(57)【要約】【目的】本発明は、正確で簡素、低コストの測定装置、測定方法を提供する。【構成】互いに近接した測定箇所に関する複数の寸法を測定する装置において、一方の寸法を測定する測定手段は測定基準部分と測定器・測定子を備え、これらを被測定物に対し接難自在に設置し、他方の寸法を測定する測定手段である測定器・測定子は該測定基準部分の位置を測る。寸法測定装置を用いる寸法測定方法において、被測定物が測定位置に載置された後、一方の寸法を測定する測定手段を被測定物に接触させて目的とする第一の測定値を読み取るとともに、他方の測定手段で該測定基準の位置を測ることにより目的とする第二の測定値を算出する。【選択図】　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに近接した測定箇所に関する複数の寸法を測定する装置において、一方の寸法を測定する測定手段は測定基準部分と測定器・測定子を備え、これらを被測定物に対し接離自在に設置し、他方の寸法を測定する測定手段である測定器・測定子は該測定基準部分の位置を測るように構成したことを特徴とする寸法測定装置。
【請求項２】
請求項１の寸法測定装置を用いる寸法測定方法において、被測定物が測定位置に載置された後、一方の寸法を測定する測定手段を被測定物に接触させて目的とする第一の測定値を読み取るとともに、他方の測定手段で該測定基準の位置を測ることにより目的とする第二の測定値を算出することを特徴とする寸法測定方法。
【請求項３】
互いに近接した測定箇所に関する複数の寸法を測定する装置において、
被測定物に対して接離可能に配置された測定基準部分と、被測定物に対して接離するように前記測定基準部分に対して移動可能に配置された第１測定子からなる第１測定手段と、
該第１測定手段の前記測定基準部分の位置を測定するように前記測定基準部分の所定部分に対して接触するように配置された第２測定子を持つ第２測定手段と、
を有することを特徴とする寸法測定装置。
【請求項４】
請求項３記載の寸法測定装置において、被測定物に対して対称位置に配置された、前記第１測定手段と前記第２測定手段と同一構成の第３測定手段と第４測定手段をさらに有し、第１および第３測定手段の測定基準部分に対する各第１測定子の位置から被測定物の測定基準部分の接触部分に対する被測定物の第１測定子の接触部分の傾きを算出し、第２測定手段および第４測定手段の各第２測定子位置から各第２測定子の被測定物の接触部分間の距離を算出することを特徴とする寸法測定装置。
【請求項５】
互いに近接した測定箇所に関する複数の寸法を測定する方法において、
被測定物に対して測定基準部分を移動させて接触させ、該接触後、前記測定基準部分に対して第１測定子を移動させて被測定物に対して接触させて第１の測定値を検出し、
前記測定基準部分の位置を測定するように前記測定基準部分の所定部分に対して第２測定子を接触させて第２の測定値を検出する、
ことを特徴とする寸法測定方法。
【請求項６】
請求項５記載の寸法測定方法において、第１測定値から被測定物の測定基準部分の接触部分に対する被測定物の第１測定子の接触部分の傾きを算出し、第２の測定値と被測定物の反対側で第２の測定値と同様にして得られた第３の測定値から被測定物の接触部分間の距離を算出することを特徴とする寸法測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、加工品の測定技術に属し、主として機械加工品の接触式測定技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、複数測定項目の同時自動測定に関しては下記の特許文献１に記載の、互いに測定点が至近距離にはないＲｚ測定とねじれ測定を行う技術が開示されている。
【特許文献１】
特開２０００−１７６７９４号公報
特に、発明の実施の形態および図２を参照されたい。
また、当該分野で用いられている従来の測定方法は、それぞれの測定手段が互いに干渉して設置できないほどに近接する複数の点の測定を行なう場合、測定の工程を分け、それぞれ独立に順次測定を行なっていた。以下に図によって従来技術を詳細に説明する。
