(57)【要約】【課題】マーク長記録の高密度化を目的とする。【解決手段】記録媒体上に複数の記録パターンを記録し、複数の記録パターンからの再生信号のエッジ位置を測定し、エッジ位置と書き込み時のレーザパルス位置とのずれ量を測定し、複数の記録パターンの各パターンについて測定されたずれ量に関するデータ表を作成し、記録媒体を交換する度にこれら動作を行う。【効果】直前記録パターン列を考慮したエッジ補正ができる。記録装置経年変化を吸収できる。【選択図】  図１
2004199848.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体上にレーザ光をパルス状に照射して、マーク長記録方式により情報を記録する情報記録方法であって、
記録時のレーザ光パルスエッジ近傍の記録パルスパターンに依存したエッジ変動量の対応表を作成し、
前記対応表に基づき、前記記録パルスパターン毎にエッジ位置を制御して、情報を記録することを特徴とする情報記録方法。
【請求項２】
記録媒体上にレーザ光をパルス状に照射して、マーク長記録方式により情報を記録する情報記録方法であって、
連続したｎ個（ｎは整数）のパルス間隔の長さの異なるパルスを有し、各々前記パルスの組み合わせが異なるパターンを複数有する第１のテストパターンを記録し、
前記組み合わせが異なるパターンごとに分類してエッジ変動量の平均値を計算して、記録パルス間隔調整量を算出し、
前記組み合わせが異なるパターンと前記記録パルス間隔調整量との対応関係に基づいて、前記組み合わせが異なるパターン毎に前記記録パルス間隔調整量を制御して、情報を記録することを特徴とする情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ディジタル信号を光ディスク等の記録媒体に情報を記録再生する装置に係り、特に記録媒体と記録装置との組合せによる記録特性に基づいて記録信号を制御することにより、記録情報の高密度化，転送速度の高速化、および信頼性の向上を実現するのに好適な記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ディジタル信号を記録媒体上に記録する手段の１つとして光ディスク装置がある。光ディスクはレーザ光をレンズにより記録面上に集光し、その強度を記録すべき情報に対応して変化させ、該レーザ光が当たっている領域の記録膜の反射率、あるいは光磁気記録の場合、磁化方向を外部磁化等により変化させることで情報の記録を行うものである。その記録された情報を再生する場合には、記録の時よりも弱い強度のレーザ光を照射し、記録膜からの反射光からその光量変化、あるいは磁化方向の違いによる偏光面回転を検出することにより行う。記録密度は主に記録面上に集光されるレーザ光のスポットの大きさにより決まり、その大きさが現在約１μｍ程度と小さいため、磁気ディスクの約１０倍程度の高密度記録が実現できる。
【０００３】
また、照射光パワーを変調して記録した記録マークの前側、および後側の位置で情報を表すマーク長記録方式は、１個の記録マークに２個以上のデータを記録するため、記録の高密度化を実現するのに有効な方式である。
【０００４】
このように光ディスクに情報を高密度に情報の記録再生を行うマーク長記録方式おいて、情報の高信頼性を実現するためにデータの記録時、および再生時にいろいろな信号処理が行われている。
【０００５】
例えば、一般に記録時の照射光パワーが小さいと形成される記録マーク形状が不安定になり易い。また記録線速度が異なれば、単位面積当りに加えられる熱量、および熱分布が変わるため、記録マーク形状が異なる。したがって、実際には安定な記録マーク形状を形成して記録再生を行うため、「ＰｂＴｂＳｅ膜へのピットエッジ記録の適用」（電子通信学会創立７０周年記念総合全国大会講演論文集，ｐ４−１７６）では、記録照射光パルスは大きめに設定し、その線速度に応じてマーク長の過剰分がなくなるように記録時にレーザパルス長を短くしたり、再生時に二値化後の信号においてパルスの長さを削るなどの調整を行っている。
【０００６】
また、一般に記録されたマークの形状は主にその記録媒体の記録感度、熱伝導度、および記録に用いる集光されたレーザ光の強度分布、波面収差等に依存し、記録装置と記録媒体の組合せが変わるとその特性が変化する。さらに装置側の記録時照射光パワーのレベルは時間と共に変化する。この現象はレーザーパワー自動制御機構（ＡＰＣ）が設けられている場合でもある範囲の変動分は避けられず、この要因によっても記録再生特性の変動が起こる。この変動は記録時の記録マーク長の変動、そして再生時の再生信号のパルス間隔変動につながる。
【０００７】
そのため、記録補正量，記録光パワーが装置出荷時にあらかじめ一定値に設定されている場合、これらの設定仕様は、数多くの記録媒体と記録装置の組合せで記録再生特性を測定した上で決定する。そのとき、組合せの違いによる記録再生特性のばらつき範囲を考慮した上で、あらゆる場合に検出時での信頼性を保証するため、記録密度に関して大きな余裕を持たせ、記録密度を犠牲にしている。
【０００８】
そこで、この記録媒体と記録装置の組合せによる特性のばらつき分を吸収し、記録高密度化を図るため、あらかじめ試験パターンを記録してその再生信号により記録条件調整用の情報を得る方法が提案されている。例えば特開昭６１−２３９４４１号記載の装置では記録時の一定値である照射光パワーレベルを、特開昭６１−７４１７８号記載の装置では記録パルス幅に関する一定の調整量を、また特開昭６１−３０４４２７号記載の装置ではその両者、および再生時の自動等化係数を同時に調整している。
【０００９】
また、光ディスクは基本的に熱拡散を用いた記録方式のため、記録マークに対応する前後複数の記録パルスによる熱分布が拡散することで発生する記録マーク形状の変化する現象（以下、熱干渉と呼ぶ）が存在する。この現象も再生時の再生信号のパルス間隔変動につながる。したがって記録時に最適な補正を行うためにはこの熱干渉の影響も考慮する必要がある。この対策として特開昭６３−４８６１７号記載の記録方式では各記録パルス幅をその直前の記録パルスまでの間隔に応じて変化させている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来技術のうち、直前の記録パルスまでの間隔に応じた記録パルス幅の調整方法では、以下のような問題点がある。
【００１１】
すなわち、記録マーク形状、および記録マーク同士の間隔が、記録膜面上に集光したレーザスポットの大きさと同じ大きさ程度にまで記録の高密度化を実現しようとした場合、光ディスクの熱干渉が影響を及ぼす範囲は使用する最短の記録マーク長よりも大きい。つまり、記録照射光パルスの複数個の記録パルス間隔の長さが一つの記録マークのエッジ位置の変動量に影響を与える。特に、レーザ光の強度に対する記録感度が高く、低いレーザパワーでも記録できるような記録媒体の場合、一般に熱伝導度が大きく、この熱干渉による影響を及ぼす範囲が大きい。
【００１２】
さらに、この記録パルス間隔の調整方法はその調整量に関する情報はあらかじめ設定されている値を使用するため、記録特性の変動に関する調整量の変更ができず、記録特性が設定時とずれている分だけ、調整に誤差として現れ、正確な調整にはならなくなる。
