(57)【要約】【課題】スカイブヘミング加工部におけるピンホール欠陥の存在を見逃すことなく確実に検出するためのピンホール欠陥検査装置を提供する。【解決手段】走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部と、その近傍に設けられた検出用放電電極との間に電圧をかける電圧発生手段と、スカイブヘミング加工部と検出用放電電極との間の放電によって流れる電流を検出する電流検出手段と、電流に基づいてスカイブヘミング加工部におけるピンホールの有無を判定する判定手段とを具備するようにしたピンホール欠陥検査装置。【選択図】　図１
2004101412.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部と、その近傍に設けられた検出用放電電極との間に電圧をかける電圧発生手段と、前記スカイブヘミング加工部と前記検出用放電電極との間の放電によって流れる電流を検出する電流検出手段と、前記電流に基づいて前記スカイブヘミング加工部におけるピンホールの有無を判定する判定手段とを具備することを特徴とするピンホール欠陥検査装置。
【請求項２】
請求項１記載のピンホール欠陥検査装置において、前記判定手段は前記電流が所定のしきい値を超えたときにピンホールが有ると判定することを特徴とするピンホール欠陥検査装置。
【請求項３】
請求項１または２記載のピンホール欠陥検査装置において、前記検出用放電電極の上流において前記スカイブヘミング加工部に電荷をチャージする電荷プレチャージ用放電電極を具備することを特徴とするピンホール欠陥検査装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載のピンホール欠陥検査装置において、前記検出用放電電極が設けられている近傍におけるカートンブランク表面に近接し平行する面に配置され、接地された導電板を具備することを特徴とするピンホール欠陥検査装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載のピンホール欠陥検査装置において、前記スカイブヘミング加工部と前記検出用放電電極との水平方向および／または垂直方向の位置を規程するために前記走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部の位置合せをする水平位置合せ手段および／または垂直位置合せ手段を具備することを特徴とするピンホール欠陥検査装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載のピンホール欠陥検査装置において、前記検出用放電電極および／または前記電荷プレチャージ用放電電極の先端部分を除いて絶縁性と透明性を有する材料で覆う電極保護部材を具備することを特徴とするピンホール欠陥検査装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれかに記載のピンホール欠陥検査装置において、前記検査用放電電極の下流側に配置したセンシング開始トリガ発生用の開始センサと、前記検査用放電電極の上流側に配置したセンシング終了トリガ発生用の終了センサとを具備することを特徴とするピンホール欠陥検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はピンホールの有無を検査する技術分野に属する。特に、液体等の容器に加工するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部の外観を検査する装置に関する。
【０００２】
【従来技術】
液体を収容する紙容器（カートンパッケージ）においては、カートン（紙容器の原紙）の表面にはポリエチレンがラミネート加工されており液体の浸透が起きないようになっている。さらに、収容している液体を紫外線等から保護するためにアルミ箔やアルミ蒸着フィルムの中間層が設けられることが多い。このようにしてカートンの表面は保護されるが、カートンの断裁面はそのままでは十分に保護されてはいない。特に、日本酒、ウイスキー等のアルコールを含む浸透性の高い液体を収容する紙容器においては、カートンの断裁面からアルコール分がにじみ出てしまうことを防止する必要性がある。そのために、カートンの断裁面が直接的には溶液に接触しないように、カートンの断裁面を折り込んで紙容器を形成し接合部を保護することが行なわれる（図８参照）。このような保護方法がスカイブヘミング法である。
【０００３】
