(57)【要約】【課題】複雑な測距処理を必要とせず測距精度の向上が図れる測距装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の測距装置は、測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、光束の反射光を受光し出力信号を出力する受光手段と、出力信号に応じて積分コンデンサを放電または充電して出力信号を積算して積分する積分手段と、測距ルーチンを所定回数繰り返した後、積分コンデンサの電圧をＡＤ変換するＡＤ変換手段と、ＡＤ変換された変換信号に基づいて測距対象物までの距離を検出する検出手段と、を備える測距装置において、測距ルーチンの繰り返し回数は、測距対象物が近距離警告位置にあるとき測距ルーチンの繰り返しにより積分コンデンサが飽和する回数に設定されている、ことを特徴とする。【選択図】  図７
2004294103.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、
前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を受光し前記測距対象物までの距離に応じた出力信号を出力する受光手段と、
前記出力信号に応じて積分コンデンサを放電または充電して前記出力信号を積算して積分する積分手段と、
前記投光手段による投光、前記受光手段による受光、前記受光手段による出力信号の出力及び積分コンデンサの放電または充電の測距ルーチンを所定回数繰り返した後、前記積分コンデンサの電圧をＡＤ変換するＡＤ変換手段と、
前記ＡＤ変換された変換信号に基づいて前記測距対象物までの距離を検出する検出手段と、
を備える測距装置において、
前記測距ルーチンの繰り返し回数は、前記測距対象物が近距離警告位置にあるとき前記測距ルーチンの繰り返しにより前記積分コンデンサが飽和する回数に設定されている、ことを特徴とする測距装置。
【請求項２】
測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、
前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を受光し前記測距対象物までの距離に応じた出力信号を出力する受光手段と、
前記出力信号に応じて積分コンデンサを放電または充電して前記出力信号を積算して積分する積分手段と、
前記投光手段による投光、前記受光手段による受光、前記受光手段による出力信号の出力及び積分コンデンサの放電または充電の測距ルーチンを所定回数繰り返した後、前記積分コンデンサの電圧をＡＤ変換するＡＤ変換手段と、
前記ＡＤ変換された変換信号に基づいて前記測距対象物までの距離を検出する検出手段と、
を備え、カメラに用いられる測距装置において、
前記測距ルーチンの繰り返し回数は、前記測距対象物が前記カメラで撮影可能な最至近位置に相当する距離にあるとき前記測距ルーチンの繰り返しにより前記積分コンデンサが飽和する回数に設定されている、ことを特徴とする測距装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測距対象物までの距離を測定する測距装置に関し、特に、カメラ等に好適に用いられるアクティブ型の測距装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、カメラ等に用いられるアクティブ型の測距装置としては、赤外線発光ダイオード（以下、「ＩＲＥＤ」という。）から測距対象物に向けて光束を投光し、その投光された光束の反射光を位置検出素子（以下、「ＰＳＤ」という。）により受光し、このＰＳＤから出力される信号を信号処理回路および演算回路により演算処理して距離情報として出力し、ＣＰＵにより測距対象物までの距離を検出するものが知られている。また、１回のみの投光による測距では誤差が生じることがあるので、投光手段による投光、受光手段による受光、受光手段による出力信号の出力及び積分コンデンサの放電または充電の測距ルーチンを複数回行って複数の距離情報を求め、その複数の距離情報を積分回路により一定期間ずつ積算することで積分して平均化するのが望ましい。その積分回路による距離情報の積算は、積分コンデンサを放電し、その状態から距離情報に対応した電圧を印加し電荷を蓄積することにより行われる。
