(57)【要約】【課題】生産効率を向上させるとともに、書き込み不可能記憶領域が書き込み可能な状態のまま出荷されても誤動作しない非接触型データキャリアを提供する。【解決手段】最終検査前においては、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０内にこの領域への無線通信によるデータ書き込みを許可する出荷識別情報（書き込み許可情報）を格納しておく。コマンドデコード回路３１０は、この出荷識別情報（書き込み許可情報）を無線入力信号とともにデコードするとき、無線入力信号がテスト用であれば有効にし、生産品識別情報の書き換えを可能とする。また、無線入力信号が通常のものであれば無効とするので、このまま出荷されたとしても誤動作を回避できる。【選択図】　　図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号受信アンテナと、少なくともデータ記憶領域とこのデータ記憶領域を制御する内部回路からなる半導体記憶装置とを搭載し、無線入力信号によるデータ入出力を行う非接触型データキャリアであって、少なくともユーザ書き込み可能記憶領域とユーザ書き込み不可能記憶領域の２つの異なるデータ記憶領域を有し、前記ユーザ書き込み不可能記憶領域への無線入力信号によるデータ書き込み許可／禁止を決定する書き込み許可／禁止情報を格納する記憶領域が前記ユーザ書き込み不可能記憶領域内に設けられ、書き込み許可情報が格納されているときには、通常の無線入力信号を無効にするとともに、テスト用無線入力信号を有効とし、テスト用無線入力信号によるデータ書き込みを許可することを特徴とする非接触型データキャリア。
【請求項２】
入力された前記無線入力信号を、前記書き込み許可／禁止情報を基に出力される信号と共にデコードする論理回路を備え、前記書き込み許可情報が前記記憶領域に格納されているとき、当該論理回路は、前記無線入力信号として通常の無線入力信号が入力された場合にはこれを無効にし、テスト用無線入力信号が入力された場合にはこれを有効とすることを特徴とする請求項１記載の非接触型データキャリア。
【請求項３】
前記書き込み許可／禁止情報は１ビットの情報であることを特徴とする請求項２記載の非接触型データキャリア。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、アンテナと半導体記憶装置とを搭載し、非接触状態でデータの入出力を行うＩＣカードやＩＣ−ＴＡＧなどの非接触型データキャリアに関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、磁気カードやバーコードなどに代わり、アンテナと半導体記憶装置とを搭載し、非接触状態でデータの入出力を行うＩＣカードやＩＣ−ＴＡＧなどの非接触型データキャリアの利用が促進されている。その理由として、次の２点が挙げられる。すなわち、非接触型データキャリアは、ユーザ書き込み不可能記憶領域内に格納された生産品識別情報と外部から入力された生産品識別情報とが一致するときにのみ動作するので、磁気カードやバーコードなどに比べ、セキュリティの向上を図ることができ、さらに、記憶装置として半導体記憶装置を用いるので、磁気カードやバーコードなどに比べ、蓄積記憶容量の大容量化を図ることができるためである。
【０００３】
以下、従来の非接触型データキャリアについて説明する。図３は従来の非接触型データキャリアの機能ブロックを示す概略図である。図３において、１００は外部からの無線入力信号を受信する信号受信アンテナ、２００は信号受信アンテナ１００の受信した無線入力信号を復調してシリアル／パラレル変換し、後述するＳＯＦ（Ｓｔａｒｔ　Ｏｆ　Ｆｒａｍｅ）信号、生産品識別信号、入力コマンド信号、記憶領域制御信号を生成する入力信号復調回路である。
【０００４】
また、３００は当該非接触型データキャリアのデータ記憶領域４００を制御する内部回路であって、３１０は入力信号復調回路２００により生成される入力コマンド信号をデコードしてコマンドデータ信号を生成するコマンドデコード回路、３２０はコマンドデコード回路３１０からのコマンドデータ信号、および入力信号復調回路２００から直接入力されるＳＯＦ信号、生産品識別信号、記憶領域制御信号に従いデータ記憶領域４００を制御する記憶領域制御回路である。
【０００５】
また、データ記憶領域４００は、少なくともユーザ書き込み可能記憶領域４１０とユーザ書き込み不可能記憶領域４２０とからなる。
