(57)【要約】【課題】高速試し書きの場合でも、データ記録時の最適なレーザパワーを決めるためのテストパターンデータの再生品質の評価を精度良くできるようにする。【解決手段】データ記録時のレーザパワーを最適に設定するために、まず、切換スイッチ１９をテストパターン生成回路１８側に切り換え、テストパターン生成回路１８で所定のテストパターンデータを生成してレーザダイオード２に供給し、所定データ量（例えば、１セクタ）毎にレーザパワーを変更させて光ディスク１の所定領域にデータ記録時の回転速度で試し書きする。次に、このテストパターンデータを試し書き時よりも低い（例えば、１／２倍の）回転速度で再生し、プリアンプ４で増幅した後、品質評価手段２２に供給する。品質評価手段２２では、ＡＤコンバータ２３でこの再生テストパターンデータをサンプリングして取り込み、そのサンプルデータを、品質評価のために、メモリ２４に蓄積する。【選択図】        図１
2004280968.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対し、データの記録と再生を行なう光ディスク記録再生装置であって、
データ記録時のレーザのパラメータを選定するためのテストパターンデータを、所定データ量の期間毎に該レーザのパラメータを変更しながら、該光ディスクに試し書きするための試し書きモードと、試し書きされた該テストパターンデータを再生し、該データ記録時のレーザのパラメータを選定するための再生された該テストパターンデータを評価するための品質評価モードも選択可能とするモード切換手段と、
該モード切換手段によって試し書きモードと品質評価モードとが選択される毎に、該光ディスクの回転速度を切り換え設定する回転速度設定手段と
を設けたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記回転速度設定手段により、品質評価モード時の前記光ディスクの回転速度を前記試し書きモード時の回転速度よりも低く設定することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項３】
請求項１または２において、
前記品質評価モードで前記光ディスクから再生された前記テストパターンデータをサンプリングして取り込むＡＤコンバータと、
該ＡＤコンバータから取り込まれた前記テストパターンデータのサンプルデータを前記データ量の期間毎に統計処理して評価し、前記データ記録時のレーザの最適なパラメータを選定する手段と
を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項４】
請求項１，２または３において、
前記品質評価モードで前記光ディスクから再生された前記テストパターンデータから再生クロックを生成するＰＬＬ回路と、
該再生クロックから位相誤差を検出し、該位相誤差が規定値を超えた個数を前記データ量の期間毎に統計処理して評価し、前記記録時のレーザの最適なパラメータを選定する手段と
を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項５】
光ディスクにデータ記録時のレーザのパラメータを選定するためのテストパターンデータを、所定データ量の期間毎に該レーザのパラメータを変更しながら、試し書きし、該試し書き時よりも該光ディスクの回転速度を遅くして、試し書きされた該テストパターンデータを再生し、評価することにより、データ記録時のレーザのパラメータを選定する記録レーザのパラメータの選定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ：ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷなども含む）やＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクの記録再生装置に係り、特に、光ディスクへのデータ記録のための記録レーザのパラメータ選定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤやＤＶＤなどの光ディスク記録再生装置においては、最適な品質の再生データが得られるようにするために、データ記録時のレーザのパワーを最適に設定することが必要である。このような最適なレーザパワーを設定する１つの方法として、光ディスクへの試し書きによる方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
これは、光ディスクに試し書きエリアを設け、これに所定のテストパターンを順次レーザパワーを変化させながら記録し（試し書きし）、これを順次再生して再生データの品質評価を行ない、最適な品質の再生データが得られる記録レーザパワーをデータ記録時の最適なレーザパワーとするものである。
