(57)【要約】【課題】  電線の絶縁材料の劣化診断に際し、試料である絶縁材料が微量であっても診断を行える、精度の良い診断方法を提供する。【解決手段】  絶縁材料を試料として採取し、熱重量測定を行い、測定結果として得られるＴＧ曲線を第一重量減少部と第二重量減少部とに区分し、前記第二重量減少部における重量減少量を前記第一重量減少部における重量減少量で除して指標値を得て、この指標値と引張伸び残率との特性図を作製し、この特性図から実際に使用されている絶縁材料の劣化を診断する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電線の被覆部に使用される高分子絶縁材料を試料として採取し、熱重量測定を行い、
その測定結果として得られる熱重量減少曲線を第一重量減少量と第二重量減少量との領域に区分し、
前記第二重量減少量を前記第一重量減少量で除して指標値を得て、この指標値の大小に応じて前記高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする電線の劣化診断方法。
【請求項２】
電線の被覆部に使用されると共に、異なる使用経過年数を有する複数の高分子絶縁材料を試料として採取し、
前記試料について機械特性試験を行い、その機械特性と経過年数とから第１相関関係を得、
前記試料について熱重量測定を行い、その測定結果として得られる熱重量減少曲線を第一重量減少量と第二重量減少量との領域に区分し、前記第二重量減少量を前記第一重量減少量で除して指標値を得て、
前記第１相関関係と前記指標値とから第２相関関係を得、
第２相関関係を用いて、実際に使用されている高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする電線の劣化診断方法。
【請求項３】
前記請求項１または２に記載の電線の劣化診断方法において、前記ＴＧ曲線の微分曲線を得、この微分曲線に基づいて前記熱重量減少曲線を第一重量減少量と第二重量減少量との領域に区分することを特徴とする電線の劣化診断方法。
【請求項４】
電線の被覆部に使用される高分子絶縁材料を試料として採取し、ＩＲスペクトル測定を行い、
その測定結果として得られるＩＲスペクトルにおいて前記高分子絶縁材料の劣化により変化するピークを決定し、
当該ピークの強度比を指標値として、この指標値の大小に応じて前記高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする電線の劣化診断方法。
【請求項５】
電線の被覆部に使用されると共に、異なる使用経過年数を有する複数の高分子絶縁材料を試料として採取し、
前記試料について機械特性試験を行い、その機械特性と経過年数とから第１相関関係を得、
前記試料についてＩＲスペクトル測定を行い、その測定結果として得られるＩＲスペクトルにおいて前記高分子絶縁材料の劣化により変化するピークを決定し、当該ピークの強度比を指標値とし得、
前記第１相関関係と前記指標値とから第２相関関係を得、
第２相関関係を用いて、実際に使用されている高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする電線の劣化診断方法。
【請求項６】
前記請求項２または５に記載の電線の劣化診断方法において、前記機械特性試験は、引張強度試験であることを特徴とする電線の劣化診断方法。
【請求項７】
ＴＧ−ＤＴＡ装置またはＩＲ測定装置を車両に搭載した電線の劣化診断システムであって、
電線の被覆部に使用される高分子絶縁材料を試料として採取し、前記ＴＧ−ＤＴＡ装置またはＩＲ測定装置を用いて前記請求項１〜６いずれか１項に記載の劣化診断方法により当該高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする電線の劣化診断システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、絶縁材料を用いて被覆された電線(制御電線など)、特に被覆部の絶縁材料の劣化状況を診断する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
高圧受変電設備の耐久性は、その収納機器など、例えば、設備内で使用される制御電線の絶縁被覆部の性能の劣化から一般的に約３０年程度とされている。近年、産業廃棄物を含む環境問題、労働力問題、経済環境、規制緩和などにより、長期持続可能なエンジニアリング技術が熱望されている。
【０００３】
