(57)【要約】【課題】アキシャルスキャンによる断層像再構成において、被検体の軸方向における所定の画像生成位置の断層像の画質を向上可能な放射線ＣＴ装置および断層画像生成方法を提供する。【解決手段】Ｘ線ＣＴ装置のＸ線管および検出器アレイによって、被検体の軸ＡＸ軸方向に沿って異なる位置において、被検部位を通過したＸ線を被検部位の軸ＡＸまわりに検出するスキャンを複数回行ない、再構成部によって、複数回のスキャンの各々についてこれらのスキャンによって得られた検出データに基づいて軸ＡＸ方向における検出器列４ａに対応する位置の被検部位の断層像Ｉ１４ａおよびＩ５ｂのデータを計算して再構成し、再構成した複数の断層像Ｉ１４ａおよびＩ５ｂのデータを合成して検出器列４ａに対応する位置の合成断層像Ｉｅ４ａのデータを生成する。【選択図】  図３
2004313655.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なう放射線検出装置と、
複数回の前記スキャンの各々によって得られた検出データに基づいて、前記被検部位の同じ位置に関して複数のデータを求め、当該複数のデータに基づいて前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の１つの断層像データを再構成する画像再構成手段と
を有する放射線計算断層画像装置。
【請求項２】
前記放射線検出装置は、
放射線を照射する放射線管と、
前記所定の軸まわりと当該軸に沿う方向との２次元的に配列された複数の放射線検出器と、
前記放射線管および前記複数の放射線検出器を前記所定の軸まわりに回転、および、当該軸に沿う方向に前記被検部位に対して相対的に移動させる移動手段と
を有する請求項１に記載の放射線計算断層画像装置。
【請求項３】
被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なう放射線検出装置と、
複数回の前記スキャンの各々について当該スキャンによって得られた検出データに基づく計算により前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の断層像データを再構成し、再構成した複数の前記断層像データを合成して前記画像生成位置の合成断層像データを生成する画像再構成手段と
を有する放射線計算断層画像装置。
【請求項４】
前記放射線検出装置は、
放射線を照射する放射線管と、
前記所定の軸まわりと当該軸に沿う方向との２次元的に配列された複数の放射線検出器と、
前記放射線管および前記複数の放射線検出器を前記所定の軸まわりに回転、および、当該軸に沿う方向に前記被検部位に対して相対的に移動させる移動手段と
を有する請求項３に記載の放射線計算断層画像装置。
【請求項５】
前記画像再構成手段は、前記画像生成位置の前記複数の断層像データに対して各々重みを付与し、重みを付与した当該複数の断層像データを合成して前記合成断層像データを生成する
請求項４に記載の放射線計算断層画像装置。
【請求項６】
前記画像生成位置における前記所定の軸から断層像の各画素までの距離および／または前記所定の軸上の所定の位置から前記画像生成位置までの距離に応じて、前記複数の断層像データに各々付与する前記重みを変化させる
請求項５に記載の放射線計算断層画像装置。
【請求項７】
複数回の前記スキャンの各々によって得られた、前記画像生成位置における前記複数の断層像データの各々について、当該断層像データの各画素データのうち、各々の前記スキャンによる前記検出データが存在する領域以外の領域の画素データに付与する重みは０にする
請求項５に記載の放射線計算断層画像装置。
【請求項８】
前記断層像データの前記画素データの各々に対して付与する重みを、前記所定の軸を中心とした同心円状に変化させる
請求項７に記載の放射線計算断層画像装置。
【請求項９】
前記画像再構成手段が前記所定の軸方向に沿って生成した複数の前記合成断層像データに基づいて、所望の方向の断層画像を生成する再構成画像生成手段をさらに有する
請求項３〜８のいずれかに記載の放射線計算断層画像装置。
【請求項１０】
被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なうステップと、
複数回の前記スキャンの各々によって得られた検出データに基づいて、前記被検部位の同じ位置に関して複数のデータを求め、当該複数のデータに基づいて前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の１つの断層像データを計算し再構成するステップと
を有する断層画像生成方法。
【請求項１１】
被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なうステップと、
複数回の前記スキャンの各々について当該スキャンによって得られた検出データに基づいて前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の断層像データを計算し再構成するステップと、
再構成した複数の前記断層像データを合成して前記画像生成位置の合成断層像データを生成するステップと
を有する断層画像生成方法。
【請求項１２】
複数回の前記スキャンの各々に対応した複数の前記断層像データを再構成した後に、当該複数の断層像データに対して各々重みを付与し、重みを付与した当該複数の断層像データを合成して前記合成断層像データを生成する
請求項１１に記載の断層画像生成方法。
【請求項１３】
前記画像生成位置における前記所定の軸から断層像の各画素までの距離および／または前記所定の軸上の所定の位置から前記画像生成位置までの距離に応じて、前記複数の断層像データに各々付与する前記重みを変化させる
請求項１２に記載の断層画像生成方法。
【請求項１４】
複数回の前記スキャンの各々によって得られた、前記画像生成位置における前記複数の断層像データの各々について、当該断層像データの各画素データのうち、各々の前記スキャンによる前記検出データが存在する領域以外の領域の画素データに付与する重みは０にする
請求項１３に記載の断層画像生成方法。
【請求項１５】
前記断層像データの前記画素データの各々に対して付与する重みを、前記所定の軸を中心とした同心円状に変化させる
請求項１４に記載の断層画像生成方法。
【請求項１６】
前記合成断層像データを前記所定の軸方向に沿って複数生成するステップと、複数の前記合成断層像データに基づいて、所望の方向の断層画像を生成するステップと
をさらに有する請求項１１〜１５に記載の断層画像生成方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、対象物に対する放射線の投影データから対象物の断層像を計算する放射線計算断層画像装置（以下、放射線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｐｏｇｒａｐｈｙ）装置）、および、断層画像生成方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
