(57)【要約】【課題】アクティブマトリクス型液晶パネルに画像を表示するに際し、欠陥画素ができるだけ目立たないようにする。【解決手段】アクティブマトリクス型液晶パネルではアクティブ素子の数が数十万個以上であることから、該素子の不良に基く欠陥画素が多少なりとも存在してしまう。いま、液晶パネルで図に示すように画像を表示する場合、符号１２０４，１２０５等で示す輝点が欠陥画素として認識されてしまうおそれがあるが、欠陥画素の位置や状態を検知し、表示画像（つまり、富士山や雲の位置）を移動させるようにする。例えば、輝点１２０４，１２０５が表示画像（図の場合は雲）に隠れるようにした場合には、欠陥画素が目立たなくなる。【選択図】　　　図１１
2004070009.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アクティブマトリクス型の液晶素子を備えた液晶表示装置において、
前記液晶素子にある欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…。以下、同じ。）に関しての情報を保持している欠陥画素情報保持手段と、
各欠陥画素の近傍の近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…についての情報を取得する近接画素情報取得手段と、
前記欠陥画素情報保持手段及び前記近接画素情報取得手段からの情報に基き、欠陥画素が目立たなくなる画像のシフト量を決定する最適シフト量決定手段と、
該シフト量だけ移動した位置に画像を表示する画像表示手段と、
を備えたことを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】
前記欠陥画素情報保持手段の保持している情報が、欠陥画素ｐｋに関しての色情報Ｇｐｋ及び影響度Ｅｗｐｋの情報であり、
前記近接画素情報取得手段が、各欠陥画素の近傍の近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…についての色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…を取得する色情報取得手段であり、
前記欠陥画素情報保持手段から得た前記欠陥画素の色情報Ｇｐｋと、前記色情報取得手段から得た前記近接画素についての色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…との差分（Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…）を算出する色差分算出手段と、
該色差分算出手段にて求めた色差分（Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…）に、前記欠陥画素の影響度Ｅｗｐｋを乗算して画素単位の影響度を算出する影響度算出手段と、を備え、
前記最適シフト量決定手段が、各欠陥画素に対して同じ位置関係にある近接画素ｐ１１，ｐ２１，ｐ３１，…に関して前記影響度算出手段が算出した影響度の総和（Ｅｗ１＝Ｅｗｐ１１＋Ｅｗｐ２１＋Ｅｗｐ３１＋…）を求め、各欠陥画素に対して別の位置関係にある近接画素ｐ１ｍ，ｐ２ｍ，ｐ３ｍ，…（但し、ｍ＝２，…）に関して前記影響度算出手段が算出した影響度の総和（Ｅｗ２＝Ｅｗｐ１２＋Ｅｗｐ２２＋Ｅｗｐ３２＋…，Ｅｗ３＝Ｅｗｐ１３＋Ｅｗｐ２３＋Ｅｗｐ３３＋…，…）を求め、それらの総和Ｅｗ１，Ｅｗ２，Ｅｗ３，…の内で最小となる場合における位置関係を求め、
前記画像表示手段が、影響度の総和が最小となる位置関係にある近接画素ｐｋｍ（但し、ｍは１，２，３，…のうちのいずれか。また、ｋは１，…の全て）が表示する画像上の点が、各欠陥画素ｐｋに一致するようにシフトさせて画像を表示する、
ことを特徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記欠陥画素情報保持手段は、各欠陥画素ｐｋに関しての色情報Ｇｐｋや影響度Ｅｗｐｋの情報だけでなく位置情報Ｅｐｋも保持し、
位置算出手段が、前記欠陥画素の位置情報Ｅｐｋに基き、該欠陥画素と一定の位置関係にある近接画素の位置Ｅｐｋｍを算出し、
前記色情報取得手段は、該位置算出手段にて算出された位置Ｅｐｋｍに対応した色情報を出力する、
ことを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記アクティブマトリクス型の液晶素子は、所定間隙を開けた状態に配置された一対の基板と、該基板の間隙に配置された液晶と、各画素において該液晶を挟み込むように配置された一対の電極と、一方の電極に接続された状態で各画素に配置されたアクティブ素子と、によって構成された、
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項５】
前記欠陥画素は、前記電極の短絡や前記アクティブ素子の不良に起因して発生したものである、
ことを特徴とする請求項４に記載の液晶表示装置。
【請求項６】
前記液晶素子の表示画面周縁部を覆うように枠状部材を配置した、
ことを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項７】
前記欠陥画素についての情報は、装置使用段階において前記欠陥画素情報保持手段に追加登録できる、
ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項８】
アクティブマトリクス型の液晶素子にある欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…。以下、同じ。）についての情報を取得する工程と、
各欠陥画素の近傍の近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…についての情報を取得する工程と、
前記欠陥画素及び前記近接画素についての情報に基き、欠陥画素が目立たなくなる画像のシフト量を決定する工程と、
該シフト量だけ移動した位置に画像を表示する工程と、
