(57)【要約】【解決手段】バインダー用の樹脂に導電粉として銀粉を導電性接着剤中３０〜９８重量％配合した導電性接着剤であって、前記銀粉として、一次粒子が扁平状の銀粉からなるタップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下の塊状凝集構造を有する銀粉を導電性接着剤中３０重量％以上含むことを特徴とする導電性接着剤。【効果】本発明によれば、導電性のみならず接着性、耐熱性、耐湿性、作業性及び熱伝導性等に優れた硬化物を与える導電性接着剤が得られる。【選択図】  なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
バインダー用の樹脂に導電粉として銀粉を導電性接着剤中３０〜９８重量％配合した導電性接着剤であって、前記銀粉として、一次粒子が扁平状の銀粉からなるタップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下の塊状凝集構造を有する銀粉を導電性接着剤中３０重量％以上含むことを特徴とする導電性接着剤。
【請求項２】
塊状凝集構造を有する銀粉が、滑剤で表面処理された扁平状の銀粉を分散させた溶剤と、塩基性化合物を含む溶剤とを混合し、滑剤を除去することにより得られるものであることを特徴とする請求項１記載の導電性接着剤。
【請求項３】
バインダー用樹脂が、熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項１又は２記載の導電性接着剤。
【請求項４】
バインダー用樹脂が、エポキシ樹脂、ポリアミック酸、ポリイミド樹脂、シリコーン樹脂及びその変性樹脂から選ばれる熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項３記載の導電性接着剤。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、導電性接着剤に関するものである。更に詳しくは、電子部品の組立時あるいは実装時等に使用される導電性接着剤に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
半導体装置の組立における半導体素子を金属フレームに接着させる工程、いわゆるダイボンディング工程において用いられる半導体素子とリードフレームの接合方式は、金−シリコン共晶に始まり、半田、導電性樹脂接着剤と推移してきた。現在では、主にＩＣ、ＬＳＩの組立においては導電性樹脂接着剤を、トランジスタ、ダイオード等のディスクリートにおいては半田を使用している。特にＩＣ、ＬＳＩ等の半導体装置においては、半導体素子の面積が大きいことから半田に比べてより低応力性の導電性樹脂接着剤を使用する方法が主に用いられている。一方、半田を主に使用しているダイオード、トランジスタ等のディスクリートでも、近年の環境問題から各半導体メーカーは半田に使用している鉛を使わない方向に動いており、ＩＣ、ＬＳＩに使用している導電性樹脂接着剤を使用しようとする動きがある。この導電性樹脂接着剤にはエポキシ樹脂中に鱗片状銀粉が分散されており、導電性を有しているものが使われてきた。
【０００３】
このような導電性樹脂接着剤に用いられる鱗片状銀粉は、通常の粒状銀粉をつぶして作られるため、加工歪み或は粉表面の酸化による劣化を防ぐためと、異常に大きな粗大一次粒子の生成を防ぐために滑剤が使用されていた。しかしこの時、用いた高級脂肪酸等からなる滑剤が銀の表面と強く結合し、得られた扁平状の銀粉末の表面に残存し、導電性の悪化を引き起こしていた。
【０００４】
また、こうした銀粉末は、微細な配線を形成できるように、粒径を微細にすればするほど、凝集が強く起こるため、バインダー樹脂に分散する時の分散性が悪くなり、塗膜にしたときの厚さにばらつきを生じたり、導電性接着剤の電気抵抗値がばらつくという問題があった。そこで通常、分散前にあらかじめ粉砕、分級等の処理を行ったり、分散性を向上させるために粉体を滑剤で処理することで凝集を防いだり、解凝集させるために混合時に大きな剪断作用をかけて分散させるといった工程が行われていた。
