(57)【要約】【課題】ディスクの傾きや記録感度むらなどの影響を軽減し、最適レーザパワーの調整精度を高める。【解決手段】可変テスト記録ステップ（Ｆ２０７）として第１から第ｘのレーザパワーに逐次変化させてテスト記録を行う第１から第ｘのテストエリアに、固定テスト記録ステップ（Ｆ２０５）として固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行う。そして、その際の振幅情報から、ディスクの傾きや感度むらなどの影響をとりのぞいた本来のレーザパワーと振幅情報の関係を推定する。即ち可変テスト記録ステップでの第１から第ｘのレーザパワー又はその際の第１から第ｘの振幅情報を補正する（Ｆ２０８）。そして補正された第１から第ｘのレーザパワーと、それに対応する第１から第ｘの振幅情報を用いて、最適記録パワーを決定する。【選択図】        図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
書換可能な光記録媒体に対するディスクドライブ装置のレーザパワー調整方法として、
上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対して、それぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る可変テスト記録ステップと、
上記第１から第ｘの各テストエリアに対して、固定レーザパワーでテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る固定テスト記録ステップと、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正ステップと、
上記補正ステップで補正された、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、レーザパワー設定を行うレーザパワー設定ステップと、
を有することを特徴とするレーザパワー調整方法。
【請求項２】
上記補正ステップでは、
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、
上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正することを特徴とする請求項１に記載のレーザパワー調整方法。
【請求項３】
上記補正ステップでは、
上記固定テスト記録ステップの際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出することを特徴とする請求項２に記載のレーザパワー調整方法。
【請求項４】
上記補正ステップでは、
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、
上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正することを特徴とする請求項１に記載のレーザパワー調整方法。
【請求項５】
上記補正ステップでは、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出することを特徴とする請求項４に記載のレーザパワー調整方法。
【請求項６】
上記固定テスト記録ステップにおいて得られた上記第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認ステップを、
さらに備えることを特徴とする請求項１に記載のレーザパワー調整方法。
【請求項７】
上記振幅情報は、再生信号の振幅値、又は変調度であることを特徴とする請求項１に記載のレーザパワー調整方法。
【請求項８】
データの書込又は読出のために、ディスク記録媒体に対するレーザ照射及び反射光検出を行うヘッド手段と、
上記ヘッド手段で得られる反射光に基づく信号から振幅情報を検出する振幅情報検出手段と、
上記ヘッド手段において所定のレーザパワーでのレーザ出力を実行させるレーザ駆動手段と、
上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御してディスク記録媒体に対する記録再生動作を実行させるとともに、上記振幅情報検出手段から振幅情報を得ることのできる制御手段と、
を備え、
上記制御手段は、
上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対してそれぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る可変テスト記録処理と、
上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対して固定レーザパワーでテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る固定テスト記録処理と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正処理と、
上記補正処理で補正された、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、上記レーザ駆動手段に対してレーザパワー設定を行うレーザパワー設定処理とを行うことを特徴とするディスクドライブ装置。
【請求項９】
上記制御手段は、上記補正処理において、
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、
上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正することを特徴とする請求項８に記載のディスクドライブ装置。
【請求項１０】
上記制御手段は、上記補正処理において、
上記固定テスト記録処理の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出することを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブ装置。
【請求項１１】
上記制御手段は、上記補正処理において、
上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、
上記可変テスト記録処理おける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正することを特徴とする請求項８に記載のディスクドライブ装置。
【請求項１２】
上記制御手段は、上記補正処理において、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、
上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値と、
を用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出することを特徴とする請求項１１に記載のディスクドライブ装置。
【請求項１３】
上記制御手段は、
上記固定テスト記録処理において得られた上記第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認処理を、
さらに行うことを特徴とする請求項８に記載のディスクドライブ装置。
【請求項１４】
上記振幅情報検出手段は、上記振幅情報として、再生信号の振幅値、又は変調度を検出することを特徴とする請求項８に記載のディスクドライブ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク等の記録媒体に対するディスクドライブ装置、及びレーザパワー調整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
【特許文献１】特開平９−１３８９４６
【０００３】
デジタルデータを記録・再生するための技術として、例えば、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ），ＭＤ（Ｍｉｎｉ−Ｄｉｓｋ），ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）などの、光ディスク（光磁気ディスクを含む）を記録メディアに用いたデータ記録技術がある。光ディスクとは、金属薄板をプラスチックで保護した円盤に、レーザ光を照射し、その反射光の変化で信号を読み取る記録メディアの総称である。
光ディスクには、例えばＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどとして知られているように再生専用タイプのものと、ＭＤ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどで知られているようにユーザーデータが記録可能なタイプがある。記録可能タイプのものは、光磁気記録方式、相変化記録方式、色素膜変化記録方式などが利用されることで、データが記録可能とされる。色素膜変化記録方式はライトワンス記録方式とも呼ばれ、一度だけデータ記録が可能で書換不能であるため、データ保存用途などに好適とされる。一方、光磁気記録方式や相変化記録方式は、データの書換が可能であり音楽、映像、ゲーム、アプリケーションプログラム等の各種コンテンツデータの記録を始めとして各種用途に利用される。
更に近年、ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）と呼ばれる高密度光ディスクが開発され、著しい大容量化が図られている。
【０００４】
ブルーレイディスクのような高密度ディスクについては、ディスク厚み方向に０．１ｍｍのカバー層を有するディスク構造において、波長４０５ｎｍのレーザ（いわゆる青色レーザ）とＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ）が０．８５の対物レンズの組み合わせという条件下でフェーズチェンジマーク（相変化マーク）を記録再生を行うとし、トラックピッチ０．３２μｍ、線密度０．１２μｍ／ｂｉｔで、６４ＫＢ（キロバイト）のデータブロックを１つの記録再生単位として、フォーマット効率約８２％としたとき、直系１２ｃｍのディスクに２３．３ＧＢ（ギガバイト）程度の容量を記録再生できる。
また、同様のフォーマットで、線密度を０．１１２μｍ／ｂｉｔの密度とすると、２５ＧＢの容量を記録再生できる。
