(57)【要約】【課題】高次収差だけでなく、低次収差を付加した場合の光学性能を評価し、例えばシュトレール比が大きく、及び／又は、位相ずれが少なくなるような低次収差量を算出し、そのときのＳ、Ｃ、Ａ等の補正矯正データを求めることでより自覚値に近い結果を得る。【解決手段】演算部は、被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求める（Ｓ４０１、Ｓ４０３）。演算部は、高次収差が所定値以上であるかどうかを判断する（Ｓ４０５）。演算部は、高次収差が所定値以上である場合に、所定値以上の高次収差に応じた低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求める（Ｓ４０７〜Ｓ４１７）ｋとにより、矯正データを求める（Ｓ４１９）。【選択図】　図６
2004089278.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
演算部は、被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求める第１ステップと、
演算部は、高次収差が所定値以上であるかどうかを判断する第２ステップと、演算部は、高次収差が所定値以上である場合に、所定値以上の高次収差に応じた低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求める第３ステップと
を含む矯正データ測定方法。
【請求項２】
上記第３ステップは、高次の球面収差又は非対称な高次のコマ様収差量が所定値以上である場合に、演算部が、デフォーカスに対応する低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１に記載の矯正データ測定方法。
【請求項３】
上記第３ステップは、高次の非点収差量が所定値以上である場合に、演算部が、乱視成分に相当する低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１に記載の矯正データ測定方法。
【請求項４】
上記第３ステップは、演算部が、ストレール比が高くなるように上記低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項２又は３のいずれか一つに記載の矯正データ測定方法。
【請求項５】
上記第３ステップは、演算部が、位相ずれが少なくなるように上記低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項２又は３のいずれかに記載の矯正データ測定方法。
【請求項６】
演算部が求めた矯正データをメモリに記憶する又は表示部に表示する第４ステップをさらに含む請求項１に記載の矯正データ測定方法。
【請求項７】
上記第４ステップは、演算部が求めた矯正データに基づき、ランドルト環又は任意の像の輝度分布画像を求め、表示部に表示することを含む請求項１に記載の矯正データ測定方法。
に記載の矯正データ測定方法。
【請求項８】
演算部は、被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求める第１ステップと、
演算部は、高次収差が所定値以上であるかどうかを判断する第２ステップと、演算部は、高次収差が所定値以上である場合に、所定値以上の高次収差に応じた低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求める第３ステップと
をコンピュータに実行させるための矯正データ測定プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【請求項９】
演算部は、被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求める第１ステップと、
演算部は、高次収差が所定値以上であるかどうかを判断する第２ステップと、演算部は、高次収差が所定値以上である場合に、所定値以上の高次収差に応じた低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求める第３ステップと
をコンピュータに実行させるための矯正データ測定プログラム。
【請求項１０】
第１受光部で得られた光束の傾き角に基づいて、ゼルニケ解析を行い被検眼の光学特性を求める演算部を備え、
上記演算部は、
被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求める第１手段と、
高次収差が所定値以上であるかどうかを判断する第２手段と、
高次収差が所定値以上である場合に、所定値以上の高次収差に応じた低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求める第３手段と
を有する矯正データ測定装置。
【請求項１１】
上記第３手段は、高次の球面収差又は非対称な高次のコマ様収差量が所定値以上である場合に、上記演算部が、デフォーカスに対応する低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１０に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１２】
上記第３手段は、高次の非点収差量が所定値以上である場合に、上記演算部が、乱視成分に相当する低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１０に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１３】
上記第３手段は、上記演算部が、ストレール比が高くなるように上記低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１１又は１２のいずれかに記載の矯正データ測定装置。
【請求項１４】
上記第３手段は、上記演算部が、位相ずれが少なくなるように上記低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求めることを特徴とする請求項１１又は１２のいずれか一つに記載の矯正データ測定装置。