図４は上記コマンドデコード回路３１０の内部機能ブロックを示す概略図である。図４において、３１１は入力信号復調回路２００により生成される入力コマンド信号をデコードし、データ記憶領域４００からデータを読み出す入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｒ＿ｉｎｔを生成し、データ記憶領域４００へデータを書き込む入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗ＿ｉｎｔを生成して出力するコマンド生成回路、３１２はコマンド生成回路３１１からのコマンドデータ信号を一時的に保持して記憶領域制御回路３２０への出力タイミングを調整し、コマンド生成回路３１１によりコマンドデータ信号ａ１＿Ｒ＿ｉｎｔが生成されたときにはコマンドデータ信号ａ１＿Ｒを出力し、コマンド生成回路３１１によりコマンドデータ信号ａ１＿Ｗ＿ｉｎｔが生成されたときにはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗを出力するデータラッチ回路である。すなわち、コマンド生成回路３１１は、入力コマンド信号に従い、データ記憶領域４００からデータを読み出す入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｒ＿ｉｎｔ側の信号線を活性化し、データ記憶領域４００へデータを書き込む入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗ＿ｉｎｔ側の信号線を活性化する。そしてデータラッチ回路３１２は、コマンド生成回路３１１からの入力に従い、所定のタイミングでコマンドデータ信号ａ１＿Ｒあるいはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗのいずれかの信号線を活性化する。
【０００６】
以上のように構成された非接触型データキャリアについて、以下その動作を説明する。まず、外部からの無線入力信号が信号受信アンテナ１００で取り込まれる。無線入力信号にはその強弱によりＨｉｇｈレベル状態とＬｏｗレベル状態があり、入力信号復調回路２００はこの無線入力信号を復調し、シリアル／パラレル変換して出力する。
【０００７】
無線入力信号として、まず、データ送信の開始を識別するためのＳＯＦ信号が入力されると、記憶領域制御回路３２０へ出力される。記憶領域制御回路３２０はこのＳＯＦ信号に従い、当該非接触式データキャリアの初期化および外部とのデータ取り込みタイミングの設定を行う。
【０００８】
次に、当該非接触型データキャリアの種類を識別するための生産品識別信号が入力されると、記憶領域制御回路３２０へ出力される。記憶領域制御回路３２０はこの生産品識別信号が入力されると、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０に予め書き込まれている生産品識別情報を読み出し生産品識別信号を出力させ、入力された生産品識別信号と一致するか否か比較する。なお、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０には、生産品識別情報などの特定の重要データが予め書き込まれている。不一致の場合、当該非接触式データキャリアは対象外のものであると判断して動作を終了する。一致した場合は、以降の処理を継続する。
【０００９】
続いて、データ記憶領域４００に対する読み出し動作か、あるいは書き込み動作かを選択するための入力コマンド信号が入力されると、コマンド生成回路３１１へ出力される。コマンド生成回路３１１は入力コマンド信号に従い、コマンドデータ信号ａ１＿Ｒ＿ｉｎｔあるいはａ２＿Ｗ＿ｉｎｔのいずれかを出力する。そしてデータラッチ回路３１２からコマンドデータ信号ａ１＿Ｒあるいはａ２＿Ｗのいずれかが出力され、記憶領域制御回路３２０の動作を確定する。
【００１０】
続いて、データ記憶領域４００内のいずれの領域を制御するのか選択するための記憶領域制御信号が入力されると、記憶領域制御回路３２０へ出力される。また、書き込み動作の場合には続けてその内容も入力され、記憶領域制御回路３２０へ出力される。記憶領域制御回路３２０は、コマンドデコード回路３１０からのコマンドデータ信号と入力信号復調回路２００からの記憶領域制御信号とに従いデータ記憶領域４００を制御し、データの書き込みもしくは読み出しを行う。但し、書き込み動作が選択され、かつユーザ書き込み不可能記憶領域が選択された場合には、書き込みを行うことなく動作を終了する。
【００１１】
