(57)【要約】【課題】他の機器等より同様のタイミングで入光する外乱光の影響を、効率的に排除することができる多光軸光電スイッチを提供する。【解決手段】多光軸光電スイッチの受光ユニット側に配置されるマイクロコンピュータは、同期回路が投光ユニット，受光ユニット間における何れかの光軸について出力する受光信号が被検出物の非検出を示す状態から検出状態に変化すると、スタートパルスの出力タイミングを変化させて投光制御回路による投光スキャン動作の開始タイミングを変化させる。【選択図】  図１
2004173174.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の投光素子と、
これら複数の投光素子に対向して、複数の光軸を構成するように配置される複数の受光素子と、
前記複数の投光素子を所定のタイミングで順次点灯させる投光スキャン動作を所定の周期で繰り返させる投光制御手段と、
前記複数の受光素子より出力される各受光信号を予め定められた基準レベルと比較し、その比較結果に応じた二値化信号を対応する投光素子の投光タイミングに同期させて出力する比較手段と、
この比較手段からの二値化信号に基づいて、前記投光スキャン動作の連続した２回以上の所定回数にわたって検出状態が発生した場合に、被検出物の有無に応じた検出を判別して検出信号を出力する検出手段とを備えてなる多光軸光電スイッチにおいて、
前記比較手段が何れかの光軸について出力する二値化信号が非検出を示す状態から検出を示す状態に変化した場合、その検出状態が前記所定回数に達するまでの間に、前記投光スキャン動作の開始タイミングを少なくとも１回変化させるスキャン動作制御手段を備えたことを特徴とする多光軸光電スイッチ。
【請求項２】
前記投光スキャン動作の一スキャン周期以上にわたって前記比較手段より出力された各光軸の二値化信号の状態を記憶させる記憶手段を備え、
前記スキャン動作制御手段は、前記比較手段より出力される各光軸の二値化信号と、前回のスキャン周期において前記記憶手段に記憶された各二値化信号の状態とを逐次比較して、二値化信号の状態変化を判定することを特徴とする請求項１記載の多光軸光電スイッチ。
【請求項３】
複数の投光素子と、
これら複数の投光素子に対向して、複数の光軸を構成するように配置される複数の受光素子と、
前記複数の投光素子を所定のタイミングで順次点灯させる投光スキャン動作を所定の周期で繰り返させる投光制御手段と、
前記複数の受光素子より出力される各受光信号を予め定められた基準レベルと比較し、その比較結果に応じた二値化信号を対応する投光素子の投光タイミングに同期させて出力する比較手段と、
この比較手段からの二値化信号に基づいて、前記投光スキャン動作の連続した２回以上の所定回数にわたって検出状態が発生した場合に、被検出物の有無に応じた検出を判別して検出信号を出力する検出手段とを備えてなる多光軸光電スイッチについての干渉状態を解消する方法であって、
前記比較手段が何れかの光軸について出力する二値化信号が非検出を示す状態から検出を示す状態に変化した場合、その検出状態が前記所定回数に達するまでの間に、前記投光スキャン動作の開始タイミングを少なくとも１回変化させることを特徴とする多光軸光電スイッチの干渉状態解消方法。
【請求項４】
前記投光スキャン動作の一スキャン周期以上にわたって前記比較手段より出力された各光軸の二値化信号を状態を記憶手段に記憶させ、
前記比較手段より出力される各光軸の二値化信号を、前記記憶手段に記憶されている前回のスキャン周期において出力された二値化信号の状態と逐次比較して、二値化信号の状態変化を判定することを特徴とする請求項３記載の多光軸光電スイッチの干渉状態解消方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の光軸を構成するように対向した状態で配置される複数の投光素子と受光素子との間において投光スキャン動作を所定の周期で繰り返し行ない、受光素子の受光状態に基づいて被検出物の検出を行なう多光軸光電スイッチ、及びその多光軸光電スイッチについての干渉状態を解消する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
