(57)【要約】【課題】検査ソフトとプリント基板との組み合わせの不良を検出することができる不良検出システムを提供することを課題とする。【解決手段】検査装置２内のワーク供給電源回路４から検査対象となるプリント基板の第１及び第２の電圧検出回路へ電源が供給されると、これら第１の電圧検出回路及び第２の電圧検出回路からそれぞれのＡ／Ｄ電圧がＣＰＵ１に出力される。ＣＰＵ１では基板ソフトＳが第１の電圧検出回路からのＡ／Ｄ電圧を判定用の内部値Ｂに変換すると共に、第２の電圧検出回路からのＡ／Ｄ電圧を判定用の評価値Ｃに変換する。そして、内部値Ｂと基板ソフトＳ内の閾値Ｂ０とを比較して２つの基準値Ｇのうち一方を選択すると共に選択された基準値Ｇと評価値Ｃとを比較して不良判定を行い、その結果を検査装置２へ伝送する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の電圧仕様にそれぞれ対応し且つ互いに共通の基板ソフトを搭載した複数のプリント基板と複数の電圧仕様にそれぞれ対応し且つ検査装置内に格納された複数の検査ソフトとの組み合わせの不良を検出するシステムにおいて、
各プリント基板は、
検査装置から電源が供給されたときにその入力電圧に対応した第１の外部入力値を出力する第１の電圧検出回路と、
検査装置から電源が供給されたときにその入力電圧と自らの電圧仕様との関係に基づいてプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす第２の外部入力値を演算して出力する第２の電圧検出回路とを備え、
基板ソフトは、前記第１の電圧検出回路から出力された第１の外部入力値に対応した基準値を設定し、前記第２の電圧検出回路から出力された第２の外部入力値を前記基準値と比較することによりプリント基板と検査ソフトとの組み合わせに関する不良判定を行って検査装置へ出力する
ことを特徴とする不良検出システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、不良検出システムに係り、特にプリント基板と検査ソフトとの組み合わせの不良を検出するシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から不良ワークを検出する各種の装置が考案され、使用されている。例えば、特許文献１に示される検査装置では、多数のバッテリセルが直列に接続されて収容されたバッテリ組立体に対して、各バッテリセルの両端電圧を測定したり、バッテリ組立体の両端電圧を測定することにより、規格内にあるワークと規格外の不良ワークとを判別している。この検査装置によれば、測定された電圧値が規格範囲内にあるか否かを判定する回路あるいはソフトウエアを備えることでバッテリセル及びバッテリ組立体の不良を検出することができる。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１０−２５３７２３号公報
【０００４】
ところが、例えば、複数の電圧仕様Ｅ１、Ｅ２のプリント基板Ｐ１、Ｐ２にそれぞれ対応して基板ソフトＳ１、Ｓ２が搭載されるように、異なった種類のワークが互いに組み合わされ、これらのワークを複数の電圧仕様Ｅ１、Ｅ２にそれぞれ対応した検査ソフトＫ１、Ｋ２で不良品検査をする場合には、正確な不良判定をすることが困難になることがある。
【０００５】
このような場合のワーク不良検出システムの構成を図２に示す。プリント基板Ｐ１、Ｐ２の製造工程において、電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１のＣＰＵ１には基板ソフトＳ１が、電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２のＣＰＵ１には基板ソフトＳ２がそれぞれ格納される。一方、検査装置２内の記憶装置３には、電圧仕様Ｅ１、Ｅ２に対応して検査ソフトＫ１、Ｋ２のうちのいずれかが格納される。検査ソフトＫ１が格納されると、検査装置２内のワーク供給電源回路４から電圧Ｅ１の電源が検査対象となるプリント基板へ供給され、検査ソフトＫ２が格納されると、ワーク供給電源回路４から電圧Ｅ２の電源が検査対象のプリント基板へ供給される。
