【手続補正書】
【提出日】平成23年11月11日(2011.11.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アクティブビデオ煙検出（ＡＶＳＤ）システムでの方法であって、
ＡＶＳＤシステムは、監視対象の空間を横切って光ビームを放射するように構成された、少なくとも１つの主光源と、
視野を有し、光ビームの少なくとも一部分の画像を取得するように配置された画像センサと、
画像センサで取得された画像を分析し、ビームから散乱して画像内に捕らえられた光に基づいて、前記空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備え、
前記方法は、下記ステップ（ａ）（ｂ）により、光センサの視野への物体の進入を判断することを含むようにした方法。
（ａ）画像センサの視野の少なくとも一部を横切って光ビームを放射するステップ。
（ｂ）画像センサの出力を分析して、物体が光ビームを妨害していないかどうかを判断するステップ。
【請求項２】
画像センサの視野の少なくとも一部を横切って光ビームを放射するステップは、監視対象の空間の一部を横切って光ビームを走査するステップをさらに含む請求項１記載の方法。
【請求項３】
主光源は、空間内の粒子検出が可能なように、主ビーム位置において、監視対象の空間を横切って光ビームを放射するように配置され、
監視対象の空間の一部分を横切って光ビームを走査するステップは、主ビーム位置と画像取得手段との間の空間内の領域を照明して、画像取得手段と、主ビーム位置にあるときの光ビームとの間の視線を遮る物体の特定を試みるように、監視対象の空間の一部分を横切って光ビームを走査することを含む請求項２記載の方法。
【請求項４】
画像センサの出力を分析するステップは、センサ出力において、反射、屈折、回折パターンまたは輝きという特徴のうちの任意の１つの存在を識別することを含む請求項３記載の方法。
【請求項５】
監視対象の空間の一部分を横切って光ビームを走査するステップは、監視対象の空間の後方にあるバックグラウンドを照明するステップを含み、
画像センサの出力を分析するステップは、センサ出力において影の存在を識別することを含む請求項１記載の方法。
【請求項６】
照明は、不可視である請求項５記載の方法。
【請求項７】
バックグラウンドを照明するステップは、バックグラウンド表面に光パターンを投影するステップを含む請求項５記載の方法。
【請求項８】
少なくとも１つの画像において前記投影パターンの認識を試みて、予想される部分の投影パターンが少なくとも１つの画像内で視認できない場合、対象領域への進入物が生じたと判断するステップを含む請求項７記載の方法。
【請求項９】
ステップ（ａ）は、ＡＶＳＤシステムの主光源を用いて行われる請求項１〜８のいずれかに記載の方法。
【請求項１０】
ＡＶＳＤシステムは、粒子検出用に使用しない少なくとも１つの二次光源を備え、
ステップ（ａ）は、前記二次光源を用いて行われる請求項１〜８のいずれかに記載の方法。
【請求項１１】
ＡＶＳＤシステムは、主光源によって影響される画像センサの視野の一部分を監視するための少なくとも１つの二次光源を備え、
該方法は、画像センサの出力を分析し、二次光源と画像センサとの間の物体の進入を判断するステップを含む請求項１〜１０のいずれかに記載の方法。
【請求項１２】
二次光源は、画像センサの視野の拡大された領域をカバーしている請求項１０記載の方法。
【請求項１３】
物体が光ビームを妨害していると判断したとき、不具合発生を示すことをさらに含む請求項１〜１０のいずれかに記載の方法。
【請求項１４】
アクティブビデオ煙検出（ＡＶＳＤ）システムであって、
監視対象の空間を横切って光ビームを放射するように構成された、少なくとも１つの主光源と、
視野を有し、光ビームの少なくとも一部分の画像を取得するように配置された画像センサと、
画像センサで取得された画像を分析し、ビームから散乱して画像内に捕らえられた光に基づいて、前記空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備え、
請求項１〜１３のいずれかに記載の方法を実施するように構成されたＡＶＳＤシステム。
【請求項１５】
監視対象の空間の一部を横切って光ビームを走査する手段をさらに備えた請求項１４記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項１６】
主光源は、空間内の粒子検出が可能なように、主ビーム位置において、監視対象の空間を横切って光ビームを放射するように配置され、
監視対象の空間の一部分を横切って光ビームを走査する手段は、主ビーム位置と画像取得手段との間の空間内の領域を照明して、画像取得手段と、主ビーム位置にあるときの光ビームとの間の視線を遮る物体の特定を試みるように、走査ビームを発生するように構成されている請求項１５記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項１７】
画像センサの出力を分析する手段は、センサ出力において、反射、屈折、回折パターンまたは輝きという特徴のうちの任意の１つの存在を識別することを含む請求項１６記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項１８】
少なくとも１つの二次光源を備える請求項１７記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項１９】
二次光源は、画像センサの視野の一部分を横切って光ビームを放射するように配置され、監視対象の空間の後方にあるバックグラウンドを照明することを含み、
