(57)【要約】【課題】各種設定パラメータを考慮した最適ストラテジを的確に決定することができるようにした光記情報記録方法および装置を提供する。【解決手段】ストラテジ回路１０２のストラテジを変更して異なるストラテジにより光ディスク１０上に少なくとも２回のテスト記録を行い、該テスト記録による記録パターンを再生し、この再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づきストラテジの各種設定パラメータに関するずれ量を記録ずれ検出部１１２で独立して検出し、この検出したずれ量とテスト記録に用いたストラテジとの関係から演算式導出部１１３で最適ストラテジを決定するための関数を導出し、この導出した関数に基づき最適ストラテジをストラテジ決定部１１４で決定する。【選択図】  図１
2004355727.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して情報を記録する光情報録方法において、
異なるライトストラテジを用いて記録パルスを光情報記録媒体上に照射して記録を行い、
前記異なるライトストラテジにより記録された異なる記録パターンを再生し、
該再生された信号間のずれ量に応じて新たなライトストラテジを決定し、
前記決定に従って記録データを記録パルスに変換して情報を記録する
ことを特徴とする光情報録方法。
【請求項２】
所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録装置において、
前記ストラテジ回路のライトストラテジの各種設定パラメータを変更してそれぞれ異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に少なくとも２回のテスト記録を行うテスト記録手段と、
前記テスト記録手段により記録された記録パターンを再生する再生手段と、
前記再生手段により再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づき前記ライトストラテジの各種設定パラメータに関するずれ量を独立して検出するずれ検出手段と、
前記ずれ検出手段により検出したずれ量と前記テスト記録に用いたライトストラテジとの関係から最適ライトストラテジを決定するストラテジ決定手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項３】
前記ずれ検出手段は、
固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの前側位相ずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項２記載の光情報記録装置。
【請求項４】
前記ずれ検出手段は、
可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの後側位相ずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項２記載の光情報記録装置。
【請求項５】
前記ずれ検出手段は、
可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記固定長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ランドに対応する各ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項２記載の光情報記録装置。
【請求項６】
前記ずれ検出手段は、
固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記可変長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ピットの長さずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項２記載の光情報記録装置。
【請求項７】
前記ストラテジ決定手段は、
前記ずれ検出手段により検出されたそれぞれのテスト記録におけるずれ量から最小二乗法に基づき最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする請求項２記載の光情報記録装置。
【請求項８】
前記ストラテジ決定手段は、
前記ずれ検出手段により検出した第１のライトストラテジＳ１によるテスト記録でのずれ量をＤ１、第２のライトストラテジＳ２によるテスト記録でのずれ量をＤ２とするとき、連立方程式
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
に基づき最適ライトストラテジＳを決定する
ことを特徴とする請求項１記載の光情報記録装置。
【請求項９】
前記ストラテジ決定手段は、
前記関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
から求めた補正テーブルを有し、該補正テーブルに基づき最適ライトストラテジＳを決定する
ことを特徴とする請求項２記載の光情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、所定のライトストラテジに基づき記録データを所望の記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録方法および装置に関し、特に、各種設定パラメータを考慮した最適ライトストラテジを決定することができるようにした光情報記録方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、光ディスク等の光情報録媒体に情報を記録する場合は、記録データをＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）方式で変調し、この変調信号に基づき記録パルスを形成し、この記録パルスで光ディスク上に照射されるレーザ光の強度等を制御して光ディスクの記録層にピットと呼ばれるマークを記録することにより行われる。
【０００３】
