(57)【要約】【課題】試験全体を二度実行することなく、特定の試験や処理を二回行なうことのできるシステムを提供する。【解決手段】試験実行システムは、実行する試験を選択することができる。グラフィカルユーザインターフェイスは、ユーザに「全試験実行」と「及落線上試験実行」と「被選択試験実行」の選択を許容している。「被選択試験実行」を選択した場合、チェックボックス４００〜４１２には試験分岐選択肢３１３が表示される。試験分岐選択肢３１３，試験，計測，採取点は、チェックボックスで選択され、次にボックスをチェックすると選択除外される。チェックマークはボックス内に表示される。チェックボックスの輝度は、どれ位の数のより低次のレベル項目がチェックされたかを示している。試験分岐選択肢３１３，試験，計測，採取点は、保存したり読み込んだりすることができる。【選択図】　　　図１
2004004050.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
処理装置に対する命令と、
複数の実行選択肢の表示で、前記各実行選択肢が異なる組の試験に対応し、前記複数の実行選択肢が「全試験実行」、「及落線上試験実行」、「落第試験実行」、「誤試験実行」、「被選択試験実行」及びそれらの組み合わせからなる群から選択された少なくとも二つからなる前記表示と、
前記実行選択肢の一つを特定する入力の受け取りと、
前記実行選択肢により示された前記試験対象装置の試験の実行と、
前記実行した試験の結果表示と、
前記命令を記憶する前記処理装置が読み取り可能な媒体を備えた、
ことを特徴とする試験実行システムとは別個の独立した試験対象装置に対する試験を制御する試験実行システムを供給する製品。
【請求項２】
前記命令は、前記処理装置に前記実行選択肢が「全試験実行」であるかどうか判定するよう命ずる命令をさらに含む、
請求項１に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項３】
前記命令は、前記処理装置に前記実行選択肢が「及落線上／落第試験実行」であるかどうか判定するよう命ずる命令をさらに含む、
請求項１に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項４】
前記命令が、前記処理装置に前記実行選択肢が「被選択試験実行」であるかどうか判定するよう命ずる命令をさらに含む、
請求項１に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項５】
前記試験を実行させる前記命令は、
前記処理装置に命ずる命令と、
実行する特定の試験の選択入力の受け取りと、
前記特定の試験の実行とを含む、
請求項４に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項６】
前記入力を受け取る前記命令は、
前記処理装置に命ずる命令と、
実行が可能な試験の表示と、
１以上の前記可能な試験に対応する試験入力の受け取りと、
実行する試験のリストの更新を含む、
請求項５に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項７】
前記更新命令は、前記処理装置に命じて表示を更新し、前記試験が選択されたことを示す命令を含む、
請求項６に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項８】
前記更新命令は、前記終了入力に応答して前記試験リストをファイルに保存するよう前記処理装置に命ずる命令をさらに含む、
請求項６に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項９】
前記試験入力を受け取る前記命令は、
前記処理装置に命ずる命令と、
前記試験を前記リストから除外する除外入力を受け取る命令と、
前記除外入力の受け取りに応答して前記リストから前記試験を除外する命令をさらに含む、
請求項６に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項１０】
除外入力を受け取る前記命令は、前記処理装置に命じて表示を更新させ、前記試験が前記リストから除外されたことを示す命令をさらに含む、
請求項１１に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項１１】
前記制御試験は、複数の試験レベルを含む階層構造を有し、より高い試験レベルのそれぞれが１以上のより低い試験レベルを有しており、前記表示対象命令が前記より高い試験レベルのそれぞれに対応するインジケータを表示する命令を含み、前記インジケータがどれ位の数の前記より低い試験レベルが実行され、或いは実行されようとしているのかを示している、
請求項１に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項１２】
インジケータを表示する前記命令は、その輝度が前記命令をもたらすアイコンを表示する命令を含む、
請求項１１に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項１３】
前記試験レベルは、手順レベル、試験レベル、計測レベル、及びデータ採取点レベルを含む、
請求項１１に記載の試験実行システムを供給する製品。
【請求項１４】
