(57)【要約】【課題】実際に検査される粒状体群からの反射光や透過光の光量についての光量分布に適合させて、投射部材から投射される光の光量を適正な状態に調整することにより、不良物を判別するときの精度を向上させる。【解決手段】粒状体群の存在予定箇所からの光を受光する受光手段５と、背部側箇所に配置されて受光手段５に向けて光を投射する投射部材８と、受光量の光量値が正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れた場合に不良物の存在を判別するとともに、複数の受光量データについて各光量値に対する度数分布を求める判別手段と、その度数分布において最も頻度の高い光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように、投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整する光量調整手段とを備える。【選択図】　　　　図２
2004108995.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
粒状体群を検査対象物として、その検査対象物の存在予定箇所を照明する照明手段と、
前記存在予定箇所からの光を受光する受光手段と、
前記受光手段の受光方向であって前記存在予定箇所の背部側箇所に配置されて前記受光手段に向けて光を投射する投射部材と、
前記受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリングした受光量が前記粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れた場合に不良物の存在を判別する判別手段とが設けられている不良物検出装置であって、
前記判別手段が、前記適正光量範囲を設定するために、前記サンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各受光量に対する度数分布を求めるように構成され、
前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整する光量調整手段が備えられ、
この光量調整手段が、前記判別手段の前記度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い光量値が前記適正光量範囲内における適正位置に位置するように、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整するよう構成されている不良物検出装置。
【請求項２】
前記粒状体群を横幅方向に広げた状態でその横幅方向に沿って幅広に形成された前記存在予定箇所を通過するように搬送させる搬送手段が備えられ、
前記受光手段が、前記存在予定箇所からの光を受光する複数個の受光部を前記存在予定箇所の横幅方向に沿って並置させるように構成され、
前記判別手段が、前記受光量の光量値が前記適正光量範囲を外れているか否かについての判別処理及び前記度数分布を求める処理を前記各受光部毎に実行するように構成され、
前記光量調整手段が、
前記複数個の受光部の並び方向に沿って並置された複数の光源を備えて構成され、且つ、
前記複数個の受光部に対して投射する光の光量を各光源毎に各別に、又は、区分けされた複数個づつの光源毎に変更調整自在に構成されている請求項１記載の不良物検出装置。
【請求項３】
前記光量調整手段が、
前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整するように構成されている請求項１又は２に記載の不良物検出装置。
【請求項４】
前記受光手段からの受光量を増減させる補正係数を変更設定して、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段が設けられ、
前記光量調整手段が、
前記感度補正手段による感度補正に対応させて、前記受光量が減少するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央位置よりも小側の光量になるように変更調整し、
前記受光量が増加するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央位置よりも大側の光量になるように変更調整するよう構成されている請求項１〜３のうちいずれか１項に記載の不良物検出装置。
【請求項５】
前記判別手段が、前記度数分布に基づいて前記適正光量範囲の上限値及び下限値を自動設定するように構成されている請求項１〜４のうちいずれか１項に記載の不良物検出装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項に記載の不良物検出装置を備えた分離装置であって、
検査対象物としての粒状体群を予定移送経路に沿って前記存在予定箇所とその存在予定箇所の位置よりも経路下手側の分離箇所とに移送する移送手段と、
前記分離箇所に移送された粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させる分離手段とを備えて構成されている分離装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、粒状体群を検査対象物として、その検査対象物の存在予定箇所を照明する照明手段と、前記存在予定箇所からの光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光方向であって前記存在予定箇所の背部側箇所に配置されて前記受光手段に向けて光を投射する投射部材と、前記受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリングした受光量の光量値が前記粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れた場合に不良物の存在を判別する判別手段とが設けられている不良物検出装置、及び、それを用いた分離装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
前記不良物検出装置では、検査対象物として例えば米粒群のような粒状体群が存在予定箇所にて蛍光灯等の照明手段にて照明され、前記存在予定箇所にて照明光が粒状体群で反射された反射光や粒状体群を透過した透過光、及び、存在予定箇所の背部側箇所に設けた投射部材から投射される光をＣＣＤセンサ等の受光手段にて受光し、その受光量の光量値が粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れている否かを判別するようにしている。又、このような不良物検出装置を用いた分離装置においては、上記したような判別によって適正光量範囲を外れているとして存在が検出された不良物は、上記存在予定箇所よりも下手側に搬送されて、分離手段としてのエアー噴出装置により吹き付けられるエアーにて正常物とは異なる経路に分離される構成となっている。
【０００３】
そして、従来では、前記判別手段が、前記受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布を求めて、その度数分布に基づいて前記適正光量範囲の上限値及び下限値を設定するように構成されており、しかも、前記投射部材として、検査対象物である粒状体群のうち正常物からの検出光と同一又は略同一の明るさの光を受光手段に向けて投射するように、照明手段からの光を反射させる反射板が備えられる構成のものがあった（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
