(57)【要約】【課題】本発明は、全光ネットワークが実現された際に、重要となる光リンクの伝送特性を短時間で簡便に測定及び評価を行うことが可能な光リンクの伝送特性評価方法及び装置並びにシステムを提供する。【解決手段】本発明の一態様によると、光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測ステップと、前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出ステップと、前記エラー成分検出ステップによって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定ステップを具備する光リンクの伝送特性評価方法が提供される。【選択図】    図６
2004312368.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価方法であって、
前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測ステップと、
前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ  （ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出ステップと、
前記エラー成分検出ステップによって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定ステップと、
を具備する光リンクの伝送特性評価方法。
【請求項２】
前記ＥＰ，ＳＥＰ判定ステップによって判定される前記ＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、前記光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類ステップをさらに具備することを特徴とする請求項１記載の光リンクの伝送特性評価方法。
【請求項３】
前記エラー成分検出ステップは、
前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形に所定のマスクパターンを当てはめ、該マスクパターンの内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする請求項１または２記載の光リンクの伝送特性評価方法。
【請求項４】
前記エラー成分検出ステップは、
前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする請求項１または２記載の光リンクの伝送特性評価方法。
【請求項５】
前記アイ波形観測ステップに用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号を再生して得られるラインクロックであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価方法。
【請求項６】
前記アイ波形観測ステップに用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロックであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価方法。
【請求項７】
前記アイ波形観測ステップに用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のアイ波形観測に用いられるアイ波形観測器自体のクロックであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価方法。
【請求項８】
光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価装置であって、
前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測手段と、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出手段と、
前記エラー成分検出手段によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ  （Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段と、
を具備する光リンクの伝送特性評価装置。
【請求項９】
前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段によって判定される前記ＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、前記光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類手段をさらに具備することを特徴とする請求項８記載の光リンクの伝送特性評価装置。
【請求項１０】
前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に所定のマスクパターンを当てはめ、該マスクパターンの内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする請求項８または９記載の光リンクの伝送特性評価装置。
【請求項１１】
前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする請求項８または９記載の光リンクの伝送特性評価装置。
【請求項１２】
前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号を再生して得られるラインクロックであることを特徴とする請求項８乃至１１のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価装置。
【請求項１３】
前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロックであることを特徴とする請求項８乃至１１のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価装置。
【請求項１４】
前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のアイ波形観測に用いられるアイ波形観測器自体のクロックであることを特徴とする請求項８乃至１１のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価装置。
【請求項１５】
光ファイバを用いるデータ伝送網と、このデータ伝送網に連携するネットワーク制御網とを用いて動的な制御を行う光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価システムであって、
前記データ伝送網に伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測手段と、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出手段と、
前記エラー成分検出手段によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ  （Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段と、
前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段によって判定される前記光信号のＥＰ，ＳＥＰに基づいて、前記光リンクの伝送路品質を判定する伝送路品質判定手段とを具備し、
前記伝送路品質判定手段によって判定される前記光リンクの伝送路品質に基づいて、前記ネットワーク制御網が所定の制御を実行可能に構成されていることを特徴とする光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項１６】
前記ネットワーク制御網が実行する前記所定の制御は、少なくとも光パス制御及びルーティング制御の一つを含むことを特徴とする請求項１５に記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項１７】
前記エラー成分検出手段による前記時間ｘごとの光信号のエラー成分の検出基準、前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段による前記ＥＰと、前記ＳＥＰとの判定基準、及び前記伝送路品質判定手段による判定基準のうちの少なくとも一つが前記ネットワーク制御網から設定可能に構成されていることを特徴とする請求項１５または１６に記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項１８】
前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に所定のマスクパターンを当てはめ、該マスクパターンの内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする請求項１５乃至１７のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項１９】
前記所定のマスクパターンは、前記ネットワーク制御網から設定可能に構成されていることを特徴とする請求項１８に記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項２０】
前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする請求項１５乃至１７のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項２１】
前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のクロックに同期しているラインクロックであることを特徴とする請求項１５乃至２０のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項２２】
前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロックであることを特徴とする請求項１５乃至２０のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項２３】