放射線ＣＴ装置として、たとえば、放射線にＸ線を用いるＸ線ＣＴ装置が知られている。このＸ線ＣＴ装置として、複数のＸ線検出器を２次元的に配列した装置が知られている。複数のＸ線検出器は、被検体に対する所定の軸に沿った方向に幅を持つように配置される。Ｘ線検出器の列が軸方向に沿って所定の幅分形成されるため、２次元的に配列したＸ線検出器は、多列検出器と呼ばれる。
【０００３】
多列検出器を用いた断層像再構成手法として、コーンＢＰ（Ｂａｃｋ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）法が知られている（たとえば、特許文献１参照。）。
多列検出器を有するＸ線ＣＴ装置においてコーンＢＰ法を適用する場合には、たとえば、上述の軸に直交する断面が扇形のコーン状のＸ線を放射しながら、多列検出器を軸まわりに１回転させる。そして、被検体を通過したＸ線を多列検出器により検出して被検体の被検部位をスキャンする。１回のスキャン終了後、多列検出器を軸方向に所定ピッチずらして、次のスキャンを行なう。このようなスキャン手法は、アキシャル（ａｘｉａｌ）スキャンと呼ばれる。Ｘ線検出器の列が軸方向に複数存在するため、Ｘ線検出器の列の数に応じて、１回のスキャンによって被検体の断層像を複数枚得ることができる。
コーンＢＰ法においては、あるＸ線検出器の列に対応する断層像を生成する場合に、対象とするＸ線検出器の列によって得た検出データだけでなく、断層像に対応する被検部位を通過し他のＸ線検出器の列によって検出されたＸ線の検出データも利用する。このように画像生成のためのデータが増えることによって、断層像の画質をある程度向上させることができる。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００２−３３６２３９号公報
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のコーンＢＰ法では、軸方向の端部の検出器の列に相当する断層像生成において、画像生成のために利用可能な検出データが減少する。このため、特に端部の検出器の列に相当する断層像に対しては、さらなる画質の向上が望まれている。
【０００６】
また、従来のコーンＢＰ法では、被検体の軸まわりの１回のスキャンによって得られた検出データのみを用いて断層像を生成する。このため、アキシャルスキャンを行なう場合に、軸方向のある位置におけるスキャンによって得られた断層像と、他の位置における他のスキャンによって得られた断層像との間ではデータの連続性が悪い。データの連続性が悪いと、コーンＢＰ法によって得られた軸方向に直交する複数の断層像を用いた断面変換により得られる他の断層像の画質に悪影響が及ぶ等の不利益が発生する。不利益の例として、断面変換により得られるＭＰＲ（Ｍｕｌｔｉ  Ｐｌａｉｎ  Ｒｅｆｏｒｍａｔｉｏｎ）画像が十分に滑らかではなく、スキャンとスキャンとの境界に相当する部分において縞状のアーチファクト（ａｒｔｉｆａｃｔ）が発生することが挙げられる。
【０００７】
したがって、本発明の目的は、アキシャルスキャンによる断層像再構成において、被検体の軸方向における所定の画像生成位置の断層像の画質を向上可能な放射線計算断層画像装置（放射線ＣＴ装置）を提供することにある。また、本発明の目的は、この放射線ＣＴ装置において用いられ、画像生成位置の断層像の画質を向上可能な断層画像生成方法を提供することにもある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る放射線計算断層画像装置は、被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なう放射線検出装置と、複数回の前記スキャンの各々によって得られた検出データに基づいて、前記被検部位の同じ位置に関して複数のデータを求め、当該複数のデータに基づいて前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の１つの断層像データを再構成する画像再構成手段とを有する。
【０００９】
本発明に係る放射線計算断層画像装置は、被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なう放射線検出装置と、複数回の前記スキャンの各々について当該スキャンによって得られた検出データに基づく計算により前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の断層像データを再構成し、再構成した複数の前記断層像データを合成して前記画像生成位置の合成断層像データを生成する画像再構成手段とを有する構成でもよい。
【００１０】
また、本発明に係る断層画像生成方法は、被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なうステップと、複数回の前記スキャンの各々によって得られた検出データに基づいて、前記被検部位の同じ位置に関して複数のデータを求め、当該複数のデータに基づいて前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の１つの断層像データを計算し再構成するステップとを有する。
【００１１】
本発明に係る断層画像生成方法は、被検部位を通過した放射線を前記被検部位の所定の軸まわりに検出するスキャンを、前記所定の軸方向に沿って異なる位置において複数回行なうステップと、複数回の前記スキャンの各々について当該スキャンによって得られた検出データに基づいて前記所定の軸方向における画像生成位置の被検部位の断層像データを計算し再構成するステップと、再構成した複数の前記断層像データを合成して前記画像生成位置の合成断層像データを生成するステップとを有する構成でもよい。
【００１２】
本発明においては、被検部位を通過した放射線を放射線検出装置が被検部位の所定の軸まわりに検出して被検部位をスキャンする。放射線検出装置は、被検部位のスキャンを軸方向に沿って異なる位置において複数回行なう。複数回のスキャンの各々に対して、被検部位を通過した放射線の検出データが得られる。画像再構成手段が、複数回のスキャンの各々によって得られた検出データに基づいて、被検部位の同じ位置に関して複数のデータを求める。画像再構成手段は、この複数のデータに基づいて、軸方向における所定の画像生成位置の被検部位の１つの断層像データを計算して再構成する。
その際に、画像再構成手段は、複数回のスキャンの各々について、得られた検出データから画像生成位置の被検部位の断層像データを再構成する。画像再構成手段は、画像生成位置においてスキャンの回数に応じて得られる複数の断層像データを合成して合成断層像データを生成する。この合成断層像データが、画像生成位置における被検部位の最終的な断層像データになる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、添付図面を参照しながら述べる。本発明における放射線は、Ｘ線を含む。以下では、放射線ＣＴ装置としてＸ線ＣＴ装置を例に挙げて述べる。