又、別の従来技術として次のように構成されたものもある。つまり、前記投射部材として、前記存在予定箇所の背部側箇所に設けられるバックグランドつまり背景板の後方側に光源ランプを設けて、この光源ランプの光量を調節することで、投射部材から投射させる光の光量を自動調整するように構成したものがあった。説明を加えると、投射部材から投射させる光の光量として粒状体群における正常物からの検出光と同一又は略同一の明るさとなる基準値を予め設定しておき、受光手段の受光量の検出値に基づいて投射部材から投射させる光の光量が自動的に上記したような基準値に自動調整されるように光源ランプの光量を調節する構成である（例えば、特許文献２参照。）。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００１−２７２３５３号公報（第６頁―第９頁、第１図−第４図、第８図）
【特許文献２】
特公平６−１０６３５号公報（第２頁―第３頁、第３図）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記特許文献１に示されるものは、上記したようにサンプリングにより得られた設定個数の受光量データについての度数分布に基づいて適正光量範囲の上限値及び下限値を設定することにより、実際に検査される粒状体群からの反射光や透過光の光量についての光量の分布に適合させた状態で適正光量範囲を設定できるようにしたものである。
【０００７】
説明を加えると、前記照明手段からの照明光が検査対象物として粒状体群で反射された反射光や粒状体群を透過した透過光は、全ての粒状体が同じ光量になるとは限らず個々の粒状体によって少しづつ異なった値になりバラツキが生じるものである。しかも、それらの光量がバラついて分布する光量の範囲つまり分布領域は同じ種類の粒状体群であっても常に一定になることはなく、例えば、生産ロットが異なったり生産者や生産場所が異なるような粒状体群であれば、その分布領域自体も種々変化することになる。
そこで、上記特許文献１に示される従来構成では、このような検査対象物である粒状体群の光量の分布領域の違いに対応させて適正光量範囲の上限値や下限値をより適正な値として設定するようにしている。
【０００８】
しかし、上記したように適正光量範囲の上限値や下限値をより適正な値として設定するようにしても、前記投射部材は照明手段からの光を反射するだけであり、投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量は照明手段の光量や投射部材の反射率等によって一律に定まるものであるから、粒状体群について正常物と不良物との判別が適正に行えないものとなるおそれがあった。
図面を参照しながら具体的に説明すると、図２１（イ）及び図２１（ロ）に、サンプリングにより得られた設定個数の受光量データについての度数分布の一例を示している。尚、この図では、粒状体群のほとんどが正常物である場合を示しており、図中のｐｉは、度数分布の中のピーク値でありそのピーク値に対応する光量値ＢＧは投射部材から投射される光の光量である。つまり、存在予定箇所に粒状体群が存在しないときには常に投射部材から投射される光が受光手段にて受光されることになり、受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングした場合、投射部材から投射される光の光量が最も頻度の高いデータとなるのである。
そして、この投射部材から投射される光の光量値ＢＧが照明手段の光量の変化に伴って変化することがあり、又、光量が一定であっても上述したように粒状体群の光量の分布領域は種々変化するので、図２１（イ）に示すように投射部材から投射させる光の光量値に対して粒状体群の光量の分布領域が暗側にずれたり、図２１（ロ）に示すように前記光量値ＢＧに対して粒状体群の光量の分布領域が明側にずれたりすることがある。
【０００９】
このように前記投射部材から投射させる光の光量値ＢＧに対して粒状体群の光量の分布領域がずれてしまうと、投射部材から投射させる光の光量が粒状体群における正常物からの光と同一又は略同一の明るさとは異なるものになり、正常物と不良物とを判別する場合の判別精度が低下するおそれがあり、前記光量値ＢＧが適正光量範囲の上限値を超えて高くなったり、適正光量範囲の下限値を下回ったりすると、粒状体中に不良物が存在していなくても誤って不良と判別するおそれがある等、粒状体群からの反射光や透過光の光量に基づいて適正な判別処理が行えないものとなる不利があった。
【００１０】
又、上記特許文献２に示される従来構成のように、投射部材から投射させる光の光量が自動的に上記したような基準値に自動調整される構成とした場合であっても、この特許文献２に示される従来構成では、投射部材から投射される光の光量が常に予め設定された一定の値である前記基準値になるように調整されるものの、上述した如く粒状体群の光量の分布領域は種々変化することから、図２１に示すように、投射部材から投射させる光の光量値ＢＧ（この値が上記基準値に対応する）に対して粒状体群の光量の分布領域がずれるおそれがあり、上述したような不利を解消できないものであった。
【００１１】
本発明はかかる点に着目してなされたものであり、その目的は、実際に検査される粒状体群からの反射光や透過光の光量についての光量分布に適合させて、投射部材から投射される光の光量を適正な状態に調整することにより、不良物を判別するときの精度を向上させることが可能となる不良物検出装置を提供する点にある。
【００１２】
本発明の別の目的は、不良物を判別するときの精度を向上させて適正に不良物を正常物とを分離させることが可能となる分離装置を提供する点にある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の不良物検出装置は、粒状体群を検査対象物として、その検査対象物の存在予定箇所を照明する照明手段と、前記存在予定箇所からの光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光方向であって前記存在予定箇所の背部側箇所に配置されて前記受光手段に向けて背部側からの光を投射する投射部材と、　前記受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリングした受光量が前記粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れた場合に不良物の存在を判別する判別手段とが設けられているものであって、前記判別手段が、前記適正光量範囲を設定するために、前記サンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各受光量に対する度数分布を求めるように構成され、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整する光量調整手段が備えられ、この光量調整手段が、前記判別手段の前記度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い光量値が前記適正光量範囲内における適正位置に位置するように、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整するよう構成されていることを特徴とする。
【００１４】
すなわち、照明手段が粒状体群の存在予定箇所を照明し、存在予定箇所からの光を受光する受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングして、サンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各受光量に対する度数分布が求められる。この度数分布は前記適正光量範囲を設定するために求められる。例えば、この度数分布に基づいて適正光量範囲の上限値や下限値が適宜設定されることになる。