前記外部クロックの周波数は、前記ネットワーク制御網から設定可能に構成されていることを特徴とする請求項２２に記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【請求項２４】
前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のアイ波形観測に用いられるアイ波形観測器自体のクロックであることを特徴とする請求項１５乃至２０のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光リンクの伝送特性評価方法及び装置並びにシステムに係り、特に、全光ネットワークが実現された際に重要となる光リンクの伝送特性を短時間で簡便に測定及び評価を行うことが可能な光リンクの伝送特性評価方法及び装置並びにシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の光伝送システムでは、光リンク自体の伝送特性の測定を光レベルで行うことはなされておらず、光信号を電気信号に変換してから電気的処理を行う伝送装置間での伝送特性の評価が行われている。
【０００３】
このような光電変換（Ｏ／Ｅ）による電気的処理で伝送特性の評価を行う従来技術として、特許文献１及び特許文献２が知られている。
【０００４】
まず、特許文献１には、光信号を電気信号（デジタル信号）に変換した後で、このデジタル信号の品質をモニタする手法が開示されている。
【０００５】
また、特許文献２には、光信号を電気信号（デジタル信号）に変換した後で、電気的処理によって光信号の品質をモニタする手法が開示されている。
【０００６】
一方、電気信号における伝送路評価手法として、ＳＤＨ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｈｉｅｒａｃｈｙ）／ＳＯＮＥＴ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）デジタル伝送システムでは、その伝送品質を評価する指標として、ＥＳ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｓｅｃｏｎｄ）、ＳＥＳ  （Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｓｅｃｏｎｄ）、ＥＳＲ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｓｅｃｏｎｄｓ  Ｒａｔｉｏ）、ＳＥＳＲ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｓｃｃｏｎｄ  Ｒａｔｉｏ）等を用いることが非特許文献１に規定されている。
【０００７】
すなわち、従来のデジタル伝送（ＳＤＨ／ＳＯＮＥＴ伝送）システムにおいては、少なくとも、伝送品質を評価する指標として１秒当たり１個もしくは数個のエラーが発生している時間（状態）を表すＥＳと、１秒当たりＸ個以上のエラーが発生している時間（状態）を表すＳＥＳとを用いて伝送品質を評価するようにしている。
【０００８】
このように、伝送品質を評価する指標として、ＥＳと、ＳＥＳとを用いて伝送品質を評価する手法は、伝送特性を短時間で簡便に測定及び評価を行うことが可能であるため、従来のデジタル伝送（ＳＤＨ／ＳＯＮＥＴ伝送）システムにおいては、重宝されている。
【０００９】
図１の（ａ）は、従来のデジタル伝送（ＳＤＨ／ＳＯＮＥＴ伝送）システムにおける伝送品質を評価する指標として用いられているＥＳと、ＳＥＳとを、光信号の伝送品質を評価する手法に適用する場合に、一般的に考えられる構成を示すブロック図である。
【００１０】
図１の（ｂ）は、図１の（ａ）に適用されるＥＳと、ＳＥＳとを模式的に説明するために示す図である。
【００１１】
すなわち、図１の（ａ）に示すように、光信号は、光電変換（Ｏ／Ｅ）部１１によって電気信号に変換された後、ＳＤＨ部１２でＢＩＰ（Ｂｉｔ  Ｉｎｔｅｒｌｅａｖｅｄ  Ｐａｒｉｔｙ）演算またはＣＲＣ（Ｃｙｃｌｉｃ  Ｒｅｄｕｎｄａｎｃｙ  Ｃｏｄｅ）演算がなされることによって、図１の（ｂ）に示すようなサンプル数：ｍについて１秒当たり１個もしくは数個のエラーが発生している時間（状態）を表すＥＳと、１秒当たりＸ個以上のエラーが発生している時間（状態）を表すＳＥＳとが出力される。
【００１２】
そして、このようにして出力されるＥＳと、ＳＥＳとは、ＥＳ，ＳＥＳ判定部１３によって実際のＥＳと、ＳＥＳとが判定されることにより、ＥＳ，ＳＥＳ情報として出力される。
【００１３】
したがって、このＥＳ，ＳＥＳ情報を用いることによって、光信号の伝送品質の評価を行うことができる。
【００１４】
【特許文献１】
特開２０００−３５８０１５号公報
【００１５】
【特許文献１】
特開平１１−２２３５７５号公報
【００１６】
【非特許文献１】
ＩＴＵ−Ｔ  Ｇ．８２１
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、従来、光伝送路の品質評価は、伝送装置間において、光信号を電気信号（デジタル信号）に変換し、デジタル信号でＥＳ，ＳＥＳを判定すること等で、伝送路監視を行うことにより、間接的に光伝送路の品質評価を行うようにすることが考えられている。
【００１８】
しかしながら、今後、全光ネットワークが実現されることが予想され、光リンク状態監視や障害監視のために、光電変換（Ｏ／Ｅ）による電気的処理で伝送特性の評価を行うのでなく、光リンク伝送特性の評価を光信号のままで直接的に行う手法が必要となる。
【００１９】
ここで、光リンクとは、電気的処理を含まない中継局（ノード）間の１つのリンク、もしくは、複数のノード及びリンクを含むリンクを意味していると共に、光３Ｒ（Ｒｅ−ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ，Ｒｅ−ｓｈａｐｉｎｇ，Ｒｅ−ｔｉｍｉｎｇ）再生中継を行うノード間のリンクであることが望ましい。
【００２０】
図２は、このような光リンクレベルでの伝送特性の評価を行う手法として一般的に考えられる構成を模式的に説明するために示す図である。
【００２１】
すなわち、この構成は、図２に示すように、それぞれ、フォトニッククロスコネクト（ＰＸＣ）を備えて光３Ｒ再生中継を行う光再生中継局（ノード）２１、２２が光伝送路２３で結合されているような光リンクを対象として光リンクレベルでの伝送特性の評価を直接的に行うために、受信端となる光再生中継局（ノード）２２に、光リンクパフォーマンス測定評価部２４が備えられている構成である。
【００２２】
そして、このような光リンクパフォーマンス測定評価部２４は、上述したように伝送品質を評価する指標として、ＥＳと、ＳＥＳとを用いて伝送品質を評価する手法のように、伝送特性を短時間で簡便に測定及び評価を行うことが可能であることが望ましい。
【００２３】
しかしながら、現実には、光リンクパフォーマンス測定評価部２４として、光リンクの伝送品質を評価する指標として、ＥＳと、ＳＥＳとを用いて伝送品質を評価する手法のように、光リンクレベルでの伝送特性の評価を直接的に短時間で簡便に測定及び評価を行う手法が実現し得るような構成は存在しない。
【００２４】
一方、光リンクの伝送特性の測定方式として幾つかの測定方式は現存しているが、これらの測定方式はいずれも高精度な測定を行っているため、測定時間が長く、装置コストが高いという問題を有している。
【００２５】
例えば、光リンク特性を測定する既存方式としては、光ファイバパラメータを測定する方式や光伝送路特性を測定する方式が存在する。
【００２６】
このうち、光ファイバパラメータを測定する方式においては、数種類の光ファイバパラメータが測定されるだけで、それだけでは光リンクの伝送特性は直ぐには判明しない。
【００２７】
そして、この方式で、伝送特性を得るためには、測定された光ファイバパラメータ（数種類）を用いて、伝送特性のシミュレーション等を行うことが必要となり、そのために要する時間が長くなる。
【００２８】
また、光リンク伝送特性を測定する方式としては、アイ波形を観測してＱ値測定やアイマスクパターンテストを行う測定方式が存在する。
【００２９】
図３は、アイ波形を観測してＱ値測定を行うことにより、光信号の伝送特性を測定する方式の構成を模式的に説明するために示す図である。
【００３０】
このアイ波形を観測してＱ値測定を行う方式は、一般に、研究目的の用途に向けられている。
【００３１】
すなわち、図３に示すように、このアイ波形を観測してＱ値測定を行う方式では、光信号を、例えば、非線形光学結晶等を用いて光で光をサンプリングする光サンプリング法によるアイ波形観測器３１に入力して、そのアイ波形３０を観測してＱ値測定を行うようにしている。
【００３２】
なお、光信号を、Ｏ／Ｅ変換してからアイ波形観測器３１としてのサンプリングオシロスコープに入力して、そのアイ波形３０を観測してＱ値測定を行うこともある。
【００３３】
いずれにしろ、このアイ波形３０を観測してＱ値測定を行う方式では、その測定時間がサンプリング速度、測定値精度に依存しており、一般的に、その測定時間は長くなる傾向にある。
【００３４】
図４は、アイ波形を観測してマスクパターンをアイ波形に当てはめ、そのマスクパターンの内部に信号が存在するか否かで評価を行うことにより、光信号の伝送特性を測定する方式の構成を模式的に説明するために示す図である。
【００３５】
図５は、アイ波形を観測してマスクパターンをアイ波形に当てはめ、そのマスクパターンの内部に信号が存在するか否かで評価を行うことにより、光信号の伝送特性を測定する方式の動作を模式的に説明するために示す図である。
【００３６】
このアイ波形にマスクパターンを当てはめる方式は、一般に、伝送装置の評価試験の用途に向けられている。
【００３７】
すなわち、このアイ波形にマスクパターンを当てはめる方式は、図４に示すように、光信号を、例えば、非線形光学結晶等を用いて光で光をサンプリングする光サンプリング法によるアイ波形観測器４１に入力して、そのアイ波形４０を観測し、そのアイ波形にマスクパターン発生器４２からの図５に示すような所定のマスクパターン４３を当てはめ、マスクパターン４３の内部に信号が存在するか否かで評価を行うようにしている。
【００３８】
この場合、マスクパターン４３の内部に信号が存在しておれば、それはエラーによる雑音成分であると判定される。
【００３９】
なお、光信号を、Ｏ／Ｅ変換してからアイ波形観測器４１としてのサンプリングオシロスコープに入力して、そのアイ波形４０を観測してマスクパターン４３を当てはめて評価を行うこともある。
