(57)【要約】【課題】指紋等の縞模様画像の鑑定時の負担を軽減し、また、鑑定精度を向上させる。【解決手段】特徴点データ照合手段１９は、対特徴点の情報を作成する。芯線データ照合手段２０は、サーチ側とファイル側とで対になる芯線点の情報を作成する。画像歪み修正手段２５は、対特徴点だけでなく、対になる芯線点の情報も用いて、ファイル側のデータを修正し画像の歪みを減少させる。鑑定図編集表示手段２６は、サーチ側のデータと修正後のファイル側のデータの双方を、鑑定がやりやすくなるように出力する。例えば、サーチ側のデータと、修正後のファイル側のデータとを重畳させて出力する。【選択図】　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第一の縞模様画像と第二の縞模様画像とが一致するか否かの鑑定を補助する縞模様画像鑑定装置であって、
縞模様画像の縞を細線化した芯線上の点であって対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の点と、前記点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正する画像歪み修正手段と、
画像歪み修正手段が修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像を出力する画像表示手段とを備えた
ことを特徴とする縞模様画像鑑定装置。
【請求項２】
画像歪み修正手段は、対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の芯線上の点を所定の間隔毎に抽出し、抽出した各点と、前記各点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の各点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正する請求項１に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項３】
画像表示手段は、画像歪み修正手段が修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像とを重畳させて出力する請求項１または請求項２に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項４】
画像表示手段は、各縞模様画像として、色の濃度を変化させることで縞模様を表した濃淡画像を出力する請求項３に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項５】
濃淡画像における色の濃度を変更する濃度変更手段を備えた請求項４に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項６】
画像表示手段は、各縞模様画像として、芯線の画像を出力する請求項３から請求項５のうちのいずれか１項に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項７】
芯線の画像における芯線の色を変更する芯線色変更手段を備えた請求項６に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項８】
画像表示手段は、画像歪み修正手段が修正した縞模様画像と他方の縞模様画像とを一定の切替間隔毎に切り替えて同じ位置に表示する請求項１から請求項７のうちのいずれか１項に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項９】
芯線上の特徴点のうち、第一の縞模様画像側と第二の縞模様画像側とで対応付けられる対特徴点を特定する特徴点照合手段と、
特徴点照合手段が特定した対特徴点を用いて、第二の縞模様画像の芯線上の点の中から第一の縞模様画像の芯線上の点に対応する点を特定することによって、芯線上の点同士の対応付け処理を行う対応付け手段とを備え、
画像歪み修正手段は、対応付け手段が対応付けた芯線上の点同士を近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正する
請求項１から請求項８のうちのいずれか１項に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項１０】
特徴点照合手段が特定した対特徴点の情報および対応付け手段が対応付けた芯線上の点の情報の修正を支援する対応関係修正手段を備え、
特徴点照合手段は、修正された対特徴点の情報および芯線上の点の情報に基づいて対特徴点の特定をやり直し、
対応付け手段は、修正された対特徴点の情報および芯線上の点の情報に基づいて芯線上の点同士の対応付け処理をやり直す
請求項９に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項１１】
芯線のデータの修正を支援する芯線データ修正手段を備え、特徴点照合手段は、修正された芯線のデータに基づいて対特徴点の特定をやり直し、
対応付け手段は、修正された芯線のデータに基づいて芯線上の点同士の対応付け処理をやり直す
請求項９または請求項１０に記載の縞模様画像鑑定装置。
【請求項１２】
第一の縞模様画像と第二の縞模様画像とが一致するか否かの鑑定を補助する縞模様画像鑑定方法であって、
縞模様画像の縞を細線化した芯線上の点であって対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の点と、前記点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正し、
修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像を出力する
ことを特徴とする縞模様画像鑑定方法。
【請求項１３】
対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の芯線上の点を所定の間隔毎に抽出し、抽出した各点と、前記各点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の各点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正する請求項１２に記載の縞模様画像鑑定方法。
【請求項１４】
修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像とを重畳させて出力する請求項１２または請求項１３に記載の縞模様画像鑑定方法。
【請求項１５】
修正した縞模様画像と他方の縞模様画像とを一定の切替間隔毎に切り替えて同じ位置に表示する請求項１２から請求項１４のうちのいずれか１項に記載の縞模様画像鑑定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、縞模様画像同士の異同判断を補助する縞模様画像鑑定装置および縞模様画像鑑定方法に関し、特に指紋等の異同判断を補助する縞模様画像鑑定装置および縞模様画像鑑定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、縞模様状の多数の隆線によって構成される指紋は終生不変および万人不同という二つの大きな特徴をもっているため、古くから人物確認の手段として利用されている。従来の指紋鑑定では、鑑定官（ｅｘａｍｉｎｅｒ）が二つの指紋データを見比べ、指紋隆線上の特徴点が合致することを目視で鑑定していた。そして、二つのデータで対になる特徴点の数が一定数以上存在すれば、同一指紋と判断していた。なお、特徴点とは、縞となる線の端点または分岐点のことである。そして、二つのデータ（この場合指紋データ）で対になる特徴点を対特徴点という。
【０００３】
裁判では、並べて配置した二つの指紋写真や指紋濃淡画像とともに、確認された対特徴点同士の関連を示す資料が提出される。多くの国の裁判では、二つの指紋データの中に１２組程度の対特徴点の組が見つかれば、その二つの指紋は同一であると認められる。この詳細は、「Ｔｈｅ　Ｓｃｉｅｎｃｅ　ｏｆ　Ｆｉｎｇｅｒｐｒｉｎｔｓ−Ｃｌａｓｓｉｆｉｃａｔｉｏｎ　ａｎｄ　Ｕｓｅｓ　（Ｊｏｈｎ　Ｅｄｇａｒ　Ｈｏｏｖｅｒ，　ＵＳ　ＤＯＪ，　ＦＢＩ；　１９６３）」の１９０ページから１９３ページに記載されている。
【０００４】
近年では、計算機を用いた指紋照合システムが普及しつつあり、これに伴い裁判用証拠資料も計算機を用いて作成することが多くなっている。また、対特徴点をわかりやすく表示するように表示画面を修正する機能は、米国でチャーティング機能（Ｃｈａｒｔｉｎｇ　Ｆｕｎｃｔｉｏｎ　）と呼ばれている。半自動化されたチャーティング機能を実現した指紋照合システムは既に用いられている。この指紋照合システムでは、鑑定官が全ての対特徴点の情報をマニュアル操作で入力する必要はなく、指紋照合システムが特徴点同士を照合して、対になると評価された対特徴点群を自動的に表示する。鑑定官は、表示された対特徴点について確認および修正を行う。図４５，４６は、チャーティング機能によって表示された指紋データの例である。図４５に示す例では、対応する特徴点を同じ番号で指定して対応関係を明確にしている。図４６は、図４５に示す各対特徴点がほぼ水平となるように指紋データの一方を修正したものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、質の低い遺留指紋を照合する場合には、鑑定官が特徴点の対応付けを行わねばならず、鑑定官に作業負担が生じる。また、特徴点が存在しない領域において、隆線形状が同一といえるかどうかを判断することは困難である。
【０００６】
また、一つの指には特徴点が１００個程度存在する。従って、異なる指紋データであっても、対になると判断される対特徴点の組が１０組以上見つかることがある。従って、特徴点だけに着目して指紋の照合を行うと誤った鑑定結果を導いてしまう可能性がある。図４７（ａ），（ｂ）は、異なる指紋から抽出された特徴点の情報を示す。円形で示した点は端点を表し、四角で示した点は分岐点を表す。なお、特徴点から伸びる短い線分は、特徴点方向を示す。特徴点方向は、ＮＩＳＴデータ交換標準定義（サブセクション１６．１．４）において定義されている。図４７において、同じ番号で示した特徴点は、対特徴点と判断された点である。しかし、図４７に示すような特徴点のデータだけから二つの指紋が合致するか否かを判断することは困難である。図４８に示すように、特徴点のデータだけでなく、隆線のデータも併せて表示すれば、特徴点が一致していても隆線構造が異なるので別の指紋であると判断できる。しかし、サーチ側の指紋の質が低いと、隆線の確認が難しくなるので、両者を比較して鑑定することが困難になる。
【０００７】
さらに、陪審員制度を採用している米国等では、指紋鑑定官だけでなく一般の陪審員も指紋鑑定結果を容易に確認できるようにすることが望まれている。
【０００８】
このような問題を解決するために、一方の指紋画像がもう一方の指紋画像と合致するように画像歪みを修正し、指紋画像を並べて表示することで、目視での確認を容易にする方法が考えられる。例えば、特許第２８８５７８７号公報には、対特徴点と指紋の中心点との距離に基づいて画像歪みを修正する方法が記載されている。
【０００９】
しかし、この画像歪みの修正方法は、指紋の中心点がない場合には適用が困難である。中心点がない指紋としては、例えば弓状紋がある。また、鑑定を要する遺留指紋の中には、指紋の中心がない片鱗指紋もある。これらの指紋の画像の修正に特許第２８８５７８７号公報に記載の修正方法を適用することは困難である。
【００１０】
また、特許第２８８５７８７号公報に記載の画像歪みの修正方法では、歪みを修正できる範囲が対特徴点の近傍の領域に限定される。そのため、画像全体としての歪み修正効果が小さくなることがあった。特に、対特徴点の数が少ない場合、歪み修正の効果は非常に小さい。
【００１１】
そこで、本発明は、指紋等の縞模様画像の照合に伴う鑑定官等の負担を軽減し、また、鑑定精度を向上させることを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明による縞模様画像鑑定装置は、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像とが一致するか否かの鑑定を補助する縞模様画像鑑定装置であって、縞模様画像の縞を細線化した芯線上の点であって対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の点と、その点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正する画像歪み修正手段と、画像歪み修正手段が修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像を出力する画像表示手段とを備えたことを特徴とする。
【００１３】
画像歪み修正手段は、対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の芯線上の点を所定の間隔毎に抽出し、抽出した各点と、その各点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の各点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正することが好ましい。そのような構成によれば、芯線上の全ての点を用いて歪みを修正するのではないので、歪み修正の処理時間がかかりすぎることがない。
【００１４】
画像表示手段は、例えば、画像歪み修正手段が修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像とを重畳させて出力する。重畳させることで、縞模様画像の一致の度合いを観察しやすくなる。
【００１５】
画像表示手段は、例えば、各縞模様画像として、色の濃度を変化させることで縞模様を表した濃淡画像を出力する。
【００１６】
濃淡画像における色の濃度を変更する濃度変更手段を備えていることが好ましい。そのような構成によれば、濃度を変更することで、縞模様画像の一致の度合いを一層観察しやすくなる。
【００１７】
また、画像表示手段は、例えば、各縞模様画像として、芯線の画像を出力する。
【００１８】
芯線の画像における芯線の色を変更する芯線色変更手段を備えていることが好ましい。そのような構成によれば、芯線の色を変更することで、縞模様画像の一致の度合いを一層観察しやすくなる。
【００１９】
