(57)【要約】【課題】撮像デバイスの欠陥画素を、受光素子数の割に少ない情報を用いて効率良く補正できるデジタルカメラを提供する。【解決手段】デジタルカメラ１００は、複数の画素からなる撮像領域を有し、且つ受光感度および受光信号飽和レベルが相違する２種類の受光素子を各画素ごとに有する撮像デバイス１２０を備えている。ＥＥＰＲＯＭ２３０には、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする補正テーブルが格納されている。デジタル信号処理部１５０は、撮像信号を処理する際、補正テーブルに基づいて欠陥画素の出力信号を補正する。１つの補正テーブルに基づいて欠陥画素の出力信号を補正できるので、撮像デバイス１２０の受光素子数の割に少ない情報を用いて効率良く補正を行うことができ、ＥＥＰＲＯＭ２３０の容量も小さく抑えられる。【選択図】      図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素からなる撮像領域を有し、且つ受光感度および受光信号飽和レベルが相違する２種類の受光素子を各画素ごとに有する撮像デバイスを備えたデジタルカメラであって、
少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする画素情報を記憶したメモリと、
前記画素情報に基づいて欠陥画素の出力信号を補正する補正処理回路と、
を備えたとを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項２】
複数の画素からなる撮像領域を有し、且つ受光感度および受光信号飽和レベルが相違する第１および第２の受光素子を各画素ごとに有する撮像デバイスの画素情報作成方法であって、
前記第１の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、
前記第２の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、
以上のステップで作成した複数の情報の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする画素情報を作成するステップと、
を有することを特徴とする画素情報作成方法。
【請求項３】
複数の画素からなる撮像領域を有し、且つ各画素が受光感度および受光信号飽和レベルの相違する第１および第２の受光素子を有する撮像デバイスの画素情報作成方法であって、
前記第１の受光素子の出力信号と前記第２の受光素子の出力信号とを画素ごとに同時に読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、
前記第１の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、
前記第２の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、
以上のステップで作成した複数の情報の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする画素情報を作成するステップと、
を有することを特徴とする画素情報作成方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、受光感度および受光信号飽和レベルが相違する２種類の受光素子を各画素ごとに有する撮像デバイスを備えたデジタルカメラ、およびこのデジタルカメラに搭載される撮像デバイスの画素情報作成方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）等を用いた撮像デバイスは、数十万〜数百万個といった多数の微少な受光素子を集積することによりその受光領域が形成されるため、欠陥受光素子すなわち欠陥画素が全く存在しないものを製造することは困難である。そのため、撮像デバイスの各画素の欠陥の有無（欠陥データ）を予め取得して、各画素が欠陥であるか否かを示すデータテーブルを作成し、そのデータテーブルを該当する撮像デバイスを搭載したデジタルカメラの不揮発性メモリに記録しておき、撮像信号の処理時に、デジタルカメラがその不揮発性メモリに記録されているデータテーブルを参照して、欠陥画素の信号を隣接する正常画素の信号に置換するなどの補正処理が実施される。（特許文献１参照）
【０００３】
【特許文献１】
特公平１−２９４７５号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、受光感度および受光信号飽和レベルが相違する２種類の受光素子を各画素ごとに有する広ダイナミックレンジ撮像デバイスは、受光素子数が必然的に多くなる。この場合、低輝度を担当する受光素子の蓄積電荷（標準信号）、高輝度を担当する受光素子の蓄積電荷（高輝度信号）、および標準信号と高輝度信号の混合出力のそれぞれに対して作成したデータテーブルを不揮発性メモリに記録したのでは、記録容量の大きな不揮発性メモリが必要となるし、補正処理も複雑化する。
【０００５】