ここで、上記ピットとピットとの間に形成される非記録部はランドと呼ばれ、この各ピットの長さ、各ランドの長さにより上記変調信号に対応する記録パターンが光ディスク上に形成される。
【０００４】
ところで、上記記録層におけるピットの形成は、レーザ光の照射により発生する熱を利用して行われるので、その際の蓄熱効果、隣接するピットの形成に伴う熱干渉等を考慮して上記記録パルスを形成しないと、正確なピット長、ランド長の記録パターンを形成することができない。
【０００５】
そこで、上記記録パルスを形成するための各種パラメータの設定をライトストラテジ（以下、単にストラテジという）といい、光情報記録装置には、このストラテジを実行するためのストラテジ回路が設けられている。
【０００６】
このストラテジ回路により実行されるストラテジは、例えば、ピックアップのスポット径ばらつき、機構精度ばらつき等の光情報記録装置の個体差に依存するだけでなく、記録再生に使用する光ディスクのメーカ種別および記録スピードにも依存し、ここで、最適ストラテジが設定されていないと、再生時のジッタが大きくなり、正確な再生ができない。
【０００７】
これに対応するため、各メーカ種別に対応する光ディスクの最適ストラテジを求めて、これを各メーカ種別に対応して予めメモリに記憶し、光ディスクに対する情報の記録に際しては、光ディスクに記録されている光ディスクのメーカ種別を読み取り、この読み取ったメーカ種別に対応する最適ストラテジを上記メモリから読み出してストラテジ回路に設定する手法も提案されている。
【０００８】
しかし、上記手法によると、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録が可能になるが、メモリに記憶されていないメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録を行うことができず、また、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクであっても記録スピードが異なると、この場合も最適記録を行うことができない。
【０００９】
そこで、特許文献１、特許文献２に示されるように、記録条件毎に予めテスト記録を行い、このテスト記録に基づき最適ストラテジを決定することで各種光ディスクに対応できるようにした手法も提案されている。
【００１０】
【特許文献１】
特開平５−１４４００１号公報
【特許文献２】
特開平４−１３７２２４号公報
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来の技術においては、複数存在するストラテジの設定パラメータに対してどのパラメータをどの程度調整する必要があるかの判断はできず、このために各種パラメータに対応した最適ストラテジ設定を行うことができない。
【００１１】
すなわち、ストラテジの設定パラメータとしては、
１）記録パルスの前側位相補正
２）記録パルスの後側位相補正
３）熱干渉補正
４）記録マークの長さ補正
等があり、レーザービームの記録パワーや記録パルスのパルス幅等を調整することによりずれ量を補正することになるが、これらのずれ量を独立して判別することはできず、このために各種設定パラメータに対応した最適ストラテジを決定することができない。
【００１２】
そこで、この発明は、各種設定パラメータを考慮した最適ストラテジを的確に決定することができるようにした光記情報記録方法および装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して情報を記録する光情報録方法において、異なるライトストラテジを用いて記録パルスを光情報記録媒体上に照射して記録を行い、前記異なるライトストラテジにより記録された異なる記録パターンを再生し、該再生された信号間のずれ量に応じて新たなライトストラテジを決定し、前記決定に従って記録データを記録パルスに変換して情報を記録することを特徴とする。
【００１４】
また、請求項２の発明は、所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録装置において、前記ストラテジ回路のライトストラテジの各種設定パラメータを変更してそれぞれ異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に少なくとも２回のテスト記録を行うテスト記録手段と、前記テスト記録手段により記録された記録パターンを再生する再生手段と、前記再生手段により再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づき前記ライトストラテジの各種設定パラメータに関するずれ量を独立して検出するずれ検出手段と、前記ずれ検出手段により検出したずれ量と前記テスト記録に用いたライトストラテジとの関係から最適ライトストラテジを決定するストラテジ決定手段とを具備することを特徴とする。
【００１５】
また、請求項３の発明は、請求項２の発明において、前記ずれ検出手段は、固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの前側位相ずれ量を検出することを特徴とする。
【００１６】
また、請求項４の発明は、請求項２の発明において、前記ずれ検出手段は、可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの後側位相ずれ量を検出することを特徴とする。
【００１７】
また、請求項５の発明は、請求項２の発明において、前記ずれ検出手段は、可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記固定長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ランドに対応する各ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出することを特徴とする。
【００１８】
また、請求項６の発明は、請求項２の発明において、前記ずれ検出手段は、固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記可変長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ピットの長さずれ量を検出することを特徴とする。
