(57)【要約】【課題】専門スタッフのいる開発拠点と、専門スタッフのいない生産拠点とが互いに遠隔地の関係にあっても、電気回路の異常の原因を容易に追究することができる電気回路検査方法を提供する。【解決手段】生産拠点で生じたＬＤＤ用ＰＣＢ５１の異常について生産拠点の現地スタッフから開発拠点の専門スタッフに通知する。専門スタッフは、異常の情報に基づいてマクロコマンドファイルを構築して開発拠点のパソコン２から生産拠点のパソコン２に通信回線経由で送信する。このマクロコマンドファイルを受信した現地スタッフは、これをパソコン２で実行して異常の究明に適した被検波形を得て出力波形データとして記録した後、開発拠点のパソコン２に送信する。【選択図】  図１３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力条件データに基づいて生成した信号を電気回路に入力して該電気回路からの出力波形を得る波形取得装置と、記憶手段に記憶しているコマンドファイルに基づいて該波形取得装置に該入力条件データを出力して該信号を生成させ、且つ該波形取得装置によって取得された出力波形を表示手段に表示したり、時間データと出力値データとが関連付けられた出力波形データファイルとして該記憶手段に記憶したりするコンピュータと、遠隔地と通信するための遠隔通信手段とを用意しておき、該表示手段に表示される該出力波形に基づいて該電気回路を検査する電気回路検査方法において、
上記記憶手段に記憶されている上記コマンドファイルを上記遠隔通信手段によって遠隔地に送信する工程と、該遠隔通信手段によって該遠隔地から送信されてくる出力波形データファイルを上記記憶手段に記憶させた後、該出力波形データファイルに基づいて上記表示手段に表示される出力波形に基づいて電気回路を検査することを特徴とする電気回路検査方法。
【請求項２】
入力条件データに基づいて生成した信号を電気回路に入力して該電気回路からの出力波形を得る波形取得装置と、記憶手段に記憶しているコマンドファイルに基づいて該波形取得装置に該入力条件データを出力して該信号を生成させ、且つ該波形取得装置によって取得された出力波形を表示手段に表示したり、時間データと出力値データとが関連付けられた出力波形データファイルとして該記憶手段に記憶したりするコンピュータと、遠隔地と通信するための遠隔通信手段とを用意しておき、該表示手段に表示される該出力波形に基づいて該電気回路を検査する電気回路検査方法において、
上記遠隔通信手段によって遠隔地から送信されてくる上記コマンドファイルを上記記憶手段に記憶させた後、上記コンピュータに実行させる工程と、その実行に基づいて取得された上記出力波形データファイルを該記憶手段に記憶させた後、該遠隔通信手段によって遠隔地に送信する工程とを実施することを特徴とする電気回路検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、波形取得装置によって電気回路から取得した出力波形をコンピュータの表示装置に表示して電気回路を検査する電気回路検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種の電気回路検査方法に用いられる波形取得装置とコンピュータとの組合せとしては、特許文献１に記載されている半導体レーザー試験装置が知られている。この半導体レーザー試験装置は、波形取得装置としてアナログマルチプレクサ、レーザー制御駆動回路、オシロスコープ等からなるものを有している。また、コンピュータたるパーソナルコンピュータ（以下、パソコンという）を有している。そして、パソコンによって制御されるレーザー制御駆動回路やアナログマルチプレクサが電子回路たるレーザーダイオードを駆動し、これによって得られるアナログ出力信号の波形をオシロスコープでデジタルデータに変換する。このようにして得られたレーザーダイオードからの出力波形のデジタルデータをパソコンの記憶手段に記憶することで、その出力波形をパソコンの表示手段に再現することができる。電気回路について詳細な知識を有していない者でも、パソコンの記憶手段に記憶されているコマンドファイルに基づいてレーザー制御駆動回路等を駆動させれば、検査用の出力波形をパソコンの表示手段に簡単に表示させることができる。そして、表示された出力波形に基づいて、レーザーダイオードの検品を容易に行うことができる。
【０００３】
【特許文献１】
特開平６−６６６７８号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
一方、電気機器の更なる低コスト化が求められる近年においては、国内で設計や試作を行った電気回路の生産を国外で行うことが多くなってきている。このような場合でも、上述の半導体レーザー試験装置のような波形出力手段とコンピュータとの組合せを国外の生産拠点に設置しておけば、電気回路の検品を現地スタッフに容易に実施してもらうことができる。そして、何らかのトラブルによって電気回路の異常が発生でも、それを容易に発見することができる。
【０００５】
しかしながら、例えば同じような傾向の異常が多発してしまうときにその異常を容易に発見することができても、それがどのような原因によるものかを追究するには、国内の開発拠点にいる専門スタッフの知識を必要とする場合が多い。そこで、検品用に得られた出力波形を画像としてプリントアウトして開発拠点にＦＡＸしたり、その画像をビットマップ等の画像電子データとして開発拠点に送信したりして、専門スタッフに判断してもらうことが考えられる。
