(57)【要約】【課題】互いに分離して設けられた上下の列電極間のショートを検出できるディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置を提供する。【解決手段】上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサ２で検出し、イメージセンサ２の出力ビデオ信号に基づいて、他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出する。明線が検出された場合、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する。【選択図】　　　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査方法であって、
前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とするディスプレイパネルの表示検査方法。
【請求項２】
複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる３色の表示セルで１画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査方法であって、
前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の１の発光色のセルのみを発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とするディスプレイパネルの表示検査方法。
【請求項３】
複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査装置であって、
前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させる発光手段と、
非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、
前記イメージセンサから出力されるビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、
を備えることを特徴とするディスプレイパネルの表示検査装置。
【請求項４】
複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる３色の表示セルで１画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査装置であって、
前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の１の発光色のセルのみを発光させる発光手段と、
非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、
前記イメージセンサから出力されたビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、
を備えることを特徴とするディスプレイパネルの表示検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マトリクス状に表示セルが配列したディスプレイパネルの電極間の電極ショートを検査するディスプレイパネルの表示検査方法等に関する。
【０００２】
【従来の技術】
複数の行電極と、これら複数の行電極と直交する方向に配列された列電極とを備え、行電極と列電極との交点にＲ、Ｇ、Ｂ各色の表示セルが形成されたディスプレイパネルが知られている。このようなディスプレイパネルにおいて、隣接する電極間のショートを検出する際には、ディスプレイパネル全体に単色パターン（Ｒ、Ｇ、Ｂパターン）を表示させている。この場合、隣接する電極間のショートがあれば他色の表示セルが発光するため、電極間のショートを検出することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
上記のディスプレイパネルにおいて、列電極をディスプレイパネルの上下方向に分割したタイプのものがある。このようなタイプのディスプレイパネルでは、図１に示すように、上下に分割された列電極群１０１、１０２中の列電極が互いにショートしていると、正常な表示ができなくなる線欠陥が発生する。しかし、ディスプレイパネル全体に単色パターンを表示させる上記検出方法を採用した場合、上下の列電極間のショートは表示に影響を与えない。このため、上下の列電極間のショートが検出できない。
【０００４】
本発明は、互いに分離して設けられた上下の列電極間のショートを検出できるディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載のディスプレイパネルの表示検査方法は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査方法であって、前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とする。
【０００６】
