(57)【要約】【課題】ウェブに代表される空間中に存在する対象物の物性値分布をより精密に測定する手段を得る事、及びその測定値を元に該空間に於ける物性値の分布をより均一に制御する手段を得る事。【解決手段】空間を複数の領域に区分し同型のセンサ−（１）群で分担して該空間に存在する対象物（３）の物性値を測定する手段、及び該同型センサ−（１）群の感度を周期的に較正する手段（２）を有する同時多点測定装置、及び該測定装置の測定結果に基づき制御する区分制御装置（３８）からなる同時多点制御装置。【選択図】　図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
空間を複数の領域に区分し、同型センサ−（１）群で各領域を分担して該空間に存在する対象物の物性値を測定する手段、及び該同型センサ−（１）群の感度を周期的に較正する手段（２）を有する同時多点測定装置。
【請求項２】
該空間が走行するウェブ（３）の幅方向である請求項１記載の同時多点測定装置。
【請求項３】
該較正手段（２）が該空間内を移動し、該同型センサ−（１）群の夫々の近傍を通過する際に、該同型センサ−（１）群の夫々順次を較正する仕組みを有する請求項１記載の同時多点測定装置。
【請求項４】
該同時多点測定装置に於いて、該較正手段（２）の移動範囲が走行するウェブ（３）の幅方向であり、該同型センサ−（１）群が同じく走行するウェブ（３）の幅方向に配置されている請求項３記載の同時多点測定装置。
【請求項５】
該較正手段（２）が該同型センサ−（１）に入射する放射線又は波の低レベル側と高レベル側の少なくとも２点で行う手段を有する請求項１、２、３又は４記載の同時多点測定装置。
【請求項６】
該低レベル側の較正手段（１４）が該放射線又は波の遮断手段（８）である請求項５記載の同時多点測定装置。
【請求項７】
該低レベル側の較正手段（１４）が低温に温度制御され黒体放射が低レベルで安定化した放射線遮断手段である請求項５記載の同時多点測定装置。
【請求項８】
該高レベル側の較正手段（１５）が線量既知の放射線源又は強度既知の波の発生器である請求項５、６又は７記載の同時多点測定装置。
【請求項９】
該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源がβ線発生源（７）であり、該同型センサ−（１）群の夫々がβ線検出器で、且つ、夫々が線量既知のβ線発生源（７）と対に成っている請求項８記載の同時多点測定装置。
【請求項１０】
該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が赤外線発生源（１０）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が赤外線水分計であり、夫々が赤外線発生源（１０）と対にな成っており且つ夫々の赤外線発生源（１０）を定期的に線量較正する手段（１１）を有する請求項８記載の同時多点測定装置。
【請求項１１】
該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が高温に温度制御された黒体放射源（２３）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が熱電対である請求項５又は８記載の同時多点測定装置。
【請求項１２】
該高レベル側の較正手段（１５）が分光反射率既知の標準白色板（９）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が色彩計である請求項５又は６記載の同時多点測定装置。
【請求項１３】
該色彩計が回折格子（２９）と複数の検知部（３２）を含み、各検知部（３２）に該当する波長の測定値より分光反射率又は分光透過率の近似曲線を求め、色相計算用の波長に相当するデ−タを出力する請求項１２記載の同時多点測定装置。
【請求項１４】
該色彩計が回折格子（２９）と高密度に配置された検知部（３２）を含み、色相計算用の周波数に相当する検知部のデ−タを選択的に出力する請求項１２記載の同時多点測定装置。
【請求項１５】
該高レベル側の較正手段（１５）が該同型センサ−群と測定対象が共通である基準センサ−（１６）である請求項５、６又は７記載の同時多点測定装置。
【請求項１６】
該基準センサ−（１６）が空間を移動する際、特定の領域で物性値既知の標準検体（６）を測定し、基準センサ−（１６）自体の較正を行う請求項１５記載の同時多点測定装置。
【請求項１７】
該基準センサ−（１６）がウェブの幅方向を往復し、ウェブの外側に進出する際に物性値既知の標準検体（６）を測定することにより、基準センサ−（１６）自体を定期的に較正する請求項１５記載の同時多点測定装置。
【請求項１８】
該同型センサ−（１）群の夫々は定められた回数の直近較正デ−タより演算された回帰直線又は回帰曲線に従い測定結果を出力する請求項１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６又は１７記載の同時多点測定装置。
【請求項１９】
該センサ−（１）群の夫々のセンサ−（１）を１つ置きに２つのグル−プに分け、互いに反対方向の往復運動をするようにし、基準センサ−（１６）を持つ較正手段（２）を次々と受け渡しながら、較正手段（２）が何れかのセンサ−（１）と同調運動しながら該センサ−（１）を較正し、且つ較正中のセンサ−（１）に代わって基準センサ−（１６）が物性値を測定する請求項２、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７又は１８記載の同時多点測定装置。
【請求項２０】
測定対象である該物性値が色相である請求項１、２、３、４、５、６、８、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８又は１９記載の同時多点測定装置。
【請求項２１】
測定対象である該物性値が温度である請求項１、２、３、４、５、７、８、１１、１５、１６、１７、１８又は１９記載の同時多点測定装置。
【請求項２２】
測定対象である該物性値が坪量である請求項１、２、３、４、５、６、８、９、１５、１６、１７、１８又は１９記載の同時多点測定装置。
【請求項２３】
測定対象である該物性値が水分含有率である請求項１、２、３、４、５、６、８、１０、１５、１６又は１９記載の同時多点測定装置。
【請求項２４】
空間を複数の領域に区分し、同型のセンサ−（１）群で各領域を分担し該空間に存在する対象物の物性値を測定する手段、該同型センサ−（１）群の感度を周期的に較正する手段（２）からなる同時多点測定装置の測定結果と目標物性値を比較し、各領域毎に目標物性値に近づける区分制御手段（３７）からなる同時多点制御装置。
【請求項２５】
該空間が走行するウェブ（３）の幅方向である請求項２４記載の同時多点制御装置。
【請求項２６】
