(57)【要約】【課題】より正当に光送信器を評価することができる評価方法および評価システムを提供する。【解決手段】評価対象である光送信器より出力される強度変調光のビットレートＢと、その光が伝送される光伝送路である光ファイバの累積波長分散Ｄとが、所定の関係を満たすように設定された上で、その光ファイバにより伝送された後の光波形とパルスマスクＭとの間の位置関係に基づいて、光送信器の性能が評価される。このように、光送信器の性能を評価するに際して、個体差が大きい光受信器を用いることは無い。したがって、より正当に光送信器を評価することができる。【選択図】  図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光送信器の性能を評価する方法であって、
前記光送信器の光出射端に光伝送路の入射端を結合して、前記光送信器より強度変調されて出力される光のビットレートをＢ（Ｇｂ／ｓ）とし、前記光伝送路の累積波長分散をＤ（ｐｓ／ｎｍ）としたときに、Ｂ・Ｄ１／２  の値を４００とし、
前記光送信器の光出射端より出力された光を前記光伝送路の入射端に入射させ、前記光伝送路により伝送された該光を前記光伝送路の出射端より出射させて、その出射端より出射した光の波形を観察し、
その光の波形の観察面において、時間軸については前記ビットレートに応じたユニットインタバルを０〜１で規格化し、強度軸については前記強度変調に応じたローレベルを０としハイレベルを１として規格化したときに、点（Ｘ１，Ｙ１）、点（Ｘ２，Ｙ２）、点（Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ２，Ｙ２）および点（１−Ｘ１，Ｙ１）を順に頂点とする多角形からなるパルスマスクを想定し（ただし、０．２５≦Ｘ１≦０．５  、０．１５≦Ｘ２≦０．２５  、０．２５≦Ｘ３≦０．５  、０．１≦Ｙ１≦０．３  、０．３５≦Ｙ２≦０．５  、０．７≦Ｙ３≦０．９）、
観察した光の波形の一部が前記パルスマスク内部を通過するか否かを判定して、その判定結果に基づいて前記光送信器の性能を評価する、
ことを特徴とする光送信器評価方法。
【請求項２】
光送信器の性能を評価するシステムであって、
前記光送信器の光出射端に入射端が結合された光伝送路と、その光伝送路により伝送されて出射端より出射した光の波形を解析する光波形解析手段と、を備え、
前記光送信器より強度変調されて出力される光のビットレートをＢ（Ｇｂ／ｓ）とし、前記光伝送路の累積波長分散をＤ（ｐｓ／ｎｍ）としたときに、Ｂ・Ｄ１／２  の値が４００とされており、
前記光波形解析手段が、
前記光送信器の光出射端より出力され前記光伝送路により伝送された後の光の波形を観察し、
その光の波形の観察面において、時間軸については前記ビットレートに応じたユニットインタバルを０〜１で規格化し、強度軸については前記強度変調に応じたローレベルを０としハイレベルを１として規格化したときに、点（Ｘ１，Ｙ１）、点（Ｘ２，Ｙ２）、点（Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ２，Ｙ２）および点（１−Ｘ１，Ｙ１）を順に頂点とする多角形からなるパルスマスクを想定し（ただし、０．２５≦Ｘ１≦０．５  、０．１５≦Ｘ２≦０．２５  、０．２５≦Ｘ３≦０．５  、０．１≦Ｙ１≦０．３  、０．３５≦Ｙ２≦０．５  、０．７≦Ｙ３≦０．９）、
観察した光の波形の一部が前記パルスマスク内部を通過するか否かを判定して、その判定結果に基づいて前記光送信器の性能を評価する、
ことを特徴とする光送信器評価システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光送信器の性能を評価する評価方法および評価システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光通信システムでは、光送信器より送出された信号光は、光伝送路により伝送されて光受信器に到達し、この光受信器により受信される。このような光通信システムでは、光送信器の新たな設置や交換の際に、その光送信器の性能が所定の仕様を満たすことが必要とされる。従来の光送信器の性能の評価は以下のようにして行なわれている（例えば非特許文献１を参照）。
