(57)【要約】【課題】画質を改善したプラズマディスプレイパネルの駆動方法を提供する。【解決手段】本発明のプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、第１の輝度重み付け値を有するｎ番目のフレームと第１の輝度重み付け値と異なる輝度重み付け値を有する（ｎ＋１）番目のフレームとが、垂直同期信号毎に交互に配置される時、ｎ番目のフレーム及び（ｎ＋１）番目のフレームにおいて、輝度が表現される期間が等しく設定されるように、ｎ番目のフレーム及び（ｎ＋１）番目のフレームの少なくともいずれか一方のフレーム期間が可変的に設定される。これによって、各フレーム間の垂直フレームブランク期間を一定に維持して各フレームの発光中心を一致させることにより、フリッカフリーとなり、輝度が向上する。【選択図】図９
2004272269.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の輝度重み付け値を有するｎ番目のフレームと、前記第１の輝度重み付け値と異なる輝度重み付け値を有する（ｎ＋1）番目のフレームとが、垂直同期信号毎に交互に配置され、所定の映像が表示されるプラズマディスプレイパネルの駆動方法において、
前記ｎ番目のフレームおよび前記（ｎ＋1）番目のフレームにおいて、輝度が表現される期間が等しく設定されるように、前記ｎ番目のフレームおよび（ｎ＋1）番目のフレームの少なくともいずれか一方のフレーム期間が、可変的に設定されることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項２】
前記ｎ番目のフレームおよび（ｎ＋1）番目のフレームのそれぞれは、
放電セルに均一な壁電荷を形成させるためのリセット期間と、
前記放電セルを選択するために、アドレス放電を発生させるアドレス期間と、
前記アドレス放電が発生した放電セルで、階調値による所定回数のサステイン放電を発生させるサステイン期間と、
を含むことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項３】
前記アドレス期間または前記サステイン期間のうちのいずれか１つの期間によって、前記フレーム期間を可変させることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項４】
前記フレーム期間を可変させるアドレス期間は、前記アドレス期間に形成された壁電荷が維持される第１の期間の加減によって変わることを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項５】
前記フレーム期間を可変させるサステイン期間は、前記サステイン期間に形成された壁電荷が維持される第２の期間の加減によって変わることを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項６】
前記アドレス期間および前記サステイン期間は、それぞれＡＰＬによって変わることを特徴とする請求項３に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項７】
前記ＡＰＬが低いレベルにあると、前記アドレス期間および前記サステイン期間が短くなることを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項８】
前記ＡＰＬが高いレベルにあると、前記アドレス期間および前記サステイン期間が長くなることを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項９】
前記フレーム期間は、前記アドレス期間および前記サステイン期間の両方によって変わることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１０】
６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームおよび５０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームによってそれぞれ所定の映像が表示されるプラズマディスプレイパネルの駆動方法において、
前記６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームおよび前記５０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームにおいて、輝度が表現される期間が等しく設定されるように、前記６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームおよび前記５０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームのうちの少なくともいずれか１つのフレーム期間が可変的に設定されることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１１】
前記６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームおよび５０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームのそれぞれは、
放電セルに均一な壁電荷を形成させるためのリセット期間と、前記放電セルを選択するためにアドレス放電を発生させるアドレス期間と、前記アドレス放電が発生した放電セルで階調値による所定回数のサステイン放電を発生させるサステイン期間とからなる少なくとも１つ以上の選択的記録サブフィールドと、
前記放電セルを選択するためにアドレス放電を発生させるアドレス期間と、前記アドレス放電が発生した放電セルで階調値による所定回数のサステイン放電を発生させるサステイン期間とからなる少なくとも１つ以上の選択的消去サブフィールドと、
