(57)【要約】【課題】本発明は、一度に複数の測定項目の測長測定を効率よく行え、自動測長用のパラメータの登録、確認、変更を容易にできる走査形電子顕微鏡を提供する。【解決手段】本発明においては、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成するときに関わるパラメータの設定を全測定項目において共通の条件としてＡＭＰ登録を行い、また、エッジ検出方法と測長値算出方法を複数のＡＭＰ登録を行うことによって、複数項目の測定を行うようにした。【選択図】  図１
2004251829.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１回のエッジ検出によって検出されたエッジ位置に対して複数の測長値算出方法を有する測定項目を複数個、自動測長用のパラメータ（ＡＭＰ）設定画面に設定し、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成し、ラインプロファイルから設定されたエッジ位置の検出を行い、検出されたエッジ位置から、設定された複数の測長値算出方法によって連続して測長値を算出することを特徴とする測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【請求項２】
１回のエッジ検出によって検出されたエッジ位置に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目を複数個、自動測長用のパラメータ設定画面に設定し、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成し、ラインプロファイルから設定されたエッジ位置の検出を行い、検出されたエッジ位置から、設定された測定項目について連続して測長値を算出することを繰り返し、表示用の画面上にエッジ検出方法に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目について算出された測長値の表示を行うことを特徴とする測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【請求項３】
１回のエッジ検出によって検出されたエッジ位置に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目を複数個、自動測長用のパラメータ設定画面に設定し、ＳＥＭ画像からファインプロファイルを作成し、ラインプロファイルから設定されたエッジ位置の検出を行い、設定された測定項目について検出されたエッジ位置から測長値を算出し、各１つのエッジ検出方法についての複数個の測長値を算出すると、次のエッジ検出方法について前記のラインプロファイルからエッジ位置の検出を行い、他の測定項目について検出されたエッジ位置から複数の測長値の算出を行い、表示用の画面上に複数の測定項目について算出された測長値の表示を行うことを特徴とする測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかにおいて、測長値算出方法は、ラインプロファイルの線幅についての項目と線幅のエッジラフネスについての項目を含むことを特徴とする測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【請求項５】
請求項１から３のいずれかにおいて、複数の測定項目を設定する第１の画面エリアと、測定手法を設定し、ＡＭＰに登録する全測定において共通に使用するパラメータの設定を行う第２の画面エリアと、測定項目の表示および変更を行う第３の画面エリアとが１つの前記ＡＭＰ画面上に構成されることを特徴とする測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【請求項６】
請求項５において、複数の測定項目を表示する画面エリアを備えた他の画面から、設定する測定項目を選択し、選択した測定項目を前記ＡＭＰ設定画面上に設定することを特徴とする測長機能を備えた電子顕微鏡。
【請求項７】
１回のエッジ検出によって検出されたエッジ位置に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目を複数個、自動測長用のパラメータ設定画面に設定し、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成し、ラインプロファイルから設定されたエッジ位置の検出を行い、設定された測定項目について検出されたエッジ位置から測長値を算出することを特徴とする測長機能を備えた走査形電子顕微鏡を使用した測長方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測長機能を備えた走査形電子顕微鏡及びそれを使用した測長方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
測長機能を備えた走査形電子顕微鏡（以下、測長ＳＥＭと呼ぶ）は、半導体試料の寸法管理等に用いられてきた装置である。その寸法の測定において、測定者が測長カーソルを用いて目視で測長を行う手動測長と、測長ＳＥＭによって得られる画像（以下、ＳＥＭ画像と呼ぶ）から測定パターンの断面形状を反映すると考えられているラインプロファイルを作成し、ラインプロファイルからエッジ位置の検出を行い、検出したエッジ位置から測長値を算出する自動測長の２種類がある。この自動測長で行われるラインプロファイルの作成、エッジ位置の検出、測長値の算出は、予め自動測長パラメータ（Ａｕｔｏ  ＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＰａｒａｍｅｔｅｒｓ、以下、ＡＭＰと呼ぶ）に設定された内容に基づいて行われる。例えば、特許文献１参照。
【０００３】
特許文献２には、走査形電子顕微鏡により溝の表面観察から得られる２次電子像に基づき前記溝の幅やトラックピッチなどの溝形状要素を測定する溝形状測定方法において、前記溝の２次電子像をシーケンシャルファイル形式の画像ファイルデータに変換する第１工程と、第１工程で得られた前記画像ファイルデータに基づき、前記溝の幅方向と垂直をなす溝方向に任意の長さと前記幅方向に画素の最小単位の１ドット分の長さとで囲まれた測定単位領域内に存在する“明”の数を、前記幅方向に順次走査したコントラストのプロファイル像を得る第２工程と、第２工程で得られたコントラストのプロファイル像において、前記各測定単位領域内に存在する“明”の数の平均値をＡＶＧとしたとき、溝の開口部幅を測定するためのエッジ検出用のスライスレベルＨＬＶと、前記溝の底部幅を測定するためのエッジ検出用のスライスレベルＬＬＶとを、各々、