【００１３】
一方、前述の記録条件調整用の情報を得る方法では、その記録照射光パワー、および記録パルス幅の調整量は単一の値であり、熱干渉による記録マーク長や変動を低減することはできない。
【００１４】
従来、符号間干渉成分に対する対策として、通信や磁気記録の分野では、再生側でトランスバーサルフィルタ等の線形等化器が一般に用いられている。これは、信号再生系の周波数帯域が狭いために、再生信号パルスの裾が広がり、近傍の波形に重畳して発生する線形な符号間干渉を低減するものである。
【００１５】
ところが、前述の熱拡散による影響は、再生時には主に波形の時間方向のずれ、という形で現れる。これは単純に記録情報に応じた基本波形の線形な重ね合わせとしては表現できない、非線形の符号間干渉成分である。したがって、この記録時に生じる熱干渉によるエッジ位置変動成分は線形等化器では対応できず、再生側の方でこの干渉成分に実時間で対応することは実際には非常に困難である。
【００１６】
以上のような理由で、従来の方式では記録特性変動に関して対応ができていても、熱干渉の影響による記録マーク長の変動が全く低減できていないか、あるいは熱干渉の影響による記録マーク長の変動に調整誤差が存在し、かつ記録特性変動には全く対応できない。特に、熱伝導が大きい記録媒体を用いる光磁気記録でのマーク長記録においては、これらの変動成分は大きく、その分の余裕を設けるため、記録密度を大きく犠牲にせざるを得ない。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、記録再生を行おうとしている記録媒体と記録装置との組合せにおいて、様々な記録パターンを必要に応じたタイミングで記録媒体上の複数の領域に記録し、その記録データを再生することで記録特性を測定し、その測定結果から記録パルス間隔調整量に関するデータ表を作成し、そのデータ表に基づいて、各記録パルス間隔ごとに、それまでに変換して得られている、直前の複数個の記録照射光パルス間隔を使用して、パルスの前エッジ，および後エッジの調整量を順次求め、割り当てて記録照射光パルス間隔とすることで、所望の記録マーク長、および再生信号のパルス間隔を得ることを特徴とする。本発明によれば、マーク長記録による高密度記録のための、より正確な記録マークのエッジ位置制御を実現できる。
【００１８】
記録再生を行おうとしている記録媒体と記録装置との組合せにおいて、その記録特性を事前に測定して、その結果に基づいて各記録パルスに対してその直前の記録パターン列も考慮したパルスの前エッジ、および後エッジの補正量を逐次割当てていくことで、記録媒体と記録装置の組合せの違いによる記録特性の違い、および熱干渉の影響による記録パターン列が違った場合の記録マーク長のばらつきを吸収することができる。
【００１９】
また、記録媒体上の異なる領域で測定した複数の記録特性を利用することで、線速度が異なる場所での記録補正も行うことができる。
【００２０】
また、装置の使用を開始したとき、および記録媒体を交換したとき、および一定の時間ごと、あるいは記録膜上の温度変化、および記録照射光パワーの変化に応じたタイミングで上記記録特性の測定を行うことで、経時的に記録装置側の特性が変化する分も吸収することができる。
【００２１】
以上により、マーク長記録による高密度記録での、より正確な記録マークのエッジ位置制御が可能となる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施例を図面とともに説明する。
【００２３】
図１は本発明の一実施例の構成を示すブロック図である。また、図３から図１１までは、図１中の要素についてさらに詳しくその構成を示した図である。また、この構成例では、熱干渉により一ヵ所の記録マークのエッジ位置の変動量に影響を与え、エッジ変動量低減のために考慮する必要がある記録照射光パルス間隔数が、記録照射光パルスの対応するエッジタイミング以前の３個の場合について、説明を行うが、本発明はこれに限定されない。
【００２４】
図１において、光ディスク１はスピンドルモータ２により一定角速度で回転しており、光ピックアップ３により記録再生用のレーザ光が絞り込みレンズでディスク１上の記録膜面に集光される。光ピックアップ３は情報の記録位置に対応してディスク半径方向に移動できるようになっている。
【００２５】
光ピックアップ３中の検出器により検出された信号は、増幅器４により所望のレベルに増幅された後、等化回路５により、記録面のレーザ光集光位置での光ディスクの回転線速度に応じて波形の等化が行われる。この後、二値下回路６によりディジタル信号である再生二値化信号７に変換される。情報再生時には、この再生二値化信号７がＰＬＬ（フェーズ・ロック・ループ）回路８によりデータ信号とクロック信号とに分離され、復調回路９により再生データとなる。
【００２６】
以上の部分が、マーク長記録方式を採用した光ディスクシステムにおけるデータ再生信号処理系である。この再生信号処理系以外に、記録特性を検出して記録時のパルス間隔調整量、および記録パワーを算出したり更新したりする記録特性測定モード時と、データ記録時に各セクタごとのデータの前に記録される記録条件チェック用のパターンを用いて、その時の記録パワーや、環境温度などの記録条件のチェックを行う記録条件チェックモード時に動作する記録特性測定系がある。この測定系はこの光ディスクシステム全体の制御を行っているコントローラから指令されて、記録特性測定モード時、および記録条件チェックモード時に動作する。
【００２７】
記録特性測定モードには、パルス幅調整用テーブル作成モードと記録パワー探索モードの２種類がある。記録特性測定モード時には、最初に記録パワー探索モードが実行され、その後にパルス幅調整用テーブル作成モードが続けて実行される。この両モードとも、それぞれ専用のテストパターン、および記録パワー探索モードには記録パワーレベルがコントローラからレーザドライバ１２に入力され、これらの信号に対応して光ピックアップ３内のレーザが変調される。そのレーザ光が光ピックアップ３から光ディスク面上に集光され、テスト信号が記録される。そして、そのテスト信号に対応する記録マークの再生信号を用いて、記録特性測定系で特性検出、変更操作が行われる。
【００２８】
以下、記録特性測定系について説明する。
【００２９】
記録特性測定モード時、および記録条件チェックモード時においても、二値化回路６までの動作は通常のデータ再生時と同じであり、テスト信号に対する再生二値化信号７が得られる。再生二値化信号７は、エッジタイミング検出回路１３に入力され、ディジタル信号である極性反転間隔信号１４、およびパルス信号である極性反転タイミング信号１５とに変換される。このエッジタイミング検出回路１３は、パルス幅調整用テーブル作成モード，記録パワー探索モード、および記録条件チェックモードで同じ動作を行う。極性反転間隔信号１４は、再生二値化信号７での極性が変わる間隔の長さ情報をディジタル値で表現したものであり、極性反転タイミング信号１５は、再生二値化信号７の極性が変わるタイミングにパルス状の波形を割り当てたものである。