以上のように、非接触型データキャリアでは、セキュリティの向上を図るために、データ記憶領域内に格納された生産品識別情報と外部から入力された生産品識別情報とが一致するときにのみ動作するよう構成されているので、データ記憶領域内への生産品識別情報の書き込みは、当然無線通信による動作モードでは行えない。そこで、半導体記憶装置がパッケージ化される前のウェハ検査時にデータ記憶領域へ直接書き込むようにしている。なお、当該非接触型データキャリアに搭載される半導体記憶装置は、少なくともデータ記憶領域と内部回路からなり、チップ化されている。
【００１２】
また、非接触型データキャリアでは、生産品識別情報などの特定の重要データを保護するために、この重要データを書き込む領域に対する無線通信による動作モードでの書き込みを禁止する必要がある。そこで、生産品識別情報などの特定の重要データを書き込むユーザ書き込み不可能記憶領域を予め設定しておくとともに、このユーザ書き込み不可能記憶領域への書き込みを禁止するための書き込み禁止情報を格納する領域を設け、無線通信による動作モード時にユーザ書き込み不可能記憶領域へのデータ書き込みが選択されたときには、この書き込み禁止情報を読み出し、ロジック的に書き込みできないようにしている。
【００１３】
また、この書き込み禁止情報の書き込みは、生産品識情報書き込み後であれば無線通信による動作モードにおいても可能であるので、この書き込み禁止情報の書き込みを非接触型データキャリアの最終検査（無線通信による動作検査）後に行うことにより、製造した半導体記憶装置を種々の非接触型データキャリアへ流用できるようにすることが考えられる。すなわち、書き込み禁止情報の書き込みが行われるまでは、ユーザ書き込み不可能記憶領域への書き込みが可能であり、当然ウェハ検査時に書き込んだ生産品識別情報の書き換えも可能であるので、最終検査後に書き込み禁止情報の書き込みを行うようにすれば、製造した半導体記憶装置を種々の非接触型データキャリアへ流用できるようになる。
【００１４】
しかしながら、最終検査後に書き込み禁止情報の書き込みを行うようにすると、最終検査を済ませていない未検査品、つまり書き込み禁止情報が書き込まれていない非接触型データキャリアが誤って検査済みのものに混入して出荷された場合、ユーザが使用している間に生産品識別情報が別の情報に書き換えられ誤動作を起こすおそれがある。さらに、その非接触型データキャリアが元々最終検査を済ませていない未検査品であったのか、使用中に故障したのかについてユーザが判断することができないという問題を有する。
【００１５】
そこで、従来は、生産品識別情報などの特定の重要データをユーザ書き込み不可能記憶領域へ書き込むとき、つまりウェハ検査時に書き込み禁止情報の書き込みも併せて行っていた。
【００１６】
しかしながら、ユーザ書き込み不可能記憶領域への書き込み禁止の設定をウェハ検査時に行うと、ユーザ書き込み不可能記憶領域に書き込まれている生産品識別情報は半導体記憶装置のウェハ検査段階で確定することになるため、生産品識別情報の違う非接触型データキャリアに対して半導体記憶装置を流用することが不可能となり、生産効率の低下を招いていた。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題点に鑑み、ユーザ書き込み不可能記憶領域内にこの領域への無線通信によるデータ書き込み許可／禁止を決定する書き込み許可／禁止情報を格納する領域を設け、書き込み許可情報が格納されているときには、通常の無線入力信号を無効にするとともに、テスト用無線入力信号を有効とし、テスト用無線入力信号によるデータ書き込みを許可するようにした非接触型データキャリアを提供することを目的とする。
【００１８】
このようにすることにより、書き込み許可情報が格納されているときには、テスト用無線入力信号による生産品識別情報の書き換えができるので、最終検査後に生産品識別情報を書き込むとともに書き込み禁止情報を書き込むことで生産品識別情報を確定させることにより、生産品識別情報が異なる非接触型データキャリアに対して半導体記憶装置を流用でき、生産効率を向上させることができるようになる。また、最終検査を済ませていない未検査品、つまり書き込み許可情報が格納されたままの非接触型データキャリアが、書き込み禁止情報が書き込まれた検査済みのものに誤って混入し出荷された場合であっても、書き込み許可情報によって通常の無線入力信号が無効にされるので、生産品識別情報が別の情報に書き換えられて誤動作を起こすこともなく、かつ最終検査を済ませていない未検査品であることをユーザがすぐに判断することができるようになる。
