(57)【要約】      （修正有）【課題】ＴＦＴ−ＬＣＤなどの画像表示装置の検査において、検査効率を向上でき、検査の信頼性を向上させる。【解決手段】一方のサンプル／ホールド回路１２に駆動信号を書き込む際に書き込み電位を測定し、書き込まれた駆動信号を画素回路１１に供給し駆動させ、駆動する画素回路１１と直接接続回路１５とを接続し、駆動する画素回路１１からの駆動信号を出力する。この際に、書き込み電位と読み出し電位とを測定し検査する。直接接続回路１５は画像表示装置に設けられ、直接に駆動する画素回路１１の電位を測定できるため、検査効率を向上でき、検査の信頼性を向上できる。【選択図】          図４
2004301918.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部接続端子と、駆動信号に応じた表示を行う画素回路と、を含み、上記外部接続端子を介して入力した駆動信号により上記画素回路を駆動可能で、上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から出力可能な画像表示装置の検査装置であって、
上記画像表示装置を載置する載置台と、
上記載置台に載置された上記画像表示装置の上記外部接続端子と当接可能に形成された接続端子部と、
前記当接状態にある上記接続端子部および上記外部接続端子を介して上記画像表示装置に上記駆動信号を転送し、上記画素回路に表示動作を行わせ、当該転送した駆動信号の状態を検査可能な検査手段と、
を有する画像表示装置の検査装置。
【請求項２】
上記画像表示装置は、上記外部接続端子から供給される上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から直接出力させる出力手段を有する
請求項１に記載の画像表示装置の検査装置。
【請求項３】
上記画像表示装置は、上記外部接続端子から供給された上記駆動信号を書き込み、上記書き込んだ駆動信号に基づいて上記画素回路を駆動する書き込み手段を含む
請求項２に記載の画像表示装置の検査装置。
【請求項４】
上記画像表示装置は、
上記外部接続端子から供給された上記駆動信号を書き込み、上記書き込んだ駆動信号に基づいて上記画素回路を駆動する第１および第２の書き込み手段と、
上記外部接続端子から供給される上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から直接出力させる出力手段と、を含み、
上記第１および第２の書き込み手段は、一方の書き込み手段が上記外部接続端子による駆動信号を書き込んでいるときに、他方の書き込み手段は書き込んだ駆動信号を上記画素回路に供給する
請求項２に記載の画像表示装置の検査装置。
【請求項５】
上記画像表示装置は、第１のモード時には、上記第１および第２の書き込み手段による駆動信号の書き込みと上記書き込まれた駆動信号の上記画素回路への供給との動作を行って上記画素回路に表示動作を行わせ、
第２モード時には、上記第１の書き込み手段への駆動信号の書き込みと上記画素回路への上記書き込まれた駆動信号の供給を行い、かつ、上記出力手段を介して上記画素回路に供給された駆動信号を上記外部接続端子を介して直接接続させる
請求項４に記載の画像表示装置の検査装置。
【請求項６】
上記第２のモード時には、上記検査手段は、上記外部接続端子と上記接続端子部とを介して上記出力手段から出力された駆動信号を検査する
請求項５に記載の画像表示装置の検査装置。
【請求項７】
上記画像表示装置は、マトリクス状に配置された複数の上記画素回路を有し、上記検査手段は上記接続端子部および上記外部接続端子を介してラスタ駆動信号を上記画像表示装置に転送し、ラスタ表示させる
請求項１に記載の画像表示装置の検査装置。
【請求項８】
上記画像表示装置は、上記外部接続端子から供給された上記ラスタ駆動信号を制御するラスタ駆動信号制御手段を含む
請求項７に記載の画像表示装置の検査装置。
【請求項９】