前記受変電設備は、良好な保全を実施していても老朽化は進行する。このため、環境負荷低減の面からも、信頼性を損なうことなく経済的合理性を持った受変電設備の耐久性の向上を図るのが重要である。そのためには安定運用期の保全継続に加え、状況に合わせて各部品の寿命を見極めて交換する必要がある。
【０００４】
一般的に、高圧受変電設備として製造される盤およびキュービクル内の制御電線は下記の３つの役割に大別される。
【０００５】
(１)各盤内収納高圧機器(ＣＴ・ＶＴ等)からの運転情報信号の伝達。
【０００６】
(２)運転情報信号を保護装置(リレー)及び計測機器で受け取り、遮断器や記録計への指示・情報信号伝達。
【０００７】
(３)各盤内収納機器の電源供給
このように制御電線は設備運転において重要な部分であり、設備の長期使用のためには点検・保守が欠かせない。
【０００８】
制御電線は一般的に、絶縁材料である塩化ビニル(ＰＶＣ)により導電性部材を被覆する絶縁電線(ＩＶ線)が使用されている。この制御電線の絶縁材料が劣化し、硬化すると、絶縁材料にひび、破損などが発生し、その進展により絶縁抵抗低下、地絡、断線などの不具合を引き起こす原因となる。このことから、制御電線の絶縁材料の劣化の検査が種々の方法により頻繁に行われている。
【０００９】
この制御電線の劣化の度合いを把握する手段として、下記に示す間接的な方法と直接的な方法とが知られている。
【００１０】
(方法１)
制御電線の絶縁材料部分の抵抗を測定し、その抵抗値の低下の度合いから絶縁材料部分の劣化の度合いを判断する間接的な方法。
【００１１】
(方法２)
制御電線の絶縁材料部分から測定用の試料を採取して、引張り試験を行い、経年使用に伴う伸びと引張り強さの挙動とを把握することで、制御電線の絶縁材料とこれに配合されている可塑材が経年的に(主として熱的に)徐々に気散することを原因とする絶縁材料の硬化現象を定量的に把握する直接的な方法。
【００１２】
(方法３)
絶縁材料から発生するハロゲン化水素(例えば、塩化水素。)量を測定し、一定量のハロゲン化水素を発生するのに要する時間から劣化の度合いを判断する間接的な方法(例えば、特許文献１参照。)。
【００１３】
(方法４)
絶縁材料をレーザーラマン分光装置を用いてラマン−蛍光スペクトルを測定し、入射する励起光によりラマン成分と同時に発生する蛍光成分からなるスペクトルを測定し、予め求めておいた標準試料の同一波数の蛍光ピーク強度と測定試料の蛍光ピーク強度とを比較することにより絶縁材料の劣化の度合いを判断する間接的な方法(例えば、特許文献２参照。)。
【特許文献１】特開平５−１５７７９１号公報
【特許文献２】特開平７−２６０６８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
前記方法１は、２次一括と対地間との絶縁抵抗を測定するためのマクロ的な検出方法であり、制御電線の表面汚損・吸湿などの環境的な要因の影響が大きく、制御電線自体の劣化を正確に把握することが困難であるという問題がある。
【００１５】
前記方法２は、前記引張試験による評価では、試験結果から制御電線自体の性能劣化を正確に把握できるが、ＪＩＳ規格(ＪＩＳＣ３００５)で定められている方法を適用する場合、１回の引張り試験につき１５０ｍｍ長の試料を必要とするため、その試料を採取した制御電線部分の取り替えが必要となり、ＳＤＭ(Ｓｈｕｔ  Ｄｏｗｎ  Ｍａｉｎｔｅｎａｎｃｅ)時間の増加、取替工程などが発生してしまう。さらに、測定試料の評価部分は試料の中央５０ｍｍ間を対象とするため、比較的劣化の起きやすい制御電線端部(端子台への接続部など他の部分と比較して、電線に曲げ等の応力がかかる部分)の評価は困難であるという問題がある。
【００１６】
また、評価精度を向上させるために多面的な評価を行う必要があり、コスト面の改善などの問題から、新しい評価方法の開発が必要である。
【００１７】
本発明は、かかる事情に鑑みなされたもので、その目的は、前記方法１および方法２の問題を解決した、新たな電線の劣化診断方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
そこで、前記課題を解決するための、請求項１記載の電線の劣化診断方法は、電線の被覆部に使用される高分子絶縁材料を試料として採取し、熱重量測定を行い、その測定結果として得られる熱重量減少曲線を第一重量減少量と第二重量減少量との領域に区分し、前記第二重量減少量を前記第一重量減少量で除して指標値を得て、この指標値の大小に応じて前記高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする電線の劣化診断方法。
