(57)【要約】【課題】半導電性ベルトの欠陥部を簡易かつ短時間に修正して、個人差もなくベルトの平面度を向上させる方法を提供する。【解決手段】樹脂中に導電性物質を含有する半導電性ベルトの形状的な欠陥部に、熱エネルギー線を照射処理してベルト表面を修正することを特徴とする半導電性ベルトの平面度を向上させる方法。前記熱エネルギー線の照射処理は、前記欠陥部中心のエネルギー密度を密にし、中心から離れるにつれてエネルギー密度を粗にするものであり、そのための手段としてレーザによるマーキングを用いることが好ましい。【選択図】　　　　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
樹脂中に導電性物質を含有する半導電性ベルトの形状的な欠陥部に、熱エネルギー線を照射処理してベルト表面を修正することを特徴とする半導電性ベルトの平面度を向上させる方法。
【請求項２】
前記熱エネルギー線の照射処理が前記欠陥部中心のエネルギー密度を密にし、中心から離れるにつれてエネルギー密度を粗にするものである、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記熱エネルギー線の照射処理がレーザによるマーキングである請求項１または２に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、樹脂中に導電性物質を含有する半導電性ベルトの形状的な欠陥部を修正して平面度を向上させる方法に関し、特に、プリンター、複写機、ビデオプリンター等の電子写真記録装置に使用される、シームレス状の中間転写ベルトおよび転写搬送ベルトの修正方法として有用である。
【０００２】
【従来の技術】
近年、半導電性ベルトは電子写真記録装置の中間転写ベルト等に用いられているが、製造過程においてベルト表面に突起状の欠陥が生じる場合がある。電子写真記録装置の高画質化、高速化の進展に伴い、半導電性ベルトがこのような欠陥部を有すると、画像の不具合を発生させ、中間転写ベルトや転写搬送ベルトとして使用できず、半導電性ベルトを製造する際の歩留まりが悪化していた。このような欠陥部を修正するために、ハンダこてで加熱したり、研磨紙で研磨したりすることが行われてきた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の従来の方法では、
（１）ハンダこてで加熱しようとすると、局部的に熱が加わることで、加熱部分が歪み、欠陥部を悪化させてしまう畏れがある。
【０００４】
（２）欠陥部を研磨し修正することは可能であるが、研磨前の表面粗さと同等レベルに研磨するには時間がかかり、能率が良い作業とは言えない。
【０００５】
（３）半導電性ベルトはもろいために、作業を行っている間に新たに欠陥部を発生させてしまう畏れがある。
【０００６】
（４）修正作業完了までの時間には個人差がある。
【０００７】
という問題があった。
【０００８】
そこで、本発明の目的は、半導電性ベルトの欠陥部を簡易かつ短時間に修正して、個人差もなくベルトの平面度を向上させる方法を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、上記目的を達成すべく、半導電性ベルトの欠陥部を修正する手段について鋭意研究したところ、下記の方法により所期の目的を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。
【００１０】
すなわち、本発明の半導電性ベルトの平面度を向上させる方法は、樹脂中に導電性物質を含有する半導電性ベルトの形状的な欠陥部に、熱エネルギー線を照射処理してベルト表面を修正することを特徴とする。
【００１１】
前記熱エネルギー線の照射処理は、前記欠陥部中心のエネルギー密度を密にし、中心から離れるにつれてエネルギー密度を粗にするものであることが好ましい。
【００１２】
前記熱エネルギー線の照射処理は、レーザによるマーキングであることが好ましい。
【００１３】
［作用効果］
本発明の半導電性ベルトの平面度を向上させる方法によると、ベルト表面の欠陥部中心に集中的かつ瞬間的に熱エネルギー線を照射することにより、簡易かつ短時間にベルトの欠陥部を修正することができる。その結果、中間転写ベルトに使用した際転写画像が良好になるなど実使用上問題ない状態に半導電性ベルトの平面度が向上し、結果的に製造の歩留りを向上することができる。
【００１４】