【０００６】
ところが、これらプリントアウト画像や画像電子データは、オシロスコープやディスプレイに表示される動的な出力波形とは異なり、波形を単に静止画として示しているに過ぎない。このため、予めの試験やシミュレーションによって得られた標準波形と比較して、波形出現タイミング、時間軸、出力幅などが異なっている場合に、標準波形に合わせてその波形のサイズを変更することができず、このことが原因究明の妨げとなってしまう。
【０００７】
また、検品用に出力された波形だけでは原因を特定することができないために、原因究明用の特別な条件で出力波形を得たい場合もある。このような場合、現地スタッフだけではその条件を生成するためのコマンドファイルを構築することができないと、専門スタッフを生産拠点に派遣しなければならなくなる。そして、原因究明が遅れて歩留まりを著しく悪化させたり、旅費等に多大な費用がかかってしまったりすることになる。
【０００８】
なお、開発拠点と生産拠点とが国内と国外との関係になくても、両者が互いに遠隔地の関係にあれば、同様の問題が生じ得る。
【０００９】
本発明は、以上の背景に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、次のような電気回路検査方法を提供することである。即ち、専門スタッフのいる開発拠点と、専門スタッフのいない生産拠点とが互いに遠隔地の関係にあっても、電気回路の異常の原因を容易に追究することができる電気回路検査方法である。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１の発明は、入力条件データに基づいて生成した信号を電気回路に入力して該電気回路からの出力波形を得る波形取得装置と、記憶手段に記憶しているコマンドファイルに基づいて該波形取得装置に該入力条件データを出力して該信号を生成させ、且つ該波形取得装置によって取得された出力波形を表示手段に表示したり、時間データと出力値データとが関連付けられた出力波形データファイルとして該記憶手段に記憶したりするコンピュータと、遠隔地と通信するための遠隔通信手段とを用意しておき、該表示手段に表示される該出力波形に基づいて該電気回路を検査する電気回路検査方法において、上記記憶手段に記憶されている上記コマンドファイルを上記遠隔通信手段によって遠隔地に送信する工程と、該遠隔通信手段によって該遠隔地から送信されてくる出力波形データファイルを上記記憶手段に記憶させた後、該出力波形データファイルに基づいて上記表示手段に表示される出力波形に基づいて電気回路を検査することを特徴とするものである。
また、請求項２の発明は、入力条件データに基づいて生成した信号を電気回路に入力して該電気回路からの出力波形を得る波形取得装置と、記憶手段に記憶しているコマンドファイルに基づいて該波形取得装置に該入力条件データを出力して該信号を生成させ、且つ該波形取得装置によって取得された出力波形を表示手段に表示したり、時間データと出力値データとが関連付けられた出力波形データファイルとして該記憶手段に記憶したりするコンピュータと、遠隔地と通信するための遠隔通信手段とを用意しておき、該表示手段に表示される該出力波形に基づいて該電気回路を検査する電気回路検査方法において、上記遠隔通信手段によって遠隔地から送信されてくる上記コマンドファイルを上記記憶手段に記憶させた後、上記コンピュータに実行させる工程と、その実行に基づいて取得された上記出力波形データファイルを該記憶手段に記憶させた後、該遠隔通信手段によって遠隔地に送信する工程とを実施することを特徴とするものである。
【００１１】
これらの電気回路検査方法においては、電気回路について互いに遠隔地の関係にある開発拠点と生産拠点との間で、次のような作業を行うことができる。即ち、生産拠点の現地スタッフからの情報に基づいて、開発拠点の専門スタッフがその電子回路の異常の原因究明に適したコマンドファイルを構築する。そして、そのコマンドファイルを遠隔通信手段によって生産拠点に送信する。一方、このコマンドファイルを受信した生産拠点の現地スタッフは、それをコンピュータの記憶手段に記憶させて実行させることで、専門的な知識がなくても、現に異常を発している電気回路からその異常の原因究明に適した被検波形を取得することができる。そして、得られた被検波形を出力波形データファイルとしてコンピュータの記憶手段に記憶させた後、遠隔通信手段によって開発拠点に送信する。この出力波形データファイルは、波形を画像データ形式で記録している画像データファイルとは異なり、時間データと出力値データとを関連付けた数値データとして記録している。よって、開発拠点の専門スタッフは、受信した出力波形データファイルに基づいて、表示時間軸や表示波高などを予め取得しておいた基準波形に合わせて自由にカスタマイズしながら被検波形を表示手段に表示することが可能である。そして、このようにして被検波形を表示手段に表示して基準波形と比較することで、電子回路の異常の原因を容易に追究することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を適用した電気回路検査方法として、電気回路たるＬＳＩ（大規模集積回路）のデバッグを行う電気回路検査方法の一実施形態について説明する。