そのスカイブヘミング法によって加工された部分をスカイブヘミング加工部と呼ぶ。また、多面付けの大判カートンから型抜きされた一面の小切れカートンのことをカートンブランクと呼ぶ。カートンブランクは加工途上の平らな物品であるが、そのスカイブヘミング加工部においては、ピンホール欠陥が存在することがある。ピンホール欠陥は、スカイブヘミング加工部の端面、すなわち折目の外側において発生することが多い。ピンホール欠陥は、その部分から充填した液体が洩れることとなるため欠陥の内でも特に重大な欠陥である。
【０００４】
従来は、スカイブヘミング加工部に対しては目視検査が行なわれている。この目視検査では、「ピンホール欠陥」だけでなく、「やぶれ」「めくれ」等の欠陥も含めてカートンブランクに対する総合的な検査が行われる。目視検査をなくし検査における省力効果を得るためには、目視検査におけるすべての検査項目を自動化する必要性がある。「やぶれ」「めくれ」等の欠陥を検査する装置については、本発明者による既出願が存在する（特願２００２−０３４９１４、特願２００２−０３４９１４）。なお、スカイブヘミング加工部に対して適用した例ではないが、「ピンホール欠陥」を検査する検査装置について、放電電極から放電される電流に基づいて検査する方式のものが公知となっている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００１−１２２２４４号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
このように、スカイブヘミング加工部のピンホール欠陥に対しては従来より目視検査が行なわれているが、人間が行なう以上、どんなに注意していても欠陥の見逃しを避けることができない。そのため、ピンホール欠陥の存在する不良製品が流出してしまい、液体を充填してから発見されるという事故が、たびたび発生するという問題がある。
【０００７】
本発明はこのような課題を解決するためになされたものである。その目的は、スカイブヘミング加工部におけるピンホール欠陥の存在を見逃すことなく確実に検出するためのピンホール欠陥検査装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題は下記の本発明によって解決される。すなわち、
本発明の請求項１に係るピンホール欠陥検査装置は、走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部と、その近傍に設けられた検出用放電電極との間に電圧をかける電圧発生手段と、前記スカイブヘミング加工部と前記検出用放電電極との間の放電によって流れる電流を検出する電流検出手段と、前記電流に基づいて前記スカイブヘミング加工部におけるピンホールの有無を判定する判定手段とを具備するようにしたものである。
【０００９】
本発明によれば、電圧発生手段により走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部と、その近傍に設けられた検出用放電電極との間に電圧がかけられ、電流検出手段によりスカイブヘミング加工部と検出用放電電極との間の放電によって流れる電流が検出される。一般的に、ピンホール欠陥が存在すると、放電によって流れる電流は大幅に増加する。特に、ポリエチレン等の絶縁性を有する材料のピンホールによってアルミ箔等の導電性を有する材料が露出すると放電によって流れる電流は大幅に増加する。すなわち、その電流に基づいて判定手段によりスカイブヘミング加工部におけるピンホールの有無が判定される。したがって、スカイブヘミング加工部におけるピンホール欠陥の存在を見逃すことなく確実に検出するためのピンホール欠陥検査装置が提供される。
【００１０】
また本発明の請求項２に係るピンホール欠陥検査装置は、請求項１に係るピンホール欠陥検査装置において、前記判定手段は前記電流が所定のしきい値を超えたときにピンホールが有ると判定するようにしたものである。本発明によれば、検出される電流が所定のしきい値を超えるとピンホールが有ると判定される。
【００１１】
また本発明の請求項３に係るピンホール欠陥検査装置は、請求項１または２に係るピンホール欠陥検査装置において、前記検出用放電電極の上流において前記スカイブヘミング加工部に電荷をチャージする電荷プレチャージ用放電電極を具備するようにしたものである。本発明によれば、電荷プレチャージ用放電電極により検出用放電電極の上流においてスカイブヘミング加工部に電荷がチャージされる。これによりスカイブヘミング加工部にピンホール欠陥が存在しないときにスカイブヘミング加工部と検出用放電電極との間の放電によって流れる電流が低減される。したがって、ピンホール欠陥による電流の変化比率が高まり検出感度が高まる。