を含むことを特徴とする請求項１０に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１２】
選択的記録サブフィールドのアドレス期間、選択的記録サブフィールドのサステイン期間、選択的消去サブフィールドのアドレス期間または選択的消去サブフィールドのサステイン期間のうちの少なくとも１つ以上の期間によって、前記フレーム期間を可変させることを特徴とする請求項１０に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１３】
前記フレーム期間を可変させる選択的記録サブフィールドのアドレス期間は、前記選択的記録サブフィールドのアドレス期間に形成された壁電荷が維持される第１の期間の加減によって変わることを特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１４】
前記フレーム期間を可変させる選択的記録サブフィールドのサステイン期間は、前記選択的記録サブフィールドのサステイン期間に形成された壁電荷が維持される第２の期間の加減によって変わることを特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１５】
前記フレーム期間を可変させる選択的消去サブフィールドのアドレス期間は、前記選択的消去サブフィールドのアドレス期間に形成された壁電荷が維持される第３の期間の加減によって変わることを特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１６】
前記フレーム期間を可変させる選択的消去サブフィールドのサステイン期間は、前記選択的消去サブフィールドのサステイン期間に形成された壁電荷が維持される第４の期間の加減によって変わることを特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１７】
前記選択的記録サブフィールドのアドレス期間、選択的記録サブフィールドのサステイン期間、選択的消去サブフィールドのアドレス期間および選択的消去サブフィールドのサステイン期間は、それぞれＡＰＬによって変わることを特徴とする請求項１２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１８】
前記ＡＰＬが低いレベルにあると、前記選択的記録サブフィールドのアドレス期間、選択的記録サブフィールドのサステイン期間、選択的消去サブフィールドのアドレス期間および選択的消去サブフィールドのサステイン期間が、短くなることを特徴とする請求項１７に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１９】
前記ＡＰＬが高いレベルにあると、前記選択的記録サブフィールドのアドレス期間、選択的記録サブフィールドのサステイン期間、選択的消去サブフィールドのアドレス期間および選択的消去サブフィールドのサステイン期間が、長くなることを特徴とする請求項１７に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルに関し、特に、画質を改善したプラズマディスプレイパネルの駆動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラズマディスプレイパネル（Plasma Display Panel：以下「ＰＤＰ」という。）は、Ｈｅ＋Ｘｅ、Ｎｅ＋ＸｅまたはＨｅ＋Ｎｅ＋Ｘｅなどの不活性混合ガスの放電時に発生する１４７ｎｍの紫外線により蛍光体を励起させ、赤色、緑色および青色を発光させることで、文字またはグラフィックを含む画像を表示する。このようなＰＤＰは、薄膜化および大型化が容易であると共に最近の技術開発によって高画質の画面が実現されている。特に、交流形３電極面放電方式のＰＤＰは、放電時に表面に壁電荷が蓄積され、放電で発生するスパッタリングから電極を保護することで低電圧駆動と長寿命化ができるという長所を有している。
【０００３】
図１は、従来の交流形３電極面放電方式のプラズマディスプレイパネルの放電セルを示す図である。
図１に示すように、交流形３電極面放電方式のＰＤＰの放電セルは、上部基板１０上に形成されたスキャン電極Ｙおよびサステイン電極Ｚと、下部基板１８上に形成されたアドレス電極Ｘとを備える。スキャン電極Ｙとサステイン電極Ｚのそれぞれは、透明電極１２Ｙ、１２Ｚと、透明電極１２Ｙ、１２Ｚの線幅より小さな線幅を有し、透明電極の一側縁部に形成される金属材のバス電極１３Ｙ、１３Ｚとを含む。
【０００４】
透明電極１２Ｙ、１２Ｚは、通常、ＩＴＯ（Indium−Tin−Oxide）からなり、上部基板１０上に形成される。金属材のバス電極１３Ｙ、１２Ｚは、通常、クロム（Ｃｒ）などの金属からなり、透明電極１２Ｙ、１２Ｚ上に形成され、抵抗の高い透明電極１２Ｙ、１２Ｚによる電圧降下を低減させる役割をする。スキャン電極Ｙとサステイン電極Ｚとが並んで形成された上部基板１０には、上部誘電体層１４と保護層１６が積層される。上部誘電体層１４には、プラズマ放電時に発生した壁電荷が蓄積される。保護層１６は、プラズマ放電時に発生したスパッタリングによる上部誘電体層１４の損傷を防止すると共に二次電子の放出効率を向上させる役割をする。保護層１６としては、通常、酸化マグネシウム（ＭｇＯ）が使用される。アドレス電極Ｘが形成された下部基板１８上には、下部誘電体層２２および隔壁２４が形成され、下部誘電体層２２と隔壁２４の表面には、蛍光体層２６が塗布される。アドレス電極Ｘは、スキャン電極Ｙおよびサステイン電極Ｚと交差する方向に形成される。隔壁２４は、アドレス電極Ｘと並んで形成され、放電で生成された紫外線および可視光の隣接する放電セルへの漏れを防止する。蛍光体層２６は、プラズマ放電時に発生した紫外線により励起され、赤色、緑色および青色のうちのいずれか１つの可視光線を発生する。上・下部基板１０、１８と隔壁２４との間に設けられた放電空間には、放電のためのＨｅ＋Ｘｅ、Ｎｅ＋ＸｅおよびＨｅ＋Ｎｅ＋Ｘｅなどの不活性混合ガスが注入される。
