(57)【要約】【課題】被検体等の対象物を透過した放射線に関する情報を速やかに把握することができる放射線撮影装置、放射線撮影方法、放射線撮影プログラム及び記録媒体を提供する。【解決手段】放射線撮影装置には、対象物に放射線を照射するＸ線照射手段１４５と、対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能なＸ線検出器１１０と、Ｘ線検出器１１０から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する画像解析手段１２５とが設けられている。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象物に放射線を照射する放射線照射手段と、
前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する解析手段と、
を有することを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項２】
前記解析手段による解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段から読み出された放射線投影像の情報に対して画像処理を施す画像処理手段を有することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項３】
前記解析手段による解析の結果に基づいて前記放射線照射手段の動作を制御する放射線照射制御手段を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の放射線撮影装置。
【請求項４】
前記解析手段による解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段の動作を制御する撮像制御手段を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項５】
前記撮像制御手段は、前記放射線撮像手段における電荷の蓄積量を観察し、前記電荷の蓄積量が飽和値に到達する前に、前記放射線撮像手段に電荷の蓄積を終了させることを特徴とする請求項４に記載の放射線撮影装置。
【請求項６】
前記放射線撮像手段に設けられた複数の画素のうちから選択した一部の画素のみから非破壊読み出しにより信号を読み出し、該信号を前記解析手段に解析させる間引き読み出し手段を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項７】
前記間引き読み出し手段は、前記一部の画素のみからの信号の読み出しを少なくとも２回行い、
前記解析手段は、同一の画素から読み出された信号の差分情報を求め、前記差分情報に基づく解析を行うことを特徴とする請求項６に記載の放射線撮影装置。
【請求項８】
放射線照射手段に、対象物に放射線を照射させる工程と、
前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段から、該信号を非破壊読み出しにより読み出す工程と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する工程と、
を有することを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項９】
前記解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段から読み出された放射線投影像の情報に対して画像処理を施す工程を有することを特徴とする請求項８に記載の放射線撮影方法。
【請求項１０】
前記解析の結果に基づいて前記放射線照射手段の照射条件を調整する工程を有することを特徴とする請求項８又は９に記載の放射線撮影方法。
【請求項１１】
前記解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段の動作を制御する工程を有することを特徴とする請求項８乃至１０のいずれか１項に記載の放射線撮影方法。
【請求項１２】
前記放射線撮像手段の動作を制御する工程において、前記放射線撮像手段における電荷の蓄積量を観察し、前記電荷の蓄積量が飽和値に到達する前に、前記放射線撮像手段に電荷の蓄積を終了させることを特徴とする請求項１１に記載の放射線撮影方法。
【請求項１３】
前記信号を非破壊読み出しにより読み出す工程において、前記放射線撮像手段に設けられた複数の画素のうちから選択した一部の画素のみから非破壊読み出しにより信号を読み出すことを特徴とする請求項８乃至１２のいずれか１項に記載の放射線撮影方法。
【請求項１４】
前記一部の画素のみからの信号の読み出しを少なくとも２回行い、
前記信号を解析する工程において、同一の画素から読み出された信号の差分情報を求め、前記差分情報に基づく解析を行うことを特徴とする請求項１３に記載の放射線撮影方法。
【請求項１５】
コンピュータに、
放射線照射手段に、対象物に放射線を照射させる処理と、
前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段から、該信号を非破壊読み出しにより読み出す処理と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する処理と、
を実行させることを特徴とする放射線撮影プログラム。
【請求項１６】
コンピュータに、
放射線照射手段に、対象物に放射線を照射させる処理と、
前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段から、該信号を非破壊読み出しにより読み出す処理と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する処理と、
を実行させる放射線撮影プログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項１７】
前記放射線撮像手段は破壊読出しが可能であることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１８】
前記放射線撮像手段に２つのスイッチのみが設けられていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項、又は請求項１７に記載の放射線撮影装置。
【請求項１９】
前記放射線撮像手段に３つのスイッチのみが設けられていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項、又は請求項１７に記載の放射線撮影装置。
【請求項２０】
前記放射線撮像手段の非破壊読み出しのスイッチと破壊読出しのスイッチとが互いに個別に設けられていることを特徴とする請求項１乃至５、請求項１７及び１９のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項２１】
前記放射線撮像手段の非破壊読み出しの読み出し信号線と破壊読出しの読み出し信号線とが共通していることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項、又は請求項１７乃至２０のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項２２】
前記放射線撮像手段の非破壊読み出しの読み出し信号線と破壊読出しの読み出しの信号線とが互いに個別に設けられていることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項、又は請求項１７乃至２０のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項２３】
前記放射線撮像手段の非破壊読み出しの読み出し回路と破壊読出しの読み出し回路とが互いに個別に設けられていることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項、又は請求項１７乃至２２のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項２４】
前記解析手段は、放射線照射の前後で非破壊読み出しを行い、非破壊読み出し画像の暗電流補正を行うことを特徴とする請求項７に記載の放射線撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線検出器等を備えた放射線撮影装置、放射線撮影方法、放射線撮影プログラム及び記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線撮影において、検診者のＸ線像を取得するＸ線センサとして、カセッテにフィルムと増感紙を挟んだＦｉｌｍ／Ｓｃｒｅｅｎ系やコンピューティッドラジオグラフィーで使用されるカセッテに入ったＩｍａｇｉｎｇ  Ｐｌａｔｅが使用されている。
【０００３】
近年では、Ｘ線像をリアルタイムで直接にデジタル信号に変換できるＸ線センサが提案されている。このようなＸ線センサとして、例えば、石英ガラスから成る基板上にアモルファス半導体を挟んで、透明導電膜と導電膜とから成る固体光検出素子をマトリクス状に配列した固体光検出器の製作が可能になり、この固体光検出器とＸ線を可視光に変換するシンチレータとを積層したＸ線検出器がある。
【０００４】
このＸ線検出器を用いた場合のＸ線デジタル画像の取得過程は、次のようなものである。先ず、Ｘ線検出器に対象物を透過したＸ線を照射することにより、Ｘ線がシンチレータで可視光に変換される。そして、この可視光が固体光検出素子の光電変換部により電気信号として検出される。この電気信号は各固体光検出素子から所定の読み出し方法により読み出され、この信号がＡ／Ｄ変換され、Ｘ線画像信号が得られる。
【０００５】
このようなＸ線検出器の詳細は、特開平８−１１６０４４号公報に記載されている。またシンチレータを用いずに直接Ｘ線を固体光検出器で取得するＸ線検出器も多数提案されている。