複数の実行選択肢の表示ステップで、前記各実行選択肢が異なる組の試験に対応し、前記複数の実行選択肢が「全試験実行」、「及落線上試験実行」、「落第試験実行」、「誤試験実行」、「被選択試験実行」及びそれらの組み合わせからなる群から選択された少なくとも二つからなる前記表示ステップと、
前記実行選択肢の一つを特定する入力を受け取るステップと、
前記実行選択肢により示された前記試験対象装置上で試験を実行するステップと、
前記実行した試験の結果を表示するステップを含む、
ことを特徴とする試験実行システムとは別個の独立した試験対象装置への試験を制御する試験実行システムを動作させる方法。
【請求項１５】
前記複数の実行選択肢を表示する前記所作は、「全試験実行」、「及落線上／落第試験実行」、及び「被選択試験実行」のうちの１以上の選択肢の表示を含む、
請求項１４に記載の試験実行システムを動作させる方法。
【請求項１６】
実行が可能な試験を表示するステップと、
実行する試験用についての入力を受け取るステップと、
前記試験とともに実行する試験のリストを更新するステップをさらに含む
請求項１４に記載の試験実行システムを動作させる方法。
【請求項１７】
前記更新所作は、前記ディスプレイを更新して前記試験が選択されたことを命令する所作を含む、
請求項１６に記載の試験実行システムを動作させる方法。
【請求項１８】
前記試験を選択から外す入力を受け取る所作と、前記表示を更新して前記試験が前記試験リストから除外されたことを示す所作をさらに含む、
請求項１７に記載の試験実行システムを動作させる方法。
【請求項１９】
前記制御試験が、複数の試験レベルを含む階層構造を有し、より高い試験レベルのそれぞれが１以上のより低い試験レベルを有しており、前記より高い試験レベルのそれぞれに対応するインジケータの表示をさらに含み、前記インジケータがどれ位の数の前記より低い試験レベルが実行され、或いは実行されようとしているのかを命令する、
請求項１４に記載の試験実行システムを動作させる方法。
【請求項２０】
前記複数の試験レベルは、手順レベルと試験レベルと計測レベルとデータ採取点レベルを含む、
請求項１９に記載の試験実行システムを動作させる方法。
【請求項２１】
複数の実行選択肢を示すディスプレイで、前記各実行選択肢が異なる組の試験に対応し、前記複数の実行選択肢が「全試験実行」と「及落線上試験実行」と「落第試験実行」と「誤試験実行」と「被選択試験実行」とそれらの組合せからなる群から選択された少なくとも二つの選択肢からなる前記ディスプレイと、
前記実行選択肢のそれぞれに対応する試験の選択が可能な情報を記憶するメモリと、
入力を受け取り、前記実行選択肢の一つを識別し、前記メモリと通信し、前記実行選択肢が示す前記試験対象装置上で試験を実行するプロセッサを含む、
ことを特徴とする試験実行システムとは別個の独立した試験対象装置上で試験を制御する試験実行システム。
【請求項２２】
前記実行選択肢は、「全試験実行」、「及落線上／落第試験実行」、及び「被選択試験実行」のうちの２以上を含む、
請求項２１に記載の試験実行システム。
【請求項２３】
前記制御試験が、複数の試験レベルを含む階層構造を有し、より高い試験レベルのそれぞれが１以上のより低い試験レベルを有しており、前記より高い試験レベルのそれぞれに対応するインジケータを示すディスプレイをさらに含み、前記インジケータがどれ位の数の前記より低い試験レベルが実行され、或いは実行されようとしているのかを命令する、
請求項２１に記載の試験実行システム。
【請求項２４】
前記試験レベルは、手順レベル、試験レベル、計測レベル、及びデータ採取点レベルを含む、
請求項２３に記載の試験実行システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、実行選択付き電子試験プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
複雑な電子装置、電気機械装置、及び機械装置は、一般に自動試験システムを用いて試験されている。この試験には検証試験が含まれており、この検証試験は、試験対象装置（ＤＵＴ）（ｄｅｖｉｃｅ　ｕｎｄｅｒ　ｔｅｓｔ）の様々な操作を通じて実行されている。さらに、この検証試験では、各操作が適切に実行されたかどうかが記録されるようになっている。この試験には環境試験も含まれることがあり、この環境試験では、ＤＵＴが温度や圧力や湿度を様々に組み合わせた状態にさらされて、操作結果が環境変化として記録されるようになっている。また、製造試験などの他の試験にも履行することができる。一般に、ＤＵＴや、環境的或いはその他の制約をＤＵＴにもたらすシステムも、共に電子的に制御されている。ここ１０年余り、業界では「試験実行」プログラムと呼ばれる様々な自動化試験を制御することのできる計算機プログラムが開発されてきた。
【０００３】
従来技術の試験実行プログラムには、Ａｇｉｌｅｎｔ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社により開発された内部試験実行プログラムと、Ｎａｔｉｏｎａｌ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ　Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎが開発したＴＥＳＴＳＴＡＮＤ（試験標準）ソフトウェアがある。ＴＥＳＴＳＴＡＮＤには、即実行可能な（ｒｅａｄｙ−ｔｏ−ｒｕｎ）試験の構成の実行、制御、或いは試作品への自動化された実行、確認、製造試験システムとして記述されている。従来技術のＡｇｉｌｅｎｔ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社のプログラムは、グラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）を使用しておらず、それ故に大量のデータを単純な仕方で表示するプログラムの能力は制限されていた。ＴＥＳＴＳＴＡＮＤソフトウェアは、ＧＵＩを使用してはいるが、ユーザは試験の全体的な進捗度を判定するのに複数窓を介してスクロールすることが必要とされ、それ故にそれ自体では試験再構築を容易にするのに役立つものではなかった。
