(57)【要約】【課題】表示装置において、検査用パッドの腐食や検査用パッドより侵入した静電気によりＴＦＴや駆動用ＩＣが破壊されることを防止し、製造歩留まりの向上および品質を向上させる。【解決手段】絶縁性基板上に形成された画素を駆動する信号線と、前記信号線に接続され、かつ前記画素からなる表示領域外の領域で、前記絶縁性基板上に直接実装された駆動用ＩＣ１６と、前記信号線を前記絶縁性基板上の一辺近傍にまで延在し、前記延在された信号線と接続して形成された検査用パッド８とを備えた表示装置であって、前記検査用パッド８は、樹脂で覆われていることを特徴とする。【選択図】　　　　図１
2004070137.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線と、
前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣと、
前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッドを備えた表示装置であって、
前記検査用パッドが樹脂で覆われている表示装置。
【請求項２】
前記樹脂はシリコン、アクリル、ウレタン、エポキシまたはポリイミドのうちいずれかから選ばれることを特徴とする請求項１記載の表示装置。
【請求項３】
前記樹脂は異方性導電膜であることを特徴とする請求項１記載の表示装置。
【請求項４】
前記駆動用ＩＣに前記絶縁性基板外部から信号を入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッドをさらに備え、
前記配線基板入力パッドは、前記検査用パッドとともに、異方性導電膜にて覆われていることを特徴とする請求項１記載の表示装置。
【請求項５】
前記信号線と前記駆動用ＩＣとの接続部から延長された延長配線をさらに備え、
前記延長配線が前記検査用パッドに接続されている請求項１乃至４いずれかに記載の表示装置。
【請求項６】
前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力する配線基板をさらに備え、
前記配線基板と前記絶縁性基板上の前記配線基板入力パッドとは前記異方性導電膜により電気的に接続され、前記配線基板は前記異方性導電膜を介して前記配線基板入力パッドと前記検査用パッドとを覆う構成となっていることを特徴とする請求項４または５記載の表示装置。
【請求項７】
前記配線基板はフレキシブル基板であることを特徴とする請求項６記載の表示装置。
【請求項８】
前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドとは、前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍で、略一列に配置されていることを特徴とする請求項４乃至７のいずれかに記載の表示装置。
【請求項９】
絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線と、
前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣと、
前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッドと、
前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッドを備えた表示装置の製造方法であって、
前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドを同時に異方性導電膜で覆う工程を有する表示装置の製造方法。
【請求項１０】
絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線と、
前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣと、
前記絶縁性基板上の前記駆動用ＩＣに設けられたパッドに対応する位置に設けられたＩＣ信号用パッドと、
前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッドと、
前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッドを備えた表示装置の製造方法であって、
前記ＩＣ信号用パッドと前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドとを
同時に異方性導電膜で覆う工程を有する表示装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査用パッドから侵入する静電気を防止し、さらに検査用パッドへの異物の付着、結露などによる検査用パッドの腐食も防止可能な表示装置および表示装置の製造方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置などの表示装置において、静電気の侵入を防止する方法として、たとえば特開平３−２９９２５号公報が開示されている。図４は従来技術の液晶表示装置における駆動用ＩＣ周辺の配線部を示す平面図である。図４において、１はＴＦＴ基板、３は画素とＩＣパッド間の配線、４はＴＦＴ基板上のＩＣ信号用パッド、８は検査用パッド、７は延長配線、９は電源用配線、１２はショート配線、１５はショート配線除去ラインを示している。
【０００３】
図４において、ショート配線１２はＴＦＴ基板１の周囲に設けられ、すべての配線がこのショート配線１２へ接続されている。このように延長配線７を駆動用ＩＣの下を通るよう設けショート配線１２へ接続することにより、全配線を同電位とし静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊を防止するというものである。このような構成とすることで製造工程中に生じる静電気によるＴＦＴの破壊を防止する。また、ＩＣのボンディング直後にＩＣの不良やワイヤボンディングの接続状態を容易に検査でき、部品の交換、修理や工程管理が容易となり、歩留を向上できるというものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の技術においては、検査用パッドが露出したままとなるため異物の付着、結露などによりパッドが腐食してしまうという問題があった。さらには、検査用パッドに静電気が侵入しＴＦＴや駆動用ＩＣを破壊させてしまうという問題もあった。
【０００５】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、製造工程を増加させることなく、検査用パッドの腐食や検査用パッドより侵入した静電気によりＴＦＴや駆動用ＩＣが破壊されることを防止し、製造歩留まりの向上および品質を向上させることを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の表示装置は、絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線（例えば、本発明の実施の形態にかかる画素とＩＣパッド間の配線３）と、前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣ（例えば、本発明の実施の形態にかかる駆動用ＩＣ１６）と、前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッド（例えば、本発明の実施の形態にかかる検査用パッド８）を備えた表示装置であって、前記検査用パッドが樹脂（例えば、本発明の実施の形態にかかる配線基板用異方性導電膜１３）で覆われているものである。
【０００７】
請求項２記載の表示装置は、上記請求項１記載の表示装置において、前記樹脂がシリコン、アクリル、ウレタン、エポキシまたはポリイミドのうちいずれかから選ばれることを特徴とするものである。
【０００８】
請求項３記載の表示装置は、上記請求項１記載の表示装置において、前記樹脂が異方性導電膜であることを特徴とするものである。
【０００９】
請求項４記載の表示装置は、上記請求項１記載の表示装置において、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッド（例えば、本発明の実施の形態にかかる配線基板入力パッド１１）をさらに備え、前記配線基板入力パッドは、前記検査用パッドとともに、異方性導電膜にて覆われていることを特徴とするものである。
【００１０】
請求項５記載の表示装置は、上記請求項１乃至４いずれかに記載の表示装置において、前記信号線と前記駆動用ＩＣとの接続部から延長された延長配線（例えば、本発明の実施の形態にかかる延長配線７）をさらに備え、前記延長配線が前記検査用パッドに接続されているものである。
【００１１】
請求項６記載の表示装置は、上記請求項４または５記載の表示装置において、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力する配線基板（例えば、本発明の実施の形態にかかる配線基板１４）をさらに備え、前記配線基板と前記絶縁性基板上の前記配線基板入力パッドとは前記異方性導電膜により電気的に接続され、前記配線基板は前記異方性導電膜を介して前記配線基板入力パッドと前記検査用パッドとを覆う構成となっていることを特徴とするものである。
【００１２】
請求項７記載の表示装置は、上記請求項６記載の表示装置において、前記配線基板はフレキシブル基板であることを特徴とするものである。
【００１３】
