(57)【要約】【課題】１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信におけるインサービス試験を可能にした光線路試験システムを提供する。【解決手段】試験光源２０の試験光出力経路に、試験光を透過すると共に試験光のサイドモードを抑制する誘電体多層膜型フィルタ（バンドパスフィルタ）２２を設置する。【選択図】      図１
2004245767.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光伝送装置間に接続された光ファイバと、前記光ファイバを試験光により試験する光試験手段とを有する光線路試験システムにおいて、
前記試験光を透過すると共に、前記試験光のサイドモードを抑制するフィルタリング手段を設けたことを特徴とする光線路試験システム。
【請求項２】
請求項１に記載の光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記光試験手段を構成する試験光源の試験光出力経路に設けられることを特徴とする光線路試験システム。
【請求項３】
請求項２に記載の光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を透過すると共に前記試験光のサイドモードを抑制するバンドパスフィルタであることを特徴とする光線路試験システム。
【請求項４】
請求項２に記載の光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、光カプラとから構成されることを特徴とする光線路試験システム。
【請求項５】
請求項２に記載の光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、３ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システム。
【請求項６】
請求項２に記載の光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、４ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システム。
【請求項７】
請求項６に記載の光線路試験システムにおいて、
前記４ポート光サーキュレータのポートに、前記光試験手段を構成する光検出手段を設置したことを特徴とする光線路試験システム。
【請求項８】
請求項１に記載の光線路試験システムにおいて、
前記光試験手段を構成し、かつ前記試験光を前記光ファイバに誘導すると共に前記光ファイバから戻ってくる試験光を前記光試験手段内に誘導する光分岐手段の中に、前記フィルタリング手段を設置したことを特徴とする光線路試験システム。
【請求項９】
請求項８に記載の光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、４ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システム。
【請求項１０】
請求項４ないし請求項７及び請求項９のいずれかに記載の光線路試験システムにおいて、
前記ＦＢＧ型光フィルタが有する遮断波長帯域と、
前記光試験手段を構成し、前記光伝送装置へ通信光を透過させると共に前記試験光が侵入することを遮断するフィルタが有する遮断波長帯域とが、
略同じであることを特徴とする光線路試験システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、光線路試験システムに関するものであり、光通信設備の信頼性を向上させ、効率よく保守・運用を行うことができる。
【０００２】
【従来の技術】
光線路試験監視システムは、光通信サービスに影響を与えることなく光ファイバケーブルを試験及び監視するシステムである。図９は、従来の光線路試験監視システムの一例の概略構成図である（下記、特許文献１参照。）。同図に基づいて従来の光線路試験監視システムを説明する。
【０００３】
同図に示すように、光線路試験監視システム１は、通信設備ビル２と、他の通信設備ビル３と、設備管理センタ４とからなり、通信設備ビル２と他の通信設備ビル３とは光ファイバ５により結ばれ、通信設備ビル２と設備管理センタ４とは通信網６により結ばれている。なお、通信設備ビル３は、光信号の送受信を望むユーザ宅である場合もある。
【０００４】
通信設備ビル２は電気通信設備が設置されるビルであり、通信設備ビル２には光伝送装置７と、光試験装置８と、光カプラモジュール９とが設置される。通信設備ビル３には、光伝送装置１０が設置され、光伝送装置７と光伝送装置１０とが光ファイバ５により接続されることで、光信号の送受信が行われる。
