(57)【要約】【課題】記録媒体からの戻り光によって誘起されるスクープノイズを抑制するためにレーザ駆動電流に高周波電流を重畳する場合に、高周波電流の振幅値を適正に制御することで、安定性及び信頼性を高める。【解決手段】光学式ヘッド装置の光源部を構成するレーザ駆動装置１４において、レーザ５及びレーザ駆動回路１５と、レーザ駆動電流に対して高周波電流を生成する高周波生成回路２４を設ける。そして、レーザ駆動電流の電流モニター回路２７と、レーザ光出力を監視するための光検出器１９と、レーザ駆動電流に対して高周波電流を重畳するか否かを選択するための選択手段２６と、レーザ光出力が一定になるように制御するＡＰＣ回路２０を設けるとともに、高周波電流の重畳時及び非重畳時におけるレーザ駆動電流の電流値又はレーザ光出力の検出値に基いて高周波電流の振幅を制御する制御回路２２を設けた。【選択図】          図４
2004253032.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ及び該レーザに駆動電流を供給するレーザ駆動回路と、該駆動電流に対して高周波電流を生成して重畳するための高周波重畳手段を備えたレーザ駆動装置において、
上記駆動電流を監視する電流監視手段と、
上記レーザの光出力について監視するための光検出手段と、
上記駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を制御する振幅制御手段と、
上記レーザの光出力が一定になるように上記レーザ駆動回路を制御する光出力制御手段と、
上記振幅制御手段による複数通りの高周波電流振幅について、上記電流監視手段によって得られる上記駆動電流の電流値又は上記光検出手段により得られる上記レーザの光出力に基いて上記高周波電流の振幅を制御する制御手段を設けた
ことを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項２】
請求項１に記載したレーザ駆動装置において、
上記複数通りの高周波電流振幅として、振幅値がゼロの場合と振幅値がゼロでない場合の２種類が規定されている
ことを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項３】
請求項１に記載したレーザ駆動装置において、
上記振幅制御手段によって上記駆動電流に対して上記高周波電流を重畳するか否かが規定されるとともに、
上記レーザの光出力が一定に制御されている状態下で、上記高周波電流の重畳時に得られる駆動電流と上記高周波電流の非重畳時に得られる駆動電流との差を、上記制御手段が求めて上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項４】
請求項３に記載したレーザ駆動装置において、
上記高周波電流の重畳時に得られる駆動電流と上記高周波電流の非重畳時に得られる駆動電流との差が一定値となるように、上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項５】
請求項１に記載したレーザ駆動装置において、
上記振幅制御手段によって上記駆動電流に対して上記高周波電流を重畳するか否かが規定されるとともに、
上記レーザの駆動電流が一定に制御されている状態下で、上記高周波電流の重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値と上記高周波電流の非重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値との差を、上記制御手段が求めて上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項６】
請求項５に記載したレーザ駆動装置において、
上記高周波電流の重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値と上記高周波電流の非重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値との差が一定値となるように、上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項７】
請求項１に記載したレーザ駆動装置において、
上記レーザに係る温度を監視する温度監視手段を設け、温度変化が予め決められた条件を満たす場合に上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項８】
レーザ及び該レーザに駆動電流を供給するレーザ駆動回路と、該駆動電流に対して高周波電流を生成して重畳するための高周波重畳手段を備え、記録媒体に対する情報信号の読み取りに用いる光学式ヘッド装置において、
上記駆動電流を監視する電流監視手段と、
上記レーザの光出力について監視するための光検出手段と、
上記駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を制御する振幅制御手段と、
上記レーザの光出力が一定になるように上記レーザ駆動回路を制御する光出力制御手段と、
上記振幅制御手段による複数通りの高周波電流振幅について、上記電流監視手段によって得られる上記駆動電流の電流値又は上記光検出手段により得られる上記レーザの光出力に基いて上記高周波電流の振幅を制御する制御手段を設けた
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項９】
請求項８に記載した光学式ヘッド装置において、
上記複数通りの高周波電流振幅として、振幅値がゼロの場合と振幅値がゼロでない場合の２種類が規定されている
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項１０】
請求項８に記載した光学式ヘッド装置において、
上記振幅制御手段によって上記駆動電流に対して上記高周波電流を重畳するか否かが規定されるとともに、
上記レーザの光出力が一定に制御されている状態下で、上記高周波電流の重畳時に得られる駆動電流と上記高周波電流の非重畳時に得られる駆動電流との差を、上記制御手段が求めて上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載した光学式ヘッド装置において、
上記高周波電流の重畳時に得られる駆動電流と上記高周波電流の非重畳時に得られる駆動電流との差が一定値となるように、上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項１２】
請求項８に記載した光学式ヘッド装置において、
上記振幅制御手段によって上記駆動電流に対して上記高周波電流を重畳するか否かが規定されるとともに、
上記レーザの駆動電流が一定に制御されている状態下で、上記高周波電流の重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値と上記高周波電流の非重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値との差を、上記制御手段が求めて上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項１３】
