(57)【要約】【課題】チップ型電子部品の振込み性に優れ、かつ、安価でチップ型電子部品のサイズに依存しない平先の測定端子で測定することができる電子部品の特性測定装置およびその測定方法を提供する。【解決手段】チップ型電子部品収容治具９は、非導電性底板２と、該底板２上に重ねられて固定された非導電性収容プレート３と、底板２と収容プレート３とで形成される空間内に配置された棒状の共通端子６とで構成されている。収容プレート３の上面部にはマトリクス状に複数の貫通孔４が形成され、下面部には貫通孔４の列毎に長尺状の溝５が形成されている。貫通孔４は溝５に連通しており、その横断面のサイズは収容対象となるチップ型積層コンデンサ６１の横断面のサイズよりも若干大きいサイズである。溝５は横断面形状が矩形であり、棒状の共通端子６が上下方向に所定の距離だけ可動できる深さ寸法を有している。【選択図】  図３
2004251849.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップ型電子部品が収容される貫通孔が複数設けられた収容プレートと、
前記収容プレートの下に配置された底板と、
前記収容プレートと前記底板とで形成されかつ前記貫通孔と連通した空間内に配置され、前記空間内を上下方向に可動し、前記チップ型電子部品の一方の外部電極に電気的に接触する共通端子と、
前記収容プレートの貫通孔に対応して設けられ、前記チップ型電子部品の他方の外部電極に電気的に接触する複数の測定端子と、
を備えたことを特徴とする電子部品の特性測定装置。
【請求項２】
複数の前記貫通孔がマトリクス状に前記収容プレートに配設され、前記貫通孔の列毎に棒状の共通端子が配設されていることを特徴とする請求項１に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項３】
前記貫通孔のサイズは、チップ型電子部品が縦置き状態で収容されるサイズより大きいことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項４】
前記収容プレートと前記底板は一体物であり、前記共通端子が配置されかつ前記貫通孔と連通した前記空間が設けられていることを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の電子部品の特性測定装置。
【請求項５】
複数のチップ型電子部品を収容プレートの複数の貫通孔に振り込む工程と、
前記収容プレートの厚み方向に可動する共通端子を前記複数のチップ型電子部品の一方の外部電極に接触させるとともに、前記チップ型電子部品を押し上げて前記収容プレートの上面より突出させる工程と、
前記複数の貫通孔に対応して設けられた複数の測定端子を前記チップ型電子部品の他方の外部電極にそれぞれ接触させて測定する工程と、
を備えたことを特徴とする電子部品の特性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品の特性測定装置およびその測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、複数のチップ型電子部品を同時に測定する測定装置として、特許文献１に記載のものが知られている。この測定装置は、図８に示すように、導電性平板５０と、該導電性平板５０上に重ねられ、チップ型電子部品が収容される貫通孔５２がマトリクス状に配置されている非導電性平板５１とからなる測定用トレイ５３と、測定用トレイ５３の貫通孔５２に対応して設けられた複数の測定端子５５（図１０参照）とを備えたものである。導電性平板５０は共通端子として機能し、可動機構はない。
【０００３】
【特許文献１】
特開平８−５１０４８号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、チップ型電子部品を測定用トレイ５３の貫通孔５２に振り込んで収容する際には、貫通孔５２に収容されたチップ型電子部品の一部が測定用トレイ５３の表面から突出しない方が好ましい。なぜなら、図９に示すように、貫通孔５２に収容されたチップ型電子部品６１の一部が測定用トレイ５３の表面から突出する構成であれば、未だ貫通孔５２に収容されないで測定用トレイ５３上に載っているチップ型電子部品６１ａが、チップ型電子部品６１に引掛かり、貫通孔５２への振込み性が悪くなるからである。
