(57)【要約】【課題】シリカのような導電性の低い配合物を含有するゴムであっても、高い精度で摩耗減量の測定を行うことが可能なゴム摩耗試験機を提供する。【解決手段】回転する円盤状の砥石４の外周面に円盤状のゴム試験片Ｇを回転させながら押し当てることによりゴム試験片Ｇを摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、ゴム試験片Ｇに対して静電気を除去する静電気除去装置２９を設置する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転する円盤状の砥石の外周面に円盤状のゴム試験片を回転させながら押し当てることにより該ゴム試験片を摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、前記ゴム試験片に対して静電気を除去する静電気除去装置を設置したゴム摩耗試験機。
【請求項２】
前記静電気除去装置はイオン発生装置を有し、該イオン発生装置を、発生させたイオンを前記ゴム試験片に吹き付け可能に構成した請求項１に記載のゴム摩耗試験機。
【請求項３】
前記イオン発生装置がプラスとマイナスのイオンを同時に発生させる請求項１または２に記載のゴム摩耗試験機。
【請求項４】
前記イオン発生装置がプラスとマイナスのイオンを等量発生させる請求項３に記載のゴム摩耗試験機。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ゴム摩耗試験機に関し、更に詳しくは、高い精度で摩耗試験を行うことができるゴム摩耗試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、タイヤトレッドゴム等に使用されるゴムの摩耗性能をシュミレートする装置として、多くのゴム摩耗試験機が提案されており、代表的な試験機としてＪＩＳ　Ｋ　６２６４で規定されているランボーン試験機が周知である。
【０００３】
従来、このようなゴム摩耗試験機として、例えば、回転する円盤状の砥石の外周面に円盤状のゴム試験片を回転させながら押し当てることにより該ゴム試験片を摩耗させるようにした試験機がある（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】
特開平８−１４５８６６号公報（第１頁、図４，５）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近年、タイヤトレッドゴムとして、従来の導電性が高いカーボンブラックを含有するゴムに代えて、ウェット時の制動性及び転動抵抗低減による燃費の向上のため、導電性の低いシリカを含有するゴムが使用されるようになってきた。
【０００６】
このように導電性の低いシリカを含有するゴムの試験片を回転させながら、回転する砥石に押し付けて摩耗させると、砥石と擦れ合う際に生じた静電気がゴム試験片に帯電し、ゴム試験片と砥石との摩耗により発生したゴムの摩耗粉がゴム試験片の摩耗面に付着してしまい、それが精度の高い摩耗減量の測定を行う妨げになっていた。
【０００７】
本発明の目的は、シリカのような導電性の低い配合物を含有するゴムであっても、高い精度で摩耗減量の測定を行うことが可能なゴム摩耗試験機を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明は、回転する円盤状の砥石の外周面に円盤状のゴム試験片を回転させながら押し当てることにより該ゴム試験片を摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、前記ゴム試験片に対して静電気を除去する静電気除去装置を設置したことを特徴とする。
【０００９】
上述した本発明によれば、砥石と擦れ合う際に生じた静電気がゴム試験片に帯電しても、静電気除去装置によりゴム試験片を除電することができるので、静電気によるゴム試験片に対するゴム摩耗粉の付着を抑制することができ、その結果、シリカのような導電性の低い配合物を含有するゴムであっても、静電気の影響を抑えて高い精度で摩耗減量を測定することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の構成について添付の図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１１】