【００１２】
また本発明の請求項４に係るピンホール欠陥検査装置は、請求項１〜３のいずれかに係るピンホール欠陥検査装置において、前記検出用放電電極が設けられている近傍におけるカートンブランク表面に近接し平行する面に配置され、接地された導電板を具備するようにしたものである。本発明によれば、カートンブランクと導伝板との間でキャパシターを形成し、その容量結合によりカートンブランクは導伝板を介して接地される。この容量結合はカートンブランクの走行状態の影響を受け難いから、接地が確実に行なわれるとともにピンホール欠陥の検出性能が安定する。
【００１３】
また本発明の請求項５に係るピンホール欠陥検査装置は、請求項１〜４のいずれかに係るピンホール欠陥検査装置において、前記スカイブヘミング加工部と前記検出用放電電極との水平方向および／または垂直方向の位置を規程するために前記走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部の位置合せをする水平位置合せ手段および／または垂直位置合せ手段を具備するようにしたものである。本発明によれば、水平位置合せ手段および／または垂直位置合せ手段によりスカイブヘミング加工部と検出用放電電極との水平方向および／または垂直方向の位置が規程されるから、ピンホール欠陥の検出性能が安定する。
【００１４】
また本発明の請求項６に係るピンホール欠陥検査装置は、請求項１〜５のいずれかに係るピンホール欠陥検査装置において、前記検出用放電電極および／または前記電荷プレチャージ用放電電極の先端部分を除いて絶縁性と透明性を有する材料で覆う電極保護部材を具備するようにしたものである。本発明によれば、絶縁性と透明性を有する材料で覆う電極保護部材により検出用放電電極および／または電荷プレチャージ用放電電極の先端部分を除いて絶縁性と透明性を有する材料で覆われる。したがって、電極保護部材の絶縁性によりピンホール欠陥を検出する対象であるスカイブヘミング加工部以外の部分に放電が起き検出性能に悪影響することがなく、また電極保護部材の透明性により検出用放電電極の周辺の状況が視認できなくなることがない。
【００１５】
また本発明の請求項７に係るピンホール欠陥検査装置は、請求項１に係るピンホール欠陥検査装置において前記検査用放電電極の下流側に配置したセンシング開始トリガ発生用の開始センサと、前記検査用放電電極の上流側に配置したセンシング終了トリガ発生用の終了センサとを具備するようにしたものである。本発明によれば、開始センサと終了センサにより適正な検査区間を設定することができるから、スカイブヘミング加工部の断裁側端面における放電によって誤判定することがなくなる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
次に、本発明について実施の形態を説明する。本発明のピンホール欠陥検査装置の構成について図１、図２を参照して説明する。図１、図２において、１０は搬送部、２０はセンシング部、３０は処理部、４０は排出部、１００ａ，１００ｂ，１００ｃ（１００ａ・・・）はカートンブランクである。また、矢印Ａ→はスカイブヘミング加工部から本発明のピンホール欠陥検査装置にカートンブランク１００ａ・・・が供給される経路を示し、矢印Ｂ→は本発明のピンホール欠陥検査装置から排出部４０にカートンブランク１００ａ・・・が排出される経路を示している。
【００１７】
搬送部１０は、ピンホール欠陥検査装置への供給と排出のために、カートンブランク１００ａ・・・を搬送する搬送手段である。また搬送部１０は、搬送を行うことによりセンシング部２０において、カートンブランク１００ａ・・・におけるスカイブヘミング加工部の全域において検査が行なわれるようにする走査手段でもある。また搬送部１０は、センシング部２０における所定の検査位置にスカイブヘミング加工部が正確に来るように位置合せする位置合せ手段でもある。
【００１８】
搬送部１０において、１１はサイドレイレジスタ、１２ａ，１２ｂは搬送ベルト、１３ａ，１３ｂはローラ、１４ａ，１４ｂはニップローラである。