【０００５】
逆に、測定端子５５をチップ型電子部品に当てて測定する際には、貫通孔５２に収容されたチップ型電子部品の一部が測定用トレイ５３の表面から突出した方が好ましい。なぜなら、図１０に示すように、貫通孔５２に収容されたチップ型電子部品６１の一部が測定用トレイ５３の表面から突出しない構成であれば、安価でチップ型電子部品６１のサイズに依存しない平先の測定端子５５が測定用トレイ５３の表面に当たり、チップ型電子部品６１に接触しないからである。そして、測定端子５５は径が細くなるほど機械的強度や寿命が小さくなりかつ高価になることを考慮して、チップ型電子部品６１のサイズに合わせて測定端子を準備しなければならないからである。
【０００６】
このように、測定用トレイ５３を使用して複数のチップ型電子部品６１を同時に測定する際には、相反する条件が要求される。しかし、従来の測定用トレイ５３は共通端子である導電性平板５０が非導電性平板５１に固定されているので、両方の条件を満足させることができなかった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、チップ型電子部品の振込み性に優れ、かつ、安価でチップ型電子部品のサイズに依存しない平先の測定端子で測定することができる電子部品の特性測定装置およびその測定方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段および作用】
前記目的を達成するため、本発明に係る電子部品の特性測定装置は、
（ａ）チップ型電子部品が収容される貫通孔が複数設けられた収容プレートと、
（ｂ）収容プレートの下に配置された底板と、
（ｃ）収容プレートと底板とで形成されかつ貫通孔と連通した空間内に配置され、空間内を上下方向に可動し、チップ型電子部品の一方の外部電極に電気的に接触する共通端子と、
（ｄ）収容プレートの貫通孔に対応して設けられ、チップ型電子部品の他方の外部電極に電気的に接触する複数の測定端子と、
を備えたことを特徴とする。貫通孔のサイズは、例えばチップ型電子部品が縦置き状態で収容されるサイズに設定される。収容プレートと底板は一体物であってもよい。
【０００９】
以上の構成からなる収容プレートの複数の貫通孔にそれぞれ、チップ型電子部品を振り込む。貫通孔に振り込まれたチップ型電子部品は共通端子上に載り、収容プレートの表面から突出しない状態で貫通孔に収容される。従って、未だ貫通孔に収容されないで収容プレート上に載っているチップ型電子部品が、貫通孔に収容されているチップ型電子部品に引掛かり、貫通孔への振込み性が悪くなるという心配がなくなる。チップ型電子部品の一方の外部電極は、共通端子に電気的に接触する。
【００１０】
次に、収容プレートの厚み方向に可動する共通端子で、貫通孔に振り込まれたチップ型電子部品を押し上げ、チップ型電子部品を収容プレートの上面より突出させる。
【００１１】
この後、収容プレートの上面より突出したチップ型電子部品の他方の外部電極のそれぞれに、収容プレートの貫通孔に対応して設けられている複数の測定端子を電気的に接触させて測定する。このとき、貫通孔に収容されたチップ型電子部品の一部が収容プレートの表面から突出しているため、安価でチップ型電子部品のサイズに依存しない平先の測定端子が使用できる。
【００１２】
また、複数の貫通孔をマトリクス状に収容プレートに配設するとともに、貫通孔の列毎に棒状の共通端子を配設することにより、共通端子が貫通孔の列毎に独立することになる。従って、一つの収容プレートで異なる種類の測定が同時にできる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る電子部品の特性測定装置およびその測定方法の実施の形態について添付の図面を参照して説明する。なお、実施形態は、チップ型電子部品として、積層コンデンサを例にして説明するが、インダクタやＬＣノイズフィルタやコモンモードチョークコイルや高周波複合部品などであってもよいことは言うまでもない。
