(57)【要約】【課題】この発明は、検査装置への検査ソフトのセットミスが起きた場合でも正確に不良判定を行うことができるワーク不良検出システムを提供することを課題とする。【解決手段】検査装置２内のワーク供給電源回路４から検査対象となるプリント基板の電圧検出回路へ電源が供給されると、電圧検出回路はＡ／Ｄ電圧ＣをＣＰＵ１に出力する。ＣＰＵ１では格納されている基板ソフトがその内部値ＢとＡ／Ｄ電圧Ｃとからプリント基板と基板ソフトとの組み合わせを表わす評価値Ｇ２を演算し、その評価値Ｇ２を検査装置２の通信Ｉ／Ｆ５を介して記憶装置３へ伝送する。記憶装置３では、格納されている検査ソフトがその内部に保存されている基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘと検査対象のプリント基板から送られてきた評価値Ｇ２とを比較することにより不良判定を行う。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電圧仕様にそれぞれ対応した複数のプリント基板と複数の電圧仕様にそれぞれ対応した複数の基板ソフトとの組み合わせに対し、検査装置内に格納され且つ複数の電圧仕様にそれぞれ対応した複数の検査ソフトにより不良検査を行うワーク不良検出システムにおいて、
各プリント基板は、検査装置から電源が供給されたときに自らの電圧仕様に対応した外部入力値を出力する電圧検出回路を備え、
各基板ソフトは、自らの電圧仕様に対応して予め格納された内部値を有すると共にこの内部値と前記電圧検出回路から出力された外部入力値との関係に基づいてプリント基板と基板ソフトとの組み合わせを表わす評価値を演算して検査装置へ出力し、
各検査ソフトは、互いに共通の基準値を予め有すると共にこの基準値と前記プリント基板から入力された評価値とを比較することによりプリント基板と基板ソフトとの組み合わせに関する不良判定を行うことを特徴とするワーク不良検出システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ワーク不良検出システムに係り、特にプリント基板と制御用の基板ソフトとの不一致による不良ワークを検出するシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から不良ワークを検出する各種の装置が考案され、使用されている。例えば、特許文献１に示される検査装置では、多数のバッテリセルが直列に接続されて収容されたバッテリ組立体に対して、各バッテリセルの両端電圧を測定したり、バッテリ組立体の両端電圧を測定することにより、規格内にあるワークと規格外の不良ワークとを判別している。この検査装置によれば、測定された電圧値が規格範囲内にあるか否かを判定する回路あるいはソフトウエアを備えることでバッテリセル及びバッテリ組立体の不良を検出することができる。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１０−２５３７２３号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、例えば、複数の電圧仕様Ｅ１、Ｅ２のプリント基板Ｐ１、Ｐ２にそれぞれ対応して基板ソフトＳ１、Ｓ２が搭載されるように、異なった種類のワークが互いに組み合わされ、これらのワークを複数の電圧仕様Ｅ１、Ｅ２にそれぞれ対応した検査ソフトＫ１、Ｋ２で不良品検査をする場合には、正確な不良判定をすることが困難になることがある。
【０００５】
このような場合のワーク不良検出システムの構成を図２に示す。プリント基板Ｐ１、Ｐ２の製造工程において、電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１のＣＰＵ１には基板ソフトＳ１が、電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２のＣＰＵ１には基板ソフトＳ２がそれぞれ格納される。一方、検査装置２内の記憶装置３には、電圧仕様Ｅ１、Ｅ２に対応して検査ソフトＫ１、Ｋ２のうちのいずれかが格納される。検査ソフトＫ１が格納されると、検査装置２内のワーク供給電源回路４から電圧Ｅ１の電源が検査対象となるプリント基板へ供給され、検査ソフトＫ２が格納されると、ワーク供給電源回路４から電圧Ｅ２の電源が検査対象のプリント基板へ供給される。
【０００６】
また、基板ソフトＳ１、Ｓ２はそれぞれ固有データＡ１、Ａ２を内部に有しており、検査ソフトＫ１、Ｋ２はそれぞれ固有データＡ１、Ａ２を基準値として有している。
【０００７】
