【手続補正書】
【提出日】平成26年1月20日(2014.1.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプル物体（１０）、たとえば目（２０）の内部寸法を光学的に測定するシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）であって、前記物体（１０）は、入射光の一部分が逆反射および／または逆散乱されて光干渉断層撮影（ＯＣＴ）によって検出されることができるように屈折率の変化する位置にある複数の内部インターフェイス（１４、１４’、１４’’）を有し、
前記物体（１０）の第１の部分領域（１７）における内部寸法を測定するための少なくとも１つの第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）と、前記物体（１０）の第２の部分領域（１９）における内部寸法を測定するための少なくとも１つの第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）とを含み、前記第２の部分領域（１９）が少なくとも部分的に第１の部分空間（１７）と異なることを特徴とするシステム。
【請求項２】
前記第１の部分領域（１７）は前記物体（１０）の前面（１６）またはその近くに位置し、該前面（１６）はシステムに面しており、前記第２の部分領域（１９）は前記物体の後面（１８）またはその近くに位置するか、または前記物体（１０）の前記前面（１６）から前記後面（１８）にかけて広がっていることを特徴とする請求項１に記載のシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項３】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は、第１の参照アーム（ＲＡ１）と第１のサンプルアーム（ＳＡ１）を具備し、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は第２の参照アーム（ＲＡ２）と第２のサンプルアーム（ＳＡ２）を具備し、前記第１のサンプルアーム（ＳＡ１）の少なくとも一部分と前記第２のサンプルアーム（ＳＡ２）の少なくとも一部分が前記物体（１０）の方向に向いているものであることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のシステム（ＯＣＴ１２）。
【請求項４】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は目（２０）の角膜部（２２）および前面部（２４）を測定するように適合され、および／または前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は深さ方向に沿って測定されるような長さ、および／または前記目（２０）の網膜（２６）を測定するように適合されたものであることを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項５】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は、所定の第１の焦点距離（ｆ１）で集光する第１のビーム（Ｂ１）を放出するように適合され、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は所定の第２の焦点距離（ｆ２）で集光する第２のビーム（Ｂ２）を放出するように適合されており、前記第１の焦点距離（ｆ１）は前記第２の焦点距離（ｆ２）よりも短いことを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２、ＯＣＴ１２’）。
【請求項６】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は、第１の動作波長（λ１）および第１の帯域幅（Δλ１）から決定される、第１の軸方向分解能（Δｚ１∝（λ１）２／Δλ１）を決定する第１の波長範囲内の波長を有する第１の放射の第１のビーム（Ｂ１）を放出するように適合され、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は、第２の動作波長（λ２）および第２の帯域幅（Δλ２）から決定される、第２の軸方向分解能（Δｚ２∝（λ２）２／Δλ２）を決定する第２の波長範囲内の波長を有する第２の放射の第２のビーム（Ｂ２）を放出するように適合され、前記第１の軸方向分解能（Δｚ１）は前記第２の軸方向分解能（Δｚ２）より高いこと（すなわちΔｚ１＜Δｚ２）を特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項７】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は、第１の動作波長（λ１）および第１の開口数（ＮＡ１）を有し、したがって第１の横方向分解能（Δｘ１∝λ１／ＮＡ１）を決定する