【００１９】
また、請求項２に記載の電線の劣化診断方法は、電線の被覆部に使用されると共に、異なる使用経過年数を有する複数の高分子絶縁材料を試料として採取し、前記試料について機械特性試験を行い、その機械特性と経過年数とから第１相関関係を得、前記試料について熱重量測定を行い、その測定結果として得られる熱重量減少曲線を第一重量減少量と第二重量減少量との領域に区分し、前記第二重量減少量を前記第一重量減少量で除して指標値を得て、前記第１相関関係と前記指標値とから第２相関関係を得、第２相関関係を用いて、実際に使用されている高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする。
【００２０】
また、請求項３に記載の電線の劣化診断方法は、前記請求項１または２に記載の電線の劣化診断方法において、前記ＴＧ曲線の微分曲線を得、この微分曲線に基づいて前記熱重量減少曲線を第一重量減少量と第二重量減少量との領域に区分することを特徴とする。
【００２１】
また、請求項４に記載の電線の劣化診断方法は、電線の被覆部に使用される高分子絶縁材料を試料として採取し、ＩＲスペクトル測定を行い、その測定結果として得られるＩＲスペクトルにおいて前記高分子絶縁材料の劣化により変化するピークを決定し、当該ピークの強度比を指標値として、この指標値の大小に応じて前記高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする。
【００２２】
また、請求項５に記載の電線の劣化診断方法は、電線の被覆部に使用されると共に、異なる使用経過年数を有する複数の高分子絶縁材料を試料として採取し、前記試料について機械特性試験を行い、その機械特性と経過年数とから第１相関関係を得、前記試料についてＩＲスペクトル測定を行い、その測定結果として得られるＩＲスペクトルにおいて前記高分子絶縁材料の劣化により変化するピークを決定し、当該ピークの強度比を指標値とし得、前記第１相関関係と前記指標値とから第２相関関係を得、第２相関関係を用いて、実際に使用されている高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする。
【００２３】
また、請求項６に記載の電線の劣化診断方法は、前記請求項２または５に記載の電線の劣化診断方法において、前記機械特性試験は、引張強度試験であることを特徴とする。
【００２４】
また、請求項７に記載の電線の劣化診断システムは、ＴＧ−ＤＴＡ装置またはＩＲ測定装置を車両に搭載した電線の劣化診断システムであって、電線の被覆部に使用される高分子絶縁材料を試料として採取し、前記ＴＧ−ＤＴＡ装置またはＩＲ測定装置を用いて前記請求項１〜６いずれか１項に記載の劣化診断方法により当該高分子絶縁材料の劣化の度合いを判断することを特徴とする。
【００２５】
特許請求の範囲に記載の引張試験とは、ＪＩＳＣ３００５に規定されている引張強さ、または切断時伸びである。
【００２６】
請求項１または４に記載の電線の劣化診断方法では、相関関係を得ずに、指標値の値から直接に絶縁材料の劣化の度合いを判断する。これは、例えばポリ塩化ビニルであれば、劣化の度合いと、すでに脱離している塩化水素の量との間に相関関係があり、このことから、劣化の度合いと指標値とが相関関係を有することに着目したものである。
【００２７】
絶縁材料の劣化の度合いは、引張試験における切断時伸びだけではなく、引張強さによっても判断できる。よって、切断時伸び、または引張強さと経過年数との第１相関関係を得、さらに、この第１相関関係から切断時伸び(切断時伸びを引張伸び残率に変換したものをも用いてもよい)、または引張強さと指標値との第２相関関係を得ると、絶縁材料の指標値を求めることで前記第２相関関係から劣化の度合いを判断することができる。
【００２８】
電線(制御電線など)は経過年に伴い、その機械特性(引張試験の切断時伸びが減少する等)が低下することは文献などで知られており、実際に検証を行い確認している。
【００２９】
また、電線(制御電線など)の絶縁材料の表面硬度特性および絶縁抵抗特性も経年使用に伴い低下することが報告されている。
【００３０】
本発明は、評価対象とする電線(制御電線など)を熱劣化加速などにより(またはフィールドデータの蓄積から)経過年と前記特性との相関を予め把握しておき、新たに機器分析を取り入れ、この機器分析による結果と前記特性との相関関係を得、これにより評価対象の電線(制御電線など)に対して前記の機器分析を行うことで、その劣化の度合いを把握することができるということに着目した。