【００１５】
そして、その求められた度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように、光量調整手段が、投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整するのである。
説明を加えると、存在予定箇所に粒状体群が存在しない場合には常に投射部材から投射される光が受光手段にて受光されることになるので、投射部材から投射される光の光量が常に度数分布において最も頻度の高い光量値となる。そこで、求められた度数分布において最も頻度の高い光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように光量を変更調整するのである。
前記適正光量範囲内における適正位置としては、例えば適正光量範囲の中央値とする場合や、その中央値よりも少し明側に設定したり、あるいは、中央値よりも少し暗側に設定するような場合等がある。
【００１６】
従って、粒状体群で反射された反射光や粒状体群を透過した透過光にバラツキが生じて、それらの光量がバラついて分布する光量の範囲つまり分布領域も種々変化するようなことがあっても、実際に検査される粒状体群の検出光量の分布状況に適合させて投射部材から投射される光の光量値を適正光量範囲内の適正な位置になるように変更調整することにより、不良物を判別するときの精度を向上させることが可能となった。
【００１７】
請求項２に記載の不良物検出装置は、請求項１において、前記粒状体群を横幅方向に広げた状態でその横幅方向に沿って幅広に形成された前記存在予定箇所を通過するように搬送させる搬送手段が備えられ、前記受光手段が、前記存在予定箇所からの光を受光する複数個の受光部を前記存在予定箇所の横幅方向に沿って並置させるように構成され、前記判別手段が、前記受光量の光量値が前記適正光量範囲を外れているか否かについての判別処理及び前記度数分布を求める処理を前記各受光部毎に実行するように構成され、前記光量調整手段が、前記複数個の受光部の並び方向に沿って並置された複数の光源を備えて構成され、且つ、前記複数個の受光部に対して投射する光の光量を各光源毎に各別に、又は、区分けされた複数個づつの光源毎に変更調整自在に構成されていることを特徴とする。
【００１８】
上記構成によれば、粒状体群が横幅方向に広がった状態でその横幅方向に沿って幅広に形成された存在予定箇所を通過するともに、その幅広の存在予定箇所からの光が、存在予定箇所の幅方向に沿って並置させた複数個の受光部にて受光され、その受光手段の各受光部毎に受光量の光量値が適正光量範囲を外れているか否かについての判別処理が実行される。又、複数個の受光部により得られた複数の受光量データについて暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各受光量に対する度数分布が求められ、この度数分布に基づいて、各受光部毎に適正光量範囲の上限値及び下限値が適宜設定されることになる。
【００１９】
そして、前記光量調整手段が複数個の受光部の並び方向に沿って並置された複数の光源を備えて構成されており、この光量調整手段は、複数個の受光部に対して投射する光の光量を各光源毎に各別に変更調整するか、又は、区分けされた複数個づつの光源毎に変更調整することになる。
【００２０】
つまり、粒状体群を横幅方向に広げた状態で幅広の存在予定箇所を通過させるように順次搬送して多量の粒状体群を並列的に効率良く検査することができるとともに、投射部材から投射される光の光量を各光源毎に各別に又は複数個づつの光源毎に変更調整することにより、複数個の受光部の夫々において、投射部材から投射される光の光量と適正光量範囲との位置関係を適正な状態に変更調整することができるので、各受光部の夫々の光量値に基づいて前記判別処理を実行するときにおける不良物を判別するときの精度を向上させることが可能となる。
【００２１】
請求項３記載の不良物検出装置は、請求項１又は２において、前記光量調整手段が、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整するように構成されていることを特徴とする。
【００２２】
すなわち、投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量が適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整されることになる。前記適正光量範囲は、粒状体群からの反射光や透過光についての光量のバラツキにおける分布領域に基づいて設定されるものであり、適正光量範囲における中央位置に対応する光量は前記分布領域のほぼ中央位置に対応しており、粒状体群からの反射光や透過光の光量の平均的な値になるものであるから、投射部材から投射する光の光量と粒状体群における正常物からの反射光や透過光の光量との差が極力小さいものとなり、正常物と不良物とを判別する場合の判別精度を向上させることが可能となる。
【００２３】
請求項４記載の不良物検出装置は、請求項１〜３のいずれかにおいて、前記受光手段からの受光量を増減させる補正係数を変更設定して、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段が設けられ、前記光量調整手段が、前記感度補正手段による感度補正に対応させて、前記受光量が減少するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央値よりも小側の光量になるように変更調整し、前記受光量が増加するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるように変更調整するよう構成されていることを特徴とする。
【００２４】
すなわち、受光手段からの受光量が補正係数の変更設定により増加されるように感度の補正が行われると、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるように変更調整されることになる。一方、受光手段からの受光量が補正係数の変更設定により減少されるように感度の補正が行われると、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも小側の光量になるように変更調整される。
【００２５】
つまり、受光手段からの受光量が増加されるように感度の補正が行われた場合には、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるので、適正光量範囲を暗側に外れる不良物の光量と投射部材から投射する光の光量との光量差が大となり、このとき適正光量範囲の暗側の下限値を標準的な値よりも少し高めの値に変更設定することにより適正光量範囲を暗側に外れる不良物の誤検出を回避させ易い状態にすることが可能となる。一方、受光手段からの受光量が減少されるように感度の補正が行われた場合には、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるので、適正光量範囲を明側に外れる不良物の光量と投射部材から投射する光の光量との光量差が大となり、このとき適正光量範囲の明側の上限値を標準的な値よりも少し高めの値に変更設定することにより適正光量範囲を明側に外れる不良物の誤検出を回避させ易い状態にすることが可能となる。
【００２６】
請求項５記載の不良物検出装置は、請求項１〜４のいずれかにおいて、前記判別手段が、前記度数分布に基づいて前記適正光量範囲の上限値及び下限値を自動設定するように構成されていることを特徴とする。
