(57)【要約】【課題】多分割小領域測光と少分割大領域測光とを切り換えたときに安定な測光結果を得る。【解決手段】測光素子の受光部を領域分割し、各分割領域の測光値に基づいて被写体の輝度を繰り返し検出するカメラの測光装置に、検出結果の被写体輝度をしきい値と比較して次回測光時の受光部の分割数または分割形状を切り換えるときに、被写体輝度の増加時と減少時とで被写体輝度のしきい値にヒステリシスを設ける。【選択図】　図７
2004012861.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測光素子の受光部を領域分割し、各分割領域の測光値に基づいて被写体の輝度を繰り返し検出するカメラの測光装置において、
検出結果の被写体輝度をしきい値と比較して次回測光時の前記受光部の分割数を切り換えるときに、被写体輝度の増加時と減少時とで前記しきい値にヒステリシスを設けることを特徴とするカメラの測光装置。
【請求項２】
測光素子の受光部を領域分割し、各分割領域の測光値に基づいて被写体の輝度を繰り返し検出するカメラの測光装置において、
検出結果の被写体輝度をしきい値と比較して次回測光時の前記受光部の分割形状を変更するときに、被写体輝度の増加時と減少時とで前記しきい値にヒステリシスを設けることを特徴とするカメラの測光装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のカメラの測光装置において、
前記ヒステリシスの量を露出モードに応じて設定することを特徴とするカメラの測光装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被写界を複数の領域に分割して測光するカメラの測光装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
被写界を複数の領域に分割して測光し、主要被写体に対して適正な測光値が得られるようにしたカメラの測光装置が知られている。主要被写体の背景に太陽などの輝度が高い被写体がある場合に、被写界を複数の測光領域に分割して測光しないと測光素子が高い測光値を出力するため、主要被写体がアンダーに露光されることが多い。これに対し被写界を多くの測光領域に分割して測光すれば、太陽などが含まれる高輝度領域の測光値を排除することができ、きめ細かな測光結果に基づいて主要被写体に対する適正な露出を得ることができる。
【０００３】
しかしながら、被写界を複数の領域に分割して測光する測光素子では、分割数が多くなるほどそれぞれの分割領域に入射する光量が少なくなる。測光素子の受光センサーとして一般的に使用されるフォトダイオードは、出力に暗電流が含まれるため、入射光を光電流に変換できる下限の光量が制限される。したがって、分割数が多くなるほど測光限界の被写体輝度が高くなる。このような問題を解決するために、被写体の輝度により測光素子受光部の分割数を変更し、低輝度時は分割数を少なくして大きな分割領域で測光し、高輝度時には分割数を多くして小さな分割領域で測光することが提案されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
被写体輝度に応じて測光素子の受光部の分割数を変更し、低輝度時は分割数を少なくして大きな分割領域で測光し、高輝度時には分割数を多くして小さな分割領域で測光する場合に、分割数を切り換える輝度の判定しきい値が一つであると、多分割小領域測光による輝度と少分割大領域測光による輝度とが異なるような被写体では、測光を行うたびに多分割小領域測光と少分割大領域測光とが切り換わって測光結果が安定しないおそれがあり、多分割小領域測光と少分割大領域測光とで測光結果が不連続になることも考えられる。
【０００５】
本発明の目的は、多分割小領域測光と少分割大領域測光とを切り換えたときに安定な測光結果を得ることにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
