(57)【要約】【課題】読取位置上の背景体が汚れていた場合でも、背景体の汚れの影響を低減させ、従来よりもゴミの検知精度の低下を防ぐ画像読取装置の提供。【解決手段】ＣＩＳ１１０により読み取られた画像データを、ＣＰＵ４０６により算出された２値化閾値に基づいて２値化するゴミ検知用２値化回路５０４と、ゴミ検知用２値化回路５０４により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別するゴミ判定用２値化回路５０７とを有し、ＣＰＵ４０６は、ＣＩＳ１１０によって読み取られた所定エリアの読取値の平均値を算出し、前記平均値と他の所定エリアの平均値とをさらに平均した値を用いて２値化閾値を算出する。【選択図】      図５
2004266725.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、
照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、
第１のパラメータを算出する算出手段と、
前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、
前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、
前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた所定エリアの読取値の平均値を算出し、前記平均値と他の所定エリアの平均値とをさらに平均した値を用いて前記第１のパラメータを算出することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、
照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、
第１のパラメータを算出する算出手段と、
前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、
前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、
前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた複数の所定エリアの読取値から最大値と最小値を除いた平均値を用いて第１のパラメータを算出することを特徴とする画像読取装置。
【請求項３】
原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、
照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、
第１のパラメータを算出する算出手段と、
前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、
前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、
前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた複数の所定エリアの読取値から最大値を除いた平均値を用いて第１のパラメータを算出することを特徴とする画像読取装置。
【請求項４】
原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、
照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、
第１のパラメータを算出する算出手段と、
前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、
前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、
前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた複数の所定エリアの読取値から最小値を除いた平均値を用いて第１のパラメータを算出することを特徴とする画像読取装置。
【請求項５】
前記所定エリアは、前記原稿給送装置に設けられた原稿を搬送するためのローラの位置であることを特徴とする請求項１乃至４に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記第１のパラメータは、前記読取手段により原稿の読み取りを行う毎に前記算出手段により算出することを特徴とする請求項１乃至４に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記第１のパラメータは、ジョブの最初に前記算出手段により算出し、同じジョブ内であればジョブの最初に算出した値を用いることを特徴とする請求項１乃至４に記載の画像読取装置。
