(57)【要約】【課題】  書き込み可能な光ディスク及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録パルス条件設定方法、光変調記録再生装置を提供する【解決手段】  記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク上に試し書きを行い（Ｓ２、Ｓ３）、試し書きを再生し（Ｓ４）、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する（Ｓ５）。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、
最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択することを特徴とする光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項２】
記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、
全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる記録パワー条件を決定した後、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択することを特徴とする光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項３】
記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、
最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択した後、
全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる記録パワー条件を決定することを特徴とする光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項４】
前記記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴とする請求項１、２又は３記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項５】
前記光記録媒体上に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項６】
前記光変調記録再生装置の記憶手段に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項７】
前記記録パルス条件は、
記録マークの始端位置を変化させる記録パルス条件と、
記録マークの終端位置を変化させる記録パルス条件と、
記録マークのトラック方向の幅を変化させる記録パルス条件とのうちの少なくとも１つであることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項８】
前記再生信号品質は、ジッタであることを特徴とする請求項１〜７のいずれか１項に記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項９】
前記再生信号品質は、エラーレートであることを特徴とする請求項１〜７のいずれか１項に記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法。
【請求項１０】
記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置において、
最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、
記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、
再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する選択手段とを備えていることを特徴とする光変調記録再生装置。
【請求項１１】
記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置において、
全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、
記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワー条件を決定する記録パワー決定手段と、
上記記録パワー決定手段にて決定した記録パワーを用いて、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、
記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、
再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する選択手段とを備えていることを特徴とする光変調記録再生装置。
【請求項１２】
記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置において、
最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、
記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、
再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する選択手段と、
再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択した後に、全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、
記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワーを決定する記録パワー決定手段とを備えていることを特徴とする光変調記録再生装置。
【請求項１３】
前記記録パルス試し書き手段により、前記記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、
前記再生信号品質検出手段にて試し書きを再生し、
前記選択手段にて、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴とする請求項１０、１１又は１２記載の光変調記録再生装置。
【請求項１４】
請求項１０〜１３のいずれか１項に記載の光変調記録再生装置を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを前記の各手段として機能させることを特徴とする制御プログラム。
【請求項１５】
請求項１４に記載の制御プログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録パルス標準条件が記録されている書き込み可能な光記録媒体から、或いは、記録パルス標準条件が記録されている光変調記録再生装置から、上記記録パルス標準条件を読み出し、該記録パルス標準条件を修正して最適な記録パルス条件を求めた後、記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録パルス条件設定方法、光変調記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
大容量のデータを記録する光ディスク装置として、ＤＶＤＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒといった記録型ＤＶＤが開発され、一般に販売されている。これらの光ディスク装置においては、記録情報に応じて変化するパルス列を、情報の最小単位よりも細かいパルス列に変換し、該細かいパルス列によってレーザビームを強度変調し、前記強度変調されたレーザビームを媒体上に集光させて加熱することにより媒体の物理特性を変化させて記録している。ここで、記録に必要なパルス幅や、各レーザビームのパワー等の記録補償を行う記録条件設定情報は、記録パルス標準条件として予め光ディスクに記憶されている。或いは、光ディスク装置側に記憶されている。
