(57)【要約】【課題】            顕微鏡において、重畳画像における各個別（構成）画像の間の不所望のズレが生じないようにすること。【解決手段】          結像光路に配置可能な検光要素を備えた透過光干渉コントラスト装置を有する顕微鏡において、結像方向に関し前記検光要素（１）の直後に後置される２つのガラス楔プレート（２、３）を有し、前記２つのガラス楔プレート（２、３）は、該２つのガラス楔プレート（２、３）の各々の光線ずれの和が、前記検光要素（１）により生成される光線ずれをゼロに補償するよう構成・配向されることを特徴とする。【選択図】          図４
2004334222.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
結像光路に配置可能な検光要素を備えた透過光干渉コントラスト装置を有する顕微鏡において、
結像方向に関し前記検光要素（１）の直後に後置される２つのガラス楔プレート（２、３）を有し、
前記２つのガラス楔プレート（２、３）は、該２つのガラス楔プレート（２、３）の各々の光線ずれの和が、前記検光要素（１）により生成される光線ずれをゼロに補償するよう構成・配向されること
を特徴とする顕微鏡。
【請求項２】
蛍光装置を更に含むこと
を特徴とする請求項１に記載の顕微鏡。
【請求項３】
前記検光要素（１）及び前記２つのガラス楔プレート（２、３）は、共通の支持装置に配設されること
を特徴とする請求項１又は２に記載の顕微鏡。
【請求項４】
前記検光要素（１）及び前記２つのガラス楔プレート（２、３）は、前記結像光路に可逆的に挿脱可能に挿入可能に構成されること
を特徴とする請求項１又は２に記載の顕微鏡。
【請求項５】
前記検光要素（１）は、偏光フィルム（Polarisationsfolie）として構成されること
を特徴とする請求項１に記載の顕微鏡。
【請求項６】
前記２つのガラス楔プレート（２、３）は、同じ楔角を有するよう構成されること
を特徴とする請求項１に記載の顕微鏡。
【請求項７】
前記透過光干渉コントラスト装置及び前記蛍光装置は、選択的に交互に前記結像光路に挿入可能に構成されると共に、該透過光干渉コントラスト装置によって生成される顕微鏡画像及び該蛍光装置によって生成される顕微鏡画像は、その都度、合同的かつピクセル毎に正確に一致するようカメラのＣＣＤチップに結像されること
を特徴とする請求項２に記載の顕微鏡。
【請求項８】
・  透過光干渉コントラスト装置によって第１顕微鏡画像を生成し、該第１顕微鏡画像をカメラで撮像するステップ、
・  蛍光装置によって第２顕微鏡画像を生成し、該第２顕微鏡画像を同一のカメラで撮像するステップ、
・  前記第１顕微鏡画像及び前記第２顕微鏡画像を重ね合わせることにより、重畳画像を生成するステップ、
・  前記第２顕微鏡画像に対する前記第１顕微鏡画像の画像ズレを補償するステップ
を含む、重畳画像を生成するための鏡検方法において、
結像方向に関し検光装置（１）の直後に２つのガラス楔プレート（２、３）を後置し、該２つのガラス楔プレート（２、３）の各々の光線ずれの和が、該検光要素（１）により生成され前記画像ズレを引き起こす光線ずれをゼロに補償するよう該２つのガラス楔プレート（２、３）を構成・配向することにより、前記第２顕微鏡画像に対する前記第１顕微鏡画像の画像ズレのゼロ補償が、光学的手段によって実行されること
を特徴とする鏡検方法。
【請求項９】
前記重畳画像は、前記第１顕微鏡画像と前記第２顕微鏡画像を前記カメラのＣＣＤチップにおいてピクセル毎に正確に一致するよう重ね合わせることにより直接的に生成されること
を特徴とする請求項８に記載の鏡検方法。
【請求項１０】
前記重畳画像は、前記第１顕微鏡画像及び前記第２顕微鏡画像を、その都度、画像記憶ユニットへ伝送し、該画像記憶ユニットにおいてピクセル毎に正確に一致するよう加算することによって、生成されること