（１）　請求項１の発明は、測光素子の受光部を領域分割し、各分割領域の測光値に基づいて被写体の輝度を繰り返し検出するカメラの測光装置において、検出結果の被写体輝度をしきい値と比較して次回測光時の前記受光部の分割数を切り換えるときに、被写体輝度の増加時と減少時とで前記しきい値にヒステリシスを設ける。
（２）　請求項２の発明は、測光素子の受光部を領域分割し、各分割領域の測光値に基づいて被写体の輝度を繰り返し検出するカメラの測光装置において、検出結果の被写体輝度をしきい値と比較して次回測光時の前記受光部の分割形状を変更するときに、被写体輝度の増加時と減少時とで前記しきい値にヒステリシスを設ける。
（３）　請求項３のカメラの測光装置は、前記ヒステリシスの量を露出モードに応じて設定する。
【０００７】
【発明の実施の形態】
図１は一実施の形態の測光装置を備えたカメラの横断面図である。カメラ本体１にはレンズマウント（不図示）を介して撮影レンズ２が装着され、電気接点（不図示）を介して電気信号の授受が行われる。撮影レンズ２を通過した被写体からの光束は、撮影光路中に置かれた可動ミラー３により反射され、ファインダー光学系のスクリーン４へ導かれる。スクリーン４上に結像された被写体像は拡散光となり、カメラ本体１の上部に配置されるペンタプリズム５により反射され、結像レンズ６を介して撮影者の目に導かれる。また、ペンタプリズム５により反射された光の一部は、測光光学系７を通って測光素子８へ導かれ、測光素子８の受光面上に被写体像を結像する。一方、可動ミラー３が撮影光路から退避されると、撮影レンズ２を通過した被写体からの光束はフィルム９へ到達し、フィルム９上に被写体像が結像される。
【０００８】
図２は一実施の形態の構成を示す図である。なお、図１に示す機器と同様な機器に対しては同一の符号を付して相違点を中心に説明する。マイクロコンピューターＵ１の制御信号用出力ポートＰ０１、Ｐ０２、Ｐ０３および測光値入力ポートＡＤはそれぞれ、測光素子８の端子ＣＳ、ＣＬＫ、ＡＤＤおよびＶｏｕｔに接続されている。マイクロコンピューターＵ１は出力ポートＰ０１、Ｐ０２、Ｐ０３から制御用信号を出力し、測光素子８の測光動作を制御する。測光素子８は、マイクロコンピューターＵ１からの制御信号にしたがって測光を行い、被写体光の強度に応じた電気信号をマイクロコンピューターＵ１のポートＡＤへ出力する。
【０００９】
マイクロコンピューターＵ１は、出力ポートＰ０４、Ｐ０５を介してシャッター制御信号を出力し、シャッター駆動回路２２を制御してシャッター２１による露光動作を制御する。マイクロコンピューターＵ１はまた、出力ポートＰ０６を介して絞り制御信号を出力し、絞り駆動回路２４を制御して絞り２３によるフィルムの露光量を制御する。さらに、マイクロコンピューターＵ１はレンズ接点２５を介して撮影レンズ２内に組み込まれたメモリ（不図示）と通信を行い、撮影レンズ２へカメラが取得したデータに対応したコマンドを送信し、撮影レンズ２からレンズ固有のデータや現在の調節状態などを受信する。
【００１０】
図３は測光素子８の受光部の形状を示す図である。測光素子８は、図３（ａ）に示すように、縦４列、横６列の合計２４個の測光領域Ｃ１〜Ｃ８、Ｒ１〜Ｒ８、Ｌ１〜Ｌ８に分割されており、各分割領域ごとに入射した光強度に応じた電気信号を出力する。また、図３（ｂ）に示すように、２４個の分割領域を中央グループＣ１〜Ｃ８、右側のグループＲ１〜Ｒ８および左側のグループＬ１〜Ｌ８の３つのグループにまとめ、各グループごとに入射した光強度に応じた電気信号を出力する。なお、以下では中央グループＣ１〜Ｃ８を包含する領域を中央大分割領域Ａｄｄ＿Ｃと呼び、右側グループＲ１〜Ｒ８を包含する領域を右側大分割領域Ａｄｄ＿Ｒと呼び、左側グループＬ１〜Ｌ８を包含する領域を左側大分割領域Ａｄｄ＿Ｌと呼ぶ。
【００１１】
一般に測光素子の受光部にはフォトダイオード（以下、ＳＰＤという）を使用することが多く、２４個に分割された領域のように受光面積の小さい領域では光電流の量が少なく、ＳＰＤ自体の暗電流の影響により大きな領域に比べて低輝度時の受光量に対する光電流の直線性が悪くなる傾向がある。しかし、写真を撮影する場合には、このような受光面積の小さい分割領域で多分割測光を行うことによって、より多くの被写体に対する輝度情報が得られることになり、より適正な露出を実現することができる。
