(57)【要約】【課題】マイクロカプセルの壁の厚みを簡便に算出できる装置を提供する。【解決手段】壁膜の屈折率がｎ１であるマイクロカプセルにおいて、少なくとも、（ｉ）屈折率ｎ１の媒体に分散したマイクロカプセルに関する光散乱強度データＩ１と、屈折率ｎ２の媒体に分散したマイクロカプセルに関する光散乱強度データＩ２とを検出するためのセンサ１と、（ｉｉ）光散乱強度特性と粒子径とを関連づける理論式を格納するための記憶回路３と、（ｉｉｉ）前記光散乱強度データＩ１、Ｉ２に基づいて前記理論式から前記壁膜の内径ｒ１及び外径ｒ２を算出するとともに壁膜の厚みを算出するための演算回路５とで厚み算出装置を構成する。このような装置では、媒体の屈折率を前記壁膜の屈折率と一致させるので、単純な理論式を用いて前記内径を算出でき、切削などにより破壊することなく、簡便にかつ確実に壁膜の厚みを算出できる。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
壁膜の屈折率がｎ１であるマイクロカプセルの壁膜の厚みを算出するための装置であって、（ｉ）屈折率ｎ１の媒体に分散したマイクロカプセルに関する光散乱強度データＩ１と、屈折率ｎ２の媒体に分散したマイクロカプセルに関する光散乱強度データＩ２とを検出するための検出手段と、（ｉｉ）光散乱強度特性と粒子径とを関連づける理論式を格納するための記憶手段と、（ｉｉｉ）前記光散乱強度データＩ１、Ｉ２に基づいて前記理論式から前記壁膜の内径ｒ１及び外径ｒ２を算出するとともに壁膜の厚み（ｒ２−ｒ１）を算出するための演算手段とを備えている厚み算出装置。
【請求項２】
光散乱強度特性が、散乱角強度特性である請求項１記載の装置。
【請求項３】
多分散性のマイクロカプセルの光散乱強度データＩ１、Ｉ２に基づいて、内径分布Ｐ（ｒ１）及び外径分布Ｐ（ｒ２）を算出するとともに、壁膜の厚み分布Ｐ（ｒ２−ｒ１）を算出する請求項１記載の装置。
【請求項４】
壁膜の屈折率がｎ１であるマイクロカプセルの壁膜の厚みを算出する方法であって、（ｉ）屈折率ｎ１の媒体に分散したマイクロカプセルの光散乱特性を測定し、得られた光散乱強度データＩ１に基づいて前記壁膜の内径ｒ１を算出し、（ｉｉ）屈折率ｎ２の媒体に分散したマイクロカプセルの光散乱特性を測定し、得られた光散乱強度データＩ２に基づいて前記壁膜の外径ｒ２を算出して厚み（ｒ２−ｒ１）を算出する方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マイクロカプセルの壁膜の厚みを光散乱法によって非破壊で簡便に測定する装置および方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
マイクロカプセル壁の厚みを測定する方法としては、マイクロカプセルをエポキシ樹脂や糊などで包埋及び固化した後に破断して、この固化物の破断面を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で観察して目測する方法や、マイクロカプセルをミクロトームで切削して超薄切片を作成し、この超薄切片の断面を透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）や光学顕微鏡（ＯＭ）で目測する方法が知られている。
【０００３】
しかし、これらの方法では、（ｉ）マイクロカプセルのサイズが微小であるため、包埋されたマイクロカプセルを確実に破断することが困難である、（ｉｉ）切削において、カプセル壁が硬い場合には破砕し、柔らかい場合には変形したりする、（ｉｉｉ）マイクロカプセルは通常水相中や油相中で形成されるため、破断もしくは切削するためにはマイクロカプセルを乾燥させる必要があるものの、乾燥によってカプセル壁が変形する、（ｉｖ）破断できたとしても、内部に液体を内包するカプセルでは、ＳＥＭやＴＥＭ観察において前記液体が揮発して電子銃に悪影響を与える可能性がある、（ｖ）顕微鏡によって観察される厚みは、局所的な視野に過ぎず、広範囲からの統計的な情報を得るのが困難であるなどの問題がある。従って、前記方法では、破断や切削という精密かつ煩雑な操作が必要であるばかりか、実状に即した信頼性の高いデータを得るのが困難である。しかも、多分散性のマイクロカプセルの厚みを統計的に測定することは極めて困難である。