画像を分析する手段は、センサ出力において影の存在を識別するように構成されている請求項１８記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項２０】
二次光源は、バックグラウンド表面に光パターンを投影するようにした請求項１９記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項２１】
二次光源は、主光源によって影響される画像センサの視野の一部分に配置され、
画像を分析する手段は、二次光源の障害物を検出し、二次光源と画像センサとの間の物体の進入を判断するようにした請求項１８記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項２２】
二次光源は、画像センサの視野の拡大された領域をカバーしている請求項２１記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項２３】
走査ビームは、主光源によって放射される請求項１７記載のＡＶＳＤシステム。
【請求項２４】
走査ビームは、二次光源によって放射される請求項１８記載のＡＶＳＤシステム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
別の態様において、本発明は、放射のビームを放射するマーカー光源を備えるＡＶＳＤシステムであって、少なくとも１つの放射のビームを監視対象の空気の空間を横切って案内するための照明手段と、前記ビームの少なくとも一部分の画像を取得するように配置された画像センサと、前記取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段とを備えており、前記放射のビームのうちの少なくとも１つが、当該システムによる検出の対象の粒子が実質的に存在しないときの前記空間を通過するビームの経路の割り出しを、前記光センサによって行うことができるようにするマーカービームであるシステムを提供する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１１２】
粒子検出システムは、好ましくは、電磁放射のあらかじめ定められた偏光を使用して粒子を検出するように構成される。好ましくは、本システムを、粒子を２つの偏光状態にて検出するように構成することができる。本システムの光源または光センサの一方または両方が、偏光選択的な様相で動作できる。前記少なくとも１つの照明手段が、随意により偏光させた光ビームを放射するように構成される。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１７４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１７４】
このシステムは、前記空間を横切ってビームを反射させるための反射器を備えることができる。その場合には、前記部分光損失測定装置および前記ＡＶＳＤシステムの主光源が、実質的に同じ位置に位置する。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１８９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１８９】
ファンは、ブラシレスＤＣモータを備えることができる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２１１】
一形態においては、この目的を、光源および受光器から遠い、保護対象の空間の遠位端に配置される専用の反射器を使用することによって達成できる。光ビームが反射器へと向けられ、反射器が、受光器に隣接していてよい必要とされるターゲット位置へと、反射ビームを返すように設計される。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２４４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２４４】
上述した我々の以前の特許出願に開示のシステムのいくつかの実施形態においては、システムの較正または整列のために煙を模擬するために、透明な（あるいは、同様の）缶が使用できる。そのような実施形態においては、光散乱材料の半透明なピースを、レーザビームの経路の位置を割り出し、粒子検出器の正しい動作を確認するために、好都合に使用することができる。これは、試運転および保守の際にとくに有用である。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０４１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０４１３】
さらに別の変種は、塵埃において生じ得るガウス散乱サンプル分布を利用することを含む。大きな粒子がビームを通過するとき、明るい閃光が生成される。これは、電気雑音プロセスによって引き起こされる無作為な変動またはシーンからの散弾雑音からはっきりと相違する。粒子が存在しないときの散乱の読み取りの分布は、多数の非相関の源の合計であるため、ほぼガウス分布である。同様に、小さな粒子が検出可能なレベルで存在するときの散乱の読み取りの分布は、典型的には多数の粒子がビーム内に存在するため、ガウス形へと向かう傾向にある。しかしながら、検出可能な濃度における大きな粒子では、存在する粒子の数が、典型的には、煙が存在する場合よりもはるかに少ない。したがって、分布が何らかの尖度および非対称を示す可能性がある。