(57)【要約】【課題】シワ評価値という数値の形に算出できる、シワ或いはその予兆の鑑別法を提供する。【解決手段】皮膚より採取したレプリカ標本の鑑別法であって、レプリカ標本に対し、９０°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、１０〜４０度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも２本の直線（走査線）を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも２本の直線（走査線）の特性とを指標とし、レプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度を鑑別する。【選択図】  なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
皮膚より採取したレプリカ標本の鑑別法であって、レプリカ標本に対し、９０°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、１０〜４０度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも２本の直線（走査線）を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも２本の直線（走査線）の特性とを指標とすることを特徴とする、レプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
【請求項２】
設定する少なくとも２本の直線（走査線）が、隣同士の交差角がそれぞれ４５度である、４本の直線であることを特徴とする、請求項１に記載のレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
【請求項３】
画素の輝度の代表値が、設定された直線（走査線）と画素を交点として直交する直線上の前記画素の近傍の画素群の輝度の平均値を求め、走査線上の該輝度の平均値の分散であることを特徴とする、請求項１又は２に記載のレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
【請求項４】
少なくとも２本の直線（走査線）の特性が、該少なくとも２本の直線の相対的な交差角度であることを特徴とする、請求項１〜３何れか１項に記載のレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
【請求項５】
請求項１〜４に記載の鑑別法によって鑑別される、凹凸の程度を指標とすることを特徴とする、シワの鑑別法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、皮膚より採取したレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法及び該鑑別法により鑑別された凹凸の程度を指標とする、シワの鑑別法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
化粧料を使用するにあたって、重要なことは、使用する人にとって適した化粧料を的確に選び出し、使用することであり、使用者の肌に適していない化粧料を使用することは、効果が得られないばかりか、好ましくない事象を出現することもあり、適さない化粧料を選択してしまう誤りはなんとしても避けなければならないことである。「化粧料があわない」と言う苦情は比較的に多く聞くことであるが、このような現象も、適切な化粧料が選択されていない、更に言い換えれば、不適切な化粧料を選択してしまった誤りによることが少なくない。この様な観点から、化粧料選択のための種々の技術が開発され、化粧料販売において応用されている。しかしながら、これまで知られている化粧料選択のための技術において大きな課題となっていることは、シワ或いはその予兆の鑑別である。現在まで知られている、確実性の高いシワ或いはその予兆の鑑別としては、皮膚よりレプリカを採取し、レプリカに於ける溝の深さと方向性とを指標にして、シワ乃至はその予兆を鑑別する方法が例示できる。この方法では、基準はあるものの、レプリカを顕微鏡下肉眼で観察し、観察者が主観で判定するものであり、客観性の維持が課題となっている。その為に、方向性と皮溝と皮丘の深度について、直交した２軸上に、レベル別に数点プロットした箱形基準モデルを作成し、客観性を高めてはいるが、判定において、判定者の技量に委ねる部分が少なくないことは否定できない。即ち、数値などの形に算出できる、シワ或いはその予兆の鑑別法が望まれていた。
【０００３】
一方、レプリカ標本に対し、９０°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、１０〜４０度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも２本の直線（走査線）を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも２本の直線（走査線）の特性とを指標とし、レプリカ上に転写された皮膚の凹凸を鑑別し、この凹凸を以て、皮膚に於けるシワ又はその予兆を鑑別するような技術は全く知られていない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、この様な状況下為されたものであり、数値などの形に算出できる、シワ或いはその予兆の鑑別法を提供することを課題とする。