外部接続端子と、駆動信号に応じた表示を行う画素回路と、を含み、上記外部接続端子を介して入力した駆動信号により上記画素回路を駆動可能で、上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から出力可能な画像表示装置の検査方法であって、
上記画像表示装置を載置し、
上記載置された上記画像表示装置の上記外部接続端子と当接し、
前記当接状態にある上記外部接続端子を介して上記画像表示装置に上記駆動信号を転送し、上記画素回路に表示動作を行わせ、当該転送した駆動信号の状態を検査する
画像表示装置の検査方法。
【請求項１０】
外部接続端子と、駆動信号に応じた表示を行う画素回路と、を含み、上記外部接続端子を介して入力した駆動信号により上記画素回路を駆動可能で、上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から出力可能な画像表示装置であって、
上記外部接続端子から供給される上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から直接出力させる出力手段を有する
画像表示装置。
【請求項１１】
上記画像表示装置は、上記外部接続端子から供給された上記駆動信号を書き込み、上記書き込んだ駆動信号に基づいて上記画素回路を駆動する書き込み手段を含む
請求項１０に記載の画像表示装置。
【請求項１２】
外部接続端子と、駆動信号に応じた表示を行う画素回路と、を含み、上記外部接続端子を介して入力した駆動信号により上記画素回路を駆動可能で、上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から出力可能な画像表示装置であって、
上記画像表示装置をラスタ表示させるために上記外部接続端子から供給される上記画素回路へのラスタ駆動信号を制御するラスタ駆動信号制御手段を有する
画像表示装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は画像表示装置用検査装置、および検査方法、およびその画像表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、画像表示装置は、薄型、軽量、小型化などを求める要請により、ＣＲＴからフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）へ移行し、ＦＤＰへの移行のスピードはますます加速している。ＦＰＤは、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）、有機ＥＬディスプレイ（ＯＥＬＤ）、プラズマディスプレイ（ＰＤＰ）、フィールドエミッション・エミッション・ディスプレイ（ＦＥＤ）などがあり、視認性を向上するために高精細化され、単位面積当たりの画像表示素子の数は増加している。
【０００３】
代表的なＦＰＤのＬＣＤであって、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）を用いて駆動するＴＦＴ−ＬＣＤは、ガラス基板母材にＴＦＴを配置しＴＦＴアレイ基板を形成するＴＦＴアレイ基板形成工程と、ＴＦＴアレイ基板と対向するカラーフィルター基板との間に液晶材を封じ込み液晶セルを形成しパネル基板とするパネル基板形成工程と、パネル基板を制御するための駆動回路や光源となるバックライトなどを取り付けるモジュール工程などを経て製造される。
【０００４】
自発光型でありＬＣＤより応答速度が優れるなどの特徴を有するＯＥＬＤは、ＬＣＤの製造技術を転用して製造でき、特に、ＴＦＴアレイ基板形成工程における製造技術などが多く利用される。
【０００５】
ＴＦＴアレイ基板の製造工程においては、次工程へ欠陥がある不良品を流すことによって製造効率を損なうことを防止するため、さまざまな検査が実施されている。
【０００６】
たとえば、基板の欠陥として、駆動信号を送る配線の断線などや、ＴＦＴの開放や短絡などがあり、このような欠陥を検査するために、従来は、画像表示素子ごとにコンタクトピンなどを接触させて実施していた。しかしながら、コンタクトピンなどを正確に接触させることは容易ではなく、検査効率が低いなどの問題があった。
