(57)【要約】【課題】  既存の絶縁検査装置及び既存の検査方法を改良して、簡単な構造による確実なチェックを可能にする。【解決手段】  第１の導電性部材と、電気的に分離された第２の導電性部材との間に電気絶縁部が配置されている検査対象物に対する絶縁検査装置であって、検査対象物の導電性部材とそれぞれ接触可能である第１の接点及び第２の接点を有する電気回路と、その電気回路に対する評価装置とを備えている形態の絶縁検査装置を改良して、確実なチェックが可能となるようにするために、接触検査装置が設けられており、その接触検査装置によって電気回路の各接点に検査電流を作用させることが可能である。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の導電性部材（１４）と、電気的に分離された第２の導電性部材（１６）との間に電気絶縁部（１０）が配置されている検査対象物（１２）に対する絶縁検査装置であって、前記検査対象物（１２）の前記導電性部材（１４、１６）とそれぞれ接触可能である第１の接点（２２；８２）及び第２の接点（２４；８８）を有する電気回路（２０；７９）と、前記電気回路（２０；７９）に対する評価装置（２８；５８；７７）とを備えている形態のものにおいて、
接触検査装置（２９；６０；７４）が設けられており、前記接触検査装置によって前記電気回路（２０；７９）の前記各接点（２２、２４；８２、８８）に検査電流を作用させることが可能であることを特徴とする絶縁検査装置。
【請求項２】
前記接触検査装置（２９；６０；７４）は、第１の検査接点（３２；６４；１０４）と第２の検査接点（３４；６６；１０６）とを有していることを特徴とする請求項１に記載の絶縁検査装置。
【請求項３】
前記検査接点（３２、３４；６４、６６；１０４、１０６）は、前記検査対象物（１２）の前記導電性部材（１４、１６）に結合可能であることを特徴とする請求項２に記載の絶縁検査装置。
【請求項４】
前記検査接点は、前記電気回路（７９）の電気配線（７８、８４）に結合可能又は結合されていることを特徴とする請求項２又は３に記載の絶縁検査装置。
【請求項５】
前記接触検査装置（２９；６０；７４）は、低圧電気回路（３０；６２；９２）を含んでいることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項６】
前記接触検査装置（２９；６０；７４）は、電圧源（３６；７０；９４）を有していることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項７】
前記接触検査装置（２９；６０；７４）は、電圧に関して前記電気回路（２０；７９）から結合解除可能又は結合解除されていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項８】
１個又は複数個のスイッチ（５０、４２、４６；９８、１００、１１０）が、結合解除のために設けられていることを特徴とする請求項７に記載の絶縁検査装置。
【請求項９】
１個又は複数個のスイッチ（４２、４６；９８、１００）が、検査電気回路（３０；９２）に配置されていることを特徴とする請求項８に記載の絶縁検査装置。
【請求項１０】
１個又は複数個のスイッチ（５０、１１０）が、前記電気回路（２０、１０８）に配置されていることを特徴とする請求項８又は９に記載の絶縁検査装置。
【請求項１１】
１個又は複数個の整流器部材（７２）が設けられていることを特徴とする請求項７乃至１０のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項１２】
前記接触検査装置（２９；６０；７４）は、検査電流に関する評価装置（３８；６８；９６）を有していることを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項１３】
前記電気回路（２０；７９）は、高圧電気回路であることを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項１４】
接点検査測定のときに高電圧が前記電気回路（２０；７９）に作用しないことを特徴とする請求項１３に記載の絶縁検査装置。
【請求項１５】
前記接触検査装置（２９；６０）は、前記検査対象物（１２）の前記導電性部材（１４、１６）に結合するための検査電気回路（３０；６２）を有していることを特徴とする請求項１乃至１４のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項１６】