複数の投光素子と受光素子とを対向した状態で配置して複数の光軸を構成する多光軸光電スイッチには、例えば、各投光素子側より順次投光される周期的なパルス光を対応する受光素子で受光し、夫々の受光素子からの受光信号を投光素子側より与えられる同期信号に基づいて検出する同期検波方式を採用するものがある。
【０００３】
より具体的に説明すると、複数の受光素子が夫々出力する受光信号の内、各投光素子の投光タイミングに同期して出力される同期信号の出力タイミングに一致するものだけを夫々の光軸の受光信号として検出し、例えば、受光信号の出力が所定回数以上連続したときに受光状態と判断する。また、受光信号の出力が所定回数以上連続する以前にその出力が途絶えた場合に遮光状態と判断する。そして、その遮光状態が所定回数以上連続した場合に被検出物を検出したものと判断する。
【０００４】
この方式によれば、同期信号が与えられたタイミングで受光素子が受光した信号だけを扱うため、例えば照明器具等のノイズ光によって光電スイッチが誤動作することなどが防止可能となっている。
【０００５】
ところが、斯様な同期検波方式の多光軸光電スイッチであっても、互いに近似した投光周期を有する複数の光電スイッチ（例えば、同機種）を併設して使用する場合は、相互に干渉が発生し易いという問題があった。即ち、投光周期が近似していれば、隣接する光電スイッチにおける双方の投光素子からの投光タイミングが動作開始時に近接していると動作中はその状態が維持されるため、同期検波方式では、自身の投光素子からの投光と隣に位置する光電スイッチの投光素子からの投光（ノイズ光）との峻別が困難となるからである。
【０００６】
例えば、ある受光素子の受光タイミングの直前に発光パワーが強い干渉光が入射した場合、その後に投光素子からの投光信号を受光しても、干渉光の影響によって増幅回路の出力信号波形に大きなアンダーシュートが発生することにより、実際は「入光」であるにもかかわらず「遮光」と判定されてしまう場合がある。
【０００７】
そこで、このような問題を解決するために、例えばスリットを用いることで、投光素子からの投光が及ぶ範囲を狭く絞って他の光電スイッチに受光されることを防止するものがある。しかし、斯様に構成すると光軸が細くなるため、投受光素子間の配置、即ち光軸の調整が困難となってしまう。そして、光電スイッチに振動や衝撃が印加された場合に光軸のずれが発生し易くなることから、結果として誤動作が発生し易くなる。
【０００８】
また、双方の光電スイッチにおける投受光素子の配置関係を逆にすることで、一方の投光素子と他方の受光素子とが対向しないようにして相互干渉を防止することも考えられる。しかし、このような配置を採用しても、被検出物の反射率が高い場合は一方の光電スイッチの投光素子からの投光が被検出物で反射して他方の光電スイッチの受光素子に受光されてしまうおそれがある。従って、必ずしも干渉の発生を防止できるとは限らない。
【０００９】
更に、光電スイッチに、投光素子の投光周期を切り替えるための切換えスイッチを設けて、隣接する光電スイッチとは投光周期が異なるように設定できるようにしたものもあるが、切換えスイッチを設けた分だけ構成が大型化するという欠点がある。
【００１０】
また、特許文献１，２では、透過型で単光軸の光電スイッチについて、受光側で受光信号に基づき積分動作を行なう積分回路の積分値が、受光検出信号を出力するタイミングとなる所定値に達するまでの過渡状態において、投光周期を変更することで、他の機器より同様のタイミングで入光する外乱光の影響を排除するようにした構成が開示されている。
【００１１】
【特許文献１】
特許第２６０５０３３号公報
【００１２】
【特許文献２】
特許第３２９３０４４号公報
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特許文献１，２に開示されている構成をそのまま多光軸光電スイッチに適用しようとすると、各光軸について投光周期を変更することになる。その場合、各光軸毎に応答速度が変化するため、全体としての検出性能が低下してしまうという問題がある。