請求項２に記載のディスプレイパネルの表示検査方法は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる３色の表示セルで１画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査方法であって、前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の１の発光色のセルのみを発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とする。
【０００７】
請求項３に記載のディスプレイパネルの表示検査装置は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査装置であって、前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させる発光手段と、非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、前記イメージセンサから出力されるビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【０００８】
請求項４に記載のディスプレイパネルの表示検査装置は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる３色の表示セルで１画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査装置であって、前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の１の発光色のセルのみを発光させる発光手段と、非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、前記イメージセンサから出力されたビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、図２〜図８を参照して、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法の一実施形態について説明する。
【００１０】
図２はプラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図、図３は検査対象となるプラズマディスプレイパネル３０の電極配置等を示す図である。
【００１１】
図２に示すように、この検査装置１００は、検査時にプラズマディスプレイパネル３０を点灯させる検査機本体１と、プラズマディスプレイパネル３０の表示面を撮影するＣＣＤカメラ２と、ＣＣＤカメラ２からの映像信号を受ける画像処理装置３と、検査機本体１、ＣＣＤカメラ２および画像処理装置３を制御する制御装置４とを備える。画像処理装置３は、後述する発光パターンを解析するための画像処理を実行する画像処理部３ａ、ＣＣＤカメラ２からの画像データをＲＧＢ別に格納する画像処理メモリ３ｂ、および画像処理の対象となるデータを一時的に記憶する画像処理対象メモリ３ｃを具備する。
【００１２】
図３に示すように、検査機本体１には、プラズマディスプレイパネル３０の電極に接続されるアドレスドライバ１１ａ，１１ｂ、Ｘサステインドライバ１２ａ，１２ｂおよびＹサステインドライバ１３ａ，１３ｂが設けられる。
【００１３】
図３に示すように、プラズマディスプレイパネル３０は上下方向に２分割され、それぞれの領域の電極が互いに分離されている。図３に示すように、プラズマディスプレイパネル３０の上側の分割領域には、列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ，Ｄ２ｇ，Ｄ２ｂ・・・Ｄｍｒ，Ｄｍｇ，Ｄｍｂと、行電極Ｘ１〜Ｘｉと、行電極Ｙ１〜Ｙｉと、が設けられる。列電極Ｄ１ｒ〜Ｄｍｂはアドレスドライバ１１ａに、行電極Ｘ１〜ＸｉはＸサステインドライバ１２ａに、行電極Ｙ１〜ＹｉはＹサステインドライバ１３ａに、それぞれ接続される。
【００１４】
また、プラズマディスプレイパネル３０の下側の分割領域には、列電極ＤＡ１ｒ，ＤＡ１ｇ，ＤＡ１ｂ，ＤＡ２ｒ，ＤＡ２ｇ，ＤＡ２ｂ・・・ＤＡｍｒ，ＤＡｍｇ，ＤＡｍｂと、行電極Ｘｉ＋１〜Ｘｎと、行電極Ｙｉ＋１〜Ｙｎと、が設けられる。列電極ＤＡ１ｒ〜ＤＡｍｂはアドレスドライバ１１ｂに、行電極Ｘｉ＋１〜ＸｎはＸサステインドライバ１２ｂに、行電極Ｙｉ＋１〜ＹｎはＹサステインドライバ１３ｂに、それぞれ接続される。
【００１５】
図３に示すように、それぞれの列電極は、順次Ｒセル、Ｇセル、Ｂセルに繰り返し対応するように割り当てられ、表示エリア３１において、行電極Ｘ１〜Ｘｎ、行電極Ｙ１〜Ｙｎとの交点ごとにＲセル、Ｇセル、Ｂセルがそれぞれ形成される。図３に示すように、連続して配置されたＲセル、Ｇセル、Ｂセルを１組として、１画素が形成される。表示エリア３１の外側には表示エリア外の領域３７が設けられる。
【００１６】
図３に示すように、行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎは互いに反対側から伸びるように櫛状に交互に配置される。また、１つの表示セル行に対し、行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎはそれぞれ１本ずつ割り当てられ、１つのセルの内部で行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎが平行に向き合って配置される。
【００１７】
また、列電極Ｄ１ｒ〜Ｄｍｂおよび列電極ＤＡ１ｒ〜ＤＡｍｂは、表示領域３１の中間部分において上下方向に互いに分離されている。なお、列電極の配置についてはさらに後述する。
