(57)【要約】【課題】本発明は、主回路開閉部と接地開閉部を有する真空開閉装置の切り位置と断路位置での耐電圧性能を改善する。【解決手段】本発明の真空開閉装置は、筒状の第１と第２の真空絶縁容器２１ａ、２１ｂを、筒状中間フランジ２２を介して封着して形成された真空絶縁容器２１と、この真空絶縁容器２１内の主回路開閉部を構成する接離自在の一対の電極２６、２９と、前記中間フランジ２２の外周面一側部に、前記真空絶縁容器２１内で前記一対の電極２６、２９が作る軸方向と直交する方向に進退自在に設けた中間電位に設定されたシャッター電極３５とを備え、前記一対の電極２６、２９は、接触する入り位置、および開離する切り位置を持ち、この一対の電極２６、２９が切り位置のとき前記シャッター電極３５を一対の電極２６、２９間に臨ませるようにしたことを特徴としている。【選択図】　図１
2004103440.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
筒状の第１と第２の真空絶縁容器を、この第１と第２の真空絶縁容器よりも径大の筒状中間フランジを介して封着して形成された真空絶縁容器と、
この真空絶縁容器内の前記第１および第２の真空絶縁容器に取り付けられ互いに対向して設けた主回路開閉部を構成する接離自在の一対の電極と、
前記中間フランジの外周面一側部に、前記真空絶縁容器内で前記一対の電極が作る軸方向と直交する方向に進退自在に設けた前記一対の電極の電位と異なる中間電位に設定されたシャッター電極とを備え、
前記一対の電極は、一対の電極間が接触する入り位置、および開離する切り位置を持ち、
この一対の電極が切り位置のとき前記シャッター電極を一対の電極間に臨ませるようにしたことを特徴とする真空開閉装置。
【請求項２】
筒状の第１と第２の真空絶縁容器を、この第１と第２の真空絶縁容器よりも径大の筒状中間フランジを介して封着して形成された真空絶縁容器と、
この真空絶縁容器内の前記第１および第２の真空絶縁容器に取り付けられ互いに対向して設けた主回路開閉部を構成する接離自在の一対の電極と、
前記中間フランジの外周面一側部に、前記真空絶縁容器内で前記一対の電極が作る軸方向と直交する方向に進退自在に設けた前記一対の電極の電位と異なる中間電位に設定しうる接地電極とを備え、
前記一対の電極は、一対の電極間が接触する入り位置、開離する切り位置を持ち、
この一対の電極が切り位置のとき前記接地電極を中間電位から接地電位に切替えて前記一対の電極のいずれか一方に接触させるようにしたことを特徴とする真空開閉装置。
【請求項３】
筒状の第１と第２の真空絶縁容器を、この第１と第２の真空絶縁容器よりも径大の筒状中間フランジを介して封着して形成された真空絶縁容器と、
この真空絶縁容器内の前記第１および第２の真空絶縁容器に取り付けられ互いに対向して設けた主回路開閉部を構成する接離自在の一対の電極と、
前記中間フランジの外周面一側部に、前記真空絶縁容器内で前記一対の電極が作る軸方向と直交する方向に進退自在に設けた前記一対の電極の電位と異なる中間電位に設定されたシャッター電極と
前記中間フランジの外周面他側部に、前記真空絶縁容器内で前記一対の電極が作る軸方向と直交する方向に進退自在に設けた前記一対の電極の電位と異なる中間電位に設定しうる接地電極とを備え、
前記一対の電極は、一対の電極間が接触する入り位置、開離する切り位置を持ち、
この一対の電極が切り位置のとき前記シャッター電極を一対の電極間に臨ませるようにするとともに、前記接地電極を中間電位から接地電位に切替えて前記一対の電極のいずれか一方に接触させるようにしたことを特徴とする真空開閉装置。
【請求項４】
前記シャッター電極は、このシャッター電極に接続した静電容量性の抵抗体により中間電位としたことを特徴とする請求項１または請求項３に記載の真空開閉装置。
【請求項５】
前記接地電極は、この接地電極に電位切替装置を介して静電容量性の抵抗体を接続して成ることを特徴とする請求項２または請求項３に記載の真空開閉装置。
【請求項６】
