(57)【要約】【課題】試験対象のプリント基板におけるテストパッドに多くのテストピンを接触させることを可能にして十分な機能試験が行なえるようにする。【解決手段】プリント基板を保持可能な接続部材を、プリント基板の上面に接触可能な上部テストピンを着脱自在に保持する上部接続部材と、プリント基板の下面に接触可能な下部テストピンを着脱自在に保持する下部接続部材とから構成し、かつプリント基板固定板を下部接続部材に設け、上部接続部材を下動させることにより、上部テストピンの下端をプリント基板の上面に接触させることにより下部テストピンの上端をプリント基板の下面に接触させる。【選択図】　図１
2004108784.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板の機能試験に際して、テストピンを介してプリント基板に入力信号を入力し、該プリント基板から出力される出力信号をＩＣＴに伝えるための電気的接続に使用されるＩＣＴ用接続冶具であって、
前記プリント基板を保持可能な接続部材を設け、該接続部材に前記プリント基板の上下両面に接触可能なテストピンを着脱自在に設けたことを特徴とするＩＣＴ用接続冶具。
【請求項２】
前記接続部材に下方向への加圧力を付与可能な加圧機構を設け、該加圧機構によって前記接続部材に加圧力を付与することにより、前記テストピンが前記プリント基板の上下両面に接触可能に構成したことを特徴とする請求項１記載のＩＣＴ用接続冶具。
【請求項３】
前記接続部材は、前記プリント基板の上面に接触可能な上部テストピンを着脱自在に保持する上部接続部材と、前記プリント基板の下面に接触可能な下部テストピンを着脱自在に保持する下部接続部材とから構成され、かつプリント基板固定板を前記下部接続部材に設け、前記上部接続部材を下動させることにより、前記上部テストピンの下端を前記プリント基板の上面に接触させると共に、前記下部テストピンの上端を前記プリント基板の下面に接触させることを特徴とする請求項１又は２記載のＩＣＴ用接続冶具。
【請求項４】
前記上部接続部材は、前記上部テストピンを摺動自在かつ脱落不能に保持すると共に、該上部テストピンの上端が当接して該上部テストピンに電気的に接続可能な上部配線ボードを有し、
前記下部接続部材は、前記下部テストピンを摺動自在かつ脱落不能に保持すると共に、該下部テストピンの下端が当接して電気的に接続可能な下部配線ボードを有し、
前記上部接続部材の下動により、該上部テストピンの下端が前記プリント基板の上面に接触すると共に、前記上部テストピンの上端が前記上部配線ボードに当接し、また前記下部テストピンの上端が前記プリント基板の下面へ接触すると共に、下部テストピン下端が前記下部配線ボードに当接することを特徴とする請求項３記載のＩＣＴ用接続冶具。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント基板の機能試験においてプリント基板とＩｎ　Ｃｉｒｃｕｉｔ　Ｔｅｓｔｅｒ（以下、ＩＣＴと略記する）とを電気的に接続させるために使用されるＩＣＴ用接続冶具に関する。
【０００２】
【従来の技術】
プリント基板の機能試験は、プリント基板にテストピンを介して信号を入力することによって得られるプリント基板からの出力信号と要求値とを比較してプリント基板の機能の良否を判定するものである。
【０００３】
このようなプリント基板の機能試験に用いられる試験冶具として、例えば、プリント基板の単位ごとに専用される箱型の試験冶具がある。これは試験冶具の吸引口から空気を抜いて吸引状態にすることにより、テストピンが固定された固定板とテスト対象のプリント基板とを引き下げてテストピン固定板を相対的に移動させることで、テストピンをプリント基板のテストパッドに接触させるものである。
【０００４】
しかし、この種の試験冶具は、プリント基板の単位ごとに専用のテストピンが固定されているため、異種のプリント基板に対してはテストピンを共用することができず、このため試験対象となるプリント基板ごとに試験冶具を製作する必要があり高価とならざるを得なかった。
【０００５】