【０００５】
しかしながら、そのような処理に起因する歩留りの低下や加工費の増加がコストアップの原因となる上に、そのような処理を行って分散しても、分散しきれない凝集粒子が不均一に無制御の状態で存在してしまい、塗膜内での導電性のばらつきや、表面の凹凸により薄い電極層を印刷できないという問題をしばしば起こし、再現性よく分散性を向上させることは困難であり、特に低い電気抵抗と微細回路形成時の表面平滑性を両立させることは困難であり、品質的にも抜本的な対策にはなりえなかった。
【０００６】
とりわけ、分散性向上に大きな効果をもたらす滑剤は、これで処理した銀粉末を配合した接着剤組成物に、導電性だけでなく該組成物の硬化性にも悪い影響を及ぼすという問題があった。この粉末を配合した導電性接着剤を長時間貯蔵しておくと、該接着剤の硬化性が経時的に低下し、やがては該接着剤の硬化不良を引き起こしていた。このように、銀粉の高導電化、微細化は、接着剤を配合するときの分散の不良に由来する導電の悪化を引き起こし、低い電気抵抗を安定的に発現させることは極めて困難であった。
【０００７】
【特許文献１】
特願２００２−０７３９９０号
【特許文献２】
特開２００１−１０７１０１号公報
【特許文献３】
特開平９−０８２１３３号公報
【特許文献４】
特開平１１−１５８５０１号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、このような従来の問題を解決するためになされたものであり、低抵抗な電極や回路、ダイボンドを、加工性良好で、高信頼性で形成接着することができる導電性接着剤を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上記目的を達成するために種々の金属粉末を配合した導電性接着剤を試みた結果、滑剤を表面に持った扁平状の銀粉を原料として、これを分散させた溶剤と塩基性化合物を含む溶剤とを混合した後に洗浄するという方法により、銀粉から滑剤を除去すれば、タップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下と低く、大きさのそろった塊状の形状を持った凝集構造の銀粉を製造することができることを知見した。そして、この凝集構造の銀粉を特定量用いた導電性接着剤は、上記凝集構造の銀粉が容易に一次粒子に解凝集できるために高分散性で、銀粉の分散不良に由来する導電性の悪化を引き起こすことなく、安定した電気伝導性を発現できることを見出し、本発明をなすに至った。
【００１０】
即ち、本発明は、バインダー用の樹脂に導電粉として銀粉を導電性接着剤中３０〜９８重量％配合した導電性接着剤であって、前記銀粉として、一次粒子が扁平状の銀粉からなるタップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下の塊状凝集構造を有する銀粉を導電性接着剤中３０重量％以上含むことを特徴とする導電性接着剤を提供する。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明の導電性接着剤に用いる導電粉は銀粉であり、この銀粉は、一次粒子が扁平状の銀粉からなるタップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下の塊状凝集構造を有する銀粉を含むものである。本発明において、導電性接着剤中に含まれる銀粉の総含有量は３０〜９８重量％であり、また一次粒子が扁平状の銀粉からなるタップ密度１．５ｇ／ｃｍ3以下の塊状凝集構造を有する銀粉の含有量は導電性接着剤中３０重量％以上である。
【００１２】