【請求項１５】
上記演算部は、該演算部が求めた矯正データをメモリに記憶する又は表示部に表示する第４手段をさらに有する請求項１０に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１６】
上記第４手段は、上記演算部が求めた矯正データに基づき、ランドルト環又は任意の像の輝度分布画像を求め、表示部に表示することを含む請求項１５に記載の矯正データ測定装置。
【請求項１７】
第１波長の光束を発する第１光源を有し、該第１光源からの第１照明光束で被検眼眼底付近に集光するように照明するための第１照明光学系と、
被検眼眼底から反射した反射光束を少なくとも１７本のビームに変換する第１変換部材及び第１変換部材で変換された複数の光束を第１受光信号として受光する第１受光部を有し、該反射光束を上記第１受光部に導く第１受光光学系と
をさらに備え、
上記演算部が、第１受光信号を測定データとして受け取り、第１受光部で得られた光束の傾きに基づいて、ゼルニケ解析を行い被検眼の光学特性である低次収差と高次収差を求めるように構成したことを特徴とする請求項１０乃至１６記載の矯正データ測定装置。
【請求項１８】
被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求めるステップと、
求められた低次収差と高次収差とから、ストレール比と位相シフト（ＰＴＦ）との関係式を形成するステップと、
低次収差を変化させてストレール比を極大値に、かつ位相シフト（ＰＴＦ）が略ゼロとなる条件を求め、その時の低次収差量を矯正値とするステップ
を含む矯正データ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、適正な矯正データを測定するための矯正データ測定方法、測定装置、測定プログラムを記録した記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、眼の矯正データを測定するための技術として、レフラクトメータによるＳ（球面度数）、Ｃ（乱視度数）、Ａ（軸）の測定が行われている。また、最近は高次収差まで測定できる眼特性測定装置も開発され、レフラクトメータのような例えばφ３ｍｍのリングなどのような線上のＳ、Ｃ、Ａのみではなく、瞳孔径を様々な大きさにしたときの面上でのＳ、Ｃ、Ａを低次収差から算出できるようになった。このような、眼特性測定装置は、特に屈折矯正手術後や病眼などにおいてはレフラクトメータより眼鏡・コンタクト等の処方値に近い値が算出されるようになった（例えば、特願２００１−１１９１４５、特願２００１−１２０００２、特願２００１−１１９０８６、特願２０００−３１８５３４、等参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、従来の眼特性測定装置の他覚的算出結果と眼鏡・コンタクト・レンズ等の処方値には、まだなお差が生じる場合があり、Ｓ、Ｃ、Ａの評価としては不十分な場合があった。
そこで、本発明は、高次収差まで測定できる眼特性測定装置で測定した結果において、高次収差を含む場合には、他覚的な完全矯正時にあたる低次収差を補正矯正データとせずに、例えばシュトレール比や位相ずれにより光学性能を評価し、シュトレール比が大きく、及び／又は、位相ずれが少なくなるような低次収差量を算出し、そのときのＳ、Ｃ、Ａ等の補正矯正データを求めることでより最適な眼鏡・コンタクト等の処方値に近い矯正データを得ることを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明の第１の解決手段によると、
演算部は、被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求める第１ステップと、
演算部は、高次収差が所定値以上であるかどうかを判断する第２ステップと、演算部は、高次収差が所定値以上である場合に、所定値以上の高次収差に応じた低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求める第３ステップと
を含む矯正データ測定方法、これら各ステップをコンピュータに実行させるための矯正データ測定プログラム及び矯正データ測定プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体が提供される。
【０００５】
本発明の第２の解決手段によると、
第１受光部で得られた光束の傾き角に基づいて、ゼルニケ解析を行い被検眼の光学特性を求める演算部を備え、
上記演算部は、
被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求める第１手段と、
高次収差が所定値以上であるかどうかを判断する第２手段と、
高次収差が所定値以上である場合に、所定値以上の高次収差に応じた低次収差量を変化させ、被検眼に相応しい適正な矯正データを求める第３手段と
を有する矯正データ測定装置が提供される。
【０００６】
本発明の第３の解決手段によると、
被検眼の屈折力分布を示す測定データを受け取り、その測定データに基づき低次収差と高次収差を求めるステップと、
求められた低次収差と高次収差とから、ストレール比と位相シフト（ＰＴＦ）との関係式を形成するステップと、
低次収差を変化させてストレール比を極大値に、かつ位相シフト（ＰＴＦ）が略ゼロとなる条件を求め、その時の低次収差量を矯正値とするステップ
を含む矯正データ測定方法が提供される。
【０００７】
【発明の実施の形態】
１．　眼光学特性測定装置
図１は、眼光学特性測定装置の光学系１００の構成図である。
眼光学特性測定装置の光学系１００は、対象物である被測定眼６０の光学特性を測定する装置であって、第１照明光学系１０と、第１受光光学系２０と、第２受光光学系３０と、共通光学系４０と、調整用光学系５０と、第２照明光学系７０と、第２送光光学系８０とを備える。なお、被測定眼６０については、図中、網膜６１、角膜６２が示されている。
【０００８】
