【手続補正書】
【提出日】平成16年1月26日(2004.1.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】定電圧発生回路、半導体装置、及びこれらを具備した携帯用電子機器および時計


【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一端側が第１の電位側、他端側が定電圧出力側に接続され、閾値電圧が夫々異なる複数のトランジスタを含み、いずれかのトランジスタが選択使用される定電圧制御回路と、
前記定電圧制御回路の参照電圧が一方の端子へ入力され、他方の端子へ所与の基準電圧が入力されたオペアンプと、
一端が前記定電圧制御回路の前記各トランジスタの他端側に接続され、他端側が第２の電位側に接続され、前記オペアンプの出力を受けてゲート入力電圧が制御されるトランジスタと、
を含み、
前記定電圧発生回路は、前記定電圧制御回路における複数のトランジスタからいずれかのトランジスタを選択する選択回路を含み、
前記定電圧発生回路はモニタ端子と接続されるとともに、テスト回路と同一の基板上に設けられ、
検査工程において、前記テスト回路は、前記定電圧制御回路における各トランジスタを選択し、前記定電圧制御回路における各トランジスタによる出力電圧を前記モニタ端子にて夫々測定することにより、前記定電圧制御回路における複数のトランジスタの中からいずれかのトランジスタを特定し、前記選択回路にて、前記トランジスタを選択することを特徴とする定電圧発生回路。
【請求項２】
請求項１において、
前記テスト回路は、テスト用パッドと接続され、前記テスト用パッドへの印加電圧が制御されることによって、前記テスト回路を介して、前記定電圧制御回路における各トランジスタを選択することを特徴とする定電圧発生回路。
【請求項３】
請求項１，２のいずれかにおいて、
前記選択回路は、前記定電圧制御回路における前記複数のトランジスタと対応して形成され、かつ複数のパッドと接続された、複数の単位回路を含み、
前記複数の単位回路は、夫々フューズ，不揮発性メモリ，記憶素子のうちのいずれか１つを含み、前記パッドへ電圧を印加することにより、前記トランジスタを選択することを特徴とする定電圧発生回路。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかにおいて、
前記定電圧制御回路は、第４の閾値電圧を有するトランジスタと、前記第４の閾値電圧とは異なる第５の閾値電圧を有するトランジスタと、前記第４及び第５の閾値電圧とは異なる第６の閾値電圧を有するトランジスタとを少なくとも含み、各前記トランジスタは一端側が第１の電位側に接続され、他端側が定電圧出力側に接続されていることを特徴とする定電圧発生回路。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかにおいて、
前記定電圧発生回路の出力電圧を、発振回路へ供給することを特徴とする定電圧発生回路。
【請求項６】
請求項５において、
前記発振回路は、
発振用インバータと、
外付けされた水晶振動子と出力側及び入力側が接続された前記発振用インバータの出力信号を位相反転して、前記発振用インバータにフィードバック入力するフィードバック回路と、
を含み、
前記定電圧発生回路は、
一端側が第１の電位側、他端側が定電圧出力側に接続され、閾値電圧が夫々異なる複数のトランジスタを含み、いずれかのトランジスタが選択使用される定電圧制御回路と、
前記定電圧制御回路の参照電圧が一方の端子へ入力され、他方の端子へ所与の基準電圧が入力されたオペアンプと、
一端が前記定電圧制御回路の前記各トランジスタの他端側に接続され、他端側が第２の電位側に接続され、前記オペアンプ出力を受けてゲート入力電圧が制御されるトランジスタと、
前記定電圧制御回路における複数のトランジスタからいずれかのトランジスタを選択する選択回路と、
を含み、
前記テスト回路は、前記発振回路および前記定電圧発生回路と夫々接続されるとともに、
前記定電圧発生回路の出力電圧をモニタするモニタ端子と、テスト用パッドと接続されて設けられ、
検査工程において、前記モニタ端子に電圧を印加した状態で、前記テスト用パッドへの印加電圧を制御することにより、前記テスト回路を介して前記発振用インバータのショート電流を測定し、
前記ショート電流測定後に、前記テスト用パッドへの印加電圧を制御することにより、前記テスト回路を介して前記定電圧制御回路における各トランジスタを夫々選択して、前記各トランジスタの出力電圧を前記モニタ端子にて夫々測定し、
前記発振用インバータの発振動作を確保できる範囲で、前記定電圧発生回路内の定電圧制御回路におけるトランジスタを前記選択回路にて選択することを特徴とする定電圧発生回路。
【請求項７】
発振回路と、定電圧発生回路と、テスト回路とを含む半導体装置であって、
前記発振回路は、
発振用インバータと、
外付けされた水晶振動子と出力側及び入力側が接続された前記発振用インバータの出力信号を位相反転して、前記発振用インバータにフィードバック入力するフィードバック回路と、
を含み、
前記定電圧発生回路は、