【０００３】
ところで、光ディスクの高密度化が進むにつれて、マーク長毎、或いは、マークとスペースとの組み合わせ毎に記録パルス標準条件を設定するといった厳密な設定が必要となっている。
【０００４】
しかし、光ディスクの記録再生装置を量産したとき、使用部品の特性ばらつきや環境変化等により、個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。同様に、光ディスク自体も量産時に、特性ばらつきが発生し、同一の記録条件で記録しても個々の光ディスクで常に同じマーク形状が得られるとは限らない。したがって、標準的な特性を有する基準ディスクを用い、かつ標準的な特性を有する基準装置で決定された記録パルス標準条件であったとしても、特性のばらついた量産した光ディスクと装置とをそのまま使用すると、組み合わせによっては適正な記録再生が行われず、品質不良が発生するという課題があった。
【０００５】
この解決方法として、特許文献１には、記録パルス標準条件を修正した記録パルス条件を求める方法が開示されている。この方法では、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている光ディスクにおいて、上記記録パルス標準条件のうち、スペース長とマーク長との組み合わせの全て、又はいずれか一つの組み合わせに対する位置情報を所定量変化させて、記録再生信号のジッタが許容値以下となるように記録パルス標準条件から補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定している。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報（平成１２年７月１８日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上記従来の光記録パルス条件設定方法では、一手法として、記録パルス標準条件のうち、全てのスペース長とマーク長との組み合わせに対して、一律に所定量の変化を加えている。
【０００７】
しかしながら、記録マーク長毎に記録条件に対するマーク形成の特性が異なる場合は、一律に所定量の変化を加えても、全ての記録マーク長において良好な記録マークが形成されるとは限らないという問題点を有している。
【０００８】
また、特許文献１には、他の手法として、スペース長とマーク長との組み合わせのうちいずれか一つの組み合わせに対して所定量の変化を与える方法についても記載されているが、同じマーク長であっても一部の記録マークしか改善されないため、全体の記録マーク及びスペースにおける再生信号品質には大幅な改善は期待できないという問題点を有している。
【０００９】
さらに、パルス幅に対する条件のみの最適化を行っているが、記録パワーに対する条件の最適化は行っていない。
【００１０】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、書き込み可能な光記録媒体及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録パルス条件設定方法、光変調記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択することを特徴としている。
【００１２】
また、本発明の光変調記録再生装置は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置において、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する選択手段とを備えていることを特徴としている。
【００１３】
上記の発明によれば、記録パルス試し書き手段が、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う。また、再生信号品質検出手段は、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する。さらに、選択手段が、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【００１４】
ところで、従来では、記録マーク長毎に記録条件に対するマーク形成の特性が異なる場合は、一律に所定量の変化を加えても、全ての記録マーク長において良好な記録マークが形成されるとは限らないという問題点を有していた。
【００１５】
しかし、本発明では、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する場合に、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて求めている。
【００１６】
すなわち、マーク長が短い程、記録パルス条件において変化させるパラメータの数が少なく、再生信号品質が良好となる記録マークを形成するための記録パルス条件の設定が難しくなる。また、マーク長が短い程、データ内において出現頻度が多くなる。したがって、マーク長が短い程、全体のマークに占める影響度が高く、設定が厳密であるため、最短マーク長の記録パルス条件をより良く設定することにより、全体の再生信号品質を向上させる効果が大きい。
【００１７】
この結果、最短の記録マークについて再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択しておけば、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光記録媒体及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができる。
【００１８】
また、従来では、スペース長とマーク長との組み合わせのうちいずれか一つの組み合わせに対して所定量の変化を与える方法について、同じマーク長であっても一部の記録マークしか改善されないため、全体の記録マーク及びスペースにおける再生信号品質には大幅な改善は期待できないという問題点を有していたが、本発明では、全ての記録マークについて再生信号品質を考慮しているので、この点についても問題はない。
【００１９】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる記録パワー条件を決定した後、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択することを特徴としている。
【００２０】
また、本発明の光変調記録再生装置は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置において、全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワー条件を決定する記録パワー決定手段と、上記記録パワー決定手段にて決定した記録パワーを用いて、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する選択手段とを備えていることを特徴としている。
【００２１】
上記の発明によれば、記録パワー試し書き手段が全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、記録パワー決定手段が記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワー条件を決定する。また、記録パルス試し書き手段が、記録パワー決定手段にて決定した記録パワーを用いて、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク上に試し書きを行う。さらに、再生信号品質検出手段が、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出し、選択手段が、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【００２２】
