(57)【要約】【課題】コネクタハウジングに組付けられた端子の位置が容易に確認でき、コネクタの小型・軽量化を図ることのできるコネクタ検査装置を提供する。【解決手段】コネクタハウジング７０に挿着される端子８０を係止するランス７３の状態を確認するためのコネクタ検査装置１に、コネクタ６０がセットされる装着部３０と、ランス７３に向けて信号Ｓを発信すると共に信号Ｓを受信する信号部１０とが備えられた。信号部１０は、コネクタハウジング７０の信号入射口７２側に備えられ、信号部１０から発信される信号Ｓは、コネクタハウジング７０の信号入射口７２からコネクタハウジング７０の端子収容室７１内に入射されて端子収容室７１内に設けられたランス７３に照射されると共に、ランス７３に対して反射された信号Ｓが再度信号部１０に戻されて、コネクタハウジング７０の端子収容室７１内におけるランス７３の位置が検出される。【選択図】　　　図１
2004108935.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクタハウジングに挿着される端子を係止するランスの状態を確認するためのコネクタ検査装置において、コネクタがセットされる装着部と、前記ランスに向けて信号を発信すると共に該信号を受信する信号部とを備えることを特徴とするコネクタ検査装置。
【請求項２】
前記信号部は、前記コネクタハウジングの信号入射口側に備えられ、該信号部から発信される前記信号は、該コネクタハウジングの該信号入射口から該コネクタハウジングの端子収容室内に入射されて該端子収容室内に設けられた前記ランスに照射されると共に、該ランスに対して反射された該信号が、再度、該信号部に戻されることで、該コネクタハウジングの該端子収容室内に設けられた該ランスの位置が検出されることを特徴とする請求項１記載のコネクタ検査装置。
【請求項３】
前記信号として光信号が適用され、前記信号部は、該光信号を発光すると共に前記ランスに対して反射された該光信号を受光する光信号発光・受光部とされたことを特徴とする請求項２記載のコネクタ検査装置。
【請求項４】
前記信号部は、前記コネクタハウジングの一側壁側に位置すると共に前記信号を発信する信号発信部と、該コネクタハウジングの他側壁側に位置すると共に該信号を受信する信号受信部とを備え、該信号発信部から発せられる該信号は、該コネクタハウジングの該一側壁側から該他側壁にかけて設けられたランス検出孔を通り抜け、その際の該信号の透過量が該信号受信部によって検知されることにより、該コネクタハウジングの端子収容室内に設けられた前記ランスの位置が検出されることを特徴とする請求項１記載のコネクタ検査装置。
【請求項５】
前記信号として光信号が適用され、前記信号発信部は該光信号を発光する光信号発光部とされ、前記信号受信部は該光信号を受光する光信号受光部とされたことを特徴とする請求項４記載のコネクタ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コネクタハウジングに組付けられた端子の位置が容易に確認できるコネクタ検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
図４は、従来のコネクタ試験器を示す断面図である（例えば、特許文献１参照。）。
図示されたコネクタ１０１は、弾性係止腕１０４を備えるものとして構成されている。この弾性係止腕１０４は、端子収納室１００Ａの側部に設けられ、端子１０３が収納室１００Ａへ挿入される際に撓み空間部１００Ｓ内に撓まされ、且つ、端子１０３がハウジング１０２内に完全に収納される時に復元されて端子１０３を収納室１００Ａ内に係止させる役割を果たす。
【０００３】
このようなコネクタ１０１において、端子１０３が完全に収納室１００Ａ内へ挿入されているものかどうかといった端子収納状態の試験が行われるために、図４に示されるコネクタ試験器１０５が用いられる。
【０００４】
このコネクタ試験器１０５は、試験をうけるコネクタ１０１の端子収納室１００Ａに収容されている端子１０３に対し、弾力的に接触されると共に電気接触を行う導通子１０８と、試験をうけるコネクタ１０１の端子１０３に対して接続される相手側端子（図示せず）の挿入方向にのばされコネクタ１０１の撓み空間部１００Ｓに臨むスペーサ１０９とを備えるものとして構成されている。
【０００５】
図５は、従来のコネクタ及びその検査装置を示す断面図である（例えば、特許文献２参照。）。
コネクタハウジング２１１のランス２１４において、正規位置に挿入された端子金具２１３に接触する部分からコネクタハウジング２１１の前面開口部に臨む先端面部分にかけて端子金具２１３の装着不良検出用の導電部２１６が形成されている。
【０００６】
検査装置２２０には、コネクタホルダ２２２が設けられている。この検査装置２２０において、このコネクタホルダ２２２に保持されたコネクタ２１０のランス２１４に向かって延びるランス接触ピン２２８が、ランス方向に移動可能に設けられている。このランス接触ピン２２８は、ワイヤハーネスの導通検査回路に接続されている。
【０００７】
図５の如く、コネクタハウジング２１１に対し端子金具２１３が正規位置にあれば、端子金具２１３と、ランス接触ピン２２８とは、ランス２１４の導電部２１６を介して導通される。また、コネクタハウジング２１１に対し端子金具２１３が正規位置になければ、ランス２１４の導電部２１６が端子金具２１３に接触されないため、導通は行われない。
【０００８】
図６は、従来の端子半挿入検知構造及びコネクタ端子検出具を示す断面図である（例えば、特許文献３参照。）。
端子金具３７９の端子収容室３８１への挿入方向に対し交差する方向に沿って、端子収容室３８１内と、外部とを連通する検知ホール３８３が、コネクタ３３５に設けられている。
【０００９】
端子収容室３８１内へ端子金具３７９が正規収容位置まで挿入される時に、コネクタ受部３２９側に向けた検出器本体３３１の移動が許容されると共に、端子収容室３８１内へ端子金具３７９が半挿入された時に、コネクタ受部３２９側に向けた検出器本体３３１の移動を阻止して端子金具３７９の半挿入を検知するといった端子半挿入検知機構３２５が、コネクタ端子検出具３２３に設けられている。
【００１０】
図７は、従来のコネクタ端子検査装置の検査要領を示す説明図である（例えば、特許文献４参照。）。
コネクタハウジング４０１の外側を覆う外光遮断部材に、照射用光ファイバ４０８と、受光用光ファイバ４０９とが配設されている。
【００１１】
発光素子４０７から発せられた検査光は、照射用光ファイバ４０８を通じて、コネクタハウジング４０１の係止孔４０５に係合された金属端子体４０２のスタビライザー部４０４すなわち端子係止部に照射される。金属端子体４０２のスタビライザー部４０４から反射光が受光用光ファイバ４０９を通じて受光素子４１２に伝送される。スタビライザー部４０４からの反射光の強弱により、金属端子体４０２がコネクタハウジング４０１の端子収容部４０３内に適正に位置しているかどうかといったことが検査される。
【００１２】
金属端子体４０２のスタビライザー部４０４が、コネクタハウジング４０１の係止孔４０５内に正確に挿着されている時に得られる反射光の強さは、予め測定され標準値として比較電圧の形で設定される。
【００１３】
検査対象の金属端子体４０２のスタビライザー部４０４からの反射光によって得られる出力が、前記比較電圧と較べられ、比較器４１３からの出力が一定範囲内にあれば、コネクタハウジング４０１に対する金属端子体４０２は、正常な位置まで挿着され、スタビライザー部４０４の係合角度も正常であるといったことが確認される。
【００１４】
コネクタハウジング４０１の端子収容部４０３内への金属端子体４０２の挿入深さが正常でない場合や、金属端子体４０２のスタビライザー部４０４の角度が適正でない場合は、受光用光ファイバ４０９に導かれる反射光は標準値と較べて少なくなる。その結果、比較器４１３の出力は正常な場合と異なった値となる。
【００１５】
【特許文献１】
実開昭５７−８９９６４号公報マイクロフィルム（第１頁、第２頁、第４頁、第７頁、第８頁、第４図）
【特許文献２】
実開平７−２７０８２号公報（第１頁、第１図）
【特許文献３】
特開平８−９６９２３号公報（第１頁、第１図）
【特許文献４】
実用新案登録第３０３８８４６号公報（第１頁、第２図）
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図４に示される上記従来のコネクタ試験器１０５にあっては、弾性係止腕１０４すなわちランスの撓み空間部１００Ｓに、スペーサ１０９すなわち検出ピンが差込まれてコネクタ１０１の弾性係止腕１０４の位置が検出されるものであるから、ハウジング１０２に対し端子１０３が中途の状態で挿入されて弾性係止腕１０４が跳ね上げられている時に、スペーサ１０９により、弾性係止腕１０４が破損されることが懸念されていた。
【００１７】
これの対策として、図５に示される如く、スプリング２３０が用いられてランス接触ピン２２８すなわち検出ピンが移動可能に支持されるといった構造のコネクタ検査装置２２０が考案された。しかしながら、図５に示される上記従来のコネクタ検査装置２２０にあっては、コネクタ検査装置２２０が複雑な構造となり、また、図示されたコネクタ検査装置２２０は精度も要求されることから、コネクタ検査装置２２０のコストが上昇されるといったことが懸念されていた。
【００１８】
また、図６に示される如く、端子金具３７９すなわち端子の位置が直接検出される構造をした端子半挿入検知構造３２５及びコネクタ端子検出具３２３というものも挙げられるが、このようなものは構造が複雑なものとされ、また、不用意にイレギュラな検出作業が行われると、端子が破損されるといったことが心配されていた。