前記接地電極に接続した抵抗体により主回路の電圧または微小電流を検出するようにしたことを特徴とする請求項２または請求項３に記載の真空開閉装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、同一の真空絶縁容器内で入り位置、切り位置、断路位置および接地位置を形成する真空開閉装置に係り、特に電流遮断時の切り位置、および断路位置での耐電圧性能を改善しうる真空開閉装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のこの種真空開閉装置に、同一の真空絶縁容器内に主回路を開閉する主回路開閉部と接地開閉部を設けたものがある。そして、主回路開閉部で入り位置、切り位置、断路位置を形成し、また接地開閉部で接地位置が形成されるようになっている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
この真空開閉装置を示す図４において、例えばセラミックからなる互いに連結された筒状の第１と第２の真空絶縁容器１ａ、１ｂで構成した真空絶縁容器１の両端開口部には、固定側封着金具２と可動側封着金具３がそれぞれ気密に封着されている。そして、この固定側封着金具２には、接離自在の一方の電路となる固定通電軸４が貫通されて気密に固定され、この固定通電軸４の容器内端部に固定電極５が固着されている。
【０００４】
一方、前記可動側封着金具３には、図示しない操作機構に連結される他方の電路となる可動通電軸６が貫通され、ベローズ７により軸方向に進退自在に、且つ気密に固定されて、前記真空絶縁容器１内の内部圧力を１×１０−２Ｐａ以下の高真空に保っている。また、この可動通電軸６の容器内端部には、前記固定電極５と対向配置された接離自在の可動電極８が固着されている。
【０００５】
更に、前記真空絶縁容器１を構成する前記第１と第２の真空絶縁容器１ａ、１ｂの連結部の容器内には、環状の接地電極９が前記ベローズ７と対向する面の外周部と対向して設けられている。この接地電極９の容器外には、一部が突出した突出部９ａが設けられ、図示しない接地線で接地されている。
【０００６】
また、前記第１の真空絶縁容器１ａの内面中間部には、筒状の中間電位のアークシールド１０が前記固定電極５と前記可動電極８を包囲するように設けられている。
【０００７】
ここで、前記可動電極８は、図示しない操作機構により３段階に軸方向に直線移動して、前記固定電極５と接離する入り位置および切り位置、この切り位置から更に開離する断路位置が形成され、そして、前記接地電極９と接触する接地位置が形成されるようになっている。なお、前記可動電極８の直線移動を２段階として、前記切り位置と前記断路位置を共用の位置にしたものがある。
【０００８】
ところで、このような構成の真空開閉装置において、大電流を前記固定電極５と前記可動電極８で遮断した場合、アークの発生により前記電極５、８間から金属蒸気が拡散される。この金属蒸気は、殆どが前記アークシールド１０に捕捉されるが、一部が前記接地電極９まで到達して、前記切り位置での対地間方向の耐電圧性能を低下させる問題がある。
【０００９】
このような問題を解決するために、次のようなものが知られている（例えば、特許文献２参照。）。これは、真空絶縁容器を略Ｈ字形として、この容器の一方側に中間電位のアークシールドで包囲された主回路開閉部を設け、他方側にこの主回路開閉部と接続された接地開閉部を設けている。これにより、この主回路開閉部と前記接地開閉部を離隔しているので、前記主回路開閉部からの金属蒸気が前記接地開閉部に到達し難いようにしている。
【００１０】
しかしながら、同一の前記真空絶縁容器内に前記主回路開閉部と前記接地開閉部が設けられているので、前記アークシールドに捕捉されない金属蒸気の一部が、前記接地開閉部に達し耐電圧性能を低下させる問題が残る。
【００１１】
この問題を解決するために、更に次のようなものが知られている（例えば、特許文献３。）。これは、上記と同様に、真空絶縁容器を略Ｈ字形として、この容器の一方側に中間電位のアークシールドを内壁面に係止した絶縁容器を設け、他方側にこの絶縁容器と接続された接地開閉部を設けている。そして、この絶縁容器内に主回路開閉部を設けることにより、金属蒸気を閉じ込め拡散を防止している。
【００１２】
しかしながら、前記真空絶縁容器の中に更に絶縁容器を設ける２重の容器となるので、複雑な構成となり組立てが容易でなく、高い信頼性が得られ難い。
【００１３】
一方、この種のアークシールドは、いずれにおいても中間電位であるが、同一の真空絶縁容器内に主回路電位と接地電位が存在しているので、固定電極と可動電極の主回路電極の接離状態によって電界分布の影響を受け易く不安定な電位となる。即ち、前記アークシールドの電位は、主回路電極を接触している入り位置から、開離している切り位置または断路位置にした場合、前記主回路電極との静電結合が減少してその電位が接地側に振られてしまう。