【００２７】
すなわち、度数分布に基づいて前記適正光量範囲の上限値及び下限値を自動設定されるので、例えば、手動操作によって設定する場合に比べて煩わしい操作が不要であり、しかも、手動操作による場合のように誤った設定が行われるおそれのない良好な状態で適正光量範囲の上限値及び下限値を設定することができる。
【００２８】
請求項６記載の分離装置は、請求項１〜５のいずれか１項に記載の不良物検出装置を備えたものであって、検査対象物としての粒状体群を予定移送経路に沿って前記存在予定箇所とその存在予定箇所の位置よりも経路下手側の分離箇所とに移送する移送手段と、前記分離箇所に移送された粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させる分離手段とを備えて構成されていることを特徴とする。
【００２９】
すなわち、移送手段によって粒状体群が予定移送経路に沿って存在予定箇所とその存在予定箇所の位置よりも経路下手側の分離箇所とにわたって移送される。そして、存在予定箇所においては上記したような不良物検出装置によって不良物の判別処理が行われ、経路下手側の分離箇所においては、不良物検出装置の判別結果に基づいて分離手段を作動させて、粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させるのである。
従って、不良物検出装置の判別結果に基づいて粒状体群の中から不良物を精度よく判別し、そのような不良物を正常物から分離させることを適正に行うことが可能となった。
【００３０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る不良物検出装置及びそれを用いた分離装置の実施形態を、粒状体群の一例として玄米や精米等の米粒群を検査対象物として流下案内させながら、不良検出及び不良物除去を行う不良物除去装置に適用する場合について図面に基づいて説明する。以下、前記不良物除去装置について説明する。
【００３１】
図１及び図２に示すように、広幅の板状のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば６０度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部側に設けた貯溜タンク７からフィーダ９によって搬送されて供給された米粒群ｋが、シュータ１の上面を一層状態で横方向に広がった状態で流下案内される（図３参照）。尚、図３は動作説明図であるため、図１、図２とは装置構成の配置が異なる箇所がある。ここで、上記シュータ１は、幅方向全幅に亘って平坦な案内面に形成された平面シュータである。尚、ここでは、一層状態で移送させることを目的としているので、流れ状態により部分的に粒が重なって２層状態等になっても、一層状態の概念に含まれる。
【００３２】
貯溜タンク７には、外部の精米機等から供給される米粒群ｋや、その外部からの米粒群ｋを１次選別処理した後再選別される正常物又は不良物が貯溜される。タンク７は下端側ほど先細筒状に形成され、貯溜タンク７からフィーダ９上に落下した米粒群ｋのシュータ１への供給量は、フィーダ９の振動による米粒群ｋの搬送速度を変化させて調節される。
【００３３】
図２に示すように、米粒群ｋがシュータ１の下端部から移動落下する予定移送経路ＩＫ中に、米粒群ｋの存在が予定されている存在予定箇所（以下、検出箇所Ｊという）が設定されている。尚、米粒群ｋは横幅方向に広がった状態でその横幅方向に沿って幅広に形成された上記検出箇所Ｊを通過するように搬送される構成となっている。
【００３４】
予定移送経路ＩＫの前面側（図２において左側）を照明する前面側ライン状光源４Ｂと、予定移送経路ＩＫの後面側（図２において右側）を照明する後面側ライン状光源４Ａとが設けられている。各ライン状光源４Ａ，４Ｂと前記検出箇所Ｊとを結ぶ照明光の経路には夫々拡散透過板１８Ａ，１８Ｂが配置され、各ライン状光源４Ａ，４Ｂの背部側及び一部側方箇所を覆う状態で、内面につや消しの白色塗装を施した曲面状の拡散反射板２０Ａ，２０Ｂが配置されている。この両ライン状光源４Ａ，４Ｂにて米粒群の存在予定箇所としての検出箇所Ｊを照明する照明手段４が構成されている。
【００３５】
上記前面側ライン状光源４Ｂからの照明光が上記検出箇所Ｊの前面側で反射した反射光を受光する前面側ラインセンサ５Ｂと、後面側ライン状光源４Ａからの照明光が上記検出箇所Ｊの後面側で反射した反射光を受光する後面側ラインセンサ５Ａとが設けられ、この両ラインセンサ５Ａ，５Ｂにて、上記検出箇所Ｊからの光を受光する受光手段５が構成されている。
前記各ライン状光源４Ａ，４Ｂは、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光方向に対して傾いた複数の方向から米粒群ｋを照明するように、検出箇所Ｊを斜め下方から照明する下側光源と、検出箇所Ｊを斜め上方から照明する上側光源とを備えている。そして、このように検出箇所Ｊを照明光の照明角度を変えて異なる方向から照明して、米粒群ｋが正常な検出箇所Ｊから横方向にずれた場合でも、極力均一な状態で良好に照明できるようにしている。
【００３６】
図６に示すように、前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂは、前記幅広の検出箇所Ｊからの光を受光する複数個の受光部としての複数個の受光素子５ａを検出箇所Ｊの幅方向に沿って並置させるように構成されている。つまり、前記米粒群の各米粒の大きさよりも小さい範囲ｐ（例えば米粒の大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象範囲とする複数個の受光素子５ａを前記幅広の検出箇所Ｊに対応させてライン状に並ぶ状態で備えている。
そして、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂは、受光素子５ａが直線状に並置されたモノクロタイプのＣＣＤセンサ部５０と、検出箇所Ｊでの米粒群ｋの像を上記ＣＣＤセンサの各受光素子５ａ上に結像させる光学系５１とから構成され、例えば図３において検出箇所Ｊの右端側から左端側に向けて、各受光素子５ａから各受光情報が順次取り出されるように構成されている。
【００３７】
前記各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光方向であって前記検出箇所Ｊの背部側箇所に配置されて、前記各ラインセンサ５Ａ，５Ｂに向けて光を投射する投射部材８が設けられている。この投射部材８は、前記検出箇所Ｊの横幅方向に沿って密状態で並べて設置される複数のＬＥＤ発光素子８０と、それらの複数のＬＥＤ発光素子８０が設置される領域の光投射側に配置されて複数のＬＥＤ発光素子８０が発光した光を拡散させる拡散板８１とを備えて構成されている。
【００３８】
詳述すると、図４に示すように、検出箇所Ｊの横幅方向に沿って長尺状に構成され、且つ、断面形状が略矩形状であって前方側部分が開口しているケーシング８３の内部に、複数のＬＥＤ発光素子８０が設置されたＬＥＤ基板８２が設けられている。このＬＥＤ基板８２は、図４（ロ）に示すように前記横幅方向に沿って密状態で複数のＬＥＤ発光素子８０を並べる状態で設置されている。そして、このＬＥＤ基板８２は、ケーシング８３にビス止めされたアルミニューム板からなる放熱板８４に対してシリコン放熱樹脂を介して貼り付けて取り付けられている。一方、このＬＥＤ基板８２の前方側には、ＬＥＤ発光素子８０が発光した光を拡散させる拡散板８１が、複数のＬＥＤ発光素子８０の並び方向の中央部において各ＬＥＤ発光素子８０との間の離間距離が大であり、前記並び方向の両端側では各ＬＥＤ発光素子８０との間の離間距離が小となるように湾曲する状態で設けられている。このように拡散板８１を湾曲させることで、前記検出箇所Ｊにおける光の強さが横幅方向中央にて大になり端部部分にて小になるというような偏りが生じないように、光の強さが横幅方向において極力均一になるようにしている。