【００１２】
上述した低輝度時における直線性の悪化を補正するために、この一実施の形態では、低輝度時には図３（ａ）に示すように測光領域を３個の大きな領域に分割して測光を行い（少分割大領域測光）、高輝度時には図３（ｂ）に示すように測光領域を２４個の小さな領域に分割して測光を行う（多分割小領域測光）。これにより、１つの測光素子で低輝度から高輝度まで正確に測光することができ、適正な露出値を得ることができる。
【００１３】
図４は測光素子８の内部回路を示す図である。デコーダー８ａは、マイクロコンピューターＵ１から送られる制御信号ＣＳ、ＣＬＫおよびＡＤＤをデコードする。図３（ｂ）に示す左側大分割領域Ａｄｄ＿Ｌに含まれる小分割領域Ｌ１〜Ｌ８のＳＰＤはそれぞれ、デコーダー８ａにより制御されるアナログスイッチＳＷＬ１〜ＳＷＬ８を介して左側グループ用ヘッドアンプ８ｂの反転入力端子へ接続されている。なお、ヘッドアンプ８ｂの反転入力端子と出力端子との間には対数圧縮ダイオードＤ１が接続され、非反転入力端子は基準電源Ｖｒｅｆ１に接続されている。
【００１４】
同様に、図３（ｂ）に示す中央大分割領域Ａｄｄ＿Ｃに含まれる小分割領域Ｃ１〜Ｃ８のＳＰＤはそれぞれ、デコーダー８ａにより制御されるアナログスイッチＳＷＣ１〜ＳＷＣ８を介して中央グループ用ヘッドアンプ８ｃの反転入力端子へ接続されている。なお、ヘッドアンプ８ｃの反転入力端子と出力端子との間には対数圧縮ダイオードＤ２が接続され、非反転入力端子は基準電源Ｖｒｅｆ１に接続されている。
【００１５】
また、図３（ｂ）に示す右側大分割領域Ａｄｄ＿Ｒに含まれる小分割領域Ｒ１〜Ｒ８のＳＰＤはそれぞれ、デコーダー８ａにより制御されるアナログスイッチＳＷＲ１〜ＳＷＲ８を介して右側グループ用ヘッドアンプ８ｄの反転入力端子へ接続されている。なお、ヘッドアンプ８ｄの反転入力端子と出力端子との間には対数圧縮ダイオードＤ３が接続され、非反転入力端子は基準電源Ｖｒｅｆ１に接続されている。
【００１６】
さらに、左側、中央および右側ヘッドアンプ８ｂ、８ｃ、８ｄの出力はそれぞれ、デコーダー８ａにより制御されるアナログスイッチＳＷ９Ｌ、Ｓｗ９Ｃ、ＳＷ９Ｒを介して出力アンプ８ｅに接続されている。出力アンプ８ｅの反転入力端子には入力抵抗器Ｒ１と出力抵抗器Ｒ２が接続され、非反転入力端子は基準電源Ｖｒｅｆ２に接続されている。
【００１７】
ヘッドアンプ８ｂ〜８ｄと対数圧縮ダイオードＤ１〜Ｄ３は、各分割領域のＳＰＤから発生した光電流を対数圧縮して電圧に変換する。例えばアナログスイッチＳＷＣ１とＳＷＣ２が導通状態（オン）になると、小分割領域Ｃ１とＣ２のＳＰＤの光電流が対数圧縮されて電圧に変換される。また、アナログスイッチＳＷＣ１〜ＳＷＣ８がすべて導通状態になると、大分割領域Ａｄｄ＿ＣのすべてのＳＰＤの光電流が対数圧縮されて電圧に変換される。
【００１８】
次に、アナログスイッチＳＷＬ９、ＳＷＣ９、ＳＷＲ９はいずれか１つが選択的に導通状態にされ、出力アンプ８ｅは、導通状態にされたヘッドアンプ８ｂ、８ｃ、８ｄから出力される電圧を増幅して測光値として端子Ｖｏｕｔへ出力する。
【００１９】
図４に示す測光素子８の回路では、高輝度時には、小分割領域Ｌ１〜Ｌ８、Ｃ１〜Ｃ８、Ｒ１〜Ｒ８のいずれかに対応するアナログスイッチＳＷＬ１〜ＳＷＬ８、ＳＷＣ１〜ＳＷＣ８、ＳＷＲ１〜ＳＷＲ８を選択的に１個ずつ導通状態にすることによって、多分割小領域での測光を行うことができる。また、低輝度時には、大分割領域Ａｄｄ＿Ｌ、Ａｄｄ＿Ｃ、Ａｄｄ＿Ｒに対応するアナログスイッチＳＷＬ１〜ＳＷＬ８、ＳＷＣ１〜ＳＷＣ８、ＳＷＲ１〜ＳＷＲ８を選択的に８個ずつまとめて導通することによって、少分割大領域での測光を行うことができ、多分割小領域での測光の直線性を補うことができる。
【００２０】
次に、一実施の形態の動作を説明する。図５は、２４個の多分割小領域で測光を行う場合のマイクロコンピューターＵ１の制御タイミングを示すタイムチャートである。図５では、各クロック（ＣＬＫ）タイミングにおいて小分割領域Ｌ１〜Ｌ８、Ｃ１〜Ｃ８、Ｒ１〜Ｒ８のいずれかを選択するための、アナログスイッチＳＷＬ１〜ＳＷＬ９、ＳＷＣ１〜ＳＷＣ９、ＳＷＲ１〜ＳＷＲ９の導通、非導通（オン、オフ）を心理値表で表す。