ＨＬＶ＝ＡＶＧ×ＳＬＵ（１＜ＳＬＵ＜２）
ＬＬＶ＝ＡＶＧ×ＳＬＢ（０＜ＳＬＢ＜１）
により算出設定する第３工程と、第３工程で算出設定されたスライスレベルＨＬＶ、ＬＬＶに基づき検出される溝開口部又は低部のエッジの１つを用いて隣接溝間のトラックピッチを算出する第４工程とを有する溝形状測定方法が記載されている。
【０００４】
特許文献３には、パターンのエッジ位置を求める方法が記載され、特許文献４および特許文献５にはそれぞれラインプロファイルを求める手法が記載されている。
【０００５】
【特許文献１】
特開平６−３４７２４６号公報
【特許文献２】
特開平８−２２７９４号公報
【特許文献３】
特開平１１−２３７２３１号公報
【特許文献４】
特開平１０−２１３４２７号公報
【特許文献５】
特開平１１−２０１９１９号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
近年においては自動測長によって寸法を測定する場合が多く、自動測長の精度も年々向上している。自動測長を実施する際、測定箇所への移動や測定箇所の特定を測定者が行う自動測長を行うセミオート測定とウエーハ面内の情報や測定箇所の位置情報などが登録されているレシピファイルを実行させることによって、測定者を介せず自動測長を行うフルオート測定がある。
【０００７】
最近の半導体試料の寸法が小さくなるにつれて測長ＳＥＭでは単にパターンの線幅やホール径を自動で測長を行う機能だけでなく、パターンの形状を評価するために、線幅のラフネスやエッジラフネス等を測長できるようになっており、測長機能の充実化が進んでいる。
【０００８】
従来技術では、自動測長を行う際に、一項目の測定につき１つのＡＭＰが必要であるために、セミオート測定の場合複数種類の測長を行うためには１回ごとにＡＭＰの設定を行うために操作が煩雑であった。また、フルオート測定の場合、複数種類の測長を行うためには、そのＡＭＰをレシピファイルに登録させておくために操作は簡便であるが、登録したＡＭＰを変更、確認する作業が煩雑であった。また、これによって求められた測長値は測長の実行と同時にＳＥＭ画面内に表示されるため、複数種類の測長を行ったときに数値の確認が困難であり、確認を行うためには測長が終了するまで待ち、測長結果を一覧表として表示させる必要があった。
【０００９】
本発明は、複数の測定項目の測長測定を効率よく、かつ容易にできる走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測長方法を提供することを目的とする。
また、本発明は複数の測定項目の測長測定を行うための自動測長用のパラメータの登録、確認、変更を容易に行うことができるようにすることを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明においては、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成するときに関わるパラメータの設定を複数の測定項目において共通にして行い、ＡＭＰに登録する。すなわち、ＡＭＰに登録するとはＡＭＰウィンドウを介してパラメータの設定を行い、記憶装置に記録する事を意味する。また、エッジ検出方法と測長値算出方法をＡＭＰに複数登録することによって、複数項目の測定が容易にできるものとする。
【００１１】
本発明は、少なくとも１つのエッジ検出方法、すなわち１回のエッジ検出によって検出されたエッジ位置に対して複数の測長値算出方法を有する測定項目を複数個、自動測長用のパラメータ（ＡＭＰ）設定画面に設定し、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成し、ラインプロファイルから設定されたエッジ位置の検出を行い、検出された各１つのエッジ位置から、設定された複数の測長値算出方法によって連続して測長値を算出することを特徴とする測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測長方法を提供する。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
図１５は、本発明が適用される１例である測長機能を備えた走査電子顕微鏡の概略構成を示した公知のブロック図である（特許文献１参照）。電子銃１より放射された電子ビーム２は、対物レンズ６により細く絞られて試料７に照射される。対物レンズ６は対物レンズ電源１１により励磁される。偏向信号発生器１４は、コンピュータ２１によって指示された試料上での電子ビーム２の走査範囲、走査位置に応じた偏向信号を偏向増幅器１０を介して偏向コイル５へ供給してこれを励磁し、電子ビーム２を試料７上で２次元的に走査する。
【００１３】
また、電子ビーム２の照射に応答して試料７より発生した２次信号（２次電子信号、反射電子信号など）は、検出器１２で検出されて電気信号に変換された後にＡ／Ｄ変換器１５によってアナログ信号からディジタル信号に変換され、画像メモリ１６に記憶される。この画像メモリ１６の内容は、常にＤ／Ａ変換器１７によりディジタル信号から再びアナログ信号に変換され、画像表示用ＣＲＴ（陰極線管）１９の輝度信号としてグリッドに印加される。このとき、Ａ／Ｄ変換器１５、画像メモリ１６、Ｄ／Ａ変換器１７は、Ａ／Ｄ変換して記憶し、更にＤ／Ａ変換して画像表示するためのタイミング信号を偏向信号発生器１４より受け取る。画像表示用ＣＲＴ１９の偏向コイル２０は、偏向信号発生器１４が発生する偏向信号を偏向増幅器１８で増幅して得られた信号によって励磁される。
【００１４】
一方、試料７を載置した試料ステージ８は、ステージ駆動回路１３により移動され、これにより試料７上での電子ビーム２の走査位置が変化して視野が移動する。同様の視野移動は、直流増幅器９によってイメージシフトコイル３を励磁し、電子ビーム２の試料７上での走査位置をオフセットすることによっても行える。これらの視野移動の移動量はコンピュータ２１によって制御される。
【００１５】
カーソル信号発生器２２が発生するカーソル信号は、トラックボール２４またはコンピュータ２１からの信号によって変化し、画像表示用ＣＲＴ１９上に表示されるカーソルの表示位置を変化させる。コンピュータ２１は、カーソル信号発生器２２の状態から画像表示用ＣＲＴ１９上での位置情報を取得できる。またコンピュータ２１は、画像メモリ１６中の画像データの全部または一部を読み込むことができ、前記カーソル位置情報と組み合わせることでカーソル位置を中心とする一部の画像データから画像ライン積算を行って信号波形を生成し、画像メモリ１６中の外筒位置を変更して、画像表示用ＣＲＴ１９上に該信号波形（ラインプロファイル）を表示する。なお、信号波形の表示は、信号波形表示専用のメモリを別途設け、該メモリ上の該当位置を変更し、当該メモリと、前記画像メモリ１６との排他的論理和をとり画像表示用ＣＲＴ１９に表示することによっても行うことができる。