【００４０】
しかるに、このアイ波形４０にマスクパターン４３を当てはめる方式によった試験は、あまり光伝送路特性の評価には用いられておらず、主として、光伝送装置の評価試験に用いられているのが実情である。
【００４１】
すなわち、このアイ波形４０にマスクパターン４３を当てはめる方式によった試験で、光伝送路特性を精度の良い伝送品質として測定するためには、長時間の測定が必要となるからである。
【００４２】
そこで、本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、全光ネットワークが実現された際に、重要となる光リンクの伝送特性を短時間で簡便に測定及び評価を行うことが可能な光リンクの伝送特性評価方法及び装置並びにシステムを提供することを目的としている。
【００４３】
【課題を解決するための手段】
本発明によると、上記課題を解決するために、
（１）  光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価方法であって、
前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測ステップと、
前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ  （ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出ステップと、  前記エラー成分検出ステップによって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定ステップと、
を具備する光リンクの伝送特性評価方法が提供される。
【００４４】
（対応する実施の形態）
この（１）の発明は、後述する図６による第１の実施の形態が対応する。
【００４５】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（２）  前記ＥＰ，ＳＥＰ判定ステップによって判定される前記ＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、前記光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類ステップをさらに具備することを特徴とする（１）記載の光リンクの伝送特性評価方法が提供される。
【００４６】
（対応する実施の形態）
この（２）の発明は、後述する図１１による第２の実施の形態が対応する。
【００４７】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（３）  前記エラー成分検出ステップは、
前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形に所定のマスクパターンを当てはめ、該マスクパターンの内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする（１）または（２）記載の光リンクの伝送特性評価方法が提供される。
【００４８】
（対応する実施の形態）
この（３）の発明は、後述する図５及び図７による第１の実施の形態が対応する。
【００４９】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（４）  前記エラー成分検出ステップは、
前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする（１）または（２）記載の光リンクの伝送特性評価方法が提供される。
【００５０】
（対応する実施の形態）
この（４）の発明は、後述する図８による第１の実施の形態が対応する。
【００５１】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（５）  前記アイ波形観測ステップに用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号を再生して得られるラインクロックであることを特徴とする（１）乃至（４）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価方法が提供される。
【００５２】
（対応する実施の形態）
この（５）の発明は、後述する図６及び図１１による第１及び第２の実施の形態が対応する。
【００５３】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（６）  前記アイ波形観測ステップに用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロックであることを特徴とする（１）乃至（４）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価方法が提供される。
【００５４】
（対応する実施の形態）
この（６）の発明は、後述する図６及び図１１による第１及び第２の実施の形態が対応する。
【００５５】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（７）  前記アイ波形観測ステップに用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のアイ波形観測に用いられるアイ波形観測器自体のクロックであることを特徴とする（１）乃至（４）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価方法が提供される。
【００５６】
（対応する実施の形態）
この（７）の発明は、後述する図６及び図１１による第１及び第２の実施の形態が対応する。
【００５７】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（８）  光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価装置であって、
前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測手段と、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出手段と、
前記エラー成分検出手段によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ  （Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段と、
を具備する光リンクの伝送特性評価装置が提供される。
【００５８】
（対応する実施の形態）
この（８）の発明は、後述する図６による第１の実施の形態が対応する。
【００５９】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（９）  前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段によって判定される前記ＥＳ，ＳＥＳ判定結果に基づいて、前記光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類手段をさらに具備することを特徴とする（８）記載の光リンクの伝送特性評価装置が提供される。
【００６０】
（対応する実施の形態）
この（９）の発明は、後述する図１１による第２の実施の形態が対応する。
【００６１】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１０）  前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に所定のマスクパターンを当てはめ、該マスクパターンの内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする（８）または（９）記載の光リンクの伝送特性評価装置が提供される。
【００６２】
（対応する実施の形態）
この（１０）の発明は、後述する図５及び図７による第１の実施の形態が対応する。
【００６３】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１１）  前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする（８）または（９）記載の光リンクの伝送特性評価装置が提供される。
【００６４】
（対応する実施の形態）
この（１１）の発明は、後述する図８による第１の実施の形態が対応する。
【００６５】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１２）  前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号を再生して得られるラインクロックであることを特徴とする（８）乃至  （１１）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価装置が提供される。
【００６６】
（対応する実施の形態）
この（１２）の発明は、後述する図６及び図１１による第１及び第２の実施の形態が対応する。
【００６７】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１３）  前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロックであることを特徴とする（８）乃至（１１）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価装置が提供される。
【００６８】
（対応する実施の形態）
この（１３）の発明は、後述する図６及び図１１による第１及び第２の実施の形態が対応する。
【００６９】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１４）  前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のアイ波形観測に用いられるアイ波形観測器自体のクロックであることを特徴とする（８）乃至（１１）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価装置が提供される。
【００７０】
（対応する実施の形態）
この（１４）の発明は、後述する図６及び図１１による第１及び第２の実施の形態が対応する。
