(57)【要約】【課題】再生信号からタンジェンシャルスキューを検出する。【解決手段】Ａ／Ｄ変換部７１でデジタル信号に変換され、レジスタ７２に供給された信号の最上位ビットが、ＭＳＢ抽出部７３により抽出されて、ｎビット列保持部７４に供給される。比較部７６は、検出ビット列保存部７５に保存されている所定のピットパターンに対応したビット列と、ｎビット列保持部７４のビット列とを比較して同一であった場合、レジスタ７７および７８に、入力された信号を出力させる。レジスタ７７および７８には、レジスタ７２に所定のピットパターンの信号が保持されている場合の長周期ピットの立ち上がりおよび立ち下がりエッジに近い位置に対応する２箇所の出力信号がそれぞれ供給されている。差動演算部７９は、供給された所定の２箇所の信号の差を演算して、タンジェンシャルスキュー検出値αとして出力する。本発明は、光ディスク再生装置に適用できる。【選択図】      図６
2004280914.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
装着された光ディスクに記録された情報を再生可能な光ディスク再生装置において、
前記光ディスクに記録された信号を再生する再生手段と、
前記再生手段により再生された再生信号を用いて、前記再生手段に対する前記光ディスクの傾きを検出し、前記光ディスクの傾きを示す値を出力する第１の検出手段と
を備え、
前記第１の検出手段は、前記光ディスクにより記録されているピットパターンが複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンである場合の前記再生信号を用いて、前記再生手段に対する前記光ディスクの傾きを検出する
ことを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項２】
第１の検出手段により検出された前記光ディスクの傾きを示す値を基に、前記再生手段により再生された前記再生信号を波形等化する波形等化手段
を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
【請求項３】
前記第１の検出手段は、
前記光ディスクにより記録されている第１のピットパターンが、所定の長さのピットを含む複数のピット長の組合せによる第２のピットパターンであることを検出する第２の検出手段と、
前記第２の検出手段より、前記第１のピットパターンが、前記第２のピットパターンであることが検出された場合、前記第１のピットパターンのうち、前記所定の長さのピットに対応する部分に含まれる２つの特定位置の前記再生信号を抽出する第１の抽出手段と、
前記第１の抽出手段により抽出された２つの前記特定位置の前記再生信号の差を演算する演算手段と
を備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
【請求項４】
１チャネルクロック周期をＴとして、前記光ディスクに記録されている信号のうち最も長い信号をｍＴとし、前記再生手段による前記光ディスクの再生に用いられるレーザ光の光スポット径の１／２以上の長さである信号をｎＴとした場合、前記第２のピットパターンは、ｎＴ−ｎＴ−ｍＴ−ｎＴ−ｎＴで示されるピットパターンである
ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク再生装置。
【請求項５】
前記第１の検出手段は、
前記第２のピットパターンに対応する第１のビット列を記憶する記憶手段と、
前記再生手段により再生された再生信号をデジタル信号に変換する変換手段と、
前記変換手段によりデジタル信号に変換された前記再生信号を所定のビット数だけ保持する第１の保持手段と、
前記第１の保持手段により保持された前記再生信号の最上位ビットを抽出する第２の抽出手段と、
前記第２の抽出手段により抽出された前記最上位ビットからなる所定のビット数の第２のビット列を保持する第２の保持手段と
を更に備え、
前記第２の検出手段は、前記記憶手段に記憶されている前記第１のビット列と、前記第２の保持手段に保持されている前記第２のビット列とを比較することにより、前記第１のピットパターンが、前記第２のピットパターンと等しいことを検出する
ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク再生装置。
【請求項６】
前記第１の検出手段により検出された前記光ディスクの傾きを示す値を基に、前記再生手段により再生された前記再生信号を波形等化する波形等化手段
を更に備え、
前記波形等化手段は、前記第１の保持手段により保持された前記再生信号を用いて前記再生信号を波形等化する
ことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク再生装置。
【請求項７】
前記第１の検出手段は、
前記変換手段によりデジタル信号に変換された前記再生信号の高域成分を増幅する増幅手段
を更に備えることを特徴とする請求項５に記載の光ディスク再生装置。
【請求項８】
前記第１の検出手段は、
前記第２のピットパターンに対応する第１のビット列を記憶する記憶手段と、
前記再生手段により再生された再生信号をデジタル信号に変換する変換手段と、
前記変換手段によりデジタル信号に変換された前記再生信号の高域成分を増幅する増幅手段と、
前記増幅手段により高域成分が増幅された前記再生信号の最上位ビットを抽出する抽出手段と、
前記抽出手段により抽出された前記最上位ビットを所定のビット数だけ保持する第１の保持手段と、
前記第１の保持手段により保持された所定のビット数の前記最上位ビットからなる第２のビット列を保持する第２の保持手段と
を更に備え、
前記第２の検出手段は、前記記憶手段に記憶されている前記第１のビット列と、前記第２の保持手段に保持されている前記第２のビット列とを比較することにより、前記第１のピットパターンが、前記第２のピットパターンと等しいことを検出する
ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク再生装置。
【請求項９】
装着された光ディスクに記録された情報を再生可能な光ディスク再生装置の光ディスク再生方法において、
前記光ディスクの再生信号を取得する取得ステップと、
前記取得ステップの処理により取得された前記再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであるか否かを判断する判断ステップと、
前記判断ステップの処理により、前記再生信号のピットパターンが、前記所定のピットパターンであると判断された場合、前記所定のピットパターンの前記再生信号を用いて、前記光ディスクの傾きを検出する検出ステップと
を含むことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項１０】
光ディスク再生装置に装着された光ディスクのスキューを検出するスキュー検出装置において、
前記光ディスクの再生信号を取得して、前記光ディスクにより記録されている第１のピットパターンが、所定の長さのピットを含む複数のピット長の組合せによる第２のピットパターンであることを検出する検出手段と、
前記検出手段より、前記第１のピットパターンが、前記第２のピットパターンであることが検出された場合、前記第１のピットパターンのうち、前記所定の長さのピットに対応する部分に含まれる２つの特定位置の前記再生信号を抽出する第１の抽出手段と、
前記第１の抽出手段により抽出された２つの前記特定位置の前記再生信号の差を演算する演算手段と
を備えることを特徴とするスキュー検出装置。
【請求項１１】
１チャネルクロック周期をＴとして、前記再生信号のうち、最も長い信号をｍＴとし、前記再生信号を得るために用いられるレーザ光の光スポット径の１／２以上の長さである信号をｎＴとした場合、前記第２のピットパターンは、ｎＴ−ｎＴ−ｍＴ−ｎＴ−ｎＴで示されるピットパターンである
ことを特徴とする請求項１０に記載のスキュー検出装置。
【請求項１２】
前記第２のピットパターンに対応する第１のビット列を記憶する記憶手段と、
前記再生手段により再生された再生信号をデジタル信号に変換する変換手段と、
前記変換手段によりデジタル信号に変換された前記再生信号を所定のビット数だけ保持する第１の保持手段と、
前記第１の保持手段により保持された前記再生信号の最上位ビットを抽出する第２の抽出手段と、
前記第２の抽出手段により抽出された前記最上位ビットからなる所定のビット数の第２のビット列を保持する第２の保持手段と
を更に備え、
前記検出手段は、前記記憶手段に記憶されている前記第１のビット列と、前記第２の保持手段に保持されている前記第２のビット列とを比較することにより、前記第１のピットパターンが、前記第２のピットパターンと等しいことを検出する
ことを特徴とする請求項１０に記載のスキュー検出装置。
【請求項１３】
光ディスク再生装置に装着された光ディスクのスキューを検出するスキュー検出装置のスキュー検出方法において、
前記光ディスクの再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであるか否かを判断する判断ステップと、
前記判断ステップの処理により、前記再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであると判断された場合、前記所定のピットパターンの前記再生信号を用いて、前記光ディスクの傾きを検出する検出ステップと
を含むことを特徴とするスキュー検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク再生装置および光ディスク再生方法、並びに、スキュー検出装置およびスキュー検出方法に関し、特に、スキューセンサを用いることなくタンジェンシャルスキューを精度よく検出することができる、光ディスク再生装置および光ディスク再生方法、並びに、スキュー検出装置およびスキュー検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
装着された光ディスクが傾いている（スキューしている）ために発生する再生信号の歪みを防ぐために、例えば、製造時に光学ピックアップ部の取り付けの傾きが調整される。しかしながら、特に、タンジェンシャル方向の傾きに対して、製造時における角度の調整が困難で、調整のために製造コストが増加してしまうような場合、または、製造時に取り付け角度が調整されている場合であっても、例えば、回転中のディスクのばたつきによるタンジェンシャルスキューの変動や、ラジアルスキュー機構が動作している時のがたなどで生じるタンジェンシャルスキューのずれを補正する必要がある場合などにおいては、信号再生時に、光ディスクの傾きが検出され、その検出値を基に、タンジェンシャルスキューが補正されるようになされている。
【０００３】
従来、光ディスク再生装置において、装着された光ディスクの傾きを検出するためには、スキューセンサが用いられていた。
【０００４】
図１を用いて、スキューセンサを用いて光ディスクの傾きを検出するようになされている光ディスク再生装置について説明する。
【０００５】
図示しないスピンドルモータにより回転駆動される光ディスク１に記録されている情報は、光学ピックアップ部２によって読み取られる。
【０００６】
レーザダイオード１１から出射されたレーザ光は、グレーティング１２によって複数のビームに分割された後、ビームスプリッタ１３に入射して、コリメータレンズ１４を介して、対物レンズ１５により、光ディスク１の記録面に集光される。光ディスク１による反射光は、対物レンズ１５、コリメータレンズ１４、ビームスプリッタ１３およびマルチレンズ１６を介して、光検出部（Ｐｈｏｔｏ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）１７に入射する。
【０００７】
光検出部１７は、入射された光を電気信号に変換し、ＲＦ信号処理部１８に供給する。ＲＦ信号処理部１８は、光検出部１７から供給された、光ディスク１からの読み出し信号について所要の処理を施すことで、例えば、再生データとしてのＲＦ信号、並びに、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を生成する。ＲＦ信号処理部１８は、ＲＦ信号をＲＦアンプ３に供給し、フォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号をサーボマトリクスアンプ４に供給する。
【０００８】
サーボマトリクスアンプ４は、供給されたフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を増幅して、ピックアップ制御部７に供給する。
【０００９】
ＲＦアンプ３は、供給されたＲＦ信号を増幅して、イコライザ５に供給する。イコライザ５は、供給された信号の特定の周波数成分を増幅したり、または、不要な周波数成分をカットして、復号処理部６に供給する。復号処理部６は、供給された信号を、光ディスク１に記録されている情報の、所定の記録方式に基づいて復号し、復号された情報を出力する。
【００１０】
光ディスク１と光学ピックアップ部２との間に、タンジェンシャルスキューが生じている場合、光学ピックアップ部２から光ディスク１に対して照射されるビームの読み取りスポットにコマ収差が発生し、読み取りスポットの中心強度が低下する。同時に、一次回折リングの強度が増加し、スポットサイズが大きくなってしまう。このため、再生信号のクロストーク成分が増加してしまう。
【００１１】
スキューセンサ１９は、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）１９−１により発光され、光ディスク１によって反射された光を、レンズ１９−２により受光し、その受光位置の偏りにより、光ディスク１と光学ピックアップ部２との傾きであるタンジェンシャルスキューを検出する。
【００１２】
ピックアップ制御部７は、光学ピックアップ部２のスキューセンサ１９より、タンジェンシャルスキュー検出値αの入力を受ける。
【００１３】
ピックアップ制御部７は、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を基に、光学ピックアップ部２に対して、フォーカス制御およびトラッキング制御を実行するとともに、タンジェンシャルスキュー検出値αを基に、例えば、光学ピックアップ部２の光ディスク１に対する角度を制御することなどにより、タンジェンシャルスキューの補正を行う。また、ピックアップ制御部７は、光学ピックアップ部２に対して、ラジアルスキューも補正する。
【００１４】
また、図１のように、スキューセンサ１９を用いてタンジェンシャルスキューを検出する以外にも、検出信号の歪みが、タンジェンシャルスキュー量に略比例することから、ＲＦ信号の振幅および位相特性の劣化、いわゆる、アイパターンの劣化を基に、所定の２点のサンプリング点の差動演算により、光ディスクの傾きを検出することができる技術がある（例えば、特許文献１参照）。
【００１５】
【特許文献１】
特開平８−２７３１８１号公報
【００１６】
検出されたタンジェンシャルスキューの補正は、例えば、光学ピックアップ部２のコリメータレンズ１４の並進、あるいは、角度の変更（回転）を行うことなどにより実行される。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
スキューセンサ１９を用いてタンジェンシャルスキューを検出する場合、スキューセンサ１９の取付け位置精度が、タンジェンシャルスキューの検出精度に大きくかかわるため、光ディスク再生装置の組立てコストのコストアップの原因となっていた。また、光学ピックアップ部２の内部に、スキューセンサ１９を設ける必要があるため、光学ピックアップ部２および光ディスク再生装置の小型化が困難となる要因となっていた。