さらに、記録層を多層構造とすることでさらに飛躍的な大容量化が実現できる。例えば記録層を２層とすることにより、容量は上記の２倍である４６．６ＧＢ、又は５０ＧＢとすることができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、これらのディスク記録媒体に対するディスクドライブ装置（記録再生装置）では、記録レーザパワーを最適値に調整する動作が必要とされる。
記録レーザパワーの調整に関する技術は、例えば上記特許文献１に記載されている。
特許文献１に記載された技術では、記録レーザパワーＰを逐次変化させながら未記録部分と記録部分とからなるパターンをテスト記録する。そしてこのテスト記録したパターンを再生して各記録レーザパワーＰに対応した信号振幅ｍをモニターする。そして規格化された傾斜ｇ（Ｐ）を例えば次式、
ｇ（Ｐ）＝（Δｍ／ｍ）／（ΔＰ／Ｐ）
ΔＰ：Ｐの近傍における微小変化量
Δｍ：ｍの近傍におけるΔＰに対応した微小変化量
にしたがって求め、
傾斜ｇ（Ｐ）に基づいて記録パワーの過不足を評価することにより最適記録パワーを決定して設定するようにしていた。
【０００６】
しかしながら、例えばこのような方法で最適記録レーザパワーを決定する場合、信号振幅がディスクの傾きや回転変動、記録感度ムラ等の影響をうけることにより、実用上十分な精度で最適記録パワーを決定できないという問題があった。
特に上記ブルーレイディスクのように、光ディスクの高密度化によるレンズの開口率の増大という条件が重なると、この問題は無視できないレベルになりつつある。
【０００７】
図１２でこの点を説明する。図１２ではディスク上の或る領域（テストライト実行領域）を８個のテストエリアＴＡ１〜ＴＡ８に分割設定した場合を示している。
まず図１２（ａ）はディスクの傾きや回転変動、記録感度ムラ等の影響が全くない理想的な状態において、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８に対して、或る固定の記録レーザパワーＰｎでテストパターンの記録を行い、それを再生した場合の信号振幅ｍを示している。この理想状態においては、同一の記録レーザパワーＰｎで記録したテストパターンを再生した場合、図示するように各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で、信号振幅値ｍとしては全て同じレベルになるはずである。
この理想状態において、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で、それぞれ記録レーザパワーをＰ（１）〜Ｐ（８）として段階的に変化させる（上げていく）ようにしてテストパターンの記録を行い、それを再生すると、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８において図１２（ｂ）のような振幅が得られることが期待される。
【０００８】
従来のレーザパワー調整の際には、この図１２（ｂ）の理想に近い状態で、レーザパワーに応じた振幅変化が得られることを前提とし、レーザパワーを変化させながら振幅値をモニタして、それに基づいてレーザパワー調整を行うものである。
ところが、上記原因により、この図１２（ａ）（ｂ）のような理想状態は得られず、特に高密度ディスクでは、その影響が無視できない。
例えば図１２（ｃ）は、図１２（ａ）と同じく、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８に対して、或る固定の記録レーザパワーＰｎでテストパターンの記録を行い、それを再生した場合の信号振幅ｍを示している。即ち、本来図１２（ａ）のように各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で同一の信号振幅値ｍが得られるべきところ、ディスク傾き、回転変動、記録ムラ等の影響で、図示するように振幅値が変動してしまう。
この場合、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８で、それぞれ記録レーザパワーをＰ（１）〜Ｐ（８）として段階的に変化させるようにしてテストパターンの記録を行い、それを再生すると、各テストエリアＴＡ１〜ＴＡ８において得られる振幅レベルは図１２（ｄ）のようになる。つまり図１２（ｂ）の理想状態と比べて、振幅の変化と記録レーザパワーの変化の特性のカーブが歪んだ状態となる。
このことから、レーザパワーを変化させながら振幅値をモニタして、それに基づいてレーザパワー調整を行うようにしても、その調整精度が十分ではなくなることが理解される。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
そこで本発明では、ディスクの傾きや記録感度むら等の影響を受けにくい最適な記録レーザパワーへの調整技術を提供することを目的とする。
【００１０】
このために本発明の書換可能な光記録媒体に対するディスクドライブ装置のレーザパワー調整方法は、上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対して、それぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る可変テスト記録ステップと、上記第１から第ｘの各テストエリアに対して、固定レーザパワーでテスト記録を行い、該テスト記録した領域を再生して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を得る固定テスト記録ステップと、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正ステップと、上記補正ステップで補正された、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、レーザパワー設定を行うレーザパワー設定ステップと、を有する。
【００１１】
また、上記補正ステップでは、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正する。
この場合、上記固定テスト記録ステップの際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出する。
或いは、上記補正ステップでは、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、上記可変テスト記録ステップにおける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正する。
この場合、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録ステップでの上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出する。
【００１２】
また、上記固定テスト記録ステップにおいて得られた上記第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認ステップをさらに備える。
また、上記振幅情報は、再生信号の振幅値、又は変調度である。
【００１３】
本発明のディスクドライブ装置は、データの書込又は読出のために、ディスク記録媒体に対するレーザ照射及び反射光検出を行うヘッド手段と、上記ヘッド手段で得られる反射光に基づく信号から振幅情報を検出する振幅情報検出手段と、上記ヘッド手段において所定のレーザパワーでのレーザ出力を実行させるレーザ駆動手段と、上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御してディスク記録媒体に対する記録再生動作を実行させるとともに、上記振幅情報検出手段から振幅情報を得ることのできる制御手段とを備える。そして上記制御手段は、上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記記録媒体上に設定した第１から第ｘ（ｘは２以上）の各テストエリアに対してそれぞれ第１のレーザパワーから第ｘのレーザパワーとしてレーザパワーを変化させながらテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る可変テスト記録処理と、上記ヘッド手段及び上記レーザ駆動手段を制御して、上記第１から第ｘの各テストエリアに対して固定レーザパワーでテスト記録を実行させ、さらに該テスト記録した領域を再生させて、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応する第１から第ｘの振幅情報を上記振幅情報検出手段から得る固定テスト記録処理と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報を用いて、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワー又は上記第１から第ｘの振幅情報を補正する補正処理と、上記補正処理で補正された、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーと上記第１から第ｘの振幅情報を用いて最適なレーザパワーを算出し、上記レーザ駆動手段に対してレーザパワー設定を行うレーザパワー設定処理とを行う。
【００１４】
また上記制御手段は、上記補正処理において、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、上記可変テスト記録処理における第１から第ｘのレーザパワーを、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正する。
この場合上記制御手段は、上記固定テスト記録処理の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出する。
或いは上記制御手段は、上記補正処理において、上記第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、上記可変テスト記録処理おける第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正する。