検査装置２内のワーク供給電源回路４から検査対象となるプリント基板Ｐ１あるいはＰ２へ電源が供給されると、プリント基板のＣＰＵ１は格納されている基板ソフトＳ１あるいはＳ２内の固有データＡ１あるいはＡ２を検査装置２の通信Ｉ／Ｆ５を介して記憶装置３へ伝送する。記憶装置３は、格納されている検査ソフトに基準値として保存されている固有データと検査対象のプリント基板から送られてきた固有データとが一致するか否かを判別し、以下の表１のケース１及び２のように両者が一致すれば検査対象のプリント基板とそこに格納されている基板ソフトとの組み合わせが正しいと判断してＯＫ判定を行い、ケース３及び４のように両者が一致しなければ組み合わせに誤りがあると判断してＮＧ判定を行う。
【０００８】
【表１】
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【０００９】
このようにして検査ソフトＫ１、Ｋ２によりプリント基板と基板ソフトとの組み合わせの不良が検出されるが、検査装置２への検査ソフトＫ１、Ｋ２のセットミスが生じた場合、すなわち表１のケース５のように電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１の検査を行う際に検査ソフトＫ２がセットされたり、表１のケース６のように電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２の検査を行う際に検査ソフトＫ１がセットされると、プリント基板Ｐ１、Ｐ２と基板ソフトＳ１、Ｓ２とが誤った組み合わせとなっているにも拘わらず、検査ソフトに基準値として保存されている固有データと検査対象のプリント基板から送られてくる固有データとが一致してＯＫ判定されるという不具合が生じてしまう。
【００１０】
この発明はこのような問題点を解消するためになされたもので、検査装置への検査ソフトのセットミスが起きた場合でも正確に不良判定を行うことができるワーク不良検出システムを提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るワーク不良検出システムは、複数の電圧仕様にそれぞれ対応した複数のプリント基板と複数の電圧仕様にそれぞれ対応した複数の基板ソフトとの組み合わせに対し、検査装置内に格納され且つ複数の電圧仕様にそれぞれ対応した複数の検査ソフトにより不良検査を行うワーク不良検出システムにおいて、各プリント基板は、検査装置から電源が供給されたときに自らの電圧仕様に対応した外部入力値を出力する電圧検出回路を備え、各基板ソフトは、自らの電圧仕様に対応して予め格納された内部値を有すると共にこの内部値と電圧検出回路から出力された外部入力値との関係に基づいてプリント基板と基板ソフトとの組み合わせを表わす評価値を演算して検査装置へ出力し、各検査ソフトは、互いに共通の基準値を予め有すると共にこの基準値とプリント基板から入力された評価値とを比較することによりプリント基板と基板ソフトとの組み合わせに関する不良判定を行うものである。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
図１に、この発明の実施の形態に係るワーク不良検出システムの構成を示す。
プリント基板には、電圧仕様Ｅ１及びＥ２にそれぞれ対応したプリント基板Ｐ１及びＰ２の２種類があり、プリント基板Ｐ１には電圧検出回路Ｄ１が、プリント基板Ｐ２には電圧検出回路Ｄ２がそれぞれ予め搭載されている。また、プリント基板に搭載される基板ソフトにも電圧仕様Ｅ１及びＥ２にそれぞれ対応した基板ソフトＳ１及びＳ２の２種類があり、これらプリント基板Ｐ１、Ｐ２の製造工程において本来、プリント基板Ｐ１のＣＰＵ１には基板ソフトＳ１が格納され、プリント基板Ｐ２のＣＰＵ１には基板ソフトＳ２が格納される。
【００１３】
一方、検査装置２は、記憶装置３、ワーク供給電源回路４及び通信Ｉ／Ｆ５を有している。ここで、この記憶装置３には上述のプリント基板Ｐ１、Ｐ２と基板ソフトＳ１、Ｓ２との組み合わせに関する不良判定を行う検査ソフトが格納されるが、この検査ソフトにも電圧仕様Ｅ１及びＥ２にそれぞれ対応した検査ソフトＫ１及びＫ２の２種類があり、本来、電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１の検査を行う際には検査ソフトＫ１が、電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２の検査を行う際には検査ソフトＫ２がそれぞれ記憶装置３に格納される。
【００１４】