【０００４】
この場合の品質評価の対象としては、データ記録時のレーザパワーに応じて変化することから、シンメトリ（非対称性）値やジッターまたはエラーレートが用いられる。
【０００５】
図４（ａ）は記録データとしてのＮＲＺＩデータを示すものであって、高レベルがマーク，低レベルがスペースである。また、図４（ｂ）はこのＮＲＺＩデータに対する８−１６変調のパルス信号であって、このパルス（チャンネルパルス）の周期をＴとしており、このパルス信号でレーザダイオードがドライブされる。ＣＤやＤＶＤでは、最小のマーク／スペース期間を３Ｔ，最大のマーク／スペース期間を１４Ｔと規定されており、図４は最小時間長３Ｔのマーク／スペースと最大時間長１４Ｔのマークとを示している。８−１６変調のパルス信号においては、マークが周期Ｔで冷却パワーＰｃに対して記録パワーＰｗの周期Ｔのチャンネルパルスで表わされ、スペースは冷却パワーＰｃに対して一定の消去パワーＰｅに保持される。
【０００６】
図５は図４（ｂ）に示すパルス信号のマーク期間に対する再生信号の波形を示すものであって、再生信号ＳＭＡＸは図４における１４Ｔマーク期間のチャンネルパルスによるデータパターン（１４Ｔパターン）に対するものであり、再生信号ＳＭＩＮは同じく３Ｔマーク期間のチャンネルパルスによるデータパターン（３Ｔパターン）に対するものである。
【０００７】
図示するように、再生信号ＳＭＡＸの振幅ＡＭＡＸと再生信号ＳＭＩＮの振幅ＡＭＩＮとは異なり、再生信号ＳＭＡＸの中心レベルＣＬＭＡＸと再生信号ＳＭＩＮの中心レベルＣＬＭＩＮとが異なるが、また、データ記録時のレーザパワーに応じて、これら中心レベルＣＬＭＡＸ，ＣＬＭＩＮの差が変化する。このように、８−１６変調のパルス信号を記録すると、その再生信号はマーク長，スペース長に応じて中心レベルが異なることになる。これがアシンメトリ（非対称性）であり、これら中心レベルの差の再生信号ＳＭＡＸの振幅ＡＭＡＸに対する比がアシンメトリ値と定義される。そこで、再生信号ＳＭＡＸ，再生信号ＳＭＩＮの最大レベルを夫々ＨＭＡＸ，ＨＭＩＮとし、最小レベルを夫々ＬＭＡＸ，ＬＭＩＮとすると、
再生信号ＳＭＡＸの中心レベルＣＬＭＡＸ＝（ＨＭＡＸ＋ＬＭＡＸ）／２
再生信号ＳＭＩＮの中心レベルＣＬＭＩＮ＝（ＨＭＩＮ＋ＬＭＩＮ）／２
であり、アシンメトリ値ＡＳは、
ＡＳ＝（ＣＬＭＡＸ−ＣＬＭＩＮ）／ＡＭＡＸ
で表わされることになる。
【０００８】
このアシンメトリ値ＡＳは記録レーザパワーに応じて異なるものであり、また、最適な品質の再生データが得られるときのアシンメトリ値ＡＳも特定される。通常、このようなアシンメトリ値は実験的に０．０４とされており、アシンメトリ値ＡＳがこのような値となるレーザパワーをデータ記録時の最適なレーザパワーとするものである。
【０００９】
データ記録時のレーザパワーをこのようなアシンメトリ値ＡＳとなるように設定するものであるが、このために、レーザパワーを順次異ならせてテストパターンを光ディスクに試し書きし、これを再生して評価処理し、アシンメトリ値ＡＳが上記の値となるようなレーザパワーを判別してこれをデータ記録時のレーザパワーとするものである。
【００１０】
また、特許文献１に記載の技術では、試し書きしたテストパターンの再生データからジッターまたはエラーレートを評価の対象とし、これがデータ記録時に最適になるような記録レーザパワーを検出するようにもしている。そして、このようなアシンメトリ値ＡＳやジッターまたはエラーレートといった評価の対象に応じて試し書きする記録パターンを異ならせている。アシンメトリ値を評価してデータ記録時の最適なレーザパワーを検出する場合には、図４に示すように、３Ｔの最短マーク長に対する３Ｔパターンと１４Ｔの最長マーク長に対する１４Ｔパターンとからなる単一パターンが用いられ、ジッターもしくはエラーレートを評価してデータ記録時の最適なレーザパワーを検出する場合には、ＥＦＭ変調のランダムパターンが用いられるとしている。
【００１１】
【特許文献１】
特開２０００−２５１２５７号公報
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記のような記録レーザパワーを決めるための再生信号の品質評価をアシンメトリ値を用いて行なう場合、再生信号の波形を正確に得ることが必要となる。そして、この再生信号の波形を品質評価手段に取り込むためには、通常再生信号の処理には用いられないＡＤコンバータを必要とする。このＡＤコンバータには、２値化する前のテストパターンの再生信号が供給されてサンプリングされ、このサンプリングされたデータがデジタル化されて品質評価手段に供給され、上記のようにしてレーザパワー毎にアシンメトリ値が求められて評価され、データ記録時に最適なレーザパワーが求められる。また、テストパターンの再生信号のジッターやエラーレートを観測してデータ記録時の最適なレーザパワーを検出する場合には、通常再生系に用いられているＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）回路で得られる再生クロックを用い、これからジッターやエラーレートを検出して評価している。