この場合上記制御手段は、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報と、上記固定テスト記録処理での上記第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、上記第１から第ｘの振幅情報補正値を算出する。
【００１５】
また上記制御手段は、上記固定テスト記録処理において得られた上記第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認処理をさらに行う。
また上記振幅情報検出手段は、上記振幅情報として、再生信号の振幅値、又は変調度を検出する。
【００１６】
このような本発明では、上記可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）としてレーザパワーＰをＰ（１）〜Ｐ（ｘ）に逐次変化させてテスト記録を行う第１から第ｘのテストエリアに、上記固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）として固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行うようにしている。
第１から第ｘのテストエリアに、固定のレーザパワーＰｎで記録した場合、それを再生して得られる振幅情報（振幅値又は変調度）が変動していれば、その変動はディスクの傾きや記録感度むら等の影響によるものと見ることができる。
つまり、上記固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）におけるレーザパワーＰｎと、その際に第１から第ｘのテストエリアで得られる第１から第ｘの振幅情報の関係は、ディスクの傾きや記録感度むら等の影響を反映しているものとなり、この関係から、上記可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）におけるレーザパワーＰ（１）〜Ｐ（ｘ）と、第１から第ｘの振幅情報の関係を補正することで、ディスクの傾きや感度むらなどの影響をとりのぞいた本来の記録レーザパワーと振幅情報との関係を推定できる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態として、光ディスクに対応して記録再生を行うディスクドライブ装置（記録再生装置）を例に挙げ、そのディスクドライブ装置で実行されるレーザパワー調整について説明していく。説明は次の順序で行う。
１．ディスクドライブ装置の構成
２．振幅情報を得るための構成
３．レーザドライバの構成
４．レーザパワー調整
４−１  テストライト及び補正処理
４−２  補正処理例１
４−３  補正処理例２
４−４  最適記録レーザパワー調整処理
４−５  変形例
５．調整タイミング
【００１８】
１．ディスクドライブ装置の構成
図１に本例のディスクドライブ装置の構成を示す。
ディスク１は例えば相変化方式でデータの記録を行う光ディスク（ライタブルディスク）であるとする。またディスク上にはウォブリング（蛇行）されたグルーブが形成され、このグルーブが記録トラックとされる。グルーブのウォブリングによってはいわゆるＡＤＩＰ情報としてアドレス情報などが埋め込まれている。
【００１９】
このようなディスク１は、図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ５２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして光学ピックアップ（光学ヘッド）５１によってディスク１上のグルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ情報の読み出しがおこなわれる。
また記録時には光学ピックアップ５１によってトラックにユーザーデータがフェイズチェンジマークとして記録され、再生時には光学ピックアップによって記録されたフェイズチェンジマークの読出が行われる。
【００２０】
ピックアップ５１内には、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系が形成される。
レーザダイオードは、例えば波長４０５ｎｍのいわゆる青色レーザを出力するものとされる。また光学系によるＮＡは０．８５である。
【００２１】
ピックアップ５１内において対物レンズは二軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
またピックアップ５１全体はスレッド機構５３によりディスク半径方向に移動可能とされている。
またピックアップ５１におけるレーザダイオードはレーザドライバ６３からのドライブ信号（ドライブ電流）によってレーザ発光駆動される。
【００２２】
なお、ピックアップ５１内にはレーザ光の球面収差を補正する機構が備えられており、システムコントローラ６０及びサーボ回路６２の制御によって球面収差補正が行われる。
【００２３】
ディスク１からの反射光情報はフォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路５４に供給される。
マトリクス回路５４には、フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当する高周波信号（再生データ信号又はＲＦ信号ともいう）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、即ちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号を生成する。
【００２４】
マトリクス回路５４から出力される再生データ信号はリーダ／ライタ回路５５へ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号はサーボ回路６１へ、プッシュプル信号はウォブル回路５８へ、それぞれ供給される。
【００２５】
リーダ／ライタ回路５５は、再生データ信号に対して２値化処理、ＰＬＬによる再生クロック生成処理等を行い、フェイズチェンジマークとして読み出されたデータを再生して、変復調回路５６に供給する。
変復調回路５６は、再生時のデコーダとしての機能部位と、記録時のエンコーダとしての機能部位を備える。
再生時にはデコード処理として、再生クロックに基づいてランレングスリミテッドコードの復調処理を行う。
またＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７は、記録時にエラー訂正コードを付加するＥＣＣエンコード処理と、再生時にエラー訂正を行うＥＣＣデコード処理を行う。
再生時には、変復調回路５６で復調されたデータを内部メモリに取り込んで、エラー検出／訂正処理及びデインターリーブ等の処理を行い、再生データを得る。
ＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７で再生データにまでデコードされたデータは、システムコントローラ６０の指示に基づいて、読み出され、ＡＶ（Ａｕｄｉｏ−Ｖｉｓｕａｌ）システム１２０に転送される。
【００２６】
グルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路５４から出力されるプッシュプル信号は、ウォブル回路５８において処理される。ＡＤＩＰ情報としてのプッシュプル信号は、ウォブル回路５８においてＡＤＩＰアドレスを構成するデータストリームに復調されてアドレスデコーダ５９に供給される。
アドレスデコーダ５９は、供給されるデータについてのデコードを行い、アドレス値を得て、システムコントローラ１０に供給する。
またアドレスデコーダ９はウォブル回路８から供給されるウォブル信号を用いたＰＬＬ処理でクロックを生成し、例えば記録時のエンコードクロックとして各部に供給する。
【００２７】
記録時には、ＡＶシステム１２０から記録データが転送されてくるが、その記録データはＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７におけるメモリに送られてバッファリングされる。
この場合ＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７は、バファリングされた記録データのエンコード処理として、エラー訂正コード付加やインターリーブ、サブコード等の付加を行う。
またＥＣＣエンコードされたデータは、変復調回路５６においてＲＬＬ（１−７）ＰＰ方式の変調が施され、リーダ／ライタ回路５５に供給される。
記録時においてこれらのエンコード処理のための基準クロックとなるエンコードクロックは上述したようにウォブル信号から生成したクロックを用いる。
【００２８】
エンコード処理により生成された記録データは、リーダ／ライタ回路５５で記録補償処理として、記録層の特性、レーザー光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などが行われた後、レーザドライブパルスとしてレーザードライバ６３に送られる。
レーザドライバ６３では供給されたレーザドライブパルスをピックアップ５１内のレーザダイオードに与え、レーザ発光駆動を行う。これによりディスク１に記録データに応じたピット（フェイズチェンジマーク）が形成されることになる。
【００２９】
なお、レーザドライバ６３は、いわゆるＡＰＣ回路（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を備え、ピックアップ５１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力によりレーザ出力パワーをモニターしながらレーザーの出力が温度などによらず一定になるように制御する。
記録時及び再生時のレーザー出力の目標値（記録レーザパワー／再生レーザパワー）はシステムコントローラ６０から与えられ、記録時及び再生時にはそれぞれレーザ出力レベルが、その目標値になるように制御する。
【００３０】
サーボ回路６１は、マトリクス回路５４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号から、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
即ちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、ピックアップ５１内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによってピックアップ５１、マトリクス回路５４、サーボ回路６１、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
【００３１】
またサーボ回路６１は、システムコントローラ６０からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
【００３２】
またサーボ回路６１は、トラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ６０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッド機構５３を駆動する。スレッド機構５３には、図示しないが、ピックアップ５１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、ピックアップ５１の所要のスライド移動が行なわれる。
【００３３】
スピンドルサーボ回路６２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路６２は、ウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ５２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、リーダ／ライタ回路５５内のＰＬＬによって生成される再生クロック（デコード処理の基準となるクロック）が、現在のスピンドルモータ５２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路６２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ６２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路６２は、システムコントローラ６０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００３４】
以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータによって形成されたシステムコントローラ６０により制御される。
システムコントローラ６０は、ＡＶシステム１２０からのコマンドに応じて各種処理を実行する。
【００３５】
例えばＡＶシステム１２０から書込命令（ライトコマンド）が出されると、システムコントローラ６０は、まず書き込むべきアドレスにピックアップ５１を移動させる。そしてＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７、変復調回路５６により、ＡＶシステム１２０から転送されてきたデータ（例えばＭＰＥＧ２などの各種方式のビデオデータや、オーディオデータ等）について上述したようにエンコード処理を実行させる。そして上記のようにリーダ／ライタ回路５５からのレーザドライブパルスがレーザドライバ６３に供給されることで、記録が実行される。
【００３６】
また例えばＡＶシステム１２０から、ディスク１に記録されている或るデータ（ＭＰＥＧ２ビデオデータ等）の転送を求めるリードコマンドが供給された場合は、まず指示されたアドレスを目的としてシーク動作制御を行う。即ちサーボ回路６１に指令を出し、シークコマンドにより指定されたアドレスをターゲットとするピックアップ５１のアクセス動作を実行させる。
その後、その指示されたデータ区間のデータをＡＶシステム１２０に転送するために必要な動作制御を行う。即ちディスク１からのデータ読出を行い、リーダ／ライタ回路５５、変復調回路５６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ５７におけるデコード／バファリング等を実行させ、要求されたデータを転送する。
【００３７】
なお、これらのフェイズチェンジマークによるデータの記録再生時には、システムコントローラ６０は、ウォブル回路５８及びアドレスデコーダ５９によって検出されるＡＤＩＰアドレスを用いてアクセスや記録再生動作の制御を行う。
【００３８】
ところで、この図１の例は、ＡＶシステム１２０に接続されるディスクドライブ装置としたが、本発明のディスクドライブ装置としては例えばパーソナルコンピュータ等と接続されるものとしてもよい。
さらには他の機器に接続されない形態もあり得る。その場合は、操作部や表示部が設けられたり、データ入出力のインターフェース部位の構成が、図１とは異なるものとなる。つまり、ユーザーの操作に応じて記録や再生が行われるとともに、各種データの入出力のための端子部が形成されればよい。
もちろん構成例としては他にも多様に考えられる。
【００３９】
２．振幅情報を得るための構成
本実施の形態のディスクドライブ装置では、システムコントローラ６０は後述するレーザパワー調整の際に、その最適な調整のための指標値として振幅情報（ＲＦ振幅値又は変調度）を用いる。この振幅情報を得るための構成例を図５に示す。
【００４０】
再生ＲＦ信号に関する振幅情報は、一例としてリーダ／ライタ回路５５内で検出するように構成できる。
例えば図２に示するよう、リーダ／ライタ回路５５が、ライト波形生成部３１，２値化回路３２，ＲＦ再生処理部３３，ＰＬＬ回路３４，振幅情報算出部３５を有するように構成する。
ライト波形生成部３１は、記録動作時において、変復調回路５６でエンコード処理された記録データに対して、記録補償処理として、記録層の特性、レーザー光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などを行う。そしてこれらの処理を施した信号をレーザドライブパルスとしてレーザードライバ６３に供給する。
再生時においては、マトリクス回路５４からの再生データ信号（ＲＦ信号）は、２値化回路３２で２値化処理される。また２値化データに基づいてＰＬＬ回路３４で再生クロックが生成される。
２値化データはＲＦ再生処理部３３において、再生クロックに基づいて処理され、フェイズチェンジマークから読み出されたデータとされて変復調回路５６に供給される。
【００４１】
振幅情報算出部３５は、例えばマトリクス回路５４からの再生ＲＦ信号について、そのピーク／ボトム検出を行ってＲＦ振幅値又は変調度を算出する。レーザパワー調整処理の際の振幅値又は変調度の算出方式については後述する。
振幅情報計算部３５は、調整のための指標値として得た振幅情報（ＲＦ振幅値又は変調度）を、システムコントローラ６０に供給する。
【００４２】
３．レーザドライバの構成
レーザドライバ６３は、上述したようにピックアップ５１内の半導体レーザを駆動し、レーザ出力を実行させる回路である。このレーザドライバ６３は例えば図３のように、ＡＰＣ回路４１，レーザ駆動回路４２、レーザパワーレジスタ４３を備えて構成される。
【００４３】
記録時には、上述のとおり、エンコード処理により生成された記録データは、リーダ／ライタ回路５５で処理されてレーザドライブパルスとしてレーザードライバ６３に供給されるが、図３に示すようにレーザドライブパルスはレーザ駆動回路４２に入力される。
レーザ駆動回路４２は、供給されたレーザドライブパルスによる駆動信号ＬＤをピックアップ５１内のレーザダイオードに与え、レーザ発光駆動を行う。
また再生時にはレーザ駆動回路４２は、システムコントローラ６０の制御に基づいて、ピックアップ５１から継続的なレーザ出力を実行させるように駆動信号ＬＤを出力する。
【００４４】
またＡＰＣ回路４１は、ピックアップ５１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力（モニタ信号Ｌｍ）によりレーザ出力パワーをモニターしながらレーザーの出力が温度などによらず一定になるように制御する。
即ち、記録時及び再生時のレーザー出力の目標値としての記録レーザパワー／再生レーザパワーはシステムコントローラ６０から与えられ、レーザパワーレジスタ４３にセットされている。
ＡＰＣ回路４１は、再生時には、レーザパワーレジスタ４３にセットされている再生レーザパワー値を基準に、モニタ信号Ｌｍのパワー誤差を検出し、その誤差に応じてレーザ駆動回路４２の駆動信号レベルを制御する。これにより、再生時のレーザ出力レベルが目標値としてセットされた再生レーザパワー値において安定するように制御される。
またＡＰＣ回路４１は、記録時には、レーザパワーレジスタ４３にセットされている記録レーザパワー値を基準に、モニタ信号Ｌｍのパワー誤差を検出し、その誤差に応じてレーザ駆動回路４２の駆動信号レベルを制御する。これにより、記録時のレーザ出力レベルが目標値としてセットされた記録レーザパワー値において安定するように制御される。
【００４５】
システムコントローラ６０は後述するように最適記録レーザパワー調整処理を行うが、上記の目標値としての記録レーザパワー値とは、最適記録レーザパワー調整処理の結果、セットされた値である。
また最適記録レーザパワー調整処理の際には、記録レーザパワーが各種変化される。このレーザパワー可変動作は、システムコントローラ６０が、レーザパワーレジスタ４３にセットする記録レーザパワー値を変化させていくことでを実現できるものとなる。
【００４６】
４．レーザパワー調整
４−１  テストライト及び補正処理
上記構成のディスクドライブ装置において行われる最適記録レーザパワー調整処理について説明していく。
最適記録レーザパワー調整処理としての一連の動作は、システムコントローラ６０が図４の処理を行うことで実行されるが、この図４の処理において、ステップＦ１０１でパラメータκ、ρ、Ｐｉｎｄを適切な値に設定した後、ステップＦ１０２でテストライト及び補正処理が行われる。
この図４の処理の説明に先立って、まずステップＦ１０２としてのテストライト及び補正処理について、図６、図７、図８を用いて詳しく述べる。
【００４７】
図６は、図４のステップＦ１０２としてシステムコントローラ６０が実行するテストライト及び補正処理のフローチャートを示している。