第１の波長範囲内の波長を持つ集束放射の第１のビーム（Ｂ１）を放出するように適合されており、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は、第２の動作波長（λ２）および第２の開口数（ＮＡ２）を有し、したがって第２の横方向分解能（Δｘ２∝λ２／ＮＡ２）を決定する第２の波長範囲内の波長を持つ集束放射の第２のビーム（Ｂ２）を放出するように適合されており、前記第１の横方向分解能（Δｘ１）は前記第２の横方向分解能（Δｘ２）と異なり、該第２の横方向分解能（Δｘ２）より小さいことを特徴とする請求項１ないし請求項６のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項８】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）はスペクトラルドメイン光干渉断層撮影装置（ＳＤ−ＯＣＴ）であり、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）はタイムドメイン光干渉断層撮影装置（ＴＤ−ＯＣＴ）であることを特徴とする請求項１ないし請求項７のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２）。
【請求項９】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）および前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）はそれぞれスペクトラルドメイン光干渉断層撮影装置（ＳＤ−ＯＣＴ）であることを特徴とする請求項１ないし請求項７のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項１０】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は、第１のレンズシステム（Ｌ１）および共通のレンズシステム（Ｌ１２）を含む第１のサンプルアーム（ＳＡ１）を有し、前記第１のレンズシステム（Ｌ１）および前記共通のレンズシステム（Ｌ１２）は第１の光軸上に設置され、組み合わせられて、前記第１のサンプルアーム（ＳＡ１）中に前記第１のビーム（Ｂ１）の第１の集光部を形成し、該第１の集光部は第１の焦点距離（ｆ１）を有し、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は第２のサンプルアーム（ＳＡ２）を有し、該第２のサンプルアーム（ＳＡ２）は第３のレンズシステム（Ｌ３）と、前記共通のレンズシステム（Ｌ１２）と、前記第１のレンズシステム（Ｌ１）と前記共通のレンズシステム（Ｌ１２）の間に設けられて、第２の光軸方向に沿って進み前記第３のレンズシステム（Ｌ３）を通り抜ける第２のビーム（Ｂ２）を、第１の光軸方向に進み前記共通のレンズシステム（Ｌ１２）を通り抜けるように方向を変える分光部分反射ミラー（Ｍ）を含み、前記第３のレンズシステム（Ｌ３）および前記共通のレンズシステム（Ｌ１２）は組み合わせられて前記第２のサンプルアーム（ＳＡ２）中に前記第２のビームの第２の集光部を形成し、該第２の集光部は第２の焦点距離（ｆ２）を有し、前記第１の焦点距離（ｆ１）は前記第２の焦点距離（ｆ２）と異なり、該第２の焦点距離（ｆ２）より小さいことを特徴とする請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項１１】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は、第１の動作波長（λ１）および第１の帯域幅（Δλ１）を持つ第１の光源（ＬＳ１）を有し、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は、第２の動作波長（λ２）および第２の帯域幅（Δλ２）を持つ第２の光源（ＬＳ２）を有し、前記第１の帯域幅（Δλ１）は約１００ｎｍから約２００ｎｍの範囲内であり、前記第２の帯域幅（Δλ２）は約２０ｎｍよりも小さいことを特徴とする請求項１０に記載のシステム（ＯＣＴ１２）。
【請求項１２】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は第１のサンプルアーム（ＳＡ１）を有し、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は、少なくとも部分的に前記第１のサンプルアーム（ＳＡ１）に空間的に重ね合わせられた第２のサンプルアーム（ＳＡ２）を有し、前記第１のサンプルアームおよび前記第２のサンプルアーム（ＳＡ１、ＳＡ２）は、第１の焦点距離（ｆ１）を有し前記第１のサンプルアーム（ＳＡ１）中で作用する第１の集光部（ＦＰ１）と、第２の焦点距離（ｆ２）を有し前記第２のサンプルアーム（ＳＡ２）中で作用する第２の集光部（ＦＰ２）とを含む２焦点共通光学レンズシステム（ＢＦＬ１２）を通過し、前記第１の焦点距離（ｆ１）は前記第２の焦点距離（ｆ２）と異なり、該第２の焦点距離（ｆ２）より小さいことを特徴とする請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２’、ＯＣＴ１２’’）。