図１は、本発明のゴム摩耗試験機の一例を示し、このゴム摩耗試験機は、架台１上に設置された恒温槽２を有し、この恒温槽２内に恒温槽２外側後方から水平に延在する第１回転軸３の先端部に円盤状の砥石４が取り付けられている。第１回転軸３の後端には架台１上に設置された第１駆動モータ５が連結され、この第１駆動モータ５の作動により第１回転軸３が回転し、それにより砥石４が回転するようになっている。
【００１２】
架台１上には第１回転軸３と平行に第２回転軸６が配設され、この第２回転軸６も第１回転軸３と同様に恒温槽２外側後方から恒温槽２内に延在し、その先端部に円盤状のゴム試験片Ｇを取り付ける試験片取付部７が設けられている。第２回転軸６は第１回転軸部６ａ、第２回転軸部６ｂ、及び第３回転軸部６ｃから構成され、先端側の第１回転軸部６ａに上記試験片取付部７が取り付けられている。
【００１３】
第１回転軸部６ａにユニバーサルジョイント６ｄを介して第２回転軸部６ｂが連結され、この第２回転軸部６ｂに第３回転軸部６ｃが連結してある。第３回転軸部６ｃは、その端部が第２回転軸部６ｂ内に軸方向にのみ摺動自在に挿入された状態で連結されている。
【００１４】
第３回転軸部６ｃにユニバーサルジョイント８、トルクメータ９を介して、架台１上に設置された第２駆動モータ１０に連結され、この第２駆動モータ１０の作動により第２回転軸６が回転し、それにより試験片取付部７に砥石４の外周面に対面するようにして取り付けたゴム試験片Ｇが砥石４と同じ回転方向に回転するようにしてある。
【００１５】
第１回転軸部６ａの恒温槽２内の軸部分外周に回転自在に配設した筒状の軸受体１９には、回転する円盤状の砥石４の外周面にゴム試験片Ｇを押し当てるための押圧手段１１が連結されている。この押圧手段１１は、恒温槽２の側方の架台１上に設置した載置台３０上に配置したシリンダーユニット１２を有している。
【００１６】
シリンダーユニット１２の左右水平方向に延在するシリンダーロッド１３が恒温槽２内まで延設され、その先端が連結部材１４を介して軸受体１９に固定されている。シリンダーロッド１３の上側に、シリンダーユニット１２から恒温槽２内に伸縮自在に延在する支持ロッド１５が配設され、その先端が連結部材１４に固設してある。
【００１７】
シリンダーロッド１３の伸長により試験片取付部７を前進させてゴム試験片Ｇを所定の圧力で砥石４の外周面に押し当て、またシリンダーロッド１３の伸縮により試験片取付部７を後退させてゴム試験片Ｇを砥石４の外周面から離間させる。シリンダーユニット１２にはロードセル１６が取り付けられ、このロードセル１６によりゴム試験片Ｇを砥石４の外周面に押し付けた際の押圧力が検出できるようになっている。
【００１８】
恒温槽２上には砂などの摩耗用粒子を収容する容器１７が設置され、この容器１７に接続されたノズル１８が恒温槽２内の砥石４とゴム試験片Ｇの接触部の上方となる位置に配設されている。試験時にノズル１８から砥石４とゴム試験片Ｇとの接触部分に摩耗用粒子を落下供給することでゴム試験片Ｇを摩耗させるようにしている。
【００１９】
ゴム試験片Ｇの近傍には、ゴム試験片Ｇの静電気を除去する静電気除去装置２０が設けられている。この静電気除去装置２０は、シリンダーロッド１３に固定した連結部材１４の連結部分１４ａに取り付けたイオン発生装置２１と、このイオン発生装置２１で発生したイオンをゴム試験片Ｇに吹き付ける吹付け手段２２を備えている。
【００２０】
イオン発生装置２１は、プラスとマイナスのイオンを同時に等量発生するように構成されている。吹付け手段２２は、恒温槽２上に設置した送風ユニット２３と、この送風ユニット２３とイオン発生装置２１とを接続する配管２４を有し、送風ユニット２３で取り入れた空気を配管２４を介してイオン発生装置２１に送り、イオン発生装置２１で発生したイオンをこの空気によりゴム試験片１Ｇに吹き付けできるようになっている。
【００２１】
架台１内には、試験機の作動を制御する制御装置２５が設置されている。制御装置２５からの制御信号により、駆動モータ５，１０が回転し、シリンダーユニット１２のシリンダーロッド１３が伸縮し、イオン発生装置２１がイオンを発生させ、送風ユニット２３が空気をイオン発生装置２１に送り、またノズル１８から摩耗用粒子を落下させるようにしている。
【００２２】
なお、図中２６はノズル１８から落下させた摩耗用粒子を回収する回収装置、２７は負荷ウェイト、２８はバランスウェイトである。
【００２３】
