(57)【要約】【課題】出射光の強度が変化しても、周囲温度または光学特性の変化によるオフセット変動が発生しても、高精度でかつ安定したトラッキング制御方法を提供する。【解決手段】記録動作の前に、トラッキングエラーオフセット測定手段８、第１の算出手段９および移送台１５を用いて、記録／消去するための出射光の光強度を決定する記録媒体上に予め設けられた領域にてトラッキングエラー信号に重畳するオフセットを測定してオフセット補正値を算出する第１の算出ステップを実行し、記録動作中には、温度センサ１０、トラッキングゲイン測定手段１１および第２の算出手段１２を用いて、任意に記録／再生する領域にてループゲインを測定してオフセット補正値を算出する第２の算出ステップを実行する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体上における光ビームスポットのトラックに対するずれ量を表すトラッキングエラー信号に基づいて光ビームスポットのトラック位置ずれ制御を行うトラッキング制御方法であって、
光ビームスポットの光強度が、光ビームスポットにより記録媒体に記録マークを形成可能な光強度、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な光強度にまで変化したことを検出する光強度検出ステップと、
光ビームスポットの光強度の変化に応じて、トラッキングエラー信号に重畳する、オフセットを補正するオフセット補正値を算出する算出ステップと、
前記光強度検出ステップで光強度の変化が検出された場合、トラッキングエラー信号に前記オフセット補正値を加算する補正ステップとを含むことを特徴とするトラッキング制御方法。
【請求項２】
前記算出ステップは、
記録媒体上に記録マークを記録するための光ビームスポットの光強度を決定するために予め設けられた記録媒体上の領域で前記オフセット補正値を算出する第１の算出ステップと、
記録媒体上に任意の記録マークを記録可能な領域、あるいは予め記録されている記録マークを消去あるいは再生可能な領域で記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する動作中に前記オフセット補正値を算出および更新する第２の算出ステップからなる請求項１記載のトラッキング制御方法。
【請求項３】
前記算出ステップのうち、前記第１の算出ステップあるいは前記第２の算出ステップのいずれかひとつを実行する請求項２記載のトラッキング制御方法。
【請求項４】
前記算出ステップにおいて、前記第１の算出ステップを実行した後に、前記第２の算出ステップを実行する請求項２記載のトラッキング制御方法。
【請求項５】
前記第１の算出ステップは、
記録媒体上に記録マークを記録するための光ビームスポットの光強度を決定するために予め設けられた記録媒体上の領域に光ビームスポットを移動させる移動ステップと、
光ビームスポットの光強度を所定値以上に大きくする光出力ステップと、
光ビームスポットを記録媒体上の任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットを測定する測定ステップと、
前記測定ステップで測定したトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットに応じて、前記オフセット補正値を決定する第１のオフセット補正値決定ステップからなる請求項２から４のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項６】
前記第１の算出ステップは、
記録媒体上に記録マークを記録するための光ビームスポットの光強度を決定するために予め設けられた記録媒体上の領域に光ビームスポットを移動させる移動ステップと、
光ビームスポットの光強度を所定値以上に大きくする光出力ステップと、
光ビームスポットを記録媒体上の任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットを測定する測定ステップと、
前記測定ステップにおいて光ビームスポットが横断したトラックの記録マークを消去する光強度で光ビームを出射させる消去光出力ステップと、
前記測定ステップで測定したトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットに応じて、前記オフセット補正値を決定する第１のオフセット補正値決定ステップからなる請求項２から４のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項７】
前記測定ステップにおいて、光ビームスポットを、光ビームスポットに直交する方向に交互に任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されるオフセットを測定することを特徴とする請求項５または６記載のトラッキング制御方法。
【請求項８】
前記光出力ステップにおける前記所定値は、記録媒体上に記録マークを形成可能な出力レベル、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な出力レベルである請求項５または６記載のトラッキング制御方法。
【請求項９】
前記第２の算出ステップは、
トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、
前記ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいて前記オフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなる請求項２から４のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項１０】
前記第２の算出ステップは、
周囲温度の変化を検出する温度検出ステップと、
トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、
前記ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいて前記オフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなり、
前記温度検出ステップにおいて所定温度以上の周囲温度の変化を検出した後に、前記ループゲイン測定ステップを実行する請求項２から４のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項１１】
前記第２の算出ステップは、
記録媒体に予め記録されているアドレス情報を再生し、光ビームスポットのトラック方向における位置が、前記算出ステップを最後に実行したアドレスから所定以上離れたことを検出するアドレス検出ステップと、
トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、
前記ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいて前記オフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなり、
前記アドレス検出ステップにおいて、前記第１の算出ステップあるいは前記第２の算出ステップを実行した位置に対して所定以上の位置ずれを検出したときに、前記ループゲイン測定ステップを実行する請求項２から４のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項１２】
前記第２の算出ステップは、
光ビームスポットを光ビームスポットに直交する方向に任意の距離だけ移動させて、光ビームスポットの位置を検出する位置検出ステップと、
トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、
前記ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいて前記オフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなり、
前記位置検出ステップにおいて、前記第１の算出ステップ、あるいは前記第２の算出ステップを実行した位置に対して所定以上の位置ずれを検出したときに、前記ループゲイン測定ステップを実行する請求項２から４のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項１３】
前記第２のオフセット補正値決定ステップにおいて決定されるオフセット補正値は、
前記ループゲイン測定ステップにおいて測定したトラッキング制御のループゲインが最大になる、トラッキングエラー信号に加算したオフセットとする請求項１０から１２のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項１４】
前記第２のオフセット補正値決定ステップにおいて決定されるオフセット補正値は、
前記ループゲイン測定ステップにおいて測定したトラッキング制御のループゲインを２次関数式で近似し、ループゲインの近似値が最大になる、トラッキングエラー信号に加算したオフセットとする請求項１０から１２のいずれか一項記載のトラッキング制御方法。
【請求項１５】
前記第１の算出ステップにおいて、光ビームスポットの光強度が変化したときにサンプルしたトラッキングエラー信号の平均値とトラッキング制御目標値との差をオフセット補正値とする請求項２記載のトラッキング制御方法。
【請求項１６】
前記補正ステップにおいて、光ビームスポットの光強度の変化開始から終了までの区間において前記オフセット補正値を保持する請求項１記載のトラッキング制御方法。
【請求項１７】
前記トラッキング制御方法はさらに、前記トラッキングエラー信号と所定の２値化スライスレベルとを比較してオフトラックを検出するオフトラック検出ステップを含み、前記オフセット補正値は前記２値化スライスレベルに加算される請求項１記載のトラッキング制御方法。
【請求項１８】
請求項１から１７のいずれか一項記載のトラッキング制御方法を用いて、前記記録媒体に対して情報の記録あるいは再生を行う情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録媒体に対して光学的に情報を記録あるいは再生する装置（以下、光ディスク装置と称する）に適用され、記録媒体上における光ビームスポットとトラックとの位置ずれを制御するトラッキング制御方法、およびかかるトラッキング制御方法が適用される情報記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のトラッキング制御方法は、記録媒体上における光ビームスポット（以下、出射光と称する）のトラックに対する位置ずれを示すトラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行うトラッキング制御方法であって、出射光の光強度の変化を検出し、出射光の光強度の変化により発生するトラッキングエラー信号のシフトおよび／または振られを補正する補正量を算出し、出射光の光強度の変化が検出された場合、トラッキングエラー信号に補正量を加算して補正するようにしたものであった（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
