(57)【要約】【課題】本発明は、アルミニウム等の金属箔を挟んだラミネート構造のシートを成形してなる食品密封包装容器のピンホールの有無を能率よく、高精度で検出できる食品密封包装用器のピンホール検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】アルミニウム金属箔等の導電性層を挟んで樹脂層を積層したシートを成形してなる食品密封包装容器のピンホール検査方法において、接地電極を食品密封包装容器のアルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と容器表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする食品密封包装容器のピンホール検査方法である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
アルミニウム金属箔等の導電性層を挟んで樹脂層を積層したシートを成形してなる食品密封包装容器のピンホール検査方法において、
接地電極を食品密封包装容器の前記アルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と容器表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする食品密封包装容器のピンホール検査方法。
【請求項２】
前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材もしくは容器本体の縁端部に露出するアルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と蓋材もしくは容器本体表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする請求項１記載の食品密封包装容器のピンホール検査方法。
【請求項３】
前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材もしくは容器本体の樹脂層表面を一部除去し、露出するアルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と蓋材もしくは容器本体表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする請求項１記載の食品包装容器のピンホール検査方法。
【請求項４】
前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材の開封用取っ掛かり部もしくは容器本体フランジ部に接地電極を突き刺し、アルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と蓋材もしくは容器本体表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする請求項１記載の食品密封包装容器のピンホール検査方法。
【請求項５】
前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材の天面全面に接地電極を接続させ、該接地電極と蓋材シーラント層に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して、蓋材の放電電流の有無を検出することを特徴とする請求項１記載の食品密封包装容器のピンホール検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、食品密封包装容器のピンホール検査方法に関し、特にアルミニウム金属箔等の導電性層を挟んで樹脂層を積層したシートを成形してなる食品密封包装容器のピンホールの有無を能率良く、高精度で検知できる食品密封包装容器のピンホール検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
レトルト食品などの各種食品の包装用シートとして、アルミニウム箔などの金属箔（導電性層）とその金属箔を挟んで積層された樹脂フィルム（樹脂層）とによるラミネート構造のシートの樹脂層を熱溶着して形成された高気密性の食品密封容器が知られている。
【０００３】
このような食品密封容器においては、気密性を保証するためにピンホールの検査が従来から行われる。例えば、真空チャンバー内で製品内部からエアーが抜けることに起因する真空圧の変化を測定するピンホールの検査が行われている。しかしながら、このピンホール検査方法は、ピンホールに内容物が付着し、ピンホールを塞いでしまうと行ったことが起こり、微細なピンホールを検出する精度に問題があった。また、このピンホール検出装置としては高価なもので、装置価格の面でも問題があった。
【０００４】
また、真空内で製品内部に一定の荷重を加え、リークによる蓋材もしくはフィルム等の位置変化を磁気センサー等で検出するピンホールの検査が行われている。しかし、この検査方法は、やはり微細なピンホールを検出する精度に問題があった。
【０００５】
また、ピンホールが発生することにより、被検査物の変位を測定するピンホールの検査が行われている。しかし、この検査方法も、やはり微細なピンホールを検出する精度に問題があった。
【０００６】
さらに、画像（カメラ）装置を用いて、フィルムに発生したピンホールや傷を画像認識により、ピンホールの検査が行われている。しかし、この検査方法も、同様、微細なピンホールを検出する精度に問題があった。
【０００７】
上記に列挙したピンホールの検査方法は、比較的大きなピンホールを検知するには有効は方法であるが、例えば１０μｍ程度の微細なピンホールを検知するにはその精度にいずれの方法も検出精度に問題があった。
【０００８】
このような食品密封容器においては、気密性を保証するために食品密封容器の微細なピンホール不良検査方法として、特公昭５０−６９９８号公報に示されているように、食品密封容器の電気絶縁性表面に表面積が大きい接地電極を接触させ、食品密封容器を挟んで表面積が小さい検出電極を接地電極に対向させて食品密封容器の電気絶縁性表面に接触させ、検出電極と接地電極との間に高周波電圧を印加し、放電電流の有無よりピンホール不良を検出する方法が知られている。またこの方法を使用したピンホール不良検査装置が特開昭６２−７０７２５号公報に示されている。