請求項８記載の表示装置は、上記請求項４乃至７のいずれか記載の表示装置において、前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドとは、前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍で、略一列に配置されていることを特徴とするものである。
【００１４】
請求項９記載の表示装置の製造方法は、絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線（例えば、本発明の実施の形態にかかる画素とＩＣパッド間の配線３）と、前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣ（例えば、本発明の実施の形態にかかる駆動用ＩＣ１６）と、前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッド（例えば、本発明の実施の形態にかかる検査用パッド８）と、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッド（例えば、本発明の実施の形態にかかる配線基板入力パッド１１）を備えた表示装置の製造方法であって、前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドを同時に異方性導電膜（例えば、本発明の実施の形態にかかる配線基板用異方性導電膜１３）で覆う工程を有するものである。
【００１５】
請求項１０記載の表示装置の製造方法は、絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線（例えば、本発明の実施の形態にかかる画素とＩＣパッド間の配線３）と、前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣ（例えば、本発明の実施の形態にかかる駆動用ＩＣ１６）と、前記絶縁性基板上の前記駆動用ＩＣに設けられたパッドに対応する位置に設けられたＩＣ信号用パッド（例えば、本発明の実施の形態にかかるＩＣ信号用パッド４）と、前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッドと、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッド（例えば、本発明の実施の形態にかかる配線基板入力パッド１１）を備えた表示装置の製造方法であって、前記ＩＣ信号用パッドと前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドとを同時に異方性導電膜で覆う工程を有するものである。
【００１６】
【発明の実施の形態】
実施の形態１．
本発明第１の実施の形態を図１により説明する。図１は本発明第１の実施の形態における薄膜トランジスタ（以下、ＴＦＴと称する）を用いたアクティブマトリクス型表示装置の駆動用ＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　Ｃｉｒｃｕｉｔ）周辺の配線部を示す平面図である。
【００１７】
図１において、１はＴＦＴ基板、２はＣＦ（Ｃｏｌｏｒ　Ｆｉｌｔｅｒ）基板、３は表示領域に形成された画素とＩＣパッド間の配線、４はＴＦＴ基板上のＩＣ信号用パッド、５は信号入出力用配線、６は信号入出力用パッド、７はＩＣ信号用パッド４と検査用パッド８とを接続する延長配線、８は検査用パッド、９はＩＣ電源入力パッド１０と配線基板入力用パッド１１を接続する電源用配線、１０はＩＣ電源入力パッド、１１は配線基板入力パッド、１２はショート配線、１３は樹脂からなる配線基板用異方性導電膜（ＡＣＦ：Ａｎｉｓｏｔｒｐｉｃ　Ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ　Ｆｉｌｍ）、１４は配線基板、１５はショート配線除去ライン、１６は駆動用ＩＣ、１７は樹脂からなるＩＣ用異方性導電膜を示している。
【００１８】
図１に示す通りＴＦＴ基板１の端部付近で画素への信号入力を行うためのＩＣ信号用パッド４を形成し、画素とＩＣ信号用パッド４の間に画素とＩＣパッド間の配線３を形成する。さらに静電気対策としてＩＣ信号用パッド４からＴＦＴ基板１の端部の方向へ延長された延長配線７を形成し、ＴＦＴ基板１の端部で隣接の配線間をショートするショート配線１２を形成する。ＴＦＴの画素へ信号を入力する駆動用ＩＣ１６は長辺側のＣＦ側に一列又は千鳥状に配置された信号入力用のパッドを有しており、そのパッドがＴＦＴ基板１上のＩＣ信用パッド４と重なるように駆動用ＩＣ１６を位置決めする。そしてＩＣ用異方性導電膜１７を介してＴＦＴ基板１上に駆動用ＩＣ１６が直接実装されて、対応する位置に設けられたパッドが電気的に接続される。またＩＣ信号用パッド４とショート配線１２との間で、かつＴＦＴ基板１の一辺近傍にプロービングによりパネル検査を行うための検査用パッド８を形成する。なお、ＴＦＴの一辺近傍とはＴＦＴ基板１の短辺及び長辺のいずれの辺の端部周辺でもよい。