(57)【要約】　　　（修正有）【課題】２層以上の記録層をもつ光デイスクにおいて、回転軸からピットまでの半径方向の距離の差による不都合を改善する記録再生装置及び光デイスクを提供する。【解決手段】下部記録層６のリードインゾーン６ａの外周付近には、アドレス格納ゾーン６ｄが設けられ、データゾーン６ｂの各エリアのアドレス情報を記録するためのものであり、データゾーン６ｂにはエリアＡ、エリアＢ、エリアＣの３つの仮想エリアにおける所定のアドレスが格納されている。それぞれのエリアはアドレス数ごとに設けられ、最も内側に配置されるエリアＡの半径方向の幅は３つのエリアのうち最も広く、最も外側のエリアＣの半径方向の幅は、３つのエリアのうち最も狭くなっている。【選択図】図２
2004079057.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクを記録・再生することが可能な装置であって、
前記光ディスクの各記録層に対してアクセス可能な光ピックアップと、
前記光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じた所定のアドレスを記憶する手段と、
前記記憶された各アドレスに対して前記光ピックアップをそれぞれアクセスさせ、各エリアに対するサーボエラー信号のバイアス値を計測する手段と、
前記計測されたバイアス値により前記サーボエラー信号を補償して前記ピックアップの駆動を制御する手段と
を具備することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載の記録・再生装置であって、
前記バイアス値は、記録時のフォーカスバイアス値、再生時のフォーカスバイアス値、記録時のトラッキングバイアス値及び再生時のトラッキングバイアス値のうち少なくとも１つであることを特徴とする記録・再生装置。
【請求項３】
請求項２に記載の記録・再生装置であって、
前記記録時のフォーカスバイアス値として、ウォブル信号レベルが最大になるフォーカスバイアス値を計測することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項４】
請求項２に記載の記録・再生装置であって、
前記記録時のフォーカスバイアス値として、ウォブル信号から復調されたアドレス情報の読み出しエラーが最も少なくなるフォーカスバイアス値を計測することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項５】
請求項２に記載の記録・再生装置であって、
前記記録時のトラッキングバイアス値として、記録した信号のＲＦ信号レベルが最も大きくなるトラッキングバイアス値を計測することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項６】
請求項２に記載の記録・再生装置であって、
前記記録時のトラッキングバイアス値として、記録した信号のＲＦ信号レベルを復調した際、最も情報読み出しエラーの少なくなるトラッキングバイアス値を計測することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項７】
アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクを記録・再生することが可能な装置であって、
前記光ディスクの各記録層に対してアクセス可能な光ピックアップと、
前記光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じたサーボエラー信号のバイアス値のデータを記憶する手段と、
前記記憶されたバイアス値のデータにより前記サーボエラー信号を補償して前記光ピックアップの駆動を制御する手段と
を具備することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項８】
アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクを記録・再生することが可能な装置であって、
前記光ディスクの各記録層に対してアクセス可能な光ピックアップと、
前記光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じたサーボエラー信号のバイアス値のデータが記録された光ディスクの領域に前記光ピックアップをアクセスさせ、バイアス値のデータを読み取らせる手段と、
前記読み取ったバイアス値のデータにより前記サーボエラー信号を補償して前記ピックアップの駆動を制御する手段と
を具備することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項９】
請求項８に記載の記録・再生装置において、
前記複数のエリアのうち少なくとも一は、記録又は再生のテストを行うためのエリアであるとみなし、該エリアに前記光ピックアップをアクセスさせる手段
を更に具備することを特徴とする記録・再生装置。
【請求項１０】
アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクであって、
少なくとも１層の前記記録層が、
当該光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに対するサーボエラー信号のバイアス値の計測するためのアドレスが記録された領域を有することを特徴とする光ディスク。
【請求項１１】
アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクであって、