また、画像表示手段は、例えば、画像歪み修正手段が修正した縞模様画像と他方の縞模様画像とを一定の切替間隔毎に切り替えて同じ位置に表示する。そのような構成によれば、残像を利用して、縞模様画像の一致の度合いを観察しやすくなる。
【００２０】
芯線上の特徴点のうち、第一の縞模様画像側と第二の縞模様画像側とで対応付けられる対特徴点を特定する特徴点照合手段と、特徴点照合手段が特定した対特徴点を用いて、第二の縞模様画像の芯線上の点の中から第一の縞模様画像の芯線上の点に対応する点を特定することによって、芯線上の点同士の対応付け処理を行う対応付け手段とを備え、画像歪み修正手段は、対応付け手段が対応付けた芯線上の点同士を近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正する構成であってもよい。
【００２１】
特徴点照合手段が特定した対特徴点の情報および対応付け手段が対応付けた芯線上の点の情報の修正を支援する対応関係修正手段を備え、特徴点照合手段は、修正された対特徴点の情報および芯線上の点の情報に基づいて対特徴点の特定をやり直し、対応付け手段は、修正された対特徴点の情報および芯線上の点の情報に基づいて芯線上の点同士の対応付け処理をやり直すことが好ましい。そのような構成によれば、鑑定官等は対特徴点等の情報を修正することができ、この修正の結果、より適切に歪みを修正することができる。
【００２２】
芯線のデータの修正を支援する芯線データ修正手段を備え、特徴点照合手段は、修正された芯線のデータに基づいて対特徴点の特定をやり直し、対応付け手段は、修正された芯線のデータに基づいて芯線上の点同士の対応付け処理をやり直すことが好ましい。そのような構成によれば、鑑定官等は芯線データを修正することができ、この修正の結果、より適切に歪みを修正することができる。
【００２３】
また、本発明による縞模様画像鑑定方法は、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像とが一致するか否かの鑑定を補助する縞模様画像鑑定方法であって、縞模様画像の縞を細線化した芯線上の点であって対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の点と、その点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正し、修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像を出力することを特徴とする。
【００２４】
対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の芯線上の点を所定の間隔毎に抽出し、抽出した各点と、その各点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の各点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正することが好ましい。そのような方法によれば、芯線上の全ての点を用いて歪みを修正するのではないので、歪み修正の処理時間がかかりすぎることがない。
【００２５】
例えば、修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像とを重畳させて出力する。重畳させることで、縞模様画像の一致の度合いを観察しやすくなる。
【００２６】
また、例えば、修正した縞模様画像と他方の縞模様画像とを一定の切替間隔毎に切り替えて同じ位置に表示する。そのような方法によれば、残像を利用して、縞模様画像の一致の度合いを観察しやすくなる。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図１は、本発明による縞模様画像鑑定装置の例を示すブロック図である。ここでは指紋を照合対象とする場合を例に説明するので、指紋鑑定装置と記す。本実施の形態の指紋鑑定装置は、指紋画像入力手段１３と、データ処理部１４と、データ表示手段１５と、データ入力手段１６と、プリント手段１７と、指紋特徴データ抽出手段１８と、特徴点データ照合手段１９と、芯線データ照合手段２０とを備える。
【００２８】
指紋画像入力手段１３には、指紋センサやスキャナで読み取られた指紋画像が入力される。鑑定の対象になるのはデジタル化された指紋画像である。指紋画像入力手段１３は、入力された指紋画像をデジタル化してもよい。あるいは、既にデジタル化された指紋の画像データが入力される構成であってもよい。以下の説明では、鑑定対象となる二つの指紋画像のうちの一方に関するデータであることを「サーチ側」または「Ｓ側」と記し、もう一方に関するデータであることを「ファイル側」または「Ｆ側」と記す。一般に、遺留指紋を「サーチ側」とし、予め用意されている指紋を「ファイル側」と呼ぶことが多い。指紋画像入力手段１３には、サーチ側指紋画像１１とファイル側指紋画像１２の双方が入力される。
【００２９】
データ表示手段１５は、例えばディスプレイ装置等によって構成され、指紋画像、特徴点、対特徴点および芯線等を表示する。芯線とは、指紋の隆線等の縞を細線化した線である。また、芯線上の各点を芯線点と呼ぶことにする。
【００３０】
データ入力手段は、例えばマウスやタブレット等の入力装置によって構成され、鑑定官の指示等が入力される。また、鑑定官によって指定された点や領域等の情報が入力される。プリント手段１７は、プリンタ等の印刷装置によって構成され、鑑定結果（鑑定図）等を印刷して出力する。
【００３１】
指紋特徴データ抽出手段１８は、与えられた指紋画像の隆線を芯線化する処理や、特徴点を抽出処理等を行う。
【００３２】
特徴点データ照合手段１９は、与えられた二つの指紋（サーチ側指紋およびファイル側指紋）の特徴点のデータを照合し、特徴点データの類似の度合い（特徴点の照合スコア）を計算する。また、特徴点データ照合手段１９は、対特徴点リストを作成する。対特徴点リストは、サーチ側とファイル側とで対応付けられた対特徴点の情報の集合である。
【００３３】
芯線データ照合手段２０は、与えられた二つの指紋の芯線のデータを照合し、芯線の合致の度合い（芯線の照合スコア）を計算する。また、芯線データ照合手段２０は、芯線点対応リストを作成する。芯線点対応リストは、サーチ側とファイル側とで対応付けられた対になる芯線点の情報の集合である。
【００３４】
データ処理部１４は、鑑定官が行う指紋画像修正作業を支援する処理や、二つの指紋に関する情報を鑑定官に理解しやすいように編集する処理等を行う。データ処理部１４は、他の各構成部（データ表示手段１５、データ入力手段１６、プリント手段１７、指紋特徴データ抽出手段１８、特徴点データ照合手段１９および芯線データ照合手段２０等）とデータを授受しながら処理を進める。データ処理部１４は、データ処理制御手段２１と、データ記憶手段２２と、対応関係修正手段２３と、芯線データ修正手段２４と、画像歪み修正手段２５と、鑑定図編集表示手段２６とを備える。
【００３５】
データ処理制御手段２１は、所定のプログラムに従ってデータ処理部１４全体を制御し、データ処理部１４以外の各構成部と情報を授受する。データ記憶手段２２は、入力されたサーチ側指紋画像１１およびファイル側指紋画像１２等を一時的に記憶する。また、特徴点データ、芯線データ、対特徴点リストおよび芯線点対応リスト等の各種データを一時的に記憶する。
【００３６】
対応関係修正手段２３は、サーチ側とファイル側とで対応する点に関する鑑定官の修正作業を支援する。芯線データ修正手段２２は、サーチ側指紋およびファイル側指紋の芯線データに関する鑑定官の修正作業を支援する。
【００３７】
画像歪み修正手段２５は、与えられた対特徴点リストや芯線点対応リストを用いてサーチ側指紋やファイル側指紋の画像や芯線データの歪みを修正する。鑑定図編集表示手段２６は、サーチ側指紋やファイル側指紋の対応関係を鑑定官が容易に理解できるように編集する。また、編集したデータをデータ表示手段１５に表示させる。
【００３８】
なお、本実施の形態において、データ処理制御手段２１と、対応関係修正手段２３と、芯線データ修正手段２４と、画像歪み修正手段２５と、鑑定図編集表示手段２６とは、例えば、同一の情報処理装置によって実現される。
【００３９】
次に、動作について説明する。図２は、本発明による指紋鑑定方法の処理経過の例を示す流れ図である。まず、指紋画像入力手段１３にサーチ側指紋画像１１およびファイル側指紋画像１２が入力される。ここでは、サーチ側指紋画像１１とファイル側指紋画像１２が既にデジタル化された画像データである場合を例に説明する。デジタル化された指紋画像の例を図３に示す。図３（ａ），（ｂ）は、それぞれ５００ｄｐｉの解像度でデジタル化された押捺指紋と遺留指紋の画像例であり、米国Ｎａｔｉｏｎａｌ　Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ　ｏｆ　Ｓｔａｎｄａｒｄｓ　ａｎｄ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙで標準化されたＡＮＳＩ／ＮＩＳＴ−ＣＳＬ−１−１９９３　Ｄａｔａ　Ｆｏｒｍａｔ　ｆｏｒ　ｔｈｅ　Ｉｎｔｅｒｃｈａｎｇｅ　ｏｆ　Ｆｉｎｇｅｒｐｒｉｎｔ，　Ｆａｃｉａｌ　＆　ＳＭＴ　Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎに従ってデジタル化したものである。以下の実施の形態では、このようにしてデジタル化された指紋画像を鑑定対象とする場合を例に説明する。また、ファイル側指紋画像１２として図３（ａ）に示すような押捺指紋が入力され、サーチ側指紋画像１１として図３（ｂ）に示すような遺留指紋が入力されるものとして説明する。
【００４０】
指紋画像入力手段１３は、入力されたサーチ側指紋画像１１とファイル側指紋画像１２をデータ処理部１４に送信する。データ処理部１４は、受信した各指紋画像１１，１２をデータ記憶手段２２に一時的に記憶し、またデータ表示手段１５に表示させる（ステップＡ５０１）。なお、サーチ側指紋画像１１とファイル側指紋画像１２の双方を入力せずに、いずれか一方のみを入力することとしてもよい。例えば、指紋鑑定装置に予めファイル側指紋画像１２を記憶させておき、ステップＡ５０１においてサーチ側指紋画像１１のみを入力することとしてもよい。
【００４１】
続いて、データ処理部１４のデータ処理制御手段２１は、サーチ側指紋画像１１とファイル側指紋画像１２から芯線や特徴点に関するデータを抽出すべきか否かを判断する（ステップＡ５０２）。データ処理制御手段２１は、例えば、データを抽出すべき旨の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、芯線や特徴点に関するデータを抽出すべきと判断する。あるいは、ステップＡ５０１で入力されたサーチ側指紋画像１１およびファイル側指紋画像１２の芯線や特徴点のデータがまだ存在しない場合に、芯線や特徴点に関するデータを抽出すべきと自動的に判断してもよい。
【００４２】
芯線や特徴点に関するデータを抽出すべきと判断した場合、指紋鑑定装置は、指紋画像から芯線データや特徴点データを抽出し、抽出した芯線や特徴点をデータ表示手段１５に表示させる（ステップＡ５０３）。ステップＡ５０３において、データ処理制御手段２１は、データ記憶手段２２からサーチ側指紋画像１１やファイル側指紋画像１２を読み出し、指紋特徴データ抽出手段１８に送信する。
【００４３】
指紋特徴データ抽出手段１８は、受信した指紋画像に対して二値化処理後、細線化処理を行って芯線データを抽出する。この二値化処理や細線化処理は、例えば、特公昭６０−１２６７４号公報およびその米国特許第４３１０８２７号に記載されているような公知の技術によって実現できる。図４（ａ），（ｂ）は、それぞれ図３（ａ），（ｂ）に示す指紋画像から抽出された芯線の例である。図４に例示する芯線データでは、１６×１６画素の矩形領域毎にデータの信頼度が高いか低いかを示している。この１６×１６画素の矩形領域をゾーン領域またはゾーンと記す。図４では、データ信頼度の低いゾーンが存在する領域（不明領域）を斜線で示している。なお、芯線は個々の黒画素が縦方向、横方向または斜め方向に連続的に並ぶことによって表されるが、図４では滑らかな曲線として示す。図４以降の図面で表した芯線も同様である。
【００４４】
指紋特徴データ抽出手段１８は、芯線データを抽出したならば、その芯線データから特徴点（端点および分岐点）のデータを抽出する。この特徴点抽出処理は、例えば、特公昭６０−１２６７４号公報およびその米国特許第４３１０８２７号に記載されているような公知の技術によって実現することができる。図５（ａ），（ｂ）は、それぞれ図３（ａ），（ｂ）に示す指紋画像から抽出された特徴点の例である。図５に示す例では、特徴点のうち分岐点を四角形で示し、特徴点のうち端点を円形で示している。なお、図５において、各特徴点から伸びる短い線分は、特徴点方向を示す。
【００４５】
指紋特徴データ抽出手段１８は、抽出した芯線データおよび特徴点データをデータ処理部１４に送る。データ処理部１４のデータ処理制御手段２１は、その芯線データおよび特徴点データをデータ記憶手段２２に記憶させる。また、芯線データや特徴点データに基づいて、図４，５に例示する芯線や特徴点の状態を示す画像をデータ表示手段１５に表示させる。以上で、ステップＡ５０３の処理が終了する。
【００４６】
データ処理制御手段２１は、ステップＡ５０３が終了したときに、Ｓ側の特徴点とＦ側の特徴点とを照合すべきかを判断する（ステップＡ５０４）。ステップＡ５０３終了時だけでなく、ステップＡ５０２で芯線や特徴点に関するデータを抽出しないと判断したときにも、ステップＡ５０４の判断を行う。データ処理制御手段２１は、例えば、特徴点の照合処理を行うべき旨の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、Ｓ側の特徴点とＦ側の特徴点とを照合すべきと判断する。あるいは、特徴点の照合結果がまだ存在しない場合に、照合を行うべきと自動的に判断してもよい。
【００４７】
Ｓ側の特徴点とＦ側の特徴点とを照合すべきと判断した場合、指紋鑑定装置は、特徴点の照合処理を行い、対になると判断された特徴点同士を関連づけてデータ表示手段１５に表示させる（ステップＡ５０５）。ステップＡ５０５において、データ処理制御手段２１は、データ記憶手段２２からＳ側の特徴点データやＦ側の特徴点データ等を読み出し、特徴点データ照合手段１９に送信する。
【００４８】
特徴点データ照合手段１９は、Ｓ側の特徴点データとＦ側の特徴点データとを照合する。具体的には、対になるべき特徴点同士を対応付け、Ｓ側特徴点とＦ側特徴点との対応関係を示す対特徴点リストを作成する。また、特徴点の照合スコアを算出する。この照合処理は、例えば、特開昭５９−７７８号公報やその米国特許第４６４６３５２号に記載されているような公知の技術によって実現することができる。
