(57)【要約】【課題】被測定デバイスを正確に試験するための試験信号を発生する信号発生装置を提供することができる。【解決手段】被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置であって、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生部と、試験信号発生部が発生した試験信号にノイズを付加するノイズ付加部と、ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部とを備えることを特徴とする信号発生装置。【選択図】　図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置であって、
デジタル信号の前記試験信号を発生する試験信号発生部と、
前記試験信号発生部が発生した前記試験信号にノイズを付加するノイズ付加部と、
前記ノイズ付加部がノイズを付加した前記試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部と
を備えることを特徴とする信号発生装置。
【請求項２】
前記ノイズ付加部がノイズを付加した前記試験信号を変調する変調部をさらに備え、
前記ＤＡ変換部は、前記変調部が変調した前記試験信号をアナログ信号に変換することを特徴とする請求項１に記載の信号発生装置。
【請求項３】
前記ノイズ付加部がノイズを付加した前記試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部をさらに備え、
前記ＤＡ変換部は、前記低域濾波部が前記高周波成分を低減した前記試験信号をアナログ信号に変換することを特徴とする請求項２に記載の信号発生装置。
【請求項４】
前記試験信号発生部は、２相の信号を含む前記試験信号を発生し、
前記ノイズ付加部は、前記試験信号発生部が発生した前記試験信号が含む前記２相の信号のそれぞれにノイズを付加し、
前記変調部は、前記ノイズ付加部がノイズを付加した前記試験信号を直交変調し、
前記ＤＡ変換部は、前記変調部が直交変調した前記試験信号をアナログ信号に変換することを特徴とする請求項２に記載の信号発生装置。
【請求項５】
前記試験信号発生部が発生した前記試験信号を変調する変調部をさらに備え、
前記ノイズ付加部は、前記変調部が変調した前記試験信号にノイズを付加することを特徴とする請求項１に記載の信号発生装置。
【請求項６】
前記試験信号発生部は、２相の信号を含む前記試験信号を発生し、
前記変調部は、前記試験信号発生部が発生した前記試験信号を直交変調し、
前記ノイズ付加部は、前記変調部が直交変調した前記試験信号にノイズを付加することを特徴とする請求項５に記載の信号発生装置。
【請求項７】
前記ノイズ付加部は、前記試験信号発生部が発生した前記試験信号にガウスノイズを付加することを特徴とする請求項１に記載の信号発生装置。
【請求項８】
前記ノイズ付加部は、前記試験信号発生部が発生した前記試験信号を遅延させて前記ガウスノイズを発生するノイズ発生部を有することを特徴とする請求項７に記載の信号発生装置。
【請求項９】
前記ノイズ付加部は、前記試験信号発生部が発生した前記試験信号の周波数を変換して前記ガウスノイズを発生するノイズ発生部を有することを特徴とする請求項７に記載の信号発生装置。
【請求項１０】
前記ノイズ付加部は、前記ノイズ発生部が生成した前記ガウスノイズから所定の周波数成分以外の周波数成分を低減する帯域濾波部をさらに有することを特徴とする請求項９に記載の信号発生装置。
【請求項１１】
前記試験信号発生部は、２相の信号を含む前記試験信号を発生し、
当該信号発生装置は、前記試験信号を複素数に変換する複素数変換部をさらに備え、
前記ノイズ付加部は、前記複素数変換部が複素数に変換した前記試験信号に前記複素ガウスノイズを複素乗算する複素乗算部をさらに有することを特徴とする請求項７に記載の信号発生装置。
【請求項１２】
前記複素乗算部が前記複素ガウスノイズを複素乗算した前記試験信号を直交変調する変調部をさらに備え、
前記ＤＡ変換部は、前記変調部が直交変調した前記試験信号をアナログ信号に変換することを特徴とする請求項１１に記載の信号発生装置。
【請求項１３】
被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置であって、
２相の信号を含む前記試験信号を発生する試験信号発生部と、
前記試験信号発生部が発生した前記試験信号が含む前記２相の信号のそれぞれにノイズを付加するノイズ付加部と、
前記ノイズ付加部がノイズを付加した前記試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部と、