少なくとも１層の前記記録層が、
当該光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じたサーボエラー信号のバイアス値のデータが記録された領域を有することを特徴とする光ディスク。
【請求項１２】
請求項１０に記載の光ディスクにおいて、
該複数のエリアのうち少なくとも一は、記録又は再生のテストを行うためのエリアである
ことを特徴とする光ディスク。
【請求項１３】
アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクであって、
少なくとも１層の前記記録層が、
当該光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、該複数のエリアのうち少なくとも一は、記録又は再生のテストを行うためのエリアである
ことを特徴とする光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばＣＤ−ＲやＤＶＤ＋ＲＷ等のような記録再生型の光ディスクを記録・再生させる記録・再生装置及びこのような装置に使われる光ディスクに関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ−ＲやＤＶＤ＋ＲＷ等のような記録再生型の光ディスクを記録・再生させる装置は、良好かつ安定した記録・再生を行うことが必要とされる。記録時及び再生時にフォーカスバイアスあるいはトラッキングバイアスを調整することによって、ディスクごとにＲＦ信号又はウォブル信号を最も良好に読み出すようにしている。
【０００３】
一般に、記録・再生に最適なフォーカスバイアス及びトラッキングバイアスはディスクの内周と外周では同一ではない。例えばスキューによりディスクの傾きやＲ−ＤＥＰＥＮＤＡＮＣＥと呼ばれる現象等により、回転軸からピットまでの半径方向の距離に差ができるためである。このため最適な値を設定するためには、ピックアップの位置に応じて個別にフォーカスバイアス及びトラッキングバイアスを設定することが望ましい。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従来、記録層が１層のディスクでは、このように回転軸からピットまでの半径方向の距離に差ができるにもかかわらず記録・再生にはほとんど支障をきたさないため、個別にフォーカスバイアス及びトラッキングバイアスを設定することは特に必要ではなかった。
【０００５】
しかし、記録層が２層以上のディスクでは、この距離の差によって不都合が生じる場合がある。
【０００６】
記録層が２層以上のディスクを完成させるためには、記録層どうしを接着させる必要がある。記録層どうしを貼り合わせる際には紫外線硬化型の接着剤等で接着される。この接着剤の層は、光ピックアップから出射される光が複屈折を起こす原因となる。また、接着剤はスピンコートによって塗布されるが、完全に均一にはならず、半径方向に厚みのムラできてしまう。このムラは光学的な収差に影響し、フォーカス信号やトラッキング信号を歪ませることとなる。
【０００７】
このような複屈折や信号の歪みによって、記録層が２層以上のディスクでは、回転軸からピットまでの半径方向の距離に差ができると、フォーカスバイアス及びトラッキングバイアスの最適値も大きく異なってしまう。
【０００８】
本発明は、上記事情に鑑み、記録・再生時のこのような特性を改善する記録・再生装置及び光ディスクを提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の第１の観点に係る記録・再生装置は、アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクを記録・再生することが可能な装置であって、前記光ディスクの各記録層に対してアクセス可能な光ピックアップと、前記光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じた所定のアドレスを記憶する手段と、前記記憶された各アドレスに対して前記光ピックアップをそれぞれアクセスさせ、各エリアに対するサーボエラー信号のバイアス値を計測する手段と、前記計測されたバイアス値により前記サーボエラー信号を補償して前記ピックアップの駆動を制御する手段とを具備することを特徴とするものである。
【００１０】
このような構成によれば、まず光ピックアップが分割された各エリアの所定の位置にアクセスし、サーボエラー信号のバイアス値を計測する。光ピックアップはアドレス記憶手段に記憶されたアドレスをもとに各エリアにアクセスする。計測されたサーボエラー信号に基づき、バイアス値が最適となるように光ピックアップの駆動量が補償される。補償信号に基づきピックアップの駆動が制御されることとなる。これにより、分割されたエリアごとに最適のバイアス値を設定でき、光ピックアップは最適の状態で記録・再生を行うことができる。
【００１１】
上記の記録・再生装置に装着する光ディスクとしては、記憶手段に記憶させるアドレスが記載されているものが好ましい。より好ましくは、２層以上の記録層を有する光ディスクにおいて、少なくとも１層の前記記録層が、当該光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに対するサーボエラー信号のバイアス値の計測するためのアドレスが記録された領域を有するものである。
【００１２】
