(57)【要約】【課題】検出素子を配列する検出ブロックを傾けても、均一な解像度を得ることができるようにする。【解決手段】Ｘ線源４からのＸ線４ａを被写体３に照射するＸ線照射手段と、被写体３を透過したＸ線４ａを受光してその線量空間分布を検出する複数の検出素子２ａ〜２ｅを配列する検出ブロック２を有し、検出ブロック２を、Ｘ線の進行方向に直交する面に対し所定角度で傾斜させる検出手段とを具備し、被写体３におけるＸ線４ａのピッチが等ピッチになるように、検出素子２ａ〜２ｅのピッチを不等ピッチにする。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線源からの放射線を被写体に照射する放射線照射手段と、
前記被写体を透過した放射線を受光してその線量空間分布を検出する複数の検出素子が配列された検出ブロックを有し、前記検出ブロックを、前記放射線の進行方向に直交する面に対し所定角度で傾斜させる検出手段とを具備し、
前記被写体における放射線のピッチが等ピッチになるように、前記検出素子のピッチを不等ピッチにしたことを特徴とする放射線検出装置。
【請求項２】
放射線源からの放射線を被写体に照射する放射線照射手段と、
前記被写体を透過した放射線を受光してその線量空間分布を検出する複数の検出素子が配列されてなる複数の検出ブロックを有し、前記複数の検出ブロックを、前記放射線の進行方向に直交する面に対し所定角度でそれぞれ傾斜させた検出手段とを具備し、
前記被写体における放射線のピッチが等ピッチになるように、前記検出素子のピッチを不等ピッチにしたことを特徴とする放射線検出装置。
【請求項３】
前記複数の検出ブロックは、連続的に接続されていることを特徴とする請求項２記載の放射線検出装置。
【請求項４】
前記複数の検出ブロックは、放射線ビームの広がり角の中心線に対し対称に配置されていることを特徴とする請求項２記載の放射線検出装置。
【請求項５】
前記複数の検出ブロックは、放射線源から個々の検出ブロックまでの焦点距離の最大値と最小値の差が１つの検出ブロックの焦点距離の最大値と最小値の差と略等しくなるように配置されていることを特徴とする請求項２記載の放射線検出装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、医療に用いられる放射線を利用した画像撮像システムに適用される放射線検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
放射線として例えば、Ｘ線を用いた画像撮影システムは、Ｘ線源からのＸ線をファンビームにして被写体に照射し、被写体を透過した放射線の線量空間分布を半導体結晶からなる検出器により検出し、この検出器の検出結果に基づいて被写体の放射線画像を得るようになっている。
【０００３】
ところで、この種の画像撮像システムにおいては、その分解能を高めるために、検出器の検出素子を小さくする方法が一般的であるが、検出素子のピッチを小さくするにも限界がある。
【０００４】
そこで、近時においては、検出器を放射線進行方向に直行する面に対して傾けることにより、分解能を高めるようにしたものが開発されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００５】
【特許文献１】
特開平５−２７７０９３号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来においては、単に検出器を傾けるだけであったため、各検出素子が受光する放射線の被写体位置におけるピッチが異なってしまい、均一な解像度が得られないという不都合があった。
【０００７】
また、各検出素子が受光する放射線の被写体位置でのピッチが等ピッチでないと、特に放射線ＣＴでヘリカルスキャンしたときのデータ処理がかなり複雑になるという問題があった。
【０００８】
本発明は、上記事情に着目してなされたもので、その目的とするところは、検出素子が配列された検出ブロックを傾けても、均一な解像度を得ることができ、また、データ処理も簡略化できるようにした画像撮影システムを提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、請求項１記載のものは、放射線源からの放射線を被写体に照射する放射線照射手段と、前記被写体を透過した放射線を受光してその線量空間分布を検出する複数の検出素子を配列する検出ブロックを有し、前記検出ブロックを、前記放射線の進行方向に直交する面に対し所定角度で傾斜させる検出手段とを具備し、前記被写体における放射線のピッチが等ピッチになるように、前記検出素子のピッチを不等ピッチにする。
【００１０】
請求項２記載のものは、放射線源からの放射線を被写体に照射する放射線照射手段と、前記被写体を透過した放射線を受光してその線量空間分布を検出する複数の検出素子を配列してなる複数の検出ブロックを有し、前記複数の検出ブロックを、前記放射線の進行方向に直交する面に対し所定角度でそれぞれ傾斜させる検出手段とを具備し、前記被写体における放射線のピッチが等ピッチになるように、前記検出素子のピッチを不等ピッチにする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図面に示す実施の形態を参照して詳細に説明する。
【００１２】
図１は、本発明の一実施の形態である放射線としてＸ線を用いたＸ検出装置１のスライス方向の構成を示し、図２は、そのチャンネル方向の構成を示すものである。