【０００７】
また、従来より、カメラや目視による点灯検査が実施されている。点灯検査は、画像表示素子をラスタ表示させるドライバーＩＣを圧着して接続して実施していた。このため、点灯検査によって欠陥を発見した場合、圧着したドライバーＩＣが無駄になるなどの問題があった。
【０００８】
このような問題に対応するため、さまざまな方法が提案されている（たとえば、特許文献１，特許文献２，特許文献３参照）。
【０００９】
【特許文献１】
特開平７−２８７２４９号公報（ｐ３〜５、図１など）
【特許文献２】
特開平９−１３８４２２号公報（ｐ３〜４、図１など）
【特許文献３】
特開平１０−６２４５１号公報（ｐ３〜５、図１など）
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ＴＦＴ−ＬＣＤなどは視認性を向上するために高精細化され、十分に検査効率を向上させることが困難であった。また、高精細化に伴い、各画像表示素子の間のピッチは狭くなったため、コンタクトピンを微細化しなければならず、検査の信頼性に対して十分な検査の信頼性を得ることが困難であった。また、ドライバーＩＣを搭載したフレキシブル基板の端部にコンタクトピンを設けることなどが提案されたが、高精細化に伴い、上記と同様に十分な効果を得ることができなかった。
【００１１】
したがって、本発明は、検査効率を向上でき、検査の信頼性を向上できる画像表示装置およびその画像表示装置用検査装置およびその検査方法を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明は、外部接続端子と、駆動信号に応じた表示を行う画素回路と、を含み、上記外部接続端子を介して入力した駆動信号により上記画素回路を駆動可能で、上記画素回路への駆動信号を上記外部接続端子から出力可能な画像表示装置の検査装置であって、上記画像表示装置を載置する載置台と、上記載置台に載置された上記画像表示装置の上記外部接続端子と当接可能に形成された接続端子部と、前記当接状態にある上記接続端子部および上記外部接続端子を介して上記画像表示装置に上記駆動信号を転送し、上記画素回路に表示動作を行わせ、当該転送した駆動信号の状態を検査可能な検査手段と、を有する画像表示装置の検査装置およびその検査方法、および画像表示装置である。
【００１３】
本発明によれば、載置された画像表示装置の外部接続端子と当接し、当接状態にある外部接続端子を介して画像表示装置に駆動信号を転送し、画素回路に表示動作を行わせ、転送した駆動信号の状態を検査する。画像表示装置は、駆動信号を外部接続端子から出力可能であるため、検査が容易であり、画像表示装置が高精細化しても、検査の信頼性を向上できる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について添付図面を参照して説明する。
【００１５】
＜実施形態１＞
図１は、本発明の実施形態１に係る画像表示装置の検査装置の平面図である。本実施形態の画像表示装置の検査装置は、載置台１００と、接続端子部１１１と、検査手段とを有する。
【００１６】
本実施形態の画像表示装置の検査装置は、図２から図４に示すような、外部接続端子２と、駆動信号に応じた表示を行う画素回路１１と、を含み、外部接続端子２を介して入力した駆動信号により画素回路１１を駆動可能で、画素回路１１への駆動信号を外部接続端子２から出力可能な画像表示装置である被測定パネル１について検査する。被測定パネル１は、ＴＦＴ−ＬＣＤであり、画像表示素子１０がマトリクス状に配置され、それぞれの画像表示素子１０に画素回路１１であるＴＦＴが設けられる。
【００１７】
載置台１１０は、被測定パネル１を載置する平坦な面を有する。接続端子部１１１は、載置台１１０の平坦な面に載置された被測定パネル１の外部接続端子２と当接可能とするように形成される。
【００１８】