【０００４】
通常、試験は、ＤＵＴが比較される一組の規則、或いは仕様により規定されている。規則或いは仕様は、通常、ＤＵＴに適用される電気的かつ機械的パラメータにより規定される様々な入力からなる。この電気的かつ機械的パラメータとは、その下で試験を実行する環境パラメータと同様に、電圧や電流や特定の制御操作と装置部分などである。また、環境パラメータとは、温度や湿度や圧力やパラメータが適用される時間期間などである。各試験は、ＤＵＴの各構成要素に対し適用されたパラメータの多数の組み合わせを有しており、しばしば多数回繰り返されることになる。パラメータの各組合せは、１以上のデータ採取点をもたらす計測を規定し、データ採取点は記録され、仕様を規定する数値限界或いは論理演算値限界と比較される。かくして、装置がより複雑になるにつれ、電子試験プログラムは非常に長くかつ複雑になり、完全な試験を実行するのに数日、或いは一週間も要するようになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ユーザは、ＤＵＴ上で時として特定の手順或いは試験だけを実行させようとすることがあり、これには問題がある。例えば、試験完了後にユーザが一部の試験の結果を検証したいと考えることがある。具体的には、ユーザはＤＵＴ上で行なった試験の結果を見て、一部の試験が落第或いは及落線上にあることを知ることができる。ユーザは、結果を検証して試験の落第理由を見出すために、試験を二度実行することを望むこともある。従来技術システムでは、特定の試験や処理を二回行なう唯一の方法としては、試験全体を二度実行することであった。これには非常に時間がかかり、落第原因を分離することはできなかった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、実行選択を伴う電子試験プログラムにより、上記ならびに他の問題は解決され、技術的な進歩を図ることができる。実行選択の第１の長所は、試験全体の実行を強いられることなく、ユーザにとって関心のある処理及び試験だけを実行することができることにある。
【０００７】
本発明の第２の長所は、ユーザが、落第しかつ／又は及第線上にある試験部分を選択することができることにある。これにより、ユーザは試験のこれらの部分を容易に再試験できるようになる。
【０００８】
好ましくは、本発明は「全試験実行」、「及落線上試験実行」、「落第試験実行」、「誤試験実行」、「被選択試験実行」及びそれらの組合せからなる群から選択することができ、ユーザは、この選択肢のうち少なくとも二つを含む複数の実行選択肢を選択することができる。
【０００９】
本発明は、処理装置により実行するアプリケーションである。当業者は、アプリケーション用の命令がメモリ内にソフトウェア命令として、及び／又は処理チップに添着（ａｆｆｉｘｅｄ　ｔｏ）されたメモリ内のファームウェアとして格納できることを認識するであろう。本発明によれば、処理装置が下記の方法で試験実行プログラム用の実行選択をもたらすルーチンを実行することとなる。先ず、処理装置が実行する試験プログラムは、少なくとも一つの実行選択肢を表示している。試験プログラムは、少なくとも一つの実行選択肢のうちの一つを識別する入力を受け取るようになっている。試験プログラムは、少なくとも一つの実行選択肢入力により示された試験を実行し、結果が表示されるようになっている。
【００１０】
入力を受け取ると、試験実行プログラムは、少なくとも一つの実行選択肢のどの一つをユーザが命令しているかを判定するようになっている。この種の一つの実行選択肢が、「全試験実行」である。「全試験実行」の選択を受け取ると、試験実行プログラムは記憶させてある全ての試験を読み出し、読み出された全ての試験を検索するようになっている。
【００１１】
実行選択のための第２の選択は、好ましくは「及落線上試験及び落第試験の実行」である。及落線上試験は、試験についての所定の仕様限界近くに被計測データ採取点を有するものである。落第試験は、試験についての仕様限界の外側に被計測データ採取点を有するものである。「及落線上／落第試験実行」の選択を受け取ると、試験実行プログラムは、どの試験がすでに実行済みであって及落線上にありかつ／又は落第したかを割り出すようになっている。試験実行プログラムは、好ましくは実行選択により実行される将来の試験基準用のファイルに及落線上／落第試験を保存するようになっている。そこで及落線上／落第試験が実行され、実行された試験の結果が表示されることとなる。
【００１２】
実行選択のための第３の選択は、好ましくは「被選択試験実行」である。試験実行プログラムが「被選択試験実行」選択を受け取ると、試験実行プログラムはユーザから実行対象試験の選択を受け取り、選択された試験を実行するようになっている。選択を受け取るため、試験実行プログラムは、好ましくは選択に利用できる試験を表示するようになっている。好適な実施形態では、試験のこの表示は、好ましくはグラフィックユーザインタフェース（ＧＵＩ）上の分岐選択肢表示内の試験に隣接してチェックボックスを付加することで達成されることとなる。
