(57)【要約】【課題】本発明は、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても対応可能な欠陥補正回路を提供することを目的とする。【解決手段】半導体集積回路は、イメージセンサからの画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値との比較結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する判定回路と、該着目画素が欠陥画素であるとの該判定回路の判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する欠陥補正回路を含むことを特徴とする。【選択図】　　　　図２
2004112736.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イメージセンサからの画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値との比較結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する判定回路と、
該着目画素が欠陥画素であるとの該判定回路の判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する欠陥補正回路
を含むことを特徴とする半導体集積回路。
【請求項２】
該判定回路は、該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れていることを検知すると該着目画素が欠陥画素であると判定することを特徴とする請求項１記載の半導体集積回路。
【請求項３】
該判定回路は、
第１の画素配列方向において該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れているか否かを判断する第１の比較ユニットと、
第２の画素配列方向において該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れているか否かを判断する第２の比較ユニットと、
該第１の比較ユニットと該第２の比較ユニットとの双方が該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れていると判断する場合に該着目画素が欠陥画素であると判定する欠陥判定ユニット
を含むことを特徴とする請求項２記載の半導体集積回路。
【請求項４】
該第１の比較ユニットは、該第１の画素配列方向において該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値の平均値から所定の値以上離れているか否かを判断し、該第２の比較ユニットは、該第２の画素配列方向において該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値の平均値から所定の値以上離れているか否かを判断することを特徴とする請求項３記載の半導体集積回路。
【請求項５】
該欠陥補正回路は、
該着目画素の画素値を周辺画素の画素値の平均値に基づいて補正した補正値を生成する補正値生成ユニットと、
該判定回路の判定結果に応じて、該イメージセンサからの該画像信号と該補正値との何れかを選択して出力する切り換えユニット
を含むことを特徴とする請求項１記載の半導体集積回路。
【請求項６】
イメージセンサから読み出した画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値とを比較する段階と、
該比較の結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する段階と、
該着目画素が欠陥画素であるとの判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する段階
を含むことを特徴とするイメージセンサからの画像信号の欠陥画素補正方法。
【請求項７】
該判定する段階は、該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れていることを検知すると該着目画素が欠陥画素であると判定することを特徴とする請求項６記載の欠陥画素補正方法。
【請求項８】