【００３１】
なお、機器分析には熱重量示差熱(ＴＧ−ＤＴＡ)装置またはＩＲ測定装置を選択した。
【００３２】
熱重量示差熱(ＴＧ−ＤＴＡ)装置を用いる場合には、電線の絶縁材料から試料を採取し、熱重量測定を行い、測定結果として得られる熱重量減少曲線(ＴＧ曲線)の解析を行う。高分子は熱重量測定に伴う昇温過程において、熱分解反応を起こす。ポリビニルアルコール、ポリ塩化ビニル、ポリ酢酸ビニルなどのビニル型ポリマーは、昇温過程において、陰性基と隣の炭素に結合している水素原子とが反応して水または酸となり系外に去り、主鎖結合にポリエンが生成する。さらに昇温させると主鎖結合が熱分解により切断される。
【００３３】
前記のように昇温過程においては二段階の熱分解が起こっており、これはＴＧ曲線において第一重量減少部および第二重量減少部として現れる。絶縁材料である高分子の劣化が少ない状態であれば、水酸基、塩化物基、酢酸基などの陰性基の存在量は多いため、第一重量減少部における重量減少量が大きくなる。また、絶縁材料である高分子の劣化が大きい状態であれば、水酸基、塩化物基、酢酸基などの陰性基の存在量は少ないため、第一重量減少部における重量減少量が小さくなる。このことから、ＴＧ曲線における、第一重量減少部における重量減少量と第二重量減少部における重量減少量との比を求め、これを指標値とすることで絶縁材料の劣化の度合いを判断することができる。
【００３４】
この熱重量測定は従来の引張試験と比べると、必要とされる試料の量が少なく、試料の形状、試料の採取場所などの制約もないという利点がある。
【００３５】
また、請求項７に記載の電線の劣化診断システムによれば、定期点検が行われている現場に移動してその場で絶縁材料の劣化の度合いを判定できるので、迅速な点検操作が可能である。
【発明の効果】
【００３６】
以上の説明から明らかなように、本発明は、以下の効果を奏する。
【００３７】
熱重量測定に必要な試料は機械特性試験と比較すると極めて少量であるため、測定対象である電線からの試料採取量が少なくてよい。このため、試料採取に要する時間を大幅に短縮でき、試料採取による電線の取替も削減できる。
【００３８】
これまでは評価が困難であった、電線の絶縁材料外縁部などのポイントを絞った箇所の評価が可能となる。
【００３９】
実際に電線が使用されている現場にて劣化の度合いを判定できるので、効率の良い点検作業を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００４１】
(第１実施の形態)
いくつかの経過年数の異なるＩＶ線(６００Ｖビニル絶縁電線)の絶縁材料から試料を採取し、それぞれの試料について引張試験方法における切断時伸び(ＪＩＳＣ３００５に規定された方法により測定する)を測定し、この切断時伸びと経過年数との特性曲線を作製する。前記特性図を図１に示す。使用年数が経つにつれて、切断時伸びの値が小さくなっていることがわかる。これは使用により絶縁材料が劣化し、可塑性、強度が低下したことを示している。この可塑性、強度の低下に伴い、その他の絶縁性など絶縁電線に必要な特性も低下している。
【００４２】
ＴＧ−ＤＴＡ装置を用いて、前記図１の測定に用いたそれぞれの絶縁材料の試料について、熱重量測定を行う。なお、絶縁材料の試料はメノー製乳鉢中で均一に混合粉砕し、粉末にして測定に供する。また、測定時の昇温速度は２０℃／minとする。前記測定の結果であるＴＧ曲線には、まず、ポリマーからの低分子量成分や不安定な末端基などの放出(例えば、塩化水素の脱離など)による第一次重量減少部が現れる。その後、ポリマーの基本構造(前記放出により生成するポリエンを含む)が分解することによる第二次重量減少部が現れる。前記ＴＧ曲線から第一次重量減少部における重量減少量(以下、第一次重量減少量と称す)と第二次重量減少部における重量減少量(以下、第二次重量減少量と称す)とを求め、第二次重量減少量を第一次重量減少量で除することにより減量比を得て、これを指標値とする。前記ＴＧ曲線は、ＴＧ−ＤＴＡ装置を制御するコンピュータのディスプレイ上に表示される。このコンピュータ処理により前記第一次重量減少量と第二次重量減少量とを自動的に求める事ができる。また、任意の温度範囲を前記コンピュータに入力し、その温度範囲における重量減少量を表示させるようにしてもよい。また、ＴＧ曲線画面上において、ＴＧ曲線上にマウスクリックにより任意の２点をマークすることにより、その２点間の重量減少を表示させるようにしてもよい。
