(57)【要約】【課題】プリント配線板通電検査治具を自動で導通・短絡検査できる検査装置を提供する。【解決手段】検出ピン用ピン１２２に当接する検査ピン５０と、該検査ピン５０に接続する接続ピン３２との間で導通を試験する。接続ピン用検出ピン１３２にて他の接続ピン３２でも電圧が検出されるかを判断し、短絡を検査する。そして、接続ピン用検出ピン１３２を接続ピン３２に当てた状態で、接続ピン用出力ピン１５２を接続ピン３２に当てて、接続ピン用出力ピン１５２に電圧を印加し、接続ピン用検出ピン１３２側で電圧を検出し、短絡を検査する。【選択図】　図６
2004069447.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント配線板の配線パターンを導通試験するためピン保持板に立設された複数の検査ピンと、該検査ピンと電気接続された接続ピンからなる端子盤とが設けられたプリント配線板通電検査治具を導通・短絡試験するためのプリント配線板通電検査治具の検査装置であって、
前記ピン保持板の検査ピンに当接して電圧を印加するＸ−Ｙ方向に移動可能な検査ピン用出力ピンと、
前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を印加する接続ピン用出力ピンを複数保持する出力ピン保持部材と、
前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を検出する接続ピン用検出ピンを複数保持する検出ピン保持部材と、
保持された前記検査ピンの座標位置に基づき、前記検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加すると共に、前記接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させ、該検査対象の検査ピンと接続ピンとの間の導通検査を実施する導通検査手段と、
前記検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加し、前記接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させた状態で、検出ピン保持部材に保持された当該接続ピン用検出ピンを除く残りの複数の接続ピン用検出ピンで電圧を検出することで、該検査対象の検査ピンと検出ピン保持部材に保持された前記残りの複数の接続ピン用検出ピンに当接している接続ピンとの間の短絡検査を実施する第１短絡検査手段と、
前記出力ピン保持部材の接続ピン用出力ピンを前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を印加し、前記検出ピン保持部材の接続ピン用検出ピンを前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を検出することで、当該接続ピン用出力ピンに当接している接続ピンと、前記接続ピン用検出ピンに当接している接続ピンとの間の短絡検査を実施する第２短絡検査手段と、を有することを特徴とするプリント配線板通電検査治具の検査装置。
【請求項２】
前記端子盤の接続ピンは、所定行数で所定列数のマトリクス状に配置され、
前記出力ピン保持部材は、前記端子盤の接続ピンの少なくとも１行分の接続ピン用出力ピンを保持し、列方向へ移動可能に構成され、
前記検出ピン保持部材は、前記端子盤の接続ピンの少なくとも１行分の接続ピン用検出ピンを保持し、列方向へ移動可能に構成されていることを特徴とする請求項１のプリント配線板通電検査治具の検査装置。
【請求項３】
前記検査ピン用出力ピンを次の検査対象の検査ピンへ移動を開始した後、前記第２短絡検査手段による短絡検査を開始することを特徴とする請求項１又は請求項２のプリント配線板通電検査治具の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、プリント配線板の導通試験をするためのプリント配線板通電検査治具を検査するための検査装置に関し、特に、プリント配線板の配線パターンを導通試験するため立設された複数の検査ピンと、該検査ピンと電気接続された接続ピンからなる端子盤とが設けられたプリント配線板通電検査治具を導通・短絡試験するための検査装置に関するのもである。
【０００２】
【従来の技術】
ドータボード等の種々のプリント配線板は、製造工程の最後で導通試験が行われ、プリント配線板上の配線パターン間でオープン、短絡が生じていないかが調べられる。ここで、導通試験には、図９〜図１１に示すようなプリント配線板通電検査治具が製造されるプリント配線板毎に用意され行われる。
【０００３】
図９はプリント配線板通電検査治具の平面図であり、図１０は側面図であり、図１１は背面図である。
プリント配線板通電検査治具１０は、図９に示すよう表面側に設けられたプリント配線板検査板２０と、図１１に示すよう裏面側に取り付けられた複数の端子盤３０（３０Ａ、３０Ｂ、３０Ｃ、３０Ｄ）と、該プリント配線板検査板２０及び端子盤３０を支持するためのフレーム４０とから成る。プリント配線板通電検査治具の側面図である図１０中に示すように、プリント配線板検査板２０の上面には、ピン（検査プローブ）５０の先端が突出しており、下面側には該検査ピン５０に接続された配線５４が取り付けられており、該配線５４が端子盤３０に接続されている。
【０００４】
