(57)【要約】【課題】低コントラスト異物の検出感度が落ちる欠点を克服する。【解決手段】本発明の異物検出方法によれば、Ｘ線画像を濃度別にセグメント化する段階（Ｓ２）と、複数の異物検出アルゴリズムを具備してセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用する段階（Ｓ３）と、セグメント毎の検出結果を総合的に処理して混入異物の有無を判定する段階（Ｓ４）とを有する。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物のＸ線画像を処理して混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、
Ｘ線画像の濃度ヒストグラムを作成する段階（Ｓ２２）と、
該濃度ヒストグラムにおいて前記被検査物による濃度分布のピーク頻度の位置をサーチする段階（Ｓ２３）と、
該ピーク頻度との比率が設定値Ａ以下となる頻度が設定値Ｂ以上連続している位置（切れ目）を該ピーク位置から高濃度側に向けてサーチする段階（Ｓ２４）と、
該サーチ位置（切れ目）よりも閾値以上高濃度である部分を異物として検出する段階（Ｓ２５）と
を有することを特徴とする異物検出方法（ヒストグラム法）。
【請求項２】
被検査物のＸ線画像を処理して混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、
Ｘ線画像の平滑化画像を生成する段階（Ｓ３２）と、
該Ｘ線画像の濃度と平滑化画像の濃度との２次元ヒストグラムを生成する段階（Ｓ３３）と、
該２次元ヒストグラムにおいて分布の密集部分を特定する段階（Ｓ３４）と、
該密集部分から閾値以上離れて分布している部分を異物として検出する段階（Ｓ３５）と
を有することを特徴とする異物検出方法（２次元ヒストグラム法）。
【請求項３】
被検査物のＸ線画像を処理して混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、
Ｘ線画像を濃度別にセグメント化する段階（Ｓ２）と、
複数の異物検出アルゴリズムを具備してセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用する段階（Ｓ３）と、
セグメント毎の検出結果を総合的に処理して混入異物の有無を判定する段階（Ｓ４）と
を有することを特徴とする異物検出方法。
【請求項４】
Ｘ線画像を濃度別にセグメント化する段階（Ｓ２）において、請求項１に記載のヒストグラム法によって、先ず被検査物の分布から異物検出を行い、次に被検査物の分布を高濃度側と低濃度側にセグメント化することを特徴とする請求項３の異物検出方法。
【請求項５】
複数の異物検出アルゴリズムを具備してセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用する段階（Ｓ３）において、複数の異物検出アルゴリズムの一つとして請求項１又は請求項２に記載の異物検出方法を具備していることを特徴とする請求項３の異物検出方法。
【請求項６】
被検査物のＸ線画像を処理して混入異物の有無検出を行う異物検出プログラムを記録した記録媒体において、請求項１ないし請求項５の何れか１項に記載の異物検出方法を用いていることを特徴とする異物検出プログラムを記録した記録媒体。
【請求項７】
被検査物（３）にＸ線を照射するＸ線照射手段（２）と、
前記被検査物を透過したＸ線を受けてデジタル画像化するＸ線検出器（４）と、
該Ｘ線検出器から出力されるデジタル画像をＸ線画像に対数変換して取り込む画像入力手段（５）と、
該画像入力手段によって取り込まれたＸ線画像を画像処理して被検査物に混入している異物の有無を検出する画像処理手段（６）とを有する異物検出装置において、
画像処理手段（６）に請求項３ないし請求項５の何れか１項に記載の異物検出方法を用いていることを特徴とする異物検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被検査物のＸ線画像を処理して混入異物の有無検出を行う、異物検出方法、異物検出プログラムを記録した記録媒体及び異物検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