第１照明光学系１０は、例えば、第１波長の光束を発するための第１光源部１１と、集光レンズ１２とを備え、第１光源部１１からの光束で被測定眼６０の網膜（眼底）６１上の微小な領域を、その照明条件を適宜設定できるように照明するためのものである。なお、ここでは、一例として、第１光源部１１から発せられる照明用の光束の第１波長は、赤外域の波長（例えば、７８０ｎｍ）である。
【０００９】
また、第１光源部１１は、空間コヒーレンスが大きく、時間コヒーレンスが小さいものが望ましい。ここでは、第１光源部１１は、例えば、スーパールミネッセンスダイオード（ＳＬＤ）であって、輝度の高い点光源を得ることができる。なお、第１光源部１１は、ＳＬＤに限られるものではなく、例えば、空間コヒーレンス、時間コヒーレンスが大きいレーザー等であっても、回転拡散板等を挿入し、適度に時間コヒーレンスを下げることで、利用することができる。さらに、空間コヒーレンス、時間コヒーレンスが小さいＬＥＤであっても、光量さえ十分であれば、例えば、光路の光源の位置にピンホール等を挿入することで、利用することができる。
【００１０】
第１受光光学系２０は、例えば、コリメートレンズ２１と、被測定眼６０の網膜６１から反射して戻ってくる光束（第１光束）の一部を、少なくとも、１７本のビームに変換する変換部材であるハルトマン板２２と、このハルトマン板２２で変換された複数のビームを受光するための第１受光部２３とを備え、第１光束を第１受光部２３に導くためのものである。また、ここでは、第１受光部２３は、リードアウトノイズの少ないＣＣＤが採用されているが、ＣＣＤとしては、例えば、一般的な低ノイズタイプ、測定用の１０００＊１０００素子の冷却ＣＣＤ等、適宜のタイプのものを適用することができる。
【００１１】
第２照明光学系７０は、第２光源７２と、プラチドリング７１を備える。なお、第２光源７２を省略することもできる。プラチドリング（ＰＬＡＣＩＤＯ’ＳＤＩＳＣ）７１は、複数の同心輪帯からなるパターンの指標を投影するためのものである。なお、複数の同心輪帯からなるパターンの指標は、所定のパターンの指標の一例であり、他の適宜のパターンを用いることができる。そして、後述するアライメント調整が完了した後、複数の同心輪帯からなるパターンの指標を投影することができる。
【００１２】
第２送光光学系８０は、例えば、後述するアライメント調整及び座標原点、座標軸の測定・調整を主に行うものであって、第２波長の光束を発するための第２光源部３１と、集光レンズ３２と、ビームスプリッター３３を備える。
【００１３】
第２受光光学系３０は、集光レンズ３４、第２受光部３５を備える。第２受光光学系３０は、第２照明光学系７０から照明されたプラチドリング７１のパターンが、被測定眼６０の前眼部又は角膜６２から反射して戻ってくる光束（第２光束）を、第２受光部３５に導く。また、第２光源部３１から発せられ被測定眼６０の角膜６２から反射し、戻ってくる光束を第２受光部３５に導くこともできる。なお、第２光源部３１から発せられる光束の第２波長は、例えば、第１波長（ここでは、７８０ｎｍ）と異なると共に、長い波長を選択できる（例えば、９４０ｎｍ）。
【００１４】
共通光学系４０は、第１照明光学系１０から発せられる光束の光軸上に配され、第１及び第２照明光学系１０及び７０、第１及び第２受光光学系２０及び３０、第２送光光学系８０等に共通に含まれ得るものであり、例えば、アフォーカルレンズ４２と、ビームスプリッター４３、４５と、集光レンズ４４とを備える。また、ビームスプリッター４３は、第２光源部３１の波長を被測定眼６０に送光（反射）し、被測定眼６０の網膜６１から反射して戻ってくる第２光束を反射し、一方、第１光源部１１の波長を透過するようなミラー（例えば、ダイクロミックミラー）で形成される。ビームスプリッター４５は、第１光源部１１の光束を被測定眼６０に送光（反射）し、被測定眼６０の網膜６１から反射して戻ってくる第１光束を、透過するようなミラー（例えば、偏光ビームスプリッター）で形成される。このビームスプリッター４３、４５によって、第１及び２光束が、互いに他方の光学系に入りノイズとなることがない。
【００１５】
調整用光学系５０は、例えば、後述する作動距離調整を主に行うものであって、第３光源部５１と、第４光源部５５と、集光レンズ５２、５３と、第３受光部５４を備え、主に作動距離調整を行うものである。
【００１６】
第３照明光学系９０は、例えば、被検眼の固視や雲霧をさせるための視標を投影する光路を含むものであって、第３光源部（例えば、ランプ）９１、固視標９２、リレーレンズ９３を備える。第３光源部９１からの光束で固視標９２を眼底６１に照射することができ、被検眼６０にその像を観察させる。固視標９２と眼底６１とが第３照明光学系９０によって、共役な関係にある。
【００１７】
第６駆動部９１５は、例えば、第３照明光学系９０の固視標９２を移動させるものであり、図示しない適宜の移動手段に対して信号（１５）を出力すると共に、この移動手段を駆動する。これにより、第６駆動部９１５は、第３照明光学系９０の固視標９２の移動、調節を行うことができる。
【００１８】
つぎに、アライメント調整について説明する。アライメント調整は、主に、第２受光光学系３０及び第２送光光学系８０により実施される。
【００１９】
まず、第２光源部３１からの光束は、集光レンズ３２、ビームスプリッター３３、４３、アフォーカルレンズ４２を介して、対象物である被測定眼６０を略平行な光束で照明する。被測定眼６０の角膜６２で反射した反射光束は、あたかも角膜６２の曲率半径の１／２の点から射出したような発散光束として射出される。この発散光束は、アフォーカルレンズ４２、ビームスプリッター４３、３３及び集光レンズ３４を介して、第２受光部３５にスポット像として受光される。
【００２０】
ここで、この第２受光部３５上のスポット像を光軸上から外れている場合、眼光学特性測定装置本体を、上下左右に移動調整し、スポット像が光軸上と一致させる。このように、スポット像が光軸上と一致すると、アライメント調整は完了する。なお、アライメント調整は、被測定眼６０の角膜６２を第３光源部５１により照明し、この照明により得られた被測定眼６０の像が第２受光部３５上に形成されるので、この像を利用して瞳中心が光軸と一致するようにしてもよい。
【００２１】
