(57)【要約】【課題】補正信号を求める処理の時間を短縮化し、再生値の理想値との誤差をより少なくする。【解決手段】記録信号発生器１からの３値の記録信号が記録補正回路２に供給され、３値のそれぞれに対応したステップ分シフトされたエッジを持つ電気信号がカッティングマシン３に供給され、ガラス原盤１４上にレーザビームが照射される。マスタリング装置４によって光ディスク１９が作成される。光ディスク１９が再生装置５で再生される。再生値と理想値との誤差を打ち消すような補正値が記憶演算装置６に記憶される。ディスク上の全エッジとほぼ等しい数の補正値が記憶される。次に、記憶演算装置６の補正値が記録信号に対して加算され、加算値に応じてエッジがシフトされて記録がなされる。実際の再生信号が理想的再生信号との誤差が許容値以下となるまで処理が繰り返される。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
スパイラル状に配置されたピットのエッジの位置をディジタルデータに対応したステップ分シフトさせて情報を記録し、
トラックピッチが再生光学系の（波長λ）／（対物レンズの開口数ＮＡ）／２より狭く、
あるトラック上のピットの平均中心位置に対して、隣のトラック上ではピットの平均中心位置がトラックに沿ったピットの平均間隔の１／２の量シフトしているように配置されたピット配置を記録する方法であって、
一旦記録されたディスクの再生信号自身、または上記再生信号に対して信号処理を施した補正信号をディスク上の上記エッジの数とほぼ等しい数記憶する記憶ステップと、
記録される情報に対応したステップに対して、上記記憶ステップで記憶したデータに基づいたシフト量を加算したシフト量に応じて、次に作成するディスクのピットエッジのそれぞれをシフトさせる補正ステップと
からなる記録方法。
【請求項２】
請求項１において、
上記記憶したデータに対して１より小なる係数を乗じた値を上記シフト量とすることを特徴とする記録方法。
【請求項３】
請求項１において、
上記補正信号は、理想再生値と実際の再生値との誤差を打ち消すものであることを特徴とする記録方法。
【請求項４】
スパイラル状に配置されたピットのエッジの位置をディジタルデータに対応したステップ分シフトさせて情報を記録し、
トラックピッチが再生光学系の（波長λ）／（対物レンズの開口数ＮＡ）／２より狭く、
あるトラック上のピットの平均中心位置に対して、隣のトラック上ではピットの平均中心位置がトラックに沿ったピットの平均間隔の１／２の量シフトしているように配置されたピット配置を記録する装置であって、
一旦記録されたディスクの再生信号自身、または上記再生信号に対して信号処理を施した補正信号をディスク上の上記エッジの数とほぼ等しい数記憶する記憶手段と、
記録される情報に対応したステップに対して、上記記憶手段に記憶したデータに基づいたシフト量を加算したシフト量に応じて、次に作成するディスクのピットエッジのそれぞれをシフトさせる補正手段と
からなる記録装置。
【請求項５】
請求項４において、
上記記憶したデータに対して１より小なる係数を乗じた値を上記シフト量とすることを特徴とする記録装置。
【請求項６】
請求項１において、
上記補正信号は、理想再生値と実際の再生値との誤差を打ち消すものであることを特徴とする記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ディスク上の情報をピットとして記録する記録方法および記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
記録密度を向上させるために、ピットのエッジの位置を、情報に対応してステップ状に変化させて記録する方法（ＳＣＩＰＥＲ（商標）方式）は、例えば下記の特許文献１に記載されている。特許文献１に記載の方法では、各ピットエッジがデータに対応して０−７の８種類のマクロステップを持つように基本的に規定される。さらに、各ピットエッジが符号間干渉やクロストークの影響を軽減するために、微細な変化幅を有する２５６個のミクロステップの何れかの位置に補正される。
【０００３】
