(57)【要約】【課題】イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。【解決手段】端末機器１１０１ａ，１１０１ｂが一定値以上のオクテット長で構成された試験用フレーム５０１を試験区間５０２ａ〜５０２ｃに対して送信し、試験区間５０２ａ〜５０２ｃ内であって試験対象以外のブリッジ５５１，５５２が試験用フレーム５０１を受信して通過させ、試験対象となるブリッジ５５３が試験用フレーム５０１を受信して廃棄するとともにオーバーフレームとしてカウントし、サーバ１１０６が、端末機器１１０１ａ，１１０１ｂにより送信された試験用フレーム５０１の数とブリッジ５５３によりカウントされたオーバーフレームの数とを比較し、該比較結果に基づいて導通性を確認する。【選択図】        図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
スイッチングハブを含むブリッジ一台以上で構成されるイーサネットワークと、該イーサネットワークに接続される端末機器と、前記イーサネットワーク及び端末機器に接続されるサーバとを備えたシステムが、前記端末機器と、試験対象となるブリッジ、または前記端末機器にイーサネットワークを介して対向する他の端末機器との試験区間における導通性試験方法であって、前記端末機器が、一定値以上のオクテット長で構成された試験用フレームを前記試験区間に対して送信し、前記試験区間内であって試験対象以外のブリッジが、前記試験用フレームを受信して通過させ、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、前記試験用フレームを受信した場合に該試験用フレームを廃棄するとともにオーバーフレームとしてカウントし、前記サーバが、端末機器により送信された試験用フレームの数と、試験対象によりカウントされたオーバーフレームの数とを比較し、該比較結果に基づいて導通性を確認する、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項２】
請求項１に記載の導通性試験方法において、前記端末機器が送信する試験用フレームは、通常の通信においては利用を禁止され、かつ前記システムを構成するブリッジまたは端末機器の故障が原因では発生しない一定値以上のオクテット長で構成されたフレームであり、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、フレームを受信すると、前記試験用フレームと通常の通信を目的として受信するフレームとを識別し、前記試験用フレームを識別した場合に該試験用フレームを廃棄するとともにオーバーフレームとしてカウントする、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載の導通性試験方法において、前記端末機器が、一以上の試験対象を示す特定のユニキャストアドレス、ブロードキャストアドレスまたはマルチキャストアドレスを付与した試験用フレームを送信する、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項４】
請求項１または２に記載の導通性試験方法において、前記端末機器が、ＶＬＡＮ識別子を付与した試験用フレームを前記ＶＬＡＮに内包される試験区間に対して送信する、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項５】
請求項１または２に記載の導通性試験方法において、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、前記試験用フレームを受信した場合に、該試験用フレームのオクテット長と予め定義されたオクテット設定値とを比較し、前記オクテット長がオクテット設定値以上のときは前記試験用フレームを廃棄するとともにオーバーフレームとしてカウントする、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項６】
請求項５に記載の導通性試験方法において、前記サーバが、試験対象となるブリッジまたは他の端末機器に予め定義されているオクテット設定値を変更する、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項７】
請求項１または２に記載の導通性試験方法において、前記試験区間内であって試験対象以外のブリッジが、前記試験用フレームを受信した場合に、該試験用フレームのオクテット長と予め定義されたオクテット設定値とを比較し、前記オクテット長がオクテット設定値よりも小さいときは前記試験用フレームを通過させる、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項８】
請求項７に記載の導通性試験方法において、前記サーバが、試験区間内であって試験対象以外のブリッジに予め定義されているオクテット設定値を変更する、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項９】
請求項１または２に記載の導通性試験方法において、前記サーバが、端末機器により送信された試験用フレームの数と、試験対象によりカウントされたオーバーフレームの数とを取得して比較し、前記フレーム数とオーバーフレーム数が等しい場合には前記試験区間は正常であると判断し、前記フレーム数よりオーバーフレーム数が少なく、かつオーバーフレーム数が０より多い場合には、前記試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断する、ことを特徴とする導通性試験方法。
【請求項１０】
スイッチングハブを含むブリッジ一台以上で構成されるイーサネットワークと、該イーサネットワークに接続される端末機器と、前記イーサネットワーク及び端末機器に接続されるサーバとを備え、前記端末機器と、試験対象となるブリッジ、または前記端末機器にイーサネットワークを介して対向する他の端末機器との試験区間の導通性試験を行う導通性試験システムであって、前記端末機器が、一定値以上のオクテット長で構成された試験用フレームを前記試験区間に対して送信する手段を備え、前記試験区間内であって試験対象以外のブリッジが、前記試験用フレームを受信して通過させる手段を備え、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、前記試験用フレームを受信した場合に、該試験用フレームを廃棄する手段、及びオーバーフレームとしてカウントする手段を備え、前記サーバが、端末機器により送信された試験用フレームの数と、試験対象によりカウントされたオーバーフレームの数とを取得して比較する手段、及び該比較結果に基づいて導通性を確認する手段を備えた、ことを特徴とする導通性試験システム。
【請求項１１】
請求項１０に記載の導通性試験システムにおいて、前記端末機器に備えた手段が送信する試験用フレームは、通常の通信においては利用を禁止され、かつ前記システムを構成するブリッジまたは端末機器の故障が原因では発生しない一定値以上のオクテット長で構成されたフレームであり、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、フレームを受信する手段、前記受信したフレームに対し試験用フレームと通常の通信を目的として受信するフレームとを識別する手段、前記試験用フレームを識別した場合に、該試験用フレームを廃棄する手段、及びオーバーフレームとしてカウントする手段を備えた、ことを特徴とする導通性試験システム。
【請求項１２】
