(57)【要約】【課題】抵抗溶接中の溶接部抵抗値を算出して溶接品質を推定する際に、溶接ガンのアームの懐内にワークを保持する治具が入ると渦電流が発生して溶接部抵抗値の算出値に誤差が生じる。【解決手段】本発明では、治具にワークを保持しない状態で、溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極を接触・加圧してテスト通電して渦電流による誤差を含む電極抵抗値を算出する。続いて、治具にワークを保持し、溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極によってワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の渦電流による誤差を含む検出部抵抗値を算出し、この検出部抵抗値から上記電極抵抗値を減算して溶接部抵抗値を算出し、少なくともこの溶接部抵抗値を使用して溶接部の温度変化、ナゲット径又は散りの発生を推定する。【選択図】  図１
2004230425.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
治具に保持されたワークを、溶接ガンの一対のアームの先端部に取り付けた一対の電極によって加圧・通電して溶接する抵抗溶接方法において、
前記ワークの溶接を開始する前に、前記治具に前記ワークを保持しない状態で、溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値及び溶接電流値から前記一対のアームの懐内に前記治具が入ることによって発生する渦電流による誤差を含む電極抵抗値を算出する溶接位置テスト通電工程を行い、
続いて、前記治具に前記ワークを保持して溶接を開始するときは、前記溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極によって前記ワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の前記電極間電圧値及び前記溶接電流値から前記渦電流による誤差を含む検出部抵抗値を算出し、この検出部抵抗値から前記電極抵抗値を減算して溶接部抵抗値を算出し、少なくともこの溶接部抵抗値を使用して溶接部の温度変化又はナゲット径又は散りの発生を推定する溶接工程を行い、
前記ワークを交換するごとに前記溶接工程を行うことを特徴とするテスト通電付加抵抗溶接方法。
【請求項２】
治具に保持されたワークを、溶接ガンの一対のアームの先端部に取り付けた一対の電極によって加圧・通電して溶接する抵抗溶接方法において、
前記ワークの溶接を開始する前に、前記一対のアームの懐内に前記治具が入らない予め定めた初期位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値及び溶接電流値から真性電極抵抗値を算出する初期位置テスト通電工程を行い、
続いて、前記治具に前記ワークを保持しない状態で、溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の前記電極間電圧値及び前記溶接電流値から前記一対のアームの懐内に前記治具が入ることによって発生する渦電流による誤差を含む電極抵抗値を算出し、この電極抵抗値から前記真性電極抵抗値を減算して前記渦電流による誤差に相当する抵抗補正値を算出する溶接位置テスト通電工程を行い、
続いて、前記治具に前記ワークを保持して溶接を開始するときは、前記溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極によって前記ワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の前記電極間電圧値及び前記溶接電流値から前記渦電流による誤差を含む検出部抵抗値を算出し、この検出部抵抗値から前記真性電極抵抗値及び前記抵抗補正値を減算して溶接部抵抗値を算出し、少なくともこの溶接部抵抗値を使用して溶接部の温度変化又はナゲット径又は散りの発生を推定する溶接工程を行い、
前記ワークを交換するごとに前記溶接工程を行うことを特徴とするテスト通電付加抵抗溶接方法。
【請求項３】
溶接の繰り返しによって消耗した前記一対の電極を研磨して再生した場合又は新品に交換した場合には、前記初期位置テスト通電工程を行った後に、前記溶接工程を行うことを特徴とする請求項２記載のテスト通電付加抵抗溶接方法。
【請求項４】