前記低域濾波部が高周波成分を低減した前記試験信号を直交変調する変調部とを備えることを特徴とする信号発生装置。
【請求項１４】
前記試験信号発生部は、デジタル信号の前記試験信号を発生し、
当該信号発生装置は、前記変調部が変調した前記試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部をさらに備えることを特徴とする請求項１３に記載の信号発生装置。
【請求項１５】
被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置の信号発生方法であって、
デジタル信号の前記試験信号を発生する試験信号発生段階と、
前記試験信号発生段階において発生した前記試験信号にノイズを付加するノイズ付加段階と、
前記ノイズ付加段階においてがノイズを付加した前記試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換段階と
を備えることを特徴とする信号発生方法。
【請求項１６】
被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置の信号発生方法であって、
２相の信号を含む前記試験信号を発生する試験信号発生段階と、
前記試験信号発生段階において発生した前記試験信号が含む前記２相の信号のそれぞれにノイズを付加するノイズ付加段階と、
前記ノイズ付加段階においてノイズを付加した前記試験信号から高周波成分を低減する低域濾波段階と、
前記低域濾波段階において高周波成分を低減した前記試験信号を直交変調する変調段階と
を備えることを特徴とする信号発生方法。
【請求項１７】
被測定デバイスのの良否を判定する試験装置であって、
デジタル信号の前記試験信号を発生する試験信号発生部と、
前記試験信号発生部が発生した前記試験信号にノイズを付加するノイズ付加部と、
前記ノイズ付加部がノイズを付加した前記試験信号をアナログ信号に変換して前記被測定デバイスに供給するＤＡ変換部と、
前記被測定デバイスに供給された前記試験信号に対して前記被測定デバイスが出力する信号に基づいて、前記被測定デバイスの良否を判定する良否判定部と
を備えることを特徴とする試験装置。
【請求項１８】
被測定デバイスのの良否を判定する試験装置であって、
２相の信号を含む前記試験信号を発生する試験信号発生部と、
前記試験信号発生部が発生した前記試験信号が含む前記２相の信号のそれぞれにノイズを付加するノイズ付加部と、
前記ノイズ付加部がノイズを付加した前記試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部と、
前記低域濾波部が高周波成分を低減した前記試験信号を直交変調して前記被測定デバイスに供給する変調部と、
前記被測定デバイスに供給された前記試験信号に対して前記被測定デバイスが出力する信号に基づいて、前記被測定デバイスの良否を判定する良否判定部と
を備えることを特徴とする試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、信号発生装置、信号発生方法、及び試験装置に関する。特に本発明は、被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置、信号発生方法、及び試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図１は、従来の試験システム２０の構成を示す。試験システム２０は、試験信号発生する信号発生装置２００と、試験信号に付加するノイズを発生するノイズ発生装置２０２と、ノイズ発生装置２０２が発生したノイズを試験信号に加算する加算器２０４とを備え、被測定デバイス（ＤＵＴ）３００にノイズが付加された試験信号を供給し、被測定デバイス３００が有する復調器を試験する。
【０００３】
信号発生装置２００は、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生部２０６と、試験信号発生部２０６が発生した試験信号を直交変調する変調部２０８と、変調部２０８が変調した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部（ＤＡＣ）２１０とを有する。
【０００４】
信号発生装置２００は、アナログ信号の試験信号を出力する。そして、加算器２０４は、信号発生装置２００が出力したアナログ信号の試験信号に、ノイズ発生装置２０２が発生したノイズを加算し、被測定デバイス３００に供給する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
以上のような試験システム２０では、信号発生装置２００の外部にノイズ発生装置２０２を設ける必要があるためコストが掛かってしまう。また、フェージングの試験等を行う場合の特殊なノイズを試験信号に付加することが困難である。