請求項１０または１１に記載の導通性試験システムにおいて、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、前記試験用フレームのオクテット長と予め定義されたオクテット設定値とを比較する手段、前記オクテット長がオクテット設定値以上のときは、前記試験用フレームを廃棄する手段、及びオーバーフレームとしてカウントする手段を備え、前記サーバが、試験対象となるブリッジまたは他の端末機器に予め定義されているオクテット設定値を変更する手段を備えた、ことを特徴とする導通性試験システム。
【請求項１３】
請求項１０または１１に記載の導通性試験システムにおいて、前記試験区間内であって試験対象以外のブリッジが、前記試験用フレームのオクテット長と予め定義されたオクテット設定値とを比較する手段、及び前記オクテット長がオクテット設定値よりも小さいときは前記試験用フレームを通過させる手段を備え、前記サーバが、試験区間内であって試験対象以外のブリッジに予め定義されているオクテット設定値を変更する手段を備えた、ことを特徴とする導通性試験システム。
【請求項１４】
請求項１０または１１に記載の導通性試験システムにおいて、前記サーバが、端末機器により送信された試験用フレームの数と、試験対象によりカウントされたオーバーフレームの数とを比較する手段、前記フレーム数とオーバーフレーム数が等しい場合には前記試験区間は正常であると判断する手段、前記フレーム数よりオーバーフレーム数が少なく、かつオーバーフレーム数が０より多い場合には、前記試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断する手段、及び前記オーバーフレーム数が０の場合には永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断する手段を備えた、ことを特徴とする導通性試験システム。
【請求項１５】
請求項１０から１４に記載の導通性試験システムにおけるサーバに備えた手段により実現する処理を、サーバ上で実行させる導通性試験プログラム。
【請求項１６】
請求項１５に記載の導通性試験プログラムを記録した記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、イーサネットワークシステムにおける故障および異常診断方法に関し、特に所定の経路に対する通信フレームの導通性試験方法および導通性試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、ＴＣＰ／ＩＰネットワークの導通性試験には、ルータ毎に端末機器から試験用のパケットを送信して応答させる機能として、ＩＣＭＰ（Ｉｎｔｅｒｎｅｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  Ｍｅｓｓａｇｅ  Ｐｒｏｔｏｃｏｌ）プロトコルによるｐｉｎｇ（Ｐａｃｋｅｔ  Ｉｎｔｅｒｎｅｔ  Ｇｒｏｐｅｒ）を利用したものが存在するが（例えば、非特許文献１を参照。）、イーサネット（登録商標）ワークにおいてはこれと同等の機能が存在しない。また、イーサネットワークを構成するブリッジおよび端末機器のメモリ上に記憶される通過フレーム数の統計値（例えば、非特許文献２を参照。）を用いた導通性試験では、多数の端末機器がイーサネットワークに同時にフレームを送信した場合、多数のフレームが混在し、その合計値として通過フレーム数が記録されるに過ぎないため、特定の端末機器から送信された試験用のフレームを識別することが困難であった。
【０００３】
また、試験用のフレームを識別するために、端末機器がフレーム長やＣＲＣに関するエラーの性質を有するフレームを送信した場合、直接接続されたブリッジはそのフレームをエラーとして識別することが可能である。しかし、当該フレームを受信したブリッジは、エラーの種別をメモリにカウントした後そのフレームを廃棄してしまい、そのブリッジ以降の経路にフレームを転送することができないため、試験区間を延長することが困難であった。このため、試験区間は、イーサネットワークにおける極めて狭い範囲に留まっていた。
【０００４】
また、スパニングツリープロトコル（例えば、非特許文献３を参照。）によりイーサネットワークを構成するブリッジ間の導通性を確認する技術が存在するが、必ずしもイーサネットワークに接続された端末機器からの導通性を保証していないため、導通性試験としては不十分である。
【０００５】
【非特許文献１】
ＩＥＴＦ  ＲＦＣ７９２  「ＩＮＴＥＲＮＥＴ  ＣＯＮＴＲＯＬ  ＭＥＳＳＡＧＥ  ＰＲＯＴＯＣＯＬ」、Ｅｃｈｏ  ｏｒ  Ｅｃｈｏ  Ｒｅｐｌｙ  Ｍｅｓｓａｇｅ、ｐ．１４−１５
【非特許文献２】
ＩＥＴＦ  ＲＦＣ１７５７  「Ｒｅｍｏｔｅ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  Ｂａｓｅ」、２．３．１．ＴＨＥ  Ｅｔｈｅｒｎｅｔ  Ｓｔａｔｉｓｔｉｃｓ  Ｇｒｏｕｐ、ｐ．６
【非特許文献３】
ＩＥＥＥ  ８０２．１Ｄ−１９９８、８．５．４．１  Ｈｅｌｌｏ  Ｔｉｍｅｒ、ｐ．８９
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、スイッチングハブを含むブリッジ一台以上で構成されるイーサネットワークと、該イーサネットワークに接続される端末機器と、前記イーサネットワーク及び端末機器に接続されるサーバとを備えたシステムが、前記端末機器と、試験対象となるブリッジ、または前記端末機器にイーサネットワークを介して対向する他の端末機器との試験区間における導通性試験を行うにあたって、前記端末機器が、一定値以上のオクテット長で構成された試験用フレームを前記試験区間に対して送信し、前記試験区間内であって試験対象以外のブリッジが、前記試験用フレームを受信して通過させ、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、前記試験用フレームを受信した場合に該試験用フレームを廃棄するとともにオーバーフレームとしてカウントし、前記サーバが、端末機器により送信された試験用フレームの数と、試験対象によりカウントされたオーバーフレームの数とを比較し、該比較結果に基づいて導通性を確認するように構成する。
【０００８】
また、本発明の前記試験用フレームは、通常の通信においては利用を禁止され、かつ前記システムを構成するブリッジまたは端末機器の故障が原因では発生しない一定値以上のオクテット長で構成されたフレームである。
【０００９】
また、本発明は、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、フレームを受信すると、前記試験用フレームと通常の通信を目的として受信するフレームとを識別し、前記試験用フレームを識別した場合に該試験用フレームを廃棄するとともにオーバーフレームとしてカウントする。
【００１０】
また、本発明は、前記端末機器が、一以上の試験対象を示す特定のユニキャストアドレス、ブロードキャストアドレスまたはマルチキャストアドレスを付与した試験用フレームを送信する。
【００１１】
また、本発明は必要に応じて、前記端末機器が、ＶＬＡＮ識別子を付与した試験用フレームを前記ＶＬＡＮに内包される試験区間に対して送信する。
【００１２】
また、本発明は、前記試験対象となるブリッジまたは他の端末機器が、前記試験用フレームを受信した場合に、該試験用フレームのオクテット長と予め定義されたオクテット設定値とを比較し、前記オクテット長がオクテット設定値以上のときは前記試験用フレームを廃棄するとともにオーバーフレームとしてカウントし、前記サーバが、試験対象となるブリッジまたは他の端末機器に予め定義されているオクテット設定値を変更する。
【００１３】