【０００９】
この食品密封容器のピンホール不良検査方法及び装置は、高周波電圧の印加によるコンデンサ結合を利用するものであり、検出電極と接地電極との表面積差により接地電極と容器内の内容物との間の静電容量を、検出電極と容器内の内容物との間の静電容量に対して無視できるものとし、内容物による電気抵抗と、検出電極と内容物との間の静電容量との直列回路を等価回路として、検出電極と接触する食品密封容器にピンホールがあれば、検出電極と内容物との間の静電容量部による放電間隙に閃絡が発生する高周波電電圧を電極間に印加し、その電圧印加回路に放電電流が流れか否かを検出することを検査原理としている。
【００１０】
上述の食品密封容器のピンホール不良検査方法では、その検査原理により、接地電極の表面積に対して検出電極の表面積が充分に小さいと云う条件が必須である。このことは食品密封容器が豆腐用の容器のように電気絶縁性、換言すれば誘電性の合成樹脂材料だけによるものであれば、電極形状によりその条件を満たすことができる。しかし、レトルト食品などの食品密封容器のように、食品密封容器が金属箔による導電性層を含んだラミネート構造の食品包装用シートによるものである場合には、電極形状の如何に拘らずその条件を満たすことができない。
【００１１】
また、このような食品密封容器においては、気密性を保証するために食品密封容器の微細なピンホール不良検査方法として、特開２００２−１４８２４１号公報に示されているように、本発明に係るピンホール検査方法は、電気絶縁性材料からなる容器のピンホール検査部分に高電圧を印加し、導電性を有する内容物への放電を検知して、前記容器におけるピンホールの有無を判断するピンホール検査方法が提案されている。
【００１２】
上記の高電圧印加方式のピンホール検査方法は、電気絶縁材料からなる容器に適用できるものであり、アルミニウム箔等の導電性層を挟んで樹脂層を積層したシートを成形してなる食品包装容器には適用できない。また、高電圧を印加して、導電性を有する内容物への放電を検知するもので、内容物が乾燥食品である場合はこの方法を適用できない。さらに、被検出部が乾燥状態にある必要があり、予め乾燥処理を必要とする等の検査能率の問題もあった。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
このため、金属箔による導電性層を含んだラミネート構造のシートを成形してなる食品密封容器については、上述のピンホール検査方法を適用できない。
本発明は、上記の問題点を解消すべくなされたものであり、アルミニウム等の金属箔を挟んだラミネート構造のシートを成形してなる食品密封包装容器のピンホールの有無を能率よく、高精度で検出できる食品密封包装用器のピンホール検査方法を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１に係る発明は、アルミニウム金属箔等の導電性層を挟んで樹脂層を積層したシートを成形してなる食品密封包装容器のピンホール検査方法において、
接地電極を食品密封包装容器のアルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と容器表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする食品密封包装容器のピンホール検査方法である。
【００１５】
請求項２に係る発明は、請求項１記載の食品密封包装容器のピンホール検査方法において、前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材もしくは容器本体の縁端部に露出するアルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と蓋材もしくは容器本体表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする。
【００１６】
請求項３に係る発明は、請求項１記載の食品密封包装容器のピンホール検査方法において、前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材もしくは容器本体の樹脂層表面を一部除去し、露出するアルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と蓋材もしくは容器本体表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする。
【００１７】
請求項４に係る発明は、請求項１記載の食品密封包装容器のピンホール検査方法において、前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材の開封用取っ掛かり部もしくは容器本体フランジ部に接地電極を突き刺し、アルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と蓋材もしくは容器本体表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする。
【００１８】
請求項５に係る発明は、請求項１記載の食品密封包装容器のピンホール検査方法において、前記接地電極を食品密封包装容器の蓋材の天面全面に接地電極を接続させ、該接地電極と蓋材シーラント層に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする。
【００１９】
＜作用＞
本発明では、例えば、接地電極を容器蓋材端面等に露出する導電性層、あるいは容器端面等に露出する導電性層に接触させることにより、食品密封包装容器の導電性層自体を実質的な接地電極板として機能させる。この接地電極と、容器蓋材あるいは容器本体表面に接触もしくは接近させた検出電極との間には、ピンホールが存在しなければ放電電流が流れず、ピンホールが存在すると閾値を超える放電電流が流れるように電源電圧等が設定されているため、接地電極と検出電極との間の放電電流の有無からピンホールを検出することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態の一例について図面を参照して詳細に説明する。