【００４９】
特徴点データ照合手段１９は、照合処理の結果（特徴点の照合スコアおよび対特徴点リスト）をデータ処理部１４に送る。データ処理部１４のデータ処理制御手段２１は、照合処理の結果をデータ記憶手段２２に記憶させる。また、対特徴点リストに基づいて、対になると判断された特徴点同士を関連づけてデータ表示手段１５に表示させる。例えば、図４５に示す場合と同様に、対になると判断された対特徴点同士を同じ番号で指し示すように表示する。また、特徴点の照合スコアもデータ表示手段１５に表示させる。以上で、ステップＡ５０５の処理が終了する。
【００５０】
データ処理制御手段２１は、ステップＡ５０５が終了したときに、Ｓ側の芯線データとＦ側の芯線データとを照合すべきか否かを判断する（ステップＡ５０６）。ステップＡ５０５終了時だけでなく、ステップＡ５０４で特徴点の照合を行わないと判断したときにも、ステップＡ５０６の判断を行う。データ処理制御手段２１は、例えば、芯線データの照合処理を行うべき旨の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、Ｓ側の芯線データのＦ側の芯線データとを照合すべきと判断する。あるいは、芯線データの照合結果がまだ存在しない場合に照合を行うべきと自動的に判断してもよい。
【００５１】
芯線データを照合すべきと判断した場合、指紋鑑定装置は、芯線データの照合処理を行い、対になると判断された芯線点同士を関連付けてデータ表示手段１５に表示させる（ステップＡ５０７）。ステップＡ５０７において、データ処理制御手段２１は、データ記憶手段２２からＳ側の芯線データ、Ｆ側の芯線データおよび対特徴点リスト等を読み出し、芯線データ照合手段２０に送信する。
【００５２】
芯線データ照合手段２０は、Ｓ側の芯線データとＦ側の芯線データとを照合する。具体的には、対になるべき芯線点同士を対応付け、Ｓ側芯線点とＦ側芯線点との対応関係を示す芯線点対応リストを作成する。また、芯線の照合スコアを算出する。この芯線データの照合処理の詳細な内容については後述する。
【００５３】
芯線データ照合手段２０は、芯線データの照合処理の結果（芯線の照合スコアおよび芯線点対応リスト）をデータ処理部１４に送る。データ処理制御手段２１は、この照合処理の結果をデータ記憶手段２２に記憶させる。芯線点対応リストに基づいて、対になると判断された芯線点同士を関連付けてデータ表示手段１５に表示させる。例えば、図４５に示す場合と同様に、対になると判断された芯線点同士を同じ番号で指し示すように表示する。以上で、ステップＡ５０７の処理が終了する。なお、対になる芯線点の数は、対になる特徴点（対特徴点）よりも多い。データ処理制御手段２１は、番号等で対になること明示する芯線点の組は、芯線点の組全体の一部であってもよい。
【００５４】
データ処理制御手段２１は、ステップＡ５０７が終了したときに、対特徴点や対になる芯線点のデータを修正するか否かを判断する（ステップＡ５０８）。ステップＡ５０７終了時だけでなく、ステップＡ５０６で芯線データの照合を行わないと判断したときにも、ステップＡ５０７の判断を行う。データ処理制御手段２１は、例えば、対特徴点等の修正を行うべき旨の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、対特徴点や対になる芯線点のデータを修正すると判断する。
【００５５】
データ処理制御手段２１は、対特徴点等の修正を行うと判断した場合、データ記憶手段２２が記憶する対特徴点リスト、芯線点対応リスト、指紋画像等の各種データを読み出す。そして、対応関係修正手段２３は、データ処理制御手段２１が読み出したデータに基づいて、対になる点同士を関連付けてデータ表示手段１５に表示させる。例えば、図４５に示す場合と同様に、対になる点同士を同じ番号で指し示すように表示する。また、対になる点同士を線分で結ぶことによって対応関係を明示してもよい。
【００５６】
その後、対応関係修正手段２３は、鑑定官にＳ側とＦ側とで対になる点の情報の修正を促す（ステップＡ５０９）。対になる点の情報の修正として代表的なものとしては、例えば、以下のような三種類の修正が挙げられる。対応関係修正手段２３は、ＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃ　Ｕｓｅｒ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）を提供して、以下に例示するような修正を促す。
【００５７】
第一に、対応する点を追加する修正がある。この修正は、本来Ｓ側とＦ側とで対になるべき特徴点や芯線点が対になる点として表示されていない場合、そのような特徴点や芯線点を対になる点として追加する修正である。対応関係修正手段２３は、鑑定官がデータ入力手段１６を用いて指定したＳ側の点とＦ側の点とを対になる点とし、対特徴点リストまたは芯線点対応リストを修正する。また、鑑定官が指定した点同士を同じ番号で指し示すように表示して、対応付けたことを示す。
【００５８】
第二に、対応する点を削除する修正がある。この修正は、本来Ｓ側とＦ側とで対にならない特徴点や芯線点が対になるものとして表示されている場合、その対応関係を排除する修正である。鑑定官がデータ入力手段１６を用いて対特徴点や対になっている芯線点を指定すると、対応関係修正手段２３は、指定された対特徴点や芯線点の情報を対特徴点リストや芯線点対応リストから削除する。また、対になる点同士を指し示す番号等の表示を消去する。
【００５９】
第三に、対になる点として表示されたＳ側の点またはＦ側の点の位置を移動する修正がある。移動すべき点や移動先がデータ入力手段１６を介して指定されると、対応関係修正手段２３は、対特徴点リストや芯線点対応リストに含まれる点の位置情報を更新する。また、鑑定官が指示した移動先に応じて、番号が指し示す位置等を変更して再度表示を行う。
【００６０】
対応関係修正手段２３は、点の位置を指定したり、点の移動先を指定するためのＧＵＩを提供し、鑑定官はＧＵＩを利用して各種修正を行う。鑑定官が修正の終了を指示すると、対応関係修正手段２３は更新したデータ（対特徴点リストや芯線点対応リスト等）をデータ記憶手段２２に記憶させる。
【００６１】
データ処理制御手段２１は、ステップＡ５０９が終了したときに、芯線データを修正するか否かを判断する（ステップＡ５１０）。ステップＡ５０９終了時だけでなく、ステップＡ５０８で対になる点の修正を行わないと判断したときにも、ステップＡ５１０の判断を行う。データ処理制御手段２１は、例えば、芯線データの修正を行うべき旨の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、芯線データを修正すると判断する。
【００６２】
データ処理制御手段２１は、芯線データを修正すると判断した場合、データ記憶手段２２が記憶する芯線データや指紋画像等の各種データを読み出す。芯線データ修正手段２４は、データ処理制御手段２１が読み出したデータに基づいて、芯線データや指紋画像をデータ表示手段１５に表示させる。
【００６３】
その後、芯線データ修正手段２４は、鑑定官に芯線データの修正を促す（ステップＡ５１１）。例えば、指に怪我をした結果、芯線が切断されることがある。このような指紋と怪我をする前の指紋とを照合する場合、切断された芯線を接続するように修正する。鑑定官がデータ入力手段１６を用いて、接続すべき芯線の端点同士を指定すると、芯線データ修正手段２４は、指定された端点同士を接続するように芯線データを修正する。
【００６４】
また、本来、端点であるべき箇所が他の芯線と接触して分岐点になってしまうことがある。あるいは逆に、分岐点である特徴点が端点になってしまうことがある。芯線データ修正手段２４は、鑑定官がこれらの修正を指示すると、指示内容に応じて芯線データを修正する。
【００６５】
このような芯線データの修正は、例えば、特開平２００２−７４３８１公報に記載されているような公知の技術によって実現できる。
【００６６】
芯線データ修正手段２４は、修正個所や修正内容を指定するためのＧＵＩを提供し、鑑定官はＧＵＩを利用して各種修正を行う。鑑定官が修正の終了を指示すると、芯線データ修正手段２４は更新した芯線データ等をデータ記憶手段２２に記憶させる。
【００６７】
データ処理制御手段２１は、ステップＡ５１１が終了したときに、画像の歪みを修正するか否かを判断する（ステップＡ５１２）。ステップＡ５１１終了時だけでなく、ステップＡ５１０で芯線データの修正を行わないと判断したときにも、ステップＡ５１２の判断を行う。データ処理制御手段２１は、例えば、画像の歪みの修正を行うべき旨の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、画像の歪みを修正すると判断する。
【００６８】
データ処理制御手段２１は、画像の歪みを修正すると判断した場合、データ記憶手段２２が記憶する指紋画像、芯線データ、対特徴点リストおよび芯線点対応リスト等の各種データを読み出す。画像歪み修正手段２５は、データ処理制御手段２１が読み出したデータに基づいて、画像の歪みを修正し、歪みを修正した後の指紋画像（濃淡画像）や芯線データの画像をデータ表示手段１５に表示させる（ステップＡ５１３）。濃淡画像は、色の濃度を変化させることで縞模様を表した画像である。
【００６９】
画像の歪みの修正は、例えば、特開平７−１１４６４９号公報に記載されているような公知の技術によって実現できる。特開平７−１１４６４９号公報には、画像上の点にベクトルを指定し、そのベクトルに応じて画像を変形することで歪みを少なくする方法が記載されている。ここでは、特開平７−１１４６４９号公報に記載の方法によって、歪みを少なくする場合を例に説明する。この方法を適用する場合、対特徴点や対になる芯線点のうち、ファイル側に存在する点の座標をベクトルの始点として定める。また、そのファイル側の各点に対応するサーチ側の点の座標をベクトルの終点として定める。そして、始点と終点を定めた各ベクトルに応じて、ファイル側の画像データを変形したり、芯線データを変更すればよい。
【００７０】
特開平７−１１４６４９号公報に記載されているように、ベクトルの方向は点の移動方向であり、ベクトルの長さは点の移動距離である。従って、ファイル側に存在する点の座標をベクトルの始点として定め、そのファイル側の各点に対応するサーチ側の点の座標をベクトルの終点として定めれば、対応する点同士を近づけるようにして、歪みを修正することができる。
【００７１】
ベクトルを規定する点として、対特徴点だけでなく、対になる芯線点を用いる。しかし、全ての芯線点についてベクトルを規定しなくてもよい。例えば、Ｆ側の芯線点と対応するＳ側の芯線点を所定の間隔毎（例えば、数画素毎）に抽出し、抽出した各芯線点および対になるＦ側の各芯線点とによってベクトルを規定してもよい。ベクトルを規定するための芯線点を多く選ぶと、歪み修正の精度は向上する。しかし、修正時間がかかるようになるので、適切な時間内で修正処理を行える数だけ芯線点を選ぶことが好ましい。
【００７２】
なお、一般に歪みはＳ側とＦ側の双方に生じるが、ここではＦ側のデータのみに歪みが生じていると仮定して、Ｆ側のデータのみを変更する。
【００７３】
図６（ａ）〜（ｃ）は、それぞれサーチ側の指紋の濃淡画像、歪み修正後のファイル側の濃淡画像、歪み修正前のファイル側の濃淡画像を示す。図６（ａ）に示すＳ側のデータと図６（ｃ）に示すＦ側のデータ（修正前）とで対になる対特徴点は５組存在する。また、図６（ａ）に示すＳ側のデータと図６（ｃ）に示すＦ側のデータ（修正前）とで対になる芯線点のうち、約４００個の芯線点を選択した。芯線点を選択する際には、数画素毎に芯線点を選択し、画像全体から均一に芯線点を選択するようにした。そして、５組の対特徴点や約４００組の芯線点のＦ側を始点とし、Ｓ側を終点とするベクトルを規定した。また、そのベクトルに基づいてＦ側の濃淡画像を修正した。修正後のＦ側の濃淡画像が図６（ｂ）に示す画像である。画像全体から一様に芯線点を選択しているので、画面全体の歪みが修正される。
【００７４】
図７（ａ）〜（ｃ）は、それぞれサーチ側の芯線の画像、歪み修正後のファイル側の芯線の画像、歪み修正前のファイル側の芯線の画像を示す。すなわち、図７（ａ）〜（ｃ）は、それぞれ図６（ａ）〜（ｃ）に示す濃淡画像に対応する芯線の画像である。画像歪み修正手段２５は、鑑定官の指示に応じて、濃淡画像または芯線の画像をデータ表示手段１５に表示させる。
【００７５】
ここでは、５組の対特徴点と約４００組の芯線点に基づいて歪みを修正する場合を示した。比較のために、５組の対特徴点のみに基づいて歪みを修正する場合について説明する。
【００７６】
図８（ａ）〜（ｃ）は、それぞれサーチ側の指紋の濃淡画像、歪み修正後のファイル側の濃淡画像、歪み修正前のファイル側の濃淡画像を示す。図８（ａ），（ｃ）は、それぞれ図６（ａ），（ｃ）と同一の画像である。図８（ａ）に示すＳ側のデータと図８（ｃ）に示すＦ側のデータ（修正前）とで対になる対特徴点は５組存在する。その各対特徴点のＦ側をベクトルの始点とし、Ｓ側を終点とするベクトルを規定し、そのベクトルに基づいてＦ側の濃淡画像を修正した。修正後のＦ側の濃淡画像が図８（ｂ）に示す画像である。また、図９（ａ）〜（ｃ）は、それぞれ図８（ａ）〜（ｃ）に対応する芯線の画像である。
【００７７】
図８（ｂ）や図９（ｂ）に示す画像では、対特徴点が存在する領域の近傍では歪みが修正される。しかし、対特徴点から離れた領域では、十分に歪みが修正されない。
【００７８】
従って、対特徴点のみでベクトルを規定するのではなく、図６，７を用いて説明したように、画面全体から芯線点を選択し、その芯線点によってベクトルを規定することが好ましい。
【００７９】
画像歪み修正手段２５は、Ｆ側の歪みの修正に伴って、指紋画像、芯線データ、対特徴点リストおよび芯線点対応リスト等の各種データを修正する。そして、修正後の各種データをデータ記憶手段２２に記憶させる。以上で、ステップＡ５１３の処理が終了する。
【００８０】
データ処理制御手段２１は、ステップＡ５１３が終了したときに、鑑定図を編集して表示するか否かを判断する（ステップＡ５１４）。ステップＡ５１３終了時だけでなく、ステップＡ５１２で歪みの修正を行わないと判断したときにも、ステップＡ５１４の判断を行う。データ処理制御手段２１は、例えば、鑑定図を編集して表示すべき旨の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、鑑定図を編集して表示すると判断する。
【００８１】