【００１８】
一方、検出信号の歪みによるアイパターンの劣化を基に、光ディスクの傾きを検出する場合、タンジェンシャルスキューを正しく検出するためには、信号の歪みがない状態における信号波形と、タンジェンシャルスキューにより発生した信号の歪みとを比較しなければならない。このため、タンジェンシャルスキューの検出は、検出信号に歪みを発生する部分と、歪みを発生しない部分が同時に発生するような、長周期ピット再生信号部分において実行される。
【００１９】
具体的には、長周期ピット再生信号部分において、図２に示されるように、スポット３１がピット再生信号部分であり、一次回折リング３２がピット再生部分から離れている場合における検出信号と、図３に示されるように、スポット３１および一次回折リング３２が、いずれもピット再生信号部分である場合における検出信号との関係は、図４に示される検出信号位置ａと、検出信号位置ｂとに対応する。すなわち、検出信号位置ｂにおいては、一次回折リング３２がピット再生信号部分に発生するため、検出信号のレベルが変動してしまう。したがって、図４に示される検出信号位置ａと、検出信号位置ｂとの信号レベルの差は、タンジェンシャルスキューの大きさに比例して大きくなる。
【００２０】
しかしながら、長周期ピット再生信号の信号レベルは一定ではないため、検出信号値も、一定の値を取るものではない。特に、サンプリングの２点は、それぞれ、ピットエッジに近いため、その前後の信号ピットの符号間干渉の影響を受ける。タンジェンシャルスキューが発生している場合、符号間干渉の影響は、更に大きくなる。
【００２１】
更に、タンジェンシャルスキューの補正は、タンジェンシャルスキュー検出値を基に、例えば、光学ピックアップ部２のコリメータレンズ１４の並進、あるいは、光学ピックアップ部２の角度の変更（回転）を行うことなどにより実行されており、これらの並進、あるいは回転のための駆動機構が必要となっていたため、装置の小型化の妨げとなり、コストアップの原因となっていた。
【００２２】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、タンジェンシャルスキューを精度よく検出することができるようにするものである。
【００２３】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ディスク再生装置は、光ディスクに記録された信号を再生する再生手段と、再生手段により再生された再生信号を用いて、再生手段に対する光ディスクの傾きを検出し、光ディスクの傾きを示す値を出力する第１の検出手段とを備え、第１の検出手段は、光ディスクにより記録されているピットパターンが複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンである場合の再生信号を用いて、再生手段に対する光ディスクの傾きを検出することを特徴とする。
【００２４】
第１の検出手段により検出された光ディスクの傾きを示す値を基に、再生手段により再生された再生信号を波形等化する波形等化手段を更に備えさせるようにすることができる。
【００２５】
第１の検出手段には、光ディスクにより記録されている第１のピットパターンが、所定の長さのピットを含む複数のピット長の組合せによる第２のピットパターンであることを検出する第２の検出手段と、第２の検出手段より、第１のピットパターンが、第２のピットパターンであることが検出された場合、第１のピットパターンのうち、所定の長さのピットに対応する部分に含まれる２つの特定位置の再生信号を抽出する第１の抽出手段と、第１の抽出手段により抽出された２つの特定位置の再生信号の差を演算する演算手段とを備えさせるようにすることができる。
【００２６】
１チャネルクロック周期をＴとして、光ディスクに記録されている信号のうち最も長い信号をｍＴとし、再生手段による光ディスクの再生に用いられるレーザ光の光スポット径の１／２以上の長さである信号をｎＴとした場合、第２のピットパターンは、ｎＴ−ｎＴ−ｍＴ−ｎＴ−ｎＴで示されるピットパターンであるものとすることができる。
【００２７】
第１の検出手段には、第２のピットパターンに対応する第１のビット列を記憶する記憶手段と、再生手段により再生された再生信号をデジタル信号に変換する変換手段と、変換手段によりデジタル信号に変換された再生信号を所定のビット数だけ保持する第１の保持手段と、第１の保持手段により保持された再生信号の最上位ビットを抽出する第２の抽出手段と、第２の抽出手段により抽出された最上位ビットからなる所定のビット数の第２のビット列を保持する第２の保持手段とを更に備えさせるようにすることができ、第２の検出手段には、記憶手段に記憶されている第１のビット列と、第２の保持手段に保持されている第２のビット列とを比較することにより、第１のピットパターンが、第２のピットパターンと等しいことを検出させるようにすることができる。
【００２８】
第１の検出手段により検出された光ディスクの傾きを示す値を基に、再生手段により再生された再生信号を波形等化する波形等化手段を更に備えさせるようにすることができ、波形等化手段には、第１の保持手段により保持された再生信号を用いて再生信号を波形等化させるようにすることができる。
【００２９】
第１の検出手段には、変換手段によりデジタル信号に変換された再生信号の高域成分を増幅する増幅手段を更に備えさせるようにすることができる。
【００３０】
第１の検出手段には、第２のピットパターンに対応する第１のビット列を記憶する記憶手段と、再生手段により再生された再生信号をデジタル信号に変換する変換手段と、変換手段によりデジタル信号に変換された再生信号の高域成分を増幅する増幅手段と、増幅手段により高域成分が増幅された再生信号の最上位ビットを抽出する抽出手段と、抽出手段により抽出された最上位ビットを所定のビット数だけ保持する第１の保持手段と、第１の保持手段により保持された所定のビット数の最上位ビットからなる第２のビット列を保持する第２の保持手段とを更に備えさせるようにすることができ、第２の検出手段には、記憶手段に記憶されている第１のビット列と、第２の保持手段に保持されている第２のビット列とを比較することにより、第１のピットパターンが、第２のピットパターンと等しいことを検出させるようにすることができる。
【００３１】
本発明の光ディスク再生方法は、光ディスクの再生信号を取得する取得ステップと、取得ステップの処理により取得された再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであるか否かを判断する判断ステップと、判断ステップの処理により、再生信号のピットパターンが、所定のピットパターンであると判断された場合、所定のピットパターンの再生信号を用いて、光ディスクの傾きを検出する検出ステップとを含むことを特徴とする。
【００３２】
本発明の光ディスク再生装置および光ディスク再生方法においては、光ディスクに記録された信号が再生され、再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであるか否かが判断され、再生信号のピットパターンが、所定のピットパターンであると判断された場合、所定のピットパターンの再生信号を用いて、光ディスクの傾きが検出される。
【００３３】
本発明のスキュー検出装置は、光ディスクの再生信号を取得して、光ディスクにより記録されている第１のピットパターンが、所定の長さのピットを含む複数のピット長の組合せによる第２のピットパターンであることを検出する検出手段と、検出手段より、第１のピットパターンが、第２のピットパターンであることが検出された場合、第１のピットパターンのうち、所定の長さのピットに対応する部分に含まれる２つの特定位置の再生信号を抽出する第１の抽出手段と、第１の抽出手段により抽出された２つの特定位置の再生信号の差を演算する演算手段とを備えることを特徴とする。
【００３４】
１チャネルクロック周期をＴとして、再生信号のうち、最も長い信号をｍＴとし、再生信号を得るために用いられるレーザ光の光スポット径の１／２以上の長さである信号をｎＴとした場合、第２のピットパターンは、ｎＴ−ｎＴ−ｍＴ−ｎＴ−ｎＴで示されるピットパターンであるものとすることができる。
【００３５】
第２のピットパターンに対応する第１のビット列を記憶する記憶手段と、再生手段により再生された再生信号をデジタル信号に変換する変換手段と、変換手段によりデジタル信号に変換された再生信号を所定のビット数だけ保持する第１の保持手段と、第１の保持手段により保持された再生信号の最上位ビットを抽出する第２の抽出手段と、第２の抽出手段により抽出された最上位ビットからなる所定のビット数の第２のビット列を保持する第２の保持手段とを更に備えさせるようにすることができ、検出手段には、記憶手段に記憶されている第１のビット列と、第２の保持手段に保持されている第２のビット列とを比較することにより、第１のピットパターンが、第２のピットパターンと等しいことを検出させるようにすることができる。
【００３６】
本発明のスキュー検出方法は、光ディスクの再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであるか否かを判断する判断ステップと、判断ステップの処理により、再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであると判断された場合、所定のピットパターンの再生信号を用いて、光ディスクの傾きを検出する検出ステップとを含むことを特徴とする。
【００３７】
本発明のスキュー検出装置およびスキュー検出方法においては、光ディスクの再生信号のピットパターンが、所定の長さのピットを含む複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであるか否かが判断され、再生信号のピットパターンが、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンであると判断された場合、所定の長さのピットに対応する部分に含まれる２つの特定位置の再生信号が抽出され、抽出された２つの特定位置の再生信号の差が演算されて、光ディスクの傾きが検出される。
【００３８】
【発明の実施の形態】
以下、図を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
【００３９】
図５は、本発明を適用した、第１の実施の形態における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【００４０】
なお、従来の場合と対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【００４１】
すなわち、本発明を適用した光ディスク再生装置は、光学ピックアップ部２に代わって、光学ピックアップ部５１が設けられ、新たに、タンジェンシャルスキュー検出部５２、制御部５３、および、ドライブ５４が設けられている他は、図１を用いて説明した光ディスク再生装置と、同様の構成を有するものである。また、図５の光学ピックアップ部５１は、スキューセンサ１９が省略されている他は、図１の光学ピックアップ部２と同様の構成を有するものである。
【００４２】
上述したように、従来から、長周期ピットの再生信号の信号レベルを用いて、所定の２点のサンプリング点の差動演算により、光ディスクの傾きを検出することができるようになされてきた。しかしながら、長周期ピット再生信号の信号レベルは一定ではないため、検出信号値も、一定の値を取るものではない。特に、サンプリングの２点は、それぞれ、ピットエッジに近いため、その前後の信号ピットの符号間干渉の影響を受ける。タンジェンシャルスキューが発生している場合、符号間干渉の影響は、更に大きくなる。
【００４３】
この問題を解決するため、タンジェンシャルスキュー検出部５２においては、長周期ピットと、その前後の数ピットのパターンの組合せを限定して、対応するピットパターンにおける再生信号の信号レベルのみを用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようにすることにより、ピットエッジにおける前後の信号ピットの符号間干渉の影響による誤検出を防ぐようにすることができる。
【００４４】
図５の光ディスク再生装置においては、最も長い周期の長周期ピットが１４Ｔであり、４Ｔがスポット３１のスポット径の１／２以上である場合、長周期ピット１４Ｔに対して、その前後のピットパターンを４Ｔ−４Ｔに固定して、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するものとする。
【００４５】
図５の光ディスク再生装置の動作について説明する。
【００４６】
図示しないスピンドルモータにより回転駆動される光ディスク１に記録されている情報は、光学ピックアップ部５１によって読み取られる。
【００４７】
レーザダイオード１１から出射されたレーザ光は、グレーティング１２によって複数のビームに分割された後、ビームスプリッタ１３に入射して、コリメータレンズ１４を介して、対物レンズ１５により、光ディスク１の記録面に集光される。光ディスク１による反射光は、対物レンズ１５、コリメータレンズ１４、ビームスプリッタ１３およびマルチレンズ１６を介して、光検出部１７に入射する。
【００４８】
光検出部１７は、入射された光を電気信号に変換し、ＲＦ信号処理部１８に供給する。ＲＦ信号処理部１８は、光検出部１７から供給された、光ディスク１からの読み出し信号について所要の処理を施すことで、例えば、再生データとしてのＲＦ信号、並びに、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を生成する。ＲＦ信号処理部１８は、ＲＦ信号をＲＦアンプ３に供給し、フォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号をサーボマトリクスアンプ４に供給する。
【００４９】
サーボマトリクスアンプ４は、供給されたフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を増幅して、ピックアップ制御部７に供給する。
【００５０】
ＲＦアンプ３は、供給されたＲＦ信号を増幅して、タンジェンシャルスキュー検出部５２、および、イコライザ５に供給する。イコライザ５は、供給された信号の特定の周波数成分を増幅したり、または、不要な周波数成分をカットして、復号処理部６に供給する。復号処理部６は、供給された信号を、光ディスク１に記録されている情報の、所定の記録方式に基づいて復号し、復号された情報を出力する。
【００５１】
制御部５３は、タンジェンシャルスキュー検出部５２の動作を制御する。
【００５２】
また、制御部５３には、必要に応じて、ドライブ５４が接続され、磁気ディスク６１、光ディスク６２、光磁気ディスク６３、もしくは、半導体メモリ６４などが適宜装着され、それらから読み出されたコンピュータプログラムが、必要に応じて制御部５３にインストールされる。
【００５３】
図６は、タンジェンシャルスキュー検出部５２の構成を示すブロック図である。
【００５４】
タンジェンシャルスキュー検出部５２に供給されたＲＦ信号は、Ａ／Ｄ変換部７１に供給される。Ａ／Ｄ変換部７１は、ｍビットの分解能で、供給されたアナログのＲＦ信号を、デジタル信号に変換し、レジスタ７２−１に供給する。
【００５５】
レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎは、例えば、Ａ／Ｄ変換部７１の分解能ｍと同一の数のＤフリップフロップなどの遅延回路により、それぞれ構成され、図示しないクロック信号発生部から、同一のクロックの供給を受ける。レジスタ７２−１に供給されたｍビットのＲＦ信号は、次のクロックで、レジスタ７２−２に供給され、次のクロックで、レジスタ７２−３に供給される。すなわち、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎで、シフトレジスタが構成される。
【００５６】
前後の信号ピットの符号間干渉の影響を受けないで、タンジェンシャルスキューの検出を実行するため、タンジェンシャルスキュー検出部５２においては、長周期ピットと、前後の数ピットのパターンの組合せを限定して、対応するピットパターンにおける再生信号の信号レベルを用いるようにすることにより、ピットエッジにおける前後の信号ピットの符号間干渉の影響を考慮して、タンジェンシャルスキューの検出が行われるようになされている。
【００５７】
タンジェンシャルスキュー検出部５２が、長周期ピットが１４Ｔであり、その前後のピットパターンを４Ｔ−４Ｔに固定して、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、そのピットパターンを保持することができるように、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−３２が設けられる（ｎ＝３２）。
【００５８】
レジスタ７７およびレジスタ７８には、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎの出力信号のうち、タンジェンシャルスキューの検出に用いられる２箇所の出力信号がそれぞれ供給される。
【００５９】
タンジェンシャルスキュー検出部５２において、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、検出に用いられる２箇所のレジスタの出力信号は、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンが供給されたとき長周期ピットである１４Ｔに含まれる位置である必要があり、１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジに近い位置であると好適である。したがって、図５のタンジェンシャルスキュー検出部５２においては、レジスタ７２−１１の８ビットの出力信号が、レジスタ７７に供給され、レジスタ７２−２２の８ビットの出力信号が、レジスタ７８に供給されるようにすれば良い。
【００６０】
なお、タンジェンシャルスキュー検出部５２が、他のピットパターンの再生信号を用いてタンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給される信号の位置は、そのピットパターンに応じて異なるものとなることは言うまでもない。
【００６１】
ＭＳＢ（Ｍｏｓｔ  Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ  Ｂｉｔ：最上位ビット）抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−ｎは、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎと、同数設けられる。すなわち、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−３２が設けられている場合、ＭＳＢ抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−３２が設けられる。ＭＳＢ抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−ｎは、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎの最上位ビットを抽出し、ｎビット列保持部７４に供給する。
【００６２】
検出ビット列保存部７５には、ピットパターン４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応して、予め定められたビット列が保存されている。比較部７６は、検出ビット列保存部７５に保存されている、予め定められているビット列と、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列とを比較し、これら２つのビット列が同一である場合、レジスタ７７、および、レジスタ７８に、入力信号の出力トリガ信号を供給する。レジスタ７７、および、レジスタ７８は、比較部７６から、入力信号の出力トリガ信号が供給された場合にのみ、供給された８ビットのレベル信号を差動演算部７９に供給する。
【００６３】
すなわち、レジスタ７７、および、レジスタ７８は、予め定められている、ピットパターン４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応するＲＦ信号が、レジスタ７２−１乃至７２−ｎに保持されている場合の長周期ピット１４Ｔに含まれ、かつ、長周期ピット１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ付近の２箇所の信号レベルを、差動演算部７９に供給する。
【００６４】
差動演算部７９は、長周期ピットの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ付近の２箇所の信号レベルの供給を受け、その差を演算して、タンジェンシャルスキュー検出値αとして出力する。
【００６５】
このようにして、タンジェンシャルスキュー検出部５２により検出されるタンジェンシャルスキュー検出値αは、図４を用いて説明した、タンジェンシャルスキュー発生時の信号波形の歪の大きさと正比例する値である。
【００６６】
図５の説明に戻る。
【００６７】
ピックアップ制御部７は、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を基に、光学ピックアップ部５１に対するフォーカス制御およびトラッキング制御を実行するとともに、タンジェンシャルスキュー検出部５２により検出されるジェンシャルスキュー検出値αを基に、例えば、光学ピックアップ部５１の光ディスク１に対する角度を制御することなどにより、タンジェンシャルスキューの補正を行う。また、ピックアップ制御部７は、光学ピックアップ部５１に対して、従来と同様の方法で、ラジアルスキューを補正することができるようにしても良い。
【００６８】
このような構成にすることにより、スキューセンサ１９を用いることなく、タンジェンシャルスキューを検出し、ピックアップ制御部７の処理により、タンジェンシャルスキューの補正を行うようにすることができる。
【００６９】
次に、図７のフローチャートを参照して、第１の実施の形態におけるスキュー補正処理１について説明する。
【００７０】
ステップＳ１において、図８を用いて後述するタンジェンシャルスキュー検出処理１が実行される。
【００７１】
ステップＳ２において、ピックアップ制御部７は、スキュー出力を基に、光学ピックアップを制御して、タンジェンシャルスキューを補正し、処理が終了される。
【００７２】
図８のフローチャートを参照して、図７のステップＳ１において実行されるタンジェンシャルスキュー検出処理１について説明する。
【００７３】
タンジェンシャルスキュー検出部５２のＡ／Ｄ変換部７１は、ステップＳ３１において、入力ＲＦ信号の供給を受け、ステップＳ３２において、入力ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換し、レジスタ７２−１に順次供給する。
【００７４】
ステップＳ３３において、タンジェンシャルスキュー検出部５２のレジスタ７２−１乃至７２−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【００７５】
ステップＳ３４において、タンジェンシャルスキュー検出部５２のＭＳＢ抽出部７３−１乃至７３−ｎは、レジスタ７２−１乃至７２−ｎに保持されている最上位ビットを抽出し、ｎビット列保持部７４にそれぞれ供給する。ｎビット列保持部７４は、ＭＳＢ抽出部７３−１乃至７３−ｎから供給されたｎビットからなるビット列を一時保持する。
【００７６】
ステップＳ３５において、タンジェンシャルスキュー検出部５２の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている、ピット列４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応する検出ビット列とを比較する。
【００７７】
ステップＳ３６において、タンジェンシャルスキュー検出部５２の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている検出ビット列とが一致したか否かを判断する。ステップＳ３６において、検出ビット列と一致しないと判断された場合、処理は、ステップＳ３１に戻り、それ以降の処理が繰り返される。
【００７８】
ステップＳ３６において、検出ビット列と一致したと判断された場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給された、所定の２箇所のレジスタ保存値が、差動演算部７９に供給されるので、タンジェンシャルスキュー検出部５２の差動演算部７９は、ステップＳ３７において、供給された所定の２箇所のレジスタ保存値を差動演算し、ステップＳ３８において、演算値をタンジェンシャルスキュー検出値αとして出力し、処理は、図７のステップＳ２に進む。
【００７９】
このような処理により、タンジェンシャルスキュー検出値αが、スキューセンサを用いることなく、ＲＦ信号を基に求められ、タンジェンシャルスキュー検出値αに基づいて、タンジェンシャルスキューの補正が実行される。
【００８０】
第１の実施の形態においては、タンジェンシャルスキュー検出部５２により、タンジェンシャルスキューが検出され、従来における場合と同様にして、ピックアップ制御部７によりタンジェンシャルスキューが補正されるようになされていたが、ピックアップ制御部７によりタンジェンシャルスキューを補正するのではなく、タンジェンシャルスキュー検出値αに基づいて、タンジェンシャルスキューにより発生する再生ＲＦ信号の波形の歪（特性の劣化）を補正するようにしても良い。
【００８１】
図９は、本発明を適用した第２の実施の形態における場合の光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【００８２】
なお、図５を用いて説明した場合と対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【００８３】
すなわち、図９の光ディスク再生装置は、制御部５３に代わって、制御部１０１が設けられ、イコライザ５に代わって、波形等化部１０２が設けられ、ピックアップ制御部７に変わって、ピックアップ制御部１０３が設けられている他は、図５を用いて説明した光ディスク再生装置と、同様の構成を有するものである。
【００８４】
制御部１０１は、タンジェンシャルスキュー検出部５２の動作を制御するとともに、波形等化部１０２に所定の係数を供給し、その動作を制御する。
【００８５】
ピックアップ制御部１０３は、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を基に、光学ピックアップ部５１に対するフォーカス制御およびトラッキング制御を実行するとともに、例えば、光学ピックアップ部５１の光ディスク１に対する角度を制御することなどにより、ラジアルスキューを補正する。
【００８６】
波形等化部１０２は、ＲＦアンプ３により増幅されたＲＦ信号の供給を受け、タンジェンシャルスキュー検出部５２により検出された、タンジェンシャルスキュー検出値α、並びに、制御部１０１から供給される係数Ｒおよび補正値Ｅを基に、波形等化処理を行い、復号処理部６に供給する。復号処理部６は、供給された信号を、光ディスク１に記録されている情報の、所定の記録方式に基づいて復号し、復号された情報を出力する。
【００８７】
ここで、係数Ｒおよび補正値Ｅの値は、例えば、経験的にまたは実験的に、好適な波形等化処理が実行できるような値が設定され、制御部１０１により、波形等化部１０２に供給される。
【００８８】
図１０は、波形等化部１０２の構成を示すブロック図である。
【００８９】
波形等化部１０２は、劣化した信号特性（ゲイン特性、位相特性）を正常な状態に戻すためのフィルタ処理を行うものであり、デジタルフィルタの一種である、トランスバーサルフィルタが用いられている。
【００９０】
波形等化部１０２に供給されたＲＦ信号は、Ａ／Ｄ変換部１２１に供給される。Ａ／Ｄ変換部１２１は、ｍビットの分解能で、供給されたアナログのＲＦ信号を、デジタル信号に変換し、レジスタ１２２−１に供給する。
【００９１】
レジスタ１２２−１乃至レジスタ１２２−ｎは、例えば、Ａ／Ｄ変換部１２１の分解能ｍと同一の数のＤフリップフロップなどの遅延回路により、それぞれ構成され、図示しないクロック信号発生部から、同一のクロックの供給を受ける。レジスタ１２２−１に供給されたｍビットのＲＦ信号は、次のクロックで、レジスタ１２２−２に供給され、次のクロックで、レジスタ１２２−３に供給される。すなわち、レジスタ１２２−１乃至レジスタ１２２−ｎで、シフトレジスタが構成される。
【００９２】
加算部１２３−１には、レジスタ１２２−１の入力信号と、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−２側である、レジスタ１２２−ｎ以外の所定のレジスタ１２２の出力信号とが供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−１および差動演算部１２５−２のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−１では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−１のマイナス入力端子に供給する。
【００９３】
加算部１２３−２には、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−１側の所定のレジスタ１２２の出力信号と、最終段のレジスタ１２２−ｎの出力信号が供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−２および差動演算部１２５−１のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−２では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−２のマイナス入力端子に供給する。
【００９４】
ここで、定数βは、０乃至１の値であり、光ディスク１の種類と、光学ピックアップ部５１との組合せによって、最良の値を用いるようにすれば良い。その値は、例えば、経験的に、もしくは、実験にて求めても良いし、性能の良し悪しのみならず、コストダウンのために、回路構成が簡単になるような定数とするようにしても良い。
【００９５】
具体的には、例えば、光ディスク１として、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）が用いられた場合、波形等化部１０２の係数乗算部１２４−１または１２４−２においては、定数β＝０．５付近に最良の補正効果を奏する値が存在し、０．４＜β＜０．６となる係数βを用いたときの補正効果は、ほとんど変わらない。したがって、ＤＶＤを再生する場合における波形等化部１０２の係数乗算部１２４−１または１２４−２の処理においては、定数βを、β＝０．５とすれば、２進数演算で入力値を１ビットシフトして出力すればよいので、回路構成が非常に簡単なシフトレジスタで実現可能である。