ここで、タップ密度とは、嵩密度の一種で、しばしば嵩比重と同義的に用いられる。嵩密度の測定法は、粉体を一定の容器に充填した時、その重量を容積で割った値（ｇ／ｃｍ3）で求められる。粉体の充填時に振動を与えないで、できるだけ粗につめた時を嵩密度（Ｌｏｏｓｅ）といい、また振動を与えて、できるだけ密になるようにつめた時を嵩密度（Ｔａｐｐｅｄ）といい、これを一般にタップ密度と呼んでいる。
【００１３】
本発明の銀粉末は、純銀又は銀合金からなり、銀合金としては、銀を５０重量％以上、特に７０重量％以上含む銀−銅合金、銀−パラジウム合金が代表的であり、その他亜鉛、錫、マグネシウム、ニッケル等の金属を含有する銀合金が挙げられる。その銀粉末は、銀塩水溶液を還元剤により還元して得られたり（還元銀粉末）、電気分解により陰極上に析出して得られたり（電解銀粉末）、溶融金属を水中又は不活性ガス中に噴霧して得られる（アトマイズ銀粉末）。還元銀粉末は、硝酸銀水溶液をヒドラジン、ホルムアルデヒド、アスコルビン酸等の還元剤により還元して粒状に調製したものであり、電解銀粉末は、硝酸銀水溶液を電気分解により陰極上で樹枝状に析出したものである。また、アトマイズ銀粉末は、１０００℃以上に加熱溶融した溶融銀を、水中又は不活性ガス中に噴霧することにより調製したものである。
【００１４】
本発明に用いられる銀粉は、好ましくは一次粒子が平均粒径０．０１μｍ以上１０μｍ以下であり、更に好ましくは一次粒子の平均粒径が０．１〜５μｍの範囲である。０．０１μｍ未満の粉体を用いると表面に酸化物ができやすく、作製した導電性接着剤の導電性が悪化する場合があり、１０μｍを超える粉体を用いると作製した導電性接着剤の印刷性や表面の平滑性が悪くなる場合がある。なお、導電性銀粉の平均粒径は、レーザー法、沈降法等の一般的な粒度分布測定法で求めることができる。
【００１５】
本発明においては、粉体同士の接触点をあげて導電性をよくするため、扁平状の銀粉を用いる。扁平状とは、薄片状、鱗片状あるいはフレーク状と称するものもこれに含まれ、球状や塊状等の立体形状のものを一方向に押し潰した形状のものであり、扁平化率（以後、アスペクト比と表記する）により規定される。
【００１６】
アスペクト比とは、扁平状銀粉のある粒子の長径と短径の比率のうち最大のもの（最長径／最短径）をいう。アスペクト比を求めるための最長径や最短径は、ＳＥＭ観察などにより５０〜１００個程度の粉末粒子を観察し、実測あるいは、市販の画像解析装置を用いて求めればよい。本発明においては、粉末粒子のアスペクト比、即ち最長径／最短径が２／１以上、好ましくは３／１以上、特に５／１以上であることが望ましい。これ未満では、粒子間の接触による導電性の発現が十分でない。上限は特に規定されるものではないが、アスペクト比５００／１、特に１００／１程度である。
【００１７】
本発明における扁平状銀粉は、上記銀粉に滑剤を添加、混合した後、メカニカルアロイング装置、乾式ボールミル、ロール等による圧縮装置又は高速で固い物質に粉体を吹き付ける装置等を用いて機械的エネルギーを加えることにより製造することができる。なお、乾式ボールミルのように容器を用いて扁平状に変形する際、容器内を減圧するか又はアルゴンガス、窒素ガス等の非酸化性雰囲気中で処理すれば、粉体表面の酸化を防止できるので好ましい。
【００１８】
滑剤としては、ラウリン酸，ミリスチン酸，パルミチン酸，ステアリン酸，オレイン酸，アラキン酸，ベヘン酸等の飽和又は不飽和の高級脂肪酸；ラウリン酸アルミニウム，ステアリン酸アルミニウム，ラウリン酸亜鉛，ステアリン酸亜鉛等の金属石鹸；ステアリルアルコール等の高級脂肪族アルコール；高級脂肪族アルコールのエステル；ステアリルアミン等の高級脂肪族アミン；高級脂肪族アミド及びポリエチレンワックスの一種もしくは二種以上の混合物からなる滑剤、各種ワックスなどそれぞれの粉砕装置及び粉砕条件、扁平化装置及び扁平化条件に適したものが用いられる。滑剤の使用量としては、上記原料銀粉１００重量部に対して０．１〜５．０重量部用いられ、特に銀粉１００重量部に対して０．５〜２．０重量部用いられる。
【００１９】
