(57)【要約】【課題】階層多重ＴＳから計測階層ＴＳを抽出してビットエラーレートを計測することにより、特定階層のビットエラーレートの計測を正確に行うことができるようにする。【解決手段】計測階層ＴＳ（５３）と非計測階層ＴＳ（５４）とを階層多重し、階層多重ＴＳ（６６）として伝送路（７１）に送出し、復調後の階層多重ＴＳ（７３）のペイロードと既知の固定データとを比較して計測階層ＴＳ（８３）を識別して抽出し、この抽出した計測階層ＴＳ（８３）からビットエラーレートを計測するようにする。この場合、階層多重ＴＳ（７３）のＰＩＤとペイロードとにビットエラーが発生している状態であっても、階層多重ＴＳ（７３）から計測階層ＴＳ（８３）を抽出してビットエラーレートを計測することができる。【選択図】　　図１
2004056170.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
階層多重したＴＳから特定階層のビットエラーレートを計測するビットエラーレート測定方法であって、
計測階層ＴＳと非計測階層ＴＳとを階層多重し、階層多重ＴＳとして伝送路に送出する送信工程と、
前記階層多重ＴＳのペイロードと既知の固定データとを比較し前記計測階層ＴＳを識別して抽出し、この抽出した計測階層ＴＳからビットエラーレートを計測する受信工程とを有する
ことを特徴とするビットエラーレート測定方法。
【請求項２】
前記送信工程には、
前記計測階層ＴＳのペイロードに前記固定データを挿入する工程と、
前記非計測階層ＴＳのペイロードにダミーデータを挿入する工程と
が含まれ、
前記受信工程には、
前記階層多重ＴＳのペイロードと前記既知の固定データとを比較し前記計測階層ＴＳを識別して抽出する工程と、
前記抽出された計測階層ＴＳのペイロードと前記既知の固定データとをビット毎に比較することでビットエラーレートを計測する工程と
が含まれる
ことを特徴とする請求項１に記載のビットエラーレート測定方法。
【請求項３】
前記固定データは、ＰＲＢＳ又は全て１又は全て０のデータと無相関であるデータであることを特徴とする請求項１又は２に記載のビットエラーレート測定方法。
【請求項４】
前記ダミーデータは、前記固定データのビット反転によるデータ又はＰＲＢＳ又は全て１又は全て０であるデータであることを特徴とする請求項２又は３の何れかに記載のビットエラーレート測定方法。
【請求項５】
前記計測階層ＴＳは、外部入力によるもの又は内部発生によるものの何れかであることを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載のビットエラーレート測定方法。
【請求項６】
前記非計測階層ＴＳは、外部入力によるもの又は内部発生によるものの何れかであることを特徴とする請求項１〜５の何れかに記載のビットエラーレート測定方法。
【請求項７】
前記ビットエラーレートを計測するに際し、不一致が発生したビット数を累算した結果値と判定閾値とから、前記結果値が前記判定閾値よりも小さいか又は等しい場合は前記計測階層ＴＳとして識別して抽出し、前記結果値が前記判定閾値よりも大きい場合は前記非計測階層ＴＳとして識別して対象外とすることを特徴とする請求項１〜６の何れかに記載のビットエラーレート測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＳＯ／ＩＥＣ　１３８１８−１で規定されたＴＳ（Ｔｒａｎｓｐｏｒｔ　Ｓｔｒｅａｍ）を階層多重するデジタル放送等の伝送システムにおけるビットエラーレート測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
デジタル放送等の伝送システムにおけるビットエラーレート測定のための基本構成を図５に示す。ビットエラーレート測定装置の送信部（２０）のＰＲＢＳ（Ｐｓｅｕｄｏ　Ｒａｎｄｏｍ　Ｂｉｎａｒｙ　Ｓｅｑｕｅｎｃｅ）発生部（１０）により、ＰＲＢＳが発生される。ここで、ＰＲＢＳは、擬似ランダムデータとして知られているものである。次いで、ＴＳ発生部（１１）にてペイロードにＰＲＢＳを挿入したＴＳが発生されると、変調装置（１２）によりそのＴＳが変調されて伝送路（１３）に送出される。ここで、ＴＳの基本構成は、図６に示す通りであり、たとえば４バイトのヘッダーと１８４バイトのペイロードとの多重構成とされている。