【０００３】
このような測距装置によれば、上記測距ルーチンを繰り返す回数（以下「測距ルーチン回数」という）は、製品個体ごとに積分電流及び積分コンデンサの容量がバラついているにも関わらず一律に決定され、バラツキ範囲で積分コンデンサの容量が最も小さくかつ積分電流が最も大きい個体を想定し、かかる個体において最も蓄積電荷量が多い（測距対象物が近い）場合であっても蓄積された電荷量が積分コンデンサの容量を越えないような回数として一律に設定されていた。
【０００４】
しかしながら、上述した測距装置にあっては、測距ルーチン回数を一律に設定するため、製品バラツキにより積分コンデンサの容量が大きい場合や積分電流が小さい場合等には積分コンデンサの容量を十分に利用して積分動作を行うことができず、測定精度が十分なものとはならない場合がある。
【０００５】
図８はカメラが撮影可能な最至近距離で測距を行った場合の、従来の測距装置のタイミングチャートであり、横軸は積分時間、縦軸は積分コンデンサの電圧を表している。従来は測距ルーチン回数が個体に依らず固定されていたので図に示すように、積分コンデンサの容量が最も小さくかつ積分電流が最も大きい個体（測距装置１）においては積分コンデンサの電圧がほぼ最大値に達するまで電荷が蓄積されることにより使用可能なＡＤ信号値の範囲を有効に利用することができるが、多くの平均的な個体（測距装置２）の場合は積分コンデンサが最大電圧に達するまで充電されることはないため期待したＡＤ信号の分解能が得られず測距精度が得られなくなる。さらに積分コンデンサの容量が最も大きくかつ積分電流が最も小さい個体（測距装置３）にあっては積分コンデンサ容量や使用可能なＡＤ信号値の範囲の利用率が最も低くなってしまう。
【０００６】
このような問題を解決するため特開平５−２８０９７３号公報（特許文献１）に開示された測距装置は測距ごとに測距ルーチン回数、積分時間、積分コンデンサ容量等のダイナミックレンジを変化させる要素を制御するようにしている。
【０００７】
【特許文献１】
特開平５−２８０９７３号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この測距装置では要素を測距ごとに変化させることとしているため距離を算出する演算が複雑で測距時間が長くなってしまう。測距装置の測距時間が長くなってしまうとカメラ等に用いた場合には適切なシャッターチャンスが捕らえられなくなる等の弊害が生じる。
【０００９】
そこで本発明は上記課題を解決し、複雑な測距処理を必要とせず測距精度の向上が図れる測距装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため本発明の測距装置は、測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、測距対象物に投光された光束の反射光を受光し測距対象物までの距離に応じた出力信号を出力する受光手段と、出力信号に応じて積分コンデンサを放電または充電して出力信号を積算して積分する積分手段と、投光手段による投光、受光手段による受光、受光手段による出力信号の出力及び積分コンデンサの放電または充電の測距ルーチンを所定回数繰り返した後、積分コンデンサの電圧をＡＤ変換するＡＤ変換手段と、ＡＤ変換された変換信号に基づいて測距対象物までの距離を検出する検出手段と、を備える測距装置において、測距ルーチンの繰り返し回数は、測距対象物が近距離警告位置にあるとき測距ルーチンの繰り返しにより積分コンデンサが飽和する回数に設定されている、ことを特徴とする。
【００１１】
上記測距装置によれば、製品ごとの積分電流、積分コンデンサの容量等のバラツキに合わせて測距ルーチン回数を設定し、近距離警告位置における積分コンデンサ電圧がちょうど飽和する値となるので、積分コンデンサの容量の範囲を十分に利用して積分動作を行うことができる。ここで、「近距離警告位置」とは、カメラにおいてピントぼけせずに正常な撮影が可能である近距離側の限界として定められた位置をいい、カメラはこの位置よりも近い位置に測距対象物がある場合には警告を発し撮影を行わないよう設計されている。また、「積分コンデンサが飽和する」とは、充電することによって出力信号の積分を行う場合においては積分コンデンサが容量一杯まで充電された状態を意味し、放電することによって出力信号の積分を行う場合においては積分コンデンサ電圧が０Ｖとなった状態を意味する。この場合、完全に容量一杯や完全に０Ｖとなった状態ばかりでなく、積分コンデンサの容量の範囲を十分に利用したと言える程度にほぼ容量一杯やぼぼ０Ｖとなった状態も含まれる。
