(57)【要約】【課題】自己修復機能により再構成可能なＬＳＩテスタにおいて、故障要素による周辺要素への影響を排除する。【解決手段】ピンカードの故障可能性を検出する故障可能性検出装置を搭載するピンカード１０と、これらのピンカードを置換える予備のピンカード２０と、故障可能性検出装置の出力をすべて入力する制御装置３０と、ピンカードを予備のピンカードと置換えるピンカード置換え用リレー３１とをＬＳＩテスタに備え、制御装置３０は故障可能性検出装置の出力値に対する基準値を保持し、故障可能性検出装置の出力値が基準値を超えた場合に、ピンカード１０を予備のピンカード２０と置換えるようにピンカード置換え用リレー３１を制御する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピンカードの故障可能性を検出する故障可能性検出装置を搭載するピンカードと、
前記ピンカードを置換える予備のピンカードと、
前記故障可能性検出装置の出力をすべて入力する制御装置と、
前記ピンカードを前記予備のピンカードと置換えるピンカード置換え用リレーとを具備し、
前記故障可能性検出装置の出力値が所定の基準値を超えた場合に前記制御装置は当該ピンカードを前記予備のピンカードと置換えるように前記ピンカード置換え用リレーを制御する自己回復機能を有するＬＳＩテスタ。
【請求項２】
前記故障可能性検出装置は、ピンカード内部のリレーの動作回数をカウントするカウンタを含む請求項１記載の自己回復機能を有するＬＳＩテスタ。
【請求項３】
前記故障可能性検出装置は、ピンカードに流れる電流値を測定する電流計を含む請求項１または２記載の自己回復機能を有するＬＳＩテスタ。
【請求項４】
前記故障可能性検出装置は、ピンカードにかかる電圧値を測定する電圧計を含む請求項１から３のいずれか一項記載の自己回復機能を有するＬＳＩテスタ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は自己修復機能により再構成可能なＬＳＩテスタに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、自己修復機能により再構成可能なＬＳＩテスタの構成方法が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。図６はこのような従来のＬＳＩテスタにおける自己回復機能の処理方法を示すフロー図である。
【０００３】
従来のＬＳＩテスタでは、図６に示すように、ステップ２００で再構成可能な要素を管理するシステムが自己診断プログラムを実行し、その結果からステップ２０１で故障要素を検出し、故障要素についてはステップ２０４で自動的に予備要素との置換えを実施することでＬＳＩテスタの自己回復を行っていた。
【０００４】
【特許文献１】
特開昭５７−５００６４号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のＬＳＩテスタの処理方法では、故障要素を検出してから修復を行うため、自己診断プログラムの実施の際に少なくとも一度は故障要素を用いた操作が行われており、これにより故障要素が周辺要素に悪影響を与える可能性があるという問題を有していた。
【０００６】
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、自己修復機能により再構成可能なＬＳＩテスタにおいて、故障要素による周辺要素への影響を排除することができるＬＳＩテスタを提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１の自己回復機能を有するＬＳＩテスタは、ピンカードの故障可能性を検出する故障可能性検出装置を搭載するピンカードと、これらのピンカードを置換える予備のピンカードと、前記故障可能性検出装置の出力をすべて入力する制御装置と、ピンカードを前記予備のピンカードと置換えるピンカード置換え用リレーとを具備し、前記故障可能性検出装置の出力値が所定の基準値を超えた場合に前記制御装置は当該ピンカードを前記予備のピンカードと置換えるように前記ピンカード置換え用リレーを制御するものである。
【０００８】
上記構成によれば、ピンカードに搭載された故障可能性検出装置の出力値を監視することによりピンカードの故障可能性を予測し、ピンカードが故障する前に予備のピンカードへの置換えを実施することができるため、故障したピンカードによる周辺要素への悪影響を排除することができる。
【０００９】
請求項２の自己回復機能を有するＬＳＩテスタは、請求項１記載の自己回復機能を有するＬＳＩテスタにおいて、前記故障可能性検出装置は、ピンカード内部のリレーの動作回数をカウントするカウンタを含むものである。
【００１０】
上記構成によれば、ピンカード内部のリレーの動作回数をカウントし、これを制御装置に保持された所定の基準値と比較することにより、リレー回路部の故障可能性を予測ことができる。
【００１１】
請求項３の自己回復機能を有するＬＳＩテスタは、請求項１または２記載の自己回復機能を有するＬＳＩテスタにおいて、前記故障可能性検出装置は、ピンカードに流れる電流値を測定する電流計を含むものである。
【００１２】
上記構成によれば、ピンカードに流れる電流値を測定し、これを制御装置に保持された所定の基準値と比較することにより、ピンカード内部回路の故障可能性を予測ことができる。
【００１３】
請求項４の自己回復機能を有するＬＳＩテスタは、請求項１から３のいずれか一項記載の自己回復機能を有するＬＳＩテスタにおいて、前記故障可能性検出装置は、ピンカードにかかる電圧値を測定する電圧計を含むものである。