以下、従来のトラッキング制御方法について、図１６および図１７を参照して説明する。図１６は、従来のトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の電気回路構成を示すブロック図であり、図１７は、従来のトラッキング制御方法における処理手順を示すフローチャートである。
【０００４】
まず、図１６を参照して、光ディスク装置におけるトラッキングエラー信号に対する信号処理について説明する。
【０００５】
トラッキングエラー信号（図中、ＴＥで表す）は、ＡＤ変換器２０により所定のサンプリング時間でサンプリングされて、補正量算出部２１および第１の加算回路２４に入力される。発光パワー検出部２３は、出射光の光強度の変化を検出し、補正量算出部２１および補正量操作部２２に出力する。補正量算出部２１にて算出されたトラッキングエラー信号のシフトおよび／または振られ量は補正量操作部２２に出力され、補正量操作部２２は、発光パワー検出部２３からの出力信号に応じて、トラッキングエラー信号のシフトおよび／あるいは振られを補正するための補正量を第１の加算回路２４に出力する。
【０００６】
第１の加算回路２４は、ＡＤ変換されたトラッキングエラー信号と、補正量操作部２２から出力される補正量とを加算し、第２の加算回路２８に出力する。第２の加算回路２８は、第１の加算回路２４の出力信号にＴＥ入力ＤＣオフセットを加算する。ここで、ＴＥ入力ＤＣオフセットとは、光ディスク装置に搭載された光ヘッドの調整ずれや電気的オフセット、光軸ずれによりトラッキングエラー信号に重畳するＤＣオフセットを補正するための補正値である。
【０００７】
第２の加算回路２８の出力信号は乗算手段２５に入力される。乗算手段２５は、第１の加算回路２４の出力信号の振幅が一定となるようにゲインを調整する手段である。乗算手段２５の出力信号は、オフトラック検出手段２６に送られる。オフトラック検出手段２６は、乗算手段２５の出力信号と所定のスライスレベルとの大小関係を比較して、出射光のオフトラックを検出する。オフトラック検出手段２６の出力信号は、位相補償器２７（図中、ＰＩＤで表す）に入力され、そこからの位相補償された出力信号に基づいて、出射光はトラック中心に位置決めされる。
【０００８】
次に、図１７を参照して、従来のトラッキング制御方法における処理手順について説明する。
【０００９】
まず、ＡＤ変換されたトラッキングエラー信号ＴＥをリードする（Ｓ１７０１）。続いて、発光パワー検出部２３は、出射光の光強度（以下、発光パワーと称する）が上がったか否かを判断し（Ｓ１７０２）、上がった場合（Ｙｅｓ）、補正量算出部２１は、トラッキングエラー信号に加算するオフセットの補正量を算出する（Ｓ１７０３）。一方、ステップＳ１７０２の判断の結果、発光パワーが上がらない場合（Ｎｏ）、オフセット補正量算出ステップＳ１７０３をスキップする。
【００１０】
次に、発光パワーが所定レベルよりも高いか否かを判断し（Ｓ１７０４）、発光パワーが所定レベルよりも高い場合（Ｙｅｓ）、トラッキングエラー信号に重畳したオフセットを補正する補正量を操作し（Ｓ１７０５）、オフセットに補正量を加算する（Ｓ１７０６）。一方、ステップＳ１７０４の判断の結果、発光パワーが所定レベルよりも高くない場合（Ｎｏ）、オフセットの補正量をクリアする（Ｓ１７０７）。
【００１１】
続いて、トラッキングエラー信号ＴＥにオフセットを加算して（Ｓ１７０８）、乗算手段２５によりゲイン調整を行い（Ｓ１７０９）、オフトラック判定し（Ｓ１７１０）、位相補償器２７により位相補償する（ＰＩＤ計算：Ｓ１７１１）。
【００１２】
以上のようにして、トラッキング制御方法が実施される。
【００１３】
【特許文献１】
特開２０００−１８７８５６号公報（特許請求の範囲）
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のトラッキング制御方法は、出射光の光強度の変化を検出し、出射光の光強度の変化により発生するトラッキングエラー信号のシフトおよび／または振られを補正することを目的としていた。
【００１５】
したがって、従来のトラッキング制御方法では、出射光の光強度の変化により出射光を放射する光源の放射角にバラツキが発生してファー・フィールド・パターンにずれが生じたり、出射光の光強度の変化に伴う回路利得の切り替えによる回路オフセットが変化して、トラッキングエラー信号にＤＣオフセットが重畳した等、光ヘッドの特性変化や電気オフセット変動が生じた場合に、出射光はトラック中心からずれた位置に制御される、という問題があった。
【００１６】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、出射光の光強度が変化した際に、記録媒体にデータを記録する前にトラッキングエラー信号のオフセットを補正するオフセット補正値を高精度で算出し、温度あるいは出射光のトラック位置変化によりオフセット補正値が変化した場合においても、記録動作を中断することなくオフセット補正値を適切に算出し、またオフセット補正値を算出するために使用する記録媒体上の領域を小さくすることによって、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御方法、およびかかるトラッキング制御方法が適用される情報記録再生装置を提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するため、本発明に係るトラッキング制御方法の第１の構成は、記録媒体上における光ビームスポットのトラックに対するずれ量を表すトラッキングエラー信号に基づいて光ビームスポットのトラック位置ずれ制御を行うトラッキング制御方法であって、光ビームスポットの光強度が、光ビームスポットにより記録媒体に記録マークを形成可能な光強度、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な光強度にまで変化したことを検出する光強度検出ステップと、光ビームスポットの光強度の変化に応じて、トラッキングエラー信号に重畳する、オフセットを補正するオフセット補正値を算出する算出ステップと、光強度検出ステップで光強度の変化が検出された場合、トラッキングエラー信号にオフセット補正値を加算する補正ステップとを含むことを特徴とする。
【００１８】
この第１の構成によれば、オフセット補正値を適切に算出することにより、記録媒体上に記録マークを記録する際、あるいは予め記録された記録マークを消去する際に、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットを補正することができる。したがって、記録媒体に記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を実現することができる。
【００１９】
本発明に係るトラッキング制御方法の第２の構成は、上記第１の構成において、算出ステップが、記録媒体上に記録マークを記録するための光ビームスポットの光強度を決定するために予め設けられた記録媒体上の領域でオフセット補正値を算出する第１の算出ステップと、記録媒体上に任意の記録マークを記録可能な領域、あるいは予め記録されている記録マークを消去あるいは再生可能な領域で記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する動作中にオフセット補正値を算出および更新する第２の算出ステップからなることを特徴とする。
【００２０】
この第２の構成によれば、記録媒体上に任意の記録マークを記録する動作、あるいは予め記録されている記録マークを消去する動作を実行する前に、第１のステップを実行することにより、オフセット補正値を適切に算出することができる。さらに、第２の算出ステップを実行することにより、記録媒体上に任意の記録マークを記録する、あるいは予め記録されている記録マークを消去する動作を中断することなく、オフセット補正値を適切に算出することができる。したがって、記録媒体に記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００２１】
本発明に係るトラッキング制御方法の第３の構成は、上記第２の構成において、算出ステップのうち、第１の算出ステップ、あるいは前記第２の算出ステップのいずれかひとつを実行することを特徴とする。
【００２２】
この第３の構成によれば、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップのいずれかひとつが実行できない場合においても、オフセット補正値を算出することができる。
【００２３】
本発明に係るトラッキング制御方法の第４の構成は、上記第２の構成において、算出ステップにおいて、第１の算出ステップを実行した後に、第２の算出ステップを実行することを特徴とする。
【００２４】
この第４の構成によれば、記録媒体上に任意の記録マークを記録、あるいは予め記録されている記録マークを消去する動作を実行する前に第１のステップを実行することにより、オフセット補正値を適切に算出することができる。さらに、第１の算出ステップを実行した後に、第２の算出ステップを実行することにより、記録媒体上に任意の記録マークを記録する動作、あるいは予め記録されている記録マークを消去する動作を中断することなく、オフセット補正値を適切に算出することができる。したがって、記録媒体に記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００２５】
本発明に係るトラッキング制御方法の第５の構成は、上記第２から第４の構成において、第１の算出ステップが、記録媒体上に記録マークを記録するための光ビームスポットの光強度を決定するために予め設けられた記録媒体上の領域に光ビームスポットを移動させる移動ステップと、光ビームスポットの光強度を所定値以上に大きくする光出力ステップと、光ビームスポットを記録媒体上の任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットを測定する測定ステップと、測定ステップで測定したトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットに応じて、オフセット補正値を決定する第１のオフセット補正値決定ステップからなることを特徴とする。