【００１４】
この結果、前記主回路電極の充電されている方の電極の電界が上昇し、過大なサージ電圧の侵入があった場合、前記主回路電極間で不整放電が起き、耐電圧性能が低下する問題がある。
【００１５】
【特許文献１】
特開２０００−１６４０８４号公報（第９頁、図２）
【００１６】
【特許文献２】
特開２００１−１３５２０７号公報（第４頁、図１）
【００１７】
【特許文献３】
特開平１１−２８３４７３号公報（第３頁、図１）
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】
以上説明したように従来この種の真空開閉装置においては、同一の真空絶縁容器内に電流遮断する主回路開閉部および接地する接地開閉部を設けているため、種々の問題がある。即ち、電流遮断時の金属蒸気拡散による切り位置での耐電圧性能を低下させる問題を招いたり、また、アークシールドの電位の不安定さから断路位置での耐電圧性能を低下させる問題がある。
【００１９】
従って、本発明は、電流遮断時の切り位置と、主回路電極が開離する断路位置での耐電圧性能を改善しうる真空開閉装置を得ることを目的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、第１の発明の真空開閉装置は、筒状の第１と第２の真空絶縁容器を、この第１と第２の真空絶縁容器よりも径大の筒状中間フランジを介して封着して形成された真空絶縁容器と、この真空絶縁容器内の前記第１および第２の真空絶縁容器に取り付けられ互いに対向して設けた主回路開閉部を構成する接離自在の一対の電極と、前記中間フランジの外周面一側部に、前記真空絶縁容器内で前記一対の電極が作る軸方向と直交する方向に進退自在に設けた前記一対の電極の電位と異なる中間電位に設定されたシャッター電極とを備え、前記一対の電極は、一対の電極間が接触する入り位置、および開離する切り位置を持ち、この一対の電極が切り位置のとき前記シャッター電極を一対の電極間に臨ませるようにしたことを特徴とする。
【００２１】
このような構成によれば、同一の真空絶縁容器内に入り位置、切り位置、断路位置の主回路開閉部が形成されているとき、前記真空絶縁容器内に接地電位が存在しない。このため、電流遮断後の切り位置になった場合、金属蒸気の拡散は中間電位の部位に到達するのみであり、対地間への耐電圧性能に影響を与えることはない。
【００２２】
また、前記断路位置では、中間電位が一定に保たれているので、固定電極や可動電極の電界が上昇せず、耐電圧性能を低下させることはない。更に、中間電位のシャッター電極を前記固定電極と前記可動電極間へ位置させているので、過大なサージ電圧の侵入があった場合でも負荷側へのサージ電圧の侵入を防止することができる。
【００２３】
また、第２の発明の真空開閉装置は、筒状の第１と第２の真空絶縁容器を、この第１と第２の真空絶縁容器よりも径大の筒状中間フランジを介して封着して形成された真空絶縁容器と、この真空絶縁容器内の前記第１および第２の真空絶縁容器に取り付けられ互いに対向して設けた主回路開閉部を構成する接離自在の一対の電極と、前記中間フランジの外周面一側部に、前記真空絶縁容器内で前記一対の電極が作る軸方向と直交する方向に進退自在に設けた前記一対の電極の電位と異なる中間電位に設定しうる接地電極とを備え、前記一対の電極は、一対の電極間が接触する入り位置、開離する切り位置を持ち、この一対の電極が切り位置のとき前記接地電極を中間電位から接地電位に切替えて前記一対の電極のいずれか一方に接触させるようにしたことを特徴とする。
【００２４】
このような構成によれば、同一の真空絶縁容器内に入り位置、切り位置、接地位置が形成され、電流遮断後の切り位置では、前記真空絶縁容器内に接地電位が存在しない。このため、金属蒸気の拡散は、中間電位の部位に到達するのみであり、対地間への耐電圧性能に影響を与えることはない。
【００２５】
また、接地位置では、接地電極が中間電位から接地電位に切替わり主回路を接地することができる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図１乃至図３を参照して説明する。図１は、本発明の実施の形態に係る真空開閉装置を示す縦断面図、図２は、本発明の実施の形態に係る真空開閉装置の接地電極の動作を説明する説明図、図３は、本発明の実施の形態に係る真空開閉装置の中間電極軸の動作を説明する説明図である。