【００９６】
更に、例えば、光ディスク１の種類に対応して、複数の定数βの値を登録可能な記憶部を設けたり、ドライブ５４に装着される磁気ディスク６１乃至半導体メモリ６４の記録媒体に光ディスク１の種類に対応した複数の定数βの値を記録させ、これらの記録媒体から、光ディスク１の種類に対応した複数の定数βの値を制御部１０１が読み込むことが可能なようにしてもよい。このようにした場合、制御部１０１は、波形等化部１０２を制御して、係数乗算部１２４−１および１２４−２が用いる定数βの値を切り替え、波形等化部１０２が光ディスク１の種類に対応した定数βの値を用いて波形等化を行うことができるようにすることができる。
【００９７】
差動演算部１２５−１および差動演算部１２５−２は、それぞれ、供給された値を差動演算し、演算結果をスイッチ１２７に供給する。コンパレータ１２６は、タンジェンシャルスキュー検出部５２から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの値を極性判定し、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪が右上がりであるか右下がりであるかによって、スイッチ１２７を切り替える。
【００９８】
また、タンジェンシャルスキュー検出部５２から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの値は、絶対値演算部１２８により絶対値処理された（タンジェンシャルスキュー検出値αが負の値である場合は、正の値に変換された）後、演算部１２９に供給される。
【００９９】
演算部１２９は、絶対値演算部１２８から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの絶対値｜α｜と、制御部１０１から供給された、係数Ｒおよび補正値Ｅを基に、次の式（１）により、波形等化部１０２におけるフィルタ特性を決定する、フィルタ係数Ｋを演算する。
【０１００】
Ｋ＝Ｒ×（｜α｜＋Ｅ）・・・（１）
【０１０１】
係数乗算部１３０は、スイッチ１２７から供給された、差動演算部１２５−１または差動演算部１２５−２の演算結果に、演算部１２９により演算されて得られたフィルタ係数Ｋを乗算し、差動演算部１３１のマイナス入力端子に供給する。
【０１０２】
差動演算部１３１のプラス入力端子には、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置となる信号に対応するレジスタ１２２の出力値が供給される。差動演算部１３１は、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置となる信号から、係数乗算部１３０の出力を減算することによって、劣化した信号特性を劣化していない状態に補正し、イコライザ１３２に供給する。
【０１０３】
以上説明した、加算部１２３−１および１２３−２、係数乗算部１２４−１および１２４−１、差動演算部１２５−１および１２５−２、係数乗算部１３０、並びに、差動演算部１３１によって構成されるトランスバーサルフィルタのフィルタ伝達関数は、次の式（２）または式（３）で示される。
【０１０４】
Ｙ´（ｍ）＝Ｘ（ｍ）−Ｋ［｛Ｘ（ｍ−ｐ）＋Ｘ（ｍ＋ｑ）｝
−β｛Ｘ（ｍ−ｑ）＋Ｘ（ｍ＋ｐ）｝］          ・・・（２）
Ｙ´´（ｍ）＝Ｘ（ｍ）−Ｋ［｛Ｘ（ｍ−ｑ）＋Ｘ（ｍ＋ｐ）｝
−β｛Ｘ（ｍ−ｐ）＋Ｘ（ｍ＋ｑ）｝］          ・・・（３）
【０１０５】
式（２）および式（３）においては、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎの中央位置のレジスタの出力信号をＸ（ｍ）とし、出力信号Ｘ（ｍ）から時間ｐだけ遅延した時刻のＲＦ信号（加算部１２３−１の一方の入力端子に供給される信号）をＸ（ｍ−ｐ）とし、出力信号Ｘ（ｍ）から時間ｑだけ前の時刻のＲＦ信号（加算部１２３−１の他方の入力端子に供給される信号）をＸ（ｍ＋ｑ）とし、出力信号Ｘ（ｍ）から時間ｑだけ遅延した時刻のＲＦ信号（加算部１２３−２の一方の入力端子に供給される信号）をＸ（ｍ−ｑ）とし、出力信号Ｘ（ｍ）から時間ｐだけ前の時刻のＲＦ信号（加算部１２３−２の他方の入力端子に供給される信号）をＸ（ｍ＋ｐ）としている。
【０１０６】
すなわち、式（２）および式（３）においては、ｑ＜ｐであり、式（２）は、スイッチ１２７が差動演算部１２５−１の出力を係数乗算部１３０に供給した場合のフィルタ伝達関数であり、式（３）は、スイッチ１２７が差動演算部１２５−２の出力を係数乗算部１３０に供給した場合のフィルタ伝達関数である。
【０１０７】
イコライザ１３２は、供給された信号の高域成分をブーストして、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成し、復号処理部６に供給する。
【０１０８】
このようにして、波形等化部１０２により、タンジェンシャルスキュー検出値αを基に、タンジェンシャルスキューの発生により劣化した信号特性が、劣化していない状態に補正される。
【０１０９】
次に、図１１のフローチャートを参照して、第２の実施の形態におけるスキュー補正処理２について説明する。
【０１１０】
ステップＳ５１において、図８を用いて説明した、タンジェンシャルスキュー検出処理１が実行される。
【０１１１】
ステップＳ５２において、図１２および図１３を用いて後述する波形等化処理１が実行されて、処理が終了される。
【０１１２】
図１２および図１３を用いて、図１１のステップＳ５２において実行される波形等化処理１について説明する。
【０１１３】
波形等化部１０２のＡ／Ｄ変換部１２１は、ステップＳ７１において、入力ＲＦ信号の供給を受け、ステップＳ７２において、入力ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換し、レジスタ１２２−１に順次供給する。
【０１１４】
ステップＳ７３において、波形等化部１０２のレジスタ１２２−１乃至１２１−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【０１１５】
ステップＳ７４において、波形等化部１０２の差動演算部１２５−１は、第１の差動演算を実行し、波形等化部１０２の差動演算部１２５−２は、第２の差動演算を実行する。
【０１１６】
すなわち、加算部１２３−１には、レジスタ１２２−１の入力信号と、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−２側の所定のレジスタ１２２の出力信号とが供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−１および差動演算部１２５−２のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−１では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−１のマイナス入力端子に供給する。
【０１１７】
加算部１２３−２には、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−１側の所定のレジスタ１２２の出力信号と、最終段のレジスタ１２２−ｎの出力信号が供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−２および差動演算部１２５−１のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−２では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−２のマイナス入力端子に供給する。
【０１１８】
差動演算部１２５−１および差動演算部１２５−２は、それぞれ、供給された値を差動演算し、演算結果をスイッチ１２７に供給する。
【０１１９】
ステップＳ７５において、波形等化部１０２のコンパレータ１２６は、タンジェンシャルスキュー検出値αを取得して、極性判定を行う。
【０１２０】
ステップＳ７６において、波形等化部１０２のスイッチ１２７は、コンパレータ１２６から供給される、タンジェンシャルスキュー検出値αの極性判定結果を基に、係数乗算部１３０に供給するのは、第１の差動演算結果と、第２の差動演算結果との、いずれかの値とするのかを選択する。
【０１２１】
ステップＳ７７において、波形等化部１０２の絶対値演算部１２８は、タンジェンシャルスキュー検出値αを取得して、絶対値演算を実行し、演算部１２９に供給する。
【０１２２】
ステップＳ７８において、波形等化部１０２の演算部１２９は、制御部１０１から、係数Ｒおよび補正値Ｅを取得する。
【０１２３】
ここで、係数Ｒおよび補正値Ｅの値は、例えば、経験的にまたは実験的に、好適な波形等化処理が実行できるような値が設定され、制御部１０１により、波形等化部１０２に供給される。
【０１２４】
ステップＳ７９において、波形等化部１０２の演算部１２９は、ステップＳ７８において取得した係数Ｒおよび補正値Ｅと、絶対値演算部１２８から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの絶対値｜α｜の値を基に、上述した式（１）を基に、フィルタ係数Ｋ＝Ｒ（｜α｜＋Ｅ）を算出する。波形等化部１０２の係数乗算部１３０は、スイッチ１２７から供給された、差動演算部１２５−１または差動演算部１２５−２の演算結果に、算出されたフィルタ係数Ｋを乗算して、差動演算部１３１のマイナス入力端子に供給する。
【０１２５】
ステップＳ８０において、差動演算部１３１は、プラス入力端子に供給される、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置となる信号に対応するレジスタ１２２の出力値（中央値）と、係数乗算部１３０から供給される値との差動演算を実行して、イコライザ１３２に供給する。
【０１２６】
ステップＳ８１において、波形等化部１０２のイコライザ１３２は、等化波形をイコライズ、すなわち、信号高域成分をブーストして、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成して出力し、処理が終了される。
【０１２７】
このような処理により、光学ピックアップ部１０３の傾きを変更したり、コリメータレンズ１４を並進させることなく、タンジェンシャルスキューの発生により劣化した波形を補正することができる。
【０１２８】
第２の実施の形態においては、タンジェンシャルスキュー検出部５２と波形等化部１０２とを独立に構成し、それぞれが、シフトレジスタを内部に有するものとして説明したが、タンジェンシャルスキュー検出と波形等化に用いるシフトレジスタの全体、または一部を共有するように構成することも可能である。
【０１２９】
図１４は、本発明を適用した第３の実施の形態における記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【０１３０】
なお、図９を用いて説明した場合と対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０１３１】
すなわち、図１４の光ディスク再生装置は、制御部１０１に代わって、制御部１５１が設けられ、タンジェンシャルスキュー検出部５２および波形等化部１０２に代わって、スキュー検出および波形等化部１５２が設けられている他は、図９を用いて説明した光ディスク再生装置と、同様の構成を有するものである。
【０１３２】
制御部１５１は、スキュー検出および波形等化部１５２に所定の係数を供給し、その動作を制御する。
【０１３３】
スキュー検出および波形等化部１５２は、タンジェンシャルスキューの検出および再生ＲＦ信号の波形等化を実行するものである。
【０１３４】
図１５は、スキュー検出および波形等化部１５２の構成を示すブロック図である。
【０１３５】
なお、図６または図１０を用いて説明した場合と対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０１３６】
供給されたＲＦ信号は、Ａ／Ｄ変換部７１に供給される。Ａ／Ｄ変換部７１は、ｍビットの分解能で、供給されたアナログのＲＦ信号を、デジタル信号に変換し、レジスタ１７１−１に供給する。
【０１３７】
レジスタ１７１−１乃至レジスタ１７１−ｎは、例えば、Ａ／Ｄ変換部７１の分解能ｍと同一の数のＤフリップフロップなどの遅延回路により、それぞれ構成され、図示しないクロック信号発生部から、同一のクロックの供給を受ける。レジスタ１７１−１に供給されたｍビットのＲＦ信号は、次のクロックで、レジスタ１７１−２に供給され、次のクロックで、レジスタ１７１−３に供給される。すなわち、レジスタ１７１−１乃至レジスタ１７１−ｎで、シフトレジスタが構成される。
【０１３８】
前後の信号ピットの符号間干渉の影響を受けないで、タンジェンシャルスキューの検出を実行するため、スキュー検出および波形等化部１５２においても、長周期ピットと、前後の数ピットのパターンの組合せを限定して、対応するピットパターンにおける再生信号の信号レベルを用いて、タンジェンシャルスキューの検出が行われるようになされている。スキュー検出および波形等化部１５２が、長周期ピットが１４Ｔであり、その前後のピットパターンを４Ｔ−４Ｔに固定して、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、そのピットパターンを保持することができるように、レジスタ１７１−１乃至レジスタ１７１−３２が設けられる（ｎ＝３２）。
【０１３９】
レジスタ７７およびレジスタ７８には、レジスタ１７１−１乃至レジスタ１７１−ｎの出力信号のうち、タンジェンシャルスキューの検出に用いられる２箇所の出力信号がそれぞれ供給される。
【０１４０】
スキュー検出および波形等化部１５２において、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、検出に用いられる２箇所のレジスタの出力信号は、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンが供給されたとき長周期ピットである１４Ｔに含まれる位置である必要があり、１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジに近い位置であると好適である。したがって、スキュー検出および波形等化部１５２においては、レジスタ１７１−１１の８ビットの出力信号が、レジスタ７７に供給され、レジスタ１７１−２２の８ビットの出力信号が、レジスタ７８に供給されるようにすれば良い。
【０１４１】
なお、スキュー検出および波形等化部１５２が、他のピットパターンの再生信号を用いてタンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給される信号の位置は、そのピットパターンに応じて異なるものとなることは言うまでもない。
【０１４２】
ＭＳＢ抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−ｎは、レジスタ１７１−１乃至レジスタ１７１−ｎと、同数設けられる。すなわち、レジスタ１７１−１乃至レジスタ１７１−３２が設けられている場合、ＭＳＢ抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−３２が設けられる。ＭＳＢ抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−ｎは、レジスタ１７１−１乃至レジスタ１７１−ｎの最上位ビットを抽出し、ｎビット列保持部７４に供給する。
