(57)【要約】【課題】磁気式位置計測システムにおいて、磁界の歪みに起因する位置座標の計測誤差を補正するＬＵＴ（Ｌｏｏｋ　Ｕｐ　Ｔａｂｌｅ：誤差対応表）を簡易かつ迅速に作成する。【解決手段】非磁性体部材からなる棒１に複数の磁気センサ２が等間隔Ｌで直線状に配置された計測棒３とトランスミッタ４とを備えた磁気式モーションキャプチャシステムにおいて、計測棒３を測定範囲内で任意に動かし、計測棒に取付けられた磁気センサから取得した位置座標と計算により求められた位置座標との差を比較することにより、誤差の大きさと誤差の信頼度を求め、信頼度が高い場合は一定の条件のもとにＬＵＴを更新する。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
非磁性体部材からなる棒（１）に複数の磁気センサ（２）が等間隔（Ｌ）で直線状に配置された計測棒（３）と前記磁気センサが感知できる磁界を発生させるトランスミッタ（４）とを備えた磁気式位置計測システムにおいて、
Ａ　前記複数の磁気センサのうち前記トランスミッタと最も近い距離にある磁気センサが取得した位置（Ｍ１）又はこれを誤差情報をもとに補正した位置（Ｃ１）を基準点とし、少なくとも前記基準点を通過する直線の方程式から計算により他のセンサの位置座標（Ｒｎ）を求めるステップと、
Ｂ　前記計測棒に取付けられた各磁気センサが取得した位置座標（Ｍｎ）又はこれを誤差情報により補正した位置座標（Ｃｎ）と、前記計算により求められた位置座標（Ｒｎ）との誤差（Ｅｎ）及び前記誤差の信頼度（ｓ）をそれぞれ計算するステップと、
Ｃ　前記信頼度が所定値より高い場合は前記誤差情報を更新するステップと、
を備えていることを特徴とする磁気式位置計測システムの誤差校正方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は空間形状（三次元位置情報）を取得するために用いられる磁気式位置計測システムにおいて、磁界の歪みに起因する位置座標（位置情報）の計測誤差を補正する誤差校正方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
磁気式位置計測システムの応用例の一つである磁気式モーションキャプチャ装置は、トランスミッタ（磁場発生源）と計測場内で移動できる磁気センサを用いて空間形状（三次元位置情報）をダイナミックに得るための装置である。磁気式は、被験者（被測定物）の動きに制限されず実時間での位置情報の取得が可能となる点で機械式や光学式などのものよりも優れている。
【０００３】
一方、磁気式の欠点は周囲の金属や電装品等により磁界が歪み測定誤差が生じやすいことである。例えば特許文献１には、磁気式モーションキャプチャ装置が磁場の歪みによる影響を受けやすい旨記載されている。
【０００４】
磁気式モーションキャプチャ装置は多くの用途に適用されうるが、中でも、仮想現実（ヴァーチャル・リアリティ）への応用が期待されている。
【０００５】
仮想現実の世界では、没入感（体験者が仮想空間に没入できること）と、インタラクティブ性（体験者の動作に伴う仮想空間の変化が、現実世界同様にリアルタイムにフィードバックされること）と、自律性（仮想空間内の目的物が現実世界と同様の自律的な動きを行なうこと）が重要であるといわれるが、位置情報の測定誤差が大きいとインタラクティブ性が低下しＶＲの現実感が低下する。
【０００６】
誤差を補正する従来方法として、あらかじめ求めておいた磁気センサの正確な位置情報と磁気センサによる実測値から求められた位置情報とを比較し、誤差情報を補正するテーブルいわゆる誤差対応表（ＬＵＴ：Ｌｏｏｋ　Ｕｐ　Ｔａｂｌｅ）による線形補間を行い、測定誤差を含んだ位置情報を正しい位置情報に補正する方法が知られている。