【０００６】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる信号発生装置、信号発生方法、及び試験装置を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
即ち、本発明の第１の形態によると、被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置であって、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生部と、試験信号発生部が発生した試験信号にノイズを付加するノイズ付加部と、ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部とを備える。
【０００８】
ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号を変調する変調部をさらに備え、ＤＡ変換部は、変調部が変調した試験信号をアナログ信号に変換してもよい。ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部をさらに備え、ＤＡ変換部は、低域濾波部が高周波成分を低減した試験信号をアナログ信号に変換してもよい。
【０００９】
試験信号発生部は、２相の信号を含む試験信号を発生し、ノイズ付加部は、試験信号発生部が発生した試験信号が含む２相の信号のそれぞれにノイズを付加し、変調部は、ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号を直交変調し、ＤＡ変換部は、変調部が直交変調した試験信号をアナログ信号に変換してもよい。
【００１０】
試験信号発生部が発生した試験信号を変調する変調部をさらに備え、ノイズ付加部は、変調部が変調した試験信号にノイズを付加してもよい。試験信号発生部は、２相の信号を含む試験信号を発生し、変調部は、試験信号発生部が発生した試験信号を直交変調し、ノイズ付加部は、変調部が直交変調した試験信号にノイズを付加してもよい。
【００１１】
ノイズ付加部は、試験信号発生部が発生した試験信号にガウスノイズを付加してもよい。ノイズ付加部は、試験信号発生部が発生した試験信号を遅延させてガウスノイズを発生するノイズ発生部を有してもよい。ノイズ付加部は、試験信号発生部が発生した試験信号の周波数を変換してガウスノイズを発生するノイズ発生部を有してもよい。ノイズ付加部は、ノイズ発生部が生成したガウスノイズから所定の周波数成分以外の周波数成分を低減する帯域濾波部をさらに有してもよい。
【００１２】
試験信号発生部は、２相の信号を含む試験信号を発生し、当該信号発生装置は、試験信号を複素数に変換する複素数変換部をさらに備え、ノイズ付加部は、複素数変換部が複素数に変換した試験信号に複素ガウスノイズを複素乗算する複素乗算部をさらに有してもよい。複素乗算部が複素ガウスノイズを複素乗算した試験信号を直交変調する変調部をさらに備え、ＤＡ変換部は、変調部が直交変調した試験信号をアナログ信号に変換してもよい。
【００１３】
本発明の第２の形態によると、被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置であって、２相の信号を含む試験信号を発生する試験信号発生部と、試験信号発生部が発生した試験信号が含む２相の信号のそれぞれにノイズを付加するノイズ付加部と、ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部と、低域濾波部が高周波成分を低減した試験信号を直交変調する変調部とを備える。
【００１４】
試験信号発生部は、デジタル信号の試験信号を発生し、当該信号発生装置は、変調部が変調した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部をさらに備えてもよい。
【００１５】
本発明の第３の形態によると、被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置の信号発生方法であって、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生段階と、試験信号発生段階において発生した試験信号にノイズを付加するノイズ付加段階と、ノイズ付加段階においてがノイズを付加した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換段階とを備える。
【００１６】
