(57)【要約】【課題】プリント基板の電子部品実装後の検査において、検査機で作成される検査データを効率的に作成できるデータ作成方法を提供すること。【解決手段】プリント基板の検査を行う検査機データを生成する方法であって、複数の検査機から検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベース３に登録し、同一部品品番のライブラリコードを統計処理した上で、優先順位をつけ検査ライブラリ管理データベースに登録する第１工程と、検査位置データベース１と部品形状データベース２より、部品形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求める第２工程と、前記において、部品形状コードが存在しない場合、部品品番に対応した部品寸法情報より類似の部品を検索し、当該部品形状コードを求め、この形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求め検査位置とライブラリコードを出力する第３工程からなることを特徴とする。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
各検査機に検査結果がライブラリ作成処理されて出力される検査位置データベースと部品形状データベースと、各検査機のライブラリを一元管理する検査ライブラリ管理データベースを備えたプリント基板の検査を行う検査機データを作成する方法であって、
各検査機から検査判定材料、検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、同一部品品番のライブラリコードを統計処理し、優先順位をつけ検査ライブラリ管理データベースに再登録する第１工程と、検査位置データベースと部品形状データベースより求めた部品形状コードをキーとして、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを求める第２工程と、前工程において、部品形状コードが存在しない場合、部品品番に対応した部品寸法情報より類似の部品を検索し、当該部品形状コードを求め、この形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求め、検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力する第３工程から成ることを特徴とする検査データ作成方法。
【請求項２】
第１工程は、各検査機からライブラリコードに対応する判定条件、検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、部品毎に検査判定条件と検査アルゴリズムの統計処理を行い、検査機コードに対し、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録することを特徴とする請求項１記載の検査データ作成方法。
【請求項３】
第２工程は、検査対象となる基板を特定し、検査位置データベースより、検査位置に対応する部品品番を検索し、部品品番をキーに、部品形状データベースより、部品形状コードを検索し、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索することを特徴とする請求項１記載の検査データ作成方法。
【請求項４】
第３工程は、第２工程で、検査ライブラリコードが検索できる場合は、検査位置とライブラリコードを出力し、検索できない場合は、部品形状データベースより、類似する部品形状コードを求め、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力することを特徴とする請求項１記載の検査データ作成方法。
【請求項５】
検査位置データベースは、基板番号、検査位置、部品品番を、部品形状データベースは、部品品番、部品形状コードを管理し、検査ライブラリ管理データベースは、検査機番号、部品形状コード、検査判定条件、検査アルゴリズム番号、及び優先使用番号を管理し、それぞれの属性は、編集、削除、変更、追加可能であることを特徴とする請求項１記載の検査データ作成方法。
【請求項６】
検査ライブラリ管理データベースは、利用に応じて課金できることを特徴とする請求項１記載の検査データ作成方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント基板の電子部品実装後における検査において、検査機で作成される検査データ作成方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来からプリント基板実装後において、検査機により実装状態の検査が行われている。
【０００３】
以下、図５を参照して、検査機による実装状態の検査の概要を説明する。図５に示すように、プリント基板８に実装された電子部品９は、銅箔部のパッド１０に実装された後、あるいは半田付けされた後、検査機７によって実装状態が検査される。図において、１１は半田、１２は半田の判定条件を示す。この検査を行うためには、あらかじめ検査データが作成される。主たるデータとして、検査位置、検査判定条件、検査アルゴリズムなどをあらかじめ検査対象となるプリント基板の情報に基づき作成しておく必要がある。
【０００４】
従来、この作成方法として、実装位置情報および部品形状などをあらかじめＣＡＤ情報などで用意しておき、検査判定条件や検査アルゴリズムを検査機で教示して作成する方法が取られていた。
【０００５】
また、これに類似するプリント基板の検査プログラム設定方法として、プリント基板検査結果を統計処理して、検査内容に最適の検査プログラムを決定するようにしたものは公知である（例えば、特許文献１参照）
【０００６】
【特許文献１】
特開平１０−３２７０００号公報（２頁、図１）
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような従来の検査データの作成方法では、以下のような問題点があった。
【０００８】
すなわち、検査判定条件や検査アルゴリズムは、オペレータの経験が必要であり、同一部品でも検査機やオペレータによりデータが異なるので、検査精度にばらつきが生じ、検査見逃しや過度な検査を行う要因となっていた。
【０００９】
