(57)【要約】【課題】単独膜として取り出すことが困難なほど脆い試料であっても、脆性評価を高精度で行うことが可能な評価方法及び装置を提供する。【解決手段】支持体１１に電子写真用受像材料の塗工物１２を積層した試料膜１に、アコースティックエミッション（ＡＥ）センサ３を取り付け、圧縮型抗折治具によって、試料膜１に変形を加え、試料膜１が変形されることにより塗工物１２が発するアコースティックエミッションを、ＡＥセンサ３によって検出し、アコースティックエミッションの検出結果に基づいて塗工物の脆性を評価する。【選択図】　　　図１
2004101407.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
支持体に塗工物を積層して試料膜とし、この試料膜に変形を加える変形工程と、
この試料膜が変形されることにより塗工物が発するアコースティックエミッションを検出する検出工程と、
上記アコースティックエミッションの検出結果に基づいて、上記塗工物の脆性を評価する評価工程と、
を含むことを特徴とする塗工物の脆性評価方法。
【請求項２】
上記変形工程は、上記試料膜を互いに離間した位置でそれぞれ支持する二つの下部エッジと、上記下部エッジ間の中央で上記試料膜を押し込む上部エッジとを有する、圧縮型抗折治具を使用する、ことを特徴とする請求項１記載の塗工物の脆性評価方法。
【請求項３】
上記上部エッジは、試料膜を一定速度で押し込むように構成されている、ことを特徴とする請求項２記載の塗工物の脆性評価方法。
【請求項４】
上記検出工程は、上記試料膜に取り付けられたアコースティックエミッション検出手段を使用する、ことを特徴とする請求項１、２又は３記載の塗工物の脆性評価方法。
【請求項５】
前記評価工程は、上記下部エッジ間隔を５０ｍｍとして、上記試料膜を上記上部エッジで押し込んだ場合において、上記アコースティックエミッションを最初に検出したときの上記上部エッジの押し込み量が、２ｍｍ以上であるか否かを基準として、上記塗工物の脆性を評価する、
ことを特徴とする請求項１乃至４の何れか一項に記載の塗工物の脆性評価方法。
【請求項６】
支持体に塗工物を積層した試料膜に変形を加える変形手段と、
上記試料膜に取り付けられ、上記試料膜が変形されることにより塗工物が発するアコースティックエミッションを検出するアコースティックエミッション検出手段と、
上記アコースティックエミッションの検出結果に基づいて上記塗工物の脆性を評価する評価手段と、
を有することを特徴とする塗工物の脆性評価装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、塗工物の脆性評価方法及び装置に関し、特に、アコースティックエミッションの検出結果を利用する塗工物の脆性評価方法、及びその実施に使用する塗工物の脆性評価装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、種々の膜の強度や脆性の評価方法として、様々な方法が用いられている。このような評価方法としては、例えば、金属や熱硬化性プラスチック試験方法に用いられるＪＩＳ　Ｋ−６９１１の破壊靱性試験方法が挙げられる。この試験方法のうち、シャルビー衝撃試験法、アイソゾット衝撃試験法及び３点曲げ試験法においては、厚さ２ｍｍ以上の試料を作成し、予め亀裂を入れておく必要がある。
【０００３】
また、例えば、ＪＩＳ　Ｋ−５４００の脆性評価方法も挙げられる。この方法により、耐屈曲性、エリクソン値、耐衝撃性を評価することができる。この方法においては、１０ｍｍずつ直径が異なる直径１０〜５０ｍｍのコアに、それぞれ試料膜を順次に巻き付け、試料膜に亀裂が入った直径を目視観察により決定する。
【０００４】
さらに、スガ試験機製の折曲げ試験機においては、曲率の連続的に変化する曲面に試料膜を添わせることによって、試料膜に亀裂が入った曲率を目視観察により決定する（例えば、非特許文献１参照。）。
【０００５】
【非特許文献１】
田中丈之著「コーティング膜の物性と評価方法」株式会社理工出版、１９９３年、ｐ．２４２
【０００６】
【発明の解決しようとする課題】
