(57)【要約】【課題】ハードディスクドライブユニットやシリコンディスクドライブユニット等の記憶装置を搭載したコンピュータ装置が、上記記憶装置の寿命が尽きて使用できなくなるという致命的な障害を回避することができるコンピュータ装置、及び記憶装置の寿命診断方法を提供する。【解決手段】データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータと基準値とを比較し、当該比較の結果、上記動作不良パラメータが上記基準値を超過している場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置（１２０、３１２）と、上記記憶装置への上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置（１０６）とを備えるコンピュータ装置（２００、３００、４００）において、
上記中央処理装置による上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値（Ａ、Ｂ）を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えることを特徴とするコンピュータ装置。
【請求項２】
上記記憶装置は、磁気ディスク（１２５）を記録媒体とするハードディスクドライブユニット（１２０）であって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項１に記載のコンピュータ装置。
【請求項３】
上記記憶装置は、上記磁気ディスクにおけるデータ記憶位置との位置合わせを行なうことにより、上記データの書き込み動作又は上記読み取り動作を行うヘッド部（１２３）を備え、
上記計測されるデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間は、上記ハードディスクドライブユニットの使用時間の経過に伴って生じる上記磁気ディスクの保持位置の位置ズレによって増加する、上記データ記憶位置と上記ヘッド部との位置合わせに要する時間を含んでいる請求項２に記載のコンピュータ装置。
【請求項４】
上記基準値は、上記ハードディスクドライブユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の２倍以上の時間である請求項２又は３に記載のコンピュータ装置。
【請求項５】
上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニット（３１２）であって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項１に記載のコンピュータ装置。
【請求項６】
上記シリコンディスクドライブユニットは、
上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部（３１２−５）と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部への上記データの書き込み動作の動作不良が発生した場合に、上記メモリ部に代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部（３１２−３）と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部（３１２−４）と、
上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生を検出可能であって、当該検出が行なわれると、上記データの上記予備メモリ部への書き込み動作の実行と、上記エラーメモリ部へ上記書き込み動作の動作不良の発生回数の記憶動作の実行との夫々の動作制御を行なうメモリ制御部（３１２−２）とを備え、
上記寿命診断手段は、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記寿命予測通知を行なう請求項５に記載のコンピュータ装置。
【請求項７】
上記基準値は、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される請求項６に記載のコンピュータ装置。
【請求項８】
連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置（５００）として、請求項１から７のいずれか１つに記載のコンピュータ装置（４００）を備える部品実装装置（５０１）であって、
上記制御装置は、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部（１０８）を備えていることを特徴とする部品実装装置。
【請求項９】
上記順次供給される基板を検出可能であり、当該検出により基板供給信号を上記コンピュータ装置に出力する基板供給検出部（５０３）をさらに備え、
上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に上記基板供給検出部から入力される上記基板供給信号に基づいて、上記寿命診断処理を実行するとともに、上記供給された基板への部品実装動作の制御を開始する請求項８に記載の部品実装装置。
【請求項１０】
上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に入力される基板供給信号の入力回数を積算可能であって、当該入力回数が基準回数に達した場合に、上記寿命診断処理を実行する請求項９に記載の部品実装装置。
【請求項１１】
上記コンピュータ装置は、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させる請求項１０に記載の部品実装装置。
【請求項１２】
上記基準値は、段階的に設定された複数の基準値であって、
上記寿命診断手段は、上記夫々の基準値のうちのいずれの基準値を超過しているかを認識可能に上記寿命予測通知を行ない、
上記表示部は、上記寿命予測通知に基づいて、上記記録装置の残りの予測寿命を、上記作業者に認識可能に表示させる請求項８から１１に記載の部品実装装置。
【請求項１３】
データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置（１２０、３１２、４００）の寿命診断方法であって、
上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、
当該計測された上記動作不良パラメータと基準値とを比較し、
当該比較の結果、上記動作不良パラメータが上記基準値を超過している場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことを特徴とする記憶装置の寿命診断方法。
【請求項１４】
上記記憶装置は、磁気ディスク（１２５）を記録媒体とするハードディスクドライブユニット（１２０）であって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項１３に記載の記憶装置の寿命診断方法。
【請求項１５】
上記データの書き込み動作に要する時間を計測し、
上記計測された書き込み動作に要する時間が、上記基準値を超過しているかどうかを判断するとともに、
上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、
上記基準値が超過していると判断されるか、又は、上記夫々のデータが一致していないかのいずれか一方に該当する場合に、上記寿命予測通知を行なう請求項１４に記載の記憶装置の寿命診断方法。
【請求項１６】
上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニット（３１２）であって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう請求項１３に記載の記憶装置の寿命診断方法。
【請求項１７】
データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するハードディスクドライブユニット（１２０）と、上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置（１０６）とを備えるコンピュータ装置に、
上記中央処理装置による上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作又は上記ハードディスクドライブユニットよりの上記データの読み取り動作に要する時間を計測する手順と、
上記計測された書き込み動作に要する時間又は上記読み取り動作に要する時間が、基準値を超過しているかどうかを判断する手順と、
当該判断の結果、上記超過していると判断した場合に、上記ハードディスクドライブユニットの寿命予測通知を行なう手順とを、実行させるためのハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、生産設備等における制御を担うコンピュータ装置が備える記憶装置のその機能的な寿命の予測診断を行なうコンピュータ装置及び記憶装置の寿命診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の生産設備、例えば部品実装装置などに搭載されるコンピュータ装置は、その内部に、磁気ディスクを記録媒体として有する大容量の記憶装置であるハードディスクドライブユニット（以下、ＨＤＤユニットと略す）を搭載している。このようなＨＤＤユニットは、当該生産設備に搭載されていることにより、生産に伴う外部よりの振動等の影響を受け、その機能的な動作を行うことができる寿命が短縮化されたり、場合によっては、破壊される可能性もある一方、当該生産設備における生産を連続的に安定して行なうための安定性が要求されている。このような要求に応えるべく、このような従来のコンピュータ装置においては、予備用のＨＤＤユニットが備えられ、合計２台のＨＤＤユニットが搭載されているものがある。（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
