(57)【要約】【課題】ディスク型記憶装置の検査方法に関し，各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくても，微小欠陥によるシンクバイト（ＳＢ）のリードエラー発生個数を予測し，安定した品質の提供を可能にすることを目的とする。【解決手段】書き込み・読み込み部１１は，ＥＣＣ訂正禁止で全面書き込み・読み込みを行う。欠陥バイト位置検出部１２は，リードエラー発生位置の位置情報を欠陥バイトのバイトフロムインデックス（ＢＦＩ）情報として取得し，欠陥バイト位置情報記憶部１３に記憶する。シンクバイト位置算出部１４は，ユーザでの使用が想定されるデータブロック長でフォーマットする場合の各ＳＢの位置情報をＢＦＩ情報として算出する。位置情報比較部１５は，欠陥バイト位置のＢＦＩ情報と各ＳＢの位置のＢＦＩ情報とを比較し，一致する個数を求める。良／不良判定部１６は，一致する個数によって良品／不良品を判定する。【選択図】　　　　　図１
2004071061.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを検査するディスク型記憶装置の検査方法において，
あるデータブロック長Ｘバイトでディスク型記憶装置の全面にデータの書き込みを行い，ＥＣＣ訂正禁止で全面のデータの読み込みを行う過程と，
読み込みエラーが発生した位置を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表した欠陥バイト位置情報として算出し，算出した欠陥バイト位置情報を記憶する過程と，
前記ディスク型記憶装置を前記データブロック長Ｘバイトと異なるデータブロック長Ｙバイトでフォーマットしたときに予想されるシンクバイトの位置情報を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表したシンクバイト位置情報として計算により算出する過程と，
前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致するか否かを比較する過程とを有する
ことを特徴とするディスク型記憶装置の検査方法。
【請求項２】
請求項１記載のディスク型記憶装置の検査方法において，
前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致する個数を，ヘッドごとまたは装置全体について算出し，ヘッド当たりの所定の閾値または装置全体についての所定の閾値を超えるか否かにより，検査対象のディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを判定する
ことを特徴とするディスク型記憶装置の検査方法。
【請求項３】
ディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを検査するディスク型記憶装置の検査装置において，
あるデータブロック長Ｘバイトでディスク型記憶装置の全面にデータの書き込みを行い，ＥＣＣ訂正禁止で全面のデータの読み込みを行う書き込み・読み込み手段と，
読み込みエラーが発生した位置を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表した欠陥バイト位置情報として算出する欠陥バイト位置検出手段と，
前記欠陥バイト位置情報を記憶する欠陥バイト位置情報記憶手段と，
前記ディスク型記憶装置を前記データブロック長Ｘバイトと異なるデータブロック長Ｙバイトでフォーマットしたときに予想されるシンクバイトの位置情報を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表したシンクバイト位置情報として計算により算出するシンクバイト位置算出手段と，
前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致するか否かを比較する位置情報比較手段とを備える
ことを特徴とするディスク型記憶装置の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は，磁気ディスク装置等の検査方法に関するものであり，特に，試験工程において，各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくても，欠陥によるシンクバイト（以下，ＳＢという）リードエラーの発生数を予測し，安定した品質の保証を可能としたディスク型記憶装置の検査方法および検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
