(57)【要約】【課題】タンジェンシャルスキューの検出値に基づいて、波形等化処理を実行するか否かを判断する。【解決手段】ステップＳ１で、ＲＦ信号が再生されて増幅され、ステップＳ２で、図１０を用いて後述するタンジェンシャルスキュー検出処理が実行される。ステップＳ３で、タンジェンシャルスキュー検出値αを基に、光ディスクと光学ピックアップ部とのタンジェンシャルスキューは、所定の値以内であるか否かが判断され、所定の値以内ではないと判断された場合、ステップＳ４で、波形等化部にＲＦ信号が供給され、ステップＳ５で、波形等化処理が実行される。タンジェンシャルスキューは、所定の値以内であると判断された場合、または、ステップＳ５の処理の終了後、ステップＳ６で、供給された信号に対して、ランレングス補正処理が実行され、ステップＳ７で、補正された信号が復号される。本発明は、光ディスク再生装置に適用できる。【選択図】      図９
2004280913.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
装着された光ディスクに記録された情報を再生可能な光ディスク再生装置において、
前記光ディスクに記録された信号を再生する再生手段と、
前記再生手段により再生された再生信号を用いて、前記再生手段に対する前記光ディスクの傾きを検出し、前記光ディスクの傾きを示す値を出力する検出手段と、
前記検出手段により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を用いて、前記再生手段により再生された前記再生信号を波形等化する波形等化手段と、
供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、前記チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正手段と、
前記検出手段により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を基に、前記波形等化手段により前記再生信号を波形等化するか否かを判断する判断手段と
を備えることを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項２】
前記判断手段は、前記検出手段により出力された前記光ディスクの傾きを示す値が、０に近い所定の範囲より大きい値か、または小さい値である場合、前記波形等化手段により前記再生信号を波形等化する処理を実行させると判断する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
【請求項３】
前記検出手段は、前記光ディスクのピットパターンが所定のピットパターンである場合の前記再生信号を用いて、前記再生手段に対する前記光ディスクの傾きを検出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
【請求項４】
前記波形等化手段は、
デジタルフィルタにより構成され、
前記検出手段により検出された前記光ディスクの傾きを示す値を用いて、前記デジタルフィルタのフィルタ係数を演算するフィルタ係数演算手段を備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
【請求項５】
装着された光ディスクに記録された情報を再生可能な光ディスク再生装置の光ディスク再生方法において、
前記光ディスクに記録された信号を再生する再生ステップと、
前記再生ステップの処理により再生された再生信号を用いて、前記光ディスクの傾きを検出し、前記光ディスクの傾きを示す値を出力する検出ステップと、
前記検出ステップの処理により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を基に、前記再生信号を波形等化するか否かを判断する判断ステップと、
前記判断ステップの処理により前記再生信号を波形等化すると判断された場合、前記検出ステップの処理により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を用いて、前記再生ステップの処理により再生された前記再生信号を波形等化する波形等化ステップと、
供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、前記チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正ステップと
を含むことを特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項６】
装着された光ディスクに記録された情報を再生する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記光ディスクに記録された信号を再生する再生ステップと、
前記再生ステップの処理により再生された再生信号を用いて、前記光ディスクの傾きを検出し、前記光ディスクの傾きを示す値を出力する検出ステップと、
前記検出ステップの処理により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を基に、前記再生信号を波形等化するか否かを判断する判断ステップと、
前記判断ステップの処理により前記再生信号を波形等化すると判断された場合、前記検出ステップの処理により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を用いて、前記再生ステップの処理により再生された前記再生信号を波形等化する波形等化ステップと、
供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、前記チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正ステップと
を含むことを特徴とするコンピュータが読み取り可能なプログラムが記録されている記録媒体。
【請求項７】
装着された光ディスクに記録された情報を再生する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記光ディスクに記録された信号を再生する再生ステップと、
前記再生ステップの処理により再生された再生信号を用いて、前記光ディスクの傾きを検出し、前記光ディスクの傾きを示す値を出力する検出ステップと、
前記検出ステップの処理により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を基に、前記再生信号を波形等化するか否かを判断する判断ステップと、
前記判断ステップの処理により前記再生信号を波形等化すると判断された場合、前記検出ステップの処理により出力された前記光ディスクの傾きを示す値を用いて、前記再生ステップの処理により再生された前記再生信号を波形等化する波形等化ステップと、