【０１４３】
検出ビット列保存部７５、比較部７６、レジスタ７７、レジスタ７８、および、差動演算部７９は、図６を用いて説明した場合と同様の処理を実行する。すなわち、比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されているビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されているビット列とを比較して、それらが同一である場合に、レジスタ７７およびレジスタ７８に対して、供給された信号を出力するための信号を出力するようになされているので、レジスタ７７、および、レジスタ７８は、予め定められている、ピットパターン４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応するＲＦ信号が、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されている場合の長周期ピット１４Ｔに含まれ、かつ、長周期ピット１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ付近の２箇所の信号レベルを、差動演算部７９に供給する。差動演算部７９は、長周期ピットの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ付近の２箇所の信号レベルの供給を受け、その差を演算して、タンジェンシャルスキュー検出値αとして出力する。
【０１４４】
また、加算部１２３−１には、レジスタ１７１−１の入力信号と、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１７１−２側であり、レジスタ１７１−ｎ以外の所定のレジスタ１７１の出力信号とが供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−１および差動演算部１２５−２のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−１では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−１のマイナス入力端子に供給する。
【０１４５】
加算部１２３−２には、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１７１−１側の所定のレジスタ１７１の出力信号と、最終段のレジスタ１７１−ｎの出力信号が供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−２および差動演算部１２５−１のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−２では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−２のマイナス入力端子に供給する。
【０１４６】
差動演算部１２５−１および差動演算部１２５−２、コンパレータ１２６、スイッチ１２７、絶対値演算部１２８、演算部１２９、係数乗算部１３０、差動演算部１３１、並びに、イコライザ１３２は、図１０を用いて説明した場合と同様の処理を実行して、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成し、復号処理部６に供給する。
【０１４７】
このようにして、スキュー検出および波形等化部１５２により、タンジェンシャルスキューが検出され、更に、タンジェンシャルスキューの発生により劣化した信号特性が、劣化していない状態に補正されて出力される。
【０１４８】
また、スキュー検出および波形等化部１５２を用いた第３の実施の形態の光ディスク再生装置においては、図１１を用いて上述したスキュー補正処理２と同様にして、タンジェンシャルスキュー検出処理１と、波形等化処理１とが、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎを用いて実行されるので、その処理の説明については省略する。
【０１４９】
また、スキュー検出および波形等化部１５２に代わって、図１６のブロック図に示されるように、パターン検出に用いる信号をイコライズすることにより、パターン検出精度を向上させることができるスキュー検出および波形等化部１９１を用いるようにすることもできる。
【０１５０】
スキュー検出および波形等化部１９１は、パターン検出に用いられる信号を保持する第１のレジスタと、タンジェンシャルスキュー検出値の演算および波形等化処理に用いられる信号を保持する第２のレジスタとの、２つのレジスタを有する。パターン検出に用いられる信号を保持する第１のレジスタであるレジスタ２０３−１乃至２０３−ｎの前段には、パターン検出精度を向上させるために、イコライザ２０１が設けられているが、タンジェンシャルスキューを検出するための信号は、正しくタンジェンシャルスキューを検出するために、イコライズすることはできない。
【０１５１】
Ａ／Ｄ変換部７１によってＡ／Ｄ変換された入力ＲＦ信号は、２系列に分かれ、一方は、イコライザ２０１により、高域成分がブーストされて、ＭＳＢ抽出部２０２に供給されて、抽出された最上位ビットが、第１のレジスタを構成するレジスタ２０３−１乃至２０３−ｎに順次供給される。また、Ａ／Ｄ変換部７１によってＡ／Ｄ変換された入力ＲＦ信号のうちの他方は、遅延部２０４で、イコライザ２０１によるイコライズ処理およびＭＳＢ抽出部２０２による最上位ビットの抽出処理にかかる時間だけ遅延され、第２のレジスタを構成するレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに順次供給される。
【０１５２】
第１のレジスタを構成するレジスタ２０３−１乃至２０３−ｎと、第２のレジスタを構成するレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎとは、図示しないクロック発生部から供給される、共通のクロックを受け、動作するので、レジスタ１７１−１に保持されているｍビットのデータのうちの最上位ビットと同じデータがイコライズされたものが、レジスタ２０３−１に保持され、レジスタ１７１−２に保持されているｍビットのデータのうちの最上位ビットと同じデータがイコライズされたものが、レジスタ２０３−２に保持され、同様にして、レジスタ１７１−ｎに保持されているｍビットのデータのうちの最上位ビットと同じデータがイコライズされたものが、レジスタ２０３−ｎに保持される。
【０１５３】
スキュー検出および波形等化部１９１において、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、検出に用いられる２箇所のレジスタの出力信号は、レジスタ２０３−１乃至２０３−ｎに、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔとなるパターンが供給されたときに、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されているデータのうち、長周期ピットである１４Ｔに含まれ、１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジに近い位置であると好適である。したがって、スキュー検出および波形等化部１９１においては、レジスタ１７１−１１の８ビットの出力信号が、レジスタ７７に供給され、レジスタ１７１−２２の８ビットの出力信号が、レジスタ７８に供給されるようにすれば良い。
【０１５４】
なお、スキュー検出および波形等化部１９１が、他のピットパターンの再生信号を用いてタンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給される信号の位置は、そのピットパターンに応じて異なるものとなることは言うまでもない。
【０１５５】
ｎビット列保持部７４は、レジスタ２０３−１乃至２０３−ｎに保持されているデータの供給を受け、ｎビットのデータ列を一時保持する。
【０１５６】
検出ビット列保存部７５、比較部７６、レジスタ７７、レジスタ７８、および、差動演算部７９は、図６または図１５を用いて説明した場合と同様の処理を実行して、タンジェンシャルスキュー検出値αを検出して出力する。
【０１５７】
また、加算部１２３−１および１２３−２、係数乗算部１２４−１および１２４−２、差動演算部１２５−１および１２５−２、コンパレータ１２６、スイッチ１２７、絶対値演算部１２８、演算部１２９、係数乗算部１３０、差動演算部１３１、並びに、イコライザ１３２は、図１５を用いて説明した場合と同様の処理を実行して、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成し、復号処理部６に供給する。
【０１５８】
このようにして、スキュー検出および波形等化部１９１においては、ビット列の検出に用いる信号のみをイコライズするようにし、タンジェンシャルスキュー検出値の演算や、波形等化処理に用いる信号は、そのまま利用するようにしたので、タンジェンシャルスキュー検出値の演算の精度を下げることなく、所定のピットパターンを検出する処理の精度を向上させるようにすることができる。
【０１５９】
次に、図１７のフローチャートを参照して、スキュー検出および波形等化部１９１を用いた場合のスキュー補正処理３について説明する。
【０１６０】
ステップＳ１０１において、図１８を用いて後述するタンジェンシャルスキュー検出処理２が実行される。
【０１６１】
ステップＳ１０２において、図１９を用いて後述する波形等化処理２が実行されて、処理が終了される。
【０１６２】
次に、図１８のフローチャートを参照して、図１７のステップＳ１０１において実行される、タンジェンシャルスキュー検出処理２について説明する。
【０１６３】
スキュー検出および波形等化部１９１のＡ／Ｄ変換部７１は、ステップＳ１２１において、入力ＲＦ信号の供給を受け、ステップＳ１２２において、入力ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換し、イコライザ２０１および遅延部２０４の２系列に出力する。
【０１６４】
ステップＳ１２３において、スキュー検出および波形等化部１９１のイコライザ２０１は、供給された信号の高域成分をブーストして、ＭＳＢ抽出部２０２に供給する。ＭＳＢ抽出部２０２は、供給された信号の最上位ビットを抽出する。また、スキュー検出および波形等化部１９１の遅延部２０４は、イコライザ２０１が信号をイコライズし、ＭＳＢ抽出部２０２が最上位ビットを抽出して出力する処理のために必要な時間と同じ時間だけ供給されたデータを遅延する。
【０１６５】
ステップＳ１２４において、スキュー検出および波形等化部１９１のＭＳＢ抽出部２０２は、抽出した最上位ビットを、第１のレジスタであるレジスタ２０３−１に供給し、レジスタ２０３−１乃至２０３−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【０１６６】
ステップＳ１２５において、スキュー検出および波形等化部１９１の遅延部２０４は、遅延した信号を、第２のレジスタであるレジスタ１７１−１に供給し、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【０１６７】
ステップＳ１２６において、スキュー検出および波形等化部１９１のレジスタ２０３−１乃至２０３−ｎは、保持されているデータをｎビット列保持部７４に供給し、ｎビット列保持部７４は、ｎビットからなるビット列を一時保持する。
【０１６８】
ステップＳ１２７において、スキュー検出および波形等化部１９１の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている、ピット列４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応する検出ビット列とを比較する。
【０１６９】
ステップＳ１２８において、スキュー検出および波形等化部１９１の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている検出ビット列とが一致したか否かを判断する。ステップＳ１２８において、検出ビット列と一致しないと判断された場合、処理は、ステップＳ１２１に戻り、それ以降の処理が繰り返される。
【０１７０】
ステップＳ１２８において、検出ビット列と一致したと判断された場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給された、第２のレジスタであるレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎのうちの所定の２箇所のレジスタ保存値が、差動演算部７９に供給されるので、スキュー検出および波形等化部１９１の差動演算部７９は、ステップＳ１２９において、第２のレジスタのうちの所定の２箇所のレジスタ保存値を差動演算し、ステップＳ１３０において、演算値をタンジェンシャルスキュー検出値αとして出力し、処理は、図１７のステップＳ１０２に進む。
【０１７１】
このような処理により、ピットパターンの検出は、第１のレジスタに保持された、イコライズされた後の信号を用いて行われ、タンジェンシャルスキュー検出値αの算出は、第２のレジスタに保持されているイコライズされていないＲＦ信号を基に求められる。そして、タンジェンシャルスキュー検出値αの算出に用いられた第２のレジスタであるレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されているデータと、タンジェンシャルスキュー検出値αに基づいて、次に説明する波形等化処理２が実行される。
【０１７２】
図１９のフローチャートを参照して、図１７のステップＳ１０２において実行される、波形等化処理２について説明する。
【０１７３】
ステップＳ１４１においてスキュー検出および波形等化部１９１の差動演算部１２５−１は、第１の差動演算を実行し、スキュー検出および波形等化部１９１の差動演算部１２５−２は、第２の差動演算を実行する。
【０１７４】
すなわち、加算部１２３−１には、図１８のステップＳ１２５の処理により、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されている信号のうち、レジスタ１７１−１の入力信号と、その中央位置よりもレジスタ１７１−２側であり、レジスタ１７１−ｎ以外の所定のレジスタ１７１の出力信号とが供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−１および差動演算部１２５−２のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−１では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−１のマイナス入力端子に供給する。
【０１７５】
また、加算部１２３−２には、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置よりもレジスタ１７１−１側の所定のレジスタ１７１の出力信号と、最終段のレジスタ１７１−ｎの出力信号が供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−２および差動演算部１２５−１のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−２では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−２のマイナス入力端子に供給する。