磁気ディスクの出荷検査においては，媒体への書き込みおよび読み込みによる検査が行われている。そのとき，通常ユーザ先で用いる環境より数段厳しい環境下で，故意にエラーを出させるような温度・電圧条件で試験が実施される。
【０００３】
さらに，試験においては，媒体上の微小な欠陥を事前に検出するため，外部環境だけでなく，書き込みデータに付加されるＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ　Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ　Ｃｏｄｅ　）パワーを下げること，すなわち訂正能力を下げることが行われている。これによりＥＣＣで訂正されてしまうような微小な欠陥を見つけ，この欠陥個数がある基準以上なら不良と判定し，悪品質な装置が出荷されないようにしている。
【０００４】
試験時のＥＣＣパワーの選択肢としては，ＥＣＣ訂正禁止（Ｏｎ　ｔｈｅ　Ｆｌｙ訂正禁止）やＥＣＣ１（１バースト訂正）〜ＥＣＣ５（５バースト訂正）があるが，試験時にＥＣＣ訂正禁止にすると極微小な欠陥やノイズ等によりエラーが多く発生し，ユーザ先環境（ＥＣＣ４もしくはＥＣＣ５）と比較してあまりにもかけ離れた条件であるので，現状の磁気ディスク装置の欠陥率を考慮し，試験時のＥＣＣ訂正能力は最低でもＥＣＣ１としている場合が多い。したがって，試験時における媒体全面読み出し（Ｒｅａｄ）においては，極微小な欠陥を無視することになる。この微小な欠陥を無視している理由は，性能や寿命には何ら影響がないためである。
【０００５】
磁気ディスク装置の容量は，「（データブロック長）×（装置全体のデータブロック数）」で表されるが，通常，ユーザ先ではデータブロック長が業界標準値５１２バイトとなっている。しかし，磁気ディスク装置に搭載されているハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）の機能として，データブロック長を可変にすることが許されており，ユーザ先によってはデータブロック長の標準値である５１２バイトではなく，５１２±αバイトでフォーマットして使用されることがある。
【０００６】
一方，出荷試験時においては５１２バイトのフォーマットで試験されているため，ユーザ先で５１２±αバイトでフォーマットして使用される場合（例えば，５２０バイトでフォーマットされる場合）などには，ユーザ先で使用するデータブロック長とは異なるデータブロック長で試験されていることになる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
ユーザ先において，磁気ディスク装置が試験時と異なったデータブロック長で使用された場合，試験時においてＥＣＣ訂正能力の最低値としてＥＣＣ１が使用されているために無視されていた極微小な欠陥がシンクバイト（ＳＢ）にぶつかる可能性があり，その極微小な欠陥がＳＢにぶつかると，試験時において発生しなかったＳＢリードエラーが発生することがあった。
【０００８】
ＳＢは，セクタの同期をとるものとしてデータに付加されているものであり，ＥＣＣでは訂正されないものとして扱われているため，冗長度を装備している。しかし，試験時に無視していた極微小な欠陥が丁度ＳＢに重なるとＳＢリードエラー発生率が高くなることがあり，ユーザ先で救済可能なリードエラー（再リードで救済可能なエラー）が多発することがあった。このとき，データが読めなくなるような重症なリードエラーに結びつく可能性は低いが，ＳＢリードエラーのため回転待ちが入り，性能低下などを引き起こし，ユーザ先からクレームが出ることがあった。
【０００９】
ユーザ先において試験時と異なったデータブロック長で使用された場合のＳＢリードエラーをなくすために，各ユーザが使用する可能性のあるすべてのデータブロック長で試験を行う方法も考えられるが，この方法ではあまりにもコストや時間がかかり過ぎる。
【００１０】
本発明は，上記間題点の解決を図り，各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくとも，欠陥によるＳＢリードエラーの発生数を予測することが可能となるディスク型記憶装置の検査方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
以下では，ディスク型記憶装置として磁気ディスク装置を例に説明するが，本発明は，磁気ディスク装置に限らず，磁気ディスク装置と同様な書き込みおよび読み込み可能なディスク型の外部記憶装置の試験に適用することができる。
【００１２】
