(57)【要約】【課題】処理メモリへの測定データの保管を高速に行える物体検査装置を提供する。【解決手段】入力処理部２は例えばＦＰＧＡやＡＳＩＣなどからなり、センサ部１のセンサ毎に設けられ各センサの測定データを一時的に保管する複数のバッファ２１１  …、各センサの出力をＡ／Ｄ変換して得た測定データに所望のデータ処理を行って対応するバッファ２１１  …に書き込むデータ取込部２２、及びバッファ２１１  …が測定データで一杯になるとバッファ２１１  …内の測定データを、保存メモリ３に設けたセンサ毎の記憶領域３１１  …に個別に転送する転送処理部２３ａ，２３ｂを備える。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象の物理的、化学的性質に関わる測定量を電気量にそれぞれ変換する複数のセンサの出力が入力される入力処理部と、前記入力処理部を介して入力される前記各センサの測定データを、前記各センサ毎に割り当てられた記憶領域に蓄積する保存メモリと、データ解析を行うために前記保存メモリから転送させた前記各センサの測定データを前記各センサ毎に割り当てられた記憶領域に保管する処理メモリと、前記処理メモリに測定データが転送されると、前記処理メモリから測定データを読み出して演算処理を行うことで検査対象の検査を行う演算処理部とを備え、前記入力処理部が、前記各センサ毎に設けられ各センサの測定データを一時的に保管する複数のバッファ、前記各センサの出力をＡ／Ｄ変換して得た測定データに所望のデータ処理を行って対応する前記バッファに書き込むデータ取込手段、及び前記バッファが測定データで一杯になると前記バッファの測定データを保存メモリの対応する記憶領域に個別に転送する転送処理手段を具備して成ることを特徴とする物体検査装置。
【請求項２】
前記データ取込手段は、所定のセンサの測定データを監視し、当該センサの測定データが所定の閾値を超えると、当該センサと予め対応関係が設定された別のセンサの測定データの前記バッファへの書き込みを開始することを特徴とする請求項１記載の物体検査装置。
【請求項３】
前記保存メモリに蓄積された測定データを可聴音の電気信号に変換する信号変換部と、前記信号変換部から入力される電気信号を音響信号に変換する電気音響変換部とを備えて成ることを特徴とする請求項１記載の物体検査装置。
【請求項４】
前記電気音響変換部としてスピーカとイヤホンとを用い、前記信号変換部は、変換した電気信号が音割れするような信号レベルの場合、スピーカへの電気信号の出力を停止して、イヤホンに電気信号を出力することを特徴とする請求項３記載の物体検査装置。
【請求項５】
前記スピーカが音割れしそうな場合にユーザに警報を発する報知部を備えて成ることを特徴とする請求項３記載の物体検査装置。
【請求項６】
前記データ取込手段は、前記各センサからの測定データの内、測定対象の信号レベルの測定データのみを前記バッファに保管することを特徴とする請求項１記載の物体検査装置。
【請求項７】
前記転送処理手段は、予め設定された特徴を有する測定データが前記バッファに取り込まれると、その時点から取り込んだ測定データを所定のデータ量だけ前記処理メモリに直接転送することを特徴とする請求項１記載の物体検査装置。
【請求項８】
前記転送処理手段は、予め設定された特徴を有する測定データが前記バッファに取り込まれると、測定データの信号レベルを測定対象の信号レベルと比較することによって一連の測定データの始まりと終わりとを検出し、前記一連の測定データを前記処理メモリへ直接転送することを特徴とする請求項１記載の物体検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査対象の物理的、化学的性質に関わる測定量を測定して、検査対象の検査を行う物体検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種の物体検査装置としては、検査対象の物理的、化学的性質に関わる測定量を電気量に変換するセンサが接続され、センサの出力をデジタル値の測定データにＡ／Ｄ変換して、保存メモリに一旦保存した後、演算処理部が、保存メモリから測定データを読み出してＦＦＴ処理などの演算処理を行うことで、検査対象の異常診断を行うものが従来より提供されている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００３−８５１５７号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上述の物体検査装置では、センサから取り込んだ測定データをそのまま保存メモリに保存しているので、例えば複数のセンサの測定データを取り込む場合に、あるセンサの出力をトリガとして、別のセンサの測定データを取り込むといういようなデータ処理を行うことができなかった。