１個の端子盤３０には、３２行、３２列のマトリクス状に１０２４本の接続ピン３２が設けられており、図１１に示すように、図中では、４個の端子盤３０Ａ、３０Ｂ、３０Ｃ、３０Ｄが設けられ、合計４０９６本の接続ピン３２が設けられている。即ち、図９中に示す検査ピン５０は４０９６本設けられ、被検査対象の配線パターンの４０９６箇所に接触する。なお、ここでは、接続ピン３２の数と検査ピン５０の数とが等しいとして説明を行ったが、接続ピン３２の数が検査ピン５０の数よりも多い場合もあり得る。
【０００５】
ここで、プリント配線板の検査は、図１２に示すように、プリント配線板６０を上下１対のプリント配線板通電検査治具１０、１０で挟む。各プリント配線板通電検査治具の端子盤３０には、ケーブル３６の雌型端子盤３４が接続されている。上側のケーブル３６−雌型端子盤３４−端子盤３０−配線５４を介して、プリント配線板検査板２０の検査ピン５０に電圧を印加し、プリント配線板６０の配線パターン（図示せず）を介して、下側のプリント配線板検査板２０の検査ピン５０へ電流を流し、該電流を配線５４−端子盤３０−雌型端子盤３４−下側のケーブル３６へ通すことで検査を行う。即ち、上側のプリント配線板通電検査治具１０の図１１を参照して上述した端子盤３０の接続ピン３２に順次電圧を印加し、下側のプリント配線板通電検査治具１０の端子盤３０の対応する接続ピン３２に電流が流れ／流れないことを自動的に確認することで、該プリント配線板６０の接続検査を行う。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
このプリント配線板通電検査治具は、製造するプリント配線板毎に１対製造されている。このプリント配線板通電検査治具は、製造工程の最後に導通試験が行われ、検査ピン５０と端子盤３０の接続ピン３２との間でオープンが生じていないかが調べられる。この検査を従来は、検査ピン５０のピッチが０．２５ｍｍあったため、検査員が人手で行っていた。しかしながら、０．１８ｍｍピッチのパッケージ基板のＢＧＡを検査するプリント配線板通電検査治具を製造すためには、ピンのピッチを更に狭める必要があるため、もはや人手による検査を行い得なくなる。
【０００７】
このため、本出願人は、特願２００２−１６４３７８にて、導通試験を自動で行うことができるプリント配線板通電検査治具の検査装置を提案した。しかしながら、該検査装置では、線間の短絡を試験することができなかった。短絡試験を行う方法としては、端子盤３０の接続ピン３２と同数（１０２４本）のピンを備えるマルチプレクサを用い、各接続ピン間の短絡の有無を順次検査することが考え得るが、係る多数の入力を備える装置は非常に高価になり現実的ではない。
【０００８】
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、プリント配線板通電検査治具を自動で導通・短絡検査ができるプリント配線板通電検査治具の検査装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため、請求項１の発明は、プリント配線板の配線パターンを導通試験するためピン保持板に立設された複数の検査ピンと、該検査ピンと電気接続された接続ピンからなる端子盤とが設けられたプリント配線板通電検査治具を導通・短絡試験するためのプリント配線板通電検査治具の検査装置であって、
前記ピン保持板の検査ピンに当接して電圧を印加するＸ−Ｙ方向に移動可能な検査ピン用出力ピンと、
前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を印加する接続ピン用出力ピンを複数保持する出力ピン保持部材と、
前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を検出する接続ピン用検出ピンを複数保持する検出ピン保持部材と、
保持された前記検査ピンの座標位置に基づき、前記検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加すると共に、前記接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させ、該検査対象の検査ピンと接続ピンとの間の導通検査を実施する導通検査手段と、
前記検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加し、前記接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させた状態で、検出ピン保持部材に保持された当該接続ピン用検出ピンを除く残りの複数の接続ピン用検出ピンで電圧を検出することで、該検査対象の検査ピンと検出ピン保持部材に保持された前記残りの複数の接続ピン用検出ピンに当接している接続ピンとの間の短絡検査を実施する第１短絡検査手段と、
前記出力ピン保持部材の接続ピン用出力ピンを前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を印加し、前記検出ピン保持部材の接続ピン用検出ピンを前記端子盤の接続ピンに当接して電圧を検出することで、当該接続ピン用出力ピンに当接している接続ピンと、前記接続ピン用検出ピンに当接している接続ピンとの間の短絡検査を実施する第２短絡検査手段と、を有することを技術的特徴とする。
【００１０】