【００１２】
また、本発明の測距装置は、測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、測距対象物に投光された光束の反射光を受光し測距対象物までの距離に応じた出力信号を出力する受光手段と、出力信号に応じて積分コンデンサを放電または充電して出力信号を積算して積分する積分手段と、投光手段による投光、受光手段による受光、受光手段による出力信号の出力及び積分コンデンサの放電または充電の測距ルーチンを所定回数繰り返した後、積分コンデンサの電圧をＡＤ変換するＡＤ変換手段と、ＡＤ変換された変換信号に基づいて測距対象物までの距離を検出する検出手段と、を備え、カメラに用いられる測距装置において、測距ルーチンの繰り返し回数は、測距対象物が撮影可能な最至近位置に相当する距離にあるとき測距ルーチンの繰り返しにより積分コンデンサが飽和する回数に設定されている、ことを特徴とする。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明する。なお、同一要素には同一符号を用い、重複する説明は省略する。
【００１４】
図１は、本実施形態の測距装置が用いられるカメラ４０の正面斜視図である。同図に示すようにカメラ４０には、被写体像を銀塩フイルムに結像する撮影レンズを備えたズームレンズ鏡胴４１と、ストロボ光が発光されるストロボ発光窓４３と、撮影者が被写体を確認するファインダ窓４５と、被写体へ向けて赤外線の投光を行うＩＲＥＤ（赤外線発光ダイオード）が内蔵されたＡＦ窓（投光）４７ａと、被写体からの反射光を受光するＰＳＤ（位置検出素子）が内蔵されたＡＦ窓（受光）４７ｂと、被写体の明るさを測定する測光センサが内蔵されている測光窓４９と、撮影者がシャッタレリーズを指示する際に操作するシャッタボタン５１等が設けられている。
【００１５】
図２は、カメラ４０の背面斜視図である。同図に示すようにカメラ４０には、設定されている撮影モード等や日付情報等を表示するＬＣＤ表示パネル５３と、ストロボの発光モードを設定するフラッシュボタン５５と、セルフタイマーのモードを設定するセルフタイマーボタン５６と、日付や時刻を設定する日付ボタン５７と、撮影画角をワイド方向又はテレ方向に指示するズームボタン５８とが設けられている。
【００１６】
図３に本実施形態に係る測距装置の構成図を示す。図３に示すように、本実施形態に係る測距装置１００には、ＣＰＵ１が設けられている。ＣＰＵ１は、測距装置１００を備えるカメラ全体の制御を行うものであり、ＥＥＰＲＯＭ２に予め記憶されているプログラム及びパラメータに基づいて測距装置１００を含むカメラ全体の制御を行う。
【００１７】
測距装置１００には、ＩＲＥＤ（赤外線発光ダイオード）４が設けられている。ＩＲＥＤ４は、発光により測距対象物へ投光ビームを投光する投光手段として機能する。このＩＲＥＤ４は、ドライバ３を介してそれぞれＣＰＵ１に接続されており、ＣＰＵ１に発光制御されている。
【００１８】
ドライバ３は、カメラに内蔵されるバッテリ（図示なし）の電源供給を受けＣＰＵ１の制御信号に従って、ＩＲＥＤ４のほか、ＡＦＩＣ１０などのカメラの構成部品に電源供給を行うものであり、例えばドライバＩＣなどが用いられる。
【００１９】
また、測距装置１００には、ＰＳＤ（位置検出素子）５が設けられている。ＰＳＤ５は、各ＩＲＥＤ４から測距対象物に投光された投光ビームの各反射ビームを受光する受光手段として機能するものである。
【００２０】
更に、測距装置１００には、自動焦点用ＩＣ（以下「ＡＦＩＣ」という。）１０が設けられている。ＡＦＩＣ１０は、ＰＳＤ５の出力信号を処理する信号処理手段として機能するものであり、このＡＦＩＣ１０の動作はＣＰＵ１により制御され、ＡＦＩＣ１０から出力されるＡＦ信号（積分信号）はＣＰＵ１に入力される。
【００２１】
ＩＲＥＤ４から赤外光である投光ビームが出射されると、その投光ビームはＩＲＥＤ４の前面に配置された投光レンズ（図示せず）を介して測距対象物に投光される。その投光ビームの一部が反射され、ＰＳＤ５の前面に配置された受光レンズ（図示せず）を介してＰＳＤ５の受光面上の何れかの位置で受光される。この受光位置は、測距対象物までの距離に応じたものである。そして、ＰＳＤ５は、その受光位置に応じた２つの信号Ｉ１及びＩ２を出力する。