該判定する段階は、
第１の画素配列方向において該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れているか否かを判断する第１の比較段階と、
第２の画素配列方向において該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れているか否かを判断する第２の比較段階と、
該第１の比較段階と該第２の比較段階との双方が該着目画素の画素値が周辺の画素の画素値から所定の値以上離れていると判断する場合に該着目画素が欠陥画素であると判定する段階
を含むことを特徴とする請求項７記載の欠陥画素補正方法。
【請求項９】
イメージセンサからの画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値との比較結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する判定回路と、
該着目画素が欠陥画素であるとの該判定回路の判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する欠陥補正回路と、
該欠陥補正回路から出力される欠陥補正された画像信号を処理する処理回路
を含むことを特徴とする画像プロセッサ。
【請求項１０】
該処理回路は、欠陥補正ユニット、ＲＧＢ変換ユニット、ホワイトバランスユニット、輪郭強調ユニット、ガンマ補正ユニット、及びフォーマット変換ユニットのうちの少なくとも１つを含むことを特徴とする請求項９記載の画像プロセッサ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一般に画像を撮像するＣＭＯＳイメージセンサからの画像信号の信号処理に関し、詳しくはＣＭＯＳイメージセンサからの画像信号の欠陥画素補正に関する。
【従来の技術】
ＣＭＯＳイメージセンサは、複数のホトダイオードが縦横に配列された受光部を備えており、これらのホトダイオードが撮像用の各画素（ピクセル）を構成する。この画素単位で入射光が光電変換され、光電変換された電荷が電荷蓄積部分に蓄積され読み出される。多数形成された画素の中には、欠陥により正常に動作しないものがあり、常に暗点（黒）として現れる欠陥画素や明点（白）として現れる欠陥画素等がある。
【０００２】
図１は、従来のＣＭＯＳイメージセンサの欠陥補正処理を実行する構成を示す図である。
【０００３】
図１の構成は、欠陥補正回路１１、欠陥箇所格納用記憶装置１２、及びＲＧＢ変換回路１３を含む。欠陥補正回路１１は、イメージセンサからの画像信号を入力として受け取る。欠陥補正回路１１は、画像信号中の欠陥画素のデータを処理して欠陥を補正し、補正後の画像信号をＲＧＢ変換回路１３に供給する。ＲＧＢ変換回路１３は、ＲＧＢベイヤ配列の色情報に基づいて、各画素に対する色データを求める。
【０００４】
図１の欠陥補正処理の構成においては、欠陥箇所格納用のＲＯＭである欠陥箇所格納用記憶装置１２が設けられる。この欠陥箇所格納用記憶装置１２には、出荷試験時に欠陥と判定された画素の位置情報が書き込まれている。欠陥補正回路１１は、欠陥箇所格納用記憶装置１２に書き込まれた位置情報に基づいて欠陥画素の位置を特定し、その周辺の画素の情報を用いて補間処理を行うことで欠陥画素のデータを補正する。
【０００５】
このようにして、暗点（黒）として現れる欠陥画素や明点（白）として現れる欠陥画素等を周辺の画素により補間することで、周囲の画像にとけこませることができる。
【０００６】
また欠陥画素から出力される電子データを高い精度で補正処理することができる画像処理として、欠陥画素の周囲にある近接画素から出力差が最小となる画素組を抽出し、この画素組の２つの画素からの出力値を平均し、この平均値により欠陥画素の値を近似する方法がある（特許文献１）。
【０００７】
【特許文献１】
特開２００１−３０７０７９号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
欠陥はある確率（ウェハプロセスの欠陥の発生率等）で発生するが、ＲＯＭを使用する場合、ＲＯＭの容量に限度があるため、想定以上の個数の欠陥が発生すると補正を行うことが出来ないという問題がある。また出荷試験時に欠陥と判定した画素の位置情報をＲＯＭに書き込んでおくことを基本とするので、出荷試験後に経時変化によって欠陥が発生するような場合には、対応することが出来ないという問題がある。