本発明は、このような従来技術の問題点に鑑み創案されたものであり、その目的は、受光感度および受光信号飽和レベルの相違する２種類の受光素子を各画素ごとに有するタイプの撮像デバイスを、受光素子数の割に少ない情報を用いて効率良く補正する機能を備えたデジタルカメラ、およびこのデジタルカメラで使用する画像情報の作成方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明のデジタルカメラは、複数の画素からなる撮像領域を有し、且つ受光感度および受光信号飽和レベルが相違する２種類の受光素子を各画素ごとに有する撮像デバイスを備えたデジタルカメラであって、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする画素情報を記憶したメモリと、前記画素情報に基づいて欠陥画素の出力信号を補正する補正処理回路とを備えたものである。
【０００７】
このデジタルカメラは、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする画素情報に基づいて欠陥画素の出力信号を補正するので、受光素子数の割に少ない情報を用いて効率良く補正することができる。
【０００８】
また、本発明の画素情報作成方法は、複数の画素からなる撮像領域を有し、且つ受光感度および受光信号飽和レベルが相違する第１および第２の受光素子を各画素ごとに有する撮像デバイスの画素情報作成方法であって、前記第１の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、前記第２の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、以上のステップで作成した情報の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする画素情報を作成するステップと、を有する。
【０００９】
この方法によれば、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする画素情報を正確に作成することができる。
【００１０】
また、別の本発明の画素情報作成方法は、複数の画素からなる撮像領域を有し、且つ各画素が受光感度および受光信号飽和レベルの相違する第１および第２の受光素子を有する撮像デバイスの画素情報作成方法であって、前記第１の受光素子の出力信号と前記第２の受光素子の出力信号とを画素ごとに同時に読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、前記第１の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、前記第２の受光素子の出力信号を画素ごとに読み出して、各画素が欠陥であるか否かを示す情報を作成するステップと、以上のステップで作成した複数の情報の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする画素情報を作成するステップと、を有する。
【００１１】
この方法によれば、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする画素情報を正確かつより短時間に作成することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明する。
【００１３】
ここで、本発明のデジタルカメラに搭載される撮像デバイスの原理および構成例について説明する。
【００１４】
撮像デバイスは光電変換できる光量に限界があり、受光量がある一定レベルに達すると、図１に示すように、出力信号（受光信号）が飽和してしまう。これは撮像デバイス一般に共通する現象である。
【００１５】
そこで、受光感度が相異なる２種類の受光素子（以下、相対的に高感度の受光素子を主画素、低感度の受光素子を副画素と記す。）を同一撮像デバイス内に混在させ、しかも副画素の飽和レベルをその感度の低下率以上にする。たとえば、主画素に対し、副画素の感度を１／１６、飽和レベルを１／４にする。すると、図２に示すように、主画素の４倍の光量まで光電変換が可能、すなわち撮像可能になる。ダイナミックレンジは４００％拡大したことになる。
【００１６】
図３は本発明のデジタルカメラに搭載される撮像デバイスの構成例を示している。撮像領域ＰＳには、複数の画素ＰＩＸが、各行において１列おきに配置されると共に、各列において１行おきに配置され、いわゆるハニカム構造を構成している。垂直電荷転送路６は、各列に近接して蛇行して配置されている。
【００１７】
撮像領域ＰＳの右側には、垂直転送電極ＥＬを駆動する垂直電荷転送駆動回路２が配置されている。また、撮像領域ＰＳの下方には、垂直電荷転送路６から電荷を受け、横方向（左方向）に転送する水平電荷転送路３が配置されている。水平電荷転送路３の左端には出力アンプ４が接続されている。
【００１８】
図４（ａ）は撮像領域の部分平面図であり、撮像領域ＰＳ内の相隣接する２つの画素ＰＩＸを示している。各画素ＰＩＸは、それぞれフォトダイオードからなる主画素２１と副画素２２とを有している。主画素２１は相対的に広い面積を有し、副画素２２は相対的に狭い面積を有している。画素ＰＩＸの左右両側には、垂直電荷転送路６が配置されている。