しかしながら、上記のＪＩＳ　Ｋ−６９１１による試験方法においては、力を加えて、曲げ強さや曲げ弾性率を測定する場合、試料が薄く脆いと、試料が破壊した時点での力の変化を十分な感度で検出することが困難である。そのうえ、例えば厚さが０．１ｍｍ以下の薄い脆い試料の場合には、試料に亀裂を入れるだけで試料が割れてしまう。このため、この試験方法では、電子写真用受像材料の塗工物のような、単独膜を取り出すことが困難な脆い試料や、薄い試料の脆性を測定することは困難である。
【０００７】
また、上記のＪＩＳ　Ｋ−５４００による評価方法においては、目視観察によるため、亀裂や剥離の発生する瞬間を正確に決定することが困難である。このため、この方法では、高い定量精度を得ることは困難である。
【０００８】
そこで、本発明は、単独膜として取り出すことが困難なほど脆い試料であっても、脆性評価を高精度で行うことが可能な評価方法を提供することを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明の塗工物の脆性評価方法は、支持体に塗工物を積層して試料膜とし、この試料膜に変形を加える変形工程と、この試料膜が変形をされることにより塗工物が発するアコースティックエミッションを検出する検出工程と、アコースティックエミッションの検出結果に基づいて塗工物の脆性を評価する評価工程と、を含むことを特徴とする。
【００１０】
このように構成された本発明の塗工物の脆性評価方法によれば、塗工物に予め亀裂を入れておく必要がなく、また、塗工物を支持体に積層した状態で、試料膜に変形を加えるので、単独膜として取り出すことが困難なほど脆い試料であっても脆性評価を行うことができる。さらに、本発明によれば、アコースティックエミッション検出手段によって、アコースティックエミッション、即ち、変形により塗工物が発する弾性波を検出するので、目視観察による場合に比べて、脆性評価を高精度で行うことができる。
【００１１】
このように、本発明によれば、積層状態の塗工物を変形する工程と、アコースティックエミッションを検出する工程とを組み合わせることによって、単独膜として取り出すことが困難なほど脆い試料であっても、脆性評価を高精度で行うことができる。
【００１２】
また、本発明において、好ましくは、変形工程は、試料膜を互いに離間した位置でそれぞれ支持する二つの下部エッジと、下部エッジ間の中央で試料膜を押し込む上部エッジとを有する圧縮型抗折治具を使用する。このように、変形手段として圧縮型抗折治具を使用すれば、試料膜に所望の変形を容易に加えることができる。
【００１３】
また、本発明において、好ましくは、上部エッジは、試料膜を一定速度で押し込むように構成されている。これにより、上部エッジの押し込み量を、時間で容易に表すことができる。その結果、試料膜に加えられた変形量を、時間と対応づけて容易に定量化することができる。
【００１４】
また、本発明において、好ましくは、上記検出工程は、試料膜に取り付けられたアコースティックエミッション検出手段を使用する。これにより、試料膜が変形されることにより塗工物が発するアコースティックエミッションを容易に検出することができる。
【００１５】
また、本発明において、好ましくは、下部エッジ間隔を５０ｍｍとして、試料膜を上部エッジで押し込んだ場合において、アコースティックエミッションを最初に検出したときの上部エッジの押し込み量が、２ｍｍ以上であるか否かを基準として、塗工物の脆性を評価する。
これにより、この評価基準を満たす塗工物を選択するようにすれば、曲げ試験等を行わなくとも、信頼性の高い高品質の試料膜を提供することが可能となる。
【００１６】
また、本発明の塗工物の脆性評価装置によれば、支持体に塗工物を積層した試料膜に変形を加える変形手段と、試料膜に取り付けられ、その試料膜が変形されることにより塗工物が発するアコースティックエミッションを検出するアコースティックエミッション検出手段と、アコースティックエミッションの検出結果に基づいて塗工物の脆性を評価する評価手段とを有する。
【００１７】
