(57)【要約】【課題】利便性の高い光ファイバ特性評価装置及び評価方法を提供する。【解決手段】第１光源１２からのパルス光及び第２光源１３からのＣＷ光（連続光）又はパルス光を光カプラ１４−１で合波して被測定光ファイバ１５の一端から入射し、当該２種類の光の相互作用によりラマン光増幅された第１光源１２からのパルス光が発生させる後方散乱光を、光カプラ１４−２及び波長フィルタ１６を介して、光検出器１７により検出した後、信号処理装置１８により解析処理する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバに光を入射し、
前記入射した光から得られる後方散乱光又は自然ラマン放出光の解析により光ファイバのラマン利得特性を評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
【請求項２】
一方の光をパルス光とし、他方の光をパルス光又は連続光とした２種類の光を光ファイバに入射し、
前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方の解析により光ファイバを評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
【請求項３】
一方の光をパルス光とし、他方の光をパルス光又は連続光とした２種類の光を光ファイバに入射し、
前記２種類の光の相互作用によりラマン光増幅された前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方の解析により光ファイバを評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
【請求項４】
パルス光を光ファイバに入射し、
前記入射した光から得られる自然ラマン放出光の解析により光ファイバを評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
【請求項５】
請求項２ないし４のいずれかに記載する光ファイバ特性評価方法において、
前記光ファイバの特性評価は、光ファイバのラマン利得特性の評価であることを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
【請求項６】
請求項１ないし５のいずれかに記載する光ファイバ特性評価方法において、
前記光ファイバへの光の入射は、前記光ファイバの一端のみから行うことを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
【請求項７】
請求項１ないし５のいずれかに記載する光ファイバ特性評価方法において、
前記光ファイバへの光の入射は、前記光ファイバの一端のみから行うと共に、
前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光の解析は、前記光ファイバの光を入射する一端から射出された前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光により行うことを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
【請求項８】
請求項１ないし７のいずれかに記載する光ファイバ特性評価方法において、
前記解析は、下記平均化処理、下記微分処理又は下記補正処理の少なくとも１つの処理を含むことを特徴とする光ファイバ特性評価方法。
平均化処理：前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光を複数回測定して得られる複数の信号波形の加算平均を計算する処理。
微分処理：前記後方散乱光のパワーの対数を取り、前記光ファイバの光入射端からの距離に対して微分する処理。
補正処理：前記光ファイバにおける光損失による入射光の減衰が前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光へ与える影響を補正する処理。
【請求項９】
光ファイバに光を入射する光入射手段と、
前記入射した光から得られる後方散乱光又は自然ラマン放出光の解析する解析手段とを有し、
前記光ファイバのラマン利得特性を評価することを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
【請求項１０】
光ファイバにパルス光を入射する第１の光入射手段と、
前記光ファイバにパルス光又は連続光を入射する第２の光入射手段と、
前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方を解析する解析手段とを有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
【請求項１１】
光ファイバにパルス光を入射する第１の光入射手段と、
前記光ファイバにパルス光又は連続光を入射する第２の光入射手段と、
前記２種類の光の相互作用によりラマン光増幅された前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方を解析する解析手段とを有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
【請求項１２】
光ファイバにパルス光を入射する光入射手段と、
前記入射した光から得られる自然ラマン放出光を解析する解析手段とを有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
【請求項１３】
請求項１０ないし１２のいずれかに記載する光ファイバ特性評価装置において、