データ処理制御手段２１は、鑑定図を編集して表示すると判断した場合、データ記憶手段２２が記憶する指紋画像、芯線データ、対特徴点リストおよび芯線点対応リスト等の各種データを読み出す。鑑定図編集表示手段２６は、データ処理制御手段２１が読み出したデータを用いて画像を編集し、データ表示手段１５に表示させる（ステップＡ５１４）。
【００８２】
ステップＡ５１４における画像の表示態様について説明する。鑑定図編集表示手段２６は、鑑定官の要求に応じた態様で画像を表示する。第一の表示態様は、サーチ側の指紋画像（濃淡画像）と、歪み修正後のファイル側の濃淡画像とを並べて表示する態様である。例えば、図６（ａ），（ｂ）に示す画像を並べて表示する。このようにＳ側の濃淡画像と、歪み修正後のＦ側の濃淡画像とを並べて表示することで、両者の比較が容易になる。
【００８３】
第二の表示態様は、Ｓ側の濃淡画像と歪み修正後のファイル側の濃淡画像とを重畳して表示する態様である。図１０に、濃淡画像の重畳表示の例を示す。図１０（ａ）および図１０（ｃ）は、それぞれサーチ側の濃淡画像、歪み修正後のファイル側の濃淡画像である。そして、図１０（ｂ）は、図１０（ａ），（ｃ）に示す画像を重畳させた濃淡画像である。図１０（ｂ）に示す重畳画像は、Ｓ側の画像とＦ側の画像の濃度をそれぞれ５０％にした上で重畳した画像である。
【００８４】
なお、第二の表示態様では、例えば、ステップＡ５０５で特徴点の照合を行った領域や、ステップＡ５０７で芯線の照合を行った領域を自動的に選び出し、その領域内で重畳させてもよい。また、データ入力手段１６を介して鑑定官に指定された領域内で画像を重畳させてもよい。また、濃淡画像を重畳させるときには、各画素の濃度を、対応するＳ側の濃度とＦ側の濃度の平均値として定めてもよい。また、鑑定官がＳ側画像またはＦ側画像の透明度（ｏｐａｃｉｔｙ）を指定できるようにしてもよい。鑑定官がＳ側またはＦ側の濃淡画像の濃度を指定すると、鑑定図編集表示手段２６は、その指定に応じて濃淡画像の濃度を変更する。
【００８５】
第三の表示態様は、Ｓ側の芯線の画像と、歪み修正後のＦ側の芯線の画像とを重畳して表示する態様である。図１１に、芯線の重畳画像の例を示す。図１１（ａ）および図１１（ｃ）は、それぞれサーチ側の芯線の画像、歪み修正後のファイル側の芯線の画像である。図１１（ｂ）は、図１１（ａ），（ｃ）に示す芯線の画像を重畳させたものである。図１１（ｂ）に示すように、対応する芯線同士が重なるので、同一の指紋であると容易に判断することができる。
【００８６】
芯線の画像は、二値画像であり、線幅が狭い。従って、重畳表示した場合の重なり具合の善し悪しがわかり易く、容易に鑑定を行えるようになる。また、データ入力手段１６は、Ｓ側とＦ側の芯線の色の入力を受け付けてもよい。この場合、データ入力手段１６を介して色が指定されたならば、鑑定図編集表示手段２６は、指定された色に応じてＳ側の芯線とＦ側の芯線とを色分けして表示する。また、重畳部分の色の指定も受け付け、重畳していない部分と異なる色で芯線の重畳部分を表示してもよい。
【００８７】
なお、図１０，１１で示した画像は、対特徴点だけでなく芯線点の情報も用いて歪みを修正した場合の例である。比較のために、５組の対特徴点だけを用いて画像を修正した場合における重畳画面の例を示す。図１２（ａ）は、図１０（ａ）と同様のサーチ側の濃淡画像である。図１２（ｃ）は、５組の対特徴点だけを用いて歪みを修正したファイル側の濃淡画像である。図１２（ｂ）は、図１２（ａ），（ｃ）を重畳させた画像である。
【００８８】
また、図１３（ａ）は、図１１（ａ）と同様のサーチ側の芯線の画像である。図１３（ｃ）は、５組の対特徴点だけを用いて歪みを修正したファイル側の芯線の画像である。図１３（ｂ）は、図１３（ａ），（ｃ）を重畳させた画像である。すなわち、図１３（ａ）〜（ｃ）は、それぞれ図１２（ａ）〜（ｃ）に対応する芯線の画像である。図１１（ｂ）では、Ｓ側とＦ側の芯線が重なるのに対し、図１３（ｂ）では、芯線同士が交差して指紋の異同の判断が困難である。これは、既に述べたように対特徴点の近傍だけしか歪みが修正されていないからである。このことから、芯線点を用いて画面全体に渡って歪みを修正すれば、指紋の異同の判定が非常に容易になることがわかる。
【００８９】
次に、第四の表示態様について説明する。第四の表示態様は、Ｓ側の指紋の濃淡画像と、画像歪み修正後のＦ側の指紋の濃淡画像とを一定期間毎に自動的に切り替える表示態様である。Ｓ側の指紋の濃淡画像と画像歪み修正後のＦ側の指紋の濃淡画像とは、同じ位置に表示させる。すなわち、同時に表示したとすれば、重畳する位置になるように表示させる。画像切替のタイミングは、例えば０．０５秒（１秒間に２０回の切替）から０．２秒（１秒間に５回の切替）程度とする。このようなタイミングで画像を切り替えると、鑑定官は、残像となる切替前の画像と新たに切り替えられた画像とを比較することができる。従って、Ｓ側とＦ側との比較を容易に行うことができる。
【００９０】
なお、第四の表示形態では、画像全体を交互に切り替えて表示するのではなく、画像の一部の領域のみを交互に切り替えてもよい。例えば、ステップＡ５０５で特徴点の照合を行った領域や、ステップＡ５０７で芯線の照合を行った領域を自動的に選び出し、その領域を画像切替領域として定めてもよい。また、データ入力手段１６を介して鑑定官に指定された領域を画像切替領域として定めてもよい。
【００９１】
図１４は、一定期間毎に切り替えられるＳ側の画像とＦ側の画像とを示した説明図である。ただし、図１４では、画像の一部の領域のみを切り替える場合の例を示す。鑑定図編集表示手段２６は、画像の一部の領域を切り替えて、図１４に例示するような二種類の画像を交互にデータ表示手段１５に表示させる。
【００９２】
鑑定図編集表示手段２６は、データ入力手段１６を介して入力される指示に応じた表示態様で画像を表示する。なお、表示態様は、上記の第一の表示態様から第四の表示態様だけに限定されない。例えば、Ｓ側の指紋の濃淡画像と、Ｆ側の芯線の画像とを重畳させて表示してもよい。また、Ｆ側の指紋の濃淡画像と、Ｓ側の芯線の画像とを重畳させて表示してもよい。
【００９３】
また、鑑定図編集表示手段２６は、鑑定官の指示に応じてデータ表示手段１５に表示させている画像を印刷して出力する。この場合、鑑定図編集表示手段２６は、表示画面のデータを、データ処理制御手段２１を介してプリント手段１７に送信する。プリント手段１７は、受信したデータに基づいて表示画面を印刷する。
【００９４】
データ処理制御手段２１は、ステップＳ５１５が終了したならば、ステップＡ５０２以降の処理を繰り返すか否かを判断する（ステップＡ５１６）。ステップＡ５１５終了時だけでなく、ステップＡ５１４で鑑定図の編集表示を行わないと判断したときにも、ステップＡ５１６の判断を行う。データ処理制御手段２１は、例えば、再処理の指示が鑑定官によってデータ入力手段１６に入力された場合に、ステップＡ５０２以降の処理を繰り返す。また、鑑定官が処理の終了を指示した場合、データ処理制御手段２１はその指示に従い、ステップＡ５１６で処理を終了する。
【００９５】
鑑定官は、例えば、期待した画像がステップＡ５１５表示されなかった場合に、ステップＡ５０２以降の処理を繰り返す指示を入力すればよい。そうすれば、対特徴点および対になる芯線点に関する修正（ステップＡ５０９）や、芯線データの修正（ステップＡ５１１）を行える。その結果、画像歪みの修正精度を向上させることができ、また、ステップＡ５１５で、より良好な鑑定図を出力することができる。なお、ステップＡ５１６の後、ステップＡ５０２以降の処理を繰り返すのではなく、鑑定官が指定したステップから処理を繰り返してもよい。例えば、ステップＡ５１６の後、ステップＡ５０６以降の動作を繰り返してもよい。
【００９６】
また、本発明による指紋鑑定方法の処理経過は、図２に示す順序に限定されない。図２に示すステップＡ５０２，Ａ５０４等の各種判断およびその判断に続く各処理（ステップＡ５０３，Ａ５０５等）の順序を鑑定官が定められるようにしてもよい。
【００９７】
ここでは、鑑定官が指紋鑑定装置を操作する場合を例に説明したが、鑑定の専門家以外の者が本発明の指紋鑑定装置を操作してもよい。
【００９８】
本実施の形態において、画像表示手段、濃度変更手段および芯線色変更手段は、鑑定図編集表示手段２６によって実現される。特徴点照合手段は、指紋特徴データ抽出手段１８によって実現される。対応付け手段は、芯線データ照合手段２０によって実現される。
【００９９】
本発明によれば、サーチ側とファイル側とで対になる点に基づいて、画像の歪みが小さくなるように一方の画像を修正する。そして、修正した画像と他方の画像とを重畳して表示することができる。重畳して表示すれば、二つの指紋の異同を判断しやすくなるので、鑑定が容易になる。
【０１００】
また、歪みを修正するために、対特徴点だけでなく、Ｓ側とＦ側とで対になる多数の芯線点も用いる。従って、対特徴点の近傍だけでなく、画像全体に渡って一様に歪みを修正することができ、歪み修正の精度を向上させることができる。その結果、重畳して表示した場合等における二つの指紋の異同判断が一層容易になる。
【０１０１】
また、隆線同士の重畳表示だけでなく、芯線同士の重畳表示や、芯線と隆線との重畳表示も行える。このような表示態様を実現することにより、二つの指紋の異同判断が一層容易になる。
【０１０２】
また、本発明によれば、サーチ側の画像とファイル側の画像とを１秒間に数回から２０回程度切り替えて表示する。その結果、二つの指紋の異同を判断しやすくなるので、鑑定が容易になる。
【０１０３】
また、本発明によれば、特徴点の情報だけを示すのではなく、隆線や芯線の構造も示すので、鑑定の専門家でなくても指紋の異同を判断することが容易になる。
【０１０４】
次に、本発明の他の実施の形態について説明する。
図１では、指紋画像入力手段１３を介してサーチ側指紋データ１１およびファイル側指紋データ１２が入力される場合を示した。指紋鑑定装置は、他の指紋照合システムに付随し、その指紋照合システムからサーチ側指紋データ１１およびファイル側指紋データ１２が入力される構成であってもよい。指紋照合システムが予めデータベースにファイル側指紋データを保持し、入力されたサーチ側指紋データとファイル側指紋データとの照合を行う指紋照合システムがあるとする。データ処理部１４は、このような指紋照合システムからサーチ側指紋データ１１およびファイル側指紋データ１２を与えられてもよい。
【０１０５】
図１５は、本発明の他の実施の形態を示すブロック図である。図１５に示すように、データ処理部１４が、指紋特徴データ抽出手段１８、特徴点データ照合手段１９および芯線データ照合手段２０を実装した構成であってもよい。このような構成により制御を容易化することができる。例えば、データ処理部１４の機能と、指紋特徴データ抽出手段１８、特徴点データ照合手段１９および芯線データ照合手段２０の機能とを同一の情報処理装置が実現するようにすることで、制御を容易化することができる。
【０１０６】
また、ステップＳ５１３では、ファイル側のデータを修正して画像の歪みを修正する場合について説明した。ステップＡ５１３では、ファイル側のデータを変更せずに、サーチ側のデータを修正してもよい。図１６（ａ）は、画像歪みを修正したサーチ側の指紋の濃淡画像である。図１６（ｂ）は、画像歪み修正後のサーチ側の濃淡画像に、ファイル側の芯線を重畳させた画像である。図１６（ｂ）に示すように、サーチ側のデータを修正したとしても、サーチ側の隆線とファイル側の芯線の重なり具合を確認して指紋の同一性を判断できる。
【０１０７】
本発明の適用範囲は、指紋鑑定に限定されない。例えば、掌紋鑑定等のように、縞模様となる曲線等の鑑定であれば、本発明を適用することができる。
【０１０８】
次に、芯線データ照合手段２０による芯線データの照合処理（芯線点対応リスト作成および芯線の照合スコア算出）について説明する。まず、芯線データ照合処理の前提事項や処理対象データ等について説明する。
【０１０９】
芯線データ照合処理は、対特徴点リストに少なくとも３組の対特徴点が含まれていることを前提とする。芯線データ照合手段２０は、対特徴点リストに含まれる対特徴点が２組以下である場合、芯線データ照合処理を中止する。
【０１１０】
芯線データ照合手段２０は、８近傍連結定義の芯線データを処理対象とする。このデータは、芯線上の各点（芯線点）が存在する画素を黒画素で表し、その画素の８近傍の画素の状況によって点の種別を判別できるようにした芯線データである。芯線点の画素およびその８近傍を示すマスクパターンを図１７（ａ）に示す。図１７（ａ）に示すマスクパターンにおいて、黒画素となる画素は「１」で表され、白画素となる画素は「０」で表される。すなわち、ｎ＝０〜８としたときに、Ｘｎ＝１となる画素が芯線点となる黒画素であり、Ｘｎ＝０となる画素は芯線点以外の画素である。また、芯線点（Ｘ０）の８近傍（Ｘ１〜Ｘ８）において、黒画素が４画素以上になることはない。すなわち、Ｘ１〜Ｘ８までの画素の値の総和は３以下である。また、このデータにおいて、ある黒画素の８近傍画素の中では、黒画素同士が隣接することはない。例えば、Ｘ１とＸ２の値がともに「１（黒画素）」になることはない。
【０１１１】
このマスクパターンによって表される芯線点は、端点、分岐点、連続点および延伸性終点の４つの種別に分類できる。端点（以下、「Ｅ」と表す。）は、図１７（ｂ）に示すように、８近傍画素中に黒画素が一個しかない芯線点である。分岐点（以下、「Ｂ」と表す。）は、図１７（ｃ）に示すように、８近傍画素中に黒画素が三個あり、かつ、その三個の黒画素から取り出した任意の二個の画素の間には必ず白画素が存在する芯線点である。連続点（以下、「Ｃ」と表す。）は、図１７（ｄ）に示すように、８近傍画素中に黒画素が二個あり、かつ、その二個の画素の間に白画素が存在する芯線点である。また、延伸性終点（以下、「Ｘ」と表す。）は、本来芯線が延伸していると考えられる連続点である。このうち、端点Ｅおよび分岐点Ｂが特徴点である。連続点Ｃは、特徴点でもなく延伸性終点Ｘでもない全ての芯線点である。
【０１１２】
指紋隆線の交差が発現することは極めてまれである。芯線データを抽出する際には、芯線の交差を示すマスクパターンを取り除く。例えば、図１８（ａ）の左側に示すようなマスクパターンが生じた場合、指紋特徴データ抽出手段１８は、そのマスクパターンを図１８（ａ）の中央または右側に示すようなマスクパターンに修正する。すなわち、交差箇所を二つの分岐点Ｂに修正する。図１８（ｂ）に示すように、Ｘ１，Ｘ３，Ｘ５およびＸ７が「１」となっている場合には、二つの分岐点に修正できないものとして照合範囲から除外する。すなわち、図１８（ｂ）に示す交差箇所を含むゾーン領域を不明領域とする。
【０１１３】