【００２７】
図１に示すように、例えばセラミックからなる筒状の第１と第２の真空絶縁容器２１ａ、２１ｂの中間部には、例えばステンレスからなる前記真空絶縁容器２１ａ、２１ｂより太径の筒状で両周縁部が内側に折曲された中間フランジ２２の内径面部がそれぞれ気密に封着され連結されている。また、前記第１と第２の真空絶縁容器２１ａ、２１ｂと前記中間フランジ２２で構成した真空絶縁容器２１の両端開口部には、固定側封着金具２３と可動側封着金具２４がそれぞれ気密に封着されている。
【００２８】
そして、この固定側封着金具２３には、接離自在の一方の電路となる固定通電軸２５が貫通されて気密に固定され、この固定通電軸２５の容器内端部に固定電極２６が固着されている。
【００２９】
また、前記可動側封着金具２４には、図示しない第１の操作機構に連結される他方の電路となる可動通電軸２７が貫通され、ベローズ２８により軸方向に進退自在に、且つ気密に固定されている。この可動通電軸２７の容器内端部には、前記固定電極２６と対向配置された接離自在の可動電極２９が固着されている。
【００３０】
一方、前記中間フランジ２２の外周面の一側部には、前記固定電極２６と前記可動電極２９が作る軸方向と直交して、図示しない第２の操作機構に連結される接地軸３０が貫通され、この接地軸３０はベローズ３１により進退自在に、且つ気密に取付けられている。この接地軸３０は、容器内で前記固定電極２６方向に折曲され、且つ端部には、この固定電極２６の側面部２６ｂと接離自在に対向配置された接地電極３２が固着されている。
【００３１】
また、前記中間フランジ２２の外周面の他側部には、前記接地軸３０と対向して、図示しない第３の操作機構に連結されるシャッター電極軸３３が貫通され、ベローズ３４により進退自在に、且つ気密に取付けられている。このシャッター電極軸３３の中間フランジ２２内に位置する先端に設けたシャッター電極３５は、前記固定電極２６と可動電極２９が開離したとき、点線で示したようにこの両電極２６、２９のギャップ間の略中間位置で、且つこの両電極２６、２９が最大電界を持つ端部２６ａ、２９ａを通りすぎる位置まで進退自在に移動できるようになっている。
【００３２】
また、前記真空絶縁容器２１外において、前記接地軸３０は、図２に示すように電位切替部３６および主回路の電圧と微小電流を検出する検出部３７を介して接地されている。そして、シャッター電極軸３３は、図３に示すように電位保持部３８と抵抗部３９を介して接地されている。
【００３３】
即ち、前記電位切替部３６には、前記接地軸３０が配設され、端部に電気的に絶縁される絶縁ロッド４０を介して図示しない前記第２の操作機構と連結される操作軸４１が設けられている。また、この接地軸３０には、その中間部の表面に絶縁層４２が設けられ、更にこの絶縁層４２表面と接地軸３０表面を摺動可能な第１の接触子４３と第２の接触子４４が離間して配置し構成されている。
【００３４】
前記検出部３７は、前記第１の接触子４３に接続される例えばコンデンサからなる静電容量性の抵抗体４５と、例えばｎＡからμＡオーダの微小電流を検出する無誘導の抵抗体４６を直列接続して構成されている。なお、前記第２の接触子４４は、直接接地されている。
【００３５】
更に、図３に示すように、前記電位保持部３８は、前記シャッター電極軸３３の端部に電気的に絶縁される絶縁ロッド４７を介して図示しない第３の操作機構と連結される操作軸４８が設けられ、このシャッター電極軸３３には、摺動可能な第３の接触子４９を常時接触させた構成となっている。また、前記抵抗部３９は、第３の接触子４９に接続された前記抵抗体４５と同様の例えばコンデンサからなる静電容量性の抵抗体５０で構成されている。
【００３６】
なお、図１の前記第１の真空絶縁容器２１ａの内面で前記中間フランジ２２側には、筒状のアークシールド５１ａが前記固定通電軸２５を包囲するように設けられている。また、前記第２の真空絶縁容器２１ｂの内面で前記中間フランジ２２側にも、筒状のアークシールド５１ｂが前記可動通電軸２７を包囲するように設けられている。
【００３７】
更に、前記固定通電軸２５と前記可動通電軸２７の少なくとも一方の容器外には、通電電流を検出するための例えば光ファイバーを用いた変流器５２が設けられている。
【００３８】