前記光ファイバの特性評価は、光ファイバのラマン利得特性の評価であることを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
【請求項１４】
請求項９ないし１３のいずれかに記載する光ファイバ特性評価装置において、
当該光ファイバ特性評価装置に前記光ファイバを光接続する接続部が１つであり、
当該接続部を介して、前記光ファイバへの光の入射と、前記光ファイバからの前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光の取り出しを行うことを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
【請求項１５】
請求項９ないし１４のいずれかに記載する光ファイバ特性評価装置において、
前記解析手段は、下記平均化処理手段、下記微分処理手段又は下記補正処理手段の少なくとも１つの処理手段を含むことを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
平均化処理手段：前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光を複数回測定して得られる複数の信号波形の加算平均を計算する処理手段。
微分処理手段：前記後方散乱光のパワーの対数を取り、前記光ファイバの光入射端からの距離に対して微分する処理手段。
補正処理手段：前記光ファイバにおける光損失による入射光の減衰が前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光へ与える影響を補正する処理手段。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、光ファイバ特性評価方法及び特性評価装置に関し、例えば、光ファイバの有する非線形効果（ラマン光増幅）により生じた信号光の時間的波形変化を解析し、光ファイバの長手方向にわたるラマン光増幅特性等の分布を評価する。
【０００２】
【従来の技術】
ブロードバンドサービスの増加による伝送容量拡大の需要に伴い、ラマン光増幅による光増幅効果を用いて信号品質の劣化を抑制し、光信号を長距離伝送するシステムが検討されている。
【０００３】
ラマン光増幅は励起する光の波長を変化させることで、増幅する波長帯を自由に選択することができるため、特に、ＷＤＭ（波長多重）システムにこのラマン光増幅効果を適用することが検討されている。
【０００４】
ラマン光増幅効果をＷＤＭシステムに適用するためには、光線路を構成する光ファイバの通信光の波長に対するラマン利得特性を評価することが重要となる。このラマン光増幅による利得特性を測定する方法として、波長に対するラマン利得特性の光ファイバ長手方向（光ファイバ軸方向）にわたる分布を測定する方法および装置が考案されている（下記特許文献１参照。）。
【０００５】
図４は、従来の光ファイバ特性評価装置の一例の概略構成図であり、下記特許文献１に記載された特性評価装置である。
【０００６】
同図に示すように、従来の光ファイバ特性評価装置４０は、パルス光を発生させる第１光源４２と、ＣＷ光（Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ  Ｗａｖｅ：連続光）を発生させる第２光源４３と、第１光源４２からのパルス光を遮断すると共に第２光源４３からのＣＷ光を透過する波長フィルタ４６と、第２光源４３から被測定光ファイバ４５を透過したＣＷ光を波長フィルタ４６側の経路へ分波する光カプラ４４と、波長フィルタ４６を透過したＣＷ光を検出すると共に電気信号に変換する光検出器４７と、光検出器４７からの電気信号を処理する信号処理装置４８とから構成される。なお、信号処理装置４８は、電気信号の処理結果を表示する表示装置の機能も有する。
【０００７】
ここで、光ファイバ特性評価装置４０と被測定光ファイバ４５とは、接続部４９−１、４９−２において、被測定光ファイバ４５の両端が光ファイバ特性評価装置４０に光接続されている。
【０００８】
特性評価の方法としては、まず、被測定光ファイバ４５の第１末端へ第１光源４２からのパルス光を、第２末端へ第２光源４３からのＣＷ光を入射させる。なお、被測定光ファイバ４５の第１末端は、特性評価装置４０と被測定光ファイバ４５との接続部４９−１に位置し、被測定光ファイバ４５の第２末端は、接続部４９−２に位置する。
【０００９】
被測定光ファイバ４５内において、パルス光とＣＷ光とが対抗して伝搬することにより、パルス光とＣＷ光との間にラマン光増幅作用が発生する。ラマン光増幅作用を受けた第２光源４３からのＣＷ光は、光カプラ４４を介して光検出器４７において電気信号に変換され、信号処理装置４８において信号処理される。
【００１０】
すなわち、ラマン光増幅作用を受けた第２光源４３からのＣＷ光のパワーの時間的波形変化を解析することにより、被測定光ファイバ４５の有するラマン利得特性の分布を測定することができる。
【００１１】
【特許文献１】
特開平２−２３８３３９号公報
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来の光ファイバ評価装置及び評価方法では、被測定光ファイバ４５の両端（第１末端、第２末端）にそれぞれ第１光源４２及び第２光源４３を光接続する必要がある。
【００１３】
つまり、被測定光ファイバ４５の設置のたびに、被測定光ファイバ４５の２箇所を光接続しなければならないため、測定作業が煩雑であった。また、被測定光ファイバ４５の両端が大きく離れている場合には、遠距離の２地点間で連携しながら測定するという作業を強いられるため、測定作業に多くの労力を要するという問題があった。
【００１４】