【０００５】
本発明は上記問題点に鑑みて為されたものであり、その目的とするところは、センサの測定データに所望のデータ処理を行った後に保存メモリに取り込むことのできる物体検査装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１の発明は、検査対象の物理的、化学的性質に関わる測定量を電気量にそれぞれ変換する複数のセンサの出力が入力される入力処理部と、入力処理部を介して入力される各センサの測定データを各センサ毎に蓄積する保存メモリと、データ解析を行うために保存メモリから転送させた各センサの測定データを各センサ毎に保管する処理メモリと、処理メモリに測定データが転送されると、処理メモリから測定データを読み出して演算処理を行うことで検査対象の検査を行う演算処理部とを備え、入力処理部が、各センサ毎に設けられ各センサの測定データを一時的に保管する複数のバッファ、各センサの出力をＡ／Ｄ変換して得た測定データに所望のデータ処理を行って対応する前記バッファに書き込むデータ取込手段、及び前記バッファが測定データで一杯になると前記バッファの測定データを保存メモリの対応する記憶領域に個別に転送する転送処理手段を具備して成ることを特徴とする。
【０００７】
この発明によれば、データ取込手段が、センサから取り込んだ測定データに所望のデータ処理を行ってから対応するバッファに一時的に保管しており、バッファが測定データで一杯になると、バッファ内の測定データを保存メモリに転送しているので、保存メモリに測定データを保管する際に、測定データをそのまま保管するのではなく、測定データの前処理を行った後に測定データを保管することができる。また、バッファから保存メモリへの転送処理は測定データの取込時間に比べて遙かに短時間で済むので、バッファに測定データを保管する間に、他の複数のバッファから保存メモリへの測定データの転送処理を行うことができる。また、転送処理手段は各バッファの測定データを保存メモリに設けられたセンサ毎の記憶領域に転送しているので、各センサの出力を個別に保存することができる。
【０００８】
請求項２の発明は、請求項１の発明において、データ取込手段は、所定のセンサの測定データを監視し、当該センサの測定データが所定の閾値を超えると、当該センサと予め対応関係が設定された別のセンサの測定データのバッファへの書き込みを開始することを特徴とする。
【０００９】
この発明によれば、ある事象の発生を所定のセンサにより検出し、その事象をトリガとして対応関係が設定された別のセンサの測定データを取り込むことができるから、ある事象に関連した複数のセンサの測定データを取り込むことができる。
【００１０】
請求項３の発明は、請求項１の発明において、保存メモリに蓄積された測定データを可聴音の電気信号に変換する信号変換部と、信号変換部から入力される電気信号を音響信号に変換する電気音響変換部とを備えて成ることを特徴とする。
【００１１】
この発明によれば、信号変換部によりセンサの測定データを可聴音の電気信号に変換して、電気音響変換部により音響信号に変換しているので、超音波や振動などの測定量を可聴音に変換して耳で聴くことにより、測定量の良否などを感覚的に判断することができる。
【００１２】
請求項４の発明は、請求項３の発明において、電気音響変換部としてスピーカとイヤホンとを用い、信号変換部は、変換した電気信号が音割れするような信号レベルの場合、スピーカへの電気信号の出力を停止して、イヤホンに電気信号を出力することを特徴とする。
【００１３】
この発明によれば、電気信号が音割れするような信号レベルであれば、スピーカへの電気信号の出力を停止して、イヤホンに電気信号を出力しているので、スピーカの音割れを防止できる。