【０００９】
以上を鑑みて、本発明は、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても対応可能な欠陥補正回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
本発明による半導体集積回路は、イメージセンサからの画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値との比較結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する判定回路と、該着目画素が欠陥画素であるとの該判定回路の判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する欠陥補正回路を含むことを特徴とする。
【００１０】
上記の半導体集積回路における欠陥補正処理においては、着目画素の画素値と周辺画素の画素値との比較を行うことで、着目画素の画素値が周辺画素の画素値から所定の値以上離れているか否か、即ち着目画素の画素値が周辺画素の画素値と比較して突出しているか否かを判断する。この判断結果に応じて、画素値が突出しているときには着目画素が欠陥画素であると判定し、周辺画素の画素値に基づいて当該着目画素の画素値を補正する。従って、従来技術の構成のようにＲＯＭ等の欠陥箇所格納用記憶装置を用いる場合と異なり、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても適切に対応することが可能となる。
【００１１】
またイメージセンサからの画像信号の欠陥画素補正方法は、イメージセンサから読み出した画像信号に含まれる着目画素の画素値と周辺の画素の画素値とを比較する段階と、該比較の結果に応じて該着目画素が欠陥画素か否かを判定する段階と、該着目画素が欠陥画素であるとの判定結果に応じて該着目画素の画素値を周辺画素の画素値に基づいて補正する段階を含むことを特徴とする。
【００１２】
上記欠陥画素補正方法によっても同様に、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても適切に対応することが可能となる。
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の実施例を添付の図面を用いて詳細に説明する。
【００１３】
図２は、本発明によるＣＭＯＳイメージセンサの欠陥補正処理を実行する構成を示す図である。
【００１４】
図２の構成は、欠陥補正回路２１、判定回路２２、及びＲＧＢ変換回路２３を含む。欠陥補正回路２１は、イメージセンサからの画像信号を入力として受け取り、画像信号中の欠陥ピクセル（画素）のデータを処理して欠陥を補正し、補正後の画像信号をＲＧＢ変換回路２３に供給する。ＲＧＢ変換回路２３は、ＲＧＢベイヤ配列の色情報に基づいて、各ピクセルに対する色データを求める。
【００１５】
図２の欠陥補正処理の構成においては、判定回路２２が、着目ピクセル及びその周辺ピクセルのデータに基づいて当該着目ピクセルが欠陥ピクセルであるか否かの判定を行う。欠陥補正回路２１は、判定回路２２の判定結果に基づいて欠陥ピクセルの位置を特定し、その周辺のピクセルの情報を用いて補間処理を行うことで欠陥ピクセルのデータを補正する。
【００１６】
このようにして、暗点（黒）として現れる欠陥ピクセルや明点（白）として現れる欠陥ピクセル等を周辺のピクセルにより補間することで、周囲の画像にとけこませることが可能となる。
【００１７】
図３は、図２の欠陥補正回路２１及び判定回路２２の構成を示すブロック図である。
【００１８】
図３に示されるように、欠陥補正回路２１は、補正値生成ユニット３１及びスイッチユニット３２を含む。また判定回路２２は、横方向ピクセル比較ユニット３５、縦方向ピクセル比較ユニット３６、及び欠陥判定ユニット３７を含む。
【００１９】
図４は、図３に示される構成により実行される欠陥ピクセル補正処理の流れを示すフローチャートである。以下に、図３及び図４を用いて、本発明による欠陥ピクセル補正処理について詳細に説明する。
【００２０】