また、本来延伸している隆線が押捺されなかった結果、一見端点のように見える点を印象端という。指紋特徴データ抽出手段１８は、印象端や、印象端と同様にある地点から先の芯線構造が判別できなくなる画素を含むゾーン領域も不明領域とする。延伸性終点Ｘは、「不明領域に進入する直前の芯線点」として定義される。
【０１１４】
個々の画素の８近傍の状況は、１バイトのデータで表す。すなわち、マスクパターンのＸ１を０ビット目としＸ８までの値を順に並べたものを１バイトのデータで表す。図１９（ａ）は、このようにして表した１バイトのデータの例を示す。また、１バイトのデータとして表された８近傍のデータをＣｏｄｅ８またはＣ８と呼ぶ。図１９（ｂ）は、Ｃ８の例を示す。例えば、８近傍のうちＸ１のみが「１」である場合、Ｃ８は「０００００００１」であるので、Ｃ８の値は１となる。
【０１１５】
図２０は、芯線データの表現例を示す説明図である。芯線データは、ユニットの集合として表す。ユニットとは、端点Ｅ、分岐点Ｂまたは延伸性終点Ｘのいずれかを開始点及び終点とする芯線の最小単位である。例えば、図２０に示すユニット１は、延伸性終点Ｘを開始点とし、端点Ｂを終点として、その間に連続点Ｃが存在する芯線の単位である。図２０に示すＸ，Ｙは各芯線点の画素の座標を表す。図２０に示すように芯線データでは、芯線点の種別（Ｔｙｐｅ）と座標とＣｏｄｅ８とが画素毎に対応付けられている。
【０１１６】
次に、芯線データ照合処理の概要を説明する。図２１は、芯線データ照合処理の概要を示す流れ図である。芯線データ照合手段２０は、最初に対特徴点リスト、Ｓ側芯線データおよびＦ側芯線データを読み込んで、芯線データ照合手段２０が用いる内部メモリ上に展開する。また、必要なメモリ領域（例えばワークテーブルとして用いるメモリ領域等）を確保する（ステップＡ０）。ステップＡ０は、芯線データ照合処理の準備段階である。
【０１１７】
なお、対特徴点リストにおいて、対をなすＳ側対特徴点とＦ側対特徴点の種別が合致しているとは限らない。以下の説明では、対特徴点であって、Ｓ側の種別とＦ側の種別が合致しているものを合致特徴点と定義する。一般に「合致特徴点」という用語を「対特徴点」と同義としてとらえ、種別が合致していなくても「合致特徴点」という語を用いる場合もある。しかし、以下の説明では、対特徴点のうち種別が合致したものを「合致特徴点」と呼ぶ。
【０１１８】
以下に示すステップＡ１〜Ａ４において、複数のデータから適切なデータを選別するときには、個々のデータについて不適切さの度合いを示す数値を割り当てる。この数値をペナルティと記す。
【０１１９】
ステップＡ０の後、芯線データ照合手段２０は、ベース対特徴点（以下、ＢＰＭと記す。）を決定する（ステップＡ１）。ＢＰＭは、各芯線点や各ユニット等を選択するときに、選択順序を定めるための基準となる対特徴点である。
【０１２０】
ステップＡ１の後、芯線データ照合手段２０は、サーチ側とファイル側とで、個々の対特徴点の種別が合致するようにファイル側芯線データを修正する。同時に、対特徴点リストに含まれるファイル側特徴点の種別情報も修正する（ステップＡ２）。芯線データ照合手段２０は、芯線データ等の修正の度合いに応じたペナルティをカウントする。ファイル側のデータの修正ができないような大きな食い違いが生じている対特徴点が存在する場合、芯線データ照合手段２０は、その対特徴点を対特徴点リストから削除する。また、後述するように、ステップＡ１では、Ｆ側の芯線データとして複数種類の芯線データを作成する場合がある。このような場合、ステップＡ２では、ペナルティに基づいて、修正の度合いが少ない方のデータを選別する。
【０１２１】
また、Ｓ側とＦ側とで対になっていない特徴点がいわゆる「ひげ」や「切断」等の芯線状態を生じさせている場合がある。芯線データ照合手段２０は、その芯線状態を除去するように芯線データを修正する。
【０１２２】
続いて、芯線データ照合手段２０は、サーチ側の各芯線点について、対応する芯線点がファイル側に存在するか否かを判断する。そして、対応する芯線点があれば、サーチ側の芯線点とファイル側の芯線点とを対応付ける（ステップＡ３）。ステップＡ３の結果、特徴点だけでなく、連続点Ｃや延伸性終点Ｘについても対応付けが行われる。なお、サーチ側とファイル側とで対応付けられた対になる芯線点の情報の集合を芯線点対応リストと記す。
【０１２３】
次に、芯線データ照合手段２０は、対応付けられた芯線点が連続する長さ（芯線距離）を測る。芯線データ照合手段２０は、Ｓ側とＦ側とで対応付けられた芯線（以下、合致芯線と記す。）毎に、芯線距離を測り、その総和を求める。そして、その総和と、ステップＡ１以降にカウントしたペナルティとに基づいて芯線の照合スコアを算出する。
【０１２４】
なお、縦または横方向に隣接する画素１個分が距離単位になる。従って、斜め方向に隣接する画素への距離は約１．４画素（√２画素）である。
【０１２５】
芯線データ照合処理のステップＡ１〜Ａ４毎に、各ステップにおける処理を詳しく説明する。図２２は、ステップＡ１（ＢＰＭ決定処理）の処理経過を示す流れ図である。芯線データ照合手段２０は、対特徴点の種別が合致することを重要な判断基準として、以下のようにＢＰＭを決定する。芯線データ照合手段２０は、対特徴点の中から合致特徴点を全て取り出し、番号を割り当てる（ステップＡ１０１）。番号が割り当てられた合致特徴点をマーク対特徴点と呼び、ＭＰＭ（ｎ）と表すことにする。ＭＰＭ（ｎ）における「ｎ」は、割り当てられた番号である。なお、割り当てた番号の最大値はＮであるとする。また、芯線データ照合手段２０はｋ＝１という初期値を設定する。ｋは、全てのＭＰＭ（ｎ）中から各マーク対特徴点を順番に選択していくための変数であり、選択したマーク対特徴点（注目マーク対特徴点）はＭＰＭ（ｋ）として表される。一つのマーク対特徴点を選択し終えた場合、ｋを１増加させる。また、芯線データ照合手段２０は、ｍ＝１およびＰ（ｍ）＝１００という初期値を設定する。ｍは、ペナルティが最小のマーク対特徴点を特定するための変数である。Ｐ（ｍ）は、マーク対特徴点毎のペナルティの最小値である。ここではＰ（ｍ）の初期値を１００としたが、Ｐ（ｍ）の初期値はＰ（ｋ）に比べ十分に大きな値であればよい。なお、選択された対特徴点等であることを「注目」という語によって表すものとする。
【０１２６】
芯線データ照合手段２０は、ステップＡ１０１の後、全てのＭＰＭ（ｎ）に対する選択を終えたか否かを判断する（ステップＡ１０２）。ｋ＞Ｎを満足する場合、全てのＭＰＭ（ｎ）を選択し終えたと判断する。ｋ＞Ｎを満足していない場合、芯線データ照合手段２０は、Ｐ（ｋ）＝０という初期値を設定する（ステップＡ１０３）。Ｐ（ｋ）は、注目マーク対特徴点ＭＰＭ（ｋ）に対応するペナルティである。
【０１２７】
続いて、芯線データ照合手段２０はｊ＝１という初期値を設定する（ステップＡ１０４）。ｊは、ＭＰＭ（ｋ）の近傍のマーク対特徴点を順番に選択していくための変数であり、選択した近傍のマーク対特徴点（注目近傍対特徴点）はＭＰＭ（ｊ）として表される。なお、ｋ＝１である場合には、ｊの初期値を２とする。ｋ＝１の場合、ｊの初期値を２とすることで、ＭＰＭ（ｋ）とＭＰＭ（ｊ）とが同一の対特徴点になってしまうことを防ぐことができる。
【０１２８】
芯線データ照合手段２０は、ステップＡ１０４の後、近傍の各マーク対特徴点に対する選択を終えたか否かを判断する（ステップＡ１０５）。ｊ＞Ｎを満足する場合、近傍の各対特徴点に対する選択を終えたと判断する。ｊ＞Ｎを満足しない場合、芯線データ照合手段２０は、サーチ側芯線データに基づいて、注目マーク対特徴点ＭＰＭ（ｋ）と注目近傍対特徴点ＭＰＭ（ｊ）とを結ぶ線分（サーチ側における線分）が隆線と交差する数ｒＳを求める（ステップＡ１０６）。また、芯線データ照合手段２０は、ファイル側芯線データに基づいて、注目マーク対特徴点ＭＰＭ（ｋ）と注目近傍対特徴点ＭＰＭ（ｊ）とを結ぶ線分（ファイル側における線分）が隆線と交差する数ｒＦを求める（ステップＡ１０７）。
【０１２９】
ステップＡ１０７の後、芯線データ照合手段２０は、隆線との交差数ｒＳおよびｒＦに差があるか否かを判断する（ステップＡ１０８）。ｒＳ＝ｒＦであれば、ｊの値を１増加させる（ステップＡ１１０）。ただし、ｊ＝ｋとなるのであれば、ｊの値をさらに１増加させる。
【０１３０】
ステップＡ１０８において、隆線との交差数に差がある場合（ｒＳ≠ｒＦの場合）、注目近傍対特徴点ＭＰＭ（ｊ）に応じたペナルティを求め、そのペナルティをＰ（ｋ）に加算する（ステップＡ１０９）。注目近傍対特徴点ＭＰＭ（ｊ）に応じたペナルティは、｜ｒＳ−ｒＦ｜／ｍａｘ（ｍｉｎ（ｒＳ，ｒＦ），１）という計算式によって算出する。この式において、ｍａｘおよびｍｉｎはそれぞれ括弧内の数値の最大値および最長値を指定するものとする。Ｐ（ｋ）を更新後、芯線データ照合手段２０はステップＡ１１０の処理（ｊの増加）を行い、ステップＡ１０５以降の動作を繰り返す。
【０１３１】
また、ステップＡ１０５において、近傍の各マーク対特徴点に対する選択を終えたと判断した場合、芯線データ照合手段２０は、それまでのペナルティの最小値Ｐ（ｍ）と、注目マーク対特徴点ＭＰＭ（ｋ）のペナルティＰ（ｋ）とを比較する（ステップＡ１１１）。Ｐ（ｋ）＜Ｐ（ｍ）ならば、Ｐ（ｍ）をＰ（ｋ）の値で更新し、ｍをｋの値で更新する。また、Ｐ（ｋ）＝Ｐ（ｍ）ならば、ｍによって特定されるＭＰＭ（ｍ）と注目マーク対特徴点ＭＰＭ（ｋ）とついて、どちらがサーチ側対特徴点群の重心座標に近いかを判断する。ＭＰＭ（ｋ）の方が近いならば、Ｐ（ｍ）およびｍをそれぞれＰ（ｋ）およびｋの値で更新する。Ｐ（ｋ）＞Ｐ（ｍ）であれば更新しない。芯線データ照合手段２０は、ステップＡ１１１の後、ｋの値を１増加させ、次のマーク対特徴点を選択する（ステップＡ１１２）。その後のステップＡ１０２において、ｋ＞Ｎと判断したならば、全てのマーク対特徴点を選択したことになる。この時点におけるｍは、最もペナルティが少ないマーク対特徴点を特定する番号である。従って、芯線データ照合手段２０は、このｍによって特定されるＭＰＭ（ｍ）をＢＰＭとして決定する（ステップＡ１１３）。
【０１３２】
図２２に示したＢＰＭ決定処理は、対特徴点の中に合致特徴点が存在しない場合、適用することができない。従って、そのような場合には以下に示す例外処理によってＢＰＭを決定する。全ての対特徴点で、Ｓ側の種別とＦ側の種別とが異なっている場合、Ｓ側対特徴点群の重心座標に最も近い対特徴点をＢＰＭ候補に選ぶ。このＢＰＭ候補は、Ｓ側とＦ側とで種別が異なるため、種別に応じた処理を行う。
【０１３３】
ＢＰＭ候補となるＳ側対特徴点の種別が端点Ｅであり、Ｆ側対特徴点の種別が分岐点Ｂである場合、Ｆ側の分岐点Ｂを端点Ｅに変化させる。そして、この端点ＥをＳ側の端点Ｅと対にしてＢＰＭとする。図２３は、Ｆ側の分岐点（ＢＰＭ候補となる分岐点）を端点に変化させる状況を示す説明図である。図２３に示すように、左右に分岐する芯線のどちらを分離するかによって二種類の芯線データと二種類の対特徴点リストができる。芯線データ照合手段２０は、この二種類の芯線データそれぞれを作成して保持する。二種類の芯線データのどちらにおいても端点をＢＰＭとして定める。なお、特徴点方向をＹ軸正方向とした場合に、Ｘ軸正方向を向く側が右、Ｘ軸負方向を向く側が左と定義している。また、既に述べたように、特徴点方向はＮＩＳＴデータ交換標準定義（サブセクション１６．１．４）において定義されている。分岐点の場合、その分岐点から、分岐する二本のユニットの中間に向かう方向が特徴点方向になる。端点の場合、端点から伸びる芯線の方向が特徴点方向になる。
【０１３４】
ＢＰＭ候補となるＳ側対特徴点の種別が分岐点Ｂであり、Ｆ側対特徴点の種別が端点Ｅである場合、Ｆ側の端点Ｅを分岐点Ｂに変化させる。そして、この分岐点ＢとＳ側の分岐点Ｂとを対にしてＢＰＭとする。この場合、端点を形成する芯線を左右どちら側の芯線に接合させて分岐点を形成するかによって、二種類の芯線データと二種類の対特徴点リストができる。芯線データ照合手段２０は、この二種類の芯線データそれぞれを作成して保持する。二種類の芯線データのどちらにおいても分岐点をＢＰＭとして定める。
【０１３５】
この例外処理によって二種類の芯線データが作成された場合、その芯線データをそれぞれＦ−Ｓｋｅｌ（１）、Ｆ−Ｓｋｅｌ（２）と記すことにする。
【０１３６】
次に、図２１に示すステップＡ２の処理について説明する。このステップＡ２の処理は、３つのサブステップに分かれる。最初のサブステップＡ２−１は、対特徴点のうち合致特徴点でないものについて、種別を合わせるようにファイル側芯線データおよび対特徴点リストを修正する処理である。二番目のサブステップＡ２−２は、Ｓ側とＦ側とで対にならない特徴点であって、対向関係にある特徴点をＦ側芯線データから削除する処理である。対向関係とは、特徴点方向が互いに逆方向を向き、指紋照合上好ましくない芯線状態を生じさせる関係にあることをいう。対向関係にある対特徴点の例を図２４（ａ）に示す。図２４（ａ）において、丸く示した部分が特徴点であり、特徴点から伸びる太線の方向が特徴点方向である。特徴点から伸びる細線は芯線を示す。三番目のサブステップＡ２−３は、Ｓ側とＦ側とで対にならない特徴点であって、対向関係にある特徴点をＳ側芯線データから削除する処理である。
【０１３７】
図２５は、サブステップＡ２−１の処理経過を示す流れ図である。サブステップＡ２−１は、ＢＰＭが合致特徴点であることを前提とする。Ｆ側芯線データが二種類存在する場合、芯線データ照合手段２０はｋ＝１という初期値を設定する（ステップＡ２０１）。サブステップＡ２−１で用いるｋは、Ｆ−Ｓｋｅｌ（１）およびＦ−Ｓｋｅｌ（２）を順番に選択していくための変数であり、選択している芯線データは、Ｆ−Ｓｋｅｌ（ｋ）として表される。また、芯線データ照合手段２０は、ｍ＝１およびＰ（ｍ）＝１００という初期値を設定する。ｍは、ペナルティが最小のＦ−Ｓｋｅｌ（ｋ）を特定するための変数である。Ｐ（ｍ）は、Ｆ−Ｓｋｅｌ（ｋ）毎のペナルティの最小値である。ここではＰ（ｍ）の初期値を１００としたが、Ｐ（ｍ）の初期値はＰ（ｋ）に比べ十分に大きな値であればよい。
【０１３８】
芯線データ照合手段２０は、ステップＡ２０１の後、Ｆ−Ｓｋｅｌ（１）およびＦ−Ｓｋｅｌ（２）に対する選択を終えたか否かを判断する（ステップＡ２０２）。ｋ＞２を満足する場合、Ｆ−Ｓｋｅｌ（１）およびＦ−Ｓｋｅｌ（２）を選択し終えたと判断する。ｋ＞２を満足していない場合、芯線データ照合手段２０は、Ｐ（ｋ）＝０という初期値を設定する（ステップＡ２０３）。Ｐ（ｋ）は、注目しているＦ−Ｓｋｅｌ（ｋ）に対応するペナルティである。
【０１３９】