つぎに、作動距離調整について説明する。作動距離調整は、主に、調整用光学系５０により実施される。
まず、作動距離調整は、例えば、第４光源部５５から射出された光軸付近の平行な光束を、被測定眼６０に向けて照射すると共に、この被測定眼６０から反射された光を、集光レンズ５２、５３を介して第３受光部５４で受光することにより行われる。また、被測定眼６０が適正な作動距離にある場合、第３受光部５４の光軸上に、第４光源部５５からのスポット像が形成される。一方、被測定眼６０が適正な作動距離から前後に外れた場合、第４光源部５５からのスポット像は、第３受光部５４の光軸より上又は下に形成される。なお、第３受光部５４は、第４光源部５５、光軸、第３受光部５４を含む面内での光束位置の変化を検出できればいいので、例えば、この面内に配された１次元ＣＣＤ、ポジションセンシングデバイス（ＰＳＤ）等を適用できる。
【００２２】
つぎに、第１照明光学系１０と第１受光光学系２０との位置関係を説明する。第１受光光学系２０には、ビームスプリッター４５が挿入されており、このビームスプリッター４５によって、第１照明光学系１０からの光は、被測定眼６０に送光されると共に、被測定眼６０からの反射光は、透過される。第１受光光学系２０に含まれる第１受光部２３は、変換部材であるハルトマン板２２を通過した光を受光し、受光信号を生成する。
【００２３】
また、第１光源部１１と被測定眼６０の網膜６１とは、共役な関係を形成している。被測定眼６０の網膜６１と第１受光部２３とは、共役である。また、ハルトマン板２２と被測定眼６０の瞳孔とは、共役な関係を形成している。さらに、第１受光光学系２０は、被測定眼６０の前眼部である角膜６２、及び瞳孔と、ハルトマン板２２と略共役な関係を形成している。すなわち、アフォーカルレンズ４２の前側焦点は、被測定眼６０の前眼部である角膜６２及び瞳孔と略一致している。
【００２４】
また、第１照明光学系１０と第１受光光学系２０は、第１光源部１１からの光束が、集光する点で反射されたとして、第１受光部２３での反射光による信号ピークが最大となるように、連動して移動する。具体的には、第１照明光学系１０と第１受光光学系２０は、第１受光部２３での信号ピークが大きくなる方向に移動し、信号ピークが最大となる位置で停止する。これにより、第１光源部１１からの光束は、被測定眼６０上で集光する。
【００２５】
また、レンズ１２は、光源１１の拡散光を平行光に変換する。絞り１４は、眼の瞳、あるいはハルトマンプレート２１と光学的に共役の位置にある。絞り１４は、径がハルトマンプレート２１の有効範囲より小さく、いわゆるシングルパスの収差計測（受光側だけに目の収差が影響する方法）が成り立つ様になっている。レンズ１３は、上記を満たすために、実光線の眼底共役点を前側焦点位置に、さらに、眼の瞳との共役関係を満たすために、後側焦点位置が絞り１４と一致するように配置されている。
【００２６】
また、光線１５は、光線２４とビームスプリッター４５で共通光路になった後は、近軸的には、光線２４と同じ進み方をする。但し、シングルパス測定のときは、それぞれの光線の径は違い、光線１５のビーム径は、光線２４に比べ、かなり細く設定される。具体的には、光線１５のビーム径は、例えば、眼の瞳位置で１ｍｍ程度、光線２４のビーム径は、７ｍｍ程度になることもある（なお、図中、光線１５のビームスプリッター４５から眼底６１までは省略している）。
【００２７】
つぎに、変換部材であるハルトマン板２２について説明する。
第１受光光学系２０に含まれるハルトマン板２２は、反射光束を複数のビームに変換する波面変換部材である。ここでは、ハルトマン板２２には、光軸と直交する面内に配された複数のマイクロフレネルレンズが適用されている。また、一般に、測定対象部（被測定眼６０）について、被測定眼６０の球面成分、３次の非点収差、その他の高次収差までも測定するには、被測定眼６０を介した少なくとも１７本のビームで測定する必要がある。
【００２８】
また、マイクロフレネルレンズは、光学素子であって、例えば、波長ごとの高さピッチの輪帯と、集光点と平行な出射に最適化されたブレーズとを備える。ここでのマイクロフレネルレンズは、例えば、半導体微細加工技術を応用した８レベルの光路長差を施したもので、高い集光率（例えば、９８％）を達成している。
【００２９】
また、被測定眼６０の網膜６１からの反射光は、アフォーカルレンズ４２、コリメートレンズ２１を通過し、ハルトマン板２２を介して、第１受光部２３上に集光する。したがって、ハルトマン板２２は、反射光束を少なくとも、１７本以上のビームに変換する波面変換部材を備える。
【００３０】
図２は、眼光学特性測定装置の電気系２００の構成図である。眼光学特性測定装置に関する電気系２００は、例えば、演算部２１０と、制御部２２０と、表示部２３０と、メモリ２４０と、第１駆動部２５０及び第２駆動部２６０とを備える。
【００３１】
演算部２１０は、第１受光部２３から得られる受光信号▲４▼、第２受光部３５から得られる受光信号▲７▼、第３受光部５４から得られる受光信号（１０）を入力すると共に、座標原点、座標軸、座標の移動、回転、全波面収差、角膜波面収差、ゼルニケ係数、収差係数、ストレール比（Ｓｔｒｅｈｌ比）、白色光ＭＴＦ、ランドルト環パターン等を演算する。また、このような演算結果に応じた信号を、電気駆動系の全体の制御を行う制御部２２０と、表示部２３０と、メモリ２４０とにそれぞれ出力する。なお、演算２１０の詳細は後述する。
【００３２】
制御部２２０は、演算部２１０からの制御信号に基づいて、第１光源部１１の点灯、消灯を制御したり、第１駆動部２５０及び第２駆動部２６０を制御するものであり、例えば、演算部２１０での演算結果に応じた信号に基づいて、第１光源部１１に対して信号▲１▼を出力し、プラチドリング７１に対して信号▲５▼を出力し、第２光源部３１に対して信号▲６▼を出力し、第３光源部５１に対して信号▲８▼を出力し、第４光源部５５に対して信号▲９▼を出力し、第５光源部９１に対して、信号（１１）を出力し、さらに、第１駆動部２５０及び第２駆動部２６０に対して信号を出力する。
【００３３】