【００１３】
試験実行プログラムは、そこで実行対象試験入力を受け取り、入力試験を加えることで実行対象試験のリストを更新している。試験実行プログラムはそこで表示を更新し、入力試験が選択されたことを示すようになっている。好適な実施形態では、この表示は試験に隣接するチェックボックスへチェックマークすなわち「×」を付加することで更新されるようになっている。
【００１４】
ユーザが試験の選択を終えると、試験実行プログラムは、ユーザが試験選択を終えたことを示すユーザからの入力を受け取るようになっている。好適な実施形態では、入力は好ましくは「実行」ボタンのクリックで行われることとなる。実行対象試験のリストは、好ましくは将来の用途に向けてそこで保存されることとなる。試験実行プログラムは、そこで選択された試験を実行するようになっている。
【００１５】
本発明によれば、試験実行プログラムは、好ましくはユーザをして実行対象試験のリストから試験を除外するようにもさせている。試験の除外は、好ましくは以下の方法でなされる。試験実行プログラムは、試験リストからの除外対象試験を命令する入力を受け取るようになっている。好適な実施形態では、入力は、好ましくはボックス内にチェックを有するチェックボックス上のクリックで行われるようになっている。
【００１６】
除外対象試験の入力の受け取りに応答し、試験実行プログラムは、実行対象試験リストから入力試験を除外するようになっている。試験実行プログラムは、そこで表示を更新してその試験が実行対象試験リストから除外されたことを示すようになっている。好適な実施形態では、その表示は試験に隣接するチェックボックスからのチェック、すなわち「×」を取り除くことで更新されるようになっている。
【００１７】
好ましくは、試験実行システムは複数の試験レベルを含む階層構造を有しており、より高い試験レベル（ｈｉｇｈｅｒ　ｔｅｓｔ　ｌｅｖｅｌ）のそれぞれが１以上のより低い試験レベル（ｌｏｗｅｒ　ｔｅｓｔ　ｌｅｖｅｌ）を有し、本システムはさらにより高い試験レベルのそれぞれに対応するインジケータを示すディスプレイで、インジケータがどの位の数のより低次の試験レベルが実行され或いは実行しようとしているのかを示す前記ディスプレイが設けられている。好ましくは、試験レベルは、処理レベル、試験レベル、計測レベル、データ採取点レベルを有している。
【００１８】
本発明による試験実行システムは、ユーザをして実行すべき試験の重要な範疇を速やかに選択させ、これらの範疇を望みのままに特化させることが可能となる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
本発明の上記ならびに他の特徴を、以下の詳細な説明ならびに以下の図面に記載する。本発明は、電子試験実行プログラムに関する。図１は、本発明に係る試験実行プログラムを実行するコンピューターシステム１００を示している。コンピューターシステム１００には、メモリ１０１、マイクロプロセッサ１０２、入力装置１０４、及び出力装置１０６が設けられている。メモリ１０１は、信号路１１０を介してマイクロプロセッサ１０２に接続されている。メモリ１０１は、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）などの不揮発性メモリや、随時読み書き可能メモリ（ＲＡＭ）などの揮発性メモリがよい。入力装置１０４は、信号路１１２を介してマイクロプロセッサ１０２に接続されている。入力装置１０４は、キーボードやマウスやジョイスティックを用いてユーザがデータを入力するための任意の他の装置及びソフトウェアドライバがよい。
【００２０】
好適な実施形態では、本発明の試験実行プログラムは、メモリ１０１内に命令として記憶されている。当業者は、この命令がマイクロプロセッサ１０２によって読み取り可能でかつ実行可能なコンピュータソフトウェア及び／又はファームウェアとして記憶させるかのいずれでもよいことを認識することができるであろう。試験実行プログラムにより実行される試験の結果は、出力装置１０６に表示されるようになっている。出力装置１０６には、ディスプレイとアプリケーションにより画像をユーザに表示させる関連ドライバが用いられている。当業者は、ディスプレイが従来の陰極線モニタ或いは液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）でもよいことを認識することができるであろう。使用する実際のディスプレイは、本発明の目的にとって重要ではない。
【００２１】
マイクロプロセッサ１０２は、本発明の試験実行プログラムを実行するようになっている。マイクロプロセッサ１０２は、信号路１１６を介して試験対象装置（ＤＵＴ）と通信している。プロセッサ１０２は、電線１１８を介して試験機器１１７を制御している。信号路１１６，１１７を介してマイクロプロセッサ１０２が受け取る信号は、メモリ１０１に記憶させられるようになっている。
【００２２】
当業者は、本発明が図１と同じ一般的な構成概要を有する任意の電子装置により実装できることを認識することができるであろう。これらの電子装置は、限定はされないが、コンピューターシステムやハードウェア内に埋め込んだ論理回路や電子分析器を備えている。
【００２３】
