(57)【要約】【課題】電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、煩雑な作業が不要で、生産性が向上するとともに、カウントミスなどが生じず、統計的な検査精度が向上し、正確で精度の良い抜取り検査を実施するる。【解決手段】検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数連続して良品と判断した場合には、所定の検査非実施数の電子部品実装部を検査位置を連続して通過するように搬送し、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合に、その不良品検出位置から、再び所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送、停止する。【選択図】  図４
2004153002.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査装置であって、
前記電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を制御する搬送制御装置とを備え、
前記搬送制御装置が、
前記検査装置による検査の際に、所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して搬送、停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数連続して良品と判断した場合には、所定の検査非実施数の電子部品実装部を検査位置を連続して通過するように搬送し、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合に、その不良品検出位置から、再び所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送、停止するように搬送駆動装置の動作を制御するように構成されていることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置。
【請求項２】
電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査方法であって、
搬送駆動装置によって、電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送し、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置による検査の際に、所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して搬送、停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数連続して良品と判断した場合には、所定の検査非実施数の電子部品実装部を検査位置を連続して通過するように搬送し、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合に、その不良品検出位置から、再び所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送、停止することを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、ＴＡＢ（Ｔａｐｅ  Ａｕｔｏｍａｔｅｄ  Ｂｏｎｄｉｎｇ）テープ、Ｔ−ＢＧＡ（Ｔａｐｅ  Ｂａｌｌ  Ｇｒｉｄ  Ａｒｒａｙ）テープ、ＣＳＰ（Ｃｈｉｐ  Ｓｉｚｅ  Ｐａｃｋａｇｅ）テープ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）テープ、ＢＧＡ（Ｂａｌｌ  Ｇｒｉｄ  Ａｒｒａｙ）、ＣＳＰ（Ｃｈｉｐ  Ｓｉｚｅ  Ｐａｃｋａｇｅ）など（以下、単に「電子部品実装用フィルムキャリアテープ」と言う。）の配線パターンなどの不良を検知するための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
エレクトロニクス産業の発達に伴い、ＩＣ（集積回路）、ＬＳＩ（大規模集積回路）などの電子部品を実装するプリント配線板の需要が急激に増加しているが、電子機器の小型化、軽量化、高機能化が要望され、これら電子部品の実装方法として、最近ではＴＡＢテープ、Ｔ−ＢＧＡテープ、ＡＳＩＣテープ、ＢＧＡ、ＣＳＰなどの電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた実装方式が採用されている。特に、パーソナルコンピュータなどのように高精細化、薄型化、液晶画面の額縁面積の狭小化が要望されている液晶表示素子（ＬＣＤ）を使用する電子産業においてその重要性が高まっている。
【０００３】
このような電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、外観検査、出荷検査などにおいて、電子部品実装用フィルムキャリアテープの品質を検査することが実施されているが、電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良である断線、短絡、欠け、突起、ソルダーレジスト不良、変色などの検査を、実体顕微鏡で、反射光または透過光を利用して、人の目視にて実施している。
【０００４】
ところで、従来より、このような電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査を行う場合、連続生産においては、統計水準に基づいて、全数検査に代わって、抜取り検査が行われるようになっている。