したがって、本発明では、まず、記録パワー条件を決定し、その後、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【００２３】
この結果、記録パワーに対する条件の最適化も行うことができる。また、記録パワー条件を固定した状態で、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択することができる。
【００２４】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択した後、全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる記録パワー条件を決定することを特徴としている。
【００２５】
また、本発明の光変調記録再生装置は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録パルスに基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光変調記録再生装置において、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する選択手段と、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択した後に、全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワーを決定する記録パワー決定手段とを備えていることを特徴としている。
【００２６】
上記の発明によれば、記録パルス試し書き手段が、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク上に試し書きを行い、再生信号品質検出手段が、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出し、選択手段が、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【００２７】
また、上記再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択した後に、記録パワー試し書き手段が、全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、記録パワー決定手段が、記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワーを決定する。
【００２８】
したがって、本発明では、まず、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択し、その後、記録パワー条件を決定する。
【００２９】
この結果、記録パワーに対する条件の最適化も行うことができる。また、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を固定した状態で、記録パワー条件を決定することができる。
【００３０】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、前記記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴としている。
【００３１】
上記の発明によれば、記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行う。
【００３２】
したがって、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する再生信号品質の良くなる記録パルス条件だけではなく、例えば、順次３Ｔマーク、４Ｔマーク、…等の最短の記録マークよりも長い記録マークについても再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【００３３】
なお、本発明において、記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行うとは、例えば、２Ｔマークから８Ｔマークまで存在する場合に、８Ｔマークについての記録パルス条件の選択まで行かずに、７Ｔマークについての記録パルス条件の選択にて終了することがあることを示すものである。
【００３４】
また、本発明では、マーク長の短い方から、マーク長に対する記録パルス条件を変化させる。したがって、必ずしもマーク長毎に逐一順番に記録パルス条件を変化させるだけでなく、例えば、３Ｔマークの次に４Ｔマークではなく５Ｔマークの記録パルス条件を変化させるというように、次に行うマーク長は、今のマーク長よりも大きければよい。
【００３５】
この結果、より精度良く、全ての記録マークについて、書き込み可能な光記録媒体及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、最適な記録パルス条件を求めることができ、かつ、良好な再生信号品質を得るための記録パルス条件設定を効率良く行うことができる。
【００３６】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、前記光記録媒体上に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定することを特徴としている。
【００３７】
上記の発明によれば、光記録媒体上に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定する。
【００３８】
したがって、光記録媒体上に記録パルス標準条件が記録されている場合は、試し書きに使用する記録パルス条件を該光記録媒体上に記録された記録パルス標準条件に基づき設定することができる。
【００３９】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、前記光変調記録再生装置の記憶手段に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定することを特徴としている。
【００４０】
上記の発明によれば、光変調記録再生装置の記憶手段に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定する。
【００４１】
したがって、光変調記録再生装置の記憶手段に記録パルス標準条件が記録されている場合には、試し書きに使用する記録パルス条件を該光変調記録再生装置の記憶手段に記録された記録パルス標準条件に基づき設定することができる。
【００４２】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、前記記録パルス条件は、記録マークの始端位置を変化させる記録パルス条件と、記録マークの終端位置を変化させる記録パルス条件と、記録マークのトラック方向の幅を変化させる記録パルス条件とのうちの少なくとも１つであることを特徴としている。
【００４３】
上記の発明によれば、記録パルス条件は、記録マークにおける始端位置を変化させる記録パルス条件と、記録マークにおける終端位置を変化させる記録パルス条件と、記録マークのトラック方向の幅を変化させる記録パルス条件とのうちの少なくとも１つである。
【００４４】
したがって、これらのいずれかの記録パルス条件におけるパラメータを管理することによって、精度良く、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光ディスク及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができる。
【００４５】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、前記再生信号品質は、ジッタであることを特徴としている。
【００４６】
すなわち、ジッタ及びエラーレートは、光ディスクのパワーマージンを規定する指標になっていることが多く、記録状態をその光ディスクのマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【００４７】
この点、本発明によれば、再生信号品質はジッタであるので、ジッタつまりパルスの歪の観点から再生信号品質を高めることができる。