このように、本発明の塗工物の脆性評価装置を用いれば、積層状態の塗工物を変形する変形手段と、アコースティックエミッション検出手段とを組み合わせることによって、単独膜として取り出すことが困難なほど脆い試料であっても、脆性評価を高精度で行うことができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
まず、図１を参照して、本発明の実施形態について概説する。図１は、本実施形態における塗工物の脆性評価装置の概略図である。
【００１９】
まず、本実施形態では、この材料等を、支持体１１に塗工物１２として積層したものを試料膜１とする。これにより、電子写真用受像材料等の、単独膜としては取り出すことが困難な薄膜の脆性評価を高精度で行うことができる。
【００２０】
支持体１１としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）フィルムや、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を用いるのがよい。なお、支持体１１は、評価対象の塗工物１２よりも高強度であることが望ましい。
また、塗工物１２としては、電子写真用受像材料の他、種々の任意好適な材料を評価対象にすることができる。
そして、支持体１１上に塗工物１２を積層するにあたっては、塗工物の種類や評価の目的に応じて、ワイヤーコータによる塗布等の任意好適な方法で、適当な厚さに積層するのがよい。
【００２１】
次に、試料膜１に、アコースティックエミッション検出手段３を取り付ける。このアコースティックエミッション検出手段３としては、市販の所謂ＡＥセンサ等の任意好適な機器を使用することができる。本実施形態では、アコースティックエミッション検出手段３として、ＡＥセンサ３を、試料膜１の支持体１１側に接触させて取り付ける。
【００２２】
なお、ＡＥセンサ３は、試料膜１の塗工物１２側に接触させて取り付けてもよく、また、試料膜１の任意好適な位置に取り付けることができるが、ＡＥセンサ３の感度が高くなる位置が好ましい。また、ＡＥセンサ３は、支持体１１に、グリセリン等のカプラントを介して接触させるのがよい。
【００２３】
次いで、変形手段によって、試料膜１に変形を加える。変形手段としては、好ましくは、圧縮型抗折治具を使用するのがよい。図１では、圧縮型抗折治具を、二つの下部エッジ２１と上部エッジ２２として、模式的に示している。
図１では、下部エッジ２１及び上部エッジ２２を楔形の形状で示しているが、これらエッジの形状、特に、エッジの先端形状は、評価目的や評価対象に応じて、任意好適なものとすることができる。
【００２４】
なお、下部エッジ２１どうしの間隔は、ＡＥセンサ３の検出感度や、評価目的に応じて、任意好適な距離とするのがよい。また、図１では、試料膜１の塗工物１２側が湾曲の外側となるようにして、試料膜１を変形させた例を示しているが、試料膜１の支持体１１側が湾曲の外側となるようにして、試料膜１を変形させてもよい。
【００２５】
そして、試料膜を変形することにより塗工物が発するアコースティックエミッションを、ＡＥセンサ３によって検出する。
アコースティックエミッションの検出にあたっては、好ましくは、試料膜１内や試料膜１の表面を伝搬してくる振動波形を、ＡＥセンサ３によって電気信号に変換した後、そのままでは微弱な電気信号を、プリアンプ（図示せず）によって増幅する。次いで、増幅された電気信号に含まれる、ＡＥ波形以外のノイズを、バンドパスフィルタ（図示せず）によって除去する。そして、ノイズ除去後の電気信号のうち、設定した閾値以上の信号を、ディスクリミネータ（図示せず）によって選択することにより、アコースティックエミッションを検出するようにするのがよい。
なお、増幅の程度、バンドパスフィルタのレンジ、及び、ディスクリミネータの閾値レベル等は、評価の目的や、評価対象に応じて、任意好適なものを採用するとよい。
【００２６】
このようにして検出された結果に基づいて塗工物の脆性を評価する。
脆性の評価にあたっては、例えば、アコースティックエミッションを検出したときの圧縮応力、圧縮歪み、応力−歪み曲線、圧力による破壊エネルギー、曲率半径、又は、これらの数値から更に求められる種々の数値により定量化することが可能である。そして、塗工物の種類や、脆性評価の目的に応じて、任意好適な方法で塗工物の脆性を評価することが望ましい。