【００１６】
図１にＡＭＰを設定するためのウィンドウ（以下、ＡＭＰウィンドウと呼ぶ。）１００を示す。ここではＡＭＰをＡＭＰウィンドウ１００を介して設定することをＡＭＰ設定あるいはＡＭＰ登録と呼ぶ。
このＡＭＰウィンドウ１００には複数の測定項目を設定する画面エリアＢ、すなわち第１の画面エリア（１０３）、設定された複数の測定項目に対して共通の自動測長用のＡＭＰのパラメータ設定条件を設定する画面エリアＣ、すなわち第２の画面エリア（１０１）、複数の測定項目を表示し、変更を行う画面エリアＢ、すなわち第３の画面エリア（１０２）が構成される。
【００１７】
画面エリアＡ（１０１）には、次のようなパラメータ設定条件が設定される。詳細については後述する。
Ｍｅｔｈｏｄ：Ｌ／Ｓ（Ｍｕｌｔｉ）  （測長手法の選択）
Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ：Ｘ
ＩｎｓｐｅｃｔＡｒｅａ：３００
ＳｅａｒｃｈＡｒｅａ：８０
ＭＰ：５
ＳｕｍＬｉｎｅｓ／Ｐｏｉｎｔ：６０
ＤｅｓｉｇｎＶａｌｕｅ：０．２００μｍ
Ｓｍｏｏｔｈｉｎｎｇ：５
Ｄｉｆｆｅｒｅｎｎｔｉａｌ  ｆｏｒ  Ｌｉｎｅａｒ：５
【００１８】
画面エリアＢ（１０２）には、次のような複数のエッジからの自動測定手法が設定される。
Ｅｄｇｅ  Ｄｅｔｅｃｔ  Ｍｅｔｈｏｄ
Ｂ（１）  Ｂｏｔｔｏｍ  Ｔｈ  １
Ｔ（１）  Ｔｏｐ        Ｔｈ  ２
【００１９】
画面エリアＣ（１０３）には、複数の測長値算出手法を含む測定項目が複数個、表示される。
Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ  Ｄａｔａ
１  Ｂ（１）  Ｗ１
２  Ｂ（１）  ＷＲ１
３  Ｔ（１）  Ｗ１
４  Ｔ（１）  ＷＲ１
【００２０】
図示の設定内容としては、ラインアンドスペース系のパターン測定用の多点測定（Ｌ／Ｓ（Ｍｕｌｔｉ））を用いて測長する方法で、ラインパターンのボトムの線幅（平均値）と線幅のラフネス（３σ）と、トップの線幅（平均値）と線幅のラフネス（３σ）の自動測長を行うためのＡＭＰ登録（ＡＭＰ設定し、登録）を行う例である。
【００２１】
はじめに、ＡＭＰ登録を行うために、ＣＲＴ上に図６に示すＳＥＭ画像表示用のウィンドウ６００を開き、ＳＥＭ画像表示用のウィンドウにあるＡＭＰボタン６０１を押し、ＡＭＰウィンドウ１００をＣＲＴ上に表示する。続いてＡＭＰ登録を以下のようにして実施する。ＡＭＰ登録に当たって、はじめに目的の測長を行うための測定手法を選択する。測定手法の選択はＡＭＰウィンドウ１００の画面エリアＡ（１０１）において、ＭｅｔｈｏｄのＥｄｉｔボタンを押すことによって、図３に示す測長手法の選択ウィンドウ３００が表示され、測長手法の選択ウィンドウ３００の測長手法の一覧から、ラインパターンのトップとボトムの線幅（平均値）と線幅のラフネス（３σ）の測長を行うことができる測長手法Ｌ／Ｓ（Ｍｕｌｔｉ）３０１を選択し、ＯＫ３０２を押す。また、測定手法の選択の際、測定手法の選択ウィンドウ３００において測定手法を選択しＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ３０３を押すことによって、図４に示すような各測定手法において測定可能な測定項目が確認できる。
【００２２】
尚、図３にはＭｅｔｈｏｄ（測長値算出手法）として、
１．  Ｌ／Ｓ（Ｍｕｌｔｉ）  ライン
２．  Ｌ／Ｓ（Ｓｉｎｇｌｅ）  ライン
３．  Ｈｏｌｅ（Ｄｉａｍｅｔｅｒ）  ホール
４．  Ｈｏｌｅ（Ｍｕｌｔｉ）  ホール
５．  Ｈｏｌｅ（Ｓｉｎｇｌｅ）  ホール
６．  Ｇａｐ  ギャップ
が表示される。
【００２３】
図４にＭｅｔｈｏｄとしてＬ／Ｓ（Ｍｕｌｔｉ）が選択された場合に、Ｏｂｊｅｃｔ（測長対象）として、
Ｂｏｔｔｏｍ              Ｂ
Ｔｏｐ                    Ｔ
Ｓｐａｃｅ                Ｓ
Ｐｉｔｃｈ（Ｌｅｆｔ）    Ｐｌ
Ｐｉｔｃｈ（Ｒｉｇｈｔ）  Ｐｒ
Ｓｌｏｐｅ（Ｌｅｆｔ）    Ｓｌ
Ｓｌｏｐｅ（Ｒｉｇｈｔ）  Ｓｒ
が表示され、Ｍｅｓｕｒｅｍｅｎｔ（測長値算出項目）として複数の測長値算出項目が、
Ｗｉｄｔｈ
１．Ｍｅａｎ          Ｗ１
２．Ｍｅａｎ’        Ｗ２
３．Ｍａｘ            Ｗ３
４．Ｍｉｎ            Ｗ４
Ｗｉｄｔｈ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ
１．３σ              ＷＲ１
２．３σ’            ＷＲ２
３．Ｍａｘ−Ｍｉｎ    ＷＲ３
Ｅｄｇｅ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ（Ｌｅｆｔ）
１．３σ              Ｅｌ１
２．３σ’            Ｅｌ２
３．Ｍａｘ−Ｍｉｎ    Ｅｌ３
Ｅｄｇｅ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ（Ｒｉｇｈｔ）
１．３σ              Ｅｒ１
２．３σ’            Ｅｒ２
３．Ｍａｘ−Ｍｉｎ    Ｅｒ３
のようにして表示される。
【００２４】
多点測定で測定を行った場合、複数ラインプロファイルから複数のエッジ位置の検出が行われる。複数のエッジ位置の情報から、ＡＭＰ登録で指定した方法により測長値の算出が行われる。各１つのエッジ位置から複数の測長値算出が行われる。
各１つのエッジ位置の情報から、測長値を算出する方法の例を示す。それぞれ、測長値として表示できる測長結果が複数存在するため、測長結果を区別するために番号の異なるもので表示するようにした。
【００２５】
用語は、下記に示すような意味を有する。
Ｌ／Ｓ（Ｍｕｌｔｉ）、ＭＰ＝３２の場合
Ｗ：Ｗｉｄｔｈ  （線幅）
Ｗ１：３２点の線幅の平均値
Ｗ２：最大値、最小値を除いた３０点の線幅の平均値
Ｗ３：３２点の線幅の最大値
Ｗ４：３２点の線幅の最小値
ＷＲ：Ｗｉｄｔｈ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ（線幅のラフネス）
ＷＲ１：３２点の線幅のσ×３
ＷＲ２：３２点の線幅の最大値と最小値を除いたσ×３