【００１９】
また、請求項７の発明は、請求項２の発明において、前記ストラテジ決定手段は、前記ずれ検出手段により検出されたそれぞれのテスト記録におけるずれ量から最小二乗法に基づき最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【００２０】
また、請求項８の発明は、請求項２の発明において、前記ストラテジ決定手段は、前記ずれ検出手段により検出した第１のライトストラテジＳ１によるテスト記録でのずれ量をＤ１、第２のライトストラテジＳ２によるテスト記録でのずれ量をＤ２とするとき、連立方程式
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
に基づき最適ライトストラテジＳを決定することを特徴とする。
【００２１】
また、請求項９の発明は、請求項２の発明において、前記ストラテジ決定手段は、前記関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
から求めた補正テーブルを有し、該補正テーブルに基づき最適ライトストラテジＳを決定することを特徴とする。
【００２２】
【発明の実施の形態】
以下、この発明に係わる光情報記録方法および装置の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
【００２３】
図１は、この発明に係わる光情報記録装置および方法を適用して構成した光情報記録再生装置の要部を示すブロック図である。
【００２４】
図１において、この光情報記録再生装置は、レーザ発振器１０３から出力されたレーザ光を用いて光ディスク１０に対して情報の記録再生を行う。
【００２５】
光ディスク１０に対して情報の記録を行う場合は、所望の記録情報に対応した記録信号をエンコーダ１０１でＥＦＭ方式で符号化し、この符号化した記録データをストラテジ回路１０２に加える。
【００２６】
ここで、このストラテジ回路１０２には所定のストラテジの各種設定パラメータが設定されており、ストラテジ回路１０２では、このストラテジの各種設定パラメータにより所望の記録を行うべく記録データを補正してレーザ発振器１０３から出力されるレーザ光の強度を制御するための記録パルスを形成する。
【００２７】
ストラテジ回路１０２で形成された記録パルスは、レーザ発振器１０３に加えらえ、レーザ発振器１０３は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をレンズ１０４、ハーフミラー１０５、レンズ１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク１０に照射し、これにより光ディスク１０に上記記録データに対応したピット、ランドからなる記録パターンを記録する。
【００２８】
光ディスク１０上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザ発振器１０３から一様な再生レーザ光をレンズ１０４、ハーフミラー１０５、レンズ１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク１０に照射する。
【００２９】
この時の再生レーザ光は、記録時にレーザ発振器１０３から出力されるレーザ光よりも強度の弱い再生レーザ光が用いられ、この再生レーザ光による光ディスク１０からの反射光は、レンズ１０６、ハーフミラー１０５、レンズ１０７を介して受光部１０８で受光され、電気信号に変換される。
【００３０】
受光部１０８から出力される電気信号は、光ディスク１０に記録されたピット、ランドからなる記録パターンに対応している。この受光部１０８から出力される電気信号は、再生補償回路１０９で所定の補償処理がなされ、２値化回路１１０で２値化され、さらにデコーダ１１１で、デコードされて再生信号として出力される。
【００３１】
さて、この図１に示した光情報記録再生装置においては、ストラテジ回路１０２に対して最適ストラテジの各種パラメータを設定するために、光ディスク１０に対してストラテジの各種パラメータを変更して異なるストラテジにより所定の記録パターンを少なくとも２回記録するテスト記録を行う。
【００３２】
そして、このテスト記録パターンをその後再生して、記録ずれ検出部１１２で、２値化回路１１０から出力される特定の再生パターンの中の特定のランド若しくはピットの長さずれを測定することにより
１）記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量
２）記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量
３）熱干渉による記録パルスからのピットずれ量
４）記録パルスに対するピットの長さずれ量
をそれぞれ独立に検出する。
【００３３】
そして、演算式導出部１１３で、この記録ずれ検出部１１２で検出したずれ量とテスト記録の際に用いた少なくとも２つのストラテジに基づき、最適ストラテジを決定するための演算式を導出する。
【００３４】
ストラテジ決定部１１４では、この演算式導出部１１３で導出した最適ストラテジを決定するための演算式を用いてテスト記録に用いた光ディスク１０およびその記録条件に最適なレーザービームの記録パワーや記録パルスのパルス幅等を調整するためのストラテジを決定して、ストラテジ回路１０２に設定する。
【００３５】
次に、図１に示した記録ずれ検出部１１２における記録パルスに対する各種ずれの検出原理について説明する。
【００３６】
図２は、記録ずれ検出部１１２において記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【００３７】
この記録パターンは、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴが連続するパターンで、ピットＰｘＴのピット長およびランドＬｙＴのランド長を固定してピットＰｚＴのピット長を、図２（ａ）から図２（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと変化させたものである。