を特徴とする請求項８に記載の鏡検方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、結像光路に配置可能な検光要素を備えた透過光干渉コントラスト装置を有する顕微鏡に関する。更に、本発明は、重畳画像を生成するための鏡検方法、とりわけ透過光干渉コントラスト装置によって第１顕微鏡画像を生成し、該第１顕微鏡画像をカメラで撮像するステップ、蛍光装置によって第２顕微鏡画像を生成し、該第２顕微鏡画像を同一のカメラで撮像するステップ、前記第１顕微鏡画像及び前記第２顕微鏡画像を重ね合わせることにより、重畳画像を生成するステップ、前記第２顕微鏡画像に対する前記第１顕微鏡画像の画像ズレをゼロに補償するステップを含む、重畳画像を生成するための鏡検方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
顕微鏡検査（鏡検）及びその記録を行う際に、多重照明及び標本ないし試料の異なる複数の側面（アスペクト）を表示する合成画像（複数）が生成されることがしばしばある。そのようにして生成される画像（複数）は、異なる複数のコントラスト方法ないし異なる複数の鏡検方法によって生成され、そして１つの画像に纏められる。そして、異なる複数の画像部分の表示は、例えば、所謂「擬似カラー（Falschfarben）」によって行われる。例えば、異なる複数のフィルタセットを介して励起され観察可能にされる異なる複数の蛍光着色物質で被検試料を標識することも良く行われる。このようにして生成される複数の画像は、これはそれぞれ特定のフィルタセットによって生成されるのであるが、後に、１つの全体画像に合成される（纏められる）。
【０００３】
上記の場合に問題となるのは、透過光干渉コントラスト鏡検（Durchlicht-Interferenz-Kontrast-Mikroskopie：ＩＣＴ）及び蛍光鏡検によって撮像される複数の画像の組合せである。この場合、ＩＣＴ法によって生成される画像は、着色されていない生物学的試料ないし標本を全体として示す。これに対し、蛍光鏡検によって生成される画像は、特定の位置ないし部分の標的された特異的なマーキングのみを示す。そして、この２つの鏡検法によって生成された複数の画像は、１つの重畳画像に纏められる。
【０００４】
このようにして生成される重畳画像は、その都度、カメラに結像される。この場合、そのような重畳画像が生成される際に、ＩＣＴ画像が、カメラのＣＣＤチップにおいて蛍光画像ないし透過光明視野画像（Durchlicht-Hellfeld-Bild）と同じ位置に正確に位置することが望ましい。というのは、これらの画像が、ＣＣＤチップ上において互いにずらされて結像されるとすると、画像の評価が損なわれてしまうからである。
【０００５】
ＩＣＴ法では、検光子として使用される偏光フィルタは、顕微鏡の結像光路に配設される。この検光子は、大抵、顕微鏡対物レンズと鏡筒レンズの間に配設される。検光子は、非偏光光に対しては、凡そ３０％しか透過させないので、大抵は、ＩＣＴ法に対してのみ結像光路に配される。通常微弱な強度しか得られない蛍光測定ないし蛍光観察に対しては、検光子は、再び結像光路から離脱される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
顕微鏡で使用されるような平坦な構造の偏光フィルタは、通常、２つのガラスプレートの間に接合される延伸された偏光フィルム（シート）から構成される。しかしながら、そのような偏光フィルタは、入射光が僅かに偏向されるという欠点がある。このような光線偏向の原因は、延伸された偏光フィルム自体、楔状の接合面及び場合によっては使用される楔状のガラスプレートにある。そのため、この種の既知の偏光フィルタは、最大で３’（Minuten）の光線偏向を行う。例えば、顕微鏡が焦点距離２００ｍｍの鏡筒レンズを有する場合、そのような検光子は、３’の光線偏向によって、被検試料の中間像を凡そ１７５μｍずらす。このため、寸法凡そ８μｍのピクセル（画素）を有するＣＣＤカメラの場合、画像は、検光子によって凡そ２０ピクセルだけずらされる。
