(57)【要約】      （修正有）【課題】ＰＣＡの適切なアクセス制御によって光ディスクの所定サイズの記録領域の有効利用を図る。【解決手段】記録トラックのウォブリング情報に対応づけられた第１のアドレス情報によって当該記録トラックが第１の記録領域単位で区分されている光ディスクに対して、複数の前記第１の記録領域で構成された誤り訂正を行う単位であるブロック単位でアクセスを行う光ディスク装置において、複数の前記第１の記録領域で構成される第２の記録領域へのアクセスを行う場合に、当該第２の記録領域を構成する複数の前記第１の記録領域ごとに対して、データ変調及び／又は復調処理を施さずに順次アクセス制御を行う制御手段を有することとする。【選択図】      図１
2004334963.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録トラックのウォブリング情報に対応づけられた第１のアドレス情報によって当該記録トラックが第１の記録領域単位で区分されている光ディスクに対して、複数の前記第１の記録領域で構成された誤り訂正を行う単位であるブロック単位でアクセスを行う光ディスク装置において、
複数の前記第１の記録領域で構成される第２の記録領域へのアクセスを行う場合に、当該第２の記録領域を構成する複数の前記第１の記録領域ごとに対して、データ変調及び／又は復調処理を施さずに順次アクセス制御を行う制御手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御手段は、
前記第２の記録領域を構成する複数の前記第１の記録領域それぞれを論理的に区分した区分領域ごとに対して順次アクセス制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第２の記録領域は、
光学ヘッドから出射されるレーザー光のパワー調整のために所定のテスト信号の記録及び再生が行われるテスト領域であり、
前記制御手段は、
前記テスト領域を構成する複数の前記第１の記録領域ごとに対して、前記テスト信号を順次記録及び再生していくためのアクセス制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記第２の記録領域は、
光学ヘッドから出射されるレーザー光のパワー調整のために所定のテスト信号の記録及び再生が行われるテスト領域であり、
前記制御手段は、
前記テスト領域を構成する複数の前記第１の記録領域それぞれを論理的に区分した区分領域ごとに対して、前記テスト信号を順次記録及び再生していくためのアクセス制御を行うことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
記録トラックを区分した第１の記録領域ごとに第１のアドレス情報が付与されている光ディスクに対して、複数の前記第１の記録領域で構成された誤り訂正を行う単位であるブロック単位でアクセスを行う光ディスク装置の制御方法において、
複数の前記第１の記録領域で構成される第２の記録領域へのアクセスを行う場合に、当該第２の記録領域を構成する複数の前記第１の記録領域ごとに対して、データ変調及び／又は復調処理を施さずに順次アクセス制御を行うことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクの記録領域の有効利用を図ることが可能な光ディスク装置及びその制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
レーザー光を利用して情報の記録・再生可能な光ディスクの規格の一つとして、データ追記型（Ｗｒｉｔｅ  Ｏｎｃｅ）のＣＤ−Ｒや、書き換え可能型（ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）のＣＤ−ＲＷなどのＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ）規格がある。近年、ＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷディスクについては、低価格化と併せて普及率が拡大しており、広く一般化されている。
【０００３】
記録・再生が可能なＣＤ規格の物理フォーマットに準拠した光ディスク（ＣＤ規格媒体）では、記録トラックを形成するプリグルーブ（案内溝）が、絶対時間情報などによりＦＭ変調された波形に則してウォブリング（蛇行）している。このプリグルーブからウォブリングの周波数を復調することによって、絶対時間情報であるＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ  ｔｉｍｅ  Ｉｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）アドレスを取得できる。また、ＡＴＩＰアドレスは、ＣＤ規格の論理フォーマットに則してデータの記録・再生を行う光ディスク装置において、当該ＣＤ規格媒体上でのデータの記録・再生位置を管理するための管理情報として利用される。
【０００４】
ところで、ＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷディスクの記録容量は、標準で６５０Ｍバイトや７００Ｍバイト程度である。近年、ビデオ録画の用途などで、光ディスク媒体に対してさらなる大容量記録を求めるニーズが高いため、ＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷディスクの標準の記録容量ではこうしたニーズに対応できない。
【０００５】
このため、光ディスク装置では、ＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷ等といった既存のＣＤ規格媒体より取得したＡＴＩＰアドレスから高密度記録用アドレスに変換し、この高密度記録用アドレスを利用して当該ＣＤ規格媒体への高密度記録を実現する仕組みが提案されている（例えば、以下に示す特許文献１参照）。なお、高密度記録用アドレスとは、ＡＴＩＰアドレスによって区分された通常１セクタに相当する記録領域（以下、１ＡＴＩＰ区間と称する）を論理的に所定数（記録密度の倍率）区分した場合に、当該区分領域ごとに付与されるアドレスである。
【０００６】