【請求項１３】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）および前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）が共通の光源（ＬＳ１２）を有することを特徴とする請求項１ないし請求項１２のいずれか１項に記載のシステム（ＯＣＴ１２−ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項１４】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は第１の参照アーム（ＲＡ１）を有し、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は、少なくとも部分的に前記第１の参照アーム（ＲＡ１）に空間的に重ね合わせられた第２の参照アーム（ＲＡ２）を有し、前記第１の参照アーム（ＲＡ１）は、第１のサンプルアーム（ＳＡ１）の光路長と一致する光路長を持ち、第１のミラー（ＭＲ１）と、第１の参照路方向（ＲＡＤ１）に沿って伸び、前記第１のミラー（ＭＲ１）上に集束される第１の参照アーム部を形成する第１の参照アームレンズシステム（ＬＲ１）とを含み、前記第２の参照アーム（ＲＡ２）は、前記第２のサンプルアーム（ＳＡ２）の光路長と一致する光路長を持ち、第２のミラー（ＭＲ２）と、前記第１の参照アーム（ＲＡ１）中の前記第１の参照アームレンズシステム（ＬＲ１）の前方に設置された第２の参照アーム部分反射ミラー（ＭＲＡ）と、前記第１の参照アーム（ＲＡ１）の外側で、前記第２の参照アーム部分反射ミラー（ＭＲＡ）と前記第２のミラー（ＭＲ２）の間に設置された第２の参照アームレンズシステム（ＬＲ２）とを含み、前記部分反射ミラー（ＭＲＡ）は、前記第２の参照アーム（ＲＡ２）と関連する第２の波長範囲内の波長を有し前記第１の参照アームレンズシステム（ＬＲ１）を通過する光のビームを、第２の参照アーム方向（ＲＡＤ２）に進み前記第２の参照アームレンズシステム（ＬＲ２）を通り抜けるように方向を変え、前記第１の参照アームレンズシステム（ＬＲ１）および前記第２の参照アームレンズシステム（ＬＲ２）は組み合わせられて前記第２のミラー（ＭＲ２）上に集束される第２の参照アーム部を形成することを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載のシステム（ＯＣＴ１２’’）。
【請求項１５】
前記第１の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ１）は、２焦点参照アーム共通レンズシステム（ＢＦＬＲＡ）の第１の集光部（ＦＰＲ１）を通過する第１の参照アーム（ＲＡ１）を有し、前記第２の光干渉断層撮影装置（ＯＣＴ２）は、少なくとも部分的に前記第１の参照アーム（ＲＡ１）に空間的に重ね合わせられ、前記２焦点参照アーム共通レンズシステム（ＢＦＬＲＡ）の第２の集光部（ＦＰＲ２）を通過する第２の参照アーム（ＲＡ２）を有し、前記第１の参照アーム（ＲＡ１）は第１の動作波長（λ１）および第１の帯域幅（Δλ１）によって決定される第１の波長範囲内の波長を持つ光を反射するように適合された第１のミラー（ＭＲ１）を含み、前記第２の参照アーム（ＲＡ２）は第２の動作波長（λ２）および第２の帯域幅（Δλ２）によって決定される第２の波長範囲内の波長を持つ光を分光的に反射するように適合された第２のミラー（ＭＲ２）を含み、前記第１の集光部（ＦＰＲ１）の焦点距離は前記第１の参照アーム（ＲＡ１）の光路長が前記第１のサンプルアーム（ＳＡ１）の光路長と一致するように設定され、前記第２の集光部（ＦＰＲ２）の焦点距離は前記第２の参照アーム（ＲＡ２）の光路長が前記第２のサンプルアーム（ＳＡ２）の光路長と一致するように設定され、前記第２の集光部（ＦＰＲ２）は中央の円形部分であり、前記第１の集光部（ＦＰＲ１）は、前記２焦点参照アーム共通レンズシステム（ＢＦＬＲＡ）の前記第２の集光部（ＦＰＲ２）を囲む環状の部分であることを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載のシステム（ＯＣＴ１２’’’）。
【請求項１６】
物体（１０）、たとえば目（２０）の内部寸法を光学的に測定する方法であって、前記物体は、入射光の一部分が逆反射および／または逆散乱されて検出されることができるように屈折率の変化する位置にある複数の内部インターフェイス（１４、１４’、１４’’）を有し、
前記物体（１０）の第１の部分領域（１７）における寸法と、前記物体の第２の部分領域（１９）における寸法を、光干渉断層撮影（ＯＣＴ）によって１回の測定で測定する工程を有し、前記物体（１０）の前記第２の部分領域（１９）を少なくとも部分的に前記物体（１０）の前記第１の部分領域（１７）と異なったものとすることを特徴とする方法。