第１駆動部２５０は、例えば、演算部２１０に入力された第１受光部２３からの受光信号▲４▼に基づいて、第１照明光学系１０全体を光軸方向に移動させるものであり、図示しない適宜のレンズ移動手段に対して信号▲２▼を出力すると共に、このレンズ移動手段を駆動する。これにより、第１駆動部２５０は、第１照明光学系１０の移動、調節を行うことができる。
【００３４】
第２駆動部２６０は、例えば、演算部２１０に入力された第１受光部２３からの受光信号▲４▼に基づいて、第１受光光学系２０全体を光軸方向に移動させるものであり、図示しない適宜のレンズ移動手段に対して信号▲３▼を出力すると共に、このレンズ移動手段を駆動する。これにより、第２駆動部２６０は、第１受光光学系２０の移動、調節を行うことができる。
【００３５】
２．ゼルニケ解析
つぎに、ゼルニケ解析について説明する。一般に知られているゼルニケ多項式からゼルニケ係数Ｃｉ２ｊ−ｉを算出する方法について説明する。ゼルニケ係数Ｃｉ２ｊ−ｉは、例えば、ハルトマン板２２を介して第１受光部２３で得られた光束の傾き角に基づいて被検眼６０の光学特性を把握するための重要なパラメータである。
被検眼６０の波面収差Ｗ（Ｘ，Ｙ）は、ゼルニケ係数Ｃｉ２ｊ−ｉ、ゼルニケ多項式Ｚｉ２ｊ−ｉを用いて次式で表される。
【００３６】
【数１】
2004089278.tif 000003
【００３７】
ただし、（Ｘ，Ｙ）はハルトマン板２２の縦横の座標である。
また、波面収差Ｗ（Ｘ，Ｙ）は、第１受光部２３の縦横の座標を（ｘ、ｙ）、ハルトマン板２２と第１受光部２３の距離をｆ、第１受光部２３で受光される点像の移動距離を（△ｘ、△ｙ）とすると、次式の関係が成り立つ。
【００３８】
【数２】
2004089278.tif 000004
【００３９】
【００４０】
【数３】
2004089278.tif 000005
【００４１】
ここで、ゼルニケ多項式Ｚｉ２ｊ−ｉは、以下の数式４及び数式５で表される。具体的には、図１３に、（ｒ，ｔ）座標のゼルニケ係数の図、及び、図１４に、（ｘ，ｙ）座標のゼルニケ係数の図をそれぞれ示す。
【００４２】
【数４】
2004089278.tif 000006
【００４３】
【００４４】
【数５】
2004089278.tif 000007
【００４５】
なお、ゼルニケ係数Ｃｉ２ｊ−ｉは、以下の数式６で表される自乗誤差を最小にすることにより具体的な値を得ることができる。
【００４６】
【数６】
2004089278.tif 000008
【００４７】
ただし、Ｗ（Ｘ、Ｙ）：波面収差、（Ｘ、Ｙ）：ハルトマン板座標、（△ｘ、△ｙ）：第１受光部２３で受光される点像の移動距離、ｆ：ハルトマン板２２と第１受光部２３との距離、ｍ：データ数。
演算部２１０は、ゼルニケ係数Ｃｉ２ｊ−ｉを算出し、これを用いて球面収差、コマ収差、非点収差等の眼光学特性を求める。
【００４８】
３．ランドルト環
図３に、ランドルト環の説明図を示す。
以下に、ランドルト環の輝度分布関数Ｌａｎｄ（ｘ，ｙ）のデータの作成について説明する。
【００４９】
ランドルト環は確認できる最小視角の逆数で表され、１分の視角を確認できる能力を、視力１．０という。例えば、確認できる最小視角が２分なら視力は１÷２で０．５、１０分なら１÷１０で０．１と定義されている。一般にランドルト環は、図に示すように外側のリングの大きさに対して１／５の大きさの隙間を空けたものを指標として用いる。
眼底に投影されるランドルト環の大きさｄは、視力Ｖのときに
【００５０】
【数７】
2004089278.tif 000009
（Ｒ：　瞳から像点（網膜）までの距離）
【００５１】
で計算できる。この式とランドルト環の定義をもとにランドルト環の黒い部分を０、白い部分を１としてランドルト環の輝度分布関数Ｌａｎｄ（ｘ，ｙ）を作成する。作成された輝度分布関数Ｌａｎｄ（ｘ，ｙ）のデータはメモリ２４０に記憶され、演算部２１０により読み出され、所定の視力に対応して設定される。
【００５２】
４．矯正データ測定方法
図４に、眼特性測定のフローチャートを示す。
まず、眼特性測定装置は、被検眼の瞳位置のＸ、Ｙ、Ｚ軸をアライメントする（Ｓ１０１）。次に、測定装置は、可動部の原点移動を行う（Ｓ１０３）。例えば、ハルトマン板やプラチドリング等をゼロディオプターに合わせる。演算部２１０は、測定された受光信号▲４▼、▲７▼及び／又は（１０）に基づき、全波面収差、ゼルニケ係数等の眼球光学系データを測定する（Ｓ１０５）。演算部２１０は、矯正画像シミュレーションを行う（Ｓ１０７）。この詳細は後述する。演算部２１０は、矯正画像シミュレーションデータ表示部２３０及びメモリ２４０に出力する（Ｓ１０９）。
【００５３】
図５に、上記ステップＳ１０７の矯正画像シミュレーションのフローチャートを示す。
演算部２１０は、最良画像条件を計算する（Ｓ２０１）。この詳細は後述するように、演算部２１０はストレール比が最大になるように、又は、位相シフトができる限りなくなるように、低次ゼルニケ係数を求め、補正矯正データを求める。補正矯正データとしては、例えば、デフォーカス（Ｄｅｆｏｃｕｓ）にあたる係数、乱視成分、Ｓ、Ｃ、Ａ、高次球面収差、高次非点収差、高次コマ収差、ストレール比等のうち適宜のデータが挙げられる。
演算部２１０は、最良画像条件時の波面収差Ｗ（ｘ，ｙ）を求め、そのＷ（ｘ，ｙ）から瞳関数ｆ（ｘ，ｙ）を次式により計算する（Ｓ２０３）。
【００５４】
【数８】
2004089278.tif 000010
【００５５】
演算部２１０は、ランドルト環（又は任意の像）の輝度分布関数Ｌａｎｄ（ｘ，ｙ）をメモリ２４０を参照して計算する（Ｓ２０５）。演算部２１０は、Ｌａｎｄ（ｘ，ｙ）を２次元フーリエ変換して空間周波数分布ＦＲ（ｕ，ｖ）を求める（Ｓ２０７）。演算部２１０は、ランドルト環（又は任意の像）の空間周波数分布ＦＲ（ｕ，ｖ）と眼球の空間周波数分布ＯＴＦ（ｕ，ｖ）を次式のように掛け合わせることで、眼の光学系通過後の周波数分布ＯＲ（ｕ，ｖ）を求める（Ｓ２０９）。
ＦＲ（ｕ，ｖ）×ＯＴＦ（ｕ，ｖ）→ＯＲ（ｕ，ｖ）
【００５６】