【特許文献１】
特開平８−１７１７２４号公報
【０００４】
上述したピットエッジの補正は、次のように行われる。まず、情報が記録されているディスクを再生し、符号間干渉が測定される。次に、測定された符号間干渉に対応する補正値が計算され、その補正値を用いてエッジの位置が補正されたディスクを作成する。この処理は、符号間干渉が基準値以下になるまで繰り返される。
【０００５】
また、下記特許文献２には、半径方向のパーシャルレスポンスを利用してＲＰＲ（Ｒａｄｉａｌ  Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）と呼ぶ記録方法が提案されている。この方法では、再生ビームスポットが２つの隣り合うトラック間の中心部分を通過するようにして再生を行うので、情報をさらに高密度に記録することができる。
【０００６】
【特許文献２】
特開平１０−７４３２２号公報
【０００７】
この方法に対しても特許文献１に記載の方法と同様に符号間干渉の影響を軽減するために、ピットエッジの補正を行うことができる。
【０００８】
図１は、記録ピットの配置と再生光スポットの位置を示す。図１を参照して記録補償の原理について説明する。ピットエッジをＡ，Ｂ，Ｃとし、エッジシフト量をＸ，Ｙ，Ｚと表す。ここで、Ｘ，Ｙ，Ｚは、記録データに対応した整数であり、例えば３値（−１，０，１）の何れかに対応している。また、円で示される再生光スポットがトラック方向に整列するピット列の隣り合うものの中間位置に沿って光ディスクを走査する。トラックピッチが再生光スポットの系の１／２より小とされているので、光スポット内には、二つのエッジが同時に存在する。
【０００９】
ピットエッジＢｎ−１とＢｎの中間に再生光スポットが存在する時には、理想的な再生信号は、Ｙｎ−１＋Ｙｎに比例した値を有する信号である。３値の場合では、Ｙｎ−１＋Ｙｎの値のとりうる値は、（−２，−１，０，１，２）の５通りである。実際の再生信号は、理想的な再生信号に符号間干渉が加わったものである。符号間干渉は、ｅ（Ｘｎ，Ｙｎ，Ｚｎ，Ｘｎ−１，Ｙｎ−１，Ｚｎ−１）と表され、記録装置には、この関数が記憶されている。ここで、エッジＢｎのシフト量を補正することで符号間干渉ｅを軽減するには、補正量をＣ（Ｙｎ）とすると、下記の式の関係を満たせば良い。
【００１０】
Ｃ（Ｙｎ）＋Ｃ（Ｙｎ−１）＝ｅ（Ｘｎ，Ｙｎ，Ｚｎ，Ｘｎ−１，Ｙｎ−１，Ｚｎ−１）
【００１１】
実際には、１以下のゲイン係数Ｋを用いて次式で計算する。
【００１２】
Ｃ（Ｙｎ）＝Ｋ（ｅ（Ｘｎ，Ｙｎ，Ｚｎ，Ｘｎ−１，Ｙｎ−１，Ｚｎ−１）＋Ｃ（Ｙｎ−１））
【００１３】
また、特許文献１に記載の方法と同様に、符号間干渉が基準値以下になるまで、処理がくり返される。
【００１４】
一方、国際学会ＩＳＯＭ／ＯＤＳ２００２、Ｐｏｓｔｄｅａｄｌｉｎｅ  ｐａｐｅｒｓで発表されたフォーマット（ここでは、２Ｄ−ＰＲと呼ぶ）では、再生光スポットが隣接した２トラックの中心をスキャンし、光スポット内（半径：λ／ＮＡ）に存在する４個のピットエッジを同時に再生するようにされている（Ｔ．Ｎｉｓｈｉｄａ，ｅｔ  ａｌ．：”ＸＹ−Ｓｔａｇｅ  Ｄｒｉｖｉｎｇ  Ｅｌｅｃｔｒｏｎ−Ｂｅａｍ  Ｍａｓｔｅｒｉｎｇ  ｗｉｔｈ  Ｎａｎｏｍｅｔｅｒ−Ａｃｃｕｒａｃｙ  Ｐｏｓｉｔｉｏｎｉｎｇ  ｆｏｒ  Ｈｉｇｈ−Ｄｅｎｓｉｔｙ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｄｉｓｃ，”  講演番号  ＭＰ．２５）。
【００１５】
提案されている方式の記録ピットの配置と再生光スポットの位置を図２に示す。図２に示されるように、トラックピッチが再生光学系の（波長λ）／（対物レンズの開口数ＮＡ）／２より狭いものとされ、再生光スポットによって４個のピットエッジが同時に存在するものとされる。また、あるトラック上のピットの平均中心位置に対して、隣接するトラックでは、ピットの平均中心位置がトラックに沿ったピットの平均間隔の半分シフトしているように、ピットが配置されている。平均中心位置は、シフト量の中心の値を各ピットエッジが持つ時の位置である。この図２に示すようなピット配置は、千鳥パターンと呼ばれる。