【０００６】
これらのＸ線検出器はＸ線の強度を電荷量として検出するので、Ｘ線画像信号を正確に蓄積し、Ｘ線画像を取得するために、画素中の電荷の吐き出し、画素中の電位のリセット、Ｘ線信号を蓄積するための電荷の蓄積、及び画素中の電荷の読み出しのように、一定サイクルの駆動が必要とされる。
【０００７】
最近では、上述したＸ線検出器の駆動サイクルを、１秒間に十回以上繰り返すことのできるＸ線検出器が開発され、Ｘ線デジタル画像を動画像として取得できる撮影装置も開発されてきている。
【０００８】
【特許文献１】
特開平８−１１６０４４号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
Ｘ線画像は暗い部分から明るい部分まできわめてＸ線量に依存して広い濃度分布を持つ。そのため、関心部位などを適切に画像処理等し、取得されたＸ線デジタル動画像を表示して、観察するには、処理時間がかかり速やかにＸ線透視画像、Ｘ線静止画像が得ることができないという問題点がある。
【００１０】
また、上述したようにＸ線デジタル画像を取得する場合、関心部位などの観察等に必要以上のＸ線量が照射されたときは、被曝線量を低減させるためＸ線発生装置の出力を下げる等の制御がＸ線照射中に必要となる。
【００１１】
更に、関心領域のＸ線検出器の画素が飽和状態になる前に蓄積を終了したり、Ｘ線照射が終了してすぐに信号電荷を読み出し始めるような検出器の制御が必要となる。
【００１２】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであって、被検体等の対象物を透過した放射線に関する情報を速やかに把握することができる放射線撮影装置、放射線撮影方法、放射線撮影プログラム及び記録媒体を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本願発明者は、前記課題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、下記の態様に想到した。
【００１４】
本発明に係る放射線撮影装置は、対象物に放射線を照射する放射線照射手段と、前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段と、前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する解析手段と、を有することを特徴とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態に係るＸ線撮影装置（放射線撮影装置）、Ｘ線撮影方法（放射線撮影方法）、Ｘ線撮影プログラム（放射線撮影プログラム）及び記録媒体について、添付の図面を参照して具体的に説明する。
【００１６】
（第１の実施形態）
先ず、本発明の第１の実施形態について説明する。図１は、本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置の構成を示すブロック図である。
【００１７】
このＸ線撮影装置には、Ｘ線検知手段１０１と、破壊読み出し手段１１５と、非破壊読み出し手段１２０と、検出器制御手段１２３を備えた非破壊読み出しが可能なＸ線検出器（放射線撮像手段）１１０、画像解析手段１２５、画像処理手段１３０、画像表示及び保存手段１３５、Ｘ線制御手段１４０及びＸ線照射手段（放射線照射手段）１４５が設けられている。ここで、本明細書では、Ｘ線検出器に設けられた画素内に蓄積された信号電荷の読み出し方法に関し、信号電荷の蓄積状態が変化しない読み出しを非破壊読み出しといい、蓄積状態が変化する又は変化させる読み出しを破壊読み出しという。なお、詳細は後述するが、Ｘ線検出器１１０は、Ｘ線像をリアルタイムでデジタル信号に変換できるように構成されている。
【００１８】
ここで、破壊読み出し手段１１５、非破壊読み出し手段１２０、検出器制御手段１２３、画像解析手段１２５、画像処理手段１３０及びＸ線制御手段１４０は、Ｘ線撮影プログラムを実行することが可能な情報処理装置、例えばコンピュータにより構成されていてもよい。このとき、このＸ線撮影プログラムは、下記の説明において、破壊読み出し手段１１５、非破壊読み出し手段１２０、検出器制御手段１２３、画像解析手段１２５、画像処理手段１３０及びＸ線制御手段１４０が行う処理を、上記情報処理装置に行わせるように構成されたものである。
【００１９】
図２は、Ｘ線検出器１１０の構成を示す模式図である。
【００２０】
Ｘ線検出器１１０は、Ｘ線を直接検出するタイプとＸ線を蛍光体で一度可視光に変換して、可視光を検出するタイプのいずれであってもよい。但し、どちらも信号を検出する画素をアレー状に組み合わせて構成されている。これが検出器アレー２００である。Ｘ線検出器１１０には、更に、ラインセレクタ２３２、信号読み出し回路２４０及び駆動器２６２が設けられている。
【００２１】
検出器アレー２００には、例えば４０９６×４０９６個の画素２０１が配置されている。１個の画素２０１には、１つのＸ線又は光の信号を検出する信号検出部と、信号の蓄積と読み取りを切り替えるスイッチングＴＦＴとが設けられている。
【００２２】
例えば、信号検出部として、光電変換素子（フォトダイオード）ＰＤ（１，１）〜（４０９６，４０９６）が設けられている。また、スイッチングＴＦＴとして、スイッチＳＷ（１，１）〜（４０９６，４０９６）が設けられている。本明細書では、第ｎ行第ｍ列に位置する画素に対して、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）、スイッチＳＷ（ｎ，ｍ）と表す。各光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）には、ゲート電極Ｇ及び共通電極Ｄが設けられており、各電極に違う電圧を印加することにより電荷の蓄積及び吐き出しが行われる。
【００２３】
Ｘ線検出器１１０には、列ごとに、列信号線Ｌｃｍが（１≦ｍ≦４０９６）が設けられ、行ごとに、行選択線Ｌｒｎ（１≦ｎ≦４０９６）が設けられている。行選択線Ｌｒｎは、例えば１対の信号線から構成されている。更に、配線Ｌｂ１〜Ｌｂ３が設けられ、配線Ｌｂ１〜Ｌｂ３は、夫々共通電位２４１−１、２４１−２、２４１−３に接続されている。各画素のゲートは、対応する１対のスイッチＳＷ（ｎ，ｍ）を介して、列信号線Ｌｃｍ及び配線Ｌｂ３に接続されており、スイッチＳＷ（ｎ，ｍ）の制御端子は行選択線Ｌｒｎに接続されている。
【００２４】
どの行の画素から信号電荷を読み出すかを選択するラインセレクタ２３２には、行選択線Ｌｒ１〜Ｌｒ４０９６が接続されている。ラインセレクタ２３２には、検出器制御手段１２０からの制御信号を解読し、どのラインの光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）の信号電荷を読み出すべきかを決定するアドレスデコーダ２３４が設けられている。また、電源Ｖｇｈ及びＶｇｌと行選択線Ｌｒ１〜Ｌｒ４０９６との間に、アドレスデコーダ２３４の出力に従って開閉される１対のスイッチ素子２３６−ｎが接続されている。
【００２５】
画素２０１の信号電荷を読み出す信号読み出し回路２４０内には、列信号線Ｌｃｍ毎に、列信号線Ｌｃｍからの信号電位を増幅するアンプ２４６−ｍ、及びアンプ２４６−ｍの出力をサンプルホールドするサンプルホールド回路２４８−ｍが設けられている。
【００２６】
信号読み出し回路２４０には、更に、サンプルホールド回路２４８の出力を時間軸で多重化するアナログ・マルチプレクサ２５０、及びアナログ・マルチプレクサ２５０のアナログ出力をデジタル化するＡ／Ｄ変換器２５２が設けられている。
【００２７】
駆動器２６２は、Ｘ線検出器１１０自体を駆動する。
【００２８】
図３は、本発明の第１の実施形態において、第ｎ行第ｍ列に位置する画素２０１の構成を示す回路図である。画素２０１には、Ｘ線を吸収した蛍光体の光を信号電荷として蓄積する光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）、蓄積された信号電荷を保持する蓄積電荷保持部３０７、保持された信号電荷を増幅する増幅素子３１２、リセットスイッチ３５５及び読み出し３６０が設けられている。リセットスイッチ３５５及び読み出しスイッチ３６０のオン／オフは、行選択線Ｌｒｎにより制御される。リセットスイッチ３５５は、図２中の配線Ｌｂ３に接続されたスイッチＳＷ（ｎ，ｍ）に対応し、読み出しスイッチ３６０は、図２中の列信号線Ｌｃｍに接続されたＳＷ（ｎ，ｍ）に対応している。
【００２９】
光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）に、共通電位２４１−１からバイアス電圧が印加される。増幅素子３１２には、共通電位２４１−２から電圧が印加される。蓄積電荷保持部３０７には、リセットスイッチ３５５を介して、共通電位２４１−３から、蓄積電荷保持部３０７に保持された信号電荷をリセットするための電圧が印加される。
【００３０】
Ｘ線の照射により光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）で生成され蓄積電荷保持部３０７に保持された電荷は、増幅素子３１２により増幅され、読み出しスイッチ３６０を介して列信号線Ｌｃｍに転送される。そして、列信号線Ｌｃｍに転送された信号は、信号読み出し回路２４０に転送される。
【００３１】
このように構成された画素２０１において、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ３５５に電位Ｖｇｈが印加され、リセットスイッチ３５５が導通されると、蓄積電荷保持部３０７に共通電位２４１−３が印加され、蓄積電荷保持部３０７がリセットされる。
【００３２】