請求項１では、導通検査手段が、保持された検査ピンの座標位置に基づき、検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加すると共に、接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させ、該検査対象の検査ピンと接続ピンとの間の導通検査を実施する。第１短絡検査手段が、検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加し、接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させた状態で、検出ピン保持部材に保持された当該接続ピン用検出ピンを除く残りの複数の接続ピン用検出ピンで電圧を検出することで、該検査対象の検査ピンと検出ピン保持部材に保持された残りの複数の接続ピン用検出ピンに当接している接続ピンとの間の短絡検査を実施する。第２短絡検査手段が、出力ピン保持部材の接続ピン用出力ピンを端子盤の接続ピンに当接して電圧を印加し、検出ピン保持部材の接続ピン用検出ピンを端子盤の接続ピンに当接して電圧を検出することで、当該接続ピン用出力ピンに当接している接続ピンと、接続ピン用検出ピンに当接している接続ピンとの間の短絡検査を実施する。このため、プリント配線板通電検査治具の導通・短絡試験することができる。特に、出力ピン保持部材の複数の接続ピン用出力ピンを端子盤の接続ピンに当接して電圧を印加し、検出ピン保持部材の複数の接続ピン用検出ピンを端子盤の接続ピンに当接して電圧を検出する。このため、端子盤の接続ピンと同じ数の検査ピンを有する検査装置を用いることなく端子盤の短絡検査することができる。
【００１１】
請求項２は、出力ピン保持部材は、端子盤の接続ピンの少なくとも１行分の接続ピン用出力ピンを保持し、検出ピン保持部材は、端子盤の接続ピンの少なくとも１行分の接続ピン用検出ピンを保持し、列方向へ移動可能である。
このため、第１短絡検査手段が、検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加し、接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させた状態で、検出ピン保持部材に保持された行数分（少なくとも１行分）の接続ピン用検出ピンで電圧を検出することで、該検査対象の検査ピンと検出ピン保持部材に保持された接続ピン用検出ピンに当接している行数分の接続ピンとの間の短絡検査を実施できる。
そして、第２短絡検査手段が、出力ピン保持部材の接続ピン用出力ピンを端子盤の行数分の接続ピンに当接して電圧を印加し、検出ピン保持部材の接続ピン用検出ピンを端子盤の行数分の接続ピンに当接して電圧を検出することで、当該接続ピン用出力ピンに当接している行数分の接続ピンと、接続ピン用検出ピンに当接している行数分の接続ピンとの間の短絡検査を実施する。このため、端子盤の接続ピンと同じ数の検査ピンを有する検査装置を用いることなく、少なくとも１行分の接続ピン用出力ピンを保持する出力ピン保持部材と、少なくとも１行分の接続ピン用検出ピンを保持する検出ピン保持部材とを用いて、出力ピン保持部材と検出ピン保持部材とを列方向へ移動させながら検査することで、マトリクス状に接続ピンを保持する端子盤の短絡検査することが可能となる。
【００１２】
請求項３では、検査ピン用出力ピンを次の検査対象の検査ピンへ移動を開始した後、第２短絡検査手段による短絡検査を開始する。即ち、第２短絡検査手段による短絡検査中に検査ピン用出力ピンを次の検査対象の検査ピンへ移動するため、検査時間を短縮することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態に係るプリント配線板通電検査治具の検査装置について図を参照して説明する。
図１は検査装置の側面側の断面図であり、図２は検査装置の正面図であり、図３は図２のＢ−Ｂ横断面図である。検査装置１００は、図９〜図１１を参照して上述した従来技術のプリント配線板通電検査治具１０を自動で導通検査する。
【００１４】
図１及び図２に示すように、検査装置１００は、プリント配線板通電検査治具１０を載置する固定台１１０と、プリント配線板通電検査治具１０の検査ピン５０に当接する検査ピン用ピン（検査プローブ）１２２をＸ−Ｙ方向へ送るための検査ピン用ピン駆動部１２０と、プリント配線板通電検査治具１０の接続ピン３２に当接する接続ピン用検出ピン１３２を複数保持する検出ピン保持バー１３４をＸ−Ｙ方向へ送るための検出ピン駆動部１３０と、プリント配線板通電検査治具１０の接続ピン３２に当接する接続ピン用出力ピン１５２（図示せず）を複数保持する出力ピン保持バー１５４をＸ−Ｙ方向へ送るための出力ピン駆動部１５０と、該検査ピン用ピン駆動部１２０、検出ピン駆動部１３０及び出力ピン駆動部１５０を制御して導通試験を行う制御部１４０と、キーボード１４２と、モニター１４４とを備える。該検査装置１００の筐体には、プリント配線板通電検査治具１０を出し入れするための蓋１６０が設けられている。
【００１５】
図３は、図２のＢ−Ｂ横断面図であり、検査ピン用ピン１２２をＸ−Ｙ方向へ送るための検査ピン用ピン駆動部１２０の平面図に相当する。