【００３０】
エッジタイミング検出回路１３の出力信号は記録パワー設定用判定回路１６、およびパルス幅設定用判定回路１７に入力される。記録パワー設定用判定回路１６は記録パワー探索モード時、および記録条件チェックモード時に、パルス幅設定用判定回路１７はパルス幅調整用テーブル作成モード時に動作する。
【００３１】
記録パワー設定用判定回路１６は、各記録パワー設定値ごとに再生信号のデューティ（厳密には二値化後の再生信号に関する立ち上がり−立ち下がり間隔と立ち下がり−立ち上がり間隔との差の平均値）を算出する。記録パワー探索モード時にはさらに算出結果と同時にそのデータの記録パワー設定値をレーザドライバ１２に送信し、レーザドライバ１２ではデューティが５０％になるときの記録パワー設定値を設定する。記録条件チェックモード時にはその結果が一定範囲に入っているかどうかを調べ、その結果をコントローラに送信する。コントローラではこの信号を受けて一定範囲内でない場合に記録特性測定モードに入る手続きを行う。
【００３２】
パルス幅設定用判定回路１７は、各パターンごとにエッジ変動量の平均値を算出する。この回路には特性測定用テストパターンの各パルス間隔情報を含むデータが参照用データとして内部ＲＯＭに時系列順に並べて記憶されている。極性反転間隔信号１４が受信されるたびに、この参照用データを用いてエッジ変動量に変換される。そして、同じ記録パターンごとの変換結果の累積値が内部に記憶される。また、記録媒体の欠陥等による検出信号のエラーはこの回路内で自動的に検出され、エラーが起こったことをコントローラに伝えられる。エラーが起こらなかった場合、極性反転間隔信号１４の受信終了時点に記憶されている加算結果からエッジ変動量の平均値が算出され、データ変換回路１７に送信される。
【００３３】
データ変換回路１７はパルス幅調整用テーブル作成モード時に動作する回路で、判定回路１７から送信されたエッジ変動量のデータを基にパルス幅調整用テーブル１９を作成する。
【００３４】
以上、エッジタイミング検出回路１３からデータ変換回路１７までが光ディスクシステム中の記録特性を検出し、記録時のパルス間隔調整量、および記録パワーの算出，更新、および各記録時に記録条件のチェックを行う回路系である。
【００３５】
通常の情報記録時には変調回路２０で符号変調されてきたデータに対し、パルス幅調整回路２１においてパルス幅調整用テーブル１９を参照しながら各記録パルスごとにその立ち上がり位置、および立ち下がり位置の調整量を求め、修正する。そしてその記録パルスをレーザドライバ回路１２に入力して、これに対応させて光ピックアップ３内のレーザを変調させ、ディスク１上に記録する。
【００３６】
図２は記録特性測定モードで使用される特性検出用テストパターン波形の１例である。図２（ａ）は記録パワー探索モード用の波形で、マーク長記録に使用される最短の記録パルス間隔の繰り返しである。そして所定の繰り返し回数ごとにその記録パワー設定値を徐々に変え、記録パワーをあげる。この記録パワー変更範囲は、装置の使用環境が保証範囲内である限り、最適な記録パワー時の信号振幅が含まれるように設定しておく。
【００３７】
一般のデータを記録する時に、通常各セクタごとにデータの前に記録する記録条件チェック用のパターンにもこの波形を使用する。ただし、そのときは記録パワー設定値は既に設定されたまま変化させない。また、この実施例中では簡単のため、その繰り返し回数も記録パワー探索時の各記録パワーでの繰り返し回数と一致させておく。
【００３８】
図２（ｂ）はパルス幅調整用テーブル作成モード用の波形であり、パルス間隔の長さの連続した３個の組合せが異なる複数のパターンが含まれた波形である。通用はこの組合せの数は多いほど正確な記録パルス調整用テーブルを作成することができる。パルス幅調整用テーブル作成モード時にはこのパターンを繰り返して記録し、算出されるエッジ変動量に関して平均値操作を行い、測定精度の向上を計る。
【００３９】
なお、ここでは記録パワー探索モード時の特性測定用テストパターンの各記録パワーでのくり返し数を２＾Ｃ２回，記録パワーの刻み数をＳ２，パルス幅調整用テーブル作成モード時の特性測定用テストパターン一周期中に含まれるパルス間隔数をＳ１、その繰り返し記録回数を２＾Ｃ１回として説明を行う。
【００４０】
なお図１において、光ディスク１，スピンドルモータ２，光ピックアップ３，増幅器４，二値化回路６，ＰＬＬ回路８，復調回路９については従来の光ディスク装置に用いられている構成、機能のもので良く、その詳細説明は省略する。
【００４１】
以下、その他の構成要素について説明する。
【００４２】
図３は等化回路５の１構成例を示した図であり、図４はその動作を説明した図である。ここではタップ数を３個にした場合の等化回路について説明する。図３において、増幅器４で増幅されたデータ信号は、演算増幅器による電圧フォロア３０１によって低インピーダンスの信号に変換され、遅延素子３０２へ入力される。その前後にある抵抗３０３，３０４は遅延素子３０２の特性インピーダンスと整合をとるためのものである。
【００４３】
遅延素子３０２で遅延された信号のうち、その中央のタップ位置からの出力信号である中央タップ信号は増幅器で構成される加算回路３０５に直接入力される。中央のタップ位置よりも遅延線入力側に近いタップ位置からの出力はマルチプレクサ３０６によりその中の一つが選択され、加算反転増幅回路３０７に入力される。同様に中央のタップ位置よりも遅延線入力側から遠いタップ位置からの出力はマルチプレクサ３０８によりその中の一つが選択され、加算反転増幅回路３０７に入力される。加算反転増幅回路３０７での増幅率は帰還抵抗３０９の値をマルチプレクサ３１０により切り替えて可変としている。加算反転増幅回路３０７の出力信号は加算回路３０５に入力され、等化回路５の出力信号として、二値化回路６への入力となる。
【００４４】
次に、図３の等化回路５の動作を図４を用いて説明する。図４においてｆ（ｔ）は図３に示した等化回路５へ入力されるデータ信号に対応する波形であり、ここでは理解し易いように孤立の記録マークに対する再生信号を表している。一般に光ディスクでは光スポットの大きさが有限のある大きさを持っていて、記録マークの大きさと比べて無視できない。そのため、例えば記録膜面上で光スポットの中心が記録マークのない位置にあっても、光スポットの端の方が隣接する記録マークの一部分にかかってしまう場合があり、再生信号の振幅に隣接波形の干渉成分として現れる。これが光学的な周波数帯域が低いために発生する符号間干渉である。また、再生信号検出系の特性も高周波側が低下しており、符号間干渉の要因となっている。
【００４５】
これらの符号間干渉は、データ信号ｆ（ｔ）においてサンプリング点ｔ＝ＮＴでの信号振幅の立ち上がり、立ち下がりが遅いため、その成分が近傍のサンプリング点ｔ＝（Ｎ−１）Ｔ，（Ｎ＋１）Ｔでも信号振幅として残るという形で再生信号に現れる。記録マークが複数存在し、このような波形が重なっている一般の再生波形では、この符号間干渉は再生信号の振幅劣化を引き起こし、重畳している雑音の影響などで信号判定を誤り易くしている。
