(57)【要約】【課題】本発明は、米粒サンプルを採取しなくても原器と子器との設定が行える模造米を提供することを技術的課題としたものである。【解決手段】搬送される米粒に光を照射して得られた受光データを基にして、各米粒の品位を判別する米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米であって、品位が胴割粒である模造米は、人工素材で形成した半割体を接合して米粒形状を成すとともに、内部には正常部分の透過率よりも低い素材又はスリットから形成した不良部分に相当する模造亀裂部を埋設させる。【選択図】          図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送される米粒に光を照射して得られた受光データを基にして、各米粒の品位を判別する米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米であって、品位が胴割粒である模造米は、人工素材で形成した半割体を接合して米粒形状を成すとともに、内部には正常部分の透過率よりも低い素材又はスリットから形成した不良部分に相当する模造亀裂部を埋設させたことを特徴とする米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米。
【請求項２】
前記模造亀裂部の埋設は、該模造亀裂部の少なくとも一端が外部に露出しないようにしたことを特徴とする請求項１に記載の米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米。
【請求項３】
搬送される米粒に光を照射して得られた受光データを基にして、各米粒の品位を判別する米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米であって、内部に白色不透明部を有する品位である模造米は、人工素材で形成した半割体を接合して米粒形状を成すとともに、該内部には正常部分の透過率よりも低い素材から形成した不良部分に相当する遮光板を埋設させたことを特徴とする米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、米粒品位判別装置における判別品位設定用の基準米に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、前記米粒品位判別装置は、米粒を１粒ずつ光学的に品位判別する装置として知られている。該米粒品位判別装置は、周縁部に米粒搬送用の溝を形成した回転円盤と、米粒からの受光データを取得して品位判別を行う光学品位判別部と、判別された品位ごとに米粒の選別を行う選別部とを有し、原料米粒を、前記溝によって１粒ずつ前記光学品位判別部に搬送し、該光学品位判別部において、得られた１粒ごとの受光データからその米粒の品位を判別した後、前記選別部に搬送して品位ごとの選別が行なわれるものである。
【０００３】
前記光学品位判別部においては、あらかじめ、前記受光データを各品位に判別するための設定が成されている。
【０００４】
ところで、薄鋼板等の表面欠陥を光学的に行う装置において、該装置の精度や性能を評価するために、評価用板を用いることは知られている（例えば、特許文献１参照）。該評価用板には、表面に、光を吸収したり反射したりする各色彩の所定のパターンが形成されており、この評価用板を前記装置に掛けて光学検出し、得られた受光データから評価を行うためのものである。
【０００５】
【特許文献１】
特開２００１−３３７０４３号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、市場に出回る複数台の前記米粒品位判別装置は、いずれも同じように米粒の品位を判別するように設定しておく必要がある。この設定を行うにあたっては、まず、目視鑑定によって熟練者が採取した各品位の米粒サンプル（基準米）が用意される。そして、この米粒サンプルを品位ごとに、原器の米粒品位判別装置と子器となる米粒品位判別装置とに順番に掛けて米粒サンプルの光学検出を行い、子器の評価値が原器の評価値と異なったときには、原器の評価値と同じになるように、子器の設定の修正が行われる。
【０００７】
しかしながら、上記米粒サンプルは生であるために性状が変化し易く、このため長期に亘っての使用ができず、性状が変化して使用ができなくなると、再度、米粒サンプルを採取しなくてはならない、という煩雑な面があった。