【００２２】
信号Ｉ１は、受光光量が一定であれば距離が近いほど大きな値となる近側信号であり、信号Ｉ２は、受光光量が一定であれば距離が遠いほど大きな値となる遠側信号である。信号Ｉ１及びＩ２の和は、ＰＳＤ５が受光した反射光の光量を表す。近側信号Ｉ１はＡＦＩＣ１０のＰＳＤＮ端子に入力され、遠側信号Ｉ２はＡＦＩＣ１０のＰＳＤＦ端子に入力される。ただし、実際には外界条件により近側信号Ｉ１  及び遠側信号Ｉ２それぞれに定常光成分Ｉ０が付加された信号がＡＦＩＣ１０に入力される。
【００２３】
ＡＦＩＣ１０は、集積回路（ＩＣ）であって、第１信号処理回路１１、第２信号処理回路１２、演算回路１４及び出力回路１５を備えて構成されている。
【００２４】
第１信号処理回路１１は、ＰＳＤ５から出力された信号Ｉ１＋Ｉ０の入力を受け、その信号に含まれる定常光成分Ｉ０を除去して近側信号Ｉ１を出力する。また、第２信号処理回路１２は、ＰＳＤ５から出力された信号Ｉ２＋Ｉ０の入力を受け、その信号に含まれる定常光成分Ｉ０を除去して遠側信号Ｉ２を出力する。
【００２５】
演算回路１４は、第１信号処理回路１１から出力された近側信号Ｉ１と、第２信号処理回路１２から出力された遠側信号Ｉ２との入力を受け、出力比（Ｉ１／（Ｉ１＋Ｉ２））を演算し、その結果を表す出力比信号を出力する。なお、この出力比（Ｉ１／（Ｉ１＋Ｉ２））は、ＰＳＤ５の受光面上の受光位置、即ち測距対象物までの距離を表す。
【００２６】
出力回路１５は、この出力比信号の入力を受け、ＡＦＩＣ１０のＣＩＮＴ端子に接続された積分コンデンサ６とともにその出力比を多数回積算するものであり、これによりＳ／Ｎ比の改善が図られる。このとき、積分コンデンサ６への出力比の積算は、放電した状態の積分コンデンサ６に出力比信号に応じて徐々に充電していくことにより行われる。
【００２７】
そして、その積算された出力比は、ＡＦ信号（積分信号）としてＡＦＩＣ１０のＳＯＵＴ端子から出力される。ＣＰＵ１は、ＡＦＩＣ１０から出力されたＡＦ信号の入力を受け、所定の演算を行ってＡＦ信号を距離信号に変換し、その距離信号をレンズ駆動回路７に送出する。レンズ駆動回路７は、その距離信号に基づいて撮影レンズ８を合焦動作させる。
【００２８】
図４にＡＦＩＣ１０の第１信号処理回路１１、出力回路１５の具体的な構成図を示す。なお、第２信号処理回路１２も、第１信号処理回路１１と同様な回路構成を有している。
【００２９】
図４に示すように、第１信号処理回路１１は、ＰＳＤ５から出力された定常光成分Ｉ０を含む近側信号Ｉ１を入力し、定常光成分Ｉ０を除去して、近側信号Ｉ１を出力するものである。ＰＳＤ５の近距離側端子から出力される電流（Ｉ１＋Ｉ０）は、ＡＦＩＣ１０のＰＳＤＮ端子を経て、第１信号処理回路１１のオペアンプ２０の−入力端子に入力される。オペアンプ２０の出力端子はトランジスタ２１のベース端子に接続されており、トランジスタ２１のコレクタ端子は、トランジスタ２２のベース端子に接続されている。トランジスタ２２のコレクタ端子には、オペアンプ２３の−入力端子が接続され、このコレクタ端子には圧縮ダイオード２４のカソード端子が接続されている。また、オペアンプ２３の＋入力端子には圧縮ダイオード２５のカソード端子が接続されており、圧縮ダイオード２４及び２５のそれぞれのアノード端子には第１基準電源２６が接続されている。
【００３０】
また、ＡＦＩＣ１０のＣＨＦ端子には、定常光除去コンデンサ２７が外付けされている。この定常光除去コンデンサ２７は、第１信号処理回路１１内の定常光除去用トランジスタ２８のベース端子に接続されている。定常光除去コンデンサ２７とオペアンプ２３は、スイッチ２９を介して接続されており、このスイッチ２９のオンオフはＣＰＵ１により制御される。定常光除去用トランジスタ２８のコレクタ端子はオペアンプ２０の−入力端子に接続されており、トランジスタ２８のエミッタ端子は他端が接地された抵抗３０に接続されている。
【００３１】
一方、図４において、出力回路１５は、ＡＦＩＣ１０のＣＩＮＴ端子に外付けされた積分コンデンサ６を備えている。積分コンデンサ６は、スイッチ６０を介して演算回路１４の出力端子に接続され、スイッチ６２を介して定電流源６３に接続され、スイッチ６４を介して接地されている。これらのスイッチ６０、６２及び６４は、ＣＰＵ１からの制御信号により制御される。スイッチ６２がオンすることにより、定電流源６３から積分コンデンサ６に充電が行える。一方、スイッチ６４をオンすることにより、積分コンデンサ６を放電することができる。