食品や各種工業製品の製造ラインでは、混入異物の排除を行うために、Ｘ線画像を用いた異物検出方法が従来から行われている（特許文献１及び特許文献２参照）。
【０００３】
図２は、従来の典型的な異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【０００４】
従来の異物検出方法では、ステップＳ１０で入力されたＸ線画像に対し、ステップＳ３０で異物らしさを強調する画像フィルタを用いた異物検出アルゴリズムを適用し、ステップＳ４０で異物検出結果に閾値処理を適用して混入異物の有無検出を行っている。
【０００５】
異物らしさを強調する画像フィルタには各種の画像フィルタが適用可能であるが、製造ラインにおいては、リアルタイム処理に耐え得る高速性が要求される。このため、正方形カーネルを用いた差分形の画像フィルタが多用されている。例えば図４のＸ線画像例に対し、各画素を中心に３３×３３画素のカーネル領域を想定し、カーネル中心の濃度とカーネル領域内の平均濃度との差を評価し、カーネル領域内の平均濃度よりどれだけ高濃度であるかをカーネル中心の画素に対応する画素の画素値とする差分画像を出力する画像フィルタを用いた場合、図５に示す異物検出結果が得られる。
【０００６】
このように従来の異物検出方法は、自己平滑化差分法、すなわちＸ線画像から自己平滑化画像を差し引くことによって局所的なコントラストを強調した差分画像を生成し、閾値処理により高コントラスト部分だけを抽出することを基本としている。
【０００７】
差分画像の局所性は、自己平滑化に用いた平滑化フィルタのカーネルサイズに依存するが、被検査物の一部が過度に強調されてしまう場合は、異物の部分を抽出するための閾値を高く設定しなければならず、その結果、被検査物部分の最大濃度よりもコントラストが低い異物は検出できなくなる。例えば図４のＸ線画像例は、レトルトご飯の中のＯリングであるが、Ｏリングを大きな異物として検出出来るように３３×３３画素のカーネルサイズを用いた場合、図５に示すように米粒が過度に強調されてしまう。
【０００８】
【特許文献１】
特許第３３１０６７７号公報
【０００９】
【特許文献２】
特開２００１−３０７０６９号公報
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
従来の異物検出方法には、大きな異物を検出する場合に、被検査物の一部が高コントラスト化するため、相対的に、低コントラスト異物の検出感度が落ちる欠点がある。
【００１１】
そこで、本発明の課題は、この欠点を克服した異物検出方法、異物検出プログラムを記録した記録媒体及び異物検出装置の提供にある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
前述した課題を解決するために、本発明の異物検出方法、異物検出プログラムを記録した記録媒体及び異物検出装置は、異物検出アルゴリズムとして従来の異物検出方法に加えて、Ｘ線画像の濃度ヒストグラムを生成する段階（Ｓ２２）と、該濃度ヒストグラムにおいて被検査物による濃度分布のピーク頻度の位置をサーチする段階（Ｓ２３）と、該ピーク頻度との比率が設定値Ａ以下となる頻度が設定値Ｂ以上連続している位置（切れ目）を該ピーク位置から高濃度側に向けてサーチする段階（Ｓ２４）と、該サーチ位置（切れ目）よりも閾値以上高濃度である部分を異物として検出する段階（Ｓ２５）とを有する異物検出方法（請求項１に記載のヒストグラム法）と、Ｘ線画像の平滑化画像を生成する段階（Ｓ３２）と、該Ｘ線画像の濃度と平滑化画像の濃度との２次元ヒストグラムを生成する段階（Ｓ３３）と、該２次元ヒストグラムにおいて分布の密集部分を特定する段階（Ｓ３４）と、該密集部分から閾値以上離れて分布している部分を異物として検出する段階（Ｓ３５）とを有する異物検出方法（請求項２に記載の２次元ヒストグラム法）との何れかを具備した画像処理手段（６）を有し、Ｘ線源（２）から被検査物（３）にＸ線を照射し、被検査物の透過像をＸ線検出器（４）によりデジタル画像化し、これを画像入力手段（５）により被検査物によるＸ線吸収量を示すＸ線画像に対数変換して画像処理手段（６）に入力し、Ｘ線画像を濃度別にセグメント化する濃度別セグメント化手段（６１）と、複数の異物検出アルゴリズムを具備してセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用するセグメント毎異物検出手段（６２）と、セグメント毎の検出結果を総合的に処理して混入異物の有無を判定する総合的異物判定手段（６３）によって混入異物の有無検出を行うものである。