【００１３】
一方、光ディスクでの高速記録再生が行なわれるようになってきており、このような記録再生においても、最適な記録レーザパワーが必要となる。このため、このような記録再生装置においては、高速な試し書きと高速な再生とが行なわれ、このような場合には、高速再生による再生信号の品質評価が必要となる。
【００１４】
このような品質評価に対しては、このような高速の書込みや再生に見合った高速のサンプルレートのＡＤコンバータを用いることが考えられるが、回路構成が大型化し、消費電力の増加を招くことから、ＬＳＩ化には適さない。そこで、低速のサンプルレートのＡＤコンバータを用いることが考えられるが、このようなＡＤコンバータを用いると、高速レートの再生データに対してサンプルが粗くなって、品質評価をするに充分なデータ量が得られなくなり、従って、再生データの正確な波形が得られなくなって評価の精度が低下する。
【００１５】
ジッターやエラーレートを評価する場合も同様であって、ＰＬＬ回路を高速化した場合には、これによって得られる再生クロックと再生データとの位相誤差を検出するのも困難になる。
【００１６】
本発明の目的は、かかる問題を解消し、高速試し書きの場合でも、再生テストパターンデータの品質評価を精度に行なうことができるようにした光ディスク記録再生装置及び記録レーザのパラメータ選定方法を提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光ディスクに対し、データの記録と再生を行なう光ディスク記録再生装置であって、データ記録時のレーザのパラメータを選定するためのテストパターンデータを、所定データ量の期間毎にレーザのパラメータを変更しながら、光ディスクに試し書きするための試し書きモードと、試し書きされたテストパターンデータを再生し、データ記録時のレーザのパラメータを選定するための再生されたテストパターンデータを評価するための品質評価モードも選択可能とするモード切換手段と、モード切換手段によって試し書きモードと品質評価モードとが選択される毎に、光ディスクの回転速度を切り換え設定する回転速度設定手段とを設けたものである。
【００１８】
回転速度設定手段により、品質評価モード時の光ディスクの回転速度を試し書きモード時の回転速度よりも低く設定する。
【００１９】
品質評価モードで光ディスクから再生されたテストパターンデータをサンプリングして取り込むＡＤコンバータと、ＡＤコンバータから取り込まれたテストパターンデータのサンプルデータをデータ量の期間毎に統計処理して評価し、データ記録時のレーザの最適なパラメータを選定する手段とを備えたものである。
【００２０】
品質評価モードで光ディスクから再生されたテストパターンデータから再生クロックを生成するＰＬＬ回路と、再生クロックから位相誤差を検出し、位相誤差が規定値を超えた個数をデータ量の期間毎に統計処理して評価し、データ記録時のレーザの最適なパラメータを選定する手段とを備えたものである。
【００２１】
上記目的を達成するために、本発明は、記録レーザのパラメータの選定方法であって、光ディスクにデータ記録時のレーザのパラメータを選定するためのテストパターンデータを、所定データ量の期間毎にレーザのパラメータを変更しながら、試し書きし、この試し書き時よりも光ディスクの回転速度を遅くして、試し書きされたテストパターンデータを再生し、評価することにより、データ記録時のレーザのパラメータを選定するものである。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面により説明する。
図１は本発明による光ディスク記録再生装置及び記録レーザのパラメータ選定方法の一実施形態を示すブロック図であり、１は光ディスク、２はレーザドライバ、３はフォトディデクタ、４はプリアンプ、５はディスクモータ、６は入力端子、７はエンコーダ、８は変調回路、９は通常記録／試し書き／通常再生／品質評価モード切換手段（以下、モード切換手段という）、１０は回転設定手段、１１はディスクモータ制御手段、１２は回転制御回路、１３はリファレンス信号生成回路、１４は比較回路、１５はウォーブル成分検出回路、１６はクロック生成回路、１７は位置検出回路、１８はテストパターン生成回路、１９は切換スイッチ、２０はＰＬＬ回路、２１はデコーダ、２２は品質評価手段、２３はＡＤ（アナログ／デジタル）コンバータ、２４はサンプルデータメモリ、２５は位相誤差検出回路、２６は位相誤差エラー数カウント回路、２７は出力端子である。