【０００５】
このような交流形３電極面放電方式のＰＤＰは、画像の階調を実現するため、１フレームの発光回数（例えば、サステインパルスの数）が異なるサブフィールドに分けて駆動している。各サブフィールドは、さらに放電を均一にするためのリセット期間、放電セルを選択するためのアドレス期間および放電回数によって階調を実現するサステイン期間に分けられる。例えば、２５６階調で画像を表示しようとする場合、図２のように、１／６０秒に相当するフレーム期間（１６．６７ｍｓ）は、８つのサブフィールドＳＦ１〜ＳＦ８に分けられる。そして、８つのサブフィールドＳＦ１〜ＳＦ８のそれぞれは、さらに、リセット期間、アドレス期間およびサステイン期間に分けられる。ここで、各サブフィールドのリセット期間およびアドレス期間は、各サブフィールド毎に同様であるが、サステイン期間は、各サブフィールドにおいて２ｎ（ｎ＝０、１、２、３、４、５、６、７）のレートで増加する。このように各サブフィールド毎の互いに異なった輝度重み付け値を組み合わせることで、所定の階調を表現することが可能となる。
なお、従来のＰＤＰは、消費電力を一様に処理するようにＡＰＬ（Average Picture Level：以下「ＡＰＬ」という。）によってサステインパルスの数を調節することができる。
【０００６】
図３は、一般のＡＰＬによるサステインパルスの数を示すグラフである。
図３に示すように、ＰＤＰは、サステインパルスの数に応じて明るさが決定されるため、平均明るさの暗い場合および明るい場合の両方において全サステイン数を同一にすれば、画質低下、電力消耗、パネル損傷などの種々の問題点が発生する。例えば、全ての入力映像に対してサステインパルスの数を少なく設定する場合は、コントラストが低下する。これとは反対に、全ての入力映像に対してサステインパルスの数を多く設定する場合は、暗い映像でも明るさが明るくなりコントラストが増加する長所があるが、パワーの消耗が増加し、パネルの温度が上昇するなど、パネルが損傷される。従って、入力映像の平均明るさに応じて全サステインパルスの数を適切に調整する必要がある。ここで、サステインパルスの数は、図３のようにＡＰＬが比較的低い階調の範囲で急に増加し、 ＡＰＬが比較的高い高い階調の範囲で減少する。従って、相対的に低い階調範囲のＡＰＬでサステインパルスの数が急に変化するようになる。
【０００７】
図４は、従来のＰＤＰの駆動方法を示す電圧波形を示す図である。
図４に示すように、ＰＤＰの１フレームに含まれるサブフィールドＳＦは、リセット期間ＲＰＤ、アドレス期間ＡＰＤおよびサステイン期間ＳＰＤに分けられて駆動される。リセット期間ＲＰＤには、スキャン電極ＹにリセットパルスＲＰが供給される。リセットパルスＲＰは、ランプ波のようにセットアップ期間に電圧が増加し、セットダウン期間には電圧が減少する形態を有する。電圧がだんだん上がるセットアップ期間には、多数の微細なセットアップ放電が発生され、上部誘電体層に壁電荷が形成される。次いで、電圧がだんだん下がるセットダウン期間には、多数の微細なセットダウン放電によって不要な荷電粒子が部分的に消去され、壁電荷が誤放電を発生させることなく次のアドレス放電において助けとなる程度に減少する。セットダウン期間の間、サステイン電極Ｚには、正（＋）の直流電圧が供給される。この正（＋）の直流電圧に対してリセットパルスＲＰは、だんだん減少するように供給されるため、セットダウン放電時にスキャン電極Ｙがサステイン電極Ｚに対して相対的に負極性（−）となる、即ち、極性が反転されることでセットアップ放電時に生成した壁電荷が減少するようになる。
【０００８】
アドレス期間ＡＰＤには、スキャン電極Ｙに負（−）のスキャン電圧Ｖｙを有するスキャンパルスＳＰが供給されると共にアドレス電極Ｘに正（＋）のデータパルスＤＰが供給されることで、アドレス放電が発生する。このアドレス放電で形成された壁電荷は、他の放電セルがアドレスされる期間の間、維持される。
サステイン期間ＳＰＤには、スキャン電極ＹにトリガパルスＴＰを供給することで、アドレス期間ＡＰＤで十分に壁電荷が形成された放電セルでサステイン放電が開始するようになる。次いで、サステイン電極Ｚとスキャン電極Ｙに交互にサステイン電圧Ｖｓに相当するサステインパルスＳＵＳＰｚ、ＳＵＳＰｙを供給することで、サステイン期間ＳＰＤの間、サステイン放電が維持される。
【０００９】
このようなサステイン期間ＳＰＤに引き続く消去期間ＥＰＤには、サステイン電極Ｚに消去パルスＥＰを供給することで維持していた放電を中止する。消去パルスＥＰは、発光の大きさが小さくなるようにランプ波の形態を有するか、放電消去のために１μｓ程度の短いパルス幅を有する。このような消去パルスＥＰによる短い消去放電で荷電粒子が消去され、放電が中止される。
【００１０】
一方、従来は、１フレーム内において各サブフィールドのリセット期間ＲＰＤおよびアドレス期間ＡＰＤは、各サブフィールド毎において同一であるが、サステイン期間ＳＰＤは、各サブフィールドにおいて２ｎ（ｎ＝０、１、２、３、４、５、６、７）のレートで増加する。このように各サブフィールドでサステイン期間ＳＰＤが異なっているため、画像の階調を実現することが可能となる。しかし、このようなフレームが、図５に示すように垂直同期信号毎に等しく配置されるため、階調表現には限界がある。
【００１１】