【００３９】
そして、図７に示すように、複数のＬＥＤ発光素子８０をその並び方向において設定個数（数個〜１０個程度）のブロックＢＫに区分けして、各ブロックＢＫ毎に一括してＬＥＤ発光素子８０の発光出力を変更調整自在な発光出力調整手段としての調光装置８５が備えられている。この調光装置８５は、後述する制御装置１０からの制御指令に基づいて各ブロックＢＫ毎のＬＥＤ発光素子８０の発光出力を変更調整するように構成されている。
【００４０】
図２に示すように、前面側ライン状光源４Ｂ、前面側ラインセンサ５Ｂ及び後面側反射板８Ａが一方の収納部１３Ｂに収納され、後面側ライン状光源４Ａ、後面側ラインセンサ５Ａ及び前面側反射板８Ｂが他方の収納部１３Ａに収納され、両収納部１３Ａ，１３Ｂは側板が共通の一体の箱体に形成され、各収納部１３Ａ，１３Ｂは、検出箇所Ｊに面する側に板状の透明なガラスからなる透過窓１４Ａ，１４Ｂを備えている。つまり、各ライン状光源４Ａ，４Ｂ及び各ラインセンサ５Ａ，５Ｂが、前記検出箇所Ｊに面する側に透過窓１４Ａ，１４Ｂを備えた収納部１３Ａ，１３Ｂに収納されて、各ライン状光源４Ａ，４Ｂが前記透過窓１４Ａ，１４Ｂを通して前記検出箇所Ｊを照明し、且つ、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂが前記透過窓１４Ａ，１４Ｂを通して前記検出箇所Ｊからの光を受光するように構成されている。
【００４１】
予定移送経路ＩＫの前記検出箇所Ｊから経路下手側の分離箇所において、検出箇所Ｊでの受光情報に基づいて不良と判定された米粒や異物等の不良物に対してエアーを吹き付けて正常な米粒群ｋの移動方向から分離させるためのエアー吹き付け装置６が設けられ、このエアー吹き付け装置６は、噴射ノズル６ａの複数個を、上記予定移送経路ＩＫの全幅を所定幅で複数個の区画に分割形成した各区画に対応する状態で並置させ、不良物が存在する区画の噴射ノズル６ａが作動されるように構成されている。
【００４２】
つまり、シュータ１が、米粒群ｋを一層状態で横幅方向に広げた状態でその横幅方向に沿って幅広に形成された検出箇所Ｊを通過するように搬送させる搬送手段として機能するとともに、米粒群ｋを予定移送経路ＩＫに沿って検出箇所Ｊとその検出箇所Ｊの位置よりも経路下手側の分離箇所とに移送する移送手段として機能する構成となっており、前記エアー吹き付け装置６が、前記分離箇所に移送された粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させる分離手段を構成することになる。
【００４３】
そして、シュータ１の下端部から所定経路に沿って流下する米粒群ｋのうちで、前記噴射ノズル６ａからのエアーの吹き付けを受けずにそのまま進行してくる正常な米粒ｋを回収する良米用の受口部２Ｂと、エアーの吹き付けを受けて正常な米粒ｋの流れから横方向に分離した着色米や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片等の異物を回収する不良物用の受口部３Ｂとが設けられ、良米用の受口部２Ｂが横幅方向に細長い筒状に形成され、その良米用の受口部２Ｂの周囲を囲むように、不良物用の受口部３Ｂが形成されている。尚、良米用の受口部２Ｂにて回収された米粒ｋ、及び、不良物用の受口部３Ｂにて回収された不良物は、再選別等のために、本検査装置のタンク７へ又は他の検査装置に搬送される。
【００４４】
図１に示すように、脚部Ｆ０を備えた底板Ｆ１上に立設された縦枠Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４が、横枠Ｆ５，Ｆ６，Ｆ７によって連結されて機枠が構成されている。表側の縦枠Ｆ４の上部斜め部分に、情報の表示及び入力用の操作卓２１が設置され、前記フィーダ９に対する振動発生器９Ａが横枠Ｆ５上に設置され、前記エアー吹き付け装置６に対するエアー供給用のエアタンク１５が底板Ｆ１上に設置されている。又、箱状の収納部１３Ａ，１３Ｂが前部側で縦枠Ｆ４に後部側で縦枠Ｆ３に支持され、シュート１が上部側で横枠Ｆ６に下部側で収納部１３Ｂに支持されている。装置外面を覆うカバーＫが機枠に取り付けられている。
【００４５】
次に制御構成について説明する。図５に示すように、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けられ、この制御装置１０に、両ラインセンサ５Ａ，５Ｂからの各画像信号と、前記操作卓２１からの操作情報とが入力されている。一方、制御装置１０からは、前記ライン状光源４Ａ，４Ｂを点灯させる点灯回路１９に対する駆動信号と、各噴射ノズル６ａへの各エアー供給をオンオフする複数個の電磁弁１１に対する駆動信号と、前記フィーダ用振動発生器９Ａに対する駆動信号と、前記調光装置８５への制御指令用の信号とが出力されている。
【００４６】
上記制御装置１０を利用して、前記透過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光情報に基づいて、米粒群ｋにおける不良物の存否を判別する判別手段１００が構成され、この判別手段１００は、米粒群ｋからの検出光（透過光及び反射光）つまり透過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光量がその適正光量範囲（透過光の場合はΔＥｔ、反射光の場合はΔＥｈ）を外れた場合に、不良物の存在を判別するように構成されている。又、この判別手段１００は、前記適正光量範囲を設定するために、透過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光量を設定時間間隔でサンプリングして得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布を求めるように構成され、且つ、前記度数分布に基づいて前記適正光量範囲の上限値及び下限値を自動設定するように構成されている。しかも、前記受光量の光量値が前記適正光量範囲を外れているか否かについての判別処理及び前記度数分布を求める処理を前記各受光部毎に実行するように構成されている。
【００４７】
更に、前記制御装置１０を利用して、前記判別手段１００の前記度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い投射部材８から投射される光の光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように、投射部材８から透過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂに向けて投射する光の光量を変更調整すべく調光装置８５に制御用指令情報を指令する光量指令手段１０１が構成されている。従って、この光量指令手段１０１と前記調光装置８５とにより、投射部材８から透過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂに向けて投射する光の光量を変更調整する光量調整手段ＫＴが構成される。
【００４８】
次に、上記適正光量範囲の設定のための受光データの各種補正処理について説明する。