【００２６】
この第５の構成によれば、移動ステップを実行した後に、光出力ステップ、測定ステップ、第１のオフセット補正値決定ステップを順次実行することにより、任意に記録マークを記録可能な領域、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な記録媒体上の領域を使用せずに、オフセット補正値を決定することができる。また、測定ステップにおいて、光ビームスポットを記録媒体上の任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットを測定するので、トラッキングエラー信号に重畳するオフセット量を高精度に測定することができる。その結果、任意に記録マークを記録可能な、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な記録媒体上の領域における記録マークの繰り返し記録回数を劣化させることなく、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を実現することができる。
【００２７】
本発明に係るトラッキング制御方法の第６の構成は、上記第２から第４の構成において、第１の算出ステップが、記録媒体上に記録マークを記録するための光ビームスポットの光強度を決定するために予め設けられた記録媒体上の領域に光ビームスポットを移動させる移動ステップと、光ビームスポットの光強度を所定値以上に大きくする光出力ステップと、光ビームスポットを記録媒体上の任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットを測定する測定ステップと、測定ステップにおいて光ビームスポットが横断したトラックの記録マークを消去する光強度で光ビームを出射させる消去光出力ステップと、測定ステップで測定したトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットに応じて、オフセット補正値を決定する第１のオフセット補正値決定ステップからなることを特徴とする。
【００２８】
この第６の構成によれば、移動ステップを実行した後に、光出力ステップ、測定ステップ、第１のオフセット補正値決定ステップを順次実行することにより、任意に記録マークを記録可能な、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な記録媒体上の領域を使用せずに、オフセット補正値を決定することができる。また、消去光出力ステップを実行することによって、オフセット補正値を算出するために使用した記録媒体上の領域を未記録領域にすることができるので、オフセット補正値算出後に任意に記録マークを記録することができる。さらに、測定ステップにおいて、光ビームスポットを記録媒体上の任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されているオフセットを測定するので、トラッキングエラー信号に重畳するオフセット量を高精度に測定することができる。その結果、任意に記録マークを記録可能な、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な記録媒体上の領域における記録マークの繰り返し記録回数を劣化させることなく、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を実現することができる。
【００２９】
本発明に係るトラッキング制御方法の第７の構成は、上記第５または第６の構成において、測定ステップにおいて、光ビームスポットを、光ビームスポットに直交する方向に交互に任意トラックを横断させて、横断しているときのトラッキングエラー信号に重畳されるオフセットを測定することを特徴とする。
【００３０】
例えば、光ビームスポットと直交する方向の任意の一方向に光ビームスポットを横断させた場合、測定ステップにおいて、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットを測定する領域は光ビームスポットを横断させたトラック数だけ必要になる。しかし、上記第７の構成によれば、測定ステップにおいて、光ビームスポットを記録媒体上の光ビームスポットに直交する方向に交互に任意トラックを横断させることにより、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットを測定する領域を小さくすることができる。したがって、記録媒体上における、トラッキングエラー信号に重畳したオフセットを測定する領域が小さい場合においても、高精度にオフセット補正値を算出することができる。
【００３１】
本発明に係るトラッキング制御方法の第８の構成は、上記第５または第６の構成において、光出力ステップにおける所定値が、記録媒体上に記録マークを形成可能な出力レベル、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な出力レベルであることを特徴とする。
【００３２】
この第８の構成によれば、光ビームスポットの光強度が記録媒体上に記録マークを形成可能な出力レベル、あるいは予め記録された記録マークを消去可能な出力レベルとなった際のトラッキングエラー信号に重畳したオフセットを測定し、オフセット補正値を算出することができるので、記録媒体に記録マークを記録する場合、あるいは予め記録された記録マークを消去する場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００３３】
本発明に係るトラッキング制御方法の第９の構成は、上記第２から第４の構成において、第２の算出ステップが、トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいてオフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなることを特徴とする。
【００３４】
この第９の構成によれば、記録媒体上の任意に記録マークを記録可能な領域、あるいは予め記録された記録マークを消去あるいは再生可能な領域において、記録マークの記録動作あるいは消去動作を中断することなく、記録媒体に記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する動作中にトラッキングエラー信号に重畳するオフセットを測定し、オフセット補正値を高精度に算出することができるので、記録媒体上に記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００３５】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１０の構成は、上記第２から第４の構成において、第２の算出ステップが、周囲温度の変化を検出する温度検出ステップと、トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいてオフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなり、温度検出ステップにおいて所定温度以上の周囲温度の変化を検出した後に、ループゲイン測定ステップを実行することを特徴とする。
【００３６】
この第１０の構成によれば、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行して算出したオフセット補正値が、周囲温度の変化により不適切な補正値に変化した場合においても、温度検出ステップにおいて温度変化を検出し、ループゲイン測定ステップ、第２のオフセット補正値決定ステップを実行することにより、オフセット補正値を適切に決定することができる。その結果、記録マークを記録する、あるいは予め記録された記録マークを消去する際に、周囲温度の変化によりトラッキングエラー信号に重畳するオフセットが変化した場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００３７】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１１の構成は、上記第２から第４の構成において、第２の算出ステップが、記録媒体に予め記録されているアドレス情報を再生し、光ビームスポットのトラック方向における位置が、算出ステップを最後に実行したアドレスから所定以上離れたことを検出するアドレス検出ステップと、トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいてオフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなり、アドレス検出ステップにおいて第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置に対して所定以上の位置ずれを検出したときに、ループゲイン測定ステップを実行することを特徴とする。
【００３８】
この第１１の構成によれば、光ビームスポットが、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置から変化したことによって、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップにより算出したオフセット補正値が変化した場合においても、アドレス検出ステップにおいて光ビームスポットが第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置から所定距離以上に変化したことを検出し、ループゲイン測定ステップ、第２のオフセット補正値決定ステップを実行することにより、オフセット補正値を適切に決定することができる。その結果、光ビームスポットが、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置から変化したことにより、記録マークを記録する際、あるいは予め記録された記録マークを消去する際にトラッキングエラー信号に重畳するオフセットが変化した場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００３９】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１２の構成は、上記第２から第４の構成において、第２の算出ステップは、光ビームスポットを光ビームスポットに直交する方向に任意の距離だけ移動させて、光ビームスポットの位置を検出する位置検出ステップと、トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定するループゲイン測定ステップと、ループゲイン測定ステップを１回あるいは複数回実行した結果に基づいてオフセット補正値を決定する第２のオフセット補正値決定ステップからなり、位置検出ステップにおいて、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置に対して所定以上の位置ずれを検出したときに、ループゲイン測定ステップを実行することを特徴とする。