また、前述した仕組みを備える光ディスク装置（以下、従来の光ディスク装置と称する）では、当該ＣＤ規格媒体へ高密度記録を行う場合に、ＤＶＤ−Ｒ及びＤＶＤ−ＲＷなどのＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）規格の論理フォーマットを利用する技術が提案されている。なお、ＤＶＤ規格の論理フォーマットでは、リードソロモン（Ｒｅｅｄ  Ｓｏｌｏｍｏｎ）符号による誤り訂正を行うことが規定されている。このため、従来の光ディスク装置は、リードソロモン符号を記録データに付加して１６セクタに相当する１ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ  Ｃｏｄｅ）ブロックを構成するエンコード（変調）処理の仕組みや、当該ＣＤ規格媒体から再生された前述の１ＥＣＣブロックを復号化するデコード（復調）処理の仕組みを備えている。
【０００７】
このように、従来の光ディスク装置は、高密度記録モードの場合、すなわち、当該ＣＤ規格媒体に対してＤＶＤ規格の論理フォーマットを採用する場合には、誤り訂正を行う単位である１ＥＣＣブロック単位での記録再生を原則としていた。
【０００８】
【特許文献１】
特開２００２−５６６１７号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、ＣＤ規格媒体では、光学ヘッドから出射されるレーザー出力の記録パワー調整のために所定のテスト信号の記録及び再生が行われるＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）が設定されている。このＰＣＡの領域サイズは、１００セクタ（１００ＡＴＩＰ区間）と規定されている。
ここで、データ追記型のＣＤ−Ｒディスクにおいて、ＰＣＡに対して１ＥＣＣブロック単位でテスト信号の記録が行われた場合には、１２回程度のアクセスでＰＣＡを使い切ってしまうことになる。そして、ＣＤ−Ｒディスクは、ＰＣＡを使い切ってしまうことで、ユーザーが利用可能なプログラム領域に空きが存在していたとしてもデータの追記が行われないことになる。
このように、従来の光ディスク装置は、高密度記録モード時において１ＥＣＣブロック単位でのアクセスを行うことで、当該ＣＤ規格媒体上に設定された所定サイズの記録領域に対して、アクセス頻度が少ないにも関わらず使い切ってしまので有効利用が図れないという課題を生じていた。
【００１０】
本発明は、前述した課題を解決するためになされたものであり、光ディスクの記録領域について有効利用を図ることが可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するための主たる本発明は、記録トラックのウォブリング情報に対応づけられた第１のアドレス情報によって当該記録トラックが第１の記録領域単位で区分されている光ディスクに対して、複数の前記第１の記録領域で構成された誤り訂正を行う単位であるブロック単位でアクセスを行う光ディスク装置において、複数の前記第１の記録領域で構成される第２の記録領域のアクセスを行う場合に、当該第２の記録領域を構成する複数の前記第１の記録領域ごとに対して、データ変調及び／又は復調処理を施さずに順次アクセス制御を行う制御手段を有することとする。
【００１２】
このように、前述のブロック単位で光ディスクへのアクセスを行う本発明に係る光ディスク装置は、光ディスク上に設定された所定サイズの第２の記録領域をアクセスする場合に、前述のブロック単位でアクセスを行うのではなく第２の記録領域を構成する第１の記録領域（後述の１ＡＴＩＰ区間）ごとに順次アクセス制御を行う。
このことは、当該アクセスを行う第２の記録領域が、ブロック単位でアクセスを行う必要性がなく、また、リードソロモン符号による誤り訂正やＥＦＭ−Ｐｌｕｓ（８／１６）変調・復調などの信頼性向上のためのデータ処理を行う必要性がない領域の場合に有効である。すなわち、当該第２の記録領域に対するアクセス頻度を向上させることが可能であり、限られたリソースである第２の記録領域の有効利用を図ることができる。
【００１３】
本発明に係る第２の態様として、前記制御手段は、前記第２の記録領域を構成する複数の前記第１の記録領域それぞれを論理的に区分した区分領域ごとに対して順次アクセス制御を行うこととする。
本発明に係る光ディスク装置は、高密度記録モードによって第１の記録領域を論理的に区分した区分領域ごとに記録を行うことが可能である。そこで、区分領域ごとに前述したアクセス制御を行うことによって、当該第２の記録領域に対するアクセス頻度をさらに向上させることが可能であり、限られたリソースである第２の記録領域の有効利用を図ることができる。
【００１４】
本発明に係る第３の態様として、前記第２の記録領域は、光学ヘッドから出射されるレーザー光のパワー調整のために所定のテスト信号の記録及び再生が行われるテスト領域であり、前記制御手段は、前記テスト領域を構成する複数の前記第１の記録領域ごとに対して、前記テスト信号を順次記録及び再生していくためのアクセス制御を行うこととする。
【００１５】
このように、本発明に係る光ディスク装置は、ＯＰＣで使用されるＰＣＡのテスト領域について、従来どおり前述したブロック単位でアクセスを行うのではなく、当該テスト領域を構成する第１の記録領域ごとに前述したアクセス制御を行う。
このことは、ブロック単位でのアクセスと比較すると、ＰＣＡのテスト領域に対するアクセス頻度が向上することになり、当該テスト領域の有効利用を図ることができる。また、ＰＣＡのテスト領域のアクセス頻度が向上することによって、プログラムエリア（ユーザー領域）へのデータ追記や書き換え回数が増加してその分プログラムエリアの有効利用を図ることができる。
【００１６】
本発明に係る第４の態様として、前記第２の記録領域は、光学ヘッドから出射されるレーザー光のパワー調整のために所定のテスト信号の記録及び再生が行われるテスト領域であり、前記制御手段は、前記テスト領域を構成する複数の前記第１の記録領域それぞれを論理的に区分した区分領域ごとに対して、前記テスト信号を順次記録及び再生していくためのアクセス制御を行うこととする。
【００１７】
本発明に係る光ディスク装置は、高密度記録モードによって第１の記録領域を論理的に区分した区分領域ごとに記録を行うことが可能である。そこで、前述したＰＣＡのテスト領域について論理的に区分した区分領域ごとに前述したアクセス制御を行う。
