(57)【要約】【課題】ゴミ検知結果から、ゴミの個数、ゴミの幅を検出する手段を設けて、全ての読み取り位置にゴミを検出した時でも、ゴミの個数、ゴミの幅から、できる限りゴミの影響のでない読み取り位置に設定し、従来よりも画像品質の劣化を低減させることを目的とする。【解決手段】原稿を光学的に走査する光走査手段と該光走査手段により得られた光学像を光電変換する光電変換手段とを含む画像読取装置を有し、原稿を自動的に給送する原稿給送装置を着脱自在な画像読取装置において、流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの有無を画素単位で検知する手段を有し、前記検知手段の検知結果に基づいて、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする。【選択図】        図１
2004173165.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を光学的に走査する光走査手段と該光走査手段により得られた光学像を光電変換する光電変換手段とを含む画像読取装置を有し、原稿を自動的に給送する原稿給送装置を着脱自在な画像読取装置において、
流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの有無を画素単位で検知する手段を有し、
前記検知手段の検知結果に基づいて、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像読取装置において、
前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第１のパラメータは、連続した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズを一個と数えた時の個数であり、
前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第２のパラメータは、前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査方向に連続した画素数を算出した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査幅であり、
前記第１のパラメータと前記第２のパラメータの関係から、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする読取装置。
【請求項３】
請求項２に記載の画像読取装置において、
前記第１のパラメータから、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項４】
請求項３に記載の画像読取装置において、
前記第１のパラメータが最小になる位置を前記画像読み取り位置として設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項５】
請求項２に記載の画像読取装置において、
前記第２のパラメータから、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項６】
請求項５に記載の画像読取装置において、
前記第２のパラメータの最大値が最小になる位置を前記画像読み取り位置として設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項７】
請求項２に記載の画像読取装置において、
前記第１のパラメータと前記第２のパラメータから、前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの総画素数を算出し、前記前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの総画素数が最小値になる位置を前記画像読み取り位置として設定することを特徴とする。
【請求項８】
請求項１に記載の画像読取装置において、
前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第３のパラメータは、Ｗ（Ｗは自然数）画素以上連続した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズを一個と数えた時の個数であり、
前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第４のパラメータは、前記Ｗ（Ｗは自然数）画素以上連続した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査方向に連続した画素数を算出した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査幅であり、
前記第３のパラメータと前記第４のパラメータから、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項９】
請求項８に記載の画像読取装置において、
前記第３のパラメータから、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の画像読取装置において、
前記第３のパラメータが最小値の位置を前記画像読み取り位置として設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項１１】
請求項８に記載の画像読取装置において、
前記第４のパラメータから、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の画像読取装置において、
前記第４のパラメータの最大値が最小になる位置を前記画像読み取り位置として設定することを特徴とする画像読取装置。
【請求項１３】
請求項８に記載の画像読取装置において、