【００３２】
次に、本実施形態に係る測距装置の動作について説明する。図５に測距装置の動作に係るタイミングチャートを示す。シャッタレリーズなどのカメラ操作により、測距処理が開始され、ＡＦＩＣ１０に電源供給が開始される。すなわち、ＣＰＵ１からドライバ３に制御信号が出力され、ドライバ３からＡＦＩＣ１０に電源電圧が供給される。ＡＦＩＣ１０では電源供給を受けて、積分コンデンサ６の充電が行われる。この積分コンデンサ６の充電は、積分コンデンサ６の誘電体吸収対策として行われるものである。
【００３３】
そして、積分コンデンサ６の充電から一定時間経過後、ＣＰＵ１からＡＦＩＣ１０にコントロール信号（制御信号：ＣＯＮＴ）として、パルスＰ１が入力される。このパルスＰ１の立ち下がりにより、積分コンデンサ６の充電電圧が放電され、定常光除去コンデンサ２７の急速充電が行われる。その後、ＣＰＵ１からコントロール信号として、パルスＰ２が入力され、定常光除去コンデンサ２７の急速充電が終了する。
【００３４】
そして、コントロール信号のパルスＰ３の入力により、補正積分が行われる。この補正積分は、積分コンデンサ６に一定時間に一定電流を流すことにより行われる。そして、コントロール信号のパルスＰ４が入力され、積分コンデンサ６の充電電圧がＡ／Ｄ変換され、ＣＰＵ１に読み込まれる。
【００３５】
ＣＰＵ１では、Ａ／Ｄ変換された電圧値から積分コンデンサ６の容量を算出する。この実測の容量に基づいて測距演算結果に補正を行うことにより、測距精度の向上が図れる。
【００３６】
そして、コントロール信号のパルスＰ５が入力され、このパルスＰ５の立ち下がりにより積分コンデンサ６の放電が行われ、定常光除去コンデンサ２７の急速充電が行われる。その後、コントロール信号としてパルスＰ６が入力され、定常光除去コンデンサ２７の急速充電が終了する。
【００３７】
そして、測距ルーチンが所定回数行われる。即ち、ＩＲＥＤ４が所定時間間隔で測距対象物に向けて所定回数投光し、その投光ごとにＰＳＤ５が測距対象物からの反射光を受光し近側信号及び遠側信号を出力する。出力された近側信号及び遠側信号に基づいて出力比信号を演算し、その出力比信号に応じた電圧が積分コンデンサ６に繰り返し充電される。そして、所定回数の充電を完了したら、積分コンデンサ６の充電電圧がＡ／Ｄ変換されＣＰＵ１に読み込まれ、そのＡ／Ｄ変換値に基づいて測距対象物までの距離が算出される。なお、この測距動作は、積分コンデンサ６に一定の電圧を予め充電しておき、出力比信号に応じた電圧を繰り返し放電するものであってもよい。
【００３８】
次に、本実施形態に係る測距装置の測距ルーチン回数の設定について図６のフロー図を参照しながら説明する。この設定とは、製品個体ごとの適切な測距ルーチン回数を工場出荷前に求めておきＥＥＰＲＯＭ２に予め記憶させておくものである。最初に測距装置から近距離警告位置に赤外線反射率３６％の測距対象物を準備する（Ｓ１０２）。この測距対象物を対象とし、まず測距装置の測距ルーチン回数を仮の回数（ｎ回）にセットして（Ｓ１０４）測距動作を行いＡＤ信号を得る。すなわち、投光手段から測距対象物に向けて光束を投光し（Ｓ１０６）、受光手段で受光した反射光に応じて、演算手段により出力比信号を出力し（Ｓ１０８）積分コンデンサに電荷を蓄積する（Ｓ１１０）。上記の動作がパルス光ごとにｎ回繰り返されて（Ｓ１１２）、積分手段の積分コンデンサに電荷がｎ回分蓄積されることとなる。電荷が蓄積された積分コンデンサの電圧をＡＤ変換手段によってＡＤ信号へ変換する（Ｓ１１４）。この場合のｎは、想定されるバラツキ範囲で積分コンデンサの容量が最も小さく、かつ積分電流が最も大きい個体において積分コンデンサが飽和に達しないような適当な回数が選択される。よってＳ１１４で得られたＡＤ信号値（「ＡＦＤＡＴＡ」とする）は積分コンデンサが飽和したときに得られるＡＤ信号値（「ＡＤＭＡＸ」とする）よりも必ず小さい値となる。
【００３９】
この測距装置個体の適切な測距ルーチン回数（ｎ２とする）はＡＤＭＡＸとＡＦＤＡＴＡとの比をｎに乗じた回数として求める。すなわちｎ２は次式（１）で求められる（Ｓ１１６）。