このような抜取り検査では、図６（Ａ）（Ｂ）に示したように、電子部品実装用フィルムキャリアテープ１００の検査の際に、所定の連続抜取り検査数、例えば、５個の電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅをそれぞれ、検査員が検査装置の近傍に付設した搬送制御スイッチを押すことによって、検査位置に連続して搬送、停止する。
【０００５】
そして、それぞれの電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅに対して、実体顕微鏡などの検査装置によって、例えば、断線、短絡、欠け、突起、ソルダーレジスト不良、変色などの検査項目について、目視検査を行っている。
この場合、図６（Ｂ）に示したように、それぞれの電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅを良品と判断した場合には、検査員が検査装置の近傍に付設した搬送制御スイッチを押すことによって、それぞれの電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅを順次搬送させていく。
【０００６】
これによって、この連続抜取り検査数連続して、良品と判断した場合には、電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅ分、電子部品実装用フィルムキャリアテープ１００が搬送されていくことになる。
その後、図６（Ｃ）に示したように、検査を行わない所定の検査非実施数、例えば、検査員が搬送制御スイッチを１０回押すことによって、１０個分の電子部品実装部１０２ｆ〜１０２ｏを検査位置を連続して通過するようにして、この１０個分の電子部品実装部１０２ｆ〜１０２ｏについて検査を行わないようにしている。
【０００７】
また、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合、例えば、図７（Ａ）に示したように、５個の電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅのうち、最後の（５個目の）電子部品実装部１０２ｅが不良と判断した場合には、その不良品検出位置である電子部品実装部１０２ｅから、再び所定の連続抜取り検査数である５個の電子部品実装部１０２ｆ〜１０２ｊをそれぞれ、検査員が検査装置の近傍に付設した搬送制御スイッチを押すことによって、検査位置に連続して搬送、停止するようになっている。
【０００８】
そして、図７（Ｂ）に示したように、それぞれの電子部品実装部１０２ｆ〜１０２ｊに対して、実体顕微鏡などの検査装置によって検査を行い、この連続抜取り検査数連続して、良品と判断した場合には、検査を行わない所定の検査非実施数である１０個の電子部品実装部だけ、検査員が搬送制御スイッチを１０回押すことによって、１０個分の電子部品実装部を検査位置を連続して通過するようにして、この１０個分の電子部品実装部について検査を行わないようにしている。
【０００９】
このようなサイクルが繰り返し行われ、例えば、被検査対象である電子部品実装用フィルムキャリアテープが巻装されたリール当たりの不良率が算出されるようになっている。
【００１０】
【特許文献１】
特開２０００−１９３７１７号公報
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の抜取り検査では、検査員が所定の連続抜取り検査数の５個の電子部品実装部１０２ａ〜１０２ｅをカウントして、搬送制御スイッチを押し、検査を行わない所定の検査非実施数の１０個分の電子部品実装部１０２ｆ〜１０２ｏをカウントして、搬送制御スイッチを１０回押さなければならない。
【００１２】
しかも、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合には、再び、所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部に対して、このような煩雑な作業を実施しなければならない。
従って、従来の抜取り検査では、煩雑な作業が必要で、生産性が低下するとともに、カウントミスなどが生じて、統計的な検査精度が低下することになり、正確で精度の良い抜取り検査を実施できないことにもなる。
【００１３】
本発明は、このような現状を考慮して、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、煩雑な作業が不要で、生産性が向上するとともに、カウントミスなどが生じず、統計的な検査精度が向上し、正確で精度の良い抜取り検査を実施することが可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置およびそのための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前述したような従来技術における課題及び目的を達成するために発明なされたものであって、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査装置であって、
前記電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を制御する搬送制御装置とを備え、
前記搬送制御装置が、
前記検査装置による検査の際に、所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して搬送、停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数連続して良品と判断した場合には、所定の検査非実施数の電子部品実装部を検査位置を連続して通過するように搬送し、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合に、その不良品検出位置から、再び所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送、停止するように搬送駆動装置の動作を制御するように構成されていることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置。