このような従来のコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図を図１に示す。図１に示すように、コンピュータ装置１００は、ハードディスク制御回路１０１、生産設備の稼動において必要となる基本ＯＳや生産情報、及び当該設備を稼動させるプログラム等のデータが読み取り可能に記憶されるＨＤＤユニットの一例である基本ドライブ１０２、基本ドライブ１０２と全く同様の生産設備の稼動において必要となる基本ＯＳや生産情報、及び当該設備を稼動させるプログラム等のデータが読み取り可能に記憶される予備用のＨＤＤユニットの一例であるバックアップ用ドライブ１０３、基本ドライブ１０２とバックアップ用ドライブ１０３のドライブユニット選択回路１０４、主メモリ１０５、中央処理装置１０６、及び外部入出力制御回路１０７を備えている。また、コンピュータ装置１００には、外部入出力制御回路１０７を介して、外部表示装置１０８及び外部入力装置１０９が接続されている。
【０００４】
このような構成のコンピュータ装置１００においては、基本ドライブ１０２内部に記憶されているデータであって上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取るとともに、一時的に主メモリ１０５に記憶させて、当該記憶されたデータを中央処理装置１０６で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路１０７に送信して、外部表示装置１０８で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、外部表示装置１０８で通知された情報から、必要な情報を外部入力装置１０９で入力する。中央処理装置１０６は、外部入力装置１０９で入力された情報を解読して、主メモリ１０５に格納されるデータを参照し、演算処理に必要なデータが主メモリ１０５内に存在しない場合、基本ドライブ１０２に格納されているデータを主メモリ１０５に再び読み取って解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置１０８に表示する手順を繰り返して行なう。また、主メモリ１０５で演算された結果は、必要に応じて、基本ドライブ１０２に書き込まれて記憶される。通常、基本ドライブ１０２において正常な記憶動作が行われているような場合には、図１に示すように、基本ドライブ１０２とバックアップ用ドライブ１０３のドライブユニット選択回路１０４は、接点１０４−１側にスイッチが選択された状態で、上記夫々の手順が繰り返し行なわれる。これに対して、上記生産設備の稼動時、又は上記生産設備の搬送時等に生じる外部からの振動や温湿度等によって、基本ドライブ１０２が破損し、その機能が果たせなくなったような場合にあっては、コンピュータ装置１００は稼動停止となる。この場合、基本ドライブ１０２とバックアップ用ドライブ１０３のドライブユニット選択回路１０４のスイッチが接点１０４−２側に切り換えられて選択されることにより、上記破損した基本ドライブ１０２に代わって、バックアップ用ドライブ１０３を使用することが可能となり、上記稼動停止していたコンピュータ装置１００を、復旧させることができる。
【０００５】
また、従来の生産設備などに搭載されるコンピュータ装置には、その内部に、大容量の記憶装置として、シリコンディスクドライブユニット（以下、ＳＤＤユニットと略す）が搭載されているものもある。ＳＤＤユニットは、内部の記録媒体としてフラッシュメモリを使用しているが、このようなフラッシュメモリは、その特性上、データの書込み回数に制約を有しているものの、最大限にその機能を活用するために、当該制約の中で上記書き込み回数を最大限に延長されている場合が多い。
【０００６】
このようなコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図を図２に示す。なお、図２においては、上述した図１のコンピュータ装置１００と同じ構成を有する部分については、同じ符号を用いている。図２に示すように、コンピュータ装置１１０は、シリコンディスク制御回路１１１、ＳＤＤユニット１１２、主メモリ１０５、中央処理装置１０６、外部入出力制御回路１０７を備えている。
【０００７】
このようなコンピュータ装置１１０においては、ＳＤＤユニット１１２の内部に読み取り可能に記憶されているデータであって、上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取って、一時的に主メモリ１０５に記憶させ、当該記憶されたデータを中央処理装置１０６で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路１０７に送信し、外部表示装置１０８で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、外部表示装置１０８で通知された情報から、必要な情報を外部入力装置１０９で入力する。中央処理装置１０６は、外部入力装置１０９で入力された情報を解読して、主メモリ１０５に記憶されているデータを参照し、これらのデータの中に演算処理に必要なデータが存在しない場合には、ＳＤＤユニット１１２に記憶されているデータを主メモリ１０５に再び読み取って、解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置１０９に表示するという手順を繰り返して行なう。また、主メモリ１０５で演算された結果は必要に応じて、ＳＤＤユニット１１２に書き込にで記憶させる。
【０００８】
ここで、図２を用いて、ＳＤＤユニット１１２の内部構造について説明する。ＳＤＤユニット１１２は、複数のブロックと呼ばれる記憶領域を有し、かつ、データの書き込みによる記憶の際に、これらのブロック単位でデータの書き換えを行うフラッシュメモリを記録媒体としている。また、図２に示すように、ＳＤＤユニット１１２は、上記記録媒体であって、上記データの一例であるファイルデータを記憶するメモリ部の一例であるデータメモリ１１２−５と、上記記録媒体であって、データメモリ１１２−５への上記データの書き込み動作の動作エラー（動作不良）が発生した場合に、データメモリ１１２−５における上記動作エラーの発生したブロックに代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部の一例であるバッファメモリ１１２−３と、データメモリ１１２−５の上記動作エラーの情報を記憶するエラーメモリ部の一例であるエラーメモリ１１２−４とを備えている。さらに、ＳＤＤユニット１１２は、データメモリ１１２−５、バッファメモリ１１２−３、及びエラーメモリ１１２−４に対するデータの読み取り動作、書き込み動作、及び消去動作を行うメモリ制御部の一例であるメモリコントローラ１１２−２と、このメモリコントローラ１１２−２を制御するマイコン１１２−１とを備えている。
【０００９】
このようなＳＤＤユニット１１２においては、コンピュータ装置１１０の中央処理装置１０６で演算された結果を、ＳＤＤユニット１１２にデータメモリ１１２−５にブロック単位で書き込み動作を行う際に、このデータメモリ１１２−５への上記書き込み動作の動作エラーが発生した場合には、データメモリ１１２−５内における上記書き込み不良を起こしたブロックのアドレスをエラーメモリ１１２−４に記憶させるとともに、バッファメモリ１１２−３にブロック単位で当該データを書き込むことにより、ＳＤＤユニット１１２の寿命の延命を行うことができる。
【００１０】
【特許文献１】
特開平１１−２４９８２４号公報
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のようなコンピュータ装置１００における基本ドライブ１０２のようなＨＤＤユニットは、データの入出力を行う制御部と磁気ディスクにデータを書き込む機構部で構成され、長期間ＨＤＤユニットを使用すると機構部の劣化が生じ、データの入出力を行うことができなくなるという問題がある。
【００１２】
当該ＨＤＤユニットの模式的な内部構造を示す模式説明図を図３（Ａ）に示し、このような問題について図３（Ａ）を用いて説明する。図３（Ａ）に示すように、ＨＤＤユニット１２０は、データの入出力を行う制御基板１２１、記録媒体である円盤状の磁気ディスク１２５、この磁気ディスク１２５を高速に回転させるモータ１２４、磁気ディスク１２５にその円周方向に沿って形成された複数の線状のデータ記憶位置（領域）であるトラックに対して、データを読み取り動作及び書き込み動作を行うヘッド部の一例であるヘッド１２３、このヘッド１２３を制御基板１２１から指定されたトラック位置に移動させることにより、上記指定されたトラック位置とヘッド１２３との位置合わせを行なうアクチュエータ１２２とを備えている。
【００１３】
このようなＨＤＤユニット１２０を、図１に示す基本ドライブ１０２と同視して説明すると、ＨＤＤユニット１２０における制御基板１２１は、図１のコンピュータ装置１００内のハードディスク制御回路１０１との間で送受信されるデータを一時的に記憶する一時記憶メモリ１２１−２と、磁気ディスク１２５のデータ制御を行うメモリコントローラ１２１−３と、磁気ディスク１２５に対するデータの読み込み動作又は書き込み動作の解読を行なうとともに、アクチュエータ１２２の動作を制御して、指定のトラック位置に高速にヘッド１２３を移動させることにより、上記指定のトラック位置とヘッド１２３との位置合わせを行なって、読み込み動作又は書き込み動作の制御を行うメモリコントローラ１２１−３とを備えている。
【００１４】
また、ここで、ＨＤＤユニット１２０における磁気ディスク１２５の部分拡大模式説明図を図３（Ｂ）に示す。図３（Ｂ）に示すように、磁気ディスク１２５とモータ１２４の間には、微小な大きさのボールベアリング１２６が複数配置されており、これらのボールベアリング１２６は、円盤状の磁気ディスク１２５を保持しながらその高速かつ同心円上の回転を案内する役割を担っている。このようにボールベアリング１２６が備えられていることにより、ＨＤＤユニット１２０において、磁気ディスク１２５の上記回転は、同心円上の軌跡１２７を描くことができるが、ＨＤＤユニット１２０を長期間使用するとボールベアリング１２６が摩耗し、摩耗が進行するにしたがって、上記磁気ディスク１２５の保持位置に位置ズレが生じて、上記同心円上の軌跡１２７に位置ズレが生じるようになり、図３（Ｂ）に示すような位置ズレが発生した軌跡１２８を描くようになる。このような場合にあっては、マイコン１２１−１は、ヘッド１２３を正常のトラック位置に移動させることが困難となる。さらに、ボールベアリング１２６の摩耗が任意の状態に進行すると、ヘッド１２３と上記トラック位置との位置合わせに障害を来たし、マイコン１２１−１が位置合わせを行なおうとするトラック位置とは異なるトラック位置のデータを読み書きすることとなり、ＨＤＤユニット１２０は、読み書きできなくなってしまうという問題点がある。