【００１４】
装置構成
図１は、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の一実施の形態の装置構成を示す図であり、図２は、図１に示すＸ線ＣＴ装置の要部の構成を示す図である。図１に示すＸ線ＣＴ装置１が、本発明における放射線計算断層画像装置の一実施の形態である。
【００１５】
図１に示すように、本実施の形態に係るＸ線ＣＴ装置１は、走査ガントリ２と、操作コンソール３と、撮影テーブル４とを有する。
また、走査ガントリ２は、Ｘ線管２０と、移動部２１と、コリメータ２２と、検出器アレイ２３と、データ収集システム（Ｄａｔａ  Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ  Ｓｙｓｔｅｍ：ＤＡＳ）２４と、Ｘ線コントローラ２５と、コリメータコントローラ２６と、回転部２７と、回転コントローラ２８とを有している。
【００１６】
Ｘ線管２０が本発明における放射線管の一実施態様であり、移動部２１と回転部２７と回転コントローラ２８とを含んで本発明における移動手段の一実施態様が構成される。
また、Ｘ線管２０と、移動部２１と、検出器アレイ２３と、回転部２７と、回転コントローラ２８とを含んで、本発明における放射線検出装置の一実施態様が構成される。
【００１７】
図２に示すように、Ｘ線コントローラ２５は、Ｘ線管２０およびＸ線管移動部２１に接続される。コリメータコントローラ２６は、コリメータ２２に接続される。検出器アレイ２３はＤＡＳ２４に接続され、回転コントローラ２８は回転部２７に接続される。
【００１８】
Ｘ線管２０は、Ｘ線コントローラ２５からの制御信号ＣＴＬ２５１に基づいて所定強度のＸ線をコリメータ２２に向かって放射する。
【００１９】
コリメータ２２は、コリメータコントローラ２６からの制御信号ＣＴＬ２６１に基づいてアパーチャ２２１の開度を調節することによって、Ｘ線管２０から放射されたＸ線の照射範囲を調節する。
本実施の形態においては、後述する検出器アレイの２次元的なＸ線検出面の全面にＸ線が入射するようにアパーチャ２２１の開度が調節される。
【００２０】
検出器アレイ２３は、Ｘ線検出器を複数用いてｉ行ｊ列の２次元のマトリクス（アレイ）状に構成したものである。
各Ｘ線検出器は、たとえば、シンチレータ（ｓｃｉｎｔｉｌｌａｔｏｒ）とフォトダイオードの組み合わせによって構成する。
行方向には、たとえばｉ＝１０００個程度のＸ線検出器が配置されて１つの検出器列を構成する。図２においては、たとえば、ｊ＝８として８列の検出器列を有する検出器アレイ２３を示している。以下では、各検出器列を表わす場合に、検出器アレイ２３の列方向の中心から右側に向かって順に検出器列１ａ，２ａ，３ａ，４ａ、中心から左側に向かって順に検出器列１ｂ，２ｂ，３ｂ，４ｂと表わす。
複数の検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂは、隣接して互いに平行に配設する。
以上のように、Ｘ線検出器をマトリクス状に配置することにより、全体として２次元的なＸ線検出面２３Ｓが構成される。
【００２１】
図１および図２に示すように、検出器アレイ２３は、コリメータ２２から所定距離離れて配置する。コリメータ２２と検出器アレイ２３との間が、Ｘ線照射空間２９となる。このＸ線照射空間２９内に被検体６が搬入される。
検出器アレイ２３は、コリメータ２２のアパーチャ２２１の部分から照射され、被検体６が搬入されているＸ線照射空間２９を通過したＸ線ビーム５の強度をＸ線検出面２３Ｓによって検出する。
【００２２】
ＤＡＳ２４は、操作コンソール３からの制御信号ＣＴＬ３０３に基づいて、Ｘ線検出面２３Ｓを構成する個々のＸ線検出器からのＸ線強度の検出データを収集し、操作コンソール３に送信する。ＤＡＳ２４によって収集される検出データは、ローデータ（Ｒａｗ  Ｄａｔａ）と呼ばれる。
ＤＡＳ２４は、ローデータをＡＤ（Ａｎａｌｏｇ  ｔｏ  Ｄｉｇｉｔａｌ）変換して操作コンソール３に送信する。
【００２３】
回転部２７は、回転コントローラ２８からの制御信号に基づいて、Ｘ線照射空間２９内の所定の回転軸ＡＸまわりに回転する。
回転部２７にはＸ線管２０、移動部２１、コリメータ２２、検出器アレイ２３、ＤＡＳ２４、Ｘ線コントローラ２５、およびコリメータコントローラ２６が搭載されており、回転部２７の回転によってこれらの構成要素が相対的な位置関係を保ったまま回転軸ＡＸまわりに回転する。
【００２４】
本実施の形態においては、回転軸ＡＸの方向に沿って、検出器アレイ２３の各検出器列を配列する。そして、この回転軸ＡＸの方向、すなわち検出器アレイ２３の検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂの方向を、ｚ方向とする。
なお、Ｘ線管２０と検出器アレイ２３とは、Ｘ線管２０のＸ線の放射中心が検出器アレイ２３のｚ方向の中心に一致するように配置する。
【００２５】
移動部２１は、Ｘ線コントローラ２５からの制御信号ＣＴＬ２５２に基づいて、Ｘ線管２０、コリメータ２２、および検出器アレイ２３を、これらの相対的な位置関係を保ったまま、ｚ方向に沿って移動させる。
【００２６】
被検体６は、撮影テーブル４上に載置される。撮影テーブル４は、たとえばモーターによって位置変更が可能になっており、操作コンソール３からの制御信号ＣＴＬ３０ｂを受けて、被検体６をＸ線照射空間２９内に搬入する。被検体６は、たとえば、頭部から脚部への体軸の方向がｚ方向に一致するように搬入される。
【００２７】
Ｘ線コントローラ２５は、操作コンソール３の後述する中央処理装置３０からの制御信号ＣＴＬ３０１に基づいて、Ｘ線管２０が放射するＸ線の強度を制御するための制御信号ＣＴＬ２５１、および、移動部２１を制御するための制御信号ＣＴＬ２５２を出力する。
Ｘ線コントローラ２５は、制御信号ＣＴＬ２５２によって、ｚ方向に沿って移動部２１を所定ピッチ移動させる。
【００２８】
コリメータコントローラ２６は、操作コンソール３からの制御信号ＣＴＬ３０２に応じて、コリメータ２２に出力する制御信号ＣＴＬ２６１によってアパーチャ２２１の開度を制御する。
本実施の形態においては、コリメータ２２を通過したＸ線ビーム５が、検出器アレイ２３のＸ線検出面２３Ｓの全面に照射されるようにアパーチャ２２１の開度を調節する。
【００２９】
回転コントローラ２８は、操作コンソール３の中央処理装置３０からの制御信号ＣＴＬ３０４に基づいて、回転部２７に対し制御信号を出力して回転軸ＡＸまわりに回転させる。
本実施の形態においては、たとえば、回転軸ＡＸ上の所定の位置において回転部２７が１回転し、回転軸ＡＸまわりの全ビューにおいて検出器アレイ２３がＸ線強度を検出することによって１回のスキャンが行なわれる。
【００３０】