また、本発明は、前記試験区間内であって試験対象以外のブリッジが、前記試験用フレームを受信した場合に、該試験用フレームのオクテット長と予め定義されたオクテット設定値とを比較し、前記オクテット長がオクテット設定値よりも小さいときは前記試験用フレームを通過させ、前記サーバが、試験区間内であって試験対象以外のブリッジに予め定義されているオクテット設定値を変更する。
【００１４】
また、本発明は、前記サーバが、端末機器により送信された試験用フレームの数と、試験対象によりカウントされたオーバーフレームの数とを取得して比較し、前記フレーム数とオーバーフレーム数が等しい場合には前記試験区間は正常であると判断し、前記フレーム数よりオーバーフレーム数が少なく、かつオーバーフレーム数が０より多い場合には、前記試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断する。
【００１５】
また、本発明は、上記のサーバにより実現するそれぞれの処理を、サーバ上で実行させる導通性試験プログラムである。
【００１６】
また、本発明は、上記の導通性試験プログラムを記録した記録媒体である。
【００１７】
以上より、試験対象となるブリッジまたは他の端末機器に定義されたオクテット設定値を、オーバーフレームを認識するように小さく設定変更するとともに、通常の通信においては利用を禁止され、かつブリッジまたは端末機器の故障が原因では発生しない一定値以上のオクテット長になるように設定変更し、また、試験区間内であって試験対象以外のブリッジに定義されたオクテット設定値を、試験用フレームが通過するように大きく設定変更する。これにより、試験対象となるブリッジまたは他の端末機器において、試験用フレームは廃棄されるから、試験用フレームが試験区間を超えて転送されないことを保証できる。また、試験区間内であって試験対象以外のブリッジにおいて、試験用フレームを廃棄することなく通過させることができる。さらに、端末機器から送信された適切なオクテット長の試験用フレームは、試験区間の経路上に通信を妨害する問題が発生しない限り、導通性試験により端末機器から確認したい試験対象となるブリッジまたは他の端末機器にまで到達する。そして、当該ブリッジまたは他の端末機器において、オーバーフレームのエラーとして認識されメモリにカウントされる。従って、送信された試験用フレームの数と当該カウント値とを比較することにより、端末機器と試験対象となるブリッジまたは他の端末機器との間の導通性を確認することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に説明にする。
図１〜３は、オーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける実装形態を説明する内部構成図である。この実装形態は、オーバーフレームのカウント範囲によって分類される。また、図４は、オーバーフレームのカウント機能を有する端末機器における実装形態を説明する内部構成図である。
【００１９】
図１に示すブリッジにおける第一の実装形態では、ブリッジ１０１に内包されている全ての入出力ポート１０３ａ〜１０３ｄにおいて、オーバーフレームを認識する共通の最小のオクテット長である最小オクテット設定値ｘが定義されている。ブリッジ１０１は、機能部１０４ａ〜１０４ｄおよびメモリ領域１０５ａ〜１０５ｄを有する物理ポートである入出力ポート１０３ａ〜１０３ｄと、データの交換をフレーム単位で行うフレームスイッチ部１０２とを備えている。
【００２０】
入出力ポート１０３ａ〜１０３ｄの各機能部１０４ａ〜１０４ｄは、入力された各フレーム１０６ａ〜１０６ｄのオクテット長Ｌ１〜Ｌ４を、それぞれｘと比較する。Ｌ１〜Ｌ４がｘに等しい場合、またはＬ１〜Ｌ４がｘを超える場合は、オーバーフレームであると認識し、入力されたフレームを廃棄するとともにメモリ領域１０５ａ〜１０５ｄのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、共通のオクテット長である最小オクテット設定値ｘを変更することができ（ジャンボフレーム機能）、このｘを変更した場合は、ブリッジ１０１に内包されている全ての入出力ポート１０３ａ〜１０３ｄに対して同時に有効となる。
【００２１】
図２に示す第二の実装形態では、ブリッジ２０１に内包されている入出力ポート２０３ａ〜２０３ｄにおいて、オーバーフレームを認識する最小のオクテット長である最小オクテット設定値ｘ１〜ｘ４が入出力ポート毎に定義されている。
ブリッジ２０１は、機能部２０４ａ〜２０４ｄおよびメモリ領域２０５ａ〜２０５ｄをそれぞれ有する物理ポートである入出力ポート２０３ａ〜２０３ｄと、フレームスイッチ部２０２とを備えている。
【００２２】
入出力ポート２０３ａ〜２０３ｄの各機能部２０４ａ〜２０４ｄは、入力された各フレーム２０６ａ〜２０６ｄのオクテット長Ｌ１〜Ｌ４を、それぞれｘ１〜ｘ４と比較する。入出力ポート２０３ａにおいて、Ｌ１がｘ１に等しい場合、またはＬ１がｘ１を超える場合は、オーバーフレームであると認識し、入力されたフレームを廃棄するとともにメモリ領域２０５ａのカウント値を増加する。同様に、Ｌ２〜Ｌ４がｘ２〜ｘ４にそれぞれ等しい場合、またはＬ２〜Ｌ４がｘ２〜ｘ４をそれぞれ超える場合は、オーバーフレームであると認識し、入力されたフレームを廃棄するとともにそれぞれメモリ領域２０５ｂ〜２０５ｄのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、オクテット長である最小オクテット設定値ｘ１〜ｘ４を入出力ポート２０３ａ〜２０３ｄ単位で変更することができる。
【００２３】
図３に示す第三の実装形態では、ブリッジ３０１に内包されている入出力ポート３０３ａ〜３０３ｄにおいて、オーバーフレームを認識する最小のオクテット長である最小オクテット設定値ｘ１〜ｘ８が、入出力ポート内で入力および出力単位に定義されている。ブリッジ３０１は、機能部３０４ａ〜３０４ｈおよびメモリ領域３０５ａ〜３０５ｈをそれぞれ有する物理ポートである入出力ポート３０３ａ〜３０３ｄと、フレームスイッチ部３０２とを備えている。
【００２４】
入出力ポート３０３ａ〜３０３ｄの各機能部３０４ａ〜３０４ｄは、入力された各フレーム３０６ａ〜３０６ｄのオクテット長Ｌ１〜Ｌ４を、それぞれｘ１〜ｘ４と比較する。Ｌ１〜Ｌ４がｘ１〜ｘ４にそれぞれ等しい場合、またはＬ１〜Ｌ４がｘ１〜ｘ４をそれぞれ超える場合は、オーバーフレームであると認識し、入力されたフレームを廃棄するとともにそれぞれメモリ領域３０５ａ〜３０５ｄのカウント値を増加する。また、入出力ポート３０３ａ〜３０３ｄの各機能部３０４ｅ〜３０４ｈは、出力される各フレーム３０６ｅ〜３０６ｈのオクテット長Ｌ５〜Ｌ８を、それぞれｘ５〜ｘ８と比較する。Ｌ５〜Ｌ８がｘ５〜ｘ８にそれぞれ等しい場合、またはＬ５〜Ｌ８がｘ５〜ｘ８をそれぞれ超える場合は、オーバーフレームであると認識し、出力されるフレームを廃棄するとともにそれぞれメモリ領域３０５ｅ〜３０５ｈのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、オクテット長である最小オクテット設定値ｘ１〜ｘ８を入出力ポート３０３ａ〜３０３ｄの入力および出力単位で変更することができる。
【００２５】
図４に示す端末機器における実装形態では、端末機器４０１に内包されているインタフェース部４０２において、オーバーフレームを認識する最小のオクテット長である最小オクテット設定値ｘ１が定義されている。端末機器４０１は、機能部４０４およびメモリ領域４０５を有するイーサネットのインタフェース部４０２と、イーサネットのインタフェース以外の処理を行う処理部４０６とを備えている。
【００２６】