【０００６】
また、基板ソフトＳ１、Ｓ２はそれぞれ固有データＡ１、Ａ２を内部に有しており、検査ソフトＫ１、Ｋ２はそれぞれ固有データＡ１、Ａ２を基準値として有している。
【０００７】
検査装置２内のワーク供給電源回路４から検査対象となるプリント基板Ｐ１あるいはＰ２へ電源が供給されると、プリント基板のＣＰＵ１は格納されている基板ソフトＳ１あるいはＳ２内の固有データＡ１あるいはＡ２を検査装置２の通信Ｉ／Ｆ５を介して記憶装置３へ伝送する。記憶装置３は、格納されている検査ソフトに基準値として保存されている固有データと検査対象のプリント基板から送られてきた固有データとが一致するか否かを判別し、以下の表１のケース１及び２のように両者が一致すれば検査対象のプリント基板とそこに格納されている基板ソフトとの組み合わせが正しいと判断してＯＫ判定を行い、ケース３及び４のように両者が一致しなければ組み合わせに誤りがあると判断してＮＧ判定を行う。
【０００８】
【表１】
2004279253.tif 000003
【０００９】
このようにして検査ソフトＫ１、Ｋ２によりプリント基板と基板ソフトとの組み合わせの不良が検出されるが、検査装置２への検査ソフトＫ１、Ｋ２のセットミスが生じた場合、すなわち表１のケース５のように電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１の検査を行う際に検査ソフトＫ２がセットされたり、表１のケース６のように電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２の検査を行う際に検査ソフトＫ１がセットされると、プリント基板Ｐ１、Ｐ２と基板ソフトＳ１、Ｓ２とが誤った組み合わせとなっているにも拘わらず、検査ソフトに基準値として保存されている固有データと検査対象のプリント基板から送られてくる固有データとが一致してＯＫ判定されるという不具合が生じてしまう。
このような不具合を回避するため、プリント基板Ｐ１、Ｐ２に搭載される基板ソフトを１種類のソフトＳに統一し、検査ソフトＫ１でプリント基板Ｐ１の動作確認を、検査ソフトＫ２でプリント基板Ｐ２の動作確認をそれぞれ行うようにすることが試みられている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のように基板ソフトを１種類に統一しても、プリント基板Ｐ１の検査に対して検査ソフトＫ２がセットされる、或いはプリント基板Ｐ２の検査に対して検査ソフトＫ１がセットされるという組み合わせの不良が生じると、それらの場合には正確な動作確認を行えないこととなる。
この発明はこのような問題点を解消するためになされたもので、検査ソフトとプリント基板との組み合わせの不良を検出することができる不良検出システムを提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る不良検出システムは、複数の電圧仕様にそれぞれ対応し且つ互いに共通の基板ソフトを搭載した複数のプリント基板と複数の電圧仕様にそれぞれ対応し且つ検査装置内に格納された複数の検査ソフトとの組み合わせの不良を検出するシステムにおいて、各プリント基板は、検査装置から電源が供給されたときにその入力電圧に対応した第１の外部入力値を出力する第１の電圧検出回路と、検査装置から電源が供給されたときにその入力電圧と自らの電圧仕様との関係に基づいてプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす第２の外部入力値を演算して出力する第２の電圧検出回路とを備え、基板ソフトは、第１の電圧検出回路から出力された第１の外部入力値に対応した基準値を設定し、第２の電圧検出回路から出力された第２の外部入力値を基準値と比較することによりプリント基板と検査ソフトとの組み合わせに関する不良判定を行って検査装置へ出力するものである。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