【００１５】
また、コンピュータ装置１１０に備えられているＳＤＤユニット１１２は、フラッシュメモリのデータの読み取り動作をＤＲＡＭやＳＲＡＭと同様にバイトやワード単位の小さいデータ単位で自由に行なうことが可能であるが、書き込み動作については、その特性上、書き換え回数に制限がある。従って、Ｗｉｎｄｏｗｓ（登録商標）系のＯＳの下で使用する場合、ディレクトリやＦＡＴ領域のような領域は他の領域に比べて書き換え回数が多いので、ディレクトリやＦＡＴ領域に使用されるフラッシュメモリの特定のブロックのみが、当該フラッシュメモリの書き換え回数の制限を越える可能性が高い。上記ブロックで上記書き換え回数の制限を超えるような場合が生じて異常が発生した場合には、ＳＤＤユニット１１２は、代替となるブロックにデータを書き換えるが、代替となるブロックの個数は有限である。よって、当該代替となる全てのブロックが繰り返し使用された結果、上記書換え回数の制限を越えた場合には、ＳＤＤユニット１１２は、読み書きできなくなってしまうという問題がある。
【００１６】
このようなＨＤＤユニット１２０やＳＤＤユニット１１２等の記憶装置を搭載したコンピュータ装置を生産設備等で使用した場合、上述のような要因で読み書きができなくなり、ＨＤＤユニット１２０やＳＤＤユニット１１２の寿命が尽きてしまったような場合には、コンピュータ装置を正常に作動させることができず、当該生産設備の稼動において致命的な障害を与えることになるという問題がある。
【００１７】
従って、本発明の目的は、上記問題を解決することにあって、ハードディスクドライブユニットやシリコンディスクドライブユニット等の記憶装置を搭載したコンピュータ装置が、上記記憶装置の寿命が尽きて使用できなくなるという致命的な障害を回避することができるコンピュータ装置、当該コンピュータ装置を備える部品実装装置、記憶装置の寿命診断方法、及びハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラムを提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。
【００１９】
本発明の第１態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置と、上記記憶装置への上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置とを備えるコンピュータ装置において、
上記中央処理装置による上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えることを特徴とするコンピュータ装置を提供する。
【００２０】
本発明の第２態様によれば、上記記憶装置は、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニットであって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第１態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【００２１】
本発明の第３態様によれば、上記記憶装置は、上記磁気ディスクにおけるデータ記憶位置との位置合わせを行なうことにより、上記データの書き込み動作又は上記読み取り動作を行うヘッド部を備え、
上記計測されるデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間は、上記ハードディスクドライブユニットの使用時間の経過に伴って生じる上記磁気ディスクの保持位置の位置ズレによって増加する、上記データ記憶位置と上記ヘッド部との位置合わせに要する時間を含んでいる第２態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【００２２】
本発明の第４態様によれば、上記基準値は、上記ハードディスクドライブユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の２倍以上の時間である第２態様又は第３態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【００２３】
本発明の第５態様によれば、上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニットであって、
上記寿命診断手段は、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第１態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【００２４】
本発明の第６態様によれば、上記シリコンディスクドライブユニットは、
上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部への上記データの書き込み動作の動作不良が発生した場合に、上記メモリ部に代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部と、
上記記録媒体であり、上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部と、
上記メモリ部における上記書き込み動作の動作不良の発生を検出可能であって、当該検出が行なわれると、上記データの上記予備メモリ部への書き込み動作の実行と、上記エラーメモリ部へ上記書き込み動作の動作不良の発生回数の記憶動作の実行との夫々の動作制御を行なうメモリ制御部とを備え、
上記寿命診断手段は、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記寿命予測通知を行なう第５態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【００２５】
本発明の第７態様によれば、上記基準値は、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される第６態様に記載のコンピュータ装置を提供する。
【００２６】
本発明の第８態様によれば、連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置として、第１態様から第７態様のいずれか１つに記載のコンピュータ装置を備える部品実装装置であって、
上記制御装置は、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部を備えていることを特徴とする部品実装装置を提供する。
【００２７】
本発明の第９態様によれば、上記順次供給される基板を検出可能であり、当該検出により基板供給信号を上記コンピュータ装置に出力する基板供給検出部をさらに備え、
上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に上記基板供給検出部から入力される上記基板供給信号に基づいて、上記寿命診断処理を実行するとともに、上記供給された基板への部品実装動作の制御を開始する第８態様に記載の部品実装装置を提供する。
【００２８】
本発明の第１０態様によれば、上記コンピュータ装置は、上記基板の供給毎に入力される基板供給信号の入力回数を積算可能であって、当該入力回数が基準回数に達した場合に、上記寿命診断処理を実行する第９態様に記載の部品実装装置を提供する。
【００２９】
本発明の第１１態様によれば、上記コンピュータ装置は、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させる第１０態様に記載の部品実装装置を提供する。
【００３０】
本発明の第１２態様によれば、上記基準値は、段階的に設定された複数の基準値であって、
上記寿命診断手段は、上記夫々の基準値のうちのいずれの基準値を超過しているかを認識可能に上記寿命予測通知を行ない、
上記表示部は、上記寿命予測通知に基づいて、上記記録装置の残りの予測寿命を、上記作業者に認識可能に表示させる第８態様から第１１態様に記載の部品実装装置を提供する。
【００３１】
本発明の第１３態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶する記憶装置の寿命診断方法であって、
上記記憶装置への上記データの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、
当該計測された上記動作不良パラメータと基準値とを比較し、
当該比較の結果、上記動作不良パラメータが上記基準値を超過している場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことを特徴とする記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【００３２】
本発明の第１４態様によれば、上記記憶装置は、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニットであって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第１３態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【００３３】
本発明の第１５態様によれば、上記データの書き込み動作に要する時間を計測し、
上記計測された書き込み動作に要する時間が、上記基準値を超過しているかどうかを判断するとともに、
上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、
上記基準値が超過していると判断されるか、又は、上記夫々のデータが一致していないかのいずれか一方に該当する場合に、上記寿命予測通知を行なう第１４態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【００３４】
本発明の第１６態様によれば、上記記憶装置は、ブロック単位で上記データの記憶を行なうフラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニットであって、
上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なう第１３態様に記載の記憶装置の寿命診断方法を提供する。
【００３５】