該較正手段（２）が該空間内を移動し、該同型センサ−（１）群の夫々の近傍を通過する際に、該同型センサ−（１）群の夫々を較正する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項２４記載の同時多点制御装置。
【請求項２７】
該較正手段（２）が該同型センサ−（１）に入射する放射線又は波の低レベル側と高レベル側の少なくとも２点で行う手段を有する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項２４、２５又は２６記載の同時多点制御装置。
【請求項２８】
該低レベル側の較正手段（１４）が放射線又は波の遮断手段（８）である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御される請求項２７記載の同時多点制御装置。
【請求項２９】
該低レベル側の較正手段（１４）が低温に温度制御され黒体放射が低レベルで安定化した放射線遮断手段である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項２７記載の同時多点制御装置。
【請求項３０】
該高レベル側の較正手段（１５）が線量既知の放射線源又は強度既知の波の発生器である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項２７、２８又は２９記載の同時多点制御装置。
【請求項３１】
該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源がβ線発生源（７）であり、該同型センサ−（１）群の夫々がβ線検出器で且つ夫々がβ線発生源（７）と対に成っている同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項３０記載の同時多点制御装置。
【請求項３２】
該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が赤外線発生源（１０）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が赤外線水分計であり、夫々が赤外線発生源（１０）と対に成っており且つ夫々の赤外線発生源（１０）を定期的に較正する手段を有する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項３０記載の同時多点制御装置。
【請求項３３】
該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が高温に温度制御された黒体放射源（２３）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が熱電対である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項３０記載の同時多点制御装置。
【請求項３４】
該高レベル側の較正手段（１５）が分光反射率既知の標準白色板（９）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が色彩計である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項２７、２８又は２９記載の同時多点制御装置。
【請求項３５】
該高レベル側の較正手段（１５）が該同型センサ−（１）群と測定対象が共通の基準センサ−（１６）である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項２７、２８又は２９記載の同時多点制御装置。
【請求項３６】
該基準センサ−（１６）が空間を移動する際、特定の領域で物性値既知の標準検体（６）を測定し、基準センサ−（１６）自体の較正を行う同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項３５記載の同時多点制御装置。
【請求項３７】
該基準センサ−（１６）がウェブ（３）の幅方向を往復し、ウェブ（３）の外側に進出する際に物性値既知の標準検体（６）を測定することにより、基準センサ−（１６）自体を定期的に較正する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項３５記載の同時多点制御装置。
【請求項３８】
該同型センサ−（１）群の夫々は定められた回数の直近校正デ−タより演算された回帰直線又は回帰曲線に従い測定結果を出力するよう調整されている同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する請求項２４、２５、２６、２７、２８、２９、３０、３１、３２、３３、３４、３５、３６、又は３７記載の同時多点制御装置。
【請求項３９】
該同時多点測定装置の該区分された測定領域の数と該多点制御装置の該区分された制御領域の数が同数で夫々対応している請求項２４、２５、２６、２７、２８、２９、３０、３１、３２、３３、３４、３５、３６、３７、又は３８記載の同時多点制御装置。
【請求項４０】
該センサ−（１）が坪量計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、フィルム押出機の幅方向区分ダイリップ開度調整機である制御手段を制御する請求項２４、２５、２６、２７、２８、３０、３１、３５、３６、３７、３８又は３９記載の同時多点制御装置。
【請求項４１】
該センサ−（１）が坪量計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、抄紙機のスライスリップ開度幅方向プロファイル調整機である制御手段を制御する請求項２４、２５、２６、２７、２８、３０、３１、３５、３６、３７、３８又は３９記載の同時多点制御装置。
【請求項４２】
該センサ−が坪量計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、抄紙機の紙料濃度の幅方向プロファイル調整機である制御手段を制御する請求項２４、２５、２６、２７、２８、３０、３１、３５、３６、３７、３８又は３９記載の同時多点制御装置。
【請求項４３】
該センサ−が温度計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、ドライヤ−の流れ方向、幅方向のマトリックス毎の乾燥用空気（５０）の流量調整手段（５２）を制御する請求項２４、２５、２６、２７、２９、３０、３３、３５、３６、３７、３８または３９記載の同時多点制御装置。
【請求項４４】
塗液耳部相当部分に付加的に赤外線、マイクロ波のような放射線による局部加熱手段を設けた請求項４３記載の同時多点制御装置。
【請求項４５】
該センサ−が水分計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、幅方向に区分調整出来る乾燥機及び／又は幅方向に区分調整出来る加湿機である該制御手段を制御する請求項２４、２５、２６、２７、２８、３０、３２、３５、３８又は３９記載の同時多点制御装置。
