【誤訳訂正書】
【提出日】平成24年5月24日(2012.5.24)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプル受け入れパッドとテスト・ストリップの間の流体の流れの運動を制御するためのピンチ壁システムにおいて、
サンプル受け入れパッドと、
前記サンプル受け入れパッドと接触しているテスト・ストリップと、
前記サンプル受け入れパッドを圧縮するピンチ壁であって、前記ピンチ壁の第１部分が前記テスト・ストリップに隣接して配置されている前記サンプル受け入れパッドの部分を圧縮し前記ピンチ壁の第２部分が前記テスト・ストリップから遠くに配置されている前記サンプル受け入れパッドの部分を圧縮して前記サンプル受け入れパッドのサンプル受け入れ部分を構成する、ピンチ壁とを備えており、
前記ピンチ壁の前記第１部分が、前記ピンチ壁の前記第２部分よりも小さい程度で前記サンプル受け入れパッドを圧縮する、システム。
【請求項２】
前記ピンチ壁の前記第１及び第２部分は、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部を一体に連続して囲んでいる、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記ピンチ壁は、前記サンプル受け入れパッド上に受け入れられた流体が、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部から、前記テスト・ストリップに隣接して配置されている前記サンプル受け入れパッドの前記部分に優先して流れ、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部から、前記テスト・ストリップから遠くに配置されている前記サンプル受け入れパッドの前記部分にはそれほど流れないように、前記サンプル受け入れパッドを圧縮する、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記ピンチ壁の前記第１部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの６０から９０％を圧縮し、前記ピンチ壁の前記第２部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの２から３０％を圧縮する、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記ピンチ壁の前記第１部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの７０から８０％を圧縮し、前記ピンチ壁の前記第２部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの５から１５％を圧縮する、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
カートリッジ底部とカートリッジ上部とを備えているカートリッジを更に備えており、
前記サンプル受け入れパッドと前記テスト・ストリップは、前記カートリッジ底部と前記カートリッジ上部の間に収容され、前記ピンチ壁は、前記カートリッジ上部から下向きに伸張している、請求項１に記載のシステム。
【請求項７】
前記ピンチ壁の前記第２部分は、前記ピンチ壁の前記第１部分より長い、請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
前記カートリッジは、一回使用の使い捨てカートリッジである、請求項６に記載のシステム。
【請求項９】
前記ピンチ壁システムは、一回使用の使い捨て計器内に配置されている、請求項１に記載のシステム。
【請求項１０】
前記カートリッジの上部は、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部の上方に配置されているサンプル受け入れ孔を備えている、請求項６に記載のシステム。
【請求項１１】
前記テスト・ストリップは側方流分析テスト・ストリップである、請求項１に記載のシステム。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００６】
上記課題を解決するための、サンプル受け入れパッドとテスト・ストリップの間の流体の流れの運動を制御するためのピンチ壁システムは、サンプル受け入れパッドと、前記サンプル受け入れパッドと接触しているテスト・ストリップと、前記サンプル受け入れパッドを圧縮するピンチ壁であって、前記ピンチ壁の第１部分が前記テスト・ストリップに隣接して配置されている前記サンプル受け入れパッドの部分を圧縮し前記ピンチ壁の第２部分が前記テスト・ストリップから遠くに配置されている前記サンプル受け入れパッドの部分を圧縮して前記サンプル受け入れパッドのサンプル受け入れ部分を構成する、ピンチ壁とを備えており、前記ピンチ壁の前記第１部分が、前記ピンチ壁の前記第２部分よりも小さい程度で前記サンプル受け入れパッドを圧縮する。
好ましくは、前記ピンチ壁の前記第１及び第２部分は、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部を一体に連続して囲んでいる。
また好ましくは、前記ピンチ壁は、前記サンプル受け入れパッド上に受け入れられた流体が、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部から、前記テスト・ストリップに隣接して配置されている前記サンプル受け入れパッドの前記部分に優先して流れ、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部から、前記テスト・ストリップから遠くに配置されている前記サンプル受け入れパッドの前記部分にはそれほど流れないように、前記サンプル受け入れパッドを圧縮する。
また好ましくは、前記ピンチ壁の前記第１部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの６０から９０％を圧縮し、前記ピンチ壁の前記第２部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの２から３０％を圧縮する。
また好ましくは、前記ピンチ壁の前記第１部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの７０から８０％を圧縮し、前記ピンチ壁の前記第２部分は、前記サンプル受け入れパッドの高さの５から１５％を圧縮する。
また好ましくは、カートリッジ底部とカートリッジ上部とを備えているカートリッジを更に備えており、
また好ましくは、前記サンプル受け入れパッドと前記テスト・ストリップは、前記カートリッジ底部と前記カートリッジ上部の間に収容され、前記ピンチ壁は、前記カートリッジ上部から下向きに伸張している。
また好ましくは、前記ピンチ壁の前記第２部分は、前記ピンチ壁の前記第１部分より長い。
また好ましくは、前記カートリッジは、一回使用の使い捨てカートリッジである。
また好ましくは、前記ピンチ壁システムは、一回使用の使い捨て計器内に配置されている。
また好ましくは、前記カートリッジの上部は、前記サンプル受け入れパッドの前記サンプル受け入れ部の上方に配置されているサンプル受け入れ孔を備えている。
また好ましくは、前記テスト・ストリップは側方流分析テスト・ストリップである。
或る態様では、本流量制御システムは、少なくとも１つの側方流分析テスト・ストリップの入った使い捨てカートリッジ内に配置されている。使い捨てカートリッジは、再使用可能な流体検体試験計の中に入っており、計器が、側方流分析テスト・ストリップ内で実施される分析反応の結果を読み取るようになっている。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２１】
図２Ａと２Ｂは、以下のように、上部４０を更に詳細に示している。先に述べたように、上部４０は穴４４を有しており、この穴を通して流体サンプルが導入される。ピンチ壁４５は、上部４０から下向きに伸張しており、第１部分４５Ａと第２部分４５Ｂを有している。ピンチ壁４５は、サンプル受け入れパッド３２の上に直接着座するように配置されている。第１部分４５Ａは、上部４０から、第２部分４５Ｂが上部４０から下向きに伸張している距離よりも長い距離を下向きに伸張している。（即ち、ピンチ壁部分４５Ａは、ピンチ壁部分４５Ｂよりも高い）。その結果、上部４０と底部２０が一体に配置されると、第１部分４５Ａは、第２部分４５Ｂがサンプルパッド３２を圧縮する以上に、サンプルパッド３２を圧縮する。部分４５Ａと４５Ｂは、図示のように、一体となって穴４４の回りに連続壁を形成する。図４に関連付けて後に説明するが、この機構は、サンプルパッド３２からテスト・ストリップ３４上への流体の流れの運動を好都合に制御するのに用いられる。