(57)【要約】【課題】スチルベルトを用いてチップを直線に移動させて六面とも検査することができ、チップを自動選別することができるチップ検査機を提供する。【解決手段】チップの六面を検査するチップ検査機において、チップの３面を同時に検査する第１検査部；第１検査部から排出されたチップを反転させる反転装置；反転装置から反転されたチップの他の３面を同時に検査する第２検査部を含むスチルベルトが備えられたチップ検査機とする。【選択図】　　　　図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップの六面を検査するスチルベルトが備えられたチップ検査機において、
前記チップを移送する第１スチルベルト、前記第１スチルベルトの経路に設けられ前記チップを整列する第１整列機構、前記チップの進入の有無を感知するセンサ、前記チップを撮影するように設けられた第１カメラ、前記チップを前記第１カメラが撮影できるように光を照射する照明装置、前記第１カメラによって撮影され検査されたチップを排出する第１チップ排出装置からなる第１検査部；
前記第１検査部から排出されたチップを反転する反転装置；
前記反転装置から反転されたチップを移送する第２スチルベルト、前記第２スチルベルトの経路に設けられ前記チップを整列する第２整列機構、前記チップの進入の有無を感知するセンサ、前記チップを撮影するように設けられた第２カメラ、前記チップを前記第２カメラが撮影できるように光を照射する照明装置、前記第２カメラによって撮影され検査されたチップを排出する第２チップ排出装置からなる第２検査部を含むことを特徴とする、スチルベルトが備えられたチップ検査機。
【請求項２】
第１項において、
前記照明装置は、光を照射するピン照明、前記ピン照明を固定するピンホルダー、前記ピンホルダーを固定するシャフト、前記シャフトを軸方向に固定するクランプ、前記クランプが固定されるベースからなり、カメラの回転軸を中心に回転するので、５自由度が可能であることを特徴とする、スチルベルトが備えられたチップ検査機。
【請求項３】
第１項において、
前記反転装置は、前記チップの大きさと同じ直線及び曲線区間に溝が形成され、該溝に前記チップが自由落下し反転することを特徴とするスチルベルトが備えられたチップ検査機。
【請求項４】
チップの六面を検査するスチルベルトが備えられたチップ検査機を用いるチップ検査方法において、
前記チップを第１スチルベルトを用いて移送し、前記第１スチルベルトの上部から移動される前記チップを第１整列機構で整列し、前記第１整列機構で整列し移動されたチップが検査区域に進入すると、センサが進入の有無を判断して照明装置及び第１カメラを用いて前記チップを検査し、検査が完了したチップを第１チップ排出装置を用いて排出する第１検査段階；
前記第１検査段階で検査が完了し、排出された前記チップを反転装置で反転させる反転段階；
前記反転段階で反転された前記チップを第２スチルベルトを用いてチップを移送し、前記第２スチルベルトの上部から移動する前記チップを第２整列機構で整列し、前記第２整列機構で整列し移動されたチップが検査区域に進入すると、センサが進入の有無を判断して照明装置及び第２カメラを用いて前記チップを検査し、検査が完了したチップを第２チップ排出装置を用いて排出する第２検査段階を含むことを特徴とする、スチルベルトが備えられたチップ検査機を用いるチップ検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップの表面状態及び大きさを検査するチップ検査機に関するもので、さらに詳しくは、コンデンサチップ（ＭＬＣＣ；　Ｍｕｌｔｉ　Ｌａｙｅｒ　Ｃｅｒａｍｉｃ　Ｃｏｎｄｅｎｓｅｒ）を含む六面体型チップの全表面を検査するチップ検査機及びこれを用いるチップ検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、チップは出荷する前に大きさ及び表面のクラックの有無、めっき量、めっき面積、損傷の有無などをユーザの要求に応じて検査し出荷することになる。
【０００３】
この従来のチップ検査機は、図１に示されたような間歇回転機構を用いてチップの表面を検査し、若しくは図２に示されたような円盤を用いた回転テーブル方式のチップ検査機が幅広く使用されてきた。
【０００４】