本発明の第１７態様によれば、データを書き込み可能であって、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するハードディスクドライブユニットと、上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作及び読み取り動作を実行可能であって、かつ、当該データの演算処理を行なう中央処理装置とを備えるコンピュータ装置に、
上記中央処理装置による上記ハードディスクドライブユニットへの上記データの書き込み動作又は上記ハードディスクドライブユニットよりの上記データの読み取り動作に要する時間を計測する手順と、
上記計測された書き込み動作に要する時間又は上記読み取り動作に要する時間が、基準値を超過しているかどうかを判断する手順と、
当該判断の結果、上記超過していると判断した場合に、上記ハードディスクドライブユニットの寿命予測通知を行なう手順とを、実行させるためのハードディスクドライブユニットの寿命診断用プログラムを提供する。
【００３６】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００３７】
（第１実施形態）
本発明の第１の実施形態にかかるコンピュータ装置２００の模式的な構成を示すブロック図を図４に示す。なお、以降の説明において、コンピュータ装置２００の構成のうち、従来のコンピュータ装置１００の構成と同一の構成を有する部分については、その説明の理解を容易とすることを目的として、同じ符号を用いている。また、コンピュータ装置２００は、主に生産設備において制御装置として（あるいはその一部として）用いられる装置であり、例えば、このような生産装置の一例としては、複数の部品を基板に実装する部品実装を行う部品実装装置がある。
【００３８】
図４に示すように、コンピュータ装置２００は、ハードディスク制御回路１０１と、基本ＯＳやプログラム等のデータが読み取り可能に書き込まれて格納（記憶）される記憶装置の一例であるハードディスクドライブユニット（以降、ＨＤＤユニットという）１２０と、主メモリ１０５と、中央処理装置１０６と、外部入出力制御回路１０７とを備えている。また、コンピュータ装置２００には、外部入出力制御回路１０７を介して、外部表示装置１０８（例えば、モニタ等）及び外部入力装置１０９（例えば、キーボード等）が接続されている。
【００３９】
また、図４に示すように、ＨＤＤユニット１２０は、その記憶機能を担う記録媒体として、円盤状の磁気ディスク１２５を有しており、この磁気ディスク１２５に対するデータの入出力を行う制御基板１２１と、この磁気ディスク１２５を高速に回転させる回転駆動部の一例であるモータ１２４と、磁気ディスク１２５の円周方向に沿って形成された複数の線状（あるいは、細い帯状）のデータ記憶位置（領域）であるトラックに対してデータの読み取り動作及び書き込み動作を行なうヘッド１２３（ヘッド部の一例である）と、このヘッド１２３を制御基板１２１から指定されたトラック位置（すなわち、上記データ記憶位置）に移動させることにより、上記指定されたトラック位置とヘッド１２３との位置合わせを行なう位置決め装置の一例であるアクチュエータ１２２とを備えている。
【００４０】
また、ＨＤＤユニット１２０における制御基板１２１は、コンピュータ装置２００内のハードディスク制御回路１０１との間で送受信されるデータを一時的に記憶する一時記憶メモリ１２１−２と、磁気ディスク１２５のデータ制御を行うメモリコントローラ１２１−３と、磁気ディスク１２５に対するデータの読み込み動作又は書き込み動作の解読を行なうとともに、アクチュエータ１２２の動作を制御して、指定のトラック位置に高速にヘッド１２３を移動させることにより、上記指定のトラック位置とヘッド１２３との位置合わせを行なって、読み込み動作又は書き込み動作の制御を行うメモリコントローラ１２１−３とを備えている。
【００４１】
さらに、図４に示すように、磁気ディスク１２５とモータ１２４の間には、微小な大きさのボールベアリング１２６が複数配置されており、これらのボールベアリング１２６は、円盤状の磁気ディスク１２５を保持するとともに、その高速かつ同心円上の回転を案内する役割を担っている。
【００４２】
このような構成のコンピュータ装置２００においては、ＨＤＤユニット１２０の磁気ディスク１２５の内部に記憶されているデータより、上記生産設備の稼動に必要なデータを読み取るとともに、一時的に主メモリ１０５に記憶させて、当該記憶されたデータを中央処理装置１０６で解読して演算を行い、当該演算結果を外部入出力制御回路１０７に送信して、外部表示装置１０８で表示する。一方、上記生産設備の作業者は、例えば、外部表示装置１０８で通知された情報から、あるいは、当該通知された情報に基づいて、必要な情報を外部入力装置１０９で入力する。中央処理装置１０６は、外部入力装置１０９で入力された情報を解読して、主メモリ１０５に格納されるデータを参照し、演算処理に必要なデータが主メモリ１０５内に存在しない場合、ＨＤＤユニット１２０の磁気ディスク１２５の内部に格納されているデータを主メモリ１０５に再び読み取って解読及び演算を行ない、当該演算結果を外部表示装置１０８に表示する。このような手順を繰り返して行なうことにより、上記生産設備における制御が行なわれる。また、主メモリ１０５で演算された結果や、外部から入力されたデータ等は、必要に応じて、中央処理装置１０６により、ＨＤＤユニット１２０の磁気ディスク１２５の未使用領域のトラックに対して書き込まれ、また、当該書き込まれたデータ等は、必要に応じて、読み込み動作が行なわれる。
【００４３】
次に、このような構成及び動作を行うコンピュータ装置２００におけるＨＤＤユニット１２０のその記憶装置としての寿命を予測診断する寿命診断方法について説明する。
【００４４】
コンピュータ装置２００は、このような寿命診断を行なう寿命診断手段を備えている。この寿命診断手段は、中央処理装置１０６によるＨＤＤユニット１２０へのデータの書き込み動作、又は、ＨＤＤユニット１２０よりのデータの読み取り動作の実行におけるＨＤＤユニット１２０の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、当該処理実行の結果、上記基準値を超過していると判断する場合に、ＨＤＤユニット１２０の寿命予測通知を行うという機能を有している。
【００４５】
ＨＤＤユニット１２０は、その使用期間の経過とともに、磁気ディスク１２５の回転を案内するボールベアリング１２６が磨耗し、当該磨耗の進行に伴って、ボールベアリング１２６による磁気ディスク１２５の保持位置に位置ズレが生じ、磁気ディスク１２５の上記同心円上の回転を維持することができなくなる。このような場合にあっては、データが読み取られるべきトラック位置若しくはデータが書き込まれるべきトラック位置と、ヘッド１２３との位置合わせに要する時間が長くなるという問題がある。このような問題点を利用して、上記寿命診断手段は、磁気ディスク１２５に対するデータの読み取り動作に要する時間、あるいは、データの書き込み動作に要する時間を、ＨＤＤユニット１２０の上記動作不良パラメータとして、ＨＤＤユニット１２０の寿命診断処理を行なうものである。
【００４６】
ここで、ＨＤＤユニット１２０の使用時間（期間）の経過（図示横軸）と、ＨＤＤユニット１２０の磁気ディスク１２５に対するデータの読み書き速度（すなわち、１秒間に読み書きできるデータ量（Ｒ／Ｗ速度ともいうものとする）、図示縦軸）との関係を示すグラフ形式の図を、図５に示し、図５を用いて、具体的に説明する。
【００４７】
図５に示すように、ＨＤＤユニット１２０は、一定時間ｔ１までは１秒間に読み書きできるデータ量が略一定となっており、その変化を示さないが、この一定時間ｔ１を経過するとともに、１秒間に読み書きできるデータ量が減少する。これは、ボールベアリング１２６の摩耗が進行し、磁気ディスク１２５の回転軌跡が上記同心円上から位置ズレを生じ、ヘッド１２３のトラックヘの位置決めに時間がかかっていることを示している。従って、１秒間に読み書きできるデータ量が、例えば、任意の値Ａを基準値として、当該基準値Ａを下回るかどうかで、ＨＤＤユニット１２０の寿命が尽きる前に、当該寿命予測の判定を行うことができる。なお、上記１秒間に読み書きできるデータ量は、視点を逆にすれば、単位量のデータの読み取り動作又は書き込み動作に要する時間でもあることは明らかであり、これらのいずれを用いるような場合であってもよい。
【００４８】
次に、コンピュータ装置２００において、上記寿命診断手段の一例である寿命診断用プログラムにより、ＨＤＤユニット１２０の寿命診断処理が行なわれる場合のその具体的な手順について、図６に示すフローチャートを用いて説明する。なお、このような寿命診断用プログラムは、ＨＤＤユニット１２０の内部に記憶されている場合や、コンピュータ装置２００のその他の記憶可能な部分に記憶されているような場合であってもよい。また、この寿命診断用プログラムは、ＣＤ等の記録媒体に記録された状態で、コンピュータ装置２００にインストールされる場合や、通信手段等を用いて他の装置から入力されるような場合であってもよい。また、当該寿命診断用プログラムは、その使用される対象等の特性や状況に応じて、プログラムの内容の一部を書き換えたり、その機能を高めるためのバージョンアップを行ったりすることもできる。
【００４９】
図６に示すように、まず、コンピュータ装置２００において、中央処理装置１０６の内部にあるタイマーの一例である内部クロック（図示しない）を利用し、任意の時刻になった場合あるいは外部からの起動指令等に基づいて、ＨＤＤユニット１２０の寿命診断用プログラムを起動する。
【００５０】
次に、当該起動された寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置１０６により、ＨＤＤユニット１２０の磁気ディスク１２５の複数のトラックのうちの空き領域のトラックに、任意サイズのデータの書き込み動作を開始する（ステップＳ１）。この書き込み動作の開始とともに、例えば、中央処理装置１０６の上記内部クロックあるいはその他のタイマー等を用いて、上記書き込み動作に要する時間を計測する（ステップＳ２）。その後、当該書き込み動作が終了したことが確認されると、上記時間の計測も終了する（ステップＳ３）。
【００５１】
次に、中央処理装置１０６によって、ＨＤＤユニット１２０の磁気ディスク１２５に上記書き込まれたデータの読み取り動作が実行される（ステップＳ４）。当該読み取り動作により読み取られたデータは、主メモリ１０５に一時的に読み取られるとともに、先の書き込み動作にて書き込まれるべきデータ（当該データは、主メモリ１０５に一時的に保管されている）と一致しているかどうか、中央処理装置１０６による照合が行なわれる（ステップＳ５）。