上述したゴム摩耗試験機では、ゴム試験片Ｇを試験片取付部７に取り付け、シリンダーユニット１２を作動させてゴム試験片Ｇを所定の圧力で砥石４の外周面に押し当てた後、駆動モータ５，１０が回転して砥石４とゴム試験片Ｇを回転させる。それと同時にノズル１８から砂などの摩耗用粒子が落下し、ゴム試験片Ｇの摩耗試験が開始されるが、本発明では、その試験中、送風ユニット２３から送られた空気により、イオン発生装置２１で発生したイオンがゴム試験片Ｇに常に吹き付けられる。
【００２４】
そのため、砥石４と擦れ合う際に生じた静電気がゴム試験片Ｇに帯電しても、イオン発生装置２１からのイオンによりゴム試験片Ｇを除電することができるので、静電気によるゴム試験片Ｇに対するゴム摩耗粉の付着を抑制することができる。従って、シリカのような導電性の低い配合物を含有するために帯電し易いゴムの試験片であっても、摩耗粉の付着を抑えて高い精度で摩耗減量の測定を行うことが可能になる。
【００２５】
本発明において、静電気除去装置２０は、上述したようにイオン発生装置２１を用いて構成するのが、ゴム試験片Ｇから静電気を効果的に取り除く上で好ましいが、それに限定されず、例えば、電気抵抗の低い金属材料から構成したアースブラシをゴム試験片Ｇに接触させることにより除電するようにしてもよい。
【００２６】
イオン発生装置２１は、上記のようにプラスとマイナスの両イオンを同時に発生させるようにするのが、ゴム試験片Ｇがプラスとマイナスのいずれに帯電しても除電できるため好ましいが、配合材料によりいずれに帯電するか判明しているゴム試験片であれば、それと反対のイオンのみを発生させる構成であってもよい。
【００２７】
【実施例】
ゴム１００重量部に対してカーボンブラック６０重量部を配合してなるゴム試験片Ａと、ゴム１００重量部に対してカーボンブラック４０重量部、シリカ２０重量部を配合してなるゴム試験片Ｂ、及びゴム１００重量部に対してシリカ６０重量部を配合してなるゴム試験片Ｃをそれぞれ１８個作製した。
【００２８】
これら各ゴム試験片を、以下に示す試験条件により、ゴム試験片の摩耗量の変動係数を調べたところ、表１に示す結果を得た。
摩耗量の変動係数
静電気除去装置を設けた図１に示す構成の本発明のゴム摩耗試験機（本発明試験機）により、各々３個のゴム試験片Ａ，Ｂ，Ｃの摩耗試験を試験日を変えて３回実施し、その時測定されたゴム試験片の摩耗量から摩耗量の変動係数ＣＶ（％）を下記の式により求めた。
【００２９】
ＣＶ（％）＝ａ／ｘ×１００
但し、ａは標準偏差（摩耗量の各測定値から平均値ｘを引いた値を２乗して平均した値の平方根で表される値）、ｘは平均値（９個の同種ゴム試験片の平均摩耗量）である。
【００３０】
また、静電気除去装置を設けていない従来のゴム摩耗試験機（従来試験機）により、各３個のゴム試験片Ａ，Ｂ，Ｃの摩耗試験を上記と同様に行い、その時のゴム試験片の摩耗量の変動係数を求めた。
【００３１】
この変動係数は測定データのバラツキの尺度になるものであり、この値が小さい程バラツキが小さく、データの再現性が良く、ゴム試験片の摩耗減量をより精度良く測定できることを意味する。
【００３２】
【表１】
2004101484.tif 000003
表１の結果から、従来のゴム摩耗試験機ではシリカ含有量が増す程、変動係数が大きくなり、試験精度が低下しているのに対し、本発明により除電を行った場合は変動係数は小さくなっていることがわかる。
【００３３】
即ち、表１から、本発明のゴム摩耗試験機は、ゴム試験片を除電してゴム試験片の摩耗減量を従来より高い精度で測定できることがわかる。
【００３４】
【発明の効果】
上述したように本発明のゴム摩耗試験機は、ゴム試験片の静電気を除去する静電気除去装置を設けたので、シリカのような導電性の低い配合物を含有するゴムであっても、高い精度で摩耗減量の測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のゴム摩耗試験機の一例を一部を切欠いて示す正面図である。
【図２】図１の要部を一部断面にして示す平面図である。
【符号の説明】
１　架台　　　　　　　　　　　　２　恒温槽
３　第１回転軸　　　　　　　　　４　砥石
５　第１駆動モータ　　　　　　　６　第２回転軸
７　試験片取付部７　　　　　　　１０　第２駆動モータ
１１　押圧手段　　　　　　　　　１２　シリンダーユニット
１２ａ　シリンダーロッド　　　　１４　連結部材
１４ａ　連結部分　　　　　　　　１８　ノズル
２０　静電気除去装置　　　　　　２１　イオン発生装置
２２　吹付け手段　　　　　　　　２５　制御装置
Ｇ　ゴム試験片
【図１】
2004101484.tif 000004
【図２】
2004101484.tif 000005