従って、このような階調表現の限界を克服するため、垂直同期信号毎に図６Ａおよ図６Ｂの２つのフレームを交互に配置することが提案されている。例えば、奇数フレーム（または偶数フレーム）には、図６Ａのように、１、６、１３、２３、３５、５１、７０、９１、１１６、１４５、１７６、２１１の重み付け値の比でサブフィールドを配置し、偶数フレーム（または奇数フレーム）には、図６Ｂのように、４、９、１８、２９、４３、６０、８０、１０３、１３０、１６０、１９３、１０９の重み付けのレートでサブフィールドを配置する。このように各サブフィールドの輝度重み付け値の異なる奇数フレームと偶数フレームとを垂直同期信号Ｖsync毎に交互に使用する場合、階調表現(expression  degree)が、各サブフィールドの輝度重み付け値が同じフレームを配置する場合に比べて二倍以上増加する。このとき、サブフィールドの輝度重み付け値は、フレーム毎に互いにずれるように設定される必要がある。例えば、奇数フレームと偶数フレームの輝度重み付け値が１、４、６、９、１３、１８、２３、２９等と、ずれるように設定することができる。
【００１２】
しかし、このようにフレーム毎に輝度重み付けがずれるように配置されると、各フレームの発光中心が一致しなくなり、見にくくなる程度に従ってフリッカを起こして画質が低下してしまう。即ち、各フレームの全サブフィールドがオンの時、奇数フレームの発光中心は、輝度重み付け値２１１の位置であるのに対し、偶数フレームの発光中心は、輝度重み付け値１９３の位置となる。従って、両フレームの発光中心の位置の不一致でフリッカが発生し、画質に致命的な悪影響を与える。
【００１３】
詳しくは、輝度重み付け値が互いに異なった２つのフレームをずれて配置する場合、図６Ｃのようにｎ番目のフレーム（ｎ）と（ｎ＋１）番目のフレーム（ｎ＋１）との間の垂直フレームブランク（Vertical Frame Blank：以下「ＶＦＢ」という。）期間は、Ｔ１となり、ｎ＋１番目のフレーム（ｎ＋１）とｎ＋２番目のフレーム（ｎ＋２）との間のＶＦＢ期間は、Ｔ２となる。図６Ｃから、Ｔ１よりＴ２の方が長くなることがわかる。フレーム間のＶＦＢは、このようにずれて配置される。このとき、Ｔ１とＴ２とが互いに異なるため、各フレーム間の発光中心の不一致によるフリッカが起こって見にくくなり、これによって画質が低下する。
【００１４】
なお、階調表現を強化するための選択的記録・選択的消去（ＳＷＳＥ）駆動方式が提案されている。このような選択的記録・選択的消去駆動方式では、１フレームが少なくとも１つ以上の選択的記録サブフィールドと少なくとも１つ以上の選択的消去サブフィールドとから構成される。
【００１５】
図７は、従来の６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去方式のＰＤＰの駆動方法を示す電圧波形図である。
図７に示すように、従来の選択的記録・選択的消去方式のＰＤＰの１フレームは、少なくとも１つ以上の選択的記録サブフィールドと少なくとも１つ以上の選択的消去フレームとで構成される。このとき、少なくとも１つ以上の選択的記録サブフィールドのそれぞれは、選択的記録区間（ＳＷ６など）となることができ、また、少なくとも１つ以上の選択的消去サブフィールドのそれぞれは、選択的消去区間（ＳＥ１、ＳＥ２など）となることができる。
【００１６】
また、選択的記録サブフィールドは、リセット期間ＲＰＤ、アドレス期間ＡＰＤおよびサステイン期間ＳＰＤに分けられ、選択的消去サブフィールドは、アドレス期間ＡＰＤおよびサステイン期間ＳＰＤに分けられる。
【００１７】
具体的には、選択的記録サブフィールドのリセット期間ＲＰＤの間、スキャン電極ラインＹには、セットアップ波形のリセットパルスＲＰに引き続き、セットダウン波形のリセットパルス−ＲＰが順次供給される。このセットダウンのランプパルス−ＲＰは、負（−）のスキャン基準電圧Ｖｗまで下降する。また、サステイン電極ラインＺには、正（＋）の直流電圧が供給される。
【００１８】
選択的記録サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤの間、サステイン電極ラインＺに正（＋）の直流電圧が供給される間にスキャン電極ラインＹとアドレス電極ラインＸのそれぞれに負（−）の選択的記録スキャンパルスＳＷＳＰと正（＋）の選択的記録データパルスＳＷＤＰとが互いに同期するように供給される。次いで、選択的記録サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤの間、選択的記録サブフィールドのアドレス放電でオンになるセルに対してサステイン放電が発生するように、サステインパルスＳＵＳＰｙ、ＳＵＳＰｚが、スキャン電極ラインＹとサステイン電極ラインＺとに交互に供給される。
【００１９】
選択的消去サブフィールドのリセット期間ＲＰＤは、省略される。選択的消去サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤには、スキャン電極ラインＹとアドレス電極ラインＸのそれぞれにセルをオフにするための負（−）の選択的消去スキャンパルスＳＥＳＰと正（＋）選択的消去データパルスＳＥＤＰとが互いに同期するように供給される。この選択的消去スキャンパルスＳＥＳＰは、負（−）のスキャン基準電圧Ｖｗより高い負（−）の選択的消去用スキャン電圧Ｖｅまで下降する。
【００２０】
選択的消去サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤの間、選択的消去サブフィールドＥＳＦのアドレス放電でオンしないセルに対してサステイン放電が発生するように、サステインパルスＳＵＳＰｙ、ＳＵＳＰｚが、スキャン電極ラインＹとサステイン電極ラインＺとに交互に供給される。次のサブフィールドが選択的消去サブフィールドである場合、現選択的消去サブフィールドの終了時点には、比較的パルス幅の大きなサステインパルスＳＵＳＰｙがスキャン電極ラインＹに供給される。そして、次のサブフィールドが選択的記録サブフィールドである、最後の選択的消去サブフィールドには、スキャン電極ラインＹとサステイン電極ラインＺに消去パルス（図示せず）とランプ信号（図示せず）が供給され、オンしたセルのサステイン放電を消去する。