【００５２】
この中央処理装置１０６における当該照合の結果、互いのデータが一致しているものと判断された場合には、次に、上記計測された書き込み動作に要した時間が、予め設定されて、主メモリ１０５等のコンピュータ装置２００内の記憶部に入力されて保持されている基準値との比較が行なわれ、上記計測された時間が上記基準値を超過しているかどうかが判断される（ステップＳ６）。なお、この場合、上記書き込み動作が行われたデータの容量と、上記計測された時間とにより、単位データ量当りの書き込みに要する時間が、中央処理装置１０６にて算出されて、単位データ量当りの書き込みに要する時間の基準時間を上記基準値として、両者の比較判断が、中央処理装置１０６にて行なわれる。なお、上記基準値は、例えば、ＨＤＤユニット１２０の使用初期における上記書き込み動作に要する時間（すなわち、初期時間）に基づいて決定することができる。例えば、上記基準値を、このような初期時間の２倍以上の時間と設定することができる。
【００５３】
このステップＳ６における比較判断の結果、上記計測時間が上記基準値を超過していないと判断された場合には、ＨＤＤユニット１２０の寿命が尽きるまでには、まだ十分な余裕があるものとして、寿命診断処理が終了する。
【００５４】
一方、ステップＳ６における比較判断の結果、上記計測時間が上記基準値を超過しているものと判断された場合には、ＨＤＤユニット１２０の寿命が尽きる時期が迫って来ている（すなわち、余命が少ない）ものとして、寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置１０６より、外部入出力制御回路１０７に寿命予測通知を出力する（ステップＳ７）。この寿命予測通知は、外部入出力制御回路１０７より外部表示装置１０８に出力されて、外部表示装置１０８にて当該寿命予測通知が表示あるいは通知される。これにより、上記生産装置の作業者に、ＨＤＤユニット１２０の寿命が尽きる時期が迫ってきていることを、認識させることができる。
【００５５】
また、ステップＳ５において、上記書き込まれるべきデータと上記読み取られたデータとの照合の結果、両者が一致していないものと判断された場合には、上記書き込まれたデータを正常に読み取ることができない状態に磁気ディスク１２５がなっているものと推定して、中央処理装置１０６より、外部入出力制御回路１０７を介しての外部表示装置１０８への寿命予測通知を行なって、上記作業者に寿命予測通知を認識させることができる（ステップＳ７）。
【００５６】
なお、上記ステップＳ６における上記計測時間と上記基準値との比較判断を行なうような場合に代えて、上記計測された時間と、上記書き込まれたデータの容量に基づいて、１秒間に書き込まれるデータ量（すなわち、Ｒ／Ｗ速度）を、中央処理装置１０６にて算出し、予め入力されているこのＲ／Ｗ速度の基準速度（例えば、図５における速度Ａ）を基準値として、両者の比較判断を行なうような場合であってもよい。このような場合にあっては、ステップＳ６において、上記１秒間に書き込まれるデータ量が、上記基準値を下回っているかどうかが判断されて、下回っている場合には、ステップＳ７にて、寿命予測通知が行なわれる。
【００５７】
また、上記寿命診断用プログラムに基づく、寿命診断処理の判断等（図６のステップＳ５やステップＳ６における判断等）は、コンピュータ装置２００の中央処理装置１０６にて行なわれる場合について説明したが、このような場合のみに限定されるものではない。例えば、ＨＤＤユニット１２０のマイコン１２１−１に中央処理装置１０６と同様な機能を備えさせて、このマイコン１２１−１にて上記判断等を行なうような場合であってもよい。
【００５８】
また、例えば、生産装置におけるコンピュータ装置２００の機能障害の発生によって当該生産に与える障害の大きさや、ＨＤＤユニット１２０の交換に要する時間等を考慮して、上記基準値を設定し、上記寿命予測通知が出力されたときのＨＤＤユニット１２０の余命の長さを調整することができる。
【００５９】
さらに、上記寿命診断処理においては、上記基準値は１点のみしか設定していないが、このような場合に代えて、複数の基準値を段階的に設定し、上記計測された時間が、どの段階の基準値を超過しているのかを比較判断することにより、ＨＤＤユニット１２０の余命の度合いを含めた上記寿命予測通知を行なうような場合であってもよい。
【００６０】
また、上述のように、ＨＤＤユニット１２０への読み込み動作又は書き込み動作に要する時間に基づいて、ＨＤＤユニット１２０の寿命を診断するような場合に代えて、当該読み込み動作時や書き込み動作時におけるＨＤＤユニット１２０より発せられる音圧レベルや周波数成分を検出することにより、当該寿命を診断するような場合であってもよい。ＨＤＤユニット１２０は、ボールベアリング１２６を用いた機構系を用いて磁気ディスク１２５の回転駆動を行っており、ボールベアリング１２６が磨耗するに従って、当該回転駆動により発生する音圧レベルが大きくなったり、周波数成分が変化したりするからである。従って、このような場合にあっては、上記音圧レベルや上記周波数成分を動作不良パラメータの一例とすることができる。
【００６１】
上記第１実施形態によれば、ＨＤＤユニット１２０が、その寿命が尽きて、記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、寿命診断用プログラムを用いて寿命診断処理を行なうことにより、ＨＤＤユニット１２０の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。従って、ＨＤＤユニット１２０の当該寿命が尽きることによる突然のコンピュータ装置２００の機能停止や機能障害の発生による生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【００６２】
具体的には、ＨＤＤユニット１２０が記録媒体として備える円盤状の磁気ディスク１２５は、ベアリング１２６によりその同心円上の回転が案内されているが、その使用期間の経過とともに、ベアリング１２６の磨耗等により、上記同心円上の回転に位置ズレが生じ、磁気ディスク１２５のトラックに対するデータの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間が長くなってくるという特徴を利用することにより、上記寿命診断処理を行なっている。すなわち、ＨＤＤユニット１２０の動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は上記データの読み取り動作に要する時間を用いて、当該時間を計測して、計測された時間が基準値を超過しているかどうかを比較判断することにより、上記寿命診断処理を行なうことができる。
【００６３】
さらに、コンピュータ装置２００にて、上記寿命診断処理の結果、上記計測された時間が上記基準値を超過しているものと判断されると、寿命予測通知を出力して、例えば、外部表示装置１０８に表示させることにより、上記生産設備の作業者に、ＨＤＤユニット１２０の寿命が迫っていることを認識させることができる。これにより、上記作業者は、上記生産装置の連続的な安定した稼動を担保するために、例えば、コンピュータ装置２００にて寿命が迫っているＨＤＤユニット１２０の交換や、記憶されているデータのバックアップを行なう等の必要な措置を採ることができる。
【００６４】
また、上記寿命診断処理においては、上記計測された時間と上記基準値との比較判断に加えて、磁気ディスク１２５に上記書き込み動作を行った後に、当該書き込まれたデータの読み取り動作を行って、書き込まれるべきデータと読み込まれたデータとの照合を行ない、当該照合の結果、両データが一致していないと判断された場合にも、ＨＤＤユニット１２０が、書き込み動作又は読み取り動作を正常に行なうことができない状態にあるものと推定して、上記寿命予測通知を行なうことにより、より信頼性の高い診断処理を行なうことができる。
【００６５】
（第２実施形態）
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その他種々の態様で実施できる。例えば、本発明の第２実施形態にかかるコンピュータ装置３００の模式的な構成を示すブロック図を図７に示す。なお、以降の説明において、コンピュータ装置３００の構成のうち、従来のコンピュータ装置１１０、あるいは上記第１実施形態のコンピュータ装置２００と同一の構成を有する部分については、その説明の理解を容易とすることを目的として、同じ符号を用いている。また、コンピュータ装置３００は、主に生産設備において制御装置として用いられる装置である。
【００６６】
図７に示すように、コンピュータ装置３００は、シリコンディスク制御回路１１１と、基本ＯＳやプログラム等のデータが読み取り可能に書き込まれて格納（記憶）される記憶装置の一例であるシリコンディスクドライブユニット（以降、ＳＤＤユニットという）３１２と、主メモリ１０５と、中央処理装置１０６と、外部入出力制御回路１０７とを備えている。また、コンピュータ装置３００には、外部入出力制御回路１０７を介して、外部表示装置１０８及び外部入力装置１０９が接続されている。
【００６７】
また、ＳＤＤユニット３１２は、複数のブロックと呼ばれる記憶領域を有し、かつ、データの書き込みによる記憶の際に、これらのブロック単位でデータの書き換えを行なうフラッシュメモリを記録媒体としている。また、図７に示すように、ＳＤＤユニット３１２は、上記記録媒体であって、上記データの一例であるファイルデータを記憶するメモリ部の一例であるデータメモリ３１２−５と、上記データメモリ３１２−５への上記データの書き込み動作の動作エラー（動作不良）が発生した場合に、データメモリ３１２−５における上記動作エラーの発生したブロックに代わって、上記データを読み取り可能に記憶する予備メモリ部の一例であるバッファメモリ３１２−３と、データメモリ３１２−５の上記動作エラーの情報を記憶するエラーメモリ部の一例であるエラーメモリ３１２−４とを備えている。さらに、ＳＤＤユニット３１２は、データメモリ３１２−５、バッファメモリ３１２−３、及びエラーメモリ３１２−４に対するデータの読み取り動作、書き込み動作、及び消去動作を行うメモリ制御部の一例であるメモリコントローラ３１２−２と、このメモリコントローラ３１２−２を制御するマイコン３１２−１とを備えている。