【請求項４６】
該幅方向に区分調整出来る加湿機が、荷電微細水滴流れを電界制御するものである請求項４５記載の同時多点制御装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は空間の各部分に存在する対象物の物性値を連続的に測定する装置に関し、特に紙、フィルム等の製造に関わる品質制御のための測定装置に関する。
また、本発明は空間の各部分に存在する対象物の物性値を連続的に制御する装置に関し、特に紙、フィルム等の製造に関わる品質の制御装置に関する。
別の観点からは本発明は画像材料用支持体の品質測定装置及び品質制御装置に関している。
【０００２】
【従来の技術】
従来、紙等のウェブの製造に際しては、例えばβ線坪量計等のようなセンサ−を走行するウェブの幅方向に走査し、得られた結果を制御手段にフィ−ドバックするという事は古くから行われていた。例えば、特許第３１７８４９８号には抄紙機に於いて坪量値、水分値から絶乾坪量を求め種口開度の制御にフィ−ドバックし、更に厚み値の偏差を最小にする補正を行う事が述べられている。
【０００３】
特開平１０−２３７７８１号には種口のボトムスライス、トップスライスの少なくとも一方に温水チャンバを幅方向に設け、ワイヤ−上の配向角検出器からの信号により温水温度を制御することにより抄紙機の配向性を制御することが述べられている。
【０００４】
近年ヘッドボックスの幅方向に低濃度スラリ−の注入混合機を並べ、幅方向の濃度プロファイルを制御することにより坪量を制御することが取り入れ始められている。
【０００５】
一方、特許第１３２３６２７号には成型中のフィルム等の厚さを幅方向で測定し、複数の所定箇所について予め設定した目標との差異から計算された結果によりダイリップ調整ボルトの操作量を決定する事が述べられている。
【０００６】
しかしながら、近年向上し続ける製造速度に比較してセンサ−の走査速度は遅く、同じ幅方向の位置のデ−タが流れ方向で数百ｍ以上離れてしまい、せっかく紙の抄造やフィルムの押し出し等の製造設備に於ける幅方向の区分制御手段が有るにも拘わらず、制御精度は粗いものに成らざるを得なかった。
また、巾方向の特定の位置で得られる値は、偶々センサ−が通過した時の値を次の機会まで保持し続けるしかなく、連続的に変化する物性値を精度良く追跡する事は出来なかった。
【０００７】
また、樹脂被覆紙の場合、紙のプロファイル、被覆樹脂層のプロファイルのくるいから平面性が保てずにデコボコしたり、弛みが生じたり、斜めにカ−ルしたりする欠点を完全には除去出来なかった。
【０００８】
フィルム製造を含めて、幅方向の区分制御手段が有るにも拘わらず、プロファイルデ−タのフィ−ドバックが遅いため、製造開始時、手替わり時に正しいプロファイルに合わせ込むまでに多大な時間を要し、時間と材料の無駄を強いられた。
【０００９】
紙の水分率については、迅速な応答が出来ないことに加え、幅方向の区分制御手段が不十分であった。その結果、残った水分率のバラツキは坪量のバラツキと併せて紙匹の変形につながったりした。また、印画紙用支持体に用いられる時は、写真乳剤のバインダーであるゼラチンの架橋剤は、多くの場合その反応速度に於いて含有水分率の影響を受けるため、架橋ムラに起因する障害をもたらした。
【００１０】
また、塗工設備に於いては中央部と周辺部の乾燥速度の違い、塗布層耳部の塗液過剰のための乾燥の遅れ等により、設備の生産能力を十分に引き出せないという問題が有った。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の第一の課題は、紙匹等ウェブを代表とする空間に存在する対象物の特定の物性値を高密度に測定する手段を提供する事にある。
【００１２】
本発明の第二の課題は、高密度に測定した物性値に基づき物性値を高頻度に制御する手段を提供する事にある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明者が鋭意検討した結果、多数のセンサ−を統一的に運用し、あたかも一個のセンサ−が同時に多数の箇所で測定しているかのように使う事によって課題が解決出来ることが判明した。
【００１４】
即ち、本発明の課題は、空間を複数の領域に区分し、同型センサ−（１）群で各領域を分担して該空間に存在する対象物の物性値を測定する手段、及び該同型センサ−（１）群の感度を周期的に較正する手段（２）を有する同時多点測定装置によって達成される。
【００１５】
本発明の課題は、該空間が走行するウェブ（３）の幅方向である同時多点測定装置によって達成される。
【００１６】
本発明の課題は、該較正手段（２）が該空間内を移動し、該同型センサ−（１）群の夫々の近傍を通過する際に、該同型センサ−（１）群の夫々順次を較正する仕組みを有する同時多点測定装置によって達成される。
【００１７】
本発明の課題は、該同時多点測定装置に於いて、該較正手段（２）の移動範囲が走行するウェブ（３）の幅方向であり、該同型センサ−（１）群が同じく走行するウェブ（３）の幅方向に配置されている同時多点測定装置によって達成される。
【００１８】
本発明の課題は、該較正手段（２）が該同型センサ−（１）に入射する放射線又は波の低レベル側と高レベル側の少なくとも２点で行う手段を有する同時多点測定装置によって達成される。
【００１９】
本発明の課題は、該低レベル側の較正手段（１４）が該放射線又は波の遮断手段（８）である同時多点測定装置によって達成される。
【００２０】
本発明の課題は、該低レベル側の較正手段（１４）が低温に温度制御され黒体放射が低レベルで安定化した放射線遮断手段である同時多点測定装置によって達成される。
【００２１】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）が線量既知の放射線源又は強度既知の波の発生器である同時多点測定装置によって達成される。
【００２２】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源がβ線発生源（７）であり、該同型センサ−（１）群の夫々がβ線検出器で、且つ、夫々が線量既知のβ線発生源（７）と対に成っている同時多点測定装置によって達成される。
【００２３】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が赤外線発生源（１０）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が赤外線水分計であり、夫々が赤外線発生源（１０）と対にな成っており且つ夫々の赤外線発生源（１０）を定期的に線量較正する手段（１１）を有する同時多点測定装置によって達成される。