引き続き、この扁平化した銀粉から以下の方法で滑剤を除去する。即ち、扁平状の銀粉を分散させた溶剤と、塩基性化合物を含む溶剤とを混合した後、その溶剤を濾別等により分離することで、滑剤を除去すると共に、上記扁平化銀粉を凝集させる。この条件を選ぶことで、タップ密度が低く、一次粒子に解凝集しやすいために高分散性になった、接着剤に加工しやすい塊状凝集構造の銀粉末にすることができる。
【００２０】
ここで、塩基性化合物としては、ナトリウム、カリウムなどのアルカリ金属あるいはマグネシウム、カルシウムなどのアルカリ土類金属の水酸化物、メトキサイド、エトキサイド、プロポキサイド、ブトキサイドなどのアルコキサイド等が挙げられ、中でもナトリウムメトキサイドを良好に用いうる。
【００２１】
溶剤としては、滑剤を溶解するものをそのまま、あるいは混合して使用することができ、例えば、ミネラルスピリット、ヘキサン、ヘプタン、シクロヘキサン、オクタン等の脂肪族炭化水素、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素、クロルベンゼン、トリクロルベンゼン、パークロルエチレン、トリクロルエチレン等のハロゲン化炭化水素、メタノール、エタノール、ｎ−プロピルアルコール、ｎ−ブタノール等のアルコール類、アセトン、ｎ−プロパノン、２−ブタノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸プロピル等のエステル類、テトラヒドロフラン、ジエチルエーテル、エチルプロピルエーテル等のエーテル類が挙げられる。水は、そのままでは銀粉を分散しにくいため、界面活性剤と組み合わせることにより使用しうる。望ましい溶媒としては、アルコール系溶媒やケトン類等の極性を持ち、銀粉に付着した滑剤の洗浄に適した溶媒を選択して用いればよい。また、扁平化銀粉を分散させる溶剤と塩基性化合物と混合する溶剤とは同一のものでも異なったものでもよい。
【００２２】
塩基性化合物の添加量は、銀粉１００重量部に対し、塩基性化合物を０．１〜２０重量部添加することが好ましく、更には塩基性化合物を０．２〜１０重量部添加することがより好ましい。塩基性化合物の添加量が０．１重量部未満では、滑剤の銀粉との分離時間が長くかかり、タップ密度が大きくなり、分散性が低下して滑剤の洗浄が不十分となる場合があり、２０重量部を超えると銀粉から塩基性化合物に由来するアルカリ金属あるいはアルカリ土類金属の洗浄・除去が不十分となる場合があり、更にはコストが高くなる。
【００２３】
滑剤の除去方法としては、まず、扁平状の銀粉を分散させた溶剤からなる第一溶液と、塩基性化合物を溶解させた溶剤からなる第二溶液とを別々に作製しておき、この第一溶液と第二溶液を温度１０〜６０℃、好ましくは１０〜３０℃に保ちながら撹拌混合する。この場合、上記扁平化銀粉の溶剤中での分散量は、５〜８０重量％、特に１０〜６０重量％が好ましく、また、塩基性化合物の溶剤中での濃度は、０．１〜１０重量％、特に０．５〜３．０重量％が好ましい。
【００２４】
ここで、バッチ式で実施する際の混合方法としては、反応槽中に銀粉末を入れておき、これに溶剤を添加・撹拌して製造した銀粉末分散溶媒に、塩基性化合物を溶解させた溶液を添加攪拌すればよい。添加時間は短時間、好ましくは１００秒間以内、より好ましくは数秒から数十秒程度の短時間とする。このように短時間で混合を完了させる理由は、混合を比較的長時間にわたって実施すると、両液が十分に混合拡散して反応系が最終的に所定の均一な濃度に達する前に凝集反応が部分的に完了してしまうことによりバッチ内の生成銀粒子が不均一になり、ひいては生成する銀粒子の凝集粒度分布及び凝集粒子形状、その他の凝集粉体物性が劣化することになるので、このことを防止するためである。連続式で実施する場合には、例えば、連続的に流動している銀粉末分散溶媒中に塩基性化合物溶液を添加して瞬時に混合させることが好ましい。
【００２５】