請求項１２に記載した光学式ヘッド装置において、
上記高周波電流の重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値と上記高周波電流の非重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値との差が一定値となるように、上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項１４】
請求項８に記載した光学式ヘッド装置において、
上記レーザに係る温度を監視する温度監視手段を設け、温度変化が予め決められた条件を満たす場合に上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項１５】
請求項８に記載した光学式ヘッド装置において、
情報信号の読み取りに必要な再生パワー以下のレーザ光出力をもって上記レーザの駆動制御が行われている状態で、上記高周波電流の振幅が制御されるようにした
ことを特徴とする光学式ヘッド装置。
【請求項１６】
レーザ及び該レーザに駆動電流を供給するレーザ駆動回路と、該駆動電流に対して高周波電流を生成して重畳するための高周波重畳手段を有する光源部と、記録媒体に対する情報信号の読み取りを行うために該光源部を構成するレンズ系のサーボ制御手段を備えた情報処理装置において、
上記駆動電流を監視する電流監視手段と、
上記レーザの光出力について監視するための光検出手段と、
上記駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を制御する振幅制御手段と、
上記レーザの光出力が一定になるように上記レーザ駆動回路を制御する光出力制御手段と、
上記振幅制御手段による複数通りの高周波電流振幅について、上記電流監視手段によって得られる上記駆動電流の電流値又は上記光検出手段により得られる上記レーザの光出力に基いて上記高周波電流の振幅を制御する制御手段を設けた
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１７】
請求項１６に記載した情報処理装置において、
上記複数通りの高周波電流振幅として、振幅値がゼロの場合と振幅値がゼロでない場合の２種類が規定されている
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１８】
請求項１６に記載した情報処理装置において、
上記振幅制御手段によって上記駆動電流に対して上記高周波電流を重畳するか否かが規定されるとともに、
上記レーザの光出力が一定に制御されている状態下で、上記高周波電流の重畳時に得られる駆動電流と上記高周波電流の非重畳時に得られる駆動電流との差を、上記制御手段が求めて上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１９】
請求項１８に記載した情報処理装置において、
上記高周波電流の重畳時に得られる駆動電流と上記高周波電流の非重畳時に得られる駆動電流との差が一定値となるように、上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項２０】
請求項１６に記載した情報処理装置において、
上記振幅制御手段によって上記駆動電流に対して上記高周波電流を重畳するか否かが規定されるとともに、
上記レーザの駆動電流が一定に制御されている状態下で、上記選択手段による上記高周波電流の重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値と上記高周波電流の非重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値との差を、上記制御手段が求めて上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項２１】
請求項２０に記載した情報処理装置において、
上記高周波電流の重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値と上記高周波電流の非重畳時に得られる上記レーザの光出力の検出値との差が一定値となるように、上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項２２】
請求項１６に記載した情報処理装置において、
上記レーザに係る温度を監視する温度監視手段を設け、温度変化が予め決められた条件を満たす場合に上記制御手段が上記高周波電流の振幅を制御する
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項２３】
請求項１６に記載した情報処理装置において、
情報信号の読み取りに必要な再生パワー以下のレーザ光出力をもって上記レーザの駆動制御が行われている状態で、上記高周波電流の振幅が制御されるようにした
ことを特徴とする情報処理装置。
【請求項２４】
請求項１６に記載した情報処理装置において、
上記記録媒体に係る情報信号の読み取り又は記録が行われておらず、かつ上記サーボ制御手段によって上記レンズ系のサーボ制御が行われている状態で、上記高周波電流の振幅が制御される
ことを特徴とする情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録媒体からの情報を読み取るためのレーザ駆動装置及びこれを用いた光学式ヘッド装置や情報処理装置において、レーザ駆動電流に高周波電流を重畳してノイズを抑制する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光学読取式のディスク状記録媒体において、例えば、書き込み可能な媒体から情報信号を読み出すために、レーザ（半導体レーザ）を光源とする光学式ヘッド装置（所謂光学ピックアップ装置）が使用され、該レーザはレーザ駆動装置によって駆動される。
【０００３】
レーザ駆動装置の構成としては、レーザが発する光の一部をフォトダイオード等の光検出器を用いて受光し、該光検出器の出力信号に基いてレーザの駆動電流を制御するＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ：自動パワー制御）回路が用いられ、レーザの発光出力が一定に制御される。そして、ディスク状記録媒体に対してレーザ光を照射したときの反射光がレーザに戻ることにより該レーザが発生するノイズ（所謂スクープノイズ）を抑制するため、該レーザの駆動電流に高周波電流を重畳する方法が知られている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００２−３３５０４１号公報（段落番号００１１、図１）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の装置にあっては、上記高周波電流の振幅値を固定値として設定する方法が採られているため、レーザの温度特性や経時変化による影響、記録済みの情報信号への影響等に関して、例えば、下記のような問題がある。