ＷＲ３：３２点の線幅の最大値から最小値を引いた値
Ｅｌ：Ｅｄｇｅ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ  Ｌｅｆｔ  Ｅｄｇｅ
（パターン左側のエッジラフネス）
Ｅｌ１：パターン左側の３２点のエッジ位置（Ｘ方向の座標の値）のσ×３
Ｅｌ２：最大値と最小値の位置を除いたパターン左側の３０点のエッジ位置（Ｘ方向の座標の値）のσ×３
Ｅｌ３：Ｘ座標のエッジ位置の最大値から最小値を引いた値
Ｅｒ：Ｅｄｇｅ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ  Ｒｉｇｈｔ  Ｅｄｇｅ
（パターン右側のエッジラフネス）
エッジラフネスに関しては、パターンの傾き分を補正して、ラフネスを表現する方法でもよい。
【００２６】
次に、ＡＭＰウィンドウ１００の画面エリアＡ（１０１）にて、測長を行う範囲や、ラインプロファイル作成に関わるパラメータ設定条件を設定する。画面エリアＡ（１０１）の設定項目は測長箇所、測長範囲に関わるパラメータの設定条件である。図１と図７を用いて説明する。まず、ラインプロファイルの作成方向およびエッジの検出方向Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎを設定するが、図７のＳＥＭ画像７００のように縦方向のラインパターン７０１の測長を行う場合は、ＤｉｒｅｃｔｉｏｎはＸを選択する。次にＩｎｓｐｅｃｔ  Ａｒｅａ７０３とＳｅａｒｃｈ  Ａｒｅａ７０４を設定するが、Ｉｎｓｐｅｃｔ  Ａｒｅａ７０３はラインプロファイルを作成する範囲、Ｓｅａｒｃｈ  Ａｒｅａ７０４はエッジ検出を行う範囲である。Ｉｎｓｐｅｃｔ  Ａｒｅａ７０３に例えば３００、Ｓｅａｃｈ  Ａｒｅａ７０４に例えば８０と入力し、測長に使用する範囲を設定する。また、Ｄｅｓｉｇｎ  Ｖａｌｕｅ７０５については、左右のボックスカーソルの距離であり、Ｄｅｓｉｇｎ  Ｖａｌｕｅ７０５を例えば０．２００μｍと大きくすることで、左のエッジと右のエッジの検出範囲を離すことができる。
【００２７】
Ｓｅａｒｃｈ  Ａｒｅａに指定された範囲（Ｐｉｘｅｌ単位）で、ラインプロファイル（二次電子信号量）のピーク位置の検出を行う。Ｓｅａｒｃｈ  Ａｒｅａ＝８０の場合では、測長用のボックスカーソルで指定された範囲（８０Ｐｉｘｅｌ）でのみピーク位置の検出を行い、そして、エッジ位置の検出を行う。Ｄｅｓｉｇｎ  Ｖａｌｕｅ（μｍ  ｏｒ  ｎｍ）によってボックスカーソルの位置を離すことができ、測長に用いたいエッジ（あるいはラインプロファイルのピーク）を限定することができる。
【００２８】
Ｓｅａｒｃｈ  ＡｒｅａとＤｅｓｉｇｎ  Ｖａｌｕｅはラインプロファイルのどの範囲でエッジ位置の検出を行うか指定するために必要である。エッジ位置の検出範囲を指定し、限定することによってエッジ位置のとり間違えを防ぐことができる。
レシピを用いたフルオート測定の場合には、予め登録しておいた参照画像との画像認識により測長点の検出を行い、ボックスカーソルが自動で配置され自動測長が行われるようになっている。
【００２９】
次に、ＭＰとＳｕｍ  Ｌｉｎｅｓ／Ｐｏｉｎｔ７０６を設定するが、ＭＰはＩｎｓｐｅｃｔ  Ａｒｅａ７０３の範囲内で作成するラインプロファイルの作成本数であり、例えばＭＰを５と設定した場合、Ｉｎｓｐｅｃｔ  Ａｒｅａ７０３を５等分した間隔で、ラインプロファイルが５本作成される。また、Ｓｕｍ  Ｌｉｎｅｓ／Ｐｏｉｎｔ７０６はラインプロファイルを作成するときの一本あたりの二次電子信号の積算範囲であり、Ｓｕｍ  Ｌｉｎｅｓ／Ｐｏｉｎｔ７０６を６０と入力する。前記の内容をＡＭＰに設定することによって、画像からラインプロファイルを作成するときの条件や、エッジ位置の検出範囲を指定することができる。
【００３０】
ラインプロファイル１本分を作成するときの積算範囲（Ｐｉｘｅｌ単位）を表す。Ｓｕｍ  Ｌｉｎｅｓ／Ｐｏｉｎｔ＝６０では、Ｙ方向６０Ｐｉｘｅｌ分の信号を積算してラインプロファイルを作成する。Ｓｕｍ  Ｌｉｎｅｓ／Ｐｏｉｎｔ（Ｐｉｘｅｌ数）を多くすると信号量が多くなり、また信号が平均化されるため、ノイズは少なくなる効果がある。
Ｉｎｓｐｅｃｔ  ＡｒｅａはＹ方向の測定箇所の範囲を表し、画像内のどの範囲を測定に用いるか指定するために入力する。
【００３１】
また、画面エリアＡ（１０１）のＳｍｏｏｔｈｉｎｇで、画像から作成したラインプロファイルの平滑化のパラメータ設定条件の設定を行う。Ｓｍｏｏｔｈｉｎｇが５では、Ｓｍｏｏｔｈｉｎｇをしない生のラインプロファイルよりノイズは小さくなる。自動測長によるエッジ位置の検出は、平滑化したラインプロファイルを用いて行われる。また、エッジ位置の検出手法で直線近似法（Ｌｉｎｅａｒ）を用いる場合は、平滑化したラインプロファイルの微分（傾き）から作成したラインプロファイルも使用するため、微分の設定も画面エリアＡ（１０１）のＤｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌで行う。画面エリアＡ（１０１）で上記のパラメータを設定することにより、エッジ位置検出に使用されるラインプロファイルの作成条件が全て設定される。また、画面エリアＡ（１０１）で設定したパラメータ設定条件は、ＡＭＰ登録されるＡＭＰによって自動測長を行う全ての測定項目で、共通の条件であるため、この部分を変更するだけで全ての測定条件の変更が容易にできる。
【００３２】
次にＡＭＰウィンドウ１００の画面エリアＢ（１０２）から、例えばボトムのエッジ位置検出方法の設定をする。図２に示すウィンドウ２００および図５に示すウィンドウ５００が使用される。
図２に示すウィンドウ２００には、Ｅｄｇｅ  Ｄｅｔｅｃｔ  ＭｅｔｈｏｄとしてＢｏｔｔｏｍ（Ｂ１）が、そしてＭｅｔｈｏｄとしてＴｈｒｅｓｈｏｕｌｄ（Ｔｈ）が選択された場合に、Ｅｄｇｅ  Ｄｅｔｅｃｔ  Ｐａｒａｍｅｔｅｒとして、例えば、
2004251829.tif 000003
が設定され、Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ  Ｓｅｌｅｃｔとして、
Ｗｉｄｔｈ                            Ｍｅａｎ        Ｗ１
Ｗｉｄｔｈ                            Ｍｅａｎ’      Ｗ２
Ｗｉｄｔｈ                            Ｍａｘ          Ｗ３
Ｗｉｄｔｈ                            Ｍｉｎ          Ｗ４
ＷｉｄｔｈＲｏｕｇｈｎｅｓｓ          ３σ            ＷＲ１