まず、本電気回路検査方法の基本的な構成について説明する。図１は、デバッグの対象となるＬＳＩを用いる光ディスク装置の要部電気回路を示すブロック図である。この光ディスク装置は、メインプリント基板５０、レーザーダイオードドライバ用プリント基板５１などを備えている（以下、プリント基板、レーザーダイオードドライバを、それぞれＰＣＢ、ＬＤＤという）。また、スピンドルモータ５２、レーザーダイオード（以下、ＬＤという）５３、受光部５４、光検出回路５５なども備えている。
【００１３】
メインＰＣＢ５０は、ＣＰＵ５０ａ、デジタルＬＳＩ５０ｂ、アナログＬＳＩ５０ｃ、サーボ駆動回路５０ｄ、外部とのデータ通信を行うための通信ポート５０ｅなどから構成されている。サーボ駆動回路５０ｄは、ＣＰＵ５０ａからデジタルＬＳＩ５０ｂを介して送られてくる信号に基づいて、スピンドルモータ５２や受光部５４の駆動を制御する。アナログＬＳＩ５０ｃは、後述の光検出回路５５からの信号を所定の信号に変換してＣＰＵ５０ａやデジタルＬＳＩ５０ｂに送る。デジタルＬＳＩ５０ｂは、ＣＰＵ５０ａからの信号に基づいて、８ｂｉｔのデータを１４ｂｉｔのデータに符号化したＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号などをＬＤＤ用ＰＣＢ５１に出力する。
【００１４】
光ディスク１００は、回転可能に設けられた図示しない回転テーブル上に保持される。上記スピンドルモータ５２がサーボ駆動回路５０ｄからの信号に基づいて回転すると、それに伴って回転テーブルとこれに保持される光ディスク１００とが回転する。
【００１５】
ＬＤＤ用ＰＣＢ５１は、レーザー生成用ＬＳＩ５１ａを有している。このレーザー生成用ＬＳＩ５１ａは、メインＰＣＢ５０のアナログＬＳＩ５０ｃから送られてくるＬＤ制御信号や、デジタルＬＳＩ５０ｂから送られてくるＥＦＭ信号などを、所定のレーザー生成信号に変換して出力する。ＬＤ５３は、このレーザー生成信号に基づいてレーザー光Ｌを発する。発せられたレーザー光Ｌは、スピンドルモータ５２によって回転せしめられている光ディスク１００を走査して情報を書き込んだり、反射光となって受光部５４に検知されたりする。受光部５４に受光された反射光は、受光信号に変換されて光検出回路５５に受け取られる。そして、メインＰＣＢ５０のアナログＬＳＩ５０ｃで光読取信号に変換された後、ＣＰＵ５０ａに読み取られる。
【００１６】
図２は、本実施形態に係る電気回路検査方法に用いるデバッグ装置と、デバッグ対象となる上記ＬＤＤ用ＰＣＢ５１との電気的接続を示すブロック図である。上記ＬＤＤ用ＰＣＢ５１は、デバッグ装置１の図示しない基板固定冶具に固定される。デバッグ装置１は、パソコン２、波形取得用ＰＣＢ６、オシロスコープ７などを備えている。また、パソコン２に付設されるマウス３、キーボード４、表示手段たるディスプレイ５なども備えている。
【００１７】
上記パソコン２は、ＣＰＵ２ａ、記憶手段たるハードディスク（以下、ＨＤという）２ｂ、ＲＳ２３２Ｃポート２ｃ、ＧＰＩＢ（Ｇｅｎｅｒａｌ  Ｐｕｒｐｏｓｅ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ  Ｂｕｓ）ポート２ｄなどから構成されている。そして、ＲＳ２３２Ｃケーブルを介して波形取得用ＰＣＢ６と通信することができる。また、ＧＰＩＢケーブルを介してオシロスコープ７と通信することもできる。
【００１８】
上記波形取得用ＰＣＢ６は、ＣＰＵ６ａ、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｇｒａｍｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）６ｂ、ＳＲＡＭ６ｃ、ＲＳ２３２Ｃポート６ｄ、Ａ／Ｄコンバータ６ｅ、Ｄ／Ａコンバータ６ｆなどから構成されている。この波形取得用ＰＤＢ６と、パソコン２とは、互いのＲＳ２３２Ｃポート（６ｄ，２ｃ）がＲＳ２３２Ｃケーブルで接続されることによって両者間での通信が可能になっている。
【００１９】
上記オシロスコープ７は、制御部７ａ、ＣＲＴ等からなる波形表示用の表示部７ｂ、波形入力部７ｃ、ＧＰＩＢポート７ｄなどから構成されている。このオシロスコープ７と、パソコン２とは、互いのＧＰＩＢポート（７ｂ，２ｄ）がＧＰＩＢケーブルによって接続されることによって両者間での通信が可能になっている。
【００２０】
上記波形取得用ＰＣＢ６のＦＰＧＡ６ｂと、上記オシロスコープ７の入力部７ｃとは、図示しないケーブルによって電気的に接続されている。具体的には、ＦＰＧＡ６ｂの出力端子Ｏ１、出力端子Ｏ２、入力端子Ｉ１が、それぞれ入力部７ｃのＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３に接続される。このような接続により、ＦＰＧＡ６ｂの出力端子Ｏ１、出力端子Ｏ２から出力される信号の波形が、オシロスコープ７の入力部７ｃのＣＨ１、ＣＨ２に入力される。また、ＦＰＧＡ６ｂの入力端子Ｉ１に入力される信号の波形が、オシロスコープ７の入力部７ｃのＣＨ３に入力される。
【００２１】
デバッグ装置１の図示しない基板固定冶具に固定されたＬＤＤ用ＰＣＢ５１のレーザー生成用ＬＳＩ５１ａやその周辺回路は、デバッグ装置１の波形取得用ＰＣＢ６やオシロスコープ７に電気的に接続される。具体的には、波形評価対象となるレーザー生成用ＬＳＩ５１ａの入力端子Ｉ３が波形取得用ＰＣＢ６のＣＰＵ６ａに接続される。また、レーザー生成用ＬＳＩ５１ａの入力端子Ｉ１、入力端子Ｉ２、出力端子Ｏ１が、それぞれ波形取得用ＰＣＢ６のＦＰＧＡ６ｂの出力端子Ｏ１、出力端子Ｏ２、入力端子Ｉ１に接続される。また、レーザー生成用ＬＳＩ５１ａの出力端子Ｏ２が、オシロスコープ７の入力部７ｃのチャネル（以下、ＣＨという）４に接続される。更に、レーザー生成用ＬＳＩ５１ａの周辺回路が、波形取得用ＰＣＢのＡ／Ｄコンバータ６ｅやＤ／Ａコンバータ６ｆに接続される。
