(57)【要約】【課題】より適切にテストパターンを生成することが可能なテストパターン生成装置を提供する。【解決手段】テストパターン生成装置１は、状態遷移の適否を検証するためのテストパターンを生成するものであって、同一変数検出部１３、閾値比較部１４、中間値算出部１５、及びテストパターン自動生成部１７を備えている。同一変数検出部１３は、状態遷移図から、互いに遷移し得る状態間の遷移条件が同一の変数種別であるものを検出する。閾値比較部１４は、その検出された同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられているか否かを判断する。中間値算出部１５は、この判断より遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられていると判断された場合に、中間値を算出し、テストパターン自動生成部１７は、算出された中間値に基づいてテストパターンを生成する。【選択図】      図１
2004355525.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
状態遷移及び遷移前後の状態についての適否を検証するためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置において、
状態遷移仕様情報から、互いに遷移し得る状態間の遷移条件が同一の変数種別であるものを検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられているか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段により遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられていると判断された場合、この異なる数値間の中間値を算出する中間値算出手段と、
前記中間値算出手段により算出された中間値に基づいて、テストパターンを生成するテストパターン生成手段と、
を備えることを特徴とするテストパターン生成装置。
【請求項２】
前記状態遷移仕様情報は、ユーザにより入力される複数の状態とそれら状態間の遷移条件とを含むことを特徴とする請求項１に記載のテストパターン生成装置。
【請求項３】
状態遷移及び遷移前後の状態についての適否を検証するためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置において、
状態遷移仕様情報から、互いに遷移し得る状態間の遷移条件が同一の変数種別であるものを検出し、検出した同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられている場合には、この異なる数値間の中間値に基づいて、テストパターンを生成することを特徴とするテストパターン生成装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テストパターン生成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、利用者が構造仕様情報、状態遷移仕様情報及び個別状態仕様情報を与えることで、ソフトウェアのＧＵＩ部が持つすべての状態とすべての状態遷移とを網羅するためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置が知られている（例えば特許文献１）。
【０００３】
【特許文献１】
特開平９−２２３０４０号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
図７は、電圧値により状態が遷移する様子を示す説明図である。同図に示すように、例えば、電圧値により状態が遷移する場合、電圧値が９Ｖ未満では状態Ａとなり、９Ｖ以上では状態Ｂとなる。ところが、図７のように状態遷移の条件を９Ｖという１つの値としてしまうと、チャタリングが発生する可能性がある。
【０００５】
図８は、チャタリングの様子を示す説明図であり、（ａ）は電圧値の変化の様子を示し、（ｂ）は、チャタリング発生時の状態遷移の様子を示す説明図である。図８（ａ）に示すように、電圧値が９Ｖ付近でふらついた場合、図８（ｂ）に示すように、状態ＡＢ間での遷移が短い期間に何度も繰り返されてしまう。
【０００６】