本発明は、上記問題点にかんがみ、米粒サンプルを採取しなくても原器と子器との設定が行える模造米を提供することを技術的課題としたものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項１においては、
搬送される米粒に光を照射して得られた受光データを基にして、各米粒の品位を判別する米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米であって、品位が胴割粒である模造米は、人工素材で形成した半割体を接合して米粒形状を成すとともに、内部には正常部分の透過率よりも低い素材又はスリットから形成した不良部分に相当する模造亀裂部を埋設させる、という技術的手段を講じるものである。
これによると、上記模造米を米粒品位判別装置に掛けると、光学検出部において模造米に光が照射された際、前記模造亀裂部に対応して模造米表面が暗くなるので、光学検出部において該模造米から得られた受光データは、胴割粒の品位に相当する。
【０００９】
また、請求項２においては、
前記模造亀裂部の埋設は、該模造亀裂部の少なくとも一端が外部に露出しないようにする、という技術的手段を講じるものである。
上記模造米を米粒品位判別装置に掛けて搬送させる際には、前記模造亀裂部の一端が外部に露出しない側を、斜光光源とは反対側の受光センサー側に向けてセットする。前記模造亀裂部の一端が外部に露出していると、前記光源からの光を受けて前記端部から発光するが、上記のようにセットすることで、受光センサー側の端部が発光することがない。このため、表面に暗い部分を形成することができる。
【００１０】
さらに、請求項３においては、
搬送される米粒に光を照射して得られた受光データを基にして、各米粒の品位を判別する米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米であって、内部に白色不透明部を有する品位である模造米は、人工素材で形成した半割体を接合して米粒形状を成すとともに、該内部には正常部分の透過率よりも低い素材から形成した不良部分に相当する遮光板を埋設させる、という技術的手段を講じるものである。
前記模造米を米粒品位判別装置に掛けると、光学検出部において模造米に光が照射された際、前記遮光板に対応して模造米表面が暗くなるので、光学検出部において該模造米から得られた受光データは、内部に白色不透明部を有する品位に相当する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を説明する。本発明は模造米、特に品位が、胴割粒、内部に白色不透明部を有する、乳白粒、基部未熟粒、腹白未熟粒（背白未熟粒も含む）であるものを作製し、これを米粒サンプル（基準米）として使用するというものである。なお、本発明でいう正常部分とは、以下の説明に出てくる上半割体及び下半割体のことを示し、一方、不良部分とは、模造亀裂部及び遮光板のことを示す。
【００１２】
図１は胴割粒の例（以下、「胴割模造米」という）を示す。図１（１）は平面図を示し、図１（２）は側断面を示す。該胴割模造米１は上半割体２と下半割体３とをそれぞれ個別に形成し、両者を貼り合わせて米粒大の大きさに形成する。図１（２）に示すように、前記上半割体２から下半割体３に亘って模造亀裂部４が埋設してある。該模造亀裂部４は、図１（１）に示すように、米粒の幅方向にも延設してある。模造亀裂部４は、該模造亀裂部４の端部が前記上半割体２と下半割体３のいずれか一方の表面に露出しない（臨まない）ようにしてある。図１においては、前記上半割体２の表面に露出しないようにしてあり、以下、説明の便宜上、前記上半割体２側を「未露出側Ｍ」とし、前記下半割体３側を「露出側Ｒ」とする。
【００１３】
前記上半割体２と下半割体３との素材は、整粒の透過光に近いものとし、例えば、アクリル樹脂のオパール色がよい。一方、模造亀裂部４の素材は、少なくとも前記上半割体２及び下半割体３よりも透過率が低いものとし、例えば、塩化ビニル樹脂の白色又はアクリル樹脂の白色がよく、これらの樹脂をシート状にしたものを使用してもよい。また、スリットを前記模造亀裂部４としてもよい。前記模造亀裂部４の形成については、図２に示すように、前記上半割体２と下半割体３の両表面に露出させないように、完全に埋設するようにするか、透過側（例えば、上半割体２側）の表面に露出させないようにする。なお、前記模造亀裂部４の大きさを変更すると、胴割れの程度が異なる胴割模造米を作製することができる。
