(57)【要約】【課題】光スイッチを用いることなく、光部品の測定を効率的に且つ正確に行なえるようにする。【解決手段】第１ポート４２ａに入射される光を第２ポート４２ｂから出射し、第２ポート４２ｂに入射される光を第３ポート４２ｃから出射する光分岐器４２Ａ、４２Ｂと、光分岐器４２Ａ、４２Ｂの第２ポート４２ｂに接続された光端子４１Ａ、４１Ｂおよび光分岐器４２Ａ、４２Ｂの第３ポート４２ｃに接続され、その第３ポート４２ｃから出射される光を電気信号に変換する受光器４４Ａ、４４Ｂを有する複数の光インタフェース４０Ａ、４０Ｂと、それら複数の光インタフェース４０Ａ、４０Ｂの各光カプラ４２Ａ、４２Ｂの第１ポート４２ａに測定用の光を入射する測定光発生部６０とを備えている。【選択図】　　　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１ポート（４２ａ）に入射される光を第２ポート（４２ｂ）から出射し、且つ第２ポートに入射される光を第３ポート（４２ｃ）から出射する光分岐器（４２）、該光分岐器の第２ポートに接続された光端子（４１）および前記光分岐器の第３ポートに接続され、該第３ポートから出射される光を電気信号に変換する受光器（４４）をそれぞれ有する複数の光インタフェース（４０）と、
前記複数の光インタフェースの各光分岐器の第１ポートに測定用の光を入射する測定光発生部（６０、６０′）と、
前記複数の光インタフェースの受光器の出力信号に基づいて、前記複数の光インタフェースの各光端子に接続された光部品（１）のポート間の双方向の特性を求める制御部（７０、７０′）とを備えた光部品測定装置。
【請求項２】
前記複数の光インタフェースには、入射する光の偏波状態を変化させて出射する偏波制御器（４３）が、前記光分岐器の第２ポートと前記光端子の間にそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項１記載の光部品測定装置。
【請求項３】
前記測定光発生部は、前記複数の光インタフェースに対してそれぞれ異なる周波数の信号で変調された光を入射するように構成され、
前記複数の光インタフェースの各受光器の出力信号から前記異なる周波数毎の信号成分の振幅を検出する信号振幅検出手段（８１〜８４）が設けられていることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光部品測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光フィルタ、光アイソレータ、光スイッチ等のように光に対して双方向の通過特性を有する光部品の測定を、効率的に且つ正確に行なうための技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】
前記した光部品で一般的に評価対象となる特性は、挿入損失（ＩＬ）、偏波依存性損失（ＰＤＬ）、反射量（ＲＬ）である。
【０００３】
これらの特性を測定するために従来では、図１４に示す光部品測定装置１０が用いられている。
【０００４】
この光部品測定装置１０は、光出力端子１０ａ、光入力端子１０ｂ、光源１１、光カプラ１２、偏波制御器１３、第１の受光器１４、第１の増幅器１５、第１のＡ／Ｄ変換器１６、第２の受光器１７、第２の増幅器１８、第２のＡ／Ｄ変換器１９、制御部２０および表示器２１によって構成されている。
【０００５】
光出力端子１０ａおよび光入力端子１０ｂは、測定対象の光部品１の入出力ポート１ａ、１ｂを接続するための端子である。
【０００６】
光源１１は、半導体レーザからなり、波長および強度が安定な測定用の光（連続光）Ｐをカプラ１２に出射する。
【０００７】
カプラ１２は、光源１１から出射された光Ｐを第１ポート１２ａで受けて第２ポート１２ｂから偏波制御器１３に出射し、偏波制御器１３側から第２ポート１２ｂに入射される光を第３ポート１２ｃから出射する。
【０００８】
偏波制御器１３は、光カプラ１２の第２ポートから出射される光Ｐの偏波状態を可変して光出力端子１０ａに出射する。この偏波制御器１３は制御部２０によって制御される。
【０００９】
第１の受光器１４は、光カプラ１２の第３ポート１２ｃから出射される光を受けて、その光の強度に対応した振幅の電気信号を第１の増幅器１５に出力し、第１の増幅器１５で増幅された信号が第１のＡ／Ｄ変換器１６によってディジタル値に変換され、制御部２０に入力される。
【００１０】
また、第２の受光器１７は、光入力端子１０ｂから入力される光を受けて、その光の強度に対応した振幅の電気信号を第２の増幅器１８に出力し、第２の増幅器１８で増幅された信号が第２のＡ／Ｄ変換器１９によってディジタル値に変換され、制御部２０に入力される。
【００１１】
制御部２０は、図示しない操作部等から指定された測定項目やパラメータに応じて、Ａ／Ｄ変換器１６、１９の出力値に対する演算処理、偏波制御器１３の制御を行い、測定項目に対する光部品１の特性値を求め、これを表示器２１に表示する。
【００１２】
次に、この光部品測定装置１０によって挿入損失（ＩＬ）、偏波依存性損失（ＰＤＬ）、反射量（ＲＬ）を測定する場合について説明する。
【００１３】
光部品１の挿入損失を測定する場合、光出力端子１０ａと光入力端子１０ｂの間を図１４で点線で示しているように直結して、制御部２０に対して損失測定の校正の指示をする。
【００１４】
この校正の指示を受けた制御部２０は、偏波制御器１３を基準状態（入射光の偏波状態を変化させずにそのまま出射させる状態）に設定し、第２のＡ／Ｄ変換器１９の出力値を基準値Ｒとして記憶する。
【００１５】
次に、光部品１の一方のポート１ａを光出力端子１０ａに接続し、他方のポート１ｂを光入力端子１０ｂに接続して、損失測定の開始を指示する。
【００１６】
この指示を受けた制御部２０は、偏波制御器１３を前記基準状態に保持したまま、第２のＡ／Ｄ変換器１９が出力する値Ｘと基準値Ｒとの比Ｘ／Ｒを求め、この比をｄＢ換算して、その換算値を光部品１の挿入損失として表示器２１に表示させる。
【００１７】
また、光部品１の偏波依存性損失を測定する場合、光部品１の一方のポート１ａを光出力端子１０ａに接続し、他方のポート１ｂを光入力端子１０ｂに接続して、制御部２０に対して偏波依存性損失の測定を指示する。
【００１８】