一端側が第１の電位側、他端側が定電圧出力側に接続され、閾値電圧が夫々異なる複数のトランジスタを含み、いずれかのトランジスタが選択使用される定電圧制御回路と、
前記定電圧制御回路の参照電圧が一方の端子へ入力され、他方の端子へ所与の基準電圧が入力されたオペアンプと、
一端が前記定電圧制御回路の前記各トランジスタの他端側に接続され、他端側が第２の電位側に接続され、前記オペアンプ出力を受けてゲート入力電圧が制御されるトランジスタと、
前記定電圧制御回路における複数のトランジスタからいずれかのトランジスタを選択する選択回路と、
を含み、
前記テスト回路は、前記発振回路および前記定電圧発生回路と夫々接続されるとともに、
前記定電圧発生回路の出力電圧をモニタするモニタ端子と、テスト用パッドと接続されて設けられ、
検査工程において、前記モニタ端子に電圧を印加した状態で、前記テスト用パッドへの印加電圧を制御することにより、前記テスト回路を介して前記発振用インバータのショート電流を測定し、
前記ショート電流測定後に、前記テスト用パッドへの印加電圧を制御することにより、前記テスト回路を介して前記定電圧制御回路における各トランジスタを夫々選択して、前記各トランジスタの出力電圧を前記モニタ端子にて夫々測定し、
前記発振用インバータの発振動作を確保できる範囲で、前記定電圧発生回路内の定電圧制御回路におけるトランジスタを前記選択回路にて選択することを特徴とする半導体装置。
【請求項８】
請求項１〜６のいずれかの定電圧発生回路を含むことを特徴とする携帯用電子機器。
【請求項９】
請求項１〜６のいずれかの定電圧発生回路を含むことを特徴とする時計。
【請求項１０】
請求項７のいずれかの半導体装置を含むことを特徴とする携帯用電子機器。
【請求項１１】
請求項７のいずれかの半導体装置を含むことを特徴とする時計。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、定電圧発生回路、半導体装置及びそれらを具備した携帯用の電子機器および時計に関するものである。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
【課題を解決するための手段】
本発明の定電圧発生回路は、
一端側が第１の電位側、他端側が定電圧出力側に接続され、閾値電圧が夫々異なる複数のトランジスタを含み、いずれかのトランジスタが選択使用される定電圧制御回路と、
前記定電圧制御回路の参照電圧が一方の端子へ入力され、他方の端子へ所与の基準電圧が入力されたオペアンプと、
一端が前記定電圧制御回路の前記各トランジスタの他端側に接続され、他端側が第２の電位側に接続され、前記オペアンプの出力を受けてゲート入力電圧が制御されるトランジスタと、
を含み、
前記定電圧発生回路は、前記定電圧制御回路における複数のトランジスタからいずれかのトランジスタを選択する選択回路を含み、
前記定電圧発生回路はモニタ端子と接続されるとともに、テスト回路と同一の基板上に設けられ、
検査工程において、前記テスト回路は、前記定電圧制御回路における各トランジスタを選択し、前記定電圧制御回路における各トランジスタによる出力電圧を前記モニタ端子にて夫々測定することにより、前記定電圧制御回路における複数のトランジスタの中からいずれかのトランジスタを特定し、前記選択回路にて、前記トランジスタを選択することを特徴とする。


【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
本発明の半導体装置は、
発振回路と、定電圧発生回路と、テスト回路とを含む半導体装置であって、
前記発振回路は、
発振用インバータと、
外付けされた水晶振動子と出力側及び入力側が接続された前記発振用インバータの出力信号を位相反転して、前記発振用インバータにフィードバック入力するフィードバック回路と、
を含み、
前記定電圧発生回路は、
一端側が第１の電位側、他端側が定電圧出力側に接続され、閾値電圧が夫々異なる複数のトランジスタを含み、いずれかのトランジスタが選択使用される定電圧制御回路と、
前記定電圧制御回路の参照電圧が一方の端子へ入力され、他方の端子へ所与の基準電圧が入力されたオペアンプと、
一端が前記定電圧制御回路の前記各トランジスタの他端側に接続され、他端側が第２の電位側に接続され、前記オペアンプ出力を受けてゲート入力電圧が制御されるトランジスタと、
前記定電圧制御回路における複数のトランジスタからいずれかのトランジスタを選択する選択回路と、
を含み、
前記テスト回路は、前記発振回路および前記定電圧発生回路と夫々接続されるとともに、
前記定電圧発生回路の出力電圧をモニタするモニタ端子と、テスト用パッドと接続されて設けられ、
検査工程において、前記モニタ端子に電圧を印加した状態で、前記テスト用パッドへの印加電圧を制御することにより、前記テスト回路を介して前記発振用インバータのショート電流を測定し、
前記ショート電流測定後に、前記テスト用パッドへの印加電圧を制御することにより、前記テスト回路を介して前記定電圧制御回路における各トランジスタを夫々選択して、前記各トランジスタの出力電圧を前記モニタ端子にて夫々測定し、
前記発振用インバータの発振動作を確保できる範囲で、前記定電圧発生回路内の定電圧制御回路におけるトランジスタを前記選択回路にて選択することを特徴とする。