その後、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ３５５に電位Ｖｇｌが印加され、リセットスイッチ３５５が閉じられると、蓄積電荷保持部３０７はリセットされたまま浮遊状態になる。この状態で、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）にＸ線が照射されると、信号電荷が生成され、蓄積電荷保持部３０７に蓄積される。そして、信号電荷に応じて蓄積電荷保持部３０７の電位が上昇する。
【００３３】
続いて、行選択線Ｌｒｎから読み出しスイッチ３６０に電位Ｖｇｈが印加され、読み出しスイッチ３６０が導通されると、上昇した電位に応じて増幅素子３１２により増幅された信号が列信号線Ｌｃｍへと転送される。
【００３４】
以上の一連の動作をＸ線検出器１１０の蓄積状態時に繰り返し行うことで、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）から蓄積電荷保持部３０７へ随時転送され蓄積された信号電荷を読み出すことができる。また、読み出された信号の出力値を見ることで、Ｘ線がＸ線検出器１１０に入射開始され、入射終了されたか、またＸ線検出器１１０に適正なＸ線量が照射されているか、また、破壊読み出し手段１１５による読み出しの前に、取得されるべきＸ線画像のＸ線量分布を検出することができる。
【００３５】
このように、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）から蓄積電荷保持部３０７へ随時転送され蓄積された信号電荷を読み出す方法に関し、信号電荷読み出しの次の読み出しで、リセットスイッチ３５５をオンにして信号電荷のリセットを行うと、信号電荷の蓄積状態が変化する。このため、このような読み出しは、破壊読み出しである。
【００３６】
これに対し、信号電荷読み出しの次の読み出しで、リセットスイッチ３５５をオンにせず信号電荷のリセットを行わない場合には、信号電荷の蓄積状態は変化しない。このため、このような読み出しは、非破壊読み出しである。即ち、本実施形態では、蓄積電荷保持部３０７へ転送され蓄積された信号電荷を保存したまま読み出すことができる。つまり、これらの画素２０１を備えたＸ線検出器１１０は、破壊読み出し及び非破壊読み出しが可能なように構成されている。
【００３７】
次に、光電変換素子のリセット、電荷の蓄積、電荷の読み出し、空読み出し等のＸ線検出器１１０における駆動方法について、図２及び図３を参照して説明する。
【００３８】
先ず、駆動器２６２は、行選択線Ｌｒ１に電位Ｖｇｈをかけることにより、配線Ｌｂ３に接続されたリセットスイッチＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）（図３中のリセットスイッチ３５５）をオンする。この結果、前述のように、第１行目の４０９６個の画素２０１に共通電位２４１−３が印加され、蓄積電荷保持部３０７に蓄積されていた電荷がリセットされる。
【００３９】
次に、駆動器２６２は、行選択線Ｌｒ１に電位Ｖｇｌをかけることにより、配線Ｌｂ３に接続されたリセットスイッチＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）をオフする。この結果、第１行目の４０９６個の画素２０１に共通電位２４１−１が印加される。この状態で、光電変換素子ＰＤ（１，ｍ）にＸ線が照射されると、Ｘ線の照射量に比例して電荷が発生し、共通電位２４１−１からの電位のずれに比例した量の電荷が蓄積電荷保持部３０７に蓄積される。但し、このとき、光電変換素子ＰＤ（１，ｍ）には、Ｘ線信号以外に温度によって励起される暗電流が流れ、この暗電流による電荷もＸ線量に比例する電荷と共に、蓄積電荷保持部３０７に蓄積される。
【００４０】
次に、駆動器２６２は、行選択線Ｌｒ１に電位Ｖｇｈをかけることにより、列信号線Ｌｃｍに接続された読み出しスイッチＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）（読み出しスイッチ３６０）をオンにする。この結果、蓄積電荷保持部３０７に保持されていた電荷が、増幅素子３１２により増幅された後、画素２０１から信号読み出し回路２４０により読み出される。
【００４１】
信号読み出し回路２４０内では、読み出された信号がアンプ２４６−ｍにより増幅される。アンプ２４６−ｍの出力信号は、サンプルホールド回路２４８−ｍによりサンプルホールドされる。その後、サンプルホールド回路２４８の出力信号が、アナログ・マルチプレクサ２５０により時間軸に関して多重化される。そして、Ａ／Ｄ変換器２５２により、アナログ・マルチプレクサ２５０から出力されたアナログ信号がデジタル信号に変換されて読み出される。
【００４２】
これらの一連の動作を、すべての第１〜４０９６行目まで繰り返して行うことにより、全画素の蓄積電荷が読み出される。ここでは、光電変換素子ＰＤのリセット、電荷の蓄積、読み出しを１行ごとにセットにして説明したが、すべての第１〜４０９６行の画素２０１を１行ごとにリセット及び蓄積状態にした後、すべての第１〜４０９６行の画素２０１又は一部の画素２０１の読み出しを信号電荷の蓄積中に任意の回数行うこともできる。
【００４３】
Ｘ線量に比例する蓄積電荷のみを読み出すためには、暗電流による電荷を同じ時間だけもう一度蓄積して読み出し、この分を差し引けば良い。この暗電流のみの蓄積電荷の読み出しを空読み出しという。また、決まった蓄積時間の暗電流のみによる画像をあらかじめ取得しておき、読み出された画像から暗電流成分を差し引くこともできる。
【００４４】
次に、上述のように構成されたＸ線撮影装置の動作の概要について、図１を参照して説明する。
【００４５】
先ず、検出器制御手段１２３によりＸ線検出器１１０の駆動を開始し、Ｘ線照射による信号の蓄積状態になった後、撮影者がＸ線照射手段１４５よりＸ線照射を行う。Ｘ線照射は、Ｘ線検出器１１０の駆動とのタイミングをとって行われる。Ｘ線照射のタイミングは、撮影者が判断しても良いし、Ｘ線照射合図の信号をＸ線制御手段１４０から検出器制御手段１２３に送り、Ｘ線照射手段１４５とＸ線検出器１１０の駆動の同期をとって制御しても良い。
【００４６】
Ｘ線照射が行われると、Ｘ線検出器１１０の各画素中に信号電荷が蓄積される。信号電荷の蓄積が終了した後か、又は信号電荷の蓄積途中で、非破壊読み出し手段１２０は、破壊読み出し手段１１５による破壊読み出しが行われる前に、Ｘ線検出器１００内の駆動器２６２を制御して非破壊読み出しを行う。そして、画像解析手段１２５が、非破壊読み出しされたＸ線画像を解析する。
【００４７】
この結果、信号電荷が蓄積された状態を保持したまま、蓄積された信号電荷の蓄積状態、又は蓄積途中の信号電荷の蓄積状態を把握することが可能となる。つまり、Ｘ線照射終了後、又はＸ線照射中に、Ｘ線照射の出力が適正であるか、Ｘ線照射が開始又は終了しているかどうかを判断したり、Ｘ線検出器１１０の関心部分における特定の画素が蓄積飽和しているかどうかを判断したり、現在撮影されている画像がどのような画像かを、最終的な画像を得る前に解析したりすることができるようになる。
【００４８】
非破壊読み出し手段１２０による非破壊読み出しが行われた後、破壊読み出し手段１１５は、Ｘ線画像を破壊読出しにより読み出し、続いて、次の蓄積のための電荷又は電位のリセットを行う。このとき、各画素に蓄積された信号電荷の一部又は全部が破壊読み出しのために欠落する。
【００４９】
ここで、非破壊読み出しにより得られたデータを利用する方法について説明する。
【００５０】
画像解析手段１２５によるＸ線画像の解析の種類としては、例えば、被写体における関心部位を適切な濃度で表示するための関心部位部分のヒストグラム解析がある。また、強調処理等を画像に施す場合の、Ｘ線量子ノイズやＸ線検出器１１０自身に存在するノイズが目立つ画像上の領域を特定するための解析もある。但し、これらに限定されるものではない。
【００５１】
画像解析手段１２５は、Ｘ線画像を解析した結果を、検出器制御手段１２３、画像処理手段１３０及び／又はＸ線制御手段１４０に送信する。検出器制御手段１２３及びＸ線制御手段１４０は、夫々Ｘ線検出器１１０、Ｘ線照射手段１４５を制御する。
【００５２】
Ｘ線検出器１１０の制御の一例としては、前述のように、Ｘ線検出器１１０の関心部分におけるある画素が蓄積飽和しているかどうかを判断して、まだ全く飽和していなかったらＸ線検出器１１０の蓄積状態を継続し、飽和しそうであったら、蓄積を即座に終了し、次のＸ線検出器１１０の駆動に移行させるという制御がある。また、Ｘ線照射が終了していなかったらＸ線検出器１１０の蓄積状態を継続し、Ｘ線照射が終了していたら、蓄積を即座に終了し、次のＸ線検出器１１０の駆動に移行させるという制御もある。
【００５３】
Ｘ線照射手段１４５の制御の一例としては、Ｘ線検出器１１０の関心部分における特定の画素において、信号電荷の蓄積量が少なければ、Ｘ線照射の強度をより強くし、また蓄積飽和しているかどうかを判断して、飽和しそうであったら、Ｘ線照射を即座に終了するという制御がある。
【００５４】
画像解析手段１２５から画像解析結果が画像処理手段１３０に送信された場合、画像処理手段１３０は、画像解析結果に基づいて、破壊読み出し手段１１５により破壊読み出しされたＸ線画像に画像処理を施す。そして、画像処理後のＸ線画像の表示及び／又は保存が、画像表示及び保存手段１３５によって行われる。
【００５５】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。第２の実施形態では、Ｘ線検出器１１０の構造が第１の実施形態と相違している。具体的には、各行選択線Ｌｒｎが３本の信号線から構成され、各画素２０１に、３個のトランジスタが設けられている。更に、ラインセレクタ２３２内のスイッチ素子２３６−ｎは、１行ごとに３本の信号線に、電源Ｖｇｈ又はＶｇｌを選択的に接続するように構成されている。
【００５６】