【００１９】
また、図７の如く、光学的に金属端子体４０２すなわち端子の位置が検出される構造をしたコネクタ端子検査装置も挙げられるが、このようなものであると、金属端子体４０２がコネクタハウジング４０１へ組付けられる前に、スタビライザー部４０４すなわち端子係止部が変形されるということや、コネクタハウジング４０１の係止孔４０５すなわち端子係止孔部における極間ショートの発生が危惧されていた。
【００２０】
本発明は、上記した点に鑑み、コネクタハウジングに組付けられた端子の位置が容易に確認でき、端子位置を検出するための別部材の削減によるコストの削減化や、コネクタの小型・軽量化を図ることのできるコネクタ検査装置を提供することを目的とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の請求項１に係るコネクタ検査装置は、コネクタハウジングに挿着される端子を係止するランスの状態を確認するためのコネクタ検査装置において、コネクタがセットされる装着部と、前記ランスに向けて信号を発信すると共に該信号を受信する信号部とを備えることを特徴とする。上記構成により、簡単な構造とされながらランスの検出精度が向上されたコネクタ検査装置を提供することができる。また、コネクタハウジングに挿着された端子と、ランスとの係止状態が確認される際に、非接触の状態でランスの検出が行われることから、コネクタハウジングに挿着された端子またはコネクタハウジング内のランスが、検出ピンなどの他のものによって不用意に破損させられるといった不具合の発生は、未然に防止されることとなる。
【００２２】
請求項２に係るコネクタ検査装置は、請求項１に係るコネクタ検査装置において、前記信号部は、前記コネクタハウジングの信号入射口側に備えられ、該信号部から発信される前記信号は、該コネクタハウジングの該信号入射口から該コネクタハウジングの端子収容室内に入射されて該端子収容室内に設けられた前記ランスに照射されると共に、該ランスに対して反射された該信号が、再度、該信号部に戻されることで、該コネクタハウジングの該端子収容室内に設けられた該ランスの位置が検出されることを特徴とする。
上記構成により、複雑な構造をしたコネクタ検査装置とされることなく、検出精度の高いコネクタ検査装置が提供されることとなる。また、コネクタハウジングの信号入射口から検出ピンが挿入されてランスに突き当てられるための空間は、コネクタハウジングに必要とされなくなる。従って、コネクタハウジングの信号入射口の全周にわたって、相手側端子が挿入され易くされるためのガイドテーパ面が形成可能となる。
【００２３】
請求項３に係るコネクタ検査装置は、請求項２に係るコネクタ検査装置において、前記信号として光信号が適用され、前記信号部は、該光信号を発光すると共に前記ランスに対して反射された該光信号を受光する光信号発光・受光部とされたことを特徴とする。
上記構成により、簡素な構造でありながらランスの検出精度の高いコネクタ検査装置が提供されることとなる。また、光信号によって、コネクタハウジングに挿着された端子と、ランスとの係止状態が確認されるものであるから、非接触の状態でランスの位置の検出が行われることとなる。従って、ランスの係止状態が確認される際に、検出ピンなどによって、コネクタハウジングに挿着された端子またはコネクタハウジング内のランスが、不用意に破損させられるといった不具合の発生は、確実に防止されることとなる。
また、請求項２又は３記載の発明によれば、コネクタの仕様により、端子が確実にコネクタハウジングに係り止めされるための端子二重係止部材をコネクタから省略させることも可能となる。そのようにすることで、コネクタの重量が軽減化されると共に、コネクタの製造コストが削減化されることとなる。また、端子二重係止部材がコネクタハウジングに収容されるためのスペースも、コネクタハウジングに不要とされるから、コネクタハウジングおよびコネクタの小型化が図られることとなる。
【００２４】
請求項４に係るコネクタ検査装置は、請求項１に係るコネクタ検査装置において、前記信号部は、前記コネクタハウジングの一側壁側に位置すると共に前記信号を発信する信号発信部と、該コネクタハウジングの他側壁側に位置すると共に該信号を受信する信号受信部とを備え、該信号発信部から発せられる該信号は、該コネクタハウジングの該一側壁側から該他側壁にかけて設けられたランス検出孔を通り抜け、その際の該信号の透過量が該信号受信部によって検知されることにより、該コネクタハウジングの端子収容室内に設けられた前記ランスの位置が検出されることを特徴とする。
上記構成により、複雑な構造をしたコネクタ検査装置とされることなく、高精度に設定可能なコネクタ検査装置が提供されることとなる。
【００２５】
請求項５に係るコネクタ検査装置は、請求項４に係るコネクタ検査装置において、前記信号として光信号が適用され、前記信号発信部は該光信号を発光する光信号発光部とされ、前記信号受信部は該光信号を受光する光信号受光部とされたことを特徴とする。
上記構成により、非接触の状態でランスの位置の検出が行われることとなる。従って、ランスの係止状態の確認が行われる際に、検出ピンなどによって、コネクタハウジングに挿着された端子またはコネクタハウジング内のランスが、不用意に破損させられるといった不具合の発生は、確実に防止されることとなる。
また、請求項４又は５記載の発明によれば、コネクタの仕様により、端子が確実にコネクタハウジングに係り止めされるための端子二重係止部材をコネクタから省略させることも可能となる。そのようにすることで、コネクタの重量が軽減化されると共に、コネクタの製造コストが削減化されることとなる。
また、請求項１〜５の何れか１項に記載の発明によれば、コネクタハウジングに挿着された端子と、ランスとの係止状態が確認されるために、コネクタハウジングの外側に端子の一部を露出させる必要もなくなるから、極間ショート発生の危険性が低減化されたコネクタが取扱われることとなる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図１は、本発明に係るコネクタ検査装置の一実施の形態を示す縦断面図であり、（ａ）はコネクタハウジングに端子が正常に挿着された状態を示す縦断面図、（ｂ）はコネクタハウジングに対する一部の端子の半挿入状態を示す縦断面図である。また、図２は、コネクタ検査装置における他の実施の形態を示す斜視図であり、図３は、図２に示されるコネクタおよびコネクタ検査装置の変形例を示す説明図である。
【００２７】
次に図１〜図３に基づき、コネクタおよびこれがセットされるコネクタ検査装置に関連した各方向について説明する。コネクタ６０（図１），６５（図２），６５Ｉ（図３）　において、雄端子（図示せず）が入り込まれるための相手側端子挿入口７２（図１），７７（図２），７７Ｉ（図３）　が設けられた側を前側とし、コネクタ６０（図１），６５（図２）からケーブル９０（図１），９５（図２）が延長形成される側を後側とする。
【００２８】
また、コネクタハウジング７０（図１），７５（図２），７５Ｉ（図３）　の基壁７０ａ（図１），７５ａ（図２）側を下側とし、前記基壁７０ａ（図１），７５ａ（図２）に沿って略平行に設けられた他壁７０ｅ（図１），７５ｅ（図２），７５ｅＩ（図３）　が位置する側を上側とする。
【００２９】
また、コネクタハウジング７０（図１），７５（図２），７５Ｉ（図３）　の一方の側壁７０ｃ（図１），７５ｃ（図２），７５ｃＩ（図３）　から他方の側壁７５ｄ（図２）にかけた方向を左右幅方向とする。なお、この明細書における「前後」、「上下」、「左右」の定義は便宜上のものであり、必ずしもコネクタ検査装置が用いられてコネクタの検査が行われる際のコネクタ検査装置における実使用時の方向と一致するものではない。
【００３０】
図１に示されるコネクタ６０は、合成樹脂製のコネクタハウジング７０と、このコネクタハウジング７０の端子収容室７１内に挿着される金属製の端子８０とを備えるものとして構成されている。コネクタハウジング７０の後側に設けられた端子挿入口７１ｂからコネクタハウジング７０の端子収容室７１内に向けて端子８０が差込まれることで、コネクタハウジング７０に端子８０が組付けられる。
【００３１】
合成樹脂製のコネクタハウジング７０は、基壁７０ａと、この基壁７０ａに対し略直角に延設された両側壁７０ｃと、前記側壁７０ｃに対し略直角に延設されると共に前記基壁７０ａに沿って略平行に設けられた他壁７０ｅと、上側の端子収容室７１と、下側の端子収容室７１とを区切る隔壁７０ｂとを備え、前記隔壁７０ｂから先端部７３ａに至る係止ランス７３が延設されている。端子収容室は、キャビティとも呼ばれている。キャビティとは、空隙もしくは空所または抜き穴を意味するものとされる。また、「ランス」とは「槍」を意味するものとされているが、係止ランスとして槍状のものに限らず、アーム状のものなど種々の形状のものが使用可能とされる。
【００３２】
前記係止ランス７３は、コネクタハウジング７０と一体に成形されている。また、コネクタ６０を構成する一つのコネクタハウジング７０内に、複数の端子収容室７１が設けられると共に、各端子収容室７１に一つずつ係止ランス７３が設けられている。このような形状をしたコネクタハウジング７０は、射出成形法に基づいて形成されたものである。
【００３３】
コネクタハウジング７０が小型化されてコネクタ６０の小型化・コンパクト化が図られるために、コネクタハウジング７０内の上側に位置するランス７３と、コネクタハウジング７０内の下側に位置するランス７３との間隔は、コネクタハウジング７０に端子８０が挿着される際に、上側に位置するランス７３または下側に位置するランス７３の何れか一方のランス７３だけが十分に撓まされることのできる間隔に設定されている。