供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、前記チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク再生装置および光ディスク再生方法、記録媒体、並びにプログラムに関し、特に、ランレングス補正処理を行う光ディスク再生装置に用いて好適な、光ディスク再生装置および光ディスク再生方法、記録媒体、並びにプログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光ディスク再生装置において、装着された光ディスクの傾きを検出するためには、スキューセンサが用いられていた。
【０００３】
図１を用いて、スキューセンサを用いて光ディスクの傾きを検出するようになされている光ディスク再生装置について説明する。
【０００４】
図示しないスピンドルモータにより回転駆動される光ディスク１に記録されている情報は、光学ピックアップ部２によって読み取られる。
【０００５】
レーザダイオード１１から出射されたレーザ光は、グレーティング１２によって複数のビームに分割された後、ビームスプリッタ１３に入射して、コリメータレンズ１４を介して、対物レンズ１５により、光ディスク１の記録面に集光される。光ディスク１による反射光は、対物レンズ１５、コリメータレンズ１４、ビームスプリッタ１３およびマルチレンズ１６を介して、光検出部（Ｐｈｏｔｏ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）１７に入射する。
【０００６】
光検出部１７は、入射された光を電気信号に変換し、ＲＦ信号処理部１８に供給する。ＲＦ信号処理部１８は、光検出部１７から供給された、光ディスク１からの読み出し信号について所要の処理を施すことで、例えば、再生データとしてのＲＦ信号、並びに、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を生成する。ＲＦ信号処理部１８は、ＲＦ信号をＲＦアンプ３に供給し、フォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号をサーボマトリクスアンプ４に供給する。
【０００７】
サーボマトリクスアンプ４は、供給されたフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を増幅して、ピックアップ制御部７に供給する。
【０００８】
ＲＦアンプ３は、供給されたＲＦ信号を増幅して、イコライザ５に供給する。イコライザ５は、供給された信号の特定の周波数成分を増幅したり、または、不要な周波数成分をカットして、復号処理部６に供給する。復号処理部６は、供給された信号を、光ディスク１に記録されている情報の、所定の記録方式に基づいて復号し、復号された情報を出力する。
【０００９】
光ディスク１と光学ピックアップ部２との間に、タンジェンシャルスキューが生じている場合、光学ピックアップ部２から光ディスク１に対して照射されるビームの読み取りスポットにコマ収差が発生し、読み取りスポットの中心強度が低下する。同時に、一次回折リングの強度が増加し、スポットサイズが大きくなってしまう。このため、再生信号のクロストーク成分が増加してしまう。
【００１０】
スキューセンサ１９は、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）１９−１により発光され、光ディスク１によって反射された光を、レンズ１９−２により受光し、その受光位置の偏りにより、光ディスク１と光学ピックアップ部２との傾きであるタンジェンシャルスキューを検出する。
【００１１】
ピックアップ制御部７は、光学ピックアップ部２のスキューセンサ１９より、タンジェンシャルスキュー検出値αの入力を受ける。
【００１２】
ピックアップ制御部７は、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を基に、光学ピックアップ部２に対して、フォーカス制御およびトラッキング制御を実行するとともに、タンジェンシャルスキュー検出値αを基に、例えば、光学ピックアップ部２の光ディスク１に対する角度を制御することなどにより、タンジェンシャルスキューの補正を行う。また、ピックアップ制御部７は、光学ピックアップ部２に対して、ラジアルスキューも補正する。
【００１３】
また、図１のように、スキューセンサ１９を用いてタンジェンシャルスキューを検出する以外にも、検出信号の歪みが、タンジェンシャルスキュー量に略比例することから、ＲＦ信号の振幅および位相特性の劣化、いわゆる、アイパターンの劣化を基に、所定の２点のサンプリング点の差動演算により、光ディスクの傾きを検出することができる技術がある（例えば、特許文献１参照）。
【００１４】
【特許文献１】
特開平８−２７３１８１号公報
【００１５】
検出されたタンジェンシャルスキューの補正は、例えば、光学ピックアップ部２のコリメータレンズ１４の並進、あるいは、角度の変更（回転）を行うことなどにより実行される。
【００１６】
また、従来、ＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号を用いて情報を記録した記録媒体から読み出した再生ＲＦ信号を、少なくとも１つのコンパレートレベルに基づいて復号して、チャネルビットデータを出力するようになされている場合において、チャネルビットデータ中に、同一シンボルの最小連続長または最大連続長の条件を満足しない個所があるとき、レベル判定を行った際の再生ＲＦ信号の信号レベルに基づいて、ビットエラーである確率の高いビットを選定し、選定したビットを補正して、同一シンボルの最小連続長または最大連続長の条件を満足するようなチャネルビットデータを出力することができる技術がある。
【００１７】
【特許文献２】
特開平９−２７５３４８号公報
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】
スキューセンサ１９を用いてタンジェンシャルスキューを検出する場合、スキューセンサ１９の取付け位置精度が、タンジェンシャルスキューの検出精度に大きくかかわるため、光ディスク再生装置の組立てコストのコストアップの原因となっていた。また、光学ピックアップ部２の内部に、スキューセンサ１９を設ける必要があるため、光学ピックアップ部２および光ディスク再生装置の小型化が困難となる要因となっていた。
【００１９】
一方、検出信号の歪みによるアイパターンの劣化を基に、光ディスクの傾きを検出する場合、タンジェンシャルスキューを正しく検出するためには、信号の歪みがない状態における信号波形と、タンジェンシャルスキューにより発生した信号の歪みとを比較しなければならない。このため、タンジェンシャルスキューの検出は、検出信号に歪みを発生する部分と、歪みを発生しない部分が同時に発生するような、長周期ピット再生信号部分において実行される。
【００２０】
具体的には、長周期ピット再生信号部分において、図２に示されるように、スポット３１がピット再生信号部分であり、一次回折リング３２がピット再生部分から離れている場合における検出信号と、図３に示されるように、スポット３１および一次回折リング３２が、いずれもピット再生信号部分である場合における検出信号との関係は、図４に示される検出信号位置ａと、検出信号位置ｂとに対応する。すなわち、検出信号位置ｂにおいては、一次回折リング３２がピット再生信号部分に発生するため、検出信号のレベルが変動してしまう。したがって、図４に示される検出信号位置ａと、検出信号位置ｂとの信号レベルの差は、タンジェンシャルスキューの大きさに比例して大きくなる。