また、試験冶具はプリント基板の単位ごとに異なる専用品であることから、プリント基板の種類が多種になるとこれに応じて試験冶具の種類も多くならざるを得ず、しかも試験冶具の重量も重く、このため広い保管スペースが要求されると共に、持ち運びも容易ではなかった。
【０００６】
さらに空気の吸引によりテストピンを移動させてプリント基板に接触させる方式であるため、テストピンの固定板は移動式とされている。このため試験冶具の保管に際しては、試験冶具を水平に設置しなければならないという問題があった。また空気を吸引するための吸引機が必要とされるため装置がおおがかりなものとなっていた。
【０００７】
一方、この種の試験冶具として、テストピンを固定せずにピンの抜き差しが行なえるものがある。この方式ではテスト対象プリント基板には穴や切り欠き等があるため、穴や切り欠きを塞ぐシートでテスト対象プリント基板全体を覆う必要があり、このためテストパッドに対して片方向からしかテストピンを接触させることができず、テストピンを接触させることのできる箇所に限界があり、テストポイントが少なくなる場合があるといった問題があった。
【０００８】
そこで、これに対処すべく次のような試験冶具が提案されている。すなわち、実装基板の位置決めピンを有し、絶縁体を上面に張設したトッププレートと、実装基板の反りを防止し、基板へのコンタクトピンを備えるピンベッドと、コンタクトピンとテスタとを接続する配線部を有するインターフェースボードと、冶具本体とからなり、冶具本体上にインターフェースボードを最下にして、前記各部材を順次積重し、実装基板を機能試験する際、トッププレートと冶具本体で吸引状態を保持するＩＣＴ用汎用冶具において、トッププレートは、実装基板を位置決めした時、コンタクトピンを自在に位置させるように構成し、ピンベッドは、基板裏面の試験ポイントに接触する複数のコンタクトピンをそれぞれルーズに挿入させる挿入穴を備え、絶縁体もしくは絶縁コーティング体のいずれかで構成し、インターフェースボードの配線部は、配線パターンを形成して構成し、ピンベッドとインターフェースボードとの間に反り防止板を配設し、反り防止板には、ピンベッドの挿入穴と同位置に挿通穴を形成して構成した試験冶具である（例えば、特許文献１参照）。
【０００９】
【特許文献１】
特開平８−３２７６９７号公報
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
上記公報に記載の発明は、テストピンが交換可能であるから、高価で保管スペースが広くなるといった問題は解決されているが、試験冶具をプリント基板の両面に配置することができないため、試験冶具をプリント基板の両面に配置可能な試験冶具と比較すると、ＩＣＴとプリント基板との電気的な接触部分が少なくなり、十分な試験を行なうことができなくなるといった場合があるといった問題があった。また、空気吸引機が必要となるため装置がおおがかりなものとなっていた。
【００１１】
本発明は、上記問題点に着目してなされたもので、その目的とするところは、テストピンを交換可能とすることで安価性と保管のための省スペース化を実現し、プリント基板の両面からテストピンを接触させることが可能なＩＣＴ用試験冶具を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明は、プリント基板の機能試験に際して、テストピンを介してプリント基板に入力信号を入力し、プリント基板から出力される出力信号をＩＣＴに伝えるための電気的接続に使用されるＩＣＴ用接続冶具であって、プリント基板を保持可能な接続部材を設け、接続部材にプリント基板の上下両面に接触可能なテストピンを着脱自在に設けている。
【００１３】
従って、本発明は、プリント基板の両面にテストピンを接触可能であるから、プリント基板とＩＣＴとの接触部分が十分であり、よってプリント基板の十分な機能試験が行なえると共に、プリント基板の種類に応じてテストピンを交換可能であるから、プリント基板の単位ごとに試験冶具を製作する必要がなく、よって試験冶具を安価に提供することができる。
【００１４】