【００４３】
前記図１において、特性曲線のある一点を絶縁材料の寿命とみなす基準点と定める。そして、この基準点の切断時伸びを引張伸び残率の０％と定め、他の点の切断時伸びを基準点の切断時伸びに対する１００分率で現し、引張伸び残率として算出する。
【００４４】
指標値と切断時伸びとは対応づけられており、また、切断時伸びと引張伸び残率とは対応づけられているので、指標値と引張伸び残率とを対応づけることができる。そして、この引張伸び残率と前記指標値との特性曲線を作製する。前記特性図を図２に示す。図２において、４０％<(引張伸び残率)の範囲を安全領域、０％<(引張伸び残率)<４０％の範囲を警戒領域、(引張伸び残率)<０％の範囲を寿命領域と定義し、引張伸び残率０％に対応する指標値を寿命値、引張伸び残率４０％に対応する指標値を警戒値と定義する。
【００４５】
この特性図を用いることで、使用中の電線の絶縁材料について熱重量測定を行い、指標値を求め、絶縁材料が前記安全領域、警戒領域、寿命領域のどの領域にあるかが一目で判断でき、劣化の度合いを把握することができる。
【００４６】
(第２実施の形態)
ＫＩＶ線(電気機器用ビニル絶縁電線)について前記第１実施の形態と同様の操作を行い、引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。図３に特性図を示す。この特性図を用いることで、使用中の電線の絶縁材料について熱重量測定を行い、指標値を求め、絶縁材料の劣化の度合いを把握することができる。
【００４７】
(第３実施の形態)
ＨＩＶ線(６００Ｖ二種ビニル絶縁電線)について前記第１実施の形態と同様の操作を行い、引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。図４に特性図を示す。この特性図を用いることで、使用中の電線の絶縁材料について熱重量測定を行い、指標値を求め、絶縁材料の劣化の度合いを把握することができる。
【００４８】
(第４実施の形態)
ＩＫ線(６００Ｖけい素絶縁電線)について前記第１実施の形態と同様の操作を行い、引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。図５に特性図を示す。この特性図を用いることで、使用中の電線の絶縁材料について熱重量測定を行い、指標値を求め、絶縁材料の劣化の度合いを把握することができる。
【００４９】
(第５実施の形態)
ＯＷ線(屋外用ビニル絶縁電線)について前記第１実施の形態と同様の操作を行い、引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。図６に特性図を示す。この特性図を用いることで、使用中の電線の絶縁材料について熱重量測定を行い、指標値を求め、絶縁材料の劣化の度合いを把握することができる。
【００５０】
(第６実施の形態)
第６実施の形態は第１実施の形態の一部を変形したもので、ＴＧ曲線の解析に際して、ＴＧ曲線の重量減少速度の微分曲線を作製する。この微分曲線の第１の極大値と第２の極大値との間に存在する極小値を区分点として、第一次重量減少部と第二次重量減少部との領域に区分し、第一次重量減少量と第二次重量減少量とを求める。
【００５１】
前記ＴＧ曲線は、ＴＧ−ＤＴＡ装置を制御するコンピュータのディスプレイ上に表示され、コンピュータ処理により前記微分曲線を作製し、前記第一次重量減少量と第二次重量減少量とを自動的に求める事ができる。また、表示された微分曲線を参照して、オペレータが区分点を決定することもできる。
【００５２】
第６実施の形態において作製した引張伸び残率と指標値との特性図を図７に示す。前記第１実施の形態において作製した図２とほぼ同等の特性曲線を示しており、得られる効果は同等である。
【００５３】
(第７実施の形態)
第７実施の形態は第２実施の形態を一部変形したもので、第６実施の形態と同様にＴＧ曲線の解析に際して、重量減少速度の微分曲線を作製する方法により引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。
【００５４】
第７実施の形態において作製した引張伸び残率と指標値との特性図を図８に示す。前記第２実施の形態において作製した図３とほぼ同等の特性曲線を示しており、得られる効果は同等である。
【００５５】
(第８実施の形態)
第８実施の形態は第３実施の形態を一部変形したもので、第６実施の形態と同様にＴＧ曲線の解析に際して、重量減少速度の微分曲線を作製する方法により引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。