を備えた液晶表示装置の駆動方法。
【請求項９】
前記欠陥画素ｐｋについて取得する情報は色情報Ｇｐｋであり、
前記近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…について取得する情報は色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…であり、
前記欠陥画素の色情報Ｇｐｋと前記近接画素についての色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…との差分（Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…）を算出する工程と、
各欠陥画素ｐｋについて影響度Ｅｗｐｋの情報を取得する工程と、
求めた色差分（Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…）に、前記欠陥画素の影響度Ｅｗｐｋを乗算して画素単位の影響度を算出する工程と、
各欠陥画素に対して同じ位置関係にある近接画素ｐ１ｍ，ｐ２ｍ，ｐ３ｍ，…（但し、ｍ＝１，…）に関して影響度の総和（Ｅｗ１＝Ｅｗｐ１１＋Ｅｗｐ２１＋Ｅｗｐ３１＋…，Ｅｗ２＝Ｅｗｐ１２＋Ｅｗｐ２２＋Ｅｗｐ３２＋…，Ｅｗ３＝Ｅｗｐ１３＋Ｅｗｐ２３＋Ｅｗｐ３３＋…，…）を順次求める工程と、
それらの総和Ｅｗ１，Ｅｗ２，Ｅｗ３，…の内で最小となる場合における位置関係を求める工程と、
影響度の総和が最小となる位置関係にある近接画素ｐｋｍ（但し、ｍは１，２，３，…のうちのいずれか。また、ｋは１，…の全て）が表示する画像上の点が、各欠陥画素ｐｋに一致するようにシフトさせて画像を表示する工程と、
を実施する請求項８に記載の液晶表示装置の駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般的には、アクティブマトリクス型の液晶素子を備えた液晶表示装置、及び該液晶表示装置の駆動方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示装置には、単純マトリクス駆動によるものと、アクティブマトリクス駆動によるものとがあり、後者のものでは、欠陥画素による表示悪化という問題があった。以下、（１）　単純マトリクス駆動型液晶パネル、（２）　アクティブマトリクス駆動型液晶パネルについて説明する。
【０００３】
（１）　単純マトリクス駆動型液晶パネルについて
従来、液晶表示装置は、ねじれネマティック液晶（ツイスティッド・ネマティック液晶、以下、ＴＮ液晶と記す）、あるいはスーパー・ツイスティッド・ネマティック液晶（以下、ＳＴＮ液晶と記す）が用いられて単純マトリクス駆動されていた。
【０００４】
このタイプの液晶表示装置の構成を模式的に表すと図１５の様になる。バックライト等の光源からの光１０００１には偏光板１０００２により一定の偏光性が与えられる。
【０００５】
液晶パネル１０００３は、ＴＮ液晶あるいはＳＴＮ液晶の他に、液晶を駆動する為の電極や、液晶分子を一定方向に整列させるための配向膜等から構成される。液晶パネルの詳細な構成については後述する。
【０００６】
ＴＮ液晶、ＳＴＮ液晶を通過する光は、液晶の施光性により偏光性が変化する。具体的にはＴＮ液晶で９０度、ＳＴＮ液晶で２３０度程度ほど偏光方向が変化する。ところが、液晶に電圧を加えることにより、この施光性を解消させることができる。すなわち、電圧を加えた状態の液晶を通過する光の偏光性は変化しないことになる。なお、液晶に電圧を加え、施光性を変化させることを液晶を駆動するという。
【０００７】
偏光板１００４は、偏光板１００２と同様の性質を持つ偏光板であるが、通過する光に与える偏光性の方向が直交している。液晶表示装置では、この２枚の偏光板と、電圧により施光性が変化する液晶を用いることで、電圧を用いて通過する光の量をコントロールしている。例えば、ＴＮ液晶では電圧を加えない場合は、液晶の施光性によりバックライトの光の偏光方向は９０度変化し、偏光板１００４を透過するが、電圧を加えた場合は２枚の偏光板によりバックライトの光は遮断される。電圧を加えない状態で光が透過するような構成をノーマリホワイトモードと呼ぶ。また逆に、電圧を加えない状態では光を遮断し、電圧を加えることにより透過するような構成はノーマリブラックモードと呼ばれる。ノーマリブラックモードの構成では、偏光板１００４と偏光板１００２の偏光方向は一致している。
【０００８】
図１６にＴＮ液晶を用いた単純マトリクス駆動の液晶パネルの構成を示す。液晶１０１０３は配向膜１０１０２、１０１０４に挟まれる形に配置される。配向膜により、電圧が加わっていない場合に、液晶分子を一定方向に整列させることができる。透明電極群１０１０１および透明電極群１０１０５は液晶を駆動するための電極である。単純マトリクス駆動では透明電極の交点となる部分の液晶を駆動することができる。例えば、透明電極１０１０１ａと透明電極１０１０５ａに電圧を加えると、その交点に当たる液晶１０１０８が駆動され、施光性が失われるため、この部分を通過する光は２枚の偏光板により遮断される。
【０００９】
（２）　アクティブマトリクス駆動型液晶パネルについて
しかし、上述のような単純マトリクス駆動の液晶表示装置はコントラストの向上、表示応答速度の向上などに限界があるという問題がある。このため、単純マトリクス駆動の液晶パネルにおいて、電極の交点となる部分に、極めて小さいトランジスタやダイオードなどのスイッチング回路（アクティブ素子）を置く手法が開発され、実用化されている。これらの手法はアクティブマトリクス駆動と呼ばれる。アクティブ素子に非常に小型のトランジスタであるＴＦＴ（Ｔｈｉｎ　Ｆｉｌｍ　Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）を用いたものをＴＦＴ液晶、ダイオードを用いたものをＭＩＭ（Ｍｅｔａｌ　Ｉｎｓｕｌａｔｏｒ　Ｍｅｔａｌ）液晶と呼ぶ。
【００１０】