しかし、このような従来のチップ検査機は、定形化した同軸照明を使用することによりラウンディングされたチップの縁部は、外郭境界線がはっきりとあらわれない。従って、チップの正確な大きさを検査することができない問題点がある。
【０００５】
さらに、従来のチップ検査機は直線に移動することができないので、六面とも検査することができない問題点がある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、斯くのごとき問題点を解決するために案出されたもので、スチルベルトを用いてチップを直線に移動させて六面とも検査することができ、反転装置及び照明装置を用いてチップを自動選別できるようにしたチップ検査機及びこれを用いるチップ検査方法を提供することにその目的がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために本発明は、チップの六面を検査するスチルベルトが備えられたチップ検査機において、チップの３面を同時に検査する第１検査部；第１検査部から排出されたチップを反転させる反転装置；反転装置から反転されたチップの他の３面を同時に検査する第２検査部を含むスチルベルトが備えられたチップ検査機を提供する。
【０００８】
また、本発明はチップの六面を検査するスチルベルトが備えられたチップ検査機を用いてチップを検査するチップ検査方法において、チップの３面を同時に検査する第１検査段階；第１検査段階で検査が完了し、排出された前記チップを反転装置で反転させる反転段階；反転段階で反転された前記チップの他の３面を同時に検査する第２検査段階を含むスチルベルトが備えられたチップ検査機を用いるチップ検査方法を提供する。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下添付の図面に基づいて本願の一実施例を説明すると以下の通りである。
【００１０】
図３は六面体型チップの斜視図であり、図４は本発明によるチップ検査機を示す斜視図であり、図５は本発明による第１検査部を示す斜視図であり、図６は本発明による照明装置を示す斜視図であり、図７は本発明による反転装置を示す斜視図であり、図８は本発明によるガイド溝を示すための反転装置の斜視図であり、図９は本発明による第２検査部を示す斜視図である。
【００１１】
本発明に１検査部と、第１検査部で排出されたチップを反転させる反転装置と、反転装置から反転されたチップの他の３面を同時に検査する第２検査部とからなる。
【００１２】
まず、第１検査部は、駆動モータ（２３）に駆動する駆動軸プーリ（１１）と縦動軸プーリ（１７）との間に取り付けられ、チップ（１）を移送させる第１スチルベルト（２）、第１スチルベルト（２）の経路に設けられチップ（１）を整列する第１整列機構（３）、チップ（１）の進入の有無を感知するセンサ（８）、チップ（１）を撮影するように設けられた第１カメラ（５，６，７）、チップ（１）を第１カメラ（５，６，７）が撮影できるように光を照射する照明装置（４）、第１カメラ（５，６，７）により撮影され検査されたチップ（１）を排出する第１チップ排出装置（９）からなる。
【００１３】
この際、第１スチルベルト（２）の移動時、第１スチルベルト（２）が経路を外れないように直線整列機構（１０）が設けられる。
【００１４】
ここで、照明装置（４）は光を照射するピン照明（１８）と、ピン照明（１８）を固定するピンホルダー（１９）と、ピンホルダー（１９）を固定するシャフト（２０）と、シャフト（２０）を軸方向に固定するクランプ（２１）と、クランプ（２１）が固定されるベース（２２）とからなる。
【００１５】
前記照明装置（４）は、第１カメラ（５，６，７）の回転軸を中心に回転するので、５自由度以上移動するように備えられたものである。
【００１６】
次に、反転装置（１２）は、チップ（１）の大きさと同じ直線及び曲線区間に溝が形成され、該溝にチップが自由落下し反転する。
【００１７】
次に、第２検査部は、反転装置から反転されたチップ（１）を移送する第２スチルベルト（２４）と、第２スチルベルト（２４）の経路に設けられチップ（１）を整列する第２整列機構（２５）、チップ（１）の進入の有無を感知するセンサ（８）、チップ（１）を撮影するように設けられた第２カメラ（１４，１５，１６）と、チップ（１）を第２カメラ（１４，１５，１６）が撮影できるように光を照射する照明装置（４）と、第２カメラ（１４，１５，１６）により撮影され検査されたチップ（１）を排出する第２チップ排出装置（２６）とからなる。