【００２１】
図８は、図７による選択的記録および選択的消去方式において階調を表示するためのサブフィールド配置の一例を示す図である。
図８に示すように、階調を表示するため、低階調で１〜３２階調までのサブフィールドは、選択的記録方式でアドレスを行って表示し、残りのサブフィールドは、選択的消去方式でアドレスを行って表示する。このとき、このような選択的記録および選択的消去方式で、５０Ｈｚ駆動をする場合、６０Ｈｚ駆動に比べて相対的にＶＦＢ期間が増加（即ち、ＶＦＢ＊（６０Ｈｚ駆動の時のＶＦＢ期間）＜ＶＦＢ＊＊（５０Ｈｚ駆動の時のＶＦＢ期間））となる現象によってフリッカが発生する。このフリッカは、画質に悪影響を与える。
【００２２】
具体的には、画像を表示しようとする場合、韓国、米国では、６０Ｈｚモード、即ち１／６０秒に相当するフレーム期間（１６．１６７ｍｓ）を使用する。しかし、ヨーロッパ、中国などでは、５０Ｈｚモード、即ち１／５０秒に相当するフレーム期間（２０ｍｓ）を使用する。このとき、１フレーム期間が６０Ｈｚである時、ＶＦＢ期間は、ＶＦＢ＊であるが、６０Ｈｚモードの信号が５０Ｈｚモードに適用される場合、ＶＦＢ期間は、６０Ｈｚである場合に比べて長いＶＦＢ＊＊となる。従って、６０Ｈｚモードの垂直フレームブラック（ＶＦＢ＊）期間は短く、これに対し、５０Ｈｚモードの垂直フレームブラック（ＶＦＢ＊＊）期間は長いため、６０Ｈｚモードのフレームを５０Ｈｚのモードに適用する場合、ＶＦＢ期間が増加し、発光中心の不一致によるフリッカが起こり、輝度が低下するという問題点が発生する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
本発明の目的は、フレーム毎の発光中心を一致させることで画質を改善することができるプラズマディスプレイパネルの駆動方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
上記の目的を達成するための本発明の好適な一実施形態によれば、プラズマディスプレイパネルの駆動方法は、ｎ番目のフレームおよび（ｎ＋１）番目のフレームで輝度が表現される期間が等しく設定されるように、ｎ番目のフレームおよび（ｎ＋１）番目のフレームの少なくとも一方のフレーム期間が可変的に設定されることを特徴とする。
【００２５】
このとき、ｎ番目のフレームおよび（ｎ＋１）番目のフレームのそれぞれは、放電セルに均一な壁電荷を形成させるためのリセット期間と、放電セルを選択するためアドレス放電を発生させるアドレス期間と、アドレス放電が発生した放電セルで階調値による所定回数のサステイン放電を発生させるサステイン期間と、を含むことができる。
【００２６】
アドレス期間またはサステイン期間のうちのいずれか１つの期間によって、フレーム期間を可変させることができる。このとき、フレーム期間を可変させるアドレス期間は、アドレス期間に形成された壁電荷が維持される第１の期間の加減によって変えることができる。また、フレーム期間を可変させるサステイン期間は、サステイン期間に形成された壁電荷が維持される第２の期間の加減によって変えることができる。
【００２７】
アドレス期間およびサステイン期間は、それぞれＡＰＬによって変えることができる。
なお、フレーム期間は、アドレス期間およびサステイン期間の両方によって変えることができる。
【００２８】
本発明の好適な他の実施形態によれば、プラズマディスプレイパネルの駆動方法は、６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームおよび５０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームにおいて輝度が表現される期間が等しく設定されるように６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームおよび５０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームのうちの少なくともいずれか１つのフレーム期間が可変的に設定されることを特徴とする。
【００２９】
このとき、６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームおよび５０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去フレームのそれぞれは、放電セルに均一な壁電荷を形成させるためのリセット期間と、放電セルを選択するためアドレス放電を発生させるアドレス期間と、アドレス放電が発生した放電セルで階調値による所定回数のサステイン放電を発生させるサステイン期間とからなる少なくとも１つ以上の選択的記録サブフィールドと、放電セルを選択するためアドレス放電を発生させるアドレス期間と、アドレス放電が発生した放電セルで階調値による所定回数のサステイン放電を発生させるサステイン期間とからなる少なくとも１つ以上の選択的消去サブフィールドと、を含むことができる。
【００３０】
選択的記録サブフィールドのアドレス期間、選択的記録サブフィールドのサステイン期間、選択的消去サブフィールドのアドレス期間または選択的消去サブフィールドのサステイン期間のうちの少なくとも１つ以上の期間によって、フレーム期間を可変させることができる。
このとき、フレーム期間を可変させる選択的記録サブフィールドのアドレス期間は、選択的記録サブフィールドのアドレス期間に形成された壁電荷が維持される第１の期間の加減によって変えることができる。
また、フレーム期間を可変させる選択的記録サブフィールドのサステイン期間は、選択的記録サブフィールドのサステイン期間に形成された壁電荷が維持される第２の期間の加減によって変えることができる。