【００１４】
請求項５の発明は、請求項３の発明において、スピーカが音割れしそうな場合にユーザに警報を発する報知部を備えて成ることを特徴とする。
【００１５】
この発明によれば、報知部の報知によりスピーカが音割れしそうなことを検査担当者に知らしめることができる。
【００１６】
請求項６の発明は、請求項１の発明において、データ取込手段は、各センサからの測定データの内、測定対象の信号レベルの測定データのみをバッファに保管することを特徴とする。
【００１７】
この発明によれば、測定対象以外の信号レベルの測定データが取り込まれるのを防止して、不要な測定データを削除することができ、演算処理部による演算処理を高速に行うことができる。
【００１８】
請求項７の発明は、請求項１の発明において、転送処理手段は、予め設定された特徴を有する測定データがバッファに取り込まれると、その時点から取り込んだ測定データを所定のデータ量だけ処理メモリに直接転送することを特徴とする。
【００１９】
この発明によれば、転送処理手段が、予め設定された特徴を有する測定データを検出すると、測定データを所定のデータ量だけ処理メモリへ直接転送して、演算処理部による演算処理が可能な状態にできるので、演算処理部がソフト的な処理を行って、保存メモリからデータを読み出し、読み出したデータを処理メモリに記憶させる場合に比べて、処理メモリへの測定データの転送を高速に行うことができる。
【００２０】
請求項８の発明は、請求項１の発明において、転送処理手段は、予め設定された特徴を有する測定データがバッファに取り込まれると、測定データの信号レベルを測定対象の信号レベルと比較することによって一連の測定データの始まりと終わりとを検出し、一連の測定データを処理メモリへ直接転送することを特徴とする。
【００２１】
この発明によれば、転送処理手段が、バッファに取り込まれた測定データから一連の測定データを取り出して、処理メモリへ直接転送しているので、演算処理部でソフト的な処理を行って、保存メモリからデータを読み出し、読み出したデータを処理メモリに記憶させる場合に比べて、処理メモリへの測定データの転送を高速に行うことができ、且つ測定データの信号レベルから一連の測定データの始まりと終わりとを検出しているので、任意のデータ長の測定データを抽出して、処理メモリに転送させることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は本実施形態の物体検査装置のブロック図であり、この物体検査装置は検査対象の物理的、化学的性質に関わる測定量を電気信号に変換する複数のセンサからなるセンサ部１と、各センサの出力が入力される入力処理部２と、例えばＳＤＲＡＭのような入力処理部２のバッファに比べて大容量のメモリからなり、入力処理部２を介して入力される各センサの測定データを各センサ毎に割り当てた記憶領域３１１  …に蓄積する保存メモリ３と、例えばＳＤＲＡＭからなりデータ解析に用いる測定データを保存メモリ３から転送して各センサ毎に割り当てた記憶領域４１１  …に保管する処理メモリ４と、処理メモリ４に測定データが転送されると、処理メモリ４に保管された各センサの測定データを演算処理することで検査対象の検査を行う演算処理部（ＣＰＵ）５と、スピーカ６と、例えばＣＲＴやＬＣＤなどの表示部（図示せず）の表示を制御するＦＰＧＡ７とを備える。
【００２３】
また入力処理部２は例えばＦＰＧＡやＡＳＩＣからなり、各センサ毎に設けられ各センサの測定データを一時的に保管する複数のバッファ（ＣＨ１用バッファ２１１  ，ＣＨ２用バッファ２１２  …）と、複数の入力チャンネル（ＣＨ１，ＣＨ２…）を有し各入力チャンネルに接続されたセンサの出力をＡ／Ｄ変換して得た測定データにデータ処理を行って対応するバッファ２１１  ，２１２  …に書き込むデータ取込部２２と、バッファ２１１  ，２１２  …が測定データで一杯になるとバッファ２１１  ，２１２  …の測定データを保存メモリ３の対応する記憶領域３１１  ，３１２  …に転送する転送処理部２３ａ，２３ｂと、保存メモリ３の記憶領域３１１  ，３１２  …から個別に読み込んだ測定データを可聴音の電気信号に変換してスピーカ６に出力する信号変換部２４とを備えている。