【００１９】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項１記載の非接触型データキャリアは、信号受信アンテナと、少なくともデータ記憶領域とこのデータ記憶領域を制御する内部回路からなる半導体記憶装置とを搭載し、無線入力信号によるデータ入出力を行う非接触型データキャリアであって、少なくともユーザ書き込み可能記憶領域とユーザ書き込み不可能記憶領域の２つの異なるデータ記憶領域を有し、前記ユーザ書き込み不可能記憶領域への無線入力信号によるデータ書き込み許可／禁止を決定する書き込み許可／禁止情報を格納する記憶領域が前記ユーザ書き込み不可能記憶領域内に設けられ、書き込み許可情報が格納されているときには、通常の無線入力信号を無効にするとともに、テスト用無線入力信号を有効とし、テスト用無線入力信号によるデータ書き込みを許可することを特徴とする。
【００２０】
本発明の請求項２記載の非接触型データキャリアは、請求項１記載の非接触型データキャリアであって、入力された前記無線入力信号を、前記書き込み許可／禁止情報を基に出力される信号と共にデコードする論理回路を備え、前記書き込み許可情報が前記記憶領域に格納されているとき、当該論理回路は、前記無線入力信号として通常の無線入力信号が入力された場合にはこれを無効にし、テスト用無線入力信号が入力された場合にはこれを有効とすることを特徴とする。
【００２１】
本発明の請求項３記載の非接触型データキャリアは、請求項２記載の非接触型データキャリアであって、前記書き込み許可／禁止情報は１ビットの情報であることを特徴とする。
【００２２】
以上のように、本発明によれば、書き込み許可情報が格納されているときには、テスト用無線入力信号による生産品識別情報の書き換えができるので、最終検査後に生産品識別情報を書き込むとともに書き込み禁止情報を書き込むことで、生産品識別情報を確定させることにより、生産品識別情報が異なる非接触型データキャリアに対して半導体記憶装置を流用でき、生産効率を向上させることができるようになる。また、最終検査を済ませていない未検査品、つまり書き込み許可情報が格納されたままの非接触型データキャリアが、書き込み禁止情報が書き込まれた検査済みのものに誤って混入し出荷された場合であっても、書き込み許可情報によって通常の無線入力信号が無効にされるので、生産品識別情報が別の情報に書き換えられて誤動作を起こすこともなく、かつ最終検査を済ませていない未検査品であることをユーザがすぐに判断することができるようになる。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明による非接触型データキャリアの実施の一形態について図面を用いて説明する。図１は本実施の形態による非接触型データキャリアの機能ブロックを示す概略図である。なお、当該非接触型データキャリアに搭載される半導体記憶装置は、少なくともデータ記憶領域と内部回路からなり、チップ化されているものとする。
【００２４】
図１において、１００は外部からの無線入力信号を受信する信号受信アンテナ、２００は信号受信アンテナ１００の受信した無線入力信号を復調してシリアル／パラレル変換し、後述するＳＯＦ（Ｓｔａｒｔ　Ｏｆ　Ｆｒａｍｅ）信号、生産品識別信号、入力コマンド信号、記憶領域制御信号を生成する入力信号復調回路である。
【００２５】
また、３００は当該非接触型データキャリアのデータ記憶領域４００を制御する内部回路であって、３１０は入力信号復調回路２００により生成される入力コマンド信号、および後述するユーザ書き込み不可能記憶領域より出力される出荷識別信号（書き込み許可／禁止信号）をデコードしコマンドデータ信号を生成して出力するとともに、出荷識別信号を出力するコマンドデコード回路、３２０はコマンドデコード回路３１０からのコマンドデータ信号と出荷識別信号、および入力信号復調回路２００から直接入力されるＳＯＦ信号、生産品識別信号、記憶領域制御信号に従いデータ記憶領域４００を制御する記憶領域制御回路である。
【００２６】
また、データ記憶領域４００は、少なくともユーザ書き込み可能記憶領域４１０とユーザ書き込み不可能記憶領域４２０とからなり、このユーザ書き込み不可能記憶領域４２０には出荷識別情報（書き込み許可／禁止情報）を格納する領域が設けられ、この領域に格納された出荷識別情報を読み出すことにより出力される出荷識別信号（書き込み許可／禁止信号）がコマンドデコード回路３１０に接続されている。具体的には、半導体記憶装置が搭載される非接触型データキャリアが確定するまで、つまり生産品識別情報が確定するまでは出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとする出荷識別情報（書き込み許可情報）が書き込まれ、生産品識別情報が確定した後には、出荷識別信号の信号電位をＬｏｗレベルとする出荷識別情報（書き込み禁止情報）が書き込まれる。なお、本実施の形態では、出荷識別情報（書き込み許可／禁止情報）を１ビットの情報とするが、無論、これに限るものではない。