【００２２】
パソコンのＨＤ２ｂ内には、波形測定用アプリケーションソフトがインストールされており、これは次に列記する処理を行うことができる。
・レジスタデータ作成処理
・レジスタ設定処理
・パタンデータ作成処理
・パタン入力処理
・波形取得保存処理
・波形表示処理
・オシロ制御処理
・マクロ作成処理
・マクロ実行処理
【００２３】
上記レジスタデータ作成処理は、波形評価対象となるＬＳＩのレジスタを設定するためのレジスタデータを作成する処理である。ＬＳＩのレジスタを電圧出力器によって手作業で設定するのは非常に手間を要する。そこで、デバッグ装置１は、波形測定用アプリケーションソフトのレジスタデータ作成処理でレジスタデータを作成してＨＤ２ｂ内の所定のディレクトリに保存しておく。そして、必要に応じてＨＤ２ｂから読み込んだレジスタデータに基づいて、上記波形取得用ＰＣＢ６に対してレジスタ設定を自動で行わせるようになっている。
【００２４】
上記レジスタデータ転送処理は、レジスタデータに基づくレジスタ設定を波形取得用ＰＣＢ６に自動で行わせるための処理であり、次に説明するようなプロセスを経る。即ち、パソコン２のＨＤ２ｂ内に保存されている複数のレジスタデータのうち、任意の１つが操作者によって選ばれると、それがパソコン２のＣＰＵ２ａに読み込まれる。そして、波形取得用ＰＣＢ６のＣＰＵ６ａに送られる。波形取得用ＰＣＢ６のＣＰＵ６ａは、送られてきたレジスタデータに基づいてレジスタ設定信号を波形評価対象のＬＳＩに送ることで、そのＬＳＩのレジスタを設定する。図示の例では、レジスタ設定信号が波形取得用ＰＣＢ６のＣＰＵ６ａからレーザー生成用ＬＳＩ５１ａの入力端子Ｉ３に送られて、レーザー生成用ＬＳＩ５１ａのレジスタが設定される。
【００２５】
上記パタンデータ作成処理は、波形評価対象となるＬＳＩの波形取得時に用いられるパタンデータを作成する処理である。このパタンデータに基づいて、ＥＦＭ信号などといったパタン信号が波形取得用ＰＣＢ６のＦＰＧＡ６ｂから出力されてＬＳＩの入力端子に入力される。図示の例では、パタン信号がＦＰＧＡ６ｂからレーザー生成用ＬＳＩ５１ａに出力され、これに基づいてレーザー生成信号がレーザー生成用ＬＳＩ５１ａから出力される。パタンデータ作成処理においては、操作者がキーボード４やマウス３などを用いて入力した各種のパラメータに基づいて、パタンデータが作成されてパソコン２のＨＤ２ｂ内における所定のディレクトリに保存される。
【００２６】
上記入力条件データ作成処理は、波形評価対象となるＬＳＩへの入力条件を設定するための入力条件データを作成する処理である。この入力条件とは、例えばＬＳＩの入力端子Ａ，Ｂにそれぞれパタン信号Ｐａ、Ｐｂを入力するといった条件である。図示のレーザー生成用ＬＳＩ５１ａにおいては、その入力端子Ｉ１、入力端子Ｉ２にそれぞれパタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼を入力するための入力条件データである。これは、パソコン２のＨＤ２ｂ内に保存されている２つのパタンデータに基づいて作成される。
【００２７】
上記パタン入力処理は、波形評価対象となるＬＳＩに対して上記入力条件データに基づくパタン信号を入力するための処理である。操作者によるキーボード操作やマウス操作に基づいてパソコン２のＨＤ２ｂからＣＰＵ２ａに読み込まれた任意の入力条件データは、波形取得用ＰＣＢ６のＣＰＵ６ａを経由してＦＰＧＡ６ｂに送られる。そして、ＳＲＡＭ６ｃに一時的に記憶される。波形取得用ＰＣＢ６のＣＰＵ６ａは、ＳＲＡＭ６ｃに記憶された入力条件データや、波形評価対象となるＬＳＩから送られてくる信号に基づいて、パタン信号を生成して出力する。図示の例では、入力条件データと、レーザー生成用ＬＳＩ５１ａの出力端子Ｏ１から出力されるクロックパルス信号とに基づいて、パタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼を生成してそれぞれ出力端子Ｏ１、出力端子Ｏ２から出力する。この出力により、レーザー生成用ＬＳＩ５１ａの入力端子Ｉ１、Ｉ２にパタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼が入力される。また、同時にオシロスコープ７の入力部７ｃのＣＨ１、ＣＨ２にも、それぞれパタン信号▲１▼、▲２▼が入力される。更に、レーザー生成用ＬＳＩが出力端子Ｏ２からレーザー生成信号を出力する。このレーザー生成信号は、オシロスコープ７の入力部７ｃのＣＨ４に入力される。なお、レーザー生成用ＬＳ１５１ａの出力端子Ｏ１から出力されるクロックパルス信号は、ＦＰＧＡ６ｂの入力端子Ｉ１の他、オシロスコープ７の入力部のＣＨ３にも入力される。
【００２８】
オシロスコープ７は、入力部７ｃのＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４に入力されるレーザー生成信号、パタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼、クロックパルス信号の波形を、それぞれ表示部７ｂに表示する。また、各波形のデータを時間と出力値とに関連付けたデジタル数値データとしてそれぞれＧＰＩＢ経由でパソコン２のＣＰＵ２ａにデジタル形式で出力する。かかる構成のオシロスコープ７と、上述の波形取得用ＰＣＢ６とは、入力条件データに基づいて生成した信号を電気回路に入力してその電気回路からの出力波形を得る波形取得装置を構成している。