【００７１】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１５）  光ファイバを用いるデータ伝送網と、このデータ伝送網に連携するネットワーク制御網とを用いて動的な制御を行う光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価システムであって、
前記データ伝送網に伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測手段と、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出手段と、
前記エラー成分検出手段によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ  （Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段と、
前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段によって判定される前記光信号のＥＰ，ＳＥＰに基づいて、前記光リンクの伝送路品質を判定する伝送路品質判定手段とを具備し、
前記伝送路品質判定手段によって判定される前記光リンクの伝送路品質に基づいて、前記ネットワーク制御網が所定の制御を実行可能に構成されていることを特徴とする光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００７２】
（対応する実施の形態）
この（１５）に係る発明は、後述する図１２による第３の実施の形態が対応する。
【００７３】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１６）  前記ネットワーク制御網が実行する前記所定の制御は、少なくとも光パス制御及びルーティング制御の一つを含むことを特徴とする（１５）に記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００７４】
（対応する実施の形態）
この（１６）に係る発明は、後述する図１２による第３の実施の形態が対応する。
【００７５】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１７）  前記エラー成分検出手段による前記時間ｘごとの光信号のエラー成分の検出基準、前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段による前記ＥＰと、前記ＳＥＰとの判定基準、及び前記伝送路品質判定手段による判定基準のうちの少なくとも一つが前記ネットワーク制御網から設定可能に構成されていることを特徴とする（１５）または（１６）に記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００７６】
（対応する実施の形態）
この（１７）に係る発明は、後述する図１２による第３の実施の形態が対応する。
【００７７】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１８）  前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に所定のマスクパターンを当てはめ、該マスクパターンの内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする（１５）乃至（１７）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００７８】
（対応する実施の形態）
この（１８）に係る発明は、後述する図１２及び図７による第３の実施の形態が対応する。
【００７９】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（１９）  前記所定のマスクパターンは、前記ネットワーク制御網から設定可能に構成されていることを特徴とする（１８）に記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００８０】
（対応する実施の形態）
この（１９）に係る発明は、後述する図１２及び図７による第３の実施の形態が対応する。
【００８１】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（２０）  前記エラー成分検出手段は、
前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することを特徴とする（１５）乃至（１７）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００８２】
（対応する実施の形態）
この（２０）に係る発明は、後述する図１２及び図８による第３の実施の形態が対応する。
【００８３】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（２１）  前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のクロックに同期しているラインクロックであることを特徴とする（１５）乃至（２０）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００８４】
（対応する実施の形態）
この（２１）に係る発明は、後述する図１２による第３の実施の形態が対応する。
【００８５】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（２２）  前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロックであることを特徴とする（１５）乃至（２０）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００８６】
（対応する実施の形態）
この（２２）に係る発明は、後述する図１２による第３の実施の形態が対応する。
【００８７】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（２３）前記外部クロックの周波数は、前記ネットワーク制御網から設定可能に構成されていることを特徴とする（２２）に記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００８８】
（対応する実施の形態）
この（２３）に係る発明は、後述する図１２による第３の実施の形態が対応する。
【００８９】
また、本発明によると、上記課題を解決するために、
（２４）  前記アイ波形観測手段に用いられるアイ波形観測用クロックは、前記光信号のアイ波形観測に用いられるアイ波形観測器自体のクロックであることを特徴とする（１５）乃至（２０）のいずれか一つに記載の光リンクの伝送特性評価システムが提供される。
【００９０】
（対応する実施の形態）
この（２４）に係る発明は、後述する図１２による第３の実施の形態が対応する。
【００９１】
【発明の実施の形態】
以下図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
【００９２】
（第１の実施の形態）
図６は、本発明による光リンクの伝送特性評価方法及び装置が適用される第１の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【００９３】
この第１の実施の形態は、前述したような光３Ｒ（Ｒｅ−ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ，Ｒｅ−ｓｈａｐｉｎｇ，Ｒｅ−ｔｉｍｉｎｇ）再生中継を行うノード間の光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価装置に適用される。
【００９４】
すなわち、図６に示すように、この第１の実施の形態による光リンク伝送特性評価装置は、光信号のアイ波形観測手段としてのアイ波形観測器６１と、このアイ波形観測器６１によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出する光信号のエラー成分検出手段としてのエラー成分検出部６２と、このエラー成分検出部６２によって検出される前記光信号における時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）及びＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部６３とを備えている。
【００９５】
ここで、アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器６１は、光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測することができるように構成されている。
【００９６】
例えば、このアイ波形観測器６１としては、非線形光学結晶等を用いて光で光をサンプリングする光サンプリング法によるアイ波形観測器や、光信号がＯ／Ｅ変換されてから入力されるサンプリングオシロスコープによってアイ波形を観測するアイ波形観測器等を用いることができる。
【００９７】
なお、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器６１では、アイ波形観測用クロックとして、前記光信号を再生して得られるラインクロック、または、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロック、あるいは、当該アイ波形観測器自体のクロックを用いることができる。
【００９８】
また、エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部６２は、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器６１によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ここで、ｘは、任意の値であり、測定目的に応じて、後述するように設定される）ごとの前記光信号のエラー成分を検出することができるように構成されている。
【００９９】
図７は、アイ波形観測器６１及びエラー成分検出部６２の具体的な構成を例示する要部のブロック図である。
【０１００】