【０００３】
図３に本実施例で対象とした被測定物であるＣＲＴフレーム１を示す。ＣＲＴフレーム１は水平方向に対向して配置された一対のＬ字断面部材２と垂直方向に対向して配置された一対の矩形断面部材３を組合わせて溶接して組み立てて成る。ＣＲＴフレーム１の測定項目は図４に示すＬ字型断面をした１対の部材２の各中央部外側面間距離Ｙと図５に示す該部材２の中央部における外側面の傾きＴである。
【０００４】
図４に従来の測定装置４によるＬ字断面部材２の各中央部外側面間距離Ｙの測定方法を示す。測定装置４上に載置され、図示しない機構で位置決めされたＣＲＴフレームはその垂直の中心線上にＣＲＴフレーム１を挟んで対向して各々移動機構９上に設置された測定器５の各々の測定子７をＣＲＴフレーム１に接触させ、それぞれの測定値を求める。以上の測定に先立ってあらかじめ別の測定手段を用いて寸法Ｙが求められている校正用基準フレームを測定装置４にて測定しておき、校正用基準フレームの測定値とＣＲＴフレーム１の測定値の差よリＣＲＴフレーム１の−対の部材２中央の外側面間距離Ｙを算出して求める。測定器５、６としてはダイアルゲージを用いている。
【０００５】
図５に従来の測定装置１１によるＬ字断面部材２中央部の外側面の傾きＴの測定方法を示す。ＣＲＴフレーム１を定盤１２上に載置し、測定器１３を定盤１２上で摺動させ、その基準部分１４と測定子１５を一方のＬ字断面部材２の中心線上に接触させて外側面の傾きＴを測定する。他方のＬ字断面部材２の外側面の傾きＴも同様に測定して求める。測定器１３としてははダイアルゲージを用いている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
従来行なわれてきた外側面間距離Ｙと外側面の傾きＴを求める２種の測定を同一工程内で行なうことは、それぞれの測定の測定点が互いに同一位置にあり互いの測定器が干渉して設置できないために、実施できなかった。
【０００７】
以上に説明したような従来の測定方法では工程ごとに測定設備を設置しなければならず、被測定物と測定設備の位置合わせが独立して行なわれ、位置決め誤差の集積が測定精度を悪化させ、より多くの測定設備費、測定設備設置スペースを要し、被測定物の搬送、脱着が煩雑でコスト高となるなどの問題があった。
【０００８】
本発明は以上のような従来技術の問題点を解決し、正確で簡素、低コストの測定装置、測定方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する為に本発明においては測定基準を必要とする測定項目とその測定基準が他の測定項目の測定点となるような測定の組み合わせに着目し、一方の寸法を測定する測定手段は測定基準部分と測定器・測定子を備え、これらを被測定物に対し接離自在に設置し、他方の寸法を測定する測定手段である測定器・測定子は該測定基準部分の位置を測るように構成した。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以上のように構成した測定装置において、被測定物を載置する際、被測定物と直接接触する寸法測定手段を被測定物に対し離間させ、干渉を回避した状態で被測定物を載置した後、該寸法測定手段を被測定物に対して近接・接触させる。これにより該測定手段は第−の測定値を読み込む。これと同時に他の測定手段は該測定手段の測定基準の位置を検出しており、該測定手段が被測定物に接触し、静止した状態でその測定基準の位置を測定し、測定値を読み込む。本測定値は該測定手段の測定基準を介して間接的に被測定物を測定したものである。介在する構成物の寸法補正はそのものの測定によらず、校正用基準フレームの測定値を無条件に基準とし、これと被測定物との相対比較を行うことにより、介在物を意識することなく、またそれ以外の補正作業を必要とせず、必要とする値を得ることができる。測定終了後、再度該寸法測定手段を被測定物に対し離間させ、被測定物を測定装置から取り出す。以下に本発明の実施例を図を交えて詳細に説明する。