図１に示すように、操作コンソール３は、中央処理装置３０と、入力装置３１と、表示装置３２と、記憶装置２３とを有する。
入力装置３１は、Ｘ線ＣＴ装置１を動かすための操作者（オペレータ）からの指令入力を受け付けて中央処理装置３０に送信する。
表示装置３２は、中央処理装置３０による計算の結果得られたＣＴ画像を表示するためのものである。
記憶装置２３は、中央処理装置３０を介してＸ線ＣＴ装置１を動かすための各種プログラムやパラメータ、ＣＴ画像の画像データ等のデータを記憶する。
【００３１】
図２に示すように、中央処理装置３０は、制御部３４と、再構成部３６と、表示部３８と、再構成画像生成部４０とを有する。
再構成部３６が本発明における画像再構成手段の一実施態様であり、再構成画像生成部４０が再構成画像生成手段の一実施態様である。
中央処理装置３０は、１つのハードウェアのみを用いた構成であってもよいし、上述の各構成要素に対して適宜ハードウェアを割り当てたシステムとして構成してもよい。
【００３２】
制御部３４には、ＤＡＳ２４、入力装置３１、再構成部３６、表示部３８、Ｘ線コントローラ２５、コリメータコントローラ２６、回転コントローラ２８、および撮影テーブル４が接続される。
再構成部３６は表示部３８および再構成画像生成部４０にさらに接続されており、また、表示部３８と再構成画像生成部４０とが接続されている。
また、記憶装置２３は、中央処理装置３０の各構成要素から適宜アクセスされる。
【００３３】
制御部３４は、撮影テーブル４に制御信号ＣＴＬ３０ｂを出力して被検体６をＸ線照射空間２９内に搬入させる。
また、制御部３４は、ＣＴ画像としての被検体６の断層像の生成に用いる検出データを得るために、入力装置３１を介した操作者からの指令入力に基づいて、操作ガントリ２に制御信号ＣＴＬ３０ａを出力し、被検体６のスキャンを行なわせる。制御部３４からの制御信号ＣＴＬ３０ａには、前述の制御信号ＣＴＬ３０１，３０２，３０３，３０４が含まれる。
制御部３４は、スキャンによってＤＡＳ２４が収集した検出データを受け取る。
【００３４】
再構成部３６は、制御部３４を介して入手した検出データに基づいて、被検体６の被検部位の断層像を再構成する。
制御部３４を介した走査ガントリ２による被検体６のスキャンの例、および、再構成部３６による被検体６の断層像生成については後ほど詳述する。
【００３５】
再構成画像生成部４０は、再構成部３６を介した制御部３４からの指令に応じて、再構成部３６によって再構成された断層像のデータに基づいて断面変換を行ない、再構成部３６によって再構成された断層像とは異なる方向の断層像を生成する。
表示部３８は、制御部３４からの指令信号に応じて、再構成部３６が生成した断層像および／または再構成画像生成部４０が生成した断層像を表示装置３２に表示させる。
【００３６】
断層像生成
以下では、走査ガントリ２による被検体６の被検部位のスキャン、および、このスキャンによって得られた検出データに基づいた断層像生成について詳細に述べる。
【００３７】
図３は本実施の形態における断層像の生成方法について述べるための図であり、（ａ）はｚ軸を含む平面においてＸ線ビームと断層像との関係を示しており、（ｂ）は断層像の斜視図を示している。
また、図４は、図３（ａ）の意味を説明するための図である。したがって、以下ではまず図４について述べる。
【００３８】
前述のように、Ｘ線管２０および検出器アレイ２３は、回転軸ＡＸまわりに回転する。図４においては、この回転軸ＡＸをｚ軸とする。
図４においては、Ｘ線管２０の初期状態の位置を０°方向とし、そこからｚ軸まわりに１８０°回転したときのＸ線管２０の位置を１８０°方向としている。また、０°方向および１８０°方向を含む平面がｙｚ平面となるようにｙ方向を規定している。図４において、紙面に直交する方向がｘ方向となる。
【００３９】
本実施の形態においては、制御部３４は、ｚ軸方向に沿った所定の位置において１回スキャンを行ない、その後ｚ軸に沿った方向に所定ピッチずれた位置において次のスキャンを行なう、いわゆるアキシャルスキャンを走査ガントリ２に実行させる。図４においては、２回スキャンを行なった例が示されている。
【００４０】
制御部３４は、Ｘ線コントローラ２５に制御信号ＣＴＬ３０１を出力してＸ線管２０からＸ線を放射させる。また、制御部３４は、コリメータコントローラ２６に制御信号ＣＴＬ３０２を出力して、全てのＸ線検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂにＸ線ビームが照射されるようにコリメータ２２のアパーチャ２２１の開度を調節する。本実施の形態においては、図４に示すように、ｙｚ平面におけるＸ線ビームの断面形状が扇形のいわゆるファンビームが検出器アレイ２３に照射されることになる。
この状態において、制御部３４は回転部２７を回転させてスキャンを行なわせる制御信号ＣＴＬ３０４を回転コントローラ２８に出力し、検出器アレイ２３によって得られる検出データを収集させる制御信号ＣＴＬ３０３をＤＡＳ２４に出力する。
これにより、ｚ軸まわりの全ビューにおける検出データ、すなわちローデータがＤＡＳ２４によって収集される。ローデータは、Ｘ線による被検部位の投影データになっている。
【００４１】
再構成部３６は、ローデータに対して逆投影処理を施し、被検部位の断層像を再構成する。
ただし、ローデータをそのまま用いて逆投影したのでは再構成した断層像にぼけやノイズが発生する。このため、再構成部３６はローデータに対してＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ：高速フーリエ変換）を施して周波数領域のデータにした後に、ぼけやノイズを低減するためのフィルタリング処理を行ない、ＩＦＦＴ（Ｉｎｖｅｒｓｅ  Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ：高速逆フーリエ変換）によって元のローデータの形式に戻すというローデータの加工を行なう。
再構成部３６は、加工したローデータに対して逆投影処理を施し、断層像を再構成する。
【００４２】
再構成部３６は、Ｘ線管２０から放射され検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂのそれぞれに入射する各Ｘ線ビームが回転軸ＡＸに交差する位置における、回転軸ＡＸに直交する断層像を再構成する。
たとえば、図４に示す断層像Ｉ１４ｂは、１回目のスキャンにおいて、０°方向から出射し１８０°方向に位置する検出器列４ｂに入射するＸ線ビーム１０＿４ｂ、および、１８０°方向から出射し０°方向に位置する検出器列４ｂに入射するＸ線ビーム１８＿４ｂが回転軸ＡＸに直交する位置における被検部位の断層像を表わしている。同様に、断層像Ｉ１４ａは、１回目のスキャンにおいて０°方向および１８０°方向から検出器列４ａにそれぞれ入射するＸ線ビーム１０＿４ａおよび１８＿４ａが回転軸ＡＸに直交する位置の被検部位の断層像を示している。