前記接触検査装置（７４）は、前記電気回路（７９）の配線（７８、８４）に結合可能又は結合されている検査電気回路（９２）を含んでいることを特徴とする請求項１乃至１５のいずれか一項に記載の絶縁検査装置。
【請求項１７】
前記接触検査装置（７４）は、前記検査対象物（１２）の前記導電性部材（１４、１６）を導電接続するためのブリッジング装置（１０２）を含んでいることを特徴とする請求項１６に記載の絶縁検査装置。
【請求項１８】
前記検査対象物（１２）のそれぞれの前記導電性部材（１４、１６）の間の導電性接続が開閉可能であることを特徴とする請求項１６に記載の絶縁検査装置。
【請求項１９】
第１の導電性部材と、電気的に分離された第２の導電性部材との間に電気絶縁部が配置されている検査対象物の電気絶縁部の検査方法であって、絶縁検査のために第１の接点が前記第１の導電性部材と接続され、第２の接点が前記第２の導電性部材と接続されて、電圧が印加される形態の方法において、接触検査をするために、前記第１の導電性部材と前記第２の導電性部材との間の電圧が無い状態又は低電圧の状態で各接点に検査電流を作用させることを特徴とする電気絶縁部の検査方法。
【請求項２０】
検査電気回路が、前記導電性部材を介して閉じられることを特徴とする請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記各接点と前記導電性部材との接触が良好であるときは、前記検査電流が、前記各接点を介して流れることを特徴とする請求項１９又は２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記検査電流は、前記導電性部材を介して流れることを特徴とする請求項２０又は２１に記載の方法。
【請求項２３】
前記検査電流は、前記導電性部材を介して連通されることを特徴とする請求項１９乃至２１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項２４】
前記検査電流は、電圧を印加するための配線を介して連通されることを特徴とする請求項１９乃至２２のいずれか一項に記載の方法。
【請求項２５】
絶縁検査のために高電圧が印加されることを特徴とする請求項１９乃至２４のいずれか一項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、第１の導電性部材と、電気的に分離された第２の導電性部材との間に電気絶縁部が配置されている検査対象物に対する絶縁検査装置であって、検査対象物の導電性部材とそれぞれ接触可能である第１の接点及び第２の接点を有する電気回路と、その電気回路に対する評価装置とを備えている形態のものに関する。
【０００２】
さらに、本発明は、第１の導電性部材と、電気的に分離された第２の導電性部材との間に電気絶縁部が配置されている検査対象物の電気絶縁部の検査方法であって、絶縁検査をするために第１の接点が第１の導電性部材と接続され、第２の接点が第２の導電性部材と接続されて、電圧が印加される形態のものに関する。
【背景技術】
【０００３】
このような絶縁検査装置及びこのような検査方法の適用例は、例えば、電気モータにおけるステータ巻線（第１の部材に相当）とロータ巻線（第２の部材に相当）との間の絶縁部のチェック、又は、ステータ巻線／ロータ巻線とステータハウジングとの間の絶縁部のチェックである。
【０００４】
絶縁部を検査するためには、絶縁抵抗が所定の閾値を上回っているかどうかについて、絶縁抵抗を測定又は検出しなければならない。そのために、通常電圧が印加されて、電流が測定される。電流が閾値を下回っていれば、又は、電流が測定不能であれば、電気絶縁は良好であると判断される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の課題は、冒頭に述べた絶縁検査装置及び冒頭に述べた検査方法を改良して、簡単な構造による確実なチェックを可能にすることである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明によれば、冒頭に述べた絶縁検査装置において、接触検査装置が設けられており、その接触検査装置によって電気回路の各接点に検査電流を作用させることが可能であることによって、上記課題は解決される。
【０００７】
原則として問題点は、電圧測定のときに検出された、閾値を下回る電流値、又は、測定不能な電流値には、様々な原因があり得るという点にある。高い絶縁抵抗（良好な絶縁に相当）以外にも、検査対象物への接触の不具合や障害も、低い電流値又は測定不能な電流値につながる可能性がある。また、電気回路の配線の断線も、測定不能な電流値につながる可能性がある。接触の不具合は、例えば、接点の酸化及び／又は機械的な磨耗が原因である可能性がある。このような問題が生じると、例えば、接触に不具合があったために、不良な絶縁部を備えている不良な構成要素が良好と判断される虞がある。