【０００７】
ＬＵＴを用いる補正では表の各値の間は線形に補間されるためテーブルの規模が大きいほど精度が高いという利点がある。従って、精度の高いＬＵＴを作成する時は、磁気センサの間隔をできるだけ小さくして測定することが好ましい。
【０００８】
【特許文献１】
特開２０００−１４６５０９号公報（４段落等）
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、誤差の測定は非常に多くの労力を要する。例えば、３ｍ四方の空間内の４面（正面・両側・床面）上にコンピューターグラフィックスによる映像を立体表示させて仮想世界を体験できる立体表示装置（バーチャル・リアリティシステム）を例にとると、この３ｍ×３ｍ×３ｍのシステム空間内を３０ｃｍ間隔で測定する場合、約１０００点もの測定が必要となる。
【００１０】
磁気センサの数は限られているし、これを人間が三次元的に精度良く等間隔に配置することは実際には極めて困難である。モーションキャプチャ装置自体に備わっているキャリブレーション機能を使ってＬＵＴを作成することもできるが、本件発明者たちの実験では、精度が要求される領域では１０ｃｍ間隔の測定でも精度の高いＬＵＴを作成することはできなかった。
【００１１】
一方、高精度で非磁性体からなるメカニカルアームを使って数万点の計測を行い、極めて精度の高いＬＵＴを作成する方法も理論的には可能であるが、これはコストが高くなりすぎる点で非現実的である。
【００１２】
このように、補正の精度を高くするために、大規模かつ高精度のＬＵＴを作成する場合、計測点数及び測定精度の難しさが飛躍的に増大し、かつ、その測定の労力は計り知れないものとなる。
【００１３】
本発明は、誤差測定の労力を軽減すると共に補正精度を向上させる新規なＬＵＴの作成方法を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る磁気式位置計測システムの誤差校正方法は、非磁性体部材からなる棒１に複数の磁気センサ２が等間隔Ｌで直線状に配置された計測棒３と前記磁気センサが感知できる磁界を発生させるトランスミッタ４とを備えており、
Ａ　前記複数の磁気センサのうち前記トランスミッタと最も近い距離にある磁気センサが取得した位置（Ｍ１）又はこれを誤差情報をもとに補正した位置（Ｃ１）を基準点とし、少なくとも前記基準点を通過する直線の方程式から計算により他のセンサの位置座標（Ｒｎ）を求めるステップと、
Ｂ　前記計測棒に取付けられた各磁気センサが取得した位置座標（Ｍｎ）又はこれを誤差情報により補正した位置座標（Ｃｎ）と、前記計算により求められた位置座標（Ｒｎ）との誤差（Ｅｎ）及び前記誤差の信頼度（ｓ）をそれぞれ計算するステップと、
Ｃ　前記信頼度が所定値より高い場合は前記誤差情報を更新するステップと、
を備えていることを特徴とする。
【００１５】
この方法によると、誤差情報を校正するＬＵＴを作成する労力を大幅に軽減することができる。特に、誤差の大きい場所において計測棒を細かい間隔で振り廻すことにより、大規模かつ高精度のＬＵＴを簡単にしかも低コストで作成することができる。なお、ＬＵＴは、誤差情報を表にしたものであるが、具体的にはコンピュータなどで扱うデータ列等を意味するものである。
【００１６】
また、トランスミッタの近傍についてはあらかじめ正確な測定に基づいたＬＵＴを作成しておき、常に計測棒の一端がトランスミッタの近傍にあるようにし、他端をトランスミッタからなるべく遠く離れるように振り廻すことにより、誤差が大きい場所すなわちトランスミッタから遠い部分についてのみ上記ＬＵＴの更新方法を適用することが好ましい。