前記第３のパラメータと前記第４のパラメータから、前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの総画素数を算出し、前記前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの総画素数が最小値になる位置を前記画像読み取り位置として設定することを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複写機、スキャナ、ファクシミリ装置等における画像読取技術に関し、特に、光走査部を停止させた状態で原稿を移動させながら原稿を読み取る場合に、ゴミに起因して発生する黒スジ画像の発生を起こしにくくし、且つ黒スジ画像を補正する時に画像品質の劣化を低減させる画像読取装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、複写機、スキャナ、ファクシミリ等の画像形成装置において、原稿に光を照射する光走査部を所定の原稿読取位置に停止させた状態で、原稿自動給送装置（ＡＤＦ：Ａｕｔｏ  Ｄｏｃｕｍｅｎｔ  Ｆｅｅｄｅｒ）により原稿を移動させながら原稿（原稿情報、原稿画像）を読取る所謂、流し読み機能を備えた装置が知られている。このＡＤＦは、一般にオプションで提供され、原稿読取装置本体に対して、着脱可能に構成されている。このような画像読み取り装置においては、画像読み取り部の光路上である原稿台ガラス上の一部にゴミや汚れがあると、読み取り画像に対する主走査位置に黒スジが発生してしまうという問題がある。
【０００３】
しかし、これまで上記の黒スジ発生を解決する方法としては、原稿台ガラス面を清掃する方法、あるいは、特開２００１−１４４９０１号公報のように原稿台ガラス上のゴミ、汚れに起因して発生する黒スジの発生を検知し、その結果に応じて流し読み読み取り位置を変更する方法、あるいは、特開２００２−７７５８４号公報のように原稿台ガラス上のゴミ、汚れに起因して発生する黒スジの発生を検知し、その結果に応じて読み取り画像の汚れ部分に相当する画素の値をその幅に応じて隣接する複数の画素の値を用いて補正する方法がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、設定された全ての読み取り位置にゴミを検出した時には、読み取り位置を変更しても黒スジは発生し、画像データを補正した時には画像品質の劣化がある。
【０００５】
そこで、本発明では、ゴミ検知結果から、ゴミの個数、ゴミの幅を検出する手段を設けて、全ての読み取り位置にゴミを検出した時でも、ゴミの個数、ゴミの幅から、できる限りゴミの影響のでない読み取り位置に設定し、従来よりも画像品質の劣化を低減させることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明は、原稿を光学的に走査する光走査手段と該光走査手段により得られた光学像を光電変換する光電変換手段とを含む画像読取装置を有し、原稿を自動的に給送する原稿給送装置を着脱自在な画像読取装置において、
流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの有無を画素単位で検知する手段を有し、
前記検知手段の検知結果に基づいて、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする。
【０００７】
上記目的を達成するために、請求項２記載の発明は、請求項１に記載の画像読取装置において、前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第１のパラメータは、連続した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズを一個と数えた時の個数であり、前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第２のパラメータは、前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査方向に連続した画素数を算出した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査幅であり、前記第１のパラメータと前記第２のパラメータの関係から、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする。
【０００８】
上記目的を達成するために、請求項８記載の発明は、請求項１に記載の画像読取装置において、前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第３のパラメータは、Ｗ（Ｗは自然数）画素以上連続した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズを一個と数えた時の個数であり、前記検知手段の検知結果に基づいて算出した第４のパラメータは、前記Ｗ（Ｗは自然数）画素以上連続した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査方向に連続した画素数を算出した前記流し読みガラス上に付着した汚れ、キズの各々の主走査幅であり、前記第３のパラメータと前記第４のパラメータから、前記画像読み取り位置を設定することを特徴とする
【０００９】
【発明の実施の形態】
［第１の実施の形態］
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００１０】
図１は本発明を適用した画像読取装置の概略構成を示す断面図であり、本画像読取装置は画像読取装置１００、この画像読取装置１００に対して着脱自在に構成されたＡＤＦ２００を有している。
【００１１】