そこで、上記チャタリングによる弊害を防止すべく、状態間の遷移条件にヒステリシスを持たせることが行われている。図９は、遷移条件がヒステリシスを有する場合の例を示す説明図であり、図１０は、図９に示すヒステリシスを有する場合の状態遷移図の説明図である。図９及び図１０に示す例では、状態Ａから状態Ｂに遷移する際の電圧値を１０Ｖとし、状態Ｂから状態Ａに遷移する際の電圧値を９Ｖとしている。
【０００７】
これにより、電圧値９Ｖ付近でチャタリングが発生した場合であっても、状態ＡＢ間での遷移が短い期間に何度も繰り返されてしまうことを防止している。
【０００８】
しかし、上記のようにして、チャタリングを防止する構成を採用した場合、テストパターン生成装置は、適切なテストパターンを生成できなくなってしまう。すなわち、従来のテストパターン生成装置におけるテストパターンは、例えば表１に示すようになってしまう。
【０００９】
【表１】
2004355525.tif 000003
表１に示すように、遷移条件にヒステリシスを有する場合、テストパターンは、例えば状態Ａのときに１０．５Ｖの電圧を入力し出力が状態Ｂとなり、状態Ｂのときに８．５Ｖの電圧を入力し出力が状態Ａとなることを検証するものとなる。
【００１０】
すなわち、状態Ａにおいて９．５Ｖの電圧が入力された場合に状態Ａのままで保持されるか否か、及び状態Ｂにおいて９．５Ｖの電圧が入力された場合に状態Ｂのままで保持されるか否かを確かめるテストパターンが生成されない。
【００１１】
本発明はこのような従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、より適切にテストパターンを生成することが可能なテストパターン生成装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、状態遷移の適否を検証するためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置であって、検出手段が、状態遷移仕様情報から、互いに遷移し得る状態間の遷移条件が同一の変数種別であるものを検出し、その検出手段により検出された同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられているか否かを判断手段が判断する。この判断手段により遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられていると判断された場合、中間値算出手段は、異なる数値間の中間値を算出し、テストパターン生成手段は、中間値算出手段により算出された中間値に基づいてテストパターンを生成する。
【００１３】
【発明の効果】
本発明によれば、互いに遷移し得る状態間の遷移条件が同一の変数種別であるものを検出し、その同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられているか否かを判断する。そして、遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられている場合には、異なる数値間の中間値を算出し、この中間値に基づいてテストパターンを生成する。
【００１４】
このため、遷移条件がヒステリシスを有する場合であっても、２つの閾値の中間値が考慮されることとなり、或る状態において特定の電圧が入力された場合にその状態のままで保持されるか否か等を確かめるテストパターンが生成されることとなる。
【００１５】
従って、より適切にテストパターンを生成することができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１７】
図１は、本発明の実施形態に係るテストパターン生成装置を含むシステム構成図である。同図に示すように、本実施形態のテストパターン生成装置１は、ソフトウェアの品質確認等のために状態遷移の適否を検証するテストパターンを生成するものである。なお、以下の説明において、状態とはソフトウェア等の状態をいい、状態遷移とは、ソフトウェア等の状態の移り変わり（遷移）をいう。
【００１８】
このテストパターン生成装置１には、状態遷移図作成部２が接続されている。状態遷移図作成部２は、複数の状態とそれら状態間の遷移条件とを含む状態遷移仕様情報を作成するものである。ここで、状態遷移仕様情報の１つである状態遷移図について説明する。
【００１９】
図２は、状態遷移図の１例を示す説明図である。同図に示すように、状態遷移図は、４つの状態、各状態間を遷移する際の条件を示す遷移条件、及び初期状態を示す情報からなっている。