【０００４】
一方、光散乱法により、マイクロカプセルの構造を解析することが知られている。光散乱法では、破壊することなくマイクロカプセルを解析できる。しかし、通常の光散乱法では、マイクロカプセルの外径を求めることができても、カプセル壁の厚みを求めることができない。
【０００５】
土橋らは、単一のマイクロカプセルに光を照射して、得られた散乱強度の散乱角度依存性に対してＭｉｅ散乱理論を用いてフィッティング解析を行い、カプセル壁の厚みを導出している（Ｄｏｂａｓｈｉ  ｅｔ  ａｌ．，  Ｌａｎｇｍｕｉｒ  Ｖｏｌ．１４，  ｐｐ  ７４５−７４９  （１９９８））。しかし、この方法では、内径及び外径を変数とした複雑な理論式（散乱関数）を利用するため、煩雑な作業を要するとともに、カプセル壁膜の厚みなどによっては、フィッティング解析が困難になる場合がある。また、この方法では、粒径分布を有する多数のマイクロカプセルの壁膜の厚みを導出することは、可能であるとしても極めて煩雑であり、実状に即した厚みの算出が困難である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の目的は、破壊することなく、マイクロカプセル壁膜の厚みを簡便にかつ確実に算出できる装置及び方法を提供することにある。
【０００７】
本発明の他の目的は、多分散性のマイクロカプセルであっても、マイクロカプセル壁膜の厚みを精度よく算出できる装置及び方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、前記課題を達成するため鋭意検討した結果、媒体中でのマイクロカプセルの光散乱強度測定において、媒体の屈折率とマイクロカプセル壁膜の屈折率とを一致させることにより、擬似的に、マイクロカプセルの内径を外径として測定できることを見いだし、本発明を完成した。
【０００９】
すなわち、本発明の装置は、壁膜の屈折率がｎ１であるマイクロカプセルの壁膜の厚みを算出するための装置であって、（ｉ）屈折率ｎ１の媒体に分散したマイクロカプセルに関する光散乱強度データＩ１と、屈折率ｎ２の媒体に分散したマイクロカプセルに関する光散乱強度データＩ２とを検出するための検出手段と、（ｉｉ）光散乱強度特性と粒子径とを関連づける理論式を格納するための記憶手段と、（ｉｉｉ）前記光散乱強度データＩ１、Ｉ２に基づいて前記理論式から前記壁膜の内径ｒ１及び外径ｒ２を算出するとともに壁膜の厚み（ｒ２−ｒ１）を算出するための演算手段とを備えている。前記光散乱強度特性は、散乱角強度特性として測定してもよい。また、前記装置では、多分散性のマイクロカプセルの光散乱強度データＩ１、Ｉ２に基づいて、内径分布Ｐ（ｒ１）及び外径分布Ｐ（ｒ２）を算出するとともに、壁膜の厚み分布Ｐ（ｒ２−ｒ１）を算出してもよい。
【００１０】
本発明は、壁膜の屈折率がｎ１であるマイクロカプセルの壁膜の厚みを算出する方法であって、（ｉ）屈折率ｎ１の媒体に分散したマイクロカプセルの光散乱特性を測定し、得られた光散乱強度データＩ１に基づいて前記壁膜の内径ｒ１を算出し、（ｉｉ）屈折率ｎ２の媒体に分散したマイクロカプセルの光散乱特性を測定し、得られた光散乱強度データＩ２に基づいて前記壁膜の外径ｒ２を算出して厚み（ｒ２−ｒ１）を算出する方法も含む。
【００１１】
このような装置及び方法では、屈折率ｎ１の媒体中で光散乱強度特性を測定することにより、屈折率差を利用してマイクロカプセルの内径を外径として測定でき、屈折率ｎ２の媒体中で光散乱強度特性を測定することによりマイクロカプセルの外径を測定できる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下に、必要により添付図面を参照しつつ本発明を詳細に説明する。図１は本発明の厚み装置の一例を示す全体の構成図である。