【００２７】
また、評価手段としては、アコースティックエミッション検出結果に基づいて、人間が判断してもよいが、コンピュータを使用してもよい。コンピュータを使用する場合には、例えば、アコースティックエミッションを検出したときの圧縮応力等や、それらの数値から更に種々の数値を算出するプログラムを設定しておくのがよい。さらに、コンピュータに予め基準値を定めておいて、アコースティックエミッション検出結果や、算出した数値に基づいて、試料膜の信頼性等を評価させてもよい。
【００２８】
【実施例】
以下、本発明について、図２を参照して、実施例により更に詳細に説明するが、図２は、実施例における塗工物の脆性評価装置を説明図である。なお、これらの実施例は、本発明の範囲を何ら限定するものではない。
【００２９】
以下に説明する各実施例では、試料膜１の寸法を、幅２５ｍｍ、長さ１５０ｍｍとして、評価を行った。また、試料膜１の塗工物１２は、支持体１１にワイヤーコータによって塗布し、乾燥させることにより、乾燥後の塗布重量が１５ｇ／ｍ２の均一膜厚の薄膜になるように積層した。
【００３０】
また、変形手段として、図２に示すように、ＪＩＳ　Ｋ−６９１１適用規格の、オリエンテック社製のテンシロン用圧縮型抗折治具を使用した。また、この圧縮型抗折治具の下部エッジ２１ａ間の幅Ｗを５０ｍｍとした。そして、試料膜１を、塗工物１２側を下向き、即ち、下部エッジ２１ａ側にして、この治具に固定した。
また、試料膜１の片端の支持体１１側に、ＡＥセンサ３を、グリセンペースト等のカプラントを介して接触させて、マイラーテープ（図示せず）によって固定した。
【００３１】
次いで、試料膜１の中央部に、上部エッジ２２ａを１ｍｍ／分の速度で、最大３ｍｍまで徐々に押し込ませながら、塗工物１２の発するアコースティックエミッションを２００秒間に亘って検出した。ＡＥセンサ３が検出した信号を解析するＡＥ解析装置には、エヌネフ回路設計ブロック社製のブロック製９５０２　Ｕ−ＰＬＯＴを使用した。そして、ディスクリレベルを５２ｄＢとして、ＡＥ信号を選択した。さらに、このようにして処理された信号を、ＧＰ−ＩＢを介して、ヒューレットパッカード社製の７５５０Ａグラフィックプロッタへ直接出力した。
【００３２】
（実施例１）
実施例１では、支持体１１として、厚さ１００μｍのポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して、塗工物１２を積層した。
水分散ポリエステル樹脂（ＫＺＡ−１４４９、ユニチカ製）　１００ｇ
水　３０ｇ
【００３３】
ここで、図３のグラフに、実施例１におけるアコースティックエミッションの検出結果を示す。図３のグラフの横軸は時間（秒）を表し、縦軸はＡＥセンサ３によって検出されたアコースティックエミッションのカウント値（カウント数）を示す。
なお、上部エッジ２２ａは、一定速度で試料膜１に押し込まれるので、グラフの横軸に示す時間は、上部エッジ２２ａの押し込み量、即ち、試料膜１の歪み量に対応する。また、ここでは、上部エッジ２２ａの押し込み量が０ｍｍのとき、即ち、上部エッジ２２ａが試料膜１に接し、かつ、試料膜１に応力を印加していない状態を、時間の始点とする。
【００３４】
そして、最初にアコースティックエミッションがカウントされたときの時間に対応する試料の歪み量を用いれば、試料膜１の脆性を定量的に評価することができる。例えば、図３のグラフでは、５０秒台に、最初のカウントの棒が現れているので、この時間を基準にして、塗工物の脆性を評価してもよい。
また、場合によっては、カウント数が一定値を最初に越えたときの時間を用いて、評価することもできる。例えば、図３のグラフでは、９０秒台に、「３０」を越えるカウント値が初めて現れているので、この時間を基準にして、塗工物の脆性を評価するようにしてもよい。
【００３５】
（実施例２）
次に、実施例２では、支持体１１として、厚さ１００μｍの、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂（タフトンＵ−５、花王製）　４００ｇ
メチルエチルケトン　８００ｇ