先ず、前記米粒群ｋにおける正常物と透過率及び反射率が同一の検査基準物Ｋｊを前記検出位置Ｊに位置させて、図８に示すように、前記透過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂが受光する各受光情報を基準受光量情報として求める。つまり、各センサ５Ａ，５Ｂの各受光部５ａ毎に、透過光の基準受光量Ｓｉと反射光の基準受光量Ｓｉ’（ｉ＝０〜〔受光部の数−１〕）を記憶し、同時に、その基準受光量Ｓｉ，Ｓｉ’についての平均値Ｓｍ，Ｓｍ’を求めておく（この処理を「リファレンス作成」と呼ぶ）。ここで、検査基準物Ｋｊは、長手状の検出位置Ｊに合わせて長尺状の白色系の樹脂板等にて構成される。尚、透過光用と反射光用に、別々の検査基準物Ｋｊを用いてもよい。
【００４９】
又、照明光源５Ａ，５Ｂからの照明光量の変動を検出する。具体的には、照明光量が十分に安定な状態で、図９に示すように、投射部材８の光量を検査用基準値に設定しておき、反射用ラインセンサ５Ｂの各受光素子５ａの出力電圧ｒ〔ｉ〕（ｉ＝０〜〔受光素子の数−１〕）を基準の照明光量値として計測し、その全受光部についての平均値ｒｍを求めておく（この処理を「照明光補正データ作成」と呼ぶ）。一方、実際の検査を行う最新の時点で、反射用ラインセンサ５Ｂの各受光部５ａの出力電圧ｒ’〔ｉ〕を計測し、その全受光部についての平均値ｒｍ’を求め、基準の照明光量値の平均値ｒｍと最新の照明光量値の平均値ｒｍ’との比（ｒｍ’／ｒｍ）を照明光量の変化率とする。尚、上記反射用反射板８Ｂに代えて、透過用反射板８Ａからの反射光を受光する透過用ラインセンサ５Ａの受光情報によって、上記照明光量の変化率を求めてもよい。
【００５０】
尚、上記照明光量の安定状態を得るために、出荷調整時等において、点灯後充分な時間が経過してから上記基準光量の測定を行う。又、実際の検査運転時には、所定時間（例えば３０分）の検査を行うと、図示しない清掃手段にて窓部１４Ａ，１４Ｂが清掃されるので、その清掃後に、前記照明光量の測定を行う。
【００５１】
そして、透過光及び反射光の各センサ出力電圧ｊについて、基準受光量の平均値Ｓｍ，Ｓｍ’に対する各受光素子５ａの基準受光量Ｓｉ，Ｓｉ’の偏差を打ち消すために、基準受光量の平均値Ｓｍ，Ｓｍ’と各受光素子５ａの基準受光量Ｓｉ，Ｓｉ’の比を掛け、さらに、照明光量の変動の影響を打ち消すために、前記照明光量の変化率（ｒｍ’／ｒｍ）で割るように、下式に基づいて補正処理して、透過光及び反射光の各センサ５Ａ，５Ｂの補正後の出力電圧ｊｔ，ｊｈ（センサ補正出力）を得る。
【００５２】
【数１】
センサ補正出力ｊｔ＝ｊ×（Ｓｍ／Ｓｉ）×（ｒｍ／ｒｍ’）
センサ補正出力ｊｈ＝ｊ×（Ｓｍ’／Ｓｉ’）×（ｒｍ／ｒｍ’）
【００５３】
次に、上記各センサ補正出力ｊｔ，ｊｈについての感度補正処理を行う。ここでは、感度値を標準値（１００）に設定する。尚、実際の検査運転時において、感度値を「１００」より大に（例えば、１１０）に設定すると、基準受光量の平均値Ｓｍ，Ｓｍ’からのセンサ補正出力ｊｔ，ｊｈの偏差（ｊｔ−Ｓｍ），（ｊｈ−Ｓｍ’）が大きくなるように検出受光量が増加補正され、感度値を「１００」より小に（例えば、９０）に設定すると、上記偏差（ｊｔ−Ｓｍ），（ｊｈ−Ｓｍ’）が小さくなるように検出受光量が減少補正された透過光及び反射光の各感度補正出力ｊｋ，ｊｋ’が得られる。
【００５４】
【数２】
感度補正出力ｊｋ＝（感度値／１００）×（ｊｔ−Ｓｍ）＋（Ｓｍ）
感度補正出力ｊｋ’＝（感度値／１００）×（ｊｈ−Ｓｍ’）＋（Ｓｍ’）
【００５５】
つまり、前記制御装置１０を利用して、前記透過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂからの受光量（上式のｊｔ及びｊｈ）を増減させるための補正係数（感度値）を変更設定して、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段１０２が構成されている。そして、感度値を「１００」より大きく例えば「１１０」等のように変更して上記受光量を増加させると、増加補正された受光量が適正光量範囲から外れ易くなって不良判別の感度が高くなり、一方、感度値を「１００」より小さく例えば「９０」等のように変更して上記受光量を減少させると、減少補正された受光量が適正光量範囲から外れ難くなって不良判別の感度が低くなるように、透過光及び反射光の適正光量範囲に対する受光量の感度が補正される。この感度調整は操作卓２１を用いて作業者が手動で行うことになる。
【００５６】
次に、判別手段１００による適正光量範囲設定処理について説明する。尚、この適正光量範囲設定処理は装置の出荷調整時に実行するようになっている。
各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に、設定時間間隔でサンプリングして得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側に亘る間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布（ヒストグラムともいう）を求めて、その度数分布に基づいて前記適正光量範囲を設定するのである。
【００５７】
具体的には、図１３に示すように、照明光源５Ａ，５Ｂからの照明光量が十分に安定した状態で、米粒群ｋを流しながら、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に設定時間間隔で受光量データつまり出力電圧をサンプリングし、その出力電圧を２５６段階のデジタル値に変換する。尚、この場合において、前記エアー吹き付け装置６は作動させない。その後米粒群ｋの供給を停止して、例えば、図１８に示すように、各受光素子５ａ毎に、サンプリングされた設定個数の出力電圧について、暗側から明側に亘る間を複数段階に区分けした各受光量に対する度数分布ｈｇを求める。そして、その度数分布ｈｇにおいて暗側から明側に亘って各受光量に対する度数値が連続して存在する連続領域の上端部の近傍位置に対応させて上側光量値ＴＨ１を設定するとともに、その上側光量値ＴＨ１から明側に設定光量Ｋ１離れた位置に前記適正光量範囲ΔＥｔ，ΔＥｈの上限値Ｔ１を設定し、且つ、前記連続領域の下端部の近傍位置に対応させて下側光量値ＴＨ２を設定するとともに、その下側光量値ＴＨ２から暗側に設定光量Ｋ２離れた位置に前記適正光量範囲ΔＥｔ，ΔＥｈの下限値Ｔ２を設定するように構成されている。上記各設定光量Ｋ１，Ｋ２は制御定数として予め設定されている。そして、上記のように各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に、設定及び補正される前面側及び後面側の適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２の値は、後述するような前記制御装置１０内のメモリＬＵＴ（前面側用及び後面側用のＬＵＴ）に、不良検出処理用のルックアップテーブルとして記憶される。
このようにして各受光素子５ａ毎に設定された適正光量範囲を受光素子５ａの並び方向に沿って連続して表すと図１９（イ）に示すようになる。
【００５８】
次に、光量指令手段１０１による光量指令処理について説明する。この光量指令処理は、出荷調整時だけでなく通常の運転状態においても繰り返し実行することになる。上述したようにして求められた度数分布の情報に基づいて、例えば、図１８のピーク値ｐｉのように度数分布において最も頻度の高い箇所は、投射部材８から投射される光の光量値に対応するものである。そこで、この度数分布において最も頻度の高い光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように、投射部材８から受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整するように調光装置８５に制御情報を指令する。
【００５９】