【００４６】
図３の等化回路５はこのような高周波側での特性低下を補償し、符号間干渉の影響を低減する効果を持つ。図４（ａ）において、遅延素子３０２の出力信号は中央タップ信号をｆ（ｔ）とした場合、それぞれｆ（ｔ）を±τだけ遅延させた信号ｆ（ｔ−τ），ｆ（ｔ＋τ）に当たる。これらの遅延素子３０２の出力信号は加算反転増幅回路３０７、および加算回路３０５での信号処理により、
【００４７】
ｆ（ｔ）−Ｋ｛ｆ（ｔ−τ）＋ｆ（ｔ＋τ）｝      …（数１）
の演算を行い、その結果、図４（ｂ）のような出力信号が得られている。この信号波形はｆ（ｔ）の波形と比べて急峻であり、サンプリング点ｔ＝ＮＴでの信号振幅の影響がその近傍のサンプリング点ｔ＝（Ｎ−１）Ｔ，（Ｎ＋１）Ｔで小さく抑えられ、符号間干渉の影響を低減している。
【００４８】
図３に示した等化回路５の特性を決定するパラメータとして遅延時間τと増幅率Ｋがある。それぞれ遅延時間τはマルチプレクサ３０６，３０８により、増幅率Ｋはマルチプレクサ３１０によりその値を変化させることができる。光ディスクの場合、ディスクの内周側と外周側とでの線速度の違いにより、光学的な周波数特性が異なる。すなわち、例えば記録線密度がディスクの内外周で同じで、記録マーク形状が同一である場合、空間的な周波数特性は同じであるが線速度が内周側と外周側で違うため、時間的な周波数特性は異なる。実際の多くの場合、記録線密度、記録マーク形状ともディスク内外周で異なるため、周波数特性は空間的にも時間的にも異なる。したがって、その最適な等化回路５の特性もディスク内外周で変化するため、ディスク上のトラックアドレスの値により、ディスク半径位置に対して遅延量τ，増幅率Ｋの設定を行う。この操作により、ディスク半径に関わらず、常に最適に近い等化条件を実現できる。
【００４９】
以上、ここでは等化回路５のタップ数が３個の場合について説明したが、この個数はｆ（ｔ）の波形での符号間干渉の範囲からその影響を十分低減できるように設計する必要がある。
【００５０】
図５は図１におけるエッジタイミング検出回路１３の１構成例を示した図であり、図６はその動作を説明した図である。
【００５１】
二値化回路６の出力である、再生二値化信号７はインパルス信号発生回路５０１に入力される。このインパルス信号発生回路５０１は入力信号の極性が変わるタイミングごとにインパルス状の信号波形を出力し、この出力信号が極性反転タイミング信号１５として判定回路１６、およびＡ／Ｄ変換器５０２に入力される。
【００５２】
一方、再生二値化信号７は増幅器で構成される積分回路５０３にも入力される。また、この積分回路５０３には再生二値化信号７での“Ｈ”レベルをＶＨ、“Ｌ”レベルをＶＬとしたとき−（ＶＨ＋ＶＬ）／２のレベルを表した積分基準信号５０４も入力される。そして、この積分回路５０３からは再生二値化信号７の積分基準信号５０４との差の積分信号５０５が検出され、Ａ／Ｄ変換器５０２に入力される。
【００５３】
また、コントローラからの信号である、特性測定モード信号５０６、および記録条件チェックモード信号５０７はＯＲ回路５０８に入力され、その結果がフリップフロップ５０９に入力される。このフリップフロップ５０９には極性判定タイミング信号１５もクロック信号として入力される。フリップフロップ５０９の出力は記録特性測定モード、あるいは記録条件チェックモードに入ってから最初の再生二値化信号７の立ち上がりを検知して間隔測定期間を表す信号としてアナログスイッチ５１０の切り替え端子に入力される。この信号によって特性測定時以外には、アナログスイッチ５１０は導通状態となり積分回路５０３の出力は０に初期化されている。そして特性測定が始まるとアナログスイッチ５１０は不通状態となり、積分回路５０３の動作が開始される。
【００５４】
Ａ／Ｄ変換器５０２は極性反転タイミング信号１５をディジタル変換動作を行うタイミング用クロックとして使用して、入力信号である積分信号５０５をディジタル信号に変換する。変換結果は極性反転間隔信号１４として出力され、判定回路１６，１７に入力される。Ａ／Ｄ変換器５０２の変換精度、すなわち極性反転間隔信号１４はその値がパルス間隔調整量として用いるだけの十分な精度を有し、かつオーバーフローが起こらないように、量子化精度、および各間隔の値を表すための桁数（ビット数）を有する。
【００５５】
次に、図５のエッジタイミング検出回路１３の動作を図６を用いて説明する。再生二値化信号７は二値化回路６の出力のディジタル信号であり、記録膜面上の照射光スポット位置に記録マークが有るか無いかにより、“Ｈ”または“Ｌ”のレベルをとる。この再生二値化信号７はインパルス信号発生回路５０１を通って、その極性が変わるタイミングでインパルス波形が割り当てられた極性反転タイミング信号１５となり、判定回路１６，１７、Ａ／Ｄ変換器５０２でのトリガ信号、および積分回路５０３の動作開始、終了タイミングを表す信号を作るのに使用される。
【００５６】
特性測定モード信号５０６と記録条件チェックモード信号とがＯＲ回路５０８を通った出力信号はこの回路の動作状態を表すディジタル信号であり、この回路が動作状態の時に“Ｈ”、それ以外の時に“Ｌ”のレベルをとる。この信号はフリップフロップ５０７において極性反転タイミング信号１５を利用して正確な特性測定期間を求め、その期間積分回路５０３を動作させる。
【００５７】
積分回路５０３では再生二値化信号７のパルス間隔が演算され、出力される。この積分回路５０３は一般にその入力信号をＸ（ｔ）とした場合、出力信号Ｙ（ｔ）として、
【００５８】
Ｙ（ｔ）＝∫０ｔＸ（τ）ｄτ＋Ｙ（０）                    …（数２）
が得られる。再生二値化信号７のパルス間隔をＰ１，Ｐ２，Ｐ３，……，ＰＮで表すと、積分回路５０３の出力信号レベルＶ０  は極性反転タイミング信号１５でのｉ番目のパルスが立ち上がる時点では、ｉが偶数の場合、
【００５９】
Ｖ０＝Ａ（−Ｐ１＋Ｐ２−Ｐ３＋……−Ｐｉ−１）            …（数３）
ｉが奇数の場合、
【００６０】
Ｖ０＝Ａ（−Ｐ１＋Ｐ２−Ｐ３＋……＋Ｐｉ−１）            …（数４）
となる。ここで、上式中のＡは積分回路５０３の増幅率で決まる定数である。すなわち、この時点での出力信号レベルは再生二値化信号７のパルス間隔について“Ｈ”レベルを負の値、“Ｌ”レベルを正の値で表したときのパルス間隔を積算した結果を表している。したがって、Ａ／Ｄ変換器５０２により極性判定タイミング信号１５を用いてその時点の積分信号レベルをディジタル値に変換し、その変換結果を極性反転間隔信号１４として判定回路１６に入力している。
【００６１】
Ａ／Ｄ変換機５０２の量子化精度は再生二値化信号のエッジ変動量を検出するのに十分なだけの精度が得られるよう設計する必要がある。また、この積分信号５０５、および極性判定間隔信号１４は再生二値化信号７の累積数を表しているため、この値が常に積分回路５０３で使用できる範囲、かつＡ／Ｄ変換機５０２で変換できる範囲に収まるように特性測定用テストパターンを工夫する方が望ましい。
【００６２】