本発明の第４の形態によると、被測定デバイスを試験するための試験信号を発生する信号発生装置の信号発生方法であって、２相の信号を含む試験信号を発生する試験信号発生段階と、試験信号発生段階において発生した試験信号が含む２相の信号のそれぞれにノイズを付加するノイズ付加段階と、ノイズ付加段階においてノイズを付加した試験信号から高周波成分を低減する低域濾波段階と、低域濾波段階において高周波成分を低減した試験信号を直交変調する変調段階とを備える。
【００１７】
本発明の第５の形態によると、被測定デバイスのの良否を判定する試験装置であって、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生部と、試験信号発生部が発生した試験信号にノイズを付加するノイズ付加部と、ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号をアナログ信号に変換して被測定デバイスに供給するＤＡ変換部と、被測定デバイスに供給された試験信号に対して被測定デバイスが出力する信号に基づいて、被測定デバイスの良否を判定する良否判定部とを備える。
【００１８】
本発明の第６の形態によると、被測定デバイスのの良否を判定する試験装置であって、２相の信号を含む試験信号を発生する試験信号発生部と、試験信号発生部が発生した試験信号が含む２相の信号のそれぞれにノイズを付加するノイズ付加部と、ノイズ付加部がノイズを付加した試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部と、低域濾波部が高周波成分を低減した試験信号を直交変調して被測定デバイスに供給する変調部と被測定デバイスに供給された試験信号に対して被測定デバイスが出力する信号に基づいて、被測定デバイスの良否を判定する良否判定部とを備える。
【００１９】
なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は本発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００２１】
図２は、本発明の一実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す。試験装置１００は、容易に制御可能なノイズを試験信号に付加して被測定デバイスに供給し、被測定デバイスを正確に試験することを目的とする。
【００２２】
試験装置１００は、被測定デバイス３００を試験するための試験信号を発生する信号発生装置１０と、被測定デバイス３００と試験信号を受け渡しする信号入出力部１２と、被測定デバイス３００の良否を判定する良否判定部１４とを備える。
【００２３】
信号発生装置１０は、復調器を有する被測定デバイス３００の試験用の試験信号を発生し、信号入出力部１２を介して被測定デバイス３００に供給する。信号入出力部１２は、被測定デバイス３００と電気的に接続され、信号発生装置１０から受け取った試験信号を、被測定デバイス３００に供給する。また、信号入出力部１２は、被測定デバイス３００に供給された試験信号に基づいて被測定デバイス３００が出力する信号を受け取り、良否判定部１４に供給する。良否判定部１４は、信号入出力部１２から受け取った信号に基づいて、被測定デバイス３００の良否を判定する。また、良否判定部１４は、信号発生装置１０が発生する試験信号に基づく期待値と、信号入出力部１２から受け取った信号とを比較し、被測定デバイス３００の良否を判定してもよい。
【００２４】
図３は、信号発生装置１０の構成の第１実施例を示す。信号発生装置１０は、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生部１０２と、試験信号発生部１０２が発生した試験信号にノイズを付加するノイズ付加部１０４と、ノイズ付加部１０４がノイズを付加した試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部１０６と、低域濾波部１０６が高周波成分を低減した試験信号を変調する変調部１０８と、変調部１０８が変調した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部１１０とを備える。
【００２５】
試験信号発生部１０２は、２相の信号を含む試験信号を発生する。例えば、試験信号発生部１０２は、Ｉ信号及びＱ信号を含むベースバンド信号を発生する。ノイズ付加部１０４は、ノイズを発生するノイズ発生部１１２、加算器１１４、及び加算器１１６を有し、試験信号発生部１０２が発生した試験信号が含む２相の信号のそれぞれにノイズ発生部１１２が発生したノイズを加算する。ノイズ付加部１０４は、例えばホワイトノイズを発生して試験信号に加算する。また、ノイズ付加部１０４は、試験信号が含む２相の信号のそれぞれに異なるノイズを付加してもよいし、同一のノイズを付加してもよい。
【００２６】