図４のステップＳＴ１において、横方向ピクセル比較を実行する。具体的には図３において、イメージセンサから欠陥補正回路２１に各ピクセルのデータが順次供給される。供給される各ピクセルのデータは、欠陥補正回路２１から判定回路２２の横方向ピクセル比較ユニット３５に供給されて、ここで横方向ピクセル比較が実行される。
【００２１】
図５は、比較対象となるピクセルを説明するための図である。（ａ）はＲＧＢベイヤ配列を示す。一般にイメージセンサの出力においては、各ピクセルがＲＧＢの３色のデータを有しているわけではなく、（ａ）に示されるように、個々のピクセルがＲＧＢのうちで所定の１色を表現する構成となっている。（ａ）に示されるＲＧＢの配列をＲＧＢベイヤ配列と呼ぶ。このＲＧＢベイヤ配列に基づいて、ＲＧＢ変換回路２３により、各ピクセルに対してＲＧＢの３色のデータを割り当てる処理が実行される。（ｂ）は、ＲＧＢベイヤ配列を用いた場合の同色隣接ピクセルの位置関係を示す図である。（ａ）から分かるように、ＲＧＢベイヤ配列において同色のピクセルは縦横１つおきに配置されている。従ってある特定の色（例えばＲ）に着目した場合、着目ピクセルｐ［ｘ，ｙ］に対して、縦横に隣接する４つの同色のピクセルはｐ［ｘ，ｙ−２］、ｐ［ｘ−２，ｙ］、ｐ［ｘ＋２，ｙ］、及びｐ［ｘ，ｙ＋２］となる。
【００２２】
図４のステップＳＴ１において、着目ピクセルｐ［ｘ，ｙ］に対して、横方向ピクセル比較を実行する対象は、ｐ［ｘ−２，ｙ］及びｐ［ｘ＋２，ｙ］となる。具体的には、
（　ｐ［ｘ−２，ｙ］　≦　ｐ［ｘ，ｙ］　≦　ｐ［ｘ＋２，ｙ］　）　ｏｒ　（　ｐ［ｘ−２，ｙ］　≧　ｐ［ｘ，ｙ］　≧　ｐ［ｘ＋２，ｙ］　）　（１）
が満足するか否かを判断する。上記式（１）を満足する場合には、正常ピクセルと判断する。この場合、図４のフローチャートでは、補正を行うことなく処理を終了する。従って、着目ピクセルの値は入力信号の値のままである。
【００２３】
この動作を図３の構成に対応させると、横方向ピクセル比較ユニット３５が正常ピクセルと判断するときには、例えば、縦方向ピクセル比較ユニット３６及び欠陥判定ユニット３７が動作しない。その結果、スイッチユニット３２が、デフォールトの入力選択としてイメージセンサからの入力画像信号を選択し、選択された信号をそのまま出力する。
【００２４】
式（１）を満足しない場合には、図４のステップＳＴ２で、横方向の不感帯との比較を行う。具体的には、判定回路２２の横方向ピクセル比較ユニット３５が、供給される各ピクセルのデータに基づいて、以下の比較判定を行う。
【００２５】
ｐ［ｘ，ｙ］　＜　Ｗｌｉｍｉｔ　＊　（ｐ［ｘ−２，ｙ］＋ｐ［ｘ＋２，ｙ］）／２　＋　Ｗｏｆｆｓｅｔ　（２）
ｐ［ｘ，ｙ］　＞　Ｂｌｉｍｉｔ　＊　（ｐ［ｘ−２，ｙ］＋ｐ［ｘ＋２，ｙ］）／２　−　Ｂｏｆｆｓｅｔ　（３）
ここでＷｌｉｍｉｔ及びＷｏｆｆｓｅｔは、不感帯の上限を定めるための係数であり、例えばＷｌｉｍｉｔは１．２程度、Ｗｏｆｆｓｅｔは２５６段階の階調の場合に２０〜３０程度の数値である。またＢｌｉｍｉｔ及びＢｏｆｆｓｅｔは、不感帯の下限を定めるための係数であり、例えばＢｌｉｍｉｔは０．８程度、Ｂｏｆｆｓｅｔは２５６段階の階調の場合に２０〜３０程度の数値である。なおＷｌｉｍｉｔ及びＢｌｉｍｉｔは同一の値でもよいし、それぞれ別の値を設定してもよい。またＷｏｆｆｓｅｔ及びＢｏｆｆｓｅｔは同一の値でもよいし、それぞれ別の値を設定してもよい。
【００２６】
図６は、不感帯による比較判定について説明するための図である。
【００２７】
図６において、横軸は着目ピクセルの位置Ｎ及びそれに隣接するピクセルの位置Ｎ−２及びＮ＋２を示し、縦軸は各ピクセルのピクセル値（コード）を示す。この例では、着目ピクセル４１が最もピクセル値が大きく、隣接ピクセル４２及び４３はそれぞれ図に示されるようなピクセル値を有する。範囲Ａは、隣接ピクセル４２のピクセル値と隣接ピクセル４３のピクセル値の間に挟まれる範囲であり、着目ピクセル４１がこの範囲Ａ内に存在する場合には、上記ステップＳＴ１の判断に対応する上記式（１）の条件が満たされることになる。範囲Ｃは、隣接ピクセル４２のピクセル値及び隣接ピクセル４３のピクセル値の平均値Ｂを基にして求められる不感帯の上限４４（式（２）右辺の値）及び不感帯の下限４５（式（３）の右辺の値）により画定される範囲である。この範囲Ｃの内部に着目ピクセル４１が存在する場合には、上記ステップＳＴ２の判断に対応する上記式（２）及び式（３）の条件を満たすことになる。