検査手段は、当接状態にある接続端子部１１１および外部接続端子２を介して被測定パネル１に駆動信号を転送し、画素回路１１に表示動作を行わせ、転送した駆動信号の状態を検査可能とする。検査手段は、信号制御回路１１２と、電源装置１１３と、信号発生装置１１４ａと、データ収集装置１１４ｂと、コンピューター１１４とを有する。
【００１９】
信号制御回路１１２は、接続端子部１１１と接続し、被測定パネル１の特性を検査する駆動信号を被測定パネル１の画素表示素子１０の配置に応じて制御する。信号制御回路１１２は、電源装置１１３から電源を供給され、被測定パネル１を検査する駆動信号を制御する。信号制御回路１１２は、複数のスイッチ素子を有し、被測定パネル１の画素表示素子１０の配置に応じてスイッチ素子をオン／オフさせて画像表示素子１０に送る駆動信号のタイミングを制御する。制御された駆動信号は接続端子部１１１を介して被測定パネル１に送られる。
【００２０】
信号発生装置１１４ａと、データ収集装置１１４ｂはコンピュータ１１４により制御される。信号発生装置１１４ａは、信号制御回路１１２に送る駆動信号を発生する。データ収集装置１１４ｂはデータ収集用Ａ／Ｄ変換ボードで構成され、コンピューター１１４のバスソケットに接続され、制御ポートで制御される。後述するように、データ収集装置１１４ｂは、信号発生装置１１４ａにより信号制御回路１１２から発生する駆動信号を被測定パネル１のサンプル／ホールド回路に書き込む際の書き込み電位のデータを収集できる。また、データ収集装置１１４ｂは、被測定パネル１のサンプル／ホールド回路に書き込まれた駆動信号を画像表示素子１０に供給し駆動後、駆動した画像表示素子１０からの駆動信号を直接に読み出し、その読み出し電位のデータを収集できる。
【００２１】
図２は本実施形態に係るＴＦＴ−ＬＣＤの画像表示装置である被測定パネル１を示す平面図である。また、図３は本実施形態の画像表示装置を通常駆動させる第１のモードの駆動方法を示す図であり、図４は本実施形態の画像表示装置を検査する第２のモードの駆動方法を示す図である。
【００２２】
画像表示装置である被測定パネル１は、画素回路１１を備えた画像表示素子１０と、書き込み手段としてのサンプル／ホールド回路１２、１３と、スキャナ回路１４と、出力手段としての直接接続回路１５と、外部接続端子２とを有する。
【００２３】
画像表示素子１０は、マトリクス状に配置され、それぞれに画素回路１１であるＴＦＴを備えている。ＴＦＴは、駆動信号であるアドレス信号とデータ信号によって、画像を表示させるスイッチとして機能する。ＴＦＴのゲートはアドレス信号を供給するアドレス信号線２１に行方向に共通して接続され、ＴＦＴのドレインはデータ信号を供給するデータ信号線２２に列方向に共通して接続される。アドレス信号によって、データ信号を供給する画像表示素子１０の行が選択され、選択された行にデータ信号が供給され、所定の個所の画像表示素子１０が駆動する。
【００２４】
書き込み手段は、外部接続端子２から供給された駆動信号を書き込み、書き込んだ駆動信号に基づいて画素回路１１を駆動させる。書き込み手段は、画像表示素子１０を駆動させる駆動信号であるデータ信号やアドレス信号を供給するサンプル／ホールド回路１２、１３とスキャナ回路１４とを有する。サンプル／ホールド回路１２、１３は各列のデータ信号線２２と接続され、外部から入力されるデータ信号を各列に応じてデータ信号線２２に供給する。サンプル／ホールド回路１２、１３は各列に２つずつ設けられ、一方にデータ信号が書き込まれる間に、他方がＴＦＴに接続し画像表示素子を駆動するように形成される。サンプル／ホールド回路１２、１３は、外部接続端子２からの駆動信号をサンプル／ホールド回路１２、１３自身に書き込むためのスイッチ１２ａ，１３ａと、書き込んだ駆動信号を画素回路に供給するためのスイッチ１２ｂ，１３ｂを有する。スキャナ回路１４は各行のアドレス信号線２１と接続され、外部から入力されるアドレス信号を各行に応じてアドレス信号線２２に供給する。
【００２５】
出力手段は、外部接続端子２から供給される画素回路１０への駆動信号を外部接続端子２から直接出力させ、画素回路１１と直接に接続する直接接続回路１５を有する。直接接続回路１５は、駆動後の画素回路１０から出力させるスイッチ１５ａと、外部接続端子へ出力するスイッチ１５ｂを有する。