【００３８】
ここで、この記録パターンの固定長のランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定長のランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【００３９】
しかし、この固定長のランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｘＴのピット長は固定されているので、この固定長のランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する前側位相ずれ量に対応することになる。
【００４０】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部１１２において、固定長のランドＬｙＴの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスに対するピットＰｚＴ、すなわち、ピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの前側位相ずれ量を検出することができる。
【００４１】
図３は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【００４２】
図３において、図３（ａ）は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスＰを示し、図３（ｂ）、図３（ｃ）は、記録パルスＰの前側縁ＰＬＥに対するあるピット長のピットＰｚＴの前側位相ずれ量を示す。
【００４３】
ここで、図３（ｂ）、図３（ｃ）は、ストラテジをＳ１からＳ２に変更し、それぞれのストラテジＳ１、Ｓ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスＰからのピットＰｚＴの前側位相ずれ量Ｄ１およびＤ２を示している。
【００４４】
すなわち、図３（ｂ）は、ストラテジＳ１を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２でピットＰｚＴの前側は記録パルスＰの前側縁ＰＬＥからＤ１だけずれていると検出された場合を示し、図３（ｃ）は、ストラテジＳ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２で再生ピットＰｚＴの前側は記録パルスＰの前側縁ＰＬＥからＤ２だけずれていると検出された場合を示している。
【００４５】
図４は、記録ずれ検出部１１２において記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【００４６】
この記録パターンは、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴが連続するパターンで、ランドＬｙＴのランド長およびピットＰｚＴのピット長を固定してピットＰｘＴのピット長を、図４（ａ）から図４（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと変化させたものである。
【００４７】
ここで、この記録パターンの固定長のランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定長のランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【００４８】
しかし、この固定長のランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｚＴのピット長は固定されているので、この固定長のランドＬｙＴ長の理想の規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する後側位相ずれ量に対応することになる。
【００４９】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部１１２において、固定長のランドＬｙＴの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスに対するピットＰｘＴ、すなわち、ピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４の後側位相ずれ量を検出することができる。
【００５０】
図５は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの後側位相ずれの一例を示した図である。
【００５１】
図５において、図５（ａ）は、あるストラテジ設定値を用いて形成した記録パルスＰを示し、図５（ｂ）、図５（ｃ）は、記録パルスＰの後側縁ＰＴＥに対するあるピット長のピットＰｚＴの後側位相ずれを示す。
【００５２】
ここで、図５（ｂ）、図５（ｃ）は、ストラテジをＳ１からＳ２に変更し、それぞれのストラテジＳ１、Ｓ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスＰからのピットＰｘＴの後側位相ずれ量Ｄ１およびＤ２を示している。
【００５３】
すなわち、図５（ｂ）は、ストラテジＳ１を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２でピットＰｘＴの後側は記録パルスＰの後側縁ＰＴＥからＤ１だけずれていると検出された場合を示し、図５（ｃ）は、ストラテジＳ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２で再生ピットＰｘＴの後側は記録パルスＰの前側縁ＰＴＥからＤ２だけずれていると検出された場合を示している。
【００５４】
図６は、記録ずれ検出部１１２において熱干渉による記録パルスからのピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【００５５】