この指示を受けた制御部２０は、偏波制御器１３を制御して、光部品１に与える光Ｐの偏波状態を所定量ずつ可変しながら、第２のＡ／Ｄ変換器１９の出力値Ｘを順次記憶して、偏波状態に対する出力値Ｘの変化特性を求め、その出力値Ｘの中から、最大値Ｘｍａｘと最小値Ｘｍｉｎを求め、その比Ｘｍｉｎ／Ｘｍａｘを求め、この比をｄＢ換算して、その換算値を光部品１の偏波依存性損失として表示器２１に表示させる。
【００１９】
また、光部品１の反射量を測定する場合、始めに、図１５のように、既知の大きい反射率Ｌａ（％）のコネクタ５を光出力端子１０ａに接続し、その反射率Ｌａを制御部２０に入力して、反射量測定の校正を指示する。
【００２０】
この指示を受けた制御部２０は、偏波制御器１３を前記基準状態に設定し、入力された反射率Ｌａと、そのとき第１のＡ／Ｄ変換器１６から出力される値Ｘａとを対応付けて記憶する。
【００２１】
次に、図１６のように、反射率０（無反射）のコネクタ６を光出力端子１０ａに接続し、その反射率Ｌｂを制御部２０に入力して、反射量測定の校正を指示する。
【００２２】
この指示を受けた制御部２０は、前記同様に、偏波制御器１３を前記基準状態に設定したまま、入力された反射率０と、そのとき第１のＡ／Ｄ変換器１６から出力される値Ｘｂとを対応付けて記憶する。
【００２３】
そして、光部品１の一方のポート１ａを光出力端子１０ａに接続し、他方のポート１ｂを光入力端子１０ｂに接続して、制御部２０に対して反射量の測定を指示する。
【００２４】
この指示を受けた制御部２０は、偏波制御器１３を前記基準状態に設定したまま、そのとき第１のＡ／Ｄ変換器１６から出力される値Ｘｃを記憶し、次の演算によって、光部品１の反射量ＲＬを求めて、表示器２１に表示させる。
【００２５】
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【００２６】
なお、上記反射量の測定の校正のために、反射率０のコネクタ６を用いていたが、これは光カプラ１２の第１ポート１２ａから第３ポート１２ｃへの漏洩が無視できない場合を想定したものであり、光カプラ１２の第１ポート１２ａから第３ポート１２ｃへの漏洩が無視できる場合、即ち、Ｘｂ＝０の場合には、反射率０のコネクタ６を用いた測定を省略し、次の式で反射率ＲＬを求めることができる。
【００２７】
ＲＬ＝Ｌａ・Ｘｃ／Ｘａ　（％）
【００２８】
このように、上記構成の光部品測定装置１０を用いることで、光部品１の挿入損失、偏波依存性損失および反射量を測定することができる。
【００２９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記した光フィルタや光アイソレータ等の光部品は、双方向の通過特性を有しており、このような双方向の通過特性をもつ光部品については、図１４に示した接続状態から、光部品１のポート１ａを光入力端子１０ｂ側に、またポート１ｂを光出力端子１０ａ側に接続し直して上記した各測定を行なわなければならず、この接続は手作業であるために、多数の光部品の測定を行なう際に非常に煩雑となる。
【００３０】
これを解決するために、例えば図１７のように、光出力端子１０ａ、光入力端子１０ｂと、光部品１のポート１ａ、１ｂの間に光スイッチ２２を設け、この光スイッチ２２で、実線で示すように光出力端子１０ａとポート１ａとの間および光入力端子１０ｂとポート１ｂとの間が接続された状態と、点線で示すように光出力端子１０ａとポート１ｂとの間および光入力端子１０ｂとポート１ａとの間が接続された状態とに切り換えて、上記測定を行なうことも考えられる。
【００３１】
しかし、光スイッチ２２は、一般的にミラーやプリズム等を機械的に可動して光路の切り換えを行なっているために、信頼性が低く、測定結果に対する信頼度も低下してしまう。
【００３２】
また、光スイッチ自体の特性のうち挿入損失や反射量については、この光スイッチを含めた校正処理によってその影響を取り除くことが可能であるが、偏波依存性の影響は取り除くことが困難で、測定誤差を招く。
【００３３】
本発明は、これらの問題を解決し、光スイッチを用いることなく、光部品の測定を効率的に且つ正確に行なえる光部品測定装置を提供することを目的としている。
【００３４】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明の請求項１の光部品測定装置は、
第１ポート（４２ａ）に入射される光を第２ポート（４２ｂ）から出射し、且つ第２ポートに入射される光を第３ポート（４２ｃ）から出射する光分岐器（４２）、該光分岐器の第２ポートに接続された光端子（４１）および前記光分岐器の第３ポートに接続され、該第３ポートから出射される光を電気信号に変換する受光器（４４）をそれぞれ有する複数の光インタフェース（４０）と、
前記複数の光インタフェースの各光分岐器の第１ポートに測定用の光を入射する測定光発生部（６０、６０′）と、
前記複数の光インタフェースの受光器の出力信号に基づいて、前記複数の光インタフェースの各光端子に接続された光部品（１）のポート間の双方向の特性を求める制御部（７０、７０′）とを備えている。
【００３５】
また、本発明の請求項２の光部品測定装置は、請求項１の光部品測定装置において、
前記複数の光インタフェースには、入射する光の偏波状態を変化させて出射する偏波制御器（４３）が、前記光分岐器の第２ポートと前記光端子の間にそれぞれ設けられている。
【００３６】
また、本発明の請求項３の光部品測定装置は、請求項１または請求項２の光部品測定装置において、
前記測定光発生部は、前記複数の光インタフェースに対してそれぞれ異なる周波数の信号で変調された光を入射するように構成され、
前記複数の光インタフェースの各受光器の出力信号から前記異なる周波数毎の信号成分の振幅を検出する信号振幅検出手段（８１〜８４）が設けられている。
【００３７】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した光部品測定装置３０の構成を示している。
【００３８】
この光部品測定装置３０は２ポート型のものであり、２組の光インタフェース４０Ａ、４０Ｂ、Ａ／Ｄ変換器５０Ａ、５０Ｂ、測定光発生部６０、制御部７０および表示器７１によって構成されている。
【００３９】
光インタフェース４０Ａは、光端子４１Ａ、光分岐器としての光カプラ４２Ａ、偏波制御器４３Ａ、受光器４４Ａおよび増幅器４５Ａによって構成されている。
