(57)【要約】【課題】半導体集積回路に内蔵されるＰＬＬ（フェーズロックドループ）回路中のローパスフィルタ（ＬＰＦ）のリーク（漏洩）を迅速簡単に検査できるＰＬＬ回路の検査方法及びその検査機能つきＰＬＬ回路を提供する。【解決手段】半導体集積回路内に設けられ、位相比較器（４）と、位相比較器の出力によって駆動されるチャージポンプに一端が接続され他端が接地電位側に接続されたコンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）を含むローパスフィルタ（６）と、ローパスフィルタの出力側に接続された電圧制御発振器（７）と、電圧制御発振器の出力の一部を位相比較器の入力側に戻す帰還回路（８）と、を有するＰＬＬ回路（１）中のローパスフィルタのリーク検査回路であって、ローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器から切離してコンデンサの一端を電源電位側に接続して充電するための検査スイッチ（ＴＲ６、ＴＲ７）を含む。【選択図】          図２
2004274352.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体集積回路内に設けられ、位相比較器と、該位相比較器の出力に応じて駆動されるチャージポンプと、一端が前記チャージポンプに接続されて前記チャージポンプにより充電及び放電されるとともに他端が接地電位に接続されたコンデンサを含むローパスフィルタと、該ローパスフィルタの出力側に接続された電圧制御発振器と、該電圧制御発振器の出力の一部を前記位相比較器の入力側に戻す帰還回路とを有するＰＬＬ回路中の前記ローパスフィルタのリークを検査する方法であって、
前記チャージポンプを非動作状態にするステップと、
前記コンデンサの前記一端を接地電位側に接続して放電した後に接地電位から切り離すステップと、
前記コンデンサの前記一端を電源電位側に接続するステップと、
前記コンデンサの前記一端を電源電位に充電するステップと、
前記コンデンサの前記一端の電流又は電圧変化に基づいて前記リークを検査するステップと
を含むことを特徴とするＰＬＬ回路のリーク検査方法。
【請求項２】
半導体集積回路内に設けられ、位相比較器と、該位相比較器の出力に応じて駆動されるチャージポンプと、一端が前記チャージポンプに接続されて前記チャージポンプにより充電及び放電されるとともに他端が接地電位側に接続されたコンデンサを含むローパスフィルタと、該ローパスフィルタの出力側に接続された電圧制御発振器と、該電圧制御発振器の出力の一部を前記位相比較器の入力側に戻す帰還回路とを有するＰＬＬ回路であって、
前記ローパスフィルタの出力側を前記電圧制御発振器から切り離して前記コンデンサの前記一端を電源電位側に接続して充電するための検査スイッチを含む前記ローパスフィルタのリーク検査のためのリーク検査回路
を備えることを特徴とするリーク検査機能つきＰＬＬ回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＰＬＬ（フェーズロックドループ）回路のリーク検査方法及びリーク検査機能つきＰＬＬ回路に関し、特に半導体集積回路に内蔵されるＰＬＬ回路の中のローパスフィルタのリーク検査方法及びリーク検査機能つきＰＬＬ回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＰＬＬ回路は、例えば特許文献１に開示されるように、２つの入力信号間の周波数及び位相差を検出して誤差を出力する位相比較器と、位相比較器の誤差出力に応じてローパスフィルタのコンデンサを充電及び放電してローパスフィルタの出力電圧として誤差出力に比例した電圧を生成しめるチャージポンプと、チャージポンプからの出力電圧の高周波成分をカットして電圧の直流ないしは低周波成分のみを取り出すローパスフィルタと、ローパスフィルタからの出力電圧により制御された発振周波数を出力する電圧制御発振器と、電圧制御発振器の出力発振周波数をｎ分の１に分周（分割）して位相比較器の１つの入力信号に帰還する帰還分周器とを備えており、位相比較器に入力する他方の入力信号（基準周波数ｆ）のｎ倍の周波数ｎｆを電圧制御発振器により発生して出力するものである。