【０００５】
【課題の解決手段】
本発明者らは、この様な状況に鑑みて、数値などの形に算出できる、シワ或いはその予兆の鑑別法を求めて、鋭意研究を重ねた結果、レプリカ標本に対し、９０°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、１０〜４０度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも２本の直線（走査線）を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも２本の直線（走査線）の特性とを指標とし、レプリカ上に転写された皮膚の凹凸を鑑別し、これを指標とすることにより、皮膚に於けるシワ又はその予兆が鑑別できることを見出し、発明を完成させるに至った。即ち、本発明は、以下に示す技術に関する。
（１）皮膚より採取したレプリカ標本の鑑別法であって、レプリカ標本に対し、９０°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、１０〜４０度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも２本の直線（走査線）を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも２本の直線（走査線）の特性とを指標とすることを特徴とする、レプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
（２）設定する少なくとも２本の直線（走査線）が、隣同士の交差角がそれぞれ４５度である、４本の直線であることを特徴とする、（１）に記載のレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
（３）画素の輝度の代表値が、設定された直線（走査線）と画素を交点として直交する直線上の前記画素の近傍の画素群の輝度の平均値を求め、走査線上の該輝度の平均値の分散であることを特徴とする、（１）又は（２）に記載のレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
（４）少なくとも２本の直線（走査線）の特性が、該少なくとも２本の直線の相対的な交差角度であることを特徴とする、（１）〜（３）何れか１項に記載のレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。
（５）（１）〜（４）に記載の鑑別法によって鑑別される、凹凸の程度を指標とすることを特徴とする、シワの鑑別法。
以下、本発明について更に詳細に説明を加える。
【０００６】
（１）本発明のレプリカ上の凹凸の鑑別法
本発明のレプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法は、皮膚より採取したレプリカ標本の鑑別法であって、レプリカ標本に対し、９０°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、１０〜４０度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも２本の直線（走査線）を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも２本の直線（走査線）の特性とを指標とすることを特徴とする。ここで、レプリカ標本とは、溶剤軟化性の透明なプラスチック板に、軟化のための溶剤を塗工し、軟化させた後、該軟化部分を皮膚上に押し当て、皮膚上の凹凸を軟化部分に転写し、この凹凸を観察することにより、皮膚上の凹凸を間接的に観察する技術のことであって、代表的な技術としては「河合法」が知られている。この技術では、皮膚の凹凸が忠実に転写され、且つ、その凹凸の保存性も優れるため、香粧品科学の分野では古くより汎用されている。この様なレプリカ標本を作製するキットは既に市販されているものがあり、それを利用することができる。かかるレプリカ標本は、目尻部ないし目尻下方部１．５ｃｍ×１．５ｃｍより採取されることが好ましい。一般的な方法では、この様なレプリカ標本はレプリカ面に対して垂直な下面から光を照射し、透過光を観察するのが一般的である。即ち、転写した凹凸によって照射した光が散乱され、透過光量が少なくなるのを利用して、凹凸を像として観察するのである。本発明の鑑別法においては、該レプリカの観察は、次のように行う。即ち、レプリカの凹凸のある面を採像方向に向け、この面に対して、仰角で１０〜４０度、更に好ましくは２０〜３０度の角度で光を照射しこの反射光からなる像を採像（画像として取り込む）する。この様な形態を取ることにより、レプリカ面に転写された凹凸がより明確に光度差として現れるためである。即ち、入射角がこれより大きくとも、小さくとも凹凸の明瞭さは損なわれる場合がある。以下に、同一サンプルを入射角を変えて、観察したときの明瞭さの評価を示す。評価基準は、○：明瞭、△：やや不明瞭、×：不明瞭である。
【０００７】
【表１】
2004230117.tif 000002
【０００８】
かくして、採像されたレプリカ標本の凹凸を表す像は、画像として取り込み、「フォトショップ」（アドビ株式会社製）等の画像処理ソフトを用いて、次のような手順で解析される。