【００１３】
すなわち、請求項３に記載の異物検出方法は、被検査物のＸ線画像を処理して混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、Ｘ線画像を濃度別にセグメント化する段階（Ｓ２）と、複数の異物検出アルゴリズムを具備してセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用する段階（Ｓ３）と、セグメント毎の検出結果を総合的に処理して混入異物の有無を判定する段階（Ｓ４）とを有している。
【００１４】
また、請求項４に記載の異物検出方法は、請求項３に記載の異物検出方法のＸ線画像を濃度別にセグメント化する段階（Ｓ２）において、請求項１に記載のヒストグラム法によって、先ず被検査物の分布から異物検出を行い、次に被検査物の分布を高濃度側と低濃度側とにセグメント化している。
【００１５】
さらに、請求項５に記載の異物検出方法は、請求項３に記載の複数の異物検出アルゴリズムを具備してセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用する段階（Ｓ３）において、複数の異物検出アルゴリズムの１つとして請求項１又は請求項２の何れかの異物検出方法を具備している。
【００１６】
そして、請求項６に記載の異物検出プログラムを記録した記録媒体には、請求項１ないし請求項５の何れか１項に記載の異物検出方法を用いている異物検出プログラムが記録されている。
【００１７】
また、請求項７に記載の異物検出装置は、被検査物（３）にＸ線を照射するＸ線照射手段（２）と、被検査物を透過したＸ線を受けてデジタル画像化するＸ線検出器（４）と、該Ｘ線検出器から出力されるデジタル画像をＸ線画像に対数変換して取り込む画像入力手段（５）と、該画像入力手段によって取り込まれたＸ線画像を画像処理して被検査物に混入している異物の有無を検出する画像処理手段（６）とを有しており、画像処理手段（６）に請求項３ないし請求項５の何れか１項に記載の異物検出方法が用いられている。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１９】
図１は、本発明の異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【００２０】
本発明の異物検出方法では、ステップＳ１で入力されたＸ線画像に対し、ステップＳ２でＸ線画像を濃度別にセグメント化し、ステップＳ３で具備している複数の異物検出アルゴリズムの中からセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用し、ステップＳ４でセグメント毎の検出結果を総合的に処理して混入異物の有無を判定する。
【００２１】
図１２は、本発明のヒストグラム法を説明するためのフローチャートである。
【００２２】
本発明のヒストグラム法では、ステップＳ２１で入力されたＸ線画像に対し、ステップＳ２２でＸ線画像の濃度ヒストグラムを生成し、ステップＳ２３で該濃度ヒストグラムにおいて被検査物による濃度分布のピーク頻度の位置をサーチし、ステップＳ２４で該ピーク頻度との比率が設定値Ａ以下となる頻度が設定値Ｂ以上連続している位置（切れ目）を該ピーク位置から高濃度側に向けてサーチし、ステップＳ２５で該サーチ位置（切れ目）よりも閾値以上高濃度である部分を異物として検出する。但し、ステップＳ２３では、被検査物による濃度分布のピークをサーチするために包装容器類による分布が存在する低濃度領域をサーチ対象外とする。また、閾値処理による異物検出を後段で行う場合は、切れ目よりも高濃度である部分を差分画像として後段に出力してもよい。