また、上記のバイアス値は、記録時のフォーカスバイアス値、再生時のフォーカスバイアス値、記録時のトラッキングバイアス値及び再生時のトラッキングバイアス値のうち少なくとも１つであることが好ましい。記録時のフォーカスバイアス値としては、ウォブル信号レベルが最大になるフォーカスバイアス値を計測することが好ましいが、ウォブル信号から復調されたアドレス情報の読み出しエラーが最も少なくなるフォーカスバイアス値を計測するものであっても勿論構わない。さらに、記録時のトラッキングバイアス値として、記録した信号のＲＦ信号レベルが最も大きくなるトラッキングバイアス値を計測することがより好ましいが、記録した信号のＲＦ信号レベルを復調した際、最も情報読み出しエラーの少なくなるトラッキングバイアス値を計測するものであっても勿論構わない。
【００１３】
本発明の第２の観点に係る記録・再生装置は、アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクを記録・再生することが可能な装置であって、前記光ディスクの各記録層に対してアクセス可能な光ピックアップと、前記光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じたサーボエラー信号のバイアス値のデータを記憶する手段と、前記記憶されたバイアス値のデータにより前記サーボエラー信号を補償して前記光ピックアップの駆動を制御する手段とを具備することを特徴とするものである。
【００１４】
このような構成によれば、まず光ピックアップが光ディスクの分割された各エリアにアクセスする。光ピックアップは記憶手段によって記憶されているバイアス値に基づき、バイアス値が最適となるように駆動量が補償される。上記装置の記憶手段には、予め工場出荷時に好適な光ディスクのバイアス値を測定し、記憶させておく。これにより、分割されたエリアごとに最適のバイアス値を設定でき、光ピックアップは最適の位置で記録・再生を行うことができる。
【００１５】
本発明の第３の観点に係る記録・再生装置は、アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクを記録・再生することが可能な装置であって、前記光ディスクの各記録層に対してアクセス可能な光ピックアップと、前記光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じたサーボエラー信号のバイアス値のデータが記録された光ディスクの領域に前記光ピックアップをアクセスさせ、バイアス値のデータを読み取らせる手段と、前記読み取ったバイアス値のデータにより前記サーボエラー信号を補償して前記ピックアップの駆動を制御する手段とを具備することを特徴とするものである。
【００１６】
このような構成によれば、まず光ピックアップが分割された各エリアにアクセスする。光ピックアップは装置の記憶手段に予め記憶された情報をもとに各エリアにアクセスする。光ピックアップは各エリアごとに、予め光ディスクに記録されているバイアス値のデータを読み取る。光ディスクには工場出荷時に好適なバイアス値を記録させておく。光ディスクに記録されたバイアス値に基づいて、バイアス値が最適となるように光ピックアップの駆動量が補償される。補償信号に基づきピックアップの駆動が制御されることとなる。これにより、分割されたエリアごとに最適のバイアス値を設定でき、光ピックアップは最適の位置で記録・再生を行うことができる。
【００１７】
上記の記録・再生装置に装着する光ディスクとしては、光ディスクにバイアス値のデータが記録されているものが好ましい。より好ましくは、２層以上の記録層を有する光ディスクにおいて、少なくとも１層の前記記録層が、当該光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、各エリアに応じたサーボエラー信号のバイアス値のデータが記録された領域を有するものである。このような光ディスクも本発明に含まれる。
【００１８】
上記の記録・再生装置は、上記の複数のエリアのうち少なくとも一は、記録又は再生のテストを行うためのエリアであるとみなし、該エリアに前記光ピックアップをアクセスさせる手段を有しているものまた好ましい形態である。
【００１９】
このような構成によれば、光ピックアップが記録又は再生のテストを行うエリアにアクセスし、テストを行うことによりバイアス値を測定することができる。これにより、迅速にバイアス値を設定でき、光ピックアップは最適の状態で記録・再生を行うことができる。
【００２０】
上記の記録・再生装置に装着する光ディスクとしては、アドレス情報として、案内溝あるいはトラックにウォブルを有し、２層以上の記録層を有する光ディスクにおいて、少なくとも１層の前記記録層が、当該光ディスクの半径方向に対して記録層が複数のエリアに分割されたものとみなし、該複数のエリアのうち少なくとも一は、記録又は再生のテストを行うためのエリアであることが好ましい。記録又は再生のテストを行うエリアを設けることにより、確実にバイアス値を設定できるものである。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。
【００２２】
（第１実施形態）
まず、本発明の一の形態に係るディスクの構成について、図１及び図２をもとにして説明する。
【００２３】
図１は本発明に係るディスクの断面を概略的に示したものである。図２は、本発明に係るディスクの下部記録層について概略的に示したものである。
【００２４】
図１に示すように、ディスク１は、記録・再生が可能な光ディスクであり、ディスク上部２とディスク下部３を接着剤で貼り合せた２層構造となっている。