【００１３】
Ｘ線検出装置１は、複数の検出手段としての検出ブロック２…を有して構成されている。このＸ線検出装置１には、被写体３を介して放射線照射手段としてのＸ線源４が対向配置されている。
【００１４】
Ｘ線検出装置１の検出ブロック２…は、例えば、その検出面の中心位置においてそれぞれＸ線進行方向に直行する面に対し所定の角度θで傾斜し、その傾斜方向は、検出装置１のスライス方向、或いはチャンネル方向の一方向、またはスライス方向とチャンネル方向の両方向となっている。
【００１５】
検出ブロック２は図３に示すように多数個の検出素子２ａ〜２ｈを有して構成されている。検出素子２ａ〜２ｈは検出ブロック２の傾斜方向及び紙面の垂直な方向（不図示）に沿って配列され、その傾斜方向に沿う方向の寸法は、Ｘ線源に近い側の検出素子２ａから遠い側の検出素子２ｈに向かって、順次大きくされている。即ち、検出素子２ａ〜２ｈのピッチは被写体３の位置でのＸ線４ａのピッチＰが等ピッチになるように、不等ピッチにされている。紙面が垂直な方向に配列された素子ピッチにおいてもＸ線源４に対して傾斜している場合は、その寸法を順次変更することは言うまでもない。
【００１６】
上記したように、検出ブロック２を傾斜することにより、例えば０．１ｍｍピッチの分解能が、傾斜角４５度で０．０７ｍｍ（約１．４倍）に、また、６０度で０．０５ｍｍ（２倍）に高められることは知られている。
【００１７】
ところで、検出素子２ａ〜２ｈのピッチを図４に示すように、等ピッチにすると、被写体位置でのＸ線４ａのピッチＰ１０，Ｐ１１が不等ピッチになる。このように、不等ピッチになると、均一な解像度が得られなくなる。
【００１８】
そこで、本発明では、図３に示すように、検出素子２ａ〜２ｈのピッチを不等ピッチにすることにより、被写体位置でのＸ線４ａのピッチＰを等ピッチにしている。これにより、高分解能で、均一な解像度を得ることができる。
【００１９】
なお、上記した複数の検出ブロック２…は図５にも示すように、Ｘ線ビームの広がり角の中心線Ｓに対し、対称に配列されていることが好ましく、検出ブロック２…を対称に配列することにより、製造する検出ブロック２…のパターン数（種類）を減らすことができる利点がある。
【００２０】
図６は検出ブロック２…の他の配置例を示すものである。
【００２１】
この配置例では、検出ブロック２…の繋ぎ目は連続的に接続して配列されている。
【００２２】
これにより、検出素子２ａ〜２ｈの感度が連続的になり、その後のデータ処理が容易になる。
【００２３】
ところで、各検出ブロック２…のＸ線源４からの焦点距離については、検出器全体の焦点距離の最大値と最小値の差が１つの検出ブロック２の焦点距離の最大値と最小値の差に略等しくなるように検出ブロック２…を配列したほうが望ましい。これは、検出ブロック２の製造において、製造する検出ブロック２のパターン数（種類）を最小限にすることができるからである。
【００２４】
また、Ｘ線検出装置１をＸ線ＣＴスキャナに適用する場合、図７及び図８に示すように散乱Ｘ線を除去するためのコリメータ８が必要であるが、この場合も、検出器全体の焦点距離差Ｈは１つの検出ブロック２の焦点距離差と略等しくした方が散乱Ｘ線の影響も受けにくくなる。
【００２５】
図９は図８中Ａ部を拡大して示すものであるが、コリメータ８と検出ブロック２との間の距離が長いとコリメータ８を通過した散乱Ｘ線の広がりがあり、ノイズ発生の原因となる。
【００２６】
従って、コリメータ８と検出面までの距離はできるだけ短い方がよく、この実施の形態では、検出器全体の焦点距離差を１つの検出ブロック２の焦点距離差と略等しくするため、コリメータ８と検出面までの距離を短くして散乱Ｘ線の影響を受けにくくしている。
【００２７】
この実施の形態によれば、コリメータ８は従来と同様の被写体位置で等ピッチとなるようなピッチ構成でよく、コリメータ８の構成を大きく変更する必要がない。
【００２８】
なお、本発明は上記した実施の形態に限られることなく、その要旨の範囲内で種々変形実施可能なことは勿論である。
【００２９】
【発明の効果】
本発明は以上説明したように、検出ブロックを傾斜し、かつ被写体位置での放射線のピッチが等ピッチになるように検出素子のピッチを不等ピッチにするため、高分解能でかつ均一な解像度を得ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態であるＸ線検出装置をスライス方向に沿って示す構成図。
【図２】図１のＸ線検出装置をチャンネル方向に沿って示す構成図。
【図３】図１のＸ線検出装置の検出素子のピッチを不等ピッチにした状態を示す図。
【図４】検出素子のピッチを等ピッチにした状態を示す図。
【図５】図１のＸ線検出装置の検出ブロックがＸ線ビームの中心線に対し対象に配置された状態を示す図。
【図６】図１のＸ線検出装置の検出ブロックの他の配置例を示す図。
【図７】図１のＸ線検出装置にコリメータを配置した状態をスライス方向に沿って示す図。
【図８】図１のＸ線検出装置にコリメータを配置した状態をチャンネル方向に沿って示す図。
【図９】図８のＡ部における散乱Ｘ線の広がりを示す図。
【符号の説明】
２…検出ブロック（検出手段）、２ａ〜２ｈ…検出素子、３…被写体、４ａ…Ｘ線（放射線）、４…Ｘ線源（放射線照射手段）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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