前記溶接位置テスト通電工程を前記ワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行い、続いて前記溶接工程を前記ワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行うことを特徴とする請求項１又は請求項２又は請求項３記載のテスト通電付加抵抗溶接方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、抵抗溶接中の溶接部抵抗値を正確に算出することによって、溶接部の温度変化、ナゲット径又は散りの発生を推定して良好な溶接品質を得ることができる抵抗溶接方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図６は、抵抗溶接装置の構成図である。サイリスタ２は、商用交流電源１を入力として定電流出力になるように位相制御を行う。変圧器３は、位相制御された電圧を抵抗溶接に適した電圧値に降圧する。溶接ガンは、一対のアーム４及び先端部に取り付けられた一対の電極６等から成る。ワーク７は治具８によって保持されて、上記一対の電極６によって加圧・通電されて溶接される。
【０００３】
電圧検出線５は、上記一対の電極６の間の電極間電圧ｖｅを検出するために配線される。電圧検出回路ＶＤは、上記の電極間電圧ｖｅを検出して電極間電圧検出信号ｖｄを出力する。電流検出回路ＩＤは、溶接電流ｉｗを検出して溶接電流検出信号ｉｄを出力する。
【０００４】
抵抗値算出回路ＲＣは、上記の電極間電圧検出信号ｖｄ及び上記の溶接電流検出信号ｉｄを入力として、後述する方法によって溶接中の溶接部抵抗値信号Ｒｗを出力する。溶接品質推定回路ＱＣは、この溶接部抵抗値信号Ｒｗ、上記の電極間電圧検出信号ｖｄ及び上記の溶接電流検出信号ｉｄを入力として、下記に示す方法によって溶接部の温度変化、ナゲット径又は散りの発生を推定する。同図では、溶接中の溶接部の温度変化を推定し、温度変化推定値信号Ｔｃが出力される場合を例示している。
【０００５】
溶接品質の推定方法として例えば、特許文献１では、溶接部の動抵抗の連続計測を行い，この連続的に計測された溶接現象に対応した動抵抗変化パターンの特徴を抽出・分類することによって散り発生の予兆を検出する方法が記載されている。また、特許文献２では、溶接部の抵抗率に基づいてナゲットの温度を推定し、溶接開始時点から溶接終了時点までのナゲット温度の変化が予め設定した温度変化範囲内になるよう溶接電力を制御することで、散りの発生を防止する方法が記載されている。これら以外でも、溶接部抵抗値Ｒｗ、電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗを入力として熱伝導計算に基づいて温度変化を推定し、ナゲット径及び散りの発生を推定する方法も提案されている。
【０００６】
電流設定回路ＩＳは、上記の温度変化推定値信号Ｔｃを入力として、この温度変化推定値信号Ｔｃが予め定めた目標温度変化パターンに沿うように電流設定信号Ｉｓを出力する。出力制御回路ＣＣは、この電流設定信号Ｉｓと上記の溶接電流検出信号ｉｄの実効値とが略等しくなるように、上記のサイリスタ２を位相制御するための点弧信号Ｃｃを出力する。
【０００７】
図７は、溶接部抵抗値Ｒｗの算出方法を示すフローチャートである。上記の電極間電圧値ｖｅを上記の溶接電流値ｉｗで除算して算出される抵抗値（以下、検出部抵抗値Ｒｓという）は、一対の電極部の抵抗値（以下、真性電極抵抗値Ｒｅｔという）と溶接部抵抗値Ｒｗとの加算値となる。すなわち、Ｒｓ＝Ｒｅｔ＋Ｒｗが成立する。このために、溶接を行う前に予め上記の真性電極抵抗値Ｒｅｔを算出しておき、溶接中に上記の検出部抵抗値をＲｓ＝ｖｅ／ｉｗの演算によって算出し、同時に溶接部抵抗値をＲｗ＝Ｒｓ−Ｒｅｔの演算によって算出する。以下、同図を参照して、これらの手順を説明する。
【０００８】
ステップＳＴ１において、ワークの溶接を開始する前に、予め定めた初期位置に溶接ガンを移動し、一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから真性電極抵抗値Ｒｅｔ＝ｖｅ／ｉｗを算出するテスト通電工程を行う。
【０００９】