ステップＡ２０３に続いて、芯線データ照合手段２０は、これから順番に各対特徴点を選択していくときの順位付けを行う（ステップＡ２０４）。また、ｊ＝１という初期値を設定する。ｊは、各対特徴点を順番に選択していくための変数であり、選択した対特徴点（注目対特徴点）はＰＭ（ｊ）として表すことにする。
【０１４０】
芯線データ照合手段２０は、ステップＡ２０４の後、各対特徴点に対する選択を終えたか否かを判断する（ステップＡ２０５）。ｊ＞Ｎを満足する場合、各対特徴点に対する選択を終えたと判断する。ｊ＞Ｎを満足しない場合、芯線データ照合手段２０は、サーチ側において、ＢＰＭと注目対特徴点ＰＭ（ｊ）とを結ぶ線分（サーチ側における線分）が隆線と交差する数ｒＳを求める（ステップＡ２０６）。また、芯線データ照合手段２０は、ファイル側において、ＢＰＭと注目対特徴点ＰＭ（ｊ）とを結ぶ線分が（ファイル側における線分）隆線と交差する数ｒＦを求める（ステップＡ２０７）。
【０１４１】
ステップＡ２０７の後、芯線データ照合手段２０は、ステップＡ２０６，Ａ２０７で求めたｒＳ，ｒＦに差が生じているかを判断し、また、注目対特徴点のＳ側とＦ側とで種別が異なっているか否かを判断する（ステップＡ２０８）。ｒＳとｒＦに差がなく、かつ、注目対特徴点のＳ側とＦ側とで種別が一致している場合には、ｊの値を１増加させる（ステップＡ２１０）。
【０１４２】
ステップＡ２０８において、ｒＳ≠ｒＦであると判断したり、または、注目対特徴点のＳ側とＦ側とで種別が異なると判断した場合、芯線データ照合手段２０は、ファイル側芯線データを修正し、修正内容に応じてペナルティＰ（ｋ）をカウントする（ステップＡ２０９）。このとき、芯線データ照合手段２０は、注目対特徴点のＳ側とＦ側とで種別が一致し、ＢＰＭと注目対特徴点ＰＭ（ｊ）との間に存在する隆線の数がＳ側とＦ側とで等しくなるようにファイル側芯線データを修正する。また、芯線データ照合手段２０は、ファイル側芯線データだけでなく対特徴点リストに含まれるファイル側の特徴点のデータも修正する。
【０１４３】
図２６は、ステップＡ２０９における修正内容を規定するルールの一覧表である。芯線データ照合手段２０は、図２６に示すルールに従い、ファイル側芯線データ等を修正し、ペナルティＰ（ｋ）をカウントする。図２６に示すように、修正内容およびペナルティの値は、ｒＦとｒＳの差、Ｓ側注目対特徴点の種別およびＦ側注目対特徴点の種別によって定められる。例えば、Ｓ側の注目対特徴点の種別が端点Ｅであり、Ｆ側の注目対特徴点の種別が分岐点Ｂであるとする。この場合、ｒＦ−ｒＳ＝０であるなら、Ｆ側注目対特徴点（分岐点）について「ＢＰＭに近い方の芯線を分離する」ように修正を行い、Ｐ（ｋ）に１を加算する。また、ｒＦ−ｒＳ＝−１であるならば、Ｆ側注目対特徴点（分岐点）について「ＢＰＭに遠い方の芯線を分離する」ように修正を行い、Ｐ（ｋ）に１を加算する。また、ｒＦ−ｒＦ＝１であるならば、注目対特徴点ＰＭ（ｊ）のデータを「対特徴点リストから削除する」修正を行い、Ｐ（ｋ）に５を加算する。
【０１４４】
ここでは、図２６に示すルールのうち、Ｓ側注目対特徴点の種別が端点Ｅであり、Ｆ側注目対特徴点の種別が分岐点Ｂである場合を例に説明したが、他の場合であっても、同様に修正内容とペナルティとが定められる。なお、ＢＰＭと注目対特徴点間の隆線数がＳ側とＦ側とで一致するように修正できる場合には、ペナルティが小さくなるように定めている。
【０１４５】
図２７は（ａ）は、Ｆ側の注目対特徴点が分岐点である場合に、この分岐点を端点に修正する状況を示している。分岐点から分かれる二本の芯線のうち、ＢＰＭに近い方の芯線またはＢＰＭから遠い方の芯線を分離することにより、分岐点を端点に変化させることができる。どちらに分離するかによって、ＢＰＭとＦ側注目対特徴点とを結ぶ線分が隆線に交差する数が異なる。どのように芯線を分離するのかは、図２６に示すルールに従って決定される。
【０１４６】
図２７（ｂ）は、Ｆ側の注目対特徴点が端点である場合に、この端点を分岐点に修正する状況を示す。端点を形成する芯線を、ＢＰＭに近い方の芯線またはＢＰＭから遠い方の芯線に接合することにより、端点を分岐点に変化させることができる。どちらに接合するかによって、ＢＰＭとＦ側注目対特徴点とを結ぶ線分が隆線に交差する数が異なる。どのように接合するのかは、図２６に示すルールに従って決定される。
【０１４７】
図２８は、Ｓ側、Ｆ側ともに注目対特徴点の種別が端点であるが、ｒＳ≠ｒＦであるためにＦ側の注目対特徴点を修正する状況を示す。図２８（ａ）は、ＢＰＭとＦ側注目対特徴点との間に存在する隆線がＳ側より一本少ないため、隆線を一本増加させるように修正する例を示す。図２８（ａ）に示すように、ＢＰＭに遠い方の芯線に端点を接合し、その後、分岐する芯線のうちＢＰＭから遠い方の芯線を分離すれば、隆線を一本増加させることができる。図２８（ｂ）は、ＢＰＭとＦ側注目対特徴点との間に存在する隆線がＳ側より一本多いため、隆線を一本減少させるように修正する例を示す。図２８（ｂ）に示すように、ＢＰＭに近い方の芯線に端点を接合し、その後、分岐する芯線のうちＢＰＭに近い方の芯線を分離すれば、隆線を一本減少させることができる。
【０１４８】
図２９は、Ｓ側、Ｆ側ともに注目対特徴点の種別が分岐点であるが、ｒＳ≠ｒＦであるためにＦ側の注目対特徴点を修正する状況を示す。図２９（ａ）は、ＢＰＭとＦ側注目対特徴点との間に存在する隆線がＳ側より一本少ないため、隆線を一本増加させるように修正する例を示す。図２９（ａ）に示すように、分岐する芯線のうちＢＰＭから遠い方の芯線を分離し、その結果得られた端点をＢＰＭから遠い方の芯線に接合すれば、隆線を一本増加させることができる。図２９（ｂ）は、ＢＰＭとＦ側注目対特徴点との間に存在する隆線がＳ側より一本多いため、隆線を一本減少させるように修正する例を示す。図２９（ｂ）に示すように、分岐する芯線のうちＢＰＭに近い方の芯線を分離し、その結果得られた端点をＢＰＭに近い方の芯線に接合すれば、隆線を一本減少させることができる。
【０１４９】
芯線データ照合手段２０は、図２６に示すルールに従って、図２７〜２９に示すような修正を行う。そして、修正に応じたペナルティをＰ（ｋ）に加算し、ステップＡ２０９の処理を終了する。ステップＡ２０９の後、芯線データ照合手段２０はステップＡ２１０の処理（ｊの増加）を行い、ステップＡ２０５以降の動作を繰り返す。
【０１５０】
また、ステップＡ２０５において、各対特徴点の選択を終えたと判断した場合、芯線データ照合手段２０は、それまでのペナルティの最小値Ｐ（ｍ）と、選択したＦ−Ｓｋｅｌ（ｋ）のペナルティＰ（ｋ）とを比較する（ステップＡ２１１）。Ｐ（ｋ）＜Ｐ（ｍ）ならば、Ｐ（ｍ）をＰ（ｋ）の値で更新し、ｍをｋの値で更新する。Ｐ（ｋ）≧Ｐ（ｍ）であれば更新しない。その後、芯線データ照合手段２０は、ｋの値を１増加させ、次のＦ−Ｓｋｅｌ（ｋ）を選択する（ステップＡ２１２）。その後のステップＡ２０２において、ｋ＞２と判断したならば、Ｆ−Ｓｋｅｌ（１）およびＦ−Ｓｋｅｌ（２）のどちらについても選択を完了したことになる。この時点におけるｍが、ペナルティの少ない方の芯線データを特定する番号である。芯線データ照合手段２０は、このｍによって芯線データＦ−Ｓｋｅｌ（ｍ）を特定し、また、このＦ−Ｓｋｅｌ（ｍ）に対応する対特徴点リストを特定する（ステップＡ２１３）。ステップＡ２１３で、サブステップＡ２−１の処理は終了する。以降の処理では、ステップＡ２１３で特定したＦ−Ｓｋｅｌ（ｍ）および対特徴点リストを処理対象とする。
【０１５１】
次に、サブステップＡ２−２，Ａ２−３について説明する。図３０は、サブステップＡ２−２，Ａ２−３の処理経過を示す流れ図である。サブステップＡ２−２では、Ｓ側と対にならない特徴点であって、対向関係にある特徴点をＦ側の芯線データの中から削除する。まず、芯線データ照合手段２０は、サブステップＡ２−１によって特定したＦ側の芯線データの中から、図２４（ａ）に例示するような対向関係をなす特徴点（対向特徴点）の組を抽出し、抽出した各対向特徴点の組を順番付ける（ステップＡ２２１）。ステップＡ２２１において、対向特徴点の組を全て抽出するのは非効率的である。そこで、対向特徴点の組のうち、合致特徴点から所定の範囲内（例えば６４画素以内）に存在するもののみを抽出すればよい。
【０１５２】
続いて、芯線データ照合手段２０は、抽出した全ての対向特徴点に対する処理が終了したか否かを判断する（ステップＡ２２２）。修正処理が終了していなければ、順番に従って、一つの対向特徴点の組を選び、その組に対する処理を行う（ステップＡ２２３）。ステップＡ２２３では、選ばれた対向特徴点と対になる特徴点がＳ側に存在するかを判断する。そして、対になる特徴点がＳ側になければ、対向特徴点を削除するように修正する（ステップＡ２２３）。図２４（ｂ）は、対向特徴点を削除するための修正策をまとめた一覧表である。また、対向特徴点を削除する修正を行った場合、サブステップＡ２−１において最終的に得られたＰ（ｍ）に、修正内容に応じたペナルティを加算していく。例えば、「ひげ」の場合には、図２４（ｂ）に示すように「ひげ」となる芯線を削除する。そして、削除した芯線長に所定の係数を乗じた値をペナルティとしてＰ（ｍ）に加算する。
【０１５３】
滑らかに接続する修正は、例えば、特開２００２−７４３８１公報に記載されているような公知の技術によって実現することができる。「短区間接触」や「ねじれ切断」や「ねじれ接触」等において、滑らかな芯線接続を行うためには、対向特徴点間の芯線を削除するだけではなく、隆線幅程度の長さで端点の部分を短縮する方策が有効である。
【０１５４】
なお、対向特徴点を排除するための方策としては様々な方策が知られている。例えば、米国特許第６０７２８９５号に芯線データ抽出後に特徴点を削除する方策が提案されている。また、米国特許第４６４６３５２号では、特徴点照合時に対向特徴点を無視する方策が記載されている。
【０１５５】
ステップＡ２２３の後、芯線データ照合手段２０は、次の芯線修正候補となる対向特徴点の組を選び（ステップＡ２２４）、ステップＡ２２２以降の動作を繰り返す。抽出した全ての対向特徴点に対して修正処理が終了した場合（ステップＡ２２２）、サブステップＡ２−２は終了する。
【０１５６】
サブステップＡ２−２の後、芯線データ照合手段２０は、サブステップＡ２−３を開始する。サブステップＡ２−３では、Ｆ側と対にならない特徴点であって、対向関係にある特徴点をＳ側の芯線データの中から削除する。サブステップＡ２−３の処理内容は、サブステップＡ２−２と同様である。図３０に示すステップＡ２３１，Ａ２３２，Ａ２３３，Ａ２３４は、それぞれステップＡ２２１，Ａ２２２，Ａ２２３，Ａ２２４と同様の処理である。
【０１５７】
サブステップＡ２−３でステップＡ２の処理は終了する。図３１は、ステップＡ２の処理によるＦ側芯線の変化を示す。ステップＡ２の終了時には、対特徴点リストにのっている対特徴点は、全てＳ側の種別とＦ側の種別が一致する。以上でステップＡ２に関する説明を終える。
【０１５８】
次に、図２１に示すステップＡ３の処理について説明する。ステップＡ３では、Ｓ側の各芯線点について、Ｆ側に対応する芯線点があるか否かを調査する。既述のように、サーチ側とファイル側とで対応付けられた対になる芯線点の情報の集合を芯線点対応リストという。図３２は、芯線点対応リストの例を示す。芯線データ照合手段２０は、芯線点対応リストを作成し、芯線点の対応関係の調査を進めながら芯線点対応リストを更新していく。
【０１５９】
芯線データ照合手段２０は、Ｓ側のユニット（芯線の最小単位）を一つ一つ選択し、さらに選択したユニット上の一つ一つの芯線点を選択する。そして、選択した芯線点からＦ側への対応を調べる。Ｓ側からユニット等を選択するのは、一般にサーチ側とする遺留指紋は領域面積が小さく、特徴点が少ないからである。以下の説明では、Ｓ側において選択したユニット（Ｆ側との対応を調査しているユニット）を注目芯線と記す。また、注目芯線上の芯線点であって、Ｆ側との対応関係を調べるために選択している芯線点を注目芯線点あるいは単に注目点と記す。注目点に対応するＦ側の対応点が存在した場合、その注目点と対応点とを合致芯線点と記す。注目芯線上にない合致特徴点や合致芯線点を参照点と記す。参照点は、注目点の対応関係を調べる際に利用される。
【０１６０】
図３３は、ステップＡ３（芯線点の対応付け処理）の処理経過の例を示す流れ図である。Ｓ側の各ユニットをＳ−Ｕｎｉｔ（ｎ）と表すことにする。Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｎ）における「ｎ」は、Ｓ側のユニットを選択するときの順位を表す番号である。Ｓ側のユニットの総数をＮ本とすれば、１≦ｎ≦Ｎが成立する。芯線データ照合手段２０は、ステップＡ３を開始すると、Ｓ側の各ユニットの順位付けを行う（ステップＡ３０１）。また、ｋ＝１という初期値を設定する。ステップＡ３におけるｋは、Ｓ側の各ユニットを順番に選択していくための変数であり、選択したユニットはＳ−Ｕｎｉｔ（ｋ）と表される。
【０１６１】
Ｓ側の各ユニットの順位を定めるときの基準について説明する。ＢＰＭに接続しているユニットが先に選択されるように順位を決定する。ＢＰＭが端点のときは、ＢＰＭに接続しているユニットの順位を１位として定める。
【０１６２】
ＢＰＭが分岐点のときは、その分岐点を端点とみなし、その端点に接続する三つのユニットの順位を決定する。このとき、（１）もう片方に合致特徴点があるユニット、（２）特徴点方向と反対方向に伸びるユニット、（３）特徴点方向のすぐ右側に位置するユニット、（４）特徴点方向のすぐ左側に位置するユニットの順番に順位が低くなるように定める。なお、「右」、「左」の方向は既に説明した通りである。
【０１６３】
図３４は、分岐点となるＢＰＭに接続するユニットの順位付けの例を示す説明図である。図３４（ａ）に示す例では、「優先順１位」のユニットは、もう片方に合致特徴点があるため上記（１）に該当し１位となる。図３４（ａ）における「優先順２位」のユニットは、ＢＰＭにおける特徴点方向（ＢＰＭから、分岐する二本のユニットの中間に向かう方向）の反対方向に伸びるため上記（２）に該当し２位となる。
【０１６４】
図３４（ｂ）に示す例では、上記（１）に該当するユニットは存在しない。従って、ＢＰＭにおける特徴点方向の反対方向に伸びるユニットを「優先順１位」として示している。また、ＢＰＭにおける特徴点方向のすぐ右側に位置するユニットを「優先順位２」として示している。
【０１６５】