【００１３】
図１に示す厚み測定装置は、媒体中でマイクロカプセルの光散乱強度データを検出するためのセンサ１と、このセンサ１からの光散乱強度データに応答して、マイクロカプセルの内径、外径及び壁膜の厚みを算出するための一連の処理を行う中央処理ユニット２と、算出されたマイクロカプセルの壁膜の厚みを出力するためのプリンタ６とを備えている。
【００１４】
前記中央処理ユニット２は、少なくとも光散乱強度特性と粒子径とを関連づけた理論式（又は計算式）を格納するための記憶回路（メモリ）３と、前記センサ１により検出された光散乱強度データに基づいて前記理論式から前記内径及び外径を算出するとともに、前記壁膜の厚みを算出するための演算回路５とを備えている。また、前記中央処理ユニット２は、所定のプログラムに従って、少なくとも記憶回路３と演算回路５との間のデータの授受を制御するための制御回路４を備えている。
【００１５】
センサ１から、壁膜の屈折率がｎ１のマイクロカプセルを媒体に分散させて測定した光散乱強度データＩ１が中央処理ユニット２に与えられる。
【００１６】
マイクロカプセルの内径に関する光散乱強度データ（又は光散乱強度特性又は散乱プロフィール、以下、単に光散乱強度という場合がある）Ｉ１は、壁膜と同一の屈折率ｎ１を有する媒体１に分散したマイクロカプセルの光散乱強度を測定することにより得ることができる。すなわち、媒体１の屈折率を壁膜の屈折率と一致させると、光散乱強度の測定において、マイクロカプセルの内径を、擬似的に外径とみなすことができ、後述するように、複雑な理論式を使用することなく、内径を算出できる。
【００１７】
また、前記壁膜と異なる屈折率ｎ２（ｎ２≠ｎ１）を有する媒体２に分散して、マイクロカプセルの光散乱強度を測定すると、屈折率差を利用してマイクロカプセルの外径に関する光散乱強度データＩ２を得ることができる。このデータＩ２も中央処理ユニット２に与えられる。
【００１８】
なお、測定順序は、特に限定されず、媒体１中での測定を先に行ってもよく、媒体２中での測定を先に行ってもよい。
【００１９】
前記中央処理ユニット２に対する光散乱強度データ（Ｉ１、Ｉ２）の入力は、手動で行ってもよく、自動的に行ってもよい。また、センサ１による光散乱強度データは、必要に応じてＡ／ＤコンバータでＡ／Ｄ変換して中央処理ユニット２に与えることもできる。
【００２０】
前記センサ１により検出された光散乱強度データ（内径又は外径に関する光散乱強度データ）Ｉ１、Ｉ２は、それぞれ、前記中央処理ユニット２の前記記憶回路３の所定のアドレスに格納される。そして、前記制御回路４により記憶回路３と演算回路５との間でデータの授受が行われ、前記演算回路５は、それぞれの光散乱強度データに基づいて、前記理論式から内径ｒ１及び外径ｒ２を算出し、算出された内径ｒ１、外径ｒ２に関するデータは記憶回路３の所定のアドレスに格納される。すなわち、前記センサ１により検出された光散乱強度データＩ１（光散乱強度Ｉ２）に対して、記憶回路３に格納された理論式を適用することにより、内径ｒ１（外径ｒ２）が演算回路５により算出される。
【００２１】
記憶回路３に格納する理論式（理論散乱強度式）は、光散乱強度データに対応する光散乱強度特性（特に散乱角強度特性）と粒子径とを関連づけることが可能であれば、特に限定されず、例えば、球状粒子に関する慣用の理論式を使用できる。以下に、球状粒子に関する理論式（以下の式（１）〜（４）のいずれか）と光散乱強度データＩ１（又はＩ２）とをフィッティングさせて内径（又は外径）を算出する手順を示す。
【００２２】
散乱強度（球状粒子に関する散乱強度）Ｉは、理論散乱関数Ｓと等価であり、下記の理論式（１）で表すことができる。
【００２３】
【数１】
2004294294.tif 000003
【００２４】
（式中、Ｃはシフトファクター、ｒは半径、λは波長、θは散乱角を示す）