ＷｉｄｔｈＲｏｕｇｈｎｅｓｓ          ３σ’          ＷＲ２
ＷｉｄｔｈＲｏｕｇｈｎｅｓｓ          Ｍａｘ−Ｍｉｎ  ＷＲ３
ＥｄｇｅＲｏｕｇｈｎｅｓｓＬｅｆｔ    ３σ            Ｅｌ１
ＥｄｇｅＲｏｕｇｈｎｅｓｓＬｅｆｔ    ３σ’          Ｅｌ２
ＥｄｇｅＲｏｕｇｈｎｅｓｓＬｅｆｔ    Ｍａｘ−Ｍｉｎ  Ｅｌ３
ＥｄｇｅＲｏｕｇｈｎｅｓｓＲｉｇｈｔ  ３σ            Ｅｒ１
ＥｄｇｅＲｏｕｇｈｎｅｓｓＲｉｇｈｔ  ３σ’          Ｅｒ２
ＥｄｇｅＲｏｕｇｈｎｅｓｓＲｉｇｈｔ  Ｍａｘ−Ｍｉｎ  Ｅｒ３
が設定され得るようにしてある。これらの項目から必要とされる複数の測定項目が選択され、図１に示すＡＭＰウィンドウ１００を介してＡＭＰ登録が実施される。
【００３３】
まず、画面エリアＢ（１０２）のＥｄｇｅ  Ｄｅｔｅｃｔ  ＭｅｔｈｏｄのＡｄｄを押すと、図５のエッジ位置検出方法の一覧のウィンドウ５００が表示される。エッジ位置検出方法の一覧のウィンドウから、ボトムの測長を行うためのエッジ位置検出方法Ｂｏｔｔｏｍ（Ｂ（１））５０１を選択し、ＯＫ５０２を押す。ＯＫ５０２を押すことによって、図２のエッジ位置検出パラメータの設定と測長値の算出および表示方法の選択を行うウィンドウ２００が表示される。
【００３４】
まず、ウィンドウ２００の画面エリアＤ（２０１）から、エッジ位置の検出する手法を選択する。しきい値法を用いる場合は、Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄを選択し設定する。次に、しきい値法によるエッジ位置検出を行う場合では、Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄの値（％）たとえば５０％を入力する。エッジ位置の検出方向Ｎｏｒｍａｌを選択し、Ｓｅａｒｃｈ  Ａｒｅａの範囲で複数エッジ位置が検出された場合のエッジ選択方法として、Ｅｄｇｅ  Ｎｕｍｂｅｒに１を選択すると１番目に検出したエッジが選択されることになる。上記の方法により、エッジ位置検出方法は設定される。
【００３５】
次に、上記の方法によって検出されるエッジ位置の情報から測長値を算出する方法を、ウィンドウ２００の画面エリアＥ（２０２）のＭｅａｓｕｔｅｍｅｎｔＳｅｌｅｃｔにおいて選択を行う。画面エリアＥ（２０２）において、測長値算出および表示方法一覧から線幅（平均値）と線幅のラフネス（３σ）を算出する手法である、Ｗ１（Ｗｉｄｔｈ、ｍｅａｎ）２０３とＷＲ１（Ｗｉｄｔｈ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ  、３σ）２０４を選択する。
【００３６】
上記の作業により、エッジ位置検出方法の設定と測長値の算出および表示方法の選択を行ったら、ウィンドウ２００のＯＫ２０５を押し、ウィンドウ２００を閉じる。ＯＫ２０５を押すことによって、ＡＭＰウィンドウの画面エリアＢ（１０２）のパラメータ設定条件の設定がされているエッジ位置検出方法の一覧にＢ（１）が登録され、画面エリアＣ（１０３）に、複数の測定項目としてボトムの線幅の平均値と線幅のラフネス（３σ）が、エッジ位置検出方法Ｂ（１）と測長値算出方法のＷ１とＷＲ１の組み合わせによって表示される。
【００３７】
このようにして、ボトムの線幅（平均値）と線幅のラフネス（３σ）は設定される。さらに、トップの線幅（平均値）と線幅のラフネス（３σ）の測長の設定行うには、また、ＡＭＰウィンドウ１００の画面エリアＢ（１０２）から、Ａｄｄにより、登録可能なエッジ検出方法の一覧５００を表示しＴｏｐ（Ｔ（１））５０２を選択する。あとは、ボトムで設定した作業を同様に行うことにより、トップの線幅（平均値）と線幅のラフネス（３σ）の測長の設定が行える。
【００３８】
上記の作業を全て行い、ＡＭＰの設定内容（条件）として設定したものが、図１のＡＭＰウィンドウ１００に表示され、ＡＭＰ登録がなされることになる。全ての測定項目を設定したら、ＡＭＰウィンドウ１００のＡｐｐｌｙ、１０４あるいはＯＫ１０５を押すことにより、ＡＭＰ設定条件設定内容が適用され、ＡＭＰの設定、登録が完了する。
【００３９】
また、ＡＭＰウィンドウ１００で設定した内容を、Ｓａｖｅ１０６により、名前等を付けて保存することができ、Ｌｏａｄ１０７によって、保存しておいたＡＭＰを適用することができる。また、保存してあるＡＭＰをＬｏａｄして、ＡＭＰの設定内容を変更して再登録することにより、１つのエッジ検出方法に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目を複数個設定する複数項目測定用のＡＭＰを容易に作成することができる。
【００４０】
また、ＡＭＰの設定内容の確認、変更方法について以下説明する。測長に使用するラインプロファイルの作成に関わるパラメータはＡＭＰウィンドウ１００の画面エリアＡ（１０１）で、容易にパラメータの確認、変更が行える。また、エッジ位置検出方法の登録状況については、画面エリアＢ（１０２）において確認できる。また、画面エリアＣ（１０３）においても、測定項目の設定状況からも、測長に使用されているエッジ位置検出方法の登録状況が確認できる。さらに、エッジ位置検出パラメータに関しては、ＡＭＰウィンドウ１００の画面エリアＢ（１０２）で確認、変更したいエッジ位置検出方法を選択し、Ｅｄｉｔを押すか、あるいは、画面エリアＣ（１０３）からも確認、変更したいエッジ位置検出方法を使用している測定項目を選択し、Ｅｄｉｔを押すことによって、エッジ検出パラメータ設定用のウィンドウが開き、確認および変更が行える。このようなＡＭＰ登録の設定方法では、複数測定分のパラメータの確認、変更が大変容易である。
【００４１】
上記の実施例では、ラインアンドスペース系のパターン用の多点測定による測長手法を用いた場合の例であるが、異なる測長対象、例えばホールパターンでも多少設定項目は異なる場合があるが、同様にラインプロファイルを作成し、エッジ位置の検出を行う方法であれば、同様な方法でＡＭＰ登録の設定が行える。
複数の測長値、ラフネス等の表示方法は次のようにして行う。まず、図８にラインプロファイルに対するＢｏｔｔｏｍ、Ｔｏｐ、Ｓｌｏｐｅ（Ｌｅｆｔ）、Ｓｌｏｐｅ（Ｒｉｇｈｔ）、の測定エッジ位置と記号を示す。
【００４２】
図９、図１０に示すように、ポインティングデバイスによるＳＥＭ画像上にエッジ位置を表示し、測長値表示シート（画面）あるいはＳＥＭ画像上等による測長値の測定を行う。
測定で使用されるエッジ位置検出方法（記号）とエッジ位置（ポインティングデバイス）の表示をＳＥＭ画像上で同時に行うことで、検出エッジ位置の確認がＳＥＭ画像上でできる。