ステップＳＴ２において、治具にワークを保持して溶接を開始するときは、溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極によってワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから検出部抵抗値Ｒｓ＝ｖｅ／ｉｗを算出し、この検出部抵抗値Ｒｓから上記の真性電極抵抗値Ｒｅｔを減算して溶接部抵抗値Ｒｗ＝Ｒｓ−Ｒｅｔを算出し、少なくともこの溶接部抵抗値Ｒｗを使用して溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を推定する溶接工程を行う。
【００１０】
ステップＳＴ３において、次のワークに交換したかを判定して、ＹＥＳならば上記のステップＳＴ２に戻り、ＮＯならば溶接を終了する。
【００１１】
図８は、上記のサイリスタ２を位相角１２０°で点弧したときの半サイクル期間中の電極間電圧ｖｅ及び溶接電流ｉｗの波形図である。上記の検出部抵抗値Ｒｓを算出する場合、半サイクル期間中において溶接電流ｉｗの変化が零となる位相９０°のときの電極間電圧値ｖ１及び溶接電流値ｉ１を用いて演算することが多い。この理由は、溶接電流ｉｗの変化がない状態では、上記の電圧検出線５に重畳する誘導電圧ノイズが略零となるために、正確に電極間電圧値ｖｅを検出することができるからである。このようにして、半サイクルごとに溶接部抵抗値Ｒｗを連続して算出することができる。
【００１２】
【特許文献１】
特開平１１−２８５８４８号公報
【特許文献２】
特開２０００−２８００７８号公報
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
図９に示すように、ワーク７の溶接位置によっては治具８が溶接ガンの一対のアーム４の懐内に入ってしまうことがよくある。この状態で抵抗溶接を行うと、溶接中の電極間電圧ｖｅ及び溶接電流ｉｗの波形は図１０のようになる。同図は上述した図８と同じ溶接条件での波形であるので、本来は両図とも同じ波形になるはずである。しかし、溶接電流ｉｗは略等しい波形であるが、電極間電圧ｖｅは同図の方が明らかに大きくなっている。これは、アーム４の懐内に治具が入ることによって溶接中に渦電流が発生し、この渦電流による誤差電圧が電極間電圧ｖｅに重畳するためである。
【００１４】
同図において、位相９０°の電極間電圧値ｖ２及び溶接電流値ｉ２から検出部抵抗値Ｒｓ２＝ｖ２／ｉ２が算出される。渦電流による誤差抵抗値をＲｄとすると、検出部抵抗値Ｒｓ２＝真性電極抵抗値Ｒｅｔ＋溶接部抵抗値Ｒｗ＋誤差抵抗値Ｒｄとなる。したがって、上述したように、検出部抵抗値Ｒｓを算出し、真性電極抵抗値Ｒｅｔを減算する従来方法では、溶接部抵抗値Ｒｗに誤差抵抗値Ｒｄを含めて算出することになる。この結果、溶接部抵抗値に誤差を含むことになるために、温度変化、ナゲット径又は散りの発生の推定に誤差を生じることになる。
【００１５】
そこで、本発明では、渦電流による誤差抵抗値を除去して溶接部抵抗値を正確に算出することができるテスト通電付加抵抗溶接方法を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
上記した課題を解決するために、請求項１の発明は、治具に保持されたワークを、溶接ガンの一対のアームの先端部に取り付けた一対の電極によって加圧・通電して溶接する抵抗溶接方法において、
前記ワークの溶接を開始する前に、前記治具に前記ワークを保持しない状態で、溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値及び溶接電流値から前記一対のアームの懐内に前記治具が入ることによって発生する渦電流による誤差を含む電極抵抗値を算出する溶接位置テスト通電工程を行い、
続いて、前記治具に前記ワークを保持して溶接を開始するときは、前記溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極によって前記ワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の前記電極間電圧値及び前記溶接電流値から前記渦電流による誤差を含む検出部抵抗値を算出し、この検出部抵抗値から前記電極抵抗値を減算して溶接部抵抗値を算出し、少なくともこの溶接部抵抗値を使用して溶接部の温度変化又はナゲット径又は散りの発生を推定する溶接工程を行い、
前記ワークを交換するごとに前記溶接工程を行うことを特徴とするテスト通電付加抵抗溶接方法である。
【００１７】
請求項２の発明は、治具に保持されたワークを、溶接ガンの一対のアームの先端部に取り付けた一対の電極によって加圧・通電して溶接する抵抗溶接方法において、