ｎ２＝ｎ・ＡＤＭＡＸ／ＡＦＤＡＴＡ  …（１）
求めたｎ２をその測距装置の測距ルーチン回数として設定し（Ｓ１１８）、回数の設定を終了する。
【００４０】
測距ルーチン回数とＡＤ信号値はおよそ比例し、比例定数は測距装置個体の回路の特性及び対象物の距離による。このため、式（１）により求めたｎ２回の測距ルーチン回数により近距離警告位置にある測距対象物を測距した場合のＡＤ信号値はおよそＡＤＭＡＸと等しい値を示し、すなわちこのときには積分コンデンサが飽和の状態となる。
【００４１】
図７はカメラが撮影可能な最至近距離で測距を行った場合における、本実施形態の測距装置のタイミングチャートであり、横軸は積分時間、縦軸は積分コンデンサの電圧を表している。図に示すように、積分コンデンサの容量が最も小さくかつ積分電流が最も大きい個体（測距装置１）においては小さい測距ルーチン回数Ａが設定される。逆に積分コンデンサの容量が最も大きくかつ積分電流が最も小さい個体（測距装置３）にあっては大きい測距ルーチン回数Ｃが設定される。また多くの平均的な個体（測距装置２）においては両者の中間の測距ルーチン回数Ｂが適宜設定され、いずれの測距装置においても回路特性に応じた適切な測距ルーチン回数が設定されることによって積分コンデンサの電圧がほぼ飽和状態に達するまで電荷が蓄積されることとなる。
【００４２】
上記のように近距離警告位置で得られる積分コンデンサ電圧が最大値となるように設定すれば、測距対象として想定されている近距離警告位置から無限遠までの距離の範囲が積分コンデンサ電圧の最大から最小の範囲にそのまま対応することとなる。よって積分コンデンサ電圧を全範囲にわたって利用することができるため、測距装置の分解能を向上することができ、測距精度の向上を図ることができる。
【００４３】
なお、上述した調整方法により測距ルーチン回数を決定すれば、図７に示すとおり従来の測距装置の測距ルーチン回数よりも多い回数が設定されることとなる。すなわち、従来の測距装置よりも測距時間が長くなることとなる。よって上記調整方法を用いる測距装置においては測距時間を短く抑えるため積分コンデンサの容量を従来よりも小さく設計することが望ましい。
【００４４】
また、本発明は上記した本実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である。上記した実施形態では本発明をアクティブ測距方式のカメラに適用している。本発明は、アクティブ測距方式を用いたカメラであればフィルムカメラに限られず例えば、電子スチルカメラ、ビデオカメラにも適用することもできる。
【００４５】
【発明の効果】
上述したように本発明によれば、複雑な測距処理を必要とせず測距精度の向上が図れる測距装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態の測距装置が用いられるカメラの正面斜視図である。
【図２】本実施形態の測距装置が用いられるカメラの背面斜視図である。
【図３】本実施形態に係る測距装置の構成図である。
【図４】本実施形態に係る測距装置における第１信号処理回路および積分回路の回路図である。
【図５】本実施形態に係る測距装置の動作を説明するタイミングチャートである。
【図６】本実施形態の測距装置の調整方法を説明するフローチャートである。
【図７】本実施形態に係る測距装置の動作を説明するタイミングチャートである。
【図８】従来の測距装置の動作を説明するタイミングチャートである。
【符号の説明】
１…ＣＰＵ、２…ＥＥＰＲＯＭ、３…ドライバ、４…ＩＲＥＤ（発光ダイオード）、５…ＰＳＤ（位置検出素子）、６…積分コンデンサ、７…レンズ駆動回路、８…撮影レンズ、１０…ＡＦＩＣ（自動焦点用ＩＣ）、１１…第１信号処理回路、１２…第２信号処理回路、１４…演算回路、１５…積分回路。
【図１】
2004294103.tif 000003
【図２】
2004294103.tif 000004
【図３】
2004294103.tif 000005
【図４】
2004294103.tif 000006
【図５】
2004294103.tif 000007
【図６】
2004294103.tif 000008
【図７】
2004294103.tif 000009
【図８】
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