【００２１】
時刻ｔ１において測光素子８の測光分割数、すなわち多分割小領域または少分割大領域を選択するための信号ＡＤＤをローレベルにし、２４個の多分割小領域を選択する。なお、後述するクロックＣＬＫの立ち下がりエッジで測光分割数信号ＡＤＤがラッチされ、測光分割数が決定する。時刻ｔ２では、測光素子８へのクロックＣＬＫの入力を許可するための信号ＣＳをローレベルにする。
【００２２】
続く時刻ｔ３で、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔから測光値を出力させるためにクロックＣＬＫをローレベルにする。測光素子８は、時刻ｔ３においてアナログスイッチＳＷＣ１、ＳＷＲ１、ＳＷＬ１およびＳＷＣ９を導通（オン）状態にし、それ以外のアナログスイッチをすべて非導通（オフ）状態にする。これにより、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔには小分割領域Ｃ１の測光値が出力される。その後、マイクロコンピューターＵ１はクロックＣＬＫをハイレベルにするが測光素子８の動作変化はない。
【００２３】
時刻ｔ４で次の小分割領域の測光出力を選択するためにクロックＣＬＫをローレベルにする。測光素子８は、アナログスイッチＳＷＣ１をオフにしてＳＷＣ２をオンし、予めヘッドアンプ８ｃの出力を小分割領域Ｃ２に切り換える。さらに、アナログスイッチＳＷＣ９をオフにしてＳＷＲ９をオンし、それ以外のアナログスイッチを時刻ｔ３の状態のままとする。これにより、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔには小分割領域Ｒ１の測光値が出力される。その後、マイクロコンピューターＵ１はクロックＣＬＫをハイレベルにするが測光素子８の動作変化はない。
【００２４】
時刻ｔ５において、次の小分割領域の測光出力を選択するためにクロックＣＬＫをローレベルにする。測光素子８は、アナログスイッチＳＷＲ１をオフにしてＳＷＲ２をオンし、予めヘッドアンプ８ｄの出力を小分割領域Ｒ２に切り換える。さらに、アナログスイッチＳＷＲ９をオフにしてＳＷＬ９をオンし、それ以外のアナログスイッチを時刻ｔ４の状態のままとする。これにより、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔには小分割領域Ｌ１の測光値が出力される。その後、マイクロコンピューターＵ１はクロックＣＬＫをハイレベルにするが測光素子８の動作変化はない。
【００２５】
時刻ｔ６では次の小分割領域の測光出力を選択するためにクロックＣＬＫをローレベルにする。測光素子８は、アナログスイッチＳＷＬ１をオフにしてＳＷＬ２をオンし、予めヘッドアンプ８ｂの出力を小分割領域Ｌ２に切り換える。さらに、アナログスイッチＳＷＬ９をオフにしてＳＷＣ９をオンし、それ以外のアナログスイッチを時刻ｔ５の状態のままとする。これにより、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔには小分割領域Ｃ２の測光値が出力される。その後、マイクロコンピューターＵ１はクロックＣＬＫをハイレベルにするが測光素子８の動作変化はない。
【００２６】
時刻ｔ７〜ｔ２６の各タイミングでは、上述した時刻ｔ３〜ｔ６と同様に、中央グループＣ１〜Ｃ８、右側グループＲ１〜Ｒ８、左側グループＬ１〜Ｌ８の順にクロックＣＬＫの立ち下がりエッジに同期して測光値出力の切り換えを行うとともに、測光値を出力しないグループでは次の領域を予め選択しておく。これにより、２４個の小分割領域のすべての領域を時系列的に選択し、すべての小分割領域の測光値を得ることができる。時刻ｔ２７において、測光素子８へのクロックＣＬＫの入力を禁止するために信号ＣＳをハイレベルにする。
【００２７】
