(57)【要約】【課題】行電極間のショートを確実に検出することができるディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置を提供する。【解決手段】表示エリア内の表示セルを千鳥格子状に発光させ、表示エリア内の表示セルをイメージセンサ２で検出し、その出力ビデオ信号に基づいて行方向の暗線を検出する。暗線が検出された場合、暗線が検出された表示セル行に対応する行電極間に電極ショートが発生したものと判定する。【選択図】　　　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、表示エリア内にマトリクス状に配列された前記表示セルの発光を制御することにより画像を表示するディスプレイパネルの線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査方法であって、
前記表示エリア内の表示セルを千鳥格子状に発光させ、前記表示エリア内の前記表示セルをイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて行方向の暗線を検出し、暗線が検出された表示セル行に対応する行電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とするディスプレイパネルの表示検査方法。
【請求項２】
複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、表示エリア内にマトリクス状に配列された前記表示セルの発光を制御することにより画像を表示するディスプレイパネルの線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査装置であって、
前記表示エリア内の表示セルを千鳥格子状に発光させる発光手段と、
前記表示エリア内の前記表示セルを検出するイメージセンサと、
前記イメージセンサから出力されるビデオ信号に基づいて行方向の暗線を検出し、暗線が検出された表示セル行に対応する行電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、
を備えることを特徴とするディスプレイパネルの表示検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マトリクス状に表示セルが配列したディスプレイパネルの電極間のショートを検査する表示検査方法等に関する。
【０００２】
【従来の技術】
マトリクス状に表示セルが配列したプラズマディスプレイの電極の断線を検査する方法として、従来、全面表示パターンを使用し、表示パターンを画像データとして取り込み、画像解析により欠陥を検出する方法を採っている。図１に示すように、プラズマディスプレイパネル３０の電極に断線が発生している場合には、その表示ラインに非発光の部分が発生する。したがって、断線がある表示ラインとその上下２近傍の画素との間で階調を比較することにより、線欠陥を容易に抽出することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、プラズマディスプレイパネルの隣り合う行電極間でショートが発生している場合、全面表示パターンでは暗線が現れず、行電極間のショートを検出できないという問題点がある。
【０００４】
本発明は、行電極間のショートを確実に検出することができるディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載のディスプレイパネルの表示検査方法は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、表示エリア内にマトリクス状に配列された前記表示セルの発光を制御することにより画像を表示するディスプレイパネルの線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査方法であって、前記表示エリア内の表示セルを千鳥格子状に発光させ、前記表示エリア内の前記表示セルをイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて行方向の暗線を検出し、暗線が検出された表示セル行に対応する行電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とする。
【０００６】
請求項２に記載のディスプレイパネルの表示検査装置は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、表示エリア内にマトリクス状に配列された前記表示セルの発光を制御することにより画像を表示するディスプレイパネルの線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査装置であって、前記表示エリア内の表示セルを千鳥格子状に発光させる発光手段と、前記表示エリア内の前記表示セルを検出するイメージセンサと、前記イメージセンサから出力されるビデオ信号に基づいて行方向の暗線を検出し、暗線が検出された表示セル行に対応する行電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、図２〜図８を参照して、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法の一実施形態について説明する。