【００４０】
この第１２の構成によれば、光ビームスポットが、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置から変化したことによって、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップにより算出したオフセット補正値が変化した場合においても、位置検出ステップにおいて光ビームスポットが第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置から所定距離以上に変化したことを検出し、ループゲイン測定ステップ、第２のオフセット補正値決定ステップを実行することにより、オフセット補正値を適切にすることができる。その結果、光ビームスポットが、第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行した位置から変化したことにより、記録マークを記録する際、あるいは予め記録された記録マークを消去する際にトラッキングエラー信号に重畳するオフセットが変化した場合においても、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録および消去動作を実現することができる。
【００４１】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１３の構成は、上記第１０から第１２の構成において、第２のオフセット補正値決定ステップにおいて決定されるオフセット補正値は、ループゲイン測定ステップにおいて測定したトラッキング制御のループゲインが最大になる、トラッキングエラー信号に加算したオフセットとする構成をとる。
【００４２】
光ビームスポットのトラック位置ずれ量に対するトラッキングエラー信号の検出感度は、光ビームスポットがトラックの中心位置近傍に位置するときに最大となる。したがって、光ビームスポットがトラック中心から位置ずれしたときにトラッキングエラー信号の検出感度が小さくなり、結果として、トラッキング制御のループゲインが小さくなる。そこで、上記第１３の構成によれば、トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定した結果が最大になるオフセットをオフセット補正値とするので、高精度にオフセット補正値を算出することができる。また、記録マークを記録する動作、あるいは予め記録された記録マークを消去する動作中にトラッキングエラー信号に重畳するオフセットをオフセット補正値とすることで、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００４３】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１４の構成は、上記第１０から第１２の構成において、第２のオフセット補正値決定ステップにおいて決定されるオフセット補正値は、ループゲイン測定ステップにおいて測定したトラッキング制御のループゲインを２次関数式で近似し、ループゲインの近似値が最大になる、トラッキングエラー信号に加算したオフセットとする構成をとる。
【００４４】
光ビームスポットのトラック位置ずれ量に対するトラッキングエラー信号の検出感度は、光ビームスポットがトラックの中心位置近傍に位置するときに最大になる。したがって、光ビームスポットがトラック中心から位置ずれしたときにトラッキングエラー信号検出感度が小さくなり、結果として、トラッキング制御のループゲインが小さくなる。そこで、この第１４の構成によれば、トラッキングエラー信号に任意のオフセットを加算してトラッキング制御のループゲインを測定した結果を２次関数式で近似し、トラッキングゲインの近似値が最大になる、トラッキングエラー信号に加算したオフセットをオフセット補正値とするので、トラッキングエラー信号に加算するオフセットを変化させてトラッキング制御のループゲインを測定する回数を抑制することができるとともに、高精度にオフセット補正値を算出することができる。また、記録マークを記録する動作、あるいは予め記録された記録マークを消去する動作中に、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットをオフセット補正値とすることで、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００４５】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１５の構成は、上記第２の構成において、第１の算出ステップで、光ビームスポットの光強度が変化したときにサンプルしたトラッキングエラー信号の平均値とトラッキング制御目標値との差をオフセット補正値とする構成をとる。
【００４６】
この第１５の構成によれば、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットを測定している区間において、高周波成分のオフセットが特異的に重畳した場合においても、複数個サンプルしたトラッキングエラー信号の平均値とトラッキングエラー制御目標値との差をオフセット補正値とするので、高精度にオフセット補正値を算出することができる。また、記録マークを記録する動作、あるいは予め記録された記録マークを消去する動作中に、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットをオフセット補正値とすることで、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００４７】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１６の構成は、上記第１の構成において、補正ステップで、光ビームスポットの光強度の変化開始から終了までの区間においてオフセット補正値を保持することを特徴とする。
【００４８】
この第１６の構成によれば、例えば記録媒体上に記録マークを記録する動作、あるいは予め記録された記録マークを消去する動作中に、トラッキングエラー信号にオフセットが重畳した場合においても、オフセット補正値を保持しているので、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットをオフセット補正値とすることで、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御を、さらに連続した記録または消去動作を実現することができる。
【００４９】
本発明に係るトラッキング制御方法の第１７の構成は、上記第１の構成に加えて、トラッキングエラー信号と所定の２値化スライスレベルとを比較してオフトラックを検出するオフトラック検出ステップを含み、オフセット補正値は２値化スライスレベルに加算されることを特徴とする。
【００５０】
トラッキングエラー信号にオフセットが重畳した場合に、オフセットが重畳したトラッキングエラー信号と所定の２値化スライスレベルを比較してオフトラックを検出すると、２値化されたパルス波形出力タイミングが変化する、あるいはオフセットが大きい場合には２値化されたパルス波形出力が検出できない場合も発生する。しかし、上記第１７の構成によれば、２値化スライスレベルにオフセット補正値を加算することで、トラッキングエラー信号に重畳されるオフセットに関係なく、トラッキングエラー信号レベルと２値化スライスレベルを一定に保つことができるので、安定にオフトラックが検出できる。
【００５１】
前記の目的を達成するため、本発明に係る情報記録再生装置は、第１から第１７のいずれかの構成を有するトラッキング制御方法を用いて、記録媒体に対して情報の記録あるいは再生を行うものである。
【００５２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００５３】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係るトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の一構成例を示すブロック図である。
【００５４】
図１において、記録媒体（以下、ディスクと称する）１の一例としてＤＶＤ−ＲＷディスクが装填されているものとする。レーザー駆動手段２−１は、マイクロコンピュータ（以下、μＣＯＭと略称する）１３から出力されるレーザー駆動命令（ＬＤＩ）に従って、ディスク１に再生、消去および記録に必要な光強度の光ビームを半導体レーザー２−２が出力できるように、電流量を可変して出力する。
【００５５】
レーザー駆動手段２−１からの電流出力に応じて、半導体レーザー２−２は、ディスク１に対して再生、消去および記録に必要な光強度の光ビーム、例えば波長６５０ｎｍの光ビームを照射する光源である。半導体レーザー２−２から照射された光ビーム（以下、出射光と称する）は、出射光を平行光にするためのコリメータレンズ２−３、偏向ビームスプリッタ２−４および波長板２−５を通り、対物レンズ２−６により光ビームスポットとしてディスク１に集光される。
【００５６】
ディスク１からの反射光は、再び対物レンズ２−６および波長板２−５を通り、偏向ビームスプリッタ２−４で出射光の光路から分離されて、光検出ホログラム２−７によりフォーカスエラー検出用の＋１次光（以下、フォーカスエラー検出用＋１次光と称する）とトラッキングエラー検出用の−１次光（以下、トラッキングエラー検出用−１次光と称する）に回折されて、検出レンズ２−８に導かれる。
【００５７】
検出レンズ２−８は、フォーカスエラー検出用＋１次光を＋１次光検出器２−９に、トラッキングエラー検出用−１次光を−１次光検出器２−１０にそれぞれ導く。＋１次光検出器２−９は、検出レンズ２−８からのフォーカスエラー検出用＋１次光を電気信号に変換する。＋１次光光検出器２−９の出力信号からフォーカスエラー信号を検出し、ディスク１の記録面と出射光の位置ずれを制御する、即ちフォーカス制御を行うが本説明では詳細は省略する。また、−１次光検出器２−１０は、検出レンズ２−８からのトラッキングエラー検出用−１次光を電気信号に変換して信号ＴＲ１、ＴＲ２としてトラッキングエラー検出手段３に出力する。
【００５８】
また、トラッキングコイル２−１１は、第２の加算手段６の出力信号に応じて対物レンズ２−６を駆動する。
【００５９】