本発明は，上記課題を解決するため，１つのデータブロック長のフォーマットでのみ欠陥バイトの位置を抽出する試験を行い，他のデータブロック長のフォーマットに関しては，実際にフォーマットは行わずに計算によりＳＢの位置を算出し，算出されたＳＢの位置と抽出された欠陥バイトの位置とを比較して一致するか否かを判定することを特徴とする。
【００１３】
具体的には，データブロック長５１２バイトでの出荷試験時においては全面書き込み／読み込みをＥＣＣ訂正禁止として行い，データ読み出しの際のリードエラーが発生した位置を求める。この位置は，訂正が全く入らない微小欠陥を含んだエラー位置で，トラック一周の先頭を表す位置（インデックス）からの距離（バイト数）として表した位置情報である。このインデックスからの距離のことをバイトフロムインデックス（ＢＦＩ）と呼ぶ。このとき，エラー位置のＢＦＩ情報を，すべてメモリまたは媒体上（ＳＡ領域）に格納し記憶する。
【００１４】
ここまでの作業により，微小欠陥が媒体上のどの位置に存在するかをメモリまたはＳＡを参照することで判定できる状態となる。ただし，このときのＥＣＣ訂正禁止で検出される微小欠陥情報は，この時点では装置の良品／不良品の判断に用いないことにする。
【００１５】
次にユーザで使用が想定されるデータブロック長（５１２±αバイト）でフォーマットしたときのトラック上の全セクタのＳＢ位置（ＳＢｎ）をそれぞれ計算でＢＦＩとして算出し，位置ＳＢｎと前作業で求めた微小欠陥位置のＢＦＩ情報とを比較し，媒体上の位置が一致するかどうかチェックする。以上の比較を行った結果，ＳＢ位置と微小欠陥位置とが一致する個数が得られるので，データブロック長（５１２±αバイト）のときの微小欠陥によるＳＢリードエラーの発生個数を予測することが可能となる。
【００１６】
したがって，この方法を用いれば，試験工程内において標準データブロック長（５１２バイト）のみで試験を行い，わざわざそれぞれのユーザに合わせたブロック長で試験を行わなくても，微小欠陥によるＳＢリードエラー発生個数を予測可能となり，この予測個数が出荷基準値以上の場合に不良品と判定するようにすれば，ユーザ先で性能ダウンとなるおそれのある装置を出荷することなく，安定した品質を提供することができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下，図面に従って説明する。図１は，本発明を実現するシステムの構成例を示す図である。図１において，磁気ディスク検査装置１０は，書き込み・読み込み部１１，欠陥バイト位置検出部１２，欠陥バイト位置情報記憶部１３，シンクバイト位置算出部１４，位置情報比較部１５，良／不良判定部１６を備え，検査対象となる磁気ディスク装置２０と接続されている。
【００１８】
磁気ディスク検査装置１０において，書き込み・読み込み部１１は，データブロック長が標準の５１２バイトである磁気ディスク装置２０に対して，全面にデータの書き込みを行い，その後全面からデータの読み込みを行う。このときのＥＣＣパワーは，ＥＣＣ訂正禁止とする。
【００１９】
欠陥バイト位置検出部１２は，書き込み・読み込み部１１での読み込み時にリードエラーが発生した位置を欠陥バイト位置のＢＦＩ情報として取得する。また，同時にシリンダ番号，ヘッド番号，欠陥バイト数等の情報も取得する。ここで，欠陥バイト位置のＢＦＩ情報とは，訂正が全く入らない微小欠陥を含んだエラー位置の情報であり，トラック一周の先頭を表す位置（インデックス）からの距離（バイト数）として表した位置情報（バイトフロムインデックス：ＢＦＩ）である。
【００２０】
欠陥バイト位置情報記憶部１３は，欠陥バイト位置検出部１２で取得したすべての欠陥バイト位置のＢＦＩ情報，シリンダ番号，ヘッド番号，欠陥バイト数を記憶する。欠陥バイト位置情報記憶部１３は，例えば，メモリまたは媒体上のシステムエリア（以下，ＳＡという）等である。欠陥が媒体上のどの位置に存在するかは，欠陥バイト位置情報記憶部１３を参照することで判定できる状態となる。ただし，このときのＥＣＣ訂正禁止で検出される欠陥情報は，この時点では，磁気ディスク装置２０の良品／不良品の判断に用いないことにする。
【００２１】
シンクバイト位置算出部１４は，ユーザで使用が想定されるデータブロック長（本実施の形態においては５１２±αバイト）でフォーマットしたときのトラック上の全セクタのＳＢ位置（以下，ＳＢｎ位置という）をそれぞれ計算により算出し，それをＳＢｎ位置のＢＦＩ情報とする。このＳＢｎ位置の算出は，ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ　Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ　Ｕｎｉｔ　）等を用いて行うことができる。
【００２２】