【０００３】
伝送路（１３）を経て復調装置（１４）により復調されたＴＳは、受信部（２１）のデータ比較部（１５）によりペイロードに挿入されたＰＲＢＳと送信部（２０）のＰＲＢＳ発生部（１０）と同一のＰＲＢＳ発生部（１６）で発生されるＰＲＢＳとのビット毎の比較が行われる。このとき、ビットエラーカウンタ部（１７）により、不一致が発生したビット数が計数され、計測した総ビット数との比率をもってビットエラーレートとして測定される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した従来のビットエラーレート測定方法では、階層多重を行うデジタル放送等において特定階層が受けるビットエラーレートを階層多重したＴＳから計測する場合、ビットエラーレートを計測する前に計測する計測階層ＴＳと計測しない非計測階層ＴＳとを識別した後、計測階層ＴＳを抽出しなければならない。
【０００５】
ちなみに、ＴＳは、図６に示すように、そのヘッダー部に１３ビットで定義されるＰＩＤ（Ｐａｃｋｅｔ　ＩＤ）が設定されている。ＴＳは、本来このＰＩＤ値と既知のＰＩＤ値とを比較することにより、多重されたＴＳから特定のＴＳを識別できるように設計されたパケット形式となっている。しかし、階層多重されたＴＳにビットエラーが発生している状態においては、このＰＩＤ値にもビットエラーが発生していることが想定され、その場合は既知であるべきＰＩＤ値との比較において正しくＴＳを識別できないことになり、結果的に、ビットエラーレートの計測を正確に行うことができないという問題を生じてしまう。
【０００６】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、階層多重ＴＳから計測階層ＴＳを抽出してビットエラーレートを計測することにより、特定階層のビットエラーレートの計測を正確に行うことができるビットエラーレート測定方法を提供することができるようにするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明のビットエラーレート測定方法は、階層多重したＴＳから特定階層のビットエラーレートを計測するビットエラーレート測定方法であって、計測階層ＴＳと非計測階層ＴＳとを階層多重し、階層多重ＴＳとして伝送路に送出する送信工程と、前記階層多重ＴＳのペイロードと既知の固定データとを比較し前記計測階層ＴＳを識別して抽出し、この抽出した計測階層ＴＳからビットエラーレートを計測する受信工程とを有することを特徴とする。
また、前記送信工程には、前記計測階層ＴＳのペイロードに前記固定データを挿入する工程と、前記非計測階層ＴＳのペイロードにダミーデータを挿入する工程とが含まれ、前記受信工程には、前記階層多重ＴＳのペイロードと前記既知の固定データとを比較し前記計測階層ＴＳを識別して抽出する工程と、前記抽出された計測階層ＴＳのペイロードと前記既知の固定データとをビット毎に比較することでビットエラーレートを計測する工程とが含まれるようにすることができる。
また、前記固定データは、ＰＲＢＳ又は全て１又は全て０のデータと無相関であるデータであるようにすることができる。
また、前記ダミーデータは、前記固定データのビット反転によるデータ又はＰＲＢＳ又は全て１又は全て０であるデータであるようにすることができる。
また、前記計測階層ＴＳは、外部入力によるもの又は内部発生によるものの何れかであるようにすることができる。
また、前記非計測階層ＴＳは、外部入力によるもの又は内部発生によるものの何れかであるようにすることができる。
また、前記ビットエラーレートを計測するに際し、不一致が発生したビット数を累算した結果値と判定閾値とから、前記結果値が前記判定閾値よりも小さいか又は等しい場合は前記計測階層ＴＳとして識別して抽出し、前記結果値が前記判定閾値よりも大きい場合は前記非計測階層ＴＳとして識別して対象外とするようにすることができる。