検査ピン用ピン駆動部１２０は、検査ピン用ピン１２２をＺ方向へ送るヘッド１２８をＸ方向へ送るＸレール１２４と、Ｙ方向へ送るＹレール１２６とを備え、ヘッド１２８には、検査ピン用ピン１２２の先端部を撮影するためのＣＣＤカメラ１４８が搭載されている。該ＣＣＤカメラ１４８で撮影された画像が、図２中に示すモニター１４４に映し出され、作業者は、モニター１４４の画像を見ながら検査ピン用ピン１２２の位置を微調整できるように構成されている。図示しないが、ＣＣＤカメラ１４８は、検査ピン用ピン１２２の先端を斜め上側から写せるように傾斜を持たせて取り付けられている。
【００１６】
ここで、制御部１４０は、保持している検査ピン及び接続ピンの座標位置に基づき、検査ピン用ピン駆動部１２０を制御し、検査ピン用ピン１２２を図９に示すプリント配線板通電検査治具１０表面の検査対象となる検査ピン５０に当接させると共に、検出ピン駆動部１３０を制御し、接続ピン用検出ピン１３２を図１１に示すプリント配線板通電検査治具１０裏面の検査対象の検査ピン５０に接続された接続ピン３２へ当接させ、該検査対象の検査ピン５０と接続ピン３２との間の導通検査を図１１中に示す４０９６本全ての検査ピン５０に対して順次実施する。
【００１７】
図１に示す検査装置の電気的の構成について、図４のブロック図を参照して説明する。検査ピン用ピン駆動部１２０が、検査ピン用ピン（検査プローブ）１２２をＸ−Ｙ方向へ送りプリント配線板通電検査治具１０の検査ピン５０に当接させる。一方、検出ピン駆動部１３０が、接続ピン用検出ピン１３２を複数保持する検出ピン保持バー１３４をＸ−Ｙ方向へ送り、プリント配線板通電検査治具１０の接続ピン３２に当接させる。同様に、出力ピン駆動部１５０が、接続ピン用出力ピン１５２を複数保持する出力ピン保持バー１５４をＸ−Ｙ方向へ送り、プリント配線板通電検査治具１０の接続ピン３２に当接させる。
【００１８】
［通電検査］
引き続き、該検査装置による検査について説明する。図５は、図４中のＡ矢視図であり、端子盤３０の接続ピン３２に当接する接続ピン用検出ピン１３２を複数保持する検出ピン保持バー１３４を模式的に示している。上述したように、端子盤３０には、３２行、３２列のマトリクス状に１０２４本の接続ピン３２が設けられている。図中では、図示の便宜上、少ない数の接続ピンを示している。検出ピン保持バー１３４には、２行分（３２×２＝６４本）の接続ピン用検査ピン１３２が設けられ、図中で接続ピン（１−１）〜接続ピン（２−３２）までの電圧を検出するよう構成されている。ここで、図４に示すように、検査ピン用ピン（検査プローブ）１２２がプリント配線板通電検査治具１０の検査ピン５０の一番目のピン（図９中に示す５０−１）に当接した状態で、出力信号１４０Ａから電圧を印加し、該一番目の検査ピン５０に接続された接続ピン３２（ここでは、１−１に接続されているものとする）で電圧が検出されるか否かにより該検査ピン５０−１と接続ピン３２（１−１）との間の導通を試験する。
【００１９】
［第１短絡検査］
この通電検査と同時に、該接続ピン３２（１−１）を除く残りの検出ピン保持バー１３４の接続ピン用検出ピン１３２に当接された接続ピン３２（１−２〜２−３２）で電圧が検出されるかを入力信号１４０Ｃを介して信号比較１４０Ｂで判断し、検査対象の接続ピン３２（１−１）と残りの接続ピン３２（１−２〜２−３２）との間で短絡が発生していないかを検査する。
【００２０】
［第２短絡検査］
図６は、検査装置による第２短絡検査を示している。検査ピン用ピン（検査プローブ）１２２をプリント配線板通電検査治具１０の検査ピン５０から離し、そして、検出ピン保持バー１３４の接続ピン用検出ピン１３２を接続ピン３２に当てた状態で、出力ピン保持バー１５４の接続ピン用出力ピン１５２を接続ピン３２に当てて、出力信号１４０Ａから接続ピン用出力ピン１５２に電圧を印加し、接続ピン用検出ピン１３２側で電圧を検出し、短絡が発生しているかを検査する。
【００２１】
図７及び図８は、図６中の端子盤３０のＡ矢視図である。出力ピン保持バー１５４には、検出ピン保持バー１３４と同様に、２行分（３２×２＝６４本）の接続ピン用出力ピン１５２が設けられている。図７に示すように、該検出ピン保持バー１３４の接続ピン用出力ピン１５２から、接続ピン３２（３−１）〜接続ピン（４−３２）まで同時に電圧が印加され、検出ピン保持バー１３４の接続ピン用検出ピン１３２に接触している接続ピン（１−１）〜（２−３２）にて電圧が検出されるか否かにより、接続ピン（１−１）〜（２−３２）と接続ピン（３−１）〜（４−３２）との間で短絡が発生しているか否かを検査する。ここで、接続ピン（２−４）と接続ピン（６−２９）間で短絡が発生している時には、図８に示すように、出力ピン保持バー１５４の接続ピン用出力ピン１５２で、接続ピン（５−１）〜（６−３２）に電圧を印加している際に、接続ピン（２−４）に接続している接続ピン用検出ピン１３２にて電圧が検出されることで、接続ピン（２−４）にて短絡が生じていることが判明する。
【００２２】
この制御部１４０による検査処理について、当該処理の主ルーチンを示す図１３を参照して説明する。
先ず、ＬＡＮを介してプリント配線板通電検査治具を製造した際のＣＡＤデータから検査ピンの座標情報データを読み込む（データ読み込み：Ｓ１００）。なお、接続ピン３２の座標情報データは、各プリント配線板通電検査治具において共通であるため、既に制御部１４０内に保持されている。そして、プリント配線板通電検査治具の２本の検査ピン５０の位置を測定することで、プリント配線板通電検査治具のピンの誤差を求め、求めた誤差から検査ピンの座標データを補正する（位置補正：Ｓ２００）。その後、検査の際の初期値を設定し（初期設定：Ｓ３００）、検査を行う（検査：Ｓ４００）。検査によりオープンと判断した検査ピン５０に対して再検査を行い（再検査：Ｓ５００）、検査結果を表示する（結果表示：Ｓ６００）。