【０００８】
本発明においては、接触検査装置が設けられ、その接触検査装置によって電気回路の各接点に検査電流を作用させることが可能である。適切な測定は、特に、検査対象物を構成する電気絶縁部を挟持する第１の導電性部材と第２の導電性部材とに設けられた各接点に電圧が無いときに行われ、又は、絶縁検査のための電圧よりも大幅に低い電圧で行われる（絶縁検査のための電圧は、絶縁破壊耐性の強度を十分な精度で求めるために十分高くなければならないという意味において、高圧と言うことができる）。そのようにして、各接点を通る通電が行われているかどうかを検査することができる。閾値を上回る通電が生じれば、接触が良好であり、接点に通じる、対応する供給配線にも不具合はない。一方、その検査電流が閾値を下回っていれば、その原因は、接触の不具合、又は、対応する配線の不具合に帰せられる。
【０００９】
本発明に係る絶縁検査装置を用いて、本来の絶縁検査の前及び／又は後に、（高圧）電気回路の接点と検査対象物との間に良好な電気接触があるかどうかを判定することができる。この接触検査自体は、各接点を検査対象物から取り外す必要なしに実施することができる。導電性部材を介して電流が流れることができ、評価を行えるようにするために、電気回路を適切に閉じることによって電流値を求めることができる。
【００１０】
本発明に係る接触検査装置は、回路技術的に簡単な方法により具現化することができる。検査対象物の接触に関して電気回路を分離する必要がないので、接触を、いわば「その場で」チェックすることが可能である。
【００１１】
接触検査装置は、少なくとも一つの第１の検査接点と第２の検査接点とを有しているのが好ましい。このとき、検査接点は、検査対象物の導電性部材に結合可能である。そうすれば、電流が導電性部材を介して電気回路の各接点へと流れることができ、そのようにして、ひいては接触の品質をチェックすることができる。
【００１２】
この場合、検査接点は、（高圧）電気回路の電気配線に結合可能であるか、又は、結合されていることが意図されていてよい。この結合は、特に、検査対象物の導電性部材への結合に追加して行われる。このような実施の形態では、検査電流を電気配線を介して連通することができ、そのようにして検査電流が電気回路の各接点に作用する。
【００１３】
接触検査装置が低電圧電気回路を含んでおり、そこでの電圧が、絶縁検査のための電圧よりも大幅に低くなっていると、非常に好ましい。低電圧電気回路では、相応に少ない電流が流れる。このことは、回路技術的に簡単な方法により具現化することができる。それにより、検査対象物のそれぞれの接触検査装置を接触させる検査接点の酸化を少なく抑制することができる。
【００１４】
特に、接触検査装置は、検査電流のためのエネルギー源となる電圧源を有している。この電圧源は、低電圧源であるのが好ましい。
【００１５】
さらに、接触検査装置が、電圧、特に高圧に関して電気回路から結合解除可能であるか、又は、結合解除されていると好ましい。それにより、接触検査装置への高圧作用が防止されるので、ひいては接触検査装置を回路技術的に簡単な方法により具現化可能になる。
【００１６】
一つの実施の形態では、結合解除のために１個又は複数個のスイッチが設けられる。スイッチが特定の切換位置にあるとき（例えば、開いているとき）、接触検査装置は結合解除されている。絶縁検査が電圧を印加した状態にあるとき、スイッチがこの位置に変移させられる。このような対応する位置への変移は、自動的に行われるのが好ましく、適当なリレーが設けられる。
【００１７】
特に、１個又は複数個のスイッチが検査電気回路に配置される。それにより、例えば、検査電気回路に配置されている評価装置を、簡単な方法により結合解除することができる。
【００１８】
１個又は複数個のスイッチが（高圧）電気回路に配置されることが意図されていてもよい。それにより、接触検査測定を実施するときに、対応する切換位置において（高圧）電気回路への電圧供給装置をブリッジ（橋絡）することができる。
【００１９】
１個又は複数個の整流部材、例えば、検査電流回路に配置されたダイオード等が設けられていてもよい。それにより、整流部材が適切に配置、構成されていれば、結合解除が自動的に行われる。このことは、絶縁検査が直流高電圧を介して実施される場合に、格別に簡単な方法により行うことができる。
【００２０】