【０００５】
設備管理センタ４は、設備情報を管理する機能を有し、光線路設備のデータベース１１と、通信設備ビル２に設置された光試験装置８を遠隔で操作する操作端末１２とが設置される。なお、光線路試験監視システム１は、設備管理センタ４がなくとも、通信設備ビル２と他の通信設備ビル３とから構成される光線路試験システムのみで光ファイバの試験・検査を行うことができるが、設備管理センタを設置し、情報管理を行うことで、大規模な光通信網の保守に有利となる等の効果がある。
【０００６】
通信設備ビル２に設置された光試験装置８は、試験制御装置１３と、光測定器１４と、心線選択装置１５と、光測定器・試験架選択装置（ＦＴＥＳ）１６とから構成される。
【０００７】
試験制御装置１３は、設備管理センタ４の操作端末１２と通信網６で接続されることにより、操作端末１２から試験指示を受信すると共に操作端末１２へ試験結果を送信する。光測定器１４は、損失試験光源、心線対照光源、パワーメータ等の機能を有し、例えば光パルス試験器（ＯＴＤＲ）などが用いられる。心線選択装置１５は、光カプラモジュール９への試験光入出力ポートＣ’又はＤ’を有すると共に光試験を施す光ファイバ心線を選択する機能を有する。光測定器・試験架選択装置（ＦＴＥＳ）１６は、光測定器１４と心線選択装置１５とを選択する機能を有する。
【０００８】
光伝送装置７と１０とを結ぶ光ファイバ５上に設けられ、光試験装置８に接続された光カプラモジュール９は、光ファイバ５に対して試験光を合分波すると共に、光伝送装置７への通信光を透過し、試験光を遮断する機能を有する。また、ターミネーションフィルタ１７は、光伝送装置１０の入出力ポートに設置され、光伝送装置１０への通信光を透過すると共に試験光を遮断し、開放端でのフレネル反射よりも大きな試験光の反射を発生させる機能を有する。
【０００９】
図１０は、図９に示した光カプラモジュール９の構成を示す概略拡大図である。同図に示すように、光カプラモジュール９は、光カプラ１８と、フィルタ１９と、通信光用のポートＡ，Ｂと、試験光用のポートＣ，Ｄとから構成される。光カプラ１８は、試験光と通信光とを合分波して光ファイバ５に結合させる機能を有し、フィルタ１９は、光伝送装置７への通信光を透過すると共に試験光を遮断する機能を有する。
【００１０】
ポートＡは光伝送装置７へ接続されるポートであり、ポートＢは光ファイバ５を介して光伝送装置１０へ接続されるポートである。また、ポートＣ，Ｄは、それぞれ、光ファイバ５及び光伝送装置１０側と光伝送装置７側を試験するためのポートである。
【００１１】
次に、図９及び図１０に示した光線路試験監視システムによる光ファイバケーブルの障害検知方法を説明する。まず、設備管理センタ４に設置されたデータベース１１に基づいて、試験命令を操作端末１２から光試験装置８に出力する。この試験命令に従い、光試験装置８の試験制御装置１３は、ＦＴＥＳ１６により光測定器１４を選択すると共に、心線選択装置１５により、光試験を施す光ファイバが接続された試験光入カポートＣ’（ポートＣに対応）又はＤ’（ポートＤに対応）を選択する。
【００１２】
光伝送装置７及び光伝送装置１０の前には、それぞれ試験光のみを遮断するフィルタ１９及びターミネーションフィルタ１７が設置されているため、光測定器１４からの試験光が光通信サービスに影響を与えないようになっている。この結果、光試験装置８による、所望の光ファイバのインサービス試験が可能となる。
【００１３】
ターミネーションフィルタ１７としては、例えば、ファイバブラックグレーティング（以下ＦＢＧと称する）が用いられる。ＦＢＧ型光フィルタは、光ファイバに紫外線を照射して、光ファイバのコアまたはコアとクラッドの長手方向に、数百ｎｍ程度の周期で数万本の屈折率の異なる格子を形成して作製される。この屈折率変調の周期条件がブラッグの反射条件を満たすことにより、特定波長のみを反射させ、それ以外の波長は透過させる。
【００１４】
図１１は、ＦＢＧ型光フィルタを用いたターミネーションフィルタ１７の光学特性を示すグラフである。同図に示すように、ターミネーションフィルタ１７は、１２６０〜１６２５ｎｍ帯の光を０．８ｄＢ以下で透過すると共に、１６２５ｎｍから１６４５ｎｍで急激に透過損失が上昇し、１６５０ｎｍの光を遮断量２０ｄＢで遮断する。また、ターミネーションフィルタ１７は、試験光のみをほぼ０ｄＢで反射する。
【００１５】
【特許文献１】
特開平２−１６３２号公報
【非特許文献１】
Ｎ．Ａｒａｋｉ他、Ｌ／Ｕ−ｂａｎｄ交差導波路型光カプラを適用した光試験システムを用いた１０Ｇｂｉｔ／ｓ  Ｌ−ｂａｎｄ通信のインサービス試験、「第２８回ＥＣＯＣ‘０２予稿集」、２００２年、第１巻、ｐａｐｅｒ１．２．３