以上により、本実施の形態においては、検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂのそれぞれに対応した８枚の断層像が１回のスキャンによって得られることがわかる。
【００４３】
１回のスキャンが終了後、制御部３４はＸ線管２０、コリメータ２２、および検出器アレイ２３をｚ方向にピッチＰｔ分移動させる制御信号ＣＴＬ３０１をＸ線コントローラ２４に出力する。移動部２１のｚ方向への移動終了後に、制御部３４は回転コントローラ２８およびＤＡＳ２４にそれぞれ制御信号ＣＴＬ３０４およびＣＴＬ３０３を出力し、２回目のスキャンを行なわせる。
以上のようにして、制御部３４は走査ガントリ２にアキシャルスキャンを実行させる。
また、図４における断層像Ｉ２４ｂおよびＩ２４ａは、２回目のスキャンにおける検出器列４ｂおよび４ａに対応する位置の断層像をそれぞれ表わしている。
ピッチＰｔは、スキャンとスキャンとの境界に位置する断層像同士の距離が所定範囲内に収まるように決める。具体的には、たとえば、断層像Ｉ１４ａと断層像Ｉ２４ｂとの間の距離が所定範囲内に収まるようにする。
【００４４】
以上のように、回転軸ＡＸを画像の中心として、検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂの各々に対応した断層像が再構成されて生成される。図３（ａ）は、ｚ軸上のある断層像がいずれの検出器列に対応した断層像であるかを直感的に示すために、ｚ軸と一致している回転軸ＡＸ上に検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂを描いて図４を描き直した図である。Ｘ線管２０およびｘ，ｙ，ｚの各軸の位置関係は、図４の場合と同じとなる。
なお、本実施の形態においては、図３（ａ）に示すように、１スキャン目の検出器列４ａから連続的に２スキャン目の検出器列４ｂが位置するようにピッチＰｔを決めている。これは、各スキャンにおける端部の断層像同士の距離を他の断層像同士の距離とほぼ同じにし、また、各スキャンにおいてｚ方向に可能な限り広いを撮影し、撮影時間を短縮するためである。
【００４５】
図３（ａ）において、Ｘ線管２０から放射されるＸ線ビームが、図３（ａ）に描かれている所定の検出器列を通過することは、回転軸ＡＸを挟んだ位置にあるその検出器列にそのＸ線ビームが実際に入射することを意味する。たとえば、図３（ａ）に示す１回目のスキャンにおいて、回転軸ＡＸ上の検出器列４ａを０°方向から通過するＸ線ビーム１０＿４ａは、１８０°方向にある実際の検出器列４ａに実際に入射する。
以上のことから、回転軸ＡＸ上に検出器列１ａ〜４ａ，１ｂ〜４ｂを描くことによって、回転軸ＡＸにおける断層像がどの検出器列に対応したものであるかを判断できることがわかる。
【００４６】
たとえば、図３（ａ）における検出器列４ａの位置の断層像を生成することを考える。
簡単に述べると、本実施の形態においてはまず、１スキャン目および２スキャン目の各々の検出データに基づいて、図３（ｂ）に示すように検出器列４ａに対応する位置における断層像Ｉ１４ａおよびＩ５ｂの画像データを再構成する。そして、得られた断層像Ｉ１４ａおよびＩ５ｂの画像データを合成することによって、検出器列４ａに対応する位置における最終的な断層像Ｉｅ４ａの画像データを生成する。
なお、図３（ｂ）は、断層像Ｉ１４ａ，Ｉｅ４ａ，Ｉ５ｂがそれぞれｘｙ平面に平行な平面であることを示しており、断層像Ｉ１４ａ，Ｉｅ４ａ，Ｉ５ｂ上の各々の画素（ピクセル）Ｐｅ４ａ，Ｐｅ，Ｐｅ５ｂは全て同じ位置の被検部位に対応するピクセルである。
以下に断層像Ｉｅ４ａのデータ生成の詳細を示す。
【００４７】
まず、再構成部３６による１スキャン目の検出データを用いた断層像Ｉ１４ａのデータの再構成を考える。このとき、たとえばｙｚ平面において考えた場合に、図３（ａ）から明らかなように、検出器列４ａが実際に検出したＸ線ビーム１０＿４ａおよび１８＿４ａが通過する被検部位は、回転軸ＡＸ上の点Ｃｔのみである。
このため、再構成部３６はコーンＢＰ（Ｂａｃｋ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）法によって検出器列４ａに対応する断層像Ｉ１４ａを再構成する。１スキャン目において、たとえば、図３（ａ），（ｂ）中のピクセルＰｅに対応する位置の被検部位を通過するＸ線ビーム１８＿３ａは、検出器列３ａによって検出されている。再構成部３６は、断層像Ｉ１４ａにおいてピクセルＰｅと同じ被検部位を表わすピクセルＰｅ４ａの画像データを、検出器列３ａによって得られた検出データを用いて再構成する。
また、断層像Ｉ１４ａにおいて、点Ｃｔに相当するピクセルからピクセルＰｅ４ａまでのピクセルの画像データは、たとえば、１スキャン目の検出器列４ａの検出データと検出器列３ａの検出データとの補間によって得られたローデータに基づいて再構成する。
以上のようなコーンＢＰ法によって、再構成部３６は断層像Ｉ１４ａの画像データを再構成する。
【００４８】
再構成部３６は、１スキャン目の場合と同様にして、２スキャン目の検出データを用いて検出器列４ａに対応する断層像を再構成する。そのために、２スキャン目の位置における検出器アレイ２３の１スキャン目側の最端部に、図３（ａ）に示すように仮想的な検出器列５ｂが存在するものと考える。再構成部３６は、この検出器列５ｂに対応する断層像Ｉ５ｂを再構成する。
検出器列５ｂの位置は１スキャン目の検出器列４ａの位置と同じであるため、２スキャン目の検出データを用いて、１スキャン目の検出器列４ａに対応する断層像を再構成することになる。
【００４９】
２スキャン目における最も外側のＸ線ビームはＸ線ビーム２０＿４ｂおよび２８＿４ｂであり、検出器列５ｂに対応する位置において斜線で示す領域Ａｅを通過するＸ線ビームは存在せず、検出データを入手することができない。このため、再構成部３６は、たとえば、検出器列４ｂの検出データを外挿して、断層像Ｉ５ｂのうちの領域Ａｅに対応するピクセルの画像データを再構成する。その他の領域については、検出器列１ｂ〜４ｂの検出データおよびこれらの補間データを用いて画像データを再構成する。
以上のようにして、再構成部３６は２スキャン目の検出データを用いたコーンＢＰ法によって断層像Ｉ５ｂのデータを再構成する。
【００５０】
断層像Ｉ１４ａおよび断層像Ｉ５ｂの画像データを再構成して入手した後に、再構成部３６は各ピクセルについて各々断層像Ｉ１４ａの画像データと断層像Ｉ１５ｂの画像データとを加算して合成する。たとえば、断層像Ｉ１４ａの画像データと断層像Ｉ１５ｂの画像データとの平均を計算し、得られた画像データを合成後の画像データとする。再構成部３６は、合成によって生成した合成断層像データに基づいて、最終的に検出器列４ａに対応する位置における合成断層像Ｉｅ４ａを生成する。検出器列４ａに対応する位置のＣＴ画像を表示する指令が操作者から入力されたときには、制御部３４によって表示部３８を介して合成断層像Ｉｅ４ａが表示装置３２に表示される。
【００５１】