【００６８】
このようなＳＤＤユニット３１２においては、コンピュータ装置３００の中央処理装置１０６で演算された結果を、ＳＤＤユニット３１２にデータメモリ３１２−５にブロック単位で書き込み動作を行う際に、このデータメモリ３１２−５への上記書き込み動作の動作エラーが発生した場合には、データメモリ３１２−５内における上記書き込み不良を起こしたブロックのアドレスをエラーメモリ３１２−４に記憶させるとともに、バッファメモリ３１２−３にブロック単位で当該データを書き込むことにより、ＳＤＤユニット３１２の寿命の延命を行うことができる。さらに、ＳＤＤユニット３１２におけるエラーメモリ３１２−４には、データメモリ３１２−５の上記書き込み不良の発生回数（すなわち、エラー発生回数）をカウント（積算して記憶）するエラーカウントメモリ３１２−６が備えられている。
【００６９】
次に、このような構成を有するコンピュータ装置３００におけるＳＤＤユニット３１２のその記憶装置としての寿命を予測診断する寿命診断方法について説明する。
【００７０】
コンピュータ装置３００は、中央処理装置１０６によるＳＤＤユニット３１２へのデータの書き込み動作又はＳＤＤユニット３１２よりのデータの読み取り動作の実行におけるＳＤＤユニット３１２の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行う寿命診断手段を備えている。
【００７１】
ＳＤＤユニット３１２は、その使用期間の経過とともに、その記録媒体であるフラッシュメモリのブロックにおいて、特に、データメモリ３１２−５のブロックにおいて、書き換え回数の制限を超えるような場合が発生することとなる。このようにデータメモリ３１２−５におけるブロックにて書き換え回数の制限を越えた場合には、動作エラー（動作不良）が発生し、この動作エラーの発生に基づいて、バッファメモリ３１２−３のブロックを代替ブロックとしてデータの書き換えが行なわれることとなるが、代替となるブロックの個数は有限であり、代替となるブロックが全て無くなったときに、ＳＤＤユニット３１２は、データの記憶動作を行うことができず、その寿命が尽きることとなる。このような事態の発生を回避するため、上記動作エラーの発生回数をエラーカウントメモリ３１２−６にてカウントし、カウントされたエラー発生回数が予め設定された基準値を超過することにより、上記代替ブロックの残り個数が少なくなっている状態にあり、ＳＤＤユニット３１２の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断するというのが、本第２実施形態の寿命診断方法の概念である。
【００７２】
ここで、ＳＤＤユニット３１２の使用時間（期間）の経過（図示横軸）と、ＳＤＤユニット３１２のエラーメモリ３１２−４におけるエラーカウントメモリ３１２−６にてカウントされた動作エラーの発生回数（図示縦軸）との関係を示すグラフ形式の図を図８に示し、図８を用いて具体的に説明する。
【００７３】
図８に示すように、ＳＤＤユニット３１２の使用初期においては、データメモリ３１２−５の夫々のブロックへのデータの書き込みの際に動作エラーは発生しないが、時間の経過と共にブロックヘの書き込み回数が増加し、ある時間ｔ２を境に書き込みエラーが発生する。これは、データメモリ３１２−５内の夫々のブロックのうちの一部のブロックが書き込み回数の制限値を超えるような状況となったためである。ＳＤＤユニット３１２におけるデータメモリ３１２−５が有するブロック数やバッファメモリ３１２−３が有するブロック数は、予め固定された値である。従って、このような夫々が有するブロック数を考慮して、動作エラーの発生回数がある基準回数Ｂを基準値として、この基準値を超過したときに、ＳＤＤユニット３１２の寿命が尽きる時期が近づいているものと寿命診断を行なうことができる。
【００７４】
次に、コンピュータ装置３００において、上記寿命診断手段の一例である寿命診断用プログラムにより、ＳＤＤユニット３１２の寿命診断処理を行なう場合の具体的な手順について、図９に示すフローチャートを用いて説明する。なお、このような寿命診断用プログラムは、ＳＤＤユニット３１２の内部に記憶されている場合や、コンピュータ装置３００のその他の記憶可能な部分に記憶されているような場合であってもよい。
【００７５】
図９に示すように、まず、コンピュータ装置３００において、中央処理装置１０６の内部にあるタイマーの一例である内部クロック（図示しない）を利用し、任意の時刻になった場合あるいは外部からの起動指令等に基づいて、ＳＤＤユニット３１２の寿命診断用プログラムを起動する。
【００７６】
次に、当該起動された寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置１０６により、ＳＤＤユニット３１２のエラーメモリ３１２−４の内部のエラーカウントメモリ３１２−６に記憶されているエラー発生回数を読み取り、主メモリ１０５に一時的に記憶させる（ステップＳ１１）。
【００７７】
次に、予め設定されて、主メモリ１０５等のコンピュータ装置３００内の記憶部等に入力されて保持されている基準値と、上記エラー発生回数との比較が行なわれ、上記エラー発生回数が上記基準値を超過しているかどうかが判断される（ステップＳ１２）。
【００７８】
このステップＳ１２における比較判断の結果、上記エラー発生回数が上記基準値を超過していないと判断された場合には、ＳＤＤユニット３１２の寿命が尽きるまでには、まだ十分な余裕があるものとして、寿命診断処理が終了する。
【００７９】
一方、ステップＳ１２における比較判断の結果、上記エラー発生回数が上記基準値を超過しているものと判断された場合には、ＳＤＤユニット３１２の寿命が尽きる時期が迫って来ている（すなわち、余命が少ない）ものとして、寿命診断用プログラムに基づいて、中央処理装置１０６より、外部入出力制御回路１０７に寿命予測通知を出力する（ステップＳ１３）。この寿命予測通知は、外部入出力制御回路１０７より外部表示装置１０８に出力されて、外部表示装置１０８にて当該寿命予測通知が表示あるいは通知される。これにより、上記生産装置の作業者に、ＳＤＤユニット３１２の寿命が尽きる時期が迫ってきていることを、認識させることができる。なお、当該寿命予測通知を出力した後、上記寿命診断プログラムは終了する。
【００８０】
なお、上記寿命診断用プログラムに基づく、寿命診断処理の判断等（図９のステップＳ１２における判断等）は、コンピュータ装置３００の中央処理装置１０６にて行なわれる場合について説明したが、このような場合のみに限定されるものではない。例えば、ＳＤＤユニット３１２のマイコン３１２−１に中央処理装置１０６と同様な機能を備えさせて、このマイコン３１２−１にて上記判断等を行なうような場合であってもよい。
【００８１】
また、上記基準値は１点のみを設定する場合に限定されず、段階的に複数の基準値を設定し、作業者がＳＤＤユニット３１２の余命を認識可能とするような寿命予測通知が行なわれるような場合であってもよい。
【００８２】
また、ＳＤＤユニット３１２のデータメモリ３１２−５におけるブロックがデータ書き換え回数の制限を越えた場合の動作エラーの発生回数を、エラーカウントメモリ３１２−６にてカウントしていることより、データメモリ３１２−５が有するブロック数に、当該エラー発生回数がカウントされた場合に、ＳＤＤユニット３１２の寿命が尽きるものと考えることにより、上記基準値をデータメモリ３１２−５のブロック数に基づいて設定することができる（例えば、当該ブロック数の８０％の値とする等）。
【００８３】
上記第２実施形態によれば、コンピュータ装置３００が備える記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするＳＤＤユニット３１２であるような場合であっても、上記寿命診断手段として、データメモリ３１２−５におけるブロックの動作エラー発生回数を動作不良パラメータとする寿命診断用プログラムを用いることにより、ＳＤＤユニット３１２の寿命が迫って来ているかどうかの寿命診断処理を行なうことができる。
【００８４】
具体的には、ＳＤＤユニット３１２のエラーメモリ３１２−４に、上記動作エラーの発生回数を積算して記憶するエラーカウントメモリ３１２−６を内蔵させて、このエラーカウントメモリ３１２−６にて積算されたエラー発生回数が、予め設定されたエラー発生回数の基準回数である基準値を超過していると判断された場合に、寿命予測通知を出力し、ＳＤＤユニット３１２の寿命が尽きる時期が近づいていることを上記生産装置の作業者に認識させることができる。
【００８５】
（第３実施形態）
次に、本発明の第３実施形態にかかるコンピュータ装置４００について説明する。コンピュータ装置４００は、上記第１実施形態のコンピュータ装置２００又は上記第２実施形態のコンピュータ装置３００と同じ構成及び機能を有しており、ＨＤＤユニット１２０又はＳＤＤユニット３１２の記憶装置の寿命診断処理を行うことが可能となっている。また、図１０のブロック図に示すように、コンピュータ装置４００は、生産装置の一例である部品実装装置５０１の制御装置５００に備えられている。また、コンピュータ装置４００における図示しない外部入出力制御回路には、表示部の一例である外部表示装置１０８及び外部入力装置１０９が接続されるとともに、部品実装装置５０１の夫々の構成部との制御信号の受渡しを行なう信号ケーブル５０２が接続されている。
【００８６】
部品実装装置５０１は、連続的に順次供給される基板の複数に対して、当該基板の表面における複数の部品実装位置に複数の部品を実装し、当該部品実装が終了した基板を連続的に順次排出するという部品実装動作を行なう生産装置である。従って、例えば、部品実装装置５０１に、部品が実装されるべき基板が搬送されて供給されると、部品実装装置５０１に備えられた基板供給検出部の一例である基板認識センサ５０３により、当該基板の供給が検出され、この検出信号（基板供給信号）が信号ケーブル５０２を介して、制御装置５００におけるコンピュータ装置４００に入力される。コンピュータ装置４００においては、当該信号の入力が行われたことをもって、部品実装装置５０１への基板の供給が行われたものと認識し、当該基板に対する夫々の部品の部品実装動作の制御を開始する。その後、部品実装動作が完了し、部品実装済みの基板が搬送されて排出されると、次の基板が新たに供給されて、基板認識センサ５０３により当該基板の供給が検出されることとなる。このような動作が繰り返して順次行なわれることにより、部品実装装置５０１において、連続的に供給される夫々の基板に対する連続的な部品実装動作が行なわれることとなる。