ＢＰＭに接続しているユニットについて順位を付けたならば、ＢＰＭに近い順に合致特徴点を選んでいく。そして、ＢＰＭに近い合致特徴点から順番に、その合致特徴点に接続するユニットについて順位を定める。ＢＰＭ以外の合致特徴点に接続するユニットに対する順位付けは、ＢＰＭに接続するユニットに対する順位付けと同様である。すなわち、合致特徴点が端点のときは、その端点に接続しているユニットに順位を付ける。合致特徴点が分岐点のときは、その分岐点を端点とみなし、その端点に接続する三つのユニットに対して、上記（１）〜（４）の順番に順位が低くなるように順位を定める。図３５は、ＢＰＭ以外の合致特徴点に対する順位付けの例を示す。図３５に示すように、ＢＰＭ以外の合致特徴点に対して、ＢＰＭに近い順に順位を定める。この例では分岐点がないため、合致特徴点の順序がそのまま合致特徴点に接続するユニットの順位となる。
【０１６６】
続いて、合致特徴点に接続しないユニットについて順位を定める。合致特徴点に接続しないユニットに対しては、ＢＰＭに近いほど順位が高くなるように順位を定める。図３６は、合致特徴点に接続しないユニットに対する順位付けの例を示す。図３６に示すように、ＢＰＭに近いほど順位が高くなる。合致特徴点に接続しないユニットについては、ファイル側に対応するユニットが存在するとは限らない。あるいは、ファイル側の複数のユニットが対応する場合もある。なお、図３６では、優先順４位までのユニットのみを例示している。
【０１６７】
芯線データ照合手段２０は、Ｓ側の各ユニットに対する順位付けを行ったならば、順位を定めた各ユニットの芯線点について、Ｆ側との対応付け処理を終えたか否かを判断する（ステップＡ３０２）。ｋ＞Ｎであるならば、Ｆ側との対応付け処理が終了したと判断し、ステップＡ４に進む。ｋ≦Ｎであれば、注目芯線Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｋ）に合致特徴点が存在するか否かを判断する（ステップＡ３０３）。この判断結果は、次の三つのケースに分類される。第一のケースは、注目芯線Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｋ）の片端のみが合致特徴点（ＢＰＭ含む）となっているケースである。第二のケースは、Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｋ）の両端が合致特徴点（ＢＰＭ含む）となっているケースである。第三のケースは、Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｋ）に合致特徴点が存在しないケースである。
【０１６８】
芯線データ照合手段２０は、第一のケースの場合、後述するサブステップＡ３−１の処理を行う。第一のケースでは、注目芯線Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｋ）の片端のみが合致特徴点（ＢＰＭ含む）である。サブステップＡ３−１では、この合致特徴点に近い順に各芯線点を選択し、選択した芯線点（注目点）に対応する芯線点がＦ側に存在するか否かを調査する。なお、サブステップＡ３−１において、注目点となるのは、Ｓ側の連続点（ＳＣと記す。）あるいはＳ側の延伸性終点（ＳＸと記す。）である。種別を表す「Ｃ」や「Ｘ」等の各種記号の前に「Ｓ」や「Ｆ」を付した場合、その「Ｓ」や「Ｆ」はサーチ側あるいはファイル側であることを表すものとする。
【０１６９】
芯線データ照合手段２０は、第二のケースの場合、後述するサブステップＡ３−２の処理を行う。第二のケースでは、注目芯線Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｋ）の両端が合致特徴点（ＢＰＭ含む）である。サブステップＡ３−２では、ＢＰＭに近い方の合致特徴点に近い順に各芯線点を選択し、選択した芯線点（注目点）に対応する芯線点がＦ側に存在するか否かを調査する。この場合、注目点から両端までの芯線距離の比率に基づいてＦ側の芯線点を判断する。なお、サブステップＡ３−２において、注目点となるのは、Ｓ側の連続点ＳＣと記すだけである。
【０１７０】
芯線データ照合手段２０は、第三のケースの場合、後述するサブステップＡ３−３の処理を行う。第三のケースでは、注目芯線Ｓ−Ｕｎｉｔ（ｋ）上に合致特徴点は存在しない。第三のケースに該当するユニットの優先順位は低いため、サブステップＡ３−３の実行時には、既にサブステップＡ３−１，Ａ３−２が終了している。サブステップＡ３−３において、Ｆ側の芯線点との対応関係を調査するときには、サブステップＡ３−１，Ａ３−２において合致芯線点と判断された芯線点を参照点として用いる。
【０１７１】
サブステップＡ３−１，Ａ３−２またはＡ３−３が終了した場合、芯線データ照合手段２０は、ｋを１増加し、新たな注目芯線を選択する（ステップＡ３０７）。
【０１７２】
以下、サブステップＡ３−１からサブステップＡ３−３の処理について説明する。サブステップＡ３−１からサブステップＡ３−３では、多くの用語が登場する。Ｓ側のデータについて用いる用語と、Ｆ側のデータについて用いる用語との対応表を図３７に示す。
【０１７３】
図３８はサブステップＡ３−１の処理経過の一例を示す流れ図である。図３９サブステップＡ３−１において、注目点と対応点とを対応付ける状況を示す説明図である。サブステップＡ３−１の処理対象は、図３９に示す注目芯線のように片端のみが合致特徴点となっている注目芯線である。図３９では、この合致特徴点が端点である場合を示したが、分岐点となる場合もある。分岐点であっても芯線を分離して端点とみなすことができる。従って、以下の説明ではこの合致特徴点を、「Ｅ」を用いて合致端点ＳＥと表現する。Ｓ側の合致端点ＳＥとＦ側の合致端点ＦＥとの対応付けは既に完了している。芯線データ照合手段２０は、サブステップＡ３−１を開始すると、注目芯線上の合致端点ＳＥの隣接点を最初の注目点として設定（選択）する（ステップＡ３１１）。この注目点はＳ側の連続点ＳＣである。図４０の左側の図に示すように、合致端点ＳＥに隣接する連続点ＳＣが最初の注目点となる。
【０１７４】
芯線データ照合手段２０は、ステップＡ３１１の後、サブステップＡ３−１を終了するか否かを判断する（ステップＡ３１２）。サブステップＡ３−１の終了条件については後述する。終了条件を満たしていなければ、芯線データ照合手段２０は、合致端点ＳＥと注目点ＳＣとを結ぶ線分の両側から、それぞれ最近傍の参照点を一つずつ選ぶ（ステップＡ３１３）。この参照点をそれぞれＳＲ１，ＳＲ２と記す（図３９参照）。なお、参照点を３個以上選ぶと、対応付けの精度を向上させることができるが、処理時間が増加する。ここでは二個の参照点ＳＲ１，ＳＲ２を選ぶ場合を例に説明する。芯線データ照合手段２０は、参照点ＳＲ１および注目点ＳＣを結ぶ線分と、注目点ＳＣおよび参照点ＳＲ２を結ぶ線分とがなす内角ＳＡを計測する（ステップＡ３１４）。この内角ＳＡは、ＳＡ＝∠（ＳＲ１，ＳＣ、ＳＲ２）と表現できる。
【０１７５】
次に、芯線データ照合手段２０は、注目点ＳＣに対応する対応点の候補を選ぶ（ステップＡ３１５）。注目芯線上の芯線点と対応することが既に明らかになっているＦ側の芯線点を既合致点ＦＣ（０）とする。芯線データ照合手段２０は、ＦＣ（０）の３個の外側隣接点を対応点候補ＦＣ（１）〜ＦＣ（３）として選ぶ。また、既合致点ＦＣ（０）も対応点候補に含める。ある芯線点の外側隣接点とは、合致端点ＦＥから遠ざかるようにその芯線点から並んでいく芯線点をいう。例えば、図４０に示すように、注目点ＳＣが合致端点ＳＥの隣接点であるとする。この場合、既合致点はＳＥに対応するＦＥである。ＦＥから遠ざかるように延伸する３個の芯線点が既合致点ＦＥの外側隣接点になる。ＦＥおよびこの３点を対応点候補ＦＣ（０）〜ＦＣ（３）として選ぶ。
【０１７６】
ＦＣ（０）以外の対応点候補の数は３個でなくてもよい。しかし、隣接芯線点との最大距離（√２）や画像の歪みや伸縮等を考慮すると、Ｆ（０）以外の対応点候補の数は３個とすることが好ましい。
【０１７７】
また、外側隣接点ＦＣ（１）〜ＦＣ（３）の中に、非合致特徴点（Ｓ側とＦ側とで種別が一致しない対特徴点）が存在する場合、非合致特徴点以降の外側隣接点は対応点候補から除外する。
【０１７８】
芯線データ照合手段２０は、対応点候補ＦＣ（０）〜ＦＣ（３）の中から対応点を決定する（ステップＡ３１６）。既合致点ＦＣ（０）に隣接するＦＣ（１）を注目点ＳＣの対応点として単純に定めると、位置関係に矛盾が生じる場合がある。そこで、「注目点と近傍参照点群との位置関係」を考慮して対応点を決定する。芯線データ照合手段２０は、参照点ＳＲ１，ＳＲ２に対応するＦ側の参照点ＦＲ１，ＦＲ２を定める（図３９参照）。そして、各候補毎に、参照点ＦＲ１および対応点候補を結ぶ線分と、対応点候補および参照点ＦＲ２を結ぶ線分とがなす内角ＦＡを計測する。内角ＦＡは、ＦＡ＝∠（ＦＲ１，ＦＣ（ｎ），ＦＲ２）と表現できる。ＦＣ（ｎ）において、０≦ｎ≦３である。
【０１７９】
そして、芯線データ照合手段２０は、各対応点候補（各内角）を以下の式１によって評価を行う。
【０１８０】
ｙ１＝ｋ１＋ｋ２×｜ＳＡ−ＦＡ｜　（式１）
【０１８１】
すなわち、各ＦＡについてｙ１を算出し、ｙ１を最小とする対応点候補を対応点として決定する。ただし、式１において、ｋ１は対応点候補毎に定める。ＦＣ（０）の評価時にはｋ１＝１とする。ＦＣ（１）の場合、ｋ１＝０とする。ＦＣ（２）の場合、ｋ１＝１とする。ＦＣ（３）の場合、ｋ１＝３とする。また、式１で用いるｋ２は、角度差に対する係数で、本例ではｋ２＝０．２とした。決定された対応点ＦＣ（ｎ）と注目点ＳＣとが合致芯線点となる。芯線データ照合手段２０は、決定した対応点ＦＣ（ｎ）と、注目点ＳＣとが対応する旨の情報を芯線点対応リストに追加する。新たに対応付けられたＦＣ（ｎ）は、次にステップＡ３１５を実行する際に既合致点として用いられる。
【０１８２】
芯線データ照合手段２０は、最後に対応付けされた合致芯線点の隣接点を新たな注目点ＳＣとして設定する（ステップＡ３１７）。すなわち、それまで注目していた注目点の隣接点を新たな注目点ＳＣとする。その後、ステップＡ３１２以降の動作を繰り返す。
【０１８３】
ステップＡ３１２では、以下の第一から第四の条件のいずれかを満足する場合に、サブステップＡ３−１を終了すると判断する。第一の条件は、Ｓ側の延伸性終点ＳＸについての対応付け処理が完了したことである。第二の条件は、ある注目点ＳＣについて対応付けを行った場合に、Ｆ側の延伸性終点ＦＸが対応点として定められたことである。第三の条件は、ステップＡ３１７で非合致特徴点（種別が一致しない対特徴点）を新たな注目点ＳＣとしたことである。第四の条件は、Ｆ側の最終対応点の隣接点が非合致特徴点であることである。第一の条件または第二の条件でサブステップＡ３−１を終了する場合、最後に対応付けられたＳ側の注目点をＳＴと記し、ＳＴに対応するＦ側の芯線点をＦＴと記す。例えば、第一の条件で終了する場合、Ｓ側の延伸性終点ＳＸがＳＴとなり、その対応点がＦＴとなる（図３９参照）。
【０１８４】
図４１はサブステップＡ３−２の処理経過の一例を示す流れ図である。サブステップＡ３−２の処理対象は、両端が合致特徴点（ＢＰＭ含む）となっている注目芯線である。サブステップＡ３−１と同様に、合致特徴点を合致端点とみなし、「Ｅ」の記号を用いて表す。サブステップＡ３−２では、両端の合致端点のうち、ＢＰＭである合致端点あるいはＢＰＭに近い合致端点から処理を進める。この合致端点（Ｓ側）をＳＥ１とする。また、もう一方の合致端点をＳＥ２とする。芯線データ照合手段２０は、サブステップＡ３−２を開始すると、注目芯線上の合致端点ＳＥ１の隣接点を最初の注目点として設定（選択）する（ステップＡ３２１）。最初の注目点は、図４０に示す例示と同様に定められる。なお、サブステップＡ３−２では、連続点ＳＣのみが注目点となる。
【０１８５】
芯線データ照合手段２０は、ステップＡ３２１の後、サブステップＡ３−２を終了するか否かを判断する（ステップＡ３２２）。サブステップＡ３−２の終了条件については後述する。終了条件を満足していなければ、注目点ＳＣと開始側の合致端点ＳＥ１との芯線距離を計測する（ステップＡ３２３）。ＳＣとＳＥ１との芯線距離をＳＤ１と記す。芯線距離ＳＤ１は、直線距離ではなく、注目芯線に沿った曲線距離であることが好ましい。直線距離は、画像の歪み等の影響を受けやすいためである。本例では、注目芯線に沿ってＳＣからＳＥ１に移動するときに、上下左右の画素に１回移動する度に距離単位（１画素）を累積し、斜め方向の画素に１回移動する度に１．４画素（√２画素）を累積して距離を求める。また、芯線データ照合手段２０は、もう一方の合致端点ＳＥ２と注目点ＳＣとの芯線距離（ＳＤ２と記す。）も同様に計測する。
【０１８６】
次に、芯線データ照合手段２０は、芯線距離ＳＤ１，ＳＤ２の総和に対するＳＤ１の比率Ｒｓを算出する（ステップＡ３２４）。すなわち、Ｒｓ＝ＳＤ１／（ＳＤ１＋ＳＤ２）として、Ｒｓを算出する。
【０１８７】
次に、芯線データ照合手段２０は、既に説明したステップＡ３１５と同様に、注目点ＳＣに対応する対応点の候補を選ぶ（ステップＡ３２５）。本例では、４個の対応点候補ＦＣ（０）〜ＦＣ（４）を選ぶ。ＦＣ（０）は、最後に対応付けされた既合致点である。
【０１８８】
芯線データ照合手段２０は、対応点候補ＦＣ（０）〜ＦＣ（３）の中から対応点を決定する（ステップＡ３２６）。既合致点ＦＣ（０）に隣接するＦＣ（１）を注目点ＳＣの対応点として単純に定めると、位置関係に矛盾が生じる場合がある。そこで、「両端の非合致点と注目点との距離の比率」を考慮して対応点を決定する。芯線データ照合手段２０は、各対応点候補ＦＣ（０）〜ＦＣ（３）から合致端点ＦＥ１，ＦＥ２までの芯線距離を計測する。ＦＥ１，ＦＥ２は、それぞれＳＥ１，ＳＥ２に対応するＦ側の合致端点である。また、対応点候補からＦＥ１，ＦＥ２までの芯線距離をそれぞれＦＤ１（ｎ）、ＦＤ２（ｎ）と表す。ただし、ｎ＝０〜３であり、各候補に対応する。
【０１８９】
次に、ｎ＝０〜３のそれぞれの場合について、ＦＤ１（ｎ）とＦＤ２（ｎ）の総和に対するＦＤ１（ｎ）の比率Ｒｆを算出する。すなわち、Ｒｆ＝ＦＤ１（ｎ）／（ＦＤ１（ｎ）＋ＦＤ２（ｎ））として、Ｒｆを算出する。そして、｜Ｒｆ−Ｒｓ｜が最小となる対応点候補を対応点として決定する。この対応点と注目点ＳＣは合致芯線点となる。芯線データ照合手段２０は、決定した対応点と注目点ＳＣとが対応する旨の情報を芯線点対応リストに追加する。注目点ＳＣと対応付けられたＦ側の対応点は、次にステップＡ３２５を実行する際に既合致点として用いられる。
【０１９０】
芯線データ照合手段２０は、最後に対応付けされた合致芯線点の隣接点を新たな注目点ＳＣとして設定する（ステップＡ３２７）。すなわち、それまで注目していた注目点の隣接点を新たな注目点ＳＣとする。その後、ステップＡ３２２以降の動作を繰り返す。ステップＡ３２２では、新たに設定した注目点ＳＣが合致端点ＳＥ２と同一点となっていることを終了条件とする。
【０１９１】