【００２３】
この実施形態の光ディスク記録再生装置は、データを記録する記録系とこれを再生する再生系に、テストパターン生成回路１８と位置検出手段１７と切換スイッチ１９と品質評価手段２２とを付加したものである。ユーザは、図示しない操作部を操作することにより、入力端子６からの入力データを光ディスク１に記録する通常記録モードと、これを再生する通常再生モードと、通常記録モードでの最適なレーザパワーを求めるためにテストパターンデータを光ディスク１に試し書きする試し書きモードと、データ記録時の最適なレーザパワーを求めるためにこのテストパターンデータを再生して品質評価する品質評価モードとを指定することができ、モード切換手段９はこの光ディスク記録再生装置をユーザによって指定されたモードに設定する。光ディスク１の線速度は、ユーザによって上記モード毎に指定することができ、モード切換手段９がこの光ディスク記録再生装置のモードを設定すると、回転設定手段１０は、光ディスク１がこのモードに対して指定された線速度で回転するように、ディスクモータ制御回路１１を動作させる。
【００２４】
この実施形態では、データ記録時の最適なレーザパワーを求めるために評価する対象を、上記のように、アシンメトリ値とジッターもしくはエラーレートとする。テストパターン１８は、アシンメトリ値を評価するために用いるテストパターンデータとジッターもしくはエラーレートを評価するために用いるテストパターンデータとを生成する。これらテストパターンとしては、例えば、先の特許文献１に記載のように、アシンメトリ値の評価用に３Ｔパターンと１４Ｔパターンとからなるライトパターンデータが用いられ、ジッターもしくはエラーレートの評価用にＥＦＭ変調のランダムパターンのデータが用いられるものとするが、これらに限られるものではない。
【００２５】
試し書きモードでは、光ディスク１の予め決められた領域にアシンメトリ値の評価用のテストパターンデータがレーザパワーを順次切り換えながら試し書き（記録）され、次いで、ジッターもしくはエラーレートの評価用のテストパターンデータがレーザパワーを順次切り換えながら試し書き記録される。なお、これらテストパターンデータの試し書きの順序は、これとは逆であってもよい。かかるテストパターンデータを再生して評価する品質評価モードでは、モード切り換え手段９によって品質評価手段２２が動作する。光ディスク１から再生されたアシンメトリ値の評価用のサンプルデータの取り込みはＡＤコンバータ２３によって品質評価手段２２に取り込まれ、そのサンプルデータがサンプルデータメモリ２４に保存される。光ディスク１から再生された記録パラメータの評価用のテストパターンデータは、これからデータ再生系のＰＬＬ回路２０で再生される再生クロックから位相誤差検出回路２５でジッターが検出され（エラーレートを検出する場合には、エラー訂正回路などのエラー検出手段を用いるが、ここでは、ジッターを検出する場合について説明する）、この検出結果を位相誤差エラー数カウンタ２６を用いて評価データを作成する。
【００２６】
試し書きモードでの光ディスク１の線速度は通常記録モードに等しく設定されるが、テストパターンデータを再生して品質評価を行なう品質評価モードでは、光ディスク１の線速度を試し書きモードでの線速度よりも低く（例えば、１／２倍）に設定する。
【００２７】
次に、以上の構成をなすこの実施形態の動作を説明するが、まず、通常記録モードの場合の動作について説明する。
【００２８】
ユーザが図示しない操作部の操作によって通常記録モードを選択すると、モード切換手段９が光ディスク記録再生装置を通常記録モードに設定する。これにより、切換スイッチ１９が変調回路８側に切り換えられ、回転設定手段１２０は、光ディスク１の回転速度がユーザが設定した線速度となるように、ディスクモータ制御手段１１がディスクモータ５を回転制御させる。さらに、この回転制御について説明すると、光ディスク１には、グルーブが特定の周波数でウォーブリングされており、かかるグルーブ間のランドにピットによる記録トラックが形成される。
【００２９】
レーザドライバ２からのレーザビームは光ディスク１上のこのランドに沿って走査し、データの記録，再生が行なわれるが、記録時においても、光ディスク１からの反射ビームがフォトディテクタ３で検出することにより、この反射光に応じた電気信号Ｓが得られる。この電気信号Ｓには、光ディスク１上のグルーブのウォーブリングに応じて周波数の信号成分（ウォーブリング成分）が含まれる。この電気信号Ｓは、プリアンプ４で増幅された後、ウォーブリング検出回路１５に信号Ｓ１として供給され、帯域通過フィルタなどによってウォーブリング成分が検出される。このウォーブリング信号はディスクモータ制御手段１１に供給される。