【００３４】
上下両方のランス７３が同時に十分に撓まされることは不可能なものとされているから、コネクタハウジング７０に上下両方の端子８０が同時に挿着されることは不可能なものとされているが、これにより、小型化・コンパクト化が図られたコネクタ６０とされている。
【００３５】
コネクタハウジング７０に端子８０が挿着される際には、例えば図１（ａ）の如く、先ず、コネクタハウジング７０の上側の収容室７１に端子８０が確実に挿着され、次に、コネクタハウジング７０の下側の収容室７１に端子（８０）が挿着される。
【００３６】
コネクタハウジング７０に端子８０が挿着される順番は、前述の順番に限られず、例えば図１（ｂ）の如く、先ず、コネクタハウジング７０の下側の収容室７１に端子８０が確実に挿着され、次に、コネクタハウジング７０の上側の収容室７１に端子８０が挿着されるといった順番で端子取付作業が行われてもよい。
【００３７】
金属製の端子８０は、相手側端子（図示せず）と通電可能に接続される電気接触部８３と、ケーブルと通電可能に接続される電線接続部８４とを備えるものとして形成されている。ケーブル９０の端部の露出された導体９１に対し、端子８０に設けられた電線接続部８４の一対の導体圧着片８４１　が加締められることで、端子８０と、ケーブル９０とが通電可能に接続される。また、ケーブル９０の端部の絶縁被覆体９２に対し、端子８０に設けられた電線接続部８４の一対の被覆圧着片８４２　が加締められることで、端子８０と、ケーブル９０とが確実に接続される。
【００３８】
雌端子８０の電気接触部８３は、相手側端子として雄端子（図示せず）が入り込む相手側端子挿入口８２と、不図示の雄端子が挿入される略矩形箱状をした収容室８１と、コネクタハウジング７０のランス７３が雌端子８０と確実に係り止めされるための係合孔８３ａとを備え、雌端子８０の収容室８１内に、接点部を有する弾性接触片（図示せず）や、他の接点部（図示せず）などが設けられている。
【００３９】
コネクタハウジング７０に組付けられる金属製の端子８０は、板状をした鋼板に打抜き加工などのプレス加工が行われて、所定の形状をした平板状の端子金具素材が形成された後に、平板状の端子金具素材に折曲げ加工などのプレス加工が行われて形成されたものである。
【００４０】
また、前記端子８０が通電可能に取付けられるケーブル９０は、複数本の軟銅線が撚り合わされて構成された導体９１と、導体９１を保護するための外皮とされるポリ塩化ビニル製の絶縁被覆体９２とを備えるものとして構成され、一般に電線として取扱われている。
【００４１】
図１に示されるコネクタ検査装置１は、コネクタハウジング７０内に挿着される雌端子８０を係止するランス７３の状態を確認するために用いられるものである。このコネクタ検査装置１は、コネクタ６０がセットされるための装着部３０を有する装置本体２と、コネクタハウジング７０内のランス７３に向けて信号Ｓを発信すると共に信号Ｓを受信する一つの信号部１０とを備えるものとされている。
【００４２】
信号部１０は略円筒状に形成されたセンサとされ、このセンサに光ファイバ１０Ｌなどのケーブル１０Ｌが接続されている。このケーブル１０Ｌは、光測定器などの測定装置（図示せず）に接続されて、光信号Ｓなどの信号Ｓが検出されると共に、前記信号Ｓが予め設定された所定の値と適合されるものであるか、又は不適合とされるものであるかといった判定が行われる。
【００４３】
コネクタ検査装置１を構成する装置本体２は、コネクタ６０が載置される基壁２ａと、信号部１０が取付けられる前部側壁２ｂと、前部側壁２ｂの両側に位置し基壁２ａと天壁２ｄとを繋ぎ且つコネクタ６０をガイドする側壁２ｃと、同じくコネクタ６０をガイドする天壁２ｄとを備えるものとして構成されている。
【００４４】
略筒状に形成された信号部１０とされるセンサに対応して、装置本体２の前部側壁２ｂに、貫通孔形状をした取付部３が設けられている。信号部１０から発信される信号Ｓの測定物に対する焦点調整が容易に行われるために、装置本体２の前部側壁２ｂに貫設された取付部３内において、略筒状に形成された信号部１０は、前後方向に移動可能な状態で前部側壁２ｂの取付部３に挿着されている。
【００４５】
また、装置本体２を構成する基壁２ａと、前部側壁２ｂと、両側壁２ｃと、天壁２ｄとで囲まれて形成された略矩形箱状の空間２ｅは、装置本体２にコネクタ６０がセットされた際に暗室とされて、信号部１０から発せられる光信号Ｓなどの信号Ｓが、太陽光などの他のものによって影響され難いように為されている。
【００４６】
検査されるコネクタ６０が容易で迅速にコネクタ検査装置１にセットされるために、装置本体２の基壁２ａに、押しボタン式の可動位置決め部４が設けられている。また、検査されるコネクタ６０が容易で確実にコネクタ検査装置１にセットされるために、略矩形箱状をしたコネクタハウジング７０に対応して、装置本体２を構成する基壁２ａと、両側壁２ｃと、天壁２ｄとに、位置合せ用の段差部２ｆ，２ｇ，２ｈが設けられている。さらに、コネクタ６０がコネクタ検査装置１にセットされ易くされるために、装置本体２を構成する天壁２ｄの後側端部２ｄ１　に、ガイド傾斜面２ｉが設けられている。
【００４７】
図４〜図６に示される従来のものに比べ、図１に示されるコネクタ検査装置１は簡単な構造のものとされ、しかも簡単な構造のものでありながら、コネクタハウジング７０内のランス７３の検出精度が向上されたコネクタ検査装置１とされている。
【００４８】
また、コネクタハウジング７０内に挿着された雌端子８０と、コネクタハウジング７０内に設けられたランス７３との係止状態が確認される際に、一つの信号部１０とされるセンサが用いられることにより、非接触の状態でランス７３の検出が行われることとなる。
【００４９】
従って、コネクタハウジング７０に挿着された雌端子８０またはコネクタハウジング７０内のランス７３が、従来の技術で用いられた検出ピンなどの他のものによって不用意に破損させられるといった不具合の発生は、未然に防止されることとなる。
【００５０】
また、例えばコネクタハウジング７０内の複数の端子収容室７１すなわちキャビティに設けられたそれぞれのランス７３に対応して、コネクタ検査装置１に複数の信号部１０が設けられたものとされていれば、図１（ｂ）の如く、コネクタ６０を構成するコネクタハウジング７０内に設けられた複数のランス７３のうち、どのランス７３が撓まされた状態のままにされているのかといったことは、容易に判明されることとなる。従って、コネクタ６０を構成するコネクタハウジング７０に挿入された複数の端子８０のうち、どの端子が未挿着の状態とされているのかといったことは、判別され易いものとなる。
【００５１】
図１の如く、コネクタハウジング７０内に設けられた上下一組とされるランス７３，７３に対応して、コネクタ検査装置１に一つの信号部１０が設けられ、コネクタ６０を構成するコネクタハウジング７０に設けられた複数組のランス７３，７３の総数と、コネクタ検査装置１に設けられた複数の信号部１０の総数とは、同数に設定されている。即ち、コネクタハウジング７０に設けられたランス７３の総数に対し、コネクタ検査装置１に備えられた信号部１０の総数は、半分の数とされている。
【００５２】
コネクタハウジング７０内に設けられた上側のランス７３と、コネクタハウジング７０内に設けられた下側のランス７３との二つのランス７３，７３に対し、一つの信号部１０がコネクタ検査装置１に設けられているが、上下二つのランス７３，７３の検査は、一つの信号部１０によって十分に行われることができる。
【００５３】
上述した如く、コネクタハウジング７０が小型化されてコネクタ６０の小型化・コンパクト化が図られるために、コネクタハウジング７０内の上側に位置するランス７３と、コネクタハウジング７０内の下側に位置するランス７３との間隔は、コネクタハウジング７０に端子８０が挿着される際に、上側に位置するランス７３または下側に位置するランス７３の何れか一方のランス７３だけが十分に撓まされることのできる間隔に設定されている。
【００５４】
このようなコネクタハウジング７０において、上下両方のランス７３が同時に撓まされるといった状況が発生された場合について説明すると、コネクタハウジング７０に挿入される上下両方の端子８０に設けられた相手側端子挿入口８２の近傍が、両方とも中途半端に撓まされた上下両方のランス７３と当接されてつっかえることとなり、このことから、上下両方の端子８０に設けられた相手側端子挿入口８２の近傍部は、両方とも上下両方のランス７３を乗り越えることができない状態となる。
【００５５】
その場合、上下の端子８０，８０の後側に設けられた電線接続部８４，８４が、両方ともコネクタハウジング７０の後側の端子挿入部７１ｂから甚だしくはみ出されることとなる。従って、そのような場合において、コネクタハウジング７０に対する上下両方の端子８０，８０の半挿入状態は、一目で判別できることとなる。
【００５６】
上記構造をしたコネクタ６０とされているから、図１に示されるコネクタ６０のコネクタハウジング７０において、コネクタハウジング７０に上下両方の端子８０が同時に挿着され、その際に、上下両方の端子８０と摺接される上下両方のランス７３が、同時にしかも十分に撓まされるということは、まず起こり得ないものとされている。
【００５７】
従って、上下両方のランス７３に同時に端子半挿入状態が発生されるということは回避され、コネクタハウジング７０内に設けられた上下両方のランス７３のうち、一方のランス７３のみに端子半挿入状態が発生される。このようなことから、コネクタハウジング７０内に設けられた上下二つのランス７３，７３の検査は、一つの信号部１０によって十分に成し遂げられるものとされる。