図４２はサブステップＡ３−３の処理経過の一例を示す流れ図である。サブステップＡ３−３の処理対象は、合致特徴点が存在しない注目芯線である。サブステップＡ３−３を実行するときには、既にサブステップＡ３−１，Ａ３−２が行われている。従って、注目芯線以外の芯線には合致芯線点や合致特徴点が存在する。サブステップＡ３−３では、これらの点を参照点として、芯線点の対応付け処理を行う。
【０１９２】
芯線データ照合手段２０は、サブステップＡ３−３を開始すると、注目芯線の隣接芯線を全て検索する（ステップＡ３３１）。さらに、検索した隣接芯線から合致特徴点を検索する。隣接芯線とは、その芯線上の点から注目芯線に垂線を下ろしたときに他の芯線に交わることなく注目芯線に達することが可能な芯線であると定義する。注目芯線に直接垂線を下ろせる部分が一部分でも存在すれば、隣接芯線に該当する。注目芯線の片側に存在する隣接芯線は一本のみとは限らず、二本以上の隣接芯線が存在する場合もある。図４３（ａ）に示す注目芯線を例に説明すると、ＢＰＭが存在する側には二本の隣接芯線が存在する。その反対側には、一本の隣接芯線が存在する。
【０１９３】
ステップＡ３３１の後、芯線データ照合手段２０は、隣接芯線から合致特徴点を検索できたか否かを判断する（ステップＡ３３２）。合致特徴点を見つけることができた場合、芯線データ照合手段２０は、その合致特徴点を参照点として、Ｓ側注目点を定め、その注目点とＦ側の芯線点とを対応付ける（ステップＡ３３３）。
【０１９４】
ステップＡ３３３では、隣接芯線上の合致特徴点から注目芯線に垂線を下ろしたときの垂線の足をＳ側注目点とする。例えば、図４３（ａ）では、隣接芯線２，１にそれぞれ合致特徴点１，２が存在する。その合致特徴点１，２から下ろした垂線の足をそれぞれ注目点１，２としている。図４３（ａ）では、合致特徴点等から注目芯線に下ろした垂線を矢印で示している。なお、合致特徴点から下ろした垂線が注目芯線に達しない場合、その合致特徴点を無視して、次の合致特徴点から垂線を下ろす。
【０１９５】
次に、隣接芯線上の合致特徴点に対応するＦ側の合致特徴点から、対応芯線（注目芯線に対応するＦ側の芯線）に垂線を下ろす。その垂線と対応芯線との交点が存在すれば、その交点（垂線の足）をＳ側注目点に対応する対応点として定める。図４３（ｂ）に示す例では、Ｓ側の隣接芯線に対応する対応隣接芯線２，１上に合致特徴点１，２が存在する。この合致特徴点１，２から対応芯線に下ろした垂線の足をそれぞれ対応点１，２としている。この対応点は、図４３（ａ）に示す注目点１，２に対応する。なお、Ｆ側においても、合致特徴点から下ろした垂線が対応芯線に達しない場合、その合致特徴点を無視して、次の合致特徴点から垂線を下ろす。
【０１９６】
また、Ｓ側，Ｆ側の合致特徴点から垂線を下ろすときに、その垂線の長さが所定の値（例えば、平均隆線間隔の２倍）以上となるならば、その合致特徴点は無視して、次の合致特徴点から垂線を下ろす。
【０１９７】
続いて、芯線データ照合手段２０は、隣接芯線上の各合致特徴点に基づいてＦ側に対応点を見つけることができたか否かを判断する（ステップＡ３３４）。
【０１９８】
隣接芯線から合致特徴点を検索できなかったとステップＡ３３２で判断した場合、芯線データ照合手段２０は、注目芯線の中点を定め、その中点とＦ側の芯線点とを対応付ける（ステップＡ３３５）。また、Ｆ側に対応点を見つけることができなかったとステップＡ３３４で判断した場合にも同じ処理を行う。芯線データ照合手段２０は、ステップＡ３３５において、注目芯線の両端からの芯線距離が等しくなる芯線点を注目芯線の中点と定める。図４４（ａ）に示す例では中点を丸印で表している。なお、注目芯線の両端は、延伸性終点あるいは非合致特徴点である。
【０１９９】
芯線データ照合手段２０は、この中点から、ＢＰＭ側に存在する隣接芯線に対して垂線を下ろし、その垂線の足が参照点となり得るか否かを判断する。具体的には、隣接芯線に下ろした垂線の足が合致芯線点であり、その垂線の足の対応点がＦ側に存在していれば、その垂線の足を参照点とする。図４４（ａ）に示す例では、中点から隣接芯線に下ろした垂線の足を参照点１としている。垂線の足が参照点とならなければ、注目芯線上の芯線点とＦ側との対応付けができない。この場合、ステップＡ３３５においてサブステップＡ３−３を終了し、次の注目芯線を選択する。
【０２００】
次に、その参照点から注目芯線に垂線を下ろし、その垂線と注目芯線との交点（垂線の足）が存在すれば、その交点を注目点とする。この注目点は、既に定めた中点と一致する場合もあるし、わずかにずれる場合もある。垂線と注目芯線との交点が存在ない場合、ステップＡ３３５においてサブステップＡ３−３を終了し、次の注目芯線を選択する。
【０２０１】
次に、芯線データ照合手段２０は、参照点に対応するＦ側の対応参照点からＦ側の対応芯線に垂線を下ろし、その垂線と対応芯線との交点（垂線の足）が存在すれば、その交点を対応点として決定する。交点が存在しなければ、ステップＡ３３５においてサブステップＡ３−３を終了し、次の注目芯線を選択する。
【０２０２】
また、ステップＡ３３５において垂線の長さが所定の値（例えば、平均隆線間隔の２倍）以上となった場合にも、その時点でサブステップＡ３−３を終了し、次の注目芯線を選択する。
【０２０３】
ステップＡ３３４またはステップＡ３３５までに、対応点を定めることができたならば、注目点を追加する（ステップＡ３３６）。ステップＡ３３６開始時には、通常注目点と対応点との組み合わせが１組以上存在する。ある注目点から見て、その外側（注目芯線の端に向かう側）に注目点がない場合、その注目点から一定距離だけ外側に進み、その芯線点を外側検査点とする。図４３（ａ）では一つの外側検査点を示し、図４４（ａ）では二つの外側検査点を示す。
【０２０４】
外側検査点を定めたならば、外側検査点から隣接芯線（注目芯線から見てＢＰＭ側）に垂線を下ろし、その垂線と隣接芯線の交点（垂線の足）があれば、その交点が参照点となり得るかを調べる。具体的には、垂線の足が合致芯線点であり、Ｆ側への対応点が存在していれば、その垂線の足を参照点とする。続いて、その参照点から注目芯線に垂線を下ろし、その垂線と注目芯線の交点（垂線の足）が存在すれば、その交点を注目点とする。この注目点は、外側検査点と一致する場合もあるし、わずかにずれる場合もある。次に、ファイル側の対応参照点から、ファイル側の対応芯線に垂線を下ろし、その垂線の足を対応点として決定する。
【０２０５】
新たに注目点を決定したならば、さらに一定距離だけ外側に進み、新たな外側検査点を定め、同様に注目点と対応点とを定めていく。また、注目芯線の外端が延伸性終点ＳＸの場合、には、この延伸性終点を外側検査点とみなして、同様に注目点と対応点を定める。また、外側検査点について参照点、注目点あるいは対応点を定められなくなった場合や、垂線の長さが所定の値以上になった場合には、その外側検査点についての処理を終了する。以上でステップＡ３３６の説明を終える。
【０２０６】
ステップＡ３３６の後、芯線データ照合手段２０は、注目点と注目点とに挟まれた部分に存在する芯線点について、Ｆ側との対応付け処理を行う（ステップＡ３３７）。ステップＡ３３６終了時に、注目点と対応点との組が複数存在する場合、その注目点と注目点とに挟まれた部分の各芯線点について、Ｆ側と対応付け処理を行う。この対応付けは、二つの注目点をいずれも合致特徴点とみなして、サブステップＡ３−２と同様に行う。
【０２０７】
注目芯線の最も外側に存在する注目点（Ｆ側に対応点が存在する注目点）の外側にさらに芯線点が存在する場合がある。また、ステップＡ３３６終了時までに、注目点が１つしか存在しない場合がある。この場合、それらの注目点より外側に存在する芯線点について、Ｆ側と対応付け処理を行う（ステップＡ３３８）。この対応付けは、注目点を合致特徴点とみなし、かつ、注目点より外側に存在する芯線点の並びをユニットとみなして、サブステップＡ３−１と同様に行う。以上でステップＡ３の処理の説明を終える。
【０２０８】
次にステップＡ４の処理について説明する。ステップＡ４開始時には、Ｓ側とＦ側の芯線点の対応付けは終了している。ステップＡ４では、Ｓ側の各芯線に関して、連続する合致芯線点の長さを計算する。
【０２０９】
個々の芯線について、並んでいる合致芯線点の長さＬＭＳを求めたならば、その長さに修正係数Ｋ（Ｌ）を乗じて積を求める。Ｋ（Ｌ）は、合致芯線点の長さＬＭＳに応じて定められている。ＬＭＳ≦１０であれば、Ｋ（Ｌ）＝０．５である。
【０２１０】
１０＜ＬＭＳ≦５０であれば、下記式２によってＫ（Ｌ）が定まる。
【０２１１】
Ｋ（Ｌ）＝０．０１２５×（ＬＭＳ−１０）＋０．５　（式２）
【０２１２】
５０＜ＬＭＳ≦１００であれば、下記式３によってＫ（Ｌ）が定まる。
【０２１３】
Ｋ（Ｌ）＝０．０１×（ＬＭＳ−５０）＋１．０　（式３）
【０２１４】
１００＜ＬＭＳ≦２００であれば、下記式４によってＫ（Ｌ）が定まる。
【０２１５】
Ｋ（Ｌ）＝０．００５×（ＬＭＳ−１００）＋１．５　（式４）
【０２１６】
２００＜ＬＭＳであれば、下記式５によってＫ（Ｌ）が定まる。
【０２１７】
Ｋ（Ｌ）＝０．００３×（ＬＭＳ−１００）＋２．０　（式５）
【０２１８】
個々のＳ側芯線毎に長さＬＭＳと修正係数Ｋ（Ｌ）の積を求めたら、その積の総和を求める。この総和をΣ（ＬＭＳ×Ｋ（Ｌ））と表す。
【０２１９】
また、ステップＡ１〜Ａ３までに生じたペナルティの総和を求める。この総和は、ステップＡ１終了時のＰ（ｍ）と、ステップＡ２終了時のＰ（ｍ）と、ステップＡ３で生じるペナルティｋ１の総和である。このペナルティの総和をΣ（Ｐ）と表す。そして、下記式６によって、芯線の照合スコアＳｋｅｌＳｃｏｒｅを算出する。
【０２２０】
ＳｋｅｌＳｃｏｒｅ＝Σ（ＬＭＳ×Ｋ（Ｌ））−Σ（Ｐ）×ＫＰ　（式６）
【０２２１】
ただし、係数ＫＰは、Σ（Ｐ）に対する修正係数であり、本例では例えば１とする。ＳｋｅｌＳｃｏｒｅを算出することによって、ステップＡ４が終了する。以上で、芯線データ照合手段２０による芯線データの照合処理の説明を終了する。
【０２２２】
【発明の効果】
本発明によれば、縞模様画像の縞を細線化した芯線上の点であって対応する点が第二の縞模様画像に存在する第一の縞模様画像の点と、前記点に対応する第二の縞模様画像の芯線上の点とを近づけるようにして、第一の縞模様画像と第二の縞模様画像のうちのいずれか一方の縞模様画像のデータを修正する画像歪み修正手段と、画像歪み修正手段が修正した縞模様画像と、他方の縞模様画像を出力する画像表示手段とを備える。そして、芯線上の点は、画像の一部の領域だけでなく、全体に渡って存在する。従って、画像の一部の領域だけでなく、画像全体の歪みを一様に修正することができ、また、歪み修正の精度も向上させることができる。このように適切に歪みを修正できるので、鑑定を容易に行えるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の一形態を示すブロック図である。
【図２】本発明による指紋鑑定方法の処理経過の例を示す流れ図である。
【図３】デジタル化された指紋画像の例を示す説明図である。
【図４】抽出された芯線の例を示す説明図である。
【図５】抽出された特徴点の例を示す説明図である。
【図６】歪み修正される濃淡画像の例を示す説明図である。
【図７】歪み修正される芯線の画像の例を示す説明図である。
【図８】歪み修正される濃淡画像の例を示す説明図である。
【図９】歪み修正される芯線の画像の例を示す説明図である。
【図１０】濃淡画像の重畳表示の例を示す説明図である。
【図１１】芯線画像の重畳表示の例を示す説明図である。
【図１２】濃淡画像の重畳表示の例を示す説明図である。
【図１３】芯線画像の重畳表示の例を示す説明図である。
【図１４】画像の切替表示の例を示す説明図である。
【図１５】本発明の他の実施の形態を示すブロック図である。
【図１６】サーチ側の画像を修正する場合の例を示す説明図である。
【図１７】芯線点の画素の近傍を示すマスクパターンの説明図である。
【図１８】マスクパターンの修正例を示す説明図である。
【図１９】Ｃｏｄｅ８の説明図である。
【図２０】芯線データの表現例を示す説明図である。
【図２１】芯線データ照合処理の概要を示す流れ図である。
【図２２】ＢＰＭ決定処理の処理経過を示す流れ図である。
【図２３】分岐点を端点に変化させる状況を示す説明図である。
【図２４】対向関係にある対特徴点の例を示す説明図である。
【図２５】Ｆ側芯線データ修正処理の処理経過を示す流れ図である。
【図２６】Ｆ側芯線データの修正内容を規定するルールの一覧表である。
【図２７】分岐点を端点に修正する状況を示す説明図である。
【図２８】Ｆ側の注目対特徴点を修正する状況を示す説明図である。
【図２９】Ｆ側の注目対特徴点を修正する状況を示す説明図である。
【図３０】対向特徴点の削除処理の処理経過を示す流れ図である。
【図３１】修正に伴うＦ側芯線の変化の例を示す説明図である。
【図３２】芯線点対応リストの例を示す説明図である。
【図３３】芯線点の対応付け処理の処理経過の例を示す流れ図である。
【図３４】ＢＰＭに接続するユニットの順位付けの例を示す説明図である。
【図３５】ＢＰＭ以外の合致特徴点に対する順位付けの例を示す説明図である。
【図３６】合致特徴点に接続しないユニットに対する順位付けの例を示す説明図である。
【図３７】Ｓ側のデータについて用いる用語とＦ側のデータについて用いる用語との対応表である。
【図３８】芯線点の対応付け処理の処理経過の例を示す流れ図である。
【図３９】注目点と対応点とを対応付ける状況を示す説明図である。
【図４０】注目点および対応点候補の例を示す説明図である。
【図４１】芯線点の対応付け処理の処理経過の例を示す流れ図である。
【図４２】芯線点の対応付け処理の処理経過の例を示す流れ図である。
【図４３】注目点および対応点を定める状況を示す説明図である。
【図４４】注目点および対応点を定める状況を示す説明図である。
【図４５】チャーティング機能による指紋データの例を示す説明図である。
【図４６】チャーティング機能による指紋データの例を示す説明図である。
【図４７】特徴点のみによる照合例を示す説明図である。
【図４８】特徴点および隆線による照合例を示す説明図である。
【符号の説明】
１４　データ処理部
１８　指紋特徴データ抽出手段
１９　特徴点データ照合手段
２０　芯線データ照合手段
２１　データ処理制御手段
２３　対応関係修正手段
２４　芯線データ修正手段
２５　画像歪み修正手段
２６　鑑定図編集表示手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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