図４は、本発明の第２の実施形態において、第ｎ行第ｍ列に位置する画素２０１の構成を示す回路図である。本実施形態では、画素２０１には、第１の実施形態と同様に、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）、蓄積電荷保持部３０７、増幅素子３１２、リセットスイッチ３５５及び読み出しスイッチ３６０が設けられている。更に、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）と蓄積電荷保持部３０７との間に、転送スイッチ４５０が接続されている。リセットスイッチ３５５、読み出しスイッチ３６０及び転送スイッチ４５０のオン／オフは、行選択線Ｌｒｎにより制御される。
【００５７】
このように構成された画素２０１において、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ３５５に電位Ｖｇｈが印加され、リセットスイッチ３５５が導通されると、蓄積電荷保持部３０７に共通電位２４１−３が印加され、蓄積電荷保持部３０７がリセットされる。
【００５８】
その後、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ３５５に電位Ｖｇｌが印加され、リセットスイッチ３５５が閉じられると、蓄積電荷保持部３０７はリセットされたまま浮遊状態になる。この状態で、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）にＸ線が照射されると、信号電荷が生成され、転送スイッチ４５０が導通されていると、蓄積電荷保持部３０７に蓄積される。そして、信号電荷に応じて蓄積電荷保持部３０７の電位が上昇する。
【００５９】
続いて、行選択線Ｌｒｎから読み出しスイッチ３６０に電位Ｖｇｈが印加され、読み出しスイッチ３６０が導通されると、上昇した電位に応じて増幅素子３１２により増幅された信号が列信号線Ｌｃｍへと転送される。
【００６０】
以上の一連の動作をＸ線検出器１１０の蓄積状態時に繰り返し行うことで、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）から蓄積電荷保持部３０７へ随時転送され蓄積された信号電荷を読み出すことができる。また、読み出された信号の前後の差分変化を得ることで、Ｘ線のＸ線検出器１１０への入射が開始されたか、又は終了されたかを検出することができる。また、Ｘ線検出器１１０へのＸ線の照射分布を得ることができる。
【００６１】
また、本実施形態においては、蓄積電荷保持部３０７の信号電荷の飽和閾値を予め把握しておき、非破壊読み出し手段１２０を介して、随時蓄積され保持された信号電荷を検出する。そして、蓄積電荷保持部４０７の信号電荷が飽和しそうになったら、リセットスイッチ４５５が閉じられた状態のまま、行選択線Ｌｒｎから転送スイッチ４５０に電位Ｖｇｈが印加され、転送スイッチ４５０が閉じられる。この結果、リセットスイッチ４５５が閉じられた状態のまま、蓄積電荷保持部４０７への蓄積電荷の転送が停止される。
【００６２】
このように、第２の実施形態によれば、第１の実施形態で得られる効果の他に、蓄積電荷保持部４０７の蓄積電荷が飽和する前に蓄積を終了することができるという効果が得られる。また、転送スイッチ４５０の開閉を夫々蓄積開始時と終了時に全画素同時に行うことで、一部の画素に対し信号電荷の読み出しを走査的に行っても、信号電荷の蓄積時間を同時にできるという効果がある。但し、第１の実施形態には、画素２０１内のスイッチ数が少ないため、画素中の受光面積を大きくして高い感度が得られ、また、構造が簡素であるため、Ｘ線検出器１１０の歩留まりが高いという有利な点もある。
【００６３】
（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態について説明する。第３の実施形態では、非破壊読み出し手段１２０による非破壊読み出しの方法が第１及び第２の実施形態のものと相違している。具体的には、Ｘ線検出器１１０内の全画素２１０から非破壊読み出しが行われるのではなく、間引きをして一部の画素２１０のみから非破壊読み出しが行われる。図５は、本発明の第３の実施形態に係るＸ線撮影装置の動作を示すタイミングチャートである。但し、図５には、Ｘ線検出器１１０の全画素２１０の数を１２とし、間引き読み出しをする画素２１０の数を３とし、間引き読み出しの回数を２回とした例を示している。
【００６４】
本実施形態でも、第１の実施形態と同様に、個々の画素２１０からの読み出し等の駆動は、ラインセレクタ２３２及びアナログ・マルチプレクサ２５０を用いて時系列的に行われる。従って、画素の位置に応じて、夫々蓄積開始時刻及び読み出し開始時刻が相違する。
【００６５】
図５中の「全画素蓄積開始」及び「全画素読み出し開始」は、夫々蓄積時間軸上で、Ｘ線検出器１１０の全画素２１０における蓄積開始、読み出し開始の時刻を示している。また、２つの「間引き非破壊読み出し開始」は、間引き非破壊読み出しが２回行われることを示すと共に、各間引き非破壊読み出しを開始する時刻を示している。「全画素蓄積開始」、「全画素読み出し開始」及び「間引き非破壊読み出し開始」を示している四角集合において、個々の四角は夫々の四角集合における個々の画素２１０の駆動時刻を示している。
【００６６】
また、図５中の時刻Ａ、Ｃ、Ｅ及びＧは、一方の間引き非破壊読み出しの対象である特定の画素における蓄積開始、非破壊読み出し開始、読み出し開始の時刻を示している。同様に、時刻Ｂ、Ｄ、Ｆ及びＨは、他方の間引き非破壊読み出し対象である特定の画素における蓄積開始、非破壊読み出し開始、読み出し開始の時刻を示している。そして、時間ＡＧ及びＢＨは、夫々上記２つの画素の蓄積開始から破壊読み出し開始までの蓄積時間を示している。時間ＡＧ及びＢＨは互いに一致しているが、図５に示すように、蓄積開始から非破壊読み出し開始までの蓄積時間である時間ＡＣと時間ＢＤとは一致しておらず、また、時間ＡＥと時間ＢＦとも一致していない。この結果、Ｘ線照射や暗電流についての蓄積時間が相違することとなり、画像上にシェーディングが生じる。従って、本実施形態では、シェーディングのない間引きによる非破壊読み出しを行うために、２回の間引き非破壊読み出しを行い、両者の差分を求める。「時間ＣＥ＝時間ＡＥ−時間ＡＣ」と「時間ＤＦ＝時間ＢＦ−時間ＢＤ」とが互いに等しいため、上記のような差分を求めることにより、画像上に蓄積時間が相違する領域がなくなり、シェーディングの発生を回避することができる。この２回の間引きによる非破壊読み出しの前にＸ線が照射されるようにすると、差分によりＸ線照射の蓄積時間を同じにすることができる。また、２回の間引きによる非破壊読み出しの後にＸ線が照射されるようにすると、差分により暗電流のみの蓄積時間を同じにすることができる。さらに、前者の間引きによる非破壊読み出しのフレームレイトと、間引きによる非破壊読み出しのフレームレイトが同じならば、前者の差分画像から、後者の差分画像を差し引くことで、間引きによる非破壊読み出し画像の暗電流補正が行える。
【００６７】
非破壊読み出し手段（間引き読み出し手段）１２０がこのような間引きによる非破壊読み出しを行うことにより、第１及び第２の実施形態と比較すると、非破壊読み出しに要する時間を短縮することができる。
【００６８】
なお、間引き非破壊読み出しの対象とする画素の数は特に限定されるものではない。また、行単位で間引き非破壊読み出しを行うことによっても同様の効果を得ることができる。
【００６９】
次に、画像解析手段１２５の構成の一例、この構成を用いて実行される処理及びその結果が反映される対象（手段）について、Ｘ線画像の肺領域における解析を例にとって、説明する。図６は、非破壊読み出しされたＸ線画像に対し、画像解析手段１２５で行われる処理と、処理結果の反映部分応用を説明した図である。図の点線で囲まれた部分が画像解析手段１２５に対応する。
【００７０】
画像解析手段１２５は、例えば、非破壊読み出ししたＸ線画像から肺領域内の最大画素値及び縦隔内の最小画素値を取得する特徴量抽出部６０１、特徴量抽出部６０１で取得された特徴量から閾値を算出する閾値推定部６０２、閾値推定部６０２で算出された閾値に基づき画像を２値化する閾値処理部６０３、閾値処理部６０３で２値化された画像をラベリングするラベリング部６０４、ラベリング部６０４でラベリングされた画像のうちから画像端に接する領域を削除し、削除されなかった領域を肺領域とする肺領域抽出部６０５、肺領域画素値から適正なＸ線量が到達しているかどうかを判定し、また素抜け領域（Ｘ線照射領域で被写体がない部分）の画像から、適正な照射野であるかどうかを判定する線量分析部６１０、線量分析部６１０からの判定情報により、Ｘ線照射量の強度調節を行い、また照射野を制御する絞り調節をするＸ線制御部６１５、肺領域画像から特定の画素値部分の領域を特定する特定画素値判定部６２０、特定画素値判定部６２０から特定された領域の画像濃度（輝度）をある指定濃度（輝度）に処理する画像処理部６２５、肺領域の画素の蓄積電荷量がＸ線照射によりどの程度蓄積されたかを検知する線量検知部６３０、並びに線量検知部６３０で、例えばＸ線の照射がすでに終了したと判定された場合や、蓄積電荷量が飽和に近いと判定された場合にＸ線検出器の蓄積を終了する等の検出器の駆動を変更する検出器制御部６３５から構成されている。
【００７１】
これらのうち、Ｘ線制御部６１５は、図１中のＸ線制御手段１４０に相当し、画像処理部６２５は画像処理手段１３０に相当し、検出器制御部６３５は検出器制御手段１２３に相当する。
【００７２】
このように構成された画像解析手段１２５では、先ず、特徴量抽出部６０１が、照射領域内の素抜け領域及び素抜け領域と一定間隔内で接する体領域をある閾値で分離し、０で置き換える。次に、上記処理後の画像から最大画素値を取得し、最大画素値をとる肺領域のプロファイルから縦隔の最低画素値を算出し、前記最大画素値及び最小画素値を求める。
【００７３】
次いで、閾値推定部６０２が、特徴量抽出部６０１で算出した肺領域内の最大画素値、及び縦隔領域内の最小画素値より閾値を推定する。推定に用いる関数は、例えば線形回帰式、ニューラルネットワーク等であるが、これらに限定されない。