本発明に係るビットエラーレート測定方法においては、計測階層ＴＳと非計測階層ＴＳとを階層多重し、階層多重ＴＳとして伝送路に送出し、階層多重ＴＳのペイロードと既知の固定データとを比較して計測階層ＴＳを識別して抽出し、この抽出した計測階層ＴＳからビットエラーレートを計測するようにする。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明する。
【０００９】
図１は、本発明のビットエラーレート測定方法の一実施の形態に係るデジタル放送等の伝送システムの構成を示す図、図２〜図４は、図１の伝送システムにおけるビットエラーレート測定方法を説明するための図である。
【００１０】
図１に示す伝送システムは、ビットエラーレート測定装置（５０Ａ）、変調装置（６０Ａ）、復調装置（７２）を備えている。
【００１１】
ビットエラーレート測定装置（５０Ａ）は、送信部（５０）及び受信部（８０）を備えている。送信部（５０）は、固定データ発生部（５１）及びＴＳ発生部（５２）を備えている。
【００１２】
固定データ発生部（５１）は、ＰＲＢＳ又は全て１又は全て０のデータと無相関である固定データを発生する。ＴＳ発生部（５２）は、固定データ発生部（５１）によって発生される固定データをペイロードに挿入して計測階層ＴＳ（５３）を発生する。
【００１３】
ここで、固定データは、後述の図２に示すように、ペイロードと同じ１８４バイト（１４７２ビット）の語長になる。本実施の形態では、固定データとしてたとえば１バイト（８ビット）のデータ｛５Ａ（ＨＥＸ）：０１０１１０１０｝が連続的に１８４バイトで繰返される場合について説明する。なお、ここでの固定データは、１８４バイトに限るものではなく、任意の語長になるようにしてもよい。
【００１４】
受信部（８０）は、計測階層ＴＳ抽出部（８１）、固定データ発生部（８２）、データ比較部（８４）、ビットエラーカウンタ部（８５）を備えている。
【００１５】
計測階層ＴＳ抽出部（８１）は、固定データ発生部（８２）により発生される固定データと階層多重ＴＳ（７３）のペイロードとを比較することにより計測階層ＴＳ（８３）を識別して抽出する。固定データ発生部（８２）は、固定データ発生部（５１）と同一のものであり、ＰＲＢＳ又は全て１又は全て０のデータと無相関である固定データを発生する。
【００１６】
データ比較部（８４）は、計測階層ＴＳ抽出部（８１）で抽出された計測階層ＴＳ（８３）のペイロードと固定データ発生部（８２）で発生された固定データとをビット毎に比較する。ビットエラーカウンタ部（８５）は、不一致が発生したビットをビットエラーとして計数する。
【００１７】
変調装置（６０Ａ）は、階層多重部（６０）及び変調部（７０）を備えている。
【００１８】
階層多重部（６０）は、Ａ階層とＢ階層とを階層多重するものであり、Ａ階層入力（６２）に計測階層ＴＳ（５３）が入力されるようになっている。ちなみに、計測階層ＴＳ発生部（６１）で計測階層ＴＳ（５３）が発生される場合は、Ａ階層入力（６２ａ）側への切替えにより、その計測階層ＴＳ（５３）が入力されるようにしてもよい。なお、階層多重部（６０）には、Ａ階層、Ｂ階層の他に複数の階層入力が備えられようにしてもよい。
【００１９】
階層多重部（６０）のＢ階層入力（６３）には、ペイロードに固定データのビット反転によるデータ又はＰＲＢＳ又は全て１又は全て０であるダミーデータが挿入された非計測階層ＴＳ（５４）が入力されるようになっている。ちなみに、非計測階層ＴＳ発生部（６４）で非計測階層ＴＳ（５４）が発生される場合は、Ｂ階層入力（６３ａ）側への切替えにより、その非計測階層ＴＳ（５４）が入力されるようにしてもよい。なお、Ｂ階層の他に複数の非計測階層入力が備えられるようにしてもよい。
【００２０】