【００２７】
本実施の形態では、ウェハ検査時に生産品識別情報などの特定の重要データとともに、出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとする出荷識別情報（書き込み許可情報）の書き込みを行い、最終検査（通常の無線通信による動作検査）後に出荷識別信号の信号電位をＬｏｗレベルとする出荷識別情報（書き込み禁止情報）の書き込みを行うことで生産品識別情報を確定させる。また、記憶領域制御回路３２０は、出荷識別信号の信号電位がＨｉｇｈレベルのときにはユーザ書き込み不可能記憶領域４２０へのデータ書き込みを許可し、Ｌｏｗレベルのときにはデータ書き込みを禁止する。すなわち、出荷識別情報は、ユーザ書き込み不可能記憶領域へのデータの書き込みを許可／禁止するための情報であり、また本実施の形態においては、最終検査を受けているか否かについての情報でもある。
【００２８】
このように最終検査後に出荷識別信号の信号電位をＬｏｗレベルとする出荷識別情報をユーザ書き込み不可能記憶領域４２０に書き込むことで、出荷後はユーザ書き込み不可能記憶領域４２０へのデータ書き込みが不可能となり、出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとする出荷識別情報へ戻すこともできないので、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０に書き込まれている重要データの破壊を防止することができる。
【００２９】
図２は上記コマンドデコード回路３１０の内部機能ブロックを示す概略図である。図２において、３１３と３１４はＥｘ−ＯＲ論理回路である。図２に示すように、Ｅｘ−ＯＲ論理回路３１３と３１４には、入力コマンド信号の４番目のビットと５番目のビットがそれぞれ接続されており、かつ、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０から出力される出荷識別信号が接続されており、入力コマンド信号の４番目と５番目のビットを出荷識別信号と共にデコードしてコマンド生成回路３１１へ出力する。但し、Ｅｘ−ＯＲ論理回路は２つに限るものではなく、また、このＥｘ−ＯＲ論理回路に接続される入力コマンド信号も４番目と５番目のビットに限るものではない。
【００３０】
本実施の形態では、最終検査が終了するまでは出荷識別信号の信号電位がＨｉｇｈレベルであるため、入力コマンド信号の４番目と５番目のビットは反転してコマンド生成回路３１１へ出力される。最終検査終了後は出荷識別信号の信号電位をＬｏｗレベルとする出荷識別情報の書き込みが行われるので、入力コマンド信号の４番目と５番目のビットはそのままコマンド生成回路３１１へ出力されるようになる。
【００３１】
コマンド生成回路３１１は、入力信号復調回路２００から直接入力される分を、Ｅｘ−ＯＲ論理回路３１３と３１４を介して入力される分の入力コマンド信号と共にデコードし、データ記憶領域４００からデータを読み出す入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｒ＿ｉｎｔを生成し、データ記憶領域４００へデータを書き込む入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗ＿ｉｎｔを生成して出力する。
【００３２】
データラッチ回路３１２はコマンド生成回路３１１からのコマンドデータ信号を一時的に保持して記憶領域制御回路３２０への出力タイミングを調整し、コマンド生成回路３１１によりコマンドデータ信号ａ１＿Ｒ＿ｉｎｔが生成されたときにはコマンドデータ信号ａ１＿Ｒを出力し、コマンド生成回路３１１によりコマンドデータ信号ａ１＿Ｗ＿ｉｎｔが生成されたときにはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗを出力するとともに、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０から入力された出荷識別信号をそのまま出力する。
【００３３】