ここで、主回路開閉部は、前記固定電極２６と前記可動電極２９が接触する入り位置、開離する切り位置、およびこの切り位置で前記シャッター電極３５が動作する断路位置をとることができ、また、接地開閉部は、前記切り位置で前記固定電極２６の側面部２６ｂと前記接地電極３２が接触する接地位置をとることができる。
【００３９】
先ず、主回路開閉部の入り位置と切り位置では、前記中間フランジ２２、この中間フランジ２２に設けられた前記アークシールド５１ａ、５１ｂ、および前記接地電極３２、前記シャッター電極３５などの中間部位は一定の電位に固定された中間電位となる。
【００４０】
これは、前記接地軸３０が図２（ａ）に示すように、第１の接触子４３が接地軸３０と接触し、第２の接触子４４は絶縁層４２と接触した状態となっており、これにより、第１の接触子４３を介して接地軸３０と接続されている前記抵抗体４５の抵抗値と主回路との静電結合により、前記接地電極３２の電位が中間電位に定まっているためである。また、前記シャッター電極軸３３も図３に示すように、第３の接触子４９を介して接続された前記抵抗体５０により中間電位となる。更に、前記中間フランジ２２、前記アークシールド５１ａ、５１ｂは、前記シャッター電極軸３３と同電位の中間電位である。
【００４１】
そして、前記固定電極２６と前記可動電極２９で電流遮断した前記切り位置では、金属蒸気が拡散されるが、この金属蒸気は前記アークシールド５１ａ、５１ｂなど中間電位にある中間部位に捕捉されることになる。即ち、電流遮断時において、前記真空絶縁容器１内には接地電位が存在せず、対地間の耐電圧性能に影響を与えることはない。
【００４２】
なお、これらの入り位置および切り位置では、前記接地電極３２が主回路と前記抵抗体４５で静電結合され、一定の電位に保たれている。このため、予め前記抵抗体４５の抵抗値を定めて、主回路との分担率を求めておけば、この電位から主回路電圧を精度よく検出することができる。
【００４３】
また、真空不良時に流れ始める高周波性のｎＡからμＡオーダの微小電流を、無誘導の前記抵抗体４６により精度よく検出することができるので、前記真空絶縁容器１内の真空度を監視することができる。更に、変流器５２により主回路の通電電流を検出することができる。
【００４４】
次に、この主回路開閉部の切り位置の状態から、第３の操作機構により前記シャッター電極３５を前記固定電極２６と前記可動電極２９が作る軸方向と直交する軸方向に直線移動して、図１に点線で示す断路位置を形成する。この断路位置では、前記シャッター電極３５が前記固定電極２６と前記可動電極２９の略中間位置で最大電界を持つ端部２６ａ、２９ａを通り過ぎる位置まで挿入される。
【００４５】
そして、この断路位置において、前記シャッター電極３５は、上記と同様に、図３の前記抵抗体５０で中間電位となり、前述のように前記抵抗体５０の抵抗値で一定の電位に保たれている。このため、前記真空絶縁容器２１内の電界分布に影響を与えることがなく、前記固定電極２６と前記可動電極２９間での不整放電を防ぐことができる。
【００４６】
更に、過大なサージ電圧が侵入した場合、最大電界の前記固定電極２６の端部２６ａ、または前記可動電極２９の端部２９ａから放電が始まるが、この放電は前記シャッター電極３５との間で起こることになる。しかし、このサージ電圧は、前記シャッター電極３５から前記抵抗体５０を介して接地へ吸収されるため、負荷側の主回路へサージ電圧が伝播することはない。
【００４７】
また、この断路状態位置から、前記第２の操作機構により前記接地軸３０が前記固定電極２６と前記可動電極２９の軸方向と直交する軸方向に直線移動して、前記固定電極２６の側面部２６ｂと接地電極３２が接触する接地状態位置が形成される。接地位置では、前記接地軸３０が（図２ｂ）矢印の方向に移動し、前記第２の接触子４４を介して接地となり、前記接地電極３２が接地電位となる。
【００４８】
以上説明したように本発明によれば、同一の真空絶縁容器１内に入り位置、切り位置、断路位置を形成する主回路開閉部、および接地位置を形成する接地開閉部を設け、この主回路開閉部のそれぞれの位置が形成されているとき、前記真空絶縁容器２１内に接地電位が存在しないようにしている。このため、固定電極２６と可動電極２９で電流遮断して切り位置が形成されたとき、金属蒸気がアークシールド５１ａ、５１ｂなどの中間電位にある中間部位に到達するだけであり、対地間への耐電圧性能に影響を与えることはない。