【００１４】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、他の機器等より同様のタイミングで入光する外乱光の影響を、効率的に排除することができる多光軸光電スイッチ，及び多光軸光電スイッチの干渉状態解消方法を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１記載の多光軸光電スイッチは、複数の投光素子と、
これら複数の投光素子に対向して、複数の光軸を構成するように配置される複数の受光素子と、
前記複数の投光素子を所定のタイミングで順次点灯させる投光スキャン動作を所定の周期で繰り返させる投光制御手段と、
前記複数の受光素子より出力される各受光信号を予め定められた基準レベルと比較し、その比較結果に応じた二値化信号を対応する投光素子の投光タイミングに同期させて出力する比較手段と、
対応する投光素子の投光タイミングに同期して基準レベルと比較し、その比較結果に応じた二値化信号を出力する比較手段と、
この比較手段からの二値化信号に基づいて、前記投光スキャン動作の連続した２回以上の所定回数にわたって検出状態が発生した場合に、被検出物の有無に応じた検出を判別して検出信号を出力する検出手段とを備えてなるものにおいて、前記比較手段が何れかの光軸について出力する二値化信号が非検出を示す状態から検出を示す状態に変化した場合、その検出状態が前記所定回数に達するまでの間に、前記投光スキャン動作の開始タイミングを少なくとも１回変化させるスキャン動作制御手段を備えたことを特徴とする。
【００１６】
斯様に構成すれば、スキャン動作制御手段が上記のように投光スキャン動作の開始タイミングを変化させれば、多光軸光電スイッチの近傍に投光スキャン周期と同様の周期で且つ同様の発光タイミングを有するノイズ光源（例えば、同機種の多光軸光電スイッチ）が存在した場合、それ以降、多光軸光電スイッチとノイズ光源との発光タイミングは一致しなくなる。従って、二値化信号の非検出状態から検出状態への変化は、１回限りとなるはずである。
【００１７】
これに対して、多光軸光電スイッチが実際に被検出物の有無を検出した状態となった場合は、スキャン動作制御手段が上記のように投光スキャン動作の開始タイミングを変化させたとしても、二値化信号の非検出状態から検出状態への変化は連続するはずである。従って、上記のようなノイズ光源による干渉を排除して、被検出物の有無に関する検出を効率的且つ確実に行うことができる。
【００１８】
この場合、請求項２に記載したように、前記投光スキャン動作の一スキャン周期以上にわたって前記比較手段より出力された各光軸の二値化信号の状態を記憶させる記憶手段を備え、
前記スキャン動作制御手段を、前記比較手段より出力される各光軸の二値化信号と、前回のスキャン周期において前記記憶手段に記憶された各二値化信号の状態とを逐次比較して、二値化信号の状態変化を判定するように構成すると良い。
【００１９】
斯様に構成すれば、スキャン動作制御手段は、１周期のスキャン動作が終了した時点で直ちに投光スキャン動作の開始タイミングを変化させることができる。従って、ノイズ光源による干渉を排除するための処理をより早く開始することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
（第１実施例）
以下、本発明の第１実施例について図１乃至図７を参照して説明する。多光軸光電スイッチの概略的な電気的構成を機能ブロックで示す図２において、多光軸光電スイッチ１は、投光ユニット２と、その投光ユニット２に対向するようにして配置される受光ユニット３とで構成されている。
【００２１】