【００４０】
光端子４１Ａは、測定対象の光部品のポートを接続するためのものであり、光カプラ４２Ａの第２ポート４２ｂに接続されている。
【００４１】
光カプラ４２Ａは、測定光発生部６０から出射される測定用の光Ｐａを第１ポート４２ａで受けて第２ポート４１ｂから出射し、偏波制御器４３Ａ側から第２ポート４２ｂに入射される光を第３ポート４２ｃから出射して受光器４４Ａに入射する。
【００４２】
受光器４４Ａは、光カプラ４２Ａの第３ポート４２ｃから出射された光を受け、その光の強度に対応する電圧の電気信号に変換して、増幅器４５Ａに出力する。
【００４３】
一方、光インタフェース４０Ｂは、第１の光インタフェース４０Ａと同一構成のもので、光端子４１Ｂ、光分岐器としての光カプラ４２Ｂ、偏波制御器４３Ｂ、受光器４４Ｂおよび増幅器４５Ｂによって構成されている。
【００４４】
光端子４１Ｂは、測定対象の光部品のポートを接続するためのものであり、光カプラ４２Ｂの第２ポート４２ｂに接続されている。
【００４５】
光カプラ４２Ｂは、測定光発生部６０から出射される測定用の光Ｐｂを第１ポート４２ａで受けて第２ポート４２ｂから出射し、偏波制御器４３Ｂ側から第２ポート４２ｂに入射される光を第３ポート４２ｃから出射して受光器４４Ｂに入射する。
【００４６】
受光器４４Ｂは、光カプラ４２Ｂの第３ポート４２ｃから出射された光を受け、その光の強度に対応する電圧の電気信号に変換して、増幅器４５Ｂに出力する。
【００４７】
なお、ここでは、光分岐器として光カプラ４２Ａ、４２Ｂを用いた例を説明するが、光カプラ４２Ａ、４２Ｂの代わりに、無偏光ビームスプリッタや光サーキュレータ等で光分岐器を構成してもよく、これは、後述する各変形例についても同様である。
【００４８】
また、偏光制御器４３Ａ、４３Ｂは、入射する光のレベルをほとんど変えることなく、偏光の状態のみを変化させて出射するためのものであり、１／２波長板と１／４波長板を用いたものや、光ファイバに与える応力を変化させる方式のものが用いられ、その偏波状態は制御部７０の制御によって可変される。
【００４９】
また、受光器４４Ａ、４４Ｂとしては、暗電流が小さく、入射する光の強度に比例した電気信号を出力するＰＩＮ型フォトダイオード等が用いられている。
【００５０】
光インタフェース４０Ａ、４０Ｂの各増幅器４５Ａ、４５Ｂから出力される信号は、それぞれＡ／Ｄ変換器５０Ａ、５０Ｂによってディジタル値に変換されて、制御部７０に入力される。
【００５１】
測定光発生部６０は、制御部７０の制御を受けて、測定に必要な光Ｐａ、Ｐｂを光インタフェース４０Ａの光カプラ４２Ａ、光インタフェース４０Ｂの光カプラ４２Ｂに出射する。
【００５２】
この測定光発生部６０は、図２に示すように、２つの半導体レーザ６１Ａ、６１Ｂから、ほぼ等しい波長と強度の光（連続光）Ｐａ、Ｐｂをそれぞれ出射する構成や、図３に示すように、一つの半導体レーザ６１から出射された光を光分岐器６２によって２つの光Ｐａ、Ｐｂに分岐し、分岐した光Ｐａ、Ｐｂをそれぞれ光減衰器６３Ａ、６３Ｂを介して出射する構成を採用することができる。
【００５３】
なお、図２の構成で出射される光Ｐａ、Ｐｂのオンオフは、制御部７０による半導体レーザ６１Ａ、６１Ｂの駆動電流の断続制御によって行なう。
【００５４】
また、図３の構成で出射される光Ｐａ、Ｐｂのオンオフは、制御部７０による光減衰器６３Ａ、６３Ｂの減衰量の制御によって行なう。
【００５５】
制御部７０は、図示しない操作部等から指定された測定項目や、入力されたパラメータにしたがって、各光インタフェース４０Ａ、４０Ｂの偏波制御器４３Ａ、４３Ｂの制御、測定光発生部６０の制御等を行い、Ａ／Ｄ変換器５０Ａ、５０Ｂの出力値を記憶して、その出力値に基づいて光部品の特性を求め、求めた特性値を表示器７１に表示させる。
【００５６】
次に、この光部品測定装置３０を用いて、光部品１の挿入損失、偏波依存性損失および反射量を測定する場合について説明する。
【００５７】
光部品１の挿入損失を測定する場合、光端子４１Ａ、４１Ｂの間を図１で点線で示しているように直結して、制御部７０に対して損失測定の校正の指示をする。
【００５８】
この校正の指示を受けた制御部７０は、偏波制御器４３Ａ、４３Ｂをともに基準状態（入射光の偏波状態を変化させずに出射する状態）に設定し、測定光発生部６０から光Ｐａのみを出射させて、光インタフェース４０Ａの光カプラ４２Ａに入射する。
【００５９】
この光Ｐａは、光カプラ４２Ａ、光端子４１Ａ、光端子４１Ｂ、光カプラ４２Ｂを介して光インタフェース４０Ｂの受光器４４Ｂに入射され、その出力が増幅されてＡ／Ｄ変換器５０Ｂでディジタル値に変換される。
【００６０】
制御部７０は、このＡ／Ｄ変換器５０Ｂの出力値を第１の基準値Ｒａとして記憶した後、測定光発生部６０から光Ｐｂのみを出射させ、光インタフェース４０Ｂの光カプラ４２Ｂに入射する。
【００６１】
この光Ｐｂは、光カプラ４２Ｂ、光端子４１Ｂ、光端子４１Ａ、カプラ４２Ａを介して光インタフェース４０Ａの受光器４４Ａに入射され、その出力が増幅されてＡ／Ｄ変換器５０Ａでディジタル値に変換される。
【００６２】
制御部７０は、このＡ／Ｄ変換器５０Ａの出力値を、第２の基準値Ｒｂとして記憶し、校正のための処理が終了したことを示す情報を表示器７１に表示させる。
【００６３】
次に、図１に示しているように、測定対象の光部品１の一方のポート１ａを光端子４１Ａ、他方のポート１ｂを光端子４１Ｂに接続して、制御部７０に対して損失測定の開始を指示する。
【００６４】
この指示を受けた制御部７０は、偏波制御器４３Ａ、４３Ｂを前記基準状態に保持したまま、測定光発生部６０から光Ｐａのみを出射させ、光インタフェース４０Ａの光カプラ４２Ａに入射させ、このときのＡ／Ｄ変換器５０Ｂの出力値Ｘａを記憶し、次に、測定光発生部６０から光Ｐｂのみを出射させ、光インタフェース４０Ｂの光カプラ４２Ｂに入射させ、このときのＡ／Ｄ変換器５０Ａの出力値Ｘｂを記憶する。
【００６５】
そして、記憶値Ｘａと第１の基準値Ｒａとの比Ｘａ／Ｒａを求め、この比をｄＢ換算して、光部品１のポート１ａからポート１ｂへ向かう光の挿入損失ＩＬａを求め、さらに記憶値Ｘｂと第２の基準値Ｒｂとの比Ｘｂ／Ｒｂを求め、この比をｄＢ換算して、光部品１のポート１ｂからポート１ａへ向かう光の挿入損失ＩＬｂを求め、その求めた２つの挿入損失ＩＲａ、ＩＲｂを表示器７１に表示させる。