【００２６】
外部接続端子２は、サンプル／ホールド回路１２、１３、スキャナ回路１４、直接接続回路１５に接続可能であり、駆動信号を画像表示装置に書き込み、そして、読み出すために設けられる。
【００２７】
つぎに、本実施形態の画像表示装置を通常駆動である第１モードの駆動方法について図３を用いて詳述する。被測定パネル１は、スキャナ回路１４から供給されるアドレス信号によりアドレス信号線に共通して接続されるＴＦＴのゲートが一時的に導通状態とされ、サンプル／ホールド回路１２、１３から供給されるデータ信号がデータ信号線を介して画像表示素子１０に送られ駆動する。図３（ａ）に示すように、信号発生装置１１４ａから供給されるデータ信号は、外部接続端子２によって２つのサンプル／ホールド回路のうち一方のサンプル／ホールド回路１２にスイッチ１２ａを用いて書き込まれる。そして、一方の第１のサンプル／ホールド回路１２にデータ信号が書き込まれると、図３（ｂ）に示すように、他方の第２のサンプル／ホールド回路１３は、スイッチ１３ａを用いて外部接続端子２と接続し、新たなデータ信号が書き込まれる。そして、第２のサンプル／ホールド回路１３に新たなデータ信号が書き込まれる間に、先にデータ信号が書き込まれた第１のサンプル／ホールド回路１２がスイッチ１２ｂを用いて画像表示素子１０と接続して画素回路１１を駆動させる。このように、第１および第２のサンプル／ホールド回路１２ａ，１２ｂは、一方が外部接続端子２による駆動信号を書き込んでいるときに、他方が書き込んだ駆動信号を画素回路１１へ供給し表示動作を行わせる。第１のモードでは、駆動信号読み出し手段としての直接接続回路１５を使用しない。
【００２８】
つぎに、本実施形態の画像表示装置を検査する第２モードの駆動方法について、以下に示す。図２に示した画像表示装置を、図１に示すように、画像表示装置の検査装置の載置台１１０に載置する。そして、接続端子部１１１を画像表示装置の外部接続端子２と当接し、当接状態にある外部接続端子２を介して画像表示装置に駆動信号を転送する。
【００２９】
第２のモードは、前述の第１のモードと同様にして、画素回路１１を駆動する。図４（ａ）に示すように、データ信号は外部接続端子２を介して供給され、一方のサンプル／ホールド回路１２にスイッチ１２ａを用いて書き込まれる。このデータ信号の書き込みの際の書き込み電位は、データ収集装置１１４ｂによって測定され収集される。データ信号の書き込みは、図５（ａ）に示す回路図のように、電流書き込み方式で行い、信号制御回路１１２は定電流でデータ信号を発生しサンプル／ホールド回路１２ａに書き込む。この場合、データ収集装置１１４ｂは書き込みの際の電圧を測定する。
【００３０】
そして、図４（ｂ）に示すように、サンプル／ホールド回路１２に書き込まれたデータ信号をスイッチ１２ｂを用いて画素回路１１に供給し駆動させる。そして、駆動する画素回路１１と直接接続回路１５とをスイッチ１５ａを用いて接続し、直接接続回路１５と外部接続端子２とをスイッチ１５ｂを用いて接続することにより、駆動する画素回路１１の駆動信号を外部接続端子２に直接出力する。外部接続端子２から出力される電位は、外部接続端子２と接続端子部１１１を介してデータ収集装置１１４ｂにより測定され収集される。図５（ｂ）の回路図に示すように、データ収集装置１１４ｂは出力の際の電圧を測定する。測定した書き込み電位および出力電位は、コンピューター１１４によってデータ処理され、測定した書き込み電位および出力電位とを比較し、各画像表示素子１０の特性異常について検査する。また、マトリクス状に形成された画像表示素子１０のそれぞれについて検査し、コンピューター１１４によって自動的にデータ処理して欠陥の２次元的な分布を求めることで、画像表示装置の短絡、断線、その他異常を検査する。
【００３１】
上記の第２のモードでは、電流書き込み方式にて実施しているが、その他、電圧書き込み方式や、画像表示素子１０を直接定電流駆動する方式などで行うこともできる。
【００３２】