【００４８】
また、本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、上記記載の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法において、前記再生信号品質は、エラーレートであることを特徴としている。
【００４９】
すなわち、ジッタ及びエラーレートは、光ディスクのパワーマージンを規定する指標になっていることが多く、記録状態をその光ディスクのマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【００５０】
この点、本発明によれば、再生信号品質はエラーレートであるので、エラーレートの観点から再生信号品質を高めることができる。
【００５１】
また、本発明の光変調記録再生装置は、上記記載の光変調記録再生装置において、前記記録パルス試し書き手段により、前記記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、前記再生信号品質検出手段にて試し書きを再生し、前記選択手段にて、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴としている。
【００５２】
上記の発明によれば、光変調記録再生装置は、記録パルス試し書き手段により、前記記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、前記再生信号品質検出手段にて試し書きを再生し、前記選択手段にて、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行う。
【００５３】
したがって、確実に、より精度良く、全ての記録マークについて、書き込み可能な光記録媒体及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、最適な記録パルス条件を求めることができ、かつ、良好な再生信号品質を得るための記録パルス条件設定を効率良く行うことができる光変調記録再生装置を提供することができる。
【００５４】
また、本発明の制御プログラムは、上記記載の光変調記録再生装置を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを前記の各手段として機能させること特徴としている。
【００５５】
上記の発明によれば、コンピュータを前記の各手段として機能させる制御プログラムを提供することができる。
【００５６】
また、本発明のコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、上記記載の制御プログラムを記録したこと特徴としている。
【００５７】
上記の発明によれば、制御プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することができる。
【発明の効果】
【００５８】
本発明の光変調記録再生装置の光記録パルス条件設定方法は、以上のように、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する方法である。
【００５９】
また、本発明の光変調記録再生装置は、以上のように、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する選択手段とを備えているものである。
【００６０】
それゆえ、本発明は、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する場合に、最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて求めている。
【００６１】
すなわち、マーク長が短い程、全体のマークに占める影響度が高く、設定が厳密であるため、最短マーク長の記録パルス条件をより良く設定することにより、全体の再生信号品質を向上させる効果が大きい。
【００６２】
この結果、最短の記録マークについて再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択しておけば、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光記録媒体及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができるという効果を奏する。
【００６３】
また、従来では、スペース長とマーク長との組み合わせのうちいずれか一つの組み合わせに対して所定量の変化を与える方法について、同じマーク長であっても一部の記録マークしか改善されないため、全体の記録マーク及びスペースにおける再生信号品質には大幅な改善は期待できないという問題点を有していたが、本発明では、全ての記録マークについて再生信号品質を考慮しているので、この点についても問題はないという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００６４】
〔実施の形態１〕
本発明の実施の一形態について図１ないし図６に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００６５】
本実施の形態の光記録パルス条件設定方法が適用される光変調記録再生装置としての光ディスク装置１では、図２に示すように、回転する光ディスク１０の図示しないトラックへ、制御部２０がピックアップ駆動回路１３を介してピックアップ１２を移動させる。
【００６６】
上記ピックアップ１２には、光ヘッド１１が設けられている。そして、制御部２０がレーザ駆動回路１４を介して記録条件を設定し、光ヘッド１１から記録用のレーザビームを光ディスク１０の記録部位に照射することによって、光ディスク１０のトラックに情報が記録される。
【００６７】
また、上記光ディスク装置１は、制御部２０がピックアップ駆動回路１３を介してピックアップ１２を光ディスク１０の記録部位へ移動させる。そして、制御部２０がレーザ駆動回路１４を介して光ヘッド１１から再生用のレーザビームを光ディスク１０に照射する。
【００６８】
光ヘッド１１が検出した反射光は、再生回路１５にて再生信号に変換され、制御部２０に入力される。これにより、上記光ディスク装置１は、光ディスク１０のトラックに記録された情報を再生する。
【００６９】
ここで、上記光ディスク装置１には、特に、センサ３０が設けられている。上記センサ３０は、光ディスク１０の装填を検出するため、及び／又は光ディスク１０への記録環境の変化を検出するためのものであり、例えば、光ディスク１０の記録部位の温度を検出するための温度センサからなる。そして、センサ３０は、検出した結果を検出信号として制御部２０へ出力する。
【００７０】
上記制御部２０は、光ディスク１０が光ディスク装置１に装填されたときに加えて、情報の記録動作中にもセンサ３０の検出信号から記録環境に所定の変化が検出されたときや、前回の試し書きから所定時間が経過したとき等に、記録条件設定の動作を適宜起動する。
【００７１】
光ディスク装置１は、図３に示すように、光ディスク１０の設定用領域４１への試し書きに基づいて記録条件を設定する。そして、その記録条件によって、各トラックに情報を記録する。なお、光ディスク装置１の記録条件設定後のユーザ領域４２への記録動作は、一般に知られた動作と同様である。また、設定用領域４１内には、記録パワー設定情報と記録パルス幅パラメータとを含む記録パルス標準条件が予め記録されているものとする。
【００７２】
上記光ディスク装置１は、設定用領域４１内の記録パルス標準条件を読み出し、この記録パルス標準条件を記録条件設定のために使用する。また、読み出した記録パルス標準条件を上記制御部２０内に設けられた記憶手段であるメモリに保存し、それを読み出して使用してもよい。なお、設定用領域４１の位置は、図３に示した位置に限らず、光ディスク１０の任意の半径位置に存在していても構わないし、設定用領域４１は複数存在していても構わない。
【００７３】
