(57)【要約】【課題】液晶パネルの偏光板貼付け工程後に行なう検査を、高精度な位置決めを必要とせずに、簡単に効率良く行なえるようにする。【解決手段】液晶パネル検査方法は、偏光板貼付後の液晶パネルを点灯させて表示状況を確認するものであって、対象とする液晶パネル２２は、第１の基板としてのＴＦＴ側基板１０２、これに対向するように配置された第２の基板としてのカラーフィルタ側基板１０３とを備える。ＴＦＴ側基板１０２は、表面に配置された検査用電極３２を含む。カラーフィルタ側基板１０３は、ＴＦＴ側基板１０２の側を向く表面に配置された対向電極を含む。検査用電極３２と上記対向電極とは電気的に接続されている。この液晶パネル検査方法は、検査用電極３２に電圧を印加する工程を含む。【選択図】　　　　図４
2004012765.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の基板と、
前記第１の基板に対向するように配置された第２の基板とを備え、
前記第１の基板は、表面に配置された検査用電極を含み、前記第２の基板は、前記第１の基板の側を向く表面に配置された対向電極を含み、前記検査用電極と前記対向電極とは電気的に接続されている、液晶パネル。
【請求項２】
前記検査用電極は、前記第１の基板のうち前記第２の基板に覆われずに露出する位置に配置されている、請求項１に記載の液晶パネル。
【請求項３】
前記第１の基板は、前記対向電極に対向する位置に配置されたスイッチング素子と、前記スイッチング素子に電気的に接続された入力端子とを備え、前記検査用電極は、前記入力端子に隣接する位置に配置されている、請求項１に記載の液晶パネル。
【請求項４】
前記検査用電極の幅が０．５ｍｍ以上である、請求項１に記載の液晶パネル。
【請求項５】
偏光板貼付後の液晶パネルを点灯させて表示状況を確認する液晶パネル検査方法であって、
前記液晶パネルは、第１の基板と、前記第１の基板に対向するように配置された第２の基板とを備え、前記第１の基板は、表面に配置された検査用電極を含み、前記第２の基板は、前記第１の基板の側を向く表面に配置された対向電極を含み、前記検査用電極と前記対向電極とは電気的に接続されており、
前記検査用電極に電圧を印加する工程を含む、液晶パネル検査方法。
【請求項６】
前記電圧を印加する工程は、前記液晶パネルを位置決め部材に押し当てることで位置決めした状態で、プローブを前記検査用電極に当接させることによって行なう、請求項５に記載の液晶パネル検査方法。
【請求項７】
前記電圧を印加する工程は、前記液晶パネルの複数枚が一方向に並んでつながった状態で一括して行なう、請求項５または６に記載の液晶パネル検査方法。
【請求項８】
前記偏光板が前記液晶パネルの両面に貼付された状態で行なう、請求項７に記載の液晶パネル検査方法。
【請求項９】
前記電圧を印加する工程は、前記液晶パネルの表示面の全面を黒にするように電圧を印加する、請求項５に記載の液晶パネル検査方法。
【請求項１０】
検査テーブルと、
前記検査テーブルに設置される液晶パネルの表面に配置され、前記液晶パネル内の対向電極に電気的に接続された検査用電極に対して当接させるためのプローブと、
前記プローブに信号を送る信号発生部と、
前記プローブを前記液晶パネルに接近および離隔させる機構とを備える液晶パネル検査装置。
【請求項１１】
前記検査テーブルは、複数の液晶パネルが一方向に並んでつながったものである短冊基板を設置するためのものである、請求項１０に記載の液晶パネル検査装置。
【請求項１２】
前記短冊基板の前記各液晶パネル部分に対して一斉に当接させるための複数の前記プローブを備える、請求項１１に記載の液晶パネル検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に用いられる液晶パネル（「液晶表示パネル」ともいう。）に関し、さらに、その検査方法およびその検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