【００５８】
例えば図１（ａ）から想定可能なように、先ず、コネクタハウジング（７０）の上側の収容室（７１）に端子（８０）が挿入された際に、端子（８０）が中途半端な半挿入の状態とされて、コネクタハウジング（７０）内の上側のランス（７３）が下側に向けて大きく撓まされた状態のままに維持された場合、次に、コネクタハウジング（７０）の下側の収容室（７１）に端子（８０）を挿入させようとしても、上側のランス（７３）が下側に向けて大きく撓まされて、図１（ｂ）から想定される如く、上側のランス（７３）の先端部（７３ａ）と、下側のランス（７３）の先端部（７３ａ）とは当接された状態に維持されることとなる。
【００５９】
そのような状態とされた場合、下側のランス（７３）が上側に向けて撓まされることは出来なくなるから、下側の収容室（７１）に挿入されかけた端子（８０）の相手側端子挿入口（８２）の近傍は、下側のランス（７３）と当接されてつっかえることとなる。即ち、下側の収容室（７１）に挿入される途中の端子（８０）に設けられた相手側端子挿入口（８２）の近傍部は、下側のランス７３を乗り越えることができないこととなる。これにより、コネクタハウジング（７０）上側の収容室（７１）に挿入された端子（８０）が、半挿入状態とされていたものと判明される。
【００６０】
このように、図１に示されるコネクタ６０が組立てられる工程において、コネクタハウジング７０に設けられた上側の収容室７１または下側の収容室７１の何れか一方側の収容室７１内に、先ず端子８０が挿入され、その際に、先ず端子８０が挿入された側の収容室７１内において端子半挿入状態が発生された場合、次に、コネクタハウジング７０に設けられた下側の収容室７１または上側の収容室７１の何れか端子未挿入側の収容室７１に、残りの端子８０が挿入されるときに、先に挿入された端子８０の半挿入状態が判明されることとなる。
【００６１】
図１（ｂ）において、前記先に挿入された端子８０は、コネクタハウジング７０の下側の収容室７１に挿入された端子８０に相当する。また、後からコネクタハウジング７０に挿入される前記残りの端子８０は、コネクタハウジング７０の上側の収容室７１に挿入されている端子８０に相当する。
【００６２】
前記先に挿入された端子８０が、半挿入の状態でコネクタハウジング７０に取付けられることなく、確実にコネクタハウジング７０の下側の収容室７１に挿着されていれば、残りの端子８０は、コネクタハウジング７０の端子未挿入側とされた上側の収容室７１に難なく挿入される。
【００６３】
その際に、残りの端子８０が挿入された側の収容室７１すなわち上側の収容室７１のランス７３において、端子半挿入状態が発生されているものかどうかといったことが容易で迅速に判明されるために、図１に示されるコネクタ検査装置１が用いられて、コネクタ６０を構成するコネクタハウジング７０の係止ランス７３の検査が行われる。
【００６４】
コネクタハウジング７０内の上下一組のランス７３，７３に対応して、コネクタ検査装置１に一つの信号部１０が設けられていれば、前記上下一組のランス７３，７３のうち何れか一方のランス７３だけが撓まされたままの状態に維持されて、コネクタハウジング７０内に挿入された上下両方の端子８０のうち何れか一方の端子８０が、完全にコネクタハウジング７０に挿着されずに半挿入の状態とされているということは、上下一組のランス７３，７３に対応したコネクタ検査装置１の一つの信号部１０によって確実に判明される。従って、必要以上に信号部１０がコネクタ検査装置１に備えられるということは回避され、コネクタ検査装置１の構造の簡素化と、価格の低減化とが図られることとなる。
【００６５】
図１に示される上記コネクタ検査装置１に限られず、検査対象のコネクタの構造により、例えば、一つの端子収容室（７１）すなわち一つのキャビティに対応して、コネクタ検査装置（１）に一つの信号部（１０）が設けられ、コネクタ（６０）を構成するコネクタハウジング（７０）に設けられた複数のキャビティの総数と、コネクタ検査装置（１）に設けられた複数の信号部（１０）の総数とが同数とされるコネクタ検査装置（１）も使用可能とされる。そのようなコネクタ検査装置（１）が構成されていれば、コネクタハウジング（７０）に挿入された複数の端子（８０）のうち、中途挿入とされた端子は、容易で確実に識別されることとなる。
【００６６】
図１の如く、コネクタ検査装置１の信号部１０は、装置本体２の前部側壁２ｂに装着されて、コネクタハウジング７０の信号入射口７２側すなわちここではコネクタハウジング７０の相手側端子挿入口７２側に位置すると共に、端子収容室７１内に設けられたランス７３の先端面７３ａに照準が合せられるようにコネクタ検査装置１に備えられている。
【００６７】
コネクタ検査装置１の信号部１０から発信される信号Ｓは、コネクタハウジング７０の相手側端子挿入口７２からコネクタハウジング７０の端子収容室７１内に入射されて端子収容室７１内に設けられたランス７３の先端面７３ａに照射される。
【００６８】
これと共に、図１（ａ）の如く、コネクタハウジング７０内のランス７３の先端面７３ａに対して反射された信号Ｓが、再度、コネクタ検査装置１の信号部１０に戻されることで、コネクタハウジング７０の端子収容室７１内に設けられたランス７３の位置が検出される。これにより、コネクタハウジング７０に端子８０が正常な状態で挿着されていることが確認される。
【００６９】
また、図１（ｂ）の如く、コネクタハウジング７０内のランス７３の先端面７３ａに対して反射された信号Ｓが、コネクタ検査装置１の信号部１０に戻されることなく他の方向へ反射された場合、信号部１０に反射される光信号Ｓなどの信号Ｓに変化が生じることとなる。このようにして、コネクタハウジング７０に対し端子８０が半挿入の状態とされていることが判明され、コネクタ６０の検査が確実に行われることとなる。
【００７０】
このような反射方式のコネクタ検査装置１が構成されてあれば、例えば図５または図６に示される如く、複雑な構造をしたコネクタ検査装置とされることなく、しかも検出精度の高いコネクタ検査装置１（図１）が提供されることとなる。
【００７１】
また、コネクタハウジング７０内のランス７３の確認作業が行われる際に、前記コネクタ検査装置１が用いられることにより、コネクタハウジング７０の相手側端子挿入口７２から検出ピンが挿入されて、コネクタハウジング７０内のランス７３に突き当てられるための空間（図示せず）は、コネクタハウジング７０に必要とされなくなる。従って、図１の如く、コネクタハウジング７０の相手側端子挿入口７２の全周にわたって、相手側端子（図示せず）が挿入され易くされるためのガイドテーパ面７２ａいわゆる雄端子先端拾いテーパ面が形成可能となる。
【００７２】
コネクタハウジング７０内のランス７３に向けて発信される信号Ｓとして、光信号Ｓが適用された。図１に示されるコネクタ検査装置１の信号部１０は、光信号Ｓを発光すると共に、コネクタハウジング７０内のランス７３の先端面７３ａに対して反射された光信号Ｓを受光する一つの光信号発光・受光部１０とされている。即ち、一つの光信号発光・受光部１０は、光信号発光部と、光信号受光部とを兼ね備えた光センサとして構成され、具体的には一つの回帰反射型センサとされている。
【００７３】
コネクタ検査装置１に、単体の反射式の光信号発光・受光部１０が用いられることにより、簡素な構造でありながらランス７３の検出精度の高いコネクタ検査装置１が提供されることとなる。また、光信号Ｓによって、コネクタハウジング７０内に挿着された雌端子８０と、コネクタハウジング７０内に設けられたランス７３との係止状態が確認されるものであるから、非接触の状態でランス７３の位置の検出が行われることとなる。
【００７４】
従って、ランス７３の係止状態が確認される際に、従来の技術で用いられた検出ピンなどにより、コネクタハウジング７０に挿着された雌端子８０またはコネクタハウジング７０内に設けられたランス７３が、不用意に破損させられるといった不具合の発生は、確実に防止されることとなる。
【００７５】
さらに、コネクタ６０の仕様により、雌端子８０が確実にコネクタハウジング７０内に係り止めされるための端子二重係止部材（図示せず）をコネクタ６０から省略させることも可能となる。そのようにすることで、コネクタ６０の重量が軽減化されると共にコネクタ６０の構造が簡素化され、これに伴って、コネクタ６０の製造コストが削減化されることとなる。また、不図示の端子二重係止部材がコネクタハウジング７０内に収容されるためのスペースも、コネクタハウジング７０に不要とされるから、コネクタハウジング７０およびコネクタ６０の小型化が図られることとなる。
【００７６】
図１に示されるコネクタ検査装置１が用いられて、コネクタ６０の検査方法が行われる手順について説明すると、先ず、コネクタハウジング７０に複数の端子８０が組付けられてコネクタ６０が構成され、このコネクタ６０が、光信号発光・受光部１０いわゆる回帰反射型センサを備えるコネクタ検査装置１の装着部３０にセットされる。
【００７７】
次に、コネクタ検査装置１の光信号発光・受光部１０から、コネクタハウジング７０内に設けられた係止ランス７３の先端面７３ａに光信号Ｓが照射される。これと共に、係止ランス７３の先端面７３ａに反射されて光信号発光・受光部１０に戻されてきた光信号Ｓの状態から、係止ランス７３が正規の位置にあるものか否かの判断が行われ、コネクタハウジング７０に対する端子８０の組付け状態が確認される。
【００７８】
光センサの光源に用いられるものとして、例えば発光ダイオード（図示せず）などが挙げられる。発光ダイオードは、電流の変化が光の強弱の変化に変換されるものであり、二極間の接合部（図示せず）に電流が流されると発光される特殊な半導体が利用された素子を備えるものとされている。発光ダイオードとして、赤、橙、黄、緑、青などの色を発光するものがある。発光ダイオードは「ｌｉｇｈｔ　ｅｍｉｔｔｉｎｇ　ｄｉｏｄｅ」を意味し「ＬＥＤ」と略称される。