【００２１】
しかしながら、長周期ピット再生信号の信号レベルは一定ではないため、検出信号値も、一定の値を取るものではない。特に、サンプリングの２点は、それぞれ、ピットエッジに近いため、その前後の信号ピットの符号間干渉の影響を受ける。タンジェンシャルスキューが発生している場合、符号間干渉の影響は、更に大きくなる。
【００２２】
更に、タンジェンシャルスキューの検出値を基に、タンジェンシャルスキューを補正する場合、例えば、光学ピックアップ部２のコリメータレンズ１４の並進、あるいは、角度の変更（回転）を行うことなどにより実行されており、これらの並進、あるいは回転のための駆動機構が必要となっていたため、装置の小型化の妨げとなり、コストアップの原因となっていた。
【００２３】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、再生信号に対してランレングス補正を行う光ディスク再生装置において、駆動機構を用いることなくタンジェンシャルスキューを補正する場合に、タンジェンシャルスキューの値に基づいて、最適な補正処理を行うことができるようにするものである。
【００２４】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ディスク再生装置は、光ディスクに記録された信号を再生する再生手段と、再生手段により再生された再生信号を用いて、再生手段に対する光ディスクの傾きを検出し、光ディスクの傾きを示す値を出力する検出手段と、検出手段により出力された光ディスクの傾きを示す値を用いて、再生手段により再生された再生信号を波形等化する波形等化手段と、供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正手段と、検出手段により出力された光ディスクの傾きを示す値を基に、波形等化手段により再生信号を波形等化するか否かを判断する判断手段とを備えることを特徴とする。
【００２５】
判断手段には、検出手段により出力された光ディスクの傾きを示す値が、０に近い所定の範囲より大きい値か、または小さい値である場合、波形等化手段により再生信号を波形等化する処理を実行させると判断させるようにすることができる。
【００２６】
検出手段には、光ディスクのピットパターンが所定のピットパターンである場合の再生信号を用いて、再生手段に対する光ディスクの傾きを検出させるようにすることができる。
【００２７】
波形等化手段は、デジタルフィルタにより構成されるものとすることができ、波形等化手段には、検出手段により検出された光ディスクの傾きを示す値を用いて、デジタルフィルタのフィルタ係数を演算するフィルタ係数演算手段を備させるようにすることができる。
【００２８】
本発明の光ディスク再生方法は、光ディスクに記録された信号を再生する再生ステップと、再生ステップの処理により再生された再生信号を用いて、光ディスクの傾きを検出し、光ディスクの傾きを示す値を出力する検出ステップと、検出ステップの処理により出力された光ディスクの傾きを示す値を基に、再生信号を波形等化するか否かを判断する判断ステップと、判断ステップの処理により再生信号を波形等化すると判断された場合、検出ステップの処理により出力された光ディスクの傾きを示す値を用いて、再生ステップの処理により再生された再生信号を波形等化する波形等化ステップと、供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正ステップとを含むことを特徴とする。
【００２９】
本発明の記録媒体に記録されているプログラムは、光ディスクに記録された信号を再生する再生ステップと、再生ステップの処理により再生された再生信号を用いて、光ディスクの傾きを検出し、光ディスクの傾きを示す値を出力する検出ステップと、検出ステップの処理により出力された光ディスクの傾きを示す値を基に、再生信号を波形等化するか否かを判断する判断ステップと、判断ステップの処理により再生信号を波形等化すると判断された場合、検出ステップの処理により出力された光ディスクの傾きを示す値を用いて、再生ステップの処理により再生された再生信号を波形等化する波形等化ステップと、供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正ステップとを含むことを特徴とする。
【００３０】
本発明のプログラムは、光ディスクに記録された信号を再生する再生ステップと、再生ステップの処理により再生された再生信号を用いて、光ディスクの傾きを検出し、光ディスクの傾きを示す値を出力する検出ステップと、検出ステップの処理により出力された光ディスクの傾きを示す値を基に、再生信号を波形等化するか否かを判断する判断ステップと、判断ステップの処理により再生信号を波形等化すると判断された場合、検出ステップの処理により出力された光ディスクの傾きを示す値を用いて、再生ステップの処理により再生された再生信号を波形等化する波形等化ステップと、供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、チャネルビットデータを補正して出力する連続長補正ステップとを含むことを特徴とする。
【００３１】
本発明の光ディスク再生装置および光ディスク再生方法、ならびに、プログラムにおいては、光ディスクに記録された信号が再生され、再生信号を用いて、光ディスクの傾きが検出されて出力され、出力された光ディスクの傾きを示す値を基に、再生信号が波形等化されるか否かが判断され、再生信号を波形等化すると判断された場合、出力された光ディスクの傾きを示す値を用いて、再生信号が波形等化され、供給された信号を復号して得られたチャネルビットデータが、同一シンボルの最小連続長または最大連続長に関する所定の条件を満足するように、チャネルビットデータが補正されて出力される。
【００３２】
【発明の実施の形態】
以下、図を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
【００３３】
図５は、本発明を適用した光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【００３４】
なお、従来の場合と対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明は適宜省略する。
【００３５】
すなわち、本発明を適用した光ディスク再生装置は、光学ピックアップ部２に代わって、光学ピックアップ部５１が設けられ、イコライザ５に代わって、波形等化部５５が設けられ、ピックアップ制御部７に変わって、ピックアップ制御部５７が設けられ、新たに、タンジェンシャルスキュー検出部５２、制御部５３、スイッチ５４、ランレングス補正部５６、および、ドライブ５８が設けられている他は、図１を用いて説明した光ディスク再生装置と、同様の構成を有するものである。また、図５の光学ピックアップ部５１は、スキューセンサ１９が省略されている他は、図１の光学ピックアップ部２と同様の構成を有するものである。