液晶の電気光学効果をテレビ画像に利用した表示素子として液晶パネルが知られている。液晶パネルの一例としてＴＦＴ（Ｔｈｉｎ　Ｆｉｌｍ　Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）方式のカラー液晶パネルの構造を図１０に示す。この液晶パネル１００は、ガラス基板などの透明基板を２枚互いに対向させ、その間の空間に液晶を封入し、液晶層１０１とした構造である。２枚の透明基板のうち一方は「ＴＦＴ側基板」と呼ばれ、他方は「カラーフィルタ側基板」と呼ばれる。図１０に示すように、ＴＦＴ側基板１０２の液晶層１０１側の表面においては多数の画素電極１０４が行列状（マトリックス状）に配列されており、カラーフィルタ側基板１０３の液晶層１０１側の表面においては、赤、緑、青の３原色にそれぞれ対応するカラーフィルタ１１５が規則的に配置され、その上を覆うように対向電極（「コモン電極」ともいう。）１０５が配置されている。液晶層１０１は、各画素電極１０４と対向電極１０５との間に与えられた電位差に応じて光を変調することとなる。
【０００３】
このような液晶パネルの製造方法としては、ＴＦＴ側基板１０２とカラーフィルター側基板１０３とをそれぞれ所定の方向に配向して互いに貼り合わせてセル構造とした後、所定のサイズに分断し、セル内部に液晶を注入し、封止を行なうという製造方法が一般的である。この後、透明基板の外側の表面に偏光板１０６を貼り付ける。透過型液晶パネルの場合、偏光板１０６は液晶パネルの表裏両面の透明基板に貼り付けられる。こうして液晶パネル１００としては完成するが、これに対してさらにＦＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ　Ｐｒｉｎｔｅｄ　Ｃｉｒｃｕｉｔ）を介して回路基板を実装し、バックライト、シャーシを組み付けて、液晶モジュールが完成する。
【０００４】
上述の製造方法では、それぞれ次工程に不良品を流さないようにするため、各工程の切れ目で検査を行なうのが一般的である。検査には大きく分けて点灯検査と非点灯検査とがあり、目的に応じて使い分けられている。特に偏光板不良に関しては、点灯検査で黒画面とすることによって、異物が乱反射して光って検出可能となる。したがって、偏光板不良を検出するためには点灯検査を行なうことが必要になる。
【０００５】
偏光板不良としては、貼付け時に偏光板と透明基板との間に混入した糸屑などの異物や、透明基板表面に元々ついていた汚れ、封止樹脂の不所望な付着、偏光板の層内異物などがあるが、いずれも液晶パネルの点欠陥と比較して目立ち、重大な不良となるため、偏光板貼り付け後の点灯検査が重要となる。
【０００６】
液晶パネルに関する従来の検査方法としては、まず、特開平１０−２３２３７８号公報に開示された検査方法がある。これは、図１１に示すように、偏光板貼付け工程を行なう際に、液晶パネル２００の信号入力端子２０８に信号出力プローブ２０９を当接させて駆動信号を与えた状態で、偏光板貼付けローラ２０７で偏光板２０６を貼り付けると同時に液晶パネル２００の表面を加圧し、液晶パネル内部の対向電極を画素電極や信号ラインの配置された側に近づけるものである。液晶中に導電性異物があれば、対向電極と、画素電極や信号ラインとの間で導電性異物を介して短絡が起こるであろうから、液晶パネル２００の短絡欠陥を検出できるというものである。
【０００７】
ほかに、特開平１０−１０３２２号公報では、図１２に示すように、光源３１０から出射した光を、重ねて配置した無欠陥偏光板３１１および被検査偏光板３１２を貫通するように投射し、投射レンズ３１３によって被検査偏光板３１２の全体像が映出されるようにスクリーン３１４に拡大投影することにより、偏光板に付着した塵や異物を検査する方法が提案されている。
【０００８】
一方、５インチ以下のいわゆる「小型」の液晶パネルにおいては、セルへの液晶注入から液晶封入後の検査までの工程においては、作業の効率化のために、セルを横方向に複数個短冊状につなげた状態のもの（以下、この状態のものを「短冊基板」という。）のままで処理する方法がとられる場合がある。この場合、検査後に短冊基板から液晶セル（セルの内部に液晶が封入済みのもの）の単体へと分断し、良品とされた液晶セルにのみ偏光板を貼り付け、液晶パネルを完成させている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
上述の特開平１０−２３２３７８号公報に記載の技術では、偏光板を貼り付けながら検査を行なうことができるが、検出対象は、液晶層内部の導電性異物のみであって、偏光板と透明基板との間に混入した一般的な異物や偏光板自体の異常を検出できるわけではない。また、上述の特開平１０−１０３２２号公報に記載の技術は、貼り付ける前の偏光板単体の検査を行なうためのものであって、偏光板を透明基板に貼り付ける際に混入する異物には対処できない。