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
近年、通信波長として１２６０〜１６２５ｎｍを用いるＤＷＤＭ（高密度波長分割多重）光通信が商用化されている。これに伴い、試験光としては、通信光波長帯域を避けた１６５０ｎｍ帯を使用している。
【００１７】
ＦＢＧ型光フィルタを用いたターミネーションフィルタは、試験光とＬ−ｂａｎｄ光、すなわちＩＴＵ−Ｔで規定されている波長範囲１５６５〜１６２５ｎｍの光との分離に優れている。しかしながら、ターミネーションフィルタの遮断帯域は広くて２０ｎｍであるため、１６５０ｎｍの試験光源のサイドモードを遮断することは困難である。
【００１８】
ここで、試験光源からの出力光（波長λ）のパワースペクトルをｆ（λ）、ターミネーションフィルタの透過率をｇ（λ）とすると、サイドモードを含めた試験光全体の平均パワーＦと、ターミネーションフィルタ透過後の試験光パワーＦ’は、下記式（１）及び（２）で表される。
【数１】
2004245767.tif 000003
【数２】
2004245767.tif 000004
【００１９】
したがって、試験光源からの出力光がターミネーションフィルタで減衰される実効遮断量Ｌｅｆｆは上記式（１）及び（２）より、下記式（３）で表される。
【数３】
2004245767.tif 000005
【００２０】
図１２（ａ）は、試験光全体のスペクトル波形を示すグラフであり、光スペクトルアナライザにより測定した。同図に示すように、ＦＢＧ外部共振型ＬＤを用いた試験光源の中心波長は１６５０ｎｍであり、そのサイドモード抑圧比（発光ピークと二次サイドモードの差であり、以下ＳＢＳＲと称する）は約４０ｄＢであることがわかる。
【００２１】
図１２（ｂ）は、図１２（ａ）に示した試験光がＦＢＧ型ターミネーションフィルタを透過した後のスペクトル波形を示すグラフである。同図に示すように、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタは波長帯域１６５０±５ｎｍで４５ｄＢの遮断量を有する一方、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタから漏洩した試験光のサイドモードのパワーは、４５ｄＢ遮断された試験光（１６５０ｎｍ）の中心スペクトルよりも相対的に強くなっていることがわかる。このときの式（３）より計算される実効遮断量は２３ｄＢであった。
【００２２】
これに対し、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信において、インサービス試験を行うためには、４０ｄＢ以上の試験光遮断特性が必要である（上記非特許文献１参照。）。
【００２３】
本発明は、上記状況に鑑みてなされたもので、試験光源のサイドモードを抑制することにより４０ｄＢ以上の試験光遮断特性を実現し、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信等、試験光の遮断量が４０ｄＢ以上必要な通信システムにおいて、インサービス試験を行うことを可能にした光線路試験システムを提供することを目的とする。
【００２４】
【課題解決するための手段】
上記課題を解決する第１の発明は、光伝送装置間に接続された光ファイバと、前記光ファイバを試験光により試験する光試験手段とを有する光線路試験システムにおいて、
前記試験光を透過すると共に、前記試験光のサイドモードを抑制するフィルタリング手段を設けたことを特徴とする光線路試験システムである。
【００２５】
上記課題を解決する第２の発明は、第１の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記光試験手段を構成する試験光源の試験光出力経路に設けられることを特徴とする光線路試験システムである。
【００２６】
フィルタリング手段は、試験光源のＳＢＳＲを抑制することができる場所であればどこに設置されていてもよいが、例えば、光試験装置内、試験光源の試験光出力部、試験光源の近傍に設置される。
【００２７】
上記課題を解決する第３の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を透過すると共に前記試験光のサイドモードを抑制するバンドパスフィルタであることを特徴とする光線路試験システムである。
【００２８】
上記課題を解決する第４の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、光カプラとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００２９】