位置情報比較部１５は，欠陥バイト位置情報記憶部１３に記憶してある欠陥バイト位置のＢＦＩ情報とシンクバイト位置算出部１４で算出されたＳＢｎ位置のＢＦＩ情報とを比較照合し，媒体上の位置が一致するかどうかをチェックする。比較を行った結果，ＳＢｎ位置と欠陥バイト位置が一致する個数が得られるので，データブロック長が５１２±αバイトのときの微小欠陥によるＳＢリードエラーの発生個数を予測することが可能になる。
【００２３】
したがって，この方法を用いれば，試験工程内で実際のデータの書き込みおよび読み込みによる試験は，標準データブロック長（５１２バイト）のみで行い，わざわざそれぞれのユーザに合わせたブロック長で試験を行わなくても，微小欠陥によるＳＢリードエラー発生個数の予測が可能となる。良／不良判定部１６により，この予測個数が出荷基準値以上の場合にＮＧ（不良品）であるとすることにより，ユーザ先で性能ダウンとなるおそれのある磁気ディスク装置を出荷することなく，安定した品質を提供することができる。
【００２４】
以下，本実施の形態における手順の流れを説明する。まず，データブロック長５１２バイトで媒体の全面にデータの書き込みを行い，続いて，ＥＣＣ訂正禁止で全面からデータの読み込みを行う。リードエラーが発生した場合，書き込みデータと読み込みデータをバイトごとにコンペア（比較）し，エラーデータ（欠陥バイト）のインデックスからの位置情報である欠陥バイト位置のＢＦＩ情報を割り出す。
【００２５】
図２は，本発明における欠陥バイト位置のＢＦＩ情報の割り出し手順の例を示す図である。まず，図２（Ａ）に示すように，インデックス（Ｉｎｄｅｘ　）からエラーデータ（欠陥バイト）のあるサーボ（Ｓｅｒｖｏ　）フレームまでの距離（バイト数）を割り出す。次に，図２（Ｂ）に示すように，図２（Ａ）の該当サーボフレームにおいてエラーデータ（欠陥バイト）のあるセクタ（Ｓｅｃｔｏｒ）先頭までの距離（バイト数）を割り出す。続いて，図２（Ｃ）に示すように，図２（Ｂ）の該当セクタにおいて，セクタ先頭からエラーデータ（欠陥バイト）までの距離（バイト数）を求める。例えば，図２（Ｃ）のデータの部分にエラーデータ（欠陥バイト）がある場合，図２（Ｄ）のようになる。
【００２６】
よって，欠陥バイト位置のＢＦＩ情報は，
欠陥バイト位置のＢＦＩ情報
＝インデックスから該当サーボフレームまでの距離（バイト数）
＋該当サーボフレームから該当セクタ先頭までの距離（バイト数）
＋該当セクタ先頭から欠陥バイトまでの距離（バイト数）
となる。
【００２７】
図２に示す手順により求められたＢＦＩ情報は，すべてメモリまたは媒体上のＳＡ領域等に記録する。このとき，シリンダ番号，ヘッド番号，欠陥バイト数なども同時に記録する。
【００２８】
次に，ユーザで使用が想定されるデータブロック長（５１２±αバイトのデータブロック長）で媒体をフォーマットしたときのトラック上の全セクタのＳＢｎ位置を計算により算出する。ここで，ＳＢｎ位置のインデックスからの位置情報をＳＢｎ位置のＢＦＩ情報とする。
【００２９】
図３は，本発明におけるＳＢｎ位置のＢＦＩ情報の算出手順の例を示す図である。まず，インデックスからＳＢｎのあるサーボフレームまでの距離（バイト数）を算出する（図２（Ａ）参照）。次に，該当サーボフレームにおいてＳＢｎのあるセクタ先頭までの距離（バイト数）を算出する（図２（Ｂ）参照）。続いて，図３に示すように，該当セクタにおいて，セクタ先頭からＳＢｎまでの距離（バイト数）を算出する。
【００３０】
よって，ＳＢｎ位置のＢＦＩ情報は，
ＳＢｎ位置のＢＦＩ情報
＝インデックスから該当サーボフレームまでの距離（バイト数）
＋該当サーボフレームから該当セクタ先頭までの距離（バイト数）
＋該当セクタ先頭からＳＢｎまでの距離（バイト数）
となる。
【００３１】
次に，欠陥バイト位置のＢＦＩ情報とＳＢｎ位置のＢＦＩ情報とを比較し，双方が一致する個数をカウントする。このとき，ＳＢｎはデータ数として数バイトの長さを持つこと，なおかつ，回転変動を考慮するため，欠陥バイト位置に対して前後の数バイト分拡張して比較を行うものとする。
【００３２】
図４は，本発明における欠陥バイト位置のＢＦＩ情報とＳＢｎ位置のＢＦＩ情報との比較の例を示す図である。図４（Ａ）は，データブロック長が５１２バイトのときを示し，図４（Ｂ）は，データブロック長が５１２±αバイトのときを示す。欠陥バイト位置とＳＢｎ位置とが一致する個数をカウントする。
【００３３】
最後に，一致するもののカウント数（一致数）から，ヘッド当たりの一致数，装置全体当たりの一致数を割り出し，データブロック長を５１２±αバイトでフォーマットした場合のヘッド当たりのＳＢリードエラー数，装置全体当たりのＳＢリードエラー数を予測する。