【請求項８】
複数の前記原稿読取位置に対して前記判別手段により汚れを判別し、汚れが少なかった前期原稿読取位置へ前記読取手段を移動させてから原稿を読み取ることを特徴とする請求項１乃至４に記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記判別手段は、第２のパラメータに基づいて判別を行うことを特徴とする請求項１乃至４に記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記判別手段により汚れであると判別された画素について補正を行う補正手段を有することを特徴とする請求項１乃至４に記載の画像読取装置。
【請求項１１】
前記補正手段は、汚れであると前記判別手段により判別された画素に隣接する正常な画素の値を参照し、線形補間をして補正することを特徴とする請求項１乃至４に記載の画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複写機、スキャナ、ファクシミリ装置等における画像読取技術に関し、特に、光走査部を停止させた状態で原稿を移動させながら原稿を読み取る場合に、ゴミに起因して発生する黒スジ画像を起こしにくくする場合に好適な画像読取装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、複写機、スキャナ、ファクシミリ等の画像形成装置において、原稿に光を照射する光走査部を所定の原稿読取位置に停止させた状態で、原稿自動給送装置（ＡＤＦ：Ａｕｔｏ  Ｄｏｃｕｍｅｎｔ  Ｆｅｅｄｅｒ）により原稿を移動させながら原稿（原稿情報、原稿画像）を読み取る所謂、流し読み機能を備えた装置が知られている。
【０００３】
このＡＤＦは、一般にオプションで提供され、原稿読取装置本体に対して、着脱可能に構成されている。このような画像読み取り装置においては、画像読み取り部の光路上である原稿台ガラス上の一部にゴミや汚れがあると、読み取り画像に対する主走査位置に黒スジが発生してしまうという問題がある。
【０００４】
そして、黒スジ対策として、原稿台ガラス上のゴミや汚れを検知する方法が提案されている。その検知方法の１つとして、ゴミと判定するための判定レベルを、読取位置上の背景体を読み取った画像情報の平均値を利用しているものがある（例えば、特許文献１参照。）。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００２−１７６５４２号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来例には、ゴミと判定するための判定レベルを算出する際に、読取位置上の背景体が汚れている場合には、背景体の汚れの影響を受けて、ゴミと判定するための判定レベルを精度よく算出することができない。そのため、ゴミの検知精度が低下してしまうという問題があった。
【０００７】
そこで本発明は、読取位置上の背景体が汚れていた場合でも、背景体の汚れの影響を低減させ、従来よりもゴミの検知精度の低下を防ぐことを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の画像読取装置は、原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、第１のパラメータを算出する算出手段と、前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた所定エリアの読取値の平均値を算出し、前記平均値と他の所定エリアの平均値とをさらに平均した値を用いて前記第１のパラメータを算出することを特徴とする。
【０００９】
また、請求項２記載の画像読取装置は、原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、第１のパラメータを算出する算出手段と、前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた複数の所定エリアの読取値から最大値と最小値を除いた平均値を用いて第１のパラメータを算出することを特徴とする。
【００１０】
また、請求項３記載の画像読取装置は、原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、第１のパラメータを算出する算出手段と、前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた複数の所定エリアの読取値から最大値を除いた平均値を用いて第１のパラメータを算出することを特徴とする。
【００１１】
