(57)【要約】【課題】多ポート型の光スイッチの試験を短時間に行なえるようにする。【解決手段】多波長光源２１から並列に出射された異なる波長の光を、光スイッチ２５を介して被試験光スイッチ１０の各入力ポートに入射する。接続パターン制御手段４０ａは、被試験光スイッチ１０に指定した接続パターンに対して、その被試験光スイッチ１０の各出力ポートから出射される各波長の光が常にその波長毎に予め決められている波長合波部３０の入力ポートに入射されるように、光スイッチ２５の接続パターンを設定する。そして波長合波部３０からの合波光をスペクトラム解析部３５に入射して、合波光のスペクトラム解析を行なって各波長のパワーを求める。特性取得手段４０ｂは、その解析結果の情報と接続パターンとから被試験光スイッチ１０の入出力間の特性を求める。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の入力ポート（１１）と複数の出力ポート（１２）を有し、該複数の入力ポートと複数の出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する多ポート型の光スイッチ（１０）を試験するための光スイッチ試験装置において、
波長が異なる複数の光を並列に出射する多波長光源（２１）と、
複数の入力ポート（２６）と複数の出力ポート（２７）を有し、前記多波長光源から並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射し、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートに入射させる光スイッチ（２５）と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート（３１）を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される光を受ける波長合波部（３０）と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段（４０ａ）と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部（３５）と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段（４０ｂ）とを備えた光スイッチ試験装置。
【請求項２】
複数の入力ポート（１１）と複数の出力ポート（１２）を有し、該複数の入力ポートと複数の出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する多ポート型の光スイッチ（１０）を試験するための光スイッチ試験装置において、
波長が異なる複数の光を並列に出射して、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートにそれぞれ入射させる多波長光源（２１）と、
複数の入力ポート（２６）と複数の出力ポート（２７）を有し、前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射する光スイッチ（２５）と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート（３１）を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記光スイッチの複数の出力ポートから出射される光をそれぞれ受ける波長合波部（３０）と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段（４０ａ）と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部（３５）と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段（４０ｂ）とを備えた光スイッチ試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の入力ポートと出力ポートを有し、その入力ポートと出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する光スイッチの試験を効率的に行なうための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、光信号を光のまま経路変更する中継装置である光クロスコネクトには、複数の入力ポートと出力ポートを有する光スイッチが用いられる。
【０００３】
この種の光スイッチを試験する場合に、従来では、入力ポートの一つに光を入射し、その入力ポートに接続されているはずの出力ポートに光パワー計を接続して、その出力ポートから所定以上のパワーの光が出射されていることを確認するという作業を、全ての接続パターンおよび全ての入力ポートについて行なっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光スイッチに要求される入力ポートと出力ポートの数は年々増大（例えば１００以上）しており、このような多ポート型の光スイッチの試験を上記のように１ポート毎に行なっていたのでは、膨大な試験時間を要する。