すなわち、図７に示すように、具体的には、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器６１によって観測されるアイ波形７０に、マスクパターン発生器７２からの所定のマスクパターン７３を当てはめ、該マスクパターン７３の内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することができるように構成されているアイマスクテスト法によったアイ波形観測器６１及びエラー成分検出部７４を用いることができる。
【０１０１】
図８は、アイ波形観測器６１及びエラー成分検出部６２の具体的な他の構成を例示する要部のブロック図である。
【０１０２】
すなわち、図８に示すように、具体的には、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器６１によって観測されるアイ波形８０のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することが可能となるように構成されているＱ値測定法によったアイ波形観測器６１とＱ値測定部８１ａを有するエラー成分検出部８１を用いることができる。
【０１０３】
この場合、Ｑ値測定部８１ａによるＱ値の測定結果が、２値判定でない場合は、測定結果を２値に変換して評価するために、エラー成分検出部８１内に、２値変換部８１ｂを備えるようにしてもよい。
【０１０４】
すなわち、この２値変換部８１ｂでは、例えば、Ｑ値測定部８１ａによるＱ値測定結果が、Ｑ＝０〜４０ｄＢのような範囲の値を示す場合、これを、ＸｄＢを基準として、Ｑ＜Ｘ→”０”Ｑ＞Ｘ→”１”という判定を行うことによって、２値判定でないＱ値を２値化する。
【０１０５】
なお、光リンク伝送特性を測定する手法として、上述した光信号のアイマスクテスト法、Ｑ値測定法以外に、光信号のＳＮ比、その他の新規な測定手法による光伝送特性測定手法を用いることが可能であり、これらの測定結果をもとに、上述した光信号のＥＰ，ＳＥＰの判定を行うことが可能である。
【０１０６】
そして、ＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部６３は、前記エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部６２によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ここで、ｙは、任意の値であり、測定目的に応じて、後述するように設定される）ごとに判定することができるように構成されているＥＰ，ＳＥＰ判定部を用いることができる。
【０１０７】
図９は、前記エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部６２によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分と、ＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部６３によって検出される前記時間ｙごとの光信号のＥＰ，ＳＥＰとの関係を模式的に説明するために示す図である。
【０１０８】
なお、図９では、ｙ＞ｘの場合について示しているが、ｘとｙとの関係はこれに限らず、例えば、ｘ＝ｙの場合を含む任意の関係（ｙ≧ｘ）に設定することができる。
【０１０９】
すなわち、以上のような第１の実施の形態の光リンク伝送特性評価装置によれば、従来、光リンクの伝送特性の評価に採用されていなかった手法として、光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測器６１と、このアイ波形観測器６１によって観測されるアイ波形に基づいて時間ｘごとの光信号のエラー成分を検出する光信号のエラー成分検出部６２と、このエラー成分検出部６２によって検出される前記光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰを判定するＥＰ，ＳＥＰ判定部６３とを備えてなる光リンクの伝送特性の評価手法を採用していることにより、光リンク特性を短時間で簡便に測定可能とすることができる。
【０１１０】
また、この第１の実施の形態の光リンク伝送特性評価装置によれば、マスクテストに用いるマスクパターンや、ＥＰ，ＳＥＰの判定基準について、柔軟に設定することが可能であるという利点を有している。
【０１１１】
すなわち、これらの設定手法としては、光リンク伝送特性評価装置上でユーザが直接マニュアルで設定する手法と、光ファイバを用いるデータ伝送網と、このデータ伝送網に連携するネットワーク制御網とを用いて動的な制御を行う、例えば、ＧＭＰＬＳ（Ｇｅｎｅｒａｌｉｚｅｄ  Ｍｕｌｔｉ−Ｐｒｏｔｏｃｏｌ  Ｌａｂｅｌ  Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ）制御網から設定する手法とが考えられる。
【０１１２】
そして、これらの設定が必要な情報としては、信号タイプ（ＳＯＮＥＴ伝送速度、ギガビットイサーネット＜ＧｂＥｔｈｅｒｎｅｔ＞等）として、Ｑ値の測定に必要となる信号のクロックを設定するための情報、信号タイプにあったアイマスクパターンで評価するために、信号タイプごとに定められているアイマスクパターンの情報等がある。
【０１１３】
また、アイマスクパターンの形状情報（形状を生成するための情報）として、まだ標準化が完了していない信号、また、今後、新規に出現するタイプの信号、また、ユーザが独自に設定した信号に対して、柔軟にアイマスクパターンを設定可能とするための情報等がある。
【０１１４】
また、以上のような情報等に加えて、ＥＰ，ＳＥＰの判定のための基準値の情報等がある。
【０１１５】
図１０は、上記ＥＰ，ＳＥＰの判定のための時間ｘ，ｙ値を設定する場合に、測定目的に応じてその大小関係を例示する図である。
【０１１６】
すなわち、図１０に示すように、時間ｘ，ｙ値の設定については、測定のばらつきが少ない結果を得るためには、時間ｘ，ｙ値を共に大きな値に設定することが必要となる。
【０１１７】
また、測定の結果を上位装置（ＥＰ，ＳＥＰ判定部）にできるだけ早く通知することを可能とするためには、時間ｘ，ｙ値を共に小さな値に設定することが必要となる。
【０１１８】
そして、この第１の実施の形態によれば、光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価装置であって、前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測手段と、前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出手段と、前記エラー成分検出手段によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段とを具備する光リンクの伝送特性評価装置を実現することができる。
【０１１９】
また、この第１の実施の形態によれば、光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価方法であって、前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測ステップと、前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出ステップと、前記エラー成分検出ステップによって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定ステップとを具備する光リンクの伝送特性評価方法を実現することができる。
【０１２０】
（第２の実施の形態）
図１１は、本発明による光リンクの伝送特性評価方法及び装置が適用される第２の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【０１２１】
この第２の実施の形態は、前述したような光３Ｒ（Ｒｅ−ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ，Ｒｅ−ｓｈａｐｉｎｇ，Ｒｅ−ｔｉｍｉｎｇ）再生中継を行うノード間の光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価装置に適用される。
【０１２２】
すなわち、図１１に示すように、この第２の実施の形態による光リンク伝送特性評価装置は、光信号のアイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１１１と、このアイ波形観測器１１１によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの光信号のエラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１１２と、このエラー成分検出部１１２によって検出される前記光信号における時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）及びＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部１１３と、このＥＰ，ＳＥＰ判定部１１３によって判定されるＥＰ，ＳＥＰに基づいて光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類手段としての伝送路品質分類部１１４とを備えている。
【０１２３】
ここで、アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１１１は、光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測することができるように構成されている。
【０１２４】
例えば、このアイ波形観測器１１１としては、非線形光学結晶等を用いて光で光をサンプリングする光サンプリング法によるアイ波形観測器や、光信号がＯ／Ｅ変換されてから入力されるサンプリングオシロスコープによってアイ波形を観測するアイ波形観測器等を用いることができる。
【０１２５】
なお、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１１１では、アイ波形観測用クロックとして、前記光信号を再生して得られるラインクロック、または、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロック、あるいは、当該アイ波形観測器自体のクロックを用いることができる。
【０１２６】