【００６６】
また、光部品１の偏波依存性損失を測定する場合、図１に示した接続状態のままで、制御部７０に対して偏波依存性損失の測定を指示する。
【００６７】
この指示を受けた制御部７０は、測定光発生部６０から光Ｐａのみを出射させ、光インタフェース４０Ａに入射させ、光インタフェース４０Ｂの偏波制御器４３Ｂを前記基準状態に設定した状態で、光インタフェース４０Ａの偏波制御器４３Ａを制御して、光部品１に与える光Ｐａの偏波状態を所定量ずつ可変しながら、Ａ／Ｄ変換器５０Ｂの出力値Ｘを順次記憶して、偏波状態に対する出力値Ｘの変化特性を求める。
【００６８】
そして、その出力値Ｘの中から、最大値Ｘｍａｘと最小値Ｘｍｉｎを求め、その比Ｘｍｉｎ／Ｘｍａｘを求め、この比をｄＢ換算して、その換算値を光部品１のポート１ａからポート１ｂに向かう方向の偏波依存性損失ＰＤＬａとして記憶する。
【００６９】
次に、測定光発生部６０から光Ｐｂのみを出射させ、光インタフェース４０Ｂに入射させ、光インタフェース４０Ａの偏波制御器４３Ａを前記基準状態に設定した状態で、光インタフェース４０Ｂの偏波制御器４３Ｂを制御して、光部品１に与える光Ｐｂの偏波状態を所定量ずつ可変しながら、Ａ／Ｄ変換器５０Ａの出力値Ｘを順次記憶して、偏波状態に対する出力値Ｘの変化特性を求める。
【００７０】
そして、その出力値Ｘの中から、最大値Ｘｍａｘと最小値Ｘｍｉｎを求め、その比Ｘｍｉｎ／Ｘｍａｘを求め、この比をｄＢ換算して、その換算値を光部品１のポート１ｂからポート１ａに向かう方向の偏波依存性損失ＰＤＬｂとして記憶し、これらの偏波依存性損失ＰＤＬａ、ＰＤＬｂを表示器７１に表示させる。
【００７１】
また、光部品１の反射量を測定する場合、予め、図４に示しているように、既知の大きい反射率Ｌａ（例えば９０％）のコネクタ５を光端子４１Ａ、４１Ｂに接続し、その反射率Ｌａを制御部７０に入力して、反射量測定の校正を指示する。
【００７２】
この指示を受けた制御部７０は、偏波制御器４３Ａ、４３Ｂをともに前記基準状態に設定し、測定光発生部６０から光Ｐａ、Ｐｂをともに出射させる。
【００７３】
この状態では、測定光発生部６０から出射されている光Ｐａは、光カプラ４２Ａ、偏波制御器４３Ａ、光端子４１Ａを介してコネクタ５に入射し、その内のほとんどがコネクタ５で反射され、その反射光が、光端子４１Ａ、偏波制御器４３Ａ、光カプラ４２Ａを介して受光器４４Ａに入射される。また、この受光器４４Ａには、光カプラ４２Ａの第１ポート４２ａから第３ポート４２ｃへの漏洩光も入射される。
【００７４】
したがって、受光器４４Ａからは、入射される反射光と漏洩光の強度の和に対応した電圧の信号が出力され、この信号が増幅されてＡ／Ｄ変換器５０Ａによってディジタル値に変換される。
【００７５】
また、測定光発生部６０から出射されている光Ｐｂは、光カプラ４２Ｂ、偏波制御器４３Ｂ、光端子４１Ｂを介してコネクタ５に入射し、その内のほとんどがコネクタ５で反射され、その反射光が、光端子４１Ｂ、偏波制御器４３Ｂ、光カプラ４２Ｂを介して受光器４４Ｂに入射される。また、この受光器４４Ｂには、光カプラ４２Ｂの第１ポート４２ａから第３ポート４２ｃへの漏洩光も入射される。
【００７６】
したがって、受光器４４Ｂからは、入射される反射光と漏洩光の強度の和に対応した電圧の信号が出力され、この信号が増幅されてＡ／Ｄ変換器５０Ｂによってディジタル値に変換される。
【００７７】
制御部７０は、この状態でＡ／Ｄ変換器５０Ａから出力されている値Ｘａと、Ａ／Ｄ変換器５０Ｂから出力されている値Ｘａ′とを、入力された反射率Ｌａに対応付けて記憶する。
【００７８】
次に、図５のように、反射率０（無反射）のコネクタ６を光端子４１Ａ、４１Ｂに接続し、その反射率０を制御部７０に入力して、反射量測定の校正を指示する。
【００７９】
この指示を受けた制御部７０は、前記同様に偏波制御器４３Ａ、４３Ｂを前記基準状態に設定したまま、測定光発生部６０から光Ｐａ、Ｐｂを出射させ、そのときＡ／Ｄ変換器５０Ａから出力される値ＸｂとＡ／Ｄ変換器５０Ｂから出力される値Ｘｂ′とを、入力された反射率０に対応付けて記憶し、校正のための測定が終了したことを表示器７１の表示で示す。
【００８０】
そして、図１に示した接続状態にして、制御部７０に対して反射量の測定を指示する。
【００８１】
この指示を受けた制御部７０は、偏波制御器４３Ａ、４３Ｂをともに前記基準状態に設定したまま、測定光発生部６０から光Ｐａのみを出射させ、Ａ／Ｄ変換器５０Ａから出力される値Ｘｃを記憶し、次に、測定光発生部６０から光Ｐｂのみを出射させ、そのときＡ／Ｄ変換器５０Ｂから出力される値Ｘｃ′を記憶する。
【００８２】
そして、次の演算によって、光部品１の双方向の反射量ＲＬａ、ＲＬｂを求めて、表示器７１に表示させる。
【００８３】
ＲＬａ＝Ｌａ・（Ｘｃ−Ｘｂ）／（Ｘａ−Ｘｂ）　（％）
ＲＬｂ＝Ｌａ・（Ｘｃ′−Ｘｂ′）／（Ｘａ′−Ｘｂ′）　（％）
【００８４】
なお、上記反射量の測定の校正のために、反射率０のコネクタ６を用いていたが、これは、各光カプラ４２Ａ、４２Ｂの第１ポート４２ａから第３ポート４２ｃへの漏洩が無視できない場合を想定したものであり、その漏洩が無視できる場合、即ち、Ｘｂ＝Ｘｂ′＝０の場合には、反射率０のコネクタ６を用いた測定を省略し、次の式で反射率ＲＬを求めることができる。
【００８５】
ＲＬａ＝Ｌａ・Ｘｃ／Ｘａ　（％）
ＲＬｂ＝Ｌａ・Ｘｃ′／Ｘａ′　（％）
【００８６】
以上、光部品測定装置３０を用いて光部品１の挿入損失、偏波依存性損失および反射量を双方向に測定する場合について説明したが、挿入損失および反射量の測定の前に行なった校正のための測定は、前もって１回だけ行なっていればよいので、一つの光部品についての挿入損失、偏波依存性損失および反射量の双方向の測定を、図１に示した接続状態を変えることなく行なうことができ、また、可動部を有する光スイッチ等を用いないで構成できるので、光部品の測定を効率的に且つ高い信頼性をもって行なうことができる。
【００８７】
前記した光部品測定装置３０は、測定光発生部６０から２つの光インタフェース４０Ａ、４０Ｂに対し測定のための光を交互に入射して、光部品１に対する双方向の測定を行なうようにしていたが、光部品１に対する双方向の測定を並行して行なうこともできる。