また、フレーム期間を可変させる選択的消去サブフィールドのアドレス期間は、選択的記録サブフィールドのアドレス期間に形成された壁電荷が維持される第３の期間の加減によって変えることができる。さらに、フレーム期間を可変させる選択的消去サブフィールドのサステイン期間は、選択的消去サブフィールドのサステイン期間に形成された壁電荷が維持される第４の期間の加減によって変えることができる。
【００３１】
選択的記録サブフィールドのアドレス期間、選択的記録サブフィールドのサステイン期間、選択的消去サブフィールドのアドレス期間および選択的消去サブフィールドのサステイン期間は、それぞれＡＰＬによって変えることができる。
【発明の効果】
【００３２】
本発明に係るプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、誤放電が発生しないように壁電荷を変化させることなく維持できるスキャンパルス以後の期間または各サブフィールド間の期間をＡＰＬによって制御することにより、フリッカを除去して画質を向上させることができる。
【００３３】
また、２つ以上のフレームを垂直同期信号毎に交互に使用することで階調表現を向上させる時に発生するフリッカと、５０Ｈｚモードを使用する時に発生するフリッカを除去し、画質を向上させることができる。
可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、添付の図面に基づいて本発明の好適な実施形態を説明する。
図９は、本発明の第１の実施形態に係るＰＤＰの駆動方法を示す電圧波形図である。
このとき、本発明の第１の実施形態に係るＰＤＰは、階調表現を向上させるため、垂直同期信号毎に２つのフレームが交互に配置される。
【００３５】
図９を参照すると、ＰＤＰの１フレームに含まれるサブフィールドＳＦは、リセット期間ＲＰＤ、アドレス期間ＡＰＤおよびサステイン期間ＳＰＤに分けられて駆動される。
【００３６】
リセット期間ＲＰＤには、スキャン電極ＹにリセットパルスＲＰが供給される。リセットパルスＲＰは、ランプ波のようにセットアップ期間に電圧が増加し、セットダウン期間には、電圧が減少する形態を有する。電圧がだんだん上がるセットアップ期間には、多数の微細なセットアップ放電を発生させ、上部誘電体層に壁電荷が形成される。次いで、電圧がだんだん下がるセットダウン期間には、多数の微細なセットダウン放電によって不要な荷電粒子が部分的に消去され、壁電荷が誤放電を発生させることなく次のアドレス放電において助けとなる程度に減少する。このとき、セットダウン期間の間、サステイン電極Ｚには、正（＋）の直流電圧が供給される。この正（＋）の直流電圧に対してリセットパルスＲＰは、だんだん減少するように供給されるため、セットダウン時にスキャン電極Ｙがサステイン電極Ｚに対して相対的に負極性（−）となる、即ち、極性が反転されることで、セットアップ時に生成した壁電荷が減少するようになる。
【００３７】
アドレス期間ＡＰＤには、スキャン電極Ｙに負（−）のスキャン電圧Ｖｙを有するスキャンパルスＳＰが供給されると共にアドレス電極Ｘに正（＋）のデータパルスＤＰが供給されることで、アドレス放電が発生する。このアドレス放電で形成された壁電荷は、他の放電セルがアドレスされる期間の間、維持される。このとき、スキャンパルスＳＰが印加された後、スキャン電圧Ｖｓｃが継続して維持される期間である、図９の第１の期間ｎ１をＡＰＬによって可変的に変化させる。そうすると、階調数を増加させるために輝度重み付け値の異なった２つのフレームをずらして配置する場合、発光中心の不一致によるフリッカが除去される。即ち、発光中心を一致させるため、ＡＰＬによって第１の期間ｎ１を可変的に変化させることで、フリッカが除去され、輝度が向上する。
【００３８】
具体的には、アドレス期間ＡＰＤの間、ＡＰＬのレベルが低いと、第１の期間ｎ１を短くし、ＡＰＬのレベルが高いと、第１の期間ｎ１を長くする。換言すれば、ＡＰＬが低い場合は、サステインパルスが多く発生するため、第１の期間ｎ１を短くし、ＡＰＬが高い場合は、サステインパルスが少なく発生するために第１の期間ｎ１を長くする。このように、第１の期間ｎ１を、図１２のようにＡＰＬによって可変的に変化させることで、各サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤが変わるようになる。これによって、図１０のように、フレーム間のＶＦＢ期間の間隔Ｔ３が一定に維持される。即ち、各サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤを変化させることで、図１０のように、ｎ番目のフレームとｎ＋１番目のフレームとの輝度が表現される期間は、等しく設定される。従って、発光中心が一致し、フリッカがなくなり、輝度が向上する。このとき、図９の第１の期間ｎ１は、１００μｓの期間を維持しても、図１１Ａのように壁電荷は変化しない特徴を有する。
【００３９】
サステイン期間ＳＰＤには、スキャン電極ＹにトリガパルスＴＰを供給することで、アドレス期間ＡＰＤで十分に壁電荷が形成された放電セルでサステイン放電が開始するようにする。次いで、サステイン電極Ｚとスキャン電極Ｙとに交互にサステイン電圧Ｖｓに相当するサステインパルスＳＵＳＰｚ、ＳＵＳＰｙを供給することで、サステイン期間ＳＰＤの間、サステイン放電が維持される。このとき、サステイン期間ＳＰＤの間、最後のサステインパルスＳＵＳＰｚが供給された後、次のサブフィールドが始まる前の期間である、図９の第２の期間ｎ２をＡＰＬによって可変的に変化させる。そうすると、階調数を増加させるため輝度重み付け値の異なった２つのフレームをずらして配置する場合、発光中心の不一致によるフリッカが除去される。即ち、発光中心を一致させるためＡＰＬによって第２の期間ｎ２を可変的に変化させることで、フリッカがなくなり、輝度が向上する。
【００４０】