【００１７】
これは、以下の理由による。本発明の方法は、基準点（Ｐ１）の計測値が正確であると仮定しているが実際にはわずかな誤差が存在しているため、特に誤差が大きいところでは効果を発揮する。そこで、わずかな誤差が存在するトランスミッタ近傍には本発明の方法を用いず、あらかじめ正確なＬＵＴを作成しておくことにより、より正確なＬＵＴを作成することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
位置座標の計測値はトランスミッタに近い場所で取得したものほど正確であるが、逆に遠い場所でのデータは不正確である。一方、直線状に等間隔に磁気センサを配置しておけば、遠い場所であっても計算により容易に正確な位置を求めることができる。
【００１９】
（システム構成）
本発明に係るモーションキャプチャシステムは、トランスミッタと、モーションキャプチャ装置本体と、計測棒に等間隔で直線状に取付けた磁気センサ群と、ＬＵＴ作成用コンピューターとから構成される。なお磁気センサはコイルなどからなる。また、没入感を出すために、実験では、３ｍ四方の空間内の４面（正面・両側・床面）上にコンピューターグラフィックスによる映像を立体表示させて仮想世界を体験できる三次元表示装置ＣＡＶＥ（登録商標）を用いている。
【００２０】
図１（ａ）は、試作した計測棒を例示したものである。計測棒３は、非磁性体部材からなる棒１に複数の磁気センサ２が等間隔で直線状に配置されてなる。モーションキャプチャシステムを稼働状態にして、モーションキャプチャ可能な領域内（トランスミッタ４が発生した磁界の到達範囲内）で計測棒３を測定者が振り回すことにより、ＬＵＴの更新を行う。
【００２１】
試作した計測棒の仕様は以下のとおりである。
材質　　　　　　　　　　　　木製
長さ　　　　　　　　　　　２２０ｃｍ
磁気センサ間隔　　　　　　　２０ｃｍ
磁気センサ数　　　　　　　　１０個
【００２２】
あらかじめ本件発明者たちは誤差の大きさをＣＡＶＥ（登録商標）内で測定したところ、トランスミッタから３．２ｍ離れたところで誤差が最大（１２０ｃｍ）となった。このような誤差の大きな領域で計測棒を振り回すと、誤差の大きい領域における高精度で細かなＬＵＴが作成される。
【００２３】
逆に、誤差の小さい領域では、あまりＬＵＴが更新されず、非効率的である。このような場合、別の手段であらかじめ正確なＬＵＴを作成しておくとよい。そうすれば、より正確なＬＵＴを作成できる。以下、ＬＵＴの更新方法について説明する。
【００２４】
【実施例】
本発明を実現するための具体例として、以下のＳ１乃至Ｓ８の各ステップを複数回繰り返すことが考えられる。
Ｓ１　前記計測棒３をトランスミッタ４から発生された磁界の到達範囲内におき、前記各磁気センサ２にその位置座標を計測させるステップ
Ｓ２　ステップＳ１で前記磁気センサ２が計測した計測座標Ｍ（Ｍ１，Ｍ２，・・・，Ｍｎ）を誤差対応表（ＬＵＴ）により補正し、補正座標Ｃ（Ｃ１，Ｃ２，・・・，Ｃｎ）を求めるステップ
Ｓ３　前記補正座標のうち、前記トランスミッタと最短距離にある座標Ｃ１を除く他の数点について、位置座標の加重平均を行い加重平均座標Ｐａｖを計算するステップ（ただし、加重平均は、トランスミッタ４に近い磁気センサの座標ほど加重する）
Ｓ４　前記トランスミッタ４と最短距離にある座標Ｃ１と、前記加重平均座標Ｐａｖとを通過する直線の方程式を計算するステップ
Ｓ５　前記直線の方程式から計算により各磁気センサの位置座標を推定するステップ
Ｓ６　ステップＳ５で求めた推定座標Ｒｎ（Ｒ１，Ｒ２，・・・，Ｒｎ）と、前記計測座標（Ｍ１，Ｍ２，・・・，Ｍｎ）とを比較して、誤差Ｅｎ（Ｅ１，Ｅ２，・・・，Ｅｎ）を求めるステップと