図７は図１における記録パワー設定用判定回路１６の１構成例である。この回路にはコントローラから特性測定モード信号５０６，パワー／パルス幅信号７０１、および記録条件チェックモード信号５０７が入力されている。特性測定モード信号５０６は特性測定モード時に“Ｈ”レベル、それ以外の時に“Ｌ”レベルを示す。パワー／パルス幅信号７０１は記録パワー探索モード時に“Ｈ”レベル、パルス幅調整用テーブル作成モード時に“Ｌ”レベルを示す。記録条件チェックモード信号５０７は記録条件チェックモード時に“Ｈ”レベル、それ以外の時は“Ｌ”レベルとなる。したがって、これらの信号がＡＮＤ回路７０２、およびＯＲ回路７０３を通った結果は記録パワー探索モード時、および記録条件チェックモード時に“Ｈ”レベルとなり、そのときカウンタ回路７０４，７０５、フリップフロップで構成されるラッチ回路７０６、およびフリップフロップ７０７、７０８のクリアレベルが解除となり、記録パワー設定用判定回路１６が動作する。
【００６３】
エッジタイミング検出回路１３からの極性反転間隔信号１４のデータが更新されるごとに加算回路７０９によりそのデータと、ラッチ回路７０６の出力データとの和が計算される。そして極性反転間隔信号１４のデータ更新時と同じタイミングで送られてくる極性反転タイミング信号１５が遅延素子７１０を通り、加算回路７０９での結果が求められたタイミングでラッチ回路７０６にクロック信号として入力される。ラッチ回路７０６ではその時点で加算結果をラッチし、その結果を次のクロックが入力されるまで出力信号として保持する。したがってこの出力信号はその時点までの極性反転間隔信号１４の累積結果を表している。また極性反転間隔信号１４は再生二値化信号７が“Ｌ”レベルの長さを正、“Ｈ”レベルの長さを負として表しているので、この累積結果は再生二値化信号の“Ｈ”レベルの長さと“Ｌ”レベルの長さの差の累積値を表している。
【００６４】
また、遅延素子７１０の出力はカウンタ回路７０４にもクロック信号として入力される。そしてそのカウント数がデコーダ回路７１１に入力され、テストパターンの各パワー設定値ごとの繰り返し回数（正確にはパルス間隔数）Ｃ１に一致した時点でデコーダ回路７１１の出力が“Ｈ”レベルとなる。この信号はＮＯＴ回路７１２，ＡＮＤ回路７１３を通り、ラッチ回路７０６に入力されてその内容がゼロクリアされる。また、ＡＮＤ回路７１３の出力はカウンタ回路７０５、フリップフロップ７０７，７０８にもクロック信号として入力される。カウンタ回路７０５ではその出力値が１カウントアップされ、次の記録パワー設定値を示す。フリップフロップ７０７、７０８ではラッチ回路７０６がゼロクリアされる直前の出力データでの加算回路７０９，減算回路７１４，７１５の演算結果がラッチされる。
【００６５】
加算回路７０９の出力信号のうちフリップフロップ７０７に入力されているのはＭＳＢ（Ｍｏｓｔ  Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ  Ｂｉｔ）信号である。この信号は加算回路７０９の加算結果の符号を表しており、正の時は“Ｌ”、負の時には“Ｈ”となっている。すなわち、この信号は記録パワー設定値切り替え時から現時点までで、再生二値化信号の“Ｌ”レベルが“Ｈ”レベルより長い場合“Ｌ”となり、“Ｈ”レベルが“Ｌ”レベルよりも長いときには“Ｈ”となっている。したがってＡＮＤ回路７１３の出力信号であるクロック信号によりフリップフロップ７０７でラッチしたデータが“Ｌ”の時は再生二値化信号で“Ｌ”レベルの方が“Ｈ”レベルよりも長く、そのデータの記録パワーが低かったことを意味している。また、逆に“Ｈ”レベルの時はそのときの記録パワーが高かったことを意味している。したがって記録パワーを徐々に上げて記録した記録特性測定用テストパターンを再生すると途中でこのデータが“Ｌ”から“Ｈ”に切り替わるので、そのときのカウンタ回路７０５の出力値を最適な記録パワーとして設定する。
【００６６】
加算回路の出力信号は減算回路７１４，７１５にも入力される。減算回路７１４、および７１５ではもう一方の入力信号として記録条件チェックモード時での許容範囲の上限、および下限の値が設定されている。したがって両減算結果のＭＳＢ信号だけをＡＮＤ回路７１６に入力することで、その出力信号として記録条件チェックモード時で許容範囲から外れている場合に“Ｌ”レベルが出力される。この信号はフリップフロップに入力され、ＡＮＤ回路の出力であるクロック信号が入力されたとき、すなわち記録条件チェック用のパターンが終了した時に判定結果としてラッチされ、コントローラ側に送られる。コントローラの方でこの信号が“Ｌ”レベルとなっているのを検出した場合、記録特性測定モードに入る手続きを行う。
【００６７】
図８は図１におけるパルス幅設定用判定回路１７の１構成例である。この回路にはコントローラから特性測定モード信号５０６、およびパワー／パルス幅信号７０１が入力されている。これらの信号がＮＯＴ回路８０１、およびＡＮＤ回路８０２を通った結果はパルス幅調整用テーブル作成モード時に“Ｈ”レベルとなり、そのときカウンタ回路８０３，８０４、Ｍ−１段のシフトレジスタ８０５〜８１０、フリップフロップで構成されるラッチ回路８１１、およびフリップフロップ８１２，８１３のクリアレベルが解除となり、記録パワー設定用判定回路１７が動作する。
【００６８】
エッジタイミング検出回路１３からの極性反転タイミング信号１５はカウンタ回路８０３の入力信号となっており、パルス信号が入力されるごとにカウンタ回路８０３の出力データが１増加し、その値がＲＯＭ回路８１４にアドレス信号として入力される。そしてそのときＲＯＭ回路８１４からは対応するアドレスのデータが読み出され、加算回路８１５に入力される。この加算回路８１５には極性反転タイミング信号１５のパルス信号と同時に更新された、エッジタイミング検出回路１３からの極性反転間隔信号１４も入力されており、それらの加算結果が出力される。
【００６９】
ＲＯＭ回路８０３には特性測定用テストパターンの“Ｈ”レベルの長さを正、“Ｌ”レベルの長さを負として、各極性反転位置までの累積値を表すデータがアドレス０から順に格納されている。すなわち、特性測定用テストパターンのパルス間隔をＴ１，Ｔ２，Ｔ３，……，ＴＮで表すと、ＲＯＭ回路８０３のアドレスｉ（ｉ≦Ｍ）のデータＲｉはｉが偶数の場合、
【００７０】
Ｒｉ＝Ａ（Ｔ１−Ｔ２＋Ｔ３＋……＋Ｔｉ−１）              …（数５）
ｉが奇数の場合、
【００７１】
Ｒｉ＝Ａ（Ｔ１−Ｔ２＋Ｔ３＋……−Ｔｉ−１）              …（数６）
となる。また、そのパルス間隔の量子化精度は再生二値化信号７のパルス間隔を極性反転間隔信号１４に変換したときの量子化精度と等しい。つまり、上式中のＡは積分回路５０３の増幅率で決まる定数Ａと等しい。そこで、例えば記録時と再生時のパルス間隔が等しい、すなわちＰ１＝Ｔ１、Ｐ２＝Ｔ２，……ＰＮ＝ＴＮの場合、ＲＯＭ回路８０３に格納されたアドレスｊのデータＲｊとパルス幅設定用判定回路１７に入力されるｊ番目の極性反転間隔のデータＶ０とは符号が違い、絶対値が等しい関係にある。つまり、加算回路８１５のｋ番目の出力は記録パルス、再生二値化信号のパルスでの各先頭のパルスエッジ位置を０として、ｋ番目の記録パルスのエッジ位置とｋ番目の再生二値化信号のパルスエッジの位置とのずれ量、すなわちエッジ変動量を表している。