このようなＰＬＬ回路はＰＬＬ周波数シンセサイザとも呼ばれていて、半導体集積回路内に設けられて、例えば、ラジオ受信機、携帯電話器などの通信機器の局部発振回路として使用される。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００２−３０００２９（図１と図９）
【０００４】
図４は、半導体集積回路内に設けられたＰＬＬ回路に使用される従来のローパスフィルタを示す。ローパスフィルタ（図４の説明の便宜上、以下、ＬＰＦと言う）はコンデンサＣ１及びＣ２を含んでいる。このＬＰＦのコンデンサＣ１及びＣ２を含む回路からのリーク（漏洩電流）が問題となる。なぜならば、コンデンサＣ１及びＣ２を含むＬＰＦ回路にリーク（すなわち、漏洩電流）が存在すると、チャージポンプＣＰからの入力電圧ＶＩＮの直流成分が正しく維持されないから、ＬＰＦから出力される電圧Ｖを制御電圧として発振周波数を出力する電圧制御発振器（図４の説明の便宜上、以下、ＶＣＯと言う）が正しい周波数を出力しない。リークが大きい場合には電圧Ｖは電源端子ＶＳＳ（例えば、０Ｖ）となって位相同期動作ができない。リークが小さい場合ではＰＬＬの同期タイミングにおいて所定の周波数となるように位相同期がされても次ぎの同期タイミング迄に徐々に電圧Ｖが低下し、発振周波数が低下することになり、周期的に発振周波数が変動してしまう。従って、出荷前に半導体集積回路内に製造されたＰＬＬ回路中のＬＰＦがリークをしていないかどうかを検査することが必要である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
半導体集積回路中のノードを直接に監視できないため、図４に示される従来のＬＰＦの構成では、コンデンサＣ１及びＣ２を含むＬＰＦのリークの有無の検査をするためには、図４の回路中のリセットスイッチＲＥＳＥＴを押して、図５に示すようにコンデンサＣ１とＣ２の両極をＶＳＳ（接地電位）レベルにリセットした後で、ＰＬＬ回路を所定の周波数で駆動した際に、半導体集積回路の端子より出力されるＰＬＬ回路の出力周波数の変化を監視するという、間接的な検査方法しかなかった。
【０００６】
しかし、このよう従来のＬＰＦのリークの検査方法によれば、半導体集積回路の端子から出力されるＰＬＬ回路の出力周波数を比較的に長時間にわたって監視して出力周波数の変化の有無を見つける必要があるため、検査効率が悪いという問題点があった。特に小さなリークの有無を検査するためには周期的な出力周波数の変化を見つける必要がある。しかしながら、実際には出力周波数はカウンタを用いて所定期間での平均出力周波数として観測されるため、小さなリークによる周期的な出力周波数の変化を見つけることは難しかった。
【０００７】
図４に示される従来のＬＰＦの回路では、ＬＰＦの入力端及び出力端側に接続するコンデンサＣ１及びＣ２の一端側の電位を直接に制御できないため、リセットスイッチＲＥＳＥＴを押した後にコンデンサＣ１及びＣ２の一端側の電位を接地電位に接続してコンデンサＣ１及びＣ２の電荷をリセットしたとしても、その後のコンデンサＣ１及びＣ２の一端側の電位を直接的には制御できない。このため、その電位により出力周波数が制御されるＶＣＯの動作も予測し難く、従って半導体集積回路の端子より出力されるＰＬＬ回路の出力周波数の変化を監視してＬＰＦのリークを検査する方法も簡単にできないという問題点があった。
【０００８】