【００３０】
一方、ディスクモータ制御手段１１では、回転設定手段１０により、通常記録モードでのユーザが設定した線速度で光ディスク１が回転したときのウォーブリング成分の周波数に等しい周波数のリファレンス信号が得られるように、リファレンス信号生成回路１３が制御されており、このリファレンス信号がウォーブリング検出回路１５からのウォーブリング成分と位相（または、周波数）比較され、その差分に応じて回転制御回路１２がディスクモータ５を回転制御することにより、光ディスク１がユーザが設定した線速度で回転する。
【００３１】
このような光ディスク１の回転状態で入力端子６から記録データが入力され、エンコーダ７でエンコードされ、変調回路８で８−１６変調（ＤＶＤの場合）やＥＦＭ変調（ＣＤの場合）などの記録に適した変調がなされてパルス信号となり、切換スイッチ１９を介してレーザドライバ２に供給される。レーザドライバ２では、このパルス信号によって駆動され、このパルス信号に応じてレーザビームを発生することにより、光ディスク１のランドにピットが形成されてパルス信号の記録が行なわれる。
【００３２】
次に、通常再生モードの場合の動作について説明する。
【００３３】
ユーザが図示しない操作部の操作によって通常再生モードを選択すると、モード切換手段６は光ディスク記録再生装置を通常再生モードに設定する。このモード設定により、回転設定手段１０とディスクモータ制御手段１１などにより、光ディスク１が再生に適した線速度で回転する。レーザドライバ２からは一定強度のレーザビームが光ディスク１の記録トラックに照射され、そのフォトビームがフォトディテクタ３で受光されて再生データＳが得られる。この再生データＳは、プリアンプ４で増幅され、図示しない処理回路で２値化などの処理がなされた後、ＰＬＬ回路２０に供給されてこの再生データＳ２からクロック（再生クロック）が生成される。この再生データＳ２はデコーダ２１に供給され、ＰＬＬ回路２０で生成された再生クロックを用いてデコードされる。デコードされた再生データは、出力端子２７から出力される。
【００３４】
次に、試し書きモードの動作について説明する。
【００３５】
ユーザが図示しない操作部の操作によって試し書きモードを選択すると、モード切換手段６は光ディスク記録再生装置を試し書きモードに設定する。このモード設定により、回転設定手段１０とディスクモータ制御手段１１などにより、光ディスク１が試し書きに適した線速度で回転するが、このときの線速度は、通常記録モードと同じ線速度である。従って、上記の通常記録が高速記録の場合には、これと同じ高速の線速度で光ディスク１が回転する。
【００３６】
かかる試し書きモードでは、切換スイッチ１９がテストパターン生成回路１８側に切り換えられる。クロック生成回路１６では、ウォーブリング成分検出回路１５で検出されるウォーブリング成分をもとにクロックが生成される。このクロックをもとに、テストパターン生成回路１８から所定のテストパターンデータが出力され、切換スイッチ１９を介してレーザドライバ２に供給される。ここで、アシンメトリ値を評価対象とする場合とジッターもしくはエラーレートを評価対象とする場合とで、その評価に適するように、夫々毎に異なるテストパターンデータが用いられる（勿論、同じテストパターンデータを用いるようにしてもよい）。また、アシンメトリ値を評価対象とする場合には、所定データ量のこのアシンメトリ値評価用のテストパターンデータを記録する毎に、レーザドライバ２のレーザパワーを変化させる。かかるアシンメトリ値評価用のテストパターンデータを、例えば、特許文献１に記載の技術のように、図４（ｂ）で示したような単一テストパターンのデータとする場合には、記録パワーＰｗや消去パワーを変化させるものである。
【００３７】
ジッターもしくはエラーレートを評価の対象とする場合でも、その評価用のテストパターンデータ（例えば、特許文献１に記載の技術のようなランタムパターンのデータ）を、所定データ量毎にレーザパワーを順次変化させて記録する。
【００３８】
アシンメトリ値評価用のテストパターンデータやジッターもしくはエラーレート評価用のテストパターンデータは、光ディスク１の所定の領域に記録され、また、これらのテストパターンデータは、その一方が記録されてから他方が記録される。
【００３９】
図２（ａ）は光ディスク１での、例えば、アシンメトリ値評価用のテストパターンデータの試し書き状態を模式的に示すものであって、０，１，２，……，１４が夫々所定データ量（例えば、１セクタ）のテストパターンデータが試し書きされているエリアである。そして、図２（ｂ）に示すように、光ディスク１の線速度は通常記録モードの場合と同じ一定の線速度Ａに設定されているが、エリア１，２，３，……，１４の順にレーザパワーが高められていく（あるいは、低められていく）。