【００１０】
ほかに従来技術の範囲内で考えうる偏光板貼付け後の液晶パネルの検査方法としては、液晶パネルの端に多数並ぶ信号入力端子にプローブを接触させ、検査信号を印加して、点灯検査することが可能である。しかし、この方法を実施するには、プローブが高価であり、また、信号入力端子とプローブの位置合わせは高精度に行なう必要があるので、位置決めのための高精度な装置が必要となる。
【００１１】
プローブでの信号付与を回避した検査方法としては、ＦＰＣを実装した後に点灯検査を行なうことが考えられるが、その場合、偏光板貼付け状況の不良が判明した製品は、ＦＰＣがついたまま偏光板の貼り直し作業を行なうことが必要となり、作業性が悪いものとなる。また、偏光板の貼り直し作業を行なう過程で既に実装済みのＦＰＣを傷めるおそれもある。
【００１２】
一方、上述のような小型の液晶パネルの場合、液晶封入後の検査までは短冊基板の状態で効率良く扱うことができるが、偏光板貼り付けは、分断後に行なうものであるので、偏光板貼り付け後の検査も液晶パネル単体ごとに行なわなければならず効率が悪いものとなっていた。しかも、一般的傾向としては、液晶パネルのサイズが小さくなるほど、生産量が増え、かつ、価格が下がるため、効率良く生産し、生産コストを下げることがきわめて重要となる。そのため、小型の液晶パネルに対しても、効率良く検査を行なえる方法を確立する必要がある。
【００１３】
そこで、本発明は、高精度な位置決めを必要とせずに、簡単に効率良く偏光板貼付け状況の検査を行なえる液晶パネル、液晶パネル検査方法および液晶パネル検査装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明に基づく液晶パネルは、第１の基板と、上記第１の基板に対向するように配置された第２の基板とを備える。上記第１の基板は、表面に配置された検査用電極を含む。上記第２の基板は、上記第１の基板の側を向く表面に配置された対向電極を含む。上記検査用電極と上記対向電極とは電気的に接続されている。この構成を採用することにより、検査用電極に電圧を印加することによって偏光板貼付け後の検査を簡単に行なうことができる。
【００１５】
上記発明において好ましくは、上記検査用電極は、上記第１の基板のうち上記第２の基板に覆われずに露出する位置に配置されている。この構成を採用することにより、検査信号を付与するためのプローブなどの器具を当接させやすいからである。
【００１６】
上記発明において好ましくは、上記第１の基板は、上記対向電極に対向する位置に配置されたスイッチング素子と、上記スイッチング素子に電気的に接続された入力端子とを備える。上記検査用電極は、上記入力端子に隣接する位置に配置されている。この構成を採用することにより、検査用電極も入力端子と同様のプロセスで形成することができ、第１の基板上で端子類の配置をすっきりさせることができる。
【００１７】
上記発明において好ましくは、上記検査用電極の幅が０．５ｍｍ以上である。この構成を採用することにより、プローブなどを当接させようとしたときに、液晶パネルまたは短冊基板の外形を利用した簡単な位置決めでも位置を合わせやすくなる。
【００１８】
上記目的を達成するため、本発明に基づく液晶パネル検査方法は、偏光板貼付後の液晶パネルを点灯させて表示状況を確認する液晶パネル検査方法であって、上記液晶パネルは、第１の基板と、上記第１の基板に対向するように配置された第２の基板とを備える。上記第１の基板は、表面に配置された検査用電極を含む。上記第２の基板は、上記第１の基板の側を向く表面に配置された対向電極を含む。上記検査用電極と上記対向電極とは電気的に接続されている。この液晶パネル検査方法は上記検査用電極に電圧を印加する工程を含む。この方法を採用することにより、検査用電極に電圧を印加するという簡単な操作だけで液晶パネルを黒画面にすることができ、黒画面のときに光る偏光板不良を容易に検出することができる。
【００１９】
上記発明において好ましくは、上記電圧を印加する工程は、上記液晶パネルを位置決め部材に押し当てることで位置決めした状態で、プローブを上記検査用電極に当接させることによって行なう。この方法を採用することにより、簡単な位置決めで位置合わせを行なうことができ、検査用電極に電圧を印加することができる。