つまり、図１５に示すように、出荷調整時に実行するときは感度補正手段１０２による感度値が標準の感度値「１００」に設定されている状態であるから、図２０（イ）に示すように、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材８から前記受光手段に向けて投射する光の光量ＢＧが前記適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整するように構成されている。
又、通常運転を実行するときのように感度補正手段１０２による感度補正が行われると、それに対応させて、感度値が標準値「１００」より大に設定され前記受光量が増加少するように感度補正されると、適正光量範囲内における適正位置として、例えば図２０（ロ）に示すように、投射部材８から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりもすこし大側の光量の位置になるように変更調整し、感度値が標準値「１００」より小に設定され受光量が減少するように感度補正されると、適正光量範囲内における適正位置として、例えば図２０（ハ）に示すように、投射部材８から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも小側の光量の位置になるように変更調整するよう構成されている。
【００６０】
そして、このとき、複数個の受光素子５ａに対して投射する光の光量を上述したように受光素子５ａの並び方向において複数のブロックＢＫ毎に区分けされた複数個づつの受光素子５ａ毎に変更調整する構成となっている。説明を加えると、装置の初期設置状態では、例えば、図１９（イ）に示すように、各受光素子５ａでの並び方向での投射部材８の光量のバラツキは少ないが、検査を長期にわたり実行するに伴って図１９（ロ）に示すように左右両端側部分において光量が大きく変動してしまうことがある。例えば、ライン状光源として蛍光灯を用いると長手方向両端側部分の光度が減少して、米粒群ｋの光量の分布状態と投射部材８の光量との相関関係が中央位置と左右両端側部分とで異なってしまうことがある。又、長期の使用で投射部材８の表面に塵埃が付着して光量が低下することもある。そこで、このような場合には、前記並び方向の中央部分では投射部材８の光量を変化させず、左右両端側に対応するブロックＢＫの部分だけを投射部材８の光量を明側に変更させることで図１９（イ）に示すような初期状態に近い適正な状態に戻すことができるのである。
【００６１】
次に、通常運転を実行するときにおける適正光量範囲に対する適正光量範囲補正処理について説明する。この適正光量範囲補正処理は、通常の運転状態を継続して実行しているときに、受光量データが検出されるに伴って適正光量範囲そのものを適宜補正するようにしている。すなわち、図１４に示すように、設定時間毎に設定個数の受光量データをサンプリングして、そのデータの中に上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれているときは、前記上側光量値ＴＨ１を明側に１段階移動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれていないときは前記上側光量値ＴＨ１を暗側に１段階移動させ、且つ、前記設定個数の受光量データの中に前記下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が含まれているときは前記下側光量値ＴＨ２を暗側に１段階移動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が含まれていないときは前記下側光量値ＴＨ２を明側に１段階移動させるのである。
【００６２】
そして、上記のように各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に設定されるとともに、その後補正される前面側及び後面側の適正光量範囲ΔＥｔ，ΔＥｈの上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２の値は、図１０に示すように、前記制御装置１０内のメモリＬＵＴ（前面側用及び後面側用のＬＵＴ）に、不良検出処理用のルックアップテーブルとして記憶される。
このルックアップテーブルについて説明を加えると、位置データｉ（ｉ＝０〜〔受光素子の数−１〕）で表した各受光素子５ａ毎に、センサ出力電圧をとり得る全ての光量値ｊ（前記２５６段階の光量値）の範囲で変化させながら、その各値ｊが前記適正光量範囲ΔＥｔ，ΔＥＨ内であれば、メモリＬＵＴの該当番地（ｉ，ｊ）に判定出力として「０」を記憶させ、適正光量範囲ΔＥｔ，ΔＥＨを外れていれば、メモリＬＵＴの該当番地（ｉ，ｊ）に判定出力として「１」を記憶させる。そして、前記判別を行うときは、上記作成したメモリＬＵＴに対して、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光素子５ａの位置データｉ（ｉ＝０〜〔受光素子の数−１〕）と、その位置ｉでの各受光素子５ａの光量値ｊとを入力すると、その各受光素子５ａについて、正常物のときは判定出力「０」が、不良物のときは判定出力「１」が夫々出力されるので、それに基づいて前記判別手段１００が判別を行うのである。
【００６３】
以下、具体的に、透過光用及び反射光用の各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光出力について説明する。
透過光の場合は、図１１の透過光用ラインセンサ５Ａの出力波形に示すように、各受光部５ａの受光量に対応する出力電圧が米粒群ｋに対する適正光量範囲ΔＥｔ内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定適正範囲ΔＥｔを外れた場合に米粒の不良又は異物の存在を判別する。図中、ｅ０は、正常米粒からの標準的な透過光に対する出力電圧レベルである。そして、適正光量範囲ΔＥｔよりも小さい場合に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物等（例えば、黒色の石粒）の存在を判別し、適正光量範囲ΔＥｔよりも大きい場合に、正常な米粒ｋよりも透過率が大きい明側の不良の米粒ｋ又は前記異物の存在を判別する。この明側の不良の米粒ｋ又は異物の例としては、薄い色付の透明なガラス片等が正常な米粒ｋよりも透過率が大きい異物になり、又、正常な米粒ｋを「もち米」としたときの「うるち米」が正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米粒ｋになる。
【００６４】
図１１には、受光素子５ａの出力電圧（受光量）が、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置や黒色の石等の位置（ｅ１で示す）、及び、胴割れ部分が存在する位置（ｅ２で示す）では、上記適正光量範囲ΔＥｔよりも下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異物等が存在する場合には、位置ｅ３に示すように適正光量範囲ΔＥｔよりも上側に位置している状態を例示している。
【００６５】