本発明は、上述した従来の問題点を解決するために、検査効率の良いローパスフィルタのリーク検査を可能とするＰＬＬ回路のリーク検査方法及び検査機能付きＰＬＬ回路を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の本発明によれば、半導体集積回路内に設けられ、位相比較器と、位相比較器の出力に応じて駆動されるチャージポンプと、一端が前記チャージポンプに接続されて前記チャージポンプにより充電及び放電されるとともに他端が接地電位側に接続されたコンデンサを含むローパスフィルタと、ローパスフィルタの出力側に接続された電圧制御発振器と、電圧制御発振器の出力の一部を位相比較器の入力側に戻す帰還回路とを有するＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリーク検査方法であって、前記チャージポンプを非動作状態とするステップと、コンデンサの一端を接地電位側に接続して放電した後に接地電位から切り離すステップと、コンデンサの一端を電源電位側に接続するステップと、コンデンサの一端を電源電位に充電するステップと、コンデンサの一端の電流又は電圧変化に基づいてリークを検査するステップとを含むことを特徴とするＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリーク検査方法が提供される。
【００１０】
請求項１に記載のＰＬＬ回路のリーク検査方法によれば、検査スイッチでローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器から切り離してコンデンサの一端を電源電位側に接続して電源電位に充電した状態とするとともにチャージポンプを含めてＰＬＬ回路を非動作状態としてＰＬＬ回路を含む半導体集積回路全体の電流（所謂、静止電流）を測定することにより、容易にローパスフィルタのリークを検査することができる。
【００１１】
もし、ローパスフィルタのリークがなければ、半導体集積回路全体の静止電流は所定の値となる。もし、ローパスフィルタのリークがあれば、静止電流は所定の値を上回る。ローパスフィルタのリークの有無は、半導体集積回路の静止電流を検査することで、確実にしかも短時間で検査できる。
【００１２】
代替的には、電源電位からコンデンサの一端側に流入する電流値を測定する。もし、ローパスフィルタにリークがなければコンデンサの一端側が電源電位になると流入電流値はゼロになるはずである。従って、ある時間の経過後に流入電流値はゼロとなる。しかし、リークがあれば流入電流値は時間が経過してもゼロとならない。これにより容易且つ比較的短時間に半導体集積回路内のＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリークの有無が検査できる。
【００１３】
さらに代替的には、検査スイッチでローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器から切り離してコンデンサの一端を電源電位側に接続して電源電位に充電した後に、検査スイッチでコンデンサの一端を電源電位側から切り離し、再びローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器に接続して、電圧制御発振器の出力周波数の変化を半導体集積回路端子から検査することにより、容易にローパスフィルタのリークを検査することができる。すなわち、リークが大きいときにはコンデンサの一端側が接地電位に接続され、電圧制御発振器の出力周波数は最小のものとなる。リークが小さい場合には徐々にコンデンサの一旦側の電圧が低下し、発振周波数が低下する。
【００１４】
もし、ローパスフィルタのリークがなければ、一端側が電源電位に接続され、電圧制御発振器の出力周波数は最大値で一定に保たれる。もし、ローパスフィルタのリークがあれば、コンデンサの一端の電位は電源電位から低下するために電圧制御発振器の出力周波数が時間と共に変化する。これにより容易に半導体集積回路内のＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリークの有無が検査できる。この場合、ローパスフィルタのコンデンサの一端側を電源電位に充電した後に電圧制御発振器の出力周波数の変化を検査するため、ローパスフィルタのリークの有無は、半導体集積回路端子から電圧制御発振器の出力周波数の単調な変化を検査することで、確実にしかも短時間で検査できる。