【００２３】
例えば図４のＸ線画像例がステップＳ２１で入力された場合、図６に示すように、ステップＳ２２でＸ線画像の濃度ヒストグラムを生成し、ステップＳ２３で該濃度ヒストグラムを高濃度側からサーチして濃度分布のピーク（Ｐｅａｋ）を見つけ、ステップＳ２４で該ピーク頻度との比率が設定値Ａ以下となる頻度が設定値Ｂ以上連続している該分布の切れ目（Ａｕｐ）をサーチし、ステップＳ２５で切れ目（Ａｕｐ）よりも閾値以上高濃度である部分を異物として検出する。
【００２４】
本発明のヒストグラム法を図１のステップＳ２に用いる場合のフローチャートを図１４に示す。
【００２５】
図１４は、図１２にステップＳ２６を追加したもので、ステップＳ２１〜Ｓ２５によって先ず、図１のステップＳ３よりも前に、被検査物の分布から異物検出を行い、ステップＳ２６において次に、ステップＳ２３で見つけた前記濃度分布のピーク（Ｐｅａｋ）から低濃度側に存在する境い目（Ａｔｈ）を前記切れ目（Ａｕｐ）と略ピーク対称の位置に決定することによって、被検査物の分布を高濃度側と低濃度側にセグメント化する。
【００２６】
ここで、ステップＳ２３で見つけたピークの位置は、ステップＳ２６で補正してもよい。例えば、ピーク頻度との比率が設定値Ｃ以下となる頻度が設定値Ｄ以上連続している位置（境い目）を該ピーク位置から低濃度側に向けてサーチする。
【００２７】
但し、ステップＳ２３では、被検査物による濃度分布のピークをサーチするために包装容器類による分布が存在する低濃度領域をサーチ対象外とするが、この低濃度領域に到達した場合は、その位置を境い目としてもよい。
【００２８】
このようにして決定した境い目（Ａｔｈ）によって、図４のＸ線画像例は、図７の低濃度側セグメント画像と、図８の高濃度側セグメント画像とにセグメント化される。
【００２９】
図１のステップＳ３では、具備している複数の異物検出アルゴリズムの中から例えば、低濃度側セグメント画像に図１０に示すようなモフォロジ処理による異物検出アルゴリズムを適用して差分画像を生成し、高濃度側セグメント画像には図１１に示すような本発明のヒストグラム法による異物検出アルゴリズムを適用して差分画像を生成する。これらの差分画像を重ね合わせた画像を図９に示す。
図１０と図１１とでは、Ｘ線画像をＡ（ｘ，ｙ）、低濃度側セグメント画像をＡＬ（ｘ，ｙ）、高濃度側セグメント画像をＡＨ（ｘ，ｙ）、｜ｉ｜≦ｋかつ｜ｊ｜≦ｋなるカーネル領域をＫとして、差分画像ＤＬ（ｘ，ｙ）とＤＨ（ｘ，ｙ）とを求めている。
【００３０】
ここで、図１１のＡｔｈとＡｕｐとは、図１のステップＳ２に図１４を用いたセグメント化で前述したものである。
【００３１】
また、図１１の処理手順（１）〜（３）は、ステップＳ２２〜Ｓ２４に対応し、式（２６）、（２７）による差分画像の生成は、ステップＳ２５に対応し、ステップＳ２１に対応する部分は、式（２５）によるカーネルサイズの画像である。
【００３２】
また、図１１の処理手順（２）でピークのサーチ範囲をＡｔｈまでとしているが、式（２５）は、ＡＨ（ｘ，ｙ）ではなくてＡ（ｘ，ｙ）を走査しているから、Ａｔｈより低濃度側に変えてもよい。すなわち、図１のステップＳ２でＸ線画像を濃度別にセグメント化する場合、境界はオーバーラップさせてもよい。
【００３３】
図１のステップＳ４では、各セグメントの検出結果を閾値処理し、何れかのセグメントに異物があれば、異物混入と判定するように、総合的に処理して混入異物の有無を判定する。前述した説明で各セグメントの検出結果である差分画像を重ね合わせた画像を図９に示したが、このように差分画像を重ね合わせて１つの閾値で混入異物の有無を判定してもよく、各差分画像を個々の閾値で異物検出し、これらを重ね合わせ処理して混入異物の有無を判定してもよい。また、この両方がミックスされていてもよい。さらに総合的に処理して混入異物の有無を判定するために、総合前の異物検出結果を異物候補として扱い、あるセグメントについては、例えば密集度の高い部分だけを混入異物と判定するようにしてもよい。
【００３４】
図１３は、本発明の２次元ヒストグラム法を説明するためのフローチャートである。
【００３５】