上記のようにしてバッチ式又は連続式で混合した後、攪拌して凝集反応を起こさせ、凝集銀粒子を析出させる。扁平化銀粉を分散させた溶剤と、塩基性化合物を含む溶剤の両溶液を混合すると凝集反応が始まり、両溶液全量混合後も凝集が終わるまで撹拌を続ける。この場合、反応時間は０．１〜１０時間、特に０．５〜２時間程度とすることが好ましい。反応の完了した混合液から生成した凝集銀粒子を、重力沈降法や吸引濾過法等の通常の固液分離法により分離する。更に洗浄等により粒子表面に付着した反応液の残留成分を除去し、その後に乾燥機等で十分に乾燥させる。
【００２６】
このようにして得られた内部に空隙を有する低い嵩比重の凝集構造の銀粉は、タップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下、特に０．１〜１．３ｇ／ｃｍ3、とりわけ０．３〜１．２ｇ／ｃｍ3の値であり、また平均粒径が１０μｍを超え１０００μｍ以下、特に１５〜８００μｍの塊状形状であることが好ましい。タップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3を超えると、解凝集が起こりにくくなり、分散性が悪くなる。
【００２７】
この塊状凝集構造の銀粉の凝集状態は、堅固なものではなく、外部からわずかな圧力を加えることで容易に一次粒子の分散状態にすることができる。このため、導電性接着剤に分散するとき、塊状凝集構造のため微細な一次粒子が周辺に飛散することなく混合することができ、タップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下という低い嵩比重の凝集構造のため、ロールや混練機のような通常の混合手法によるせん断力により一次粒子に解凝集され、結合剤であるバインダー樹脂と均一に混合することができる。
【００２８】
本発明の導電性接着剤中における銀粉の含有量としては、３０〜９８重量％、好ましくは５０〜９５重量％、より好ましくは６０〜９３重量％であり、このうち一次粒子が扁平状の銀粉からなるタップ密度が１．５ｇ／ｃｍ3以下の塊状凝集構造を有する銀粉の含有量は導電性接着剤中３０重量％以上（即ち、３０〜９８重量％）、通常３５〜９８重量％、好ましくは４０〜９５重量％、より好ましくは５０〜９３重量％である。全銀粉含有量が導電性接着剤中３０重量％未満だと十分な電導性を得ることはできず、一方９８重量％を超えると電導性には優れるものの、接着剤の物性が著しく低下し、接着力の低下を招いてしまう。また、導電性接着剤中の塊状凝集構造を有する銀粉含有量が３０重量％未満であると高充填化が難しくなり、低電気抵抗が得られない。
【００２９】
本発明に用いるバインダー用樹脂としては、特に限定されないが、熱硬化性樹脂であることが好ましく、例えばエポキシ樹脂、アクリレート樹脂、シアネート樹脂、ポリアミック酸、ポリイミド樹脂、ビスマレイミド樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂及びその変性樹脂などが挙げられる。これらの樹脂は、単独でも混合して用いてもよい。これらの熱硬化性樹脂の内で硬化剤を必要とするものについては、所望の特性に適合したものを適宜選択すればよく、またその他の添加剤についても配合することは任意であり、所望の特性に適合したものを適宜選択すればよい。半導体装置の耐湿性、耐熱性、耐熱衝撃性から、中でも好ましいのはエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、シリコーン樹脂及びその変性樹脂である。
【００３０】
本発明の導電性接着剤を樹脂ペーストとして使用する場合には、バインダー樹脂は室温にて液状であることが好ましいが、接着時に発泡が起こらない程度ならば溶剤に希釈した固形樹脂を用いることができる。樹脂ペーストには、バインダー樹脂に銀粉、必要に応じて硬化剤、硬化促進剤、シリカなどの充填剤、ＣＦシランなどの接着促進剤などの添加剤を用いることができる。ペーストの製造方法は、例えば各成分を自公転型混合機で予備混練した後、三本ロールを用いて混練して製造される。
【００３１】