【００３６】
上述したように、従来から、長周期ピットの再生信号の信号レベルを用いて、所定の２点のサンプリング点の差動演算により、光ディスクの傾きを検出することができるようになされてきた。しかしながら、長周期ピット再生信号の信号レベルは一定ではないため、検出信号値も、一定の値を取るものではない。特に、サンプリングの２点は、それぞれ、ピットエッジに近いため、その前後の信号ピットの符号間干渉の影響を受ける。タンジェンシャルスキューが発生している場合、符号間干渉の影響は、更に大きくなる。
【００３７】
この問題を解決するため、タンジェンシャルスキュー検出部５２においては、長周期ピットと、その前後の数ピットのパターンの組合せを限定して、対応するピットパターンにおける再生信号の信号レベルのみを用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようにすることにより、ピットエッジにおける前後の信号ピットの符号間干渉の影響による誤検出を防ぐようにすることができる。
【００３８】
図５の光ディスク再生装置においては、長周期ピットが１４Ｔである場合、その前後のピットパターンを４Ｔ−４Ｔに固定して、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するものとする。
【００３９】
図５の光ディスク再生装置の動作について説明する。
【００４０】
図示しないスピンドルモータにより回転駆動される光ディスク１に記録されている情報は、光学ピックアップ部５１によって読み取られる。
【００４１】
レーザダイオード１１から出射されたレーザ光は、グレーティング１２によって複数のビームに分割された後、ビームスプリッタ１３に入射して、コリメータレンズ１４を介して、対物レンズ１５により、光ディスク１の記録面に集光される。光ディスク１による反射光は、対物レンズ１５、コリメータレンズ１４、ビームスプリッタ１３およびマルチレンズ１６を介して、光検出部１７に入射する。
【００４２】
光検出部１７は、入射された光を電気信号に変換し、ＲＦ信号処理部１８に供給する。ＲＦ信号処理部１８は、光検出部１７から供給された、光ディスク１からの読み出し信号について所要の処理を施すことで、例えば、再生データとしてのＲＦ信号、並びに、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を生成する。ＲＦ信号処理部１８は、ＲＦ信号をＲＦアンプ３に供給し、フォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号をサーボマトリクスアンプ４に供給する。
【００４３】
サーボマトリクスアンプ４は、供給されたフォーカスエラー信号、および、トラッキングエラー信号を増幅して、ピックアップ制御部５７に供給する。
【００４４】
ピックアップ制御部５７は、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を基に、光学ピックアップ部５１に対するフォーカス制御およびトラッキング制御を実行するとともに、例えば、光学ピックアップ部５１の光ディスク１に対する角度を制御することなどにより、ラジアルスキューを補正する。
【００４５】
ＲＦアンプ３は、供給されたＲＦ信号を増幅して、タンジェンシャルスキュー検出部５２、および、スイッチ５４に供給する。
【００４６】
図６は、タンジェンシャルスキュー検出部５２の構成を示すブロック図である。
【００４７】
タンジェンシャルスキュー検出部５２に供給されたＲＦ信号は、Ａ／Ｄ変換部７１に供給される。Ａ／Ｄ変換部７１は、ｍビットの分解能で、供給されたアナログのＲＦ信号を、デジタル信号に変換し、レジスタ７２−１に供給する。
【００４８】
レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎは、例えば、Ａ／Ｄ変換部７１の分解能ｍと同一の数のＤフリップフロップなどの遅延回路により、それぞれ構成され、図示しないクロック信号発生部から、同一のクロックの供給を受ける。レジスタ７２−１に供給されたｍビットのＲＦ信号は、次のクロックで、レジスタ７２−２に供給され、次のクロックで、レジスタ７２−３に供給される。すなわち、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎで、シフトレジスタが構成される。
【００４９】
前後の信号ピットの符号間干渉の影響を受けないで、タンジェンシャルスキューの検出を実行するため、タンジェンシャルスキュー検出部５２においては、長周期ピットと、前後の数ピットのパターンの組合せを限定して、対応するピットパターンにおける再生信号の信号レベルを用いるようにすることにより、ピットエッジにおける前後の信号ピットの符号間干渉の影響を考慮して、タンジェンシャルスキューの検出が行われるようになされている。
【００５０】
タンジェンシャルスキュー検出部５２が、長周期ピットが１４Ｔであり、その前後のピットパターンを４Ｔ−４Ｔに固定して、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、そのピットパターンを保持することができるように、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−３２が設けられる（ｎ＝３２）。
【００５１】
レジスタ７７およびレジスタ７８には、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎの出力信号のうち、タンジェンシャルスキューの検出に用いられる２箇所の出力信号がそれぞれ供給される。
【００５２】
タンジェンシャルスキュー検出部５２において、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンである場合の再生信号を用いて、タンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、検出に用いられる２箇所は、４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔのパターンが供給されたとき長周期ピットである１４Ｔに含まれる位置である必要があり、１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジに近い位置であると好適である。したがって、図５のタンジェンシャルスキュー検出部５２においては、レジスタ７２−１１の８ビットの出力信号が、レジスタ７７に供給され、レジスタ７２−２２の８ビットの出力信号が、レジスタ７８に供給されるようにすれば良い。
【００５３】
なお、タンジェンシャルスキュー検出部５２が、他のピットパターンの再生信号を用いてタンジェンシャルスキューを検出するようになされている場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給される信号の位置は、そのピットパターンに応じて異なるものとなることは言うまでもない。
【００５４】