１．レプリカに仰角２５°でシワ（皮溝の方向性）が強調される方向からハロゲンランプを光源とした光照射装置により落射照明を実施し、ＣＣＤカメラを装着した実体顕微鏡を用い、レプリカ□ｍｍ×□ｍｍ  の範囲を６４０画素×４８０画素のＲ，Ｇ，Ｂデジタル画像としてコンピュータに取り込む。取りこまれたＲ，Ｇ，Ｂ画像をチャンネル分解し２５６階調グレイレベルのＧチャンネル画像を得る。この時、Ｒチャンネル画像、Ｂチャンネル画像或いは白黒のみのグレイ画像を使用することもできるが、相関係数の点では、Ｇチャンネル画像を使用することが好ましい。
２．画像の中心を通る４００画素のライン（走査線）を設定しノイズの軽減を行うためにライン上の画素それぞれの輝度を直交する、画素をはさんで１５０画素ずつ、計３００画素を選択し、これらの画素の輝度の平均値で置き換える。
３．次にライン上４００画素の輝度の分散値を求める。
４．画像の中心を軸としてラインを少しずつ、好ましくは５ずつ回転させ、複数の本数の走査線、５度ずつの回転であれば、３６本の走査線のラインについて同様に分散値を求める。
５．最も分散値の大きなライン（走査線）を中心とし、５度ずつの回転であれば、最も大きな分散値のラインをＬＩＮＥ０とし、回転方向へ順にＬＩＮＥ２、ＬＩＮＥ３・・・・ＬＩＮＥ３５とした。
６．これらのライン（走査線）の内、幾つかを、パラメータとする。５度ずつの回転であれば、ライン０にＬＩＮＥ９、ＬＩＮＥ１８、ＬＩＮＥ２７を加えた４５度ずつ交わる４本のライン（走査線）をパラメータに用いることが好ましい。勿論、これより多くのライン（走査線）を用いることもできる。
７．この様な分析をシワの程度の異なるパネラーに施し、シワの目視評価値、上記の様に算出したパラメータを求め、シワの目視評価値を目的変数、上記のパラメータを説明変数として重回帰分析を行う。（重回帰式を求める。）この時、シワの目視評価値としては、通常知られているものを適用することができるが、好ましくは、Ｇチャネル画像を輝度レベル１００を閾値として２値化処理し、２値化後の画像について皮溝の方向性が認められない場合を評価１、方向性が認められる場合を評価２、強い方向性が認められる場合を評価３とし、これをシワ目視評価値とすることが好ましい。この作業は、レプリカ標本の凹凸を鑑別し、それによりシワ乃至はシワの予兆を鑑別することになる。シワの予兆については、重回帰式を求めることにより、目視上はシワと認められなくてもシワになりつつある状態を鑑別できるため、この様な状況を予兆の鑑別と称する。
８．被験者よりレプリカ標本を採取し、上記の手順に従って被験者のパラメータを算出し、７で求めた重回帰式にパラメータを代入し、シワの目視評価値を鑑別する。
これらの手順を、図示したものが図１、２である。
【０００９】
【実施例】
以下に、実施例を挙げ、本発明について更に詳細に説明を加えるが、本発明がかかる実施例にのみ限定されないことは言うまでもない。
【００１０】
＜実施例１＞
上記手順に従って、２７０名のパネラーからレプリカ標本を採集し、レプリカに仰角２５°でシワ（皮溝の方向性）が強調される方向からハロゲンランプを光源とした光照射装置により落射照明を実施し、ＣＣＤカメラを装着した実体顕微鏡を用い、レプリカ□ｍｍ×□ｍｍ  の範囲を６４０画素×４８０画素のＲ，Ｇ，Ｂデジタル画像としてコンピュータに取り込む。取りこまれたＲ，Ｇ，Ｂ画像をチャンネル分解し２５６階調グレイレベルのＧチャンネル画像を得た。このＧチャネル画像を輝度レベル１００を閾値として２値化処理し、２値化後の画像について皮溝の方向性が認められない場合を評価１、方向性が認められる場合を評価２、強い方向性が認められる場合を評価３とし、判定し、このなかより、シワ目視評価値２のサンプルを１０例、シワ目視評価値３のサンプル１０例を選択した。これらのレプリカ標本について、画像の中心を通る４００画素のライン（走査線）を設定しノイズの軽減を行うためにライン上の画素それぞれの輝度を直交する、画素をはさんで１５０画素ずつ、計３００画素を選択し、これらの画素の輝度の平均値で置き換え、これらの平均値の分散を求めた。この走査線を１点を中心に、５ずつ回転させ、３６本の走査線のラインについて同様に分散値を求めた。縦軸を分散、横軸をラインの回転角度とし、パネラーごとにこれらの数値をプロットした。これらのプロットを図３に示す。これより、シワの程度によって数値プロットが大きく変わることがわかる。
【００１１】
＜実施例２＞
実施例１の２７０例のレプリカについて、実施例１で特にシワによる挙動差が大きかったライン０、ＬＩＮＥ９、ＬＩＮＥ１８、ＬＩＮＥ２７の４５度ずつの交角の４本の走査線を選択し、シワの目視評価値を目的変数、上記のパラメータを説明変数として重回帰分析を行った。その結果、重相関係数ｒ＝０．８０９７で次の重回帰式に回帰した。これより、この回帰式と、パラメータ値（ライン０、９、１８、２７の分散）からシワ又はその予兆を鑑別できることがわかる。
シワ評価値＝７．４７×１０−６ＬＩＮＥ０（分散）−１．１×１０−５ＬＩＮＥ９（分散）＋４．７１×１０−６ＬＩＮＥ１８（分散）−２．９×１０−６ＬＩＮＥ２７（分散）＋１．０７１７
【００１２】
【発明の効果】
本発明によれば、シワ評価値という数値の形に算出できる、シワ或いはその予兆の鑑別法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】レプリカ標本の評価手順を示す図である。
【図２】レプリカ標本の評価手順を示す図である。
【図３】実施例１の結果を示す図である。
【図１】
2004230117.tif 000003
【図２】
2004230117.tif 000004
【図３】
2004230117.tif 000005