【００１５】
請求項２に記載の本発明によれば、半導体集積回路内に設けられ、位相比較器と、位相比較器の出力に応じて駆動されるチャージポンプと、一端が前記チャージポンプに接続されて前記チャージポンプにより充電及び放電されるとともに他端が接地電位に接続されたコンデンサを含んだローパスフィルタと、ローパスフィルタの出力側に接続された電圧制御発振器と、電圧制御発振器の出力の一部を前記位相比較器の入力側に戻す帰還回路とを有するＰＬＬ回路であって、ローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器から切り離してコンデンサの一端を電源電位側に接続して充電するための検査スイッチを含む前記ローパスフィルタのリーク検査のためのリーク検査回路を備えることを特徴とするリーク検査機能つきＰＬＬ回路が提供される。
【００１６】
請求項２に記載のリーク検査機能つきＰＬＬ回路によれば、ローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器から切り離してコンデンサの一端を電源電位側に接続して電源電位に充電した状態とするとともにチャージポンプを含めてＰＬＬ回路を非動作状態としてＰＬＬ回路を含む半導体集積回路全体の電流（所謂、静止電流）を測定することにより、容易にローパスフィルタのリークを検査することができる。
【００１７】
もし、ローパスフィルタのリークがなければ、半導体集積回路全体の静止電流は所定の値となる。もし、ローパスフィルタのリークがあれば、静止電流は所定の値を上回る。ローパスフィルタのリークの有無は、半導体集積回路の静止電流を検査することで、確実にしかも短時間で検査できる。
【００１８】
代替的には、電源電位からコンデンサの一端側に流入する電流値を測定する。もし、ローパスフィルタにリークがなければコンデンサの一端側が電源電位になると流入電流値はゼロになるはずである。従って、ある時間の経過後に流入電流値はゼロとなる。しかし、リークがあれば流入電流値は時間か経過してもゼロとならない。これにより容易且つ比較的短時間に半導体集積回路内のＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリークの有無が検査できる。
【００１９】
さらに代替的には、ＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリーク検査回路によれば、検査スイッチでローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器から切り離してコンデンサの一端を電源電位側に接続して電源電位に充電した後に、検査スイッチでコンデンサの一端を電源電位側から切り離し、再びローパスフィルタの出力側を電圧制御発振器に接続して、電圧制御発振器の出力周波数の変化を半導体集積回路端子から検査することにより、容易にローパスフィルタのリークを検査することができる。
【００２０】
もし、ローパスフィルタのリークがなければ、電圧制御発振器の出力周波数は一定に保たれる。もし、ローパスフィルタのリークがあれば、コンデンサの一端の電位は電源電位から低下するために電圧制御発振器の出力周波数が時間と共に変化する。これにより容易に半導体集積回路内のＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリークの有無が検査できる。この場合、ローパスフィルタのコンデンサの一端側を電源電位に充電した後に電圧制御発振器の出力周波数の変化を検査するため、ローパスフィルタのリークの有無は、半導体集積回路端子から電圧制御発振器の出力周波数の単調な変化を検査することで、確実にしかも短時間で検査できる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００２２】