【００１６】
図２に示すピット配置においても、上述した特許文献１に述べられている記録補償方法を使用することができる。光スポットが図２の位置にある場合に理想的な再生信号は、（Ｙｎ＋Ｚｎ＋Ｙｎ−１＋Ｚｎ−１）に比例し、符号間干渉は、ｅ（Ｘｎ，Ｙｎ，Ｚｎ，Ｘｎ−１，Ｙｎ−１，Ｚｎ−１）と表される。エッジＺｎのシフト補正量Ｃ（Ｚｎ）は、次式で表すことができる。
【００１７】
Ｃ（Ｚｎ）＝Ｋ（ｅ−Ｃ（Ｙｎ）−Ｃ（Ｙｎ−１）−Ｃ（Ｚｎ−１））
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図２に示す千鳥パターンのピット配置に対して特許文献１で述べられている記録補償方法は、次のような問題がある。
【００１９】
上述したように、ディスクを再生して符号間干渉テーブルを作成し、エッジ位置を補正されたディスクを作成する、という処理は、符号間干渉がある値以下になるまで繰り返される。また、符号間干渉テーブルは、Ｘ，Ｙ，Ｚすなわち、記録データに対応した整数をアドレスとするテーブルである。
【００２０】
しかしながら、補正されたディスクでは、実際のエッジシフト量Ｘ’，Ｙ’，Ｚ’は、補正量が加算されている。補正量は、Ａ，Ｂ，Ｃ以外のエッジに依存するので、Ｘ，Ｙ，Ｚ（整数）が同じであっても、Ｘ’，Ｙ’，Ｚ’は、一般的に異なるが、計算される符号間干渉ｅは、同じ値である。Ｃｎ−１を使用しても１回転以前のピットパターンの影響しか考慮されない。したがって、処理の繰り返しにおいて収束が遅くなり、または最終的に収束する値が理想値からずれる可能性がある。
【００２１】
したがって、この発明の目的は、迅速に補正量を求めることが可能で、また、再生値と理想値とのずれを少なくすることが可能で記録方法および記録装置を提供することにある。
【００２２】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するために、請求項１の発明は、スパイラル状に配置されたピットのエッジの位置をディジタルデータに対応したステップ分シフトさせて情報を記録し、
トラックピッチが再生光学系の（波長λ）／（対物レンズの開口数ＮＡ）／２より狭く、
あるトラック上のピットの平均中心位置に対して、隣のトラック上ではピットの平均中心位置がトラックに沿ったピットの平均間隔の１／２の量シフトしているように配置されたピット配置を記録する方法であって、
一旦記録されたディスクの再生信号自身、または再生信号に対して信号処理を施した補正信号をディスク上のエッジの数とほぼ等しい数記憶する記憶ステップと、
記録される情報に対応したステップに対して、記憶ステップで記憶したデータに基づいたシフト量を加算したシフト量に応じて、次に作成するディスクのピットエッジのそれぞれをシフトさせる補正ステップと
からなる記録方法である。
【００２３】
請求項４の発明は、スパイラル状に配置されたピットのエッジの位置をディジタルデータに対応したステップ分シフトさせて情報を記録し、
トラックピッチが再生光学系の（波長λ）／（対物レンズの開口数ＮＡ）／２より狭く、
あるトラック上のピットの平均中心位置に対して、隣のトラック上ではピットの平均中心位置がトラックに沿ったピットの平均間隔の１／２の量シフトしているように配置されたピット配置を記録する装置であって、
一旦記録されたディスクの再生信号自身、または再生信号に対して信号処理を施した補正信号をディスク上のエッジの数とほぼ等しい数記憶する記憶手段と、
記録される情報に対応したステップに対して、記憶手段に記憶したデータに基づいたシフト量を加算したシフト量に応じて、次に作成するディスクのピットエッジのそれぞれをシフトさせる補正手段と
からなる記録装置である。
【００２４】