【００４３】
図に示すように、測長結果を表示するシートには、測定項目をエッジ位置検出方法と測長値算出および表示方法を記号で表したものの組み合わせで表示する。もし、記号で測定内容がわからない場合には、クリック等により、詳しい測定内容を表示させることができる。
また、測長結果表示用のシートでは、検出エッジ位置の表示順がわかるように表示させる。実際に測定で表示する場合には、測定済み部分と未測定部分がわかるように表示する。
【００４４】
測長結果表示用のシートとしては１画像分の測定における測長結果を表示するものが簡易に確認できるためよいが、また、測長結果を表示するシートは複数画像における測定の全測定結果を表示するシートでも構わない。
【００４５】
図１２は、例えばＷ１の線幅の平均値を算出する手法を示す。
・Ｓｈｅｅｔは１画像における測定分の結果をＲｅａｌ  Ｔｉｍｅで表示できる。
・エッジ位置の検出および測長値算出済みの部分は異なるフォントで表示する。例として、太文字、色等によりフォントの異なるものを用いる。
・画像上にエッジ位置を表示している場合（Ｒｅａｌ  Ｔｉｍｅ）、どのエッジ検出方法でエッジを検出したかわかるように表示する。例として四角の枠取りと囲みにより表示する。
・画像とデータシートをセットにして、保存できる。
・データを読み出して、測定条件等をＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎにより確認できる。
【００４６】
以上のように、１回のエッジ検出によって検出されたエッジ位置に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目を複数個、自動測長用のパラメータ設定画面に設定し、ＳＥＭ画像からラインプロファイルを作成し、ラインプロファイルから設定されたエッジ位置の検出を行い、検出された各１つのエッジ位置から、設定された測定項目について連続して測長値を算出することを繰り返し、表示用の画面上にエッジ検出方法に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目について算出された測長値の表示を行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測定方法が構成される。
【００４７】
更に、１回のエッジ検出によって検出されたエッジ位置に対して複数の測長値算出方法を含む測定項目を複数個、自動測長用のパラメータ設定画面に設定し、ＳＥＭ画像からファインプロファイルを作成し、ラインプロファイルから設定されたエッジ位置の検出を行い、設定された測定項目について検出されたエッジ位置から測長値を算出し、各１つのエッジ検出方法についての複数個の測長値を算出すると、次のエッジ検出方法について前記のラインプロファイルからエッジ位置の検出を行い、他の測定項目について検出されたエッジ位置から複数の測長値の算出を行い、表示用の画面上に複数の測定項目について算出された測長値の表示を行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測定方法が構成される。
【００４８】
測長値算出方法は、ラインプロファイルの線幅についての項目と線幅のエッジラフネスについての項目を含む測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測定方法が構成される。
【００４９】
複数の測定項目を設定する第１の画面エリアと、測定手法を設定し、ＡＭＰに登録する全測定において共通に使用するパラメータの設定を行う第２の画面エリアと、測定項目の表示および変更を行う第３の画面エリアとが１つの前記ＡＭＰ画面上に構成される測長機能を備えた走査形電子顕微鏡およびそれを使用した測定方法が構成される。
【００５０】
上述したＡＭＰを用いて、セミオート測定における使用例を以下図面を用いて説明する。図１３に本発明の実施例によるセミオート測定における測定のフローチャートを示す。また、図１４には従来のセミオート測定における測定のフローチャートを示す。まず、本発明の実施例の測定フローについて説明する。
【００５１】
ステップ１３０１では、まず、測定を行う箇所のＳＥＭ画像、すなわちラインパターン画像を図６のＳＥＭ画像表示用のウィンドウ６００に表示する。ＳＥＭ画像は、ウィンドウ６００のＩｎｔｅｇ６０３ボタンを押して、試料に電子線を照射させることによって、ＳＥＭ画像７００が表示される。ステップ１３０２では、自動測長を行うための測定項目の情報をＡＭＰ登録し、自動測長が行えるように、ＡＭＰ登録を適用する。
【００５２】
このとき予めＡＭＰを作成し保存してあるものをＬｏａｄすることができる。このようにすると簡単にＡＭＰ登録を行える。次にステップ１３０３では、自動測長実行ボタンＡＭＳ６０２を一度押すことによって、ＳＥＭ画像上に、自動測長用のボックスカーソルを表示させる。ステップ１３０４では、自動測長用のボックスカーソルを測定箇所に配置し、ステップ１３０５として、自動測長実行ボタンＡＭＳ６０２を押し、自動測長を実行する。セミオート測定では、ここまでの作業を手動で行う。そして、自動測長を実行することによって、ステップ１３０６以降では全て自動で行われることとなる。
【００５３】
ステップ１３０６では、ＡＭＰ登録された条件でＳＥＭ画像からラインプロファイルが作成される。作成されたラインプロファイルは、さらに、ステップ１３０７で平滑化および微分処理が行われ、エッジ検出用のラインプロファイルが作成される。さらに、このエッジ検出用に作成されたラインプロファイルを用いて、ステップ１３０８で、ＡＭＰ登録された１つ目のエッジ位置検出方法でエッジ位置の検出が行われる。ステップ１３０９では、ステップ１３０８で検出されたエッジ位置が確認できるように、ポイントマーカー等によって、検出エッジ位置がＳＥＭ画像上に表示される。そして、ステップ１３１０では、ステップ１３０８で検出されたエッジ位置の情報をもとに、ＡＭＰ登録されている方法により、測長値を算出し、ステップ１３１１として、測長値表示用のウィンドウあるいはデータシート等に表示される。
【００５４】
ステップ１３１２では、さらにＡＭＰ登録にエッジ位置検出方法がなされている場合には、ステップ１３１３でエッジ位置検出方法を変更し、ステップ１３０８で作成されたラインプロファイルを用いて、さらにエッジ位置の検出、検出エッジ位置の表示、測長値の算出が行われる。最終的に、全測長結果は、記憶装置に記憶して測長値表示用のウィンドウあるいはデータシート等に表示される。例えば、測長に基づいてラインパターンの線幅（平均値）または／および線幅のラフネス図が画面に表示される。