駆動用ＩＣ１６の短辺側には駆動用ＩＣ間の信号入出力を行うために配置されたパッドを有している。ＴＦＴ基板１上にはそのパッドと対応する位置にＩＣ電源入力パッド１０が形成されている。これらはＩＣ用異方性導電膜１７を介して電気的に接続される。ＩＣ電源入力パッド１０からＴＦＴ基板１の端部へ向かい電源用配線９が形成され、電源用配線９の先に駆動用ＩＣ１６へ電源を供給するための配線基板入力パッド１１を検査用パッド８とＴＦＴ基板１上の少なくとも一辺近傍で、略一列に形成する。従来この検査用パッド８は、駆動用ＩＣ１６実装後も露出した状態であったため異物の付着、結露などによるパッドの腐食、検査用パッド８からの静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合をもたらしていた。
【００１９】
よってパッドの腐食、静電気の侵入を防止するため、検査用パッド８をパネルの検査後に、配線基板用異方性導電膜１３で覆う。
【００２０】
また、検査用パッド８を、画素とＩＣパッド間の配線３と駆動用ＩＣ１６との接続部から延長配線７を延在しＴＦＴ基板１の少なくとも一辺近傍に形成することにより、配線領域が狭くなりパネルの小型化が可能となる。
【００２１】
また、配線基板入力パッド１１と検査用パッド８をＴＦＴ基板１上の少なくとも一辺近傍で、略一列に配置することにより、配線基板用異方性導電膜１３で同時に覆うことができる。このため、図には示していないが配線基板１４上に形成された配線がこの配線基板用異方性導電膜１３を介して接続され、配線基板接続を検査用パッド８の保護と同時に行うことが可能となり製造工程を増加させる必要もない。前記配線基板としては、フレキシブル基板を利用した方が収納性に富む。
【００２２】
また、ＩＣ信号用パッド４、検査用パッド８及び配線基板入力パッド１１を同時に異方性導電膜で覆うことも可能である。このように３種類のパッドを同時に覆うことにより、異方性導電膜で覆う工程を削減できる。なお実際はＩＣ信号用パッド４の上には駆動用ＩＣ１６が設けられているので、ＩＣ信号用パッド４と、それに対応する位置に設けられた駆動用ＩＣ１６のパッドとをＩＣ用異方性導電膜１７で接続する。また異方性導電膜は熱硬化又は熱可塑性の樹脂フィルムの中に導電性の粒子を混ぜて形成され、圧着により電気的に接続される。
【００２３】
さらに図には示していないが検査用パッド８上の配線基板用異方性導電膜１３上を更に樹脂コーティングすることでより確実に静電気の侵入、パッドの腐食を防止することが可能となる。前記樹脂としては、シリコン、アクリル、ウレタン、エポキシまたはポリイミドが用いられる。
【００２４】
配線基板１４は検査用パッド８上で大きく切り欠きを形成し、検査用パッド８上に重ならないように配置する。この切り欠きの形成により検査用パッド８から侵入する静電気の防止、端子腐食の防止が可能となるだけでなく、配線基板１４を実装した後においても配線基板用異方性導電膜１３を溶剤などで除去することによりパネルの検査、駆動用ＩＣ１６の信号検査が可能となる。
【００２５】
配線基板入力パッド１１は静電気対策のためＴＦＴ基板１上の配線によりショート配線１２へつながっているが、ショート配線１２は最終的にパネルの切断、又は面取り、あるいはエッチングによってショート配線除去ライン１５の位置で除去される。除去する工程は駆動用ＩＣ１６をＴＦＴ基板１へ実装する前であっても、後であってもよい。また、本実施の形態では、配線基板入力パッド１１には電源を供給する例を示しているが、その他信号を入力してもよい。なお駆動用ＩＣ１６の形状はＩＣ信号用パッド４及び画素とＩＣパッド間の配線３が設けられている辺を長辺、信号入出力用配線５、信号入出力パッド６及びＩＣ電源入力パッド１０が設けられている辺を短辺である長方形としたがこの形状に限られるものではない。例えば反対に、ＩＣ信号用パッド４及び画素とＩＣパッド間の配線３が設けられている辺を短辺、信号入出力用配線５、信号入出力パッド６及びＩＣ電源入力パッド１０が設けられている辺を長辺としてもよい。また、長方形に限られるものではない。画素とＩＣパッド間の配線３及びＩＣ信号用パッド４がＴＦＴアレイ基板１の表示領域側に設けられていることが望ましい。
【００２６】
実施の形態２．
本発明第２の実施の形態を図２により説明する。図２はＴＦＴを用いたアクティブマトリクス型表示装置の駆動用ＩＣ周辺の配線部を示す平面図である。図２において、図１と同じ構成部分については同一符号を付しており、差異について説明する。図１において、信号入出力配線５は駆動用ＩＣ１６の短辺側に配置された信号入力出用パッド６と隣接する駆動用ＩＣ１６に配置された信号入力出用パッド間に形成される。図２では、上記第１の実施の形態とは異なり、駆動用ＩＣ１６の短辺側に配置された信号入力出用パッド６からＴＦＴ基板１の端部方向へ信号入出力用配線５ａを形成している。