【００７９】
また、光センサに代えて、例えばＣＣＤカメラ（図示せず）が用いられて、コネクタハウジング内の係止ランスに関する画像処理が行われることにより、コネクタハウジングの内部に挿着される端子を係止するランスの状態が確認されるコネクタ検査装置も使用可能とされる。
【００８０】
ＣＣＤとは、光が電気信号に変換される半導体製の受光素子とされ、固体撮像素子、電荷結合素子などとも呼ばれるものとされている。また「ＣＣＤ」とは、「ｃｈａｒｇｅ　ｃｏｕｐｌｅｄ　ｄｅｖｉｃｅ」　を意味する。一般に画素数が数十万から数百万のＣＣＤが使用されている。
【００８１】
不図示のＣＣＤカメラが用いられたコネクタ検査装置による検査工程について説明すると、まずＣＣＤカメラによって、コネクタハウジングの内部に突設された係止ランスが映像として捉えられる。光がコネクタハウジング内の係止ランスに当てられると係止ランスから反射光が生じ、この反射光はＣＣＤカメラのレンズで集光されて、二次元のＣＣＤ撮像素子に像が結ばれる。前記ＣＣＤ撮像素子から、明暗に対応した信号がコントローラ（図示せず）に伝送される。前記コントローラにおいて信号が処理され、そのデータに基づいて係止ランスの形状や位置などが測定される。
【００８２】
図１に示される上記コネクタ６０と同じく、図２に示されるコネクタ６５も、合成樹脂製のコネクタハウジング７５と、このコネクタハウジング７５の端子収容室７６内に挿着される金属製の端子８５（図３参照）とを備えるものとして構成されている。図２の如く、コネクタハウジング７５の後側に設けられた端子挿入口７６ｂからコネクタハウジング７５の端子収容室７６内に向けて前記端子８５が差込まれることで、コネクタハウジング７５に端子８５が組付けられる。
【００８３】
合成樹脂製のコネクタハウジング７５は、基壁７５ａと、この基壁７５ａに対し略直角に延設された一側壁７５ｃおよび他側壁７５ｄと、前記両側壁７５ｃ，７５ｄに対し略直角に延設されると共に前記基壁７５ａに沿って略平行に設けられた他壁７５ｅと、各端子収容室７６を区切る複数の隔壁７５ｂとを備えるものとして形成されている。
【００８４】
図２の如く、コネクタ６５を構成する一つのコネクタハウジング７５内に、複数の端子収容室７６が設けられると共に、各端子収容室７６に、図３に示される形状をした係止ランス７８が一つずつ設けられている。また、図２に示されるコネクタ６５と同じく、図３に示されるコネクタ６５Ｉ　は、一つのコネクタハウジング７５Ｉ　内に複数の端子収容室７６Ｉ　が設けられたものとされ、各端子収容室７６Ｉ　に一つずつ係止ランス７８が設けられたものとされている。
【００８５】
前記係止ランス７８は、コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　と一体に成形されている。図３の如く、係止ランス７８は、コネクタハウジング内の根元部７８ｂから先端部７８ａまで延設され、前記根元部７８ｂを中心とした可撓性のハウジングランスとされている。
【００８６】
また、端子８５の係合孔８８ａの係合面８８ａ１　に対応して、係止ランス７８の先端部７８ａに係止面７８ｃが設けられている。端子８５の係合孔８８ａの係合面８８ａ１　と、係止ランス７８の先端部７８ａの係止面７８ｃとが、合せられることで、端子８５は確実にコネクタハウジング７５Ｉ　に係止される。
【００８７】
また、コネクタハウジング７５Ｉ　に端子８５が確実に挿着された状態において、信号発信部１１から発せられる信号Ｓが通り抜けられることのできる略矩形箱状をしたランス検出孔７９（図２），７９Ｉ（図３）　が、コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　に貫設されている。
【００８８】
また、コネクタハウジング７５Ｉ　に端子８５が半挿入の状態で挿着されて、図３の仮想線（二点鎖線）で示される如く、コネクタハウジング７５Ｉ　内の係止ランス７８が撓まされた状態において、前記ランス検出孔７９（図２），７９Ｉ（図３）　は、コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　の各係止ランス７８の先端部７８ａにより、信号発信部１１から発せられる信号Ｓが遮られる位置に、コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　に貫設されたものである。コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　のランス検出孔７９（図２），７９Ｉ（図３）　は、複数の係止ランス７８（図３）の並び方向いわゆるコネクタ６５（図２），６５Ｉ（図３）　の左右幅方向に沿って貫設されたものである。
【００８９】
図３の実線で示される係止ランス７８の如く、コネクタハウジング７５Ｉ　内において、係止ランス７８が正規の位置にある場合は、係止ランス７８と、ランス検出孔７９Ｉ　とは、殆ど干渉されることがないコネクタ６５Ｉ　の構造とされている。
【００９０】
これは、合成樹脂材料が用いられてコネクタハウジング７５Ｉ　が射出成形される際に、コネクタハウジング７５Ｉ　のランス検出孔７９Ｉ　は、コネクタハウジング７５Ｉ　の側面より、ランス検出孔７９Ｉ　に対応した形状の引抜き棒（図示せず）が用いられて、コネクタハウジング７５Ｉ　にランス検出孔７９Ｉ　が設けられるといった射出成形用金型（図示せず）の構造による。
【００９１】
図２に示されるコネクタハウジング７５のランス検出孔７９も、不図示の射出成形用金型と、合成樹脂材料とが用いられてコネクタハウジング７５が射出成形される際に、ランス検出孔７９に対応した引抜き棒（図示せず）が用いられて形成されたものである。
【００９２】
また、図３に示されるコネクタ６５Ｉ　のコネクタハウジング７５Ｉ　の前側に、雌端子８５を確実に保持する合成樹脂製のフロントホルダ６７が装着されている。上記コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　と、前記フロントホルダ６７（図３）とは、射出成形法に基づいて形成されたものである。
【００９３】
図３に示される金属製の端子８５は、相手側端子（図示せず）と通電可能に接続される電気接触部８８と、ケーブル９５（図２）と通電可能に接続される電線接続部８９とを備えるものとして形成されている。
【００９４】
図３の如く、タブ形状をした雄端子（図示せず）が雌端子８５の電気接触部８８内に確実に挿入されるために、雌端子８５の電気接触部８８は、基壁８８ｂと、基壁８８ｂから略直角に折曲げられて延設された両側壁８８ｃと、一方の側壁８８ｃから略直角に折曲げられて前記基壁８８ｂと略平行に延設された他壁８８ｄと、他方の側壁から略直角に折曲げられて前記他壁８８ｄと重なり合って延設されたその他の壁８８ｅとを備える略矩形箱状のものとされて、収容室８６が設けられたものとされている。
【００９５】
また、雌端子８５の電気接触部８８は、相手側端子とされる不図示の雄端子が入り込むための相手側端子挿入口８７と、不図示の雄端子が挿入される略矩形箱状をした収容室８６と、コネクタハウジング７５Ｉ　のランス７８が雌端子８５と確実に係り止めされるために基壁８８ｂに設けられた係合孔８８ａと、不図示の雄端子と確実に通電可能に接触されるために湾曲面状に形成された一接点部８８ｈと、このような接点部８８ｈが設けられた弾性接触片８８ｇと、同じく不図示の雄端子と通電可能に接触される他の接点部８８ｋとを備えるものとして形成されている。
【００９６】
電気接触部８８の弾性接触片８８ｇは、基壁８８ｂの端部が延長されると共に、延設された基壁８８ｂの一部が折曲げ部８８ｊにおいて収容室８６内に向けて折返されることで形成されたものである。
【００９７】
前記弾性接触片８８ｇに設けられた前記一接点部８８ｈと、前記他の接点部８８ｋとの間に、不図示のタブ形状をした雄端子が挿入されることで、弾性接触片８８ｇが基壁８８ｂに向けて撓まされると共に、他の接点部８８ｋに向けた復元弾性力が弾性接触片８８ｇに発生される。この復元弾性力によって、前記一接点部８８ｈと、前記他の接点部８８ｋとの間に、不図示の雄端子が確実に挟み込まれ、このようにして、雌端子８５と、雄端子（図示せず）とは、確実に通電可能に接触されることとなる。
【００９８】
コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　に組付けられる金属製の端子８５は、板状をした鋼板に打抜き加工などのプレス加工が行われて、所定の形状をした平板状の端子金具素材が形成された後に、平板状の端子金具素材に折曲げ加工などのプレス加工が行われて形成されたものである。
【００９９】
また、金属製の端子８５に接続されるケーブル９５（図２）は、図１に示されるケーブル９０と同じく、前記導体と、前記絶縁被覆体とを備えるものとして構成されている。また、図２の如く、複数のケーブル９５の端部にコネクタ６５が取付けられ、粘着剤付の集束テープ（図示せず）や、腹裂き状のコルゲートチューブ（図示せず）などが用いられて各ケーブル９５が束ねられ、一つのものとして構成されることにより、自動車（図示せず）などの相手側取付体に組付けられ易くされたワイヤハーネス９９が構成される。
【０１００】