この発明では、ディスク上のエッジの数とほぼ等しい数の補正信号を記憶する。したがって、ディスクの再生時には、各エッジが補正信号によって独立に制御される。その結果、補正信号を得る処理における収束までの時間を短縮し、実際の再生値と理想再生値とのずれを少なくすることができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の一実施形態について、図面を参照して説明する。図３は、一実施形態におけるディスク作成システムの一例の構成を示す。参照符号１が記録信号発生器（情報源）を示す。記録信号発生器１からの記録信号が記録補正回路２に供給され、記録補正回路２の出力信号がカッティングマシン３に供給される。
【００２６】
カッティングマシン３は、例えばＡｒイオンレーザ、Ｈｅ−ＣｄレーザやＫｒイオンレーザ等のガスレーザや半導体レーザであるレーザ１１と、このレーザ１１から出射されたレーザ光を変調する音響光学効果型または電気光学型の光変調器１２と、この光変調器１２を通過したレーザ光を集光し、感光物質であるフォトレジストが塗布されたディスク状のガラス原盤１４のフォトレジスト面に照射する対物レンズ等を有する記録手段である光ピックアップ１３を有する。
【００２７】
光変調器１２は、記録信号にしたがって、レーザ１１からのレーザ光を変調する。そして、カッティングマシンは、この変調されたレーザ光をガラス原盤１４に照射することによって、データが記録されたガラス原盤１４を作成する。また、光ピックアップ１３とガラス原盤１４との距離が一定に保つように制御したり、トラッキングを制御したり、スピンドルモータの回転駆動動作を制御するためのサーボ回路が設けられている。光変調器１２には、記録補正回路２からの記録信号が供給される。光変調器１２からの変調されたレーザビームによってガラス原盤１４上のフォトレジストが露光される。
【００２８】
次に、マスタリング装置４において、記録がなされたガラス原盤１４のフォトレジストが現像工程１５において現像される。次に、メッキ処理工程１６においてニッケルメッキがなされる。そして、スタンパ作成工程１７において、スタンパが作成される。スタンパーを使用して、圧縮成形、射出成形等の方法によって、ピットが形成された光ディスク基板が作成される。さらに、スパッタリングを使用した成膜工程１８によって光ディスク基板上に反射膜が被着され、光ディスク１９が作成される。
【００２９】
参照符号５が光ディスク再生装置を示し、光ディスク１９がピックアップ２１によって光学的に読み取られる。ピックアップ２１からの再生信号が記憶演算装置６に供給される。再生装置５では、光ディスク１９の回転を制御するスピンドルサーボ、フォーカスサーボ、トラッキングサーボの処理を行うサーボ回路が設けられている。
【００３０】
図３に示す構成において、最初は、記憶演算装置６を使用せずに光ディスク１９を作成する。記録信号発生器１からは、記録したいデータとして、−１，０，１の３個の値をとる整数の列が記録補正回路２に対して供給される。この整数の列は、記録すべきディジタルデータである。
【００３１】
記憶演算装置６を用いない場合、記録補正回路２からは、図４に示すようなステップ状の電気信号がカッティングマシン３の光変調器１２に供給される。電気信号は、３値のそれぞれと対応したステップ分ピットエッジ位置がシフトされたものである。図４において、ＴＹｎは、ピットエッジＢｎのシフト量Ｙｎを生じさせる信号のエッジの時間シフト量を表している。例えば０の値に対応したピットエッジの位置を中心として、±ＴＹｎの時間シフト量の位置がそれぞれ−１の値および１の値に対応したピットエッジの位置とされる。他のエッジシフト量Ｘ，Ｚ，Ｗも、Ｙと同様に、信号の値（−１，０，１）に比例したステップ分シフトされる。
【００３２】
この電気信号は、ｏｎであった平均中心位置がガラス原盤１４の丁度１回転後に、ｏｆｆの平均中心位置となるように制御されているので、作成されたガラス原盤１４上には、図５に示すような千鳥状のピットパターンが形成される。カッティングが終了したガラス原盤１４からマスタリング装置４によって光ディスク１９が作成される。
【００３３】
記録補正回路２は、ディジタルデータの３値に対応して３通りのエッジのシフト量を持つ電気信号を出力するのみならず、記憶演算装置６に記憶された誤差の値に対応したより細かなステップのシフト量を持つ電気信号を出力するようになされている。記録補正回路２は、単安定マルチバイブレータの時定数を制御するアナログ的構成、またはシフトレジスタ等のディジタル回路を使用した構成が可能である。