【００２３】
上述したデータ読み込み（Ｓ１００）について、当該処理のサブルーチンを示す図１４を参照して説明する。
作業者からデータの取り込み指示があると（Ｓ１０２：Ｙｅｓ）、ＬＡＮを介してプリント配線板通電検査治具を製造した際のＣＡＤデータから検査ピンの座標情報データを読み込む（Ｓ１０４）。
【００２４】
上述した位置補正（Ｓ２００）について、当該処理のサブルーチンを示す図１５を参照して説明する。
ここで、図９に示すプリント配線板通電検査治具１０の４０９６本の検査ピン５０には、それぞれＡ−１からＡ−４０９６の番号が付けられており、同様に、図１１に示す４０９６本の接続ピン３２には、Ｂ−１からＢ−４０９６の番号が付けられている。作業者は、位置補正が適切に行えるように検査ピン（番号Ａ−１）から検査ピン（番号Ａ−４０９６）の内の対角線上に近いピンを誤差測定用に指定する。ここでは、図９中に示す検査ピン５０−１（番号Ａ−１）と検査ピン５０−２（番号Ａ−２０３３）とを選ぶとして説明を行う。なお、以下の説明で、接続ピン用検出ピン１３２及び接続ピン用出力ピン１５２の接続ピン３２への移動に関しては、接続ピン３２のピッチが大きく、規則正しく配置されており位置合わせで問題が生じないため詳細を省略する。
【００２５】
作業者により１番ピン５０−１の指定が行われると（Ｓ２０２：Ｙｅｓ）、指定された１番ピン（検査ピン：番号Ａ−１）の座標情報に基づき検査ピン用ピン１２２を移動させる（Ｓ２０４）。この検査ピン用ピンは、該ＣＣＤカメラ１４８で撮影され図２中に示すモニター１４４に映し出され、作業者は、モニター１４４の画像を見ながら、検査ピン用ピン１２２の位置が１番ピン５０−１に対応するよう微調整できる。即ち、制御部１４０は、作業者による指示があると（Ｓ２０６：Ｙｅｓ）、指示に基づき微調整を行う（Ｓ２０８）。そして、作業者により１番ピンの位置がＯＫであるとの指示があると（Ｓ２１０：Ｙｅｓ）、１番ピンの位置（現在の座標位置）を記憶する（Ｓ２１２）。
【００２６】
同様にして、作業者により２番ピン５０−２の指定が行われると（Ｓ２１４：Ｙｅｓ）、指定された２番ピン（検査ピン：番号Ａ−２０３３）の座標情報に基づき検査ピン用ピン１２２を移動させる（Ｓ２１６）。制御部１４０は、作業者による指示があると（Ｓ２１８：Ｙｅｓ）、指示に基づき微調整を行う（Ｓ２２０）。そして、作業者により２番ピンの位置がＯＫであるとの指示があると（Ｓ２２２：Ｙｅｓ）、２番ピンの位置（現在の座標位置）を記憶する（Ｓ２２４）。
【００２７】
その後、１番ピンの位置、２番ピンの位置からプリント配線板通電検査治具のプリント配線板検査板２０のＸ−Ｙ方向のずれを演算する（Ｓ２２６）。例えば、測定した１番ピンの位置と記憶していた座標とのＸ、Ｙ方向の誤差と、測定した２番ピンの位置と記憶していた座標とのＸ、Ｙ方向の誤差との平均から全体としてのＸ、Ｙ方向の誤差を出す。次に、１番ピンの位置、２番ピンの位置からプリント配線板通電検査治具のプリント配線板検査板２０のＸ−Ｙ方向の延び縮みを演算する（Ｓ２２８）。例えば、測定した１番ピンの位置と２番ピンの位置から求めた１番ピン−２番ピン間の距離と、記憶していた座標から求めた１番ピン−２番ピン間の距離との比較からＸ−Ｙ方向の延び縮みを演算する。最後に、測定した１番ピンの位置と記憶していた座標とのＸ、Ｙ方向の誤差と、測定した２番ピンの位置と記憶していた座標とのＸ、Ｙ方向の誤差から回転方向のずれ（誤差）を演算する（Ｓ２３０）。この回転誤差に基づき、Ｓ２２６で算出したＸ−Ｙ方向のずれ量は補正される。
【００２８】
上記演算により求めたＸ−Ｙ方向のずれ量、Ｘ−Ｙ方向延び縮、回転方向のずれに基づき、全ての検査ピン５０の座標データを補正して（Ｓ２３２）、処理を終了する。
【００２９】
上述した初期設定（Ｓ３００）について、当該処理のサブルーチンを示す図１６を参照して説明する。
作業者によるリトライ回数の指定があると（Ｓ３０２：Ｙｅｓ）、リトライ回数を設定する（Ｓ３０４）。ここで、リトライ回数とは、検査結果がオープンの場合、接触不良である可能性もあるため、設定された回数以内で自動的に同じピン位置を繰り返し検査する。作業者により連続ＮＧピン数の指定があると（Ｓ３０６：Ｙｅｓ）、連続ＮＧピン数を設定する（Ｓ３０８）。設定されたリトライ回数検査してもオープンとなることが複数のピンで連続する際には、配線順がずれている可能性が高いため、後述するように検査を途中で終了できるように、検査を終了するための連続ＮＧピン数を設定する。作業者によりＺ軸深さの指定があると（Ｓ３１０：Ｙｅｓ）、Ｚ軸深さを設定する（Ｓ３１２）。プリント配線板検査板２０に配置された検査ピンの先端（あるいはソケットの状態で検査することもある）形状が異なることにより、導通を確認できる荷重が変化することがあるため、導通し難い場合にはＺ軸を深くして良好に検査できるようにする。作業者によりＺ軸回避高さの指定があると（Ｓ３１４：Ｙｅｓ）、Ｚ軸回避高さを設定する（Ｓ３１６）。プリント配線板検査板２０には複数種類、即ち、大きさの異なる検査ピンが配置されているため、検査ピン用ピンが次の検査位置へ移動する際に、長く突き出たピンと干渉しないように、回避高さを設定する。作業者により自動微調整の指定があると（Ｓ３１８：Ｙｅｓ）、自動微調整寸法を設定する（Ｓ３２０）。検査中に予め補正指定された位置においてオープンが発生した場合、後述するようにここで設定された寸法だけ、＋Ｘ、−Ｘ、＋Ｙ、−Ｙ方向にずらした位置で再検査を行う。導通が確認された段階で、次のピン位置を導通の取れた補正量だけ補正して検査を続ける。