次に、本実施の形態における具体的な光記録パルス条件設定方法を、図４ないし図６に基いて説明する。なお、以下においては、変調方式として（１，７）ＲＬＬ(Run Length Limited code)を例に挙げて説明する。ただし、本発明においては、（１，７）ＲＬＬの変調方式に限るものではない。なお、（１，７）ＲＬＬコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードである。また、この（１，７）ＲＬＬの変調方式では、後で詳述するが、記録パルスのパルス列は、最短の記録マークが始端部と終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの始端部と終端部との間に該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が３Ｔから始まるものもあり、
このときは最短の記録マーク長が始端部、中間部、終端部にて構成されている（例えば、ＤＶＤ−ＲＷ等）。また、最短マーク長が２Ｔであったとしても、始端部のみで構成されているものもある（例えば、ＤＶＤ−Ｒ等）。
【００７４】
図４に示すように、上記光ディスク１０に記録を行うための媒体温度分布を考慮し、記録情報に対応するパルス列が設定されている。なお、図４は４Ｔマークに対応するためのパルス列を示す。
【００７５】
上記パルス列は、上述したように、始端部と終端部、及び３Ｔマーク以上では中間部とを合わせて構成されている。ここで、Ｔは、クロック１周期分の時間を表す。したがって、例えば４Ｔマークとは、クロック４周期分の時間に「１」が記録されるマークつまり記録領域をいう。
【００７６】
また、パルス列は、同図に示すように、記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーにて構成され、これらを記録パワー条件と呼ぶことにする。なお、同図では、始端部、中間部のパルスの記録パワーは同一であるが、必ずしもこれに限らず、パルス毎で別個の記録パワーであってもよい。
【００７７】
次に、図５に、２Ｔマークから８Ｔマークまでのそれぞれを形成するためのパルス列、及び記録パルス条件を構成するパラメータを示す。同図において、ｄＴｔｏｐは始端部のパルス開始位置、Ｔｔｏｐは始端部のパルス幅、Ｔｅｎｄは終端部のパルス終了位置、及びＴｍｐは中間部のパルス幅を示しており、これらの値の変化により、形成される記録マークの形状が変化する。これらのパラメータの標準値は、光ディスク１０の設定用領域４１に記録パルス標準条件として予め記録されている。なお、記録パワー条件は、マーク長毎に設定されており、その設定は独立している。つまり、最短の記録マークの記録パルス条件（始端部と終端部）の設定を、他のマーク長の始端部及び終端部の設定に用いるものではない。
【００７８】
ここで、各パラメータと形成される記録マークとの関係を示す。
【００７９】
まず、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐが大きくなると、記録マークの始端位置が前方に移動する。逆に、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐが小さくなると、記録マークの始端位置は後方に移動する。
【００８０】
この結果、始端部パルス幅Ｔｔｏｐが大きくなると、記録マークにおける先頭部分のトラック方向の幅が増大する一方、逆に、始端部パルス幅Ｔｔｏｐが小さくなると、記録マークにおける先頭部分のトラック方向の幅は減少する。
【００８１】
また、終端部パルス終了位置Ｔｅｎｄが大きくなると、記録マークの終端位置が後方に移動する。逆に、終端部パルス終了位置Ｔｅｎｄが小さくなると、記録マークの終端位置は前方に移動する。
【００８２】
さらに、中間部パルス幅Ｔｍｐが大きくなると、記録マークのトラック方向の幅が増大する。逆に、中間部パルス幅Ｔｍｐが小さくなると、トラック方向の幅が減少する。
【００８３】
次に、２Ｔマークから８Ｔマークまでが含まれたテストパターンを用いて、試し書きを行ったときのジッタの値を測定した。図６は、２Ｔマークの記録パルス条件のみを変化させて記録し、再生信号品質の検出量として、ジッタを測定した結果を示している。
【００８４】
まず、図６の条件（１）は、記録パルス標準条件の場合において試し書きを行い、再生信号品質を検出したときのジッタを示している。なお、ジッタは、パルス列における、振幅、パルス幅、パルス位置、繰り返し周波数、パルス間隔等の乱れをいう。
【００８５】
また、図６の条件（２）は、記録パルス標準条件を条件（１）とした場合において、条件（１）の終端部パルス終了位置Ｔｅｎｄを１ステップ（ここでは約１ｎｓ）増加させた場合、図６の条件（３）は条件（２）において始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐを１ステップ増加させた場合、図６の条件（４）は条件（３）において始端部パルス幅Ｔｔｏｐを１ステップ増加させた場合、図６の条件（５）は条件（４）において始端部パルス幅Ｔｔｏｐをさらに１ステップ増加させた場合に、それぞれ試し書きを行い、再生信号品質を検出したときのジッタを示している。
【００８６】
これらの結果より、ジッタ最良となる条件（３）を選択し、記録パルス条件として設定する。
【００８７】
次に、上記光ディスク装置１における記録条件設定の具体的動作を、図１に示すフローチャートに基いて説明する。
【００８８】
まず、光ディスク装置１は、制御部２０の制御により、記録パルス標準条件を光ディスク１０から読み出して設定する（Ｓ１）。続いて、マーク長を表すＮを最短マーク長の値に設定する（Ｓ２）。ここで、変調方式として（１，７）ＲＬＬを例として挙げると、Ｎの値は２に設定される。
【００８９】
次いで、２Ｔマークについての記録パルス条件のみを変化させて、設定用領域４１にテストパターンを試し書きする（Ｓ３）。さらに、記録したテストパターンを再生する（Ｓ４）。そして、Ｓ４で得られた再生信号品質に基づいて、試し書きに使用した記録パルス条件の中から、再生信号品質が良好となる記録パルス条件を決定する。（Ｓ５）。
【００９０】
なお、上記再生信号品質の検出量としては、必ずしもジッタだけでなく、エラーレートを用いることができる。
【００９１】
上記エラーレート及びジッタは、いずれも光ディスク１０のパワーマージンの規定になっていることが多く、記録状態をその光ディスク１０のマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【００９２】
このように、本実施の形態の光記録パルス条件設定方法及び光ディスク装置１では、記録パルス試し書き手段が、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク１０上に試し書きを行う。また、再生信号品質検出手段は、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する。さらに、選択手段が、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。なお、これら記録パルス試し書き手段、再生信号品質検出手段及び選択手段は、ＣＰＵからなる制御部２０がこれらの機能を果たす。
【００９３】
ところで、従来では、記録マーク長毎に記録条件に対するマーク形成の特性が異なる場合は、一律に所定量の変化を加えても、全てのマーク長において良好な記録マークが形成されるとは限らないという問題点を有していた。
【００９４】
しかし、本実施の形態では、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する場合に、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて求めている。
【００９５】
すなわち、マーク長が短い程、記録パルス条件において変化させるパラメータの数が少なく、再生信号品質が良好となる記録マークを形成するための記録パルス条件の設定が難しくなる。また、マーク長が短い程、データ内において出現頻度が多くなる。したがって、マーク長が短い程、全体のマークに占める影響度が高く、設定が厳密であるため、最短マーク長の記録パルス条件をより良く設定することにより、全体の再生信号品質を向上させる効果が大きい。
【００９６】