ＦＢＧ型光フィルタと光カプラの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が光カプラを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び光カプラを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００３０】
上記課題を解決する第５の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、３ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００３１】
ＦＢＧ型光フィルタと３ポート光サーキュレータの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が３ポート光サーキュレータを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び３ポート光サーキュレータを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００３２】
上記課題を解決する第６の発明は、第２の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、４ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００３３】
ＦＢＧ型光フィルタと４ポート光サーキュレータの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が４ポート光サーキュレータを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び４ポート光サーキュレータを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００３４】
上記課題を解決する第７の発明は、第６の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記４ポート光サーキュレータのポートに、前記光試験手段を構成する光検出手段を設置したことを特徴とする光線路試験システムである。
【００３５】
光検出手段とは、光ファイバから戻ってきた試験光を受信する装置（光検出器）である。
【００３６】
上記課題を解決する第８の発明は、第１の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記光試験手段を構成し、かつ前記試験光を前記光ファイバに誘導すると共に前記光ファイバから戻ってくる試験光を前記光試験手段内に誘導する光分岐手段の中に、前記フィルタリング手段を設置したことを特徴とする光線路試験システムである。
【００３７】
光分岐手段としては、例えば、光伝送装置間を結ぶ光ファイバ上に設置され、光試験手段と光ファイバケーブルとを光接続する光カプラ（光カプラモジュール）等が考えられる。
【００３８】
上記課題を解決する第９の発明は、第８の発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記フィルタリング手段は、前記試験光を反射すると共に前記試験光のサイドモードを透過するＦＢＧ型光フィルタと、４ポート光サーキュレータとから構成されることを特徴とする光線路試験システムである。
【００３９】
ＦＢＧ型光フィルタと４ポート光サーキュレータの設置方法としては、例えば、試験光源から出力された試験光が、光分岐手段により光ファイバに誘導される際に、４ポート光サーキュレータを透過した後、ＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が４ポート光サーキュレータを透過し光ファイバの試験に供されるように設置するなどが考えられる。
【００４０】
また、例えば、２つの４ポート光サーキュレータ（第１と第２のサーキュレータ）を同方向に直列接続する際に、２つの４ポート光サーキュレータを接続する２本の光ファイバにそれぞれＦＢＧ型光フィルタ（第１と第２のフィルタ）を挿入して構成してもよい。
【００４１】
この場合には、試験光源から出力された試験光が、光分岐手段により光ファイバに誘導される際に、第１の４ポート光サーキュレータを透過した後、第１のＦＢＧ型光フィルタにおいて試験光が反射されると共にサイドモードが透過され、当該反射された試験光が再び４ポート光サーキュレータを透過し、一方の光伝送装置側の光ファイバ試験に供される。
【００４２】
同様にして、第２の４ポート光サーキュレータと第２のＦＢＧ型光フィルタを試験光が透過・反射することにより、他方の光伝送装置側の光ファイバ試験に供される。