【０００７】
ＣＣＤチップにおいてＩＣＴ画像と蛍光画像との間に生じるズレは、従来は受忍するしかなかったが、必然的に、当該ズレと結びついた重畳画像の質の低下（喪失）も許容せざるを得なかった。或いは、重畳画像における各個別（構成）画像間の画像ズレは、デジタル式の画像撮像又は重畳画像の処理の際に、ソフトウェア的に補償（補正）することも試みられたが、これには相応のソフトウェア及びハードウェアが必要であり、所要時間も大きいという問題がある。
【０００８】
【特許文献１】DE 3542218 C2
【特許文献２】US 2001/0040723 A1
【０００９】
特許文献１は、偏光干渉光学装置の光路差の補償装置を開示し、光路に沿って順次、偏光要素−干渉要素（ウォラストンプリズム）−コンデンサ−物体−対物レンズ−補償プリズム−アナライザ（検光子）の系を有するものを開示する。
特許文献２は、位相差干渉光学システムを開示する。即ち、複数の対物レンズの切替に際し、種々の対応するノマルスキプリズム又はウォラストンプリズムを用いるが、その数を減らすことの困難を解消するため、第１偏光要素により互いに直行方向に振動する２つの線形偏光成分をレンズ系に後置した第２偏光要素により直線偏光に結合することを開示する。第１、第２偏光子の少なくとも一方は、２つの線形偏光成分が互いに交叉する位置に局在する縞の位置に配される。
これらは、本発明で問題とする、重畳画像のズレとは、異なった問題に対処するための方策である。
【００１０】
それゆえ、本発明の課題は、重畳画像における各個別（構成）画像の間の不所望のズレが生じないように、冒頭で述べた種類の顕微鏡を改善することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記の課題を解決するために、本発明の第一の視点により、結像光路に配置可能な検光要素を備えた透過光干渉コントラスト装置を有する顕微鏡が提供される。この顕微鏡において、結像方向に関し前記検光要素の直後に後置される２つのガラス楔プレートを有し、前記２つのガラス楔プレートは、該２つのガラス楔プレートの各々の光線ずれ（Ablenkung）の和が、前記検光要素により生成される光線ずれをゼロに補償するよう構成・配向（整列ないし位置合せ）されることを特徴とする（形態１・基本構成１）。
更に、上記の課題を解決するために、本発明の第二の視点により、透過光干渉コントラスト装置によって第１顕微鏡画像を生成し、該第１顕微鏡画像をカメラで撮像するステップ、蛍光装置によって第２顕微鏡画像を生成し、該第２顕微鏡画像を（前記第１顕微鏡画像を撮像したカメラと）同一のカメラで撮像するステップ、前記第１顕微鏡画像及び前記第２顕微鏡画像を重ね合わせることにより、重畳画像を生成するステップ、前記第２顕微鏡画像に対する前記第１顕微鏡画像の画像ズレをゼロに補償するステップを含む、重畳画像を生成するための鏡検方法が提供される。この鏡検方法において、結像方向に関し検光装置の直後に２つのガラス楔プレートを後置し、該２つのガラス楔プレートの各々の光線ずれの和が、該検光要素により生成され前記画像ズレを引き起こす光線ずれをゼロに補償するよう該２つのガラス楔プレートを構成・配向（整列ないし位置合せ：Justage）することにより、前記第２顕微鏡画像に対する前記第１顕微鏡画像の画像ズレ（Bildversatz）のゼロ補償が、光学的手段によって実行されることを特徴とする（形態８・基本構成２）。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の独立請求項１及び８により、上記課題に対応する効果が達成される。即ち、本発明の顕微鏡及び鏡検方法により、（追加のソフトウェア及びこれに対応するハードウェアを要することなく、かつ当該ソフトウェア処理に伴う所要時間の増大を伴うことなく、）重畳画像における各個別（構成）画像の間の不所望のズレの生成を回避することができる。