【００１８】
次に、プラズマディスプレイパネル３０の駆動方法について説明する。
【００１９】
プラズマディスプレイパネル３０を駆動する期間としての１フィールドは、複数のサブフィールドＳＦ１〜ＳＦＮにより構成される。図４に示すように、各サブフィールドには、点灯させるセルを選択するアドレス期間と、そのアドレス期間において選択されたセルを所定時間点灯させ続けるサステイン期間とが設けられている。また、最初のサブフィールドであるＳＦ１の先頭部分には、前のフィールドでの点灯状態をリセットするためのリセット期間がさらに設けられている。このリセット期間では、すべてのセルを点灯セル（壁電荷が形成されているセル）に、または消灯セル（壁電荷が形成されていないセル）にリセットする。前者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを消灯セルに切換え、後者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを点灯セルに切換える。サステイン期間はサブフィールドＳＦ１〜ＳＦＮの順に段階的に長くされており、点灯させ続けるサブフィールドの個数を変化させることにより、所定の階調表示が可能とされている。
【００２０】
図５に示す各サブフィールドのアドレス期間では、１ラインごとにアドレス走査が行われる。すなわち、第１のラインを構成する行電極Ｙ１に走査パルスが印加されると同時に、列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ・・・Ｄｍｂに第１のラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスＤＰ１が印加され、次に第２のラインを構成する行電極Ｙ２に走査パルスが印加されると同時に、列電極Ｚ１〜Ｚｍに第２のセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスＤＰ２が印加される。第３のライン以下についても同様に走査パルスおよびデータパルスが同時に印加される。最後に、第ｎのラインを構成する行電極Ｙｎに走査パルスが印加されると同時に、列電極Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｒ・・・Ｄｍｂに第ｎのラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスＤＰｎが印加される。上記のようにアドレス期間では、所定のセルを点灯セルから消灯セルに、または消灯セルから点灯セルに切換える。
【００２１】
このようにしてアドレス走査が終了すると、サブフィールドにおけるすべてのセルが、それぞれ点灯セルあるいは消灯セルのいずれかに設定されており、次のサステイン期間においてサステインパルスが印加されるごとに点灯セルのみ発光を繰り返す。図５に示すように、サステイン期間では行電極Ｘ１〜Ｘｎおよび行電極Ｙ１〜Ｙｎに対し、ＸサステインパルスおよびＹサステインパルスが、それぞれ所定のタイミングで繰り返し印加される。そして、最後のサブフィールドＳＦＮには、全セルを消灯セルに設定する消去期間が設けられている。
【００２２】
以上のようなフィールドを繰り返すことにより、プラズマディスプレイパネル３０による動画での階調表現が可能となる。
【００２３】
次に、検査装置１００を用いてプラズマディスプレイパネル３０の列電極間の短絡を検査する場合の手順を説明する。
【００２４】
図２に示すように、検査時には、プラズマディスプレイパネル３０を検査機本体１にセットし、プラズマディスプレイパネル３０の表示エリア３１内における上側または下側の分割領域のうち、一方の分割領域全体を単色（例えば、Ｒ色）発光させる。このとき、他方の分割領域全体を発光させない黒表示とする。
【００２５】
図６は、列電極間のショートの有無に応じた発光パターン等を示している。図６（ａ）は列電極間のショートがない場合を示しており、表示領域３１のうち上側の分割領域３２全体を単色発光させている。このとき、下側の分割領域３３において発光しているセルは存在しない。図６（ａ）に示すパターンは列電極間のショートを検出するための検出パターンそのものである。図６（ｂ）は列電極間のショートがある場合の発光パターンを示している。図６（ｃ）は列電極間のショート部分を示す図であり、上側の分割領域に設けられた列電極群１０１中の列電極と、下側の分割領域に設けられた列電極群１０２中の列電極とが互いにショートしたショート部分１０３を示している。このような列電極間のショートがある場合、図６（ｂ）に示すように、ショート部分１０３を介して上側の分割領域３２に設けられた列電極と、下側の分割領域３３に設けられた列電極とが互いに接続される。そして、列電極１０１中の列電極に接続された、列電極１０２中の列電極に沿ったライン（明線）１０４上のセルが発光する。このため、列電極間のショートを検出することが可能となる。
【００２６】
このようなプラズマディスプレイ３０の発光パターンはＣＣＤカメラ２により取り込まれ、画像処理装置３では、ＣＣＤカメラ２からの画像データに基づいて発光パターンの解析を行う。
【００２７】
図７は、検査時の処理を示すフローチャートである。図７の処理は制御装置４の制御に基づいて実行される。
【００２８】