具体的に、サステイン期間ＳＰＤの間、ＡＰＬが低いと、最後のサステインパルスＳＵＳＰｚが供給された後、次のサブフィールドが始まる前の期間である第２の期間ｎ２を短くし、ＡＰＬが高いと、第２の期間ｎ２を長くする。換言すれば、ＡＰＬが低い場合は、サステインパルスが多く発生して相対的に時間を多く占めるようになるため、第２の期間ｎ２を短くすることで、時間確保が可能となる。これとは反対に、ＡＰＬが高い場合は、サステインパルスが少なく発生して相対的に時間を少なく占めるようになるため、第２の期間ｎ２を長くすることができる。これによって、ＡＰＬによって第２の期間を可変的に変化させることで、サステイン期間も可変され、各フレームの長さを一定にすることで、図１０のように、フレーム間のＶＦＢ期間の間隔が一定に維持され、発光中心が一致する。即ち、各サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤを変化させることで、図１０のように、ｎ番目のフレームと（ｎ＋１）番目のフレームの輝度が表現される期間は、等しく設定される。従って、 フリッカがなくなり、輝度が向上する。このとき、図９の第２の期間ｎ２は、１００μｓの期間を維持しても、図１１Ｂのように、壁電荷は変化しない特徴を有する。
【００４１】
このとき、第１の期間ｎ１または第２の期間ｎ２のうちのいずれか一方を可変的に変化させて発光中心を一致させることができる。または、第１および第２の期間ｎ１、ｎ２の両方を可変的に変化させて発光中心を一致させることもできる。
【００４２】
図１３は、本発明の第２の実施形態に係る選択的記録・選択的消去方法のＰＤＰの駆動方法を示す電圧波形図である。
図１３に示すように、本発明の第２の実施形態に係る選択的記録および選択的消去方式のＰＤＰの１フレームは、少なくとも１つ以上の選択的記録サブフィールドおよび少なくとも１つ以上の選択的消去サブフィールドから構成される。このとき、少なくとも１つ以上の選択的記録サブフィールドのそれぞれは、選択的記録区間（ＳＷ６など）となることができ、少なくとも１つ以上の選択的消去サブフィールドのそれぞれは、選択的消去区間（ＳＥ１、ＳＥ２など）となることができる。
【００４３】
また、選択的記録サブフィールドは、リセット期間ＲＰＤ、アドレス期間ＡＰＤおよびサステイン期間ＳＰＤに分けられ、選択的消去サブフィールドは、アドレス期間ＡＰＤおよびサステイン期間ＳＰＤに分けられる。
【００４４】
選択的記録サブフィールドのリセット期間ＲＰＤの間、スキャン電極ラインＹには、セットアップ波形のリセットパルスＲＰに引き続き、セットダウン波形のランプパルス−ＲＰが順次供給される。このセットダウンのランプパルス−ＲＰは、負（−）のスキャン基準電圧−Ｖｗまで下降する。また、サステイン電極ラインＺには、正（＋）の直流電圧が供給される。
【００４５】
選択的記録サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤの間、サステイン電極ラインＺに正（＋）の直流電圧が供給される間にスキャン電極ラインＹとアドレス電極ラインＸのそれぞれに負（−）の選択的記録スキャンパルスＳＷＳＰと正（＋）の選択的記録データパルスＳＷＤＰとが互いに同期するように供給される。このとき、アドレス期間ＡＰＤの間、スキャンパルスＳＷＳＰが印加された後、スキャン電圧Ｖｓｃが継続して維持される期間である、図１３の第１の期間ｎ１１をＡＰＬによって可変的に変化させる。そうすると、６０Ｈｚモードが５０Ｈｚモードに適用される場合、発光中心の不一致によるフリッカがなくなる。即ち、発光中心を一致させるためにＡＰＬによって第１の期間ｎ１１を可変的に変化させることで、フリッカが除去され、輝度が向上する。
【００４６】
具体的には、６０Ｈｚモードを５０Ｈｚモードに適用する場合、フリッカが発生して輝度が低下するという問題点を解決するため、アドレス期間ＡＰＤの間、スキャンパルスＳＷＳＰが印加された後、スキャン電圧Ｖｓｃが継続して維持される期間である、図１３の第１の期間ｎ１１をＡＰＬによって可変的に変化させる。これにより、各サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤを延ばし、図１４Ａのように長い垂直フレームブランク（ＶＦＢ＊）期間を、図１４Ｂのように、短い垂直フレームブランク（ＶＦＢ＄）期間に短縮する。即ち、各サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤを変化させることで、図１４Ｂのように輝度が表現される期間を等しく設定する。そうすると、６０Ｈｚモードが５０Ｈｚモードに適用される場合、発光中心が一致し、フリッカがなくなり、輝度が向上する。ここで、第１の期間ｎ１１は、図１２に示されたようにＡＰＬによって維持される期間が変わるようになる。
【００４７】
選択的記録サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤの間、選択的記録サブフィールドのアドレス放電でオンしたセルに対してサステイン放電が発生するように、サステインパルスＳＵＳＰｙ、ＳＵＳＰｚが、スキャン電極ラインＹとサステイン電極ラインＺとに交互に供給される。このとき、サステイン期間ＳＰＤの間、最後のサステインパルスＳＵＳＰｙが供給された後、次のサブフィールドが始まる前の期間である、図１３の第２の期間ｎ１２をＡＰＬによって可変的に変化させる。これにより、各サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤを延ばし、図１４Ａのように長い垂直フレームブランク（ＶＦＢ＊）期間を、図１４Ｂのように短い垂直フレームブランク（ＶＦＢ＄）期間に短縮する。そうすると、６０Ｈｚモードが５０Ｈｚモードに適用される場合でも、発光中心が一致し、フリッカがなくなり、輝度が向上する。ここで、第２の期間ｎ１２は、図１２に示されたようにＡＰＬによって維持される期間が変わるようになる。
【００４８】