【００２４】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が高温に温度制御された黒体放射源（２３）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が熱電対である同時多点測定装置によって達成される。
【００２５】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）が分光反射率既知の標準白色板（９）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が色彩計である同時多点測定装置によって達成される。
【００２６】
本発明の課題は、該色彩計が回折格子（２９）と複数の検知部（３２）を含み、各検知部（３２）に該当する波長の測定値より分光反射率又は分光透過率の近似曲線を求め、色相計算用の波長に相当するデ−タを出力する同時多点測定装置によって達成される。
【００２７】
本発明の課題は、該色彩計が回折格子（２９）と高密度に配置された検知部（３２）を含み、色相計算用の周波数に相当する検知部のデ−タを選択的に出力する同時多点測定装置によって達成される。
【００２８】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）が該同型センサ−群と測定対象が共通である基準センサ−（１６）である同時多点測定装置によって達成される。
【００２９】
本発明の課題は、該基準センサ−（１６）が空間を移動する際、特定の領域で物性値既知の標準検体（６）を測定し、基準センサ−（１６）自体の較正を行う同時多点測定装置によって達成される。
【００３０】
該基準センサ−（１６）がウェブの幅方向を往復し、ウェブの外側に進出する際に物性値既知の標準検体（６）を測定することにより、基準センサ−（１６）自体を定期的に較正する同時多点測定装置によって達成される。
【００３１】
本発明の課題は、該同型センサ−（１）群の夫々は定められた回数の直近較正デ−タより演算された回帰直線又は回帰曲線に従い測定結果を出力する同時多点測定装置によって達成される。
【００３２】
本発明の課題は、該センサ−（１）群の夫々のセンサ−（１）を１つ置きに２つのグル−プに分け、互いに反対方向の往復運動をするようにし、基準センサ−（１６）を持つ較正手段（２）を次々と受け渡しながら、較正手段（２）が何れかのセンサ−（１）と同調運動しながら該センサ−（１）を較正し、且つ較正中のセンサ−（１）に代わって基準センサ−（１６）が物性値を測定する同時多点測定装置によって達成される。
【００３３】
本発明の課題は、測定対象である該物性値が色相である同時多点測定装置によって達成される。
【００３４】
本発明の課題は、測定対象である該物性値が温度である同時多点測定装置によって達成される。
【００３５】
本発明の課題は、測定対象である該物性値が坪量である同時多点測定装置によって達成される。
【００３６】
本発明の課題は、測定対象である該物性値が水分含有率である同時多点測定装置によって達成される。
【００３７】
本発明の課題は、空間を複数の領域に区分し、同型のセンサ−（１）群で各領域を分担し該空間に存在する対象物の物性値を測定する手段、該同型センサ−（１）群の感度を周期的に較正する手段（２）からなる同時多点測定装置の測定結果と目標物性値を比較し、各領域毎に目標物性値に近づける区分制御手段（３７）からなる同時多点制御装置によって達成される。
【００３８】
本発明の課題は、該空間が走行するウェブの幅方向である同時多点制御装置によって達成される。
【００３９】
本発明の課題は、該較正手段（２）が該空間内を移動し、該同型センサ−（１）群の夫々の近傍を通過する際に、該同型センサ−（１）群の夫々を較正する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４０】
本発明の課題は、該較正手段（２）が該同型センサ−（１）に入射する放射線又は波の低レベル側と高レベル側の少なくとも２点で行う手段を有する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４１】
本発明の課題は、該低レベル側の較正手段（１４）が放射線又は波の遮断手段（８）である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御される同時多点制御装置によって達成される。
【００４２】
本発明の課題は、該低レベル側の較正手段（１４）が低温に温度制御され黒体放射が低レベルで安定化した放射線遮断手段である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４３】
本発明の課題は該高レベル側の較正手段（１５）が線量既知の放射線源又は強度既知の波の発生器である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４４】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源がβ線発生源（７）であり、該同型センサ−（１）群の夫々がβ線検出器で且つ夫々がβ線発生源（７）と対に成っている同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４５】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が赤外線発生源（１０）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が赤外線水分計であり、夫々が赤外線発生源（１０）と対に成っており且つ夫々の赤外線発生源（１０）を定期的に較正する手段を有する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４６】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）たる放射線源が高温に温度制御された黒体放射源（２３）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が熱電対である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４７】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）が分光反射率既知の標準白色板（９）であり、該同型センサ−（１）群の夫々が色彩計である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４８】
本発明の課題は、該高レベル側の較正手段（１５）が該同型センサ−（１）群と測定対象が共通の基準センサ−（１６）である同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００４９】