本発明の導電性接着剤をシート状接着剤として使用する場合は、ペーストと同様、溶融あるいは溶剤に溶解したバインダー樹脂に銀粉、必要に応じて硬化剤、硬化促進剤、シリカなどの充填剤、ＣＦシランなどの接着促進剤等の添加剤を、自公転型混合機で予備混練した後、三本ロールを用いて混練してペーストを得る。そののちペーストを、ロールコーターなどでラミネートフィルム上に引き伸ばしてシート状に作製する。その後、溶剤乾固あるいはＢステージ化（半硬化）してシート状接着剤が得られる。
【００３２】
本発明の導電性接着剤を用いて製造される半導体装置は、その製造工程内に半導体素子とリードフレームを金線で繋ぐワイヤーボンディングという工程があり、この工程において１５０〜２５０℃の温度がかかるため、熱可塑性樹脂を用いた場合、この温度では軟化してしまい、半導体素子が外れてしまうおそれがあるため、熱硬化性樹脂でなければならないが、加熱、放射線照射、湿気硬化などの硬化方法は、硬化温度条件等の用途により使い分ければよい。
【００３３】
本発明の導電性接着剤は、半導体装置の組立における半導体素子を金属フレームに接着させる工程、いわゆるダイボンディング工程において用いられる半導体素子とリードフレームを接着させるダイボンド剤に最適であり、その他、絶縁材料として用いられる各種基板、各種フィルム等に塗布、印刷、ポッティングして導体を形成したり、スルーホール導通用、電極形成用、ジャンパ線用、ＥＭＩシールド用等の形成に用いることができる。また抵抗素子、チップ抵抗、チップコンデンサ等の電子部品と絶縁基材を接続する導電性接着剤、鉛レス半田代替材としても使用できる。
【００３４】
上記に示す各種基板としては、ポリイミド基板、紙フェノール基板、ガラスエポキシ基板、ホウロウ基板、セラミック基板等が挙げられ、また各種フィルムとしては、ポリエチレン、ポリカーボネート、塩化ビニル、ポリスチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルケトン、ポリエーテルイミド、ポリイミド等フレキシブルな樹脂性のフィルムが挙げられる。なお絶縁基材は、表面やスルーホールに、予め、めっき、印刷、蒸着、エッチング等の方法で導体や抵抗の一部を形成したものを用いてもよい。
【００３５】
【発明の効果】
本発明によれば、導電性のみならず接着性、耐熱性、耐湿性、作業性及び熱伝導性等に優れた硬化物を与える導電性接着剤が得られる。
【００３６】
【実施例】
以下、実施例及び比較例を示し、本発明を具体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるものではない。なお、下記例において、粘度は２３℃での値である。
【００３７】
［製造例１］  扁平銀粉Ａの製造
試薬特級の硝酸銀３４０ｇに対して純水７００ｍｌを添加し、ついで２５％のアンモニア水７００ｍｌを添加し、銀錯体水溶液を調製した。また、試薬特級のヒドロキノン１１１ｇと、試薬特級の無水亜硫酸カリウム１５９ｇと、純水１２．６Ｌとを配合して還元水溶液を調合した。
ビーカーに還元水溶液を入れ、激しく撹拌しながら上記銀錯体水溶液を添加した。このとき反応中は混合液の温度を２５℃の温度に一定に保った。添加終了後、十分な時間攪拌して還元析出を完了させた後に、析出した銀粉を濾過・分離し、水洗し、乾燥した。
この銀粉９８８ｇに、ステアリン酸を１２ｇ配合し、直径が２ｍｍのジルコニアボールと共にボールミルで３０分間回転させ、扁平化処理して扁平銀粉Ａ（平均粒径１０μｍ、アスペクト比５）を得た。この扁平銀粉は、わずかに不ぞろいの凝集が起こり、そのタップ密度は２．８ｇ／ｃｍ3であった。
【００３８】
［製造例２］  凝集銀粉Ｂの製造
該扁平銀粉Ａ１００ｇを０．５Ｌの回転タンクに入れ、イソプロピルアルコール１５０ｇを加え、１時間回転させてこれに分散させた。塩基性化合物としてナトリウムメトキサイドの２８％メタノール溶液１．５ｇに１０ｇのイソプロピルアルコールを加えたものを上記分散液にすばやく加えて激しく混合すると、銀粉表面の滑剤が遊離すると同時に凝集が起こり、約３０秒後に混合液全体が凝集・固化した。この後、回転タンクを３０分間回転攪拌し、反応を完結させた。