【００２４】
この物体検査装置では、データ取込部２２が、センサ部１の各センサから取り込んだセンサ出力をデジタル値の測定データに変換して、所望のデータ処理を行った後、各センサに対応したバッファ２１１  ，２１２  …に一時的に保管している。転送処理部２３ａ，２３ｂは、バッファ２１１  ，２１２  …の使用状況を監視しており、バッファ２１１  ，２１２  …が測定データで一杯になると、バッファ２１１  ，２１２  …内の測定データを保存メモリ３の対応する記憶領域３１１  ，３１２  …に転送される。以上のような動作を繰り返すことで、保存メモリ３内の測定データは逐次更新されるので、演算処理部５が測定データを演算処理して検査を行う際には、先ず保存メモリ３の記憶領域３１１  …から測定データを読み出し、処理メモリ４の対応する記憶領域４１１  …に記憶させた後、記憶領域４１１  …に記憶させた測定データを教師なし競合型ニューラルネットワークに入力して検査対象の良否を判定している。
【００２５】
ここで、演算処理部５による検査対象の検査方法について以下に簡単に説明する。先ず、競合型ニューラルネットワークに学習を行わせてクラスタリングマップを作成する手順について説明する。図示を省略したメモリには実際の検査で測定される全てのカテゴリの測定データが予め登録されており、演算処理部５は、上記メモリに登録された全てのカテゴリの測定データについて例えばフーリエ変換を施すことによって、周波数成分の分布を特徴量として抽出し、複数の特徴量のデータからなる学習用データセットを作成する。そして、この学習用データセットを教師なし競合型ニューラルネットワークに入力して、複数のカテゴリに分類することで、二次元のクラスタリングマップを作成する。図８のニューラルネットワークは、複数個の入力層ニューロンＮ１と、入力層ニューロンＮ１に完全結合で結ばれた複数個の出力層ニューロンＮ２との２層で構成され、学習によって入力層と出力層との間の接続重みが決定される。なお、学習時にはどのデータがどのカテゴリに属しているのかを、キーボードやマウスなどの入力部（図示せず）を用いてユーザに登録させており、教師なし競合型ニューラルネットワークにより作成されたクラスタリングマップを出力側から入力側に逆向きに動作させて、クラスタリングマップ上の各カテゴリの位置に対応する入力データを推定する。
【００２６】
ここで、図９のフロー図を参照してクラスタリングマップの作成過程を説明する。出力層ニューロンＮ２に接続されている入力層ニューロンＮ１の接続重みを推定入力データとし、出力層ニューロンＮ２を選択して（Ｓ１）、入力データを推定した後（Ｓ２）、推定入力データと学習用データセットの登録データとの誤差二乗和を計算することによって両者の一致度を評価する（Ｓ３）。そして、一致度の計算を全ての登録データについて実施したか否かを判定し（Ｓ４）、全ての登録データについて一致度の計算が終了していなければ、Ｓ２に戻って一致度の計算を継続する。全ての登録データについて一致度の計算が終了すると、一致度が最も高い（誤差二乗和が最大の）登録データを選択し（Ｓ５）、選択された登録データに対してユーザが登録したカテゴリを出力層ニューロンに割り当て、マップ上の対応する位置のカテゴリとする（Ｓ６）。その後、全ての出力層ニューロンについて上記の処理を実行したか否かを判定し（Ｓ７）、全ての出力層ニューロンについて処理が終了していなければ、Ｓ１に戻り、残りの出力層ニューロンについて上記の処理を繰り返して行う。一方、全ての出力層ニューロンについて処理が終了すれば、出力層ニューロンを縦横に並べた二次元のクラスタリングマップを作成し（Ｓ８）、作成したクラスタリングマップを図示しない表示部に表示させる。
【００２７】
次に学習後に実際の検査を行う場合の動作について説明する。マップ作成後にセンサ部１の出力が入力処理部２に入力され、上述の手順を経て処理メモリ４に測定データが転送されると、演算処理部５が処理メモリ４に転送された測定データを取り込んで、特徴量を抽出した後、特徴量のデータを学習後の競合型ニューラルネットワークに入力して、新たな測定信号がクラスタリングマップ上でどのカテゴリに属するかを判定し、上記表示部にクラスタリングマップを背景として新たな測定信号の位置を重ねて表示させる。