投光ユニット２は、複数の投光素子４と、各投光素子４による投光タイミングを制御するための投光制御回路（投光制御手段）５とで構成されている。一方、受光ユニット３は、複数の受光素子６と、各受光素子６によって受光された受光信号を処理するための信号処理部７と、その信号処理部７によって処理された信号に基づいて被検出物の検出を行うマイクロコンピュータ（検出手段，スキャン動作制御手段）８とで構成されている。
【００２２】
また、マイクロコンピュータ（マイコン）８は、投光ユニット２の投光制御回路５に対してスキャン動作を開始させるためのスタートパルスを常には周期Ｔ毎に出力するようになっている。そして、投光制御回路５は、そのスタートパルスが与えられると各投光素子４に対して投光信号をシリアルに出力すると共に、その投光信号と同タイミングのパルス信号を同期信号として受光ユニット３の信号処理部７に出力するようになっている。
【００２３】
図３は、受光ユニット３の一光軸分について信号処理部７を中心とするより詳細な構成を示す機能ブロック図であり、図４は、信号処理部７における各部の信号波形を示す図である。信号処理部７は、増幅回路９，比較回路（比較手段）１０，同期回路（比較手段）１１及びシフトレジスタ（比較手段）１２で構成されている。
【００２４】
増幅回路８は、受光ユニット３が受光した信号を増幅して出力するようになっている（図４（ｂ）参照）。比較回路１０は、増幅回路９によって増幅された信号を予め定められた基準レベルと比較して二値化し、パルス信号（二値化信号）を同期回路１１に出力する（図４（ｃ）参照）。シフトレジスタ１２は、投光ユニット２より与えられる同期信号に応じて、スタートパルスの出力と共にセットされる受光タイミング信号を順次シフトして各光軸の同期回路１１に与えるものである（図４（ａ）参照）。同期回路１１は、比較回路１０より与えられるパルス信号と受光タイミング信号との論理積をとることで投光タイミングに同期化した受光信号を出力する（図４（ｄ）参照）。
【００２５】
ここで、被検出物が投光ユニット２と受光ユニット３との間、即ち、投光素子４と受光素子６との間に形成される光軸の間に位置しない状態では受光タイミングで同期化された受光信号が出力され、被検出物が前記光軸を遮った状態になると受光信号は出力されなくなる。そして、マイコン８は、同期回路１１より与えられる受光信号に基づいて被検出物の検出判定を行なう。また、マイコン８は、受光結果を記憶させるためのメモリ（例えばＲＡＭ，記憶手段）１３を内蔵している。
【００２６】
次に、本実施例の作用について図１及び図５をも参照して説明する。図５は、マイコン８が行なうスキャン処理に係る部分の処理内容を示すフローチャートである。マイコン８は、先ず、投光ユニット２の投光制御回路５にスキャン動作を開始させるためスタートパルスを出力する（ステップＳ０）。それから、ステップＳ１において、スキャン処理に必要な初期化を行なう。即ち、処理中の光軸番号ｎを「１」にセットすると共に、受光状態が「入光→遮光」，「遮光→入光」に遷移したことを記憶するためのＦｌａｇ１，２を何れも「０」にリセットする。
【００２７】
続いて、マイコン８は、最初の光軸（１）について受光状態の確認を行なう（ステップＳ２）。同期回路１１より受光信号が出力されれば「入光」と判断し、光軸（ｎ＝１）について今回のスキャン結果を示すメモリ１３の配列Ｄｎ［０］に「入光」示す結果（例えば、「１」）を格納する（ステップＳ３）。それから、マイコン８は、メモリ１３より前回のスキャン結果を示す配列Ｄｎ［１］の内容を読み出して判断する（ステップＳ４）。
【００２８】
ステップＳ４において、前回のスキャン結果が「遮光」であれば、マイコン８は、「遮光」が少なくとも２スキャン周期にわたって連続したことを記憶するフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎを参照する（ステップＳ４ａ）。そして、フラグＳＴＡＴＥ＿Ｎが「遮光」を示していれば、そのフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎを「未確定」にセットしてから（クリア，ステップＳ４ｂ）Ｆｌａｇ１に「１」をセットする（ステップＳ５）。また、ステップＳ４ａにおいてフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎが「未確定」を示していれば、ステップＳ１１に移行する。