【００４３】
上記課題を解決する第１０の発明は、第４ないし第７及び第９のいずれかの発明に係る光線路試験システムにおいて、
前記ＦＢＧ型光フィルタが有する遮断波長帯域と、
前記光試験手段を構成し、前記光伝送装置へ通信光を透過させると共に前記試験光が侵入することを遮断するフィルタが有する遮断波長帯域とが、
略同じであることを特徴とする光線路試験システムである。
【００４４】
【発明の実施の形態】
＜第１の実施形態（第１〜第３の発明の説明）＞
図１は、第１の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００４５】
図１に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−１は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、誘電体多層膜型フィルタ（狭帯域バンドパスフィルタ）２２と、光カプラ２３とから構成される。
【００４６】
試験光源２０としては、図１２に示した光特性を有する試験光源を用い、ＳＢＳＲは４０ｄＢである。また、誘電体多層膜型フィルタ２２を、試験光源２０と光カプラ２３との間における試験光源２０の直近に設置した。誘電体多層膜型フィルタ２２は、１６５０±５ｎｍの試験光を０ｄＢで透過すると共に、１６５０±１２．５ｎｍ以外の領域において一定量減衰（例えば、１０ｄＢ，２０ｄＢ，３０ｄＢ）させる機能を有する。
【００４７】
例えば、１６５０±１２．５ｎｍ以外の領域において１０ｄＢ減衰させる誘電体多層膜型フィルタを設置すると、ＦＴＥＳ１６へ出力される試験光のＳＢＳＲは、５０ｄＢとなる。同様に、２０ｄＢ，３０ｄＢ減衰させる誘電体多層膜型フィルタを設置すると、出力される試験光のＳＢＳＲはそれぞれ６０ｄＢ，７０ｄＢとなる。
【００４８】
図２は、遮断特性４５ｄＢのＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７の実効遮断量をＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７の遮断帯域に対して示したグラフである。誘電体多層膜型フィルタ２２の設置により、ＳＢＳＲが５０，６０，７０ｄＢの試験光を、また誘電体多層膜型フィルタ２２の取り外しにより、ＳＢＳＲが４０ｄＢの試験光を出力し、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７の実効遮断量を測定した。なお、光スペクトラムアナライザの波長分解能は０．１ｎｍであった。
【００４９】
同図に示すように、ＳＢＳＲが４０ｄＢ，５０ｄＢのとき、ターミネーションフィルタの実効遮断量は、それぞれ約２２ｄＢ、約３１ｄＢであり、目標とする４０ｄＢ以上とはならない。一方、ＳＢＳＲが６０ｄＢかつフィルタ遮断帯域が１７ｎｍ以上のとき、約４０ｄＢの実効遮断量を得ることができ、ＳＢＳＲが７０ｄＢかつフィルタ遮断帯域が１４ｎｍ以上ではほぼ目標の実効遮断領を得ることができる。
【００５０】
図３（ａ）は、ＳＢＳＲを７０ｄＢに抑制した試験光全体のスペクトル波形を示すグラフである。すなわち、１６５０±１２．５ｎｍ以外の領域における減衰量が３０ｄＢの誘電体多層膜型フィルタ２２を設置し、試験光源２０から出力した試験光のスペクトルである。また、図３（ｂ）は、図３（ａ）に示す光特性を有する試験光が、ＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７を透過した後のスペクトル波形を示すグラフであり、遮断帯域１４ｎｍ以上、遮断量４５ｄＢのＦＢＧ型ターミネーションフィルタを用いた。
【００５１】
図３（ａ），（ｂ）に示すように、サイドモードのパワーは試験光の中心スペクトルよりも十分に小さくなっており、このときの実効遮断量は４２ｄＢであった。この結果、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信におけるインサービス試験に必要な実効遮断量である４０ｄＢ以上を達成することができた。
【００５２】
誘電体多層膜型フィルタ２２の位置については、試験光源のＳＢＳＲを抑制することができる場所に設置されていればよい。すなわち、光測定器１４−１内のほかに、例えば、光測定器１４−１とＦＴＥＳ１６との間、ＦＴＥＳ１６と心線選択装置１５との間、心線選択装置１５と光カプラモジュール９との間、または光カプラモジュール９のＣポート、Ｄポートに設置してもよい。
【００５３】
＜第２の実施形態（第１，２，４，１０の発明の説明）＞
図４は、第２の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００５４】