すなわち、上記式（１）において、理論散乱強度Ｉと、実測散乱強度としての前記光散乱強度データＩ１（又はＩ２）とを関連づけてフィッティング解析することにより内径ｒ１（及び外径ｒ２）を求めることができる。
【００２５】
また、散乱の粒子間干渉効果を考慮した理論式を使用してもよい。散乱強度データには、通常、粒子間の干渉の影響が反映されているため、前記粒子間干渉効果を考慮することにより、より正確に内径（及び外径）を算出できる。粒子間干渉効果を考慮する場合には、デバイの剛体球理論により、前記式（１）の散乱関数Ｓを散乱関数Ｓｄで置換した式（下記式（２））を使用できる。
【００２６】
【数２】
2004294294.tif 000004
【００２７】
（式中、νは粒子の体積分率を示し、Ｉ、Ｓ、ｒ、ｑ、Ｃは前記に同じ）
また、粒径分布を考慮した理論式を使用してもよい。通常、マイクロカプセルの内径（及び外径）は、分布を有している場合が多いため、粒径分布の影響を加味することにより一層正確に内径（及び外径）を算出できる。散乱の粒子間干渉効果は考慮せず、粒径分布を考慮した理論式を下記式（３）に示す。
【００２８】
【数３】
2004294294.tif 000005
【００２９】
（式中、Ｐ（ｒ）は粒径分布関数を示し、Ｉ、Ｓ、ｒ、ｑ、Ｃは前記に同じ）
上記式（３）において、分布関数Ｐ（ｒ）としては、規格化された関数、例えば、規格化されたガウス関数などが挙げられる。
【００３０】
前記理論式では、マイクロカプセルの実体に即して内径（及び外径）を算出するため、少なくとも粒径分布を考慮するのが好ましく、特に、粒子間干渉効果および粒径分布を考慮するのが好ましい。すなわち、下記式（４）で表される粒子間干渉効果及び粒径分布を考慮した理論式を用いてフィッティングさせるのが特に好ましい。
【００３１】
【数４】
2004294294.tif 000006
【００３２】
（式中、Ｉ、Ｓｄ、Ｐ、ｒ、ｑ、Ｃは前記に同じ）
このようなフィッティング解析では、単純な理論式を用いて、内径の算出を簡素化できるため、信頼性の高いデータを確実に得ることができる。しかも、粒子間干渉効果や粒径分布を考慮しても、複雑化することなく理論式を構築でき、簡便にかつ確実に内径を算出できる。特に、粒径分布を考慮することにより、多分散性のマイクロカプセルであっても、実体に即して、内径又は内径分布（外径又は外径分布）を確実に算出できる。
【００３３】
また、マイクロカプセルの外径（又は平均外径）ｒ２の算出は、外径に関する光散乱強度データＩ２を、光散乱強度Ｉ１と同じ式（前記式（１）〜（４）のいずれかの式）に適用して同様の演算によりフィッティングさせて算出することができる。なお、屈折率ｎ１と異なる屈折率ｎ２の媒体中で測定するため、外径に対して前記式を適用しても、内包物質の種類や径（又は内径）にかかわらず、外径を算出できる。
【００３４】
演算回路５は、さらに、上記内径ｒ１及び外径ｒ２に関するデータから壁膜の厚み（又は平均厚み）を算出する。すなわち、算出された内径ｒ１及び外径ｒ２が記憶回路３の所定のアドレスに格納されると、前記制御手段４により記憶回路３と演算回路５との間でデータの授受が行われ、内径ｒ１及び外径ｒ２に基づいて演算回路５により壁膜の厚み（ｒ２−ｒ１）が算出される。
【００３５】
前記演算回路５により算出されたマイクロカプセルの壁膜の厚み（ｒ２−ｒ１）は、前記制御回路４からの駆動信号に応答して、プリンタ６にプリントアウトされる。
【００３６】
検出手段としての検出回路は、媒体中に分散したマイクロカプセルの光散乱強度又は散乱プロフィールを測定又は検出可能であれば、特に限定されず、慣用の測定装置を使用できる。なお、光散乱強度の測定において、照射する光の波長は、マイクロカプセルの外径（内径）に応じて適宜選択でき、広い範囲で選択するのが好ましく、例えば、１００〜３０００ｎｍ、好ましくは２００〜２０００ｎｍ、さらに好ましくは３００〜１５００ｎｍ程度であってもよい。
【００３７】