【００２８】
式（２）及び式（３）を満足する場合には、着目ピクセルが正常ピクセルと判断する。この場合、図４のフローチャートでは、補正を行うことなく処理を終了する。従って、着目ピクセルの値は入力信号の値のままである。
【００２９】
この動作を図３の構成に対応させると、横方向ピクセル比較ユニット３５が正常ピクセルと判断するときには、例えば、縦方向ピクセル比較ユニット３６及び欠陥判定ユニット３７が動作しない。その結果、スイッチユニット３２が、デフォールトの入力選択としてイメージセンサからの入力画像信号を選択し、選択された信号をそのまま出力する。
【００３０】
式（２）又は式（３）を満足しない場合には、図４のステップＳＴ３で、縦方向ピクセル比較を実行する。具体的には図３において、イメージセンサから欠陥補正回路２１に各ピクセルのデータが順次供給されると、このデータが欠陥補正回路２１から横方向ピクセル比較ユニット３５を介して縦方向ピクセル比較ユニット３６に供給され、ここで縦方向ピクセル比較が実行される。
縦方向ピクセル比較を実行する対象は、ｐ［ｘ２，ｙ−２］及びｐ［ｘ，ｙ＋２］となる。具体的には、
（　ｐ［ｘ，ｙ−２］　≦　ｐ［ｘ，ｙ］　≦　ｐ［ｘ，ｙ＋２］　）　ｏｒ　（　ｐ［ｘ，ｙ−２］　≧　ｐ［ｘ，ｙ］　≧　ｐ［ｘ，ｙ＋２］　）　（４）
が満足するか否かを判断する。上記式（４）を満足する場合には、正常ピクセルと判断する。この場合、図４のフローチャートでは、補正を行うことなく処理を終了する。従って、着目ピクセルの値は入力信号の値のままである。
【００３１】
この動作を図３の構成に対応させると、縦方向ピクセル比較ユニット３６が正常ピクセルと判断するときには、例えば、欠陥判定ユニット３７が動作しない。その結果、スイッチユニット３２が、デフォールトの入力選択としてイメージセンサからの入力画像信号を選択し、選択された信号をそのまま出力する。
【００３２】
式（４）を満足しない場合には、図４のステップＳＴ４で、縦方向の不感帯との比較を行う。具体的には、判定回路２２の縦方向ピクセル比較ユニット３６が、供給される各ピクセルのデータに基づいて、以下の比較判定を行う。
【００３３】
ｐ［ｘ，ｙ］　＜　Ｗｌｉｍｉｔ　＊　（ｐ［ｘ，ｙ−２］＋ｐ［ｘ，ｙ＋２］）／２　＋　Ｗｏｆｆｓｅｔ　（５）
ｐ［ｘ，ｙ］　＞　Ｂｌｉｍｉｔ　＊　（ｐ［ｘ，ｙ−２］＋ｐ［ｘ，ｙ＋２］）／２　−　Ｂｏｆｆｓｅｔ　（６）
ここでＷｌｉｍｉｔ及びＷｏｆｆｓｅｔは、不感帯の上限を定めるための係数であり、例えばＷｌｉｍｉｔは１．２程度、Ｗｏｆｆｓｅｔは２５６段階の階調の場合に２０〜３０程度の数値である。またＢｌｉｍｉｔ及びＢｏｆｆｓｅｔは、不感帯の下限を定めるための係数であり、例えばＢｌｉｍｉｔは０．８程度、Ｂｏｆｆｓｅｔは２５６段階の階調の場合に２０〜３０程度の数値である。なおＷｌｉｍｉｔ及びＢｌｉｍｉｔは同一の値でもよいし、それぞれ別の値を設定してもよい。またＷｏｆｆｓｅｔ及びＢｏｆｆｓｅｔは同一の値でもよいし、それぞれ別の値を設定してもよい。
【００３４】
式（５）及び式（６）を満足する場合には、着目ピクセルが正常ピクセルと判断する。この場合、図４のフローチャートでは、補正を行うことなく処理を終了する。従って、着目ピクセルの値は入力信号の値のままである。
【００３５】
この動作を図３の構成に対応させると、縦方向ピクセル比較ユニット３６が正常ピクセルと判断するときには、例えば、欠陥判定ユニット３７が動作しない。その結果、スイッチユニット３２が、デフォールトの入力選択としてイメージセンサからの入力画像信号を選択し、選択された信号をそのまま出力する。
【００３６】
式（５）又は式（６）を満足しない場合には、図４のステップＳＴ５で補正値を生成し、着目ピクセルに対して補正処理を実行する。具体的には、欠陥補正回路２１の補正値生成ユニット３１が、以下の処理を実行して、欠陥ピクセルである着目ピクセルに対する補正値を求める。即ち、式（５）を満足しない場合には、着目ピクセルが明点（白）の欠陥ピクセルと判断し、
ｐ［ｘ，ｙ］＝　ｐ［ｘ，ｙ］　＊　Ｗｗｅｉｇｈｔ　＋（ｐ［ｘ−２，ｙ］＋ｐ［ｘ＋２，ｙ］＋ｐ［ｘ，ｙ−２］＋ｐ［２，ｙ＋２］）／４＊（１−Ｗｗｅｉｇｈｔ）　（７）
を計算する。また式（６）を満足しない場合には、着目ピクセルが暗点（黒）の欠陥ピクセルと判断し、