このことは、ＰＣＡのテスト領域に対するアクセス頻度がさらに向上することになり、当該テスト領域の有効利用を図ることができる。また、ＰＣＡのテスト領域のアクセス頻度が向上することによって、プログラムエリアへのデータ追記や書き換え回数が増加してその分プログラムエリアの有効利用を図ることができる。
【００１８】
本発明に係る第５の態様として、記録トラックを区分した第１の記録領域ごとに第１のアドレス情報が付与されている光ディスクに対して、複数の前記第１の記録領域で構成された誤り訂正を行う単位であるブロック単位でアクセスを行う光ディスク装置の制御方法において、複数の前記第１の記録領域で構成される第２の記録領域のアクセスを行う場合に、当該第２の記録領域を構成する複数の前記第１の記録領域ごとに対して、データ変調及び／又は復調処理を施さずに順次アクセス制御を行うこととする。
【００１９】
このように、前述のブロック単位で光ディスクへのアクセスを行う本発明に係る光ディスク装置の制御方法では、光ディスク上に設定された所定サイズの第２の記録領域をアクセスする場合に、前述のブロック単位でアクセスを行うのではなく第２の記録領域を構成する第１の記録領域（後述の１ＡＴＩＰ区間）ごとに順次アクセス制御を行う。
このことは、当該アクセスを行う第２の記録領域が、ブロック単位でアクセスを行う必要性がなく、また、リードソロモン符号による誤り訂正やＥＦＭ−Ｐｌｕｓ（８／１６）変調・復調などの信頼性向上のためのデータ処理を行う必要性がない領域の場合に有効である。すなわち、当該第２の記録領域に対するアクセス頻度を向上させることが可能であり、限られたリソースである第２の記録領域の有効利用を図ることができる。
【００２０】
本発明の他の特徴については、添付図面及び本明細書の記載により明らかにする。
【００２１】
【発明の実施の形態】
＝＝＝実施例＝＝＝
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて具体的に説明する。
【００２２】
＜システム構成＞
まず、本発明の一実施形態である光ディスク装置１００を含めたシステムの概略構成を、図１を用いて説明する。図１に示す光ディスク装置１００は、ＣＤ−Ｒ及びＣＤ−ＲＷなどの既存のＣＤ規格の物理フォーマットに準拠した光ディスク（ＣＤ規格媒体）２００に対して、高密度記録用アドレスを利用した記録及び再生が可能な光ディスク記録再生装置である。あるいは、光ディスク装置１００は、高密度記録用アドレスを利用した再生専用の光ディスク再生装置としてもよい。なお、物理フォーマットとは、光ディスク２００の寸法や記録・再生方法、セクタ構成などを規定したものである。
ここで、ユーザーの利便性を鑑みて、ＣＤ規格媒体に対して、当該ＣＤ規格の論理フォーマットに準拠した標準記録モードによる記録及び再生をサポートするのが好適である。さらに、光ディスク装置１００は、ＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷなどのＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）規格の物理フォーマットに準拠した光ディスク２００（ＤＶＤ規格媒体）に関して、当該ＤＶＤ規格の論理フォーマットに準拠した標準記録モードによる記録及び再生をサポートしてもよい。なお、論理フォーマットとは、ファイルやディレクトリ、ボリュームといったデータ構造の仕組みを規定したものである。
【００２３】
以下では、説明の都合上、光ディスク２００はＣＤ規格媒体とし、光ディスク装置１００は高密度記録用アドレス等を用いた高密度記録モードによる記録及び再生のみをサポートするものとする。なお、ＣＤ規格媒体では、記録トラックを形成するプリグルーブ（案内溝）が、絶対時間情報などによりＦＭ変調された波形に則してウォブリング（蛇行）している。このプリグルーブからウォブリングの周波数を復調することによって、絶対時間情報であるＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ  Ｔｉｍｅ  Ｉｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）アドレス（『第１のアドレス情報』）を取得することができる。
【００２４】
光ディスク装置１００は、同図に示すとおり、光学ヘッド１、フロントエンド処理部２、光学ヘッドサーボ回路３、再生レベル検出回路４、ＷＢＬ検出部５、ＡＴＩＰデコーダ６、ＰＳＮデコーダ７、ＰＬＬ回路８、高密度記録モード用デコーダ９、高密度記録モード用エンコーダ１０、インタフェース部１１、ＲＡＭ１２、システム制御マイコン（『制御手段』）１３、レーザー出力制御回路１４、レーザー駆動回路１５、スピンドルモーター１６、モーター駆動回路１７、モーター制御回路１８、ＲＯＭ１９、を有する。
【００２５】
光学ヘッド１は、対物レンズ（不図示）と、この対物レンズを介して光ディスク２００に対してレーザー光を出射するレーザー素子１ａと、光ディスク２００からの反射光を受光する受光素子（不図示）などが組み込まれている。また、光学ヘッド１には、光学ヘッド１を記録・再生対象の記録トラックに移動させるためのスライド機構、光ディスク２００に出射したレーザー光を記録・再生対象の記録トラックに追従させる制御（トラッキング制御）を行うためのトラッキング機構、光ディスク２００に出射したレーザー光の焦点ずれを補正する制御（フォーカス制御）を行うためのフォーカス機構、などが組み込まれている（いずれも不図示）。
【００２６】
フロントエンド処理部２は、マトリクス演算回路や増幅回路や波形整形回路（イコライザ）などで構成されるＲＦアンプ、３ビーム法、プッシュプル法やＤＰＤ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｈａｓｅ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）法などに基づいたトラッキング誤差信号生成回路、非点収差法やフーコー法などに基づいたフォーカス誤差信号生成回路などを備える（いずれも不図示）。
【００２７】