また、現物での検査を行ってデータを作成することを繰り返し、検査精度をあげていく必要があるため、時間と手間を要していた。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、本発明の検査データ作成方法は、複数の検査機から検査ライブラリを取得し、検査ライブラリデータベースへ登録し、同一部品品番のライブラリコードに対して、優先順位をつけ検査ライブラリ管理データベースに登録する第１工程と、検査位置データベースと部品形状データベースより、部品形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求める第２工程と、前工程において、部品形状コードが存在しない場合、部品品番に対応した部品寸法情報より類似の部品を検索し、当該部品形状コードを求め、この形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求め、検査位置とライブラリコードを出力する第３工程から成ることを特徴とする。
【００１１】
本発明によると、部品品番のライブラリコードが優先順位を付けて登録されている検査ライブラリ管理データベースより、部品形状コードをキーとして、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力するので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含む検査ライブラリコードを作成することができ、また検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能になる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項１に記載の発明は、各検査機に検査結果がライブラリ作成処理されて出力される検査位置データベースと部品形状データベースと、各検査機のライブラリを一元管理する検査ライブラリ管理データベースを備えたプリント基板の検査機データを作成する方法であって、各検査機から検査判定材料、検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、同一部品品番のライブラリコードを統計処理し、優先順位をつけ検査ライブラリ管理データベースに再登録する第１工程と、検査位置データベースと部品形状データベースより求めた部品形状コードをキーとして、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを求める第２工程と、前工程において、部品形状コードが存在しない場合、部品品番に対応した部品寸法情報より類似の部品を検索し、当該部品形状コードを求め、この形状コードをキーとして、検査ライブラリコードを求め、検査位置と検索位置に対応するライブラリコードを出力する第３工程から成ることを特徴とするもので、本発明によると、部品形状コードをキーとして、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力するので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含む検査ライブラリコードを作成することができ、また検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能になる。
【００１３】
請求項２に記載の発明は、第１工程は、各検査機からライブラリコードに対応する判定条件、検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、部品毎に検査判定条件と検査アルゴリズムの統計処理を行い、検査機コードに対し、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録することを特徴とする。
【００１４】
請求項３に記載の発明は、第２工程は、検査対象となる基板を特定し、検査位置データベースより、検査位置に対応する部品品番を検索し、部品品番をキーに、部品形状データベースより、部品形状コードを検索し、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索することを特徴とする。
【００１５】
請求項４に記載の発明は、第３工程は、第２工程で、検査ライブラリコードが検索できる場合は、検査位置とライブラリコードを出力し、検索できない場合は、部品形状データベースより、類似する部品形状コードを求め、部品形状コードをキーに、検査ライブラリ管理データベースより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置とライブラリコードを出力することを特徴とする。
【００１６】
請求項２〜４に記載の発明によると、各検査機からライブラリコードに対応する検査判定条件と検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、これを統計処理して、同一検査機ライブラリコードに対して、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録し、検査対象となる基板の検査位置に対応する部品品番をキーにして求めた部品形状コードにより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力するようにしたので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含めた検査ライブラリコードを作成することが可能となり、またオペレータによる検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能になる。また、試作基板などの現物がなくても、データ作成が可能となるため、検査データの事前作成が可能となり、データ作成作業を効率化できる。
【００１７】
請求項５に記載の発明は、検査位置データベースは、基板番号、検査位置、部品品番を、部品形状データベースは、部品品番、部品形状コードを管理し、検査ライブラリ管理データベースは、検査機番号、部品形状コード、検査判定条件、検査アルゴリズム番号、及び優先使用番号を管理し、それぞれの属性は、編集、削除、変更、追加可能であることを特徴とする。
【００１８】
請求項６に記載の発明は、検査ライブラリ管理データベースは、利用に応じて課金できることを特徴とする。
【００１９】
【実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態を示す検査データ作成方法について、図面を参照しながら説明する。
【００２０】