本発明の課題は、該基準センサ−（１６）が空間を移動する際、特定の領域で物性値既知の標準検体（６）を測定し、基準センサ−（１６）自体の較正を行う同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５０】
本発明の課題は、該基準センサ−（１６）がウェブ（３）の幅方向を往復し、ｗｅｂ（３）の外側に進出する際に物性値既知の標準検体（６）を測定することにより、基準センサ−（１６）自体を定期的に較正する同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５１】
本発明の課題は、該同型センサ−（１）群の夫々は定められた回数の直近校正デ−タより演算された回帰直線又は回帰曲線に従い測定結果を出力するよう調整されている同時多点測定装置の測定結果に基づき制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５２】
本発明の課題は、該同時多点測定装置の該区分された測定領域の数と該多点制御装置の該区分された制御領域の数が同数で夫々対応している同時多点制御装置によって達成される。
【００５３】
本発明の課題は、該センサ−（１）が坪量計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、フィルム押出機の幅方向区分ダイリップ開度調整機である制御手段を制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５４】
本発明の課題は、該センサ−（１）が坪量計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、抄紙機のスライスリップ開度幅方向プロファイル調整機である制御手段を制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５５】
本発明の課題は、該センサ−が坪量計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、抄紙機の紙料濃度の幅方向プロファイル調整機である制御手段を制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５６】
本発明の課題は、該センサ−が温度計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、ドライヤ−の流れ方向、幅方向のマトリックス毎の乾燥用空気（５０）の流量調整手段（５２）を制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５７】
本発明の課題は、塗液耳部相当部分に付加的に赤外線、マイクロ波のような放射線による局部加熱手段を設けた同時多点制御装置によって達成される。
【００５８】
本発明の課題は、該センサ−が水分計である同時多点測定装置の測定結果に基づき、幅方向に区分調整出来る乾燥機及び／又は幅方向に区分調整出来る加湿機である該制御手段を制御する同時多点制御装置によって達成される。
【００５９】
本発明の課題は、該幅方向に区分調整出来る加湿機が、荷電微細水滴流れを電界制御するものである同時多点制御装置によって達成される。
【００６０】
【発明の実施の形態】
本発明に於いて同型センサ−群の夫々は同一の応答性を有し、あたかも１個のセンサ−が同時に多数の箇所で測定しているかのように機能する事が望ましい。個々の同型センサ−は全くの固定式でも良いし、担当する領域の中を移動計測する仕組みであっても良い。また、計測又は制御する空間の次元数及び特徴はどのような空間であっても良いが本発明者が第一に念頭に置いたのは、製造中の紙等走行するウェブである。
【００６１】
実質的に同一の応答性を担保するためには直線性の良いセンサ−を選び、低レベル側と高レベル側の２点以上で較正することが好ましい。較正は１個の較正手段が個々のセンサ−を巡回し逐次較正することが、実質的に同一の応答性を担保する上で望ましい。較正されたセンサ−群の夫々は定められた回数の直近較正デ−タより演算される回帰直線ないし回帰曲線に従い測定値を出力することがデ−タを安定させる意味で望ましい。
【００６２】
本発明に於ける空間中に存在する対象物の物性値を感知する手段としての実用センサ−は振動、音波、マイクロ波、赤外線、可視光線、紫外線、β線、物体波等何らかの放射線又は波を感知し、感知した程度に応じて電圧、電流又は電気量等の電気信号を出力するように設計されている。
【００６３】
本発明に於いて、２点較正の一形態として放射線又は波の場合は、放射線又は波を遮断することによる低レベル側の校正と線量既知の放射線源又は強度既知の波による高レベル側の較正の組み合わせで行うが、高レベル側の較正は同一測定対象用の基準センサ−との比較に置き換えても良い。その場合は基準センサ−自体の較正を測定空間を移動中に定期的に行う機構を有する事が望ましい。空間中に存在する測定対象物が走行するウェブの場合はウェブの外に基準センサ−が進出した際に行うよう配置する事が設計上楽である。
【００６４】
例えば、抄紙機等に設置されているβ線坪量計ではクリプトン８５等の放射性アイソト−プを線源とし、β線検知器に入射した線量により線源と検知器の間に存在する質量を演算するよう設計されている。
【００６５】
本発明に於いて、坪量計の較正は鉛等の放射線遮蔽物で低レベル側の較正を行い、基準放射線源で高レベル側の較正を行う。また、個々のβ線検知器と対になった放射線源及び基準放射線源は半減期が長く、線量確認の頻度を少なく出来る物を選ぶ事が望ましい。
【００６６】
本発明では、上記方法に代えて、高レベル側の較正を基準β線坪量計を用いる事も出来る。個々のβ線坪量計は較正時、基準β線坪量計と同一部位の測定値を比較する事により較正出来る。
【００６７】
本発明に於いて、水分量の測定は赤外線を照射し、回折格子で分光した透過或いは反射成分の内、水分子の特性吸収波長に於ける減衰量より計算できるが、低レベル側の較正は赤外線検知器の入射口の遮断で良いが、高レベル側の較正は線量既知の基準赤外線光源を用いれば良い。
【００６８】
検出装置としては回折格子を変角させて各波長の強度を１個の赤外線検知器で検出する仕組みでも良いし、回折格子固定で各波長毎に複数の赤外線検知器を並べても良いが、回折格子固定で水の特性吸収の波長域内で、十分な吸収強度が有り、他の妨害吸収を避けた波長位置に赤外線検知器を配置する装置が連続高密度測定の為には有利である。
【００６９】
赤外吸収の原因である分子骨格の振動については、赤外吸収以外の検知手段としてラマン散乱装置がよく知られているが、水分子の場合感度が低いので実用的ではない。
【００７０】