接触検査装置が、検査電流に関する評価装置を有していると好都合である。そうすると、検査電流の値を求めることによって、接触に関して不具合があるかどうかを判定することができ、特に、検査電流が閾値を下回っていれば、接触に問題があると推定される。
【００２１】
絶縁検査のために印加される電圧は、特に、絶縁破壊耐性の強度を所要の精度で判定するのに十分であるという意味において高圧である。典型的な場合、この電圧は、検査対象物の動作電圧よりも高く、特に大幅に高い。
【００２２】
（高圧）電気回路の接触検査測定のときに高圧が作用せず、即ち、高圧電気回路の電圧供給装置が切り離されていると好都合である。
【００２３】
一つの実施の形態では、接触検査装置は、検査対象物の導電性部材へ結合を行うための検査電気回路を有している。そして、この導電性部材を介して検査電流が連通され、この検査電流が導電性部材を介して電気回路の隣接する接点へと流れる。
【００２４】
接触検査装置が、（高圧）電気回路の配線に結合可能な、又は、結合されている検査電気回路を含んでいてもよい。それにより、この配線を介して接点に電流が作用する。接触が良好であれば、この電流は、検査対象物の導電性部材を介して流れる。
【００２５】
その場合、接触検査装置が、検査対象物のそれぞれの導電性部材を導電接続するためのブリッジ装置を含んでいると、それによって電気回路を閉じることができる。それにより、検査電流が接点を介して連通されるので、検査対象物において短絡電流が生じた場合にそれが接触検査測定に影響を及ぼすのを防止することができる。
【００２６】
検査対象物のそれぞれの導電性部材の間の導電接続が開閉可能であると好ましい。それにより、絶縁検査のための（高圧）測定を実施する前に、電気接続部を開くことができる。
【００２７】
また、本発明によれば、当該分野に属する方法において、接触検査をするために、検査対象物を構成する電気絶縁部を挟持する第１の導電性部材と第２の導電性部材との間の電圧が無い状態又は低電圧の状態で各接点に検査電流を作用させることによって、冒頭に述べた課題は解決される。
【００２８】
本発明に係る方法は、既に本発明に係る装置との関連において説明した利点を有している。
【００２９】
本発明に係る方法のその他の有利な実施の形態は、同じく既に本発明に係る装置との関連において説明している。
【００３０】
検査電気回路は、両方の導電性部材を介して閉じられるのが好都合である。
【００３１】
接触が良好であれば、検査電流が（高圧）電気回路の各接点を介して流れるのが好ましく、即ち、検査電流が特定の閾値を上回る値で検出されれば、各接点は良好であると判断することができる。
【００３２】
特に、検査電流は、検査対象物の導電性部材を介して流れる。
【００３３】
この場合、検査電流が導電性部材を介して連通されて、各接点に作用することが意図されていてよい。このような回路は、簡単な方法により具現化することができる。
【００３４】
検査電流が、電圧（高圧）を印加するための配線を介して連通されることも可能である。それにより、検査電流が検査対象物の導電性部材を介して流れることができるためには、その前に各接点を通って流れなければならないので、各接点が十分に良好である場合にだけ、検査電流が検査電気回路を流れることを実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
有利な実施の形態についての以下の説明は、図面との関連において本発明を詳細に説明するためのものである。
【００３６】
本発明に係る絶縁検査装置は、図１に模式的に示すように、第１の導電性部材１４と第２の導電性部材１６との間に電気絶縁部１０が配置された検査対象物１２の電気絶縁部１０を検査する役目を果たすものである。この両方の導電性部材１４及び１６は、相互に電気的に分離されている。これは、例えば、それぞれ絶縁層によって電気的に分離された電気モータのステータ巻線及びロータ巻線である。
【００３７】
絶縁検査をするために、通常、以下においては、高圧電気回路２０と称する電気回路２０を含む測定装置１８が設けられる。ここでの高圧とは、絶縁検査を所要の精度で実施するのに十分高い電圧を意味している。特にこの電圧は、例えば、電気モータである検査対象物１２の典型的な動作電圧よりも大幅に高い。高圧電気回路２０は、第１の接点２２と第２の接点２４とに結合されており、両方の接点２２、２４は、コンタクトチップとして構成されているのが好ましい。高圧電気回路２０を介して、例えば２５０Ｖ又はそれ以上の程度の電圧を導電性部材１４、１６に印加し、高圧電気回路２０の電流を通じて、検査対象物１２の絶縁抵抗を求めることができる。適当な電圧供給装置２６が、高電圧を供給する。評価装置２８が、測定結果を評価する。