つぎに、演算部２１０は、ＯＲ（ｕ，ｖ）を２次元逆フーリエ変換してランドルト環（又は、任意の像）の輝度分布画像ＬａｎｄＩｍａｇｅ（Ｘ、Ｙ）を求める（Ｓ２１１）。演算部２１０は、ＬａｎｄＩｍａｇｅ（Ｘ、Ｙ）、ＰＳＦ（Ｘ，Ｙ）を表示部２３０に、図、グラフィックデータ、グラフ及び／又は数値等の適宜の表示方法で表示し、そのデータを適宜メモリ２４０に記憶する（Ｓ２１３）。演算部２１０は、補正矯正データを、必要に応じてメモリ２４０から読み出し、表示部２３０に出力する（Ｓ２１５）。
【００５７】
以下に、上述のステップＳ２０１についての詳細フローチャートの第１例及び第２例を説明する。
図６に、最良画像条件計算の第１例についてのフローチャートを示す。
まず、演算部２１０は、分岐条件として各収差量ＲＭＳｉ２ｊ−ｉの閾値を設定する（Ｓ４０１）。例えば、この閾値は、収差の十分小さい値（例、０．１）とすることができる。演算部２１０は、測定された検出波面からゼルニケの係数Ｃｉ２ｊ−ｉを算出し、次式により収差量ＲＭＳｉ２ｊ−ｉに変換する（Ｓ４０３）。
【００５８】
【数９】
2004089278.tif 000011
【００５９】
演算部２１０は、ＲＭＳｉ２ｊ−ｉ（ｉ＞２）の値の少なくともひとつが閾値以上であるか否か判断する（Ｓ４０５）。ここでＮｏと判断された場合、ステップＳ４１９に進む。一方、ここでＹｅｓと判断されると次の処理を演算部２１０は実行する。
【００６０】
すなわち、演算部２１０は、高次球面収差量Ｒ４０、Ｒ６０・・・の少なくともひとつが閾値以上であるか判断する（Ｓ４０７）。ここでＹｅｓの場合、演算部２１０は、ストレール比が最大となるように収差にデフォーカスにあたる係数（Ｃ２０）を変化させ（Ｓ４０９）、一方、Ｎｏの場合は、ステップＳ４１１に進む。つぎに、演算部２１０は、非対称である高次コマ様収差成分ＲＭＳｉ２ｊ−ｉ（ｉ：奇数）の少なくともひとつが閾値以上であるか判断する（Ｓ４１１）。ここで、Ｙｅｓの場合、演算部２１０は、ストレール比が最大となるように収差にデフォーカスにあたる係数（Ｃ２０）を変化させ（Ｓ４１３）、一方、Ｎｏの場合はステップＳ４１５に進む。さらに、演算部２１０は、高次非点収差量ＲＭＳｉ２ｊ−ｉ（ｉ：偶数、かつ２ｊ−ｉ≠０）の少なくともひとつが閾値以上であるか判断する（Ｓ４１５）。ここで、Ｙｅｓの場合、演算部２１０は、ストレール比が最大となるように収差に乱視成分（Ｃ２−２、Ｃ２２）を加え（Ｓ４１７）、一方、Ｎｏの場合ステップＳ４１９に進む。
【００６１】
こうして、演算部２１０は、収差からＯＴＦ（ｕ，ｖ）、ＰＳＦ（Ｘ，Ｙ）を算出し、さらにゼルニケ係数から補正矯正データ（デフォーカスにあたる係数、乱視成分、Ｓ、Ｃ、Ａ、高次球面収差、高次非点収差、高次コマ収差、ストレール比等の適宜のデータ）を算出し、メモリ２４０に蓄えておく（Ｓ４１９）。
【００６２】
なお、デフォーカス、乱視成分のうち所望の成分のみ補正するように、各ステップＳ４０７及びＳ４０９、Ｓ４１１及びＳ４１３，Ｓ４１５及びＳ４１７、の組のいずれかを省略してもよいし、また、これら以外の適宜の高次収差又はゼルニケ係数を補正するようにステップを追加してもよい。例えば、４次の球面収差が高次収差に主として含まれている場合に、低次収差に相当するデフォーカス量を増加させる方向に補正することで補正矯正データを得ることができる。
【００６３】
つぎに、ステップＳ４０９、Ｓ４１３、Ｓ４１７の詳細処理について説明する。各ステップにおいて、演算部２１０は、次のように処理を実行する。
ゼルニケ係数から算出される他覚的な完全矯正時の波面は、次式で表される。
【００６４】
【数１０】
2004089278.tif 000012
【００６５】
演算部２１０は、より最適な像面を求めるためにフローで１つ前に注目した高次収差量（ＲＭＳ４０、ＲＭＳ６０・・・）の閾値から高次収差量と同程度の収差量分の今注目している各ステップにおける低次ゼルニケ係数Ｃｉ２ｊ−ｉ（１≦ｉ≦２）を波面収差Ｗ（ｘ，ｙ）に加える。例えば、ステップＳ４０９ではＣ２０、ステップＳ４１３ではＣ２０、ステップＳ４１７ではＣ２−２、Ｃ２２である。
【００６６】
【数１１】
2004089278.tif 000013
【００６７】
さらに瞳関数ｆ（ｘ，ｙ）は波面収差から以下のように求める。
ｆ（ｘ，ｙ）＝ｅｉｋＷ（ｘ，ｙ）
（ｉ：虚数、ｋ：波数ベクトル（２π／λ）、λ：波長）
演算部２１０は、この瞳関数ｆ（ｘ，ｙ）をフーリエ変換することにより点像の振幅分布Ｕ（ｕ，ｖ）が次式のように求める。
【００６８】
【数１２】
2004089278.tif 000014
（λ：波長
Ｒ：瞳から像点（網膜）までの距離
（ｕ，ｖ）：像点Ｏを原点とし，光軸に直行する面内での座標値
（ｘ，ｙ）：瞳面内の座標値　）
【００６９】
演算部２１０は、Ｕ（ｕ，ｖ）とその複素共役を掛けて、次式により点像強度分布（ＰＳＦ）であるＩ（ｕ，ｖ）を求める。
Ｉ（ｕ，ｖ）＝Ｕ（ｕ，ｖ）Ｕ＊（ｕ，ｖ）
【００７０】
また、ストレール比は、無収差（Ｗ（ｘ，ｙ）＝０）のときのＰＳＦの中心強度をＩ０（０，０）とすると、
ストレール比＝Ｉ（０，０）／Ｉ０（０，０）
で定義されている。
第１の例では、演算部２１０は、ストレール比の値が最大になるような低次ゼルニケ係数Ｃｉｊ（１≦ｉ≦２）の値を再帰的、或いは解析的に求める。
【００７１】
つぎに、図７に、最良画像条件計算の第２の例についてのフローチャートを示す。
まず、演算部２１０は、分岐条件として各収差量ＲＭＳｉ２ｊ−ｉの閾値を設定する（Ｓ５０１）。例えば、この閾値は、収差の十分小さい値（例、０．１）とする。
【００７２】
演算部２１０は、測定された検出波面からゼルニケの係数Ｃｉ２ｊ−ｉを算出し、第１例で示した式により収差量ＲＭＳｉ２ｊ−ｉに変換する（Ｓ５０３）。演算部２１０は、ＲＭＳｉ２ｊ−ｉ（ｉ＞２）の値の少なくともひとつが閾値以上であるか否か判断する（Ｓ５０５）。ここで、Ｎｏと判断された場合、ステップＳ５１９に進む。一方、ここでＹｅｓと判断されると次の処理を演算部２１０は実行する。
【００７３】