なお、検査ソフトＫ１が格納されると、検査装置２内のワーク供給電源回路４から電圧Ｅ１の電源が検査対象となるプリント基板の電圧検出回路へ供給され、検査ソフトＫ２が格納されると、ワーク供給電源回路４から電圧Ｅ２の電源が検査対象のプリント基板の電圧検出回路へ供給される構成になっている。また、このような電源を受けると、プリント基板Ｐ１の電圧検出回路Ｄ１からはＡ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ１が、プリント基板Ｐ２の電圧検出回路Ｄ２からはＡ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ２がそれぞれこの発明の外部入力値としてＣＰＵ１へ出力されるようになっている。
【００１５】
また、基板ソフトＳ１は電圧Ｖ１を、基板ソフトＳ２は電圧Ｖ２をそれぞれ内部値Ｂとして有すると共に、検査ソフトＫ１及びＫ２は所定値Ｇ１が含まれる所定範囲Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘを互いに共通に基準値として有している。ここで、電圧Ｖ１及びＶ２は、Ｖ１がＶ２よりも小さく、基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘに値Ｇ１（Ｖ１／Ｖ２）及び値Ｇ１（Ｖ２／Ｖ１）が含まれないように設定されている。
【００１６】
次に、この実施の形態に係るワーク不良検出システムの動作について説明する。検査装置２内のワーク供給電源回路４から検査対象となるプリント基板Ｐ１の電圧検出回路Ｄ１あるいはプリント基板Ｐ２の電圧検出回路Ｄ２へ電源が供給されると、電圧検出回路Ｄ１の場合はＡ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ１が、電圧検出回路Ｄ２の場合はＡ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ２がそれぞれＣＰＵ１に出力される。このＡ／Ｄ電圧Ｃを受けて、ＣＰＵ１では格納されている基板ソフトＳ１あるいはＳ２がその内部値ＢとＡ／Ｄ電圧Ｃとからプリント基板と基板ソフトとの組み合わせを表わす演算式Ｇ２＝Ｇ１・Ｃ／Ｂに従って評価値Ｇ２を演算し、その評価値Ｇ２を検査装置２の通信Ｉ／Ｆ５を介して記憶装置３へ伝送する。
【００１７】
さらに、記憶装置３では、格納されている検査ソフトＫ１あるいはＫ２がその内部に基準値として保存されているＧ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘと検査対象のプリント基板から送られてきた評価値Ｇ２とを比較し、評価値Ｇ２が基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘに含まれる場合には検査対象のプリント基板とそこに格納されている基板ソフトとの組み合わせが正しいと判断してＯＫ判定を行い、評価値Ｇ２が基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘに含まれない場合には組み合わせに誤りがあると判断してＮＧ判定を行う。
【００１８】
例えば、以下の表２のケース１のようにプリント基板Ｐ１（Ａ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ１）に基板ソフトＳ１（内部値Ｂ＝Ｖ１）が格納された場合は、評価値Ｇ２＝Ｇ１（Ｖ１／Ｖ１）＝Ｇ１となって評価値Ｇ２が検査ソフトＫ１の基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘに含まれるためＯＫ判定が行われる。一方、表２のケース２のようにプリント基板Ｐ２（Ａ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ２）に基板ソフトＳ２（内部値Ｂ＝Ｖ２）が格納された場合にも、評価値Ｇ２＝Ｇ１（Ｖ２／Ｖ２）＝Ｇ１となって評価値Ｇ２が検査ソフトＫ２の基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘに含まれるためＯＫ判定が行われる。
【００１９】
【表２】
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【００２０】