図１に示される上記コネクタ検査装置１と同じく、図２に示されるコネクタ検査装置５も、コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　内に挿着される雌端子８５を係止するランス７８の状態を確認するために用いられるものである。このコネクタ検査装置５は、コネクタ６５，６５Ｉ　がセットされるための装着部３５（図２）と、コネクタハウジング７５，７５Ｉ（図３）　内のランス７８に向けて信号Ｓを発信すると共に信号Ｓを受信する一組の信号部１１，１２（図２）とを備えるものとされている。
【０１０１】
一組の信号部１１，１２は略円筒状に形成された一組のセンサとされ、それぞれのセンサに光ファイバ１１Ｌ，１２Ｌなどのケーブル１１Ｌ，１２Ｌが接続されている。このケーブル１１Ｌ，１２Ｌは、光測定器などの測定装置（図示せず）に接続されて、光信号Ｓなどの信号Ｓが検出されると共に、前記信号Ｓが予め設定された所定の値と適合されるものであるか、又は不適合とされるものであるかといった判定が行われる。
【０１０２】
図２に示されるコネクタ検査装置５の構造について詳しく説明すると、このコネクタ検査装置５は、前記コネクタ６５がセットされる前記装着部３５と、コネクタ６５内のランス７８を検査するための前記一組の信号部１１，１２と、ケーブル９５からコネクタハウジング７５内の端子８５までの通電状態を検査する通電検査部４５と、前記コネクタ６５と、前記通電検査部４５とを容易に接続または分離させる操作部５０と、前記装着部３５と、前記通電検査部４５と、前記操作部５０とが組付けられるベース部２５とを備えるものとして構成されている。
【０１０３】
コネクタ検査装置５に備えられた金属製ベース部２５の基板部２６に、組立てられた前記装着部３５と、前記通電検査部４５とが載置される。また、前記ベース部２５の基板部２６が折曲げられると共に延長されて形成された一対の側板部２７に、前記装着部３５が案内固定されると共に、前記操作部５０の基部５４が取付けられる。さらに、前記ベース部２５に対して略矩形箱状をした通電検査部４５が前後方向に沿ってスライド移動される際に、前記ベース部２５の前記一対の側板部２７によって、前記略矩形箱状をした通電検査部４５はガイドされることとなる。
【０１０４】
また、ベース部２５の基板部２６が段差形状に折曲げられると共に延長されて取付片２８が形成され、この取付片２８の取付孔２９に、ボルト、ねじ等の止具（図示せず）が挿通される。
【０１０５】
各ねじＴ１〜Ｔ５などの止具Ｔ１〜Ｔ５が用いられて、前記装着部３５と、前記通電検査部４５と、前記操作部５０とが、それぞれ所定の通りに組立てられると共に、それぞれのものが前記ベース部２５に取付けられることで、前記コネクタ検査装置５が組立てられる。
【０１０６】
また、複数のコネクタ検査装置５が作業台（図示せず）に載置されると共に、各コネクタ検査装置５のベース部２５に設けられた取付片２８の取付孔２９に、ボルト、ねじ等の止具（図示せず）が通されて、不図示のボルト、ねじ等の止具が不図示の作業台に固定されることで、複数のコネクタ検査装置５が不図示の作業台に備付けられる。
【０１０７】
コネクタ６５がセットされる装着部３５は、一方の信号部１１が取付けられると共にコネクタ６５を案内する一側壁３６と、コネクタ６５が確実に装着部３５に位置決めされつつ保持されるための可動押付壁３６Ｈと、他方の信号部１２が取付けられると共にコネクタ６５の位置決めが行われるための他側壁３７と、コネクタ６５が載置される基壁３８と、コネクタ６５の後側の位置決めが行われるための別の側壁３９とを備えるものとして構成されている。
【０１０８】
コネクタ検査装置５を真上から眺めた場合、前記一側壁３６は略Ｌ字状に形成され、前記他側壁３７は略コ字状に形成されている。また、前記可動押付壁３６Ｈは略立方体に形成され、前記一側壁３６と、前記可動押付壁３６Ｈとの間に復元弾性力が発生されるばね片（図示せず）が装着されている。また、コネクタ６５の後側から導出される複数のケーブル９５に対応して、前記別の側壁３９に、略矩形状に切欠き形成された電線導出部３９ａが設けられている。コネクタ検査装置５を後側から眺めた場合、前記別の側壁３９は略凹状に形成されている。
【０１０９】
前記一側壁３６および前記可動押付壁３６Ｈと、前記他側壁３７と、前記別の側壁３９と、前記基壁３８とに囲まれた空間部３５ａに、検査されるための前記コネクタ６５がセットされる。
【０１１０】
略筒状に形成された信号部１１，１２とされるセンサに対応して、装着部３５を構成する両側壁３６，３７に貫通孔形状をした取付部が設けられ、貫通孔形状をしたそれぞれの取付部に、それぞれの信号部１１，１２が挿着されている。また、他方の信号部１２に対する一方の信号部１１の位置決めや、位置合せの微調整が行われ易くされるための固定具３６Ｆおよび「ねじ」Ｔ２　が用いられて、側壁３６に信号部１１が取付けられている。また、一方の信号部１１から発信される信号Ｓが確実に他方の信号部１２に受信されるために、一方の信号部１１の信号発信面と、他方の信号部１２の信号受信面とは対向して位置するものとされている。
【０１１１】
このように、図２に示されるコネクタ検査装置５は、コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　の内部に挿着された端子８５を係止するランス７８の状態を検査するための部分において、簡単な構造のものとされ、しかも簡単な構造のものとされながら、コネクタハウジング７５，７５Ｉ（図３）　内のランス７８の検出精度が向上されたコネクタ検査装置５（図２）とされている。
【０１１２】
また、コネクタハウジング７５，７５Ｉ　内に挿着された雌端子８５と、コネクタハウジング７５，７５Ｉ　内に設けられたランス７８との係止状態が確認される際に、上記一組の信号部１１，１２とされるセンサが用いられることにより、非接触の状態でランス７８の検出が行われることとなる。従って、コネクタハウジング７５，７５Ｉ　に挿着された雌端子８５またはコネクタハウジング７５，７５Ｉ　内のランス７８が、従来の技術で用いられた検出ピンなどの他のものによって不用意に破損させられるといった不具合の発生は、未然に防止されることとなる。
【０１１３】
図２の如く、コネクタ検査装置５の信号部１１，１２は、コネクタハウジング７５の一側壁７５ｃ側に位置すると共に信号Ｓを発信する信号発信部１１と、コネクタハウジング７５の他側壁７５ｄ側に位置すると共に信号Ｓを受信する信号受信部１２とを備えるものとして構成されている。
【０１１４】
コネクタ検査装置５の装着部３５に、検査されるコネクタ６５がセットされた状態において、コネクタ検査装置５の信号発信部１１から発せられる信号Ｓは、コネクタハウジング７５の一側壁７５ｃ側から他側壁７５ｄにかけて貫設されたランス検出孔７９を通り抜け、その際の信号Ｓの透過量がコネクタ検査装置５の信号受信部１２によって検知されることにより、コネクタハウジング７５の端子収容室７６内に設けられたランス７８の位置が検出される。
【０１１５】
これについて、図３に基づいて詳しく説明すると、コネクタハウジング７５Ｉ　に貫設されたランス検出孔７９Ｉ　を通過する信号Ｓは、予め、所定の値に設定されている。また、信号発信部１１から発せられる信号Ｓは、信号発信部１１に対向して位置する信号受信部により検知される。
【０１１６】
その際に、図３に示される仮想線の如く、コネクタハウジング７５Ｉ　のランス７８が雌端子８５によって跳ね上げられた状態とされた場合、仮想線で示されたランス７８により前記信号Ｓは遮られることとなる。従って、信号発信部１１から信号受信部に向けた信号Ｓの透過量が変化することになる。前記信号Ｓの透過量の変化により、コネクタハウジング７５Ｉ　に対する雌端子８５の半挿入状態が検知される。
【０１１７】
このように透過方式のコネクタ検査装置５（図２）が用いられることにより、多段タイプのコネクタや、コネクタの極数に関らず、一組のセンサにより容易で迅速にコネクタの係止ランスの検査が行われることとなる。また、例えば図５または図６に示される如く、複雑な構造のコネクタ検査装置とされることなく、高精度に設定可能な透過方式のコネクタ検査装置５（図２）が提供されることとなる。
【０１１８】
図２または図３に示されるコネクタハウジング７５，７５Ｉ　内のランス７８に向けて発信される信号Ｓとして、光信号Ｓが適用された。図２に示されるコネクタ検査装置５の信号発信部１１は、光信号Ｓを発光する光信号発光部１１とされている。また、コネクタ検査装置５の信号受信部１２は、光信号Ｓを受光する光信号受光部１２とされている。このように、一組の信号部１１，１２は、透過方式のセンサとされている。
【０１１９】
光信号発光部１１と、光信号受光部１２とを備える一組の透過式信号部１１，１２が、コネクタ検査装置５に装着されているから、非接触の状態でコネクタハウジング７５，７５Ｉ　内におけるランス７８の位置の検出が行われることとなる。従って、ランス７８の係止状態の確認が行われる際に、従来の技術で用いられた検出ピンなどによって、コネクタハウジング７５，７５Ｉ　に挿着された雌端子８５またはコネクタハウジング７５，７５Ｉ　内に設けられたランス７８が、不用意に破損させられるといった不具合の発生は、確実に防止されることとなる。
【０１２０】
図２に示されるコネクタ検査装置５が用いられて、図２に示されるコネクタ６５もしくは図３に示されるコネクタ６５Ｉ　の検査方法が行われる手順について説明する。図２の如く、コネクタハウジング７５の側壁７５ｃ，７５ｄに、貫通孔形状のランス検出孔７９が空けられ、このコネクタハウジング７５に、複数の端子８５が組付けられて、コネクタ６５が構成される。
【０１２１】
光信号発光部１１の発光面と、光信号受光部１２の受光面とが向かえ合わせに設けられたコネクタ検査装置５の装着部３５に、前記コネクタ６５がセットされる。一組のセンサを備えるコネクタ検査装置５の光信号発光部１１から、コネクタハウジング７５の側壁７５ｃに設けられたランス検出孔７９内に光信号Ｓが照射されると共に、反対側に設けられた光信号受光部１２において前記光信号Ｓが受光される。