【００４９】
また、断路位置では、中間部位の電位を一定に固定しているので、固定電極２６と可動電極２９を開離させても、この電極端部２６ａ、２９ａの電界を上昇させることがない。更に、シャッター電極３５を固定電極２６と可動電極２９間へ挿入するので、過大なサージ電圧の侵入があった場合に負荷側へのサージ電圧の侵入を防止することができる。
【００５０】
更に、前記検出部３７により主回路の電圧測定や真空不良検出ができ、また、変流器５２により主回路の通電電流測定ができるので、各種の機能を複合化させた真空開閉装置とすることができる。
【００５１】
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施することができる。
【００５２】
本実施の形態では、真空絶縁容器２１内に、固定電極２６と可動電極２９、シャッター電極３５および接地電極３２を設け、入り位置、切り位置、断路位置および接地位置の４位置を形成させたが、入り位置および切り位置を含めたいずれか３位置を形成する真空開閉装置としてもよい。即ち、電源系統上、接地開閉部が不要な電源系統の場合には、前記接地電極３２部を取り除いて、入り位置、切り位置および断路位置を形成し、また、電流遮断後、断路位置を経由しないで接地する場合には、前記シャッター電極３５部分を取り除いて、入り位置、切り位置および接地位置を形成すれば、構造が簡素な真空開閉装置とすることができる。
【００５３】
更に、前記シャッター電極３５の中間電位を接地と接続される前記抵抗体５０で定めたが、真空絶縁容器２１外において、シャッター電極軸３３と固定電極２６側および可動電極２９側とのそれぞれの間に同様の抵抗値を持った抵抗体５０を接続してもよい。これにより、シャッター電極３５の中間電位を略５０％の一定に保つことができ、電界分布を更に改善することができる。
【００５４】
また、前記接地電極３２においても同様に、真空絶縁容器２１外において、接地軸３０と固定電極２６側および可動電極２９側とのそれぞれの間に同様の抵抗値を持った前記抵抗体４５を接続してもよい。これにより、接地軸３０の中間電位を上述と同様に略５０％の一定に保つことができる。
【００５５】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、同一の真空絶縁容器内に主回路開閉部および接地開閉部、または主回路開閉部のみを設け、入り位置、切り位置、断路位置および接地位置の４位置、または入り位置と切り位置を含めたいずれか３位置を形成する真空開閉装置において、前記切り位置では、真空絶縁容器内に接地電位が存在しないので、電流遮断時に固定電極と可動電極から拡散される金属蒸気により対地間への耐電圧性能に影響を与えることはない。
【００５６】
また、前記断路位置では、固定電極と可動電極の間に電位を一定に保った中間電位のシャッター電極を挿入させているので、電界分布の乱れがなく不整放電を防ぐことができ、また、過大なサージ電圧侵入時には、シャッター電極を介してサージ電圧を接地へ吸収させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る真空開閉装置を示す縦断面図。
【図２】本発明の実施の形態に係る真空開閉装置の接地電極の動作を説明する説明図。
【図３】本発明の実施の形態に係る真空開閉装置の中間電極軸の動作を説明する説明図。
【図４】従来の真空開閉装置を示す縦断面図。
【符号の説明】
１、１ａ、１ｂ、２１、２１ａ、２１ｂ　真空絶縁容器
２、２３　固定側封着金具
３、２４　可動側封着金具
４、２５　固定通電軸
５、２６　固定電極
６、２７　可動通電軸
７、２８、３１、３４　ベローズ
８、２９　可動電極
９、３２　接地電極
９ａ　突出部
１０、５１ａ、５１ｂ　アークシールド
２２　中間フランジ
２６ａ　端部
２６ｂ　側面部
２９ａ　端部
３０　接地軸
３３　シャッター電極軸
３５　シャッター電極
３６　電位切替部
３７　検出部
３８　電位保持部
３９　抵抗部
４０、４７　絶縁ロッド
４１、４８　操作軸
４２　絶縁層
４３　第１の接触子
４４　第２の接触子
４５、４６、５０　抵抗体
４９　第３の接触子
５２　変流器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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