【００１４】
［第１実施形態、図１〜図５］
図１に示すように、特性測定装置１は、概略、チップ型電子部品収容治具９と、測定端子１５と、制御部２１と、測定部２２と、演算部２３と、表示器２４とで構成されている。
【００１５】
チップ型電子部品収容治具９は、図２および図３に示すように、非導電性底板２と、該底板２上に重ねられて固定された非導電性収容プレート３と、底板２と収容プレート３とで形成される空間内に配置された棒状の共通端子６とで構成されている。
【００１６】
収容プレート３の上面部にはマトリクス状に複数の矩形の貫通孔４が形成され、下面部には貫通孔４の列毎に長尺状の溝５が互いに平行に形成されている。貫通孔４は溝５に連通している。
【００１７】
貫通孔４の横断面（収容プレート３の厚み方向に直交する方向の断面）のサイズは、収容対象である直方体状のチップ型積層コンデンサ６１の横断面（ＷＴ面）のサイズよりも若干大きい。また貫通孔４の深さ（収容プレート３の厚み方向の寸法）は、チップ型積層コンデンサ６１の長辺方向寸法（Ｌ寸法）よりも小さい。貫通孔４の上端部は、チップ型積層コンデンサ６１が振り込まれ易いように、口広のテーパ状に形成されている。
【００１８】
溝５の横断面は、貫通孔４の列方向に長手方向を有する細長の矩形であり、そのサイズは共通端子６の横断面のサイズより若干大きい。また、溝５の深さは、共通端子６が上下方向（収容プレート３の厚み方向）に可動できるように、共通端子６の厚み方向寸法よりも大きい。
【００１９】
この収容プレート３の溝５と底板２とで形成される列毎の空間（キャビティ）内にそれぞれ共通端子６が配置されている。なお、収容プレート３と底板２は前述のように貼り合わせて構成したものでもよいが、射出成形などの方法により、前述の構造になるように一体的に形成し、共通端子６が配置される空間を形成してもよい。
【００２０】
底板２には、各共通端子６をそれぞれ個別に上下方向に移動させるための駆動装置（図示せず）の非導電性ロッド１０を貫通させるためのスリット７が形成されている。
【００２１】
また、図１に示すように、収容プレート３の貫通孔４に対応して設けられた複数の測定端子１５は、測定端子支持プレート１６に取り付けられている。さらに、測定端子支持プレート１６には、共通端子６ごとに一つのピン端子１７が取り付けられている。測定端子支持プレート１６は、図示しない駆動装置によって上下方向に移動される。
【００２２】
制御部２１は、周知のマイクロコンピュータにて構成され、予め設定されたプログラムに基づいて各部の動作制御を行う。
【００２３】
測定部２２は、周知の静電容量測定器や絶縁抵抗計にて構成され、図示しない電子スイッチを制御部２１からの制御信号によって切り換えることにより、順次、各チップ型積層コンデンサ６１の静電容量や絶縁抵抗を測定し、測定結果を演算部２３に送る。
【００２４】
演算部２３は、周知のマイクロコンピュータにて構成され、測定部２２で得た測定値に基づいて各チップ型積層コンデンサ６１の良否を測定し、この測定結果を表示器２４に表示する。
【００２５】
次に、以上の構成からなる特性測定装置１を使用して、チップ型積層コンデンサ６１の特性を測定する方法について説明する。チップ型積層コンデンサ６１は２端子コンデンサであり、両端部に外部電極が形成されている。
【００２６】
まず、図３に示すように、収容プレート３の複数の貫通孔４にそれぞれ、チップ型積層コンデンサ６１を縦置き状態（収容プレート３の厚み方向とチップ型積層コンデンサ６１の長辺方向が平行な状態）で振り込む。貫通孔４に振り込まれたチップ型積層コンデンサ６１は、一端に設けた外部電極が共通端子６に電気的に接触した状態で共通端子６上に載る。積層コンデンサ６１は収容プレート３の上面から突出しないように、貫通孔４に完全に収容される。
【００２７】
従って、未だ貫通孔４に収容されないで収容プレート３上に載っているチップ型積層コンデンサ６１ａが、貫通孔４に収容されているチップ型積層コンデンサ６１に引掛かり、貫通孔４への振込み性が悪くなるという心配がない。