以上、レーザー駆動手段、半導体レーザー２−２、コリメータレンズ２−３、偏向ビームスプリッタ２−４、波長板２−５、対物レンズ２−６、光検出ホログラム２−７、検出レンズ２−８、＋１次光検出器２−９、−１次光検出器２−１０およびトラッキングコイル２−１１は、光学ヘッドの構成要素であり、以下において構成要素のすべてを示す場合は光学ヘッド２と称する。
【００６０】
トラッキングエラー検出手段３は、信号ＴＲ１、ＴＲ２から、ディスク１に集光された出射光とディスク１のトラック位置ずれ量を以下の（式１）を用いてトラッキングエラー信号（ＴＥ）として検出し、第１の加算手段４に出力する。
【００６１】
ＴＥ＝ＴＲ１−ＴＲ２                …（式１）
なお、本実施の形態の説明では、トラッキングエラー検出方式として、プッシュプル方式を例に挙げているが、３ビーム法など既に提案され実用化されているトラッキングエラー検出方式にも適用することができる。また、上記検出方式については既に広く知られており、詳細な説明は省略する。
【００６２】
第１の加算手段４は、２入力１出力系であり、μＣＯＭ１３から出力される記録ゲート信号（ＲＥＣＧ）を制御信号として、トラッキングエラー信号ＴＥとオフセット補正値格納手段１４に格納されているオフセット補正値（ＯＣ）を加算する。μＣＯＭ１３が出力する記録ゲート信号ＲＥＣＧは、ディスク１に対して記録マークの記録動作あるいは既に記録されている記録マークへの消去動作を行う場合には論理“Ｈ”レベルとなり、それ以外の場合は論理“Ｌ”レベルとなる。第１の加算手段４は、記録ゲート信号が論理“Ｈ”レベルである区間で、トラッキングエラー信号ＴＥとオフセット補正値ＯＣを加算し、記録ゲート信号が論理“Ｌ”レベルである区間で、トラッキングエラー信号ＴＥのみをトラッキング制御手段５に信号ＡＤＤ１として出力する。なお、オフセット補正値格納手段１４については、後ほど詳細に説明する。
【００６３】
第１の加算手段４からの出力信号ＡＤＤ１は、後述するトラッキング制御ループのループゲインの測定時以外はトラッキングゲイン測定手段１１をそのまま通過して、トラッキング制御手段５に入力される（トラッキング制御ループのループゲインの測定時には、信号ＡＤＤ１’として入力される）。トラッキング制御手段５は、第１の加算手段４からの出力信号ＡＤＤ１に基づいて、ディスク１に集光された出射光をディスク１の記録面に対して垂直方向の目標位置（トラック）に位置制御するようにトラッキングコイル２−１１を駆動する出力信号（ＴＣ）を第２の加算手段６に出力する。第２の加算手段６は２入力１出力系であり、μＣＯＭ１３から出力される第１の算出ステップ実行信号（ＣＥＸＥ１）を制御信号として、トラッキング制御手段５の出力信号ＴＣとジャンプ駆動発生手段７の出力信号（ＪＤ）を加算する。なお、μＣＯＭ１３から出力される第１の算出ステップ実行信号ＣＥＸＥ１については、後ほど詳細に説明する。ジャンプ駆動発生手段７は、ディスク１に集光された出射光をディスク１のトラック方向に対して交互に横断するようにジャンプ駆動を発生するために設けられている。
【００６４】
第２の加算手段６は、トラッキング制御手段５の出力信号ＴＣ、あるいはトラッキング制御手段５の出力信号ＴＣとジャンプ駆動発生手段７の出力信号を加算した信号のいずれかを信号ＡＤＤ２としてトラッキングコイル２−１１に出力する。トラッキングコイル２−１１は、第２の加算手段６の出力信号ＡＤＤ２に応じて、集光された光ビームスポットを所望のトラック位置に制御する、あるいはトラックを横断するように制御する。
【００６５】
次に、第１の算出ステップを実行するために設けられているトラッキングエラーオフセット測定手段８、第１の算出手段９および移送台１５について説明する。
【００６６】
移送台１５は、μＣＯＭ１３からの移動命令信号（ＭＯＶＥ）に応じて、光学ヘッド２をディスク１のトラック方向の任意の位置に移動させることができる。トラッキングエラーオフセット測定手段８は、μＣＯＭ１３から出力される第１の算出ステップ実行信号ＣＥＸＥ１に基づいて、ジャンプ駆動発生手段７によりディスク１に集光された光ビームスポットがディスク１のトラックを横断しているときのトラッキングエラー信号の最大値および最小値から、トラッキングエラー信号に重畳されているオフセット値を測定する。
【００６７】
トラッキングエラーオフセット測定手段８で測定したオフセット値は、第１の算出手段９に出力される。第１の算出手段９は、オフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値とトラッキングエラーオフセット測定手段８により測定したオフセット値を加算して新たにオフセット補正値を算出し、オフセット補正値格納手段１４に設定（更新）する。
【００６８】
次に、第２の算出ステップを実行するために設けられている温度センサ１０、トラッキングゲイン測定手段１１、および第２の算出手段１２について説明する。
【００６９】
温度センサ１０は、周囲温度の上昇を検出するセンサであり、所定以上の温度上昇を検出するとμＣＯＭ１３に周囲温度が上昇したことを通知する。μＣＯＭ１３は、温度センサ１０の出力信号により周囲温度の上昇が通知されると、記録ゲート信号ＲＥＣＧが論理“Ｈ”レベルであるか否かを検出する。もしも、記録ゲート信号ＲＥＣＧが論理“Ｈ”レベルであるならば、第２の算出ステップ実行信号（ＣＥＸＥ２）を出力する。
【００７０】
続いて、μＣＯＭ１３は、オフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値を所定値だけ変化させる。次に、トラッキングゲイン測定手段１１は、トラッキング制御ループのループゲインを測定し、第２の算出手段１２に出力する。第２の算出手段１２は、トラッキングゲイン測定手段１１の出力信号を記憶する。次に、再びμＣＯＭ１３はオフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値を所定値だけ変化させる。そして、トラッキングゲイン測定手段１１は、トラッキング制御ループのループゲインを測定し、第２の算出手段１２に出力し、第２の算出手段１２は、トラッキングゲイン測定手段１１の出力を記憶する。以上の動作を繰り返して、第２の算出手段１２に記憶されたループゲインを用いて、オフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値を決定および更新する。なお、第２の算出手段１２が決定するオフセット補正値については、後ほど詳細に説明する。
【００７１】
次に、オフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値の算出方法について説明する。オフセット補正値は、ディスク１に対して記録マークの記録動作、あるいは予め記録されている記録マークの消去動作を安定に実現するために、ディスク１に対して最初の記録動作を実行する前に、第１の算出ステップを実行してオフセット補正値を算出する。その後、周囲温度の変化が発生したことを温度センサ１０が検出したときに周囲温度の変化によるオフセット変動が発生した場合においても、ディスク１に対する記録あるいは消去動作を安定に実現するために、第２の算出ステップが実行される。
【００７２】
最初に、第１の算出ステップについて、図２および図３を参照して説明する。図２は、オフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値を算出する第１の算出ステップにおける処理手順を示すフローチャートである。図３は、図１に示す構成要素の出力信号のタイムチャートである。図３において、ＬＰ（単位：ｍＷ）は半導体レーザー２−２の光ビームの光強度（ただし、対物レンズ２−６の出力での換算値）、Ｉ（ＪＤ）はジャンプ駆動発生手段７が出力する駆動電流、Ｉ（ＡＤＤ２）は第２の加算手段６が出力する駆動電流、ＴＥはトラッキングエラー検出手段３が出力するトラッキングエラー信号、ＯＣはオフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値を示す。
【００７３】
ここで、第１の算出ステップの概要について説明する。第１の算出ステップでは、ディスク１に記録マークを記録する、あるいは予め記録されていた記録マークを消去するために必要な光強度の光ビームを照射して、トラッキングエラー信号に重畳されているオフセットを測定して、オフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値を算出するものである。そこで、第１の算出ステップは、ユーザーデータを壊すことがないように、ディスク１に記録マークを記録する、あるいは予め記録されていた記録マークを消去するために必要な光強度の光ビームを照射する領域としてパワーキャリブレーション領域（ＰＣＡ）にて実行される。なお、ＤＶＤ−ＲＷディスク１におけるパワーキャリブレーション領域ＰＣＡについては、後ほど詳しく説明する。
【００７４】
なお、本実施の形態による第１の算出ステップの説明において、ディスク１が装填されてからディスク１に集光された光ビームスポットと記録面との位置決め制御、即ちフォーカス制御のループは既に閉じているものとする。また、フォーカス制御のループが閉じられた後に、ディスク１に集光された光ビームスポットとトラックとの位置決め制御、即ちトラッキング制御ループも既に閉じているものとする。ディスク１が装填されてからディスク１に集光された光ビームスポットのフォーカス制御およびトラッキング制御のループが閉じるまでの手順については既に広く知られているために説明は省略する。
【００７５】
図３の時刻ｔ０（図２に示すＳ２００）では、装置にディスク１が装填されて以下の処理（ａ）、（ｂ）が完了している状態にある。
【００７６】
（ａ）レーザー駆動手段２−１は、μＣＯＭ１３からのレーザー駆動命令ＬＤＩに従い、対物レンズ２−６の出力換算で０．７ｍＷの光強度を有する光ビーム、即ちディスク１に記録された記録マークを再生するために必要な光強度を有する光ビームを出射するように半導体レーザー２−２に駆動電流を出力する。また、半導体レーザー２−２は、レーザー駆動手段２−１からの駆動電流を入力として、対物レンズ２−６の出力換算で０．７ｍＷの光強度を有する光ビームを出射する。
【００７７】
（ｂ）半導体レーザー２−２から出射された光ビームは、ディスク１の記録面に対物レンズ２−６により集光される。また、記録面に集光された光ビームスポットは、ディスク１の記録面および任意トラックに位置決め制御されている、即ちフォーカス制御およびトラッキング制御ループは閉じている。したがって、トラッキング制御手段５は、第２の加算手段７を介してトラッキングコイル２−１１に駆動電流Ｉ（ＡＤＤ２）としてＴＲＤを出力する。
【００７８】