すなわち、コマンド生成回路３１１は、入力信号復調回路２００から直接入力される分とＥｘ−ＯＲ論理回路３１３と３１４を介して入力される分の入力コマンド信号をデコードし、データ記憶領域４００からデータを読み出す入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｒ＿ｉｎｔ側の信号線を活性化し、データ記憶領域４００へデータを書き込む入力コマンドであった場合にはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗ＿ｉｎｔ側の信号線を活性化する。そしてデータラッチ回路３１２は、コマンド生成回路３１１からの入力に従い、所定のタイミングでコマンドデータ信号ａ１＿Ｒあるいはコマンドデータ信号ａ１＿Ｗのいずれかの信号線を活性化するとともに、最終検査が終了するまでは、すなわち出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとする出荷識別情報が格納されている間はデータラッチ回路３１２と記憶領域制御回路３２０とを接続する出荷識別信号用の信号線を活性化する。
【００３４】
以上のように構成された非接触型データキャリアについて、以下、その動作を説明する。まず、外部からの無線入力信号が信号受信アンテナ１００で取り込まれる。無線入力信号にはその強弱によりＨｉｇｈレベル状態とＬｏｗレベル状態があり、入力信号復調回路２００はこの無線入力信号を復調し、シリアル／パラレル変換して出力する。
【００３５】
無線入力信号として、まず、データ送信の開始を識別するためのＳＯＦ信号が入力されると、記憶領域制御回路３２０へ出力される。記憶領域制御回路３２０はこのＳＯＦ信号に従い、当該非接触式データキャリアの初期化および外部とのデータ取り込みタイミングの設定を行う。
【００３６】
次に、当該非接触型データキャリアの種類を識別するための生産品識別信号が入力されると、記憶領域制御回路３２０へ出力される。記憶領域制御回路３２０はこの生産品識別信号が入力されると、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０に予め書き込まれている生産品識別情報を読み出し生産品識別信号を出力させ、入力された生産品識別信号と一致するか否か比較する。また、同時にユーザ書き込み不可能記憶領域４２０に書き込まれている出荷識別情報を読み出し出荷識別信号をコマンドデコード回路３１０へ出力する。なお、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０から出力された生産品識別信号と、外部より入力された生産品識別信号が不一致の場合、当該非接触式データキャリアは対象外のものであると判断して動作を終了する。一致した場合は、以降の処理を継続する。
【００３７】
続いて、データ記憶領域４００に対する読み出し動作か、あるいは書き込み動作かを選択するための入力コマンド信号が入力されると、コマンドデコード回路３１０へ出力される。以下、コマンドデコード回路の動作を、最終検査の終了前と後とに分けて説明する。
【００３８】
まず、最終検査終了後の動作について説明する。このとき、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０から出力される出荷識別信号の信号電位はＬｏｗレベルであり、Ｅｘ−ＯＲ論理回路３１３と３１４に接続される入力コマンド信号の４番目と５番目のビットはそのままコマンド生成回路３１１へ出力されるので、無線通信による通常の入力コマンド信号は有効であり、データ記憶領域４００への書き込み動作か読み出し動作のいずれかが確定する。また、このときコマンドデコード回路３１０と記憶領域制御回路３２０とを接続する出荷識別信号用の信号線は非活性状態にあるので、記憶領域制御回路３２０はユーザ書き込み不可能記憶領域４２０へのデータ書き込みを禁止する。
【００３９】
続いて、最終検査終了前の動作について説明する。このとき、ユーザ書き込み不可能記憶領域４２０から出力される出荷識別信号の信号電位はＨｉｇｈレベルであり、Ｅｘ−ＯＲ論理回路３１３と３１４に接続される入力コマンド信号の４番目と５番目のビットは反転してコマンド生成回路３１１へ出力される。そのため、通常の入力コマンド信号は無効にされるので、入力コマンド信号の４番目と５番目のビットを反転させたテスト用入力コマンド信号（テスト用無線入力信号）を無線通信により入力する必要がある。また、このときコマンドデコード回路３１０と記憶領域制御回路３２０とを接続する出荷識別信号用の信号線は活性状態にあるので、記憶領域制御回路３２０はユーザ書き込み不可能記憶領域４２０へのデータ書き込みを許可する。
【００４０】