【００１１】
【実施例】
本発明の提供する方法にて製作した装置を示したものが図２、その部分詳細図で上記２種の測定が行なわれる部分を示したものが図１である。
【００１２】
図２の測定装置１７において図４に示す従来例の測定装置４の垂直の中心線上に設置された外側面間距離Ｙを測定する一対の測定器５の代わりに外側面の傾きＴを測定する測定器１８をそれぞれ独立した移動機構２３上に、測定装置１７の水平の中心線に関してＣＲＴフレーム１を挟んで対称に互いに向かい合わせて設置する。さらに各測定器１８の基準部分２９と−体で移動する後部端点２７の位置を測定できるよう測定器２５を測定装置１７の水平の中心線に関して対称に設置する。
【００１３】
図１は図２の２種類の測定器１８と２５の設置状態を示す詳細側面図である。以下図１において本発明実施例の装置の作用を詳細に説明する。測定に先立ち、ＣＲＴフレーム１と直接接触する測定器１８はＣＲＴフレーム１の載置時にＣＲＴフレーム１との干渉を避けるため、移動機構２３を作動させることによりＣＲＴフレーム載置位置から離間した位置に退避させる。ＣＲＴフレーム１を載置し、図示しない位置決め手段によりＣＲＴフレーム１の姿勢を適切な状態にする。図１にはＣＲＴフレーム１の姿勢を調整、位置決めした後の状態を図示している。
【００１４】
位置決めされたＣＲＴフレーム１に対し移動機構２３を載置時と逆方向に（すなわち、ＣＲＴフレーム１に向かって）作動させて測定器１８の基準部分２９と測定子３０を静かにＣＲＴフレーム１に接触させる。これによって測定器１８からはＣＲＴフレーム１の外側面の傾きＴの測定値が得られる。
【００１５】
同時に移動機構２３の動作静定後、測定器１８の基準部分２９に一体化された後部端点２７と接触した測定器２５の測定子３１は該基準部分を介してＣＲＴフレーム１の該側面位置を検出しており、対称位置にある測定器２６の測定値と合わせて２つの後部端点２７間距離Ｙ’より、ＣＲＴフレーム１の外側面間距離Ｙを算出することが出来る。Ｙ’の算出には従来技術にて説明したのと同様に校正用基準フレームの測定値が用いられる。
【００１６】
上記実施例ではＣＲＴフレームを被測定物として採用したが、本発明はこれに限らず多様な測定対象に適用できるものである。
【００１７】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、従来、測定器相互の干渉によって同一工程では出来なかった複数の測定を同時に行なうことが出来るようになり、測定対象物の取扱の繰返しを避けることによって測定精度を向上させ、信頼性の劣化、取扱による品質の劣化やコストの上昇を防ぐことが出来、また設備投資や設置場所の節滅が出来るといった多くの効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明の実施例で、２種の測定器の取付け状態を示す図２の詳細側面図である。
【図２】図２は本発明の実施例を示す測定装置の平面図である。
【図３】図３は本発明の実施例で被測定物としたＣＲＴフレームを示す斜視図である。
【図４】図４は従来技術によるＣＲＴフレームＬ字断面部材の外側面間距離測定装置を示す平面図である。
【図５】図５は従来技術によるＣＲＴフレームＬ字断面部材の外側面の傾き測定器を示す正面図、平面図および部分詳細図である。
【符号の説明】
１　　　ＣＲＴフレーム
２　　　Ｌ字断面部材
３　　　矩形断面部材
４　　　外側面間距離Ｙを測定する従来の測定装置
５　　　外側面間距離Ｙを測定する測定器
７　　　外側面間距離Ｙを測定する測定子
９　　　移動機構
１１　　外側面の傾きＴを測定する従来の測定装置
１２　　定盤
１３　　外側面の傾きＴを測定する測定器
１４　　基準部分
１５　　測定子
１７　　本発明の外側面間距離Ｙおよび外側面の傾きＴを測定する測定装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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