選択的消去サブフィールドのリセット期間ＲＰＤは、省略される。選択的消去サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤには、スキャン電極ラインＹとアドレス電極ラインＸのそれぞれにセルをオフとするための負（−）の選択的消去スキャンパルスＳＥＳＰと正（＋）選択的消去データパルスＳＥＤＰとが互いに同期するように供給される。この選択的消去スキャンパルスＳＥＳＰは、負（−）のスキャン基準電圧Ｖｗより高い負（−）の選択的消去用スキャン電圧Ｖｅまで下降する。このとき、アドレス期間ＡＰＤの間、スキャンパルスＳＥＳＰが印加された後、スキャン電圧Ｖｓｃが継続して維持される期間である、図１３の第３の期間ｎ１３をＡＰＬによって可変的に変化させることで、各サブフィールドのアドレス期間ＡＰＤを延ばし、図１４Ａのように長い垂直フレームブランク（ＶＦＢ＊）期間を、図１４Ｂのように短い垂直フレームブランク（ＶＦＢ＄）期間に短縮する。そうすると、６０Ｈｚモードが５０Ｈｚモードに適用される場合でも、発光中心が一致し、フリッカが除去され、輝度が向上する。ここで、第３の期間ｎ１３は、図１２に示されたようにＡＰＬによって維持される期間が変わるようになる。
【００４９】
選択的消去サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤの間、選択的消去サブフィールドのアドレス放電でオフしないセルに対してサステイン放電が発生するように、サステインパルスＳＵＳＰｙ、ＳＵＳＰｚが、スキャン電極ラインＹとサステイン電極ラインＺとに交互に供給される。このとき、サステイン期間ＳＰＤの間、最後のサステインパルスＳＵＳＰｙが供給された後、次のサブフィールドが始まる前の期間である、図１３の第４の期間ｎ１４をＡＰＬによって可変的に変化させる。これにより、各サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤを延ばし、図１４Ａのように長い垂直フレームブランク（ＶＦＢ＊）期間を、図１４Ｂのように垂直フレームブランク（ＶＦＢ＄）期間に短縮する。即ち、各サブフィールドのサステイン期間ＳＰＤを変化させることで、図１４Ｂのように輝度が表現される期間は、等しく設定する。そうすると、６０Ｈｚモードが５０Ｈｚモードに適用される場合でも、発光中心が一致し、フリッカが除去され、輝度が向上する。ここで、第４の期間ｎ１４は、図１２に示されたようにＡＰＬによって維持される期間が変わるようになる。
このとき、第１〜第４の期間（ｎ１ないしｎ４）のうちの１つ以上の期間を可変的に変化させて発光中心を一致させることができる。
【００５０】
以上、図面を参照して本発明の実施形態を説明してきたが、本発明の保護範囲は、上述の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された発明とその均等物にまで及ぶものである。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】図１は、従来の交流形３電極面放電方式のプラズマディスプレイパネルの放電セルを示す斜視図である。
【図２】図２は、一般の８つのサブフィールドからなるフレームを示す図である。
【図３】図３は、一般のＡＰＬによるサステインパルスの数を示すグラフである。
【図４】図４は、従来のＰＤＰ駆動方法を示す電圧波形図である。
【図５】図５は、従来の方法によるフレーム配置方式を示す図である。
【図６】図６Ａおよび図６Ｂは、輝度重み付け値が異なったフレームを配置する様子を示す図であり、図６Ｃは、６Ａおよび６Ｂが交互に配置される時、各フレーム間のＶＦＢ期間が変化する様子を示す図である。
【図７】図７は、従来の６０Ｈｚモードで駆動される選択的記録・選択的消去方式のＰＤＰの駆動方法を示す電圧波形図である。
【図８】図８は、図７に係る選択的記録・選択的消去方式で階調を表示するためのサブフィールド配置の一例を示す図である。
【図９】図９は、本発明の第１の実施形態に係るＰＤＰの駆動方法を示す電圧波形図である。
【図１０】図１０は、図９の電圧波形を適用する時、各フレーム間のＶＦＢ期間が等しくなる様子を示す図である。
【図１１】図１１Ａおよび図１１Ｂは、図９の第１および第２の期間において壁電荷が変化しないことを示す図である。
【図１２】図１２は、ＡＰＬによって図９の第１および第２の期間が変わることを示す図である。
【図１３】図１３は、本発明の第２の実施形態に係る選択的記録・選択的消去方式のＰＤＰ駆動方法を示す電圧波形図である。
【図１４】図１４Ａは、本発明の第２の実施形態を適用する前の１フレームを示す図であり、図１４Ｂは、本発明の第２の実施形態を適用した後の１フレームを示す図である。
【符号の説明】
【００５２】
ＳＦ    サブフィールド
ＲＰＤ    リセット期間
ＡＰＤ    アドレス期間
ＳＰＤ    サステイン期間
Ｙ    スキャン電極
Ｚ    サステイン電極
【図１】
2004272269.tif 000003
【図２】
2004272269.tif 000004
【図３】
2004272269.tif 000005
【図４】
2004272269.tif 000006
【図５】
2004272269.tif 000007
【図６】
2004272269.tif 000008
【図７】
2004272269.tif 000009
【図８】
2004272269.tif 000010
【図９】
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【図１０】
2004272269.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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