図１７にＴＦＴによるアクティブ駆動の液晶パネルの構成を示す。単純マトリクス駆動の液晶パネルと比較すると透明電極群１０２０５にアクティブ素子であるＴＦＴが組み込まれている点が異なる。透明電極に平行に延びているライン１０２０６と直交しているライン１０２０７は、それぞれＴＦＴを駆動するためのデータ線とアドレス線である。また、円１０２０８が示す部分が１つのＴＦＴ素子である。
【００１１】
図１８に等価回路を示す。画素は等価的に液晶容量１０３０４と付加容量１０３０５の並列接続で表される。さらに、液晶容量１０３０４を駆動するために、ＴＦＴからなる画素スイッチ１０３０３が設けられている。ＴＦＴのゲート電極はアドレス線１０３０２に、ソース電極はデータ線１０３０１に接続されている。データ線に画像信号が印加されている場合に、アドレス線によりゲート信号が印加されると、画像信号が液晶容量１０３０４に供給され、液晶分子に電圧が加わることにより、液晶の施光性が変化する。ゲート電圧が解除されると、ＴＦＴは非導通状態になるため、液晶にかかる電圧は保持される。
【００１２】
この様に、ＴＦＴ液晶パネルを用いた液晶表示装置は、１画素毎にスイッチング素子を用いて液晶を駆動することから、高速応答性を実現することができる。また、同時にコントラストの向上など様々な特性の向上が見込まれ、現在では液晶表示装置の主流となり、広範囲な分野で利用されている。
【００１３】
なお、液晶表示装置において、カラー表示を実現する際には、偏光板と液晶パネルの間にカラーフィルターを挟む。カラーフィルターは、液晶パネルを通過した光を着色する役割を担い、図１９に示すように、ＲＧＢ、すなわち、赤（１０４０１）、緑（１０４０２）、青（１０４０３）の３色のフィルターを並べて構成される。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
これまで述べてきた様に、アクティブマトリクス駆動型液晶パネルの各画素には、液晶や、それを駆動する極小なアクティブ素子が配置されている。このアクティブ素子の数はとても多く、ＶＧＡと呼ばれる基本的な表示画素サイズでさえも９０万個以上にも達する。
【００１５】
ところで、このようなアクティブマトリクス駆動型液晶パネルの製造においては、ある確立で欠陥画素が発生することが知られている。欠陥発生原因としては、配線パターンの短絡や、アクティブ素子の電流リーク不良が挙げられる。
【００１６】
これらの不良は、画素が常時点灯する輝点欠陥や、画素が点灯しない黒点欠陥として顕在化し、表示画像の品位を著しく損なわせるという問題がある。
【００１７】
このため、従来では許容個数以上の欠陥画素を含む製品は不良として廃棄され、製造歩留まりの改善を図る上で障害となっていた。
【００１８】
配線パターンの短絡による欠陥については、液晶パネルの製造工程において、短絡個所を検知する工程と、短絡個所に対しレーザビームを照射する工程を加えることにより、物理的に修復することが可能であることが知られているが、アクティブ素子の不良による電流リーク欠陥を修復することは極めて困難である。
【００１９】
また、工場出荷後においても、経時変化により欠陥画素が発生する場合がある。この段階において発生した欠陥画素の修復は、当然ながら、出荷検査で対処できないという課題もある。
【００２０】
これらの課題に対し、特開平０６−１９５０４８号公報では、アクティブマトリクス駆動型液晶表示装置において、欠陥画素に応じて転送すべきビデオ信号を予め調整する為の画素欠陥補償装置が開示されている。この装置によれば、欠陥画素に関する情報を保持し、この情報を用いて欠陥画素に対応するビデオ信号成分を変調し、欠陥による劣化を補償することにより、表示画像の品質を維持することができる。また、欠陥検出ユニットを用いることにより経時的な欠陥画素にも対応しているとしている。
【００２１】
しかしながら、上記に開示されている装置は、電流リーク不良のみを対象としており、また、アクティブ素子がリーク不良を伴いながらもスイッチング特性を失っていない場合を前提としている。このため、アクティブ素子の不良の程度が大きい場合には対応が困難であるという問題がある。また、ビデオ信号の入力を前提としており、その構成は、液晶表示装置が主に静止画を表示する用途に使用される場合には製造コストの上昇を招く原因となる。
【００２２】
一方、レーザ照射による短絡個所の修正法については、製造工程において、通常の液晶表示装置製造工程に加えて、極めて精密な制御が必要な工程を追加することとなる。このことは、製造コストの上昇、製造スループットの低下などに直接影響するという問題がある。
【００２３】
そこで、本発明は、これらの問題を防止する液晶表示装置、及び該液晶表示装置の駆動方法を提供することを目的とするものである。
【００２４】
【課題を解決するための手段】
請求項１に係る発明は、上記事情を考慮してなされたものであり、アクティブマトリクス型の液晶素子を備えた液晶表示装置において、
前記液晶素子にある欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…。以下、同じ。）に関しての情報を保持している欠陥画素情報保持手段と、
各欠陥画素の近傍の近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…についての情報を取得する近接画素情報取得手段と、
前記欠陥画素情報保持手段及び前記近接画素情報取得手段からの情報に基き、欠陥画素が目立たなくなる画像のシフト量を決定する最適シフト量決定手段と、
該シフト量だけ移動した位置に画像を表示する画像表示手段と、を備えたことを特徴とする。
【００２５】
また、請求項８に係る発明は、アクティブマトリクス型の液晶素子にある欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…。以下、同じ。）についての情報を取得する工程と、
各欠陥画素の近傍の近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…についての情報を取得する工程と、