【００７４】
閾値処理部６０３は、閾値推定部６０２で算出された閾値に基づき、入力画像の閾値処理（２値化等）を行う。
【００７５】
ラベリング部６０４は、閾値推定部６０２で２値化された画像データのうち、画素値１の領域に対してラベリング処理を行う。ここで、ラベリング処理とは、２値化により連結した部分を区別するラベル付けを行う処理である。
【００７６】
肺領域抽出部６０５は、ラベリング部６０４でラベル付けされた連結領域のうち、面積がある値以下かつ画像端に接する領域を削除する。この処理の結果、残った領域が肺領域である。なお、画像端に接する領域は素抜け領域画像である。このようにして、肺領域抽出部６０５は、非破壊読み出し手段１２０によって非破壊読み出しされたＸ線画像から、肺領域画像及び素抜け領域画像を抽出する。
【００７７】
肺領域抽出部６０５により抽出された画像は、線量分析部６１０、特定画素値判定部６２０、線量検知部６３０に入力される。
【００７８】
線量分析部６１０は、最大画素値又は平均画素値を用いて、肺領域画像から被写体から抜けてＸ線検出器１１０に入射したＸ線の線量を把握する。このＸ線の線量の把握は、例えば入射Ｘ線量と画素出力との関係を予め取得しておくことで達成することができる。
【００７９】
次に、Ｘ線制御部６１５は、前記把握されたＸ線量に対し、Ｘ線量が少ない場合に、単位時間当たりのＸ線強度を上げるか、又はＸ線照射時間を長くする等のＸ線照射手段１４５に対する制御を行う。
【００８０】
特定画素値判定部６２０は、肺領域画像から、最大画素値、又は最大画素値と平均画素値との中間値にあたる値を特定する。
【００８１】
次に、画像処理部６２５では、前記最大画素値又は中間値の濃度（モニタの場合は輝度）が適正な濃度（例えば胸部画像では濃度１．７等）になるように、破壊読み出し手段１１５によって読み出された画像の階調変換を行う。
【００８２】
線量検知部６３０は、肺領域内の画素で蓄積電荷が飽和に近い画素があるかどうかを検知する。蓄積電荷が飽和に近いかどうかは、飽和線量が照射された画像を予め取得しておくことで判断できる。
【００８３】
次に、検出器制御部６３５は、蓄積電荷が飽和に近いことが判断されると、Ｘ線検出器１１０の蓄積を即座に終了して、破壊読み出し手段１１５でＸ線画像を読み出す等の駆動制御を行う。
【００８４】
以上説明したように、本実施形態によれば、Ｘ線検出器１１０の電荷蓄積中に、非破壊読み出しによりＸ線画像を取得し、画像解析手段１２５で解析した結果に基づいてＸ線の制御を行うことにより、被写体に対して被曝線量の少ない適切な線量で、Ｘ線画像を取得できる。また、Ｘ線検出器１１０の制御に関し、画素の蓄積電荷飽和によりＸ線画像を損失してしまうことを防ぐことができる。更に、画像処理に関し、予め非破壊読み出ししたＸ線画像に基づいて画像解析を行っておくことにより、破壊読み出しされた画像を迅速に階調処理し、リアルタイムに表示することもできる。
【００８５】
なお、第３の実施形態のように、間引き非破壊読み出し等で必要な場合には、図６中の最初の入力における「非破壊読み出しＸ線画像」として、少なくとも２枚の非破壊読み出しした画像同士の差分画像を用いることとなる。
【００８６】
（第４の実施形態）
次に、本発明の第４の実施形態について説明する。第４の実施形態では、Ｘ線検出器１１０の構造が第１、第２の実施形態と相違している。具体的には、図３のリセットスイッチ３５５で、破壊読出しにおけるスイッチの役割も兼ねた点である。図７に示すように、本実施形態では、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５からの出力先は、非破壊読み出しスイッチ７６０の出力先と同じ信号線Ｌｃｍである。このため画素２０１の蓄積電荷のリセットのための第３共通電位２４１−３は、信号線Ｌｃｍを介してリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５につながるように構成されている。さらに、１つの信号線Ｌｃｍを用いて蓄積電荷のリセットと、破壊読出しができるように共通電位スイッチ７１０を設けている。
【００８７】
図７は、本発明の第４の実施形態において、第ｎ行第ｍ列に位置する画素２０１の構成を示す回路図である。本実施形態では、画素２０１には、第１の実施形態と同様に、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）、蓄積電荷保持部３０７、増幅素子３１２、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５及び非破壊読み出しスイッチ７６０が設けられている。リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５、非破壊読み出しスイッチ７６０及び転送スイッチ４５０のオン／オフは、行選択線Ｌｒｎにより制御される。
【００８８】
このように構成された画素２０１において、共通電位スイッチ７１０が導通され、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５に電位Ｖｇｈが印加され、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５が導通されると、蓄積電荷保持部３０７に共通電位２４１−３が印加され、蓄積電荷保持部３０７がリセットされる。
【００８９】
その後、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５に電位Ｖｇｌが印加され、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５が閉じられると、蓄積電荷保持部３０７はリセットされたまま浮遊状態になる。この状態で、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）にＸ線が照射されると、信号電荷が生成され、蓄積電荷保持部３０７に蓄積される。そして、信号電荷に応じて蓄積電荷保持部３０７の電位が上昇する。
【００９０】
続いて、共通電位スイッチ７１０を閉じた状態で、行選択線Ｌｒｎから非破壊読出しスイッチ７６０に電位Ｖｇｈが印加され、非破壊読出しスイッチ７６０が導通されると、上昇した電位に応じて増幅素子３１２により増幅された信号が列信号線Ｌｃｍへと転送される。これは、蓄積電荷保持部３０７に蓄積電荷を保持したまま信号電荷を読み出すので非破壊読み出しである。
【００９１】
以上の一連の動作をＸ線検出器１１０の蓄積状態時に繰り返し行うことで、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）から蓄積電荷保持部３０７へ随時転送され蓄積された信号電荷を読み出すことができる。また、読み出された信号の前後の差分変化を得ることで、Ｘ線のＸ線検出器１１０への入射が開始されたか、又は終了されたかを検出することができる。また、任意の２枚の非破壊読み出し差分画像より、Ｘ線検出器１１０へのＸ線の照射分布を得ることができる。
【００９２】
これに対し、共通電位スイッチ７１０を閉じた状態で、行選択線Ｌｒｎから非破壊読出しリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５に電位Ｖｇｈが印加され、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５が導通されると、蓄積電荷保持部３０７に蓄積された電荷が、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５を通って、信号線Ｌｃｍに出力されて、信号電荷が読み出される。この読み出しにより、蓄積電荷保持部３０７に蓄積された電荷は、１回のみの読み出しにより一部又は全部が消失する。従って、これは、蓄積電荷保持部３０７に蓄積電荷を保持しないで信号電荷を読み出すので破壊読み出しである。
【００９３】
破壊読出しの後は、もはやＸ線の照射量後の状態とは関係ない、また蓄積前の状態とは関係ない電荷が蓄積電荷保持部３０７に残されるのみであるので、再度Ｘ線量に関係した信号電荷の読み出しを行うために、破壊読出しの際に開いたリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５を、開いた状態にしたまま共通電位スイッチ７１０を導通させることにより画素２０１をリセットする必要がある。
【００９４】
このように、第４の実施形態によれば、第１又は第２の実施形態で得られる効果の他に、信号電荷の破壊読み出しと同時に画素２０１のリセットを行うことができ、無駄のないＸ線検出器１１０の駆動ができるという効果が得られる。
【００９５】
（第５の実施形態）
次に、本発明の第５の実施形態について説明する。第５の実施形態では、Ｘ線検出器１１０の構造が第１、第２、第４の実施形態と相違している。具体的には、画素２０１の破壊読出しの構成が違っており、図８に示すように、第４の実施形態において、蓄積電荷保持部３０７とつながっていたリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５との間にコンデンサ８１０を設けている点である。
【００９６】
この場合、蓄積電荷保持部３０７に保持された電荷は、第４の実施形態にあるように、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５から吐き出されない。したがって、蓄積電荷保持部３０７に保持された電荷を、光電変換素子ＰＤを通して、第１共通電位２４１−１側に吐き出させるように、第１共通電位２４１−１と第３共通電位２４１−３の電位差を調整しなくてはならない。
【００９７】