【０００５】
これを解決するために、波長の異なる複数の光を被試験光スイッチの複数の入力ポートにそれぞれ同時に与え、被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される各光の波長とパワーを並列に検出する方法が考えられる。
【０００６】
さらに被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される各光の波長とパワーを並列に検出するため方法としては、各出力ポート毎にパワー検出手段と波長検出手段とをそれぞれ設けるか、あるいは、複数の出力ポートから出射される各光を波長合波器で合波し、その合波光を光スペクトラムアナライザに入射し、各波長毎のパワーを検出する方法が考えられる。
【０００７】
しかし、各出力ポート毎に波長とパワーと検出する手段をそれぞれ設ける方法では、装置の構成が膨大化して、実現が困難である。
【０００８】
また、複数の出力ポートから出射される各光を波長合波器で合波し、その合波光のスペクトラムを解析する方法は、一見可能に思えるが、一般的に波長合波器は、予め決められた波長の光がその波長に対応する入力ポートに正しく入射されていないと合波処理を正常に行なえないので、被試験光スイッチの接続パターンの切り換えに全く対応できない。
【０００９】
本発明は、この問題を解決し、多ポート型の光スイッチの試験を短時間に行なえる光スイッチ試験装置を提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の請求項１の光スイッチ試験装置は、
複数の入力ポート（１１）と複数の出力ポート（１２）を有し、該複数の入力ポートと複数の出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する多ポート型の光スイッチ（１０）を試験するための光スイッチ試験装置において、
波長が異なる複数の光を並列に出射する多波長光源（２１）と、
複数の入力ポート（２６）と複数の出力ポート（２７）を有し、前記多波長光源から並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射し、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートに入射させる光スイッチ（２５）と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート（３１）を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射される光を受ける波長合波部（３０）と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段（４０ａ）と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部（３５）と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段（４０ｂ）とを備えている。
【００１１】
また、本発明の請求項２の光スイッチ試験装置は、
複数の入力ポート（１１）と複数の出力ポート（１２）を有し、該複数の入力ポートと複数の出力ポートの間を任意の接続パターンで光学的に接続する多ポート型の光スイッチ（１０）を試験するための光スイッチ試験装置において、
波長が異なる複数の光を並列に出射して、前記被試験光スイッチの複数の入力ポートにそれぞれ入射させる多波長光源（２１）と、
複数の入力ポート（２６）と複数の出力ポート（２７）を有し、前記被試験光スイッチの複数の出力ポートから並列に出射された複数の光を前記複数の入力ポートでそれぞれ受け、指定された接続パターンにしたがって前記複数の出力ポートからそれぞれ出射する光スイッチ（２５）と、
前記多波長光源が並列に出射する複数の光の各波長毎にそれぞれ専用の入力ポート（３１）を有し、該各入力ポートから受けたそれぞれの入力ポートに対応した波長の光を合波して出射する機能を有し、該各入力ポートで前記光スイッチの複数の出力ポートから出射される光をそれぞれ受ける波長合波部（３０）と、
前記被試験光スイッチの入出力接続パターンを任意に指定するとともに、該指定した接続パターンに対して前記光スイッチの複数の出力ポートから出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した前記波長合波部の各入力ポートに入射されるように前記光スイッチの入出力接続パターンを指定する接続パターン制御手段（４０ａ）と、
前記波長合波部によって合波された光のスペクトラムを解析するスペクトラム解析部（３５）と、