図６は、本実施形態の電圧書き込み方式を説明するための回路図であり、図６（ａ）は駆動信号の書き込み時、図６（ｂ）は駆動信号の出力時を示す。信号制御回路１１２は、図６（ａ）に示すように、定電圧でデータ信号を発生しサンプル／ホールド回路１２に書き込む。この場合、データ収集装置１１４ｂは書き込みの際の電流を測定する。そして、図６（ｂ）に示すように、データ収集装置１１４ｂは、出力電位として電圧を測定する。電圧書き込み方式は、電流書き込み方式より書き込みが高速化できるため、検査効率をより向上できる。
【００３３】
図７は、サンプル／ホールド回路１２，１３を介さずに画像表示素子１０を直接定電流駆動する方式について説明する回路図であり、図７（ａ）は駆動信号の書き込み時、図７（ｂ）は駆動信号の読み出し時を示す。
【００３４】
図７（ａ）に示すように、サンプル／ホールド回路１２に０レベル書き込みとする。そして、図７（ｂ）に示すように、画素回路１１と直接接続回路１５とを接続して駆動信号のデータ信号を画素回路１１に送り直接駆動させる。そして、駆動する画素回路１１の駆動信号を直接接続回路１５を介して外部接続端子２に出力し、データ収集装置１１４ｂを用いてその出力時の電圧を測定する。
【００３５】
この場合、サンプル／ホールド回路１２，１３を介さずに駆動信号の出力電位を検出するため、画素回路１１の欠陥を直接的に検出できる。また、実施形態１または実施形態２にようにサンプル／ホールド回路１２を介した場合と実施形態３の場合とを比較することで、サンプル／ホールド回路１２ａの欠陥を検出することが容易となる。このように、本方式は、駆動した画素回路１１からの読み出し電位とを直接に測定することが容易であって、特定個所の欠陥が容易にわかるため、検査効率を向上できる。
【００３６】
以上の方式は、信号制御回路１１２のスイッチを制御することや信号発生装置１１４ａからの駆動信号の波形を変形することで選択できる。
【００３７】
以上のように、本実施形態は、載置された画像表示装置の外部接続端子と当接し、当接状態にある外部接続端子を介して画像表示装置に駆動信号を転送し、画素回路に表示動作を行わせ、転送した駆動信号の状態を検査する。画像表示装置は、駆動信号を外部接続端子から出力可能であるため、検査が容易であり、画像表示装置が高精細化しても、検査の信頼性を向上できる。
【００３８】
また、本実施形態において、画像表示装置は、外部接続端子から供給される画素回路への駆動信号を外部接続端子から直接出力させる出力手段を有する。このため、駆動した画素回路からの出力電位を直接に測定できるため、各画像表示素子の欠陥位置や欠陥の種類の特定が高速にできる。このため、次工程への良品の選別が容易化され、検査効率を向上できる。
【００３９】
＜実施形態２＞
つぎに、本発明の実施形態２について、以下に示す。図８は、本実施形態における点灯検査するための画像表示装置の検査装置の平面図であり、接続端子部１１１および外部接続端子２を介してラスタ駆動信号を画像表示装置に供給する検査手段を有する。図９は、本実施形態に係る画像表示装置である被測定パネル１に設けられるラスタ駆動信号制御手段を示す回路図である。本実施形態に係る画像表示装置は、マトリクス状に配置された画素回路１１と、画素回路１１に送るラスタ駆動信号を制御するラスタ駆動信号制御手段を有する。本実施形態は、点灯検査をするための構成部分を除き、実施形態１と同様である。このため、実施形態１と共通する部分については、同一符号を付し、その説明を省略する。
【００４０】
図８に示すように、本実施形態の画像表示装置用検査装置は、実施形態１と同様に、載置台１００と、接続端子部１１１と、検査手段とを有し、ＴＦＴアレイで構成される画像表示装置を点灯検査する。検査手段は、信号制御回路１１２と、電源装置１１３と、を具備し、接続端子部１１１および外部接続端子２を介してラスタ駆動信号を画像表示装置に供給する。
【００４１】