【００２８】
図１０はクラスタリングマップの一例であり、この例図ではマップＭＡＰ上の領域が４つのカテゴリＡ１〜Ａ４に分類され、各々のカテゴリＡ１〜Ａ４毎に異なる色で色分けして表示してあり、カテゴリＡ１は良品を、カテゴリＡ２はビビリ音を、カテゴリＡ３はややビビリ音を、カテゴリＡ４はこもり音をそれぞれ示している。また、図１１（ａ）〜（ｃ）に示すように、実際の検査時には表示部がマップＭＡＰ上に新たな測定信号の位置Ｐ１〜Ｐ３を重ねて表示しており、例えば図１１（ａ）は検査対象がビビリ音不良、同図（ｂ）は検査対象がこもり音に近い良品、同図（ｃ）は検査対象がビビリ音に近い良品の場合の表示例であり、測定信号の位置Ｐ１〜Ｐ３により検査対象の良否や判定結果の正当性を視覚的に確認することができる。
【００２９】
尚、本実施形態では演算処理部５が処理メモリ４に転送された測定データを教師なし競合型ニューラルネットワークに入力することで、検査対象の属するカテゴリを求めて、検査対象の良否などを判定しているが、演算処理部５による検査方法をニューラルネットワークに限定する趣旨のものではなく、演算処理部５が適宜の方法（例えばＦＦＴや平均値などを用いた良否判定方法など）を用いて処理メモリ４に保管された測定データに演算処理を施すことで、検査対象の検査を行えば良い。
【００３０】
ところで、本実施形態では入力処理部２として、バッファを備えたＦＰＧＡやＡＳＩＣを用いており、センサ部１の出力をＡ／Ｄ変換して得た測定データに所望のデータ処理を行って、内部のバッファ２１１  ，２１２  …に一時的に保管した後、バッファ２１１  ，２１２  …が測定データで一杯になると、バッファ２１１  ，２１２  …内の測定データを保存メモリ３に転送しているので、保存メモリ３に測定データを保管する際に、測定データをそのまま保管するのではなく、測定データに所望のデータ処理を施した後に測定データを保管することができる。また、バッファ２１１  ，２１２  …から保存メモリ３へのデータ転送は、バッファ２１１  ，２１２  …に測定データを取り込む処理に比べて遙かに高速で行うことができ、そのうえ個々のバッファ２１１  ，２１２  …毎に保存メモリ３へのデータ転送が可能であるから、何れかのバッファ２１１  ，２１２  …に測定データを取り込む間に、複数のバッファ２１１  ，２１２  …から保存メモリ３へデータを転送することが可能である。さらに、転送処理部２３ａ，２３ｂは各バッファ２１１  …の測定データを保存メモリ３に設けられたセンサ毎の記憶領域３１１  …に転送しているので、各センサの出力を個別に保存したり、個別の処理メモリ４へ転送することができる。
【００３１】
上述のようにデータ取込部２２は、測定データに前処理を施してバッファ２１１  …に取り込んでいるのであるが、例えば予め設定されたある１つのセンサの測定データを監視し、測定データが所定の閾値を超えると、このセンサと対応関係が設定された別のセンサの測定データの取り込みを開始させるようにしても良く、データ取込時にこのようなデータ処理を行うことで、ある事象の発生を検知して、この事象に関連した複数のセンサの測定データを取り込むことが可能になる。ここで、ＣＨ１に振動を感知する振動センサが、ＣＨ２に音声入力用のマイクがそれぞれ接続されている場合に、振動センサの出力をトリガとして振動センサとマイクの出力を収集する場合を例に説明を行う。図２（ａ）はＣＨ１用のバッファ２１１  の構成を示し、バッファ２１１  には１６個の測定データを保管する記憶領域が設けられ、各々の記憶領域には８ビットの測定データＤ１〜Ｄ１６が保管されている（図２（ｂ）参照）。そして、閾値が「００１１１１１１」に設定された場合、データ取込部２２はＣＨ１に接続された振動センサの測定データを監視し、測定データが閾値を超えると（すなわち測定データの上位２ビットにデータの１がたつと）、振動センサの測定データの取り込みを継続するとともに、マイクの測定データの対応するバッファへの取り込みを開始するようになっている。なお、図３はＣＨ１に接続されたセンサの出力波形図であり、図中のＬ１がトリガレベル（閾値）を示し、測定データがトリガレベルＬ１を超えた時刻ｔ１から別のセンサの測定データが取り込まれるのである。また、その他の例として、検知対象の人体から放射される熱線を検出することによって体温を測定する赤外線センサからなる温度センサをＣＨ１に、検知対象の人物の画像を撮像する画像センサをＣＨ２にそれぞれ接続し、ＣＨ１の測定データに閾値（例えば重症急性呼吸器症候群（ＳＡＲＳ）の発症を判断する際の体温の目安（３８℃）を設定し、この閾値を越えるとＣＨ２からの画像データを取り込むようにしても良く、感染者の発見に利用できる。