【００７２】
加算回路８１５の出力信号は加算回路８１６に入力され、シフトレジスタ８０５〜８１０の出力との加算が行われる。その結果はラッチ回路８１１に入力され、次にシフトレジスタ８０５〜８１０に入力される。シフトレジスタ８０５〜８１０とラッチ回路８１１とでリング状の記憶回路（Ｍ段）が構成されており、加算回路８１６により、エッジ変動量についてＭ個おきに累積値が計算され記憶される。パルス幅調整用ターブル作成モードでのテストパターン一周期中でのパルス間隔数がＭなので、これにより、同じパターンごとに累積値が計算される。シフトレジスタ８０５〜８１０のクロック信号には極性反転タイミング信号が、そしてラッチ回路８１１のクロック信号には極性反転タイミング信号が遅延素子８１７を通った信号が入力され、計算結果が確定するのを待ってラッチを行う。
【００７３】
加算回路８１５，８１６の演算結果でオーバーフローが発生した場合、各キャリー信号のレベルが“Ｈ”となる。これは光ディスク１の欠陥等で記録特性測定用パターンが正常に記録できなかった場所を検出した場合に発生する。この結果はＯＲ回路８１８を通して一方でもオーバーフローが発生していた場合に測定エラーとして“Ｈ”レベルを発生させる。そして遅延素子８１７の出力信号をクロック信号としてフリップフロップ８１２に入力し、データが確定したタイミングでデータをラッチしてそのデータをコントローラ側に伝え、エラーが発生したときに特性測定を中止させる。
【００７４】
カウンタ回路８０３の出力はデコーダ回路８１９にも入力される。デコーダ回路８１９ではカウンタ回路８０３の出力値がＭ−１になった時点で“Ｈ”レベルを出力する。その信号はＮＯＴ回路８２０、およびＡＮＤ回路８２１を通ってカウンタ回路８０３のクリア信号として入力され、特性測定用テストパターンが１周期再生し終わるたびにカウンタ回路８０３を初期化する。
【００７５】
デコーダ回路８１９の出力信号はカウンタ回路８０４にも入力され、再生した特性測定用テストパターンの周期数をカウントする。カウンタ回路８０４の出力はデコーダ回路８２２に入力され、特性測定用テストパターンが２＾Ｃ２−１周期めに入った時にデコーダ回路８２２から“Ｈ”レベルが出力され、変換開始信号８２３としてデータ変換回路１８にデータ送信開始を伝える。またデータ送信回路１８にデータ送信が開始されるとデータ変換回路１８では同時にパルス幅調整用テーブル１９の更新を開始し、この時点でエラーが発生しても特性測定を中止させられないため、エラー信号はこの時点でデコーダ回路８２２の出力をＮＯＴ回路８２４、およびＡＮＤ回路８２５によりマスクする。ただし、そのときにはフリップフロップ８１３，およびセレクタ回路８２６〜８３１により、エラーを含んだラッチ回路８１１の出力信号を出力される代わりに、前回までの累積値を出力するように制御している。この出力信号はエッジシフト信号８３２としてデータ変換回路１８に送られる。
【００７６】
また、その転送タイミングとして、セレクタ回路８２６〜８３１の出力データが確定したタイミング信号８３３として遅延素子８１７の出力をさらに遅延素子８３４を通してタイミングを遅らせた信号をつくり、データ変換回路１８に送信している。
【００７７】
図９は図１におけるデータ変換回路１８、およびパルス幅調整用テーブル１９の１構成例である。この回路にはパルス幅設定用判定回路１７から変換開始信号８２３、エッジシフト信号８３２、およびタイミング信号８３３が入力されている。タイミング信号８３３でパルス信号が入力されるごとにカウンタ回路９０１の出力データが１増加し、その値がＲＯＭ回路９０２〜９０４にアドレス信号として入力される。またこのカウンタ回路９０１の出力信号はデコード回路９０５に入力され、その値が１のとき、すなわち最初のタイミング信号のパルス波形入力を受けたときだけデコード回路９０５の出力は“Ｈ”レベルとなる。この信号はパルス幅調整用テーブル１９のクリア端子に入力されており、デコーダ回路９０５の出力は“Ｈ”レベルとなったとき、すなわちテーブル更新がスタートする時点でテーブルの内容がゼロクリアされる。
【００７８】
ＲＯＭ回路９０２には特性測定用テストパターンのパルス間隔Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，……，ＴＮの値が先頭アドレス＋２（アドレス２）から順に格納されている。
【００７９】
またＲＯＭ回路９０３にはＴ１，Ｔ２，Ｔ３，……，ＴＮの値が先頭アドレス＋１（アドレス１）から順に格納され、ＲＯＭ回路９０４にはＴ１，Ｔ２，Ｔ３，……，ＴＮの値が先頭アドレス（アドレス０）から順に格納されている。ＲＯＭ回路９０２のアドレス０，１、およびＲＯＭ回路９０３のアドレス０にはデータ０が入っている（実際には記録パルス間隔で取り得ない任意の値で良い）。
【００８０】
ＲＯＭ回路９０２〜９０３の出力はゲート回路９０６〜９０７を通ってパルス幅調整用テーブル１９にアドレス信号として入力される。一方、ＲＯＭ回路９０４の出力はゲート回路９０８を通ってパルス幅調整用テーブル１９にデータ信号として入力される。また同じＲＯＭ回路９０４の出力信号が加算／減算回路９０９に入力され、パルス幅設定用判定回路１７からのエッジシフト信号８３２と加算、もしくは減算が行われる。この加算／減算回路９０９にはカウンタ回路９０１出力信号のＬＳＢ（Ｌｅａｓｔ  Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ  Ｂｉｔ）がセレクタ信号として入力される。これはエッジシフト信号８３２の値が正の時のエッジシフト方向が交互に変わっているため、ここで１個ごとに加算と減算とを切り替えてエッジシフト方向を一定にするためである。この加算／減算回路９０９の出力はゲート回路９１０を通ってパルス幅調整用テーブル１９にアドレス信号として入力されている。ゲート回路９０６〜９０８，９１０はエッジシフト信号８３２が送信されている最中はＲＯＭ回路９０２〜９０４、および加算／減算回路９０９からの信号がこれらの出力信号としてパルス幅調整用テーブル１９に送られる。また、パルス幅調整用テーブル１９の前エッジ用、後ろエッジ用データを振り分けるためにタイミング信号８３３をＮＯＴ回路９１１，ＡＮＤ回路９１２，９１３を通して両方のパルス幅調整用テーブル１９のチップセレクト端子に入力している。
【００８１】
以上によりエッジシフト信号８３２からｉ番目のデータが入ってきたとき、そのエッジ変動量をｅｉ（スポット進行方向を正とする）と表すと、パルス幅調整用テーブル１９のアドレス（Ｔ１−２，Ｔｉ−１，Ｔｉ＋ｅｉ）にデータＴｉを代入する操作が行われる。したがって、実際にデータを記録する際に、例えばその記録パターン中にＴ１−２，Ｔｉ−１，Ｔｉ＋ｅｉなるパターンが現れた場合にはこのパルス幅調整用テーブル１９のアドレス（Ｔ１−２，Ｔｉ−１，Ｔｉ＋ｅｉ）を参照して、その位置に格納されているデータＴｉをＴｉ＋ｅｉに変えて記録パルス間隔として使用する。その結果、記録マークはｅｉだけエッジシフトを起こして所望のパルス間隔Ｔｉ＋ｅｉとなり、エッジシフトの効果をキャンセルすることができる。