【００３８】
例えば、一定の電圧が印加されて所定の閾値を下回る電流が検出された場合、又は、測定可能な電流が検出されなかった場合、電気絶縁部１０は良好であると判定される。逆に、電流がその閾値を上回っているときは、電気絶縁部１０が十分でないと判定されて検査対象物１２は廃棄される。
【００３９】
しかしながら、高圧電気回路２０を通る低い電流又は測定不能な電流は、良好な電気絶縁部１０だけによって引き起こされるわけではなく、高圧電気回路２０の測定配線が断線していたり、又は、検査対象物１２への測定装置１８の接触が不良であることによっても引き起こされる。
【００４０】
例えば、接点２２、２４を含むコンタクトチップにおいて、チップが電流により酸化するという問題が現実問題としてしばしば生じる。さらに、検査対象物１２への圧着のために機械的な磨耗も生じる可能性がある。
【００４１】
このような問題（測定配線の断線、接触の不良、無接触）が発生すると、測定装置１８は「閾値を下回る電流」という測定結果を出すが、これは良好な絶縁部１０に帰せられるのではなく、検査対象物１２への測定装置１８の結合の不具合に帰せられるものである。
【００４２】
そこで、本発明においては、接触検査装置が設けられ、その接触検査装置によって、高圧電気回路２０の配線をそれぞれの接点２２、２４への接続に関して切り離す必要なしに、接点２２、２４を介しての検査対象物への測定装置１８の接触を監視することができる。
【００４３】
図１に全体として符号２９が付されたこのような接触検査装置の第１の実施の形態では、第１の検査接点３２を介して第１の導電性部材１４に結合されるとともに第２の検査接点３４を介して第２の導電性部材１６に結合された検査電気回路３０が設けられる。
【００４４】
検査電気回路３０には、電圧源３６が配置されている。ここでの検査電気回路３０は、低電圧の検査電気回路であるのが好ましい。低電圧検査電気回路３０の電圧は、高圧電気回路２０の電圧よりも大幅に低く、典型的な場合には、６Ｖ乃至２４Ｖの範囲内である。
【００４５】
検査電気回路３０は評価装置３８を備えており、その評価装置によって電流値を求めることができる。
【００４６】
電圧源３６から第１の検査接点３２へと通じている検査電気回路３０の配線４０には、第１のスイッチ４２が配置されている。その第１のスイッチ４２が閉じていると、第１の検査接点３２が電圧源３６に結合される。第１のスイッチが開いていると、電気配線が遮断される。
【００４７】
同様に、電圧源３６から第２の検査接点３４へと通じる配線４４には、第２のスイッチ４６が配置されている。そのスイッチが閉じていると、第２の検査接点３４と電圧源３６とが相互に接続されるのに対して、スイッチ４６が開いていると、電気配線が遮断される。
【００４８】
スイッチ４２、４６が開いていると、検査電気回路３０は、高圧電気回路２０から結合解除される。
【００４９】
原則として、２個のスイッチ４２、４６に代えて、１個のスイッチを設けるだけでも十分である。
【００５０】
高圧電気回路２０にはブリッジング配線４８が設けられており、そのブリッジング配線により、両方の接点２２、２４を同一の電位にすることが可能である。そのために、ブリッジング配線４８には、スイッチ５０が配置されている。そのスイッチ５０が閉じていると、両方の接点２２、２４は相互に接続されて、同一の電位になる。スイッチ５０が開いていると、測定装置１８の対応する配線が電圧供給装置２６に接続されるので、両方の接点２２、２４に電圧を印加することが可能である。
【００５１】
スイッチ４２、４６、５０は、共に閉鎖することができるように、又は、共に開放することができるように、相互に接続されているのが好ましい。
【００５２】
接触検査装置２９を通じて接点２２、２４を検査するために、本発明においては、次のように手順が進められる。
【００５３】
電圧供給装置２６は結合解除されており、即ち、接点２２、２４には高圧が印加されていない。スイッチ４２、４６及び５０は閉じている。検査電気回路３０に電流が生成され、第１の接点２２が検査対象物１２の第１の導電性部材１４に対して、また、第２の接点２４が検査対象物１２の第２の導電性部材１６に対して、それぞれ良好に電気接触していて、高圧電気回路２０の配線５２が断線していなければ、検査電気回路は、ブリッジング配線４８を備えている高圧電気回路２０によって閉じられる。すると、電流は、検査接点３２と第１の接点２２との間において第１の導電性部材１４を介して流れ、ブリッジング配線４８を備えている高圧電気回路２０を介して第２の接点２４へと流れ、第２の導電性部材１６を介して第２の検査接点３４へと流れる。電流値は、評価装置３８を通じて検出することができる。