前記欠陥画素及び前記近接画素についての情報に基き、欠陥画素が目立たなくなる画像のシフト量を決定する工程と、
該シフト量だけ移動した位置に画像を表示する工程と、を備えた液晶表示装置の駆動方法についてのものである。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
【００２７】
本実施の形態に係る液晶表示装置５００は、図５に示すように、アクティブマトリクス型の液晶素子５０９を備えている。このアクティブマトリクス型の液晶素子５０９は、所定間隙を開けた状態に配置された一対の基板と、該基板の間隙に配置された液晶と、各画素において該液晶を挟み込むように配置された一対の電極と、一方の電極に接続された状態で各画素に配置されたアクティブ素子と、によって構成されている。なお、この液晶素子５０９は、前記電極の短絡や前記アクティブ素子の不良に起因して発生した欠陥画素を有している。
【００２８】
この液晶表示装置５００は、図５に示すように、
・　前記液晶素子にある欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…。以下、同じ。）に関しての情報を保持している欠陥画素情報保持手段５０５，５０６と、
・　各欠陥画素の近傍の近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…についての情報を取得する近接画素情報取得手段５０３１と、
・　前記欠陥画素情報保持手段５０５，５０６及び前記近接画素情報取得手段５０３１からの情報に基き、欠陥画素が目立たなくなる画像のシフト量を決定する最適シフト量決定手段５０３４と、
・　該シフト量だけ移動した位置に画像を表示する画像表示手段５０８と、
を備えている。
【００２９】
また、この液晶表示装置５００には色差分算出手段５０３２や影響度算出手段５０３３を配置すると良い。
【００３０】
ここで、前記欠陥画素情報保持手段５０５，５０６には、各欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…。以下、同じ。）に関しての色情報Ｇｐｋ及び影響度Ｅｗｐｋの情報を少なくとも保持させると良い。
【００３１】
また、前記近接画素情報取得手段５０３１としては、各欠陥画素の近傍の画素（各欠陥画素から横方向にｉ個、縦方向にｊ個だけ離れている画素であって、以下、“近接画素”とする）ｐｋ１，ｐｋ２，…についての色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…を取得する色情報取得手段を挙げることができる。
【００３２】
さらに、前記色差分算出手段５０３２は、前記欠陥画素情報保持手段５０５，５０６から得た前記欠陥画素の色情報Ｇｐｋと、前記色情報取得手段５０３１から得た前記近接画素についての色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…との差分、すなわち、Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…を算出するものである。
【００３３】
また、前記影響度算出手段５０３３は、この色差分算出手段５０３２にて求めた色差分（Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…）に、前記欠陥画素の影響度Ｅｗｐｋを乗算して画素単位の影響度を算出するものである。
【００３４】
さらに、前記最適シフト量決定手段５０３４は、
・　各欠陥画素に対して同じ位置関係にある近接画素ｐ１１，ｐ２１，ｐ３１，…に関して前記影響度算出手段が算出した影響度の総和（Ｅｗ１＝Ｅｗｐ１１＋Ｅｗｐ２１＋Ｅｗｐ３１＋…）を求め、
・　各欠陥画素に対して別の位置関係にある近接画素ｐ１２，ｐ２２，ｐ３２，…に関して前記影響度算出手段が算出した影響度の総和（Ｅｗ２＝Ｅｗｐ１２＋Ｅｗｐ２２＋Ｅｗｐ３２＋…）を求め、
・　各欠陥画素に対して別の位置関係にある近接画素ｐ１３，ｐ２３，ｐ３３，…に関して前記影響度算出手段が算出した影響度の総和（Ｅｗ３＝Ｅｗｐ１３＋Ｅｗｐ２３＋Ｅｗｐ３３＋…）を求め、………というように、全ての近接画素について影響度の総和を求め、さらに、
・　それらの総和Ｅｗ１，Ｅｗ２，Ｅｗ３，…の内で最小となる場合における位置関係（つまり、上述の［ｉ，ｊ］）を求める、
ようになっている。
【００３５】
また、前記画像表示手段５０８は、影響度の総和が最小となる位置関係にある近接画素ｐｋｍ（但し、ｍは１，２，３，…のうちのいずれか。また、ｋは１，…の全て）が表示する画像上の点が、各欠陥画素ｐｋに一致するようにシフトさせて画像を表示する、ようになっている。
【００３６】
なお、前記欠陥画素情報保持手段５０５，５０６に、各欠陥画素ｐｋに関しての色情報Ｇｐｋや影響度Ｅｗｐｋの情報だけでなく位置情報Ｅｐｋも保持させておき、
・　位置算出手段５０３５が、前記欠陥画素の位置情報Ｅｐｋに基き、該欠陥画素と一定の位置関係にある近接画素の位置Ｅｐｋｍ＝［ｘ−ｉ，ｙ−ｊ］を算出し、
・　前記色情報取得手段５０３１は、該位置算出手段５０３５にて算出された位置Ｅｐｋｍに対応した色情報を出力する、
ようにしても良い。なお、欠陥画素についての情報は、装置使用段階において欠陥画素情報保持手段に追加登録できるようにしておくと良い。例えば、欠陥画素情報保持手段５０５，５０６をＲＡＭ及びＲＯＭにて構成し、一方の欠陥画素情報保持手段では工場出荷前に登録できるようにしておいて、他方の欠陥画素情報保持手段では工場出荷後に登録できるようにしても良い。
【００３７】
ところで、本実施の形態に係る液晶表示装置では、液晶素子５０９の表示画面周縁部（図４に示す非斜線領域）を覆うように枠状部材（図２の符号２０２参照）を配置すると良い。このようにすることにより、液晶素子５０９が画像を表示できる領域は図４に符号４０１で示す線で囲まれた部分（ＶＧＡの場合には横６４０画素×縦４８０画素）でありながら、枠状部材２０２に被覆されずに露出されている領域（つまり、画像を認識できる領域）は符号４０２で示す斜線部分となる。このように枠状部材２０２で隠す画素幅は、画像のシフト幅と同程度（例えば５画素）にすると良い。このような構成にした場合には、画像をシフトさせて表示させたとしても余白部分が認識されてしまうことを防止できる。