図１は、本発明の１つの実施の形態によるＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリーク検査回路を有するＰＬＬ回路のブロック図を示す。このＰＬＬ回路１は、半導体集積回路内に通常の半導体製造プロセスにより作成される。このＰＬＬ回路１は、基準クロック回路２の出力の基準クロック周波数を所定の分周比で分周する入力分周器３とを有し、位相比較器４に基準周波数ｆとなる入力信号を入力する。位相比較器４の比較誤差出力はチャージポンプ５を駆動してローパスフィルタ（以下、説明の便宜上単にＬＰＦと言う）６のコンデンサを充電及び放電せしめる。ＬＰＦ６はチャージポンプ５による充電及び放電による電位変動の高周波成分をカットした直流ないしは低周波成分のみを、位相比較器４の比較誤差出力に応じた制御電圧として電圧制御発振器（以下、説明の便宜上単にＶＣＯという）７に入力する。
【００２３】
ＶＣＯ７は入力された制御電圧に基づいて変化する周波数を持った出力を発生する。ＶＣＯ７の出力の一部はｎ分の１に分周する帰還分周器８を介して位相比較器４に帰還されて、基準周波数ｆを持った入力信号と位相と周波数が比較されて比較誤差出力を発生する。この結果、ＶＣＯ７は基準周波数ｆのｎ倍の周波数ｎｆを持った出力を発生する。ＶＣＯ７の出力は出力分周器９により所定の分周比で分周された後、ＰＬＬ回路１の出力１０となる。本実施の形態のＰＬＬ回路１は、コントロール回路１１を有し、コントロール回路１１からＬＰＦ６にリセット信号ＲＥＳＥＴ（図３）及び検査信号ＣＴＥＳＴ（図３）を送ることができるようになっている。
【００２４】
図２は、本実施の形態によるリーク（すなわち、漏洩電流）検査回路を組込んだＬＰＦ６と、入力側のチャージポンプ５及び出力側のＶＣＯ７との接続部分の回路を示す。なお、図４に示した従来技術の回路と同じ部分には、同じ符号を使用して示している。すなわち、ＬＰＦ６は、並列的に接続されたコンデンサＣ１とＣ２を有し、コンデンサＣ１の一端は抵抗Ｒ１を介してＬＰＦ６の入力ノードＶＩＮに接続され、コンデンサＣ２の一端は直接に入力ノードＶＩＮに接続されている。コンデンサＣ１とＣ２の他端は接地電位ＶＳＳに共通に接続されている。
【００２５】
リセットスイッチとしてのＮチャンネルトランジスタＴＲ４がＬＰＦ６の入力ノードＶＩＮと接地電位ＶＳＳの間に接続されていて、そのゲートにはリセット信号ＲＥＳＥＴ（図３）が加えられている。
【００２６】
ＬＰＦ６の入力ノードＶＩＮは、チャージ・ポンプ５の出力に接続されている。すなわち、入力ノードＶＩＮは、チャージポンプ５の出力部のＰチャンネルトランジスタＴＲ１とＮチャンネルトランジスタＴＲ２との接続中点に接続されており、トランジスタＴＲ１のゲートには入力信号ＣＨ１が接続されていて入力信号ＣＨ１に応じて電源電位ＶＤＤに接続された電流源Ｉ１を接続中点に接続し、トランジスタＴＲ２のゲートには入力信号ＣＨ２が接続されていて入力信号ＣＨ２に応じて接地電位ＶＳＳに接続された電流源Ｉ２を接続中点に接続する。
【００２７】
ＬＰＦ６の入力ノードＶＩＮにはまた、ＰチャンネルトランジスタＴＲ６を介して電源電位ＶＤＤが接続されている。トランジスタＴＲ６のゲートには検査信号ＣＴＥＳＴ（図３）が加えられている。
【００２８】
ＶＣＯ７に接続するＬＰＦ６の出力ノードＶは、２つのＮチャンネルトランジスタＴＲ７とＴＲ５と抵抗Ｒ２とが直列接続して接地電位ＶＳＳに接続している。トランジスタＴＲ７のゲートには検査信号ＣＴＥＳＴ（図３）が加えられており、トランジスタＴＲ５のゲートにはコンデンサＣ２の一端側と入力ノードＶＩＮが接続している。ＬＰＦ６の出力ノードＶはまた、電源電位ＶＤＤへＰチャンネルトランジスタＴＲ３を介して接続しており、トランジスタＴＲ３のゲートは出力ノードＶに接続されている。ＰチャンネルトランジスタＴＲ６とＮチャンネルトランジスタＴＲ７とにより検査スイッチが構成される。
【００２９】