また、エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１１２は、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１１１によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ここで、ｘは、任意の値であり、測定目的に応じて、後述するように設定される）ごとの前記光信号のエラー成分を検出することができるように構成されている。
【０１２７】
具体的には、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１１１によって観測されるアイ波形に、前述した第１の実施の形態の図７に示すように、マスクパターン発生器７２からの所定のマスクパターン７３を当てはめ、該マスクパターン７３の内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することができるように構成されているアイマスクテスト法によったアイ波形観測器１１１及びエラー成分検出部７４を用いることができる。
【０１２８】
また、他の具体例としては、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１１１によって、前述した第１の実施の形態の図８に示すように、観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することが可能となるように構成されているＱ値測定法によったアイ波形観測器１１１とＱ値測定部８０ａを有するエラー成分検出部８１を用いることができる。
【０１２９】
この場合、Ｑ値測定部８０ａによるＱ値の測定結果が、２値判定でない場合は、測定結果を２値に変換して評価するために、Ｑ値測定エラー成分検出部８１内に、２値変換部８１ｂを備えるようにしてもよい。
【０１３０】
すなわち、この２値変換部８１ｂでは、例えば、Ｑ値測定部８０ａによるＱ値測定結果が、Ｑ＝０〜４０ｄＢのような範囲の値を示す場合、これを、ｘｄＢを基準として、Ｑ＜Ｘ→”０”、Ｑ＞Ｘ→”１”という判定を行うことによって、２値判定でないＱ値を２値化する。
【０１３１】
なお、光リンク伝送特性を測定する手法として、上述した光信号のアイマスクテスト法、Ｑ値測定法以外に、光信号のＳＮ比、その他の新規な測定手法による光伝送特性測定手法を用いることが可能であり、これらの測定結果をもとに、上述した光信号のＥＰ，ＳＥＰの判定を行うことが可能である。
【０１３２】
そして、ＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部１１３は、前記エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１１２によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ  （ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（ＳｅｖｅｒｅｌｙＥｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ここで、ｙは、任意の値であり、測定目的に応じて、後述するように設定される）ごとに判定することができるように構成されているＥＰ，ＳＥＰ判定部を用いることができる。
【０１３３】
なお、前記エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１１２によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分と、ＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部１１３によって検出される前記時間ｙごとの光信号のＥＰ，ＳＥＰとの関係は、前述した第１の実施の形態における図９に示す関係が適用される。
【０１３４】
なお、図９では、ｙ＞ｘの場合について示しているが、ｘとｙとの関係はこれに限らず、例えば、ｘ＝ｙの場合を含む任意の関係（ｙ≧ｘ）に設定することができる。
【０１３５】
そして、伝送路品質分類手段としての伝送路品質分類部１１４は、前記ＥＰ，ＳＥＰ判定部１１３によって判定される前記ＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、予め設定される伝送路品質判定テーブルを参照することにより、前記光リンクの伝送路品質を数段階のクラスすなわち複数のクラスに分類し、その分類結果をリンク情報として出力する。
【０１３６】
すなわち、以上のような第２の実施の形態の光リンク伝送特性評価装置によれば、従来、光リンクの伝送特性の評価に採用されていなかった手法として、光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測器１１１と、このアイ波形観測器１１１によって観測されるアイ波形に基づいて時間ｘごとの光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出部１１２と、このエラー成分検出部１１２によって検出される前記光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰを判定するＥＰ，ＳＥＰ判定部判定部１１３と、このＥＰ，ＳＥＰ判定部１１３によって判定される前記光信号のＥＰ，ＳＥＰに基づいて光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類部１１４とを備えてなる手法を採用していることにより、光リンク特性を短時間で簡便に測定可能とすると共に、光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類して出力することができるようになる。
【０１３７】
したがって、この光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類手段としての伝送路品質分類部１１４によって、光リンクを伝送品質を複数のクラスに分類して出力することが可能であるため、この出力結果を用いることで、例えば、上述したＧＭＰＬＳ制御網における光パス制御、ルーティング制御等の所定の制御を行うことが可能となる。
【０１３８】
また、この第２の実施の形態の光リンク伝送特性評価装置によれば、例えば、マスクテスト法に用いるマスクパターンや、ＥＰ，ＳＥＰの判定基準、及び伝送路品質判定テーブル等について、柔軟に設定することが可能であるという利点を有している。
【０１３９】
すなわち、これらの設定手法としては、光リンク伝送特性評価装置上でユーザが直接マニュアルで設定する手法と、光ファイバを用いるデータ伝送網と、このデータ伝送網に連携するネットワーク制御網とを用いて動的な制御を行う、例えば、上述したＧＭＰＬＳ制御網から設定する手法とが考えられる。
【０１４０】
そして、これらの設定が必要な情報としては、信号タイプ（ＳＯＮＥＴ伝送速度、ギガビットイサーネット＜ＧｂＥｔｈｅｒｎｅｔ＞等）として、Ｑ値測定法に必要となる信号のクロックを設定するための情報、信号タイプにあったアイマスクパターンで評価するために、信号タイプごとに定められているアイマスクパターンの情報等がある。
【０１４１】
また、アイマスクパターンの形状情報（形状を生成するための情報）として、まだ標準化が完了していない信号、また、今後、新規に出現するタイプの信号、また、ユーザが独自に設定した信号に対して、柔軟にアイマスクパターンを設定可能とするための情報等がある。
【０１４２】
また、以上のような情報等に加えて、ＥＰ，ＳＥＰの判定のための基準値の情報等がある。
【０１４３】
なお、上記ＥＰ，ＳＥＰの判定のための時間ｘ，ｙ値を設定する場合に、前述した第１の実施の形態における図１０に示すように、時間ｘ，ｙ値の設定については、測定のばらつきが少ない結果を得るためには、時間ｘ，ｙ値を共に大きな値に設定することが必要となる。
【０１４４】
また、測定の結果を上位装置（ＥＰ，ＳＥＰ判定部）にできるだけ早く通知することを可能とするためには、時間ｘ，ｙ値を共に小さな値に設定することが必要となる。
【０１４５】
そして、この第２の実施の形態によれば、光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価装置であって、前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測手段と、前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出手段と、前記エラー成分検出手段によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段とを具備する上記第１の実施の形態による光リンクの伝送特性評価装置に加え、前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段によって判定されるＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、前記光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類手段をさらに具備する光リンクの伝送特性評価装置を実現することができる。
【０１４６】
また、この第２の実施の形態によれば、光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価方法であって、前記光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測ステップと、前記アイ波形観測ステップによって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出ステップと、前記エラー成分検出ステップによって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定ステップとを具備する上記第１の実施の形態による光リンクの伝送特性評価方法に加え、前記ＥＰ，ＳＥＰ判定ステップによって判定されるＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、前記光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類する伝送路品質分類ステップをさらに具備する光リンクの伝送特性評価方法を実現することができる。
【０１４７】
（第３の実施の形態）