更に、各従属請求項により、付加的な効果が後述の通りそれぞれ達成される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を示すが、これらは従属請求項の対象でもある。なお、形態１及び８については上述の通りである。
（２）上記の顕微鏡（第１の視点）は、蛍光装置を更に含むことが好ましい（形態２）。
（３）上記の顕微鏡において、前記検光要素及び前記２つのガラス楔プレートは、共通の支持装置に配設されることが好ましい（形態３）。
（４）上記の顕微鏡において、前記検光要素及び前記２つのガラス楔プレートは、前記結像光路に可逆的に（挿脱可能に）挿入可能に構成されることが好ましい（形態４）。
（５）上記の顕微鏡において、前記検光要素は、偏光フィルムないしシート（Polarisationsfolie）として構成されることが好ましい（形態５）。
（６）上記の顕微鏡において、前記２つのガラス楔プレートは、同じ楔角を有するよう構成されることが好ましい（形態６）。
（７）上記の顕微鏡において、前記透過光干渉コントラスト装置及び前記蛍光装置は、選択的に交互に前記結像光路に挿入可能に構成されると共に、該透過光干渉コントラスト装置によって生成される顕微鏡画像及び該蛍光装置によって生成される顕微鏡画像は、その都度、合同的かつピクセル毎に正確に一致するようカメラのＣＣＤチップに結像されることが好ましい（形態７）。
（９）上記の鏡検方法（第２の視点）において、前記重畳画像は、前記第１顕微鏡画像と前記第２顕微鏡画像を前記カメラのＣＣＤチップにおいてピクセル毎に正確に一致するよう重ね合わせることにより直接的に生成されることが好ましい（形態９）。
（１０）上記の鏡検方法において、前記重畳画像は、前記第１顕微鏡画像及び前記第２顕微鏡画像を、その都度、画像記憶ユニットへ伝送し、該画像記憶ユニットにおいてピクセル毎ないしピクセル的に正確に一致するよう加算することによって、生成されることが好ましい（形態１０）。
【００１４】
本発明の顕微鏡は、検光要素とカメラの間の結像光路に、即ち（観察対象を起点とする）結像方向に関し検光要素の直後に付加的に後置される２つのガラス楔プレート（楔形ガラスプレート）を備えることを主な特徴とする。検光要素は、整列された偏光フィルタ、即ち当該偏光フィルタの透過光の振動方向に関し所望のように（例えば南北方向に）配向された偏光フィルタから構成される。（２つの）ガラス楔プレート（楔形ガラスプレート）は、原則的には、互いに異なるよう構成することができる。しかしながら、２つのガラス楔プレートは同一の形態のものを使用するのが、とりわけ調節のために好ましいことが分かっている。ガラス楔プレートは、楔角α（＝アルファ）を有し、透過光に対し光線偏向δ（＝デルタ）を引き起こす。ここに、δは、楔角の凡そ半分に相当する。２つのガラス楔プレートの楔角α、従って光線偏向δは、偏光フィルタによる最大偏向の凡そ半分の大きさにδが相当するように選択される。これは、例えば上述の偏光フィルタでは、角度δが凡そ１．５’（分）であることを意味する。
【００１５】
組立を行う場合、この２つのガラス楔プレートは、まず、互いに対し及び既に（位置が）固定されている偏光フィルタに対し、回動可能に支承される。そして、顕微鏡の製造後、２つのガラス楔プレートの整列ないし位置合せを行う。これは、例えば秒（角度の単位）レベルの僅かな光線偏向を検出可能なオートコリメーション装置を用いて達成することができる。この過程において、（２つの）ガラス楔プレートは、該２つのガラス楔プレートによる光線偏向（の和）が偏光フィルタによる光線偏向を補償（相殺）するよう整列ないし位置合せされる。次いで、この２つのガラス楔プレートは、当該（整列ないし位置合せされた）位置で固定され、以って更なる回転が起こらないようにされる。