本発明は、上記状況に鑑みてなされたものであり、被測定光ファイバの一端にのみ特性評価装置を光接続して特性評価を可能にすることにより、利便性の高い光ファイバ特性評価装置及び特性評価方法を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題解決するための手段】
本発明では、上記課題を解決するために、被測定光ファイバの内部で発生する、入射光の後方散乱光または自然ラマン放出光を検出し、信号処理した波形の時間的変化を解析することにより、被測定光ファイバのラマン利得特性の測定することとした。
【００１６】
この結果、被測定光ファイバの一端のみから光を入射することにより、被測定光ファイバのラマン利得特性の測定することが可能となった。
【００１７】
上記課題を解決する第１の発明は、光ファイバに光を入射し、
前記入射した光から得られる後方散乱光又は自然ラマン放出光の解析により光ファイバのラマン利得特性を評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
【００１８】
上記課題を解決する第２の発明は、一方の光をパルス光とし、他方の光をパルス光又は連続光とした２種類の光を光ファイバに入射し、
前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方の解析により光ファイバを評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
【００１９】
上記課題を解決する第３の発明は、一方の光をパルス光とし、他方の光をパルス光又は連続光とした２種類の光を光ファイバに入射し、
前記２種類の光の相互作用によりラマン光増幅された前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方の解析により光ファイバを評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
【００２０】
上記課題を解決する第４の発明は、パルス光を光ファイバに入射し、
前記入射した光から得られる自然ラマン放出光の解析により光ファイバを評価することを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
【００２１】
上記課題を解決する第５の発明は、第２ないし第４のいずれかの発明に係る光ファイバ特性評価方法において、
前記光ファイバの特性評価は、光ファイバのラマン利得特性の評価であることを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
【００２２】
上記課題を解決する第６の発明は、第１ないし第５のいずれかの発明に係る光ファイバ特性評価方法において、
前記光ファイバへの光の入射は、前記光ファイバの一端のみから行うことを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
【００２３】
上記課題を解決する第７の発明は、第１ないし第５のいずれかの発明に係る光ファイバ特性評価方法において、
前記光ファイバへの光の入射は、前記光ファイバの一端のみから行うと共に、
前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光の解析は、前記光ファイバの光を入射する一端から射出された前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光により行うことを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
【００２４】
上記課題を解決する第８の発明は、第１ないし第７のいずれかの発明に係る光ファイバ特性評価方法において、
前記解析は、下記平均化処理、下記微分処理又は下記補正処理の少なくとも１つの処理を含むことを特徴とする光ファイバ特性評価方法である。
平均化処理：前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光を複数回測定して得られる複数の信号波形の加算平均を計算する処理。
微分処理：前記後方散乱光のパワーの対数を取り、前記光ファイバの光入射端からの距離に対して微分する処理。
補正処理：前記光ファイバにおける光損失による入射光の減衰が前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光へ与える影響を補正する処理。
【００２５】
上記課題を解決する第９の発明は、光ファイバに光を入射する光入射手段と、
前記入射した光から得られる後方散乱光又は自然ラマン放出光の解析する解析手段とを有し、
前記光ファイバのラマン利得特性を評価することを特徴とする光ファイバ特性評価装置である。
【００２６】
光入射手段とは、例えばパルス光やＣＷ光（連続光）を発生させる光源などが挙げられる。また、解析手段とは、例えば、後方散乱光又は自然ラマン放出光をフィルタリングする波長フィルタ、光検出器、信号処理装置、表示装置等から構成される。
【００２７】
上記課題を解決する第１０の発明は、光ファイバにパルス光を入射する第１の光入射手段と、
前記光ファイバにパルス光又は連続光を入射する第２の光入射手段と、
前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方を解析する解析手段とを有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置である。
【００２８】
上記課題を解決する第１１の発明は、光ファイバにパルス光を入射する第１の光入射手段と、