図１２は、本発明による光リンクの伝送特性評価システムが適用される第３の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【０１４８】
この第３の実施の形態は、前述したような光３Ｒ（Ｒｅ−ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ，Ｒｅ−ｓｈａｐｉｎｇ，Ｒｅ−ｔｉｍｉｎｇ）再生中継を行うノード間の光リンクの伝送特性を、例えば、上述したＧＭＰＬＳ制御網と連携して評価する光リンク伝送特性評価システムに適用される。
【０１４９】
すなわち、図１２に示すように、この第３の実施の形態は、光ファイバによるデータ伝送網１２０と、このデータ伝送網１２０に連携するネットワーク制御網２２０を用いて動的な制御を行う光リンクの伝送特性をネットワーク制御網２２０と連携して評価する光リンク伝送特性評価システムに適用される。
【０１５０】
そして、光ファイバによるデータ伝送網１２０において、それぞれ、フォトニッククロスコネクト（ＰＸＣ）を備えて光３Ｒ再生中継を行う光再生中継局（ノード）２２１、２２２が光伝送路２２３で結合されているような光リンクを対象として光リンクレベルでの伝送特性の評価をネットワーク制御網２２０と連携して直接的に行うために、受信端となる光再生中継局（ノード）２２２に、光リンクパフォーマンス測定評価部２２４が備えられている構成である。
【０１５１】
図１２に示すように、この第３の実施の形態による光リンク伝送特性評価システムにおける光リンクパフォーマンス測定評価部２２４は、光信号のアイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１２１と、このアイ波形観測器１２１によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出する光信号のエラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１２２と、このエラー成分検出部１２２によって検出される前記光信号における時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）及びＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部１２３と、このＥＰ，ＳＥＰ判定部１２３によって判定されるＥＰ，ＳＥＰに基づいて、光リンクの伝送路品質を判定する伝送路品質判定手段としての伝送路品質判定部１２４とを備え、前記伝送路品質判定手段としての伝送路品質判定部１２４によって、例えば、前記複数のクラスに分類される前記光リンクの伝送路品質等の光リンクの伝送特性（例えば、ＳＥＰ情報、もしくは、伝送路品質等を含む）に基づいて、前記ネットワーク制御網２２０が、例えば、光パス制御、ルーティング制御等の所定の制御を実行可能に構成されていることを特徴としている。
【０１５２】
ここで、アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１２１は、光リンクに伝送されている光信号のアイ波形を観測することができるように構成されている。
【０１５３】
例えば、このアイ波形観測器１２１としては、非線形光学結晶等を用いて光で光をサンプリングする光サンプリング法によるアイ波形観測器や、光信号がＯ／Ｅ変換されてから入力されるサンプリングオシロスコープによってアイ波形を観測するアイ波形観測器等を用いることができる。
【０１５４】
なお、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１２１では、アイ波形観測用クロックとして、前記光信号を再生して得られるラインクロック、または、前記光信号の伝送速度と等しいクロック周波数を有する外部クロック、あるいは、当該アイ波形観測器自体のクロックを用いることができる。
【０１５５】
また、エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１２２は、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１２１によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ここで、ｘは、任意の値であり、測定目的に応じて、後述するように設定される）ごとの前記光信号のエラー成分を検出することができるように構成されている。
【０１５６】
ここで、具体的には、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１２１によって観測されるアイ波形７０に、前述した第１の実施の形態における図７に示すように、所定のマスクパターン７３を当てはめ、該マスクパターン７３の内部に信号が存在するか否かで前記光信号のエラー成分を検出することができるように構成されているアイマスクテスト法によったアイ波形観測器１２１及びエラー成分検出部７４を用いることができる。
【０１５７】
また、他の具体例としては、前記アイ波形観測手段としてのアイ波形観測器１１１によって、前述した第１の実施の形態における図８に示すように、観測されるアイ波形のＱ値測定を行うことにより、前記光信号のエラー成分を検出することが可能となるように構成されているＱ値測定法によったアイ波形観測器１１１とＱ値測定部８１ａを有するエラー成分検出部８１を用いることができる。
【０１５８】
この場合、Ｑ値測定部８１ａによるＱ値の測定結果が、２値判定でない場合は、測定結果を２値に変換して評価するために、エラー成分検出部８１内に、２値変換部８１ｂを備えるようにしてもよい。
【０１５９】
すなわち、この２値変換部８１ｂは、例えば、Ｑ値測定部８１ａによるＱ値測定が、Ｑ＝０〜４０ｄＢのような範囲の値を示す場合、これを、ｘｄＢを基準として、Ｑ＜Ｘ→０、Ｑ＞Ｘ→１という判定を行うことによって、２値判定でないＱ値を２値化する。
【０１６０】
なお、光リンク伝送特性を測定する手法として、上述した光信号のアイマスクテスト法、Ｑ値測定法以外に、光信号のＳＮ比、その他の新規な測定手法による光伝送特性測定手法を用いることが可能であり、これらの測定結果をもとに、上述した光信号のＥＰ，ＳＥＰの判定を行うことが可能である。
【０１６１】
そして、ＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部１２３は、前記エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１２２によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ  （ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（ＳｅｖｅｒｅｌｙＥｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ここで、ｙは、任意の値であり、測定目的に応じて、後述するように設定される）ごとに判定することができるように構成されているＥＳ，ＳＥＳ判定部を用いることができる。
【０１６２】
なお、前記エラー成分検出手段としてのエラー成分検出部１２２によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分と、ＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部１２３によって検出される前記時間ｙごとの光信号のＥＰ，ＳＥＰとの関係は、前述した第１の実施の形態における図９に示す関係が適用される。
【０１６３】
なお、図９では、ｙ＞ｘの場合について示しているが、ｘとｙとの関係はこれに限らず、例えば、ｘ＝ｙの場合を含む任意の関係（ｙ≧ｘ）に設定することができる。
【０１６４】
そして、伝送路品質判定手段としての伝送路品質判定部１２４は、前記ＥＰ，ＳＥＰ判定部１２３によって判定される前記ＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、例えば、予め設定される伝送路品質判定テーブルを参照することにより、前記光リンクの伝送路品質を判定し、例えば、前記複数のクラスに分類される前記光リンクの伝送路品質等の光リンクの伝送特性（例えば、ＳＥＰ情報、もしくは、伝送路品質等を含む）を前記ネットワーク制御網（ＧＭＰＬＳ）２２０に出力することにより、このネットワーク制御網２２０が、例えば、光パス制御、ルーティング制御等の所定の制御を実行する。
【０１６５】
すなわち、以上のような第３の実施の形態の光リンク伝送特性評価システムによれば、従来、光リンクの伝送特性の評価に採用されていなかった手法として、データ伝送網１２０に伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測器１２１と、このアイ波形観測器１２１によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘごとの光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出部１２２と、このエラー成分検出部１２２によって検出される前記光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（ＥｒｒｏｒｅｄＰｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰを判定するＥＰ，ＳＥＰ判定部１２３と、このＥＰ，ＳＥＰ判定部１２３によって判定される前記光信号のＥＰ，ＳＥＰに基づいて光リンクの伝送路品質を判定する伝送路品質を判定する伝送路品質判定部１２４とを備え、前記伝送路品質判定部１２４によって判定される前記光リンクの伝送路品質等の光リンクの伝送特性（例えば、ＳＥＰ情報、もしくは、伝送路品質等を含む）に基づいて、前記データ伝送網１２０に連携するネットワーク制御網２２０が所定の制御を実行可能に構成されてなる手法を採用していることにより、光リンク特性を短時間で簡便に測定可能とすると共に、伝送路品質判定部１２４によって判定される光リンクの伝送路品質を複数のクラスに分類することを含む光リンクの伝送路品質等の光リンクの伝送特性をネットワーク制御網２２０に出力することができるので、ネットワーク制御網２２０が光リンクの伝送特性（例えば、ＳＥＰ情報、もしくは、伝送路品質等を含む）に基づいて、例えば、光パス制御、ルーティング制御等の所定の制御を実行することが可能になる。
【０１６６】