【００２０】
上記発明において好ましくは、上記電圧を印加する工程は、上記液晶パネルの複数枚が一方向に並んでつながった状態で一括して行なう。この方法を採用することにより、短冊基板の状態で一括して検査を行なうことができるので、効率が良い。
【００２１】
上記発明において好ましくは、上記偏光板が上記液晶パネルの両面に貼付された状態で行なう。この方法を採用することにより、両面分の偏光板の検査を同時に効率良く行なうことができる。
【００２２】
上記発明において好ましくは、上記電圧を印加する工程は、上記液晶パネルの表示面の全面を黒にするように電圧を印加する。この方法を採用することにより、黒画面のときに光るものが多い偏光板不良を容易に検出することができる。
【００２３】
上記目的を達成するため、本発明に基づく液晶パネル検査装置は、検査テーブルと、上記検査テーブルに設置される液晶パネルの表面に配置され、前記液晶パネル内の対向電極に電気的に接続された検査用電極に対して当接させるためのプローブと、上記プローブに信号を送る信号発生部と、上記プローブを上記液晶パネルに接近および離隔させる機構とを備える。この構成を採用することにより、検査用電極への電圧印加を自動的に行なって、液晶パネルを黒画面として偏光板不良を検出することが可能となる。
【００２４】
上記発明において好ましくは、上記検査テーブルは、複数の液晶パネルが一方向に並んでつながったものである短冊基板を設置するためのものである。この構成を採用することにより、短冊基板のまま偏光板不良の検査を行なうことができ、効率良く検査作業を進めることができる。
【００２５】
上記発明において好ましくは、上記短冊基板の上記各液晶パネル部分に対して一斉に当接させるための複数の上記プローブを備える。この構成を採用することにより、短冊基板に属する各液晶パネル部分に対して一斉に電圧を印加することができるので、一斉に点灯検査を行なうことができ、効率的である。
【００２６】
【発明の実施の形態】
本発明の説明に入る前に、本発明の参考となる技術について説明する。
【００２７】
（液晶パネルの製造方法）
図１に液晶パネルの製造方法のフローを示す。すなわち、この製造方法では、図２に示すようにＴＦＴ側基板とカラーフィルタ側基板とを大板２０の状態のまま貼り合せた後に短冊基板２１のサイズに分断する。こうして短冊基板２１の状態で液晶の注入および封止を行なう。外表面を洗浄して、偏光板を貼りつける。この後に、偏光板自体の異常、偏光板貼付け時の異物混入、偏光板の貼り具合の異常などによる不良がないか確認するために点灯検査を行なう。こうして異常がなければ、短冊基板から各液晶セルに対応するサイズに分断する。こうして、液晶パネルが完成する。これにさらにＦＰＣを接続し、液晶モジュールとして完成させるべく、モジュール組立工程に進む。
【００２８】
（検査の対象）
本発明に基づく液晶パネル検査方法および同検査装置は、上述の偏光板貼付け後の点灯検査に用いられる検査方法および検査装置である。したがって、この段階では液晶パネルはまだ個別に分断されておらず、短冊基板２１の状態である。短冊基板２１の一例を図３に示す。図３に示すように短冊基板２１は、液晶パネルを一方向に並べてつなげたような形状をしている。各液晶パネルとなるべき部分には、液晶を内部に封入した液晶セル２３がそれぞれ形成されている。各液晶セル２３の部分に対応するように入力端子３１が配置されている。ここで、特に注目すべきこととして、本発明に基づく液晶パネル検査方法に用いる短冊基板２１では、入力端子３１以外に、図３に示すように検査用電極３２が設けられている。ただし、本発明に基づく検査方法の適用は、短冊基板２１の状態で行なう場合に限らず、個別の液晶パネルに分断してから行なってもよい。
【００２９】
（実施の形態１）
検査方法自体の説明の前に、検査方法の原理の理解のために必要であるので、まずは個々の製品である液晶パネルの構造について説明する。この液晶パネルは、本発明の検査方法に適した液晶パネルの構造として、発明されたものである。
【００３０】
（液晶パネルの構成）
図４〜図６を参照して、本発明に基づく実施の形態１における液晶パネルの構成について説明する。この液晶パネル２２の平面図を図４に示す。液晶パネル２２は、第１の基板としてのＴＦＴ側基板１０２と、第２の基板としてのカラーフィルタ側基板１０３とを備えている。