また、本発明は、接続部材に下方向への加圧力を付与可能な加圧機構を設け、加圧機構によって接続部材に加圧力を付与することにより、テストピンがプリント基板の上下両面に接触可能に構成することが考えられる。
【００１５】
従って、本発明は、空気を吸引することなくテストピンをプリント基板に接触させることが可能であり、よって空気吸引装置を必要としない。
【００１６】
さらにまた、本発明は、接続部材は、プリント基板の上面に接触可能な上部テストピンを着脱自在に保持する上部接続部材と、プリント基板の下面に接触可能な下部テストピンを着脱自在に保持する下部接続部材とから構成され、かつプリント基板固定板を下部接続部材に設け、上部接続部材を下動させることにより、上部テストピンの下端をプリント基板の上面に接触させると共に、下部テストピンの上端をプリント基板の下面に接触させることが考えられる。
【００１７】
従って、本発明は、接続部材を上下両部に分割可能であるから、試験冶具の保管に際して省スペース化を図ることが可能である。
【００１８】
さらにまた、本発明は、前記上部接続部材は、前記上部テストピンを摺動自在かつ脱落不能に保持すると共に、該上部テストピンの上端が当接して該上部テストピンに電気的に接続可能な上部配線ボードを有し、下部接続部材は、前記下部テストピンを摺動自在かつ脱落不能に保持すると共に、該下部テストピンの下端が当接して電気的に接続可能な下部配線ボードを有し、上部接続部材の下動により、該上部テストピンの下端が前記プリント基板の上面に接触すると共に、前記上部テストピンの上端が前記上部配線ボードに当接し、また前記下部テストピンの上端が前記プリント基板の下面へ接触すると共に、下部テストピン下端が前記下部配線ボードに当接することが考えられる。
【００１９】
従って、本発明は、上下両接続部材の移動方向は一方向であるから、制御が容易である。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るＩＣＴ用接続冶具の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
【００２１】
まず、ＩＣＴ用接続冶具の全体構成を、図１を参照しながら説明する。１０は共用基台で、共用基台１０上には共用ピン植設台２０が載置され、共用ピン植設台２０の上には下部接続部材３０が配置されている。
【００２２】
一方、共用基台１０から立設された第１支持軸１１の上端部には上部接続部材６０が支持されている。
【００２３】
次に、上記構成要素について順次説明する。
【００２４】
共用基台１０の上面における四隅には、図２に示すように、４本の第１支持軸１１が回動自在に立設されている。それぞれの第１支持軸１１の上端部には押下げ部６２受け用の鍔部１２が付設され、かつ鍔部１２より上方の軸１１部分には押下げ部６２を固定するための固定ネジ１３が螺合されている。
【００２５】
また、それぞれの第１支持軸１１の内方には、第１支持軸よりも高さが低い第２支持軸１４が回動自在に立設されている。さらに、共用基台１０の中央部には、共用ピン植設台２０とＩＣＴとを接続するケーブル２１を通す接続孔１５が形成されている。なお、共用基台１０の内部には第１および第２支持軸１１、１４を回動させるための図示しないモータ等の駆動源が格納されている。
【００２６】
共用ピン植設台２０の周縁部には、図３に示すように、多数の共通ピン２２が植設されており、共通ピン２２で囲まれた領域には、共通ピンよりも２ｍｍ程度高さが低い複数の配線ボード受け２３が形成されていると共に、その領域の四隅には第２支持軸１４を挿通させるための軸挿通孔２４が形成されている。なお、配線ボード受け２３は、これにかかる圧力によって若干の弾力性を有するゴム等の素材を用いる。
【００２７】
共用ピン植設台２０は軸挿通孔２４に第２支持軸１４を挿通させることによって共用基台１０に載置される。その際、共用ピン植設台２０からのケーブル２１が接続孔１５に挿入される。また、共用ピン植設台２０には下側コネクタ２５が設けられており、この下側コネクタ２５にはＩＣＴから引き出されたケーブル２１が接続されている。このケーブル２１は、後述する上部配線ボード６５に接続される。
【００２８】