ＭＳＢ（Ｍｏｓｔ  Ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ  Ｂｉｔ：最上位ビット）抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−ｎは、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎと、同数設けられる。すなわち、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−３２が設けられている場合、ＭＳＢ抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−３２が設けられる。ＭＳＢ抽出部７３−１乃至ＭＳＢ抽出部７３−ｎは、レジスタ７２−１乃至レジスタ７２−ｎの最上位ビットを抽出し、ｎビット列保持部７４に供給する。
【００５５】
検出ビット列保存部７５には、ピットパターン４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応して、予め定められたビット列が保存されている。比較部７６は、検出ビット列保存部７５に保存されている、予め定められているビット列と、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列とを比較し、これら２つのビット列が同一である場合、レジスタ７７、および、レジスタ７８に、入力信号の出力トリガ信号を供給する。レジスタ７７、および、レジスタ７８は、比較部７６から、入力信号の出力トリガ信号が供給された場合にのみ、供給された８ビットのレベル信号を差動演算部７９に供給する。
【００５６】
すなわち、レジスタ７７、および、レジスタ７８は、予め定められている、ピットパターン４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応するＲＦ信号が、レジスタ７２−１乃至７２−ｎに保持されている場合の長周期ピット１４Ｔに含まれ、かつ、長周期ピット１４Ｔの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ付近の２箇所の信号レベルを、差動演算部７９に供給する。
【００５７】
差動演算部７９は、長周期ピットの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ付近の２箇所の信号レベルの供給を受け、その差を演算して、タンジェンシャルスキュー検出値αとして出力する。
【００５８】
このようにして、タンジェンシャルスキュー検出部５２により検出されるタンジェンシャルスキュー検出値αは、図４を用いて説明した、タンジェンシャルスキュー発生時の信号波形の歪の大きさと正比例する値である。
【００５９】
再び、図５の説明に戻る。
【００６０】
制御部５３は、タンジェンシャルスキュー検出部５２から供給されるタンジェンシャルスキュー検出値αを基に、再生ＲＦ信号に対して、波形等化処理を施すか否かを判断し、判断結果を基に、スイッチ５４を制御する。
【００６１】
スイッチ５４は、制御部５３から供給される制御信号に基づいて、ＲＦアンプ３によって増幅されたＲＦ信号を波形等化部５５またはランレングス補正部５６のいずれかに供給する。
【００６２】
波形等化処理とランレングス補正処理は、いずれも、再生ＲＦ信号を補正して、再生信号のエラーを減少させる効果がある。すなわち、ランレングス補正を行うことにより、タンジェンシャルスキューのために発生する信号歪をある程度回復することが可能である。
【００６３】
図７を用いて、ランレングス補正を行う場合と行わない場合における最適な波形等化係数について説明する。
【００６４】
図７に示されるように、波形等化部５５によって実行される波形等化処理（詳細は後述する）において、適正な波形等化を行うための波形等化係数（すなわち、フィルタ係数）Ｋは、ランレングス補正が行われない場合、タンジェンシャルスキューの大きさに対して、略線形に変形する。一方、ランレングス補正が行われる場合、タンジェンシャルスキューが、−０．４［ｄｅｇ］乃至０．２５［ｄｅｇ］という、０に近い値（絶対値が小さな値）を取るとき、タンジェンシャルスキューの大きさにかかわらず、適正な波形等化を行うための波形等化係数Ｋは、略０となり、タンジェンシャルスキューがそれ以外の値を取るとき、適正な波形等化を行うための波形等化係数Ｋは、タンジェンシャルスキューの大きさに対して、略線形に変形する。
【００６５】
すなわち、タンジェンシャルスキューが、−０．４［ｄｅｇ］乃至０．２５［ｄｅｇ］を取る場合においては、波形等化処理を行うことなく、ランレングス補正のみを実行しても、充分なエラー補正効果を得ることができることがわかる。
【００６６】
波形等化部５５による波形等化処理が実行される場合、実際には、例えば、記録された信号のノイズや回路の誤動作などによって、再生波形に誤差を生じることがある。この誤差の影響は、特に、スキュー量が小さくエラーレートが低い場合に顕著である。
【００６７】
したがって、図７を用いて説明したように、ランレングス補正のみを実行しても、充分なエラー補正効果を得ることができるような、スキュー量の絶対値が小さくエラーレートが低い再生信号においては、波形等化部５５による波形等化処理を行わずに、ランレングス補正部５６によるランレングス補正のみを行い、スキュー量が大きくエラーレートが高い再生信号においては、波形等化部５５による波形等化処理を行い、かつ、ランレングス補正部５６によるランレングス補正を行うことにより、安定したエラー補正効果を得ることが可能となる。
【００６８】
したがって、制御部５３は、所定の第１の閾値Ｔ１および所定の第２の閾値Ｔ２（Ｔ１＜０＜Ｔ２）と、タンジェンシャルスキュー検出値αとを比較し、Ｔ１＜α＜Ｔ２である場合、スイッチ５４を制御して、ＲＦアンプ３によって増幅されたＲＦ信号をランレングス補正部５６に供給し、Ｔ１＜α＜Ｔ２ではない場合、スイッチ５４を制御して、ＲＦアンプ３によって増幅されたＲＦ信号を波形等化部５５に供給する。
【００６９】
所定の第１の閾値Ｔ１および所定の第２の閾値Ｔ２は、例えば、経験的にまたは実験的に求めるようにすれば良い。例えば、光ディスク再生装置において、ランレングス補正部５６によりランレングス補正を行った場合に、図７を用いて説明したような、タンジェンシャルスキューと波形等化係数Ｋとの関係が得られたのであれば、制御部５３は、タンジェンシャルスキューが、−０．４［ｄｅｇ］乃至０．２５［ｄｅｇ］であることを示すタンジェンシャルスキュー補正値αの供給を受けたとき、スイッチ５４を制御して、ＲＦアンプ３によって増幅されたＲＦ信号をランレングス補正部５６に供給し、波形等化処理を行わないようにすればよい。
【００７０】
なお、ここでは、タンジェンシャルスキュー検出値αに基づいて、スイッチ５４を用いて、再生ＲＦ信号の供給先を変更するものとして説明しているが、例えば、再生ＲＦ信号は波形等化部５５に供給されるものとし、波形等化部５５において、制御部５３の制御に基づいて、供給された信号に波形等化処理が実行されたのちランレングス補正部５６に供給されるか、または、供給された信号に波形等化処理を実行することなく、ランレングス補正部５６に供給されるかが選択されるようにしても良い。