【００３１】
ＴＦＴ側基板１０２の表面には、ソース入力端子３１ａと、ゲート入力端子３１ｂと、検査用電極３２とが設けられている。この例においては、ソース入力端子３１ａと、ゲート入力端子３１ｂとが異なる辺に配置されているが、両者を合わせて、図３における入力端子３１に相当する。検査用電極３２は、ソース入力端子３１ａに隣接して配置されたコモン入力端子３３に接続されている。コモン入力端子３３は、ソース入力端子３１ａやゲート入力端子３１ｂと同様に主にアルミニウムからなり、同じフォトリソグラフィ工程を用いて形成することができる。
【００３２】
液晶パネル２２の一部分を取出して分解拡大したところを図５に示す。図５に示すように、ＴＦＴ側基板１０２とカラーフィルタ側基板１０３とは液晶層１０１を挟んで対向している。カラーフィルタ側基板１０３のＴＦＴ側基板１０２側を向く表面には、対向電極１０５が配置されている。ＴＦＴ側基板１０２の表面のうちカラーフィルタ側基板１０３と対向する部分においては、ソース入力端子３１ａから延びるソースバスライン３６と、ゲート入力端子３１ｂから延びるゲートバスライン３７とがマトリクス状に互いに交差しているが、その各交点（以下、「クロス部」という。）の近傍には、スイッチング素子としてのＴＦＴ３５が形成されている。図４、図５に示した液晶パネル２２の１つのクロス部近傍の等価回路を図６に示す。さらに、ＴＦＴ３５は、それぞれＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｔｉｎ　Ｏｘｉｄｅ）を含む画素電極１０４と蓄積容量（Ｃｓ）と呼ばれるコンデンサ構造とに接続されている。こういった構造により、各クロス部においてはソースバスライン３６およびゲートバスライン３７から入力される電気信号に応じて各画素電極１０４に印加する電圧をオン・オフできる構造となっている。
【００３３】
図４に示すようにカラーフィルタ側基板１０３の周縁部のうちのいくつかの点においては、コモン転移電極３４が配置されている。コモン転移電極３４は、ＴＦＴ側基板１０２とカラーフィルタ側基板１０３とを貼り合せる際に内側となる面に導電性ペーストを塗布して挟みこむことによって造られたものである。コモン転移電極３４は、ＴＦＴ側基板１０２とカラーフィルタ側基板１０３との間に挟まれるように配置されており、カラーフィルタ側基板１０３側の表面において対向電極１０５に電気的に接続している一方、ＴＦＴ側基板１０２側の表面においてはコモン入力端子３３に電気的に接続している。
【００３４】
（作用・効果）
上述のように検査用電極３２は、コモン入力端子３３に電気的に接続されているので、結果的には、検査用電極３２と対向電極１０５との間は電気的に接続されていることになる。この構成にしておくことにより、後述の検査方法によって偏光板貼付け後の検査を簡単に行なうことができる。
【００３５】
なお、図４の例では、検査用電極３２はソース入力端子３１ａの左隣に配置されているが、代わりにソース入力端子３１ａの右隣に配置したりすることとしてもよい。あるいは、ゲート入力端子３１ｂのいずれかの端の隣に配置してもよい。あるいは、１枚のＴＦＴ側基板１０２の中の複数の位置に設けてもよい。
【００３６】
図４の例では、ソース入力端子３１ａとゲート入力端子３１ｂとが互いに異なる辺に沿って設けられているが、入力端子の配置はこのような配置に限らず、ソース入力端子３１ａとゲート入力端子３１ｂとを同一辺上に並べて配置してもよい。検査用電極はＴＦＴ側基板のどちら側の表面に設けてもよいが、ＴＦＴ側基板のカラーフィルタ側基板を向く側の表面に設けた方が配線がしやすいので好ましい。
【００３７】
なお、検査用電極は、ＴＦＴ側基板の表面のうちカラーフィルタ側基板に覆われずに露出する部分に配置されていることが好ましい。こうすれば、検査信号を付与するためのプローブなどの器具を当接させやすいからである。
【００３８】
また、検査用電極は、長方形または正方形であることが好ましいがいずれにせよ幅が０．５ｍｍ以上であることが好ましい。こうすれば、プローブなどを当接させようとしたときに、液晶パネルまたは短冊基板の外形を利用した簡単な位置決めでも位置を合わせやすいからである。ただし、スペースに余裕さえあれば、検査用電極は幅１．０ｍｍ以上であることがより好ましい。
【００３９】
（実施の形態２）
（検査装置）