前記スペクトラム解析部の解析結果と、前記接続パターン制御手段により前記被試験光スイッチに指定した接続パターンとに基づいて、前記被試験光スイッチの入出力ポート間の特性を求める特性取得手段（４０ｂ）とを備えている。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した光スイッチ試験装置２０の構成を示している。
【００１３】
この光スイッチ試験装置２０は、多波長光源２１、光スイッチ２５、波長合波部３０、スペクトラム解析部３５および制御部４０によって構成されている。
【００１４】
多波長光源２１は、異なる波長λ（１）〜λ（ｎ）の複数の光を出力ポート２２（１）〜２２（ｎ）から並列に出射するものである。
【００１５】
この多波長光源２１は、例えば、図２の（ａ）に示すように、モードロックレーザやスーパコンティニウム光源等からなり、異なる複数の波長λ（１）〜λ（ｎ）の光を含む多数の波長の光を出射する多波長型レーザ光源２１ａと、多波長型レーザ光源２１ａが出射する光から、波長λ（１）〜λ（ｎ）の光のみを抽出して、それぞれの波長に対応した出力ポート２２（１）〜２２（ｎ）から並列に出射する波長分波部２１ｂとで構成することができる。
【００１６】
また、図２の（ｂ）に示すように、半導体レーザアンプやファイバアンプ等からなり、波長λ（１）〜λ（ｎ）を含む広帯域な光を出射する広帯域光源２１ｃと、広帯域光源２１ｃが出射する光から、波長λ（１）〜λ（ｎ）の光成分を抽出して、それぞれの波長に対応した出力ポート２２（１）〜２２（ｎ）から並列に出射する波長分波部２１ｂとで構成することができる。
【００１７】
なお、波長分波部２１ｂは、ＡＷＧ（アレー導波路型回折格子）のみ、あるいはＡＷＧと、その各出力ポート毎に挿入され波長λ（１）〜λ（ｎ）に対応する波長のみを選択的に通過させるフィルタとを組み合わせて構成することができる。
【００１８】
多波長光源２１の各出力ポート２２（１）〜２２（ｎ）は、光スイッチ２５の各入力ポート２６（１）〜２６（ｎ）にそれぞれファイバ接続されている。
【００１９】
光スイッチ２５は、複数の入力ポート２６（１）〜２６（ｎ）と複数の出力ポート２７（１）〜２７（ｎ）とを有し、多波長光源２１から並列に出射された複数の光を複数の入力ポート２６（１）〜２６（ｎ）でそれぞれ受け、制御部４０から指定された接続パターンにしたがって複数の出力ポート２７（１）〜２７（ｎ）からそれぞれ出射する。
【００２０】
光スイッチ２５の各出力ポート２７（１）〜２７（ｎ）のうちの出力ポート２７（１）〜２７（ｍ）は、被試験光スイッチ１０の入力ポート１１（１）〜１１（ｍ）にそれぞれファイバ接続され、被試験光スイッチ１０の出力ポート１２（１）〜１２（ｍ）は、波長合波部３０の入力ポート３１（１）〜３１（ｎ）のうちの入力ポート３１（１）〜３１（ｍ）にそれぞれファイバ接続されている。
【００２１】
なお、図１では、被試験光スイッチ１０の入出力ポート数ｍを多波長光源２１が出射する光の波長数ｎより少ない場合で説明しているが、ｍ＝ｎの場合であってもよい。
【００２２】
波長合波部３０は、例えば前記したＡＷＧによって構成されており、その入力ポート３１（１）〜３１（ｎ）は、多波長光源２１が出射する各光の波長λ（１）〜λ（ｎ）毎にそれぞれ専用化され、決められた波長の光が決められた入力ポートに入力されたときに、それらの光を正しく合波し、その合波光Ｈを出射する。
【００２３】
スペクトラム解析部３５は、波長合波部３０から出射される合波光Ｈのスペクトラムを解析し、被試験光スイッチ１０に入射される光の各波長λ（１）〜λ（ｍ）についての各パワーＰ（１）〜Ｐ（ｍ）を検出し、これを解析結果として制御部４０へ出力する。
【００２４】
制御部４０は、接続パターン制御手段４０ａと特性取得手段４０ｂとを有し、図示しない操作部等からの試験に必要な情報（被試験光スイッチ１０のポート数や試験項目等）と試験の開始を指示する情報を受けて、被試験光スイッチ１０および光スイッチ２５の接続パターンを順次切り換えながら、スペクトラム解析部３５の解析結果を受け、接続パターンと解析結果とに基づいて被試験光スイッチ１０の入出力ポート間の特性を求める。
【００２５】
接続パターン制御手段４０ａは、被試験光スイッチ１０の入出力接続パターンを任意に指定するとともに、その指定した接続パターンに対して、被試験光スイッチ１０の複数の出力ポート１２（１）〜１２（ｍ）から出射された複数の光が、それぞれの波長に対応した波長合波部３０の各入力ポート３１（１）〜３１（ｍ）に正しく入射されるように光スイッチ２５の入出力接続パターンを指定する。
【００２６】
特性取得手段４０ｂは、スペクトラム解析部３５の解析結果と、被試験光スイッチ１０に指定した接続パターンとに基づいて、その被試験光スイッチ１０の入出力ポート間の特性を求め、その特性あるいはその評価結果を図示しない表示器や他のシステム等に出力する。
【００２７】
なお、制御部４０には、光スイッチ２５の入出力ポート間の各波長毎および接続パターン毎の損失、多波長光源２１が出射する光の各波長毎のパワー、波長合波部３０の各波長毎の合波損失等のデータが予め記憶されているものとする。
【００２８】
図３は、指定された試験項目がポート間損失の場合の制御部４０の処理手順を示すフローチャートである。