【０００３】
すなわち、評価対象の光送信器より所定のビットレートの強度変調光が出力され、この光を受信する光受信器においてビットエラーレート測定の結果に基づいて最小受信感度が測定される。また、所定の累積波長分散を有する光伝送路により伝送された後の光が上記光受信器により受信されて、ビットエラーレート測定の結果に基づいてパワーペナルティが測定される。光送信器の性能は、このようにして測定された最小受信感度およびパワーペナルティに基づいて評価される。そして、その光送信器の性能評価結果が要求仕様を満たすか否かが判定される。
【０００４】
【非特許文献１】
Ａｎ  ＳＡＩＣ  Ｃｏｍｐａｎｙ社のデータシート、「ＴｅｌｃｏｒｄｉａＴＭ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ，  Ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ  ｆｒｏｍ  Ｅｘｐｅｒｉｅｎｃｅ，  Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  （ＳＯＮＥＴ）  Ｔｒａｎｓｐｏｒｔ  Ｓｙｓｔｅｍｓ：  Ｃｏｍｍｏｎ  Ｇｅｎｅｒｉｃ  Ｃｒｉｔｅｒｉａ  （Ａ  ｍｏｄｕｌｅ  ｏｆ  ＴＳＧＲ，  ＦＲ−４４０）」，Ｓｅｐｔｅｍｂｅｒ  ２０００
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の従来の評価方法では光送信器の性能を正当に評価することができないという問題点があることを本願発明者は見出した。本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、より正当に光送信器を評価することができる評価方法および評価システムを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光送信器評価方法は、光送信器の性能を評価する方法であって、
（１）  光送信器の光出射端に光伝送路の入射端を結合して、光送信器より強度変調されて出力される光のビットレートをＢ（Ｇｂ／ｓ）とし、光伝送路の累積波長分散をＤ（ｐｓ／ｎｍ）としたときに、Ｂ・Ｄ１／２  の値を４００とし、（２）  光送信器の光出射端より出力された光を光伝送路の入射端に入射させ、光伝送路により伝送された該光を光伝送路の出射端より出射させて、その出射端より出射した光の波形を観察し、（３）  その光の波形の観察面において、時間軸についてはビットレートに応じたユニットインタバルを０〜１で規格化し、強度軸については強度変調に応じたローレベルを０としハイレベルを１として規格化したときに、点（Ｘ１，Ｙ１）、点（Ｘ２，Ｙ２）、点（Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ２，Ｙ２）および点（１−Ｘ１，Ｙ１）を順に頂点とする多角形からなるパルスマスクを想定し（ただし、０．２５≦Ｘ１≦０．５  、０．１５≦Ｘ２≦０．２５  、０．２５≦Ｘ３≦０．５  、０．１≦Ｙ１≦０．３  、０．３５≦Ｙ２≦０．５  、０．７≦Ｙ３≦０．９）、（４）  観察した光の波形の一部がパルスマスク内部を通過するか否かを判定して、その判定結果に基づいて光送信器の性能を評価する、ことを特徴とする。
【０００７】
本発明に係る光送信器評価システムは、光送信器の性能を評価するシステムであって、（１）  光送信器の光出射端に入射端が結合された光伝送路と、その光伝送路により伝送されて出射端より出射した光の波形を解析する光波形解析手段と、を備え、（２）  光送信器より強度変調されて出力される光のビットレートをＢ（Ｇｂ／ｓ）とし、光伝送路の累積波長分散をＤ（ｐｓ／ｎｍ）としたときに、Ｂ・Ｄ１／２  の値が４００とされている。さらに、光波形解析手段が、（１）  光送信器の光出射端より出力され光伝送路により伝送された後の光の波形を観察し、（２）  その光の波形の観察面において、時間軸についてはビットレートに応じたユニットインタバルを０〜１で規格化し、強度軸については強度変調に応じたローレベルを０としハイレベルを１として規格化したときに、点（Ｘ１，Ｙ１）、点（Ｘ２，Ｙ２）、点（Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ３，Ｙ３）、点（１−Ｘ２，Ｙ２）および点（１−Ｘ１，Ｙ１）を順に頂点とする多角形からなるパルスマスクを想定し（ただし、０．２５≦Ｘ１≦０．５  、０．１５≦Ｘ２≦０．２５  、０．２５≦Ｘ３≦０．５  、０．１≦Ｙ１≦０．３  、０．３５≦Ｙ２≦０．５  、０．７≦Ｙ３≦０．９）、（３）  観察した光の波形の一部がパルスマスク内部を通過するか否かを判定して、その判定結果に基づいて光送信器の性能を評価する、ことを特徴とする。