前記ワークの溶接を開始する前に、前記一対のアームの懐内に前記治具が入らない予め定めた初期位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値及び溶接電流値から真性電極抵抗値を算出する初期位置テスト通電工程を行い、
続いて、前記治具に前記ワークを保持しない状態で、溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の前記電極間電圧値及び前記溶接電流値から前記一対のアームの懐内に前記治具が入ることによって発生する渦電流による誤差を含む電極抵抗値を算出し、この電極抵抗値から前記真性電極抵抗値を減算して前記渦電流による誤差に相当する抵抗補正値を算出する溶接位置テスト通電工程を行い、
続いて、前記治具に前記ワークを保持して溶接を開始するときは、前記溶接位置に前記溶接ガンを移動し、前記一対の電極によって前記ワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の前記電極間電圧値及び前記溶接電流値から前記渦電流による誤差を含む検出部抵抗値を算出し、この検出部抵抗値から前記真性電極抵抗値及び前記抵抗補正値を減算して溶接部抵抗値を算出し、少なくともこの溶接部抵抗値を使用して溶接部の温度変化又はナゲット径又は散りの発生を推定する溶接工程を行い、
前記ワークを交換するごとに前記溶接工程を行うことを特徴とするテスト通電付加抵抗溶接方法である。
【００１８】
請求項３の発明は、溶接の繰り返しによって消耗した前記一対の電極を研磨して再生した場合又は新品に交換した場合には、前記初期位置テスト通電工程を行った後に、前記溶接工程を行うことを特徴とする請求項２記載のテスト通電付加抵抗溶接方法である。
【００１９】
請求項４の発明は、前記溶接位置テスト通電工程を前記ワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行い、続いて前記溶接工程を前記ワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行うことを特徴とする請求項１又は請求項２又は請求項３記載のテスト通電付加抵抗溶接方法である。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
［実施の形態１］
図１は、本発明の実施の形態１に係るテスト通電付加抵抗溶接方法を示すフローチャートである。抵抗溶接装置は、上述した図６と同一である。以下、同図を参照して説明する。
【００２１】
ステップＳＴ１０において、ワークの溶接を開始する前に、治具にワークを保持しない状態で、溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから一対のアームの懐内に治具が入ることによって発生する渦電流による誤差抵抗値Ｒｄを含む電極抵抗値Ｒｅを算出する溶接位置テスト通電工程を行う。したがって、この電極抵抗値Ｒｅ＝真性電極抵抗値Ｒｅｔ＋誤差抵抗値Ｒｄとなる。
【００２２】
ステップＳＴ２０において、治具にワークを保持して溶接を開始するときは、溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極によってワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから渦電流による誤差抵抗値Ｒｄを含む検出部抵抗値Ｒｓ（＝Ｒｗ＋Ｒｄ）を算出し、この検出部抵抗値Ｒｓから上記の電極抵抗値Ｒｅ（＝Ｒｅｔ＋Ｒｄ）を減算して溶接部抵抗値Ｒｗを算出し、少なくともこの溶接部抵抗値Ｒｗを使用して溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を推定する溶接工程を行う。すなわち、溶接位置でテスト通電することによって、その溶接位置における渦電流による誤差抵抗値Ｒｄを含めた電極抵抗値Ｒｅを算出し、溶接部抵抗値Ｒｗを算出するときに誤差抵抗値Ｒｄを相殺している。
【００２３】
ステップＳＴ３０において、ワークを交換するか判定して、ＹＥＳならば上記のステップＳＴ２０に戻り、ＮＯならば溶接を終了する。以上のステップによって、溶接中の溶接部抵抗値Ｒｗを連続的に正確に算出することができるので、溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を正確に推定することができる。
【００２４】
［実施の形態２］