【００１５】
また、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良を検知する検査方法であって、
搬送駆動装置によって、電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送し、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置による検査の際に、所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、前記検査位置に連続して搬送、停止して、前記検査装置において不良であるか否かの検査を行い、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数連続して良品と判断した場合には、所定の検査非実施数の電子部品実装部を検査位置を連続して通過するように搬送し、
前記検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合に、その不良品検出位置から、再び所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して搬送、停止することを特徴とする。
【００１６】
このように構成することによって、搬送制御装置の搬送制御によって、所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して自動的に搬送、停止して、検査装置において不良であるか否かの検査を行うことができる。また、搬送制御装置の搬送制御によって、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数連続して良品と判断した場合には、所定の検査非実施数の電子部品実装部を検査位置を自動的に連続して通過するように搬送するので、所定の検査非実施数の電子部品実装部に対して、検査を行わないようにすることができる。
【００１７】
さらに、搬送制御装置の搬送制御によって、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合に、その不良品検出位置から、再び所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に自動的に連続して搬送、停止することができるので、再び、検査装置において不良であるか否かの検査を行うことができる。
【００１８】
従って、このように搬送制御が自動的に搬送制御装置によって行われるので、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、煩雑な作業が不要で、生産性が向上するとともに、カウントミスなどが生じず、統計的な検査精度が向上し、正確で精度の良い抜取り検査を実施することが可能である。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態（実施例）について説明する。図１は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。
図１に示したように、１０は全体で本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置を示している。
【００２０】
電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置１０（以下、単に「検査装置１０」と言う）は、図１に示したように、送り出し装置２０と、検査部３０と、巻き取り装置５０とを備えている。
送り出し装置２０には、電子部品実装用フィルムキャリアテープ（以下、単に「フィルムキャリアテープ」と言う）であって、その製造工程が終了したフィルムキャリアテープＴが、スペーサＳを介して巻装されたリールＲが、送り出し駆動軸２２に装着されている。そして、図示しない駆動モータの駆動により、送り出し駆動軸２２が回転して、フィルムキャリアテープＴがリールＲからスペーサＳとともに繰り出されて、案内ローラ２１を介して、検査部３０へと供給されるようになっている。
【００２１】
この検査部３０に供給されたフィルムキャリアテープＴは、バックテンションギア３２とドライブギア３４の間を通過する際に、ドライブギア３４の駆動が一時停止されて、フィルムキャリアテープＴの送給が停止されるとともに、フィルムキャリアテープＴのスプロケット孔に係合するバックテンションギア３２の逆転によって、フィルムキャリアテープＴが正確に所定の位置に、位置決めされるようになっている（ピッチ送りされる）。すなわち、ドライブギア３４の駆動が一時停止されて、フィルムキャリアテープＴの送給が停止されるようになっている。
【００２２】
なお、この場合の制御は、ドライブギア３４の回転を、ドライブギア３４を駆動する駆動機構であるパルスモータの回転による内部パルスを制御することにより行うようになっている。図中、３１、３３は、これらのギアとの間でフィルムキャリアテープＴを押さえるための押さえローラである。
そして、検査部３０には、図１に示したように、例えば、断線、短絡、欠け、突起などの、出荷検査、外観検査などの品質検査を、反射光または透過光を利用して、人の目視にて実施するための顕微鏡３６が配置されている。
【００２３】
このように、検査部３０によって、フィルムキャリアテープＴの不良が検知されたフィルムキャリアテープＴは、案内ローラ４２を通過して、次の巻き取り装置５０に供給される。