インタフェース部４０２の機能部４０４は、入力されたフレーム４０３のオクテット長Ｌ１をｘ１と比較する。Ｌ１がｘ１に等しい場合、またはＬ１がｘ１を超える場合は、オーバーフレームであると認識し、入力されたフレームを廃棄するとともにメモリ領域４０５のカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、オクテット長である最小オクテット設定値ｘ１を変更することができる。
【００２７】
図５は、本発明の基本的な実施例を示す説明図である。
本実施例は、図示しない端末機器とブリッジ５５１との間を試験区間５０２ａ、ブリッジ５５１とブリッジ５５２との間を試験区間５０２ｂ、ブリッジ５５２とブリッジ５５３との間を試験区間５０２ｃ、試験区間の終端点５０３をブリッジ５５３とする。尚、ブリッジ５５１〜５５３は、図１〜３に示したブリッジと同等の機能および構成を有し、説明に必要な構成要素のみに付番してある。
【００２８】
まず、図示しない端末機器は、通信上に問題を認識すると、イーサネットワークにおける通常の利用において規定されたオクテット長である１５２２オクテットを超える１５３０オクテットのフレーム５０１を試験用に生成し、目的の経路を示す宛先アドレスである特定のユニキャストアドレスを付与して送信する。このフレーム５０１は、通常の通信においては利用を禁止され、かつブリッジまたは端末機器の故障が原因では発生しない一定値以上のオクテット長で構成されたフレームである。
【００２９】
ブリッジ５５１は、当該フレーム５０１を入力する。ブリッジ５５１の入出力ポート５８１には、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値５０４ａ（ｘ１＝１５４０）が、フレーム５０１のオクテット長である１５３０オクテットを超える値として設定されている。入出力ポート５８１の機能部５０７ａは、入力されたフレーム５０１のオクテット長１５３０と、最小オクテット設定値５０４ａであるｘ１＝１５４０とを比較する。フレーム５０１のオクテット長が最小オクテット設定値５０４ａ以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、ブリッジ５５１に故障等の問題がない限り、フレーム５０１は、宛先アドレスに準じた経路として続くブリッジ５５２に転送される。
【００３０】
ブリッジ５５２は、ブリッジ５５１から転送されたフレーム５０１を入力する。ブリッジ５５２はブリッジ５５１と同様な処理を行う。すなわち、入出力ポート５８２には、最小オクテット設定値５０４ｂ（ｘ２＝１５４０）が設定されている。入出力ポート５８２の機能部５０７ｂは、入力されたフレーム５０１のオクテット長１５３０と、最小オクテット設定値５０４ｂであるｘ２＝１５４０とを比較し、フレーム５０１のオクテット長が最小オクテット設定値５０４ｂ以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、ブリッジ５５２に故障等の問題がない限り、フレーム５０１は、宛先アドレスに準じた経路として続く終端点５０３となるブリッジ５５３に転送される。
【００３１】
ブリッジ５５３は、ブリッジ５５２から転送されたフレーム５０１を入力する。ブリッジ５５３の入出力ポート５８３には、最小オクテット設定値５０５（ｘ３＝１５２９）が、フレーム５０１のオクテット長である１５３０オクテットよりも小さい値として設定されている。入出力ポート５８３の機能部５０７ｃは、入力されたフレーム５０１のオクテット長１５３０と、最小オクテット設定値５０５であるｘ３＝１５２９とを比較する。フレーム５０１のオクテット長が最小オクテット設定値５０５以上であるため、オーバーフレームを認識する。そして、入力されたフレームを廃棄するとともに、メモリ領域５７１のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。このように、ブリッジ５５１〜５５３は、フレーム５０１を入力すると、入力されたフレーム５０１のオクテット長と最小オクテット設定値とを比較することにより、試験用のフレーム５０１と通常の通信を目的として受信するイーサフレームとを識別する。また、図示しない外部機器は、メモリ領域５７１のカウント値を出力情報５０６として取得する。
【００３２】
図示しない外部機器は、試験対象のブリッジ５５３のメモリ領域５７１から、図示しない端末機器が試験用のフレーム５０１を送信する前におけるオーバーフレームのカウント値と、試験用のフレーム５０１を送信した後におけるカウント値とを取得する。そして、このオーバーフレームのカウント値の増分と、端末機器が送信した試験用のフレーム５０１の数とを比較し、前記フレーム数とオーバーフレーム数が等しい場合には試験区間は正常であると判断し、前記フレーム数よりオーバーフレーム数が少なく、かつオーバーフレーム数が０より多い場合には、試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断できる。
【００３３】
また、試験区間をより短くまたはより長くする場合は、試験対象となるブリッジに設定された最小オクテット設定値と、図示しない端末機器と試験対象となるブリッジとの間に存在するブリッジに設定された最小オクテット設定値とを変更すればよい。すなわち、上述したように、外部機器がこれらの最小オクテット設定値を変更することにより、試験区間を容易に変更することができる。
【００３４】
尚、図５に示した実施例では、図１〜３に示したオーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける実装形態のうち、どの形態を利用しても実施することができる。
【００３５】
また、上述した実施例では、図示しない外部機器が、端末機器により送信された試験用のフレームの数と、試験対象によりカウントされたオーバーフレームの数とを比較することにより、比較結果に基づいて導通性を確認するようにしたが、端末機器から試験対象に試験用のフレームが到達したことを認識することにより、導通性を確認するようにしてもよい。
【００３６】
図６は、経路上の複数のブリッジの試験を実施する場合を示す説明図である。本実施例は、経路上に存在する複数のブリッジおよび対向の端末機器の導通性について、オーバーフレームを認識するそれぞれの最小オクテット設定値を一度設定するだけで試験を可能とするものである。本実施例は、図示しない端末機器、終端点６０３ａとなるブリッジ６５１、終端点６０３ｂとなるブリッジ６５２、終端点６０３ｃとなるブリッジ６５３、および終端点６０３ｄとなる端末機器６６１とを備える。尚、ブリッジ６５１〜６５３および端末機器６６１は、図１〜４に示したブリッジおよび端末機器と同等の機能および構成を有し、説明に必要な構成要素のみに付番してある。
【００３７】
ブリッジ６５１〜６５３および対向の端末機器６６１には、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値６０４ａ〜６０４ｄが、試験用のフレーム６０１を送信する図示しない端末機器から遠く離れるほど小さくなるように設定されている。すなわち、図示しない端末機器に近いブリッジ６５１の最小オクテット設定値６０４ａがｘ１＝１５４０、ブリッジ６５２の最小オクテット設定値６０４ｂがｘ２＝１５３９、ブリッジ６５３の最小オクテット設定値６０４ｃがｘ３＝１５３８、そして最も離れている端末機器６６１の最小オクテット設定値６０４ｄがｘ４＝１５３７に設定されている。
【００３８】
まず、図示しない端末機器は、試験区間の経路上に存在する各ブリッジ６５１〜６５３および対向する端末機器６６１においてオーバーフレームを認識するオクテット長のフレーム６０１を、同時または短時間内で全て送信する。図６に示すように、試験用のフレーム６０１は、Ｌ１＝１５４０オクテット長のフレーム、Ｌ２＝１５３９オクテット長のフレーム、Ｌ３＝１５３８オクテット長のフレーム、およびＬ４＝１５３７オクテット長のフレームである。