【００５４】
この電流値が閾値を上回っている場合、このことは、高圧電気回路２０が検査対象物１２と良好に接触しており、配線５２も断線していないことを意味している（但し、図３に関連する以下の説明も参照されたい）。
【００５５】
この場合には、引き続いてスイッチ４２、４６及び５０が開かれて、公知の高圧測定が検査対象物１２に関して行われる。閾値を下回る電流値が記録されれば、その理由は、電気絶縁が良好であることに帰することができる。事前に接触検査装置２９を通じてチェックが行われているので、接点２２、２４を介しての検査対象物１２の接触不良、又は、配線５２の断線という可能性を排除することができる。
【００５６】
それに対して、接触検査装置２９の評価装置によって閾値を下回る電流値が検出された場合、このことは、接点２２、２４による検査対象物１２への接触に問題があるか、又は、配線５２に問題があることを意味している。その場合、検査対象物１２について高圧測定を行うことに意味はない。先ず、電流が低すぎる原因を発見し、問題点を取り除かなくてはならない。
【００５７】
本発明に係る方法により、不良な電気絶縁部１０を備えている不良な構成要素、即ち、検査対象物１２が、接触に不具合があったために誤って良好と判断されるという可能性が排除される。検査電流は、接点２２、２４が導電性部材１４、１６と電気的に接続されている場合にしか流れない。導電性部材１４、１６と接点２２、２４との機械的な接触を解除しなくてもよい。
【００５８】
本発明に係る方法は、高圧測定が直流電圧により行われるか交流電圧により行われるかに関わらず機能する。
【００５９】
スイッチ４２、４６により、評価装置３８を高圧電気回路２０から切り離すことができる。それにより、評価装置に高圧が作用しないことが保証される。
【００６０】
この実施の形態では、検査電流は、検査接点３２、３４を介して導電性部材１４、１６に連通され、そこから接点２２、２４に向かって流れる。
【００６１】
電圧源３６は、十分に大きい検査電流が検査電気回路３０を通って流れるように選択される。この電圧は、ブリッジング配線４８を介してのブリッジング部を備えている測定装置１８に合わせて適合化される（スイッチ５０が閉じている場合）。この電圧は、電圧供給装置２６と評価装置２８とが影響を受けないように選択されるのが好ましい。
【００６２】
図２に全体として符号５４が付された本発明に係る絶縁検査装置の第２の実施の形態においては、直流電圧供給装置５６が設けられている。さらに、評価装置２８に対応する評価装置５８が設けられている。直流電圧供給装置５６に結合された測定装置は、図１において説明した測定装置に対応している。従って、同一構成部品には、図１と同一符号が付されている。
【００６３】
同様に、検査電気回路６２を含む接触検査装置６０が設けられている。その検査電気回路は、同様に検査接点６４、６６を介して検査対象物１２に、即ち、導電性部材１４、１６に結合されている。検査電気回路６２には、同様に評価装置６８が備えられている。検査電気回路６２には、直流電圧源である電圧源７０が配置されている。
【００６４】
検査電気回路６２を高圧電気回路２０から結合解除するために、スイッチ４２、４６に代えて、例えば、ダイオードの形態の整流器７２が設けられている。その整流器７２は、ブリッジング配線４８のスイッチ５０が閉じているとき、電流が検査電気回路６２を通って流れることができるように配置、構成されている（接触の不良、又は、配線５２の不良が無い場合）。
【００６５】
但し、整流器７２は、直流電圧供給装置５６に関して、対応する極性の高圧が接点２２及び２４に印加されると、検査電気回路６２に電流が流れることができないように配置されている。
【００６６】
検査対象物１２に関して高圧測定を実施するときは、整流器７２を介して、検査電気回路６２及びそれに伴う接触検査装置６０を高圧電気回路２０から自動的に結合解除することができる。
【００６７】
図３に模式的に示され、同図では全体として符号７４が付されている本発明に係る絶縁検査装置の第３の実施の形態においては、同様に高圧用の電圧供給装置７６と評価装置７７とが設けられている。高圧電気回路７９を形成するために、配線７８が、その電圧供給装置７６の第１の電圧出力部８０と、検査対象物１２の第１の導電性部材１４と接触させるための第１の接点８２とを接続している。第２の配線８４は、電圧供給装置７６の第２の電圧出力部８６と、検査対象物１２の第２の導電性部材１６と接触させるための第２の接点８８とを接続している。
【００６８】