【００７１】
また、制御部５３には、必要に応じて、ドライブ５８が接続され、磁気ディスク６１、光ディスク６２、光磁気ディスク６３、もしくは、半導体メモリ６４などが適宜装着され、それらから読み出されたコンピュータプログラムが、必要に応じて制御部５３にインストールされる。
【００７２】
波形等化部５５は、スイッチ５４を介して、ＲＦアンプ３により増幅されたＲＦ信号の供給を受け、タンジェンシャルスキュー検出部５２により検出された、タンジェンシャルスキュー検出値α、並びに、制御部５３から供給される係数Ｒおよび補正値Ｅを基に、波形等化処理を行う。
【００７３】
ここで、係数Ｒおよび補正値Ｅの値は、例えば、経験的にまたは実験的に、好適な波形等化処理が実行できるような値が設定され、制御部５３により、波形等化部５５に供給される。
【００７４】
図８は、波形等化部５５の構成を示すブロック図である。
【００７５】
波形等化部５５は、劣化した信号特性（ゲイン特性、位相特性）を正常な状態に戻すためのフィルタ処理を行うものであり、デジタルフィルタの一種である、トランスバーサルフィルタが用いられている。
【００７６】
波形等化部５５に供給されたＲＦ信号は、Ａ／Ｄ変換部１２１に供給される。Ａ／Ｄ変換部１２１は、ｍビットの分解能で、供給されたアナログのＲＦ信号を、デジタル信号に変換し、レジスタ１２２−１に供給する。
【００７７】
レジスタ１２２−１乃至レジスタ１２２−ｎは、例えば、Ａ／Ｄ変換部１２１の分解能ｍと同一の数のＤフリップフロップなどの遅延回路により、それぞれ構成され、図示しないクロック信号発生部から、同一のクロックの供給を受ける。レジスタ１２２−１に供給されたｍビットのＲＦ信号は、次のクロックで、レジスタ１２２−２に供給され、次のクロックで、レジスタ１２２−３に供給される。すなわち、レジスタ１２２−１乃至レジスタ１２２−ｎで、シフトレジスタが構成される。
【００７８】
加算部１２３−１には、レジスタ１２２−１の入力信号と、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−２側である、レジスタ１２２−ｎ以外の所定のレジスタ１２２の出力信号とが供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−１および差動演算部１２５−２のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−１では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−１のマイナス入力端子に供給する。
【００７９】
加算部１２３−２には、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−１側の所定のレジスタ１２２の出力信号と、最終段のレジスタ１２２−ｎの出力信号が供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−２および差動演算部１２５−１のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−２では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−２のマイナス入力端子に供給する。
【００８０】
ここで、定数βは、０乃至１の値であり、光ディスク１の種類と、光学ピックアップ部５１との組合せによって、最良の値を用いるようにすれば良い。その値は、例えば、経験的に、もしくは、実験にて求めても良いし、性能の良し悪しのみならず、コストダウンのために、回路構成が簡単になるような定数とするようにしても良い。
【００８１】
具体的には、例えば、光ディスク１として、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）が用いられた場合、波形等化部５５の係数乗算部１２４−１または１２４−２においては、定数β＝０．５付近に最良の補正効果を奏する値が存在し、０．４＜β＜０．６となる係数βを用いたときの補正効果は、ほとんど変わらない。したがって、ＤＶＤを再生する場合における波形等化部５５の係数乗算部１２４−１または１２４−２の処理においては、定数βを、β＝０．５とすれば、２進数演算で入力値を１ビットシフトして出力すればよいので、回路構成が非常に簡単なシフトレジスタで実現可能である。
【００８２】
差動演算部１２５−１および差動演算部１２５−２は、それぞれ、供給された値を差動演算し、演算結果をスイッチ１２７に供給する。コンパレータ１２６は、タンジェンシャルスキュー検出部５２から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの値を極性判定し、タンジェンシャルスキューにより発生した波形の歪が右上がりであるか右下がりであるかによって、スイッチ１２７を切り替える。
【００８３】
また、タンジェンシャルスキュー検出部５２から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの値は、絶対値演算部１２８により絶対値処理された（タンジェンシャルスキュー検出値αが負の値である場合は、正の値に変換された）後、演算部１２９に供給される。
【００８４】
演算部１２９は、絶対値演算部１２８から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの絶対値｜α｜と、制御部５３から供給された、係数Ｒおよび補正値Ｅを基に、次の式（１）により、波形等化部５５におけるフィルタ特性を決定する、フィルタ係数Ｋ（図７における波形等化係数Ｋ）を演算する。
【００８５】
Ｋ＝Ｒ×（｜α｜＋Ｅ）・・・（１）
【００８６】
係数乗算部１３０は、スイッチ１２７から供給された、差動演算部１２５−１または差動演算部１２５−２の演算結果に、演算部１２９により演算されて得られたフィルタ係数Ｋを乗算し、差動演算部１３１のマイナス入力端子に供給する。
【００８７】
差動演算部１３１のプラス入力端子には、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置となる信号に対応するレジスタ１２２の出力値が供給される。差動演算部１３１は、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置となる信号から、係数乗算部１３０の出力を減算することによって、劣化した信号特性を劣化していない状態に補正し、イコライザ１３２に供給する。イコライザ１３２は、供給された信号の高域成分をブーストして、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成し、ランレングス補正部５６に供給する。
【００８８】
このようにして、波形等化部５５により、タンジェンシャルスキューの発生により劣化した信号特性が、劣化していない状態に補正される。
【００８９】
