(57)【要約】【課題】正確な位置決めと仮止めができると共に、自動化が容易で、特に、小型の電子回路ユニットに使用し好適な電子回路ユニットの測定装置を提供する。【解決手段】本発明の電子回路ユニットの測定装置において、ガイド部材８には、一側面８ａ側に開放部８ｂを有して、本体部２の受け入れを可能とした収容部８ｃが設けられ、電子回路ユニット１の本体部２は、ガイド部材８の開放部８ｂを経由し、収容部８ｃの側壁８ｄでガイドされながら収容部８ｃに収容されると共に、端子部３がガイド部材８の下面と評価基板６との間に位置し、ガイド部材８の下方への移動によって、端子部３を導電パターン５に圧接するようにしたため、電子回路ユニット１は、ガイド部材８の収容部８ｃで正確な位置決めができると共に、端子部３がガイド部材８によって抜け止めされて、仮止めされた状態となり、従って、測定作業の容易なものが提供できる。【選択図】　　　　図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
本体部、及びこの本体部の側面から突出した複数個の端子部を有する電子回路ユニットと、上面に導電パターンが設けられた評価基板と、この評価基板に対して上下動可能なガイド部材とを備え、前記ガイド部材には、一側面側に開放部を有して、前記本体部の受け入れを可能とした収容部が設けられ、前記電子回路ユニットの前記本体部は、前記ガイド部材の前記開放部を経由し、前記収容部の側壁でガイドされながら前記収容部に収容されると共に、前記端子部が前記ガイド部材の下面と前記評価基板との間に位置し、前記ガイド部材の下方への移動によって、前記端子部を前記導電パターンに圧接するようにしたことを特徴とする電子回路ユニットの測定装置。
【請求項２】
前記ガイド部材は、前記評価基板から前記本体部の高さの範囲内で移動可能としたことを特徴とする請求項１記載の電子回路ユニットの測定装置。
【請求項３】
前記電子回路ユニットが非可逆回路素子であることを特徴とする請求項１、又は２記載の電子回路ユニットの測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は非可逆回路素子等に使用して好適な電子回路ユニットの測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の電子回路ユニットの測定装置の構成を図３に基づいて説明すると、電子回路ユニット５１は、電気回路を収納した本体部５２と、この電気回路に接続された状態で、本体部５２の四方の側面から突出した複数個の端子部５３とで構成されている。
【０００３】
また、測定装置５４は、上面に導電パターン５５が設けられたプリント基板からなる評価基板５６と、この評価基板５６に対して上下動可能で、箱状をなした押圧部材５７と、導電パターン５５に接続された測定機器５８と、押圧部材５７の導電部５９に接続された測定機器６０とで構成されている。
【０００４】
そして、この測定装置５４の測定方法は、先ず、端子部５３を導電パターン５５に合わせた状態で、電子回路ユニット５１が評価基板５６上に載置される。
次に、押圧部材５７を下方に移動して、押圧部材５７の箱状窪み部５７ａ内に本体部５２を収納すると共に、押圧部材５７の下面外周部で、端子部５３を導電パターン５５に圧接する。
【０００５】
この状態で、電子回路ユニット５１に種々の信号を入力し、測定機器５８，６０によって、電気的な測定を行った後、押圧部材５７を上方に移動して、測定が完了した電子回路ユニット５１を取り出すようになっている。（例えば、特許文献１参照）
【０００６】
【特許文献１】
特開２００１−４２０００号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従来の電子回路ユニットの測定装置は、電子回路ユニット５１を評価基板５６上に載置した後、押圧部材５７を下方に移動して、押圧部材５７の箱状窪み部５７ａ内に本体部５２を収納するようにしたため、電子回路ユニット５１が評価基板５６上に載置された時、電子回路ユニット５１の位置にバラツキが生じ、従って、押圧部材５７との位置ずれを起こして、測定が手間取るという問題がある。また、特に小型の電子回路ユニット５１にあっては、押圧部材５７の下方への移動で、箱状窪み部５７ａ内に本体部５２を収納するようにしたものでは、自動化が難しいという問題がある。
【０００８】
そこで、本発明は正確な位置決めと仮止めができると共に、自動化が容易で、特に、小型の電子回路ユニットに使用し好適な電子回路ユニットの測定装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための第１の解決手段として、本体部、及びこの本体部の側面から突出した複数個の端子部を有する電子回路ユニットと、上面に導電パターンが設けられた評価基板と、この評価基板に対して上下動可能なガイド部材とを備え、前記ガイド部材には、一側面側に開放部を有して、前記本体部の受け入れを可能とした収容部が設けられ、前記電子回路ユニットの前記本体部は、前記ガイド部材の前記開放部を経由し、前記収容部の側壁でガイドされながら前記収容部に収容されると共に、前記端子部が前記ガイド部材の下面と前記評価基板との間に位置し、前記ガイド部材の下方への移動によって、前記端子部を前記導電パターンに圧接するようにした構成とした。
【００１０】
また、第２の解決手段として、前記ガイド部材は、前記評価基板から前記本体部の高さの範囲内で移動可能とした構成とした。
また、第３の解決手段として、前記電子回路ユニットが非可逆回路素子である構成とした。
【００１１】
【発明の実施の形態】