【００３４】
この結果からユーザ先で性能ダウンとなるおそれのある磁気ディスク装置か否かを判別することができる。
【００３５】
図５は，本発明における磁気ディスク装置の試験工程の例を示すフローチャートである。出荷試験において，まず，検査対象となる磁気ディスク装置のデータブロック長を５１２バイトとし，ＥＣＣ１で全面にデータの書き込みおよび読み込みを行う（ステップＳ１０）。リードエラーがあった場合，書き込んだデータと読み込んだデータとを比較して欠陥バイト位置を取得し，ディフェクト（欠陥）としてカウントする（ステップＳ１１）。カウントされたディフェクト数が基準値以上であるか否かを判定し（ステップＳ１２），基準値以上であれば検査対象の磁気ディスク装置を不良装置とする。
【００３６】
ステップＳ１２の処理において基準値以上でなければ，検査対象となる磁気ディスク装置のデータブロック長を５１２バイトのままで，ＥＣＣ訂正禁止で全面にデータの書き込みおよび読み込みを行う（ステップＳ１３）。リードエラーがあった場合，書き込んだデータと読み込んだデータとを比較して欠陥バイト位置を割り出し，欠陥バイト位置のＢＦＩ情報を取得する（ステップＳ１４）。取得した欠陥バイト位置のＢＦＩ情報は，シリンダ番号，ヘッド番号，欠陥バイト数等の情報と共に，メモリ，媒体上のＳＡ等に記録する（ステップＳ１５）。
【００３７】
ユーザで使用が想定されるデータブロック長（５１２±αバイト）でフォーマットしたときのＳＢ（ＳＢｎとする）の位置を，１トラック分計算により算出し，それらのインデックスからの位置情報をＳＢｎ位置のＢＦＩ情報とする（ステップＳ１６）。各セクタのＳＢｎ位置のＢＦＩ情報と欠陥バイト位置のＢＦＩ情報とを比較し，一致しているかを判定する（ステップＳ１７）。一致している場合には一致数をカウントし（ステップＳ１８），一致していない場合には一致数をカウントしない。
【００３８】
全シリンダ，全ヘッドでの比較が終了したかを判定し（ステップＳ１９），まだ終了していなければ比較対象のトラックを変更し（ステップＳ２０），ステップＳ１６の処理に戻る。
【００３９】
ステップＳ１９の判定において全シリンダ，全ヘッドでの比較が終了したならば，ヘッド当たりの一致数，装置全体当たりの一致数を割り出す（ステップＳ２１）。ヘッド当たりの一致数が所定の規格値を超えているかを判定し（ステップＳ２２），超えていれば検査対象の磁気ディスク装置を不良装置とする。同様に，装置全体当たりの一致数が所定の規格値を超えているかを判定し（ステップＳ２３），超えていれば検査対象の磁気ディスク装置を不良装置とする。ヘッド当たりの一致数，装置全体当たりの一致数が，両方ともそれぞれ所定の規格値を超えていなければ，検査対象の磁気ディスク装置を良品装置とする。
【００４０】
本実施の形態の特徴を列挙すると，以下の通りである。
【００４１】
（付記１）ディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを検査するディスク型記憶装置の検査方法において，
あるデータブロック長Ｘバイトでディスク型記憶装置の全面にデータの書き込みを行い，ＥＣＣ訂正禁止で全面のデータの読み込みを行う過程と，
読み込みエラーが発生した位置を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表した欠陥バイト位置情報として算出し，算出した欠陥バイト位置情報を記憶する過程と，
前記ディスク型記憶装置を前記データブロック長Ｘバイトと異なるデータブロック長Ｙバイトでフォーマットしたときに予想されるシンクバイトの位置情報を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表したシンクバイト位置情報として計算により算出する過程と，
前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致するか否かを比較する過程とを有する
ことを特徴とするディスク型記憶装置の検査方法。
【００４２】
（付記２）付記１に記載のディスク型記憶装置の検査方法において，
前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致する個数を，ヘッドごとまたは装置全体について算出し，ヘッド当たりの所定の閾値または装置全体についての所定の閾値を超えるか否かにより，検査対象のディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを判定する
ことを特徴とするディスク型記憶装置の検査方法。
【００４３】