【００２５】
ディスク上部２は、上部透過層４及び上部記録層５からなる。上部透過層４は、耐熱性、耐湿性、成形性、光透過性の良い例えばポリカーボネート等のプラスチック材質で形成される。上部記録層５は、例えばＡｇ等から形成される半透明反射膜である。上部記録層５には、リードインゾーン５ａ及びデータゾーン５ｂが形成される記録エリア５ｃが設けられている。リードインゾーン５ａには、ディスクの種類、記録の線速、記録パワー、推奨ライトストラテジー等についての情報が記録され、実際のディスクにおいて最適な記録パワーを調整するための図示しない調整エリアが設けられている。リードインゾーン５ａは、記録エリア５ｃの最内周に設けられる。データゾーン５ｂには実際のデータが記録される。
【００２６】
ディスク下部３は、下部記録層６、下部透過層７から構成される。下部記録層６は、Ａｇ等から形成される反射膜である。下部透過層７は、Ｓｂ、Ｔｅ系の化合物から形成される保護膜である。
【００２７】
中間透過層８は、ディスク上部２とディスク下部３とを貼り合わせるために用いられた接着剤の層である。接着剤は例えばスピンコート法により塗布される。
【００２８】
図２に示すように、下部記録層６は、リードインゾーン６ａ、及び複数のエリアに分割されたデータゾーン６ｂが形成された記録エリア６ｃを有する。
【００２９】
リードインゾーン６ａには、上部記録層５のリードインゾーン５ａに記録された情報と同様の情報が記録されているほか、外周付近には、アドレス格納ゾーン６ｄが設けられている。
【００３０】
アドレス格納ゾーン６ｄは、データゾーン６ｂの各エリアのアドレス情報を記録させるために設けられる。データゾーン６ｂには、例えばエリアＡ、エリアＢ、及びエリアＣの３つの仮想のエリアにおける所定の位置のアドレスが格納されている。
【００３１】
それぞれのエリアは、アドレス数ごとに設けられる。例えばデータゾーン６ｂ全体のアドレス数が９９９９である場合、エリアＡ、エリアＢ、及びエリアＣのアドレス数はそれぞれ３３３３とされている。このようにエリアを設けると、最も内周に配置されるエリアＡの半径方向の幅は３つのエリアのうち最も広くなる。また、最も外周に配置されるエリアＣの半径方向の幅は３つのエリアのうち最も狭くなる。
【００３２】
次に、本発明の一の形態に係る記録再生装置の構成について、図３をもとにして説明する。
【００３３】
図３は、本発明に係る記録再生装置の制御系統をブロック図で示したものである。
【００３４】
図３に示すように、記録再生装置９は、ディスク１を載置させる載置部１０、及びディスク１に記録された信号を読み出す光ピックアップ１１を有する。記録再生装置９の内部には、処理部として、演算処理部１２、コントローラ１３、バイアス測定部１４、バイアス記憶部１５、バイアス設定部１６、フォーカス制御部１７、トラッキング制御部１８、及びＤ／Ａコンバータ１９が設けられている。図３の矢印は、各処理部間における信号・命令の方向を示している。
【００３５】
演算処理部１２は、光ピックアップ１１から読み出された信号を演算処理し、サーボエラー信号（フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を指す。以下同じ。）、ＲＦ信号、ウォブル信号として出力する。
【００３６】
コントローラ１３は、フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８にサーボをかけるように制御させるとともに、バイアス測定部１４、バイアス記憶部１５、バイアス設定部１６を制御する。
【００３７】
バイアス測定部１４は、ディスク１の上部記録層５、及び下部記録層６の各エリアにおいて、記録時及び再生時の最適フォーカスバイアス及び最適トラッキングバイアスを測定する。
【００３８】
バイアス記憶部１５は、バイアス測定部１４によって測定されたバイアスを記憶する。
【００３９】
バイアス設定部１６は、バイアス測定部１４によって測定されバイアス記憶部１５に記憶されたバイアスと、ウォブル信号又はＲＦ信号とを対比させ、最適なフォーカスバイアス及びトラッキングバイアスを設定する。
【００４０】
フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８は、コントローラ１３の信号にもとづいて、光ピックアップ１１のフォーカス及びトラッキングの動作を制御する。
【００４１】
Ｄ／Ａコンバータ１９は、バイアス設定部１６で設定されたバイアス（ディジタル信号）をアナログ変換する。
【００４２】
次に、この記録再生装置が記録・再生を行う場合の動作について、図４をもとにして説明する。
【００４３】
図４は、本発明の記録再生装置のバイアスの設定を示すフロー図である。ここでは２層構造のディスク１の下部記録層６に設けられたそれぞれのエリアＡ、Ｂ、Ｃに記録・再生を行う場合を例にとって説明する。
【００４４】
まず、記録又は再生させようとするディスク１が記録再生装置９の載置部１０に載置される（ステップ４０１）。
【００４５】
次に、光ピックアップを下部記録層６のリードインゾーンにアクセスさせ、ディスク情報を読み出す（ステップ４０２）。
【００４６】
具体的には、コントローラ１３が、記録又は再生を行う記録層を指定する。ここでは例えば下部記録層６を指定し、記録又は再生の信号をフォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８に伝達させる。信号が伝達されたフォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８は、指定された下部記録層６に光ピックアップ１１のフォーカス及びトラッキングのサーボをかける。下部記録層６のリードインゾーン６ａにアクセスさせ、光ピックアップ１１の動作を制御する。光ピックアップ１１は、リードインゾーン６ａに記録されている信号を読み出す。