また、水分子の回転準位を捉えるマイクロ波減衰検出装置の場合は、導波管を用い測定対象をその中に含む必要が有るため、本発明の好ましい態様である走行するウェブへの適用は、導波管を構成するブロックでウェブを両側から挟み、実質的に接触する配置をとらねばならず（隙間が有るとそこからマイクロ波が漏れ、水分子の存在による減衰のＳ／Ｎ比が悪くなる）センサ−として用いる事自体が不可能ではないにしても不向きである。また同様に電気抵抗を検出することによる手段もマイクロ波程ではないにしても、この態様には不向きである。
【００７１】
何らかの理由でこれら２つの内何れかがセンサ−として用いられる場合の較正手段としては、同型の基準センサ−を用いる事が最も容易であると考えられる。
【００７２】
上記説明に拘わらず、測定対象が走行するウェブ以外の場合及び／又は測定項目が水分以外の場合はラマン散乱装置、マイクロ波減衰検出装置も有用である場合が有る。例えば３次元空間に於ける二酸化炭素ガス濃度分布の連続監視には、ラマン散乱装置を目的に沿って調整出来る可能性が有る。
【００７３】
本発明に於いて温度の検出には赤外線放射温度計を用いることが出来る。物体は黒体放射の式に従い、絶対温度に関係付けられる熱量の赤外線を放射する。
その放射熱量は点放射源からの距離の逆二乗の法則に従い減衰するが、一方赤外線放射温度計は一定の入射角に対して距離の二乗で測定面積が広がるため、中間に介在する空間の外乱を除くと距離の如何に関わりなく、測定対象の温度により一律に決まる熱量が入射し温度を測定できる。
【００７４】
入射した赤外線は集光され熱電対を加熱しその電気抵抗の変化により温度が求められる。
【００７５】
このような原理であるので低レベル側の較正手段は単なる機械的な赤外線入射の遮断装置だけでは不足である。機械的遮蔽物自体黒体放射を行うので冷却手段（例えば冷凍機を有し常に氷と水が共存するように調整された水槽）により一定温度；低温基準（１２）に維持された遮蔽物を備えた放射線遮断装置が必要である。
【００７６】
高レベル側の較正手段；高温基準（１３）には温度既知の物体、例えば沸騰水の入った容器等が利用出来る。
【００７７】
本発明に於いて色相の測定はセンサ−として光源、回折格子とラインＣＣＤのような光検知素子列の組み合わせを用いることで可能である。個々のセンサ−のチュ−ニングは先ず複数の基準物質から発せられる輝線を用いて機械的位置合わせを行う。
【００７８】
更に必要で有れば個々の素子に入射する波長を予め精密に求め、センサ−全体で捉えたデ−タから近似曲線で元の分光曲線を再現し、色相計算に用いる特定の波長を選んで出力する回路を付加することで高性能化出来るし、サンプリング密度よりも高密度に素子を並べ、サンプリング波長に相当する素子のみから出力することでも高性能化出来る。
【００７９】
出力されたデ−タはＪＩＳ等に規定された係数を用い、一旦ＸＹＺ三刺激値を求め、必要とする表色系に変換する事が出来る。
【００８０】
このようにチュ−ニングされたセンサ−群の低レベル側の較正は光の遮断装置で、高レベル側の較正は分光反射率既知の白色板で行う事が出来る。
【００８１】
高レベル側の較正は、基準センサ−との同一測定個所の測定値比較でも可能であるが、この場合は基準センサ−は各センサ−の光源の較正能力も具備しなければならない。
【００８２】
本発明に於いて押し出し被覆或いはフィルム成形用のプロファイル制御手段としては、押し出し機のダイリップの幅方向に区分制御手段としてボルトを配置しダイリップを内側に押す構造、望ましくは開閉両用に制御出来るよう押し引き可能な構造を用いる。駆動手段としては、モ−タ−を用いたギヤ駆動手段、電熱線を有する熱膨張性ボルト、冷却手段をも併せ持つ熱膨張性ボルト等を制御回路を介して用いる事が出来る。
【００８３】
上記に於いてボルトが押すだけの機構しか無い場合は、測定手段からフィ−ドバックされる信号によりボルトを引いた時のダイリップの反発はリップ内の樹脂圧のみであるため時間当たりの吐出量により応答性が変化してしまう。同様にボルトの熱膨張を利用しうる機構の場合、冷却手段が無いと、測定手段からの信号に従いリップ開度を大きくする時にボルトの放冷が間に合わず応答が悪くなる。
【００８４】
また、本発明の課題外であるが、運転開始時に過去の実績から決定される最適なボルト調整位置に自動調整する機構が有るとプロファイル安定までの時間を短縮出来有利である。本発明の装置にもこの技術は適用可能である。
【００８５】
本発明に於いて抄紙機の坪量プロファイル制御手段としてはスライスリップの開度調整手段、具体的にはモ−タ−駆動調整手段、熱膨張応用調整手段等が有る。
【００８６】
隣接する区画の流速の差はスラリ−流れ方向の乱れ、繊維配向角の乱れを伴うので微小な差にとどめるようスライスリップに至るまでの流路で乱れのサイズを出来るだけ小さくする流路設計等プロファイルの乱れの原因対策も重要である。
【００８７】
坪量プロファイル制御の別の手段としては、紙料濃度プロファイルの調整装置が挙げられる。ヘッドボックスの幅方向に並べられた紙料スラリ−と希釈水との混合装置（双方の合計流量が一定に成るよう設計されている）が有り、プロファイル測定結果よりフィ−ドバックされた信号により希釈率を制御することにより乾燥後のプロファイルを均一に保つ。
【００８８】
幅方向に流量が均一であるので配向角の乱れは無く、スライスリップ調整よりは原理的に調整の自由度が大きいはずであるが、無論そこに至るまでの流路内の乱れのサイズを小さく押さえるよう努める方が良い結果を与える事は言うを待たない。
【００８９】
これら、押し出し機や抄紙機でのプロファイル制御に於いて、測定側が区分分担測定により、デ−タ密度を上げることにより、リアルタイムにより近づいた制御が出来るため、安定化時間の短縮、また適切な制御関数の選択と併せてより精度の高いプロファイルの獲得が可能となる。
【００９０】
本発明に於いて塗液が塗設されたウェブの乾燥に用いる流れ方向、幅方向のマトリックス毎の乾燥用空気の流量調整手段としては、吹き出し口と吸気口が一組となり、高速気流により効率良く乾燥するタイプのドライヤ−要素を幅方向に区分した装置が有利に利用できる。
【００９１】
この場合乾燥用空気は単に加熱により乾燥促進しても良いし、除湿により比較的低温でありながら効率良くしかも塗布物の物性を制御しながら乾燥出来るようにしても良い。
【００９２】
塗液耳部は多くの場合他の部分よりもかなり多量の液の付着が有る。このような部分の乾燥用の赤外線、マイクロ波のような放射線による局部加熱手段としては、赤外線ビ−ムをガルバノミラ−を用い、測定手段で検出した耳部の方向へ反射させる機構、同じく赤外線をグラスファイバ−を用いグラスファイバ−出口を機械的手段で耳部の位置まで駆動する機構、マイクロ波をパラボラアンテナの向きを調整し、耳部の方向へ向かわせる機構、マイクロ波発信部を機械的手段で耳部まで駆動する機構等どのような方法でも良い。
【００９３】
耳部を効率良く乾燥するためにこれらの手段を同種、異種何れでも複数組み合わせて用いることが出来る。
【００９４】
本発明に於いて紙の水分含有量のプロファイルを均一にするための手段としては、前掲の区分制御出来る乾燥機の他に、一旦、目標値よりも低水分まで乾燥し、測定値と目標値の差異に従い区分制御出来る加湿装置が有る。