図２は、本発明の実施の形態２に係るテスト通電付加抵抗溶接方法を示すフローチャートである。抵抗溶接装置は、上述した図６と同一である。以下、同図を参照して説明する。
【００２５】
ステップＳＴ０１において、ワークの溶接を開始する前に、一対のアームの懐内に治具が入らない予め定めた初期位置に溶接ガンを移動し、一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから渦電流による誤差を含まない真性電極抵抗値Ｒｅｔを算出する初期位置テスト通電工程を行う。
【００２６】
ステップＳＴ１０において、治具にワークを保持しない状態で、溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから一対のアームの懐内に治具が入ることによって発生する渦電流による誤差を含む電極抵抗値Ｒｅを算出し、この電極抵抗値Ｒｅから上記の真性電極抵抗値Ｒｅｔを減算して渦電流による誤差抵抗値Ｒｄに相当する抵抗補正値Ｒｒを算出する溶接位置テスト通電工程を行う。
【００２７】
ステップＳＴ２０において、治具にワークを保持して溶接を開始するときは、溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極によってワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから渦電流による誤差を含む検出部抵抗値Ｒｓを算出し、この検出部抵抗値Ｒｓから上記の真性電極抵抗値Ｒｅｔ及び上記の抵抗補正値Ｒｒを減算して溶接部抵抗値Ｒｗを算出し、少なくともこの溶接部抵抗値Ｒｗを使用して溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を推定する溶接工程を行う。すなわち、上記の検出部抵抗値Ｒｓは、課題の説明の項で上述したように、Ｒｓ＝Ｒｅｔ＋Ｒｄ＋Ｒｗである。上記のステップＳＴ０１によって真性電極抵抗値Ｒｅｔが算出され、上記のステップＳＴ１０によって渦電流による誤差抵抗値Ｒｄに相当する抵抗補正値Ｒｒが算出される。したがって、溶接部抵抗値Ｒｗは、Ｒｗ＝Ｒｓ−Ｒｅｔ−Ｒｒの演算によって算出される。
【００２８】
ステップＳＴ３０において、次のワークに交換したかを判定して、ＹＥＳならばステップＳＴ２０に戻り、ＮＯならば溶接を終了する。以上のステップによって、溶接中の溶接部抵抗値Ｒｗを連続的に正確に算出することができるので、溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を正確に推定することができる。
【００２９】
［実施の形態３］
図３は、本発明の実施の形態３に係るテスト通電付加抵抗溶接方法を示すフローチャートである。この実施の形態３では、上述した実施の形態２を示す図２においてステップＳＴ３０の判定がＹＥＳのときに挿入されるステップである。以下、同図を参照して説明する。
【００３０】
上述した図２のステップＳＴ３０において判定がＹＥＳならば、同図に示すステップＳＴ３１を行う。ステップＳＴ３１において、溶接の繰り返しによって消耗した一対の電極を研磨して再生したか又は新品に交換したかを判定して、ＹＥＳ（研磨又は交換を実施）ならば次のステップＳＴ３２へ進み、ＮＯならば上述した図２のステップＳＴ２０（溶接工程）に戻る。
【００３１】
ステップＳＴ３２において、上述した図２のステップＳＴ０１と同様に初期位置テスト通電工程を再び行い、真性電極抵抗値Ｒｅｔを更新する。その後に、上述した図２のステップＳＴ２０（溶接工程）に戻る。このように、電極を研磨又は交換するごとに真性電極抵抗値Ｒｅｔを更新する理由は、電極を研磨又は交換によって真性電極抵抗値Ｒｅｔが変化するためである。したがって、電極の研磨又は交換のときでなくとも、溶接回数が所定回数に達したときにも真性電極抵抗値Ｒｅｔを更新することも有効である。
【００３２】
［実施の形態４］
図４は、本発明の実施の形態４に係るテスト通電付加抵抗溶接方法を示すフローチャートである。この実施の形態４では、上述した実施の形態１において溶接位置テスト通電工程をワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行い、続いて溶接工程をワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行う。同図において、上述した実施の形態１を示す図１と同一のステップには同一符号を付して説明を省略する。以下、図１とは異なる点線で示すステップについて、同図を参照して説明する。