【００３８】
次に、本実施の形態に係る液晶表示装置の駆動方法について説明する。
【００３９】
本実施の形態に係る液晶表示装置の駆動方法は、次の工程を有する。
（１）　　アクティブマトリクス型の液晶素子５０９にある欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…）についての情報を取得する工程
（２）　　各欠陥画素の近傍の近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…についての情報を取得する工程
（３）　　前記欠陥画素及び前記近接画素についての情報に基き、欠陥画素が目立たなくなる画像のシフト量を決定する工程
（４）　　該シフト量だけ移動した位置に画像を表示する工程
この場合、前記欠陥画素ｐｋについて取得する情報を色情報Ｇｐｋとし、前記近接画素ｐｋ１，ｐｋ２，…について取得する情報を色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…とし、以下の工程を実施するようにしても良い。
（５）　　前記欠陥画素の色情報Ｇｐｋと前記近接画素についての色情報Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ２，…との差分（Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…）を算出する工程
（６）　　各欠陥画素ｐｋについて影響度Ｅｗｐｋの情報を取得する工程
（７）　　求めた色差分（Ｇｐｋ−Ｇｐｋ１，Ｇｐｋ−Ｇｐｋ２，…）に、前記欠陥画素の影響度Ｅｗｐｋを乗算して画素単位の影響度を算出する工程
（８）　　各欠陥画素に対して同じ位置関係にある近接画素ｐ１ｍ，ｐ２ｍ，ｐ３ｍ，…（但し、ｍ＝１，…）に関して影響度の総和（Ｅｗ１＝Ｅｗｐ１１＋Ｅｗｐ２１＋Ｅｗｐ３１＋…，Ｅｗ２＝Ｅｗｐ１２＋Ｅｗｐ２２＋Ｅｗｐ３２＋…，Ｅｗ３＝Ｅｗｐ１３＋Ｅｗｐ２３＋Ｅｗｐ３３＋…，…）を順次求める工程
（９）　　それらの総和Ｅｗ１，Ｅｗ２，Ｅｗ３，…の内で最小となる場合における位置関係を求める工程
（１０）　影響度の総和が最小となる位置関係にある近接画素ｐｋｍ（但し、ｍは１，２，３，…のうちのいずれか。また、ｋは１，…の全て）が表示する画像上の点が、各欠陥画素ｐｋに一致するようにシフトさせて画像を表示する工程
【００４０】
次に、本実施の形態の効果について説明する。
【００４１】
本実施の形態によれば、適正な量だけシフトして画像表示するため、欠陥画素を目立たなくすることができる。主に静止画を表示するためのアクティブマトリクス型液晶表示装置において、表示画像に対する欠陥画素の影響を低減することができる。
【００４２】
また、上記効果により、欠陥画素が内在する液晶パネルを救済でき、製造歩留まりの向上を可能とし、前記液晶表示装置の安価な提供を実現することができる。
【００４３】
【実施例】
以下、実施例に沿って本発明を更に詳細に説明する。
【００４４】
実施例を記述するに先立ち、いくつか画像データの表記法について定義する。
【００４５】
画像データはドットと呼ばれる最小単位の集合であるのは周知である。以下の実施例では、画像データは１ドットに対して２４ビットの色情報、すなわち、光の三原色（赤・緑・青）に対してそれぞれ８ビットを割り当てる表現手法を用いる。この表現手法を２４ビットカラーと呼び、２４ビットカラーではおよそ１６００万色が表現可能で、写真などの自然画をディジタル化するのに適しており、現在では広く使われている。以下では、１ドットの色情報を［ｒ，ｇ，ｂ］と表す。ｒ，ｇ，ｂはそれぞれ赤、緑、青の値で０〜２５５の値を持つ。
【００４６】
また、色情報［ｒ１，ｇ１，ｂ１］と［ｒ２，ｇ２，ｂ２］を持つ２つのドットの色差ＤをＤ＝｜ｒ１−ｒ２｜＋｜ｇ１−ｇ２｜＋｜ｂ１−ｂ２｜と定義する。ただし、｜・｜は絶対値を表す。
【００４７】
画像データは複数のドットの集合であることから、画像データ上の座標［ｘ，ｙ］に対して色情報［ｒ，ｇ，ｂ］を決定する関数として見なすことができる。そこで、画像データをＧ（ｘ，ｙ）と表す。ただし、その値は色情報を持つ。
【００４８】
（実施例１）
本実施例においては図２及び図３に示す形状の所謂電子式写真立て（電子式フォトフレームとも称される液晶表示装置）を作成した。この液晶表示装置５００は、ディジタル画像データを表示し、銀塩写真の写真立ての様に気軽に鑑賞できるようにすることを目的としたものである。なお、図２は、本発明に係る液晶表示装置の前方からの外観を示す斜視図であり、図３は、本発明に係る液晶表示装置の後方からの外観を示す斜視図である。
【００４９】
符号５０９は、画像を表示するアクティブマトリクス型の液晶パネル（液晶素子）を示す。この液晶パネル５０９はタッチパネルになっていて、操作部も兼ねている。
【００５０】
符号２０２は、各種処理回路が内蔵されたフレーム（枠状部材）を示す。
【００５１】
符号２０３は、タッチパネルとしての液晶パネル５０９に対して使用するスタイラスを示す。
【００５２】
符号２０４は、液晶パネル５０９を“画像表示状態”又は“ＧＵＩによる操作画面表示状態”に切り替えるための操作スイッチを示す。
【００５３】
符号２０５及び３０１は、液晶パネル５０９を横置き状態又は縦置き状態に支持する部材を示す。
【００５４】
符号３０２は、本表示装置に電源を供給するための電源コネクタを示す。
【００５５】
符号３０３はメモリカードスロットであり、画像データを記録したメモリカードを収納する。装着するメモリカードは、半導体素子により構成される不揮発記憶媒体によって構成される、所謂、ソリッドステートメモリーカートリッジであり、具体的には、コンパクトフラッシュ（登録商標）、スマートメディア（登録商標）、マルチメディアカード（登録商標）、メモリースティック（登録商標）などである。また、３０３は、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどを読み取り可能なディスクドライブとしてもよい。