【００９５】
区分制御出来る加湿装置の機構としては、幅方向に安定した気流を提供する送風装置、幅方向に区分された水蒸気又は水滴の発生装置の組み合わせが有る。
水蒸気の発生手段としては、幅方向に並べられた電熱装置と各電熱装置に水を供給する装置の組み合わせ、水滴の発生装置としては幅方向に並べられた強度調整可能な超音波発生装置と各超音波発生装置に最適な水位で水を供給する装置の組み合わせが挙げられる。
【００９６】
区分制御されて発生した水滴は帯電させて電界により加速し紙に供給することも出来る。
【００９７】
本発明に於いて区分制御して水を供給する別の手段としては、発生した水滴を帯電させ電界により加速し紙に供給する際、幅方向に独立に制御出来る制御電極を並べ霧の通過量を幅方向で制御する装置が挙げられる。
【００９８】
これら電界で水滴を加速する手段としては水の容器を周りの構造と電気的に絶縁し、加速電極との間に電位差を設ける回路を形成するか、発生した水滴の発生源出口に帯電及び加速電極との間に電位差を設けるための電極を設ける構造を挙げる事が出来る。
【００９９】
制御電極により水滴の流量を制御する場合は、制御電極の電位は水滴の帯電電位と同符号にするのが普通であるが、あまり極端な電位設定をすると全く水滴が流れ出さなくなるので、注意を要する。
【０１００】
【実施例】
本発明を更に詳しく説明するため図を用いて説明する。
図１ａ及び図１ｂは物性値が巾方向で均一、且つ流れ方向で周期的に変化する走行するウェブをウェブの幅方向各位置に於ける物性値デ−タ更新のモデル図である。　図１ａはセンサ−が１個の場合で全巾を定速で走査した時の、巾方向１／８、３／８、５／８、７／８の位置に於けるデ−タ保持値を、図１ｂは４個のセンサ−を図１ａに示した位置と同じ位置に固定し測定したデ−タを表している。図１ａの場合は巾方向の位置により変化した物性値を捕らえるタイミングに差が有り、センサーが到達して物性値が新しいデータに更新されるまで古いデータを保持し続け、不連続な値しか得られない。一方、図１ｂの場合は夫々の位置にセンサーが有るため速やかにデータが更新され、連続的なデ−タが得られる。
実際の物性値は巾方向、流れ方向とも不規則な変化をすると考えられ、図１ａと場合と図１ｂの場合では越え難い性能の差が出ると考えられる。
【０１０１】
複数のセンサ−が有ればそれで良いかと言えば、センサ−の感度にバラツキが有ると制御された物性値は対応するセンサ−の感度変異に応じたプロファイルを持つ事になる。図２の概念図は各センサ−（１）を定期的に同一の較正手段（２）で較正する本発明が提案する内容を示すものである。
【０１０２】
図３から図９はウェブ（３）を測定する場合の例である。図３は一般例を表し、ウェブ（３）の走行方向（５）に直交する方向に配置されたセンサ−（１）群を較正手段（２）が巡回し、較正手段が基準センサ−（１６）を含む場合はウェブの外側で基準センサ−（１６）自体の較正手段（６）を配置した装置の設計例である。尚、較正手段（２）の黒い部分と白い部分は各々低レベル側の較正基準及び高レベル側の較正基準を表す。
【０１０３】
図４はセンサ−（１）群を２つのグル−プに分け、夫々は互いに反対方向に往復運動し、基準センサ−（１６）を併設する較正手段（２）を順に受け渡しながら、順次較正され且つ、較正中の測定を基準センサ−（１６）が代行する無欠点測定装置の設計例を表す。
【０１０４】
図５は測定対象物が発散する赤外線を捉える放射温度計の場合で、低温基準（１２）、高温基準（１３）で較正する。図６はβ線坪量計の例で、β線の遮蔽手段（８）及び基準β線源（７）で較正する坪量測定装置の設計例である。
【０１０５】
図７は反射光の測定による色相及び水分子による特性赤外線吸収を捉える水分率の測定装置の設計例を表す。遮蔽手段（８）及び分光反射率既知の標準白色板（９）による反射光で較正する。図８は透過方式の水分率測定例で標準反射板（９）に代えて標準光源（６６）、更に参照光源（１０）の較正手段（１１）を併せ持っている装置の設計例である。図９は図５から図８の高レベル側較正手段に代えて基準センサ−（１６）を用いる場合を表している。
【０１０６】
図１０、図１１ａ及び図１１ｂは低温基準（１２）や高温基準（１３）に用いる基準温度物体の例である。図１０は固液相転移を利用する場合で照明装置（１０）の照明のもと固体（２２）の面積をカメラ（１８）でモニタリングしながら、制御回路（２０）に設定した関数に従い固体面積大では加熱優勢、固体面積小では冷却優勢になるよう熱交換機（１９）を制御することで常に固体（２２）と液体（２１）を共存させ、固体（２２）と液体（２１）を納めた黒体容器の温度を該固体の融解温度に保つ基準温度物体を示す。図１１ａ及び図１１ｂは気液相転移を利用する場合で、図１１ａはデュワー瓶（２４）中の液化低温ガス（２７）により温度制御された黒体放射源（２３）の場合、図１１ｂは容器（２５）に入れた常温で液体の物質（２８）をヒ−タ−（２６）により沸騰させて温度制御された黒体放射源（２３）の場合を表す。
【０１０７】
図１２、図１３及び図１５は回折格子（２９）と検知部（３２）からなるセンサ−の例で、図１２は二重のスリット（３１）を通った単色光源（３０）からのビ−ムを用い回折格子（２９）により回折される角度を検討し、予め検知部（３２）の位置合わせ（３４）を行い、次いで同じ光路に測定光を導き水分子による特性赤外線吸収を捉える装置の設計例である。
【０１０８】
図１３は二重のスリット（３１）を通りビ−ム化された単色光源（３０）からの光を回折格子（２９）で回折しセンサーアレー（３３）上の各検知部（３２）毎の波長を決定し、次いで同じ光路に測定光を導き各検知部の測定デ−タを電気結線（３５）を通じて計算装置（３６）に送り近似曲線（図１４）を求め、色相計算用のサンプリング波長に該当するデ−タを出力する装置の設計例である。
【０１０９】
図１５はセンサーアレー（３３）上に高密度に配置された検知部（３２）の各検知部（３２）の波長を予め計算装置（３６）で求めサンプリング波長に相当する検知部８３２）の測定値を選択的に出力する装置の設計例である。
【０１１０】
図１６、図１７は暗電流レベル、電源電圧レベルの変動による影響を最小にするための較正デ−タの移動平均をとるモデルである。センサ−（１）より出力された較正デ−タは制御回路（２０）のホルダ−に予め定められた回数分蓄積され、図１７にしめす回帰直線或いは回帰曲線を算出し、センサ−出力値から真の値を算出する装置例を表している。
【０１１１】
図１８は測定とそれに基づく制御の関係を示す図である。センサ−（１）からの測定値は計算装置（３６）で対象物の物性値プロファイルを演算し、区分制御装置（３７）の夫々に制御信号を分配する。
【０１１２】
図１９はセンサ−（１）が分担する領域と区分制御装置（３７）が分担する領域を計算装置（３６）を介して１対１で対応させた設計例である。この場合センサ−（１）は分担領域内を移動計測しても良いが領域を代表する点に固定しても良い。