【００２９】
上記波形取得保存処理は、オシロスコープ７から送られてくる各波形のデータをパソコン２のＨＤ２ｂ内におけるの所定のディレクトリに保存するための処理である。パソコン２のＣＰＵ２ａには、図示しないＲＡＭが接続されており、オシロスコープ７から送られてくる各波形のデジタルデータはこのＲＡＭに一時記憶される。そして、それぞれ対応するチャネル番号に関連付けられて取得波形データとして１つのファイルに保存される。図示の例では、レーザー生成信号、パタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼、クロックパルス信号の波形データが、それぞれＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４というチャネル番号に関連付けられて１つの出力波形データファイルとしてＨＤ２ｂ内に記録される。各波形データがそれぞれチャネル番号に関連付けられて記録されることで、それぞれ回路上の異なる箇所から取得されたものであると分別可能になる。よって、チャネル番号は分別情報として機能する。
【００３０】
パソコン２のＨＤ２ｂ内には、上記レジスタデータ、パタンデータ、入力条件データ、取得波形データの他、シミュレーションデータやマクロプログラムデータも記録されている。このシミュレーションデータは、波形評価対象となるＬＳＩの理論電気回路について、所定の入力条件及びレジスタ設定条件での出力信号をシミュレーションしたデータである。図示のレーザー生成用ＬＳＩ５１ａでは、その理論電気回路の入力端子Ｉ１、Ｉ２にそれぞれパタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼を入力する場合が想定される。シミュレーションは公知の回路シミュレーションプログラムによって行われるが、このプログラムについてはデバッグ装置１のパソコン２に必ずしもインストールされている必要はない。他のパソコンによるシミュレーションデータが、デバッグ装置１のパソコン２の図示しないフレキシブルディスクドライブ、光ディスクドライブ、ＬＡＮポートなどを介して上記ＨＤ２ｂ内にコピーされてもよいからである。なお、マクロプログラムデータについては後に詳述する。
【００３１】
上記波形表示処理は、パソコン２のＨＤ２ｂ内に保存されているシミュレーションデータや上記取得波形データに基づいて、表示手段たるディスプレイ５に波形を表示させるための処理である。この表示は、等間隔記録方式のデータ内における時間毎の値をＸ−Ｙ座標（時間−振幅座標）上にプロットしながら、各プロット点を曲線で結ぶことによって行われる。このため、イベント毎の記録方式のデータは、等間隔記録方式に変換されてから用いられる。例えば、ＨＤ２ｂ内に保存されているシミュレーションデータが操作者のマウス操作によって読み込まれたと仮定する。すると、パソコン２のＣＰＵ２ａは、そのシミュレーションデータの記録方式を判断する。このとき、イベント発生毎の記録方式でない場合には、それをそのまま図示しないＲＡＭに一時記憶させる。また、イベント発生毎の記録方式である場合には、それを等間隔記録方式に変換してからＲＡＭに一時記憶させる。そして、図３に示すように、ディスプレイ５に１つのウインドウを出現させる。更に、ＲＡＭ内のシミュレーションデータに基づいて、ＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４の理論波形を、例えば黄、赤、青、緑といった色分けでそれぞれ対応するチャネル番号とともにそのウインドウ内に並べて表示させる。なお、図３におけるＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４の理論波形がそれぞれシミュレーションによって得られたパタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼、クロックパルス信号、レーザー生成信号であることは言うまでもない。
【００３２】
図３に示した状態で、ＨＤ２ｂ内に保存されているある種の取得波形データが操作者のマウス操作によって更に読み込まれたとする。すると、パソコン２のＣＰＵ２ａは、先のシミュレーションデータの場合と同様の処理を行う。この処理により、図４に示すように、ディスプレイ５に別のウインドウが出現する。そして、読み込まれた取得波形データのＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４の波形が、それぞれ対応するチャネル番号とともにそのウインドウ内に並べて色分け表示される。チャネル番号毎の波形の色分けは、図３のものと同様に行われる（同じチャネル番号同士の波形が同系色になる）が、ウインドウ毎に色の濃さが微妙に変えられる。例えば、図４の波形は図３の波形よりも薄く表示されるといった具合である。このような濃淡により、後の重ね合わせ表示において、同じチャネル番号同士の波形が同時に表示されても、それぞれどのウインドウに由来するものなのかが容易に判別される。なお、濃淡ではなく、点線、鎖線、実線などといった線種によってウインドウ毎の差を出すようにしてもよい。図４におけるＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４の実波形がそれぞれ実際に取得されたパタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼、クロックパルス信号、レーザー生成信号であることは言うまでもない。