低域濾波部１０６は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１１８及び１２０を有し、ノイズ付加部１０４がノイズを付加した試験信号が含む２相の信号のそれぞれから高周波成分を低減する。変調部１０８は、搬送波信号を発生する信号源１２２、乗算器１２４、乗算器１２６、及び加算器１２８を有し、低域濾波部１０６が高周波成分を低減した試験信号を直交変調する。そして、ＤＡ変換部１１０は、変調部１０８が直交変調した試験信号を、信号入出力部１２を介して被測定デバイス３００に供給する。
【００２７】
他の例において、試験信号発生部１０２は、アナログ信号の試験信号を発生してもよく、この場合、信号発生装置１０は、ＤＡ変換部１１０を備えなくてよい。また、試験信号発生部１０２は、１相の試験信号を発生してもよく、この場合、ノイズ付加部１０４、低域濾波部１０６、及び変調部１０８のそれぞれは、加算器、ローパスフィルタ、及び乗算器をそれぞれ１つだけ有すればよい。
【００２８】
本実施例に係る信号発生装置１０によれば、ノイズ付加部１０４の後段に低域濾波部１０６が設けられ、ノイズが付加された試験信号から高周波成分を低減するので、試験信号の帯域内だけにノイズを付加することができる。
【００２９】
図４は、信号発生装置１０の構成の第２実施例を示す。第２実施例において、第１実施例の信号発生装置１０と同様の構成要素には、第１実施例と同様の符号を付す。また、第２実施例において、第１実施例の信号発生装置１０と同様の構成要素及び動作についての説明は一部省略し、特に第１実施例と異なる構成要素及び動作について説明する。
【００３０】
信号発生装置１０は、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生部１０２と、試験信号発生部１０２が発生した試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部１０６と、低域濾波部１０６が高周波成分を低減した試験信号を変調する変調部１０８と、変調部１０８が変調した試験信号にノイズを付加するノイズ付加部１３０と、ノイズ付加部１３０がノイズを付加した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部１１０とを備える。
【００３１】
ノイズ付加部１３０は、ノイズを発生するノイズ発生部１３２、及び加算器１３３を有し、変調部１０８が直交変調した試験信号にノイズ発生部１３２が発生したノイズを加算する。ノイズ付加部１０４は、例えばホワイトノイズを発生して試験信号に加算する。
【００３２】
本実施例に係る信号発生装置１０によれば、変調部１０８の後段にノイズ付加部１３０が設けられ、直交変調された試験信号にノイズを付加するので、試験信号の帯域内以外にノイズを容易に付加することができる。
【００３３】
図５は、信号発生装置１０の構成の第３実施例を示す。第３実施例において、第１実施例の信号発生装置１０と同様の構成要素には、第１実施例と同様の符号を付す。また、第３実施例において、第１実施例の信号発生装置１０と同様の構成要素及び動作についての説明は一部省略し、特に第１実施例と異なる構成要素及び動作について説明する。
【００３４】
信号発生装置１０は、デジタル信号の試験信号を発生する試験信号発生部１０２と、試験信号発生部１０２が発生した試験信号から高周波成分を低減する低域濾波部１０６と、低域濾波部１０６が高周波成分を低減した試験信号を複素数に変換する複素数変換部１３４と、複素数変換部１３４が複素数に変換した試験信号に複素ガウスノイズを付加するノイズ付加部１４０と、ノイズ付加部１４０が複素ガウスノイズを付加した試験信号を変調する変調部１０８と、変調部１０８が変調した試験信号をアナログ信号に変換するＤＡ変換部１１０とを備える。
【００３５】
複素数変換部１３４は、試験信号発生部１０２が発生した試験信号が含む２相の信号のうちの１相に虚数単位ｊを乗算する乗算器１３６と、乗算器１３６が虚数単位ｊを乗算した１相に、試験信号が含む２相の信号のうちの他の１相を加算する加算器１３８とを有する。
【００３６】
ノイズ付加部１４０は、複素ガウスノイズを発生するノイズ発生部１４２と、ノイズ発生部１４２が発生した複素ガウスノイズから所定の周波数成分以外の周波数成分を低減する帯域濾波部の一例としてのバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）１４４と、複素数変換部１３４が複素数に変換した試験信号に、バンドパスフィルタ１４４が所定の周波数成分以外の周波数成分を低減したノイズを複素乗算する複素乗算部１４６を有する。
【００３７】