本発明に基づく液晶パネル検査方法は、上述のような構成の短冊基板または液晶パネルに対して行なうものである。この検査方法を実施するために適した検査装置の一例として、本発明に基づく実施の形態２における液晶パネル検査装置４０を図７に示す。この液晶パネル検査装置４０は、液晶パネル２２を設置するための検査テーブル４７と、液晶パネル２２の検査用電極３２に対して当接させるためのプローブとしてのスプリングプローブ４２と、スプリングプローブ４２に信号を送る信号発生部としての検査信号発生回路４３とを備えている。スプリングプローブ４２はプローブヘッド４４に保持されている。液晶パネル検査装置４０は、スプリングプローブ４２を液晶パネル２２に接近および離隔させるための機構として直動ガイド４５およびエアシリンダ４６を備えている。検査テーブル４７には、液晶パネル２２を設置したときに液晶パネル２２の位置が所定位置に定まるように位置決め部材としての位置決めピン４１が設けられている。
【００４０】
（作用・効果）
この液晶パネル検査装置４０は、位置決め部材のある検査テーブル４７を備え、かつプローブヘッド４４は直動ガイド４５に沿って上下に平行移動可能となっているので、液晶パネルを所定位置に保持した状態で液晶パネル表面の検査用電極に対してある程度の位置決め精度でプローブを当接させることができる。
【００４１】
なお、液晶パネル検査装置４０は、個別に分断された後の液晶パネル２２を検査対象としたものであるが、検査テーブル４７の形状を適宜修正し、スプリングプローブ４２の本数を増やすことによって、短冊基板２１の検査を一括して行なえるようにしてもよい。その場合、複数本のスプリングプローブ４２をプローブヘッド４４に平行に保持し、プローブヘッド４４の上下動に伴って一斉に短冊基板に対して当接および離隔できるようにすれば、短冊基板２１上に複数ある検査用電極の各々に対する検査を一斉に行なうことができて効率的であり、好ましい。
【００４２】
なお、位置決め部材としては、ここでは、位置決めピン４１を検査対象物の２辺に接するように配置したが、このような形状、配置に限らない。検査対象物の位置決めが行なえるものであれば、たとえば、ピン状のものではなくブロック状のものであってもよい。
【００４３】
（実施の形態３）
（検査方法）
本発明に基づく実施の形態３における液晶パネル検査方法では、偏光板の貼り付けを終えた短冊基板または液晶パネルを検査対象として、表面に設けられた検査用電極３２にプローブなどを当接させて電圧を印加することによって検査を行なう。特に、両面に偏光板が貼られた状態で行なえば、両面分の偏光板の検査が同時に効率良く行なえて好ましい。
【００４４】
実施の形態２で説明した液晶パネル検査装置４０（図７参照）を用いれば、実施の形態３における液晶パネル検査方法は図８に示すフローに従って行なうことができる。このフローは、検査対象が個々の液晶パネルであっても短冊基板であっても共通する。
【００４５】
まず、検査テーブルに対象となる基板をセットする。次にプローブヘッドを下降させることによって、スプリングプローブが検査用電極にコンタクトする。スプリングプローブから検査用電極に対して直流信号を印加する。このとき与える直流信号のパターンの一例を図９に示す。図９における「コモン」とは対向電極の電位を表す。こうして点灯検査が行なわれる。不良の有無の判別を終えたら、プローブヘッドを上昇させることによってスプリングプローブの検査用電極に対するコンタクトを解除する。検査対象となっていた基板を取出す。
【００４６】
なお、図９に示すのはあくまで一例であって、ソースおよびゲートが０Ｖである点は基本となるが、コモンに印加する信号は、これ以外のパターンで印加してもよい。
【００４７】
（作用・効果）
検査用電極は対向電極と電気的に接続されているので、検査用電極に直流信号を印加することは、対向電極に直流電圧を印加することに等しい。このとき入力端子のいずれにも信号を与えない状態であるのでソースおよびゲートに印加される電圧は図９に示すように０Ｖである。しかし、対向電極は液晶層を挟んで画素電極と対向しているので、対向電極に直流信号が印加されることによって、液晶層を挟んで電位差が生じることになる。この電位差によって液晶が動作し、ノーマリホワイトの表示画面が直流信号付与時にのみ全面黒、すなわちいわゆる「黒画面」となる。図９に示すように対向電極に付与する直流信号のオンオフを繰り返すと、画面の全面が一斉に「白→黒→白→黒→‥‥」と変化することになる。上述の偏光板不良は、全面が白、すなわちいわゆる白画面の状態では認識できず、黒画面としたときに光るものが多いので、このように黒画面とすることによって容易に検出可能となる。こうして偏光板を黒画面とした状態で目視またはＣＣＤカメラなどによる画像処理で表示状況を確認し、偏光板不良と判定した液晶セルにはマーキングを行なう。検査対象が短冊基板である場合は、この後個々の液晶パネルに分断する。偏光板不良とマーキングされた液晶パネルについては、この後、偏光板の貼り直し作業を行なう。