【請求項１７】
請求項１ないし請求項１５のいずれか１項に記載のシステムを用いることを特徴とする請求項１６に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
第１のＯＣＴ装置は第１のサンプルアームを有し、第２のＯＣＴ装置は、少なくとも部分的に第１のサンプルアームに空間的に重ね合わせられた第２のサンプルアームを有することができる。第１のサンプルアームおよび第２のサンプルアームは、第１のサンプルアーム中で作用し第１の焦点距離を有する第１の集光部と、第２のサンプルアーム中で作用し第２の焦点距離を有する第２の集光部とを含む２焦点共通光学レンズシステムを通過することができる。この構成において、第１の焦点距離は第２の焦点距離より小さくてもよい。好ましい第１の実施態様において、第２の集光部は２焦点レンズシステムの中央の円形部分であり、第１の集光部は第２の集光部を囲む環状の部分である。より好ましくは、第１の集光部および第２の集光部は、物体内の異なる距離すなわち深さにあることができるそれぞれの部分領域（これらの部分領域に共通のレンズシステムの第１の集光部および第２の集光部の焦点距離がそれぞれ適合されている）の調査における必要性に応じて異なるスペクトル透過特性を有することができ、それらのスペクトル透過特性は、動作波長および帯域幅によって決定される適切な波長範囲を決定するためにそれぞれ適合されている。代わりの好ましい第２の実施態様において、２焦点レンズシステムが少なくとも２つの相補的な領域、すなわち、第１の焦点距離を与えるように設計された第１の領域と、第２の焦点距離を与えるように設計された第２の領域を有する、適切に設計された回折光学部品（ＤＯＥ）として構成される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
第１のＯＣＴ装置は第１の参照アームを有し、第２のＯＣＴ装置は少なくとも部分的に第１の参照アームに空間的に重ね合わせられた第２の参照アームを有することができる。第１の参照アームは、第１のサンプルアームの光路長と実質的に一致する光路長を持つことができ、第１のミラーと、第１のミラー上に集束される第１の参照アーム部を形成する第１の参照アームレンズシステムとを含むことができる。第２の参照アームは、第２のサンプルアームの光路長と実質的に一致する光路長を持つことができ、第２のミラーと、第１の参照アーム中の第１の参照アームレンズシステムの前方に設置された第２の参照アーム部分反射ミラーと、第１の参照アームの外側で実質上第２の参照アーム部分反射ミラーおよび第２のミラーの間に設置された第２の参照アームレンズシステムとを含み、部分反射ミラーは、たとえば第２の動作波長および第２の帯域幅によって決定される第２の波長範囲内の波長を有し第１の参照アームレンズシステムを第１の参照アーム方向に沿って通過する光のビームを、第２の参照アーム方向に進み第２の参照アームレンズシステムを通り抜けるように方向を変え、第２の参照アーム部分反射ミラーおよび第２の参照アームレンズシステムは組み合わせられて第２のミラー上に集束される第２の参照アーム部を形成する。このような構成によって、第１のＯＣＴ装置および第２のＯＣＴ装置の、それぞれ第１の参照アームおよび第２の参照アームの、少なくとも部分的な統合すなわち重ね合わせが可能となり、また、第１の参照アームおよび第２の参照アームの光路長が第１のサンプルアームおよび第２のサンプルアームの光路長と実質的に一致することが可能となる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
参照アームの別の実施態様では、第１のＯＣＴ装置は、２焦点参照アーム共通レンズシステムの第１の集光部を通過する第１の参照アームに作用するように適合された第１の集光部を有し、第２のＯＣＴ装置は少なくとも部分的に第１の参照アームに空間的に重ね合わせられ、前記２焦点参照アーム共通レンズシステムの第２の集光部を通過する第２の参照アームを有し、第２の集光部は第２の参照アームに作用するように適合されている。この実施態様においてさらに、第１の参照アームは、たとえば第１の動作波長および第１の帯域幅によって決定される、第１の波長範囲内の波長を有する光を分光的に部分的に反射する第１のミラーを含み、第２の参照アームは、たとえば第２の動作波長および第２の帯域幅によって決定される第２の波長範囲内の波長を有する光を分光的に反射する第２のミラーを含む。第１の集光部の焦点距離は第１の参照アームの光路長が第１のサンプルアームの光路長と実質的に一致するように適合され、第２の集光部の焦点距離は第２の参照アームの光路長が第２のサンプルアームの光路長と実質的に一致するように適合されることができる。２焦点参照アーム共通レンズシステムの第２の集光部は中央の円形部分であり、第１の集光部は第２の集光部を囲む環状の部分であることが好ましい。１つの構成では、２焦点参照アーム共通レンズシステムの第１の集光部および第２の集光部が、調査される物体の第１の部分領域および第２の部分領域を標的とした第１のビームおよび第２のビームの適用条件に適合された異なるスペクトル透過特性を有する。別の構成では、選択的スペクトル透過特性を有する分光フィルターを２焦点参照アーム共通レンズシステムの後ろに取り付けることができる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６９】