【００１９】
点線で示すように、４相駆動するためのポリシリコン電極１４、１５、１８、・・・、１９（ＥＬ）が垂直電荷転送路６の上方に配置される。たとえば、２層ポリシリコンで転送電極を形成する場合、転送電極１４、１８はたとえば第１層ポロシリコン層で形成され、転送電極１５、１９は第２層ポロシリコン層で形成される。転送電極１４は、副画素２２から垂直電荷転送路６への電荷読み出しも制御する。転送電極１５は、主画素２１から垂直電荷転送路６への電荷読み出しも制御する。
【００２０】
図４（ｂ）、図４（ｃ）はそれぞれ図４（ａ）中のＩＢ線、ＩＣ線に沿った断面図である。図４（ｂ）に示すように、ｎ型半導体基板１６の表面に、ｐ型ウエル１７が形成されている。ｐ型ウエル１７の表面領域に、２つのｎ型領域が形成され、これらが主画素２１および副画素２２を構成している。ｐ＋型領域２７は、画素ＰＩＸ、垂直電荷転送路６などの電気的な分離を行うためのチャネルストップ領域である。
【００２１】
図４（ｃ）に示すように、主画素２１を構成するｎ型領域の近傍に、垂直電荷転送路６を構成するｎ型領域が配置されている。両者の間のｐ型ウエル１７が読み出しトランジスタを構成する。
【００２２】
ｎ型半導体基板１６の表面には、酸化シリコン膜などの絶縁層が形成され、その上にポリシリコンで形成された転送電極ＥＬが形成される。転送電極ＥＬは、垂直電荷転送路６の上方を覆うように配置されている。転送電極ＥＬの上に更に酸化シリコン等の絶縁層が形成され、その上に垂直電荷転送路６等の覆うようにして、上方に開口部を有する遮光膜１２がタングステン等により形成されている。遮光膜１２を覆うように、ホスホシリケートガラス等で形成された層間絶縁膜１３が形成され、その表面が平坦化されている。
【００２３】
層間絶縁膜１３の上には、カラーフィルタ層１０が形成されている。カラーフィルタ層１０は、たとえば赤色領域２５、緑色領域２６等３色以上の色領域を含む。カラーフィルタ層１０の上に、各画素ＰＩＸに対応してマイクロレンズ１１がレジスト材料などにより形成されている。
【００２４】
図４（ｂ）に示すように、マイクロレンズ１１は各画素ＰＩＸの上に１つずつ形成されており、その下方には２種類のカラーフィルタ２５、２６が配置されている。カラーフィルタ２５を透過した光は主画素２１に入射する。カラーフィルタ２６を透過した光は、主に副画素２２に入射する。マイクロレンズ１１は、上方より入射する光を、遮光膜１２の開口部に集光させる。
【００２５】
次に、本発明の画素情報作成方法について説明する。
【００２６】
図５は撮像デバイスの欠陥画素を補正するための画素情報の作成手順を示す流れ図である。
まず、遮光条件、すなわち撮像デバイスの撮像領域に光が入射しない条件に設定する（Ｓ１）。その状態で、主画素の出力信号（以下、標準信号と記す。）を画素ごとに読み出し（Ｓ２）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲１▼を作成する（Ｓ３）。続いて、副画素の出力信号（以下、高輝度信号と記す。）を画素ごとに読み出し（Ｓ４）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲２▼を作成する（Ｓ５）。
【００２７】
次に、撮像デバイスの撮像領域に標準白レベルの光を照射しつつ（Ｓ６）、標準信号を画素ごとに読み出し（Ｓ７）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲３▼を作成する（Ｓ８）。
【００２８】
次に、撮像デバイスの撮像領域に高輝度白レベルの光を照射しつつ（Ｓ９）、高輝度信号を画素ごとに読み出し（Ｓ１０）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲４▼を作成する（Ｓ１１）。
【００２９】
その後、データテーブル▲１▼〜▲４▼の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする補正テーブル（画素情報）を作成する（Ｓ１２）。
【００３０】
図６は画素情報の別の作成手順を示す流れ図である。
まず、遮光条件に設定する（Ｓ２１）。その状態で、標準信号と高輝度信号とを画素ごとに混合して読み出し（Ｓ２２）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲１▼を作成する（Ｓ２３）。
【００３１】
次に、撮像デバイスの撮像領域に標準白レベルの光を照射しつつ（Ｓ２４）、標準信号を画素ごとに読み出し（Ｓ２５）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲２▼を作成する（Ｓ２６）。
【００３２】
次に、撮像デバイスの撮像領域に高輝度白レベルの光を照射しつつ（Ｓ２７）、高輝度信号を画素ごとに読み出し（Ｓ２８）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲３▼を作成する（Ｓ２９）。
【００３３】
その後、データテーブル▲１▼〜▲３▼の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする補正テーブル（画素情報）を作成する（Ｓ３０）。