【００２９】
以下、このフローチャートに基づいて、この光スイッチ試験装置２０の動作を説明する。
【００３０】
始めに、被試験光スイッチ１０の入出力接続パターンを、例えば図４の（ａ）に示すように、１〜ｍの値ｉについて入力ポート１１（ｉ）と出力ポート１２（ｉ）とが１対１で接続されるパターンに初期化する（Ｓ１）。なお、図４および後述の図５で丸印が付してある交差位置の入出力ポートが接続される。
【００３１】
また、上記の被試験光スイッチ１０の入出力接続パターンに対して、波長合波部３０の各入力ポート３１（１）〜３１（ｍ）に波長λ（１）〜λ（ｍ）の光がそれぞれ入射されるように、光スイッチ２５の入出力接続パターンを図４の（ｂ）に示すように、入力ポート２６（ｉ）と出力ポート２６（ｉ）とが１対１で接続されるようにする（Ｓ２）。ただし、余っている入力ポート２６（ｍ＋１）〜２６（ｎ）は、それぞれ出力ポート２７（ｍ＋１）〜２６（ｎ）に接続する。
【００３２】
この接続パターンの設定により、図５に示すように、多波長光源２１の出力ポート２１（１）から出射される波長λ（１）の光が、光スイッチ２５の入力ポート２６（１）に入射され、出力ポート２７（１）から出射されて、被試験光スイッチ１０の入力ポート１１（１）に入射され、出力ポート１２（１）から出射されて、波長合波部３０の入力ポート３１（１）に入力される。
【００３３】
同様に、２〜ｍの値ｊについて、多波長光源２１の出力ポート２２（ｊ）から出射される波長λ（ｊ）の光が、光スイッチ２５の入力ポート２６（ｊ）に入射され、出力ポート２７（ｊ）から出射されて、被試験光スイッチ１０の入力ポート１１（ｊ）に入射され、出力ポート１２（ｊ）から出射されて、波長合波部３０の入力ポート３１（ｊ）に入射される。
【００３４】
波長合波部３０では、各入力ポート３１（１）〜３１（ｍ）に入射される光を合波し、その合波光Ｈをスペクトラム解析部３５に出射し、スペクトラム解析部３５では、合波光Ｈのスペクトラム解析を行い、各波長λ（１）〜λ（ｍ）の光のパワーＰ（１）〜Ｐ（ｍ）を求め、これを解析結果として制御部４０に出力する。
【００３５】
制御部４０は、被試験光スイッチ１０に指定した接続パターンと、スペクトラム解析部３５からの解析結果、および前記した光スイッチ２５の損失データ、多波長光源２１が出射する光の各波長のパワーデータ、波長合波部３０の損失データに基づいて、被試験光スイッチ１０の入出力ポート間の損失Ｌ（１，１）、Ｌ（２，２）、…、Ｌ（ｍ，ｍ）を求める（Ｓ３）。
【００３６】
なお、ここで損失Ｌ（ｘ，ｙ）は、ｘ番目の入力ポート１１（ｘ）とｙ番目の出力ポート１２（ｙ）との間の損失を表す。
【００３７】
次に、被試験光スイッチ１０の入出力接続パターンの全パターンについての試験が終了していないことを確認して、入出力接続パターンを、例えば図６の（ａ）に示すように、１〜ｍの値ｉについて入力ポート１１（ｉ）と出力ポート１２（ｉ＋１）とが１対１で接続されるパターンに変更する（Ｓ４、Ｓ６）。ただし、ｍ＋１は１とする。
【００３８】
そして、処理Ｓ２に戻り、変更された被試験光スイッチ１０の接続パターンに対し、波長合波部３０の各入力ポート３１（１）〜３１（ｍ）に波長λ（１）〜λ（ｍ）の光がそれぞれ入射されるように、光スイッチ２５の入出力接続パターンを指定する。なお、上記図６の（ａ）の接続パターンに対しては、図６の（ｂ）に示すように、被試験光スイッチ１０の入出力接続パターンとは入出力の関係が逆になるように、入力ポート１１（ｉ＋１）と出力ポート１２（ｉ）とが１対１で接続されるパターンに変更する。ただし、ｍ＋１は１とする。
【００３９】
この接続パターンの変更設定により、図７のように、１〜ｍの値ｉについて、多波長光源２１の出力ポート２２（ｉ＋１）から出射されて光スイッチ２５の入力ポート２６（ｉ＋１）に入射される波長λ（ｉ＋１）の光は、出力ポート２７（ｉ）から出射されて、被試験光スイッチ１０の入力ポート１１（ｉ）に入射され、出力ポート１２（ｉ＋１）から出射されて、波長合波部２１の入力ポート２２（ｉ＋１）に入力される。ただし、上記同様に、ｍ＋１は１とする。
【００４０】
つまり、被試験光スイッチ１０の接続パターンによらずに、波長合波部３０の各入力ポート３１（１）〜３１（ｍ）に、そのポート専用の波長λ（１）〜λ（ｍ）の光がそれぞれ正しく入射されて合波され、その合波光Ｈが前記同様にスペクトラム解析部３５に入射されてその合波光Ｈのスペクトラム解析結果が制御部４０に出力される。
【００４１】
制御部４０では、再び処理Ｓによって、接続パターン、解析結果および前記した光スイッチ３５の損失データ、多波長光源２１の各波長のパワーデータ、波長合波部３０の損失データに基づいて、被試験光スイッチ１０の入出力ポート間の損失Ｌ（１，２）、Ｌ（２，３）、…、Ｌ（ｍ−１，ｍ）、Ｌ（ｍ，１）を求める。
【００４２】