【０００８】
図２はプラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図、図３は検査対象となるプラズマディスプレイパネル３０の電極配置等を示す図である。
【０００９】
図２に示すように、この検査装置１００は、検査時にプラズマディスプレイパネル３０を点灯させる検査機本体１と、プラズマディスプレイパネル３０の表示面を撮影するＣＣＤカメラ２と、ＣＣＤカメラ２からの映像信号を受ける画像処理装置３と、検査機本体１、ＣＣＤカメラ２および画像処理装置３を制御する制御装置４とを備える。画像処理装置３は、後述する発光パターンを解析するための画像処理を実行する画像処理部３ａ、ＣＣＤカメラ２からの画像データをＲＧＢ別に格納する画像処理メモリ３ｂ、および画像処理の対象となるデータを一時的に記憶する画像処理対象メモリ３ｃを具備する。
【００１０】
図３に示すように、検査機本体１にはプラズマディスプレイパネル３０の電極に接続されるアドレスドライバ１１、Ｘサステインドライバ１２およびＹサステインドライバ１３が設けられる。
【００１１】
図３に示すように、プラズマディスプレイパネル３０は列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ，Ｄ２ｇ，Ｄ２ｂ・・・Ｄｍｒ，Ｄｍｇ，Ｄｍｂと、これらの列電極に直交する方向に設けられた行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎを備える。図３に示すように、それぞれの列電極は、順次Ｒセル、Ｇセル、Ｂセルに繰り返し対応するように割り当てられ、表示エリア３０ａにおいて、行電極Ｘ１〜Ｘｎ、行電極Ｙ１〜Ｙｎとの交点ごとにＲセル、Ｇセル、Ｂセルがそれぞれ形成される。図３に示すように、連続して配置されたＲセル、Ｇセル、Ｂセルを１セットとして、１画素が形成される。表示エリア３０ａの外側には表示エリア外の領域３０ｂが設けられる。
【００１２】
図３に示すように、行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎは互いに反対側から伸びるように櫛状に交互に配置される。また、１つの表示セル行に対し、行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎはそれぞれ１本ずつ割り当てられ、１つのセルの内部で行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎが平行に向き合って配置される。
【００１３】
図３に示すように、列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ・・・Ｄｍｂは、アドレスドライバ１１に、行電極Ｘ１〜ＸｎはＸサステインドライバ１２に、行電極Ｙ１〜ＹｎはＹサステインドライバ１３に、それぞれ接続される。
【００１４】
次に、プラズマディスプレイパネル３０の駆動方法について説明する。
【００１５】
プラズマディスプレイパネル３０を駆動する期間としての１フィールドは、複数のサブフィールドＳＦ１〜ＳＦＮにより構成される。図４に示すように、各サブフィールドには、点灯させるセルを選択するアドレス期間と、そのアドレス期間において選択されたセルを所定時間点灯させ続けるサステイン期間とが設けられている。また、最初のサブフィールドであるＳＦ１の先頭部分には、前のフィールドでの点灯状態をリセットするためのリセット期間がさらに設けられている。このリセット期間では、すべてのセルを点灯セル（壁電荷が形成されているセル）に、または消灯セル（壁電荷が形成されていないセル）にリセットする。前者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを消灯セルに切換え、後者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを点灯セルに切換える。サステイン期間はサブフィールドＳＦ１〜ＳＦＮの順に段階的に長くされており、点灯させ続けるサブフィールドの個数を変化させることにより、所定の階調表示が可能とされている。
【００１６】