共通レンズシステムＢＦＬ１２は、第１の集光部ＦＰ１および第２の集光部ＦＰ２が隣り合うように、たとえば２つの半分の面の形で設けられるように設計されたものとすることができる。代わりに、図４に示すように、一つがもう一つを取り囲むように配置され、第２の集光部ＦＰ２は中央の円形部分、第１の集光部ＦＰ１は中央の円形部分を取り囲む環状の部分とされる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７８】
第１に、サンプル光ファイバーＳＯＦ１２、第１のレンズシステムＬ１および２焦点共通レンズシステムＢＦＬ１２を含むサンプルアームＳＡ１２が、図４に示される第２の実施態様でのように構成される。第２に、光源ＬＳ１２はＳＤ−ＯＣＴ適用に適合された広帯域光源であり、（図５に示されるように決定される）第１の波長範囲および第２の波長範囲をフィルタリングするために、２焦点共通レンズシステムＢＦＬ１２の第１の集光部ＦＰ１および第２の集光部ＦＰ２にそれぞれ第１のスペクトルフィルターおよび第２のスペクトルフィルターを適用することによって広帯域放射スペクトルの分光的フィルタリングが行われる。第３に、検出アームは、組み合わせられて、図１に示されるＳＤ−ＯＣＴ装置１００の第１の検出レンズシステム１２０、光回折格子１２２、第２の検出レンズシステム１２４および分光計検出器配列１２６と類似した構成を形成する、第１のビームＢ１および第２のビームＢ２からの干渉放射を導くための共通の検出アーム光ファイバーＤＯＦ１２、第１の検出アーム光学レンズシステムＤＬ１、共通の検出アーム回折格子ＤＧ１２、第２の検出アーム光学レンズシステムＤＬ２および共通検出アーム分光計検出器配列ＳＤＡ１２を用いることで統合される。しかし、共通の検出アーム回折格子ＤＧ１２は、共通の検出アーム分光計検出器配列ＳＤＡ１２と組み合わせられて、上記したように、また図５に示されるようにスペクトルフィルターによって生成される第１の波長範囲および第２の波長範囲の両方を含む放射を検出し、分光的に分解するように適合されている。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８６】
ＳＤ−ＯＣＴ            スペクトラルドメインＯＣＴ
ＴＤ−ＯＣＴ            タイムドメインＯＣＴ
１０                    サンプル物体
１２                    長さ
１４、１４’、１４’’  内部インターフェイス
１６                    前面
１７                    第１の部分領域
１８                    後面
１９                    第２の部分領域
２０                    目
２２                    角膜部
２４                    前眼部
２６                    網膜
１００                  スペクタラルドメインＯＣＴ装置（ＳＤ−ＯＣＴ）
１０２                  光源（広帯域）
１０４                  光源光ファイバー
１０６                  ファイバーカプラ
１０８                  両方向光ファイバー
１１０                  第１のサンプルアームレンズシステム
１１２                  ビームスプリッター
１１４                  第２のサンプルアームレンズシステム
１１６                  参照アームレンズシステム
１１７                  参照アームミラー
１１８                  検出アーム光ファイバー
１２０                  第１の検出レンズシステム
１２２                  光回折格子
１２４                  第２の検出レンズシステム
１２６                  分光計検出器配列
１２８−１、…１２８−ｉ、…１２８−ｎ    検出器セル
１３０                  分光的に分解された干渉パターン
１３２                  高速フーリエ変換計算ユニット
１３４                  屈折率インターフェイスの深さ分布
１５０                  タイムドメインＯＣＴ装置（ＴＤ−ＯＣＴ）