サイドレイレジスタ１１は、ピンホール欠陥検査装置において、カートンブランク１００ａ・・・におけるスカイブヘミング加工部とセンシング部２０との水平方向の位置を規程するために走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部の位置合せをする水平位置合せ手段である。センシング部２０には電荷プレチャージ用放電電極２２、検出用放電電極２３、光電センサ２４ａ，２４ｂ、等が固定設置されているから（図２、図４、図５参照）、当然ながらそれらとの水平方向の位置が規程される。
【００１９】
サイドレイレジスタ１１は、図１に示す一例においては、カートンブランク１００ａ・・・をそのスカイブヘミング加工部の近辺で挟持する一対のコロの複数対を有する。走行するカートンブランク１００ａ・・・に対して、これら複数対のコロによって水平方向の動き与える。またサイドレイレジスタ１１は、スカイブヘミング加工部を水平方向の位置において規定するベルトコンベヤとを有する。このベルトコンベヤによって、規程する位置で、ベルトコンベヤに向かう水平方向の動きを止める。
なお、本発明のピンホール欠陥検査装置においては、サイドレイレジスタ１１としてはこの一例に限定されず、周知の方法を適用することができる。
【００２０】
搬送ベルト１２ａは、センシング部２０の上流においてカートンブランク１００ａ・・・を載せて走行させるベルトコンベヤのベルトである。ローラ１３ａは、その搬送ベルト１２ａのセンシング部２０側の境界に設けられ、搬送ベルト１２ａの走行を反転させるローラである。
搬送ベルト１２ｂは、センシング部２０の下流においてカートンブランク１００ａ・・・を載せて走行させるベルトコンベヤのベルトである。ローラ１３ｂは、その搬送ベルト１２ｂのセンシング部２０側の境界に設けられ、搬送ベルト１２ｂの走行を反転させるローラである。
【００２１】
ニップローラ１４ａは、搬送ベルト１２ａに対してカートンブランク１００ａ・・・を押圧するローラである。ニップローラ１４ａは、搬送ベルト１２ａを介してローラ１３ａの真上に設けられる。ニップローラ１４ａは垂直方向に動くことができ押圧する力を作用させる押圧ローラである。またローラ１３ａは垂直方向の動きを止められ位置を規程する固定ローラである。ニップローラ１４ａは、ローラ１３ａとの一対でカートンブランク１００ａ・・・の垂直方向の位置を規程するために位置合せをする垂直位置合せ手段を構成する。
【００２２】
同様に、ニップローラ１４ｂは、搬送ベルト１２ｂに対して１００ａ・・・を押圧するローラである。ニップローラ１４ｂは、搬送ベルト１２ｂを介してローラ１３ｂの真上に設けられる。ニップローラ１４ｂは垂直方向に動くことができ押圧する力を作用させる押圧ローラである。またローラ１３ｂは垂直方向の動きを止められ位置を規程する固定ローラである。ニップローラ１４ｂは、ローラ１３ｂとの一対でカートンブランク１００ａ・・・の垂直方向の位置を規程するために位置合せをする垂直位置合せ手段を構成する。
なお、本発明のピンホール欠陥検査装置においては、垂直位置合せ手段としてはこの一例に限定されず、周知の方法を適用することができる。
【００２３】
センシング部２０は、ピンホール欠陥検査装置において、スカイブヘミング加工部に存在するピンホール欠陥を検出するセンサの役割を果たす部分である。センシング部２０については、図１、図２とともに、図３、図４を参照して説明する。図３はセンシング部２０の構成を示す斜視図である。図４はセンシング部２０における放電電極と光電センサの配置を示す正面図（Ａ）と側面図（Ｂ）である。それらの図において、２１は電極保護部材、２２は電荷プレチャージ用放電電極、２３は検査用放電電極、２４ａ，２４ｂは光電センサ、２５は導伝板、２６は接地（アース）である。
【００２４】
電極保護部材２１は、先端部分を除いて検出用放電電極２３と電荷プレチャージ用放電電極２２を覆う絶縁性と透明性を有する材料から成る部材である。電極保護部材２１の材料によって本発明は限定されないが、たとえば、ポリエチレン等の高分子材料を使用することができる。電極保護部材２１の絶縁性によりピンホール欠陥を検出する対象であるスカイブヘミング加工部以外の部分に放電が起きないようにすることができる。すなわち、検出性能に対する悪影響がなくなる。また電極保護部材２１の透明性により電極保護部材２１を覆っても放電電極の周辺の状況が視認できる。たとえば、放電電極の近くに紙粉が積もると紙粉に放電する等により検出性能に悪影響するが、それを回避することができる。
【００２５】
センシング部２０のフレームは所定の形状と機械的な強度だけでなく放電電極や光電センサ間における電気的な絶縁を確保する必要性がある。電極保護部材２１も同様の性質を必要とされるから、図に示すように、電極保護部材２１をセンシング部２０フレームと一体とする構成とすることができる。