【００３０】
図１３を参照して上述した検査処理（Ｓ４００）について、当該処理のサブルーチンを示す図１７を参照して説明する。
先ず、制御部１４０は、上記Ｓ２３２で補正した検査ピンの座標位置に基づき、検査ピン用ピン駆動部１２０を制御し、検査ピン用ピン１２２を図９に示すプリント配線板通電検査治具１０表面に設けられた最初の検査対象となる検査ピン５０（番号５０−１）に当接させると共に、保持してある接続ピンの座標位置に基づき検出ピン駆動部１３０を制御し、検出ピン保持バー１３４を移動させ、接続ピン用検出ピン１３２を端子盤３０の検査対象の検査ピン５０に接続された接続ピンを含む６４本の接続ピン３２（１−１〜２−３２）へ当接させる（Ｓ４０２）。次に、検査対象の検査ピンを初期化した後（（最初は対象の検査ピンを番号Ａ−１（ｎ＝１）とする）：Ｓ４０２）、検査完了予定時刻を算出してモニター１４４で表示する（Ｓ４０６）。そして、検査ピン用ピン１２２に電圧を印加し、検査ピン用ピン１２２と接触している検査ピン５０−配線５４−接続ピン３２−接続ピン３２と接触している接続ピン用検出ピン１３２間に電流が流れるかを検査し（Ｓ４１０）、電流が流れる際には（Ｓ４１２：Ｙｅｓ）、当該検査対象の検査ピン５０の導通が正常であることを表示し（Ｓ４３４）、後述するショート検査（Ｓ８００）を経た後、最後のピンまで検査が済むまでは（Ｓ４３６：Ｎｏ）、上記処理を繰り返す。なお、この検査装置１００では、モニター１４４上に全ての検査ピンが白丸（○）で表示されており、検査結果がＯＫである場合には該当の白丸が緑丸になる。
【００３１】
ここで、上記Ｓ４１２の判断で、対象の検査ピンがオープンと判断された際には（Ｓ４１２：Ｎｏ）、検査ピン用ピン１２２を移動し直して再度検査する（Ｓ４１４）。そして、検査結果が再度オープンの際には（Ｓ４１６：Ｎｏ）、検査ピン用ピン１２２を上記Ｓ３２０で設定された寸法だけ＋Ｘ、−Ｘ、＋Ｙ、−Ｙ方向にずらした位置で再検査を行う（Ｓ４１８）。ここで、微調整の結果ＯＫとなった際には（Ｓ４２０：Ｙｅｓ）、上記微調整分だけ検査ピンの位置がずれている可能性が高いため、残りの（又は、次の）検査ピンの座標位置を補正する（Ｓ４２３）。他方、微調整してもＯＫとならない時には（Ｓ４２０：Ｎｏ）、上記Ｓ３０４で設定された回数、リトライしたかを判断し（Ｓ４２２）、設定回数に達していないときには（Ｓ４２２：Ｎｏ）、Ｓ４１４に戻りリトライする。他方、設定回数に達したときには（Ｓ４２２：Ｙｅｓ）、オープンの検査ピン番号（例えば、番号Ａ−２３）を記憶し（Ｓ４２４）、該当の検査ピンがオープンであることを表示する（Ｓ４２６）。ここでは、上述したモニター１４４上の検査ピンに対応する白丸（○）を赤丸にする。
【００３２】
その後、オープンとなる検査ピンが上記Ｓ３０８で設定した連続ＮＧピン数分続いているか否かを判断する（Ｓ４２８）。ここで、連続しているときには（Ｓ４２８：Ｙｅｓ）、配線順がずれている可能性が高いため、検査を途中で終了してピンずれをモニター及びブザーで警告して処理を終了する（Ｓ４３０）。連続していないときには（Ｓ４２８：Ｎｏ）、Ｓ４３６へ移行して処理を継続する。
【００３３】
上述した検査対象の検査ピンの導通が正常であることを表示した後（Ｓ４３４）、線間での短絡（ショート）が生じていないかの検査を行う（Ｓ４３４）。
このショート検査処理について、当該処理のサブルーチンを示す図２１を参照して説明する。
先ず、図５を参照して上述したように、検査ピン用ピン１２２に接続された検査ピンとの接続ピン３２（１−１）を除く残りの検出ピン保持バー１３４の接続ピン用検出ピン１３２に当接された接続ピン３２（１−２〜２−３２）で電圧が検出されるか判断し（Ｓ８０２）、検査対象の接続ピン３２（１−１）と残りの接続ピン３２（１−２〜２−３２）との間で短絡（同一行、及び次行間での短絡：第１の短絡）が発生していないかを検査する。ここで、短絡が生じているときには（Ｓ８０２）、短絡は共通線で生じているか否かを判断する（Ｓ８０４）。
例えば、アース線、電源線等の共通線ではないかを確認する。ここで、共通線ではない場合（Ｓ８０４：Ｙｅｓ）、短絡の生じているピン番号を記憶し（Ｓ８２０）、当該番号のピンで短絡が生じていることをモニター１４４に表示する（Ｓ８２２）。
【００３４】
他方、上記Ｓ８０２の判断で、短絡が生じていないとき（Ｓ８０２：Ｎｏ）、及び、短絡が共通線で生じているときには（Ｓ８０４：Ｙｅｓ）、検査対象（ｎ）の検査ピン５０を次の検査ピン（ｎ＋１）とし（Ｓ８０６）、検査ピン用ピン１２２の次の検査ピンへの移動を開始する（Ｓ８０７）。
【００３５】