【００２９】
また、ステップＳ４において、前回のスキャン結果が「入光」であれば、マイコン８は「入光」が少なくとも２スキャン周期にわたって連続したことを記憶するフラグＳＴＡＴＥ＿Ｒを「入光」に設定する（ステップＳ６）。このフラグＳＴＡＴＥ＿Ｒが「入光」に設定されていることは、入光状態が確定したことで被検出物が非検出状態にあることを示す。尚、配列Ｄｎ［１］の初期値は「入光」に設定されている。
【００３０】
一方、マイコン８が、ステップＳ２において同期回路１１より受光信号が出力されず「遮光」と判断すると、配列Ｄｎ［０］に「遮光」示す結果（例えば、「０」）を格納する（ステップＳ７）。それから、同様にメモリ１３より配列Ｄｎ［１］の内容を読み出して判断する（ステップＳ８）。そして、前回のスキャン結果が「入光」であれば、マイコン８は、フラグＳＴＡＴＥ＿Ｒを参照する（ステップＳ８ａ）。
【００３１】
ステップＳ８ａにおいて、フラグＳＴＡＴＥ＿Ｒが「入光」を示していれば、そのフラグＳＴＡＴＥ＿Ｒを「未確定」にセットしてから（ステップＳ８ｂ）Ｆｌａｇ２に「１」をセットする（ステップＳ９）。また、ステップＳ８ａにおいてフラグＳＴＡＴＥ＿Ｒが「未確定」を示していれば、ステップＳ１１に移行する。
【００３２】
また、ステップＳ８において、前回のスキャン結果が「遮光」であれば、マイコン８はフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎ「遮光」に設定する（ステップＳ１０）。このフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎが「遮光」に設定されていることは、「遮光」が２スキャン周期以上連続したことで遮光状態が確定し、被検出物が検出状態にあることを示す。
【００３３】
ステップＳ５，Ｓ６，Ｓ９，Ｓ１０の実行後、マイコン８は光軸番号ｎをインクリメントする（ステップＳ１１）。それから、光軸番号ｎが全光軸数（例えば「８」）に達したか否かを判断し（ステップＳ１２）、達していなければ（「ＮＯ」）ステップＳ２に戻って次番号の光軸に対して以上の処理を繰り返す。
【００３４】
一方、ステップＳ１２において光軸番号ｎが全光軸数に達すると（「ＹＥＳ」）、マイコン８は、Ｆｌａｇ１，２の何れかが「１」にセットされているか否かを判断する（ステップＳ１３，Ｓ１４）。
【００３５】
ステップＳ１３またはＳ１４において、Ｆｌａｇ１，２の何れもが「０」である場合は（「ＮＯ」）、ステップＳ６またはＳ１０において「入光」または「遮光」が確定した場合であるから、スキャン間隔時間を「Ｔ」に設定する（ステップＳ１５）。それから、スキャン間隔時間の経過を待ち（ステップＳ１８，「ＹＥＳ」）現在の受光状態の配列Ｄｎ［０］の内容を、配列Ｄｎ［１］の内容とするように置き換えてから（ステップＳ２７）、ステップＳ０に移行する。
【００３６】
また、Ｆｌａｇ１が「１」にセットされている場合は（ステップＳ１３，「ＹＥＳ」）、受光状態が「遮光」から「入光」に変化した場合であり、スキャン間隔時間を「Ｔ＋α」に設定する（ステップＳ１７）。それから、ステップＳ１８に移行する。また、Ｆｌａｇ２が「１」にセットされている場合は（ステップＳ１４，「ＹＥＳ」）、受光状態が「入光」から「遮光」に変化した場合であり、スキャン間隔時間を「Ｔ−α」に設定する（ステップＳ１６）。それから、ステップＳ１８に移行する。
【００３７】
以上のフローチャートに基づく処理を、図１に示すタイミングチャートを参照して説明する。尚、光軸数は簡単のため「ｎ＝４」とする。マイコン８よりスタートパルスが与えられると（図１（ａ）参照）、投光制御回路５は、４つの投光素子４を順次シリアルに発光させるため、投光信号を４パルス（▲１▼〜▲４▼）出力する（図１（ｂ）参照）。スキャン（１）においては、被検出物による光軸の遮光や干渉光の影響はなく、全ての光軸について受光状態となっている（図１（ｃ）参照）。