【００１８】
ここで照明装置（４）は、光を照射するピン照明（１８）と、ピン照明（１８）を固定するピンホルダー（１９）と、ピンホルダー（１９）を固定するシャフト（２０）と、シャフト（２０）を軸方向に固定するクランプ（２１）と、クランプ（２１）が固定されるベース（２２）とからなる。
【００１９】
前記照明装置（４）は、第２カメラ（１４，１５，１６）の回転軸を中心に回転するので、５自由度以上移動するように備えられたものである。
【００２０】
本発明によるスチルベルトが備えられたチップ検査機を用いるチップ検査方法は、チップ（１）の３面を同時に検査する第１検査段階と、第１検査段階で検査が完了し排出されたチップ（１）を反転装置（１２）で反転させる反転段階と、反転段階で反転されたチップ（１）の他の３面を同時に検査する第２検査段階とからなる。
【００２１】
まず、第１検査段階はチップ（１）を第１スチルベルト（２）を用いて移送し、第１スチルベルト（２）の上部から移動されるチップ（１）を第１整列機構（３）で整列し、第１整列機構（３）で整列し移動されたチップ（１）が検査区域に進入すると、センサ（８）が進入の有無を判断し照明装置（４）及び第１カメラ（５，６，７）を用いてチップ（１）を検査し、検査が完了したチップ（１）を第１チップ排出装置（９）を用いて排出する。
【００２２】
次に、反転段階は、第１検査段階で検査が完了し排出された前記チップを反転装置（１２）で反転する。
【００２３】
ここで、前記チップ（１）は反転装置を通じて自由落下して直進フィーダ（１３）に集まり、直進フィーダ（１３）に集まったチップ（１）は直線及び曲線でチップ（１）の大きさと同じ大きさで形成された溝に沿って移動し反転する。
【００２４】
次に、第２検査段階は、反転段階から反転されたチップ（１）を第２スチルベルト（２４）を用いてチップ（１）を移送し、第２スチルベルト（２４）の上部から移動されるチップ（１）を第２整列機構（２５）で整列し、第２整列機構（２５）で整列し移動されたチップ（１）が検査区域に進入すると、センサ（８）が進入の有無を判断して照明装置（４）及び第２カメラ（１４，１５，１６）を用いてチップ（１）を検査し、検査が完了したチップ（１）を第２チップ排出装置（２６）を用いて排出する。
【００２５】
【発明の効果】
上述のように、本発明によるスチルベルトが備えられた検査機及びこれを用いるチップ検査方法によれば、スチルベルトを用いてチップの直線移送を具現するのでチップの６面とも検査することができ、照明装置はチップの実際の大きさを容易に検査することができる。
【００２６】
また、高品質のチップが自動選別され、表面検査の精度が向上する。
チップ検査の精度の向上によってチップの生産工程の自動化が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、従来技術による間歇回転機構を用いたチップ検査機を概略的に示す図面である。
【図２】図２は、従来技術による円盤を用いる回転テーブル方式の検査機を概略的に示す図面である。
【図３】図３は、六面体型チップの斜視図である。
【図４】図４は、本発明によるスチルベルトが備えられたチップ検査機を示す斜視図である。
【図５】図５は、本発明による第１検査部を示す斜視図である。
【図６】図６は、本発明による照明装置を示す斜視図である。
【図７】図７は、本発明による反転装置を示す斜視図である。
【図８】図８は、本発明によるガイド溝を示すための反転装置の斜視図である。
【図９】図９は、本発明による第２検査部を示す斜視図である。
【符号の説明】
１　チップ、２　第１スチルベルト、４　照明装置、５，６，７　第１カメラ、８　センサ、９　第１チップ排出装置、１２　反転装置、１３　直進フィーダ、１４，１５，１６　第２カメラ、１８　ピン照明、１９　ピンホルダー、２０シャフト、２１　クランプ、２２　ベース、２４　第２スチルベルト、２７　ガイド溝。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2004012458.tif 000009
【図８】
2004012458.tif 000010
【図９】
2004012458.tif 000011