そこで、次に、図３の時刻ｔ１においてトラッキング制御のループを開き、ディスク１に集光された光ビームスポットをディスク１のパワーキャリブレーション領域ＰＣＡに移動させる（Ｓ２０１）。この移動時に、光ビームスポットは複数のトラックにわたって移動することになるので、トラッキングエラー信号ＴＥは、図３に示すように、最大値がＴｒｍａｘで、最小値がＴｒｍｉｎである波形となるが、これは本発明とは直接関係しない。ディスク１のパワーキャリブレーション領域ＰＣＡへの移動方法については、シーク制御として既に広く知られているために説明を省略する。
【００７９】
ここで、ディスク１（ＤＶＤ−ＲＷディスク）のパワーキャリブレーション領域ＰＣＡを説明するために、ＤＶＤ−ＲＷディスクのセクタ構造について、図４を参照して説明する。
【００８０】
図４は、ＤＶＤ−ＲＷディスクの物理セクタ配置を示す模式図である。ディスク最内周に記録マークを記録するときに、半導体レーザー２−２が出力する光ビームの光強度を調整するための領域として、パワーキャリブレーション領域ＰＣＡと記録したデータを管理する目的から配置された記録管理領域（ＲＭＡ）を備えるＲ−Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ａｒｅａが配置されている。また、Ｒ−Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ａｒｅａの外周側に、ディスク情報等が予め記録されているリードイン領域が配置されている。更に外周側に、ユーザーデータを記録するためのデータ領域が配置され、ディスク最外周に、ユーザーデータの終わりとしてリードアウト領域が配置されている。
【００８１】
再び図３に戻って、次に時刻ｔ２になると、μＣＯＭ１３は、レーザー駆動手段２−１に対して、記録マークを記録するために必要な対物レンズ２−６の出力換算で１０．０ｍＷの光ビームを半導体レーザー２−２が出射するようにレーザー駆動命令ＬＤＩを出力する。レーザー駆動手段２−１は、μＣＯＭ１３からのレーザー駆動命令ＬＤＩに応じた駆動電流を半導体レーザー２−２に出力し、半導体レーザー２−２は、対物レンズ２−６の出力換算で１０．０ｍＷの光ビームを出射する。また同時に、レーザー駆動命令ＬＤＩ１３は、記録ゲート信号ＲＥＣＧを論理“Ｈ”レベルにする（Ｓ２０２）。
【００８２】
続いて、ディスク１のパワーキャリブレーション領域ＰＣＡに位置決めされている光ビームスポットを内周方向と外周方向に交互にトラックを横断させて、トラック横断時のトラッキングエラー信号に重畳したオフセットを測定する。具体的には、μＣＯＭ１３は、内部メモリにトラッキングエラー信号に重畳されるオフセットを測定する回数（ｎ）を設定する（Ｓ２０３：本実施の形態ではｎ＝３とする）。
【００８３】
次に、時刻ｔ３になると、μＣＯＭ１３は、ジャンプ駆動発生手段７に対して、ディスク１のパワーキャリブレーション領域ＰＣＡに位置決めされている光ビームスポットがトラックを横断すべくジャンプ駆動するように、また第２の加算手段６に対して、トラッキング制御手段５の出力信号ＴＣとジャンプ駆動発生手段７の出力信号ＪＤを加算するように、第１の算出ステップ実行信号ＣＥＸＥ１を出力する。
【００８４】
第１の算出ステップ実行信号ＣＥＸＥ１に応答して、ジャンプ駆動発生手段７は、図３のＩ（ＪＤ）で示すように、ディスク１の内周方向に出射光が横断するようにジャンプ駆動信号ＪＤを発生し、第２の加算手段６を介してトラッキングコイル２−１１を駆動する。トラッキングコイル２−１１は、第２の加算手段６の出力信号ＡＤＤ２に応じて、出射光を内周方向に所定トラック数横断するように対物レンズ２−６を駆動する。トラッキングエラーオフセット測定手段８は、トラック横断時のトラッキングエラー信号ＴＥの最大値と最小値（図３に示すＴＥにおけるＴｗｍａｘとＴｗｍｉｎ）を測定し、その測定値に基づいて、トラッキングエラー信号ＴＥに重畳したオフセット（ＴＥオフセット）を算出する（Ｓ２０４）。
【００８５】
続いて、ジャンプ駆動発生手段７は、図３のＩ（ＪＤ）で示すように、ディスク１の外周方向に出射光が横断するようにジャンプ駆動信号ＪＤを発生し、第２の加算手段６を介してトラッキングコイル２−１１を駆動する。トラッキングコイル２−１１は、第２の加算手段６の出力信号ＡＤＤ２に応じて、光ビームスポットを外周方向に所定トラック数横断するように対物レンズ２−６を駆動する。トラッキングエラーオフセット測定手段８は、トラック横断時のトラッキングエラー信号の最大値と最小値（に示すＴＥにおけるＴｗｍａｘとＴｗｍｉｎ）を測定し、その測定値に基づいて、トラッキングエラー信号ＴＥに重畳したオフセット（ＴＥオフセット）を算出する（Ｓ２０５）。
【００８６】
上記ＴＥオフセットは、具体的には、トラック横断時のトラッキングエラー信号ＴＥの最大値（Ｔｗｍａｘ）と最小値（Ｔｗｍｉｎ）の中間値と、トラッキング制御の目標値（ここでは、ゼロ）との差を以下の（式２）を用いて算出される。
【００８７】
（ＴＥオフセット）＝（Ｔｗｍａｘ＋Ｔｗｍｉｎ）／２  …（式２）
このようにして算出したＴＥオフセットを第１の算出手段９内部のメモリに格納する。もしも、格納値がある場合は、格納値にオフセットを加算してそれをＴＥオフセット加算値として更新する（Ｓ２０６）。
【００８８】
次に、μＣＯＭ１３は、実際にオフセットを測定および格納した回数を１だけインクリメントして更新する（Ｓ２０７）。
【００８９】
そして、オフセットを測定した回数ｉが、予め設定した測定したい回数ｎに達したか否かを判断し（Ｓ２０８）、回数ｎに達していない場合は、上記トラッキングエラーに重畳するオフセット測定を回数ｎに達するまで繰り返し実行する（Ｓ２０４〜Ｓ２０８）。
【００９０】
時刻ｔ４になると、オフセット測定回数が予めμＣＯＭ１３により設定されたｎ回に達した後に、μＣＯＭ１３は、レーザー駆動手段２−１に対して、記録マークを再生するために必要な光強度である対物レンズ２−６の出力換算で０．７ｍＷの光強度を有する光ビームを半導体レーザー２−２が出射するようにレーザー駆動命令ＬＤＩを出力する。レーザー駆動手段２−１は、μＣＯＭ１３からのレーザー駆動命令ＬＤＩに応じた駆動電流を半導体レーザー２−２に出力する。さらに、μＣＯＭ１３は、記録ゲート信号ＲＥＣＧを論理“Ｌ”レベルにする（Ｓ２０９）。
【００９１】
時刻ｔ５になると、第１の算出手段９は、ステップＳ２０６において測定したＴＥオフセットを用いて、オフセット補正値格納手段１４に設定するオフセット補正値を以下の（式３）より算出する（ＴＥオフセット測定値平均化：Ｓ２１０）。
【００９２】
（オフセット補正値）＝−（ＴＥオフセット加算値）／ｎ  …（式３）
そして、（式３）より算出したオフセット補正値をオフセット補正値格納手段１４に設定する（Ｓ２１１）。
【００９３】
なお、本実施の形態におけるオフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値は、制御目標値がゼロであるためＴＥオフセットを加算平均した場合、以下の（式３’）で表される。
【００９４】
（オフセット補正値）＝−（Ｔｗｍａｘ＋Ｔｗｍｉｎ）／２  …（式３’）
次に、時刻ｔ６になると、μＣＯＭ１３は、ステップＳ２０２において記録マークを記録するために必要な１０．０ｍＷの光強度の光ビームを照射したトラックにおける記録マークを消去するために、消去に必要な光強度５．０ｍＷの光ビームを半導体レーザー２−２が出力するようなレーザー駆動命令ＬＤＩをレーザー駆動手段２−１に出力する（Ｓ２１２の判断でＹｅｓ）。レーザー駆動手段２−１は、μＣＯＭ１３からのレーザー駆動命令ＬＤＩに応じた駆動電流を半導体レーザー２−２に出力し、半導体レーザー２−２は、ＴＥオフセット測定領域におけるトラックに対して光強度５．０ｍＷの光ビームを照射して当該トラックにおける記録マークを消去する（Ｓ２１３）。さらに、μＣＯＭ１３は、記録ゲート信号ＲＥＣＧを論理“Ｈ”レベルにする。第１の加算手段４は、トラッキングエラー信号ＴＥに、ステップＳ２１１において算出および設定したオフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値ＯＣを加算して、消去動作中に、トラッキングエラー信号ＴＥに重畳するオフセットを補正する。
【００９５】
なお、ステップＳ２０２において消去パワー発光であった場合、ステップＳ２１２において記録パワー発光が行われる。
【００９６】
その結果、記録あるいは消去動作中においても、ディスク１に集光された光ビームスポットはトラックの中心に位置決めされる。
【００９７】
なお、ステップＳ２１３に示した消去動作（ＴＥオフセット測定領域消去）を行わなくても、本発明の効果を損なうものではない。
【００９８】
また、ディスク１の所望トラックに位置決めされた光ビームスポットが所望トラックと異なるトラックに位置ずれしたことを検出するオフトラック検出方式を採用して、図５に示す構成とすることにより、ディスク１へ記録マークを記録するとき、あるいは記録マークを消去するときにおいても、高精度にオフトラックを検出することができる。
【００９９】
図５は、図１に示したブロック図において、第１の加算手段４の出力信号ＡＤＤ１およびμＣＯＭ１３から出力されるオフトラック検出スライスレベル（ＯＦＦＴＳＬ）をオフトラック検出手段１６に供給し、オフトラック検出手段１６の出力信号を、μＣＯＭ１３に供給するように構成したものである。
【０１００】
オフトラック検出手段１６は、第１の加算手段４の出力信号ＡＤＤ１とμＣＯＭ１３から出力されるオフトラック検出スライスレベルＯＦＦＴＳＬを比較し、その大小関係を２値のパルス信号としてμＣＯＭ１３に出力する。μＣＯＭ１３は、オフトラック検出手段１６から出力されるパルス出力数、あるいは立ち上がり／立ち下がりエッジ等を計測／検出することによって、オフトラックを検出することができる。
【０１０１】
上記の構成により、記録あるいは消去動作中にトラッキングエラー信号ＴＥにオフセットが重畳した場合においても、μＣＯＭ１３から出力される記録ゲート信号ＲＥＣＧが論理“Ｈ”レベルとなり、第１の加算手段４は、トラッキングエラー信号ＴＥとオフセット補正値ＯＣを加算した信号をオフトラック検出手段１６に出力するので、記録あるいは消去動作以外の動作中と同等のオフトラック検出精度を実現することができる。
【０１０２】
続いて、第２の算出ステップの概要について、図６Ａおよび図６Ｂを参照して説明する。図６Ａは、プッシュプル法でトラッキングエラー信号ＴＥを検出した場合における、光ビームスポットの中心位置とディスク１のトラックとの位置ずれに対するトラッキングエラー信号ＴＥの関係を示す図である。
【０１０３】
プッシュプル法は、ディスク１上の案内溝で反射回折された光を−１次光検出器２−１０上にトラック中心に対して対称に配置された光検出器の２つの受光部での出力信号差として検出することによって、トラッキングエラー信号ＴＥを検出する方式である。即ち、図６Ａに示すように、光ビームスポットの中心位置とグルーブ部の中心、あるいは光ビームスポットの中心位置とランド部の中心が一致している場合は、左右対称な反射回折光分布が得られ、それ以外の場合は光強度ずれが発生するので、２つの受光部の出力信号差は、図６ＡのようにＳ字曲線となる。