この記録パターンは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンで、ピットＰｙＴのピット長およびランドＬｚＴのランド長を固定してランドＬｘＴのランド長を、図６（ａ）から図６（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと変化させたものである。
【００５６】
ここで、この記録パターンの固定長のピットＰｙＴの長さを測定すると、この固定長の固定長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【００５７】
しかし、この固定長のピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この固定長のランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのランドＬ３Ｔ、Ｌ４Ｔ、・・・Ｌ１４Ｔのランドが先行するピットの記録パルスに対する前側位相ずれ、すなわち、前のピットの熱干渉による記録パルスからのピットずれ量に対応することになる。
【００５８】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部１１２において、固定長のピットＰｙＴの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスＰに対するピットＰｙＴの熱干渉による前側位相ずれ量を検出することができる。
【００５９】
図７は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対する熱干渉によるピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【００６０】
図７において、図７（ａ）は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスＰを示し、図７（ｂ）、図７（ｃ）は、記録パルスＰの前側縁ＰＬＥに対する熱干渉によるピットＰｙＴの前側位相ずれを示す。
【００６１】
ここで、図７（ｂ）、図７（ｃ）は、ストラテジをＳ１からＳ２に変更し、それぞれのストラテジＳ１、Ｓ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスＰからのピットＰｙＴの前側位相ずれ量Ｄ１およびＤ２を示している。
【００６２】
すなわち、図７（ｂ）は、ストラテジＳ１を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２でピットＰｙＴの前側は記録パルスＰの前側縁ＰＬＥからＤ１だけずれていると検出された場合を示し、図７（ｃ）は、ストラテジＳ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２で再生ピットＰｚＴの前側は記録パルスＰの前側縁ＰＬＥからＤ２だけずれていると検出された場合を示している。
【００６３】
図８は、記録ずれ検出部１１２において記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【００６４】
この記録パターンは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンで、ランドＬｘＴのランド長およびランドＬｚＴのランド長を固定してピットＰｙＴのピット長を、図８（ａ）から図８（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔと変化させたものである。
【００６５】
ここで、この記録パターンの可変長のピットＰｙＴの長さを測定すると、この可変長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態ではそれぞれ理想のピット長に対応するはずである。
【００６６】
しかし、この可変長のピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｘＴのランド長およびランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この可変長のピットＰｙＴの規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する長さずれ量に対応することになる。
【００６７】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部１１２において、可変長のピットＰｙＴの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスＰに対するピットＰｙＴの長さずれ量を検出することができる。
【００６８】
図９は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの長さずれの一例を示した図である。
【００６９】
図９において、図９（ａ）は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスＰを示し、図９（ｂ）、図９（ｃ）は、記録パルスＰに対するピットＰｙＴの長さずれを示す。
【００７０】
ここで、図９（ｂ）、図９（ｃ）は、ストラテジをＳ１からＳ２に変更し、それぞれのストラテジＳ１、Ｓ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスＰに対するピットＰｙＴの長さずれを示している。
【００７１】
すなわち、図９（ｂ）は、ストラテジＳ１を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２でピットＰｙＴの長さは記録パルスＰに対してＤ１１＋Ｄ１２＝Ｄ１だけずれていると検出された場合を示し、図９（ｃ）は、ストラテジＳ２を用いて形成した記録パルスＰを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部１１２でピットＰｚＴの長さは記録パルスＰに対してＤ２１＋Ｄ２２＝Ｄ２だけずれていると検出された場合を示している。
【００７２】