【００３３】
ステップＳＴ１０ａにおいて、ワークの溶接を開始する前に、治具にワークを保持しない状態で、複数の溶接個所の内の指定溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから一対のアームの懐内に治具が入ることによって発生する渦電流による指定溶接位置における誤差抵抗値Ｒｄ（ｎ）を含む指定溶接位置に対応した電極抵抗値Ｒｅ（ｎ）を算出する溶接位置テスト通電工程を行う。したがって、この電極抵抗値Ｒｅ（ｎ）＝真性電極抵抗値Ｒｅｔ＋誤差抵抗値Ｒｄ（ｎ）となる。
【００３４】
ステップＳＴ１１において、複数の溶接個所の内の次の溶接位置へ移動したかを判定して、ＹＥＳならば上記のステップＳＴ１０ａに戻り、ＮＯ（すべての溶接個所での溶接位置テスト通電工程の終了）ならば次のステップＳＴ２０ａへ進む。
【００３５】
ステップＳＴ２０ａにおいて、治具にワークを保持して溶接を開始するときは、複数の溶接個所の内の指定溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極によってワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから渦電流による指定溶接位置における誤差抵抗値Ｒｄ（ｎ）を含む指定溶接位置に対応した検出部抵抗値Ｒｓ（ｎ）（＝Ｒｗ（ｎ）＋Ｒｄ（ｎ））を算出し、この検出部抵抗値Ｒｓ（ｎ）から上記の電極抵抗値Ｒｅ（ｎ）（＝Ｒｅｔ＋Ｒｄ（ｎ））を減算して溶接部抵抗値Ｒｗ（ｎ）を算出し、少なくともこの溶接部抵抗値Ｒｗ（ｎ）を使用して溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を推定する溶接工程を行う。
【００３６】
ステップＳＴ２１において、複数の溶接個所の内の次の溶接位置へ移動したかを判定して、ＹＥＳならば上記のステップＳＴ２０ａに戻り、ＮＯ（すべての溶接個所での溶接工程の終了）ならば次のステップＳＴ３０へ進む。
【００３７】
以上のステップによって、ワークの各溶接位置でテスト通電することによって、その溶接位置における渦電流による誤差抵抗値Ｒｄ（ｎ）を含めた電極抵抗値Ｒｅ（ｎ）を算出し、その溶接位置での溶接部抵抗値Ｒｗ（ｎ）を算出するときにその溶接位置での誤差抵抗値Ｒｄ（ｎ）を相殺する。
【００３８】
［実施の形態５］
図５は、本発明の実施の形態５に係るテスト通電付加抵抗溶接方法を示すフローチャートである。この実施の形態５では、上述した実施の形態２において溶接位置テスト通電工程をワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行い、続いて溶接工程をワークの複数の溶接個所ごとに繰り返し行う。同図において、上述した実施の形態２を示す図２と同一のステップには同一符号を付して説明を省略する。以下、図２とは異なる点線で示すステップについて、同図を参照して説明する。
【００３９】
ステップＳＴ１０ｂにおいて、治具にワークを保持しない状態で、複数の溶接個所の内の指定溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極を接触・加圧してテスト通電し、このテスト通電中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから一対のアームの懐内に治具が入ることによって発生する渦電流による誤差を含む指定溶接位置における電極抵抗値Ｒｅ（ｎ）を算出し、この電極抵抗値Ｒｅ（ｎ）から真性電極抵抗値Ｒｅｔを減算して渦電流による誤差抵抗値Ｒｄ（ｎ）に相当する指定溶接位置に対応した抵抗補正値Ｒｒ（ｎ）を算出する溶接位置テスト通電工程を行う。
【００４０】
ステップＳＴ１１において、複数の溶接個所の内の次の溶接位置へ移動したかを判定して、ＹＥＳならば上記のステップＳＴ１０ｂに戻り、ＮＯ（すべての溶接個所での溶接位置テスト通電工程の終了）ならば次のステップＳＴ２０ｂへ進む。
【００４１】
ステップＳＴ２０ｂにおいて、治具にワークを保持して溶接を開始するときは、複数の溶接個所の内の指定溶接位置に溶接ガンを移動し、一対の電極によってワークを加圧・通電して溶接し、この溶接中の電極間電圧値ｖｅ及び溶接電流値ｉｗから渦電流による誤差を含む指定溶接位置における検出部抵抗値Ｒｓ（ｎ）を算出し、この検出部抵抗値Ｒｓ（ｎ）から真性電極抵抗値Ｒｅｔ及び上記の抵抗補正値Ｒｒ（ｎ）を減算して指定溶接位置に対応した溶接部抵抗値Ｒｗ（ｎ）を算出し、少なくともこの溶接部抵抗値Ｒｗ（ｎ）を使用して溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を推定する溶接工程を行う。