ＡＤＦ２００は給紙トレー２０５にセットされた原稿を搬送ローラ２０３、２０４によって、画像読取装置１００の流し読みガラス１２２に搬送して回収する。この際原稿はＡＤＦ２００に取り付けられたプラテンローラ２０１と画像読取装置１００の流し読みガラス１２２との間を通過し、その通過過程で画像読取装置１００により光学的に走査されて原稿情報が読取られる。
【００１２】
すなわち、画像読取装置１００は、コンタクトイメージセンサ（以下ＣＩＳ）１１０を有し、そのＣＩＳ１１０には原稿面に対して光を照射するランプ１１１、ランプ１１１にて照射された光に対応する原稿からの反射光をイメージセンサに導くためのレンズ１１２、及び光電変換するためのイメージセンサ１１３がケーシング内１１４に一体に収められている。
【００１３】
また、ＣＩＳ１１０は図２のタイミングベルト１２６によって、モータ１２５と結ばれ、モータ１２５の回転駆動により、原稿台ガラス１２１、及び流し読みガラス１２２と平行に移動制御される。ポジションセンサ１２４はＣＩＳ１１０のホームポジション位置を検知するためのセンサであり、ポジションセンサ１２４の位置を基準としてモータ１２５を正転、逆転することにより、ＣＩＳ１１０を移動し、原稿台ガラス１２１、流し読みガラス台１２２上の原稿を光学的に走査する。
【００１４】
また、モータ１２５はステッピングモータにより構成されている。このモータ１２５にはエンコーダ４０２（図４参照）が接続されており、このエンコーダに出力により、ＣＩＳ１１０が何パルス分移動したかを認識できるようになっている。換言すれば、ポジションセンサ１２４とエンコーダ４０２からのエンコーダパルスにより、ＣＩＳ１１０の位置を把握することが可能となっている。
【００１５】
原稿からの反射光は、セルフォックレンズ１１２によって導かれ、イメージセンサ１１３に集光される。イメージセンサ１１３は、原稿情報を反映した上記反射光を光電変換し、電子的な画像信号として出力する。
【００１６】
このような構成のもとで、ＣＩＳ１１０を原稿読取位置に停止させた状態で、ＡＤＦ２００により原稿を搬送させながら原稿情報を読み取るＡＤＦ原稿読取モードと、原稿を原稿台ガラス１０６上に固定的に載置して、ＣＩＳ１１０を副走査方向に移動させながら原稿情報を読み取る原稿ガラス台原稿読取モードの２つのモードで原稿情報を読み取ることが出来る。
【００１７】
図３は本実施形態で使用するＣＩＳ１１０近傍の構成を示す図である。本実施例のＡＤＦ２００はプラテンローラ２０１の原稿搬送方向の上流側に、白色のシート部材２１０を備えている。この白色シート部材２１０は、流し読みガラス１２２と略平行に配置されている。また白色シート部材２１０がプラテンローラ２０１に最も近接する先端位置２１１は、ＣＩＳ１１０の読み取り方向、すなわち流し読みガラス１２２に垂直な方向からプラテンローラ２０１および白色シート部材２１０を見たとき、白色シート部材２１０が、ＣＩＳ１１０の主走査方向の画像読み取り範囲の略全域において、プラテンローラ２０１の一部を隠すように配置されている。さらに、ＡＤＦ原稿読取モード時の読取位置は、原稿が搬送されていない時には、プラテンローラ２０１表面が読み取られる位置に設定される。
【００１８】
図４は本画像読取装置の制御系の概略構成を示すブロック図である。原稿を搬送するプラテンローラ２０１、給紙ローラ２０２、搬送ローラ２０３、２０４、原稿面に光を照射するランプ１１１、ＣＩＳ１１０を副走査方向に移動し原稿を走査するモータ１２５、原稿面からの反射光を光電変換するイメージセンサ１１３、イメージセンサ１１３の出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路４０１、モータ１２５に接続されたエンコーダ４０２、ＣＩＳ１１０をホームポジションに位置決めするためのポジションセンサ１２４、及びスキャナコントローラ４０４を有している。
【００１９】
なお、スキャンコントローラは後述する図のフローチャートに対応するプログラム等の各種プログラムが格納されたＲＯＭ４０５を含んでいる。
【００２０】
図５は本画像読取装置のゴミ検知回路を含む画像データの流れを示す構成ブロック図である。原稿面からの反射光を光電変換するイメージセンサ１１３、イメージセンサ１１３の出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路４０１、シェーディング補正回路５０３、ゴミ検知回路５０９、ＣＰＵ４０６から大略構成されている。更に、上記ゴミ検知回路５０９はゴミ検知用２値化回路５０４、加算回路５０５、ラインメモリ５０６、ゴミ判定用２値化回路５０７、ゴミカウント回路５０８を備えている。
【００２１】
上記各部の機能を詳述すると、イメージセンサ１１３は原稿からの反射光に基づき光電変換を行い電気信号を出力する。Ａ／Ｄ変換回路４０１はイメージセンサ１１３より出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。シェーディング補正回路５０３はＡ／Ｄ変換回路４０１の出力に基づきシェーディング補正を行い、該シェーディング補正後の画像信号を読み取り画像信号として、ゴミ検知回路５０９のゴミ検知用２値化回路５０４に出力する。ゴミ検知用２値化回路５０４ではシェーディング補正後の画像信号を所定のゴミ検知閾値と比較して、２値化を行う。
【００２２】
加算回路５０５はゴミ検知用２値化回路５０４の出力とラインメモリ５０６の出力を加算する。ラインメモリ５０６は、画素毎の累積加算に係るデータを記憶する。ゴミ判定用２値化回路５０７は、画素毎の累積加算値と所定のゴミ判定閾値とを比較し、所定のゴミ判定閾値を超えた画素についてゴミ有りと検知する。ゴミカウント回路５０８はゴミ判定用２値化回路の出力に基づき、ゴミの個数とゴミの幅を検出することができる。ゴミの幅とは主走査方向にゴミ有りと判定された画素が何画素分連続であるかを示している。ゴミの個数をカウントする時には、幅のあるゴミについても一つとカウントする。