図８は、本発明の第５の実施形態において、第ｎ行第ｍ列に位置する画素２０１の構成を示す回路図である。本実施形態では、画素２０１には、第１の実施形態と同様に、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）、蓄積電荷保持部３０７、増幅素子３１２、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５及び非破壊読み出しスイッチ７６０が設けられている。リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５、非破壊読み出しスイッチ７６０及び転送スイッチ４５０のオン／オフは、行選択線Ｌｒｎにより制御される。
【００９８】
このように構成された画素２０１において、共通電位スイッチ７１０が導通され、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５に電位Ｖｇｈが印加され、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５が導通されると、蓄積電荷保持部３０７に共通電位２４１−３が印加され、蓄積電荷保持部３０７がリセットされる。このとき、蓄積電荷保持部３０７に保持されるように、蓄積電荷保持部３０７と第１共通電位２４１−１の電位差が設定されているが、蓄積電荷を吐き出すためには、第３共通電位２４１−３と導通している蓄積電荷保持部３０７と、第１共通電位２４１−１の電位差が先とは逆になるように設定されなければならない。
【００９９】
その後、行選択線Ｌｒｎからリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５に電位Ｖｇｌが印加され、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５が閉じられると、蓄積電荷保持部３０７はリセットされたまま浮遊状態になる。この状態で、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）にＸ線が照射されると、信号電荷が生成され、蓄積電荷保持部３０７とコンデンサ８１０に蓄積される。そして、信号電荷に応じて蓄積電荷保持部３０７の電位が上昇する。
【０１００】
続いて、共通電位スイッチ７１０を閉じた状態で、行選択線Ｌｒｎから非破壊読出しスイッチ７６０に電位Ｖｇｈが印加され、非破壊読出しスイッチ７６０が導通されると、上昇した電位に応じて増幅素子３１２により増幅された信号が列信号線Ｌｃｍへと転送される。これは、蓄積電荷保持部３０７に蓄積電荷を保持したまま信号電荷を読み出すので非破壊読み出しである。
【０１０１】
以上の一連の動作をＸ線検出器１１０の蓄積状態時に繰り返し行うことで、光電変換素子ＰＤ（ｎ，ｍ）から蓄積電荷保持部３０７へ随時転送され蓄積された信号電荷を読み出すことができる。また、読み出された信号の前後の差分変化を得ることで、Ｘ線のＸ線検出器１１０への入射が開始されたか、又は終了されたかを検出することができる。また、任意の２枚の非破壊読み出し差分画像より、Ｘ線検出器１１０へのＸ線の照射分布を得ることができる。
【０１０２】
これに対し、共通電位スイッチ７１０を閉じた状態で、行選択線Ｌｒｎから非破壊読出しリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５に電位Ｖｇｈが印加され、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５が導通されると、Ｘ線量を反映したコンデンサ８１０の蓄積電荷に対応した逆電荷が、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５を通して信号線Ｌｃｍを通して流れ、信号線Ｌｃｍの電位が、Ｘ線照射前の状態に対して、Ｘ線量に比例して変化する。このＸ線照射前の電位と、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５を導通した後の電位の差をアンプ２４６−ｍ等で増幅させることにより、Ｘ線照射量に比例した信号を読み出すことができる。
【０１０３】
コンデンサ８１０にかかる電位は、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５を導通する前後では違う可能性が高いので、蓄積電荷保持部３０７の蓄積電荷量も変化する。したがって、これは、蓄積電荷保持部３０７の蓄積電荷を保持しないで信号電荷を読み出すので破壊読み出しである。
【０１０４】
また、コンデンサ８１０への蓄積電荷も、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５を導通する前後では違うので、２回目以降リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５を通した読み出しはもはやＸ線量を反映しない。したがって、次の読み出しでは画素２０１をリセットする必要がある。
【０１０５】
この第５の実施形態の例では、破壊読出しは電位差による信号の読み出しである。したがって、図８に示す増幅素子３１２は、蓄積電荷保持部３０７の電位を増幅するものでなくてはならない。しかし、破壊読出し時のコンデンサ８１０への電流を読み出す例であれば、図８に示す増幅素子３１２は、蓄積電荷保持部３０７へ流れる電荷に応じて、非破壊読み出しスイッチへの電流を増幅させるものでなくてはならない。
【０１０６】
第５の実施形態によれば、第４の実施形態で得られる効果の他に、画素２０１を構成する破壊読出しの部分は、光電変換素子ＰＤとリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５が同じ構造で形成できるＭＩＳ−Ｔｙｐｅ（参考文献：Ｎｏｖｅｌ  Ｌａｒｇｅ  Ａｒｅａ  ＭＩＳ  ｔｙｐｅ  Ｘ−ｒａｙ  Ｉｍａｇｅ  Ｓｅｎｓｏｒ  ｆｏｒ  Ｒａｄｉｏｇｒａｐｈｙ，  ＳＰＩＥ  Ｖｏｌ．３３３６  Ｐｈｙｓｉｃｓ  ｏｆ  Ｍｅｄｉｃａｌ  Ｉｍａｇｉｎｇ  （１９９８））にでき、Ｘ線検出器１１０の製造歩留まりが良いという効果がある。また、第４の実施形態における画素２０１を構成する破壊読出しの部分は、ＰＩＮ−Ｔｙｐｅの構造をしており、ＭＩＳ−Ｔｙｐｅより、Ｘ線に対し一般的に感度が良いというという効果がある。
【０１０７】
（第６の実施形態）
次に、本発明の第６の実施形態について説明する。第６の実施形態では、Ｘ線検出器１１０の構造が第１、第２、第４、第５の実施形態と相違している。具体的には、画素２０１からの破壊読出しによる信号と、画素２０１からの非破壊読出しによる信号が別の信号線により出力される点が相違している。破壊読出しと非破壊読み出しの信号線を別にすることにより、夫々の読み出し方法に適した信号の増幅、デジタル化ができる。そのため、第６の実施形態には、図９及び図１０に示すように、破壊読出しと非破壊読み出し夫々の信号線に対して、アンプ２４６−ｍ、サンプルホールド回路２４８−ｍ、アナログ・マルチプレクサ２５０、Ａ／Ｄ変換器２５２が設けられている。
【０１０８】
図９及び図１０に示す第６の実施形態は、図２、図３に対し信号線Ｌｃｍを、非破壊読み出し用の信号線Ｌｃｍと破壊読出し用の信号線Ｌｄｍに分けるように構成されている。図２と違う構成について説明すると、非破壊読み出しスイッチ７６０からの信号は信号線Ｌｃｍに出力され、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５からの信号は信号線Ｌｄｍに出力される。信号線Ｌｄｍは、共通電位スイッチ７１０（図９では共通電位スイッチ２２４２−ｍ）を介して、配線Ｌｂ３により第３共通電位２４１−３につながっている。
【０１０９】
信号線Ｌｃｍからの非破壊読み出し出力は、図２と同様、アンプ２４６−ｍで増幅され、サンプルホールド回路２４８−ｍで増幅信号がサンプルホールドされ、アナログ・マルチプレクサ２５０で時間軸において多重化されて、Ａ／Ｄ変換器２５２でデジタル画像となる。信号線Ｌｄｍからの破壊読出し出力は、アンプ２２４６−ｍで増幅され、サンプルホールド回路２２４８−ｍで増幅信号がサンプルホールドされ、アナログ・マルチプレクサ２２５０で時間軸において多重化されて、Ａ／Ｄ変換器２２５２でデジタル画像となる。
【０１１０】
次に、光電変換素子ＰＤのリセット、電荷の蓄積、電荷の読み出しのＸ線検出器１１０における駆動方法について、図９及び図１０を参照して説明する。
【０１１１】
先ず、駆動器２６２は、行選択線Ｌｒ１に電位Ｖｇｈをかけることにより、配線Ｌｂ３に接続されたリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）ＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）（図１０中のリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５）をオンし、共通電位スイッチ２２４２−ｍ（図１０中の共通電位スイッチ７１０）をオンにする。この結果、第１行目の４０９６個の画素２０１に共通電位２４１−３が印加され、蓄積電荷保持部３０７に蓄積されていた電荷がリセットされる。
【０１１２】
次に、駆動器２６２は、行選択線Ｌｒ１に電位Ｖｇｌをかけることにより、信号線Ｌｄ１に接続されたリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）ＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）をオフする。この結果、第１行目の４０９６個の画素２０１に共通電位２４１−１が印加される。この状態で、光電変換素子ＰＤ（１，ｍ）にＸ線が照射されると、Ｘ線の照射量に比例して電荷が発生し、共通電位２４１−１からの電位のずれに比例した量の電荷が蓄積電荷保持部３０７に蓄積される。但し、このとき、光電変換素子ＰＤ（１，ｍ）には、Ｘ線信号以外に温度によって励起される暗電流が流れ、この暗電流による電荷もＸ線量に比例する電荷と共に、蓄積電荷保持部３０７に蓄積される。