図１に示したように、巻き取り装置５０に供給されたフィルムキャリアテープＴは、巻き取り駆動軸５２に装着されたリールＲに、案内ローラ４２を介して、図示しない駆動モータの駆動により巻き取り駆動軸５２が回転することにより、フィルムキャリアテープＴが巻き取られる。
【００２４】
この際、送り出し装置２０のリールＲから繰り出されたスペーサＳが、案内ローラ５６、５７を介して、巻き取り装置５０のリールＲに供給されフィルムキャリアテープの間に介装され、フィルムキャリアテープ同士が接触して、フィルムキャリアテープが損傷しないように保護するようになっている。
また、検査装置１０では、リールＲに巻装されたフィルムキャリアテープＴが、送り出し装置２０から送給された後、検査部３０へと案内ローラ２１を介して供給される。
【００２５】
また、同様に、検査部３０にて検査が終了したフィルムキャリアテープＴは、案内ローラ４２を介して案内された後、案内ローラ４２と巻き取り装置５０のリールＲとの間で、フィルムキャリアテープＴがその自重によって、一定の長さ分だけ垂下され、この自重によってフィルムキャリアテープＴにテンション（張力）が付加され、巻き取り装置５０のリールＲに巻き取られるようになっている。
【００２６】
図２は、本発明の検査装置１０の制御機構を示す概略ブロック図である。
図２に示したように、制御装置７０には、入出力制御部７２を介してそれぞれ、入力装置７４、表示装置７６、検査部３０、駆動部７８が、ＣＰＵ（中央演算処理装置）８０に接続されている。また、ＣＰＵ８０には、記憶部８２が接続されている。
【００２７】
入力装置７４は、キーボードなどの入力装置であり、フィルムキャリアテープＴの種類、ロット番号、所定の連続抜取り検査数、所定の検査非実施数などの固有情報を制御装置７０に入力するためのものである。
また、駆動部７８は、これらの値に基づいて、搬送がＣＰＵ８０で演算処理されたデータに基づいて制御される、ドライブギア３４を駆動する駆動機構であるパルスモータなどである。記憶部８２は、これらの情報を一時記憶しておく、ＲＡＭなどの記憶装置である。
【００２８】
ところで、本発明の検査装置１０では、図３のフローチャートのように作動されるようになっている。
先ず、検査装置１０の検査が開始され、ステップＳ１で、所定の連続抜取り検査数Ｐ、所定の検査非実施数Ｑが入力される。
そして、ステップＳ２で、入力された連続抜取り検査数Ｐに基づいて、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、フィルムキャリアテープＴが搬送、停止される。
【００２９】
すなわち、図４（Ａ）（Ｂ）に示したように、フィルムキャリアテープＴの検査の際に、所定の連続抜取り検査数Ｐ、例えば、５個の電子部品実装部２ａ〜２ｅをそれぞれ、検査員が検査装置の近傍に付設した搬送制御スイッチ（図示せず）を押すことによって、検査位置に連続して搬送、停止される。
なお、この場合、搬送制御スイッチの停止スイッチ（図示せず）を押すことによって、フィルムキャリアテープＴの搬送が停止するように制御されるようになっている。しかしながら、この代わりに、搬送制御スイッチの始動スイッチを押すことによって、フィルムキャリアテープＴの搬送が開始されるように制御することも可能である。
【００３０】
そして、ステップＳ３で、フィルムキャリアテープの検査部３０において、それぞれの電子部品実装部２ａ〜２ｅに対して、例えば、実体顕微鏡などの検査装置によって、例えば、断線、短絡、欠け、突起、ソルダーレジスト不良、変色などの検査項目について検査が実施される。
この場合、図４（Ｂ）に示したように、それぞれの電子部品実装部２ａ〜２ｅを良品と判断した場合には、検査員が搬送制御スイッチの良品スイッチ（図示せず）を押すことによって、それぞれの電子部品実装部２ａ〜２ｅを順次搬送させていく。なお、この電子部品実装部２ａ〜２ｅの搬送回数は、搬送制御スイッチを含んだ入力装置７４からの入力によって、ＣＰＵ８０で演算処理された後、自動的にカウントされ、記憶部８２に記憶される。
【００３１】
ステップＳ４で、検査装置における検査の結果、搬送制御スイッチの良品スイッチの入力回数によって、連続抜取り検査数Ｐ連続して、良品と判断された場合には、ステップＳ５で、ＣＰＵ８０で演算処理された後、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、図４（Ｃ）に示したように、検査を行わない所定の検査非実施数Ｑ、例えば、１０個分の電子部品実装部２ｆ〜２ｏを検査位置を連続して通過するように搬送される。なお、この電子部品実装部２ｆ〜２ｏの搬送回数は、ＣＰＵ８０で演算処理された後、自動的にカウントされ、記憶部８２に記憶される。
【００３２】
これにより、この１０個分の電子部品実装部２ｆ〜２ｏについて検査を行わないようにしている。
一方、ステップＳ４で、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合、例えば、図５（Ａ）に示したように、５個の電子部品実装部２ａ〜２ｅのうち、最後の（５個目の）電子部品実装部２ｅが不良と判断した場合には、すなわち、搬送制御スイッチの不良品スイッチ（図示せず）が入力された場合には、ステップＳ６に移行する。
【００３３】
ステップＳ６では、予め、記憶されたプログラムに基づいて、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、図５（Ｂ）に示したように、その不良品検出位置である電子部品実装部２ｅから、再び所定の連続抜取り検査数である５個の電子部品実装部２ｆ〜２ｊについて、搬送制御スイッチを押すことによって、検査位置に連続して搬送、停止するようになっている。なお、この電子部品実装部２ｆ〜２ｊの搬送回数は、ＣＰＵ８０で演算処理された後、自動的にカウントされ、記憶部８２に記憶される。そして、ステップＳ３に移行する。