また、請求項４記載の画像読取装置は、原稿給送装置から給送される原稿の画像を読み取る画像読取装置であって、照射された光の反射光に基づき画像を読み取る読取手段と、第１のパラメータを算出する算出手段と、前記読取手段により読み取られた画像データを、前記算出手段により算出された前記第１のパラメータに基づいて２値化する２値化手段と、前記２値化手段により２値化されたデータに基づいて、原稿読取位置における汚れを判別する判別手段とを有し、前記算出手段は、前記読取手段によって読み取られた複数の所定エリアの読取値から最小値を除いた平均値を用いて第１のパラメータを算出することを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
［第１の実施形態］
以下、本発明の好適な一実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１３】
図１は本発明の一実施形態に係わる画像読取装置の概略構成を示す断面図である。また、図２は図１における画像読取装置本体を上方から見た平面図である。
【００１４】
図１において、画像読取装置は画像読取装置本体１００と、この画像読取装置本体１００に対して着脱自在に構成された自動給送装置（ＡＤＦ：Ａｕｔｏ  Ｄｏｃｕｍｅｎｔ  Ｆｅｅｄｅｒ）２００を有している。
【００１５】
ＡＤＦ２００は給紙トレー２０５にセットされた原稿を搬送ローラ２０３，２０４によって、画像読取装置本体１００の流し読みガラス１２２上に搬送して回収する。この際、原稿はＡＤＦ２００に取り付けられたプラテンローラ２０１と画像読取装置本体１００の流し読みガラス１２２との間を通過し、その通過過程で画像読取装置本体１００により光学的に走査されて原稿情報が読み取られる。
【００１６】
すなわち、画像読取装置本体１００は、コンタクトイメージセンサ（以下ＣＩＳ）１１０を有し、そのＣＩＳ１１０は、原稿面に対して光を照射するランプ１１１と、ランプ１１１によって照射された光に対応する原稿からの反射光をイメージセンサに導くためのレンズ１１２と、レンズ１１２によって集光された光を光電変換するためのイメージセンサ１１３とをケーシング１１４内に一体に収めて構成されている。
【００１７】
また、ＣＩＳ１１０は、図２のタイミングベルト１２６によって、光学モータ１２５と結ばれ、光学モータ１２５の回転駆動により、原稿台ガラス１２１、及び流し読みガラス１２２と平行に移動制御される。ポジションセンサ１２４はＣＩＳ１１０のホームポジション位置を検知するためのセンサであり、ポジションセンサ１２４の位置を基準として光学モータ１２５を正転、逆転することにより、ＣＩＳ１１０を移動させ、原稿台ガラス１２１、流し読みガラス１２２上の原稿に対して光学的に走査させる。
【００１８】
また、光学モータ１２５はステッピング光学モータにより構成されている。この光学モータ１２５にはＣＩＳ１１０が何パルス分移動したかを認識できるようになっている。換言すれば、ポジションセンサ１２４の検出信号とステッピング光学モータにより、ＣＩＳ１１０の位置を把握することが可能となっている。
【００１９】
原稿からの反射光は、セルフォックレンズ１１２によって導かれ、イメージセンサ１１３上に集光される。イメージセンサ１１３は、原稿情報を反映した上記反射光を光電変換し、電子的な画像信号として出力する。
【００２０】
このような構成により、ＣＩＳ１１０を原稿読取位置に停止させた状態で、ＡＤＦ２００により原稿を搬送させながら原稿情報を読み取るＡＤＦ原稿読取モードと、原稿を原稿台ガラス１２１上に固定的に載置して、ＣＩＳ１１０を副走査方向に移動させながら原稿情報を読み取る原稿ガラス台原稿読取モードの２つのモードで原稿情報を読み取ることが出来る。
【００２１】
図３は本実施形態で使用するＣＩＳ１１０近傍の構成を示す図である。本実施形態のＡＤＦ２００はプラテンローラ２０１の原稿搬送方向の上流側に、白色のシート部材２１０を備えている。この白色シート部材２１０は、流し読みガラス１２２と略平行に配置されている。また白色シート部材２１０がプラテンローラ２０１に最も近接する先端位置２１１は、図中下方からプラテンローラ２０１および白色シート部材２１０を見たとき、白色シート部材２１０が、ＣＩＳ１１０の主走査方向の画像読み取り範囲の略全域において、プラテンローラ２０１の一部を隠すように配置されている。さらに、ＡＤＦ原稿読取モード時のＣＩＳ１１０の読取位置は、原稿が搬送されていない時には、プラテンローラ２０１表面が読み取られる位置に設定される。原稿台ガラス１２１には白基準白板１２７が備えられている。
【００２２】
図４は本実施形態の画像読取装置における制御系の概略構成を示すブロック図である。
【００２３】