【００３３】
図４に示した状態で、更に別のシミュレーションデータや取得波形データが読み込まれたとする。すると、それ専用のウインドウが更に現れてその中にＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４の波形がそれぞれ対応するチャネル番号とともにそのウインドウ内に並べて表示される。このような、ウインドウの同時オープンは、パソコン２の図示しないＲＡＭの容量が許容する限り可能になっている。
【００３４】
パソコン２に接続されているディスプレイ５には、図３や図４で示されていない領域にメニューウインドウが表示されている。このメニューウインドウ内には、各種のコマンドを簡易操作で入力させるための公知のスクロールバー、チェックボックス、コマンドボタンなどが表示されている。
【００３５】
上記メニューウインドウ内の図示しない「重ね合わせボタン」がクリックされると、ディスプレイ５上に重合表示用ウインドウが出現する。そして、これ以前にオープンされていたウインドウ内に表示されている波形が全てその重合表示用ウインドウ内に表示される。このとき、同じチャネル番号の波形同士ができるだけ近接した位置関係をとるように表示される。例えば、図４に示した状態で上記「重ね合わせボタン」がクリックされると、図５に示すように、ＣＨ１の波形同士、ＣＨ２の波形同士、ＣＨ３の波形同士、ＣＨ４の波形同士がそれぞれ近接した位置関係で表示される。ＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３、ＣＨ４はそれぞれパタン信号▲１▼、パタン信号▲２▼、クロックパルス信号、レーザー生成信号であるので、回路上の同じ箇所から取得された波形同士が近接して表示されることになる。
【００３６】
ウインドウ内に表示されている４つのチャネル番号については、操作者のマウスクリックによって何れか１つを指定することができる。また、重合用表示用ウインドウでは、同じチャネル番号について複数の波形が表示されるが、指定されているチャネル番号については、波形自体のマウスクリックによって何れか１つの波形指定が可能になっている。そして、指定された波形は、上記メニューウインドウ内の図示しない上矢印ボタンや下矢印ボタンがクリックされる毎に、その表示位置が微妙に上下にシフトする。よって、図５に示した重合表示用ウインドウにて、同じチャネル番号の波形同士を重ね合わせ表示させたい場合には、次に説明するような操作を行えばよい。即ち、まず、マウスクリックによって任意のチャネル番号を指定する。そして、そのチャネル番号における複数の波形のうち、シフトさせたものをマウスクリックで指定してから、その波形を他方の波形に重ねるまで、上述の上矢印ボタンや下矢印ボタンを連続クリックすればよい。例えば、図５に示した重合表示用ウインドウにおいて、ＣＨ１をマウスクリックした後、ＣＨ１の下側の波形（パタン信号▲１▼の実波形）をマウスクリックしてから、上矢印ボタンを連続クリックしたとする。そうすると、図６に示すように、ＣＨ１の実波形を、ＣＨ１の理論波形（パタン信号▲１▼の理論波形）に重ね合わせた重ね合わせ波形を得ることができる。他のチャネル番号についても、同様の操作を行うことで、それぞれ同じチャネル番号の波形同士の重ね合わせ波形を得ることができる。また、異なるチャネル番号間で同様の操作を行えば、互いに異なるチャネル番号の波形同士の重ね合わせ波形を得ることもできる。例えば、図７に示すように、ＣＨ２の上側の波形（パタン信号▲２▼の理論波形）と、ＣＨ４の下側の波形（レーザー生成信号の実波形）との重ね合わせ波形を得ることができる。また、重合表示用ウインドウではなく、図３や図４に示した理論波形や実波形だけを表示しているウインドウで同様の操作を行ったとする。すると、例えば図８や図９に示すように、互いに異なるチャネル番号の理論波形同士や実波形同士の重ね合わせ波形を得ることもできる。
【００３７】
波形を評価する上で、上記重合表示用ウインドウ内におけるある種の波形の表示が邪魔になる場合がある。このような場合には、その波形を表示しない重合表示用ウインドウを出現させることもできる。例えば、クロックパルス信号の理論波形や実波形を表示させたくないとする。このような場合には、まず、図３に示したウインドウにおいて、ＣＨ３をマウスクリックした後、上記メニューウインドウ内の図示しない「表示ＯＦＦチェックボックス」にマウスクリックでチェックを入れる。すると、図１０に示すように、そのウインドウにおいて、ＣＨ３のクロックパルス信号の理論波形が表示されなくなる。次に、図４に示したウインドウにおいて、同様の操作を行う。すると、図１１に示すように、ＣＨ３のクロックパルス信号の実波形が表示されなくなる。このとき、図中下側のウインドウは、先の操作によってＣＨ３のクロックパルス信号の理論波形を表示していない。ＣＨ３の波形を表示していない２つのウインドウがオープンされているのである。この状態で上記「重ね合わせボタン」をクリックすると、図１２に示すように、ＣＨ３のクロックパルス信号の実波形及び理論波形を表示しない重合表示用ウインドウが出現する。