【００８８】
図６は、双方向測定を並行して行なう光部品測定装置３０′を示している。
この光部品測定装置３０′では、異なる周波数ｆ１、ｆ２の変調信号でそれぞれ強度変調された光Ｐ（ｆ１）、Ｐ（ｆ２）を常時並行して出射するように測定光発生部６０′が構成されている。
【００８９】
また、光インタフェース４０Ａの増幅器４５Ａの出力信号から周波数ｆ１、ｆ２の信号成分をそれぞれフィルタ８１Ａ、８２Ａで抽出し、フィルタ８１Ａの出力信号と、フィルタ８２Ａの出力信号の振幅を検波器８３Ａ、８４Ａでそれぞれ検出し、その検出された振幅をＡ／Ｄ変換器５１Ａ、５２Ａによってディジタル値に変換して、制御部７０′に出力する。
【００９０】
また、光インタフェース４０Ｂの増幅器４５Ｂの出力信号から周波数ｆ１、ｆ２の信号成分をそれぞれフィルタ８１Ｂ、８２Ｂで抽出し、フィルタ８１Ｂ、８２Ｂの出力信号の振幅を検波器８３Ｂ、８４Ｂでそれぞれ検出し、その検出された振幅をＡ／Ｄ変換器５１Ｂ、５２Ｂによってディジタル値に変換して、制御部７０′に出力する。
【００９１】
ここで、上記した測定光発生部６０′は、例えば図７に示すように、信号発生器６４Ａから出力される周波数ｆ１の信号Ｓ（ｆ１）で半導体レーザ６１Ａを励振して光Ｐ（ｆ１）を出射させ、信号発生器６４Ｂから出力される周波数ｆ２の信号Ｓ（ｆ２）で半導体レーザ６１Ｂを励振して光Ｐ（ｆ２）を出射させる構成や、図８に示すように、一つの半導体レーザ６１から出射された光を光分岐器６２によって２つの連続光Ｐａ、Ｐｂに分岐し、それぞれ変調器６５Ａ、６５Ｂに入射し、変調器６５Ａに信号発生器６４Ａから出力される周波数ｆ１の信号Ｓ（ｆ１）を与えて光Ｐ（ｆ１）を出射させ、変調器６５Ｂに信号発生器６４Ｂから出力される周波数ｆ２の信号Ｓ（ｆ２）を与えて光Ｐ（ｆ２）を出射させる構成を採用することができる。
【００９２】
なお、光を変調する信号Ｓ（ｆ１）、Ｓ（ｆ２）の周波数は任意であるが、測定装置内の光路差による位相差を無視でき、また、フィルタ８１、８２の構成が簡単で済む数１００Ｈｚ〜数１０ｋＨｚの低周波帯とする。
【００９３】
次に、この光部品測定装置３０′で前記した各測定を行なう場合について説明する。
【００９４】
この光部品測定装置３０′では、光部品１の挿入損失と反射量の双方向の測定を同時に行なうことができるが、その前に損失測定と反射量の校正が必要となる。
【００９５】
即ち、損失測定の校正では、始めに光端子４１Ａ、４１Ｂの間を図６で点線で示しているように直結して、制御部７０′に対して損失測定の校正の指示をする。
【００９６】
この校正の指示を受けた制御部７０′は、偏波制御器４３Ａ、４３Ｂをともに前記基準状態に設定する。
【００９７】
この状態では、測定光発生部６０′から出射された光Ｐ（ｆ１）は、光カプラ４２Ａ、光端子４１Ａ、光端子４１Ｂ、光カプラ４２Ｂを介して光インタフェース４０Ｂの受光器４４Ｂに入射され、その出力が増幅されてフィルタ８１Ｂ、８２Ｂに入力される。
【００９８】
フィルタ８１Ｂ、８２Ｂに入力される信号の変調成分は周波数ｆ１の成分だけであるから、フィルタ８２Ｂからは信号が出力されず、フィルタ８１Ｂから周波数ｆ１の信号Ｓａ（ｆ１）が出力され、その信号の振幅が検波器８３Ｂで検出され、Ａ／Ｄ変換器５２Ｂでディジタル値に変換されて、制御部７０′に入力される。
【００９９】
また、これと並行して、測定光発生部６０′から出射された光Ｐ（ｆ２）は、光カプラ４２Ｂ、光端子４１Ｂ、光端子４１Ａ、光カプラ４２Ａを介して光インタフェース４０Ａの受光器４４Ａに入射され、その出力が増幅されてフィルタ８１Ａ、８２Ａに入力される。
【０１００】
フィルタ８１Ａ、８２Ａに入力される信号の変調成分は周波数ｆ２の成分だけであるから、フィルタ８１Ａからは信号が出力されず、フィルタ８２Ａから周波数ｆ２の信号Ｓｂ（ｆ２）が出力され、その信号の振幅が検波器８４Ａで検出され、Ａ／Ｄ変換器５２Ａでディジタル値に変換されて、制御部７０′に入力される。
【０１０１】
制御部７０′は、Ａ／Ｄ変換器５１Ｂの出力値を第１の基準値Ｒａ、Ａ／Ｄ変換器５２Ａの出力値を第２の基準値Ｒｂとして記憶し、損失測定の校正のための処理が終了したことを示す情報を表示器７１に表示させる。
【０１０２】
次に、前記図４で示したのと同様に、既知の大きい反射率Ｌａ（例えば９０％）のコネクタ５を光端子４１Ａ、４１Ｂに接続し、その反射率Ｌａを制御部７０′に入力して、反射量測定の校正を指示する。
【０１０３】
この指示を受けた制御部７０′は、偏波制御器４３Ａ、４３Ｂをともに前記基準状態に設定する。
【０１０４】
この状態では、測定光発生部６０′から出射された光Ｐ（ｆ１）は、光カプラ４２Ａ、偏波制御器４３Ａ、光端子４１Ａを介してコネクタ５に入射し、その内のほとんどがコネクタ５で反射され、その反射光が、光端子４１Ａ、偏波制御器４３Ａ、光カプラ４２Ａを介して受光器４４Ａに入射される。また、この受光器４４Ａには、光カプラ４２Ａの第１ポート４２ａから第３ポート４２ｃへの漏洩光も入射される。
【０１０５】
受光器４４Ａに入射される反射光と漏洩光を変調している信号の周期は、光カプラ４２Ａからコネクタ５の間を光が往復する時間に比べて十分長いので、反射光と漏洩光とは同一の変調位相で受光器４４Ａに入射される。
【０１０６】
このため、受光器４４Ａからは、反射光の変調成分の振幅と漏洩光の変調成分の振幅の和の振幅をもち周波数がｆ１の信号成分が出力される。
【０１０７】
そして、この信号は増幅されてフィルタ８１Ａ、８２Ａに入力されるが、この信号には、周波数ｆ１の変調成分しか含まれていないため、フィルタ８２Ａからは信号が出力されず、フィルタ８１Ａから周波数ｆ１の信号が出力され、その信号の振幅が検波器８３Ａで検出されて、Ａ／Ｄ変換器５１Ａによってディジタル値に変換される。
【０１０８】
一方、測定光発生部６０′から出射されている光Ｐ（ｆ２）は、光カプラ４２Ｂ、偏波制御器４３Ｂ、光端子４１Ｂを介してコネクタ５に入射し、その内のほとんどがコネクタ５で反射され、その反射光が、光端子４１Ｂ、偏波制御器４３Ｂ、光カプラ４２Ｂを介して受光器４４Ｂに入射され、前記同様に、光カプラ４２Ｂの第１ポートから第３ポートへの漏洩光も受光器４４Ｂに入射される。
【０１０９】