【００８７】
このような構成及び動作を行う部品実装装置５０１において、制御装置５００が備えるコンピュータ装置４００の記憶装置（ＨＤＤユニット又はＳＤＤユニット）に対する寿命診断処理を行なう方法について、図１１に示す寿命診断処理の手順を示すフローチャートを用いて説明する。
【００８８】
図１１に示すように、コンピュータ装置４００においては、基板供給信号の入力待ちの状態とされており（ステップＳ２１）、基板入力信号が入力されるまでこの状態が保たれる（ステップＳ２２）。
【００８９】
部品実装装置５０１において、基板が搬送されて入力されると、基板入力信号が信号ケーブル５０２を通じて、コンピュータ装置４００に入力されて、図示しない中央処理装置にて当該入力が検出される（ステップＳ２２）。当該入力が検出されると、コンピュータ装置４００による、すなわち、制御装置５００による部品実装装置５０１の上記供給された基板に対する部品実装動作の制御か開始される（ステップＳ２３）。
【００９０】
それとともに、この基板供給信号の入力回数、すなわち、基板の供給枚数が積算されて、例えば、上記記憶装置に読み取り可能に記憶される（ステップＳ２４）。
【００９１】
その後、当該積算された基板供給信号の入力回数が読み取られて、例えば、図示しない主メモリ等に一時的に記憶され、予め設定されて主メモリ等に記憶されている基板供給信号の設定回数（基準回数）と、上記積算回数とが比較判断が行なわれる（ステップＳ２５）。
【００９２】
当該比較判断において、上記積算回数が上記設定回数に達していないと判断された場合には、ステップＳ２１に戻り、次に基板供給信号が入力されるまで待機状態とされる。
【００９３】
一方、ステップＳ２５における比較判断において、上記積算回数が上記設定回数以上となっていると判断された場合には、上記第１実施形態又は上記第２実施形態の寿命診断処理が実行される。当該寿命診断処理の結果、上記記憶装置の寿命が尽きるまでの期間が残り少ないと判断された場合には、寿命予測通知が行なわれ、外部表示装置１０８を通じて、当該通知を作業者に認識させることができる。
【００９４】
診断結果の有無を問わず、上記寿命診断処理が終了すると、これまでに積算されて記憶されていた基板供給信号の入力回数の積算値がリセットされて０（ゼロ）とされる。このようにして、部品実装装置５０１において、コンピュータ装置４００が備える記憶装置の寿命診断処理が行なわれる。
【００９５】
図１１のステップＳ２５における上記比較判断の基準となる積算回数は、部品実装装置５０１における連続的な部品実装の重要性や、コンピュータ装置４００の記憶装置の寿命が尽きる頻度や期間等に応じて、自由に設定することができる。例えば、上記積算回数を１回と設定する場合には、部品実装装置５０１への基板の供給が行なわれる毎に、上記寿命診断処理が行なわれることとなる。
【００９６】
また、上記積算回数が常に設定された値に固定された状態で上記比較判断が行なわれるような場合のみに限定されるものではない。例えば、このような場合に代えて、図１１のステップＳ２６の寿命診断処理において、段階的に設定された複数の基準値（上記第１実施形態の書き込み時間や上記第２実施形態のエラー発生回数）を設けて、記憶装置の寿命が尽きる時期までの近接度を検出することにより、当該近接度に応じて、近接度が高くなる（すなわち、余命が少なくなる）に従って、上記基板供給信号の積算回数の上記設定値を少なくするような場合であってもよい。このような場合にあっては，上記記憶装置の余命が十分にあるときには、寿命診断処理を実行する頻度を少なくして、より効率的な部品実装の制御を行ないながら、上記寿命が尽きる時期への近接度が高くなるに従って、寿命診断処理を実行する頻度を高くして、より確実に寿命診断を行なうことができるという効果がある。
【００９７】
なお、上記説明においては、一例として、部品実装装置５０１への基板の供給の回数（枚数）を、上記寿命診断処理を実行するかどうかの判断基準となるデータとしたが、このような場合に代えて、その他様々なデータを上記判断基準として用いることができる。このような上記判断基準となるデータの例としては、部品実装装置５０１の稼動時間や、部品の実装数量等を用いることもできる。
【００９８】
また、上記基板が個別に順次供給されるような場合に代えて、上記基板が、連続的に形成されたテープ状基板であるような場合であってもよい。このようなテープ状基板においては、複数の部品が実装される部品実装領域が、テープ状の長手方向に沿って、連続的に形成されている。そのため、上記基板供給信号は、夫々の上記部品実装領域が部品実装装置５０１に部品実装が可能に供給されたことが検出されることにより、コンピュータ装置４００に出力される。このような基板供給信号が入力されることにより、上記基板が個別に供給されるような場合と同様に、コンピュータ装置４００における寿命診断処理を行うことができる。
【００９９】
上記第３実施形態によれば、連続的かつ安定した動作制御が要求される部品実装装置５０１において、その制御装置５００に備えられるコンピュータ装置４００の記憶装置の寿命診断処理を行うタイミングを、部品実装装置５０１への基板の供給が行なわれる回数に応じて決定することで、コンピュータ装置４００における部品実装の動作制御の処理量に擬似的に応じた状態で、上記寿命診断処理を行なうことができる。従って、上記記憶装置の寿命が突然やって来て、コンピュータ装置４００が機能しなくなり、部品実装装置５０１の部品実装に障害が生じるという事態を、予め確実に予測することができる。よって、部品実装装置５０１における連続的かつ安定した部品実装の制御を行なうことができるコンピュータ装置を提供することができる。
【０１００】
また、上記記憶装置の寿命予測通知を受けた作業者は、その後の生産スケジュール等を考慮しながら、計画的に、コンピュータ装置４００の記憶装置の交換や記憶されているデータのバックアップ作業等を行なうことができるため、当該生産スケジュールに与える影響を最小限に抑えることができる。よって、このような寿命診断処理を行なうことにより、より効率化された部品実装を行なうことができる部品実装装置を提供することができる。
【０１０１】
【発明の効果】
本発明の上記第１態様によれば、コンピュータ装置が備える記憶装置が、その寿命が尽きて、上記記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、当該コンピュータ装置に備えさせている寿命診断手段を用いて、その寿命の診断である寿命診断処理を行なうことにより、上記記憶装置の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。
【０１０２】
具体的には、上記コンピュータ装置における中央処理装置による上記記憶装置へのデータの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断する上記寿命診断処理を実行し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことができる。
【０１０３】
従って、上記寿命予測通知により上記記憶装置の余命が予め作業者等に認識されることにより、上記記憶装置の当該寿命が尽きることによる突然の上記コンピュータ装置の機能停止や機能障害の発生による問題の発生、例えば、上記コンピュータ装置が生産装置の生産動作の制御を行っているような場合にあっては、当該生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【０１０４】
本発明の上記第２態様又は上記第３態様によれば、上記記憶装置が、磁気ディスクを記録媒体とするハードディスクドライブユニット（以降、ＨＤＤユニットという）であるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過している場合に、上記寿命予測通知を行なうことにより、当該ＨＤＤユニットの使用期間に応じて、上記磁気ディスクの保持位置に位置ズレが生じてその回転の軌跡に位置ズレが生じ、上記書き込み動作及び上記読み取り動作に要する時間が長くなる傾向にあるという上記ＨＤＤユニットの特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【０１０５】
本発明の上記第４態様によれば、上記基準値として、上記ＨＤＤユニットにおける単位データ量当りの書き込み動作又は読み取り動作に要する初期時間の２倍以上の時間を用いることにより、上記ＨＤＤユニットへの読み書きに要する時間が長くなることによる制御動作効率の低下の許容範囲と、上記ＨＤＤユニットの寿命が尽きるタイミングとを十分考慮した上記寿命予測通知を行なうことができる。
【０１０６】
本発明の上記第５態様によれば、上記記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするシリコンディスクドライブユニット（以降、ＳＤＤユニットという）であるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なうことにより、ブロック単位で上記データの記憶を行う上記フラッシュメモリにおいては、上記ブロックへの上記データの書き換え回数に制限があり、当該制限を超えると、上記データの書き込み動作において動作不良が発生するという特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【０１０７】
本発明の上記第６態様によれば、上記ＳＤＤユニットにおいて、上記記録媒体であり、上記データを書き込み可能、かつ、当該書き込まれたデータを読み取り可能に記憶するメモリ部と、上記メモリ部における書き込み動作の動作不良の発生回数を積算して記憶するエラーメモリ部とが備えられ、上記寿命診断手段が、上記エラーメモリ部に記憶されている上記書き込み動作の動作不良の発生回数を読み取って、当該読み取られた発生回数を用いて、上記基準値との比較判断を行なって、上記寿命予測通知を行なうことにより、確実な上記寿命診断処理を行なうことができる。
【０１０８】
本発明の上記第７態様によれば、上記比較判断の基準となる上記基準値が、上記メモリ部が有する夫々の上記ブロック数に基づいて設定される、例えば、上記夫々のブロック数よりも小さく設定されることにより、上記ＳＤＤユニットの寿命が尽きる前に、確実に上記寿命予測通知を行なうことができ、上記ＳＤＤユニットの突然の機能停止という問題の発生を確実に回避することができる。