図９に示すように、ラスタ駆動信号制御手段は画像表示装置に設けられ、３色のカラーフィルターに対応したラスタ表示用電源電圧端子３１と、ラスタ表示選択端子３２と、ラスタ表示選択スイッチ３３とを有する。ラスタ表示用電源電圧端子３１は、明るさを色毎に調整する電源電圧としての駆動信号を与える端子である。ラスタ表示選択端子３２は、ラスタ表示を行うか、通常の表示を行うかを選択する駆動信号をラスタ表示選択スイッチ３３に与える端子である。ラスタ表示選択スイッチと対抗する側の端子は、ドライバーＩＣの接続端子であるが、本実施形態ではドライバーＩＣと接続しないため、オープンとなる。
【００４２】
図８に示す画像表示装置用検査装置の載置体１００に、図９に示すラスタ表示手段が設けられた被測定パネル１を載置する。そして、被測定パネル１の外部接続端子２は、接続端子部１１１と接続され、検査手段である信号制御回路１１２からラスタ表示させるラスタ駆動信号を供給される。外部接続端子２から供給されるラスタ駆動信号は、ラスタ表示用電源電圧端子３１と、ラスタ表示選択端子３２とに供給される。ラスタ表示選択スイッチ３３は、ラスタ表示のＯＮ／ＯＦＦ制御し、各色の画素への電源電圧の供給の制御をする。信号制御回路１１２からラスタ表示用電源電圧端子３１に電源電圧を供給し、そして、ラスタ表示選択端子３２に駆動信号を供給することで画像表示装置をラスタ表示し、点灯検査が可能となる。
【００４３】
以上のように、本実施形態は、ラスタ表示させるためにドライバーＩＣを接着しないで点灯検査が可能である。ラスタ表示させるドライバーＩＣの取り付け端子は、高精細化によって狭いピッチとなり、コンタクトピンなどによる点灯検査では検査の信頼性が低下していた。しかしながら、本実施形態においては、ラスタ表示させる際に接触させる端子はドライバーＩＣの場合より少ないため、検査の信頼性を向上できる。
【００４４】
なお、本発明の実施に際しては、上記した実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形形態を採用することできる。
【００４５】
たとえば、上記の実施の形態は、ＬＣＤについての適用例であるが、ＯＥＬＤなどにも適用できる。
【００４６】
【発明の効果】
本発明によれば、各画像回路の欠陥位置や欠陥の種類の特定が高速にできるため、結果として、検査効率を向上でき、検査の信頼性を向上できる画像表示装置およびその画像表示装置の検査装置およびその検査方法および画像表示装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明の実施形態１に係る画像表示装置用検査装置を示す平面図である。
【図２】図２は本発明の実施形態１に係る被測定パネルを示す平面図である。
【図３】図３は本発明の実施形態１に係る画像表示装置の第１のモードの駆動方法を示す図である。
【図４】図４は本発明の実施形態１に係る画像表示装置の第２のモードの駆動方法を示す図である。
【図５】図５は本発明の実施形態１に係る画像表示装置の第２のモードの駆動方法のデータ信号の書き込み時、読み出し時を示す回路図である。
【図６】図６は本発明の実施形態１に係る画像表示装置の第２のモードの駆動方法のデータ信号の書き込み時、読み出し時を示す回路図である。
【図７】図７は本発明の実施形態１に係る画像表示装置の第２のモードの駆動方法のデータ信号の書き込み時、読み出し時を示す回路図である。
【図８】図８は本発明の実施形態２に係る画像表示装置用検査装置を示す平面図である。
【図９】図９は本発明の実施形態２に係る被測定パネルに設けられるラスタ表示手段を示す回路図である。
【符号の説明】
１：被測定パネル、２：外部接続端子、１０：画像表示素子、１１：画素回路、１２、１３：サンプル／ホールド回路、１４：スキャナ回路、１５：直接接続回路、２１アドレス信号線、２２：データ信号線、１００：載置台、１１１：接続端子部、１１２：信号制御回路、１１３：電源装置、１１４：コンピューター、１１４ａ：信号発生装置、１１４ｂ：データ収集装置
【図１】
2004301918.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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