この場合、システムコントローラ６０は、ますステップＦ２０１で、テストライトで使用する領域を選択する。
【００４８】
図７（ａ）は、ディスク１上の領域構造を示しているが、ディスク１の領域は、内周側から外周側に向かって、リードインゾーン、データゾーン、リードアウトゾーンが形成されている。
リードインゾーンは、各種管理情報を記録するコントロールエリアや、ＤＭＡエリア、ＯＰＣエリア、バッファエリア等が形成されている。
データゾーンは、ユーザーデータの記録再生に用いられる領域である。
ディスク最外周側のリードアウトゾーンは、コントロールエリアやＤＭＡエリアが形成されたり、バッファエリア等として使用される。
ここで、テストライトとしては、リードインゾーンにおけるＯＰＣエリア（試し書き領域）が用いられる。図７（ａ）は単に模式的に示しているにすぎないが、リードインゾーン内には所定位置にＯＰＣエリアが形成されている。
図７（ｂ）には、このＯＰＣエリアを拡大して示しているが、上記ステップＦ２０１の領域選択とは、この図７（ｂ）のＯＰＣエリア内で、実際にテストライトに使用する領域を選定することを意味する。例えば領域ＴＷ１を、使用エリアとして選択する。
【００４９】
次にシステムコントローラ６０は、ステップＦ２０２で、選択した使用領域をｘ個に分割する。ここでは、ｘ＝８、すなわち８分割するとし、それぞれの領域をテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）と設定する。
図７（ｃ）に、選択した使用領域ＴＷ１を８分割し、各領域をテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）とした状態を示している。
【００５０】
ステップＦ２０３では、システムコントローラ６０は、テストライトを行う記録レーザパワーを決定する。この場合、８分割（ｘ分割）したテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）にそれぞれ対応して、８段階（ｘ段階）の記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を設定する。
記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）の決定方式としては、各種考えられるが、一例として次の式により決定する。
Ｐ（ｋ）  ＝  Ｐｉｎｄ  ＋  ΔＰ＊（ｋ−４．５）
ここで、ｋは１〜ｘ、つまりこの場合、ｋは１〜８の値であり、従ってＰ（ｋ）は記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を示す。
ΔＰは記録レーザパワーを逐次変化させるステップ幅である。
Ｐｉｎｄは、図４のステップＦ１０１で設定される、レーザパワー決定のためのパラメータである。
このような式により、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を決定する。この記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）は、ステップＦ２０７の可変テスト記録処理で用いるレーザパワーである。
また、後述する図４の処理で用いる値Ｐｆｉｔ１、Ｐｆｉｔ２を、Ｐｆｉｔ１＝Ｐ（３）、Ｐｆｉｔ２＝Ｐ（６）とする。
【００５１】
ステップＦ２０４では、次のステップＦ２０５の固定テスト記録処理のためにテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）を消去する。即ちレーザドライバ６３及びピックアップ５１の動作を制御して、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の消去を実行させる。
【００５２】
ステップＦ２０５では、固定テスト記録処理を行う。
即ち第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対して、固定の記録レーザパワーＰｎでテスト記録を実行させ、さらにこのテスト記録した領域（テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８））を再生して、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する第１から第８の振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を得る。
この場合システムコントローラ６０は、レーザドライバ６３に対して、固定の記録レーザパワーＰｎとして、例えば記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）を指示する。即ち、上記決定した記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）のうちのほぼ中央のレベルとする。
そしてこの固定の記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）において、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に、テストパターンとしてのデータ書込を実行させる。
さらにその後、レーザドライバ６３及びピックアップ５１によりテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生を実行させ、上述した振幅情報算出部３５からの振幅情報として、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を得る。
なお、固定の記録レーザパワーＰｎは、Ｐ（４）とすることに限定されるものではない。
【００５３】
図７（ｄ）に、この固定テスト記録処理の動作を模式的に示している。図示するようにまずテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に固定の記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）で記録を行い、その後、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生時に得られる振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を取得する。
振幅情報算出部３５は、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を、例えば図８（ａ）に示すようにして算出する。
図８（ａ）には、例えばテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（４）の再生時に得られるＲＦ信号振幅を示しているが、振幅情報算出部３５は、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生タイミングにおいて、振幅のピーク値の平均値ＰＫ（ｋ）、及び振幅のボトム値の平均値ＢＴ（ｋ）を検出する。そして平均値ＰＫ（ｋ）から平均値ＢＴ（ｋ）を減算した値を、そのテストエリアＴＡ（ｋ）の振幅情報ｍｎ（ｋ）とする。ｋは１〜８の値である。
つまり図示するように、例えばテストエリアＴＡ（１）の振幅情報ｍｎ（１）は、ＰＫ（１）−ＢＴ（１）、テストエリアＴＡ（２）の振幅情報ｍｎ（２）は、ＰＫ（２）−ＢＴ（２）・・・として、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を算出し、これをシステムコントローラ６０に出力する。
【００５４】
なお、この場合、振幅情報ｍｎ＝振幅値であるが、振幅情報ｍｎ＝変調度としてもよい。
その場合も、振幅情報算出部３５は、同じくテストエリアＴＡ（ｋ）の再生タイミングにおいて、振幅のピーク値の平均値ＰＫ（ｋ）、及び振幅のボトム値の平均値ＢＴ（ｋ）を検出する。そして平均値ＰＫ（ｋ）から平均値ＢＴ（ｋ）を減算するが、減算値を平均値ＰＫ（ｋ）で除算する。即ち変調度とし、この値を、そのテストエリアＴＡ（ｋ）の振幅情報ｍｎ（ｋ）とする。
つまり、例えばテストエリアＴＡ（１）の振幅情報ｍｎ（１）は、（ＰＫ（１）−ＢＴ（１））／ＰＫ（１）、テストエリアＴＡ（２）の振幅情報ｍｎ（２）は、（ＰＫ（２）−ＢＴ（２））／ＰＫ（２）・・・として、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を算出し、これをシステムコントローラ６０に出力するようにしてもよい。
【００５５】
システムコントローラ６０は、ステップＦ２０５の固定テスト記録処理で振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）が得られたら、次にステップＦ２０６で、次のステップＦ２０７の可変テスト記録処理のためにテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）を消去する。即ちレーザドライバ６３及びピックアップ５１の動作を制御して、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の消去を実行させる。
【００５６】
ステップＦ２０７では、可変テスト記録処理を行う。
即ち第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対して、それぞれ記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）に変化させながらテスト記録を行い、テスト記録した領域（テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８））を再生して、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得る処理を行う。
【００５７】
この場合システムコントローラ６０は、レーザドライバ６３に対して、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の記録タイミングに合わせて、順次記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を指示しながら、テストパターンとしてのデータ書込を実行させる。なお、テストパターンは、上記固定テスト記録処理の際のテストパターンと同一とする。