凝集銀粉は、ろ過により溶媒と分離した後、アセトンで十分に洗浄してナトリウムメトキサイドや滑剤を除いた後、５ｍｍＨｇの減圧下に５５℃で乾燥させた。この凝集粉体のタップ密度は０．７４ｇ／ｃｍ3であった。またその顕微鏡観察により、塊状の大きさのそろった均一な凝集が起っていることが観察された（凝集銀粉Ｂの平均粒径４０μｍ）。
【００３９】
［製造例３］  凝集銀粉Ｃの製造
扁平銀粉Ａ１００ｇを０．５Ｌの回転タンクに入れ、イソプロピルアルコール１５０ｇを加え、１時間回転させてこれに分散させた。塩基性化合物としてナトリウムメトキサイドの１０％メタノール溶液１．５ｇに１０ｇのイソプロピルアルコールを加えたものを上記分散液にすばやく加えて激しく混合すると、銀粉表面の滑剤が遊離すると同時に凝集が起こり、約３０秒後に混合液全体が凝集・固化した。この後、回転タンクを３０分間回転攪拌し、反応を完結させた。
凝集銀粉は、ろ過により溶媒と分離した後、アセトンで十分に洗浄してナトリウムメトキサイドや滑剤を除いた後、５ｍｍＨｇの減圧下に５５℃で乾燥させた。この凝集粉体のタップ密度は０．９５ｇ／ｃｍ3であった。またその顕微鏡観察により、塊状の大きさのそろった均一な凝集が起っていることが観察された（凝集銀粉Ｃの平均粒径６０μｍ）。
【００４０】
なお、この実施例で使用する原料化合物を下記の省略記号で示す。
ＢＰＤＡ：３，３’，４，４’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物
ＢＴＤＡ：３，３’，４，４’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物
ＤＰＥ：４，４’−ジアミノジフェニルエーテル
ＢＡＰＰ：２，２−ビス（４−（４−アミノフェノキシ）フェニル）プロパン
ＡＰＭ：１，３−ビス（３−アミノプロピル）−１，１，３，３−テトラメチルジシロキサン
【００４１】
［合成例１］  バインダー用樹脂の合成
撹拌機、温度計及び窒素置換装置を具備したフラスコ内にテトラカルボン酸二無水物成分としてＢＴＤＡ９．６６ｇ（０．０３ｍｏｌ）とＮ−メチル−２−ピロリドン３０ｇを仕込み、これにジアミン成分としてＤＰＥ６．００ｇ（０．０３ｍｏｌ）を含有するＮ−メチル−２−ピロリドン溶液１７．０ｇを反応系の温度が５０℃を超えないように調整しつつ徐々に滴下した。滴下終了後、更に室温で１２時間撹拌し、反応を促進させ、黄褐色透明のポリアミック酸の溶液を得た。この溶液の粘度は５０Ｐａ・ｓ、樹脂固形分は５０％であった。これをポリアミック酸溶液−１とする。
【００４２】
［合成例２］  バインダー用樹脂の合成
合成例１と同様の装置にＢＰＤＡ２９．４２ｇ（０．１０ｍｏｌ）、ＡＰＭ７．４６ｇ（０．０３ｍｏｌ）及びＢＡＰＰ２８．７３ｇ（０．０７ｍｏｌ）をシクロヘキサノン１９６．８ｇ中、室温で１２時間反応させて、ポリアミック酸溶液を得た。得られたポリアミック酸溶液にトルエン３０ｇを加え、Ｄｅａｎ−Ｓｔａｒｋトラップを付したジムロート冷却管を取り付け、１８０℃で８時間反応させて、ポリイミド樹脂溶液を合成した。この溶液の粘度は６６Ｐａ・ｓ、樹脂固形分は２５．３％であった。これをポリイミド溶液−１とする。
【００４３】
［実施例１］
ポリアミック酸溶液−１を１００重量部（内、ポリアミック酸樹脂固形分５０重量部）に対して凝集銀粉Ｂ２００重量部を均一に混合し、導電性ペーストを得た。ペーストの硬化は１５０℃、１時間、更に２５０℃、４時間で硬化を行なった。
【００４４】
［実施例２］
ポリアミック酸溶液−１を１００重量部（内、ポリアミック酸樹脂固形分５０重量部）に対して凝集銀粉Ｃ２００重量部を均一に混合し、導電性ペーストを得た。ペーストの硬化は１５０℃で１時間、更に２５０℃で４時間行なった。
【００４５】
［実施例３］