【００３９】
ブリッジ６５１は、試験用のフレーム６０１を入力する。入出力ポート６８１は、入力されたフレーム６０１のオクテット長Ｌ１〜Ｌ４と、最小オクテット設定値６０４ａであるｘ１＝１５４０とを比較する。オクテット長Ｌ１のフレームのＬ１が最小オクテット設定値６０４ａ以上であるため、オーバーフレームを認識する。その他のオクテット長Ｌ２〜Ｌ３のフレームに対しては、Ｌ２〜Ｌ３が最小オクテット設定値６０４ａ以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、入力されたオクテット長Ｌ１のフレームを廃棄するとともに、メモリ領域６７１のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、オクテット長Ｌ２〜Ｌ４のフレームは、続くブリッジ６５２に転送される。また、図示しない外部機器は、メモリ領域６７１のカウント値を出力情報６０６ａとして取得する。
【００４０】
ブリッジ６５２は、ブリッジ６５１から転送された試験用のフレーム６０５ａを入力する。このフレーム６０５ａはオクテット長Ｌ２〜Ｌ４のフレームである。入出力ポート６８２は、入力されたフレーム６０５ａのオクテット長Ｌ２〜Ｌ４と、最小オクテット設定値６０４ｂであるｘ２＝１５３９とを比較する。オクテット長Ｌ２のフレームのＬ２が最小オクテット設定値６０４ｂ以上であるため、オーバーフレームを認識する。その他のオクテット長Ｌ３，Ｌ４のフレームに対しては、Ｌ３，Ｌ４が最小オクテット設定値６０４ｂ以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、入力されたオクテット長Ｌ２のフレームを廃棄するとともに、メモリ領域６７２のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、オクテット長Ｌ３，Ｌ４のフレームは、続くブリッジ６５３に転送される。また、図示しない外部機器は、メモリ領域６７２のカウント値を出力情報６０６ｂとして取得する。
【００４１】
ブリッジ６５３は、ブリッジ６５２から転送された試験用のフレーム６０５ｂを入力する。このフレーム６０５ｂはオクテット長Ｌ３，Ｌ４のフレームである。入出力ポート６８３は、入力されたフレーム６０５ｂのオクテット長Ｌ３，Ｌ４と、最小オクテット設定値６０４ｃであるｘ３＝１５３８とを比較する。オクテット長Ｌ３のフレームのＬ３が最小オクテット設定値６０４ｃ以上であるため、オーバーフレームを認識する。その他のオクテット長Ｌ４のフレームに対しては、Ｌ４が最小オクテット設定値６０４ｃ以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、入力されたオクテット長Ｌ３のフレームを廃棄するとともに、メモリ領域６７３のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、オクテット長Ｌ４のフレームは、続く端末機器６６１に転送される。また、図示しない外部機器は、メモリ領域６７３のカウント値を出力情報６０６ｃとして取得する。
【００４２】
端末機器６６１は、ブリッジ６５３から転送された試験用のフレーム６０５ｃを入力する。このフレーム６０５ｃはオクテット長Ｌ４のフレームである。インターフェース部６８４は、入力されたフレーム６０５ｃのオクテット長Ｌ４と、最小オクテット設定値６０４ｄであるｘ４＝１５３７とを比較する。オクテット長Ｌ４のフレームのＬ４が最小オクテット設定値６０４ｄ以上であるため、オーバーフレームを認識する。従って、入力されたオクテット長Ｌ４のフレームを廃棄するとともに、メモリ領域６７４のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、メモリ領域６７４のカウント値を出力情報６０６ｄとして取得する。
【００４３】
図示しない外部機器は、試験対象のブリッジ６５１〜６５３と端末機器６６１のメモリ領域６７１〜６７４から、図示しない端末機器が試験用のフレーム６０１を送信する前におけるオーバーフレームのカウント値と、試験用のフレーム６０１を送信した後におけるカウント値とをそれぞれ取得する。そして、これらのオーバーフレームのカウント値の増分と、図示しない端末機器が送信した試験用のフレーム６０１の数（オクテット長Ｌ１〜Ｌ４のそれぞれのフレームの数）とを比較し（例えば、ブリッジ６５１の場合は、メモリ領域６７１から取得したカウント値の増分と、フレーム６０１のうちオクテット長Ｌ１のフレームの数とを比較し）、等しい場合には正常であると判断し、前記フレーム数よりオーバーフレーム数が少なく、かつオーバーフレーム数が０より多い場合には、試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断できる。これにより、図示しない端末機器から試験対象のブリッジ６５１〜６５３と対向する端末機器６６１までの導通性について、同時または短時間内で確認することができる。
【００４４】
尚、図６に示した実施例では、図１〜３に示したオーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける実装形態のうち、どの形態を利用しても実施することができる。
【００４５】
図７は、さらに詳細な区間である物理ポート（入出力ポート）単位の試験を実施する場合を示す説明図である。本実施例は、図３に示したオーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける実装形態について、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値を物理ポート単位で設定することにより、物理ポート区間単位における導通性の確認を可能とし、上述したブリッジ単位の導通性試験よりも詳細な試験結果を得ることができるものである。
【００４６】
本実施例は、図示しない端末機器とブリッジ７５１の入出力ポート７８１ａとの間を試験区間７０２ａ、入出力ポート７８１ａ，７８１ｂの間を試験区間７０２ｂ、ブリッジ７５１の入出力ポート７８１ｂとブリッジ７５２の入出力ポート７８２ａとの間の試験区間を７０２ｃ、入出力ポート７８２ａ，７８２ｂの間を試験区間７０２ｄ、ブリッジ７５２の入出力ポート７８２ｂとブリッジ７５３の入出力ポート７８３ａとの間の試験区間を７０２ｅ、入出力ポート７８３ａ，７８３ｂの間を試験区間７０２ｆ、試験区間の終端点７０３をブリッジ７５３の入出力ポート７８３ｂとする。尚、ブリッジ７５１〜７５３は、図１〜３に示したブリッジと同等の機能および構成を有し、説明に必要な構成要素のみに付番してある。
【００４７】
ブリッジ７５１〜７５３の入出力ポート７８１ａ，７８１ｂ，７８２ａ，７８２ｂ，７８３ａ，７８３ｂには、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値７０４ａ〜７０４ｅ，７０５が、それぞれ、ｘ１〜ｘ５＝１５４０，ｘ６＝１５２９に設定されている。
【００４８】
図示しない端末機器が、試験対象である終端点７０３のブリッジ７５３の入出力ポート７８３ｂにおいてオーバーフレームを認識するオクテット長１５３０のフレーム７０１を生成して送信する。
【００４９】
ブリッジ７５１の入出力ポート７８１ａ，７８１ｂ、ブリッジ７５２の入出力ポート７８２ａ，７８２ｂ、およびブリッジ７５３の入出力ポート７８３ａは、入力されたフレーム７０１のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値７０４ａ〜７０４ｅ（ｘ１〜ｘ５＝１５４０）以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、フレーム７０１は、試験経路として続くブリッジ７５３の入出力ポート７８３ｂに転送される。