さらにその後、レーザドライバ６３及びピックアップ５１によりテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生を実行させ、上述した振幅情報算出部３５からの振幅情報として、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得る。
【００５８】
図７（ｅ）に、この可変テスト記録処理の動作を模式的に示している。図示するように、テストエリアＴＡ（１）に対しては記録レーザパワーＰ（１）で、テストエリアＴＡ（２）に対しては記録レーザパワーＰ（２）で、・・・テストエリアＴＡ（８）に対しては記録レーザパワーＰ（８）で、それぞれテストパターンの記録を実行させる。その後、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の再生時に得られる振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を取得する。
振幅情報算出部３５は、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を、例えば図８（ｂ）に示すようにして算出する。図８（ｂ）には、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（４）の再生時に得られるＲＦ信号振幅を示しているが、記録レーザパワーが可変されていることにより、テストエリア毎に振幅レベルが変化している。
振幅情報ｍの算出方式は、上記固定テスト記録処理の際の振幅情報ｍｎの算出方式と同様であり、振幅情報ｍを振幅値とする場合は、ｍ（ｋ）＝平均値ＰＫ（ｋ）−平均値ＢＴ（ｋ）として算出する。
また振幅情報ｍを変調度とする場合は、ｍ（ｋ）＝（平均値ＰＫ（ｋ）−平均値ＢＴ（ｋ））／平均値ＰＫ（ｋ）として算出する。
そして、このようにして得た振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）をシステムコントローラ６０に出力する。
【００５９】
ここまでの処理で、システムコントローラ６０は、ステップＦ２０５の固定テスト記録処理の際のテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、ステップＦ２０７の可変テスト記録処理の際のテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応する振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得ることができた。
最適記録レーザパワー調整のために必要な情報は、可変テスト記録処理の際の記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）の値と、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）である。
ところが、上記図１２で説明したように、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）と振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）の関係は、ディスク１の傾きや記録感度ムラの影響を受けていることが考えられる。
そこで本例では、ステップＦ２０８として、この記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係を、後述するように固定テスト記録処理の際に得た振幅情報ｍｎ（ｋ）を用いて補正するようにしている。
補正後の記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係を、（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））とする。
即ち補正処理によって、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）は、Ｐｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）とされ、また振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）は、ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）とされる。
【００６０】
そして、ステップＦ２０８で補正した後、補正後の記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））を用いて、最適記録レーザパワーを算出する処理を行う。この処理は図４のステップＦ１０３以降の処理となる。
【００６１】
なお、上記ステップＦ２０３では、後述する図４の演算処理で用いる値Ｐｆｉｔ１、Ｐｆｉｔ２を、Ｐｆｉｔ１＝Ｐ（３）、Ｐｆｉｔ２＝Ｐ（６）としたが、記録レーザパワーＰ（３）、Ｐ（６）が補正されることで、ステップＦ２０８の時点でＰｆｉｔ１＝Ｐｅｆｆ（３）、Ｐｆｉｔ２＝Ｐｅｆｆ（６）とされる。或いは、ステップＦ２０３ではなく、この補正後の時点で値Ｐｆｉｔ１、Ｐｆｉｔ２を設定しても良い。
【００６２】
ステップＦ２０８での補正処理としては、２つの処理例が考えられるため、以下、各補正処理例を述べる。
【００６３】
４−２  補正処理例１
上記ステップＦ２０８で行われることになる補正処理例１は、第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応して、第１から第８の記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）を算出する。そして、上記可変テスト記録処理における記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を、それぞれ記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）を使用して補正する処理である。
即ち補正後の記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）を、
Ｐｅｆｆ（ｋ）＝Ｐ（ｋ）×ＳＰ（ｋ）
として求める。
【００６４】
また、記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）は、上記固定テスト記録処理の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率Ｖと、固定テスト記録処理での振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）の平均値（Σｍｎ（ｋ））／ｋを用いた演算により算出する。
具体的には、テストエリアＴＡ（ｋ）における記録レーザパワー補正値Ｓｐ（ｋ）を、
Ｓｐ（ｋ）＝ｍｎ（ａｖｅ）／｛ｍｎ（ｋ）−ｍｎ（ａｖｅ）｝／Ｖｎ
にしたがって求める。
但し、ｍｎ（ａｖｅ）：ｍｎ（ｋ）の平均値（＝（Σｍｎ（ｋ））／ｋ）
Ｖｎ＝Δｍｎ／ΔＰｎ
ΔＰｎ：固定記録レーザパワーＰｎ近傍での微小変化量
Δｍｎ：ｍｎ近傍におけるΔＰｎに対応した微小変化量
である。
【００６５】
この補正処理例１、即ち上記ステップＦ２０８で行われる補正処理例を図９に示す。
まずステップＦ３０１では、固定の記録レーザパワーＰｎの近傍での振幅変化率Ｖｎを算出する。
上記のように固定の記録レーザパワーＰｎ＝Ｐ（４）としている場合、固定の記録レーザパワーＰ（４）の近傍での振幅変化率Ｖ（４）を、
Ｖ（４）＝｛ｍ（５）−ｍ（４）｝／｛Ｐ（５）−Ｐ（４）｝
として求める。
【００６６】
次にステップＦ３０２では、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した、記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）を算出する。
この場合、テストエリアＴＡ（ｋ）の記録レーザパワー補正値ＳＰ（ｋ）は、
2004253016.tif 000003
として求める。
【００６７】
これによって、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した記録レーザパワー補正値ＳＰ（１）〜ＳＰ（８）が算出されたら、ステップＦ３０３で、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正する。
即ち補正後の記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）を、
Ｐｅｆｆ（ｋ）＝Ｐ（ｋ）×ＳＰ（ｋ）
として、Ｐｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）を求める。
Ｐｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）は、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正した、補正記録レーザパワーである。
なお、この場合、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正し、対する振幅情報ｍ（１）〜（８）はそのままとする。
即ちｍｅｆｆ（ｋ）＝ｍ（ｋ）とし、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）をそのまま補正振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）とする。
【００６８】
このような補正処理により、記録レーザパワーＰと振幅情報ｍの関係において、レーザパワー軸上で補正が行われ、記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係が、補正された関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））とされる。
【００６９】