【００１４】
次に、内部に白色不透明部を有する品位の、乳白粒、基部未熟粒、腹白未熟粒（背白未熟粒も含む）、の模造米について説明する。模造米の作製において、前記乳白粒、基部未熟粒及び腹白未熟粒は、後述する遮光板８を介在させる平面方向の位置が異なるだけなので、以下の説明では、遮光板８を平面方向の中央位置に介在させた乳白粒（以下、「模造乳白粒５」という）を代表例にして説明する。図３（１）は、その模造乳白粒５の平面図を示し、図３（２）は側断面を示す。この模造乳白粒５も前記胴割模造米１と同様に、上半割体６と下半割体７とをそれぞれ個別に形成し、両者を貼り合わせて米粒大の大きさに形成する。図３（２）に示すように、前記上半割体６と下半割体７との間には遮光板８が埋設してある。この遮光板８を介在させる位置は、前述のように、前記乳白粒、基部未熟粒及び腹白未熟粒ごとに異なり、乳白粒の場合は中央位置に、基部未熟粒の場合には長手方向の片側の先端側に、腹白未熟粒は米粒の幅方向の片側の先端側に、とそれぞれ適宜形状で設ける。前記上半割体６と下半割体７との素材は、整粒の透過光と近いものとし、例えば、アクリル樹脂のオパール色がよい。一方、前記遮光板８の素材は、少なくとも前記上半割体６及び下半割体７の素材よりも透過率の低いものとし、例えば、塩化ビニル樹脂の白色又はアクリル樹脂の白色、白色塗料とするのがよい。なお、前記遮光板８の大きさや形状を変更することで、前記乳白粒、基部未熟粒、腹白未熟粒の程度を異ならせることができる。
【００１５】
次に、前記米粒品位判別装置の構成を説明する。図４は該米粒品位判別装置９の斜視図である。図５は図４のＤ−Ｄ断面図である。前記米粒品位判別装置９は中央に原料を投入するための開口１０を形成した透明の蓋体１１を有し、該蓋体１１の下方内部には、米粒搬送用の円盤１２が配設してある。図５に示すように、前記円盤１２には周縁部に、１粒の米粒が入る大きさの溝１２ａが等間隔ごとに形成してあるとともに、図示しないモータからの動力を受けて、矢印方向に回転駆動するようにしてある。なお、前記溝１２ａの底部は透明にしてあり、また、溝１２ａにおける円盤１２の放射方向側の側壁は開放状態にしてある。また、該側壁の側方には円盤１２とは別体に形成した堰部１５が形成してある。
【００１６】
前記開口１０の下方位置の円盤１２上には、開口１０から供給された原料を円盤１２上に拡散させるための円錐状の分散部２７が形成してある。前記溝１２ａ上の任意の位置には光学検出部１３が構成してある。該光学検出部１３は第１光学検出部１３ａと第２光学検出部１３ｂとから構成し、図６及び図７のように構成してある。図６は、第１光学検出部１３ａを示した縦断面図で、前記溝１２ａの上方と側方との各位置に受光センサー１４，１４が設けてあるほか、ＬＥＤからなる光源１６が適宜位置に設けてある。一方、図７は第２光学検出部１３ｂを示した縦断面図で、前記溝１２ａの下方に受光センサー１４が設けてあるほか、ＬＥＤからなる光源１６が適宜位置に設けてある。なお、符号１７は拡散板、符号１８はレンズである。
【００１７】
本発明でいう光学品位判別部１９は、図８に示すように、前記光学検出部１３と判別部２０とから構成してある。該判別部２０は前記光学検出部１３からの受光データを取得して品位判別を行うとともに、前記選別部２１に選別信号を出力するものである。前記判別部２０は、中央演算部（ＣＰＵ）２３に、入出力回路（Ｉ／Ｏ）２２、中央演算部（ＣＰＵ）２３、読み出し専用記憶部（ＲＯＭ）２４、読み出し・書き込み用記憶部（ＲＡＭ）２５がそれぞれ電気的に接続されて構成してある。前記入出力回路（Ｉ／Ｏ）２２は前記光学検出部１３と選別部２１とに電気的に接続してある。
【００１８】
なお、図５に示した符号２６は、前記蓋体１１内面から円盤１２の上方に向けて垂下状に延設し、円盤１２上に供給された米粒を前記溝１２ａに誘導させるようにしたガイド板である。
【００１９】