【０００６】
高周波電流の振幅値については、スクープノイズの抑制効果を考慮した場合に、ある程度大きくする必要があるが、振幅値が大き過ぎると既に記録されている情報信号が消去されてしまう虞があるので、振幅値の設定については注意深く行う必要がある。
【０００７】
図１３はレーザの光出力及びレーザの駆動電流の時間的変化を概略的に示したグラフ図である。尚、上方に示す図では横軸に時間をとり、縦軸に光出力をとってその時間的な変化を例示し、また、下方に示す図では横軸に時間をとり、縦軸に駆動電流をとってその時間的な変化を例示している。
【０００８】
図中に示す「Ｉｓｈ」が閾値電流を表し、「Ｉａｖ」が平均電流を表しており、駆動電流がＩｓｈを越えた時点で発光を開始してから、やや遅れて光出力ピークを示す。レーザ出力はＤＣ（直流）的な発光成分に対して急峻なパルス発光成分が重畳された如き波形となる。
【０００９】
このようなレーザ発光波形（例えば、パルスピークの高さ）は、たとえ駆動電流波形が全く同一であったとしても、緩和振動周波数や微分効率、微分抵抗等の各種のレーザ特性に依存して変化することが分かっている。そして、レーザ特性については、レーザの個体差によるバラツキの他、温度特性や経時変化等の影響を受ける結果、高周波電流の振幅値に関してもそれらの影響から逃れることはできない。
【００１０】
従って、レーザ特性上のバラツキあるいは温度や経年変化等に伴う特性変化に対応して、高周波電流の振幅値を可変制御する方法が求められている。つまり、従来のように、高周波電流の振幅が一定値に固定されていたのでは、特性変動が大きくなったり、あるいは最悪の事態として、記録可能な光ディスクの信号を再生する際、既に記録されている情報信号が誤って消去されてしまうといった危険性を伴うことになる。
【００１１】
そこで、本発明は、記録媒体からの戻り光によって誘起されるスクープノイズを抑制するためにレーザ駆動電流に高周波電流を重畳する場合に、該高周波電流の振幅値を適正に制御することで、安定性及び信頼性を高めることを課題とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記した課題を解決するために、下記に示す構成要素を備えたものである。
【００１３】
・レーザ駆動電流を監視する電流監視手段
・レーザの光出力について監視するための光検出手段
・レーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅を制御する振幅制御手段
・レーザの光出力が一定になるようにレーザ駆動回路を制御する光出力制御手段
・振幅制御手段による複数通りの高周波電流振幅について、電流監視手段によって得られるレーザ駆動電流の電流値又は光検出手段により得られるレーザの光出力に基いて高周波電流の振幅を制御する制御手段。
【００１４】
従って、本発明によれば、振幅制御手段により規定される複数通りの高周波電流振幅において、レーザ駆動電流や光出力のモニタリング結果を得ることにより、Ｉ／Ｌ特性（駆動電流対発光出力の特性）に基いて高周波電流の振幅を決定することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
本発明は、半導体レーザ等のレーザ駆動装置及びこれを用いた光学式ヘッド装置、情報処理装置に関するものであり、例えば、映像信号や音声信号の記録又は再生、あるいはコンピュータ等におけるデータの記録再生を行う各種装置への適用に好適である。
【００１６】
図１は、本発明に係る情報処理装置１の基本構成例を示す概略図であり、記録媒体２に係る情報信号の読み取りや記録用に光学式ヘッド装置３を備えている。尚、記録媒体２としては、例えば、光磁気ディスクや相変化型ディスク等の記録可能なディスク状記録媒体が挙げられる。
【００１７】
光学式ヘッド装置３は、記録媒体２に対する情報信号の読み取りを行うために光源部４を有しており、レーザダイオード等のレーザ光源が用いられる。つまり、光源部４は、レーザ５及び該レーザに駆動電流を供給するレーザ駆動回路６を備えている。
【００１８】
上記したように半導体レーザを光源として光学式ディスクの記録信号を再生する場合には、スクープノイズを抑制するために、レーザの駆動電流に対して高周波電流を生成して重畳する方法が用いられ、そのための高周波重畳手段７ａが光源部４に設けられている。この高周波重畳手段７ａは振幅制御手段７ｂの制御下に置かれ、これによりレーザの駆動電流に重畳する高周波電流の振幅（振幅値ゼロを含む。）が制御される。そして、レーザ５の駆動電流を監視する電流監視手段８、レーザ５の光出力を検出して監視するための光検出手段９と、レーザ５に係る温度を監視する温度監視手段１０が設けられているが、各手段については後で詳述する。
【００１９】
光学式ヘッド装置３によって読み取られた情報信号は、復調回路等を含む信号処理部１１に送られて必要な処理を受ける。また、情報の記録時には信号処理部１１で変調された信号が光学式ヘッド装置３に送られた後、記録媒体２に対して記録される（記録方式の如何は問わない。）。
【００２０】
サーボ制御手段１２は、光学式ヘッド装置３を構成する駆動機構の動作制御や記録媒体２の駆動制御を担当するものである。例えば、光源部４を構成するレンズ系（対物レンズ等）の駆動を行うアクチュエータ（所謂２軸アクチュエータ）に設けられたコイルの電流制御により、フォーカスサーボ制御やトラッキングサーボ制御を行ったり（制御に必要なサーボエラー信号は信号処理部１１からサーボ制御手段１２に送られる。）、また、ディスク状記録媒体を用いる場合においてその回転手段１３を構成するスピンドルモータの回転制御を行う。サーボ制御手段１２については、この他、記録媒体２に対する情報信号の読み取りや記録を行うために必要な機構部を制御する。例えば、記録媒体２に対する光学式ヘッド装置３の視野位置を決めるために該装置を所定方向に沿って搬送する機構の制御（所謂スレッド制御）等が、サーボ制御手段１２により行われる。
【００２１】
次に、レーザの駆動電流に重畳される高周波電流の振幅値の制御について説明する。
【００２２】
本発明では、レーザ駆動電流に重畳する高周波電流の振幅として、上記振幅制御手段７ｂによる複数通りの振幅を用いて、各場合におけるレーザ駆動電流の電流値又はレーザの光出力に基いて高周波電流の振幅を制御する。例えば、複数種類の高周波電流振幅に対する駆動電流差を監視する場合に、下記の形態が挙げられる。
【００２３】
・高周波電流の重畳時の振幅設定値を、例えば、ｍ１、ｍ２＝（ｍ１×２）とし、両者の場合の駆動電流差を一定に制御する構成形態（本形態では、高周波の重畳をオフ（又は振幅値をゼロ）にしないので、比較的サーボ制御の安定性を保ちやすいという利点が得られる。）
・高周波電流の重畳時の振幅設定値を、例えば、３種類の異なる値ｍ１、ｍ２、ｍ３のとし、それぞれの場合における駆動電流をＩ１、Ｉ２、Ｉ３とするとき、この３点のプロットをもとに外挿して高周波電流の非重畳時（つまり、振幅値が０のとき）の駆動電流を推定する形態。