４−３  補正処理例２
図６のステップＦ２０８で行われることになる補正処理は、上記補正処理例１の他に、ここで説明する補正処理例２としてもよい。
この補正処理例２は、第１から第８の各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応して、第１から第８の振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）を算出する。そして、上記可変テスト記録処理において得た振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を、それぞれ振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）を使用して補正する処理である。
即ち補正後の振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）を、
ｍｅｆｆ（ｋ）＝ｍ（ｋ）×Ｓｍ（ｋ）
として求める。
【００７０】
また、振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）は、上記固定テスト記録処理の際の振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）の平均値（Σｍｎ（ｋ））／ｋを用いた演算により算出する。
具体的には、テストエリアＴＡ（ｋ）における振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）を、
Ｓｍ（ｋ）＝ｍｎ（ａｖｅ）／｛ｍｎ（ｋ）−ｍｎ（ａｖｅ）｝
にしたがって求める。
但し、ｍｎ（ａｖｅ）は、ｍｎ（ｋ）の平均値（＝（Σｍｎ（ｋ））／ｋ）
である。
【００７１】
この補正処理例２として、上記ステップＦ２０８で行われる補正処理例を図１０に示す。
まずステップＦ４０１では、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した、振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）を算出する。
この場合、テストエリアＴＡ（ｋ）の振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）は、
2004253016.tif 000004
として求める。
【００７２】
これによって、各テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に対応した振幅情報補正値Ｓｍ（１）〜Ｓｍ（８）が算出されたら、ステップＦ４０２で、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正する。
即ち補正後の振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）を、
ｍｅｆｆ（ｋ）＝ｍ（ｋ）×Ｓｍ（ｋ）
として、ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）を求める。
ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）は、振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正した、補正振幅情報である。
なお、この場合、振幅情報ｍ（１）〜（８）を補正し、対する記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）はそのままとする。
即ちＰｅｆｆ（ｋ）＝Ｐ（ｋ）とし、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）をそのまま補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）とする。
【００７３】
このような補正処理により、記録レーザパワーＰと振幅情報ｍの関係において、振幅情報軸上で補正が行われ、記録レーザパワーＰ（ｋ）と振幅情報ｍ（ｋ）の関係が、補正された関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））とされる。
【００７４】
４−４  最適記録レーザパワー調整処理
以上の図６〜図１０で説明のように、図４のステップＦ１０２としてのテストライト及び補正処理が行われる。
このようなテストライト及び補正処理を含む、図４の最適記録レーザパワー調整処理を説明する。
【００７５】
システムコントローラ６０は、図４のステップＦ１０１で、パラメータκ、ρ、Ｐｉｎｄを適切な値に設定する。これらのパラメータは、ディスク製造者によって値が指定されることを想定する。
次にステップＦ１０２として、図６〜図１０で説明した処理が行われ、補正された関係（Ｐｅｆｆ（ｋ）、ｍｅｆｆ（ｋ））の、可変テスト記録処理による記録レーザパワーと振幅情報として、補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び対応する補正振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）が得られたものとなる。
【００７６】
そしてステップＦ１０３以降で、補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び補正振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）を用いた最適記録レーザパワーの算出処理が行われる。
まずステップＦ１０３では、図５のように横軸をレーザパワーＰ、縦軸をレーザパワーＰ×振幅情報ｍとして、記録レーザパワーＰ（ｋ）対（Ｐ（ｋ）×ｍ（ｋ））をプロットする。
この場合、上述のように記録レーザパワーＰと振幅情報ｍが補正されているため、当該プロットは、補正記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）と補正振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）が使用されて、Ｐｅｆｆ（ｋ）対（Ｐｅｆｆ（ｋ）×ｍｅｆｆ（ｋ））として行われる。
そして、Ｐｅｆｆ（ｋ）に対応するＰｅｆｆ（ｋ）×ｍｅｆｆ（ｋ）の点をＰｌｏｔ（ｋ）とする。図５にはＰｅｆｆ（ｋ）に対応するＰｌｏｔ（ｋ）、即ちＰｌｏｔ（１）〜Ｐｌｏｔ（８）としての点を示している。
【００７７】
次にステップＦ１０４では、Ｐｆｉｔ１（＝Ｐｅｆｆ（３））における直線近似式を求めるために、Ｐｌｏｔ（１）〜Ｐｌｏｔ（５）を、図５のように、
記録レーザパワーＰ×振幅情報ｍ＝α１・（Ｐ−β１）
でフィッティングして、α１，β１を求める。
【００７８】
またステップＦ１０５では、Ｐｆｉｔ２（＝Ｐｅｆｆ（６））における直線近似式を求めるために、Ｐｌｏｔ（４）〜Ｐｌｏｔ（８）を
記録レーザパワーＰ×振幅情報ｍ＝α２・（Ｐ−β２）
でフィッティングして、α２，β２を求める。
【００７９】
ステップＦ１０６では、
Ｐｔ１＝β１×κ
Ｐｔ２＝β２×κ
により図５に示すレーザパワーＰｔ１，Ｐｔ２の値を算出する。
そしてステップＦ１０７では、
Ｐｔａｒｇｅｔ＝（Ｐｔ２×Ｐｆｉｔ１−Ｐｔ１×Ｐｆｉｔ２）／（Ｐｔ２−Ｐｔ１−Ｐｆｉｔ２＋Ｐｆｉｔ１）
により値Ｐｔａｒｇｅｔを算出する。
【００８０】
最後にステップＦ１０８で、最適記録レーザパワーＰｏｐｔを、
Ｐｏｐｔ＝ρ×Ｐｔａｒｇｅｔ
として算出する。このようにして最適記録レーザパワーＰｏｐｔが得られたら、それの値をレーザドライバ６３にセットして、最適記録レーザパワー調整処理を終了する。
【００８１】
本実施の形態では、以上のように最適記録レーザパワー調整処理が行われる。即ち、上記ステップＦ２０７の可変テスト記録処理として、記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）でレーザパワーを逐次変化させてテスト記録を行い、それを再生して振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を得る処理を行うが、その際の記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）もしくは振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正して、補正された関係としての記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）を用いて、最適記録レーザパワーＰｏｐｔを算出する。
補正処理のためには、ステップＦ２０５として示した固定テスト記録処理として、固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行うようにし、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）を得るようにしている。そして振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）から、ディスクの傾きや感度むらなどの影響をとりのぞいた本来のレーザパワーと振幅情報の関係を推定する。
このため、本例の処理で得られた最適記録レーザパワーＰｏｐｔは、ディスクの傾きや記録感度むらなどの影響が軽減されたものとなり、最適レーザパワーの調整精度を高めることができる。
【００８２】
また、補正処理として、上記補正処理例１として示したように、振幅変化率Ｖと、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、その平均値ｍｎ（ａｖｅ）とを用いた演算により、レーザパワー補正値ＳＰ（ｋ）を求め、そのレーザパワー補正値ＳＰ（ｋ）を用いて記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）を補正すれば、比較的精度の高い補正が可能となる。
一方、上記補正処理例２として示したように、振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と、その平均値ｍｎ（ａｖｅ）とを用いた演算により、振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）を求め、その振幅情報補正値Ｓｍ（ｋ）を用いて振幅情報ｍ（１）〜ｍ（８）を補正すれば、比較的簡易な演算処理により補正が可能となる。