以上のように、本実施の形態においては、ｚ方向に沿って異なる位置における複数回のスキャンの検出データを利用して１つの断層像データを生成する。たとえば、本実施の形態において再構成した合成断層像Ｉｅ４ａのピクセルＰｅは、１スキャン目の検出器列３ａを通過するＸ線ビーム１８＿３ａによるデータと、２スキャン目の検出器列４ｂを通過するＸ線ビーム２８＿４ｂ２によるデータとを用いて再構成される。このため、ピクセルＰｅの画質は、Ｘ線ビーム１８＿３ａによるデータのみを用いる従来のコーンＢＰ法によって再構成されるピクセルＰｅ４ａの画質よりも高くなる。以上から明らかなように、本実施の形態によって得られる合成断層像の画質は、従来のコーンＢＰ法によって得られる断層像の画質よりも高くなる。
【００５２】
また、本実施の形態においては、検出器アレイ２３によって得られるローデータを合成して再構成することにより合成断層像の画像データを生成するのではなく、複数スキャンの各々によって得られる断層像の画像データを加算することにより合成断層像の画像データを生成する。このため、合成断層像の生成においてＦＦＴ等の再構成処理が不用であり、計算時間を短縮することができる。また、容易に合成断層像を得ることができる。
なお、検出器アレイ２３にはファンビームが照射されるため、各スキャンにおいては、外側の検出器列に対応する断層像ほど再構成に利用可能な検出データは少なくなる。このため、検出器アレイ２３のｚ方向に沿った端部側の検出器列に対応する合成断層像ほど、利用可能な検出データが従来よりも多くなり、画質向上の効果は高い。
【００５３】
重み決定方法
ここまでは複数回のスキャンの各々によって得られた断層像データの平均を取って合成断層像データを生成していた。しかし、ｚ方向における合成断層像の位置や合成断層像中の各ピクセルの位置に応じて、合成に用いる複数の断層像データの各々に重みを適切に設定して合成すれば、さらなる画質の向上が期待できる。以下では、各断層像データに付与する重みの決定方法について述べる。
【００５４】
たとえば、図３（ａ）において検出器列４ａに対応する位置の断層像データを再構成することを考える。簡単化のため、図３（ａ）における点Ｃｔの位置のピクセルおよびピクセルＰｅについて考える。なお、合成断層像Ｉｅ４ａのピクセルＰｅは、１スキャン目の断層像Ｉ１４ａのピクセルＰｅ４ａと、２スキャン目の断層像Ｉ５ｂのピクセルＰｅ５ｂとを合成して生成される。
１スキャン目において、点Ｃｔに対応する被検部位については、０°方向からのＸ線ビーム１０＿４ａおよび１８０°方向からのＸ線ビーム１８＿４ａの２つのＸ線ビームによる検出データが存在するため、点Ｃｔに対応するピクセルを高精度に再構成することができる。
１スキャン目において、ピクセルＰｅ４ａに対応する被検部位については、０°方向から通過するＸ線ビームは存在せず、１８０°方向からのＸ線ビーム１８＿３ａによる検出データのみが入手可能であるため、ピクセルＰｅ４ａを高精度に再構成することは困難である。
【００５５】
２スキャン目において、点Ｃｔに対応する被検部位については、０°方向からも１８０°方向からも通過するＸ線ビームが存在しないため、点Ｃｔを通過したＸ線による実際の検出データを用いて点Ｃｔに対応するピクセルを再構成することはできない。
２スキャン目において、ピクセルＰｅ５ｂに対応する被検部位については、０°方向から通過するＸ線ビームは存在せず、１８０°方向からのＸ線ビーム２８＿４ｂ２による検出データのみが入手可能であるため、ピクセルＰｅ５ｂを高精度に再構成することは困難である。
以上により、合成断層像の画質を向上させるためには、ｚ軸からの距離に応じて、各スキャンによって得られる各々の断層像データに付与する重みを変化させることが好ましいことが分かる。
【００５６】
特に、仮想的な検出器列に対応した断層像においては、被検部位を実際に通過したＸ線の検出データを用いることができない領域が存在し、この領域に対しては重みを０とすべきである。たとえば、図３（ａ）における斜線で示す領域Ａｅにおいては、断層像Ｉ５ｂの重みは０とする。
以下、図５を参照して、仮想的な検出器列に対応した断層像において重みを０とする領域の大きさを実際に導出する。
【００５７】
図５は、重みを０とする領域を導出するための図であり、基本的には図３（ａ）と同じである。そのため、同一部分には同一符号を付し、詳細な記述は省略する。
図５に示すように、ｚ軸上において、ｚ軸に投影した１スキャン目のＸ線管２０の放射中心から生成すべき合成断層像までの距離をｄ１とする。また、ｚ軸上において、ｚ軸に投影した２スキャン目のＸ線管２０の放射中心から生成すべき合成断層像までの距離をｄ２とする。
さらに、Ｘ線管２０の放射中心からｚ軸までの距離をＬとする。
距離ｄ１，ｄ２，Ｌは、走査ガントリ２の装置構成から予め幾何学的に求めることができる。これらの距離の値は、たとえば記憶装置２３に記憶させておく。
【００５８】
ここで、図５における三角形ｌｍｎおよび三角形ｎｏｐを考える。三角形ｎｏｐにおける辺ｎｐの長さはｄ１である。したがって、三角形ｌｍｎにおける辺ｍｎの長さはｄ２−ｄ１となる。三角形ｌｍｎと三角形ｎｏｐとは相似であるため、各辺の長さの比から、三角形ｌｍｎにおける辺ｌｍの長さはＬ（ｄ２−ｄ１）／ｄ１と求められる。再構成部３６は、生成すべき合成断層像のｚ方向の位置に応じた距離ｄ１，ｄ２、および距離Ｌのデータを記憶装置２３から入手し、辺ｌｍの大きさを計算する。辺ｌｍの大きさが、仮想的な検出器列に対応する断層像において、重みを０とするｚ軸からの距離ｒ０となる。
【００５９】
仮想的な検出器列に対応する断層像において重みを０とする領域においては、合成断層像データ生成に用いる他の検出器列に対応する断層像データに付与する重みは１とする。
合成断層像におけるｚ軸からの距離ｒが距離ｒ０よりも大きい領域においては、各スキャンによって再構成する各断層像のデータの各々に付与する重みを、距離ｒに応じて適宜変化させる。
また、距離ｒ０が距離ｄ１およびｄ２の関数であることから、各スキャンによって再構成する各断層像のデータの各々に付与する重みは、再構成する各断層像のｚ方向における位置に応じても変化させることが、画質向上の点から好ましい。
【００６０】
以上のように、本実施の形態においては、複数のスキャンの各々によって再構成する断層像のｚ方向における位置、および各断層像におけるｚ軸からの距離に応じて、各断層像の画像データに付与する重みを変化させる。
図６は重みの変化の一例を示すグラフであり、（ａ）は各検出器列に対応する断層像ごとに、ｚ軸上の点Ｃｔからの距離に応じた重みの変化を示しており、（ｂ）はｚ軸方向の距離に応じた重みの変化を示している。
【００６１】
図６（ａ）において、横軸はｚ軸上の点Ｃｔからの距離ｒを表わしており、縦軸は重みの大きさを表わしている。
また、検出器列１ａ〜４ａのそれぞれに対応する断層像に付与する重みｗ１ａ〜ｗ４ａ、および、検出器列５ｂに対応する断層像Ｉ５ｂに付与する重みを一例として挙げてそれぞれプロットしている。
【００６２】