図１は、本発明の実施の形態の検査データ作成方法の構成を示す図である。図において、検査位置データベース１と部品形状データベース２の検索結果がライブラリ作成処理５に入力され、検査データが作成され、検査機群６の検査機７へ出力される。また、検査機のライブラリは、検査ライブラリ管理データベース３で一元管理される。検査ライブラリ統計処理は、同一電子部品の同一品番において、各検査機ごとに異なる検査判定条件やアルゴリズムの優先レベルを求めるものであり、単に、頻度の高いものから順位づけしてもいいし、判定条件の中央値を求めても良い。
【００２１】
統計処理については、既知のものを使用してもよいし、特に規定するものではない。また、各処理とデータベースと検査機はネットワークで接続されていてもよいし、媒体によりデータを転送してもよい。
【００２２】
また、データベースは、複数の工場における検査機群の検査機を統合的に管理することも可能であり、インターネットなどを利用して、入出力可能であってもよい。この場合、検査ライブラリ管理データベースは、利用者の頻度に応じて、管理する者が課金してもよい。例えば、１部品形状や１部品品番および入出力回数で課金することもできる。
【００２３】
具体的なデータベースの管理項目について、図２に従って説明する。検査位置データベース１は、検査対象のプリント基板を一意に特定する基板番号と、検査位置と、検査位置に実装される電子部品の部品品番から構成される。本データベースは、関係データベースである必要はなく、検査対象のプリント基板が特定されておれば、ファイル形式でもよい。
【００２４】
部品形状データベース２は、部品品番と部品形状コードの関連と、部品形状コードの属性である具体的な部品寸法を管理する。複数の部品品番に対し、同一の部品形状コードが対応する場合があるので効率的に管理できる構成としている。ただし、上記構成は、唯一のものではなく重複を許すのであれば他の方法もある。
【００２５】
検査ライブラリ管理データベース３、検査ライブラリコードと、この属性を管理するものである。検査ライブラリコードは、同一の部品品番でも検査機により異なることもあるので、検査機番号を項目として持ち、優先使用番号、部品形状コード、検査判定条件、検査アルゴリズム番号が登録される。この場合、オペレータは、工場単位で異なるのであればその項目を追加してもよい。また、判定条件や検査アルゴリズムは、検査機の機構や機能により異なるため、その検査機に応じた数値を用いるものとする。
【００２６】
次に、実施例の処理の流れを、図３〜図４に従って説明する。
【００２７】
図３は、本発明の第１工程を説明したものである。Ｓ１で各検査機からライブラリコードに対応する判定条件や検査アルゴリズムを取得する。Ｓ２で取得したデータを検査ライブラリデータベースに登録する。Ｓ３で各部品ごとに検査判定条件と検査アルゴリズムの統計処理を行い、同一の検査機コードに対し、優先順位を付ける。Ｓ４で処理結果を検査ライブラリ管理データベースへ反映させ再登録する。優先順位をつけるのは、検査機より新たな検査ライブラリを取得した時点でもよいし、手動で任意の時点ですることもできる。また、優先順位や、検査ライブラリ管理データベースの属性は、編集、削除・変更・追加などが行えるものとする。
【００２８】
図４は、本発明の第２工程〜第３工程を説明したものである。Ｓ５で検査対象となる基板を特定した後、Ｓ６で検査位置データベースより対象となる検査位置に対応する部品品番を一点検索する。Ｓ７でこの部品品番をキーにして、部品形状データベースより、部品形状コードと部品形状属性を検索する。Ｓ８でこの部品形状コードをキーにして、検査ライブラリ管理データベースより、優先使用番号の高い検査ライブラリコードを検索する。この際作業者の判断で、任意の優先使用番号を選んでもよい。Ｓ９で検査ライブラリコードが検索できる場合は、Ｓ１１で検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを検査機に出力し、検査ライブラリコードが検索できない場合は、Ｓ１０で部品形状属性を用いて、類似の部品形状コードを部品形状データベースより検索し、部品形状コードを求め、Ｓ８で部品形状コードをキーにして、優先使用番号の高い検査ライブラリコードを検索し、Ｓ１１で検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力する。Ｓ１０における検索の方法は、部品の外形寸法の許容値範囲にあるものを検索してもよいし、部品のリードの本数などが同一のものを検索してもよい。
【００２９】
検査機の特徴により検索方法をあらかじめ設定しておくものとする。すべての部品品番について、Ｓ６〜Ｓ１１を繰り返す。
【００３０】
【発明の効果】
以上のように、本発明によると、各検査機からライブラリコードに対応する検査判定条件と検査アルゴリズムを含む検査ライブラリを取得し、検査ライブラリ管理データベースに登録し、これを統計処理して、同一検査機ライブラリコードに対して、優先順位を付け、検査ライブラリ管理データベースに再登録し、検査対象となる基板の検査位置に対応する部品品番をキーにして求めた部品形状コードにより、優先順位の高い検査ライブラリコードを検索し、検査位置と検査位置に対応するライブラリコードを出力するようにしたので、短時間で検査機の検査判定条件や検査アルゴリズムを含めた検査ライブラリコードを作成することが可能となり、またオペレータによる検査判定条件や検査アルゴリズムのバラツキも解消され、検査精度の高い検査が可能となる。また、試作基板などの現物がなくても、データ作成が可能となるため、検査データの事前作成が可能となり、データ作成作業を効率化できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の検査データ作成方法の構成図である。
【図２】本発明の実施のデータベース構成図である。
【図３】同実施の形態の第１工程の流れを示す説明図である。
【図４】同実施の形態の第２工程、第３工程の流れを示す説明図である。
【図５】プリント基板の検査を説明する図である。
【符号の説明】
１  検査位置データベース
２  部品形状データベース
３  検査ライブラリ管理データベース
４  検査ライブラリ統計処理
５  ライブラリ作成処理
６  検査機群
７  検査機
８  プリント基板
９  電子部品
１０  パッド
１１  半田
１２  判定条件
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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