【００２７】
上記のような構成とし、信号入出力のための配線基板接続用パッド１８を信号入出力用配線５ａの先端部に、検査用パッド８や配線基板入力パッド１１とほぼ同列上に形成する。さらに、図には示していないが配線基板１４に駆動用ＩＣ１６の信号入出力用の配線が形成され、配線基板用異方性導電膜１３を介して配線基板接続用パッド１８と接続される。その他は第１の実施の形態と同様であり、同様な効果を奏することができる。
【００２８】
実施の形態３．
本発明第３の実施の形態を図３により説明する。図３はＴＦＴを用いたアクティブマトリクス型表示装置の駆動用ＩＣ周辺の配線部を示す平面図である。図３において、図１と同じ構成部分については同一符号を付しており、差異について説明する。図１においては、配線基板１４は検査用パッド８に重ならないように検査用パッド８上で大きく切り欠きを形成している。図３では、上記第１の実施の形態とは異なり、配線基板１４が検査用パッド８を覆うことができる形状としている。
【００２９】
上記のような構成とし、検査用パッド８を配線基板１４で保護することでより確実に静電気の侵入、パッドの腐食を防止することが可能となる。配線基板１４の検査パッド８と重なる部分のＴＦＴ基板１側の面には配線パターンが無いため配線基板１４と検査用パッド８が電気的に接続されることはない。その他は第１の実施の形態と同様である。
【００３０】
また、本実施の形態においても、第２の実施の形態と同様に配線基板接続用パッド１８を検査用パッド８と、配線基板入力パッド１１と同列上に形成することも可能である。
【００３１】
その他の実施の形態．
上記実施の形態１〜３においては、ＩＣ用異方性導電膜１７はＴＦＴ基板１上の駆動用ＩＣ１６が実装される領域と駆動用ＩＣ１６間とに、ＴＦＴ基板１上のＩＣ信号用パッド４と駆動用ＩＣ１６に配置されたパッドとを接続すべく塗布されているが、コスト削減のため各駆動用ＩＣ毎に塗布してもよい。これにより、駆動用ＩＣ毎にＩＣ用異方性導電膜１７が分割して形成されＩＣ用異方性導電膜１７の消費量を減少させることができる。
【００３２】
また、上記実施の形態１〜３においては、配線基板用異方性導電膜１３とＩＣ用異方性導電膜１７は独立して塗布されているが、作業工程を効率化するため同時に塗布してもよい。
【００３３】
また、本実施の形態１〜３においては、樹脂としては異方性導電膜を使用しているが、それに限定されることなく、検査用パッド８上をシリコン、アクリル、ウレタン、エポキシまたはポリイミドのいずれかで覆った場合でも、パッドの腐食、静電気の侵入を防止することができる。
【００３４】
さらに、本実施の形態１〜３においては、液晶を用いた表示装置に用いることが好適であるために、液晶を用いた表示装置についての説明を行っているが、液晶を用いた表示装置に限定されることない。例えばエレクトロルミネセンス素子などを用いたものであってもよく、画素を駆動する信号線と接続して形成された検査用パッドを備えたあらゆる表示装置に適用可能である。
【００３５】
【発明の効果】
請求項１記載の表示装置は、絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線と、前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣと、前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッドを備えた表示装置であって、前記検査用パッドが樹脂で覆われているので検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止することが可能となる。
【００３６】
請求項２記載の表示装置は、上記請求項１記載の表示装置において、前記樹脂としてはシリコン、アクリル、ウレタン、エポキシまたはポリイミドのうちいずれかから選ばれることを特徴としており、検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止することが可能となる。
【００３７】
請求項３記載の表示装置は、上記請求項１記載の表示装置において、前記樹脂が異方性導電膜であることを特徴としており、検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止することが可能となる。
【００３８】
請求項４記載の表示装置は、上記請求項１記載の表示装置において、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッドをさらに備え、前記配線基板入力パッドは、前記検査用パッドとともに、異方性導電膜にて覆われていることを特徴としているので、製造工程を増加させることなく、検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止することが可能となる。