特に、レーザによるマーキングを用いた照射処理は、処理者によるバラツキが少なく、さらに製造の歩留まりを向上することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１６】
本発明に用いられる半導電性ベルトとしては、樹脂中に導電性物質を含有するものであれば、従来公知の何れの半導電性ベルトも使用できる。例えば、弗化ビニリデン、エチレン・テトラフルオロエチレン共重合体、ポリカーボネート等の他、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンスルフィド、ポリベンズイミダゾール等の耐熱性樹脂を樹脂成分とするものがあげられる。なかでも機械特性、耐熱性、屈曲性に優れたポリイミド樹脂が最適である。
【００１７】
また、導電性物質としては、ポリアセチレン、ポリピロール、ポリチオフェン等の導電性ポリマー、ケッチンブラック、アセチレンブラック等のカーボンやグラファイト、銀、ニッケル、銅等の金属やこれら合金およびマイカ、カーボン、ガラス等にメッキした複合金属、酸化錫、酸化インジウム等の酸化金属、アニオン、カチオン、ノニオン、両性を有する界面活性剤があげられる。本発明では、半導電性ベルトにその他の充填剤などを含有していてもよい。
【００１８】
ポリイミド樹脂中に導電性物質を含有する半導電性ベルトの場合、例えば、ジアミン成分とテトラカルボン酸二無水物成分を溶液中で重合してポリアミド酸重合物を得た後、このアミド酸重合物にカーボンブラック等を混合し、これを金型に製膜、加熱乾燥、イミド化を行って半導電性ポリイミドベルトを得ることができる。なお、本発明の半導電性ベルトの平面度を向上させる方法は、欠陥部を除去できないシームレスベルトの場合に特に有効である。
【００１９】
このようにして得られた半導電性ベルトの表面抵抗率ρｓは１０８〜１０１６Ω／□、体積抵抗率ρｖは１０８〜１０１６Ω・ｃｍ、厚み５０〜１５０μｍのものが一般的である。
【００２０】
本発明では、半導電性ベルトが製造工程などで発生した形状的な欠陥部を含むものを修正の対象とするが、当該形状的な欠陥としては、例えば小さい折れ、小突起などがあげられる。これらは、転写画像等に不具合（トナー欠落）を発生し、中間転写ベルトや転写搬送ベルトとしての使用に支障をきたす。
【００２１】
本発明において修正可能な形状的な欠陥部の範囲は、長さが１０ｍｍ程度まで、あるいはφ１０ｍｍ程度までである。
【００２２】
前記形状的な欠陥部は、例えば、図１に示すように、半導電性ベルトの表面１に発生した円錐状の突起２があげられる。
【００２３】
本発明においては、この欠陥部中心の熱エネルギー密度を密にし、中心から離れるにつれて当該密度が粗になるように熱エネルギー線を照射処理する。
【００２４】
前記欠陥部中心とは、肉眼や顕微鏡で観察したときに欠陥部内の最も欠陥が著しいと見える部分である。例えば、図１においては、円錐状の突起２の頂点３に該当する。
【００２５】
熱エネルギー線の照射方法としては、ベルトの欠陥部に照射可能な熱エネルギー線の発生装置を用いて公知の方法で行なうことができる。前記装置としては、紫外線発生装置、可視光源、赤外線発生装置、レーザ発生装置等があげられるが、単一周波数で指向性に優れ、高い熱エネルギー密度の得られるレーザ発生装置が好ましい。発生するレーザの種類としてはＣＯ２レーザ、ＹＡＧレーザ、半導体レーザ、エキシマレーザなどがあげられるが、本発明はいずれのレーザも使用可能である。また、半導電性ベルトに使用されている樹脂との関係で、照射するレーザを適宜選択することもできる。
【００２６】
前記熱エネルギー線を、ベルトの欠陥部中心の熱エネルギー密度を密にし、中心から離れるにつれて当該密度が粗になるように照射するには、当該欠陥部中心に収束するように照射すればよく、レーザがその特性上好ましく用いられる。
【００２７】
前記照射は、市販のレーザマーカを使用することにより、簡易かつ短時間に行なうことができる。また、熱エネルギー密度を前記したように傾斜させるには、マークするロゴの大きさをベルトの欠陥部の形状に合わせて適宜決定し、ロゴの欠陥部中心に位置する箇所が密でその箇所から離れるにつれて粗になるようにロゴをデザインすることにより確実に行なうことができる。例えば、図１に示す円錐状の突起の場合、図３に示すようなスパイラル状のロゴをデザインし、当該円錐の頂点３とスパイラルの中心とが一致するようにマーキングする。