なお、図３、図５、図７、図９においては、記録パルスＰとして、メインパルスとこれに続く複数のサブパルスからなるマルチパルスを用いた場合を示している。
【００７３】
また、記録パルスとしては、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔのそれぞれに対応するピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔを形成する場合を示している。
【００７４】
ところで、上記記録ずれ検出部１１２で検出されるずれ量Ｄ１およびＤ２は、上述したように、ストラテジの各種設定パラメータにより変動する。そしてこのストラテジの各種設定パラメータにより変動するずれ量Ｄ１およびＤ２は、解析の結果ほぼ直線状に変化することが解明された。
【００７５】
すなわち、上記記録ずれ検出部１１２で検出されるそれぞれのテスト記録におけるずれ量は、最小二乗法に基づき近似された直線状の変化として捉えることができることになる。
【００７６】
そこで、この実施の形態の光情報記録再生装置においては、例えば、２回のテスト記録を行った場合には、ストラテジの各種設定パラメータと記録ずれ検出部１１２で検出した検出したずれ量Ｄ１およびＤ２との直線関係に着目して最適なストラテジを決定することができる。
【００７７】
図１０は、テスト記録に用いたストラテジＳと記録ずれ検出部１１２でこのテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Ｄとの関係の一例を示したものである。
【００７８】
このテスト記録に用いたストラテジＳと記録ずれ検出部１１２でこのテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Ｄとの関係は、特定長の記録ピットに関して図１０に示すようにほぼ直線ＰＴで近似できる。
【００７９】
したがって、この直線上の少なくとも２点、例えば、あるストラテジＳ１と記録ずれ検出部１１２でこのストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Ｄ１および他のストラテジＳ２と記録ずれ検出部１１２でこのストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Ｄ２とを求めれば、上記直線ＰＴを特定することができ、この直線ＰＴを用いて、例えば、ずれ量Ｄが零になる最適ストラテジＳを求めることができる。
【００８０】
具体的には、ストラテジＳを数点変化させたときの、記録ずれ検出部１１２で検出したずれ量Ｄを求め、このときストラテジＳおよびずれ量Ｄを直線を表す一般式
Ｄ＝ａ×Ｓ＋ｂ
の式に代入し、連立方程式を解くことにより定数ａ、ｂを求め、最終的に理想のずれ量Ｄに対応するストラテジＳを求め、このストラテジＳをストラテジ回路１０２に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。
【００８１】
例えば、記録ずれ検出部１１２であるストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ１、他のストラテジＳ２を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ２であるとすると、
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
を求め、この関数に、記録品位がを改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する。
【００８２】
なお、この最適ストラテジＳを求める関数（直線ＰＴ）は、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔに対応して求めることができる。また、この最適ストラテジＳを求める関数は、記録速度に対応してもそれぞれ求めることができる。
【００８３】
図１１は、このような各ピットに対応する最適ストラテジＳを求める関数の一例を示したものである。
【００８４】
図１１において、Ｐ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔは、それぞれピット長３Ｔ、４Ｔ、・・・１４Ｔに対応する最適ストラテジＳを求める関数に対応する。
【００８５】
上述した実施の形態においては、２回のテスト記録を行った場合の最適ストラテジを決定する際に、各テスト記録においてそれぞれのずれ量を検出し、最小二乗法により直線ＰＴを特定して最適ストラテジを決定する点について詳述しているが、これに限らず、３回もしくはそれ以上のテスト記録を行った場合にも、各々のテスト記録において検出される各ずれ量から、最小二乗法に基づいて直線ＰＴを特定し、最適ストラテジ設定値を決定することができる。
【００８６】
図１２は、最適ストラテジを設定するための図１に示した光情報記録再生装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【００８７】
図１に示した光情報記録再生装置において、あるメーカの光ディスクに対して所定の記録速度で情報を記録する場合の最適ストラテジを求めるためには、この光情報記録再生装置に上記光ディスクをセットし、上記所定の記録速度でテスト記録を行う。
【００８８】
このテスト記録は、まず、初期値のストラテジで１回目のテスト記録を行い（ステップ２０１）、次に、ストラテジを上記初期値から変更して上記初期値と異なるストラテジで２回目のテスト記録を行う（ステップ２０２）。
【００８９】
ここで、テスト記録に使用される領域としては、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒなどの光ディスクであれば、ＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）領域を用いてもよく、また、例えば、Ｚ−ＣＬＶ方式のような記録方式の光ディスクであれば、そのデータ記録領域の一部あるいは全部を用いてもよい。
【００９０】