【００５６】
第８実施の形態において作製した引張伸び残率と指標値との特性図を図９に示す。前記第３実施の形態において作製した図４とほぼ同等の特性曲線を示しており、得られる効果は同等である。
【００５７】
(第９実施の形態)
第９実施の形態は第４実施の形態を一部変形したもので、第６実施の形態と同様にＴＧ曲線の解析に際して、重量減少速度の微分曲線を作製する方法により引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。
【００５８】
第９実施の形態において作製した引張伸び残率と指標値との特性図を図１０に示す。前記第４実施の形態において作製した図５とほぼ同等の特性曲線を示しており、得られる効果は同等である。
【００５９】
(第１０実施の形態)
第１０実施の形態は第５実施の形態を一部変形したもので、第６実施の形態と同様にＴＧ曲線の解析に際して、重量減少速度の微分曲線を作製する方法により引張伸び残率と指標値との特性曲線を作製する。
【００６０】
第１０実施の形態において作製した引張伸び残率と指標値との特性図を図１１に示す。前記第５実施の形態において作製した図６とほぼ同等の特性曲線を示しており、得られる効果は同等である。
【００６１】
なお、第１〜第１０実施の形態で示した特性図は一例であり、前記の特性図に限定されるものではない。
【００６２】
(第１１実施の形態)
上記第１〜第１０実施の形態においては、ＴＧ−ＤＴＡ装置を用いて絶縁材料の試料について熱重量測定を行いＴＧ曲線から指標値を求めていたが、本実施の形態では絶縁材料の試料についてＦＴ−ＩＲ測定装置によりＩＲスペクトルを測定し、当該測定により得たＩＲスペクトルにおいて絶縁材料の試料の劣化によりピーク強度が変化する波長のピーク強度比を指標値とし、その他の方法については上記第１〜第１０実施の形態と同様にして絶縁材料の劣化度を判定することができる。
【００６３】
(第１２実施の形態)
本実施の形態では、上記第１〜第１１実施の形態により絶縁材料の劣化の度合いを判定するのに必要なＴＧ−ＤＴＡ装置および／またはＩＲ測定装置、試料である絶縁材料を採取するのに必要な器具、採取した試料について上記分析するための前処理を行うために必要な器具、分析結果を判定するソフトを含むコンピュータ等を車両に積載する。そして当該車両にて実際に高圧受変電設備などの定期点検が行われている現場に行き、当該現場にて上記第１〜第１１実施の形態により絶縁材料の劣化の度合いを判定することができる。
【００６４】
本実施形態によれば、上記第１〜第１１実施の形態の操作を行うために試料である絶縁材料を採取して研究室等に持ち帰るという作業を行う必要がなく、定期点検が行われている現場にて迅速に絶縁材料の劣化の度合いを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】切断時伸びと経過年数との特性図。
【図２】第１実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図３】第２実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図４】第３実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図５】第４実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図６】第５実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図７】第６実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図８】第７実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図９】第８実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図１０】第９実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図１１】第１０実施形態における引張伸び残率と指標値との特性図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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