【００４７】
次に、アドレス格納ゾーン６ｄから各エリアのアドレスを読み出す（ステップ４０３）。ここでは、エリアＡ、エリアＢ、及びエリアＣのそれぞれの所定のアドレスを読み出す。
【００４８】
具体的には、コントローラ１３が、フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８に信号を伝達し、光ピックアップ１１のフォーカス及びトラッキングをリードインゾーン６ａの外周部に設けられているアドレス格納ゾーン６ｄにアクセスさせる。光ピックアップ１１は、アドレス格納ゾーン６ｄに記録されたエリアＡ、エリアＢ、及びエリアＣの所定のアドレス情報を読み取る。
【００４９】
次に、最内周のエリアの所定のアドレスにアクセスする（ステップ４０４）。ここではエリアＡの所定のアドレスにアクセスする。
【００５０】
具体的には、ステップ４０３で読み取ったエリアＡのアドレスにアクセスするように、フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８に信号を伝達する。フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８は、光ピックアップ１１のフォーカス及びトラッキングをエリアＡの所定のアドレスにアクセスさせ、光ピックアップ１１の動作を制御する。
【００５１】
次に、エリアＡにて記録及び再生のテストを行い、バイアスをバイアス記憶部１５に記憶する（ステップ４０５）。
【００５２】
具体的には、まず光ピックアップ１１が、エリアＡに記録されている信号を読み取る。読み取った信号は、演算処理部１２で処理され、サーボエラー信号、ウォブル信号、及びＲＦ信号として伝達される。
【００５３】
サーボエラー信号はフォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８にフィードバックされる。コントローラ１３からの信号は、演算処理部１２からフィードバックされたサーボエラー信号にもとづいて補償される。補償された信号によって光ピックアップ１１が制御される。フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８は補償された信号にもとづいてエラーが最も少なくなるように光ピックアップ１１のフォーカス及びトラッキングを制御する。
【００５４】
また、ウォブル信号及びＲＦ信号はバイアス測定部１４に伝達される。バイアス測定部１４は、伝達されたウォブル信号及びＲＦ信号の信号レベルを測定する。
【００５５】
このとき、最適フォーカスバイアスとして、ウォブル信号レベルが最大になるフォーカスバイアスを計測する。あるいは、ウォブル信号から復調されたアドレス情報の読み出しエラーが最も少なくなるフォーカスバイアスを計測しても良い。
【００５６】
また、最適トラッキングバイアスとして、ＲＦ信号のレベルが最大になるトラッキングバイアスを計測する。あるいは、ＲＦ信号から復調された情報の読み出しエラーが最も少なくなるトラッキングバイアスを計測しても勿論構わない。計測された最適バイアスは、バイアス記憶部１５に伝達されて記憶される。
【００５７】
次に、上記のバイアス設定の処理が下部記録層６の全エリアについて完了したことを確認し（ステップ４０６）、全エリアについて設定が完了していなければ、エリアを移動して（ステップ４０７）各エリアごとのバイアスを設定する。ここでは、エリアＢ、エリアＣについてもバイアスの設定を行っていく。
【００５８】
また、全エリアについて設定が完了していれば、次のステップに進み、ディスク１の全記録層のバイアスが設定されているか確認する（ステップ４０８）。全記録層のバイアスが設定されていなければ、記録層を移動して（ステップ４０９）次の記録層についても同様の処理を行ってバイアスを設定する。
【００５９】
ディスク１の全記録層のバイアスが設定されれば、バイアスの設定は完了する（ステップ４１０）。ここでは、エリアＡ、Ｂ、及びＣにおいてバイアスが設定されればバイアスの設定は完了する。このようにしてバイアス設定が行われる。
【００６０】
そして、設定されたバイアス値により記録・再生の際の光ピックアップ１１の駆動が制御される。具体的には、まずコントローラ１３からの信号によりフォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８が制御を行い、記録・再生を行おうとする記録層にサーボをかける。次に、バイアス設定部１６は、バイアス記憶部１５に記憶された記録時又は再生時の最適フォーカスバイアス及び最適トラッキングバイアスを設定し信号として出力する。出力されたバイアス信号は、Ｄ／Ａコンバータ１９によってアナログ変換される。アナログ変換された信号は、フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８に伝達される。フォーカス制御部１７及びトラッキング制御部１８は、伝達された信号にもとづいて光ピックアップ１１の駆動を制御する。このようにして記録・再生が行われる。
【００６１】
次に、本実施形態の効果について、図５をもとにして説明する。
【００６２】