【００３４】
次に、再生装置５によって作成された光ディスク１９が再生される。図５に示すように、再生装置５のピックアップ２１からのビームのスポットは、トラック間の中央位置をたどるように制御される。スパイラル状にピットが形成されているので、例えば図に示したように、１回転ごとにｎ−１，ｎ，ｎ＋１の矢印に沿ってディスクが走査されることになる。
【００３５】
トラックピッチが再生光学系の（波長λ）／（対物レンズの開口数ＮＡ）／２より狭く、あるトラック上のピットの平均中心位置に対して、隣のトラック上では、ピットの平均中心位置がトラックに沿ったピットの平均間隔の半分シフトしているように配置されているので、例えば再生光スポットが図５中のＡの位置にある場合の再生信号の値は、理想的にはシフト量Ｚｎ−１＋Ｗｎ−１＋Ｚｎ＋Ｗｎに比例し、再生光スポットがＢの位置にある場合には、理想的にはシフト量Ｙｎ−１＋Ｚｎ−１＋Ｙｎ＋Ｚｎに比例する。
【００３６】
光ディスク１９の再生信号から３値のデータを検出するには、例えば次のようになされる。
【００３７】
まず、トラックｎ−１を走査した時に、Ｘｎ−１，Ｙｎ−１，Ｚｎ−１，Ｗｎ−１が判ったとする。また、スポットがＡの位置にきた時点で、Ｚｎ，Ｗｎが判ったとする。スポットがＢの位置にきた時に再生信号からＹｎ−１＋Ｚｎ−１＋Ｙｎ＋Ｚｎが判るので、Ｙｎが判る。このようにしてディスク１９の全面のデータを検出する。ディスク１９上には、予めデータが判っている領域が設けられており、この値を初期値としてデータが検出される。なお、データの検出に最尤復調などの方法を用いても良い。
【００３８】
図６は、例えばディスク上に記録される再生信号レベルをヒストグラムで表したものである。図６における各ストライプがある程度の幅を有しており、図５におけるＡおよびＢの位置に再生光スポットが位置する時に得られる再生信号の値が含まれるストライプの度数が＋１される。図６の結果は、下記の表１に示す条件で求められている。データは、−１，０，１の３通りの値をとるので、Ｘｎ−１＋Ｙｎ−１＋Ｘｎ＋Ｙｎは、理想再生値−４〜４として、９個の整数をとる。図６に示すように、それぞれの理想再生値の頻度が最大となるが、実際の再生値は、理想再生値に対してばらついている。
【００３９】
【表１】
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【００４０】
理想再生値のそれぞれからのずれの分散をσ２−４〜σ２４とし、データの個数をＮ−４〜Ｎ４とし、信号のばらつきの程度を示すＶ−ジッタは、下記の数式によって定義される。図６の例は、例えばＶ−ジッタが２０．８％である。
【００４１】
【数１】
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【００４２】
また、再生信号を一部取り出したものと理想再生値を同時に表示させたものを図７に示す。図７において、×が理想再生値を示し、○が実際の再生値を示している。図７の縦軸が正規化された再生値を示し、その横軸がサンプリングポイント、すなわち、時間軸を示す。図８は、実際の再生信号から理想再生値を差し引いた誤差を示す。
【００４３】
記録補償のためのディスク再生時には、例えばディスク上に記録される全再生信号に関する図８に示すような誤差値が記憶演算装置６に蓄えられる。実際の再生信号そのものを蓄えるようにしても良い。この場合では、記録補正回路２において誤差値を演算する必要が有る。ここで、図５におけるＢで示す位置にスポットがある時の誤差をＣｎとする。
【００４４】
次に、記録補償を用いたカッティングを行う。記録信号発生器１からの記録したいデータは、−１，０，１の３個の値をとる、先のカッティングと同じ整数の列が記録補正回路２に供給される。記録補正回路２に対してＹｎのデータが供給される時に、同時に記録演算装置６からは、Ｃｎが記録補正回路２に対して供給される。すなわち、誤差をキャンセルする方向にエッジをシフトさせるような補正がなされる。