【００８２】
ただし、特性測定用テストパターンのパルス間隔は一般に全ての場合を含む数だけ用意することは困難であり、実際にはこのパルス幅調整用テーブル１９の空き領域を埋めて完成させるために、エッジシフト信号８３２を全て受信し終わった後にデータ内挿回路９１４を動作させる。この回路ではパルス幅調整用テーブル１９の内容が０の部分をその近傍で０ではないデータを見つけ出して、内挿計算を行う。その計算が終了した時点でデータ内挿回路９１４はコントローラに特性測定／パルス幅調整用テーブル更新操作が完了したことを伝え、記録特性測定モードが終了する。
【００８３】
図１０は図１におけるパルス幅調整回路２１、およびパルス幅調整用テーブル１９の１構成例である。変調回路２０の出力信号である記録データは符号変調後の符号“１”と“１”の間にある符号“０”の個数を定数倍したもので、その量子化精度はパルス幅調整用テーブル１９の精度（すなわち、Ａ／Ｄ変換機５０２の変換精度）と一致させておき、ラッチ回路１００１，１００２に入力される。この記録データは、ラッチ回路１００１，１００２にはクロック信号が交互に入力されており、データを双方で交互にラッチし、出力している。この出力信号は加算回路１００３，１００４において、その直前のエッジ位置調整量（スポット進行方向と逆向きが正）との加算が行われる。この操作で前回のエッジ位置調整分だけここで長めにパルス間隔をとることで、エッジ位置が変換前と同じ位置に来るようにしている。
【００８４】
そしてこの加算回路１００３，１００４の出力データを用いてパルス幅調整用テーブル１９を参照して調整後のパルス間隔を求めている。パルス幅調整用テーブル１９を参照する際には、同時にラッチ回路１００５，１００６から前回のパルス間隔（調整後）、ラッチ回路１００６，１００５から前々回のパルス間隔（調整後）が入力されて調整後のパルス間隔決定用に用いられている。この出力信号はラッチ回路１００７，１００８でラッチ、保持される。
【００８５】
そして、その出力信号はこの記録パルス幅を実現するため、変調回路２０の出力である記録データの量子化精度を一周期としたクロック信号１００９と共にダウンカウンタ回路１０１０，１０１１にそれぞれ初期値、およびクロックとして入力される。そして初期値をセットしてからその出力値が０になるまでの時間が記録パルス間隔であるので、ＯＲ回路１０１２，１０１３でダウンカウンタ回路１０１０，１０１１の出力値が０になるのを検出してＮＡＮＤ回路１０１４、およびフリップフロップ１０１５で両出力を合成して、パルスを生成してパルス信号１０１６としてレーザドライバ回路１２に入力している。
【００８６】
また、ＯＲ回路の出力はラッチ回路１００１，１００２，１００５，１００６にクロック信号として入力され、次のデータをラッチするタイミングとしている。またこの信号は遅延素子１０１７，１０１８を通してラッチ回路１００７，１００８にクロック信号として入力され、データが確定したタイミングでラッチを行っている。また、テーブル参照前の信号とテーブル参照後の信号の差がエッジ位置の調整量であり、この値を減算回路１０１９，１０２０で計算し、加算回路１００４，１００３に入力している。
【００８７】
以上の回路により、記録データに対して、パルス幅調整用テーブル１９を参照して、そのパルス間隔をパターンに応じて逐次調整している。
【００８８】
図１１は図１におけるレーザドライバ回路１２の１構成例である。この図において半導体レーザ１１０１を駆動する回路はＮＰＮトランジスタ１１０２、１１０３で構成される電流スイッチである。
【００８９】
パルス信号１０１６はセレクタ回路１１０４に入力される。この回路には入力信号を選択する端子があり、コントローラからの信号が入力されて、その出力信号が選択されている。通常データを記録するときはパルス信号の方が出力信号として選択される。そして、記録特性測定モードのときだけもう一方の入力信号である、コントローラからのパルス幅調整用テストパターン、あるいは記録パワー探索用テストパターンのパルスが信号出力信号として選択される。
【００９０】
この出力信号はＥＣＬ（エミッタカップルドロジック）のＡＮＤ回路１１０５に入力される。この回路の非反転信号、および反転信号はツェナーダイオード１１０６，１１０７によりレベルシフトした後、電流スイッチの構成要素であるトランジスタ１１０２，１１０３のベース端子に入力される。この電流スイッチではトランジスタ１１０３がオンになったときトランジスタ１１０８で設定される電流値の分だけ重畳される。トランジスタ１１０９の半導体レーザが再生レベルで点灯するだけの電流を供給するための電流源を構成している。一方トランジスタ回路１１０８は記録時に重畳される電流を設定するものであり、Ｄ／Ａ変換器１１１０の出力電圧をトランジスタ１１０８のベース端子に印加し、トランジスタ１１０８のエミッタ端子と電圧−Ｖとの間の電位差を抵抗１１１１の値で割った値の電流が流れる。演算増幅器１１１２は電圧フォロアを構成しており、トランジスタ１１０８のベース−エミッタ間の電位差のばらつきを抑圧している。
【００９１】
記録パワーはＤ／Ａ変換器１１１０の入力データにより決まる。この値はセレクタ回路１１１３〜１１１６によりコントローラから設定された値、もしくはフリップフロップ１１１７の出力データの値に設定される。この選択を行う信号はコントローラから入力されている。通常のデータ記録時にはセレクタ回路１１１２〜１１１５によりフリップフロップ１１１７の出力データの値が選択され、記録パワー探索モードで特性測定用テストパターンを記録するときだけコントローラから設定された値が選択される。
【００９２】
特性測定用テストパターン記録時にはまず、コントローラから設定値１がＤ／Ａ変換器にセットされ、テストパターンを２＾Ｃ１回繰り返すごとに設定値を１ずつ増加させ、徐々に記録パワーをあげていく。そしてその記録マークを再生し、エッジタイミング検出回路１３、および記録パワー設定用判定回路１６により何番目の記録パワーが最適であったかを求める。その番号をフリップフロップ１１１７に記憶させ、Ｄ／Ａ変換器にセットすることで最適な記録パワーの設定が実現する。
【００９３】
最適な記録パワーの番号はＮＡＮＤ回路１１１８，ＯＲ回路１１１９により記録パワー探索モードで記録パワーが確定したときにフリップフロップ１１１６がラッチするように、特性測定モード信号５０６，パワー／パルス幅信号７０１，記録パワー設定用判定回路１６中のフリップフロップ７０７の出力を入力信号として用いる。
【００９４】
以上が本発明の一実施例についての各構成要素の動作説明である。この記録パルスエッジ調整量算出方式を用いることで、同一記録パルスにおいてその前の記録パターンが違うために発生する、熱干渉による再生波形でのエッジ位置の変動分をなくすことができる。
【００９５】