【００５５】
次に、図１４のセミオート測定における従来の測定のフローチャートについて以下説明する。まず、ステップ１４０１では、ＳＥＭ画像をＳＥＭ画像表示用のウィンドウに表示し、ステップ１４０２では、ＡＭＰを設定する。次にステップ１４０３として、ＳＥＭ画像上にボックスカーソルを表示し、ステップ１４０４で、測長箇所にボックスカーソルを配置する。ステップ１４０５で、自動測長の実行を行う。そうすると、ステップ１４０６で、画像からラインプロファイルの作成が行われ、ステップ１４０７で、ラインプロファイルの平滑化および微分処理が行われる。このようにして作成されたラインプロファイルを用いて、ステップ１４０８でエッジ位置の検出が行われ、ステップ１４０９で、検出されたエッジ位置から、測長値を算出し、ステップ１４１０では、ＳＥＭ画像上にエッジ位置確認のマーカーと測長値を表示する。そして、このようにして、一項目分の測長が行われ、ステップ１４１１で、さらに測定項目がある場合は、ステップ１４０２に戻り、改めてＡＭＰ登録から行わなければならない。
【００５６】
従来の方法では、一項目ごとに手動で、ＡＭＰの変更と自動測長の実行を行わなければならず、大変であった。また、測定項目ごとに画像からのラインプロファイルの作成を行うため、時間がかかり、また、測定項目ごとにエッジの検出およびエッジ位置の表示を行うため、エッジの検出およびエッジ位置の表示回数が多く、測定に時間がかかっていた。
【００５７】
それに対し、手動で自動測長を実行する場合において、本発明では、ＡＭＰ登録を複数項目分の測定内容についてできるので、一度の自動測長の実行により、複数項目の測定が行え、手動によるＡＭＰの登録の内容の変更や、自動測長の実行回数を減らせる。
【００５８】
自動測長にかかる時間においても、一回のラインプロファイルの作成で複数項目の測長を行えるため、ラインプロファイルの作成時間が減らすことができ、測定時間が短くなる。また、一回のエッジ位置の検出で複数項目の測長が行えるため、共通のエッジ位置の情報を用いて測長を行う場合には、エッジ位置の検出および検出エッジ位置の表示回数を減らすことができ、短時間で測定が行える。また、検出エッジ位置確認用の画像を保存する場合も、エッジ検出回数分だけ保存すればよいので、画像の保存数を減らすことができる。
【００５９】
本発明の実施例の特徴を列挙すれば次のようになる。
１）エッジ位置の検出回数分だけＳＥＭ画像上にポインティングデバイスにより検出エッジ位置を表示する（従来では、測定項目毎にエッジ位置を表示していた）。
これによれば、エッジ位置の表示回数を少なくできる。測定時間の短縮化。
２）測定項目をエッジ位置の検出方法と測長値の算出方法の組み合わせを記号等  （記号表示部分において名前等をつけて表示してもよい）により表示する。
これによれば、測定項目の確認が容易になる。また、共通のエッジ位置の情報による測定であるかの確認が容易になる。
３）エッジ位置の検出方法のパラメータを任意に設定し、ＡＭＰのエッジ位置検出方法に複数登録できる。
これによれば、１つのラインプロファイルから、複数のエッジ位置を検出することができる。
４）全測定共通に使用するパラメータを設定するエリアがある。
これによれば、複数の測定項目において、全測定項目の変更が一括でできる。測定項目ごとに変更しなくてよい。
【００６０】
５）測長値算出方法を複数選択し、ＡＭＰに登録する。
これによれば、複数の測定項目の登録が容易になる。
６）一回の自動測長の実行で複数の測長を行う。
これによれば、ＡＭＰの変更や自動測長の実行を行う回数が減らせる。
７）記号等により表示した測定項目と測長値を１つのウインドウ（シート）に表示する。
これによれば、結果の確認が容易になる。
８）エッジ位置検出方法の登録状況と測定進行状況がわかるように、測定が終わった部分とこれから測定を行う部分を、異なるフォント（文字の色、大きさ、太さ等）を用いて上記のウィンドウ内に表示する。
これによれば、Ｒｅａｌ  Ｔｉｍｅでの測定の状況の確認が容易になる。
９）自動測長の実行により、上記の測長値表示用のウィンドウが開く。
これによれば、測定結果の確認が容易になる。
【００６１】
以上説明した実施例によれば以下に示す装置および方法が構成される。
画像からラインプロファイルを作成する手段と、ラインプロファイルから自動でエッジ位置を検出する手段と、検出されたエッジ位置から測長値を算出する手段を用いて、自動測長用のパラメータ（ＡＭＰ）の設定に基づいて自動測長を行うことができる測長機能備えた走査形電子顕微鏡において、複数の測定項目の測長内容をＡＭＰに設定する測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００６２】
１つのＡＭＰ登録のためのウィンドウから、複数の測定項目の自動測長を行うための設定が行える測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
共通のラインプロファイルを用いて、複数項目の自動測長を行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００６３】
複数のエッジ位置検出方法を用いて、複数項目の自動測長を同時に行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
検出した複数のエッジ位置の情報を用いて複数の算出方法により、複数の測長値を同時に算出し表示する測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００６４】
エッジ位置検出方法のパラメータを任意に設定し、エッジ位置検出方法のリストに追加することによって、複数項目の測定の設定に使用できるエッジ位置検出方法を増やすことができる測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
一回の自動測長の実行で、複数の測長値を算出し、表示する測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００６５】
エッジ位置検出方法と測長値算出方法の組み合わせを複数登録することによって、複数項目の自動測定が行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
ＡＭＰ登録のためのウィンドウにおいて、エッジ位置検出方法や測長値算出方法を、記号、文字、数字等によって表示する測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００６６】