【００４８】
一般に偏光板不良以外に液晶パネルの不良の種類として、点欠陥、線欠陥、表示不良などがある。これらは、偏光板貼付けより前の工程に起因するものであり、製造プロセスが安定すると歩留りが向上し、後工程に当たる液晶パネル状態での検査は不要となる。また、近年、偏光板貼付けより前の各工程には、たとえば電気検査、光学検査、配向検査などの各種検査が採用されるようになり、その工程に起因する不良はその工程で検出可能となってきた。したがって、後工程には良品しか流れないようになってきた。よって、偏光板貼付け工程にとっては偏光板不良に特化した検査が有効となる。本発明は、偏光板不良の検出に特化して点灯検査を行なうものであるので、まさにニーズに沿ったものである。
【００４９】
なお、今回開示した上記実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではない。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むものである。
【００５０】
【発明の効果】
本発明によれば、検査用電極に電圧を印加するという簡単な操作によって、液晶層を挟む対向電極とソースバスラインおよびゲートバスラインとの間に全面一斉に電位差を生じさせ、液晶パネルを黒画面にすることができるので、偏光板貼付け後の不良を容易に検出できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の参考技術に当たる液晶パネルの製造方法のフローチャートである。
【図２】本発明の参考技術に当たる液晶パネルの製造方法の説明図である。
【図３】本発明の参考技術に当たる液晶パネルの製造方法の途中で得られる短冊基板の平面図である。
【図４】本発明に基づく実施の形態１における液晶パネルの平面図である。
【図５】本発明に基づく実施の形態１における液晶パネルの部分拡大分解図である。
【図６】本発明に基づく実施の形態１における液晶パネルのクロス部近傍の等価回路を示す回路図である。
【図７】本発明に基づく実施の形態２における液晶パネル検査装置の斜視図である。
【図８】本発明に基づく実施の形態３における液晶パネル検査方法のフローチャートである。
【図９】本発明に基づく実施の形態３における液晶パネル検査方法で液晶パネルの各部に与える信号パターンの一例を示すチャートである。
【図１０】一般的なＴＦＴ方式のカラー液晶パネルの部分断面図である。
【図１１】従来技術に基づく液晶パネルの検査方法の説明図である。
【図１２】従来技術に基づく偏光板の検査方法の説明図である。
【符号の説明】
２０　大板、２１　短冊基板、２２　液晶パネル、２３　液晶セル、３１　入力端子、３１ａ　ソース入力端子、３１ｂ　ゲート入力端子、３２　検査用電極、３３　コモン入力端子、３４　コモン転移電極、３５　ＴＦＴ、３６　ソースバスライン、３７　ゲートバスライン、４０　液晶パネル検査装置、４１　位置決めピン、４２　スプリングプローブ、４３　検査信号発生回路、４４　プローブヘッド、４５　直動ガイド、４６　エアシリンダ、４７　検査テーブル、１００，２００　液晶パネル、１０１　液晶層、１０２　ＴＦＴ側基板、１０３　カラーフィルタ側基板、１０４　画素電極、１０５　対向電極、１０６，２０６　偏光板、１１５　カラーフィルタ、２０７　偏光板貼付けローラ、２０８　信号入力端子、２０９　信号出力プローブ、３１０　光源、３１１　無欠陥偏光板、３１２　被検査偏光板、３１３　投射レンズ、３１４　スクリーン。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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