本発明の２次元ヒストグラム法では、ステップＳ３１で入力されたＸ線画像に対し、ステップＳ３２でＸ線画像の平滑化画像を生成し、ステップＳ３３でＸ線画像の濃度と該平滑化画像の濃度との２次元ヒストグラムを生成し、ステップＳ３４で該２次元ヒストグラム分布の密集部分を特定し、ステップＳ３５で該密集部分よりも閾値以上離れて分布している部分を異物として検出する。
【００３６】
ここで、ステップＳ３２で用いる平滑化フィルタは、５×５画素のカーネルサイズのメジアンフィルタが適しているが、従来の異物検出方法において被検査物のエッジ等比較的急峻な部分に混入した微小異物が検出出来るような特性を有していればよい。
【００３７】
ステップＳ３３では、Ｘ線画像の濃度を横軸ａに平滑化画像の濃度を縦軸ｂにとって、２次元ヒストグラムの頻度Ｎ（ａ，ｂ）を対数頻度（頻度ｎをｌｏｇ（ｎ＋１）に変換したもの）またはバイナリ頻度（頻度０ならば０、そうでなければ１としたもの）とする。Ｎ（ａ，ｂ）を対数頻度とした場合は、ステップＳ３４で２次元ヒストグラム分布の密集部分を特定するときに、ａ＜ｂなるＮ（ａ，ｂ）をＮ（ｂ，ａ）で置き換えてから慣性モーメントを主軸方向とする楕円をＮ（ａ，ｂ）分布に当てはめ、ステップＳ３５で閾値を該楕円の大きさにして楕円の外側の部分を異物として検出すればよい。
【００３８】
また、Ｎ（ａ、ｂ）をバイナリ頻度とした場合は、ステップＳ３４でａ≦ｂなるＮ（ａ、ｂ）をコピーしてマスクパターンＭ（ａ，ｂ）を派生させてからａ＜ｂなるＭ（ａ，ｂ）をＭ（ｂ，ａ）にコピーし、ステップＳ３５でＭ（ａ，ｂ）を基準にして閾値を設定すればよい。
【００３９】
例えば、Ｍ（ａ，ｂ）のマスクパターンを閾値だけ膨張処理したＭ´（ａ，ｂ）を用いてＭ´（ａ，ｂ）＝１なるＮ（ａ，ｂ）を０とし、なおもＮ（ａ，ｂ）＝１である部分を異物として検出する。なお、対数頻度の場合を組み合わせて、Ｎ（ａ，ｂ）＝１かつ前記楕円の外側の部分を異物として検出してもよい。
【００４０】
図３は、本発明の異物検出装置の実施の形態であるＸ線を用いた異物検出装置を説明するためのブロック図である。
【００４１】
すなわち、本実施の形態の異物検出装置は、被検査物３を搬送する搬送手段１と、被検査物３にＸ線を照射するＸ線源２と、被検査物３のＸ線透過像をデジタル画像化するＸ線検出器４と、これをＸ線画像に対数変換して取り込む画像入力手段５と、このＸ線画像を処理して混入異物の有無を判定する画像処理手段６とから構成される。
【００４２】
なお、必要に応じて画像表示手段７を付加してもよい。
【００４３】
搬送手段１は、例えばＸ線をよく透過するベルトコンベアで実現され、対向配置されたＸ線源２とＸ線検出器４との間を通して被検査物３を搬送する。
【００４４】
Ｘ線源２から照射されたＸ線は、被検査物３による吸収とベルトコンベアによる僅かな吸収を受けてこれらを透過した後、Ｘ線検出器４に到達する。
【００４５】
Ｘ線検出器４は、例えばＸ線ラインセンサで実現され、被検査物３のＸ線透過像をデジタル画像化する。
【００４６】
このデジタル画像は、Ｘ線ラインセンサによる１ライン上のサンプリングピッチと略等しいサンプリングピッチで搬送方向にサンプリングされ、Ｘ線透過画像としてメモリ上に取り込まれる。
【００４７】
物質のＸ線吸収率をα、物質の厚さをＬとすると、強度ＳのＸ線が当該物質を透過した後の強度Ｓ´は、理論上、Ｓ´＝Ｓ・ｅｘｐ（−α・Ｌ）と書ける。両辺の対数をとって変形すれば、α・Ｌ＝ｌｏｇ（Ｓ）−ｌｏｇ（Ｓ´）とも書ける。前述したＸ線透過画像は、Ｓ´の２次元分布に相当し、前述のように対数をとって変形すれば、物質による吸収量α・Ｌの２次元分布を示すＸ線吸収画像に変換出来る。
【００４８】
Ｘ線透過画像とＸ線吸収画像のどちらにも物質による吸収量α・Ｌという被検査物３の物性情報が含まれているが、濃度値が物質による吸収量をストレートに示すＸ線吸収画像の方がＸ線吸収率の高い異物の強調や検出には有利である。
【００４９】
この場合、例えば被検査物３のＸ線吸収画像において、局所的に高濃度を示す部分や急峻なエッジ部分を異物候補点として扱うことによって異物らしさを評価することが出来る。
【００５０】