また、表２のケース３のようにプリント基板Ｐ１（Ａ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ１）に誤って基板ソフトＳ２（内部値Ｂ＝Ｖ２）が格納された場合は、評価値Ｇ２＝Ｇ１（Ｖ１／Ｖ２）となって評価値Ｇ２が検査ソフトＫ１の基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘに含まれないためＮＧ判定が行われる。一方、表２のケース４のようにプリント基板Ｐ２（Ａ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ２）に誤って基板ソフトＳ１（内部値Ｂ＝Ｖ１）が格納された場合にも、評価値Ｇ２＝Ｇ１（Ｖ２／Ｖ１）となって評価値Ｇ２が検査ソフトＫ２の基準値Ｇ１ｍｉｎ〜Ｇ１ｍａｘに含まれないためＮＧ判定が行われる。
【００２１】
また、表２のケース５のように電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１（Ａ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ１）に誤って基板ソフトＳ２（内部値Ｂ＝Ｖ２）が格納された状態で検査を行う際に、さらに誤って検査装置２の記憶装置３に検査ソフトＫ２がセットされた場合には、プリント基板Ｐ１から送られてくる評価値Ｇ２がＧ２＝Ｇ１（Ｖ１／Ｖ２）となって検査ソフトＫ２に保存されている基準値Ｇ１ｍｉｍ〜Ｇ１ｍａｘに含まれないためＮＧ判定が行われ、プリント基板と基板ソフトとが誤った組み合わせとなっていることが検出される。同様に、表２のケース６のように電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２（Ａ／Ｄ電圧Ｃ＝Ｖ２）に誤って基板ソフトＳ１（内部値Ｂ＝Ｖ１）が格納された状態で検査を行う際に、さらに誤って検査装置２の記憶装置３に検査ソフトＫ１がセットされた場合には、プリント基板Ｐ２から送られてくる評価値Ｇ２がＧ２＝Ｇ１（Ｖ２／Ｖ１）となって検査ソフトＫ１に保存されている基準値Ｇ１ｍｉｍ〜Ｇ１ｍａｘに含まれないためＮＧ判定が行われ、プリント基板と基板ソフトとが誤った組み合わせとなっていることが検出される。すなわち、検査装置２への検査ソフトＫ１、Ｋ２のセットミスが生じた場合でも、プリント基板Ｐ１、Ｐ２と基板ソフトＳ１、Ｓ２との組み合わせの不良を正確に検出することができる。
【００２２】
なお、上述の実施の形態に係る不良ワーク検出システムを、フォークリフト等の走行・荷役の制御を行うためのプリント基板と基板ソフトとの組み合わせに関する不良判定に利用することができ、その場合、例えば電圧仕様Ｅ１＝４８Ｖ及びＥ２＝８０Ｖにそれぞれ対応するプリント基板Ｐ１、Ｐ２及び基板ソフトＳ１、Ｓ２として組み合わせの不良を検出することができる。また、走行・荷役の制御を行うためのプリント基板及び基板ソフトだけでなく、他の各種のプリント基板と基板ソフトとの組み合わせの不良判定にも利用することができる。
さらに、上記の実施の形態では、２種類のプリント基板と２種類の基板ソフトとが存在する場合について述べたが、３種類以上のプリント基板と基板ソフトとの組み合わせに対しても同様にして不良判定を行うことができる。
【００２３】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明に係るワーク不良検出システムによれば、各プリント基板は、検査装置から電源が供給されたときに自らの電圧仕様に対応した外部入力値を出力する電圧検出回路を備え、各基板ソフトは、自らの電圧仕様に対応して予め格納された内部値を有すると共にこの内部値と電圧検出回路から出力された外部入力値との関係に基づいてプリント基板と基板ソフトとの組み合わせを表わす評価値を演算して検査装置へ出力し、各検査ソフトは、互いに共通の基準値を予め有すると共にこの基準値とプリント基板から入力された評価値とを比較することによりプリント基板と基板ソフトとの組み合わせに関する不良判定を行うようにしたので、検査装置への検査ソフトのセットミスが起きた場合でも正確に不良判定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態に係るワーク不良検出システムの構成を示すブロック図である。
【図２】従来のワーク不良検出システムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  ＣＰＵ、２  検査装置、３  記憶装置、４  ワーク供給電源回路、５  通信Ｉ／Ｆ、Ｂ  内部値、Ｇ１  所定値、Ｇ２  評価値、Ｃ  Ａ／Ｄ電圧、Ｄ１，Ｄ２  電圧検出回路、Ｋ１，Ｋ２  検査ソフト、Ｐ１，Ｐ２  プリント基板、Ｓ１，Ｓ２  基板ソフト。
【図１】
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【図２】
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