一方、反射光の場合には、図１２の反射光用のラインセンサ５Ｂの補正後の出力波形に示すように、各受光部５ａの受光量に対応する補正後の出力電圧が適正光量範囲ΔＥｈ内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、適正光量範囲ΔＥｈを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異物の存在を判別する。図中、ｅ０’は、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力電圧レベルである。図には、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置（ｅ１’で示す）や胴割れ部分が存在する位置（ｅ２’で示す）では、上記適正光量範囲ΔＥｈから下側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって位置ｅ３’に示すように適正光量範囲ΔＥｈから上側に外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形において適正光量範囲ΔＥｈから下側に大きく外れることになる。
【００６６】
前記制御装置１０は、上記不良の判別情報に基づいて、前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの検出位置Ｊに移送した米粒群ｋのうちで、米粒の不良又は異物の存在が判別された場合には、検出位置Ｊから前記噴射ノズル６ａによるエアー噴射位置までの移送時間が経過するに伴って、流下している不良の米粒又は異物に対して、その位置に対応する区画の各噴射ノズル６ａからエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させる。
【００６７】
そして、図１６に示すように、出荷調整時においては、装置の電源をオンして所定のウオームアップ運転をして、照明光量の安定状態等を十分に確認してから、先ず、前記「リファレンス作成」と、最初の「照明光補正データ作成」の各処理を行う。次に、センサ出力補正と感度補正（但し、標準の感度値）を行い、前記適正光量範囲設定処理及び初回の光量指令処理を実行し、設定された適正光量範囲ΔＥｔ，ΔＥｈに基づいてメモリＬＵＴを作成する。最後に、エアー吹き付け装置６の各ノズルの作動時間等の排除調整を行う。
【００６８】
そして、図１７に示すように、通常の検査運転時には、先ず、装置の電源をオンして所定のウオームアップ運転をしてから、そのときの最新の「照明光補正データ作成」を行って照明光量の変化率のデータを算出し、その照明光量の変化率のデータと、前記適正光量範囲ΔＥｔ，ΔＥｈとを使って、メモリ内のデータを書き換えてメモリＬＵＴを作成する。さらに、感度値の設定が行われると、その感度値の設定に対応させて前記光量調整処理を実行する。又、上記修正後のメモリＬＵＴを用いて、シュート１に米粒群ｋを供給して検査を開始する。
そして、清掃用の所定時間（３０分）が経過すると、米粒群ｋの供給を止めて検査を停止し、図示しない清掃手段を作動させて窓部１４Ａ，１４Ｂの清掃を行うとともに、前記光量範囲補正処理を実行するとともに、その補正結果に対応させて前記光量指令処理を実行して、それらの処理結果を反映させてメモリ内のデータを書き換えてメモリＬＵＴを作成する。そして、以後は、この修正後のメモリＬＵＴを用いて、再び、シュート１に米粒群ｋを供給して検査を開始する。
【００６９】
〔別実施形態〕
以下、別実施形態を列記する。
【００７０】
（１）上記実施形態では、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段が設けられ、その感度設定に対応させて前記投射部材から投射される光の光量値の前記適正光量範囲内における位置を変更調整する構成としたが、このような構成に限らず、常に、一定の位置、例えば、適正光量範囲の中央位置の光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整する構成としてもよい。
【００７１】
（２）上記実施形態では、前記光量調整手段ＫＴが、光源として複数のＬＥＤ発光素子を用いるようにしたが、このようなＬＥＤ発光素子に限らず、蛍光灯、白熱灯等、他の光源を用いてもよい。又、複数の領域毎に変更調整する構成に限らず、１つの光源を用いて存在予定箇所の横幅方向全範囲を投射するようにして、その光源の光量を調整するようにしてもよい。
【００７２】
（３）上記実施形態では、通常運転を実行しているときに、清掃用の所定時間が経過する毎に、前記光量範囲補正処理及び光量指令処理を繰り返し実行する構成としたが、このような構成に限らず、作業を開始するときにだけ前記光量範囲補正処理と光量指令処理を実行する構成としてもよい。
【００７３】
（４）上記実施形態では、前記度数分布に基づいて自動的に適正光量範囲の上限値及び下限値を設定するようにしたが、このような構成に限らず、手動操作によって適正光量範囲の上限値及び下限値を設定する構成としてもよい。
【００７４】
（５）上記実施形態では、受光手段として、透過光及び反射光用の各ラインセンサ５Ａ，５Ｂを用いたが、透過光又は反射光用のいずれかのラインセンサ５Ａ，５Ｂで受光手段を構成してもよい。尚、ラインセンサも、モノクロタイプのＣＣＤラインセンサ以外に、撮像管式のテレビカメラでもよい。又、モノクロタイプではなく、カラータイプのＣＣＤセンサにて構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の受光量から不良米や異物の存否をさらに精度良く判別してもよい。
【００７５】
（６）上記実施形態では、移送手段Ｈが、粒状体群を予定移送経路に沿って一層状態で横幅方向に広がった状態で移送するように構成し、これに合わせて、照明手段４Ａ，４Ｂが、粒状体群の横幅方向の全幅を照明するように構成し、受光手段５Ａ，５Ｂが、前記粒状体群の横幅方向の全幅を受光範囲とするように構成したが、これに限るものではない。例えば粒状体群を一列状態で移送させ、これに合わせて、照明手段を単一のランプ等にて構成し、受光手段を単一の受光センサで構成するようにしてもよい。
【００７６】
（７）上記実施形態では、分離手段が、不良物に対してエアーを吹き付けて、正常物と異なる経路に分離させるようにしたが、これに限るものではなく、例えば不良物をエアーで吸引して分離させるようにしたり、機械的な接当作用により分離させるようにしてもよい。
【００７７】
（８）上記実施形態では、検査対象物としての粒状体群が米粒群である場合について例示したが、これに限るものではなく、例えば、プラスチック粒等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】不良物除去装置の全体側面図
【図２】同要部側面図
【図３】動作状態を示す要部の斜視図
【図４】投射部材を示す図
【図５】制御構成のブロック図
【図６】ラインセンサの受光範囲を示す図
【図７】投射部材の回路構成図
【図８】基準受光量の記憶時の出力波形図
【図９】照明光量の変化状態を示す出力波形図
【図１０】不良判別用のメモリのブロック図
【図１１】透過光用ラインセンサの出力波形図
【図１２】反射光用ラインセンサの出力波形図
【図１３】適正光量範囲設定処理を示すフローチャート
【図１４】適正光量範囲補正処理を示すフローチャート
【図１５】光量指令処理を示すフローチャート
【図１６】出荷調整時の制御作動のフローチャート
【図１７】通常運転時の制御作動のフローチャート
【図１８】度数分布を示すグラフ
【図１９】各受光素子の適正光量範囲を示す図
【図２０】度数分布を示すグラフ
【図２１】度数分布を示すグラフ
【符号の説明】
４　　　　　　　照明手段
５　　　　　　　受光手段
６　　　　　　　分離手段
８　　　　　　　投射部材
８０　　　　　　光源
１００　　　　　判別手段
１０２　　　　　感度補正手段
Ｈ　　　　　　　移送手段
ＫＴ　　　　　　光量調整手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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