前述のように、距離ｒ０までは重みｗ５ｂの大きさは０である。重みｗ５ｂの大きさは、距離ｒが距離ｒ０から増加するにしたがって、たとえば０．５まで増加させる。
重みｗ４ａの大きさは、距離ｒ０までは１であり、距離ｒが距離ｒ０から増加するにしたがって、たとえば０．５まで減少させる。
このように、ｚ方向の同じ位置における断層像の各々のデータに付与する重みは、合計が１になるようにする。
また、たとえば、検出器アレイ２３のｚ方向における中心部近傍の検出器列１ａに対応する断層像においては、全てのピクセルは、各ピクセルに対応する被検体を通過したＸ線ビームの実際の検出データを用いて再構成することができる。このため、図６（ａ）に示すように、検出器列１ａに対応する断層像データに対しては、付与する重みｗ１ａの大きさを全て１とする。
【００６３】
重みｗ２ａおよび重みｗ３ａに関しては、検出器アレイ２３における内側の検出器列２ａに付与する重みｗ２ａの方が外側の検出器列３ａに付与する重みｗ３ａよりも大きさが１となる範囲が大きくなるようにする。また、重みｗ２ａの大きさが重みｗ３ａの大きさ以上となる状態で、距離ｒが増加するにしたがって、１から減少するようにする。
【００６４】
図６（ａ）において距離ｒをｒ＝ｒｅとして一定にした状態における各重みｗ１ａ〜ｗ４ａの大きさをプロットしたグラフが図６（ｂ）である。図６（ｂ）において、横軸はｚ軸上におけるＸ線管２０の放射中心からの距離ｄ１を各検出器列１ａ〜４ａの位置として表わしており、縦軸は重みの大きさを表わしている。
図６（ｂ）に示すように、検出器アレイ２３の外側の検出器列に向かうほど、重みの大きさは小さくなる傾向にある。これは、外側の検出器列に対応する断層像ほど、直接検出したＸ線強度データを用いて再構成できるピクセルが少なくなるためである。
【００６５】
なお、ある断層像のピクセルの各々に対する重みの大きさは、たとえば、図７に示すように回転軸ＡＸを中心として同心円状に変化させる。これは、Ｘ線管２０が回転軸ＡＸのまわりに３６０°回転することに起因して、ｘｙ平面におけるＸ線の照射状態は回転軸ＡＸを中心に同心円状に変化するためである。
図７において、（ａ）は検出器列４ａに対応する断層像Ｉ１４ａにおける重みの変化を示しており、（ｂ）は検出器列３ａに対応する断層像Ｉ１３ａにおける重みの変化を示している。
【００６６】
図７（ａ），（ｂ）においては、断層像Ｉ１４ａ，Ｉ１３ａの各ピクセルに付加する重みｗ４ａ，ｗ３ａの大きさの分布状態が、たとえば、１〜０．５の範囲で前述のように回転軸ＡＸを中心として同心円状に変化している。
また、各重みの分布状態を示す同心円の大きさは、ｚ方向における距離に応じて変化している。前述のように、検出器アレイ２３の内側の検出器列に対応した断層像ほど実際の検出データを用いて再構成可能な領域が増える。このため、大きい重みが占める領域は、断層像Ｉ１４ａよりも断層像Ｉ１３ａの方が大きくなる。たとえば、重みの大きさを１とする領域を規定する半径ｒ０の大きさは、断層像Ｉ１３ａの方が断層像Ｉ１４ａよりも大きい。
なお、以上のように検出器列に対応して同心円状に規定した重みのデータのマップは、たとえば記憶装置２３に記憶させておく。再構成部３６は、合成断層像データの計算時に、生成すべき合成断層像の位置における重みのマップを、合成に用いる断層像ごとに記憶装置２３から入手する。再構成部３６は、入手した重みのマップに基づいて各断層像データを重み付けして加算して、合成断層像データを生成する。
【００６７】
図６（ａ）においては重みの大きさが１または０から非線形に変化する状態を例示したが、たとえば、図６（ａ）におけるプロットｗ４ａ２に示すように、重みの大きさは線形に変化させてもよい。
また、たとえば、距離ｒが距離ｒ０までは１、距離ｒ０よりも大きくなれば０．５というように、不連続に重みを変化させてもよい。
重みの決め方は、以上のような方法に限らず、たとえば、ｗ５ｂ＋ｗ４ａ＝１となるように、合成に用いる複数のピクセルの重みの合計が１となるように任意に決めてよい。
【００６８】
以上のように、本実施の形態においては、合成に用いる各断層像データについて、ｚ方向の距離およびｚ軸からの距離に応じて重みを適宜付与する。これは、各断層像の各ピクセルの再構成の精度に応じて、各ピクセルに付与する重みを変化させることを意味する。このため、たとえば、再構成精度の高いピクセルの画像データを十分に活用して合成断層像データを生成することが可能になり、その結果、高画質の合成断層像を得ることができる。
また、図７に示すように同心円状に重みを変化させれば、検出器列毎の重みのマップ生成が容易である。
【００６９】
断面変換
以上述べてきたように、再構成部３６はｚ方向の所定の検出器列に対応する位置において、ｘｙ平面に平行な合成断層像を生成する。
この合成断層像をｚ方向に沿って複数枚生成することによって、ｘｙ平面とは異なる断面の断層像を生成することができる。以下にこの断面変換の詳細について述べる。
【００７０】
図８（ａ）は、ｙｚ平面においてｚ方向に複数の合成断層像を生成した状態を示した図であり、図８（ｂ）は複数の合成断層像を利用して生成したｙｚ平面のＭＰＲ画像の一例である。
図８（ａ）においては、図３（ａ）および図５と同様に、各スキャンにおいて生成される合成断層像の位置を表わすために、検出器列をｚ軸上に重ねて描いている。
図８（ａ）に示すように、ｉ番目のスキャンによって、再構成部３６は、各検出器列４ｂ，３ｂ，２ｂ，１ｂ，１ａ，２ａ，３ａ，４ａに対応する合成断層像Ｉｅ１ｉ〜Ｉｅ８ｉを生成する。これら８枚の合成断層像をまとめてスキャン画像Ｓｉとする。
また、再構成部３６は、ｉ＋１番目のスキャンによって各検出器列４ｂ，３ｂ，２ｂ，１ｂ，１ａ，２ａ，３ａ，４ａに対応する合成断層像Ｉｅ１ｉ＋１〜Ｉｅ８ｉ＋１を生成する。これら８枚の合成断層像をまとめてスキャン画像Ｓｉ＋１とする。
【００７１】
このように、再構成部３６は、１回のスキャン毎に８枚の合成断層像を生成する。
再構成画像生成部４０は、断面変換を行なわせる指令が操作者から制御部３４に入力されると、再構成部３６がスキャン毎に生成した合成断層像の画像データを入手する。そして、再構成画像生成部４０は、入手した複数の合成断層像のピクセルのうち、ｚ軸を含むｙｚ平面におけるピクセルを全てまとめて、表示部３８を介して表示装置３２に表示させる。これにより、図８（ｂ）に示すような、ｙｚ平面におけるＭＰＲ画像が得られる。
比較のために、従来のコーンＢＰ法を適用して再構成した断層像を用いて断面変換した結果得られるＭＰＲ画像を図１０に示す。
図８（ｂ）と図１０とを比較してわかるように、本実施の形態によって得られるＭＰＲ画像は、各ピクセル間の変化がなめらかであり、従来のＭＰＲ画像において認められるような、スキャン画像間の境界において画像がずれることによる縞状のアーチファクトの発生が抑制されている。また、各々のスキャン画像の画質も向上する。
【００７２】