マイクロコンピューターＵ１は、２４分割測光のシーケンスタイミングｔ１〜ｔ２７で得られた各領域の測光値を、例えばクロックＣＬＫの立ち上がりエッジに同期してＡ／Ｄ変換し、内蔵ＲＡＭなどに記憶する。
【００２８】
図６は、３個の少分割大領域で測光を行う場合のマイクロコンピューターＵ１の制御タイミングを示すタイムチャートである。図６では、各クロック（ＣＬＫ）タイミングにおいて大分割領域Ａｄｄ＿Ｌ、Ａｄｄ＿Ｃ、Ａｄｄ＿Ｒのいずれかを選択するための、アナログスイッチＳＷＬ１〜ＳＷＬ９、ＳＷＣ１〜ＳＷＣ９、ＳＷＲ１〜ＳＷＲ９の導通、非導通（オン、オフ）を心理値表で表す。
【００２９】
時刻ｔ５１において測光素子８の測光分割数、すなわち多分割小領域または少分割大領域を選択するための信号ＡＤＤをハイレベルにし、３個の少分割大領域を選択する。なお、後述するクロックＣＬＫの立ち下がりエッジで測光分割数信号ＡＤＤがラッチされ、測光分割数が決定する。時刻ｔ５２では、測光素子８へのクロックＣＬＫの入力を許可するための信号ＣＳをローレベルにする。
【００３０】
続くｔ５３で、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔから測光値を出力させるためにクロックをローレベルにする。測光素子８は、時刻ｔ５３においてアナログスイッチＳＷＲ９、ＳＷＬ９をオフし、それ以外のすべてのアナログスイッチをオンする。これにより、左側ヘッドアンプ８ｂには左側大分割領域Ａｄｄ＿Ｌに含まれるすべての小分割領域Ｌ１〜Ｌ８のＳＰＤＬ１〜Ｌ８が接続され、左側ヘッドアンプ８ｂにより左側大分割領域Ａｄｄ＿Ｌの光電流が電圧に変換される。同様に、中央ヘッドアンプ８ｃには中央大分割領域Ａｄｄ＿Ｃに含まれるすべての小分割領域Ｃ１〜Ｃ８のＳＰＤＣ１〜Ｃ８が接続され、中央ヘッドアンプ８ｃにより中央大分割領域Ａｄｄ＿Ｃの光電流が電圧に変換される。また、右側ヘッドアンプ８ｄには右側大分割領域Ａｄｄ＿Ｒに含まれるすべての小分割領域Ｒ１〜Ｒ８のＳＰＤＲ１〜Ｒ８が接続され、右側ヘッドアンプ８ｄにより右側大分割領域Ａｄｄ＿Ｒの光電流が電圧に変換される。さらに、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔには中央大分割領域Ａｄｄ＿Ｃの測光値が出力される。その後、マイクロコンピューターＵ１はクロックＣＬＫをハイレベルにするが測光素子８の動作変化はない。
【００３１】
時刻ｔ５４で次の大分割領域の測光出力を選択するためにクロックＣＬＫをハイレベルにする。測光素子８は、アナログスイッチＳＷＣ９をオフにしてＳＷＲ９をオンし、それ以外のアナログスイッチを時刻ｔ５３の状態のままとする。これにより、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔには右側大分割領域Ａｄｄ＿Ｒの測光値が出力される。その後、マイクロコンピューターＵ１はクロックＣＬＫをハイレベルにするが測光素子８の動作変化はない。
【００３２】
時刻ｔ５５において、次の大分割領域の測光出力を選択するためにクロックＣＬＫをローレベルにする。測光素子８は、アナログスイッチＳＷＲ９をオフにしてＳＷＬ９をオンし、それ以外のアナログスイッチを時刻ｔ５４の状態のままとする。これにより、測光素子８の出力端子Ｖｏｕｔには左側大分割領域Ａｄｄ＿Ｌの測光値が出力される。その後、マイクロコンピューターＵ１はクロックＣＬＫをハイレベルにするが測光素子８の動作変化はない。時刻ｔ５６で測光素子８へのクロックＣＬＫの入力を禁止するために信号ＣＳをハイレベルにする。
【００３３】
マイクロコンピューターＵ１は、３分割測光のシーケンスタイミングｔ５１〜ｔ５６で得られた各領域の測光値を、例えばクロックＣＬＫの立ち上がりエッジに同期してＡ／Ｄ変換し、内蔵ＲＡＭなどに記憶する。
【００３４】
上述したように一実施の形態の測光装置では、２４個の多分割少領域と３個の少分割大領域とを切り換えて測光を行うことができる。図７により、この一実施の形態の多分割小領域測光と少分割大領域測光の切り換えについて説明する。
【００３５】