【０１１３】
図２０、図２３及び図２４は本発明に有利に利用できる区分制御機構の例である。図２０はダイブロック（３９）、ダイリップ（３８）及びボルト（４０）の位置関係を示している。図２１ａ、図２１ｂはフィルム押し出しのリップ開度制御のための機構を有するリップの例である。ボルト（４０）は図２１ａのようにただダイリップ（３８）を押すだけの場合も有るが図２１ｂのようにボルト（４０）をフック（４１）で固定し押し引き両側の制御が出来る物が有利である。その際、ボルト（４０）の制御は図２２ａのようにヒ−タ−（２６）による熱膨張だけの制御より図２２ｂのように冷却装置（４２）を併設してあることが望ましい。勿論、ボルトの熱膨張冷却収縮以外の駆動方式であっても良い。
【０１１４】
図２３は抄紙機の流量プロファイル調整のための制御機構を有するスライスリップのモデル図、図２４は抄紙機に於けるスラリ−濃度プロファイル調整のための制御機構を有するヘッドボックスのモデル図である。図２３はスライスリップ開度調整ロッド（４５）によりスライスリップ（４３）を上下させボトムリップ（４４）との間隔を調整する関係を示している。図２４に於いて紙料スラリ−（４７）は各制御区間の制御信号に応じた比率で希釈水（４８）を加えられ混合部（４９）で混合され、乱流発生部（４６）で均一にされる。
【０１１５】
図２５はドライヤ−の乾燥空気吹きつけ要素を幅方向（５３）に分割して独立に風量を調整出来るようにしたドライヤ−要素の設計例である。乾燥用空気（５０）は流量調節器（５２）により幅方向の風量プロファイルを与えられ、塗布されたウェブ（３）に吹き付けられた後、排気（５１）される。
【０１１６】
図２６は送風機（５５）による風（５６）の前面に区分された水槽（５４）を配置し、夫々の区分された水槽（５４）に夫々ヒ−タ−（２６）を置き、ヒ−タ−（２６）の熱量制御により幅方向に区分制御した加湿装置の設計例である。
【０１１７】
図２７は送風機（５５）による風（５６）の前面に水槽（５４）を配置しその中に超音波振動体（５７）を並べ、超音波振動体（５７）の振動強度の制御により幅方向に水滴発生量のプロファイルを作るようにした幅方向に区分制御した加湿装置の設計例である。
【０１１８】
図２８は送風機（５５）により発生した気流（５６）の前面で水槽（５４）中の水（５８）から超音波振動体（５７）により水滴（５９）を発生させ、水滴を拭くんだ気流（６４）を帯電電極（６０）により帯電させると同時に、帯電電極（６０）と加速電極（６２）の電位差により加速し、幅方向に区分制御出来る制御電極（６１）の電位により水滴量が制御された気流（６５）を送り出すことで幅方向に区分制御出来るようにした電界制御型加湿器の設計例である。
【０１１９】
【発明の効果】
空間を複数の領域に区分し、複数のセンサ−で分担測定して得る高密度の物性値デ−タにより、区分制御装置の性能をより迅速に且つ有効に活用出来、精密な制御が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１ａ
物性値が巾方向で均一で且つ流れ方向で周期的に変化する走行するウェブをウェブの幅方向に往復するセンサ−が１個で測定した時の、特定の位置でのデ−タ更新の模式図
図１ｂ
物性値が巾方向で均一で且つ流れ方向で周期的に変化する走行するウェブをウェブの巾方向に配置された複数のセンサ−で分担測定した時の、特定の位置でのデ−タ更新の模式図
【図２】空間を複数のセンサ−で分担測定し、各センサ−を順次同一基準で較正する仕組みの模式図
【図３】走行するウェブの区分測定の概念図
【図４】ウェブの分担測定に於ける較正時のデ−タ欠損を防ぐ設計例
【図５】区分測定型赤外放射温度計
【図６】区分測定型β線坪量計
【図７】区分測定型色彩計
【図８】区分測定透過型赤外線水分計
【図９】較正手段として基準センサ−を持つ区分測定装置
【図１０】個液相転移型温度基準装置要素
【図１１】図１１ａ液化ガスを使用した気液相転移型温度基準装置要素図１１ｂ加熱による沸騰を利用する気液相転移型温度基準装置要素
【図１２】赤外線特性吸収検知装置
【図１３】色彩計用検知装置
【図１４】デ−タ補完のための近似曲線の例
【図１５】色彩計用検知装置　別タイプ
【図１６】較正デ−タの移動平均説明図
【図１７】較正デ−タの移動平均説明図
【図１８】センサ−群と区分制御装置の関係
【図１９】センサ−群と区分制御装置の関係　１対１の場合
【図２０】フィルム押し出しダイの構造図
【図２１】ボルトとダイリップの関係
【図２２】ボルトの加熱制御方式
【図２３】スライスリップ制御の模式図
【図２４】紙料スラリ−濃度プロファイル制御の模式図
【図２５】幅方向区分制御型ドライヤ−要素
【図２６】幅方向区分制御水蒸気発生型加湿器
【図２７】幅方向区分制御水滴発生型加湿器
【図２８】幅方向区分電解制御型加湿器
【符号の説明】
１　センサ−
２　較正手段
３　走行するウェブ
４　較正手段の移動方向
５　ウェブの走行方向
６　基準センサ−の較正手段または標準検体
７　β線発生源
８　遮断手段
９　標準白色板
１０　参照光源または照明光源
１１　参照光源較正手段
１２　低温基準
１３　高温基準
１４　低レベル側較正手段
１５　高レベル側較正手段
１６　基準センサ−
１７　黒体容器
１８　カメラ
１９　熱交換器
２０　制御回路
２１　液体
２２　固体
２３　黒体放射源
２４　デュワ−瓶
２５　容器
２６　ヒ−タ−
２７　液化低温ガス
２８　常温で液体の物質
２９　回折格子
３０　単色光源
３１　スリット
３２　検知部
３３　センサ−アレ−
３４　検知部位置合わせ方向
３５　電気結線
３６　計算装置
３７　区分制御手段
３８　ダイリップ
３９　ダイブロック
４０　ボルト
４１　フック
４２　冷却装置
４３　スライスリップ
４４　ボトムリップ
４５　スライスリップ開度調整ロッド
４６　乱流発生部
４７　紙料スラリ−
４８　希釈水
４９　混合部
５０　乾燥用空気
５１　排気
５２　流量調節器
５３　幅方向
５４　水槽
５５　送風機
５６　風または気流
５７　超音波振動体
５８　水
５９　水滴
６０　帯電電極
６１　制御電極
６２　加速電極
６３　電源
６４　水滴を含んだ気流
６５　水滴量が制御された気流
６６　標準光源
【図１】
2004003925.tif 000003
【図２】
2004003925.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2004003925.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2004003925.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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