【００２６】
電極保護部材２１を含むセンシング部２０において、電荷プレチャージ用放電電極２２、光電センサ２４ｂ、検査用放電電極２３、光電センサ２４ａは、上流からその順番に配置されている（図３、図４参照）。
電荷プレチャージ用放電電極２２は、検出用放電電極２３の上流においてスカイブヘミング加工部に電荷をチャージする。これによりスカイブヘミング加工部にピンホール欠陥が存在しないときにスカイブヘミング加工部と検出用放電電極２３との間の放電によって流れる電流が低減される。したがって、ピンホール欠陥による電流の変化比率が高まり検出感度が高まる。
【００２７】
検出用放電電極２３は、走行するスカイブヘミング加工部との間で放電を起こし、その放電によって流れる電流に基づいてピンホール欠陥の有無を検出するための電極である。この放電を起こすために、検出用放電電極２３は、スカイブヘミング加工部の近傍に設けられる。また、検出用放電電極２３とスカイブヘミング加工部との間には高圧発生器３１によって、高電圧がかけられている。
【００２８】
光電センサ２４ａは、検査用放電電極２３の上流側に配置したセンシング終了トリガ発生用の終了センサである。また、光電センサ２４ｂは、検査用放電電極２３の下流側に配置したセンシング開始トリガ発生用の開始センサである。走行するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部の先頭の断裁側端面を光電センサ２４ｂ（開始センサ）によって検出し、センシング開始トリガを発生させる。そのトリガにより処理部３０はピンホール欠陥の有無を判定する処理を開始する。このセンシング開始トリガを発生のときには検査用放電電極２３は先頭の断裁側端面より内側のスカイブヘミング加工部に放電を行なっている。
【００２９】
カートンブランクがさらに走行すると、光電センサ２４ａ（終了センサ）によってスカイブヘミング加工部の後尾の断裁側端面が検出され、センシング終了トリガを発生させる。そのトリガにより処理部３０はピンホール欠陥の有無を判定する処理を終了する。このセンシング終了トリガを発生のときには検査用放電電極２３は後尾の断裁側端面より内側のスカイブヘミング加工部に放電を行なっている。このように、開始センサと終了センサにより適正な検査区間を設定することができる。したがって、スカイブヘミング加工部の断裁側端面における放電によって誤判定することを無くすことができる。
【００３０】
導伝板２５は、検出用放電電極２３が設けられている近傍におけるカートンブランク表面に近接し平行する面に配置された導伝板である。また導伝板２５は、接地（アース）２６によって（グランド電位に）接地が行なわれている。導伝板２５は、カートンブランクとの間でキャパシターを形成し、その容量結合によりカートンブランクは導伝板を介して接地される。この容量結合はカートンブランクの走行状態の影響を受け難いから、接地が確実に行なわれるとともにピンホール欠陥の検出性能が安定する。
【００３１】
上述の電荷プレチャージ用放電電極２２、検出用放電電極２３、導伝板２５、等における放電動作について図２、図５を参照して説明する。図５は、放電電極がスカイブヘミング加工部との間で放電を起こす構成の説明図である。電荷プレチャージ用放電電極２２は、電流制限抵抗３２ｂ、高電圧発生器３１と直列に接続されている。検出用放電電極２３は、電流計３３、電流制限抵抗３２ａ、高電圧発生器３１と直列に接続されている。高電圧発生器３１の一方の端子は数ｋＶ〜十数ｋＶの高電圧を発生し放電電極に電圧をかける。また、他方の端子は接地されている。電流計３３の有無は放電電流を計測するか否かの相違であり、放電を起こす構成とその動作においては両者は相違しない。
【００３２】
カートンブランクは、図５、図８に示すように、ポリエチレン、紙、アルミ箔、ポリエチレンを、その順番に積層した構成を有する。アルミ箔は良好な導電性を有する金属であるから、アルミ箔を接地することにより放電電流は流れ易くなる。アルミ箔に直接接触させて電気的な導通を得るように構成することもできるが（図５の破線を参照）、カートンブランクが走行しているから接触状態が不安定である。アルミ箔と容量結合する導伝板２５により電気的な導通を安定化することができる。
【００３３】