上述したように低輝度時には３個の大分割領域で測光を行い、高輝度時には２４個の小分割領域で測光を行う。少分割大領域測光と多分割小領域測光とを切り換えるための輝度のしきい値は、多分割小領域測光から少分割大領域測光へ切り換える場合と、少分割大領域測光から多分割小領域測光へ切り換える場合とで、異なるしきい値を設定する。
【００３６】
図７に示すように、測光可能最低輝度ＥＶｍｉｎでは測光精度を確保するために３分割測光（少分割大領域測光）を行う。輝度が高くなりＥＶ５を超えると３分割測光から２４分割測光（多分割小領域測光）へ切り換え、これより測光限界値ＥＶｍａｘまでは２４分割測光を行う。輝度が低くなりＥＶ３より低くなると２４分割測光から３分割測光へ切り換え、ＥＶ３以下の低輝度では３分割測光を行う。
【００３７】
このように、３分割測光から２４分割測光へ切り換える場合と、２４分割測光から３分割測光へ切り換える場合とでは異なる切り換え判定しきい値を設定し、ヒステリシスを設ける。測光領域に輝度差がある場合に、３分割測光による輝度と２４分割測光による輝度とが大きく異なることがある。このような場合には、切り換え判定しきい値にヒステリシスを設けないと、３分割測光と２４分割測光とが測光のたびに切り換わり、測光値に基づいて算出される露出値が変動して露出制御にハンチング現象が発生する。
【００３８】
図８は、カメラの３分割測光（少分割大領域測光）と２４分割測光（多分割小領域測光）の切り換え動作を示すフローチャートである。カメラ本体１に設けられている電源スイッチ（不図示）が撮影可能状態にされると、マイクロコンピューターＵ１は図８に示す測光タスクを定期的に実行する。
【００３９】
ステップ００１において、撮影可能状態移行後の初回の測光かどうかを確認する。初回の場合はステップ００２へ進み、そうでなければステップ００３へ進む。初回の測光の場合は、ステップ００２で３分割測光モードのフラグをセットする。ステップ００３において、３分割測光モードのフラグがセットされているか否かを確認する。３分割測光モードフラグがセットされている場合はステップ００４へ進み、そうでなければステップ００７へ進む。
【００４０】
３分割測光モードフラグがセットされている場合には、ステップ００４で、図６に示すタイムチャートにしたがって測光素子８を制御し、中央と左右の３個の大分割領域Ａｄｄ＿Ｃ、Ａｄｄ＿Ｌ、Ａｄｄ＿Ｒにおいてそれぞれ測光値を検出する。そして、大分割領域Ａｄｄ＿Ｃ、Ａｄｄ＿Ｌ、Ａｄｄ＿Ｒの測光値に基づいて周知の算出方法により被写体輝度を演算する。続くステップ００５では、３分割測光により得られた測光値がＥＶ５を超えているかどうかを判定する。ＥＶ５を超えている場合はステップ００６へ進み、次回の測光を２４分割測光とするために３分割測光モードフラグをクリヤする。一方、３分割測光による測光値がＥＶ５以下の場合は、次回も３分割測光を行うために３分割測光モードフラグをセットしたままにする。
【００４１】
ステップ００３で３分割測光モードフラグがセットされていない場合は、ステップ００７で、図５に示すタイムチャートにしたがって測光素子８を制御し、２４個の小分割領域Ｃ１〜Ｃ８、Ｌ１〜Ｌ８、Ｒ１〜Ｒ８においてそれぞれ測光値を検出する。そして、小分割領域Ｃ１〜Ｃ８、Ｌ１〜Ｌ８、Ｒ１〜Ｒ８の測光値に基づいて周知の算出方法により被写体輝度を演算する。続くステップ００８では、２４分割測光により得られた測光値がＥＶ３未満か否かを判定する。ＥＶ３未満の場合はステップ００９へ進み、次回の測光を３分割測光とするために３分割測光モードフラグをセットする。一方、２４分割測光による測光値がＥＶ３以上の場合は、次回も２４分割測光を行うために３分割測光モードフラグをクリヤしたままにする。
【００４２】
２回目以降の測光ではステップ００１から００３へ進み、前回測光時の３分割測光モードフラグのセット、リセット状態により３分割測光を行うか、または２４分割測光を行うかを決定する。マイクロコンピューターＵ１は、カメラの電源スイッチが入っている間、上述した測光タスク処理を繰り返す。
【００４３】
上述した一実施の形態によれば、測光領域の分割数を切り換える場合に、切り換え判定用の輝度のしきい値にヒステリシスを設けることによって、測光のたびに測光領域の分割数が頻繁に切り換わるのを防止することができる上に、測光領域の分割数を切り換えたときに測光値が著しく不連続になるのを避けることができる。