（付記３）ディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを検査するディスク型記憶装置の検査装置において，
あるデータブロック長Ｘバイトでディスク型記憶装置の全面にデータの書き込みを行い，ＥＣＣ訂正禁止で全面のデータの読み込みを行う書き込み・読み込み手段と，
読み込みエラーが発生した位置を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表した欠陥バイト位置情報として算出する欠陥バイト位置検出手段と，
前記欠陥バイト位置情報を記憶する欠陥バイト位置情報記憶手段と，
前記ディスク型記憶装置を前記データブロック長Ｘバイトと異なるデータブロック長Ｙバイトでフォーマットしたときに予想されるシンクバイトの位置情報を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表したシンクバイト位置情報として計算により算出するシンクバイト位置算出手段と，
前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致するか否かを比較する位置情報比較手段とを備える
ことを特徴とするディスク型記憶装置の検査装置。
【００４４】
（付記４）付記３に記載のディスク型記憶装置の検査装置において，
前記位置情報比較手段により検出した前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致する個数を，ヘッドごとまたは装置全体について算出し，ヘッド当たりの所定の閾値または装置全体についての所定の閾値を超えるか否かにより，検査対象のディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを判定する良／不良判定手段を備える
ことを特徴とするディスク型記憶装置の検査装置。
【００４５】
（付記５）ディスク型記憶装置が良品であるか不良品であるかを検査するディスク型記憶装置の検査用プログラムであって，
あるデータブロック長Ｘバイトでディスク型記憶装置の全面にデータの書き込みを行い，ＥＣＣ訂正禁止で全面のデータの読み込みを行う処理と，
読み込みエラーが発生した位置を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表した欠陥バイト位置情報として算出し，算出した欠陥バイト位置情報を記憶する処理と，
前記ディスク型記憶装置を前記データブロック長Ｘバイトと異なるデータブロック長Ｙバイトでフォーマットしたときに予想されるシンクバイトの位置情報を，トラック一周の先頭であるインデックスからのバイト数で表したシンクバイト位置情報として計算により算出する処理と，
前記欠陥バイト位置情報と前記シンクバイト位置情報とが一致するか否かを比較する処理とを，
コンピュータに実行させるためのディスク型記憶装置の検査用プログラム。
【００４６】
【発明の効果】
以上説明したように，本発明を用いることにより，出荷試験において標準データブロック長（５１２バイト）のみで試験を行い，わざわざユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくとも，欠陥によるＳＢリードエラーの発生数を予測することが可能となり，ユーザに性能低下を招くおそれのあるディスク型記憶装置を出荷することなく，安定した品質のディスク型記憶装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を実現するシステムの構成例を示す図である。
【図２】本発明における欠陥バイト位置のＢＦＩ情報の割り出し手順の例を示す図である。
【図３】本発明におけるＳＢｎ位置のＢＦＩ情報の算出手順の例を示す図である。
【図４】本発明における欠陥バイト位置のＢＦＩ情報とＳＢｎ位置のＢＦＩ情報との比較の例を示す図である。
【図５】本発明における磁気ディスク装置の試験工程の例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０　磁気ディスク検査装置
１１　書き込み・読み込み部
１２　欠陥バイト位置検出部
１３　欠陥バイト位置情報記憶部
１４　シンクバイト位置算出部
１５　位置情報比較部
１６　良／不良判定部
２０　磁気ディスク装置
【図１】
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【図２】
2004071061.tif 000004
【図３】
2004071061.tif 000005
【図４】
2004071061.tif 000006
【図５】
2004071061.tif 000007