図５に示す各サブフィールドのアドレス期間では、１ラインごとにアドレス走査が行われる。すなわち、第１のラインを構成する行電極Ｙ１に走査パルスが印加されると同時に、列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ・・・Ｄｍｂに第１のラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスＤＰ１が印加され、次に第２のラインを構成する行電極Ｙ２に走査パルスが印加されると同時に、列電極Ｚ１〜Ｚｍに第２のセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスＤＰ２が印加される。第３のライン以下についても同様に走査パルスおよびデータパルスが同時に印加される。最後に、第ｎのラインを構成する行電極Ｙｎに走査パルスが印加されると同時に、列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ・・・Ｄｍｂに第ｎのラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスＤＰｎが印加される。上記のようにアドレス期間では、所定のセルを点灯セルから消灯セルに、または消灯セルから点灯セルに切換える。
【００１７】
このようにしてアドレス走査が終了すると、サブフィールドにおけるすべてのセルが、それぞれ点灯セルあるいは消灯セルのいずれかに設定されており、次のサステイン期間においてサステインパルスが印加されるごとに点灯セルのみ発光を繰り返す。図５に示すように、サステイン期間では行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎに対し、ＸサステインパルスおよびＹサステインパルスが、それぞれ所定のタイミングで繰り返し印加される。そして、最後のサブフィールドＳＦＮには、全セルを消灯セルに設定する消去期間が設けられている。
【００１８】
以上のようなフィールドを繰り返すことにより、プラズマディスプレイパネル３０による動画での階調表現が可能となる。
【００１９】
図６は、プラズマディスプレイパネルを上下に２分割し、それぞれの領域の電極を分離した例を示す。この場合には、図６に示すように、検査機本体にはプラズマディスプレイパネル３１の電極に接続されるアドレスドライバ１１ａ，１１ｂ、Ｘサステインドライバ１２ａ，１２ｂおよびＹサステインドライバ１３ａ，１３ｂが設けられる。
【００２０】
図６に示すように、プラズマディスプレイパネル３１は列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ，Ｄ２ｇ，Ｄ２ｂ・・・Ｄｍｒ，Ｄｍｇ，Ｄｍｂと、これらの列電極に直交する方向に設けられた行電極Ｘ１〜Ｘｉおよび行電極Ｙ１〜Ｙｉと、列電極ＤＡ１ｒ，ＤＡ１ｇ，ＤＡ１ｂ，ＤＡ２ｒ，ＤＡ２ｇ，ＤＡ２ｂ・・・ＤＡｍｒ，ＤＡｍｇ，ＤＡｍｂと、これらの列電極に直交する方向に設けられた行電極Ｘｉ＋１〜Ｘｎおよび行電極Ｙｉ＋１〜Ｙｎを備える。それぞれの列電極は、順次Ｒセル、Ｇセル、Ｂセルに繰り返し対応するように割り当てられ、行電極Ｘ１〜Ｘｎ、行電極Ｙ１〜Ｙｎとの交点ごとにＲセル、Ｇセル、Ｂセルがそれぞれ形成される。図３に示す場合と同様、連続して配置されたＲセル、Ｇセル、Ｂセルを１セットとして、１画素が形成される。
【００２１】
列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ，Ｄ２ｇ，Ｄ２ｂ・・・Ｄｍｒ，Ｄｍｇ，Ｄｍｂはアドレスドライバ１１ａに、列電極ＤＡ１ｒ，ＤＡ１ｇ，ＤＡ１ｂ，ＤＡ２ｒ，ＤＡ２ｇ，ＤＡ２ｂ・・・ＤＡｍｒ，ＤＡｍｇ，ＤＡｍｂはアドレスドライバ１１ｂに、行電極Ｘ１〜ＸｉはＸサステインドライバ１２ａに、行電極Ｙ１〜ＹｉはＹサステインドライバ１３ａに、行電極Ｘｉ＋１〜Ｘｎはサステインドライバ１２ｂに、行電極Ｙｉ＋１〜Ｙｎはサステインドライバ１３ｂに、それぞれ接続される。
【００２２】
プラズマディスプレイパネル３１の駆動方法は、上記のプラズマディスプレイパネル３０と同様である。
【００２３】
次に、検査装置１００を用いてプラズマディスプレイパネル３０における行電極間のショートの有無を検査する場合の手順を説明する。プラズマディスプレイパネル３１の検査も同様に実施できる。
【００２４】
図２に示すように、プラズマディスプレイパネル３０を検査機本体１にセットし、プラズマディスプレイパネル３０の表示エリア内に千鳥格子状の発光パターンを表示させる。図７（ａ）は行電極間のショートがない場合の発光パターンを示しており、図７（ａ）において「Ｒ」、「Ｇ」、「Ｂ」と表示された領域は各色に発光するセルを示し、その他の領域は発光していないセルを示している。図７（ａ）に示すパターンは行電極間のショートを検出するための検出パターンそのものである。上記のように、プラズマディスプレイパネル３０では、行方向に並んだＲ、Ｇ、Ｂ３色の表示セルで１画素を構成するため、図７（ｂ）に示すように、表示エリア３０ａ全体に白黒の千鳥格子パターンが表示されることになる。
【００２５】
図８（ａ）〜（ｃ）は行電極間のショートがある場合の発光パターン等を示している。図８（ａ）は表示エリア３０ａ内において、行方向の黒線１０１（暗線）が発生している例を示している。図８（ｂ）に示すように、黒線１０１の部分では、本来発光すべき表示セルを含む表示ラインが２ラインにわたり非発光となっている。
【００２６】