【００５０】
ブリッジ７５３の入出力ポート７８３ｂは、入出力ポート７８３ａから転送されたフレーム７０１を入力する。入出力ポート７８３ｂは、入力されたフレーム７０１のオクテット長１５３０と、最小オクテット設定値７０５であるｘ６＝１５２９とを比較する。フレーム７０１のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値７０５（ｘ６＝１５２９）以上であるため、オーバーフレームを認識する。そして、入力されたフレームを廃棄するとともに、メモリ領域７７１のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、メモリ領域７７１のカウント値を出力情報７０６として取得する。
【００５１】
図示しない外部機器は、試験対象のブリッジ７５３の入出力ポート７８３ｂに対応するメモリ領域７７１から、図示しない端末機器が試験用のフレーム７０１を送信する前におけるオーバーフレームのカウント値と、試験用のフレーム７０１を送信した後におけるカウント値とを取得する。そして、このオーバーフレームのカウント値の増分と、端末機器が送信した試験用のフレーム７０１の数とを比較し、等しい場合には正常であると判断し、前記フレーム数よりオーバーフレーム数が少なく、かつオーバーフレーム数が０より多い場合には、試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断できる。このように、本実施例では、物理ポートである入出力ポートの区間単位における導通性試験を行うことができるという点で、ブリッジ単位の導通性試験よりも詳細な試験結果を得ることができる。
【００５２】
図８は、双方向同時に試験を実施する場合を示す説明図である。本実施例は、図２および図３に示したオーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける実装形態について、物理ポートにおける入力および出力単位にオーバーフレームを認識する最小オクテット設定値が設定される場合に可能となる双方向同時試験の例である。本実施例は、ポイントツーポイントの両端に設けられた端末機器が、それぞれ適切なオクテット長のフレームを送信して、イーサネットワーク上での導通性試験を同時に実施する。経路上のブリッジがそれぞれの端末機器から送信されたフレームを認識できるように、各ブリッジの物理ポート上において双方向個別にオーバーフレームを認識する最小オクテット設定値を設定することにより、導通性試験を可能としている。
【００５３】
本実施例は、図示しない第１の端末機器とブリッジ８５１の入出力ポート８８１ａとの間を試験区間８０２ａ、ブリッジ８５１の入出力ポート８８１ａとブリッジ８５２の入出力ポート８８２ａとの間を試験区間８０２ｂ、ブリッジ８５２の入出力ポート８８２ａとブリッジ８５３の入出力ポート８８３ａとの間を試験区間８０２ｃ、試験区間の終端点８０３をブリッジ８５３の入出力ポート８８３ａとする。また、図示しない第２の端末機器とブリッジ８５３の入出力ポート８８３ｂとの間を試験区間８０８ａ、ブリッジ８５３の入出力ポート８８３ｂとブリッジ８５２の入出力ポート８８２ｂとの間を試験区間８０８ｂ、ブリッジ８５２の入出力ポート８８２ｂとブリッジ８５１の入出力ポート８８１ｂとの間を試験区間８０８ｃ、試験区間の終端点８０９をブリッジ８５１の入出力ポート８８１ｂとする。尚、ブリッジ８５１〜８５３は図２および図３に示したブリッジと同等の機能および構成を有し、説明に必要な構成要素のみに付番してある。
【００５４】
ブリッジ８５１〜８５３の入出力ポート８８１ａ〜８８３ａには、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値８０４ａ，８０４ｂ，８０５が、それぞれ、ｘ１，ｘ２＝１５４０，ｘ３＝１５２９に設定されている。また、入出力ポート８８３ｂ〜８８１ｂには、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値８１０ａ，８１０ｂ，８１１が、それぞれ、ｘ４，ｘ５＝１５４０，ｘ６＝１５２９に設定されている。
【００５５】
図示しない第１の端末機器が、試験対象である終端点８０３のブリッジ８５３の入出力ポート８８３ａにおいてオーバーフレームを認識するオクテット長１５３０のフレーム８０１を生成して送信する。
【００５６】
ブリッジ８５１，８５２の入出力ポート８８１ａ，８８２ａは、入力されたフレーム８０１のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値８０４ａ，８０４ｂ（ｘ１，ｘ２＝１５４０）以上でないため、オーバーフレームを認識しない。
従って、フレーム８０１は、試験経路として続く次のブリッジ８５３に転送される。
【００５７】
ブリッジ８５３の入出力ポート８８３ａは、ブリッジ８５２から転送されたフレーム８０１を入力する。入出力ポート８８３ａは、入力されたフレーム８０１のオクテット長１５３０と、最小オクテット設定値８０５であるｘ３＝１５２９とを比較する。フレーム８０１のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値８０５（ｘ３＝１５２９）以上であるため、オーバーフレームを認識する。そして、入力されたフレームを廃棄するとともに、メモリ領域８７１のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、メモリ領域８７１のカウント値を出力情報８０６として取得する。
【００５８】
同様にして、図示しない第２の端末機器が、試験対象である終端点８０９のブリッジ８５１の入出力ポート８８１ｂにおいてオーバーフレームを認識するオクテット長１５３０のフレーム８０７を生成して送信する。
【００５９】
ブリッジ８５３，８５２の入出力ポート８８３ｂ，８８２ｂは、入力されたフレーム８０７のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値８１０ａ，８１０ｂ（ｘ４，ｘ５＝１５４０）以上でないため、オーバーフレームを認識しない。
従って、フレーム８０７は、試験経路として続く次のブリッジ８５１に転送される。
【００６０】
ブリッジ８５１の入出力ポート８８１ｂは、ブリッジ８５２から転送されたフレーム８０７を入力する。入出力ポート８８１ｂは、入力されたフレーム８０７のオクテット長１５３０と、最小オクテット設定値８１１であるｘ６＝１５２９とを比較する。フレーム８０７のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値８１１（ｘ６＝１５２９）以上であるため、オーバーフレームを認識する。そして、入力されたフレームを廃棄するとともに、メモリ領域８７２のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、メモリ領域８７２のカウント値を出力情報８１２として取得する。
【００６１】
図示しない外部機器は、試験対象のブリッジ８５３，８５１のメモリ領域８７１，８７２から、図示しない端末機器が試験用のフレーム８０１，８０７を送信する前におけるオーバーフレームのカウント値と、試験用のフレーム８０１，８０７を送信した後におけるカウント値とを取得する。そして、このオーバーフレームのカウント値の増分と、端末機器が送信した試験用のフレーム８０１，８０７の数とを比較し、等しい場合には正常であると判断し、前記８０１，８０７のフレーム数より少なく、かつ０より多い場合には、試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断できる。このように、本実施例では、ポイントツーポイントの両端に設けられた端末機器から試験用のフレームをそれぞれ送信することにより、双方向同時の導通性試験を実施することができる。