【００３８】
この状態から、スキャン（２）において、実際に被検出物が２光軸目を遮ったことで入光状態から遮光状態に変化したとする（図１（ｃ），（ｅ）参照）。すると、このケースでは、マイコン８はステップＳ９ａでフラグＳＴＡＴＥ＿Ｒが「入光」であると判断してステップＳ９でＦｌａｇ２「１」にセットするので、次のスキャン（３）が開始されるまでのスキャン間隔時間は「Ｔ−α」に設定され（ステップＳ１６）、本来の間隔時間Ｔよりも短くなる。即ち、投光制御回路５による投光スキャン動作の開始タイミングを変化させる。
【００３９】
また、スキャン（２）において、図１（ｄ）に示す２光軸目の受光素子６に入射する干渉光は受光タイミングの直前に発生している。このような場合、図６に示すように、干渉光のパワー（ｂ）が強いとその後に投光素子４からの投光信号（ａ）を受光しても、干渉光の影響により増幅回路の出力信号波形に大きなアンダーシュートが発生し（ｃ）、実際は「入光」であるにもかかわらず「遮光」と判定されてしまう場合がある（ｄ）。尚、図６のパルス振幅は光信号のパワーを反映させたものではない。
従って、スキャン（２）の時点で「遮光」と判定することはできず、スキャン間隔時間を「Ｔ−α」に設定してスキャン（３）の処理を行なう。
【００４０】
続くスキャン（３）では、スキャン間隔時間を短く設定しても２光軸目で遮光状態が検出されたため、マイコン８はその時点で遮光判定（被検出物の検出）を行い（図１（ｆ）参照）検出信号を外部に出力する。また、この時、受光側の信号波形にアンダーシュートを発生させるおそれのある干渉光は、２光軸目の受光タイミングよりも後に受光素子６に入射することになるので、アンダーシュートの発生を回避できるようになる。
【００４１】
そして、マイコン８は、スキャン（２），（３）で連続して遮光を判定し（ステップＳ１０，ＳＴＡＴＥ＿Ｎ＝「遮光」）、Ｆｌａｇ１，２の何れもが「０」であるか（ステップＳ１３，Ｓ１４，「ＮＯ」）、次のスキャン（４）に至るスキャン間隔時間を「Ｔ」に設定する（ステップＳ１５）。
【００４２】
また、図７に示すタイミングチャートは別の例である。即ち、本来、スキャン（１）〜（４）においては被検出物が２光軸目を遮り続けているため、遮光状態が確定し続けるはずである。（図７（ｃ），▲２▼光軸目参照）。
【００４３】
ところが、スキャン（２）において、２光軸目に入射する干渉光のタイミングが受光タイミングに一致したため、２光軸目が入光状態に変化してしまったとする。（図７（ｄ），（ｅ）参照）。すると、このケースでは、マイコン８はステップＳ４ａでフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎが「遮光」であると判断してステップＳ５でＦｌａｇ１を「１」にセットするので、次のスキャン（３）が開始されるまでのスキャン間隔時間は「Ｔ＋α」に設定され（ステップＳ１７）、本来の間隔時間Ｔよりも長くなる。また、この時、ステップＳ４ｂにおいてフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎは「未確定」にセットされるため、遮光判定出力信号は一旦インアクティブとなる（図７（ｆ）参照）。
【００４４】
続くスキャン（３）では、スキャン間隔時間を長く設定したことで、干渉光は２光軸目の受光タイミングよりも前に受光素子６に入射するようになり、２光軸目は再び遮光状態が検出される。そして、マイコン８は、スキャン（３），（４）で連続して遮光を判定し（ステップＳ１０）、Ｆｌａｇ１，２の何れもが「０」であるから（ステップＳ１３，Ｓ１４，「ＮＯ」）、次のスキャン（４）に至るスキャン間隔時間を「Ｔ」に設定する（ステップＳ１５）。また、マイコン８はその時点で再び遮光判定（被検出物の検出）を行うようになり（図７（ｆ）参照）検出信号を外部に出力する。
【００４５】