図４において、画像読取装置には、原稿を搬送するプラテンローラ２０１、給紙ローラ２０２、搬送ローラ２０３，２０４と、原稿面に光を照射するランプ１１１と、ＣＩＳ１１０を副走査方向に移動し原稿を走査する光学モータ１２５と、原稿面からの反射光を光電変換するイメージセンサ１１３と、イメージセンサ１１３の出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路４０１と、ＣＩＳ１１０をホームポジションに位置決めするためのポジションセンサ１２４と、ＡＤＦ原稿読取モードにおける正規の原稿読取位置を設定するためのバックアップＲＡＭ４０３と、スキャナコントローラ４０４とが備えられている。スキャナコントローラ４０４には、ＲＯＭ４０５及びＣＰＵ４０６が設けられている。
【００２４】
図５は本画像読取装置のゴミ検知回路５０９を含む画像データの流れを示す構成ブロック図である。原稿面からの反射光を光電変換するイメージセンサ１１３、イメージセンサ１１３の出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路４０１、シェーディング補正回路５０３、ゴミ検知回路５０９、ＣＰＵ４０６から大略構成されている。更に、上記ゴミ検知回路５０９はゴミ検知用２値化回路５０４、加算回路５０５、ラインメモリ５０６、ゴミ判定用２値化回路５０７、ゴミカウント回路５０８を備えており、ゴミだけでなく汚れやキズも検知できる。
【００２５】
上記各部の機能を詳述すると、イメージセンサ１１３は原稿からの反射光に基づき光電変換を行い電気信号を出力する。Ａ／Ｄ変換回路４０１はイメージセンサ１１３より出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。シェーディング補正回路５０３はＡ／Ｄ変換回路４０１の出力に基づきシェーディング補正を行い、該シェーディング補正後の画像信号を読み取り画像信号として、ゴミ検知回路５０９のゴミ検知用２値化回路５０４に出力する。ゴミ検知用２値化回路５０４ではシェーディング補正後の画像信号を所定のゴミ検知閾値と比較して、２値化を行う。
【００２６】
加算回路５０５はゴミ検知用２値化回路５０４の出力とラインメモリ５０６の出力を加算する。ラインメモリ５０６は、画素毎の累積加算に係るデータを記憶する。ゴミ判定用２値化回路５０７は、画素毎の累積加算値と所定のゴミ判定閾値とを比較し、所定のゴミ判定閾値を超えた画素についてゴミ有りと検知する。
【００２７】
ゴミカウント回路５０８はゴミ判定用２値化回路の出力に基づき、ゴミの個数とゴミの幅を検出することができる。ゴミの幅とは主走査方向にゴミ有りと判定された画素が何画素分連続であるかを示している。ゴミの個数をカウントする時には、幅のあるゴミについても一つとカウントする。そして、Ｍ画素幅のゴミがＮ個（Ｍ、Ｎは自然数）あるという情報が出力される。
【００２８】
ゴミ補正回路５１０はゴミ判定用２値化回路でゴミ有りと判定された画素について補正を行う回路である。ゴミと判定された画素の左右隣各１画素の正常な画素の値を参照して、線形補間をして補正する。この補正を行うことにより画像品質の劣化は多少ある。ＣＰＵ４０６では、ゴミカウント回路５０８の出力から、ゴミの個数、ゴミの幅を考慮して最適な読取位置を設定する。
【００２９】
図６は本画像読取装置のシーケンスを示すフローチャートである。ユーザーにより流し読みモードでスタートボタンが押されたら、ステップＳ６０１により公知のシェーディング補正を行い、ステップＳ６０２で前のジョブにおいて設定された流し読み読取位置へ移動する。
【００３０】
ステップＳ６０３で原稿が来る前にプラテンローラ２０１を回転させた状態で、プラテンローラ２０１を読み取り、ゴミ検知用閾値を算出する。詳細は後述する。引続きローラを回転させた状態でステップＳ６０４のゴミ検知処理を行う。そして、Ｓ６０５で原稿を読み取る。ステップＳ６０６で次原稿がある場合には、ステップＳ６０３へ行く。次原稿が無ければ、ステップＳ６０８において読み取り位置設定用ゴミ検知処理を行う。そして、ステップＳ６０８の結果を受けて、ステップＳ６０９において次のジョブのための最適な読取位置を設定する。
【００３１】
上記のステップＳ６０３のゴミ検知用２値化閾値について、図８、図９を用いて説明する。２値化閾値の算出は、スキャナコントローラ内４０４のＣＰＵ４０６で行われる。
【００３２】
まず、読取位置上にあるローラを読み取る。図８はローラの読み取る位置を示す図である。主走査方向にｍ画素、副走査方向にｎ画素の範囲の領域を１ポイントとして、その領域のローラ読取値の平均値Ｒａを算出する。主走査方向にａポイント分のローラ読取値の平均値を算出し、Ａ個のローラ読取値の平均値をさらに平均して、Ｎ枚目のローラ読取値の平均値Ｒ（Ｎ）ａｖｅを算出する。算出式は以下に示す。
【００３３】