ランレングス補正部５６は、供給された信号、すなわち、制御部５３の制御に基づいて波形等化が行われたタンジェンシャルスキューの補正処理後のＲＦ信号か、または、タンジェンシャルスキューの影響を大きく受けていないため、制御部５３の制御に基づいて波形等化が行われていないＲＦ信号に対して、従来行われているのと同様の方法によってランレングス補正を行い、復号処理部６に供給する。
【００９０】
ランレングス補正部５６は、例えば、特開平９−２７５３４８号公報に記載されているように、供給されたＲＦ信号を、少なくとも１つのコンパレートレベルに基づいて復号して、チャネルビットデータを出力するようになされており、チャネルビットデータ中に、同一シンボルの最小連続長または最大連続長の条件を満足しない個所があるとき、レベル判定を行った際の再生ＲＦ信号の信号レベルに基づいて、ビットエラーである確率の高いビットを選定し、選定したビットを補正して、同一シンボルの最小連続長または最大連続長の条件を満足するようなチャネルビットデータを出力することができるようにしても良い。また、ランレングス補正部５６は、他の方法を用いて、ランレングス補正を行うようにしてもよい。
【００９１】
復号処理部６は、供給されたランレングス補正後の信号を、光ディスク１に記録されている情報の、所定の記録方式に基づいて復号し、復号された情報を出力する
【００９２】
次に、図９のフローチャートを参照して、本発明を適用した光ディスク再生装置において実行される信号再生処理について説明する。
【００９３】
ステップＳ１において、光学ピックアップ部５１は、装着された光ディスク１に記録されているＲＦ信号を再生し、ＲＦアンプ３に供給する。ＲＦアンプ３は、供給されたＲＦ信号を増幅する。
【００９４】
ステップＳ２において、図１０を用いて後述するタンジェンシャルスキュー検出処理が実行される。
【００９５】
ステップＳ３において、制御部５３は、タンジェンシャルスキュー検出部５２から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αを基に、光ディスク１と光学ピックアップ部５１とのタンジェンシャルスキューは、所定の値以内であるか否かを判断する。
【００９６】
ステップＳ３において、タンジェンシャルスキューは、所定の値以内ではないと判断された場合、ステップＳ４において、制御部５３は、スイッチ５４を制御して、波形等化部５５にＲＦ信号を供給する。
【００９７】
ステップＳ５において、図１１および図１２を用いて後述する波形等化処理が実行される。
【００９８】
ステップＳ３において、タンジェンシャルスキューは、所定の値以内であると判断された場合、または、ステップＳ５の処理の終了後、ステップＳ６において、ランレングス補正部５６は、供給された信号に対して、ランレングス補正処理を実行して、復号処理部６に供給する。
【００９９】
ステップＳ７において、復号処理部６は、補正された信号を復号して出力し、処理が終了される。
【０１００】
このような処理により、タンジェンシャルスキューの検出値に基づいて、波形等化処理が実行されるか否かが判断されるので、エラーレートの少ない再生信号を得ることが可能となる。
【０１０１】
次に、図１０のフローチャートを参照して、図９のステップＳ２において実行される、タンジェンシャルスキュー検出処理について説明する。
【０１０２】
タンジェンシャルスキュー検出部５２のＡ／Ｄ変換部７１は、ステップＳ５１において、入力ＲＦ信号の供給を受け、ステップＳ５２において、入力ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換し、レジスタ７２−１に順次供給する。
【０１０３】
ステップＳ５３において、タンジェンシャルスキュー検出部５２のレジスタ７２−１乃至７２−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【０１０４】
ステップＳ５４において、タンジェンシャルスキュー検出部５２のＭＳＢ抽出部７３−１乃至７３−ｎは、レジスタ７２−１乃至７２−ｎに保持されている最上位ビットを抽出し、ｎビット列保持部７４にそれぞれ供給する。ｎビット列保持部７４は、ＭＳＢ抽出部７３−１乃至７３−ｎから供給されたｎビットからなるビット列を一時保持する。
【０１０５】
ステップＳ５５において、タンジェンシャルスキュー検出部５２の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている、ピット列４Ｔ−４Ｔ−１４Ｔ−４Ｔ−４Ｔに対応する検出ビット列とを比較する。
【０１０６】
ステップＳ５６において、タンジェンシャルスキュー検出部５２の比較部７６は、ｎビット列保持部７４に保持されたビット列と、検出ビット列保存部７５に保存されている検出ビット列とが一致したか否かを判断する。ステップＳ５６において、検出ビット列と一致しないと判断された場合、処理は、ステップＳ５１に戻り、それ以降の処理が繰り返される。
【０１０７】
ステップＳ５６において、検出ビット列と一致したと判断された場合、レジスタ７７およびレジスタ７８に供給された、所定の２箇所のレジスタ保存値が、差動演算部７９に供給されるので、タンジェンシャルスキュー検出部５２の差動演算部７９は、ステップＳ５７において、供給された所定の２箇所のレジスタ保存値を差動演算し、ステップＳ５８において、演算値をタンジェンシャルスキュー検出値αとして出力し、処理は、図９のステップＳ３に進む。
【０１０８】
このような処理により、タンジェンシャルスキュー検出値αが、スキューセンサを用いることなく、ＲＦ信号を基に求められ、後述する波形等化処理を行うか田舎の判断、および、後述する波形等化処理に用いられる。
【０１０９】
次に、図１１および図１２のフローチャートを参照して、図９のステップＳ５において実行される、波形等化処理について説明する。
【０１１０】
波形等化部５４のＡ／Ｄ変換部１２１は、ステップＳ８１において、入力ＲＦ信号の供給を受け、ステップＳ８２において、入力ＲＦ信号をＡ／Ｄ変換し、レジスタ１２２−１に順次供給する。
【０１１１】
ステップＳ８３において、波形等化部５４のレジスタ１２２−１乃至１２１−ｎは、供給されたデータを順次スライドさせて保存する。
【０１１２】
ステップＳ８４において、波形等化部５４の差動演算部１２５−１は、第１の差動演算を実行し、波形等化部５４の差動演算部１２５−２は、第２の差動演算を実行する。
【０１１３】
すなわち、加算部１２３−１には、レジスタ１２２−１の入力信号と、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−２側の所定のレジスタ１２２の出力信号とが供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−１および差動演算部１２５−２のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−１では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−１のマイナス入力端子に供給する。
【０１１４】