以上の実施例では記録線速度が一定の場合について説明した。しかし多くの光ディスクでは回転数一定となっているため、実際には記録半径によって線速度が異なり、記録特性も違ってくる。そして光ディスクの場合、ランダムアクセス性が要求されることを考慮すると、記録特性測定時にはディスク面上の線速度が異なる複数位置で特性測定用テストパターンを記録して検出操作を行う必要があり、そのためにパルス幅調整用テーブル１９は複数用意しておく。
【００９６】
この測定に用いる領域はディスクの内周側，外周側、およびその間からなる複数箇所を用いるが、その領域は特別に設けても、あるいは一般のデータ記録領域でも構わない。後者の場合ですでにその領域に記録データが存在するときには、他の空き領域を利用するか、もしくはその領域を使用するために該領域に書かれている情報を一時コントローラ内のメモリなど、別の場所に退避させる処理を行う。
【００９７】
パルス幅設定用判定回路１７ではテストパターンごと（１パルス間隔ごとではなく、連続した複数のパルス間隔の組合せごと）に分類してエッジ変動量の平均値を計算している。これは再生波形のエッジ位置が記録装置と記録媒体の組合せ、および線速度以外にさらに熱干渉のため該再生波形エッジに対応する記録時のレーザ光パルスエッジ近傍の記録パルスパターンにも依存しているためである。
【００９８】
一般にある記録時のレーザパルスエッジに対応する再生波形のエッジ位置はその直前に記録されたパターンからの影響が大きい。それに比べ、その後の記録パルスパターンからの影響は小さく、記録媒体の熱伝導度が極端に大きい場合や、記録時の線速度が過度に小さく非常に熱干渉の影響が大きい場合、記録信号のエッジ間隔が極めて短い場合、および記録マーク形成時点での記録媒体の磁壁エネルギーの影響が大きい場合を除いてこの影響は無視できる。
【００９９】
また前述の影響を及ぼす前側の記録パルスパターンの範囲は主にその長さで規定できる。これは線速度によって異なり、時間軸で考えると内周ほどその範囲は広くなるが、実際の系ではこの条件が悪い内周側に合わせるか、もしくは線速度によってその範囲を切り替えてもよい。また、この範囲は時間の長さとして扱うのは一般的に難しいため、多少冗長になるが、記録パターンの個数で扱い、その量を最悪条件、すなわち最小極性反転間隔のパターンが連続した場合の影響個数で決定する方がよい。したがってこの実施例ではこの範囲を記録パターンの個数を３個とした場合の例について説明した。
【０１００】
この記録特性測定操作は装置の電源を入れたとき、ディスクを交換したとき、および毎データ記録時に行う記録条件のチェック時にエラー（すなわち記録条件が設定値から外れた事）を検出したときに行うように設計する。また、しばらく記録動作がない場合には定期的にこの操作を行うように設計した方が望ましい。
【０１０１】
本発明は、書換えが可能であり、その原理が熱を用いた記録方法がある、あらゆる情報記録方式、および記録媒体にあてはまる記録パワーや記録パルス間隔という記録条件の制御に関する基本的な方式に関する記述である。特に熱拡散効果が高く、かつ記録条件に敏感、すなわち記録パワーや環境温度、記録媒体の構成、および記録装置の特性等のわずかな変化で記録特性の差として現れる様な記録方式、および記録媒体の場合、記録データの信頼性を確保する上で有効である。
【０１０２】
例えば光磁気ディスク、および交換結合力を利用した、重ね書きが可能な光磁気ディスク、重ね書きが可能な相変化を利用した光ディスクなどにおいて特に有用である。
【０１０３】
【発明の効果】
本発明によれば、熱干渉による再生信号のエッジ位置に関する変動分をなくすことができる。また各記録媒体と記録装置との組合せが変わる事に必ず、しかも時間の経過と共にときどきこの記録特性を測定し、更新するため、常に最適な記録条件を実現しており、マーク長記録を用いた、より高密度な記録が製作時の厳密な調整なしに容易に実現でき、しかも記録データに関する信頼性を大幅に向上する。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明の一実施例の構成を示すブロック図。
【図２】記録特性測定モードで使用される特性検出用テストパターン波形の１例を示す図。
【図３】等化回路の１構成例を示す図。
【図４】等化回路の動作説明図。
【図５】エッジタイミング検出回路の１構成例を示す図。
【図６】エッジタイミング検出回路の動作説明図。
【図７】記録パワー設定用判定回路の１構成例を示す図。
【図８】パルス幅設定用判定回路の１構成例を示す図。
【図９】データ変換回路、およびパルス幅調整用テーブルの１構成例を示す図。
【図１０】パルス幅調整回路、およびパルス幅調整用テーブルの１構成例を示す図。
【図１１】レーザドライバ回路の１構成例を示す図。
【符号の説明】
１…光ディスク、２…スピンドルモータ、３…光ピックアップ、４…増幅器、５…等化回路、６…二値化回路、７…再生二値化信号、８…ＰＬＬ（フェーズ・ロック・ループ）回路、９…復調回路、１２…レーザドライバ、１３…エッジタイミング検出回路、１４…極性反転間隔信号、１５…極性反転タイミング信号、１６…記録パワー設定用判定回路、１７…パルス幅設定用判定回路、１８…データ変換回路、１９…パルス幅調整用テーブル、２０…変調回路、２１…パルス幅調整回路２１、３０１…電圧フォロア、３０２…遅延素子、３０５…加算回路、３０６…マルチプレクサ、３０７…加算反転増幅回路、３０８…マルチプレクサ、５０１…インパルス信号発生回路５０１、５０２…Ａ／Ｄ変換器、５０３…積分回路、５０４…積分基準信号、５０５…積分信号、５０６…特性測定モード信号、５０７…記録条件チェックモード信号、５０９…フリップフロップ、５１０…アナログスイッチ、７０１…パワー／パルス幅信号、７０４，７０５…カウンタ回路、７０６…ラッチ回路、７０７，７０８…フリップフロップ、７０９…加算回路、７１０…遅延素子、７１１…デコーダ回路、７１４，７１５…減算回路、８０３，８０４…カウンタ回路、８０５〜８１０…シフトレジスタ、８１１…ラッチ回路、８１２，８１３…フリップフロップ、８１４…ＲＯＭ回路、８１５，８１６…加算回路、８１７…遅延素子、８１９，８２２…デコーダ回路、８２３…変換開始信号、８２６〜８３１…セレクタ回路、８３２…エッジシフト信号、８３３…タイミング信号、８３４…遅延素子、９０１…カウンタ回路、９０２〜９０４…ＲＯＭ回路、９０５…デコード回路、９０６〜９０８、９１０…ゲート回路、９０９…加算／減算回路、９１４…データ内挿回路、１００１，１００２，１００３〜１００８…ラッチ回路、１００３，１００４…加算回路、１００９…クロック信号、１０１０，１０１１…ダウンカウンタ回路、１０１５…フリップフロップ、１０１６…パルス信号、１０１７，１０１８…遅延素子、１０１９，１０２０…減算回路、１１０１…半導体レーザ、１１０２，１１０３，１１０８，１１０９…トランジスタ、１１０４…セレクタ回路、１１０６，１１０７…ツェナーダイオード、１１１０…Ｄ／Ａ変換器、１１１２…演算増幅器、１１１３〜１１１６…セレクタ回路、１１１７…フリップフロップ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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