ｐ［ｘ，ｙ］＝　ｐ［ｘ，ｙ］　＊　Ｂｗｅｉｇｈｔ　＋（ｐ［ｘ−２，ｙ］＋ｐ［ｘ＋２，ｙ］＋ｐ［ｘ，ｙ−２］＋ｐ［２，ｙ＋２］）／４＊（１−Ｂｗｅｉｇｈｔ）　（８）
を計算する。ここでＷｗｅｉｇｈｔ及びＢｗｅｉｇｈｔは、着目ピクセルを補正する際に、着目ピクセルと周囲４ピクセルとの間の重みを調整するための係数である。この係数が１に近いときには、比較的に着目ピクセルの元の画素値を尊重して補正値を求めることになり、また係数が０に近いときには、比較的に着目ピクセルの元の画素値を無視して周辺ピクセルの画素値により補正値を求めることになる。Ｗｗｅｉｇｈｔ及びＢｗｅｉｇｈｔは、同一の値でもよいし、それぞれ別の値を設定してもよい。
【００３７】
Ｗｗｅｉｇｈｔ及びＢｗｅｉｇｈｔに同一の値を用いる場合には、上記式（７）及び式（８）は同一の式となるので、補正値生成ユニット３１は条件判断の結果に関らず同一の処理を実行して補正値を生成すればよい。Ｗｗｅｉｇｈｔ及びＢｗｅｉｇｈｔに異なる値を用いる場合には、式（５）又は式（６）の何れの条件が満たされていないのかに応じて、補正値生成ユニット３１による補正値生成処理が異なることになる。従ってこの場合には、図３の構成において点線で示されるように、縦方向ピクセル比較ユニット３６からの判定結果を補正値生成ユニット３１で参照する必要がある。
【００３８】
図３において、補正値生成ユニット３１が補正値を生成すると共に、縦方向ピクセル比較ユニット３６により式（５）又は式（６）の条件が満たされていない旨の信号が欠陥判定ユニット３７に供給される。この信号に基づいて欠陥判定ユニット３７は、着目ピクセルが欠陥ピクセルであることを判定して、スイッチユニット３２の入力選択を補正値生成ユニット３１側に設定する。これにより、当該着目ピクセルに対して、補正値生成ユニット３１が生成した補正値が次段の処理に供給される。
【００３９】
以上のようにして、本発明による欠陥補正処理においては、着目画素の画素値と周辺画素の画素値との比較を横方向及び縦方向に行うことで、着目画素の画素値が周辺画素の画素値から所定の値以上離れているか否か、即ち着目画素の画素値が周辺画素の画素値と比較して突出しているか否かを判断する。この判断結果に応じて、画素値が突出しているときには着目画素が欠陥画素であると判定し、周辺画素の画素値に基づいて当該着目画素の画素値を補正する。従って、従来技術の構成のようにＲＯＭ等の欠陥箇所格納用記憶装置を用いる場合と異なり、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても対応することが可能となる。
【００４０】
本発明による欠陥補正処理においては、横方向の判定と縦方向の判定を独立に行ない、両方の判定が同時に欠陥ピクセルであると判断した場合にのみ、着目画像が欠陥ピクセルであると判定する。従って、例えば周囲の画素値と大きな差がある目立った縦線或いは横線が存在する場合であっても、横方向の判定と縦方向の判定との何れかは正常ピクセルであるとの判定結果になるので、画素値の補正は実行されない。このようにして本発明においては、目立った縦線或いは横線を正常な画像データであると判断して、これを誤って補正により消去してしまうことはない。
【００４１】
図７は、本発明によるＣＭＯＳイメージセンサの欠陥補正処理を実行する構成の別の一例を示す図である。図７において、図３と同一の構成要素は同一の番号で参照し、必要な場合を除きその説明は省略する。
【００４２】
図７の構成においては、横方向ピクセル比較ユニット３５による横方向ピクセル比較と縦方向ピクセル比較ユニット３６による縦方向ピクセル比較とを並列に実行する構成となっている。即ち、イメージセンサから欠陥補正回路２１に順次供給される各ピクセルのデータは、判定回路２２Ａの横方向ピクセル比較ユニット３５及び縦方向ピクセル比較ユニット３６に並列に供給される。横方向ピクセル比較ユニット３５及び縦方向ピクセル比較ユニット３６は、それぞれの判定動作を並列に実行し、判定結果を欠陥判定ユニット３７Ａに供給する。欠陥判定ユニット３７Ａは、横方向ピクセル比較ユニット３５及び縦方向ピクセル比較ユニット３６が双方共に欠陥ピクセルであると判断した場合に、当該着目ピクセルが欠陥であると判定して、スイッチユニット３２の入力選択を補正値生成ユニット３１側に設定する。
【００４３】
上記の構成によっても、図３の場合と同一の欠陥判定結果が得られる。