図１に、この発明の実施の形態に係る不良検出システムの構成を示す。プリント基板には、電圧仕様Ｅ１及びＥ２にそれぞれ対応したプリント基板Ｐ１及びＰ２の２種類がある。これらプリント基板Ｐ１、Ｐ２には、両者に共通して第１の電圧検出回路Ｄ０が予め搭載されている。また、プリント基板Ｐ１に電圧仕様Ｅ１に対応した第２の電圧検出回路Ｄ１が、プリント基板Ｐ２に電圧仕様Ｅ２に対応した第２の電圧検出回路Ｄ２がそれぞれ予め搭載されている。また、プリント基板Ｐ１、Ｐ２の製造工程において、プリント基板Ｐ１のＣＰＵ１及びプリント基板Ｐ２のＣＰＵ１にそれぞれ共通の基板ソフトＳが格納される。
【００１３】
一方、検査装置２は、記憶装置３、ワーク供給電源回路４及び通信Ｉ／Ｆ５を有している。ここで、この記憶装置３には上述のプリント基板Ｐ１、Ｐ２の動作確認を行うための検査ソフトが格納されるが、この検査ソフトにも電圧仕様Ｅ１及びＥ２にそれぞれ対応した検査ソフトＫ１及びＫ２の２種類があり、本来、電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１の動作確認を行う際には検査ソフトＫ１が、電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２の動作確認を行う際には検査ソフトＫ２がそれぞれ記憶装置３に格納される。
【００１４】
なお、検査ソフトＫ１が格納されると、検査装置２内のワーク供給電源回路４から入力電圧Ｅ１の電源が検査対象となるプリント基板の第１及び第２の電圧検出回路へ供給され、検査ソフトＫ２が格納されると、ワーク供給電源回路４から入力電圧Ｅ２の電源が検査対象のプリント基板の第１及び第２の電圧検出回路へそれぞれ供給されるように構成されている。
【００１５】
また、このような電源供給を受けると、プリント基板の第１の電圧検出回路Ｄ０は、ワーク供給電源回路４からの入力電圧に対応したＡ／Ｄ電圧を本発明の第１の外部入力値として出力する、すなわち入力電圧Ｅ１の場合にはＡ／Ｄ電圧ＶＢ１を、入力電圧Ｅ２の場合にはＡ／Ｄ電圧ＶＢ２をＣＰＵ１へ出力するようになっている。一方、第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２は、ワーク供給電源回路４からの入力電圧と自らの電圧仕様とからプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わすＡ／Ｄ電圧を本発明の第２の外部入力値として演算して出力する。
【００１６】
また、ＣＰＵ１では格納されている基板ソフトＳが、第１の電圧検出回路Ｄ０からのＡ／Ｄ電圧の値を判定用に標準化された内部値Ｂに変換する。例えば、Ａ／Ｄ電圧ＶＢ１の場合には内部値Ｂ＝Ｂ１に、Ａ／Ｄ電圧ＶＢ２の場合には内部値Ｂ＝Ｂ２にそれぞれ変換する。
同様に、ＣＰＵ１では基板ソフトＳが第２の電圧検出回路からのＡ／Ｄ電圧の値を判定用に標準化された評価値Ｃに変換するようになっている。例えば、プリント基板とこのプリント基板の動作確認を行う検査ソフトとが正常な組み合わせの場合、すなわち、プリント基板Ｐ１と検査ソフトＫ１との組み合わせの場合には評価値Ｃ＝Ｃ１に、プリント基板Ｐ２と検査ソフトＫ２との組み合わせの場合には評価値Ｃ＝Ｃ２にそれぞれ変換する。
【００１７】
また、基板ソフトＳは内部値Ｂの大きさを判定するための閾値Ｂ０（Ｂ１＜Ｂ０＜Ｂ２）を有すると共に、評価値Ｃ＝Ｃ１が含まれる所定範囲Ｃ１ｍｉｎ〜Ｃ１ｍａｘと評価値Ｃ＝Ｃ２が含まれる所定範囲Ｃ２ｍｉｎ〜Ｃ２ｍａｘとを基準値Ｇとして有している。ここで、電圧Ｅ１及びＥ２は、Ｅ１がＥ２よりも小さく、基準値Ｇ＝Ｃ１ｍｉｎ〜Ｃ１ｍａｘに値Ｃ１（Ｅ１／Ｅ２）が、基準値Ｇ＝Ｃ２ｍｉｎ〜Ｃ２ｍａｘに値Ｃ２（Ｅ２／Ｅ１）がそれぞれ含まれないように設定されている。
【００１８】