共用ピン植設台２０の上に位置する下部接続部材３０は、下部配線ボード３１、ピン垂直出し用のピン挿通板３８、ピン支持用のピン挿通板４２、下部テストピン４８、下部反り防止ピン４９および試験対象のプリント基板Ｐを固定する基板用固定板５０から構成されている。
【００２９】
次にこれらについて説明する。共用ピン植設台２０には、下部接続部材３０の一構成要素としての下部配線ボード３１が組付けられる。下部配線ボード３１の周縁部には、図４に示すように、共通ピン２２の上端部が嵌合可能な多数の第１スルーホール３２が形成されている。
【００３０】
また第１スルーホール３２より内方のボード３１部分には、後述する下部テストピン４８の下端部が嵌合可能な第２スルーホール３３が形成されており、第２スルーホール３３は下部テストピン４８をＩＣＴに電気的に接続するための銅パターン３４を介して第１スルーホール３２に接続されている。
【００３１】
さらに第１スルーホール３２より内方のボード３１部分の四隅には第２支持軸１４を挿通させる軸挿通孔３５とスペーサ３６とが形成されている。下部配線ボード３１を共用ピン植設台２０に組付けるには、軸挿通孔３５に第２支持軸１４を挿通して下部配線ボード３１を共通ピン２２に載置させて共通ピン２２の上端部を第１スルーホール３２に嵌合させる。なお、下部配線ボード３１の素材は配線ボード受け２３と同質のものを使用する。
【００３２】
ピン垂直出し用のピン挿通板３８は、図５に示すように、板体の四隅に第２支持軸１４を挿通させるための軸挿通孔３９を有すると共に、板体の中央部に下部テストピン４８と、プリント基板Ｐの歪みを防止する下部反り防止ピン４９を摺動自在に挿通させるピン挿通孔４０を有する。
【００３３】
ピン支持用のピン挿通板４２は、図６に示すように、板体の四隅に第２支持軸１４を挿通させるための軸挿通孔４３とスペーサ４４を有すると共に、板体中央部に下部テストピン４８と下部反り防止ピン４９を摺動自在に挿通させるピン挿通孔４５を有する。なお、上下両ピン挿通板４２、７６の素材は配線ボード受け２３と同質のものを使用する。
【００３４】
下部テストピン４８は、図７に示すように、尖った形状の上下両端部４８ａ、４８ｂと、ピン挿通板４２の上面に係合可能なストッパ用のフランジ４８ｃとを有し、ピン上端部４８ａはフランジ４８ｃを有するピン本体部先端の筒状部内に上方へ付勢された状態で摺動自在に嵌合されて、下部配線ボード３１とプリント基板Ｐとの歪みを吸収する吸収部４８ｄに形成されている。
【００３５】
一方、下部反り防止ピン４９は図８に示すように、上端が大外径部に形成されると共に、ピン上部にはピン挿通板４２の上面に係合可能なストッパ用のフランジ４９ａが形成されている。
【００３６】
試験対象のプリント基板Ｐを固定する基板用固定板５０は、図９に示すように、板体の中央部に開口部５１を有している。また開口部５１の周囲にプリント基板固定用の４本の固定ピン５２が立設されていると共に、板体の四隅には第２支持軸１４を挿通させるための軸挿通孔５３が形成されている。一方、プリント基板Ｐの四隅には固定ピン５２を挿通させるための透孔５４と、上下両部のテストピン４８、８０の先端部が嵌合されるテストパッド部５５が形成されている。
【００３７】
前述した共用基台１０の上面に立設された４本の第１支持軸１１には上部接続部材６０が取付けられている。上部接続部材６０は、押下げ部６２、上部配線ボード６５、ピン垂直出し用のピン挿通板７２、ピン支持用のピン挿通板７６、上部テストピン８０、下部反り防止ピン８５から構成されている。次にこれらについて説明する。
【００３８】
押下げ部６２は、図１０に示すように、枠６２の左右両枠板（図面において左右方向を左右とする）の内側面に、前後方向の受け板６３ａを固着すると共に、受け板６３ａの左右両内端の下面からＬ字状板６３を垂下して、この両Ｌ字状板６３下端の水平部から前後一対の取付柱６３ｂを立設すると共に、両受け板６３ａには一対のネジ孔６３ｃを形成し、また枠６２の左右両枠板には第１支持軸１１の上端部を挿通させる挿通孔６２ａを形成している。
【００３９】
これら挿通孔６２ａに第１支持軸１１の上端部が挿通されて、枠６２の左右両枠板が鍔部１２に載置された後、固定ネジ１３が第１支持軸１１の上端に螺合される。