１５２                  光源（低干渉）
１５４                  第１の光源光ファイバー
１５５                  サーキュレーター（任意）
１５６                  第２の光源光ファイバー
１５８                  ファイバーカプラ
１６０                  （両方向）サンプルアーム光ファイバー
１６２                  第１のサンプルアームレンズシステム
１６４                  第２のサンプルアームレンズシステム
１６６                  参照アーム光ファイバー
１６８                  参照アームレンズシステム
１７０                  参照アームミラー
１７２                  （高速）遅延スキャナー
１７４                  第１の検出光ファイバー
１７６                  第２の検出光ファイバー
１７８                  検出器
１８０                  帯域通過フィルター
１８２                  復調器
１８４                  計算機
ＯＣＴ１                第１のＯＣＴ装置
ＬＳ１                  第１の光源
ＲＡ１                  第１の参照アーム
ＬＲ１                  第１の参照アームレンズシステム
ＲＡＤ１                第１の参照アーム方向
ＳＡ１                  第１のサンプルアーム
Ｂ１                    第１のビーム
ｆ１                    第１の集束レンズ
λ１                    第１の動作波長
Δλ１                  第１の帯域幅
Ｌ１                    第１のレンズシステム
ＭＲ１                  第１のミラー
ＯＣＴ２                第２のＯＣＴ装置
ＬＳ２                  第２の光源
ＲＡ２                  第２の参照アーム
ＬＲ２                  第２の参照アームレンズシステム
ＲＡＤ２                第２の参照アーム方向
ＳＡ２                  第２のサンプルアーム
Ｂ２                    第２のビーム
ｆ２                    第２の集束レンズ
λ２                    第２の動作波長
Δλ２                  第２の帯域幅
Ｌ２                    第２のレンズシステム
Ｌ３                    第３のレンズシステム
ＭＲ２                  第２のミラー
ＭＲ３                  第３のミラー
ＯＣＴ１２…ＯＣＴ１２’’’    統合されたシステム
ＬＳ１２                共通の光源
Ｌ１２                  共通のレンズシステム
ＢＦＬ１２              ２焦点共通レンズシステム
ＦＰ１                  第１の集光部
ＦＰ２                  第２の集光部
ＭＲＡ                  第２の参照アーム部分反射ミラー
ＢＦＬＲＡ              ２焦点参照アーム共通レンズシステム
ＦＰＲ１                ＢＦＬＲＡの第１の集光部
ＦＰＲ２                ＢＦＬＲＡの第２の集光部
ＯＦ１                  ＯＣＴ１の第１の光ファイバー
ＯＦ２                  ＯＣＴ２の第２の光ファイバー
ＯＦ１２    ＯＣＴ１２’からＯＣＴ１２’’’の共通（サンプルアーム）光ファイバー
ＳＡ１２    ＯＣＴ１２’からＯＣＴ１２’’’の共通のサンプルアーム
Ｂ１２、Ｂ１２’        サンプルアーム放射の共通のビーム
ＳＯＦ１２              サンプルアーム光ファイバー
ＤＯＦ１                第１の焦点深度
ＤＯＦ２                第２の焦点深度
ＤＯＦ１２              検出アームの光ファイバー
ＤＬ１                  第１の検出アーム光学レンズシステム
ＤＬ２                  第２の検出アーム光学レンズシステム
ＤＧ１２                共通の検出アーム回折格子
ＳＤＡ１２              共通の分光計検出器配列
ＦＦＴ１２              高速フーリエ変換ユニット
ＣＯＭＰ１２            計算機
ＢＳ１２                共通のビームスプリッター