ノイズ発生部１４２は、複素数変換部１３４が複素数に変換した試験信号を遅延させて複素ガウスノイズを発生してもよいし、試験信号の周波数を変換して複素ガウスノイズを発生してもよい。ノイズ発生部１４２は、遅延時間の異なる複数の複素ガウスノイズを発生してもよいし、遅延時間が同一の複数の複素ガウスノイズを発生してもよい。また、ノイズ発生部１４２は、周波数の異なる複数の複素ガウスノイズを発生してもよいし、周波数が同一の複数の複素ガウスノイズを発生してもよい。
【００３８】
また、信号発生装置１０は、試験信号発生部１０２と低域濾波部１０６との間に、図３に示したノイズ付加部１０４をさらに備え、試験信号発生部１０２が発生する試験信号が含む２相の信号のそれぞれにホワイトノイズを付加してもよい。または、信号発生装置１０は、変調部１０８とＤＡ変換部１１０との間に、図４に示したノイズ付加部１３０をさらに備え、変調部１０８が直交変調した試験信号にホワイトノイズを付加してもよい。
【００３９】
他の例において、試験信号発生部１０２は、１相の試験信号を発生してもよく、この場合、低域濾波部１０６及び変調部１０８のそれぞれは、ローパスフィルタ及び乗算器をそれぞれ１つだけ有せばよい。また、試験信号発生部１０２は、複素数変換部１３４を備えなくてもよく、ノイズ発生部１４２は、複素数でないガウスノイズを発生してもよい。
【００４０】
本実施例に係る信号発生装置１０によれば、試験信号を遅延させた複素ガウスノイズを試験信号に複素乗算することにより、試験信号にレイリーフェージングノイズを付加することができる。また、バンドパスフィルタ１４４が所定の周波数帯域の複素ガウスノイズを抽出して試験信号に付加することにより、試験信号にドップラー効果等の要因を付加することができる。
【００４１】
本実施形態に係る試験装置１００によれば、デジタル信号の試験信号に対してノイズを付加するため、試験信号のＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ　Ｎｏｉｓｅ　Ｒａｔｉｏ）を容易に制御することができるので、被測定デバイス３００を正確に試験することができる。さらに、複素ガウスノイズが付加された試験信号を被測定デバイス３００に供給することにより、フェージング、ドップラー効果等によって信号が劣化した場合のＢＥＲ（Ｂｉｔ　Ｅｒｒｏｒ　Ｒａｔｅ）を正確に測定することができる。
【００４２】
以上、本発明を実施形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更または改良を加えることができる。そのような変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００４３】
【発明の効果】
上記説明から明らかなように、本発明によれば、被測定デバイスを正確に試験するための試験信号を発生する信号発生装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の試験システム２０の構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。
【図３】信号発生装置１０の構成の第１実施例を示す図である。
【図４】信号発生装置１０の構成の第２実施例を示す図である。
【図５】信号発生装置１０の構成の第３実施例を示す図である。
【符号の説明】
１０　　信号発生装置　　　　　　　１２　　信号入出力部
１４　　良否判定部　　　　　　　　１００　試験装置
１０２　試験信号発生部　　　　　　１０４　ノイズ付加部
１０６　低域濾波部　　　　　　　　１０８　変調部
１１０　ＤＡ変換部　　　　　　　　１１２　ノイズ発生部
１１４　加算器　　　　　　　　　　１１６　加算器
１１８　ローパスフィルタ　　　　　１２０　ローパスフィルタ
１２２　信号源　　　　　　　　　　１２４　乗算器
１２６　乗算器　　　　　　　　　　１２８　加算器
１３０　ノイズ付加部　　　　　　　１３２　ノイズ発生部
１３３　加算器　　　　　　　　　　１３４　複素数変換部
１３６　乗算器　　　　　　　　　　１３８　加算器
１４０　ノイズ付加部　　　　　　　１４２　ノイズ発生部
１４４　バンドパスフィルタ　　　　１４６　複素乗算部
３００　被測定デバイス
【図１】
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【図２】
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【図３】
2004012225.tif 000005
【図４】
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【図５】
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