【００４０】
枠６２には、後述するように、上部配線ボード６５、ピン垂直出し用のピン挿通板７６、ピン支持用のピン挿通板７２、上部テストピン８０、下部反り防止ピン８５が組み付けられた後、押下げ板６４が着脱自在に嵌合されて受け板６３ａに載置される。押下げ板６４の上面には、押下げ板６４を枠６２から取り外すために使用される取っ手６４ａが形成されている。なお、押下げ板６４はネジ６４ｂで受け板６３ａに固定する。
【００４１】
上部配線ボード６５は、図１１に示すように、ボード本体の四隅に取付柱６３ｂを挿通させるための挿通孔６６を有すると共に、ボード本体の中央部にテストピン嵌合用の第１スルーホール６７を、またボード本体の端部にコネクタ取付け用の第２スルーホール６８を、それぞれ形成している。そして、これら第１および第２スルーホール６７、６８は銅パターン６９を介して接続されている。なお、上部および下部の配線ボード３１、６５のスルーホールの表側と裏側とは導通しており、スルーホールの表面は酸化皮膜の発生が少ないハンダ等の素材で形成されている。
【００４２】
また、ボード本体の下面には上側コネクタ７０が取付けられており、上側コネクタ７０は第２スルーホール６８に連結されている。この上側コネクタ７０には、下側コネクタ２５に接続されたケーブル２６が接続されている。上部配線ボード６５と押下げ板６４とは電気的に接触しないように押下げ板６４全体を絶縁体で形成するか、或いは上部配線ボード６５との接触面を絶縁体で形成する。
【００４３】
ピン垂直出し用のピン挿通板７２は、図１２に示すように、板体の四隅に取付柱６３ｂを挿通させるための挿通孔７３を有すると共に、板体の中央部に上部テストピン８０と、プリント基板Ｐの歪み防止する上部反り防止ピン８５を摺動自在に挿通させるピン挿通孔７４を有し、また板体下面にスペーサ７５を形成している。なお、上部および下部のそれぞれのピン垂直出し用のピン挿通板７２によってテストピンの垂直性が高められるため、テストピンの両端と配線ボードのスルーホールおよびプリント基板のテストパッドとが確実に接触することを可能になる。
【００４４】
ピン支持用のピン挿通板７６は、図１３に示すように、板体の四隅に取付柱６３ｂを挿通させるための挿通孔７７を有すると共に、板体中央部に上部テストピン８０と、上部反り防止ピン８５を摺動自在に挿通させるピン挿通孔７８を有する。
【００４５】
上部テストピン８０は、図１４に示すように、尖った形状の上下両端部８０ａ、８０ｂと、ピン挿通板７２の上面に係合可能なストッパ用のフランジ８０ｃとを有し、ピン下端部８０ｂはフランジ８０ｃを有するピン本体部先端の筒状部内に下方へ付勢された状態で摺動自在に嵌合されて、上部配線ボードとプリント基板Ｐの歪みを吸収する吸収部８０ｄに形成されている。なお、上下両テストピン４８、８０とピン挿通板とは電気的に接触しないようにピン挿通板全体を絶縁体で形成するか、或いはピン挿通板の表面を絶縁体で形成する。
【００４６】
一方、上部反り防止ピン８５は、図１５に示すように、ピン挿通板７２の上面に係合可能なストッパ用のフランジ８５ａが形成されている。
【００４７】
なお、上下両部の反り防止ピン４９、８５は互いに近接するように配置すると共に、上部テストピンおよび反り防止ピンの合計数と下部テストピンおよび反り防止ピンの合計数との差は１０％以内に設定することによりプリント基板にかかる上下からの圧力差を２０％以内にすることができ、これによってプリント基板の反りを防止することが可能になる。
【００４８】
次に、上記構成に係る接続冶具の組立順序について説明する。
【００４９】
まず図１６に示す下部接続部材３０について説明する。共用基台１０の第２支持軸１４に共用ピン植設台２０の軸挿通孔２４を挿通させた後、下部配線ボード３１の軸挿通孔３５を第２支持軸１４に挿通させて第１スルーホール３２を共通ピン２２に嵌合させる。
【００５０】
次いで、ピン挿通板３８の軸挿通孔３９を第２支持軸１４に挿通させ、続いてピン挿通板４２の軸挿通孔４３を第２支持軸１４に挿通させてテストピン４８と反り防止ピン４９をピン挿通孔４０に挿通させる。