【００２０】
具体的には、初期状態としては状態Ａであり、状態Ａから状態Ｂに遷移する際の条件は変数ｖ≧１０とされており、状態Ｂから状態Ａに遷移する際の条件は変数ｖ≦９とされている。また、状態Ｂから状態Ｃに遷移する際の条件は変数ｄ≦６とされており、状態Ｃから状態Ｂに遷移する際の条件は変数ｅ≧９とされている。さらに、状態Ｃから状態Ｂに遷移する際の条件は変数ｆ≧１０とされており、状態Ｄから状態Ａに遷移する際の条件はｇ＝０とされている。なお、状態ＡＢ間についての変数ｖは、以下の説明において電圧であるとする。
【００２１】
また、状態遷移図作成部２は、マウス３やキーボード４に接続されており、これらが操作されることにより、ユーザから複数の状態とそれら状態間の遷移条件との入力を受け付ける構成とされている。すなわち、状態遷移図作成部２は、マウス３やキーボード４を介してユーザから入力される複数の状態とそれら状態間の遷移条件とを含む状態遷移仕様情報を作成するものといえる。
【００２２】
また、テストパターン生成装置１は、この状態遷移図作成部２により作成された状態遷移仕様情報に基づいてテストパターンを作成するものであり、内部に種々の構成を備えている。すなわち、テストパターン生成装置１は、状態遷移仕様マトリックス作成部１１、ヒステリシス候補判断部１２、同一変数検出部（検出手段）１３、閾値比較部（判断手段）１４、中間値算出部（中間値算出手段）１５、ヒステリシス判定部１６、テストパターン自動生成部（テストパターン生成手段）１７、及びテストパターン出力部１８を備えている。
【００２３】
状態遷移仕様マトリックス作成部１１は、状態遷移図作成部２により作成された状態遷移仕様情報に基づいて状態遷移仕様マトリックスを作成するものである。ここで、状態遷移仕様マトリックスとは、各状態の遷移元及び遷移先と、その遷移の際の遷移条件をマトリックス状にしたものであり、例えば以下に示すものである。
【００２４】
【表２】
2004355525.tif 000004
また、状態遷移仕様マトリックス作成部１１は、作成した状態遷移仕様マトリックスの情報をヒステリシス候補判断部１２に送出する構成とされている。なお、以下の説明において、表２に示す「Ｎｏ．１」のように、マトリックスの一部を為す情報を状態遷移仕様と称する。
【００２５】
ヒステリシス候補判断部１２は、状態遷移仕様マトリックスから、ヒステリシスの可能性を有する状態遷移仕様を選別するものである。例えば、ヒステリシス候補判断部１２は、表２に示す「Ｎｏ．１」の状態遷移仕様を選択し、その後、状態遷移元が状態Ａでなく状態遷移先が状態Ｂでない状態遷移仕様を選択する。ここで、例えばヒステリシス候補判断部１２が「Ｎｏ．２」を選択したとする。
【００２６】
選択後、ヒステリシス候補判断部１２は、状態遷移元及び状態遷移先が互いに遷移しうる状態遷移仕様であるか否かを判断する。すなわち、「Ｎｏ．１」については状態Ａから状態Ｂに向かうものであるのに対して、「Ｎｏ．２」が状態Ｂから状態Ａに向かうものであるか否かを判断する。ここで、「Ｎｏ．２」は、状態Ｂから状態Ａに向かうものであるため、ヒステリシス候補判断部１２は、状態ＡＢ間の遷移条件にヒステリシスがある可能性有りと判断する。
【００２７】
また、ヒステリシス候補判断部１２は、状態ＡＢ間のように、遷移条件にヒステリシスの可能性が有るものについて、その情報を同一変数検出部１３に送出する構成とされている。
【００２８】
同一変数検出部１３は、ヒステリシス候補判断部１２にて判断されたヒステリシスの可能性を有する遷移条件が同一の変数種別であるか否かを判断して、同一の変数種別であるものを検出する構成とされている。例えば、同一変数検出部１３は、状態ＡＢのように電圧ｖという同一の変数種別の遷移条件を持っているものを検出することとなる。また、同一変数検出部１３は、状態ＡＢ間にて同一の変数種別の遷移条件を有しているという情報を閾値比較部１４に送出する構成とされている。
【００２９】
閾値比較部１４は、検出された同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられているか否かを、遷移条件である閾値を比較することにより判断するものである。すなわち、状態ＡＢ間について言えば、状態Ａから状態Ｂに、また状態Ｂから状態Ａに状態遷移する際の遷移条件である電圧の値が異なっているか否かを判断する。
【００３０】