【０１０４】
その結果、光ビームスポットの中心位置がグルーブ部、あるいはランド部の中心位置近傍に位置するときは、光ビームスポットの中心位置とトラックとの位置ずれ量に対するトラッキングエラー信号の検出感度は一定であるが、所定以上の位置ずれ量が発生すると、トラッキングエラー信号ＴＥの検出感度は低下するようになる。即ち、横軸をトラック位置ずれとし、縦軸をトラッキングエラー検出感度としてプロットした図６Ｂに示すような関係になる。したがって、何らかの原因で光ビームスポットの中心位置とトラック中心との位置ずれが発生すると、トラッキングエラー信号ＴＥの検出感度が低下することによりトラッキング制御のループゲインが低下する。
【０１０５】
そこで、本実施の形態における第２の算出ステップでは、オフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値を任意に変化させて記録動作中にトラッキング制御のループゲインを測定し、ループゲインの測定結果に基づいて最適なオフセット補正値を決定する。例えば、周囲温度が上昇して、あるいは光学特性が変動して、第１の算出ステップにて算出したオフセット補正値が不適切になったときに、第２の算出ステップによりオフセット補正値を適切に設定することができる。また、第２の算出ステップによれば、記録動作を中断することなく、オフセット補正値を適切に設定することもできる。
【０１０６】
そこで、第２の算出ステップの詳細について、図１に加えて、図７を参照して説明する。図７は、本実施の形態におけるオフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値を算出する第２の算出ステップにおける処理手順を示すフローチャートである。
【０１０７】
図７において、まず、μＣＯＭ１３は、温度センサ１０（図１）の出力信号により周囲温度の変化を確認する（Ｓ７０１）。温度センサ１０は、周囲温度が所定以上にまで変化したときに、μＣＯＭ１３にパルス信号を出力する。μＣＯＭ１３は、温度センサ１０からのパルス信号を検出するまで、温度センサ１０からの出力信号の確認を常時行う。
【０１０８】
続いて、温度センサ１０からパルス信号を検出した後に、μＣＯＭ１３は、ディスク１に記録マークを記録、あるいは記録マークを消去動作中であるか否かを確認する（Ｓ７０２）。もしも記録あるいは消去動作中でない場合は、記録あるいは消去動作を開始するまで確認を繰り返す（Ｓ７０２の判断でＮｏの場合）。
【０１０９】
次に、ディスク１への記録あるいは消去動作中である場合（Ｓ７０２の判断でＹｅｓの場合）、オフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値を初期値（オフセット補正値１←オフセット補正値）としてトラッキング制御のループゲインを測定し、ループゲイン測定結果をオフセット補正値１に対するループゲインＧ１として第２の算出手段１２に出力する（Ｓ７０３）。第２の算出手段１２は、ループゲイン測定結果Ｇ１を内部メモリに記憶する。
【０１１０】
その後、μＣＯＭ１３は、ディスク１に記録マークを記録、あるいは記録マークを消去動作中であるか否かを確認する（Ｓ７０４）。もしも記録あるいは消去動作中でないならば（Ｓ７０４の判断でＮｏ）、第２の算出手段１２の内部メモリに記憶させたループゲイン測定結果Ｇ１を消去して、ステップＳ７０２での処理に戻る。
【０１１１】
ここで、本実施の形態におけるトラッキング制御ループのループゲインの測定方法について、図８を参照して説明する。図８は、図１に示すトラッキングゲイン測定手段１１の内部構成を示すブロック図である。
【０１１２】
図８において、トラッキングゲイン測定手段１１は、発信器１１−１と、ゲイン演算手段１１−２と、加算器１１−３とから構成されている。発信器１１−１は、トラッキング制御ループのループゲインを測定する場合にのみ、任意の周波数および振幅を有する正弦波信号（ｄ）を加算器１１−３に出力し、加算器１１−３は、第１の加算手段からの出力信号ＡＤＤ１と加算して信号ＡＤＤ１’を出力する。
【０１１３】
ゲイン演算手段１１−２は、第１の加算手段４からの出力信号ＡＤＤ１と、発信器１１−１が加算器１１−３に正弦波信号ｄを出力している区間における加算器１１−３からの出力信号ＡＤＤ１’をそれぞれ積分して、それら積分値（図中、‖ＡＤＤ１‖、‖ＡＤＤ１’‖で表す）の比率に基づいてトラッキング制御ループのループゲインを演算して、演算結果（Ｇ）を第２の算出手段１２に出力する。なお、トラッキング制御ループのループゲインの測定方法および装置については、様々に提案および実用化されており、本実施の形態にて説明する方式でなくてもよい。
【０１１４】
再び図７に戻って、μＣＯＭ１３は、オフセット補正値を以下の（式４）で表される演算式に基づいてオフセット補正値２として変更する（Ｓ７０５）。
【０１１５】
（オフセット補正値２）＝（オフセット補正値１）＋Δ１  …（式４）
ここで、Δ１は任意に設定可能な値である。
【０１１６】
そして、再びトラッキング制御のループゲインを測定し、ループゲイン測定結果をオフセット補正値２に対するループゲインＧ２として第２の算出手段１２に出力する（Ｓ７０６）。第２の算出手段１２は、ループゲイン測定結果Ｇ２を内部メモリに記憶する。
【０１１７】
その後、μＣＯＭ１３は、ディスク１に記録マークを記録、あるいは記録マークを消去動作中であるか否かを確認する（Ｓ７０７）。もしも記録あるいは消去動作中でないならば（ステップＳ７０７の判断でＮｏ）、オフセット補正値をステップＳ７０３の実行前の値に復帰させて（Ｓ７０８）、第２の算出手段１２の内部メモリに記憶させたループゲイン測定結果Ｇ１およびＧ２を消去して、再びステップＳ２０２に戻る。
【０１１８】
次に、μＣＯＭ１３は、オフセット補正値を以下の（式５）で表される演算式に基づいてオフセット補正値３として変更する（Ｓ７０９）。
【０１１９】
（オフセット補正値３）＝（オフセット補正値１）−Δ２  …（式５）
ここで、Δ２は任意に設定可能な値である。
【０１２０】
そして、再びトラッキング制御ループのループゲインを測定し、ループゲイン測定結果をオフセット補正値３に対するループゲインＧ３として第２の算出手段１２に出力する（Ｓ７１０）。第２の算出手段１２は、ループゲイン測定結果Ｇ３を内部メモリに記憶する。
【０１２１】
その後、μＣＯＭ１３は、ディスク１に記録マークを記録、あるいは記録マークを消去動作中であるか否かを確認する（Ｓ７１１）。もしも記録あるいは消去動作中でないならば（Ｓ７１１の判断でＮｏ）、オフセット補正値をステップＳ７０３の実行前の値に復帰させて（Ｓ７０８）、第２の算出手段１２の内部メモリに記憶させたループゲイン測定結果Ｇ１、Ｇ２およびＧ３を消去して、再びステップＳ７０２に戻る。
【０１２２】
そして、第２の算出手段１２は、ステップＳ７０３、Ｓ７０５およびＳ７１０においてそれぞれ測定したトラッキング制御ループのループゲインＧ１、Ｇ２およびＧ３のうち最大のループゲインとなったオフセット補正値を算出し、オフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値を更新する（Ｓ７１２）。
【０１２３】
なお、第２の算出手段１２は、ステップＳ７０３、Ｓ７０５およびＳ７１０でのループゲイン測定時にオフセット補正値格納手段１４に設定したオフセット補正値（オフセット補正値１、オフセット補正値２、オフセット補正値３）とトラッキング制御ループゲイン（Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３）を図９に示すような最小二乗法による２次関数で近似した場合に、最大のループゲインとなったオフセット補正値を求め、オフセット補正値格納手段１４に設定されているオフセット補正値を更新してもよい。
【０１２４】
さらに、ディスク１としてＤＶＤ−ＲＷディスクを本実施の形態に用いたが、第２の算出ステップは、記録可能なディスク、例えばＣＤ−Ｒディスク、ＣＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクに対して適用しても、同様の効果が得られることは自明である。
【０１２５】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２として、例えばディスク１の溝深さがディスク１の半径方向の位置に応じて異なる場合、記録動作時に発生する電気オフセット、あるいは光軸ずれ量は一意であるが、トラッキングエラー信号に重畳するオフセットが変化した場合においても、記録動作を中断することなく、オフセット補正値をオフセット補正値格納手段１４に適切に設定することができ、出射光の中心位置を常にディスク１のトラック中心に制御することができる光ディスク装置およびトラッキング制御方法について説明する。
【０１２６】
図１０は、本発明の実施の形態２に係るトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の一構成例を示すブロック図である。本実施の形態が図１に示す実施の形態１と異なるのは、温度センサ１０に代えてアドレス検出手段１７を設けた点にある。
【０１２７】
アドレス検出手段１７は、＋１次光検出器２−９および−１次光検出器２−１０の出力信号を加算して、ディスク１に予め記録されているアドレス情報を再生するように構成されている。アドレス検出手段１７の出力信号はμＣＯＭ１３に入力される。μＣＯＭ１３は、実施の形態１で説明した第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行したアドレスを記憶しており、第１あるいは第２の算出ステップを実行したアドレスから所定以上、遠ざかったアドレスで記録あるいは消去を行う場合に第２の算出ステップを実行するように、第２の算出ステップ実行信号ＣＥＸＥ２を出力するように構成されている。なお、アドレス検出方式については、既に多くの方式が提案および実用化され、広く知られているので詳細な説明は省略する。
【０１２８】
次に、本実施の形態における第２の算出ステップについて、図１１を参照して説明する。図１１は、本実施の形態におけるオフセット補正値格納手段１４に設定されるオフセット補正値を算出する第２の算出ステップにおける処理手順を示すフローチャートである。なお、図１１に示すフローチャートと図７を参照して説明したフローチャートとの違いは、図７に示すステップＳ７０１に代えて、図１１ではステップＳ１１０１とした箇所のみである。図７では、温度センサ１０の出力信号に基づいて、μＣＯＭ１３は第２の算出ステップ実行信号ＣＥＸＥ２を出力するように構成したが、図１１では、アドレス検出手段１７の出力信号に応じて、μＣＯＭ１３は第１の算出ステップあるいは第２の算出ステップを実行および記憶したアドレスと、アドレス検出手段１７の出力信号を比較し、第１あるいは第２の算出ステップを実行したアドレスから所定以上、遠ざかったアドレスを検出した場合、記録あるいは消去動作を行うときに第２の算出ステップを実行するように第２の算出ステップ実行信号ＣＥＸＥ２を出力するように構成されている。以下、ステップＳ７０２からＳ７１２までの処理については、実施の形態１において説明したので詳細な説明は省略する。