また、このケースでは、スキャン（２）から（３）にかけて受光状態が「入光」から「遮光」に変化しているが、マイコン８は、上述したようにスキャン（２）においてＦｌａｇ１を「１」にセットする以前にフラグＳＴＡＴＥ＿Ｎを「未確定」にセットしている（ステップＳ４ｂ）。従って、スキャン（３）ではステップＳ８ａで「未確定」と判定するため、Ｆｌａｇ２が「１」にセットされることはない。
【００４６】
以上のように本実施例によれば、受光ユニット３側のマイコン８は、同期回路１１が投光ユニット２，受光ユニット３間における何れかの光軸について出力する受光信号が被検出物の非検出を示す状態から検出状態に変化すると、スタートパルスの出力タイミングを変化させて投光制御回路５による投光スキャン動作の開始タイミングを変化させるようにした。
【００４７】
従って、多光軸光電スイッチ１の近傍に、例えば、同機種の多光軸光電スイッチのように投光スキャン周期と同様の周期で且つ同様の発光タイミングを有するノイズ光源が存在した場合でも、そのノイズ光源による干渉を排除して、被検出物の検出を効率的且つ確実に行うことができる。
【００４８】
また、マイコン８は、投光スキャン動作の１スキャン周期にわたって比較回路１０により同期回路１１を介して出力されるパルス信号の出力状態をメモリ１３に記憶させ、今回のスキャン動作における各光軸のパルス信号と、前回のスキャン周期においてメモリ１３に記憶された各パルス信号の状態とを逐次比較して、入光，遮光の状態変化を判定するようにした。
【００４９】
従って、マイコン８は、１周期のスキャン動作を終了すると直ちに投光スキャン動作の開始タイミングを変化させることができ、ノイズ光源による干渉を排除するための処理をより早く開始することができる。
【００５０】
（第２実施例）
図８は本発明の第２実施例を示すものであり、第１実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ説明する。第２実施例の構成は基本的に第１実施例と同様であり、マイコン８によるソフトウエア的な処理が若干異なっている。
【００５１】
フローチャートを示す図８において、マイコン８は、ステップＳ３，Ｓ７において配列Ｄｎ［０］に現在行っているスキャン動作に関する入光，遮光の状態を記憶させると、ステップＳ１１に移行する。即ち、ステップＳ４，Ｓ４ａ，Ｓ４ｂ，ステップＳ８，Ｓ８ａ，Ｓ８ｂは削除されている（ステップＳ５，Ｓ６は後述するように移動されている）。
【００５２】
そして、ステップＳ１２で「ＹＥＳ」と判断すると、光軸番号ｎを初期値「１」にセットし（ステップＳ２１）、同じ光軸番号の配列Ｄｎ［０］，Ｄｎ［１］の内容が一致するか否かを判断する（ステップＳ２２）。両者が一致する場合、受光状態は配列Ｄｎ［０］の内容で確定する。
【００５３】
一方、ステップＳ２２において両者が不一致の場合は、配列Ｄｎ［０］の内容を判定し（ステップＳ２４）、「入光」であればステップＳ５，「遮光」であればステップＳ６を実行する。それから、ステップＳ１１，Ｓ１２と同内容のステップＳ２５，Ｓ２６を実行し、ステップＳ２６で「ＮＯ」と判断するとステップＳ２２に戻って以上の処理を繰り返す。その後、マイコン８が全光軸について処理を行ない、ステップＳ２６で「ＮＯ」と判断すると、第１実施例と同様にステップＳ１３〜Ｓ１８，Ｓ２７の処理を実行する。
【００５４】
以上のように第２実施例によれば、現在のスキャン動作において得られる受光状態を配列Ｄｎ［０］に１スキャン分を連続して記憶させ、その処理が終了すると、配列Ｄｎ［０］の内容を前回のスキャン動作において得られた受光結果である配列Ｄｎ［１］とまとめて比較するので、第１実施例のようにフラグＳＴＡＴＥ＿Ｒ，Ｎの管理を行う必要がなくなり、処理を簡単にすることができる。
【００５５】
本発明は上記し且つ図面に記載した実施例にのみ限定されるものではなく、次のような変形または拡張が可能である。
第１実施例において、遮光→入光に変化した場合は、スキャン間隔周期を「Ｔ＋β（αとは異なる値）」に変化させるようにしても良い。この場合、フラグＳＴＡＴＥ＿Ｒ，Ｎを用いる処理を省略しても良い。