【００６２】
図９は、ループバックにより試験を実施する場合を示す説明図である。本実施例は、図２および図３に示したオーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける実装形態について、物理ポートにおける入力および出力単位にオーバーフレームを認識する最小オクテット設定値が設定される場合を採用し、往路および復路それぞれの物理ポートにおいて各ブリッジで異なる最小オクテット設定値を設定することにより、ループバックの導通性試験を可能としている。
【００６３】
本実施例は、図示しない端末機器とブリッジ９５１の入出力ポート９８１ａとの間を試験区間９０２ａ、ブリッジ９５１の入出力ポート９８１ａとブリッジ９５２の入出力ポート９８２ａとの間を試験区間９０２ｂ、ブリッジ９５２の入出力ポート９８２ａとブリッジ９５３の入出力ポート９８３ａとの間を試験区間９０２ｃ、ブリッジ９５３の入出力ポート９８３ａと、ブリッジ９５３の２つの入出力ポート９８３ｂ，９８３ｃが接続されたループバック部９０７を介した入出力ポート９８３ｃとの間を試験区間９０２ｄ、ブリッジ９５３の入出力ポート９８３ｃとブリッジ９５２の入出力ポート９８２ｂとの間を試験区間９０２ｅ、ブリッジ９５２の入出力ポート９８２ｂとブリッジ９５１の入出力ポート９８１ｂとの間を試験区間９０２ｆ、試験区間の終端点９０３をブリッジ９５１の入出力ポート９８１ｂとする。尚、ブリッジ９５１〜９５３は、図２および図３に示したブリッジと同等の機能および構成を有し、説明に必要な構成要素のみに付番してある。
【００６４】
このように、本実施例は、図示しない端末機器から送信されたフレームがループバック部９０７により対向となるブリッジ９５３を折返して戻ってくる経路を構成する。尚、この際、往復する試験用のフレームが同一サブネット上に存在することは、イーサネットにおけるループ形成につながるため、物理ポートは共有するとしても、往路と復路で異なるタグＶＬＡＮ（Ｖｉｒｔｕａｌ  ＬｏｃａｌＡｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）等を用いて異なる論理ポートに構成する必要がある。
【００６５】
ブリッジ９５１〜９５３の入出力ポート９８１ａ，９８１ｂ，９８２ａ，９８２ｂ，９８３ａ，９８３ｃには、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値９０４ａ〜９０４ｅ，９０５が、それぞれ、ｘ１〜ｘ５＝１５４０，ｘ６＝１５２９に設定されている。
【００６６】
図示しない端末機器が、試験対象である終端点９０３のブリッジ９５１の入出力ポート９８１ｂにおいてオーバーフレームを認識するオクテット長１５３０のフレーム９０１を生成して送信する。
【００６７】
ブリッジ９５１〜９５３の入出力ポート９８１ａ，９８２ａ，９８２ｂ，９８３ａ，９８３ｃは、入力されたフレーム９０１のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値９０４ａ〜９０４ｅ（ｘ１〜ｘ５＝１５４０）以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、フレーム９０１は、試験経路として続く次のブリッジに転送される。この場合、ブリッジ９５３の入出力ポート９８３ａから転送されたフレーム９０１は、ループバック部９０７を介して入出力ポート９８３ｃに入力され、ブリッジ９５２を経てブリッジ９５１に転送される。
【００６８】
ブリッジ９５１の入出力ポート９８１ｂは、ブリッジ９５２から転送されたフレーム９０１を入力する。入出力ポート９８１ｂは、入力されたフレーム９０１のオクテット長１５３０と、最小オクテット設定値９０５であるｘ６＝１５２９とを比較する。フレーム９０１のオクテット長１５３０が最小オクテット設定値９０５（ｘ６＝１５２９）以上であるため、オーバーフレームを認識する。そして、入力されたフレームを廃棄するとともに、メモリ領域９７１のオーバーフレームとしてのカウント値を増加する。また、図示しない外部機器は、メモリ領域９７１のカウント値を出力情報９０６として取得する。
【００６９】
図示しない外部機器は、試験対象のブリッジ９５１のメモリ領域９７１から、図示しない端末機器が試験用のフレーム９０１を送信する前におけるオーバーフレームのカウント値と、試験用のフレーム９０１を送信した後におけるカウント値とを取得する。そして、このオーバーフレームのカウント値の増分と、端末機器が送信した試験用のフレーム９０１の数とを比較し、等しい場合には正常であると判断し、前記９０１のフレーム数より少なく、かつ０より多い場合には、試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断できる。このように、本実施例では、端末機器から送信されたフレームがループバック部９０７により対向となるブリッジ９５３を折返して戻ってくる経路を構成することにより、ループバックの導通性試験を実施することができる。
【００７０】
図１０は、スパニングツリートポロジーの下で試験を実施する場合を示す説明図である。本実施例は、イーサネットワークにおいて、スパニングツリー状に展開する、図示しない端末機器から送信されるフレーム到達可能範囲に対し、端末機器が一つの試験用のフレームを送信することにより、複数の試験区間の終端点に対して同時に導通性試験を実施するものである。
【００７１】
本実施例は、図示しない端末機器とブリッジ１０５１との間、ブリッジ１０５１とブリッジ１０５２との間、ブリッジ１０５２とブリッジ１０５３との間、ブリッジ１０５２とブリッジ１０５４との間、ブリッジ１０５２とブリッジ１０５５の間をそれぞれ試験区間とし、試験区間の終端点をそれぞれブリッジ１０５３〜１０５５とする。尚、ブリッジ１０５１〜１０５５は、図１〜３に示したブリッジと同等の機能および構成を有し、説明に必要な構成要素のみに付番してある。
【００７２】
ブリッジ１０５１〜１０５５の入出力ポート１０８１〜１０８５には、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値１００４ａ，１００４ｂ，１００５ａ〜１００５ｃが、それぞれ、ｘ１，ｘ２＝１５９０，ｘ３〜ｘ５＝１５８０に設定されている。
【００７３】
図示しない端末機器が、試験対象である複数の終端点のブリッジ１０５３〜１０５５の入出力ポート１０８３〜１０８５においてオーバーフレームを認識するオクテット長１５８１のフレーム１００１を生成し、ブロードキャストまたはマルチキャストの宛先アドレスを構成して送信する。
【００７４】
ブリッジ１０５１，１０５２の入出力ポート１０８１，１０８２は、入力されたフレーム１００１のオクテット長１５８１が最小オクテット設定値１００４ａ，１００４ｂ（ｘ１，ｘ２＝１５９０）以上でないため、オーバーフレームを認識しない。従って、フレーム１００１は、試験経路として続く次のブリッジに転送される。この場合、ブリッジ１０５２は、フレーム１００１を必要な数分コピーし、到達可能な全ての方路（ブリッジ１０５３〜１０５５）へ転送する。
【００７５】