次に、この実施の形態に係る不良検出システムの動作について説明する。検査装置２内のワーク供給電源回路４から、格納された検査ソフトＫ１、Ｋ２の電圧仕様に応じた入力電圧Ｅ１、Ｅ２の電源が検査対象となるプリント基板Ｐ１の第１の電圧検出回路Ｄ０及び第２の電圧検出回路Ｄ１あるいはプリント基板Ｐ２の第１の電圧検出回路Ｄ０及び第２の電圧検出回路Ｄ２へ供給される。このとき、第１の電圧検出回路Ｄ０は、入力電圧Ｅ１の場合にはＡ／Ｄ電圧ＶＢ１を、入力電圧Ｅ２の場合にはＡ／Ｄ電圧ＶＢ２をそれぞれ第１の外部入力値としてＣＰＵ１へ出力する。また、このとき第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２は、ワーク供給電源回路４からの入力電圧と自らの電圧仕様とからプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす演算式
（Ａ／Ｄ電圧）＝（所定値）×｛（入力電圧）／（電圧仕様）｝
に従ってＡ／Ｄ電圧を演算し、このＡ／Ｄ電圧を第２の外部入力値としてＣＰＵ１へ出力する。ここで、演算式の所定値は入力電圧に対応した値であり、入力電圧Ｅ１のときの所定値をＶＣ１、入力電圧Ｅ２のときの所定値をＶＣ２とする。
【００１９】
これら第１及び第２の電圧検出回路からのＡ／Ｄ電圧を受けて、ＣＰＵ１では格納されている基板ソフトＳが第１の電圧検出回路Ｄ０からのＡ／Ｄ電圧を判定用の内部値Ｂに変換すると共に、第２の電圧検出回路Ｄ１、Ｄ２からのＡ／Ｄ電圧を判定用の評価値Ｃに変換する。そして、基板ソフトＳは内部値Ｂを予め保存されている閾値Ｂ０と比較して、Ｂ＜Ｂ０の場合には予め保存されている２つの基準値Ｇのうち一方の基準値Ｇ＝Ｃ１ｍｉｎ〜Ｃ１ｍａｘを選択し、Ｂ＞Ｂ０の場合には他方の基準値Ｇ＝Ｃ２ｍｉｎ〜Ｃ２ｍａｘを選択する。さらに、このように選択された基準値Ｇと評価値Ｃとを比較して評価値Ｃが基準値Ｇに含まれる場合にはプリント基板と検査ソフトとの組み合わせが正しいと判断してＯＫ判定を行い、評価値Ｃが基準値Ｇに含まれない場合には組み合わせに誤りがあると判断してＮＧ判定を行う。そして、ＯＫ判定に応じてＯＫ信号を、ＮＧ判定に応じてＮＧ信号をそれぞれ通信Ｉ／Ｆ５を介して記憶装置３へ伝送する。この信号を受けて検査装置２の検査ソフトが組み合わせの不良を検出することが可能となる。
【００２０】
例えば、以下の表２のケース１のようにプリント基板Ｐ１（電圧仕様Ｅ１）の動作確認を検査ソフトＫ１（入力電圧Ｅ１）で行う場合は、第１の電圧検出回路Ｄ０からのＡ／Ｄ電圧がＶＢ１、第２の電圧検出回路Ｄ１からのＡ／Ｄ電圧がＶＣ１（Ｅ１／Ｅ１）＝ＶＣ１となり、これにより内部値Ｂ＝Ｂ１及び評価値Ｃ＝Ｃ１となり、評価値Ｃが基板ソフトＳの基準値Ｇ＝Ｃ１ｍｉｎ〜Ｃ１ｍａｘに含まれるため、ＯＫ判定が行われてＯＫ信号が検査装置２へ伝送される。
【００２１】
【表２】
2004279253.tif 000004
【００２２】
また、表２のケース２のようにプリント基板Ｐ２（電圧仕様Ｅ２）の動作確認を検査ソフトＫ２（入力電圧Ｅ２）で行う場合、第１の電圧検出回路Ｄ０からのＡ／Ｄ電圧がＶＢ２、第２の電圧検出回路Ｄ２からのＡ／Ｄ電圧がＶＣ２（Ｅ２／Ｅ２）＝ＶＣ２となり、これにより内部値Ｂ＝Ｂ２及び評価値Ｃ＝Ｃ２となり、評価値Ｃが基板ソフトＳの基準値Ｇ＝Ｃ２ｍｉｎ〜Ｃ２ｍａｘに含まれるため、表２のケース１と同様に、ＯＫ判定が行われてＯＫ信号が検査装置２へ伝送される。
【００２３】
一方、表２のケース３のように電圧仕様Ｅ１のプリント基板Ｐ１の動作確認に対し、検査装置２の記憶装置３に誤って検査ソフトＫ２がセットされた場合には、ワーク供給電源回路４からプリント基板Ｐ１の第１電圧検出回路Ｄ０及び第２の電圧検出回路Ｄ１へ入力電圧Ｅ２の電源が供給され、第１の電圧検出回路Ｄ０からのＡ／Ｄ電圧がＶＢ２、第２の電圧検出回路Ｄ１からのＡ／Ｄ電圧がＶＣ２（Ｅ２／Ｅ１）となる。これらのＡ／Ｄ電圧は基板ソフトＳにより、内部値Ｂ＝Ｂ２及び評価値Ｃ＝Ｃ２（Ｅ２／Ｅ１）に変換される。この場合、Ｂ＞Ｂ０となるので基準値Ｇ＝Ｃ２ｍｉｎ〜Ｃ２ｍａｘが選択され、さらに評価値Ｃ＝Ｃ２（Ｅ２／Ｅ１）が基準値Ｇ＝Ｃ２ｍｉｍ〜Ｃ２ｍａｘに含まれないためＮＧ判定が行われる。これにより、ＮＧ信号が検査装置２へ伝送され、プリント基板と検査ソフトとが誤った組み合わせとなっていることが検出される。