続いて、データ記憶領域４００内のいずれの領域を制御するのか選択するための記憶領域制御信号が入力されると、記憶領域制御回路３２０へ出力される。また、書き込み動作の場合には続けてその内容も入力され、記憶領域制御回路３２０へ出力される。記憶領域制御回路３２０は、コマンドデコード回路３１０からのコマンドデータ信号と出荷識別信号、および入力信号復調回路２００からの記憶領域制御信号に従いデータ記憶領域４００を制御し、データの書き込みもしくは読み出しを行う。
【００４１】
以上のように、当該非接触型データキャリアによれば、出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとする出荷識別情報（書き込み許可情報）を書き込んでおけば、テスト用無線入力信号による生産品識別情報の書き換えが可能となるので、製造した半導体記憶装置を非接触型データキャリアへ搭載した後に生産品識別情報を書き換えることができる。従って、ウェハ検査時に書き込んだ生産品識別情報とは違う非接触型データキャリアに対して半導体記憶装置を流用することが可能となり、生産効率を向上させることができる。
【００４２】
また、出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとする出荷識別情報（書き込み許可情報）が書き込まれているときには、通常の入力コマンド信号（通常の無線入力信号）は無効となる。従って、最終検査を済ませていない未検査品、すなわち出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとする出荷識別情報（書き込み許可情報）が格納されたままの非接触型データキャリアが、出荷識別信号の信号電位をＬｏｗレベルとする出荷識別情報（書き込み禁止情報）が書き込まれた検査済みのものに誤って混入し出荷された場合であっても、通常の入力コマンド信号では動作しないため、ユーザは未検査品であることをすぐに判別できる。また、通常の入力コマンド信号（通常の無線入力信号）を無効とするので、当然従来のように誤動作を起こす心配もなく、ユーザにとって利便性のよいものとなる。
【００４３】
なお、本実施の形態では、Ｅｘ−ＯＲ論理回路による論理回路を用い、ユーザ書き込み不可能記憶領域へのデータ書き込みを許可するときには出荷識別信号の信号電位をＨｉｇｈレベルとし、禁止するときには出荷識別信号の信号電位をＬｏｗレベルとする構成としたが、無論、これに限るものではなく、ユーザ書き込み不可能記憶領域を書き込み可能状態／不可能状態に切り替え可能とし、かつ、書き込み可能のときには、通常の入力コマンド信号を無効とし、所定のテスト用入力コマンド信号のみを有効とする構成にすればよい。
【００４４】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、書き込み許可情報が格納されているときには、テスト用無線入力信号による生産品識別情報の書き換えができるので、最終検査後に生産品識別情報を書き込むとともに書き込み禁止情報を書き込むことで、生産品識別情報を確定させることにより、生産品識別情報が異なる非接触型データキャリアに対して半導体記憶装置を流用でき、生産効率を向上させることができるようになる。また、最終検査を済ませていない未検査品、つまり書き込み許可情報が格納されたままの非接触型データキャリアが、書き込み禁止情報が書き込まれた検査済みのものに誤って混入し出荷された場合であっても、書き込み許可情報によって通常の無線入力信号が無効にされるので、生産品識別情報が別の情報に書き換えられて誤動作を起こすこともなく、かつ最終検査を済ませていない未検査品であることをユーザがすぐに判断することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態による非接触型データキャリアの機能ブロックを示す図
【図２】本発明の実施の形態による非接触型データキャリアのコマンドデコード回路の内部機能ブロックを示す図
【図３】従来の非接触型データキャリアの機能ブロックを示す図
【図４】従来の非接触型データキャリアのコマンドデコード回路の内部機能ブロックを示す図
【符号の説明】
１００　　信号受信アンテナ
２００　　入力信号復調回路
３００　　内部回路
３１０　　コマンドデコード回路
３１１　　コマンド生成回路
３１２　　データラッチ回路
３１３、３１４　　Ｅｘ−ＯＲ論理回路
３２０　　記憶領域制御回路
４００　　データ記憶領域
４１０　　ユーザ書き込み可能記憶領域
４２０　　ユーザ書き込み不可能記憶領域
【図１】
2004070763.tif 000003
【図２】
2004070763.tif 000004
【図３】
2004070763.tif 000005
【図４】
2004070763.tif 000006