【００２３】
そして、Ｍ画素幅のゴミがＮ個（Ｍ、Ｎは自然数）あるという情報が出力される。ゴミ補正回路５１０はゴミ判定用２値化回路でゴミ有りと判定された画素について補正を行う回路である。ゴミと判定された画素の左右隣各１画素の正常な画素の値を参照して、線形補間をし、補正する。この補正を行うことにより画像品質の劣化は多少ある。ＣＰＵ４０６では、ゴミカウント回路５０８の出力から、ゴミの個数、ゴミの幅を考慮して最適な読取位置を設定する。最適な読取位置の算出については後述する。
【００２４】
図６は本画像読取装置のシーケンスを示すフローチャートである。ユーザーにより流し読みモードでスタートボタンが押されたら、ステップＳ６０１により公知のシェーディング補正を行い、ステップＳ６０２で前ＪＯＢにおいて設定された流し読み読取位置へ移動する。ステップＳ６０３のゴミ補正用ゴミ検知処理で原稿が来る前にプラテンローラ２０１を回転させた状態で、プラテンローラ２０１を読み取りゴミ検知処理を行う。そして、Ｓ６０４で原稿を読み取る。ステップＳ６０５で次原稿がある場合には、ステップＳ６０３へ行く。次原稿が無ければ、ステップＳ６０６において読み取り位置設定用ゴミ検知処理を行う。そして、ステップＳ６０６の結果を受けて、ステップＳ６０７において次ＪＯＢのための最適な読取位置を設定する。
【００２５】
上記のステップＳ６０３のゴミ補正用ゴミ検知について、図５を用いて説明する。現在の読み取り位置でプラテンローラ２０１を回転させた状態で行う。そして、プラテンローラ２０１を読み取り、イメージセンサ１１３により出力された信号はＡ／Ｄ変換器４０１によりデジタル信号に変換される。シェーディング補正回路５０３ではシェーディング補正が行われ、画像信号が出力される。次にゴミ検知回路５０９では、先ず、ゴミ検知用２値化回路５０４にて、上記シェーディング補正後の画像信号をゴミ検知閾値と比較することによることで２値化する。
【００２６】
但し、この際ゴミ検知閾値より小さな場合を“１”、大きな場合を“０”、と２値化するものとする。その後、加算回路５０５及びラインメモリ５０６により画素毎に累積加算される。累積加算は所定のライン数分行うが、累積加算の対象となるラインは連続したラインで行う場合とＸライン間隔の間欠ラインで行う場合とが考えられる。
【００２７】
このようにして２値化した画像データを画素毎に累積加算することで、ゴミ有りと判定した場合には核当する画素に対する累積加算値が大きな値となる。次にゴミ判定用２値化回路５０７ではこの画素毎の累積加算値をゴミ判定閾値と比較し、ゴミ判定閾値を超えた画素についてゴミ有りと判定する。ゴミ判定用２値化回路５０７でゴミ有りと判定された信号を受けてゴミ補正回路５１０では、原稿読み取り時にゴミ有りと判定された画素について補正を行う。ゴミ判定用２値化回路５０７において、ゴミと有りと判定されなかった場合には、ゴミ補正は行わない。
【００２８】
上記のステップＳ６０６の読み取り位置設定用ゴミ検知について図５と図７を用いて説明する。ステップＳ７０１において、ゴミ検知を行う時には原稿読取終了後、現在の読み取り位置でプラテンローラ２０１を回転させた状態で行う。そして、プラテンローラ２０１を読み取り、イメージセンサ１１３により出力された信号はＡ／Ｄ変換器４０１によりデジタル信号に変換される。シェーディング補正回路５０３ではシェーディング補正が行われ、画像信号が出力される。
【００２９】
次にゴミ検知回路５０９では、先ず、ゴミ検知用２値化回路５０４にて、上記シェーディング補正後の画像信号をゴミ検知閾値と比較することによることで２値化する。但し、この際ゴミ検知閾値より小さな場合を“１”、大きな場合を“０”、と２値化するものとする。その後、加算回路５０５及びラインメモリ５０６により画素毎に累積加算される。累積加算は所定のライン数分行うが、累積加算の対象となるラインは連続したラインで行う場合とＸライン間隔の間欠ラインで行う場合とが考えられる。
【００３０】
このようにして２値化した画像データを画素毎に累積加算することで、ゴミ有りと判定した場合には核当する画素に対する累積加算値が大きな値となる。次にゴミ判定用２値化回路５０７ではこの画素毎の累積加算値をゴミ判定閾値と比較し、ゴミ判定閾値を超えた画素についてゴミ有りと判定する。但し、この際ゴミ判定閾値より小さな場合を“０”、大きな場合を“１”、と２値化するものとする。
【００３１】
次に、ゴミカウント回路５０８において、ゴミ判定用２値化回路の出力に基づき、ゴミの個数とゴミの幅を検出する。Ｍ画素幅のゴミがＮ個（Ｍ、Ｎは自然数）あるという情報が出力される。例えば、１画素のゴミが４個、２画素のゴミが３個、３画素のゴミが０個、・・・のような情報が得られる。
【００３２】
次にステップＳ７０２でごみ化運と回路５０８の出力に基づいて、ゴミ有りと判定されなかった場合はそのままゴミ検知処理を終了し、次ＪＯＢも現在の読み取り位置で原稿を読み取る。ゴミ有りと判定された場合には、ステップＳ７０３において、設定されているＹ箇所の読み取り位置のうち全ての読み取り位置でゴミ有りと判定しているかを判断する。ゴミ検知処理を行っていない場所がある場合はステップＳ７０４で、まだゴミ検知処理の行われていない場所へ移動し、ステップＳ７０１のゴミ検知処理を行う。ゴミ検知処理をＹ箇所全てで行っていた場合にはゴミ検知処理を終了する。ここでは、Ｙ＝３とし、それぞれの隣接する読み取り位置間の距離は０．５ｍｍとする。
【００３３】
上記のステップＳ６０７の読み取り位置設定について説明する。Ｓ６０６のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの個数の少なかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定する。
【００３４】