【００２４】
また、複数通りの高周波電流振幅として、振幅値がゼロの場合と振幅値がゼロでない場合の２種類を規定する制御形態には、下記のような２つの方法が挙げられる。
【００２５】
（Ｉ）レーザを一定のパワーで発光させた状態において、高周波電流を重畳する場合のレーザ駆動電流値と、該高周波電流を重畳しない場合のレーザ駆動電流値との差に応じて、高周波重畳電流の振幅値を決定する方法（図２参照）
（ＩＩ）一定電流でレーザを駆動した状態において、高周波電流を重畳する場合におけるレーザの発光パワーと、該高周波電流を重畳しない場合におけるレーザの発光パワーとの差に応じて、高周波重畳電流の振幅値を決定する方法（図３参照）。
【００２６】
各方法に関して図２、図３をそれぞれ用いて説明するが、各図においては、横軸がレーザの駆動電流を示し、縦軸が発光パワー値を示している。また、実線で示すグラフ線「Ｇｏｆｆ」が高周波電流を重畳しない場合（非重畳時）の特性を示し、これに対して破線で示すグラフ部分「ｇｏｎ」は、高周波電流を重畳する場合（重畳時）の特性を例示している。
【００２７】
先ず、上記方法（Ｉ）について説明すると、図２に示すように、高周波電流の非重畳時にはグラフ線「Ｇｏｆｆ」で示すように、駆動電流が閾値「Ｉｓｈ」を越えた時点で発光パワーが立ち上がるのに対して、高周波電流の重畳時にはグラフ部分「ｇｏｎ」で示すように、駆動電流（平均電流）が閾値を下回る低い値からでも発光パワーが得られることが分かる（これは高周波電流の振幅のピーク時点で閾値を越える電流が流れることに依る。）。
【００２８】
図中に示す「Ｐｃ」は、レーザに係る一定のパワー値を示しており、「ΔＩＬＤ」は、Ｐｃで示されるパワー値をもってレーザを発光させる場合に必要な駆動電流の差を示している。即ち、同じパワー（Ｐｃ）でレーザ発光させる場合に、高周波電流の非重畳時には、重畳時に比べてより大きな駆動電流を必要とし、「ΔＩＬＤ」は両者における駆動電流の違いを表している。
【００２９】
方法（Ｉ）では、非重畳時と重畳時におけるレーザ駆動電流値の差に応じて、高周波重畳電流の振幅値を決定する。例えば、振幅値が大きくなり過ぎないようにその上限をΔＩＬＤに基いて規定する方法や、ΔＩＬＤの値が一定となるように振幅値を制御する方法等が挙げられる。
【００３０】
次に、上記方法（ＩＩ）について説明すると、図３において高周波電流の非重畳時のグラフ線「Ｇｏｆｆ」及び高周波電流の重畳時のグラフ部分「Ｇｏｎ」は図２と同じであるが、図中に示す「Ｉｃ」は、レーザに係る一定の駆動電流値を示しており、「ΔＰＬＤ」は、駆動電流Ｉｃをもってレーザを発光させる場合における重畳時と非重畳時との発光パワーの差を示している。即ち、同じ駆動電流（Ｉｃ）でレーザ発光させる場合に、高周波電流の重畳時における発光パワー値は、非重畳時に比べて大きいことが図から明らかであり、「ΔＰＬＤ」は両者のパワーの違いを表している。
【００３１】
方法（ＩＩ）では、非重畳時と重畳時における発光パワー値の差に応じて、高周波重畳電流の振幅値を決定する。例えば、振幅値が大きくなり過ぎないようにその上限をΔＰＬＤに基いて規定する方法や、ΔＰＬＤの値が一定となるように振幅値を制御する方法等が挙げられる。
【００３２】
次に、上記方法（Ｉ）を用いた構成形態について、図４乃至図６に従って説明する。
【００３３】
図４は、レーザ駆動装置の構成例を示したブロック図であり、光学式ディスク装置への適用例を示している。
【００３４】
レーザ駆動装置１４は、レーザ５に駆動電流を供給するレーザ駆動回路１５を有し、該レーザ駆動回路により駆動されるレーザ５の光が、対物レンズ１６を含む光学系１７を介して光学式ディスク１８に照射される。
【００３５】
レーザ５による光の一部は光検出器１９で受光されて電流に変換され、レーザ出力モニター信号としてＡＰＣ回路２０に送られる。尚、光検出器１９は上記した光検出手段９を構成している。
【００３６】
ＡＰＣ回路２０は、レーザ５の光出力が一定になるようにレーザ駆動回路１５を制御する光出力制御手段２１を構成するものであり、本例ではＡＰＣ回路２０に入力されるレーザ出力モニター信号と、制御回路２２からの制御指令値（ＡＰＣ制御指示値）を示す信号に基いて、レーザ５の発光強度が所望の値となるように電流出力をレーザ駆動回路１５に対して送出する。
【００３７】
レーザ駆動電流に対して高周波電流を生成して重畳するための高周波重畳回路２３は、本例において、高周波生成回路２４及び加算器２５を用いて構成されており、高周波生成回路２４と加算器２５との間には、レーザ駆動電流に対して高周波電流を重畳するか否かを選択するための選択手段２６（図にはスイッチの記号で示す。）が設けられている。
【００３８】
高周波生成回路２４は電圧制御発振器（ＶＣＯ）等で構成され、制御回路２２からの制御指令値（高周波電流の振幅指示値）を受けて、該指令値に応じた振幅値をもった高周波電流を生成し、選択手段２６を介して加算器２５に出力する。尚、選択手段２６には、例えば、高周波スイッチ回路が用いられ、制御回路２２からの開閉指示信号によって開閉（オン／オフ）状態が制御されるようになっている。
【００３９】
加算器２５はＡＰＣ回路２０の後段に配置されており、選択手段２６の閉成時においてＡＰＣ回路２０の出力電流と高周波生成回路２４からの高周波電流とを加算した電流をレーザ駆動回路１５に供給するが、選択手段２６の開成時にはＡＰＣ回路２０の出力電流をそのままレーザ駆動回路１５に供給する。
【００４０】
電流モニター回路２７は、上記電流監視手段８を構成しており、加算器２５の出力電流（つまり、レーザ駆動電流に相当する。）を監視し、電流モニター値を制御回路２２に送出する。
【００４１】
ＣＰＵ（中央処理装置）等の演算手段を用いて構成される制御回路２２は、上記したようにＡＰＣ回路２０や高周波生成回路２４に対して制御指令値を与えたり、選択手段２６に指令を送ってその開閉状態を制御する。つまり、制御回路２２は選択手段２６とともに上記振幅制御手段７ｂを構成するとともに、選択手段２６の閉成による高周波電流の重畳時と、選択手段２６の開成による該高周波電流の非重畳時において、レーザ駆動電流の電流値（電流モニター値）に基いて高周波電流の振幅を制御する制御手段２８を構成している。尚、ここで、高周波電流の振幅制御については、例えば、装置起動時の初期設定における調整等も含まれるが、前記したようにレーザの温度特性や経時変化等による制御上の影響が大きいことを考慮すると、一時的な設定ではなく定期的あるいは状況の変化に応じて振幅値を常態的に変化させる構成形態が好ましい。
【００４２】
尚、本例では、高周波生成回路２４の出力段に選択手段２６を設けた構成形態を示しているが、このことは選択手段２６を構成するスイッチ回路等が必須の要素であることを意味するものではない。即ち、制御回路２２から高周波生成回路２４に供給される高周波電流振幅指示値をゼロにすれば、選択手段２６がもつ機能を実現できる（この場合には、選択手段２６と等価な手段が制御回路２２に含まれると考えれば良い。）。このように、選択手段２６については物理的な手段としてハードウェア構成により実現する形態又は振幅指示値をゼロするといったソフトウェア上の設定で実現する形態のいずれでも構わない。