上記テスト記録は、図２、図４、図６、図８に示す記録パターンのように、ピット長若しくはランド長を順次変えて行ってもよく、また、図２、図４、図６、図８に示す記録パターンが含まれるようなランダムな記録を行ってもよい。
【００９１】
次に、上記記録パターンを再生し（ステップ２０３）、再生したテスト記録の中の特定の再生パターンを抽出して、この特定の再生パターの中の記録ずれ量を記録ずれ検出部１１２で図３、図５、図７、図９に示すようにして検出する（ステップ２０４）。
【００９２】
そして、この記録ずれ検出部１１２で検出した記録ずれ量に基づき最適ストラテジを求めるための近似式を得る（ステップ２０５）。
【００９３】
この最適ストラテジを求めるための近似式を得る処理は、図１に示した演算式導出部１１３で行われ、具体的には、上述した最適ストラテジＳを求める関数を求める処理である。
【００９４】
次に、この近似式を用いて最適ストラテジを決定する（ステップ２０６）。この最適ストラテジを決定する処理は、図１に示したストラテジ決定部１１４で行われ、具体的には、上述した最適ストラテジＳを求める関数に記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する処理である。
【００９５】
なお、ここで、最適ストラテジＳを求める関数に記録品位を改善させるための出力づれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する処理に代えて、上記関数から求めた補正テーブルを用意し、この補正テーブルに基づき最適ストラテジＳを決定するように構成してもよい。
【００９６】
このようにしてストラテジ決定部１１４で決定した最適ストラテジＳは、図１に示したストラテジ回路１０２に設定され、これにより最適ストラテジの設定処理が終了する。
【００９７】
なお、上記最適ストラテジの設定処理は、光ディスクの種別を変更する毎および記録速度を変更する毎に行ってもよいが、上記最適ストラテジの設定処理で決定された最適ストラテジを光ディスクの種別および記録速度に対応してメモリに記憶しておき、再度同一の種別の光ディスクで同一の記録速度の記録を行う場合は、このメモリに記憶した最適ストラテジを読み出してストラテジ回路１０２に設定するように構成してもよい。
【００９８】
【発明の効果】
以上説明したようにこの発明によれば、ストラテジ回路のストラテジを変更して異なるストラテジにより光情報記録媒体上に少なくとも２回のテスト記録を行い、該テスト記録による記録パターンを再生し、該再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づきストラテジ設定値の各種設定パラメータに関するずれ量を独立して検出し、該検出したずれ量とテスト記録に用いたストラテジとの関係から最適ストラテジを決定するように構成したので、各種設定パラメータを考慮した最適ストラテジを容易に決定して設定することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明に係わる光情報記録方法および装置を適用して構成した光情報記録再生装置の要部を示すブロック図である。
【図２】図１に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図３】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【図４】図１に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図５】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの後側位相ずれの一例を示した図である。
【図６】図１に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において熱干渉による記録パルスからのピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図７】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対する熱干渉によるピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【図８】図１に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図９】あるストラテジ設定値を用いて形成した記録パルスに対するピットの長さずれの一例を示した図である。
【図１０】テスト記録に用いたストラテジＳとこのテスト記録の再生パターンから図１に示した光情報記録再生装置のずれ検出部で検出したずれ量Ｄとの関係の一例を示したグラフである。
【図１１】各ピットに対応する最適ストラテジＳを求める関数の一例を示したグラフである。
【図１２】最適ストラテジを設定するための図１に示した光情報記録再生装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０    光ディスク
１０１    エンコーダ
１０２    ストラテジ回路
１０３    レーザ発振器
１０４    レンズ
１０５    ハーフミラー
１０６    レンズ
１０７    レンズ
１０８    受光部
１０９    再生補償回路
１１０    ２値化回路
１１１    デコーダ
１１２    記録ずれ検出部
１１３    演算式導出部
１１４    ストラテジ決定部
【図１】
2004355727.tif 000003
【図２】
2004355727.tif 000004
【図３】
2004355727.tif 000005
【図４】
2004355727.tif 000006
【図５】
2004355727.tif 000007
【図６】
2004355727.tif 000008
【図７】
2004355727.tif 000009
【図８】
2004355727.tif 000010
【図９】
2004355727.tif 000011
【図１０】
2004355727.tif 000012
【図１１】
2004355727.tif 000013
【図１２】
2004355727.tif 000014