【００５６】
図５は本実施例の液晶表示装置のハードウエア構成を示すものである。
【００５７】
記憶媒体５０１は、本表示装置に装着する記憶媒体で、前記のようにソリッドステートメモリーカートリッジなどである。
【００５８】
記憶媒体５０１には、ディジタルカメラ等によって作成された１つ以上の画像情報が画像データして圧縮された状態で記憶されている。
【００５９】
記憶媒体制御部５０２は、記憶媒体５０１を装着する部分で、記憶媒体５０１とＲＡＭ５０６の間でデータの転送を行う。
【００６０】
ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）５０３は、本表示装置の動作を司るものである。ＣＰＵ５０３は画像表示装置全体の制御に加えて、本発明による画素欠陥低減方法の適用や必要な画像処理、プロトコル処理、ＧＵＩ処理を行うものとする。
【００６１】
操作部５０４には、上述した操作スイッチ２０４やスタイラス２０３による情報が入力され、それらの情報はＣＰＵ５０３に送られるようになっている。
【００６２】
時計ＩＣ５０７は時計デバイスであり、本表示装置の動作を制御するための日付・時間データを管理する。
【００６３】
パネル制御部（画像表示手段）５０８は、フレームバッファと、その制御回路によって構成され、ＣＰＵ５０３によってデコードされた画像データを画像信号に変換するものである。この画像信号に基き液晶パネル５０９は画像を表示する。
【００６４】
５１０は、システムバスである。
【００６５】
一方、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）５０５は、ＣＰＵ５０３に必要な命令やデータを格納するものであり、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙ）５０６は、ＣＰＵ５０３の動作に必要な作業メモリとして使用されるものである。また、これらのＲＯＭ５０５やＲＡＭ５０６は、上述した欠陥画素情報保持手段としても機能し、各欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…）に関しての位置情報ｐｋや色情報Ｇｐｋ及び影響度Ｅｗｐｋの情報を保持している。なお、位置情報ｐｋは座標［ｘ，ｙ］の形で保持し、色情報Ｇｐｋは［ｒ，ｇ，ｂ］の形で保持し、影響度Ｅｗｐｋはスカラー量で保持している。
【００６６】
ところで、ＲＯＭ５０５には工場出荷段階で検出され製造者により登録された情報（欠陥画素についての情報）が記録されており、ＲＡＭ５０６にはユーザが新規情報（欠陥画素についての情報）を登録できるようになっている。以下、ＲＡＭ５０６に情報登録する方法について図６乃至図９を参照して詳細に説明する。なお、情報登録は、黒点の情報登録と、輝点の情報登録とに分けて行う。ここで、図６は、欠陥画素について情報を登録する方法を説明するためのフローチャート図であり、図７は、登録済みの欠陥画素（黒点）が円で表示される様子を示す模式図であり、図８は、未登録の欠陥画素（黒点）を指定する様子を示す模式図であり、図９は、登録済みの欠陥画素（輝点）が円で表示される様子を示す模式図である。
【００６７】
製品使用段階でユーザが欠陥画素情報の更新を行おうとする場合、既に登録されている黒点の位置情報ｐｋ（ｋ＝１，…，ｎ）をＲＯＭ５０５及びＲＡＭ５０６から読み出す（図６のＳ６０１参照）。これにより、既に登録されている黒点を囲むように円が表示される（図７参照）。したがって、円で囲まれていない黒点７０１は未登録の黒点ということになる。
【００６８】
円で囲まれていない黒点（つまり、未登録の黒点）を画面上で見つけた場合には、その黒点を図８に示すようにスタイラス８０１で指定する（Ｓ６０２，Ｓ６０３）。これにより、その黒点の位置情報ｐｎ＋１が登録される。なお、黒色であることから、その色情報Ｇｐｎ＋１は［０，０，０］で登録される。
【００６９】
次に、ユーザは、表示画像に対する黒点の影響度Ｅｗｐｎ＋１を入力する（Ｓ６０４）。影響度は１〜１００の１００段階とし、ユーザは黒点の位置を考慮し入力する。一般に、表示領域の中央付近の黒点は表示画像の品質低下に強く影響するため、大きい影響度が入力されることが期待される。このような操作を行って全ての黒点を登録する（Ｓ６０３，Ｓ６０４，Ｓ６０５）。
【００７０】
次に、輝点についても欠陥画素情報の更新を行う。すなわち、既に登録されている輝点の位置情報ｐｌ（ｌ＝１，…，ｍ）をＲＯＭ５０５及びＲＡＭ５０６から読み出す（図６のＳ６０７参照）。これにより、既に登録されている輝点を囲むように円が表示される（図９参照）。そして、円で囲まれていない輝点（つまり、未登録の輝点）を画面上で見つけた場合には、その輝点をスタイラスで指定する（Ｓ６０９参照）と、その輝点の位置情報ｐｍ＋１が登録される。
【００７１】
次に、ユーザは、その色情報Ｇｐｍ＋１を登録する（Ｓ６１０参照）。例えば、赤色に対応する画素が輝点欠陥を持っていた場合は、赤色の輝点として欠陥を顕在化させるために、色情報は［２５５，０，０］とする。
【００７２】
次に、ユーザは、表示画像に対する輝点の影響度Ｅｗｐｍ＋１を１００段階で入力する（Ｓ６１１参照）。一般に、輝点欠陥は黒点欠陥と比較して表示画像の品質低下に強く影響するため、より大きい影響度が入力されることが期待される。このような操作を行って全ての輝点を登録する（Ｓ６０８〜Ｓ６１２）。
【００７３】
なお、以上のステップで登録された情報は、ＲＡＭ５０６に格納される。ＲＯＭに格納されている影響度（すなわち、出荷時に製造者により登録されている欠陥画素の影響度）は、製造者が選択した適当な値となっている。また、ステップＳ６０３、及び、ステップＳ６０９において欠陥画素を選択する際に、既に登録されている欠陥画素を選択した場合は、影響度、色情報などの情報を変更すると見なし、それぞれステップ６０３、ステップＳ６１０〜Ｓ６１１を実行する。このため、製造者による欠陥画素の影響度が好ましくない場合は、ステップＳ６０３あるいはステップＳ６０９でその欠陥画素を選択すれば良い。