放電電極は、カートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部に近接して、スカイブヘミング加工部に向かう針状先端を有しているから、放電は放電電極とスカイブヘミング加工部との間で起きる。このときスカイブヘミング加工部がポリエチレンで覆われていて、電気的な絶縁性が高いときにはポリエチレンの表面に電荷が蓄積され電位が高まるため放電が制限される。電荷プレチャージ用放電電極２２は、検出用放電電極の上流において、そのような放電が制限される状態を積極的に作り出すための電極である。
【００３４】
一方、スカイブヘミング加工部にピンホール欠陥が存在しポリエチレンによる絶縁被覆が不完全なときには、ポリエチレンの表面に放電した電荷はアルミ箔を通じて流れ出すため蓄積され難い。また、アルミ箔に直接放電した電荷は蓄積されることなく流れ出す。流れ出した電荷は、アルミ箔と導伝板２５によって構成されるキャパシターを充電することとなる。そのためスカイブヘミング加工部の電位は簡単には高まらない。すなわち、ピンホール欠陥が存在するときには放電が制限されることがなく強い放電が継続する。
【００３５】
センシング部２０における上述の放電動作について、図６を参照してさらに説明する。図６はセンシング部２０における放電電流（放電による電荷の流れ）の経路を示す図である。図６における前述までの図と対応する部分には同一番号を付してある。カートンブランク１００は、図６に示す矢印→の方向に走行している。その走行方向を考慮すると、時間をさかのぼるとカートンブランク１００の先頭の断裁側端面は電荷プレチャージ用放電電極２２の上流にあって、時間の経過とともに、その先頭の断裁側端面は電荷プレチャージ用放電電極２２の横を通過し、検出用放電電極２３の横を通過し、除電手段の横を通過して図６に示す位置となったものである。
【００３６】
したがって、カートンブランク１００におけるスカイブヘミング加工部は、除電手段によって除去された部位を除いて、先頭の断裁側端面から電荷プレチャージ用放電電極２２の横までは電荷が蓄積されることとなる。勿論、この電荷は、電荷プレチャージ用放電電極２２と検出用放電電極２３によって放電が行なわれて生じたものである。
【００３７】
図６においては、スカイブヘミング加工部に存在するピンホール欠陥と、検出用放電電極２３の先端との位置が一致している状態が示されている。したがって、検出用放電電極２３の放電により生じた電荷はアルミ箔を通じて流れ出し、アルミ箔と導伝板２５によって構成されるキャパシターを充電する。キャパシターの一方の電極であるアルミ箔に正の電荷が蓄積されると、キャパシターの他方の電極である導伝板２５にはアルミ箔に蓄積した正の電荷と対となる負の電荷が生じる。導伝板２５は接地２６によって接地されているから、導伝板２５に負の電荷が生じることにより正の電荷が接地２６に流れ出す。
【００３８】
処理部３０は、図２に示すように、すでに説明した高電圧発生器３１、電流制限抵抗３２ａ，３２ｂ、電流計３３とともに、ＡＤ変換器３４、コンピュータ３５から構成される。
ＡＤ変換器３４は、電流計３３が出力するアナログ信号の電流（電流値）を入力しディジタル信号の電流（電流値）に変換して出力する。
【００３９】
コンピュータ３５は、ＡＤ変換器３４が出力する電流を入力し、その電流に基づいてカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部におけるピンホールの有無を判定する判定手段としての処理を行う。ピンホールの有無の判定は、たとえば、所定のしきい値を設定して、電流がそのしきい値を超えるときにピンホール欠陥が存在すると判定する。また、電流がそのしきい値の範囲内であるときにはピンホール欠陥が存在しないと判定する。
【００４０】
また、図２に示すように、コンピュータ３５は、光電センサ２４ａ，２４ｂが出力する信号を入力する。すでに説明したように、光電センサ２４ｂは検査用放電電極の下流側に配置したセンシング開始トリガ発生用の開始センサであり、光電センサ２４ａは検査用放電電極の上流側に配置したセンシング終了トリガ発生用の終了センサである。コンピュータ３５は、それらのトリガ信号を入力して、所定の適正な検査区間を設定する。すなわち、その検査区間の電流だけに基づいてピンホールの有無を判定する処理を行う。これにより、スカイブヘミング加工部の断裁側端面における放電によって誤判定することがなくなる。
【００４１】
処理部３０の動作について図７を参照して説明する。図７は処理部３０の動作の過程を示すフロー図である。動作の過程は基本的に２つの過程から構成される。この２つの過程は、ピンホール欠陥検査装置による検査が行なわれている間は、持続的に繰り返される。