前記光ファイバにパルス光又は連続光を入射する第２の光入射手段と、
前記２種類の光の相互作用によりラマン光増幅された前記２種類の光のそれぞれから得られる後方散乱光のいずれか一方を解析する解析手段とを有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置である。
【００２９】
上記課題を解決する第１２の発明は、光ファイバにパルス光を入射する光入射手段と、
前記入射した光から得られる自然ラマン放出光を解析する解析手段とを有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置である。
【００３０】
上記課題を解決する第１３の発明は、第１０ないし第１２のいずれかの発明に係る記載する光ファイバ特性評価装置において、
前記光ファイバの特性評価は、光ファイバのラマン利得特性の評価であることを特徴とする光ファイバ特性評価装置である。
【００３１】
上記課題を解決する第１４の発明は、第９ないし第１３のいずれかの発明に係る光ファイバ特性評価装置において、
当該光ファイバ特性評価装置に前記光ファイバを光接続する接続部が１つであり、
当該接続部を介して、前記光ファイバへの光の入射と、前記光ファイバからの前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光の取り出しを行うことを特徴とする光ファイバ特性評価装置である。
【００３２】
上記課題を解決する第１５の発明は、第９ないし第１４のいずれかの発明に係る光ファイバ特性評価装置において、
前記解析手段は、下記平均化処理手段、下記微分処理手段又は下記補正処理手段の少なくとも１つの処理手段を含むことを特徴とする光ファイバ特性評価装置である。
平均化処理手段：前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光を複数回測定して得られる複数の信号波形の加算平均を計算する処理手段。
微分処理手段：前記後方散乱光のパワーの対数を取り、前記光ファイバの光入射端からの距離に対して微分する処理手段。
補正処理手段：前記光ファイバにおける光損失による入射光の減衰が前記後方散乱光又は前記自然ラマン放出光へ与える影響を補正する処理手段。
【００３３】
【発明の実施の形態】
＜第１の実施形態＞
図１は、本発明の第１の実施形態に係る光ファイバ特性評価方法を実施する光ファイバ特性評価装置の概略構成図である。
【００３４】
同図に示すように、本実施形態に係る光ファイバ特性評価装置１０は、第１光源１２と、第２光源１３と、光カプラ１４−１，１４−２と、波長フィルタ１６と、光検出器１７と、信号処理装置１８とから構成される。なお、信号処理装置１８は、電気信号の処理結果を表示する表示装置の機能も有する。
【００３５】
ここで、本実施形態では、光ファイバ特性評価装置１０と被測定光ファイバ１５とは、接続部１９において、被測定光ファイバ１５の一端のみが光ファイバ特性評価装置１０に光接続されている。
【００３６】
第１光源１２はパルス光を発生させ、第２光源１３は、第１光源１２の発生させるパルス光の波長と異なる波長のＣＷ光（Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ  Ｗａｖｅ：連続光）又はパルス光を発生させる。第１及び第２光源１２，１３からの光は光カプラ１４−１において合波された後、光カプラ１４−２を介して、被測定光ファイバ１５に入射し、被測定光ファイバ１５の中を同一方向に伝搬する。
【００３７】
被測定光ファイバ１５を伝搬する第１光源１２からのパルス光は、同一方向に伝搬する第２光源１３からのＣＷ光又はパルス光との相互作用により、ラマン光増幅される。また、ラマン光増幅された第１光源１２からのパルス光は、伝搬方向とは逆方向（被測定光ファイバ１５から光カプラ１４−２に向かう方向）に後方散乱光を発生させる。
【００３８】
第１光源１２のパルス光から発生した後方散乱光は、光カプラ１４−２により波長フィルタ１６側の経路に分波された後、波長フィルタ１６を介して、光検出器１７により検出される。なお、波長フィルタ１６は、第２光源１３からのＣＷ光またはパルス光により発生する後方散乱光を除去すると共に、ラマン光増幅された第１光源１２からのパルス光の後方散乱光のみを取り出し、光検出器１７へ出力する機能を有する。
【００３９】
光検出器１７により検出された後方散乱光は、電気信号に変換され、当該後方散乱光の信号波形が信号処理装置１８により解析処理される。信号処理装置１８により行われる解析処理の内容としては、「平均化処理」、「微分処理」、「補正処理」がある。
【００４０】
「平均化処理」とは、光検出器１７からの後方散乱光の信号波形を複数回にわたって取り込み、これらの加算平均を計算する処理である。１つの信号波形から被測定光ファイバ１５のラマン利得特性を解析してもよいが、精度を高めるためには、平均化処理を行った信号波形を用いて解析することが好ましい。
【００４１】
図２は、平均化処理された信号波形から計算される後方散乱光のパワーを対数軸上で示したグラフである。横軸は第１光源１２からパルス光が被測定光ファイバ１５に入射した時間から当該パルス光の後方散乱光が検出されるまでの時間であり、被測定光ファイバ１５における接続部１９からの距離と相関関係がある。
【００４２】
第１光源１２からのパルス光は第２光源１３からのＣＷ光またはパルス光によって被測定光ファイバ１５を同一方向に伝搬しながらラマン光増幅される。このため、増幅効果は接続部１９からの距離に対して累積的に大きくなる。
【００４３】
したがって、当該距離に対して平均化処理された信号波形から計算される後方散乱光のパワーの対数を取り、距離に対して「微分処理」することにより、被測定光ファイバ１５のラマン増幅に対する特性のみを取り出すことができる。