【００３２】
また、データ取込部２２が、センサの測定データをバッファ２１１  …に書き込む際に、測定対象の信号レベルの測定データのみをバッファ２１１  …に保管させるようにしても良く、このようなデータ処理を行って、測定対象以外の信号レベルの測定データを削除することで、必要な測定データのみを保管させることができる。図４はＣＨ１に接続されたセンサの出力波形図、図５はセンサの測定データＤ１〜Ｄ１３の説明図であり、所定の閾値レベル以下の出力が続く期間、例えば下位２ビットのみの測定データが続く期間Ｔ２はデータ取込部２２が取り込んだ測定データを削除し、閾値レベルを超えた測定データのみをバッファ２１１  に書き込むことで、不要なノイズ成分を削除して、データ量を圧縮することができる。また、下位２ビットのみの測定データを必要としない場合、下位２ビットのデータをノイズ成分とみなし、データを０として扱うにしても良い。
【００３３】
また更に、転送処理部２３ａ，２３ｂは、バッファ２１１  …が一杯になるとバッファ２１１  …の測定データを保存メモリ３に逐次転送しており、後は演算処理部５が、ソフト的に保存メモリ３から読み出した測定データを処理メモリ４に保管して、処理メモリ４に保管した測定データを解析することで検査対象の検査を行っているのであるが、本実施形態ではセンサから取り込んだ測定データを入力処理部２のバッファ２１１  …に一旦格納した後、転送処理部２３ａ，２３ｂがバッファ２１１  …を経由して保存メモリ３に保存しているため、入力処理部２上で全ての測定データの管理が可能になる。
【００３４】
したがって、保存メモリ３から処理メモリ４へ転送する測定データの始まりとデータ量とを予め設定しておき、入力処理部２でバッファ２１１  …に一時保管される測定データを監視することによって、予め設定された特徴を有する測定データがバッファ２１１  …に取り込まれた時点で測定データを保存メモリ３に転送するとともに、その測定データを転送処理部２３ａ，２３ｂを経由して処理メモリ４へ転送することで、直接処理メモリに測定データを保管させることができ、所定のデータ量だけ測定データを転送した時点で転送終了フラグを立てている。このように、保存メモリ３から処理メモリ４へのデータ転送をハード的に行っており、転送終了フラグが立った時点で演算処理部５が処理メモリ４からデータを読み込んで、演算処理を行うことができる状態となっている。したがって、ソフト的な処理で保存メモリ３内の測定データを読み出して、読み出した保存メモリを処理メモリ４に移し替え、処理メモリ４に保管された測定データを演算処理する場合に比べて、演算処理部５による演算処理を高速化できる。
【００３５】
なお、処理メモリ４に転送するデータ量が一定の場合は、上述のように転送する測定データの始まりとデータ量とを予め設定しておけば、入力処理部２が測定データの始まりを検出して、一定量の測定データを処理メモリ４へ転送させることが可能であるが、場合によっては所定の特徴を有する可変長の測定データを処理メモリ４へ転送する場合がある。例えば所定の閾値レベル以上の測定データが連続して入力された場合、すなわち測定データの下位ｎビット目以上（ｎは自然数）のデータが１となるような測定データが連続して入力された場合、一連の測定データが入力されたとみなして、一連の測定データの始まりと終わりとを検出し、その間の一連の測定データを処理メモリ４へ転送するようにしても良く、可変のデータ長の測定データを処理メモリ４へ直接転送することができる。
【００３６】