図４に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−２は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、光アイソレータ２５と、光カプラ２３−１，２３−２と、ＦＢＧ型光フィルタ２６とから構成される。
【００５５】
光測定器１４−２において、試験光源２０からの出力光は、光アイソレータ２５及び光カプラ２３−１を通過した後、３ｄＢ光カプラ２３−１の先に設置されたＦＢＧ型光フィルタ２６により反射される。
【００５６】
ＦＢＧ型光フィルタ２６は、ターミネーションフィルタ１７とほぼ同じ遮断波長帯域を有する。このＦＢＧ型光フィルタ２６は、試験光の波長帯１６５０ｎｍ±５ｎｍで約０ｄＢ、試験光の波長帯域外では−３０ｄＢ以下の反射量を有している。
【００５７】
ＦＢＧ型光フィルタ２６により反射された試験光は、光カプラ２３−１及び光カプラ２３−２を通過した後、ＦＴＥＳ１６へ出力される。試験光源２０への戻り光は光アイソレータ２５によって遮断される。
【００５８】
ＦＴＥＳ１６へ出力された試験光のＳＢＳＲは７０ｄＢとなり、試験光の波長帯域で４５ｄＢを遮断するＦＢＧ型ターミネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量は４２ｄＢであった。
【００５９】
＜第３の実施形態（第１，２，５，１０の発明の説明）＞
図５は、第３の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００６０】
図５に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−３は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、３ポート光サーキュレータ３０と、光カプラ２３と、ＦＢＧ型光フィルタ２６とから構成される。
【００６１】
光測定器１４−３において、試験光源２０からの出力光は、３ポート光サーキュレータ３０のポートＡからポートＢへ透過した後、３ポート光サーキュレータ３０におけるポートＢの先に設置されたＦＢＧ型光フィルタ２６により反射される。
【００６２】
ＦＢＧ型光フィルタ２６は、ターミネーションフィルタ１７とほぼ同じ遮断波長帯域を有する。このＦＢＧ型光フィルタ２６は、試験光の波長帯１６５０ｎｍ±５ｎｍで約０ｄＢ、試験光の波長帯域外では−３０ｄＢ以下の反射量を有している。
【００６３】
ＦＢＧ型光フィルタ２６により反射された試験光は、３ポート光サーキュレータ３０のポートＢに戻りポートＣから出力され、光カプラ２３を通過した後、ＦＴＥＳ１６へ出力される。
【００６４】
ＦＴＥＳ１６へ出力された試験光のＳＢＳＲは７０ｄＢとなり、試験光の波長帯域で４５ｄＢを遮断するＦＢＧ型ターミーネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量は４２ｄＢであった。
【００６５】
また、第２の実施形態においては、光カプラ２３−１での試験光の損失が７ｄＢであったのに対し、第３の実施形態においては、３ポート光サーキュレータ３０での透過損失は２．５ｄＢであり、光測定器１４−３のダイナミックレンジを４．５ｄＢ拡大することができた。
【００６６】
＜第４の実施形態（第１，２，６，７，１０の発明の説明）＞
図６は、第４の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光測定器の概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００６７】
図６に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光測定器１４−４は、１６５０ｎｍの試験光を発生させる試験光源２０と、光検出器（ＰＤ）２１と、４ポート光サーキュレータ３５と、ＦＢＧ型光フィルタ２６とから構成される。
【００６８】
また、図７は、４ポート光サーキュレータ３５の概略構成図である。同図に示すように、４ポート光サーキュレータ３５には４つのポート、すなわちポート３５−１、ポート３５−２、ポート３５−３、ポート３５−４が設置されており、４ポート光サーキュレータは光の進行方向によって透過可能なポートを制御する機能を有する。同図には、４ポート光サーキュレータ３５内を進行する光を模式的に矢印で示しており、矢の指す方向は光が透過する方向を示している。
【００６９】