ここで、検査ピン用ピン１２２の次の検査ピンへの移動を開始して、検査ピン５０から離れると、第２の短絡検査（検出ピン保持バー１３４の接続ピン用検出ピン１３２と出力ピン保持バー１５４の接続ピン用出力ピン１５２間での短絡検査）を開始する。先ず、出力ピン保持バー１５４による検査が全て終了しているかを判断する（Ｓ８０８）。ここで、検査が終了する前は（Ｓ８０８：Ｎｏ）、出力ピン保持バー１５４を移動するか否かを判断する（Ｓ８１０）。例えば、図７に示すように、検出ピン保持バー１３４と出力ピン保持バー１５４とを用いて、端子盤３０の第１行、第２行の接続ピン（１−１）〜（２−３２）と第３行、第４表の接続ピン（３−１）〜（４−３２）との検査が済む前は、次への移動なしとして（Ｓ８０８：Ｎｏ）、Ｓ８１４へ移行する。他方、図７に示す第１行、第２行の接続ピン（１−１）〜（２−３２）と第３行、第４表の接続ピン（３−１）〜（４−３２）との検査が済んだ後には、次移動有りとして（Ｓ８１０：Ｙｅｓ）、図８に示すように、出力ピン保持バー１５４を第５行、第６行へ移動させる（Ｓ８１２）。
【００３６】
そして、図７を参照して上述したように、接続ピン用出力ピン１５２に接触している接続ピン（３−１）〜（４−３２）へ電圧を印加し（Ｓ８１４）、接続ピン用検出ピン１３２側に接触する接続ピン（１−１）〜（２−３２）での電圧を検出し、接続ピン（３−１）〜（４−３２）と接続ピン（１−１）〜（２−３２）との間で短絡が発生しているかを検査する。ここで、短絡が生じているときには（Ｓ８１６：Ｙｅｓ）、例えば、次回の検査で図８中の接続ピン（２−４）と接続ピン（６−２９）との間で短絡が発生していることが分かった時には、共通線かを判断し（Ｓ８１８）、共通線ではないときには（Ｓ８１８：Ｎｏ）、Ｓ８２０での処理へ移行し、接続ピン（１−１）〜（２−３２）と接続ピン（５−１）〜（６−３２）との間で短絡が発生してことを記憶し、これを表示する（Ｓ８２２）。
【００３７】
他方、短絡が生じていないとき（Ｓ８１６：Ｎｏ）、あるいは、短絡が共通線で生じているときには（Ｓ８１８：Ｙｅｓ）、短絡が生じていないことをモニター１４４に表示し（Ｓ８２４）、その後、次の導通検査対象の検査ピン３２に接続ピン用検出ピン１３２を接触させる。
【００３８】
即ち、本実施形態では、接続ピン（１−１）の導通検査及び第１短絡検査が終わり、検査ピン用ピン１２２を次の検出対象の検査ピン３２へ移動している間、即ち、接続ピン（１−２）の検査を開始する前に、第２の短絡検査を行う（ここでは、図７に示す第１行、第２行（接続ピン（１−１）〜（２−３２））と第３行、第４行（接続ピン（３−１）〜（４−３２））との間での短絡検査）。そして、第２の短絡検査が終わり、接続ピン用出力ピン１５２の電圧を印加を停止し、次の接続ピン（１−３）の検査を開始する。そして、接続ピン（１−３）の検査が終了し、検査ピン用ピン１２２を次の検出対象の検査ピン３２へ移動している間、即ち、接続ピン（１−３）の検査を開始する前に、図８に示すように第２の短絡検査を行う（ここでは、第１行、第２行（接続ピン（１−１）〜（２−３２））と第５行、第６行（接続ピン（５−１）〜（６−３２））との間での短絡検査）。このため、検査時間を短縮することができる。なお、この第２短絡検査は、図１１中に示す複数の端子盤３０Ａ、３０Ｂ、３０Ｃ、３０Ｄ間にまたがって順次行われる。
【００３９】
上述した処理を繰り返し、全ての検査ピンの検査が終了すると（図１７中のＳ４３６：Ｙｅｓ）、ブザーを鳴らして検査終了を告知し（Ｓ４３８）、処理を終了する。
【００４０】
図１３を参照して上述した再検査処理（Ｓ５００）について、当該処理のサブルーチンを示す図１８、図１９を参照して説明する。
制御部１４０は、作業者による自動再検査の選択、手動再検査の選択に待機している（Ｓ５０１）。ここで、自動再検査が選択された際には（Ｓ５０１：Ｙｅｓ）、Ｓ５０６〜Ｓ５３８で、図１７を参照して上述したＳ４０６〜Ｓ４３８と同様にして再検査を行う。
【００４１】
一方、手動検査が選択された際には（Ｓ５０１：Ｎｏ）、オープンと判断された検査ピンを検索し（図１９中のＳ５５０）、読み出した検査ピンの座標位置に基づき、検査ピン用ピン駆動部１２０を制御し、検査ピン用ピン１２２を図９に示すプリント配線板通電検査治具１０表面の検査対象となる検査ピン５０側へ移動させると共に、保持してある接続ピンの座標位置に基づき検出ピン駆動部１３０を制御し、接続ピン用検出ピン１３２を図１１に示すプリント配線板通電検査治具１０裏面の検査対象の検査ピン５０に接続された接続ピン３２へ当接させる（Ｓ５５２）。検査ピン用ピン１２２は、該ＣＣＤカメラ１４８で撮影され図２中に示すモニター１４４に映し出され、作業者は、モニター１４４の画像を見ながら、検査ピン用ピン１２２が対象の検査ピンと接触するよう微調整できる。即ち、制御部１４０は、作業者による指示があると（Ｓ５５４：Ｙｅｓ）、指示に基づき微調整を行う（Ｓ５５６）。そして、作業者により検査ピンの位置がＯＫであるとの指示があると（Ｓ５５８：Ｙｅｓ）、電圧を印加して検査を行う（Ｓ５６０）。通電が確認できると（Ｓ５６２：Ｙｅｓ）、モニター１４４にて赤丸を緑丸に変えることで上記Ｓ４３４と同様に正常を表示し（５６４）、通電が確認できないときには（Ｓ５６２：Ｎｏ）、赤丸を表示し続けることでオープンを表示する（Ｓ５６６）。全てのオープン判断のなされた検査ピンが検査できるまでは（Ｓ５６８：Ｎｏ）、Ｓ５５０に戻り、次のオープン判断のなされた検査ピンを再検査する。
【００４２】
図１３を参照して上述した結果処理（Ｓ６００）について、当該処理のサブルーチンを示す図２０を参照して説明する。
先ず、上記検査、再検査の結果を上述したように緑丸、赤丸でモニター１４４に表示すると共に（Ｓ６０２）、図示しないプリンターにて打ち出す（Ｓ６０４）。