２層以上記録層を有するディスク１を形成する場合、一般に、図５（ａ）に示すようにスピンコート法によって接着剤を塗布する。接着剤を塗布しようとするディスク１を回転させておき、回転の中心に接着剤２０を、例えばノズル２１から吐出し、回転の遠心力を利用して接着剤２０を外側に塗布させるのである。
【００６３】
スピンコート法で接着剤を塗布した場合、図５（ｂ）に示すように、ディスクの回転の中心から半径方向に外側にいくにつれて接着剤２０の層が厚くなる場合が度々ある。接着剤２０の層は中間透過層８として２層目以降の記録層に光を透過させる働きをする。ディスクの内側と外側では透過層の厚さが異なり、光学的収差に影響する。光学的収差はフォーカス信号やトラッキング信号を歪ませることとなる。
【００６４】
本発明では、ディスク１の半径方向に例えば仮想のエリアＡ、Ｂ、Ｃを設けている。また、それぞれのエリアに応じてフォーカス信号及びトラッキング信号を設定できるような処理を行っている。これにより、ディスクの内側と外側で透過層の厚さが異なっていても、フォーカス信号やトラッキング信号の歪みを補償することができ、エリアごとに最適のバイアスが設定されることとなり、良好で安定した記録・再生を行うことができるものである。
【００６５】
（第２実施形態）
次に、本発明の別の形態に係る記録再生装置及等の構成について、図６及び図７をもとにして説明する。
【００６６】
図６は、本実施形態で用いられるディスクの断面を概略的に示したものである。図７は、本発明に係る記録再生装置の制御系統をブロック図で示したものである。
【００６７】
図６に示すように、ディスク２２は、記録・再生が可能な光ディスクであり、ディスク上部２３とディスク下部２４を接着剤で貼り合せた２層構造を形成する。ディスク上部２３は、上部透過層２５及び上部記録層２６からなる。ディスク下部２４は、下部記録層２７、下部透過層２８から構成される。中間透過層２９は、ディスク上部２３とディスク下部２４とを貼り合わせるために用いられた接着剤の層である。
【００６８】
ディスク２２のそれぞれの部位についての詳細は、上述したディスク１と同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００６９】
図７は、記録再生装置の制御系統をブロック図で示したものである。
【００７０】
図７に示すように、記録再生装置３０は、ディスク２２を載置させる載置部３１、及びディスク２２に記録された信号を読み出す光ピックアップ３２を有する。記録再生装置３０の内部には、処理部として、コントローラ３３、最適バイアス記憶部３４、フォーカス制御部３５、トラッキング制御部３６、アドレス記憶部３７、及びＤ／Ａコンバータ３８が設けられている。図７の矢印は、各処理部間における信号・命令の方向を示している。
【００７１】
コントローラ３３は、フォーカス制御部３５及びトラッキング制御部３６にサーボをかけるように制御する。
【００７２】
最適バイアス記憶部３４は、ディスク２２の各エリアごとの最適バイアス値を記憶する。最適バイアス記憶部３４には、予めディスクの最適バイアス値を記憶させておくバイアス設定値格納ゾーン３４ａと、それぞれのエリア応じて最適バイアスを記憶するエリアバイアス記憶部３４ｂとが設けられる。
【００７３】
フォーカス制御部３５及びトラッキング制御部３６は、コントローラ３３の信号にもとづいて、光ピックアップ３２のフォーカス及びトラッキングの動作を制御する。
【００７４】
Ｄ／Ａコンバータ３８は、最適バイアス記憶部３４から読み出した最適バイアスをアナログ変換する。
【００７５】
次に、記録・再生を行う場合の動作について、図８をもとにして説明する。ここではディスク２２の下部記録層２７に設けられた仮想のエリアＡ、Ｂ、Ｃに記録・再生を行う場合を例にとって説明する。
【００７６】
図８に示すように、まず、記録又は再生させようとするディスク２２を記録再生装置３０の載置部３１に載置する（ステップ８０１）。
【００７７】
次に、光ピックアップ３２を下部記録層２７のリードインゾーンにアクセスさせ、ディスク情報を読み出す（ステップ８０２）。
【００７８】
次に、バイアス設定値格納ゾーン３４ａからディスク２２の最適バイアスを読み出し、エリアバイアス記憶部３４ｂに記憶させる（ステップ８０３）。
【００７９】
エリアバイアス記憶部３４ｂに最適バイアスが記憶されれば、バイアスの設定は完了する（ステップ８０４）。このようにして、各エリアごとの最適バイアスを設定する。
【００８０】
なお、各ステップの具体的動作、及びバイアス設定後の記録又は再生の動作については、上述と同様であるためここでは説明を省略した。
（第３実施形態）
本発明の更に別の形態に係るディスクの構成について、図９及び図１０をもとにして説明する。
【００８１】
図９は本発明に係るディスクの断面を概略的に示したものである。図１０は、本発明に係るディスクの下部記録層について概略的に示したものである。
【００８２】
図９に示すように、ディスク３９は、記録・再生が可能な光ディスクであり、ディスク上部４０とディスク下部４１を接着剤で貼り合せた２層構造を形成する。ディスク上部４０は、上部透過層４２及び上部記録層４３からなる。ディスク下部４１は、下部記録層４４、下部透過層４５から構成される。中間透過層４６は、ディスク上部４０とディスク下部４１とを貼り合わせるために用いられた接着剤の層である。
【００８３】