【００１６】
以下に、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する。なお、以下の実施例は、発明の理解の容易化のためのものであって、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲において当業者により実施可能な付加・置換等を施すことを排除することは意図しない。また、特許請求の範囲に付した図面参照符号も、発明の理解の容易化のためであり、本発明を図示の態様に限定することは意図しない。なお、これらの点に関しては、補正・訂正後においても同様である。
【実施例】
【００１７】
図１に、偏光フィルタとして構成された検光要素（検光子、アナライザ）１を示した。透過光の振動方向は、模式的に双方向矢印で示した。（被検試料から）カメラ（図示は省略）へ向かう方向、即ち結像方向の検光要素１の直後に、第１ガラス楔プレート２と第２ガラス楔プレート３が配される。この２つのガラス楔プレート２、３は、受容リング４の内部で上下に重なるよう配されると共に、第１ガラス楔プレート２と第２ガラス楔プレート３は、間隔リング５によって互いに離隔される。間隔リング５により、第２ガラス楔プレート３に対する第１ガラス楔プレート２の回動ないし第１ガラス楔プレート２に対する第２ガラス楔プレート３の回動（相対回動）が可能となる。このようにして、第１ガラス楔プレート２と第２ガラス楔プレート３は、２つのガラス楔プレート２及び３によってそれぞれ同時に生成される光線偏向の和が、検光要素１によって生成される光線偏向（Strahlablenkung）をちょうど（正確に）補償（ゼロ補償ないし相殺）するように、互いに対し整列ないし適切に位置合せされる。
【００１８】
図２に、図１の構成例の場合に生じる各光線偏向をベクトルで示した。ベクトル６は、検光要素１により生成される偏向を示す。この実施例では、ベクトル６は、生じ得る最大偏向の凡そ３分の２に相当する。ベクトル７は、第１ガラス楔プレート２により生成される光線偏向を示す。ベクトル８は、第２ガラス楔プレート３により生成される光線偏向を示す。ベクトル７とベクトル８のベクトル和により、第１ガラス楔プレート２と第２ガラス楔プレート３の共同（同時的）作用の結果生じる光線偏向の和を示すベクトル９が得られる。ベクトル９、即ち２つのガラス楔プレート２及び３の光線偏向の和の大きさ（絶対値）と、ベクトル６、即ち検光要素１によって生成される光線偏向の大きさ（絶対値）は等しいことが、図２から明確に見出すことができる。ベクトル６とベクトル９は、方向が等しく向きが反対となるので、２つのガラス楔プレート２及び３によって検光要素１の光線偏向が補償（相殺）される。
【００１９】
図３に、蛍光装置が作動状態にある場合の顕微鏡の一例を示した。
【００２０】
透過光光路１２は、透過光光源１１から開始する。透過光光源１１の光は、順に、照明光学系１３、偏光子１４、第１ウォラストンプリズム１５、コンデンサ１６を通過する。コンデンサ１６から開始ないし射出される光路は、顕微鏡（試料）ステージ（テーブル）１８に載置された被検試料１７を照明する。
【００２１】
被検試料１７を透過した光は、対物レンズ１９によって捕捉され、該対物レンズ１９によって中間像面２０に結像される。対物レンズ１９と中間像面２０との間では、光は、第２ウォラストンプリズム２１と、とりわけ中間像面２０の位置を規定する鏡筒光学系２２を通過する。
【００２２】