【００４３】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、検査ピン用出力ピンを検査対象の検査ピンに当接させ電圧を印加し、接続ピン用検出ピンを検査対象の検査ピンに接続された接続ピンへ当接させた状態で、検出ピン保持部材に保持された行数分（少なくとも１行分）の接続ピン用検出ピンで電圧を検出することで、該検査対象の検査ピンと検出ピン保持部材に保持された接続ピン用検出ピンに当接している行数分の接続ピンとの間の短絡検査を実施できる。そして、出力ピン保持部材の接続ピン用出力ピンを端子盤の行数分の接続ピンに当接して電圧を印加し、検出ピン保持部材の接続ピン用検出ピンを端子盤の行数分の接続ピンに当接して電圧を検出することで、当該接続ピン用出力ピンに当接している行数分の接続ピンと、接続ピン用検出ピンに当接している行数分の接続ピンとの間の短絡検査を実施する。このため、端子盤の接続ピンと同じ数の検査ピンを有する検査装置を用いることなく、少なくとも１行分の接続ピン用出力ピンを保持する出力ピン保持部材と、少なくとも１行分の接続ピン用検出ピンを保持する検出ピン保持部材とを用いて、出力ピン保持部材と検出ピン保持部材とを列方向へ移動させながら検査することで、マトリクス状に接続ピンを保持する端子盤の短絡検査することが可能となる。
【００４４】
また、本発明によれば、複数の検査ピンの内の少なくとも２本の検査ピンの位置を測定し（Ｓ２１２，Ｓ２２４）、測定した位置から該２本の検査ピンのＸ−Ｙ方向のずれ誤差（Ｓ２２６）、Ｘ−Ｙ方向の延び縮み誤差（Ｓ２２８）、回転方向のずれ誤差を演算し（Ｓ２３０）、演算された誤差から各検査ピンの座標位置を補正する（Ｓ２３２）。このため、プリント配線板通電検査治具の検査ピンの位置がずれていても自動で導通試験を行うことができる。また、人手では行い得なかった狭ピッチのパッケージ基板のＢＧＡを検査するためのプリント配線板通電検査治具の導通検査が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係るプリント配線板通電検査治具の検査装置の側面側を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係るプリント配線板通電検査治具の検査装置の正面側を示す図である。
【図３】図２のＢ−Ｂ横断面図である。
【図４】第１実施形態に係るプリント配線板通電検査治具の検査装置の電気的構成を示すブロック図である。
【図５】端子盤と検出ピン保持バーとの関係を示す説明図である。
【図６】第１実施形態に係るプリント配線板通電検査治具の検査装置の電気的構成を示すブロック図である。
【図７】端子盤と検出ピン保持バー及び出力ピン保持バーとの関係を示す説明図である。
【図８】端子盤と検出ピン保持バー及び出力ピン保持バーとの関係を示す説明図である。
【図９】プリント配線板通電検査治具の平面図である。
【図１０】プリント配線板通電検査治具の側面図である。
【図１１】プリント配線板通電検査治具の背面図である。
【図１２】プリント配線板通電検査治具によるプリント配線板の検査の説明図である。
【図１３】実施形態に係るプリント配線板通電検査治具の検査装置での検査処理を示すフローチャートである。
【図１４】図１３中のデータ読み込み処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１５】図１３中の位置補正処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１６】図１３中の初期設定処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１７】図１３中の検査処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１８】図１３中の再検査処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１９】図１３中の再検査処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図２０】図１３中の結果表示処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図２１】図１７中のショート検査処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０　プリント配線板通電検査治具
２０　プリント配線板検査板
３０　端子盤
３２　接続ピン
３６　ケーブル
５０　検査ピン
５４　配線
６０　プリント配線板
１００　検査装置
１２０　検査ピン用ピン駆動部
１２２　検査ピン用ピン
１３０　検出ピン駆動部
１３２　接続ピン用検出ピン
１３４　検出ピン保持バー
１４０　制御部
１４４　モニター
１４８　ＣＣＤカメラ
１５０　出力ピン駆動部
１５２　接続ピン用出力ピン
１５４　出力ピン保持バー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
2004069447.tif 000021
【図２０】
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【図２１】
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