また、上記のステップＳ６０７の読み取り位置設定をする時には、Ｓ６０６のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの幅のＭＡＸ値が一番小さかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００３５】
また、上記のステップＳ６０７の読み取り位置設定をする時には、Ｓ６０６のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの幅のＭＡＸ値が一番小さかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００３６】
また、上記のステップＳ６０７の読み取り位置設定をする時には、Ｓ６０６のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの総画素数の少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００３７】
また、上記のステップＳ６０７の読み取り位置設定をする時には、Ｓ６０６のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミ補正を行ったときに画像品質の劣化の少ない、Ｎ画素幅未満（Ｎは自然数）のゴミはカウントせずに、Ｎ画素幅以上のゴミの個数が少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００３８】
また、上記のステップＳ６０７の読み取り位置設定をする時には、Ｓ６０６のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミ補正を行ったときに画像品質の劣化の少ない、Ｎ画素幅未満（Ｎは自然数）のゴミ考慮せず、Ｎ画素幅以上のゴミの総画素数が少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００３９】
以上のようにＳ６０７の読み取り位置設定において、ゴミの個数、ゴミの幅から最適な読み取り位置を設定する。
【００４０】
［第２の実施の形態］
第２の実施の形態におけるゴミ検知回路を含む画像データの流れを示す構成ブロック図は第１の実施の形態におけるゴミ検知回路を含む画像データの流れを示す構成ブロック図と同様である。
【００４１】
図８は本発明の第２の実施の形態に係る画像読取装置のシーケンスを示すフローチャートである。ユーザーにより流し読みモードでスタートボタンが押されたら、ステップＳ８０１により公知のシェーディング補正を行い、ステップＳ８０２で前ＪＯＢにおいて設定された流し読み読取位置へ移動する。ステップＳ８０３の読み取り位置設定用ゴミ検知処理で原稿が来る前にプラテンローラ２０１を回転させた状態で、プラテンローラ２０１を読み取りゴミ検知処理を行う。そして、ステップＳ８０３の出力を受けて、Ｓ８０４で最適な読み取り位置を設定し移動する。次にステップＳ８０５でゴミ補正用ゴミ検知を行い、ステップＳ８０６で原稿を読み取る。ステップＳ８０７で次原稿がある場合には、ステップＳ８０６の原稿読み取りへ行く。次原稿が無ければ、終了する。
【００４２】
上記のステップＳ８０４の読み取り位置設定について説明する。Ｓ８０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの個数の少なかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定する。
【００４３】
また、上記のステップＳ８０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ８０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの幅のＭＡＸ値が一番小さかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００４４】
また、上記のステップＳ８０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ８０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの幅のＭＡＸ値が一番小さかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００４５】
また、上記のステップＳ８０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ８０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの総画素数の少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００４６】
また、上記のステップＳ８０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ８０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミ補正を行ったときに画像品質の劣化の少ない、Ｎ画素幅未満（Ｎは自然数）のゴミはカウントせずに、Ｎ画素幅以上のゴミの個数が少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００４７】
また、上記のステップＳ８０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ８０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミ補正を行ったときに画像品質の劣化の少ない、Ｎ画素幅未満（Ｎは自然数）のゴミ考慮せず、Ｎ画素幅以上のゴミの総画素数が少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００４８】