ＲＦアンプは、光学ヘッド１の受光素子（不図示）にて受光光量に応じて生成された電気信号に基づいて、記録・再生対象の記録トラック上にあるピットの有無を判別するためのＲＦ信号（ラジオ周波信号）を生成する。なお、このＲＦ信号は２値化されている。また、ＲＦ信号は、ＡＴＩＰアドレスを取得するためのウォブリング周波数成分を含んでいる。さらに、光ディスク２００が予め高密度記録されている場合には、ＲＦ信号は、後述のＩＤ情報も含むことになる。
【００２８】
トラッキング誤差信号生成回路は、前述のＲＦアンプと同様に、光学ヘッド１の当該受光素子（不図示）にて受光光量に応じて生成された電気信号に基づいて、光学ヘッド１のトラッキング制御機構をサーボ制御するためのトラッキング誤差信号を生成する。また、フォーカス誤差信号生成回路も同様に、前述の受光素子（不図示）の電気信号に基づいて、光学ヘッド１のフォーカス制御機構をサーボ制御するためフォーカス誤差信号を生成する。
【００２９】
光学ヘッドサーボ回路３は、フロントエンド処理部２にて生成された各種誤差信号（トラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号等）に基づいて、光学ヘッド１に組み込まれたサーボ機構（トラッキングサーボ機構やフォーカスサーボ機構等）を駆動するためのサーボ制御信号を生成する。そして、そのサーボ制御信号に基づいてサーボ機構の駆動をサーボ制御する。
【００３０】
再生レベル検出回路４は、システム制御マイコン１３がＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）の最適判定に使用するアシンメトリ値”β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）”を算定するために備えられた回路である。ここで、ＯＰＣでは、光ディスク２００の記録トラック上に設定されたＰＣＡに対して、所定の記録速度でレーザー素子１ａの記録パワーを段階的に変化させてテスト信号の記録を行った後でＰＣＡから当該テスト信号の再生を行う。そして、当該テスト信号の再生レベルに基づいて算定されたアシンメトリ値βをターゲットＴβ（例えば、０．０４）と対照し、ターゲットＴβに最も近いアシンメトリ値βが得られた時のレーザー素子１ａの記録パワーを当該記録速度における最適記録パワーとして設定する。
【００３１】
このため、再生レベル検出回路４は、一般的に、ピークホールド回路及びボトムホールド回路（いずれも不図示）などから構成され、ＰＣＡに記録されたテスト信号を再生した際にＲＦアンプにて生成されるＲＦ信号を受信し、当該ＲＦ信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。この検出されたピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２はシステム制御マイコン１３に送信される。
【００３２】
また、再生レベル検出回路４は、例えば、ゼロクロスコンパレータ及びＬＰＦ（Ｌｏｗ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）回路などによる構成としてもよい（いずれも不図示）。この構成では、ＰＣＡに記録されたテスト信号を再生した際にＲＦアンプにて生成されるＲＦ信号を受信し、ゼロクロスコンパレータ及びＬＰＦ回路を介して当該ＲＦ信号の直流電圧レベルを検出する。この検出された直流電圧レベルはシステム制御マイコン１３に送信される。なお、この場合、システム制御マイコン１３では、ＬＰＦ回路から受信した直流電圧のレベルと、ターゲットＴβとなる時のターゲット直流電圧レベルと、の対照を行うことになる。
【００３３】
なお、以下の説明では、再生レベル検出回路４は、ピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２の検出を行う構成とする。
【００３４】
ＷＢＬ検出部５は、ＢＰＦ（Ｂａｎｄ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）回路やコンパレータ等によって構成される。ＢＰＦ回路は、フロントエンド処理部２にて生成されたＲＦ信号を受信してウォブリング周波数成分（中心周波数２２．０５ｋＨｚ）を抽出する。コンパレータは、前述のウォブリング周波数成分と基準電圧との比較によって２値化ＷＢＬ（Ｗｏｂｂｌｅ）信号を生成し、ＡＴＩＰデコーダ６やモーター制御回路１８に送信する。
【００３５】
ＡＴＩＰデコーダ６は、ＷＢＬ検出部５から受信した１ＡＴＩＰ区間あたりのＷＢＬ信号に基づいてＡＴＩＰアドレスをデコードする。ここで、１ＡＴＩＰ区間あたりのＷＢＬ信号には、同期検出用のパターン、当該ＷＢＬ信号が記録されている記録領域に付与される識別子、ＡＴＩＰアドレス等を含めたウォブリング情報、当該ウォブリング情報のビット誤り等を検出するためのＣＲＣデータなどを含んでいる（図２参照）。
【００３６】
また、ＡＴＩＰデコーダ６は、ＣＲＣチェック回路６ａを有している。ＣＲＣチェック回路６ａは、１ＡＴＩＰ区間あたりのＷＢＬ信号からＡＴＩＰアドレスが正常にデコードしたか否かを判定するために、前述のＣＲＣデータに基づいてＣＲＣチェックを行う。なお、ＡＴＩＰアドレスのデコード結果の検査方式としては、ＣＲＣチェック方式に限定されるものではなく、例えば、パリティビットを用いたパリティチェック方式やＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ  Ｃｏｄｅ）を用いたＥＣＣチェック方式を採用してもよい。
【００３７】
ＰＳＮデコーダ７は、光ディスク２００が未記録状態である場合、ＡＴＩＰデコーダ６にてデコードしたＡＴＩＰアドレスを受信して高密度記録用アドレスとしてのＰＳＮアドレスに変換する。一方、光ディスク２００が高密度記録された状態にある場合、ＰＳＮデコーダ７は、フロントエンド処理部２からＲＦ信号に含まれるＩＤ（Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  Ｄａｔａ）情報を受信してＰＳＮアドレスに変換する。なお、ＩＤ情報とは、光ディスク装置１００が、記録トラック上でＰＳＮアドレスによって論理的に区分された各区分領域を識別するための情報であり、記録データ及びパリティビットと併せて光ディスク２００に記録されている（図３参照）。