この結果、最短の記録マークについて再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択しておけば、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光ディスク１０及び光ディスク装置１の特性ばらつきの影響を低減することができる。
【００９７】
また、従来では、スペース長とマーク長との組み合わせのうちいずれか一つの組み合わせに対して所定量の変化を与える方法について、同じマーク長であっても一部の記録マークしか改善されないため、全体の記録マーク及びスペースにおける再生信号品質には大幅な改善は期待できないという問題点を有していたが、本実施の形態では、全ての記録マークについて再生信号品質を考慮しているので、この点についても問題はない。
【００９８】
また、本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、光ディスク１０上に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定する。
【００９９】
したがって、光ディスク１０上に記録パルス標準条件が記録されている場合は、試し書きに使用する記録パルス条件を該光ディスク１０上に記録された記録パルス標準条件に基づき設定することができる。
【０１００】
また、本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、記録パルス条件は、記録マークにおける始端位置を変化させる記録パルス条件と、記録マークにおける終端位置を変化させる記録パルス条件と、記録マークのトラック方向の幅を変化させる記録パルス条件とのうちの少なくとも１つである。
【０１０１】
したがって、これらのいずれかの記録パルス条件におけるパラメータを管理することによって、精度良く、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光ディスク１０及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができる。
【０１０２】
ところで、ジッタ及びエラーレートは、光ディスク１０のパワーマージンを規定する指標になっていることが多く、記録状態をその光ディスク１０のマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【０１０３】
この点、本実施の形態によれば、再生信号品質はジッタであるので、ジッタつまりパルスの歪の観点から再生信号品質を高めることができる。
【０１０４】
また、本実施の形態によれば、再生信号品質はエラーレートであるので、エラーレートの観点から再生信号品質を高めることができる。
【０１０５】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施の形態について図７に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態と異なる部分は、前記実施の形態１と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１０６】
本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、記録マーク長が増加する毎に、記録パルスの数が増加するようになっている。
【０１０７】
すなわち、前述したように、マーク長が短い程、記録パルス条件において変化させるパラメータの数が少なく、再生信号品質が良好となる記録マークを形成するための記録パルス条件の設定が難しくなる。また、マーク長が短い程、データ内において出現頻度が多くなる。そこで、本実施の形態では、マーク長の短い方から各記録パルス条件の設定を行うことにより、良好な再生信号品質を得るための記録パルス条件設定を効率よく行うことができるものとなっている。
【０１０８】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録パルス条件設定方法について、図７のフローチャートに基いて説明する。なお、このフローチャートは、前記実施の形態１のＳ５に続くものであり、Ｓ５までの説明は前述したとおりであるので省略する。
【０１０９】
本実施の形態では、前記実施の形態１のＳ５に続いて、まず、試し書きの再生信号品質を検出する（Ｓ１１）。Ｓ１１にて所定の再生信号品質よりも良好な結果が得られた場合は、記録パルス条件設定を終了する。一方、良好な結果が得られていない場合は、マーク長Ｎ（Ｎは２以上の整数）が最大であるかどうかの判定を行う（Ｓ１２）。
【０１１０】
Ｓ１２にてマーク長Ｎが最大である場合は、全てのマーク長に対して、記録条件設定を行っても良好な再生信号品質が得られていないため、記録条件設定動作を終了する。この後、試し書きに用いるトラックを変更して、再度記録条件設定動作を行ってもよいし、ディスク不良を示すエラー表示を行ってもよい。
【０１１１】
一方、Ｓ１２にてマーク長Ｎが最大でない場合は、マーク長をＮ＋１に設定する（Ｓ１３）。そして、実施の形態１のＳ３へ戻る。
【０１１２】
これにより、良好な再生信号品質を得るための記録パルス条件設定を効率よく行うことができる。
【０１１３】
なお、上記の説明では、Ｓ１３において、マーク長をＮ＋１に設定しているが、必ずしもこれに限らず、加える数を２以上等の１よりも大きい数字とするように割り込みをかけることも可能である。
【０１１４】
このように、本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク１０上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行う。
【０１１５】
したがって、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する再生信号品質の良くなる記録パルス条件だけではなく、順次例えば３Ｔマーク、４Ｔマーク、…等の最短の記録マークよりも長い記録マークについても再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【０１１６】
なお、記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行うとは、例えば、２Ｔマークから８Ｔマークまで存在する場合に、８Ｔマークについての記録パルス条件の選択まで行かずに、７Ｔマークについての記録パルス条件の選択にて終了することがあることを示すものである。また、マーク長の短い方から、マーク長に対する記録パルス条件を変化させる。したがって、必ずしもマーク長毎に逐一順番に記録パルス条件を変化させるだけでなく、例えば、３Ｔマークの次に４Ｔマークではなく５Ｔマークの記録パルス条件を変化させるというように、次に行うマーク長は、今のマーク長よりも大きければよいことを示す。
【０１１７】
この結果、より精度良く、全ての記録マークについて、書き込み可能な光ディスク１０及び光変調記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、最適な記録パルス条件を求めることができ、かつ、良好な再生信号品質を得るための記録パルス条件設定を効率良く行うことができる。
【０１１８】
また、本実施の形態の光ディスク装置１では、記録パルス試し書き手段により、記録パルス条件を設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パルス条件を変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、再生信号品質検出手段にて試し書きを再生し、前記選択手段にて、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する処理を少なくとも１回行う。なお、これら記録パルス試し書き手段、再生信号品質検出手段及び選択手段は、ＣＰＵからなる制御部２０がこれらの機能を果たす。
【０１１９】