ブリッジ１０５３〜１０５５の入出力ポート１０８３〜１０８５は、ブリッジ１０５２から転送されたフレーム１００１をそれぞれ入力する。入出力ポート１０８３〜１０８５は、入力されたフレーム１００１のオクテット長１５８１と、最小オクテット設定値１００５ａ〜１００５ｃであるｘ３〜ｘ５＝１５８０とをそれぞれ比較する。フレーム１００１のオクテット長１５８１が最小オクテット設定値１００５ａ〜１００５ｃ（ｘ３〜ｘ５＝１５８０）以上であるため、オーバーフレームを認識する。そして、入力されたフレームを廃棄するとともに、メモリ領域１０７３〜１０７５のオーバーフレームとしてのカウント値をそれぞれ増加する。また、図示しない外部機器は、メモリ領域１０７３〜１０７５のカウント値を出力情報１００６ａ〜１００６ｃとしてそれぞれ取得する。
【００７６】
図示しない外部機器は、試験対象のブリッジ１０５３〜１０５５のメモリ領域１０７３〜１０７５から、図示しない端末機器が試験用のフレーム１００１を送信する前におけるオーバーフレームのカウント値と、試験用のフレーム１００１を送信した後におけるカウント値とをそれぞれ取得する。そして、このオーバーフレームのカウント値の増分と、端末機器が送信した試験用のフレーム１００１の数とを比較し、等しい場合には正常であると判断し、前記１００１のフレーム数より少なく、かつオーバーフレーム数が０より多い場合には、試験区間は、導通性があるが、輻輳および故障等が一時的に発生していると判断し、前記オーバーフレーム数が０の場合には、永続的な輻輳および故障等の理由により導通性がないと判断できる。
【００７７】
このように、本実施例では、スパニングツリー状に展開するイーサネットワークにおいて、端末装置がブロードキャストまたはマルチキャストの宛先アドレスを構成した試験用のフレーム１００１を送信し、所定のブリッジ１０８２がフレーム１００１をコピーして転送することにより、複数の試験区間の終端点となるブリッジ１０５３〜１０５５に対して同時に導通性試験を実施することができる。
【００７８】
図１１は、本発明の一実施例に係る導通性試験システムを示す説明図である。本導通性試験システムは、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値が設定変更されるスイッチングハブを含むブリッジ１１０３等のブリッジ群、および当該ブリッジを接続するリンク１１０４等のリンク群を有するイーサネットワーク１１０５と、試験用のフレームを送信する端末機器１１０１ａ，１１０１ｂ等の端末機器群と、一連の導通性試験の操作を一元管理する１台以上のサーバ１１０６と、端末機器群およびブリッジ群とサーバ１１０６との間を接続するリンク１１０２ａ，１１０２ｂ等とを備えている。尚、端末機器１１０１ａ，１１０１ｂ等の端末機器群は、図６に示した端末機器６６１のように、試験用のフレームを送信する端末機器に対向し、オーバーフレームを認識する最小オクテット設定値が設定変更される端末機器である場合も含む。
【００７９】
サーバ１１０６は、導通性試験に際し、端末機器１１０１ａ，１１０２ｂ等に対して、適切なオクテット長の試験用のフレームを送信するように制御する機能を有する。また、イーサネットワーク１１０５内のブリッジ群であって、試験用のフレームを送信する端末機器１１０１ａ，１１０１ｂ等から到達可能な範囲のブリッジ１１０３等、および対向する端末機器に対して、試験のために必要なオーバーフレームを認識する最小オクテット設定値を設定変更する機能を有する。
さらに、当該ブリッジ１１０３等、および対向する端末機器のメモリ領域から、オーバーフレームのカウント値を読み出して、導通性を確認するとともにイーサネットワークシステムにおける故障および異常診断を行う機能を有する。尚、上述した図１〜１０の説明において図示しない外部機器は、図１１に示したサーバ１１０６に相当する。
【００８０】
サーバ１１０６で導通性試験として実行されるソフトウェアはプログラムとして、磁気ディスク（フロッピィーディスク、ハードディスク等）、光ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ等）、半導体メモリなどの記憶媒体に格納して頒布することもできる。
【００８１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、スイッチングハブを含むブリッジ一台以上で構成されるイーサネットワークにおいて、端末機器から、任意の試験区間に対して、容易に導通性を確認する試験を実施できる。また、通常の利用において送信可能な最大オクテット長のフレームを規定することにより、問題の生じたイーサネットワークにおいて他の端末機器間の通信を停止することなく、導通性試験を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】オーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける第一の実装形態を説明する内部構成図である。
【図２】オーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける第二の実装形態を説明する内部構成図である。
【図３】オーバーフレームのカウント機能を有するブリッジにおける第三の実装形態を説明する内部構成図である。
【図４】オーバーフレームのカウント機能を有する端末機器における実装形態を説明する内部構成図である。
【図５】本発明の基本的な実施例を示す説明図である。
【図６】経路上の複数のブリッジの試験を実施する場合を示す説明図である。
【図７】物理ポート単位の試験を実施する場合を示す説明図である。
【図８】双方向同時に試験を実施する場合を示す説明図である。
【図９】ループバックにより試験を実施する場合を示す説明図である。
【図１０】スパニングツリートポロジーの下で試験を実施する場合を示す説明図である。
【図１１】本発明の一実施例に係る導通性試験システムを示す説明図である。
【符号の説明】
１０１，２０１，３０１，５５１〜５５３，６５１〜６５３，７５１〜７５３，８５１〜８５３，９５１〜９５３，１０５１〜１０５５，１１０３  ブリッジ
１０２，２０２，３０２  フレームスイッチ部
１０３ａ〜１０３ｄ，２０３ａ〜２０３ｄ，３０３ａ〜３０３ｄ，５８１〜５８３，６８１〜６８３，７８１ａ，７８１ｂ，７８２ａ，７８２ｂ，７８３ａ，７８３ｂ，８８１ａ，８８１ｂ，８８２ａ，８８２ｂ，８８３ａ，８８３ｂ，９８１ａ，９８１ｂ，９８２ａ，９８２ｂ，９８３ａ，９８３ｂ，９８３ｃ，１０８１〜１０８５  入出力ポート
１０４ａ〜１０４ｄ，２０４ａ〜２０４ｄ，３０４ａ〜３０４ｈ，４０４，５０７ａ〜５０７ｃ  機能部
１０５ａ〜１０５ｄ，２０５ａ〜２０５ｄ，３０５ａ〜３０５ｈ，４０５，５７１，６７１〜６７４，７７１，８７１，８７２，９７１，１０７３〜１０７５  メモリ領域
１０６ａ〜１０６ｄ，２０６ａ〜２０６ｄ，３０６ａ〜３０６ｈ，４０３，５０１，６０１，６０５ａ〜６０５ｃ，７０１，８０１，８０７，９０１，１００１フレーム
４０１，６６１，１１０１ａ，１１０１ｂ  端末機器
４０２，６８４  インタフェース部
４０６  処理部
５０２ａ〜５０２ｃ，７０２ａ〜７０２ｆ，８０２ａ〜８０２ｃ，８０８ａ〜８０８ｃ，９０２ａ〜９０２ｆ  試験区間
５０３，６０３ａ〜６０３ｄ，７０３，８０３，８０９，９０３  終着点
５０６，６０６ａ〜６０６ｄ，７０６，８０６，８１２，９０６，１００６ａ〜１００６ｃ  出力情報
５０４ａ，５０４ｂ，５０５，６０４ａ〜６０４ｄ，７０４ａ〜７０４ｅ，７０５，８０４ａ，８０４ｂ，８０５，８１０ａ，８１０ｂ，８１１，９０４ａ〜９０４ｅ，９０５，１００４ａ，１００４ｂ，１００５ａ〜１００５ｃ  最小オクテット設定値
１１０２ａ，１１０２ｂ，１１０４  リンク
１１０５  イーサネットワーク
１１０６  サーバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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