【００４３】
図５及び図６は、上記方法（Ｉ）に係る高周波電流振幅値の設定手順例について説明するためのフローチャート図であり、図５が全体的な流れを示し、図６は駆動電流差（ΔＩＬＤ）の測定手順例を示したものである。
【００４４】
先ず、図５のステップＳ１において、レーザの発光パワーＰを一定値Ｐｃに設定する（Ｐ＝Ｐｃ。図２参照）。これは、制御回路２２がＰｃに相当する制御指示値をＡＰＣ回路２０に送ることで行われる。尚、Ｐｃについては、信号再生に必要なパワー値以下とすることが好ましい。
【００４５】
制御回路２２から高周波生成回路２４に送られる制御指令によって高周波電流の振幅（これを「ｍ」と記す。）を初期値「ｍ０」に設定するとともに、制御回路２２においてレーザ駆動電流に係る目標電流差（上記駆動電流差「ΔＩＬＤ」の目標値）を「ΔＩｇ」に設定する。
【００４６】
次ステップＳ２では、駆動電流差「ΔＩＬＤ」の測定を行う（具体的には図６の手順で行うが、その詳細は後述する。）。
【００４７】
そして、ステップＳ３に進み、前ステップＳ２で測定されたΔＩＬＤ値を、変数「ΔＩＬＤ０」に格納する。尚、この変数は、１回前のΔＩＬＤ値を保持するために必要とされる。
【００４８】
次ステップＳ４では、ΔＩＬＤ値について３通りの条件判断を行う。つまり、ΔＩＬＤが目標電流差ΔＩｇより大きい（ΔＩＬＤ＞ΔＩｇ）場合には、ステップＳ５に進み、ΔＩＬＤがΔＩｇに等しい（ΔＩＬＤ＝ΔＩｇ）場合には、ステップＳ６に進み、ΔＩＬＤがΔＩｇより小さい（ΔＩＬＤ＜ΔＩｇ）場合には、ステップＳ７に進む。
【００４９】
先ず、「ΔＩＬＤ＝ΔＩｇ」の場合には、１回目の測定で目標電流差が得られた訳であり、ステップＳ６に進んで、高周波電流の振幅として現在のｍ値（つまり、ｍ０）を設定する。
【００５０】
また、「ΔＩＬＤ＞ΔＩｇ」の場合には、ステップＳ５において、現在の高周波電流振幅値を示すｍから、所定の差分量（以下、これを「Δｍ」と記す。）を差し引いたもの（ｍ−Δｍ）を、新たなｍとして採用する（ｍ＝ｍ−Δｍ）。そして、次ステップＳ８に進んでΔＩＬＤの測定を再び行った後、ステップＳ９に進む。
【００５１】
ステップＳ９では、前ステップＳ８で測定されたΔＩＬＤ値をΔＩｇと比較し、「ΔＩＬＤ≦ΔＩｇ」の場合にはステップＳ１１に進むが、「ΔＩＬＤ＞ΔＩｇ」の場合にはステップＳ１０に進む。
【００５２】
ΔＩＬＤ値が目標電流差ΔＩｇを越えている場合にはステップＳ１０において、ΔＩＬＤ値を変数「ΔＩＬＤ０」に格納した後、ステップＳ５に戻る。
【００５３】
ステップＳ１１では、ΔＩＬＤ０とΔＩＬＤのうち、どちらがΔＩｇに近いかを判断する。つまり、ΔＩＬＤ０−ΔＩｇ＞ΔＩｇ−ΔＩＬＤ（あるいは｜ΔＩＬＤ０−ΔＩｇ｜＞｜ΔＩｇ−ΔＩＬＤ｜）の場合には、ΔＩＬＤの方がΔＩｇに近いので、ステップＳ６に進み、高周波電流の振幅として現在のｍ値をそのまま採用して設定を行う。また、ΔＩＬＤ０の方がΔＩｇに近い場合には、ステップＳ１２に進み、現在のｍ値にΔｍを加算した値（ｍ＋Δｍ）を、高周波電流の振幅値として設定する（つまり、ΔＩＬＤ０に対応するｍ値は、ステップＳ５でΔｍを引算する前の値に戻す必要がある。）。
【００５４】
「ΔＩＬＤ＜ΔＩｇ」の場合は、「ΔＩＬＤ＞ΔＩｇ」の場合とは逆の考え方を採れば良い（上記の説明において加算と減算と入れ替え、不等号等の向きを反対に変えれば良い。）。つまり、ステップＳ７において、現在のｍに所定の差分量Δｍを加算したもの（ｍ＋Δｍ）を、新たなｍとして採用する（ｍ＝ｍ＋Δｍ）。そして、次ステップＳ１３に進んでΔＩＬＤの測定を再び行った後、次ステップＳ１４では、測定されたΔＩＬＤ値をΔＩｇと比較し、「ΔＩＬＤ≧ΔＩｇ」の場合にはステップＳ１６に進むが、「ΔＩＬＤ＜ΔＩｇ」の場合にはステップＳ１５に進み、ΔＩＬＤ値を変数「ΔＩＬＤ０」に格納した後、ステップＳ７に戻る。
【００５５】
ステップＳ１６では、ΔＩＬＤ０とΔＩＬＤのうち、どちらがΔＩｇに近いかを判断する。つまり、ΔＩＬＤ０−ΔＩｇ＜ΔＩｇ−ΔＩＬＤ（あるいは｜ΔＩＬＤ０−ΔＩｇ｜＞｜ΔＩｇ−ΔＩＬＤ｜）の場合には、ΔＩＬＤの方がΔＩｇに近いので、ステップＳ６に進み、高周波電流の振幅として現在のｍ値をそのまま採用して設定を行う。また、ΔＩＬＤ０の方がΔＩｇに近い場合には、ステップＳ１７に進み、現在のｍ値からΔｍを引算した値（ｍ−Δｍ）を、高周波電流の振幅値として設定する（つまり、ΔＩＬＤ０に対応するｍ値は、ステップＳ７でΔｍを加算する前の値に戻す必要がある。）。
【００５６】
尚、ステップＳ６、Ｓ１２、Ｓ１７において設定されるｍ値については、制御回路２２から高周波生成回路２４への振幅指示値として送られる。
【００５７】
上記のように、本例では、レーザの光出力が一定に制御されている状態下で、制御回路２２によって、高周波電流の重畳時と非重畳時にそれぞれ得られる駆動電流との差（ΔＩＬＤ）を求めて、これがほぼ一定（目標電流差ΔＩｇ）となるように高周波電流の振幅が制御される。
【００５８】
ΔＩＬＤの測定手順について説明すると、図６のステップＳ２１において、回数を示す整数変数「Ｊ」を導入して、その初期化（Ｊ＝０）を行った後、次ステップＳ２２では、制御回路２２から選択手段２６への指示により該選択手段を開状態として、高周波重畳が行われないように設定（オフ）する。
【００５９】
そして、次ステップＳ２３では、電流モニター回路２７からの電流モニター値を得て、これを配列変数「ＩＬＤＯＦＦ［Ｊ］」に格納する。つまり、ＩＬＤＯＦＦ［Ｊ］は、Ｊ値における非重畳時のレーザ駆動電流を示す。
【００６０】
次ステップＳ２４では、制御回路２２から選択手段２６への指示により該選択手段を閉状態として、高周波重畳を行う設定（オン）とする。そして、次ステップＳ２５では、電流モニター回路２７からの電流モニター値を得て、これを配列変数「ＩＬＤＯＮ［Ｊ］」に格納する。つまり、ＩＬＤＯＮ［Ｊ］は、Ｊ値における高周波重畳時のレーザ駆動電流を示す。
【００６１】
ステップＳ２６では、Ｊ値をその上限値「Ｊｍａｘ」と比較し、「Ｊ≧Ｊｍａｘ」であればステップＳ２７に進むが、所定回数に満たない場合にはステップＳ２８に進んでＪ値に１を加えた（インクリメント）後にステップＳ２２に戻る。
【００６２】
ステップＳ２７では、ΔＩＬＤの値（平均値）を算出する。即ち、「ΔＩＬＤ＝（ΣＩＬＤＯＦＦ［Ｊ］−ΣＩＬＤＯＮ［Ｊ］）／Ｊｍａｘ」からΔＩＬＤの値を求めれば良い。尚、「Σ」は変数Ｊについての和を意味する。Ｊｍａｘ値が大き過ぎると処理時間がかかるので、測定精度等を考慮して適正な回数（例えば、４、５回）にすることが望ましい。
【００６３】
以上に説明したΔＩＬＤの測定処理は、図５において定義済み処理（Ｓ２、Ｓ８、Ｓ１３参照。）として規定されているので、ステップＳ２７の後で元の本線に戻り（リターン）、次処理へと進む。
【００６４】