図８（ｃ）は行電極間のショート部分を示す図である。図８（ｃ）に示すように、隣接する表示セルに対応してそれぞれ設けられた行電極Ｙｉおよび行電極Ｘｉ＋１が、ショート部分１０２を介して互いに短絡している。このようなショート部分１０２による短絡が発生した場合には、互いに短絡された行電極に対応する２ライン分の表示セルは発光せず、図８（ａ）および図８（ｂ）に示すような黒線を有する発光パターンとなる。
【００２７】
このようなプラズマディスプレイ３０の発光パターンはＣＣＤカメラ２により取り込まれ、画像処理装置３では、ＣＣＤカメラ２からの画像データに基づいて発光パターンの解析を行う。
【００２８】
図９は、検査時の処理を示すフローチャートである。図９の処理は制御装置４の制御に基づいて実行される。
【００２９】
図９のステップＳ１では、検査機本体１により、プラズマディスプレイパネル３０に図７に示す検出パターンを表示させるような駆動パルスを与える。これにより、プラズマディスプレイパネル３０は、例えば、図７（ａ）〜（ｂ）あるいは図８（ａ）〜（ｂ）に示すような発光パターンで点灯する。次に、ＣＣＤカメラ２により発光パターンの画像を取り込み（ステップＳ２）、取り込まれた画像の画像データをＣＣＤカメラ２から画像処理装置３の画像処理メモリ３ｂに転送する（ステップＳ３）。ここでは、ＲＧＢ３色のデータを別々に転送する。
【００３０】
次に、画像処理メモリ３ｂに格納された画像データのうち、プラズマディスプレイパネル３０の表示エリア３０ａの全体を画像処理領域として設定し、設定された領域の画像データを画像処理対象メモリ３ｃに記憶する（ステップＳ４）。
【００３１】
次に、画像処理対象メモリ３ｃに記憶された画像データに基づいて、表示エリア３０ａ内の黒線を抽出する処理を実行する（ステップＳ５）。次に、黒線の抽出処理（ステップＳ５）において、表示エリア３０ａ内から黒線が抽出されたか否か判断し（ステップＳ６）、判断が肯定されれば行電極間のショートがある旨の表示等を実行し（ステップＳ７）、判断が否定されれば行電極間のショートがない旨の表示等を実行して（ステップＳ８）、それぞれ図９の処理を終了する。
【００３２】
上記ステップＳ５において、発光パターンが図７（ａ）および（ｂ）に示すような検出パターンそのものである場合には黒線が発生せず、ステップＳ６の判断が否定されるため、行電極間のショートがないものと判定される。また、発光パターンが図８（ａ）および（ｂ）に示すような発光パターンであれば黒線が抽出され、ステップＳ６の判断が肯定されるため、行電極間のショートがあるものと判定される。
【００３３】
このように、図９に示す処理では、千鳥格子状の検査パターンをプラズマディスプレイパネル３０に表示させている。この場合、行電極間のショートが存在すれば対応するラインに黒線が発生する。したがって、本実施形態では、黒線の抽出処理を実行し（ステップＳ５）、黒線が抽出されれば行電極間のショートがあるものと判断し、黒線が抽出されなければ行電極間のショートがないものと判断することができ（ステップＳ５〜Ｓ６）、これにより行電極間のショートの有無を確実に検出できる。
【００３４】
なお、上記実施形態では、Ｒ、Ｇ、Ｂ３色の発光色を有するカラーディスプレイパネルについて説明したが、モノクロディスプレイパネルの場合には、単色の千鳥格子パターンを検出パターンとして使用すればよい。
【００３５】
また、上記実施形態では、プラズマディスプレイパネルの検査について例示したが、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法は、他のディスプレイパネルについても広く適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の検査方法により電極の断線を検出する例を示す図。
【図２】プラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図。
【図３】検査対象となるプラズマディスプレイパネルの電極配置等を示す図。
【図４】フィールドの構成を示す図。
【図５】駆動パルスを示すタイミングチャート。
【図６】プラズマディスプレイパネルを上下に２分割した例を示す図。
【図７】行電極間のショートがない場合の発光パターンを示す図であり、（ａ）は各セルの発光の有無を示す図、（ｂ）は千鳥格子パターンを示す図。
【図８】行電極間のショートがある場合の発光パターンを示す図であり、（ａ）は表示エリア全体を示す図、（ｂ）は（ａ）の一部拡大図、（ｃ）は行電極間のショート部分を示す図。
【図９】検査時の処理を示すフローチャート。
【符号の説明】
１　　　検査機本体（発光手段）
２　　　イメージセンサ（ＣＣＤカメラ）
３　　　画像処理装置（判定手段）
Ｘ１〜Ｘｎ　行電極
Ｙ１〜Ｙｎ　行電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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