【００２８】
次に、駆動装置のロッド１０で共通端子６を上昇させて、貫通孔４に振り込まれたチップ型積層コンデンサ６１を押し上げる。そして、図４に示すように、チップ型積層コンデンサ６１の他端を収容プレート３の上面より若干（ｔ＝０．３〜０．８ｍｍ、少なくともチップ型積層コンデンサ６１の半分以上が貫通孔４に隠れる状態）突出させる。共通端子６は棒状であり、チップ型積層コンデンサ６１を保持する面積が広いので、積層コンデンサ６１の姿勢を安定した状態で支えることができる。なお、チップ型積層コンデンサ６１としては、例えば、Ｌ：１．６ｍｍ×Ｗ：０．８ｍｍ×Ｔ：０．８ｍｍやＬ：３．２ｍｍ×Ｗ：１．６ｍｍ×Ｔ：１．６ｍｍのサイズのものが用いられる。
【００２９】
この後、測定端子支持プレート１６が下降され、各測定端子１５は対応する貫通孔４内のチップ型積層コンデンサ６１の他端に設けた外部電極に電気的に接触する。このとき、チップ型積層コンデンサ６１の他端の外部電極は収容プレート３の表面から突出しているので、先端が平らで、かつ、チップ型積層コンデンサ６１のサイズより径の大きい測定端子１５を使用することができる。この形状の測定端子１５は安価で、かつ、異なるサイズのチップ型積層コンデンサに共用できるため、測定のランニングコストを大幅に減らすことができる。
【００３０】
同時に、図５に示すように、各ピン端子１７も対応する貫通孔４内に露出している共通端子６の一端に電気的に接触する。これにより、共通端子６のそれぞれの一端は、ピン端子１７および該ピン端子１７に接続されている信号線（図示せず）を介して測定部２２に電気的に接続されることになる。
【００３１】
次に、測定端子１５と共通端子６の間に測定電圧が印加され、順次、各チップ型積層コンデンサ６１の静電容量が測定される。さらに、チップ型積層コンデンサ６１の絶縁抵抗が共通端子６毎に（言い換えると、貫通孔４の列毎に）測定される。このとき、共通端子６を貫通孔４の列毎に独立して設置しているので、貫通孔４の列毎に異なる種類の測定を同時に行うことができる。例えば、第１列目の貫通孔４に収容されたチップ型積層コンデンサ６１に対しては、１個ずつ順番に静電容量の測定を行いつつ、第２列目の貫通孔４に収容されたチップ型積層コンデンサ６１に対しては、一括して絶縁抵抗の測定を行うことができる。従って、一つの収容プレート３で複数の項目の測定が可能となり、測定の効率アップが図れる。
【００３２】
測定が全て終了すると、制御部２１から終了信号が出力され、測定端子支持プレート１６を上昇させて、元の位置に復帰させる。そして、共通端子６を下降させて、チップ型積層コンデンサ６１を再び収容プレート３内に収容する。
【００３３】
［第２実施形態、図６及び図７］
第２実施形態の特性測定装置は、前記第１実施形態の特性測定装置１において、チップ型電子部品収容治具９の替わりに、図６に示すチップ型電子部品収容治具４５を用いたものである。
【００３４】
チップ型電子部品収容治具４５は、非導電性底板３２と、該底板３２上に重ねられて固定された非導電性収容プレート３３と、底板３２と収容プレート３３とで形成される空間内に配置された棒状の共通端子４０とで構成されている。
【００３５】
収容プレート３３の上面部にはマトリクス状に複数の矩形の貫通孔３４が形成され、下面部には貫通孔３４の列毎に長尺状の段付き溝３５が形成されている。貫通孔３４は溝３５に連通している。底板３２には各共通端子４０をそれぞれ個別に上下方向に移動させるための駆動装置の非導電性ロッド１０を貫通させるための段付き溝３７が形成されている。
【００３６】
棒状共通端子４０の上面には、チップ型積層コンデンサ６１との電気的接触を良くするために、チップ型積層コンデンサ６１の幅（Ｗ寸法またはＴ寸法）よりも薄い厚みを有する接触突起板４１を設けている。本第２実施形態では共通端子４０の下面にも接触突起板４２を設けているが、この接触突起板４２は省略してもよい。共通端子４０は収容プレート３３の段付き溝３５と底板３２の段付き溝３７とで形成される空間内にそれぞれ配置され、空間内を上下方向に移動することができる。