Ｒ（Ｎ）ａｖｅ＝（Ｒ１＋Ｒ２＋…＋Ｒａ）／ａ
算出したローラ読取値の平均値Ｒ（Ｎ）ａｖｅに所定の係数Ｃを乗じて、ゴミ検知用閾値ＧＭｔｈを算出する。算出式は以下に示す。
【００３４】
ＧＭｔｈ（Ｎ）＝Ｃ×Ｒ（Ｎ）ａｖｅ
以上のようにして、算出したＧＭｔｈ（Ｎ）を用いて、ステップＳ６０４のゴミ検知処理を行う。
【００３５】
図９は時系列的にローラと原稿を読み取っていることを示す図である。ローラは回転しているので、読み取るタイミングによって汚れの位置は移動する。ゴミ検知用閾値ＧＭｔｈ（Ｎ）を算出するにあたり、Ｎ枚目の原稿に対しては、Ｎ枚目のローラ読取値を用いる。
【００３６】
なお、ゴミ検知用閾値ＧＭｔｈの算出はジョブの最初で算出して、そのジョブ内であれば、最初に算出したＧＭｔｈを用いても良い。
【００３７】
また、所定の係数Ｃは原稿毎にそれぞれの係数Ｃ（Ｎ）をもつように設定しても良い。
【００３８】
上記のステップＳ６０４のゴミ補正用ゴミ検知について、図５を用いて説明する。現在の読み取り位置でプラテンローラ２０１を回転させた状態で行う。そして、プラテンローラ２０１を読み取り、イメージセンサ１１３により出力された信号はＡ／Ｄ変換器４０１によりデジタル信号に変換される。シェーディング補正回路５０３ではシェーディング補正が行われ、画像信号が出力される。
【００３９】
次にゴミ検知回路５０９では、先ず、ゴミ検知用２値化回路５０４にて、上記シェーディング補正後の画像信号をゴミ検知閾値と比較することによることで２値化する。但し、この際ゴミ検知閾値より小さな場合を”１”、大きな場合を”０”、と２値化するものとする。その後、加算回路５０５及びラインメモリ５０６により画素毎に累積加算される。累積加算は所定のライン数分行うが、累積加算の対象となるラインは連続したラインで行う場合とＸライン間隔の間欠ラインで行う場合とが考えられる。
【００４０】
このようにして２値化した画像データを画素毎に累積加算することで、ゴミ有りと判定した場合には該当する画素に対する累積加算値が大きな値となる。
【００４１】
次にゴミ判定用２値化回路５０７ではこの画素毎の累積加算値をゴミ判定閾値と比較し、ゴミ判定閾値を超えた画素についてゴミ有りと判定する。ゴミ判定用２値化回路５０７でゴミ有りと判定された信号を受けてゴミ補正回路５１０では、原稿読み取り時にゴミ有りと判定された画素について補正を行う。ゴミ判定用２値化回路５０７において、ゴミと有りと判定されなかった場合には、ゴミ補正は行わない。
【００４２】
上記のステップＳ６０８の読み取り位置設定用ゴミ検知について図５と図７を用いて説明する。ステップＳ７０１おいて、ゴミ検知を行う時には原稿読取終了後、現在の読み取り位置でプラテンローラ２０１を回転させた状態で行う。そして、プラテンローラ２０１を読み取り、イメージセンサ１１３により出力された信号はＡ／Ｄ変換器４０１によりデジタル信号に変換される。
【００４３】
シェーディング補正回路５０３ではシェーディング補正が行われ、画像信号が出力される。次にゴミ検知回路５０９では、先ず、ゴミ検知用２値化回路５０４にて、上記シェーディング補正後の画像信号をゴミ検知閾値と比較することによることで２値化する。但し、この際ゴミ検知閾値より小さな場合を”１”、大きな場合を”０”、と２値化するものとする。
【００４４】
その後、加算回路５０５及びラインメモリ５０６により画素毎に累積加算される。累積加算は所定のライン数分行うが、累積加算の対象となるラインは連続したラインで行う場合とＸライン間隔の間欠ラインで行う場合とが考えられる。このようにして２値化した画像データを画素毎に累積加算することで、ゴミ有りと判定した場合には核当する画素に対する累積加算値が大きな値となる。
【００４５】
次にゴミ判定用２値化回路５０７ではこの画素毎の累積加算値をゴミ判定閾値と比較し、ゴミ判定閾値を超えた画素についてゴミ有りと判定する。但し、この際ゴミ判定閾値より小さな場合を”０”、大きな場合を”１”、と２値化するものとする。
【００４６】
次に、ゴミカウント回路５０８において、ゴミ判定用２値化回路の出力に基づき、ゴミの個数とゴミの幅を検出する。Ｍ画素幅のゴミがＮ個（Ｍ、Ｎは自然数）あるという情報が出力される。例えば、１画素のゴミが４個、２画素のゴミが３個、３画素のゴミが０個、・・・のような情報が得られる。次にステップＳ７０２でゴミカウント回路５０８の出力に基づいて、ゴミ有りと判定されなかった場合はそのままゴミ検知処理を終了し、次のジョブも現在の読み取り位置で原稿を読み取る。
【００４７】
ゴミ有りと判定された場合には、ステップＳ７０３において、設定されているＹ箇所の読み取り位置のうち全ての読み取り位置でゴミ有りと判定しているかを判断する。ゴミ検知処理を行っていない場所がある場合はステップＳ７０４で、まだゴミ検知処理の行われていない場所へ移動し、ステップＳ７０１のゴミ検知処理を行う。ゴミ検知処理をＹ箇所全てで行っていた場合にはゴミ検知処理を終了する。ここでは、Ｙ＝３とし、それぞれの隣接する読み取り位置間の距離は０．５ｍｍとする。