本発明をより良く理解するために、試験実行プログラムの階層構造を図２に示してある。ブロック線図２００は、本発明に係る試験実行プログラムの好適な階層的多重レベル構造を示すものである。
【００２４】
第１のレベル２０１は製品モデルに対応しており、このモデルは試験開発者が特定の装置型番系列を試験するのに作成するファイルである。このファイルには、試験手順と入力が含まれている。第２のレベル２０２は、手順群である。この手順とは、装置上で実行する順番付きリストやシーケンス或いは試験スクリプトである。いくつかの手順が存在するかも知れないが、それは、図２に一組のカード２０２として示すように、それぞれのカードは異なる手順を表わしている。試験２０３は、各手順２０２において実行する試験１〜Ｎを含む次のレベルである。各試験２０３には、試験２０３の間になすべき複数の計測２０７が順番に含まれている。例えば、試験２０５には、計測２０６が含まれている。各計測１〜Ｎには、１以上のデータ採取点２１４が含まれている。例えば、計測２０６には、データ採取点２１０〜２１２が含まれている。本開示では、階層レベルのうちの一つが示されると、そのレベルは大文字で記載されることになる。「試験」などの用語が大文字で記載されていないときは、それは手順や計測やデータ採取点或いは当業界で「試験」として周知の他のあらゆる所作を含み得る包括的な意味を有している。
【００２５】
各手順２０２は、書き下されたプログラムすなわちソフトウェアオブジェクト構造（ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ　ｏｆ　ｓｏｆｔｗａｒｅ　ｏｂｊｅｃｔｓ）を構築するのに用いるコードによって規定されている。一つの実施形態としては、ソフトウェアオブジェクトは、構成要素オブジェクトモデルすなわちＣＯＭ（ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ　ｏｂｊｅｃｔ　ｍｏｄｅｌ）オブジェクトである。ＣＯＭは、言語独立構成要素アーキテクチャ（ｌａｎｇｕａｇｅ　ｉｎｄｅｐｅｎｄｅｎｔ　ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ　ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ）であり、プログラミング言語ではない。ＣＯＭは、汎用機能と汎用サービスを簡約する汎用オブジェクト指向構造（ｏｂｊｅｃｔ−ｏｒｉｅｎｔｅｄ　ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ）を意味している。
【００２６】
試験２０３は、手順２０２内の計測群であり、この計測群は、共通試験アルゴリズム（ｃｏｍｍｏｎ　ｔｅｓｔｉｎｇ　ａｌｇｏｒｉｔｈｍ）または同一の試験ソフトウェアコード（ｔｅｓｔ　ｓｏｆｔｗａｒｅ　ｃｏｄｅ）を分担している。試験２０３の若干の実例としては、これらに限定されないが、振幅精度試験（ａｍｐｌｉｔｕｄｅ　ａｃｃｕｒａｃｙ　ｔｅｓｔ）や高調波歪試験（ｔｅｓｔ　ｏｆ　ｈａｒｍｏｎｉｃ　ｄｉｓｔｏｒｔｉｏｎ）が含まれている。試験実行プログラム２００は、各計測ならびにデータ採取点に関する試験を繰り返し呼び出すようになっている。
【００２７】
計測２０７は、試験の構成または設定である。試験２０３内の各計測２０７には、異なる設定または構成パラメータをもたせることができる。試験２０３は、パラメータ方式（ｐａｒａｍｅｔｅｒ　ｄｒｉｖｅｎ）をもって行われる。パラメータは、計測レベルにおける入力である。計測２０６は、ボルト範囲やキロヘルツ周波数或いは倍音（整数）などの要素である。
【００２８】
各手順２０２は、その手順から試験へ渡すべきデータとして計測２０７を用いるようになっている。計測２０７は、実行の一つの段階でもある。試験２０３の実行の計測段階の間に、計測２０７は開始されるが、データは収集されないようになっている。従って、複数のＤＵＴ１０８を同時に構成しかつ試験することもできる。
【００２９】
データ採取点２１０〜２１２は、計測２０７の部分的な集合（ｓｕｂｓｅｔ）である。これらのデータ採取点２１０〜２１２は、一つの計測で複数の結果が得られたときに、その結果を選択するための追加のパラメータを有している。例えば、計測２０７は、スペクトル分析器の掃引（ｓｗｅｅｐ）についての最小ならびに最大のデータ採取点、或いは装置の各チャンネルについての異なるデータ採取点を有することがある。各データ採取点２１０〜２１２について、結果値（ｖａｌｕｅ　ｒｅｓｕｌｔ）が測定されることになる。結果値はそこで仕様結果と比較される。仕様結果には、数値限界（ｎｕｍｅｒｉｃａｌ　ｌｉｍｉｔｓ）や連鎖整合（ｓｔｒｉｎｇ　ｍａｔｃｈ）及び／又は論理演算的及／落結果（Ｂｏｏｌｅａｎ　ｐａｓｓ／ｆａｉｌ　ｒｅｓｕｌｔ）が含まれよう。及落線上限界（ｍａｒｇｉｎａｌ　ｌｉｍｉｔｓ）と工程限界（ｌｉｎｅ　ｌｉｍｉｔｓ）と顧客限界（ｃｕｓｔｏｍｅｒ　ｌｉｍｉｔｓ）を含む３つの違った種類の数値限界が存在しよう。各限界は、上限値と下限値を有している。
【００３０】