【０１１３】
次に、駆動器２６２は、行選択線Ｌｒ１に電位Ｖｇｈをかけることにより、列信号線Ｌｃｍに接続された非破壊読み出しスイッチＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）（非破壊読み出しスイッチ７６０）をオンにする。この結果、蓄積電荷保持部３０７に保持されていた電荷が、増幅素子３１２により増幅された後、画素２０１から信号読み出し回路２４０により読み出される。
【０１１４】
信号読み出し回路２４０内では、読み出された信号がアンプ２４６−ｍにより増幅される。アンプ２４６−ｍの出力信号は、サンプルホールド回路２４８−ｍによりサンプルホールドされる。その後、サンプルホールド回路２４８の出力信号が、アナログ・マルチプレクサ２５０により時間軸に関して多重化される。そして、Ａ／Ｄ変換器２５２により、アナログ・マルチプレクサ２５０から出力されたアナログ信号がデジタル信号に変換されて読み出される。
【０１１５】
これらの一連の動作を、すべての第１〜４０９６行目まで繰り返して行うことにより、全画素の蓄積電荷が非破壊読み出される。ここでは、光電変換素子ＰＤのリセット、電荷の蓄積、非破壊読み出しを１行ごとにセットにして説明したが、すべての第１〜４０９６行の画素２０１を１行ごとにリセット及び蓄積状態にした後、すべての第１〜４０９６行の画素２０１又は一部の画素２０１の非破壊読み出しを信号電荷の蓄積中に任意の回数行うこともできる。
【０１１６】
Ｘ線照射が終了すると、駆動器２６２は、行選択線Ｌｒ１に電位Ｖｇｈをかけることにより、共通電位スイッチをオフにした状態で、列信号線Ｌｄｍに接続されたリセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）ＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）（リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５）をオンにする。この結果、蓄積電荷保持部３０７及びコンデンサ８１０に蓄積されていた蓄積電荷に比例した信号が破壊読み出しされる。この読み出しの結果、蓄積電荷保持部３０７及びコンデンサ８１０の状態が変化する。
【０１１７】
破壊読み出しの直後、リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）ＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）（リセットスイッチ（及び破壊読出しスイッチ）７５５）をオンにした状態で、共通電位スイッチをオンにすると、第１行の画素２０１がリセットされる。
【０１１８】
ここでは、読み出しと同時にリセットも行ったが、第１行の画素２０１のリセットをせずに、すべての行の画素２０１の破壊読出しをしても良い。
【０１１９】
これらの一連の動作を、すべての第１〜４０９６行目まで繰り返して行うことにより、全画素の蓄積電荷が破壊読み出される。
【０１２０】
破壊読出し時のリセットと、上述した蓄積前のリセットを同一にした場合、破壊読出しのフレームレイトを高くすることができるという効果がある。
【０１２１】
このように非破壊読み出しによる出力と破壊読出しによる出力を別々に分けることで、夫々に適した信号の増幅、サンプリング、デジタル化が行える。例えば、非破壊読み出しでは、出力された画像は、Ｘ線照射手段１４５の制御や、Ｘ線検出器１１０の制御や、画像処理のための解析、又は被写体等の動きの観察等を行うため、リアルタイムな処理が要求され、動画のようなフレームレイトの高い処理ができるように、信号読み出し回路２４０を最適化できる効果がある。また、破壊読出しでは、出力された画像は、主に静止画像のようなＳＮＲの高い、また多くのＸ線量を検出できるようダイナミックレンジの広い画像特性が要求されるため、破壊読出しの構成に適した信号読み出し回路２２４０が最適化できる効果がある。
【０１２２】
第１乃２の実施形態では、検出器の駆動制御により非破壊読み出しと破壊読出しは区別されたが、第４乃至６の実施形態では物理的に非破壊読み出しと破壊読出しが区別される例を説明した。
【０１２３】
（第７の実施形態）
第７の実施形態の説明では、本発明のＸ線撮影装置の動作について説明する。
【０１２４】
図１１は、本発明の第７の実施形態に係るＸ線撮影装置の動作を示すフロー図である。まず、撮影者がＸ線照射の信号を送ると、Ｘ線検出器１１０は、ステップＳ１１０５で画素のリセットを行い、ステップＳ１１１０で画素信号の蓄積を開始する。蓄積を開始するとすぐに、ステップＳ１１２０で画素信号の非破壊読み出しが始まる。
【０１２５】
蓄積が開始されると、Ｘ線照射手段１４５によりＸ線が照射される。Ｘ線照射のタイミングは蓄積が開始されるとすぐに行っても良いし、ステップＳ１１３５でＸ線の制御を受けても良い。
【０１２６】
Ｘ線が照射されている間、ステップＳ１１２０で非破壊読み出しを繰り返す。非破壊読み出しした画像は間引き読み出しされていれば、２枚の非破壊読み出し画像の差分画像が取得される。
【０１２７】
非破壊読み出しされた画像は、ステップＳ１１２２で暗電流補正、さらにステップＳ１１２５で個々の画素のゲイン補正を行った後、ステップＳ１１３０で非破壊読み出し画像の解析が行われる。暗電流補正のための画像は、Ｘ線照射前に２回非破壊読み出しした画像の差分により求めることができる。また、撮影前に事前に取得しておくこともできる。また、ゲイン補正のための画像は事前に取得しておくことが望ましい。
【０１２８】
非破壊読み出しされた画像の解析の結果Ｘ線量が適切でなければ、ステップＳ１１３５によりＸ線の制御が行われる。非破壊読み出し画像の解析結果に基づき、ステップＳ１１４０では、Ｘ線照射がつづく間、Ｘ線検出器１１０を蓄積状態のままにしておく。また、Ｘ線照射が終了していれば速やかにステップＳ１１５０で、破壊読み出しを開始する。
【０１２９】
ステップＳ１１６５で破壊読出しと同時に画素信号のリセットを行う。このリセットは、続けて撮影を行う場合には、ステップＳ１１０５のリセットと同一となる。
【０１３０】
破壊読出し、及び画素信号のリセットの終了後、ステップＳ１１６５で画素信号の空読み出しが開始される。ステップＳ１１７５では、破壊読出し画像と空読み出し画像を用いて、破壊読出し画像の暗電流補正が行われる。さらに暗電流補正後、ステップＳ１１８０では個々の画素のゲイン補正が行われる。
【０１３１】
ステップＳ１１８５では、暗電流補正及びゲイン補正が行われた破壊読出し画像において、ステップＳ１１３０の解析結果に基づき、破壊読出し画像の画像処理が行われる。画像処理後の画像は、ステップＳ１１９０にて画像の表示又は保存が行われる。また、ステップＳ１１９０における画像の表示又は保存は、破壊読み出しされた画像だけではなく、非破壊読み出しされた画像でも行っても良い。その場合は、ステップＳ１１４５において非破壊読み出し画像の画像処理を行い、ステップＳ１１９０で画像の表示又は保存が行われる。
【０１３２】
本発明の実施形態は、前述のように、コンピュータがプログラムを実行することによっても実現することができる。また、プログラムをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムを記録したＣＤ−ＲＯＭ等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体又はかかるプログラムを伝送するインターネット等の伝送媒体も本発明の実施形態として適用することができる。また、上記のプログラムも本発明の実施形態として適用することができる。上記のプログラム、記録媒体、伝送媒体及びプログラムプロダクトは、本発明の範疇に含まれる。
【０１３３】
本発明の実施態様の例を以下に列挙する。
【０１３４】
（実施態様１）  対象物に放射線を照射する放射線照射手段と、
前記対象物を透過して
得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する解析手段と、
を有することを特徴とする放射線撮影装置。
【０１３５】
（実施態様２）  前記解析手段による解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段から読み出された放射線投影像の情報に対して画像処理を施す画像処理手段を有することを特徴とする実施態様１に記載の放射線撮影装置。
【０１３６】
この放射線撮影装置によれば、破壊読み出しによる画像を取得する前に画像解析を行うことが可能であるため、破壊読み出しによる画像が読み出された後、速やかに、階調処理等の画像処理を実行することができる。また、動画像取得によりリアルタイム表示も可能となる。
【０１３７】
（実施態様３）  前記解析手段による解析の結果に基づいて前記放射線照射手段の動作を制御する放射線照射制御手段を有することを特徴とする実施態様１又は２に記載の放射線撮影装置。
【０１３８】
この放射線撮影装置によれば、放射線撮像装置に蓄積されている電荷に基づいて、Ｘ線の照射条件が適切であるかどうかを判断でき、被写体等の対象物に照射される無駄なＸ線量を低減できる。
【０１３９】
（実施態様４）  前記解析手段による解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段の動作を制御する撮像制御手段を有することを特徴とする実施態様１乃至３のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【０１４０】
この放射線撮影装置によれば、放射線の照射状況に応じて、放射線撮像手段の動作を適宜制御することができる。
【０１４１】
（実施態様５）  前記撮像制御手段は、前記放射線撮像手段における電荷の蓄積量を観察し、前記電荷の蓄積量が飽和値に到達する前に、前記放射線撮像手段に電荷の蓄積を終了させることを特徴とする実施態様４に記載の放射線撮影装置。