【００４２】
ステップＳＴ２１において、複数の溶接個所の内の次の溶接位置へ移動したかを判定して、ＹＥＳならば上記のステップＳＴ２０ｂに戻り、ＮＯ（すべての溶接個所での溶接工程の終了）ならば次のステップＳＴ３０へ進む。
【００４３】
ここで、その溶接位置での検出部抵抗値Ｒｓ（ｎ）は、Ｒｓ（ｎ）＝Ｒｅｔ＋Ｒｄ（ｎ）＋Ｒｗ（ｎ）である。ステップＳＴ０１によって真性電極抵抗値Ｒｅｔが算出され、上記のステップＳＴ１０ｂによって渦電流によるその溶接位置での誤差抵抗値Ｒｄ（ｎ）に相当するその溶接位置での抵抗補正値Ｒｒ（ｎ）が算出される。したがって、その溶接位置での溶接部抵抗値Ｒｗ（ｎ）は、Ｒｗ（ｎ）＝Ｒｓ（ｎ）−Ｒｅｔ−Ｒｒ（ｎ）の演算によって算出される。
【００４４】
【発明の効果】
本発明に係るテスト通電付加抵抗溶接方法によれば、渦電流による誤差を除去して溶接部抵抗値を連続的に正確に算出することができるので、溶接部の温度変化、ナゲット径、散りの発生等の溶接品質を正確に推定することができる。
【００４５】
請求項３記載のテスト通電付加抵抗溶接方法によれば、上記の効果に加えて、電極の研磨又は交換ごとに真性電極抵抗値を更新するので、電極の研磨又は交換に伴う真性電極抵抗値の誤差を除去することができる。
【００４６】
請求項４記載のテスト通電付加抵抗溶接方法によれば、ワークに複数の溶接個所が存在する場合でも、溶接個所によって異なる渦電流による誤差を除去することができるので、すべての溶接個所に対して溶接部抵抗値を正確に算出することができる。したがって、すべての溶接個所における溶接品質を正確に推定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１を示すフローチャートである。
【図２】本発明の実施の形態２を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施の形態３を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態４を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態５を示すフローチャートである。
【図６】従来技術における抵抗溶接装置の構成図である。
【図７】従来技術を示すフローチャートである。
【図８】従来技術における溶接部抵抗値の算出方法を示す電圧・電流波形図である。
【図９】課題を説明するために、溶接ガンのアームの懐内に治具が入った場合を示す構成図である。
【図１０】課題を説明するために、溶接ガンの懐内に治具が入ることによって発生する渦電流による影響を示す電圧・電流波形図である。
【符号の説明】
１            商用交流電源
２            サイリスタ
３            変圧器
４            アーム
５            電圧検出線
６            電極
７            ワーク
８            治具
ＣＣ            出力制御回路
Ｃｃ            点弧信号
ＩＤ            電流検出回路
ｉｄ            溶接電流検出信号
ＩＳ            電流設定回路
Ｉｓ            電流設定信号
ｉｗ            溶接電流
ＱＣ            溶接品質推定回路
ＲＣ            抵抗値算出回路
Ｒｄ            誤差抵抗値
Ｒｅ            電極抵抗値
Ｒｅｔ            真性電極抵抗値
Ｒｒ            抵抗補正値
Ｒｓ            検出部抵抗値
Ｒｗ            溶接部抵抗値（信号）
ＳＴ            ステップ
Ｔｃ            温度変化推定値信号
ＶＤ            電圧検出回路
ｖｄ            電極間電圧検出信号
ｖｅ            電極間電圧
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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