試験実行プログラムを実行するコンピューターシステム１００（図１）の全ての入力及び出力は、グラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）を介して処理されている。図３は、出力装置１０６により表示されている本発明の試験実行プログラムに係るＧＵＩ３００を示している。ＧＵＩ３００は、試験を制御するのに用いるボタン３０１を有している。ユーザの便宜を図るため、ボタン３０１はボタンがもたらす機能を示す示標を有している。例えば、ボタン３０１には、本発明の好適な実施形態であるテープレコーダボタンとして視認される。好適な実施形態では、これらのボタンは中止ボタン３０２、試験再開ボタン３０３、計測再開ボタン３０４、一時停止ボタン３０５、実行ボタン３０６、計測スキップボタン３０７、及び試験スキップボタン３０８が設けられている。当業者は、本実施形態においてテープレコーダの記号を用いたが、ボタン３０１を識別するのに任意の数の異なる示標を用い得ることを認識することができる。
【００３１】
好適な実施形態のＧＵＩ３００の右側領域３１４には、試験結果が表示されている。好適な実施形態では、領域３１４は個々の試験の結果を表示する一連の行３１５と列３１６を有している。列３１７は、試験の実行時期を表示している。列３１８は、試験の状態を表示している。列３１９は、また、試験の名前も表示している。例えば、一つの試験は振幅周波数である。列３２０は、試験期間中になされる計測の種別を示している。例えば、範囲＝５Ｖｐ、周波数１ｋＨｚである。列３２１は、試験対象のチャンネル或いはデータ採取点を表示している。例えば、ｃｈ＝１或いはｃｈ＝２である。列３２２は、チャンネル或いはデータ採取点についての値或いは試験結果を表示している。列３２３は、＋０．２などの仕様を表示している。列３２４は、１ｋＨｚなどのパラメータを表示している。
【００３２】
ボタン３２５は、表示された試験の並べ替えを容易にし、ユーザが所望の試験を視認できるようになっている。好適な実施形態では、ボタン３２５は全ボタンと及落線上及第ボタン（ｍａｒｇｉｎａｌ　ｐａｓｓ　ｂｕｔｔｏｎ）と落第ボタンが含まれている。しかしながら、当業者は、データ視認用に任意の数の追加の方法を加えることができることを認識することになる。領域３３０は、実行中の手順の進み具合を表わす進捗度を表示している。
【００３３】
好適な実施形態では、領域３０９には、試験分岐選択肢３１３が示されており、試験分岐選択肢３１３は、試験と計測とデータ採取点の階層を含む手順領域３０９内で実行される試験を表わしている。試験分岐選択肢３１３には、試験の状態を示すアイコンが設けられている。アイコンは、及第、落第、及落線上、未試験を示している。好適な実施形態では、「笑い顔」は及第を示し、「驚いた顔」は及落線上の及第を示し、「渋い顔」は落第を示している。手順に関するアイコンは、全体の手順の状態を示しているが、その一方で各試験に用いるアイコンは、個々の試験の状態を表わしている。手順に関するアイコンは、最低の最適結果を促すアルゴリズムにより決定されている。かくして、一つの試験が落第とされた場合、その手順は落第となるようになっている。
【００３４】
本発明によれば、ＧＵＩ３００は実行選択ダイアログボックス３５０を有している。実行選択ダイアログボックス３５０は、ユーザが本発明に従って試験を実行するよう選択できる少なくとも一つの実行選択肢をユーザに提供している。好適な実施形態では、実行選択のための選択肢は、そこに隣接するボタンに短い名前が与えられている。そこでユーザは、マウスや他のポインティング装置を用いて、ボタンをクリックして実行選択肢を選択するようになっている。本発明によれば、実行選択肢は、好ましくは「全試験実行」、「及落線上試験実行」、「落第試験実行」、「誤試験実行」、「被選択試験実行」、及びそれらの組み合わせからなる群から選択された少なくとも二つの選択肢となっている。誤試験は、試験対象装置の落第とは対照的に試験設定、すなわち実行試験システムにおいてエラーを返却してきた試験である。好適な実施形態では、実行選択のための選択肢は、「全」、「及第線上／落第」、「選択」を有している。「全選択」は、全試験の実行を意味し、ボタン３５１のクリックにより選択されるようになっている。「及落線上／落第」選択肢は、及落線上の結果または前記規則に従って落第とされた全ての試験を実行し、ボタン３５２をクリックすることで選択することができるようになっている。「選択」選択肢は、ユーザが行ないたいと欲するこれらの試験と手順とデータ採取点を選択するようになっている。「選択」選択肢は、ボタン３５３をクリックすることで選択することができる。
【００３５】
「選択」が選ばれると、試験実行プログラムは、ユーザが行なおうとする試験、手順、及びデータ採取点を選択するシステムならびに方法を提供するようになっている。図４は、好適な実施形態における試験と手順とデータ採取点の選択方法を示している。好適な実施形態では、チェックボックス４００〜４１２は、分岐選択肢３１３内の試験手順とデータ採取点の左側に沿って現れるようになっている。そこでユーザは、マウスなどのポインティング装置を用いてボックス４００〜４１２をクリックすることにより、試験しようとする試験と手順とデータ採取点を選択するようになっている。試験が選択されると、「×」すなわちチェックマークなどの記号がボックス内に表示され、その直ぐ右にある試験か手順かデータ採取点が選択されたことを示すようになっている。ユーザは、選択された項目からデータ採取点や手順或いは試験を取り除くことができるようになっている。マークされた項目のチェックボックス４００〜４１２をクリックすることにより、項目を除外することができるようになっている。この項目は、実行対象項目リストから除外され、「×」すなわちチェックマークがボックスから取り除かれることになる。
【００３６】
