のレートを使用して前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの次の発振周波数を推定し、前記警告信号の生成が、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの前記推定された次の発振周波数が前記ディジタル・システムの警告しきい周波数未満である場合に前記警告信号を生成することを含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項９】
前記制御論理が、さらに、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの発振周波数の前記周期的な評価に使用されるサンプリング期間を動的に調整し、前記動的な調整が、
前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの発振周波数の最も最近の判定から、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが前記警告しきい周波数に達するまでのタイム・インターバルを推定することと、
前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの前記発振周波数の判定に関する次のサンプリング期間をセットする際に前記推定されたタイム・インターバルを使用することと、
次のサンプリング周期が前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの発振周波数の前記周期的評価で使用される以前のサンプリング周期より短いかどうかを判定することと、
そうである場合に、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの発振周波数の前記周期的評価のサンプリング・レートを高めるために前記サンプリング期間を増やすことと
を含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項１０】
前記ディジタル・システムおよび前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、共通の電源によって電力を供給され、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの論理タイプ回路構成およびデバイス・タイプ回路構成が、前記ディジタル・システム内で使用される論理タイプおよびデバイス・タイプのパーセンテージを再現し、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、前記ディジタル・システムがアクティブである時に限ってイネーブルされ、これによって、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサのエージングの前記ディジタル・システムのエージングへの相関を容易にする、請求項１に記載のシステム。
【請求項１１】
ディジタル・システムの信頼性を監視する方法であって、
前記ディジタル・システムの信頼性の監視を容易にするために前記ディジタル・システムに関連して実装される少なくとも１つのリング・オシレータ・センサを入手することであって、前記ディジタル・システムが、複数の論理タイプを含む回路構成を含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、選択された前記ディジタル・システムの複数の論理タイプを含む回路構成を含み、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサ内の前記複数の論理タイプの特定の論理タイプのパーセンテージが、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサのエージングを前記ディジタル・システムのエージングに相関させるために前記ディジタル・システム内の前記複数の論理タイプの特定の論理タイプのパーセンテージを再現し、前記少なくとも１つリング・オシレータ・センサが、カウント信号を出力する、入手することと、
前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの前記カウント信号を前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの発振周波数に変換することと、
前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの発振周波数を周期的に評価し、
（ｉ）前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの測定または推定された発振周波数が前記ディジタル・システムの警告しきい周波数未満である、または
（ｉｉ）前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの測定された発振周波数の間の差の測定または推定された変化のレートが前記ディジタル・システムの許容可能な変化のレートしきい値を超える
のうちの少なくとも１つである場合に、前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサの、したがって前記ディジタル・システムの信頼性劣化を示す警告信号を生成することと
を含む方法。
【請求項１２】
前記ディジタル・システムが、複数のディジタル機能ブロックおよび複数の回路区域を含み、前記入手することが、さらに、複数のリング・オシレータ・センサを入手することを含み、各リング・オシレータ・センサが、前記ディジタル・システムの論理タイプ構成またはデバイス・タイプ構成のうちの少なくとも１つを再現し、前記ディジタル・システムの関連する少なくとも１つのディジタル機能ブロックまたは回路区域のエージングを監視するのに有用なカウント信号を提供するために、前記ディジタル・システムの前記複数のディジタル機能ブロックまたは複数の回路区域のうちの少なくとも１つに関連する、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記ディジタル・システムおよび前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサが、共通の電源によって電力を供給され、前記方法が、さらに、これによって前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサのエージングを前記ディジタル・システムのエージングに相関するのを容易にするために、前記ディジタル・システムがアクティブである時に限って前記少なくとも１つのリング・オシレータ・センサをイネーブルすることを含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１４】
前記ディジタル・システムが、さらに、複数のディジタル機能ブロックを含み、前記入手することが、複数のリング・オシレータ・センサを入手することを含み、各リング・オシレータ・センサが、前記複数のディジタル機能ブロックのめいめいのディジタル機能ブロック内に埋め込まれ、各ディジタル機能ブロックおよび関連するリング・オシレータ・センサが、電源を共有し、前記関連するリング・オシレータ・センサが、前記ディジタル機能ブロックがアクティブである時に限ってイネーブルされる、請求項１１に記載の方法。
【請求項１５】
前記ディジタル・システムの前記回路構成が、複数の論理タイプを含み、前記複数の論理タイプが、ＡＮＤ論理、ＮＡＮＤ論理、ＯＲ論理、ＮＯＲ論理、およびインバータ論理のうちの少なくとも２つを含み、前記ディジタル・システムの前記複数の論理タイプが、さらに、少なくとも１つのデバイス・タイプを含み、前記少なくとも１つのデバイス・タイプが、薄い酸化物デバイス、厚い酸化物デバイス、低濃度ＶＴドープ・デバイス、または高濃度ＶＴドープ・デバイスのうちの１つまたは複数を含む、請求項１１に記載の方法。