【０１７６】
差動演算部１２５−１および差動演算部１２５−２は、それぞれ、供給された値を差動演算し、演算結果をスイッチ１２７に供給する。
【０１７７】
ステップＳ１４２において、スキュー検出および波形等化部１９１のコンパレータ１２６および絶対値演算部１２８は、タンジェンシャルスキュー検出値αを取得する。
【０１７８】
ステップＳ１４３において、スキュー検出および波形等化部１９１のコンパレータ１２６は、ステップＳ１４２において取得したタンジェンシャルスキュー検出値αの極性判定を行う。スイッチ１２７は、コンパレータ１２６から供給される、タンジェンシャルスキュー検出値αの極性判定結果を基に、第１の差動演算結果と、第２の差動演算結果との、いずれかの値を選択し、係数乗算部１３０に供給する。
【０１７９】
ステップＳ１４４において、スキュー検出および波形等化部１９１の絶対値演算部１２８は、ステップＳ１４２において取得したタンジェンシャルスキュー検出値に対して絶対値演算を実行し、演算部１２９に供給する。
【０１８０】
ステップＳ１４５において、スキュー検出および波形等化部１９１の演算部１２９は、制御部１５１から、係数Ｒおよび補正値Ｅを取得する。
【０１８１】
ここで、係数Ｒおよび補正値Ｅの値は、例えば、経験的または実験的に、好適な波形等化処理が実行できるように設定され、制御部１５１により、スキュー検出および波形等化部１９１に供給される。
【０１８２】
ステップＳ１４６において、スキュー検出および波形等化部１９１の演算部１２９は、ステップＳ１４５において取得した係数Ｒおよび補正値Ｅと、絶対値演算部１２８から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの絶対値｜α｜の値を基に、上述した式（１）を基に、フィルタ係数Ｋ＝Ｒ（｜α｜＋Ｅ）を算出する。スキュー検出および波形等化部１９１の係数乗算部１３０は、スイッチ１２７から供給された、差動演算部１２５−１または差動演算部１２５−２の演算結果に、算出されたフィルタ係数Ｋを乗算して、差動演算部１３１のマイナス入力端子に供給する。
【０１８３】
ステップＳ１４７において、差動演算部１３１は、プラス入力端子に供給される、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置となる信号に対応するレジスタ１７１の出力値（中央値）と、係数乗算部１３０から供給される値との差動演算を実行して、イコライザ１３２に供給する。
【０１８４】
ステップＳ１４８において、スキュー検出および波形等化部１９１のイコライザ１３２は、等化波形の信号高域成分をブーストして、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成して出力し、処理が終了される。
【０１８５】
このような処理により、タンジェンシャルスキュー検出値αの算出に用いられた第２のレジスタであるレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されているデータと、タンジェンシャルスキュー検出値αに基づいて、波形等化処理が実行される。
【０１８６】
また、スキュー検出および波形等化部１５２や、スキュー検出および波形等化部１９１に代わって、図２０のブロック図に示されるように、差動演算部１３１の後段のイコライザ１３２を省略させることができるスキュー検出および波形等化部２２１を用いるようにすることもできる。
【０１８７】
上述したように、タンジェンシャルスキューの検出に用いられる信号は、イコライズしてはならないが、波形等化のために用いられる信号を、フィルタリング処理前にイコライズすることにより、イコライザ１３２を省略することができる。
【０１８８】
スキュー検出および波形等化部２２１は、パターン検出および波形等化処理に用いられる信号を保持する第１のレジスタと、タンジェンシャルスキュー検出値の演算に用いられる信号を保持する第２のレジスタとの、２つのレジスタを有する。パターン検出および波形等化処理に用いられる信号を保持する第１のレジスタであるレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎの前段には、パターン検出精度および波形等化処理の精度を向上させるために、イコライザ２３２が設けられているが、タンジェンシャルスキューを検出するための信号は、正しくタンジェンシャルスキューを検出するために、イコライズすることはできない。
【０１８９】
Ａ／Ｄ変換部７１によってＡ／Ｄ変換された入力ＲＦ信号は、２系列に分かれ、一方は、イコライザ２３２により、高域成分がブーストされて、第１のレジスタを構成するレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに順次供給される。また、Ａ／Ｄ変換部７１によってＡ／Ｄ変換された入力ＲＦ信号のうちの他方は、遅延部２３１で、イコライザ２３２によるイコライズ処理にかかる時間だけ遅延され、第２のレジスタを構成するレジスタ２３３−１乃至２３３−ｎに順次供給される。
【０１９０】
第１のレジスタを構成するレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎと、第２のレジスタを構成するレジスタ２３３−１乃至２３３−ｎとは、図示しないクロック発生部から供給される、共通のクロックを受け、動作するので、レジスタ１７１−１に保持されているｍビットのデータと対応する、イコライズされていないデータが、レジスタ２３３−１に保持され、レジスタ１７１−２に保持されているｍビットのデータと対応する、イコライズされていないデータが、レジスタ２３３−２に保持され、同様にして、レジスタ１７１−ｎに保持されているｍビットのデータと対応する、イコライズされていないデータが、レジスタ２３３−ｎに保持される。
【０１９１】
スキュー検出および波形等化部２２１において、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、検出に用いられる２箇所のレジスタの出力信号は、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔとなるパターンが供給されたときに、レジスタ２３３−１乃至２３３−ｎに保持されているデータのうち、長周期ピットである１４Ｔに含まれ、１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジに近い位置であると好適である。したがって、スキュー検出および波形等化部１９１においては、レジスタ２３３−１１の８ビットの出力信号が、レジスタ７７に供給され、レジスタ２３３−２２の８ビットの出力信号が、レジスタ７８に供給されるようにすれば良い。
【０１９２】
なお、スキュー検出および波形等化部２２１が、他のピットパターンの再生信号を用いてタンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給される信号の位置は、そのピットパターンに応じて異なるものとなることは言うまでもない。
【０１９３】
ＭＳＢ抽出部７３−１乃至７３−ｎは、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されているデータの最上位ビットを抽出し、ｎビット列保持部７４に供給する。ｎビット列保持部７４は、ＭＳＢ抽出部７３−１乃至７３−ｎに保持されているデータの供給を受け、ｎビットのデータ列を一時保持する。
【０１９４】
検出ビット列保存部７５、比較部７６、レジスタ７７、レジスタ７８、および、差動演算部７９は、図６、図１５、または、図１６を用いて説明した場合と同様の処理を実行して、タンジェンシャルスキュー検出値αを検出して出力する。
【０１９５】
また、加算部１２３−１および１２３−２、係数乗算部１２４−１および１２４−２、差動演算部１２５−１および差動演算部１２５−２、コンパレータ１２６、スイッチ１２７、絶対値演算部１２８、演算部１２９、係数乗算部１３０、並びに、差動演算部１３１は、図１５、または、図１６を用いて説明した場合と同様の処理を実行して、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成し、復号処理部６に供給する。
【０１９６】
このようにして、スキュー検出および波形等化部２２１においては、ビット列の検出と波形等化処理とを、イコライズされた共通のデータを用いて実行するようにし、タンジェンシャルスキュー検出値の演算は、イコライズされない信号をそのまま利用するようにしたので、タンジェンシャルスキュー検出値αの演算の精度を下げることなく、波形等化処理の最後段のイコライザを省略して、所定のピットパターンを検出する処理や、波形等化処理の精度を向上させるようにすることができる。
【０１９７】
次に、図２１のフローチャートを参照して、スキュー検出および波形等化部２２１を用いた場合のスキュー補正処理４について説明する。
【０１９８】
ステップＳ１７１において、図２２を用いて後述するタンジェンシャルスキュー検出処理３が実行される。
【０１９９】
ステップＳ１７２において、図２３を用いて後述する波形等化処理３が実行されて、処理が終了される。
【０２００】
次に、図２２のフローチャートを参照して、図２１のステップＳ１７１において実行される、タンジェンシャルスキュー検出処理２について説明する。
【０２０１】
スキュー検出および波形等化部２２１のＡ／Ｄ変換部７１は、ステップＳ１８１において、入力ＲＦ信号の供給を受け、ステップＳ１８２において、入力ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換し、イコライザ２３２および遅延部２３１の２系列に出力する。
【０２０２】
ステップＳ１８３において、スキュー検出および波形等化部２２１のイコライザ２３２は、供給された信号の高域成分をブーストする。また、スキュー検出および波形等化部２２１の遅延部２３１は、イコライザ２３２が信号をイコライズする処理のために必要な時間と同じ時間だけ、供給されたデータを遅延する。
【０２０３】
ステップＳ１８４において、スキュー検出および波形等化部２２１のイコライザ２３２は、イコライズされた信号を、第１のレジスタであるレジスタ１７１−１に供給し、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【０２０４】
ステップＳ１８５において、スキュー検出および波形等化部２２１の遅延部２３１は、遅延した信号を、第２のレジスタであるレジスタ２３３−１に供給し、レジスタ２３３−１乃至２３３−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【０２０５】
ステップＳ１８６において、スキュー検出および波形等化部２２１のＭＳＢ抽出部７３−１乃至７３−ｎは第１のレジスタである、レジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されているデータのうちの最上位ビットを抽出してｎビット列保持部７４に供給し、ｎビット列保持部７４は、ｎビットからなるビット列を一時保持する。
【０２０６】
ステップＳ１８７において、スキュー検出および波形等化部２２１の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている、ピット列４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応する検出ビット列とを比較する。
【０２０７】
ステップＳ１８８において、スキュー検出および波形等化部２２１の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている検出ビット列とが一致したか否かを判断する。ステップＳ１８８において、検出ビット列と一致しないと判断された場合、処理は、ステップＳ１８１に戻り、それ以降の処理が繰り返される。
【０２０８】
ステップＳ１８８において、検出ビット列と一致したと判断された場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給された、第２のレジスタであるレジスタ２３１−１乃至２３１−ｎのうちの所定の２箇所のレジスタ保存値が、差動演算部７９に供給されるので、スキュー検出および波形等化部２２１の差動演算部７９は、ステップＳ１８９において、第２のレジスタのうちの所定の２箇所のレジスタ保存値を差動演算し、ステップＳ１３０において、演算値をタンジェンシャルスキュー検出値αとして出力し、処理は、図２１のステップＳ１７２に進む。
【０２０９】
このような処理により、タンジェンシャルスキュー検出のためのピットパターン検出処理と波形等化処理とを、イコライズされた信号を保持する同一のシフトレジスタを用いて実行するスキュー検出および波形等化部２２１において、ピットパターンが精度よく検出されるとともに、タンジェンシャルスキュー検出値αは、イコライズされていないＲＦ信号を基に求められる。そして、ピットパターンの検出に用いられたイコライズされた信号を保持しているレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されているデータと、タンジェンシャルスキュー検出値αに基づいて、次に説明する波形等化処理３が実行される。
【０２１０】
図２３のフローチャートを参照して、図２１のステップＳ１７２において実行される波形等化処理３について説明する。
【０２１１】
ステップＳ２０１乃至ステップＳ２０７において、図１９のステップＳ１４１乃至ステップＳ１４７と同様の処理が実行されて、処理が終了される。この処理に用いられるレジスタ１７１−１乃至１７１−ｎに保持されているデータは、イコライザ２３２によって、すでに、高域成分がブーストされているので、差動演算部１３１の演算結果を、更にイコライズする必要はない。
【０２１２】
したがって、図２０のスキュー検出および波形等化部２２１においては、図１５を用いて説明した、スキュー検出および波形等化部１５２、または、図１６を用いて説明した、スキュー検出および波形等化部１９１において、最終段に設けられているイコライザ１３２を省略することができる。
【０２１３】
また、以上説明した波形等化処理は、図１を用いて説明した従来の光ディスク再生装置において用いられたスキューセンサ１９により検出されたタンジェンシャルスキュー検出値αを用いて実行することも可能である。
【０２１４】
図２４に、本発明の第４の実施の形態として、スキューセンサ１９および波形等化部１０２を備える光ディスク再生装置の構成を示す。
【０２１５】
なお、従来の場合と対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０２１６】
すなわち、図２４の光ディスク再生装置は、イコライザ５に代わって、図９における波形等化部１０２が設けられ、ピックアップ制御部７に代わって、ピックアップ制御部１０３が設けられ、新たに、制御部２５１、および、ドライブ５４が設けられている他は、図１を用いて説明した光ディスク再生装置と、同様の構成を有するものである。波形等化部１０２は、ＲＦアンプ３から供給された入力ＲＦ信号を、スキューセンサ１９により供給されたタンジェンシャルスキュー検出値αを用いて、波形等化処理を実行する。
【０２１７】
図２５のフローチャートを参照して、図２４の光ディスク再生装置が実行するスキュー補正処理５について説明する。
【０２１８】
ステップＳ２３１において、スキューセンサ１９は、タンジェンシャルスキューを検出し、タンジェンシャルスキュー検出値αを、波形等化部１０２に供給する。