図１０に示すように、下部記録層４４は、リードインゾーン４４ａ、及び複数の仮想のエリアを有するデータゾーン４４ｂが形成された記録エリア４４ｃを有する。リードインゾーン４４ａには、ディスクの種類等の情報が記録されている。データゾーン４４ｂは、例えばエリアＡ、エリアＢ、及びエリアＣの３つの仮想のエリアを有する。それぞれのエリアは、アドレス数ごとに設けられる。例えばデータゾーン４４ｂ全体のアドレス数が９９９９である場合、エリアＡ、エリアＢ、及びエリアＣのアドレス数はそれぞれ３３３３とする。このようにエリアを設けると、最も内周に配置されるエリアＡの半径方向の幅は３つのエリアのうち最も広くなる。また、最も外周に配置されるエリアＣの半径方向の幅は３つのエリアのうち最も狭くなる。
【００８４】
次に、本実施形態における記録再生装置の構成について、図１１をもとにして説明する。
【００８５】
図１１は、本発明に係る記録再生装置の制御系統をブロック図で示したものである。
【００８６】
図１１に示すように、記録再生装置４７は、ディスク３９を載置させる載置部４８、及びディスク３９に記録された信号を読み出す光ピックアップ４９を有する。記録再生装置４７の内部には、処理部として、演算処理部５０、コントローラ５１、バイアス測定部５２、バイアス記憶部５３、バイアス設定部５４、フォーカス制御部５５、トラッキング制御部５６、アドレス記憶部５７、及びＤ／Ａコンバータ５８が設けられている。図１１の矢印は、各処理部間における信号・命令の方向を示している。
【００８７】
演算処理部５０、コントローラ５１、バイアス測定部５２、バイアス記憶部５３、バイアス設定部５４、フォーカス制御部５５、トラッキング制御部５６、及びＤ／Ａコンバータ５８は、上述したものと同様であるため、ここでは説明を省略する。
【００８８】
アドレス記憶部５７には、ディスク３９に設けられたエリアＡ、Ｂ、Ｃのアドレスを予め記憶させる。
【００８９】
図１２は、本発明の記録再生装置の動作を示すフロー図である。ここでは２層構造のディスク３９の下部記録層４４に設けられたそれぞれのエリアＡ、Ｂ、Ｃに記録・再生を行う場合を例にとって説明する。
【００９０】
図１２に示すように、まず、記録又は再生させようとするディスク３９を記録再生装置４７の載置部４８に載置する（ステップ１２０１）。
【００９１】
ディスク３９を載置部に載置したら、光ピックアップを下部記録層４４のリードインゾーンにアクセスさせ、ディスク情報を読み出す（ステップ１２０２）。
【００９２】
ディスク情報を読み出したら、アドレス記憶部５７から各エリアのアドレスを読み出す（ステップ１２０３）。ここでは、エリアＡ、エリアＢ、及びエリアＣのそれぞれのエリアのアドレスを読み出す。
【００９３】
次に、最内周のエリアの所定のアドレスにアクセスする（ステップ１２０４）。ここではエリアＡの所定のアドレスにアクセスする。
【００９４】
次に、エリアＡにて記録及び再生のテストを行い、バイアスをバイアス記憶部５３に記憶する（ステップ１２０５）。
【００９５】
次に、上記の処理が下部記録層４４の全エリアについて完了したことを確認し（ステップ１２０６）、全エリアについて設定が完了していなければ、エリアを移動して（ステップ１２０７）各エリアごとのバイアスを設定する。ここでは、エリアＢ、エリアＣについてもバイアスの設定を行っていく。
【００９６】
また、全エリアについて設定が完了していれば、次のステップに進み、ディスク１の全記録層のバイアスが設定されているか確認する（ステップ１２０８）。全記録層のバイアスが設定されていなければ、記録層を移動して（ステップ１２０９）次の記録層についても同様の処理を行ってバイアスを設定する。
【００９７】
ディスク１の全記録層のバイアスが設定されれば、バイアスの設定は完了する（ステップ１２１０）。ここでは、エリアＡ、Ｂ、及びＣにおいてバイアスが設定されればバイアスの設定は完了する。このようにして、バイアス設定の処理が行われる。
【００９８】
なお、各ステップの具体的動作、及びバイアス設定後の記録又は再生の動作については、上述と同様であるためここでは説明を省略した。
【００９９】
（第４実施形態）
次に、本発明の第４の形態に係る光ディスクについて、図１３をもとにして説明する。図１３は、ディスクの下部記録層について概略的に示したものである。
【０１００】
図１３に示すように、ディスク５９の下部記録層６０は、リードインゾーン６０ａ、複数のエリアを有するデータゾーン６０ｂが形成された記録エリア６０ｃ、及びデータゾーン６０ｂの例えば最内周に設けられたテストエリア６０ｄを有する。リードインゾーン６０ａの外周付近には、アドレス格納ゾーン６０ｅのほか、テストエリア６０ｄにアクセスするためのテストエリアアドレス格納ゾーン６０ｆが設けられている。
【０１０１】
テストエリア６０ｄでは、記録・再生のテストが行われる。テストエリアアドレス格納ゾーン６０ｆには、テストエリア６０ｄにアクセスするためのアドレス情報を格納する。
【０１０２】
次に、本発明の第４の形態に係る記録再生装置の構成について、図１４をもとにして説明する。
【０１０３】
図１４は、本発明に係る記録再生装置の制御系統をブロック図で示したものである。
【０１０４】
図１４に示すように、記録再生装置６１は、ディスク５９を載置させる載置部６２、及びディスク５９に記録された信号を読み出す光ピックアップ６３を有する。記録再生装置６１の内部には、処理部として、演算処理部６４、コントローラ６５、バイアス測定部６６、バイアス記憶部６７、バイアス設定部６８、フォーカス制御部６９、トラッキング制御部７０、Ｄ／Ａコンバータ７１、及びテストエリアアドレス記憶部７２が設けられている。
【０１０５】