【００３７】
以上の構成からなる特性測定装置は、チップ型積層コンデンサ６１の振り込み時には、共通端子４０を下げておくことで、図６に示すように積層コンデンサ６１の端部が収容プレート３３の上面から突出しないので、スムーズな振り込みが行える。また、測定時には、共通端子４０を上げることにより、図７に示すように積層コンデンサ６１の端部を収容プレート３３の上面から突出させる。これにより、先端が平らで、かつ、積層コンデンサ６１のサイズより径の大きい測定端子を使用することができる。
【００３８】
［他の実施形態］
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更することができる。例えば、前記実施形態では、収容プレートに形成される貫通孔の横断面形状が、縦置き状態で収容されるチップ型電子部品の横断面形状に合わせて矩形に形成されている。これにより、チップ型電子部品の短辺寸法（Ｗ寸法）と厚み寸法（Ｔ寸法）が異なる場合、収容プレートに収容されているチップ型電子部品の位置精度を高めることができる。しかし、チップ型電子部品の短辺寸法と厚み寸法が等しい場合には、収容プレートに形成される貫通孔の横断面形状は円形であってもよい。円形の貫通孔の形成は矩形の貫通孔の形成と比較して極めて容易であるので、収容プレートの加工コストを低減することができる。
【００３９】
また、前記実施形態では、チップ型電子部品を貫通孔に縦置き状態で振り込んで測定しているが、横置き状態（収容プレートの厚み方向とチップ型電子部品の長辺方向とが直交する状態）で振り込んで測定してもよい。特に、両端面に隣接する側面に外部電極を有するチップ型電子部品の該側面外部電極を用いて測定する場合には、横置き状態の方が好ましい。
【００４０】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、共通端子が収容プレートと底板とで形成される空間内に配置され、この空間内を上下方向に可動するので、チップ型電子部品振り込み時には、共通端子を下げておくことで、チップ型電子部品の端部が収容プレートの上面から突出しないので、スムーズな振り込みが行える。また、測定時には、共通端子を上げることにより、チップ型電子部品の端部を収容プレートの上面から突出させる。これにより、先端が平らで、かつ、チップ型電子部品のサイズより径の大きい測定端子を使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る電子部品の特性測定装置の概略構成図。
【図２】本発明に係る電子部品の特性測定装置の一実施形態に使用される収容プレートと底板と共通端子を示す分解斜視図。
【図３】図２のＩＩＩ−ＩＩＩ垂直断面図。
【図４】チップ型電子部品に測定端子を接触させて測定する状態を示した垂直断面図。
【図５】図２のＶ−Ｖ垂直断面図。
【図６】本発明に係る電子部品の特性測定装置の別の実施形態を示す垂直断面図。
【図７】チップ型電子部品に測定端子を接触させて測定する状態を示した垂直断面図。
【図８】従来の特性測定装置に使用される測定用トレイの分解斜視図。
【図９】図８に示した特性測定装置の不具合を説明するための垂直断面図。
【図１０】図８に示した特性測定装置の別の不具合を説明するための垂直断面図。
【符号の説明】
１…特性測定装置
２，３２…底板
３，３３…収容プレート
４，３４…貫通孔
５，３５，３７…溝
６，４０…共通端子
９，４５…チップ型電子部品収容治具
１５…測定端子
【図１】
2004251849.tif 000003
【図２】
2004251849.tif 000004
【図３】
2004251849.tif 000005
【図４】
2004251849.tif 000006
【図５】
2004251849.tif 000007
【図６】
2004251849.tif 000008
【図７】
2004251849.tif 000009
【図８】
2004251849.tif 000010
【図９】
2004251849.tif 000011
【図１０】
2004251849.tif 000012