【００３６】
ここで、図４のグラフに、実施例２におけるアコースティックエミッションの検出結果を示す。図４のグラフの横軸は時間（秒）を表し、縦軸は検出されたアコースティックエミッションのカウント数を示す。
【００３７】
そして、例えば、図４のグラフでは、１１０秒台に、最初のカウントが現れているので、この時間を基準にして、塗工物の脆性を評価してもよい。また、例えば、１６０秒台に、「２」に達するカウント値が初めて現れているので、この時間を基準にして、塗工物の脆性を評価するようにしてもよい。
【００３８】
（実施例３）
実施例３では、支持体１１として、厚さ１００μｍの、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂　４００ｇ
メチルエチルケトン　８００ｇ
ただし、本実施例で使用したポリエステル樹脂は、テレフタル酸とエチレンオキサイド変性ビスフェノールＡの重合物であり、数平均分子量５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝６５℃の特性を有する。
【００３９】
ここで、図５のグラフに、実施例２におけるアコースティックエミッションの検出結果を示す。図４のグラフの横軸は時間（秒）を表し、縦軸は検出されたアコースティックエミッションのカウント数を示す。図５のグラフでは、８０秒台に、最初のカウントが現れているので、この時間を基準にして、塗工物の脆性を評価してもよい。
【００４０】
さらに、下記の実施例４〜９について、上記の実施例１〜３と同条件で、脆性を評価するとともに、曲げテスト及び自然で２週間放置後のひび割れの発生の有無によって、脆性を評価した。なお、曲げテストにおいては、直径５０ｍｍのコア（図示せず）に試料膜を巻き付けて即座にほぐした後、ひび割れの有無を目視により評価した。評価結果を下記の表１に示す。
【００４１】
（実施例４）
実施例４では、支持体１１として、厚さ１００μｍの、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂（タフトンＵ−５、花王製）　４００ｇ
二酸化チタン　６０ｇ
ＴＰＰ（タイペーク（登録商標）　Ａ−２２０、石原産業製）　３４．８ｇ
メチルエチルケトン（第八化学製）　８００ｇ
なお、ＴＰＰは、可塑剤として使用されるトリフェニルフォスフェートである。
【００４２】
（実施例５）
実施例５では、支持体１１として、厚さ１００μｍの、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂（バイロン２００、東洋紡）　４００ｇ
二酸化チタン（タイペーク（登録商標）　Ａ−２２０、石原産業）　６０ｇ
メチルエチルケトン　８００ｇ
【００４３】
（実施例６）
実施例６では、支持体１１として、厚さ１００μｍの、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂（ＫＺＡ−１４４９、ユニチカ製）　４００ｇ
二酸化チタン（タイペーク（登録商標）　Ａ−２２０、石原産業）　６０ｇ
メチルエチルケトン　８００ｇ
【００４４】
（実施例７）
実施例７では、支持体１１として、厚さ１００μｍの、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂（タフトンＵ−５、花王製）　４００ｇ
二酸化チタン（タイペーク（登録商標）　Ａ−２２０、石原産業）　６０ｇ
メチルエチルケトン　８００ｇ
【００４５】
（実施例８）
実施例８では、支持体１１として、厚さ１００μｍの、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂　４００ｇ
二酸化チタン（タイペーク（登録商標）　Ａ−２２０、石原産業）　６０ｇ
メチルエチルケトン　８００ｇ
ただし、本実施例で使用したポリエステル樹脂は、テレフタル酸とエチレンオキサイド変性ビスフェノールＡの重合物であり、数平均分子量５０００、ガラス転移温度Ｔｇ＝６５℃の特性を有する。
【００４６】
（実施例９）