自動測長の実行によって一度に複数の測長結果を表示できるウィンドウが起動する測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
測定項目がわかる表示ように表記されたウィンドウに、測長値を表示する測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００６７】
更に、ラインパターン画像を表示する手段と、該画像からラインプロファイルを作成する手段と、ラインプロファイルから自動でエッジ位置を検出する手段と、検出されたエッジ位置から測長値を算出する手段とを用い、自動測長用のパラメータの設定に基づいて自動測長を行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡において、画面上に複数の測定項目を設定し、設定された複数の測定項目に対して共通の自動測長用のパラメータの設定条件を設定して前記ラインプロファイルを作成し、該ラインプロファイルにエッジ位置を検出し、複数の測定項目について当該検出されたエッジ位置から自動測長を行う走査形電子顕微鏡。
【００６８】
更に、ラインパターン画像を表示する手段と、該画像からラインプロファイルを作成する手段と、ラインプロファイルから自動でエッジ位置を検出する手段と、検出されたエッジ位置から測長値を算出する手段とを用い、自動測長用のパラメータの設定条件に基づいて自動測長を行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡において、複数の測定項目を設定する第１の画面エリアと、設定された複数の測定項目に対して共通の自動測長手法を設定する第２の画面エリアと、ラインプロファイルのエッジ位置の検出方法を表示する第３の画面エリアとが１つの画面上に構成され、複数の測定項目についての自動測長のための設定が前記画面上でなされる測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００６９】
更に、ラインパターン画像を表示する手段と、該画像からラインプロファイルを作成する手段と、ラインプロファイルから自動でエッジ位置を検出する手段と、検出されたエッジ位置から測長値を算出する手段とを用い、自動測長用のパラメータの設定条件に基づいて自動測長を行う測長機能を備えた走査形電子顕微鏡において、画面上に複数の測定項目を設定し、作成されたラインプロファイルにエッジ位置を検出し、複数の測定項目について当該検出されたエッジ位置から自動測長を行い、エッジ位置の検出方法および測長値算出方法の変更を行って自動測長を繰り返して行い、算出された測長値を記憶装置に記録し、測長値に基づいてラインパターンの線幅または／および線幅のラフネス図を画面に表示する測長機能を備えた走査形電子顕微鏡。
【００７０】
【発明の効果】
本発明によれば、一度に複数の測定項目の測長測定が効率よく行うことができる。また、複数の測定項目について共通に適用する自動測長用のパラメータの登録、確認、変更が容易に行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示すＡＭＰ設定用のウィンドウ図である。
【図２】エッジ位置検出パラメータの設定と測長値算出および表示方法の選択を行うウィンドウ図である。
【図３】測定手法の選択を行うためのウィンドウ図である。
【図４】測定手法Ｌ／Ｓ（Ｍｕｌｔｉ）の測定可能情報を表示したウィンドウ図ある。
【図５】エッジ位置検出方法の登録のためのエッジ位置検出方法の選択ウィンドウ図である。
【図６】ＳＥＭ画像表示用のウィンドウ図である。
【図７】ＳＥＭ画像上に測長用のボックスカーソルを表示した例を示す図である。
【図８】検出された信号上に検出位置とその記号とを表す図である。
【図９】測長値算出方法をラインプロファイル上に表す図である。
【図１０】測長値算出方法をラインプロファイル上に表す図である。
【図１１】測定結果を表示用の画面に表示した例を表す図である。
【図１２】線幅の平均値の算出方法の１例を示す図である。
【図１３】セミオート測定のおける本発明による測定のフローチャート図である。
【図１４】セミオート測定のおける従来技術による測定のフローチャート図である。
【図１５】測長機能を備えた走査電子顕微鏡の概略構成を示した公知のブロック図である。
【符号の説明】
１００…ＡＭＰ設定用のウィンドウ、１０１…画面エリアＡ、１０２…画面エリアＢ、１０３…画面エリアＣ、２０１…画面エリアＤ、２０２…画面エリアＥ、６００…ＳＥＭ画像表示用のウィンドウ、７００…ＳＥＭ画像、７０２…測長用のボックスカーソル、７０３…Ｉｎｓｐｅｃｔ  Ａｒｅａ、７０４…Ｓｅａｒｃｈ  Ａｒｅａ、７０５…Ｄｅｓｉｇｎ  Ｖａｌｕｅ、７０６…Ｓｕｍ  Ｌｉｎｅｓ／Ｐｏｉｎｔ。
【図１】
2004251829.tif 000004
【図２】
2004251829.tif 000005
【図３】
2004251829.tif 000006
【図４】
2004251829.tif 000007
【図５】
2004251829.tif 000008
【図６】
2004251829.tif 000009
【図７】
2004251829.tif 000010
【図８】
2004251829.tif 000011
【図９】
2004251829.tif 000012
【図１０】
2004251829.tif 000013
【図１１】
2004251829.tif 000014
【図１２】
2004251829.tif 000015
【図１３】
2004251829.tif 000016
【図１４】
2004251829.tif 000017
【図１５】
2004251829.tif 000018
【手続補正書】
【提出日】平成16年1月23日(2004.1.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2004251829.tif 000019
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２】
2004251829.tif 000020
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図３】
2004251829.tif 000021
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図４】
2004251829.tif 000022
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図５】
2004251829.tif 000023