尚、本例では、非重畳時の駆動電流を計測した後、重畳時の駆動電流を計測しているが、その順番は逆でも構わない。
【００６５】
次に、上記方法（ＩＩ）を用いた構成形態について、図７乃至図９に従って説明する。
【００６６】
図７は、レーザ駆動装置の構成例を示したブロック図であり、光学式ディスク装置への適用例を示している。
【００６７】
尚、本例に示すレーザ駆動装置１４Ａの構成については、その大半の部分において図４に示した構成と同様であるので、以下では、図４との相違点を中心に説明する。
【００６８】
ＡＰＣ回路２０Ａには、光検出器１９からの検出結果（レーザー出力モニター値）と、電流モニター回路２７からの監視情報（電流モニター値）が選択的に入力され、図には理解し易いように切換回路２９を用いて示している。つまり、切換回路２９において、一方の接点が選択された第一の状態では、電流モニター値がＡＰＣ回路２０Ａに入力され、他方の接点が選択された第二の状態では、レーザ出力モニター値がＡＰＣ回路２０Ａに入力される。尚、光検出器１９からのレーザ出力モニター値については、制御回路２２Ａにも送出される。
【００６９】
また、ＡＰＣ回路２０Ａと制御回路２２Ａとの間には別の切換回路３０が設けられており、該切換回路３０において、一方の接点が選択された第一の状態では、制御回路２２Ａからのレーザ駆動電流に係る制御指令値（一定電流指示値）がＡＰＣ回路２０Ａに入力され、他方の接点が選択された第二の状態では、制御回路２２Ａからの光出力制御指令値（ＡＰＣ制御指示値）がＡＰＣ回路２０Ａに入力される。
【００７０】
尚、２つの切換回路２９、３０は互いに連動して切り換わるようになっており、切換回路３０が第一の状態（レーザ駆動電流を一定電流にするための指令がＡＰＣ回路２０Ａに入力される。）とされる場合に、切換回路２９が第一の状態とされて電流モニター値がＡＰＣ回路２０Ａに入力される。また、切換回路３０が第二の状態（レーザ発光パワーを一定にするための指令がＡＰＣ回路２０Ａに入力される。）とされる場合に、切換回路３０が第二の状態とされてレーザ出力モニター値がＡＰＣ回路２０Ａに入力される。
【００７１】
制御回路２２Ａから高周波生成回路２４に送られる高周波電流振幅指示値をゼロ以外の値にするか又は該指示値をゼロにするかによって、高周波電流の重畳又は非重畳の如何が規定される。つまり、本例では、前記した振幅制御手段７ｂを構成する制御回路２２Ａが前記選択手段２６の機能を有しており、制御回路２２Ａは、高周波電流の重畳時及び非重畳時において、光検出器１９により得られるレーザの光出力（レーザ出力モニター値）に基いて高周波電流の振幅を制御する制御手段３１を構成している。
【００７２】
図８及び図９は、上記方法（ＩＩ）に係る高周波電流振幅値の設定手順例について説明するためのフローチャート図であり、図８が全体的な流れを示し、図９はレーザの発光パワー差（ΔＰＬＤ）の測定手順例を示したものである。
【００７３】
先ず、図８と図５との違いは駆動電流ＩＬＤを一定の状態にしてレーザ発光パワー差ΔＰＬＤが一定となるように制御されることであり、形式的には、図５の電流「Ｉ」とパワー「Ｐ」を互いに置換すれば良い。
【００７４】
図８のステップＳ３１において、レーザ駆動電流ＩＬＤを一定値Ｉｃに設定する（図３参照）。つまり、図７において切換回路２９、３０が第一の状態とされ、制御回路２２ＡがＩｃに相当する一定電流指示値をＡＰＣ回路２０Ａに送出するとともに、該ＡＰＣ回路２０Ａには電流モニター値が入力される。
【００７５】
制御回路２２Ａから高周波生成回路２４に送られる制御指令によって高周波電流の振幅「ｍ」を初期値「ｍ０」に設定するとともに、制御回路２２Ａにおけるレーザ発光パワー差に係る目標値（上記「ΔＰＬＤ」の目標値）を「ΔＰｇ」に設定する。
【００７６】
次ステップＳ３２では、発光パワー差「ΔＰＬＤ」の測定を行う（具体的には図９の手順で行うが、その詳細は後述する。）。
【００７７】
そして、ステップＳ３３に進み、前ステップＳ３２で測定されたΔＰＬＤ値を、変数「ΔＰＬＤ０」に格納する。尚、この変数は、１回前のΔＰＬＤ値を保持するために必要とされる。
【００７８】
次ステップＳ３４では、ΔＰＬＤ値について３通りの条件判断を行って、ΔＰＬＤが目標電流差ΔＰｇより大きい（ΔＰＬＤ＞ΔＰｇ）場合には、ステップＳ３５に進み、ΔＰＬＤがΔＰｇに等しい（ΔＰＬＤ＝ΔＰｇ）場合には、ステップＳ３６に進み、ΔＰＬＤがΔＰｇより小さい（ΔＰＬＤ＜ΔＰｇ）場合には、ステップＳ３７に進む。
【００７９】
「ΔＰＬＤ＝ΔＰｇ」の場合には、１回目の測定で目標電流差が得られたので、ステップＳ３６に進んで、高周波電流の振幅として現在のｍ値（つまり、ｍ０）を設定する。
【００８０】
また、「ΔＰＬＤ＞ΔＰｇ」の場合には、ステップＳ３５において、現在のｍから所定の差分量「Δｍ」を差し引いたもの（ｍ−Δｍ）を、新たなｍとして採用する（ｍ＝ｍ−Δｍ）。そして、次ステップＳ３８に進んでΔＰＬＤの測定を再び行った後、ステップＳ３９に進んで、測定されたΔＰＬＤ値をΔＰｇと比較し、「ΔＰＬＤ≦ΔＰｇ」の場合にはステップＳ４１に進むが、「ΔＰＬＤ＞ΔＰｇ」の場合にはステップＳ４０に進む。
【００８１】
ステップＳ４０においてΔＰＬＤ値を変数「ΔＰＬＤ０」に格納した後、ステップＳ３５に戻る。
【００８２】
ステップＳ４１では、ΔＰＬＤ０とΔＰＬＤのうち、どちらがΔＰｇに近いかを判断する。ΔＰＬＤ０−ΔＰｇ＞ΔＰｇ−ΔＰＬＤ（あるいは｜ΔＰＬＤ０−ΔＰｇ｜＞｜ΔＰｇ−ΔＰＬＤ｜）の場合には、ΔＰＬＤの方がΔＰｇに近いので、ステップＳ３６に進み、高周波電流の振幅として現在のｍ値をそのまま採用して設定を行う。また、ΔＰＬＤ０の方がΔＰｇに近い場合には、ステップＳ４２に進み、現在のｍ値にΔｍを加算した値（ｍ＋Δｍ）を、高周波電流の振幅として設定する（つまり、ΔＰＬＤ０に対応するｍ値は、ステップＳ３５でΔｍを引算する前の値に戻す必要がある。）。
【００８３】
「ΔＰＬＤ＜ΔＰｇ」の場合は、「ΔＰＬＤ＞ΔＰｇ」の場合とは逆の考え方を採れば良い（上記の説明において加算と減算と入れ替え、不等号等の向きを反対に変えれば良い。）。つまり、ステップＳ３７において、現在のｍに所定の差分量Δｍを加算したもの（ｍ＋Δｍ）を、新たなｍとして採用する（ｍ＝ｍ＋Δｍ）。そして、次ステップＳ４３に進んでΔＰＬＤの測定を再び行った後、次ステップＳ４４では、測定されたΔＰＬＤ値をΔＰｇと比較し、「ΔＰＬＤ≧ΔＰｇ」の場合にはステップＳ４６に進むが、「ΔＰＬＤ＜ΔＰｇ」の場合にはステップＳ４５に進み、ΔＰＬＤ値をΔＰＬＤ０に格納した後、ステップＳ３７に戻る。
【００８４】
ステップＳ４６では、ΔＰＬＤ０とΔＰＬＤのうち、どちらがΔＰｇに近いかを判断する。つまり、ΔＰＬＤ０−ΔＰｇ＜ΔＰｇ−ΔＰＬＤ（あるいは｜ΔＰＬＤ０−ΔＰｇ｜＞｜ΔＰｇ−ΔＰＬＤ｜）の場合には、ΔＰＬＤの方がΔＰｇに近いので、ステップＳ３６に進んで高周波電流の振幅として現在のｍ値をそのまま採用して設定を行う。また、ΔＰＬＤ０の方がΔＰｇに近い場合には、ステップＳ４７に進み、現在のｍ値からΔｍを引算した値（ｍ−Δｍ）を、高周波電流の振幅として設定する（つまり、ΔＰＬＤ０に対応するｍ値は、ステップＳ３７でΔｍを加算する前の値に戻す必要がある。）。