すなわち、演算部２１０は、高次球面収差量Ｒ４０、Ｒ６０・・・の少なくともひとつが閾値以上であるか判断する（Ｓ５０７）。ここで、Ｙｅｓの場合、演算部２１０は、位相シフトができる限りなくなるように収差にデフォーカスにあたる係数（Ｃ２０）を変化させ（Ｓ５０９）、一方、Ｎｏの場合は、ステップＳ５１１に進む。つぎに、演算部２１０は、高次コマ様収差成分ＲＭＳｉ２ｊ−ｉ（ｉ：奇数）の少なくともひとつが閾値以上であるか判断する（Ｓ５１１）。ここで、Ｙｅｓの場合、演算部２１０は、位相シフトができる限りなくなるように収差にデフォーカスにあたる係数（Ｃ２０）を変化させ（Ｓ５１３）、一方、Ｎｏの場合はステップＳ５１５に進む。さらに、演算部２１０は、高次非点収差量ＲＭＳｉ２ｊ−ｉ（ｉ：偶数、かつｊ≠０）の少なくともひとつが閾値以上であるか判断する（Ｓ５１５）。ここで、Ｙｅｓの場合、演算部２１０は、ストレール比が最大となるように収差に乱視成分（Ｃ２−２、Ｃ２２）を加え（Ｓ５１７）、一方Ｎｏの場合ステップＳ５１９に進む。
【００７４】
こうして、演算部２１０は、収差からＯＴＦ（ｕ，ｖ）、ＰＳＦ（Ｘ，Ｙ）を算出し、さらにゼルニケ係数から補正矯正データ（デフォーカスにあたる係数、乱視成分、Ｓ、Ｃ、Ａ、高次球面収差、高次非点収差、高次コマ収差、ストレール比等の適宜のデータ）を算出し、メモリ２４０に蓄えておく（Ｓ５１９）。
【００７５】
なお、デフォーカス、乱視成分のうち所望の成分のみ補正するように、各ステップＳ５０７及びＳ５０９、Ｓ５１１及びＳ５１３，Ｓ５１５及びＳ５１７、の組のいずれかを省略してもよいし、また、これら以外の適宜の高次収差又はゼルニケ係数を補正するようにステップを追加してもよい。
【００７６】
つぎに、ステップＳ５０９、Ｓ５１３、Ｓ５１７の詳細処理について説明する。演算部２１０は、次のように処理を実行する。
まず、ステップＳ４０９、Ｓ４１３、Ｓ４１７の詳細処理で説明したように、演算部２１０はゼルニケ係数から算出される他覚的な完全矯正時の波面の式から、点像強度分布（ＰＳＦ）を求める。つぎに、演算部２１０は、次式のように、ＰＳＦをフーリエ変換（又は自己相関）して規格化することによりＯＴＦを求める。
【００７７】
【数１３】
2004089278.tif 000015
【００７８】
一般に空間周波数領域の振幅と位相の分布Ｒ（ｒ，ｓ）は複素数になり、実数部Ａ（ｒ，ｓ）、虚数部Ｂ（ｒ，ｓ）とすれば、
Ｒ（ｒ，ｓ）＝Ａ（ｒ，ｓ）＋ｉＢ（ｒ，ｓ）
となり、位相のずれ（位相シフト、ＰＴＦ）は、
【００７９】
【数１４】
2004089278.tif 000016
【００８０】
で計算できる。第２の例では、演算部２１０は、このＲ（ｒ，ｓ）が極値を持つ値をできる限り高周波に持っていくような即ち、位相シフトができる限りなくなるような低次ゼルニケ係数Ｃｉ２ｊ−ｉの値を再帰的、或いは解析的に求める。
【００８１】
なお、上述した最良画像条件計算の第１例及び第２例は、両方の処理を実行するようにしてストレール比が大きく且つ位相ずれが少ない条件を求めるようにしてもよい。
【００８２】
５．表示例
図８は、最良画像表示−ストレール最適化（瞳径４ｍｍ）について、数値データとして、補正矯正データの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、乱視軸角度Ａｘと、補正矯正前の測定値の球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、乱視軸角度Ａｘを表示している。この例では、高次収差成分が所定値以上あるため、補正矯正データと測定値との数値に差が生じている。
【００８３】
図８は、最良画像表示−ＰＴＦ最適化（瞳径４ｍｍ）について、数値データとして、補正矯正データの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、乱視軸角度Ａｘと、補正矯正前の測定値の球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、乱視軸角度Ａｘを表示している。この例では、高次収差成分が所定値以上あるため、補正矯正データと測定値との数値に差が生じている。
【００８４】
これらの図では、波面収差、ＰＳＦ、ＯＴＦ、ＯＴＦ（二次元表示）、Ｓ、Ｃ、ＡＸ、ランドルト環、指標の見え具合等が表示部に表示されている。
【００８５】
図１０は、補正前と補正後の比較（瞳径４ｍｍ）についての表示例を示す図である。この図では、補正前後の波面収差、ランドルト環の見え方、ストレール比が表示される。図示のように、ストレール比は補正後の方が高く、波面収差を比較的均一に近づけ、ランドルト環も比較的良く見えることが示される。
【００８６】
図１１に、眼鏡、コンタクト用の処方データ例（瞳径４ｍｍ）の説明図を示す。図１２に、屈折矯正手術用データ例（瞳径４ｍｍ）の説明図を示す。
これら各データは、演算部２１０よりメモリ２４０に記憶され、及び／又は、表示部２３０に表示される。この例は、ＳＣＡのみを補正矯正データとする屈折矯正手術を行う場合のデータでは、補正矯正データ中Ｓの値を強くして、Ｃの値を弱くＡの軸方向を若干変化させる矯正することにより、ストレール比が高くなり、矯正効果が高くなることが示される。
【００８７】
本発明の変形例を以下に説明する。
この変形例は、図５のＳ２０１における最良画像条件の計算方法を変形したものである。
ヤコビアン行列Ａのｉ行ｊ列成分は、
【００８８】
【数１５】
2004089278.tif 000017
【００８９】
である。ここで、ｆｉ（ｘ）は、ストレール比や適当な周波数に対応するＰＴＦや、複数の周波数に対応するＰＴＦの幾つかの値だったりする。また、ストレール比とＰＴＦの組み合わせでもよい。またベクトルｘは、調整可能なパラメータで、ここでは、球面度（またはそれに対応するデフォーカス）と２つの乱視が対応する。
【００９０】
すでに、ストレール比やＰＴＦの計算式は与えてある。ストレール比は、１が理想である。
ｆ１（ｘ）＝ｆＳ（ｈｃ，ｃ２０，ｃ２−２，ｃ２２）　　　　　（２）
がストレール比を表すものとする。ここで、ｆ１は式（１）内の同表示の式を表す。
【００９１】
また、例えばＰＴＦとして、空間周波数が３ｃｐｄ、６ｃｐｄ、１２ｃｐｄ、１８ｃｐｄに対応する値をとり、これは、０が理想であり、
ｆ２（ｘ）＝ｆＰＴＦ３（ｈｃ，ｃ２０，ｃ２−２，ｃ２２）　　　　（３）
ｆ３（ｘ）＝ｆＰＴＦ６（ｈｃ，ｃ２０，ｃ２−２，ｃ２２）　　　　（４）
ｆ４（ｘ）＝ｆＰＴＦ１２（ｈｃ，ｃ２０，ｃ２−２，ｃ２２）　　　（５）