次に、前記胴割模造米１及び白色不透明模造米５を使用して、原器に対する子器の設定を行う一例を説明する。まず、前記胴割模造米１は、胴割れの程度か異なる複数を用意し、これらの胴割模造米１を前記溝１２ａにセットする。セットに際しては、図１で示したように、前記模造亀裂部４が上半割体２の表面に露出していないものを使用する場合には、前記露出側Ｒを溝１２ａの底面に向けてセットするようにする。このようにして複数の胴割模造米１を溝１２ａにセットする。また、前記セットに際し、好ましくは、前記円盤１２と同一の円盤に、あらかじめ、各溝１２ａに前記胴割模造米１を接着したものを用意しておくと、該円盤１２を装着するだけでよいので作業が容易である。
【００２０】
次に、前記胴割模造米１（Ｓ）をセットした円盤１２を原器にセットし、該円盤１２を回転駆動させ、前記光学検出部１３により、前記各胴割模造米１（Ｓ）からの受光データを得る。前記光学検出部１３の第１光学検出部１３ａにおいて、溝１２ａの下方に配設した斜光光源１６からの斜光を各胴割模造米１に照射し、溝１２ａの上方側の受光センサー１４で各胴割模造米１（Ｓ）の上方に透過した光を受光する。
【００２１】
前記模造亀裂部４は、前述のように、上半割体２及び下半割体３よりも透過率を低くしてあるので、胴割模造米１の下方から照射された光は模造亀裂部４を透過し難い。このため、胴割模造米１の上表面には、模造亀裂部４の影となった暗い部分が出来る。この様子は図９に示すように、胴割模造米１の上面には、暗い部分が明るい部分に挟まれて形成される。この明暗は、生米粒の胴割粒から得られる透過光の状態と同じである。この明暗を、受光センサー１４が受光し、前記判別部２０に送り、該判別部２０が受光データを基に各胴割模造米１の胴割れの程度を評価値で示す。そして、この評価値は図示しないモニター２６に表示される。次に、前記胴割模造米１をセットした円盤１２を取り外して、前記子器にセットし、上記と同様にして各胴割模造米１の胴割れの程度を評価値で求める。そして、原器の評価値と子器の評価値を比較し、両者に差があれば、原器と同じ評価値が出るように子器の設定を修正（補正）する。このようにして、原器と子器とにおける胴割粒の品位判定の調整設定を行う。
【００２２】
なお、前記胴割模造米１は図９に示すように、上半割体２の上面に模造亀裂部４の上端部を露出させてないので、該上端部から光が発光せず、上記のような明暗が形成されることになる。また、図２に示した胴割模造米１のように、模造亀裂部４の上下端をともに露出させてないものであれば、前述のように、円盤１２にあらかじめ胴割模造米１を貼り付けておく必要もない。そして、通常の原料検査を行うときのように、前記開口１０から複数の胴割模造米１を投入するようにすればよい。投入された複数の胴割模造米１は、前記分散部２７によって円盤１２上に分散された後、前記ガイド板２６によって各溝１２ａに誘導されて供給される。
【００２３】
この後、前記乳白粒、基部未熟粒、腹白未熟粒の品位判定の設定調整を行うため、各品位の模造米を用い、品位ごとに、前記胴割模造米１で行った要領で原器と子器の調整を行う。
【００２４】
以下、前記乳白粒、基部未熟粒及び腹白未熟粒の各品位の模造米表面から放出される透過光の明暗の様子を、前記模造乳白粒５を代表例として説明する。前記光学検出部１３の第１光学検出部１３ａにおいて、溝１２ａの垂下方向に配設した光源１６からの光は、模造乳白粒５の下部から照射される。前記遮光板８は、前記上半割体６及び下半割体７よりも透過率が低い素材で形成されているので、模造乳白粒５の透過側である上面側には、前記遮光板８の形状に合わせ、かつ、輪郭がぼやけた暗い影が出来る。この様子は図３（１）に示したように、一番内側の円部５ａが遮光板８の形状に相当した暗い部分、その外周円５ｂが暗から明に掛けてぼやけた部分、さらにその外周は明るい部分となる。この明暗は、生の乳白粒から得られる透過光の状態と同じになる。この明暗を、受光センサー１４が受光し、前記判別部２０に送り、該判別部２０が受光データを基に各模造乳白粒の程度を評価値で示す。そして、子器においても同様にして評価値を求め、原器と子器の調整を行う。
【００２５】
このように、本発明では、生の米粒サンプルに替えて、樹脂材料等の人工素材から形成した模造米を使用するようにしたので、生の米粒のように性状が変化することがないため、長期に亘って基準米として使用ができ、米粒サンプルの採取を行わなくてよい。
【００２６】
【発明の効果】
本発明の請求項１によると、