加算部１２３−２には、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎのうち、その中央位置よりもレジスタ１２２−１側の所定のレジスタ１２２の出力信号と、最終段のレジスタ１２２−ｎの出力信号が供給され、その加算結果が、係数乗算部１２４−２および差動演算部１２５−１のプラス入力端子に供給される。係数乗算部１２４−２では、供給された加算結果に、所定の定数βを乗算し、その結果を、差動演算部１２５−２のマイナス入力端子に供給する。
【０１１５】
差動演算部１２５−１および差動演算部１２５−２は、それぞれ、供給された値を差動演算し、演算結果をスイッチ１２７に供給する。
【０１１６】
ステップＳ８５において、波形等化部５４のコンパレータ１２６は、タンジェンシャルスキュー検出値αを取得して、極性判定を行う。
【０１１７】
ステップＳ８６において、波形等化部５４のスイッチ１２７は、コンパレータ１２６から供給される、タンジェンシャルスキュー検出値αの極性判定結果を基に、係数乗算部１３０に供給するのは、第１の差動演算結果と、第２の差動演算結果との、いずれかの値とするのかを選択する。
【０１１８】
ステップＳ８７において、波形等化部５４の絶対値演算部１２８は、タンジェンシャルスキュー検出値αを取得して、絶対値演算を実行し、演算部１２９に供給する。
【０１１９】
ステップＳ８８において、波形等化部５４の演算部１２９は、補正処理制御部５３から供給された、係数Ｒおよび補正値Ｅを取得する。
【０１２０】
ステップＳ８９において、波形等化部５４の演算部１２９は、ステップＳ８８において取得した係数Ｒおよび補正値Ｅと、絶対値演算部１２８から供給された、タンジェンシャルスキュー検出値αの絶対値｜α｜の値を基に、上述した式（１）を基に、フィルタ係数Ｋ＝Ｒ（｜α｜＋Ｅ）を算出する。波形等化部５４の係数乗算部１３０は、スイッチ１２７から供給された、差動演算部１２５−１または差動演算部１２５−２の演算結果に、算出されたフィルタ係数Ｋを乗算して、差動演算部１３１のマイナス入力端子に供給する。
【０１２１】
ここで、係数Ｒおよび補正値Ｅの値は、例えば、経験的にまたは実験的に、好適な波形等化処理が実行できるような値が設定され、制御部５３により、波形等化部５５に供給される。
【０１２２】
ステップＳ９０において、差動演算部１３１は、プラス入力端子に供給される、レジスタ１２２−１乃至１２２−ｎに保持されている信号のうち、その中央位置となる信号に対応するレジスタ１２２の出力値（中央値）と、係数乗算部１３０から供給される値との差動演算を実行して、イコライザ１３２に供給する。
【０１２３】
ステップＳ９１において、波形等化部５４のイコライザ１３２は、等化波形をイコライズ、すなわち、信号高域成分をブーストして、波形等化処理後の出力ＲＦ信号を生成して出力し、処理が終了される。
【０１２４】
このようにして、タンジェンシャルスキュー検出値を基に、劣化した波形を補正することが可能となるので、例えば、光ピックアップ部５１の角度を変更したり、コリメータレンズ１４を並進させることなく、タンジェンシャルスキューに対する信号補正を行うことが可能となる。
【０１２５】
なお、以上においては、情報が記録された光ディスクから、情報を再生する光ディスク再生装置について説明したが、本発明は、光ディスクから情報を再生するのみならず、光ディスクに情報を記録することが可能な、光ディスク記録再生装置においても、適用可能であることは、言うまでもない。
【０１２６】
上述した一連の処理は、ソフトウェアにより実行することもできる。そのソフトウェアは、そのソフトウェアを構成するプログラムが、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ、または、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどに、記録媒体からインストールされる。
【０１２７】
この記録媒体は、図５に示すように、コンピュータとは別に、ユーザにプログラムを提供するために配布される、プログラムが記録されている磁気ディスク６１（フレキシブルディスクを含む）、光ディスク６２（ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ−Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ），ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）を含む）、光磁気ディスク６３（ＭＤ（Ｍｉｎｉ−Ｄｉｓｋ）（商標）を含む）、もしくは半導体メモリ６４などよりなるパッケージメディアなどにより構成される。
【０１２８】
また、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理をも含むものである。
【０１２９】
【発明の効果】
このように、本発明によれば、光ディスクに記録された情報を再生することができる。特に、同一シンボルの最大連続長または最小連続長を補正することが可能であり、光ディスクの傾きに応じて、波形等化処理が実行されるか否かを判断することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】スポットと一次回折リングについて説明するための図である。
【図３】スポットと一次回折リングについて説明するための図である。
【図４】タンジェンシャルスキューによる信号波形の歪について説明するための図である。
【図５】本発明を適用した光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図６】図５のタンジェンシャルスキュー検出部の構成を示すブロック図である。
【図７】ランレングス補正を行う場合と行わない場合における最適な波形等化係数について説明するための図である。
【図８】図５の波形等化部の構成を示すブロック図である。
【図９】信号再生処理について説明するためのフローチャートである。
【図１０】タンジェンシャルスキュー検出処理について説明するためのフローチャートである。
【図１１】波形等化処理について説明するためのフローチャートである。
【図１２】波形等化処理について説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１  光ディスク，  １９  スキューセンサ，  ５１  光学ピックアップ部，  ５２  タンジェンシャルスキュー検出部，  ５３  制御部，  ５４  スイッチ，５５  波形等化部，  ５６  ランレングス補正部，  ７１  Ａ／Ｄ変換部，  ７２  レジスタ，  ７３  ＭＳＢ抽出部，  ７４  ｎビット列保持部，  ７５  検出ビット列保持部，  ７６  比較部，  ７７，７８  レジスタ，  ７９  差動演算部，  １２１  Ａ／Ｄ変換部，  １２２  レジスタ，  １２３  加算部，  １２４  係数乗算部，  １２５  差動演算部，  １２７  スイッチ，  １３０  係数乗算部，  １３１  差動演算部，  １３２  イコライザ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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