【０１２２】
図３の如く、コネクタハウジング７５Ｉ　内の端子８５が半挿入の状態とされることなく、図３の実線で示される係止ランス７８のように係止ランス７８が正規の位置にある場合は、係止ランス７８が、ランス検出孔７９Ｉ　の中に位置するということはない。コネクタ検査装置５の光信号発光部１１から発せられた光信号Ｓは、透過量が変化することなく光信号受光部へ達する。
【０１２３】
コネクタハウジング７５Ｉ　内に端子８５が中途半端に挿入されている場合は、図３の仮想線で示される係止ランス７８の如く、端子８５の電気接触部８８などにより係止ランス７８が跳ね上げられた状態とされ、係止ランス７８の先端部７８ａは、ランス検出孔７９Ｉ　の中に位置することとなる。これにより、光信号Ｓの透過量が変化されることとなり、この光信号Ｓの透過量の変化により、係止ランス７８の状態が検出され、端子８５の組付け状態が確認される。
【０１２４】
光センサは、発光素子と、受光素子とを備えるものとされている。発光素子として、赤外線ＬＥＤなどの上記ＬＥＤが挙げられる。また、受光素子として、不図示のフォトトランジスタ、フォトダイオードなどが用いられる。このような受光素子は、光が当てられると電流が流れる素子とされている。
【０１２５】
図３の如く、光信号発光部１１側に備えられる発光素子から発せられた光が、仮想線で描かれた係止ランス７８によって遮られた場合、光信号受光部側に備えられる受光素子まで達せられる光は減少されるから、受光素子に流される電流に変化が生じることとなる。このようにして、コネクタハウジング７５Ｉ　に対し、複数の端子８５の何れかのものが半挿入の状態とされていることが判明され、コネクタ６５Ｉ　の検査が確実に行われることとなる。
【０１２６】
図３に示されるコネクタ６５Ｉ　は、端子二重係止部材６９Ｘを備えるものとして構成されている。この端子二重係止部材６９Ｘは、コネクタハウジング７５Ｉ　に対し端子８５が半挿入の状態で組付けられるといったことを回避させ、確実に端子８５がコネクタハウジング７５Ｉ　内に係り止めされるために、コネクタハウジング７５Ｉ　に組付けられて用いられるものとされている。
【０１２７】
コネクタハウジング７５Ｉ　の挿入空間７９Ｘに前記端子二重係止部材６９Ｘが挿着されることで、コネクタハウジング７５Ｉ　の後側から端子８５が不用意に後抜けされるということなく、端子８５は確実にコネクタハウジング７５Ｉ　に組付けられることとなる。
【０１２８】
これに対し、図１または図２に示されるコネクタ６０，６５は、端子二重係止部材といった特別な部材が備えられることなく、端子二重係止部材は、コネクタ６０，６５から省略されたものとされている。
【０１２９】
このように、端子二重係止部材が備えられることの無いコネクタ６０，６５とされてあっても、図１または図２に示される上記コネクタ検査装置１，５が用いられてコネクタ６０，６５の検査が行われることにより、コネクタハウジング７０，７５に対する端子８０，８５の半挿入状態は、容易に見つけられることとなる。
【０１３０】
また、そのような状態のコネクタが見つけられた時に、コネクタハウジング７０，７５に端子８０，８５を確実に挿着させることで、端子半挿入状態のコネクタが市場に出荷されるということは、未然に回避されることとなる。このようにして、製品として性能が保証されたコネクタが市場に出荷されることとなる。
【０１３１】
このようなことにより、例えば図３に示されるコネクタ６５Ｉ　から端子二重係止部材６９Ｘを省略させることも可能となる。そのようにすることで、コネクタ６５Ｉ　の重量が軽減化されると共にコネクタ６５Ｉ　の構造が簡素化され、これに伴って、コネクタ６５Ｉ　の製造コストが削減化されることとなる。
【０１３２】
また、図７に示される従来のコネクタ端子検査装置は、コネクタハウジング４０１の係止孔４０５から金属端子体４０２のスタビライザー部４０４いわゆるターミナルランスが露出される構造をしたコネクタにおいて、コネクタハウジング４０１に対する金属端子体４０２の位置が検査されるものであった。そのため、露出された金属端子体４０２のスタビライザー部４０４により、極間ショートといった電気的不具合が発生されるという虞があった。
【０１３３】
これに対し、図１〜図３の如く、コネクタハウジング７０，７５，７５Ｉ　内に挿着された端子８０，８５と、コネクタハウジング７０，７５，７５Ｉ　内に設けられたランス７３，７８との係止状態が確認される際に、図１または図２に示されるコネクタ検査装置１，５が用いられることにより、極間ショートが発生されるといった虞のあるコネクタが用いられる必要性が無くなる。
【０１３４】
詳しく説明すると、光信号Ｓが用いられて、合成樹脂製コネクタハウジング７０，７５，７５Ｉ　の内部に挿着された金属製雌端子８０，８５と、コネクタハウジング７０，７５，７５Ｉ　の内部に突設された合成樹脂製ランス７３，７８との係止状態が確認されるために、敢えて合成樹脂製コネクタハウジング７０，７５，７５Ｉ　から金属製雌端子８０，８５の一部分を露出させる必要性が無くなる。
【０１３５】
即ち、端子金具素材にプレス加工が行われて金属製端子に金属製係止ランスが突出形成されると共に、金属製端子から突設された金属製係止ランスを合成樹脂製コネクタハウジングから露出させる必要性が無くなる。従って、極間ショート発生の危険性が低減化されたコネクタ６０，６５，６５Ｉ　が取扱われることとなる。
【０１３６】
コネクタ検査装置５の通電検査部４５を前後方向に沿って可動させる操作部５０は、回動レバー５１と、回動レバー５１の根元に設けられた軸ピン５２と、前記回動レバー５１を回動自在に支持し且つ前記軸ピン５２に対応する軸孔が設けられた軸支部５３と、前記軸支部５３を支持する基部５４と、前記回動レバー５１と、連結ピン５５とを繋ぐ連結棒５６と、前記連結ピン５５から通電検査部４５のハウジング４６まで延設されたリンク棒５７と、前記リンク棒５７と、前記通電検査部４５の前記ハウジング４６とを繋ぐ可動ピン５８とを備えるものとして構成されている。
【０１３７】
このように、コネクタ検査装置５の操作部５０は、リンク機構を備えるものとして構成されている。また、回動レバー５１の操作が行われ易くされるために、回動レバー５１に取手部５１ａが設けられている。
【０１３８】
コネクタ検査装置５に備えられる通電検査部４５は、ハウジング４６と、ハウジング４６内に取付けられた複数の通電検査用端子４８いわゆるプローブピンとを備えるものとして構成されている。
【０１３９】
また、各通電検査用端子４８に接続される電線（図示せず）を保護すると共に、前記操作部５０の前記基部５４と当接されて前後にスライド可能な通電検査部４５のストッパーとしての役割を果す電線カバー４９が、ねじＴ４　によってハウジング４６に装着されている。また、前記リンク棒５７の落込みやガタつきによる回動レバー５１の操作不良を未然に回避させるために、前記リンク棒５７が載置されると共に前記リンク棒５７が支えられる支持片４９ａが、前記電線カバー４９から延設されている。
【０１４０】
コネクタ検査装置５の通電検査部４５として備えられたハウジング４６は、合成樹脂製の周壁４７により形成されている。また、合成樹脂製のハウジング４６に備えられた通電検査用端子４８は、コネクタ６５（図２），６５Ｉ（図３）　に設けられた金属製の雌端子８５に対応して、タブ形状をした金属製の雄端子４８として形成されている。各通電検査用端子４８は、電線（図示せず）と接続され、不図示の電線は、さらに通電検査装置（図示せず）と接続されている。
【０１４１】
コネクタ検査装置５に備えられた前記回動レバー５１が操作されることで、コネクタ検査装置５の装着部３５にセットされたコネクタ６５に向けて、コネクタ検査装置５の略矩形箱状をした通電検査部４５がスライド移動される。このようにして、コネクタ検査装置５の通電検査部４５に備えられた通電検査用端子４８と、複数のケーブル９５の一端側に取付けられたコネクタ６５の端子８５（図３参照）とが接続される。
【０１４２】
また、これと共に、図２に示される複数のケーブル９５の他端側に取付けられた不図示の他のコネクタを介して、ワイヤハーネス９９と、不図示の通電検査装置とが接続される。その後、不図示の通電検査装置から所定電圧および所定電流値の電流がワイヤハーネス９９に流されることで、コネクタ６５を備えるワイヤハーネス９９の通電検査が行われる。
【０１４３】
このように、図２に示されるコネクタ検査装置５は、コネクタハウジング７５（図２），７５Ｉ（図３）　内に挿着される端子８５を係止するランス７８の状態を確認するための検査と、コネクタ６５を含むワイヤハーネス９９の通電検査との二項目の検査を同時に行えるコネクタ検査装置とされている。従って、ワイヤハーネス９９の組立工程において、図２に示されるコネクタ検査装置５が用いられることで、コネクタ６５に関する前記各検査は、容易で迅速にしかも確実に行われることとなる。
【０１４４】
本発明に係るコネクタ検査装置について、図１に例示された上記コネクタ検査装置１と、図２および図３に例示された上記コネクタ検査装置５とに基づいて説明したが、本発明に係るコネクタ検査装置は、上記各コネクタ検査装置１，５に限られるものではない。
【０１４５】
また、検査対象とされるコネクタについても、図１に示される形態をしたコネクタ６０や、図２に示される形態をしたコネクタ６５や、図３に示される形態をしたコネクタ６５Ｉ　に限られるものではない。
【０１４６】