そして、この反射光と漏洩光を受光した受光器４４Ｂからは、前記同様に、反射光の変調成分と漏洩光の変調成分の振幅の和に等しい振幅をもち周波数がｆ２の信号が出力され、その信号がフィルタ８２Ｂから検波器８４Ｂに出力されてその振幅が検出され、Ａ／Ｄ変換器５２Ｂによってディジタル値に変換される。
【０１１０】
制御部７０′は、この状態でＡ／Ｄ変換器５１Ａから出力されている値Ｘａと、Ａ／Ｄ変換器５２Ｂから出力されている値Ｘａ′とを、入力された反射率Ｌａに対応付けて記憶する。
【０１１１】
次に、図５に示したのと同様に、反射率０（無反射）のコネクタ６を光端子４１Ａ、４１Ｂに接続し、その反射率０を制御部７０′に入力して、反射量測定の校正を指示する。
【０１１２】
この指示を受けた制御部７０′は、前記同様に偏波制御器４３Ａ、４３Ｂを前記基準状態に設定する。
【０１１３】
この状態では、測定光発生部６０′から出射されている光Ｐ（ｆ１）は、光カプラ４２Ａ、偏波制御器４３Ａ、光端子４１Ａを介してコネクタ６に入射し、コネクタ６で吸収されてしまうため、光カプラ４２Ａの第１ポート４２ａから第３ポート４２ｃへの漏洩光のみが受光器４４Ａに入射され、受光器４４Ａからはその漏洩光の変調成分の信号が出力され、この信号が増幅されてフィルタ８１Ａ、８２Ａに入力されるが、この信号には周波数ｆ１の変調成分しか含まれていないため、フィルタ８２Ａからは信号が出力されず、フィルタ８１Ａから周波数ｆ１の信号が出力され、その信号の振幅が検波器８３Ａで検出されて、Ａ／Ｄ変換器５１Ａによってディジタル値に変換される。
【０１１４】
一方、測定光発生部６０′から出射されている光Ｐ（ｆ２）は、光カプラ４２Ｂ、偏波制御器４３Ｂ、光端子４１Ｂを介してコネクタ６に入射し、コネクタ６で吸収されてしまうため、受光器４４Ｂには、光カプラ４２Ｂの第１ポート４２ａから第３ポート４２ｃへの漏洩光のみが入射される。
【０１１５】
そして、受光器４４Ｂからは、前記同様に、漏洩光の変調成分の信号が出力され、その信号がフィルタ８２Ｂから検波器８４Ｂに出力されてその振幅が検出され、Ａ／Ｄ変換器５２Ｂによってディジタル値に変換される。
【０１１６】
制御部７０′は、この状態でＡ／Ｄ変換器５１Ａから出力されている値Ｘｂと、Ａ／Ｄ変換器５２Ｂから出力されている値Ｘｂ′とを入力された反射率０に対応付けて記憶し、反射率の校正のための処理が終了したことを表示器７１に表示させる。
【０１１７】
次に、図６に示しているように測定対象の光部品１の一方のポート１ａを光端子４１Ａ、他方のポート１ｂを光端子４１Ｂに接続して、制御部７０′に対して損失および反射率の測定の開始を指示する。
【０１１８】
この指示を受けた制御部７０′は、偏波制御器４３Ａ、４３Ｂを前記基準状態に保持した状態で、各Ａ／Ｄ変換器５３〜５６の出力値Ｘａ（ｆ１）〜Ｘｂ（ｆ２）を記憶する。
【０１１９】
ここで、Ａ／Ｄ変換器５１Ａの出力値Ｘａ（ｆ１）は、光Ｐ（ｆ１）に対する光部品１のポート１ａからの反射光と光カプラ５２Ａによる漏洩光の和の成分を示し、Ａ／Ｄ変換器５２Ａの出力値Ｘａ（ｆ２）は、光Ｐ（ｆ２）に対する光部品１のポート１ｂ側からの通過量を示している。
【０１２０】
また、Ａ／Ｄ変換器５１Ｂの出力値Ｘｂ（ｆ１）は、光Ｐ（ｆ１）に対する光部品１のポート１ａ側からの通過量を示し、Ａ／Ｄ変換器５２Ｂの出力値Ｘｂ（ｆ２）は、光Ｐ（ｆ２）に対する光部品１のポート１ｂからの反射光と光カプラ４２Ｂによる漏洩光との和の成分を示している。
【０１２１】
制御部７０′は、これらの値のうち、Ａ／Ｄ変換器５２Ａの出力値Ｘａ（ｆ２）、Ａ／Ｄ変換器５１Ｂの出力値Ｘｂ（ｆ１）、前記した第１の基準値Ｒａおよび第２の基準値Ｒｂとから、光部品１の双方向の損失を求める。
【０１２２】
即ち、値Ｘｂ（ｆ１）と第１の基準値Ｒａとの比Ｘｂ（ｆ１）／Ｒａを求め、この比をｄＢ換算して、光部品１のポート１ａからポート１ｂへ向かう光の挿入損失ＩＬａを求め、さらに値Ｘａ（ｆ２）と第２の基準値Ｒｂとの比Ｘａ（ｆ２）／Ｒｂを求め、この比をｄＢ換算して、光部品１のポート１ｂからポート１ａへ向かう光の挿入損失ＩＬｂを求め、その求めた２つの挿入損失ＩＲａ、ＩＲｂを表示器７１に表示させる。
【０１２３】
また、Ａ／Ｄ変換器５１Ａの出力値Ｘａ（ｆ１）、Ａ／Ｄ変換器５２Ｂの出力値Ｘｂ（ｆ２）および前記した各値Ｘａ、Ｘａ′、Ｘｂ、Ｘｂ′に基づいて、次の演算を行い、光部品１の双方向の反射率を求めて表示器７１に表示させる。
【０１２４】
ＲＬａ＝Ｌａ・［Ｘａ（ｆ１）−Ｘｂ］／（Ｘａ−Ｘｂ）　（％）
ＲＬｂ＝Ｌａ・［Ｘｂ（ｆ２）−Ｘｂ′］／（Ｘａ′−Ｘｂ′）　（％）
【０１２５】
なお、上記反射量の測定の校正のために、反射率０のコネクタ６を用いていたが、光カプラ４２Ａ、４２Ｂの第１ポートから第３ポートへの漏洩が無視できる場合、即ち、Ｘｂ＝Ｘｂ′＝０の場合には、反射率０のコネクタ６を用いた測定を省略し、次の式で反射率ＲＬを求めることができる。
【０１２６】
ＲＬａ＝Ｌａ・Ｘａ（ｆ１）／Ｘａ　（％）
ＲＬｂ＝Ｌａ・Ｘｂ（ｆ２）／Ｘａ′　（％）
【０１２７】
また、光部品１の偏波依存性損失を測定する場合、図６に示した接続状態のままで、制御部７０′に対して偏波依存性損失の測定を指示する。
【０１２８】
この指示を受けた制御部７０′は、光インタフェース４０Ｂの偏波制御器４３Ｂを前記基準状態に設定した状態で、光インタフェース４０Ａの偏波制御器４３Ａを制御して、光部品１に与える光Ｐ（ｆ１）の偏波状態を所定量ずつ可変しながら、Ａ／Ｄ変換器５１Ｂの出力値Ｘを順次記憶して、偏波状態に対する出力値Ｘの変化特性を求め、その出力値Ｘの中から、最大値Ｘｍａｘと最小値Ｘｍｉｎを求め、その比Ｘｍｉｎ／Ｘｍａｘを求め、この比をｄＢ換算して、その換算値を光部品１のポート１ａからポート１ｂに向かう方向の偏波依存性損失ＰＤＬａとして記憶する。
【０１２９】
次に、光インタフェース４０Ａの偏波制御器４３Ａを前記基準状態に設定した状態で、光インタフェース４０Ｂの偏波制御器４３Ｂを制御して、光部品１に与える光Ｐ（ｆ２）の偏波状態を所定量ずつ可変しながら、Ａ／Ｄ変換器５２Ａの出力値Ｘを順次記憶して、偏波状態に対する出力値Ｘの変化特性を求め、その出力値Ｘの中から、最大値Ｘｍａｘと最小値Ｘｍｉｎを求め、その比Ｘｍｉｎ／Ｘｍａｘを求め、この比をｄＢ換算して、その換算値を光部品１のポート１ｂからポート１ａに向かう方向の偏波依存性損失ＰＤＬｂとして記憶し、これらの偏波依存性損失ＰＤＬａ、ＰＤＬｂを表示器７１に表示させる。