ここで、状態Ａから状態Ｂへの遷移条件はｖ≧１０とされており、状態Ｂから状態Ａへの遷移条件は変数ｖ≦９とされている。従って、閾値比較部１４は、状態ＡＢ間について、同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられていると判断することとなる。また、閾値比較部１４は、異なる数値で定義づけられていると判断した場合には、その情報を中間値算出部１５に送出する構成とされている。
【００３１】
中間値算出部１５は、閾値比較部１４により遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられていると判断された場合、この異なる数値間の中間値を算出するものである。例えば、中間値算出部１５は、状態ＡＢについては「１０」と「９」との中間値である「９．５」という数値を算出するものである。また、中間値算出部１５は、算出した中間値の情報をヒステリシス判定部１６に送出する構成とされている。
【００３２】
ヒステリシス判定部１６は、上記各部１１〜１５に基づいてヒステリシスがあるか否かを判定するものである。具体的にヒステリシス判定部１６は、後述するヒステリシス特性フラグを立てるなどする。また、ヒステリシス判定部１６は、判定結果等をテストパターン自動生成部１７に送出する構成とされている。
【００３３】
テストパターン自動生成部１７は、算出された中間値に基づいて、テストパターンを生成するものである。すなわち、テストパターン自動生成部１７は、中間値を考慮したテストパターンを生成するものである。また、テストパターン自動生成部１７は、状態遷移仕様マトリックスに基づいて中間値が考慮されていていないテストパターン（即ち、従前のテストパターン）についても生成するものである。
【００３４】
また、テストパターン自動生成部１７は、中間値が考慮されたテストパターンを生成した場合には、このパターンと中間値が考慮されていないテストパターンとを結合し、最終的なテストパターンを生成する構成とされている。さらに、テストパターン自動生成部１７は、生成した最終的なテストパターンをテストパターン出力部１８に送出する構成とされている。
【００３５】
テストパターン出力部１８は、テストパターン自動生成部１７にて生成された最終的なテストパターンを出力するものである。出力方法としては、他の装置等に転送するものであったり、プリントアウト形式であったりする。
【００３６】
次に、上記テストパターン生成装置１の動作の概略を説明する。ここでは、ユーザにより予め所定の情報が入力され、状態遷移図作成部２により状態遷移図が作成されているものとする。
【００３７】
まず、状態遷移仕様マトリックス作成部１１は、状態遷移図作成部２により作成された状態遷移図の情報を読み込み、これに基づいて状態遷移仕様マトリックスを作成する。そして、状態遷移仕様マトリックス作成部１１は、作成した状態遷移仕様マトリックスの情報をヒステリシス候補判断部１２に送出する。
【００３８】
ヒステリシス候補判断部１２は、状態遷移仕様マトリックス作成部１１により作成された状態遷移仕様マトリックスから、ヒステリシスの可能性を有する状態遷移仕様を判断する。この際、ヒステリシス候補判断部１２は、マトリックス内の状態遷移元及び状態遷移先の情報に基づいて、状態が互いに遷移しうるものを特定して、遷移条件にヒステリシスの可能性が有るものを判断する。
【００３９】
表２に関して言えば、状態ＡＢ間、及び状態ＢＣ間の遷移条件にヒステリシスの可能性があると判断する。そして、ヒステリシス候補判断部１２は、遷移条件にヒステリシスがある可能性を有するものの情報を同一変数検出部１３に送出する。
【００４０】
その後、同一変数検出部１３は、ヒステリシス候補判断部１２にて判断されたヒステリシスの可能性を有する遷移条件が同一の変数種別であるか否かを判断して、同一の変数種別であるものを検出する。例えば、同一変数検出部１３は、状態ＡＢについては同一の変数種別の遷移条件であると判断し、状態ＢＣについては同一の変数種別の遷移条件でないと判断する。そして、同一変数検出部１３は、状態ＡＢ間が同一の変数種別の遷移条件を有していることを検出し、この情報を閾値比較部１４に送出する。
【００４１】