【００４４】
なお、測光領域の分割数は上述した一実施の携帯の分割数に限定されず、３種類またはそれ以上の分割数としてもよい。ここで、測光領域の最大の分割数は１とし、この場合には測光領域の全範囲で測光を行う。測光領域の分割数を切り換える場合に、切り換え前後で一部の領域がオーバーラップしていてもよい。
【００４５】
また、上述した一実施の形態では、測光領域の分割数を切り換える場合に切り換え判定用の輝度しきい値にヒステリシスを設ける例を示したが、測光領域の分割数は同一のままで分割の仕方、つまり一部またはすべての分割領域の形状を変更する場合にも切り換え判定用の輝度しきい値にヒステリシスを設けることにより、上述した一実施の形態と同様な効果を得ることができる。
【００４６】
例えば、測光領域を上下方向に３分割して測光する場合と、左右方向に３分割して測光する場合とでは、測光領域の分割数は同一であるが、分割の仕方が異なり、各分割領域の形状が異なる。このような測光領域の分割数は同一のままで分割領域の形状を変更する場合にも、切り換え判定用の輝度しきい値にヒステリシスを設けないと測光のたびに異なる測光値が検出され、分割領域の形状の変更が頻繁に行われることになる。そこで、測光領域の分割数を変えずに分割領域の形状を変更する場合にも、切り換え判定用の輝度しきい値にヒステリシスを設け、測光結果の安定性を向上させる。
【００４７】
上述したしたように、測光領域の分割数を切り換える場合、または測光領域の分割数は同一のままで分割領域の形状を変更する場合に、切り換え判定用の輝度しきい値にヒステリシスを設けるが、ヒステリシス量を露出モードに応じて設定するようにしてもよい。これにより、それぞれの露出モードに最適なヒステリシス量とすることができ、露出モードに応じた最適な測光結果を得ることができる。
【００４８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、測光のたびに測光領域の分割数や分割形状が頻繁に切り換わるのを防止することができる上に、測光領域の分割数や分割形状を切り換えたときに測光値が著しく不連続になるのを避けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一実施の形態の測光装置を備えたカメラの断面図である。
【図２】一実施の形態の構成を示す図である。
【図３】測光素子受光部の形状を示す図である。
【図４】測光素子の内部回路を示す図である。
【図５】小分割領域で測光を行う場合のマイクロコンピューターの制御タイミングを示すタイムチャートである。
【図６】大分割領域で測光を行う場合のマイクロコンピューターの制御タイミングを示すタイムチャートである。
【図７】一実施の形態の小分割測光と大分割測光の切り換えを説明するための図である。
【図８】カメラの大分割測光と小分割測光の切り換え動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１　カメラ本体
２　撮影レンズ
３　可動ミラー
４　スクリーン
５　ペンタプリズム
６　結像レンズ
７　測光光学系
８　測光素子
８ａ　デコーダー
８ｂ　左側ヘッドアンプ
８ｃ　中央ヘッドアンプ
８ｄ　右側ヘッドアンプ
８ｅ　出力アンプ
２１　シャッター
２２　シャッター駆動回路
２３　絞り
２４　絞り駆動回路
２５　レンズ接点
Ｕ１　マイクロコンピューター
Ｌ１〜Ｌ８、Ｃ１〜Ｃ８、Ｒ１〜Ｒ８　分割測光領域
ＳＷＬ１〜ＳＷＬ９、ＳＷＣ１〜ＳＷＣ９、ＳＷＲ１〜ＳＷＲ９　アナログスイッチ
【図１】
2004012861.tif 000003
【図２】
2004012861.tif 000004
【図３】
2004012861.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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