【０００８】
本発明によれば、光送信器を評価するに際して光伝送路が用意され、光送信器より出力される強度変調光のビットレートＢと、その光が伝送される光伝送路の累積波長分散Ｄとが、所定の関係を満たすように設定された上で、その光伝送路により伝送された後の光波形と所定形状のパルスマスクとの間の位置関係に基づいて、光送信器の性能が評価される。このように、光送信器の性能を評価するに際して、個体差が大きい光受信器を用いることは無い。したがって、本発明に係る光送信器評価方法または光送信器評価システムによれば、より正当に光送信器を評価することができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
先ず、本願発明を想到するに至った経緯について説明し、その後に、本発明の実施の形態を説明する。
【００１０】
光送信器の光出力は一般にチャープ特性を有しており、光送信器より出力される光の光周波数は強度変調に伴い変動する。時刻ｔにおける光周波数をｆ（ｔ）とし、時刻ｔにおける光強度をＰ（ｔ）とすると、光送信器より出力される光の周波数の変動量Δｆ（ｔ）と強度Ｐ（ｔ）との間には下記の関係式が近似的に成り立つ。
【００１１】
【数１】
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ここで、αｔは遷移線幅増大係数であり、αａは断熱線幅増大係数である。このように、光送信器より出力される光の周波数ｆ（ｔ）は、一般に、強度Ｐ（ｔ）の値および強度Ｐ（ｔ）の時間微分値に依存して変動する。この現象がチャーピングと呼ばれるものであり、チャープ特性は上記パラメータαｔ，αａにより定量的に表される。
【００１２】
一方、光伝送路は一般に波長分散特性を有しており、光伝送路における光の群速度は光周波数により異なる。したがって、光送信器より出力されて光伝送路により伝送された後の強度変調光は、光送信器より出力された直後での波形と比較して、劣化した波形となる。その波形劣化の程度は、光送信器のチャープ特性および光伝送路の波長分散特性に依存する。
【００１３】
図１は、光送信器より出力された直後の強度変調光の波形（アイパターン）、および、光送信器より出力されて光伝送路により伝送された後の強度変調光の波形（アイパターン）を示す図である。同図（ａ）は、光送信器より出力された直後の強度変調光の波形を示す。同図（ｂ）は、αａパラメータ値が０であるときの伝送後の強度変調光の波形を示す。同図（ｃ）は、αａパラメータ値が非零であるときの伝送後の強度変調光の波形を示す。ここでは、光伝送路の累積波長分散を１６００ｐｓ／ｎｍとした。この図から判るように、光送信器のαａパラメータ値が非零であるときには、αａパラメータ値が０であるときと比較して、伝送後の光波形が大きく劣化する。
【００１４】
図２は、光送信器より出力されて光伝送路により伝送された後の強度変調光の波形（アイパターン）を示す図である。ここでも、光伝送路の累積波長分散を１６００ｐｓ／ｎｍとした。また、同図（ａ）ではαｔパラメータの値を０とし、同図（ｂ）ではαｔパラメータの値を−０．２とし、同図（ｃ）ではαｔパラメータの値を−０．４とし、同図（ｄ）ではαｔパラメータの値を−０．６とし、同図（ｅ）ではαｔパラメータの値を−０．８とし、同図（ｆ）ではαｔパラメータの値を−１．０とした。この図から判るように、光送信器のαｔパラメータの値が異なると、伝送後の強度変調光の波形が異なる。すなわち、αｔパラメータの値が大きいほど、伝送後の光波形において強度変調のローレベルの光のレベルが上がる。また、αｔパラメータの値が小さいほど、伝送後の光波形においてクロスポイント（ローレベルからハイレベルへの立上りと、ハイレベルからローレベルへの立下りと、の交点）が下がる。