階層多重部（６０）の多重部（６５）は、階層多重されたＡ階層の計測階層ＴＳ（５３）とＢ階層の非計測階層ＴＳ（５４）とを階層多重ＴＳ（６６）とする。変調装置（６０Ａ）の変調部（７０）は、階層多重ＴＳ（６６）を階層変調し、伝送路（７１）に送出する。復調装置（７２）は、階層変調された階層多重ＴＳ（６６）を復調した階層多重ＴＳ（７３）を送出する。
【００２１】
次に、このような構成の伝送システムにおけるビットエラーレート測定方法について説明する。まず、図２により、階層多重ＴＳ（６６）が階層変調され、伝送路（７１）に送出されるまでの送信工程について説明する。
【００２２】
ビットエラーレート測定装置（５０Ａ）の送信部（５０）の固定データ発生部（５１）によりＰＲＢＳ又は全て１又は全て０のデータと無相関である固定データが発生され、ＴＳ発生部（５２）によりペイロードに固定データを挿入した計測階層ＴＳ（５３）が発生される（ステップ２０１）。
【００２３】
ここで、ヘッダーは４バイトであり、固定データはペイロードと同じ１８４バイト（１４７２ビット）の語長となっている。固定データは、上述したように、１バイト（８ビット）のデータ｛５Ａ（ＨＥＸ）：０１０１１０１０｝が連続的に１８４バイトで繰返されるようになっている。
【００２４】
ＴＳ発生部（５２）により発生された計測階層ＴＳ（５３）は、上述したように、階層多重部（６０）のＡ階層入力（６２）に入力される（ステップ２０３）。ちなみに、計測階層ＴＳ発生部（６１）で計測階層ＴＳ（５３）が発生される場合は、上述したように、Ａ階層入力（６２ａ）側への切替えにより、その計測階層ＴＳ（５３）が入力されるようにしてもよい。
【００２５】
また、階層多重部（６０）のＢ階層入力（６３）に、ペイロードに固定データのビット反転によるデータ又はＰＲＢＳ又は全て１又は全て０であるダミーデータが挿入された非計測階層ＴＳ（５４）が入力される（ステップ２０２，２０４）。ちなみに、非計測階層ＴＳ発生部（６４）で非計測階層ＴＳ（５４）が発生される場合は、Ｂ階層入力（６３ａ）側への切替えにより、その非計測階層ＴＳ（５４）が入力されるようにしてもよい。
【００２６】
次いで、多重部（６５）において階層多重されたＡ階層の計測階層ＴＳ（５３）とＢ階層の非計測階層ＴＳ（５４）とは、階層多重ＴＳ（６６）として変調部（７０）に送出される（ステップ２０５）。そして、階層多重ＴＳ（６６）は、変調部（７０）により、階層変調されて伝送路（７１）に送出される。
【００２７】
次に、図３により、ビットエラーレート測定装置（５０Ａ）の受信部（８０）における受信工程について説明する。
【００２８】
まず、階層変調された階層多重ＴＳ（６６）は、復調装置（７２）にて復調されて階層多重ＴＳ（７３）とされる（ステップ３０１）。次いで、計測階層ＴＳ抽出部（８１）により、復調された階層多重ＴＳ（７３）のペイロードと固定データ発生部（８２）で発生した固定データとの比較によって計測階層ＴＳ（８３）が識別して抽出される（ステップ３０２）。
【００２９】
計測階層ＴＳ（８３）が抽出されると、データ比較部（８４）により、計測階層ＴＳ抽出部（８１）で抽出された計測階層ＴＳ（８３）のペイロードと固定データ発生部（８２）で発生された固定データとがビット毎に比較される。そして、ビットエラーカウンタ部（８５）により、不一致が発生したビットがビットエラーとして計数される。
【００３０】
次に、図４により、計測階層ＴＳ抽出部（８１）による抽出工程について説明する。
【００３１】
まず、伝送された階層多重ＴＳ（７３）が受信されると（ステップ４０１）、結果値Ｎが初期化により０とされる（ステップ４０２）。次いで、ペイロードと固定データとがビット毎に比較され（ステップ４０３）、不一致が発生したかどうかが検査される（ステップ４０４）。不一致が発生した場合は結果値Ｎに１が加算され、その結果値Ｎが累算される（ステップ４０５）。一方、不一致が発生しない場合、結果値Ｎの累算は行われない。
【００３２】