Ｓ７　ステップＳ６で求めた前記誤差Ｅｎ（Ｅ１，Ｅ２，・・・Ｅｎ）から誤差距離｜Ｅ｜を計算するステップ
Ｓ８　前記誤差距離｜Ｅ｜が所定の値よりも大きいときは前記ＬＵＴ更新せず、誤差距離｜Ｅ｜が所定の値よりも小さいときは前記誤差距離｜Ｅ｜の大きさに対応してあらかじめ決められた信頼度ｓを重みとして平均誤差値を計算し、これを前記ＬＵＴに格納しＬＵＴを更新するステップ
【００２５】
以下、より具体的に説明する。
（ＬＵＴ更新方法）
−ステップ１：位置座標の計算値の算出−
ＬＵＴの更新方法は、ｘ，ｙ，ｚ各座標とも同様であるので、ｘ座標について説明し、ｙ，ｚ座標の説明は省略する。
（１）トランスミッタに近い方から各点の座標をＰ１（ｐｘ１，ｐｙ１，ｐｚ１）、Ｐ２（ｐｘ２，ｐｙ２，ｐｚ２）、・・・、Ｐｎ（ｐｘｎ，ｐｙｎ，ｐｚｎ）とする。
（２）これら各点の測定値をＭ１（ｍｘ１，ｍｙ１，ｍｚ１，）、Ｍ２（ｍｘ２，ｍｙ２，ｍｚ２，）、・・・、Ｍｎ（ｍｘｎ，ｍｙｎ，ｍｚｎ）とする。
（３）測定値に対しＬＵＴを用いて補正した値をＣ１（ｃｘ１，ｃｙ１，ｃｚ１）、Ｃ２（ｃｘ２，ｃｙ２，ｃｚ２）、・・・、Ｃｎ（ｃｘｎ，ｃｙｎ，ｃｚｎ）とする。ＬＵＴがゼロのときはＣｎ＝Ｍｎとなる。
（４）Ｃ１を除く、Ｃ１近傍の４点Ｃ２〜Ｃ４について加重平均をとり、加重平均座標Ｐａｖ（ｐｘ，ｐｙ，ｐｚ）を求める。この場合、トランスミッタから距離が近いものほど信頼度が高いので基準点Ｐ１に近い座標ほど加重する。
ｐｘ＝（ｃｘ２×３＋ｃｘ３×２＋ｃｘ４×１）÷６
（５）補正座標Ｃ１と、加重平均座標Ｐａｖの距離ｄと、直線Ｃ１Ｐａｖの傾きａを求める。補正座標Ｃ１は最も信頼度が高いのでこれを基準点とするためである。
ｄ＝（（ｐｘ−ｃｘ１）２＋（ｐｙ−ｃｙ１）２＋（ｐｚ−ｃｚ１）２）１／２
ａｘ＝（ｐｘ−ｃｘ１）÷ｄ
（６）ここから、予想される各点の推定座標Ｒ（ｒｘ，ｒｙ，ｒｚ）と、計測座標Ｍ（ｍｘ，ｍｙ，ｍｚ）との誤差Ｅ（ｅｘＮ，ｅｙＮ，ｅｚＮ）（ただしＮ＝２，３，４）を各点ごとに求める。
ｒｘ＝ｃｘ１＋ａｘ×（Ｐ１からの距離）
ｅｘＮ＝ｒｘＮ−ｍｘＮ
【００２６】
−ステップ２：ＬＵＴの更新−
（７）まず、Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４について誤差距離Ｅ（ΣＥＮ）を求める。
（８）誤差距離Ｅの値に応じて信頼度を決定する。例えば、
・５〜８ｃｍなら信頼度ｓ＝１
・３〜５ｃｍなら信頼度ｓ＝２
・０〜３ｃｍなら信頼度ｓ＝３
とし、誤差が８ｃｍ以上の場合はＬＵＴの更新を行わない。なお、この８ｃｍという値は補正対象や環境等により変化する値であるため、数多くの比較実験をして決定する。
（９）測定点の近傍８点のＬＵＴを以下の手順で更新する。
ＬＵＴの信頼度をｌｓとする。（ＬＵＴの各点には、誤差情報と信頼度を記載する。）ｌｓ＝０（初期値）なら、そこには値が入っていないため、信頼度ｓと誤差ｅｘをそのまま入れる。ｌｓ≠０のとき（誤差の値ｌｘが既に入っているとき）は、
ｌｘ’＝（ｌｘ×ｌＳ２＋ｅｘ×ｓ２）÷（ｌｓ２＋ｓ２）
で得られたｌｘ’を入れ、信頼度はｌｓとｓの高い方を入れる。ｌｘはＬＵＴに格納されている誤差値であり、初期値は０となり、ＬＵＴの更新によって変化する。
【００２７】
−ステップ３：ＬＵＴを用いて実際に誤差を補正する方法−
（１０）測定点の近傍数点（たとえば８点）のＬＵＴの値を用いる。
この時ＬＵＴが空（ｌｓ＝０）の場合は、その方向で最も近い空でない点を探す。なお、近傍の定義は各種存在するが、最もシンプルな近傍の考え方として、任意の点に対しそれを取り囲む格子点（これはＬＵＴに格納される計測点）が必ず８点定まるので、いわゆる８近傍を採用している。格子は立方体を構成し、すべての点はその格子点の中のどこかに存在するので、８点が確実かつ容易に求められる。