【００３９】
請求項５記載の表示装置は、上記請求項１乃至４のいずれか記載の表示装置において、前記信号線と前記駆動用ＩＣとの接続部から延長された延長配線をさらに備え、前記延長配線が前記検査用パッドに接続されているものであるので配線領域が狭くなりパネルの小型化が可能となる。
【００４０】
請求項６記載の表示装置は、上記請求項４または５記載の表示装置において、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力する配線基板をさらに備え、前記配線基板と前記絶縁性基板上の前記配線基板入力パッドとは前記異方性導電膜により電気的に接続され、前記配線基板は前記異方性導電膜を介して前記配線基板入力パッドと前記検査用パッドとを覆う構成になっていることを特徴としているので、より確実に検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止することが可能となる。
【００４１】
請求項７記載の表示装置は、上記請求項６記載の表示装置において、前記配線基板がフレキシブル基板であることを特徴としており、収納性に富む表示装置となる。
【００４２】
請求項８記載の表示装置は、上記請求項４乃至７のいずれかに記載の表示装置において、前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドとは、前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍で、略一列に配置されていることを特徴としているので、製造工程を増加させることなく、検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止することが可能となる。
【００４３】
請求項９記載の表示装置の製造方法は、絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線と、前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣと、前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッドと、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッドを備えた表示装置の製造方法であって、前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドを同時に異方性導電膜で覆う工程を有するので製造工程を増加させることなく、検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止可能な表示装置を得ることができる。
【００４４】
請求項１０記載の表示装置の製造方法は、絶縁性基板上に形成された画素電極を駆動し、前記絶縁性基板の端部近傍まで延在された信号線と、前記信号線に接続され、前記絶縁性基板の画素電極からなる表示領域外に直接実装された駆動用ＩＣと、前記絶縁性基板上の前記駆動用ＩＣに設けられたパッドに対応する位置に設けられたＩＣ信号用パッドと、前記絶縁性基板の端部近傍に前記信号線と電気的に接続された検査用パッドと、前記絶縁性基板の外部からの信号を前記駆動用ＩＣに入力し、かつ前記絶縁性基板の少なくとも一辺近傍に形成された配線基板入力パッドを備えた表示装置の製造方法であって、前記ＩＣ信号用パッドと前記検査用パッドと前記配線基板入力パッドとを同時に異方性導電膜で覆う工程を有するもので、作業工程も効率化され、検査用パッドの腐食、静電気の侵入によるＴＦＴや駆動用ＩＣの破壊といった不具合を防止可能な表示装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態における表示装置の駆動用ＩＣ周辺の配線部を示す平面図である。
【図２】本発明の第２の実施の形態における表示装置の駆動用ＩＣ周辺の配線部を示す平面図である。
【図３】本発明の第３の実施の形態における表示装置の駆動用ＩＣ周辺の配線部を示す平面図である。
【図４】従来技術の液晶表示装置における配線部を示す平面図である。
【符号の説明】
１　ＴＦＴ基板
２　ＣＦ基板
３　画素とＩＣパッド間の配線
４　ＩＣ信号用パッド
５、５ａ　信号入出力用配線
６　信号入出力用パッド
７　延長配線
８　検査用パッド
９　電源用配線
１０　ＩＣ電源入力パッド
１１　配線基板入力パッド
１２　ショート配線
１３　配線基板用異方性導電膜
１４　配線基板
１５　ショート配線除去ライン
１６　駆動用ＩＣ
１７　ＩＣ用異方性導電膜
１８　配線基板接続用パッド
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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