ポリイミド溶液−１を１００重量部（内、ポリイミド樹脂固形分２５．３重量部）に対して凝集銀粉Ｂ１００重量部を均一に混合し、テフロンフィルム上に塗布し、８０℃で１時間硬化させ、導電シート状接着剤を得た。シートの硬化は２５０℃で４時間行なった。
【００４６】
［実施例４］
液状エポキシ樹脂（ＲＥ−３１０、日本化薬社製商品名）５２．３重量部、酸無水物系エポキシ硬化剤（ＭＨ−７００、新日本理化社製商品名）４７．７重量部、凝集銀粉Ｂ３００重量部、イミダゾール系硬化触媒（２ＰＺ、四国化成社製商品名）１．０重量部を均一に混合し、導電性ペーストを得た。ペーストの硬化は１８０℃で４時間行なった。
【００４７】
［実施例５］
粘度２０００センチポイズの分子鎖両末端ジメチルビニルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン（ビニル基含有量＝０．２重量％）１００重量部、凝集銀粉Ｂ３００重量部、粘度３０センチポイズの分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンポリシロキサン（ケイ素原子結合水素原子含有量＝１．５重量％）１．０重量部、エポキシ基含有シロキサン（１，３，５，７−テトラメチルシクロテトラシロキサン１モルに対してアリルグリシジルエーテル１モルを部分付加したもの）１．０重量部、塩化白金酸のオクチルアルコール変性溶液（白金含有量２重量％）０．０５重量部、エチニルシクロヘキシルアルコール０．０１重量部を均一に混合して導電性ペーストを得た。ペーストの硬化は１５０℃で４時間行なった。
【００４８】
［比較例１］
ポリアミック酸溶液−１を１００重量部（内、ポリアミック酸樹脂固形分２５．１重量部）に対して扁平銀粉Ａ１００重量部を均一に混合し、導電性ペーストを得た。ペーストの硬化は１５０℃で１時間、更に２５０℃で４時間行なった。
【００４９】
上記６種の導電性接着剤に対して、所定の硬化を行い、０．１ｍｍのシートを作製し、体積抵抗率を以下の方法で測定した。
【００５０】
《体積抵抗率の測定方法》
図１に示したように、長さ１５０ｍｍ、幅２０ｍｍ、厚さ０．１ｍｍの試験片１を上部電極２及び下部電極３で挟む。上部電極２は、長さ３０ｍｍ、幅１５ｍｍ、厚さ５ｍｍの一対の電流端子２ａ，２ａをポリエチレンなどの絶縁物４に取り付け、その上に錘５を置いて上記電流端子２ａ，２ａに５ｋｇの重量が加わるようにする。一方、下部電極３は、長さ３０ｍｍ、幅１５ｍｍ、厚さ５ｍｍの一対の電流端子３ａ，３ａと長さ３０ｍｍ、幅５ｍｍの一対のナイフ状の電圧端子３ｂ，３ｂとからなり、これら電流端子３ａ，３ａは上記上部電極２の電流端子２ａ，２ａと互いに対向するように配置する。また、上記試験片１上には絶縁板６を介して０．５ｋｇの錘７が載置され、下部電極３は絶縁板８上にセットされる。この状態で上部電極２と下部電極３を接続し、体積抵抗率を測定する。
【００５１】
《耐湿信頼性の測定方法》
１０．０×８．０×０．３ｍｍの大きさのシリコンチップを６４ＰＩＮ−ＱＦＰフレーム（Ｎｉメッキ銅）に導電性接着剤を用いて、ダイボンダーで２００℃、５秒、５ｋｇで圧着、更に表１に示す所定の硬化温度時間で硬化接着を行った。
これらを、エポキシモールディングコンパウンド（ＫＭＣ−１１０：信越化学製）でトランスファー成型機により１８０℃，２分でＱＦＰを成型、１８０℃で４時間ポストキュアーした後、８５℃，８５％ＲＨの恒温恒湿槽中に７２時間放置したものを２６０℃のＩＲリフロー炉に１０秒間通し、樹脂クラック発生率を調べた。（ｎ＝２０）
【００５２】
【表１】
2004197030.tif 000002
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例における体積抵抗率の測定方法を説明する概略図である。
【符号の説明】
１  試験片
２  上部電極
３  下部電極
４  絶縁物
５  錘
６  絶縁板
７  錘
８  絶縁板
【図１】
2004197030.tif 000003