【０１０９】
本発明の上記第８態様によれば、連続的に順次供給される複数の基板に対して、複数の部品を実装する部品実装装置における部品実装動作の制御を行う制御装置として、このような上記コンピュータ装置が備えられており、さらに、上記制御装置が、上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の結果である上記寿命予測通知を、上記部品実装装置の作業者に認識可能に表示する表示部を備えていることにより、上記コンピュータ装置が備える上記記憶装置の寿命が尽きる時期を予め予測して、上記表示部を介して上記作業者に認識させることができる。よって、上記記憶装置の寿命により突然に上記コンピュータ装置が機能しなくなり、上記部品実装装置の稼動に障害を来たすという事態を、予め計画的に回避することができる。従って、連続的な生産のための稼動が求められる上記部品実装装置における部品実装を確実に行なうことができ、その信頼性を向上させることができる。
【０１１０】
本発明の上記第９態様によれば、連続的に順次供給される上記夫々の基板に対して、上記夫々の部品の実装動作が行なわれるという上記部品実装装置の特性を用いて、その部品実装動作の制御を行なう上記コンピュータ装置における上記寿命診断処理の実行を、上記部品実装装置に上記基板が供給される毎に、上記コンピュータ装置に入力される基板供給信号に基づいて行なうことにより、確実に上記記憶装置の寿命を予測することができ、連続的に行なわれる部品実装をより安定して行なうことができる。
【０１１１】
本発明の上記第１０態様によれば、上記コンピュータ装置が、上記入力される上記基板供給信号の入力回数を積算可能とされていることにより、当該入力回数が予め定められた基準回数に達した場合に上記寿命診断処理を実行することにより、当該寿命診断処理の実行による上記コンピュータ装置における処理動作の負担を軽減しながら、最適な上記実行の頻度を設定することができる。
【０１１２】
本発明の上記第１１態様によれば、上記コンピュータ装置が、上記基準値に対する上記動作不良パラメータの近接度を検出可能であって、当該検出される近接度の増大に従って、上記基準回数を減少させることにより、上記記憶装置の余命に応じて、上記余命が長い場合には、上記寿命診断処理の実行の頻度を少なくして、上記実行による上記コンピュータ装置への処理動作の負担を軽減して効率的な部品実装動作の制御を行うことができ、一方、上記余命が少なくなってきた場合には、上記寿命診断処理の実行の頻度を多くして、上記実行により確実に余命が尽きる時期を検出して作業者に認識させることができる。従って、効率的な部品実装動作の制御と、装置の連続的稼動の担保のための確実な寿命予測を両立して行なうことができ、生産性が高められた部品実装装置を提供することができる。
【０１１３】
本発明の上記第１２態様によれば、上記寿命診断処理における判断基準となる上記基準値として、段階的に設定された複数の基準値を用いることにより、上記記憶装置の余命の長さを、段階的に検出することができ、作業者に余命の長さを認識させることができる。よって、当該作業者は、上記認識により、より計画的に、上記記憶装置の交換やデータのバックアップ等の作業予定を立てることができ、信頼性のある連続稼動を行うことができる部品実装を、計画的に行なうことができる。
【０１１４】
本発明の上記第１３態様によれば、記憶装置が、その寿命が尽きることにより、上記記憶装置としての機能を果たすことができなくなる前に、その寿命予測のの診断を行なうことによって、上記記憶装置の寿命が尽きる時期が近づいていることを予測診断することができる。
【０１１５】
具体的には、上記記憶装置へのデータの書き込み動作又は上記記憶装置よりの上記データの読み取り動作の実行における上記記憶装置の動作不良パラメータを計測し、当該計測された上記動作不良パラメータが基準値を超過しているかどうかを判断し、上記超過していると判断する場合に、上記記憶装置の寿命予測通知を行うことができる。
【０１１６】
従って、上記寿命予測通知により上記記憶装置の余命が予め作業者等に認識されることにより、上記記憶装置の当該寿命が尽きることによる上記記憶装置が備えられているコンピュータ装置等の突然の機能停止や機能障害の発生による問題の発生、例えば、上記コンピュータ装置が生産装置の生産動作の制御を行っているような場合にあっては、当該生産装置の稼動停止等の問題の発生を回避することができる。
【０１１７】
本発明の上記第１４態様又は上記第１５態様によれば、上記記憶装置が、磁気ディスクを記録媒体とするＨＤＤユニットであるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作又は読み取り動作に要する時間を計測することにより算出される単位データ量当りの当該動作に要する時間を用いて、当該時間が上記基準値を超過している場合に、上記寿命予測通知を行なうことにより、当該ＨＤＤユニットの使用期間に応じて、上記磁気ディスクの保持位置に位置ズレが生じてその回転の軌跡に位置ズレが生じ、上記書き込み動作及び上記読み取り動作に要する時間が長くなる傾向にあるという上記ＨＤＤユニットの特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【０１１８】
さらに、上記基準値を超過しているかどうかの比較判断に加えて、上記書き込まれたデータを読み取り、当該読み取られたデータと上記書き込まれるべきデータとが一致しているかどうかを照合し、上記照合の結果、一致していないと判断された場合にも、上記書き込み動作又は上記読み取り動作を正常に行なうことができない状態にあるものとして、上記寿命予測通知を行なうことにより、より確実に上記ＨＤＤユニットの寿命診断を行なうことができる。
【０１１９】
本発明の上記第１６態様によれば、上記記憶装置が、フラッシュメモリを記録媒体とするＳＤＤユニットであるような場合にあっては、上記動作不良パラメータとして、上記データの書き込み動作における動作不良の発生回数を用いて、当該発生回数が上記基準値を超過していると判断する場合に上記寿命予測通知を行なうことにより、ブロック単位で上記データの記憶を行う上記フラッシュメモリにおいては、上記ブロックへの上記データの書き換え回数に制限があり、当該制限を超えると、上記データの書き込み動作において動作不良が発生するという特徴を十分に生かした寿命診断処理を行なうことができる。
【０１２０】
本発明の上記第１７態様によれば、上記第１４態様の寿命診断方法を夫々の手順を行なうことができるような寿命診断用プログラムを用いることにより、上記第１４態様による効果と同様な効果を得ることができる。特に、このようなプログラムを既存のＨＤＤユニット等にインストールすることで、ハード的な構成を変更することなく、上記ＨＤＤユニットの寿命診断を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の生産設備に搭載されるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図である。
【図２】従来の生産設備に搭載されるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記憶装置としてＳＤＤユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図３】（Ａ）は、従来のコンピュータ装置におけるＨＤＤユニットの模式的な内部構造を示すブロック図であり、（Ｂ）は、（Ａ）のＨＤＤユニットが備える磁気ディスクの部分拡大図である。
【図４】本発明の第１実施形態にかかるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記録装置としてＨＤＤユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図５】図４のＨＤＤユニットにおける使用時間の経過とＲ／Ｗ速度との関係を示すグラフ形式の図である。
【図６】図４のＨＤＤユニットにおける寿命判断処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】本発明の第２実施形態にかかるコンピュータ装置の模式的な構成を示すブロック図であり、記憶装置としてＳＤＤユニットを備えるコンピュータ装置を示す。
【図８】図７のＳＤＤユニットにおける使用時間の経過とエラー発生回数との関係を示すグラフ形式の図である。
【図９】図７のＳＤＤユニットにおける寿命判断処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の第３実施形態にかかるコンピュータ装置をその制御装置に備える部品実装装置の模式的な構成を示すブロック図である。
【図１１】図１０のコンピュータ装置における寿命診断処理を実行する手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１００…コンピュータ装置、１０１…ハードディスク制御回路、１０２…基本ドライブ、１０３…バックアップ用ドライブ、４…ドライブユニット選択回路、１０５…主メモリ、６…中央処理装置、７…外部入出力制御回路、８…外部表示装置、９…外部入力装置、１１０…コンピュータ装置、１１１…シリコンディスク制御回路、１１２…シリコンディスクドライブユニット、１２０…ハードディスクドライブユニット、１２１…制御基板、１２１−１…マイコン、１２１−２…一時記憶メモリ、１２１−３…メモリコントローラ、１２２…アクチュエータ、１２３…ヘッド、１２４…モータ、１２５…磁気ディスク、１２６…ボールベアリング、１２７…同心円上の軌跡、１２８…磨耗進行時の軌跡、２００…コンピュータ装置、３００…コンピュータ装置、３１２…シリコンディスクドライブユニット、３１２−１…マイコン、３１２−２…メモリコントローラ、３１２−３…バッファメモリ、３１２−４…エラーメモリ、３１２−５…データメモリ、３１２−６…エラーカウントメモリ、４００…コンピュータ装置、５００…制御装置、５０１…部品実装装置、５０２…信号ケーブル、５０３…基板認識センサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2004348332.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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