具体的には、伝送路品質判定部１２４によって判定される光リンク伝送特性  （ＳＥＰもしくは伝送路品質等を含む）を当該光リンクパフォーマンス測定評価部２２４が設定されているノード２２２を介してネットワーク制御網２２０に出力することにより、ネットワーク制御網２２０がこの光リンク伝送特性（ＳＥＰもしくは伝送路品質等を含む）を用いて、例えば、上述したＧＭＰＬＳ制御網における光パス制御、ルーティング制御等の所定の制御を行うことができる。
【０１６７】
また、この第３の実施の形態の光リンク伝送特性評価システムによれば、光リンク伝送特性（ＳＥＳもしくは伝送路品質等を含む）の測定、評価に必要なパラメータとしてマスクテストのマスクパターンや、ＥＳ，ＳＥＳの判定基準、及び伝送路品質判定テーブルについて、柔軟に設定することが可能であるという利点を有している。
【０１６８】
すなわち、これらの設定手法としては、光リンクパフォーマンス測定評価部２２４上でユーザが直接マニュアルで設定する手法が考えられる。
【０１６９】
しかるに、この第３の実施の形態の光リンク伝送特性評価システムでは、光ファイバを用いるデータ伝送網２２１と、このデータ伝送網２２１に連携するネットワーク制御網２２０とを用いて動的な制御を行う、例えば、上述したＧＭＰＬＳ制御網から光リンク伝送特性（ＳＥＳもしくは伝送路品質等を含む）の測定、評価に必要なパラメータを設定する手法を採用している。
【０１７０】
そして、これらの設定が必要な情報としては、信号タイプ（ＳＯＮＥＴ伝送速度、ギガビットイサーネット＜ＧｂＥｔｈｅｒｎｅｔ＞等）として、Ｑ値の測定に必要となる信号のクロックを設定するための情報、信号タイプにあったアイマスクパターンで評価するために、信号タイプごとに定められているアイマスクパターンの情報等がある。
【０１７１】
また、アイマスクパターンの形状情報（形状を生成するための情報）として、まだ標準化が完了していない信号、また、今後、新規に出現するタイプの信号、また、ユーザが独自に設定した信号に対して、柔軟にアイマスクパターンを設定可能とするための情報等がある。
【０１７２】
また、以上のような情報等に加えて、ＥＰ，ＳＥＰの判定のための基準値の情報等がある。
【０１７３】
なお、上記ＥＰ，ＳＥＰの判定のための時間ｘ，ｙ値を設定する場合に、前述した第１の実施の形態の図１０に示すように、時間ｘ，ｙ値の設定については、測定のばらつきが少ない結果を得るためには、時間ｘ，ｙ値を共に大きな値に設定することが必要となる。
【０１７４】
また、測定の結果を上位装置（ＥＰ，ＳＥＰ判定部）にできるだけ早く通知することを可能とするためには、時間ｘ，ｙ値を共に小さな値に設定することが必要となる。
【０１７５】
そして、この第３の実施の形態によれば、光ファイバを用いるデータ伝送網と、このデータ伝送網に連携するネットワーク制御網とを用いて動的な制御を行う光リンクの伝送特性を評価する光リンク伝送特性評価システムであって、前記データ伝送網に伝送されている光信号のアイ波形を観測するアイ波形観測手段と、前記アイ波形観測手段によって観測されるアイ波形に基づいて、時間ｘ（ｘは任意の値）ごとの前記光信号のエラー成分を検出するエラー成分検出手段と、前記エラー成分検出手段によって検出される前記時間ｘごとの光信号のエラー成分について、時間ｎ当たり１回以上のエラーが発生している時間を表すＥＰ（Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）と、時間ｎ当たりｉ（ｉ≧２）回以上のエラーが発生している時間を表すＳＥＰ（Ｓｅｖｅｒｅｌｙ  Ｅｒｒｏｒｅｄ  Ｐｅｒｉｏｄ）を時間ｙ（ｙはｙ≧ｘの任意の値）ごとに判定するＥＰ，ＳＥＰ判定手段と、前記ＥＰ，ＳＥＰ判定手段によって判定される前記ＥＰ，ＳＥＰ判定結果に基づいて、前記光リンクの伝送路品質を判定する伝送路品質判定手段とを具備し、前記伝送路品質判定手段によって判定される前記光リンクの伝送路品質に基づいて、前記ネットワーク制御網が所定の制御を実行可能に構成されていることを特徴とする光リンクの伝送特性評価システムを実現することができる。
【０１７６】
そして、以上のような第１乃至第３の実施の形態に基づく本発明の光リンクの伝送特性評価方法及び装置並びにシステムによれば、従来方式に対して、それぞれ、次のような利点が得られる。
【０１７７】
まず、本発明では、リンク情報を短時間に測定可能であり、これは測定精度に依存するが、時間ｙという最短時間でリンク状態を判定可能であり、従来方式によるＱ値に基づいた測定では１０秒を要していたのと比べて大幅に測定時間を短縮することができ、時間ｘ，ｙを十分小さくした場合にはリアルタイムに近い測定が可能となる。
【０１７８】
また、光リンクパラメータ自体を測定する従来方式では、測定時間が長いと共に、光リンクパラメータのみで光伝送路の伝送特性を十分に表していないのに対し、本発明では、アイ波形にマスクパターンを当てはめてリンク特性を測定する場合には、より正確に伝送特性を測定することが可能となる。
【０１７９】
また、本発明では、測定、評価に必要な、例えば、アイ波形観測用クロック、マスクパターン、リンク状態の判断基準値等のパラメータを、装置上で手動に、または、ＧＭＰＬＳ制御網等からのコントロールを用いて設定・変更が可能であることにより、リンクの状態基準判断、測定精度、リンク測定時間を柔軟に設定することが可能となる。
【０１８０】
また、本発明では、光リンク情報を、光信号のままで、判別可能であり、得られるリンク情報に基づいて光ネットワーク制御網であるＧＭＰＬＳ制御網等を用いて、経路選択や、サービスクラスに基づくパス設定等の所望の制御を行うことが可能となる。
【０１８１】
【発明の効果】
したがって、以上詳述したように、本発明によれば、全光ネットワークが実現された際に重要となる光リンクの伝送特性を短時間で簡便に測定及び評価を行うことが可能な光リンクの伝送特性評価方法及び装置並びにシステムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１の（ａ）は、従来のデジタル伝送（ＳＤＨ／ＳＯＮＥＴ伝送）システムにおける伝送品質を評価する指標として用いられているＥＳと、ＳＥＳとを、光信号の伝送品質を評価する手法に適用する場合に、一般的に考えられる構成を示すブロック図であり、図１の（ｂ）は、図１の（ａ）に適用されるＥＳと、ＳＥＳとを模式的に説明するために示す図である。
【図２】図２は、このような光リンクレベルでの伝送特性の評価を行う手法として一般的に考えられる構成を模式的に説明するために示す図である。
【図３】図３は、アイ波形を観測してＱ値測定を行うことにより、光信号の伝送特性を測定する方式の構成を模式的に説明するために示す図である。
【図４】図４は、アイ波形を観測してマスクパターンをアイ波形に当てはめ、そのマスクパターンの内部に信号が存在するか否かで評価を行うことにより、光信号の伝送特性を測定する方式の構成を模式的に説明するために示す図である。
【図５】図５は、アイ波形を観測してマスクパターンをアイ波形に当てはめ、そのマスクパターンの内部に信号が存在するか否かで評価を行うことにより、光信号の伝送特性を測定する方式の動作を模式的に説明するために示す図である。
【図６】図６は、本発明による光リンクの伝送特性評価方法及び装置が適用される第１の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図７】図７は、図６のアイ波形観測器及びエラー成分検出部の具体的な構成を例示する要部のブロック図である。
【図８】図８は、図６のアイ波形観測器及びエラー成分検出部の他の具体的な構成を例示する要部のブロック図である。
【図９】図９は、図６のエラー成分検出部によって検出される時間ｘごとの光信号のエラー成分と、ＥＰ，ＳＥＰ判定部によって検出される時間ｙごとの光信号のＥＰ，ＳＥＰとの関係を模式的に説明するために示す図である。
【図１０】図１０は、図６のＥＰ，ＳＥＰ判定部によるＥＰ，ＳＥＰの判定のために測定目的に応じて時間ｘ，ｙ値を設定する際の大小関係を例示する図である。
【図１１】図１１は、本発明による光リンクの伝送特性評価方法及び装置が適用される第２の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図１２】図１２は、本発明による光リンクの伝送特性評価システムが適用される第３の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１１…光電変換（Ｏ／Ｅ）部、
１２…ＳＤＨ部、
１３…ＥＳ，ＳＥＳ判定部、
ＰＸＣ…フォトニッククロスコネクト、
２１、２２…光再生中継局（ノード）、
２３…光伝送路、
２４…光リンクパフォーマンス測定評価部、
３０…アイ波形、
３１…アイ波形観測器、
４０…アイ波形、
４１…アイ波形観測器、
４２…マスクパターン発生器、
４３…マスクパターン、
６１…光信号のアイ波形観測手段としてのアイ波形観測器、
６２…光信号のエラー成分検出手段としてのエラー成分検出部、
６３…光信号のＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部、
７０…アイ波形、
７２…マスクパターン発生器、
７３…マスクパターン、
７４…アイマスクテスト法によったエラー成分検出部、
８０…アイ波形、
８１…Ｑ値測定法によったエラー成分検出部、
８１ａ…Ｑ値測定部
８１ｂ…２値変換部、
１１１…光信号のアイ波形観測手段としてのアイ波形観測器、
１１２…光信号のエラー成分検出手段としてのエラー成分検出部、
１１３…光信号のＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部、
１１４…伝送路品質分類手段としての伝送路品質分類部、
１２０…光ファイバによるデータ伝送網、
２２０…データ伝送網１２０に連携するネットワーク制御網、
ＰＸＣ…フォトニッククロスコネクト、
２２１、２２２…光再生中継局（ノード）、
２２３…光伝送路、
２２４…光リンクパフォーマンス測定評価部、
１２１…光信号のアイ波形観測手段としてのアイ波形観測器、
１２２…光信号のエラー成分検出手段としてのエラー成分検出部、
１２３…光信号のＥＰ，ＳＥＰ判定手段としてのＥＰ，ＳＥＰ判定部、
１２４…伝送路品質判定手段としての伝送路品質判定部。
【図１】
2004312368.tif 000003
【図２】
2004312368.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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