【００１５】
図３は、光送信器のαｔパラメータ値と伝送可能なＢ・Ｌ１／２との関係を示すグラフである。ここで、Ｂは光送信器より出力される強度変調光のビットレートであり、Ｌは光伝送路の長さである。光伝送路の波長分散を２０ｐｓ／ｎｍ／ｋｍとした。この図から判るように、αｔパラメータ値により伝送可能な長さＬが異なり、αｔパラメータ値が−０．４〜−０．９の範囲で伝送可能な長さＬが長い。すなわち、長距離伝送を行うには、光送信器のαｔパラメータ値が−０．４〜−０．９の範囲であるのが好適である。
【００１６】
図４は、光受信器のスライスレベルとビットエラーレートとの関係を示すグラフである。ここでも、光伝送路の累積波長分散を１６００ｐｓ／ｎｍとし、また、光送信器のαｔパラメータ値を−０．７とした。この図から判るように、スライスレベル（ハイレベルとローレベルとを峻別する際の閾値レベル）によりビットエラーレートが異なり、スライスレベルが４０％〜４１％の範囲で、ビットエラーレートが小さく、光受信器の受信感度が良い。
【００１７】
このように、光送信器のチャープ特性は、伝送後の光波形に影響を与え（図１，図２）、伝送可能距離にも影響を与える（図３）。また、光受信器のスライスレベルは、その光受信器の受信感度に影響を与える（図４）。さらに、光送信器のチャープ特性は、個々の光送信器により異なる。そこで、従来の光送信器評価方法では、伝送後の光波形におけるクロスポイントに応じて、光受信器のスライスレベルを適切に設定して、そのときに光受信器により測定された最小受信感度およびパワーペナルティでもって光送信器の性能を評価する。
【００１８】
しかし、実際の光通信システムで既に設置されている（または設置が予定される）光受信器はスライスレベルが固定されている。すなわち、光送信器を評価する際に用いる光受信器のスライスレベルと、実際の光システムで用いられる光受信器のスライスレベルとは、互いに異なる場合がある。したがって、評価時には要求仕様を満たす性能を有すると判定された光送信器であっても、実際の光通信システムでは、その評価どおりの性能を発揮し得ない場合がある。
【００１９】
このように、従来の光送信器評価方法では、光送信器の性能を正当に評価することができない。その理由は、評価の際に用いられる光受信器の性能やスライスレベルにより光送信器の性能評価の結果が異なることに因るものと考えられる。本発明は、以上のような本願発明者による考察に基づいて為されたものである。
【００２０】
以下に本発明の実施の形態を詳細に説明する。図５は、本実施形態に係る光送信器評価システム１の構成図である。この図に示される光送信器評価システム１は、光送信器２の性能を評価するものであって、パルスパターン発生装置１１、光減衰器１２、光ファイバ１３、光増幅器１４、光カプラ１５、バンドパスフィルタ１６、光減衰器１７、光波形解析装置１８および光スペクトル解析装置１９を備えている。
【００２１】
パルスパターン発生装置１１は、強度変調された電気信号（パルスパターン）を発生し、そのパルスパターンを光送信器２へ出力する。このパルスパターンのビットレートＢが可変であるのが好適である。
【００２２】
評価対象である光送信器２は、パルスパターン発生装置１１より出力されたパルスパターンを入力して、このパルスパターンに応じたビットレートＢの強度変調光（波長λ）を出力する。この光送信器２は、例えば、レーザダイオードおよび外部変調器を含むものであり、また、外部変調器として電界吸収型変調器を含む。
【００２３】
光減衰器１２は、光送信器２より出力された光を入力し、その光に所定の減衰を与えて該光を出力する。光伝送路である光ファイバ１３は、所定の累積波長分散Ｄを有しており、光減衰器１２より出力された光を一方の入射端に入力し、その光を導波させて、他方の出射端より光を出力する。光増幅器１４は、光ファイバ１３の出射端より出力された光を入力し、その光を光増幅して該光を出力する。
【００２４】
光カプラ１５は、光増幅器１５より出力された光を入力して、その光の一部パワーを分岐して光スペクトル解析装置１９へ出力し、残部パワーをバンドパスフィルタ１６へ出力する。バンドパスフィルタ１６は、光カプラ１５より到達した光を入力し、そのうち波長λ（光送信器２の出力波長）の光を選択的に透過させて出力し、他の波長の光（例えば光増幅器１４で生じた自然放出光）を除去する。