次に、図２に示された本実施の形態のＰＬＬ回路のＬＰＦ６の検査回路の動作を、図３に示す本実施の形態によるＲＥＳＥＴ信号及び検査信号ＣＴＥＳＴのタイミングチャートを一緒に参照して説明する。
【００３０】
電源投入時のパワーオンリセット等のリセット時には、リセット信号ＲＥＳＥＴは所定期間だけ高（Ｈ）レベルとなり、ＮチャンネルトランジスタＴＲ４をオンにしてコンデンサＣ１とＣ２の入力ノードＶＩＮ側の一端の電位を接地電位ＶＳＳに接続して接地電位になるまで放電する。この時、チャージポンプ５の出力部のトランジスタＴＲ１とＴＲ２は共にオフ状態にあり、ＬＰＦ６の入力ノードＶＩＮは電流源Ｉ１とＩ２からは遮断されている。また、検査信号ＣＴＥＳＴはリセット時及び以下の通常動作時は共に高（Ｈ）レベルのままであり、ＰチャンネルトランジスタＴＲ６をオフにして入力ノードＶＩＮを電源電位ＶＤＤから遮断し、且つ、ＮチャンネルトランジスタＴＲ７をオンにして、出力ノードＶをトランジスタＴＲ５に接続している。
【００３１】
リセットから通常動作に切り換わると、リセット信号ＲＥＳＥＴは低（Ｌ）レベルに変わり、ＮチャンネルトランジスタＴＲ４をオフにして入力ノードＶＩＮを接地電位ＶＳＳから遮断する。この後、チャージポンプ５の出力部のトランジスタＴＲ１とＴＲ２がそれぞれ入力信号ＣＨ１とＣＨ２により駆動されて、ＬＰＦ６の入力ノードＶＩＮに電流源Ｉ１とＩ２から電流が注入又は流出して、入力ノードＶＩＮの電位を変化させる。ＬＰＦ６は入力された電位変化の高周波成分をカットして直流ないしは低周波成分のみをＮチャンネルトランジスタＴＲ５のゲートに伝える。この結果、出力ノードＶには、電源電位ＶＤＤからＰチャンネルトランジスタＴＲ３、ゲートに高（Ｈ）レベルのＣＴＥＳＴ信号が印加されたオン状態のＮチャンネルトランジスタＴＲ７、ＬＰＦ６により高周波成分を除去されたチャージポンプ５からの出力がゲートに印加されるＮチャンネルトランジスタＴＲ５、及び抵抗Ｒ２を介して接地電位ＶＳＳに流れる電流により出力電圧が発生される。
【００３２】
ＬＰＦ６のリーク検査時には、まず、前述のリセット時と同様にして、チャージポンプ５のトランジスタＴＲ１とＴＲ２を共にオフにしたまま、リセット信号ＲＥＳＥＴを高（Ｈ）レベルとしてＮチャンネルトランジスタＴＲ４をオンにしてＶＩＮノードを接地電位ＶＳＳに接続してコンデンサＣ１とＣ２のＶＩＮノード側の端子を放電する。次に、チャージポンプ５のトランジスタＴＲ１とＴＲ２を共にオフにしたまま、リセット信号ＲＥＳＥＴを低（Ｌ）レベルにしてトランジスタＴＲ４をオフにしてＶＩＮノードを接地電位ＶＳＳから切り離す。そして、検査信号ＣＴＥＳＴを高（Ｈ）レベルから低（Ｌ）レベルにする。すると、ＰチャンネルトランジスタＴＲ６がオンとなって電源電位ＶＤＤをＶＩＮノードに接続し、ＮチャンネルトランジスタＴＲ７はオフとなってＶＣＯ７に接続された出力ノードＶをＬＰＦ６から切離す。この時、チャージポンプ５のトランジスタＴＲ１とＴＲ２を共にオフされたままである。なお、ここでは、通常動作と同様にリセット信号を用いることとして述べたが、これに限るものではなく、チャージポンプ５のトランジスタＴＲ１とＴＲ２とがオフであり、他のブロックが非動作状態にあり、ＶＩＮノードが電源端子ＶＤＤに接続しさえすれば、本例のリーク検査は可能である。
【００３３】
トランジスタＴＲ６を経由して電源電位ＶＤＤからＶＩＮノード側に接続したコンデンサＣ１とＣ２の端子に流入する電流は、ある時間経過後にＶＩＮノードの電位が電源電位ＶＤＤに達して停止するはずである。しかし、コンデンサＣ１とＣ２を含むＬＰＦ６にリークがあれば、何時までも電源電位ＶＤＤからトランジスタＴＲ６を経由してＶＩＮノード側に接続したコンデンサＣ１とＣ２の端子へ流入する。従って、図示しない電流監視手段により、非動作状態のＰＬＬ回路を含む半導体集積回路全体の電流（所謂、静止電流）を経時的に検査することにより、若しくはトランジスタＴＲ６を通じて流れる電流を経時的に検査することで、コンデンサＣ１とＣ２を含むＬＰＦ６のリークを検査することができる。すなわち、本例では、従来のように出力周波数を検査するのではなくリークそのものを検査するため、従来のように周期的な周波数変動しか示さないために発見が困難であった僅かなリークであっても発見することが可能となっている。