そして、閾値比較部１４は、検出された同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられているか否かを判断する。ここでは、上記したように、状態Ａから状態Ｂに、また状態Ｂから状態Ａに状態遷移する際の遷移条件である電圧ｖの値が異なっているので、同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられていると判断する。その後、閾値比較部１４は、その判断に係る情報を中間値算出部１５に送出する。
【００４２】
中間値算出部１５は、閾値比較部１４により遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられていると判断された場合、異なる数値間の中間値を算出する。そして、中間値算出部１５は、算出した中間値の情報をヒステリシス判定部１６に送出する。
【００４３】
ヒステリシス判定部１６は、上記各部１１〜１５からの情報に従い、ヒステリシスがあるか否かを最終的に判定する。そして、ヒステリシス判定部１６は、上記各部にて得た情報をテストパターン自動生成部１７に送出する。
【００４４】
その後、テストパターン自動生成部１７は、中間値が算出されている場合には、中間値に基づいてテストパターンを生成し、さらに、中間値が考慮されていていないテストパターンについても生成する。そして、テストパターン自動生成部１７は、中間値を考慮したテストパターンを生成した場合、両テストパターンを結合し、最終的なテストパターンを生成する。その後、テストパターン自動生成部１７は、結合した最終的なテストパターンをテストパターン出力部１８に送出する。
【００４５】
これを受けたテストパターン出力部１８は、テストパターン自動生成部１７にて生成された最終的なテストパターンを所定の方法にて出力する。
【００４６】
次に、本実施形態に係るテストパターン生成装置１を含むシステムの動作を詳細に説明する。図３は、本実施形態に係るテストパターン生成装置１を含むシステムの動作を示すフローチャートである。
【００４７】
まず、状態遷移図作成部２は、状態遷移図が作成されているか否かを判断する（ＳＴ１）。状態遷移図が作成されていない場合（ＳＴ１：ＮＯ）、状態遷移図作成部２は、状態遷移図の作成をユーザに促す処理、例えば状態遷移図の作成モードに設定するなどの処理を実行する（ＳＴ２）。
【００４８】
その後、状態遷移図作成部２は、状態遷移図の作成が完了したか否かを判断する（ＳＴ３）。作成が完了していないと判断した場合（ＳＴ３：ＮＯ）、処理はステップＳＴ２に戻る。一方、作成が完了したと判断した場合（ＳＴ３：ＹＥＳ）、処理はステップＳＴ４に進む。
【００４９】
ところで、ステップＳＴ１において、状態遷移図が作成されていると判断した場合（ＳＴ１：ＹＥＳ）、テストパターン生成装置１は、テストパターン自動生成装置のＳＷが「ＯＮ」状態にあるか否かを判断する（ＳＴ４）。
【００５０】
ＳＷが「ＯＮ」状態にないと判断した場合（ＳＴ４：ＮＯ）、ＳＷが「ＯＮ」状態となるまで、この処理が繰り返される。一方、ＳＷが「ＯＮ」状態にあると判断した場合（ＳＴ４：ＹＥＳ）、状態遷移仕様マトリックス作成部１１は、状態遷移仕様マトリックスを作成する（ＳＴ５）。
【００５１】
図４は、図３に示すステップＳＴ５の詳細処理を示すフローチャートである。同図に示すように、状態遷移仕様マトリックスを作成する場合、状態遷移仕様マトリックス作成部１１は、状態遷移図作成部２により作成された状態遷移図を認識する（ＳＴ５１）。その後、状態遷移仕様マトリックス作成部１１は、状態遷移図から状態遷移元及び状態遷移先を抽出し（ＳＴ５２）、マトリックスを形成していく（ＳＴ５３）。そして、処理は、図３のステップＳＴ６に移行する。
【００５２】
ステップＳＴ６において、ヒステリシス候補判断部１２は、互いに行き来できる状態遷移仕様を検出する（ＳＴ６）。すなわち、従来技術で言えば図１０のように、本実施形態で言えば図２に示す状態ＡＢ間及び状態ＢＣ間のように、互いに直接に状態が遷移され得るものを検出する。
【００５３】
図５は、図３に示すステップＳＴ６の詳細処理を示すフローチャートである。具体的に、ヒステリシス候補判断部１２は、まず、或る１つの状態遷移仕様を選択して、状態遷移元と状態遷移先の情報を抽出する（ＳＴ６１）。その後、ヒステリシス候補判断部１２は、他の状態遷移仕様を選択して、この状態遷移仕様についての状態遷移元と状態遷移先の情報を抽出する（ＳＴ６２）。
【００５４】