第２ウォラストンプリズム２１と鏡筒光学系２２との間には、複数の装置を受容するために少なくとも２つの領域Ａ及びＢを有する装置切換器２３が配設される。装置切換器２３は、図示の実施例の場合、回転軸線２４の周りで回動可能に支承され、回転軸線２４の周りでの回転により、２つの領域Ａ及びＢの何れか一方を選択的に（結像）光路に配する（挿入する）ことができる。また、装置切換器２３は、（結像）光路に対し直交方向に摺動可能な摺動切換装置として構成することも可能である。装置切換器２３は、更に、例えばフィルタ装置のような他の装置のための付加的な領域（不図示）を１以上備えることも可能である。
【００２３】
装置切換器２３の図３に示した切換状態では、その領域Ａが顕微鏡の（結像）光路に配されている。この領域Ａには、蛍光装置が配されている。蛍光装置は、励起フィルタ２５、半透過性ビームスプリッタ２６及び吸収フィルタ２７を含んで構成される。この蛍光装置は、蛍光キューブとも称される。
【００２４】
被検試料１７を蛍光装置によって検査可能にするために、蛍光装置には、落射光光路２８が供される。落射光光路２８は、落射光光源２９を起点とし、複数のレンズ要素３１及び複数の絞り３２を有する落射光照明光学系３０を通過する。落射光光路２８の光は、紙面の横方向から（右側から左側へ向かうよう）領域Ａに入射し、照明光の特定のスペクトルの蛍光波長領域を通過させる励起フィルタ２５を通過する。
【００２５】
次に、励起フィルタ２５を通過した落射光は、ビームスプリッタ２６によって、対物レンズ１９の方向へ偏向され、対物レンズ１９によって被検試料１７に向けられる。この落射光は、被検試料１７に施与された特定の蛍光色素を蛍光励起する。このような蛍光励起光は、被検試料１７から、対物レンズ１９、第２ウォラストンプリズム２１を通り、更にビームスプリッタ２６、吸収フィルタ２７を通過して、中間像面２０に至る。中間像面２０に生成される被検試料１７の像は、１又は２以上の接眼レンズ３３によって観察することができる。更に、被検試料の像は、カメラ３５のＣＣＤチップ３４に結像される。
【００２６】
図４に、図３の実施例の顕微鏡であって、検光要素１の光線偏向の補償が行われる透過光干渉コントラスト装置（Durchlicht-Interferenz-Kontrast-Einrichtung）が完全に（結像）光路に配されている様子を示した。
【００２７】
上述の通り、照明光学系１３、偏光子１４、第１ウォラストンプリズム１５及びコンデンサ１６が配される透過光光路１２は、透過光光源１１から出発する。透過光光路１２の光は、被検試料１７を照明し、対物レンズ１９によって中間像面２０に結像される。対物レンズ１９の下流域には、被検試料１７からの光は、第２ウォラストンプリズム２１を通過し、装置切換器２３に入射する。
【００２８】
装置切換器２３の図示の切換状態では、領域Ｂが、顕微鏡の（結像）光路に位置している。装置切換器２３は、横方向（紙面右側の側面、場合によっては更に紙面の表側及び／又は裏側の側面）において、閉鎖ないし遮光されているため、落射光光路２８からの落射光は、領域Ｂには入射することができない。装置切換器２３の領域Ｂには、検光要素１が配設される。この検光要素１は、偏光子１４と、（場合によって更に）第１ウォラストンプリズム１５及び第２ウォラストンプリズム２１と機能的に連携して、透過光干渉コントラスト装置を構成する。
【００２９】
この検光要素１は、偏光フィルム（シート）から構成され、上述のように、透過する光線に対し光線ずれ（Versatz）を生成する。この光線ずれにより、カメラ３５のＣＣＤチップ３４における透過光干渉コントラスト画像の蛍光画像（これは図３に示した顕微鏡状態の場合に生成される）に対する画像ズレが引き起こされる。
【００３０】
本発明により、この画像ズレは、光学的に補償される。このため、結像方向に関し、検光要素１の直後に付加的に２つのガラス楔プレート（第１ガラス楔プレート２、第２ガラス楔プレート３と称する）が後置される。この２つのガラス楔プレート２及び３は、当該２つのガラス楔プレート２及び３によって一緒に（同時的に）生成される光線偏向の和が、検光要素１を通過することにより該検光要素１の後方に生成される光線偏向をゼロに補償（相殺）するよう構成・配向（整列ないし位置合せ）される。