【００２５】
光減衰器１７は、バンドパスフィルタ１６より出力された光を入力し、その光に所定の減衰を与えて該光を出力する。光波形解析装置１８は、光減衰器１７より出力された光を入力し、その光の波形を測定し解析する。また、光スペクトル解析装置１９は、光カプラ１５より到達した光を入力し、その光のスペクトルを測定する。
【００２６】
この光送信器評価システム１の概略動作は以下のとおりである。パルスパターン発生装置１１より出力されたパルスパターンが光送信器２に入力して、これに応じて光送信器２よりビットレートＢの強度変調光（波長λ）が出力される。光送信器２より出力された光は、光減衰器１２により減衰が与えられ、累積波長分散Ｄを有する光ファイバ１３により伝送され、光増幅器１４により光増幅されて、光カプラ１５に到達する。光カプラ１５に到達した光は、分岐されて、一部が光スペクトル解析装置１９へ出力され、残部がバンドパスフィルタ１６へ出力される。
【００２７】
光カプラ１５より光スペクトル解析装置１９へ出力された光は、光スペクトル解析装置１９によりスペクトルが測定される。光カプラ１５よりバンドパスフィルタ１６へ出力された光のうち波長λの光は、バンドパスフィルタ１６を透過し、光減衰器１７により減衰が与えられ、光波形解析装置１８に入力して、この光波形解析装置１８により波形が測定され解析される。
【００２８】
このような光送信器評価システム１において、光減衰器１２における光減衰量は、光スペクトル解析装置１９により測定される光ＳＮ比が所定値となるように設定される。光減衰器１７における光減衰量は、光波形解析装置１８に入力する光の強度が所定値となるように設定される。
【００２９】
本実施形態に係る光送信器評価方法では、光送信器２の性能は以下のようにして評価される。先ず、光送信器２の光出射端に光ファイバ１３の入射端が結合された光送信器評価システム１（図５）が用意される。また、パルスパターン発生装置１１より出力されるパルスパターンが適切に設定され、また、光ファイバ１３の累積波長分散が適切に設定されることにより、光送信器２より強度変調されて出力される光のビットレートをＢ（Ｇｂ／ｓ）とし、光ファイバ１３の累積波長分散をＤ（ｐｓ／ｎｍ）としたときに、Ｂ・Ｄ１／２  の値が４００とされる。例えば、強度変調光のビットレートＢが１０Ｇｂ／ｓとされ、波長分散が２０ｐｓ／ｎｍ／ｋｍで長さ８０ｋｍの光ファイバ１３が用いられて、光ファイバ１３の累積波長分散Ｄが１６００ｐｓ／ｎｍとされる。
【００３０】
そして、光送信器２より出力された光は、光減衰器１２を経て、光ファイバ１３の入射端に入射される。光ファイバ１３により伝送された光は、その光ファイバ１３の出射端より出射され、光減衰器１４，光カプラ１５，バンドパスフィルタ１６および光減衰器１７を経て光波形解析装置１８に入力する。光波形解析装置１８に入力した光は、この光波形解析装置１８により波形が観察・測定され解析される。
【００３１】
図６は、本実施形態に係る光送信器評価方法における光波形観察面を示す図である。この図に示された光波形観察面は、光波形解析装置１８により観察・測定された光波形（アイパターン）を表示した面である。本実施形態に係る光送信器評価方法では、この光波形観察面において規格化された座標系を想定する。すなわち、時間軸（横軸）については、ビットレートＢに応じたユニットインタバルを０〜１で規格化する。また、強度軸（縦軸）については、強度変調に応じたローレベルを０とし、ハイレベルを１として規格化する。さらに、このように規格化された座標系の下に、光波形観察面上にパルスマスクＭを想定する。
【００３２】
図７は、本実施形態に係る光送信器評価方法における光波形観察面上のパルスマスクＭを説明する図である。同図（ａ）に示されるように、光波形観察面において、パルスマスクＭは、点Ｐ１１（Ｘ１，Ｙ１）、点Ｐ２１（Ｘ２，Ｙ２）、点Ｐ３１（Ｘ３，Ｙ３）、点Ｐ３２（１−Ｘ３，Ｙ３）、点Ｐ２２（１−Ｘ２，Ｙ２）および点Ｐ１２（１−Ｘ１，Ｙ１）を順に頂点とする多角形からなる。ここで、パラメータＸ１〜Ｘ３，Ｙ１〜Ｙ３それぞれは、