【００５１】
次いで、基板用固定板５０の軸挿通孔５３を第２支持軸１４に挿通させた後、プリント基板Ｐの透孔５４を固定ピン５２に挿通させる。
【００５２】
次に、上部接続部材６０の組立順序について説明する。ピン挿通板７６の挿通孔７７を取付柱６３ｂに挿通させ、続いてピン挿通板７２の挿通孔７３を取付柱６３ｂに挿通させてテストピン８０と反り防止ピン８５をピン挿通孔７４に挿通させる。
【００５３】
次いで、上部配線ボードの挿通孔６６を取付柱６３ｂに挿通させ、続いて押下げ板６４を枠６２に嵌合させてねじ６４ｂで締め付けた後、挿通孔６２ａに第１支持軸１１を挿通させて押下げ部６１を固定する。
【００５４】
この状態を示すのが図１である。プリント基板Ｐを装着するには図１８に示すように第１支持軸１１を上昇させて下部接続部材３０から上部接続部材６０を上方へ離間させればよい。
【００５５】
試験を行なうに際しては、上部接続部材６０を下降させて図１の状態にすればよい。上部テストピンが接触したプリント基板Ｐのテストパッドからの電気信号は上部テストピン、上部配線ボード、ケーブルを経て共用基台に集められる。
一方、下部テストピンが接触したプリント基板Ｐのテストパッドからの電気信号は下部テストピン、下部配線ボード、共通ピンを経て共用基台に集められる。共用基台に集められた電気信号に対しケーブルを介してＩＣＴに電気信号を送る。このケーブルは共通ピンのコネクタに接続されている。
【００５６】
【発明の効果】
本発明は、プリント基板の機能試験に際して、テストピンを介してプリント基板に入力信号を入力し、プリント基板から出力される出力信号をＩＣＴに伝えるための電気的接続に使用されるＩＣＴ用接続冶具であって、プリント基板を保持可能な接続部材を設け、接続部材にプリント基板の上下両面に接触可能なテストピンを着脱自在に設けているため、次のような効果を奏する。
【００５７】
すなわち、本発明は、プリント基板の両面にテストピンを接触可能であるから、プリント基板とＩＣＴとの接触部分が十分であり、よってプリント基板の十分な機能試験が行なえると共に、プリント基板の種類に応じてテストピンを交換可能であるから、プリント基板の単位ごとに試験冶具を製作する必要がなく、よって試験冶具を安価に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＩＣＴ用試験冶具の一部切欠き側面図である。
【図２】同じく、共用基台の斜視図である。
【図３】同じく、共用ピン植設台の斜視図である。
【図４】同じく、下部配線ボードの斜視図である。
【図５】同じく、下部ピン挿通板の斜視図である。
【図６】同じく、下部ピン支持用のピン挿通板の斜視図である。
【図７】同じく、下部テストピンの斜視図である。
【図８】同じく、下部反り防止ピンの斜視図である。
【図９】同じく、プリント基板と固定板の斜視図である。
【図１０】同じく、押下げ部の斜視図である。
【図１１】同じく、上部配線ボードの斜視図である。
【図１２】同じく、上部ピン挿通板の斜視図である。
【図１３】同じく、上部ピン支持用のピン挿通板の斜視図である。
【図１４】同じく、上部テストピンの斜視図である。
【図１５】同じく、上部反り防止ピンの斜視図である。
【図１６】同じく、共用基台と下部接続部材の分解斜視図である。
【図１７】同じく、上部接続部材の斜視図である。
【図１８】同じく、上部接続部材を上昇させた状態のＩＣＴ用冶具の側面図である。
【符号の説明】
１０　共用基台
２０　共用ピン植設台
２２　共通ピン
４２　ピン支持用のピン挿通板
４８　下部テストピン
４９　下部反り防止ピン
５０　基板用固定板
６５　上部配線ボード
７２、７６　ピン挿通板
８０　上部テストピン
８５　上部反り防止ピン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2004108784.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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