【００３８】
ＰＬＬ回路８は、位相比較器、チャージポンプ、ＬＰＦ、ＶＣＯ、分周回路などを備える。この構成において、ＰＬＬ回路８は、ＷＢＬ検出部５から受信したＷＢＬ信号に基づいて、光ディスク２００の規格に応じたデコード処理時のタイミング信号として用いられるクロック信号を生成する。
【００３９】
高密度記録モード用デコーダ９は、前述の高密度記録モード時において、光ディスク２００への再生処理に採用する論理フォーマットに対応したデコード処理を行う。なお、本発明では、ＤＶＤ規格にて規定された論理フォーマットに対応したデコード処理を採用する。ＤＶＤ規格の論理フォーマットでは、変調コードとしてＥＦＭ−ｐｌｕｓ（８／１６変調）を、誤り訂正符号としてリードソロモン（Ｒｅｅｄ  Ｓｏｌｏｍｏｎ）符号を規定している。そこで、高密度記録モード用デコーダ９は、ＰＬＬ回路８にて生成されたクロック信号及びフロントエンド処理部２にて検出されたＲＦ信号に基づいて、前述の変調コード及び誤り訂正符号に基づいたデコード処理を行う。
【００４０】
高密度記録モード用エンコーダ１０は、パソコン等の情報処理装置（不図示）からインタフェース部１１を介して入力される記録データに関して、前述の高密度記録モード時において光ディスク２００への記録処理に採用する論理フォーマットに応じたエンコード処理を行う。なお、本発明では、高密度記録モード用デコーダ９との関連により、ＤＶＤ規格にて規定された論理フォーマットに対応したエンコード処理を採用する。このエンコード処理としては、記録・再生時の誤り訂正単位である１ＥＣＣブロックを構成するための処理や、ＥＦＭ−ｐｌｕｓ変調処理及びスクランブル処理などが該当し、これらの処理が施された後の記録用変調信号をレーザー出力制御回路１４に送信する。
インタフェース部１１は、光ディスク装置１００とパソコン等の情報処理装置（不図示）などとの間における記録・再生データの送受信を制御する。
【００４１】
ＲＡＭ１２は、当該情報処理装置（不図示）からインタフェース部１１を介して再生要求を受信した場合に、高密度記録モード用デコーダ９においてデコード処理中の中間データやデコード処理後の再生データを一時記憶する。この一時記憶された再生データは、インタフェース部１１を介して当該情報処理装置（不図示）に送信される。
また、ＲＡＭ１２は、当該情報処理装置（不図示）からインタフェース部１１を介して記録要求の対象となる記録データが入力された場合には、その記録データを一時記憶する。この一時記憶された記録データは、高密度記録モード用エンコーダ１０におけるエンコード処理の際にアクセスされることになる。
【００４２】
システム制御マイコン１３は、光ディスク２００の記録及び再生に係る光ディスク装置１００全般のシステム制御を司る。例えば、システム制御マイコン１３は、当該情報処理装置（不図示）からＰＳＮアドレスを含めた記録要求を受信した場合、当該ＰＳＮアドレスによって指定された記録領域への記録データのエンコード処理を開始すべく、高密度記録モード用エンコーダ９などの制御を行う。同様に、当該情報処理装置（不図示）からＰＳＮアドレスを含めた再生要求を受信した場合では、当該ＰＳＮアドレスによって指定された記録領域からの再生データのデコード処理を開始すべく、高密度記録モード用デコーダ９やＰＬＬ回路８などを制御する。
【００４３】
また、システム制御マイコン１３は、前述したとおり、再生レベル検出回路４からピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２を受信して”（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）”の計算式によってアシンメトリ値βを算定する。ここで、ＲＯＭ１９には、記録速度及び光ディスク２００の識別情報（製造メーカー、ディスク種別など）に対応づけられたターゲットＴβが記憶されており、システム制御マイコン１３は、ＲＯＭ１９から、光ディスク２００の識別情報及びテスト時の記録速度に対応づけられたターゲットＴβを読み出す。そして、システム制御マイコン１３は、順次算定されたアシンメトリ値βとターゲットＴβを対照していくとともに、レーザー出力制御回路１４を介してレーザー素子１ａの記録パワーの調整ならびにＰＣＡへの新たなテスト信号の記録を行っていき、アシンメトリ値βが最適判定された時の記録パワーを当該記録速度における最適記録パワーとして設定するＯＰＣを実行する。
【００４４】
レーザー出力制御回路１４は、高密度記録モード用エンコーダ１０から受信した記録用変調信号に基づいて、レーザー素子１ａをレーザー発光駆動するためのパルス信号を生成してレーザー駆動回路１５に送信する。また、レーザー出力制御回路１４は、システム制御マイコン１３による制御下で、レーザー素子１ａから出射されるレーザー光の最適記録パワーを設定するためのＯＰＣを行う。
【００４５】
レーザー駆動回路１５は、レーザー出力制御回路１４から受信したパルス信号に基づいて、レーザー素子１ａを記録時においてレーザー発光駆動する。これによって、レーザー素子１ａからレーザー光が出射され、高密度記録モード用エンコーダ１０出力の記録用変調信号に応じたピットが光ディスクの記録トラックに形成されることになる。一方、再生時では、フロントエンド処理部２の内部又は外部に備える不図示のＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路の制御下で、レーザー駆動回路１５は、レーザー素子１ａをレーザー発光駆動する。なお、光学ヘッド１には、レーザー素子１ａから出射されるレーザー光のパワーを検出するための検出器（不図示）が備わっており、ＡＰＣ回路は、この検出器にて検出されたレーザー光のパワーを監視しつつ、レーザー素子１ａから出射されるレーザー光のパワーを一定とするためのＡＰＣを行う。
【００４６】
スピンドルモーター１６は、光ディスク２００を回転駆動するモーターであり、モーター駆動回路１７は、スピンドルモーター１６を回転駆動するための回路である。モーター制御回路１８は、ＷＢＬ検出部５から受信したＷＢＬ信号に基づくウォブリング周波数の情報を用いて、ＣＤ規格による線速度一定方式にてスピンドルモーター１６の回転駆動制御を行うための回路である。あるいは、スピンドルモーター１６の回転に応じて発生するパルス信号を用いて、角速度一定方式にてスピンドルモーター１６の回転駆動制御を行ってもよい。