例えば、ポート３５−１からの入射光はポート３５−２から出力され、ポート３５−２からの入射光はポート３５−３から出力され、ポート３５−３からの入射光はポート３５−４から出力され、ポート３５−４からの入射光はポート３５−１から出力されるようになっている。このときの透過損失は約１ｄＢである。
【００７０】
光測定器１４−４において、試験光源２０からの出力光は、４ポート光サーキュレータ３５のポート３５−１から入射すると共にポート３５−２へ透過し、４ポート光サーキュレータ３５におけるポート３５−２の先に設置されたＦＢＧ型光フィルタ２６により反射される。
【００７１】
ＦＢＧ型光フィルタ２６は、ターミネーションフィルタ１７とほぼ同じ遮断波長帯域を有する。このＦＢＧ型光フィルタ２６は、試験光の波長帯１６５０ｎｍ±５ｎｍで約０ｄＢ、試験光の波長帯域外では−３０ｄＢ以下の反射量を有している。
【００７２】
ＦＢＧ型光フィルタ２６により反射された試験光は、４ポート光サーキュレータ３５のポート３５−２に戻りポート３５−３から出力された後、ＦＴＥＳ１６へ出力される。
【００７３】
ＦＴＥＳ１６へ出力された試験光のＳＢＳＲは７０ｄＢとなり、試験光の波長帯域で４５ｄＢを遮断するＦＢＧ型ターミーネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量は４２ｄＢであった。
【００７４】
また、第３の実施形態においては、被測定ファイバ（障害検査の対象となる光ファイバ）から戻る光をモニタリングするために、光カプラ２３を設置し、被測定ファイバからの光を光検出器２１へ導いている。これに対し、第４の実施形態では、４ポート光サーキュレータ３５におけるポート３５−４の先に光検出器２１を設置することにより、同様のモニタリングが可能であり、光カプラが不要となる。
【００７５】
第３の実施形態における光カプラ２３では７ｄＢの試験光の損失が生じていた。一方、第４の実施形態においては、光カプラ２３の役割を果たす４ポート光サーキュレータ３５のポート３５−３からポート３５−４への試験光の透過の損失を１．２ｄＢに抑えることができる。この結果、光測定器１４−４のダイナミックレンジを５．８ｄＢ拡大することができた。
【００７６】
＜第５の実施形態（第１，８，９，１０の発明の説明）＞
図８は、第５の実施形態に係る光線路試験監視システムにおける光カプラモジュールの概略構成図である。なお、本実施形態に係る光線路試験監視システムは、図９に示す光線路試験監視システムと構成上は同様であるので、適宜、同図を用いて説明する。
【００７７】
図８に示すように、本実施形態に係る光線路試験監視システムの光カプラモジュール９−１は、２つの４ポート光サーキュレータ３５ａ，ｂと、２つのＦＢＧ型光フィルタ２６ａ，ｂと、通信光用のポートＡ，Ｂと、試験光用のポートＣ，Ｄとから構成される。
【００７８】
４ポート光サーキュレータ３５ａ，ｂは、図７を用いて説明した４ポート光サーキュレータ３５と同様の機能を有する。また、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａ，ｂは、試験光を反射すると共に、通信光を透過する機能を有する。
【００７９】
ポートＡは光伝送装置７へ接続されるポートであり、ポートＢは光ファイバ５を介して光伝送装置１０へ接続されるポートである。また、ポートＣ，Ｄは、それぞれ、光ファイバ５及び光伝送装置１０側と光伝送装置７側を試験するためのポートである。
【００８０】
本実施形態に係る光カプラモジュール９−１における通信光と試験光の入出力フローを図８及び図９に基づいて説明する。
【００８１】
光伝送装置７から送信された通信光は、ポートＡから光カプラモジュール９−１内において順次、ポート３５ａ−１、ポート３５ａ−２、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａ、ポート３５ｂ−１、ポート３５ｂ−２、ポートＢを通過し、光ファイバ５を介して光伝送装置１０により受信される。一方、光伝送装置１０から送信された通信光は、ポートＢから光カプラモジュール９−１内において順次、ポート３５ｂ−２、ポート３５ｂ−４、ＦＢＧ型光フィルタ２６ｂ、ポート３５ａ−３、ポート３５ａ−１、ポートＡを通過し、光伝送装置７により受信される。
【００８２】
光ファイバ５及び光伝送装置１０側をインサービスで光試験する場合には、光試験装置８からポートＣへ試験光を出力する。ポートＣに入力された試験光は、光カプラモジュール９−１内において順次、ポート３５ｂ−３、ポート３５ｂ−１を通過し、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａにおいて反射された後、順次、ポート３５ｂ−１、ポート３５ｂ−２を通過し、ポートＢから被測定光ファイバである光ファイバ５へ導かれる。
【００８３】