【０１４２】
この放射線撮影装置によれば、例えば画像の関心領域における画素が飽和する前に蓄積を終了することができる。
【０１４３】
（実施態様６）  前記放射線撮像手段に設けられた複数の画素のうちから選択した一部の画素のみから非破壊読み出しにより信号を読み出し、該信号を前記解析手段に解析させる間引き読み出し手段を有することを特徴とする実施態様１乃至５のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【０１４４】
この放射線撮影装置によれば、間引き読み出しによって、高速に非破壊読み出しを行うことが可能となり、また画像の情報量が小さくなるため、高速にその解析を行うことができる。
【０１４５】
（実施態様７）  前記間引き読み出し手段は、前記一部の画素のみからの信号の読み出しを少なくとも２回行い、
前記解析手段は、同一の画素から読み出された信号の差分情報を求め、前記差分情報に基づく解析を行うことを特徴とする実施態様６に記載の放射線撮影装置。
【０１４６】
この放射線撮影装置によれば、間引き非破壊読み出しによる各画素の蓄積時間の違いによるシェーディングの発生を防止することができる。
【０１４７】
（実施態様８）  放射線照射手段に、対象物に放射線を照射させる工程と、
前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段から、該信号を非破壊読み出しにより読み出す工程と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する工程と、
を有することを特徴とする放射線撮影方法。
【０１４８】
（実施態様９）  前記解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段から読み出された放射線投影像の情報に対して画像処理を施す工程を有することを特徴とする実施態様８に記載の放射線撮影方法。
【０１４９】
（実施態様１０）  前記解析の結果に基づいて前記放射線照射手段の照射条件を調整する工程を有することを特徴とする実施態様８又は９に記載の放射線撮影方法。
【０１５０】
（実施態様１１）  前記解析の結果に基づいて前記放射線撮像手段の動作を制御する工程を有することを特徴とする実施態様８乃至１０のいずれか１項に記載の放射線撮影方法。
【０１５１】
（実施態様１２）  前記放射線撮像手段の動作を制御する工程において、前記放射線撮像手段における電荷の蓄積量を観察し、前記電荷の蓄積量が飽和値に到達する前に、前記放射線撮像手段に電荷の蓄積を終了させることを特徴とする実施態様１１に記載の放射線撮影方法。
【０１５２】
（実施態様１３）  前記信号を非破壊読み出しにより読み出す工程において、前記放射線撮像手段に設けられた複数の画素のうちから選択した一部の画素のみから非破壊読み出しにより信号を読み出すことを特徴とする実施態様８乃至１２のいずれか１項に記載の放射線撮影方法。
【０１５３】
（実施態様１４）  前記一部の画素のみからの信号の読み出しを少なくとも２回行い、
前記信号を解析する工程において、同一の画素から読み出された信号の差分情報を求め、前記差分情報に基づく解析を行うことを特徴とする実施態様１３に記載の放射線撮影方法。
【０１５４】
（実施態様１５）  コンピュータに、
放射線照射手段に、対象物に放射線を照射させる処理と、
前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段から、該信号を非破壊読み出しにより読み出す処理と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する処理と、
を実行させることを特徴とする放射線撮影プログラム。
【０１５５】
（実施態様１６）  コンピュータに、
放射線照射手段に、対象物に放射線を照射させる処理と、
前記対象物を透過して得られる放射線投影像を信号に変換すると共に該信号の非破壊読み出しが可能な放射線撮像手段から、該信号を非破壊読み出しにより読み出す処理と、
前記放射線撮像手段から非破壊読み出しにより読み出された信号を解析する処理と、
を実行させる放射線撮影プログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【０１５６】
（実施態様１７）  前記放射線撮像手段は破壊読出しが可能であることを特徴とする実施態様１乃至７のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【０１５７】
（実施態様１８）  前記放射線撮像手段に２つのスイッチのみが設けられていることを特徴とする実施態様１乃至７のいずれか１項、又は実施態様１７に記載の放射線撮影装置。
【０１５８】
この放射線撮像手段によれば、画素に２つのスイッチのみで非破壊読み出しが可能となるので、検出器製造の歩留まりがあがるという効果がある。
【０１５９】
（実施態様１９）  前記放射線撮像手段に３つのスイッチのみが設けられていることを特徴とする実施態様１乃至７のいずれか１項、又は実施態様１７に記載の放射線撮影装置。
【０１６０】
この放射線撮像手段によれば、画素に３つのスイッチがあることで、Ｘ線信号の蓄積開始と蓄積終了を全画素同時にできる非破壊読み出しが可能な検出器が得られるという効果がある。
【０１６１】
（実施態様２０）  前記放射線撮像手段の非破壊読み出しのスイッチと破壊読出しのスイッチとが互いに個別に設けられていることを特徴とする実施態様１乃至５、実施態様１７及び１９のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【０１６２】
この放射線撮像手段によれば、画素の蓄積電荷のリセットを簡単に破壊読出しと同時にできるという効果がある。
【０１６３】
（実施態様２１）  前記放射線撮像手段の非破壊読み出しの読み出し信号線と破壊読出しの読み出し信号線とが共通していることを特徴とする実施態様１乃至５のいずれか１項、又は実施態様１７乃至２０のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【０１６４】
この放射線撮像手段によれば、画素に１つの信号線のみで非破壊読み出しと破壊読出しが可能となるので、検出器製造の歩留まりがあがるという効果がある。
【０１６５】
（実施態様２２）  前記放射線撮像手段の非破壊読み出しの読み出し信号線と破壊読出しの読み出しの信号線とが互いに個別に設けられていることを特徴とする実施態様１乃至５のいずれか１項、又は実施態様１７乃至２０のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【０１６６】
（実施態様２３）  前記放射線撮像手段の非破壊読み出しの読み出し回路と破壊読出しの読み出し回路とが互いに個別に設けられていることを特徴とする実施態様１乃至５のいずれか１項、又は実施態様１７乃至２２のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【０１６７】
この放射線撮像手段によれば、非破壊読み出しと破壊読出しで回路系を含め夫々最適化できるという効果がある。
【０１６８】
（実施態様２４）  前記解析手段は、放射線照射の前後で非破壊読み出しを行い、非破壊読み出し画像の暗電流補正を行うことを特徴とする実施態様７に記載の放射線撮影装置。
【０１６９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、被検体等の対象物を透過した放射線に関する情報を速やかに把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態におけるＸ線検出器１１０の構成を示す模式図である。
【図３】本発明の第２の実施形態において、第ｎ行第ｍ列に位置する画素２０１の構成を示す回路図である。
【図４】本発明の第２の実施形態において、第ｎ行第ｍ列に位置する画素２０１の構成を示す回路図である。
【図５】本発明の第３の実施形態に係るＸ線撮影装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図６】画像解析手段１２５の構成等を示すブロック図である。
【図７】本発明の第４の実施形態に関し、Ｘ線検出器１１０が非破壊読み出し機能及び破壊読出し機能を有する例を示した図である。
【図８】本発明の第５の実施形態に関し、Ｘ線検出器１１０が非破壊読み出し機能及び破壊読出し機能を有する例を示した図である。
【図９】本発明の第６の実施形態におけるＸ線検出器１１０の構成を示す模式図である。
【図１０】本発明の第６の実施形態に関し、Ｘ線検出器１１０が非破壊読み出し機能及び破壊読出し機能を有する例を示した図である。
【図１１】本発明のＸ線撮影装置の動作フローを示すフロー図である。
【符号の説明】
１０１：Ｘ線検知手段
１１０：Ｘ線検出器
１１５：破壊読み出し手段
１２０：非破壊読み出し手段
１２３：検出器制御手段
１２５：画像解析手段
１３０：画像処理手段
１３５：画像表示及び保存手段
１４０：Ｘ線制御手段
１４５：Ｘ線照射手段
６０１：特徴量抽出部
６０２：閾値推定部
６０３：閾値処理部
６０４：ラベリング部
６０５：肺領域抽出部
６１０：線量分析部
６１５：Ｘ線制御部
６２０：特定画素値判定部
６２５：画像処理部
６３０：線量検知部
６３５：検出器制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2004344249.tif 000009
【図８】
2004344249.tif 000010
【図９】
2004344249.tif 000011
【図１０】
2004344249.tif 000012
【図１１】
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