【００４７】
＜高密度記録モードの論理フォーマット＞
＝＝＝  標準記録モード  ＝＝＝
まず、図２を用いて、標準記録モードの場合に採用される論理フォーマットについて説明する。同図に示すとおり、光ディスク２００に記録されるデータの最小単位は、ＣＤ規格のＥＦＭ（８／１４変調）変調方式に基づいた１ＥＦＭフレームとなる。そして、９８ＥＦＭフレームにて５８８ビットの１フレームが構成される。また、この１フレームによって、”Ｐ，Ｑ，Ｒ，…，Ｗ”からなる１サブコーディングフレーム（トラック番号、インデックス情報、絶対・相対アドレス等を含む）が生成される。
【００４８】
また、光ディスク２００の内周部の記録トラックから外周部の記録トラックに向かって、記録トラックのウォブリング情報に対応づけられた絶対アドレスが付与されている。この絶対アドレスは、絶対時間情報としてのＡＴＩＰアドレスに該当する。ＡＴＩＰアドレスは、通常、２４ビットのデータで構成され、上位８ビットは「分（ｍｉｎｕｔｅ）」を示し、続く８ビットは「秒（ｓｅｃｏｎｄ）」を示し、下位８ビットは「フレーム」を示す。
【００４９】
また、１秒間あたりのフレーム数は”７５”である。ここで、”１／７５”秒間に相当するＡＴＩＰアドレスによって設定される記録領域（以下、１ＡＴＩＰ区間と称する。『第１の記録領域』）は、光ディスク装置１００において記録・再生単位として扱う１セクタとなる。この１セクタ分の記録領域は、通常、２ｋバイトで構成され、前述したようにシンクパターン、識別子、ウォブリング情報、ＣＲＣデータなどが記録される。
【００５０】
＝＝＝  高密度記録モード  ＝＝＝
つぎに、図３を用いて、高密度記録モードの場合に採用される論理フォーマットについて説明する。高密度記録モードでは、例えば、標準記録モードと比較して２．０倍の記録密度を実現するように規定される。このため、高密度記録モードの場合に採用される論理フォーマットとしては、前述の１ＡＴＩＰ区間に対して、２セクタ分、すなわち４ｋバイトのデータを記録することになる。なお、１セクタ分の記録領域には、同図に示すとおり、ＩＤ情報、記録データ及びパリティビットが記録される。
【００５１】
また、高密度記録モードの場合では、ＤＶＤ規格に準拠した変調・復調方式を採用しているため、リードソロモン符号による誤り訂正を行う単位である１ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）ブロック単位での記録・再生が行われる。なお、１ＥＣＣブロックは１６セクタ分（３２ｋバイト）のデータと規定されており、例えば８ＡＴＩＰ区間に相当する記録領域に記録されることになる。
【００５２】
＜高密度記録モードの物理フォーマット＞
つぎに、高密度記録モードの場合に採用される光ディスク２００の物理フォーマットについて説明する。
光ディスク２００の物理フォーマットは、例えば、図４に示すような構成となる。同図に示すように、光ディスク２００の内周側から外周側に対して、フォーマットエリア、ＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）、ＰＭＡ（Ｐｒｏｇｒａｍ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ａｒｅａ）、ＴＯＣ（Ｔａｂｌｅ  Ｏｆ  Ｃｏｎｔｅｎｔｓ）エリア、プログラムエリア及びリードアウトエリアが設けられている。
【００５３】
フォーマットエリアは、高密度記録モードにおいて光ディスク２００のフォーマット処理が実行された場合に、所定のデータ（例えば、オール”０”）が記録される。
ＰＣＡは、実記録に先立って、記録速度や光ディスク２００のディスク種別に応じたレーザー素子１ａの最適な記録パワーを設定するために予約された記録領域である。なお、ＰＣＡは、図５に示すとおり、テストエリアとカウントエリアに区分されている。
テストエリア（『第２の記録領域』）は、所定のテスト信号を実際に記録する領域であり、１００個のパーティション（Ｐ００１〜Ｐ１００）に区分されている。なお、このテストエリアは１００ＡＴＩＰ区間に相当する。
【００５４】
一方、カウントエリアは、１００個のパーティション（Ｃ００１〜Ｃ１００）を形成しており、各パーティションには、対応するテストエリアのパーティションについてのＡＴＩＰアドレス又はＩＤ情報（ＰＳＮアドレス）と、テスト信号の記録・未記録状態を示すフラグ値と、が格納される。
ＰＭＡは、プログラムエリアに対して記録途中にある記録データや、記録トラックの開始及び終了アドレスなどのトラック情報が、ＴＯＣ情報と同様なフォーマットで記録されている。なお、ＰＭＡはＴＯＣエリアとしても兼用される。
プログラムエリアは、ユーザー使用可能領域として、実データの記録及び再生のための領域である。リードアウトエリアは、光ディスク２００の記録及び再生の終了位置を識別するための領域である。
【００５５】
以上の構成により、高密度記録モードの場合に採用する物理フォーマットは、既存のＣＤ規格に準拠した物理フォーマットと比較すると、ＰＭＡとＴＯＣエリアの兼用やプリギャップエリアの省略などによって高密度記録を可能としている。
【００５６】
＜ＡＴＩＰアドレスとＰＳＮアドレスの関係＞
＝＝＝  ＡＴＩＰアドレス  ＝＝＝
ＡＴＩＰアドレスについて詳細に説明する。
図６には、光ディスク装置１００が、光ディスク２００のプリグルーブの物理的なウォブリング情報をデコードして得られるＡＴＩＰアドレスの設定情報を示している。このＡＴＩＰアドレスは、光ディスク２００の記録トラックに付与された物理アドレスとしての一面と、光ディスク装置１００が光ディスク２００への記録又は再生の制御するために用いる論理アドレスとしての一面がある。
【００５７】
プログラムエリアの最内周側に相当するＡＴＩＰアドレス（以下、第１の基準ＡＴＩＰアドレスと称する。）は、”００（分）：００（秒）：００（フレーム）”である。そして、このプログラムエリアの最内周側から外周側に向かっての記録領域（以下、外周側記録領域と称する。）では、”１秒間＝７５フレーム”の換算にて、第１の基準ＡＴＩＰアドレスを１フレーム単位で単純増加していったＡＴＩＰアドレスが付与される。なお、本発明では、外周側記録領域におけるＡＴＩＰアドレスの最大値を”８９（分）：５９（秒）：７４（フレーム）”としている。