（１１）測定点とＬＵＴの各点との距離をそれぞれｄ１〜ｄ８とする。
（１２）この距離と、ＬＵＴの信頼度ｌｓを重みとして用いて補正する。
ｃｘ＝ｍｘ＋（ｌｘ１×ｌＳ１×１／ｄ１＋・・＋ｌｘ８×ｌＳ８×１／ｄ８）÷（ｌＳ１×１／ｄ１＋・・・＋ｌＳ８×１／ｄ８）
このように信頼値に従って、信頼できるものにより大きな重みをつけながら平均をとる。
【００２８】
（ＬＵＴの更新例）
ここで、ＬＵＴが計算により更新されていく様子を具体的に説明する。ただし、直感的理解を容易にするため、二次元座標（ｘ，ｙ）でセンサ数４つの例について説明する。しかし、三次元の場合も基本的な考え方は二次元の場合と全く同様であるし、センサ数が増加しても同様にして計算することができる。
【００２９】
図２は、計測棒に取付けられた４つの磁気センサ位置座標（Ｐ１〜Ｐ４）と、磁気センサが取得した位置座標（Ｍ１〜Ｍ４）とを、ｘ−ｙ座標上に示したグラフである。なお、Ｍ１〜Ｍ４は既知、Ｐ１〜Ｐ４は未知である。これらの位置座標を列記すると以下のようになる。
【００３０】
Ｐ１（　５．００，　５．００）　Ｍ１（　５．００，　６．００）
Ｐ２（１０．００，　７．５０）　Ｍ２（１０．００，１０．００）
Ｐ３（１５．００，１０．００）　Ｍ３（１３．７５，１７．５０）
Ｐ４（２０．００，１２．５０）　Ｍ４（１７．５０，３１．００）
【００３１】
図３（ａ）は、初期のＬＵＴを示し、（ｂ）は初期の信頼度表を示した図である。いずれも初期値はゼロからスタートしている。なお、ＬＵＴと信頼度表は１つの表にまとめてもよい。
【００３２】
次に、測定値に対しＬＵＴを用いて補正した補正座標をＣ１（ｃｘ１，ｃｙ１）、Ｃ２（ｃｘ２，ｃｙ２）を求める。ＬＵＴが初期値であるので、Ｍｎ＝Ｃｎ（ｎ＝１，２，３，４）である。すなわち、
Ｃ１（　５．００，　６．００）
Ｃ２（１０．００，１０．００）
Ｃ３（１３．７５，１７．５０）
Ｃ４（１７．５０，３１．００）
である。
【００３３】
次に、Ｃ２〜Ｃ４について加重平均Ｐａｖ（Ｐｘ，Ｐｙ）をとる。信頼度の高い点（トランスミッタに近いセンサの座標）ほど加重して平均をとる。
2004101273.tif 000003
よって、加重平均座標Ｐａｖ（ｐｘ、ｐｙ）は、Ｐａｖ（１２．５０，１６．００）となる（図２）。
【００３４】
次に、最も信頼度の高い補正座標Ｃ１（位置座標Ｍ１の補正座標）と加重平均座標Ｐａｖ（ｐｘ，ｐｙ，ｐｚ）で表わされる距離をｄとして、直線Ｃ１Ｐａｖの傾きａを求める。
2004101273.tif 000004
【００３５】
予想される実際の位置Ｒｎ（ｒｘｎ、ｒｙｎ）は、
2004101273.tif 000005
により計算される。なお、Ｐ１からの距離は、各点が等間隔にならんでいるので、Ｐ１−Ｐ２間の距離Ｌを求めてこれを整数倍すればよい。Ｐ１やＰ２の座標は未知であるが、計測棒のセンサ間隔を実測することは容易である。なお、この例の場合、以下のようにしてＰ１−Ｐ２の座標からＬを求めることができる。
Ｌ＝（（１０−５）２＋（７．５−５）２）１／２≒５．５９
【００３６】
また、誤差Ｅｎ（ｅｘｎ，ｅｙｎ，ｅｚｎ）（ただしｎ＝２，３，４）は、
ｅｘｎ＝ｒｘｎ−ｍｘｎ
ｅｙｎ＝ｒｙｎ−ｍｙｎ
により求められる。
【００３７】
ｘ座標について具体的に計算すると、
2004101273.tif 000006
【００３８】
ｙ座標についても同様に、
2004101273.tif 000007
【００３９】
このようにして誤差Ｅｎを求め、誤差の大きさに応じて信頼度を決定する。まずＲとＥの距離（誤差距離）ΣＥｎを計算する。