そして、ヒステリシス候補判断部１２は、これらの状態遷移仕様が互いに行き来できるもの同士か否か、すなわち、状態遷移元と状態遷移先とが逆になっているか否かを判断する（ＳＴ６３）。そして、互いに行き来できる状態遷移仕様である場合、ヒステリシス候補判断部１２は、条件適合フラグを「１」にセットする（ＳＴ６４）。一方、互いに行き来できる状態遷移仕様でない場合、条件適合フラグを「０」にセットする（ＳＴ６５）。
【００５５】
そして、処理は図３のステップＳＴ７に移行する。このように、本装置１では、１の状態遷移仕様を選択し、その状態遷移仕様と、その状態遷移仕様以外の１の状態遷移仕様とについて、以下の処理を行っていくこととなる。
【００５６】
ステップＳＴ７において、本装置１は、条件適合フラグが「１」であるか否かを判断する（ＳＴ７）。条件適合フラグが「１」でないと判断した場合（ＳＴ７：ＮＯ）、すなわち、上記図５に示した処理において互いに行き来できる状態遷移仕様でないと判断された場合、ヒステリシス判定部１６は、ヒステリシス特性フラグを「０」にセットし（ＳＴ８）、処理はステップＳＴ１３に進む。ここで、ヒステリシス特性フラグとは、遷移条件にヒステリシスがあるか否かを示すものであり、ヒステリシス特性フラグが「０」の状態とは、遷移条件にヒステリシスが無いことを意味している。
【００５７】
一方、条件適合フラグが「１」であると判断した場合（ＳＴ７：ＹＥＳ）、すなわち、上記図５に示した処理において互いに行き来できる状態遷移仕様であると判断された場合、同一変数検出部１３は、遷移条件が同一の変数により表現されているか否かを判断する（ＳＴ９）。遷移条件が同一の変数により表現されていないと判断した場合（ＳＴ９：ＮＯ）、処理はステップＳＴ８に移行する。ここでは、例えば、図２に示す状態ＢＣ間のように、遷移条件が同一の変数にて定義されていない場合、処理はステップＳＴ８に移行することとなる。
【００５８】
一方、状態ＡＢ間のように、遷移条件が同一の変数により表現されていると判断した場合（ＳＴ９：ＹＥＳ）、閾値比較部１４は、遷移条件の各変数の閾値が異なっているか否かを判断する（ＳＴ１０）。遷移条件の各変数の閾値が異なっていないと判断した場合（ＳＴ１０：ＮＯ）、処理はステップＳＴ８に移行する。
【００５９】
一方、遷移条件の各変数の閾値が異なっていると判断した場合（ＳＴ１０：ＹＥＳ）、ヒステリシス判定部１６は、ヒステリシス特性フラグを「１」にセットする（ＳＴ１２）。ここで、ヒステリシス特性フラグが「１」の状態とは、遷移条件にヒステリシスがあることを意味している。
【００６０】
その後、テストパターン自動生成部１７は、テストパターンを生成する（ＳＴ１３）。ここでは、ヒステリシス特性フラグが「１」の状態と「０」の状態とで行われる処理が異なっている。すなわち、ヒステリシス特性フラグが「１」の状態では、中間値が考慮されたテストパターンが生成されるのに対して、ヒステリシス特性フラグが「０」の状態では、中間値が考慮されたテストパターンが生成されないこととなる。
【００６１】
図６は、図３に示すステップＳＴ１３の詳細処理を示すフローチャートである。具体的に、テストパターン自動生成部１７は、まず、従来の装置と同様にして、テストパターンを生成する（ＳＴ１３１）。このテストパターンは、中間値が考慮されていないテストパターンである。
【００６２】
その後、テストパターン自動生成部１７は、ヒステリシス特性フラグが「１」であるか否かを判断する（ＳＴ１３２）。ヒステリシス特性フラグが「１」でない場合（ＳＴ１３２：ＮＯ）、処理は図３に示すステップＳＴ１４に移行する。一方、ヒステリシス特性フラグが「１」である場合（ＳＴ１３２：ＹＥＳ）、テストパターン自動生成部１７は、中間値のテストパターンを生成する（ＳＴ１３３）。そして、テストパターン自動生成部１７は、ステップＳＴ１３１，ＳＴ１３３にて得られたテストパターンを合成し（ＳＴ１３４）、処理は図３に示すステップＳＴ１４に移行する。
【００６３】
その後、本装置１は、全状態遷移仕様でヒステリシスを確認したか否かを判断する（ＳＴ１４）。全状態遷移仕様でヒステリシスを確認していないと判断した場合（ＳＴ１４：ＮＯ）、処理はステップＳＴ６に戻る。つまり、ステップＳＴ６において新たに状態遷移仕様を選択し、その状態遷移仕様について上記のステップＳＴ７〜ＳＴ１３の処理を行っていく。
【００６４】
一方、全状態遷移仕様でヒステリシスを確認したと判断した場合（ＳＴ１４：ＹＥＳ）、テストパターン出力部１８は、全テストパターンを出力する（ＳＴ１５）。そして、処理は終了する。ここで出力されるテストパターンは、例えば以下に示すようなものである。なお、以下に示す表３は、図２及び表２に示す状態ＡＢ間に関するテストパターンを示している。