次いで、ペイロードの最後までの検査が完了されたかどうかが判断され（ステップ４０６）、ペイロードの最後までの検査が完了していなければ（ステップ４０３）からの工程が繰返される。一方、ペイロードの最後までの検査が完了していれば、結果値Ｎと判定閾値Ｍとが比較される（ステップ４０７）。そして、（ステップ４０８）にて結果値Ｎが判定閾値Ｍよりも小さいか等しい場合は計測階層ＴＳとして識別されて抽出され（ステップ４０９）、その後、（ステップ４０１）からの工程に移行する。これに対し、結果値Ｎが判定閾値Ｍよりも大きい場合は非計測階層ＴＳとして識別されて計測対象外とされ（ステップ４１０）、その後、（ステップ４０１）からの工程に移行する。
【００３３】
ここで、（ステップ４０８）での判定閾値Ｍは、計測階層ＴＳにおけるパケット単位のビットエラーレートの計測限界を２×１０−１と規定すると、ペイロードのビット長が１４７２ビットであるので２９４に設定すればよい。
【００３４】
また、固定データとの相関の違いにより伝送路（７１）によるビットエラーが発生した状態において固定データと比較した非計測階層ＴＳ（５４）の不一致の確率は０．５程度となる。この場合、結果値Ｎは７３６近辺に収束する。
【００３５】
このようなことから、本実施の形態においては、結果値Ｎが２９４以下であれば計測階層ＴＳ（８３）として識別して抽出し、２９５以上であれば非計測階層ＴＳ（５４）として識別でき、計測対象外とすることができる。
【００３６】
このように、本実施の形態では、計測階層ＴＳ（５３）と非計測階層ＴＳ（５４）とを階層多重し、階層多重ＴＳ（６６）として伝送路（７１）に送出し、復調後の階層多重ＴＳ（７３）のペイロードと既知の固定データとを比較して計測階層ＴＳ（８３）を識別して抽出し、この抽出した計測階層ＴＳ（８３）からビットエラーレートを計測するようにしたので、階層多重ＴＳ（７３）のＰＩＤとペイロードとにビットエラーが発生している状態であっても、階層多重ＴＳ（７３）から計測階層ＴＳ（８３）を抽出してビットエラーレートを計測することができ、特定階層のビットエラーレートの計測を正確に行うことができる。
【００３７】
【発明の効果】
以上の如く本発明に係るビットエラーレート測定方法によれば、計測階層ＴＳと非計測階層ＴＳとを階層多重し、階層多重ＴＳとして伝送路に送出し、階層多重ＴＳのペイロードと既知の固定データとを比較して計測階層ＴＳを識別して抽出し、この抽出した計測階層ＴＳからビットエラーレートを計測するようにしたので、特定階層のビットエラーレートの計測を正確に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のビットエラーレート測定方法の一実施の形態に係るデジタル放送等の伝送システムの構成を示す図である。
【図２】図１の伝送システムにおける階層多重ＴＳが階層変調され、伝送路に送出されるまでの工程について説明するためのフローチャートである。
【図３】図１の伝送システムにおけるビットエラーレート測定装置の受信部における受信工程について説明するためのフローチャートである。
【図４】図１の伝送システムにおける計測階層ＴＳ抽出部による抽出工程について説明するためのフローチャートである。
【図５】従来のデジタル放送等の伝送システムにおけるビットエラーレート測定の基本構成を示す図である。
【図６】図５のＴＳの基本構成を示す図である。
【符号の説明】
５０　送信部
５０Ａ　ビットエラーレート測定装置
５１　固定データ発生部
５２　ＴＳ発生部
５３，８３　計測階層ＴＳ
５４　非計測階層ＴＳ
６０　階層多重部
６０Ａ　変調装置
６１　計測階層ＴＳ発生部
６２，６２ａ　Ａ階層入力
６３，６３ａ　Ｂ階層入力
６４　非計測階層ＴＳ発生部
６５　多重部
６６，７３　階層多重ＴＳ
７０　変調部
７１　伝送路
７２　復調装置
８０　受信部
８１　計測階層ＴＳ抽出部
８２　固定データ発生部
８４　データ比較部
８５　ビットエラーカウンタ部
【図１】
2004056170.tif 000003
【図２】
2004056170.tif 000004
【図３】
2004056170.tif 000005
【図４】
2004056170.tif 000006
【図５】
2004056170.tif 000007
【図６】
2004056170.tif 000008