【００４０】
このようにして、光ディスク１の予め決められた領域において、エリア１，２，３，……，１４の順にレーザパワーを切り換えてアシンメトリ値評価用のテストパターンデータの試し書きが終了すると、次に、このエリア１４に続いて、同様のエリア毎にレーザパワーを切り換えながらジッターもしくはエラーレート評価の用のテストパターンデータの試し書きが行なわれる。
【００４１】
ところで、このようにテストパターンデータを光ディスク１の決められた領域に試し書きをするのであるが、この試し書きの領域は、図１において、ウォーブリング成分検出回路１５で検出されるウォーブリング成分から、位置検出手段１７により、検出される。即ち、図示しないが、光ディスク１のランドには、位置を示すプリピットからなる位置データが記録されており、まず、図示しない手段により、この位置データをもとに試し書きの領域の開始位置を検索し、これを位置検出手段１７にプリセットし、ウォーブリング成分検出回路１５で検出されるウォーブリング成分の波数を用いて順次の位置を検出していく。そして、各エリア１，２，３，……，１４を検出し、テストパターン生成回路１８において、検出されるこれらエリア毎に、上記のように、テストパターンデータの振幅を変えてレーザパワーを変化させていく。ジッターもしくはエラーレート評価用のテストパターンデータの試し書きの場合には、エリア毎にジッターもしくはエラーレート評価用のテストパターンデータのパワーが異なるようにする。
【００４２】
次に、以上のように試し書きされたテストパターンデータを用いてデータ記録時の最適レーザパワーを決めるための品質評価モードの動作について説明する。
【００４３】
ユーザが図示しない操作部の操作によって品質評価モードを選択すると、モード切換手段６は光ディスク記録再生装置を品質評価モードに設定する。このモード設定により、回転設定手段１０とディスクモータ制御手段１１などにより、光ディスク１が再生テストパターンデータの品質評価に適した線速度で回転するが、このときの線速度は、試し書きモード、従って、通常記録モードや通常再生モードよりも低い線速度である。以下では、試し書きモードでの線速度Ａの１／２倍の線速度、即ち、線速度Ａ／２とするが、これのみに限るものではなく、試し書きモードでの線速度Ａよりも低ければよい。
【００４４】
まず、アシンメトリ値を評価する場合について説明する。
【００４５】
この場合も、図示しないが、上記と同様、位置検出手段１７などにより、光ディスク１でのアシンメトリ値評価用のテストパターンデータが試し書きされた領域が検出され、これとともに品質評価手段２２のＡＤコンバータ２３とサンプルデータメモリ２４を動作させる。
【００４６】
図２（ｃ）に示すエリア１，２，３，……，１４からの再生信号Ｓは、プリアンプ４で増幅された後、再生信号Ｓ３として、２値化されることなく、品質評価手段２２に供給され、ＡＤコンバータ２３でサンプリングされてデジタル化され、サンプルデータメモリ２４に蓄積される。このサンプルデータメモリ２４に蓄積されたサンプルデータを用いて各レーザパワー毎（図２でのエリア１，２，３，……，１４毎）の再生データＳ３の波形が求められてアシンメトリ値が求められ、これらを評価してデータ記録時の最適なレーザパワー（図５での記録パワーＰｗや消去パワーＰｅ）が求められる。
【００４７】
このようにして、アシンメトリ値を評価するものであるが、この品質評価モードでの光ディスク１の線速度を試し書きモード次の１／２倍と低くしているので、図２（ｃ）に示すように、図２（ｂ）に示す試し書き時に比べて再生テストパターンデータが時間的に２倍に伸長されたことになり、試し書き時と同じ線速度で再生した場合に比べて再生テストパターンデータはＡＤコンバータ２３によってより細かく（この場合、２倍のレートで）サンブリングされたことになる。このため、テストパターンデータの同じデータ量に対して、ＡＤコンバータ２３によってサンプリングされて取り込まれるデータ量が増大化し、評価のためのデータ量が増加するから、アシンメトリ値がより高い精度で得られることになり、データ記録時の最適なレーザパワーをより高い精度で検出できることになる。
【００４８】
また、このようにＡＤコンバータ２３によってサンブリングされるデータ量が増加すると、再生されたテストパターンデータＳ３にノイズが混入しても、サンブリングして取り込まれるデータ量が多いので、かかるノイズによって異常となったサンプルデータを除いても、評価に必要なデータ量が充分得られており、かかるノイズによる影響が軽減されることになる。