本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法は、　接地電極を食品密封包装容器の前記アルミニウム金属箔等の導電性層に接触させ、該接地電極と容器表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とするものである。
【００２１】
図１、図２、図３、図４は、本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法として、一例として、食品包装容器の蓋材のピンホール検査方法を実施する場合の例について説明する概略図である。本発明で用いられる食品密封包装容器は、例えば図１に示すように、容器本体１と蓋材２からなり、容器本体１は、アルミニウム金属箔等の導電性層１ｂを挟んで第１の樹脂層１ａと第２の樹脂層１ｃを積層したシートを成形してなる容器本体である。また、蓋材２は、アルミニウム金属箔等の導電性層２ｂを挟んで樹脂層２ａとシーラント樹脂層２ｃを積層した蓋材で、前記容器本体に内容物を充填した後、蓋材を熱溶着してシールしたカップもしくはアルミニウム金属箔等の導電性層を挟んで樹脂層を積層したシートを熱融着した成形してなるパウチ等の食品密封包装容器である。
【００２２】
本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げて説明する。図１に示すように、接地電極５を食品密封包装容器の蓋材２の縁端部に露出するアルミニウム金属箔等の導電性層２ｂに接触させ、該接地電極と蓋材表面に接触もしくは接近させた検出電極６には高圧電源７が接続されており、高圧電源７と検出電極６とを導通接続する配線の途中に流れる電流の電流値を検出する電流計８が接続されており、接地電極５と検出電極６との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出する。接地電極５は、露出している導電性層２ｂの端面に摺接し、導電性層２ｂと直接的に導通状態になる。これにより導電性層２ｂ自体が実質的な接地電極板として作用する。高圧電源７は、接地電極５と検出電極６との間に数ｋＶ、数ｋＨｚ程度の高圧電圧を印加する。
【００２３】
もちろん、容器本体１の縁端部に露出するアルミニウム金属箔等の導電性層１ｂに接触させ、該接地電極と容器本体表面に接触もしくは接近させ、接地電極と検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出し、容器本体のピンホールの有無を検査できることは言うまでもない。
【００２４】
また、本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法の他の例として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げて説明する。図２に示すように、接地電極５を食品密封包装容器の蓋材の開封用取っ掛かり部等の樹脂層２ａ表面をレーザー加工等により一部除去して切り欠き部９を形成して、露出するアルミニウム金属箔等の導電性層２ｂに接触させ、該接地電極５と容器表面に接触もしくは接近させた検出電極６には高圧電源７が接続されており、高圧電源７と検出電極６とを導通接続する配線の途中に流れる電流の電流値を検出する電流計８が接続されており、接地電極５と検出電極６との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出する。接地電極５は、切り欠き部９を形成して、露出している導電性層２ｂの表面に摺接し、導電性層２ｂと直接的に導通状態になる。これにより導電性層２ｂ自体が実質的な接地電極板として作用する。高圧電源７は、接地電極５と検出電極６との間に数ｋＶ、数ｋＨｚ程度の高圧電圧を印加する。
【００２５】
もちろん、容器本体１の樹脂層１ｃの一部除去して、露出するアルミニウム金属箔等の導電性層１ｂに接触させ、該接地電極と容器本体表面に接触もしくは接近させ、接地電極と検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出し、容器本体のピンホールの有無を検査できることは言うまでもない。
【００２６】
また、本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法の別の例として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げて説明する。図３に示すように、針状電極により構成される接地電極１０を食品密封包装容器の蓋材の開封用取っ掛かり部等の端部に突き刺し、アルミニウム金属箔等の導電性層２ｂに接触させ、該接地電極１０と容器蓋材表面に接触もしくは接近させた検出電極６には高圧電源７が接続されており、高圧電源７と検出電極６とを導通接続する配線の途中に流れる電流の電流値を検出する電流計８が接続されており、接地電極１０と検出電極６との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出する。接地電極１０は、蓋材を貫通して導電性層２ｂに接続され、導電性層２ｂと直接的に導通状態になる。これにより導電性層２ｂ自体が実質的な接地電極板として作用する。高圧電源７は、接地電極１０と検出電極６との間に数ｋＶ、数ｋＨｚ程度の高圧電圧を印加する。
【００２７】
もちろん、容器本体１のフランジ部４に針状電極により構成される接地電極を突き刺し、アルミニウム金属箔等の導電性層１ｂに接触させ、該接地電極と容器本体表面に接触もしくは接近させ、接地電極と検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出し、容器本体のピンホールの有無を検査できることは言うまでもない。