まず、図７のステップＳ１において、コンピュータ３５は所定の適正な検査区間において検出した電流であるか否かを判定する、所定の適正な検査区間において検出した電流である場合にはステップＳ２に進む。
次に、ステップＳ２において、電流値と所定のしきい値とを比較する。電流値が所定のしきい値の範囲内であるときにはピンホール欠陥は存在しないと判定する。一方、電流値が所定のしきい値を超えるときにピンホール欠陥が存在すると判定する。
【００４２】
排出部４０は、図２に示すように、センシング部２０の下流に設けられる。排出部４０は、処理部３０がピンホール欠陥の有無を判定して出力する判定信号に基づいて不良品と良品とを選別して排出する排出手段である。排出部４０は、ピンホール欠陥が存在するとの判定信号を入力すると、搬送ベルト１２ｂによって搬送されるカートンブランク１００ｃを不良品を貯蔵する場所に排出する。排出部４０は、ピンホール欠陥が存在しないとの判定信号を入力すると、搬送ベルト１２ｂによって搬送されるカートンブランク１００ｃを良品を貯蔵する場所、またはインライン接続された後加工ラインに排出する。
【００４３】
【発明の効果】
以上のとおりであるから、本発明の請求項１に係るピンホール欠陥検査装置によれば、スカイブヘミング加工部におけるピンホール欠陥の存在を見逃すことなく確実に検出するためのピンホール欠陥検査装置が提供される。
また本発明の請求項２に係るピンホール欠陥検査装置によれば、検出される電流が所定のしきい値を超えることによてピンホールが有るとの判定が行なわれる。
また本発明の請求項３に係るピンホール欠陥検査装置によれば、スカイブヘミング加工部にピンホール欠陥が存在しないときにスカイブヘミング加工部と検出用放電電極との間の放電によって流れる電流が低減される。したがって、ピンホール欠陥による電流の変化比率が高まり検出感度が高まる。
また本発明の請求項４に係るピンホール欠陥検査装置によれば、容量結合によりカートンブランクは導伝板を介して接地される。この容量結合はカートンブランクの走行状態の影響を受け難いから、接地が確実に行なわれるとともにピンホール欠陥の検出性能が安定する。
また本発明の請求項５に係るピンホール欠陥検査装置によれば、スカイブヘミング加工部と検出用放電電極との水平方向および／または垂直方向の位置が規程されるから、ピンホール欠陥の検出性能が安定する。
また本発明の請求項６に係るピンホール欠陥検査装置によれば、電極保護部材の絶縁性によりピンホール欠陥を検出する対象であるスカイブヘミング加工部以外の部分に放電が起き検出性能に悪影響することがなく、また電極保護部材の透明性によって検出用放電電極の周辺の状況が視認できなくなることがない。
また本発明の請求項７に係るピンホール欠陥検査装置によれば、開始センサと終了センサにより適正な検査区間を設定することができるから、スカイブヘミング加工部の断裁側端面における放電によって誤判定することがなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のピンホール欠陥検査装置の構成（搬送・センシング機構）の一例について示す図である。
【図２】本発明のピンホール欠陥検査装置の構成（センシング・判定機構）の一例について示す図である。
【図３】センシング部の構成を示す斜視図である。
【図４】センシング部における放電電極と光電センサの配置を示す正面図（Ａ）と側面図（Ｂ）である。
【図５】放電電極がスカイブヘミング加工部との間で放電を起こす構成の説明図である。
【図６】センシング部における放電電流（放電による電荷の流れ）の経路を示す図である。
【図７】処理部の動作の過程を示すフロー図である。
【図８】アルミ箔層を有するカートンブランクにおけるスカイブヘミング加工部へ放電電極による放電が起きる機構の説明図である。
【符号の説明】
１０は搬送部
１１　サイドレイレジスタ
１２ａ，１２ｂ　搬送ベルト
１３ａ，１３ｂ　ローラ
１４ａ，１４ｂ　ニップローラ
２０　センシング部
２１　電極保護部材
２２　電荷プレチャージ用放電電極
２３　検査用放電電極
２４ａ，２４ｂ　光電センサ
２５　導伝板
２６　接地
３０　処理部
４０　排出部
１００ａ，１００ｂ，１００ｃ（１００ａ・・・）　カートンブランク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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