したがって、確実に、より精度良く、全ての記録マークについて、書き込み可能な光ディスク１０及び光ディスク装置１の特性ばらつきの影響を低減し、最適な記録パルス条件を求めることができ、かつ、良好な再生信号品質を得るための記録パルス条件設定を効率良く行うことができる光ディスク装置１を提供することができる。
【０１２０】
〔実施の形態３〕
本発明の他の実施の形態について図８に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態と異なる部分は、前記実施の形態１及び実施の形態２と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１及び実施の形態２の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１２１】
本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、記録パルス条件の設定を行う前に、試し書きにより良好な記録パワー条件を設定しておく。これによって、さらに精度の良好な記録パルス条件の設定を行うことができる。
【０１２２】
また、本実施の形態では、良好な記録パワー条件を求めるために、全てのマーク長に対する記録パワー条件を一律に変化させて試し書きを行う。なお、一律に変化させる場合、記録パワー条件つまり前記図４における記録パワー、消去パワー、バイアスパワーのうち少なくとも１つに対して、係数倍して変化させてもよいし、所定パワーを増減させてもよい。
【０１２３】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録パルス条件設定方法について、図８のフローチャートに基いて説明する。
【０１２４】
まず、前記光ディスク装置１は、記録パワー条件を変化させて、テストパターンを試し書きする（Ｓ２１）。続いて、記録したテストパターンを再生する（Ｓ２２）。次いで、Ｓ２２で得られた再生信号の検出結果に基づいて、試し書きに使用した記録パワー条件の中から、最適な記録パワー条件を決定する（Ｓ２３）。この後、実施の形態１における図１のＳ１以下を実施する。
【０１２５】
このように、記録パルス条件の設定を行う前に、試し書きにより良好な記録パワー条件を設定しておくことにより、さらに精度の良好な記録パルス条件の設定を行うことができる。
【０１２６】
このように、本実施の形態の光記録パルス条件設定方法及び光ディスク装置１では、記録パワー試し書き手段が全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、記録パワー決定手段が記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワー条件を決定する。また、記録パルス試し書き手段が、記録パワー決定手段にて決定した記録パワーを用いて、記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク１０上に試し書きを行う。さらに、再生信号品質検出手段が、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出し、選択手段が、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。なお、上記記録パワー試し書き手段、記録パワー決定手段、記録パルス試し書き手段、再生信号品質検出手段、再生信号品質検出手段、及び選択手段はいずれもＣＰＵにてなる制御部２０がこれらの機能を行う。
【０１２７】
したがって、本実施の形態では、まず、記録パワー条件を決定し、その後、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【０１２８】
この結果、記録パワーに対する条件の最適化も行うことができる。また、記録パワー条件を固定した状態で、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択することができる。
【０１２９】
〔実施の形態４〕
本発明のさらに他の実施の形態について図９に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態と異なる部分は、前記実施の形態１ないし実施の形態３と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１ないし実施の形態３の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１３０】
前記実施の形態３では、先に記録パワー条件を設定した後、記録パルス条件の設定を行った。
【０１３１】
本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、これとは逆に、記録パルス条件の設定をした後に、試し書きにより良好な記録パワー条件を設定する。これによっても、同様に、さらに精度の良好な記録パワー条件の設定を行うことができる。
【０１３２】
なお、本実施の形態においても、前記実施の形態２と同様に、良好な記録パワー条件を求めるために、全てのマーク長に対する記録パワー条件を一律に変化させて試し書きを行う。ただし、一律に変化させる場合、記録パワー条件つまり前記図４における記録パワー、消去パワー、バイアスパワーのうち少なくとも１つに対して、係数倍して変化させてもよいし、所定パワーを増減させてもよいのは、前記実施の形態３と同様である。
【０１３３】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録パルス条件設定方法について、図９のフローチャートに基いて説明する。なお、このフローチャートは、前記実施の形態１のＳ５に続くものであり、Ｓ５までの説明は前述したとおりであるので省略する。
【０１３４】
同図に示すように、光ディスク装置１は、最初に、実施の形態１のＳ５までを実行し、その後、記録パワー条件を変化させて、テストパターンを試し書きする（Ｓ３１）。続いて、記録したテストパターンを再生する（Ｓ３２）。そして、Ｓ３２で得られた再生信号の検出結果に基づいて、試し書きに使用した記録パワー条件の中から、最適な記録パワー条件を決定する（Ｓ３３）。
【０１３５】
このように、記録パルス条件の設定をした後に、試し書きにより良好な記録パワー条件を設定することにより、さらに精度の良好な記録条件の設定を行うことができる。
【０１３６】
〔実施の形態５〕
本発明のさらに他の実施の形態について図１０に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態と異なる部分は、前記実施の形態１ないし実施の形態４と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１ないし実施の形態４の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１３７】
前記実施の形態１ないし実施の形態４では、光記録媒体としての光ディスク１０に予め記録パルス標準条件が記憶されており、それを読み出し、記録パルス条件の設定を行っていた。
【０１３８】
本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、記録パルス標準条件を光変調記録再生装置側から出力し、記録パルス条件の設定をした後に、試し書きにより良好な記録パワー条件を設定する。これによって、光ディスク１０に予め記録パルス標準条件が記憶されていなくても、精度の良好な記録パワー条件の設定を行うことができる。
【０１３９】
本実施の形態の光記録パルス条件設定方法が適用される光変調記録再生装置としての光ディスク装置１では、図１０に示すように、制御部２０内に設けられた記憶手段としての記憶部５１に記録パルス標準条件を格納しており、記録条件設定の動作が起動されると、記録パルス標準条件を読み出し、出力部５２を介して、レーザ駆動回路１４に設定される。
【０１４０】
なお、記録パルス標準条件を格納している記憶部５１は、制御部２０内に限らず、制御部２０の外に設置されていてもよいし、また、光ディスク装置１内に限らず、外部記憶手段であってもよい。
【０１４１】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録パルス条件設定方法は、図１のフローチャートのＳ１に相当するため、それ以降の説明は前述したとおりであるので省略する。