【００８５】
尚、ステップＳ３６、Ｓ４２、Ｓ４７において設定されるｍ値については、制御回路２２Ａから高周波生成回路２４への振幅指示値として送られる。そして、図７において切換回路２９、３０が上記した第二の状態とされ、制御回路２２ＡからのＡＰＣ制御指示値と光検出器１９からのレーザ出力モニター値がＡＰＣ回路２０Ａに入力されて発光パワーに係る一定制御が行われる。
【００８６】
上記のように、本例では、レーザ駆動電流が一定に制御されている状態下で、制御回路２２Ａによって、高周波電流の重畳時と非重畳時にそれぞれ得られるレーザ光出力の差（ΔＰＬＤ）を求めて、これがほぼ一定（目標差ΔＰｇ）となるように高周波電流の振幅が制御される。
【００８７】
尚、図９に示すΔＰＬＤの測定手順について、図６との相違点は以下の通りである。
【００８８】
・非重畳時のレーザ発光パワー「ＰＬＤＯＦＦ［Ｊ］」と（ステップＳ５３参照）、重畳時のレーザ発光パワー「ＰＬＤＯＮ［Ｊ］」（ステップＳ５５参照）を計測すること・ＰＬＤＯＮ［Ｊ］とＰＬＤＯＦＦ［Ｊ］との差について平均値を求めて、発光パワー差ΔＰＬＤを算出すること（ステップＳ５７参照）。
【００８９】
本例では、図６の説明において、形式的には電流「Ｉ」を発光パワー「Ｐ」に置換すれば良い。
【００９０】
つまり、図９のステップＳ５１において、整数変数「Ｊ」を初期化（Ｊ＝０）した後、次ステップＳ５２では、制御回路２２Ａの指示により非重畳の状態（振幅値ゼロ）に設定する。
【００９１】
そして、次ステップＳ５３では、光検出器１９からのレーザ出力モニター値を得て配列変数「ＰＬＤＯＦＦ［Ｊ］」に格納する。
【００９２】
次ステップＳ５４では、制御回路２２Ａの指示により高周波重畳を行う設定とする。そして、次ステップＳ５５では、光検出器１９からのレーザ出力モニター値を得て配列変数「ＰＬＤＯＮ［Ｊ］」に格納する。
【００９３】
次ステップＳ５６では、Ｊ値をその上限値「Ｊｍａｘ」と比較し、「Ｊ≧Ｊｍａｘ」であればステップＳ５７に進むが、所定回数に満たない場合にはステップＳ５８に進んでＪ値に１を加えた（インクリメント）後にステップＳ５２に戻る。
【００９４】
ステップＳ５７では、ΔＰＬＤの値（平均値）を、「ΔＰＬＤ＝（ΣＰＬＤＯＮ［Ｊ］−ΣＰＬＤＯＦＦ［Ｊ］）／Ｊｍａｘ」により求める。
【００９５】
尚、本例では、非重畳時の発光パワーを計測した後、重畳時の発光パワーを計測しているが、勿論その順番は逆でも構わない。
【００９６】
上記した各種形態の説明では、レーザの温度条件を無視しているが、レーザ発光に係るパルスピークの高さ等については、レーザの温度による影響を考慮する必要がある。
【００９７】
例えば、図１０に示すように、レーザ５に係る温度を監視する温度モニター回路３２を設け、レーザの温度変化が予め決められた条件（閾値を越える温度変化が生じたこと等）を満たす場合に高周波電流の振幅を制御することが好ましい。
【００９８】
尚、図１０に示す構成において、図４との相違点は、温度センサーを含む温度モニター回路３２を設けたことだけである（よって、それ以外の部分については図４で使用した符号と同じ符号を用いて説明する。）。
【００９９】
温度モニター回路３２はレーザ５の近辺に配置されており、その検出情報（温度モニター値）が制御回路２２に送られて温度監視が行われる。つまり、温度モニター回路３２は、上記した温度監視手段１０（図１参照）を構成している。
【０１００】
図１１は温度変化を考慮した高周波電流の振幅調整について一例を示すフローチャート図である。
【０１０１】
先ず、ステップＳ６１においてレーザ５を動作させた後、次ステップＳ６２では温度のモニタリングを行う。つまり、レーザ近傍の温度（これを「ＴＬＤ」と記す。）を温度モニター回路３２により監視する。
【０１０２】
そして、次ステップＳ６３では、高周波電流の振幅調整（設定）を行う。例えば、上記方法（Ｉ）を用いて振幅値を決めれば良い。
【０１０３】
次ステップＳ６４では、温度ＴＬＤに関して過去の時点における温度値を格納するために変数「Ｔｐｒｅ」を用意してＴＬＤ値を格納する（Ｔｐｒｅ＝ＴＬＤ）。尚、ここまでの処理が初期調整に相当する。
【０１０４】
それからステップＳ６５に進んでサーボ制御（トラッキングサーボやフォーカスサーボ）を行い、次ステップＳ６６で温度ＴＬＤをモニタリングして、次ステップＳ６７においてＴＬＤが所定の条件を満たすかどうかを判断する。例えば、温度変化を示す差分「ΔＴ」の値を予め設定しておいて、ＴＬＤの値が、（Ｔｐｒｅ±ΔＴ）の範囲内に入っているかどうかを調べる。そして、「Ｔｐｒｅ−ΔＴ＜ＴＬＤ＜Ｔｐｒｅ＋ΔＴ」である場合にはステップＳ６８に進むが、そうでない場合にはステップＳ７０に進む。
【０１０５】
ステップＳ６８では計時手段（温度測定タイマー）をリセットした上でこれを作動させてからステップＳ６９に進み、所定時間（例えば、５分間）が経過したどうかを判断する。そして、所定時間が経過した場合にはステップＳ６６に戻るが、未経過の場合にはタイマーの計時を続行する。
【０１０６】
ステップＳ７０では、高周波電流の振幅調整に関して、上記方法（Ｉ）を用いて振幅値を決める。そして、ステップＳ７１に進んで、ステップＳ６６で得たＴＬＤの値をＴｐｒｅに格納した上で、ステップＳ６８に進む。
【０１０７】
以上のように、周囲温度変化等の影響によってレーザの温度変化が許容範囲から逸脱した場合には、高周波電流の振幅について再調整（又は設定）を行うことが好ましく、これを定期的又は不定期に行う方法と、温度検出を常時行う方法等が挙げられる。
【０１０８】
尚、本例では、図１０の構成について説明したが、これに限らず、例えば、図７の構成例において温度モニター回路３２を設けて、その温度モニター値を制御回路２２Ａに送出する構成形態の場合には、図１１のステップＳ６３やＳ７０において上記方法（ＩＩ）を用いて高周波電流の振幅値が決定されることになる。
【０１０９】
また、上記したレーザ駆動装置１４や１４Ａを搭載した光学式ヘッド装置を用いて、書き換え可能な記録媒体の情報信号を読み取る場合には、記録済みの情報が誤って消去されないように配慮すべきである。即ち、上記した高周波電流の振幅調整において、レーザの発光パワー値が温度変化等の要因によって過度にならないように、記録媒体に係る情報信号の読み取りに必要な再生パワー以下の値にレーザ光出力を規制することが好ましい。例えば、再生パワーよりも小さな発光パワー値をもってレーザの駆動制御が行われている状態において、高周波電流の振幅を制御すれば良い（発光パワー値が下がり過ぎないようにするための下限値も勿論存在する。）。
【０１１０】
このようにレーザ発光パワー値については、上記方法（Ｉ）ではＰｃ値が再生パワー以下となるようにし、また上記方法（ＩＩ）ではＩｃ値を適切に設定することで発光パワー値が大きくなり過ぎないように注意する必要がある。
【０１１１】
最後に、光学式ディスクへの適用において、該ディスク（記録媒体）に係る情報信号の読み取りや記録が行われておらず、かつレンズ系のサーボ制御がかかっている状態で、上記した高周波電流の振幅を制御すること及びその利点について説明する。