図７のステップＳ１では、検査機本体１により、プラズマディスプレイパネル３０に上記検出パターンを表示させるような駆動パルスを与える。これにより、プラズマディスプレイパネル３０は、例えば、図６（ａ）または図６（ｂ）に示すような発光パターンで点灯する。ショート箇所の有無を示すフラグの値を「ショート箇所無し」を示す値に初期化する。次に、ＣＣＤカメラ２により発光パターンの画像を取り込み（ステップＳ２）、取り込まれた画像の画像データをＣＣＤカメラ２から画像処理装置３の画像処理メモリ３ｂに転送する（ステップＳ３）。ここでは、ＲＧＢ３色のデータを別々のメモリ領域に転送する。
【００２９】
次に、画像処理の対象となる発光色（Ｒ、Ｇ、Ｂ）、すなわち画像処理の対象となるデータが格納されたメモリ領域を設定する（ステップＳ４）。次に、画像処理メモリ３ｂに格納された画像データに基づいて、中央分割ラインを近似する近似直線を算出する（ステップＳ５）。
【００３０】
次に、画像処理メモリ３ｂに格納された画像データのうち、上下の分割領域のうち発光させていない方の分割領域全体を画像処理領域として設定する（ステップＳ４）。ここでは、ステップＳ５の処理で算出された近似直線を基準として、画像処理領域を設定することができる。ステップＳ４では、例えば、検出パターンが図６（ａ）に示すパターンである場合には、発光させていない下側の分割領域３３の全体と、上記中央分割ラインとを含む領域を画像処理領域として設定する。
【００３１】
次に、画像処理対象メモリ３ｃに記憶された画像データに基づいて、上記画像処理領域内における輝点または輝線の抽出処理を実行する（ステップＳ７）。ここでは、ステップＳ４において設定された発光色について、輝点または輝線を抽出する。例えば、図６（ｂ）に示す発光パターンの場合には、明線であるライン１０４上に輝点または輝線が抽出されることになる。また、図６（ａ）に示す発光パターンの場合には、輝点または輝線が抽出されない。
【００３２】
ついで、ステップＳ８では、ステップＳ７の処理において輝点または輝線が抽出されたか否か判断し、判断が肯定されればステップＳ９へ進み、判断が否定されればステップＳ１０へ進む。ステップＳ９では、列電極間のショートがあるものとして、該当する発光色について、ショート箇所の有無を示すフラグの値を「ショート箇所有り」を示す値に設定し、ステップＳ１１へ進む。一方、ステップＳ１０では、列電極間のショートがあるものとして、該当する発光色について、ショート箇所の有無を示すフラグの値を変更せずに、ステップＳ１１へ進む。
【００３３】
ステップＳ１１では、Ｒ、Ｇ、Ｂすべての発光色について、ステップＳ１以降の処理を終了したか否か判断し、判断が否定されればステップＳ１へ戻って次の発光色（例えば、Ｇ色）についての処理に移行し、判断が肯定されれば図７の処理を終了する。このように、各色の発光色（Ｒ、Ｇ、Ｂ）について、ステップＳ１〜ステップＳ１０の処理が実行された後、すべての処理を終了する。
【００３４】
以上の処理により、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色について、列電極の有無が検出される。列電極の有無は、発光色（Ｒ、Ｇ、Ｂ）ごとに上述のフラグに基づいて判定することができる。
【００３５】
以上説明したように、本実施形態のディスプレイパネルの表示検査方法では、上下に分割されたディスプレイパネルの一方の分割領域のみを発光させ、他方の分割領域において発光するセルを抽出しているので、列電極間のショートを確実に検出することができる。
【００３６】
上記実施形態では、３色の発光色のセルが配列したカラーディスプレイパネルを検査する例を示したが、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法は、単色のセルが配列したモノクロディスプレイパネルの検査にも適用できる。この場合は、分割領域の一方のセルを発光させ、他方の分割領域にあるセルの発光の有無を検出すればよい。
【００３７】
また、上記実施形態では、プラズマディスプレイパネルの検査について例示したが、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法は、他のディスプレイパネルについても広く適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の検査方法を示す図。
【図２】プラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図。
【図３】検査対象となるプラズマディスプレイパネルの電極配置等を示す図。
【図４】フィールドの構成を示す図。
【図５】駆動パルスを示すタイミングチャート。
【図６】列電極間のショートの有無に応じた発光パターン等を示す図であり、（ａ）は列電極間のショートがない場合を、（ｂ）は列電極間のショートがある場合の発光パターンを、（ｃ）は列電極間のショート部分を、それぞれ示す図。
【図７】検査時の処理を示すフローチャート。
【符号の説明】
１　　　検査機本体（発光手段）
２　　　イメージセンサ（ＣＣＤカメラ）
３　　　画像処理装置（判定手段）
Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ〜Ｄｍｂ　列電極
ＤＡ１ｒ，ＤＡ１ｇ〜ＤＡｍｂ　列電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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