本発明の電子回路ユニットの測定装置の図面を説明すると、図１は本発明の電子回路ユニットの測定装置の概要を示す分解斜視図、図２は本発明の電子回路ユニットの測定装置に係り、その測定方法を説明するための斜視図である。
【００１２】
次に、本発明の電子回路ユニットの測定装置の構成を図１，図２に基づいて説明すると、非可逆回路素子等からなる電子回路ユニット１は、電気回路を収納した本体部２と、この電気回路に接続された状態で、本体部２の対向する側面から突出した複数個の端子部３とで構成されている。
【００１３】
また、測定装置４は、上面に導電パターン５が設けられたプリント基板からなる評価基板６と、この評価基板６に取り付けられた複数個のガイドピン７と、このガイドピン７に取り付けられ、評価基板６に対して上下動可能なガイド部材８と、このガイド部材８を押圧する上下動可能な押圧部材９と、導電パターン５に接続された測定機器１０とで構成されている。
【００１４】
そして、ガイド部材８は、一側面８ａに設けられた開放部８ｂと、この開放部８ｂに連続して設けられた凹状の収容部８ｃとを有し、このガイド部材８は、ガイドピン７によって、評価基板６に対して上下動可能に取り付けられている。
【００１５】
また、このガイド部材８は、ここでは図示しないが、バネ部材等の付勢手段によって常時上に弾圧されており、このガイド部材８の移動範囲は、評価基板６から本体部２の高さの範囲内で移動可能となっている。
【００１６】
次に、この測定装置４の測定方法を説明すると、先ず、電子回路ユニット１の本体部２をガイド部材８の側方（一側面８ａ）側に位置させ、この状態で、本体部２を評価基板６の上面に沿って移動させて、開放部８ｂを経由して収容部８ｃに本体部２を収容する。
【００１７】
すると、本体部２は、収容部８ｃの一対の側壁８ｄに位置決め、ガイドされながら移動して、収容部８ｃに収容されると共に、本体部２は、収容部８ｃの奥壁８ｅにぶつかって、本体部２の移動が停止し、これによって、電子回路ユニット１の正確な位置決めが行われる。
【００１８】
また、電子回路ユニット１が評価基板６の上面に沿って移動する際、端子部３は、上方に位置したガイド部材８の下面と、評価基板６の上面との間で移動し、端子部３がガイド部材８と評価基板６との間の導電パターン５上に位置した状態となると共に、端子部３は、ガイド部材８によって上方への抜け止めが行われて、電子回路ユニット１の仮止めがなされた状態となる。
【００１９】
次に、押圧部材９を下方に移動すると、付勢手段に抗してガイド部材８が押圧されて下方に移動する。
そして、このガイド部材８の移動によって、ガイド部材８の下面で端子部３が押され、端子部３が導電パターン５に圧接する。
【００２０】
この状態で、電子回路ユニット１に種々の信号を入力し、測定機器１０によって、電気的な測定を行った後、押圧部材９を上方に移動し、且つ、ガイド部材８を上方の位置に復帰させた状態にして、測定が完了した電子回路ユニット１を取り出すようになっている。
このようにして、電子回路ユニット１の測定が行われるようになっている。
【００２１】
なお、上記実施例では、ガイド部材８に設けられた収容部８ｃの上部が開放状態のもので説明したが、収容部８ｃの上部開放部を塞ぐ上壁を設けても良い。
また、ガイド部材８は、ガイドピン７によって上下動可能に取り付けられた構成となっているが、ガイドピン８以外のガイド手段によって、ガイド部材８が上下動可能な状態にしても良い。
【００２２】
また、非可逆回路素子のような小型の電子回路ユニットに適用した場合、正確な位置決めと仮止めができると共に、自動化が容易な測定装置が得られる。
【００２３】
【発明の効果】
本発明の電子回路ユニットの測定装置は、本体部、及びこの本体部の側面から突出した複数個の端子部を有する電子回路ユニットと、上面に導電パターンが設けられた評価基板と、この評価基板に対して上下動可能なガイド部材とを備え、ガイド部材には、一側面側に開放部を有して、本体部の受け入れを可能とした収容部が設けられ、電子回路ユニットの本体部は、ガイド部材の開放部を経由し、収容部の側壁でガイドされながら収容部に収容されると共に、端子部がガイド部材の下面と評価基板との間に位置し、ガイド部材の下方への移動によって、端子部を導電パターンに圧接するようにした構成とした。
このような構成によって、電子回路ユニットは、ガイド部材の収容部で正確な位置決めができると共に、電子回路ユニットは、端子部がガイド部材によって抜け止めされて、仮止めされた状態となり、従って、測定作業の容易なものが提供できる。
【００２４】
また、ガイド部材は、評価基板から本体部の高さの範囲内で移動可能としたため、本体部の位置決めの確実なものが得られると共に、ガイド部材の移動範囲を小さくできて、作業性の良好なものが得られる。
【００２５】
また、電子回路ユニットが非可逆回路素子であるため、小型化された非可逆回路素子の正確な位置決めと仮止めができると共に、自動化が容易な測定装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の電子回路ユニットの測定装置の概要を示す分解斜視図。
【図２】本発明の電子回路ユニットの測定装置に係り、その測定方法を説明するための斜視図。
【図３】従来の電子回路ユニットの測定装置の概要を示す分解斜視図。
【符号の説明】
１　電子回路ユニット
２　本体部
３　端子部
４　測定装置
５　導電パターン
６　評価基板
７　ガイドピン
８　ガイド部材
８ａ　一側面
８ｂ　開放部
８ｃ　収容部
８ｄ　側壁
８ｅ　奥壁
９　押圧部材
１０　測定機器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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