【００４８】
上記のステップＳ６０９の読み取り位置設定について説明する。Ｓ６０８のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの個数の少なかった読み取り位置を次のジョブの読み取り位置として設定する。
【００４９】
本実施形態を用いれば、より平均的な読取値の平均値を算出することができ、読取位置上のローラがゴミ等によって汚れていたり、ガラスにキズが入っていた場合でも、ローラの汚れやキズの影響を低減させ、従来よりもゴミの検知精度の低下を防ぐことができる。
【００５０】
［第２の実施形態］
本発明の第２の実施形態であるゴミ検知用２値化閾値の算出方法について説明する。
【００５１】
図６のステップＳ６０３のゴミ検知用２値化閾値について、図８を用いて説明する。まず、読取位置上にあるローラを読み取る。図８はローラの読み取る位置を示す図である。主走査方向にｍ画素、副走査方向にｎ画素の範囲の領域を１ポイントとして、その領域のローラ読取値の平均値Ｒａを算出する。主走査方向にａポイント分のローラ読取値の平均値を算出し、Ａ個のローラ読取値の平均値の中からＲｍａｘとＲｍｉｎを除いて、残りのＡ−２個のローラ読取値をさらに平均して、Ｎ枚目のローラ読取値の平均値Ｒ（Ｎ）ａｖｅを算出する。算出式は以下に示す。
【００５２】
Ｒ（Ｎ）ａｖｅ＝（Ｒ１＋Ｒ２＋…＋Ｒａ−Ｒｍａｘ−Ｒｍｉｎ）／（ａ−２）
ただし、ＲｍａｘはＲ１、…、Ｒａの中の最大値
ＲｍｉｎはＲ１、…、Ｒａの中の最小値
算出したローラ読取値の平均値Ｒ（Ｎ）ａｖｅに所定の係数Ｃを乗じて、ゴミ検知用閾値ＧＭｔｈを算出する。算出式は以下に示す。
【００５３】
ＧＭｔｈ（Ｎ）＝Ｃ×Ｒ（Ｎ）ａｖｅ
以上のようにして、算出したＧＭｔｈ（Ｎ）を用いて、ステップＳ６０４のゴミ検知処理を行う。
【００５４】
最大値、及び最小値を除いた値を用いることにより、ゴミ、汚れ、キズ等により突出したレベルの影響を除去することができ、より適切なゴミ検知用閾値ＧＭｔｈを算出することができる。
【００５５】
なお、上記第２の実施形態では、最大値及び最小値を除いた値の平均値を用いているが、最大値のみ若しくは最小値のみを除いた値の平均値を用いてもよい。
【００５６】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１記載の発明によれば、算出手段は、読取手段によって読み取られた所定エリアの読取値の平均値を算出し、平均値と他の所定エリアの平均値とをさらに平均した値を用いて第１のパラメータを算出するので、より平均的な読取値の平均値を算出することができ、読取位置上の所定エリアが汚れていた場合でも、所定エリアの汚れの影響を低減させ、ゴミの検知精度の低下を防ぐことができる。
【００５７】
また、請求項２記載の発明によれば、読取手段によって読み取られた複数の所定エリアの読取値から最大値と最小値を除いた平均値を用いて第１のパラメータを算出するので、汚れにより突出したレベルの影響を除去することができ、より適切な第１のパラメータを算出することができる。
【００５８】
請求項３及び４記載の発明においても、請求項２と同様の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】画像読取装置の概略構成を示す図である。
【図２】画像読取装置の読取部の上視図である。
【図３】画像読取装置の流し読み部の詳細断面図である。
【図４】画像読取装置の制御系の構成を示すブロック図である。
【図５】ゴミ検知回路を含む制御系の構成を示すブロック図である。
【図６】流し読み時のシーケンスを示すフローチャートである。
【図７】読取位置設定用のゴミ検知処理時のシーケンスを示すフローチャートである。
【図８】２値化閾値を算出する時のローラのサンプルする領域を示した図である。
【図９】流し読み時の時系列的な読取画像を示した図である。
【符号の説明】
１００  画像読取装置本体
１１０  コンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）
２００  ＡＤＦ
２０１  プラテンローラ
４０４  スキャナコントローラ
４０６  ＣＰＵ
５０４  ゴミ検知用２値化回路
５０７  ゴミ判定用２値化回路
５０９  ゴミ検知回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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