【０２１９】
ステップＳ２３２において、図１２および図１３を用いて説明した波形等化処理１が実行されて、処理が終了される。
【０２２０】
このようにすることにより、従来の、スキューセンサ１９を備えた光学ピックアップ部２を用いた光ディスク再生装置においても、光学ピックアップ部２を傾けることなく、波形等化処理によって、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪を補正することができる。
【０２２１】
また、スキュー検出および波形等化部１５２、スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１は、２種類の波長の異なる光ディスクを再生することが可能な光ディスク再生装置に用いると好適である。
【０２２２】
図２６に、本発明の第５の実施の形態として、２種類の波長の異なる光ディスクを再生することが可能な光ディスク再生装置の構成を示す。
【０２２３】
例えば、図２６の光ディスク再生装置は、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）３０１とＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）３０２との、異なる２波長の光ディスクを再生することが可能なようになされている。ここで、図２６、および、後述する図２７においては、光学ピックアップ部３１１が、内部に保有する２つの光学系（図２７を用いて後述する）を用いて、ＤＶＤ３０１とＣＤ３０２とに記録されている信号をそれぞれ再生することができることを示すために、ＤＶＤ３０１とＣＤ３０２とを並べて図示しているが、ＤＶＤ３０１とＣＤ３０２とは、一度に再生されるのではなく、いずれか一方に記録されている信号が再生されるものであり、それぞれ異なる位置に装着されて、異なる駆動系により駆動されるのではなく、同一の駆動系により駆動されるようにしても良い。
【０２２４】
光学ピックアップ部３１１には、ラジアルスキューセンサ３１２が設けられている。
【０２２５】
ＤＶＤ３０１とＣＤ３０２のラジアルスキューの補正は、共通の補正機構（ここでは、ラジアルスキューサーボ制御部３１５および駆動部３１６）により精度よく行うことが可能である。
【０２２６】
図２６に示される光ディスク再生装置においては、光ディスク再生装置に光学ピックアップ部３１１が取り付られる際に、タンジェンシャル方向の傾き調整が行われる。このとき、ＤＶＤ対物レンズ３３３（図２７）とＣＤ対物レンズ３３７（図２７）との光学収差や、ＤＶＤ対物レンズ３３３とＣＤ対物レンズ３３７との取り付け誤差（いずれか一方が、製造時に傾いて取り付けられてしまうなど）が原因となり、ＤＶＤ３０１とＣＤ３０２に対して最良となる光ピックアップの傾き角は等しくならない場合がある。したがって、光学ピックアップ部３１１を取り付けるときには、再生レーザ波長が短いため誤差マージンが少ないＤＶＤ３０１に対して、タンジェンシャルスキューが発生しないように、傾き調整が行われ、この調整後に、光学ピックアップ部３１１のタンジェンシャル方向の傾きは、ネジ止めされるか、もしくは、接着されるかなどの手段によって、固定される。
【０２２７】
したがって、ＣＤ３０２の再生時には、タンジェンシャルスキューの発生により再生信号が劣化してしまう恐れがあるため、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）が用いられて、再生信号が補正されるようにすれば、コリメータレンズ１４−２の並進、あるいは、光学ピックアップ部３１１の角度の変更（回転）を行うための駆動機構を用いることなく、タンジェンシャルスキューを補正することができる。
【０２２８】
制御部３２５は、図示しない操作入力部から入力されるユーザの操作入力、または、光学ピックアップ部３１１により再生されるＤＶＤ３０１またはＣＤ３０２のＴＯＣ部分に記載されている情報を参照するなどして、光学ピックアップ部３１１において再生されているディスクの種類を判別し、センサ値補正制御部３１３に、ディスク種類判別信号を供給するとともに、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）に、処理に必要な係数Ｒおよび補正値Ｅを供給する。
【０２２９】
ラジアルスキューセンサ３１２は、ＤＶＤ３０１とＣＤ３０２とのいずれが再生されている場合であっても、装着されているＤＶＤ３０１またはＣＤ３０２の両方のラジアル方向のスキューを検出し、検出値をセンサ値補正制御部３１３に供給する。センサ補正値保存部３１４には、ラジアルスキューセンサ３１２から供給される検出値を、再生されているディスクの種類（ＤＶＤ３０１またはＣＤ３０２）に対応して補正するための補正値が保存されている。センサ値補正制御部３１３は、制御部３２５から、ディスク種類判別信号の供給を受け、現在信号が再生されているディスクは、ＤＶＤ３０１であるかＣＤ３０２であるかに基づいて、対応するセンサ補正値をセンサ補正値保存部３１４から読み出す。
【０２３０】
そして、センサ値補正制御部３１３は、ラジアルスキューセンサ３１２から供給される検出値を、センサ補正値保存部３１４から読み出したセンサ補正値を用いて、ＤＶＤ３０１またはＣＤ３０２に対応する検出値に補正して、ラジアルスキューサーボ制御部３１５に出力する。
【０２３１】
ラジアルスキューサーボ制御部３１５は、センサ値補正制御部３１３から供給された補正後の検出値を基に、駆動部３１６を制御して、光学ピックアップ部３１１のラジアル方向の傾き角を調整する。
【０２３２】
光学ピックアップ部３１１の内部構成について、図２７を用いて説明する。
【０２３３】
ラジアルスキューセンサ３１２は、装着されたＤＶＤ３０１またはＣＤ３０２のラジアル方向のスキューを検出する。
【０２３４】
光学ピックアップ部３１１は、ＤＶＤ３０１に記録された信号を再生する光学系と、ＣＤ３０２に記録された信号を再生する光学系とを備えている。まず、ＤＶＤ３０１に記録された信号の再生系について説明する。
【０２３５】
レーザダイオード３３１から出射されたレーザ光は、ビームスプリッタ１３に入射して、コリメータレンズ１４−１およびミラー３３２を介して、ＤＶＤ対物レンズ３３３により、ＤＶＤ３０１の記録面に集光される。ＤＶＤ３０１による反射光は、ＤＶＤ対物レンズ３３３、ミラー３３２、コリメータレンズ１４−１、およびビームスプリッタ１３を介して、光検出部（Ｐｈｏｔｏ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）３３４に入射する。
【０２３６】
光検出部３３４は、入射された光を電気信号に変換し、所要の処理を施すことで、例えば、再生データとしてのＲＦ信号、並びに、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を生成し、ＲＦ信号をＲＦアンプ３−２に供給し、フォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を、図示しないサーボマトリクスアンプに供給する。
【０２３７】
次に、ＣＤ３０２に記録された信号の再生系について説明する。
【０２３８】
ＣＤ用ホログラム集積素子３３５は、半導体レーザ、結合プリズム、ビームスプリッタ、グレーティング、検出レンズ、フォトＩＣといった、対物レンズ系以外の光学素子を集積した素子である。
【０２３９】
ＣＤ用ホログラム集積素子３３５から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ１４−２およびミラー３３６を介して、ＣＤ対物レンズ３３７により、ＣＤ３０２の記録面に集光される。ＣＤ３０２による反射光は、ＣＤ対物レンズ３３７、ミラー３３６、およびコリメータレンズ１４−２を介して、ＣＤ用ホログラム集積素子３３５に入射する。
【０２４０】
ＣＤ用ホログラム集積素子３３５は、入射された光を電気信号に変換し、所要の処理を施すことで、例えば、再生データとしてのＲＦ信号、並びに、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を生成し、ＲＦ信号をＲＦアンプ３−１に供給し、フォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を、図示しないサーボマトリクスアンプに供給する。
【０２４１】
図２６の説明に戻る。
【０２４２】
光学ピックアップ部３１１の光検出部３３４から供給された、ＤＶＤ３０１から読み出されたＲＦ信号は、光学ピックアップ部３１１の傾きの調整により、タンジェンシャルスキューまたはラジアルスキューによる信号の歪が生じていない状態であるので、ＲＦアンプ３−２で増幅され、ＤＶＤイコライザ３２１においてイコライジングされ、ＤＶＤ信号復号部３２２によって復号されて出力される。
【０２４３】
一方、光学ピックアップ部３１１のＣＤ用ホログラム集積素子３３５から供給された、ＣＤ３０２から読み出されたＲＦ信号は、光学ピックアップ部３１１の傾きの調整により、ラジアルスキューによる信号の歪は生じていないが、タンジェンシャルスキューにより信号波形が歪んでいる可能性がある。したがって、ＣＤ用ホログラム集積素子３３５から供給されたＲＦ信号は、ＲＦアンプ３−１で増幅されたのち、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）に供給されて、タンジェンシャルスキューの検出および波形等化が行われたのち、ＣＤ信号復号部３２０に供給されて、復号される。
【０２４４】
なお、図２６および図２７を用いて説明した光ディスク再生装置においては、レーザ光の波長が短いものの方が、正しく信号を再生するための誤差マージンが少ないため、ＤＶＤ３０１のタンジェンシャルスキューをより高精度に調整可能なように、製造時にメカニカルに調整するようにし、ＣＤ３０２のタンジェンシャルスキューの検出および補正は、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）を用いて実行するものとして説明したが、図２８に示されるように、ＤＶＤ３０１の再生信号（ＤＶＤイコライザ３２１から出力される信号）に対しても、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）を用いて、補助的にタンジェンシャルスキューの検出および補正を行うようにしても良いことは言うまでもない。
【０２４５】
メカニカルにタンジェンシャルスキューが補正されていることに加えて、補助的に、波形等化処理によって、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪を補正することにより、例えば、回転中のディスクのばたつきによるタンジェンシャルスキューの変動や、ラジアルスキュー機構が動作している時のがたなどで生じるタンジェンシャルスキューのずれを補正することが可能となる。
【０２４６】
すなわち、ＤＶＤ３０１に対して施されるメカニカルなタンジェンシャルスキュー調整は、調整後固定されてしまう、静的な調整である。したがって、上述した、回転中のディスクのばたつきによるスキューの変動や、ラジアルスキュー機構が動作している時のがたなどで生じる、変動を伴うスキュー変動に対しては、充分な補正ができない場合が発生する。このような変動を伴うスキュー変動に対して、波形等化によるスキュー補正により、再生信号を補正すると好適である。したがって、メカニカルにタンジェンシャルスキューが補正されていることに加えて、補助的に、波形等化処理によって、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪を補正することにより、補助的な波形等化処理を用いない場合と比較して、再生特性が向上する。
【０２４７】
また、図２６、図２７、および図２８を用いて説明した光ディスク再生装置においては、光学ピックアップ部３１１が、ＤＶＤ３０１に記録されている信号を再生することができる機構と、ＣＤ３０２に記録されている信号を再生することができる機構とをそれぞれ備えるものとして説明したが、スキュー検出および波形等化部１５２、スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１は、２種類の波長の異なる光ディスクを、共通の機構を用いて再生することが可能な光ディスク再生装置に用いることも可能である。
【０２４８】
図２９に、本発明の第６の実施の形態として、共通の光学系機構を用いて、２種類の波長の異なる光ディスクを再生することが可能な光ディスク再生装置のブロック図を示す。なお、図２６における場合と対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【０２４９】
図２９の光ディスク再生装置も、図２６を用いて説明した場合と同様に、例えば、ＤＶＤ３０１とＣＤ３０２のように、異なる複数の波長の光ディスクを再生することが可能なようになされている。図２９および図３０においては、光学ピックアップ部３６１が再生するＤＶＤ３０１またはＣＤ３０２を、光ディスク３５１と称するものとする。
【０２５０】
光学ピックアップ部３６１には、ラジアルスキューセンサ３１２が設けられている。
【０２５１】
光ディスク３５１がＤＶＤ３０１であった場合においても、ＣＤ３０２であった場合においても、ラジアルスキューの補正は、共通の補正機構により精度よく行うことが可能である。タンジェンシャルスキューの補正については、レーザ光の波長が短いものの方が、正しく信号を再生するための誤差マージンが少ないため、レーザ光の波長が短いＤＶＤ３０１の再生時にタンジェンシャルスキューが発生しないように、光学ピックアップ部３６１のタンジェンシャル方向の取り付け角度が、製造時にメカニカルに調整されている。そして、ＣＤ３０２のタンジェンシャルスキューの検出および補正は、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）を用いて実行されるようになされている。
【０２５２】
制御部３６５は、図示しない操作入力部から入力されるユーザの操作入力、または、光学ピックアップ部３６１により再生された光ディスク３５１のＴＯＣ部分に記録されている情報を参照するなどして、光学ピックアップ部３６１において再生されているディスクの種類を判別して、センサ値補正制御部３１３、および、スイッチ３６２に、ディスク種類判別信号を供給するとともに、スキュー検出および波形等化部１５２に、処理に必要な係数Ｒおよび補正値Ｅを供給する。
【０２５３】
ラジアルスキューセンサ３１２は、光ディスク３５１のラジアル方向のスキューを検出し、検出値をセンサ値補正制御部３１３に供給する。センサ値補正制御部３１３は、制御部３６５から、ディスク種類判別信号の供給を受け、現在信号を再生している光ディスク３５１に対応するセンサ補正値をセンサ補正値保存部３１４から読み出して、ラジアルスキューセンサ３１２から供給される検出値を、光ディスク３５１に対応する検出値に補正して、ラジアルスキューサーボ制御部３１５に出力する。
【０２５４】
ラジアルスキューサーボ制御部３１５は、センサ値補正制御部３１３から供給された補正後の検出値を基に、駆動部３１６を制御して、光学ピックアップ部３６１の傾き角を調整する。
【０２５５】
光学ピックアップ部３６１の内部構成について、図３０を用いて説明する。
【０２５６】
ＤＶＤ・ＣＤ用ホログラム集積素子３８１は、従来の２波長対応光ピックアップに必要な、２つの半導体レーザ、結合プリズム、ビームスプリッタ、３ビームグレーティング、検出レンズ、フォトＩＣといった対物レンズ系以外の光学素子を集積した素子である。
【０２５７】