【００３４】
図６の手順によれば、結晶欠陥に起因する遮光時の信号に関しては、標準信号と高輝度信号を同時に読み出しているので、図５の場合よりも短時間で欠陥データの取得を行って補正テーブルを作成することができる。
【００３５】
図７は画素情報の更に別の作成手順を示す流れ図である。
まず、遮光条件に設定する（Ｓ３１）。その状態で、標準信号と高輝度信号とを画素ごとに混合して読み出し（Ｓ３２）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲１▼を作成する（Ｓ３３）。
【００３６】
次に、撮像デバイスの撮像領域に標準白レベルの光を照射しつつ（Ｓ３４）、標準信号を画素ごとに読み出し（Ｓ３５）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲２▼を作成する（Ｓ３６）。続いて、高輝度信号を画素ごとに読み出し（Ｓ３７）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲３▼を作成する（Ｓ３８）。
【００３７】
その後、データテーブル▲１▼〜▲３▼の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする補正テーブル（画素情報）を作成する（Ｓ３９）。
【００３８】
図８は画素情報の別の更に別の手順を示す流れ図である。
まず、遮光条件に設定する（Ｓ４１）。その状態で、標準信号と高輝度信号とを画素ごとに混合して読み出し（Ｓ４２）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズテーブル▲１▼を作成する（Ｓ４３）。
【００３９】
次に、撮像デバイスの撮像領域に標準白レベルの光を照射しつつ（Ｓ４４）、標準信号と高輝度信号とを画素ごとに混合して読み出し（Ｓ４５）、予め測定したキズレベルと比較することにより、各画素が欠陥であるか否かを示すキズデータテーブル▲２▼を作成する（Ｓ４６）。
【００４０】
その後、キズデータテーブル▲１▼と▲２▼の論理和を演算し、その結果が１になった画素を欠陥画素とする補正テーブル（画素情報）を作成する（Ｓ４７）。
【００４１】
図７、図８の手順によれば、図６の場合よりも更に短時間で欠陥データの取得し、補正テーブルを作成することができる。
【００４２】
図９は本発明にかかるデジタルカメラの構成例を示すブロック図である。デジタルカメラ１００は、光学系１１０、撮像デバイス１２０、アナログ信号処理部１３０、Ａ／Ｄ変換部１４０、デジタル信号処理部１５０、バッファメモリ１６０、圧縮・伸長処理部１７０、ＹＣ→ＲＧＢ変換部１８０、メディアドライバ１９０、ＬＣＤドライバ２００、モニタ用ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）２１０、操作部２２０、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ  ）２３０、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ  ）２４０、等を備えて構成される。
【００４３】
光学系１１０は、レンズ１１１、絞り１１２、およびシャッタ１１３などで構成され、被写体像を撮像デバイス１２０の撮像領域ＰＳに結像させる。シャッタ１１３は、撮像デバイス１２０からの信号読み出し時に撮像領域ＰＳに光が入射してスミアが発生するのを防止するために設けられているが、撮像デバイス１２０の構成によっては必ずしも必要なものではない。
【００４４】
撮像デバイス１２０は、図３に示した広ダイナミックレンジ撮像デバイスであり、その撮像領域ＰＳに入射した光の光量に応じた画像信号をアナログ信号処理部１３０へ出力する。
【００４５】
アナログ信号処理部１３０は、入力された画像信号にノイズ低減処理、白バランス処理、γ処理などの所定のアナログ信号処理を施し、処理後の信号をＡ／Ｄ変換部１４０へ出力する。Ａ／Ｄ変換部１４０は、入力されたアナログ信号をデジタル画像信号に変換してデジタル信号処理部１５０へ出力する。
【００４６】
デジタル信号処理部１５０は、Ａ／Ｄ変換部１４０からの出力信号にフィルタ処理、欠陥画素補正処理などの所定のデジタル処理を施す。
【００４７】
デジタル信号処理部１５０からの出力信号は、バッファメモリ１６０を介してＹＣ→ＲＧＢ変換部１８０、圧縮・伸長処理部１７０、ＬＣＤドライバ２００などに送られる。圧縮・伸長処理部１７０は、バッファメモリ１６０に蓄積された画像データをＪＰＥＧ方式などの所定の圧縮方式で圧縮して可搬記録メディア１９１に記録したり、可搬記録メディア１９１から読み出された画像データを伸長したりする。ＹＣ→ＲＧＢ変換部１８０は、圧縮・伸長処理部１７０に送られる未圧縮の画像データを輝度データＹと色差データＣｒ，Ｃｂとに変換する。ＹＣ→ＲＧＢ変換部１８０は、可搬記録媒体１９１に記録された画像データ（撮影画像）をモニタ用ＬＣＤ２１０に表示する際に、ＹＣ分離信号を輝度信号、色差信号をＲＧＢ信号に変換する。このＲＧＢ信号に基づいてＬＣＤドライバ２００がモニタ用ＬＣＤ２１０を駆動することにより、モニタ用ＬＣＤ２１０にカラー画像が表示される。