実施例６では、支持体１１として、ポリオレフィン樹脂をラミネートした紙を使用した。そして、下記組成の組成物を支持体１１に塗布して塗工物１２を積層した。
ポリエステル樹脂（タフトンＵ−５、花王製）　４００ｇ
二酸化チタン（タイペーク（登録商標）　Ａ−２２０、石原産業）　６０ｇ
ＴＰＰ（第八化学製）　２３．３ｇ
メチルエチルケトン　８００ｇ
【００４７】
下記の表１に、上記実施例１〜９のうち実施例４〜８について、アコースティックエミッションの検出結果と、曲げ等によるひび割れの発生の有無とを対応させた評価結果を示す。
なお、表１に示すＡＥ信号検知歪みの値は、最初にアコースティックエミッションの検出されたときの、上部エッジ２２ａの押し込み量を表す。また、実施例５におけるＡＥ信号検知歪みの値が「３．０以上」とあるのは、上部エッジ２２ａを作動限界の３．０ｍｍまで試料膜１に押し込んでも、アコースティックエミッションが検出されなかったことを表す。
【００４８】
また、実施例４〜６及び実施例９について、破断のび（％）の試験結果を合わせて示す。なお、実施例７及び８については、塗工物が脆すぎるため、測定試料用の単独膜を取り出すことができなかった。
また、表１では、自然放置によるひび割れ及び曲げによるひび割れの発生の有無による評価結果を、ひび割れが生じた場合に「×」印で示し、ひび割れが生じなかった場合に「○」印で示す。
【００４９】
【表１】
2004101407.tif 000003
【００５０】
上記の表１に示すように、ＡＥ信号検知歪みの値が、少なくとも２．０５ｍｍ以上の場合には、自然放置や曲げによるひび割れが発生していないことが分かった。
したがって、少なくとも、厚さ１００μｍの支持体１１と、この支持体１１上に、乾燥後の塗布重量が１５ｇ／ｍ２となるように塗布された電子写真用受像材料を含む塗工物とにより構成された試料膜１について、ＡＥ信号検知歪みの値が２ｍｍ以上か否かを脆性の評価基準とし、この評価基準を超える試料膜１を選択すれば、ひび割れの発生のおそれの低い製品を得ることができる。すなわち、この評価基準を満たす電子写真用受像材料を選択するようにすれば、曲げ試験等を行わなくとも、信頼性の高い高品質の電子写真用受像シートを提供することが可能となる。
【００５１】
また、上記の表１から、ひび割れが発生しない場合には、破断のびの値も比較的高いことが分かる。即ち、ＡＥ信号検知歪みの値が２．０５ｍｍの以上場合には、ひび割れが発生せず、破断のびも０．２７％以上となっている。したがって、ＡＥ信号検知歪みの値とともに、破断のびが、０．２７％以上か否かを評価基準として、電子写真用受像材料を選択すれば、更に信頼性の高い製品を提供することが可能となる。
【００５２】
上述した実施形態及び実施例においては、本発明を特定の条件で構成した例について説明したが、本発明は種々の変更及び組み合わせを行うことができ、これに限定されるものではない。
【００５３】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、単独膜として取り出すことが困難なほど脆い試料であっても、高精度で脆性評価をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態における塗工物の脆性評価装置の説明図である。
【図２】本発明の実施例における塗工物の脆性評価装置の説明図である。
【図３】実施例１において、試料膜に変形を加えたときの、アコースティックエミッションの検出結果を示すグラフである。
【図４】実施例２において、試料膜に変形を加えたときの、アコースティックエミッションの検出結果を示すグラフである。
【図５】実施例３において、試料膜に変形を加えたときの、アコースティックエミッションの検出結果を示すグラフである。
【符号の説明】
１　試料膜
２　圧縮型抗折治具
３　ＡＥセンサ
１１　支持体
１２　塗工物
２１、２１ａ　下部エッジ
２２、２２ａ　上部エッジ
【図１】
2004101407.tif 000004
【図２】
2004101407.tif 000005
【図３】
2004101407.tif 000006
【図４】
2004101407.tif 000007
【図５】
2004101407.tif 000008