【００７４】
次に、本実施例における液晶表示装置の駆動方法について図１及び図１０を参照して詳細に説明する。ここで、図１は画像を表示する際の動作を表すフローチャート図であり、図１０は、シフト量を決定する様子を示すフローチャート図である。
【００７５】
このフローチャートの実行に先立ち、次に表示する画像データの選択は完了しているとする。
【００７６】
表示する圧縮された画像データは、記憶媒体制御部５０２により記憶媒体５０１から読み出され、ＲＡＭ５０６へ転送される（図１のＳ１０１）。
【００７７】
ＲＡＭ５０６への転送が完了すると、ＣＰＵ５０３により圧縮された画像データを伸長し、表示部で表示するのに適したディジタル画像データとする。同時に、画像サイズが液晶パネル５０９と一致しない場合は場合には、アスペクト比を保持したまま解像度変換処理（縮小または拡大）を行い、必要に応じて余白となる画像部分を付け加える。なお、従来提案されている投影法等の変換方式によって、解像度変換処理される。同時に、画像データの色情報に関しても２４ビットカラー方式に変換する（ステップＳ１０２）。
【００７８】
ステップＳ１０３では、ステップＳ１０２で処理した画像データと、事前に登録した欠陥画素情報を利用し、表示品質に対して欠陥画素の影響が小さくなるシフト量を計算する。その基本的アイデアは、欠陥画素の色（黒点ならば黒、輝点ならば赤・緑・青）と欠陥画素と重なるドットの色が最も近くなるようなシフト量を検索するということである。
【００７９】
つまり、本実施例においては、画像の表示位置を横方向や縦方向に移動できるようになっている。なお、横方向への移動量を横シフト量と称し、縦方向への移動量を縦シフト量と称する。横シフト量は、右方向を正とし左方向を負とし、“ｉ＝−５”とは画像を左方向へ５画素分だけ移動したということを示す。また、縦シフト量は、下方向を正とし上方向を負とし、“ｊ＝−５”とは画像を上方向へ５画素分だけ移動したということを示す。
【００８０】
いま、横シフト量ｉを−５と仮定し（Ｓ１００１）、縦シフト量ｊを−５と仮定する（Ｓ１００２）。そして、登録されている欠陥画素の内、１つの欠陥画素ｐ１の位置情報Ｅｐ１＝［ｘ１，ｙ１］や色情報Ｇｐ１や影響度Ｅｗｐ１の情報をＲＯＭ５０５やＲＡＭ５０６から取得する（Ｓ１００３）。ここで、画像を、現状の表示位置よりも横方向にｉ画素分だけシフトさせ、縦方向にはｊ画素分だけシフトさせて表示しようとする場合、Ｅｐ１＝［ｘ１，ｙ１］の位置にある欠陥画素ｐ１は、［ｘ１−ｉ，ｙ１−ｊ］の位置にある画素（近接画素）が表示すべき情報を表示する必要がある。そこで、まず、
・　位置算出手段５０３５がＥｐ１１＝［ｘ１−ｉ，ｙ１−ｊ］の位置を算出し（Ｓ１００４参照）、
・　その位置にある近接画素が表示しようとしている情報Ｇｐ１１を色情報取得手段５０３１から取得する。この色情報は、画像がシフトされた後に上記欠陥画素が表示すべき色（実際には、欠陥画素の色情報は固定されてしまっていて、表示することはできない色）に関してのものである。
【００８１】
次に、欠陥画素ｐ１の色情報Ｇｐ１と近接画素の色情報Ｇｐ１１とから色の差分Ｇｐ１−Ｇｐ１１を求める。
【００８２】
そして、求めた色差分（Ｇｐ１−Ｇｐ１１）に、前記欠陥画素の影響度Ｅｗｐ１を乗算して画素単位の影響度Ｅｗｐ１１を算出する（ステップＳ１００５）。
【００８３】
このような計算を各欠陥画素ｐｋ（但し、ｋ＝１，…）に対して、同じ位置関係（つまり、各欠陥画素から左方向へ５画素だけシフトし、上方向へ５画素だけシフトした位置関係）にある近接画素ｐ２１，ｐ３１，…に関して行い、それぞれの影響度Ｅｗｐ２１，Ｅｗｐ３１，…を求めたら（Ｓ１００６）、それらの総和、すなわち、
2004070009.tif 000003
を求める（Ｓ１００７）。
【００８４】
次に、横シフト量ｉを−５と仮定したままで（Ｓ１００１）、縦シフト量ｊを−４とし、同様の計算を行う（Ｓ１００２〜Ｓ１００６）。そして、同じ位置関係（つまり、各欠陥画素から左方向へ５画素だけシフトし、上方向へ４画素だけシフトした位置関係）にある近接画素ｐ１２，ｐ２２，ｐ３２，…に関して影響度を求めたら（Ｓ１００６）、それらの総和Ｅｗ２＝Ｅｗｐ１２＋Ｅｗｐ２２＋Ｅｗｐ３２＋…を求める（Ｓ１００７）。このような計算を、ｊ＝−３，−２，−１，０，＋１，＋２，＋３，＋４，＋５について行う（Ｓ１００２〜Ｓ１００８）。
【００８５】
それらが終了すると（Ｓ１００９）、横シフト量を−４〜＋５として、影響度の総和を求める（Ｓ１００１〜Ｓ１００９）．
【００８６】
その後、それらの総和Ｅｗ１，Ｅｗ２，Ｅｗ３，…の内で最小となる場合における位置関係（つまり、ｉ，ｊのシフト量）を求める（図１０のＳ１０１０。図１のＳ１０３）。
【００８７】
そして、該シフト量を用いて画像データを生成する（図１のＳ１０４）。
【００８８】
生成された画像データをパネル制御部（画像表示手段）５０８のフレームバッファに転送して画像信号に変換し、液晶パネル５０９は画像を表示する（Ｓ１０５）。
【００８９】
図１１は、本発明を適用しない場合の表示例を示す模式図であり、図１２は、本発明を適用した場合の表示例を示す模式図である。本発明に係る駆動方法を使用しなかった場合には、符号１２０４，１２０５に示す輝点や符号１２０３に示す黒点が認識されてしまうが、本発明に係る駆動方法を適用した場合には、輝点１２０４，１２０５が雲に隠れ、黒点１２０３が太陽の横線と重なるようにシフトされた画像が表示されるため、欠陥画素が目立たなくなる。
【００９０】
（実施例２）
本実施例が実施例１と異なる点は画素単位影響度算出（図１０のＳ１００５）の手法のみである。したがって、ここでは、該画素単位影響度算出についてのみ説明することとし、実施例１との重複部分についての説明を省略する。
【００９１】