【００５８】
一方、第１の基準ＡＴＩＰアドレスより内周側の記録領域（以下、内周側記録領域と称する。）は、ＰＣＡやＰＭＡなどユーザーが使用不可能な予約領域である。この内周側記録領域にもＡＴＩＰアドレスが付与されている。本発明では、例えば、内周側記録領域におけるＡＴＩＰアドレスの最小値（以下、第２の基準ＡＴＩＰアドレスと称する。）を、”９０（分）：００（秒）：００（フレーム）”としている。そして、内周側記録領域では、外周側記録領域と同様に、”１秒間＝７５フレーム”の換算にて、第２の基準ＡＴＩＰアドレスを１フレーム単位で単純増加していったＡＴＩＰアドレスが付与されることになる。
【００５９】
＝＝＝  ＰＳＮアドレス  ＝＝＝
ＰＳＮアドレスについて詳細に説明する。
図６には、光ディスク装置１００が、光ディスク２００への記録又は再生を高密度記録モードにて行う場合において、論理アドレスとして用いるＰＳＮアドレスの設定情報を示している。
【００６０】
ここで、ＰＳＮアドレスとは、当該ＡＴＩＰアドレスとしての絶対アドレスを”ｘ”とする場合に、”ｙ＝ｎ×（ｘ−ｍ）＋ｍ”によって算出される高密度記録用アドレス（ｙ）を示す。ここで、”ｎ”は記録密度についての倍率（標準記録モードの倍率を１とする）であり、２．０倍の記録密度であれば”ｎ＝２．０”である。また、”ｍ”は基準アドレスである。
すなわち、ＰＳＮアドレスは、絶対アドレス”ｘ”に基づいた単位時間（”１／７５”秒間）に相当する記録領域（１ＡＴＩＰ区間）を、記録密度についての倍率（ｎ）によって区分するという高密度記録モードの論理フォーマットに従って、１ＡＴＩＰ区間の論理的な区分領域に付与されることになる。このＰＳＮアドレスを用いた高密度記録モードによる記録によって、１ＡＴＩＰ区間にはｎ倍のデータが記録され、その結果、光ディスク２００の記録密度はｎ倍となる。
【００６１】
なお、本発明では、記録密度の倍率（ｎ）を”２”とし、プログラムエリアの最内周側のＰＳＮアドレス（ｍ）を”３００００Ｈ（Ｈｅｘａｄｅｃｉｍａｌ  ：１６進）”とする。この場合、外周側記録領域のＡＴＩＰアドレスに対応づけられるＰＳＮアドレス（ｙ）は、”ｙ＝２×（ｘ（１６進）−３００００Ｈ）＋３００００Ｈ”として算出される。例えば、”００（分）：００（秒）：０１（フレーム）”のＡＴＩＰアドレスに対応するＰＳＮアドレスは、”３０００２Ｈ＝２×（３０００１Ｈ−３００００Ｈ）＋３００００Ｈ”である。
このように、ＡＴＩＰアドレスとＰＳＮアドレスは相互に対応づけられており、光ディスク装置１００は、高密度記録モードによる光ディスク２００へのアクセス制御において、ＰＳＮアドレスに限らずＡＴＩＰアドレスを用いることが可能である。
【００６２】
＜システム制御マイコンの動作＞
以下では、本発明において特徴的な処理を担当するシステム制御マイコン１３の動作について、図７のフローチャートを用いて説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システム制御マイコン１３が実行するものとする。
【００６３】
まず、光ディスク装置１００は、パソコンなどの情報処理装置からインタフェース部１１を介して高密度記録モードによる記録要求コマンドを受信する。ここで、光ディスク装置１００は、光ディスク２００への高密度記録に先立ってＯＰＣを実行することになる。
【００６４】
ここで、システム制御マイコン１３は、光ディスク２００の回転速度がＯＰＣ実行時において予め設定された初期値とすべく、モーター制御回路１８を介してスピンドルモーター１６の回転駆動を制御する。同様に、レーザー素子１ａから出射されるレーザー光の記録パワーを予め設定された初期値とすべく、レーザー出力制御回路１４を介してレーザー素子１ａをレーザー発光駆動する（Ｓ７００）。
【００６５】
つぎに、システム制御マイコン１３は、光学ヘッド１などを介してＰＣＡのカウントエリアの各パーティションから読み出されたＡＴＩＰアドレス及びフラグ値を取得して（Ｓ７０１）、テスト信号が未記録状態にあるＰＣＡのテストエリアの１パーティションを検索する。この結果、検索されたＰＣＡのテストエリアの１パーティションに対して、Ｓ７００で初期設定された条件でテスト信号を記録すべく、レーザー出力制御回路１４を介してレーザー素子１ａをレーザー発光駆動する（Ｓ７０２）。なお、テスト信号の記録に際しては、信頼性をあまり考慮する必要性がないために、高密度記録モード用エンコーダ１０などの動作を停止又は出力を無効にする等して、リードソロモン符号の付加による１ＥＣＣブロックの形成やＥＦＭ−Ｐｌｕｓ変調処理などのエンコード処理を実行しない。
【００６６】
そして、当該ＰＣＡのテストエリアの１パーティションへのテスト信号の記録が行われた後に、当該１パーティションから記録されたテスト信号の再生が行われる。このとき、システム制御マイコン１３は、再生レベル検出回路４を介して、当該テスト信号の再生信号についてのピークレベルＡ１及びボトムレベルＡ２を受信し、アシンメトリ値βを算定する（Ｓ７０３）。なお、このテスト信号の再生時についても、前述した記録時と同様な理由によって、高密度記録モード用デコーダ９などの動作を停止又は出力を無効にする等して、ＥＦＭ−Ｐｌｕｓ復調処理やリードソロモン符号による誤り訂正などのデコード処理を実行しない。
【００６７】
つぎに、システム制御マイコン１３は、ＲＯＭ１９から読み出したターゲットＴβとＳ７０３で算定したアシンメトリ値βとを対照することで、ＯＰＣの最適判定を実行する。なお、最適判定としては、例えば、Ｓ７０３で算定されたアシンメトリ値βとターゲットＴβとの差分の絶対値が所定の閾値以下であるか否かによって判定を行う（Ｓ７０４）。
【００６８】
ここで、前述した絶対値が所定の閾値よりも大きい場合には（Ｓ７０４：ＮＯ）、システム制御マイコン１３は、レーザー素子１ａの記録パワーの調整ならびにＯＰＣの最適判定を改めて行う必要があるために、Ｓ７０２で検索された当該ＰＣＡのカウントエリア内のフラグ値を更新するとともに、つぎのＰＣＡのテストエリア内のＡＴＩＰアドレスを取得する（Ｓ７０５）。また、前述の絶対値に応じた調整量で、レーザー素子１ａの記録パワーの調整を行い（Ｓ７０６）、Ｓ７０２以降のステップを再び実行する。
【００６９】