以下同様に、被試験光スイッチ１０の接続パターンと光スイッチ２５の接続パターンを順次切り換えて、その接続パターンとスペクトラム解析部３５の解析結果から被試験光スイッチ１０の各入出力ポート間の損失を求めるという処理を繰り返し、被試験光スイッチ１０の全接続パターンについての損失Ｌ（１，１）〜Ｌ（１，ｍ）、Ｌ（２，ｌ）〜Ｌ（２，ｍ）、…、Ｌ（ｍ，ｌ）〜Ｌ（ｍ，ｍ）が得られると、その得られた損失特性あるいはその損特性に対する評価結果等を出力する（Ｓ６）。
【００４３】
なお、損失特性に対する評価は、例えば、得られた損失と予め設定された許容値とを比較して、全ての接続パターンにおける損失が許容値以下であれば、その被試験光スイッチ１０の入出力ポート間の損失試験に合格であることを示す情報を出力し、許容値より大きい損失が有る場合には、その損失と入出力ポート番号等を不合格情報として出力する。
【００４４】
また、この評価は、一つの接続パターンについて損失が得られる毎に、その都度行ない、許容値より大きい損失が発見された時点でこれを報知して試験を中断あるいは中止してもよい。
【００４５】
このように、実施形態の光スイッチ試験装置２０では、多波長光源２１から並列に出射された異なる波長の光を光スイッチ２５を介して被試験光スイッチ１０の各入力ポートに入射し、その被試験光スイッチ１０の各出力ポートから出射された各波長の光を、その波長毎に予め決められている波長合波部３０の入力ポートに入射して合波し、その合波光をスペクトラム解析部３５に入射して、合波光のスペクトラム解析を行なって各波長のパワーを求め、その解析結果の情報と接続パターンとから被試験光スイッチ１０の入出力間の特性を求めるように構成されている。
【００４６】
このため、多ポート型の光スイッチに対する試験を、短時間に且つ正確に行なうことができる。
【００４７】
なお、上記した光スイッチ試験装置２０では、光スイッチ２５を多波長光源２１と被試験光スイッチ１０の間に設けていたが、図８に示す光スイッチ試験装置２０′のように、光スイッチ２５を被試験光スイッチ１０と波長合波部３０との間に設け、前記同様に被試験光スイッチ１０の接続パターンによらずに、波長合波部３０の各入力ポート３１（１）〜３１（ｍ）にそれぞれ固有の波長λ（１）〜λ（ｍ）の光が入射されるように光スイッチ２５を制御してもよい。
【００４８】
また、上記説明では、入力ポートと出力ポートの数が等しい光スイッチ１０を試験していたが、入力ポートと出力ポートの数が異なる光スイッチの試験も前記同様に可能である。
【００４９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の請求項１の光スイッチ試験装置は、多波長光源から並列に出射された異なる波長の光を光スイッチを介して被試験光スイッチの各入力ポートに入射し、その被試験光スイッチの各出力ポートから出射された各波長の光を、その波長毎に予め決められている波長合波部の入力ポートに入射して合波し、その合波光をスペクトラム解析部に入射して、合波光のスペクトラム解析を行なって各波長のパワーを求め、その情報と接続パターンとから被試験光スイッチの入出力間の特性を求めるように構成されている。
【００５０】
また、本発明の請求項２の光スイッチ試験装置は、多波長光源から並列に出射された異なる波長の光を被試験光スイッチの各入力ポートに入射し、その被試験光スイッチの各出力ポートから出射された各波長の光を、光スイッチによってその波長毎に予め決められている波長合波部の入力ポートに入射して合波し、その合波光をスペクトラム解析部に入射して、合波光のスペクトラム解析を行なって各波長のパワーを求め、その情報と接続パターンとから被試験光スイッチの入出力間の特性を求めるように構成されている。
【００５１】
このため、多ポート型の光スイッチに対する試験を、短時間に且つ正確に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態の構成を示す図
【図２】実施形態の要部の構成例を示す図
【図３】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャート
【図４】被試験光スイッチおよび光スイッチに指定する接続パターンの一例を示す図
【図５】図４の接続パターンに対応する光スイッチの接続状態を示す図
【図６】被試験光スイッチおよび光スイッチに指定する接続パターンの一例を示す図
【図７】図６の接続パターンに対応する光スイッチの接続状態を示す図
【図８】本発明の他の実施形態の構成を示す図
【符号の説明】
１０……被試験光スイッチ、１１（１）〜１１（ｍ）……入力ポート、１２（１）〜１２（ｍ）……出力ポート、２０、２０′……光スイッチ試験装置、２１……多波長光源、２２（１）〜２２（ｎ）……出力ポート、２５……光スイッチ、２６（１）〜２６（ｎ）……入力ポート、２７（１）〜２７（ｎ）……出力ポート、３０……波長合波部、３１（１）〜３１（ｎ）……入力ポート、３５……スペクトラム解析部、４０……制御部、４０ａ……接続パターン制御手段、４０ｂ……特性取得手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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