以上のように、本実施の形態においては、ｚ方向の異なる位置における複数のスキャンの各々の検出データを利用して生成した合成断層像の画像データを用いてＭＰＲ画像を生成している。このため、特に、スキャンとスキャンとの境界における合成断層像データの連続性が良くなる。その結果、従来のＭＰＲ画像よりも滑らかで高画質のＭＰＲ画像を得ることができる。
また、本実施の形態における各合成断層像は、従来のコーンＢＰ法によって得られる断層像よりも高画質であるため、ＭＰＲ画像を構成する各スキャン画像の画質も向上する。
【００７３】
ここで、本実施の形態における断層像の生成方法について、図９のフローチャートを参照して簡単にまとめる。
まず、ｚ軸方向の所定の位置において、被検部位の投影データを入手するためのスキャンを行なう（ステップＳＴ１）。
複数のＸ線検出器を２次元的に配列した検出器アレイ２３を回転軸ＡＸまわりに回転させることによって、被検体の容積データが入手される。
【００７４】
１回のスキャン終了後には、入手したＸ線の検出データに基づいて、断層像データを再構成する（ステップＳＴ２）。
検出器列毎に得られる検出データにより、ｚ方向に沿って配列される複数の断層像の画像データを１回のスキャンによって再構成する。
また、合成断層像データの生成に用いるために、仮想的な検出器列に対応する断層像のデータも、ステップＳＴ１のスキャンによって得られた検出データを用いて再構成しておく。
【００７５】
ステップＳＴ２において得られた複数の断層像を各々構成する画像データのそれぞれに対しては、大きさを適宜定めた重みを付与する（ステップＳＴ３）。たとえば、ｚ軸に沿った方向距離およびｚ軸からの距離に応じて予め規定してある重みを、それぞれの画像データに付与する。
【００７６】
スキャンが１回終了する毎に、所望の範囲の画像が得られるだけの回数のスキャンが行なわれたか否かを判断する（ステップＳＴ４）。
スキャンの回数が不足していると判断した場合には、ｚ方向にスキャン位置を所定ピッチずらせる（ステップＳＴ５）。
そして、ステップＳＴ１のスキャンからステップＳＴ３の断層像データへの重み付与までのステップを実行する。
ステップＳＴ４において、所望の範囲の画像が得られるだけの回数のスキャンが行なわれると判断されるまで、ステップＳＴ１からステップＳＴ５までが繰り返される。
【００７７】
たとえば、全てのスキャンが終了しｚ方向に配列した断層像の全ての画像データが得られた後に、ｚ方向における同じ位置に存在する断層像と仮想的な断層像とを合成する（ステップＳＴ６）。
ｚ方向における同じ位置に存在する各断層像の画像データを、それぞれの画像データに対して規定された重みを付与して加算して、合成断層像の画像データを計算する。
【００７８】
ｚ方向における全ての合成断層像の画像データの入手後には、必要に応じて断面変換を行ない、ＭＰＲ画像を生成する（ステップＳＴ７）。
合成断層像の各座標を揃えて配列させ、合成断層像の集合における所定の面内のピクセルをまとめて表示することにより、ＭＰＲ画像が得られる。
以上により、断層像生成の手順は終了する。
【００７９】
なお、本発明は上記の実施の形態に限定されない。
たとえば、スキャンに用いる放射線は、Ｘ線に限らず、γ線等の他の放射線であってもよい。
また、実施の形態においては検出器列の数がｊ＝８の場合を示したが、Ｘ線検出器の列の数はこれに限らず、たとえば、ｊ＝１６またはｊ＝３２でもよい。
上記の実施の形態においては移動部２１がｚ方向に移動してアキシャルスキャンを行なう形態を示したが、この形態に限らず、回転部２７と被検体６とがｚ方向において相対的に移動可能であればよい。
また、図９に示すフローチャートは本発明に係る断層画像生成方法の一例を示したものであり、図９のフローチャートにおける各ステップは、特許請求の範囲内において適宜移動可能である。たとえば、全てのスキャンが終了した後に、断層像を一括して再構成してもよい。また、断層像の合成は、全スキャン終了後ではなく合成に用いる複数の断層像を再構成した時点で行なうことが可能である。
さらに、ｚ軸を基準とした距離ではなく、各断層像における被検部位の形状を認識して、被検部位の形状に応じて各ピクセルの重みを変化させてもよい。
ＭＰＲ画像についても、ｙｚ平面に平行な画像だけでなく、ｘｚ平面に平行な画像を生成することもできる。
【００８０】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、アキシャルスキャンによる断層像再構成において、被検体の軸方向における所定の画像生成位置の断層像の画質を向上可能な放射線計算断層画像装置を提供することができる。また、本発明によれば、この放射線計算断層画像装置において用いられ、画像生成位置の断層像の画質を向上可能な断層画像生成方法を提供することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＸ線ＣＴ装置の一実施の形態の装置構成を示す図である。
【図２】図１に示すＸ線ＣＴ装置の要部の構成を示す図である。
【図３】本発明の一実施の形態における断層像の生成方法について述べるための図であり、（ａ）はｚ軸を含む平面においてＸ線ビームと断層像との関係を示しており、（ｂ）は断層像の斜視図を示している。
【図４】図３（ａ）の意味を説明するための図である。
【図５】断層像において重みを０とする領域を導出するための図である。
【図６】重みの変化の一例を示すグラフであり、（ａ）は各検出器列に対応する断層像ごとに、ｚ軸上の距離に応じた重みの変化を示しており、（ｂ）はｚ軸方向の距離に応じた重みの変化を示している。
【図７】断層像における重みの変化を示す図であり、（ａ），（ｂ）はそれぞれ異なるる断層像における重みの分布状態を示している。
【図８】（ａ）は、ｙｚ平面においてｚ方向に複数の合成断層像を生成した状態を示した図であり、（ｂ）は複数の合成断層像を利用して生成したｙｚ平面のＭＰＲ画像の一例である。
【図９】本発明に係る断層画像生成方法の一実施の形態を示すフローチャートである。
【図１０】従来のＭＰＲ画像の一例を示す図である。
【符号の説明】
１…Ｘ線ＣＴ装置
２…走査ガントリ
３…操作コンソール
５，１０＿４ａ，１８＿３ａ，１８＿４ａ，２０＿４ｂ，２８＿４ｂ，２８＿４ｂ２…Ｘ線ビーム
６…被検体
２０…Ｘ線管
２２…コリメータ
２３…検出器アレイ
２４…データ収集システム
３０…中央処理装置
３４…制御部
３６…再構成部
３８…表示部
４０…再構成画像生成部
１ａ〜４ａ，１ｂ〜５ｂ…検出器列
ＡＸ…回転軸
【図１】
2004313655.tif 000003
【図２】
2004313655.tif 000004
【図３】
2004313655.tif 000005
【図４】
2004313655.tif 000006
【図５】
2004313655.tif 000007
【図６】
2004313655.tif 000008
【図７】
2004313655.tif 000009
【図８】
2004313655.tif 000010
【図９】
2004313655.tif 000011
【図１０】
2004313655.tif 000012