【００３８】
各ウインドウにおいては、上記メニューウインドウ内で所定のクリック操作を行うことで、波形の指定範囲内における最大値や最小値を計算させることができる。また、オシロスコープと同様に指定範囲の波形を拡大表示させたり、振幅サイズを変更したりすることもできる。
【００３９】
上記オシロ制御処理は、図２に示したオシロスコープ７に対する制御命令を遠隔操作するための処理である。具体的には、オシロスコープ７の各種パラメータ設定について、オシロスコープ７の図示しない操作部を直接操作することなく、パソコン２への入力操作によってＧＰＩＢ経由で遠隔操作するのである。
【００４０】
これまで、レジスタデータ作成、レジスタ設定、パタンデータ作成、パタン入力、波形取得保存、波形表示及びオシロ制御の各処理について、操作者の手作業によるマニュアル操作が行われる場合を例にして説明してきた。しかしながら、マニュアル操作は手間のかかる作業である。そこで、上記波形測定用アプリケーションソフトには、マニュアル操作によらずに各処理を自動で行うマクロ機能を設けてある。所定のマクロ言語にて予め作成しておいたマクロプログラムに基づいて各処理を自動で行わせるのである。このマクロプログラムを作成するための処理がマクロ作成処理である。また、作成されたマクロプログラムに基づいてレジスタデータ作成、レジスタ設定、パタンデータ作成、パタン入力、波形取得保存、波形表示又はオシロ制御の処理を自動実行するのがマクロ実行処理である。
【００４１】
次に、本電気回路検査方法の特徴的な構成について説明する。
図１３は、電子回路たるＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）の開発拠点や生産拠点に配設された各機器を示すブロック図である。図示のように、開発拠点、生産拠点ともに、上述したデバッグ装置１を備えている。また、それぞれ、パソコン２に接続されたモデム８を備えており、これらモデム８には電話回線、光回線、無線回線などの通信回線９が接続されている。開発拠点のパソコン２と、生産拠点のパソコン２とは、２つのモデム８と通信回線９とを有する通信手段によって通信が可能になっている。
【００４２】
図１４は、本電気回路検査方法の作業工程の概要を示すフローチャートである。生産拠点の現地スタッフは、生産されていく複数のＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）について、それぞれ上記デバッグ装置（１）を用いて検品作業を行う。そして、ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）について同様の異常を多数発見した場合に、電話、ファクシミリ、電子メール等によってその異常の情報を開発拠点に通知する（ステップ１。以下ステップを「Ｓ」と記す）。異常を通知された開発拠点の専門スタッフは、生産拠点からの情報に基づいて、その異常の原因究明に適した出力波形を異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）から発生させ得るマクロコマンドファイルを構築する（Ｓ２）。そして、それを開発拠点のパソコン（２）から通信手段を介して生産拠点のパソコン（２）に送信する（Ｓ３）。この際、通信回線（９）として専用のものを用いてマクロコマンドファイルだけを送信してもよいし、通信回線（９）として汎用のものを用いてマクロコマンドファイルを電信メールに添付してインターネット経由で送信してもよい。
【００４３】
また、開発拠点の専門スタッフは、上記異常の原因究明に適した出力波形を、予めの試験によって正常であることが判明しているＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）から出力させて、そのデータを実測基準波形としてパソコン（２）のハードディスク（２ｂ）に記録しておく（Ｓ４）。更に、パソコン（２）にインストールされているシミュレーションプログラムを起動させ、ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）の理論回路から、同様の出力波形を理論波形として出力させて、そのデータを理論基準波形としてハードディスク（２ｂ）に記録しておく（Ｓ５）。
【００４４】
一方、生産拠点の現地スタッフは、異常を発している上記異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）を上記デバッグ装置（１）にセットした後、パソコン（２）によって受信した上記マクロコマンドファイルを実行する（Ｓ６）。このマクロコマンドファイルの実行により、上記波形取得用ＰＣＢ（６）から所定の信号が発せられ、これに基づく出力波形が異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）から得られる。現地スタッフは、この出力波形が上記オシロスコープ（７）によってデジタル変換された出力波形データファイルを、パソコン（２）に取り込んでそのＨＤ（２ｂ）に記録する（Ｓ７）。よって、現地スタッフは、電気回路やマクロ構築について専門的な知識がなくても、現に異常を発している異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）からその異常の原因究明に適した出力波形（被検波形）を取得することができる。そして、そして、記録した出力波形データファイルを、通信手段を介して開発拠点のパソコン（２）に送信する（Ｓ８）。