例えば、チェックボックス４０１は、振幅精度試験を表している。図４では、振幅精度試験が落第となり、ユーザはボタン３５３をクリックして「被選択試験」を実行すべきことを示している。ユーザは、チェックボックス４０１を選択し、振幅精度試験を実行している。ユーザは、ボックス４０２，４０３をチェックして、１ｋＨｚと１００ｋＨｚにおける５Ｖｐの範囲も計測している。ユーザは、ボックス４０９〜４１２も選択している。
【００３７】
各レベルは、より低次のレベルのどれ位の数をチェックしたかを示すインジケータを有している。これにより、ユーザは選択された試験全体を素早く要約し、評価できるようになっている。好適な実施形態では、チェックを入れたボックスの輝度がどれ位の数のより低次のレベル項目をチェックしたのかを示している。例えば、ボックス４０３は最大輝度にあり、何故ならそれ未満の全ての項目はチェック済みであるからである。ボックス４０２は中間輝度であるが、それはより低次のレベルを一つだけチェック済みであるからであり、ボックス４０４がチェックされていないのは、それ以下のレベルは一切チェックされていないからである。試験と計測とデータ採取点からなる階層内の項目を選択或いは除外することで、より低次の項目は全て自動的に選択或いは除外されることになる。例えば、選択ボックス４０４は、ボックス４０５，４０６を選択することにもなる。
【００３８】
図５は、試験実行プログラムに含まれる処理の流れ線図であって、本発明に係る実行選択を備えたものを示している。当業者は、本発明の処理の生成において、任意の数の異なるプログラミング言語を用いることができる。また、本発明を含む試験実行プログラムを設計する当業者には、プログラミング言語を選択する余地が残されていることを認識することができる。処理５００は、実行選択用の選択肢を表示することによって所作５０１内で始まるようになる。図３を参照すると、選択ダイアログボックス３５０の表示は選択の表示であるが、当業者は、実行選択用の選択の表示か、これらに限定はされないがポップアップダイアログボックスやツールバー上のプルダウンメニューを含む多数の異なる方法のうちの任意の一つに示すことができることを認識することになる。
【００３９】
所作５０２では、処理５００はユーザによる選択入力を受けるようになっている。好適な実施形態では、処理５００は、ユーザがボタン３５１〜３５３をクリックすることで入力を受けるようになっている。しかしながら、当業者は、入力がコマンドのタイプ入力、或いはプルダウンメニューからのオプションの選択、或いは多数の他の方法のうちの任意のものからも入力されることができることを認識することになる。
【００４０】
入力を受けた後、処理５００は所作５０３において実行する試験の選択を決定している。これは、区分内に属する試験を割り出すか、或いは所作５０３においてユーザから次の入力を受け取ることで完結することができるようになっている。処理５００の好適な実施形態は、以下に説明する図６の処理６００に示されている。選択された区分内で判定される項目は、所作５０４にて実行されるようになっている。決定所作５０３の好適な実施形態は、図７〜図９に示されている。処理５００は、次に所作５０５において実行済み項目についての結果を表示して、そこで終わることとなる。
【００４１】
図６は、ユーザが選択した実行選択の種別を判定する処理６００の好適な実施形態を示している。処理６００は、「全試験実行」が選択されたかどうかを判定することで所作６０１内で開始されるようになっている。「全試験実行」が選択された場合、処理６００は所作６０２の図７に示した処理７００を実行することで継続されることになる。
【００４２】
「全試験実行」が選択されなかった場合、処理６００は所作６１１において、「及落線上／落第試験実行」が選択されたかどうか判定するようになっている。「及落線上／落第試験実行」が選択された場合、方法６００は所作６１２の図８に示された処理８００を実行するようになっている。「及落線上／落第試験実行」が選択されなかった場合、処理６００は「被選択試験実行」が所作６２１において選択されたかどうか判定するようになっている。「被選択試験実行」が選択された場合、処理６００は所作６２２において、図９に示した処理９００を実行するようになっている。所作６３１では、コマンドが試験実行により認識されないときに、エラーメッセージが表示されるようになっている。この時点で、当業者は、任意の数の他の実行選択が追加できることを認識することになる。他の選択の若干の実施例は、これらに限定はされないが、「及落線上試験実行」と「落第試験実行」と「全及第試験実行」を含んでいる。図示の試験選択実行のどれも除外することができることにも注意する必要がある。
【００４３】
図７は、好適な実施形態において「全試験実行」選択の受け取りに応答して項目を割り出して実行する処理７００を示している。処理７００は、試験分岐選択肢３１３内の試験、手順、データ採取点の全てを検索することで所作７０１内で開始されるようになっている。所作７０２では、処理７００は検索した項目全てを実行することで終わるようになっている。処理７００は、そこで図５の処理５００の所作５０５へ戻ることとなる。
【００４４】