【００４４】
ただし、第１光源１２からのパルス光および第２光源１３からのＣＷ光またはパルス光は、被測定光ファイバ１５における損失によってパワーは減衰する。このため、「補正処理」を行うことが好ましい。
【００４５】
「補正処理」とは、第１光源１２および第２光源１３からの光の波長と同じ波長を測定波長とするＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｍｅｔｒｙ）等により、あらかじめ被測定光ファイバ１５の損失分布を測定しておき、第１光源１２からのパルス光および第２光源１３からのＣＷ光またはパルス光のパワーの減衰の影響を補正する処理である。
【００４６】
また、本実施形態では、第１光源１２からの光としてＣＷ光、第２光源１３からの光としてパルス光を用いた構成でも同様に被測定光ファイバ１５の長さ方向にわたるラマン利得特性の分布を算出することが可能である。さらに、波長に対するラマン利得特性を測定する場合には、第１光源１２からの光の波長を変化させて同様な測定をすることにより、ラマン利得特性の分布を算出することが可能となる。
【００４７】
＜第２の実施形態＞
図３は、本発明の第２の実施形態に係る光ファイバ特性評価方法を実施する光ファイバ特性評価装置の概略構成図である。
【００４８】
同図に示すように、本実施形態に係る光ファイバ特性評価装置３０は、パルス光を発生させる第１光源３２と、光カプラ３４と、波長フィルタ３６と、光検出器３７と、信号処理装置３８とから構成される。なお、信号処理装置３８は、電気信号の処理結果を表示する表示装置の機能も有する。
【００４９】
ここで、本実施形態では、光ファイバ特性評価装置３０と被測定光ファイバ３５とは、接続部３９において、被測定光ファイバ３５の一端のみが光ファイバ特性評価装置３０に光接続されている。
【００５０】
第１及光源３２から射出されたパルス光は、光カプラ３４を介して、被測定光ファイバ３５に入射する。被測定光ファイバ３５に入射したパルス光は、当該パルス光の波長とは異なる波長の自然ラマン放出光を発生する。発生した自然ラマン放出光のうち、被測定光ファイバ３５から光カプラ３４に向かう方向に伝搬する自然ラマン放出光は、光カプラ３４により波長フィルタ３６側の経路に分波された後、波長フィルタ３６を介して、光検出器３７により検出される。
【００５１】
なお、波長フィルタ３６は、第１光源３２からのパルス光の後方散乱光を除去すると共に、自然ラマン放出光のみを取り出し、光検出器３７へ出力する機能を有する。
【００５２】
光検出器３７により検出された自然ラマン放出光は、電気信号に変換され、当該自然ラマン放出光の信号波形が信号処理装置３８により解析処理される。信号処理装置３８により行われる解析処理の内容としては、「平均化処理」、「補正処理」がある。
【００５３】
「平均化処理」は、第１の実施形態で説明した平均化処理と同じ処理内容である。
【００５４】
自然ラマン放出光のパワーは、被測定光ファイバ３５中の任意の位置におけるラマン利得特性と、これと同じ位置における第１光源３２からのパルス光のパワーとに関係する。したがって、被測定光ファイバ３５による損失によって第１光源３２からのパルス光のパワーが減衰する影響を補正する（補正処理）ことにより、被測定光ファイバ３５のラマン利得特性のみを求めることが可能である。
【００５５】
また、波長フィルタ３６において、透過する自然ラマン放出光の波長を変化させることにより、波長に対するラマン利得特性を測定することも可能となる。
【００５６】
【発明の効果】
本発明に係る光ファイバ特性評価方法及び特性評価装置によれば、被測定光ファイバの一端にのみ特性評価装置を光接続して、例えば、光ファイバの長さ方向にわたるラマン利得特性の評価を行うことができる。この結果、光ファイバの両端に光接続して評価する必要のある従来の特性評価装置に比べて、評価作業上の労力を削減し、利便性を向上させることができる。
【００５７】
特に、長距離にわたって敷設された光ファイバ伝送路のように、光ファイバの両端が大きく離れている場合、光ファイバ伝送路の両側に特性評価装置を設置する必要が無く、一端のみを光接続して簡単に光ファイバの特性評価ができ、有効である。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態に係る光ファイバ特性評価装置の概略構成図である。
【図２】平均化処理された信号波形から計算される後方散乱光のパワーを対数軸上で示したグラフである。
【図３】第２の実施形態に係る光ファイバ特性評価装置の概略構成図である。
【図４】従来の光ファイバ特性評価装置の一例の概略構成図である。
【符号の説明】
１０  光ファイバ特性試験装置
１２  第１光源
１３  第２光源
１４−１，２  光カプラ
１５  被測定光ファイバ
１６  波長フィルタ
１７  光検出器
１８  信号処理装置（表示装置）
１９  接続部
３０  光ファイバ特性試験装置
３２  第１光源
３４  光カプラ
３５  被測定光ファイバ
３６  波長フィルタ
３７  光検出器
３８  信号処理装置（表示装置）
３９  接続部
４０  光ファイバ特性試験装置
４２  第１光源
４３  第２光源
４４  光カプラ
４５  被測定光ファイバ
４６  波長フィルタ
４７  光検出器
４８  信号処理装置（表示装置）
４９−１，２  接続部
【図１】
2004251739.tif 000003
【図２】
2004251739.tif 000004
【図３】
2004251739.tif 000005
【図４】
2004251739.tif 000006