【００４５】
開発拠点の専門スタッフは、生産拠点からから送られてきた出力波形データファイルを、パソコン（２）のハードディスク（２ｂ）に記録する（Ｓ９）。そして、記録した出力波形データファイルに基づいて、あたかも異常ＬＤＤ用ＰＣＢから出力されているかのような動的な被検波形をパソコン（２）のディスプレイ（５）に表示させる（Ｓ１０）。次に、被検波形のディスプレイ（５）上における表示時間軸や表示波高などを、予め記録しておいた上記実測基準波形や理論基準波形に合わせて自由にカスタマイズしながら表示する（Ｓ１０）。このようにして被検波形を表示手段たるパソコン（２）のディスプレイ（５）に表示して実測基準波形や理論基準波形と比較すれば、異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）の異常の原因を容易に追究することが可能である（Ｓ１１）。そして、その原因を電話、ファクシミリ、電子メールなどにより、生産拠点の現地スタッフに通知する（Ｓ１２）。なお、被検波形に異常が見られない場合には、予想していた箇所とは他の箇所に異常の原因があるため、異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）から別の被検波形を得る必要がある。よって、別の被検波形による比較検討を行うべく、上記Ｓ２〜Ｓ１２の工程を繰り返し行えばよい。また、開発拠点においては、各種波形をパソコン（２）のディスプレイ（５）ではなく、オシロスコープ（１）のディスプレイに表示させることが可能である。但し、パソコン（２）からオシロスコープ（１）にデータを転送する手間がない、オシロスコープ（１）が別の用途で使用されていても比較検討が行えるなどの観点から、パソコン（２）のディスプレイ（５）に表示させる方が有利である。
【００４６】
異常の原因を通知された生産拠点の現地スタッフは、例えば、特定のロット番号のデジタルＬＳＩ（５０ｂ）を生産ラインから回収するなど、原因に応じた対策を講ずることで（Ｓ１３）、異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）の生産を回避することができる。
【００４７】
以上の構成の本電気回路検査方法によれば、専門スタッフのいない生産拠点で生産されてしまう多量の異常ＬＤＤ用ＰＣＢ（５１）について、その異常の原因を専門スタッフのいる開発拠点にて容易に追究することができる。
【００４８】
【発明の効果】
請求項１又は２の発明によれば、専門スタッフのいる開発拠点と、専門スタッフのいない生産拠点とが互いに遠隔地の関係にあっても、電気回路の異常の原因を容易に追究することができるという優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】光ディスク装置の要部電気回路を示すブロック図。
【図２】実施形態の電気回路検査方法に用いるデバッグ装置と、同光ディスク装置に搭載されるＬＤＤ用ＰＣＢとの電気的接続を示すブロック図。
【図３】同デバッグ装置のパソコンのディスプレイに出現したウインドウ内における理論波形表示を示す模式図。
【図４】同ディスプレイに出現した他のウインドウ内における実波形表示を示す模式図。
【図５】同ディスプレイに出現した重合表示用ウインドウ内における理論波形と実波形との同時表示を示す模式図。
【図６】ＣＨ１の実波形と理論波形との重ね合わせ波形が得られた同重合表示用ウインドウ内の表示を示す模式図。
【図７】ＣＨ２の理論波形とＣＨ４の実波形との重ね合わせ波形が得られた同重合表示用ウインドウ内の表示を示す模式図。
【図８】互いに異なるチャネル番号の理論波形同士の重ね合わせ波形が得られた同重合表示用ウインドウ内の表示を示す模式図。
【図９】互いに異なるチャネル番号の実波形同士の重ね合わせ波形が得られた同重合表示用ウインドウ内の表示を示す模式図。
【図１０】図３のウインドウからＣＨ３の理論波形の表示が消された状態を示す模式図。
【図１１】図４のウインドウからＣＨ３の実波形の表示が消された状態を示す模式図。
【図１２】図１０のウインドウに表示された各理論波形と、図１１のウインドウに表示された各実波形とを同時に表示する同重合表示用ウインドウを示す模式図。
【図１３】ＬＤＤ用ＰＣＢの開発拠点や生産拠点に配設された各機器を示すブロック図。
【図１４】同電気回路検査方法の作業工程の概要を示すフローチャート。
【符号の説明】
１                デバッグ装置
２                パソコン
２ｂ            ＨＤ（記憶手段）
３                マウス
４                キーボード
５                ディスプレイ（表示手段）
６                波形取得用ＰＣＢ（波形取得装置の一部）
７                オシロスコープ（波形取得装置の一部）
５１              ＬＤＤ用ＰＣＢ（電気回路）
５１ａ          レーザー生成用ＬＳＩ（電気回路）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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