本実施例における画素単位影響度算出は図１３に示すようにして行う。すなわち、まず、近接画素の色情報Ｇｐｋｍ（ｍ＝１，…）＝［ｒ，ｇ，ｂ］と、欠陥画素の色情報Ｇｐｋ＝［ｒ，ｇ，ｂ］を、次の１次変換式を用いて、それぞれ輝度Ｙと色合いＣｂ，Ｃｒに変換する（Ｓ１４０１）。
【００９２】
【数１】
2004070009.tif 000004
【００９３】
人間の目は、色合いの変化と比較して、明るさの変化に敏感であると言うことは周知である。そこで、本実施例では色の差分をステップＳ１４０１で求めた輝度Ｙの差の絶対値とし、この色差分に影響度Ｅｗｐｋを乗算して画素単位の影響度を算出する（Ｓ１４０２）。
【００９４】
本実施例によれば、アクティブマトリクス型の液晶素子を備えた液晶表示装置において、輝度の差が最小となるようなシフト量を選択することとなり、表示画像に対する欠陥画素の影響を低減することができる。
【００９５】
（実施例３）
本実施例が実施例１と異なる点は、欠陥画素の登録操作（図６参照）についてのみである。したがって、ここでは、欠陥画素の登録操作についてのみ説明することとし、実施例１との重複部分についての説明を省略する。
【００９６】
すなわち、本実施例では、欠陥画素を登録するに際し、影響度の登録（図６のＳ６０４，Ｓ６１１）は行わず、欠陥画素の位置により決定される値を利用する。図１４は、欠陥画素の位置と影響度の関係を表すグラフの例である。このグラフは、２次元標準正規分布を各軸に対して−２〜＋２の範囲でプロットし、各軸のインデックスを０〜４８０と０〜６４０に変換したものである。下式は、ｕ、ｖを変数とする２次元標準正規分布φ（ｕ，　ｖ）を示す式であり、
【数２】
2004070009.tif 000005
【００９７】
下式は、座標ｘ　（０≦ｘ≦６４０）、ｙ　（０≦ｙ≦４８０）をｕ、ｖの−２〜＋２の範囲に変換するための式である。
【００９８】
【数３】
2004070009.tif 000006
【００９９】
影響度をこのグラフより決定すると、中央部の欠陥画素の影響度は高く、中央から離れるにしたがい影響度は低下する。
【０１００】
本実施例によれば、欠陥画素の位置により影響度が決定されるため、欠陥画素を登録する際のユーザの負担が減少するのみならず、出荷時に製造者によって出荷時に登録された欠陥画素情報のみを用いても、表示画像に対する欠陥画素の影響を低減することができる。
【０１０１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によると、適正な量だけシフトして画像表示するため、欠陥画素を目立たなくすることができる。つまり、主に静止画を表示するためのアクティブマトリクス型液晶表示装置において、表示画像に対する欠陥画素の影響を低減することができる。
【０１０２】
また、上記効果により、欠陥画素が内在する液晶素子を救済でき、製造歩留まりの向上を可能とし、前記液晶表示装置の安価な提供を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】画像を表示する際の動作を表すフローチャート図。
【図２】本発明に係る液晶表示装置の前方からの外観を示す斜視図。
【図３】本発明に係る液晶表示装置の後方からの外観を示す斜視図。
【図４】液晶パネルの表示領域を説明するための図。
【図５】本実施例の液晶表示装置のハードウエア構成を示すブロック図。
【図６】欠陥画素について情報を登録する方法を説明するためのフローチャート図。
【図７】登録済みの欠陥画素（黒点）が円で表示される様子を示す模式図。
【図８】未登録の欠陥画素（黒点）を指定する様子を示す模式図。
【図９】登録済みの欠陥画素（輝点）が円で表示される様子を示す模式図。
【図１０】シフト量を決定する様子を示すフローチャート図。
【図１１】本発明を適用しない場合の表示例を示す模式図。
【図１２】本発明を適用した場合の表示例を示す模式図。
【図１３】画素単位影響度算出法の他の例を示すフローチャート図。
【図１４】欠陥画素位置に対する影響度を示す図。
【図１５】単純マトリクス駆動型液晶パネルの従来構造を示す斜視図。
【図１６】ＴＮ液晶を用いた単純マトリクス駆動型液晶パネルの従来構造を示す分解斜視図。
【図１７】アクティブマトリクス駆動型液晶パネルの従来構造を示す斜視図。
【図１８】アクティブマトリクス駆動型液晶パネルの従来構造を示す等価回路図。
【図１９】カラーフィルターの構成を説明するための模式図。
【符号の説明】
２０２　　　　フレーム（枠状部材）
５００　　　　液晶表示装置
５０５　　　　ＲＯＭ（欠陥画素情報保持手段）
５０６　　　　ＲＡＭ（欠陥画素情報保持手段）
５０８　　　　パネル制御部（画像表示手段）
５０９　　　　液晶パネル（液晶素子）
５０３１　　　色情報取得手段
５０３２　　　色差分算出手段
５０３３　　　影響度算出手段
５０３４　　　最適シフト量決定手段
５０３５　　　位置算出手段
【図１】
2004070009.tif 000007
【図２】
2004070009.tif 000008
【図３】
2004070009.tif 000009
【図４】
2004070009.tif 000010
【図５】
2004070009.tif 000011
【図６】
2004070009.tif 000012
【図７】
2004070009.tif 000013
【図８】
2004070009.tif 000014
【図９】
2004070009.tif 000015
【図１０】
2004070009.tif 000016
【図１１】
2004070009.tif 000017
【図１２】
2004070009.tif 000018
【図１３】
2004070009.tif 000019
【図１４】
2004070009.tif 000020
【図１５】
2004070009.tif 000021
【図１６】
2004070009.tif 000022
【図１７】
2004070009.tif 000023
【図１８】
2004070009.tif 000024
【図１９】
2004070009.tif 000025