【００８３】
４−５  変形例
本発明は上記実施の形態に限られず、多様な変形例が考えられる。以下、例を挙げる。
【００８４】
まず、図６の処理の変形例としては、固定テスト記録処理と可変テスト記録処理の順序を入れ換えても良い。即ち図６のステップＦ２０５の時点で可変テスト記録処理を行い、ステップＦ２０７の時点で固定テスト記録処理を行うようにする。あくまでも、ステップＦ２０８の補正処理のためには、その前段階で、可変テスト記録処理と固定テスト記録処理が行われていればよいためである。
【００８５】
また、上記例ではｘ＝８、すなわち８個のテストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）に分割設定したが、もちろん８個のテストエリアに分割することに限定されない。
また、可変テスト記録処理での記録レーザパワーＰ（１）〜Ｐ（８）の設定方式やステップ幅ΔＰ等の具体的な設定方式は各種考えられる。
【００８６】
また、補正処理後において、補正された関係としての記録レーザパワーＰｅｆｆ（１）〜Ｐｅｆｆ（８）、及び振幅情報ｍｅｆｆ（１）〜ｍｅｆｆ（８）を用いて、最適記録レーザパワーＰｏｐｔを算出する処理は、図４のステップＦ１０３〜Ｆ１０８に示したものに限られず、例えば上記した特許文献１に記載された方式を用いることもできる。
即ち規格化された傾斜ｇ（Ｐ）を例えば次式、
ｇ（Ｐ）＝（Δｍ／ｍ）／（ΔＰ／Ｐ）
ΔＰ：Ｐの近傍における微小変化量
Δｍ：ｍの近傍におけるΔＰに対応した微小変化量
にしたがって求め、傾斜ｇ（Ｐ）に基づいて記録パワーの過不足を評価することにより最適記録パワーを決定するのであるが、その際に、補正された記録レーザパワーＰｅｆｆ（ｋ）及び振幅情報ｍｅｆｆ（ｋ）を用いればよい。
【００８７】
また、上記図６のテストライト及び補正処理の際において、固定テスト記録処理において得られた振幅情報ｍｎ（ｋ）によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認処理を実行するようにしてもよい。
その場合の処理を図１１に示す。図１１において、図６と同一の処理には同一ステップ番号を付し、説明を省略する。
この場合、ステップＦ２０５で固定テスト記録処理が行われた後、ステップＦ２１０として、振幅情報ｍｎ（ｋ）を用いて、テストエリアＴＡ（１）〜ＴＡ（８）の異常の有無を確認する。
例えば振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）の平均値をｍｎ（ａｖｅ）を算出し、各振幅情報ｍｎ（１）〜ｍｎ（８）と平均値ｍｎ（ａｖｅ）を比較する。
このときに、平均値ｍｎ（ａｖｅ）からかなり離れた値の振幅情報ｍｎ（ｋ）が存在した場合、例えば或る振幅情報ｍｎ（ｋ）が平均値ｍｎ（ａｖｅ）から１０％以上異なる値であった場合は、異常有りと判断する。これは、この振幅情報ｍｎ（ｋ）が得られたテストエリアＴＡ（ｋ）は、傷その他の原因で、テストライトに適していないと判断する。
そしてそのような異常箇所があった場合は、ステップＦ２１１からＦ２０１に戻ってテストエリアＴＡの設定処理からやり直す。例えば図７（ｂ）の使用領域ＴＷ１に代えて新たに使用領域ＴＷ２を設定し直す。
【００８８】
このうような処理を行うことで、傷などが存在し、テストライトに不適切なテストエリアがあっても、そのエリアを回避してテストライトを実行できる。これによって、記録レーザパワー調整処理の精度をより上げることができる。
【００８９】
５．調整タイミング
上記記録レーザパワー調整処理を実行するタイミングは多様に考えられる。
まず、当然ながら、ディスク装填時に実行することが適切である。
また、再生中、シーク前後、或いは所定時間経過後に実行したり、ディスク上のトレース位置（内外周）に応じて実行することも考えられる。
例えば再生中であれば、ディスク１から読み出したデータのバッファリングの余裕のあるタイミングで行うことができる。
また、シーク直前、或いはシーク直後のタイミングも、調整処理の実行タイミングとして好適である。
【００９０】
また、機器の温度状態（デバイス、アクチュエータの温度特性によるフォーカスバイアス最適値の変化）、経年変化、ディスク上のトレース位置（半径位置）などに応じて調整することで、これらの事情に対応した調整状態とできる。
従って、ディスク１に対する動作期間中などであっても、定期的、或いは不定期に調整処理が実行されることで、装置動作の安定化にとって適切なものとなる。また、温度変化検出、再生データのエラーレート／ジッタの悪化などをトリガとして、調整処理を行うことも考えられる。
【００９１】
【発明の効果】
以上の説明から理解されるように本発明によれば、可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）として第１から第ｘのレーザパワーに逐次変化させてテスト記録を行う第１から第ｘのテストエリアに、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）として固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行うようにもしている。そして、その際の振幅情報から、ディスクの傾きや感度むらなどの影響をとりのぞいた本来のレーザパワーと振幅情報の関係を推定する。即ち可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）での第１から第ｘのレーザパワー又はその際の第１から第ｘの振幅情報を補正する。そして補正された第１から第ｘのレーザパワーと、それに対応する第１から第ｘの振幅情報を用いて、最適記録パワーを決定するようにしている。
これにより、ディスクの傾きや記録感度むらなどの影響を軽減でき、最適レーザパワーの調整精度を高めることができるという効果がある。
【００９２】
また、補正の際には、第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出し、可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）における第１から第ｘのレーザパワーを、第１から第ｘのレーザパワー補正値により補正する。特にこの場合、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）の際の固定レーザパワーの近傍での振幅変化率、第１から第ｘの振幅情報、及び第１から第ｘの振幅情報の平均値とを用いた演算により、第１から第ｘのレーザパワー補正値を算出する。このような補正処理により、比較的精度の高い補正が可能となる。
【００９３】
或いは、補正の際には、第１から第ｘの各テストエリアに対応して、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出し、可変テスト記録ステップ（可変テスト記録処理）における第１から第ｘの振幅情報を、上記第１から第ｘの振幅情報補正値により補正する。この場合、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）での第１から第ｘの振幅情報と、その平均値とを用いた演算により、第１から第ｘの振幅情報補正値を算出する。このような補正処理により、比較的簡易な処理として補正が可能となる。
【００９４】
また、固定テスト記録ステップ（固定テスト記録処理）において得られた第１から第ｘの振幅情報によりテストエリアの適否を判別し、テストエリアが不適切であるとされた場合は、テストエリアを変更するテストエリア確認ステップ（テストエリア確認処理）をさらに備えることで、テストエリア自体の不具合にも適応でき、より精度の高い調整が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態のディスクドライブ装置のブロック図である。
【図２】実施の形態のリーダ／ライタ回路のブロック図である。
【図３】実施の形態のレーザドライバのブロック図である。
【図４】実施の形態の最適記録レーザパワー調整処理のフローチャートである。
【図５】実施の形態の最適記録レーザパワー調整処理の説明図である。
【図６】実施の形態のテストライト及び補正処理のフローチャートである。
【図７】実施の形態の固定テスト記録処理及び可変テスト記録処理の説明図である。
【図８】実施の形態の振幅情報の説明図である。
【図９】実施の形態の補正処理のフローチャートである。
【図１０】実施の形態の補正処理のフローチャートである。
【図１１】実施の形態の他のテストライト及び補正処理のフローチャートである。
【図１２】ディスク傾きや記録ムラ等の影響の説明図である。
【符号の説明】
１  ディスク、３１  ライト波形生成部、３２  ２値化回路、３３  ＲＦ再生処理部、３４  ＰＬＬ回路、３５  振幅情報算出部、４１  ＡＰＣ回路、４２  レーザ駆動回路、４３  レーザパワーレジスタ、５１  ピックアップ、５２  スピンドルモータ、５３  スレッド機構、５４  マトリクス回路、５５  リーダ／ライタ回路、５６  変復調回路、５７  ＥＣＣエンコーダ／デコーダ、５８  ウォブル回路、５９  アドレスデコーダ、６０  システムコントローラ、６１  サーボ回路、６２  スピンドルサーボ回路、６３  レーザドライバ、１２０  ＡＶシステム
【図１】
2004253016.tif 000005
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2004253016.tif 000011
【図８】
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【図９】
2004253016.tif 000013
【図１０】
2004253016.tif 000014
【図１１】
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【図１２】
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