また本実施形態では、保存メモリ３の各記憶領域３１１  …に各種のセンサの測定データが個別に保存されているが、保存メモリ３に保管された測定データを信号変換部２４により読み出して、信号変換部２４が測定データの波形データを可聴音の電気信号に変換して、スピーカ６に出力することで、測定データの良否などを感覚的に判断することができる。例えばセンサが音声入力用のマイクからなり、マイクの出力をＡ／Ｄ変換した測定データが保存メモリ３に保管されている場合、信号変換部２４は保存メモリ３から読み出した測定データをそのままスピーカに出力して、マイクで集音した音響信号を再生する。またセンサが超音波センサからなり、可聴域を超えた周波数帯域の超音波を検出している場合や、可聴域よりも低い周波数帯域の超低周波音を検出している場合は、信号変換部２４が保存メモリ３から読み出した測定データの周波数帯域をシフトすることで、可聴域の電気信号に変換して、スピーカ６に出力している。また更に、センサが振動センサからなり、物体の振動を検出している場合は、信号変換部２４が保存メモリ３から読み出した測定データの波形データを可聴域の電気信号に変換して、スピーカ６に出力している。ここで、図６はＣＨ１用バッファ２１１  に保管された測定データＤ１〜Ｄ１３の説明図であり、例えば上位４ビットが全て１となっている場合は、スピーカ６に出力される電気信号が過大なレベルとなって音割れが起きる可能性があるので、このような場合には信号変換部２４が報知部としてのスピーカ６から警告音を出力したり、図示しない表示部に警告メッセージを出力するなどして、ユーザに警告を与えており、音割れが起こりそうなことを検査対象者に知らしめることができる。また、本実施形態では電気音響変換器としてスピーカ６を用いているが、電気音響変換器としてスピーカ６とイヤホンを用い、スピーカ６が音割れしそうな場合には信号変換部２４がスピーカ６への出力を停止し、イヤホンのみに信号を出力するようにしても良く、スピーカ６の音割れを防止できる。
【００３７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明では、データ取込手段が、センサから取り込んだ測定データに所望のデータ処理を行ってから対応するバッファに一時的に保管しており、バッファが測定データで一杯になると、バッファ内の測定データを保存メモリに転送しているので、保存メモリに測定データを保管する際に、測定データをそのまま保管するのではなく、測定データの前処理を行った後に測定データを保管することができる。また、バッファから保存メモリへの転送処理は測定データの取込時間に比べて遙かに短時間で済むので、バッファに測定データを保管する間に、他の複数のバッファから保存メモリへの測定データの転送処理を行うことができる。また、転送処理手段は各バッファの測定データを保存メモリに設けられたセンサ毎の記憶領域に転送しているので、各センサの出力を個別に保存することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態の物体検査装置のブロック図である。
【図２】（ａ）は同上の入力処理部のバッファの説明図、（ｂ）はバッファに保存された測定データの説明図である。
【図３】同上のセンサの出力波形図である。
【図４】同上の別のセンサの出力波形図である。
【図５】同上のバッファに保存された別の測定データの説明図である。
【図６】同上のバッファに保存されたまた別の測定データの説明図である。
【図７】同上の測定データの出力波形図である。
【図８】同上の物体検査装置が用いる競合型ニューラルネットワークの説明図である。
【図９】同上の物体検査装置の動作を説明するフローチャートである。
【図１０】同上の物体検査装置により作成されたクラスタリングマップの例図である。
【図１１】（ａ）〜（ｃ）は同上の物体検査装置による出力結果の例図である。
【符号の説明】
１    センサ部
２    入力処理部
３    保存メモリ
２１１…  バッファ
２２  データ取込部
２３ａ，２３ｂ  転送処理部
３１１…  記憶領域
【図１】
2004354112.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2004354112.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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