【００４４】
図７の構成では、横方向ピクセル比較ユニット３５による比較と縦方向ピクセル比較ユニット３６による比較とを並列に実行したが、縦方向ピクセル比較ユニット３６による比較を実行した後に、横方向ピクセル比較ユニット３５による比較を行うように構成してもよい。即ち、図３の構成において、横方向ピクセル比較ユニット３５と縦方向ピクセル比較ユニット３６に位置を交換して、横方向の比較と縦方向の比較との順序を逆にしてもよい。このような構成としても、図３の場合と同一の欠陥判定結果が得られる。
【００４５】
図８は、本発明による欠陥補正処理を適用した画像プロセッサの構成を示すブロック図である。
【００４６】
図８の画像プロセッサは、欠陥補正ユニット５１、ＲＧＢ変換ユニット５２、ホワイトバランスユニット５３、輪郭強調ユニット５４、ガンマ補正ユニット５５、及びフォーマット変換ユニット５６を含む。
【００４７】
欠陥補正ユニット５１は、ＣＣＤ等のイメージセンサからの画像信号を受け取り本発明による欠陥補正処理を実行するユニットであり、例えば図３又は図７に示される構成を有する。欠陥画素に対して補正の施された補正後画像信号が、欠陥補正ユニット５１からＲＧＢ変換ユニット５２に供給される。ＲＧＢ変換ユニット５２は、ＲＧＢベイヤ配列の色情報に基づいて、各ピクセルに対する色データを求め画像信号として出力する。ＲＧＢ変換ユニット５２の出力画像信号は、ホワイトバランスユニット５３によりホワイトバランスが調整され、その後輪郭強調ユニット５４により輪郭を強調する処理が実行される。ガンマ補正ユニット５５は、出力機器に対してガンマ特性を補正する処理を実行し、最後にフォーマット変換ユニット５６が、次段で処理可能なフォーマットに画像信号を変換し、変換後の画像信号を出力する。
【００４８】
以上、本発明を実施例に基づいて説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の範囲内で様々な変形が可能である。
【発明の効果】
本発明における欠陥補正処理においては、着目画素の画素値と周辺画素の画素値との比較を行うことで、着目画素の画素値が周辺画素の画素値から所定の値以上離れているか否か、即ち着目画素の画素値が周辺画素の画素値と比較して突出しているか否かを判断する。この判断結果に応じて、画素値が突出しているときには着目画素が欠陥画素であると判定し、周辺画素の画素値に基づいて当該着目画素の画素値を補正する。
【００４９】
従って、従来技術の構成のようにＲＯＭ等の欠陥箇所格納用記憶装置を用いる場合と異なり、対処可能な欠陥個数に特に制限が無く、又経時変化で発生する欠陥に対しても適切に対応することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のＣＭＯＳイメージセンサの欠陥補正処理を実行する構成を示す図である。
【図２】本発明によるＣＭＯＳイメージセンサの欠陥補正処理を実行する構成を示す図である。
【図３】図２の欠陥補正回路２１及び判定回路２２の構成を示すブロック図である。
【図４】図３に示される構成により実行される欠陥ピクセル補正処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】比較対象となるピクセルを説明するための図である。
【図６】不感帯による比較判定について説明するための図である。
【図７】本発明によるＣＭＯＳイメージセンサの欠陥補正処理を実行する構成の別の一例を示す図である。
【図８】本発明による欠陥補正処理を適用した画像プロセッサの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
２１　欠陥補正回路
２２　判定回路
２３　ＲＧＢ変換回路
３１　補正値生成ユニット
３２　スイッチユニット
３５　横方向ピクセル比較ユニット
３６　縦方向ピクセル比較ユニット
３７　欠陥判定ユニット
５１　欠陥補正ユニット
５２　ＲＧＢ変換ユニット
５３　ホワイトバランスユニット
５４　輪郭強調ユニット
５５　ガンマ補正ユニット
５６　フォーマット変換ユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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