【０１３０】
つまり、この偏波依存性損失の測定の場合、偏波制御器自身の損失変動が無視できるなら双方向同時に測定することができ、また、無視できないなら偏波制御器４３Ａ、４３Ｂの一方のみを可変制御する必要があるので、双方向の測定を同時に行なうことはできないが、測定用の光の切り換え制御は不要で偏波制御器４３Ａ、４３Ｂのみの制御だけで、双方向の特性を求めることができ、前記同様に、光端子４１Ａ、４１Ｂと光部品１のポート１ａ、１ｂの接続状態を切り換えることなく、双方向の測定が行なえる。
【０１３１】
なお、この光部品測定装置３０′では、光インタフェースの出力信号に含まれる各周波数の信号成分の振幅を検出するための振幅検出手段として、各周波数毎の信号成分を抽出するフィルタと、フィルタの出力信号をそれぞれ検波する検波器とによって構成していたが、各周波数毎にフィルタで抽出した信号をそれぞれＡ／Ｄ変換器でディジタル信号に変換して制御部７０′に入力し、制御部内でディジタル値の最大値検出処理を行なって振幅値をそれぞれ求めてもよい。また、各光インタフェース４０から出力される信号をＡ／Ｄ変換器によってディジタル信号に変換し、このディジタル信号に対するＦＦＴ（逆フーリエ変換）処理を行なって各周波数（ｆ１、ｆ２）の信号成分の振幅値をそれぞれ求めてもよい。
【０１３２】
なお、上記した光部品測定装置３０、３０′は、光部品１の挿入損失、反射率の他に、偏波依存性損失を測定できるようにしていたが、挿入損失および反射率のみを測定する場合には、図９、図１０に示す光部品測定装置３０、３０′のように、光インタフェース４０Ａ、４０Ｂの偏波制御器４３Ａ、４３Ｂを省略して、光カプラ４２Ａ、４２Ｂの第２ポートと光端子４１Ａ、４１Ｂの間を直結すればよい。
【０１３３】
また、前記説明では、測定光発生部６０、６０′が出射する光の波長が固定であったが、測定光発生部６０、６０′が出射する光の波長を、制御部７０、７０′によって可変制御し、波長の変化に対する挿入損失、偏波依存性損失、反射率を求めてもよい。ただし、この場合、各測定に先立って、前記した校正の処理を各波長毎に行なっておく。
【０１３４】
また、このように波長を可変制御する場合には、前記した測定光発生部６０、６０′の構成のうち、図３、図８に示したように一つの共通のレーザ光源６１から出射される光を分岐する方式のものであれば、その一つのレーザ光源６１を波長可変型にすればよく安価に構成でき、しかも、全ての光インタフェースに対して同一波長の光を与えることができ、各光同士の波長合わせが不要となる。
【０１３５】
また、上記した光部品測定装置３０、３０′は２ポート型のものであったが、光カプラ等のように３つ以上のポートを有する光部品を測定する場合には、光部品測定装置側も多ポート型にすればよい。
【０１３６】
例えば、前記図１に示した光部品測定装置３０で光インタフェース４０およびＡ／Ｄ変換器５０をｍ組（ｍは３以上）用いてｍポート型にすることもできる。ただし、この場合、測定光発生部６０として、ｍ個の光インタフェース４０に光Ｐを出射できるように構成する。
【０１３７】
また、双方向測定を同時に行なえるようにした前記図６の光部品測定装置３０′の場合でも、光インタフェース４０をｍ組設け、測定光発生部６０′として、異なる周波数ｆ１〜ｆｍの信号で変調された光Ｐ（ｆ１）〜Ｐ（ｆｍ）を並列に出射するように構成し、その周波数ｆ１〜ｆｍの信号をそれぞれ抽出するためのｍ個のフィルタ、その各フィルタの出力の振幅をそれぞれ検出するｍ個の検波器およびｍ個のＡ／Ｄ変換器を、各光インタフェース４０毎に設ければ、光部品のｍポートの全ての組合せについての特性を双方向に測定することができる。
【０１３８】
ただし、この場合、フィルタ、検波器、Ａ／Ｄ変換器の数がポート数ｍの２乗分だけ必要となり、４ポート構成でも１６個ずつ必要となり、ハードウエア上の構成が大きくなる。
【０１３９】
そこで、例えば、図１１に示す４ポート型の光部品測定装置９０のように、周波数ｆ１〜ｆ４の信号で変調された光Ｐ（ｆ１）〜Ｐ（ｆ４）を測定光発生部６０′で発生させて同一構成の光インタフェース４０Ａ〜４０Ｄにそれぞれ与え、光インタフェース４０Ａ〜４０Ｄから出力される信号を、通過帯域の中心周波数をｆ１〜ｆ４の範囲で可変できる周波数可変型のフィルタ８５Ａ〜８５Ｄに入力して、これらのフィルタ８５Ａ〜８５Ｄの出力信号をＡ／Ｄ変換器５５Ａ〜５５Ｄでディジタル信号にそれぞれ変換して、前記制御部７０′と同様の演算処理が可能な制御部９１に入力し、その振幅値を制御部９１内の検出手段（図示せず）によってそれぞれ検出するように構成する。
【０１４０】
この場合、測定光発生部６０′は、図７の半導体レーザ６１と信号発生器６４の組を４組に拡張して図１２のように構成するか、あるいは図８の信号発生器６４と光変調器６４の組を４組に拡張し、光分岐器６２を４分岐型として図１３のように構成すればよい。
【０１４１】
そして、前記同様に損失測定の校正のための処理（光端子間を短絡した状態での測定）と、反射率測定の校正のための処理（各光端子に既知反射率のコネクタを接続した状態での測定）を行なって、必要なデータを予め求めておき、図１１に示しているように、光部品１のポート１ａ〜１ｄを各光インタフェース４０Ａ〜４０Ｄの光端子４１Ａ〜４１Ｄにそれぞれ接続する。
【０１４２】
このように接続した状態で、例えば、制御部９１によって、
フィルタ８５Ａの通過帯域中心周波数をｆ１、
フィルタ８５Ｂの通過帯域中心周波数をｆ２、
フィルタ８５Ｃの通過帯域中心周波数をｆ３、
フィルタ８５Ｄの通過帯域中心周波数をｆ４
に設定し、各光インタフェース４０Ａ〜４０Ｄの偏波制御器４３を基準状態に設定して、各Ａ／Ｄ変換器５５Ａ〜５５Ｄの出力値を求め、その出力値と予め求めたデータとに基づいて、前記同様の演算処理を行ない、光部品１の各ポート１ａ〜１ｄの反射率を求め、これを表示器７１に表示させる。
【０１４３】
また、制御部９１によって、
フィルタ８５Ａの通過帯域中心周波数をｆ２、
フィルタ８５Ｂの通過帯域中心周波数をｆ１、
フィルタ８５Ｃの通過帯域中心周波数をｆ４、
フィルタ８５Ｄの通過帯域中心周波数をｆ３
に設定し、各光インタフェース４０Ａ〜４０Ｄの偏波制御器４３を基準状態に設定して各Ａ／Ｄ変換器５５Ａ〜５５Ｄの出力値を求め、その出力値と予め求めたデータとに基づいて、前記同様の演算処理を行ない、光部品１のポート１ａ、１ｂ間、ポート１ｃ、１ｄ間の双方向の挿入損失を求め、これを表示器７１に表示させる。