【００３１】
このようにして、カメラ３５のＣＣＤチップ３４における透過光干渉コントラスト画像の蛍光画像に対する画像ズレは補償（解消）される。２つのガラス楔プレート２及び３を互いに対し及び検光要素１に対し正確に調節（位置合せないし整列）することにより、透過光干渉コントラスト画像と蛍光画像は、カメラ３５のＣＣＤチップ３４において合同的かつピクセル（画素）毎に正確に一致するよう結像される。
【００３２】
重畳画像の生成は以下のようにして行われる：まず、第１顕微鏡画像が透過光干渉コントラスト装置によって生成され、カメラで撮像される。次に、第２顕微鏡画像が蛍光装置によって生成され、同様に（同じ）カメラで撮像される。
【００３３】
透過光干渉コントラスト装置において結像方向に関し検光要素１の直後に２つのガラス楔プレート２及び３が本発明に応じて後置されることにより、第１顕微鏡画像の第２顕微鏡画像に対する画像ズレの補償が光学的手段によって行われるので、（１つの）重畳画像を直接的に生成することができる。第１顕微鏡画像及び第２顕微鏡画像（のデータ）を、その都度、画像記憶ユニットへ伝送し、該画像記憶ユニット（ないし所属の処理ユニット）においてピクセル（画素）毎に正確に一致するよう加算する（重ね合わせる）ことによって、第１顕微鏡画像と第２顕微鏡画像を重畳することにより、重畳画像は生成される。また、上述の種類の画像を複数、即ち３以上加算すること、並びに更なる画像処理ステップを実行することも可能である。
【００３４】
本発明は、大掛かりなソフトウェアにより支援される画像ズレの補償は最早不要とされるという利点を有する。透過光干渉コントラスト画像と蛍光画像とのピクセル的に正確な重畳により、画像の質が著しく改善された重畳画像が得られ、かつ得られた重畳画像の評価もより正確に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】検光装置の直後に後置された２つのガラス楔プレートの配置の一例。
【図２】図１に示した配置の場合の光線偏向の一例のベクトル図。
【図３】蛍光装置が作動状態にある場合の顕微鏡の一例。
【図４】検光要素による画像ズレの補償装置が作動状態にある場合の顕微鏡の一例。
【符号の説明】
【００３６】
１  検光要素（検光子）
２  第１ガラス楔プレート
３  第２ガラス楔プレート
４  受容リング
５  間隔リング
６  検光要素１により生成される光線偏向のベクトル
７  第１ガラス楔プレートにより生成される光線偏向のベクトル
８  第２ガラス楔プレートにより生成される光線偏向のベクトル
９  ２つのガラス楔プレート２、３により生成される光線偏向の和のベクトル
１０  検光要素１により生成される最大光線偏向のベクトル
１１  透過光光源
１２  透過光光路
１３  （透過光）照明光学系
１４  偏光要素（偏光子）
１５  第１ウォラストンプリズム
１６  コンデンサ
１７  被検試料
１８  顕微鏡（試料）ステージ
１９  対物レンズ
２０  中間像面
２１  第２ウォラストンプリズム
２２  鏡筒光学系
２３  装置切換器
２４  回転軸線
２５  励起フィルタ
２６  半透過性ビームスプリッタ
２７  吸収フィルタ
２８  落射光光路
２９  落射光光源
３０  落射光照明光学系
３１  レンズ要素
３２  絞り
３３  接眼レンズ
３４  ＣＣＤチップ
３５  カメラ
【図１】
2004334222.tif 000003
【図２】
2004334222.tif 000004
【図３】
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【図４】
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