【０１４２】
このように、記録パルス標準条件を光ディスク装置１側で出力し、これに基づいて記録パルス条件に変化を加えて試し書きを行い、その最適化を行うことにより、光ディスク１０に予め記録パルス標準条件が記憶されていなくても、精度の良好な記録パルス条件の設定を行うことができる。
【０１４３】
なお、本実施の形態は本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の範囲内で種々の変更が可能である。例えば、記録条件の設定は、各トラックにおいて少なくとも１回行うことが望ましいが、必ずしも全てのトラックで行う必要はなく、複数トラック毎であってもよい。
【０１４４】
また、上記光ディスク装置１は、制御部２０の各機能を実現するプログラム（制御プログラム、記録条件設定プログラム）の命令を実行する演算手段であるＣＰＵ（Central Processing Unit）、上記プログラムを格納した記憶手段であるＲＯＭ（Lead Only Memory）、上記プログラムを展開する記憶手段であるＲＡＭ（Random Access Memory）、上記プログラム及び各種データを格納する記憶手段であるメモリ等の図示しない記憶装置（記憶媒体）等を備えている。
【０１４５】
そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウエアである制御プログラムのプログラムコード（実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム）をコンピュータで読み取り可能にした記録媒体を、上記光ディスク装置１に供給し、そのコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。この場合、記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が上述した機能を実現することにより、そのプログラムコードを記録した記録媒体は本発明を構成することになる。
【０１４６】
このように、本実施の形態の光記録パルス条件設定方法及び光ディスク装置１では、記録パルス試し書き手段が、記録パルス標準条件における最短のマークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク１０上に試し書きを行い、再生信号品質検出手段が、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出し、選択手段が、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する。
【０１４７】
また、上記再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択した後に、記録パワー試し書き手段が、全ての記録マークに対する記録パワー条件に一律変化を加えて試し書きを行い、記録パワー決定手段としての制御部２０が、記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワーを決定する。なお、記録パルス試し書き手段、再生信号品質検出手段、選択手段、記録パワー試し書き手段、及び記録パワー決定手段は、ＣＰＵにてなる制御部２０が機能する。
【０１４８】
したがって、本実施の形態では、まず、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択し、その後、記録パワー条件を決定する。
【０１４９】
この結果、記録パワーに対する条件の最適化も行うことができる。また、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を固定した状態で、記録パワー条件を決定することができる。
【０１５０】
また、本実施の形態の光記録パルス条件設定方法では、光ディスク装置１の記憶部５１に記録パルス標準条件が記録されており、上記記録パルス標準条件を読み出し、試し書きに使用する記録パルス条件を該記録パルス標準条件に基づき設定する。
【０１５１】
したがって、光ディスク装置１の記憶部５１に記録パルス標準条件が記録されている場合には、試し書きに使用する記録パルス条件を該光ディスク装置１の記憶部５１に記録された記録パルス標準条件に基づき設定することができる。
【０１５２】
また、本実施の形態の制御プログラムは、上記記載の光ディスク装置１を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを前記の各手段として機能させる。
【０１５３】
したがって、コンピュータを前記の各手段として機能させる制御プログラムを提供することができる。
【０１５４】
また、本実施の形態のコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、上記記載の制御プログラムを記録したものである。
【０１５５】
したがって、制御プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することができる。
【０１５６】
なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的手段に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０１５７】
本発明は、記録パルス標準条件が記録されている書き込み可能な光記録媒体から、あるいは、記録パルス標準条件が記録されている光変調記録再生装置としての光ディスク装置、その制御プログラム、及び光記録媒体としての光ディスクに適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１５８】
【図１】本発明における光ディスク装置の光記録パルス条件設定方法の実施の一形態を示すフローチャートである。
【図２】上記光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図３】上記光ディスク装置により情報が記録される光ディスクを示す斜視図である。
【図４】記録情報に対応するパルス列の設定を説明するタイミングチャートである。
【図５】２Ｔマークから８Ｔマークを形成するためのパルス列及び記録パルス条件を設定するためのパラメータを説明するタイミングチャートである。
【図６】上記光記録パルス条件設定方法におけるジッタ測定結果を示すグラフである。
【図７】本発明における光記録パルス条件設定方法の他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図８】本発明における光記録パルス条件設定方法のさらに他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図９】本発明における光記録パルス条件設定方法のさらに他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の光変調記録再生装置における制御部の構造を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０１５９】
１  光ディスク装置（光変調記録再生装置）
１０  光ディスク（光記録媒体）
１２  ピックアップ
１６  記録再生回路群
２０  制御部（記録パルス試し書き手段、再生信号品質検出手段、選択手段
、記録パワー試し書き手段、記録パワー決定手段）
３０  センサ
４１  設定用領域
【図１】
2004213865.tif 000003
【図２】
2004213865.tif 000004
【図３】
2004213865.tif 000005
【図４】
2004213865.tif 000006
【図５】
2004213865.tif 000007
【図６】
2004213865.tif 000008
【図７】
2004213865.tif 000009
【図８】
2004213865.tif 000010
【図９】
2004213865.tif 000011
【図１０】
2004213865.tif 000012