【０１４４】
また、制御部９１によって、
フィルタ８５Ａの通過帯域中心周波数をｆ３、
フィルタ８５Ｂの通過帯域中心周波数をｆ４、
フィルタ８５Ｃの通過帯域中心周波数をｆ１、
フィルタ８５Ｄの通過帯域中心周波数をｆ２
に設定し、各光インタフェース４０Ａ〜４０Ｄの偏波制御器４３を基準状態に設定して各Ａ／Ｄ変換器５５Ａ〜５５Ｄの出力値を求め、その出力値と予め求めたデータとに基づいて、前記同様の演算処理を行ない、光部品１のポート１ａ、１ｂ間、ポート１ｃ、１ｄ間の双方向の挿入損失を求め、これを表示器７１に表示させる。
【０１４５】
また、制御部９１によって、
フィルタ８５Ａの通過帯域中心周波数をｆ４、
フィルタ８５Ｂの通過帯域中心周波数をｆ３、
フィルタ８５Ｃの通過帯域中心周波数をｆ２、
フィルタ８５Ｄの通過帯域中心周波数をｆ１
に設定し、各光インタフェース４０Ａ〜４０Ｄの偏波制御器４３を基準状態に設定して各Ａ／Ｄ変換器５５Ａ〜５５Ｄの出力値を求め、その出力値と予め求めたデータとに基づいて、前記同様の演算処理を行ない、光部品１のポート１ａ、１ｄ間、ポート１ｂ、１ｃ間の双方向の挿入損失を求め、これを表示器７１に表示させる。
【０１４６】
つまり、この光部品測定装置９０では、フィルタ８５Ａ〜８５Ｄの周波数の設定動作を４回行なうことで、光部品１の全てのポート間の双方向の挿入損失、反射率をその接続を変えることなく測定することができ、各設定状態について、前記同様に制御部９１によって偏波制御器４３を可変制御して各Ａ／Ｄ変換器５５Ａ〜５５Ｄの出力値の最大値と最小値を求め、前記同様の演算処理を行なえばその設定状態に対応したポート間の双方向の偏波依存性損失を接続状態を変えることなく求めることができる。
【０１４７】
しかも、各ポートの反射率と、２組のポートについての挿入損失については同時測定が行なえるので、測定効率が極めて高い。
【０１４８】
また、４ポート型でありながら、通過帯域中心周波数を可変制御できるフィルタを用いるとともに、そのフィルタの出力信号をディジタル信号に変換してから振幅値を求めているので、ハードウエア上の構成が簡単化され、より多ポートの場合でも容易に構成することができる。
【０１４９】
なお、前記した光インタフェース４０では、受光器４４の出力信号を増幅器４５で増幅していたが、受光器４４に入射される光の強度、受光器４４の感度、Ａ／Ｄ変換器５０〜５２の感度等により、増幅器を省略することもできる。
【０１５０】
また、アナログの演算処理を行なう場合には、Ａ／Ｄ変換器５０〜５２を省略することもできる。
【０１５１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光部品測定装置は、第１ポートに入射される光を第２ポートから出射し、第２ポートに入射される光を第３ポートから出射する光分岐器、その光分岐器の第２ポートに接続された光端子および光分岐器の第３ポートに接続され、その第３ポートから出射される光を電気信号に変換する受光器を有する複数の光インタフェースと、それら複数の光インタフェースの各光カプラの第１ポートに測定用の光を入射する測定光発生部とを備えている。
【０１５２】
このため、光部品の挿入損失や反射率等の双方向測定を、光部品の各ポートと各光インタフェースの各光端子との接続状態を変えることなく、効率的に且つ高い信頼性をもって行なうことができる。
【０１５３】
また、各光インタフェースの光分岐器と光端子の間に偏波制御器を設けたものでは、挿入損失や反射率の他に、光部品の偏波依存性損失の双方向測定を、光部品の各ポートと各光インタフェースの各光端子との接続状態を変えることなく、効率的に且つ高い信頼性をもって行なうことができる。
【０１５４】
また、測定光発生部が、異なる周波数の信号で変調された光を各光インタフェースに入射するように構成され、また、各光インタフェースの出力信号から前記各周波数の信号の振幅を検出する振幅検出手段を設けたものでは、挿入損失や反射率の双方向測定を並行して行なうことができ、さらに効率的となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態の構成を示す図
【図２】実施形態の要部の構成例を示す図
【図３】実施形態の要部の構成例を示す図
【図４】実施形態による測定の手順を説明するための図
【図５】実施形態による測定の手順を説明するための図
【図６】他の実施形態の構成を示す図
【図７】実施形態の要部の構成例を示す図
【図８】実施形態の要部の構成例を示す図
【図９】他の実施形態の構成を示す図
【図１０】他の実施形態の構成を示す図
【図１１】他の実施形態の構成を示す図
【図１２】実施形態の要部の構成例を示す図
【図１３】実施形態の要部の構成例を示す図
【図１４】従来装置の構成を示す図
【図１５】従来装置による測定の手順を示す図
【図１６】従来装置による測定の手順を示す図
【図１７】従来装置に光スイッチを付加した構成を示す図
【符号の説明】
１……光部品、３０、３０′、９０……光部品測定装置、４０Ａ〜４０Ｄ……光インタフェース、４１……光端子、４２……光カプラ、４２ａ……第１ポート、４２ｂ……第２ポート、４２ｃ……第３ポート、４３……偏波制御器、４４……受光器、４５……増幅器、５０、５１、５２、５５……Ａ／Ｄ変換器、６０、６０′……測定光発生部、６１……半導体レーザ、６２……光分岐器、６３……光減衰器、６４……信号発生器、６５……光変調器、７０、７０′……制御部、８１、８２……フィルタ、８３、８４……検波器、８５……フィルタ、９１……制御部
【図１】
2004108924.tif 000004
【図２】
2004108924.tif 000005
【図３】
2004108924.tif 000006
【図４】
2004108924.tif 000007
【図５】
2004108924.tif 000008
【図６】
2004108924.tif 000009
【図７】
2004108924.tif 000010
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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