搬送される米粒に光を照射して得られた受光データを基にして、各米粒の品位を判別する米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米であって、品位が胴割粒である模造米は、人工素材で形成した半割体を接合して米粒形状を成すとともに、内部には正常部分の透過率よりも低い素材又はスリットから形成した不良部分に相当する模造亀裂部を埋設させる、という技術的手段を講じた。上記模造米を米粒品位判別装置に掛けると、光学検出部において模造米に光が照射された際、前記模造亀裂部に対応して模造米表面が暗くなるので、光学検出部において該模造米から得られた受光データは、生の米粒の胴割粒に相当し、胴割粒の基準米としての使用ができる。該基準米は人工素材で形成するので、生の米粒のように性状が変化することがなく、長期に亘って基準米として使用することができる。よって、胴割粒の米粒サンプルの採取を行わなくてよい。
【００２７】
また、請求項２においては、
前記模造亀裂部の埋設は、該模造亀裂部の少なくとも一端が外部に露出しないようにする、という技術的手段を講じた。該模造米を米粒品位判別装置に掛けて搬送させる際には、前記模造亀裂部の一端が外部に露出しない側を光源とは反対側の受光センサー側に向けてセットする。前記模造亀裂部の一端が外部に露出していると、前記光源からの光を受けて前記端部から発光するが、上記のように受光センサー側が露出していないので、発光することがなく、表面に暗い部分を形成することができる。よって、前記表面に胴割粒に相当する暗い部分と明るい部分とを形成することができる。
【００２８】
さらに、請求項３においては、
搬送される米粒に光を照射して得られた受光データを基にして、各米粒の品位を判別する米粒品位判別装置における品位判別設定用の模造米であって、内部に白色不透明部を有する品位である模造米は、人工素材で形成した半割体を接合して米粒形状を成すとともに、該内部には正常部分の透過率よりも低い素材から形成した不良部分に相当する遮光板を埋設させる、という技術的手段を講じた。
前記模造米を米粒品位判別装置に掛けると、光学検出部において模造米に光が照射された際、前記遮光板に対応して模造米表面が暗くなるので、光学検出部において該模造米から得られた受光データは、内部に白色不透明部を有する品位に相当する。よって、該模造米は内部に白色不透明部を有する品位の基準米として使用ができる。また、該基準米は、先述のように、人工素材で形成するので、生の米粒のように性状が変化することがなく、長期に亘って基準米として使用することができる。よって、内部に白色不透明部を有する品位の米粒サンプルの採取を行わなくてよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】（１）は胴割模造米の平面図を示し、（２）は（１）におけるＡ−Ａの断面図を示す。
【図２】（１）は胴割模造米の平面図を示し、（２）は（１）におけるＢ−Ｂの断面図を示す。
【図３】（１）は模造乳白米の平面図を示し、（２）は（１）におけるＣ−Ｃの断面図を示す。
【図４】米粒品位判別装置の斜視図を示す。
【図５】図４におけるＤ−Ｄの断面図を示す。
【図６】第１光学検出部の縦断面図を示す。
【図７】第２光学検出部の縦断面図を示す。
【図８】光学品位判定部のブロック図を示す。
【図９】胴割模造米内における斜光の進行を示した図である。
【符号の説明】
１  胴割模造米
２  上半割体
３  下半割体
４  模造亀裂部
５  模造乳白粒
６  上半割体
７  下半割体
８  遮光板
９  米粒品位判別装置
１０  開口
１１  蓋体
１２  円盤
１２ａ  溝
１３  光学検出部
１３ａ  第１光学検出部
１３ｂ  第２光学検出部
１４  受光センサー
１５  堰部
１６  光源
１７  拡散板
１８  レンズ
１９  光学品位判定部
２０  判定部
２１  選別部
２２  入出力回路
２３  中央演算装置
２４  読み込み専用記憶部
２５  読み込み・書き込み用記憶部
２６  ガイド板
２７  分散部
【図１】
2004251737.tif 000003
【図２】
2004251737.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2004251737.tif 000008
【図７】
2004251737.tif 000009
【図８】
2004251737.tif 000010
【図９】
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