【０１１２】
一般に、光学式ディスクを用いたシステムでは、対物レンズのフォーカスサーボやトラッキングサーボがかかっている状態で、かつ、情報信号の再生や記録を行っていない状態（以下、この状態を「アイドル状態」という。）が存在する。
【０１１３】
図１２は各状態間の遷移について概念的に例示した状態遷移図であり、下記に示す状態を有する。
【０１１４】
・停止状態
・レーザオン
・フォーカスサーボオン
・トラッキングサーボオン
・アイドル状態
・情報信号再生状態
・情報信号記録状態。
【０１１５】
尚、「レーザオン」とはレーザが動作中の状態を意味する。また、「フォーカスサーボオン」の状態とは、フォーカスサーボ制御がかかっている状態を意味し、「トラッキングサーボオン」の状態とはトラッキングサーボ制御がかかっている状態を意味する。
【０１１６】
例えば、システムが起動すると、停止状態からレーザオンに移行した後、フォーカスサーボオン、トラッキングサーボオンの状態を経てアイドル状態へと遷移する。そして、アイドル状態から情報信号再生状態又は情報信号記録状態へと移行したり、あるいは情報信号再生状態と情報信号記録状態との間で相互に状態遷移が行われる。
【０１１７】
ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）ビデオ等の光ディスクシステムでは、そのフォーマット（規格）上、光ディスク装置が情報信号を読み出すべきデータレート（転送レート）が規定されているが、ディスク情報の再生中にトラッキングサーボやフォーカスサーボが外れてしまうと、この状態から再び情報信号再生状態や情報信号記録状態に復帰するために要する時間が長くかかってしまい、規定のデータレートを保証することが困難になる。
【０１１８】
アイドル状態は、光ディスク装置の動作中において頻繁に実現される状態であり、また、このアイドル状態から情報信号再生状態や情報信号記録状態への遷移に要する時間は比較的短い。
【０１１９】
従って、アイドル状態において高周波電流の振幅調整を行えば、光ディスク装置の動作中、頻繁に振幅調整を行うことが可能となり、例えば、温度変化に伴うレーザ特性の変化に応じて振幅値を調整することで、情報信号再生の信頼性を高めることが可能になる。
【０１２０】
但し、アイドル状態であっても長時間に亘って高周波重畳を停止するとサーボ制御への悪影響が懸念されるので（図６のステップＳ２２、Ｓ２３や図９のステップＳ５２、Ｓ５３参照。）、高周波重畳をオフする場合の許容時間については、サーボ帯域を考慮して十分短い時間に規定することが望ましい。例えば、サーボ特性に係る遮断周波数が、３ｋＨｚ（周期：３３３μｓ）であるものとして、高周波重畳のオフ時間（非重畳とされる時間）を、２０μｓ（マイクロ秒）程度にすれば良い。
【０１２１】
また、アイドル状態では、フォーカスサーボとトラッキングサーボの両方がかかっているが、それらの一方、例えば、フォーカスサーボがかかっていて、トラッキングサーボが外れている状態等において、高周波電流の振幅調整を行うといった各種の形態が可能であり、その場合にも上記と同様の効果を得ることができる。
【０１２２】
以上のように、記録媒体に係る情報信号の読み取り又は記録が行われていない状態であって、レンズ系の駆動に係るサーボ制御が行われている状態において上記した高周波電流の振幅調整を行うことにより、レーザ特性に係る各種の変動要因について速応性を保証し、再生性能の低下を防止することができる。
【０１２３】
【発明の効果】
以上に記載したところから明らかなように、請求項１、８、１６に係る発明によれば、レーザの駆動電流や光出力の検出結果を得てレーザ特性に基いて高周波電流の振幅を決定することができるので、振幅値を一定値に固定した場合に生じる各種の弊害（特性変化に起因する不安定化や誤消去等）を防止することができる。
【０１２４】
請求項２、９、１７に係る発明によれば、高周波電流の重畳時と非重畳時におけるレーザ駆動電流又はレーザ光出力を監視して高周波電流の振幅値を適正に調整できる。
【０１２５】
請求項３、４、１０、１１、１８、１９に係る発明によれば、高周波電流の重畳時と非重畳時におけるレーザ駆動電流を監視し、電流差に基いて高周波電流の振幅値を適正に調整できる。
【０１２６】
請求項５、６、１２、１３、２０、２１に係る発明によれば、高周波電流の重畳時と非重畳時におけるレーザ光出力を監視し、発光パワーの差に基いて高周波電流の振幅値を適正に調整できる。
【０１２７】
請求項７、１４、２２に係る発明によれば、温度変化について監視することで、レーザ温度特性の変化に適応した高周波電流の振幅調整を実現できる。
【０１２８】
請求項１５、２３に係る発明によれば、レーザの光出力が過度になることに起因する弊害（誤消去等）を防止できる。
【０１２９】
請求項２４に係る発明によれば、光学式記録媒体を用いた情報処理装置への適用において、情報信号の再生性能及び信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る情報処理装置の基本構成例を示す図である。
【図２】図３とともにレーザ駆動電流に重畳される高周波電流振幅の制御方法について説明するための図であり、本図は第一の方法の説明に用いるグラフ図である。
【図３】第二の方法の説明に用いるグラフ図である。
【図４】本発明に係るレーザ駆動装置の構成例を示す図である。
【図５】図６とともに、高周波電流振幅値の設定手順例についてを説明するための図であり、本図は全体の流れを示すフローチャート図である。
【図６】レーザ駆動電流差（ΔＩＬＤ）の測定手順例について説明するためのフローチャート図である。
【図７】本発明に係るレーザ駆動装置の構成について別例を示す図である。
【図８】図９とともに、高周波電流振幅値の設定手順例についてを説明するための図であり、本図は全体の流れを示すフローチャート図である。
【図９】レーザ発光パワー差（ΔＰＬＤ）の測定手順例について説明するためのフローチャート図である。
【図１０】レーザの温度監視用回路を設けた場合の構成例を示す図である。
【図１１】温度変化を考慮した高周波電流の振幅調整例を示すフローチャート図である。
【図１２】光ディスク装置における各状態間の遷移例についての説明図である。
【図１３】レーザの光出力及び駆動電流の時間的変化の一例を概略的に示したグラフ図である。
【符号の説明】
１…情報処理装置、２…記録媒体、３…光学式ヘッド装置、４…光源部、５…レーザ、６…レーザ駆動回路、７ａ…高周波重畳手段、７ｂ…振幅制御手段、８…電流監視手段、９…光検出手段、１０…温度監視手段、１２…サーボ制御手段、１４、１４Ａ…レーザ駆動装置、１５…レーザ駆動回路、２１…光出力制御手段、２８…制御手段、３１…制御手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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