【０１２９】
例えばディスク１の溝深さがディスク１の半径方向の位置に応じて異なる場合、記録動作時に発生する電気オフセット、あるいは光軸ずれ量は一意であるが、トラッキングエラー信号ＴＥに重畳するオフセットが変化する。しかしながら、本実施の形態によれば、ディスク１にデータを記録するときに出射光の中心位置がディスク１の半径方向に変化した場合においても、記録動作を中断することなく、オフセット補正値をオフセット補正値格納手段１４に適切に設定することができるので、光ビームスポットの中心位置は常にディスク１のトラック中心に制御することができる。
【０１３０】
なお、図１０に示す構成において、アドレス検出手段１７は、ディスク１からの反射光より再生信号を生成し、再生信号から検出したアドレス情報に基づいてディスク１における光ビームスポットの半径方向の位置を検出したが、図１２に示すように、位置センサ１８が移送台１５から位置情報を検出できるようにすることでも、同様の効果が得られる。
【０１３１】
例えば、移送台１５としてステッピングモータを使用した場合に、移送台１５は、μＣＯＭ１３からのパルス駆動出力信号に応じてディスク１の半径方向に移動する。移送台１５はエンコーダを搭載し、エンコーダからのパルス出力信号を位置センサ１８がカウントしてμＣＯＭ１３に出力することによって、移送台１５のディスク１の半径方向における位置を検出することができる。
【０１３２】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３として、図１に示すディスク１（ＤＶＤ−ＲＷディスク、あるいはＤＶＤ−Ｒディスク）を、図１３に示すようなＤＶＤ−ＲＡＭディスク１９に置き換えた場合においても、第１の算出ステップを図１４に示すフローで実行することによって、オフセット補正値をオフセット補正値格納手段１４に適切に設定することができる。
【０１３３】
図１４に示すフローチャートと図２を参照して説明したフローチャートとの違いは、図２に示すステップＳ２０１に代えて、図１４ではステップＳ１４０１とした箇所のみである。即ち、実施の形態１では、ＤＶＤ−ＲＷディスクあるいはＤＶＤ−Ｒディスク１が装填されたときに、パワーキャリブレーション領域ＰＣＡに移動するステップＳ２０１を実行していたが、本実施の形態では、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク１９にはパワーキャリブレーション領域ＰＣＡが存在しないので、ドライブテスト領域に移動して（Ｓ１４０１）、オフセット補正値格納手段１４に設定するオフセット補正値を算出するようにしたものである。
【０１３４】
ここで、ディスク１９（ＤＶＤ−ＲＡＭディスク）のドライブテスト領域を説明するために、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクのセクタ構造について、図１５を参照して説明する。
【０１３５】
図１５は、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクの物理セクタ配置を示す模式図である。図１５において、ディスク最内周に、ディスク情報等が予め記録されているリードイン領域が配置されている。更に外周側に、ユーザーデータを記録するためのデータ領域が配置され、ディスク最外周に、ユーザーデータの終わりとしてリードアウト領域が配置されている。ドライブテスト領域は、リードイン領域に配置されている。ここでは、図１５にすリードイン領域について説明する。
【０１３６】
リードイン領域は、内周側から外周側へと順に、案内溝がなくピット列によりトラックを形成するエンボス・データ・ゾーン、エンボス・データ・ゾーンとリライタブル・データ・ゾーンを結合するミラー・ゾーン、そしてドライブ・テスト・ゾーンを含む案内溝が形成されるリライタブル・データ・ゾーンから構成されている。リライタブル・データ・ゾーンは、以下の領域から構成されている。
【０１３７】
まず、ディスク・テスト・ゾーンは、ディスクの製造品質を確保するために設けられた領域であり、ディスク１９の記録再生装置はこの領域を使用することはない。また、ドライブ・テスト・ゾーンは、ディスク１９の記録再生装置が記録再生品質を確保するためにテスト記録等を任意に行うことができる領域である。その他に、ディスク・アイデンティフィケーション・ゾーンと、交替情報を記録するＤＭＡ領域（図中には、ＤＭＡ１＆ＤＭＡ２と記載）が存在し、ディスク・テスト・ゾーンとドライブ・テスト・ゾーンは、何もデータが記録されないガード・トラック・ゾーンで挟まれている。
【０１３８】
以上より、ディスク１９としてＤＶＤ−ＲＡＭディスクが装填されても、記録動作中のオフセット補正値を適切に設定することができる。その結果、記録動作中のトラッキング制御を安定に実現できるので、記録マークの信頼性を確保することができる。
【０１３９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のトラッキング制御方法によれば、出射光の光強度が変化した際に、記録媒体にデータを記録する前にトラッキングエラー信号のオフセットを補正するオフセット補正値を高精度で算出し、温度あるいは出射光のトラック位置変化によりオフセット補正値が変化した場合においても、記録または消去動作を中断することなくオフセット補正値を適切に算出し、またオフセット補正値を算出するために使用する記録媒体上の領域を小さくすることによって、高精度かつ安定性の高いトラッキング制御方法、およびかかるトラッキング制御方法が適用される情報記録再生装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係るトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の一構成例を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態１による第１の算出ステップにおける処理手順を示すフローチャート
【図３】図１に示す構成要素の出力信号のタイムチャート
【図４】ＤＶＤ−ＲＷディスクの物理セクタ配置を示す模式図
【図５】本発明の実施の形態１の変形例として、オフトラック検出方法を適用した部分構成を示すブロック図
【図６Ａ】出射光のトラック位置とトラッキングエラー信号の関係を示す模式図
【図６Ｂ】出射光のトラック位置ずれに対するトラッキングエラー信号検出感度を示すグラフ
【図７】本発明の実施の形態１による第２の算出ステップにおける処理手順を示すフローチャート
【図８】図１のトラッキングゲイン測定手段１１の内部構成を示すブロック図
【図９】本発明の実施の形態１による第２の算出ステップにおけるオフセット補正値の算出方法の変形例として、各ステップで算出および設定されたオフセット補正値とトラッキングループゲインを２次関数で近似して、オフセット補正値を更新する方法を説明するためのグラフ
【図１０】本発明の実施の形態２に係るトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の一構成例を示すブロック図
【図１１】本発明の実施の形態２による第２の算出ステップにおける処理手順を示すフローチャート
【図１２】本発明の実施の形態２に係るトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の変形例を示すブロック図
【図１３】本発明の実施の形態３に係るトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の一構成例を示すブロック図
【図１４】本発明の実施の形態３による第１の算出ステップにおける処理手順を示すフローチャート
【図１５】ＤＶＤ−ＲＡＭディスクの物理セクタ配置を示す模式図
【図１６】従来のトラッキング制御方法が適用される光ディスク装置の電気回路構成を示すブロック図
【図１７】従来のトラッキング制御方法における処理手順を示すフローチャート
【符号の説明】
１  記録媒体（ＤＶＤ−ＲＷディスク）
２−１  レーザー駆動手段
２−２  半導体レーザー
２−３  コリメータレンズ
２−４  偏向ビームスプリッタ
２−５  波長板
２−６  対物レンズ
２−７  光検出ホログラム
２−８  検出レンズ
２−９  ＋１次光検出器
２−１０  −１次光検出器
２−１１  トラッキングコイル
３  トラッキングエラー検出手段
４  第１の加算手段
５  トラッキング制御手段
６  第２の加算手段
７  ジャンプ駆動発生手段
８  トラッキングエラーオフセット検出手段
９  第１の算出手段
１０  温度センサ
１１  トラッキングゲイン測定手段
１２  第２の算出手段
１３  マイクロコンピュータ（μＣＯＭ）
１４  オフセット補正値格納手段
１５  移送台
１６  オフトラック検出手段
１７  アドレス検出手段
１８  位置センサ
１９  記録媒体（ＤＶＤ−ＲＡＭディスク）
２０  ＡＤ変換器
２１  補正量算出部
２２  補正量操作部
２３  発光パワー検出部
２４  第１の加算回路
２５  乗算手段
２６  オフトラック検出手段
２７  位相補償器（ＰＩＤ）
２８  第２の加算回路
【図１】
2004280950.tif 000003
【図２】
2004280950.tif 000004
【図３】
2004280950.tif 000005
【図４】
2004280950.tif 000006
【図５】
2004280950.tif 000007
【図６Ａ】
2004280950.tif 000008
【図６Ｂ】
2004280950.tif 000009
【図７】
2004280950.tif 000010
【図８】
2004280950.tif 000011
【図９】
2004280950.tif 000012
【図１０】
2004280950.tif 000013
【図１１】
2004280950.tif 000014
【図１２】
2004280950.tif 000015
【図１３】
2004280950.tif 000016
【図１４】
2004280950.tif 000017
【図１５】
2004280950.tif 000018
【図１６】
2004280950.tif 000019
【図１７】
2004280950.tif 000020