テストエリアアドレス記憶部７２は、ディスク５９の下部記録層６０に設けられたテストエリア６０ｄに光ピックアップ６３をアクセスさせる際のアドレス情報を格納する。テストエリアアドレス記憶部７２に記憶されるテストエリアアドレスは、ディスク５９のテストエレアアドレス格納ゾーン６０ｄから読み取ったものであってもよいし、あらかじめ測定して記憶させておいたものであっても良い。また、テストエリアアドレス記憶部７２を設けず、テストエリアアドレス格納ゾーン６０ｄから読み取ったテストエリアアドレスにもとづいてそのまま記録・再生のテストを行っても良い。以下、テストエリアアドレス記憶部７２が設けられている場合を説明する。テストエリアアドレス格納ゾーン６０ｄから読み取られてテストエリアアドレス記憶部７２に記憶されたテストエリアアドレスに基づいて記録・再生のテストを行うものとする。
【０１０６】
図１５は、本発明の記録再生装置の動作を示すフロー図である。ここでは２層構造のディスク３９の下部記録層４４に設けられたそれぞれのエリアＡ、Ｂ、Ｃに記録・再生を行う場合を例にとって説明する。
【０１０７】
図１５に示すように、まず、記録又は再生させようとするディスク５９を記録再生装置６１の載置部６２に載置する（ステップ１５０１）。
【０１０８】
ディスク５９を載置部に載置したら、光ピックアップを下部記録層６０のリードインゾーンにアクセスさせ、ディスク情報を読み出す（ステップ１５０２）。
【０１０９】
ディスク情報を読み出したら、テストエリアアドレス記憶部７２からテストエリア６０ｄのアドレスを読み出す（ステップ１５０３）。
【０１１０】
次に、読み出したテストエリア６０ｄのアドレスにアクセスする（ステップ１５０４）。
【０１１１】
次に、テストエリア６０ｄにて記録及び再生のテストを行い、バイアスをバイアス記憶部６７に記憶する（ステップ１５０５）。
【０１１２】
このようにして、テストエリア６０ｄのバイアス設定が行われる。
【０１１３】
なお、ここでは、テストエリア６０ｄが一箇所にのみ設けられたものとして説明したが、複数箇所、例えばエリアごとに設けても良い。
【０１１４】
本実施形態では、テストエリアを設け、記録・再生のテストを行わせることにより、確実にフォーカスバイアス及びトラッキングバイアスの測定を行うことができ、記録・再生時の特性の改善につながるものである。
【０１１５】
本発明は以上説明した実施形態には限定されるものではなく、種々の変形が可能である。
【０１１６】
上記実施形態では、記録層を２層有するディスクについて述べた。この中で、上側の記録層についてはエリアごとのバイアスを測定せず、下側の記録層のみ３つのエリアごとのバイアスを測定するものとして説明してきたが、上側の記録層については大まかに例えば２つのエリアを設けてそれぞれのエリアごとにバイアスを測定し、下側の記録層については細かく例えば５つのエリアを設けてそれぞれのエリアごとにバイアスを測定するものとしても勿論構わない。この場合、それぞれのエリアがアドレス数ごとに設けられることが好ましい。例えば上層及び下層がそれぞれ１００００のアドレスを有している場合、上層の２つのエリアのそれぞれが５０００のアドレスを有するように設け、下層の５つのエリアのそれぞれが２０００のアドレスを有するように設ける。
【０１１７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、記録・再生時の特性を改善する記録・再生装置、及び光ディスクを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一の形態に係る光ディスクを示す断面図である。
【図２】本発明の一の形態に係る光ディスクを示す平面図である。
【図３】本発明の一の形態に係る記録・再生装置を示すブロック図である。
【図４】本発明の一の形態に係る記録・再生装置の処理を示すフロー図である。
【図５】本発明に係る光ディスクの製造工程の一部を示す図である。
【図６】本発明の別の形態に係る記録・再生装置に使用する光ディスクを示す断面図である。
【図７】本発明の別の形態に係る記録・再生装置を示すブロック図である。
【図８】本発明の別の形態に係る記録・再生装置の処理を示すフロー図である。
【図９】本発明の更に別の形態に係る光ディスクを示す断面図である。
【図１０】本発明の更に別の形態に係る光ディスクを示す平面図である。
【図１１】本発明の更に別の形態に係る記録・再生装置を示すブロック図である。
【図１２】本発明の更に別の形態に係る記録・再生装置の処理を示すフロー図である。
【図１３】本発明の更に別の形態に係る光ディスクを示す平面図である。
【図１４】本発明の更に別の形態に係る記録・再生装置を示すブロック図である。
【図１５】本発明の更に別の形態に係る記録・再生装置の処理を示すフロー図である。
【符号の説明】
Ａ、Ｂ、Ｃ…エリア
１、２２、３９、５９…ディスク
６、２７、４４、６０…下部記録層
６ａ、２７ａ、４４ａ…リードインゾーン
６ｄ、…アドレス格納ゾーン
８…中間透過層
９、３０、４７…記録再生装置
１１、３２、４９…光ピックアップ
１５、５２…バイアス記憶部
１６、５３…バイアス設定部
２０…接着剤
３４…最適バイアス記憶部
３４ａ…バイアス設定値格納ゾーン
３４ｂ…エリアバイアス記憶部
５０…演算処理部
５１…コントローラ
５７…アドレス記憶部
６０ｄ…テストエリア
６０ｆ…テストエリアアドレス格納ゾーン
７２…テストエリアアドレス格納部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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