また、光ファイバ５側から反射されてきた試験光（戻り光）は、順次、ポートＢ、ポート３５ｂ−２、ポート３５ｂ−４を通過し、ＦＢＧ型光フィルタ２６ａで反射された後、ポート３５ｂ−４、ポート３５ｂ−３、ポートＣを通過し、光試験装置８へ入力される。
【００８４】
光測定器１４が光パルス試験器（ＯＴＤＲ）である場合には、試験光のレイリー散乱光や反射光などが戻り光となる。
【００８５】
ＦＢＧ型光フィルタ２６ａ，ｂにおいて、試験光の反射量は波長領域１６５０±５ｎｍでは０ｄＢであり、１６５０±１２．５ｎｍでは−３０ｄＢであった。このとき、１６５０±７．５ｎｍの波長領域に対して遮断量４５ｄＢのＦＢＧ型光フィルタをターミネーションフィルタ１７として設置したところ、ターミネーションフィルタ１７を透過したときの実効遮断量として４２ｄＢを得ることができた。
【００８６】
従来の光線路試験監視システム（図９，１０参照）では、光カプラモジュール９における光カプラ１８は通信用ポートＡ−Ｂ間の損失を抑えるため、光カプラの分岐比を８：２としていた。この結果、従来の光カプラモジュール９では、ポートＣ−Ｂ（又はポートＤ−Ａ）間の透過損失は７．３ｄＢであった。
【００８７】
しかしながら、本実施形態に係る光カプラモジュール９−１を用いることにより、ポートＣ−Ｂ（又はポートＤ−Ａ）間の透過損失を２．５ｄＢに抑えることができた。この結果、光カプラ往復での損失差の計算から、光測定器１８のダイナミックレンジを９．６ｄＢ広げることができた。
【００８８】
本実施形態では、４ポート光サーキュレータを用い、光伝送装置７と光伝送装置１０との間において双方向通信ができるように構成されているが、３ポート光サーキュレータを用いて片方向通信用に構成を簡易化することも可能である。
【００８９】
【発明の効果】
本発明によれば、試験光源のサイドモードを抑制することにより４０ｄＢ以上の試験光遮断特性を実現することができたので、１０Ｇｂｉｔ／ｓのＬ−ｂａｎｄ通信等、試験光の遮断量が４０ｄＢ以上必要な通信システムにおいて、インサービス試験の適応可能な光線路試験システムを提供することができる。
【００９０】
更に、ＦＢＧ型光フィルタと、光カプラ、光サーキュレータ等とを適宜組み合わせることでフィルタリング手段を構成することにより、これらの光デバイスにおける試験光損失を減少させ、装置全体のダイナミックレンジを拡大することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図２】ＦＢＧ型ターミネーションフィルタの実効遮断量を示すグラフである。
【図３】ＳＢＳＲ７０ｄＢの試験光全体のスペクトル波形を示すグラフ（ａ）と、ターミネーションフィルタ透過後の試験光を示すグラフ（ｂ）である。
【図４】第２の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図５】第３の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図６】第４の実施形態に係る光測定器の概略構成図である。
【図７】４ポート光サーキュレータの概略構成図である。
【図８】第５の実施形態に係る光カプラモジュールの概略構成図である。
【図９】従来の光線路試験監視システムの一例の概略構成図である。
【図１０】従来の光カプラモジュールの構成を示す概略拡大図である。
【図１１】ＦＢＧ型光ターミネーションフィルタの光学特性を示すグラフである。
【図１２】試験光全体のスペクトル波形を示すグラフ（ａ）と、ターミネーションフィルタ透過後の試験光を示すグラフ（ｂ）である。
【符号の説明】
１  光線路試験監視システム
２  通信設備ビル
３  通信設備ビル
４  設備管理センタ
５  光ファイバ
６  通信網
７  光伝送装置
８  光試験装置
９  光カプラモジュール
９−１  光カプラモジュール
１０  光伝送装置
１１  データベース
１２  操作端末
１３  試験制御装置
１４  光測定器
１４−１〜４  光測定器
１５  心線選択装置
１６  ＦＴＥＳ
１７  ターミネーションフィルタ
１８  光カプラ
１９  フィルタ
２０  試験光源
２１  光検出器
２２  誘電体多層膜型フィルタ
２３  光カプラ
２３−１，２  光フィルタ
２５  光アイソレータ
２６  ＦＢＧ型光フィルタ
２６ａ，ｂ  ＦＢＧ型光フィルタ
３０  ３ポート光サーキュレータ
３５  ４ポート光サーキュレータ
３５−１〜４  ポート
３５ａ，ｂ  ４ポート光サーキュレータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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