【００４０】
上記の例では、
2004101273.tif 000008
となる。
【００４１】
誤差距離の合計が８以上の場合には、信頼度が低すぎると判断しＬＵＴを更新しない。この例では、誤差距離（１６．２１）が８以上の値であるため、本来ならば更新されないが、ＬＵＴの更新例を示すため、今回は例外として、信頼度ｓ＝１としつつＬＵＴを更新する。
【００４２】
ＬＵＴ及び信頼度表は共に初期値（ゼロ）のままであるため、上記で求めたＲをそのまま格納する。図４（ａ）は、更新後のＬＵＴを示し、（ｂ）は更新後の信頼度表を示した図である。
【００４３】
Ｒｘ２＝（５＋０．６×５．５９×１）≒８．３５
Ｒｘ３＝（５＋０．６×５．５９×２）≒１１．７１
Ｒｘ４＝（５＋０．６×５．５９×３）≒１５．０６
Ｒｙ２＝（６＋０．８×５．５９×１）≒１０．４７
Ｒｙ３＝（６＋０．８×５．５９×２）≒１４．９４
Ｒｙ４＝（６＋０．８×５．５９×３）≒１９．４２
【００４４】
すでに信頼度表に値が入っている場合は、信頼度ｓを重みとして計算した平均誤差値をＬＵＴに格納する。但し今回は信頼度が不採用値（１６．２１）であるため、信頼度更新分の箇所に「ｓ＝１」を記載する。
【００４５】
ＬＵＴがカバーする範囲は、ＬＵＴ上に用意されている計測点が存在する範囲となる。ＬＵＴ上に記載されている計測点から離れた部分での誤差値データが得られても、ＬＵＴを変化させることがないので、計算対象から除外する。この意味において、Ｒ４のデータは、Ｒ４の観測された座標Ｍ４（１７．５，３１）がＬＵＴのカバー範囲外となるので、Ｒ４の値を書き込む場所（すなわちＭ４）がＬＵＴに存在しない。よって、更新には利用されない。なお、実際の処理では、早い段階でこのような計測範囲外の点は除外しておくことが好ましい。
【００４６】
このように、直線状に等間隔に配置された計測棒を使ってＬＵＴを更新すれば誤差測定の労力を軽減すると共に補正精度を向上させることができる。
【００４７】
なお、非磁性体部材からなる棒１は、木製・プラスチック・セラミックなど非磁性体の部材で、磁気センサに直線状に等間隔に配置できるものであればよい。また、非磁性体部材からなる棒１の長さ、磁気センサ２の個数及び間隔は適宜選択できる。
【００４８】
本発明は、バーチャル・リアリティシステム空間内に限られず、磁気センサを用いて位置情報を取得するシステムすべてに適用可能である。
【発明の効果】
本発明によると、従来よりも誤差補正に要する労力を大幅に軽減することができる。特に、誤差の大きい場所における精度の高い大規模なＬＵＴを簡易かつ低コストで作成することができる。３０ｃｍ間隔で直線格子上の点を測定し、誤差測定の所要時間を調べたところ、従来方法では５時間要したものが、本発明による方法では約３０分に短縮された。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明に係る計測棒の一例を示す平面図である。
【図２】図２は、計測棒に取付けられた４つの磁気センサ位置座標（Ｐ１〜Ｐ４）と、磁気センサが取得した位置座標（Ｍ１〜Ｍ４）とを、ｘ−ｙ座標上に示したグラフである。
【図３】図３（ａ）は、初期のＬＵＴを示し、（ｂ）は初期の信頼度表を示した図である。
【図４】図４（ａ）は、更新後のＬＵＴを示し、（ｂ）は更新後の信頼度表を示した図である。
【符号の説明】
１　　非磁性体部材からなる棒
２　　磁気センサ
３　　計測棒
４　　トランスミッタ
【図１】
2004101273.tif 000009
【図２】
2004101273.tif 000010
【図３】
2004101273.tif 000011
【図４】
2004101273.tif 000012