０．２５≦Ｘ１≦０．５  、
０．１５≦Ｘ２≦０．２５  、
０．２５≦Ｘ３≦０．５  、
０．１≦Ｙ１≦０．３  、
０．３５≦Ｙ２≦０．５  、
０．７≦Ｙ３≦０．９
なる数値範囲内にある。
【００３３】
ただし、Ｘ１が０．５であるときには、点Ｐ１１と点Ｐ１２とは共通の点Ｐ１となる。また、Ｘ３が０．５であるときには、点Ｐ３１と点Ｐ３２とは共通の点Ｐ３となる。このパルスマスクＭの具体的な一例は、同図（ｂ）に示されるように、点Ｐ１（０．５，０．１５）、点Ｐ２１（０．２，０．４）、点Ｐ３（０．５，０．８）および点Ｐ２２（０．８，０．４）を順に頂点とする４角形からなる。
【００３４】
そして、本実施形態に係る光送信器評価方法では、光波形解析装置１８の光波形観察面において、観察した光の波形の一部がパルスマスクＭ内部を通過するか否かを判定して、その判定結果に基づいて光送信器２の性能を評価する。すなわち、光波形がパルスマスクＭ内部を通過することが無ければ、評価対象である光送信器２の性能は要求仕様を満たしていると判定される。一方、光波形の一部がパルスマスクＭ内部を通過する場合には、光送信器２の性能は要求仕様を満たさないと判定される。
【００３５】
なお、パルスマスクＭの形状は要求仕様に応じて適切に設定されるのが好適である。例えば、図７（ａ）または（ｂ）に示されたパルスマスクＭの形状を基準とし、基準点（０．５，Ｙ２）を中心としてパルスマスクを相似形に拡大または縮小して、光波形が内部を通過することが無い最大パルスマスクの大きさでもって、光送信器２の性能を評価してもよい。
【００３６】
以上のように、本実施形態に係る光送信器評価方法では、光送信器２より出力される強度変調光のビットレートＢと、その光が伝送される光伝送路である光ファイバ１３の累積波長分散Ｄとが、所定の関係を満たすように設定された上で、その光ファイバ１３により伝送された後の光波形とパルスマスクＭとの間の位置関係に基づいて、光送信器２の性能が評価される。このように、光送信器２の性能を評価するに際して、個体差が大きい光受信器を用いることは無い。したがって、本実施形態に係る光送信器評価方法または光送信器評価システム１によれば、より正当に光送信器２を評価することができる。
【００３７】
【発明の効果】
以上、詳細に説明したとおり、本発明によれば、光送信器を評価するに際して光伝送路が用意され、光送信器より出力される強度変調光のビットレートＢと、その光が伝送される光伝送路の累積波長分散Ｄとが、所定の関係を満たすように設定された上で、その光伝送路により伝送された後の光波形と所定形状のパルスマスクとの間の位置関係に基づいて、光送信器の性能が評価される。このように、光送信器の性能を評価するに際して、個体差が大きい光受信器を用いることは無い。したがって、本発明に係る光送信器評価方法または光送信器評価システムによれば、より正当に光送信器を評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】光送信器より出力された直後の強度変調光の波形、および、光送信器より出力されて光伝送路により伝送された後の強度変調光の波形を示す図である。
【図２】光送信器より出力されて光伝送路により伝送された後の強度変調光の波形を示す図である。
【図３】光送信器のαｔパラメータ値と伝送可能なＢ・Ｌ１／２との関係を示すグラフである。
【図４】光受信器のスライスレベルとビットエラーレートとの関係を示すグラフである。
【図５】本実施形態に係る光送信器評価システム１の構成図である。
【図６】本実施形態に係る光送信器評価方法における光波形観察面を示す図である。
【図７】本実施形態に係る光送信器評価方法における光波形観察面上のパルスマスクＭを説明する図である。
【符号の説明】
１…光送信器評価システム、２…光送信器、１１…パルスパターン発生装置、１２…光減衰器、１３…光ファイバ、１４…光増幅器、１５…光カプラ、１６…バンドパスフィルタ、１７…光減衰器、１８…光波形解析装置、１９…光スペクトル解析装置、Ｍ…パルスマスク。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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