【００３４】
代替的に、コンデンサＣ１とＣ２を含むＬＰＦ６にリークは次ぎの様にしてもできる。すなわち、検査信号ＣＴＥＳＴを低（Ｌ）レベルから高（Ｈ）レベルにする。すると、ＰチャンネルトランジスタＴＲ６がオフとなって電源電位ＶＤＤがＶＩＮノードから切り離され、ＮチャンネルトランジスタＴＲ７がオンとなってＬＰＦ６の出力がノードＶを経由してＶＣＯ７に接続される。この時、チャージポンプ５のトランジスタＴＲ１とＴＲ２を共にオフされたままである。ＶＣＯ７の出力１０の出力周波数の変化を監視すれば、コンデンサＣ１とＣ２を含むＬＰＦ６にリークを検査できる。もし、コンデンサＣ１とＣ２を含むＬＰＦ６にリークがなければ、トランジスタＴＲ５のゲート電圧が変化しないため、出力ノードＶの電位も一定にとどまり、ＶＣＯ７の出力１０の出力周波数は経時的に変化しない。しかし、もし、コンデンサＣ１とＣ２を含むＬＰＦ６にリークがあれば、トランジスタＴＲ５のゲート電圧が変化して出力ノードＶの電位も変化し、ＶＣＯ７の出力１０の出力周波数が単調に変化する。これにより、リークを検査することができる。
【００３５】
なお、上述した実施例において説明したＰチャンネルトランジスタとＮチャンネルトランジスタとは、当業者には明らかなように容易に交換できる。
【００３６】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、検査スイッチを設けてローパスフィルタのコンデンサの一端に電源電位を接続することにより、容易に且つ定量的にローパスフィルタのリークの有無が検査できる。すなわち、リークがなければコンデンサの一端側に電源電位から流入する電流値はゼロになるはずであるが、リークがあれば流入する電流値は時間か経過してもゼロとならない。これによりローパスフィルタのコンデンサへの流入電流若しくはローパスフィルタのコンデンサからの流出電流を検出することで、容易且つ比較的短時間に半導体集積回路内のＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリークの有無が定量的に検査できる。
【００３７】
代替的には、検査スイッチを設けてローパスフィルタのコンデンサの一端に電源電位を接続して電源電位に充電した後に、半導体集積回路端子から電圧制御発振器の出力周波数の経時的な変化を検査することで、半導体集積回路内のＰＬＬ回路中のローパスフィルタのリークの有無を確実にしかも短時間で検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の１つの実施の形態によるローパスフィルタのリーク検査回路を有するＰＬＬ回路のブロック図。
【図２】本発明の１つの実施の形態による検査回路を組込んだローパスフィルタの回路図。
【図３】本発明の実施の形態によるＲＥＳＥＴ信号及び検査信号ＣＴＥＳＴのタイミングチャート。
【図４】従来のＰＬＬ回路に使用されるローパスフィルタの回路図。
【図５】従来のローパスフィルタに使用されるＲＥＳＥＴ信号のタイミングチャート。
【符号の説明】
１      ＰＬＬ回路
４      位相比較器
５      チャージポンプ
６      ローパスフィルタ
７      電圧制御発振器
８      帰還分周器
１１    コントロール回路
Ｃ１    コンデンサ
Ｃ２    コンデンサ
ＴＲ６  Ｐチャンネルトランジスタ
ＴＲ７  Ｎチャンネルトランジスタ
【図１】
2004274352.tif 000003
【図２】
2004274352.tif 000004
【図３】
2004274352.tif 000005
【図４】
2004274352.tif 000006
【図５】
2004274352.tif 000007