【００６５】
【表３】
2004355525.tif 000005
表３に示すように、従前のテストパターンと異なり、本実施形態のテストパターンは、状態Ａのときに電圧値９．５Ｖを入力するものと、状態Ｂのときに電圧値９．５Ｖを入力するものとがある。そして、これらについては、状態Ａのときに状態Ａのままで維持され、状態Ｂのときに状態Ｂのままで維持されるかを検証するものとなっている。すなわち、本実施形態のテストパターンは、遷移条件にヒステリシスがある場合に、それらの中間値を考慮したものとなっており、従前のテストパターンと比して、より適切な検証を行えるようになっている。
【００６６】
このようにして、本実施形態に係るテストパターン生成装置１によれば、互いに遷移し得る状態間の遷移条件が同一の変数種別であるものを検出し、その同一の変数種別の遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられているか否かを判断する。そして、遷移条件が状態相互間で異なる数値で定義づけられている場合には、異なる数値間の中間値を算出し、この中間値に基づいてテストパターンを生成する。
【００６７】
このため、遷移条件がヒステリシスを有する場合であっても、２つの閾値の中間値が考慮されることとなり、或る状態において特定の電圧が入力された場合にその状態のままで保持されるか否か等を確かめるテストパターンが生成されることとなる。
【００６８】
従って、より適切にテストパターンを生成することができる。
【００６９】
また、状態遷移仕様情報は、ユーザにより入力される複数の状態とそれら状態間の遷移条件とを含むものである。このため、ユーザが検証したい状態遷移に関する情報を入力した場合には、その状態遷移のみの検証が行えることとなり、利便性を向上させることができる。
【００７０】
なお、本発明は、上記実施形態に限られるものではない。例えば、本装置１は、状態遷移仕様マトリックスを作成した後に、ヒステリシス候補を判断するようにしているが、これに限らず、状態遷移図から直接にヒステリシス候補を判断するようにしてもよい。また、本装置１は、状態遷移図に基づいてテストパターンを生成するようにしているが、状態遷移図に限らず、複数の状態とそれら状態間の遷移条件とを含む情報に基づくものであれば、他の情報等であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係るテストパターン生成装置を含むシステム構成図である。
【図２】状態遷移図の１例を示す説明図である。
【図３】本実施形態に係るテストパターン生成装置１を含むシステムの動作を示すフローチャートである。
【図４】図３に示すステップＳＴ５の詳細処理を示すフローチャートである。
【図５】図３に示すステップＳＴ６の詳細処理を示すフローチャートである。
【図６】図３に示すステップＳＴ１３の詳細処理を示すフローチャートである。
【図７】電圧値により状態が遷移する様子を示す説明図である。
【図８】チャタリングの様子を示す説明図であり、（ａ）は電圧値の変化の様子を示し、（ｂ）は、チャタリング発生時の状態遷移の様子を示す説明図である。
【図９】遷移条件がヒステリシスを有する場合の例を示す説明図である。
【図１０】図９に示すヒステリシスを有する場合の状態遷移図の説明図である。
【符号の説明】
１…テストパターン生成装置
２…状態遷移図作成部
３…マウス
４…キーボード
１１…状態遷移仕様マトリックス作成部
１２…ヒステリシス候補判断部
１３…同一変数検出部（検出手段）
１４…閾値比較部（判断手段）
１５…中間値算出部（中間値算出手段）
１６…ヒステリシス判定部
１７…テストパターン自動生成部（テストパターン生成手段）
１８…テストパターン出力部
【図１】
2004355525.tif 000006
【図２】
2004355525.tif 000007
【図３】
2004355525.tif 000008
【図４】
2004355525.tif 000009
【図５】
2004355525.tif 000010
【図６】
2004355525.tif 000011
【図７】
2004355525.tif 000012
【図８】
2004355525.tif 000013
【図９】
2004355525.tif 000014
【図１０】
2004355525.tif 000015