記憶手段では、前記記憶回路３のように、種々のデータを格納した単独の記憶回路で構成してもよく、複数の記憶回路（例えば、理論式及び厚みに関する計算式を格納する記憶回路と、内径や外径などの算出データを格納するための記憶回路）で構成してもよい。
【００３８】
また、記憶手段では、複数の理論式（例えば、前記式（３）及び（４））を格納してもよい。複数の理論式が格納されている場合には、マイクロカプセルの態様（例えば、マイクロカプセルが多分散性か否か）に応じて、使用する理論式を選択して利用してもよい。
【００３９】
演算手段において、光散乱強度データ（又は散乱プロフィール）に対するフィッティング解析では、マイクロカプセルの粒径分布を算出してもよい。例えば、マイクロカプセル（特に、多分散性のマイクロカプセル）の光散乱強度データ（Ｉ１、Ｉ２）に基づいて、内径（又は平均内径）、外径（又は平均外径）、厚み（又は平均厚み）を、それぞれ、内径分布Ｐ（ｒ１）、外径分布Ｐ（ｒ２）、厚み分布Ｐ（ｒ２−ｒ１）として算出してもよい。また、個々の算出データ（例えば、平均厚み）及び分布データ（例えば、厚み分布）の双方を算出して出力可能であってもよい。
【００４０】
出力手段は、壁膜の厚み（ｒ２−ｒ１）を出力できる限り、前記プリンターに限らず、表示手段（ディスプレイなど）などであってもよい。
【００４１】
なお、本発明は、マイクロカプセルの壁膜の厚み算出方法に利用できる。この方法において、壁膜の算出に使用する装置は、前記のように光散乱特性（光散乱強度データＩ１及びＩ２）を測定可能な限り、特に限定されないが、前記装置を好適に利用することができる。
【００４２】
本発明では、光散乱強度の測定において、マイクロカプセルの壁膜の屈折率と媒体の屈折率とを一致又はマッチングさせることにより、マイクロカプセルの内径に関する光散乱強度データを得ることができる。すなわち、前記マッチングにより、あたかも壁膜が無く、マイクロカプセルの内包物質が媒体中に分散しているような状態を作り出すことができ、このような状態で光散乱強度の測定を行うことにより、前記内径に関する光散乱強度データを得ることができる。そして、この光散乱強度データに対して、マイクロカプセルの径（内径又は外径）の関数としての理論式を適用することにより、前記内径、さらには、壁膜の屈折率と異なる屈折率の媒体中で測定された光散乱強度データから算出された外径から前記壁膜の厚みを確実に算出することができる。
【００４３】
マイクロカプセルは、光散乱強度の測定が可能であれば、特に限定されず、芯物質（又は内包物質）と、この芯物質を被覆する（又は保護する）壁膜とで構成できる。マイクロカプセルの形状（外観形状）は、光散乱強度が測定可能であればよく、通常、球体状である。
【００４４】
マイクロカプセルの壁膜としては、特に限定されず、芯物質の材質（親水性、疎水性など）に応じて選択でき、例えば、ポリマー［ポリビニルアルコール、ポリスチレン、アクリル系樹脂などのビニル重合系ポリマー；ポリアミド、ポリウレタンなどの縮合系ポリマーなど］、セルロース誘導体（エチルセルロースなど）、蛋白質（ゼラチンなど）などで構成することができる。
【００４５】
マイクロカプセルの内包物質（芯物質）の形態は、特に限定されず、気体、液体、固体であってもよく、多成分系（複数の異なる液体成分との混合物など）であってもよく、これらの形態を組み合わせた形態（液体と固体との分散系など）であってもよい。
【００４６】
内包物質（芯物質）の材質は、特に限定されず、例えば、液体（トルエンなどの炭化水素類、エタノール、グリセリンなどのアルコール類、水など）、可塑剤、着色剤（顔料、染料など）、触媒（酸化剤、還元剤、開始剤など）、香料、医薬品、生体物質、食品（フレーバーなど）、膨張剤、防錆剤などの慣用の芯物質が挙げられる。
【００４７】
内包物質の全体形状は、内径を特定できる形状であればよく、通常、球体状である。なお、内包物質の屈折率は、壁膜の厚みを算出可能な範囲で壁膜の屈折率と異なっていればよい。
【００４８】