図８は、好適な実施形態において「及落線上／落第試験実行」の受け取りに応答して項目を割り出して実行する処理８００を示している。処理８００は、及落線上或いは落第した試験手順とデータ採取点の全てを割り出すことで所作８０１内で開始されるようになっている。割り出された項目は、そこで所作８０２内のユーザ実行選択試験ファイル内に記憶させられるようになっている。この項目は、次の時間に全項目を実行するなどの将来の用途に備え、保存されることとなる。項目はそこで所作８０３において実行され、処理８００は終わることとなる。処理８００はそこで図５の処理５００の所作５０５へ復帰するようになっている。
【００４５】
図９は、好適な実施形態において、「被選択試験実行」選択の受け取りに応答してユーザから項目の選択を受け取る処理９００を示している。処理９００は、選択されるであろう項目を表示することにより、所作９０１で開始されるようになっている。上記の如く、好適な実施形態では、その表示は、分岐選択肢３１３の中の項目に隣接するチェックボックス４０１〜４０６となっている。
【００４６】
所作９０２において、処理９００は項目の選択を受けるようになっている。好適な実施形態では、ユーザがポインタを用いてチェックボックスを選択することによって選択は受けられるようになっている。選択を受けると、処理９００はその項目が既に所作９０３内で選択されているかどうかを判定するようになっている。
【００４７】
項目が既選択でない場合、処理９００は項目を更新して所作９１０内のリストを実行することとなる。処理９００はそこで所作９１１において表示を更新し、その項目が選択されたことを示すようになっている。好適な実施形態では、更新は項目に隣接するチェックボックスへチェックマークすなわち「×」を付加することを含んでいる。処理９００はそこで、ユーザが所作９１５を済ませたかどうか判定するようになっている。ユーザが項目選択を済ませていない場合、処理９００は所作９０２から繰り返すこととなる。さもなくば、処理９００は、所作９２０へ続くこととなる。
【００４８】
所作９０３において項目が既に選択されていると判定された場合、処理９００はその項目を項目リストから除外して所作９０４を実行し、所作９０５において表示を更新するようになっている。好適な実施形態では、ディスプレイは項目に関するチェックボックスからチェックマークすなわち「×」を除外することにより更新されることとなる。処理９００はそこで、ユーザが済ませ、所作９１５の「実行」ボタンをクリックしたかどうかを判定するようになっている。ユーザが項目選択をしていない場合、処理９００は所作９０２から繰り返すこととなる。さもなくば、処理９００は所作９２０へ続くこととなる。
【００４９】
所作９２０では、処理９００は、試験選択における将来の用途へ向け実行対象項目リストをファイルに保存するようになっている。選択された試験は、そこで所作９２２において実行されるようになっている。処理９００はそこで終わり、図５に示した処理５００の所作５０５へ戻ることとなる。
【００５０】
上記は、実行選択付き電子試験プログラムの説明である。例示的好適な実施形態だけが開示され、本明細書が開示された以上、当業者が文字により或いは均等論のいずれかにより特許請求の範囲に記載された本発明を侵害する実行選択付き代替電子試験プログラムを設計できることは理解さるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の好適な実施形態の電子試験プログラムを実行するハードウェア構成要素のブロック線図である。
【図２】本発明になる試験実行プログラムの階層構造を示すブロック線図である。
【図３】本発明の電子実行プログラムと双方向ダイアログボックスのグラフィカルユーザインターフェイスを示す図である。
【図４】本発明の好適な実施形態になる試験選択能力を有する電子試験実行プログラムのグラフィカルユーザインターフェイスを示す図である。
【図５】本発明になる実行選択供給ルーチンの流れ線図である。
【図６】本発明の好適な実施形態になる実行選択の選択種を判定するルーチンの流れ線図である。
【図７】本発明の好適な実施形態になる「全試験実行」選択処理ルーチンの流れ線図である。
【図８】本発明の好適な実施形態になる「及落線上／落第試験」選択処理ルーチンの流れ線図である。
【図９】本発明の好適な実施形態になる「被選択試験実行」選択処理ルーチンの流れ線図である。
【符号の説明】
１００　コンピューターシステム
１０１　メモリ
１０２　マイクロプロセッサ
１０４　入力装置
１０６　出力装置
１０８　ＤＵＴ
１１０，１１６　信号路
１１７　試験装置
１１８　電線
２００　ブロック線図
２０１　第１のレベル
２０２　第２のレベル（カード、手順）
２０３，２０５　試験
２０６，２０７　計測
２１０，２１２，２１４　データ採取点
３００　ＧＵＩ
３０１　ボタン
３０２　中止ボタン
３０３　試験再開ボタン
３０４　計測再開ボタン
３０５　一時停止ボタン
３０６　実行ボタン
３０７　計測スキップボタン
３０８　試験スキップボタン
３０９　領域
３１３　試験分岐選択肢
３１４　右側領域
３１５〜３２４　行
３１６〜３２３　列
３２５，３５１〜３５３　ボタン
３３０　領域
３５０　実行選択ダイアログボックス
４００〜４１２　チェックボックス
５００，６００，７００，８００，９００　処理
５０１〜５０５，６００，６０１，６１１，６１２，６２１，６２２，６３１，７０１，７０２，８０１，８０２，８０３，９０１，９０２，９０３，９１１，９１５，９２０，９２２　所作
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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