(57)【要約】【課題】精度の高い階間長の寸法測定を行うことができるダブルデッキエレベータを提供する。【解決手段】外かご枠１に上かご２と下かご３を搭載したダブルデッキエレベータにおいて、上かご２と下かご３の停止位置を実際の建物に合わせた着床位置に調整する際、外かご枠着床位置検出装置８を用いて外かご枠１を階間に停止させておき、かご室駆動装置５により上下２個のかご２、３を外かご枠１内で移動させ、かご着床位置検出装置９、１０によりそれぞれのかご２、３の着床位置を検出した際のかご２、３の停止位置の情報から、階間の長さを測定する階間長測定機能を有する階間長測定システムを備えている。これにより、精度の高い階間長の寸法測定を行うことができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
上下２個のかご室を搭載したかご枠を昇降させる巻上機と、前記巻上機を制御し前記かご枠の速度を制御する巻上機制御装置と、前記上下２個のかご室の少なくとも一方をかご枠に対して駆動して上下２個のかご室の相対距離を変化させるかご室駆動装置と、前記上下２個のかご室を搭載したかご枠の任意の階での停止位置検出を行うかご枠停止位置検出装置と、前記かご室の停止位置検出を行うかご停止位置検出装置と、前記かご枠停止位置検出装置を用いてかご枠を階間に停止させておき、前記かご室駆動装置により上下２個のかご室の少なくとも一方をかご枠内で移動させ、前記かご停止位置検出装置によりかご室の着床位置を検出した際のかご室の停止位置の情報から、階間の長さを測定する測定手段を備えたことを特徴とするダブルデッキエレベータ。
【請求項２】
請求項１に記載のダブルデッキエレベータにおいて、任意の値を設定できる設定手段を備え、測定したい任意の階間の情報を前記設定手段に設定し、前記設定手段により設定された情報に基づいて、前記測定手段により測定したい任意の階間の長さを測定することを特徴とするダブルデッキエレベータ。
【請求項３】
請求項１に記載のダブルデッキエレベータにおいて、階間の長さの情報を予め記憶する記憶手段を備え、前記測定手段により測定を行う階間の長さが前記かご枠内のかご室の可動範囲を越えている場合に、前記記憶手段に記憶されている階間の長さを、階間の長さとして使用することを特徴とするダブルデッキエレベータ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、２つのかご室を上下に構成したダブルデッキエレベータにおいて、上下のかご室が着床する階間の寸法を測定するダブルデッキエレベータの階間長測定システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のダブルデッキエレベータでは、任意の停止階床と上方、または下方の停止階床の階間寸法が一定であるケースが多く、上かごと下かごの間の寸法も一定であった為、上下のかご室間の寸法を制御する手段が考慮されていなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、近年登場した階間寸法が不揃いな建物に設置されるダブルデッキエレベータにおいては、上下のかご室間の寸法が変化する為、かご室の停止位置検出の為に上下のかご室間の寸法を測定し、かご室停止時に上下のかご室間の寸法を調整する必要がある。
【０００４】
その手段としてかご枠の位置検出装置を使用して階間長の寸法を測定する手段も考えられるが、かご枠の昇降距離から得られる位置検出情報では、その距離の長さから上下のかご室間の寸法制御には十分な分解能の精度が得られない。
【０００５】
また、かご枠の位置検出装置から得られる位置情報の分解能を上げる方法も考えられるが、その場合、そのかご枠の昇降距離の長さから、位置検出装置より得る情報量が大きな物となってしまう。
【０００６】
そこで、本発明では、階床停止制御に必要な階間の寸法測定を、より精度の高い測定方式で行うことが可能なダブルデッキエレベータを提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明に係わるダブルデッキエレベータは、上下２個のかご室を搭載したかご枠を昇降させる巻上機と、巻上機を制御しかご枠の速度を制御する巻上機制御装置と、上下２個のかご室の少なくとも一方をかご枠に対して駆動して上下２個のかご室の相対距離を変化させるかご室駆動装置と、上下２個のかご室を搭載したかご枠の任意の階での停止位置検出を行うかご枠停止位置検出装置と、かご室の停止位置検出を行うかご停止位置検出装置と、かご枠停止位置検出装置を用いてかご枠を階間に停止させておき、かご室駆動装置により上下２個のかご室の少なくとも一方をかご枠内で移動させ、かご停止位置検出装置によりかご室の着床位置を検出した際のかご室の停止位置の情報から、階間の長さを測定する測定手段を備えたことを特徴とする。