【００４９】
さらに、光ディスク１の品質評価モードでの線速度を試し書きモードでの線速度よりも低くしているので、ＡＤコンバータ２３として、よりサンプルレートが低いより小型で低消費電力のものを用いることができる。
【００５０】
ジッターもしくはエラーレート評価用のテストパターンデータを光ディスク１から再生する場合には、ＰＬＬ回路２０や位相誤差検出回路２５，位相誤差エラー数カウンタ２６が動作する。この場合には、２値化された再生データＳ２がＰＬＬ回路２０に供給され、再生クロックが再生される。この再生クロックは品質評価手段２２に供給され、位相誤差検出回路２５で位相誤差（ジッター）が検出される。この位相誤差検出回路２５では、また、この位相誤差が一定値以上であるとき、位相誤差エラーとして出力する。位相誤差エラー数カウンタ２６は、かかる位相誤差エラーを図２に示すエリア毎にカウントし、これを評価の対象とする。かかるエリア毎のカウント値がジッターの頻度（レート）となり、記録時のレーザパワーに応じて異なる。従って、各エリア毎のジッターの頻度を評価することにより、最適なレーザパワーを決めることができる。エラーレートを評価対象とする場合も同様である。
【００５１】
以上のように、この実施形態では、試し書き時より低いディスク速度で再生品質評価を行なうものであるから、より高い精度の再生テストパターンデータの品質評価を実現し、その結果から、データ記録時のレーザパワーや記録波形などを最適に選択することを可能となる。
【００５２】
なお、この実施形態では、光ディスク１を線速度一定で制御するようにしたが、試し書きモード時よりも再生品質評価モード時での光ディスク１の速度を低くする限り、角速度一定で光ディスク１を回転させるようにしてもよく、同様の効果が得られる。
【００５３】
また、この実施形態では、再生品質評価モードでの光ディスク１の速度を試し書きモード時の１／２倍としたが、試し書きモード時よりも再生品質評価モード時の速度が低ければ、再生品質評価モード時の速度を任意に設定可能であり、同様の効果が得られる。
【００５４】
図３は以上の試し書きモードと品質評価モードの動作を示すフローチャートである。
【００５５】
同図において、モード切換手段９によってアシンメトリ値を評価対象とする試し書きモードが設定されると、光ディスク１の線速度が通常記録モードと同じ線速度に設定され（ステップ１００）、テストパターン生成回路１８でアシンメトリ値を評価対象とするためのテストパターンが選択生成され（ステップ１０１）、この選択されたテストパターンのデータ（テストパターンデータ）を記録するための予め決められたレーザパワーのデフォルト値が設定される（ステップ１０２）。
【００５６】
そして、切換スイッチ１９がテストパターン生成回路１８側に切り換えられ、このテストパターン生成回路１８で選択されたテストパターンデータがこの設定されたレーザパワーのデフォルト値に応じたパワー（振幅）で、切換スイッチ１９を介し、レーザドライバ２に供給され、光ディスク１の予め決められた領域（試し書き領域）に選択されたテストパターンが設定されたデフォルトのレーザパワーで試し書き（記録）される（ステップ１０３）。このレーザパワーでのテストパターンデータが図２で示す１つのエリア（エリア１）に記録されると、テストパターンデータの振幅が変化されてレーザパワーが変更され（ステップ１０５）、この変更されたレーザパワーでこの選択されたテストパターンデータの記録が行なわれる（ステップ１０６，１０３）。このようにして、１つのエリアでのテストパターンデータの記録が終る毎にレーザパワーが変更され、図２（ａ）に示すように、エリア１，２，３，……毎にレーザパワーが変更されて同じテストパターンデータが順次記録されていく（ステップ１０３→１０４→１０５→１０６→１０３→……）。
【００５７】
規定回数の記録がなされて図２に示すエリア１，２，３，……，１４まで記録し、予め決められた複数種のレーザパワーでのテストパターンデータの試し書きがなされると、評価対象をアシンメトリ値とする試し書きが終了する（ステップ１０６）。このようにして、アシンメトリ値を評価対象とする場合の試し書きが終了するが、さらにジッターもしくはエラーレートを評価する場合には、ステップ１０１に戻ってテストパターン生成回路１８でこの評価対象に対するテストパターンデータ（例えば、上記のランダムパターンデータ）を選択し、ステップ１０２からステップ１０６までの動作を実行し、このテストパターンデータを光ディスク１の上記の試し書き領域に記録する。
【００５８】