以上のようにＳ８０４の読み取り位置設定において、ゴミの個数、ゴミの幅から最適な読み取り位置を設定する。
【００４９】
［第３の実施の形態］
第３の実施の形態におけるゴミ検知回路を含む画像データの流れを示す構成ブロック図は第１の実施の形態におけるゴミ検知回路を含む画像データの流れを示す構成ブロック図と同様である。
【００５０】
図９は本発明の第３の実施の形態に係る画像読取装置のシーケンスを示すフローチャートである。ユーザーにより流し読みモードでスタートボタンが押されたら、ステップＳ９０１により公知のシェーディング補正を行い、ステップＳ９０２で前ＪＯＢにおいて設定された流し読み読取位置へ移動する。ステップＳ９０３の読み取り位置設定用ゴミ検知処理で原稿が来る前にプラテンローラ２０１を回転させた状態で、プラテンローラ２０１を読み取りゴミ検知処理を行う。そして、ステップＳ９０３の出力を受けて、Ｓ９０４で最適な読み取り位置を設定し移動する。次にステップＳ９０５でゴミ補正用ゴミ検知を行い、ステップＳ９０６で原稿を読み取る。ステップＳ９０７で次原稿がある場合には、ステップＳ９０３読み取り位置設定用ゴミ検知へ行く。次原稿が無ければ、終了する。
【００５１】
上記のステップＳ９０４の読み取り位置設定について説明する。Ｓ９０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの個数の少なかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定する。
【００５２】
また、上記のステップＳ９０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ９０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの幅のＭＡＸ値が一番小さかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００５３】
また、上記のステップＳ９０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ９０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの幅のＭＡＸ値が一番小さかった読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００５４】
また、上記のステップＳ９０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ９０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミの総画素数の少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００５５】
また、上記のステップＳ９０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ９０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミ補正を行ったときに画像品質の劣化の少ない、Ｎ画素幅未満（Ｎは自然数）のゴミはカウントせずに、Ｎ画素幅以上のゴミの個数が少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００５６】
また、上記のステップＳ９０４の読み取り位置設定をする時には、Ｓ９０３のゴミ検知処理の出力に基づいて、ゴミ補正を行ったときに画像品質の劣化の少ない、Ｎ画素幅未満（Ｎは自然数）のゴミ考慮せず、Ｎ画素幅以上のゴミの総画素数が少ない読み取り位置を次ＪＯＢの読み取り位置として設定してもよい。
【００５７】
以上のようにＳ９０４の読み取り位置設定において、ゴミの個数、ゴミの幅から最適な読み取り位置を設定する。
【００５８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、原稿を移動させながら原稿を読み取る流し読み時に、ゴミカウント手段を設け、異物又はキズの個数、及び、幅を算出し、前記異物又はキズの影響の少ない位置を画像読み取り位置とすることにより、流し読みガラス上の異物又はキズに起因して発生する黒スジの影響、あるいは、黒スジの発生により補正を行ったときにでも、画像品質の劣化を最小限に抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用した画像読取装置の概略構成を示す図である。
【図２】本発明を適用した画像読取装置の読取部の上視図である。
【図３】本発明を適用した画像読取装置の流し読み部の詳細断面図である。
【図４】図１の画像読取装置の制御系の構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の画像読取装置におけるゴミ検知回路を含む制御計の構成ブロック図である。
【図６】本発明の画像読取装置における第１の実施の形態の流し読み時のシーケンスを示すフローチャートである。
【図７】本発明の画像読取装置における読取位置設定用のゴミ検知処理時のシーケンスを示すフローチャートである。
【図８】本発明の画像読取装置における第２の実施の形態の流し読み時のシーケンスを示すフローチャートである。
【図９】本発明の画像読取装置における第３の実施の形態の流し読み時のシーケンスを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１００  画像読取装置
１１０  ＣＩＳ
１１１  ランプ
１１２  レンズ
１１３  イメージセンサ
１１４  ケーシング内
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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