【００３４】
そして、ステップＳ７において、全ての電子部品実装部の検査が終了したかどうか判別され、終了している場合には、検査が終了する。一方、全ての電子部品実装部の検査が終了していない場合には、ステップＳ２に戻り、一連の処理が繰り返される。
このようなサイクルが繰り返し行われ、例えば、被検査対象である電子部品実装用フィルムキャリアテープが巻装されたリール当たりの不良率が算出され、例えば、表示装置７６、図示しないプリント装置などに表示されるようになっている。
【００３５】
なお、この実施例では、被検査対象である電子部品実装用フィルムキャリアテープが巻装されたリール当たりの不良率を算出するだけであるが、不良位置、不良の種類などを、制御装置７０に入力して表示するようにすることも可能である。
また、上記の連続抜取り検査数Ｐ、検査非実施数Ｑは、特に限定されるものではなく、統計水準データに基づいて、適宜決定すればよい。
【００３６】
さらに、この実施例では、一条の電子部品実装部が連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープについて説明したが、フィルムキャリアテープの幅方向にも電子部品実装部が配列されたいわゆる多数個取りと呼ばれる多条の電子部品実装用フィルムキャリアテープにも適用することが可能である。
以上、本発明の好ましい実施の態様を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、上記実施例では、検査部３０での検査を人の目視にて実施するための顕微鏡３６としたが、ＣＣＤカメラ、ラインセンサなどによる自動認識による自動検査を行う際にも適用できるなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００３７】
【発明の効果】
本発明によれば、搬送制御装置の搬送制御によって、所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に連続して自動的に搬送、停止して、検査装置において不良であるか否かの検査を行うことができる。
また、搬送制御装置の搬送制御によって、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数連続して良品と判断した場合には、所定の検査非実施数の電子部品実装部を検査位置を自動的に連続して通過するように搬送するので、所定の検査非実施数の電子部品実装部に対して、検査を行わないようにすることができる。
【００３８】
さらに、搬送制御装置の搬送制御によって、検査装置における検査の結果、所定の連続抜取り検査数内で不良品が検出された場合に、その不良品検出位置から、再び所定の連続抜取り検査数の電子部品実装部をそれぞれ、検査位置に自動的に連続して搬送、停止することができるので、再び、検査装置において不良であるか否かの検査を行うことができる。
【００３９】
従って、このように搬送制御が自動的に搬送制御装置によって行われるので、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、煩雑な作業が不要で、生産性が向上するとともに、カウントミスなどが生じず、統計的な検査精度が向上し、正確で精度の良い抜取り検査を実施することが可能であるなどの幾多の作用効果を奏する極めて優れた発明である。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。
【図２】図２は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の制御機構を示す概略ブロック図である。
【図３】図３は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の作動を説明するフローチャートである。
【図４】図４は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の作動を説明する概略図である。
【図５】図５は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の作動を説明する概略図である。
【図６】図６は、従来の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法を説明する概略図である。
【図７】図７は、従来の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法を説明する概略図である。
【符号の説明】
２ａ〜２ｏ  電子部品実装部
１０    検査装置
２０    送り出し装置
２１    案内ローラ
２２    駆動軸
３０    検査部
３２    バックテンションギア
３４    ドライブギア
３６    顕微鏡
４２    案内ローラ
５０    巻き取り装置
５２    駆動軸
５６    案内ローラ
７０    制御装置
７２    入出力制御部
７４    入力装置
７６    表示装置
７８    駆動部
８２    記憶部
Ｐ    連続抜取り検査数
Ｑ    検査非実施数
Ｒ        リール
Ｓ        スペーサ
Ｔ        電子部品実装用フィルムキャリアテープ
【図１】
2004153002.tif 000003
【図２】
2004153002.tif 000004
【図３】
2004153002.tif 000005
【図４】
2004153002.tif 000006
【図５】
2004153002.tif 000007
【図６】
2004153002.tif 000008
【図７】
2004153002.tif 000009