【００４５】
記録補正回路２から光変調器１２に供給される電気信号は、図９に示すように、エッジがＴ（Ｙｎ＋ＫＣｎ）変化している。ＫＣｎは、例えば８ビットで表される２５６通りの値をとりうる。エッジＹｎを補償するときに、エッジＺｎが既に補償されていることを考慮し、記憶されたデータから算出される補償量Ｃｎに１より小さい係数Ｋを乗じる。先のカッティングと同様に、ステップ状の電気信号は、ｏｎだった平均中心位置から丁度原盤の１回転後にｏｆｆの平均中心位置になるように制御されている。カッティングが終了したガラス原盤１４からマスタリング装置４を経て合成樹脂製のディスクが作成される。
【００４６】
この後、再生信号が評価され、例えば先のＶ−ジッタの値がある値以下になるまで、この処理が繰り返される。ここで、２回目以降の処理では、記憶演算装置６に蓄えられるＣｎの値が積算される。例えば４回の処理の繰り返し後の再生信号の度数分布を図１０に示す。図１０の例は、Ｖ−ジッタが１２．２％である。図６と図１０を比較すると判るように、Ｖ−ジッタが改善され、再生時のエラーを減少させることができる。
【００４７】
また、従来例では、エッジシフトの補正量Ｃｎを算出する時には、ある領域のデータ、例えばＸｎ，Ｙｎ，Ｚｎ，Ｗｎ，Ｘｎ−１，Ｙｎ−１，Ｚｎ−１，Ｗｎ−１が同じ場合に計算される符号間干渉が同じであり、１回転前の補償量を用いたとしてもトラックｎ＋１とその先のトラックの影響が考慮されない。しかしながら、この発明では、ディスク上のそれぞれのエッジの位置に対応する再生データを殆ど全て記憶し、符号間干渉のそれぞれのエッジに対して計算するので、ｎ番目のトラック上の各エッジに対してｎ−１以下のトラックだけでなく、ｎ＋１以上のトラック上のピットパターンの影響も考慮された符号間干渉を使うことになり、従来に比してより正確な記録補償を行うことができる。
【００４８】
この発明は、上述したこの発明の一実施形態等に限定されるものでは無く、この発明の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形や応用が可能である。例えば３値に限らず、５値のデータを記録するようにしても良い。また、原盤をカッティングするのに電子線を使用するようにしても良い。
【００４９】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、この発明によれば、ディスク上に存在するエッジの数とほぼ等しい数の補正量を記憶するようにしているので、各エッジのシフト量を独立に補正することができる。それによって、補正量を求める処理が収束するまでの時間を短縮化することができ、また、理想的再生値との誤差をより少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】先に提案されているピット配置の一例を示す略線図である。
【図２】この発明が適用可能な千鳥状のピット配置の一例を示す略線図である。
【図３】この発明による記録装置の一実施形態の構成を示すブロック図である。
【図４】この発明の一実施形態における記録信号とピット配列と再生スポットの関係を示す略線図である。
【図５】この発明の一実施形態におけるピット配列と再生スポットとの関係を示す略線図である。
【図６】補正前における再生信号の値のヒストグラムの一例を示す略線図である。
【図７】補正前における理想的再生値の時間変化と実際の再生値の時間変化とを表す略線図である。
【図８】補正前における理想的再生値の時間変化と実際の再生値の時間変化との誤差を表す略線図である。
【図９】この発明の一実施形態における補正を説明するための略線図である。
【図１０】補正後における再生信号の値のヒストグラムの一例を示す略線図である。
【符号の説明】
２・・・記録補正回路、３・・・カッティングマシン、４・・・マスタリング装置、５・・・再生装置、６・・・記憶演算装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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