ＤＶＤ・ＣＤ用ホログラム集積素子３８１から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ１４およびミラー３３６を介して、対物レンズ３８２により、光ディスク３５１の記録面に集光される。光ディスク３５１による反射光は、対物レンズ３８２、ミラー３３６、および、コリメータレンズ１４を介して、ＤＶＤ・ＣＤ用ホログラム集積素子３８１に入射する。
【０２５８】
ＤＶＤ・ＣＤ用ホログラム集積素子３８１は、入射された光を電気信号に変換し、所要の処理を施すことで、例えば、再生データとしてのＲＦ信号、並びに、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を生成し、ＲＦ信号をスイッチ３６２に供給し、フォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を、図示しないサーボマトリクスアンプに供給する。
【０２５９】
図２９の説明に戻る。
【０２６０】
光学ピックアップ部３６１のＤＶＤ・ＣＤ用ホログラム集積素子３８１から供給され、スイッチ３６２に供給された、光ディスク３５１から読み出されたＲＦ信号は、光学ピックアップ部３６１の傾きの調整により、ラジアルスキューによる信号の歪が生じていない状態であり、光ディスク３５１がＤＶＤ３０１である場合は、タンジェンシャルスキューによる信号の歪も発生していない。
【０２６１】
制御部３６５は、スイッチ３６２に、ディスク種類判別信号を出力する。再生されている光ディスク３５１がＤＶＤ３０１である場合、スイッチ３６１は、供給されたＲＦ信号を、ＲＦアンプ３−２に供給する。ＲＦアンプ３−２で増幅された信号は、ＤＶＤイコライザ３２１においてイコライジングされ、ＤＶＤ信号復号部３２２によって復号されて出力される。
【０２６２】
一方、再生されている光ディスク３５１がＣＤ３０２である場合、スイッチ３６１は、供給されたＲＦ信号を、ＲＦアンプ３−１に供給する。ＲＦアンプ３−１で増幅された信号は、光学ピックアップ部３６１の傾きの調整により、ラジアルスキューによる信号の歪は生じていないが、タンジェンシャルスキューにより信号波形が歪んでいる可能性がある。したがって、ＲＦアンプ３−１で増幅されたＲＦ信号は、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）に供給されて、タンジェンシャルスキューの検出および波形等化が行われたのち、ＣＤ信号復号部３２０に供給されて、復号される。
【０２６３】
従来、２種類の異なるディスクを再生することが可能な光ディスク再生装置において、製造時に光学ピックアップ部の角度を予め調整しておくことにより、両方のディスクのタンジェンシャルスキュー補正を精度よく行うことは、それぞれのディスクを再生するためのレーザ光の波長に差があることなどのため、困難であった。しかしながら、いずれか一方のディスクに対しては、製造時にタンジェンシャルスキューが発生しないように光学ピックアップ部の取り付け角度を予め調整して固定しておき、他方の光ディスクに対しては、波形等化処理によって、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪を補正するようにすることにより、２種類の異なるディスクを再生することが可能な光ディスク再生装置において、それぞれのディスクを再生するためのレーザ光の波長の差によらず、コリメータレンズの並進、あるいは、光学ピックアップ部の角度の変更（回転）を行うための駆動機構を用いることなく、精度よくタンジェンシャルスキューを補正することができる。
【０２６４】
なお、図２９および図３０を用いて説明した光ディスク再生装置においては、一方の光ディスク（特に、両者を比較して、再生に用いられるレーザ光の波長の短い方の光ディスクであると好適である）に対して、製造時に、光学ピックアップ部の角度を調整し、他方の光ディスクに対して、波形等化を施すことにより、タンジェンシャルスキュー補正を行うものとして説明したが、製造時に、一方の光ディスクに対するタンジェンシャル方向の傾きが調整されていた場合においても、図３１に示されるように、光ディスク再生装置において再生可能な光ディスクの両方に対して、波形等化処理によって、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪を補正するようにするようにしても良いことは言うまでもない。
【０２６５】
すなわち、複数の光ディスクのうち、再生に用いられるレーザ光の波長の短い光ディスク（ここでは、ＤＶＤ３０１）の再生信号（ＤＶＤイコライザ３２１から出力される信号）に対しても、スキュー検出および波形等化部１５２（スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１）を用いて、補助的にタンジェンシャルスキューの検出および補正が行われるようにしても良い。
【０２６６】
再生に用いられるレーザ光の波長の短い光ディスクに対して、メカニカルにタンジェンシャルスキューが補正されていることに加えて、補助的に、波形等化処理によって、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪が補正されることにより、例えば、回転中のディスクのばたつきによるタンジェンシャルスキューの変動や、ラジアルスキュー機構が動作している時のがたなどで生じるタンジェンシャルスキューのずれを補正することが可能となる。波形等化処理によって、補助的に、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪を補正することにより、補助的な波形等化処理を用いない場合と比較して、再生特性が向上する。
【０２６７】
更に、光ディスク再生装置において再生可能な光ディスクの種類は３つ以上であってもかまわなく、そのうち、複数の光ディスクに対して、波形等化処理によって、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪を補正するようにするようにしても良い。
【０２６８】
すなわち、再生可能な光ディスクの種類の数にかかわらず、レーザ光の波長が短い光ディスクに対して、タンジェンシャル方向の取り付け角度が調整されるので、複数の光ディスクのうち、少なくとも、レーザ光の波長が最も長い光ディスクに関しては、波形等化処理により、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪が補正される。
【０２６９】
なお、以上においては、情報が記録された光ディスクから、情報を再生する光ディスク再生装置について説明したが、本発明は、光ディスクから情報を再生するのみならず、光ディスクに情報を記録することが可能な、光ディスク記録再生装置においても、適用可能であることは、言うまでもない。
【０２７０】
ここでは、図５および図９を用いて説明したタンジェンシャルスキュー検出部５２、図９および図２４を用いて説明した波形等化部１０２、または、図１４、図２６、図２８、図２９、および図３１を用いて説明したスキュー検出および波形等化部１５２、スキュー検出および波形等化部１９１、または、スキュー検出および波形等化部２２１が、光ディスク再生装置の内部に備えられている場合について説明したが、これらは、光ディスク再生装置から独立させて、１つの装置として構成するようにしても良い。
【０２７１】
上述した一連の処理は、ソフトウェアにより実行することもできる。そのソフトウェアは、そのソフトウェアを構成するプログラムが、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ、または、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどに、記録媒体からインストールされる。
【０２７２】
この記録媒体は、図５、図９、または、図１４に示すように、コンピュータとは別に、ユーザにプログラムを提供するために配布される、プログラムが記録されている磁気ディスク６１（フレキシブルディスクを含む）、光ディスク６２（ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ−Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ），ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）を含む）、光磁気ディスク６３（ＭＤ（Ｍｉｎｉ−Ｄｉｓｋ）（商標）を含む）、もしくは半導体メモリ６４などよりなるパッケージメディアなどにより構成される。
【０２７３】
また、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理をも含むものである。
【０２７４】
【発明の効果】
このように、本発明によれば、光ディスクに記録された情報を再生することができる。特に、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンである場合の再生信号を用いて光ディスクの傾きを検出することができる。
【０２７５】
また、他の本発明によれば、光ディスクの傾きを検出することができる他、特に、複数のピット長の組合せによる所定のピットパターンである場合の再生信号を用いて光ディスクの傾きを検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】スポットと一次回折リングについて説明するための図である。
【図３】スポットと一次回折リングについて説明するための図である。
【図４】タンジェンシャルスキューによる信号波形の歪について説明するための図である。
【図５】本発明を適用した光ディスク再生装置の第１の実施の形態における構成を示すブロック図である。
【図６】図５のタンジェンシャルスキュー検出部の構成を示すブロック図である。
【図７】スキュー補正処理１について説明するためのフローチャートである。
【図８】タンジェンシャルスキュー検出処理１について説明するためのフローチャートである。
【図９】本発明を適用した光ディスク再生装置の第２の実施の形態における構成を示すブロック図である。
【図１０】図９の波形等化部の構成を示すブロック図である。
【図１１】スキュー補正処理２について説明するためのフローチャートである。
【図１２】波形等化処理１について説明するためのフローチャートである。
【図１３】波形等化処理１について説明するためのフローチャートである。
【図１４】本発明を適用した光ディスク再生装置の第３の実施の形態における構成を示すブロック図である。
【図１５】図１４のスキュー検出および波形等化部の構成を示すブロック図である。
【図１６】スキュー検出および波形等化部の、図１５とは異なる構成を示すブロック図である。
【図１７】図１６のスキュー検出および波形等化部を有する場合のスキュー補正処理３について説明するためのフローチャートである。
【図１８】タンジェンシャルスキュー検出処理２について説明するためのフローチャートである。
【図１９】波形等化処理２について説明するためのフローチャートである。
【図２０】スキュー検出および波形等化部の、図１５または図１６とは異なる構成を示すブロック図である。
【図２１】図２０のスキュー検出および波形等化部を有する場合のスキュー補正処理４について説明するためのフローチャートである。
【図２２】タンジェンシャルスキュー検出処理３について説明するためのフローチャートである。
【図２３】波形等化処理３について説明するためのフローチャートである。
【図２４】本発明を適用した光ディスク再生装置の第４の実施の形態における構成を示すブロック図である。
【図２５】図４の光ディスク再生装置が実行するスキュー補正処理５について説明するためのフローチャートである。
【図２６】本発明を適用した光ディスク再生装置の第５の実施の形態における構成を示すブロック図である。
【図２７】図２６の光学ピックアップ部の構成を示すブロック図である。
【図２８】図２６の光ディスク再生装置を応用した構成を示すブロック図である。
【図２９】本発明を適用した光ディスク再生装置の第６の実施の形態における構成を示すブロック図である。
【図３０】図２９の光学ピックアップ部の構成を示すブロック図である。
【図３１】図２９の光ディスク再生装置を応用した構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  光ディスク，  １９  スキューセンサ，  ５１  光学ピックアップ部，  ５２  タンジェンシャルスキュー検出部，  ５３  制御部，  ７１  Ａ／Ｄ変換部，  ７２  レジスタ，  ７３  ＭＳＢ抽出部，  ７４  ｎビット列保持部，  ７５  検出ビット列保持部，  ７６  比較部，  ７７，７８  レジスタ，  ７９差動演算部，  １０１  制御部，  １０２  波形等化部，  １２１  Ａ／Ｄ変換部，  １２２  レジスタ，  １２３  加算部，  １２４  係数乗算部，  １２５  差動演算部，  １２７  スイッチ，  １３０  係数乗算部，  １３１  差動演算部，  １３２  イコライザ，  １０３  ピックアップ制御部，  １５１  制御部，  １５２  スキュー検出および波形等化部，  １７１  レジスタ，  １９１  スキュー検出および波形等化部，  ２０１  イコライザ，  ２０２  ＭＳＢ抽出部，  ２０３  レジスタ，  ２０４  遅延部，  ２２１  スキュー検出および波形等化部，  ２３１  遅延部，  ２３２  イコライザ，  ２３３  レジスタ，  ３０１  ＤＶＤ，  ３０２  ＣＤ，  ３１１  光学ピックアップ部，  ３２５  制御部，  ３６１  光学ピックアップ部，  ３６２  スイッチ，  ３６５  制御部
【図１】
2004280914.tif 000003
【図２】
2004280914.tif 000004
【図３】
2004280914.tif 000005
【図４】
2004280914.tif 000006
【図５】
2004280914.tif 000007
【図６】
2004280914.tif 000008
【図７】
2004280914.tif 000009
【図８】
2004280914.tif 000010
【図９】
2004280914.tif 000011
【図１０】
2004280914.tif 000012
【図１１】
2004280914.tif 000013
【図１２】
2004280914.tif 000014
【図１３】
2004280914.tif 000015
【図１４】
2004280914.tif 000016
【図１５】
2004280914.tif 000017
【図１６】
2004280914.tif 000018
【図１７】
2004280914.tif 000019
【図１８】
2004280914.tif 000020
【図１９】
2004280914.tif 000021
【図２０】
2004280914.tif 000022
【図２１】
2004280914.tif 000023
【図２２】
2004280914.tif 000024
【図２３】
2004280914.tif 000025
【図２４】
2004280914.tif 000026
【図２５】
2004280914.tif 000027
【図２６】
2004280914.tif 000028
【図２７】
2004280914.tif 000029
【図２８】
2004280914.tif 000030
【図２９】
2004280914.tif 000031
【図３０】
2004280914.tif 000032
【図３１】
2004280914.tif 000033