【０００８】
請求項１の発明によれば、実際の建物の構成に合った精度の高い階間長の寸法測定を行うことができる。
【０００９】
請求項２の発明に係わるダブルデッキエレベータは、請求項１の発明において、任意の値を設定できる設定手段を備え、測定したい任意の階間の情報を設定手段に設定し、設定手段により設定された情報に基づいて、測定手段により測定したい任意の階間の長さを測定することを特徴とする。
【００１０】
請求項２の発明によれば、測定したい任意の階床の階間長寸法について、実際の建物の構成に合った精度の高い階間長の寸法測定を行うことができる。
【００１１】
請求項３の発明に係わるダブルデッキエレベータは、請求項１の発明において、階間の長さの情報を予め記憶する記憶手段を備え、測定手段により測定を行う階間の長さがかご枠内のかご室の可動範囲を越えている場合に、記憶手段に記憶されている階間の長さを、階間の長さとして使用することを特徴とする。
【００１２】
請求項３の発明によれば、測定を行う階間の長さがかご枠内のかご室の可動範囲を越えている場合は、測定手段により測定を行わずに、記憶手段に予め記憶されている階間の長さで代用することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。
【００１４】
（第１の実施の形態）
図１を参照して、本発明に基づく第１の実施の形態に係わるダブルデッキエレベータについて説明する。
【００１５】
この実施の形態のダブルデッキエレベータは、例えば階間寸法の不揃いな建物等に設置され、同図に示すように、外かご枠１には上かご２と下かご３が搭載され、上かご２及び下かご３のいずれか一方または双方にかご室駆動装置５が設けられている。このかご室駆動装置５は、例えば、上下で反対の方向にネジが切ってある軸が設けられ、図示しないかご室位置制御装置からの制御により、その軸を回転させることにより、上かご２と下かご３を反対方向に（すなわち、上かご２が上の方向のときは、下かご３は下の方向に）同じ距離だけ同時に移動させるように構成されている。なお、６は上下２個のかご室２、３を搭載した外かご枠１を昇降させる巻上機、７は巻上機６を制御し外かご枠１の速度を制御する巻上機制御装置である。
【００１６】
階間の長さを測定する場合、外かご枠１を最下階より上昇方向、もしくは最上階より下降方向に走行させる。外かご枠位置検出装置４が、昇降路内での外かご枠１の昇降距離を測定しながら走行し、外かご枠着床位置検出装置８が、上かご２と下かご３が階間長制御により着床可能な位置の検出を行い、着床位置に来たら外かご枠１を停止させる。
【００１７】
そして、上下かご２、３間の寸法を最も狭めた状態から上下かご２、３が離れて行く方向、もしくは上下かご２、３間の寸法を最も広げた状態から上下かご２、３が近づく方向に、かご室駆動装置５の制御にてかご室を外かご枠１内にて移動させる。外かご枠１内を移動している上下かご２、３は、上かご２もしくは下かご３にそれぞれ設置してある上かご着床位置検出装置９、及び下かご着床位置検出装置１０により、かご着床位置（ドア開閉可能位置）を検出する。上かご２と下かご３の両方が着床位置を検出したら、上下かご２、３のそれぞれの着床位置検出までの移動距離から上下かご間長測定装置１１により、上下かご２、３間の階間長を測定する。
【００１８】
例えば、上下かご２、３間の寸法を最も狭めた状態の階間長寸法をＡとし、上下かご２、３をそれぞれ上下広がる方向にａ移動させたとき上かご２が着床位置を検出し、その後さらに上下かご２、３をそれぞれ上下広がる方向に移動させ、最初の位置（最も狭めた状態の位置）からｂ移動させたとき下かご３が着床位置を検出したとすると、階間長は、（Ａ＋ａ＋ｂ）として測定することができる。また、上下かご２、３間の寸法を最も広げた状態の階間長寸法をＢとし、かご間を狭める方向に上下かご２、３をそれぞれｃ移動させたとき上かご２が着床位置を検出し、その後かご間を狭める方向に上下かご２、３を更に移動させ、最初の位置（最も広げた状態の位置）からｄ移動させたとき下かご３が着床位置を検出したとすると、階間長は、（Ｂ−ｃ−ｄ）として測定することができる。
【００１９】
なお、上述の説明では、かご室駆動装置５により、上下かご２、３の両方のかご室を同時に移動させる構成としているが、片方づつ順次移動させるようにしてもよい。さらに、外かご枠１を階間に停止させる場合に、上下かご２、３のいずれか一方のかご室を正確に着床位置に停止させることが可能な場合は、かご室駆動装置５により他方のかご室のみを移動させて階間の長さを測定することも可能である。