ｆ５（ｘ）＝ｆＰＴＦ１８（ｈｃ，ｃ２０，ｃ２−２，ｃ２２）　　　（６）
としておく。式（２）、（３）、（４）、（５）、（６）で、ｈｃは高次収差係数のベクトル、ｃ２０は球面度に関連するデフォーカス項の係数、ｃ２−２、ｃ２２は乱視に関係する項の係数である。ｈｃは波面収差計側で与えられ、ここでは定数である。よって、残りの３つの係数をパラメータベクトルｘとして適当に動かし、ｆｓを極小値に導くことがここでのタスクである。
【００９２】
ここで、１式の偏微分は、パラメータをわずかに動かし変化表を作ることで、計算でき、この系でのヤコビアン行列が求められることになる。
【００９３】
さて、ここでのタスクをもう一度言いなおすと、ヤコビアン、つまり偏微分係数の分かっている場合の、非線形の最適化をすれば良いので、ニュートン法系の最適化アルゴリズムを利用すれば、例題としては単純なので、解を得るのはたやすい。修正Ｍａｒｑｕａｒｄｔ法による具体的な解法を述べると、修正ベクトルΔｘは、
（ＡｔＷＡ＋λＩ）Δｘ＝ＡｔＷ（ｙ−ｆ（ｘ））　　　　　（７）
によりもとめることができる。ここで、行列の肩のｔは転置行列をあらわし、Ｗは重み行列である。ｙは最初の要素がストレールに対応し、あとはＰＴＦの４成分に対応するので（１，０，０，０，０）ｔとすればよい。λはダンピングファクターと呼ばれ、最初は大きめにとり、その後最適化の進み方で小さくしていく。
【００９４】
【数１６】
2004089278.tif 000018
【００９５】
で、添え字はｆの添え字に対応している。たとえば、ストレール比を重点的に最適化したいときは、ｗ１を大きくする、など、処方の目的にかなった、重み付けを自由にすることが可能である。式（７）を何回か適用し、
Ｓ＝Ｗ（ｙ−ｆ（ｘ））　　　　　（９）
が適当に小さくなったら（収束条件を満たしたら）計算をやめ、そのときのｘを、解とする。これで、最適な球面度、２つの乱視度がもとめられたことになる。
【００９６】
なお、最良画像条件計算は、ストレール比が極大または位相シフト（ＰＴＦ）が略ゼロとなる位置を、デフォーカス量および／または乱視成分を微少量変化させながら、探すことにより行うこともできる。また良く知られているニュートンの方法を用いて、ストレール比が極大または位相シフト（ＰＴＦ）が略ゼロとなる位置を求めるように構成することもできる。
【００９７】
６．付記
本発明の矯正データ測定方法又は矯正データ測定の装置・システムは、その各手順をコンピュータに実行させるための矯正データ測定プログラム、矯正データ測定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、矯正データ測定プログラムを含みコンピュータの内部メモリにロード可能なプログラム製品、そのプログラムを含むサーバ等のコンピュータ、等により提供されることができる。
【００９８】
被検眼の屈折力分布を示す測定データは、図１で示す光学系１００により求めているがこれに限定されるものでなく、他のアベロメータ等により構成することができる。
【００９９】
【発明の効果】
本発明は、以上のように、高次収差まで測定できる眼特性測定装置で測定した結果から、他覚的な完全矯正時にあたる高次収差のみの場合だけでなく、低次収差を付加した場合の、例えばシュトレール比や位相ずれにより光学性能を評価し、例えばシュトレール比が大きく、及び／又は、位相ずれが少なくなるような低次収差量を算出し、そのときのＳ、Ｃ、Ａ等の補正矯正データを求めることでより自覚値に近い結果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】眼光学特性測定装置の光学系１００の構成図。
【図２】眼光学特性測定装置の電気系２００の構成図。
【図３】ランドルト環の説明図。
【図４】眼特性測定のフローチャート。
【図５】ステップＳ１０７の矯正画像シミュレーションのフローチャート。
【図６】最良画像条件計算の第１例についてのフローチャート。
【図７】最良画像条件計算の第２の例についてのフローチャート。
【図８】最良画像表示−ストレール最適化（瞳径４ｍｍ）についての表示例を示す図。
【図９】最良画像表示−ＰＴＦ最適化（瞳径４ｍｍ）についての表示例を示す図。
【図１０】低次矯正と高次を加味した矯正の比較（瞳径４ｍｍ）についての表示例を示す図。
【図１１】眼鏡、コンタクト用の処方データ例（瞳径４ｍｍ）の説明図。
【図１２】屈折矯正手術用データ例（瞳径４ｍｍ）の説明図。
【図１３】（ｒ，ｔ）座標のゼルニケ係数の図。
【図１４】（ｘ，ｙ）座標のゼルニケ係数の図。
【符号の説明】
１０　　第１照明光学系
１１、３１、５１、５５　第１〜４光源部
１２、３２、３４、４４、５２、５３　集光レンズ
２０　　第１受光光学系
２１　　コリメートレンズ
２２　　ハルトマン板
２３、３５、５４　第１〜３受光部
３０　　第２受光光学系
３３、４３、４５　ビームスプリッター
４０　　共通光学系
４２　　アフォーカルレンズ
５０　　調整用光学系
６０　　被検眼
７０　　第２照明光学系
７１　　プラチドリング
８０　　第２送光光学系
１００　眼科測定装置の光学系
２００　眼科測定装置の電気系
２１０　演算部
２２０　制御部
２３０　表示部
２４０　メモリ
２５０　第１駆動部
２６０　第２駆動部
【図１】
2004089278.tif 000019
【図２】
2004089278.tif 000020
【図３】
2004089278.tif 000021
【図４】
2004089278.tif 000022
【図５】
2004089278.tif 000023
【図６】
2004089278.tif 000024
【図７】
2004089278.tif 000025
【図８】
2004089278.tif 000026
【図９】
2004089278.tif 000027
【図１０】
2004089278.tif 000028
【図１１】
2004089278.tif 000029
【図１２】
2004089278.tif 000030
【図１３】
2004089278.tif 000031
【図１４】
2004089278.tif 000032