【００１４】
上記構成によれば、ピンカードにかかる電圧値を測定し、これを制御装置に保持された所定の基準値と比較することにより、ピンカード内部回路の故障可能性を予測ことができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について図面を参照しながら説明する。
図１は本発明に係るＬＳＩテスタにおける自己回復機能の処理方法を示すフロー図である。図２、図３、図４は本発明に係るＬＳＩテスタで使用されるピンカードの回路構成を示す図であり、図５は本発明に係るＬＳＩテスタにおけるピンカード全体の構成方法を示す図である。
【００１６】
図２において、１０はピンカード、１１はカウンタ、１４はピンカード内部のリレーである。ピンカード１０において、内部のリレー１４は被測定デバイスの端子を電源またはドライバおよびコンパレータと接続し、カウンタ１１は内部のリレー１４の動作回数をカウントする。
【００１７】
図３において、１０はピンカード、１２は電流計、１４はピンカード内部のリレーである。ピンカード１０において、内部のリレー１４は被測定デバイスの端子を電源またはドライバおよびコンパレータと接続し、電流計１２はピンカード１０に流れる電流値を測定する。
【００１８】
図４において、１０はピンカード、１３は電圧計、１４はピンカード内部のリレーである。ピンカード１０において、内部のリレー１４は被測定デバイスの端子を電源またはドライバおよびコンパレータと接続し、電圧計１３はピンカード１０にかかる電圧値を測定する。
【００１９】
図５において、１０はピンカード、２０は予備のピンカード、３０は制御装置、３１はピンカード置換え用リレーである。各ピンカードに搭載されるカウンタ１１、電流計１２、電圧計１３は、制御装置３０と接続されている。
【００２０】
制御装置３０においては、ピンカードの故障の可能性を検出するために、カウンタ１１のカウント値、電流計１２の電流値、電圧計１３の電圧値のそれぞれに対する基準値を保持し、それぞれの検出値と基準値との比較を行っている。
【００２１】
基準値を超えたピンカードを検出した場合は、そのピンカードの記録を保持し、テスト終了後に制御装置３０からピンカード置換え用リレー３１を制御し、そのピンカードを予備のピンカード２０と置換える。
【００２２】
以上のように構成された本発明に係るＬＳＩテスタにおける自己回復機能の処理方法を図１のフロー図により説明する。ステップ１００でテストを開始すると、ピンカード１０に搭載されたカウンタ１１あるいは電流計１２あるいは電圧計１３の故障可能性検出装置により、ステップ１０１でピンカードの故障可能性の検出を開始する。
【００２３】
それぞれのピンカードに搭載された故障可能性検出装置の出力はすべて制御装置３０に入力される。制御装置３０によりステップ１０２でそれぞれの故障可能性検出装置の出力値が基準値を超えているかどうかを判断し、超えていない場合はステップ１０４でテスト終了を判断するまで、ステップ２０１に戻り引き続き故障可能性の検出を続ける。いずれかの故障可能性検出装置の出力値が基準値を超えた場合は、ステップ１０３でそのピンカードの情報と出力値を制御装置３０に保存し、さらに故障可能性の検出を続ける。
【００２４】
この処理を繰返し、ステップ１０４でテスト終了を判断すると、ステップ１０５で故障可能性検出装置の出力値が基準値を超えた記録があるかどうかを調べ、超えた記録がない場合にはステップ１０６で終了し、超えた記録がある場合には、ステップ１０７で予備のピンカード２０との置換えを実施した後にステップ１０６で終了する。
【００２５】
その結果、ピンカードが故障する前の段階で故障可能性が検出され、予備のピンカードへの置換えが実施されるため、故障したピンカードが周辺の要素へ悪影響を与える可能性を排除することができる。
【００２６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ピンカードに搭載されたカウンタあるいは電流計あるいは電圧計を用いた故障可能性検出装置の出力値を監視することにより、ピンカードの故障可能性を予測し、ピンカードが故障する前に予備のピンカードへの置換えを実施することができるため、故障したピンカードによる周辺要素への悪影響をなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＬＳＩテスタにおける自己回復機能の処理方法を示すフロー図。
【図２】本発明に係るＬＳＩテスタで使用されるピンカードのカウンタを搭載する回路構成を示す図。
【図３】本発明に係るＬＳＩテスタで使用されるピンカードの電流計を搭載する回路構成を示す図。
【図４】本発明に係るＬＳＩテスタで使用されるピンカードの電圧計を搭載する回路構成を示す図。
【図５】本発明に係るＬＳＩテスタにおけるピンカード全体の構成方法を示す図。
【図６】従来のＬＳＩテスタにおける自己回復機能の処理方法を示すフロー図。
【符号の説明】
１０  故障可能性検出装置を搭載するピンカード
１１  リレーの動作回数をカウントするカウンタ
１２  ピンカードを流れる電流を測定する電流計
１３  ピンカードにかかる電圧を測定する電圧計
１４  ピンカード内部のリレー
２０  予備のピンカード
３０  ピンカードの置換えを制御する制御装置
３１  ピンカードの置換え用リレー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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