【００２０】
以上説明したように、この実施の形態のダブルデッキエレベータは、上かご２と下かご３の停止位置を実際の建物に合わせた着床位置に調整する際、外かご枠着床位置検出装置８を用いて外かご枠１を階間に停止させておき、かご室駆動装置５により上下２個のかご２、３の相対距離を変化させて、かご２、３の着床位置を検出した際のかご２、３の停止位置の情報から、階間の長さを測定する階間長測定機能を有する階間長測定システムを備えている。
【００２１】
従って、実際の建物の構成に合った精度の高い階間長の寸法測定が実施可能となる。
【００２２】
（第２の実施の形態）
次に、図１を参照して、本発明に基づく第２の実施の形態に係わるダブルデッキエレベータについて説明する。
【００２３】
この実施の形態は、巻上機制御装置７に、任意の値を設定できるメモリー装置を設け、これに制御装置操作手段１２から測定を行いたい階間の情報を設定し、設定された情報に基づいて、測定を行いたい任意の階間長を測定するように構成したものである。
【００２４】
すなわち、この実施の形態においては、巻上機制御装置７に接続された巻上機制御装置操作手段１２により測定を行いたい階間の情報を入力し、この情報を巻上機制御装置７に設けられたメモリー装置に設定する。そして、このメモリー装置に設定された測定したい階間の情報により、巻上機制御装置７は外かご枠１を移動させ、測定したい階間に対し、外かご枠着床位置検出装置８が、上かご２と下かご３が階間長制御により着床可能な位置の検出を行い、着床位置に来たら外かご枠１を停止させる。
【００２５】
そして、第１の実施の形態における制御と同様に、上下かご２、３を外かご枠１内にて移動させ、上かご着床位置検出装置９、下かご着床位置検出装置１０よりかご着床位置を検出し、その上下かご２、３のそれぞれのかご着床位置までの移動距離から上下かご間長測定装置１１により、上下かご２、３間の階間長を測定する。
【００２６】
従って、測定したい任意の階床の階間長寸法について、実際の建物の構成に合った精度の高い階間長の寸法測定が実施可能となる。
【００２７】
（第３の実施の形態）
次に、図１を参照して、本発明に基づく第３の実施の形態に係わるダブルデッキエレベータの階間長測定システムについて説明する。
【００２８】
この実施の形態は、巻上機制御装置７に、階間の長さの情報を記憶するメモリー装置を設けて、これに階間の長さの情報を予め記憶しておく。そして、階間長が外かご枠１内における上下かご２、３の移動距離より長く、第１の実施の形態のような制御で上下かご２、３間の寸法測定が不能な場合に、第１の実施の形態のような制御による測定を行わず、メモリー装置に予め記憶されている階間の長さで代用するように構成したものである。
【００２９】
すなわち、第１の実施の形態において、階間長が外かご枠１内における上下かご２、３の移動距離より長い場合（例えば、中間の５階および６階が停止しない階である場合の、４階から７階までの階間長）、上下かご２、３間の寸法測定が不能となる。
【００３０】
そこで、この実施の形態においては、巻上機制御装置７に設けられたメモリー装置に階間の長さの情報を予め記憶し、階間の長さがかご枠内のかご可動範囲を越えていた場合に、第１の実施の形態における上下かご２、３間の移動による階間長測定機能を切り離し、巻上機制御装置７のメモリー装置に予め記憶された階間長情報を使用する。
【００３１】
従って、測定したい階間寸法が外かご枠１内での上下かごの可動範囲を越えていた場合、上下かご間の寸法より測定する階間長測定機能を切り離し、メモリー装置に予め記憶された階間長情報で代用することができる。
【００３２】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、例えば各階床の階間の寸法が異なる建物等に設置されるダブルデッキエレベータにおいて、停止階における着床制御に必要な上下かご室間の寸法が測定出来る。またかご枠の昇降行程の長さに対し、かご枠内に対する上下かご室の昇降する距離は遥かに短い為、寸法測定の分解能も大幅に向上するので、上下かご室の着床制御を誤差の少ない精度で行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１、第２、第３の実施の形態の構成を示すブロック図。
【符号の説明】
１…外かご枠
２…上かご
３…下かご
４…外かご枠位置検出装置
５…かご室駆動装置
６…巻上機
７…巻上機制御装置
８…外かご枠着床位置検出装置
９…上かご着床位置検出装置
１０…下かご着床位置検出装置
１１…上下かご間長測定装置
１２…巻上機制御装置操作手段
【図１】
2004277124.tif 000003