以上のようにして、選択したテストパターンデータの試し書きが終了すると（試し書きモードの終了）、アシンメトリ値を、さらには、ジッターもしくはエラーレートをも評価してデータ記録時のレーザパワーを求める場合には、ユーザは品質評価モードを指定する。なお、かかる試し書きの終了とともに、自動的に品質評価モードに移行するようにしてもよい。モード切換手段９によって品質評価モードが設定されると（ステップ１０７）、回転設定手段１０によって光ティスク１の線速度が試し書きモードのときよりも低い値（例えば、１／２倍）に設定され（ステップ１０８）、光ディスク１の試し書き領域から図２に示すエリア１，２，３，……の順にエリア１４までテストパターンデータが再生される。図２（ｃ）はこの再生されるテストパターンと光ディスク１の線速度を示すものであり、この再生テストパターンデータは、図２（ｂ）に示す記録時のテストパターンデータに対し、２倍に時間伸長されたものとなる。
【００５９】
アシンメトリ値を評価する場合には、再生されたテストパターンデータがＡＤコンバータ２３でサンプリングされてそのサンプルデータ（デジタルデータ）がサンプルデータメモリ２４に蓄積される（ステップ１０９）。ジッターもしくはエラーレートを評価する場合には、図３には図示しないが、再生されて２値化されたテストパターンからＰＬＬ回路２０で再生クロックが生成され、これを、上記のように、位相誤差回路２５と位相誤差エラー数カウンタ２６とから各レーザパワー毎のジッターレートが検出される（なお、エラーレートの場合には、再生されて２値化されたテストパターンデータから、エラー検出回路などを用いて同様にしてレーザパワー毎のエラーレートが求められる）。
【００６０】
このようにして、前エリアでのアシンメトリ値やジッターもしくはエラーレートが得られると（ステップ１１０）、品質評価手段２２での図示しない処理手段により、エリア毎のアシンメトリ値やジッターもしくはエラーレートを統計処理し（ステップ１１１）、再生品質の最も高いエリアでの記録に設定されたレーザパワーを最適なレーザパワーと決定する（ステップ１１２）。
【００６１】
以上のように、この実施形態では、再生テストパターンデータの品質評価時の光ディスクの回転速度（線速度もしくは角速度）を記録時よりも低くしているため（例えば、１／２倍）、記録（試し書き）時と同じ回転速度で光ディスク１を回転させたときに得られる再生テストパターンの場合に比べ、ＡＤコンバータ２３で得られるサンプルデータ量が多くなり（例えば、２倍）、かかるデータ量のサンプルデータで統計処理して品質評価ができ、データ記録時のレーザパワーの選択を正確に行なうことができる。
【００６２】
なお、この実施形態では、データ記録時のレーザの設定対象とするパラメータをレーザパワーをとしたが、記録データの波形など他のパラメータを対象としても同様である。
【００６３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、再生テストパターンの品質評価時の光ディスクの回転速度を試し書き時よりも低くするものであるから、同じサンプリングレートのＡＤコンバータで再生テストパターンデータをサンプリングすると、品質評価時の光ディスクの回転速度を試し書き時と同じにした場合に比べ、より多くの品質評価のためのサンプルデータ（情報）を取得することができ、統計処理による品質評価をより正確に行なうことが可能となって、高速で試し書きする場合でも、データ記録時のレーザパワーなどのパラメータの選択を正確に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光ディスク記録再生装置及び記録レーザのパラメータ選定方法の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】図１に示す実施形態の光ディスク上での試し書きと品質評価とを説明するための模式図である。
【図３】図１に示す実施形態の品質評価のための動作の一具体例を示すフローチャートである。
【図４】光ディスクの記録データの一具体例を示す波形図である。
【図５】図４に示す記録データの再生波形を示す図である。
【符号の説明】
１  光ディスク
２  レーザドライバ
５  ディスクモータ
８  変調回路
９  通常記録／試し書き／通常再生／品質評価モード切換手段（モード切換手段）
１０  回転設定手段
１１  ディスクモータ制御手段
１８  テストパターン生成回路
１９  切換スイッチ
２０  ＰＬＬ回路
２２  品質評価手段
２３  ＡＤコンバータ
２４  サンプルデータメモリ
２５  位相誤差検出回路
２６  位相誤差エラー数カウント回路
【図１】
2004280968.tif 000003
【図２】
2004280968.tif 000004
【図３】
2004280968.tif 000005
【図４】
2004280968.tif 000006
【図５】
2004280968.tif 000007