【００２８】
レーザマーカを使用した場合、レーザの出力やマーキングスピードを調整することにより、様々な形状の欠陥部を修正したり、修正の微調整が容易である。
【００２９】
このようにして欠陥部にレーザ等の熱エネルギー線を照射することにより、当該欠陥部を修正し、ベルトの平面度を向上させることができる。例えば、図１の円錐の頂点３が図２に示すように消失し、わずかに円錐台状の痕跡４として観察される。
【００３０】
照射処理後のベルトの平面度を確認し、所望の平面度に達するまで、前記熱エネルギー線の照射を繰り返すことができる。
【００３１】
前記平面度は、ベルト表面の表面粗さＲｚをＪＩＳ　Ｂ　０６０１（１９８２）に準じて測定した値を目安にすることができる。半導電性ベルトを中間転写ベルトや転写搬送ベルトとして使用する場合、表面粗さＲｚは、５μｍ以下にすることが好ましい。
【００３２】
このようにして欠陥部を修正して平面度を向上させた半導電性ベルトは、中間転写ベルト、転写搬送ベルトとして実使用上問題のない状態で使用することができる。
【００３３】
【実施例】
以下、本発明の構成と効果を具体的に示す実施例等について説明する。
【００３４】
（実施例１）
Ｎ−メチル−２−ピロリドン（ＮＭＰ）１６７４ｇ中に、乾燥したカーボンブラック（キャボット社製，バルカンＸＣ、平均一次粒子径０．３μｍ、比重１．８ｇ／ｃｍ３）１６．１ｇ（ポリイミドに対し４重量％）をボールミルで６時間、室温で混合した。このＮＭＰ分散液に４，４’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物（ＢＰＤＡ）２９４．２ｇとｐ−フェニレンジアミン（ＰＤＡ）１０８．２ｇを溶解し、窒素雰囲気中において、室温で３時問撹拌しながら反応させて、３００Ｐａ・ｓのポリアミド酸溶液を得た。内径３３０ｍｍ、長さ５００ｍｍの円筒状金型の内面に上記ポリアミド酸溶液をディスペンサで厚さ４００μｍに塗布後、１５００ｒｐｍで１０分間回転させ均一な塗布面を得た。次に、２５０ｒｐｍで回転させながら、金型の外側より６０℃の熱風を３０分間あてた後、１５０℃で６０分間加熱、その後３００℃まで２℃／分の昇温速度で昇温し、更に３００℃で３０分間加熱し、溶媒の除去、脱水閉環水の除去、およびイミド転化を行った。
【００３５】
イミド転化した半導電性シームレスベルトを前記金型から剥離して表面を肉眼で観察したところ、突起状の欠陥部を複数発見した。突起状の欠陥部の中から、大（φ１０ｍｍ前後）、中（φ５ｍｍ前後）、小（φ３ｍｍ前後）の３つを選び、下記修正を行なった。
【００３６】
次に、前記ベルトを固定し、ＣＯ２レーザマーカ（（株）堀内電機製作所製）により、前記欠陥部の中心にレーザの焦点を合わせ、欠陥部より多少大きいスパイラル状のロゴをマーキングした。レーザの出力は１０％で、マーキング速度は１００ｍｍ／ｓであった。
【００３７】
（比較例１）
実施例１のレーザを用いる代わりにハンダこてや研磨紙を用いて、突起状の欠陥部（大きさが大（φ１０ｍｍ前後）、中（φ５ｍｍ前後）、小（φ３ｍｍ前後））の修正を行った。
【００３８】
実施例および比較例において、ベルトの欠陥部を修正するのに要した時間を測定し、表１に示す。
【００３９】
【表１】
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表１より、実施例の方法は、比較例の方法に比べて、ベルトの欠陥部の修正が短時間で済み、修正後のベルトの平面度も実用上問題のないレベルであった。一方、比較例の方法は、実施例の方法に比べて１０〜１５倍の時間を要した。また、ベルトの表面抵抗率は、修正前後で変化がなかった。
【図面の簡単な説明】
【図１】円錐状の突起欠陥部を有する半導電性ベルトの部分断面図
【図２】図１の半導電性ベルトを修正した後の部分断面図
【図３】レーザ照射によりベルトの欠陥部にマーキングするロゴの一例
【符号の説明】
１　ベルト表面
２　円錐状突起部（欠陥部）
３　円錐状突起部の頂点（欠陥部の中心）
４　円錐台状の痕跡
【図１】
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【図２】
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【図３】
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