【００４８】
可搬記録メディア１９１には、フラッシュメモリを搭載した小型メモリーカード等が用いられる。可搬記録メディア１９１への画像データの書き込み・読み出しは、メディアドライバ１９０を介して行われる。
【００４９】
操作部２２０には、レリーズボタンを含む各種操作子が設けられている。レリーズボタンは、デジタルカメラ１００に撮影開始を指示するための操作子であり、これを途中まで押すと、光学系１１０のフォーカス制御や絞り制御が行われ、完全に押した時点で撮影すなわち、撮像デバイス１２０、アナログ信号処理部１３０およびＡ／Ｄ変換部１４０による撮像信号の取り込みが行われる。その際、光学系１１０は測光・測距ＣＰＵ（図示省略）によって制御され、撮像デバイス１２０、アナログ信号処理部１３０およびＡ／Ｄ変換部１４０は撮像系制御回路（図示省略）によって制御される。
【００５０】
ＥＥＰＲＯＭ２３０には、このデジタルカメラ１００の各種機能を実現するためのプログラムとデータが格納されている。ＥＥＰＲＯＭ２３０に格納されているデータには、図５〜図８の何れかの手順で作成された、撮像デバイス１２０用の補正テーブルが含まれる。ＣＰＵ２４０は、ＥＥＰＲＯＭ２３０に格納されているプログラムを実行することにより、このデジタルカメラ１００を統括制御する。
【００５１】
このデジタルカメラ１００は、撮像信号の処理時に、デジタル信号処理部１５０がＥＥＰＲＯＭ２３０に格納されている補正テーブルを参照して、撮像デバイス１２０の欠陥画素の信号を隣接する正常画素の信号に置換するなどの欠陥画素補正処理を実施する。これにより、キズのある撮像デバイス１２０でも使用することが可能となる。
【００５２】
その際、１つの補正テーブルに基づいて欠陥画素の出力信号を補正することができるので、撮像デバイス１２０の受光素子数の割に少ない情報を用いて効率良く補正を行うことができる。また、補正テーブルを記録しておくためのＥＥＰＲＯＭ２３０の容量も小さく抑えることができる。
【００５３】
なお、上記の実施の形態では、広ダイナミックレンジ撮像デバイスの例として、ＣＣＤを用いたハニカム構造の撮像デバイスについて説明したが、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）型の撮像デバイスや、マトリクス構造の撮像デバイスの場合にも本発明は有効である。
【００５４】
なお、図５〜図８における、標準信号、高輝度信号などの読み出し順序は適宜変更可能である。また、遮光、標準白レベル光照射、高輝度白レベル光照射といった条件の設定順序も適宜変更可能である。
【００５５】
また、上記の例では、欠陥画素補正処理をデジタル信号処理部１５０が行うこととしたが、この処理をＣＰＵ２４０が行ってもよいことは無論である。
【００５６】
また、画素情報は必ずしもテーブルとして持つ必要はない。すなわち、画素情報のデータ構造は、配列構造でもリスト構造でも、その他のデータ構造であってもよい。
【００５７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のデジタルカメラは、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする画素情報に基づいて欠陥画素の出力信号を補正するので、受光素子数の割に少ない情報を用いて効率良く補正することができる。
【００５８】
また、本発明の補正テーブル作成方法によれば、少なくとも一方の受光素子に欠陥がある画素を欠陥画素とする補正テーブルを正確に作成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一般的な撮像デバイスにおける入射光量と出力信号量との関係（感度曲線）を示す図である。
【図２】主画素と副画素とを各画素ごとに有する撮像デバイスの原理説明図である。
【図３】本発明の欠陥補正方法が適用される撮像デバイスの構成例を示す概念図である。
【図４】（ａ）は撮像領域の部分平面図である。（ｂ）は（ａ）中のＩＢ線に沿った断面図である。（ｃ）は（ａ）中のＩＣ線に沿った断面図である。
【図５】本発明の方法による画素情報の作成手順を示す流れ図である。
【図６】本発明の方法による画素情報の別の作成手順を示す流れ図である。
【図７】本発明の方法による画素情報の更に別の作成手順を示す流れ図である。
【図８】本発明の方法による画素情報の更に別の作成手順を示す流れ図である。
【図９】本発明にかかるデジタルカメラの構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
ＰＩＸ：画素
ＰＳ：撮像領域
２：垂直電荷転送駆動回路
３：水平電荷転送路
４：出力アンプ
６：垂直電荷転送路
２１：主画素（受光素子）
２２：副画素（受光素子）
１００：デジタルカメラ
１１０：光学系
１２０：撮像デバイス
１５０：デジタル信号処理部（補正処理回路）
２３０：ＥＥＰＲＯＭ（メモリ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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