【００２８】
さらに、本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法のさらに別の例として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げて説明する。図４に示すように、ブラシ状の接地電極１１を食品密封包装容器の蓋材２の天面全面に接続させ、該接地電極１１と容器蓋材シーラント層表面に接触もしくは接近させた検出電極６には高圧電源７が接続されており、高圧電源７と検出電極６とを導通接続する配線の途中に流れる電流の電流値を検出する電流計８が接続されており、接地電極１１と検出電極６との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出する。この場合は、高圧電源７は、接地電極１１と検出電極６との間にシーラント層の絶縁破壊を生ずるような高電圧を印加する。
【００２９】
本発明で用いられる電源としては、直流電源、交流電源、高周波電源等いずれの電源も使用可能であるが、実用的には周波数が数ｋＨｚ程度で電圧が数ｋＶ程度の交流電源を用いるのが便利である。電源の周波数あるいは電圧は、ピンホール検査を行う食品密封包装容器に使用されている金属箔を挟んだラミネートシートの材質や膜厚、あるいは検出すべきピンホールの大きさ等に応じて、ピンホール不良が存在するときのみ閾値を超える放電電流が流れるような値に設定される。
【００３０】
次ぎに、直流電流値が検出電極と接地電極との間の放電による放電電流に起因する電圧の変化によるピンホールの有無を判定する方法を説明する。
図５（ａ）は、本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例であって、接地電極５を食品密封包装容器の蓋材２の縁端部に露出するアルミニウム金属箔等の導電性層２ｂに接触させ、該接地電極と蓋材表面に接触もしくは接近させた検出電極５には高圧電源７が接続されており、高圧電源７と検出電極６とを導通接続する配線の途中に流れる電流の電流値を検出する電流計８が接続されており、接地電極５と検出電極６との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出する。図５（ｂ）は、上記のピンホール検査方法のピンホールが存在しない場合の検出信号の一例を示したもので、検出電極６と接触している食品密封包装容器の蓋材にピンホールがなければ、樹脂表層の電気絶縁作用により検出電極６と導電性層２ｂとの間で放電電流は生じないので、測定される電圧は、リファレンス電圧（ＶＲ）と実質的に等しく、閾値（ＶＳ）以上の値を示し、ピンホールが存在しないものと判定される。
【００３１】
一方、図６に示すように、上記のピンホール検査方法において、蓋材にピンホールが存在する場合の検出信号の一例を図６（ｂ）に示したもので、高周波高圧電源と検出電極とを導通接続する配線の途中には、そこ流れる電流の電流値を検出する電流検出器が接続されており、接地電極５と検出電極６との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出する。すなわち、放電電流に起因する電圧を測定する。検出電極６と接触している食品密封包装容器の蓋材にピンホールがあると、そのピンホールにより樹脂表層の電気絶縁作用により検出電極６と導電性層２ｂとの間で放電電流は生じ、測定される電圧は、リファレンス電圧（ＶＲ）より下回り、閾値（ＶＳ）以下の値を示し、ピンホールが存在するものと判定される。
【００３２】
【発明の効果】
本発明により、金属箔による導電性層を含んだラミネート構造のシートを成形してなる食品密封包装容器におけるピンホール検査を能率よく、しかも高い確実性をもって行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法の一例として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げてピンホール検査方法を説明する説明図である。
【図２】本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法の他の例として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げてピンホール検査方法を説明する説明図である。
【図３】本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法の別の例として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げてピンホール検査方法を説明する説明図である。
【図４】本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法のさらに別の例として、食品密封包装容器の蓋材のピンホール検査を実施する場合の例を挙げてピンホール検査方法を説明する説明図である。
【図５】本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法において、ピンホールの存在しない場合の判定方法を説明する説明図である。
【図６】本発明の食品密封包装容器のピンホール検査方法において、ピンホールの存在する場合の判定方法を説明する説明図である。
【符号の説明】
１・・・容器本体
１ａ・・・第１の樹脂層
１ｂ・・・導電層
１ｃ・・・第２の樹脂層
２・・・容器蓋材
２ａ・・・樹脂層
２ｂ・・・導電層
２ｃ・・・シーラント樹脂層
３・・・内容物
４・・・容器フランジ部
５・・・接地電極
５・・・検出電極
７・・・高圧電源
８・・・電流計
９・・・切り欠き部
１０・・・針状接地電極
１１・・・ブラシ状接地電極
１２、１４・・・測定電圧
ＶＲ・・・リファレンス電圧
ＶＳ・・・ピンホール判別閾値電圧
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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