マイクロカプセルの内径、外径は特に限定されない。外径は、例えば、０．１μｍ〜１ｍｍ、好ましくは１〜１００μｍ程度であってもよく、内径は、例えば、０．０５μｍ〜０．９９ｍｍ、好ましくは０．５〜９９μｍ程度であってもよい。
【００４９】
マイクロカプセル壁膜の厚みも限定されず、幅広い範囲の厚み（例えば、１０ｎｍ〜１００μｍ程度）に適用できる。特に、マイクロカプセルを破壊することなく、液体などの媒体中で光散乱強度を測定するので、比較的薄い壁膜［例えば、１００ｎｍ以下（例えば、１０〜１００ｎｍ）、好ましくは５０ｎｍ以下（例えば、１０〜５０ｎｍ）程度］であっても、精度よく壁膜の厚みを算出できる。
【００５０】
なお、マイクロカプセルは、前述のように、単分散性のマイクロカプセルであってもよく、多分散性のマイクロカプセルであってもよい。従って、内径又は外径は、平均値（例えば相加平均）として算出してもよく、分布（内径分布又は外径分布）として算出してもよい。このような場合、壁膜の厚みは、内径又は外径の算出方法に応じて、平均厚みや、厚み分布として算出できる。
【００５１】
媒体（媒体１及び２）は、マイクロカプセルを分散させるという観点から、液体（マイクロカプセルの壁膜に対して非溶解性の液体）を使用する場合が多い。媒体は、壁膜の材質（親水性、疎水性など）や屈折率に応じて、透明な液体、例えば、無機溶媒（水、二硫化炭素など）、有機溶媒［炭化水素類（ヘキサンなどの脂肪族炭化水素類、シクロヘキサンなどの脂環族炭化水素類、ベンゼン、トルエンなどの芳香族炭化水素類など）、アルコール類（メタノール、エタノール、エチレングリコールなど）、エーテル類（ジエチルエーテル、テトラヒドロフランなど）、ケトン類（アセトンなど）、エステル類（酢酸エチルなど）、ニトリル類（アセトニトリルなど）、ハロゲン含有溶媒（１−フルオロナフタレンなどのフッ素系溶媒、クロロホルムなどの塩素系溶媒、ブロモベンゼン、１−ブロモナフタレンなどの臭素系溶媒、１−ヨードナフタレン、ジヨードメタンなどのヨウ素系溶媒など）など］、オイル（シリコーンオイルなど）などを使用できる。
【００５２】
媒体としての液体は、単独の成分で構成してもよく、互いに混和性で、かつ透明性を維持できる限り、複数の成分で構成してもよい。特に、複数の液体を混合すると、壁膜と同一の屈折率を有する媒体１を簡便に調製できる。媒体の混合物（特に混合溶媒）の屈折率は、慣用の屈折計（アッベの屈折計など）を用いて測定すればよい。屈折率ｎの媒体は、例えば、屈折率ａの液体Ａと、屈折率ｂの媒体Ｂとを、次式を満たすように液体Ａの重量分率ｘを決定して混合することにより調製できる。  ｎ＝ａｘ  ＋ｂ（１−ｘ）
なお、媒体１の屈折率は、内径の散乱強度データに支障をきたさない範囲で、壁膜の屈折率と実質的に同一であればよい。また、媒体２の屈折率は、外径に関する散乱強度データに支障をきたさない範囲で壁膜の屈折率と異なっていればよく、屈折率ｎ１とｎ２との差は、内包物質と壁膜との屈折率差よりも大きな値、例えば、０．０１以上（例えば、０．０１〜０．５、好ましくは０．１〜０．５、さらに好ましくは０．２〜０．５程度）であってもよい。
【００５３】
本発明は、マイクロカプセル壁膜の厚みの算出に有効に利用できる。特に、粒径分布を有するマイクロカプセルや、薄い壁膜を有するマイクロカプセルの壁膜厚みの算出に有効である。
【００５４】
【発明の効果】
本発明では、分散させる媒体の屈折率をマイクロカプセルの壁膜の屈折率とマッチングさせて散乱強度を測定するので、破壊することなく、前記壁膜の厚みを簡便にかつ確実に算出できる。また、多分散性のマイクロカプセルであっても、マイクロカプセル壁膜の厚みを確実に算出できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の装置の一例を示す全体の構成図である。
【符号の説明】
１…センサ
２…中央処理ユニット
３…記憶回路
４…制御回路
５…演算回路
６…プリンタ
【図１】
2004294294.tif 000007