画像入力手段５は、前述したＸ線透過画像をＸ線吸収画像に対数変換してＸ線画像とし、該Ｘ線画像を画像処理手段６に出力する。この対数変換には、被検査物３の物性とＸ線波長に依存する補正を加えてもよい。
【００５１】
画像処理手段６は、パラメータ設定機能を備えたＣＰＵ等で、図１を用いて説明した本発明の異物検出方法が実装されており、画像入力手段５から出力されたＸ線画像の入力を受け、予めパラメータ設定された画像処理により混入異物の有無検出を行う。
【００５２】
すなわち、図１のステップＳ１で入力されたＸ線画像に対し、ステップＳ２でＸ線画像を濃度別にセグメント化する濃度別セグメント化手段６１と、ステップＳ３で複数の異物検出アルゴリズムを具備してセグメント毎に最適な異物検出アルゴリズムを適用するセグメント毎異物検出手段６２と、ステップＳ４でセグメント毎の検出結果を総合的に処理して混入異物の有無を判定する総合的異物判定手段６３とから成る。画像表示手段７を付加する場合は、ステップＳ４の異物判定結果と共に、ステップＳ１で入力されたＸ線画像を画像表示手段７に出力する。
【００５３】
画像表示手段７は、画像処理手段６のステップＳ４で異物判定結果から異物画像を生成し、これに画像処理手段６のステップＳ１で入力されたＸ線画像をＯＲ演算してＣＲＴ等に表示する。
【００５４】
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化出来る。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成出来る。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【００５５】
【発明の効果】
以上詳記したように本発明によれば、被検査物のＸ線画像を濃度別にセグメント化して各セグメントに最適な異物検出アルゴリズムを適用する。このため、大きな異物を検出するために大きなカーネルサイズを用いた場合の従来の異物検出方法と比べて、被検査物の差分画像のコントラストを低く抑えることが出来るため、低コントラスト異物の検出感度が向上する。さらに、被検査物のＸ線画像を高濃度側と低濃度側とにセグメント化した場合では、低濃度側セグメント画像にモフォロジ処理による異物検出アルゴリズムを適用し、高濃度側に本発明のヒストグラム法による異物検出アルゴリズムを適用することによって、低コントラスト異物の検出感度を格段に向上出来る。また、本発明の２次元ヒストグラム法を適用することによってセグメント境界付近に混入した小さな異物も従来より高感度に検出出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【図２】従来の異物検出方法を説明するためのフローチャートである。
【図３】本発明の異物検出装置の実施の形態を説明するためのブロック図である。
【図４】Ｘ線画像例である。
【図５】Ｘ線画像例に従来の自己平滑化差分法を適用した異物検出結果である。
【図６】Ｘ線画像例の濃度ヒストグラムである。
【図７】Ｘ線画像例を濃度別にセグメント化した低濃度側セグメント画像である。
【図８】Ｘ線画像例を濃度別にセグメント化した高濃度側セグメント画像である。
【図９】Ｘ線画像例に本発明の異物検出方法を適用した異物検出結果である。
【図１０】モフォロジ処理による異物検出アルゴリズムの例である。
【図１１】本発明のヒストグラム法による異物検出アルゴリズムの例である。
【図１２】本発明のヒストグラム法を説明するためのフローチャートである。
【図１３】本発明の２次元ヒストグラム法を説明するためのフローチャートである。
【図１４】本発明の濃度別セグメント化を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１…搬送手段、２…Ｘ線源、３…被検査物、４…Ｘ線検出器、５…画像入力手段、６…画像処理手段、６１…濃度別セグメント化手段、６２…セグメント毎異物検出手段、６３…総合的異物判定手段、７…画像表示手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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