【００２４】
同様に、表２のケース４のように電圧仕様Ｅ２のプリント基板Ｐ２の動作確認に対し、検査装置２の記憶装置３に誤って検査ソフトＫ１がセットされた場合には、ワーク供給電源回路４からプリント基板Ｐ２の第１電圧検出回路Ｄ０及び第２の電圧検出回路Ｄ２へ入力電圧Ｅ１の電源が供給され、第１の電圧検出回路Ｄ０からのＡ／Ｄ電圧がＶＢ１、第２の電圧検出回路Ｄ２からのＡ／Ｄ電圧がＶＣ１（Ｅ１／Ｅ２）となる。これらのＡ／Ｄ電圧は基板ソフトＳにより、内部値Ｂ＝Ｂ１及び評価値Ｃ＝Ｃ１（Ｅ１／Ｅ２）に変換される。ここでＢ＜Ｂ０なので基準値Ｇ＝Ｃ１ｍｉｎ〜Ｃ１ｍａｘが選択され、さらに評価値Ｃ＝Ｃ１（Ｅ１／Ｅ２）が基準値Ｇ＝Ｃ１ｍｉｍ〜Ｃ１ｍａｘに含まれないためＮＧ判定が行われる。これにより、ＮＧ信号が検査装置２へ伝送され、プリント基板と検査ソフトとが誤った組み合わせとなっていることが検出される。
【００２５】
すなわち、プリント基板の動作確認を行う際に、検査装置２への検査ソフトＫ１、Ｋ２のセットミスが生じた場合でも、このセットミスを検出することができる。
【００２６】
なお、上述の実施の形態では、第２の電圧検出回路からのＡ／Ｄ電圧の値を判定用の評価値Ｃに標準化して基準値Ｇと比較することによりＯＫ判定またはＮＧ判定を行ったが、第２の電圧検出回路からのＡ／Ｄ電圧の値を第１の外部入力値に対応して設定された基準値と直接比較して判定することもできる。
【００２７】
また、上述の実施の形態に係る不良検出システムを、フォークリフト等の走行・荷役の制御を行うためのプリント基板とこのプリント基板の動作確認を行う検査ソフトとの組み合わせに関する不良判定に利用することができ、その場合、例えば電圧仕様Ｅ１＝４８Ｖ及びＥ２＝８０Ｖにそれぞれ対応するプリント基板Ｐ１、Ｐ２及び検査ソフトＫ１、Ｋ２として組み合わせの不良を検出することができる。また、走行・荷役の制御を行うためのプリント基板及び検査ソフトだけでなく、他の各種のプリント基板と検査ソフトとの組み合わせの不良検出にも利用することができる。
さらに、上記の実施の形態では、２種類のプリント基板と２種類の検査ソフトとが存在する場合について述べたが、３種類以上のプリント基板と検査ソフトとの組み合わせに対しても同様にして不良検出を行うことができる。
【００２８】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明に係る不良検出システムによれば、各プリント基板は、検査装置から電源が供給されたときにその入力電圧に対応した第１の外部入力値を出力する第１の電圧検出回路と、検査装置から電源が供給されたときにその入力電圧と自らの電圧仕様との関係に基づいてプリント基板と検査ソフトとの組み合わせを表わす第２の外部入力値を演算して出力する第２の電圧検出回路とを備え、基板ソフトは、第１の電圧検出回路から出力された第１の外部入力値に対応した基準値を設定し、第２の電圧検出回路から出力された第２の外部入力値を基準値と比較することによりプリント基板と検査ソフトとの組み合わせに関する不良判定を行って検査装置へ出力するようにしたので、検査ソフトとプリント基板との組み合わせの不良を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の実施の形態に係る不良検出システムの構成を示すブロック図である。
【図２】従来のワーク不良検出システムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  ＣＰＵ、２  検査装置、３  記憶装置、４  ワーク供給電源回路、５  通信Ｉ／Ｆ、Ｄ０  第１の電圧検出回路、Ｄ１，Ｄ２  第２の電圧検出回路、Ｐ１，Ｐ２  プリント基板。
【図１】
2004279253.tif 000005
【図２】
2004279253.tif 000006