本発明に係る接触検査装置９０は、配線７８及び８４に結合され、それらの配線７８、８４を介して接点８２、８８に結合可能な検査電気回路９２を含んでいる。この場合、検査電流は、配線７８、８４に連通される。
【００６９】
検査電気回路９２には、電圧源９４と評価装置９６とが備えられている。さらに、スイッチ９８、１００が設けられており、それらのスイッチによって、評価装置９６を配線７８及び配線８４からそれぞれ結合解除することができる。
【００７０】
検査電気回路９２を閉じるために、第１の検査接点１０４を介して検査対象物１２の第１の導電性部材１４に結合されるとともに、第２の検査接点１０６を介して検査対象物１２の第２の導電性部材１６に結合されたブリッジング装置１０２が設けられている。配線１０８が両方の検査接点１０４及び１０６を接続しており、その配線１０８にスイッチ１１０が配置されている。スイッチ１１０が閉じているときは、両方の検査接点１０４、１０６は同一電位にある状態で相互に接続されており、それに対して、スイッチ１１０が開いているときは、この電気接続が切り離される。
【００７１】
接触検査測定をするために、高電圧がオフになった状態でスイッチ９８及び１００が閉じられる。そして、電流が接点８２を介して第１の導電性部材１４を通って流れ、スイッチ１１０が閉じた状態で配線１０８を通って第２の導電性部材１６を経由し、接点８８を介して配線８４を通るように流れると、検査電流が検査電流回路９２に流れることができる。評価装置９６が電流値を検出する。
【００７２】
以上に説明したように、閾値を下回る電流値又は測定不能な電流は、接点の問題又は配線の問題を示唆している。
【００７３】
原則として、絶縁部１０に不具合がある場合、接触が不良であるにも拘わらず、検査対象物１２が短絡していることによって電流が流れるという可能性がある。その様子は、図１の回路に明瞭に見出すことができる。検査対象物１２が短絡していると、接点２２、２４を介しての接触が不良であるか否かに関わりなく、検査接点３２及び３４の間に電流が流れる。その原因は、図１の回路では、検査電流が導電性部材１４、１６を介して直接連通されることに帰せられる。
【００７４】
図３に示す本発明に係る装置により、短絡電流が流れているかどうかも見極めることができる。検査電流が配線７８、８４を介して連通され、導電性部材１４、１６を通って流れる前に、接点８２、８８を介して接触部を通過しなければならないからである。
【００７５】
このように、不良な接触が存在しているか、又は、配線７８又は８４が断線していれば、導電性部材１４、１６を介して電流が流れることはないので、検査対象物１２における短絡電流も問題ではなくなる。
【００７６】
その他の点においては、本発明に係る装置７４は、上述したのと同様の利点を有している。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本発明に係る絶縁検査装置の第１の実施の形態を示す模式図である。
【図２】本発明に係る絶縁検査装置の第２の実施の形態を示す模式図である。
【図３】本発明に係る絶縁検査装置の第３の実施の形態を示す模式図である。
【符号の説明】
【００７８】
１０  電気絶縁部
１２  検査対象物
１４  第１の導電性部材
１６  第２の導電性部材
１８  測定装置
２０  高圧電気回路
２２  第１の接点
２４  第２の接点
２６  電圧供給装置
２８  評価装置
２９  接触検査装置（第１の実施の形態）
３０  検査電気回路
３２  第１の検査接点
３４  第２の検査接点
３６  電圧源
３８  評価装置
４０  配線
４２  第１のスイッチ
４４  配線
４６  第２のスイッチ
４８  ブリッジング配線
５０  スイッチ
５２  配線
５４  絶縁検査装置（図２）
５６  直流電圧供給装置
５８  評価装置
６０  接触検査装置
６２  検査電気回路
６４  検査接点
６６  検査接点
６８  評価装置
７０  電圧源
７２  整流器
７４  絶縁検査装置（図３）
７６  電圧供給装置
７７  評価装置
７８  配線
７９  高圧電気回路
８０  第１の電圧出力部
８２  第１の接点
８４  配線
８６  第２の電圧出力部
８８  第２の接点
９０  接触検査装置
９２  検査電気回路
９４  電圧源
９６  評価装置
９８  スイッチ
１００  スイッチ
１０２  ブリッジング装置
１０４  第１の検査接点
１０６  第２の検査接点
１０８  配線
１１０  スイッチ
【図１】
2004354378.tif 000003
【図２】
2004354378.tif 000004
【図３】
2004354378.tif 000005