入光，遮光が夫々３回以上連続した場合に入光，遮光を確定させるようにしても良い。また、その場合、スキャン間隔周期を２回以上変化させても良い。
第１実施例において、「入光」→「遮光」の変化を検出した場合にスキャン間隔時間を「Ｔ−α」に設定する処理だけを行っても良い。
更に、ステップＳ４ａ，Ｓ４ｂ，Ｓ８ａ，Ｓ８ｂを削除して、以下のように処理しても良い。即ち、ステップＳ１５の実行後にＦｌａｇ３を「１」にセットする。そして、ステップＳ１２で「ＹＥＳ」と判断すると、Ｆｌａｇ３が「１」にセットされているか否かを判断し、「１」にセットされていなければ（「ＮＯ」）ステップＳ１５に移行する。また、Ｆｌａｇ３が「１」にセットされていれば（「ＹＥＳ」）ステップＳ１３に移行する。
即ち、Ｆｌａｇ３は、前回のスキャン間隔時間が「Ｔ」に設定されていたことを記憶するためのフラグである。そして、前回のスキャン間隔時間が「Ｔ」に設定されていた場合にだけ、ステップＳ１３，Ｓ１４においてＦｌａｇ１，２が「１」にセットされているか否かを判断する。そして、Ｆｌａｇ３は、ステップＳ１６，Ｓ１７の実行後に「０」にリセットする。斯様に処理した場合も第１実施例と同様の効果が得られる。
入光，遮光と被検出物の非検出，検出の関係が逆となるタイプ（被検出物が投受光ユニット間に存在していることが定常状態であり、存在しなくなったことを検出するもの）の多光軸光電スイッチに適用しても良い。
【００５６】
【発明の効果】
本発明は以上の説明から明らかなように、以下の効果を奏する。
請求項１記載の多光軸光電スイッチによれば、スキャン動作制御手段は、比較手段が何れかの光軸について出力する二値化信号が被検出物の有無について非検出を示す状態からを示す検出状態に変化した場合、その検出状態が、検出手段によって被検出物の検出が判別される所定回数に達するまでの間に、投光スキャン動作の開始タイミングを少なくとも１回変化させるようにした。
【００５７】
従って、多光軸光電スイッチの近傍に投光スキャン周期と同様の周期で且つ同様の発光タイミングを有するノイズ光源が存在している場合でも、それ以降、多光軸光電スイッチとノイズ光源との発光タイミングは一致しなくなる。従って、ノイズ光源による干渉を排除して、被検出物の有無に関する検出を効率的且つ確実に行うことができる。
【００５８】
請求項２記載の多光軸光電スイッチによれば、スキャン動作制御手段は、比較手段より出力される各光軸の二値化信号と、前回のスキャン周期において記憶手段に記憶された各二値化信号の状態とを逐次比較して、二値化信号の状態変化を判定するようにした。従って、スキャン動作制御手段は、１周期のスキャン動作が終了すると直ちに投光スキャン動作の開始タイミングを変化させることができ、ノイズ光源による干渉を排除するための処理をより早く開始することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例であり、多光軸光電スイッチにおけるスキャン周期の制御内容を示すタイミングチャート
【図２】多光軸光電スイッチの概略的な電気的構成を示す機能ブロック図
【図３】受光ユニットの一光軸分について信号処理部を中心とするより詳細な構成を示す機能ブロック図
【図４】信号処理部における各部の信号波形を示す図
【図５】受光ユニットのマイコンが行なうスキャン処理に係る部分の処理内容を示すフローチャート
【図６】干渉光のパワーが強い場合に受光信号波形に及ぼす影響を説明するための波形図
【図７】干渉光の異なる発生パターンを示す図１相当図
【図８】本発明の第２実施例を示す図５相当図
【符号の説明】
１は多光軸光電スイッチ、４は投光素子、５は投光制御回路（投光制御手段）、６は受光素子、８はマイクロコンピュータ（検出手段，スキャン動作制御手段）、１０は比較回路（比較手段）、１１は同期回路（比較手段）、１２はシフトレジスタ（比較手段）、１３はメモリ（記憶手段）を示す。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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