一方、前述した絶対値が所定の閾値以下である場合には（Ｓ７０４：ＹＥＳ）、システム制御マイコン１３は、現在のレーザー素子１ａの記録パワーを最適記録パワーとして設定し、当該情報処理装置から受信した記録要求コマンドに基づく高密度記録の実行を開始すべく、高密度記録モード用エンコーダ１０などの動作を制御する（Ｓ７０６）。
【００７０】
このように、本発明に係る光ディスク装置１００及びその制御方法は、ＯＰＣで使用されるＰＣＡのテストエリアについて、従来の光ディスク装置のように誤り訂正を行う単位である１ＥＣＣブロック単位でアクセスを行うのではなく、当該テストエリアを構成する１ＡＴＩＰ区間（１パーティション）ごとにアクセス制御を行う。なお、ＰＣＡのテストエリアに記録及び再生するテスト信号は信頼性を向上させる必要性がない、すなわち、１ＥＣＣブロック単位でのアクセスを行う必要性がないために、前述した１ＡＴＩＰ区間ごとのアクセス制御の際には、リードソロモン符号による誤り訂正やＥＦＭ−Ｐｌｕｓ（８／１６）変調・復調などのデータ処理を実行しない。
【００７１】
このことは、ブロック単位でのアクセス制御と比較すると、ＰＣＡのテストエリアに対するアクセス頻度が向上することになり、当該テストエリアの有効利用を図ることができる。また、ＰＣＡのテストエリアのアクセス頻度が向上することによって、プログラムエリア（ユーザー使用可能領域）へのデータ追記や書き換え回数が増加し、その分プログラムエリアの有効利用を図ることができる。
【００７２】
以上、本発明の実施形態について、その実施形態に基づき具体的に説明したが、これに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【００７３】
例えば、前述した実施例では、ＰＣＡのテストエリアを１ＡＴＩＰ区間（パーティション）ごとにテスト信号の記録及び再生を行っていたが、本発明に係る光ディスク装置１００は、高密度記録モードによって１ＡＴＩＰ区間を論理的に区分したセクタ（『区分領域』）ごとに記録を行うことが可能である。そこで、ＯＰＣにおいて、１ＡＴＩＰ区間を論理的に区分したセクタごとにテスト信号の記録及び再生を行うようにしてもよい。この場合、ＰＣＡのカウントエリアは、ＰＣＡのテストエリアを構成するセクタ数分のパーティションが形成されることになり、各パーティションには、対応するセクタに付与されたＩＤ情報又はＰＳＮアドレスが格納される。そこで、ＰＣＡのテストエリア内でテスト信号を記録するセクタについての検索並びにアクセスを行う場合には、前述したＰＣＡのカウントエリアの各パーティションに格納されたＩＤ情報及びＰＳＮアドレスを取得することになる。
【００７４】
このように、本発明に係る光ディスク装置及びその制御方法は、ＰＣＡのテストエリアを論理的に区分したセクタごとにテスト信号の記録及び再生を行うことによって、ＰＣＡのテスト領域に対するアクセス頻度がさらに向上することになり、当該テスト領域の有効利用を図ることができる。
【００７５】
また、前述した実施例では、ＰＣＡのテストエリアの場合を例に挙げて説明しているが、１ＥＣＣブロック単位でアクセスを行う必要性がなく、また、リードソロモン符号による誤り訂正やＥＦＭ−Ｐｌｕｓ（８／１６）変調・復調などの信頼性向上のためのデータ処理を行う必要性がないその他の領域に対しても有効な制御手法となる。なお、その他の領域としては、例えば、記録途中にある記録データなどを一時記録するＰＭＡなどが考えられる。
【００７６】
すなわち、本発明に係る光ディスク装置１００及びその制御方法は、ＰＣＡのテストエリアに限らず、前述した条件にある記録領域に対して、１ＡＴＩＰ区間ごと、もしくは１ＡＴＩＰ区間を論理的に区分したセクタごとに、データの変調及び復調処理を施さずに順次アクセス制御を行うこととする。このことによって、前述した条件にある記録領域に対してのアクセス頻度を向上させることが可能であり、当該記録領域の有効利用を図ることができる。
【００７７】
また、前述した実施例において、光ディスク装置１００を高密度記録モードによる再生専用の光ディスク再生装置としてもよい。この場合、データの変調処理の仕組みがないので、１ＡＴＩＰ区間ごと、もしくは１ＡＴＩＰ区間を論理的に区分したセクタごとに、データの復調処理を施さずに順次アクセス制御を行うことになる。
【００７８】
【発明の効果】
本発明によれば、光ディスクの記録領域の有効利用を図ることが可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置を含めたシステムの概略構成図である。
【図２】標準記録モードの場合に採用される論理フォーマットを説明する図である。
【図３】高密度記録モードの場合に採用される論理フォーマットを説明する図である。
【図４】高密度記録モードの場合に採用される光ディスクの物理フォーマットを説明する図である。
【図５】ＰＣＡの詳細な物理フォーマットを説明する図である。
【図６】ＡＴＩＰアドレスとＰＳＮアドレスの関係を説明するための図である。
【図７】本発明の一実施形態に係るシステム制御マイコンの動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
１    光学ヘッド
１ａ  レーザー素子
２    フロントエンド処理部
３    光学ヘッドサーボ回路
４    再生レベル検出回路
５    ＷＢＬ検出部
６    ＡＴＩＰデコーダ
６ａ  ＣＲＣチェック回路
７    ＰＳＮデコーダ
８    ＰＬＬ回路
９    高密度記録モード用デコーダ
１０    高密度記録モード用エンコーダ
１１  インタフェース部
１２  ＲＡＭ
１３  システム制御マイコン
１４  レーザー出力制御部
１５  レーザー駆動回路
１６  スピンドルモーター
１７  モーター駆動回路
１８  モーター制御回路
１９  ＲＯＭ
１００  光ディスク装置
２００  光ディスク
【図１】
2004334963.tif 000003
【図２】
2004334963.tif 000004
【図３】
2004334963.tif 000005
【図４】
2004334963.tif 000006
【図５】
2004334963.tif 000007
【図６】
2004334963.tif 000008
【図７】
2004334963.tif 000009