例えば、図１に示されるコネクタ検査装置１の光信号発光・受光部１０に代えて、図２に示されるコネクタ検査装置５の光信号発光部１１が、図１に示される装置本体（２）の前部側壁（２ｂ）に装着されると共に、図２に示されるコネクタ検査装置５の光信号受光部１２が、図１に示されるコネクタ（６０）を構成するコネクタハウジング（７０）の端子挿入口（７１ｂ）側に設けられて、コネクタ（６０）の検査が行われるものも使用可能とされる。
【０１４７】
また、そのようなコネクタ検査装置（１）において、前記光信号発光部と、前記光信号受光部との位置関係が逆とされるものも使用可能とされる。具体的に説明すると、図２に示されるコネクタ検査装置５の光信号発光部１１が、図１に示されるコネクタ（６０）を構成するコネクタハウジング（７０）の端子挿入口（７１ｂ）側に設けられると共に、図２に示されるコネクタ検査装置５の光信号受光部１２が、図１に示される装置本体（２）の前部側壁（２ｂ）に装着されて、コネクタ（６０）の検査が行われるものも使用可能とされる。
【０１４８】
上記各コネクタ検査装置（１）が用いられる場合、図１（ａ）から想定可能なように、正常に端子（８０）がコネクタハウジング（７０）に挿着された状態のコネクタ（６０）において、コネクタ検査装置（１）に備えられる前記光信号発光部から前記光信号受光部まで直進する光信号（Ｓ）が遮られることのない構造をしたコネクタ（６０）が検査の対象とされる。
【０１４９】
図１（ｂ）から想定可能なように、コネクタハウジング（７０）に対して上側の端子（８０）が中途半端な半挿入の状態とされたときに、前記光信号発光部から前記光信号受光部まで直進されていた光信号（Ｓ）は、撓まされた状態のままに維持された上側の係止ランス（７３）に当てられて、前記光信号発光部から発せられた光信号は、上側の係止ランス（７３）により進路が遮られることとなる。
【０１５０】
光信号発光部側に備えられる発光素子から発せられた光が、撓まされた状態に維持された係止ランス（７３）によって遮られた場合、光信号受光部側に備えられる受光素子まで達せられる光は大幅に減少されるから、受光素子に流される電流に変化が生じることとなる。即ち、上記光信号発光部から上記信号受信部に向けた光信号（Ｓ）の透過量が変化することになる。前記光信号（Ｓ）の透過量の変化により、コネクタハウジング（７０）に対する雌端子（８０）の半挿入状態が検知されることとなる。
【０１５１】
また、図２に示されるコネクタ検査装置５の光信号発光部１１および光信号受光部１２に代えて、例えば、図１に示されるコネクタ検査装置１の光信号発光・受光部１０が、図２に示されるコネクタ検査装置（５）に用いられて、コネクタ（６５）の検査が行われるものも使用可能とされる。
【０１５２】
本発明に係るコネクタ検査装置は、コネクタがセットされる装着部と、コネクタを構成するコネクタハウジングの内部に設けられた係止ランスに向けて信号を発信すると共に信号を受信する信号部とを備えるものとされていれば、あらゆるタイプのコネクタ検査装置が適用可能とされるものである。
【０１５３】
【発明の効果】
以上の如く、請求項１記載の発明によれば、コネクタハウジングに挿着される端子を係止するランスの状態を確認するためのコネクタ検査装置において、コネクタがセットされる装着部と、ランスに向けて信号を発信すると共に信号を受信する信号部とを備えるものとされているから、簡単な構造とされながらランスの検出精度が向上されたコネクタ検査装置を提供することができる。また、コネクタハウジングに挿着された端子と、ランスとの係止状態が確認される際に、非接触の状態でランスの検出が行われることから、コネクタハウジングに挿着された端子またはコネクタハウジング内のランスが、検出ピンなどの他のものによって不用意に破損させられるといった不具合の発生は、未然に防止されることとなる。
【０１５４】
請求項２記載の発明によれば、コネクタ検査装置の信号部は、コネクタハウジングの信号入射口側に備えられ、コネクタ検査装置の信号部から発信される信号は、コネクタハウジングの信号入射口からコネクタハウジングの端子収容室内に入射されて端子収容室内に設けられたランスに照射されると共に、ランスに対して反射された信号が、再度、コネクタ検査装置の信号部に戻されることで、コネクタハウジングの端子収容室内に設けられたランスの位置が検出されるものとされているから、複雑な構造をしたコネクタ検査装置とされることなく、検出精度の高いコネクタ検査装置が提供されることとなる。また、コネクタハウジングの信号入射口から検出ピンが挿入されてランスに突き当てられるための空間は、コネクタハウジングに必要とされなくなる。従って、コネクタハウジングの信号入射口の全周にわたって、相手側端子が挿入され易くされるためのガイドテーパ面が形成可能となる。
【０１５５】
請求項３記載の発明によれば、ランスに向けて発信される信号として光信号が適用され、コネクタ検査装置の信号部は、光信号を発光すると共にランスに対して反射された光信号を受光する光信号発光・受光部とされているから、簡素な構造でありながらランスの検出精度の高いコネクタ検査装置が提供されることとなる。また、光信号によって、コネクタハウジングに挿着された端子と、ランスとの係止状態が確認されるものであるから、非接触の状態でランスの位置の検出が行われることとなる。従って、ランスの係止状態が確認される際に、検出ピンなどによって、コネクタハウジングに挿着された端子またはコネクタハウジング内のランスが、不用意に破損させられるといった不具合の発生は、確実に防止されることとなる。
また、請求項２又は３記載の発明によれば、コネクタの仕様により、端子が確実にコネクタハウジングに係り止めされるための端子二重係止部材をコネクタから省略させることも可能となる。そのようにすることで、コネクタの重量が軽減化されると共に、コネクタの製造コストが削減化されることとなる。また、端子二重係止部材がコネクタハウジングに収容されるためのスペースも、コネクタハウジングに不要とされるから、コネクタハウジングおよびコネクタの小型化が図られることとなる。
【０１５６】
請求項４記載の発明によれば、コネクタ検査装置の信号部は、コネクタハウジングの一側壁側に位置すると共に信号を発信する信号発信部と、コネクタハウジングの他側壁側に位置すると共に信号を受信する信号受信部とを備え、コネクタ検査装置の信号発信部から発せられる信号は、コネクタハウジングの一側壁側から他側壁にかけて設けられたランス検出孔を通り抜け、その際の信号の透過量がコネクタ検査装置の信号受信部によって検知されることにより、コネクタハウジングの端子収容室内に設けられたランスの位置が検出されるものとされているから、複雑な構造をしたコネクタ検査装置とされることなく、高精度に設定可能なコネクタ検査装置が提供されることとなる。
【０１５７】
請求項５記載の発明によれば、ランスに向けて発信される信号として光信号が適用され、コネクタ検査装置の信号発信部は光信号を発光する光信号発光部とされ、コネクタ検査装置の信号受信部は光信号を受光する光信号受光部とされているから、非接触の状態でランスの位置の検出が行われることとなる。従って、ランスの係止状態の確認が行われる際に、検出ピンなどによって、コネクタハウジングに挿着された端子またはコネクタハウジング内のランスが、不用意に破損させられるといった不具合の発生は、確実に防止されることとなる。
また、請求項４又は５記載の発明によれば、コネクタの仕様により、端子が確実にコネクタハウジングに係り止めされるための端子二重係止部材をコネクタから省略させることも可能となる。そのようにすることで、コネクタの重量が軽減化されると共に、コネクタの製造コストが削減化されることとなる。
また、請求項１〜５の何れか１項に記載の発明によれば、コネクタハウジングに挿着された端子と、ランスとの係止状態が確認されるために、コネクタハウジングの外側に端子の一部を露出させる必要もなくなるから、極間ショート発生の危険性が低減化されたコネクタが取扱われることとなる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るコネクタ検査装置の一実施の形態を示す縦断面図であり、（ａ）はコネクタハウジングに端子が正常に挿着された状態を示す縦断面図、（ｂ）はコネクタハウジングに対する一部の端子の半挿入状態を示す縦断面図である。
【図２】コネクタ検査装置における他の実施の形態を示す斜視図である。
【図３】図２に示されるコネクタおよびコネクタ検査装置の変形例を示す説明図である。
【図４】従来のコネクタ試験器を示す断面図である。
【図５】従来のコネクタ及びその検査装置を示す断面図である。
【図６】従来の端子半挿入検知構造及びコネクタ端子検出具を示す断面図である。
【図７】従来のコネクタ端子検査装置の検査要領を示す説明図である。
【符号の説明】
１，５　コネクタ検査装置
１０　　光信号発光・受光部（信号部）
１１　　光信号発光部（信号発信部、信号部）
１２　　光信号受光部（信号受信部、信号部）
３０，３５　　装着部
６０，６５，６５Ｉ　　コネクタ
７０，７５，７５Ｉ　　コネクタハウジング
７１，７６，７６Ｉ　　端子収容室（収容室）
７２　　　　　相手側端子挿入口（信号入射口）
７７，７７Ｉ　　相手側端子挿入口
７３，７８　　係止ランス（ランス）
７９，７９Ｉ　　ランス検出孔
８０，８５　　雌端子（端子）
Ｓ　　　　　　光信号（信号）
【図１】
2004108935.tif 000003
【図２】
2004108935.tif 000004
【図３】
2004108935.tif 000005
【図４】
2004108935.tif 000006
【図５】
2004108935.tif 000007
【図６】
2004108935.tif 000008
【図７】
2004108935.tif 000009